(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
アンテナ回路が形成された基板が巻き取られ、前記基板を下流側に供給する基板供給ロール装置と、前記基板供給ロール装置から供給された前記基板を巻き取る基板巻取りロール装置からなるロール・ツー・ロール方式での検査ラインシステムにおいて、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の電気的導通検査を行う回路抵抗測定検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の外観検査を行う外観画像処理検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の共振周波数の測定検査を行う共振周波数測定検査手段と、
各検査の結果に応じて前記アンテナ回路の正常或いは異常の判定を行う合否判定手段と、
を備え、
前記回路抵抗測定検査手段は、前記アンテナ回路を表裏面で電気的に接続させた接合部の電気的導通を検査する表裏抵抗測定手段と、
前記アンテナ回路全体の電気的導通を検査する全体抵抗測定手段と、を備えることを特徴とするＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【請求項２】
アンテナ回路が形成された基板が巻き取られ、前記基板を下流側に供給する基板供給ロール装置と、前記基板供給ロール装置から供給された前記基板を巻き取る基板巻取りロール装置からなるロール・ツー・ロール方式での検査ラインシステムにおいて、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の電気的導通検査を行う回路抵抗測定検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の外観検査を行う外観画像処理検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の共振周波数の測定検査を行う共振周波数測定検査手段と、
各検査の結果に応じて前記アンテナ回路の正常或いは異常の判定を行う合否判定手段と、
を備え、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記回路抵抗測定検査手段、前記外観画像処理検査手段および前記共振周波数測定検査手段の何れの手段よりも上流側に、前記アンテナ回路に対して識別可能な識別子を印字する印字手段を備えることを特徴とするＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【請求項３】
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記回路抵抗測定検査手段、前記外観画像処理検査手段および前記共振周波数測定検査手段の何れの手段よりも上流側に、前記アンテナ回路に対して識別可能な識別子を印字する印字手段を備えることを特徴とする請求項１に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【請求項４】
前記合否判定手段により正常或いは異常と判定された前記アンテナ回路に対して合否表示印を付与する合否判定結果付与手段を備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＲＦＩＤタグの検査を行うための検査ラインシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）タグは、ＩＣ（integrated circuit）タグとも呼ばれ、乗車カードや電子マネー、社員証やセキュリティロックなどの認証用、荷物の識別などの物流管理用、万引き防止用など広く利用されている。
【０００３】
一例としてＲＦＩＤタグは、合成樹脂フィルム基材の表裏面に金属箔を張り合わせ、これら金属箔上にレジストインキで配線パターンを印刷し、エッチングによって配線回路を形成した後、所要位置で表裏の配線パターンの金属箔同士をかしめて接触させて導通をはかり、ＩＣチップを実装してカード化する方法によって製造されている。
【０００４】
製造しているＲＦＩＤタグが正常に機能するかどうかを検査する必要があるが、従来は、主として、タグにＩＣチップを搭載した後に、ＲＦＩＤタグに備えるアンテナ回路の共振周波数を測定して設計通りの性能を有しているかどうかを検査する方法をとっていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
