(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基体と、
複数のＸ検出電極および隣り合う前記Ｘ検出電極を電気的に接続するＸ接続部を有し、かつ前記基体上にＹ方向に配列されたＸ検出電極パターンと、
複数のＹ検出電極および隣り合う前記Ｙ検出電極を電気的に接続するＹ接続部を有し、かつ前記基体上にＸ方向に配列されたＹ検出電極パターンと、
前記Ｘ検出電極パターンの一端部および前記Ｙ検出電極パターンの一端部と電気的に接続され、かつ前記基体上に設けられた配線導体と、
前記Ｘ検出電極および前記Ｙ検出電極に生じる容量を測定する容量測定部、および前記容量測定部により測定された容量に基づいて入力座標を演算する座標演算部を有し、かつ前記配線導体と電気的に接続されたドライバと、を備え、
平面視において、複数の前記Ｘ検出電極それぞれの面積は、前記Ｘ検出電極パターンの前記一端部から前記Ｘ検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっており、
平面視において、複数の前記Ｙ検出電極それぞれの面積は、前記Ｙ検出電極パターンの前記一端部から前記Ｙ検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっている、ラインスキャン方式の静電容量タッチパネル。
【請求項２】
複数の前記Ｘ検出電極および複数の前記Ｙ検出電極のそれぞれは、開口部を有しており、
平面視において、前記開口部の面積は、前記Ｘ検出電極パターンおよび前記Ｙ検出電極パターンの前記一端部から前記他端部にかけて順次大きくなっている、請求項１に記載のラインスキャン方式の静電容量タッチパネル。
【請求項３】
隣り合う前記Ｘ検出電極間および隣り合う前記Ｙ検出電極間には、調整パターンが設けられている、請求項１または２に記載のラインスキャン方式の静電容量タッチパネル。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載のラインスキャン方式の静電容量タッチパネルと、
前記静電容量タッチパネルと対向配置される表示パネルと、を備えた表示装置。
【請求項５】
前記表示パネルは、液晶表示パネルである、請求項４に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、使用者が入力操作した箇所を入力位置として検出するラインスキャン方式の静電容量タッチパネル、およびこれを備えた表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、静電容量方式のタッチパネルに代表される入力装置では、検出電極パターンごとに検出電極に生じる容量を測定する、いわゆるラインスキャン方式が採用されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−１７９８７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、ラインスキャン方式を採用する入力装置では、指もしくはペンなどの導体が複数の個所に同時に近接もしくは接触（いわゆるマルチタッチ）すると、入力座標の位置が定まらず、違う位置に接触したものと誤検出される、いわゆるゴーストと呼ばれる問題が発生する。
【０００５】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ゴーストの発生を低減させることである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のラインスキャン方式の静電容量タッチパネルは、基体と、複数のＸ検出電極および隣り合う前記Ｘ検出電極を電気的に接続するＸ接続部を有し、かつ前記基体上にＹ方向に配列されたＸ検出電極パターンと、複数のＹ検出電極および隣り合う前記Ｙ検出電極を電気的に接続するＹ接続部を有し、かつ前記基体上にＸ方向に配列されたＹ検出電極パターンと、前記Ｘ検出電極パターンの一端部および前記Ｙ検出電極パターンの一端部と電気的に接続され、かつ前記基体上に設けられた配線導体と、前記Ｘ検出電極および前記Ｙ検出電極に生じる容量を測定する容量測定部、および前記容量測定部により測定された容量に基づいて入力座標を演算する座標演算部を有し、かつ前記配線導体と電気的に接続されたドライバと、を備え、平面視において、複数の前記Ｘ検出電極それぞれの面積は、前記Ｘ検出電極パターンの前記一端部から前記Ｘ検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっており、平面視において、複数の前記Ｙ検出電極それぞれの面積は、前記Ｙ検出電極パターンの前記一端部から前記Ｙ検出電極パターンの他端部にかけて順次小さくなっている。
【発明の効果】
【０００７】
本発明のラインスキャン方式の静電容量タッチパネルは、ゴーストの発生を低減させることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の第１の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。
【図２】図１中に示したＲ部分を拡大した図である。
【図３】（ａ）は図１のＩ−Ｉに沿った断面図である。（ｂ）は図１のＩＩ−ＩＩに沿った断面図である。
【図４】図１の入力装置を示す等価回路図である。
【図５】図１の入力装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】従来の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。
【図７】図１の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。
【図８】図１の入力装置において、使用者が導体を入力領域に近接もしくは接触させた場合に測定される容量の大きさを示す図である。
【図９】図１の入力装置を備えた表示装置を示す断面図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。
【図１１】図１０中に示したＲ１部分を拡大した図である。
【図１２】図１０の入力装置の変形例であって、検出電極を示す拡大平面図である。
【図１３】本発明の第３の実施形態における入力装置の一例を示す平面図である。
【図１４】図１３の入力装置の要部を示す拡大平面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［実施の形態１］
まず、本発明の第１の実施形態における入力装置１について、図１〜図８を参照しながら説明する。ここで、入力装置１は、静電容量方式のタッチパネルである。また、入力装置１では、入力座標を演算するにあたり、いわゆるラインスキャン方式を採用している。
【００１０】
入力装置１は、図１に示すように、使用者が指もしくはペンなどの導体を近接もしくは接触することで情報を入力するための入力領域ＥＩと、入力領域ＥＩの外側に位置する非入力領域ＥＯとを有している。また、非入力領域ＥＯは、フレキシブルプリント基板Ｆと電気的に接続される外部導通領域ＥＧを有している。
【００１１】
入力装置１は、基体１０と、検出電極パターン２０と、配線導体３０と、ドライバ４０とを備えている。
【００１２】
基体１０は、検出電極パターン２０および配線導体３０を支持する役割を有する。基体１０は、第１主面１０ａと、該第１主面１０ａとは反対側に位置する第２主面１０ｂとを有している。ここで、入力領域ＥＩに対応する基体１０の第２主面１０ｂは、使用者が指もしくはペンなどの導体（以下、単に「導体」と称する）で近接もしくは直接接触する面となる。図1に示すように、基体１０の平面視形状は例えば矩形状をしているが、これに
は限られず、任意である。基体１０の材料としては、絶縁性および透光性を有するものが挙げられ、例えば、ガラスおよびプラスチックなどである。ここで、透光性とは、可視光に対する透過性を有することを意味する。
