(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｎ（ｎは４以上の偶数）本の信号線を介してｎ個の信号を受け取り、受け取った前記信号が一致するか否かの一致判定を行い、前記一致判定の結果に基づき、半数を超えて同じ値をとる前記信号を選択し出力する出力選択回路と、
前記一致判定の結果、同じ値をとる前記信号が半数を超えない場合にはエラー信号を出力するエラー信号生成回路と、を含み、
前記出力選択回路は、
前記一致判定の結果に基づき、前記信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した前記信号線があった場合には、エラーと判定した前記信号線を前記ｎ本の信号線から除いた残りの前記信号線を介して入力された前記信号で一致判定を行い、前記一致判定の結果に基づき、半数を超えて同じ値をとる前記信号を選択し出力する信号判定回路。
【請求項２】
請求項１において、
前記信号は、
ロジック信号である信号判定回路。
【請求項３】
請求項１又は２において、
前記出力選択回路は、
前記信号線につけられた優先順位に従って前記信号線を選択し、選択された前記信号線の前記信号を出力する信号判定回路。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかにおいて、
前記エラー信号生成回路は、
前記信号線の全ての組み合わせについて前記信号の値が一致するか否かの一致判定を行い、前記各信号線について前記信号線を含む組み合わせのうち、一致しないと判断された組み合わせの種類に基づき、前記信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した前記信号線の数が半数を超える場合に前記エラー信号を出力する信号判定回路。
【請求項５】
請求項４において、
前記エラー信号生成回路は、
前記各信号線を含む組み合わせの中に、同一の判定結果とならない組み合わせがあった場合は、前記エラー信号を出力する信号判定回路。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかにおいて、
前記信号線のうち、少なくとも２つの所与の信号線が前記出力選択回路に接続され、前記出力選択回路が前記所与の信号線からいずれかの信号線を介して入力された信号を選択し出力する信号判定回路。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれかにおいて、
前記エラー信号の所定期間の遷移に基づいて、エラーフラグを出力するエラーフラグ生成回路を含む信号判定回路。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれかにおいて、
前記信号は、
少なくとも４つの記憶ブロック各々から前記信号線を介して出力される信号判定回路。
【請求項９】
請求項８において、
前記エラー信号生成回路は、
前記各記憶ブロックに記憶されているデータ１ビットごとに前記信号を受け取り、受け取った前記全信号のうち、同じ値をとる前記信号の数が半数を超えない場合には前記エラー信号を出力する信号判定回路。
【請求項１０】
請求項８又は９において、
前記記憶ブロックに同一のデータが記憶され、
前記信号線の少なくとも１つには所与のデータが出力され、他の信号線には前記記憶ブロックに記憶されているデータが出力されるように制御するテスト制御回路を含む信号判定回路。
【請求項１１】
請求項１０において、
前記テスト制御回路は、
テストモードにおいて、少なくとも１つの前記記憶ブロックに前記所与のデータを出力させることを指示する記憶ブロック選択信号を出力し、
前記各記憶ブロックは、
前記記憶ブロック選択信号に基づいて、前記記憶ブロックに記憶されているデータと前記記憶ブロックに記憶されているデータとは異なる所与のデータとを選択出力する信号判定回路。
【請求項１２】
請求項１乃至１１のいずれかに記載の信号判定回路を含む集積回路装置。
【請求項１３】
請求項１２に記載の集積回路装置を含む電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の幾つかの態様は、信号判定回路、集積回路装置及び電子機器等に関する。
【背景技術】
【０００２】
メモリーやセンサーの故障検出方式として、多数決方式が知られている。具体的には、３個からなるメモリーやセンサーの出力を比較し、３個中２個が一致している場合には正常であると判断して、残りの１個を故障したと判断する方式である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−３０６１６６号公報
【特許文献２】公開昭５７−１４３６５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、３個中２個が故障していた場合に、故障している２個を多数決方式により正常であると誤って判断してしまう場合があった。かかる場合には、正確な故障診断をすることができない。
【０００５】
また、多数決方式による故障診断の対象が３個である場合には、１個を故障と判断すると、残り２個ではもはや多数決方式による故障診断を行うことができなくなるため、直ちにシステム停止につながる。よって、故障検出により、１個を故障と判断した場合には、診断対象を交換しなければならず、動作中のシステム保障ができないという問題があった。
【０００６】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものである。本発明のいくつかの態様によれば、少なくとも４つ以上の信号線を介して受け取った信号の判定を行い、ロバスト性や冗長性を高めた信号判定回路、集積回路装置及び電子機器を提供できる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、ｎ（ｎは４以上の偶数）本の信号線を介してｎ個の信号を受け取り、受け取った前記信号が一致するか否かの一致判定を行い、前記一致判定の結果に基づき、半数を超えて同じ値をとる前記信号を選択し出力する出力選択回路と、前記一致判定の結果、同
