(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線の端末部に圧着された圧着端子を検査するための装置であって、
前記圧着端子のバレル部における前記電線の延伸方向が第１方向に沿うように前記圧着端子が配置される端子配置部と、
前記端子配置部に臨み、前記第１方向および前記第１方向と直交する第２方向に対して平行をなす第１投影面への投影を撮像する第１イメージセンサと、
前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記圧着端子の投影における所定の測定位置での前記第２方向の寸法を測定する第２方向寸法測定手段と、
前記第２方向寸法測定手段によって測定された寸法に基づいて、前記バレル部のハイトを求めるハイト取得手段と、
前記端子配置部に臨み、前記第１方向および前記第１投影面と直交する第３方向に対して平行をなす第２投影面への投影を撮像する第２イメージセンサと、
前記端子配置部に配置された前記圧着端子が前記延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されたときに、前記第２イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第２投影面への前記圧着端子の投影における前記測定位置での前記第３方向の寸法を所定の時間間隔で取得する第３方向寸法測定手段と、
前記第２方向寸法測定手段が前記最小の寸法を測定したタイミングの直前または直後に前記第３方向寸法測定手段によって測定された寸法に基づいて、前記バレル部のワイドを求めるワイド取得手段とを含み、
前記第２方向寸法測定手段は、前記端子配置部に配置された前記圧着端子が前記延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されたときに、前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記バレル部の投影における前記測定位置での前記第２方向の寸法を所定の時間間隔で取得し、
前記ハイト取得手段は、前記第２方向寸法測定手段によって取得された寸法のうちの最小の寸法に基づいて、前記バレル部のハイトを求める、圧着端子検査装置。
【請求項２】
前記ハイト取得手段によって取得されたハイトが予め定めるハイト適正範囲外である場合に、前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記バレル部に背バリが生じているか否かを判定する背バリ有無判定手段をさらに含む、請求項１に記載の圧着端子検査装置。
【請求項３】
前記背バリ有無判定手段は、前記第２方向寸法測定手段および前記第３方向寸法測定手段によってほぼ同時に取得されたほぼ同一の寸法が予め定める上限値を超えている場合に、前記バレル部に背バリが生じていると判定する、請求項２に記載の圧着端子検査装置。
【請求項４】
電線の端末部に圧着された圧着端子を検査するための装置であって、
前記圧着端子のバレル部における前記電線の延伸方向が第１方向に沿うように前記圧着端子が配置される端子配置部と、
前記端子配置部に臨み、前記第１方向および前記第１方向と直交する第２方向に対して平行をなす第１投影面への投影を撮像する第１イメージセンサと、
前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記圧着端子の投影における所定の測定位置での前記第２方向の寸法を測定する第２方向寸法測定手段と、
前記第２方向寸法測定手段によって測定された寸法に基づいて、前記バレル部のハイトを求めるハイト取得手段と、
前記端子配置部に臨み、前記第１方向および前記第１投影面と直交する第３方向に対して平行をなす第２投影面への投影を撮像する第２イメージセンサと、
前記ハイト取得手段によって取得されたハイトが予め定めるハイト適正範囲外である場合に、前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記バレル部に背バリが生じているか否かを判定する背バリ有無判定手段と、
前記端子配置部に配置された前記圧着端子が前記延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されたときに、前記第２イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第２投影面への前記圧着端子の投影における前記測定位置での前記第３方向の寸法を所定の時間間隔で取得する第３方向寸法測定手段とを含み、
前記第２方向寸法測定手段は、前記端子配置部に配置された前記圧着端子が前記延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されたときに、前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記バレル部の投影における前記測定位置での前記第２方向の寸法を所定の時間間隔で取得し、
前記背バリ有無判定手段は、前記第２方向寸法測定手段および前記第３方向寸法測定手段によってほぼ同時に取得されたほぼ同一の寸法が予め定める上限値を超えている場合に、前記バレル部に背バリが生じていると判定する、圧着端子検査装置。
【請求項５】
前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記バレル部の投影内の予め定める基準点を特定する基準点特定手段をさらに含み、
前記測定位置は、前記第１投影面への前記バレル部の投影における前記基準点から前記第１方向に予め定める距離だけ離れた位置である、請求項１〜４のいずれか一項に記載の圧着端子検査装置。
【請求項６】
端子配置部と、前記端子配置部に臨み、第１方向および前記第１方向と直交する第２方向に対して平行をなす第１投影面への投影を撮像する第１イメージセンサと、前記端子配置部に臨み、前記第１方向および前記第１投影面と直交する第３方向に対して平行をなす第２投影面を撮像する第２イメージセンサとを備える圧着端子検査装置を使用して、電線の端末部に圧着された圧着端子を検査するための方法であって、
前記圧着端子のバレル部における前記電線の延伸方向が前記第１方向に沿うように、前記圧着端子を前記端子配置部に配置する端子配置ステップと、
前記端子配置部で前記圧着端子を前記延伸方向に延びる軸線を中心に揺動させる端子揺動ステップと、
前記端子揺動ステップ中に前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記バレル部の投影における前記測定位置での前記第２方向の寸法を所定の時間間隔で測定する第２方向寸法測定ステップと、
前記第２方向寸法測定ステップで取得された寸法のうちの最小の寸法に基づいて、前記バレル部のハイトを求めるハイト取得ステップと、
前記端子揺動ステップ中に前記第２イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第２投影面への前記圧着端子の投影における所定の測定位置での前記第３方向の寸法を所定の時間間隔で測定する第３方向寸法測定ステップと、
前記第２方向寸法測定ステップで前記最小の寸法が取得されたタイミングの直前または直後に取得された前記第３方向の寸法に基づいて、前記バレル部のワイドを求めるワイド取得ステップとを含む、圧着端子検査方法。
【請求項７】
前記ハイト取得ステップで取得されたハイトが予め定めるハイト適正範囲外である場合に、前記第２方向寸法測定ステップおよび前記第３方向寸法測定ステップでほぼ同時に取得されたほぼ同一の寸法が予め定める上限値を超えている場合に、前記バレル部に背バリが生じていると判定する背バリ判定ステップをさらに含む、請求項６に記載の圧着端子検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電線の端末部に圧着された圧着端子を検査するための装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
たとえば、ワイヤハーネスに用いられる端子付き電線は、電線と、電線の端末部に圧着された圧着端子とを備えている。
【０００３】
電線の端末部では、芯線を被覆する被覆材が剥かれて、芯線が露出している。
【０００４】
圧着端子は、本体部、ワイヤバレル部、インシュレーションバレル部およびそれらを連結する板状の基底部を一体的に有している。本体部は、基底部の長手方向（本体部、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部の並び方向）の一端部に形成されている。本体部は、オス／メスのペアをなす相手方の圧着端子の本体部と結合可能な形状をなし、この結合により、オス／メスのペアをなす圧着端子同士が電気的に接続される。ワイヤバレル部は、本体部から基底部の長手方向に間隔を空けて、基底部の両側縁から立ち上がる１対の片として形成されている。インシュレーションバレル部は、基底部の長手方向の他端部に、基底部の両側縁から立ち上がる１対の片として形成されている。
