(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
下記（ａ）〜（ｅ）の要件
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列
かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通し
て、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）タッチパネルの検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる
試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で触圧するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置であって、
この検査・評価装置はさらに、
（ｆ）前記検査支持基盤上には、タッチパネルを所定の位置に設置するためのコ字
型またはL字型のタッチパネルガイド枠を有し、
（ｇ）このタッチパネルガイド枠の外側には、タッチパネルの端部にあるフレキシ
ブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）とコネクター電極を接続するためのコネクターガ
イド枠が設置され、
（ｈ）このコネクターガイド枠は、検査支持基盤上において基盤面に沿って平行に
移動可能で且つＦＰＣ端子部を挿入する際、ＦＰＣ端子部をコネクター電極に相対
する所定位置に導くガイドとなるように少なくとも一方の側面が開放された断面が
凹型の構造を有し、さらに
（ｉ）このコネクターガイド枠は、タッチパネルのＦＰＣ端子部がコネクターガイ
ド枠内の所定の位置に挿入された場合、そのことを感知するセンサーを有し、且つ
そのセンサーの感知により、タッチパネルのＦＰＣ端子部とコネクター電極とを
電気的に接続する押圧手段を有している、
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置に関する。さらに詳しくは、抵抗膜式タッチパネルの特性を、極めて高速でつまり短時間で検査し評価するための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
抵抗膜式タッチパネル（以下、単に“タッチパネル”と略称することがある。）は、構造が簡単でかつ安価であり、指入力が可能であるため、その生産量が年々増大している。その生産量の拡大に伴い、その品質を確保するための検査方法および手段の改良にせまられている。
タッチパネルの検査・評価の１つとして、ペン入力に対する電気特性検査がある。具体的な検査方法は、所定の位置を指に代わりペン（触圧棒）で入力し、検出されたX軸とY軸の位置情報をコンピューターに入力して、算出によりリニアリティーなどを調べることである。
【０００３】
タッチパネルの電気特性検査を効率よく、しかも確実に実施するためには、タッチ面の全体に亘って検査すること、触圧棒の往復運動を高速で行うこと、タッチパネルの設置と検査を素早く行うことおよび検査機自体が安定して長時間作動することなどが必要となる。
タッチパネルを高速で検査・評価するための装置として特許文献１が提案されている。この装置は、往復運動するシリンダ部材と一体に連動し、タッチパネルの平面を所定の間隔で触圧する触圧ペンと、その触圧ペンが二次元的にマトリックス状に複数個配列されている評価装置である。この評価装置は、タッチパネルが固定支持台上に固定され、シリンダ部材を駆動させながら、触圧ペンで試料表面を触圧させる方式であり、可成の高速で試験をすることが可能である。
この装置は、シリンダ部材の駆動とシリンダ部材と一体化して連動する触圧ペンの駆動の２つの駆動部分を有し、評価すべき全面を検査するためには、一定の時間を要する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開2005-310093号  公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明者は、抵抗膜式タッチパネルの生産拡大に伴い電気特性検査をより高速で行うことができる装置の開発について研究を進めた。また可動部分が少なくかつ故障の少ない検査・評価装置の開発について研究を進めた。
