(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のキャリア信号をそれぞれ含み互いに異なる複数の周波数帯域を有するアナログ信号をそれぞれ出力する複数のアナログ信号出力部（５２、５３）を有する被測定装置（５０）から被測定信号を入力して測定し、測定結果が規格外であるアナログ信号を出力したアナログ信号出力部を特定可能な測定装置（１０）であって、
前記被測定信号に含まれる波形データを前記周波数帯域ごとにキャプチャする波形キャプチャ手段（１１、１２）と、
前記波形キャプチャ手段がキャプチャした波形データについて所定の測定項目の測定値を前記キャリア信号ごとに求める複数の測定手段（１３〜１７）と、
前記各測定手段が求めた前記測定値の平均値を前記周波数帯域ごとに算出する複数の平均値算出手段（１８、１９）と、
前記平均値算出手段が算出した前記周波数帯域ごとの前記キャリア信号の前記測定値の平均値を測定項目の規格値とともに前記測定項目ごとに表示する表示手段（２０）と、
を備えたことを特徴とする測定装置。
【請求項２】
前記測定手段が求めた前記キャリア信号ごとの測定値のうち最大値及び最小値の少なくとも一方を検出する最大最小値検出手段（３１ａ、３２ａ）をさらに備え、
前記表示手段は、前記最大最小値検出手段が検出した前記最大値及び前記最小値の少なくとも一方を表示するものであることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記表示手段は、前記キャリア信号の前記測定値の平均値とともに、前記キャリア信号ごとの測定値を表示するものであることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項４】
請求項１に記載の測定装置（１０）を用いた測定方法であって、
前記被測定信号に含まれる波形データを前記周波数帯域ごとにキャプチャする波形キャプチャステップ（Ｓ１２、Ｓ１５）と、
前記波形キャプチャステップにおいてキャプチャした波形データについて所定の測定項目の測定値を前記キャリア信号ごとに求める測定ステップ（Ｓ１３、Ｓ１６）と、
前記測定ステップにおいて求めた前記測定値の平均値を前記周波数帯域ごとに算出する平均値算出ステップ（Ｓ１４、Ｓ１７）と、
前記平均値算出ステップにおいて算出した前記周波数帯域ごとの前記キャリア信号の前記測定値の平均値を測定項目の規格値とともに前記測定項目ごとに表示する表示ステップ（Ｓ１８）と、
を含むことを特徴とする測定方法。
【請求項５】
前記表示ステップにおいて、前記キャリア信号の前記測定値の平均値とともに、前記キャリア信号ごとの測定値を表示することを特徴とする請求項４に記載の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の周波数帯域を有する信号を測定する測定装置及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の測定装置としては、特許文献１記載の信号分析装置が知られている。特許文献１記載のものは、第１の周波数範囲に亘る入力信号のパワーを測定する受信部と、測定データを元に周波数軸及び時間軸の２次元座標上にパワーの大きさの変化を認識可能に示したスペクトログラムを表示部に表示させるグラフ生成手段と、第２の周波数範囲と第２の時間範囲とで囲まれたゾーンマーカをスペクトログラム上に表示するゾーンマーカ生成手段と、を備えている。
【０００３】
前述の構成により、特許文献１記載のものは、解析対象とする信号の周波数を一方の座標軸、分析した時間を他方の座標軸とする座標上に各周波数の成分の大きさをパラメータとして３次元状にスペクトログラムを表示し、その表示の中に所望の領域を設定することにより、試験者に解析結果を観察させるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−２５０７１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、被測定信号を出力する被試験デバイス（以下「ＤＵＴ（Device Under Test）」という。）には、例えば図６に示すようなマルチキャリア信号を出力するものがある。図示の例では、マルチキャリア信号は、キャリア信号Ｃ１〜Ｃ３を含む周波数帯域Ａの信号と、キャリア信号Ｃ４及びＣ５を含む周波数帯域Ｂの信号と、を含む。この場合、ＤＵＴは、周波数帯域Ａの信号を生成して出力するアナログ信号出力部と、周波数帯域Ｂの信号を生成して出力するアナログ信号出力部と、を有する。そのため、例えば、この種のＤＵＴの検査工程においては、どのアナログ信号出力部に不具合があるかを特定することが求められる。
