(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品メーカの品質を評価するメーカ品質評価システムであって、
メーカ毎に実績評価値Ｑ１、不良率評価値Ｑ３、書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、技術力項目の数値を記憶すると共に、メーカ毎に工程管理項目の複数の不良内容について定義された複数の推定原因と、各推定原因について人、機械、材料、方法、測定の５Ｍにより分類されて評価された発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、不良発生の作業について、初めて、変化、久しぶり度の３Ｈ度が評価されて不具合の発生確率の指標となる危険係数、前記推定原因毎に等級に基づく防止方法を記憶する記憶部と、
処理プログラムの動作によって実現される処理手段として、
前記記憶部に記憶された、前記不良内容に対する発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、危険係数を基にメーカ毎に評点を演算し、当該評点に対応する等級を決定し、前記記憶部から前記等級に応じた防止方法を前記推定原因毎に読み出すと共に、特定の等級で選択された工程管理項目に評価点を付与し、当該評価点の平均値を算出し、当該平均値、前記記憶部に記憶された、書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、および技術力項目の数値に基づいて工程審査評価値Ｑ２を演算して前記記憶部に記憶する工程審査評価値演算手段と、
メーカ毎に前記記憶部から前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を取得する評価値取得手段と、
メーカ毎に前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を基に総合評価値ＱALL を演算し、採用に関する決定事項を設定する総合評価値演算手段と、を備える制御部とを有することを特徴とするメーカ品質評価システム。
【請求項２】
メーカ毎に工程管理項目の複数の不良内容について定義された複数の推定原因と、各推定原因について人、機械、材料、方法、測定の５Ｍにより分類されて評価された発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、不良発生の作業について、初めて、変化、久しぶり度の３Ｈ度が評価されて不具合の発生確率の指標となる危険係数を基にメーカ毎に評点を演算し、当該評点に対応する等級を決定し、記憶部から前記等級に応じた防止方法を前記推定原因毎に読み出すと共に、特定の等級で選択された工程管理項目に評価点を付与し、当該評価点の平均値を算出し、当該平均値、前記記憶部に記憶された、書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、および技術力項目の数値に基づいて工程審査評価値Ｑ２を演算する工程審査評価値演算処理と、
メーカ毎に実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、不良率評価値Ｑ３を取得する評価値取得処理と、
メーカ毎に前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を基に総合評価値ＱALL を演算し、採用に関する決定事項を設定する総合評価値演算処理とをコンピュータに実行させることを特徴とするメーカ品質評価プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板メーカの選定において各基板メーカの品質を評価する基板メーカ品質評価システムに係り、特に、少ない時間、工数で総合的に判断できる基板メーカ品質評価システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
［従来の技術］
従来、プリント基板及び基板メーカの品質評価は、セットメーカ等が購買メーカを検討する際に行われてきた。
その場合、ＩＳＯ９０００シリーズの項目等の基板に特化しない総合品質管理評価や価格、実績等を相対的に判断することが主に行われていた。
