(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
夫々容量電極を持つ複数の電極線と、
順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部と、
前記電極線に対する被検体の接触の有無を前記検出部で検出された当該電極線の容量値に基づいて判別する判別部と、を有し、
前記判別部は、前記接触と非接触の判定基準となる基準容量値を前記電極線毎に記憶する記憶回路と、前記検出部で検出された容量値と当該容量値に対応する電極線の基準容量値との比較結果に基づいて当該電極線に対する被検体の接触の有無を判定する判定回路と、判定回路による判定結果が非接触とされた電極線の基準容量値の更新処理を行う更新処理回路とを有し、
前記更新処理回路は、当該電極線の検出容量値に０より大きく１未満の重みパラメータＡを乗じた値と、当該電極線に対応する基準容量値に「１−Ａ」を乗じた値との加算結果を基準容量値の更新値とし、
前記重みパラメータＡの値は、接触検出動作の有無に応じて相違され、動作時は待機時に比べて小さくされる、タッチ判別装置。
【請求項２】
前記更新処理回路は、前記電極線の検出容量値と当該電極線に対応する基準容量値との差分値が更新範囲にあることを条件に基準容量値を更新する、請求項１記載のタッチ判別装置。
【請求項３】
前記更新範囲は、予め設定されている基準容量値更新の上限値と下限値によって決定される範囲である、請求項２記載のタッチ判別装置。
【請求項４】
前記判定回路は、前記電極線の検出容量値と当該電極線に対応する基準容量値との差分がタッチ判定範囲にあるときに接触と判定する、請求項１記載のタッチ判別装置。
【請求項５】
前記タッチ判定範囲は、予め設定されているタッチ判定の上限値と下限値によって決定される範囲である、請求項４記載のタッチ判別装置。
【請求項６】
前記更新処理回路は、前記更新値の演算と前記更新範囲の判定とを並列的に行い、更新範囲であることが判別されたとき、基準容量値の更新値によって記憶回路の対応する基準容量値を書き換える、請求項２記載のタッチ判別装置。
【請求項７】
前記更新処理回路は、更新範囲でないことが判別されたとき、基準容量値の更新値による記憶回路の書き換えを行わずに既存の基準容量値を維持する、請求項６記載のタッチ判別装置。
【請求項８】
前記更新処理回路に与える前記重みパラメータＡを保持するためのパラメータレジスタを更に有する、請求項１記載のタッチ判別装置。
【請求項９】
夫々容量電極を持つ複数の電極線、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部、及び前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別し、判別結果に基づいて接触位置を演算する位置判別部、を有するタッチ判別装置と、
前記タッチ判別装置で演算された接触位置を受取ってデータ処理を行うプログラム処理装置と、を有し、
前記位置判別部は、非接触の判別結果を得たとき当該電極線の基準容量値を、当該電極線の検出容量値に０より大きく１未満の重みパラメータＡを乗じた値と当該電極線に対応する基準容量値に「１−Ａ」を乗じた値との加算値に更新し、
前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置の動作モードに応じて重みパラメータＡの値を決定する、データ処理システム。
【請求項１０】
前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置を用いた入力動作の可否に応じて重みパラメータＡの値を相違させ、入力動作可能なときは不可能な時に比べて小さくされる、請求項９記載のデータ処理システム。
【請求項１１】
夫々容量電極を持つ複数の電極線、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部、及び前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別し、判別結果に基づいて接触位置を演算する位置判別部、を有するタッチ判別装置と、
前記タッチ判別装置で演算された接触位置を受取ってデータ処理を行うプログラム処理装置と、を有し、
前記位置判別部は、非接触の判別結果を得たとき、当該電極線の基準容量値と当該電極線の検出容量値とに夫々重みを与えて加算し、加算結果が過去の検出容量値の擬似的な移動平均値となるように前者の重みには後者の重みよりも大きな値を与え、加算した値で基準容量値を更新し、
前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置の動作モードに応じて重みの値を決定する、データ処理システム。
【請求項１２】
前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置を用いた入力動作の可否に応じて重みの値を相違させ、入力動作可能なときは不可能な時に比べて、基準容量値の重みが大きく且つ検出容量値の重みが小さくされる、請求項１１記載のデータ処理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、静電容量形式のタッチ判別装置及びそれを用いたデータ処理システムに関し、例えば液晶ディスプレイに重ねて配置されるタッチパネル装置に適用して有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
透明導電膜（ＩＴＯ）で形成される電極線と電極容量を備え、指等によるタッチによる容量値の変動を検出することによって情報入力を行う静電容量型のタッチパネルにおいて、各電極の容量値は接触（タッチ）によってだけ変動するわけではなく、非接触（非タッチ）の容量値はノイズや温度変化等の使用環境の変化によって変動する。このため、タッチを検出するためには、タッチによる容量変動とそれ以外の要因による容量変動を切り分ける必要がある。そこで、検出された各電極線の容量分布からタッチ、非タッチを判別する方式として、タッチ以外の容量変動要因を含んだ非タッチ時の各電極線の容量分布であるベースラインを設け、それをタッチ判定の基準とする方式が提案されている。
【０００３】
