(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉計と、
前記生成された干渉光を導光する導光手段と、
前記導光手段の出射端から出射した干渉光を分光する分光手段と、
前記分光された干渉光を受光して信号を出力する受光手段と、
前記出力された信号に基づいて前記受光手段による干渉光の受光量を特定する特定手段と、
前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更する第１の変更手段と、
前記受光手段に照射される干渉光の光量を変更するための第２の変更手段と、
前記特定された受光量に基づき前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、前記受光手段による前記干渉光の受光量を目標値に導く制御手段と、
前記受光量が目標値に導かれた後に、前記受光手段による干渉光の受光結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を備え、
前記制御手段は、
前記特定手段により逐次に特定される受光量を参照しつつ前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、少なくとも所定範囲の上限値まで受光量を増加させるように前記相対位置を変更する第１の動作と、少なくとも前記所定範囲の下限値まで受光量を減少させるように前記光量を変更する第２の動作とを交互に実施させ、
前記第１の動作における前記相対位置の変更に対応して前記特定される受光量が減少したときに、前記相対位置を当該変更の直前の状態に変更する第３の動作を前記第１の変更手段に実施させ、
更に、前記光量を変更して前記受光量を前記目標値に導く第４の動作を前記第２の変更手段に実施させる、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記第３の動作において、前記第１の変更手段に前記相対位置を前記所定の向きとは逆向きに前記直前の状態に変更させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項３】
前記受光手段は、１次元的に配列された複数の受光素子を有するラインセンサであり、
前記第１の変更手段は、前記複数の受光素子の配列方向に交差する方向に前記出射端及び／又は前記受光手段を移動させることにより前記相対位置を変更する、
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光画像計測装置。
【請求項４】
前記第２の変更手段は、
前記光源からの光、前記信号光、前記参照光及び／又は前記干渉光の断面の一部を遮蔽する遮蔽部材と、
前記遮蔽部材を移動させる駆動手段と、
を含み、
前記制御手段は、前記特定手段により特定された受光量に基づき前記駆動手段を制御し、前記遮蔽部材を移動させて前記断面における遮蔽領域を変更する、
ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記第１の動作において、前記第１の変更手段に前記相対位置を所定の向きに所定距離だけ変更させる動作と、前記特定手段に受光量を特定させる動作とを、前記上限値以上の受光量が前記特定手段により特定されるまで交互に実施させる、
ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記第２の動作において、前記第２の変更手段に前記光量を所定量だけ減少させる動作と、前記特定手段に受光量を特定させる動作とを、前記下限値以下の受光量が前記特定手段により特定されるまで交互に実施させる、
ことを特徴とする請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の光画像計測装置。
【請求項７】
光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉計と、
前記生成された干渉光を導光する導光手段と、
前記導光手段の出射端から出射した干渉光を分光する分光手段と、
前記分光された干渉光を受光して信号を出力する受光手段と、
前記出力された信号に基づいて前記受光手段による干渉光の受光量を特定する特定手段と、
前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更する第１の変更手段と、
前記受光手段に照射される干渉光の光量を変更するための第２の変更手段と、
前記特定された受光量に基づき前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、前記受光手段による前記干渉光の受光量を目標値に導く制御手段と、
前記受光量が目標値に導かれた後に、前記受光手段による干渉光の受光結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
を備え、
前記制御手段は、
前記特定手段により逐次に特定される受光量を参照しつつ前記第１の変更手段を制御して前記相対位置を所定の向きに変更することにより、前記受光手段の限界値に達するまで受光量を増加させ、
前記第１の変更手段を制御し、前記特定される受光量が前記限界値未満になるまで前記相対位置を前記所定の向きに更に変更し、
前記第１の変更手段を制御し、受光量が前記限界値に達したときの第１の相対位置と、前記限界値未満になったときの第２の相対位置との間の第３の相対位置に、前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更し、
前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との間隔に基づいて、前記特定される受光量を前記限界値から前記目標値に変更するための前記光量の変更量を算出し、
前記第２の変更手段を制御して前記算出された変更量だけ前記光量を変更して前記受光量を前記目標値に導く、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【請求項８】
前記第３の相対位置は、前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との中間位置である、
ことを特徴とする請求項７に記載の光画像計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成するＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。たとえば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化段階に入っている。
【０００３】
特許文献１にはＯＣＴを適用した装置が開示されている。この装置は、測定腕が回転式転向鏡（ガルバノミラー）により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、その出口に計測腕及び参照腕からの光束の干渉光の強度を分光器で分析する干渉器が設けられている。更に、参照腕は、参照光光束位相を不連続な値で段階的に変えるように構成されている。
【０００４】
特許文献１の装置は、いわゆる「フーリエドメインＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光と参照光とを重ね合わせて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル強度分布を取得してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の深度方向（ｚ方向）の形態を画像化するものである。なお、このタイプの手法は、特にスペクトラルドメイン（Ｓｐｅｃｔｒａｌ  Ｄｏｍａｉｎ）とも呼ばれる。
【０００５】
更に、特許文献１に記載の装置は、光ビーム（信号光）を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成するようになっている。この装置においては、ｚ方向に直交する１方向（ｘ方向）にのみ光ビームを走査するように構成されているので、この装置により形成される画像は、光ビームの走査方向（ｘ方向）に沿った深度方向（ｚ方向）の２次元断層像となる。
【０００６】
特許文献２には、信号光を水平方向（ｘ方向）及び垂直方向（ｙ方向）に走査（スキャン）することにより水平方向の２次元断層像を複数形成し、これら複数の断層像に基づいて測定範囲の３次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この３次元画像化としては、たとえば、複数の断層像を垂直方向に並べて表示させる方法や（スタックデータなどと呼ばれる）、複数の断層像にレンダリング処理を施して３次元画像を形成する方法などが考えられる。
【０００７】
特許文献３、４には、他のタイプのＯＣＴ装置が開示されている。特許文献３には、被測定物体に照射される光の波長を走査し、各波長の光の反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光に基づいてスペクトル強度分布を取得し、それに対してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の形態を画像化するＯＣＴ装置が記載されている。このようなＯＣＴ装置は、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）タイプなどと呼ばれる。スウェプトソースタイプはフーリエドメインタイプの一種である。
【０００８】
また、特許文献４には、所定のビーム径を有する光を被測定物体に照射し、その反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光の成分を解析することにより、光の進行方向に直交する断面における被測定物体の画像を形成するＯＣＴ装置が記載されている。このようなＯＣＴ装置は、フルフィールド（ｆｕｌｌ−ｆｉｅｌｄ）タイプ、或いはインファス（ｅｎ−ｆａｃｅ）タイプなどと呼ばれる。