若しくは、仕様を確定し、当該仕様に対して基板に特化した品質レベルを評価することもあった。
【０００３】
［関連技術］
尚、関連する先行技術として、特開２０００−２７７８８８号公報「プリント基板の製造方法」（株式会社日立国際電気）［特許文献１］がある。
特許文献１は、プリント基板の製造方法に関するものであるが、このように製造されるプリント基板のメーカを効率的に総合的に評価する方法が提供されていないのが現状である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−２７７８８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来の品質評価方法では、様々な仕様に対してどのメーカが適しているのか、全体の指標を出すのが難しく、総合的、定量的、かつ相対的に評価するには、非常に時間、工数が掛かるという問題点があった。つまり、一点一様の評価結果となるのが現状であった。
そのため、技術力や価格等の他に重要なファクターによりメーカが決定されることが多かった。
【０００６】
また、基板メーカが自社の品質改善を行う際に、同様の検討が為されるが、その場合、改善のために詳細なプロセスの分析と要因解析は行われるが、一般的なレベルの指標がなく、相対的な評価が為されていないという問題点があった。
【０００７】
また、昨今、価格競争が激化しており、海外サプライヤの検討の必要性が高まっている。その際の品質確保は、国内メーカに比べ、不良内容の質の違い等、非常に難しい問題がある。
更に、継続して取引のあるメーカでも新たな仕様の技術的課題がある製品の場合、定量的かつ有効な審査方法がないのが現状である。
【０００８】
本発明は上記実情に鑑みて為されたもので、少ない時間、工数で総合的、定量的、かつ相対的に判断できる基板メーカ品質評価システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、製品メーカの品質を評価するメーカ品質評価システムであって、メーカ毎に実績評価値Ｑ１、不良率評価値Ｑ３、書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、技術力項目の数値を記憶すると共に、メーカ毎に工程管理項目の複数の不良内容について定義された複数の推定原因と、各推定原因について人、機械、材料、方法、測定の５Ｍにより分類されて評価された発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、不良発生の作業について、初めて、変化、久しぶり度の３Ｈ度が評価されて不具合の発生確率の指標となる危険係数、推定原因毎に等級に基づく防止方法を記憶する記憶部と、処理プログラムの動作によって実現される処理手段として、記憶部に記憶された、不良内容に対する発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、危険係数を基にメーカ毎に評点を演算し、当該評点に対応する等級を決定し、記憶部から当該等級に応じた防止方法を推定原因毎に読み出すと共に、特定の等級で選択された工程管理項目に評価点を付与し、当該評価点の平均値を算出し、当該平均値、記憶部に記憶された書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、および技術力項目の数値に基づいて工程審査評価値Ｑ２を演算して前記記憶部に記憶する工程審査評価値演算手段と、メーカ毎に前記記憶部から前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を取得する評価値取得手段と、メーカ毎に前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を基に総合評価値ＱALL