(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パケットを中継するスイッチングハブが有し、前記パケットに所定の処理を施す集積回路であって、
前記集積回路は、
外部から前記パケット、又は前記パケットの間に流れるアイドル信号を受信する受信部と、
外部に前記所定の処理が施された前記パケット、又は前記アイドル信号を送信する送信部とを有し、
前記受信部は、前記パケットを受信している間、受信した前記パケットを前記送信部に向けて供給し、
前記受信部は、前記アイドル信号を受信している間、受信した前記アイドル信号を予め定められたテストパターンに書き換えて前記送信部に向けて供給するテストパターン供給部を含み、
前記送信部は、
前記予め定められたテストパターンに障害が発生しているか否かを監視する監視部を含む集積回路。
【請求項２】
前記テストパターン供給部は、前記テストパターンを、予め定められたデータ構成の第１テストパターンと前記第１テストパターンとは異なる予め定められたデータ構成の第２テストパターンとを予め定められた周期で交互に生成する請求項１に記載の集積回路。
【請求項３】
前記送信部は、供給する前記パケットを有していない間、前記アイドル信号を前記外部に送信する請求項２に記載の集積回路。
【請求項４】
前記ラインカードは、中央制御部を有し、
前記監視部は、前記障害の発生を検知した時に前記障害の発生を前記中央制御部に通知する請求項３に記載の集積回路。
【請求項５】
前記受信部と前記送信部との間に配置され、前記パケットを格納するバッファを更に有し、
前記バッファは、
前記パケット、又は前記テストパターンを受信するバッファ受信部と、
前記送信部に向けて前記パケット、又は前記テストパターンを送信するバッファ送信部とを含み、
前記バッファ受信部は、前記テストパターンに前記障害が発生しているか否かを監視し、
前記バッファ送信部は、供給するパケットを有していない間、前記テストパターンを生成し、生成した前記テストパターンを前記送信部に向けて送信する請求項４に記載の集積回路。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の集積回路を備えるラインカード。
【請求項７】
請求項６に記載のラインカードを備えるスイッチングハブ。
【請求項８】
パケットを中継するスイッチングハブが有し、前記パケットに所定の処理を施す集積回路の内部における障害を検出する障害検出方法であって、
前記パケットの間に流れるアイドル信号を受信している間、受信した前記アイドル信号を予め定められたテストパターンに書き換えて供給するテストパターン供給工程と、
前記テストパターンを受信する受信工程と、
前記受信工程において受信された前記テストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する監視工程と
を備える障害検出方法。
【請求項９】
前記テストパターン供給工程は、前記テストパターンとして、予め定められたデータ構成の第１テストパターンと前記第１テストパターンとは異なる予め定められたデータ構成の第２テストパターンとを予め定められた周期で交互に供給する請求項８に記載の障害検出方法。
【請求項１０】
前記スイッチングハブは中央制御部を有し、
前記監視工程は、前記エラーの発生を検知した時に前記エラーの発生を前記中央制御部に通知する請求項９に記載の障害検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、集積回路、ラインカード、スイッチングハブ、及び障害検出方法に関する。特に、本発明は、集積回路内部における障害を検出できる集積回路、ラインカード、スイッチングハブ、及び障害検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、伝送装置のクロスポイントスイッチのパス設定の正否を検証するクロスポイントスイッチのテスト方法において、クロスポイントスイッチの入力ハイウェイとＳＴＳ−１に対応したパスパターンを生成して入力信号の伝送フレームの所定位置に挿入し、スイッチの設定値より期待値を作成し、スイッチの出力信号と期待値とを比較してパス設定の正否を検証するクロスポイントスイッチのテスト方法が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
