(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の試験命令を格納する命令格納テーブル及び命令列パタンを格納する命令列パタン格納テーブルと、
前記命令格納テーブルに含まれる個々の前記試験命令と、前記命令列パタン格納テーブルに含まれる前記命令列パタンを選択することを示す選択識別子とを要素として含む試験命令テーブルを生成する試験命令テーブル生成手段と、
前記試験命令テーブルに含まれる前記要素をランダムに選択する選択手段と、
ａ）前記選択手段が前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン格納テーブルから前記命令列パタンを選択して記憶域に出力し、ｂ）前記選択手段が前記試験命令を選択した場合には当該試験命令を前記記憶域に出力する命令列パタン選択手段と、
前記命令列パタン選択手段が前記記憶域に出力した所定数以上の前記試験命令と前記命令列パタンの命令から情報処理装置の試験手順を生成するプログラム生成手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置の試験装置。
【請求項２】
前記命令列パタン選択手段は、前記選択手段が前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン格納テーブルに含まれる命令列パタン数Ｍを法とする乱数ｍを発生させ、前記命令列パタン格納テーブルに格納されているｍ番目の前記命令列パタンを選択することを特徴とする請求項１に記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項３】
前記選択手段は、前記試験命令テーブルに含まれる試験命令数Ｎを法とする乱数ｎを発生させ、前記試験命令テーブルに格納されているｎ番目の要素を選択することを特徴とする請求項１から請求項２の何れかに記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項４】
前記プログラム生成手段は、前記試験手順に含まれる前記試験命令と前記命令列パタンの数と、所定の閾値を比較し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値未満の場合は、前記試験手順の生成を継続し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値以上の場合は、試験終了通知命令を試験手順に加え、試験手順の生成を終了することを特徴とする請求項１から請求項３の何れかに記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項５】
前記試験手順を実行する実行手段を含み、
前記実行手段は、前記試験終了通知命令を実行するまで前記試験手順を実行することを特徴とする請求項４に記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項６】
前記実行手段は、試験対象である情報処理装置の先行制御を有効又は無効にした状態で前記試験手順を実行することを特徴とする請求項５に記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項７】
前記実行手段が実行した前記試験手順の実行結果を判定する実行結果判定手段を含み、
前記実行結果判定手段が、情報処理装置の先行制御を有効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果と、情報処理装置の先行制御を無効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果とが一致するかを判定し、当該２つの実行結果が一致しない場合は、エラーを出力することを特徴とする請求項６に記載の情報処理装置の試験装置。
【請求項８】
試験命令テーブル生成手段が、複数の試験命令を格納する命令格納テーブルに含まれる個々の前記試験命令と、命令列パタンを格納する命令列パタン格納テーブルに含まれる前記命令列パタンを選択することを示す選択識別子とを要素として含む試験命令テーブルを生成するステップと、
選択手段が、前記試験命令テーブルに含まれる前記要素をランダムに選択するステップと、
命令列パタン選択手段が、ａ）前記選択手段が前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン格納テーブルから前記命令列パタンを選択して記憶域に出力し、ｂ）前記選択手段が前記試験命令を選択した場合には当該試験命令を前記記憶域に出力するステップと、
プログラム生成手段が、前記命令列パタン選択手段が前記記憶域に出力した所定数以上の前記試験命令と前記命令列パタンの命令から情報処理装置の試験手順を生成するステップとを含むことを特徴とする試験方法。
【請求項９】
前記命令列パタン選択手段は、前記選択手段が前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン格納テーブルに含まれる命令列パタン数Ｍを法とする乱数ｍを発生させ、前記命令列パタン格納テーブルに格納されているｍ番目の前記命令列パタンを選択することを特徴とする請求項８に記載の試験方法。
【請求項１０】
