(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気信号の入力を受けその電気信号を光信号に変換して送信する送信部と、光信号を受信してその光信号を電気信号に変換して出力する受信部とを備えた光モジュールを複数同時に試験する試験装置であって、
同一前記光モジュールの前記受信部から前記送信部まで電気信号を伝達する電気信号路と、
複数の前記光モジュールのうちの１つの前記光モジュールの前記送信部から他の前記光モジュールの前記受信部まで光信号を伝達する光信号路と、
前記電気信号路および前記光信号路とによって直列に接続された一連の前記光モジュールの一端の前記受信部から試験信号を光信号の形式で入力する入力部と、
前記一連の光モジュールの前記一端に対する他端の前記送信部から、前記一連の光モジュールを経た前記試験信号を光信号の形式で受け取る受取部と、
前記受取部による前記試験信号の受け取り結果に基づいて前記一連の光モジュールの良否を判定する判定部と、
前記一連の光モジュールのうちから選択される第１の前記光モジュールの前記受信部から、前記一連の光モジュールのうちから選択される前記第１の光モジュールとは別の第２の光モジュールの前記送信部まで電気信号を伝達し、電気信号の伝達長が調整可能な迂回路と、
前記送信部と前記受信部とのうち少なくとも一方が不良な前記光モジュールが前記一連の光モジュール中に存在する場合に、前記電気信号路から前記迂回路に切り換えるとともに前記第１の光モジュールおよび前記第２の光モジュールを選択することで、前記不良な光モジュールを迂回させる迂回制御部と、
前記迂回路における電気信号の伝達長を、前記試験信号の伝送速度と、前記迂回制御部によって選択された前記第１の光モジュールおよび前記第２の光モジュールの組み合わせとに応じた伝達長に調整する調整部と、
を備えたことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記光モジュールの試験に先だって前記試験信号の伝送速度に応じた伝達長の探索を行い、探索結果を記録する伝達長探索部を備え、
前記調整部が、前記伝達長探索部によって記録された探索結果を用いて前記伝達長を調整するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
前記迂回路が、電気信号の伝達長が互いに異なり互いに並列な複数の並列路を有し、それら複数の並列路のいずれかが選択されることで伝達長が調整可能なものであり、
前記調整部が、前記迂回路に対して、前記試験信号の伝送速度に応じた前記並列路を選択するものであることを特徴とする請求項１または２記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本件開示は、試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
多くのストレージ装置が設置されたデータセンタなどでは、ストレージ装置の相互間で多量のデータを送受信する必要がある。そのような多量のデータの送受信を電気信号で行うと信号配線が膨大になってしまうので、近年は、光通信が用いられて配線数の低減が図られている。このような光通信には、電気信号と光信号とを媒介するために、電気信号の入力を受けその電気信号を光信号に変換して送信する送信部と光信号を受信してその光信号を電気信号に変換して出力する受信部とを備えた光モジュールが用いられる。そして、データ送受信の信頼性を確保するため、その光モジュールが正常であることを確認する試験が行われている。しかし、配線数の低減が図られているとは言っても光モジュールの数はかなりの数になり、しかも、試験には例えば２４時間というような長時間を要するので、試験の効率化が望まれている。
【０００３】
このような試験の効率化を図るために、複数の光モジュールを信号経路として直列に接続し、それら複数の光モジュールに対して試験信号を通すことで一度に複数の光モジュールを試験する方法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−３１１２４８号公報
【特許文献２】特開昭６２−３９９３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このように一度に複数の光モジュールを試験する場合、それらの光モジュールに１つでも不良品が含まれていると試験信号が複数の光モジュールを通り抜けることができないので、どの光モジュールが不良品であるか特定することが必要となる。そして、その不良品を迂回して試験信号を通すことで試験の続行が可能となる。このため、特許文献１では、光信号の信号経路を切り替えることによって複数の光モジュールを複数のグループに切り分けて不良品を絞り込む方式が提案されている。
【０００６】
しかし、光信号の信号経路を切り替える切り替え手段を形成するためには、光モジュールの数が増えるほど多数の光接点が必要となるので、それら多数の光接点を試験信号が正常に通過することが困難となる恐れがある。そして、試験信号が正常に通過出来ないと、結局は不良品の絞り込みや不良品の迂回も不可能となり、延いては試験の続行が不可能となる。
【０００７】
上記事情に鑑み、本件開示は、不良品の光モジュールが存在していても試験の続行が可能な試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成する試験装置は、上記光モジュールを複数同時に試験する試験装置であって、電気信号路と光信号路と入力部と受取部と判定部と迂回路と迂回制御部と調整部とを備えている。
【０００９】
上記電気信号路は、同一光モジュールの上記受信部から上記送信部まで電気信号を伝達するものである。
【００１０】
上記光信号路は、複数の上記光モジュールのうちの１つの上記光モジュールの上記送信部から他の上記光モジュールの上記受信部まで光信号を伝達するものである。
【００１１】
上記入力部は、上記電気信号路および上記光信号路とによって直列に接続された一連の上記光モジュールの一端の上記受信部から試験信号を光信号の形式で入力するものである。
【００１２】
上記受取部は、上記一連の光モジュールの上記一端に対する他端の送信部から、それら一連の光モジュールを経た試験信号を光信号の形式で受け取るものである。
【００１３】
上記判定部は、上記受取部による上記試験信号の受け取り結果に基づいて上記一連の光モジュールの良否を判定するものである。
【００１４】
ここで「受け取り結果」とは、受取部が試験信号を受け取ったか否かの結果や、入力部によって入力された試験信号と同じ試験信号を受取部が受け取ったか否かの結果などを包含する広い概念を意味している。
【００１５】
上記迂回路は、上記一連の光モジュールのうちから選択される第１の上記光モジュールの上記受信部から、それら一連の光モジュールのうちから選択される上記第１の光モジュールとは別の第２の光モジュールの上記送信部まで電気信号を伝達するものである。そして、この迂回路は、電気信号の伝達長が調整可能である。
【００１６】
ここで「伝達長」とは、信号にとっての長さを意味し、光で言えば光路長に相当する長さであって、信号線の物理的な長さだけでなく、信号線の材質にも依存する。従って、伝達長の調整も信号線の物理的な長さを変更する方法の他、信号線の材質を変更する方法もある。
【００１７】
