(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に照射するＸ線を発生するＸ線管を有する複数の装置本体と、
前記Ｘ線管からの前記被検体を透過したＸ線を検出してＸ線投影データを生成する前記装置本体に着脱可能に取り付けられた複数のＸ線検出器と、
前記複数の装置本体のうち主装置となる装置本体と前記複数のＸ線検出器とをそれぞれ組み合わせた時の複数のキャリブレーションデータと、前記主装置以外の装置本体と前記複数のＸ線検出器のうちいずれか１つとを組み合わせた時のキャリブレーションデータを保存する記憶装置と、
前記装置本体に取り付けられたＸ線検出器を取り外して前記複数のＸ線検出器のうちキャリブレーションデータが存在しないＸ線検出器が取り付けられた場合に、前記保存されたキャリブレーションデータに基づいて、対応するキャリブレーションデータを求める演算部と、
を備えることを特徴とするキャリブレーションデータ保管システム。
【請求項２】
前記保存されたキャリブレーションデータおよび前記演算部にて求められたキャリブレーションデータは、前記装置本体と前記複数のＸ線検出器のいずれかとを組み合わせたときのゲイン補正係数であり、
前記Ｘ線検出器で生成されたＸ線投影データを、このＸ線投影データが生成される前に出力されたオフセットデータから算出したオフセット補正係数を用いて補正した後、前記ゲイン補正係数を用いてゲインを補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする請求項１に記載のキャリブレーションデータ保管システム。
【請求項３】
前記記憶装置は、前記キャリブレーションデータ毎の識別情報を記憶することを特徴とする請求項１または２に記載のキャリブレーションデータ保管システム。
【請求項４】
前記識別情報は、前記装置本体を識別する装置ＩＤと前記Ｘ線検出器を識別する検出器ＩＤからなり、
前記演算部は、前記識別情報を持たない少なくとも１つの装置本体と少なくとも１つの検出器の組み合わせの場合に、前記キャリブレーションデータを求めることなることを特徴とする請求項３に記載のキャリブレーションデータ保管システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線検出器の出力を補正するＸ線診断装置及びキャリブレーションデータ保管システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置は、Ｘ線を発生するＸ線管及びＸ線を電荷に変換する二次元に配列された半導体の画素を有するＸ線検出器を備え、Ｘ線撮影においてはＸ線管からのＸ線を被検体に照射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器で検出してＸ線投影データを生成する。そして、生成されたＸ線投影データは、予めキャリブレーションにより算出されたキャリブレーションデータに基づいて補正されることが知られている。
【０００３】
近年、Ｘ線診断装置では、Ｘ線検出器の有効活用が望まれている。そして、Ｘ線検出器の設置位置を変えることで、例えば立位と臥位の両方のＸ線撮影に利用することができるＸ線診断装置が知られている。また、被検体の体型に応じて異なるサイズのＸ線検出器に交換することができるＸ線診断装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−２０４７９３号公報
【特許文献２】特開平１１−９５７９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
Ｘ線検出器を交換することができるＸ線診断装置においては、他のＸ線診断装置に用いられているＸ線検出器を利用できることが望ましい。しかしながら、Ｘ線検出器を交換すると、取り付けたＸ線検出器を用いてキャリブレーションを行う必要があるため、Ｘ線撮影が可能となるまでに時間がかかる問題がある。
【０００６】
実施形態は、上記問題点を解決するためになされたもので、キャリブレーションにかかる時間を低減することができるＸ線診断装置及びキャリブレーションデータ保管システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題を解決するために、被検体に照射するＸ線を発生するＸ線管を有する複数の装置本体と、前記Ｘ線管からの前記被検体を透過したＸ線を検出してＸ線投影データを生成する前記装置本体に着脱可能に取り付けられた複数のＸ線検出器と、前記複数の装置本体のうち主装置となる装置本体と前記複数のＸ線検出器とをそれぞれ組み合わせた時の複数のキャリブレーションデータと、前記主装置以外の装置本体と前記複数のＸ線検出器のうちいずれか１つとを組み合わせた時のキャリブレーションデータを保存する記憶装置と、前記装置本体に取り付けられたＸ線検出器を取り外して前記複数のＸ線検出器のうちキャリブレーションデータが存在しないＸ線検出器が取り付けられた場合に、前記保存されたキャリブレーションデータに基づいて、対応するキャリブレーションデータを求める演算部と、を備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施例に係るキャリブレーションデータ保管システムの構成を示すブロック図。
【図２】実施例に係る第１のＸ線検出器の構成の詳細を示す図。
【図３】実施例に係る補正処理部の構成の詳細を示す図。
【図４】実施例に係るキャリブレーションデータ記憶装置の構成の詳細を示す図。
【図５】実施例に係るキャリブレーションにより算出されるキャリブレーションデータの一例を示す図。
【図６】実施例に係るキャリブレーションが行われていない組み合わせによるゲイン補正係数を算出する一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、実施例を、図面を参照して説明する。
【実施例】
【００１０】
以下に、キャリブレーションデータ保管システムの実施例を、図１乃至図６を参照して説明する。