【００１３】
検出電極パターン２０は、複数の検出電極２１と、複数の接続部２２とを有している。検出電極パターン２０は、入力領域ＥＩに対応する基体１０の第１主面１０ａに設けられており、Ｘ方向およびＹ方向に沿って配列している。以下では、Ｘ方向の入力座標を検出する検出電極パターン２０を「Ｘ検出電極パターン２０Ｘ」とし、Ｙ方向の入力座標を検出する検出電極パターン２０を「Ｙ検出電極パターン２０Ｙ」とする。
【００１４】
検出電極パターン２０の材料としては、透光性および導電性を有するものが挙げられる。透光性および導電性を有するものとしては、例えば、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide：インジウムスズ酸化物）、ＩＺＯ（Indium Zinc Oxide：インジウム亜鉛酸化物）、ＡＴＯ（Antimony Tin Oxide：アンチモン錫酸化物）、酸化錫、酸化亜鉛が挙げられる。
【００１５】
検出電極パターン２０の形成方法は、例えば、次のような方法が挙げられる。まず、スパッタリング法、蒸着法、もしくは化学気相成長法により、例えば、ＩＴＯを基体１０の第１主面１０ａに膜として形成する。このＩＴＯ膜の表面に対して感光性樹脂を塗布し、塗布した感光性樹脂に対して露光処理、現像処理を行うことで感光性樹脂に所望のパターンを形成する。次いで、ＩＴＯ膜を薬液でエッチングすることで、ＩＴＯ膜を所望の形状にする。そして、ＩＴＯ膜の表面に設けられている感光性樹脂を除去することで、検出電極パターン２０が形成される。
【００１６】
Ｘ検出電極パターン２０Ｘは、複数のＸ検出電極２１Ｘと、複数のＸ接続部２２Ｘとを有している。複数のＸ検出電極パターン２０Ｘは、Ｙ方向に沿って配列している。また、本実施形態では、Ｘ検出電極パターン２０Ｘ１、Ｘ検出電極パターン２０Ｘ２、・・・Ｘ検出電極パターン２０ＸＩのように、Ｉ個のＸ検出電極パターン２０Ｘが配列させている。
【００１７】
Ｘ検出電極２１Ｘは、グランドと容量を形成するとともに、導体と容量を形成する機能を有する。また、Ｘ検出電極２１Ｘは、所定の間隔を空けてＸ方向およびＹ方向に配置されている。また、隣り合うＸ検出電極２１Ｘは、Ｘ接続部２２Ｘによって互いに電気的に接続されている。また、Ｘ検出電極２１Ｘは、平面視形状が例えばひし形状をしているが、これには限られず、任意である。また、図４に示すように、Ｘ検出電極２１Ｘに電圧を印加すると、Ｘ検出電極２１Ｘに電荷が蓄積され、Ｘ検出電極２１Ｘとグランドとの間には容量ＣＰＸが発生する。なお、図４では、説明の簡略化のために、Ｘ検出電極パターン２０Ｘの数を１つとするとともに、Ｘ検出電極２１Ｘの数を３つとしている。
【００１８】
図１および図２に示すように、Ｘ検出電極２１Ｘの面積は、平面視して、配線導体３０が接続されるＸ検出電極パターン２０Ｘの一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次小さくなっている。すなわち、Ｘ電極２０Ｘの一端部２０ＳからＸ方向に進むにつれて、Ｘ検出電極２１Ｘの面積が小さくなっている。
【００１９】
Ｘ検出電極２１Ｘの面積が小さくなると、このＸ検出電極２１Ｘに発生する容量ＣＰＸの大きさは小さくなる。すなわち、図４に示すように、Ｘ検出電極パターン２０Ｘにおいて、一端部２０Ｓ側に位置するＸ検出電極２１Ｘに発生する容量ＣＰＸ１は、他端部２０Ｆ側に位置するＸ検出電極２１Ｘに発生する容量ＣＰＸ２，ＣＰＸ３に比べて大きくなる。これと同様に、Ｘ検出電極２１Ｘに発生する容量ＣＰＸ２は、Ｘ検出電極２１Ｘに発生する容量ＣＰＸ３に比べて大きくなる。
【００２０】
Ｙ検出電極パターン２０Ｙは、複数のＹ検出電極２１Ｙと、複数のＹ接続部２２Ｙとを有している。
【００２１】