上記迂回制御部は、上記送信部と上記受信部とのうち少なくとも一方が不良な上記光モジュールが上記一連の光モジュール中に存在する場合に、上記電気信号路から上記迂回路に切り換えるものである。また、この迂回制御部は、上記電気信号路から上記迂回路に切り換えるとともに上記第１の光モジュールおよび上記第２の光モジュールを選択することで、上記不良な光モジュールを迂回させる。
【００１８】
上記調整部は、上記迂回路における電気信号の伝達長を、上記試験信号の伝送速度と、上記迂回制御部によって選択された上記第１の光モジュールおよび上記第２の光モジュールの組み合わせとに応じた伝達長に調整するものである。
【００１９】
ここで「伝送速度に応じた伝達長」とは、典型的には、その伝送速度の信号を正しく伝達することができる伝達長のことである。
【発明の効果】
【００２０】
本件開示によれば、不良品の光モジュールが存在していても試験の続行が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】上記試験装置の一実施形態である光モジュール試験装置の外観構成図である。
【図２】図１に外観が示された光モジュール試験装置の機能ブロック図である。
【図３】メモリの記憶内容を表した図である。
【図４】経路切替え回路の機能を示す機能詳細図である。
【図５】試験プログラムのフローチャートである。
【図６】切り分け処理のフローチャートである。
【図７】経路切替え回路で実現可能な迂回路の例を示す図である。
【図８】記録された試験結果の例を示す図である。
【図９】波形ズレの例を示す図である。
【図１０】図９に示す迂回路に対して伝達長（線長）が調整された迂回路の例を示す図である。
【図１１】図１０に示す迂回路に対して伝達長（線長）がさらに調整された迂回路の例を示す図である。
【図１２】伝送速度に応じた選択パターンの例を示す図である。
【図１３】線長決定処理における処理手順の第１手順を表す図である。
【図１４】線長決定処理における処理手順の第２手順を表す図である。
【図１５】線長決定処理における処理手順の第３手順を表す図である。
【図１６】同一線長を実現するパターンの例を示す図である。
【図１７】同一線長を実現する重複パターンの例を示す図である。
【図１８】同一線長を実現する重複パターンの別の例を示す図である。
【図１９】決められた試行パターンの例を第２迂回パターンについて示す図である。
【図２０】決められた試行パターンの例を第３迂回パターンについて示す図である。
【図２１】線長決定処理の別例における処理手順の第１手順を表す図である。
【図２２】線長決定処理の別例における処理手順の第２手順を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
上記説明した試験装置に対する具体的な実施形態を、以下図面を参照して説明する。
【００２３】
図１は、上記試験装置の一実施形態である光モジュール試験装置の外観構成図である。
【００２４】
ここでは、光モジュール試験装置１００について、外観上見える部分を中心に、構成や機能の概略を説明する。そして、後で機能ブロック図などを参照してより詳細な説明を行う。
【００２５】
光モジュール試験装置１００は、制御基板１１０と複数（ここでは一例として９個）のモジュール搭載基板１５０を備えている。モジュール搭載基板１５０の相互間は信号ケーブル１６０で接続されている。各モジュール搭載基板１５０には、試験対象となる光モジュール２００が着脱自在に搭載される。なお、図１では全てのモジュール搭載基板１５０に光モジュール２００が搭載されている状態が示されているが、光モジュール２００は、必ずしも全てのモジュール搭載基板１５０に搭載される必要はない。
【００２６】
光モジュール２００は、光信号を受信して電気信号に変換する受信部と、電気信号を光信号に変換してその光信号を送信する送信部とを備えている。そして、その光モジュール２００の相互間は光ファイバ１７０によって接続される。
【００２７】
制御基板１１０は、光モジュール２００の試験を制御するための基板である。制御基板１１０には、制御用ＬＳＩ１２０と、試験信号を送受信するための固定モジュール１８０が備えられている。この固定モジュール１８０は、機能としては、試験対象となる光モジュール２００と同等のものである。そして、固定モジュール１８０と光モジュール２００との相互間も光ファイバ１７０によって接続される。
【００２８】
また、光モジュール試験装置１００は、電源１１１と、各光モジュール２００の状態を表示するためのＬＥＤ１１２を備えている。
【００２９】
図１中の部分拡大図には、モジュール搭載基板１５０の一部分が拡大されて示されている。この部分拡大図には、全体図に示されているモジュール搭載基板１５０の表側に対する裏側が示されている。この部分拡大図に示された部分には、経路切替え回路１４０が設けられている。この経路切替え回路１４０は、受信側リレー１５１、送信側リレー１５２、受信線１５３、送信線１５４、接続線１５５、迂回入力線１５６、入力端子１５７、出力端子１５８、迂回出力線１５９を備えている。これらの構造要素のうち、受信線１５３、送信線１５４、接続線１５５、迂回入力線１５６、迂回出力線１５９は、モジュール搭載基板１５０に導体パターンで形成されている。また、図１は外観図であるので、これら受信線１５３、送信線１５４、接続線１５５、迂回入力線１５６、迂回出力線１５９は、モジュール搭載基板１５０の表面に見えている箇所だけが図示されている。また、部分拡大図では図示が省略されているが、入力端子１５７および出力端子１５８には、上述した信号ケーブル１６０が接続されている。
【００３０】
ところで、経路切替え回路１４０および信号ケーブル１６０には、光モジュール２００に対して入出力される、差分値でデジタル値を表した差動信号が通るので、経路切替え回路１４０が有する受信線１５３などや信号ケーブル１６０は１対になっている。以下の説明では、説明の冗長を避けるため、対であることは特に言及しない。一方、光ファイバ１７０を通る光信号は、差動信号が表したデジタル値を光のオンオフパルスで表した信号なので、光モジュール２００の相互間は１本の光ファイバ１７０で接続されている。
【００３１】
受信側リレー１５１は受信線１５３を介して光モジュール２００の受信部に接続されている一方で、入力端子１５７および迂回入力線１５６を介して隣のモジュール搭載基板１５０に接続されている。また、送信側リレー１５２は送信線１５４を介して光モジュール２００の送信部に接続されている一方で、出力端子１５８および迂回出力線１５９を介して反対隣のモジュール搭載基板１５０に接続されている。更に、受信側リレー１５１と送信側リレー１５２は、接続線１５５によって相互に接続されている。但し、接続線１５５は、外観上見えているもの以外に、内層などに設けられたものもある。このため、長さが互いに異なる合計で４つの接続線それぞれが受信側リレー１５１と送信側リレー１５２を接続している。
【００３２】
図２は、図１に外観が示された光モジュール試験装置１００の機能ブロック図である。
【００３３】
図２では、説明の便宜上、光モジュール２００の数を４つに減らして図示している。
【００３４】
光モジュール試験装置１００は、機能としてみると、制御基板１１０上に、データ生成回路１２１、チェック回路１２２、リセット回路１２３、試験制御回路１２４、切替え制御回路１２５、メモリ１２６を備えている。これらの機能要素は、ハードウェアとしては、図１に示す制御用ＬＳＩ１２０が担っている。
【００３５】