【００１１】
図１は、実施例に係るキャリブレーションデータ保管システムの構成を示したブロック図である。このキャリブレーションデータ保管システム３００は、医療施設内に設けられ、ネットワーク２００を介して接続されるＮ台（Ｎは２以上の整数）のＸ線診断装置及びこのＸ線診断装置のキャリブレーションにより得られるキャリブレーションデータを保管するキャリブレーションデータ記憶装置２１０を備えている。以下では、Ｎが３である場合のＸ線診断装置１００，１１０，１２０の例について説明する。
【００１２】
先ず、各Ｘ線診断装置１００，１１０，１２０の構成の概略を説明する。  
Ｘ線診断装置１００は、被検体Ｐに対してＸ線を照射し、この照射に応じて画像データを生成する装置本体１０を備えている。また、装置本体１０に標準型として装着脱可能に取り付けられ、装置本体１０からの被検体Ｐを透過したＸ線を検出してＸ線投影データを生成する可搬性の第１のＸ線検出器２０を備えている。
【００１３】
また、Ｘ線診断装置１１０は、Ｘ線診断装置１００の装置本体１０と同様に構成される装置本体１１１を備えている。また、装置本体１１１に標準型として装着脱可能に取り付けられ、装置本体１１１からの被検体Ｐを透過したＸ線を検出してＸ線投影データを生成する例えばＸ線を検出する領域のサイズが異なる点以外は第１のＸ線検出器２０と同様に構成される可搬性の第２のＸ線検出器１１２を備えている。
【００１４】
更に、Ｘ線診断装置１２０は、Ｘ線診断装置１００の装置本体１０と同様に構成される装置本体１２１を備えている。また、装置本体１２１に標準型として装着脱可能に取り付けられ、装置本体１２１からの被検体Ｐを透過したＸ線を検出してＸ線投影データを生成するＸ線を検出する領域のサイズが異なる以外は第１及び第２のＸ線検出器２０，１１２と同様に構成される可搬性の第３のＸ線検出器１２２を備えている。
【００１５】
そして、装置本体１０は、各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２を着脱可能に支持する支持機構を有し、第１のＸ線検出器２０は、各装置本体１０，１１１，１２１に着脱可能に係合するコネクタを有する。そして、例えば被検体Ｐの撮影部位の大きさに合わせるなどの必要に応じて第１のＸ線検出器２０を脱着し、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２を取り付けて装置本体１０と組み合わせることができる。
【００１６】
また、装置本体１１１は、各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２を着脱可能に支持する支持機構を有し、第２のＸ線検出器１１２は、各装置本体１０，１１１，１２１に着脱可能に係合するコネクタを有する。そして、必要に応じて第２のＸ線検出器１１２を脱着し、第１又は第３のＸ線検出器２０，１２２を取り付けて装置本体１１１と組み合わせることができる。
【００１７】
更に、装置本体１２１は、各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２を着脱可能に支持する支持機構を有し、第３のＸ線検出器１２２は、各装置本体１０，１１１，１２１に着脱可能に係合するコネクタを有する。そして、必要に応じて第３のＸ線検出器１２２を脱着し、第１又は第２のＸ線検出器２０，１１２を取り付けて装置本体１２１と組み合わせることができる。
【００１８】
このように、各装置本体１０，１１１，１２１と各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２とを互いに組み合わせて９通りの組み合わせによりＸ線撮影を行うことができる。
【００１９】
次に、Ｘ線診断装置１００における装置本体１０及び第１のＸ線検出器２０の構成の詳細について説明する。この装置本体１０は、被検体Ｐが載置される寝台１１と、被検体ＰにＸ線を照射するＸ線管１２と、Ｘ線の照射に必要な高電圧をＸ線管１２に供給する高電圧発生部１３と、Ｘ線管１２及び第１のＸ線検出器２０を移動する移動機構部１４とを備えている。
【００２０】
また、装置本体１０は、第１のＸ線検出器２０で生成されたＸ線投影データを補正する補正処理部５０と、第１のＸ線検出器２０及び補正処理部５０を制御する読み出し制御部２１と、補正処理部５０で補正されたＸ線投影データに基づいて画像データを生成する画像データ生成部１５と、画像データ生成部１５で生成された画像データを表示する表示部１６とを備えている。
【００２１】
更に、装置本体１０は、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０と交信する通信手段であるインターフェース１７と、各種コマンド等の入力を行う操作部１８と、高電圧発生部１３、移動機構部１４、読み出し制御部２１、画像データ生成部１５、及びインターフェース１７の各ユニットを制御するシステム制御部１９とを備えている。
【００２２】
Ｘ線管１２は、第１のＸ線検出器２０に対向して例えば寝台１１の上方に配置され、発生したＸ線の被検体Ｐに照射する範囲を制限するＸ線絞り器を備えている。そして、寝台１１上に載置された被検体Ｐに対してＸ線を照射する。
【００２３】
高電圧発生部１３は、Ｘ線管１２に供給する高電圧を発生する高電圧発生器、及びシステム制御部１９から供給されるＸ線照射条件に基づいて高電圧発生器を駆動制御するＸ線制御部を備えている。
【００２４】
移動機構部１４は、例えばＸ線管１２及び第１のＸ線検出器２０を寝台１１の長手方向へ移動する長手移動機構及びＸ線管１２を第１のＸ線検出器２０に対して相対的に寝台１１の方向及びこの方向とは反対方向へ移動する上下移動構等を備えている。
【００２５】
