(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した入力信号を生成する入力部と、
この入力部が生成した前記入力信号を校正する校正値および当該校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記億部と、
この第一の記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部と、
を具備した計測装置であって、
当該計測装置を最初に校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、を更に有し、
前記変換部は、
前記第一の記憶部に保持された校正値を前記第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された校正値が更新されたとき、当該校正値を更新した校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値を更新した校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送して、前記第一の記憶部に保持されていた前記校正値および前記第一のチェックコードを更新する第二の転送手段と、
前記第二の転送手段による転送処理が正常に終了したか否かを判定する転送判定手段と、
この転送判定手段の判定結果が異常のとき、前記初期校正値記憶部に保持された前記初期校正値にて前記入力信号を校正する計測処理手段と、を備えることを特徴とする計測装置。
【請求項２】
被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した入力信号を生成する入力部と、
この入力部が生成した前記入力信号を校正する校正値および該校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記億部と、
この第一の記憶部が保持した前記校正値により前記入力信号を校正した出力値を生成する変換部と、を具備した計測装置であって、
当該計測装置を最初に校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、
前記第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と、を更に備え、
前記変換部は、
前記第一の記憶部に保持された校正値および第一のチェックコードを前記第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、
前記第二の記憶部に保持された校正値が更新されたとき、当該校正値を更新した校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを算出するチェックコード算出手段と、
この算出された第二のチェックコードと前記第二の記憶部に保持された前記第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、
このチェックコード比較手段によって前記第二の記憶部に保持された第一のチェックコードと前記第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、前記第二の記憶部に保持された校正値を更新した校正値および前記第二のチェックコードを前記第一の記憶部にそれぞれ転送して、前記第一の記憶部に保持されていた前記校正値および前記第一のチェックコードを更新する第二の転送手段と、
前記第二の転送手段による転送処理が正常に終了したか否かを判定する転送判定手段と、
この転送判定手段の判定結果が異常のとき、前記初期校正値記憶部に保持された前記初期校正値にて前記入力信号を校正する計測処理手段と、を備えることを特徴とする計測装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の計測装置であって、
前記第一および第二のチェックコードは、前記校正値を順次加算して合計値としたＳＵＭ値、又は前記校正値を巡回計算したＣＲＣ符号であることを特徴とする計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電流や電圧あるいは温度などの物理量を計測する計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、物理量を計測する計測装置においては、メーカの工場出荷時に、測定対象の基準となる標準器と対照することによって計測装置の指示値を修正するための校正値を求め、この校正値を、計測装置の内部メモリに保持させる（メーカ校正）。
【０００３】
このような計測装置として、例えば、温度を計測して所要の制御を行う温度調節器は、熱電対や測温抵抗体からのアナログ入力信号を、上述のようにして求めた校正値を用いて演算し、温度として出力する。
【０００４】
ところで、このような温度調節器は、経年変化による電子部品の劣化などによって温度指示値が、保証精度範囲から逸脱し精度試験で不合格になる場合がある。このため温度調節器は、メーカ出荷後においても、定期的に校正を実施する必要がある（ユーザ校正）。
【０００５】