【０００６】
しかしながら、従来のものでは、各周波数帯域に複数のキャリア信号が含まれる被測定信号を入力し、キャリア信号ごとに測定を行って、キャリア信号ごとに測定値を表示する構成となっているので、検査工程において、周波数帯域やキャリア信号の数が増えるに従って確認すべき測定値が増大してしまい、規格外の測定値が得られても、どのアナログ信号出力部に不具合があるのかを容易に特定することが困難であるという課題があった。
【０００７】
本発明は、従来の課題を解決するためになされたものであり、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができる測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の請求項１に係る測定装置は、複数のキャリア信号をそれぞれ含み互いに異なる複数の周波数帯域を有するアナログ信号をそれぞれ出力する複数のアナログ信号出力部（５２、５３）を有する被測定装置（５０）から被測定信号を入力して測定し、測定結果が規格外であるアナログ信号を出力したアナログ信号出力部を特定可能な測定装置（１０）であって、前記被測定信号に含まれる波形データを前記周波数帯域ごとにキャプチャする波形キャプチャ手段（１１、１２）と、前記波形キャプチャ手段がキャプチャした波形データについて所定の測定項目の測定値を前記キャリア信号ごとに求める複数の測定手段（１３〜１７）と、前記各測定手段が求めた前記測定値の平均値を前記周波数帯域ごとに算出する複数の平均値算出手段（１８、１９）と、前記平均値算出手段が算出した前記周波数帯域ごとの前記キャリア信号の前記測定値の平均値を測定項目の規格値とともに前記測定項目ごとに表示する表示手段（２０）と、を備えた構成を有している。
【０００９】
この構成により、本発明の請求項１に係る測定装置は、表示手段が、平均値算出手段が算出した周波数帯域ごとのキャリア信号の測定値の平均値を測定項目の規格値とともに測定項目ごとに表示することとなる。その結果、本発明の請求項１に係る測定装置は、周波数帯域やキャリア信号の数が増えたとしても、測定項目ごとの平均値のみを各測定項目の規格値と比較して不具合かどうかを確認すればよいので、不具合が発生しているアナログ信号出力部の特定が容易となる。したがって、本発明の請求項１に係る測定装置は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができる。
【００１０】
本発明の請求項２に係る測定装置は、前記測定手段が求めた前記キャリア信号ごとの測定値のうち最大値及び最小値の少なくとも一方を検出する最大最小値検出手段（３１ａ、３２ａ）をさらに備え、前記表示手段は、前記最大最小値検出手段が検出した前記最大値及び前記最小値の少なくとも一方を表示するものである構成を有している。
【００１１】
この構成により、本発明の請求項２に係る測定装置は、測定値の最大値及び最小値の少なくとも一方を表示するので、測定値が規格内か否かを試験者に容易に判定させることができる。  
本発明の請求項３に係る測定装置は、前記表示手段は、前記キャリア信号の前記測定値の平均値とともに、前記キャリア信号ごとの測定値を表示する構成を有している。 
この構成により、本発明の請求項３に係る測定装置は、キャリア信号の測定値の平均値とともに、キャリア信号ごとの測定値も確認することができる。
【００１２】
本発明の請求項４に係る測定方法は、請求項１に記載の測定装置（１０）を用いた測定方法であって、前記被測定信号に含まれる波形データを前記周波数帯域ごとにキャプチャする波形キャプチャステップ（Ｓ１２、Ｓ１５）と、前記波形キャプチャステップにおいてキャプチャした波形データについて所定の測定項目の測定値を前記キャリア信号ごとに求める測定ステップ（Ｓ１３、Ｓ１６）と、前記各測定手段が求めた前記測定値の平均値を前記周波数帯域ごとに算出する平均値算出ステップ（Ｓ１４、Ｓ１７）と、前記平均値算出ステップにおいて算出した前記周波数帯域ごとの前記キャリア信号の前記測定値の平均値を測定項目の規格値とともに前記測定項目ごとに表示する表示ステップ（Ｓ１８）と、を含む構成を有している。
【００１３】