【０００５】
電線の端末部への圧着端子の圧着（かしめ）に際しては、アプリケータの下型（アンビル）上に、圧着端子が載置される。次いで、圧着端子の基底部上に、電線の端末部が載置される。このとき、電線の端末部は、露出した芯線がワイヤバレル部の内側に位置し、被覆材で被覆されている部分がインシュレーションバレル部の内側に位置するように、圧着端子の基底部上で位置決めされる。そして、アプリケータの上型（クリンパ）と下型とが互いに近づけられ、上型と下型との間でワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部がそれぞれ電線の芯線および被覆材で被覆されている部分を抱き込むように押し潰されて、圧着端子（ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部）が電線の端末部にかしめられる。
【０００６】
ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部の高さおよび幅は、電線への圧着端子の圧着状態の良否を判定する際の重要な検査項目である。ワイヤバレル部の電気抵抗値が所定範囲内の値となり、かつ、圧着端子と電線とを互いに引っ張ったときに圧着状態を保つことができる限界の力（耐引張力）が所定値以上となるように、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部の高さおよび幅の各適正範囲が決められている。そして、端子付き電線の検査では、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部の高さおよび幅が測定され、それらの測定値がそれぞれ適正範囲内であるか否かに基づいて、電線への圧着端子の圧着状態の良否が判定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平２−２５７００１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
現状、クリンプハイトおよびクリンプワイドは、検査作業者の手作業により、マイクロメータを用いて測定されている。しかしながら、マイクロメータを用いた測定では、検査作業者の技量に応じて測定値にばらつきが生じる。そのため、電線への圧着端子の圧着状態の良否が誤って判定されることがあった。また、マイクロメータを用いた測定には、手間（工数）および時間がかかるという問題もある。
【０００９】
本発明の目的は、検査作業者の技量にかかわらず、圧着端子を精度よく検査できる、圧着端子検査装置および圧着端子検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記の目的を達成するため、本発明に係る圧着端子検査装置は、電線の端末部に圧着された圧着端子を検査するための装置であって、前記圧着端子のバレル部における前記電線の延伸方向が第１方向に沿うように前記圧着端子が配置される端子配置部と、前記端子配置部に臨み、第１方向および前記第１方向と直交する第２方向に対して平行をなす第１投影面への投影を撮像する第１イメージセンサと、前記第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、前記第１投影面への前記圧着端子の投影における所定の測定位置での前記第２方向の寸法を測定する第２方向寸法測定手段と、前記第２方向寸法測定手段によって測定された寸法に基づいて、前記バレル部のハイトを求めるハイト取得手段とを含む。
【００１１】
この圧着端子検査装置は、第１イメージセンサを備えている。第１エリアイメージセンサは、第１方向および第１方向と直交する第２方向に対して平行をなす第１投影面への投影を撮像する。圧着端子の検査時には、圧着端子のバレル部における電線の延伸方向が第１方向に沿うように、圧着端子が端子配置部に配置される。その後、第１投影面への圧着端子の投影が第１イメージセンサによって撮像される。
【００１２】
第１投影面には、第１方向および第２方向と直交する第３方向からの圧着端子（少なくともバレル部全体）の投影が結像する。
【００１３】
たとえば、バレル部のハイトの方向が第２方向にほぼ沿うように圧着端子を配置すれば、その投影における所定の測定位置での第２方向の寸法は、バレル部のハイトまたはその近似値となる。したがって、第１エリアイメージセンサから出力される信号の解析により、第１投影面への圧着端子の投影における測定位置での第２方向の寸法を測定し、その寸法をバレル部のハイトまたはその近似値として取得することができる。
【００１４】
また、バレル部のハイトの方向が第２方向にほぼ沿うように圧着端子を端子配置部に配置した場合、そのハイトは、第１イメージセンサの撮像面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法となる。そこで、圧着端子の配置後、圧着端子をバレル部における電線の延伸方向に延びる軸線を中心に揺動させ、その揺動時に第１イメージセンサから出力される信号の解析により、第１イメージセンサの撮像面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法を所定の時間間隔で複数取得して、そのうちの最小の寸法（寸法の極小値）をバレル部のハイトまたはその近似値として取得することができる。
【００１５】
よって、圧着端子検査装置を用いることにより、検査作業者の技量にかかわらず、バレル部のハイトを精度よく測定することができる。また、圧着端子検査装置を用いることにより、その測定にかかる手間（工数）および時間を低減することができる。
【００１６】
圧着端子検査装置は、第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、第１投影面へのバレル部の投影内の予め定める基準点を特定する基準点特定手段をさらに含むことが好ましい。
【００１７】
この場合、第１投影面へのバレル部の投影における基準点から第１方向に予め定める距離だけ離れた位置が測定位置とされて、その位置における第２方向の寸法が取得されるとよい。
【００１８】
これにより、第２方向の寸法の測定位置を一定にすることができ、バレル部のハイトをより精度よく測定することができる。
【００１９】
なお、基準点は、第１投影面への圧着端子の投影から容易に特定可能な点であることが好ましく、たとえば、その投影におけるバレル部の第１方向の一端であってもよい。
【００２０】
圧着端子検査装置は、端子配置部に臨み、第１方向および第１投影面と直交する第３方向に対して平行をなす第２投影面への投影を撮像する第２イメージセンサをさらに備えている。
【００２１】
圧着端子検査装置が第１イメージセンサおよび第２イメージセンサを備える構成では、端子配置部に配置された圧着端子がバレル部における電線の延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されると、その揺動時に第１イメージセンサおよび第２イメージセンサから出力される信号に基づいて、バレル部のハイトおよびワイドまたはそれらの近似値を取得することができる。
【００２２】
具体的には、圧着端子を端子配置部に配置した後（端子配置ステップ）、圧着端子をバレル部における電線の延伸方向に延びる軸線を中心に揺動させ（端子揺動ステップ）、その揺動時に第１イメージセンサから出力される信号の解析により、第１投影面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法を所定の時間間隔で測定して（第２方向寸法測定ステップ）、そのうちの最小の寸法（寸法の極小値）をバレル部のハイトまたはその近似値として取得することができる（ハイト取得ステップ）。
【００２３】
一方、圧着端子の揺動時に第２イメージセンサから出力される信号の解析により、第２投影面へのバレル部の投影における測定位置での第３方向の寸法を所定の時間間隔で取得し（第３方向寸法測定ステップ）、第２方向の最小寸法が取得されたタイミングの直前または直後に取得された第３方向の寸法をバレル部のワイドまたはその近似値として取得することができる（ワイド取得ステップ）。
【００２４】
また、圧着端子検査装置は、ハイト取得手段によって取得されたハイトが予め定めるハイト適正範囲外である場合に、第１イメージセンサから出力される信号に基づいて、バレル部に背バリが生じているか否かを判定する背バリ有無判定手段をさらに含むことが好ましい。
【００２５】
バレル部のハイトがハイト適正範囲の下限値未満である場合、バレル部が電線にかしめられるときの過剰な圧力が原因で、バレル部が電線に食い込み過ぎていると考えられる。
【００２６】