【０００９】
特許文献５にはＯＣＴの眼科分野への適用例が開示されている。特許文献５に記載された装置は、受光手段の受光面に干渉光を適正に照射させるために、干渉光を案内する導光手段の出射端と受光面との間の相対位置（つまり相対的な位置及び／又は方向）を調整する機構を備えている。
【００１０】
なお、眼科分野においては、ＯＣＴが応用される以前から、被検眼を観察するための装置として眼底カメラやスリットランプなどが使用されている（たとえば特許文献６、特許文献７を参照）。眼底カメラは被検眼に照明光を照射し、その眼底反射光を受光することで眼底を撮影する装置である。スリットランプは、スリット光を用いて角膜の光切片を切り取ることにより角膜の断面の画像を取得する装置である。
【００１１】
ＯＣＴを用いた装置は、高精細の画像を取得できる点、更には断層像や３次元画像を取得できる点などにおいて、眼底カメラ等に対して優位性を有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】特開２００２−１３９４２１号公報
【特許文献３】特開２００７−２４６７７号公報
【特許文献４】特開２００６−１５３８３８号公報
【特許文献５】特開２００８−２０３２４６号公報
【特許文献６】特開平９−２７６２３２号公報
【特許文献７】特開２００８−２５９５４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上記のようにＯＣＴは極めて有効な技術であるが、受光手段による干渉光の受光量を適正な状態に保つのが難しいという問題がある。この受光量は、干渉光の受光結果として受光手段が出力する電気信号の強度に相当し、干渉感度などとも呼ばれる。受光量が大き過ぎるとサチュレーション（飽和）状態となり、逆に小さ過ぎると干渉光に含まれる情報を有効に検出できない。
【００１４】
受光量に影響するファクタとしては、特許文献５に記載された導光手段の出射端と受光手段の受光面との相対的な位置関係だけでなく、ＯＣＴに関わる各種の光の変動、特に参照光の光量の変動なども含まれる。この光量の変動は、参照ミラー等の光学部材の位置ずれなどに起因している。このような位置ずれの多くは、装置が設置された環境の変化（特に温度変化）によって発生するため、各光学部材の位置ずれをその都度修正することは難しい。
【００１５】
なお、特許文献５に示す機構や、アッテネータ等の光量調整機構を用いて受光量の調整を行うことも不可能ではないが、前者の調整を行っては後者の調整を行い、後者の調整を行っては前者の調整を行い、・・・といった、煩雑で時間の掛かる作業を実施しなければならない。
【００１６】
この発明は、以上のような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、受光手段による干渉光の受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能な光画像計測装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉計と、前記生成された干渉光を導光する導光手段と、前記導光手段の出射端から出射した干渉光を分光する分光手段と、前記分光された干渉光を受光して信号を出力する受光手段と、前記出力された信号に基づいて前記受光手段による干渉光の受光量を特定する特定手段と、前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更する第１の変更手段と、前記受光手段に照射される干渉光の光量を変更するための第２の変更手段と、前記特定された受光量に基づき前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、前記受光手段による前記干渉光の受光量を目標値に導く制御手段と、前記受光量が目標値に導かれた後に、前記受光手段による干渉光の受光結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、を備え、前記制御手段は、前記特定手段により逐次に特定される受光量を参照しつつ前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、少なくとも所定範囲の上限値まで受光量を増加させるように前記相対位置を変更する第１の動作と、少なくとも前記所定範囲の下限値まで受光量を減少させるように前記光量を変更する第２の動作とを交互に実施させ、前記第１の動作における前記相対位置の変更に対応して前記特定される受光量が減少したときに、前記相対位置を当該変更の直前の状態に変更する第３の動作を前記第１の変更手段に実施させ、更に、前記光量を変更して前記受光量を前記目標値に導く第４の動作を前記第２の変更手段に実施させる、ことを特徴とする光画像計測装置である。
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記制御手段は、前記第３の動作において、前記第１の変更手段に前記相対位置を前記所定の向きとは逆向きに前記直前の状態に変更させる、ことを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の光画像計測装置であって、前記受光手段は、１次元的に配列された複数の受光素子を有するラインセンサであり、前記第１の変更手段は、前記複数の受光素子の配列方向に交差する方向に前記出射端及び／又は前記受光手段を移動させることにより前記相対位置を変更する、ことを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記第２の変更手段は、前記光源からの光、前記信号光、前記参照光及び／又は前記干渉光の断面の一部を遮蔽する遮蔽部材と、前記遮蔽部材を移動させる駆動手段と、を含み、前記制御手段は、前記特定手段により特定された受光量に基づき前記駆動手段を制御し、前記遮蔽部材を移動させて前記断面における遮蔽領域を変更することを特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記制御手段は、前記第１の動作において、前記第１の変更手段に前記相対位置を所定の向きに所定距離だけ変更させる動作と、前記特定手段に受光量を特定させる動作とを、前記上限値以上の受光量が前記特定手段により特定されるまで交互に実施させる、ことを特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項５のいずれか一項に記載の光画像計測装置であって、前記制御手段は、前記第２の動作において、前記第２の変更手段に前記光量を所定量だけ減少させる動作と、前記特定手段に受光量を特定させる動作とを、前記下限値以下の受光量が前記特定手段により特定されるまで交互に実施させる、ことを特徴とする。
また、請求項７に記載の発明は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉計と、前記生成された干渉光を導光する導光手段と、前記導光手段の出射端から出射した干渉光を分光する分光手段と、前記分光された干渉光を受光して信号を出力する受光手段と、前記出力された信号に基づいて前記受光手段による干渉光の受光量を特定する特定手段と、前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更する第１の変更手段と、前記受光手段に照射される干渉光の光量を変更するための第２の変更手段と、前記特定された受光量に基づき前記第１の変更手段及び前記第２の変更手段を制御して、前記受光手段による前記干渉光の受光量を目標値に導く制御手段と、前記受光量が目標値に導かれた後に、前記受光手段による干渉光の受光結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、を備え、前記制御手段は、前記特定手段により逐次に特定される受光量を参照しつつ前記第１の変更手段を制御して前記相対位置を所定の向きに変更することにより、前記受光手段の限界値に達するまで受光量を増加させ、前記第１の変更手段を制御し、前記特定される受光量が前記限界値未満になるまで前記相対位置を前記所定の向きに更に変更し、前記第１の変更手段を制御し、受光量が前記限界値に達したときの第１の相対位置と、前記限界値未満になったときの第２の相対位置との間の第３の相対位置に、前記出射端と前記受光手段の受光面との相対位置を変更し、前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との間隔に基づいて、前記特定される受光量を前記限界値から前記目標値に変更するための前記光量の変更量を算出し、前記第２の変更手段を制御して前記算出された変更量だけ前記光量を変更して前記受光量を前記目標値に導くことを特徴とする光画像計測装置である。
また、請求項８に記載の発明は、請求項７に記載の光画像計測装置であって、前記第３の相対位置は、前記第１の相対位置と前記第２の相対位置との中間位置である、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
この発明に係る光画像計測装置は、受光手段による干渉光の受光量に基づいて、導光手段の出射端と受光手段の受光面との相対位置の変更と、信号光や参照光の光量の変更とをそれぞれ自動で行って、受光手段による干渉光の受光量を目標値に導くように作用する。したがって、受光手段による干渉光の受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の構成の一例を表す概略図である。
【図２】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の構成の一例を表す概略図である。