また、所定のアンテナ回路が形成された基材をコイル状に巻き取った基材供給ロール装置と、当該基材供給ロール装置から送り出された基材を共振周波数測定装置にて検査し、当該検査済みの基材を巻き取る基材巻取りロール装置からなる、ロール・ツー・ロール方式にて検査する方法が知られている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−２０２８８１号公報
【特許文献２】特開２００３−３３１２２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に記載の検査は全数検査ではなく、任意に選択されたＲＦＩＤタグを検査する方式であり、製品化された後に通信不良となり、不良が発見されるということが多々見られた。
【０００８】
ＩＣチップは高価なものであり、チップ搭載後に不良が判明すると、そのチップが無駄になってしまう。また、全数検査をしていなければ、製品の信頼性が著しく低下する。
【０００９】
特許文献２に記載の共振周波数測定検査は、測定された共振周波数が設計通りの性能を有しているか否かを測定し、回路に断線などがあった場合には期待値から外れた異常値が測定されるが、エッチング工程で生じる回路部分の欠け、膨れ、短絡等の不良は微小な測定値の変化であるため確実に発見できない虞があった。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上述した技術背景に鑑み、僅かな不良であっても確実に品質不良を発見することができるＲＦＩＤタグの検査ラインシステムの提供を目的とする。
【００１１】
即ち、本発明は下記［１］〜［５］に記載の構成を有する。
【００１２】
［１］  アンテナ回路が形成された基板が巻き取られ、前記基板を下流側に供給する基板供給ロール装置と、前記基板供給ロール装置から供給された前記基板を巻き取る基板巻取りロール装置からなるロール・ツー・ロール方式での検査ラインシステムにおいて、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の電気的導通検査を行う回路抵抗測定検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の外観検査を行う外観画像処理検査手段と、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記アンテナ回路の共振周波数の測定検査を行う共振周波数測定検査手段と、
各検査の結果に応じて前記アンテナ回路の正常或いは異常の判定を行う合否判定手段と、
を備えることを特徴とするＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【００１３】
［２］  前記回路抵抗測定検査手段は、前記アンテナ回路を表裏面で電気的に接続させた接合部の電気的導通を検査する表裏抵抗測定手段と、
前記アンテナ回路全体の電気的導通を検査する全体抵抗測定手段と、を備えることを特徴とする前項１に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【００１４】
［３］  前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間に配置され、前記回路抵抗測定検査手段、前記外観画像処理検査手段および前記共振周波数測定検査手段の何れの手段よりも上流側に、前記アンテナ回路に対して識別可能な識別子を印字する印字手段を備えることを特徴とする前項１または２に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【００１５】
［４］  前記合否判定手段により正常或いは異常と判定された前記アンテナ回路に対して合否表示印を付与する合否判定結果付与手段を備えることを特徴とする前項１〜３のいずれかに記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステム。
【００１６】
［５］  アンテナ回路が形成された基板が巻き取られた基板供給ロール装置から下流側に供給され、前記基板が基板巻取りロール装置で巻き取られるロール・ツー・ロール方式による検査方法において、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間で、前記アンテナ回路の電気的導通を回路抵抗測定検査装置により検査する回路抵抗測定検査ステップと、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間で、前記アンテナ回路の外観を外観画像処理検査装置により検査する外観画像処理検査ステップと、