を演算し、採用に関する決定事項を設定する総合評価値演算手段と、を備える制御部とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、制御部が、工程審査評価値演算手段により、メーカ毎に工程管理項目の複数の不良内容について定義された複数の推定原因と、各推定原因について人、機械、材料、方法、測定の５Ｍにより分類されて評価された発生頻度の情報、影響度の情報、発見難易度の情報、不良発生の作業について、初めて、変化、久しぶり度の３Ｈ度が評価されて不具合の発生確率の指標となる危険係数を基にメーカ毎に評点を演算し、当該評点に対応する等級を決定し、記憶部から当該等級に応じた防止方法を推定原因毎に読み出すと共に、特定の等級で選択された工程管理項目に評価点を付与し、当該評価点の平均値を算出し、当該平均値、記憶部に記憶された、書類審査項目の数値、管理体制項目の数値、および技術力項目の数値に基づいて工程審査評価値Ｑ２を演算して前記記憶部に記憶し、評価値取得手段により、メーカ毎に前記記憶部から前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を取得し、総合評価値演算手段により、メーカ毎に前記実績評価値Ｑ１、前記工程審査評価値Ｑ２、前記不良率評価値Ｑ３を基に総合評価値ＱALL を演算し、採用に関する決定事項を設定するメーカ品質評価システムとしているので、少ない時間、工程で総合的、定量的、かつ相対的に判断できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施の形態に係る基板メーカ品質評価システムの構成ブロック図である。
【図２】評価判定基準の例を示す図である。
【図３】総合判定項目の記憶部の概略構成図である。
【図４】総合判定処理のフローチャートである。
【図５】工程管理項目評価指標を示す概略図である。
【図６】工程管理評価項目決定処理を示すフローチャートである。
【図７】工程管理評価項目決定評価例を示す図である。
【図８】工程審査値決定処理のフローチャートである。
【図９】選択工程管理項目評価例を示す図である。
【図１０】工程審査値評価例を示す図である。
【図１１】総合判定値評価例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
［実施の形態の概要］
本発明の実施の形態に係る基板メーカ品質評価システムは、基板メーカを総合的、定量的、かつ相対的に品質評価を行うものであり、大項目として、実績値、工程、工程審査値、不良率値について各々定量化指標が与えられた上で、各項目に各々重要度を乗じた計算で総合値を算出し、その数値を総合５段階評価としてレベル分けして評価を行うものである。
【００１３】
更に、大項目のうち、工程審査値は、各プロセスの評価値から成り、各プロセスの評価値は、工程審査重要度決定係数の発生要因の発生頻度、影響度、発見難易度、危険係数から決定された重要度により項目が決定される。そのいずれも定量化指標を与えた数値である。
また、工程審査重要度決定係数は、人的要因、装置要因、材料要因、方法要因、測定要因を考慮して決定される。
詳細は、後述する。
【００１４】
［基板メーカ品質評価システム：図１］
本発明の実施の形態に係る基板メーカ品質評価システムについて図１を参照しながら説明する。図１は、本発明の実施の形態に係る基板メーカ品質評価システムの構成ブロック図である。
本発明の実施の形態に係る基板メーカ品質評価システム（本システム）は、図１に示すように、処理装置１と、表示部２と、入力部３とを基本的に有している。
処理装置１は、コンピュータで構成され、基本的に制御部１１と、記憶部１２と、インタフェース部１３とを有している。
【００１５】
［本システムの各部］
本システムの各部について具体的に説明する。
制御部１１は、処理プログラムを読み込んで、後述する処理を実現する。
記憶部１２は、図３及び図５に示す項目の記憶部を備えている。
インタフェース部１３は、処理装置１を外部のネットワーク、表示部２、入力部３に接続するものである。
【００１６】
表示部２は、処理のプロセス内容、処理結果を表示する表示装置である。
入力部３は、処理の指示を入力するもので、キーボード、マウス等の入力装置である。
尚、図３及び図５に示す記憶部を外部に設け、インタフェース部１３を介して接続するようにしてもよい。
【００１７】
また、処理装置１を処理サーバとし、表示部と入力部を備える端末装置がネットワークを介して処理サーバに接続するネットワークシステムとし、処理サーバで処理を実行し、端末装置で指示の入力と処理内容の表示を行う形態であってもよい。
【００１８】
［評価判定基準例：図２］
