(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
近赤外光を照射する照射用光ファイバを含む光源部と、被検体の複数の測定点における通過光を計測する検出用光ファイバを含む光計測部と、前記光計測部から出力される計測データを処理して画像化する信号処理部と、前記計測データを表示する表示部と、を備えた生体光計測装置において、
前記光計測部で検出された計測データに前記通過光の光量に基づいてゲイン値を設定するゲイン調整部と、予め定めた割合で断線した照射用光ファイバ若しくは検出用光ファイバを用いた際に前記ゲイン調整部で設定される断線ゲイン値と、前記割合より低い割合で断線した照射用光ファイバ若しくは検出用光ファイバを用いた際に前記ゲイン調整部で設定される注意ゲイン値と、を記憶するゲイン記憶部と、前記ゲイン調整部で設定されたゲイン値を、前記ゲイン記憶部に記憶された断線ゲイン及び注意ゲイン値と比較するゲイン比較部と、前記ゲイン比較部により、前記ゲイン値が前記断線ゲイン値以上の場合は前記照射用光ファイバ若しくは前記検出用光ファイバが断線していると判定し、前記ゲイン値が前記注意ゲイン値以上かつ断線ゲイン値未満の場合は前記照射用光ファイバ若しくは前記検出用光ファイバが断線する可能性があると判定する断線判定部と、前記断線判定部による判定結果を表示する表示部と、を備えること
を特徴とする生体光計測装置。
【請求項２】
前記照射用光ファイバ及び前記検出用光ファイバを検査する生体模擬試料を含む検査装置を備え、前記ゲイン比較部は、前記検査装置に前記照射用光ファイバ及び前記検出用光ファイバを挿入した際に得られた前記ゲイン値を前記断線ゲイン値及び前記注意ゲイン値と比較することを特徴とする請求項1記載の生体光計測装置。
【請求項３】
前記ゲイン調整部の前記ゲイン値、前記断線ゲイン値及び前記注意ゲイン値は、前記光量を均一化するために定められたゲインであることを特徴とする請求項1又は2に記載の生体光計測装置。
【請求項４】
前記表示部は、前記断線判定部により断線していると判定された照射用光ファイバ若しくは検出用光ファイバの位置情報を表示することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の生体光計測装置。
【請求項５】
前記表示部は、前記位置情報とともに警告情報を表示することを特徴とする請求項4記載の生体光計測装置。
【請求項６】
前記表示部は、前記位置情報とともに当該照射用光ファイバ若しくは検出用光ファイバに付帯させた固有の識別記号及び／又は文字を表示することを特徴とする請求項4記載の生体光計測装置。
【請求項７】
前記ゲイン記憶部は経時的に取得された前記ゲイン値を記憶し、前記断線判定部は経時的に取得された前記ゲイン値の推移から前記断線ゲイン値を超える日を算出することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の生体光計測装置。
【請求項８】
前記ゲイン記憶部は経時的に取得された前記ゲイン値を記憶し、前記断線判定部は経時的に取得された前記ゲイン値の推移から前記注意ゲイン値を超える日を算出することを特徴とする請求項1乃至6何れか一項に記載の生体光計測装置。
【請求項９】
前記断線判定部は、経時的に取得された前記ゲイン値の傾きが所定値以上であれば、前記表示部に注意表示を行なうことを特徴とする請求項1乃至8の何れか一項に記載の生体光計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は近赤外光を被検体に照射し、被検体内部を通過或いは被検体内部で反射した光を計測し、血液循環、血行動態及びヘモグロビン量変化を計測する生体光計測装置及び光ファイバの断線判定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
生体光計測装置は、被検体内部の血液循環、血行動態及びヘモグロビン量変化を、被検体に対し低拘束で且つ害を与えずに計測できる装置である。近年、生体光計測装置は、多チャンネル装置による測定データの画像化が実現され、臨床への応用が期待されている。【０００３】
特許文献1の生体光計測装置は、光計測部から検出される光量が不足している計測位置に対応する照射位置及び検出位置を、光量が許容値に達している計測位置に対応する照射位置及び検出位置とは異なる表示方法で表示部に表示することを開示している。(例えば特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開2008-86407号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献1の生体光計測装置では、被検体にプローブを装着した状態で光計測部から検出される光量が不足しているか否かで故障部位を判定している。被検体にプローブを装着した状態における光量の不足による故障部位の判定では、故障原因が光ファイバの断線によるものかどうか判別できないものと思料する。  