前記基板供給ロール装置と前記基板巻取りロール装置との間で、前記アンテナ回路の共振周波数を共振周波数測定検査装置により測定検査する共振周波数測定検査ステップと、
各検査装置の結果に応じて前記アンテナ回路の正常或いは異常の判定をする合否判定ステップと、
を備えることを特徴とするＲＦＩＤタグの検査方法。
【発明の効果】
【００１７】
上記［１］に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステムによれば、ロール・ツー・ロール方式で各検査が行われるので生産性が向上し、かつ全数の検査が行われるので製品に対する信頼性がより向上する。
【００１８】
また、アンテナ回路が回路抵抗測定検査手段、外観画像処理検査手段および共振周波数測定検査手段の異なる複数の手段で検査されるので、確実に品質不良を発見することができる。
【００１９】
上記［２］に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステムによれば、基板の両面に回路パターンが形成されたＲＦＩＤタグの基板の表裏面で接続させた接合部の導通を表裏抵抗測定手段で検査することができ、全体抵抗測定手段では、直列回路中の短絡、断線などの異常を検査することができるので、ＲＦＩＤタグの種類に応じた検査を行うことができる。
【００２０】
上記［３］に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステムによれば、製品に検査番号など各アンテナ回路に対して固有の識別子を付与して、当該識別子に検査結果をひも付けて管理することにより、製品の品質管理を確実に行うことができる。
【００２１】
上記［４］に記載のＲＦＩＤタグの検査ラインシステムによれば、合否判定結果付与手段が、各検査手段における検査結果に基づいて、正常或いは異常と判定されたアンテナ回路に合否表示印を付与することにより、不良品の判別が容易にできる。
【００２２】
上記［５］に記載のＲＦＩＤタグの検査方法によれば、ロール・ツー・ロール方式で検査が行われるので生産性が向上し、かつ全数の検査が行われるので製品に対する信頼性がより向上する。
【００２３】
また、アンテナ回路を回路抵抗測定検査ステップ、外観画像処理検査ステップおよび共振周波数測定検査ステップの各ステップで検査されるので、確実に品質不良を発見することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の一実施形態に係る検査ラインシステムの構成について説明する説明図である。
【図２】図１に係る検査ラインシステムで検査されるアンテナ回路の一例について説明する説明図である。
【図３】図１に係る検査ラインシステムで検査されるアンテナ回路の一例について説明する説明図である。
【図４】図１に係る検査ラインシステムで検査されるアンテナ回路の一例について説明する説明図である。
【図５】図１に係る検査ラインシステムで検査されるアンテナ回路の別実施例について説明する説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【００２６】
図１は、検査ラインシステム１の構成を説明する説明図、図２及び図３は、図１の検査ラインシステム１で検査されるアンテナ回路２２の一例について説明する説明図である。
【００２７】
まず、図２を参照してＲＦＩＤ及びＲＦＩＤタグ２について説明する。
【００２８】
尚、ＲＦＩＤタグ２には、ＩＣタグ、ＲＦタグ、非接触ＩＣなど複数の呼称が存在しているが、本明細書では「ＲＦＩＤタグ」と定義して説明することとし、前述したような呼称のものも含むものとする。
【００２９】
ＲＦＩＤは、ＩＤ情報が埋め込まれたＲＦＩＤタグ２から、リーダライタを用いてＩＤ情報を読み出せるシステムである。即ち、電波や電磁誘導を用いてデータの読み書きを行う自動認識技術が用いられるものである。
【００３０】
ＲＦＩＤタグ２は、後述する配線基板２１となる合成樹脂フィルム基材２１２にアンテナ回路２２が形成され、ＩＤ情報などを記憶するためのメモリを有するＩＣチップなどが実装されるＩＣチップ部２５などを備える。
【００３１】
