(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクを備える磁気ディスク装置であって、
データ書込みの際、クロストークによる変化を検出する変化検出部と、
前記変化検出部の検出結果によりデータ書込みを中断させる書込み制御部と、
前記磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価するクロストーク評価部と、
を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記クロストーク評価部は、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記磁気ディスクは、少なくとも第１の磁気ディスクと、該第１の磁気ディスクに隣接する第２の磁気ディスクとを含み、
前記クロストーク評価部は、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記クロストーク評価部は、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
磁気ディスクを備える磁気ディスク装置の性能評価方法であって、
データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる工程と、
磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する工程と、
を含むことを特徴とする磁気ディスク装置の性能評価方法。
【請求項６】
磁気ディスク装置に搭載されたコンピュータ又は磁気ディスク装置に接続されたコンピュータによって実行される性能評価プログラムであって、
データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる機能と、
磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する機能と、
を前記コンピュータによって実現することを特徴とする磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の磁気ディスクを用いた磁気ディスク装置の性能評価技術に関し、例えば、クロストークの影響を受ける書込み時間や書込み速度により性能を評価する磁気ディスク装置、その性能評価方法及び性能評価プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では複数の磁気ディスクを隣接して配置し、複数の磁気ディスクを以てＲＡＩＤ装置を構成する等、記録データの冗長化が図られる。複数の磁気ディスクを備えた場合には、磁気ディスク間に発生するクロストークの影響で、磁気ディスク装置の性能が低下することが知られている。
【０００３】
このクロストークに関し、クロストークの影響があるパスに同相又は逆相で遷移する信号を印加し、クロストーク影響下でパスに伝搬する信号の伝搬遅延時間を測定することが知られている（例えば、特許文献１）。
【０００４】
配線間に発生するクロストーク検出に関し、クロストークの影響で誤動作する箇所を抽出し、その箇所にクロストークの影響が現れるテストパターンを生成し、このテストパターンを用いるテスト手法が知られている（例えば、特許文献２）。
【０００５】
また、クロストーク検出に関し、クロストーク検出用データパターンを生成し、このデータパターンを用いたライトコマンド又はリードコマンドを実行し、その実行結果からクロストークを判断し、検出することが知られている（例えば、特許文献３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２５７９０３公報
【特許文献２】特開２００１−３０５１９１公報
【特許文献３】特開２００６−３３８５６５公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、複数の磁気ディスクを用いる磁気ディスク装置はクロストークによって性能低下を来す。そして、このクロストークは、磁気ディスク装置に搭載されているショックセンサの検出出力に影響し、振動や衝撃等の外的要因が磁気ディスク装置に作用した場合と同様に、データの書込みを中断させる。このため、データの書込み時間や書込み速度がクロストークの影響を受け、クロストークが磁気ディスク装置の性能低下の要因となっている。また、クロストークが頻発すれば、データ書き込みの信頼性を低下させることになる。
【０００８】
そこで、本開示の磁気ディスク装置、その性能評価方法及び性能評価プログラムの目的は、上記課題に鑑み、クロストークによってデータの書込み時間や書込み速度が変化することを利用し、磁気ディスク装置の性能を評価することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本開示の磁気ディスク装置は、データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる書込み制御部を備える。このため、クロストークが発生すれば、データ書込みの中断により、書込み速度が低下する。そこで、クロストーク評価部は、データパターンの書込み速度を測定し、その書込み速度からクロストークの影響の有無を評価する。即ち、磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。次に、磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。そして、これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較することにより、クロストークの有無を評価する。
【００１０】
上記目的を達成するため、本開示の磁気ディスク装置の性能評価方法は、データ書込み中断工程、書込み速度を測定する第１の測定工程、書込み速度を測定する第２の測定工程及び評価工程を含む。データ書込み中断工程では、データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる。第１の測定工程では、磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。第２の測定工程では、前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。そして、評価工程では、第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間の比較により、クロストークの有無を評価する。