補正処理部５０は、各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２と装置本体１０とを組み合わせたときのキャリブレーションデータを保存したキャリブレーションデータ記憶装置２１０から、第１のＸ線検出器２０を脱着して例えば第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２のいずれかを装置本体１０に取り付けたときに得られる装置本体１０といずれかを組み合わせたときのキャリブレーションデータに基づいて、いずれかで生成されたＸ線投影データを補正する。
【００２６】
画像データ生成部１５は、補正処理部５０から出力されるＸ線投影データに基づいて、画像データを生成する。そして、生成した画像データを表示部１６に出力する。また、表示部１６は、液晶パネルやＣＲＴ等のモニタを備え、画像データ生成部１５で生成された画像データを表示する。
【００２７】
インターフェース１７は、装置本体１０と第１のＸ線検出器２０との組合せにより得られるキャリブレーションデータ、並びにこのキャリブレーションデータを識別する識別情報である第１のＸ線検出器２０を識別する検出器ＩＤａ１及び装置本体１０を識別する装置ＩＤｂ１からなる付帯情報ＩＤ１１を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００２８】
また、通電中のＸ線照射を停止した状態（待機中）において、第１のＸ線検出器２０を脱着した後に装置本体１０に第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２を取り付けることにより、装置本体１０と第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２とを組み合わせたときのキャリブレーションデータを要求するための第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２を識別する検出器ＩＤａ２，ＩＤａ３、及び装置ＩＤｂ１を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００２９】
更に、検出器ＩＤａ２又は検出器ＩＤａ３、及び装置ＩＤｂ１の送信に応じてネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０から返信される第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２と装置本体１０とを組み合わせたときのキャリブレーションデータを受信し、受信したキャリブレーションデータをシステム制御部１９に出力する。
【００３０】
操作部１８は、キーボード、トラックボール、ジョイスティック、マウス、各種スイッチ等の入力デバイスを備えたインターラクティブなインターフェースであり、キャリブレーションを実行させる入力、管電流、管電圧、Ｘ線照射時間等のＸ線照射条件の入力等を行う。
【００３１】
システム制御部１９は、ＣＰＵ及び記憶回路を備え、操作部１８からの入力情報に基づいて、高電圧発生部１３、移動機構部１４、読み出し制御部２１、画像データ生成部１５、及びインターフェース１７の各ユニットを統括して制御する。
【００３２】
また、待機中の装置本体１０から第１のＸ線検出器２０を脱着した後に、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が取り付けられたとき、コネクタを介して第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２から検出器ＩＤａ２又は検出器ＩＤａ３を読み出す。そして、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２と装置本体１０とを組み合わせたときのキャリブレーションデータをキャリブレーションデータ記憶装置２１０から得るために、読み出した検出器ＩＤａ２又は検出器ＩＤａ３、及び装置ＩＤｂ１をインターフェース１７に供給する。この供給に応じてインターフェース１７から出力されるキャリブレーションデータを読み出し制御部２１を介して補正処理部５０に供給する。
【００３３】
第１のＸ線検出器２０は、読み出し制御部２１により制御される。そして、装置本体１０のＸ線管１２から照射され、寝台１１上に載置された被検体Ｐを透過したＸ線を検出して電気信号に変換してＸ線投影データを生成し、生成したＸ線投影データを補正処理部５０に出力する。
【００３４】
キャリブレーションデータ記憶装置２１０は、キャリブレーション毎に各装置本体１０，１１１，１２１からネットワーク２００を介して送信される各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２と各装置本体１０，１１１，１２１とを組み合わせたときのキャリブレーションデータを保存する。また、各装置本体１０，１１１，１２１からの各検出器ＩＤａ１、ＩＤａ２、ＩＤａ３及び各装置本体１０，１１１，１２１を識別する装置ＩＤｂ１，ＩＤｂ２，ＩＤｂ３の送信に応じて、各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２と各装置本体１０，１１１，１２１とを組み合わせたときのキャリブレーションデータを、ネットワーク２００を介して各装置本体１０，１１１，１２１へ返信する。
【００３５】
次に、図２及び図３を参照して、第１のＸ線検出器２０の構成の詳細を説明する。  
図２は、第１のＸ線検出器２０の構成の詳細を示した図である。この第１のＸ線検出器２０は、Ｘ線を電荷に変換して蓄積する複数の画素３１と、各画素３１に蓄積された電荷を読み出すための半導体スイッチであるＴＦＴ（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）３２と、各画素３１に読み出し用の駆動パルスを供給するゲートドライバ３３と、各ＴＦＴ３２とゲートドライバ３３間を接続するゲート線３４とを備えている。
【００３６】