ＲＦＩＤタグ２のアンテナ回路２２は、利用する周波数帯域に応じてその配線パターンが異なって形成される。例えば、図２に示すアンテナ回路２２は、キャリア周波数として１３．５６ＭＨｚのＨＦ帯域が利用される場合に好適なアンテナ回路２２の構成である。
【００３２】
図３（ａ），（ｂ）に基づいて詳述すると、配線基板２１は、ポリエチレンテレフタレートやポリエチレンナフタレートなどよりなる合成樹脂フィルム基材２１２の表裏面に配線パターンを構成する導電体層２１１，２１３が形成されたものである。導電体層２１１，２１３は、合成樹脂フィルム基材２１２の表面に接着剤を介して貼り合わせたアルミニウムや銅の金属箔で形成されており、金属箔を貼り合わせた後にレジストインキで配線パターンを印刷してエッチングすることにより、アンテナ回路２２が構成される。
【００３３】
基板２１表面のアンテナ回路２２には、ＩＣチップなどが実装されるチップ実装部２２ｃ，２２ｄが設けられ、当該チップ実装部２２ｃ，２２ｄに基板２１の表面側からＩＣチップなどが実装される。
【００３４】
基板２１の表面には、基板２１の外周に沿ってコイル状の配線パターンが形成され、当該配線パターンの始端部２２ａと終端部２２ｂに相当する位置の裏面にも、当該始端部２２ａと終端部２２ｂを基板２１の裏面側で掛け渡すように、図２の破線で示すような配線パターン２４，２６が形成されている。
【００３５】
基板２１の裏面には、基板２１の表面に配された始端部２２ａ及び終端部２２ｂとそれぞれ電気的に接続させた接合部となる配線パターン部２４（２４ａ，２４ｂ）が形成される。
【００３６】
前記接合部２４（２４ａ，２４ｂ）の形成方法について説明すると、例えば、基板２１の表裏面の接合部は、合成樹脂フィルム基材２１２と導電体層２１１，２１３で形成された基板２１を、上下方向から挟むように配置された各超音波接合具３（３１，３２）で挟圧して形成される。
【００３７】
基板２１の上方に配された超音波接合具３１は、基板２１の導通予定部位に対応する箇所に円錐台状の突起部３１ａが形成され、他方の超音波接合具３２の基板２１と対向する面は平坦になっており、突起部３１ａを有する超音波接合具３１の面を基板２１に当接させ、他方の超音波接合具３２の平坦面を基板２１に当接させて挟圧する。
【００３８】
この挟圧加工により、図３（ｂ）に示すように、一方の超音波接合具３１の突起部３１ａが基板２１を厚み方向に圧縮して凹ませる形で他方の超音波接合具３２に接近し、この接近過程で両導電体層２１１，２１３間に存在した合成樹脂フィルム基材２１２の樹脂が周辺側へ押し退けられ、該突起部３１ａの先端位置で表裏の導電体層２１１，２１３が接触した状態となる。当該接触箇所が、図２で示すように表裏面を電気的に接続する電気的接続部位としての接合部となる配線パターン部２４（２４ａ，２４ｂ）である。
【００３９】
さらに、基板２１の裏面には、コンデンサ部２６ａを設けた配線パターン２６が形成されている。配線パターン２６は上記接合部２４ａに接続される。
【００４０】
続いて、図１を参照して、上述したような表裏面それぞれにアンテナ回路２２を成す配線パターンが形成された基板２１、即ち、ＲＦＩＤタグ２を検査する検査ラインシステム１について説明する。
【００４１】
（検査ラインシステムについて）
検査ラインシステム１は、アンテナ回路２２が形成された基板２１が巻き取られ、前記基板２１を下流側に供給する基板供給ロール装置１１と、前記基板供給ロール装置１１から供給された前記基板２１を巻き取る基板巻取りロール装置１７からなるロール・ツー・ロール方式で構成されている。
【００４２】
基板供給ロール装置１１及び基板巻取りロール装置１７は、それぞれ回動可能に構成されるローラを備え、例えば、基板２１が巻き取られた基板供給ロール装置１１から下流側へ供給される基板２１が、回転駆動する基板巻取りロール装置１７によって巻き取られるように構成される。
【００４３】
基板供給ロール装置１１の下流側及び基板巻取りロール装置１７の上流側には、巻き取った基板２１を上下方向から保持するための保持ローラ１１１，１１２を有している。
【００４４】
検査ラインシステム１における基板供給ロール装置１１と基板巻取りロール装置１７との間には、回路抵抗測定検査手段１３、外観画像処理検査手段１４、及び共振周波数測定検査手段１５が備えられている。
【００４５】
検査ラインシステム１では、回路抵抗測定検査手段１３、外観画像処理検査手段１４、及び共振周波数測定検査手段１５で実行された各検査結果に応じて、検査対象であるアンテナ回路２２が正常或いは異常であるかの判定を行う合否判定手段を備えて構成されている。当該合否判定手段は、ネットワーク上で各手段１３，１４，１５における装置などの各検査結果を入出力可能に構成されたパーソナルコンピュータなどの装置で構成される。