従来の検査装置では、固定支持盤上にタッチパネルを、検査面を上にして固定し、その検査面上に一本の触圧棒を移動させながら、検査位置を移動させていた。この従来の方式とは異なり、固定支持盤上に複数の触圧棒を上方に向けて一定の配列状態で配置すると共に、この配列された触圧棒群の上に、タッチパネルの検査面が対向し接触するように配置した装置は、可動部分が各触圧棒の上下運動のみであり、故障が少なく極めて短時間で検査・評価を実施できることが見出され先に提案した（特願2009-216567号）。
【０００６】
この先に提案した装置は、下記（ａ）〜（ｅ）の要件より構成されるタッチパネルの高速検査・評価装置である。
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）タッチパネルの検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で触圧（打点）するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
【０００７】
この検査・評価装置は、固定支持盤上に多数の触圧棒が配置された触圧棒多段配列が設置され、その上にタッチパネルが検査面を下方に向けて配置される構造であり、作動部分は事実上各触圧棒の上下往復運動の部分のみである。この装置では、前記触圧棒多段配列の上にタッチパネルが配置されると、コンピューターにより制御された順序に従って触圧棒が所定の間隔で検査面を触圧（打点）する。前記触圧棒多段配列は、検査面のほぼ全体を覆うことが望ましく、そうすることによって触圧棒やその配列を検査面に沿って移動する必要はない。例えばタッチパネルの電気特性検査の場合、１０秒以下の短い時間で検査することが可能である。しかも可動部分が触圧棒の上下運動のみであるから、故障が少なく消費電力は僅かであるという利点を有している。
前記した装置は、タッチパネルの検査面の全体を制御された順序に従って触圧棒を作動し検査する装置であり、この装置の使用により検査・評価は極めて短時間で完了し、その検査・評価を判断することも短時間で終了する。
【０００８】
この装置を使用して実際にタッチパネルの検査・評価を行うに当り、概ね下記手順により操作が実施される。
（ア）前記装置の検査支持基盤上にタッチパネルの検査面を下方に向けて設置する。
（イ）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）を、判断手段に電気的に接続するコネクターに接続する、
（ウ）タッチパネルの検査面に、検査支持基盤上に設けられた触圧棒を順序に従って作動させ触圧する、
（エ）触圧棒の触圧に基づいて、触圧棒の機械的接触位置と電気的検査結果とを比較判定する、
（オ）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）と、判断手段に電気的に接続されているコネクターとの接続を解除する、
（カ）検査・評価装置からタッチパネルを取り出す、
検査・評価装置の作動効率化、つまり一台のタッチパネルの検査・評価に要する時間の短縮には、前記（ア）〜（カ）の各工程の合計時間を短縮することが肝要である。
【０００９】
前記した各工程のうち（ウ）と（エ）の工程は、極めて短時間で実施できる。前記工程の（ア）および（オ）は手動（マニュアル）で比較的簡単に操作でき、時間もそれほど要しない。ところが前記（イ）の工程において、フレキシブル回路端子部（以下、“ＦＰＣ端子部”と略称する）と、判断手段に接続するためのコネクター電極とを適確に接続させることは度々手間を取ることがあり、場合によってかなりの時間を消費することがある。その理由はＦＰＣ端子部とコネクター電極とは、それぞれ回路端子の数が多く且つ各端子の幅が狭く、またＦＰＣ端子部は容易に曲がり互いの回路端子を適確に接続させ、接触状態を押圧して維持することが必要となるからである。
【００１０】
そこで本発明者は、検査・評価装置の支持基盤面にタッチパネルを装着した後、タッチパネルのＦＰＣ端子部と、判断手段へ接続するコネクター電極との接続を簡単に、素早く且つ適確に実施しうる装置と手段について研究を進めた。その結果、前記したタッチパネルのＦＰＣ端子部と、コネクター電極とを素早く適確に接続するには、いくつかの要件が不可欠であることが判った。その第１は、検査すべきタッチパネルを検査・評価装置の支持基盤上の定位置に正確に配置すること、第２はＦＰＣ端子部は、タッチパネルによってその位置が若干、左右または上下にずれたり、カールしていてもコネクターの位置はそれに追従して移動することが必要であること、コネクターの構造は、ＦＰＣ端子部が簡単に挿入でき、ＦＰＣ端子部とコネクターの電極とが正確に各端子が接続することが出来且つその接続状態が維持される構造であること、および検査・評価が終了した後、その接続状態が早やかに解除される構造であることが肝要である。