また、第１のＸ線検出器２０は、各画素３１から読み出した電荷を増幅して電圧に変換する積分アンプ３５と、各ＴＦＴ３２と積分アンプ３５間を接続する信号線３６と、積分アンプ３５からの電圧を増幅するアンプ３７と、このアンプ３７からの各画素３１に対応した信号を選択するマルチプレクサ３８と、マルチプレクサ３８からのアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ３９と、積分アンプ３５及びアンプ３７の条件設定を行う動作パラメータ設定部４０とを備えている。
【００３７】
画素３１は、矢印で示した列方向及びライン方向の２次元に配列された多数の素子から構成されている。そして、各素子は入射したＸ線の量に応じて電荷を生成する光電膜、この光電膜に発生した電荷を蓄積する電荷蓄積コンデンサなどから構成され、ＴＦＴ３２のソース端子に接続されている。また、各ＴＦＴ３２のゲート端子及びドレイン端子は、ライン方向及び列方向のライン毎に各ゲート線３４及び各信号線３６に共通接続されている。以下では説明を簡単にするために、画素３１及びＴＦＴ３２が列方向、及びライン方向に３組ずつ配列されている構成について説明する。
【００３８】
ゲートドライバ３３は、読み出し制御部２１により制御され、ゲート線３４のゲート線＃１乃至＃３を介して接続されたＴＦＴ３２毎にＯＮ及びＯＦＦさせるゲート信号を出力する。これにより、各画素３１に蓄積された電荷がＴＦＴ３２のソース端子を通して読み出され、そのＴＦＴ３２のドレイン端子から出力される。
【００３９】
信号線３６は、信号線＃４乃至＃６により構成され、信号線＃４乃至＃６に接続された各列の各ＴＦＴ３２のドレイン端子からの電荷を、積分アンプ３５の各積分アンプ３５ａ乃至３５ｃに通す。
【００４０】
各積分アンプ３５ａ乃至３５ｃは、信号線＃４乃至＃６を介して各列の各ＴＦＴ３２からの電荷を増幅して電圧に変換してアンプ３７の各アンプ３７ａ乃至３７ｃに出力する。また、各アンプ３７ａ乃至３７ｃは、各積分アンプ３５ａ乃至３５ｃの電圧を更に増幅してマルチプレクサ３８に出力する。
【００４１】
マルチプレクサ３８は、アンプ３７により増幅された出力を画素３１単位で選択してＡ／Ｄコンバータ３９に出力し、Ａ／Ｄコンバータ３９は、マルチプレクサ３８からのアナログ信号をデジタル信号に変換して補正処理部５０に出力する。
【００４２】
次に、図１乃至図３を参照して、補正処理部５０の構成の詳細を説明する。  
図３は、補正処理部５０の構成の詳細を示した図である。この補正処理部５０は、第１のＸ線検出器２０から出力されたＸ線投影データのオフセット成分を補正するオフセット補正処理部６０と、オフセット補正処理部６０から出力されたＸ線投影データのゲイン成分を補正するゲイン補正処理部７０と、ゲイン補正処理部７０から出力されたＸ線投影データの欠陥点を補正する欠陥点補正処理部８０とを備えている。
【００４３】
オフセット補正処理部６０は、Ｘ線投影データのオフセット成分を補正するためのオフセット補正係数を算出するオフセット補正係数計算部６１と、オフセット補正係数計算部６１において算出されたオフセット補正係数を保存するオフセット補正係数テーブル６２と、第１のＸ線検出器２０から出力されたＸ線投影データのオフセット成分を補正する加算部６３とを備えている。
【００４４】
そして、オフセット成分には、第１のＸ線検出器２０の各画素３１が有する暗電流、積分アンプ３５及びアンプ３７のオフセットなどがあり、温度により変動する。このため、第１のＸ線検出器２０に依存し、待機中に所定の短い時間間隔で行われるオフセットキャリブレーションにより算出するオフセット補正係数を用いてオフセット成分を補正する。
【００４５】
オフセット補正係数計算部６１は、読み出し制御部２１を介して行われるシステム制御部１９からオフセットキャリブレーション指示により動作し、第１のＸ線検出器２０から出力されるオフセットデータの各画素３１に対応した信号からオフセット補正係数を算出する。なお、待機中に第１のＸ線検出器２０が脱着され、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が取り付けられたとき、コネクタを介して第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２から出力されるオフセットデータの各画素３１に対応した信号からオフセット補正係数を算出する。
【００４６】
オフセット補正係数テーブル６２は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリを備え、オフセット補正係数計算部６１で算出された最新のオフセット補正係数を保存する。
【００４７】
加算部６３は、オフセット補正係数テーブル６２に保存された最新のオフセット補正係数を読み出し、読み出したオフセット補正係数をＸ線管１２からのＸ線照射により第１のＸ線検出器２０により生成されたＸ線投影データから差し引いて、Ｘ線投影データのオフセット成分の補正を行う。
【００４８】
なお、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が取り付けられているとき、オフセット補正係数テーブル６２に保存された最新のオフセット補正係数である第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２のオフセット補正係数を読み出し、読み出したオフセット補正係数をＸ線管１２からのＸ線照射により第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２により生成されたＸ線投影データから差し引いて、Ｘ線投影データのオフセット成分の補正を行う。
【００４９】
ゲイン補正処理部７０は、オフセット補正処理部６０から出力されたＸ線投影データのゲイン成分を補正するためのゲイン補正係数を算出するゲイン補正係数計算部７１と、ゲイン補正係数計算部７１で算出されたゲイン補正係数を保存するゲイン補正係数テーブル７２と、オフセット補正処理部６０から出力されたＸ線投影データのゲイン成分を補正する乗算部７３とを備えている。
【００５０】
