(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、
前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得手段と、
前記複数の取得方式により得られる特異画素の位置を示す画像を、該取得方式に応じて前記特異画素の表示形式を変えて重畳して表示させる表示制御手段と
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
前記表示制御手段は、前記複数の取得方式で共通して現れる特異画素と、前記複数の取得方式の夫々のみで現れる特異画素とで表示形式を変えて表示する
ことを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記表示制御手段は、前記特異画素に前記取得方式毎に異なるマークを付して表示させることを特徴とする請求項１または２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
撮像装置により撮像された画像の欠陥画素を表示させる情報処理装置であって、
前記撮像装置が被写体の画像を撮像するための撮像方式毎に、該撮像方式のそれぞれを実行して得られる画像のそれぞれに現れる欠陥画素を取得する取得手段と、
表示対象とする欠陥画素に対応する前記撮像方式を選択する選択手段と、
前記選択された撮像方式と、該撮像方式により得られる欠陥画素とを対応付けて表示させる表示制御手段とを有し、
前記表示制御手段は、前記選択される撮像方式が変わることに応じて前記欠陥画素の表示を切り換えることを特徴とする情報処理装置。
【請求項５】
前記表示制御手段は、前記選択されている複数の撮像方式に対応する欠陥画素を撮像方式毎に順送りに表示させることを特徴とする請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記欠陥画素の集合の前記画像における面積の大きさ、前記集合が作る形状、前記画像の所定の範囲における前記欠陥画素の密度の少なくとも一つに関する閾値を選択するその他の選択手段を有し、
前記表示制御手段は、前記選択された閾値で定められる範囲の欠陥画素を表示させることを特徴とする請求項４または５に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記複数の取得方式では、前記画像から欠陥画素を抽出する抽出方式が異なることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項８】
画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、
所定の撮像方式で得られる画像から特異画素の抽出の閾値が異なる複数の抽出方式を実行して得られる特異画素を取得する取得手段と、
前記取得された特異画素を前記所定の撮像方式及び抽出方式と対応付けて表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項９】
前記特異画素の前記抽出方式を選択する選択手段を有し、
前記表示制御手段は、前記選択に応じて、前記選択された抽出方式に対応する特異画素を表示させることを特徴とする請求項８に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記抽出方式では、前記撮像方式で撮像された画像から前記閾値以上と判定される画素値を有する画素を特異画素として抽出することを特徴とする請求項９に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記抽出方式では、前記撮像方式で撮像した画像から前記閾値で定められる範囲に含まれる画素値を有する画素を特異画素として抽出することを特徴とする請求項１０に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
前記閾値で定められる範囲は、前記画像の所定の領域における画素値の平均値とばらつきにより定められる範囲であることを特徴とする請求項１１に記載の情報処理装置。
【請求項１３】
前記抽出方式は、前記画像における特異画素の位置を取得する方式であり、
前記表示制御手段は、前記取得方式により得られる特異画素の位置を表示させることを特徴とする請求項８乃至１２のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１４】
画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、
複数の撮像方式を実行する順序を設定する設定手段と、
前記実行される複数の撮像方式により得られる特異画素を取得する取得手段と、