じ値をとる前記信号が半数を超えない場合にはエラー信号を出力するエラー信号生成回路と、を含み、前記出力選択回路は、前記一致判定の結果に基づき、前記信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した前記信号線があった場合には、エラーと判定した前記信号線を前記ｎ本の信号線から除いた残りの前記信号線を介して入力された前記信号で一致判定を行い、前記一致判定の結果に基づき、半数を超えて同じ値をとる前記信号を選択し出力する信号判定回路に関係する。
【０００８】
エラー信号生成回路は、少なくとも４つの信号線を介して信号を受け取り、受け取った全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えない場合にはエラー信号を出力する。
【０００９】
エラー信号生成回路によれば、例えば、正常値をとる信号の数と異常値をとる信号の数の多数決によりいずれかの信号を選択する場合において、信号線の数が偶数とすると、正常値をとる信号の数と異常値を取る信号の数が半々だった場合にエラー信号を出力することができる。
【００１０】
受け取った信号の値が、例えばＨ／Ｌの２値のいずれかとなる場合には、Ｈとなる信号数とＬとなる信号数とが同数となった場合にエラー信号生成回路はエラー信号を出力するようにしてもよい。
【００１１】
出力選択回路は、受け取った信号のいずれかの信号を選択し出力する。
【００１２】
本発明によれば、少なくとも４つの信号線を介して信号を受け取り、受け取った全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えない場合にはエラー信号を出力し、受け取った信号のいずれかの信号を選択し出力することができる。
【００１３】
この信号判定回路によれば、例えば、多数決により正常値をとる信号を選択する手法を採用する場合に、信号線を介して受け取った信号のうち、いくつかの信号同士が同じ値をとらなかったとしても、多数決により少数となった信号を除いた信号で再び多数決を行い、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えなくなるまでは、多数決を繰り返しつつ、エラー信号を出力することなく動作を継続できる。
【００１４】
よって、少なくとも４つの信号線を介して信号を受け取るので、信号判定回路の誤判定を少なくすることが出来る。
【００１５】
この信号判定回路によれば、信号同士が同じ値をとる信号が同数になった場合にエラー信号を出力することになる。信号線の数が偶数の場合は、信号同士が同じ値をとる信号数と信号同士が同じ値をとらない信号数との差が２以上となるので、より正確な信号判定を行うことができる。
この信号判定回路によれば、出力選択回路は、半数を超えて信号同士が同じ値をとる信号を介した信号線から信号を選択し出力するので、正しい値である可能性が高い信号を出力することができる。
さらに前記一致判定の結果に基づき、各信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した信号線があった場合には、エラーと判定した信号線を除いた残りの信号線を介して入力された信号で一致判定を行い、前記一致判定の結果に基づき、半数を超えて同じ値をとる信号を選択し出力するので、エラーと判定された信号線があっても直ちにシステム停止になることはなく、動作中のシステム保障に優れている。
従ってｎ（ｎは４以上の偶数）本の信号線を介してｎ個の信号を受け取った信号の判定を行い、ロバスト性や冗長性を高め、正確な故障診断と動作中のシステム保障が可能な信号判定回路、集積回路装置及び電子機器を提供できる。
【００１６】
（２）また、この信号判定回路では、前記信号は、ロジック信号であるようにしてもよい。
【００１７】
この信号判定回路によれば、デジタル回路を用いて信号判定を行うことができる。
【００１８】
また、この信号判定回路によれば、アナログ回路を用いて信号判定を行う場合より、より小さい回路規模で信号判定を行うことができる。
【００２３】
（５）また、このエラー信号生成回路は、前記各信号線を含む組み合わせの中に、同一
の判定結果とならない組み合わせがあった場合は、前記エラー信号を出力することができる。
【００２４】
この信号判定回路によれば、出力選択回路は、半数を超えて信号同士が同じ値をとる信号を介した信号線から優先順位に従って信号線を選択し、選択された信号線を介して受け取った信号を出力することができる。
【００２５】
（６）また、このエラー信号生成回路は、前記信号線の全ての組み合わせについて前記信号の値が一致するか否かの一致判定を行い、前記各信号線について前記信号線を含む組み合わせのうち、一致しないと判断された組み合わせの種類に基づき、前記信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した前記信号線の数が半数を超える場合に前記エラー信号を出力するようにしてもよい。
【００２６】
この信号判定回路によれば、エラーと判定した信号線があったときは、エラーと判定した信号線を除いた残りの信号線を介して入力された信号の値で一致判定を行い、全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えるものがなくなった場合にエラーと判定することができる。
【００２７】
（７）また、このエラー信号生成回路は、前記各信号線を含む組み合わせの中に、同一の判定結果とならない組み合わせがあった場合は、前記エラー信号を出力するようにしてもよい。
【００２８】
この信号判定回路によれば、本来故障とはならない場合であっても、エラー信号を出力し、同一の判定結果とならない組み合わせに該当する信号を使用しないようにできる。
【００２９】
（８）また、この信号判定回路では、前記信号線のうち、少なくとも２つの所与の信号線が出力選択回路に接続され、前記出力選択回路が前記所与の信号線からいずれかの信号線を介して入力された信号を選択し出力するようにしてもよい。
【００３０】
この信号判定回路によれば、出力選択回路に接続される信号線の数を減らすことが出来るので、回路構成を複雑にする必要がなく、回路規模も小さくすることができる。
【００３１】
（９）また、この信号判定回路では、前記エラー信号の所定期間の遷移に基づいて、エラーフラグを出力するエラーフラグ生成回路を含むようにしてもよい。
【００３２】
この信号判定回路によれば、何らかの原因により、本来エラーではない場合にエラー信号が出力された場合であっても、所定時間エラー信号が出力されない場合には、エラーフラグが出力されないので、故障の誤検知を防止できる。