そして、ゲイン成分には、Ｘ線管１２から照射されるＸ線の強度分布、第１のＸ線検出器２０の各画素３１の感度のばらつき、各積分アンプ３５ａ乃至３５ｃ及び各アンプ３７ａ乃至３７ｃのゲインのばらつきなどがあり、長期間変動しない。このため、Ｘ線管１２及び第１のＸ線検出器２０に依存し、据付け時や定期点検時に操作部１８からの入力により行われる第１のＸ線検出器２０と組み合わせたときのゲインキャリブレーションにより算出するゲイン補正係数を用いてゲイン成分を補正する。
【００５１】
ゲイン補正係数計算部７１は、読み出し制御部２１を介して行われるシステム制御部１９からのゲインキャリブレーション指示により動作し、Ｘ線管１２からのゲイン用のＸ線照射により、オフセット補正処理部６０でオフセット補正された第１のＸ線検出器２０からのゲインデータの各画素３１に対応した信号強度を所定の基準値に合わせるゲイン補正係数を算出する。
【００５２】
ゲイン補正係数テーブル７２は、不揮発性メモリを備え、ゲイン補正係数計算部７１により算出されたゲイン補正係数を最新の補正係数として保存する。なお、第１のＸ線検出器２０が脱着され、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が待機中の装置本体１０に取り付けられたとき、システム制御部１９から供給される第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２と装置本体１０を組み合わせたときのゲイン補正係数を最新の補正係数として保存する。
【００５３】
乗算部７３は、ゲイン補正係数テーブル７２から最新のゲイン補正係数を読み出し、読み出したゲイン補正係数をＸ線管１２からＸ線照射によりオフセット補正処理部６０からオフセット補正されて出力されたＸ線投影データに乗じて、そのＸ線投影データのゲイン成分を補正する。
【００５４】
なお、第１のＸ線検出器２０が脱着され、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が装置本体１０に取り付けられているとき、ゲイン補正係数テーブル７２に保存された最新のゲイン補正係数である第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２と装置本体１０とを組み合わせたときのゲイン補正係数を用いてゲイン成分を補正する。
【００５５】
欠陥点補正処理部８０は、ゲイン補正処理部７０から出力されたＸ線投影データの欠陥点を補正するための欠陥点位置情報を算出する欠陥点位置計算部８１と、欠陥点位置計算部８１で算出された欠陥点位置情報等を保存する欠陥点位置情報テーブル８２と、ゲイン補正処理部７０から出力されたＸ線投影データの欠陥点を補正する欠陥点補正部８３とを備えている。
【００５６】
そして、欠陥点は第１のＸ線検出器２０の各画素３１に対応し、長期間変動しない。このため、第１のＸ線検出器２０に依存し、例えば据付け時や定期点検時に操作部１８からの入力により行われる第１のＸ線検出器２０と組み合わせたときの欠陥点キャリブレーションにより算出する欠陥点位置情報を用いて欠陥点を補正する。
【００５７】
欠陥点位置計算部８１は、読み出し制御部２１を介して行われるシステム制御部１９からの欠陥点キャリブレーション指示により動作し、Ｘ線管１２からの欠陥点用のＸ線照射により、オフセット補正処理部６０でオフセット補正された後、更にゲイン補正処理部７０でゲイン補正された第１のＸ線検出器２０からの欠陥点データの信号強度が所定範囲から外れた各画素３１に対応する位置を欠陥点位置情報として算出する。
【００５８】
欠陥点位置情報テーブル８２は、不揮発性メモリを備え、欠陥点位置計算部８１で算出された欠陥点位置情報を最新の位置情報として保存する。なお、第１のＸ線検出器２０が脱着され、第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２が待機中の装置本体１０に取り付けられたとき、システム制御部１９から供給される第２又は第３のＸ線検出器１１２，１２２の欠陥点位置情報を最新の位置情報として保存する。
【００５９】
欠陥点補正部８３は、欠陥点位置情報テーブル８２から最新の欠陥点位置情報を読み出し、読み出した欠陥点位置情報に基づいてゲイン補正処理部７０から出力されたＸ線投影データの欠陥点を、例えばこの欠陥点を挟む位置に隣接する複数の画素３１に対応するデータの平均値に置き換えて補正する。
【００６０】
次に、図１及び図４を参照して、キャリブレーションデータ記憶装置２１０の構成の詳細を説明する。  
図４は、キャリブレーションデータ記憶装置２１０の構成の詳細を示した図である。このキャリブレーションデータ記憶装置２１０は、ネットワーク２００を介して、各Ｘ線診断装置１００，１１０，１２０の装置本体１０，１１１，１２１と交信を行うインターフェース２１１と、インターフェース２１１で受信した装置本体１０，１１１，１２１からのキャリブレーションデータを保存するデータ記憶部２１２と、データ記憶部２１２に保存されたキャリブレーションデータの検索を行うデータ検索部２１３とを備えている。
【００６１】
また、各装置本体１０，１１１，１２１から送信されたキャリブレーションデータに基づいて各装置本体１０，１１１，１２１と各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２を組み合わせたときのキャリブレーションにより算出されていないキャリブレーションデータを求める演算部２１４と、インターフェース２１１、データ記憶部２１２、データ検索部２１３、及び演算部２１４の各ユニットを統括して制御する制御部２１５とを備えている。
【００６２】
以下、図１乃至図６を参照して、キャリブレーションデータ保管システム３００の動作の一例を説明する。
【００６３】
