(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタルのベースバンド信号を生成するＢＢ信号生成部（２３）と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部（２４）と、このレベル制御されたベースバンド信号をＤ／Ａ変換するとともにＲＦ信号に周波数変換する周波数変換部（２５）と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記ＲＦ信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ（２６）とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末（２）に送出する擬似基地局装置（２０）と、
前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置（１０）とを有する試験システムであって、
前記全体制御装置は、
前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部（１３）と、
前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部（１４）とを備え、
前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする試験システム。
【請求項２】
前記レベル対応情報記憶部は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、
前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項１の試験システム。
【請求項３】
前記全体制御装置は、
前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部（１１）と、
前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記擬似基地局装置を制御するシナリオ処理部（１２）とを備え、
前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記１つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、
前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記擬似基地局装置を制御することを特徴とする請求項１乃至２の試験システム。
【請求項４】
デジタルのベースバンド信号を生成するＢＢ信号生成部（２３）と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部（２４）と、このレベル制御されたベースバンド信号をＤ／Ａ変換するとともにＲＦ信号に周波数変換する周波数変換部（２５）と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記ＲＦ信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ（２６）とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末（２）に送出する擬似基地局装置（２０）と、
前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置（１０）とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、
前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、
前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、
前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、
前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする試験方法。
【請求項５】
前記レベル対応情報記憶段階は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、
前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されることを特徴とする請求項４の試験方法。
【請求項６】
前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、
前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、
前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、
前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、