本発明は、光ファイバの断線状態を正確に把握することができる生体光計測装置及び光ファイバの断線判定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の目的を達成するため、近赤外光を照射する照射用光ファイバを含む光源部と、被検体の複数の測定点における通過光を計測する検出用光ファイバを含む光計測部と、前記光計測部から出力される計測データを処理して画像化する信号処理部と、前記信号処理部の計測データを表示する表示部とを備えた生体光計測装置において、前記光計測部で検出された計測データに前記通過光の光量に基づいてゲイン値を設定するゲイン調整部と、断線された照射用光ファイバ若しくは検出用光ファイバを用いた際に前記ゲイン調整部で設定される断線ゲイン値を記憶するゲイン記憶部と、前記ゲイン調整部で設定されたゲイン値と前記ゲイン記憶部に記憶された断線ゲイン値とを比較するゲイン比較部と、前記ゲイン比較部の比較結果により、前記照射用光ファイバ若しくは前記検出用光ファイバが断線しているか否かを判定する断線判定部とを備え、前記表示部は該断線状態を表示する。よって、操作者はどの光ファイバが断線しているかを判断することができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光ファイバの断線状態を正確に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の生体光計測装置を示すブロック図。
【図２】本発明の生体光計測装置の検査装置を示す斜視図。
【図３】本発明の生体光計測装置の検査装置を示す断面図。
【図４】本発明の断線している光ファイバを位置情報とともに断線情報を表示する図。
【図５】本発明の実施例1の動作を示すフローチャート。
【図６】本発明の実施例2の動作を示すフローチャート。
【図７】本発明の実施例3を説明するためのグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、この発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１１】
図1は本発明の生体光計測装置を示すブロック図である。図1において、被検体2の頭部にプローブホルダ4が装着される。光源部10で発生された近赤外光は、複数本の照射用光ファイバ6aを介して被検体2に照射される。各照射用光ファイバ6aの先端部は、照射プローブ6を介してプローブホルダ4に装着されている。【００１２】
光源部10は、所定の波長の光を放射する半導体レーザ16と、半導体レーザ16からの光を変調する複数の光モジュール18とを有している。各光モジュール18は、半導体レーザ16からの光をそれぞれ異なる周波数で変調する変調器(図示しない。)を有している。光の波長は、生体内の注目物質の分光特性によるが、Hb及びHbO2の濃度から酸素飽和度や血液量を計測する場合、600nm〜1400nmの波長範囲の中から1つ又は複数の波長が選択されて用いられる。【００１３】
照射用光ファイバ6aから被検体2に照射され被検体2を通過した光は、複数の検出用光ファイバ8aを介して光計測部12に送られる。各検出用光ファイバ8aの先端部は、検出プローブ8を介してプローブホルダ4に装着されている。プローブホルダ4には、複数の照射プローブ6と複数の検出プローブ8とが保持されている。照射プローブ6及び検出プローブ8は、マトリクス状に交互に配置されている。【００１４】
光計測部12は、検出された通過光の光量に応じた電気信号を発生するフォトダイオード等の複数の光電変換素子28と、光電変換素子28からの電気信号から対応する変調信号を選択的に検出するロックインアンプモジュール30と、ロックインアンプモジュール30の出力信号をデジタルの計測データに変換するA/D変換器32と、検出された通過光の光量に基づいて計測データにゲイン値をかけるゲイン調整部40とを有している。【００１５】
例えば、酸素化ヘモグロビン及び脱酸素化ヘモグロビンの2種類を測定対象とした場合、780nm及び830nmの2種類の波長の光が発生され、これらの光が合成され1つの照射用光ファイバ6aから被検体2に照射される。そして、ロックインアンプモジュール30では、これらの2波長に対応した変調信号が選択的に検出される。これにより、照射用光ファイバ6aからの光の照射位置と検出用光ファイバ8aによる通過光の検出位置との間に位置する計測位置に対して、チャンネル数の2倍のヘモグロビン量変化信号が得られる。【００１６】
ゲイン調整部40は、複数の光電変換素子28によって検出された通過光の光量に基づいた電気信号に基づいて、A/D変換器32から出力される計測データにゲイン値をかける。【００１７】
制御部14は、例えばコンピュータにより構成されている。信号処理部34は、ヘモグロビン量変化信号を処理し、酸素化ヘモグロビン濃度変化、脱酸素化ヘモグロビン濃度変化及び全ヘモグロビン濃度変化等をチャンネル毎に示すグラフを被検体2の2次元画像上にプロットするための計測データを作成する。また記憶部38には、信号処理部34の処理に必要な計測データや計測データの分析結果が記録される。操作部39には、制御部14の動作に必要な種々の指令が入力される。信号処理部34には、信号処理部34で作成された計測データや計測データの分析結果を表示する表示部36が接続されている。表示部36は、信号処理部34で作成された計測データを表示する。【００１８】
そして、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いた際にゲイン調整部40で設定される断線ゲイン値を記憶する記憶部44と、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値と記憶部44に記憶された断線ゲイン値と比較するゲイン比較部42と、ゲイン比較部の比較結果により、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aが断線しているか否かを判定する断線判定部46とを備えている。そして、断線判定部46で判定された断線状態は表示部36に表示される。光源部10及び光計測部12等の各構成要素は、制御部14により制御される。【００１９】