本発明は、ＦＰＣ端子部とコネクター電極の接続を正確且つ短時間を行うことができ、また両者の接続の解除も簡単に実施できる装置および手段を研究した結果到達されたものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明によれば、下記（ａ）〜（ｅ）の要件
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）タッチパネルの検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で触圧するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置であって、
この検査・評価装置は、さらに
（ｆ）前記検査支持基盤上には、タッチパネルを所定の位置に設置するためのコ字型、
またはＬ字型のタッチパネルガイド枠を有し、
（ｇ）このタッチパネルガイド枠の外側には、タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）とコネクター電極を接続するためのコネクターガイド枠が設置され、
（ｈ）このコネクターガイド枠は、検査支持基盤上において基盤面に沿って平行に移動可能で且つＦＰＣ端子部を挿入する際ＦＰＣ端子部をコネクター電極に相対する所定位置に導くガイドとなるように少なくとも一方の側面が開放された断面が凹型の構造を有し、さらに
（ｉ）このコネクターガイド枠は、タッチパネルのＦＰＣ端子部がコネクターガイド
枠内の所定の位置に挿入された場合、そのことを感知するセンサーを有し、且つそ
のセンサーの感知により、タッチパネルのＦＰＣ端子部とコネクター電極が電気的
に接触する押圧手段を有している、
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの検査・評価装置が提供される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明のタッチパネルの検査・評価装置は、タッチパネルの装着、ＦＰＣ端子部とコネクターとの接続操作、触圧棒の作動による検査・評価操作および検査後のタッチパネルの取出しなどの検査のための一連の操作を容易に、正確に且つ迅速に実施することができるので、タッチパネルの検査の能率を大幅に改良することに役立つものである。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の検査・評価装置であって、支持基盤１およびその上部に固定して配置された触圧棒多段配列の上部に設置されたプレート板２を模式的に示した平面図である。
【図２】本発明の検査・評価装置であって、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
【図３】本発明の検査・評価に使用する装置であって、タッチパネルを装置に配置した状態の断面図を示す。
【図４】支持基盤上にタッチパネルを配列した状態を上から見た平面図を示す。
【図５】Ａは、コネクターガイド枠の断面図を示すものであり、ＦＰＣ端子部を挿入    する前の状態をタッチパネル側から見た断面図を示す。        Ｂは、ＦＰＣ端子部の断面図であり、コネクターガイド枠に挿入する前の断    面図を示す。
【図６】コネクターガイド枠内にＦＰＣ端子部を所定の位置に挿入した後、コネクタ    ー電極が押圧棒により上方から押圧され、ＦＰＣ端子部とコネクター電極とが接    触している状態を表す断面図を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明の装置は、本発明者が先に提案したタッチパネルの高速検査・評価装置を改良したものであある。この装置は特願2009-216567号（平成21年9月18日出願）として既に出願されている。この装置について図面により先ず説明する。
図１は検査・評価装置の支持基盤１に固定して配置された触圧棒多段配列の上部に設置されたプレート板２を模式的に示した平面図である。この検査・評価装置は、支持基盤１上に触圧棒多段配列が固定され、この触圧棒多段配列は、触圧棒配列が多段で配列されている。
