(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
同心円上に配列された複数の容器を保持する円盤状のディスクと、
前記ディスクを回転可能に支持するディスク支持機構と、
前記複数の容器の各々から溶液を分注するプローブと、
前記プローブを溶液の吸入位置と吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転移動可能に支持するプローブ支持機構と、
前記プローブ支持機構を制御し、前記移動経路に沿って前記プローブを前記吸入位置から前記吐出位置まで回転移動するプローブ制御部と、
前記ディスク支持機構を制御し、前記ディスクを回転し、前記ディスク上に設けられ、前記プローブから落下された溶液を受けるための退避エリアを前記移動経路下に配置するディスク制御部と、
を具備する自動分析装置。
【請求項２】
前記溶液は、試薬と反応させるサンプルである、
請求項１記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記退避エリアは、前記複数の容器の各々に付されたバーコードを読み取るバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア、前記サンプルが収容されていない容器が占めるエリア、又は前記複数の容器が配置されていないエリアである、請求項２記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記溶液は、サンプルと反応させる試薬である、
請求項１記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記退避エリアは、前記複数の容器の各々に付されたバーコードを読み取るバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア、前記試薬が収容されていない容器が占めるエリア、前記複数の容器が配置されていないエリア、又は分注対象の試薬と同一の生産単位に属する試薬が収容された容器が占めるエリアである、請求項４記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記退避エリアは、前記ディスク上のエリアであって、非分注対象の溶液が収容されている容器が占めるエリア以外のエリアである、請求項１記載の自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サンプルに含まれる成分の濃度や活性値等を試薬との化学反応を利用して光学的又は電気的に測定する自動分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
血清や尿等のサンプルが収容されるサンプル容器は、サンプルディスク上に円周状に設置されている。近年、サンプルディスクに設置されるサンプル容器の数が増加している。サンプル容器の数の増加に伴い、例えば、内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとからなるサンプルディスクが登場している（例えば、特許文献１参照）。内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとの各々には、円周上に複数のサンプル容器が設置されている。このように、サンプル容器は、同心円上に並べて設置されている。
【０００３】
サンプルは、サンプルプローブによりサンプル容器から吸入され、移動経路に沿って回転移動され、反応ディスク内の反応管へ吐出される。移動経路下には、分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器だけでなく、他のサンプルが収容されたサンプル容器も配置されている。サンプルプローブの汚れや振動等により、回転移動中、サンプルプローブの内壁や外壁に付着されたサンプルが他のサンプル容器に落下してしまう場合がある。この場合、落下したサンプルは、元々他のサンプル容器に収容されていたサンプルを汚染してしまい、サンプルの測定結果に悪影響を与える。このように、サンプルプローブからのサンプルの落下は、測定結果の信頼性を低下させている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平０６―２３００１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１局面に係る自動分析装置は、同心円上に配列された複数の容器を保持するディスクと、前記同心円に沿って前記ディスクを回転可能に支持するディスク支持機構と、前記複数の容器の各々から溶液を分注するプローブと、前記プローブを溶液の吸入位置と吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転移動可能に支持するプローブ支持機構と、前記プローブ支持機構を制御し、前記移動経路に沿って前記プローブを前記吸入位置から前記吐出位置まで回転移動するプローブ制御部と、前記ディスク支持機構を制御し、前記ディスクを回転し、前記ディスク上に設けられ、前記プローブから落下された溶液を受けるための退避エリアを前記移動経路下に配置するディスク制御部と、を具備する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施形態に係る自動分析装置の外観を示す図。