一般的に計測装置は、校正値の更新ができるように計測装置に標準器を接続して基準信号を与えるとともに、計測装置に備えられた所定のスイッチを操作することによって、例えば更新を促すフラグ情報などが計測装置の内部回路に与えられて、その基準信号に対する指示値（Ａ／Ｄ変換値など）が内部メモリに取り込まれるように構成されている。（例えば、特許文献１を参照）。この特許文献１に記載された計測装置は、内部メモリに保持された校正値がユーザの所要の操作によって書き換えられるようにしているとともに、ユーザによる校正が行われたことが表示されるように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平９−１０１１８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述のように求めた校正値は、例えば、入力信号の下限に対しての校正値や、入力信号の上限に対しての校正値などのように複数のデータにて構成されることが多く、この複数のデータを内部メモリ（不揮発性メモリなど）に保持させる必要がある。したがって従来の計測装置は、内部メモリに保持させた一部の校正値が何らかの原因にて破損してしまった場合、全ての校正作業をやり直す必要があった。この作業量は、計測装置の校正項目毎（例えば、熱電対はチャネル毎）に行わなければならず煩雑であった。
【０００８】
また、メーカ校正時に内部メモリに保持させた校正値がユーザ校正にて書き換えられると、メーカ校正時の校正値が消滅してしまい、メーカ校正時の状態に戻すことができないという問題があった。
【０００９】
また、システムの一部としてユーザに納入された計測装置の校正値の更新が異常終了してしまうと、計測装置の計測処理が実行できなくなり、システムを停止する必要がある。この場合、再度計測装置を校正して校正値を更新し、計測処理が実行できるようになるまで計測処理が実行できないためシステムを稼動させることができないという問題もあった。すなわち、システムの連続運転を必要とするユーザにとって、この校正値の更新は大きな障害（失敗した時のリスク）となっていた。
【００１０】
また、従来の計測装置は、計測装置の所定のスイッチを操作すると、内部メモリ（不揮発性メモリなど）に保持された校正値の更新を促すフラグが内部回路に伝達されるよう構成されている。このようにフラグがセットされたか否かによって更新処理を実行するように構成された従来の計測装置は、校正値そのものが変化したものか否かを判断することができない。もちろん、更新を目的とする校正値が現在保持されている校正値と同一であった場合や、不手際にてフラグがセットされてしまったように校正値の更新処理が不要である場合でも従来の計測装置は、フラグがセットされる度に更新処理を実行しなければならなかった。このため、この種の計測装置は、不揮発性メモリの書き換え頻度が高く、その寿命を大きく短縮させてしまうという問題があった。
【００１１】
一方、前述したような不要な校正値の更新を避けるため、現在保持されている校正値と更新を目的とする校正値そのものを比較し、校正値の変化を検出する方法も考えられる。しかし、このような方法では校正値の量に応じて、その比較時間が増大するという問題もあった。
【００１２】
更に従来の計測装置は、内部メモリに保持された校正値が破損していた場合、誤った校正値にて校正してしまうため、計測装置の誤動作を招く原因となる。これは、計測装置を実際に稼動させてみて初めて異常に気付くことが多い。更にシステムは誤った校正値を基に動作し、それ故システムが異常な挙動をする可能性もある。そして、異常な挙動のみでは、原因究明に多大な時間を要することも否めなかった。
【００１３】
本発明は、上記のような問題点を鑑みてなされたものであり、その目的は、破損した校正値の修復時間を節約し、不要な校正値の更新を防止する計測装置を提供することにある。
【００１４】
また、本発明は、校正値の更新が異常終了しても、継続して計測処理を実行できる信頼性の高い計測装置を提供することにある。
更に本発明は、破損した校正値を初期起動時に検出したとき、計測装置を稼動せずに（計測を実行しない）、その破損した校正値を的確に通知する信頼性の高い計測装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上述した目的を達成するため、本発明は、被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した入力信号を生成する入力部と、この入力部が生成した入力信号を校正する校正値および当該校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記億部と、この第一の記憶部が保持した校正値により入力信号を校正した出力値を生成する変換部と、を具備した計測装置であり、当該計測装置を最初に校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、を更に有し、変換部は、第一の記憶部に保持された校正値を第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値が更新されたとき、当該校正値を更新した校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値を更新した校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送して、第一の記憶部に保持されていた校正値および第一のチェックコードを更新する第二の転送手段と、第二の転送手段による転送処理が正常に終了したか否かを判定する転送判定手段と、この転送判定手段の判定結果が異常のとき、初期校正値記憶部に保持された初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段と、を備えるように構成する。
【００１６】