一方、バレル部のハイトがハイト適正範囲の上限値を超える場合、バレル部が電線にかしめられるときの圧力の不足が原因で、電線に対するバレル部の食い込みが不足しているか、または、アプリケータの下型（アンビル）および／または上型（クリンパ）の摩耗などが原因で、バレル部に背バリが生じていると考えられる。
【００２７】
バレル部のハイトがハイト適正範囲の上限値を超えているが、背バリは生じていない場合、つまり単に電線に対するバレル部の食い込みが不足している場合、第１投影面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法と第２投影面へのバレル部の投影における測定位置での第３方向の寸法とがほぼ一致するように圧着端子が端子配置部に配置されたときに、当該寸法は、バレル部のハイトがハイト適正範囲内である場合（背バリが生じておらず、かつ、電線に対するバレル部の食い込みが必要十分な場合）のそれとほぼ変わらない。これに対し、背バリが生じている場合は、第１投影面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法と第２投影面へのバレル部の投影における測定位置での第３方向の寸法とがほぼ一致するように圧着端子が端子配置部に配置されたときに、当該寸法は、バレル部のハイトがハイト適正範囲内である場合のそれよりも大きくなる。
【００２８】
したがって、たとえば、圧着端子を端子配置部に配置した後、圧着端子をバレル部における電線の延伸方向に延びる軸線を中心に揺動させ、その揺動時に第１イメージセンサおよび第２イメージセンサから出力される信号の解析により、第１投影面へのバレル部の投影における測定位置での第２方向の寸法および第２投影面へのバレル部の投影における測定位置での第３方向の寸法を所定の時間間隔で複数取得し、ほぼ同時に取得されたほぼ同一の第２方向の寸法および第３方向の寸法が予め定める上限値を超えている場合に、バレル部に背バリが生じていると判定することができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、検査作業者の技量にかかわらず、圧着端子を精度よく検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係る圧着端子検査装置の構成を図解的に示す図である。
【図２】図２は、端子配置部に配置された端子付き電線およびワイド測定用エリアイメージセンサの平面図である。
【図３】図３は、端子配置部に配置された端子付き電線およびハイト測定用エリアイメージセンサの側面図である。
【図４】図４は、圧着端子の検査工程における検査作業者の作業手順を示すフローチャートである。
【図５】図５は、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部のハイトおよびワイドの取得ならびに背バリの有無の判定のための処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図６】図６は、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部のハイトおよびワイドの取得ならびに背バリの有無の判定のための処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【図７】図７は、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部のハイトおよびワイドの取得ならびに背バリの有無の判定のための処理の流れを示すフローチャート（その３）である。
【図８】図８（ａ）は、背バリが生じていないワイヤバレル部の断面図であり、図８（ｂ）は、背バリが生じているワイヤバレル部の断面図である。
【図９】図９は、端子配置部に傾斜姿勢で配置された圧着端子のワイヤバレル部およびその近傍の側面図である。
【図１０】図１０は、本発明の他の実施形態に係る圧着端子検査装置の構成を図解的に示す図である。
【図１１】図１１は、図１０に示される圧着端子検査装置において、図６に示される処理に代えて実行される処理の流れを示すフローチャート（その１）である。
【図１２】図１２は、図１０に示される圧着端子検査装置において、図６に示される処理に代えて実行される処理の流れを示すフローチャート（その２）である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下では、本発明の実施の形態について、添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００３２】
図１は、本発明の一実施形態に係る圧着端子検査装置の構成を図解的に示す図である。
【００３３】
圧着端子検査装置１は、電線２の端末部に圧着された圧着端子３を検査するための装置である。圧着端子検査装置１は、端子配置部１１、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２、ワイド測定用光学系１３、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４およびハイト測定用光学系１５を備えている。
【００３４】
端子配置部１１は、圧着端子検査装置１の筐体（図示せず）内に空間として形成されている。たとえば、筐体の前面に端子挿入口が形成されており、端子配置部１１には、検査対象の圧着端子３がその端子挿入口を通して配置される。
【００３５】
ワイド測定用エリアイメージセンサ１２は、たとえば、２０ｍｍ×２０ｍｍサイズの正方形状の撮像面１２１を有するＣＣＤエリアイメージセンサまたはＣＭＯＳエリアイメージセンサからなる。ワイド測定用エリアイメージセンサ１２は、端子配置部１１の下方で、撮像面１２１を上方に向けて、撮像面１２１の互いに平行をなす２辺が圧着端子検査装置１の左右方向であるＸ軸方向（第３方向）に延び、残りの２辺が圧着端子検査装置１の前後方向であるＺ軸方向（第１方向）に延びるように配置されている。
【００３６】
ワイド測定用光学系１３は、端子配置部１１の上方に、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２に対向して配置されている。ワイド測定用光学系１３には、ワイド測定用第１光源１３１およびコリメータレンズ１３２が含まれる。
【００３７】
ワイド測定用第１光源１３１は、たとえば、波長６００ｎｍのレーザ光を発生する半導体レーザからなる。ワイド測定用第１光源１３１は、その光軸がワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１の中心部と直交するように配置されている。
【００３８】
コリメータレンズ１３２は、端子配置部１１とワイド測定用第１光源１３１との間に配置されている。ワイド測定用第１光源１３１から端子配置部１１に向かう光線束は、コリメータレンズ１３２を透過し、平行光となって、端子配置部１１に上方から入射する。
【００３９】
ハイト測定用エリアイメージセンサ１４は、たとえば、２０ｍｍ×２０ｍｍサイズの正方形状の撮像面１４１を有するＣＣＤエリアイメージセンサまたはＣＭＯＳエリアイメージセンサからなる。ハイト測定用エリアイメージセンサ１４は、端子配置部１１の側方で、撮像面１４１を端子配置部１１に向けて、撮像面１４１の互いに平行をなす２辺が圧着端子検査装置１の上下方向であるＹ軸方向（第２方向）に延び、残りの２辺が圧着端子検査装置１の前後方向であるＺ軸方向に延びるように配置されている。
【００４０】
ハイト測定用光学系１５は、端子配置部１１を挟んでハイト測定用エリアイメージセンサ１４と反対側に、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４に対向して配置されている。ハイト測定用光学系１５には、ハイト測定用第１光源１５１およびコリメータレンズ１５２が含まれる。
【００４１】
ハイト測定用第１光源１５１は、たとえば、波長６００ｎｍのレーザ光を発生する半導体レーザからなる。ハイト測定用第１光源１５１は、その光軸がハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１の中心部と直交するように配置されている。
【００４２】
コリメータレンズ１５２は、端子配置部１１とハイト測定用第１光源１５１との間に配置されている。ハイト測定用第１光源１５１から端子配置部１１に向かう光線束は、コリメータレンズ１５２を透過し、平行光となって、端子配置部１１に側方から入射する。
【００４３】
図２は、端子配置部に配置された端子付き電線およびワイド測定用エリアイメージセンサの平面図である。図３は、端子配置部に配置された端子付き電線およびハイト測定用エリアイメージセンサの側面図である。
【００４４】
電線２および圧着端子３を備える端子付き電線４は、たとえば、ワイヤハーネスに用いられる。
【００４５】