このベースラインを設定する方法として、非タッチ期間に取得された２つ以上の所定数の検出信号サンプル（すなわち、各電極線毎の検出容量値）の移動加重平均を用いる方式が特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２００５−５２４９１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１の技術は、過去の複数サンプルに対して移動平均をとるため、それらのデータを全て保持しておく必要があり、回路規模が増大する。すなわち、電極線毎に過去複数個の検出容量値を保持する記憶装置を必要とする。また、上記の特許文献１の技術では、移動平均をとるサンプル数を固定値としており、使用状況に応じた最適なベースラインの環境変化に対する追従性を得ることができない。
【０００６】
本発明はこの問題点に鑑みてなされたものであり、検出された各電極線の容量分布からタッチ、非タッチを判別するための基準容量値（ベースライン基準値）を小さな回路規模で生成することができるタッチ判別装置を提供することを目的とする。
【０００７】
本発明は更に、環境変化に対するベースラインの追従性を、使用状況に応じて調節可能なタッチ判別装置、更にはデータ処理システムを提供することを目的とする。
【０００８】
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
【００１０】
すなわち、被検体の接触の有無を判別するために検出した電極線の容量値と比較すべき基準容量値（ベースライン値）を更新する場合に、対象となる電極線で検出された非タッチの容量値と対象電極線の現在のベースライン値に対しそれぞれ重みを与え、加算したものを対象電極線の新たなベースライン値とする。このときの重みは、加算結果が擬似的な移動平均値となるように与え、前者には後者よりも大きな値を与える。現在のベースライン値には大きな重みを与え、今回の測定容量値には小さな重みを付与するということは、加算される一つのベースライン値は今回以前の複数の測定容量値の擬似的な移動平均になっているという意義があり、複数回分の検出容量値を蓄積してその都度移動平均を採るのと実質的に同じ結果を得ることができ、しかも、必要なデータを保持するための記憶エリアを著しく小さくでき且つ演算処理も簡単になる。
【００１１】
そして、重みの値をレジスタ設定などにより変更すれば環境変化に対するベースラインの追従性を可変することが可能になる。
【発明の効果】
【００１２】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
【００１３】
すなわち、検出された各電極線の容量分布からタッチ、非タッチを判別するための基準容量値（ベースライン基準値）を小さな回路規模で生成することができる。また、環境変化に対するベースラインの追従性を、使用状況に応じて容易に調節可能であり、タッチ検出精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は本発明の一実施の形態に係るに係るデータ処理システムを例示するブロック図である。
【図２】図２は図１記載の静電容量型タッチパネルの内部構成を例示する平面図である。
【図３】図３は図１に記載のタッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニットの内部構成を例示するブロック図である。
【図４】図４は図２の静電容量タッチパネルの各々の菱形電極が持つ容量に対して、指で触ったとき（タッチ）の容量変化を等価的に示す説明図である。
【図５】図５は図３の座標変換手段の内部構成を例示するブロック図である。
【図６Ａ】図６Ａは図５のベースライン処理回路の入出力信号の時間変化を例示するタイミング図である。
【図６Ｂ】図６Ｂは図６Ａに対応する電極線の差分値の時間変化を示すタイミング図である。
【図７】図７は図５のベースライン処理回路の処理内容を示すフローチャートである。
【図８】図８は図６のベースライン処理回路の処理フローにおける、ベースライン処理範囲とタッチ判定範囲の一例を示す波形図である。
【図９】図９は図５のベースライン処理回路の内部回路構成を例示するブロック図である。
【図１０】図１０は図９記載のベースライン処理回路の内部構成によるベースライン処理のタイミングチャートである。
【図１１Ａ】図１１Ａは図５のベースライン処理回路に入力されるＮ値レジスタの値を小さい値に変更した場合のベースライン値及び検出信号値の変化を示す波形図である。
【図１１Ｂ】図１１Ｂは図５のベースライン処理回路に入力されるＮ値レジスタの値を大きい値に変更した場合のベースライン値及び検出信号値の変化を示す波形図である。
【図１２Ａ】図１２Ａは図５のＮ値レジスタの値を使用状況に応じて調節するアプリケーションの一例である静電容量型タッチパネル搭載の携帯電話機を模式的に示す説明図である。
【図１２Ｂ】図１２Ｂは図１２Ａの携帯電話機の状況に応じた状態遷移図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
【００１６】
〔１〕＜基準容量値と検出容量値との加重平均による擬似的移動平均＞
本発明の代表的な実施の形態に係るタッチ判別装置は、夫々容量電極を持つ複数の電極線（２０〜３５）と、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部（４８，５８）と、前記電極線に対する被検体の接触の有無を前記検出部で検出された当該電極線の容量値に基づいて判別する判別部（６０）と、を有する。前記判別部は、前記接触と非接触の判定基準となる基準容量値を前記電極線毎に記憶する記憶回路（１０３）と、前記検出部で検出された容量値と当該容量値に対応する電極線の基準容量値との比較結果に基づいて当該電極線に対する被検体の接触の有無を判定する判定回路（１１４）と、判定回路による判定結果が非接触とされた電極線の基準容量値の更新処理を行う更新処理回路（１１５，１１６，１１７，１１８）とを有する。前記更新処理回路は、当該電極線の検出容量値に０より大きく１未満の重みパラメータＡを乗じた値と、当該電極線に対応する基準容量値に「１−Ａ」を乗じた値との加算結果を基準容量値の更新値とする。
【００１７】
上記によれば、今回の非タッチの測定容量値と対応する基準容量値とを加算するとき、現在の基準容量値には上記大きな重みを与え、今回の測定容量値には上記小さな重みを付与することにより、加算される一つの基準容量値は今回以前の複数の測定容量値の擬似的な移動平均になるという意義があり、複数回分の検出容量値を蓄積してその都度移動平均を採るのと実質的に同じ結果を得ることができ、しかも、必要なデータを保持するための記憶エリアを著しく小さくでき、且つ演算処理も簡単になる。
【００１８】
〔２〕＜基準容量値の更新条件＞
項１のタッチ判別装置において、前記更新処理回路は、前記電極線の検出容量値と当該電極線に対応する基準容量値との差分値が更新範囲にあることを条件に基準容量値を更新する。
