(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子発生源とターゲットとを含み、前記電子発生源から放出された電子が前記ターゲットに衝突して形成されるＸ線焦点領域からＸ線を放射するＸ線管と、Ｘ線管電圧を切り換えて被検体をデュアルエネルギー撮影することにより、第１のＸ線管電圧による第１の投影データと前記第１のＸ線管電圧とは異なる第２のＸ線管電圧による第２の投影データとを収集するデータ収集手段と、前記第１および第２の投影データを用いて所定の画像を生成する画像生成手段とを備えたＸ線ＣＴ装置であって、
前記放出された電子に作用して該電子の進行方向を定める電界または磁界を形成する形成手段であって、前記電子発生源と前記ターゲットとの間の所定の空間を挟むように配置される複数の集束電極と、前記複数の集束電極の各々に電圧を印加して電界を形成する電圧印加手段とを有する形成手段と、
Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときに前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび位置が所定の状態になる電界または磁界を形成するための前記複数の集束電極それぞれに印加する電圧からなる第１の制御条件と、Ｘ線管電圧が前記第２のＸ線管電圧であるときに前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび位置が前記所定の状態と略同じになる電界または磁界を形成するための前記複数の集束電極それぞれに印加する電圧からなる第２の制御条件とを記憶する記憶手段と、
Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときに前記第１の制御条件にしたがって前記形成手段を制御し、Ｘ線管電圧が前記第２のＸ線管電圧であるときに前記第２の制御条件にしたがって前記形成手段を制御する制御手段とを備えているＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときと前記第２のＸ線管電圧であるときとにおける前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび位置を特定する情報を取得し、該情報に基づいて前記第１および第２の制御条件を特定する特定手段をさらに備えている請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記データ収集手段は、Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときと前記第２のＸ線管電圧であるときとにおける所定の被写体の投影データを収集し、
前記特定手段は、該収集された投影データのプロファイルに基づいて前記情報を取得する請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。 
【請求項４】
前記データ収集手段は、Ｘ線管電圧を前記第１のＸ線管電圧と前記第２のＸ線管電圧とに交互に切り換えながら、少なくともπ＋Ｘ線ビームファン角の所定ビュー角度分の投影データを収集する請求項１から請求項３のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
前記データ収集手段は、Ｘ線管電圧を前記第１のＸ線管電圧にして少なくともπ＋Ｘ線ビームファン角の所定ビュー角度分の投影データを収集した後、Ｘ線管電圧を前記第２のＸ線管電圧に切り換えて前記所定ビュー角度分の投影データを収集する請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
前記画像生成手段は、 
前記第１の投影データを画像再構成処理して第１の画像を再構成するとともに、前記第２の投影データを画像再構成処理して第２の画像を再構成する再構成手段と、
前記第１の画像と前記第２の画像とを第１の重み付けにより重み付け減算処理して第３の画像を得るとともに、前記第１の画像と前記第２の画像とを前記第１の重み付けとは異なる第２の重み付けにより重み付け減算処理して第４の画像を得る重み付け減算手段と、
前記第３画像と前記第４の画像とを重み付け加算処理して前記所定の画像を生成する重み付け加算手段とを有している請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項７】
前記画像生成手段は、 
前記第１の投影データと前記第２の投影データとを第１の重み付けにより重み付け減算処理して第３の投影データを得るとともに、前記第１の投影データと前記第２の投影データとを前記第１の重み付けとは異なる第２の重み付けにより重み付け減算処理して第４の投影データを得る重み付け減算手段と、
前記第３の投影データと前記第４の投影データとを重み付け加算処理して第５の投影データを得る重み付け加算手段と、 
前記第５の投影データを画像再構成処理して前記所定の画像を再構成する再構成手段とを有している請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デュアルエネルギー（dual energy）撮影を行うＸ線ＣＴ（Computed Tomography）装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、Ｘ線ＣＴ装置を用いたデュアルエネルギー撮影による画像診断が知られている。
【０００３】
例えば、Ｘ線管電圧を高いＸ線管電圧と低いＸ線管電圧とに切り換えながら被検体にＸ線を照射してスキャン（scan）し、高いＸ線管電圧による投影データ（projection data）と低いＸ線管電圧による投影データとを収集する。そして、Ｘ線管電圧が異なるこれら２種類の投影データに対して重み付け加減算処理や画像再構成処理を行うことにより、物質弁別が可能な画像など臨床的に価値のある画像を生成する（例えば特許文献１，図４，図６等、特許文献２等参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−０９５４０５号公報
【特許文献２】ＵＳ２００９／００５２６１２
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、Ｘ線管のターゲット（target）に形成されるＸ線焦点領域の大きさや位置は、Ｘ線管電圧に応じて微小ながら変化することが知られている。
【０００６】
