(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて、送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路の評価を可能にするために、
予め定められた特定符号列の一定ビット後にレーン番号が付されたテスト信号を、複数のレーン番号について生成して出力するテスト信号発生回路（３１）と、
連続信号が各レーンに入力されるとともに前記テスト信号発生回路から前記テスト信号が入力され、前記テスト信号に付されているレーン番号の前記連続信号を前記テスト信号に置換し、各レーンから前記連続信号又は前記テスト信号を出力するセレクタ回路（３２）と、
前記特定符号列を検出して前記特定符号列の一定ビット後に付されている前記レーン番号及び前記レーン番号の検出時点を出力するテスト信号検出回路（３５）と、
前記テスト信号検出回路からの前記検出時点を予め定められた時点と比較することで前記レーン番号のレーンにおけるスキューを検出して補正するスキュー補正回路（３６）と、
を備え、
前記予め定められた時点は、前記テスト信号検出回路の出力する他のレーン番号の検出時点であるか、又は、各レーンに生じる最大の時間差以上で繰り返す絶対的な基準時点であるデスキュー回路。
【請求項２】
前記テスト信号は、予め定められたフレーム長を有し、同一レーン内での前記フレームの順番を示すシーケンス番号が前記レーン番号の一定ビット後に付されており、
前記テスト信号検出回路は、前記レーン番号の一定ビット後に付されている前記シーケンス番号をさらに出力し、
前記スキュー補正回路は、前記予め定められた時点によって定まる基準番号と前記テスト信号検出回路の出力するシーケンス番号との差を算出し、前記予め定められた時点と前記テスト信号検出回路の出力するレーン番号の検出時点との時間差を、前記基準番号と前記シーケンス番号との差のフレーム長に相当する時間だけ短縮することを特徴とする請求項１に記載のデスキュー回路。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のデスキュー回路（１００）と、
複数列の前記連続信号を発生して前記デスキュー回路の各レーンに出力する信号発生部と、
前記デスキュー回路からの出力信号に含まれる誤りを検出する誤り検出回路（２３）と、
スキューの補正中である旨を出力するディスプレイと、
を備えるエラー測定装置。
【請求項４】
前記スキュー補正回路は、各レーンのスキューの補正が完了すると、切り替え停止を指示するロック信号を前記セレクタ回路に出力し、
前記セレクタ回路は、前記ロック信号が入力されると、前記テスト信号への置換を停止し、各レーンから前記連続信号を出力する請求項３に記載のエラー測定装置。
【請求項５】
前記誤り検出回路は、検出する誤り率が一定値を超えたときに動作指示信号を前記セレクタ回路に出力し、
前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されると、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの前記連続信号を前記テスト信号に置換する請求項４に記載のエラー測定装置。
【請求項６】
前記セレクタ回路における連続信号から前記テスト信号への置換を、自動又は手動に切り替える切り替えスイッチ（３４）をさらに、備え、
前記切り替えスイッチが自動のとき、前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されると、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの連続信号を前記テスト信号に置換し、
前記切り替えスイッチが手動のとき、前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されても、各レーンから連続信号を出力する請求項５に記載のエラー測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スキューを検出して補正するデスキュー回路及びデスキュー回路を備えるエラー測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路において、スキューの検出及び補正を行う通信システムが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。このような高速データ伝送路においてデータを送受信する場合には、スキューの検出及び補正を行うことができるようなパターンをフレーム内に保持しておき、そのパターンを用いてスキューの検出及び補正を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特表２００２−５３３０２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路に用いられる装置やデバイスの開発を行う際には、まず、ＰＲＢＳ（Ｐｓｅｕｄｏ  Ｒａｎｄｏｍ  Ｂｉｎａｒｙ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ）信号のようなスキューの検出及び補正を行う機能をもたない連続信号を用いて伝送路の品質評価を行う。