また、本発明は、被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した入力信号を生成する入力部と、この入力部が生成した入力信号を校正する校正値および該校正値の正当性を検証するための第一のチェックコードを保持する第一の記億部と、この第一の記憶部が保持した校正値により入力信号を校正した出力値を生成する変換部と、を具備した計測装置であり、当該計測装置を最初に校正したときの初期校正値を保持する初期校正値記憶部と、第一の記憶部よりもアクセスタイムが速い第二の記憶部と、を更に備え、変換部は、第一の記憶部に保持された校正値および第一のチェックコードを第二の記憶部に転送する第一の転送手段と、第二の記憶部に保持された校正値が更新されたとき、当該校正値を更新した校正値から該校正値の正当性を検証するための第二のチェックコードを算出するチェックコード算出手段と、この算出された第二のチェックコードと第二の記憶部に保持された第一のチェックコードとを比較するチェックコード比較手段と、このチェックコード比較手段によって第二の記憶部に保持された第一のチェックコードと第二のチェックコードとが相違したと判定されたとき、第二の記憶部に保持された校正値を更新した校正値および第二のチェックコードを第一の記憶部にそれぞれ転送して、第一の記憶部に保持されていた校正値および第一のチェックコードを更新する第二の転送手段と、第二の転送手段による転送処理が正常に終了したか否かを判定する転送判定手段と、この転送判定手段の判定結果が異常のとき、初期校正値記憶部に保持された初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段と、を備えるように構成しても良い。
【００１７】
また、第一および第二のチェックコードを、校正値を順次加算して合計値としたＳＵＭ値、又は校正値を巡回計算したＣＲＣ符号とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、第一の記憶部（例えば、不揮発性メモリ）に保持された校正値の更新が異常終了した場合であっても、初期校正値に切り替えて計測処理を継続することが可能となり、高信頼な計測装置を提供することができる。
【００１９】
また、本発明は、特殊な計算を必要としない簡単なプログラムでチェックコード算出手段を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施例１に係る計測装置の構成を示す内部構成図である。
【図２】本発明の実施例１に係る計測装置におけるメモリ情報を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施例１に係る校正値が、複数のグループに分類される例を示す表である。
【図４】本発明の実施例１に従って変換部が実行する処理を示すフロー図である。
【図５】本発明の実施例２に係る計測装置の構成を示す内部構成図である。
【図６】本発明の実施例２に係る計測装置におけるメモリ情報を示すブロック図である。
【図７】本発明の実施２に従って変換部が実行する処理を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の好適な実施形態について図１〜図７の図面を基に説明する。尚、これらの図面は本発明の一実施形態を説明するための図面であって、これらの図面によって本発明が限定されるものではない。
【実施例１】
【００２２】
図１は、本発明の実施例１に係る計測装置の内部構成図である。図１において、１００は本発明の計測装置であり、１０５は図示しないセンサなどから信号が与えられる入力部（被計測対象の状態に応じて所定の電気信号に変換した信号を生成する）、１０７は測定結果などを表示する表示部、１０８は各種設定操作などをする操作部、１０４は計測装置がネットワーク１１０を介して図示しない他の装置と通信する通信部である。
【００２３】
１０２は、計測装置の校正値を保持するＥ2ＰＲＯＭやフラッシュメモリなどの不揮発
性メモリ（第一の記憶部）、１０３はＳＲＡＭ（スタティックＲＡＭ）などの作業メモリ（第二の記憶部）、１０６は図示しない外部機器に制御信号などを与える出力部、１０１は、不揮発性メモリ１０２が保持した校正値により入力部１０５からの信号を校正した出力値を生成する変換部である。
【００２４】
尚、以後に記載の本発明にて扱うＳＵＭ値（チェックコード）は、データの正当性をチェックするためのコードとして広く一般的に知られたチェックコードであり、本発明では複数の校正値を順次加算して得たものである。
【００２５】
変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値およびこの校正値のＳＵＭ値（第一のチェックコード）を作業メモリ１０３に転送する第一の転送手段１０１ａと、校正値を順番に加算していき、その合計値（ＳＵＭ値）を求めるチェックコード算出手段１０１ｂと、作業メモリ１０３に転送され保持されたＳＵＭ値（第一のチェックコード）と作業メモリ１０３に転送され保持された校正値に対して算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）とを比較するチェックコード比較手段１０１ｃと、作業メモリ１０３に保持された校正値とこの校正値から算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）を不揮発性メモリ１０２に転送する第二の転送手段１０１ｄとを備える。
【００２６】
これら第一の転送手段１０１ａ、チェックコード算出手段１０１ｂ、チェックコード比較手段１０１ｃおよび第二の転送手段１０１ｄは、いずれも変換部１０１の内部メモリ（不図示）に保持されるプログラムである。
【００２７】
また、本発明の実施例１に係る計測装置は、変換部１０１や入力部１０５、出力部１０６などのそれぞれの構成要素を各々モジュール構成にしても実現可能である。
概略的には上述したように構成された本発明の実施例１に係る計測装置１００が特徴とするところは、不揮発性メモリに保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）を作業メモリに保持しておき、この作業メモリに保持された校正値が更新されると、この更新を検知し、校正値を更新するためのモード変更を行うことなく校正値を更新する点にある。
【００２８】
このような特徴を備えた本発明の実施例１に係る計測装置の動作について、より詳細に説明する。