【図２】本実施形態の第１実施例に係るサンプラをステージ上方から眺めた外観図。
【図３】第１及び第２実施例に係る自動分析装置のサンプル系統とその他の主要構成要素との機能ブロック図。
【図４】図３のサンプル系統制御部による制御に従って行なわれる第１実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れを示す図。
【図５】本実施形態の第２実施例に係るサンプラをステージ上方から眺めた外観図。
【図６】図３のサンプル系統制御部による制御に従って行なわれる第２実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れを示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態に係わる自動分析装置を説明する。
【００１０】
図１は、本発明の実施形態に係る自動分析装置１の外観を示す図である。図１に示すように自動分析装置１のステージ１０の略中央部には反応ディスク２２が設けられている。反応ディスク２０は、円周上に配列された複数の反応管２２を着脱可能に保持する。反応ディスク２０は、所定のサイクルで回動と停止とを繰り返す。
【００１１】
反応ディスク２０の近傍には、サンプラ３０が配置されている。サンプラ３０は、円盤状のサンプルディスク３２を備える。サンプルディスク３２は、同心円上に配列された複数のサンプル容器３４を保持する。サンプル容器３４には、サンプルが収容されている。サンプルディスク３２には、サンプルディスク支持機構３６が取り付けられている。サンプルディスク支持機構３６は、サンプルディスクを回転方向に沿って回転可能に支持する。回転方向は、サンプルディスク３２の円周方向に一致する。例えば、サンプルディスク支持機構３６は、回転軸回りにサンプルディスク３２を回転し、分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器（以下、分注対象のサンプル容器と呼ぶことにする）をサンプラ３０上のサンプル吸入位置に配置する。
【００１２】
反応ディスク２０の近傍には、第１試薬庫４０が配置される。第１試薬庫４０は、円盤状の第１試薬ディスクを有する。第１試薬ディスクは、同心円上に配列された複数の第１試薬容器を保持する。第１試薬容器は、サンプルに含まれる各測定項目に応じた成分と化学反応する第１試薬を収容する。第１試薬ディスクには、第１試薬ディスク支持機構が取り付けられている。第１試薬ディスク支持機構は、第１試薬ディスクを回転方向に沿って回転可能に支持する。回転方向は、第１試薬ディスクの円周方向に一致する。例えば、第１試薬ディスク支持機構は、回転軸回りに第１試薬ディスクを回転し、分注対象の第１試薬が収容された第１試薬容器を第１試薬庫４０上の第１試薬吸入位置に配置する。
【００１３】
反応ディスク２０の内側には、第２試薬庫５０が配置される。第２試薬庫５０は、円盤状の第２試薬ディスク５２を有する。第２試薬ディスク５２は、円周上に配列された複数の第２試薬容器５４を保持する。第２試薬容器５４は、第１試薬に対応する第２試薬を収容する。第２試薬ディスク５２には、第２試薬ディスク支持機構５６が取り付けられている。第２試薬ディスク支持機構５６は、回転方向に沿って第２試薬ディスク５２を回転し、分注対象の第２試薬が収容された第２試薬容器５４を第２試薬庫５０上の第２試薬吸入位置に配置する。回転方向は、第２試薬ディスク５２の円周方向に一致する。
【００１４】
反応ディスク２０とサンプラ３０との間にはサンプルアーム６１Ａが配置される。サンプルアーム６１Ａの先端には、サンプルプローブ６３Ａが取り付けられている。サンプルプローブ６３Ａは、図示しない電動式のサンプルポンプによりサンプルを吸入したり吐出したりする。サンプルアーム６１Ａは、サンプルプローブ６３Ａをサンプラ３０上のサンプル吸入位置と反応ディスク２０上のサンプル吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸６５Ａ回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、サンプルアーム６１Ａは、サンプルプローブ６３Ａを上下動可能に支持する支持機構でもある。
【００１５】
反応ディスク２０と第１試薬庫４０との間には第１試薬アーム６１Ｂが配置される。第１試薬アーム６１Ｂの先端には第１試薬プローブ６３Ｂが取り付けられている。第１試薬プローブ６３Ｂは、図示しない第１試薬ポンプにより第１試薬を吸入したり吐出したりする。第１試薬アーム６１Ｂは、第１試薬プローブ６３Ｂを第１試薬庫４０上の第１試薬吸入位置と反応ディスク２０上の第１試薬吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸６５Ｂ回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、第１試薬アーム６１Ｂは、第１試薬プローブ６３Ｂを上下動可能に支持する支持機構でもある。
【００１６】
反応ディスク２０の外周近傍には第２試薬アーム６１Ｃが配置される。第２試薬アーム６１Ｃの先端には第２試薬プローブ６３Ｃが取り付けられている。第２試薬プローブ６３Ｃは、図示しない第２試薬ポンプにより第２試薬を吸入したり吐出したりする。第２試薬アーム６１Ｃは、第２試薬プローブ６３Ｃを第２試薬庫５０上の第２試薬吸入位置と反応ディスク２０上の第２試薬吐出位置とを結ぶ移動経路に沿って回転軸６５Ｃ回りに回転移動可能に支持する支持機構である。また、第２試薬アーム６１Ｃは、第２試薬プローブ６３Ｃを上下動可能に支持する支持機構でもある。