Ｙ検出電極パターン２０Ｙは、複数のＹ検出電極２１Ｙと、複数のＹ接続部２２Ｙとを有している。複数のＹ検出電極パターン２０Ｙは、Ｘ方向に沿って配列されている。また、本実施形態では、Ｘ方向に向かって、Ｙ検出電極パターン２０Ｙ１、Ｙ検出電極パターン２０Ｙ２、・・・Ｙ検出電極パターン２０ＹＩのように、Ｊ個のＹ検出電極パターン２０Ｙが配列されている。
【００２２】
Ｙ検出電極２１Ｙは、Ｘ検出電極２１Ｘと同様、グランドとの間に容量を形成するとともに、導体と容量を形成する機能を有する。Ｙ検出電極２１Ｙは、所定の間隔を空けてＸ方向およびＹ方向に配置されている。また、隣り合うＹ検出電極２１Ｙは、Ｙ接続部２２Ｙによって互いに電気的に接続されている。また、Ｙ検出電極２１Ｙは、平面視形状が例えばひし形状をしているが、これには限られず、任意である。また、図４に示すように、Ｙ検出電極２１Ｙに電圧を印加すると、Ｙ検出電極２１Ｙとグランドとの間の容量ＣＰＹには電荷が蓄積される。なお、図４では、説明の簡略化のために、Ｙ検出電極パターン２０Ｙの数を１個とするとともに、Ｙ検出電極２１Ｙの数を３個としている。
【００２３】
図１および図２に示すように、Ｙ検出電極２１Ｙの面積は、平面視して、配線導体３０が接続されるＹ検出電極パターン２０Ｙの一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次小さくなっている。すなわち、Ｙ検出電極２１Ｙの一端部２０ＳからＹ方向に進むにつれて、Ｙ検出電極２１Ｙの面積が小さくなっている。
【００２４】
Ｙ検出電極２１Ｙの面積が小さくなると、このＹ検出電極２１Ｙに発生する容量ＣＰＹの大きさは小さくなる。すなわち、図４に示すように、Ｙ検出電極パターン２０Ｙにおいて、一端部２０Ｓ側に位置するＹ検出電極２１Ｙに発生する容量ＣＰＹ１は、他端部２０Ｆ側に位置するＹ検出電極２１Ｙに発生する容量ＣＰＹ２，ＣＰＹ３に比べて大きくなる。これと同様に、Ｙ検出電極２１Ｙに発生する容量ＣＰＹ２は、Ｙ検出電極２１Ｙに発生する容量ＣＰＹ３に比べて大きくなる。
【００２５】
また、Ｘ検出電極パターン２０ＸとＹ検出電極パターン２０Ｙとは、平面視して交差している。具体的には、Ｘ検出電極パターン２０ＸとＹ検出電極パターン２０Ｙとの交差する部位には、絶縁部材２０Ａが介在している。この絶縁部材２０ＡによりＸ検出電極パターン２０ＸとＹ検出電極パターン２０Ｙとは電気的に絶縁される。絶縁部材２０Ａの材料としては、絶縁性を有するものが挙げられ、例えば、アクリル樹脂、エポキシ樹脂などの樹脂である。
【００２６】
配線導体３０は、検出電極パターン２０とドライバ４０とを電気的に接続する機能を有する。配線導体３０は、外側領域ＥＯに対応する基体１０の第１主面１０ａに設けられている。配線導体３０は、一端がＸ検出電極パターン２０Ｘの一端部２０ＳおよびＹ検出電極パターン２０Ｙの一端部２０Ｓと電気的に接続され、外部導通領域ＥＧに位置する他端がフレキシブルプリント基板Ｆを介してドライバ４０と接続されている。
【００２７】
配線導体３０の材料としては、導電性を有するものが挙げられ、例えば、ＩＴＯ、酸化錫、アルミニウム、アルミニウム合金、銀、もしくは銀合金などである。また、配線導体３０の形成方法は、検出電極パターン２０と同様の方法が挙げられる。
【００２８】
図４に示すように、ドライバ４０は、発振部４１と、容量測定部４２と、座標演算部４３とを有している。
【００２９】
発振部４１は、検出電極パターン２０に電圧信号を伝達する機能を有する。発振部４１は、フレキシブルプリント基板Ｆを介して検出電極パターン２０と電気的に接続されている。
【００３０】
容量測定部４２は、検出電極２１に発生する容量を測定する機能を有する。容量測定部４２は、オペアンプ４２１と、コンデンサ４２２と、リセットスイッチ４２３と、ＡＤコンバータ４２４とを有している。オペアンプ４２１は、入力された信号を増幅する機能を有する。また、オペアンプ４２１は、Ｘ検出電極パターン２０ＸおよびＹ検出電極パターン２０Ｙと、コンデンサ４２２と、リセットスイッチ４２３とに電気的に接続される。