本発明の実施例１に係る計測装置１００は、変換部１０１が不揮発性メモリ１０２に保持された校正値を参照し、その校正値により入力信号を校正して出力値を生成する。そして、ユーザが校正値を更新するには、計測装置に標準器（不図示）を接続して基準信号を与えるとともに、操作部１０８が備える所定のスイッチ（不図示）を操作する。計測装置１００は、このスイッチが操作されることによって、その基準信号に対する指示値（Ａ／Ｄ変換値など）を不揮発性メモリ１０２に保持するように構成されている。もしくは、ネットワーク１１０を介して、通信部１０４が校正値をダウンロードし、このダウンロードした校正値を変換部１０１が不揮発性メモリ１０２に保持するようにしても良い。或いは不揮発性メモリ１０２を着脱可能な記憶装置（例えば、メモリカード、ハードディスクモジュール等の補助記憶装置）として構成し、所定の校正値をこの記憶装置に予め保持させるように構成してもかまわない。要は、本発明の計測装置に所定の校正値が予め保持されるように構成されれば、校正値の保持形態が限定されるものではない。
【００２９】
図２は、本発明の実施例１に係る計測装置１００のメモリ情報を示す図である。図２（ａ）は、不揮発性メモリ１０２に割り付けられたメモリ情報を示す図である。ちなみに作業メモリ１０３は、第一の記憶部を構成する不揮発性メモリ１０２よりもアクセスタイムが速いＳＲＡＭなどを用いる。
【００３０】
図２（ａ）において、２００は、不揮発性メモリ１０２の所定のアドレスに割り付けられた校正値領域である。この校正値領域２００には、変換部１０１が入力部１０５からの信号を校正する際に用いる後述（図３の説明）の所定のグループ毎に分類されたＡグループ校正値２０１およびＢグループ校正値２０３が保持される。２０２は、Ａグループ校正値２０１を基に算出されたＡグループＳＵＭ値であり、２０４はＢグループ校正値２０３を基に算出されたＢグループＳＵＭ値である。
【００３１】
図２（ｂ）は、作業メモリ１０３に割り付けられたメモリ情報を示す図である。この図において、２２０は、変換部１０１が、前述した校正値領域２００に保持された校正値（２０１，２０３）およびこれらのＳＵＭ値（２０２，２０４）の退避や更新をするための更新データ領域である。Ａグループ更新データ領域２２１は、変換部１０１が前述したＡグループ校正値２０１を退避したり、校正値の更新時には通信部１０４や操作部１０８によって格納された更新データを保持する領域である。ＡグループＳＵＭ更新領域２２２は、変換部１０１が前述したＡグループＳＵＭ値２０２を退避したり、このＳＵＭ値２０２を更新するためのデータを保持する領域である。
【００３２】
また、Ｂグループ更新データ領域２２３は、変換部１０１が前述したＢグループ校正値２０３を退避したり、校正値更新時には通信部１０４や操作部１０８によって格納された更新データを保持する領域である。ＢグループＳＵＭ更新領域２２４は、変換部１０１が前述したＢグループＳＵＭ値２０４を退避したり、このＳＵＭ値２０４を更新するためのデータを保持する領域である。
【００３３】
さて、図３は、計測装置の校正値を複数の所定のグループに分類した一例を示した図である。
図３（ａ）において、No.１〜No.ｎの分類は、この計測装置の入力部１０５に接続される機器
（センサとして例えば熱電対、測温抵抗体やサーミスタなどの温度測定用センサ）毎に校正値をグループ分けした分類の一例である。この場合、熱電対の校正値が図２に記載のＡグループ校正値２０１に相当し、測温抵抗体の校正値が図２に記載のＢグループ校正値２０３に相当する。更に、サーミスタなどの校正値はｎグループとして図２に記載の校正値領域２００に割付けられる（図２には不図示）。
【００３４】
また、図３（ｂ）は、この計測装置が複数チャネルの熱電対に接続される場合における校正値をグループ分けした一例である。図３（ｂ）において、熱電対のチャネル１の校正値が図２に記載のＡグループ校正値２０１に相当し、熱電対のチャネル２の校正値が図２に記載のＢグループ校正値２０３にそれぞれ相当する。熱電対のチャネルが更に存在する場合、そのチャネル分の校正値がそれぞれグループ分けされ、図２に記載の校正値領域２００に割付けられる（図２には不図示）。
【００３５】
同様、図３において、各校正項目について説明する。オフセット校正値は、計測装置１００の入力部１０５に入力（値）をゼロとした入力信号を与えたときの入力部１０５が次段の変換部１０１へ与える値（Ａ／Ｄ変換値など）を不揮発性メモリ１０２に保持させた値であり、変換部１０１はこの値を入力（値）ゼロとして扱うことにより入力信号（値）を校正して出力値とする。
【００３６】
またゲイン校正値は、計測装置１００の入力部１０５に入力（値）をその装置に定められた仕様の最大（値）としたときの入力部１０５が出力する値（Ａ／Ｄ変換値など）をメモリに保持させた値であり、変換部１０１はこの値を入力（値）の最大値として扱うことにより入力信号（値）を校正して出力値とする。このように、入力部１０５が次段の変換部１０１へ与える信号（値）の誤差を補正し出力値とすることにより、計測装置の保証精度を保つようにする。
【００３７】
また、冷接点校正値は、熱電対での計測精度を高めるために、計測装置の端子温度（冷接点温度）をより正確に求めることを目的とした校正値である。計測装置はこの冷接点校正値を基に計測装置の端子（冷接点）温度を校正する。
【００３８】
このように、計測装置の校正値は、計測装置に接続される所定の機器（センサ）毎にグループに分類されて不揮発性メモリ１０２にそれぞれ保持されたり、複数のチャネルを備えるセンサのチャネル毎にグループに分類されて不揮発性メモリ１０２にそれぞれ保持される。
【００３９】