この構成により、本発明の請求項４に係る測定方法は、表示ステップにおいて、平均値算出ステップで算出した周波数帯域ごとのキャリア信号の測定値の平均値を測定項目の規格値とともに測定項目ごとに表示することとなる。その結果、本発明の請求項４に係る測定方法は、周波数帯域やキャリア信号の数が増えたとしても、測定項目ごとの平均値のみを各測定項目の規格値と比較して不具合かどうかを確認すればよいので、不具合が発生しているアナログ信号出力部の特定が容易となる。したがって、本発明の請求項３に係る測定方法は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができる。  
本発明の請求項５に係る測定方法は、前記表示ステップにおいて、前記キャリア信号の前記測定値の平均値とともに、前記キャリア信号ごとの測定値を表示する構成を有している。 
この構成により、本発明の請求項５に係る測定方法においては、キャリア信号の測定値の平均値とともに、キャリア信号ごとの測定値も確認することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができるという効果を有する測定装置及び測定方法を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明に係る測定装置の第１実施形態におけるブロック構成図である。
【図２】本発明に係る測定装置の第１実施形態におけるフローチャートである。
【図３】本発明に係る測定装置の第１実施形態における表示部が表示する測定結果の一例を示す図である。
【図４】本発明に係る測定装置の第２実施形態におけるブロック構成図である。
【図５】本発明に係る測定装置の第２実施形態における表示部が表示する測定結果の一例を示す図である。
【図６】複数の周波数帯域を有する被測定信号の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
【００１７】
（第１実施形態）
まず、本発明に係る測定装置の第１実施形態における構成について図１に基づき説明する。
【００１８】
図１に示すように、本実施形態における測定装置１０は、ＤＵＴ５０の電気的特性を測定する装置であって、例えばスペクトラムアナライザである。ＤＵＴ５０は、図６に示したような複数の周波数帯域（例えば、８００ＭＨｚ帯域と２ＧＨｚ帯域）を有するマルチキャリア信号を送信する公知の送信装置であり、例えば、３ＧＰＰ（Third Generation Partnership Project）によるＬＴＥ−Ａ（Long Term Evolution-Advanced）と呼ばれる通信規格に従って通信する移動端末基地局の送信装置である。このＤＵＴ５０は、本発明に係る被測定装置に対応する。
【００１９】
ＤＵＴ５０は、デジタル信号処理部５１、アナログ信号出力部５２及び５３を備えている。
【００２０】
デジタル信号処理部５１は、所定の通信規格に従って変調した複数のデジタルのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ５を生成して出力するようになっている。このうち、キャリア信号Ｃ１〜Ｃ３はアナログ信号出力部５２に、キャリア信号Ｃ４及びＣ５はアナログ信号出力部５３に出力される。
【００２１】
アナログ信号出力部５２は、入力したキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３をデジタル値の信号からアナログ値の信号に変換し、図６に示した周波数帯域Ａ（例えば８００ＭＨｚ帯）のＲＦ（Radio Frequency：無線周波数）信号にアップコンバートするようになっている。
【００２２】
アナログ信号出力部５３は、入力したキャリア信号Ｃ４及びＣ５をデジタル値の信号からアナログ値の信号に変換し、図６に示した周波数帯域Ｂ（例えば２ＧＨｚ帯）のＲＦ信号にアップコンバートするようになっている。
【００２３】
本実施形態における測定装置１０は、波形キャプチャ部１１及び１２、測定部１３〜１７、平均値算出部１８及び１９、表示部２０を備えている。測定装置１０は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＲＯＭ（Read Only Memory）と、ＲＡＭ（Random Access Memory）と、各種インタフェースが接続される入出力回路等を備えたマイクロコンピュータを含む。測定装置１０は、ＲＯＭに予め格納された制御プログラムを実行させることにより、マイクロコンピュータを、波形キャプチャ部１１及び１２、測定部１３〜１７、平均値算出部１８及び１９、表示部２０として機能させるようになっている。