【００３３】
（１０）また、この信号判定回路では、前記信号は、少なくとも４つの記憶ブロック各々から前記信号線を介して出力されるようにしてもよい。
【００３４】
少なくとも４つの記憶ブロックとは、例えば、１つの記憶部が少なくとも４つの記憶領域に分割されている場合でもよいし、少なくとも４つの記憶部が存在する場合でもよい。また、少なくとも２つの記憶領域に分割された記憶部が少なくとも２つある場合でもよい。
【００３５】
この信号判定回路によれば、少なくとも４つの記憶ブロック各々から出力する信号に基づく一致判定により、記憶部の故障判定を行うことができる。
【００３６】
（１１）また、このエラー信号生成回路は、前記各記憶ブロックに記憶されているデータ１ビットごとに前記信号を受け取り、受け取った前記全信号のうち、同じ値をとる前記信号の数が半数を超えない場合には前記エラー信号を出力するようにしてもよい。
【００３７】
この信号判定回路によれば、記憶ブロックに記憶されたデータ１ビットごとに信号を受け取り、受け取った全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えない場合にはエラー信号を出力することができる。
【００３８】
（１２）また、この信号判定回路では、前記各記憶ブロックに同一のデータが記憶され、前記信号線の少なくとも１つには前記同一のデータとは異なるデータが出力され、他の信号線には前記記憶ブロックに記憶されているデータが出力されるように制御するテスト制御回路を含むようにしてもよい。
【００３９】
この信号判定回路によれば、信号線の少なくとも１つには各記憶ブロックに記憶されている同一のデータとは異なるデータが出力され、他の信号線には記憶ブロックに記憶されているデータが出力されるように制御される。従って、テスト用の信号線と通常のデータを介する信号線の２種類をエラー信号生成回路に接続されるようにしなくてよく、回路規模の増大を防ぐことが出来る。
【００４０】
（１３）また、この信号判定回路では、前記テスト制御回路は、テストモードにおいて、少なくとも１つの前記記憶ブロックに前記所与のデータを出力させることを指示する記憶ブロック選択信号を出力し、前記各記憶ブロックは、前記記憶ブロック選択信号に基づいて、前記記憶ブロックに記憶されているデータと前記記憶ブロックに記憶されているデータとは異なる所与のデータとを選択出力するようにしてもよい。
【００４１】
この信号判定回路よれば、記憶ブロックの機能を用いてエラー信号生成回路のテストを行うことができるので、テスト用の回路を減らすことができる。
【００４２】
この信号判定回路によれば、回路規模をそれほど増大させずに、効率よくエラー信号生成回路のテストを行うことができる。
【００４３】
（１４）また、上記のいずれかに記載の信号判定回路として機能する集積回路装置である。
【００４４】
（１５）上記に記載の集積回路装置として機能する電子機器である。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】信号判定回路の実施形態の構成例について説明するための図。
【図２】一致判定の例について説明するための図。
【図３】エラー判定に基づく出力選択回路の出力選択の例について説明するための図。
【図４】優先順位に従って出力選択回路が信号線を選択する際の選択方式について説明するための図。
【図５】物理的に起こりえないエラーが生じたときに優先順位に従って出力選択回路が信号線を選択する際の選択方式について説明するための図。
【図６】信号判定回路のより詳細な実施形態の構成例について説明するための図。
【図７】信号判定回路の実施形態の構成例について説明するための図。
【図８】エラー信号とエラーフラグの関係について説明するための図。
【図９】エラー信号生成回路のテスト方式の例について説明するための図。
【図１０】記憶ブロック選択信号［３：０］と記憶ブロックの出力の関係を説明するためのタイミングチャート。
【図１１】本実施の形態の集積回路装置のブロック図の一例。
【図１２】集積回路装置を含む電子機器のブロック図の一例。
【図１３】図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）は、種々の電子機器の外観図の例。
【発明を実施するための形態】
【００４６】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。
【００４７】
１．信号判定回路
図１は、信号判定回路の実施形態の構成例について説明するための図である。
【００４８】
本実施形態の信号判定回路１は、信号線１００と、判定回路１０と、出力選択回路３０とを含んで構成してもよい。
【００４９】
エラー信号生成回路１０は、少なくとも４つの信号線１００を介して信号を受け取り、受け取った全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えない場合にはエラー信号を出力する。
【００５０】
例えば、信号線１００が４つの場合において、受け取った信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が４つの場合及び３つの場合は、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超える。よって、エラー信号生成回路１０は、エラー信号を出力しない。しかし、信号同士が同じ値をとる信号数が２つの場合は、残りの２つの信号の値と、いずれの値が正しい値か不明となる。かかる場合には、エラー信号生成回路１０は、エラーとして、エラー信号を出力する。
【００５１】
出力選択回路３０は、受け取った各信号のうち、いずれかの信号を選択し出力する。
【００５２】
出力選択回路３０は、少なくとも４つの信号線１００を介して受け取った信号のうち、いずれかの信号を選択し出力する。しかし、エラー信号生成回路１０がエラー信号を出力している場合であっても、出力選択回路３０は、受け取った信号のうち、いずれかの信号を選択し出力することができる。
【００５３】
また、信号は、ロジック信号であってもよい。
【００５４】
エラー信号生成回路１０は、デジタル回路を用いて信号判定を行うことができる。
【００５５】