図４は、本発明の実施例１に係る、計測装置の動作を説明するフローチャートである。図４を参照しながら本発明の詳細説明をする。ここでは起動後、計測装置の初期化を目的とする状態を初期起動フェーズ（Ｓ３０１〜Ｓ３０３）とし、初期化以降の通常の運用状態を運用フェーズ（Ｓ３０４以降）とし、計測装置を停止する異常状態を異常フェーズ（Ｓ３２０）と定義する。また、本実施例にて説明するＳＵＭ値の算出を行うチェックコード算出手段１０１ｂは、変換部１０１が校正値を順次加算し、合計値とする変換部１０１が実行するプログラムである。
【００４０】
さて、Ｓ３０１において、変換部１０１は、グループ毎に分類保持されたＡグループ校正値２０１およびＢグループ校正値２０３のそれぞれのＳＵＭ値を算出し、変換部１０１内の図示しない退避領域にそれぞれ転送する。
【００４１】
次いで変換部１０１は、Ｓ３０２に進み、Ａグループ校正値２０１に対応する前述したＳ３０１にて算出したＳＵＭ値と不揮発性メモリ１０２に保持されたＡグループＳＵＭ値２０２、およびＢグループ校正値２０３に対応するＳ３０１にて算出したＳＵＭ値と不揮発性メモリ１０２に保持されたＢグループＳＵＭ値２０４とをそれぞれ比較する。これら対に比較したＳＵＭ値がそれぞれ等しい場合、変換部１０１は、校正値が正常であると判定し、Ｓ３０３へと移行する。これら対に比較したＳＵＭ値のいずれか一方が異なる場合は、校正値に異常があったり、不揮発性メモリに異常がある可能性が高い。したがって、このまま計測装置を運用した場合には正常に校正できないことが想定されるので、変換部１０１は、校正値が異常であると判定し、計測装置を稼動せずにＳ３２０（異常フェーズ）へと移行する。
【００４２】
Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、異常である校正値を含むグループ名を表示部１０７に通知（表示）すると共に、ネットワーク１１０を経由して本装置に接続される他の機器にその異常（校正値に異常を発見したことと、異常である校正値を含むグループ名）を通知する。
【００４３】
Ｓ３０２にて校正値が正常であると判定した場合、変換部１０１は、Ｓ３０３に進む。Ｓ３０３において変換部１０１は、Ａグループ校正値２０１、ＡグループＳＵＭ値２０２およびＢグループ校正値２０３、ＢグループＳＵＭ値２０４を更新データ領域２２０にそれぞれ転送する。
【００４４】
すなわち、変換部１０１は初期起動フェーズにおいて、Ａグループ校正値２０１とＢグループ校正値２０３が正常であるか否かを判定し、それぞれの校正値が正常である場合にのみ校正値を更新データ領域に転送して運用フェーズ（Ｓ３０４以降）に移行する。
【００４５】
次いでＳ３０４に移行した変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値を基に、入力部１０５によって所定の電気信号に変換された入力信号を校正して出力値とする計測処理を実行する。
【００４６】
変換部１０１の処理はＳ３０５に進み、変換部１０１は、Ｓ３０５において更新データ領域２２０のＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のデータが更新されたか否かを不図示のデータ更新完了フラグにて確認する。
【００４７】
Ｓ３０５にてデータ更新完了フラグ（不図示）がセットされてない場合、すなわちＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のデータが両方とも更新されてない場合（Ｓ３０５ Ｎｏ）、変換部１０１は、Ｓ３０４へ移行する。
【００４８】
変換部１０１は、Ｓ３０５にて前述したデータ更新完了フラグ（不図示）がセットされた場合、すなわちＡグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３のどちらかのデータが更新されたと判定したとき（Ｓ３０５ Ｙｅｓ）、Ｓ３０６へ移行す
る。
【００４９】
Ｓ３０６において変換部１０１は、Ａグループ更新データ領域２２１およびＢグループ更新データ領域２２３の各更新データに対してＳＵＭ値をそれぞれ算出する。すなわち、変換部１０１は、Ｓ３０５の判定に基づき更新データ領域２２０が更新される所定の周期にて、Ａグループ更新データ領域２２１とＢグループ更新データ領域２２３の各更新データに対してＳＵＭ値をそれぞれ算出する。
【００５０】
そして変換部１０１は、Ｓ３０７において、上述Ａグループ更新データ領域２２１の更新データから算出されたＳＵＭ値とＡグループＳＵＭ更新領域２２２に保持されたＳＵＭ値とを対に比較すると共に、上述Ｂグループ更新データ領域２２３の更新データから算出されたＳＵＭ値とＢグループＳＵＭ更新領域２２４に保持されたＳＵＭ値とを対に比較する。この対に比較したＳＵＭ値のいずれか一方が異なったとき、変換部１０１は、更新データ領域２２０が以前に保持したデータとは違ったデータに書き換えられたと判定する（Ｓ３０７  Ｙｅｓ）。一方、前述した対に比較したＳＵＭ値がいずれも等しい場合（Ｓ３０７ Ｎｏ）、変換部１０１は、更新データ領域２２０に更新されたデータがこれまで保
持していたデータと同じである（不変）と判定し、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）をクリアして計測処理Ｓ３０４に移行する。
【００５１】
次いで、処理はＳ３０８に進み、Ｓ３０８において変換部１０１は、更新データ領域２２０の更新データを校正値領域２００（不揮発性メモリ１０２）に転送する（書き込む）。
【００５２】
例えば、Ｓ３０７において変換部１０１は、Ｓ３０３にてＡグループＳＵＭ更新領域２２２に転送されたＳＵＭ値とＡグループ更新データ領域２２１に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合に変換部１０１は、Ｓ３０８において前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＡグループＳＵＭ更新領域２２２に上書きし、Ａグループ更新データ領域２２１に保持された更新データをＡグループ校正値２０１に転送する（書き込む）と共に、上書きされたＡグループＳＵＭ更新領域２２２の値をＡグループＳＵＭ値２０２に転送する（書き込む）。
