(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）の特性を測定する光パルス試験方法であって、
パルス光を光ファイバ（１５）内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、
パルス光を前記光ファイバ（１５）内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、
を順に備え、
前記全区間記録ステップで、ディジタル処理で微分することによって微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出することにより、時間波形に不連続な領域を検出すると、
前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングする
光パルス試験方法。
【請求項２】
前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験方法。
【請求項３】
前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験方法。
【請求項４】
ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）の特性を測定する光パルス試験装置であって、
パルス光を出射するタイミングを指示するタイミング制御部（１１）と、
前記タイミング制御部（１１）からの指示によって、光ファイバ（１５）内にパルス光を出射する光源（１２、１３）と、
前記パルス光によって光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換する受光部（１６、１７）と、
前記受光部（１６、１７）の出力する戻り電気信号の全区間及び当該全区間におけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で一部の区間を、繰り返してサンプリングするよう指示するサンプリング制御部（２２）と、
前記サンプリング制御部（２２）の指示に応じて、前記受光部（１６、１７）の出力する戻り電気信号の全区間及び一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ
ｔｏ Ｄｉｇｉｔａｌ）変換するＡ／Ｄ変換部（１８）と、
前記Ａ／Ｄ変換部（１８）のＡ／Ｄ変換した戻り電気信号の全区間及び一部の区間をアベレージングして前記戻り電気信号の全区間及び一部の区間の時間波形を生成する加算部（１９）と、
前記加算部（１９）の生成した全区間及び一部の区間の時間波形を記録する波形記録部（２０）と、
を備え、
前記サンプリング制御部（２２）が、ディジタル処理で微分することによって微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出することにより、前記波形記録部（２０）の記録した時間波形に不連続な領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記Ａ／Ｄ変換部（１８）に指示する
光パルス試験装置。
【請求項５】
前記サンプリング制御部（２２）が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを特徴とする請求項４に記載の光パルス試験装置。
【請求項６】
前記サンプリング制御部（２２）が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを特徴とする請求項４に記載の光パルス試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願発明は、光ファイバ等の長手方向の特性を測定する光パルス試験方法及び光パルス試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光パルス試験装置はパルス光を光ファイバに入射し、その際に生じる戻り光の時間変化を測定することにより、光ファイバの長手方向の特性を把握する試験装置である。この戻り光は極微弱な信号のため、戻り光をＡ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換部でＡ／Ｄ変換した後、アベレージング処理をして正確な時間波形を得ている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
正確な時間波形を得るには、数千回にも及ぶアベレージング処理と膨大な波形データ処理を伴うため、膨大な処理時間と大容量のメモリを必要とする。膨大な処理時間の回避とメモリ容量の削減には、Ａ／Ｄ変換部でのサンプリング間隔を犠牲にせざるを得ない。
【０００４】
しかし、サンプリング間隔を広くすると、光ファイバの長手方向に近接して存在する複数の不連続点の分離測定が困難になる。近年、アクセスネットワークに導入が進んでいるＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）では、光スプリッタで複数の光ファイバに分岐されている。このため、センター側から光ファイバの戻り光を測定すると、見かけ上、同じような距離からの反射が複数生じる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−０４１８４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
微小な距離間隔で複数の不連続点が存在しても、サンプリング間隔が広いままでは、これら複数の不連続点を１つの不連続点と判断してしまう可能性がある。
【０００７】
本願発明は、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法及び光パルス試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験方法は、戻り電気信号の全区間をサンプリングして時間波形を生成し、全区間の時間波形のうち一部の区間について、全区間でのサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔でサンプリングして時間波形を生成する。
【０００９】
具体的には、本願発明の光パルス試験方法は、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）の特性を測定する光パルス試験方法であって、パルス光を光ファイバ（１５）内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、パルス光を前記光ファイバ（１５）内に出射し、当該パルス光によって前記光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、を順に備え、前記全区間記録ステップで、ディジタル処理で微分することによって微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出することにより、時間波形に不連続な領域を検出すると、前記部分記録ステップで、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングする。
【００１０】