【００１６】
触圧棒多段配列とは、多数の触圧棒が一列に直線状に配列された触圧棒配列が、多段で重ねられた状態で配列されたものを言う。触圧棒多段配列は、図１ではプレート板２と支持基盤１との間に配置されており、そのため図面上は示されていない。プレート板２の多数の孔３に対応して触圧棒が配置されている。図１では、説明を簡単にするために、支持基盤１、プレート板２およびプレート板２に設けられた孔の平面図が示されている。図１のプレート板２の多数の孔３の配置の状態から理解されるように、図１の場合、１０個の触圧棒が一列（左右横方向）に直線状に配置された触圧棒配列が６段（上下縦方向）で配置されていることを示している。
【００１７】
触圧棒多段配列の上面にプレート板２が設けられ、そのプレート板２に開けられた孔３を介して触圧棒端子部が突出されているようになっている。つまり、プレート板２には触圧棒多段配列に存在する触圧棒の数と同じ数の孔が開けられている（図１では６×１０の６０個である）。
次にプレート板２について説明する。プレート板２の上面には、タッチパネル）の検査面が密着した状態で設置される。プレート板２のそれぞれの孔３から触圧棒が突出し検査面を触圧する。そのためプレート板２の孔３は、触圧棒が貫通することができるに充分な孔径を有しており、通常は、径が１．０ｍｍ〜１．５ｍｍ好ましくは１．０ｍｍ〜１．２ｍｍが適当である。
【００１８】
因みに、触圧棒の直径は、一般に０．９ｍｍ〜１．１ｍｍ程度であり、触圧棒の形状は円柱状であって、その最先端（頂部）はフラットでもよく、また半円形乃至ドーム形であってもよい。プレート板２に設けられている孔の位置は、検査面の位置を決める役割を負っている。そのため、プレート板２の孔３の配列位置は、触圧棒多段配列の位置に合致している。プレート板２はタッチパネルのリニアリティーの検査・評価のために、孔３が直線状でかつ等間隔で配置され、また多段配列においても同じ間隔となるように孔が設けられている。検査面の全体が覆われるように等間隔で孔の位置を配列する。孔の間隔（ピッチ間隔）は３ｍｍ〜１５ｍｍ、好ましくは４ｍｍ〜１３ｍｍであるのが有利である。このように孔の配列が直線状であり、縦方向および横方向の間隔が一定であるように配列することによって、触圧棒による電気的特性の均一性の判別を容易に行うことができる。
【００１９】
プレート板２は、平坦で表面が平滑なものが好ましく、プラスチック板または金属板（好ましくはアルミ板）が使用でき、その厚さは１ｍｍ〜５ｍｍ、好ましくは２ｍｍ〜４ｍｍが望ましい。
図２は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
図２では、触圧棒配列における隣り合う２つの触圧棒の部分拡大図を示す。プレート板２の下部には、触圧棒が上下運動し検査面の表面を触圧するアクチュエーターが設置されている。触圧棒を上下運動させるアクチュエーターは、例えば電磁ソレノイド方式（電磁式）やピエゾ素子方式（圧電素子方式）を採用することができる。図２では電磁ソレノイド方式で、触圧棒５を上下運動する態様が示されている。図２では触圧棒５の数に対応して、電磁ソレノイド６が横方向に配列した状態が示されている。電磁ソレノイド方式は、孔のピッチ間隔が約１０ｍｍ以上の場合に適している。
【００２０】
触圧棒５は、検査面へ接触するとき、その接圧が約３０ｇ〜２５０ｇとなるように設定される。タッチパネルの検査面とプレート板２の表面とは密着し検査時に離れないように固定すべきである。タッチパネルとプレート板との固定化手段は特に制限されない。
１個の触圧棒が検査面を触圧した時の接触時間は、約０．１秒であれば充分である。従って本発明の装置において、1列が１０個の触圧棒配列の場合、１列の検査に要する時間は約１秒である。図１のように６段に配列した場合６０個の触圧棒を連続して作動させると約６秒で全面を検査できることになる。かくして本発明の検査・評価装置は、製品の機能が適格に作動するか否かの判別には極めて短時間で完了することになる。
【００２１】
図３は、タッチパネルを、検査・評価装置に配置した状態における断面図を示す。支持基盤１上に触圧棒多段配列９が固定して載置されている。この触圧棒多段配列９はその上面にプレート板２が固定化されている。図３には、触圧棒多段配列９における触圧棒およびプレート板２における孔は、図面上省略されている。触圧棒は、プレート板の孔を通して、その先端がタッチパネルの検査面へ押圧されるようになっている。プレート板の上面には、タッチパネルがその検査面が密着した状態で重ねられている。