【０００５】
このとき、スキューの検出及び補正を行わなければ、スキュー発生やＤＥＭＵＸの順序不一致が原因で、連続信号のパターン同期が取れなくなる。
【０００６】
連続信号にスキューの検出及び補正が行えるようなパターンを挿入しても、連続信号の性質が劣化したり、汎用的なＢＥＲＴ（Ｂｉｔ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ  Ｔｅｓｔｅｒ）システムと接続できなくなったりすることがある。
【０００７】
そこで、前記課題を解決するために、本発明は、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて、送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路の評価を可能にするデスキュー回路及びエラー測定装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本願発明のデスキュー回路は、
スキューを検出して補正する機能を持たない連続信号を用いて、送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路の評価を可能にするために、
予め定められた特定符号列の一定ビット後にレーン番号が付されたテスト信号を、複数のレーン番号について生成して出力するテスト信号発生回路（３１）と、
連続信号が各レーンに入力されるとともに前記テスト信号発生回路から前記テスト信号が入力され、前記テスト信号に付されているレーン番号の前記連続信号を前記テスト信号に置換し、各レーンから前記連続信号又は前記テスト信号を出力するセレクタ回路（３２）と、
前記特定符号列を検出して前記特定符号列の一定ビット後に付されている前記レーン番号及び前記レーン番号の検出時点を出力するテスト信号検出回路（３５）と、
前記テスト信号検出回路からの前記検出時点を予め定められた時点と比較することで前記レーン番号のレーンにおけるスキューを検出して補正するスキュー補正回路（３６）と、
を備え、
前記予め定められた時点は、前記テスト信号検出回路の出力する他のレーン番号の検出時点であるか、又は、各レーンに生じる最大の時間差以上で繰り返す絶対的な基準時点である。
【０００９】
テスト信号の検出時点を比較することで、どのレーン番号から出力された信号に、どの程度のスキューが生じているかを検出することができる。これにより、各レーンのスキューを補正することができる。したがって、本願発明のデスキュー回路は、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて、送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路の評価を可能にすることができる。
【００１０】
本願発明のデスキュー回路では、前記テスト信号発生回路は、前記テスト信号を複数のレーン番号について生成して出力し、前記予め定められた時点は、前記テスト信号検出回路の出力する他のレーン番号の検出時点である構成とすることができる。
各レーンの検出時点を互いに比較することで、各レーンのスキューを検出することができる。これにより、各レーンのスキューを補正することができる。
【００１１】
本願発明のデスキュー回路では、前記予め定められた時点は、各レーンに生じる最大の時間差以上で繰り返す絶対的な基準時点である構成とすることができる。
各レーンの検出時点を絶対的な基準時点と比較することで、各レーンのスキューを検出することができる。これにより、各レーンのスキューを補正することができる。
【００１２】
本願発明のデスキュー回路では、前記テスト信号は、予め定められたフレーム長を有し、同一レーン内での前記フレームの順番を示すシーケンス番号が前記レーン番号の一定ビット後に付されており、前記テスト信号検出回路は、前記レーン番号の一定ビット後に付されている前記シーケンス番号をさらに出力し、前記スキュー補正回路は、前記予め定められた時点によって定まる基準番号と前記テスト信号検出回路の出力するシーケンス番号との差を算出し、前記予め定められた時点と前記テスト信号検出回路の出力するレーン番号の検出時点との時間差を、前記基準番号と前記シーケンス番号との差のフレーム長に相当する時間だけ短縮する構成とすることができる。