【００４６】
尚、検査ラインシステム１の全ての検査が完了し、基板巻取りロール装置１７に巻き取られた基板２１において、正常であると判定されたアンテナ回路２２に対してのみＩＣチップが実装される。
【００４７】
（回路抵抗測定検査手段について）
回路抵抗測定検査手段１３では、アンテナ回路２２の電気的抵抗測定を行う抵抗測定装置により、アンテナ回路２２の電気的導通検査がなされる。抵抗測定装置により測定された抵抗値が期待値を満たさない場合には、検査対象のアンテナ回路２２は異常と判定される。
【００４８】
回路抵抗測定検査手段１３を備えることにより、見た目には判断できないアンテナ回路２２の回路形成状態が正常か否か判断することができる。
【００４９】
回路抵抗測定検査手段１３は、アンテナ回路２２のほぼ全体の電気的導通を検査する全体抵抗測定手段１３１と、基板２１の表面の配線パターンの始端部２２ａ及び終端部２２ｂと、裏面の接合部２４（２４ａ，２４ｂ）とでそれぞれ接続させた箇所の電気的導通を検査する表裏抵抗測定手段１３２とを設ける。
【００５０】
全体抵抗測定手段１３１は、回路抵抗を抵抗測定装置によって測定することにより、アンテナ回路２２が正常に形成されているか検査するものである。
【００５１】
全体抵抗測定手段１３１では、アンテナ回路２２の終端部２２ｂ及びＩＣチップ実装部２２ｃ間、即ちアンテナ回路２２のほぼ全体における抵抗測定がなされる。全体抵抗測定手段１３１を備えることにより、直列回路中の短絡、断線などの回路の異常を検査することができる。
【００５２】
全体抵抗測定手段１３１では接合部２４（２４ａ，２４ｂ）の測定を出来ないが、表裏抵抗測定手段１３２によれば抵抗測定を実行することで接合部２４（２４ａ，２４ｂ）の測定ができる。表裏抵抗測定手段１３２によって、接合部２４（２４ａ，２４ｂ）におけるアンテナ回路２２の表裏面の接続状態が確認される。
【００５３】
表裏抵抗測定手段１３２では、抵抗測定装置によって基板２１の表面からアンテナ回路２２の始端部２２ａ及び終端部２２ｂ間の抵抗値を測定することにより、裏面の接合部２４ａ及び表面の始端部２２ａと、同じく裏面の接合部２４ｂ及び表面の終端部２２ｂとの接続が正常になされているか判定する。
【００５４】
回路抵抗測定検査手段１３では何れの測定を行う場合であっても、基板２１の表面側から抵抗測定が行われる。
【００５５】
上述したような回路抵抗測定検査手段１３を備えることにより、全体抵抗測定手段１３１では、直列回路中の短絡、断線などの異常を検査することができ、基板２１の両面に回路パターンが形成されたＲＦＩＤタグ２の表裏面で電気的に接続させた接合部２４（２４ａ，２４ｂ）の導通を表裏抵抗測定手段１３２で検査することができるので、ＲＦＩＤタグ２の種類に応じた検査を行うことができる。
【００５６】
（外観画像処理検査手段について）
外観画像処理検査手段１４では、ＣＣＤやＣＭＯＳなどの撮像素子を備える撮像装置でアンテナ回路２２の表面を撮像するとともに、撮像したアンテナ回路２２表面の画像信号がモニタなどの表示媒体を備えた画像処理装置に画像データとして出力され、当該画像デ−タに基づいてアンテナ回路２２の外観検査が行われる。
【００５７】
画像処理装置は、撮像装置から入力された画像信号に基づいて画像処理を行い、撮像されたアンテナ回路２２の表面の画像を表示媒体に表示する。表示された画像に回路の欠け、膨らみ、ピンホールなどの異常が見られる場合には、検査対象であるアンテナ回路２２が異常と判定される。
【００５８】
画像処理装置でアンテナ回路２２の表面画像が表示され、検出対象に合わせて解像度を任意に選択することができるようになるので、アンテナ回路２２の不良箇所が極微小なものであっても回路異常を検出することができる。
【００５９】
尚、画像処理装置は、少なくとも撮像装置からの画像信号を受信可能なインターフェースと、受信した画像信号を画像データとして記憶可能な記憶媒体と、画像信号処理して画像データに変換、及び画像処理などを実行する制御部を備えた構成であればよい。メモリに記憶した画像データを表示するモニタなどの表示媒体は、目視にて外観検査がなされるのであれば必須であるが、ソフトウェア処理による検査など目視以外の手段で外観検査がなされる場合には必須の構成ではない。
【００６０】
外観画像処理検査手段１４を備えることにより、電気的測定を行うことなく、回路の短絡、断線はもとより、主としてエッチング工程で生じた回路部分の欠け、膨らみ、ピンホールなどの回路異常を画像検査で行うことができる。