また、光モジュール試験装置１００は、機能としてみると、光モジュール２００の受信部から出力された電気信号を、同一光モジュール２００の送信部まで戻す返戻経路１７５を備えている。この返戻経路１７５は、ハードウェアとしては、図１に示す受信線１５３、受信側リレー１５１、接続線１５５、送信側リレー１５２、および送信線１５４が担っている。この返戻経路１７５が、「課題を解決するための手段」で説明した電気信号路の一例に相当する。
【００３６】
試験対象の複数（図２の例では４個）の光モジュール２００は、光ファイバ１７０と返戻経路１７５とによって互いに直列に接続される。また、そのように直列に接続された光モジュール２００の先頭と末尾は、光ファイバ１７０によって固定モジュール１８０に接続される。光ファイバ１７０は、「課題を解決するための手段」で説明した光信号路の一例に相当する。なお、後述する動作説明で光モジュール２００を互いに区別する必要がある場合には、図２に示す４つの光モジュール２００を左から順に「Ａ」の光モジュール〜「Ｄ」の光モジュールと称する。また、固定モジュール１８０のことを「Ｍ」の光モジュールと称する場合がある。
【００３７】
制御基板１１０上のデータ生成回路１２１は、試験用のデータ信号（試験信号）を電気的デジタル信号として生成して固定モジュール１８０に入力するものである。その試験信号は、固定モジュール１８０の送信部で光信号の試験信号に変換された後、直列に接続された試験対象の一連の光モジュール２００に入力される。従って、データ生成回路１２１と固定モジュール１８０の送信部とを合わせたものが、「課題を解決するための手段」で説明した入力部の一例に相当する。以下では、電気信号であるか光信号であるかを区別せずに単に試験信号と称する。
【００３８】
試験信号は、直列に接続された光モジュール２００を経て固定モジュール１８０へと戻ってくる。この固定モジュール１８０の受信部が、「課題を解決するための手段」で説明した受取部の一例に相当する。そして、チェック回路１２２は、固定モジュール１８０へと戻って来た試験信号を受け取って、データ生成回路１２１で生成された試験信号との一致不一致をチェックする回路である。戻ってきた試験信号が、データ生成回路１２１で生成された試験信号と一致した場合には、試験対象の一連の光モジュール２００はいずれも良品であることとなる。このチェック回路１２２が、「課題を解決するための手段」で説明した判定部の一例に相当する。
【００３９】
リセット回路１２３は、試験の開始などに当たって各光モジュール２００をオンオフさせることで各光モジュール２００をリセットさせるものである。
【００４０】
図１にも示した経路切替え回路１４０は、機能としてみると、電気信号の経路を切り換えて、不良な部分を迂回する迂回路を形成する機能を有する。この経路切替え回路１４０によって形成される迂回路が、「課題を解決するための手段」で説明した迂回路の一例に相当する。また、この経路切替え回路１４０は迂回路の線長を調整する機能も有している。迂回路の線長調整は、迂回路における信号の伝達長を調整する一手法である。経路切替え回路１４０が有するこれらの機能については後で更に詳細に説明する。
【００４１】
切替え制御回路１２５は、経路切替え回路１４０に含まれている受信側リレー１５１や送信側リレー１５２に直接に指示して信号経路の切替えや信号経路の線長調整を実現するものである。また、試験制御回路１２４は、試験の全体的な制御を担う回路であって、この試験制御回路１２４から切替え制御回路１２５に対して、切り換えるべき経路が指定される。従って、切替え制御回路１２５と試験制御回路１２４とを合わせたものが、「課題を解決するための手段」で説明した迂回制御部の一例に相当する。また、切替え制御回路１２５と試験制御回路１２４とを合わせたものは、「課題を解決するための手段」で説明した調整部の一例にも相当する。
【００４２】
メモリ１２６は、試験制御回路１２４による処理手順を記述したプログラムや、試験制御回路１２４によって利用されるデータなどを記憶するものである。
【００４３】
図３は、メモリ１２６の記憶内容を表した図である。
【００４４】
メモリ１２６には、試験プログラム１３１、線長決定プログラム１３２、線長試行テーブル１３３、線長決定テーブル１３４、試験結果テーブル１３５が記憶されている。これらの記憶内容の詳細については、試験のための動作に関する説明などと併せて後述するものとして、ここでは概略のみを説明する。
【００４５】
試験プログラム１３１は、光モジュールの試験手順を記述したプログラムである。この試験プログラム１３１が図１に示す制御用ＬＳＩ１２０で実行されることで、上記試験制御回路１２４などの機能が実現する。
【００４６】
線長決定プログラム１３２は、光モジュールの試験に先だって実行される、信号経路の線長を決める決定処理の手順を記述したプログラムである。この線長決定プログラム１３２も図１に示す制御用ＬＳＩ１２０で実行される。
【００４７】
線長試行テーブル１３３は、決定処理で試行される試行パターンを表したテーブルである。
【００４８】
線長決定テーブル１３４は、決定処理で決定された信号経路の線長が書き込まれるテーブルである。
【００４９】
試験結果テーブル１３５は、光モジュールの試験結果が書き込まれるテーブルである。
【００５０】
図４は、経路切替え回路１４０の機能を示す機能詳細図である。
【００５１】
図４には、３つの光モジュール２００ａ，２００ｂ，２００ｃに対応した３つの経路切替え回路１４０ａ，１４０ｂ，１４０ｃが示されている。
【００５２】
ここで、経路切替え回路の機能を説明する前に、光モジュールの内部構成について説明する。３つの光モジュール２００ａ，２００ｂ，２００ｃの構造は同一なので、代表として１番目の光モジュール２００ａについて説明する。光モジュール２００ａには、光受信器２１１と、電気出力器２１２と、電気入力器２１３と、光送信器２１４が組み込まれている。光受信器２１１は光信号の光を受けて光電気変換を行うことによって電気的なオンオフパルス信号を得るものである。そして電気出力器２１２は、そのオンオフパルス信号が表したオンオフ値を差分値として担持した差動信号を生成して出力するものである。これら光受信器２１１と電気出力器２１２とを合わせたものが光モジュール２００ａの受信部に相当する。一方、電気入力器２１３は、差動信号の入力を受けて、その差動信号が差分値として担持したデジタル値を表した電気的なオンオフパルス信号を生成するものである。そして、光送信器２１４は、そのオンオフパルス信号を電気光変換することで、光のオンオフパルスからなる光信号を生成して出力するものである。これら電気入力器２１３と光送信器２１４とを合わせたものが光モジュール２００ａの送信部に相当する。
【００５３】