【００１１】
上記目的を達成するため、本開示の磁気ディスク装置の性能評価プログラムは、データ書込み中断機能、書込み速度を測定する第１の測定機能、書込み速度を測定する第２の測定機能及び評価機能を含む。データ書込みの中断機能では、データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる。第１の測定機能では、磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。第２の測定機能では、前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する。そして、評価機能では、第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間の比較により、クロストークの有無を評価する。
【発明の効果】
【００１２】
本開示の磁気ディスク装置、その性能評価方法及び性能評価プログラムによれば、次の何れかの効果が得られる。
【００１３】
(1) 特定領域へのデータの書込み速度又は書込み時間を測定して比較するので、クロストークの影響の有無を把握でき、磁気ディスク装置の性能評価の精度が高められる。
【００１４】
(2) 振動や衝撃等の外的要因を検出するセンサがクロストークによる変化検出に利用できるので、性能評価の簡易化を図ることができる。
【００１５】
(3) 斯かる性能評価を用いれば、磁気ディスク装置の高性能化に寄与する。
【００１６】
そして、本発明の他の目的、特徴及び利点は、添付図面及び各実施の形態を参照することにより、一層明確になるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】第１の実施の形態に係る磁気ディスク装置の一例を示す図である。
【図２】性能評価の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図３】書込み動作の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】第２の実施の形態に係るＲＡＩＤ装置の一例を示す図である。
【図５】ＲＡＩＤ装置の機能を示す図である。
【図６】ＲＡＩＤ装置のハードウェアの構成例を示す図である。
【図７】ディスクの構成例を示す図である。
【図８】メディアへのデータ書込みを示す図である。
【図９】データパターンの一例を示す図である。
【図１０】性能評価の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図１１】クロストークの発生を示す図である。
【図１２】性能評価の処理手順の変形例を示すフローチャートである。
【図１３】第３の実施の形態に係る性能評価の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図１４】第４の実施の形態に係る磁気ディスク装置の一例を示す図である。
【図１５】性能評価の処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図１６】他の実施の形態に係るＲＡＩＤ装置の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
〔第１の実施の形態〕
【００１９】
第１の実施の形態について、図１を参照する。図１は第１の実施の形態に係る磁気ディスク装置の一例を示している。
【００２０】
この磁気ディスク装置２は本開示の磁気ディスク装置の一例であって、単一又は複数の磁気ディスクを備える構成であり、ＲＡＩＤ（Redundant Array of Inexpensive Disks）装置等を構成する。この磁気ディスク装置２には、図１に示すように、磁気ディスク４と、磁気ヘッド６と、変化検出部８と、書込み制御部１０と、クロストーク評価部１２とが含まれる。
【００２１】
磁気ディスク４は、データの記録媒体の一例であって、単一又は複数のディスクで構成される。この磁気ディスク４は、媒体面に無数の微細磁極を備え、この微細磁極に対してデータを記憶する構造である。この磁気ディスク４はスピンドルモータによって回転させ、設定された記憶領域に既述の磁気ヘッド６によりデータを記憶させる。
【００２２】
磁気ヘッド６は、磁気ディスク４にデータを書き込む書込みヘッドの一例であって、書込み制御部１０の書込み出力を受け、磁気ディスク４の表面を滑空して磁気ディスク４の微細磁極に磁界を作用させ、データを書き込む。
【００２３】
変化検出部８は、クロストークの間接的な検出手段の一例であって、クロストークによって生じる変化を検出する。クロストークによって生じる変化には、クロストークにより生じる振動や衝撃が含まれる。この変化検出部８の検出出力は、書込み制御部１０に入力される。
【００２４】
書込み制御部１０は、磁気ヘッド６による磁気ディスク４へのデータ書込みを制御する書込み制御部の一例であって、変化検出部８の検出結果に応じてデータ書込みを中断させる。データ書込みの中断はデータの書込み速度に影響を与え、書込み動作の中断が頻発すると、同一のデータであってもデータの書込み時間が長くなり、書込み速度や平均書込み速度が低下することになる。
【００２５】
そして、クロストーク評価部１２は、磁気ディスク４に生じたクロストークを評価する機能部の一例であって、磁気ディスク４の特定領域に対するデータの書込み速度を比較し、クロストークの有無を評価する。即ち、クロストークによるデータ書込みの中断がデータの書込み速度を変化させるので、その書込み速度を比較すれば、クロストークの影響の有無を評価できる。
【００２６】
このクロストーク評価部１２には、データパターン生成部１４と、書込み速度測定部１６と、比較部１８とを備える。データパターン生成部１４は、ノイズの少ない第１のデータパターン２０、ノイズの多い第２のデータパターン２２を生成する。ノイズの多い第２のデータパターン２２は、疑似的なクロストークを発生させるための情報である。書込み速度測定部１６は、磁気ディスク４の特定領域にデータパターン２０を書き込み、データパターン２０の書込み速度を測定する。また、書込み速度測定部１６は、磁気ディスク４の特定領域にデータパターン２２を書き込み、このデータパターン２２の書込み速度を測定する。そして、比較部１８は、これらデータパターン２０、２２の書込み速度を比較し、クロストークの有無を評価する。