タッチパネル８は、支持基盤１上に設けられたタッチパネルガイド枠１０内に収納される状態で、定位置に固定化される。
【００２２】
図３は、検査・評価装置に、タッチパネル８が配置されている状態を示し、タッチパネル８は、検査面とプレート板が密着した状態で水平に設置されている。
本発明の検査・評価装置は、図３に示すように、タッチパネルが固定して設置されると、電気的に可動する部分は触圧棒の上下運動のみであり、触圧棒多段配列９やタッチパネル８は固定されたままである。検査・評価のために、触圧棒が上下に作動するのでタッチパネル８は上下に動かないように固定されているが、図３にはその固定手段は図示されていない。この固定手段はタッチパネル８がそれ自体上下に動かない手段であればよく、図３のタッチパネルの上から加重を加えておくなどの方法であってもよい。
【００２３】
図２は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。図２では隣り合う２つの触圧棒配列とプレート板との位置関係が示されている。図２の触圧棒配列においては触圧棒の上下運動にソレノイド方式（電磁式）を使用した例が示されている。各触圧棒は、それぞれのソレノイドにより電磁的に上下する。触圧棒の上端部はプレート板が配置されそのプレート板の孔を通して触圧棒がプレート板の上面へ突出し、タッチパネルの検査面を触圧する構造となっている。前述したように、タッチパネルの検査面はプレート板の上面と密接して設置されるが、図２ではタッチパネルは示されていない。
【００２４】
本発明の検査・評価装置を用いて、タッチパネルを試験するに当たっては、プレート板２に設けられた孔の位置に対応してX軸およびY軸に基づいて、触圧棒を一端部から他端部へ、また一段目から多段へ連続的に押圧し、得られた機械的な位置情報と触圧によって得られた電気的情報との差をコンピューターによって算出し、所定の管理値を基に整合性を判別することによって、リニアリティーの適否を評価することができる。
本発明の方法において使用する検査・評価装置は、下記（Ｂ−１）〜（Ｂ−７）の態様であることが好ましい。
（Ｂ−１）前記触圧棒多段配列は、タッチパネルの検査面のほぼ全面を覆っていること、
（Ｂ−２）前記触圧棒配列は、各触圧棒が一定の間隔で配置されていること
（Ｂ−３）前記触圧棒多段配列は、各触圧棒配列が一定の間隔で配置されていること、      
（Ｂ−４）各触圧棒は、各触圧棒配列において、一端から他端へ順次突出すように制御されていること、
（Ｂ−５）各触圧棒配列において、各触圧棒は電磁ソレノイド方式により上下に作動すること、     
（Ｂ−６）各触圧棒配列において、触圧棒はピエゾ素子方式により上下に作動すること、
（Ｂ−７）各触圧棒配列において、各触圧棒は、３〜１５ｍｍの間隔で配置されていること、
【００２５】
図４は支持基盤１上にタッチパネル８を設置した状態を上から見た平面図を示す。支持基盤１の上に設けられたガイド枠１０内にタッチパネル８が収納されている。この図４においてタッチパネルガイド枠１０はコ字型を示しているがＬ字型であってもよい。好ましいタッチパネルガイド枠はコ字型である。図４においてタッチパネル８は検査のためにコ字型のタッチパネルガイド枠１０の開放された下部から挿入される。挿入されると、タッチパネル８の端部にあるフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）１２は、コネクターガイド枠１１内にあるコネクター電極に電気的に接続される。このコネクターガイド枠１１からは電気的に判断手段（図示されていない）に接続されている。支持基盤１上に設けられたタッチパネルガイド枠１０はタッチパネル８を触圧棒配列４上の定位置に固定されること並びにタッチパネル８の端部にあるＦＰＣ端子部１２の位置が適確にコネクターガイド枠１１内のコネクター電極と電気的に接触する位置に設置することのために重要な役割を果たす。コネクターガイド枠１１の構造と機能については後に詳細に説明する。
【００２６】
本発明の装置を用いてタッチパネル検査を実施するに当たっては、下記（１）〜（６）の手順より行われる。
（１）検査・評価装置にタッチパネルを装着する。この際、検査・評価装置の支持基盤１上に、タッチパネルガイド枠１０を設け、このタッチパネルガイド枠１０内にタッチパネルを収納させる。