【００１９】
基準容量値を更新する処理負担を軽減することができる。
【００２０】
〔３〕＜基準容量値の更新条件判別範囲＞
項２のタッチ判別装置において、前記更新範囲は、予め設定されている基準容量値更新の上限値（９１）と下限値（９２）によって決定される範囲である。
【００２１】
〔４〕＜接触の判別条件＞
項１のタッチ判別装置において、前記判定回路は、前記電極線の検出容量値と当該電極線に対応する基準容量値との差分がタッチ判定範囲にあるときに接触と判定する。
【００２２】
誤検出の防止に役立つ。
【００２３】
〔５〕＜接触の判別条件範囲＞
項４のタッチ判別装置において、前記タッチ判定範囲は、予め設定されているタッチ判定の上限値（９３）と下限値（９４）によって決定される範囲である。
【００２４】
〔６〕＜更新値の演算と更新範囲判定の並列処理＞
項２のタッチ判別装置において、前記更新処理回路は、前記更新値の演算と前記更新範囲の判定とを並列的に行い、更新範囲であることが判別されたとき、基準容量値の更新値によって記憶回路の対応する基準容量値を書き換える。
【００２５】
並列処理により更新処理の処理時間を短縮することができる。
【００２６】
〔７〕＜記憶回路の基準容量値維持＞
項６のタッチ判別装置において、前記更新処理回路は、更新範囲でないことが判別されたとき、基準容量値の更新値による記憶回路の書き換えを行わずに既存の基準容量値を維持する。
【００２７】
実質的に無用の書き換え処理を省略することができる。
【００２８】
〔８〕＜パラメータレジスタ＞
項１のタッチ判別装置は、前記更新処理回路に与える前記重みパラメータＡを保持するためのパラメータレジスタ（７１）を更に有する。
【００２９】
パラメータレジスタの書き換えによって重みパラメータが可変可能になる。
【００３０】
〔９〕＜環境変化に対する追従性と検出感度＞
項８のタッチ判別装置において、前記重みパラメータＡの値は、接触検出動作の有無に応じて相違され、動作時は待機時に比べて小さくされる。
【００３１】
重みパラメータＡが大きければ、更新される基準容量値には今回の非タッチの検出容量値の影響が強く反映され、温度などの環境変化による容量値の追従性が高くなる。待機時にこの状態を採用することにより、環境変化に対応した状態を基準に接触検出動作を開始することができる。重みパラメータＡが小さければ、環境変化による今回の測定容量値の変動分が接触判定処理に与える影響を小さくすることができ、接触判定動作の安定化に資することができる。
【００３２】
〔１０〕＜基準容量値と検出容量値との加重平均による擬似的移動平均＞
本発明の別の実施の形態に係るタッチ判別装置は、夫々容量電極を持つ複数の電極線（２０〜３５）と、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部（４８，５８）と、前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別する判別部（５０）と、を有する。前記判別部は、非接触の判別結果を得たとき当該電極線の基準容量値を、当該電極線の検出容量値に０より大きく１未満の重みパラメータＡを乗じた値と当該電極線に対応する基準容量値に「１−Ａ」を乗じた値との加算値に更新する。
【００３３】
項１と同様に、今回の非タッチの測定容量値と対応する基準容量値とに与えられる重みパラメータの性質により、加算される一つの基準容量値は今回以前の複数の測定容量値の擬似的な移動平均になり、複数回分の検出容量値を蓄積する記憶エリアを必要とせず、更に、複数回分の検出容量値に対する移動平均の演算をその都度行うことを要せず演算処理も簡単になる。
【００３４】
〔１１〕＜データ処理システム＞
本発明の別の実施の形態に係るデータ処理システムは、夫々容量電極を持つ複数の電極線（２０〜３５）、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部（４８，５８）、及び前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別し、判別結果に基づいて接触位置を演算する位置判別部（５０）、を有するタッチ判別装置と、前記タッチ判別装置で演算された接触位置を受取ってデータ処理を行うプログラム処理装置と、を備える。前記位置判別部は、非接触の判別結果を得たとき当該電極線の基準容量値を、当該電極線の検出容量値に０より大きく１未満の重みパラメータＡを乗じた値と当該電極線に対応する基準容量値に「１−Ａ」を乗じた値との加算値に更新する。前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置の動作モードに応じて重みパラメータＡの値を決定する。
【００３５】
項１と同様に、今回の非タッチの測定容量値と対応する基準容量値とに与えられる重みパラメータの性質により、加算される一つの基準容量値は今回以前の複数の測定容量値の擬似的な移動平均になり、複数回分の検出容量値を蓄積する記憶エリアを必要とせず、更に、複数回分の検出容量値に対する移動平均の演算をその都度行うことを要せず演算処理も簡単になる。
【００３６】
更にタッチ判別装置の動作モードに応じて重みパラメータの値が決定されることにより、項９と同様に基準容量値の環境変化追従性とタッチの検出感度とのいずれにも対応することが可能になる。
【００３７】
〔１２〕＜環境変化に対する追従性と検出感度＞
項１１のデータ処理システムにおいて、前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置を用いた入力動作の可否に応じて重みパラメータＡの値を相違させ、入力動作可能なときは不可能な時に比べて小さくされる。
【００３８】
項９と同様に、入力動作不可能な待機時などでは基準容量値の環境変化追従性を優先させ、入力動作可能なときはタッチの検出感度の向上を優先させることが可能になる。
【００３９】
〔１３〕＜基準容量値と検出容量値との加重平均による擬似的移動平均＞
本発明の別の実施の形態に係るタッチ判別装置は、夫々容量電極を持つ複数の電極線（２０〜３５）と、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部（４８，５８）と、前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別する判別部（５０）と、を有する。前記判別部は、非接触の判別結果を得たとき、当該電極線の基準容量値と当該電極線の検出容量値とに夫々重みを与えて加算し、加算結果が過去の検出容量値の擬似的な移動平均値となるように前者の重みには後者の重みよりも大きな値を与え、加算した値で基準容量値を更新する。