次に、経路切替え回路の機能について説明する。３つの経路切替え回路１４０ａ，１４０ｂ，１４０ｃの構造は同一である。各経路切替え回路１４０ａ，１４０ｂ，１４０ｃには、図１の外観図でも説明したように、受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃと送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃが備えられている。そして、それら受信側リレーと送信側リレーとの相互間を接続している４本の選択線が備えられている。４本の選択線のうち最も短い第１の選択線１５５＿ａ１，１５５＿ｂ１，１５５＿ｃ１が、図１の外観図で説明した接続線１５５である。４本の選択線のうち第１の選択線１５５＿ａ１，１５５＿ｂ１，１５５＿ｃ１と第２の選択線１５５＿ａ２，１５５＿ｂ２，１５５＿ｃ２とは、線長がΔＬだけ異なっている。また、４本の選択線のうち第２の選択線１５５＿ａ２，１５５＿ｂ２，１５５＿ｃ２と第３の選択線１５５＿ａ３，１５５＿ｂ３，１５５＿ｃ３とも、線長がΔＬだけ異なっている。さらに、４本の選択線のうち第３の選択線１５５＿ａ３，１５５＿ｂ３，１５５＿ｃ３と第４の選択線１５５＿ａ４，１５５＿ｂ４，１５５＿ｃ４とも、線長がΔＬだけ異なっている。これらの選択線はいずれも、基板上に配設された導電パターンであるので材質は互いに同質である。従って、選択線を通る電気信号の伝達長は選択線の線長で決まる。つまり、選択線を選択することにより、受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃと送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃとの相互間における電気信号の伝達長を選択することができる。受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃと送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、そのような選択を行うためのリレースイッチとして機能する。また、このリレースイッチによる選択線の選択は、迂回路における電気信号の伝達長の調整に相当する。
【００５４】
ここで、以下のような応用形態は好ましい。この応用形態では、「課題を解決するための手段」で説明した迂回路は、電気信号の伝達長が互いに異なり互いに並列な複数の並列路を有している。そして、その迂回路は、それら複数の並列路のいずれかが選択されることで伝達長が調整可能なものである。さらに、この応用形態では、「課題を解決するための手段」で説明した調整部は、迂回路に対して、試験信号の伝送速度に応じた並列路を選択するものである。このような応用形態によれば、電気信号の伝達長を調整するための機構や手順が簡素となるので好ましい。
【００５５】
図４に示す４本の選択線が、この応用形態にいう複数の並列路の一例に相当する。また、上述した切替え制御回路１２５と試験制御回路１２４とを合わせたものは、この応用形態における調整部の一例にも相当している。
【００５６】
受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃおよび送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、上述した選択を行うためのリレースイッチとしての機能の他に、以下説明する別のリレースイッチとしての機能も有している。
【００５７】
上述したように受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃは、受信線１５３ａ，１５３ｂ，１５３ｃを介して光モジュール２００ａ，２００ｂ，２００ｃの受信部に接続されている。また、送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、送信線１５４ａ，１５４ｂ，１５４ｃを介して光モジュール２００ａ，２００ｂ，２００ｃの送信部に接続されている。さらに、受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃと送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、基板間迂回路ｎにも接続されている。この基板間迂回路ｎは、図１に示す信号ケーブル１６０と、その信号ケーブル１６０の両端に繋がった迂回入力線１５６、入力端子１５７、出力端子１５８、迂回出力線１５９とを合わせたものである。受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃは、受信線１５３ａ，１５３ｂ，１５３ｃと基板間迂回路ｎとのいずれかを選択するリレースイッチとして機能する。また、送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、送信線１５４ａ，１５４ｂ，１５４ｃと基板間迂回路ｎとのいずれかを選択するリレースイッチとして機能する。以下の説明では、受信線１５３ａ，１５３ｂ，１５３ｃおよび送信線１５４ａ，１５４ｂ，１５４ｃを総称して光モジュール側と称する場合がある。つまり、受信側リレー１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃおよび送信側リレー１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃは、光モジュール側と基板間迂回路ｎ側とのいずれかを選択するリレースイッチとして機能する。この光モジュール側と基板間迂回路ｎ側との選択は、迂回路や返戻経路の形成に相当する。
【００５８】
ここまでは、図１に示す光モジュール試験装置１００の構造や基本的機能について説明した。ここから、光モジュール試験装置１００による処理動作に着目した説明を行う。
【００５９】
図５は、試験プログラムのフローチャートである。
【００６０】
図５に示すフローチャートは、図３に示す試験プログラム１３１に記述された試験手順を表したフローチャートである。以下の説明では、プログラムの実行によって実現される光モジュール試験装置１００の各部の動作についても併せて説明する。説明の便宜のため、図１，２，４に示された要素については特に図番を断らずに符号のみで引用する場合がある。
【００６１】
ここに示すフローチャートに基づいて実行される試験は、試験信号が異なる複数の試験項目を含んでいて約２４時間に亘って続けられる試験である。
【００６２】
試験が開始されると、試験制御回路１２４により切替え制御回路１２５に対し、全てのモジュール搭載基板１５０について、経路切替え回路１４０の受信側リレー１５１および送信側リレー１５２に光モジュール側を選択させることが指示される。このとき選択線については、線長が最短の選択線を選択させることが指示される。このような選択により、全てのモジュール搭載基板１５０について返戻経路１７５（即ち同一光モジュールの受信部と送信部とを繋ぐ閉回路）が形成される（ステップＳ１０１）。
【００６３】
次に、試験制御回路１２４によりリセット回路１２３に対し、全ての光モジュール２００のリセットが指示される。リセット回路１２３は、全ての光モジュール２００について一旦電源を切って再度電源を入れることでリセットを行う（ステップＳ１０２）。
【００６４】
次に、試験制御回路１２４によりデータ生成回路１２１に対して試験用のデータ信号（試験信号）の生成が指示される。データ生成回路１２１で生成された試験信号は、上述したように固定モジュール１８０の送信部で光信号の試験信号に変換された後、直列に接続された試験対象の一連の光モジュール２００の先頭に入力される（ステップＳ１０３）。図２に示す例で言えば、「Ｍ」の光モジュールから「Ａ」の光モジュールへと試験信号が送られる。
【００６５】
それら一連の光モジュール２００では、各光モジュール２００が光信号を電気信号に変換する。その電気信号は、経路切替え回路１４０によって形成された返戻経路１７５を経て、各光モジュール２００自身に戻ってくる。そして、各光モジュール２００は、戻ってきた電気信号を光信号に変換して次の光モジュール２００へと送信する。図２に示す例で言えば、「Ａ」〜「Ｄ」の各光モジュールにより試験信号が順に送られていく（ステップＳ１０４）。