特許文献１に記載のテスト方法によれば、設定されたパスから期待値を生成し、パスパターンを入力してクロスポイントスイッチの出力と期待値とを比較することによって設定したパスをテストするので、すべてのパスについてパス設定テストを実行することを要さず、テスト時間を短縮することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−１４３２２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、特許文献１に記載されているようなテスト方法においては、所定のパスについてテストすることができるものの、演算回路、すなわち、ＬＳＩ等の集積回路内部において発生したデータ化け等の障害を検知することはできない。
【０００６】
したがって、本発明の目的は、集積回路内部における障害を検知することができる集積回路、ラインカード、スイッチングハブ、及び障害検出方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）本発明は、上記目的を達成するため、パケットを中継するスイッチングハブが有し、前記パケットに所定の処理を施す集積回路であって、集積回路は、外部からパケット、又はパケットの間に流れるアイドル信号を受信する受信部と、外部に所定の処理が施された前記パケット、又はアイドル信号を送信する送信部とを有し、受信部は、パケットを受信している間、受信したパケットを送信部に向けて供給し、受信部は、アイドル信号を受信している間、受信したアイドル信号を予め定められたテストパターンに書き換えて送信部に向けて供給するテストパターン供給部を含み、送信部は、予め定められたテストパターンに障害が発生しているか否かを監視する監視部を含む集積回路が提供される。
【０００８】
（２）また、上記集積回路において、テストパターン供給部は、テストパターンを、予め定められたデータ構成の第１テストパターンと第１テストパターンとは異なる予め定められたデータ構成の第２テストパターンとを予め定められた周期で交互に生成することができる。
【０００９】
（３）また、上記集積回路において、送信部は、供給するパケットを有していない間、アイドル信号を外部に送信することもできる。
【００１０】
（４）また、上記集積回路において、ラインカードは、中央制御部を有し、監視部は、障害の発生を検知した時に障害の発生を中央制御部に通知することもできる。
【００１１】
（５）また、上記集積回路において、受信部と送信部との間に配置され、パケットを格納するバッファを更に有し、バッファは、パケット、又はテストパターンを受信するバッファ受信部と、送信部に向けてパケット、又はバッファ受信部において書き換えられたテストパターンを送信するバッファ送信部とを含み、バッファ受信部は、テストパターンに障害が発生しているか否かを監視し、バッファ送信部は、供給するパケットを有していない間、テストパターンを生成し、生成した前記テストパターンを送信部に向けて送信することもできる。
【００１２】
（６）また、本発明は上記目的を達成するため、上記（１）から（５）のいずれか１つに記載の集積回路を備えるラインカードが提供される。
【００１３】
（７）また、本発明は上記目的を達成するため、上記（６）に記載のラインカードを備えるスイッチングハブが提供される。
【００１４】
（８）また、本発明は上記目的を達成するため、パケットを中継するスイッチングハブが有し、パケットに所定の処理を施す集積回路の内部における障害を検出する障害検出方法であって、パケットの間に流れるアイドル信号を受信している間、受信したアイドル信号を予め定められたテストパターンに書き換えて供給するテストパターン供給工程と、テストパターンを受信する受信工程と、受信工程において受信されたテストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する監視工程とを備える障害検出方法が提供される。
【００１５】
（９）また、上記障害検出方法において、テストパターン生成工程は、テストパターンとして、予め定められたデータ構成の第１テストパターンと第１テストパターンとは異なる予め定められたデータ構成の第２テストパターンとを予め定められた周期で交互に供給することが好ましい。
【００１６】
（１０）また、上記障害検出方法において、スイッチングハブは中央制御部を有し、監視工程は、エラーの発生を検知した時にエラーの発生を中央制御部に通知することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係るスイッチングハブによれば、集積回路内部における障害を検知することができる集積回路、ラインカード、スイッチングハブ、及び障害検出方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１Ａ】本発明の実施の形態に係るスイッチングハブの構成図である。