次に、本発明の実施の形態に係る評価判定基準例について図２を参照しながら説明する。図２は、評価判定基準の例を示す図である。
図２に示すように、項目として、Ｑ１が実績評価値、Ｑ２が工程審査評価値（工程審査値）、Ｑ３が不良率評価値である。そして、各項目について５段階にレベル分けされ、点数として１〜５点が付与されるようになっている。当然、点数が高い方が高い評価となっている。
【００１９】
実績評価値Ｑ１は、取引の実績を評価するもので、５点が「自社取引５年以上」、４点が「自社取引３年以上」、３点が「自社Ｇ取引のみ」、２点が「自社Ｇ含め取引なし」、１点が「新規企業」となっている。
尚、「自社Ｇ」とは、「自社を含めたグループ会社、関連会社」の意味である。
【００２０】
工程審査値Ｑ２は、工程の状況を評価するもので、５点が「業界ＴＯＰクラス」、４点が「特色あり」、３点が「標準」、２点が「改善要求」、１点が「認定不可」となっている。
【００２１】
不良率評価値Ｑ３は、不良発生の状況を評価するもので、５点が「３年不具合なし」、４点が「１年不具合なし」、３点が「軽微不具合（１件以内／年）のみ」、２点が「軽微不具合（２件以内／年）もしくは対応悪い」、１点が「重欠点による不具合あり」となっている。
【００２２】
［総合判定項目の記憶部の構成：図３］
次に、本システムの記憶部１２における総合判定項目を記憶する構成について図３を参照しながら説明する。図３は、総合判定項目の記憶部の概略構成図である。
図３に示すように、記憶部１２には、総合判定項目を記憶する構成として、実績評価値Ｑ１記憶部１２１と、工程審査値Ｑ２記憶部１２２と、不良率評価値Ｑ３記億部１２３とを備えている。
【００２３】
尚、説明を分かりやすくするために、各値を記憶する記憶部を分離しているが、分離せずに記憶部１２に各値をテーブル状で記憶させるようにしてもよい。この場合、基板メーカの識別子（ＩＤ）に関連付けて各値を記憶するようにする。
【００２４】
実績評価値Ｑ１記憶部１２１は、図２に示した実績評価値Ｑ１を基板メーカ（基板メーカＩＤ）毎に記憶する。
工程審査値Ｑ２記憶部１２２は、図２に示した工程審査値Ｑ２を基板メーカ（基板メーカＩＤ）毎に記憶する。
不良率評価値Ｑ３記億部１２３は、図２に示した不良率評価値Ｑ３を基板メーカ（基板メーカＩＤ）毎に記憶する。
【００２５】
［工程審査値Ｑ２記億部１２２］
そして、工程審査値Ｑ２記億部１２２について具体的に説明する。
工程審査値Ｑ２記億部１２２は、基板メーカ（基板メーカＩＤ）毎に工程審査値Ｑ２を記憶すると共に、工程管理項目記憶部１２２ａと、書類審査項目記憶部１２２ｂと、品質体制項目記憶部１２２ｃと、技術力項目記憶部１２２ｄとを備えている。
図３では、スペースの関係から各記憶部１２２ａ〜１２２ｄと工程審査値Ｑ２記億部１２２を別個に描画しているが、本来は、各記憶部１２２ａ〜１２２ｄは、工程審査値Ｑ２記億部１２２に含まれている。但し、工程審査値Ｑ２記億部１２２と各記憶部１２２ａ〜１２２ｄを別構成としてもよい。
【００２６】
［各記憶部１２２ａ〜１２２ｄ］
工程管理項目記憶部１２２ａは、不良に関連する情報（不良の発生頻度、不良の影響度、不良要因の発見難易度、危険係数）を基板メーカ（基板メーカＩＤ）毎に記憶する。詳細は後述する。
書類審査項目記憶部１２２ｂは、基板メーカＩＤ毎に書類審査項目の数値（書類審査値）を記憶する。
品質体制項目記憶部１２２ｃは、基板メーカＩＤ毎に品質体制項目の数値を記憶する。
技術力項目記憶部１２２ｄは、基板メーカＩＤ毎に技術力項目の数値を記憶する。
【００２７】
［総合判定フロー：図４］
次に、本システムの制御部１１で実現される総合判定処理について図４を参照しながら説明する。図４は、総合判定処理のフローチャートである。
制御部１１は、基板メーカＩＤに基づいて実績評価値Ｑ１記憶部１２１から実績評価値Ｑ１を取得し（Ｓ１）、工程審査値Ｑ２記億部１２２から工程審査評価値Ｑ２を取得し（Ｓ２）、不良率評価値Ｑ３記億部１２３から不良率評価値Ｑ３を取得し（Ｓ３）、実績評価値Ｑ１、工程審査評価値Ｑ２及び不良率評価値Ｑ３に基づいて総合評価値（総合判定値）を算出し、総合判定を行う（Ｓ４）。
【００２８】