【図３】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図４】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。
【図５】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【図６】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。
【図７】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【図８】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。
【図９】この発明に係る光画像計測装置（眼底観察装置）の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
この発明に係る光画像計測装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２１】
この発明に係る光画像計測装置は、光コヒーレンストモグラフィを用いて被測定物体の断層像を形成する。この光画像計測装置は、干渉光のスペクトル成分を検出するタイプの光コヒーレンストモグラフィを利用している。光コヒーレンストモグラフィによって取得される画像をＯＣＴ画像と呼ぶことがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。
【００２２】
以下の実施形態では、フーリエドメインタイプを適用した構成について詳しく説明する。特に、この実施形態では、特許文献５に開示された装置と同様に、眼底の断層像及び撮影画像の双方を取得可能な眼底観察装置を取り上げる。なお、この発明に係る被測定物体は被検眼（眼底）に限定されるものではない。
【００２３】
［構成］
図１及び図２に示すように、眼底観察装置（光画像計測装置）１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００２４】
〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。観察画像は被検眼Ｅの前眼部像であってもよい。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像である。なお、眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、たとえばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像や自発蛍光画像などを取得可能に構成されていてもよい。
【００２５】
眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、被検者の顔が動かないように支えるための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光をＯＣＴユニット１００に導く。
【００２６】
照明光学系１０の観察光源１１は、たとえばハロゲンランプにより構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、対物レンズ２２を経由して眼底Ｅｆを照明する。
【００２７】
観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ダイクロイックミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、たとえば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）Ｋが表示される。
【００２８】
撮影光源１５は、たとえばキセノンランプにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）Ｈが表示される。なお、観察画像Ｋを表示する表示装置３と撮影画像Ｈを表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。
【００２９】
ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用視標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための視標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。
【００３０】
ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー４０にて反射され、ダイクロイックミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。
【００３１】
ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。
【００３２】
更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための視標（アライメント視標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための視標（スプリット視標）を生成する。
【００３３】
アライメント光学系５０のＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。
【００３４】
アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ダイクロイックミラー３２により反射され、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント視標）は、観察画像Ｋとともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント視標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい。
【００３５】
フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット視標板６３により二つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、対物レンズ２２により眼底Ｅｆに結像される。
【００３６】
フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット視標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット視標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う。また、スプリット視標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。
【００３７】
ダイクロイックミラー３２の後方には、ミラー４１、コリメータレンズ４２、及びガルバノミラー４３、４４を含む光路が設けられている。この光路はＯＣＴユニット１００に導かれている。
【００３８】
ガルバノミラー４４は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳをｘ方向に走査する。ガルバノミラー４３は、信号光ＬＳをｙ方向に走査する。これら二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。
【００３９】
〔ＯＣＴユニット〕
ＯＣＴユニット１００には、眼底Ｅｆの断層像を取得するための光学系が設けられている（図２を参照）。この光学系は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系には、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成する干渉計が設けられている。更に、この光学系は、干渉計により生成された干渉光のスペクトル成分を受光するように構成されている。この受光結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。
【００４０】
光源ユニット１０１は広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長帯（約８００ｎｍ〜９００ｎｍ程度）を含み、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。なお、人眼では視認できない波長帯、たとえば１０５０〜１０６０ｎｍ程度の中心波長を有する近赤外光を低コヒーレンス光Ｌ０として用いてもよい。
【００４１】
光源ユニット１０１は、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、ＬＥＤや、ＳＯＡ（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）等の光出力デバイスを含んで構成される。
【００４２】
光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。なお、ファイバカプラ１０３は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を合成する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「ファイバカプラ」と称する。
【００４３】