したがって、デュアルエネルギー撮影では、Ｘ線管電圧の切換えによってＸ線焦点領域の大きさや位置が変化し、高いＸ線管電圧による投影データ収集時と低いＸ線管電圧による投影データ収集時とで、被検体と照射されるＸ線ビーム（x-ray beam）との位置関係にずれが生じる。そして、Ｘ線管電圧が異なる投影データ同士や再構成画像同士の重み付け加減算処理等に悪影響を及ぼし、被検体の輪郭に誤差が生じるなど、目的とする生成画像の精度が悪くなる。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑み、デュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧の切換えによって生じるＸ線焦点領域のずれを補償して、デュアルエネルギー撮影による画像を精度よく得ることができるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
【０００８】
なお、特開２００８−１５９３１７号公報や特開平１０−１１６５７９号公報には、Ｘ線管の電子線の偏向を制御して、Ｘ線焦点の位置や寸法を補正するＸ線管装置が提案されているが、本願発明とは構成を異にするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１の観点では、本発明は、電子発生源とターゲットとを含み、前記電子発生源から放出された電子が前記ターゲットに衝突して形成されるＸ線焦点領域からＸ線を放射するＸ線管と、Ｘ線管電圧を切り換えて被検体をデュアルエネルギー撮影することにより、第１のＸ線管電圧による第１の投影データと前記第１のＸ線管電圧とは異なる第２のＸ線管電圧による第２の投影データとを収集するデータ収集手段と、前記第１および第２の投影データを用いて所定の画像を生成する画像生成手段とを備えたＸ線ＣＴ装置であって、前記放出された電子に作用して該電子の進行方向を定める電界または磁界を形成する形成手段と、Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときに前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび／または位置が所定の状態になる電界または磁界を形成するための前記形成手段の第１の制御条件と、Ｘ線管電圧が前記第２のＸ線管電圧であるときに前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび／または位置が前記所定の状態と略同じになる電界または磁界を形成するための前記形成手段の第２の制御条件とを記憶する記憶手段と、Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときに前記第１の制御条件にしたがって前記形成手段を制御し、Ｘ線管電圧が前記第２のＸ線管電圧であるときに前記第２の制御条件にしたがって前記形成手段を制御する制御手段とを備えているＸ線ＣＴ装置。
【００１０】
第２の観点では、本発明は、Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときと前記第２のＸ線管電圧であるときとにおける前記Ｘ線焦点領域の大きさおよび／または位置を特定する情報を取得し、該情報に基づいて前記第１および第２の制御条件を特定する特定手段をさらに備えている上記第１の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１１】
第３の観点では、本発明は、前記データ収集手段が、Ｘ線管電圧が前記第１のＸ線管電圧であるときと前記第２のＸ線管電圧であるときとにおける所定の被写体の投影データを収集し、前記特定手段が、該収集された投影データのプロファイル（profile）に基づいて前記情報を取得する第２の観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１２】
ここで、「所定の被写体」は、例えば球状や円柱状のファントム（phantom）、Ｘ線ビームを成形するコリメータ（collimator）、Ｘ線吸収材で構成されるピンホール（pin-hole）等とすることができる。
【００１３】
第４の観点では、本発明は、前記形成手段が、前記電子発生源と前記ターゲットとの間の所定の空間を挟むように配置される複数の電極と、前記複数の電極の各々に電圧を印加して電界を形成する電圧印加手段とを有している上記第１の観点から第３の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１４】
第５の観点では、本発明は、前記複数の電極が、前記放出された電子を集束するために前記Ｘ線管内に内蔵される集束電極である上記第１の観点から第４の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１５】
第６の観点では、本発明は、前記データ収集手段が、Ｘ線管電圧を前記第１のＸ線管電圧と前記第２のＸ線管電圧とに交互に切り換えながら、少なくともπ＋Ｘ線ビームファン角（fan angle）の所定ビュー角度分の投影データを収集する上記第１の観点から第５の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１６】
第７の観点では、本発明は、前記データ収集手段が、Ｘ線管電圧を前記第１のＸ線管電圧にして少なくともπ＋Ｘ線ビームファン角の所定ビュー角度分の投影データを収集した後、Ｘ線管電圧を前記第２のＸ線管電圧に切り換えて前記所定ビュー角度分の投影データを収集する上記第１の観点から第５の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１７】
第８の観点では、本発明は、前記画像生成手段が、前記第１の投影データを画像再構成処理して第１の画像を再構成するとともに、前記第２の投影データを画像再構成処理して第２の画像を再構成する再構成手段と、前記第１の画像と前記第２の画像とを第１の重み付けにより重み付け減算処理して第３の画像を得るとともに、前記第１の画像と前記第２の画像とを前記第１の重み付けとは異なる第２の重み付けにより重み付け減算処理して第４の画像を得る重み付け減算手段と、前記第３画像と前記第４の画像とを重み付け加算処理して前記所定の画像を生成する重み付け加算手段とを有している上記第１の観点から第７の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００１８】
