(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力画像に含まれる線画像の上下左右のエッジ部分とそれぞれマッチングする上エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン、及び右エッジ用パターンを記憶する第１記憶手段と、
前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する検出手段と、
前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する線画像の画素を削除する削除手段とを備え、
各エッジ用パターンは、前記注目画素を交点に設定し、前記注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素と、前記エッジ方向と垂直な方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含み、
前記上エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記下エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であり、前記左エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記右エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なり、
前記上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少なく、
前記上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少ないことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記削除手段により過去に削除された画素の位置を履歴情報として記憶する第２記憶手段を備え、前記検出手段は、前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する際に、前記履歴情報が所定の条件を満たすか否か判断することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記削除手段により削除される画素を、前記注目画素に隣接すると共に前記入力画像に含まれる線画像以外の背景画像の画素で置換する置換手段を備えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第１記憶手段は、前記上エッジ用パターン、前記下エッジ用パターン、前記左エッジ用パターン、及び前記右エッジ用パターンの複数のセットであって、それぞれのセットに含まれる対応するエッジ用パターン同士は形状が異なるものを記憶し、
さらに、前記複数のセットから前記検出手段で使用されるセットを設定する設定手段を備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記入力画像が、意味を有する部分が非印字画素で構成され、意味を有しない部分が印字画素で構成される反転画像である場合に、
前記検出手段は、前記反転画像に含まれる印字画素が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出し、
前記削除手段は、前記反転画像に含まれる印字画素が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する、当該反転画像に含まれる印字画素を削除することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項記載の画像処理装置。
【請求項８】
コンピュータを、
入力画像に含まれる線画像の上下左右のエッジ部分とそれぞれマッチングする上エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン、及び右エッジ用パターンを記憶する第１記憶手段、
前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する検出手段、及び
前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する線画像の画素を削除する削除手段として機能させ、
各エッジ用パターンは、前記注目画素を交点に設定し、前記注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素と、前記エッジ方向と垂直な方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含み、
前記上エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記下エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であり、前記左エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記右エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
プリンタや複合機等の画像形成装置によって形成される文字や円等の線画像は、ポジ（positive）状態では、理想とされる線画像よりも太くなり、ネガ（negative）状態では、理想とされる線画像よりも潰れ気味になる傾向にある。
【０００３】
この問題を解消するために、入力画像のエッジ部をパターンを使って検出し、注目画素のオン／オフを制御する技術が知られている（例えば、特許文献１、２参照）。また、入力画像のエッジ部をパターンを使って検出し、所定の演算又は印字ドットの置換により印字ドットを補正する技術が知られている（例えば、特許文献３、４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平８−３２４０２３号公報
【特許文献２】特開２００２−１６７９７号公報
【特許文献３】特開平５−２６０２９８号公報