テスト信号にシーケンス番号を付すことで、複数のフレームにわたってテスト信号を送信し、スキューを検出することができる。これにより、共通のカウンタを用いて各レーンのスキューを検出することができる。
【００１３】
本願発明のエラー測定装置は、本発明に係るデスキュー回路（１００）と、複数列の前記連続信号を発生して前記デスキュー回路の各レーンに出力する信号発生部と、前記デスキュー回路からの出力信号に含まれる誤りを検出する誤り検出回路（２３）と、スキューの補正中である旨を出力するディスプレイと、を備える。
【００１４】
本発明に係るデスキュー回路を備えることで、各レーンのスキューを補正することができる。したがって、本願発明のエラー測定装置は、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて、送信系又は受信系でスキューを発生するような高速データ伝送路の評価を可能にすることができる。
【００１５】
本願発明のエラー測定装置では、前記スキュー補正回路は、各レーンのスキューの補正が完了すると、切り替え停止を指示するロック信号を前記セレクタ回路に出力し、前記セレクタ回路は、前記ロック信号が入力されると、前記テスト信号への置換を停止し、各レーンから前記連続信号を出力する構成とすることができる。
各レーンのスキューの補正が終了した後に、各レーンから連続信号を出力し続けることができる。これにより、スキューを発生するような高速データ伝送路の評価を、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて行うことが可能となる。
【００１６】
本願発明のエラー測定装置では、前記誤り検出回路は、検出する誤り率が一定値を超えたときに動作指示信号を前記セレクタ回路に出力し、前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されると、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの前記連続信号を前記テスト信号に置換する構成とすることができる。
いずれかのレーンにスキューが生じていると、誤り検出回路の検出する誤り率が高くなる。そこで、そのような誤り率を一定値に設定しておくことで、各レーンにスキューが生じていない状態を維持することができる。これにより、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号による伝送路の品質評価を適切に行うことができる。
【００１７】
本願発明のエラー測定装置では、前記セレクタ回路における連続信号から前記テスト信号への置換を、自動又は手動に切り替える切り替えスイッチ（３４）をさらに、備え、前記切り替えスイッチが自動のとき、前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されると、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの連続信号を前記テスト信号に置換し、前記切り替えスイッチが手動のとき、前記セレクタ回路は、前記動作指示信号が入力されても、各レーンから連続信号を出力する構成とすることができる。
被測定対象となる高速データ伝送路によっては、いずれかのレーンにスキューが生じていると誤り検出回路の検出する誤り率が一定値を超える場合もあるし、いずれのレーンにスキューが生じていなくても誤り率が一定値を超える場合もある。そこで、被測定対象が前者の場合には切り替えスイッチを自動にし、被測定対象が後者の場合には切り替えスイッチを手動にする。これにより、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号による伝送路の品質評価を適切に行うことができる。
【００１８】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号による伝送路の品質評価を可能にするデスキュー回路及びエラー測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施形態１に係るエラー測定装置の一例を示す。
【図２】連続信号の一例であり、（ａ）は連続信号発生回路からの連続信号を示し、（ｂ）はシリアルパラレル変換回路からのパラレル信号を示す。
【図３】デスキュー回路の入出力信号の一例であり、（ａ）はテスト信号挿入部の各レーンに入力される信号を示し、（ｂ）はテスト信号挿入部のレーン番号＃０から出力される信号を示し、（ｃ）はテスト信号挿入部のレーン番号＃１から出力される信号を示し、（ｄ）はテスト信号挿入部のレーン番号＃９から出力される信号を示す。