信号光ＬＳは、光ファイバ１０４により導光され、コリメータレンズユニット１０５により平行光束となる。更に、信号光ＬＳは、各ガルバノミラー４４、４３により反射され、コリメータレンズ４２により集光され、ミラー４１により反射され、ダイクロイックミラー３２を透過し、ＬＣＤ３９からの光と同じ経路を通って眼底Ｅｆに照射される。信号光ＬＳは、眼底Ｅｆにおいて散乱、反射される。この散乱光及び反射光をまとめて信号光ＬＳの眼底反射光と称することがある。信号光ＬＳの眼底反射光は、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。
【００４４】
参照光ＬＲは、光ファイバ１０６により導光され、コリメータレンズユニット１０７により平行光束となる。更に、参照光ＬＲは、ミラー１０８、１０９、１１０により反射され、アッテネータ（ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ）１２１を通過し、ＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ１１１により減光され、ミラー１１２に反射され、コリメータレンズ１１３により参照ミラー１１４の反射面に結像される。参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲは、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。なお、分散補償用の光学素子（ペアプリズム等）や、偏光補正用の光学素子（波長板等）を参照光ＬＲの光路（参照光路）に設けてもよい。
【００４５】
ここでアッテネータ１２１について説明する。前述のように、アッテネータ１２１を通過する参照光ＬＲは平行光束である。アッテネータ１２１は、参照光ＬＲの光量を変更するデバイスである。
【００４６】
その具体例として、アッテネータ１２１は、参照光ＬＲの断面の一部を遮蔽することによって、その光量を変更するように構成されている。アッテネータ１２１には、参照光ＬＲの光路に対して挿脱可能な遮蔽部材と、この遮蔽部材を移動させる駆動手段が設けられている。駆動手段はたとえばステッピングモータである。駆動手段は、演算制御ユニット２００に制御されて、遮蔽部材の位置を段階的に変更する。それにより、遮蔽部材は、参照光ＬＲの断面を段階的に遮蔽する。すなわち、アッテネータ１２１は、参照光ＬＲの光量を段階的に変更することができる。それにより、参照光ＬＲの断面における遮蔽部材による遮蔽領域が変更される。
【００４７】
アッテネータ１２１の構成は上記のものには限定されない。公知である任意の構成のアッテネータをこの発明に適用することが可能である。アッテネータ１２１は、参照光ＬＲの光量を変更することにより、ＣＣＤイメージセンサ１２０に照射される干渉光ＬＣの光量を変更するもので、この発明の「第２の変更手段」の一例である。
【００４８】
ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波する。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ１１５により導光されて出射端１１６から出射する。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１７により平行光束とされ、回折格子１１８により分光（スペクトル分解）され、集光レンズ１１９により集光されてＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影される。図２に示す回折格子１１８は透過型であるが、反射型の回折格子を用いてもよい。
【００４９】
ＣＣＤイメージセンサ１２０は、たとえばラインセンサ（複数のＣＣＤ素子が１次元的に配列されたイメージセンサ）であり、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この検出信号を演算制御ユニット２００に送る。
【００５０】
なお、ＣＣＤイメージセンサ１２０としてエリアセンサ（複数のＣＣＤ素子が２次元的に配列されたイメージセンサ）であってもよい。この場合、複数のＣＣＤ素子のうち１次元的に配列された所定のＣＣＤ素子たちにスペクトル成分を検出させる。
【００５１】
光ファイバ１１５はこの発明の「導光手段」の一例である。回折格子１１８はこの発明の「分光手段」の一例である。ＣＣＤイメージセンサ１２０はこの発明の「受光手段」の一例である。
【００５２】
光ファイバ１１５の出射端１１６は移動可能とされている。以下、これについて説明する。ＯＣＴ計測においては、ＣＣＤイメージセンサ１２０を構成するＣＣＤ素子たちに対して干渉光のスペクトル成分を正確に投射させる必要がある。そのためには、ＣＣＤ素子たちの配列方向と、干渉光ＬＣのスペクトル成分の広がり方向とを出来るだけ一致させて、受光すべきスペクトル成分を各ＣＣＤ素子が正確に受光するように、出射端１１６とＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面との相対的な位置関係を調整する必要がある。
【００５３】
この実施形態では、出射端１１６の位置を変更することにより当該相対位置を変更する。そのための構成例として、特許文献５に記載されたファイバ端駆動機構がある。この実施形態では、このファイバ端駆動機構を用いることにする（符号１４０で示す）。
【００５４】
ファイバ端駆動機構１４０は、たとえばステッピングモータ等のアクチュエータと、このアクチュエータが出力する駆動力を伝達する伝達機構とを含んで構成されている。この伝達機構は、たとえば光ファイバ１１５の端面（つまり干渉光ＬＣの出射端面）以外の部位に接続されており、アクチュエータが発生した駆動力を出射端１１６に伝達する。
【００５５】
ファイバ端駆動機構１４０は、光ファイバ１１５の端面に平行な方向や、端面に直交する方向に出射端１１６を移動させる。それにより、出射端１１６は、端面の向きを固定した状態で３次元的に移動される。更に、ファイバ端駆動機構１４０は、端面の向きを変更させるように出射端１１６の位置を移動する。
【００５６】
この実施形態では、出射端１１６とＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面との相対的な位置関係、及び、出射端１１６の端面と受光面との相対的な向きのうち、少なくとも一方「相対位置」と呼ぶ。つまり、ファイバ端駆動機構１４０は、当該相対的な位置関係のみを変更するものであってもよいし、当該相対的な向きのみを変更するものであってもよいし、双方を変更するものであってもよい。
【００５７】
この実施形態では出射端１１６の位置を変更する構成を採用しているが、これに代えてＣＣＤイメージセンサ１２０の位置を変更する構成を採用することも可能である。また、出射端１１６の位置とＣＣＤイメージセンサ１２０の位置の双方を変更するように構成することも可能である。
【００５８】
ファイバ端駆動機構１４０は、この発明の「第１の変更手段」の一例である。ファイバ端駆動機構１４０は、特に、ＣＣＤ素子たちの配列方向に交差する方向に出射端１１６を移動させることで、出射端１１６と受光面との相対位置を変更する。「交差する方向」は、たとえば、当該配列方向に直交する方向である。また、干渉光ＬＣのスペクトル成分の広がり方向が当該配列方向に対して傾斜している場合に対処するために、ファイバ端駆動機構１４０は、光ファイバ１１５の軸方向に対して出射端１１６を回転させる機能を有していてもよい。
【００５９】
この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、たとえばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどを用いることが可能である。
【００６０】
この実施形態では参照光路に第２の変更手段を設けている。その理由の一つは、当該装置が眼科分野で用いられることにある。つまり、被検眼へのダメージを回避するために照明光（ここでは信号光ＬＳ）の光量には制限があること、そして信号光ＬＳの眼底反射光は微弱であることを鑑みると、参照光ＬＲの光量を適正に保つ必要がある。参照光ＬＲの光量が信号光ＬＳと比べて大き過ぎると、信号光ＬＳが含んでいる微弱な情報が参照光ＬＲに覆い隠され、好適な干渉光ＬＣが得られない。逆に、参照光ＬＲの光量が小さ過ぎると、信号光ＬＳと参照光ＬＲが良好に干渉しない。この実施形態では、このような理由で参照光路にアッテネータ１２１を配置して参照光ＬＲの光量を調整している。
【００６１】
この発明に係る装置を他分野で使用する場合、第２の変更手段を信号光路に設けることも可能である。また、低コヒーレンス光Ｌ０や干渉光ＬＣの光路に第２の変更手段を設けることも可能である。低コヒーレンス光Ｌ０の光路に第２の変更手段を設ける場合には、たとえば、光源ユニット１０１から出射して空間を伝播する低コヒーレンス光Ｌ０（平行光束であることが望ましい）の光量を変更するように第２の変更手段を配置し、これを通過した低コヒーレンス光Ｌ０を光ファイバ１０２に入射させるように構成することができる。干渉光ＬＣの光路に第２の変更手段を設ける場合には、たとえば、ファイバカプラ１０３と分光器（つまり回折格子１１８）との間（干渉光ＬＣが平行光束である位置が望ましい）に第２の変更手段を配置することができる。また、低コヒーレンス光Ｌ０、信号光ＬＳ、参照光ＬＲ及び干渉光ＬＣのうちの少なくとも二つの光路にそれぞれ第２の変更手段を設けてもよい。この場合、それら第２の変更手段たちを独立に制御してもよいし、全ての動作を連係させてもよい。
【００６２】
〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。
【００６３】
また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。たとえば演算制御ユニット２００は、眼底Ｅｆの断層像Ｇ（図２を参照）等のＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。