電線２の端末部では、芯線２１を被覆する被覆材２２が剥かれて、芯線２１が露出している。
【００４６】
圧着端子３は、本体部３１、ワイヤバレル部３２、インシュレーションバレル部３３およびそれらを連結する板状の基底部３４を一体的に有している。
【００４７】
本体部３１は、基底部３４の長手方向（本体部３１、ワイヤバレル部３２およびインシュレーションバレル部３３の並び方向）の一端部に形成されている。本体部３１の形状は、互いに結合可能なペアをなすオス型であるかメス型であるかによって異なる。オス型の本体部３１とメス型の本体部３１との結合により、それらの本体部３１を有する圧着端子３同士が電気的に接続される。
【００４８】
ワイヤバレル部３２は、本体部３１から基底部３４の長手方向に間隔を空けて、基底部３４の両側縁から立ち上がる１対の片として形成されている。
【００４９】
インシュレーションバレル部３３は、基底部３４の長手方向の他端部に、基底部３４の両側縁から立ち上がる１対の片として形成されている。
【００５０】
電線２の端末部は、露出した芯線２１がワイヤバレル部３２の内側に位置し、電線２の被覆材２２で被覆されている部分がインシュレーションバレル部３３の内側に位置するように、基底部３４上に配置されている。そして、ワイヤバレル部３２は、電線２の芯線２１を抱き込むように押し潰されて、芯線２１にかしめられている。また、インシュレーションバレル部３３は、電線２の被覆材２２で被覆されている部分を抱き込むように押し潰されて、その被覆材２２で被覆されている部分にかしめられている。
【００５１】
圧着端子検査装置１における圧着端子３の検査では、圧着端子３のワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗおよびクリンプワイドＷｗ、ならびにインシュレーションバレル部３３のハイトであるインシュレーションハイトＨｉおよびインシュレーションバレル部３３のワイドであるインシュレーションワイドＷｉが測定される。また、ワイヤバレル部３２およびインシュレーションバレル部３３における背バリの有無が調べられる。
【００５２】
圧着端子検査装置１は、図１に示されるように、ＣＰＵおよびメモリを含むマイクロコンピュータからなる制御部５を備えている。制御部５は、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１の発光を制御するための発光制御部５１と、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２およびハイト測定用エリアイメージセンサ１４が出力する信号を処理（解析）する信号処理部５２とを備えている。
【００５３】
発光制御部５１は、具体的には、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１を駆動するドライバに含まれるスイッチング素子のオン／オフを制御することにより、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１の発光を制御する。
【００５４】
信号処理部５２は、各項目の検査を実行するため、ＣＰＵによるプログラム処理によってソフトウエア的に実現される機能処理部として、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影内の予め定める基準点を特定する基準点特定部５２１と、ワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉを取得するハイト取得部５２２と、ワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗおよびインシュレーションバレル部３３のインシュレーションワイドＷｉを取得するワイド取得部５２３と、ワイヤバレル部３２およびインシュレーションバレル部３３に背バリが生じているか否かを判定する背バリ有無判定部５２４とを備えている。
【００５５】
図４は、圧着端子の検査工程における検査作業者の作業手順を示すフローチャートである。
【００５６】
圧着端子３の検査時には、まず、検査作業者により、電線２が把持されて、圧着端子３が圧着端子検査装置１の端子配置部１１に配置される（ステップＳ１）。このとき、圧着端子３は、ワイヤバレル部３２における電線２の延伸方向（以下、単に「延伸方向」という。）がＺ軸方向にほぼ沿い、基底部３４がワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１に対してほぼ平行をなす姿勢（初期姿勢）で配置される。
【００５７】
次に、検査作業者により、端子配置部１１において、圧着端子３が初期姿勢から延伸方向に延びる軸線を中心として両方向にそれぞれ約４５°の角度範囲で揺動される（ステップＳ２）。
【００５８】
そして、その圧着端子３の揺動中に、基準点特定部５２１により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影内の予め定める基準点が自動的に特定される。そして、ハイト取得部５２２により、ワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉが自動的に取得される。さらに、ワイド取得部５２３により、ワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗおよびインシュレーションバレル部３３のインシュレーションワイドＷｉが取得される。また、背バリ有無判定部５２４により、ワイヤバレル部３２およびインシュレーションバレル部３３に背バリが生じているか否かが自動的に判定される。
【００５９】
図５，６，７は、ワイヤバレル部およびインシュレーションバレル部のハイトおよびワイドの取得ならびに背バリの有無の判定のための処理の流れを示すフローチャートである。
【００６０】
圧着端子３が端子配置部１１に配置されて、圧着端子検査装置１の検査開始スイッチ（図示せず）が押されると、ハイト測定用第１光源１５１が一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）点灯される（ステップＳ１１）。ハイト測定用第１光源１５１の点灯により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１に圧着端子３の投影が結像する。
【００６１】
そして、基準点特定部５２１により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号が解析されて、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影内の予め定める基準点ＤＰが特定される（ステップＳ１２）。具体的には、その投影内におけるインシュレーションバレル部３３のＺ軸方向の基端が基準点ＤＰ（図２，３参照）として特定される。電線２の被覆材２２で被覆されている部分がほぼ一定の寸法（外径）を有し、被覆材２２の表面とインシュレーションバレル部３３の表面との間には明確な段差が生じているので、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２およびハイト測定用エリアイメージセンサ１４によって撮像された圧着端子３の画像内でインシュレーションバレル部３３のＺ軸方向の基端を容易に特定することができる。
【００６２】
基準点ＤＰが特定されると、図２，３に示されるように、基準点ＤＰからＺ軸方向に予め定める第１距離Ｚ１だけ離れた位置が第１測定位置Ｐｉとして設定され、基準点ＤＰからＺ軸方向に予め定める第２距離Ｚ２だけ離れた位置が第２測定位置Ｐｗとして設定される。
【００６３】
その後、圧着端子３が端子配置部１１で揺動される一方で、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１の一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）の点灯（点滅）が交互に繰り返される（図５のステップＳ１３，Ｓ１５）。
【００６４】
ワイド測定用第１光源１３１の点灯により、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１に圧着端子３の投影が結像する。ワイド測定用第１光源１３１が点灯される度に、ワイド取得部５２３により、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２から出力される信号が解析されて、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向の寸法（Ｘ軸方向寸法）Ｘｉ，Ｘｗが測定される（ステップＳ１４）。測定されたＸ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗは、制御部５に内蔵されているメモリに格納される。