【図４】テスト信号挿入部及び信号発生部の一例を示す。
【図５】テスト信号の一例を示す。
【図６】スキュー補正部及び誤り検出部の一例を示す。
【図７】スキュー補正回路の動作の一例であり、（ａ）は絶対的な基準時点を示し、（ｂ）はレーン番号＃０の検出時点を示し、（ｃ）はレーン番号＃１の検出時点を示し、（ｄ）はレーン番号＃９の検出時点を示す。
【図８】実施形態１において被測定対象がパラレル信号を伝送する場合の構成例を示す。
【図９】実施形態２に係るエラー測定装置の一例を示す。
【図１０】実施形態２に係る信号発生部の別形態を示す。
【図１１】実施形態２において被測定対象がパラレル信号を伝送する場合の構成例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２２】
（実施形態１）
本実施形態では、本発明に係るデスキュー回路とこれを備えるエラー測定装置について説明する。図１に、本実施形態に係るエラー測定装置の一例を示す。本実施形態に係るエラー測定装置１０１は、デスキュー回路１００と、信号発生部１１と、誤り検出部１４と、を備える。さらに、デスキュー回路１００は、テスト信号挿入部１２と、スキュー補正部１３と、を備える。
【００２３】
エラー測定装置１０１は、被測定対象９１で生じるスキューを検出して補正する。この間、エラー測定装置１０１は、ディスプレイにスキューの補正中である旨を出力する。そして、スキューの補正が完了すると、エラー測定装置１０１は、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号を用いて被測定対象９１の評価を行う。
【００２４】
図１に示す信号発生部１１は、複数列の連続信号を発生してデスキュー回路１００の各レーンに出力する。例えば、連続信号発生回路２１と、シリアルパラレル変換回路２２と、を備える。図２は、連続信号の一例であり、（ａ）は連続信号発生回路２１からの連続信号を示し、（ｂ）はシリアルパラレル変換回路２２からのパラレル信号を示す。連続信号発生回路２１は、５１２ｂｉｔの連続信号を発生する。そして、シリアルパラレル変換回路２２は、５１２ｂｉｔの連続信号を１２８ｂｉｔごとに分離し、１０列のパラレル信号に変換する。
【００２５】
ここで、連続信号は、ＰＲＢＳ信号などのスキューを検出して補正する機能をもたない信号である。連続信号は、ＰＲＢＳ信号に限らず、ユーザ定義の信号であってもよい。また、本実施形態では、信号発生部１１が、レーン番号＃０、レーン番号＃１、・・・レーン番号＃９の１０列の連続信号を発生する場合について説明するが、これに限られない。
【００２６】
図１に示すテスト信号挿入部１２は、入力された連続信号に代えてテスト信号を被測定対象９１に出力する。テスト信号は、信号発生部１１からの連続信号のフレーム長ＦＬと同じ予め定められたフレーム長ＦＬを有する。例えば、連続信号が１２８ｂｉｔであれば、テスト信号も１２８ｂｉｔとなる。被測定対象９１は、入力された連続信号を伝送し、デスキュー回路１００の各レーンに出力する。
【００２７】
図３は、デスキュー回路１００の入出力信号の一例であり、（ａ）はテスト信号挿入部１２の各レーンに入力される信号を示し、（ｂ）はテスト信号挿入部１２のレーン番号＃０から出力される信号を示し、（ｃ）はテスト信号挿入部１２のレーン番号＃１から出力される信号を示し、（ｄ）はテスト信号挿入部１２のレーン番号＃９から出力される信号を示す。
【００２８】
デスキュー回路１００には、図３（ａ）に示すように、フレームの順番を示すシーケンス番号の順に、連続信号Ｐ１、連続信号Ｐ２、連続信号Ｐ３、連続信号Ｐ４及び連続信号Ｐ５が順に入力される。ここで、各レーンの連続信号Ｐ１は、被測定対象９１でシリアル信号に変換されることを考慮して、それぞれ異なる符号列とする。その他の連続信号についても同様である。
【００２９】
デスキュー回路のレーン番号＃０から出力される信号は、図３（ｂ）に示すように、シーケンス番号２のフレームがテスト信号Ｔ２になっている。デスキュー回路のレーン番号＃１から出力される信号は、図３（ｃ）に示すように、シーケンス番号２のフレームがテスト信号Ｔ２になっている。デスキュー回路１００のレーン番号＃９から出力される信号は、図３（ｄ）に示すように、シーケンス番号４のフレームがテスト信号Ｔ４になっている。
【００３０】
スキュー補正部１３は、各レーンの連続信号に発生するスキューを検出して補正する。例えばレーン番号＃０、レーン番号＃１及びレーン番号＃９のレーンから出力されたテスト信号を用いてスキューを検出する。この検出結果に基づいて、レーン番号＃０、レーン番号＃１及びレーン番号＃９のレーンにおけるスキューを補正する。