ここで、「第３の画像」および「第４の画像」は、第１の物質を表す成分が抑制され、第１の物質とは異なる第２の物質を表す成分が強調された画像と、第２の物質を表す成分が抑制され、第１の物質を表す成分が強調された画像とを考えることができる。これらの画像は、物質強調画像、物質密度画像、物質分離画像、あるいは物質弁別画像とも言われる。
【００１９】
第９の観点では、本発明は、前記画像生成手段が、前記第１の投影データと前記第２の投影データとを第１の重み付けにより重み付け減算処理して第３の投影データを得るとともに、前記第１の投影データと前記第２の投影データとを前記第１の重み付けとは異なる第２の重み付けにより重み付け減算処理して第４の投影データを得る重み付け減算手段と、前記第３の投影データと前記第４の投影データとを重み付け加算処理して第５の投影データを得る重み付け加算手段と、前記第５の投影データを画像再構成処理して前記所定の画像を再構成する再構成手段とを有している上記第１の観点から第７の観点のいずれか一つの観点のＸ線ＣＴ装置を提供する。
【００２０】
なお、上記第８の観点および第９の観点における重み付け加算処理および重み付け減算処理は、高次の重み付けによる加算処理および減算処理であってもよい。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、電子発生源から放出された電子に作用してその進行方向を定める電界や磁界を形成する形成手段を備えており、第１のＸ線管電圧下においてＸ線焦点領域の大きさや位置が所定の状態になるような電界または磁界を形成するための形成手段の第１の制御条件と、第２のＸ線管電圧下においてＸ線焦点領域の大きさや位置が同じ所定の状態になるような電界または磁界を形成するための形成手段の第２の制御条件とを記憶しておき、Ｘ線管電圧が第１のＸ線管電圧であるときに第１の制御条件にしたがって形成手段を制御し、Ｘ線管電圧が第２のＸ線管電圧であるときに第２の制御条件にしたがって形成手段を制御するので、Ｘ線管電圧が切り換わってもＸ線焦点領域の大きさや位置を同じ状態に保持することができ、デュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧の切換えによって生じるＸ線焦点領域のずれを補償して、デュアルエネルギー撮影による画像を精度よく得ることができるＸ線ＣＴ装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】第一実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示す図である。
【図２】Ｘ線管、コリメータ、およびＸ線検出器の構成と位置関係を概略的に示す図である。
【図３】Ｘ線管の要部を示す図である。
【図４】Ｘ線管電圧に応じてＸ線焦点領域が変化する様子の一例を示す図である。
【図５】第一実施形態のＸ線ＣＴ装置における処理の流れを示すフローチャート（flowchart）である。
【図６】Ｘ線焦点制御設定校正処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】ファントムの投影データ収集を説明するための図である。
【図８】デュアルエネルギー撮影の第１の方法を説明するための図である。
【図９】デュアルエネルギー撮影の第２の方法を説明するための図である。
【図１０】上記第１の方法によるデュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧と第１および第２の集束電極に印加する電圧のビュー角度（view angle）に対する変化の一例を示す図である。
【図１１】上記第２の方法によるデュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧と第１および第２の集束電極に印加する電圧のビュー角度に対する変化の一例を示す図である。
【図１２】画像生成処理の一例を示すフローチャートである。
【図１３】画像生成処理を概念的に示す図である。
【図１４】画像生成処理の他の一例を示すフローチャートである。
【図１５】Ｘ線管電圧に応じて位置だけが変化するＸ線焦点領域を示す図である。
【図１６】Ｘ線管電圧に応じて大きさだけが変化するＸ線焦点領域を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態について説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【００２４】
（第一実施形態）
図１は、第一実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成を概略的に示す図である。
【００２５】
Ｘ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール（console）１と、撮影テーブル（table）１０と、走査ガントリ（gantry）２０とを具備している。
【００２６】
操作コンソール１は、操作者からの入力を受け付ける入力装置２と、デュアルエネルギー撮影を行うための各部の制御や画像を生成するためのデータ処理等を行う中央処理装置３と、走査ガントリ２０で取得したデータを収集するデータ収集バッファ（buffer）５と、画像を表示するモニタ（monitor）６と、プログラム（program）やデータ等を記憶する記憶装置７とを具備している。
【００２７】
撮影テーブル１０は、被検体４０を載せて走査ガントリ２０の開口部Ｂに入れ出しするクレードル（cradle）１２を具備している。クレードル１２は、撮影テーブル１０に内蔵するモータ（motor）で昇降および水平直線移動される。なお、ここでは、被検体４０の体軸方向すなわちクレードル１２の直線移動方向をｚ方向、鉛直方向をｙ方向、ｚ方向およびｙ方向に垂直な水平方向をｘ方向とする。
【００２８】
走査ガントリ２０は、回転部１５と、回転部１５を回転可能に支持する本体部２０ａとを有する。回転部１５には、Ｘ線管２１と、Ｘ線管２１を制御するＸ線コントローラ（controller）２２と、Ｘ線管２１から発生したＸ線ビーム８１をコリメート（collimate）して、所定のファン角およびコーン角を有するＸ線ビーム８１を成形するコリメータ２３と、被検体４０を透過したＸ線ビーム８１を検出するＸ線検出器２４と、Ｘ線検出器２４の出力を投影データに変換して収集するＤＡＳ（Data Acquisition System）（データ収集装置ともいう）２５と、Ｘ線コントローラ２２，コリメータ２３，ＤＡＳ２５の制御を行う回転部コントローラ２６とが搭載される。本体部２０ａは、制御信号などを操作コンソール１や撮影テーブル１０と通信する制御コントローラ２９を具備する。回転部１５と本体部２０ａとは、スリップリング（slip ring）３０を介して電気的に接続されている。