【００６５】
また、ハイト測定用第１光源１５１が点灯される度に、ハイト取得部５２２により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号が解析されて、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向の寸法（Ｙ軸方向寸法）Ｙｉ，Ｙｗが測定される（ステップＳ１６）。測定されたＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗは、制御部５に内蔵されているメモリに格納される。
【００６６】
Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗは、圧着端子３の姿勢によって変化する。たとえば、圧着端子３が初期姿勢をなすときに、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗは、極小値（最小値）をとる。また、圧着端子３が初期姿勢から延伸方向に延びる軸線を中心として両方向にそれぞれ約４５°傾いた姿勢をなすときに、第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｗがほぼ同じ値となる。
【００６７】
Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗの取得の開始後、ハイト取得部５２２により、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが取得されたか否かが調べられる（ステップＳ１７）。すなわち、ハイト取得部５２２により、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminがメモリに格納されているか否かが調べられる。
【００６８】
また、Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗの取得の開始後、背バリ有無判定部５２４により、ほぼ同じ値のＸ軸方向寸法ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｗが互いに前後して（ほぼ同時に）取得されたか否かが調べられる（ステップＳ１８）。すなわち、背バリ有無判定部５２４により、互いに前後してメモリに格納されたＸ軸方向寸法ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｗがペアとされて、互いにほぼ同じ値からなるペア（以下、「同値ペア」という。）が存在するか否かが調べられる。
【００６９】
極小値Ｙｗminおよび同値ペアがメモリに格納されていなければ（ステップＳ１７，Ｓ１８のＮＯ）、極小値Ｙｗminおよび同値ペアがメモリに格納されるまで、圧着端子３の揺動ならびにＸ軸方向寸法Ｘｉ，ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗの取得が続けられる（ステップＳ１３〜Ｓ１６）。
【００７０】
極小値Ｙｗminおよび同値ペアが取得されると（ステップＳ１７，Ｓ１８のＹＥＳ）、極小値Ｙｗminがワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗとされる（図６のステップＳ１９）。
【００７１】
そして、極小値Ｙｗminと同時に測定された第１測定位置ＰｉでのＹ軸方向寸法Ｙｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉとされる（ステップＳ２０）。
【００７２】
また、極小値Ｙｗminが測定される直前に測定された第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｗがワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗとされる（ステップＳ２１）。
【００７３】
さらに、極小値Ｙｗminが測定される直前に測定された第１測定位置ＰｉでのＸ軸方向寸法Ｘｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションワイドＷｉとされる（ステップＳ２２）。
【００７４】
なお、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminおよび同値ペアが取得されると、たとえば、圧着端子検査装置１に設けられている報知ランプ（図示せず）が点灯されるなど、その極小値Ｙｗminおよび同値ペアが取得された旨が報知される。この報知に応答して、検査作業者は、圧着端子３の揺動を終了し、圧着端子３を圧着端子検査装置１の端子配置部１１から取り出せばよい。
【００７５】
クリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉが取得されると、背バリ有無判定部５２４により、そのクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉがそれぞれ予め定めるハイト適正範囲内であるか否かが調べられる（図７のステップＳ２３）。
【００７６】
クリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉの両方がハイト適正範囲内であれば（ステップＳ２３のＹＥＳ）、電線２への圧着端子３の圧着状態が良好であると判定されて、この一連の処理が終了する。
【００７７】
一方、ワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗがハイト適正範囲を超えている場合には（ステップ２３のＮＯ）、背バリ有無判定部５２４により、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗが予め定める上限値Ｙｗlimを超えているか否かが調べられる（ステップＳ２４）。
【００７８】
なお、同値ペアをなすＸ軸方向寸法ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｗは、ほぼ一致するので、Ｘ軸方向寸法Ｘｗが予め定める上限値Ｙｗlimを超えているか否かが調べられてもよい。
【００７９】
ワイヤバレル部３２に背バリが生じていない場合、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗは、クリンプハイトＨｗがハイト適正範囲内である場合とほぼ変わらない。背バリが生じていないワイヤバレル部３２の断面図を図８（ａ）に示す。
【００８０】
これに対し、図８（ａ）と図８（ｂ）とを比較して判るように、ワイヤバレル部３２に背バリが生じている場合、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗ（＝Ｘ軸方向寸法Ｘｗ）は、ワイヤバレル部３２に背バリが生じていない場合の同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗ（クリンプハイトＨｗがハイト適正範囲内である場合の同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗ）よりも大きくなる。
【００８１】
そこで、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗが上限値Ｙｗlimを超えている場合には（ステップＳ２４のＹＥＳ）、ワイヤバレル部３２に背バリが生じていると判定されて、圧着端子３を電線２に圧着する際に使用されるアプリケータの下型（アンビル）および／または上型（クリンパ）の交換が必要である旨が報知される（ステップＳ２５）。
【００８２】
一方、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｗが上限値Ｙｗlimを超えていない場合には（ステップＳ２４のＮＯ）、ワイヤバレル部３２に背バリは生じておらず、圧着端子３を電線２に圧着する際の圧力が過剰または不足していると判断されて、圧着端子３を電線２に圧着する際の圧力の調整（ハイト調整）が必要である旨が報知される（ステップＳ２６）。
【００８３】
インシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉがハイト適正範囲を超えている場合には（ステップ２３のＮＯ）、背バリ有無判定部５２４により、ワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗがハイト適正範囲を超えている場合と同様の処理が行われる。
【００８４】
すなわち、背バリ有無判定部５２４により、メモリから同値ペアをなす第１測定位置ＰｉでのＸ軸方向寸法ＸｉおよびＹ軸方向寸法Ｙｉが読み出されて、Ｙ軸方向寸法Ｙｉが予め定める上限値Ｙｉlimを超えているか否かが調べられる（ステップＳ２４）。