【００４０】
項１と同様に、今回の非タッチの測定容量値と対応する基準容量値とに与えられる重みパラメータの性質により、加算される一つの基準容量値は今回以前の複数の測定容量値の擬似的な移動平均になり、複数回分の検出容量値を蓄積する記憶エリアを必要とせず、更に、複数回分の検出容量値に対する移動平均の演算をその都度行うことを要せず演算処理も簡単になる。
【００４１】
〔１４〕＜データ処理システム＞
本発明の別の実施の形態に係るデータ処理システムは、夫々容量電極を持つ複数の電極線（２０〜３５）、順次前記複数の電極線への電荷移動に基づいて当該電極線に係る容量値を検出する検出部（４８，５８）、及び前記検出部で検出された当該電極線の容量値と基準容量値との比較結果に基づいて被検体の接触の有無を判別し、判別結果に基づいて接触位置を演算する位置判別部（５０）、を有するタッチ判別装置と、前記タッチ判別装置で演算された接触位置を受取ってデータ処理を行うプログラム処理装置と、を有する。前記位置判別部は、非接触の判別結果を得たとき、当該電極線の基準容量値と当該電極線の検出容量値とに夫々重みを与えて加算し、加算結果が過去の検出容量値の擬似的な移動平均値となるように前者の重みには後者の重みよりも大きな値を与え、加算した値で基準容量値を更新する。前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置の動作モードに応じて重みの値を決定する。
【００４２】
項１１と同様に、複数回分の検出容量値を蓄積する記憶エリアを必要とせず、更に、複数回分の検出容量値に対する移動平均の演算をその都度行うことを要せず演算処理も簡単になり、また、基準容量値の環境変化追従性とタッチの検出感度とのいずれにも対応することが可能になる。
【００４３】
〔１５〕＜環境変化に対する追従性と検出感度＞
項１４のデータ処理システムにおいて、前記データ処理装置は、前記タッチ判別装置を用いた入力動作の可否に応じて重みの値を相違させ、入力動作可能なときは不可能な時に比べて、基準容量値の重みが大きく且つ検出容量値の重みが小さくされる。
【００４４】
項９と同様に、入力動作不可能な待機時などでは基準容量値の環境変化追従性を優先させ、入力動作可能なときはタッチの検出感度の向上を優先させることが可能になる。
【００４５】
２．実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。
【００４６】
図１には本発明の一実施の形態に係るに係るデータ処理システムが例示される。
【００４７】
同図に示されるデータ処理システムは、例えば形態端末装置の一部を成し、ＬＣＤパネル９に静電容量タッチパネル１５が重ねられたタッチ判別装置組み込み型のディスプレイパネル２００、ＬＣＤパネル９に対する表示制御を行う表示制御ユニット６、表示制御ユニット６に対するコマンド制御やタッチ判別装置２００からの入力に応答するデータ処理等を行なうプログラム処理装置としてのＣＰＵ７４、及び図示を省略するメモリ等がバス２０１に接続されて構成される。
【００４８】
タッチ判別装置組み込み型のディスプレイパネルは、走査線駆動ユニット１２、表示画素アレイ１４、及びタッチパネル制御ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０を有するＬＣＤパネル９と、静電容量型タッチパネル１５から成る。
【００４９】
図１において、１は水平同期信号、２は垂直同期信号、３はデータイネーブル信号、４は表示データ、５は同期クロックである。データイネーブル信号３及び表示データ４はバス２０１を介して供給される。垂直同期信号１は表示一画面周期（１フレーム周期）の信号、水平同期信号２は一水平周期の信号、データイネーブル信号３は表示データ４が有効である期間（表示有効期間）を示す信号で、全ての信号が同期クロック５に同期して入力される。
【００５０】
本実施形態では、表示データが、一画面分が左上端の画素から順次ラスタスキャン形式で転送され、１画素分の情報は６ビットのデジタルデータからなるものとして以下説明する。７はデータ線およびタッチパネル制御信号、８は走査線制御信号であり、表示制御ユニット６は、垂直同期信号１、水平同期信号２、データイネーブル信号３、表示データ４、および同期クロック５に基づいて、表示制御とタッチパネル制御のためのデータ線およびタッチパネル制御信号７と、表示の走査制御のための走査線制御信号８を生成する。
【００５１】
１１はデータ線駆動信号、１２は走査線駆動ユニット、１３は走査線選択信号であり、ＬＣＤパネル９は、１枚のガラス基板上にタッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０、走査線駆動ユニット１２、及び表示画素アレイ１４が設けられて成る。本実施形態では、タッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０はＬＳＩ（半導体集積回路）で構成され、走査線駆動ユニット１２と表示画素アレイ１４はガラス基板上に低温ポリシリコン（ＬＴＰＳ）で構成されるものとするが、タッチパネル駆動ユニットがデータ線駆動ユニットに内蔵されている構成に限定する趣旨ではない。
【００５２】
タッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０は、データ線およびタッチパネル制御信号７のうちの表示制御に関する信号から、表示画素アレイ１４に書き込む信号電圧を生成するとともに、タッチパネル制御に関する信号からタッチパネルの座標を示す信号（後述）を生成する。走査線駆動ユニット１２は、データ線駆動信号１１として出力される書込み信号電圧を書き込む走査線を選択するための走査線選択信号１３を出力する。表示画素アレイ１４は、走査線選択信号１３によって選択したライン上の画素にデータ線駆動信号１１として出力される書込み信号電圧を書込み、書込み電圧に応じた階調制御を行う。
【００５３】
１６は検出電極線、１７は座標信号であり、静電容量型タッチパネル１５は、直交する複数の透明導電膜（ＩＴＯ）による電極線を備える基板である。各々の電極線は検出電極線１６としてタッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０に入力され、座標信号１７に変換される。
【００５４】