【００２９】
図２は、Ｘ線管、コリメータ、およびＸ線検出器の構成と位置関係を概略的に示す図である。
【００３０】
Ｘ線管２１、コリメータ２３およびＸ線検出器２４は、回転部１５の所定の基部に支持されて図示のような位置関係を維持している。すなわち、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４とは、走査ガントリ２０の開口部Ｂを挟んで相対向して配置され、またコリメータ２３は、Ｘ線管２１と開口部Ｂとの間に配置されている。
【００３１】
Ｘ線管２１は、図２に示すように、陰極スリーブ（cathode sleeve）２１ｓと、ｚ方向の軸を回転軸として回転可能に支持されるターゲット電極２１ｔとをハウジング（housing）２１ｈに収容した構造を有している。
【００３２】
図３は、Ｘ線管の要部を示す図である。陰極スリーブ２１ｓは、陰極フィラメント（cathode
filament）２１ｃ、第１の集束電極２１ａおよび第２の集束電極２１ｂを内蔵している。陰極フィラメント２１ｃとターゲット電極２１ｔは、ｚ方向において相対向するように所定の間隔を置いて配置されている。また、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂは、陰極フィラメント２１ｃとターゲット電極２１ｔとの間の所定の空間をｘ方向において挟むようにそれぞれ配置されている。
【００３３】
陰極フィラメント２１ｃ、第１の集束電極２１ａ、第２の集束電極２１ｂ、およびターゲット電極２１ｔは、Ｘ線コントローラ２２と接続されている。そして、陰極フィラメント２１ｃとターゲット電極２１ｔとの間にＸ線管電圧Ｖが掛かるように、陰極フィラメント２１ｃには電圧Ｅｃが印加され、ターゲット電極２１ｔには電圧Ｅｔが印加される。第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂにはそれぞれ電圧Ｅａ，Ｅｂが印加される。陰極フィラメント２１ｃにて放出された熱電子は、Ｘ線管電圧Ｖによりターゲット電極２１ｔ側に加速されるとともに、電圧Ｅａ，Ｅｂが印加された第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂにより形成される電界による作用を受けてｚ方向に伸びるビーム状に集束され、図３に示すような電子ビーム（electron beam）７０となる。電子ビーム７０は、回転するターゲット電極２１ｔに衝突してＸ線焦点領域ｆを形成し、Ｘ線焦点領域ｆからＸ線が放射される。
【００３４】
Ｘ線管電圧Ｖは可変であり、ここでは、デュアルエネルギー撮影を行う際に、Ｘ線管電圧Ｖを、相対的に高い第１のＸ線管電圧Ｖ１と相対的に低い第２のＸ線管電圧Ｖ２とに切り換える。第１および第２のＸ線管電圧Ｖ１，Ｖ２は、それぞれ例えば１４０〔ｋＶ〕、８０〔ｋＶ〕とする。
【００３５】
Ｘ線焦点領域ｆの大きさや位置は、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加する電圧Ｅａ，Ｅｂに変化がなくても、Ｘ線管電圧Ｖが変化すると僅かに変化することが知られている。ここでは、Ｘ線管電圧Ｖに応じてＸ線焦点領域ｆの大きさおよび位置がｘ方向に変化する場合を想定する。
【００３６】
図４は、Ｘ線管電圧に応じてＸ線焦点領域が変化する様子の一例を示す図であり、図４（ａ）は、Ｘ線管２１の要部をｙ方向に見た図、図４（ｂ）は、同要部をｚ方向に見た図である。例えば、図４に示すように、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１のときには、このとき形成される電子ビーム７１の衝突により、ターゲット電極２１ｔ上に、ｘ方向の幅ｄ１のＸ線焦点領域ｆ１が形成される。一方、Ｘ線管電圧Ｖが第２のＸ線管電圧Ｖ２のときには、このとき形成される電子ビーム７２の衝突により、ターゲット電極２１ｔ上に、ｘ方向の幅がｄ１より大きいｄ２であり、その位置がＸ線焦点領域ｆ１からｘ方向に距離ｄ３だけずれているＸ線焦点領域ｆ２が形成される。
【００３７】
Ｘ線検出器２４は、図２に示すように、Ｘ線検出素子２４ａをチャネル（channel）方向ＣＨに複数個配列してなる検出素子列をｚ方向に複数列配設してなる多列Ｘ線検出器である。ここでは、チャネル数を１０００、列数を６４とし、チャネル番号１〜１０００および列番号１〜６４を図のように付す。
【００３８】
コリメータ２３は、図２に示すように、２本の円柱状の遮蔽棒２３ａ、２３ｂと、２枚の直方形状の遮蔽板２３ｃ、２３ｄを有する。遮蔽棒２３ａと２３ｂは、その長手方向がｘ方向に一致する向きで、ｚ方向に所定の間隔を持って配置されている。また、遮蔽板２３ｃと２３ｄは、その長手方向がｚ方向に一致する向きで、ｘ方向に所定の間隔を置いて配置されている。ここでは、ｚ方向の負側（図２の手前側）の遮蔽棒を２３ａ、ｚ方向の正側（図２の遠方側）の遮蔽棒を２３ｂとし、ｘ方向の負側（図２の左側）の遮蔽板を２３ｃ、ｘ方向の正側（図２の右側）の遮蔽板を２３ｄとする。このような位置関係にある遮蔽棒２３ａ、２３ｂおよび遮蔽板２３ｃ、２３ｄにより、Ｘ線を通過させるスリット（slit）Ｓが形成される。
【００３９】
遮蔽棒２３ａと２３ｂとは、遮蔽棒の長手方向に伸びる偏心軸を回動軸として回動可能に所定の基部に支持されており、遮蔽棒２３ａ、２３ｂの回動軸には、不図示のコリメータ制御モータの出力軸が連結されている。かかる構成により、コリメータ制御モータを独立に駆動させ、遮蔽棒２３ａ、２３ｂを回動させることで、遮蔽棒２３ａ、２３ｂはその平行を保ったままスリットＳの位置やｚ方向の幅を制御することができる。
【００４０】
なお、コリメータ２３の上記の構成は一例であり、スリットＳの位置や幅が調整可能なものであればどのような構成であってもよい。
【００４１】
上記のような構成により、Ｘ線管２１のＸ線焦点領域ｆから放射されたＸ線ビーム８１が、コリメータ２３が形成するスリットＳを通過することによって、所定のコーン角（cone angle）およびファン角を有する扇状のＸ線ビーム８１が成形される。そして、クレードル１２に載置され開口部Ｂに搬送された被検体４０を透過したＸ線ビーム８１がＸ線検出器２４にて検出される。
【００４２】