【００６４】
また、眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行う。
【００６５】
また、ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、参照ミラー１１４及びコリメータレンズ１１３の移動制御、ＣＣＤイメージセンサ１２０の動作制御、アッテネータ１２１の動作制御、ファイバ端駆動機構１４０の動作制御などを行う。
【００６６】
演算制御ユニット２００は、たとえば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼底観察装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいてＯＣＴ画像を形成する専用の回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。
【００６７】
眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、それぞれ別体として構成されていてもよい。
【００６８】
〔制御系〕
眼底観察装置１の制御系の構成について図３を参照しつつ説明する。
【００６９】
（制御部）
眼底観察装置１の制御系は、演算制御ユニット２００の制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
【００７０】
制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１３が設けられている。主制御部２１１は、前述した各種の制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の走査駆動部７０や合焦駆動部８０、更にはＯＣＴユニット１００の参照駆動部１３０やアッテネータ１２１やファイバ端駆動機構１４０を制御する。主制御部２１１はこの発明の「制御手段」の一例である。
【００７１】
走査駆動部７０は、たとえばサーボモータを含んで構成され、ガルバノミラー４３、４４の向きを各々独立に変更する。
【００７２】
合焦駆動部８０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、眼底Ｅｆに向かう光の合焦位置が変更される。
【００７３】
参照駆動部１３０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、参照光ＬＲの進行方向に沿って、コリメータレンズ１１３及び参照ミラー１１４を一体的に移動させる。
【００７４】
主制御部２１１は、後述の受光量特定部２１２により特定された受光量に基づいてファイバ端駆動機構１４０を制御する。それにより、主制御部２１１は、受光量を増加させるように出射端１１６を移動させる（つまり出射端１１６と受光面との相対位置が変更させる）。この処理は、干渉光ＬＣのスペクトル成分を受光面に対してより適正に照射させること、すなわち受光面に対するスペクトル成分の照射位置を修正することに相当する。
【００７５】
主制御部２１１は、受光量特定部２１２により特定された受光量に基づいてアッテネータ１２１を制御する。それにより、主制御部２１１は、アッテネータ１２１の遮蔽部材を移動させて、参照光ＬＲの断面における遮蔽領域を変更する。この処理は、干渉光ＬＣの生成に寄与する参照光ＬＲの光量を変更することに相当する。
【００７６】
主制御部２１１は、記憶部２１３にデータを書き込む処理や、記憶部２１３からデータを読み出す処理を行う。
【００７７】
主制御部２１１には受光量特定部２１２が設けられている。受光量特定部２１２は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から出力される信号（前述の検出信号）に基づいて、ＣＣＤイメージセンサ１２０による干渉光ＬＣの受光量を特定する。受光量特定部２１２は、この発明の「特定手段」の一例である。
【００７８】
受光量は、干渉光ＬＣの光量と、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に対する干渉光ＬＣの照射状態とに影響される。この実施形態では、これら二つのファクタの調整動作を連係させて好適な受光量を得る。
【００７９】
干渉光ＬＣの光量は、信号光ＬＳの光量と参照光ＬＲの光量によって決まる。この実施形態では、信号光ＬＳの光量調整を行わないので、干渉光ＬＣの光量は参照光ＬＲの光量を反映する。参照光ＬＲの光量は、前述したようにアッテネータ１２１により調整される。
【００８０】
受光面に対する干渉光ＬＣの照射状態には、ＣＣＤ１８４の受光面に対する干渉光ＬＣの照射位置と、受光面に対する干渉光ＬＣの照射方向とが含まれる。なお、これらのうちの一方のみを考慮するようにしてもよい。
【００８１】
受光面に対する干渉光ＬＣの照射位置がずれている場合、受光面に配列されたＣＣＤ素子たちの一部又は全部が干渉光ＬＣを受光できない。したがって、干渉光ＬＣのスペクトル成分の一部又は全部を検出できず、ＯＣＴ画像を形成できなくなる。
【００８２】
また、受光面に対する干渉光ＬＣの照射方向がずれている場合、受光面に配列されたＣＣＤ素子たちに対して干渉光ＬＣの各スペクトル成分が不適正な方向から入射する。したがって、各ＣＣＤ素子により検出されるスペクトル成分の受光量が、実際の光量（強度）を反映しなくなり、適正なＯＣＴ画像を形成できなくなる。
【００８３】
詳細については後述するが、この実施形態では、干渉光ＬＣの受光量をモニタしつつ、参照光ＬＲの光量（つまり干渉光ＬＣの光量）の調整と、受光面に対する干渉光ＬＣの照射状態の調整とを実行することで、ＣＣＤイメージセンサ１２０による干渉光ＬＣの受光量の調整作業の容易化、迅速化を図る。
【００８４】
記憶部２１３は、各種のデータを記憶する。記憶部２１３に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。
【００８５】
また、記憶部２１３には制御プログラム２１４が予め記憶されている。主制御部２１１は、制御プログラム２１４に基づいて装置各部を制御することにより、この実施形態の特徴的な動作（後述）を実行させる。
【００８６】
（画像形成部）
画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。この処理には、従来のフーリエドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。
【００８７】
画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板や通信インターフェイス等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて呈示される「画像」とを同一視することがある。
【００８８】
画像形成部２２０は、この発明の「画像形成手段」の一例である。画像形成手段は、以下の画像処理部２３０（特に３次元画像や断層像を形成する部分）を含んでいてもよい。
【００８９】
（画像処理部）
画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。
【００９０】
また、画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された断層像の間の画素を補間する補間処理を実行するなどして、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。
【００９１】
なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。
【００９２】
また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、一つの３次元座標系により表現する（つまり一つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。
【００９３】
画像処理部２３０は、３次元画像の画像データに基づいて、任意の断面における断層像を形成することができる。この処理は、たとえば、手動又は自動で指定された断面に対し、この断面上に位置する画素（ボクセル等）を特定し、特定された画素を２次元的に配列させて当該断面における眼底Ｅｆの形態を表す画像データを形成することにより実行される。このような処理により、元の断層像の断面（信号光ＬＳの走査線の位置）だけでなく、所望の断面における画像を取得することが可能となる。
【００９４】
画像処理部２３０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。
【００９５】
（表示部、操作部）
表示部２４０は、表示装置３などの各種の表示デバイスを含んで構成される。操作部２５０は、演算制御ユニット２００に設けられた操作デバイス、装置の筐体や外部に設けられた各種の操作デバイスを含んで構成される。
【００９６】
表示部２４０と操作部２５０は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネルモニタのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。
【００９７】
〔信号光の走査及びＯＣＴ画像について〕
ここで、信号光ＬＳの走査及びＯＣＴ画像について説明しておく。
【００９８】
眼底観察装置１による信号光ＬＳの走査態様としては、たとえば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋（渦巻）スキャンなどがある。これらの走査態様は、眼底の観察部位、解析対象（網膜厚など）、走査に要する時間、走査の精密さなどを考慮して適宜に選択的に使用される。
【００９９】