【特許文献４】特開２００３−２３０００９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の目的は、入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる画像処理装置及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、請求項１の画像処理装置は、入力画像に含まれる線画像の上下左右のエッジ部分とそれぞれマッチングする上エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン、及び右エッジ用パターンを記憶する第１記憶手段と、前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する検出手段と、前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する線画像の画素を削除する削除手段とを備え、各エッジ用パターンは、前記注目画素を交点に設定し、前記注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素と、前記エッジ方向と垂直な方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含み、前記上エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記下エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であり、前記左エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記右エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であることを特徴とする。
【０００７】
請求項２の画像処理装置は、請求項１に記載の画像処理装置において、前記左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なり、前記上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なることを特徴とする。
【０００８】
請求項３の画像処理装置は、請求項２に記載の画像処理装置において、前記左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少なく、前記上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、前記エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ前記線画像とマッチングされるべき参照画素の数が、前記下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少ないことを特徴とする。
【０００９】
請求項４の画像処理装置は、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置において、前記削除手段により過去に削除された画素の位置を履歴情報として記憶する第２記憶手段を備え、前記検出手段は、前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する際に、前記履歴情報が所定の条件を満たすか否か判断することを特徴とする。
【００１０】
請求項５の画像処理装置は、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置において、前記削除手段により削除される画素を、前記注目画素に隣接すると共に前記入力画像に含まれる線画像以外の背景画像の画素で置換する置換手段を備えることを特徴とする。
【００１１】
請求項６の画像処理装置は、請求項１乃至５のいずれか１項に記載の画像処理装置において、前記第１記憶手段は、前記上エッジ用パターン、前記下エッジ用パターン、前記左エッジ用パターン、及び前記右エッジ用パターンの複数のセットであって、それぞれのセットに含まれる対応するエッジ用パターン同士は形状が異なるものを記憶し、さらに、前記複数のセットから前記検出手段で使用されるセットを設定する設定手段を備えることを特徴とする。
【００１２】
請求項７の画像処理装置は、請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置において、前記入力画像が、意味を有する部分が非印字画素で構成され、意味を有しない部分が印字画素で構成される反転画像である場合に、前記検出手段は、前記反転画像に含まれる印字画素が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出し、前記削除手段は、前記反転画像に含まれる印字画素が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する、当該反転画像に含まれる印字画素を削除することを特徴とする。
【００１３】
請求項８のプログラムは、コンピュータを、入力画像に含まれる線画像の上下左右のエッジ部分とそれぞれマッチングする上エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン、及び右エッジ用パターンを記憶する第１記憶手段、前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致するか否かを検出する検出手段、及び前記入力画像に含まれる線画像が前記第１記憶手段に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンと一致することが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する線画像の画素を削除する削除手段として機能させ、各エッジ用パターンは、前記注目画素を交点に設定し、前記注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素と、前記エッジ方向と垂直な方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含み、前記上エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記下エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であり、前記左エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、前記右エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる。
【００１５】
請求項２の発明によれば、入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる。
【００１６】
請求項３の発明によれば、入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる。
【００１７】
請求項４の発明によれば、必要以上に線画像の幅が削除されることを回避することができる。
【００１８】
請求項５の発明によれば、背景画像と線画像との間に空白部分が生じることを回避することができる。
【００１９】
請求項６の発明によれば、ユーザが所望の幅の線画像を取得することができる。