なお、走査ガントリ２０は、本発明におけるデータ収集手段の一例である。Ｘ線管２１の第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂ、およびＸ線コントローラ２２は、本発明における形成手段の一例である。また、中央処理装置３は、本発明における画像生成手段、制御手段、特定手段、再構成手段、重み付け減算手段、および重み付け加算手段の一例であり、所定のプログラムを実行することにより、これらの手段として機能する。
【００４３】
これより、第一実施形態のＸ線ＣＴ装置における処理の流れについて説明する。
【００４４】
図５は、第一実施形態のＸ線ＣＴ装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【００４５】
ステップ（step）Ｓ１では、Ｘ線焦点制御設定の校正を行う。（以下、この処理をＸ線焦点制御設定校正処理という）。このＸ線焦点制御設定校正処理の詳細については、後ほど図６および図７を参照して説明する。
【００４６】
ステップＳ２では、Ｘ線焦点制御によるデュアルエネルギー撮影を実施する。このＸ線焦点制御によるデュアルエネルギー撮影の詳細については、後ほど図８〜図１１を参照して説明する。
【００４７】
ステップＳ３では、画像生成処理を行って、ステップＳ２のデュアルエネルギー撮影により得られた投影データを用いて所定の画像を生成する。この画像生成処理の詳細については、後ほど図１２〜図１４を参照して説明する。
【００４８】
ステップＳ４では、ステップＳ３にて生成された画像をモニタに表示する。
【００４９】
これより、Ｘ線焦点制御設定校正処理（Ｓ１）の詳細について説明する。なお、ここでは、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときに第１の集束電極２１ａに印加すべき設定電圧Ｅａ１と、第２の集束電極２１ｂに印加すべき設定電圧Ｅｂ１には、それぞれ所定の電圧値がプリセット（preset）されている。同様に、Ｘ線管電圧が第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときに第１の集束電極２１ａに印加すべき設定電圧Ｅａ２と、第２の集束電極２１ｂに印加すべき設定電圧Ｅｂ２には、それぞれ所定の電圧値がプリセットされている。そして、これらを設定電圧は、記憶装置７またはＸ線コントローラ２２のメモリ（memory）に記憶されている。
【００５０】
図６は、Ｘ線焦点制御設定校正処理の一例を示すフローチャートである。また、図７は、ファントムの投影データ収集を説明するための図である。
【００５１】
ステップＳ１１では、図７（ａ）に示すように、球状のファントム４１を開口部Ｂ内の撮影空間に配置すべくクレードル１２の上に載置する。このとき、ファントム４１の中心がアイソセンタ（iso-center）ＩＣ上に位置するようにする。なお、Ｘ線管電圧Ｖの切換えによってＸ線焦点領域ｆの大きさあるいは位置が変化する方向のうち、その変化を検出したい方向が一方向である場合には、円柱状のファントムをその柱軸が検出したい方向と垂直になるように載置してもよい。
【００５２】
ステップＳ１２では、Ｘ線管２１が搭載された回転部１５を停止した状態で、Ｘ線管電圧Ｖを第１のＸ線管電圧Ｖ１にし、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに、設定電圧Ｅａ１と設定電圧Ｅｂ１とをそれぞれ印加する。この状態で図７（ａ）に示すように、Ｘ線焦点領域ｆ１からＸ線ビーム８１をファントム４１に照射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器２４で検出して１ビュー分の投影データを例えば１スライス（slice）分（検出器列１列分）収集する。
【００５３】
ステップＳ１３では、図７（ｂ）に示すように、ステップＳ１２で収集された投影データのチャネル方向ＣＨに対する信号強度Ｄのプロファイルｐ１において、エッジ（edge）に対応するエッジチャネル番号ａ１，ｂ１を求める。ここで、エッジチャネル番号ａ１はチャネル番号１番寄りのエッジに対応するチャネル番号、エッジチャネル番号ｂ１はチャネル番号１０００番寄りのエッジに対応するチャネル番号である。この場合、図７（ａ）に示すように、エッジチャネル番号ａ１は、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときのＸ線焦点領域ｆ１のｘ方向におけるチャネル番号１０００番寄りの一端を通り、ファントム４１のチャネル番号１番側で外接する接線とＸ線検出器２４との交点に対応する。また、エッジチャネル番号ｂ１は、Ｘ線焦点領域ｆ１のｘ方向におけるチャネル番号１番寄りの他端を通り、ファントム４１のチャネル番号１０００番側で外接する接線とＸ線検出器２４との交点に対応する。したがって、エッジチャネル番号ａ１，ｂ１は、Ｘ線焦点領域ｆ１のｘ方向における両端の位置を反映している。
【００５４】
ステップＳ１４では、Ｘ線管２１が搭載された回転部１５を停止した状態で、Ｘ線管電圧Ｖを第２のＸ線管電圧Ｖ２にし、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに、設定電圧Ｅａ２と設定電圧Ｅｂ２とをそれぞれ印加する。この状態で図７（ａ）に示すように、Ｘ線焦点領域ｆ２からＸ線ビーム８１をファントム４１に照射し、その透過Ｘ線をＸ線検出器２４で検出して１ビュー分の投影データを例えば１スライス分収集する。
【００５５】
ステップＳ１５では、図７（ｂ）に示すように、ステップＳ１４で収集された投影データのチャネル方向ＣＨに対する信号強度Ｄのプロファイルｐ２において、エッジに対応するエッジチャネル番号ａ２，ｂ２を求める。ここで、エッジチャネル番号ａ２はチャネル番号１番寄りのエッジに対応するチャネル番号、エッジチャネル番号ｂ２はチャネル番号１０００番寄りのエッジに対応するチャネルである。この場合、図７（ａ）に示すように、エッジチャネル番号ａ２は、Ｘ線管電圧Ｖが第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときのＸ線焦点領域ｆ２のｘ方向におけるチャネル番号１０００番寄りの一端を通り、ファントム４１のチャネル番号１番側で外接する接線とＸ線検出器２４との交点に対応する。また、エッジチャネル番号ｂ２は、Ｘ線焦点領域ｆ２のｘ方向におけるチャネル番号１番寄りの他端を通り、ファントム４１のチャネル番号１０００番側で外接する接線とＸ線検出器２４との交点に対応する。したがって、エッジチャネル番号ａ２，ｂ２は、Ｘ線焦点領域ｆ２のｘ方向における両端の位置を反映している。
【００５６】