【００３１】
コンデンサ４２２は、Ｘ検出電極２１ＸもしくはＹ検出電極２１Ｙとグランドとの間の容量Ｃｐで、およびＸ検出電極２１ＸもしくはＹ検出電極２１Ｙと導体との間の容量ＣＤＸ，ＣＤＹでそれぞれ電荷を蓄積する機能を有する。
【００３２】
リセットスイッチ４２３は、コンデンサ４２２に蓄積された電荷の転送回数を制御する機能を有する。リセットスイッチ４２３は、所定の周期でオン・オフされるように設定されており、リセットスイッチ４２３によって検出時間を制御できる。
【００３３】
ＡＤコンバータ４２４は、信号を数値化する機能を有する。すなわち、オペアンプ４２１により出力された信号は、ＡＤコンバータ４２４によって数値化される。また、ＡＤコンバータ４２４は、数値化した信号を座標演算部４３に出力する。
【００３４】
容量測定部４２では、コンデンサ４２２が、Ｘ検出電極２１ＸもしくはＹ検出電極２１Ｙとグランドとの間の容量ＣｐおよびＸ検出電極２１ＸもしくはＹ検出電極２１Ｙと導体との間の容量ＣＤでそれぞれ電荷を蓄積し、この電荷をリセットスイッチ４２３が所定の周期でオペアンプ４２１を介してＡＤコンバータ４２４に出力する。そして、この出力信号はＡＤコンバータ４２４によって数値化される。なお、本実施形態では、容量測定部４２がドライバ４０に組み込まれている構成について説明したが、検出電極２１に発生する容量を測定できれば、このような構成には限られない。
【００３５】
座標演算部４３は、導体が近接もしくは接触する個所のＸ座標およびＹ座標を演算する機能を有する。具体的には、座標演算部４３は、まず、容量測定部４２により測定された容量に基づいて、導体が基体１０の第２主面１０ｂに対して近接もしくは接触したか否かを判定する。この判定については、閾値が設定されており、この閾値を基準として判定される。すなわち、座標演算部４３は、導体が近接もしくは接触していない場合の容量を基準として、導体が近接もしくは接触することで変化する容量が閾値を超えると、導体が近接もしくは接触したと判定する。なお、本実施形態では、座標演算部４３がドライバ４０に組み込まれている構成について説明したが、導体が近接もしくは接触した位置のＸ座標およびＹ座標を演算できれば、このような構成には限られない。
【００３６】
次に、図４および図５を参照しながら、入力装置１の入力位置の検出原理について説明する。
【００３７】
入力装置１では、ドライバ４０の発振部４１から配線導体３０を介して、Ｘ検出電極パターン２０ＸおよびＹ検出電極パターン２０Ｙに電圧が印加される。すなわち、入力装置１では、Ｘ検出電極２１ＸおよびＹ検出電極２１Ｙには電荷が帯電され、Ｘ検出電極２１Ｘとグランドとの間には容量ＣＰＸが発生し、Ｙ検出電極２１Ｙとグランドとの間には容量ＣＰＹが発生する。
【００３８】
入力装置１では、まず、容量測定部４２によってＸ検出電極パターン２０Ｘ１に発生する容量ＣＰＸの測定を行う。次に、容量測定部４２によってＸ検出電極パターン２０Ｘ２に発生する容量ＣＰＸの測定を行う。このように、容量測定部４２は、１からＩ番目の全てのＸ検出電極パターン２０Ｘに発生する容量ＣＰＸの測定を行う（Ｏｐ１）。
【００３９】
容量測定部４２によって全てのＸ検出電極パターン２０Ｘの容量の測定が終了した後、座標演算部４３は、Ｘ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触したか否かを判定する（Ｏｐ２）。具体的には、座標演算部４３は、容量測定部４２によって測定された容量（Ｘ検出電極に発生する容量）が閾値を超えているか否かを判定する。Ｘ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触したと判定すれば（Ｏｐ２にてＹＥＳ）、座標演算部４３は、閾値を超えたＸ検出電極パターン２０Ｘの容量を抽出する（Ｏｐ３）。一方、Ｘ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触していないと判定すれば（Ｏｐ２にてＮＯ）、Ｏｐ１へ戻る。