【００２０】
請求項７の発明によれば、反転画像のつぶれを改善することができる。
【００２１】
請求項８の発明によれば、入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】（Ａ）は、本実施の形態に係る画像処理装置の概略構成を示すブロック図である。（Ｂ）は、画像処理部のハードウエア構成を示すブロック図である。
【図２】画像処理部で実行される処理を示すフローチャートである。
【図３】（Ａ）は、入力画像がポジ（positive）状態である場合の入力画像の一部及びパターンの一例を示す図である。（Ｂ）は、パターンマッチング処理を模式的に示す図である。（Ｃ）は、注目画素を削除した状態を示す図である。（Ｄ）は、注目画素を隣接画素で置き換えた状態を示す図である。
【図４】（Ａ），（Ｂ）は、ラスタライズされた漢字の画像（線画像）を構成する線幅を示す図である。
【図５】（Ａ）は、左エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。（Ｂ）は、右エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。（Ｃ）は、上エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。（Ｄ）は、下エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。
【図６】左エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【図７】上エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【図８】右エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【図９】下エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【図１０】（Ａ）は、図５（Ａ）の左エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。（Ｂ）は、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。（Ｃ）は、図５（Ｃ）の上エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。（Ｄ）は、図５（Ｄ）の下エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。
【図１１】（Ａ）は、図５（Ａ）の左エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。（Ｂ）は、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。（Ｃ）は、図５（Ｃ）の上エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。（Ｄ）は、図５（Ｄ）の下エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。
【図１２】設定画面の一例を示す図である。
【図１３】細線化処理の欄の選択肢と線画像の幅との関係を示す図である。
【図１４】（Ａ）は、ポジ状態の入力画像の線幅と出力画像の線幅との関係を示す図である。（Ｂ）は、ネガ状態の入力画像の線幅と出力画像の線幅との関係を示す図である。
【図１５】（Ａ）は、パターンマッチング処理前のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）の明朝体の漢字の例を示す図である。（Ｂ）は、パターンマッチング処理後のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）の明朝体の漢字の例を示す図である。（Ｃ）は、パターンマッチング処理前のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）のゴシック体の漢字の例を示す図である。（Ｄ）は、パターンマッチング処理後のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）のゴシック体の漢字の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２４】
図１（Ａ）は、本実施の形態に係る画像処理装置の概略構成を示すブロック図である。図１（Ｂ）は、画像処理部のハードウエア構成を示すブロック図である。図２は、画像処理部で実行される処理を示すフローチャートである。
【００２５】
図１（Ａ）の画像処理装置１は、プリンタ、コピー機又は複合機である。画像処理部３は、入力画像２に対して所定の画像処理を実行し、画像処理を実行した入力画像２をプリンタエンジン４を介して出力画像５として出力する。
【００２６】
画像処理部３は、ラスタライズ処理部１１、色変換処理部１２、パターン記憶部１３（第１記憶手段）、履歴情報記憶部１４（第２記憶手段）、データ読出部１５、パターン検出部１６（検出手段）、画素制御部１７（削除手段）、画素置換処理部１８（置換手段）、及びスクリーン処理部１９を備えている。また、図１（Ｂ）に示すように、画像処理部３は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２１、メモリ２２、インタフェース（I／Ｆ）２３、ハードディスクドライブ（HDD）２４及びユーザインタフェース（ＵＩ）２５（設定手段）を備えている。ラスタライズ処理部１１、色変換処理部１２、データ読出部１５、パターン検出部１６、画素制御部１７、画素置換処理部１８及びスクリーン処理部１９は、ＣＰＵ２１により実現される。パターン記憶部１３及び履歴情報記憶部１４は、メモリ２２又はハードディスクドライブ（HDD）２４により実現される。
【００２７】
ラスタライズ処理部１１は入力画像２からラスタデータを生成する（図２のステップＳ１）。色変換処理部１２は、ラスタデータの色変換を実行する（ステップＳ２）。
【００２８】
パターン記憶部１３は、削除の対象となる注目画素が入力画像内のエッジ部分の画像であり且つ注目画素及びその周辺画素がある特定なパターンであることを検出するためのパターンを記憶する。履歴情報記憶部１４は、パターン検出部１６が実行した過去のパターンマッチング処理の結果（即ち、各画素が過去に削除された画素であるかを示す情報）を履歴情報として記憶する。データ読出部１５は、入力画像と対比するパターンをパターン記憶部１３から読み出し、履歴情報を履歴情報記憶部１４から読み出し、読み出したパターン及び履歴情報をパターン検出部１６へ出力する。また、データ読出部１５は、後述するように、パターン記憶部１３に記憶されたパターン群の複数のセットから、ＵＩ２５からの選択情報に応じたセットを読み出し、パターン検出部１６へ出力する。