前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うことを特徴とする請求項４乃至５の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象の移動体通信端末に、ＲＦの試験信号をレベルを変化させて入力することにより、この移動体通信端末の試験を行う試験システム及び試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｗ−ＣＤＭＡ（Wideband Code Division Multiple Access）やＬＴＥ（Long Term Evolution）といった通信方式で通信を行う移動体通信端末に対して、通信が正常に行えることを試験するための試験システムが知られている。（例えば、特許文献１）
図５に、従来の試験システムの一例を示す。試験システム１００は、移動体通信端末２のアンテナ端子と同軸ケーブル９０で接続され、この同軸ケーブル９０を介して、ＲＦの試験信号を移動体通信端末２に入力するとともに、移動体通信端末２からのＲＦ信号を受けて、このＲＦ信号を解析したり、このＲＦ信号を復調及び復号して得られる通信データを解析したりして、移動体通信端末２の試験を行う。この試験システム１００は、全体制御装置１１０、擬似基地局装置１２０、信号解析装置４０、信号発生装置５０、結合器６０、分配器７０を含んで構成されている。
【０００３】
全体制御装置１１０は、擬似基地局装置１２０、信号解析装置４０、信号発生装置５０とＧＰ−ＩＢまたはイーサネット（登録商標）により接続されており、これらの装置をリモート制御し、各装置に対して、試験に必要な設定を行い、動作の開始や終了を指示する。また、信号や通信データの解析結果を各装置から収集して表示する。
【０００４】
擬似基地局装置１２０は、実際の基地局の動作を模擬し、所定の通信方式で移動体通信端末２と通信を行う。以下、擬似基地局装置１２０を構成する各部について説明する。送信部２２は、移動体通信端末２に送信するためのＲＦ信号を出力する。受信部２８は、移動体通信端末２からのＲＦ信号を受信し、ベースバンド信号に周波数変換して復調する。方向性結合器２７は、送信部２２からのＲＦ信号を受けて、試験システム１００内のＲＦ信号経路８０に出力するとともに、移動体通信端末２が出力したＲＦ信号をこのRF信号経路８０から受けて、受信部２８に出力する。通信データ処理部２９は、受信部２８が復調した受信データを受けて処理するとともに、移動体通信端末２に送信すべき送信データを送信部２２に出力する。擬似基地局制御部１２１は、全体制御装置１１０からの指示に基づき、擬似基地局装置１２０内の各部を制御するとともに、移動体通信端末２との通信結果を通信データ処理部２９から受けて、全体制御装置１１０に送出する。
【０００５】
さらに、送信部２２の構成について説明する。ＢＢ信号生成部２３は、通信データ処理部２９から出力される送信データに基づいて、デジタルのＩＱのベースバンド信号を生成する。レベル制御部２４は、このベースバンド信号のレベルを制御する。レベル制御部２４は、−１０ｄＢｍから−４０ｄＢｍの範囲で、０．１ｄＢステップでデジタルのＩＱのベースバンド信号のレベルを制御可能である。レベル制御部２４は、デジタルのＩＱのベースバンド信号のデータに、所望のレベルに対応した定数を乗算することにより、このレベルの制御を実現している。周波数変換部２５は、レベル制御されたデジタルのＩＱのベースバンド信号をＤ／Ａ変換して直交変調するとともに、ＲＦ信号に周波数変換する。ＡＴＴ２６は、０ｄＢから１００ｄＢの範囲で５ｄＢステップで減衰量を可変するステップアッテネータであり、設定された減衰量分、ＲＦ信号を減衰して出力する。ＡＴＴ２６は、例えば、５ｄＢ、１０ｄＢ、２０Ｂ、４０ｄＢといった減衰量の異なる複数の固定抵抗を、個別に切り替えて組み合わせることにより、所望の減衰量が得られるようになっている。
【０００６】
ここで、レベル制御部２４は、細かなステップで高速にレベル制御が可能であるが、レベル可変範囲が狭い特性となっている。対して、ＡＴＴ２６は、減衰量のステップが粗く、減衰量の切替に時間がかかるが、減衰量の可変範囲が広い特性となっている。送信部２２は、レベル制御部２４とＡＴＴ２６とを組み合わせて制御することにより、ＲＦ信号のレベルを制御している。なお、擬似基地局制御部１２１は、全体制御装置１１０からＲＦ信号の送信レベルや周波数の指示を受けて、レベル制御部２４に対するレベルの設定、周波数変換部２５に対する周波数の設定、ＡＴＴ２６に対する減衰量の設定を行っている。
【０００７】
信号解析装置４０は、分配器７０を介して移動体通信端末２からのＲＦ信号を受けて、このＲＦ信号のレベルや周波数特性を解析する。信号解析装置４０を用いて行う試験としては、例えば隣接チャネル漏洩電力比測定（Adjacent Channel Leakage Ratio : ACLR）がある。
【０００８】
信号発生装置５０は、例えば、妨害波を含むＲＦ信号を移動体通信端末２に入力し、移動体通信端末２が正常に受信可能か否かの試験を行う場合に用いられる。この場合、信号発生装置５０は、所定のレベル及び所定の周波数の妨害波の信号を出力する。
【０００９】
結合器６０は、擬似基地局装置１２０からのＲＦ信号と信号発生器５０からの信号とを結合して、移動体通信端末２に向けて出力するとともに、移動体通信端末２からのＲＦ信号を擬似基地局装置１２０に向けて出力する。また、分配器７０は、擬似基地局装置１２０からのＲＦ信号を移動体通信端末２に向けて出力するとともに、移動体通信端末２からのＲＦ信号を擬似基地局装置１２０と信号解析装置４０とに分配して出力する。
【００１０】