前記取得された特異画素を前記設定された順序で表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項１５】
前記表示制御手段は、前記特異画素の位置を示す画像を前記順序で並べて表示させることを特徴とする請求項１４に記載の情報処理装置。
【請求項１６】
前記表示制御手段は、前記特異画素の位置を示す画像を順送りで切り換えて表示させることを特徴とする請求項１４に記載の情報処理装置。
【請求項１７】
前記設定手段は、複数の撮影方式を組み合わせた撮影プロトコルに基づいて前記順序を設定することを特徴とする請求項１４に記載の情報処理装置。
【請求項１８】
前記撮像方式は、動画を撮像する撮像方式と静止画を撮像する撮像方式のいずれかであることを特徴とする請求項９乃至１７のいずれか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１９】
動画像と静止画像を撮影する撮影装置により得られた静止画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、
静止画像のみを撮影する第一の撮影モードで撮影された静止画像に現れる特異画素と、静止画像と動画像の両方を撮影する第二の撮影モードで撮影された静止画像に現れる特異画素を取得する取得手段と、
前記取得された特異画素を前記撮影モードと対応付けて表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とする情報処理装置。
【請求項２０】
画像の特異画素を表示させる情報処理方法であって、
前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得するステップと、
前記複数の取得方式により得られる特異画素の位置を示す画像を、該取得方式に応じて前記特異画素の表示形式を変えて重畳して表示させるステップと
を有することを特徴とする情報処理方法。
【請求項２１】
撮像装置により撮像された画像の欠陥画素を表示させる情報処理方法であって、
前記撮像装置が被写体の画像を撮像するための撮像方式毎に、該撮像方式のそれぞれを実行して得られる画像のそれぞれに現れる欠陥画素を取得する取得ステップと、
表示対象とする欠陥画素に対応する前記撮像方式を選択する選択ステップと、前記選択された撮像方式と、該撮像方式により得られる欠陥画素とを対応付けて表示させる表示制御ステップとを有し、
前記表示制御ステップでは、前記選択される撮像方式が変わることに応じて前記欠陥画素の表示を切り換えることを特徴とする情報処理方法。
【請求項２２】
請求項２０または２１に記載の情報処理方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２３】
動画像と静止画像を撮像する撮像部と、
静止画像のみを撮影する第一の撮影モードで撮影された静止画像に現れる特異画素と、静止画像と動画像の両方を撮影する第二の撮影モードで撮影された静止画像に現れる特異画素を抽出する抽出手段と、
前記取得された特異画素を前記撮影モードと対応付けて表示させる表示手段と、
を有することを特徴とする情報処理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置により撮像された画像に発生する特異画素の位置を表示させるための情報処理装置、情報処理システム、情報処理方法及び当該情報処理方法を実行するためのコンピュータプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像装置が撮像した画像は複数の画素で構成され、この画素が表現する色及び濃淡により全体として画像が形成されるが、この複数の画素の中には特異画素と呼ばれる画素が存在する。特異画素とは、撮像装置中の回路や素子の異常等により、所定の入力に対して予め定められた出力範囲を外れた出力を示す欠陥画素や、その他の異常又は不良の値を示す画素のことである。これら特異画素は撮影画像の画質に影響を与えるため、その周辺画素の平均画素値等を用いて置換する等の方法により補正され、特異画素が補正された画像がユーザに提供される。【０００３】
また、特異画素の位置は画像の撮像方式やその画像から特異画素を抽出する方式などの、特異画素の取得方式によって変わる。この特異画素を補正するための技術として、特許文献１には撮像装置の撮像方式によって変わる特異画素の位置を補正する技術が開示されている。特許文献２には、回路系の利得に応じて異なる特異画素を抽出し、補正する技術が開示されている。【０００４】