【００２９】
パターン検出部１６は、入力画像内の注目画素（即ち、削除対象となる画素）がエッジ部分の画像であり、且つ注目画素及びその周辺画素がデータ読出部１５から受信したパターン及び履歴情報に一致（マッチ）するか否かを検出する（ステップＳ３）。
【００３０】
画素制御部１７は、パターン検出部１６によるパターンマッチング処理の結果がＹＥＳである場合に、注目画素を削除する即ち、注目画素を印字対象から除外する（ステップＳ４）。画素制御部１７は、パターン検出部１６によるパターンマッチング処理の結果がＮＯである場合は、処理は後述するステップＳ６に進む。また、画素制御部１７は、過去のパターンマッチング処理の結果（即ち、過去のパターンマッチング処理により削除された画素の位置情報）を履歴情報として履歴情報記憶部１４に出力する。画素置換処理部１８は、注目画素を隣接画素で置き換える（ステップＳ５）。この場合、入力画像がポジ（positive）状態である場合には、隣接画素は、注目画素に隣接する背景画像の画素である。入力画像がネガ（negative）状態の反転画像である場合には、隣接画素は、注目画素に隣接する、意味を有する画像を構成する画素である。ここで、反転画像は、反転文字や反転図形のなどであり、意味を有する部分が非印字画素で構成され、意味を有しない部分が印字画素で構成される画像である。
【００３１】
スクリーン処理部１９は、画素置換処理部１８から出力された画像に対し、色の階調を生成するスクリーン処理を実行し、処理結果をプリンタエンジン４に出力する（ステップＳ６）。
【００３２】
図３（Ａ）は、入力画像がポジ（positive）状態である場合の入力画像の一部及びパターンの一例を示す図である。図３（Ｂ）は、パターンマッチング処理を模式的に示す図である。図３（Ｃ）は、注目画素を削除した状態を示す図である。図３（Ｄ）は、注目画素を隣接画素で置き換えた状態を示す図である。
【００３３】
図３（Ａ）に示すように、入力画像が文字や円などの線画像と背景画像で構成されている場合、パターン検出部１６は、履歴情報を考慮しながら、入力画像と図３（Ａ）で示すパターンとをマッチングする。そして、図３（Ｂ）に示すように、入力画像と図３（Ａ）で示すパターンとがマッチングすると、画素制御部１７は、図３（Ｃ）に示すように、注目画素を削除する。図３（Ｃ）に示すように、注目画素が削除されると、背景画像と線画像との間に空白部分が生じる。このため、画素置換処理部１８は、図３（Ｄ）に示すように、空白部分に、隣接する背景画像の画素を埋める。結果として、画素置換処理部１８は、注目画素を隣接する背景画像の画素で置き換えている。これにより、文字や円等の線画像の太さが改善される。
【００３４】
尚、図３（Ａ）〜（Ｃ）の例では、線画像の左エッジが背景画像の画素に置換されているが、これに限定されるものではない。パターンの種類に応じて、線画像の右エッジ、上エッジ、下エッジが背景画像の画素に置換されてもよい。この場合、画素置換処理部１８は、注目画素を、注目画素に隣接する上下左右の画素のうち、背景画像に対応する画素に置換する。例えば、後述する左エッジ用パターンが使用される場合、画素置換処理部１８は、注目画素を背景画像に対応する左隣の画素に置換する。同様に、後述する右エッジ用パターン、上エッジ用パターン、又は下エッジ用パターンが使用される場合、画素置換処理部１８は、注目画素を背景画像に対応する右隣の画素、上隣の画素、又は下隣の画素にそれぞれ置換する。
【００３５】
図４（Ａ），（Ｂ）は、ラスタライズされた漢字の画像（線画像）を構成する線幅を示す図である。図４（Ａ）は、４ポイント（pt）の明朝体の漢字「響」を示し、図４（Ａ）は、４ポイント（pt）のゴシック体の漢字「響」を示す。尚、図４（Ａ），（Ｂ）の数字は、ドット数を示す。ラスタライズの解像度が１２００dpiであるとき、４ptの明朝体及びゴシック体の漢字は、２〜４ドット（０．１２〜０．２４pt）幅の線で形成されている。
【００３６】
図５（Ａ）は、左エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。図５（Ｂ）は、右エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。図５（Ｃ）は、上エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。図５（Ｄ）は、下エッジ用パターン及び履歴情報の参照位置を示す図である。図５（Ａ）〜（Ｄ）のハッチ部分の画素は、入力画像がポジ（positive）状態であるときに、線画像とマッチングされるべき画素である。
【００３７】
図５（Ａ）〜（Ｄ）の各エッジ用パターンは、矩形の形状を有する。左エッジ用パターン、右エッジ用パターン、上エッジ用パターン、及び下エッジ用パターンは、パターン記憶部１３に記憶されており、それぞれ線画像の左側、右側、上側及び下側の少なくとも１つのエッジを削る際に使用される。また、履歴情報及びその参照位置を示す情報は、履歴情報記憶部１４に記憶されている。
【００３８】
パターン検出部１６は、入力画像を３（行）Ｘ５（列）の左エッジ用パターンで順次走査し、図５（Ａ）の履歴情報の参照位置を参照しながら、パターンマッチング処理を実行する。その後、パターン検出部１６は、入力画像を５（行）Ｘ３（列）の上エッジ用パターンで順次走査し、図５（Ｃ）の履歴情報の参照位置を参照しながら、パターンマッチング処理を実行する。さらに、パターン検出部１６は、入力画像を３（行）Ｘ６（列）の左エッジ用パターンで順次走査し、図５（Ｂ）の履歴情報の参照位置を参照しながら、パターンマッチング処理を実行する。最後に、パターン検出部１６は、入力画像を６（行）Ｘ３（列）の下エッジ用パターンで順次走査し、図５（Ｄ）の履歴情報の参照位置を参照しながら、パターンマッチング処理を実行する。
【００３９】
パターン検出部１６が履歴情報を参照する理由は、画素の２度削除により生じる線画像のかすれや変形をを回避するためである。
【００４０】
図５（Ａ）〜（Ｄ）において、各エッジ用パターンに含まれる各数字は、パターン検出部１６がパターンマッチング処理を実行する際に、チェックすべき画素の条件番号を示す。また、履歴情報の参照位置に含まれる各数字は、チェックすべき画素の条件番号を示すと共にパターン検出部１６がその数字に対応する画素の履歴情報を参照することを示す。また、各エッジ用パターンにおいて、注目画素を除く、条件番号が付与された画素は参照画素である。即ち、参照画素は、注目画素を削除する際にパターン検出部１６により参照される画素である。さらに、削除対象のエッジ列と平行な方向がエッジ方向である。例えば、左エッジパターンでは、入力画像がポジ（positive）状態であるときに、線画像の左エッジ列と平行な方向がエッジ方向である。上エッジパターンでは、入力画像がポジ（positive）状態であるときに、線画像の上エッジ列と平行な方向がエッジ方向である。