【００３１】
スキュー補正部１３は、各レーンのスキューの補正が完了すると、切り替え停止を指示するロック信号をテスト信号挿入部１２に出力する。この場合、テスト信号挿入部１２は、ロック信号が入力されると、テスト信号への置換を停止し、各レーンから連続信号を出力する。各レーンのスキューの補正が完了しているので、スキュー補正部１３は、スキューが補正されている連続信号を誤り検出部１４に出力することができる。
【００３２】
誤り検出部１４は、デスキュー回路１００からの出力信号に含まれる誤りを検出する。例えば、誤り検出部１４は、スキュー補正部１３の出力する信号が連続信号発生回路２１の発生する連続信号と一致するか否かを判定する。このとき、誤り検出部１４は、スキューが補正されている連続信号を取得することができる。これにより、スキューを検出して補正する機能をもたない連続信号による被測定対象９１の品質評価を行うことができる。
【００３３】
誤り検出部１４は、検出する誤り率が一定値を超えたときに動作指示信号をテスト信号挿入部１２に出力する。動作指示信号が入力されると、デスキュー回路１００は、スキューの検出及び補正を開始する。ここで、一定値は、スキューが発生した場合に生じる誤り率である。スキューの検出及び補正の開始を行う場合、テスト信号挿入部１２は、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの連続信号をテスト信号に置換する。これにより、スキュー補正部１３における補正値でスキューを補正しきれなくなったときに、スキューの検出及び補正を再度行うことができる。
【００３４】
次に、デスキュー回路１００の詳細について説明する。
図４に、テスト信号挿入部１２及び信号発生部１１の一例を示す。テスト信号挿入部１２は、テスト信号発生回路３１と、セレクタ回路３２と、タイミングジェネレータ３３と、切り替えスイッチ３４と、を備える。
【００３５】
テスト信号発生回路３１は、テスト信号を生成する。各レーンのテスト信号は、シーケンス番号が同一であってもよいし、異なってもよい。例えば、テスト信号発生回路３１は、シーケンス番号２のテスト信号をレーン番号＃０及びレーン番号＃１について生成し、シーケンス番号４のテスト信号をレーン番号＃９について生成する。このように、テスト信号発生回路３１は、テスト信号を複数のレーン番号について生成してもよい。また、テスト信号のシーケンス番号がそれぞれ異なってもよい。
【００３６】
セレクタ回路３２は、連続信号が各レーンに入力されるとともにテスト信号発生回路３１からテスト信号が入力され、テスト信号に付されているレーン番号の連続信号をテスト信号に置換し、各レーンから連続信号又はテスト信号を出力する。例えば、レーン番号＃０及びレーン番号＃１からシーケンス番号２の連続信号を出力する際、セレクタ回路３２は、レーン番号＃０及びレーン番号＃１の連続信号をテスト信号に置換する。このとき、セレクタ回路３２は、タイミングジェネレータ３３の出力信号のタイミングに従い、シーケンス番号２の連続信号をテスト信号に置換する。
【００３７】
図５に、テスト信号の一例を示す。テスト信号は、予め定められた特定符号列、第１のビット列、レーン番号、第２のビット列、シーケンス番号を順に含む。予め定められた特定符号列は、テスト信号であることを識別可能な符号列である。レーン番号は、特定符号列の第１のビット列後に付されている。第１のビット列は任意に設定することができ、例えば、レーン番号を特定符号列の直後に付してもよい。シーケンス番号は、同一レーン内でのフレームの順番を示し、レーン番号の第２のビット列後に付されている。第２のビット列は任意に設定することができ、例えば、シーケンス番号をレーン番号の直後に付してもよい。
【００３８】
切り替えスイッチ３４は、セレクタ回路３２における連続信号からテスト信号への置換を、自動又は手動に切り替える。切り替えスイッチ３４が自動のとき、セレクタ回路３２は、動作指示信号が入力されると、入力される連続信号のうちの少なくとも１つのレーンの連続信号をテスト信号に置換し、テスト信号を送出する。一方、切り替えスイッチ３４が手動のとき、セレクタ回路３２は、動作指示信号が入力されても、各レーンから連続信号を出力し続ける。これにより、誤り検出回路２３で検出する誤り率が任意に設定した一定値による試験と、誤り検出回路２３で検出する誤り率に関わらない試験を行うことができる。
【００３９】
図６に、スキュー補正部１３及び誤り検出部１４の一例を示す。スキュー補正部１３は、テスト信号検出回路３５と、スキュー補正回路３６と、を備える。テスト信号検出回路３５は、特定符号列を検出して特定符号列の一定ビット後に付されているレーン番号及びレーン番号の検出時点を出力する。テスト信号にシーケンス番号が付されている場合には、テスト信号検出回路３５は、レーン番号及びレーン番号の検出時点とともに、シーケンス番号も出力する。