【００１７】
さらに、反応ディスク２０の外周近傍には、撹拌部７０が設けられている。撹拌部７０は、図示しない撹拌子を有している。撹拌部７０は、反応ディスク２０上の撹拌位置に反応管２２が停止されると、撹拌子で反応管２２内のサンプル及び第１試薬の混合液や、サンプル、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する。反応管２２内部の混合液は、反応ディスク２０の内部等に設けられた測定部による測定に供される。
【００１８】
本実施形態に係る自動分析装置１は、プローブ６３（サンプルプローブ６３Ａ、第１試薬プローブ６３Ｂ）の溶液吸入位置（サンプル吸入位置、第１試薬吸入位置）から溶液吐出位置（サンプル吐出位置、第１試薬吐出位置）までの回転移動前又は回転移動中にディスク（サンプルディスク３２、第１試薬ディスク）を回転させることにより、プローブ６３から容器（サンプル容器３４、第１試薬容器）へ溶液が落下することを防止する。以下にこの防止策について詳細に説明する。なお、以下に説明する本実施形態に係る防止策は、サンプル系統と第１試薬系統との何れの分注系統にも適用可能である。しかしながら、説明を具体的に行なうため、サンプル系統を例に挙げて防止策について説明する。
【００１９】
また、標準的なディスクサンプラ３２の構造として第１のタイプと第２のタイプとが知られている。第１のタイプのサンプラは、単一のサンプルディスクを備える。第２のタイプのサンプラは、互いに独立して回転可能な内周サンプルディスクと外周サンプルディスクとを備える。第１実施例では第１のタイプのサンプラを例に挙げて本実施形態に係る防止策について説明し、第２実施例では第２のタイプのサンプラを例に挙げて本実施形態に係る防止策について説明する。
【００２０】
（第１実施例）
図２は、本実施形態の第１実施例に係るサンプラ３０をステージ１０の上方から眺めた外観図である。図２に示すように、サンプラ３０は、円盤状のサンプルディスク３２Ａを搭載する。サンプルディスク３２Ａには、同心円上（複数の円周ＣＡ上）に配列された複数の容器保持孔３３を有する。図２においては、複数の容器保持孔３３は、中心（サンプルディスク３２Ａの円中心）を共有し、直径が異なる内周ＣＡ１と外周ＣＡ２とに配列される。各容器保持孔３３には、サンプル容器３４が挿入される。すなわち、内周ＣＡ１と外周ＣＡ２とは、サンプル容器３４の吸引口の移動経路である。なお全ての容器保持孔３３にサンプル容器３４が挿入されている必要はなく、サンプル容器３４が挿入されていない容器保持孔３３があってもよい。また、サンプル容器３４には、必ずしもサンプルが収容されていなくてもよい。
【００２１】
各円周ＣＡ１、ＣＡ２とサンプルプローブ６３Ａの移動経路６７とが重なるサンプラ３０上の位置は、サンプル吸入位置ＰＡに規定される。ここで、内周ＣＡ１上のサンプル吸入位置ＰＡを内側吸入位置ＰＡ１、外周ＣＡ２上のサンプル吸入位置ＰＡを外側吸入位置ＰＡ２と呼ぶことにする。分注対象のサンプル容器３４が内周ＣＡ１に配置されている場合、サンプルディスク３２Ａが回転軸ＲＡ回りに回転することにより、分注対象のサンプル容器３４は、内側吸入位置ＰＡ１に配置される。同様に、分注対象のサンプル容器３４が外周ＣＡ２に配置されている場合、サンプルディスク３２Ａが回転軸ＲＡ回りに回転することにより、分注対象のサンプル容器３４は、外側吸入位置ＰＡ２に配置される。
【００２２】
サンプラ３０は、安全板３７Ａを搭載している。安全板３７Ａは、サンプルディスク３２Ａの上方に配置される。安全板３７Ａは、サンプルディスク３２Ａ上の円周ＣＡの数と同数のプローブ挿入孔３８を有している。図２においては、安全板３７Ａは、２つのプローブ挿入孔３８を有している。安全板３７Ａは、この２つのプローブ挿入孔３８が内側吸入位置ＰＡ１（移動経路６７と内周ＣＡ１との交点）と外側吸入位置ＰＡ２（移動経路６７と外周ＣＡ２との交点）とにそれぞれ重なるように配置されている。安全板３７Ａは、オペレータによるサンプルアーム６１Ａやサンプルプローブ６３Ａ等への接触を防止したり、サンプルプローブ６３Ａからサンプルディスク３２Ａへのサンプルの落下を防止したりするために設けられている。
【００２３】
サンプルディスク３２Ａ上には、退避エリア３９Ａが設けられている。退避エリア３９Ａは、サンプルプローブ６３Ａから落下したサンプルを受けるために設けられる。すなわち退避エリア３９Ａには、サンプルディスク３２Ａ上のエリアであって、非分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器（以下、非分注対象のサンプル容器と呼ぶことにする）が占めるエリアは含まれない。なお分注対象のサンプルは、１サイクル毎に変更される。分注対象のサンプルが変更される毎に非分注対象のサンプルも変更される。
【００２４】