擬似基地局装置１２０から同軸ケーブル９０までのＲＦ信号経路８０には、不図示のフィルタや経路切替スイッチが備えられている。フィルタは、精度の高い試験を行うために、ＲＦ信号から試験に関係のない不要な周波数成分を除去するのに用いられ、複数種類のフィルタが選択可能にされている。また、経路切替スイッチは、このフィルタの選択を行ったり、擬似基地局装置１２０や移動体通信端末２からのＲＦ信号が、結合器６０、分配器７０を経由するかしないかを切り替えている。経路切替スイッチは、試験項目や試験条件に適合したＲＦ信号経路８０を構成するように、全体制御装置１１０から制御される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０１１−６１７４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
試験項目の１つとして、擬似基地局装置１２０から移動体通信端末２に入力するＲＦの試験信号のレベルを、所定のステップ（例えば１ｄＢ）ずつ変化させ、移動体通信端末２が正常に受信を継続できるか否かを試験するものがある。図６（Ａ）は、このような移動体通信端末２の受信特性試験における試験信号レベルの時間変化をグラフに示したものである。擬似基地局装置１２０から出力される試験信号は、グラフに実線で示すように、最大値Ａから最小値Ｂまで、レベルを所定ステップずつ下げていくようになっている。あるいは逆に、グラフに点線で示すように、最小値Ｂから最大値Ａまで、レベルを所定ステップずつ上げていくようになっている。
【００１３】
しかしながら、このようにレベルを変化させている途中で、擬似基地局装置１２０のＡＴＴ２６の減衰量の切替が発生すると、図６（Ｂ）に示すように、ＡＴＴ２６の切替時間の分だけ、試験時間が余分にかかってしまう。これは、前述のように、レベル制御部２４によるレベル制御が高速であるのに対し、ＡＴＴ２６の減衰量の切替は時間がかかるためである。
【００１４】
本発明は、以上のような課題に対し、移動体通信端末の試験を短時間で行うために、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることなく、レベルが変化するＲＦの試験信号を試験対象の移動体通信端末に入力する試験を行うようにした試験システム及び試験方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上述の目的を達成するために、本発明の試験システムは、デジタルのベースバンド信号を生成するＢＢ信号生成部（２３）と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部（２４）と、このレベル制御されたベースバンド信号をＤ／Ａ変換するとともにＲＦ信号に周波数変換する周波数変換部（２５）と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記ＲＦ信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ（２６）とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末（２）に送出する擬似基地局装置（２０）と、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行うために、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置（１０）とを有する試験システムであって、前記全体制御装置は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を予め記憶するレベル対応情報記憶部（１３）と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択するレベル設定部（１４）とを備え、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定したのち、前記レベル制御部を制御して前記試験信号のレベルを変化させて、前記試験を行うことを特徴とする。
また、本発明の試験システムは、前記レベル対応情報記憶部は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出される構成であってもよい。
また、本発明の試験システムは、前記全体制御装置は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶部（１１）と、前記シナリオ記憶部から読み出した前記シナリオに従って、前記擬似基地局装置を制御するシナリオ処理部（１２）とを備え、前記レベル設定部は、前記シナリオ処理部が読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、この検出した試験信号レベルの最大値及び最小値に基づいて前記１つの減衰量を選択し、この選択した減衰量における、前記抽出した試験信号のレベルに関する情報に対応して前記レベル制御部を制御するための定数を決定し、この定数と前記選択した減衰量との組合せの情報を前記シナリオ処理部に送出し、前記シナリオ処理部は、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を前記レベル設定部から受けた前記組合せの情報に置き換えて、前記擬似基地局装置を制御する構成であってもよい。