【００６６】
そして、直列に接続された一連の光モジュール２００における最後の光モジュール２００は試験信号を固定モジュール１８０へと戻す。図２に示す例で言えば、「Ｄ」の光モジュールから「Ｍ」の光モジュールに試験信号が戻って来る（ステップＳ１０５）。
【００６７】
固定モジュール１８０は、試験信号を受信部で光信号として受け取り、その光信号を電気信号に変換する。変換で得られた電気信号はチェック回路１２２に入力され、一方で、データ生成回路１２１からチェック回路１２２には、データ生成回路１２１で生成された試験信号と同じデータ信号が入力される。そして、チェック回路１２２では、これらの信号が表すデータが互いに一致しているか否かをチェックする（ステップＳ１０６）。
【００６８】
チェック回路１２２でデータが同一と判定された場合（ステップＳ１０７；Ｙｅｓ）は、全ての試験項目が終了したか判定される（ステップＳ１０８）。そして、未終了の試験項目が残っている場合には上記ステップＳ１０３に戻って、次の試験項目の試験信号が用いられて上記ステップＳ１０３〜ステップＳ１０７が繰り返される。全ての試験項目が終了した場合（ステップＳ１０８；Ｙｅｓ）には試験を終了するための処理が行われ（ステップＳ１０９）、その後、試験は終了する。
【００６９】
一方、上記ステップＳ１０７で、チェック回路１２２によりデータが不一致と判定された場合（ステップＳ１０７；Ｎｏ）には、試験対象の一連の光モジュール中に動作不良を生じたもの（不良品）が含まれていることになる。そのため、不良品の光モジュールを試験対象から切り分ける切り分け処理が実行される（ステップＳ１１０）。
【００７０】
図６は、切り分け処理のフローチャートである。
【００７１】
図６のフローチャートが示す切り分け処理では、直列に接続された一連の光モジュールのなかから、動作不良を生じた光モジュールを発見することと、その光モジュールを除く他の光モジュールに対する試験を継続することとの双方のために迂回路が形成される。なお、光モジュールには受信部と送信部が備えられているため、不良品の光モジュールであっても、受信部と送信部とのうち一方のみが動作不良を生じている場合がある。以下説明する切り分け処理では、動作不良を生じている部分を迂回するための最低限の迂回路が探索される。
【００７２】
切り分け処理が開始されると、試験制御回路１２４によりリセット回路１２３に対し、全ての光モジュール２００のリセットが指示される。リセット回路１２３は、全ての光モジュール２００について一旦電源を切って再度電源を入れることでリセットを行う（ステップＳ２０１）。
【００７３】
次に、試験制御回路１２４により切替え制御回路１２５に対し、各光モジュール２００に対応した経路切替え回路１４０による迂回路の形成が指示される（ステップＳ２０２）。実現可能な迂回路は、直列に接続された光モジュールの数によって数学的に決まるので、試験制御回路１２４による演算で迂回路が求められる。そして、試験制御回路１２４による指示に従って切替え制御回路１２５が経路切替え回路１４０の受信側リレー１５１や送信側リレー１５２を切り替えることで迂回路が形成される。
【００７４】
ここで、経路切替え回路１４０で実現可能な迂回路について説明する。
【００７５】
図７は、経路切替え回路１４０で実現可能な迂回路の例を示す図である。
【００７６】
図７には、試験対象の光モジュールが４つである場合を例として、実現可能な全ての迂回路が示されている。光モジュールが４つである場合には、図７に示すＡからＧまでの７つの迂回路が実現可能である。そして、これら７つの迂回路は、いくつかのパターンに分類される。例えば、迂回路Ａと迂回路Ｂと迂回路Ｃ（および迂回路Ｆ）は、隣り合った１対の光モジュールを繋ぐ迂回箇所を有する迂回路である。これら迂回路Ａと迂回路Ｂと迂回路Ｃ（および迂回路Ｆ）に含まれている迂回箇所（Ａ，Ｂ，Ｃは１箇所、Ｆは２箇所）の迂回パターンは最短の迂回パターンであり、この最短の迂回パターンでは、光ファイバで直接に接続された１対の送信部と受信部が迂回されることとなる。また、迂回路Ｄと迂回路Ｅには、光ファイバで直接に接続された送信部と受信部の対を連続で２対迂回する迂回箇所が含まれている。そして、迂回路Ｇには、光ファイバで直接に接続された送信部と受信部の対を連続で３対迂回する迂回箇所が含まれている。この迂回路Ｇに含まれた迂回箇所の迂回パターンが、光モジュールが４つの場合における最長の迂回パターンである。
【００７７】
図７に示されたような各迂回路が、図６のステップＳ２０２で、迂回パターンが短いものから順に形成されることとなる。そして、各迂回路が形成される毎に、試験制御回路１２４によりデータ生成回路１２１に対して試験用のデータ信号（試験信号）の生成が指示される（ステップＳ２０３）。また、各迂回路が形成される毎に、「Ｍ」の光モジュールまで戻ってきた試験信号について、チェック回路１２２により、図５のステップＳ１０６でのチェックと同様のチェックが行われる（ステップＳ２０４）。ここで用いられる試験信号は、図５のステップＳ１０７でデータが不一致と判定されたときに用いられた試験信号と同じ試験信号である。従って、迂回路で動作不良の箇所が迂回できていない場合には、チェック結果は不一致となり、迂回路で動作不良の箇所が迂回できた場合にチェック結果が一致する。このため、チェック結果が不一致の場合（ステップＳ２０５；Ｎｏ）には、ステップＳ２０２に戻って、次の迂回路についてステップＳ２０２〜ステップＳ２０５の手順が繰り返される。ステップＳ２０２〜ステップＳ２０５の手順が繰り返された結果、ステップＳ２０２で全ての迂回路の組み合わせが終了してもチェック結果が不一致であった場合には、不良箇所を迂回することができなかったことになるので試験は中止される。
【００７８】
一方、チェック回路１２２でデータが同一と判定された場合（ステップＳ２０５；Ｙｅｓ）には、必要最小限の迂回が実現したことを意味する。そして、その時点で迂回されている（即ち試験信号の経路から切り離されている）箇所を「不良品」として試験結果に記録する（ステップＳ２０６）。その後、図５のステップＳ１０８に戻って試験が続行される。
【００７９】
図８は、記録された試験結果の例を示す図である。
【００８０】
図８には、上述したメモリ１２６に記憶されている試験結果テーブル１３５が示されている。この試験結果テーブル１３５には、光モジュールの位置と試験結果とのセットが記録されている。但し、迂回の単位は、隣り合う光モジュールにおける送信部と受信部との対であるので、光モジュールの位置は、そのような送信部と受信部との対を表している。
【００８１】
図８に示す例では、「Ｃ」の光モジュールの送信部と「Ｄ」の光モジュールの受信部との対が「不良」として迂回されたことが示されている。最終的に試験が終了した時点では、安全のため、「Ｃ」と「Ｄ」の光モジュールはどちらも不良品の可能性があるとして試験は不合格となる。この試験結果テーブル１３５に記憶された試験結果は、図１に示す状態表示用のＬＥＤ１１２によって点灯消滅状態で表示される。
【００８２】
ところで、以上説明したように不良品の光モジュールあるいは不良箇所の送信部や受信部が見つかるためには、不良品の光モジュールあるいは不良箇所の送信部や受信部が迂回路によって迂回された場合にチェック回路１２２でデータが同一となる必要がある。
【００８３】