退避エリア３９Ａには、大きく分けて２つのタイプがある。第１の退避エリア３９Ａは、サンプル容器３４が配置されていないサンプルディスク３２Ａ上のエリアである。より具体的には、第１の退避エリア３９Ａは、例えば、容器挿入孔３４が設けられていないサンプルディスク３２Ａ上のエリアである。この容器挿入孔３４が設けられていないエリアは、このために特別に形成されても良いし、既存のサンプルディスクにおける容器挿入孔間のエリアであってもよい。また、第１の退避エリア３９Ａは、サンプル容器３４が挿入されていない容器挿入孔３３が占めるエリアであってもよい。また、第１の退避エリア３９Ａは、サンプル容器３４の外壁に貼付されたバーコードを読み取るためのバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリアであってもよい。第２の退避エリア３９Ａは、サンプルが収容されていない空のサンプル容器３４の吸入口が占めるエリアである。これら退避エリア３９Ａの種類は、オペレータにより手動で又は操作卓を介して任意に設定可能である。
【００２５】
図３は、第１実施例に係る自動分析装置１のサンプル系統とその他の主要構成要素との機能ブロック図である。図３に示すように、自動分析装置１は、サンプル位置検出部８１とサンプル系統制御部８２とサンプル系統８３とを有している。
【００２６】
位置検出部８１は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上での位置や退避エリア３９Ａのサンプラ３０上での位置を検出する。検出された位置のデータは、サンプル系統制御部８２に供給される。
【００２７】
なおサンプラ３０上におけるサンプルディスク３２Ａ上の任意位置（例えば、各サンプル容器３４の位置や退避エリア３９Ａの位置）は、例えば、サンプルディスク３２Ａの回転軸ＲＡ回りの回転角度により規定されている。例えば、サンプルディスク３２Ａ上の基準位置（例えば、番号１のサンプル容器３４）が移動経路６７下に配置されている状態を基準角度（θ＝０）とする。これによりサンプルディスク３２Ａの基準位置のサンプラ３０上の位置は、基準角度からの回転角度により規定される。また、サンプルディスク３２Ａ上の任意位置（例えば、各サンプル容器３４の位置や退避エリア３９Ａの位置）は、サンプルディスク３２Ａ上の基準位置からの中心点（中心軸ＲＡとサンプルディスク３２Ａとの交点）回りの回転角度により規定されている。従ってサンプルディスク３２Ａ上の任意位置のサンプラ３０上の位置が規定できる。
【００２８】
サンプル系統制御部８２は、本実施形態に特有なサンプルの分注動作を実行するために、位置検出部８１からの位置のデータ等に従ってサンプル系統８３を制御する。図３に示すように、サンプル系統８３は、サンプルディスク回転制御部８４、サンプルディスク支持機構３６、サンプルプローブ回転制御部８５、サンプルプローブ上下動制御部８６、サンプルアーム６１Ａ、サンプルポンプ制御部８７、及びサンプルポンプ６８Ａを有する。
【００２９】
サンプルディスク回転制御部８４は、サンプル系統制御部８２による制御に従ってサンプルディスク支持機構３６を駆動制御する。サンプルディスク支持機構３６は、サンプルディスク回転制御部８４による駆動制御に従ってサンプルディスク３２Ａを回転する。
【００３０】
サンプルプローブ回転制御部８５は、サンプル系統制御部８２による制御に従ってサンプルアーム６１Ａを駆動制御する。サンプルアーム６１Ａは、サンプルプローブ回転制御部８５による駆動制御に従ってサンプルプローブ６３Ａを移動軌跡に沿って回転移動させる。
【００３１】
サンプルプローブ上下動制御部８６は、サンプル系統制御部８２による制御に従ってサンプルアーム６１Ａを駆動制御する。サンプルアーム６１Ａは、サンプルプローブ上下動制御部８６による駆動制御に従ってサンプルプローブ６３Ａを上下動させる。
【００３２】
サンプルポンプ制御部８７は、サンプル系統制御部８２による制御に従ってサンプルポンプ６８Ａを駆動制御する。サンプルポンプ６８Ａは、サンプルポンプ制御部８７による駆動制御に従ってサンプルプローブ６３Ａにサンプルを吸入させたり、サンプルを吐出させたりする。
【００３３】
次に図４を参照しながら、サンプル系統制御部８２による制御に従って行なわれる第１実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れについて説明する。
【００３４】
まずサンプル系統制御部８２等により分注対象のサンプルが設定されると、位置検出部８１は、設定された分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器（分注対象のサンプル容器）３４のサンプラ３０上の位置を特定する。特定された位置のデータは、サンプル系統制御部８２に供給される。
【００３５】
そしてサンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部８５に回転処理を行なわせる（ステップＳＡ１）。ステップＳＡ１においてサンプルディスク回転制御部８５は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置とサンプル吸入位置ＰＡのサンプラ３０上の位置とに従ってサンプルディスク支持機構３６を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構３６は、サンプルディスク３２Ａを回転軸ＲＡ回りに回転し、分注対象のサンプル容器３４をサンプル吸入位置ＰＡに配置する。
【００３６】