図２は図１記載の静電容量型タッチパネル１５の内部構成を例示する。１８はＸ１−１電極、１９はＹ１−２電極であり、各々水平方向に配置されるＸ電極線２０と垂直方向に配置されるＹ電極線２６の交点以外の領域に設けられる。本実施形態は、交点以外の領域を同じ形、面積の菱形で埋める構成として以下説明するが、この構成に限定されるものではない。静電容量型タッチパネル１５はＸ方向の電極線として、第１Ｘ電極線２０、第２Ｘ電極線２１、第３Ｘ電極線２２、第４Ｘ電極線２３、第５Ｘ電極線２４、及び第６Ｘ電極線２５を備え、Ｙ方向の電極線として、第１Ｙ電極線２６、第２Ｙ電極線２７、第３Ｙ電極線２８、第４Ｙ電極線２９、第５Ｙ電極線３０、第６Ｙ電極線３１、第７Ｙ電極線３２、第８Ｙ電極線３３、第９Ｙ電極線３４、第１０Ｙ電極線３５を備え、Ｘ方向の電極線とＹ方向の電極線が非道通状態で直交する形態で配置され、すべての電極線が検出電極線１６として出力される。本実施形態では、Ｘ電極線が６本、Ｙ電極線が１０本で構成されるものとする。したがって、Ｘ１−１電極１８、Ｙ１−２電極１９と同一の電極が、夫々のＸ電極線上に１０個、夫々のＹ電極線上に６個、設けられる。
【００５５】
図３には図１に記載のタッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０の内部構成が例示される。３７はデータ開始信号、３８はデータシフトクロック、３９はシリアル表示データ、４０はパラレル表示データであり、データシフト部３６は、データ開始信号３７を基準に、データシフトクロック３８に従ってシリアル表示データ３９を取り込み、パラレル表示データ４０として順次出力する。
【００５６】
４２は水平ラッチクロック、４３は１ラインデータであり、１ラインラッチ部４１は、順次出力されるパラレル表示データ４０を、１ライン分の出力が終了するタイミングを示す水平ラッチクロック４２に従って、１ラインデータ４３として出力する。４４はＤ／Ａ変換部であり、デジタル値である１ラインデータ４３をアナログ値に変換し、画素への書込み信号となるデータ線駆動信号１１として出力する。
【００５７】
タッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット１０はタッチパネルの駆動制御を行うために、検出制御部４５、静電容量検出部４８、及び座標変換部５０を有する。４６は検出スイッチ駆動信号、４７は座標変換タイミング信号、４９は検出容量値、である。検出制御部４５は、静電容量検出部４８における検出動作を制御するための検出スイッチ駆動信号４６と、座標変換部５０における動作を制御するための座標変換タイミング信号４７を生成する。本実施形態では、検出動作、座標変換動作が水平ラッチクロック４２に同期して一水平期間を基準として行うものとする。また、本実施形態では、特に制限されないが、静電容量検出部４８は、検出電極線１６から２本の電極を順番に選択し（Ｘ１とＸ２、Ｘ２とＸ３、Ｘ３とＸ４、…、Ｙ１とＹ２、Ｙ２とＹ３、Ｙ３とＹ４、…、Ｙ９とＹ１０）、選択した２本ずつの容量差分を検出し、容量差分のＡ／Ｄ変換後のデジタル値を検出容量値４９として１データずつシリアルに出力する（Ｘ１―Ｘ２、Ｘ２−Ｘ３、Ｘ３−Ｘ４、…、Ｙ１―Ｙ２、Ｙ２―Ｙ３、Ｙ３―Ｙ４、…、Ｙ９―Ｙ１０）ものとする。夫々の電極線の容量値（タッチの場合には指容量との合成容量）の検出は、特に制限されないが、静電容量検出部４で選択された電極線の電極容量（タッチの場合には指容量との合成容量）を充電し、その充電電荷を静電容量検出部４の検出用容量との間で電荷再配分を行い、これによって得られる電圧値に基づいて検出信号を得る。電極線に関する容量値の検出は隣接する電極線に関する容量値に差分を検出する手法に限定されず、電極線毎に容量値を検出する手法を採用してもよい。但し、その場合には同相ノイズ成分のキャンセル作用を期待することはできない。
【００５８】
座標変換手段５０は、シリアルに入力される検出容量値４９を逐次各々の電極線の容量値に変換し（Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、…、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、…、Ｙ１０）、その容量の分布状態から座標を算出、座標信号１７として出力する。隣接する電極線の容量差分を電極線の容量値に変換するには、例えばＸ１の容量値を特定に値に仮定することによって、差分の検出値を順次加算して行く過程で順次電極線毎の検出容量値を得ることができる。
【００５９】
図４には図２記載の静電容量タッチパネル１５の各々の菱形電極が持つ容量に対して、指で触ったとき（タッチ）の容量変化を等価的に示す。５１は検出電源、５２はＸ電極容量、５３はＹ電極容量、５４は指、５５はＸ−指容量、５６はＹ−指容量、５７は接地容量であり、検出電源５１から見た容量は、指５４がない場合にはＸ電極容量５２のみであるのに対し、指が接触することにより、Ｘ−指容量５５を介したＹ−指容量５６、Ｙ電極容量５３が合成された容量となる。この容量変化を検出することにより、静電容量タッチパネルの座標検出が行われる。Ｙ電極容量５３を用いる検出動作の場合には検出電源５１をＹ電極19側に接続することになる。検出動作では、検出電源５１によって電極線の合成容量を充電し、その充電電荷を静電容量検出部４８における検出容量を用いて電荷再配分し、これによって検出容量に得られる電圧が検出容量値信号になる。
【００６０】
図５は図３記載の座標変換手段５０の内部構成の一実施形態である。５８は分布変換回路、５９は容量分布値、６０はベースライン処理回路、６１は差分値、６２はタッチ判定信号、６３はタッチ分布整形回路、６４は整形後差分値、６５は座標演算回路、６６は座標変換制御回路、６７は分布変換制御信号、６８はベースライン処理制御信号、６９はタッチ分布整形制御信号、７０は座標演算制御信号、７１はＮ値レジスタ、７２はインタフェース回路、７３はシリアルバス、７４はＣＰＵである。
【００６１】
座標変換制御回路６６は、座標変換タイミング信号４７を起点として、分布変換回路５８の動作を制御する分布変換制御信号６７、ベースライン処理回路６０の動作を制御するベースライン処理制御信号６８、タッチ分布整形回路６３の動作を制御するタッチ分布整形制御信号６９、座標演算回路６５の動作を制御する座標演算制御信号７０を生成する。
【００６２】