【００２７】
次に、磁気ディスク装置の性能評価について、図２及び図３を参照する。図２は性能評価の処理手順の一例を示し、図３はデータ書込みの処理手順の一例を示している。
【００２８】
この処理手順は、磁気ディスク装置の性能評価方法及び性能評価プログラムの一例である。この処理手順では、図２に示すように、磁気ディスク４の特定領域Ｘ（例えば、図８）にノイズの少ない第１のデータパターン２０を書き込み、このデータパターン２０の書込み速度Ｖ1 を測定する（ステップＳ１１）。書込み速度Ｖ1 には平均書込み速度Ａｓを用いてもよい。この平均書込み速度Ａｓは、所定のデータ長を書込み時間で除した値であり、この書込み時間にはクロストークによる書込み中断時間も含まれる。
【００２９】
磁気ディスク４の特定領域Ｘにノイズの多い第２のデータパターン２２を書き込み、このデータパターン２２の書込み速度Ｖ2 を測定する（ステップＳ１２）。書込み速度Ｖ2 には平均書込み速度Ｂｓを用いてもよい。この平均書込み速度Ｂｓは、所定のデータ長を書込み時間で除した値であり、この書込み時間にはクロストークによる書込み中断時間も含まれる。
【００３０】
そして、書込み速度Ｖ1 と書込み速度Ｖ2 とを比較することにより、クロストークの有無を評価する（ステップＳ１３）。
【００３１】
この性能評価におけるデータ書込みの処理手順は、図３に示すように、データパターン２０、２２の書込みは通常のデータの書込みで実行される（ステップＳ２１）。このデータ書込みにおいて、データの書込み中、変化検出部８の検出出力が監視され、クロストークによる変化の有無が判断される（ステップＳ２２）。クロストークによる変化があれば（ステップＳ２２のＹＥＳ）、データ書込みを中断し（ステップＳ２３）、ステップＳ２２に戻って変化検出部８の検出出力を監視する。
【００３２】
クロストークによる変化がなければ（ステップＳ２２のＮＯ）、全てのデータの書込みが完了したかを判断する（ステップＳ２４）。全てのデータの書込みが完了していなければ（ステップＳ２４のＮＯ）、ステップＳ２１に戻り、データの書込みを継続する。そして、全てのデータの書込みが完了すれば（ステップＳ２４のＹＥＳ）、この処理を終了する。
【００３３】
上記実施の形態によれば、次のような効果が得られる。
【００３４】
(1) 特定領域へのデータの書込み速度を測定して比較するので、クロストークの影響の有無を評価でき、磁気ディスク装置２の性能評価の精度が高められる。
【００３５】
(2) 振動や衝撃等の外的要因を検出するショックセンサがクロストークの影響を受けるので、このショックセンサを変化検出に利用し、性能評価の簡易化を図ることができる。
【００３６】
(3) 斯かる性能評価を用いれば、クロストークを発生する磁気ディスク４の切り離し、性能の低い製品の排除や改良に利用でき、磁気ディスク装置２の高性能化に寄与する。
【００３７】
〔第２の実施の形態〕
【００３８】
第２の実施の形態について、図４を参照する。図４は第２の実施の形態に係るＲＡＩＤ装置を示している。
【００３９】
このＲＡＩＤ装置３０は、本開示の磁気ディスク装置の一例であって、複数の磁気ディスクを用いてデータの冗長化を実現した装置である。このＲＡＩＤ装置３０には、図４に示すように、コントローラエンクロージャ（ＣＥ）３２と、ディスクエンクロージャ（ＤＥ）３４とが備えられている。
【００４０】
ＣＥ３２は、ＤＥ３４の制御手段の一例であって、ホストコンピュータ（ＨＯＳＴ）４２（図６）に接続され、既述のディスク制御、書込み速度又は書込み時間の比較、クロストーク評価等、演算や制御を実行する。
【００４１】
ＤＥ３４は、ディスクドライブユニットの一例であって、このＤＥ３４にはディスクユニット３６と、複数のポートバイパス回路（ＰＢＣ：Port Bypass Circuit ）３８、４０とが備えられている。
【００４２】
ディスクユニット３６には、複数のＤｉｓｋ００、０１、０２・・・Ｎが備えられている。各Ｄｉｓｋ００、０１、０２・・・Ｎは、既述の磁気ディスク４の一例であって、データの書込み及び読出しが可能な記録媒体である。
【００４３】
ＰＢＣ３８（＃０）及びＰＢＣ４０（＃１）は、ディスク切替回路の一例であって、Ｄｉｓｋ００、０１、０２・・・Ｎからデータの書込み又は読出しの対象となるＤｉｓｋの選択や対象Ｄｉｓｋを含むループ切替え等を行う。
【００４４】
次に、ＣＥ３２について、図５及び図６を参照する。図５はＲＡＩＤ装置の機能部の一例を示し、図６はＲＡＩＤ装置のハードウェア構成の一例を示している。図５及び図６において、図１、図４と同一部分には同一符号を付してある。
【００４５】
ＣＥ３２には、図５に示すように、既述の書込み制御部１０と、クロストーク評価部１２とが含まれる。書込み制御部１０及びクロストーク評価部１２の機能は既述の通りであり、その説明を省略する。また、書込み制御部１０には磁気ヘッド６及びショックセンサ８０が接続されている。磁気ヘッド６の機能は、既述の通りであるので、その説明を省略する。
【００４６】
また、ショックセンサ８０は、既述の変化検出部８（図１）の一例であって、データ書込みの際、クロストークによる振動や衝撃を検出する。このショックセンサ８０は、本来、振動や衝撃等の外的要因の検出に用いられるが、データ書込みの際にクロストークを生じると、このクロストークがショックセンサ８０の検出出力に現れる。即ち、ショックセンサ８０は、既述の変化検出部８として用いることができる。このショックセンサ８０の検出出力はＣＥ３２の書込み制御部１０に入力される。データ書込みの際、書込み制御部１０は、ショックセンサ８０の検出出力に応じて、即ち、検出レベルが閾値を超えれば、データ書込みを中断させる。
【００４７】
そして、ＣＥ３２には上記機能を実現するため、図６に示すように、ＣＰＵ（Central Processing Unit ）４４と、タイマー部４６と、メモリ部４８とが備えられている。ＣＰＵ４４は、メモリ部４８にあるプログラムの実行、データの取込み、データパターンの生成、タイマー部４６からの時間情報を参照し、データの平均書込み速度の測定、平均書込み速度の比較によるクロストークの有無の評価等の処理を実行する。
【００４８】