（２）タッチパネル８の端部にあるフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）１２を判断手段に電気的に接続するコネクターガイド枠１１内に挿入させる。このＦＰＣ端子部１２とコネクターガイド枠１１が所定の位置に位置づけされるように、両者の位置を正確に位置決めし、電気的に回路が接続されるようにすることが肝要である。
（３）ＦＰＣ端子部１２とコネクター１１との接続が完了すると、検査支持基盤１上に配置された触圧棒多段配列における触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ触圧させる。
（４）各触圧棒の接触位置と検査結果とを判断手段で判定する。
（５）判断手段で判定が終了すると、タッチパネル８の端部にあるＦＰＣ端子部１２と、判断手段に電気的に接続するコネクター電極との接続を解除する。
（６）検査支持基盤からタッチパネルを取り出す。
【００２７】
次に本発明の検査・評価装置におけるコネクターガイド枠１１の構造および機能について説明する。
図４において、支持基盤１上に設けられたタッチパネルガイド枠１０内に、検査すべきタッチパネル８が検査面を下方に（支持基盤面に）向けて装着される。このタッチパネルガイド枠１０は図４に示すようにコ字型である場合にはその中間部が開放されており、その中間部からタッチパネルのフレキシブル回路端子部（ＦＰＣ端子部）１２が突き出るようになっている。ＦＰＣ端子部には、一般に屈曲性を有しているが、剛性を有しており、タッチパネル８が図４の下部方向から上方へ向けてタッチパネルガイド枠１０内に装着すると、タッチパネルガイド枠１０の中間部（開放部）を通して、コネクターガイド１１の内部へ挿入されることになる。
【００２８】
しかし、ＦＰＣ端子部１２の位置は、必ずしも正確に定位置に突き出されるわけではなく、検査すべきタッチパネル８によってバラツキがあり、若干ずれを生じることがある。すなわち、ＦＰＣ端子部には図４において上下或いは左右に若干ずれを生じる。従って、コネクターガイド枠１１はＦＰＣ端子部１２の位置に対応して、図４において支持基盤１の面に沿って平行して左右に移動可能であることが肝要である。またコネクターガイド枠１１は、その位置が固定されずに支持基盤1の面を図４では上下方向或いは左右方向に若干移動可能である。
【００２９】
このように、コネクターガイド枠１１が支持基盤１の面上で、移動可能であることによって、ＦＰＣ端子部１２の位置に対応して、コネクターガイド枠１１内の所定の入口容易に且つ、適確に近付けることができる。
図５のＡには、コネクターガイド枠１１の断面図が示されている。この断面図はＦＰＣ端子部１２を挿入する前の状態を、タッチパネル８の方向から見た断面図であり、凹型の構造を有している。また、図５のＡは支持基盤１上にコネクターガイド枠１１が設置されていることを示す断面図でもある。
コネクターガイド枠１１は、支持基盤１の面上に沿って移動可能なように、支持基盤１とコネクターガイド枠１１の底面との間に、例えば図５のＡに示すように球状体１５を介在させる。この球状体１５は、コネクターガイド枠１１の底部から外れることがないように、その底部の周囲に枠を設けるか或いは底部周囲面に溝もしくはくぼみを設けることもできる。
【００３０】
図５のＡにおいて、コネクターガイド枠１１は、その凹部内にコネクター電極１３を有し、このコネクター電極１３は、判断手段に（図示されていない）に電気的に接続している。
図５のＢは、ＦＰＣ端子部１２がコネクターガイド枠１１内に挿入する前の状態の断面図を示す。このＦＰＣ端子部には、コネクターガイド枠１１内の空間部（図５のＡではコネクター電極１３の下部）に挿入されることになる。このＦＰＣ端子部１２の断面図は、ＦＰＣの電極が凸部状で示され、図５のＢでは図面上４個の電極（凸部）として示されている。（現実には、電極の数は４〜２０個程度である）。ＦＰＣ端子部１２がコネクターガイド枠１１の所定の位置への挿入を助けるために、コネクターガイド枠１１の入口は、上下または左右の方向に開いた誘導板を設けることができる。
コネクターガイド枠１１内にＦＰＣ端子部１２が挿入され、定位置に達すると、コネクターガイド枠１１内に設置されているセンサー１４がそのことを感知する。このセンサー１４の感知により、コネクターガイド枠１１の上部に設けられている押圧棒１６が作動する。かくしてＦＰＣ端子部１２とコネクター電極１３が電気的に接触した状態となる。この接触状態を示す断面図が図６に示されている。
【００３１】