【図１Ｂ】本発明の実施の形態に係るスイッチングハブが備えるラインカードの構成図である。
【図１Ｃ】本発明の実施の形態に係るラインカードが有する集積回路の機能構成ブロック図である。
【図２】フレーム、アイドル信号、及びテストパターンの流れを示す図である。
【図３】本発明の実施の形態に係るバッファの機能構成ブロック図である。
【図４Ａ】集積回路内にエラーが発生していない場合のデータの流れを示す図である。
【図４Ｂ】集積回路内にエラーが発生している場合のデータの流れを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
［実施の形態の概要］
パケットを中継するスイッチングハブが有し、前記パケットに所定の処理を施す集積回路において、前記集積回路は、外部から前記パケット、又はアイドル信号を受信する受信部と、外部に前記所定の処理が施された前記パケット、又は前記アイドル信号を送信する送信部とを有し、前記受信部は、供給する前記パケットを有している間、前記パケットを前記送信部に向けて供給し、前記受信部は、供給する前記パケットを有していない間、予め定められたテストパターンを生成し、生成した前記テストパターンを前記送信部に向けて供給するテストパターン供給部を含み、前記送信部は、前記予め定められたテストパターンに障害が発生しているか否かを監視する監視部を含む集積回路が提供される。
【００２０】
［実施の形態］
図１Ａは、本発明の実施の形態に係るスイッチングハブの構成の概要を示し、図１Ｂは、本発明の実施の形態に係るスイッチングハブが備えるラインカードの構成の概要を示す。
【００２１】
（スイッチングハブ１の構成の概要）
本発明の実施の形態に係るスイッチングハブ１は、パケット等の情報とアイドル信号とを中継するスイッチングハブであり、複数のラインカード（例えば、ラインカード２、ラインカード２ａ、及びラインカード２ｂ）と、複数のラインカード間でパケット等の情報を中継する通信経路としての中継経路３とを備える。なお、本実施の形態において「パケット」は、レイヤ２の「フレーム」を含み、データの塊の単位を意味するものとする。各ラインカードはそれぞれ、中継経路３に接続するポートと、伝送路（例えば、伝送路４、伝送路４ａ、伝送路４ｂ、伝送路４ｍ−１、伝送路４ｍ）に接続するポート（例えば、ラインカード２が有するポート５は伝送路４に接続し、同様にポート５ａ、５ｂ、５ｍ−１、５ｍはそれぞれ伝送路４ａ、４ｂ、４ｍ−１、４ｍに接続する）とを有する。本実施の形態において複数のラインカードはそれぞれ同一の構成及び機能を有するので、以下、ラインカード２について詳細に説明する。
【００２２】
本実施の形態に係るラインカード２は、外部から受け取ったパケットに所定の処理を施す複数の集積回路（例えば、集積回路２０、２０ａ、・・・２０ｎ）を有する。複数の集積回路間は、ラインカード２を構成する基板上若しくは基板内部において銅線等の金属配線によって接続される。なお、所定の処理としては、信号処理、宛先判定処理等が挙げられる。また、ラインカード２は、中継経路３との間でパケットを送受信するポート６と、伝送路４、４ａ、４ｂ、４ｍ−１、４ｍに接続するポート５、５ａ、５ｂ、５ｍ−１、５ｍとを有する。
【００２３】
なお、図示しないが、ラインカード２は、経路情報、すなわち、ＭＡＣアドレスとポートを一意に識別するポートＩＤ（若しくはＬＡＧ  ＩＤ）との対応関係を格納するＦｏｒｗａｒｄｉｎｇ  Ｄａｔａ  Ｂａｓｅ（ＦＤＢ）と、ラインカード２内の各回路を制御すると共にソフトウェア動作する中央制御部とを更に備える。また、本実施の形態に係るラインカード２は、複数の集積回路を有するが、集積回路は１つのみでもよい。
【００２４】
図１Ｃは、本発明の実施の形態に係るラインカードが有する集積回路の機能構成の一例を示す。
【００２５】
本実施の形態において複数の集積回路はそれぞれ同一の構成及び機能を有するので、以下、集積回路２０について詳細に説明する。
【００２６】
（集積回路２０の概要）
集積回路２０は、ポート５ａに接続している受信部２００と、他の集積回路２０ａの受信部２００ａに接続している送信部２１０と、他の集積回路２０ａの送信部２１０ａに接続している受信部２００と、ポート５ｍ−１に接続している送信部２１０とを有する。ポート５ａに接続している受信部２００とポート５ｍ−１に接続している送信部２１０とで一方の入出力インターフェース２１５が構成され、他の集積回路２０ａの送信部２１０ａに接続している受信部２００と他の集積回路２０ａの受信部２００ａに接続している送信部２１０とで他方の入出力インターフェース２１５が構成される。なお、他の集積回路２０ａと他の集積回路２０ｎとも同様に、受信部２００ａ及び送信部２１０ａと、受信部２００ｎ及び送信部２１０ｎとをそれぞれ有する。また、集積回路２０ａと集積回路２０ｎとの間に、他の集積回路を更に配置することもできる。