タイマー部４６は計時手段の一例であって、このタイマー部４６からデータの書込み時間等の時間情報を取得する。
【００４９】
メモリ部４８は、プログラムやデータの記憶手段の一例であって、記録媒体によって構成される。このメモリ部４８には、ＯＳ（Operating System）や本開示の性能評価プログラムが格納されるとともに、データ記憶域５０が設定されている。このデータ格納域５０には、データパターン記憶域５２、Ａｓ記憶域５４、Ｂｓ記憶域５６、Ｃｓ記憶域５８が設定されている。データパターン記憶域５２にはノイズの少ないデータパターン、ノイズの多い複数の異なるデータパターンを生成するため、それぞれのデータパターンが記憶されている。Ａｓ記憶域５４には、測定された平均書込み速度Ａｓが格納される。Ｂｓ記憶域５６には、測定された平均書込み速度Ｂｓが格納される。また、Ｃｓ記憶域５８には、設定された平均書込み速度Ｃｓが格納される。
【００５０】
なお、磁気ヘッド６及びショックセンサ８０は、既述の通りであるので、その説明を省略する。
【００５１】
次に、Ｄｉｓｋ００、０１、０２・・・Ｎ及びデータ書込みについて、図７及び図８を参照する。図７はＤｉｓｋの構成例を示し、図８は書込み動作を示している。
【００５２】
各Ｄｉｓｋ００、０１、０２・・・Ｎには、図７に示すように、単一又は複数の記録媒体（Ｍｅｄｉａ）６０が備えられている。このＭｅｄｉａ６０は、既述の通り、Ｍｅｄｉａ面に無数の微細磁極を備え、既述の磁気ヘッド６からの磁界を受け、着磁によってデータを記憶する。
【００５３】
Ｍｅｄｉａ６０は、図８に示すように、図示しないスピンドルモータにより一定の速度で回転させる（矢印Ｎ）。このＭｅｄｉａ６０の媒体面にはカンチレバー６２の先端部に支持された磁気ヘッド６を滑空させ、Ｍｅｄｉａ６０の特定領域Ｘが磁気ヘッド６の直下を通過する際、データ書込み（Ｗｒｉｔｅ）が実行される。このデータ書込み中、既述のショックセンサ８０は、振動、衝撃等の外的要因を検出するが、クロストークを受けた場合にもそのクロストークによる変化が検出出力に現れる。
【００５４】
そして、ショックセンサ８０の検出出力はＣＥ３２に取り込まれ、検出レベルが所定レベル（閾値）を超えた場合、データの書込み動作を中断させる。この場合、特定領域Ｘのデータ書込みが一時中断した場合、特定領域Ｘに対するデータ書込みのリトライは、Ｍｅｄｉａ６０の周回を経て再度特定領域Ｘが磁気ヘッド６の直下を通過するまで、回転待機が発生する。この回転待機が書込み時間を遅延させ、平均書込み速度を低下させる要因となる。即ち、クロストークが原因でショックセンサ８０に出力が生じるので、クロストークがデータの平均書込み速度を遅延させる原因になる。
【００５５】
次に、データパターンについて、図９を参照する。図９はデータパターンの一例を示している。
【００５６】
この実施の形態では、３種類の第１、第２及び第３のデータパターンＡ、Ｂ、Ｃが用いられている。データパターンＡはクロストークを発生させない（その影響が小さい）データパターンであって、図９のＡに示すように、全ての値をゼロに設定したパターンである。全ての値をゼロ（Ａｌｌ＝０）に設定するのはパラレルデータバスが常に一定であるためである。それ故、このデータパターンＡはクロストークの影響の少ない基準データを構成している。
【００５７】
データパターンＢはクロストークを生じやすい（その影響が大である）データパターンであって、図９のＢに示すように、パラレルデータバス部分を全て同時に同極性で動作するデータ「００」と「ＦＦ」との繰り返しデータである。これはクロストークを生じさせるための手段としてのデータパターンである。８〔ｂｉｔ〕パラレルバスの場合、このようなデータパターンＢを用いれば、８〔ｂｉｔ〕のパラレルデータバスを常に同時に同極性で変化させることができる。
【００５８】
データパターンＣはクロストークを生じやすい（その影響が大である）データパターンであって、図９のＣに示すように、パラレルデータバス部分を全て同時に同極性で動作するデータ「００００」と「ＦＦＦＦ」との繰り返しデータである。これは、データパターンＢと異なるが、クロストークを生じさせるための手段としてのデータパターンである。１６〔ｂｉｔ〕パラレルバスの場合、このようなデータパターンＣを用いれば、１６〔ｂｉｔ〕のパラレルデータバスを常に同時に同極性で変化させることができる。
【００５９】
この実施の形態では、クロストークを生じさせない基準パターンや、クロストークを生じさせる疑似パターンを８〔ｂｉｔ〕、１６〔ｂｉｔ〕で編成したがこれに限定されない。３２〔ｂｉｔ〕、６４〔ｂｉｔ〕・・・等で構成しても良いし、パターン数も３に限定されず、４以上であっても良い。
【００６０】
次に、性能評価の処理手順について、図１０及び図１１を参照する。図１０は性能評価の処理手順の一例を示し、図１１はＤｉｓｋ００にクロストークを生じている場合を示している。
【００６１】
この処理手順は、本開示の磁気ディスク装置の性能評価方法又はその性能評価プログラムの一例であって、説明を具体化するため、性能評価対象にＤｉｓｋ００（図４）を選択している。
【００６２】
この処理手順では、図１０に示すように、ノイズ発生の少ないデータパターンＡをＤｉｓｋ００の特定領域Ｘにライト（Write ）する（ステップＳ１０１）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ａｓを測定する（ステップＳ１０２）。この平均書込み速度Ａｓは、例えば、データパターンＡの書込み開始から書込み終了までのデータ量を書込み時間ＴA で除した値である。
【００６３】
ノイズ発生の多いデータパターンＢを既述のＤｉｓｋ００の特定領域Ｘにライト（書込み）する（ステップＳ１０３）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ｂｓを測定する（ステップＳ１０４）。この平均書込み速度Ｂｓは、例えば、データパターンＢの書込み開始から書込み終了までのデータ量を書込み時間ＴB で除した値である。
【００６４】
また、ノイズ発生の多いデータパターンＣを既述のＤｉｓｋ００の特定領域Ｘにライト（書込み）する（ステップＳ１０５）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ｃｓを測定する（ステップＳ１０６）。この平均書込み速度Ｃｓは、例えば、データパターンＣの書込み開始から書込み終了までのデータ量を書込み時間ＴC で除した値である。