図2は生体光計測装置の検査装置を示す斜視図である。生体光計測装置には、照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを検査する検査装置が設けられている。生体光計測装置の本体の壁面には、ホルダ挿入穴50が設けられている。ホルダ挿入穴50には、平板状の検査ホルダ52の基端部が挿入されている。検査ホルダ52は、検査時には図2のように本体から引き出され、非検査時には本体内に押し込まれ収容される。即ち、検査ホルダ52は、検査位置と収容位置との間で水平にスライド変位可能である。【００２０】
検査ホルダ52の上部には、複数の照射プローブ装着部(装着穴)54と、複数の検出プローブ装着部(装着穴)56とが設けられている。図2では、照射プローブ装着部54を実線で示し、検出プローブ装着部56を破線で示している。照射プローブ装着部54及び検出プローブ装着部56は、所定の間隔(例えば30mm)をおいてマトリクス状に配列されている。【００２１】
各照射プローブ装着部54には、光を照射するための照射プローブ6が装着(挿入)される。各検出プローブ装着部56には、通過した光を受光するための検出プローブ8が装着(挿入)される。【００２２】
検査ホルダ52内には、照射プローブ装着部54及び検出プローブ装着部56に臨む検査体装着部としての検査体挿入穴58が設けられている。照射プローブ装着部54及び検出プローブ装着部56は、検査体挿入穴58に連通している。また、検査体挿入穴58は、検査ホルダ52の前面で開口している。【００２３】
検査体挿入穴58には、照射プローブ装着部54に装着された照射プローブ6からの光を受光することにより光の照射・受光状態に関する検査を行うための異なる情報を出力する複数種類の検査体が選択的に挿入される。この例では、検査体として光検出検査体60又は光強度検査体60が検査体挿入穴58に挿入される。【００２４】
図3は生体光計測装置の検査装置を示す断面図であり、図2の検査体挿入穴58に光検出検査体60を挿入した状態を示している。光検出検査体60は、照射プローブ6からの光を減衰させて通過させ、通過光(検査を行うための情報)を検出プローブ8に受光させる。即ち、光検出検査体60は、平板状の光散乱体から構成され、生体模擬試料(ファントム)として機能する。光検出検査体60を通過し検出プローブ8で受光された光を計測することにより、装置全体の動作の検査を行うことができる。【００２５】
実施例1は、生体光計測装置の検査装置を使用した状態、各照射プローブ装着部54に照射プローブ6が装着(挿入)され、各検出プローブ装着部56に検出プローブ8が装着(挿入)されたときに実行される。【００２６】
すなわち、照射プローブ6(照射用光ファイバ6a)から照射した光が光検出検査体60を通過し検出プローブ8(検出用光ファイバ8a)で受光された光を計測する際に、記憶部44は断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いてゲイン調整部40で設定される断線ゲイン値を予め記憶する。また、照射プローブ6(照射用光ファイバ6a)から照射した光が光検出検査体60を通過し検出プローブ8(検出用光ファイバ8a)で受光された光を計測する際に、ゲイン比較部42は、ゲイン調整部40で設定されたゲイン値と記憶部44に記憶された断線ゲイン値と比較する。そして、断線判定部46は、ゲイン比較部の比較結果により、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aが断線しているか否かを判定する。【００２７】
照射プローブ6から照射した光が光検出検査体60を通過し検出プローブ8で受光された光を計測する際に設定されるゲイン調整部40のゲイン値は、検出光量を均一化するために定められたゲインである。ゲイン値は、S/N比を良くし、計測値の信頼性を確保するためのものである。【００２８】
具体的には、ゲイン調整部40は、複数の光電変換素子28の検出光量が2mWで均一化するように、計測データにゲイン値をかける。検出光量が小さい(例えば、2mW以下)場合、計測データにかけるゲイン値が大きくなり(例えば、1以上)、検出光量が大きい(例えば、2mW以上)場合、計測データにかけるゲイン値が小さくなる(例えば、1以下)。【００２９】
記憶部44は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いてゲイン調整部40で設定される断線ゲイン値を記憶する。断線ゲイン値とは、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを断線させた状態でゲイン調整部40が設定するゲイン値である。【００３０】
例えば、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの正常な光ファイバが80％以下、すなわち20％の光ファイバが断線している状態を不良とする場合、制御部14は、20％の光ファイバが断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いて断線ゲイン値を予め求める。【００３１】