【００４０】
次に、検出電極パターン２０Ｘと同様に、容量測定部４２は、１からＪ番目の全てのＹ検出電極パターン２０Ｙに発生する容量ＣＰＹの測定を行う（Ｏｐ４）。
【００４１】
容量測定部４２によって全てのＹ検出電極パターン２０Ｙの容量の測定が終了した後、座標演算部４３は、Ｙ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触したか否かを判定する（Ｏｐ５）。具体的には、座標演算部４３は、容量測定部４２によって測定された容量（Ｙ検出電極に発生する容量）が閾値を超えているか否かを判定する。Ｙ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触したと判定すれば（Ｏｐ５にてＹＥＳ）、座標演算部４３は、閾値を超えたＹ検出電極パターン２０Ｙの容量を抽出する
（Ｏｐ６）。一方、Ｙ方向において導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触していないと判定すれば（Ｏｐ５にてＮＯ）、Ｏｐ１へ戻る。
【００４２】
そして、座標演算部４３は、Ｏｐ３にて抽出されたＸ検出電極パターン２０Ｘの容量、およびＯｐ６にて抽出されたＹ検出電極パターン２０Ｘの容量に基づいて、入力位置であるＸ座標およびＹ座標を算出する（Ｏｐ７）。このようにして、入力装置１は、入力座標を検出することができる。なお、上述で説明した入力装置１の入力位置の検出原理は、一例であり、導体が入力領域ＥＩに対して近接もしくは接触した位置のＸ座標およびＹ座標を求めることができれば、入力装置１の検出原理はこれに限られない。
【００４３】
なお、以下では、導体が入力領域ＥＩの２個所に同時に近接もしくは接触（いわゆるマルチタッチ）した場合における、Ｏｐ７の座標演算部４３の処理について、従来の入力装置の動作と比較しながら、さらに詳細に説明する。
【００４４】
従来のラインスキャン方式を採用した入力装置では、平面視において、検出電極パターン２０における複数の検出電極２１のそれぞれの面積が略同一に形成されていた。そのため、例えば、導体が入力領域ＥＩの２個所の部分、例えば、白丸の（Ｘ１，Ｙ１）と、（Ｘ２，Ｙ２）とを同時に近接もしくは接触した場合、Ｘ方向（Ｘ検出電極２１Ｘ）での容量変化およびＹ方向（Ｙ検出電極２１Ｙ）での容量変化は、図６に示すようになる。
【００４５】
すなわち、ラインスキャン方式を採用しているため、図６に示すように、座標Ｘ１および座標Ｘ２の容量が変化することになる。具体的には、座標Ｘ１の容量ＣＸ１は、座標Ｘ２の容量ＣＸ２と略同じ大きさになる。また、ラインスキャン方式を採用しているため、座標Ｙ１および座標Ｙ２の容量が変化することになる。具体的には、座標Ｙ１の容量ＣＹ１は、座標Ｙ２の容量ＣＹ２と略同じ大きさになる。このため、座標演算部では、入力位置のＸ座標がＸ１，Ｘ２であり、入力位置のＹ座標がＹ１，Ｙ２であることを判定することができる。そのため、座標演算部では、導体が実際に近接もしくは接触した個所（図６の白丸）を正しく判定することができなかった。具体的には、座標演算部は、入力座標が白丸の（Ｘ１，Ｙ１）および（Ｘ２，Ｙ２）の組み合わせであるのか、あるいは入力座標が黒丸の（Ｘ１，Ｙ２）および（Ｘ２，Ｙ１）の組み合わせであるのか、判定することができなかった。すなわち、従来の入力装置では、導体が複数同時に近接もしくは接触した場合、入力座標が定まらず、違う位置に接触したものと誤検出される、いわゆるゴーストの問題が発生していた。
【００４６】