【００８５】
そして、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｉが上限値Ｙｉlimを超えている場合には（ステップＳ２４のＹＥＳ）、インシュレーションバレル部３３に背バリが生じていると判定されて、アプリケータの下型および／または上型の交換が必要である旨が報知される（ステップＳ２５）。
【００８６】
一方、同値ペアをなすＹ軸方向寸法Ｙｉが上限値Ｙｉlimを超えていない場合には（ステップＳ２４のＮＯ）、インシュレーションバレル部３３に背バリは生じておらず、圧着端子３を電線２に圧着する際の圧力が過剰または不足していると判断されて、圧着端子３を電線２に圧着する際の圧力の調整（ハイト調整）が必要である旨が報知される（ステップＳ２６）。
【００８７】
以上のように、検査作業者により、圧着端子検査装置１の端子配置部１１に圧着端子３が配置されて、圧着端子３が延伸方向に延びる軸線を中心に揺動されると、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが測定される。そして、Ｙ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが圧着端子３のワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗとして取得される。また、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminと同時に測定された第１測定位置ＰｉでのＹ軸方向寸法Ｙｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉとして取得される。
【００８８】
Ｙ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが測定される一方で、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗが測定される。そして、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが測定される直前に測定された第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｗがワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗとして取得される。また、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが測定される直前に測定された第１測定位置ＰｉでのＸ軸方向寸法Ｘｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションワイドＷｉとして取得される。
【００８９】
第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置Ｐｗは、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影内の予め定める基準点ＤＰを基準として自動的に設定される。すなわち、圧着端子検査装置１の端子配置部１１に圧着端子３が配置されると、基準点ＤＰが自動的に特定され、その基準点ＤＰからＺ軸方向に予め定める第１距離Ｚ１だけ離れた位置が第１測定位置Ｐｉとして設定され、基準点ＤＰからＺ軸方向に予め定める第２距離Ｚ２だけ離れた位置が第２測定位置Ｐｗとして設定される。これにより、第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置Ｐｗが検査作業者によってばらつくことなく、第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置Ｐｗを常に一定の位置とすることができる。
【００９０】
よって、圧着端子検査装置１を用いることにより、検査作業者の技量にかかわらず、ワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗおよびクリンプワイドＷｗ、ならびに、インシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉおよびインシュレーションワイドＷｉを精度よく測定することができる。また、圧着端子検査装置１を用いることにより、それらの測定にかかる手間（工数）および時間を低減することができる。
【００９１】
また、クリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉがハイト適正範囲から外れている場合には、ワイヤバレル部３２およびインシュレーションバレル部３３における背バリの有無が自動的に判定される。よって、検査作業者は、その判定結果に基づいて、電線２への圧着端子３の圧着状態の不良の原因を解消するために、アプリケータの下型および／または上型を交換すべきか、圧着端子３を電線２に圧着する際の圧力を調整すべきかを正確に判断することができる。
【００９２】
図９は、端子配置部に傾斜姿勢で配置された圧着端子のワイヤバレル部およびその近傍の側面図である。
【００９３】
検査作業者による人手では、圧着端子３を正確に初期姿勢（延伸方向とＺ軸方向とが平行をなし、基底部３４とワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１とが平行をなす姿勢）に配置することは困難である。そのため、実際には、圧着端子３が端子配置部１１に配置された状態で、その圧着端子３におけるクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉの方向は、Ｙ軸方向に対して傾斜し、クリンプワイドＷｗおよびインシュレーションハイトＷｉの方向は、Ｘ軸方向に対して傾斜する。
【００９４】
クリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉの方向がＹ軸方向に対して角度θｙで傾斜している場合、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminおよび第１測定位置ＰｉでのＹ軸方向寸法Ｙｉの極小値ＹｉminがそれぞれクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉとして取得されると、それらのクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉには、角度θｙに起因する誤差が含まれる。
【００９５】
そこで、ハイト取得部５２２により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号に基づいて、Ｙ軸方向に対するクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉの方向の傾斜角度θｙが検出されて、極小値Ｙｗmin，Ｙｉminにｃｏｓθｙを乗じて得られる値Ｙｗmin・ｃｏｓθｙ，Ｙｉmin・ｃｏｓθｙがそれぞれクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉとして取得されることが好ましい。
【００９６】
これにより、圧着端子３の正確なクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉを取得することができる。
【００９７】
また、このクリンプハイトＨｗおよびインシュレーションハイトＨｉの場合と同様な手法で、クリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉが取得（補正）されることが好ましい。
【００９８】
すなわち、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２から出力される信号に基づいて、Ｘ軸方向に対するクリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉの方向の傾斜角度θｘが検出されて、極小値Ｙｗminが測定される直前に測定された第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｗ，Ｘｉにｃｏｓθｘを乗じて得られる値Ｘｗ・ｃｏｓθｘ，Ｘｉ・ｃｏｓθｘがそれぞれクリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉとして取得されることが好ましい。
【００９９】
図１０は、本発明の他の実施形態に係る圧着端子検査装置の構成を図解的に示す図である。なお、図１０において、図１に示される各部に相当する部分には、それらの各部と同一の参照符号が付されている。
【０１００】