水平スキャンは、信号光ＬＳを水平方向（ｘ方向）に走査させるものである。水平スキャンには、垂直方向（ｙ方向）に配列された複数の水平方向に延びる走査線に沿って信号光ＬＳを走査させる態様も含まれる。この態様においては、走査線の間隔を任意に設定することが可能である。また、隣接する走査線の間隔を十分に狭くすることにより、前述の３次元画像を形成することができる（３次元スキャン）。垂直スキャンについても同様である。
【０１００】
十字スキャンは、互いに直交する２本の直線状の軌跡（直線軌跡）からなる十字型の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。放射スキャンは、所定の角度を介して配列された複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。なお、十字スキャンは放射スキャンの一例である。
【０１０１】
円スキャンは、円形状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査させるものである。同心円スキャンは、所定の中心位置の周りに同心円状に配列された複数の円形状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査させるものである。円スキャンは同心円スキャンの一例である。螺旋スキャンは、回転半径を次第に小さく（又は大きく）させながら螺旋状（渦巻状）の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。
【０１０２】
ガルバノミラー４３、４４は互いに直交する方向に信号光ＬＳを走査するように構成されているので、信号光ＬＳをｘ方向及びｙ方向にそれぞれ独立に走査できる。更に、ガルバノミラー４３、４４の向きを同時に制御することにより、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査することが可能である。それにより、上記のような各種の走査態様を実現できる。
【０１０３】
上記のような態様で信号光ＬＳを走査することにより、走査線（走査軌跡）に沿った深度方向（ｚ方向）の断層像を形成することができる。また、特に走査線の間隔が狭い場合には、前述の３次元画像を形成することができる。
【０１０４】
上記のような信号光ＬＳの走査対象となる眼底Ｅｆ上の領域、つまりＯＣＴ計測の対象となる眼底Ｅｆ上の領域を走査領域と呼ぶ。３次元スキャンにおける走査領域は、複数の水平スキャンが配列された矩形の領域である。また、同心円スキャンにおける走査領域は、最大径の円スキャンの軌跡により囲まれる円盤状の領域である。また、放射スキャンにおける走査領域は、各スキャンラインの両端位置を結んだ円盤状（或いは多角形状）の領域である。
【０１０５】
［動作］
眼底観察装置１の動作について説明する。以下の動作は、計測前の所定のタイミングで実行される。たとえば、装置の出荷前、装置の起動時（電源投入時）、被検者の入れ替わり時などに以下の動作が実行される。
【０１０６】
〔第１の動作例〕
図４及び図５を参照しつつ第１の動作例を説明する。
【０１０７】
まず、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、前回の検査における位置に出射端１１６を移動させる（Ｓ１）。この処理はたとえば次のようにして実行される。
【０１０８】
前提として、主制御部２１１は、検査を行う度に、そのときの出射端１１６の位置を示す情報を記憶部２１３に記憶させる。出射端１１６の位置調整を行う度に、その調整後の位置を示す情報を記憶するようにしてもよい。主制御部２１１は、この情報を記憶部２１３から読み出し、当該位置にファイバ端駆動機構１４０を配置させるようにファイバ端駆動機構１４０を制御する。
【０１０９】
次に、主制御部２１１は、この状態におけるＣＣＤイメージセンサ１２０の受光量が所定値を超えているか確認する（Ｓ２）。この所定値は、受光量が小さ過ぎるか否か判定するための任意の値であり、事前に設定される。この所定値は、たとえば後述の所定範囲の下限値に設定される。ステップ２の処理はたとえば次のようにして実行される。
【０１１０】
主制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御して低コヒーレンス光Ｌ０を出力させる。低コヒーレンス光Ｌ０に基づく参照光ＬＲは、参照光路、ファイバカプラ１０３、光ファイバ１１５等を経由して回折格子１１８に到達する。回折格子１１８は参照光ＬＲを分光する。そのスペクトル成分はＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に照射される。スペクトル成分を受光したＣＣＤイメージセンサ１２０は、演算制御ユニット２００に検出信号を送る。受光量特定部２１２は、この検出信号に基づいて受光量を求める。主制御部２１１は、求められた受光量が所定値を超えているか判断する。
【０１１１】
ここでは、信号光路の先に被測定物体が存在しない場合について説明したが、被測定物体が信号光路の先に存在する場合には、被測定物体による信号光ＬＳの反射光と参照光ＬＲとの合成光が受光される。受光量特定部２１２はこの合成光の受光量を求め、主制御部２１１はこの受光量が所定値を超えているか判断する。
【０１１２】
受光量が所定値以下である場合（Ｓ２：Ｎｏ）、主制御部２１１は、アッテネータ１２１を制御して参照光路を開放する、つまり参照光ＬＲに対する遮蔽を解除する（Ｓ３）。より詳しく説明すると、主制御部２１１は、アッテネータ１２１の駆動手段を制御し、参照光路から遮蔽部材を退避させる。
【０１１３】
続いて、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、出射端１１６を開始位置に移動させる（Ｓ４）。この開始位置は、たとえば、ＣＣＤ素子たちの配列方向に直交する方向における所定の位置である。以降の処理においては、出射端１１６は当該直交方向に移動される。この移動方向は、受光量が増加するべき方向とされる。なお、この方向への移動に伴い受光量が減少する場合には、その逆方向を以降の移動方向とする。開始位置は図５に示されている。移動方向は図５の横軸（出射端位置）が指し示す方向である。以下、図５を参照する。
【０１１４】
主制御部２１１は、受光量特定部２１２に受光量の特定処理を逐次実行させつつ、ファイバ端駆動機構１４０を制御して出射端１１６を逐次移動させる（Ｓ５）。前述した移動方向の設定により、少なくとも最初の段階では、出射端１１６の移動とともに受光量は増加する（Ｓ６：Ｎｏ）。出射端１１６の移動とともに受光量が減少し始めるのは、スペクトル成分の照射位置がＣＣＤ素子たちを通過するときからである。
【０１１５】
この処理では、ファイバ端駆動機構１４０が出射端１１６を所定の向き（前述の移動方向）に所定距離だけ変更する動作と、受光量特定部２１２が受光量を特定する動作とを、交互に実施させる。前者の動作は、たとえば、ファイバ端駆動機構１４０のステッピングモータに所定パルス数の信号を送信して駆動させることで実行される。それにより、出射端１１６を所定距離だけ移動させては受光量を求め、更に所定距離だけ出射端１１６を移動させては受光量を求め、という動作が繰り返し実施される。この動作は、求められる受光量が上限値以上になるまで反復される（Ｓ７：Ｎｏ）。この動作は、図５の符号Ａ１で示すものである。
【０１１６】
なお、この上限値は、予め設定された所定範囲における最大値である。この所定範囲は、受光量の目標値から大きく外れない程度において任意に設定できる。この目標値は、受光量のおおよその最適値であり、この動作例によって導かれる最終到達値である。目標値は予め設定される。
【０１１７】
上限値以上の受光量が得られると（Ｓ７：Ｙｅｓ）、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０の動作を停止させるとともに、アッテネータ１２１を制御して参照光ＬＲの光量を減少させる（Ｓ８）。それにより干渉光ＬＣの光量が減少し、ＣＣＤイメージセンサ１２０による受光量が減少する。これは符号Ｂ１で示す動作である。この動作においても、参照光ＬＲの光量を所定量だけ減少させる処理と、受光量を特定する処理とを交互に繰り返し実施する。前者の処理は、たとえば、アッテネータ１２１のステッピングモータに所定パルス数の信号を送信して駆動させることで実行される。この動作は、求められる受光量が下限値以下になるまで反復される（Ｓ９：Ｎｏ）。
【０１１８】
下限値以下の受光量が得られると（Ｓ９：Ｙｅｓ）、主制御部２１１は、アッテネータ１２１の動作を停止させるとともに、ファイバ端駆動機構１４０を制御して出射端１１６の移動を再開する（Ｓ５）。それにより、符号Ａ２で示す動作、符号Ｂ２で示す動作、・・・・、符号Ａｋで示す動作、符号Ｂｋで示す動作が順次実行される。
【０１１９】
ステップ５〜ステップ９の処理は、出射端１１６の移動とともに受光量が減少するまで反復される（Ｓ６：Ｎｏ）。前述したように、出射端１１６の移動とともに受光量が減少し始めたということは、干渉光ＬＣのスペクトル成分の照射位置がＣＣＤイメージセンサ１２０のＣＣＤ素子たちを通過したことを意味する。
【０１２０】
なお、ノイズの影響などによって一時的に受光量が減少することも有り得るので、或る距離だけ出射端１１６を移動させる間、継続して受光量が減少するか否か判断するようにしてもよい。
【０１２１】
図５の符合Ａ（ｋ＋１）に示すように出射端１１６の移動とともに受光量が減少したら（Ｓ６：Ｙｅｓ）、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、出射端１１６の移動方向を反転させて、当該移動の直前の位置（つまり受光量の減少が始まった位置）まで出射端１１６を移動させる（Ｓ１０）。これは符号Ａ（ｋ＋２）に示す動作である。この動作により、出射端１１６は、図５に示す適正位置に配置される。この適正位置は、干渉光ＬＣのスペクトル成分がＣＣＤ素子たちに適正に照射される状態を実現する出射端１１６の位置である。
