(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段に保持された電子部品に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記電圧印加手段を放熱させる放熱手段と、
少なくとも前記搬送手段及び前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、予め求められている発熱係数Ｈと、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、前記搬送手段及び前記電圧印加手段の動作を停止させること、
前記発熱係数Ｈは前回測定時の不良率であり、
前記発熱量は、複数の印加電圧Ｖ1，Ｖ2…Ｖnと、該印加電圧の印加時間Ｔ1，Ｔ2…Ｔnとの積の総和と前記発熱係数Ｈとの積である
Ｈ×（Ｖ1×Ｔ1＋Ｖ2×Ｔ2…Ｖn×Ｔn）であること、
を特徴とする電子部品の特性測定装置。
【請求項２】
電子部品を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段に保持された電子部品に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記電圧印加手段を放熱させる放熱手段と、
少なくとも前記搬送手段及び前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、予め求められている発熱係数Ｈと、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、前記搬送手段による搬送時間Ｔ２を延長させること、
前記発熱係数Ｈは前回測定時の不良率であり、
前記発熱量は、複数の印加電圧Ｖ1，Ｖ2…Ｖnと、該印加電圧の印加時間Ｔ1，Ｔ2…Ｔnとの積の総和と前記発熱係数Ｈとの積である
Ｈ×（Ｖ1×Ｔ1＋Ｖ2×Ｔ2…Ｖn×Ｔn）であること、
を特徴とする電子部品の特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品の特性測定装置、特に、コンデンサやコイルや高周波複合部品などのチップ型電子部品の電気的特性を自動的に測定するための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、コンデンサやチップコイルなどの電子部品は出荷する前に検査工程に付す。ここでの検査工程では、例えばコンデンサであれば、静電容量（Ｃ）や絶縁抵抗（ＩＲ）といった電気的特性を測定し、測定結果に基づいて良品のみを選別して出荷する。この種の検査工程は、大量の電子部品を取り扱うために能率的に進めなければならない。
【０００３】
そこで、絶縁抵抗（ＩＲ）の測定には、特許文献１に記載されているように、複数の電子部品に対して一斉に充電／放電を繰り返して行われる。このようなマルチ測定方式による場合、同時に測定する複数の電子部品ごとに電圧印加手段が設けられている。被測定部品にショート不良が生じていると、電圧印加手段が発熱し、そのまま発熱を放置すると電流制限素子が熱暴走を引き起こしたり、電圧印加手段の破壊につながる。そこで、放熱板やファンを備えた放熱手段を設ける必要がある。
【０００４】
従来、このような放熱手段は一斉に測定（充電／放電）される電子部品の全てがショートしている場合を想定して設ける必要があり、温度センサなどを用いて発熱温度を監視する必要があった。しかし、これでは、放熱手段などの設備費が上昇し、測定装置が大型化してしまうという問題点を有していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−７７２３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明の目的は、マルチ測定方式において、放熱設備などを大型化する必要なく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる電子部品の特性測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
以上の目的を達成するため、本発明の第１の形態である特性測定装置は、