【００５３】
同様に、Ｓ３０７において変換部１０１は、Ｓ３０３にてＢグループＳＵＭ更新領域２２４に転送されたＳＵＭ値とＢグループ更新データ領域２２３に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合に変換部１０１は、Ｓ３０８において前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＢグループＳＵＭ更新領域２２４に上書きし、Ｂグループ更新データ領域２２３の更新データをＢグループ校正値２０３に転送する（書き込む）と共に、上書きされたＢグループＳＵＭ更新領域２２４の値をＢグループＳＵＭ値２０４に転送する（書き込む）。もちろん、Ａグループ、ＢグループそれぞれのＳＵＭ値が異なれば両方書き込めば良い。
【００５４】
変換部１０１は、更新データおよびそのＳＵＭ値を不揮発性メモリ１０２に転送した（書き込んだ）後、Ｓ３０９において、不揮発性メモリ１０２の更新された校正値およびＳＵＭと作業メモリ１０３の更新データおよびＳＵＭ値とをそれぞれ比較して正常に更新できたか否かを確認する。変換部１０１は、比較した校正値およびＳＵＭが一致すれば正常に更新できたと判定し、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）をクリアしてＳ３０４に移行（Ｓ３０９ Ｙｅｓ）する。Ｓ３０４に移行したら、変換部１０１は、更新された
校正値を基に、入力信号を校正する。
【００５５】
同様にＳ３０９において、変換部１０１は、互いに比較した校正値またはＳＵＭのいずれかが相違すれば更新が異常終了したと判定する（Ｓ３０９ Ｎｏ）。この異常終了は、
不揮発性メモリの破損など、何らかの異常によって発生したと想定される。このため、変換部１０１は、Ｓ３２０の異常処理（異常フェーズ）に移行する。
【００５６】
そして、Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、不揮発性メモリに保持された校正値の更新が異常であったことを通知（表示）すると共に、ネットワーク１１０を経由して本計測装置に接続される他の機器に不揮発性メモリ１０２に保持された校正値の更新が異常終了したことを通知する。
【００５７】
この例では、Ｓ３０３にてＡグループＳＵＭ更新領域２２２にはＡグループＳＵＭ値２０２を転送したデータが保持され、ＢグループＳＵＭ更新領域２２４にはＢグループＳＵＭ値２０４を転送したデータが保持されたものとして説明した。これは、校正値領域２００にＥ2ＰＲＯＭなどの不揮発性メモリを使用した場合に、データの読み出しに時間を費
やすことから、高速に読み書きできるアクセスタイムの速いＳＲＡＭなどの作業メモリ１０３に予め退避しておくことで、ＳＵＭ値の比較チェックが高速になる点と、対象とする不揮発性メモリの種類に関係なくＳＵＭ値の比較プログラムを同じ構造にできるメリットがあるためである。
【００５８】
尚、ＳＵＭ値の比較方法は、ＡグループＳＵＭ値２０２とＢグループＳＵＭ値２０４を作業メモリ１０３に転送せずに不揮発性メモリに保持されたオリジナルのＳＵＭ値（２０２，２０４）と、更新データ領域（２２１，２２３）の更新データに対して算出したＳＵＭ値とを比較しても良い。
【００５９】
この場合Ｓ３０７において変換部１０１は、ＡグループＳＵＭ値２０２とＡグループ更新データ領域２２１に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合（Ｓ３０７ Ｙｅｓ）に変換部１０１は、Ｓ３０８に
おいて、Ａグループ更新データ領域２２１に保持された更新データをＡグループ校正値２０１に転送する（書き込む）と共に、前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＡグループＳＵＭ値２０２に書き込む。
【００６０】
同様Ｓ３０７において、変換部１０１は、ＢグループＳＵＭ値２０４とＢグループ更新データ領域２２３に保持された更新データから算出したＳＵＭ値とを比較する。この比較の結果、ＳＵＭ値が相違した場合（Ｓ３０７ Ｙｅｓ）に変換部１０１は、Ｂグループ更
新データ領域２２３に保持された更新データをＢグループ校正値２０３に転送する（書き込む）と共に、前述した更新データから算出したＳＵＭ値をＢグループＳＵＭ値２０４に書き込む。もちろん、それぞれのＳＵＭ値が異なれば両方書き込めば良い。
【００６１】
また、更新データ領域２２０に保持される更新データは、通信部１０４がネットワーク１１０経由にて更新したり、操作部１０８を操作することで、更新することができるようになっている。そして、本発明の計測装置１００は、前述したデータ更新完了フラグ（不図示）がクリア状態のときに変換部１０１以外に更新データ領域２２０の書き換えが許可され、データ更新完了フラグ（不図示）がセット状態のときには、変換部１０１以外に更新データ領域２２０の書き換えが許可されないように制御（排他論理条件）している。また、本発明は、変換部１０１にデータ更新を伝える方法として、フラグのやりとり以外に割込にて行うことも可能である。
【００６２】
また、前述した実施例は、校正値の正当性を検証するためのチェックコードとしてＳＵＭ値を例に説明したが、本発明の計測装置は、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check）など
の巡回計算された符号をチェックコードとしても良い。
【００６３】
以上のように、本発明は、不揮発性メモリに保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）およびそのオリジナル校正値から算出されたチェックコード（オリジナルＳＵＭ値）を、計測装置の初期起動時にＳＲＡＭに退避する。