ステップＳＡ１が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＡの位置に従ってサンプルプローブ回転制御部８５に回転移動処理を行なわせる（ステップＳＡ２）。ステップＳＡ２においてサンプルプローブ回転制御部８５は、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＡの位置に応じてサンプルアーム６１Ａの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、移動経路６７に沿ってサンプルプローブ６３Ａを回転移動し、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＡ上のサンプル吸入位置ＰＡにサンプルプローブ６３Ａを配置する。例えば、分注対象のサンプル容器３４が内周ＣＡ１に配置されている場合、サンプルプローブ６３Ａは、内側吸入位置ＰＡ１に配置され、分注対象のサンプル容器３４が外周ＣＡ２に配置されている場合、サンプルプローブ６３Ａは、外側吸入位置ＰＡ２に配置される。
【００３７】
ステップＳＡ２が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ上下動制御部８６とサンプルポンプ制御部８７とに吸入処理を行なわせる（ステップＳＡ３）。ステップＳＡ３においてサンプルプローブ上下動制御部８６は、サンプルアーム６１Ａの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、分注対象のサンプルや測定項目に応じた下降量だけサンプルプローブ６３Ａを下降させる。下降が終了するとサンプルポンプ制御部８７は、サンプルポンプ６８Ａを駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルポンプ６８Ａは、所定量のサンプルをサンプルプローブ６３Ａを介してサンプル容器３４から吸入する。所定量は、例えば、分注対象のサンプルや測定項目に応じて設定されている。吸入が終了するとサンプルプローブ上下動制御部８６は、サンプルアーム６１Ａの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、下降量と略同一の量だけサンプルプローブ６３Ａを上昇させる。
【００３８】
ステップＳＡ３が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、退避エリア３９Ａのサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部８４に回転処理を行なわせる（ステップＳＡ４）。なお退避エリア３９Ａのサンプラ３０上の位置は、ステップＳＡ２が終了してからステップＳＡが開始されるまでの間に位置検出部８１により検出され、検出された位置のデータは、サンプル系統制御部８２に供給されているものとする。ステップＳＡ４においてサンプルディスク回転制御部８４は、退避エリア３９Ａのサンプラ３０上の位置とサンプル吸入位置ＰＡのサンプラ３０上の位置とに従ってサンプルディスク支持機構３６を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構３６は、サンプルディスク３２Ａを回転軸ＲＡ回りに回転し、サンプルディスク３２Ａ上の退避エリア３９Ａを移動経路６７下に配置する。
【００３９】
なお、図２において退避エリア３９Ａは一箇所に設けられている。しかしながら本実施形態は、これに限定する必要はない。例えば、退避エリア３９Ａは、サンプルディスク３２Ａ上に複数個所設けられていても良い。この場合、複数の退避エリア３９Ａのうちの特定の退避エリア３９Ａがオペレータにより操作卓を介して設定される。ステップＳＡ２が終了してからステップＳＡが開始されるまでの間に位置検出部８１は、設定された退避エリア３９のサンプラ３０上の位置を検出する。そしてステップＳ４においてサンプルディスク回転制御部３４は、設定された退避エリア３９を移動経路６７下に配置する。
【００４０】
また、内周ＣＡ１上の退避エリア３９Ａと外周ＣＡ２上の退避エリア３９Ａとがサンプルディスク３２Ａ上の同一径上に無い場合がある。この場合、サンプルディスク支持機構３６は、外周ＣＡ２上の退避エリア３９Ａを移動経路６７下に配置する。
【００４１】
また、分注対象のサンプル容器３４が外周ＣＡ２上に配置されている場合、サンプルプローブ６３Ａから他のサンプル容器３４内へサンプルが落下する虞が無いので、ステップＳＡ４は行なわれなくても良い。この場合、ステップＳＡ３の次にステップＳＡ５が行なわれる。
【００４２】
ステップＳＡ４が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ回転制御部８５に回転移動処理を行なわせる（ステップＳＡ５）。ステップＳＡ５においてサンプルプローブ回転制御部８５は、サンプルアーム６１Ａの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、移動経路６７に沿ってサンプルプローブ６１Ａを回転移動し、反応ディスク２０上のサンプル吐出位置にサンプルプローブ６３Ａを配置する。
【００４３】