一方例えば医療分野においては、補正処理がされた特異画素があった位置を確認したいという要求がある。これは、特異画素を補正処理することにより画素値が変わってしまうため、元の画像を確認する必要があるからである。特許文献３には放射線画像においてユーザが選択した領域内に存在する特異画素の位置を表示する技術が開示されている。ただ、この特許文献３における特異画素の表示には、特異画素の取得方式によって特異画素の位置が変わることが考慮されていない。先述の特許文献１、特許文献２に記載の技術は取得方式の違いが考慮されているが、特異画素を見えなくする補正処理に関するものであり、特異画素の表示とは相反するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−８９２８号公報
【特許文献２】特開２０００−１０１９２５号公報
【特許文献３】特開２００４−１８７１６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そのため従来の技術では、複数の撮像方式や、複数の特異画素を抽出する方式がある場合など、特異画素の取得方式が複数利用される場合に、取得方式毎に変わる特異画素の位置を比較して確認したいという要求に応える技術が無かった。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
そこで本発明の実施形態に係る情報処理装置は、画像の特異画素を表示させる情報処理装置であって、前記特異画素を取得する複数の取得方式毎に特異画素を各々取得する取得手段と、前記複数の取得方式により得られる特異画素の位置を示す画像を、該取得方式に応じて前記特異画素の表示形式を変えて重畳して表示させる表示制御手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、特異画素とその取得方式とを対応付けて表示させることができるため、どの取得方式を利用するとどのように特異画素が現れるかを比較しつつ確認することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１の実施例に係る情報処理装置の構成図である。
【図２】第１の実施例に係る情報処理装置と共に利用される欠陥画素取得装置の構成図である。
【図３】情報処理装置による処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】情報処理装置による欠陥画素の表示画面例を示す図である。
【図５】第２の実施例に係るＸ線撮像システムの構成図である。
【図６】Ｘ線撮像システムによる欠陥画素を表示する処理の流れを示すフローチャートである。
【図７】Ｘ線撮像システムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。
【図８】その他の表示画面例を示す図である。
【図９】複数の欠陥画素位置を示す画像を順送りに表示する表示画面例を示す図である。
【図１０】その他の欠陥画素の表示画面例を示す図である。
【図１１】第３の実施例に係るＸ線撮像システムが実行する欠陥画素表示処理の流れを示すフローチャートである。
【図１２】欠陥画素の位置を表示する画面を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態を実施例１乃至３に従って説明する。なお本発明において特異画素とは異常または出力不良の画素のことであり、その周囲の画素の画素値から大きく外れた画素である。例えば画像を所定領域ごとに区切り、その区切られた各領域における画素の平均画素値から標準偏差値の８倍以上外れた画素を特異画素として定義する方法がある。以下の実施例においては、この特異画素のうち素子や回路等の異常により発生する欠陥画素を特異画素の例として説明する。
【００１１】
（実施例１）
以下、第１実施例について図１乃至図４を用いて説明する。本実施例は、撮像装置により撮像した画像から取得した欠陥画素の位置を表示する情報処理装置に本発明を適用したものである。この情報処理装置は欠陥画素を取得する複数の取得方式の各々により取得された欠陥画素の位置を、取得方式毎に異なる表示形式で表示させる表示制御を行う。これにより欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図１は本発明に係る情報処理装置の構成を示した図であり、図２は欠陥画素の位置情報を取得する欠陥画素取得装置の構成を示した図である。図３は欠陥画素取得装置及び情報処理が行う処理の流れを示したフローチャートである。図４は情報処理装置が表示部に表示させる画面の例を示す図である。
【００１２】
ここで、本実施例における欠陥画素の取得方式とは、抽出対象から欠陥画素を抽出する抽出方式に加え、欠陥画素の抽出対象とする画像を撮像装置が取得する際の撮像方式の両方を含む概念とする。
【００１３】