本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法を提供することができる。
【００１２】
さらに、本願発明の光パルス試験方法は、時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。
【００１４】
本願発明には、前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。
【００１５】
本願発明には、前記部分記録ステップで、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。
【００１６】
上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験装置は、戻り電気信号の全区間をサンプリングして時間波形を生成し、全区間の時間波形のうち一部の区間について、全区間でのサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔でサンプリングして時間波形を生成する。
【００１７】
具体的には、本願発明の光パルス試験装置は、ＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）の特性を測定する光パルス試験装置であって、パルス光を出射するタイミングを指示するタイミング制御部（１１）と、前記タイミング制御部（１１）からの指示によって、光ファイバ（１５）内にパルス光を出射する光源（１２、１３）と、前記パルス光によって光ファイバ（１５）内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換する受光部（１６、１７）と、前記受光部（１６、１７）の出力する戻り電気信号の全区間及び当該全区間におけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で一部の区間を、繰り返してサンプリングするよう指示するサンプリング制御部（２２）と、前記サンプリング制御部（２２）の指示に応じて、前記受光部（１６、１７）の出力する戻り電気信号の全区間及び一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ
ｔｏ Ｄｉｇｉｔａｌ）変換するＡ／Ｄ変換部（１８）と、前記Ａ／Ｄ変換部（１８）のＡ／Ｄ変換した戻り電気信号の全区間及び一部の区間をアベレージングして前記戻り電気信号の全区間及び一部の区間の時間波形を生成する加算部（１９）と、前記加算部（１９）の生成した全区間及び一部の区間の時間波形を記録する波形記録部（２０）と、備え、前記サンプリング制御部（２２）が、ディジタル処理で微分することによって微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出することにより、前記波形記録部（２０）の記録した時間波形に不連続な領域を検出すると、当該領域を前記一部の区間に含ませて繰り返してサンプリングするよう前記Ａ／Ｄ変換部（１８）に指示する。
【００１８】
本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験装置を提供することができる。
【００２０】
さらに、本願発明の光パルス試験装置は、時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間と小容量のメモリで把握することができる。
【００２２】
本願発明には、前記サンプリング制御部（２２）が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。
【００２３】
本願発明には、前記サンプリング制御部（２２）が、前記パルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することを含んでもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。
【発明の効果】
【００２４】
本願発明によれば、狭いサンプリング間隔であっても、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることの可能な光パルス試験方法及び光パルス試験装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本願発明に係る光パルス試験装置の構成を示す。
【図２】ＰＯＮの構成例を示す。
【図３】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図４】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図５】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図６】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図７】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図８】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図９】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【図１０】本願発明に係る光パルス試験装置の時間波形の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
添付の図面を参照して本願発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本願発明の実施の例であり、本願発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。各実施形態は可能な限り組み合わせることができる。
【００２７】
（実施形態１）
実施形態１に係る光パルス試験方法では、パルス光を光ファイバ内に出射し、当該パルス光によって光ファイバ内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、当該戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する全区間記録ステップと、前記全区間記録ステップで生成した全区間の時間波形を表示する全区間表示ステップと、パルス光を光ファイバ内に出射し、当該パルス光によって光ファイバ内で発生する戻り光を検出して戻り電気信号に変換し、前記全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で、当該戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ変換し、アベレージングして時間波形を生成し、記録する部分区間記録ステップと、前記部分区間記録ステップで生成した一部の時間波形を表示する部分区間表示ステップと、を順に備える。
【００２８】
図１に、実施形態１に係る光パルス試験装置の一例を示す。実施形態１に係る光パルス試験装置は、タイミング制御部１１、光源の一部としてのＬＤドライバ１２、光源の一部としてのＬＤ１３、合波分波部１４、受光部の一部としてのＡＰＤ１６、受光部の一部としての増幅部１７、サンプリング制御部２２、Ａ／Ｄ変換部１８、加算部１９、波形記録部２０及び表示部２１を備える。合波分波部１４には、被測定物である光ファイバ１５が接続されている。