図５は、キャリブレーションにより算出されるキャリブレーションデータの一例を示した図である。医療施設にＸ線診断装置１００，１１０，１２０が据付けられると、各装置本体１０，１１１，１２１と各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２とにより９通りの組み合わせによるＸ線撮影を行うことになる。そして、９通りの組み合わせの内、使用頻度の高い装置本体１０と標準型の第１のＸ線検出器２０、装置本体１１１と標準型の第２のＸ線検出器１１２、及び装置本体１２１と標準型の第３のＸ線検出器１２２との３通りの組み合わせによるキャリブレーションを行う。
【００６４】
このキャリブレーションにおいて、装置本体１０は、第１のＸ線検出器２０との組み合わせによりキャリブレーションデータであるオフセット補正係数、ゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１）及び欠陥点位置情報Ｃ１を算出する。次いで、算出したキャリブレーションデータの内、ゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１）及びこの補正係数を識別する識別情報である付帯情報ＩＤ１１、並びに欠陥点位置情報Ｃ１及びこの位置情報を識別する識別情報である検出器ＩＤａ１を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００６５】
また、装置本体１１１は、第２のＸ線検出器１１２との組み合わせによりオフセット補正係数、ゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）及び欠陥点位置情報Ｃ２を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）並びにこの補正係数を識別する第２のＸ線検出器１１２の検出器ＩＤａ２及び装置本体１１１の装置ＩＤｂ２からなる付帯情報ＩＤ２２、並びに欠陥点位置情報Ｃ２及びこの位置情報を識別する検出器ＩＤａ２を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００６６】
更に、装置本体１２１は、第３のＸ線検出器１２２との組み合わせによりオフセット補正係数、ゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ３）及び欠陥点位置情報Ｃ３を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ３）並びにこの補正係数を識別する第３のＸ線検出器１２２の検出器ＩＤａ３及び装置本体１２１の装置ＩＤｂ３からなる付帯情報ＩＤ３３、並びに欠陥点位置情報Ｃ３及びこの位置情報を識別する検出器ＩＤａ３を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００６７】
次に、第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２の内、例えば装置本体１０から脱着して頻度高く取り付けられることが想定される例えば第１のＸ線検出器２０と各装置本体１１１，１２１との２通りの組み合わせによるキャリブレーションを行う。そして、装置本体１１１は、第１のＸ線検出器２０との組み合わせによりオフセット補正係数、ゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ２）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ２）、並びに検出器ＩＤａ１及び装置ＩＤｂ２からなる付帯情報ＩＤ１２を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００６８】
また、装置本体１２１は、第１のＸ線検出器２０との組み合わせによりゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ３）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ３）、並びに検出器ＩＤａ１及び装置ＩＤｂ３からなる付帯情報ＩＤ１３を、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。
【００６９】
キャリブレーションデータ記憶装置２１０のインターフェース２１１は、ネットワーク２００を介して送信される装置本体１０からのゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１）及び付帯情報ＩＤ１１、並びに欠陥点位置情報Ｃ１及び検出器ＩＤａ１を受信する。また、装置本体１１１からのゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）及び付帯情報ＩＤ２２、欠陥点位置情報Ｃ２及び検出器ＩＤａ２、並びにゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ２）及び付帯情報ＩＤ１２を受信する。更に、装置本体１２１からのゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ３）及び付帯情報ＩＤ３３、欠陥点位置情報Ｃ３及び検出器ＩＤａ３、並びにゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ３）及び付帯情報ＩＤ１３を受信する。そして、受信した各キャリブレーションデータ及び識別情報をデータ記憶部２１２及び演算部２１４へ出力する。
【００７０】
データ記憶部２１２は、インターフェース２１１から出力された各キャリブレーションデータ及び識別情報を保存する。また、演算部２１４は、インターフェース２１１から出力された各ゲイン補正係数及び識別情報に基づいて、９通りの内のキャリブレーションが行われていない４通りの組み合わせによるゲイン補正係数を求める。
【００７１】