電子部品を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段に保持された電子部品に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記電圧印加手段を放熱させる放熱手段と、
少なくとも前記搬送手段及び前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、予め求められている発熱係数Ｈと、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、前記搬送手段及び前記電圧印加手段の動作を停止させること、
前記発熱係数Ｈは前回測定時の不良率であり、
前記発熱量は、複数の印加電圧Ｖ1，Ｖ2…Ｖnと、該印加電圧の印加時間Ｔ1，Ｔ2…Ｔnとの積の総和と前記発熱係数Ｈとの積である
Ｈ×（Ｖ1×Ｔ1＋Ｖ2×Ｔ2…Ｖn×Ｔn）であること、
を特徴とする。
【０００８】
本発明の第２形態である特性測定装置は、
電子部品を搬送する搬送手段と、
前記搬送手段に保持された電子部品に電圧を印加する電圧印加手段と、
前記電圧印加手段を放熱させる放熱手段と、
少なくとも前記搬送手段及び前記電圧印加手段を制御する制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、予め求められている発熱係数Ｈと、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、前記発熱量が該放熱量よりも大きくなると、前記搬送手段による搬送時間Ｔ２を延長させること、
前記発熱係数Ｈは前回測定時の不良率であり、
前記発熱量は、複数の印加電圧Ｖ1，Ｖ2…Ｖnと、該印加電圧の印加時間Ｔ1，Ｔ2…Ｔnとの積の総和と前記発熱係数Ｈとの積である
Ｈ×（Ｖ1×Ｔ1＋Ｖ2×Ｔ2…Ｖn×Ｔn）であること、
を特徴とする。
【０００９】
前記特性測定装置においては、予め求められている発熱係数Ｈ（前回測定時の不良率）と、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、制御手段が発熱量と放熱量を監視することにより、発熱量が放熱量よりも大きくなると、搬送手段及び電圧印加手段の動作を停止させる、あるいは、搬送手段による搬送時間を延長させる。
【００１０】
つまり、放熱手段の設計は、想定される印加電圧×電圧印加時間Ｔ１×ショート不良率に基づいて行えばよく、１００％の被測定部品がショートしていることを想定する必要はない。従って、放熱手段が簡素化されることになる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、マルチ測定方式で電子部品の特性を測定する装置において、放熱設備などを大型化する必要なく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明に係る特性測定装置の一実施例を示す概略説明図である。
【図２】前記特性測定装置に用いられている測定ユニットを示す断面図である。
【図３】前記測定ユニットの要部を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明に係る電子部品の特性測定装置の実施形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１４】
（特性測定装置の全体構成、図１参照）
本発明の一実施例である特性測定装置の概略構成を図１に示す。この特性測定装置はチップ型コンデンサの検査工程において用いられるものであり、概略、ターンテーブル５０と、パーツフィーダ６０と、静電容量測定器７０（以下、Ｃ測定器と記す）と、絶縁抵抗測定器７５（以下、ＩＲ測定器と記す）と、取出し装置（図示せず）と、装置全体を制御するコントローラ８０とで構成されている。
【００１５】
ターンテーブル５０は、周縁部にチップ型コンデンサを１個ずつ保持する複数の保持部５１を等間隔に備え、矢印ａ方向に間欠的に回転駆動可能である。即ち、ターンテーブル５０は各保持部５１にコンデンサを１個ずつ保持して矢印ａ方向に間欠的に搬送する循環搬送経路を構成している。パーツフィーダ６０は供給位置Ａにおいてコンデンサを１個ずつ保持部５１に供給する。Ｃ測定器７０は測定位置Ｂにおいてコンデンサの静電容量を測定する。ＩＲ測定器７５は測定位置Ｃにおいてコンデンサの絶縁抵抗を測定する。
