(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転テーブルと、
前記回転テーブル周りに配置されたチップ型電子部品の供給ユニット及び回収ユニットと、
前記供給ユニットから前記回収ユニットまでの間において前記回転テーブル周りに所定の間隔で配置された複数の撮像ユニットと、を備え、
前記撮像ユニットは、平面視において前記回転テーブルに重なる撮像位置と、平面視において前記回転テーブルに重ならない退避位置との間で前記撮像ユニットの位置を切り替え可能な支持部によって支持され、
前記退避位置における前記撮像ユニットの位置が前記回転テーブルよりも下方であり、
前記支持部は、基端部と、前記基端部に対して前記回転テーブルの外側に向かって傾倒可能に軸支される先端部とを有し、前記先端部の傾動中心が前記回転テーブルよりも下方に位置していることを特徴とする外観検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外観検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、チップコンデンサやチップインダクタといったチップ型電子部品素体の外観を検査するための外観検査装置がある。例えば特許文献１に記載の外観検査装置では、透明な回転テーブルの縁部に沿って素体の供給ユニット及び回収ユニットが設けられている。また、供給ユニットから回収ユニットまでの間には、複数の撮像ユニットが回転テーブルの円周に沿って所定の間隔で配置され、回転テーブルの回転によって搬送される素体の各端面を順次撮像するようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−１３９５１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上述したような外観検査装置では、使用を継続していく上で回転テーブルの交換やメンテナンスを行う場合がある。このとき、回転テーブルの縁部には、円周の大部分にわたって複数の撮像ユニットが配置されているため、回転テーブルを装置から取り外すには、位置調整済みの撮像ユニットを先に取り外す必要がある。したがって、回転テーブルの交換やメンテナンスを行う度に、撮像ユニットの位置を再調整しなければならないという煩わしさがあった。
【０００５】
本発明は、上記課題の解決のためになされたものであり、撮像ユニットの位置を簡単に再調整できる外観検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題の解決のため、本発明に係る外観検査装置は、回転テーブルと、回転テーブル周りに配置されたチップ型電子部品の供給ユニット及び回収ユニットと、供給ユニットから回収ユニットまでの間において回転テーブル周りに所定の間隔で配置された複数の撮像ユニットと、を備え、撮像ユニットは、平面視において回転テーブルに重なる撮像位置と、平面視において回転テーブルに重ならない退避位置との間で撮像ユニットの位置を切り替え可能な支持部によって支持されていることを特徴としている。
【０００７】
この外観検査装置では、支持部により、撮像ユニットが平面視において回転テーブルに重なる撮像位置と、撮像ユニットが平面視において回転テーブルに重ならない退避位置との間で撮像ユニットの位置を切り替え可能となっている。したがって、回転テーブルの交換やメンテナンスを行うにあたり、撮像ユニットを退避位置に退避させることによって回転テーブルを簡単に取り外すことができる一方で、交換やメンテナンスを終えた回転テーブルを設置した後に撮像ユニットを撮像位置に戻すことで、撮像ユニットの位置を簡単に再調整できる。
【０００８】
また、退避位置における撮像ユニットの位置が回転テーブルよりも下方であることが好ましい。この場合、回転テーブルが複数の撮像ユニットに取り囲まれている場合でも、回転テーブルを水平方向に移動させることで装置から簡単に取り外すことが可能となる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る外観検査装置によれば、撮像ユニットの位置を簡単に再調整できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る外観検査装置の一実施形態を示す平面図である。
【図２】撮像位置で支持される撮像ユニットを示す側面図である。
【図３】退避位置で支持される撮像ユニットを示す側面図である。
【図４】回転テーブルを取り外す様子を示す平面図である。
【図５】回転テーブルを設置する様子を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照しながら、本発明に係る外観検査装置の好適な実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明に係る外観検査装置の一実施形態を示す平面図である。外観検査装置１は、回転テーブル２の回転によって搬送されるチップ型電子部品Ｓの各端面を順次撮像することによってチップ型電子部品Ｓの外観検査を行う装置として構成されている。図１に示すように、外観検査装置１は、回転テーブル２と、チップ型電子部品Ｓを供給する供給ユニット３と、チップ型電子部品Ｓの各端面を撮像する複数（本実施形態では３体）の撮像ユニット４と、撮像を終えたチップ型電子部品Ｓを回収する回収ユニット５とを備えている。