また、本発明の試験方法は、デジタルのベースバンド信号を生成するＢＢ信号生成部（２３）と、このベースバンド信号のレベルを所定のレベル範囲で制御するレベル制御部（２４）と、このレベル制御されたベースバンド信号をＤ／Ａ変換するとともにＲＦ信号に周波数変換する周波数変換部（２５）と、複数の減衰量を設定可能にされ、前記ＲＦ信号を設定の減衰量分減衰して試験信号として出力するステップアッテネータ（２６）とを備え、前記レベル制御部及び前記ステップアッテネータによりレベルが制御された前記試験信号を試験対象の移動体通信端末（２）に送出する擬似基地局装置（２０）と、前記擬似基地局装置を制御する全体制御装置（１０）とを用いて、前記試験信号のレベルを変化させて前記移動体通信端末に送出する試験を行う試験方法であって、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、当該レベル範囲及び当該減衰量に基づいて導出される前記試験信号のレベル可変範囲とが、前記ステップアッテネータのそれぞれの減衰量毎に対応付けられたレベル対応情報を記憶するレベル対応情報記憶段階と、前記レベル対応情報を参照して、前記試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含む前記レベル可変範囲に対応した減衰量を選択する減衰量選択段階と、前記選択された減衰量のみを前記ステップアッテネータの減衰量として設定した場合に、前記レベル制御部を制御するための定数を決定する定数決定段階と、前記決定された定数及び前記選択された減衰量によってレベルが制御された前記試験信号を前記移動体通信端末に送出して前記試験を行う試験実行段階とを備えたことを特徴とする。
また、本発明の試験方法は、前記レベル対応情報記憶段階は、前記擬似基地局装置から前記移動体通信端末に至る経路の損失である経路ロスを記憶し、前記レベル可変範囲は、前記レベル制御部が制御可能なレベル範囲と、前記ステップアッテネータの減衰量と、前記経路ロスとに基づいて導出されるようになっていてもよい。
また、本発明の試験方法は、前記試験を行うために、前記試験信号のレベルに関する情報を含む前記擬似基地局装置の制御情報と前記擬似基地局装置が前記移動体通信端末と通信する通信メッセージとが時系列のシーケンスとして記憶されたシナリオを記憶するシナリオ記憶段階と、前記記憶したシナリオを読み出すシナリオ読出段階と、前記減衰量選択段階を行うために、前記読み出したシナリオから前記試験信号のレベルに関する情報を抽出して試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する検出段階と、前記読み出したシナリオの前記試験信号のレベルに関する情報を、前記決定された定数及び前記選択された減衰量の情報に置き換える置換段階とを備え、前記試験実行段階は、前記置換段階で情報が置き換えられたシナリオに従って前記試験を行うようになっていてもよい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の試験システム及び試験方法は、試験における試験信号のレベルの最大値及び最小値を含むレベル可変範囲に対応した減衰量のみをステップアッテネータの減衰量として設定し、レベル制御部を制御して試験信号のレベルを変化させて、試験を行う構成としている。このため、レベルが変化するＲＦの試験信号を移動体通信端末に入力する試験を行う際に、時間のかかるステップアッテネータの減衰量の切替をすることがなくなり、移動体通信端末の試験を短時間で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施形態のブロック図
【図２】所定の試験項目におけるシナリオの例
【図３】所定の試験項目におけるレベル対応情報の例
【図４】本発明の実施形態のフローチャート
【図５】従来の試験システムのブロック図
【図６】試験信号のレベルの時間変化を示すグラフ
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１は、本発明の試験システム１の構成を示している。試験システム１は、全体制御装置１０、擬似基地局装置２０、信号解析装置４０、信号発生装置５０、結合器６０、分配器７０を含んで構成されている。なお、図５に示した従来の試験システム１００と同一の構成のものには同一の付番を付し、適宜、説明を省略する。
【００１９】
全体制御装置１０は、試験システム１内の各装置とＧＰ−ＩＢまたはイーサネット（登録商標）により接続されており、これらの装置をリモート制御し、各装置に対して、試験に必要な設定を行い、動作の開始や終了を指示する。また、信号や通信データの解析結果を各装置から収集して表示する。全体制御装置１０は、シナリオ記憶部１１、シナリオ処理部１２、レベル対応情報記憶部１３、レベル設定部１４を含んで構成されている。
【００２０】
シナリオ記憶部１１は、試験項目毎に異なるシナリオを記憶している。試験項目は、移動体通信端末が採用する通信方式の試験規格として定められていたり、移動体通信端末のメーカが独自に定めていたりするものである。シナリオとは、試験システム１が、対応する試験項目を実施する際、必要な設定や動作のシーケンスを記述したものである。図２に、所定の試験項目におけるシナリオの一例を示す。図２において、シナリオには、「試験項目名」、「各装置の設定」、「各装置の制御及び通信のシーケンス」の情報が記述されている。