【００１６】
絶縁抵抗の測定は、充電、測定、放電のそれぞれを行うために時間を要することから、本実施例では、測定位置Ｃは２７個分のコンデンサを一度に測定できる領域に設定され、ターンテーブル５０の回転を止めて２７個のコンデンサに対して同時に絶縁抵抗の測定を行う。取出し装置は特に図示していないが、取出し位置Ｄにおいて測定済みのコンデンサを良品と不良品を選別的に取り出す。
【００１７】
以上の構成からなる特性測定装置において、コンデンサは、供給位置Ａにおいて保持部５１に１個ずつ供給されて間欠的に搬送され、まず、測定位置Ｂにおいて静電容量が測定され、測定位置Ｃに順次搬送されていく。測定位置Ｃに２７個のコンデンサが揃うとターンテーブル５０の回転を停止させ、２７個のコンデンサに対して一度に絶縁抵抗の測定が行われる。
【００１８】
次に、ターンテーブル５０を再度間欠回転させつつ、取出し位置Ｄにて測定済みコンデンサを１個ずつ選別的に取り出す。このとき、パーツフィーダ６０からは新たなコンデンサが１個ずつ供給され、前述の静電容量の測定位置Ｂ及び絶縁抵抗の測定位置Ｃへの搬送が行われる。
【００１９】
（測定ユニット、図２及び図３参照）
Ｃ測定器７０やＩＲ測定器７５としては、具体的には図２に示す測定ユニット１０が用いられている。測定ユニット１０は、各保持部５１に対して上下から挟むように一対ずつ配置され、コンデンサ６５に所定の電圧を印加するとともに電圧を測定する測定器３０を備えている。詳しくは、上下一対の測定ユニット１０は、ターンテーブル５０の保持部５１に保持されたコンデンサ６５の搬送経路（図１の矢印ａに示すターンテーブル５０の周方向）を挟んで上下に対向する状態で設置されている。
【００２０】
各測定ユニット１０は、球状の測定端子１１と、該測定端子１１をその先端部で回転自在に保持するホルダ１５と、該ホルダ１５を弾性的に上下動可能に支持する支持部材２０とで構成されている。測定端子１１は導電性材料（例えばスチール製）からなる。また、ホルダ１５も導電性材料（例えば、黄銅製）からなり、リード線３１を介して測定器３０に接続されている。
【００２１】
ホルダ１５は、図３に示すように、軸心部分に貫通孔１６を有する筒状体であり、先端部分に球状の測定端子１１を保持するための保持空間１７を備えている。測定端子１１は空間１７でホルダ１５と電気的に接触しつつ摺動してあらゆる方向に回転自在に保持されるとともに、その一部分がホルダ１５の先端から外部に突出した状態で保持されている。
【００２２】
また、ホルダ１５は支持部材２０によって定位置で上下動可能に支持されている。即ち、ホルダ１５は支持部材２０の水平バー２１の孔２２に挿入され、上下動可能である。また、垂直バー２３にてホルダ１５を上下方向にガイドするように構成してもよい。
【００２３】
そして、ホルダ１５はその軸部に巻回したコイルばね２４にて、上方のユニット１０にあっては下方に弾性的に付勢され、下方のユニット１０にあっては上方に弾性的に付勢されている。ホルダ１５の後端部分にはストッパ１８が取り付けられ、該ストッパ１８によって、上方のユニット１０にあってはホルダ１５の下限位置が決められ、下方のユニット１０にあってはホルダ１５の上限位置が決められる。
【００２４】
即ち、上下に配置された各測定ユニット１０の測定端子１１の下限位置及び上限位置がストッパ１８によって決められ、一対の測定端子１１がそれぞれの測定位置に搬送されてきたコンデンサ６５の外部電極６６に上下方向から弾性的に接触することになる。
【００２５】
コンデンサ６５の静電容量や絶縁抵抗はこの状態（図２参照）で測定される。測定器３０には図示しない電源回路や測定回路が内蔵されており、電気信号は電源回路からリード線３１、ホルダ１５、測定端子１１を介してコンデンサ６５の外部電極６６に通じる。また、測定信号は外部電極６６から測定端子１１、ホルダ１５、リード線３１を介して測定回路に通じる。
【００２６】