前記選択手段は、前記試験命令テーブルに含まれる試験命令数Ｎを法とする乱数ｎを発生させ、前記試験命令テーブルに格納されているｎ番目の要素を選択することを特徴とする請求項８から請求項９の何れかに記載の試験方法。
【請求項１１】
前記プログラム生成手段は、前記試験手順に含まれる前記試験命令と前記命令列パタンの数と、所定の閾値を比較し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値未満の場合は、前記試験手順の生成を継続し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値以上の場合は、試験終了通知命令を試験手順に加え、試験手順の生成を終了することを特徴とする請求項８から請求項１０の何れかに記載の試験方法。
【請求項１２】
前記試験手順を実行する実行手段は、前記試験終了通知命令を実行するまで前記試験手順を実行することを特徴とする請求項１１に記載の試験方法。
【請求項１３】
前記実行手段は、試験対象である情報処理装置の先行制御を有効又は無効にした状態で前記試験手順を実行することを特徴とする請求項１２に記載の試験方法。
【請求項１４】
実行結果判定手段が、前記実行手段が実行した前記試験手順の実行結果を判定するステップを含み、
前記実行結果を判定するステップで、情報処理装置の先行制御を有効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果と、情報処理装置の先行制御を無効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果とが一致するかを判定し、当該２つの実行結果が一致しない場合は、エラーを出力することを特徴とする請求項1３に記載の試験方法。
【請求項１５】
複数の試験命令を格納する命令格納テーブルに含まれる個々の前記試験命令と、命令列パタンを格納する命令列パタン格納テーブルに含まれる前記命令列パタンを選択することを示す選択識別子とを要素として含む試験命令テーブルを生成する試験命令テーブル生成処理と、
前記試験命令テーブルに含まれる前記要素をランダムに選択する選択処理と、
ａ）前記選択処理で前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン格納テーブルから前記命令列パタンを選択して記憶域に出力し、ｂ）前記選択手段が前記試験命令を選択した場合には当該試験命令を前記記憶域に出力する命令列パタン選択処理と、
前記命令列パタン選択処理で前記記憶域に出力した所定数以上の前記試験命令と前記命令列パタンの命令から情報処理装置の試験手順を生成するプログラム生成処理を試験処理装置に実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１６】
前記選択処理で前記選択識別子を選択した場合に、前記命令列パタン選択処理で、前記命令列パタン格納テーブルに含まれる命令列パタン数Ｍを法とする乱数ｍを発生させ、前記命令列パタン格納テーブルに格納されているｍ番目の前記命令列パタンを選択することを特徴とする請求項１５に記載のプログラム。
【請求項１７】
前記選択処理で、前記試験命令テーブルに含まれる試験命令数Ｎを法とする乱数ｎを発生させ、前期試験命令テーブルに格納されているｎ番目の要素を選択することを特徴とする請求項１５から請求項１６の何れかに記載のプログラム。
【請求項１８】
前記プログラム生成処理で、手段は、前記試験手順に含まれる前記試験命令と前記命令列パタンの数と、所定の閾値を比較し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値未満の場合は、前記試験手順の生成を継続し、前記試験命令と前記命令列パタンの数が前記閾値以上の場合は、試験終了通知命令を試験手順に加え、試験手順の生成を終了することを特徴とする請求項１５から請求項１７の何れかに記載のプログラム。
【請求項１９】
前記試験手順を実行する実行処理で、前記試験終了通知命令を実行するまで前記試験手順を実行することを特徴とする請求項１８に記載のプログラム。
【請求項２０】
前記実行処理で、試験対象である情報処理装置の先行制御を有効又は無効にした状態で前記試験手順を実行することを特徴とする請求項１９に記載のプログラム。
【請求項２１】
前記実行処理で実行した前記試験手順の実行結果を判定する実行結果判定処理を含み、
前記実行結果判定処理で、情報処理装置の先行制御を有効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果と、情報処理装置の先行制御を無効にした状態で実行した前記試験手順の前記実行結果とが一致するかを判定し、当該２つの実行結果が一致しない場合は、エラーを出力することを特徴とする請求項２０に記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置の試験に関し、特に乱数を使用しランダムに生成した試験データ及び試験命令列を用いて試験を行う情報処理装置の試験装置、情報処理装置の試験装置による試験方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
これまで、情報処理装置の試験としては、乱数を使用しランダムに生成された試験データ及び試験命令列から構成されるランダム試験プログラムを用いる方法が広く採用されてきた。該方法においては、全ての試験対象命令の中からある特定の命令をランダムに抽出していくことで、試験命令列パタンを順次生成していく。