【００６５】
そして、平均書込み速度Ａｓと平均書込み速度Ｂｓとを比較し（ステップＳ１０７）、Ａｓ＝Ｂｓでなければ（ステップＳ１０７のＮＯ）、データパターンＢでＤｉｓｋ００にクロストークが発生しているので（図１１）、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行する（ステップＳ１０８）。
【００６６】
また、Ａｓ＝Ｂｓであれば、データパターンＢではクロストークが発生していないので、平均書込み速度Ａｓと平均書込み速度Ｃｓとを比較する（ステップＳ１０９）。
【００６７】
Ａｓ＝Ｃｓでなければ（ステップＳ１０９のＮＯ）、データパターンＣでＤｉｓｋ００にクロストークが発生しているので（図１１）、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行する（ステップＳ１０８）。
【００６８】
Ａｓ＝Ｃｓであれば（ステップＳ１０９のＹＥＳ）、データパターンＣでもＤｉｓｋ００にクロストークが発生していないので、この処理を終了する。
【００６９】
なお、この処理手順では平均書込み速度Ａｓ、Ｂｓ、Ｃｓには、例えば、データパターンＡ、Ｂ、Ｃの書込み開始から書込み終了までのデータ量を一回のデータ書込みで算出した値を例示しているが、数回のデータ書込みの平均書込み速度を用いても良い。
【００７０】
次に、この性能評価の処理手順について、図１２を参照する。図１２は、性能評価の処理手順の変形例を示している。
【００７１】
この処置手順はＣＰＵ４４（図６）の処理内容を明示し、平均書込み速度の比較には、大小関係の判定処理が用いられている。
【００７２】
この処理手順では、図１２に示すように、ＣＰＵ４４はノイズ発生の少ないデータパターンＡをＤｉｓｋ００の特定領域Ｘへ書き込む指示をする（ステップＳ２０１）。このデータ書込みの開始と同時に、ＣＰＵ４４はタイマー部４６に計時開始を指示する（ステップＳ２０２）。ＣＰＵ４４はデータパターンＡのＤｉｓｋ００への書込み終了を監視する（ステップＳ２０３）。データ書込みの終了と同時に、ＣＰＵ４４はタイマー部４６の計時を終了させ、書き込みに要した時間（ＴAS）をタイマー部４６より取り込み、メモリ部４８のＡｓ記憶域５４に記憶させる（ステップＳ２０４）。
【００７３】
次いで、ＣＰＵ４４はノイズ発生の多いデータパターンＢをＤｉｓｋ００の特定領域Ｘに書込み指示をする（ステップＳ２０５）。ＣＰＵ４４はタイマー部４６に計時開始を指示する（ステップＳ２０６）。ＣＰＵ４４はデータパターンＢのＤｉｓｋ００への書込み終了を監視する（ステップＳ２０７）。データ書込みの終了と同時に、ＣＰＵ４４はタイマー部４６の計時を終了させ、書き込みに要した時間（ＴBS）をタイマー部４６より取り込み、メモリ部４８のＢｓ記憶域５６に記憶させる（ステップＳ２０８）。
【００７４】
次いで、ＣＰＵ４４はノイズ発生の多いデータパターンＣをＤｉｓｋ００の特定領域Ｘに書込み指示をする（ステップＳ２０９）。ＣＰＵ４４はタイマー部４６に計時開始を指示する（ステップＳ２１０）。ＣＰＵ４４はデータパターンＣのＤｉｓｋ００への書込み終了を監視する（ステップＳ２１１）。データ書込みの終了と同時に、ＣＰＵ４４はタイマー部４６の計時を終了させ、書き込みに要した時間（ＴCS）をタイマー部４６より取り込み、メモリ部４８のＣｓ記憶域５８に記憶させる（ステップＳ２１２）。
【００７５】
次いで、ＣＰＵ４４は、メモリ部４８にある時間ＴASと時間ＴBSとを比較する（ステップＳ２１３）。ＴAS＜ＴBSであれば（ステップＳ２１３のＹＥＳ）、データパターンＢでクロストークが発生しているので、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行し（ステップＳ２１４）、この処理を終了する。
【００７６】
ＴAS＜ＴBSでなければ（ステップＳ２１３のＮＯ）、ＣＰＵ４４は、メモリ部４８にある時間ＴASと時間ＴCSとを比較する（ステップＳ２１５）。ＴAS＜ＴCSであれば（ステップＳ２１５のＹＥＳ）、データパターンＣでクロストークが発生しているので、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行し（ステップＳ２１４）、この処理を終了する。
【００７７】
また、ＴAS＜ＴCSでなければ（ステップＳ２１５のＮＯ）、クロストークが発生していないので、Ｄｉｓｋ００は接続を維持し、この処理を終了する。
【００７８】
上記第２の実施の形態について、特徴事項、利点及び変形例を以下に列挙する。
【００７９】
(1) データ書込みの際にクロストークが書込み速度に影響するという特性に基づき、ライト動作で、疑似的なクロストークが発生する条件を付与し、そのクロストークの有無により、磁気ディスク装置２やＲＡＩＤ装置３０の性能を評価することができる。
【００８０】
(2) 上記実施の形態では、Ｄｉｓｋにデータを書き込む際、クロストークの影響が少ない第１のデータパターンＡの“Ａｌｌ−０”を書込みした場合の性能として平均書込み速度を測定する。
【００８１】
(3) クロストークを間接的に検出する変化検出部８（図１）として、ショックセンサ（振動センサ）８０がクロストークの影響を受け易い特性を利用する。そこで、第２のデータパターンＢには、パラレルデータバス部分が全て同時に同極性で動作する“００”ｖｓ“ＦＦ”（８ｂｉｔパラレルバスの場合）繰り返しを用いる。このとき、ライトデータでの性能を測定し、先の“Ａｌｌ−０”データパターンと“同時、同極性の繰り返しクロストーク”パターンの比率で、クロストークの有無を評価する。この評価には、平均書込み速度の長短を用いる。クロストークが無ければ、各々のデータパターンでも同等性能を示すが、クロストークがある場合には、両データパターンでは性能差が発生する。この性能差の有無を検出し、測定ＬＢＡ（位置）等のディスク構造に依存した絶対値性能ではなく、同一測定ＬＢＡ（位置）におけるデータパターンの違いによる性能差を検出する。これにより、クロストークがある異常状態かクロストークの無い正常状態かを切り分ける。そして、クロストークが発生しているＤｉｓｋを切り離し、正常化を図っている。
【００８２】
(4) 隣接したＤｉｓｋからの影響を確認するために、例えば、Ｄｉｓｋ００と隣接するＤｉｓｋ０１にも、先のＤｉｓｋ００に書き込んだデータパターンと同一のデータパターンを書き込み、データパターンの違いによる性能差を確認する。隣接するＤｉｓｋからのクロストークを平均書込み速度により確認し、クロストークが発生しているＤｉｓｋをループから切り離す。これにより、クロストークの無いＲＡＩＤ装置を構成できる。