ところで、絶縁抵抗の測定は測定位置Ｃにおいて２７個のコンデンサ６５に対して一斉に充電／放電させることにより行われる。１回の測定においては、一つの電圧ではなく、複数の電圧を連続的に印加して充電／放電を行う。印加時間も電圧によってことなる。仮に、コンデンサ６５にショートが生じていると電源回路が発熱し、その発熱は測定器３０に不具合を及ぼす。よって、測定器３０自体に放熱手段を設けることが好ましい。
【００２７】
さらに、本実施例では前記放熱手段に加えて、コントローラ８０によって異常発熱を防止するために以下の制御を行う。即ち、予め求められている発熱係数Ｈ（前回測定時の不良率）と、印加電圧Ｖと、電圧印加時間Ｔ１とから発熱量（Ｈ×Ｖ×Ｔ１）を求めるとともに、予め求められている放熱係数Ｄと搬送時間Ｔ２とから放熱量（Ｄ×Ｔ２）を求め、発熱量が放熱量よりも大きくなると、搬送手段（ターンテーブル５０、パーツフィーダ６０）及び電圧印加手段（測定ユニット１０）の動作を停止させる、あるいは、搬送手段による搬送時間を延長させる。延長時間は、発熱量が予測される放熱量よりも小さくなるまでの時間である。
【００２８】
ここで、絶縁抵抗の測定条件の一例を以下の表１に示し、その場合のコントローラ８０による温度管理の具体例を説明する。
【００２９】
【表１】
0005509690.tif 000002
【００３０】
表１に示したステップ１〜４までの条件で絶縁抵抗を測定する場合においては、１回の測定で発生すると予測される熱量は、
（１００Ｖ×５ｓｅｃ）＋（５０Ｖ×１０ｓｅｃ）＋（１００Ｖ×２０ｓｅｃ）＋（５０Ｖ×３０ｓｅｃ）＝４，５００Ｖ・ｓｅｃ
である。
【００３１】
前記熱量に発熱係数Ｈを乗じた値が発熱量であり、
発熱量＝発熱係数Ｈ×４，５００（Ｖ・ｓｅｃ）である。発熱係数Ｈは前回測定したときのショート不良率とする。
【００３２】
また、放熱量は放熱係数Ｄにコンデンサ６５の搬送時間Ｔ２を乗じた値であり、
放熱量＝放熱係数Ｄ×搬送時間Ｔ２である。
【００３３】
さらに、放熱量には放電時間Ｔ３を考慮してもよい。即ち、
放熱量＝放熱係数Ｄ×（搬送時間Ｔ２＋放電時間Ｔ３）である。
【００３４】
通常、最悪ケース（ショート不良率１００％）を考慮して放熱手段の設計を行うことになるが、これでは放熱手段が大型化してしまう。しかし、前述した本実施例での熱量の監視を行うと、実際のショート不良率は数％以下であるため、ショート不良発生率を１０％に下げた状態で放熱手段を設計すればよい。即ち、放熱手段を従来の１／１０の放熱量を考慮して設計すればよく、放熱手段の小型化、低価格化が達成される。
【００３５】
また、絶縁抵抗の測定は耐電圧試験を兼ねていることが多く、電源も耐電圧試験を考慮して高電圧を出力できるものを用意している。従って、最悪ケースを考慮した場合、電源の最大出力電圧での発熱を考慮した放熱設計を行う必要がある。但し、絶縁抵抗の測定自体は低めの電圧で実施することが多く、また、耐電圧試験と絶縁抵抗測定での電圧印加時間を比較すると、絶縁抵抗の測定時間の方が長い。従って、印加電圧×印加時間から発熱量を求めることで、さらに、放熱手段を簡略化でき、放熱手段の小型化、低価格化につながる。
【００３６】
（他の実施形態）
なお、本発明に係る電子部品の特性測定装置は前記実施形態に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更できる。
【００３７】
特に、球状の測定端子を回転自在に保持するホルダの構成、支持部材の構成、あるいは、放熱手段の構成は任意である。また、被測定物としては、チップ型コンデンサ以外に、チップ型コイルやチップ型コモンモードチョークコイルや高周波複合部品などであってもよい。さらに、測定端子の数はチップ型電子部品の外部電極に合わせて２以上でもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３８】
以上のように、本発明は、電子部品の特性測定装置に有用であり、特に、放熱設備などを大型化する必要がなく低コストで発熱による不具合を未然に防止できる点で優れている。
【符号の説明】
【００３９】
１０…測定ユニット
１１…測定端子
１５…ホルダ
３０…測定器
５０…ターンテーブル
６５…チップ型コンデンサ
８０…コントローラ
【図１】
0005509690.tif 000003
【図２】
0005509690.tif 000004
【図３】
0005509690.tif 000005