【０００３】
このため、試験対象命令の数が数百を超える規模になると、試験命令列パタンの組合せは膨大なものになる。そのため、実際のユーザアプリケーションで実行される命令列パタンや、装置設計者が期待する命令列パタンが、限られた試験時間において必ずしも生成されず、試験内容として十分な結果にならない可能性があるという問題があった。
【０００４】
このような情報処理試験方法の一例が、特許文献１や特許文献２に開示されている。図１３に示すように、特許文献１に開示の関連技術では、ランダム試験プログラム９３０を生成するランダム試験タスク９２０が、抑止命令指定手段９２１と、ランダム試験プログラム生成手段９２４と、試験命令実行手段９２５と、実行結果判定手段９２６とを含み、抑止命令指定手段９２１で試験対象命令から除外する命令を指定し、ランダム試験プログラム生成手段９２４は除外された試験対象命令以外の命令でランダム試験手順を生成している。
【０００５】
しかし、特許文献１に開示の関連技術は、特定の命令を除外したランダム試験プログラムの生成は可能になっているが、上述したように、実際のユーザアプリケーションで実行される命令列パタンや、または装置設計者が期待する命令列パタンを限られた試験時間において必ずしも生成できないという問題があった。
【０００６】
この問題を解決するため、試験命令列のパタンは予め作成しておき、試験データをランダムに発生させて試験を行おう関連技術が、例えば特許文献２に開示されている。
【０００７】
特許文献２に開示の関連技術では、信号処理を行うプロセッサをオペコードとオペランドとを用いてテストする際に、オペコードを蓄積したテーブルデータから順次フェッチし、乱数発生手段によってオペランドをランダムに発生させ、テーブルデータから得たオペコードと乱数発生したオペランドとの組合せによって、機能検査を実施している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開昭６２−１００８４６号公報
【特許文献２】特開２００３−１１４２５９号公報
【特許文献３】特開２００９−０１５６０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、特許文献２に開示の関連技術は、予め作成したオペコードについて試験を実施するのみであるため、あらゆる命令パタンを想定した試験は実施できないという問題があった。
【００１０】
また、ランダム試験プログラムを用いた情報処理装置試験方法では、全ての試験対象命令の中から、ある特定の命令をランダムに抽出していくことで試験命令列パタンを順次生成していくことが好ましいため、引用文献１と引用文献２に開示の関連技術を組み合わせても、試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンをランダムに混在させることが出来ないという問題があった。
【００１１】
（発明の目的）
本発明の目的は、上述した課題を解決し、試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンとをランダムに混在させて試験を行うことを可能にする情報処理装置の試験装置、情報処理装置の試験装置による試験方法及びプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の第１の情報処理装置の試験装置は、ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段  を備える。
【００１３】
本発明の第１の情報処理装置の試験方法は、ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置による試験方法であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成ステップと、生成した試験プログラムを実行して情報処理装置の試験を行う実行ステップとを含む。
【００１４】
本発明の第１のプログラムは、ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置上で動作するプログラムであって、試験装置に、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成処理と、生成した試験プログラムを実行して情報処理装置の試験を行う実行処理とを、実行させる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、試験対象命令からランダムに選択された個別命令と、予め生成した試験対象命令から構成される命令列パタンをランダムに混在させて試験を行うができ、これにより、信頼性の高い試験を行うことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１の実施の形態による情報処理装置試験システムの構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施の形態による個別命令格納テーブルの構成例を示す図である。
【図３】第１の実施の形態による命令列パタン格納テーブルの構成例を示す図である。
【図４】第１の実施の形態による試験命令テーブルの構成例を示す図である。