以下では、図１０に示される構成について、図１に示される構成との相違点のみを説明し、同一の参照符号が付された各部の説明を省略する。
【０１０１】
圧着端子検査装置１００のワイド測定用光学系１３には、ワイド測定用第１光源１３１およびコリメータレンズ１３２の他に、ワイド測定用第２光源１３３およびビームスプリッタ１３４が含まれる。
【０１０２】
ワイド測定用第２光源１３３は、たとえば、波長８００ｎｍのレーザ光を発生する半導体レーザからなる。ワイド測定用第２光源１３３は、その光軸がワイド測定用第１光源１３１の光軸と直交するように配置されている。
【０１０３】
ビームスプリッタ１３４は、ワイド測定用第１光源１３１およびワイド測定用第２光源１３３の各光軸が直交する点に配置されている。ワイド測定用第１光源１３１から出射される光線束は、ビームスプリッタ１３４を透過し、端子配置部１１に向けて進む。ワイド測定用第２光源１３３から出射される光線束は、ビームスプリッタ１３４で反射し、端子配置部１１に向けて進む。ビームスプリッタ１３４から端子配置部１１に向かう各光線束がワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１と直交する同一軸線上を進むように、ワイド測定用第１光源１３１およびワイド測定用第２光源１３３は、ビームスプリッタ１３４から同じ距離だけ離れている。
【０１０４】
コリメータレンズ１３２は、端子配置部１１とビームスプリッタ１３４との間に配置されている。ビームスプリッタ１３４から端子配置部１１に向かう光線束は、コリメータレンズ１３２を透過し、平行光となって、端子配置部１１に上方から入射する。
【０１０５】
また、圧着端子検査装置１００のハイト測定用光学系１５には、ハイト測定用第１光源１５１およびコリメータレンズ１５２の他に、ハイト測定用第２光源１５３およびビームスプリッタ１５４が含まれる。
【０１０６】
ハイト測定用第２光源１５３は、たとえば、波長８００ｎｍのレーザ光を発生する半導体レーザからなる。ハイト測定用第２光源１５３は、その光軸がハイト測定用第１光源１５１の光軸と直交するように配置されている。
【０１０７】
ビームスプリッタ１５４は、ハイト測定用第１光源１５１およびハイト測定用第２光源１５３の各光軸が直交する点に配置されている。ハイト測定用第１光源１５１から出射される光線束は、ビームスプリッタ１５４を透過し、端子配置部１１に向けて進む。ハイト測定用第２光源１５３から出射される光線束は、ビームスプリッタ１５４で反射し、端子配置部１１に向けて進む。ビームスプリッタ１５４から端子配置部１１に向かう各光線束がハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１と直交する同一軸線上を進むように、ハイト測定用第１光源１５１およびハイト測定用第２光源１５３は、ビームスプリッタ１５４から同じ距離だけ離れている。
【０１０８】
コリメータレンズ１５２は、端子配置部１１とビームスプリッタ１５４との間に配置されている。ビームスプリッタ１５４から端子配置部１１に向かう光線束は、コリメータレンズ１５２を透過し、平行光となって、端子配置部１１に側方から入射する。
【０１０９】
図１１，１２は、図６に示される処理に代えて実行される処理の流れを示すフローチャートである。
【０１１０】
圧着端子検査装置１００では、クリンプハイトＨｗ、インシュレーションハイトＨｉ、クリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉの取得ならびに背バリの有無の判定のために、図５に示される処理が実行された後、図６に示される処理に代えて、図１１に示される処理が実行される。
【０１１１】
圧着端子検査装置１００では、図５のステップＳ１７において、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminおよび同値ペアが取得されても、その旨は報知されず、圧着端子３の揺動が続けられる。そして、圧着端子３が揺動される一方で、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１の一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）の点灯（点滅）が交互に繰り返される（ステップＳ３１，Ｓ３３）。
【０１１２】
ワイド測定用第１光源１３１が点灯される度に、ワイド取得部５２３により、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２から出力される信号が解析されて、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗが測定される（ステップＳ３２）。
【０１１３】
また、ハイト測定用第１光源１５１が点灯される度に、ハイト取得部５２２により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号が解析されて、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが測定される（ステップＳ３４）。
【０１１４】
そして、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗが取得される度に、そのＹ軸方向寸法Ｙｗが極小値Ｙｗminに近い所定値以下であるか否かが調べられる（ステップＳ３５）。
【０１１５】
第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗが所定値より大きければ（ステップＳ３５のＮＯ）、ワイド測定用第１光源１３１およびハイト測定用第１光源１５１の交互の点灯が続けられる（ステップＳ３１〜Ｓ３４）。
【０１１６】
第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗが所定値以下になると（ステップＳ３５のＹＥＳ）、ワイド測定用第１光源１３１が一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）点灯される（ステップＳ３６）。
【０１１７】
そして、ワイド測定用第１光源１３１の点灯中に、ワイド取得部５２３により、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２から出力される信号が解析されて、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｉs，Ｘｗsが測定される（ステップＳ３７）。
【０１１８】
ワイド測定用第１光源１３１の消灯後、ワイド測定用第２光源１３３が一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）点灯される（ステップＳ３８）。
【０１１９】
そして、ワイド測定用第２光源１３３の点灯中に、ワイド取得部５２３により、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２から出力される信号が解析されて、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｉl，Ｘｗlが測定される（ステップＳ３９）。
【０１２０】
圧着端子３には、ワイド測定用第１光源１３１およびワイド測定用第２光源１３３からの平行光の光線束が照射される。しかしながら、圧着端子３のエッジで光の回折が生じるため、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２の撮像面１２１への圧着端子３の投影のサイズは、圧着端子３の実際のサイズよりも小さくなる。
【０１２１】
また、相対的に波長が長い光は、相対的に波長が短い光よりも大きく回折する。そのため、Ｘ軸方向寸法Ｘｉlは、Ｘ軸方向寸法Ｘｉsよりも小さくなり、Ｘ軸方向寸法Ｘｗlは、Ｘ軸方向寸法Ｘｗsより小さくなる。すなわち、Ｘ軸方向寸法Ｘｉs，Ｘｉlには、ワイド測定用第１光源１３１およびワイド測定用第２光源１３３からの光の波長差に応じた差が生じる。また、Ｘ軸方向寸法Ｘｗs，Ｘｗlには、ワイド測定用第１光源１３１およびワイド測定用第２光源１３３からの光の波長差に応じた差が生じる。
【０１２２】
そこで、Ｘ軸方向寸法Ｘｉs，Ｘｉlの差に基づいて、Ｘ軸方向寸法ＸｉsがＸ軸方向寸法Ｘｉに補正される（ステップＳ４０）。また、Ｘ軸方向寸法Ｘｗs，Ｘｗlの差に基づいて、Ｘ軸方向寸法ＸｗsがＸ軸方向寸法Ｘｗに補正される（ステップＳ４０）。
【０１２３】
ワイド測定用第２光源１３３の消灯後、ハイト測定用第１光源１５１が一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）点灯される（図１２のステップＳ４１）。そして、ハイト測定用第１光源１５１の点灯中に、ハイト取得部５２２により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号が解析されて、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｉs，Ｙｗsが測定される（ステップＳ４２）。