図６は、キャリブレーションが行われていない組み合わせによるゲイン補正係数を算出する一例を示した図である。演算部２１４では、インターフェース２１１から出力された５個のゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１），（Ａ２・Ｂ２），（Ａ３・Ｂ３），（Ａ１・Ｂ２），（Ａ１・Ｂ３）に基づいて、キャリブレーションが行われていない装置本体１０と各第２及び第３のＸ線検出器１１２，１２２、装置本体１１１と第３のＸ線検出器１２２、並びに装置本体１２１と第２のＸ線検出器１１２を組み合わせたときのゲイン補正係数を求める。
【００７２】
ここで、ゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１）をゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ２）で除してゲイン補正係数（Ｂ１／Ｂ２）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ｂ１／Ｂ２）にゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）を乗ずることにより、装置本体１０と第２のＸ線検出器１１２とを組み合わせたときのゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）を求める。次いで、求めたゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）、並びにこのゲイン補正係数を識別する装置ＩＤｂ１及び検出器ＩＤａ２から成る付帯情報ＩＤ２１をデータ記憶部２１２に保存する。
【００７３】
また、ゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ１）をゲイン補正係数（Ａ１・Ｂ３）で除してゲイン補正係数（Ｂ１／Ｂ３）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ｂ１／Ｂ３）にゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ３）を乗ずることにより、装置本体１０と第３のＸ線検出器１２２とを組み合わせたときのゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ１）を求める。次いで、求めたゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ１）、並びにこのゲイン補正係数を識別する装置ＩＤｂ１及び検出器ＩＤａ３から成る付帯情報ＩＤ３１をデータ記憶部２１２に保存する。
【００７４】
また、ゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）を求めたゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）で除してゲイン補正係数（Ｂ２／Ｂ１）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ｂ２／Ｂ１）に求めたゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ１）を乗ずることにより、装置本体１１１と第３のＸ線検出器１２２とを組み合わせたときのゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ２）を求める。次いで、求めたゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ２）、並びにこのゲイン補正係数を識別する装置ＩＤｂ２及び検出器ＩＤａ３から成る付帯情報ＩＤ３２をデータ記憶部２１２に保存する。
【００７５】
また、ゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ３）を求めたゲイン補正係数（Ａ３・Ｂ２）で除してゲイン補正係数（Ｂ３／Ｂ２）を算出する。次いで、算出したゲイン補正係数（Ｂ３／Ｂ２）にゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ２）を乗ずることにより、装置本体１２１と第２のＸ線検出器１１２とを組み合わせたときのゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ３）を求める。次いで、求めたゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ３）、並びにこのゲイン補正係数を識別する装置ＩＤｂ３及び検出器ＩＤａ２から成る付帯情報ＩＤ２３をデータ記憶部２１２に保存する。
【００７６】
このように、９通りの組み合わせよりも少ない５通りの組み合わせのキャリブレーションにより算出されるゲイン補正係数から、キャリブレーションが行われていない４通りの組み合わせによるゲイン補正係数を求めることができる。なお、Ｘ線診断装置がＮ台である場合、Ｎ台の各装置本体とＮ台の各Ｘ線検出器とにより、（Ｎ×Ｎ）通りの組み合わせが可能となる場合、（２Ｎ−１）通りの組み合わせのキャリブレーションにより算出されるゲイン補正係数から、キャリブレーションが行われていない（Ｎ×Ｎ−２Ｎ＋１）通りの組み合わせによるゲイン補正係数を算出することができる。これにより、ゲイン補正係数を算出するためのゲインキャリブレーションにかかる作業の負担及び時間を低減することができる。
【００７７】
据付け後の検査中において、第１のＸ線検出器２０を脱着して、待機中の装置本体１０に例えば第２のＸ線検出器１１２が取り付けられると、装置本体１０のシステム制御部１９は、第２のＸ線検出器１１２から検出器ＩＤａ２を読み出す。そして、第２のＸ線検出器１１２と装置本体１０との組み合わせたときのキャリブレーションデータを要求する検出器ＩＤａ２及び装置ＩＤｂ１の送信をインターフェース１７に指示する。インターフェース１７は、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０に検出器ＩＤａ２及び装置ＩＤｂ１を送信する。