ステップＳ１６では、エッジチャネル番号ａ１とａ２との差分が所定の基準値ε１より小さく、かつ、エッジチャネル番号ｂ１とｂ２との差分が所定の基準値ε２より小さいかを判定する。そして、当該条件を満たすと判定された場合には、Ｘ線焦点領域ｆ１とＸ線焦点領域ｆ２との大きさおよび位置のずれが許容範囲内であるとみなし、Ｘ線焦点制御設定校正処理を終了する。一方、当該条件を満たさないと判定された場合には、ステップＳ１７に進み、エッジチャネル番号ａ１とａ２との差分またはエッジチャネル番号ｂ１とｂ２との差分が小さくなるように、設定電圧Ｅａ２およびＥｂ２の少なくとも一方に微小電圧ΔＥだけ加減算して設定電圧Ｅａ２およびＥｂ２を更新する。そして、ステップＳ１４に戻る。
【００５７】
Ｘ線焦点制御設定校正処理を終了した時点における設定電圧Ｅａ１，Ｅｂ１は、本発明
の第１の制御条件の一例であり、同時点における設定電圧Ｅａ２，Ｅｂ２は、本発明の第２の制御条件の一例である。
【００５８】
なお、ファントム４１を載置する代わりに、コリメータ２３の遮蔽板２３ｃ、２３ｄの間の幅を狭くしてこれら遮蔽板のエッジに対応するチャネル番号を検出するようにしてもよい。あるいは、ファントム４１を載置する代わりに、ｘｙ面方向の断面がｘ方向に長手方向を有する長方形となる板状の遮蔽板を載置して、その遮蔽板のエッジに対応するチャネル番号を検出するようにしてもよい。また、Ｘ線焦点領域ｆ１とＸ線焦点領域ｆ２との大きさおよび位置のずれを許容範囲内にするために、Ｘ線管電圧Ｖ２のときの設定電圧Ｅａ２およびＥｂ２の代わりに、Ｘ線管電圧Ｖ１のときの設定電圧Ｅａ１およびＥｂ１を調整してもよいし、Ｘ線管電圧Ｖ１，Ｖ２の設定電圧の両方を調整してもよい。
【００５９】
次に、Ｘ線焦点制御によるデュアルエネルギー撮影（Ｓ２）の詳細について説明する。
【００６０】
図８は、デュアルエネルギー撮影の第１の方法を説明するための図であり、図９は、デュアルエネルギー撮影の第２の方法を説明するための図である。
【００６１】
デュアルエネルギー撮影は、例えば、図８に示すように、Ｘ線管２１を被検体４０の周りに回転させ、Ｘ線管電圧Ｖを相対的に高い第１のＸ線管電圧Ｖ１と相対的に低い第２のＸ線管電圧Ｖ２とに１または数ビュー（view）単位にて高速に切り換えながらＸ線を被検体４０に照射し、その透過Ｘ線を検出して所定ビュー角度分の投影データを収集する方法により行う。
【００６２】
また例えば、図９に示すように、Ｘ線管２１を被検体４０の周りに回転させ、Ｘ線管電圧Ｖを一方のＸ線管電圧（例えば第１のＸ線管電圧Ｖ１）にしてＸ線を被検体４０に照射し、その透過Ｘ線を検出して所定ビュー角度分の投影データを収集し、次いでＸ線管電圧Ｖを他方のＸ線管電圧（例えば第２のＸ線管電圧Ｖ２）に切り換えてＸ線を被検体４０に照射し、その透過Ｘ線を検出して所定ビュー角度分の投影データを収集する方法を用いる。
【００６３】
上記所定ビュー角度は、例えばハーフスキャン（half scan）分に相当するπ＋Ｘ線ビーム（X-ray beam）のファン角（fan angle）α〔ｒａｄ〕〜フルスキャン（full scan）分に相当する２π〔ｒａｄ〕とする。
【００６４】
本例では、このようなデュアルエネルギー撮影を行う際に、Ｘ線管電圧Ｖに応じて第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂにそれぞれ印加する電圧Ｅａ，Ｅｂを切り換える。すなわち、Ｘ線コントローラ２２は、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときに、第１の集束電極２１ａに設定電圧Ｅａ１を印加するとともに、第２の集束電極２１ｂに設定電圧Ｅｂ１を印加する。また、Ｘ線コントローラ２２は、Ｘ線管電圧Ｖが第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときに、第１の集束電極２１ａに設定電圧Ｅａ２を印加するとともに、第２の集束電極２１ｂに電圧Ｅｂ２を印加する。
【００６５】
図１０は、上記第１の方法によるデュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧と第１および第２の集束電極に印加する電圧のビュー角度（投影方向）に対する変化の一例を示す図である。また、図１１は、上記第２の方法によるデュアルエネルギー撮影におけるＸ線管電圧と第１および第２の集束電極に印加する電圧のビュー角度に対する変化の一例を示す図である。
【００６６】
例えば、Ｘ線管電圧Ｖをビュー角度θに応じて第１のＸ線管電圧Ｖ１と第２のＸ線管電圧Ｖ２とに１または数ビュー毎に切り換えながらビュー角度２π分の投影データを収集するデュアルエネルギー撮影を行う場合には、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加する電圧Ｅａ，Ｅｂを図１０に示すように変化させる。また例えば、Ｘ線管電圧Ｖを第１のＸ線管電圧Ｖ１にしてビュー角度θを変化させながらビュー角度２π分の投影データを収集した後、Ｘ線管電圧Ｖを第２のＸ線管電圧Ｖ２にしてビュー角度θを変化させながらビュー角度２π分の投影データを収集するデュアルエネルギー撮影を行う場合には、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加する電圧Ｅａ，Ｅｂを図１１に示すように変化させる。
【００６７】
これにより、Ｘ線管電圧Ｖの切換えによって生じるＸ線焦点領域ｆの大きさや位置のずれを抑えながら、第１のＸ線管電圧Ｖ１による第１の投影データＰHVと、第２のＸ線管電圧Ｖ２による第２の投影データＰLVとをスリップリング３０経由で収集する。
【００６８】
ただし、上記第１の方法によるデュアルエネルギー撮影の場合、第１および第２の投影データＰHV，ＰLVは、互いに切り換えられた他方のＸ線管電圧によるビューの投影データを収集できない。そこで、収集できなかった投影データについては、そのビューに近接するビューの投影データを重み付け加算処理したり、ビュー方向にフィルタリング（filtering）したりして求める。
【００６９】
次に、画像生成処理（Ｓ３）の詳細について説明する。
【００７０】
図１２は、画像生成処理の一例を示すフローチャートである。また、図１３は、画像生成処理を概念的に示す図である。この画像生成処理では、デュアルエネルギー撮影により得られた投影データ、すなわちＸ線管電圧が互いに異なる２種類の投影データを基に、所望の単一のＸ線エネルギーを有するＸ線を用いて撮影された被検体を表す画像、いわゆるモノクロマチック画像（monochromatic image）を生成する。
【００７１】