【００２７】
また、集積回路２０は、ポート５ａに接続している受信部２００から情報を受け取り、一時的に格納するバッファ２２０と、当該バッファ２２０に接続しており、情報を一時的に格納するバッファ２２２とを有する。更に、集積回路２０は、他の集積回路２０ａの送信部２１０ａに接続している受信部２００から情報を受け取るバッファ２２０と、当該バッファ２２０に接続しているバッファ２２２とを有する。本実施の形態において各バッファは、それぞれ同一の構成及び機能を有する。
【００２８】
また、一方の入出力インターフェース２１５が備える受信部２００及び送信部２１０と、他方の入出力インターフェース２１５が備える受信部２００及び送信部２１０とは、それぞれ同一の機能及び構成を有するので、以下の説明においては、一方の入出力インターフェース２１５の受信部２００と、他方の入出力インターフェース２１５の送信部２１０とについて詳細に説明する。
【００２９】
（受信部２００）
受信部２００は、外部からパケット又はアイドル信号を受信する。なお、アイドル信号は、パケット等の有意の信号が流れていないことを示す信号、すなわち、パケットではないデータである。また、受信部２００は、受信部２００がパケットを受信している間、受信したパケットを送信部２１０に向けて供給する。図１Ｃの例においては、受信部２００は、バッファ２２０及びバッファ２２２を介して送信部２１０にパケットを供給する。一方、受信部２００は、受信部２００がアイドル信号を受信している間、テストパターンを供給するテストパターン供給部２０２を有する。テストパターン供給部２０２は、所定のパターンを有するテストパターンを自ら新たに生成して送信部２１０に向けて供給する。また、テストパターン供給部２０２は、受信したアイドル信号を所定のパターンを有するテストパターンに書き換えて送信部２１０に向けて供給することもできる。また、本実施の形態では、受信部２００はパケットを一時的に格納する格納部を有さず、受信したパケットはすぐに送信部２１０に向けて供給される。受信部２００において、パケットを受信している間が「供給するパケットを有している間」に相当し、アイドル信号を受信している間が「供給するパケットを有していない間」に相当する。
【００３０】
（テストパターン供給部２０２）
具体的にテストパターン供給部２０２は、予め定められたテストパターンを生成する。テストパターンは任意に設定することができるが、例えば、二進数で「０１０１０１０１・・・」で表わされる「０ｘ５５」パターン、二進数で「１０１０１０１０・・・」で表わされる「０ｘＡＡ」パターンを用いる。また、テストパターン供給部２０２は、テストパターンを、予め定められたデータ構成の第１テストパターンと、第１テストパターンとは異なる予め定められたデータ構成の第２テストパターンとを予め定められた周期ごとに交互に生成することが好ましい。第１テストパターンとしては、例えば、「０ｘ５５」を用いることができ、第２テストパターンとしては、例えば、「０ｘＡＡ」を用いることができる。そして、テストパターン供給部２０２は、生成したテストパターンを送信部２１０に向けて供給する。
【００３１】
（送信部２１０、監視部２１２）
送信部２１０は、所定の処理が施されたパケット又はアイドル信号を外部に送信する。更に、送信部２１０は、テストパターン供給部２０２から受け取った予め定められたテストパターンにエラー（すなわち、障害）が発生しているか否かを監視する監視部２１２を含む。なお、送信部２１０の前段にバッファが配置されている場合、監視部２１２は、後述するように当該バッファから供給されたテストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する。
【００３２】
例えば監視部２１２は、第１テストパターンとして「０ｘ５５」が用いられ、第２テストパターンとして「０ｘＡＡ」が用いられている場合に、第１テストパターン又は第２テストパターンとは異なるパターンを検知した場合に、集積回路２０内においてエラーが発生したことを検知する。監視部２１２は、例えば、第１テストパターン及び／又は第２テストパターンに含まれる「１」の値が「０」に変化している場合、若しくは「０」の値が「１」に変化している場合にエラーが発生したことを検知する。監視部２１２は、エラーの発生を検知した時に、ラインカード２が備える中央制御部にエラーの発生を通知する。