このようにすれば、アナログ回路を用いて信号判定を行う場合より、より小さい回路規模で信号判定を行うことができる。
【００５６】
また、信号線１００の数は、偶数であるようにしてもよい。
【００５７】
信号線１００の数が奇数である場合、例えば５つであった場合に、信号同士が同じ値をとる信号数の比が３対２となった場合及び２対３になった場合に、少数にあたる２つの信号が正しい値をとることもある。しかし、信号線１００の数が、偶数である場合には、信号同士が同じ値をとる信号が同数になった場合のみエラー信号を出力することになるので、より正確な信号判定を行うことができる。
【００５８】
また、出力選択回路３０は、半数を超えて同じ値をとる信号を介した信号線１００から信号を選択し出力するようにしてもよい。
【００５９】
このようにすれば、出力選択回路３０は、正しい値である可能性が高い信号の値を出力することができる。
【００６０】
２．信号のエラー判定
図２は、信号線が４つの場合における、信号線の全ての組み合わせに基づく一致判定の例について説明するための図である。
【００６１】
信号線Ａ１００−１を介して入力される信号を信号Ａ、信号線Ｂ１００−２を介して入力される信号を信号Ｂ、信号線Ａ１００−３を介して入力される信号を信号Ｃ、信号線Ｄ１００−４を介して入力される信号を信号Ｄとする。
【００６２】
エラー信号生成回路１０は、信号線の全ての組み合わせについて信号の値が一致するか否かの一致判定を行い、各信号線について各信号線を含む組み合わせのうち、一致しないと判断された組み合わせの種類に基づき、当該信号線がエラーであるか否か判定を行い、エラーと判定した信号線の数が半数以上のときにエラー信号を出力するようにしてもよい。
【００６３】
このようにすれば、エラーと判定した信号線があったときは、エラーと判定した信号線を除いた残りの信号線を介して入力された信号の値で一致判定を行い、全信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えるものがなくなった場合にエラーとすることができる。
【００６４】
第１の比較回路２００は、信号Ａと信号Ｂとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＡＢ比較結果を出力する。第２の比較回路２１０は、信号Ｃと信号Ｄとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＣＤ比較結果を出力する。第３の比較回路２２０は、信号Ａと信号Ｃとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＡＣ比較結果を出力する。第４の比較回路２３０は、信号Ａと信号Ｄとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＡＤ比較結果を出力する。第５の比較回路２４０は、信号Ｂと信号Ｃとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＢＣ比較結果を出力する。第６の比較回路２５０は、信号Ｂと信号Ｄとが同じ値をとるか比較して一致判定を行い、ＢＤ比較結果を出力する。
【００６５】
図３は、エラー判定に基づく出力選択回路３０の出力選択の例について説明するための図である。
【００６６】
エラー判定回路Ａ３００は、ＡＢ比較結果とＡＣ比較結果とＡＤ比較結果とに基づき、信号Ａがエラーであるかの判定を行う。エラー判定回路Ｂ３２０は、ＡＢ比較結果とＢＣ比較結果とＢＤ比較結果とに基づき、信号Ｂがエラーであるかの判定を行う。エラー判定回路Ｃ３４０は、ＡＣ比較結果とＢＣ比較結果とＣＤ比較結果とに基づき、信号Ｃがエラーであるかの判定を行う。エラー判定回路Ｄ３６０は、ＡＤ比較結果とＢＤ比較結果とＣＤ比較結果とに基づき、信号Ｄがエラーであるかの判定を行う。
【００６７】
ゲート回路Ａ４００は、エラー判定回路Ａ３００の判定結果と信号Ａとが入力され、判定結果に基づき信号Ａを出力する。ゲート回路Ｂ４２０は、エラー判定回路Ｂ３２０の判定結果と信号Ｂとが入力され、判定結果に基づき信号Ｂを出力する。ゲート回路Ｃ４４０は、エラー判定回路Ｃ３４０の判定結果と信号Ｃとが入力され、判定結果に基づき信号Ｃを出力する。ゲート回路Ｄ４６０は、エラー判定回路Ｄ３６０の判定結果と信号Ｄとが入力され、判定結果に基づき信号Ｄを出力する。
【００６８】
セレクト回路５００は、各ゲート回路を介して入力された信号のうち、いずれかの信号を選択し出力する。また、セレクト回路５００は、エラーフラグを出力してもよい。
【００６９】
セレクト回路５００は、例えば、ＯＲ回路やＡＮＤ回路などの論理ゲート回路で構成してもよい。
【００７０】
ゲート回路Ａ４００ないしＤ４６０とセレクト回路５００は、出力選択回路３０として機能する。
【００７１】
エラー判定回路Ａ３００ないしＤ３６０とゲート回路Ａ４００ないしＤ４６０は、エラー信号生成回路１０として機能し、セレクト回路５００は、少なくとも４つの信号線を介して信号を受け取り、エラーと判定した信号線の数が半数以上のときにエラー信号を出力する。
【００７２】
図４は、各信号線につけられた優先順位に従って出力選択回路３０が信号線を選択する際の選択方式について説明する図である。
【００７３】
ケース１は、全ての信号同士が同じ値をとる場合である。ケース２は、信号Ａの値がエラーである場合である。ケース３は、信号Ｂの値がエラーである場合である。ケース４は、信号Ｃの値がエラーである場合である。ケース５は、信号Ｄの値がエラーである場合である。ケース６は、２つ以上の信号の値がエラーとなる場合（信号Ａの値と信号Ｂの値とが第１の値であって、信号Ｃの値と信号Ｄの値とが第２の値であって、第１の値と第２の値とが一致しない場合）である。
【００７４】
まず、全ての信号同士が同じ値をとる場合（ケース１）について説明する。
【００７５】
エラー判定回路Ａ３００に入力される、各信号が同一の値が一致するという比較結果（図４において○と記載されている比較結果）と、各信号の値が一致しないという比較結果（図４において×と記載されている比較結果）の割合は３対０である。そうすると、エラー判定回路Ａ３００は、信号Ａの値はエラーではないと判定して判定結果を出力する。また、エラー判定回路Ｂ３２０、エラー判定回路Ｃ３４０、エラー判定回路Ｄ３６０も同様に信号Ｂ、信号Ｃ、信号Ｄの値はエラーではないとそれぞれ判定して判定結果を出力する。