しかしながら、単に迂回路を形成するだけでは、以下説明するように、差動信号を構成する１対の信号間に波形ズレが生じてしまうことを発明者は見出した。
【００８４】
図９は、波形ズレの例を示す図である。
【００８５】
図９のパート（Ａ）には、試験信号の差動信号における本来の入力波形が示されている。この入力波形のように、試験信号では差動信号において一対の信号は波形が揃っている。
【００８６】
図９のパート（Ｂ）には、差動信号における位相を考慮せずに単に不良部分を迂回するためだけに形成した迂回路の例が示されている。ここでは、３つの光モジュール２００ａ，２００ｂ，２００ｃのうち真ん中の光モジュール２００ｂについて送信部も受信部も動作が不良であった場合を例にしている。そのような不良な光モジュール２００ｂを回避するため、２つの受信側リレー１５１ｂ，１５１ｃと２つの送信側リレー１５２ａ，１５２ｂが光モジュール側から基板間迂回路ｎ側に切り換えられている。この結果、１番左側の光モジュール２００ａの受信部から一番右側の光モジュール２００ｃの送信部へと至る迂回路が形成される。また、このときに選択されている選択線１５５＿ａ１，１５５＿ｂ１，１５５＿ｃ１は、返戻経路の一部を形成していた最短の選択線１５５＿ａ１，１５５＿ｂ１，１５５＿ｃ１のままである。このように形成された迂回路に対して、図９のパート（Ａ）に示す入力波形の差動信号が入力されると、図９のパート（Ｃ）に示す出力波形を生じる。この出力波形では波形ズレｄ１が生じている。この波形ズレｄ１は、２つの基板間迂回路ｎを含んだ迂回路を差動信号が通過することで生じている。このように波形ズレｄ１が生じてしまうと、差動信号が表すデジタル値にも影響が生じてしまう。そして、チェック回路１２２ではデータが不一致となる。
【００８７】
このような波形ズレｄ１の量は、差動信号が通過する迂回路における信号の伝達長に依存している。そこで、図１に示す光モジュール試験装置１００には、図４を参照して説明したように、４本の選択線のうちの１本の選択線を選択することによって線長を調整し、延いては電気信号の伝達長を調整する機能が備えられている。そして、その機能によって電気信号の伝達長を調整することで波形ズレを抑制することが出来る。
【００８８】
図１０は、図９に示す迂回路に対して伝達長（線長）が調整された迂回路の例を示す図である。
【００８９】
図１０のパート（Ａ）には、図９のパート（Ａ）にも示した入力波形が示されている。
【００９０】
図１０のパート（Ｂ）には、図９のパート（Ｂ）に示す迂回路に対して伝達長（線長）が調整された迂回路が示されている。ここでは、中央の経路切替え回路における受信側リレー１５１ｂおよび送信側リレー１５２ｂによって第２の選択線１５５＿ｂ２が選択されている。更に、右側の経路切替え回路における受信側リレー１５１ｃおよび送信側リレー１５２ｃによって第４の選択線１５５＿ｃ４が選択されている。この結果、迂回路全体としての線長は、図９のパート（Ｂ）に示す迂回路よりも４×ΔＬだけ長くなっている。このように線長が調整されることで伝達長が調整された迂回路に図１０のパート（Ａ）に示す入力波形の差動信号が入力されると、図１０のパート（Ｃ）に示す出力波形を生じる。この出力波形では波形ズレｄ２が生じているものの、その波形ズレの大きさは、図９のパート（Ｃ）に示す出力波形で生じている波形ズレｄ１よりも小さい。
【００９１】
図１１は、図１０に示す迂回路に対して伝達長（線長）がさらに調整された迂回路の例を示す図である。
【００９２】
図１１のパート（Ａ）にも、図９のパート（Ａ）と同様の入力波形が示されている。
【００９３】
図１１のパート（Ｂ）には、図１０のパート（Ｂ）に示す迂回路に対してさらに伝達長（線長）が調整された迂回路が示されている。ここでは、中央の経路切替え回路における受信側リレー１５１ｂおよび送信側リレー１５２ｂによって第４の選択線１５５＿ｂ２が選択されている。この結果、迂回路全体としての線長は、図１０のパート（Ｂ）に示す迂回路よりも更に２×ΔＬだけ長くなっている。つまり、図９のパート（Ｂ）に示す迂回路に較べると６×ΔＬだけ長くなっている。このように線長が調整されることで伝達長が調整された迂回路に図１１のパート（Ａ）に示す入力波形の差動信号が入力されると、図１１のパート（Ｃ）に示す出力波形を生じる。この出力波形では波形ズレはほぼゼロとなっている。このように、迂回路の伝達長（線長）の調整によって差動信号の波形ズレをほぼゼロとすることが出来る。
【００９４】
以下、本実施形態の光モジュール試験装置１００における線長調整の詳細について説明する。
【００９５】
本実施形態の光モジュール試験装置１００では、図６のステップＳ２０２で迂回路を形成するためのリレーの切替と同時に、選択線を選択するためのリレーの切替も行われる。また、図９や図１０に示す波形ズレの大きさは、信号の伝達長のみでなく、差動信号における伝送速度にも依存しているので、線長は、伝送速度に応じた線長に調整される。本実施形態の光モジュール試験装置１００では、波形ズレが押さえられる線長は、光モジュールの試験を開始する前に予め正常な光モジュールを使って伝送速度ごとに確認済である。そして、その確認された線長を実現するための選択線の選択パターンがテーブルに記憶されている。つまり、このような光モジュール試験装置１００は、次のような応用形態の一例に相当する。この応用形態は、光モジュールの試験に先だって試験信号の伝送速度に応じた伝達長の探索を行い、探索結果を記録する伝達長探索部を備えている。そして、この応用形態では、「発明が解決しようとする課題」で説明した調整部が、その伝達長探索部によって記録された探索結果を用いて伝達長を調整するものとなっている。
【００９６】
この応用形態によれば、伝達長に依存した波形ズレと光モジュールの動作不良の影響とを区別して伝達長の探索を行うことができるので、適切な伝達長を確実に見つけて調整に用いることが出来る。
【００９７】
図１２は、伝送速度に応じた選択パターンの例を示す図である。
【００９８】
図１２には、上述したメモリ１２６に記憶されている線長決定テーブル１３４の具体的な例が示されている。上述したメモリ１２６には、伝送速度ごとの線長決定テーブル１３４が記憶されている。そして、図１２には、「１５０Ｍｂｐｓ」という伝送速度に対応した線長決定テーブル１３４が示されている。
【００９９】
線長決定テーブル１３４には、迂回パターンごとに選択線の選択パターンが記憶されている。例えば、図７の迂回路Ａなどが有している最短の第１迂回パターンは、２つの経路切替え回路１４０ａ，１４０ｂを経る迂回パターンである。この第１迂回パターンでは、第１の経路切替え回路１４０ａで第３の選択線１５５＿ａ３、第２の経路切替え回路１４０ｂで第４の選択線１５５＿ｂ４が選択される選択パターンが用いられる。また、例えば、図７の迂回路Ｄなどが有している第２迂回パターンは、３つの経路切替え回路１４０ａ，１４０ｂ，１４０ｃを経る迂回パターンである。この第２迂回パターンで用いられる選択パターンでは、第１の経路切替え回路１４０ａで第１の選択線１５５＿ａ１が選択される。また、この第２迂回パターンで用いられる選択パターンでは、第２の経路切替え回路１４０ｂで第２の選択線１５５＿ｂ２が選択されるとともに、第３の経路切替え回路１４０ｃで第４の選択線１５５＿ｃ４が選択される。
【０１００】