【０１２２】
続いて、主制御部２１１は、アッテネータ１２１を制御して、受光量を目標値Ｐに導く（Ｓ１１）。これは符号Ｂ（ｋ＋１）に示す動作である。以上で、この動作例に係る処理は終了となる。眼底観察装置１は、このような受光量調整処理が終了した後にＯＣＴ計測を行って、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。
【０１２３】
この動作例によれば、参照光ＬＲ（つまり干渉光ＬＣ）の光量を調整しつつ、干渉光ＬＣのスペクトル成分がＣＣＤ素子たちに適正に照射されるように出射端１１６の位置調整を行い、当該位置調整の完了に対応して受光量を目標値に合わせることが可能である。しかも、この処理を自動で行うことが可能である。
【０１２４】
上記の動作例において、図５に示す所定範囲（上限値と下限値で定義される範囲）は、アッテネータ１２１による受光量の下げ幅に相当する。所定範囲を広く設定すると、この下げ幅が大きくなる。このとき、一般に、ステップ５〜９の反復回数が減少するとともに、出射端１１６の適正位置を探索する処理の精度が低下する。逆に、所定範囲を狭くすると、この下げ幅が小さくなる。このとき、一般に、当該反復回数が増加するとともに、当該処理の精度が向上する。ユーザは、これらの事項や、検査におけるニーズ等を勘案することで、所定範囲を適宜に設定することが可能である。
【０１２５】
上記の動作例では、アッテネータ１２１による受光量の下げ幅が一定であるが、これに限定されるものではない。たとえば、所定範囲に関する上記事項を考慮し、出射端１１６の位置（図５の横軸）に応じて上限値及び／又は下限値が増加又は減少するように所定範囲を設定することが可能である。一例として、反復当初には下げ幅を大きくして検査時間の短縮を図るとともに、次第に下げ幅を小さくして処理精度の向上を図るように所定範囲を設定することが可能である。
【０１２６】
〔第２の動作例〕
図６及び図７を参照しつつ第２の動作例を説明する。
【０１２７】
まず、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、出射端１１６を開始位置に移動させる（Ｓ２１）。
【０１２８】
次に、主制御部２１１は、受光量特定部２１２に受光量の特定処理を逐次実行させつつ、ファイバ端駆動機構１４０を制御して出射端１１６を逐次移動させる（Ｓ２２）。前述したように、出射端１１６の移動方向は、少なくとも最初の段階では受光量を増加させる方向に設定されている。ステップ２２は、符号Ｃ１で示す動作に相当する。
【０１２９】
出射端１１６を移動していくと受光量は増加していくが（Ｓ２３：Ｎｏ）、或る段階において、符合Ｃ２に示すように受光量が減少を開始する（Ｓ２３：Ｙｅｓ）。これに対応し、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、出射端１１６の移動方向を反転させて、当該移動の直前の位置（つまり受光量の減少が始まった位置）まで出射端１１６を移動させる（Ｓ２４）。これは符号Ｃ３に示す動作である。この動作により、出射端１１６は、図７に示す適正位置に配置される。この適正位置は、干渉光ＬＣのスペクトル成分がＣＣＤ素子たちに適正に照射される状態を実現する出射端１１６の位置である。
【０１３０】
最後に、主制御部２１１は、アッテネータ１２１を制御して、受光量を目標値Ｐに導く（Ｓ２５）。これは符号Ｄ１に示す動作である。以上で、この動作例に係る処理は終了となる。眼底観察装置１は、このような受光量調整処理が終了した後にＯＣＴ計測を行って、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。
【０１３１】
この動作例によれば、干渉光ＬＣのスペクトル成分がＣＣＤ素子たちに適正に照射されるように出射端１１６の位置を自動で調整し、更に受光量を目標値に自動で合わせることが可能である。なお、この動作例は、特定される受光量が比較的低い場合（たとえば最初の段階においてアッテネータ１２１による遮蔽領域が比較的大きい場合）に有効である。
【０１３２】
〔第３の動作例〕
図８及び図９を参照しつつ第２の動作例を説明する。
【０１３３】
まず、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、出射端１１６を開始位置に移動させる（Ｓ３１）。
【０１３４】
次に、主制御部２１１は、受光量の特定処理と出射端１１６の移動とを交互に繰り返し実施させる（Ｓ３２、Ｓ３３：Ｎｏ）。これは符号Ｆ１で示す動作に相当する。
【０１３５】
出射端１１６の移動に伴い受光量は次第に増加し、限界値に達する（Ｓ３３：Ｙｅｓ）。この限界値は受光量のサチュレーション（飽和）状態を意味する。主制御部２１１は、受光量が限界値に達したときの出射端１１６の位置を表す情報（第１の位置情報）を記憶部２１３に記憶させる（Ｓ３４）。
【０１３６】
受光量が限界値に達した後においても、主制御部２１１は、受光量の特定処理と出射端１１６の移動とを交互に繰り返し実施させる（Ｓ３５、Ｓ３６：Ｎｏ）。これは符号Ｆ２に示す動作に相当する。この段階では、特定される受光量は限界値のままである。
【０１３７】
受光量の特定処理と出射端１１６の移動とを反復実施していくと、特定される受光量は、或る段階において減少を開始して限界値未満になる（Ｓ３６：Ｙｅｓ）。これは符号Ｆ３に示す動作に相当する。主制御部２１１は、特定される受光量が減少を開始したときの出射端１１６の位置を表す情報（第２の位置情報）を記憶部２１３に記憶させる（Ｓ３７）。
【０１３８】
次に、主制御部２１１は、第１及び第２の位置情報を記憶部２１３から読み出し、これら位置情報に示す二つの位置の中間位置を求める（Ｓ３８）。そして、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、この中間位置まで出射端１１６を移動させる（Ｓ３９）。これは符号Ｆ４、Ｆ５に示す動作に相当する。なお、出射端１１６を中間位置に移動させるのは、受光量のピーク（飽和状態であるから検出できない）は当該中間位置近傍に存在すると想定されるためである。
【０１３９】
出射端１１６を中間位置まで移動させたら、主制御部２１１は、受光量特定部２１２に受光量を特定させる処理と、アッテネータ１２１に参照光ＬＲの光量を減少させる処理とを交互に繰り返し実行させて、特定される受光量を目標値Ｐに導く（Ｓ４０）。これは符号Ｈ１に示す動作に相当する。以上で、この動作例に係る処理は終了となる。眼底観察装置１は、このような受光量調整処理が終了した後にＯＣＴ計測を行って、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。
【０１４０】
この動作例によれば、干渉光ＬＣのスペクトル成分がＣＣＤ素子たちに適正に照射されるように出射端１１６の位置を自動で調整し、更に受光量を目標値に自動で合わせることが可能である。なお、この動作例は、特定される受光量が比較的高い場合（たとえば最初の段階においてアッテネータ１２１が参照光路を遮蔽していない場合）に有効である。
【０１４１】
上記の動作例では、第１及び第２の位置情報に示す二つの位置の中間位置に出射端１１６を導いているが（Ｓ３８、Ｓ３９）、この発明はこの処理に限定されるものではない。たとえば、ステップ３２（動作Ｆ１）における傾き（出射端１１６の移動に対する受光量の変化率）と、ステップ３６：Ｙｅｓ（動作Ｆ３）における傾きを考慮して、受光量のピーク位置を推定し、この推定位置に出射端１１６を移動させるようにしてもよい。
【０１４２】
上記の動作例では、受光量をモニタしながらアッテネータ１２１を調整しているが（Ｓ４０）、この発明はこの処理に限定されるものではない。その一例を以下に説明する。
【０１４３】
まず、主制御部２１１は、第１及び第２の位置情報に基づいて、これら二つの位置の間隔（つまり距離）Ｌを算出する。
【０１４４】
次に、主制御部２１１は、間隔Ｌに基づいて、限界値から目標値に受光量を変更するために要される、参照光ＬＲ（つまり干渉光ＬＣ）の光量の変更量を算出する。この変更量は、受光量がピークとなるときの出射端１１６の位置（つまり適正位置）において、当該ピーク値から目標値まで受光量を減少させるのに必要な値である。この変更量は、たとえば、上記二つの位置や上記傾きに基づいて受光量のピーク値を推定し、このピーク値と目標値との差を算出することにより求めることができる。
【０１４５】
そして、主制御部２１１は、出射端１１６を適正位置（当該ピークに相当する位置）まで移動させ、更に、アッテネータ１２１を制御して当該変更量だけ光量を減少させる。
【０１４６】
このような処理によれば、光量の変更量を算出して一気に変更することができるので、上記動作例のように受光量をモニタしつつアッテネータ１２１を調整する必要がなくなり、処理時間の短縮を図ることが可能となる。
【０１４７】
［作用・効果］
以上のような眼底観察装置１の作用及び効果について説明する。
【０１４８】
眼底観察装置１は、干渉光ＬＣのスペクトル成分を検出して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成するフーリエドメインタイプの光画像計測装置である。眼底観察装置１は、ＣＣＤイメージセンサ１２０によるスペクトル成分の受光量を特定する受光量特定部２１２を備えている。
【０１４９】
眼底観察装置１は、干渉光ＬＣを導光する光ファイバ１１５の出射端１１６と、ＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面との相対位置を変更するファイバ端駆動機構１４０を備える。この実施形態では出射端１１６を移動させることで当該相対位置を変更しているが、出射端１１６及びＣＣＤイメージセンサ１２０の少なくとも一方を移動可能な構成であれば十分である。また、出射端１１６とＣＣＤイメージセンサ１２０との間に配置された光学部材（回折格子１１８等）を移動させることにより、出射端１１６と受光面との光学的な相対位置を変更可能な構成としてもよい。