【００３３】
また、送信部２１０は、受信部２００側から第１テストパターン及び第２テストパターンを受け取っている間、アイドル信号を外部に送信する。すなわち、送信部２１０は、アイドル信号を自ら生成して外部に送信する。また、送信部２１０は、受信部２００側から受け取った第１テストパターン及び第２テストパターンをアイドル信号に書き換え、書き換えたアイドル信号を外部に送信することもできる。また、本実施の形態では、送信部２１０はパケットを一時的に格納する格納部を有さず、受信したパケットはすぐに外部に向けて供給される。送信部２１０において、パケットを受信している間が「供給するパケットを有している間」に相当し、アイドル信号を受信している間が「供給するパケットを有していない間」に相当する。
【００３４】
図２は、フレーム、アイドル信号、及びテストパターンの流れの概要を示す。
【００３５】
集積回路２０の外部においては、図２（ａ）に示すように、例えば、レイヤ２のフレーム間に所定の規格に則ったアイドル信号が流れる。すなわち、フレーム３００とフレーム３０２との間にアイドル信号４００が流れ、フレーム３０２と次のフレームとの間にアイドル信号４０２が流れる。このような情報、すなわち、フレーム３００及びフレーム３０２等のフレームを集積回路２０の受信部２００が受信すると、受信部２００は、受信したフレーム３００及びフレーム３０２を送信部２１０に向けて供給する。図１Ｃの例においては、受信部２００は、フレーム３００及びフレーム３０２をバッファ２２０に供給する。
【００３６】
一方、アイドル信号４００及びアイドル信号４０２等のアイドル信号を集積回路２０の受信部２００が受信している間、受信部２００のテストパターン供給部２０２は、フレーム間に、所定のパターンを有するテストパターンを供給する。例えば、テストパターン供給部２０２は、アイドル信号４００の部分にテストパターン５００を供給し、アイドル信号４０２の部分にテストパターン５０２を供給する。これにより、テストパターン５００及びテストパターン５０２はそれぞれ、送信部２１２に向けて供給される。また、テストパターン供給部２０２は、受信したアイドル信号４００を所定のテストパターン５００に書き換え、アイドル信号４０２を所定のテストパターン５０２に書き換えることもできる。
【００３７】
送信部２１０の監視部２１２は、バッファ２２２から受け取ったテストパターン（例えば、テストパターン５００及びテストパターン５０２）が予め定められたテストパターンに一致するか否かを判断する。監視部２１２は、テストパターン５００、テストパターン５０２が予め定められたテストパターンに一致しない場合、エラーが発生したことを検知して、エラーが発生したことを示す情報を中央制御部に通知する。中央制御部は、ラインカード２０又はスイッチングハブ１が備える警報装置を作動させ、エラーの発生を通知する。
【００３８】
（バッファ２２０）
図３は、本発明の実施の形態に係る集積回路が有するバッファの機能構成の一例を示す。
【００３９】
バッファ２２０とバッファ２２２とはそれぞれ同一の機能及び構成を有する。また、集積回路２０は、受信部２００とバッファ２２０との間に他のバッファを１つ以上更に有していてもよく、バッファ２２０とバッファ２２２との間に他のバッファを１つ以上更に有していてもよい。同様に、バッファ２２２と送信部２１０との間に他のバッファを１つ以上更に有することもできる。この場合においても他のバッファはすべてバッファ２２０と同一の機能及び構成を有する。したがって、以下の説明においてはバッファ２２０についてのみ詳細を説明する。
【００４０】
受信部２００と送信部２１０との間に配置され、パケットを一時的に格納するバッファ２２０は、バッファ受信部２３０とバッファ送信部２４０とを有する。また、バッファ受信部２３０は、格納部２３２とバッファ監視部２３４とを有し、バッファ送信部２４０は、バッファテストパターン供給部２４２を有する。
【００４１】
バッファ受信部２３０は、受信部２００からパケット又はテストパターンを受け取る。バッファ受信部２３０は、受け取ったパケットを格納部２３２に格納する。また、バッファ受信部２３０のバッファ監視部２３４は、テストパターンを受け取った場合、受け取ったテストパターンを監視する。バッファ監視部２３４の機能は監視部２１２の機能と略同一であり、テストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する。バッファ監視部２３４は、エラーの発生を確認した場合、中央制御部にエラーの発生を通知する。なお、受信部２００とバッファ２２０との間に他のバッファが配置されている場合、バッファ受信部２３０は、当該他のバッファからパケット、又は当該他のバッファのバッファ送信部が供給するテストパターンを受け取る。