【００６４】
そして、変換部１０１は、計測装置稼動中に校正値を更新するためのモード変更などすることなく前述したＳＲＡＭに退避されたオリジナル校正値がその更新を目的とする更新データに更新されると、その更新データに対するＳＵＭ値を算出する。
【００６５】
本発明の計測装置は、この算出したＳＵＭ値とＳＲＡＭに退避したオリジナルＳＵＭ値とを比較し、その結果、互いのＳＵＭ値が異なると判定されたとき、不揮発性メモリに保持されたオリジナル校正値とオリジナルＳＵＭ値を書き換えている。そして、本発明の計測装置は、校正値更新後も更新された校正値を基に入力信号を校正するようにしているので、計測装置稼動中に校正値を更新するためのモード変更などをすることなく校正値を更新し、それを計測処理に反映することが可能となった。
【００６６】
また、本発明は、更新データから算出されたＳＵＭ値と不揮発性メモリよりもアクセスタイムの速いＳＲＡＭに保持されたＳＵＭ値（オリジナル校正値のＳＵＭ値コピー）を比較するようにしたので、更新データがオリジナル校正値と違ったデータパターンであることを、短時間に検出することが可能となった。
【００６７】
また、本発明は、ＳＵＭ値の比較結果にて校正値の更新をするようにしたので、不揮発性メモリに対する校正値の更新を抑制すること、すなわち不要な書込みを阻止することができるため、長寿命な計測装置を提供することが可能となった。
【００６８】
また、本発明は、オリジナル校正値およびオリジナルＳＵＭ値を所定の複数のグループに予め分類して不揮発性メモリにそれぞれ保持し、計測装置の初期起動時（初期起動フェーズ）において、各グループ分類されたオリジナル校正値から算出されたそれぞれのＳＵＭ値と、これらのＳＵＭ値に対応する各オリジナルＳＵＭ値とをそれぞれ比較している。この結果、本発明の計測装置は、比較対象としたＳＵＭ値が相違した場合に、計測装置を稼動せずに異常処理（異常フェーズ）に移行する。
【００６９】
また、本発明の計測装置は、異常処理（異常フェーズ）にて、相違した校正値が含まれるグループをユーザに通知するようにした。こうすることで本発明の計測装置は、校正値の破損による計測不良を回避でき、それと共に破損した校正値を容易に特定できるので、不具合の原因究明の時間を大幅に削減することが可能となった。更に本発明の計測装置は、破損した校正値のグループに属する校正作業のみを実施し、そのグループの校正値を修復すれば良いため、校正値の更新に対するユーザの負担や時間を節約することが可能となった。
【００７０】
そして本発明は、計測装置の初期起動時（初期起動フェーズ）において、校正値のＳＵＭ値の比較をすることによりオリジナル校正値が正常であるか否かを判定した結果、校正値が正常である場合にのみ運用フェーズに移行するようにしたので、誤計測処理をしない信頼性の高い計測装置を提供することが可能となった。
【実施例２】
【００７１】
次に本発明の実施例２に係る計測装置について図５〜７を参照しながら説明する。
この実施例２が上述した実施例１と異なるところは、図５において、図１に対して転送判定手段１０１ｅと計測処理手段１０１ｆが付加された点、図６において、図２に対して不揮発性メモリ１０２に割付される初期校正値（計測装置を製造初期に校正した値であり、すなわちメーカ出荷時の校正値である）領域が付加された点、図７において、図４に対してプログラムの処理であるＳ３１０が付加された点にある。
【００７２】
また、図５〜７において図１〜４と同様な構成は同符号にて記載し、実施例１と重複する説明は省略する。
図５は、本発明の実施例２に係る計測装置の内部構成図である。図５において図１との相違点は、作業メモリ１０３（第二の記憶部）に保持された校正値およびこの校正値から算出されたチェックコード（第二のチェックコード）がそれぞれ不揮発性メモリ１０２（第一の記憶部）に正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段１０１ｅと、この転送判定手段１０１ｅにより作業メモリ１０３から不揮発性メモリ１０２への転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段１０１ｆとが付加されている点である。
【００７３】
すなわち、変換部１０１は、不揮発性メモリ１０２に保持された校正値およびこの校正値のＳＵＭ値（第一のチェックコード）を作業メモリ１０３に転送する第一の転送手段１０１ａと、校正値を順次加算していき合計値（ＳＵＭ値）とするチェックコード算出手段１０１ｂと、作業メモリ１０３に転送され保持されたＳＵＭ値（第一のチェックコード）と作業メモリ１０３に転送され保持された校正値に対して算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）とを比較するチェックコード比較手段１０１ｃと、作業メモリ１０３に保持された校正値と、この校正値から算出したＳＵＭ値（第二のチェックコード）を不揮発性メモリ１０２に転送する第二の転送手段１０１ｄと、この第二の転送手段による転送が正常に転送されたか否かを判定する転送判定手段１０１ｅおよびこの転送判定手段１０１ｅにより作業メモリ１０３から不揮発性メモリ１０２への転送が異常であると判定されたとき、初期校正値にて入力信号を校正する計測処理手段１０１ｆを備える。
【００７４】
これら第一の転送手段１０１ａ、チェックコード算出手段１０１ｂ、チェックコード比較手段１０１ｃ、第二の転送手段１０１ｄ、転送判定手段１０１ｅおよび計測処理手段１０１ｆは、いずれも変換部１０１の内部メモリ（不図示）に保持されるプログラムである。
【００７５】