図１に示される情報処理装置の構成について説明する。情報処理装置１０１は、欠陥画素取得装置１０２から、欠陥画素の位置情報を取得し、表示部１０５に表示させる表示制御を行うものである。情報処理装置１０１の取得部１０３は、欠陥画素取得装置１０２が取得した欠陥画素の位置を取得する。この欠陥画素の位置は、複数の取得方式の夫々を実行して得られたものである。取得部１０３は、複数の抽出方式に対応する欠陥画素の位置を取得する。情報処理装置１０１の表示制御部１０４は、画像における欠陥画素の位置を表示させるための表示制御を行うものであり、取得した欠陥画素の位置情報を取得方式毎に異なる表示形式で表示するための表示データを作成する。この表示データが表示部１０５に対して送られ、欠陥画素とその取得方式とが対応付けられて表示される。
【００１４】
図２に示される欠陥画素を取得する欠陥画素取得装置１０２の構成について説明する。この欠陥画素取得装置１０２は、撮像装置２０５により複数の撮像方式により撮像された画像を取得し、欠陥画素を取得して、取得方式毎に分類して記憶するというものである。方式記憶部２０１には、欠陥画素の取得方式が複数記憶されている。取得方式として記憶されているデータは、欠陥画素取得の対象とする画像データの撮像方式や、画像から欠陥画素を抽出する抽出方式などである。また、例えば同じ動画について複数の取得方式が記憶されていてもよい。方式選択部２０２は、方式記憶部２０１から複数の取得方式を取得し、１つずつ選択して欠陥画素取得部２０３に送る。なお方式記憶部２０１を用いずに、ユーザの入力により適宜欠陥画素の取得方式を取得し実行する構成であってもよい。
【００１５】
欠陥画素取得部２０３の画像取得部２０４は選択された取得方式に関する情報に基づき、欠陥画素の抽出対象とする画像を撮像装置２０５から取得する。欠陥画素抽出部２０６は画像から欠陥画素を抽出する。ここで欠陥画素の抽出方法は、例えば特異画素の定義例を用いて、所定領域内の画素平均値から標準偏差値の８倍以上離れた画素を欠陥画素とする方法を用いる。この方法で抽出される画素は欠陥画素以外の特異画素も含み得る。この点で、本実施形態が欠陥画素のみならず特異画素についても適用できることは明らかである。
【００１６】
欠陥画素抽出部２０６で抽出された欠陥画素を分類部２０７が分類する。分類部２０７は取得された欠陥画素の位置と、方式選択部２０２で選択された欠陥画素の取得方式とを関連付けて欠陥画素記憶部２０８に格納する。この欠陥画素の位置に基づいて表示制御部１０４が表示用のデータを作成し、表示部１０５に表示させることにより欠陥画素の表示がなされる。この画面表示については後述する。
【００１７】
なお、取得方式は、画像の撮像方式とそれにより得られた画像から欠陥画素を抽出する抽出方式とに分けられる。撮像方式としては、静止画、動画などがある。また、画素加算読み出し（ビニング）を行って動画を撮像する方式と画素加算読み出しをしないで動画を撮像する方式がある。また、画質よりもフレームレートを優先する動画を撮像する方式とフレームレートよりも画質を優先する動画を撮像する方式がある。抽出方式としては、複数枚の画像を取得し、うち所定枚数以上の画像において出力以上と判定された画素を欠陥画素とする方法がある。例えば４枚の画像を取得し、４枚中２枚以上の画像において出力異常と判定された画素を欠陥画素とする。出力異常の判定方法としては、画像を複数の領域に分割して夫々の領域について画素値の平均値を算出し、平均値を含む所定の範囲を外れた値を示す画素を欠陥画素とする方法がある。例えば、平均値から標準偏差値の数倍以上離れた画素値である場合に出力異常とする。また、孤立している欠陥画素、群を形成する欠陥画素、線上に連続して分布するライン欠陥など、抽出対象とする欠陥画素を決めることも、欠陥画素の取得方式に含まれる。更には、撮像された画像であって周知のオフセット補正やゲイン補正と呼ばれる補正がいない画像から欠陥画素を抽出するか、画像処理を終えた画像から欠陥画素を抽出するかも、取得方式に含む。
【００１８】
欠陥画素を抽出する対象の画像は、被写体を介さずに、撮像装置のセンサ面に略均一な光が照射されるようにして取得した白画像と呼ばれる画像であっても、所定のテストパターンを撮像した画像であってもよい。
【００１９】
図３に示される、上記装置による処理の流れを説明する。この処理は、複数の欠陥画素取得方式を実行する装置から欠陥画素の位置情報とその欠陥画素に対応する取得方式を取得し、取得方式毎に異なる表示形式で欠陥画素を表示するというものである。
【００２０】
まず、欠陥画素取得装置１０２の方式選択部２０２は方式記憶部２０１から複数の欠陥画素の取得方式を取得する（ステップ３０１）。取得した複数の欠陥画素取得方式を順に欠陥画素取得部２０３が実行する。この欠陥画素取得部２０３の画像取得部２０４は、撮像装置２０５から画像を取得する（ステップ３０２）。この際、選択された欠陥画素の取得方式に定められた撮像方式で得られた画像を取得する。
【００２１】