分布変換回路５８では１データずつシリアルに入力される２電極線の容量差分値である検出容量値４９（Ｘ１―Ｘ２、Ｘ２−Ｘ３、Ｘ３−Ｘ４、…、Ｙ１―Ｙ２、Ｙ２―Ｙ３、Ｙ３―Ｙ４、…、Ｙ９―Ｙ１０）を逐次各々の電極線の容量値に変換し（Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、…、Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、…、Ｙ１０）、容量分布値５９としてシリアルに出力する。ベースライン処理回路６０は、各電極線のタッチと非タッチを判別するために、容量分布値５９とベースライン基準値（基準容量値）との差分値６１を計算し、差分値６１の値によってベースライン値更新、非更新を判定する。更新の場合は計算したベースライン更新値で対応するベースライン基準値を書換え、非更新の場合は現在のベースライン基準地値を維持する。また、差分値６１の値によってタッチ、非タッチの判定を行い、判定結果をタッチ判定信号６２として出力する。ベースライン処理回路６０は、ベースラインの環境変化に対する追従性を調節するためのパラメータが保存されているＮ値レジスタ７１からパラメータの供給を受ける。パラメータはベースライン更新値の計算に用いるパラメータであり、その詳細は後述する。パラメータはＣＰＵ７４からシリアルバス７３、インタフェース回路７２を介してＮ値レジスタ７１に設定される。タッチ分布整形回路６３は、差分値６１からノイズ除去処理を行い、整形後差分値６４を出力する。座標演算回路６５は、Ｘ、Ｙそれぞれの電極線の整形後差分値６４からタッチ座標演算を行い、座標値１７を出力する。
【００６３】
図６Ａ及び図６Ｂは図５記載のベースライン処理回路６０の入出力信号を示したものである。７５はある電極線の容量分布値の時間変化を例示し、７６は使用環境によるよう容量ドリフト、７７はタッチによる容量変化、７８はある電極線の差分値の時間変化を例示し、７９はある電極のタッチ判定信号の時間変化を示し、８０はタッチ判定期間を示す。ある電極線の容量分布の時間変化７５は使用する温度や湿度等の影響によりタッチによる容量変化７７以外で容量ドリフト７６が生じている。多数の容量分布値５９である容量分布７５の値を図５記載のベースライン処理回路６０に入力すると、入力容量分布値７５とベースライン基準値との差分を計算してタッチによる容量変化とそれ以外の要因による容量変化を切り分けることで、タッチによる容量変動だけが見えるように表した差分分布７８を得る。差分分布値７８を用いてタッチ判定を行い、タッチの場合に“high”、非タッチの場合に“low”をタッチ判定信号７９として出力する。タッチ判定の方法については後述する。
【００６４】
図７は図５記載のベースライン処理回路６０の処理内容を示すフローチャートである。対象となる電極線の容量分布値５９が入力され、そしてその分布値に対応するベースライン値を読み込む（８１）。まず、処理電極の分布値５９と対応するベースライン値との差分値６１を計算して出力し（８２）、差分値６１とベースライン更新範囲との比較によりベースラインの更新、非更新を決定する（８３）。ベースライン更新と判定された場合には、式[１]に示す平均サンプル数Ｎを用いた擬似平均値処理によりベースライン値を更新する（８４）。
【００６５】
【数１】
0005468438.tif 000002
【００６６】
式［１］によれば、Ｎは平均サンプル数としてのパラメータ、bl[i]はi番目の電極線のベースライン値、tは検出サンプル時間、d[i]はi番目の電極線の容量分布値である。擬似平均値処理によれば、１検出サンプル時間前のベースライン値と現検出サンプル時間の容量分布値に、それぞれ平均サンプル数Ｎに基づく重みを与え、加算したものを現検出サンプル時間のベースライン更新値とする。式[１]による擬似平均値の計算結果は、Ｎサンプル平均値と同様な値が得られる。すなわち、処理対象の容量分布値とこれに対応するベースライン値とを加算するとき、現在のベースライン値には上記大きな重み（（Ｎ−１）／Ｎ）を与え、今回の処理対象の容量分布には小さな重み（１／Ｎ）を付与することにより、加算される一つのベースライン値は今回以前の複数の測定された容量分布値の擬似的な移動平均になるという意義があり、複数回分の検出された容量分布値を蓄積してその都度移動平均を採るのと実質的に同じ結果を得ることができる。重み（１／Ｎ）は例えば０よりも大きく1よりも小さな値とされる。
【００６７】
また、Ｎの値により平均サンプル数を変更できる。ベースライン非更新と判定された場合には、差分値６１とタッチ判定範囲との比較によりタッチの有無を判定する（８５）。タッチ有と判定された場合には、タッチ判定信号を“high”とし（８６）、ベースライン値を現在の値に維持する（８７）。タッチ無と判定された場合にはベースライン値を現在の値に維持する。そして処理対象電極線を１電極ずらし、次の電極線の処理へ移行する（８８）。電極線１本でもタッチと判定されたらタッチ判定信号を“high”に維持する。
【００６８】
図８には、図６記載のベースライン処理回路６０の処理フローにおける、ベースライン処理範囲とタッチ判定範囲の一例が示される。短い周期で変化されている信号は検出信号ライン８９であり、ある電極線の容量値の時間変化を示し、タッチ、非タッチで電極線容量値に生じる差分に基づいてタッチの検出が行われる。９０はベースライン、９１はベースライン処理判定上限ライン、９２はベースライン処理判定下限ライン、９３はタッチ判定上限ライン、９４はタッチ判定下限ラインである。９１〜９４はベースライン９０とともに変化する。９５は非タッチ判定及びベースライン処理範囲、９６はタッチ判定及びベースライン維持範囲、９７、９８、９９は非タッチ及びベースライン維持範囲、１００、１０１は非タッチ判定期間、１０２はタッチ判定期間である。
【００６９】
検出信号ライン８９がベースライン９０に対してベースライン処理判定下限ライン９２より小なら、非タッチ判定及びベースライン維持範囲９７内となり、ベースライン値を維持する。
【００７０】
検出信号ライン８９がベースライン９０に対してベースライン処理判定下限ライン９２とベースライン処理判定上限ライン９２との間に位置している場合は、非タッチ判定及びベースライン処理範囲９５内となり、式[１]によりベースライン値を更新する。
【００７１】
検出信号ライン８９がベースライン９０に対してベースライン処理上限ライン９１とタッチ判定下限ライン９４との間に位置している場合は、非タッチ判定及びベースライン処理範囲９８内となり、現在のベースライン値を維持する。
【００７２】
検出信号ライン８９がベースライン９０に対してタッチ判定下限ライン９４とタッチ判定上限ライン９３との間に位置している場合は、タッチ判定及びベースライン維持範囲９６内となり、タッチ判定信号６２を“high”とし、ベースライン値を現在の値に維持する。
【００７３】
検出信号ライン８９がベースライン９０に対してタッチ判定上限ラインより大の場合は、非タッチ判定及びベースライン維持範囲９９内となり、ベースライン値を現在の値に維持する。