【００４１】
図５（Ａ）では、パターン検出部１６は以下の６つの条件を満たすか否かを判断する。
（１）注目画素がＯＮであること（ＯＮは、線画像が存在することを示し、ＯＦＦは線画像が存在しないことを示す）
（２）注目画素の左の画素がＯＦＦであること
（３）注目画素の３画素だけ右方向に離れた画素がＯＮであること
（４）注目画素の上下の画素の少なくとも一方がＯＮであること、又は注目画素の上の画素が過去に削除されていること
（５）注目画素の右の画素がＯＮであること
（６）注目画素の２画素だけ右方向に離れた画素がＯＮであること
上記６つの条件が満たされている場合に、画素制御部１７は注目画素を削除する。
【００４２】
図５（Ｂ）では、パターン検出部１６は以下の８つの条件を満たすか否かを判断する。
（１）注目画素がＯＮであること
（２）注目画素の右の画素がＯＦＦであること
（３）注目画素の右の画素が過去に削除されていないこと
（４）注目画素の４画素だけ左方向に離れた画素がＯＮであること
（５）注目画素の上下の画素の少なくとも一方がＯＮであること、又は注目画素の上の画素が過去に削除されていること
（６）注目画素の左の画素がＯＮであること
（７）注目画素の２画素だけ左方向に離れた画素がＯＮであること
（８）注目画素の３画素だけ左方向に離れた画素がＯＮであること
上記８つの条件が満たされている場合に、画素制御部１７は注目画素を削除する。
【００４３】
図５（Ｃ）では、パターン検出部１６は以下の８つの条件を満たすか否かを判断する。
（１）注目画素がＯＮであること
（２）注目画素の上の画素がＯＦＦであること
（３）注目画素の上の画素が過去に削除されていないこと
（４）注目画素の３画素だけ下方向に離れた画素がＯＮであること
（５）注目画素の左右の画素の少なくとも一方がＯＮであること、又は注目画素の左の画素が過去に削除されていること
（６）注目画素の３画素だけ下方向に離れた画素が過去に削除されていないこと
（７）注目画素の下の画素がＯＮであること
（８）注目画素の２画素だけ下方向に離れた画素がＯＮであること
上記８つの条件が満たされている場合に、画素制御部１７は注目画素を削除する。
【００４４】
図５（Ｄ）では、パターン検出部１６は以下の８つの条件を満たすか否かを判断する。
（１）注目画素がＯＮであること
（２）注目画素の下の画素がＯＦＦであること
（３）注目画素の下の画素が過去に削除されていないこと
（４）注目画素の４画素だけ上方向に離れた画素がＯＮであること
（５）注目画素の左右の画素の少なくとも一方がＯＮであること、又は注目画素の左の画素が過去に削除されていること
（６）注目画素の上の画素がＯＮであること
（７）注目画素の２画素だけ上方向に離れた画素がＯＮであること
（８）注目画素の３画素だけ上方向に離れた画素がＯＮであること
上記８つの条件が満たされている場合に、画素制御部１７は注目画素を削除する。
【００４５】
また、図５（Ａ）〜（Ｄ）の各エッジ用パターンは、注目画素を交点に設定し、注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に注目画素から延びる複数の参照画素と、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含み、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延びる参照画素数がエッジ方向に注目画素から延びる参照画素数よりも多い。
【００４６】
また、図５（Ａ）の左エッジ用パターンの形状は、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンの形状と非対称である。即ち、図５（Ａ）の十字パターンの形状は、図５（Ｂ）の十字パターンの形状と非対称である。同様に、図５（Ｃ）の上エッジ用パターンの形状は、図５（Ｄ）の下エッジ用パターンの形状と非対称である。即ち、図５（Ｃ）の十字パターンの形状は、図５（Ｄ）の十字パターンの形状と非対称である。図５（Ｃ）の上エッジ用パターンは、図５（Ａ）の左エッジ用パターンを９０度時計回りに回転させたエッジ用パターンと同一である。図５（Ｄ）の下エッジ用パターンは、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンを９０度時計回りに回転させたエッジ用パターンと同一である。
【００４７】
このように、左右又は上下のエッジ用パターン（特に十字パターンの形状）が非対称なので、必要以上に線画像の幅が削除されることが回避される。
【００４８】
例えば、線画像の幅が３画素以下である場合、線画像が図５（Ａ）の左エッジ用パターン及び図５（Ｂ）の右エッジ用パターンにマッチすることはないので、線画像の幅が削除されることはない。
【００４９】
線画像の幅が４又は５画素である場合、図５（Ａ）の左エッジ用パターンで線画像の幅方向の１画素が削除される。このとき、線画像の幅は３又は４画素になるので、線画像が図５（Ｂ）の右エッジ用パターンにマッチすることはなく、右エッジ用パターンによって線画像の幅が削除されることはない。従って、必要以上に線画像の幅が削除されることが回避される。
【００５０】
線画像の幅が６画素以上である場合、図５（Ａ）の左エッジ用パターンで線画像の幅方向の１画素が削除される。このとき、線画像の幅は５画素以上になるので、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンで、さらに線画像の１画素が削除される。従って、線画像の幅が６画素以上である場合、線画像の幅方向の２画素が削除される。
【００５１】
このように、左右又は上下のエッジ用パターンの形状（特に十字パターンの形状）が非対称なので、線画像の幅に応じて画素の削除量が変更される。
【００５２】
特に、左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ線画像とマッチングされるべき参照画素（ハッチ部分の参照画素）の数が、右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なるので、必要以上に線画像の幅が削除されることが回避されると共に線画像の幅に応じて画素の削除量が変更される。同様に、上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ線画像とマッチングされるべき参照画素（ハッチ部分の参照画素）の数が、下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数と異なる。尚、異なる参照画素数は１以上でもよい。
【００５３】