図６では、センサー１４の感知により、押圧棒１６が自動的に作動し、コネクター電極１３を上から押圧し、ＦＰＣ端子部とコネクター電極を電気的に接触させることが望ましい。この押圧棒１６は、電磁ソレノイド方式（電磁方式）であることが好ましい。
ＦＰＣ端子部１２とコネクター電極１３との接触により、タッチパネルの検査面の下部に配置されている多段触圧棒配列の触圧棒の触圧が準備される。前述したように、この触圧は極めて短い時間で終了する。判断手段にて触圧棒の触圧位置と電気的検査結果とが比較判定される。判定が終了すると、コネクターガイド枠１１の押圧棒１６は、押圧を解除される。この解除は判断手段の判定の終了と同時に、自動的に押圧棒１６の押圧の解除を行うことが望ましい。
【００３２】
かくしてコネクターガイド枠１１の押し圧棒１６の押圧を解除された後、タッチパネル８をガイド枠１０から取り出すことによってタッチパネルの検査・評価の一連の工程が完了することになる。
タッチパネル８を支持基盤１のタッチパネルガイド枠１０から取り出す場合、タッチパネル８の検査面と、プレート板２とが密接しているため（図３参照）、タッチパネル８の取り出しに度々手間取り、時間を要することがある。そのため本発明者の研究によれば、次に説明する方法により、容易に且つ素早くタッチパネル８を支持基盤１から取り出すことが出来ることが判明した。
すなわち、検査・評価装置が支持基盤１上に、触圧棒多段配列９を有している構造であることに着眼し、検査・評価のための触圧棒の触圧が終了し、判断が終了した後、再び触圧棒を作動し、突出させるとタッチパネルが押上げられ、タッチパネルの検査面とプレート板との間に隙間が生じ、この隙間を利用してタッチパネルを支持基盤から簡単に素早く取り出すことが可能となった。
触圧棒によって形成される隙間の幅は１〜３ｍｍ好ましくは１．５〜２．５ｍｍ程度であればよい。
【００３３】
またタッチパネルの検査面とプレート板２との間の隙間の形成は、タッチパネルの検査面の全体であってもよいが必ずしもその必要はない。例えば：タッチパネルの片方の辺（図４で示すとタッチパネル８の下部の辺や図１で示すと触圧棒多段配列の下段の配列に対向するタッチパネルの辺）に隙間が形成されていてもよい。この場合、タッチパネル８の検査面の片方の辺（図４では下部）に隙間が形成され、この隙間を利用してタッチパネルを手で簡単に取り出すことが可能となる。
タッチパネルを押上げて隙間を形成させるための触圧棒は、検査・評価のための触圧棒の一部または全部であってよいし、一部の場合、一配列（殊に片方の下部の辺の一配列）であってもよい。
【００３４】
さらに、タッチパネルを押上げるための触圧棒は、検査・評価のために使用される触圧棒である必要はなく、押上げるために別個に設けた触圧棒（突上げ棒）であってもよい。すなわち、触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒（突上げ棒）を所定の位置（好ましくはタッチパネルの片方の下辺；図４では下部）に設置することができる。
この際、当然のことながら、プレート板２には、この別個の触圧棒端子部が突出るように孔を設けておくことが必要である。この別個に押上げ用の触圧棒を設けることによって、隙間を充分な間隔で形成させることが容易となる。
タッチパネルの検査面とプレート板との隙間を形成するために、触圧棒（或いは突上げ棒）の作動は、前記手段（５）において、ＦＰＣ端子部とコネクターと接続を解除した後に実施することができるが、手順（５）において前記接続を解除すると同時に、自動的に触圧棒（突上げ棒）を作動させることもできる。このように自動的に作動させることにより、タッチパネルの取り出すために要する時間を一層短縮することが可能となる。
【符号の説明】
【００３５】
１       支持基盤
２       プレート板
３       孔
４       触圧棒配列
５       触圧棒
６       電磁ソレノイド
７       電磁ソレノイド支持体
８       タッチパネル
９       触圧棒多段配列
１０  タッチパネルガイド枠
１１  コネクターガイド枠
１２  フレキシブル回路端子部
１３  コネクター電極
１４  センサー
１５  球状体
１６  押圧棒
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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