具体的には、断線している(不良)光ファイバの数を確認するために、図示はしないが、顕微鏡(設置型)及び携帯ライト、マイクロスコープを利用して、光ファイバの数を計数する。顕微鏡(設置型)及び携帯ライトを用いる場合、携帯ライトにより光ファイバの一端面に検査光を照射するとともに、光ファイバの他端面を顕微鏡で拡大撮影(約200倍)し、その撮影画像から断線している光ファイバの数を計測する。マイクロスコープを用いる場合、マイクロスコープを通して光ファイバの端面を撮像し、その撮影画像から断線している光ファイバの数を計測する。【００３２】
光ファイバの端面の撮影画像においては、画素単位で独立して輝度(色情報)について2値化処理を行なう。2値化処理とは、各画素の輝度を一定の基準値により、黒色と白色の2つの値に変換する処理のことである。黒色が断線している光ファイバ、白色が断線していない光ファイバである。【００３３】
撮影画像全体の画素数を100％とし、制御部14は撮影画像全体の画素数に占める黒色画素数の割合を算出する。撮影画像全体の画素数に占める黒色画素数の割合が10％と算出された場合、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの10％の光ファイバが断線していることになる。また、撮影画像全体の画素数に占める黒色画素数の割合が20％と算出された場合、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの20％の光ファイバが断線していることになる。【００３４】
そして、上記のように、操作者は、撮影画像に基づいて、20％の光ファイバが断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを準備する。そして、20％の光ファイバが断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いて、制御部14はゲイン調整部40で設定されるゲイン値を算出する。そして、制御部14はそのゲイン値を断線ゲイン値としてゲイン記憶部44に記憶させる。【００３５】
そして、ゲイン比較部42は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値と、記憶部44に記憶された断線ゲイン値と比較する。具体的には、断線判定部46は、本計測で用いる光ファイバのゲイン値が断線ゲイン値より高いか低いかを判定する。【００３６】
断線判定部46は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が断線ゲイン値より高い場合、本計測で用いる照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは、断線している(不良)と判定する。断線判定部46は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が断線ゲイン値より低い場合、本計測で用いる照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは、断線していない(正常)と判定する。
表示部36は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを位置情報とともに断線情報を図4のように表示する。図4は、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの断線情報を位置情報とともに表示された画面である。【００３７】
照射用光ファイバ6aは、1，3，6，8，9，11，14，16の位置に示される光ファイバである。検出用光ファイバ8aは、2，4，5，7，10，12，13，15の位置に示される光ファイバである。断線判定部46によって、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が断線ゲイン値より高い場合、表示部36は、ゲイン値が高い箇所にマーク70を表示する。【００３８】
照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aが断線していれば、断線している光ファイバ周囲4箇所のゲイン値が高くなる。ここでは、周囲4箇所にマーク70が表示された検出用光ファイバ8aの“7”が断線していることになる。制御部14は、周囲4箇所にマーク70が表示された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aのナンバーを表示部36に表示することにより、操作者はどの光ファイバが断線しているかを判断することができる。【００３９】
なお、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは交換を必要とするため、表示部36は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの位置情報とともに警告情報を表示する。また、表示部36は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの交換方法やメンテナンス会社の連絡先等を表示することもできる。【００４０】
実施例1の動作について図5を用いて説明する。  
(ステップ1)
平板状の光散乱体から構成され、生体模擬試料(ファントム)の光検出検査体60を有した検査ホルダ52に、本計測で用いる照射プローブ6と検出プローブ8を挿入する。【００４１】
(ステップ2)
ゲイン比較部42は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値を取得し、予めゲイン記憶部44に記憶された断線ゲイン値と比較する。【００４２】