【００２４】
波形キャプチャ部１１及び１２は、図示を省略したが、それぞれ、ＤＵＴ５０から入力する周波数帯域Ａ及びＢのＲＦ信号をダウンコンバートするＲＦ処理部、所定周波数のアナログ信号を通過させるアナログフィルタ、アナログ信号をデジタル信号に変換するコンバータ、所定の周波数帯域の信号のみを通過させるデジタルフィルタ、各信号に含まれる波形データをキャプチャする波形メモリ等を備えている。なお、波形キャプチャ部１１及び１２は、本発明に係る波形キャプチャ手段を構成する。
【００２５】
波形キャプチャ部１１は、アナログ信号出力部５２からキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３を含む周波数帯域Ａの信号を入力し、所定周波数の信号にダウンコンバートした後にデジタル信号に変換して波形メモリに格納するようになっている。波形メモリに格納されたキャリア信号Ｃ１は測定部１３に、キャリア信号Ｃ２は測定部１４に、キャリア信号Ｃ３は測定部１５によって読み出される。
【００２６】
波形キャプチャ部１２は、アナログ信号出力部５３からキャリア信号Ｃ４及びＣ５を含む周波数帯域Ｂの信号を入力し、所定周波数の信号にダウンコンバートした後にデジタル信号に変換して波形メモリに格納するようになっている。波形メモリに格納されたキャリア信号Ｃ４は測定部１６に、キャリア信号Ｃ５は測定部１７によって読み出される。
【００２７】
測定部１３〜１５は、それぞれ、周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３について所定の測定を行うようになっている。測定部１６及び１７は、それぞれ、周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５について所定の測定を行うようになっている。例えば、測定部１３〜１７は、変調解析や占有帯域幅、隣接チャネル漏洩電力比、不要放射等の測定を行うものである。なお、測定部１３〜１７は、本発明に係る測定手段を構成する。
【００２８】
平均値算出部１８は、測定部１３〜１５が周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３についてそれぞれ測定した測定値の平均値を測定項目ごとに算出するようになっている。この平均値算出部１８は、本発明に係る平均値算出手段を構成する。
【００２９】
平均値算出部１９は、測定部１６及び１７が周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５についてそれぞれ測定した測定値の平均値を測定項目ごとに算出するようになっている。この平均値算出部１９は、本発明に係る平均値算出手段を構成する。
【００３０】
表示部２０は、平均値算出部１８及び１９から平均値のデータを受け取り、平均値のデータを測定項目ごとに画面に表示するようになっている。この表示部２０は、本発明に係る表示手段を構成する。なお、表示部２０は、キャリア信号ごとの測定値も表示するのが好ましい。
【００３１】
次に、本実施形態における測定装置１０の動作について図２に示すフローチャートを中心に説明する。
【００３２】
測定装置１０は、ＤＵＴ５０から互いに異なる複数の周波数帯域を有するマルチキャリア信号を入力する（ステップＳ１１）。このマルチキャリア信号は、図６に示したように、周波数帯域Ａ（例えば８００ＭＨｚ）と、周波数帯域Ｂ（例えば２ＧＨｚ）の信号を含む。周波数帯域Ａは、キャリア信号Ｃ１〜Ｃ３を含む。周波数帯域Ｂは、キャリア信号Ｃ４及びＣ５を含む。
【００３３】
波形キャプチャ部１１は、入力したマルチキャリア信号を所定周波数の信号にダウンコンバートした後にデジタル信号に変換して波形メモリに格納することにより、周波数帯域Ａ（ＦＡ）の波形データをキャプチャする（ステップＳ１２）。
【００３４】
測定部１３〜１５は、それぞれ、波形キャプチャ部１１がキャプチャした波形データを読み出して、周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３について所定の測定を行う（ステップＳ１３）。
【００３５】
平均値算出部１８は、測定部１３〜１５が周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３についてそれぞれ測定した測定値の平均値を測定項目ごとに算出する（ステップＳ１４）。
【００３６】