より具体的には、左エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ線画像とマッチングされるべき参照画素（ハッチ部分の参照画素）の数が、右エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少ない。同様に、上エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、エッジ方向と垂直な方向に注目画素から延び、且つ線画像とマッチングされるべき参照画素（ハッチ部分の参照画素）の数が、下エッジ用パターンの十字パターンに含まれる、対応する参照画素の数よりも少なくとも１画素少ない。
【００５４】
また、図５（Ａ）〜（Ｄ）のハッチ部分の画素は、入力画像がネガ（negative）状態の反転画像であるときに、意味を有しない部分（即ちトナーが載る画素又は印字画素）であり、図５（Ａ）〜（Ｄ）のハッチ以外の部分の画素が、意味を有する部分（即ちトナーが載らない画素又は非印字画素）である。
【００５５】
入力画像がネガ（negative）状態の反転画像である場合に、図５（Ａ）〜（Ｄ）の各エッジ用パターンを使用して、パターンマッチング処理が実行されると、注目画素が非印字画素に置換される。よって、反転画像のつぶれが改善される。例えば、エッジ方向の線幅が１画素で構成される（即ち、線幅としての非印字画素が１画素で構成される）場合、左エッジ用パターン及び右エッジ用パターンによりエッジ方向の線幅は２画素増加し、合計３画素になる。エッジ方向の線幅が複数画素で構成される場合も、エッジ方向の線幅は２画素増加する。同様に、エッジ方向と垂直方向の線幅が１以上の画素で構成される場合は、上エッジ用パターン及び下エッジ用パターンによりエッジ方向の線幅は２画素増加する。
【００５６】
図６は、左エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【００５７】
まず、パターン検出部１６は、ＣＭＹＫ（シアン、マゼンダ、イエロー、ブラック）の入力画像のうち、Ｋ色（ブラック）の入力画像を左エッジ用パターンで走査し、履歴情報を参照しながらパターンマッチング処理を行う（ステップＳ１１）。このとき、パターン検出部１６は、注目画素を順次シフトしながら、Ｋ色（ブラック）の入力画像の全ての画素（即ち、左上角から右下角までの画素）を左エッジ用パターンで走査する。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が左エッジ用パターン及び履歴情報とマッチすると判断すると（ステップＳ１２でＹＥＳ）、画素制御部１７は、Ｋ色の注目画素の画素値を「０」に設定し（即ち、注目画素を削除する）、Ｋ色の注目画素が削除されたことを示す履歴情報を履歴情報記憶部１４に記憶する（ステップＳ１３）。画素置換処理部１８は、ＣＭＹK色の注目画素を左に隣接する画素で置き換える（ステップＳ１４）。その後、パターン検出部１６が、注目画素を５画素分右方向にシフトする（ステップＳ１５）。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が左エッジ用パターンとマッチしないと判断すると（ステップＳ１２でＮＯ）、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ１６）。
【００５８】
さらに、パターン検出部１６は、注目画素が入力画像の右端部に到達したか否かを判断する（ステップＳ１７）。ステップＳ１７でＹＥＳの場合には、パターン検出部１６は、左エッジ用パターンを入力画像の左端部にシフトし、左エッジ用パターンを１画素下にシフトし（ステップＳ１８）、手順はステップＳ１１に戻る。一方、ステップＳ１７でＮＯの場合には、手順はステップＳ１１に戻る。
【００５９】
図７は、上エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【００６０】
まず、パターン検出部１６は、ＣＭＹＫ（シアン、マゼンダ、イエロー、ブラック）の入力画像のうち、Ｋ色（ブラック）の入力画像を上エッジ用パターンで走査し、履歴情報を参照しながらパターンマッチング処理を行う（ステップＳ２１）。このとき、パターン検出部１６は、注目画素を順次シフトしながら、Ｋ色（ブラック）の入力画像の全ての画素（即ち、左上角から右下角までの画素）を上エッジ用パターンで走査する。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が上エッジ用パターン及び履歴情報とマッチすると判断すると（ステップＳ２２でＹＥＳ）、画素制御部１７は、Ｋ色の注目画素の画素値を「０」に設定し（即ち、注目画素を削除する）、Ｋ色の注目画素が削除されたことを示す履歴情報を履歴情報記憶部１４に記憶する（ステップＳ２３）。画素置換処理部１８は、ＣＭＹＫ色の注目画素を上に隣接する画素で置き換える（ステップＳ２４）。その後、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ２５）。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が上エッジ用パターンとマッチしないと判断すると（ステップＳ２２でＮＯ）、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ２６）。
【００６１】
さらに、パターン検出部１６は、注目画素が入力画像の右端部に到達したか否かを判断する（ステップＳ２７）。ステップＳ２７でＹＥＳの場合には、パターン検出部１６は、上エッジ用パターンを入力画像の左端部にシフトし、上エッジ用パターンを１画素下にシフトし（ステップＳ２８）、手順はステップＳ２１に戻る。一方、ステップＳ２７でＮＯの場合には、手順はステップＳ２１に戻る。
【００６２】
図８は、右エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【００６３】
まず、パターン検出部１６は、ＣＭＹＫ（シアン、マゼンダ、イエロー、ブラック）の入力画像のうち、Ｋ色（ブラック）の入力画像を右エッジ用パターンで走査し、履歴情報を参照しながらパターンマッチング処理を行う（ステップＳ３１）。このとき、パターン検出部１６は、注目画素を順次シフトしながら、Ｋ色（ブラック）の入力画像の全ての画素（即ち、左上角から右下角までの画素）を右エッジ用パターンで走査する。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が右エッジ用パターン及び履歴情報とマッチすると判断すると（ステップＳ３２でＹＥＳ）、画素制御部１７は、Ｋ色の注目画素の画素値を「０」に設定し（即ち、注目画素を削除する）、Ｋ色の注目画素が削除されたことを示す履歴情報を履歴情報記憶部１４に記憶する（ステップＳ３３）。画素置換処理部１８は、ＣＭＹＫ色の注目画素を右に隣接する画素で置き換える（ステップＳ３４）。その後、パターン検出部１６が、注目画素を６画素分右方向にシフトする（ステップＳ３５）。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が右エッジ用パターンとマッチしないと判断すると（ステップＳ３２でＮＯ）、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ３６）。