尚、処理Ｓ１は実績評価値取得手段により、処理Ｓ２は工程審査評価値取得手段により、処理Ｓ３は不良率評価値取得手段により、処理Ｓ４は総合評価値演算手段により実行される。処理Ｓ１〜Ｓ３の各評価値取得手段を、まとめて評価値取得手段と呼ぶことがある。
【００２９】
総合評価値は、各値Ｑ１〜Ｑ３に対して各々重要度を加味して算出される。
Ｑ１〜Ｑ３の各評価値は、定量化されており、例えば、実績評価値Ｑ１は、図２に示すように、取引実績年数等の数値化された指標を含み、定量化されている。工程審査評価値Ｑ２及び不良率評価値Ｑ３についても数値化された指標を含み、定量化されている。
【００３０】
また、総合評価値ＱALLは、各評価値が５段階評価の場合、例えば、次式で算出される。
ＱALL ＝［１．５＊Ｑ１＋｛３＋（Ｑ２−３）＊１０｝＋Ｑ３］÷３
上記式は、例えば、これまでの実績から調整して求めたものである。
【００３１】
［工程管理項目記憶部１２２ａ：図５］
次に、工程管理項目記憶部１２２ａについて図５を参照しながら説明する。図５は、工程管理項目評価指標を示す概略図である。
工程管理項目記憶部１２２ａは、工程別の機能、各工程に対する故障モード、故障モードに対する項目、項目に対する不良内容、不良内容に対する推定要因、推定要因に対する５Ｍ種類、推定要因に対する等級別の防止方法等を記憶すると共に、図５に示すように、不良の発生頻度記憶部１２２ａ１と、不良の影響度記憶部１２２ａ２と、不良要因の発見難易度記憶部１２２ａ３と、危険係数記憶部１２２ａ４とを備えている。
【００３２】
［工程管理項目記憶部１２２ａの各記憶部］
不良の発生頻度記憶部１２２ａ１は、不良の発生頻度の数値を基板メーカＩＤ毎に記憶している。
不良の影響度記憶部１２２ａ２は、発生した不良の影響度の数値を基板メーカＩＤ毎に記憶している。
不良要因の発見難易度記憶部１２２ａ３は、発生した不良について不良要因の発見難易度の数値を基板メーカＩＤ毎に記憶している。
危険係数記憶部１２２ａ４は、不良発生に関する危険係数の数値を基板メーカＩＤ毎に記憶している。
【００３３】
［工程管理評価項目決定フロー：図６］
次に、工程管理評価項目決定処理フローについて図６を参照しながら説明する。図６は、工程管理評価項目決定処理を示すフローチャートである。
処理装置１の制御部１１は、処理プログラムを読み込んで工程管理評価項目決定処理を開始し、工程管理項目記憶部１２２ａから必要なデータを読み取って、工程別にその機能を定義し（Ｓ１１）、各工程で発生する不良の故障モードを定義する（Ｓ１２）。
後述する図７を例にすると、工程「デスミア加工」について機能「接続部のスミアを削除する」を定義し、更に、故障モード「スミア残渣」を定義する。
【００３４】
次に、故障モードに対して具体的な不具合の内容、推定要因を挙げる（Ｓ１３）。そして、各要因に対して５Ｍ（人、機械、材料、方法、測定）の、どの側面に関係するのか分別する（Ｓ１４）。更に、５Ｍ要因を加味し、不良の評価指標の発生頻度を評価する（Ｓ１５）。
【００３５】
図７の例では、６つの不良内容について１７個の推定要因（推定原因）が定義され、各推定要因に５Ｍの分類を行い、基板メーカＩＤに基づいて不良内容に対して不良の発生頻度記憶部１２２ａ１から不良の影響における発生頻度を読み込む。
【００３６】
具体的には、工程管理項目記憶部１２２ａには、不良内容に対応付けて推定要因と５Ｍ種類が記憶されているので、制御部１１は、工程管理項目記憶部１２２ａから必要な情報を読み込むようになっている。
【００３７】
次に、定義した不良の工程の機能に対する影響度を評価し（Ｓ１６）、不良が発生した場合の不良要因の発見難易度を評価し（Ｓ１７）、その作業の３Ｈ（初めて、変化、久しぶり度）を評価する（Ｓ１８）。３Ｈの度合は、不具合の発生確率の指標となり、危険係数を示すものである。
【００３８】
具体的には、制御部１１は、基板メーカＩＤに基づいて、不良の影響度記憶部１２２ａ２から影響度を読み込み、不良要因の発見難易度記憶部１２２ａ３から不良要因の発見難易度を読み込み、危険係数記憶部１２２ａ４から危険係数（３Ｈ）を読み込む。
【００３９】
そして、制御部１１は、発生頻度、影響度、発見難易度、３Ｈ度により総合点（評点）を計算する（Ｓ１９）。
この計算値により、チェックすべき工程や、その注意すべき不良発生要因の取捨選択が可能となる。
【００４０】
［工程管理評価項目決定評価例：図７］