【００１３】
回転テーブル２は、例えば透明性を有するガラスや合成樹脂などによって円板状に形成されている。回転テーブル２の直径は、例えば４０ｃｍ〜５０ｃｍとなっている。回転テーブル２の下面側には、例えばサーボモータが設けられている。このサーボモータの駆動により、回転テーブル２は、中心軸周りに一定の速度で回転するようになっている。
【００１４】
供給ユニット３は、ホッパー及びフィーダを含んで構成されている。ホッパーには、多数のチップ型電子部品Ｓが収容されており、ホッパーの底部が開放されることによってフィーダから回転テーブル２の縁部に向けてチップ型電子部品Ｓが供給される。
【００１５】
撮像ユニット４は、チップ型電子部品Ｓの端面を撮像する撮像部１１と、例えばドーム状の照明部１２とによって構成されている。撮像ユニット４は、供給ユニット３から回収ユニット５までの間において回転テーブル２周りに所定の間隔で配置されている。撮像部１１及び照明部１２は、回転テーブル２の縁部の上方にセットされ、回転テーブル２の回転によって搬送されてくるチップ型電子部品Ｓの端面の傷、凹凸、欠けの有無などを撮影できるように調整されている。また、３体の撮像ユニット４は、それぞれチップ型電子部品Ｓの別々の端面を撮像するようになっている。
【００１６】
ここで、撮像部１１及び照明部１２は、図２に示すように、例えば棒状の支持部１３によって支持されている。支持部１３は、脚部１３ｃを有する基端部１３ａと、撮像部１１及び照明部１２が固定される先端部１３ｂとを有しており、先端部１３ｂは基端部１３ａに対して回転テーブル２の外側に向かって傾倒可能に軸支されている。先端部１３ｂが基端部１３ａに対して傾倒した状態では、図３に示すように、撮像部１１及び照明部１２は、回転テーブル２よりも下方となる位置で支持される。このような支持部１３により、撮像部１１及び照明部１２の位置は、平面視において回転テーブル２の縁部に重なる撮像位置と、平面視において回転テーブル２の縁部に重ならない退避位置との間で切り替え可能となっている。
【００１７】
回収ユニット５は、図１に示すように、ガス噴射ノズル１４，１５と、良品回収部１６と、不良品回収部１７とによって構成されている。ガス噴射ノズル１４，１５は、回転テーブル２の表面にガスを吹き付ける装置である。ガス噴射ノズル１４，１５のノズルは、良品回収部１６及び不良品回収部１７にそれぞれ向けられており、ガスの噴射のタイミングは制御部（不図示）によって制御されている。
【００１８】
この制御部は、各撮像ユニット４からの撮像データと、回転テーブル２の回転量とを取得する。制御部は、まず、撮像データに基づいて画像処理を行うことにより、チップ型電子部品Ｓの各端面の欠陥の有無を検査し、チップ型電子部品Ｓが良品であるか否かを判断する。そして、制御部は、回転テーブル２の回転量に基づいて、良品であると判断されたチップ型電子部品Ｓが良品回収部１６の位置まで到達したときにガス噴射ノズル１４からガスを噴出させ、チップ型電子部品Ｓを良品回収部１６に回収させる。また、制御部は、不良品であると判断されたチップ型電子部品Ｓが不良品回収部１７の位置まで到達したときにガス噴射ノズル１５からガスを噴出させ、チップ型電子部品Ｓを不良品回収部１７に回収させる。
【００１９】
このような外観検査装置１では、回転テーブル２の交換やメンテナンスを行うにあたって、まず、図４に示すように、各撮像ユニット４のそれぞれの支持部１３の先端部１３ｂを傾倒させ、撮像部１１及び照明部１２の位置を撮像位置から傾倒位置に移動させる。この状態では、平面視において撮像部１１及び照明部１２が回転テーブル２の縁部に重ならないので、回転テーブル２を水平方向に移動させることにより、外観検査装置１から回転テーブル２を取り外すことができる。
【００２０】
また、傾倒位置における撮像部１１及び照明部１２は、図３に示したように、回転テーブル２よりも下方となる位置で支持されている。したがって、回転テーブル２を水平方向に移動させる際、撮像部１１及び照明部１２の上方を通過させることも可能であり、回転テーブル２を使用状態よりも上方に持ち上げなくても回転テーブル２を取り外すことができる。
【００２１】
交換やメンテナンスを終えた回転テーブル２を再び設置する場合、図５に示すように、まず、回転テーブル２を水平方向に移動させて元の位置に戻す。次に、各撮像ユニット４のそれぞれの支持部１３の先端部１３ｂを直立させ、撮像部１１及び照明部１２の位置を傾倒位置から撮像位置に復帰させる。これにより、撮像部１１及び照明部１２の再調整を行うことなく、速やかにチップ型電子部品Ｓの外観検査を実行できる。なお、上述した実施形態では、端面の検査対象としてチップ型電子部品Ｓを例示したが、端子電極などを形成する前の素体を検査対象としてもよい。
【符号の説明】
【００２２】
１…外観検査装置、２…回転テーブル、３…供給ユニット、４…撮像ユニット、５…回収ユニット、１３…支持部、Ｓ…チップ型電子部品。
【図１】
0005634722.tif 000002
【図２】
0005634722.tif 000003
【図３】
0005634722.tif 000004
【図４】
0005634722.tif 000005
【図５】
0005634722.tif 000006