【００６１】
尚、アンテナ回路２２は金属で構成されているため、光の反射によってアンテナ回路２２の検査で誤判定が生じる虞がある。そのため、基板２１のたわみ防止のために外観画像処理検査手段１４の上流側にニップロールを備えることが好ましい。また、乱反射などの影響を少なくするために、撮像装置に偏光フィルターを設けることが好ましい。
【００６２】
（共振周波数測定検査手段について）
共振周波数測定検査手段１５では、ネットワーク・アナライザなどの周波数測定装置により、アンテナ回路２２の共振周波数を測定し、アンテナ回路２２の共振周波数の測定検査が行われる。
【００６３】
例えば、ネットワーク・アナライザに備える測定用アンテナにアンテナ回路２２をかざし、アンテナ回路２２の共振周波数を測定する。測定された共振周波数値がアンテナ回路２２に対する所定の設計値範囲から外れた場合には、検査対象のアンテナ回路２２は異常と判定される。
【００６４】
前述した回路抵抗測定検査手段１３で正常と判定されたアンテナ回路２２は、配線パターンの終端部２２ｂからチップ実装部２２ｃの間の直列回路部分において正常であるので、共振周波数測定検査手段１５で異常と判定されたアンテナ回路２２は、回路抵抗測定検査手段１３で測定出来ない配線パターン部２４，２６などの周辺の並列回路部分で断線などの回路異常が生じているものと判定される。
【００６５】
共振周波数測定検査手段１５で全数検査が実行されるので、製品の信頼性をより向上させることができる。
【００６６】
尚、ロール・ツー・ロール方式の検査ラインシステム１であるため、検査中のアンテナ回路２２の近傍に後続の検査対象が並列することになる。その場合、後続の検査対象が測定検査中のアンテナ回路２２の周波数測定に干渉する虞があるため、少なくとも共振周波数測定検査手段１５においては後続の検査対象以降に周波数測定への干渉を防止するための電磁波干渉防止シートなどの保護シートでマスクしておくことが好ましい。
【００６７】
（印字手段について）
前記基板供給ロール装置１１と前記基板巻取りロール装置１７との間に配置され、前記回路抵抗測定検査手段１３、前記外観画像処理検査手段１４および前記共振周波数測定検査手段１５の何れの手段よりも上流側に、前記アンテナ回路に対して識別可能な識別子を印字する印字手段１２を備える。
【００６８】
印字手段１２は、検査対象であるアンテナ回路２２毎の識別が可能な、予め付与される固有の識別子、例えば検査番号などを基板２１に印字する印字装置１２で構成される。
【００６９】
検査ラインシステム１では、各手段における検査結果が、印字手段１２で印字される固有の識別子に基づいて一元管理されるように構成されている。
【００７０】
例えば、検査ラインシステム１に備えられた印字装置１２及び各手段における装置などは、ネットワーク上で検査結果を制御装置に入出力可能に構成される。制御装置に適用される装置としては、パーソナルコンピュータなどが好適である。
【００７１】
印字される固有の識別子は、印字装置１２から検査結果を一元管理するための制御装置へ出力されて、制御装置に備えるメモリに当該検査番号が登録される。基板２１が下流側に供給されて各検査手段で検査が実行されると、各検査装置はネットワークを介して制御装置に検査結果を出力し、制御装置は入力された検査結果をメモリに記憶された固有の識別子にひも付けて管理する。
【００７２】
印字装置１２としては、検査対象への印字位置、印字の大きさを任意に設定することができる装置が好ましい。例えば、ネットワーク上での通信を可能にする入出力部及び制御部を備え、検査対象に印字可能な構成のインクジェットやレーザーなどで印字される。
【００７３】
このように、検査対象に付与される固有の識別子に基づいて各検査手段における検査結果を管理することで、製品の品質管理を確実、且つ容易に行うことができるようになる。
【００７４】
（合否判定結果付与手段について）
検査ラインシステム１は、前記合否判定手段によって正常或いは異常と判定された前記アンテナ回路２２に対して、合否表示印を付与する合否判定結果付与手段１６を備える。合否判定手段は、合否判定結果付与手段１６の機能を備えるのである。合否表示印において、例えば不良品を示す印を付与されたアンテナ回路２２は、本実施形態では不良品であることを意味している。
【００７５】