図６のステップＳ２０２における迂回路の形成時には、試験制御回路１２４によって、試験信号の伝送速度に応じた線長決定テーブル１３４が参照される。そして、形成される迂回路に含まれる迂回パターンに対応した選択パターンが試験制御回路１２４によって線長決定テーブル１３４から読み出される。その読み出された選択パターンは、形成される迂回路とともに試験制御回路１２４から切替え制御回路１２５に指定される。切替え制御回路１２５は、指定された迂回路における迂回箇所に選択パターンを適用することで、各経路切替え回路１４０における各リレーの具体的な切替を算出する。そして、切替え制御回路１２５の制御によって各リレーが切り換えられることで、迂回路の形成と迂回路における線長の調整とが同時に実現される。本実施形態では、このような線長の調整によって試験信号の波長ズレが抑制されるので、動作不良の箇所が迂回路で迂回されたならば、試験信号は正常に通過してチェック回路１２２まで到達することが保証される。従って、試験中に不良品の光モジュールあるいは動作が不良な送信部や受信部を見つけることができる。また、その見つけた不良箇所を回避して試験を続行することができる。
【０１０１】
ここで、試験時に調整される線長を光モジュールの試験の開始前に決定する線長決定処理について説明する。この線長決定処理は、正常な光モジュールを使って迂回パターンごとに、信号伝達のために適切な線長を確認する処理である。その線長の確認が即ち、調整により実現する線長の決定である。この線長決定処理は、上述したメモリ１２６に記憶されている線長決定プログラム１３２に基づいて実行される。
【０１０２】
図１３、図１４、図１５は、線長決定処理における処理手順を表す図である。
【０１０３】
線長決定処理では、各迂回パターンについて適切な線長が確認されるが、図１３、図１４、図１５では、２対の送信部および受信部が迂回される第２迂回パターンが例として示されている。線長決定処理では、適切な線長を確認する対象となる迂回パターンが試験制御回路１２４から切替え制御回路１２５に指示される。そして、切替え制御回路１２５による経路切替え回路１４０の制御によって、図１，２，４の左側に寄せられて形成される。図１３のパート（Ｂ）には、そのように形成された迂回パターンが示されている。このように迂回パターンが形成された初期では、選択線としては最短の選択線が選択されている。そして、データ生成回路１２１では、図１３のパート（Ａ）に示すような入力データを表したデータ信号が生成される。その生成されたデータ信号は固定モジュール１８０で光信号に変換されて、図１３のパート（Ｂ）に示す迂回パターンに入力される。そして、図１３のパート（Ｂ）に示す迂回パターンおよび他の正常な光モジュールを経て戻ってきた光信号が固定モジュール１８０で電気信号に変換されると、例えば図１３のパート（Ｃ）に示すような出力データを表すデータ信号が得られる。そして、チェック回路１２２によって、入力データと出力データの同一性がチェックされる。入力データと出力データが同一となるまで、迂回パターンにおける線長が、切替え制御回路１２５による経路切替え回路１４０の制御（即ち選択線の選択切替）によって順次に変更されていく。例えば図１３に示す場合には、入力データと出力データが不一致であるため、迂回パターンの線長は不適切と判定される。その結果、切替え制御回路１２５による経路切替え回路１４０の制御によって線長が次の線長に変更される。図１４のパート（Ｂ）には、線長がある程度変更された状態の迂回パターンが示されている。ここでは、中央の経路切替え回路で第２の選択線が選択されるとともに右側の経路切替え回路で第４の選択線が選択されていることで、最短線長に対し４×ΔＬだけ長い線長が実現されている。
【０１０４】
しかし、図１４のパート（Ｂ）に示す線長の迂回パターンに図１４のパート（Ａ）に示すような入力データを表した光信号が入力されると、チェック回路１２２に到達した信号は、図１４のパート（Ｃ）に示すような出力データを表す信号となる。つまり、図１４に示す場合も入力データと出力データは不一致となるので、迂回パターンの線長はまだ不適切と判定される。その後切替え制御回路１２５による経路切替え回路１４０の制御によって線長が更に変更されると、例えば図１５のパート（Ｂ）に示す状態の迂回パターンが得られる。ここでは、中央の経路切替え回路で第４の選択線が選択されるとともに右側の経路切替え回路でも第４の選択線が選択されていることで、最短線長に対し６×ΔＬだけ長い線長が実現されている。この状態の迂回パターンに、図１５のパート（Ａ）に示す入力データを表した光信号が入力されると、チェック回路１２２に到達した信号は、図１５のパート（Ｃ）に示すような、入力データと一致した出力データを表す信号となる。この結果、図１５のパート（Ｂ）に示す状態の迂回パターンでは線長が適切であると判定される。そして、図１５のパート（Ｂ）に示す線長を実現している選択パターンが、この迂回パターンに対応する選択パターンとして、上述した線長決定テーブル１３４に記憶される。
【０１０５】
線長決定処理では、このような手順で適切な線長の確認（決定）が行われる。
【０１０６】
ところで、例えば図１３に示す迂回パターンの場合には、３つの経路切替え回路によって選択可能なパターンの数は４×４×４＝６４であるのに対して、調整可能な線長の範囲は、０×ΔＬから９×ΔＬまでの１０通りしかない。つまり、選択パターンのほうが線長の調整範囲よりも多い。従って、同一線長を実現する選択パターンとして複数のパターンが存在することになる。このことは、線長の調整という意味では選択パターンには重複したパターンが存在するということになる。ここで、図１３でも例示した第２迂回パターンを例として、同一線長を実現するパターンの例について説明する。
【０１０７】
図１６は、同一線長を実現するパターンの例を示す図である。
【０１０８】
図１６には、第２迂回パターンでの最短線長を実現するパターンが示されている。
【０１０９】
図１６のパート（Ａ）には、「Ａ」から「Ｃ」の各光モジュールに対応した各経路切替え回路で選択可能な選択線を表した表が示されている。この表に記載されているように、最短線長を実現するパターンは、選択線がいずれも第１の選択線１５５＿ａ１，１５５＿ｂ１，１５５＿ｃ１である１パターンしか存在しない。図１６のパート（Ｂ）には、その１パターンに相当する選択パターンが示されている。
【０１１０】
図１７は、同一線長を実現する重複パターンの例を示す図である。
【０１１１】
図１７には、第２迂回パターンでの最短線長に対して２×ΔＬだけ長い線長を実現するパターンが示されている。
【０１１２】
図１７のパート（Ａ）には、「Ａ」から「Ｃ」の各光モジュールに対応した各経路切替え回路で選択可能な選択線を表した表が示されている。この表には６つのパターンが示されている。そして、図１７のパート（Ｂ）には、図１７のパート（Ａ）の表の上から３段目のパターンに相当する選択パターンが示されている。即ち、左の経路切替え回路では第１の選択線１５５＿ａ１、中央の経路切替え回路では第３の選択線１５５＿ｂ３、右の経路切替え回路では第１の選択線１５５＿ｃ１が選択されている。また、図１７のパート（Ｃ）には、図１７のパート（Ａ）の表の上から４段目のパターンに相当する選択パターンが示されている。即ち、左の経路切替え回路では第２の選択線１５５＿ａ２、中央の経路切替え回路では第２の選択線１５５＿ｂ２、右の経路切替え回路では第２の選択線１５５＿ｃ２が選択されている。
【０１１３】
図１８は、同一線長を実現する重複パターンの別の例を示す図である。
【０１１４】
図１８には、第２迂回パターンでの最短線長に対して３×ΔＬだけ長い線長を実現するパターンが示されている。