波形キャプチャ部１２は、入力したマルチキャリア信号を所定周波数の信号にダウンコンバートした後にデジタル信号に変換して波形メモリに格納することにより、周波数帯域Ｂ（ＦＢ）の波形データをキャプチャする（ステップＳ１５）。
【００３７】
測定部１６及び１７は、それぞれ、周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５について所定の測定を行う（ステップＳ１６）。
【００３８】
平均値算出部１９は、測定部１６及び１７が周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５についてそれぞれ測定した測定値の平均値を測定項目ごとに算出する（ステップＳ１７）。
【００３９】
表示部２０は、平均値算出部１８及び１９から平均値のデータを受け取り、平均値のデータを測定項目ごとに画面に表示する（ステップＳ１８）。なお、表示部２０は、平均値のデータとともに、キャリア信号ごとの測定値のデータも表示してもよい。
【００４０】
図３は、例えばＤＵＴ５０の出荷検査において、表示部２０が画面に表示する測定結果の表示例を示している。
【００４１】
図３において、「Ｂａｎｄ」は周波数帯域、「Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｓｉｓ」は変調解析、「ＯＢＷ」は占有帯域幅、「ＡＣＬＲ」は隣接チャネル漏洩電力比、「ＯＢ  Ｕｎｗａｎｔｅｄ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ」は運用周波数帯域での不要発射を示している。また、「Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  Ａｎａｌｙｓｉｓ」において、「Ｆｒｅｑ．  Ｅｒｒｏｒ」は周波数誤差、「ＰＤＳＣＨ  ＥＶＭ」はダウンリンクの物理層チャネルでのベクトル誤差、「Ｂａｎｄ  Ｐｏｗｅｒ」は周波数帯域電力、「ＲＳ  Ｐｏｗｅｒ」は基準シンボル電力、「ＯＳＴＰ」はＯＦＤＭ（Orthogonal Frequency Division Multiplexing：直交周波数分割多重）シンボルの受信電力を示している。
【００４２】
図３（ａ）は、表示部２０が、周波数帯域Ａ及びＢにおける各測定項目の平均値を表示した例を示している。周波数帯域Ａでの各平均値は、平均値算出部１８によって算出されたものである。周波数帯域Ｂでの各平均値は、平均値算出部１９によって算出されたものである。
【００４３】
図３（ｂ）は、表示部２０が、キャリア信号Ｃ１〜Ｃ５について、測定結果をキャリア信号ごとに表示した例であって、説明を簡単にするため変調解析における測定値のみ示している。すなわち、図３（ｂ）は、［発明が解決しようとする課題］欄で述べたように、キャリア信号ごとに測定値を表示した例である。この例では、周波数帯域Ｂで周波数誤差（Ｆｒｅｑ．  Ｅｒｒｏｒ）について規格外の測定値１５．６及び１５．４が発生したものとしている。
【００４４】
しかしながら、図３（ｂ）に示したような測定結果を試験者がキャリア信号ごとに規格値と比較して、周波数帯域Ａ及びＢのいずれの測定値に異常があるのかを特定するのは容易ではない。すなわち、図３（ｂ）の結果表示では、アナログ信号出力部５２及び５３のいずれに不具合があるかを特定するのは困難である。特に、周波数帯域やキャリア信号の数が増えるに従って確認すべき測定値が増大するので、不具合箇所の特定が困難となる。
【００４５】
これに対し、例えばアナログ信号出力部５３の周波数誤差に関連する部分に不具合がある場合は、周波数帯域Ｂの信号を測定する測定部１６及び１７の測定値がともに異常となるので、図３（ａ）に示したように、測定装置１０は、測定値の平均値を求めて表示部２０に表示することにより、平均値と規格値との比較ですむこととなり、アナログ信号出力部５２及び５３のいずれに不具合があるかを試験者に容易に特定させることができる。
【００４６】
以上のように、本実施形態における測定装置１０は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができる。
【００４７】
なお、前述の実施形態において、測定装置１０が測定するマルチキャリア信号には２つの周波数帯域の信号が含まれる例を挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、３つ以上の周波数帯域の信号を含むマルチキャリア信号を測定する場合でも同様の効果が得られる。例えば、５つの周波数帯域の信号を含むマルチキャリア信号を測定する場合は、測定装置１０は、波形キャプチャ部から平均値算出部までの構成が５系統となる。