【００６４】
さらに、パターン検出部１６は、注目画素が入力画像の右端部に到達したか否かを判断する（ステップＳ３７）。ステップＳ３７でＹＥＳの場合には、パターン検出部１６は、右エッジ用パターンを入力画像の左端部にシフトし、右エッジ用パターンを１画素下にシフトし（ステップＳ３８）、手順はステップＳ３１に戻る。一方、ステップＳ３７でＮＯの場合には、手順はステップＳ３１に戻る。
【００６５】
図９は、下エッジ用パターンを使うパターンマッチング処理を示すフローチャートである。
【００６６】
まず、パターン検出部１６は、ＣＭＹＫ（シアン、マゼンダ、イエロー、ブラック）の入力画像のうち、Ｋ色（ブラック）の入力画像を下エッジ用パターンで走査し、履歴情報を参照しながらパターンマッチング処理を行う（ステップＳ４１）。このとき、パターン検出部１６は、注目画素を順次シフトしながら、Ｋ色（ブラック）の入力画像の全ての画素（即ち、左上角から右下角までの画素）を下エッジ用パターンで走査する。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が下エッジ用パターン及び履歴情報とマッチすると判断すると（ステップＳ４２でＹＥＳ）、画素制御部１７は、Ｋ色の注目画素の画素値を「０」に設定し（即ち、注目画素を削除する）、Ｋ色の注目画素が削除されたことを示す履歴情報を履歴情報記憶部１４に記憶する（ステップＳ４３）。画素置換処理部１８は、ＣＭＹＫ色の注目画素を下に隣接する画素で置き換える（ステップＳ４４）。その後、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ４５）。パターン検出部１６が、Ｋ色の入力画像が下エッジ用パターンとマッチしないと判断すると（ステップＳ４２でＮＯ）、パターン検出部１６が、注目画素を１画素分右方向にシフトする（ステップＳ４６）。
【００６７】
さらに、パターン検出部１６は、注目画素が入力画像の右端部に到達したか否かを判断する（ステップＳ４７）。ステップＳ４７でＹＥＳの場合には、パターン検出部１６は、下エッジ用パターンを入力画像の左端部にシフトし、下エッジ用パターンを１画素下にシフトし（ステップＳ４８）、手順はステップＳ４１に戻る。一方、ステップＳ４７でＮＯの場合には、手順はステップＳ４１に戻る。
【００６８】
本実施の形態では、左エッジ用パターン、上エッジ用パターン、右エッジ用パターン及び下エッジ用パターンの順番でパターンマッチング処理が行われるが、これに限定されるものではない。例えば、右エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン及び上エッジ用パターンの順番でパターンマッチング処理が行われてもよい。この場合、パターン検出部１６により実行される判定条件が適宜変更される。
【００６９】
図１０（Ａ）は、図５（Ａ）の左エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。図１０（Ｂ）は、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。図１０（Ｃ）は、図５（Ｃ）の上エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。図１０（Ｄ）は、図５（Ｄ）の下エッジ用パターンの第１の変形例を示す図である。図１１（Ａ）は、図５（Ａ）の左エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。図１１（Ｂ）は、図５（Ｂ）の右エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。図１１（Ｃ）は、図５（Ｃ）の上エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。図１１（Ｄ）は、図５（Ｄ）の下エッジ用パターンの第２の変形例を示す図である。
【００７０】
上述したパターンマッチング処理では、図５（Ａ）〜（Ｄ）に示すような、３（行）Ｘ５（列）の左エッジ用パターン、３（行）Ｘ６（列）の右エッジ用パターン、５（行）Ｘ３（列）の上エッジ用パターン、６（行）Ｘ３（列）の下エッジ用パターンが使用されている。図１０（Ａ）〜（Ｄ）に示すような、３（行）Ｘ４（列）の左エッジ用パターン、３（行）Ｘ５（列）の右エッジ用パターン、４（行）Ｘ３（列）の上エッジ用パターン、５（行）Ｘ３（列）の下エッジ用パターンがパターンマッチング処理で使用されてもよい。また、図１１（Ａ）〜（Ｄ）に示すような、３（行）Ｘ６（列）の左エッジ用パターン、３（行）Ｘ７（列）の右エッジ用パターン、６（行）Ｘ３（列）の上エッジ用パターン、７（行）Ｘ３（列）の下エッジ用パターンがパターンマッチング処理で使用されてもよい。この場合、図１０（Ａ）〜（Ｄ）又は図１１（Ａ）〜（Ｄ）に示すエッジ用パターンはパターン記憶部１３に記憶される。また、このように、エッジ用パターンのサイズを変更することで、線画像の幅は調整可能である。
【００７１】
さらに、パターン記憶部１３は、図５（Ａ）〜（Ｄ）、図１０（Ａ）〜（Ｄ）及び図１１（Ａ）〜（Ｄ）に示す、左エッジ用パターン右エッジ用パターン、上エッジ用パターン及び下エッジ用パターンの複数のセットを記憶してもよい。この場合、ＵＩ２５が図１２に示すような設定画面を表示し、ユーザが細線化処理の欄で、いずれかのエッジ用パターンのセットを選択してもよい。
【００７２】
細線化処理の欄の「しない」は、細線化処理（即ち、パターンマッチング処理）を実行しないことを示す。細線化処理の欄の「弱」は、図１１（Ａ）〜（Ｄ）のエッジ用パターンのセットを使用して細線化処理を実行することを示す。細線化処理の欄の「中」は、図５（Ａ）〜（Ｄ）のエッジ用パターンのセットを使用して細線化処理を実行することを示す。細線化処理の欄の「強」は、図１０（Ａ）〜（Ｄ）のエッジ用パターンのセットを使用して細線化処理を実行することを示す。
【００７３】
ユーザがＵＩ２５でいずれかのエッジ用パターンのセットを選択すると、選択情報がＵＩ２５からデータ読出部１５に通知される。データ読出部１５は、選択情報に従って、パターン記憶部１３からエッジ用パターンのセットを読み出し、パターン検出部１６に送信する。その後、上述したパターンマッチング処理が実行される。
【００７４】
図１３は、細線化処理の欄の選択肢と線画像の幅との関係を示す図である。細線化処理の欄の選択肢に応じて、異なる線幅が得られる。従って、ユーザは、細線化処理の欄内の所望の選択肢を選択することで、所望の幅の線画像を取得する。