合否判定結果付与手段１６は、回路抵抗測定検査手段１３、外観画像処理検査手段１４及び共振周波数測定検査手段１５の何れの手段よりも下流側に備えられ、各検査手段での検査の結果を管理する制御装置に対して、合否を付与すべきアンテナ回路２２の識別子を出力し、当該識別子にひも付いた各検査手段における検査結果を要求する合否判定結果付与装置１６を備える。
【００７６】
制御装置から入力された各検査手段における検査結果の内、一つでも異常と判定されていれば、合否判定結果付与手段１６は不良品とみなし、例えば、合否表示印としてのシールを貼着する。
【００７７】
合否表示印を付与することにより、検査ラインにおける作業員が目視で製品が不良品であるかどうかを容易に判定することができるので、人為的なミスを低減することができる。
【００７８】
尚、合否表示印は、目視で不良品と判定できるもので示されていればよく、シールの貼着に限定するものではない。例えば、不良品と判別できるような印字がなされているのであってもよいし、タグなどが付着されるのであってもよい。更に、合否表示印として、合格品には、○印のシール、不良品には×印のシールを貼着する、合格品のみに○印のシールを貼着する、或いは不良品のみに×印のシールを貼着する方法などが採用される。
【００７９】
（接合手段について）
前記基板供給ロール装置１１と前記基板巻取りロール装置１７との間に配置され、前記回路抵抗測定検査手段１３、前記外観画像処理検査手段１４および前記共振周波数測定検査手段１５の何れの手段よりも上流側に、前記アンテナ回路２２の裏面に配された接合部２４（２４ａ，２４ｂ）と、表面に配された始端部２２ａ及び終端部２２ｂのそれぞれを接合する接合手段を備えるのであってもよい。
【００８０】
検査ラインシステム１上に接合部２４（２４ａ，２４ｂ）を形成する接合手段を組み込むことにより、製造及び検査をより効率的に実行することができる。
【００８１】
上述した検査ラインシステム１によれば、ロール・ツー・ロール方式で検査が行われるので生産性が向上し、かつ全数の検査が行われるので製品に対する信頼性がより向上する。また、アンテナ回路２２が回路抵抗測定検査手段１３、外観画像処理検査手段１４および共振周波数測定検査手段１５の異なる複数の手段で検査されるので、確実に品質不良を発見することができる。
【００８２】
以上説明したように、上述した検査ラインシステム１では、アンテナ回路２２が形成された基板２１が巻き取られた基板供給ロール装置１１から下流側に供給され、前記基板２１が基板巻取りロール装置１７で巻き取られるロール・ツー・ロール方式による検査方法において、前記基板供給ロール装置１１と前記基板巻取りロール装置１７との間に配置され、前記アンテナ回路２２の電気的導通を回路抵抗測定検査装置１３により検査するステップと、前記基板供給ロール装置１１と前記基板巻取りロール装置１７との間に配置され、前記アンテナ回路２２の外観を外観画像処理検査装置１４により検査するステップと、前記基板供給ロール装置１１と前記基板巻取りロール装置１７との間に配置され、前記アンテナ回路２２の共振周波数を共振周波数測定検査装置１５により測定検査するステップと、各検査装置１３，１４，１５の結果に応じて前記アンテナ回路２２の正常或いは異常の判定を行う合否判定ステップを備えるのである。
【００８３】
検査ラインシステム１の前記回路抵抗測定検査手段１３、前記外観画像処理検査手段１４および前記共振周波数測定検査手段１５の全ての検査手段において、ＩＣチップなどが実装されていない状態でアンテナ回路２２の検査が行われ、合否判定手段によって正常と判定されたアンテナ回路２２に対してのみ、ＩＣチップ実装部２２ｃ，２２ｄにＩＣチップなどを実装する図示しないチップ実装手段によりＩＣチップが実装される。全ての検査結果が正常なアンテナ回路のみにＩＣチップが実装されるので、チップが無駄になることを低減させることができる。
【００８４】
合否判定手段のパーソナルコンピュータは、検査結果を一元管理するための制御装置とは別途構成されるものとして説明したが、合否判定手段と当該制御装置での装置が同一のものであってもよい。
【００８５】
以上説明した検査ラインシステム１によりＲＦＩＤタグ２の検査が行われる際に、各検査手段において一つでも異常と判定された検査対象は、以降の検査が行われないように構成されるのであっても良い。
【００８６】
例えば、検査手段で検査が行われる前に、制御装置に検査対象の検査番号と、当該検査番号にひも付いた検査結果を要求し、制御装置から入力された当該情報に基づいて、上流側で行われた検査で異常と判定されていれば、今回の検査を中止して検査対象を下流側へ供給するように構成する。
【００８７】