(ステップ3)
断線判定部46は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が予め得られた断線ゲイン値より高い場合、本計測で用いる照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは、断線している(不良)判定する。【００４３】
(ステップ4)
表示部36は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを位置情報とともに警告情報を表示する。具体的には、表示部36は、周囲4箇所にマーク70が表示された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aのナンバーを表示する。
以上、本発明によれば、操作者は、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの断線状態を正確に把握することができる。操作者は、断線した照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを適宜交換することができる。
【実施例２】
【００４４】
ここで、図6を用いて実施例2を説明する。実施例1と異なる点は、光ファイバの断線状態だけでなく、断線しそうな光ファイバも把握することができる点である。【００４５】
まず、実施例1と同様に、光ファイバの端面の撮影画像に基づいて、20％の光ファイバが断線された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aと10％の光ファイバが断線された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを準備する。そして、断線された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8a、すなわち20％の光ファイバが断線された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いて、制御部14はゲイン調整部40で設定される断線ゲイン値を算出する。また、断線しそうな照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8a、すなわち10％の光ファイバが断線された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを用いて、制御部14はゲイン調整部40で設定される注意ゲイン値を算出する。ゲイン記憶部44は、断線ゲイン値と注意ゲイン値を記憶する。  
そして、実施例2の動作について図6を用いて説明する。【００４６】
(ステップ1)
平板状の光散乱体から構成され、生体模擬試料(ファントム)の光検出検査体60を有した検査ホルダ52に、本計測で用いる照射プローブ6と検出プローブ8を挿入する。【００４７】
(ステップ2)
ゲイン比較部42は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値を取得し、予めゲイン記憶部44に記憶された断線ゲイン値と注意ゲイン値と比較する。【００４８】
(ステップ3)
断線判定部46は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が予め記憶された断線ゲイン値より高い場合、本計測で用いる照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは、断線している(不良)判定する。【００４９】
(ステップ6)
断線判定部46は、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにかけられるゲイン値が予め記憶された注意ゲイン値より高い場合、本計測で用いる照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aは、断線しそうである判定する。
【００５０】
(ステップ4)
表示部36は、断線している照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを位置情報とともに警告情報を表示する。表示部36は、断線しそうな照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを位置情報とともに注意情報を表示する。具体的には、表示部36は、周囲4箇所にマーク70が表示された照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aのナンバーを表示する。
【００５１】
なお、実施例2では、注意ゲイン値と断線ゲイン値を用いて2段階で注意表示と警告表示を行なったが、3段階以上に分けて警告表示、注意表示を行なってもよい。【００５２】
以上、本発明によれば、操作者は、複数段階で警告、注意喚起されるため、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aの断線が起こる前に、断線しそうな照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを把握することができる。操作者は、断線した、断線しそうな照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを適宜交換することができる。