【００４２】
バッファ送信部２４０は、バッファ受信部２３０が受け取ったパケットを送信部２１０に向けて供給する。バッファ２２０とバッファ２２２との間に他のバッファが配置されている場合には、バッファ送信部２４０は、当該他のバッファにパケットを供給する。具体的に、バッファ送信部２４０は、格納部２３２に格納されているパケットを、例えば、Ｆｉｒｓｔ  Ｉｎ  Ｆｉｒｓｔ  Ｏｕｔ（ＦＩＦＯ）にて取り出して、送信部２１０に向けて供給する。一方、バッファ送信部２４０は、格納部２３２にパケットが格納されておらず、供給するパケットがない場合、バッファテストパターン供給部２４２にテストパターンを新たに生成させる。そして、バッファ送信部２４０は、バッファテストパターン供給部２４２から生成されたテストパターンを送信部２１０に向けて供給させる。なお、図１Ｃの例においてバッファ２２０は、バッファ２２２にテストパターンを供給する。
【００４３】
すなわち、バッファは、バッファ外部から受け取るパケットを、一時格納した後、後段のバッファ又は送信部２１０に供給する。更にバッファは、バッファ外部から受け取るテストパターンについてはエラーの発生を監視する。そして、バッファは、パケットを格納しておらず、供給すべきパケットが存在していない場合、テストパターンを後段のバッファ又は送信部２１０に供給する。ここで、バッファは、テストパターンを自ら生成して後段に供給する。
【００４４】
したがって、図１Ｃの例においては、受信部２００からバッファ２２０にテストパターンが供給されている場合であっても、バッファ２２０にパケットが格納されている間は、バッファ２２０はパケットをバッファ２２２に供給する。そして、バッファ２２０は、格納しているパケットのすべてをバッファ２２２に供給し、供給すべきパケットがなくなった場合、予め定められたテストパターンを生成する。そして、バッファ２２０は、生成したテストパターンをバッファ２２２に供給する。次にバッファ２２２は、バッファ２２０と同様に、テストパターンが供給されている場合であっても、バッファ２２２にパケットが格納されている間は、バッファ２２２はパケットを送信部２１０に供給する。そして、バッファ２２２は、格納しているパケットのすべてを送信部２１０に供給し、供給すべきパケットがなくなった場合、予め定められたテストパターンを生成する。そして、バッファ２２２は、当該テストパターンを送信部２１０に供給する。
【００４５】
（エラー検知）
図４Ａは、集積回路内にエラーが発生していない場合のデータの流れの概要を示し、図４Ｂは、集積回路内にエラーが発生している場合のデータの流れの概要を示す。
【００４６】
図４Ａにおいては、一例として、第１テストパターン５１０に「０ｘ５５」を採用すると共に第２テストパターン５１２に「０ｘＡＡ」を採用した場合において、テストパターン供給部２０２又は各バッファのバッファテストパターン供給部２４２が供給するテストパターンのデータの流れを示す。
【００４７】
まず、図４Ａの例においては、第１テストパターン５１０と第２テストパターン５１２とが、予め定められた周期で交互に供給されている。図４Ａの例は、データにエラーが発生していない状態を示しているので、例えば、「Ａ」で示す行では、第１テストパターン５１０の領域では「１１１１・・・・」のデータ列が続き、第２テストパターン５１２の領域では「００００・・・・」のデータ列が続くことになる。
【００４８】
図４Ｂにおいては、エラーが発生した状態として、例えば、「Ｂ」で示す行においてエラーが発生した状態を示す。この例においては、「０」のデータが「１」に変わるエラーが発生したことを示す。すなわち、第１テストパターン５１０ａの領域においては「Ｂ」で示す行に対応する部分は「１」であり、「０」が「１」に変化してもエラーの発生を検知できないが、第２テストパターン５１２ａの領域においては「Ｂ」で示す行に対応する部分は本来「０」であるにもかかわらず「１」に変化している。これにより、監視部２１０又は各バッファは、当該エラーを発見することができる。
【００４９】
このエラーの検出の流れを詳細に説明する。すなわち、まず、集積回路２０の受信部２００が外部からアイドル信号を受信する。アイドル信号を受信している間、受信部２００のテストパターン供給部２０２は、予め定められたテストパターンを生成する。具体的にテストパターン供給部２０２は、第１テストパターンと第２テストパターンとを生成する。そして、受信部２００は、テストパターン供給部２０２が生成したテストパターンを送信部２１０に向けて供給する。