【００７４】
図８では、最初にタッチする前の非タッチ判定期間１００があり、その後タッチパネルへの指を触れることによりタッチ判定期間１０２となり、指を離すことにより再び非タッチ期間１０１となっている。
【００７５】
図９は、図５記載のベースライン処理回路６０の内部回路構成を例示するブロック図である。１０３は記憶回路としてのベースライン値保持回路であり、電極線毎に夫々のベースライン値を保持する。１０６〜１０９は記憶回路に記憶された代表的に図示された電極線のベースライン値を意味する。１０４は記憶回路への書き込み信号、１０５は書込み先の選択回路、１１０は読出し先の選択回路、１１１はベースライン値の書込み信号線、１１２はベースライン値の読出し信号線である。
【００７６】
ベースライン保持回路１０３において、処理対象電極線のベースライン値の読出しの場合には、読出し先選択回路１１０により、全電極線分は記載していないが各電極線のベースライン値１０６〜１０９から１データを選択してベースライン値読出し信号線１１２に読み出し、書込みの場合には、書込み信号１０４が立ち上がったときに、書込み先を書込み先選択回路１０５により、全電極線分は記載していないが各電極線のベースライン値１０６〜１０９から選択し、ベースライン値書込み信号線１１１のデータを書き込む。
【００７７】
１１３は減算器、１１４処理内容判定回路である。入力される容量分布値５９とベースライン値読出し信号線１１２のデータとの差分値６１を減算器１１３で計算し、差分値６１を用いて処理内容判定回路１１４でタッチ判定とベースライン処理判定を行い、その判定結果に従ってベースラインの書込み信号１０４とタッチ判定信号６２を出力する。
【００７８】
１１５は重み１／Ｎを乗算する演算器、１１６は重み（Ｎ−１）／Ｎを乗算する演算器、１１７は演算器１１５，１１６の出力を加算する加算器、１１８は加算器１１７から得られるベースライン更新値である。演算器１１５は容量分布値５９に１／Ｎを演算し、演算器１１６は読出しベースライン値読出し線１１２のデータに（Ｎ−１）／Ｎを演算し、加算器１１７は演算器１１５と演算器１１６の演算結果を加算し、加算結果をベースライン更新値１１８とする。
【００７９】
処理内容判定回路１１４は図8で説明したタッチ判定とベースライン処理判定を行ない、これに並行して演算器１１５，１１６，１１７はベースライン更新値１１８を生成する演算を行う。処理内容判定回路１１４がベースライン更新すべきと判別したとき、処理内容決定回路１１４は処理対象の電極線に対応するベースライン値の格納アドレスを指定して書込み信号１０４をアサートする。これによって、演算されたベースライン更新値によってベースライン保持回路１０３内のベースライン値が書換えられる。
【００８０】
この構成によれば、移動平均値演算時に必要な平均サンプル数分の容量分布保持回路を必要とせず、ベースライン保持回路を１組持つだけで、擬似的な移動平均値演算が可能になる。そして回路規模の増加無しで平均サンプル数Ｎを変更できる。すなわち、Ｎ値レジスタ７１の設定値を変更するだけでよい。ベースライン処理回路６０において、平均サンプル数Ｎを２の累乗に限定することで演算器１１５、演算器１１６の除算をシフト演算で実現でき、さらに回路規模の縮小が可能になる。
【００８１】
図１０には図９のベースライン処理回路の内部構成によるベースライン処理のタイミングチャートが例示される。１１９はＸ電極線の差分分布の例、１２０はタッチ判定範囲、１２１はベースライン処理範囲である。図１０ではＸ電極線のベースライン処理に関して、入力容量分布とベースラインとの差分分布が１１９となるものとして説明する。
【００８２】
電極線Ｘ１、Ｘ２、Ｘ６の差分値はベースライン処理範囲１２１内にあるためベースライン値を更新するが、電極線Ｘ３，Ｘ４，Ｘ５はタッチ判定範囲にあるためタッチ判定信号を“high”としベースライン値を維持する。１２２は容量分布値入力タイミング、１２３はベースライン値読み込みタイミング、１２４は差分値計算タイミング、１２５はタッチ判定信号タイミング、１２６はＮを用いた擬似平均演算タイミング、１２７はベースライン更新値出力タイミング、１２８はベースライン書込み信号タイミング、１２９はベースライン保持回路のデータタイミング、１３０はＸ電極１のベースラインデータタイミング、１３１はＸ電極２のベースラインデータタイミング、１３２はＸ電極３のベースラインデータタイミング、１３３はＸ電極４のベースラインデータタイミング、１３４はＸ電極５のベースラインデータタイミング、１３５はＸ電極６のベースラインデータタイミング１２２は容量分布値入力タイミングである。
【００８３】
各Ｘ電極の容量分布値がシリアルに入力され（１２２）るが、以降の計算は全てパイプライン的に行われる。入力される容量分布値に対応する１検出サンプル前の電極線のベースライン値を読み込み（１２３）、容量分布値とベースライン値の差分を計算する（１２４）。差分値を用いてベースライン処理判定とタッチ判定を行い、電極線Ｘ１、Ｘ２は非タッチ及びベースライン処理範囲であるためベースライン書き込み信号が“high”、タッチ判定信号は“low”のままとなり、電極線３はベースライン処理範囲にもタッチ判定範囲にも含まれないためベースライン書き込み信号が“low”、タッチ判定信号は“low”のままとなる。電極線４の時点でタッチ判定範囲１２０に含まれるのでベースライン書込み信号が“low”のまま、タッチ判定信号が“high”に反転され、タッチ信号はそのまま維持される。電極線５はベースライン処理範囲にもタッチ判定範囲にも含まれないためベースライン書き込み信号が“low”となり、電極線６は非タッチ及びベースライン処理範囲であるためベースライン書き込み信号が“high”となる。上記判定に並行して順次Ｎ値を用いた擬似平均演算によるベースライン更新値の計算が行われ（１２６、１２７）、ベースライン書込み信号１２８による書き込みイネーブル（“high”）に同期してベースライン保持回路１０３の電極線のベースライン値データＸ１ｔ−１、Ｘ２ｔ−１、Ｘ６ｔ−１がベースライン更新値Ｘ１ｔ、Ｘ２ｔ、Ｘ６ｔに書換えられる。
【００８４】
図１１Ａ及び図１１Ｂには図５記載のベースライン処理回路６０に入力されるＮ値レジスタの値を変更した場合の、ベースラインの検出信号に対する追従性の変化を例示する。１３６は検出信号の時間変化であり、図１１Ａにおける１３７はＮが小さな値をとる場合のベースラインの時間変化、図１１Ｂにおける１３８はＮが大きな値をとる場合のベースラインの時間変化である。
【００８５】