これに対して、本実施形態に係る入力装置１では、平面視において、検出電極パターン２０における複数の検出電極２１のそれぞれの面積は、配線導体３０が接続される一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次小さくなっている。このため、図７に示すように、導体が入力領域ＥＩの２個所の部分、例えば、白丸の（Ｘ１，Ｙ１）と、（Ｘ２，Ｙ２）とを同時に近接もしくは接触した場合、上記従来の入力装置と同様に、座標Ｘ１および座標Ｘ２の容量が変化するとともに、座標Ｙ１および座標Ｙ２の容量が変化することになる。しかしながら、入力装置１では、座標Ｘ１の容量ＣＸ１は、座標Ｘ２の容量ＣＸ２よりも大きくなる。また、入力装置１では、座標Ｙ１の容量ＣＹ１は、座標Ｙ２の容量ＣＹ２よりも大きくなる。このため、座標演算部４３は、Ｏｐ７の処理において、導体が実際に近接もしくは接触した２個所（図７の白丸）を正しく判定することができる。
【００４７】
すなわち、図８に示すように、導体が入力領域ＥＩの２個所の部分、例えば、白丸の（Ｘ２，Ｙ１）と、（Ｘ１，Ｙ２）とを同時に近接もしくは接触した場合、図７に示す態様とは逆に、座標Ｘ２の容量ＣＸ２は、座標Ｘ１の容量ＣＸ１よりも大きくなる。また、図７に示す態様とは逆に、座標Ｙ２の容量ＣＹ２は、座標Ｙ１の容量ＣＹ１よりも大きくなる。このため、座標演算部４３は、Ｏｐ７の処理において、導体が実際に近接もしくは接
触した２個所（図８の白丸）を正しく判定することができる。
【００４８】
このように、入力装置１では、ゴーストの発生を低減させることができる。
【００４９】
［表示装置の構成］
図９は、第２の実施形態における表示装置３の一例を示す断面図である。図９に示すように、表示装置３は、入力装置１と、液晶表示装置２とを備えている。
【００５０】
液晶表示装置２は、液晶表示パネル２ａと、光源装置２ｂと、筐体２ｃとを備えている。
【００５１】
光源装置２ｂは、液晶表示パネル２ａに向けて光を照射する機能を有し、液晶表示パネル２ａと下側筐体２ｃ２との間に配置されている。
【００５２】
筐体２ｃは、液晶表示パネル２ａおよび光源装置２ｂを収容する役割を担うものであり、上側筐体２ｃおよび下側筐体２ｃを有する。筐体２ｃの材料としては、例えば、ポリカーボネート等の樹脂、あるいはステンレス（ＳＵＳ）やアルミニウム等の金属が挙げられる。
【００５３】
表示装置３は、例えば、携帯電話やＰＤＡ（Personal Digital Assistant）等の携帯用の端末装置、工場等の産業用途で使用されるプログラマブル表示器、電子手帳、パーソナルコンピュータ、複写機、あるいはゲーム用の端末装置等の種々の電子機器に備えられる。
【００５４】
以上のように、本実施形態の表示装置３によれば、上記の入力装置１を備えているので、ゴーストの発生を低減させることができる。
【００５５】
［実施の形態２］
図１０は、第２の実施形態に係る入力装置１Ａの一例を示す平面図である。図１１は、図１０のＲ１部分を拡大した平面図である。
【００５６】
図１０および図１１に示すように、入力装置１Ａでは、複数の検出電極２１のそれぞれは、開口部２１１を有している。また、平面視において、この開口部２１１の面積は、検出電極パターン２０の一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次大きくなっている。このようにして、入力装置１Ａは、入力装置１と同様、複数の検出電極２１それぞれの面積は、検出電極パターン２０の一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次小さくなっている。これにより、入力装置１Ａは、入力装置１と同様の効果が得られる。また、入力装置１Ａでは、検出電極２１に開口部２１１を設けているので、開口部２１１をパターニングにて形成する際に、パターニングのずれが生じたとしても、所望の検出電極２１の面積から大きくずれることを低減できる。
【００５７】
また、図１２に示すように、検出電極２１に複数の開口部２１１を設けることにより、複数の検出電極２１それぞれの面積を、検出電極パターン２０の一端部２０Ｓから他端部２０Ｆにかけて順次小さくなるようにしてもよい。このようにすると、開口部２１１を視認され難くすることができる。
【００５８】