ステップＳＡ５が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ上下動制御部８６とサンプルポンプ制御部８７とに吐出処理を行なわせる（ステップＳＡ６）。ステップＳＡ６においてサンプルプローブ上下動制御部８６は、サンプルアーム６１Ａの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、吐出のための下降量だけサンプルプローブ６３Ａを下降させる。下降が終了するとサンプルポンプ制御部８７は、サンプルポンプ６８Ａを駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルポンプ６８Ａは、ステップＳＡ３において吸入したサンプルをサンプルプローブ６３Ａを介して反応管２２に吐出する。吐出が終了するとサンプルプローブ上下動制御部８６は、サンプルアーム６１Ａの上下動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、下降量と略同一の量だけサンプルプローブ６３Ａを上昇させる。
【００４４】
ステップＳＡ６が終了するとサンプル系統制御部８２は、第１実施例に係るサンプルの分注動作を終了する。この後、別のサンプルについて分注をする場合、サンプル系統制御部８２による制御に従って再び図４の分注動作が行われる。
【００４５】
（第２実施例）
次に本実施形態の第２実施例について説明する。なお以下の説明において、第１実施例と略同一の機能を有する構成要素については、同一符号を付し、必要な場合にのみ重複説明する。
【００４６】
図５は、本実施形態の第２実施例に係るサンプラ３０をステージ１０の上方から眺めた外観図である。図５に示すように、第２実施例に係るサンプラ３０は、内周サンプルディスク３２Ｂ―１と外周サンプルディスク３２Ｂ―２とを搭載する。内周サンプルディスク３２Ｂ―１と外周サンプルディスク３２Ｂ―２とは、互いに独立して回転可能にサンプルディスク支持機構３６により支持されている。
【００４７】
各サンプルディスク３２Ｂ―１、３２Ｂ―２には、同心円上（複数の円周上）に配列された複数の容器保持孔３３を有する。図５において複数のサンプル容器３３は、中心を共有し直径が異なる４つの円周ＣＢ１、ＣＢ２、ＣＢ３、ＣＢ４上に配列される。ここで、４つの円周ＣＢ１、ＣＢ２、ＣＢ３、ＣＢ４を内側から順番に第１円周ＣＢ１、第２円周ＣＢ２、第３円周ＣＢ３、第４円周ＣＢ４と呼ぶことにする。第１円周ＣＢ１と第２円周ＣＢ２とが内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に設けられ、第３円周ＣＢ３と第４円周ＣＢ４とが外周サンプルディスク３２Ｂ―２上に設けられている。
【００４８】
各円周ＣＢ１、ＣＢ２、ＣＢ３、ＣＢ４とサンプルプローブ６３Ａの移動経路６７とが重なるサンプラ３０上の位置は、サンプル吸入位置ＰＢに規定される。ここで、第１円周ＣＢ１上のサンプル吸入位置ＰＢを第１吸入位置ＰＢ１、第２円周ＣＢ２上のサンプル吸入位置ＰＢを第２吸入位置ＰＢ２、第３円周ＣＢ３上のサンプル吸入位置ＰＢを第３吸入位置ＰＢ３、第４円周ＣＢ４上のサンプル吸入位置ＰＢを第４吸入位置ＰＢ４と呼ぶことにする。
【００４９】
第２実施例に係る安全板３７Ｂは、４つのプローブ挿入孔３８を有している。安全板３７Ｂは、この４つのプローブ挿入孔３８が第１吸入位置ＰＢ１（移動経路６７と第１円周ＣＢ１との交点）と第２吸入位置ＰＢ２（移動経路６７と第２円周ＣＢ２との交点）と第３吸入位置ＰＢ３（移動経路６７と第３円周ＣＢ３との交点）と第４吸入位置ＰＢ４（移動経路６７と第４円周ＣＢ４との交点）とにそれぞれ重なるように配置されている。
【００５０】
外周サンプルディスク３２Ｂ―２上には、退避エリア３９Ｂが設けられている。内周サンプルディスク３２Ｂ―１上には、退避エリア３９Ｂが設けられていても、設けられていなくても良い。以下、説明を具体的に行うため、内周サンプルディスク３２Ｂ―１上には退避エリア３９Ｂが設けられていないものとする。
【００５１】
次に図６を参照しながら、サンプル系統制御部８２の制御に従って行なわれる第２実施例に係るサンプルの分注動作の典型的な流れについて説明する。
【００５２】
まずサンプル系統制御部８２等により分注対象のサンプルが設定されると、位置検出部８１は、設定された分注対象のサンプルが収容されたサンプル容器（分注対象のサンプル容器）３４のサンプラ３０上の位置を特定する。特定された位置のデータは、サンプル系統制御部８２に供給される。
【００５３】
そしてサンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４が内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に配置されているか否かを判定する（ステップＳＢ１）。サンプル系統制御部８２は、サンプル容器３４の識別情報と容器挿入孔３４の識別情報とを関連付けたテーブルを保持している。このテーブル上において各容器挿入孔３４の識別情報は、内周サンプルディスク３２Ｂ―１の識別情報又は外周サンプルディスク３２Ｂ―２の識別情報に関連付けられている。このテーブルを利用してサンプル系統制御部８２は、ステップＳＢ１の判定処理を行なう。具体的には、まず、サンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４の識別情報を検索キーワードとして上記のテーブルを検索し、分注対象のサンプル容器３４が挿入されている容器挿入孔３３の識別情報を特定する。そしてサンプル系統制御部８２は、容器挿入孔３３の識別情報が内周サンプルディスク３２Ｂ―１の識別情報に関連付けられているか、あるいは外周サンプルディスク３２Ｂ―２に関連付けられているかを判定する。容器挿入孔３３の識別情報が内周サンプルディスク３２Ｂ―１の識別情報に関連付けられていると判定した場合、サンプル系統制御部８２は、サンプル容器３４が内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に配置されていると判定する。一方、容器挿入孔３３の識別情報が外周サンプルディスク３２Ｂ―２の識別情報に関連付けられていると判定した場合、サンプル系統制御部８２は、サンプル容器３４が内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に配置されていないと判定する。