【００８３】
(5) データパターンの違いによる性能差確認について、ＲＡＩＤ装置の電源投入時及び一定間隔で実施してもよく、隣接以外の他のＤｉｓｋからのクロストークも検出することができる。この場合、Ｄｉｓｋ００と例えば、隣接していないＤｉｓｋＮとのデータ書込みの平均書込み速度を測定し、比較すればよい。
【００８４】
(6) 同時に同極性で動作する“００”ｖｓ“ＦＦ”は８〔ｂｉｔ〕パラレルバスの場合であるが、パラレルデータバスはデータ８、１６、３２、６４・・・バス幅を拡大してもよい。８〔ｂｉｔ〕データ幅で有効な“００”ｖｓ“ＦＦ”の繰り返しのライトデータデータパターンを、１６〔ｂｉｔ〕のバス幅に使用した場合、“ＦＦ００”の繰り返しとなり、データバスとしては常に同一値となり、クロストークパターンとしては有効でない。そこで、全ディスクドライブのデータバス幅において、同時に同極性で値が変動するデータパターンを順次に実行し、各バス幅で確認しても良い。
【００８５】
(7) その他、第２の実施の形態においても、第１の実施の形態で述べた効果と同様の効果が得られる。
【００８６】
〔第３の実施の形態〕
【００８７】
次に、第３の実施の形態について、図１３を参照する。図１３は第３の実施の形態に係る処理手順の一例を示している。
【００８８】
この処理手順は、本開示の磁気ディスク装置の性能評価方法又はその性能評価プログラムの一例であって、この実施の形態においても、第２の実施の形態と同様のＲＡＩＤ装置を構成すればよい。この実施の形態では、隣接するＤｉｓｋ間のクロストークの影響を評価しており、性能評価対象にＤｉｓｋ００とＤｉｓｋ０１（図４）を用いている。
【００８９】
この処理手順では、図１３に示すように、ノイズ発生の少ないデータパターンＡをＤｉｓｋ００の特定領域Ｘにライト（書込み）する（ステップＳ３０１）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ａｓを測定する（ステップＳ３０２）。
【００９０】
ノイズ発生の多いデータパターンＢを既述のＤｉｓｋ００特定領域Ｘ及びＤｉｓｋ０１にライト（書込み）する（ステップＳ３０３）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ｂｓを測定する（ステップＳ３０４）。
【００９１】
また、ノイズ発生の多いデータパターンＣを既述のＤｉｓｋ００特定領域Ｘ及びＤｉｓｋ０１にライト（書込み）する（ステップＳ３０５）。このデータ書込みの後、データ書込みの平均書込み速度Ｃｓを測定する（ステップＳ３０６）。
【００９２】
そして、平均書込み速度Ａｓと平均書込み速度Ｂｓとを比較し（ステップＳ３０７）、  Ａｓ＝Ｂｓでなければ、データパターンＢでＤｉｓｋ００にクロストークが発生しているので（図１１）、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行する（ステップＳ３０８）。
【００９３】
また、Ａｓ＝Ｂｓであれば、データパターンＢではクロストークが発生していないので、平均書込み速度Ａｓと平均書込み速度Ｃｓとを比較する（ステップＳ３０９）。
【００９４】
Ａｓ＝Ｃｓでなければ（ステップＳ３０９のＮＯ）、データパターンＣでＤｉｓｋ００にクロストークが発生しているので（図１１）、Ｄｉｓｋ００の切り離しを実行する（ステップＳ３０８）。
【００９５】
Ａｓ＝Ｃｓであれば（ステップＳ３０９のＹＥＳ）、データパターンＣでもＤｉｓｋ００にクロストークが発生していないので、この処理を終了する。
【００９６】
従って、第３の実施の形態においても、第１及び第２の実施の形態で述べた効果と同様の効果が得られる。
【００９７】
〔第４の実施の形態〕
【００９８】
次に、第４の実施の形態について、図１４及び図１５を参照する。図１４は第４の実施の形態に係る磁気ディスク装置の一例を示し、図１５は性能評価の処理手順の一例を示している。
【００９９】
第１、第２、第３の実施の形態では、磁気ディスク装置２の性能評価（クロストークの有無）にデータ書き込みの書込み速度や平均書込み速度を用いているのに対し、第４の実施の形態では、データの書込み時間をクロストークの評価に用いている。
【０１００】
この実施の形態の磁気ディスク装置２では、図１４に示すように、磁気ディスク４と、磁気ヘッド６と、変化検出部８と、書込み制御部１０と、クロストーク評価部１２とが含まれる。この場合、クロストーク評価部１２は、磁気ディスク４に生じたクロストークを評価する機能部の一例であって、磁気ディスク４の特定領域に対するデータの書込み時間を比較し、クロストークの有無を評価する。即ち、クロストークによるデータ書込みの中断がデータの書込み時間を変化させるので、その書込み時間を比較すれば、クロストークの影響の有無を評価できる。
【０１０１】
この実施の形態のクロストーク評価部１２には、データパターン生成部１４及び比較部１８とともに、書込み時間測定部１７が備えられている。書込み時間測定部１７は、データパターン２０、２２の書込み時間を測定する。そして、比較部１８は、これらデータパターン２０、２２の書込み時間を比較し、クロストークの有無を評価する。
【０１０２】
その他の機能部は第１の実施の形態と同様であるので、その説明を省略する。
【０１０３】
次に、磁気ディスク装置の性能評価について、図１５を参照する。この処理手順は、磁気ディスク装置の性能評価方法及び性能評価プログラムの一例であって、処理情報にデータの書込み時間が用いられている。
【０１０４】
この処理手順では、磁気ディスク４の特定領域Ｘ（例えば、図８）にノイズの少ない第１のデータパターン２０を書き込み、このデータパターン２０の書込み時間Ｔ1 を測定する（ステップＳ３１）。書込み時間Ｔ1 には平均書込み時間を用いてもよい。
【０１０５】
磁気ディスク４の特定領域にノイズの多い第２のデータパターン２２を書き込み、このデータパターン２２の書込み時間Ｔ2 を測定する（ステップＳ３２）。書込み時間Ｔ2 には平均書込み時間を用いてもよい。
【０１０６】
そして、書込み時間Ｔ1 と書込み時間Ｔ2 とを比較することにより、クロストークの有無を評価する（ステップＳ３３）。
【０１０７】
この性能評価におけるデータ書込みの処理手順は、図３に示したとおりであるので、その説明を省略する。