欠陥画素取得装置１０２の欠陥画素抽出部２０６が取得した白画像から欠陥画素を抽出する（ステップ３０３）。分類部２０７は、取得された欠陥画素の位置を抽出部から取得し、取得方式を方式選択部２０２から取得し、関連付けて欠陥画素記憶部２０８に記憶させる（ステップ３０４）。その後、方式選択部２０２は必要な取得方式の全てが実行されたかを判定する（ステップ３０５）。この判定は、ユーザの入力に応じて方式選択部２０２が行ってもよい。実行対象の欠陥画素取得方式があれば、ステップ３０１に進み欠陥画素の取得が実行され、取得が終わっていれば欠陥画素取得の処理を終える。以上の処理により、撮像装置２０５について複数の欠陥画素取得方式により得られる欠陥画素が欠陥画素取得装置１０２の欠陥画素記憶部２０８に格納されることとなる。
【００２２】
次に、本発明に係る情報処理装置１０１の取得部１０３がステップ３０４にて記憶された欠陥画素の位置情報を取得する（ステップ３０６）。この欠陥画素の位置情報は、先述のステップ３０２及びステップ３０３により、複数の欠陥画素取得方式を欠陥画素取得装置１０２の欠陥画素取得部２０３が実行して得たものである。この位置情報には、欠陥画素の位置に関する情報と共に、取得方式に関する情報が含まれる。情報処理装置１０１の表示制御部１０４は取得方式に応じて表示形式を変えて欠陥画素を表示させるように表示データを作成し（ステップ３０７）、表示部１０５が表示を行う（ステップ３０８）。
【００２３】
図４（ａ）に示される表示画面では、欠陥画素が存在する位置に塗り潰された正方形のマークが付されると共に、撮像方式に対応した記号が付される。これにより撮像方式毎に発生する欠陥画素の位置を記号の対応で確認することができる。なお、欠陥画素を異なる色で表示する表示形式であってもよい。このように、欠陥画素の位置を取得方式毎に異なる表示形式で表示されるため、複数の取得方式に対応する欠陥画素の位置を同時に1画面で確認することができる。このような効果は、複数の取得方式により取得した欠陥画素の位置を表示することや、取得方式毎に異なる表示形式で表示することも開示が無い従来技術からは想到し得ないものである。
【００２４】
図４（ｂ）はまた別の表示例である。画面右側には１つの取得方式に対応した表示がされている。１つは白画像を複数枚、例えば４枚撮影し、４枚中１枚以上の画像において出力が異常と判定された画素を欠陥画素とする方式である。もう１つは、３枚以上の画像において異常出力であると判定された画素を欠陥画素とする方式である。前者の方式は、後者の方式に比べ、少しでも不安定と判定される画素を欠陥画素として抽出する方式であり、より欠陥画素による補正を利用する場合に利用される。この方式は、例えば欠陥画素の補正処理の信頼性が高い場合に利用される。後者の方式は、前者の方式に比べ、欠陥画素として抽出する画素を特に不安定なものに限る趣旨で利用される方式である。例えば、多少の不安定さであればゲイン補正等の他の補正により画質を担保できる場合などに利用されるものである。このように、状況に応じて抽出方式を変える場合に、これら抽出方式毎により変わる欠陥画素の位置を確認することができる。
【００２５】
（実施例２）
第２実施例について、図５乃至図１０を用いて説明する。本実施例ではＸ線撮像システム自体が画像を撮像し、その画像から欠陥画素の位置情報を抽出して取得する。そして、取得方式の少なくとも１つを指定するユーザの入力に応じ、欠陥画素の取得方式を選択し、その選択に対応する欠陥画素位置の表示を行うことで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。図５は本発明に係る情報処理システムであるＸ線撮像システムの構成を示した図である。図６はその情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートである。図７乃至図１０は情報処理システムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。
【００２６】
以下、図７に示されるＸ線撮像システムの構成について説明する。Ｘ線発生装置５１０は発生したＸ線を被写体に対して照射し、これと同期して検出器５０２がＸ線を受光する。検出器５０２は受光したＸ線を電荷に変換して蓄積し、所定の蓄積時間の後電荷を電気信号として読み出し、所定の画像処理を行って被写体画像を形成する撮像部として機能する。コントロールＰＣ５０１には、バス５０９に対して、ＣＰＵ５０３、ＲＡＭ５０４、ＲＯＭ５０５、入力部５０６、表示部５０７、記憶部５０８が接続される。また、コントロールＰＣ５０１は、信号線である光ファイバー５１１を介して検出器５０２と接続されている。コントロールＰＣ５０１は検出器５０２から被写体画像を取得して記憶部５０８に格納すると共に、表示部５０７に表示する処理をする。入力部５０６は、マウスやキーボード等からなり、ユーザの指示を受け付ける。表示部５０７は、例えば液晶ディスプレイからなり、表示制御部として機能するＣＰＵ５０３の制御に応じて、作成された表示データを表示する。