図１１Ａに示されるようにＮが小さな値をとる場合には擬似平均サンプル数が少なく、ベースライン１３７に含まれる過去データに対する現在のデータの割合が大きいため、検出信号１３６に対する追従性が良くなり、検出信号１３６の容量変動をベースラインに取り込みやすくなる。
【００８６】
図１１Ｂに示されるようにＮが大きな値をとる場合には擬似平均サンプル数が多く、ベースラインに含まれる過去データに対する現在のデータの割合が小さいため、検出信号１３６に対する追従性が鈍くなり安定したベースライン１３８が得られる。タッチセンス動作の安定化を図ることができる。
【００８７】
図１２Ａには図５のＮ値レジスタの値を、使用状況に応じて調節するアプリケーションの一例である静電容量型タッチパネル搭載の携帯電話機が示される。図１２Ａは携帯電話機の構成及び使用状況を模式的に示してある。１３９は液晶パネルのバックライトがオフとなっている状態、１４０は待ち受け画面の状態、１４１は携帯電話表示部側面、１４２は携帯電話本体部側面、１４３はロック／解除ボタン、１４４はスライド方向である。図１２Ａの携帯電話機は表示部が１４４方向にスライドする構成となっている。図１２Ｂは図１２Ａの携帯電話機の状況に応じた状態遷移図であり、１４５は休止状態、１４６はタッチ操作状態である。液晶パネルのバックライトがオフとなっている状態１３９では、システムは操作を受け付けない休止状態１４５とされ、そこで使用者がロック／解除ボタン１４３を押す、もしくは画面をスライド方向１４４にスライドすると、システムはそれに応答してタッチ操作状態１４６に遷移する。タッチ操作状態１４６に遷移すると液晶パネルのバックライトが点灯し、携帯電話機は待ち受け画面の状態１４０となる。タッチ操作状態１４６において、しばらく操作されない、もしくは使用者がロック／解除ボタン１４３を押すと、システムはタイマー、ロック／解除ボタン１４３の情報を受け、休止状態１４５に遷移し、液晶パネルのバックライトがオフになり、タッチ操作を受け付けない状態となる。休止状態１４５では、いつタッチ操作状態１４６となってもよいように環境変化による容量変動を取り込んだベースラインの初期値を準備しておく必要があるため、Ｎを小さくすることでベースラインの追従性を上げる。タッチ操作状態に遷移すると、実際にタッチ位置を正確に特定する必要があり、環境変化に対する追従性を上げるよりもタッチを正確に検出できることが優先されるため、Ｎを大きくとることでベースラインの追従性を下げ、容量変動を検出しやすくする。
【００８８】
上記本発明によれば、静電容量型タッチパネルのタッチ、非タッチを判別するベースライン処理方式として、処理対象電極線に対応するベースライン値を更新する際に、対象となる電極線で検出された非タッチ信号値と対象電極線の現在のベースライン値にそれぞれ重みを与え、加算したものを擬似移動平均値として対象電極線の新たなベースライン値とすることによって、移動平均値計算に必要な過去の非タッチ信号値を複数保持する必要を無くし、回路規模が大幅に削減できる。また、レジスタに保存されているベースラインの環境変化に対する追従性を調節するパラメータを外部から調節可能とすることで、回路規模を増加させることなく、使用状況に応じた最適なベースラインの追従性を得ることができ、タッチ座標検出精度を向上させることができる。
【００８９】
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
【００９０】
電極線の容量電極の構成、静電容量検出の方法、座標変換の方法、重みパラメータの演算方法等について適宜変更可能である。パラメータ値Ｎは１６のような数値に限定されず、システムに応じて適宜変更可能である。本発明は、携帯電話機やＰＤＡといった情報処理端末のタッチ入力デバイス等に広く適用することができる。
【符号の説明】
【００９１】
１…水平同期信号
２…垂直同期信号
３…データイネーブル
４…表示データ
５…同期クロック
６…表示制御ユニット
７…データ線およびタッチパネル制御信号
８…走査線制御信号
９…ＬＣＤパネル
１０…タッチパネル駆動ユニット内蔵データ線駆動ユニット
１１…データ線駆動信号
１２…走査線駆動ユニット
１３…走査線選択信号
１４…表示画素アレイ
１５…静電容量型タッチパネル
１６…検出電極線
１７…座標信号
３６…データシフト部
３７…データ開始信号
３８…データシフトクロック
３９…シリアル表示データ
４０…パラレル表示データ
４４…Ｄ／Ａ変換部
４５…検出制御部
４６…検出スイッチ駆動信号
４７…座標変換タイミング信号
４８…静電容量検出部
４９…検出容量値
５０…座標変換手段
５１…検出電源
５２…Ｘ電極容量
５３…Ｙ電極容量
５５…Ｘ−指容量
５６…Ｙ−指容量
５７…接地容量
５８…分布変換回路
６０…ベースライン処理回路
６１…差分値
６２…タッチ判定信号
６３…タッチ分布整形回路
６４…整形後差分値
６５…座標演算回路
６６…座標変換制御回路
６７…分布変換制御信号
６８…ベースライン処理制御信号
６９…タッチ分布整形制御信号
７０…座標演算制御信号
７１…Ｎ値レジスタ
７４…ＣＰＵ
８９…検出信号ライン
９０…ベースライン
９１…ベースライン処理判定上限ライン
９２…ベースライン処理判定下限ライン
９３…タッチ判定上限ライン
９４…タッチ判定下限ライン
１０３…ベースライン保持回路
１０４…書込み信号
１０５…書込み先選択回路
１０６〜１０９…ベースライン値
１１０…読み出し先選択回路
１１１…ベースライン値書込み線
１１２…ベースライン値読出し線
１１３…減算器
１１４…処理内容判定回路
１１５…演算器
１１６…演算器
１１７…加算器
【図１】
0005468438.tif 000003
【図２】
0005468438.tif 000004
【図３】
0005468438.tif 000005
【図４】
0005468438.tif 000006
【図５】
0005468438.tif 000007
【図６Ａ】
0005468438.tif 000008
【図６Ｂ】
0005468438.tif 000009
【図７】
0005468438.tif 000010
【図８】
0005468438.tif 000011
【図９】
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【図１０】
0005468438.tif 000013
【図１１Ａ】
0005468438.tif 000014
【図１１Ｂ】
0005468438.tif 000015
【図１２Ａ】
0005468438.tif 000016
【図１２Ｂ】
0005468438.tif 000017