【００４０】
例えば、レーン番号＃０のテスト信号を検出した場合、レーン番号＃０の検出時点でフラグＦ０を出力するとともに、レーン番号＃０及びシーケンス番号２を出力する。レーン番号＃１のテスト信号を検出した場合、レーン番号＃１の検出時点でフラグＦ１を出力するとともに、レーン番号＃１及びシーケンス番号２を出力する。レーン番号＃９のテスト信号を検出した場合、レーン番号＃９の検出時点でフラグＦ９を出力するとともに、レーン番号＃９及びシーケンス番号４を出力する。
【００４１】
スキュー補正回路３６は、テスト信号検出回路３５からの検出時点を予め定められた時点と比較することでレーン番号のレーンにおけるスキューを検出して補正する。図７は、スキュー補正回路の動作の一例であり、（ａ）は絶対的な基準時点を示し、（ｂ）はレーン番号＃０の検出時点を示し、（ｃ）はレーン番号＃１の検出時点を示し、（ｄ）はレーン番号＃９の検出時点を示す。
【００４２】
予め定められた時点は、例えば、テスト信号検出回路３５の出力する他のレーン番号の検出時点である。この場合、フラグＦ０の出力時点とフラグＦ１の出力時点とを比較して、フラグＦ０とフラグＦ１の時間差Ｓ１Ｒを検出する。これにより、レーン番号＃０とレーン番号＃１との間のスキューを補正することができる。同様に、補正されたレーン番号＃１と補正前のレーン番号＃２を比較し、補正されたレーン番号＃２と補正前のレーン番号＃３を比較し、・・・補正されたレーン番号＃８と補正前のレーン番号＃９を比較し、それぞれ補正を行っていく。これにより、各レーンのスキューを補正することができる。
【００４３】
レーン番号＃０とレーン番号＃１とのスキューの補正では、共通のシーケンス番号２であったが、テスト信号のシーケンス番号は異なってもよい。例えば、フラグＦ０の出力時点とフラグＦ９の出力時点とを比較してもよい。この場合、スキュー補正回路３６は、予め定められたフラグＦ０の時点によって定まる基準番号２とテスト信号検出回路３５の出力するシーケンス番号４との差を算出する。そして、予め定められたフラグＦ０の時点とテスト信号検出回路３５の出力するレーン番号＃９のフラグＦ９の検出時点との時間差Ｓ９Ｒを、基準番号２とシーケンス番号４との差のフレーム長（２ＦＬ）に相当する時間だけ短縮する。これにより、レーン番号＃０とレーン番号＃９との間のスキューを補正することができる。
【００４４】
レーン番号＃０とレーン番号＃１とのスキューの補正では、予め定められた時点が相対的な時点であったが、予め定められた時点は絶対的な時点であってもよい。例えば、予め定められた時点は、各レーンに生じる最大の時間差以上の絶対的な基準時点である。この場合、絶対的な基準時点でフラグＦＡ２、フラグＦＡ３、フラグＦＡ４を出力する。絶対的な基準時点は、フレームのシーケンス番号ごとに規定する。例えば、フラグＦＡ２、フラグＦＡ３及びフラグＦＡ４は間隔ＬＡで繰返し、フラグＦＡ２はテスト信号のシーケンス番号２に対応し、フラグＦＡ３はテスト信号のシーケンス番号３に対応し、フラグＦＡ４はテスト信号のシーケンス番号４に対応する。フラグＦ０とフラグＦＡ２との時間差Ｓ０Ａを検出することで、レーン番号＃０のスキューを補正する。フラグＦ１とフラグＦＡ２との時間差Ｓ１Ａを検出することで、レーン番号＃１のスキューを補正する。フラグＦ９とフラグＦＡ４との時間差Ｓ９Ａを検出することで、レーン番号＃１のスキューを補正する。これにより、レーン番号＃０とレーン番号＃９との間のスキューを補正することができる。
【００４５】
なお、図１では、被測定対象９１がパラレル信号をシリアル信号に変換して伝送する例を示したが、これに限定されない。被測定対象９１がパラレル信号のまま伝送する場合であってもスキューは生じるため、本実施形態に係るエラー測定装置１０１を用いることができる。
【００４６】
図８に、被測定対象がパラレル信号を伝送する場合の構成例を示す。被測定対象９２は、テスト信号挿入部１２から出力されたパラレル信号を、パラレル信号のまま伝送する。本実施形態に係るエラー測定装置１０１は、レーン番号が付されたテスト信号を各レーンから出力する。このため、スキュー補正部１３に入力されたテスト信号のレーン番号と被測定対象９２の出力ポートとを照合することで、被測定対象９２の入力ポートと出力ポートの対応関係を容易に把握することができる。したがって、被測定対象９２の入力ポート及び出力ポートの数が多い場合であっても、被測定対象９２と容易に接続することができる。
【００４７】
（実施形態２）