工程管理評価項目決定評価例について図７を参照しながら説明する。図７は、工程管理評価項目決定評価例を示す図である。
図７の工程管理評価項目決定評価例では、工程管理項目として、「機能」「工程」「故障モード」「項目」「不良内容」「推定原因」「５Ｍ種類」「不良の影響」「等級」「防止方法」がある。
【００４１】
尚、図７の工程管理評価項目決定評価例は、図６の工程管理評価項目決定処理フローにより工程管理評価項目決定評価テーブルとして工程管理項目記憶部１２２ａに生成されるものである。
図７における「機能」「工程」「故障モード」「項目」「不良内容」「推定原因」「５Ｍ種類」「防止方法」は、工程管理項目記憶部１２２ａに記憶されている。
また、「不良の影響」の評点を除く各項目は、不良の発生頻度記憶部１２２ａ１、不良の影響度記憶部１２２ａ２、不良要因の発見難易度記憶部１２２ａ３、危険係数記憶部１２２ａ４に基板メーカＩＤ毎に記憶されている。
【００４２】
また、「不良の影響」の評点は、「不良の影響」の各項目の５段階評価に基づいて演算され、評点の値によって「等級」が決定されるものである。図７の評点は、各項目の数値に重み付けを行い、算出している。
例えば、評点＝相乗平均−4√（ａｂｃｄ）の演算式等で算出するものである。
「防止方法」は、工程管理項目記憶部１２２ａに「推定原因」毎に「等級」別に記憶されており、決定された「等級」に基づいて該当する「防止方法」が読み出される。
【００４３】
図７における各項目を具体的に説明すると、「機能」は「接続部のスミアを削除する」であり、「工程」は「デスミア加工」であり、「故障モード」は「スミア残渣」である。
「項目」は、「仕様」「薬液分析」「薬品補給」「浸漬時間」「装置」に分類され、「不良内容」は「仕様」が「投入間違え」と「仕様指示なし」に分けられ、「薬液分析」が「分析結果伝達ミス」であり、「薬品補給」が「補給量間違え」であり、「浸漬時間」が「条件誤り」であり、「装置」が「老朽・劣化・故障」である。
【００４４】
「推定原因」は「投入間違え」と「仕様指示なし」について「投入指示ミス」「仕様あいまい」「取り決めあいまい」があり、「分析結果伝達ミス」について「記入間違え」「記入忘れ」「フォーマット項目不足」があり、「補給量間違え」について「記入間違え」「記入忘れ」「フォーマット項目不足」「補給後確認なし」があり、「条件誤り」については「条件ミス」があり、「老朽・劣化・故障」について「日常管理」「始業点検」「振動機構他」がある。
【００４５】
そして、「５Ｍ種類」は、各推定原因に対して、人、機会、材料、方法、測定について評価されて「○」入力されており、「不良の影響」は「不良内容」毎に「頻度」「影響度」「発見難易」「３Ｈ」、更に評点（総合点）が演算され、当該評点に対応した「等級」（ランク）が付与され、「等級」に応じた「防止方法」が「推定原因」毎に設定される。
【００４６】
［工程審査値決定フロー：図８］
次に、工程審査値決定処理フローについて図８を参照しながら説明する。図８は、工程審査値決定処理のフローチャートである。
処理装置１の制御部１１は、処理プログラムを読み込んで工程審査値決定処理を開始し、対象の基板・技術について図６のフローで演算された評点を決定する（Ｓ２１）。決定した評点により等級を、例えばＩ〜IIIに分ける（Ｓ２２）。
【００４７】
そして、どの等級以上のものを評価基準に上げるか決定する（Ｓ２３）。例えば、ランク（等級）Ｉを基準にした場合、Ｉの内容を工程審査時に評点し、工程管理評価値を算出する（Ｓ２４）。
具体的には、ランクＩの内容（項目）に対して図７のテーブルから「評点」を読み込み、「評価点」として設定し、設定した「評価点」を例えば上記演算式を用いて「工程管理評価値」として演算する。
【００４８】
［選択工程管理項目評価例：図９］
ここで、ランクＩの工程管理項目に対する評価例について図９を参照しながら説明する。図９は、選択工程管理項目評価例を示す図である。
図７に示した工程管理項目決定評価例で決定された等級について、等級（ランク）Ｉを抽出（選択）し、図９に示す選択工程管理項目評価テーブルを工程管理項目記憶部１２２ａに生成する。
【００４９】