【０１２４】
ハイト測定用第１光源１５１の消灯後、ハイト測定用第２光源１５３が一定時間（たとえば、１ｍｓｅｃ）点灯される（ステップＳ４３）。そして、ハイト測定用第２光源１５３の点灯中に、ハイト取得部５２２により、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４から出力される信号が解析されて、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４の撮像面１４１への圧着端子３の投影における第１測定位置Ｐｉおよび第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｉl，Ｙｗlが測定される（ステップＳ４４）。
【０１２５】
そして、Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗの場合と同様に、Ｙ軸方向寸法Ｙｉs，Ｙｉlの差に基づいて、Ｙ軸方向寸法ＹｉsがＹ軸方向寸法Ｙｉに補正される（ステップＳ４５）。また、Ｙ軸方向寸法Ｙｗs，Ｙｗlの差に基づいて、Ｙ軸方向寸法ＹｗsがＹ軸方向寸法Ｙｗに補正される（ステップＳ４５）。
【０１２６】
その後、ハイト取得部５２２により、補正後のＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが取得されたか否かが調べられる（ステップＳ４６）。
【０１２７】
極小値Ｙｗminが取得されるまで、ワイド測定用第１光源１３１、ワイド測定用第２光源１３３、ハイト測定用第１光源１５１およびハイト測定用第２光源１５３の一定時間の点灯が繰り返され、補正後のＸ軸方向寸法ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｗが取得される（ステップＳ３６〜Ｓ４５）。
【０１２８】
補正後のＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが取得されると（ステップＳ４６のＹＥＳ）、その取得された極小値Ｙｗminがワイヤバレル部３２のクリンプハイトＨｗとされる（ステップＳ４７）。
【０１２９】
そして、極小値Ｙｗminと同時に取得された補正後のＹ軸方向寸法Ｙｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションハイトＨｉとされる（ステップＳ４８）。
【０１３０】
また、極小値Ｙｗminが取得される直前に取得された補正後のＸ軸方向寸法Ｘｗがワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗとされる（ステップＳ４９）。
【０１３１】
さらに、極小値Ｙｗminが取得される直前に取得された補正後のＸ軸方向寸法Ｘｉがインシュレーションバレル部３３のインシュレーションワイドＷｉとされる（ステップＳ５０）。
【０１３２】
なお、補正後のＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが取得されると、たとえば、圧着端子検査装置１に設けられている報知ランプ（図示せず）が点灯されるなど、その極小値Ｙｗminが取得された旨が報知される。この報知に応答して、検査作業者は、圧着端子３の揺動を終了し、圧着端子３を圧着端子検査装置１の端子配置部１１から取り出せばよい。
【０１３３】
クリンプハイトＨｗ、インシュレーションハイトＨｉ、クリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉの取得後は、図７に示す処理が実行される。
【０１３４】
このような手法により、光の回折による誤差が排除された一層正確なクリンプハイトＨｗ、インシュレーションハイトＨｉ、クリンプワイドＷｗおよびインシュレーションワイドＷｉを取得することができる。
【０１３５】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、他の形態で実施することも可能である。
【０１３６】
たとえば、端子配置部１１における圧着端子３の揺動中に、その圧着端子３のＸ軸方向、Ｙ軸方向およびＺ軸方向の位置が変動しないように、圧着端子３を一定位置で揺動可能に保持する保持部材が端子配置部１１に設けられてもよい。
【０１３７】
また、端子配置部１１で圧着端子３が揺動されるとしたが、圧着端子３が端子配置部１１に配置された後、圧着端子３が静止したままで、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２、ワイド測定用光学系１３、ハイト測定用エリアイメージセンサ１４およびハイト測定用光学系１５がＺ軸方向に延びる軸線を中心に一体的に揺動されてもよい。
【０１３８】
また、Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗが測定（取得）された後、Ｙ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが測定されるという処理が繰り返される場合を例に取ったが、Ｙ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが測定された後、Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，Ｘｗが測定されるという処理が繰り返されてもよい。この場合、第２測定位置ＰｗでのＹ軸方向寸法Ｙｗの極小値Ｙｗminが測定される直後に測定された第１測定位置ＰｉでのＸ軸方向寸法Ｘｉがインシュレーションバレル部３３のクリンプワイドＷｉとされ、極小値Ｙｗminが測定される直後に測定された第２測定位置ＰｗでのＸ軸方向寸法Ｘｗがワイヤバレル部３２のクリンプワイドＷｗとされるとよい。
【０１３９】
また、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２およびハイト測定用エリアイメージセンサ１４がそれらの撮像面１２１，１４１を端子配置部１１に向けて配置された構成を取り上げた。この構成に代えて、ワイド測定用エリアイメージセンサ１２およびハイト測定用エリアイメージセンサ１４が省略されて、撮像面１２１，１４１の位置にスクリーンが設けられるとともに、スクリーンに対してワイド測定用光学系１３およびハイト測定用光学系１５と反対側にイメージセンサ設けられた構成が採用されてもよい。この構成では、スクリーンに結像した圧着端子３の投影がイメージセンサによって撮像され、イメージセンサから出力される信号に基づいて、Ｘ軸方向寸法Ｘｉ，ＸｗおよびＹ軸方向寸法Ｙｉ，Ｙｗが取得される。この場合、撮像面１２１の位置に設けられるスクリーンの端子配置部１１に臨む面は、第２投影面の一例をなし、撮像面１４１の位置に設けられるスクリーンの端子配置部１１に臨む面は、第１投影面の一例をなす。
【０１４０】
その他、前述の構成には、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
【符号の説明】
【０１４１】
１      圧着端子検査装置
２      電線
３      圧着端子
５      制御部
１１    端子配置部
１２    ワイド測定用エリアイメージセンサ（第２エリアイメージセンサ）
１４    ハイト測定用エリアイメージセンサ（第１エリアイメージセンサ）
３２    ワイヤバレル部（バレル部）
３３    インシュレーションバレル部（バレル部）
５１    発光制御部
５２    信号処理部
１００  圧着端子検査装置
１２１  撮像面（第２投影面）
１４１  撮像面（第１投影面）
５２１  基準点特定部（基準点特定手段）
５２２  ハイト取得部（第２方向寸法測定手段、ハイト取得手段）
５２３  ワイド取得部（第３方向寸法測定手段、ワイド取得手段）
５２４  背バリ有無判定部（背バリ有無判定手段）
ＤＰ    基準点
Ｈｉ    インシュレーションハイト
Ｈｗ    クリンプハイト
Ｐｉ    第１測定位置（測定位置）
Ｐｗ    第２測定位置（測定位置）
Ｗｉ    インシュレーションワイド
Ｗｗ    クリンプワイド
Ｘｉ    Ｘ軸方向寸法（第２方向の寸法）
Ｘｗ    Ｘ軸方向寸法（第２方向の寸法）
Ｙｉ    Ｙ軸方向寸法（第３方向の寸法）
Ｙｗ    Ｙ軸方向寸法（第３方向の寸法）
Ｚ１    第１距離
Ｚ２    第２距離
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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