【０１０８】
上記実施の形態によれば、特定領域へのデータの書込み時間を測定して比較するので、クロストークの影響の有無を評価でき、磁気ディスク装置２の性能評価の精度が高められる。その他の効果として、第１及び第２のの実施の形態と同様の効果が得られる。
【０１０９】
〔他の実施の形態〕
【０１１０】
(1) 上記実施の形態では、磁気ディスク装置２にあるクロストーク評価部１２や、ＲＡＩＤ装置３０の内部に設置されたＣＥ３２を用いてクロストークの有無を判定しているが、これに限定されない。図１６に示すように、ＲＡＩＤ装置３０に接続されたパーソナルコンピュータ（ＰＣ）８２を用いてクロストークの有無を判定する構成としてもよい。即ち、磁気ディスク装置２の内部にあるコンピュータに限定されることなく、磁気ディスク装置２に接続されるホストコンピュータ等の外部処理装置を用いてクロストークの有無を判定し、磁気ディスク装置２を評価してもよい。
【０１１１】
(2) 複数の磁気ディスクを備えた磁気ディスク装置２の例示として、ＲＡＩＤ装置３０を記載したが、本開示の磁気ディスク装置はＲＡＩＤ装置以外のストレージ装置を構成してもよい。
【０１１２】
〔比較例〕
【０１１３】
ＲＡＩＤ装置等に搭載されているＤｉｓｋ、隣接したＤｉｓｋ間、更には、装置内モジュールとディスクドライブが狭間で構成されるＲＡＩＤ装置では、クロストークを生じ、そのクロストークがＲＡＩＤ装置に性能異常を来すことが知られている。
【０１１４】
ＲＡＩＤ装置では、ディスクドライブの高密度化やアクセスの効率化が図られ、そのアクセスには例えば、ＬＢＡ（Logical Block Addressing）が用いられており、ディスクドライブの物理的構造を意識する必要が無い。ディスクドライブでは、ディスクの外周側に配置されたブロックの転送速度は、速い周速の影響を受けて速くなり、内周側に配置されたブロックの転送速度は、遅い周速の影響を受け、遅くなる傾向がある。
【０１１５】
ＬＢＡを用いたアクセスは、物理位置や、その物理位置を前提とする制御等を意識せずに簡便に実行できるが、その実行が簡便であるが故に、同一ディスクドライブであってもブロックの配置場所で転送速度及び性能が異なる。ＬＢＡによる制御は斯かる性能差を認識できない制御である。
【０１１６】
Ｄｉｓｋは、一般的に媒体の外周側のブロックのアクセスでは早い周速の影響を受け、転送速度が早くなるので、高性能となる。これに対し、ディスクの内周側のブロックのアクセスでは、外周側に比較して遅い周速の影響を受け、転送速度が遅くなるので、低性能となる。
【０１１７】
また、Ｄｉｓｋは媒体面の微細磁極によりデータを記憶させている。媒体面全面に全く欠陥ない媒体を製造するには莫大な費用が掛かるため、欠陥が特定量以下であれば容認することが行われ、しかも、欠陥部分の分散化で対応している。このため、欠陥部分は各Ｄｉｓｋで異なり、同一モデルのＤｉｓｋであっても、その性能が異なる傾向にある。従って、Ｄｉｓｋの性能について、一定閾値との比較や、Ｄｉｓｋ同士の比較では性能低下を検出することが困難である。
【０１１８】
そして、磁気ディスク装置には振動を検出する振動（ショック）センサが搭載されている。この振動センサは、微細な振動を検知する構造を有するため、クロストークの影響を受ける。ＲＡＩＤでは、複数のディスクドライブ間が狭く、隣接したディスクドライブが影響を受け易い。
【０１１９】
同一モデルの磁気ディスク装置は、隣接して配置されることを想定し、隣接配置の場合でもクロストークの影響を受けない回路構成が想定されている。しかし、磁気ディスク装置は安定流通化のため、マルチベンダー化が図られている。
【０１２０】
磁気ディスク装置に振動や衝撃等の外的要因が加わった場合には、隣接するトラックに揺れ書きを生じるおそれがある。そこで、振動や衝撃等の外的要因を検知するため、振動センサが設置されている。この振動センサの検知出力によりライト動作を一時的に中断させ、隣接するトラックに揺れ書き等の誤動作を防止している。
【０１２１】
このような磁気ディスク装置に生じるクロストークによる性能低下に関し、斯かる課題は上記実施の形態に開示された磁気ディスク装置２やＲＡＩＤ装置３０、更には性能評価方法及び性能評価プログラムにより解決されている。
【０１２２】
次に、以上述べた実施例を含む実施の形態に関し、更に以下の付記を開示する。以下の付記に本発明が限定されるものではない。
【０１２３】
（付記１）  磁気ディスクを備える磁気ディスク装置であって、
データ書込みの際、クロストークによる変化を検出する変化検出部と、
前記変化検出部の検出結果によりデータ書込みを中断させる書込み制御部と、
前記磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価するクロストーク評価部と、
を備えることを特徴とする磁気ディスク装置。
【０１２４】
（付記２）  前記クロストーク評価部は、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする付記１に記載の磁気ディスク装置。
【０１２５】
（付記３）  前記磁気ディスクは、少なくとも第１の磁気ディスクと、該第１の磁気ディスクに隣接する第２の磁気ディスクとを含み、
前記クロストーク評価部は、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定し、これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする付記１に記載の磁気ディスク装置。
【０１２６】
（付記４）  前記クロストーク評価部は、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定し、前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価することを特徴とする付記３に記載の磁気ディスク装置。
【０１２７】
（付記５）  更に、前記クロストーク評価部の評価結果に応じて、磁気ディスクを切り離す磁気ディスク制御部と、
を備えることを特徴とする付記１、付記２、付記３又は付記４に記載の磁気ディスク装置。
【０１２８】
（付記６）  磁気ディスクを備える磁気ディスク装置の性能評価方法であって、
データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる工程と、
磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する工程と、
を含むことを特徴とする磁気ディスク装置の性能評価方法。
【０１２９】
（付記７）  更に、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する工程と、
を含むことを特徴とする付記６に記載の磁気ディスク装置の性能評価方法。
【０１３０】
（付記８）  更に、前記磁気ディスクは、少なくとも第１の磁気ディスクと、該第１の磁気ディスクに隣接する第２の磁気ディスクとを含み、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する工程と、
を含むことを特徴とする付記６に記載の磁気ディスク装置の性能評価方法。
【０１３１】
（付記９）  更に、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定する工程と、
前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する工程と、
を含むことを特徴とする付記８に記載の磁気ディスク装置の性能評価方法。
【０１３２】
（付記１０）  更に、前記評価の結果に応じて、磁気ディスクを切り離す工程と、
を含むことを特徴とする付記６、付記７、付記８又は付記９に記載の磁気ディスク装置の性能評価方法。
【０１３３】
（付記１１）  磁気ディスク装置に搭載されたコンピュータ又は磁気ディスク装置に接続されたコンピュータによって実行される性能評価プログラムであって、
データ書込みの際、クロストークによる変化に応じてデータ書込みを中断させる機能と、
磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
前記磁気ディスクの前記特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する機能と、
を前記コンピュータによって実現することを特徴とする磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【０１３４】
（付記１２）  更に、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する機能と、
を含むことを特徴とする付記１１に記載の磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【０１３５】
（付記１３）  更に、前記磁気ディスクは、少なくとも第１の磁気ディスクと、該第１の磁気ディスクに隣接する第２の磁気ディスクとを含み、前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの少ない第１のデータパターンを書き込み該第１のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
前記第１の磁気ディスク及び前記第２の磁気ディスクの特定領域にノイズの多い第２のデータパターンを書き込み該第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
これら第１及び第２のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する機能と、
を含むことを特徴とする付記１１に記載の磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【０１３６】
（付記１４）  更に、前記磁気ディスクの前記特定領域に前記第２のデータパターンと異なるノイズの多い第３のデータパターンを書き込み書込み速度又は書込み時間を測定する機能と、
前記第１のデータパターンと前記第３のデータパターンの書込み速度又は書込み時間を比較してクロストークの有無を評価する機能と、
を含むことを特徴とする付記１３に記載の磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【０１３７】
（付記１５）  更に、前記評価の結果に応じて、磁気ディスクを切り離す機能と、
を含むことを特徴とする付記１１、付記１２、付記１３又は付記１４に記載の磁気ディスク装置の性能評価プログラム。
【０１３８】
以上説明したように、本開示の磁気ディスク装置、その性能評価方法及び性能評価プログラムの最も好ましい実施の形態等について説明したが、本発明は、上記記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載され、又は発明を実施するための形態に開示された発明の要旨に基づき、当業者において様々な変形や変更が可能であることは勿論であり、斯かる変形や変更が、本発明の範囲に含まれることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０１３９】
２  磁気ディスク装置
４  磁気ディスク
６  磁気ヘッド
８  変化検出部
１０  書込み制御部
１２  クロストーク評価部
１４  データパターン生成部
１６  書込み速度測定部
１８  比較部
２０、２２、Ａ、Ｂ、Ｃ  データパターン
３０  ＲＡＩＤ装置
３２  コントローラエンクロージャ
３４  ディスクエンクロージャ
３６  ディスクユニット
３８、４０  ポートバイパス回路
【図１】
0005505176.tif 000002
【図２】
0005505176.tif 000003
【図３】
0005505176.tif 000004
【図４】
0005505176.tif 000005
【図５】
0005505176.tif 000006
【図６】
0005505176.tif 000007
【図７】
0005505176.tif 000008
【図８】
0005505176.tif 000009
【図９】
0005505176.tif 000010
【図１０】
0005505176.tif 000011
【図１１】
0005505176.tif 000012
【図１２】
0005505176.tif 000013
【図１３】
0005505176.tif 000014
【図１４】
0005505176.tif 000015
【図１５】
0005505176.tif 000016
【図１６】
0005505176.tif 000017