【００２１】
「試験項目名」は、試験項目を識別するための情報である。「各装置の設定」は、この試験項目に対応した試験システム１内の各装置及び各部への設定情報であり、全体制御装置１０は、この設定情報に従ってリモート制御先の装置を設定する。例えば、全体制御装置１０は、この設定情報に従って、擬似基地局装置２０に、通信方式（Ｗ−ＣＤＭＡまたはＬＴＥ）やＲＦ信号の中心周波数（周波数変換部２５に用いる）を指示し、信号解析装置４０に測定項目、測定周波数範囲を指示し、信号発生装置５０に発生する信号の種別、レベル、周波数を指示し、ＲＦ信号経路８０の切替スイッチ（不図示）を切り替える。
【００２２】
「各装置の制御及び通信のシーケンス」は、この試験項目の試験を実行する際の、各装置の制御の情報と、移動体通信端末２と通信するための擬似基地局装置２０の送信メッセージとが、時系列に記述されている。全体制御装置１０は、これに従い、擬似基地局装置２０に移動体通信端末２と通信させ、信号解析装置４０に測定を行わせ、信号発生装置５０に信号を出力させ、各装置から解析結果を収集する。
【００２３】
シナリオ処理部１２は、試験者が指定した試験項目に対応するシナリオを、シナリオ記憶部１１から読み出す。そして、読み出したシナリオに記述された設定やシーケンスを順次実行する。また、シナリオ処理部１２は、レベル設定部１４からレベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報を受けて、シナリオの元の試験信号レベルの制御情報と置き換える。この置き換えられたレベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報は、シナリオに記述されたシーケンスに従ったタイミングで、全体制御装置１０から擬似基地局装置２０に送出される。
【００２４】
レベル対応情報記憶部１３には、レベル対応情報が試験項目別にテーブル形式で記憶されている。図３に、所定の試験項目におけるレベル対応情報の一例を示す。レベル対応情報とは、擬似基地局装置２０内のレベル制御部２４のレベル制御範囲の最大値と最小値、擬似基地局装置２０内のＡＴＴ２６の各ステップの減衰量、ＲＦ信号経路８０及び同軸ケーブル９０により生じるＲＦ信号の損失を表わす経路ロス、これらの値から導出される試験信号レベル可変範囲の最大値と最小値、各対応情報を追番で識別するための設定番号Ｎの各項目が対応付けられた情報である。
【００２５】
レベル制御部２４のレベル制御範囲は、擬似基地局装置２０の性能として予め決まっており、−１０ｄＢｍから−４０ｄＢｍまでの３０ｄＢの制御範囲を有している。ＡＴＴ２６の減衰量は、擬似基地局装置２０の性能として予め決まっており、０ｄＢから１００ｄＢまで５ｄＢステップでの設定範囲を有し、レベル対応情報には、このステップ毎の減衰量が記憶されている。
【００２６】
経路ロスは、試験項目毎に値が異なる。これについて説明すると、結合器６０、分配器７０、前述のフィルタ（不図示）にはそれぞれ損失があり、前述の切替スイッチ（不図示）によって、これらがＲＦ信号経路８０に含まれるか否かが変わる。この切替は、所定の試験項目に適した構成となるように、全体制御装置からの指示により行われる。従って、試験項目毎にＲＦ信号経路８０の構成及び損失が異なり、そのため、試験項目毎に経路ロスの値が異なる。従って、レベル対応情報記憶部１３は、試験項目毎にレベル対応情報を記憶している。なお、経路ロスには、同軸ケーブル９０の損失も含まれている。経路ロスは、試験システムの設計段階で算出された設計値、もしくは試験システムの製造検査時に実測された実測値が記憶される。
【００２７】
試験信号レベル可変範囲は、ＡＴＴ２６の各減衰量毎に、試験対象の移動体通信端末２の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値を示している。例えば、図２の設定番号Ｎ＝２において、レベル制御部２４の出力レベルの最大値は−１０ｄＢｍ、それがＡＴＴ２６により５ｄＢ減衰され、経路ロスによりさらに１０ｄＢ減衰されて、移動体通信端末２の入力端における試験信号レベルは−２５ｄＢｍとなる。つまり、「移動体通信端末２の入力端における試験信号レベル」＝「レベル制御部２４の出力レベル」−「ＡＴＴ２６の減衰量」−「経路ロス」の式によって算出される。これに従い、各設定番号Ｎそれぞれについて、移動体通信端末２の入力端において供給可能な試験信号レベルの最大値と最小値が決定されて記憶されている。。
【００２８】
レベル設定部１４は、シナリオ処理部１２がシナリオ記憶部１１から読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出し、レベル対応情報記憶部１３を参照して、この試験信号レベルの最大値に対応したＡＴＴ２６の減衰量を決定する。また、レベル設定部１４は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部２４の定数及びＡＴＴ２６の減衰量を決定して、シナリオ処理部１２に送出する。
【００２９】