【００２７】
このコントロールＰＣ５０１では、後述する図８に示される処理を行うためのコンピュータプログラムが記憶部５０８に格納されており、これがＲＡＭ５０４に読み込まれ、ＣＰＵ５０３により実行される。これによって、コントロールＰＣ５０１のハードウェア資源とコンピュータプログラムが協働して図６の欠陥画素の表示処理が実現される。この際、ＣＰＵ５０３が表示部５０７の表示制御部として機能する。
【００２８】
図６に示される、上述のＸ線撮像システムが実行する処理の流れを説明する。特に明示が無い限り処理の主体及び処理の実行の指示を行う主体はＣＰＵ５０３である。
【００２９】
まず、検出器５０２は被写体を透過したＸ線を受光し、撮像方式を変えて補正前画像を複数枚撮像する（ステップ６０１）。また、この補正前画像を得ると同時に、検出器５０２およびＸ線発生装置５１０にて実行された撮像方式も複数取得する（ステップ６０２）。この情報はセンサから自動通知されることで取得してもよいし、ユーザが手動で与えても良い。次に記憶部５０８から既存の欠陥画素の位置情報を含むデータである欠陥画素マップを取得する（ステップ６０３）。欠陥画素マップとは、例えば欠陥画素である画素を１とし、正常画素である画素を０としたビットマップ形式のデータである。この場合は、取得する際に、ステップ６０２にて得られた撮像方式によって分類された欠陥画素マップを取得する。次にステップ６０１にて取得した補正前画像から欠陥の抽出を行う（ステップ６０４）。このステップを実行するコントロールＰＣ内のＣＰＵ５０３は、実施例１における欠陥画素の取得部１０３に対応する。
【００３０】
次にステップ６０４の検出結果において、欠陥画素が増加していた場合、新たな欠陥画素として取得した日時と共に欠陥画素マップへ分類して追記し、欠陥マップを更新する（ステップ６０５）。更新された欠陥画素マップは、記憶部５０８に格納する。例えば、欠陥画素マップが欠陥画素の取得方式によって分類された複数の欠陥画素マップからなる場合には、このマップの更新作業をすることで欠陥の分類がされる。一方、欠陥画素マップが取得方式によって分類されておらず１つのマップである場合は、欠陥画素マップの値に欠陥画素取得方式に関する情報を含ませて更新することで欠陥画素の分類がなされる。
【００３１】
その後、補正前画像を更新された欠陥画素マップを用いて欠陥画素の位置を特定して欠陥画素補正を行い、補正後画像を取得する（ステップ６０６）。そして、全ての欠陥画素取得方式が実行されているか否かを判定し（ステップ６０７）、全て実行済みであればステップ６０８の処理へ進み、まだ実行していない方式があれば、ステップ６０１の処理に進み、補正前画像に対して欠陥画素の抽出を行う。ここでいう全ての欠陥画素取得方式とは、撮像システムが実行可能な全ての欠陥画素取得方式であっても、ユーザが指定した欠陥画素取得方式の全てであってもよい。
【００３２】
次に表示部５０７に欠陥画素の取得方式の選択肢を表示する。この選択肢をユーザが入力部５０６を操作して指定し、その指定情報に応じてＣＰＵ５０３が表示すべき欠陥情報の取得方式を選択する（ステップ６０８）。これらの欠陥画素取得方式が選択されると、その方式に対応する欠陥画素マップを選択し、このマップに基づいて欠陥画素の位置を表示するための表示データの作成を行う（ステップ６０９）。その画像データを表示部５０７が表示し、また画面上においてユーザが指定した画面上の表示を選択状態の表示へと変える。これにより、欠陥画素の位置情報を表示する図７乃至図１０の画面表示が実現する（ステップ６１０）。これにより、ユーザが取得方式の指定に応じて表示させる欠陥画素の位置を任意に切り換えることができ、その時々に応じて必要な欠陥画素の位置を確認することが可能になる。欠陥の確認作業が完了したら、ユーザが確認ボタンを押下し、この入力に応じてＣＰＵ５０３が終了処理を行う（ステップ６１１）。この終了処理では、ユーザが画面に表示された全ての取得方式を選択し、欠陥を表示したか否かをＣＰＵ５０３にて判定し、全て選択されたと判定された場合に初めて確認ボタンの押下が有効となる。仮に、全て選択されていないと判定された場合には、その旨の通知を行う。確認ボタンの押下が有効か否かで確認ボタンの色を変えることにより、全ての欠陥画素の確認が終了したことをユーザに通知する。これにより欠陥画素の確認漏れを防ぐことができる。
【００３３】