具体的には、図７のテーブルを参照して、ランクＩをランク欄に設定し、ランクＩに対応する工程名を設定する。更に、工程名に対応する項目（不良内容）を設定し、項目毎の評価点（評点）を設定する。そして、評価点の平均値を算出して「工程管理評価値（工程管理項目の数値）」とする。
ここで、図７は、基板メーカ毎に作成されたものであるから、図９のテーブルも基板メーカ毎に作成されるものである。
【００５０】
次に、図８で、工程審査の他の３つの要素（書類審査値、品質体制、技術力）について評点する（Ｓ２５）。
具体的には、制御部１１は、基板メーカＩＤに基づいて、書類審査項目記憶部１２２ｂから書類審査項目の数値（書類審査値）を読み込み、品質体制項目記憶部１２２ｃから品質体制項目の数値を読み込み、技術項目記憶部１２２ｄから技術力項目の数値を読み込み、図９の工程管理評価値と共に、工程審査値Ｑ２を演算し、工程審査値Ｑ２記憶部１２２に記憶する。
ここで、制御部１１が、工程審査値Ｑ２を演算し、工程審査値Ｑ２記憶部１２２に記憶する処理は、工程審査値（工程審査評価値）演算手段で実現するものである。
【００５１】
［工程審査値評価例：図１０］
３つの要素についての評点について図１０を参照しながら説明する。図１０は、工程審査値評価例を示す図である。
制御部１１は、図３に示した書類審査項目記憶部１２２ｂ、品質体制項目記憶部１２２ｃ、技術力項目記憶部１２２ｄから書類審査値、品質体制項目の数値、技術力項目の数値を基板メーカ毎に読み出し、図１０の工程審査値評価テーブルを工程審査値Ｑ２記憶部１２２に生成する。
【００５２】
更に、図９で基板メーカ毎に計算した評価点を対応する基板メーカの工程管理項目に評価点の平均値（工程管理評価値）を設定する。
そして、基板メーカ毎に、工程管理項目の平均値、書類審査値、品質体制項目の数値、技術力項目の数値を読み込み、各数値を統合し、工程審査値Ｑ２を決定する（Ｓ２６）。
具体的には、各数値の平均値を求めて工程審査値Ｑ２に設定する。
【００５３】
［総合判定値評価例：図１１］
次に、総合判定値評価例について図１１を参照しながら説明する。図１１は、総合判定値評価例を示す図である。
図１１に示すように、制御部１１は、基板メーカ毎に、実績評価値Ｑ１、工程審査値Ｑ２、不良率評価値Ｑ３を基に図１１の総合判定値評価テーブルを記憶部内に生成し、実績評価値Ｑ１、工程審査値Ｑ２、不良率評価値Ｑ３に基づいて、上述したＱALLの算出式により総合判定値ＱALLを演算して設定し、その総合判定値ＱALLにより、「継続採用」「採用検討」「再検討」「不採用」等の決定事項を設定する。
【００５４】
尚、「継続採用」は、実績において自社取引があり、総合判定値ＱALLが高い基板メーカである。また、「採用検討」は、実績において自社取引がないが、総合判定値ＱALLが高い基板メーカである。
【００５５】
［実施の形態の効果］
本システムによれば、従来に比べて少ない時間、工数で全ての基板の専門的な不良要因を考慮した提供的、相対的な基板メーカの品質評価を行うことができ、コスト、納期等の品質と別の項目と容易に総合判断ができる効果がある。
【００５６】
また、本システムでは、海外メーカ等の新規サプライヤ検討においても、品質確保の歯止め要因とすることができる効果がある。
更に、本システムでは、新たな仕様に関しても、品質検討項目の選択検討が容易となる効果がある。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明は、少ない時間、工数で総合的、定量的、かつ相対的に判断できる基板メーカ品質評価システムに好適である。
【符号の説明】
【００５８】
１…処理装置、  ２…表示部、  ３…入力部、  １１…制御部、  １２…記憶部、  １３…インタフェース部、  １２１…実績評価値Ｑ１記憶部、  １２２…工程審査値Ｑ２記憶部、  １２３…不良率評価値Ｑ３記億部、  １２２ａ…工程管理項目記憶部、  １２２ｂ…書類審査項目記憶部、  １２２ｃ…品質体制項目記憶部、  １２２ｄ…技術力項目記憶部、  １２２ａ１…不良の発生頻度記憶部、  １２２ａ２…不良の影響度記憶部、  １２２ａ３…不良要因の発見難易度記憶部、  １２２ａ４…危険係数記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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