ステップ（step）Ｚ１では、図１２に示すように、第１の投影データＰHVを画像再構成処理して第１のＸ線管電圧画像ＧHV（第１の画像）を再構成するとともに、第２の投影データＰLVを画像再構成処理して第２のＸ線管電圧画像ＧLV（第２の画像）を再構成する。
【００７２】
具体的には、まず、第１および第２の投影データＰHV，ＰLVに対して、対数変換、線質硬化補正、Ｘ線検出器の感度補正等を含む所定の前処理を行う。次に、前処理された第１および第２の投影データＰHV，ＰLVに所定の再構成関数を重畳する。その後、再構成関数が重畳された第１および第２の投影データＰHV，ＰLVをそれぞれ逆投影処理して、第１および第２のＸ線管電圧画像ＧHV，ＧLVを得る。
【００７３】
ステップＺ２では、図１２に示すように、第１のＸ線管電圧画像ＧHVと第２のＸ線管電圧画像ＧLVとを第１の重み付けにより重み付け減算処理して第１の物質の密度分布を表す第１の物質密度画像（第３の画像）を得る。また、第１のＸ線管電圧画像ＧHVと第２のＸ線管電圧画像ＧLVとを第２の重み付けにより重み付け減算処理して第２の物質の密度分布を表す第２の物質密度画像（第４の画像）を得る。本例では、第１の物質を水、第２の物質をヨウ素とし、水の密度分布を表す第１の物質密度画像Ｗと、ヨウ素（iodine）の密度分布を表す第２の物質密度画像Ｉｏとを得る。
【００７４】
第１および第２の物質密度画像Ｗ，Ｉｏは、例えば次の数式に従って重み付け減算処理を行うことにより求めることができる。
【数１】
0005535532.tif 000002
【００７５】
ここで、ｋwは第１の物質密度画像の画素値Ｗ（x,y）を水の密度〔ｍｇ／ｍｌ〕で表すための変換係数、ｋioは第２の物質密度画像の画素値Ｉｏ（x,y）をヨウ素の密度〔ｍｇ／ｍｌ〕で表すための変換係数、Ｒioは第１のＸ線管電圧Ｖ１と第２のＸ線管電圧Ｖ２とにおけるヨウ素のデュアルエネルギー比、Ｒwは第１のＸ線管電圧Ｖ１と第２のＸ線管電圧Ｖ２とにおける水のデュアルエネルギー比である。
【００７６】
デュアルエネルギー比Ｒioは、第２のＸ線管電圧Ｖ２によるＸ線を用いて撮影した場合に得られる画像ＧＣLV（x,y）上のヨウ素に相当する画素値（ＣＴ値）ＧＣio,LV（x,y）を、第１のＸ線管電圧Ｖ１によるＸ線を用いて撮影した場合に得られる画像ＧＣHV（x,y）上のヨウ素に相当する画素値ＧＣio,HVで除算してなる値（画素値の比）である。また、デュアルエネルギー比Ｒwは、画像ＧＣLV（x,y）上の水に相当する画素値ＧＣw,LV（x,y）を、画像ＧＣHV（x,y）上の水に相当する画素値ＧＣw,HV（x,y）で除算してなる値である。
【００７７】
ステップＺ３では、図１２に示すように、第１の物質密度画像Ｗと第２の物質密度画像Ｉｏとを重み付け加算処理して、所定の単一のＸ線エネルギーを有するＸ線を用いて撮影された被検体を表す画像ＧNVを得る。
【００７８】
画像ＧNVは、例えば次の数式に従って重み付け加算処理を行うことにより求めることができる。
【００７９】
【数２】
0005535532.tif 000003
【００８０】
ここで、ｋｅＶ１はＸ線管電圧ＮＶによるＸ線の実効Ｘ線エネルギー、μw（keV1）は実効Ｘ線エネルギーｋｅＶ１における水のＸ線吸収係数、μio（keV1）は実効Ｘ線エネルギーｋｅＶ１におけるヨウ素のＸ線吸収係数、ｋｃはＸ線管電圧ＮＶによる画像の画素値をＣＴ値に変換するための変換係数である。なお、ＣＴ値は、周知の通り、物質のＸ線吸収の程度を示す値であり、空気のＣＴ値は−１０００〔ＨＵ〕、水のＣＴ値は０〔ＨＵ〕で表される。
【００８１】
以上が画像生成処理の一例であるが、画像生成処理は上記の処理に限定されず、例えば下記のような処理でもよい。
【００８２】
図１４は、画像生成処理の他の一例を示すフローチャートである。
【００８３】
ステップＺ１１では、第１の投影データＰHVと第２の投影データＰLVとを第１の重み付けにより重み付け減算処理して、第１の物質の密度分布を表す第１の物質密度画像の基になる第３の投影データＰWを得る。また、第１の投影データＰHVと第２の投影データＰLVとを第２の重み付けにより重み付け減算処理して、第１の物質とは異なる第２の物質の密度分布を表す第２の物質密度画像の基になる第４の投影データＰIOを得る。
【００８４】
ステップＺ１２では、第３の投影データＰWと第４の投影データＰIOとを重み付け加算処理して、所定の単一のＸ線エネルギーを有するＸ線を用いて撮影された被検体を表す画像ＧNVの基になる第５の投影データＰNVを得る。
【００８５】
ステップＺ１３では、第５の投影データＰNVを画像再構成処理して、所定の単一のＸ線エネルギーを有するＸ線を用いて撮影された被検体を表す画像ＧNVを再構成する。
【００８６】
なお、本例では、第１および第２の物質密度画像として、水の密度分布を表す画像とヨウ素の密度分布を表す画像とを用いているが、この組合せに限定されない。例えば、水の密度分布を表す画像とカルシウム（calcium）の密度分布を表す画像の組合せ、ヨウ素の密度分布を表す画像とカルシウムの密度分布を表す画像の組合せであってもよい。
【００８７】
上記のモノクロマチック画像を生成する処理の詳細については、特許文献ＵＳ２００９／００５２６１２を参照されたい。
【００８８】
なお、ステップＳ３の画像生成処理において、本例とは異なる画像を生成してもよい。例えば、第１のＸ線管電圧画像ＧHVと第２のＸ線管電圧画像ＧLVとを重み付け減算処理して、骨部や軟部の画像部分が抑制あるいは強調された、いわゆるエネルギーサブトラクション画像（energy subtraction image）を生成してもよい。また例えば、第１のＸ線管電圧画像ＧHVと第２のＸ線管電圧画像ＧLVとの互いに対応する画素値の比を新たな画素値とした比画像を生成してもよい。
【００８９】