【００５０】
送信部２１０の監視部２１２は、当該テストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する。すなわち、監視部２１２は、当該テストパターンと予め定められたテストパターンとを比較して、両者が一致している場合にはエラーが発生しておらず、両者が一致しない場合にエラーが発生したと判断する。監視部２１２は、エラーが発生したと判断した場合、ラインカード２の中央制御部に通知する。
【００５１】
なお、受信部２００と送信部２１０との間にバッファ（例えば、バッファ２２０、バッファ２２２等）が配置されている場合、バッファに含まれるバッファ受信部２３０が有するバッファ監視部２３４が、受信部２００から受け取ったテストパターンにエラーが発生しているか否かを監視する。バッファ監視部２３４は、監視部２１２と同様に、エラーが発生したと判断した場合、当該バッファを一意に識別する識別子と共にエラーの発生を示す情報をラインカード２の中央制御部に通知する。
【００５２】
なお、本実施の形態においては、ラインカード２を備えるシャーシ型のスイッチングハブ１について説明したが、本実施の形態に係る各構成及び機能は、ボックス型のスイッチングハブに適用することもできる。また、本実施の形態においては、受信部２００と送信部２１０とは内部にバッファを有さない構成であるが、受信部２００の内部と送信部２１０の内部とにバッファを設けることもできる。この場合、受信部２００及び送信部２１０の動作は、本実施の形態に係るバッファと同様である。
【００５３】
（実施の形態の効果）
本実施の形態に係る集積回路２０、ラインカード２、スイッチングハブ１、及び障害検出方法は、供給するパケットを有していない間、すなわち、外部からアイドル信号を受信している間、集積回路２０内部において予め定められたテストパターンを供給するので、集積回路２０内部におけるデータパスでのエラー（障害）、すなわち、ｂｉｔ化けを定常的、かつ、確実に監視することができる。
【００５４】
また、本実施の形態に係る集積回路２０、ラインカード２、スイッチングハブ１、及び障害検出方法は、テストパターンとして、第１テストパターンと第２テストパターンとを用い、供給するパケットを有していない間、定期的に交互に第１テストパターンと第２テストパターンとを生成して供給するので、「１→０」と「０→１」との両者のｂｉｔ化けを確実に検出できる。
【００５５】
更に、本実施の形態に係る集積回路２０、ラインカード２、スイッチングハブ１、及び障害検出方法は、集積回路２０に含まれるバッファのそれぞれにおいて、テストパターンを供給すること、及びテストパターンにエラーが発生しているか否かを監視することができるので、集積回路２０内のすべてのバッファについて詳細にエラーの発生の有無を監視できる。
【００５６】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、上記に記載した実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の組合せのすべてが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。
【符号の説明】
【００５７】
１  スイッチングハブ
２、２ａ、２ｂ  ラインカード
３  中継経路
４、４ａ、４ｂ、４ｍ−１、４ｍ  伝送路
５、５ａ、５ｂ、４ｍ−１、５ｍ  ポート
６  ポート
２０、２０ａ、２０ｎ  集積回路
２００、２００ａ、２００ｎ  受信部
２０２、２０２ａ  テストパターン供給部
２１０、２１０ａ、２１０ｎ  送信部
２１２、２１２ａ  監視部
２１５、２１５ａ  入出力インターフェース
２２０、２２０ａ、２２２、２２２ａ  バッファ
２３０  バッファ受信部
２３２  格納部
２３４  バッファ監視部
２４０  バッファ送信部
２４２  バッファテストパターン供給部
３００、３０２  フレーム
４００、４０２  アイドル信号
５００、５０２  テストパターン
５１０  第１テストパターン
５１０ａ  エラーを含む第１テストパターン
５１２  第２テストパターン
５１２ａ  エラーを含む第２テストパターン
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図１Ｃ】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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