レベル設定部１４の動作について、図２及び図３を元に、具体的に説明する。シナリオ処理部１２がシナリオ記憶部１１から読み出した図２のシナリオには、試験信号レベルの設定を示す３つのシーケンス、「試験信号レベル＝−２７ｄＢｍ」、「試験信号レベル＝−３２ｄＢｍ」、「試験信号レベル＝−４７ｄＢｍ」が記述されている（図２は途中のシーケンスを省略しているので、実際にはもっと多くのシーケンスがある）。レベル設定部１４は、これらの情報を抽出し、この中で、試験信号のレベルの最大値＝−２７ｄＢｍと、最小値＝−４７ｄＢｍを検出する。
【００３０】
レベル設定部１４は、レベル対応情報記憶部１３を参照して、この試験項目に対応した図３のレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲を確認する。このシナリオの試験信号レベルの最大値＝−２７ｄＢｍをレベル可変範囲に含む設定は、設定番号Ｎ＝１及び２である。Ｎ＝３の場合は、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値＝−３０ｄＢｍであるから、シナリオの試験信号レベルの最大値よりも小さいので、適合しない。ここで、試験信号のＳＮ比を考慮すると、レベル制御部２４から大きなレベルで出力して、ＡＴＴ２６で減衰させるようにするのが好ましい。従って、設定番号Ｎ＝１及び２のうち、設定番号Ｎ＝２を選択する。そして、図３のレベル対応情報では、Ｎ＝２におけるＡＴＴ減衰量＝５ｄＢであるから、ＡＴＴ２６の第１の減衰量＝５ｄＢと決定する。
【００３１】
また、レベル設定部１４は、Ｎ＝２におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値を確認する。この場合、シナリオの試験信号のレベルの最小値＝−４７ｄＢｍは、Ｎ＝２におけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値＝−５５ｄＢｍよりも大きい。従って、ＡＴＴ２６の第１の減衰量＝５ｄＢと決定することで、このシナリオにおける試験信号のレベル制御は、ＡＴＴ２６の減衰量を切り替えずに、レベル制御部２４の制御のみで行えることになる。
【００３２】
なお、シナリオの試験信号のレベルの最小値が、その設定番号Ｎにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ＡＴＴ２６の減衰量の切替が必要となる。このため、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、第１の減衰量における試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするように、異なる設定番号Ｎを決定し、この設定番号ＮにおけるＡＴＴ減衰量をレベル対応情報から読み取り、このＡＴＴ減衰量をＡＴＴ２６に設定する第２の減衰量として決定する。つまり、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルのうち、レベルの大きい範囲は、ＡＴＴ２６を第１の減衰量に設定してレベル制御部２４でレベルを可変させ、レベルの小さい範囲は、ＡＴＴ２６を第２の減衰量に設定してレベル制御部２４でレベルを可変させる。なお、シナリオから検出した試験信号のレベルを、２つのＡＴＴ減衰量を用いてもカバーできない場合は、３つ以上のＡＴＴ減衰量を用いてカバーする。
【００３３】
また、レベル設定部１４は、シナリオから抽出した試験信号レベルのそれぞれについて、その試験信号レベルに対応したレベル制御部２４の定数を決定する。すなわち、［レベル制御部２４の出力レベル］＝［シナリオに記述された試験信号レベル］＋［経路ロス］＋［決定したＡＴＴ減衰量］の演算式により、レベル制御部２４が制御して出力すべきレベルを求め、それに対応した定数を決定する。そして、レベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報を、シナリオ処理部１２に送出する。
【００３４】
擬似基地局装置２０の擬似基地局制御部２１は、全体制御装置１０からの指示に基づき、擬似基地局装置２０内の各部を制御するとともに、移動体通信端末２との通信結果を通信データ処理部２９から受けて、全体制御装置１０に送出する。ここで、擬似基地局制御部２１は、レベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報を全体制御装置１０から受けると、それに従ってレベル制御部２４とＡＴＴ２６とを設定する。
【００３５】
次に、本発明の試験システム１の動作について、図４のフローチャートにより説明する。試験者が全体制御装置１０に所望の試験項目を指定すると、シナリオ処理部１２は、シナリオ記憶部１１から指定された試験項目に対応するシナリオを読み出す（Ｓ１）。レベル設定部１４は、シナリオ処理部１２が読み出したシナリオから、試験信号レベルに関する情報を抽出し、その抽出した試験信号レベルの最大値及び最小値を検出する（Ｓ２）。
【００３６】
レベル設定部１４は、レベル対応情報記憶部１３を参照して、所望の試験項目に対応したレベル対応情報の、設定番号Ｎ＝１における試験信号レベル可変範囲の最大値を確認する（Ｓ３）。そして、レベル設定部１４は、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値とを比較する（Ｓ４）。比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも小さい場合は、設定番号Ｎの値を１増加させて（Ｓ５）、その増加させた設定番号Ｎにおけるレベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を用いて、再度比較を行う。