【００７６】
ケース１の場合、ゲート回路Ａ４００は、エラー判定回路Ａ３００の判定結果に基づき、信号線Ａ１００を介して入力された信号を出力する。つまり、エラー判定回路Ａの出力する判定結果は、ゲート回路Ａ４００のＥｎａｂｌｅ信号として働く。同様に、ゲート回路Ｂ４２０、ゲート回路Ｃ４４０、ゲート回路Ｄ４６０も各エラー判定回路の判定結果に基づき、信号Ｂ、信号Ｃ、信号Ｄをそれぞれ出力する。
【００７７】
次に、信号Ａのみがエラーとなる場合（ケース２）について説明する。
【００７８】
図４に示すように、ＡＢ比較結果は、信号Ａの値と信号Ｂの値とが一致しないという比較結果となる。ＡＣ比較結果とＡＤ比較結果も同様の判定結果となる。かかる場合には、エラー判定回路Ａ３００は、信号Ａの値が他の信号と一致しないとしてエラーであることを示す信号を出力する。
【００７９】
また、ＢＣ比較結果は、信号Ｂの値と信号Ｃの値とが一致するという比較結果となる。ＢＤ比較結果は、信号Ｂの値と信号Ｄの値とが一致するという比較結果となる。よって、エラー判定回路Ｂ３２０は、信号Ｂの値はエラーではないと判定してエラーではないことを示す信号を出力する。
【００８０】
同様に、エラー判定回路Ｃ３４０は、信号Ｃの値はエラーではないと判定してエラーではないことを示す信号を出力し、エラー判定回路Ｄ３６０も、信号Ｄの値はエラーではないと判定してエラーではないことを示す信号を出力する。
【００８１】
ここで、エラー判定回路Ａ３００が出力したエラーであることを示す信号は、ゲート回路Ａ４００をオンしない。エラー判定回路Ｂ３２０、エラー判定回路Ｃ３４０、エラー判定回路Ｄ３６０の信号ＢないしＤはエラーではないことを示す信号に基づき、ゲート回路Ｂ４２０、ゲート回路Ｃ４４０、ゲート回路Ｄ４６０はオンする。よって、信号Ａ以外の、信号ＢないしＤがセレクト回路５００に入力される。
【００８２】
セレクト回路５００は、入力された信号ＢないしＤから出力する信号を選択し出力する。
【００８３】
このように、エラー判定回路Ａ３００ないしＤ３６０は、入力される比較結果の多数決により、各信号がエラーであるかを判定し、エラーと判定されなかった信号の中から出力する信号を選択することができる。
【００８４】
次に、信号Ａの値と信号Ｂの値とが第１の値であって、信号Ｃの値と信号Ｄの値とが第２の値であって、第１の値と第２の値とが一致しない場合（ケース６）について説明する。
【００８５】
図４に示すように、ＡＢ比較結果は、信号Ａの値と信号Ｂの値とが一致するという比較結果となり、ＣＤ比較結果は、信号Ｃの値と信号Ｄの値とが一致するという比較結果となる。それ以外の比較結果は、各信号の値が一致しないという比較結果となる。
【００８６】
かかる場合に、エラー判定回路Ａ３００は、信号Ａはエラーであると判定し、エラーであることを示す信号を出力する。エラー判定回路Ｂ３２０は、信号Ｂはエラーであると判定し、エラーであることを示す信号を出力する。同様に、エラー判定回路Ｃ３４０とエラー判定回路Ｄ３６０も、エラーであることを示す信号を出力する。
【００８７】
このように、ケース６では、全ての信号がエラーであると判定される。かかる場合には、エラー出力生成回路１０は、エラーである信号とエラーではない信号のどちらが正しい値の信号なのか判定できないため、セレクト回路５００は、エラー信号を出力する。
【００８８】
エラー信号により、ユーザーは、対象の故障を知ることができる。
【００８９】
３．信号線選択の優先順位
また、出力選択回路３０は、各信号線につけられた優先順位に従って信号線を選択し、選択された信号線１００を介して受け取った信号を出力するようにしてもよい。
【００９０】
このようにすれば、出力選択回路３０は、半数を超えて信号同士が同じ値をとる信号を介した信号線から優先順位に従って信号線を選択し、選択された信号線を介して受け取った信号を出力することができる。
【００９１】
図４において、本実施形態の信号判定回路１では、優先順位を信号線Ａ＞信号線Ｂ＞信号線Ｃ＞信号線Ｄの順につけていたとする。
【００９２】
ケース１の場合は、エラーと判定される信号はないので、セレクト５００は、信号Ａ、信号Ｂ、信号Ｃ、信号Ｄのいずれかを選択してもよいが、優先順位に従って、信号Ａを選択し出力する。ケース２の場合、信号Ａの値がエラーと判定され、セレクト回路５００は、エラーと判定されない信号Ｂ、信号Ｃ、信号Ｄから、優先順位に従って信号Ｂを選択し出力する。ケース３の場合、信号Ｂの値がエラーと判定され、セレクト回路５００は、エラーと判定されない信号Ａ、信号Ｃ、信号Ｄから、優先順位に従って信号Ａを選択し出力する。ケース４の場合、信号Ｃの値がエラーと判定され、セレクト回路５００は、エラーと判定されない信号Ａ、信号Ｂ、信号Ｄから、優先順位に従って信号Ａを選択し出力する。ケース５の場合、信号Ｄの値がエラーと判定され、セレクト回路５００は、エラーと判定されない信号Ａ、信号Ｂ、信号Ｃから、優先順位に従って信号Ａを選択し出力する。ケース６の場合、全ての信号の値がエラーと判定され、セレクト回路５００は、エラー信号を出力する。
【００９３】
図７のように、信号判定回路１は、信号線１００のうち、少なくとも２つの所与の信号線が出力選択回路３０に接続され、所与の信号線を介して信号が入力されるようにしてもよい。
【００９４】
このようにすれば、信号線に優先順位をつけることにより、信号線が４つあっても、信号線Ａと信号線Ｂのみが出力選択回路３０に接続されていれば足りる。
【００９５】
例えば、信号線Ａ１００−１と信号線Ｂ１００−２のみが出力選択回路３０に接続され、信号線Ｃ１００−３と信号線Ｄ１００−４は出力選択回路３０に接続されなくてもよい。
【００９６】
よって、出力選択回路３０に接続される信号線１００の数を減らすことが出来るので、全ての信号線が出力選択回路３０に接続される場合より回路構成を複雑にする必要がなく、回路規模も小さくすることができる。
【００９７】
図５は、物理的に起こりえないエラーが生じたときに優先順位に従って出力選択回路３０が信号線を選択する際の選択方式について説明するための図である。
【００９８】
物理的に起こりえないエラーとは、例えば、信号線を介して入力された信号がノイズ等により瞬間的に通常とるべき値とは異なる値になった場合をいう。
【００９９】