【０１５０】
更に、眼底観察装置１は、参照光ＬＲの光量を変更することにより、ＣＣＤイメージセンサ１２０に照射される干渉光ＬＣの光量を変更するアッテネータ１２１を備えている。なお、低コヒーレンス光Ｌ０の光量、信号光ＬＳの光量、参照光ＬＲの光量及び干渉光ＬＣの光量のうちの少なくとも一つ以上を変更可能に構成して同様の作用を得られるように構成することも可能である。いずれにしても、アッテネータ（第２の変更手段）は、ＣＣＤイメージセンサ１２０に照射される干渉光ＬＣの光量を変更するように作用するものであれば十分であり、その具体的構成や配置場所は問わない。
【０１５１】
眼底観察装置１は、受光量特定部２１２により特定された受光量に基づきファイバ端駆動機構１４０とアッテネータ１２１を制御して、ＣＣＤイメージセンサ１２０による干渉光ＬＣの受光量を目標値Ｐに導く。その後に、眼底観察装置１は、ＯＣＴ計測を行って眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。
【０１５２】
このような眼底観察装置１によれば、受光面に対する干渉光ＬＣの照射位置の調整と、ＣＣＤイメージセンサ１２０に照射される（つまりＣＣＤイメージセンサ１２０に向かう）干渉光ＬＣの光量の調整とを行って受光量を自動調整できる。したがって、受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能である。
【０１５３】
眼底観察装置１の第１の動作例（図４及び図５を参照）では、本質的に次の４つの動作を実行している。なお、第１の動作と第２の動作は、それぞれ、受光量特定部２１２により逐次に特定される受光量を参照しつつファイバ端駆動機構１４０及びアッテネータ１２１を制御することで実行される。第１の動作と第２の動作は交互に実行される。
【０１５４】
（第１の動作）少なくとも所定範囲の上限値まで受光量を増加させるように、出射端１１６と受光面との相対位置（ここでは出射端１１６の位置）を変更する。特に、この実施形態では、上記相対位置を所定の向きに所定距離（単位移動距離）だけ変更する動作と、干渉光ＬＣの受光量を特定する動作とを、上限値以上の受光量が受光量特定部２１２により特定されるまで交互に実施するようになっている。
【０１５５】
（第２の動作）少なくとも所定範囲の下限値まで受光量を減少させるように、干渉光ＬＣ（ここでは参照光ＬＲ）の光量を変更する。特に、この実施形態では、参照光ＬＲの光量を所定量（単位減少量）だけ減少する動作と、干渉光ＬＣの受光量を特定する動作とを、下限値以下の受光量が受光量特定部２１２により特定されるまで交互に実施するようになっている。
【０１５６】
（第３の動作）第１の動作における相対位置の変更に対応して受光量特定部２１２により特定される受光量が減少したときに、ファイバ端駆動機構１４０を制御して、当該変更の直前の状態に相対位置を戻す。特に、この実施形態では、第１の動作における所定の向きとは逆向きに出射端１１６を移動させることで、上記相対位置を当該直前の状態に変更させるようになっている。
【０１５７】
（第４の動作）アッテネータ１２１を制御して干渉光ＬＣの光量を変更することで、受光量を目標値に導く。特に、この実施形態では、受光量特定部２１２により受光量を逐次に特定しつつアッテネータ１２１を制御することで、受光量を目標値に導くようになっている。
【０１５８】
このような第１の動作例によれば、干渉光ＬＣの光量を自動調整しつつスペクトル成分の受光位置を自動調整し、更に受光量を目標値に自動で合わせることができるので、受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能である。
【０１５９】
眼底観察装置１の第２の動作例（図６及び図７を参照）では、まず、受光量特定部２１２により逐次に特定される受光量を参照しつつ、ファイバ端駆動機構１４０を制御して相対位置を所定の向きに変更することで、特定される受光量のピークを検出する。このピークは受光量の最大値であり、上記の適正位置に相当する。受光量のピークは、出射端１１６の移動とともに増加していった受光量が減少に転じる位置を探索することで検出される。探索対象とされた当該位置は記憶部２１３に記憶される。
【０１６０】
次に、主制御部２１１は、ピークが検出されたことに対応してファイバ端駆動機構１４０を制御し、上記所定の向きとは逆向きに出射端１１６を移動させ、ピークが検出された位置に配置させる。この処理は、たとえば、上記探索対象とされた位置を読み出し、この位置まで出射端１１６を移動させることで実現できる。
【０１６１】
そして、主制御部２１１は、アッテネータ１２１を制御して干渉光ＬＣの光量を変更し、受光量を目標値に導く。この処理は、たとえば上記の第４の動作と同様にして実行される。
【０１６２】
このような第２の動作例によれば、スペクトル成分の受光位置を自動調整し、更に受光量を目標値に自動で合わせることができるので、受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能である。なお、前述したように、第２の動作例は、特定される受光量が比較的低い場合において特に有効に使用される。
【０１６３】
眼底観察装置１の第３の動作例（図８及び図９を参照）では、まず、受光量を逐次に特定しつつファイバ端駆動機構１４０を制御して、出射端１１６と受光面との相対位置を所定の向きに変更する。それにより、ＣＣＤイメージセンサ１２０の限界値に達するまで受光量を増加させる。
【０１６４】
次に、主制御部２１１は、特定される受光量が限界値未満になるまで、上記相対位置を所定の向きに更に変更する。
【０１６５】
続いて、主制御部２１１は、ファイバ端駆動機構１４０を制御し、受光量が限界値に達したときの相対位置（第１の相対位置）と、限界値未満になったときの相対位置（第２の相対位置）との間の相対位置（第３の相対位置）に、出射端１１６と受光面との相対位置を変更する。この実施形態では、受光量が限界値に達したときの出射端１１６の位置を第１の相対位置として、受光量が限界値未満になったときの出射端１１６の位置を第２の相対位置として、これら二つの位置の中間位置を第３の相対位置として、それぞれ適用している。
【０１６６】
最後に、主制御部２１１は、アッテネータ１２１を制御して干渉光ＬＣの光量を変更し、受光量を目標値に導く。この処理は、たとえば上記の第４の動作と同様にして実行される。また、第１の相対位置と第２の相対位置との間隔に基づいて、特定される受光量を限界値（実際はピーク値）から目標値に変更するための干渉光ＬＣの光量の変更量を算出し、この変更量だけ光量を変更するようにしてもよい。
【０１６７】
このような第３の動作例によれば、スペクトル成分の受光位置を自動調整し、更に受光量を目標値に自動で合わせることができるので、受光量の調整を容易かつ迅速に行うことが可能である。なお、前述したように、第３の動作例は、特定される受光量が比較的高い場合において特に有効に使用される。
【０１６８】
[変形例]
以上において説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０１６９】
上記の実施形態においては、参照ミラー１１４の位置を変更して信号光ＬＳの光路と参照光ＬＲの光路との光路長差を変更しているが、光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２やＯＣＴユニット１００を移動させて信号光ＬＳの光路長を変更することにより光路長差を変更することができる。また、特に被測定物体が生体部位でない場合などには、被測定物体を深度方向（ｚ方向）に移動させることにより光路長差を変更することも有効である。
【０１７０】
上記の実施形態における制御プログラム２１４を、コンピュータにより読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、ハードディスクドライブやメモリ等の記憶装置に記憶させることも可能である。
【０１７１】
また、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じて制御プログラム２１４を送受信することも可能である。
【符号の説明】
【０１７２】
１  眼底観察装置
２  眼底カメラユニット
３  表示装置
１０  照明光学系
１１  観察光源
１５  撮影光源
３０  撮影光学系
３１  合焦レンズ
３５、３８  ＣＣＤイメージセンサ
３９  ＬＣＤ
４３、４４  ガルバノミラー
５０  アライメント光学系
６０  フォーカス光学系
７０  走査駆動部
８０  合焦駆動部
１００  ＯＣＴユニット
１０１  光源ユニット
１１４  参照ミラー
１１８  回折格子
１２０  ＣＣＤイメージセンサ
１２１  アッテネータ
１３０  参照駆動部
１４０  ファイバ端駆動機構
２００  演算制御ユニット
２１０  制御部
２１１  主制御部
２１２  受光量特定部
２１３  記憶部
２１４  制御プログラム
２２０  画像形成部
２３０  画像処理部
２４０  表示部
２５０  操作部
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
Ｋ  観察画像
Ｈ  撮影画像
Ｇ  断層像
【図３】
0005513101.tif 000002
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１】
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【図２】
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