【０１１５】
図１８のパート（Ａ）には、「Ａ」から「Ｃ」の各光モジュールに対応した各経路切替え回路で選択可能な選択線を表した表が示されている。この表には１０のパターンが示されている。そして、図１８のパート（Ｂ）には、図１８のパート（Ａ）の表の一番上のパターンに相当する選択パターンが示されている。即ち、左の経路切替え回路では第１の選択線１５５＿ａ１、中央の経路切替え回路では第１の選択線１５５＿ｂ１、右の経路切替え回路では第４の選択線１５５＿ｃ４が選択されている。また、図１８のパート（Ｃ）には、図１８のパート（Ａ）の表の上から５段目のパターンに相当する選択パターンが示されている。即ち、左の経路切替え回路では第２の選択線１５５＿ａ２、中央の経路切替え回路では第１の選択線１５５＿ｂ１、右の経路切替え回路では第３の選択線１５５＿ｃ３が選択されている。
【０１１６】
線長決定処理で線長を変更するに当たって、このような重複したパターンを全て試すのは無意味である。そこで、本実施形態では、線長ごとの選択パターン（線長確認に使うための試行パターン）は予め決められている。その決められた試行パターンは、上述したメモリ１２６の線長試行テーブル１３３に記憶されている。
【０１１７】
図１９は、決められた試行パターンの例を第２迂回パターンについて示す図である。
【０１１８】
図１９には、上述したメモリ１２６の線長試行テーブル１３３の一例である、第２迂回パターンに対応した線長試行テーブル１３３＿１が示されている。この線長試行テーブル１３３＿１には、最短線長Ｌに対して０×ΔＬから９×ΔＬまでのそれぞれ調整長を加えた１０通りの線長について、その線長を実現するための試行パターンが記憶されている。この線長試行テーブル１３３＿１の最上段と最下段には、１パターンしかあり得ないそのパターンが記憶されているが、その他の段のパターンは、複数の重複パターンの中から選択されて記憶されたパターンである。
【０１１９】
図２０は、決められた試行パターンの例を第３迂回パターンについて示す図である。
【０１２０】
図２０には、上述したメモリ１２６の線長試行テーブル１３３の一例である、第３迂回パターンに対応した線長試行テーブル１３３＿２が示されている。この線長試行テーブル１３３＿２には、最短線長Ｌに対して０×ΔＬから１２×ΔＬまでのそれぞれ調整長を加えた１０通りの線長について、その線長を実現するための試行パターンが記憶されている。第３迂回パターンでは、迂回の開始箇所から終了箇所に至るまで、都合４つの光モジュールに対応した４つの経路切替え回路が含まれることになる。このため、線長試行テーブル１３３＿２には、それら４つの経路切替え回路における選択線の選択パターンが記憶されている。この線長試行テーブル１３３＿２でも、最上段と最下段には、１パターンしかあり得ないそのパターンが記憶されているが、その他の段のパターンは、複数の重複パターンの中から選択されて記憶されたパターンである。
【０１２１】
本実施形態では、線長の変更に当たり、図１９や図２０に例示された線長試行テーブルのうち、線長確認の対象となる迂回パターンに対応した線長試行テーブルが試験制御回路１２４によって参照される。そして、変更する線長を実現する試行パターンが試験制御回路１２４によって読み出されて切替え制御回路１２５に指示される。切替え制御回路１２５は、その指示された試行パターンに従って各経路切替え回路を制御する。これにより、図１３、図１４、図１５に例示したような迂回パターンが実現される。
【０１２２】
以上説明した線長決定処理に対する、線長決定処理の別例について以下説明する。
【０１２３】
この別例では、上述した線長決定処理のように線長を１つずつ試行するのではなく、最短線長で波形ズレの量を測定しておいて、計算で適切な線長を求めている。波形ズレの量の測定には、固定モジュール１８０に戻ってくる試験信号の光信号が通る光ファイバの途中を分岐させて得た測定用の光信号を用いる。
【０１２４】
図２１、図２２は、線長決定処理の別例における処理手順を表す図である。
【０１２５】
図２１のパート（Ａ）には、図９のパート（Ａ）にも示した入力波形が示されている。
【０１２６】
図２１のパート（Ｂ）には、最短線長の迂回パターンの例が示されている。この最短線長の迂回パターンに、図２１のパート（Ａ）に示された入力波形が入力された場合に得られる出力波形が図２１のパート（Ｃ）に示されている。そして、線長決定処理の別例では、この出力波形における波形ズレｄに相当するズレ時間「ｎピコ秒」が測定される。
【０１２７】
伝送速度および選択線の材質から、単位線長当たりの波形短縮率は理論的に算出できるので、この波形短縮率と測定されたズレ時間「ｎピコ秒」に基づいて、波形ズレをキャンセル可能な線長も算出できる。
【０１２８】
図２２は、算出された線長を実現する迂回パターンを示す図である。
【０１２９】
図２２のパート（Ａ）にも、入力波形が示されている。
【０１３０】
図２２のパート（Ｂ）には、算出された線長を実現する迂回パターンが示されている。この例では、最短線長に対して６×ΔＬだけ長い線長が実現されている。この線長の迂回パターンに対し、図２２のパート（Ａ）に示す入力波形の信号が入力されると、図２２のパート（Ｃ）に示す出力波形の信号が得られる。そして、この出力波形では、波形ズレはほぼゼロとなっている。このように、以上説明した別例の線長決定処理では、線長の試行を行うことなく適切な線長を求めることが出来る。
【０１３１】
線長決定処理の更に別の例としては、上述した２例の中間的な例で、波形ズレを観測しながら、波形ズレがほぼゼロとなるまで試行パターンを１つずつ試行する方法もあり得る。
【符号の説明】
【０１３２】
１００    光モジュール試験装置
１１０    制御基板
１１１    電源
１１２    状態表示用のＬＥＤ
１２０    制御用ＬＳＩ
１２１    データ生成回路
１２２    チェック回路
１２３    リセット回路
１２４    試験制御回路
１２５    切替え制御回路
１２６    メモリ
１７５    返戻経路
１３１    試験プログラム
１３２    線長決定プログラム
１３３    線長試行テーブル
１３４    線長決定テーブル
１３５    試験結果テーブル
１４０，１４０ａ，１４０ｂ，１４０ｃ    経路切替え回路
１５０    モジュール搭載基板
１６０    信号ケーブル
１７０    光ファイバ
１７５    返戻経路
１８０    試験信号発着用の固定モジュール
２００，２００ａ，２００ｂ，２００ｃ    試験対象となる光モジュール
２１１    光受信部
２１２    電気出力部
２１３    電気入力部
２１４    光送信部
１５１，１５１ａ，１５１ｂ，１５１ｃ    受信側リレー
１５２，１５２ａ，１５２ｂ，１５２ｃ    送信側リレー
１５３，１５３ａ，１５３ｂ，１５３ｃ    受信線
１５４，１５４ａ，１５４ｂ，１５４ｃ    送信線
１５５    接続線
１５５＿ａ１，…，１５５＿ａ４，１５５＿ｂ１，…，１５５＿ｂ４，１５５＿ｃ１，…，１５５＿ｃ４    選択線
１５６    迂回入力線
１５７    入力端子
１５８    出力端子
１５９    迂回出力線
ｎ    基板間迂回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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