図６は、本発明の実施例２に係る計測装置１００の不揮発性メモリ１０２と作業メモリ１０３に割り付けされたメモリ情報を示す図である。ちなみに作業メモリ１０３は、第一の記憶部を構成する不揮発性メモリ１０２よりもアクセスタイムが速いＳＲＡＭなどを用いる。
【００７６】
概略的には上述したように構成された本発明の実施例２に係る計測装置１００が特徴とするところは、不揮発性メモリ１０２に保持された計測装置の校正値（オリジナル校正値）を作業メモリ１０３に転送しておき、この作業メモリに保持された校正値が更新されると、この更新を検知して不揮発性メモリ１０２の校正値を更新する点であり、更にこの更新が正常に行われなかった場合には、メーカ出荷時の校正値にて入力信号を校正することにある。この発明の計測装置におけるメーカ出荷時の校正値（初期校正値）とは、計測装置を製造するメーカが出荷時に行う校正作業による校正値であり、後に不変の校正値である。
【００７７】
このような特徴を備えた本発明の実施例２に係る計測装置の動作について、より詳細に説明する。
さて図６は、図２と本発明の実施例２に係る計測装置１００のメモリ情報を示す図である。
【００７８】
図６（ａ）は図２（ａ）と概略同様であるが、その相違点は、計測装置を製造初期に校正した値、すなわちメーカ出荷時の校正値を保持する初期校正値領域２１０が不揮発性メモリ１０２に割付される点である。この初期校正値領域２１０には、メーカ出荷時の校正値である初期校正値２１１およびこの初期校正値２１１を基に算出したＳＵＭ値（初期校正値ＳＵＭ値）が保持される。
【００７９】
図６（ｂ）は、実施例１の図２（ｂ）と同様であるので、この説明を省略する。
尚、図６において、グループ分類された校正値領域２００の校正値は、図３のように分類されるので、その分類および校正項目の説明は省略する。
【００８０】
図７は、本発明の実施例２に係る計測装置の動作を説明するフローチャートである。この図において、図４との相違点は更新不良処理Ｓ３１０が付加された点である。その他の処理に関しては実施例１における図４の説明と概略同様である。
【００８１】
以降の説明は実施例１と同様の部分を省略し、相違する点を中心に説明する。
まず図７において、Ｓ３０１〜Ｓ３０３（初期起動フェーズ）およびＳ３２０（異常フェーズ）は実施例１の説明と同様であるのでその説明を省略する。
【００８２】
また、運用フェーズであるＳ３０４〜Ｓ３１０において、Ｓ３０５〜Ｓ３０９の説明は実施例１での説明と同様であるのでその説明を省略する。
すなわち、実施例２の運用フェーズにおける実施例１との相違点は、Ｓ３０４とＳ３１０の動作にあり、この動作を中心に説明する。
【００８３】
さて、Ｓ３１０の前処理であるＳ３０９で校正値領域２００の校正値が正常に更新できなかったと判定した（Ｓ３０９ Ｎｏ）変換部１０１は、Ｓ３１０において、Ｓ３０８の
転送が不良であったことを示す更新不良フラグ（不図示）をセットすると共にＳ３０４に移行する。
【００８４】
Ｓ３０４に移行した変換部１０１は、更新不良フラグ（不図示）を参照し、このフラグがセットされていたとき、初期校正値領域２１０の初期校正値２１１を基に入力信号を校正する。すなわち、Ｓ３０４において変換部１０１は、更新不良フラグ（不図示）がセットされていれば初期校正値領域２１０の校正値（初期校正値２１１）にて入力信号を校正し、更新不良フラグ（不図示）がリセットされていれば校正値領域２００の校正値（Ａグループ校正値、Ｂグループ校正値）を基に入力信号を校正する。
【００８５】
尚、不揮発性メモリ１０２は、揮発性メモリを電池などでバックアップしたバックアップメモリとしても良い。
また、初期起動フェーズにおいて変換部１０１は、初期校正値領域２１０の初期校正値２１１に対してＳＵＭ値を算出して、この算出されたＳＵＭ値と初期校正値ＳＵＭ値２１２とを比較し、互いのＳＵＭが相違したとき、異常処理３２０に移行する処理を付加しても良い。この場合Ｓ３２０に移行した変換部１０１は、初期校正値２１１が異常であることを表示部１０７に表示すると共に、ネットワーク１１０を経由して本装置に接続される他の機器に向けてその異常（初期校正値２１１が異常であること）を通知する。
【００８６】
尚、ここではＡ，Ｂの二つのグループについて説明したが、上述した方法に準じて更にグループを増やすことも勿論可能である。
以上のように、実施例２にて説明した計測装置は、実施例１に記載の計測装置に加えてメーカ出荷時の校正値を更に備え、校正値の更新が正常にできなかった場合、メーカ出荷時の校正値にて入力信号を校正するようにした。このようにすることにより、本発明は、校正値の更新に失敗したとしても、継続して計測処理を実行できる信頼性の高い計測装置を提供することが可能となった。
【符号の説明】
【００８７】
１００    計測装置
１０１    変換部
１０１ａ  第一の転送手段
１０１ｂ  チェックコード算出手段
１０１ｃ  チェックコード比較手段
１０１ｄ  第二の転送手段
１０１ｅ  転送判定手段
１０１ｆ  計測処理手段
１０２    不揮発性メモリ
１０３    作業メモリ
１０４    通信部
１０５    入力部
１０６    出力部
１０７    表示部
１０８    操作部
１１０    ネットワーク
２００    校正値領域（不揮発性メモリ）
２０１    Ａグループ校正値
２０２    ＡグループＳＵＭ値
２０３    Ｂグループ校正値
２０４    ＢグループＳＵＭ値
２１０    初期校正値領域（不揮発性メモリ）
２１１    初期校正値
２１２    初期校正値ＳＵＭ値
２２０    更新データ領域（作業メモリ）
２２１    Ａグループ更新データ領域
２２２    ＡグループＳＵＭ更新領域
２２３    Ｂグループ更新データ領域
２２４    ＢグループＳＵＭ更新領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
0005447699.tif 000007
【図７】
0005447699.tif 000008