【実施例３】
【００５３】
ここで、実施例3を説明する。実施例1、2と異なる点は、光ファイバの断線状態を履歴化することにより、断線しそうな光ファイバも把握することができる点である。【００５４】
図7は、ある照射用光ファイバ6aと検出用光ファイバ8aのゲイン値の時間推移を示したグラフである。ケース1は光ファイバの経時劣化に対応するものであり、ケース2は光ファイバへの過剰負荷に対応するものである。【００５５】
光ファイバの端面の撮影画像に基づいて、断線していない照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aを準備する。いわゆる製品の納入時の状態である。【００５６】
(ケース1)
納入日から300日後、600日後・・・に、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値を制御部14は取得する。そして、記憶部44は、経時的に取得されたゲイン値を記憶する。このように、記憶部44は、照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aのチャンネル分、経時的に取得されたゲイン値を記憶する。【００５７】
ここでは、300日に1回、照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを検査するものとする。取得されたゲイン値は、徐々に高くなっていることが分かる。これは、照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aが経時劣化していくためである。【００５８】
断線判定部46は、記憶部44に記憶されたゲイン値の推移から注意ゲイン値と断線ゲイン値を超える日を算出する。具体的には、断線判定部46は、記憶部44に記憶されたゲイン値が注意ゲイン値に達する前に注意ゲイン値と断線ゲイン値を超える日を算出する。【００５９】
まず、断線判定部46は、製品の納入日と初期ゲイン値、納入日から300日後とその時取得されたゲイン値の関係により、注意ゲイン値と断線ゲイン値を超える日を算出する。断線判定部46は、納入日から300日後時点の取得されたゲイン値とその傾きに基づいて、次回(600日後)の検査では、ゲイン値が注意ゲイン値と断線ゲイン値を超えないことを予測する。よって、ここでは、表示部36に警告表示、注意表示を行なわない。【００６０】
そして、断線判定部46は、納入日から600日後時点の取得されたゲイン値とその傾きに基づいて、次回(900日後)の検査では、ゲイン値が注意ゲイン値と断線ゲイン値を超えないことを予測する。よって、ここでは、表示部36に警告表示、注意表示を行なわない。
そして、断線判定部46は、納入日から900日後時点の取得されたゲイン値とその傾きに基づいて、次回(1200日後)の検査で、ゲイン値が注意ゲイン値を超えることを予測する。そして、断線判定部46は、表示部36に注意表示を行なう。【００６１】
そして、断線判定部46は、納入日から1200日後時点の取得されたゲイン値とその傾きに基づいて、次回(1500日後)の検査で、ゲイン値が断線ゲイン値を超えることを予測する。そして、断線判定部46は、表示部36に警告表示を行なう。【００６２】
以上、本発明によれば、光ファイバの断線状態を履歴化することにより、操作者は光ファイバの経時劣化に対応することができるため、断線しそうな光ファイバも把握することができる。【００６３】
(ケース2)
納入日から300日後、600日後・・・に、本計測で用いる照射用光ファイバ6a及び検出用光ファイバ8aを用いて得られる計測データにゲイン調整部40で設定されたゲイン値を取得する。そして、記憶部44は、経時的に取得されたゲイン値を記憶する。経時的に取得されたゲイン値は、納入日から300日後から600日後に亘り、急激に高くなっていることが分かる。これは、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aに過剰負荷が与えられたためと考えられる。【００６４】
断線判定部46は、納入日から300日後のゲイン値と600日後のゲイン値に基づく傾きが所定値以上であれば、照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aに過剰負荷が与えられ、複数本の光ファイバがまとめて断線したと判定する。断線判定部46は、該当する照射用光ファイバ6a若しくは検出用光ファイバ8aに過剰負荷が与えられたと表示部36に注意表示を行なう。【００６５】
以上、本発明によれば、光ファイバの断線状態を履歴化することにより、操作者は光ファイバへの過剰負荷に対応することができるため、断線しそうな光ファイバも正確に把握することができる。
【符号の説明】
【００６６】
2・・・被検体、4  プローブ、6  照射プローブ、6a  照射用光ファイバ8a、8  検出プローブ、8a  検出用光ファイバ、10  光源部、12  光計測部、14  制御部、16  半導体レーザ、18  光モジュール、28  光電変換素子、30  ロックインアンプモジュール、32  A/D変換器、34  信号処理部、36  表示部、38  記憶部、39  操作部、40  ゲイン調整部、42  ゲイン比較部、44  ゲイン記憶部、46  断線判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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