【００３７】
比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値よりも大きい場合は、このときの設定番号Ｎよりも１だけ小さい設定番号ＮａにおけるＡＴＴ減衰量をレベル対応情報から読み取り、このＡＴＴ減衰量をＡＴＴ２６に設定する第１の減衰量として決定する（Ｓ６）。つまり、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値との比較を、設定番号Ｎ＝１から順次行い、シナリオから検出した試験信号レベルの最大値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最大値を超過したら、直前の設定番号ＮにおけるＡＴＴ減衰量を用いるようにしている。
【００３８】
また、レベル設定部１４は、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値と、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値とを比較する（Ｓ７）。この比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも大きい場合は、ＡＴＴ２６の切替が不要となる。
【００３９】
また、比較の結果、シナリオから検出した試験信号レベルの最小値が、レベル対応情報の試験信号レベル可変範囲の最小値よりも小さい場合は、ＡＴＴ２６の切替が必要となる。この場合、レベル設定部１４は、シナリオから検出した試験信号の最大値から最小値までのレベルを、設定番号Ｎａにおける試験信号レベル可変範囲との組合せでカバーするような設定番号Ｎｂを決定し、この設定番号ＮｂにおけるＡＴＴ減衰量をレベル対応情報から読み取り、このＡＴＴ減衰量をＡＴＴ２６に設定する第２の減衰量として決定する（Ｓ８）。
【００４０】
このようにして、ＡＴＴ２６に設定する減衰量を決定したら、レベル設定部１４は、レベル制御部２４に設定する定数を決定する（Ｓ９）。レベル設定部１４は、決定したレベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報をシナリオ処理部１２に送出する。シナリオ処理部１２は、読み込んだシナリオの試験信号レベルに関する情報を、この組合せの情報に置き換える（Ｓ１０）。
【００４１】
そして、シナリオ処理部１２は、シナリオのシーケンスを実行する（Ｓ１１）。ここで、例えば図２のシーケンスにおける「試験信号レベル＝−２７ｄＢｍ」の試験信号レベルに関する情報は、レベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報に置き換わっているので、全体制御装置１０から擬似基地局装置２０には、レベル制御部２４の定数とＡＴＴ２６の減衰量との組合せの情報が送られる。この情報を受けた擬似基地局装置２０の擬似基地局制御部２１は、ＡＴＴ２６にこの減衰量を設定してレベル制御部２４にこの定数を設定し、試験信号を出力する。擬似基地局装置２０から出力された試験信号は、ＲＦ信号経路８０及び同軸ケーブル９０を通過して、移動体通信端末２に入力される。この際、ＲＦ信号経路８０及び同軸ケーブル９０により、レベル対応情報の経路ロス分、試験信号は減衰される。図２のシーケンスにおける、「試験信号レベル＝−３２ｄＢｍ」、「試験信号レベル＝−４７ｄＢｍ」についても、それぞれ対応する減衰量と定数との組合せの情報に置き換えられており、それらの情報が擬似基地局装置２０に送られて設定される。なお、ＡＴＴ２６に減衰量を設定する際、直前の減衰量と同じ設定であれば、ＡＴＴ２６の減衰量の切替は行われない。
【００４２】
このように、試験信号のレベルについて、シナリオに試験対象の移動体通信端末２に入力すべきレベルを記述しておけば、全体制御装置１０が、そのレベルに対応し且つＡＴＴ２６の切替が極力発生しないようなレベル設定を決定する。このため、移動体通信端末２の試験を短時間で行うことができる。それとともに、シナリオ作成者は、経路ロスを考慮して擬似基地局装置２０の信号出力レベルを決定してシナリオに記載する必要がなくなり、シナリオの作成が容易になる。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明の試験システム及び試験方法は、不要なステップアッテネータ切替を無くし、短時間で試験を行うことができるので、移動体通信端末の試験に有用である。
【符号の説明】
【００４４】
１…試験システム、１０…全体制御装置、１１…レベル対応情報記憶部、１２…レベル設定部、１３…シナリオ記憶部、１４…シナリオ処理部、２０…擬似基地局装置、２１…擬似基地局制御部、２２…送信部、２３…ＢＢ信号生成部、２４…レベル制御部、２５…周波数変換部、２６…ＡＴＴ（ステップアッテネータ）、２７…方向性結合器、２８…受信部、２９…通信データ処理部、４０…信号解析装置、５０…信号発生装置、６０…結合器、７０…分配器、８０…ＲＦ信号経路、９０…同軸ケーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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