図７に例示される画面表示を説明する。図７（ａ）右側には、画像の形式として静止画撮影、シネ撮影（Ｘ線量が高い動画撮影）、透視撮影（動画撮影）、画素を加算して読み出す際の加算数など、画像の撮影方法が表示される。これら撮影方式等の欠陥画素の取得方式をユーザが指定することにより、対応する欠陥画素の位置情報を選択し、図の左側に表示する。これによって撮像方式毎に変わる欠陥画素の位置を確認することができる。図７（ｂ）にて示されるように複数の取得方式が選択された場合は、選択された方式で得られる論理和をとった欠陥情報を取得し表示する。この際には、取得方式毎に異なる表示形式で表示させれば、取得方式毎に現れる欠陥画素の位置を把握することができる。また、撮像方式自体をそのまま表示しても良い。なお、補正後画像と欠陥画素の位置とを同時に表示をしてもよい。
図８（ａ）の画面表示では、静止画の駆動であっても、前後の撮像方式によって選択を可能とする。これは例えば動画撮影中の静止画撮影と、単体で行う静止画撮影では撮像装置の駆動が異なる場合があり、この場合欠陥画素の発生位置が異なるため、別々に確認する必要がある。このような表示は、欠陥画素の取得を行う際に、通常の静止画と動画撮影中に撮像した静止画とを分けて取得し、夫々について欠陥画素を抽出することを通して実現できる。これにより、静止画単体で撮像する際の静止画に現れる欠陥画素と、動画撮影中に撮影される静止画に現れる欠陥画素が異なる場合であっても、夫々の静止画に発生する欠陥画素を別々に確認することができる。
【００３４】
図８（ｃ）では、単体のモードと静止画、動画撮影が組み合わさった混合モードとを分けて選択できる。この場合混合モードでは更に、動画、静止画のそれぞれで加算読み出しをするか否かを選択する。その構成によって欠陥情報を表示する。混合モードの場合は動画の欠陥マップと静止画の欠陥マップとを順送りで表示する。図８（ｃ）の画面表示例では、撮影プロトコルが選択肢として表示される。ここで撮影プロトコルとは、例えば上部消化管撮影や胸部正面撮影であり、動画や静止画など複数の撮像方式を組み合わせた撮影が行われる。撮影プロトコルが決まると検出器による一連の撮像方式と、その撮像方式を含む欠陥画素の取得方式が決まる。欠陥画素マップから得られる画像中の欠陥画素位置に基づき、画面に欠陥画素の位置を表示する。また画面上には再生ボタンが表示される。再生ボタンを押下することで、撮影時の欠陥の遷移がわかるように順送りで表示する。
【００３５】
図９は図８（ｂ）および図８（ｃ）における再生ボタンを押下した際の順送り表示を示した図である。この例では、動画撮影から静止画撮影を行うケースでの動画撮影用の欠陥画素マップが５つあり、動画撮影から静止画撮影を行うケースでの静止画撮影用の欠陥画素マップが１つある。それらを、欠陥の遷移がわかるように欠陥画素マップを順送りで表示する。または、動画撮影用欠陥マップが１つしか無い場合は、動画撮影用の欠陥マップの表示時間を静止画撮影用の欠陥マップの表示時間よりも長くしてもよい。このような画面表示により、撮像方式毎に発生する欠陥画素の位置を撮像方式の利用順と同じ順序で確認することができる。
【００３６】
図１０（ａ）では、静止画の欠陥画素と動画の欠陥画素それぞれについて、所定の小領域内の平均画素値ｍと標準偏差値σを計算し、画素値がｍ±５σの範囲外となった画素を欠陥画素とする抽出方式が選択肢として表示されている。また、ｍ±８σの範囲外となった画素を欠陥画素とする抽出方式も選択可能となっている。このどちらかをユーザの入力に応じて選択し、選択に応じた欠陥画素を表示する。例えば、一般に動画では静止画に比べてノイズが多く、動画像ではｍ±８σの範囲外を欠陥画素として処理し、それ以外をゲイン補正等の補正処理で対処することが考えられる。この観点では、静止画像においてはノイズが小さいため、ｍ±５σの範囲外を欠陥画素として指定することが考え得る。別の観点では、動画の方がＸ線の線量が小さく静止画に比べゲインを大きくする処理を行うため、ゲインコントロールをする前の画像から欠陥画素を抽出する際にはｍ±５σを超える画素を欠陥として抽出する必要がある場合が考えられる。このように、状況に応じて抽出方式を変える必要があるため、抽出方式毎に欠陥画素を確認する意義がある。
【００３７】
図１０（ｂ）では、孤立欠陥、ブロック欠陥、ライン欠陥をそれぞれ抽出するための抽出方式をユーザの入力に応じて選択し、対応する欠陥画素を表示する。例えば、ブロック欠陥、ライン欠陥等は画質に与える影響が大きいためこれらを優先的に確認する場合に選択する意義がある。また、孤立欠陥は経時劣化によってブロック欠陥へとなる可能性があり、その点で孤立欠陥を選択的に確認する必要がある。
【００３８】
（実施例３）
第３の実施例を図１１及び図１２を用いて説明する。本実施例は、欠陥画素の位置を示す画像を取得方式毎に並べて表示することで、欠陥画素の位置情報と取得方式とを対応付けて表示させるものである。また、取得された欠陥画素の中から指定された、例えば診断上大きな問題となる欠陥画素を選択して表示する。図１１は情報処理システムが行う処理の流れを示すフローチャートであり、図１２はシステムによる欠陥画素の表示画面例を示す図である。なお、これらの処理及び表示画面は第２の実施例と同様の構成を有する情報処理システムにより実現されるため、構成の説明は省略する。図１１に示される処理の流れのうち、ステップ１１０８以外は実施例２と同様であるため説明を省略する。