【００５４】
内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に配置されていると判定した場合（ステップＳＢ１：ＹＥＳ）、サンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部８４に内周回転処理を行なわせる（ステップＳＢ２）。ステップＳＢ２においてサンプルディスク回転制御部８４は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置とサンプル吸入位置ＰＢのサンプラ３０上の位置とに従ってサンプルディスク回転支持機構３６を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構３６は、内周サンプルディスク３２Ｂ―１を回転軸ＲＡ回りに回転し、分注対象のサンプル容器３４をサンプル吸入位置ＰＢに配置する。
【００５５】
ステップＳＢ２が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、退避エリア３９Ｂのサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部８４に外周回転処理を行なわせる（ステップＳＢ３）。ステップＳＢ３においてサンプルディスク回転制御部８４は、退避エリア３９Ｂのサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク支持機構３６を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構３６は、外周サンプルディスク３２Ｂ―２を回転軸ＲＡ回りに回転し、外周サンプルディスク３２Ｂ―２上の退避エリア３９Ｂを移動経路６７下に配置する。なお、退避エリア３９Ｂのサンプラ３０上の位置は、位置検出部８１により検出される。
【００５６】
一方、サンプル容器３４が内周サンプルディスク３２Ｂ―１上に配置されていないと判定した場合（ステップＳＢ１：ＮＯ）、サンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置に従ってサンプルディスク回転制御部８４に外周回転処理を行なわせる（ステップＳＢ４）。ステップＳＢ４においてサンプルディスク回転制御部８４は、分注対象のサンプル容器３４のサンプラ３０上の位置とサンプル吸入位置ＰＢのサンプラ３０上の位置とに従ってサンプルディスク回転支持機構３６を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルディスク支持機構３６は、外周サンプルディスク３２Ｂ―２を回転軸３６回りに回転し、分注対象のサンプル容器３４をサンプル吸入位置ＰＢに配置する。
【００５７】
ステップＳＢ３又はＳＢ４が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＢの位置に従ってサンプルプローブ回転制御部８５に回転移動処理を行なわせる（ステップＳＢ５）。ステップＳＢ５においてサンプルプローブ回転制御部８２は、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＡの位置に従ってサンプルアーム６１Ａの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、移動経路６７に沿ってサンプルプローブ６３Ａを回転移動し、分注対象のサンプル容器３４が配置されている円周ＣＢ上のサンプル吸入位置ＰＢにサンプルプローブ６３Ａを配置する。
【００５８】
ステップＳＢ５が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ上下動制御部８６とサンプルポンプ制御部８７とに吸入処理を行なわせる（ステップＳＢ６）。ステップＳＢ６の処理は、ステップＳＡ３の処理と同一であるので説明を省略する。
【００５９】
ステップＳＢ６が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ回転制御部８５に回転移動処理を行なわせる（ステップＳＢ７）。ステップＳＢ７においてサンプルプローブ回転制御部８５は、サンプルアーム６１Ａの回転移動機構を駆動制御する。この駆動制御を受けてサンプルアーム６１Ａは、移動経路６７に沿ってサンプルプローブ６３Ａを回転移動し、反応ディスク２０上のサンプル吐出位置にサンプルプローブ６３Ａを配置する。
【００６０】
ステップＳＢ７が行なわれるとサンプル系統制御部８２は、サンプルプローブ上下動制御部８５とサンプルポンプ制御部８７とに吐出処理を行なわせる（ステップＳＢ８）。ステップＳＢ８の処理は、ステップＳＡ６の処理と同一であるので説明を省略する。
【００６１】