【図５】第１の実施の形態によるランダム試験手順の内容例を示す図である。
【図６】第１の実施の形態による試験装置の動作を示す流れ図である。
【図７】第１の実施の形態によるランダム試験手順の生成の動作を示す流れ図である。
【図８】第１の実施の形態によるランダム試験プログラムの実行の動作を示す流れ図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態による情報処理装置試験システムの構成を示すブロック図である。
【図１０】第２の実施の形態による試験命令テーブルの構成例を示す図である。
【図１１】第２の実施の形態によるランダム試験手順の生成の動作を示す流れ図である。
【図１２】本発明の試験装置のハードウェア構成例を示すブロック図である。
【図１３】背景技術のシステム構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
次に、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１８】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態による情報処理装置試験システムの構成を示す図である。図１を参照すると、本実施の形態の試験システム１００は、試験装置１０と、被試験情報処理装置２０とを備える。
【００１９】
被試験情報処理装置２０は、試験装置１０によって試験が行われる情報処理装置であり、試験装置１０に接続されている。
【００２０】
試験装置１０は、ランダム試験プログラム１２３の生成及び被試験情報処理装置２０の試験を行う処理部１１０と、データを格納するメモリ部１２０とを備える。
【００２１】
メモリ部１２０は、個別命令格納テーブル１２１、命令列パタン格納テーブル１２２、ランダム試験プログラム１２３を格納する。本実施の形態では、メモリ部１２０は試験装置１０の中に備えているが、別途外部記憶装置を設けてもよい。その場合、個別命令格納テーブル１２１、命令列パタン格納テーブル１２２、ランダム試験プログラム１２３は、試験装置内、及び外部記憶装置の何れに格納されてもよい。
【００２２】
個別命令格納テーブル１２１は、試験対象命令である個別命令を格納するテーブルである。また、命令列パタン格納テーブル１２２は、複数の個別命令を組み合わせて構成される命令列パタンを格納するテーブルである。命令列パタンは、実際のユーザアプリケーションで実行される命令列パタンや、または装置設計者が期待する命令列パタン等が設定されている。個別命令格納テーブル１２１の構成例を図２に、命令列パタン格納テーブルの構成例を図３にそれぞれ示す。
【００２３】
ランダム試験プログラム１２３は、処理部１１０で生成される試験プログラムであるって、後述するランダム試験手順１０４とランダム試験データ１０５から構成される。
【００２４】
処理部１１０は、試験命令テーブル生成手段１１１、試験命令選択手段１１２、命令列パタン選択手段１１３、ランダム試験プログラム生成手段１１４、試験命令実行手段１１５、実行結果判定手段１１６を含む。
【００２５】
試験命令テーブル生成手段１１１は、個別格納テーブル１２１に含まれる所定数の個別命令に、１以上の命令列パタン選択識別子を加えた試験命令テーブル１０１を生成する機能を有する。図４に試験命令テーブル１０１の構成例を示す。なお、命令列パタン選択識別子は、後述する命令列パタン選択手段１１３が命令列パタン格納テーブル１２２に格納されている命令列パタンを選択する動作を行うトリガとなる識別子である。また、試験命令テーブル１０１に格納されている個別命令及び命令列パタン選択識別子を以後試験命令と呼ぶ。
【００２６】
試験命令選択手段１１２は、試験命令テーブル生成手段１１１が生成した試験命令テーブル１０１の中から、乱数を使用してランダムに試験命令を選択する機能を有する。試験命令選択手段１１２は、試験命令テーブル１０１に格納されている試験命令数Ｎを法とする乱数ｎを発生させ、試験命令テーブル１０１に格納されているｎ番目の試験命令を、該試験命令テーブル１０１から選択する。
【００２７】
命令列パタン選択手段１１３は、試験命令選択手段１１２が選択した試験命令が命令列パタン選択識別子であった場合に、命令列パタン格納テーブル１２２の中から、乱数を使用してランダムに命令列パタンを選択する機能を有する。命令列パタン選択手段１１３は、命令列パタン格納テーブル１２２に格納されている命令列パタン数Ｍを法とする乱数ｍを発生させ、命令列パタン格納テーブル１２２に格納されているｍ番目の命令列パタンを、命令列パタン格納テーブル１２２から選択する。
【００２８】
ランダム試験プログラム生成手段１１４は、試験命令選択手段１１２が選択した試験命令（個別命令又は命令列パタン選択手段１１３が選択した命令列パタン）を元に、図５に構成例を示したようなランダム試験手順１０４を生成する機能を有する。
【００２９】
また、ランダム試験プログラム生成手段１１４は、ランダム試験手順１０４が使用するランダム試験データ１０５を、乱数を用いて生成する機能を有する。ランダム試験プログラム生成手段１１４は、例えば時刻等を元に、あるアルゴリズムで生成した乱数データを生成し、該乱数データを試験データとすることを想定しているが、これに限定されない。
【００３０】