【００２９】
近年、アクセスネットワークに導入が進んでいるＰＯＮの構成例を図２に示す。図２において、１本の光ファイバ１５１から光スプリッタ１５４によって、複数の光ファイバ１５２に分岐され、さらに、光スプリッタ１５５によって、複数の光ファイバ１５３に分岐されている。
【００３０】
光パルス試験装置が、図２に示す光ファイバ１５１の端部（図上左側）にパルス光を出射して時間波形を観測する動作を説明する。図２では、光ファイバ１５１から光スプリッタ１５４で分岐され、分岐された光ファイバ１５２から、さらに、光スプリッタ１５５で１６分岐されている。
【００３１】
全区間記録ステップでは、タイミング制御部１１は、被測定物である光ファイバの長さに応じて、パルス光を出射する繰り返し周期を決定する。即ち、パルス光を出射する繰り返し周期が、被測定物である光ファイバを光が伝搬する時間よりも長く、例えば、１〜１０倍程度となるように、パルス光を出射するタイミングを制御する。
【００３２】
ＬＤドライバ１２は、タイミング制御部１１からの指示によってＬＤ１３を駆動する。ＬＤ１３は、合波分波部１４を介してパルス光を被測定物である光ファイバ１５内に出射する。
【００３３】
ＡＰＤ１６は、パルス光によって光ファイバ１５内で発生する戻り光を、合波分波部１４を介して検出し、戻り電気信号に変換する。増幅部１７は、戻り電気信号を増幅する。
【００３４】
サンプリング制御部２２は、タイミング制御部１１の繰り返し周期に対応して、戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングするよう、Ａ／Ｄ変換部１８に指示する。Ａ／Ｄ変換部１８は、サンプリング制御部２２の指示に応じて、戻り電気信号の全区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ変換する。
【００３５】
加算部１９は、Ａ／Ｄ変換部１８のＡ／Ｄ変換した全区間の戻り電気信号をアベレージングして戻り電気信号の全区間の時間波形を生成する。波形記録部２０は、加算部１９の生成した全区間の時間波形を記録する。
【００３６】
全区間表示ステップでは、表示部２１は、波形記録部２０の記録した全区間の時間波形を表示する。
【００３７】
全区間の時間波形の例を図３に示す。図３において、縦軸は光ファイバからの戻り光の強度を示し、横軸は光パルス試験装置からのパルス光の往復伝搬時間を示す。往復伝搬時間は、光パルス試験装置から光ファイバ内で戻り光の発生する場所までの距離に相当する。光ファイバの遠端でフレネル反射が生じていることが分かる。Ａ／Ｄ変換部１８のサンプリングするサンプリング間隔が狭ければ、図３に示すフレネル反射の部分を拡大して表示すると、その部分を細かく観測することができる。しかし、サンプリング間隔を狭くすると、サンプリング数が増大して、処理時間が増大し、大容量のメモリを必要とする。そのため、表示の程度に合わせて、サンプリング間隔を広くせざるを得ない。
【００３８】
図３に示す全区間の時間波形の一部（図３において、「部分サンプリング範囲」と表示した部分）を拡大表示した時間波形を図４（ａ）に示す。図４（ｂ）には、後述する部分区間表示ステップで表示する一部の区間の時間波形も併せて示す。
【００３９】
図４（ａ）に示すように、サンプリング間隔が同じで、全区間の時間波形の一部の表示を単に拡大しただけでは、その領域での戻り光の状況が不明確である。そこで、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔よりも狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間をサンプリングする。
【００４０】
部分区間記録ステップでは、タイミング制御部１１は、被測定物である光ファイバの長さに応じて、パルス光を出射する繰り返し周期を決定する。繰り返し周期は、全区間記録ステップで決定した周期と同じでもよい。
【００４１】
ＬＤドライバ１２は、タイミング制御部１１からの指示によってＬＤ１３を駆動する。ＬＤ１３は、合波分波部１４を介してパルス光を被測定物である光ファイバ１５内に出射する。
【００４２】
ＡＰＤ１６は、パルス光によって光ファイバ１５内で発生する戻り光を、合波分波部１４を介して検出し、戻り電気信号に変換する。増幅部１７は、戻り電気信号を増幅する。
【００４３】
サンプリング制御部２２は、タイミング制御部１１の繰り返し周期に対応して、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングするよう、Ａ／Ｄ変換部１８に指示する。Ａ／Ｄ変換部１８は、サンプリング制御部２２の指示に応じて、戻り電気信号の一部の区間を繰り返してサンプリングし、Ａ／Ｄ変換する。
【００４４】
加算部１９は、Ａ／Ｄ変換部１８のＡ／Ｄ変換した一部の区間の戻り電気信号をアベレージングして戻り電気信号の一部の区間の時間波形を生成する。波形記録部２０は、加算部１９の生成した一部の区間の時間波形を記録する。
【００４５】
部分区間表示ステップでは、表示部２１は、波形記録部２０の記録した一部の区間の時間波形を表示する。
【００４６】
図４（ｂ）に、部分区間表示ステップで表示する一部の区間の時間波形を示す。全区間の時間波形の一部の表示を単に拡大した図４（ａ）と比較して、部分区間記録ステップで生成した時間波形では、高分解能で時間波形を観測できることが分かる。全区間記録ステップで生成した時間波形では、その領域での戻り光の状況が不明確であったが、全区間記録ステップにおけるサンプリング間隔より狭いサンプリング間隔で、戻り電気信号の一部の区間をサンプリングして表示した部分区間記録ステップでは、その領域での戻り光の状況が高分解能で観測することができる。即ち、最初の反射点では、３箇所からの反射点に分離され、次の反射点では、１０箇所を超える反射点に分離されていることが分かる。この結果、図２に示す実際の光ファイバの接続状況を高分解能で把握することができる。
【００４７】
最初からサンプリング間隔を狭くしてサンプリングすると、長大な処理時間と大容量のメモリを要してしまう。本願発明のように、最初は、広いサンプリング間隔で戻り電気信号の全区間を処理する全区間記録ステップを実行し、次に狭いサンプリング間隔で戻り電気信号の所望の一部の区間を処理する部分区間記録ステップを実行することによって、処理時間の短縮とメモリ容量の削減を図ることができる。
【００４８】
（実施形態２）
時間波形に差のある領域の検出について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間の時間波形を記録した際に、新たに記録した全区間の時間波形と過去に記録した全区間の時間波形との間に差のある領域を検出すると、部分記録ステップでは、差のある領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。
【００４９】
過去に全区間の時間波形を測定したときと、新たに全区間の時間波形を測定したときの間に発生した光ファイバでの異常、例えば、破断等を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。