［実施の形態３］
図１３は、第３の実施形態における入力装置１Ｂの一例を示す平面図である。図１４は、入力装置１Ｂの要部拡大図である。入力装置１と入力装置１Ｂとの異なる点は、入力装置１Ｂでは、隣り合う検出電極２１の間に、調整パターンＴが設けられている点である。
【００５９】
調整パターンＴは、図１３および図１４に示すように、平面視において、隣り合う検出電極２１間に設けられている。調整パターンＴは、基体１０の第１主面１０ａ上に位置している。また、調整パターンＴは、検出電極２１と同じ材料を含んでなる。
【００６０】
検出電極２１の面積が小さくなると、隣り合う検出電極２１間の空間が大きくなる。すなわち、この部分では光の透過率が大きくなるので、入力領域ＥＩで表示むらが発生する場合がある。これに対して、入力装置１Ｂでは、隣り合う検出電極２１の間に調整パターンＴを設けているので、入力領域ＥＩでの表示むらを低減できる。
【００６１】
また、入力装置１Ｂでは、調整パターンＴの有する可視光の透過率を、検出電極２１の有する可視光の透過率の±１０％以内に設定することで、調整パターンＴの有する可視光の透過率を、検出電極２１の有する可視光の透過率と実質的に同一としている。
【００６２】
なお、可視光の透過率は、例えば、以下のようにして測定できる。まず、可視光を対象物に照射して対象物を透過した透過光の発光スペクトルを測定する。測定して得られた透過光の発光スペクトルと出射光の発光スペクトルとを光の強度と波長との関係のグラフで表す。このグラフから、波長の可視光域での、透過光の発光スペクトルと出射光の発光スペクトルとの面積差を算出することで、可視光の透過率を判断できる。すなわち、この面積差が小さいほど可視光の透過率が高いことを意味する。
【００６３】
以上、本発明の具体的な実施形態を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００６４】
表示装置３では、入力装置１を備える例について説明したが、他の実施形態に係る入力装置１Ａ，１Ｂを備えても、上述で説明した効果と同様な効果を得られる。
【００６５】
入力装置Ｘ２では、検出電極２０の開口部２１１内に調整パターンＴを設けてもよい。
【００６６】
表示装置３では、表示パネルが液晶表示パネル２である例について説明したが、これに限定されない。すなわち、表示パネルは、ＣＲＴ、プラズマディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、無機ＥＬディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、蛍光表示管、電界放出ディスプレイ、表面電界ディスプレイ、電子ペーパーなどであってもよい。
【符号の説明】
【００６７】
１，１Ａ，１Ｂ  入力装置
２      表示装置
３      液晶表示装置
１０    基体
２０    検出電極パターン
３０    配線導体
４０    ドライバ
４２  容量測定部
４３  座標演算部
２ａ    表示パネル
６０    調整パターン
【図１】
0005495924.tif 000002
【図２】
0005495924.tif 000003
【図３】
0005495924.tif 000004
【図４】
0005495924.tif 000005
【図５】
0005495924.tif 000006
【図６】
0005495924.tif 000007
【図７】
0005495924.tif 000008
【図８】
0005495924.tif 000009
【図９】
0005495924.tif 000010
【図１０】
0005495924.tif 000011
【図１１】
0005495924.tif 000012
【図１２】
0005495924.tif 000013
【図１３】
0005495924.tif 000014
【図１４】
0005495924.tif 000015