【００７８】
キャリブレーションデータ記憶装置２１０のインターフェース２１１は、装置本体１０からの検出器ＩＤａ２及び装置ＩＤｂ１を受信してデータ検索部２１３に出力する。データ検索部２１３は、インターフェース２１１から出力された検出器ＩＤａ２及び装置ＩＤｂ１に基づいて、データ記憶部２１２に保存されたキャリブレーションデータの中から、検出器ＩＤａ２を有する最新の欠陥点位置情報Ｃ２、並びに検出器ＩＤａ２及び装置ＩＤｂ１を有する最新のゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）を検索する。そして、検索した欠陥点位置情報Ｃ２及びゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）の各キャリブレーションデータをインターフェース２１１に出力する。インターフェース２１１は、データ検索部２１３からの各キャリブレーションデータを、ネットワーク２００を介して、装置本体１０へ返信する。
【００７９】
装置本体１０のインターフェース１７は、ネットワーク２００を介してキャリブレーションデータ記憶装置２１０から返信された各キャリブレーションデータを受信する。そして、受信した各キャリブレーションデータをシステム制御部１９に出力する。システム制御部１９は、インターフェース１７から出力された各キャリブレーションデータを読み出し制御部２１を介して補正処理部５０に供給する。
【００８０】
補正処理部５０におけるゲイン補正処理部７０のゲイン補正係数テーブル７２は、読み出し制御部２１を介してシステム制御部１９から供給されたゲイン補正係数（Ａ２・Ｂ１）を保存する。また、欠陥点補正処理部８０の欠陥点位置情報テーブル８２は、読み出し制御部２１を介してシステム制御部１９から供給された欠陥点位置情報Ｃ２を保存する。更に、オフセット補正処理部６０は、読み出し制御部２１を介して行われるシステム制御部１９からのオフセットキャリブレーション指示により動作し、第２のＸ線検出器１１２から出力されるオフセットデータからオフセット補正係数を算出し、算出したオフセット補正係数を保存する。
【００８１】
このように、各装置本体１０，１１１，１２１と各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２とを組み合わせたときの各キャリブレーションデータをキャリブレーションデータ記憶装置２１０に保存しておくことにより、装置本体１０に標準型以外の第２のＸ線検出器１１２を取り付けたとき、キャリブレーションデータ記憶装置２１０から装置本体１０と第２のＸ線検出器１１２とを組み合わせたときの各キャリブレーションデータを得ることができる。これにより、第２のＸ線検出器１１２を取り付けたときのキャリブレーションにかかる作業の負担及び時間を低減することができる。
【００８２】
各Ｘ線診断装置１００，１１０，１２０の定期点検のとき、例えば図５で説明した５通りの組み合わせのキャリブレーションを行う。このキャリブレーションにより算出されるゲイン補正係数や欠陥点位置情報の各キャリブレーションデータを、キャリブレーションデータ記憶装置２１０に送信する。キャリブレーションデータ記憶装置２１０のデータ記憶部２１２は、定期点検時のキャリブレーションにより算出された各キャリブレーションデータに更新し、更新した各キャリブレーションデータを最新のキャリブレーションデータとして保存する。
【００８３】
演算部２１４は、定期点検時のキャリブレーションにより算出された５通りの組み合わせのゲイン補正係数に基づいて、図６に示した４通りの組み合わせによるゲイン補正係数を求める。そして、データ記憶部２１２に保存されているキャリブレーションが行われていないゲイン補正係数を求めたゲイン補正係数に更新し、更新したゲイン補正係数を最新のゲイン補正係数として保存する。
【００８４】
以上述べた実施例によれば、各装置本体１０，１１１，１２１と各第１乃至第３のＸ線検出器２０，１１２，１２２とにより９通りの組み合わせを行うことができる。そして、９通りの組み合わせよりも少ない５通りの組み合わせのキャリブレーションにより算出されるゲイン補正係数から、キャリブレーションが行われていない４通りの組み合わせによるゲイン補正係数を求めることができる。これにより、ゲインキャリブレーションにかかる作業の負担及び時間を低減することができる。
【００８５】
そして、キャリブレーションにより算出された各キャリブレーションデータ及びキャリブレーションが行われていない組み合わせによる各キャリブレーションデータをキャリブレーションデータ記憶装置２１０に保存しておくことにより、第１のＸ線検出器２０を脱着して装置本体１０に第２のＸ線検出器１１２を取り付けたとき、キャリブレーションデータ記憶装置２１０から装置本体１０と第２のＸ線検出器１１２とを組み合わせたときの各キャリブレーションデータを得ることができる。これにより、第２のＸ線検出器１１２に置換したときのキャリブレーションにかかる作業の負担及び時間を低減することができる。
【符号の説明】
【００８６】
１０，１１１，１２１  装置本体
１１  寝台
１２  Ｘ線管
１３  高電圧発生部
１４  移動機構部
１５  画像データ生成部
１６  表示部
１７  インターフェース
１８  操作部
１９  システム制御部
２０  第１のＸ線検出器
２１  読み出し制御部
５０  補正処理部
１００，１１０，１２０  Ｘ線診断装置
１１２  第２のＸ線検出器
１２２  第３のＸ線検出器
２００  ネットワーク
２１０  キャリブレーションデータ記憶装置
３００  キャリブレーションデータ保管システム
【図１】
0005592705.tif 000002
【図２】
0005592705.tif 000003
【図３】
0005592705.tif 000004
【図４】
0005592705.tif 000005
【図５】
0005592705.tif 000006
【図６】
0005592705.tif 000007