【００５０】
時間波形に差のある領域を検出するには、測定者が目視で確認してもよいし、ディジタル処理で２つの時間波形の差分をとることによって、差が設定した閾値を超えた領域を自動検出してもよい。
【００５１】
（実施形態３）
時間波形で不連続な領域の検出について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間の時間波形を記録した際に、不連続な領域を検出すると、部分記録ステップでは、不連続な領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。
【００５２】
時間波形の不連続な領域を観測する際に、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。
【００５３】
時間波形の不連続な領域を検出するには、測定者が目視で確認してもよいし、ディジタル処理で微分することによって、微係数が設定した閾値を超えた領域を自動検出してもよい。ディジタル処理で、時間波形の時間軸方向で差の大きさが設定した閾値を超えた領域をディジタル検出してもよい。
【００５４】
（実施形態４）
時間波形で一部の領域を表示するときの処理について説明する。全区間記録ステップで、戻り電気信号の全区間をサンプリングして処理し、全区間表示ステップで、全区間の時間波形を表示した際に、一部の領域を表示するように変更すると、部分記録ステップでは、当該一部の領域を一部の区間に含ませてサンプリングする。
【００５５】
表示する区間に合わせて適切な分解能で、接続点や破断点の様子を高分解能かつ短縮した処理時間で把握することができる。
【００５６】
表示領域を検出して、その表示領域に合わせてサンプリングの対象とする区間として設定すれば、自動的に部分区間記録ステップを実行することができる。
【００５７】
（実施形態５）
部分区間記録ステップでの一部の区間の設定方法について説明する。拡大観測する一部の区間は、
（１）サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定
（２）サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定
（３）サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定
（４）サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定
（５）サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定
（６）サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定
のいずれでもよい。
【００５８】
部分区間記録ステップでの一部の区間の設定方法を図５から図１０に示す。図５から図１０において、縦軸は光ファイバからの戻り光の強度を示し、横軸は光パルス試験装置からのパルス光の往復伝搬時間を示す。
【００５９】
図５は（１）サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定する設定方法である。図５に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング終了位置は決まってしまう。
【００６０】
図６は、（２）サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定する設定方法である。図６に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング間隔を指定すれば、サンプリング数は決まってしまう。
【００６１】
図７は、（３）サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定する設定方法である。図７に示すように、サンプリング開始位置、サンプリング終了位置及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング間隔は決まってしまう。
【００６２】
図８は、（４）サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定する設定方法である。図８に示すように、サンプリング終了位置、サンプリング間隔及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング開始位置は決まってしまう。
【００６３】
図９は、（５）サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定する設定方法である。図９に示すように、サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング間隔を指定すれば、サンプリング数は決まってしまう。
【００６４】
図１０は、（６）サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定する設定方法である。図１０に示すように、サンプリング区間中心位置、サンプリング区間及びサンプリング数を指定すれば、サンプリング間隔は決まってしまう。
【００６５】
(実施形態６)
部分記録ステップでのサンプリング間隔及びサンプリング数の設定について説明する。光ファイバ内に出射するパルス光のパルス幅の中に、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング間隔を設定するか、少なくとも複数のサンプリング点が含まれるようにサンプリング数を設定することが望ましい。
【００６６】
サンプリング間隔はパルス光のパルス幅の二分の一以下であることが望ましく、より好適には、十分の一以下が望ましい。ＬＤ１３の出射するパルス光のパルス幅が、予め、設定されている場合、サンプリング間隔をパルス幅の十分の一程度に設定すれば、充分な分解能が得られる。直接的にサンプリング間隔を設定してもよいし、サンプリング間隔がパルス幅の二分の一程度になるようにサンプリング数を設定してもよい。このような設定をすることにより、パルス光のパルス幅に適したサンプリング間隔とすることができる。
【００６７】
本願発明には、コンピュータに、全区間記録ステップ及び部分区間記録ステップを順に実行させるためのプログラムも含まれる。また、部分区間表示ステップを全区間記録ステップと部分区間記録ステップとの間に実行させるためのプログラムも含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
本願発明は、情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００６９】
１１：タイミング制御部
１２：ＬＤドライバ
１３：ＬＤ
１４：合波分波部
１５：光ファイバ
１６：ＡＰＤ
１７：増幅部
１８：Ａ／Ｄ変換部
１９：加算部
２０：波形記録部
２１：表示部
２２：サンプリング制御部
１５１、１５２、１５３：光ファイバ
１５４、１５５：光スプリッタ
【図１】
0005592872.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
0005592872.tif 000011