このように構成されることで、上流側の検査手段で一つでも異常と判定されていれば下流側の検査を実行する必要がなくなるので、検査工数を削減することができ、より効率的に検査を行うことができる。
【００８８】
また、上述したように、何れかの検査手段のうち一つでも異常と判定されていると、合否判定結果付与手段１６によって合否表示印が付与されるように構成されるのが好適であるが、正常と判定されたアンテナ回路２２に正常であることを示す印を付与するのであってもよいし、正常或いは異常の何れの判定結果であってもその判定結果に応じた印をそれぞれ付与するように構成してもよい。
【００８９】
上述の制御装置についても、各検査手段及び印字装置などとは別の装置として説明したが、合否判定結果付与手段１６で各検査結果などを一元管理するように構成するのであってもよい。このように構成することで、合否判定結果付与手段１６における処理を効率化できると共に、検査ラインシステムの構成を簡素化することができる。
【００９０】
上述の説明では、回路抵抗測定検査手段１３、外観画像処理検査手段１４、共振周波数測定検査手段１５の順序で検査ラインシステム１が構築されるように図示したが、この順序は特に限定されるものではない。
【００９１】
上述では、基板供給ロール装置１１から供給された基板２１が回転駆動する基板巻取りロール装置１７によって巻き取られるように説明したが、基板供給ロール装置１１が基板巻取りロール装置１７を補助するように回転駆動して構成されるのであってもよい。
【００９２】
上述した基板２１の表裏面における導電体層２１１，２１３は、表裏面共に同一の厚さに形成されているのでもよいし、厚さが異なって形成されるのでもよく、導電体となる層が形成されるのであればその構成は特に限定されない。
【００９３】
上述では、ＨＦ帯域に利用され、表裏面に配線パターンが配されたＲＦＩＤタグ２について説明したが、一面のみに配線パターンが配された或いは上述とは異なる配線パターンが配されたＲＦＩＤタグ２、その他の周波数帯で利用されるＲＦＩＤタグ２などが検査されるのであってもよい。
【００９４】
図４には、例えば、図２に示す配線パターンと同様に表面にコイル状の配線パターンが形成され、基板２１の表面側に始端部２２ａと終端部２２ｂとの間で掛け渡すような配線パターン部２４（２４ａ，２４ｂ）を形成するとともに、始端部２２ａと終端部２２ｂとの間の表面の配線パターンと同面に形成した配線パターン部２４（２４ａ，２４ｂ）が接触することがないように、配線パターン部２４（２４ａ，２４ｂ）の配下に絶縁体２３を設けたアンテナ回路２２が示している。
【００９５】
このように一面のみにアンテナ回路２２が形成されるＲＦＩＤタグ２の検査がなされるのであってもよい。また、アンテナ回路２２の表面側のみに配線パターンが形成され、アンテナ回路２２の始端部２２ａ，２２ｂをかしめる必要のないＲＦＩＤタグ２の検査がなされるのであってもよい。また、図５に示すように、例えば、アンテナ回路２２の中心部にコンデンサ部２６ａなどを備えない回路で構成されているのであってもよい。
【００９６】
さらに、上述したＲＦＩＤタグ２はＩＣチップを備えるものとして説明したが、これに限定されるものではなく、ＩＣチップを備えないものであってもよい。また、電池を内蔵するものであってもよく、本発明の検査ラインシステム１で検査可能な構成のアンテナ回路２２を有するＲＦＩＤタグ２であれば、その構成について特に限定しない。
【００９７】
上述の説明中の数値については、いずれも設計事項であり、実施例に限定されるものではない。
【００９８】
以上説明した実施形態は、本発明の一例に過ぎず、本発明の作用効果を奏する範囲において具体的構成などを適宜変更設計できることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００９９】
１…検査ラインシステム
２…ＲＦＩＤタグ
１１…基板供給ロール装置
１２…印字手段（印字装置）
１３…回路抵抗測定検査手段（回路抵抗測定検査装置）
１４…外観画像処理検査手段（外観画像処理検査装置）
１５…共振周波数測定検査手段（共振周波数測定検査装置）
１６…合否判定結果付与手段（合否判定結果付与装置）
１７…基板巻取りロール装置
２１…基板
２２…アンテナ回路
１３１…全体抵抗測定手段
１３２…表裏抵抗測定手段
２１２…合成樹脂フィルム基材
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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