【００７５】
図１４（Ａ）は、ポジ状態の入力画像の線幅と出力画像の線幅との関係を示す図である。図１４（Ｂ）は、ネガ状態の入力画像の線幅と出力画像の線幅との関係を示す図である。図１４（Ａ），（Ｂ）では、理想状態（例えば、オフセット印刷の出力画像）の線幅、及びパターンマッチング処理前後の線幅が示されている。
【００７６】
図１４（Ａ）に示すように、パターンマッチング処理前のポジ状態の出力画像の線幅は、理想状態の線幅よりも、全体的に約３０μｍ太い。図１４（Ｂ）に示すように、パターンマッチング処理前のネガ状態の出力画像の線幅は、理想状態の線幅よりも、全体的に約５０μｍ細い。ポジ状態の出力画像の線幅を全体的に細くすると、３ドット以下の線では、擦れが生じ易くなる。ここでは、パターン検出部１６が、図５（Ａ）〜（Ｄ）の各エッジ用パターンを使ってパターンマッチング処理を行い、画素制御部１７が１ドット単位で入力画像（線画像）の画素を削除している。図５（Ａ）〜（Ｄ）では、左右又は上下のエッジ用パターンの形状が非対称なので、線画像の幅に応じて画素の削除量が変更される。
【００７７】
従って、図１４（Ａ）に示すように、入力画像の線幅が３ドット以下であるときに、パターンマッチング処理後のポジ状態の出力画像の線幅は、理想状態の線幅よりも太くなる。そして、入力画像の線幅が４又は５ドットであるときに、パターンマッチング処理後のポジ状態の出力画像の線幅は、理想状態の線幅とほぼ同様になる。入力画像の線幅が６ドット以上であるときに、パターンマッチング処理後のポジ状態の出力画像の線幅は、理想状態の線幅よりも細くなる。
【００７８】
図１４（Ｂ）に示すように、パターンマッチング処理後のネガ状態の出力画像の線幅は、パターンマッチング処理前のネガ状態の出力画像の線幅よりも全体的に２ドット分太くなる。
【００７９】
図１５（Ａ）に、パターンマッチング処理前のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）の明朝体の漢字の例を示す。図１５（Ｂ）に、パターンマッチング処理後のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）の明朝体の漢字の例を示す。図１５（Ｃ）に、パターンマッチング処理前のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）のゴシック体の漢字の例を示す。図１５（Ｄ）に、パターンマッチング処理後のポジ状態及びネガ状態の４ポイント（pt）のゴシック体の漢字の例を示す。
【００８０】
ポジ状態の明朝体及びゴシック体の漢字は、パターンマッチング処理により線幅が細くなっている。ネガ状態の明朝体及びゴシック体の漢字は、パターンマッチング処理により漢字の潰れが軽減されている。
【００８１】
以上説明したように、本実施の形態によれば、画像処理装置１は、入力画像に含まれる線画像の上下左右のエッジ部分とそれぞれマッチングする上エッジ用パターン、下エッジ用パターン、左エッジ用パターン、及び右エッジ用パターンを記憶するパターン記憶部１３と、入力画像に含まれる線画像がパターン記憶部１３に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンとマッチするか否かを検出するパターン検出部１６と、入力画像に含まれる線画像がパターン記憶部１３に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンとマッチすることが検出された場合に、当該エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する線画像の画素を削除する画素制御部１７とを備えている。そして、各エッジ用パターンは、注目画素を交点に設定し、注目画素と、削除対象となる入力画像のエッジ列と平行なエッジ方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素と、エッジ方向と垂直な方向に当該注目画素から延びる複数の参照画素とで構成される十字パターンを含む。さらに、上エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、下エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称であり、左エッジ用パターンに含まれる十字パターンは、右エッジ用パターンに含まれる十字パターンと非対称である。よって、必要以上に線画像の幅が削除されることが回避されると共に入力画像に含まれる線画像を線幅に応じて最適な状態にすることができる。また、線画像の幅が太すぎる場合に、線画像の幅を細くすることができる。尚、最適な状態とは、文字や図形等の線画像にかすれが発生せず、且つ線画像の潰れが発生しない状態である。
【００８２】
また、入力画像が、意味を有する部分が非印字画素で構成され、意味を有しない部分が印字画素で構成される反転画像である場合に、パターン検出部１６が、反転画像に含まれる印字画素がパターン記憶部１３に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンとマッチするか否かを検出し、画素制御部１７が、反転画像に含まれる印字画素がパターン記憶部１３に記憶される少なくとも１つのエッジ用パターンとマッチすることが検出された場合に、各エッジ用パターンに含まれる注目画素に対応する、当該反転画像に含まれる印字画素を削除する。よって、反転画像の非印字画素の幅が拡大され、反転画像のつぶれを改善することができる。
【００８３】
画像処理装置１の機能を実現するためのソフトウェアのプログラムが記録されている記録媒体を、画像処理装置１に供給し、画像処理装置１のＣＰＵ２１が記憶媒体に格納されたプログラムを読み出し実行することによっても、上記実施の形態と同様の効果を奏する。プログラムを供給するための記憶媒体としては、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、又はＳＤカードなどがある。
【００８４】
また、画像処理装置１が、画像処理装置１の機能を実現するためのソフトウェアのプログラムを実行することによっても、上記実施の形態と同様の効果を奏する。
【符号の説明】
【００８５】
１  画像処理装置
３  画像処理部
１１  ラスタライズ処理部
１２  色変換部処理部
１３  パターン記憶部
１４  履歴情報記憶部
１５  データ読出部
１６  パターン検出部
１７  画素制御部
１８  画素置換処理部
１９  スクリーン処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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