ケース７は、信号Ａまたは信号Ｂが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。ケース８は、信号Ａまたは信号Ｃが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。ケース９は、信号Ａまたは信号Ｄが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。ケース１０は、信号Ｂまたは信号Ｃが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。ケース１１は、信号Ｂまたは信号Ｄが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。ケース１２は、信号Ｃまたは信号Ｄが瞬間的に正しい値とならなかった場合である。
【０１００】
以下に、ケース７の場合について説明する。
【０１０１】
ケース７において、信号Ａの値がエラーとなる場合であれば、各信号の比較結果は、ケース２のようになるべきである。また、信号Ｂの値がエラーとなる場合であれば、各信号の比較結果は、ケース３のようになるべきである。つまり、図４に示すように、通常はエラー判定回路Ａ３００ないしＤ３６０に入力される比較結果は、一つだけが異なることはない。
【０１０２】
しかし、図５に示すように、ケース７における各信号の比較結果は、通常起こりえない比較結果となっている。
【０１０３】
かかる場合には、信号Ａ又は信号Ｂのどちらがエラーか分からないため、セレクト回路５００は、信号Ａと信号Ｂとを出力せずに、信号Ｃを選択し出力する。なお、信号Ｄを出力するようにしてもよいが、優先順位によって信号Ｃを出力する。
【０１０４】
エラー信号生成回路１０は、エラー判定において、各信号線を含む組み合わせの中に、同一の判定結果とならない組み合わせがあった場合は、エラー信号を出力するようにしてもよい。
【０１０５】
例えば、図５のように、Ａ３００ないしＤ３６０に入力される比較結果が一つだけ異なる場合にはエラーとしてもよい。
【０１０６】
このようにすれば、エラー信号生成回路１０は、エラー信号を出力しても、信号Ｃを出力することができる。
【０１０７】
次に、ケース８の場合では、セレクト回路５００は、優先順位に従い、信号Ｂを選択し出力する。
【０１０８】
同様に、ケース９では、セレクト回路５００は、優先順位に従い、信号Ｂを選択し出力する。ケース１０、１１、１２についても同様である。
【０１０９】
このように、エラー信号生成回路１０は、各信号線を含む組み合わせの中に、同一の判定結果とならない組み合わせがあった場合は、エラー信号を出力するようにしてもよい。
【０１１０】
このようにすれば、本来故障とはならない場合であってもエラー信号を出力し、なおかつ同一の判定結果とならない組み合わせに該当する信号を使用しないようにすることができる。
【０１１１】
本来故障とはならない場合とは、例えば、ノイズによる誤判定等がある。
４．信号判定回路の詳細な構成例
図６は、信号判定回路１のより詳細な実施形態の構成例について説明するための図である。図１と同一の構成のものは同一の符号を付し、説明を省略する。
【０１１２】
本実施形態の信号判定回路１は、記憶部４０とエラーフラグ生成回路５０を含んで構成してもよい。
【０１１３】
記憶部４０は、信号判定回路１の内部にあってもよいし、外部にあってもよい。
【０１１４】
記憶部は、１つの記憶部が少なくとも４つの記憶領域である記憶ブロックに分割されていてもよい。少なくとも４つの記憶部が存在してもよい。また、少なくとも２つの記憶領域に分割された記憶部が少なくとも２つ存在する場合でもよい。
【０１１５】
図６のように、記憶部４０は、記憶ブロックＡ４２、記憶ブロックＢ４４、記憶ブロックＣ４６、記憶ブロックＤ４８のように、少なくとも４つに分割されているとして説明する。信号は、記憶ブロック各々から信号線を介して出力されるようにしてもよい。
【０１１６】
記憶部４０は、例えば、ＥＥＰＲＯＭのような不揮発性メモリーであってもよい。
【０１１７】
各記憶ブロックには、同じデータが記憶されているようにしてもよい。
【０１１８】
各記憶ブロックは、所定のビット数に、所定のデータが記憶されていてもよい。
【０１１９】
エラー信号生成回路１０は、各記憶ブロックからの信号同士が同じ値をとるか否か判定を行うことにより、記憶部の故障を検出することができる。
【０１２０】
また、エラー信号生成回路１０は、各記憶ブロックに記憶された所定のデータを１ビットごとに信号線を介して受け取ってもよい。
【０１２１】
このようにすれば、エラー信号生成回路１０は、基準クロックごとに各記憶ブロックに記憶されたデータを１ビットずつ信号線１００を介して受け取り、受け取った信号のうち、信号同士が同じ値をとる信号数が半数を超えない場合にはエラー信号６００を出力することができる。
【０１２２】
このようにすれば、エラー信号生成回路１０は、記憶部４０の故障を検出することができる。
【０１２３】
また、エラーフラグ生成回路５０は、エラー信号の所定期間の遷移に基づいて、エラーフラグ６１０を出力するようにしてもよい。
【０１２４】
図８は、エラー信号とエラーフラグの関係について説明するための図である。
【０１２５】
エラー信号６００とエラーフラグ６１０の関係を示す。クロック６２０は、エラー信号６００が所定の期間出力されているかカウントするカウンターのクロックである。
【０１２６】
例えば、エラー信号６００が、所定クロック数の間出力されている場合（エラー信号出力区間６０４）にエラーフラグ生成回路５０はエラーフラグ６１０を出力するようにしてもよい。エラー信号出力区間６０２の場合はエラーフラグ６１０が出力されず、エラー信号出力区間６０４場合はエラーフラグ６１０が出力される。
【０１２７】
このようにすれば、物理的に起こりえないエラーが生じた場合には、エラー信号生成回路１０は、エラー信号６００を出力するが、エラー信号６００の出力時間が短い（エラー信号出力区間６０２）ので、エラーフラグ生成回路５０は、エラーフラグ６１０を出力しない。
【０１２８】
すなわち、物理的に起こりえないエラーが生じた場合には、エラーフラグを立てることがなくなり、エラーの誤検出を防ぐことが出来る。
【０１２９】
５．信号判定回路のテスト
図９は、エラー信号生成回路１０のテスト方式の例について説明する図である。
【０１３０】