図９に、本実施形態に係るエラー測定装置の一例を示す。本実施形態に係るエラー測定装置１０２は、図１に示すエラー測定装置１０１と、信号発生部１１及び誤り検出部１４において異なる。具体的には、図１に示す信号発生部１１は、連続信号発生回路２１及びシリアルパラレル変換回路２２を用いて複数列の連続信号を発生していたが、本実施形態に係る信号発生部１１は、連続信号発生回路２１−０、連続信号発生回路２１−１、・・・連続信号発生回路２１−９を備える。また、誤り検出部１４は、誤り検出回路２３−０、誤り検出回路２３−１、・・・誤り検出回路２３−９を備える。
【００４８】
連続信号発生回路２１−０、連続信号発生回路２１−１、・・・連続信号発生回路２１−９は、それぞれ、レーンごとに別個の連続信号発生回路を用いて、受信側のクロック・データ・リカバリができるような連続信号を発生する。誤り検出回路２３−０は、対応する連続信号発生回路２１−０の発生する連続信号と一致するか否かを判定する。誤り検出回路２３−１、・・・誤り検出回路２３−９も同様である。
【００４９】
このとき、スキュー補正部１３がスキューを補正するため、誤り検出回路２３−０には連続信号発生回路２１−０の発生した連続信号が入力され、誤り検出回路２３−１には連続信号発生回路２１−１の発生した連続信号が入力され、・・・誤り検出回路２３−９には連続信号発生回路２１−９の発生した連続信号が入力される。これにより、誤り検出回路２３−０、誤り検出回路２３−１、・・・誤り検出回路２３−９は、それぞれ、対応する連続信号発生回路の発生する連続信号と一致するか否かを判定することができる。
【００５０】
図１０に、信号発生部１１の別形態を示す。図９では１０レーンの連続信号に対し、１０台の連続信号発生回路及び誤り検出回路を用いたが、図１０に示すように、２０台の連続信号発生回路及び誤り検出回路を用いてもよい。この場合、連続信号発生回路２１−０は、連続信号発生回路２１−０−１と、連続信号発生回路２１−０−２と、Ｍｕｘ２５−０と、を備える。Ｍｕｘ２５−０は、連続信号発生回路２１−０−１からの連続信号と、連続信号発生回路２１−０−２からの連続信号を多重化して出力する。これにより、連続信号発生回路２１−０は、低速な連続信号発生回路２１−０−１及び連続信号発生回路２１−０−２を用いて高速な連続信号を発生させることができる。
【００５１】
誤り検出回路２３−０は、誤り検出回路２３−０−１と、誤り検出回路２３−０−２と、ＤｅＭｕｘ２６−０を備える。ＤｅＭｕｘ２６−０は、スキュー補正部１３からレーン番号＃０に出力された信号を分離し、誤り検出回路２３−０−１と誤り検出回路２３−０−２に出力する。これにより、誤り検出回路２３−０は、低速な誤り検出回路２３−０−１と誤り検出回路２３−０−２を用いて高速な連続信号の誤り検出を行うことができる。
【００５２】
図１１に、被測定対象がパラレル信号を伝送する場合の構成例を示す。被測定対象９２は、テスト信号挿入部１２から出力されたパラレル信号を、パラレル信号のまま伝送する。本実施形態に係るエラー測定装置１０２は、レーン番号が付されたテスト信号を各レーンから出力する。このため、スキュー補正部１３に入力されたテスト信号のレーン番号と被測定対象９２の出力ポートとを照合することで、被測定対象９２の入力ポートと出力ポートの対応関係を容易に把握することができる。したがって、被測定対象９２の入力ポート及び出力ポートの数が多い場合であっても、被測定対象９２と容易に接続することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
本発明はスキューを発生するような高速データ伝送路の試験に用いることができるため、情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００５４】
１１：信号発生部
１２：テスト信号挿入部
１３：スキュー補正部
１４：誤り検出部
２１、２１−０、２１−１、２１−９、２１−０−１、２１−０−２、２１−９−１、２１−９−２、：連続信号発生回路
２２：シリアルパラレル変換回路
２３、２３−０、２３−１、２３−９、２３−０−１、２３−０−２、２３−９−１、２３−９−２：誤り検出回路
２４：パラレルシリアル変換回路
２５−０、２５−９：Ｍｕｘ
２６−０、２６−９：ＤｅＭｕｘ
３１：テスト信号発生回路
３２：セレクタ回路
３３：タイミングジェネレータ
３４：切り替えスイッチ
３５：テスト信号検出回路
３６：スキュー補正回路
８１：多重化部
８２：ＥＯ変換部
８３：ＯＥ変換部
８４：分離部
９１、９２：被測定対象
１００：デスキュー回路
１０１、１０２：エラー測定装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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