以上、第一実施形態によれば、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときにＸ線焦点領域ｆの大きさや位置が所定の状態になる電界を形成するための、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂにそれぞれ印加する設定電圧Ｅａ１，Ｅｂ１と、Ｘ線管電圧Ｖが第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときにＸ線焦点領域ｆの大きさや位置が上記所定の状態になる電界を形成するための、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂにそれぞれ印加する設定電圧Ｅａ２，Ｅｂ２とを記憶しておく。そして、デュアルエネルギー撮影において、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときに第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに設定電圧Ｅａ１，Ｅｂ１をそれぞれ印加し、Ｘ線管電圧Ｖが第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときに第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに設定電圧Ｅａ２，Ｅｂ２をそれぞれ印加する。これにより、Ｘ線管電圧Ｖの変化によって生じるＸ線焦点領域ｆの大きさや位置のずれを補償して、デュアルエネルギー撮影による画像を精度よく、すなわち少ないアーチファクトで得ることができる。
【００９０】
また、第一実施形態によれば、フィードバック制御（feedback control）を利用していないので、第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加する電圧Ｅａ，Ｅｂの切換えを高速に行うことができる。そのため、特に、Ｘ線管電圧Ｖを第１のＸ線管電圧Ｖ１と第２のＸ線管電圧Ｖ２とに交互に切り換えながら所定ビュー角度分の投影データを収集するデュアルエネルギー撮影に対して効果が大きい。
【００９１】
また、第一実施形態によれば、Ｘ線管２１の電子ビームの進行方向を定める電界を形成するための複数の電極として、Ｘ線管が通常備えている集束電極を利用するので、新たに電極やこれに電圧を印加する手段等を設ける必要がなく、設計に要するコスト（cost）や時間、材料費等を抑えることができる。
【００９２】
なお、本実施形態は、例えば図１５に示すように、Ｘ線焦点領域ｆ１のｘ方向の幅ｄ１とＸ線焦点領域ｆ２のｘ方向の幅ｄ２とが同じであり、その位置がｘ方向に距離ｄ３だけずれるなど、Ｘ線管電圧Ｖに応じてＸ線焦点領域ｆの位置だけが変化するような場合にも対応可能である。また、例えば図１６に示すように、Ｘ線焦点領域ｆ１のｘ方向の幅ｄ１とＸ線焦点領域ｆ２のｘ方向の幅ｄ２とが異なり、その中心位置は変わらないなど、Ｘ線管電圧Ｖに応じてＸ線焦点領域ｆの大きさだけが変化するような場合にも対応可能である。
【００９３】
（第二実施形態）
第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂと同様に対を成す集束電極をｙ方向にも設け、Ｘ線管電圧Ｖに応じてこれら集束電極により形成する電界の状態を切り換えることにより、Ｘ線管電圧Ｖの切換えにより生じるＸ線焦点領域ｆの大きさや位置のずれを、ｘ方向およびｙ方向において補償するようにしてもよい。
【００９４】
（第三実施形態）
陰極フィラメント２１ｃから放出された電子ビームに作用して当該電子ビームの進行方向を定める磁界を形成する手段を設け、Ｘ線管電圧Ｖに応じて、形成する磁界の状態を切り換えることにより、Ｘ線管電圧Ｖの切換えにより生じるＸ線焦点領域ｆの大きさや位置のずれを補償するようにしてもよい。
【００９５】
（第四実施形態）
第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加する電圧Ｅａ，Ｅｂの変位量と、Ｘ線焦点領域ｆの大きさや位置の変位量との関係を予め求めて記憶しておく。
【００９６】
Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときと第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときとにおいて、ファントム４１やコリメータ２３等の所定の被写体の投影データを少なくとも１ビュー分収集する。次に、収集した投影データのプロファイル、Ｘ線管２１とＸ線検出器２４との幾何学的位置関係、当該所定の被写体の大きさ、形状、位置などの情報に基づいて、Ｘ線焦点領域ｆ１とＸ線焦点領域ｆ２との大きさや位置のずれ量を特定する。この特定したずれ量を打ち消すために、Ｘ線管電圧Ｖが第１のＸ線管電圧Ｖ１であるときと第２のＸ線管電圧Ｖ２であるときとにおいて第１および第２の集束電極２１ａ，２１ｂに印加すべき電圧、すなわち設定電圧Ｅａ１，Ｅｂ１および設定電圧Ｅａ２，Ｅｂ２を、上記関係を用いて特定するようにしてもよい。
【００９７】
なお、上記各実施形態では、デュアルエネルギー撮影におけるスキャン方式としてアキシャルスキャン（axial scan）を想定しているが、これをヘリカルスキャン（helical scan）としてもよい。
【符号の説明】
【００９８】
１  操作コンソール
２  入力装置
３  中央処理装置
５  データ収集バッファ
６  モニタ
７  記憶装置
１０  撮影テーブル
１２  クレードル
１５  回転部
２０  走査ガントリ
２０ａ  本体部
２１  Ｘ線管
２１ａ  第１の集束電極
２１ｂ  第２の集束電極
２１ｃ  陰極フィラメント
２１ｈ  ハウジング
２１ｓ  陰極スリーブ
２１ｔ  ターゲット電極
２２  Ｘ線コントローラ
２３  コリメータ
２３ａ，２３ｂ  遮蔽棒
２３ｃ，２３ｄ  遮蔽板
２４  Ｘ線検出器
２４ａ  Ｘ線検出素子
２５  ＤＡＳ
２６  回転部コントローラ
２９  制御コントローラ
３０  スリップリング
４０  被検体
４１  ファントム
７０，７１，７２  電子ビーム
８１  Ｘ線ビーム
１００  Ｘ線ＣＴ装置
Ｂ  開口部
ｆ  Ｘ線焦点領域
ｆ１  第１のＸ線焦点領域
ｆ２  第２のＸ線焦点領域
ＩＣ  アイソセンタ
Ｓ  スリット
【図１】
0005535532.tif 000004
【図２】
0005535532.tif 000005
【図３】
0005535532.tif 000006
【図４】
0005535532.tif 000007
【図５】
0005535532.tif 000008
【図６】
0005535532.tif 000009
【図７】
0005535532.tif 000010
【図８】
0005535532.tif 000011
【図９】
0005535532.tif 000012
【図１０】
0005535532.tif 000013
【図１１】
0005535532.tif 000014
【図１２】
0005535532.tif 000015
【図１３】
0005535532.tif 000016
【図１４】
0005535532.tif 000017
【図１５】
0005535532.tif 000018
【図１６】
0005535532.tif 000019