記憶ブロックＡ４２、記憶ブロックＢ４４、記憶ブロックＣ４６、記憶ブロックＤ４８は、同一のデータが記憶されていてもよい。
【０１３１】
本実施形態の信号判定回路１では、テスト制御回路６０を含んでもよい。
【０１３２】
テスト制御回路６０は、信号線Ａ１００−１ないしＤ１００−４の少なくとも１つには前記同一のデータとは異なるデータが出力され、他の信号線には記憶ブロックＡ４２ないしＤ４８に記憶されているデータが出力されるように制御するようにしてもよい。
【０１３３】
このようにすれば、信号線の少なくとも１つには記憶ブロックに記憶されている同一のデータとは異なるデータが出力され、他の信号線には記憶ブロックに記憶されているデータが出力されることにより、エラー信号生成回路１０に入力される信号線をテスト用の信号線と通常のデータを出力する信号線との２種類を用意せずに、エラー信号生成回路１０のテストを行うことができる。
【０１３４】
記憶ブロックの各々は、記憶ブロック選択信号６４０、６４２、６４４、６４６に基づいて、記憶ブロックＡ４２ないしＤ４８に記憶されているデータと記憶ブロックＡ４２ないしＤ４８に記憶されているデータとは異なる所与のデータとを選択出力するようにしてもよい。
【０１３５】
記憶ブロックＡ４２は、記憶ブロック選択信号[０]６４０によって制御される。記憶ブロックＢ４４は、記憶ブロック選択信号[１]６４２によって制御される。記憶ブロックＣ４６は、記憶ブロック選択信号[２]６４４によって制御される。記憶ブロックＤ４８は、記憶ブロック選択信号[３]６４６によって制御される。
【０１３６】
記憶ブロック選択信号は、４ビットのバスを介して出力してもよい。
【０１３７】
図１０は、記憶ブロック選択信号［３：０］と記憶ブロックの出力の関係を説明するためのタイミングチャートである。
【０１３８】
テストモード切り替え信号６３０がＨになっている場合に、テストモードになっているとする。
【０１３９】
例えば、各記憶ブロックにデータＤ１が記憶されているとして説明する。
【０１４０】
テスト制御回路６０は、４つともＬの信号とする場合（図１０の６９２に示す区間）、１つがＨの信号とする場合（図１０の６９４に示す区間）、２つがＨの信号とする場合（図１０の６９６に示す区間）の信号を記憶ブロック選択信号として出力する。
【０１４１】
記憶ブロック選択信号[０]６４０がＬ出力の場合には、記憶ブロックＡ４２が選択され、記憶ブロックＡ４２は、記憶されているデータＤ１を出力する。記憶ブロック選択信号[０]６４０がＨ出力の場合には、記憶ブロックＡ４２は選択されず、記憶ブロックＡ４２は、固定値を出力する。
【０１４２】
記憶ブロック選択信号[１]６４２がＬ出力の場合には、記憶ブロックＢ４４が選択され、記憶ブロックＢ４４は、記憶されているデータＤ１を出力する。記憶ブロック選択信号[１]６４２がＨ出力の場合には、記憶ブロックＢ４４は選択されず、記憶ブロックＢ４４は、固定値を出力する。
【０１４３】
記憶ブロック選択信号[２]６４４がＬ出力の場合には、記憶ブロックＣ４６が選択され、記憶ブロックＣ４６は、記憶されているデータＤ１を出力する。記憶ブロック選択信号[２]６４４がＨ出力の場合には、記憶ブロックＣ４６は選択されず、記憶ブロックＣ４６は、固定値を出力する。
【０１４４】
記憶ブロック選択信号[３]６４６がＬ出力の場合には、記憶ブロックＤ４８が選択され、記憶ブロックＤ４８は、記憶されているデータＤ１を出力する。記憶ブロック選択信号[３]６４６がＨ出力の場合には、記憶ブロックＤ４８は選択されず、記憶ブロックＤ４８は、固定値を出力する。
【０１４５】
このようにすれば、記憶ブロック選択信号［３：０］に基づいて、各記憶ブロックが何を出力するか制御することができる。テストは、所定の複数ビットごとに行ってもよい。
【０１４６】
テスト制御回路６０は、テストモードにおいて、記憶ブロック選択信号を少なくとも１つの記憶ブロックが所与のデータを出力するように記憶ブロック選択信号を出力するようにしてもよい。
【０１４７】
図１０の６９２に示す区間において、記録ブロック選択信号［３：０］は、全てＬなので、各記憶ブロックはＤ１を出力する。よって、エラーフラグ６８０はＨとならない。
【０１４８】
図１０の６９４に示す区間において、記録ブロック選択信号［３：０］のうち、いずれか１ビットのみがＨとなっているので、Ｈとなった記憶ブロック選択信号が制御する記憶ブロックのみが固定値を出力する。例えば、記憶ブロック選択信号［０］６４０のみがＨとなっている場合は、記憶ブロックＡ４２のみが０を出力し、記憶ブロックＢ４４ないしＤ４８はＤ１を出力する。かかる場合には、固定値出力とＤ１出力の比が１：３なので、エラー信号生成回路１０はエラーと判定しない。
【０１４９】
Ｄ１は、所定の複数ビットからなり、所与のデータ（例えば、本実施例の固定値）とは一致しないデータであり、Ｄ１と所与のデータとに基づき、エラー信号生成回路１０のテストを行うことができる。
【０１５０】
図１０の６９６に示す区間において、記録ブロック選択信号［３：０］のうち、いずれか２ビットがＨとなっているので、Ｈとなった記憶ブロック選択信号が制御する記憶ブロックが固定値を出力する。例えば、記憶ブロック選択信号［０］６４０と記憶ブロック選択信号［１］とがＨとなっている場合には、記憶ブロックＡ４２と記憶ブロックＢ４４は固定値を出力し、記憶ブロックＣ４６と記憶ブロックＤ４８はＤ１を出力する。かかる場合には、固定値出力とＤ１出力の比が２：２なので、エラー信号生成回路１０はエラーと判定する。
【０１５１】
このようにすれば、記憶ブロックの機能を用いてエラー信号生成回路１０のテストを行うことができる。よって、テスト用の回路を減らすことができる。
【０１５２】
また、このようにすれば、回路規模をそれほど増大させずに、効率よくエラー信号生成回路１０のテストを行うことができる。
【０１５３】
６．集積回路装置
図１１は、本実施の形態の集積回路装置のブロック図の一例である。
【０１５４】
マイクロコンピューター７００は、ＣＰＵ５１０、キャッシュメモリー５２０、ＲＯＭ７１０、ＲＡＭ７２０、ＭＭＵ７３０、ＬＣＤコントローラー５３０、リセット回路５４０、プログラマブルタイマ５５０、リアルタイムクロック（ＲＴＣ）５６０、ＤＭＡコントローラー５７０、割り込みコントローラー５８０、通信制御回路５９０、バスコントローラー６００、Ａ／Ｄ変換器６１０、Ｄ／Ａ変換器６２０、入力ポート６３０、出力ポート６４０、Ｉ／Ｏポート６５０、クロック発生装置６６０、プリスケーラ６７０、信号判定回路７４０及びそれらを接続する汎用バス６８０、専用バス７５０等、各種ピン６９０等を含む。