ステップＳＢ８が終了するとサンプル系統制御部８２は、サンプルの分注動作を終了する。なお第１実施例と同様、この後、別のサンプルについて分注をする場合、サンプル系統制御部８２による制御に従って再び図６の分注動作が行われる。
【００６２】
なお内周サンプルディスク３２Ｂ―１に退避エリア３９Ｂが設けられている場合、第２実施例に係る分注動作と第１実施例に係る分注動作とを組み合わせることができる。より詳細には、分注対象のサンプル容器３４が内周側サンプルディスク３２Ｂ―１の第１円周に配置されている場合、第１実施例と同様に、分注対象のサンプルを吸入してから、内周側サンプルディスク３２Ｂ―１上の退避エリア３９Ｂを移動経路６７下に配置するとよい。これにより、サンプルプローブ６３Ａが第１吸入位置ＰＢ１からサンプル吐出位置へ回転移動している間にサンプルプローブ６３Ａから落下したサンプルが、第２円周ＰＢ２上の非分注対象のサンプル容器３４に入ってしまうことを防止できる。
【００６３】
本実施形態によれば以下の効果が得られる。
【００６４】
本実施形態に係る自動分析装置１は、プローブ６３が溶液吸入位置から溶液吐出位置へ移動している期間、プローブ６３の移動経路下に退避エリアを配置させている。これにより、プローブ６３の移動経路と非分注対象の容器の吸引口の移動経路とが交わらない。これによりプローブ６３から溶液が落下した場合、落下した溶液が他の容器内へ進入することが無くなる。従って本実施形態に係る自動分析装置１は、プローブ６３からの溶液の落下による他の溶液の汚染を防止することができる。これに伴って本実施形態に係る自動分析装置１は、測定結果の信頼性を向上することができる。
【００６５】
本実施形態は、測定項目がＨｂＡ１Ｃの場合に顕著な効果を発揮する。測定項目がＨｂＡ１Ｃの場合、全血や血球等のサンプルが採血管（サンプル容器）３４から吸入される。この際、サンプルプローブ６３Ａを採血管３４の底近くまで下降させなければならない。サンプルプローブ６３Ａを採血管３４の底近くまで下降させることにより、サンプルプローブ６３Ａの外壁にサンプルが付着する可能性が高くなる。そのため、測定項目がＨｂＡ１Ｃの場合、サンプルプローブ６３Ａからサンプルが飛び散ったり、ボタ落ちしたりする事態が多く発生する。しかし本実施形態によれば、サンプルプローブ６３Ａからサンプルが落下したとした場合でも、落下したサンプルは、退避エリア３９に滴下し、他のサンプル容器３４内に滴下することはない。従って本実施形態によれば、ＨｂＡ１Ｃの測定結果の信頼性が向上する。
【００６６】
かくして本実施形態によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置１を提供することが実現する。
【００６７】
なお、上述の第１実施例と第２実施例とをサンプル系統を例に挙げて説明したが、上述のように、本実施形態はサンプル系統ではなく第１試薬系統にも適用可能である。第１試薬系統の場合、退避エリアは、第１試薬ディスク上の第１試薬容器の吸入口が配置されていない第１エリア、第１試薬が収容されていない第１試薬容器（空の第１試薬容器）の吸入口が占める第２エリア、あるいは特定の第１試薬が収容された第１試薬容器の吸入口が占める第３エリアである。特定の第１試薬は、分注対象の第１試薬と同種、且つ分注対象の第１試薬と同一の製造番号（ロットナンバー（lot number））に属する第１試薬である。第１エリアは、例えば、第１試薬容器が配置されていないラックが占めるエリアや、第１試薬容器の外壁に貼付されたバーコード読み取り器の進入経路が占めるエリア等である。
【００６８】
また、上記の第１実施例と第２実施例とを測定項目の測定時を例に挙げて説明したが、本実施形態は、メンテナンス時においても適用可能である。メンテナンス時において用いられるサンプルとしては、例えば、キャリブレーション用標準サンプル、精度管理用標準サンプル、測定対象のサンプル等がある。これら種々のサンプルは、メンテンス中においてサンプル容器３４から反応管へ分注される。従ってメンテンス時に本実施形態を適用することにより、本実施形態に係る自動分析装置１は、これら種々のサンプルのサンプルプローブからの落下による他のサンプルの汚染を防止することが可能である。
【００６９】
また、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００７０】
以上本発明によれば、測定結果の信頼性の向上を可能とする自動分析装置を提供することを実現することができる。
【符号の説明】
【００７１】
１…自動分析装置、１０…ステージ、２０…反応ディスク、２２…反応管、３０…サンプラ、３２…サンプルディスク、３２Ａ…サンプルディスク、３３…容器挿入孔、３４…サンプル容器、３６…サンプルディスク支持機構、３７Ａ…安全板、３９Ａ…退避エリア、４０…第１試薬庫、５０…第２試薬庫、５２…第２試薬ディスク、５４…第２試薬容器、５６…第２試薬ディスク支持機構、６１Ａ…サンプルアーム、６３Ａ…サンプルプローブ、６５Ａ…サンプルアームの回転軸、６１Ｂ…第１試薬アーム、６３Ｂ…第１試薬プローブ、６５Ｂ…第１試薬アームの回転軸、６１Ｃ…第１試薬アーム、６３Ｃ…第１試薬プローブ、６５Ｃ…第１試薬アームの回転軸、７０…撹拌部、ＣＡ１…内周、ＣＡ２…外周、ＰＡ１…内側吸入位置、ＰＡ２…外側吸入位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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