【００４８】
（第２実施形態）
図４に示すように、本実施形態における測定装置３０は、第１実施形態における測定装置１０（図１参照）の一部を変更したものである。したがって、第１実施形態と同様な構成には同一の符号を付してその説明を省略する。なお、図４では、図１に示したＤＵＴ５０の図示は省略している。
【００４９】
測定装置３０は、周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３について所定の測定を行う測定部１３〜１５の測定結果に対して演算する演算部３１と、周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５について所定の測定を行う測定部１６及び１７の測定結果に対して演算する演算部３２と、を備えている。
【００５０】
演算部３１は、平均値算出部１８と、測定部１３〜１５が周波数帯域Ａのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３についてそれぞれ測定した測定値の最悪値を測定項目ごとに検出する最悪値検出部３１ａと、を備えている。ここで、最悪値とは、キャリア信号ごとの測定値のうち最大値及び最小値の少なくとも一方をいう。この最悪値検出部３１ａは、本発明に係る最大最小値検出手段を構成する。
【００５１】
演算部３２は、平均値算出部１９と、測定部１６及び１７が周波数帯域Ｂのキャリア信号Ｃ４及びＣ５についてそれぞれ測定した測定値の最悪値を測定項目ごとに検出する最悪値検出部３２ａと、を備えている。この最悪値検出部３２ａは、本発明に係る最大最小値検出手段を構成する。
【００５２】
表示部２０は、演算部３１及び３２から平均値、最悪値のデータを入力し、各測定値とともに、測定値の平均値及び最悪値を画面に表示するようになっている。例えば、表示部２０は、図５に示すように測定結果を表示する。なお、図５では、説明を簡単にするため、変調解析に関する測定結果のみを示している。
【００５３】
図５（ａ）において、「Ｗｏｒｓｔ  ｍｉｎ／ｍａｘ」欄は、キャリア信号ごとの測定結果のうちの最悪値を表示する最悪値表示欄であり、最小値（ｍｉｎ）及び最大値（ｍａｘ）が表示される。例えば、図５（ｂ）に示したキャリアごとの測定結果において、周波数帯域Ａでのキャリア信号Ｃ１〜Ｃ３の周波数誤差（Ｆｒｅｑ．  Ｅｒｒｏｒ）においては、キャリア信号Ｃ２の１４．８［ＭＨｚ］が最小値、キャリア信号Ｃ３の１５．０［ＭＨｚ］が最大値である。この場合、図５（ａ）に示した周波数誤差の最悪値表示欄には、１４．８／１５．０と表示される。この最悪値は、測定項目ごとに表示する構成とするのが好ましい。また、各測定項目の規格値も測定項目ごとに表示する構成とするのが好ましい。
【００５４】
前述のように、本実施形態における測定装置３０は、表示部２０が、測定値の平均値に加えて最悪値を周波数帯域ごとに表示することにより、アナログ信号出力部５２及び５３のいずれに不具合があるかを試験者に容易に特定させることができるとともに、測定値の最悪値が規格内にあるか否かを試験者に容易に提示することができる。
【００５５】
したがって、本実施形態における測定装置３０は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
以上のように、本発明に係る測定装置及び測定方法は、複数のキャリア信号を発生して出力する複数のアナログ信号出力部を備えたＤＵＴの測定において、不具合が発生しているアナログ信号出力部を容易に特定することができるという効果を有し、複数の周波数帯域を有する信号を測定する測定装置及び測定方法として有用である。
【符号の説明】
【００５７】
１０、３０  測定装置
１１、１２  波形キャプチャ部（波形キャプチャ手段）
１３〜１７  測定部（測定手段）
１８、１９  平均値算出部（平均値算出手段）
２０  表示部（表示手段）
３１、３２  演算部
３１ａ、３２ａ  最悪値検出部（最大最小値検出手段）
５０  ＤＵＴ（被測定装置）
５１  デジタル信号処理部
５２、５３  アナログ信号出力部
【図１】
0005600721.tif 000002
【図２】
0005600721.tif 000003
【図３】
0005600721.tif 000004
【図４】
0005600721.tif 000005
【図５】
0005600721.tif 000006
【図６】
0005600721.tif 000007