【００３９】
Ｘ線撮像システムまたは情報処理システムが実行する処理を説明する。図１１のステップ１１０８は、取得した欠陥画素のうち、表示対象とするものを指示する処理である。以下、図１２の画面例に基づいて説明する。
【００４０】
図１２の欠陥画素を表示する画面の例では、複数の取得方式に対応する欠陥画素が並べて表示される。取得方式毎に位置を変えて現れる欠陥画素を比較して確認することができる。また、図１２（ａ）の画面表示では、静止画、透視動画、シネなどの撮像方式に応じた欠陥画素の位置が並べて表示される。これにより、取得方式毎に欠陥画素の位置を確認することができる。また図１２（ａ）において、ユーザが画面中のボタンを選択することにより、全ての欠陥画素を表示するか、欠陥画素に関する面積、形状、密度等に関する許容値を超えた欠陥画素のみを表示するかの選択をすることができる。ここでいう許容値とは、複数欠陥が集合し連なって群欠陥を構成している場合にはその集合した群欠陥がつくる形状、その集合した群欠陥が画像に占める面積、画像のある範囲内における欠陥画素の密度などの許容値である。例えば、多くの欠陥画素で構成されている群欠陥はそれだけ面積が大きく、画質に与える影響が大きい。また同一欠陥画素数の欠陥群でも、線状に連続する欠陥画素に比べて円状に分布する欠陥画素の方が画質に与える影響が大きいため、形状が問題となる。また、一定の画像領域内に欠陥画素が高い密度で分布している場合にも、画質に与える影響が高いと考えられる。これら面積、形状、密度等に関する閾値を定め、取得された欠陥画素の集合に対してこの閾値による判定を行い分類することで処理が実現される。このように、欠陥画素に関する面積、形状、密度等に関する許容値を超えた欠陥画素を表示させることにより、画質に特に影響が大きい欠陥画素の位置を優先して確認することができる。なお、許容値を超えた欠陥画素のみを表示させても、許容値を超えた欠陥画素に許容値を超えない欠陥画素と異なる表示形式で表示してもよい。
【００４１】
図１２（ｂ）では、ユーザが検出日を指定すると、その検出日に対応する欠陥画素が表示されるというものである。欠陥画素は装置の経時劣化により時間経過と共に増加するため、日付ごとに確認する意義がある。これには、欠陥画素検出の前に既存の欠陥画素マップにて欠陥補正をし、その補正後の画像を入力として欠陥画素を抽出し、その抽出日と対応付けて欠陥画素マップを更新しておけばよい。これによって、例えば過去に撮影した画像についての欠陥画素の位置を確認する際には、その画像に対応する欠陥画素の取得方式と、その画像が撮像された日付を指定して、その画像の撮像時に現れる欠陥画素の位置を確認することができる。
【００４２】
以上、特異画素の例として欠陥画素を取り上げ、欠陥画素についての適用例を説明してきたが、本発明の適用例はこれに限らず、欠陥画素以外の特異画素を対象としてもよい。
【００４３】
なお、第１の実施例では、情報処理装置１０１の外部にある欠陥画素取得装置１０２が画像から欠陥画素の位置を取得し、情報処理装置１０１の取得部１０３がこの欠陥画素取得装置１０２から欠陥画素の位置取得を行う構成としている。しかしこれに限らず、情報処理装置１０１自体が画像から欠陥画素の位置を抽出して取得してもよい。この場合には、情報処理装置１０１が欠陥画素取得装置１０２における欠陥画素取得部２０３を備える構成とし、図３に示される処理の全てを情報処理装置１０１が実行することにより実現される。
【００４４】
上記実施例においては、欠陥画素を表示する際に欠陥画素の位置を示す画像を表示させるものとして説明したが、これに限らず、例えば取得方式毎に得られる欠陥画素の数が問題になる場合には、欠陥画素の数を表示させてよい。また、画像における欠陥画素の座標を文字情報として表示してもよい。
【００４５】
更に本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するプログラムを、情報処理装置または情報処理システムに供給し、そのシステムまたは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００４６】
１０１  情報処理装置
１０２  欠陥画素取得装置
１０３  取得部
１０４  表示制御部
【図１】
0005539365.tif 000002
【図２】
0005539365.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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