【０１５５】
信号判定回路７４０は、図１、６、７で説明した構成としてもよい。
【０１５６】
７．電子機器
図１２に、本実施の形態の電子機器のブロック図の一例を示す。本電子機器８００は、マイクロコンピューター（集積回路装置）８１０、入力部８２０、メモリー８３０、電源生成部８４０、ＬＣＤ８５０、音出力部８６０を含む。
【０１５７】
ここで、入力部８２０は、種々のデータを入力するためのものである。マイクロコンピューター８１０は、この入力部８２０により入力されたデータに基づいて種々の処理を行うことになる。メモリー８３０は、マイクロコンピューター８１０などの作業領域となるものである。電源生成部８４０は、電子機器８００で使用される各種電源を生成するためのものである。ＬＣＤ８５０は、電子機器が表示する各種の画像（文字、アイコン、グラフィック等）を出力するためのものである。
【０１５８】
音出力部８６０は、電子機器８００が出力する各種の音（音声、ゲーム音等）を出力するためのものであり、その機能は、スピーカなどのハードウェアにより実現できる。
【０１５９】
図１３（Ａ）に、電子機器の１つである携帯電話９５０の外観図の例を示す。この携帯電話９５０は、入力部として機能するダイヤルボタン９５２や、電話番号や名前やアイコンなどを表示するＬＣＤ９５４や、音出力部として機能し音声を出力するスピーカ９５６を備える。
【０１６０】
図１３（Ｂ）に、電子機器の１つである携帯型ゲーム装置９６０の外観図の例を示す。この携帯型ゲーム装置９６０は、入力部として機能する操作ボタン９６２、十字キー９６４や、ゲーム画像を表示するＬＣＤ９６６や、音出力部として機能しゲーム音を出力するスピーカ９６８を備える。
【０１６１】
図１３（Ｃ）に、電子機器の１つであるパーソナルコンピューター９７０の外観図の例を示す。このパーソナルコンピューター９７０は、入力部として機能するキーボード９７２や、文字、数字、グラフィックなどを表示するＬＣＤ９７４、音出力部９７６を備える。
【０１６２】
本実施の形態の集積回路装置を図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）の電子機器に組み込むことにより、冗長性、ロバスト性の高い電子機器を短期間で提供することができる。
【０１６３】
なお、本実施形態を利用できる電子機器としては、図１３（Ａ）〜図１３（Ｃ）に示すもの以外にも、携帯型情報端末、ページャー、電子卓上計算機、タッチパネルを備えた装置、プロジェクター、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置等の種々の電子機器を考えることができる
なお、本発明は本実施の形態に限定されず、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
【０１６４】
本発明は、実施の形態で説明した構成と実質的に同一の構成（例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成）を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施の形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。
【符号の説明】
【０１６５】
１  信号判定回路、１０  エラー信号生成回路、３０  出力選択回路、４０  記憶部、４２  記憶ブロックＡ、４４  記憶ブロックＢ、４６  記憶ブロックＣ、４８  記憶ブロックＤ、５０  エラーフラグ生成回路、６０  テスト制御回路、１００  信号線、１００−１  信号線Ａ、１００−２  信号線Ｂ、１００−３  信号線Ｃ、１００−４  信号線Ｄ、２００  第１の比較回路、２１０  第２の比較回路、２２０  第３の比較回路、２３０  第４の比較回路、２４０  第５の比較回路、２５０  第６の比較回路、３００  エラー判定回路Ａ、３２０  エラー判定回路Ｂ、３４０  エラー判定回路Ｃ、３６０  エラー判定回路Ｄ、４００  ゲート回路Ａ、４２０  ゲート回路Ｂ、４４０  ゲート回路Ｃ、４６０  ゲート回路Ｄ、５００  セレクト回路、６００  エラー信号、６１０  エラーフラグ、６２０  クロック、６３０  テストモード切り替え信号、６４０  記憶ブロック選択信号［０］、６４２  記憶ブロック選択信号［１］、６４４  記憶ブロック選択信号［２］、６４６  記憶ブロック選択信号［３］、６５０  記憶ブロックＡ出力、６５２  記憶ブロックＢ出力、６５４  記憶ブロックＣ出力、６５６  記憶ブロックＤ出力、６８０  エラーフラグ、６９０  クロック、７００  マイクロコンピューター（半導体集積回路装置）、７１０  ＲＯＭ、７２０  ＲＡＭ、７３０  ＭＭＵ、７４０  クロック停止制御回路、７５０  専用バス、８００  電子機器、８１０  マイクロコンピューター（半導体集積回路装置）、８２０  入力部、８３０  メモリー、８４０  電源生成部、８５０  ＬＣＤ、８６０  音出力部、９５０  携帯電話、９５２  ダイヤルボタン、９５４  ＬＣＤ、９５６  スピーカ、９６０  携帯型ゲーム装置、９６２  操作ボタン、９６４  十字キー、９６６  ＬＣＤ、９６８  スピーカ、９７０  パーソナルコンピューター、９７２  キーボード、９７４  ＬＣＤ、９７６  音出力部
【図１】
0005423958.tif 000002
【図２】
0005423958.tif 000003
【図３】
0005423958.tif 000004
【図４】
0005423958.tif 000005
【図５】
0005423958.tif 000006
【図６】
0005423958.tif 000007
【図７】
0005423958.tif 000008
【図８】
0005423958.tif 000009
【図９】
0005423958.tif 000010
【図１０】
0005423958.tif 000011
【図１１】
0005423958.tif 000012
【図１２】
0005423958.tif 000013
【図１３】
0005423958.tif 000014