試験命令実行手段１１５は、ランダム試験プログラム生成手段１１４が生成したランダム試験手順１０４とランダム試験データ１０５から構成されるランダム試験プログラム１２３を実行する機能を有する。試験命令実行手段１１５は、被試験情報処理装置２０の先行制御を有効にした状態でランダム試験プログラム１２３を実行する機能と、被試験情報処理装置２０の先行制御を無効にした状態でランダム試験プログラム１２３を実行する機能、及びそれぞれの実行結果を試験装置１０上のワークエリアに格納する機能を有する。なお、実行結果の格納先はワークエリアに限定されるものではなく、例えばメモリ部１２０や外部記憶装置を備えるときは、該外部記憶装置を格納先としてもよい。また、先行制御を無効する方法としては、ランダム試験手順１０４の各命令を実行毎に割り込みを発生させることを想定しているが、これに限定されない。
【００３１】
実行結果判定手段１１６は、試験命令実行手段１１５がワークエリアに格納した実行結果を参照し、該実行結果にエラーが発生しているかどうかの判定を行う機能を有する。実行結果判定手段１１６は、被試験情報処理装置２０の先行制御を有効・無効にした２つの状態においての実行結果を比較し、該２つの実行結果が一致するか判定し、２つの実行結果が一致しない場合は、比較エラーを検出したことを出力する。該出力は、ランダム試験プログラム１２３及びワークエリアに格納したランダム試験プログラム１２３の実行結果を、エラー情報としてメモリ部１２０に格納される。ただし、該出力の格納先はこれに限定されず、例えば外部記憶装置を備えるときは、該外部記憶装置を格納先としても良い。
【００３２】
（第１の実施の形態の動作の説明）
次に、図面を参照して、本実施の形態の動作について詳細に説明する。
【００３３】
試験装置１０の動作について、図６を用いて説明する。図６は、本実施の形態における試験装置１０の動作を示した流れ図である。
【００３４】
試験装置１０は、まず、個別命令格納テーブル１２１と命令列パタン格納テーブル１２２から試験命令テーブル１０１を生成し（ステップＳ６０１）、該試験命令テーブル１０１からランダム試験手順１０４を生成する（ステップＳ６０２）。
【００３５】
ここで、ステップＳ６０２の動作の詳細を、図７を用いて説明する。図７は、ランダム試験手順１０４の生成の動作を示した流れ図である。
【００３６】
ランダム試験手順１０４の生成では、まず、試験命令選択手段１１２が、試験命令テーブル生成手段１１１が生成した試験命令テーブル１０１の中から、乱数を使用してランダムに試験命令を選択する。具体的には、試験命令選択手段１１２は、まず、試験命令テーブル１０１に格納されている試験命令数Ｎを求める（ステップＳ７０１）。
【００３７】
次いで、試験命令選択手段１１２は、Ｎを法とする乱数ｎを発生させ（ステップＳ７０２）、試験命令テーブル１０１に格納されているｎ番目の試験命令を、該試験命令テーブル１０１から選択する（ステップＳ７０３）。なお、試験命令テーブル１０１の一番上を１番目の命令としても、一番下を１番目の命令としてもよい。
【００３８】
次いで、命令列パタン選択手段１１３が、試験命令選択手段１１２が選択した試験命令が命令列パタン選択識別子であるかどうかを確認する（ステップＳ７０４）。
【００３９】
試験命令が命令列パタン選択識別子であった場合（ステップＳ７０４”ＹＥＳ”）、命令列パタン選択手段１１３は、さらに乱数を使い、命令列パタン格納テーブル１２２の中から、命令列パタンをランダムに選択する。具体的には、命令列パタン選択手段１１３は、まず、命令列パタン格納テーブル１２２に格納されている命令列パタン数Ｍを求め、該Ｍを法とする乱数ｍを発生させる（ステップＳ７０５）。次いで、命令列パタン選択手段１１３は、命令列パタン格納テーブル１２２に格納されているｍ番目の命令列パタンを、命令列パタン格納テーブル１２２から選択し、該命令列パタンを、ランダム試験プログラム生成手段１１４へ渡す（ステップＳ７０６）。
【００４０】
試験命令が命令列パタン選択識別子でなかった場合、すなわち試験命令が個別命令であった場合（ステップＳ７０４”ＮＯ”）、命令列パタン選択手段１１３は、該個別命令をランダム試験プログラム生成手段１１４へ渡す（ステップＳ７０７）。
【００４１】
ランダム試験プログラム生成手段１１４は、命令列パタン選択手段１１３から個別命令又は命令列パタンを受け取ると、該個別命令又は命令列パタンをランダム試験手順１０４に格納する（ステップＳ７０８）。
【００４２】
次いで、ランダム試験プログラム生成手段１１４は、ランダム試験手順１０４へ格納されている命令数と、予め設定した閾値とを比較する（ステップＳ７０９）。
【００４３】
ランダム試験プログラム生成手段１１４は、命令数が閾値未満の場合はステップＳ７０２の処理へ戻り（ステップＳ７０９”ＮＯ”）、命令数が閾値以上の場合は試験終了通知命令をランダム試験手順１０４に格納し、処理を終了する（ステップＳ７０９”ＹＥＳ”、ステップＳ７１０）。なお、該閾値は任意で設定可能であり、図５においては、閾値を１００とした場合に生成されたランダム試験プログラムの内容例を示している。
【００４４】
ここで、図６に戻ると、ステップＳ６０２の後、試験装置１０は、ランダム試験データ１０５を生成する（ステップＳ６０３）。
【００４５】
次いで、試験装置１０は、ランダム試験手順１０４とランダム試験データ１０５から構成されるランダム試験プログラム１２３を実行する（ステップＳ６０４）。
【００４６】
ここで、ステップＳ６０４の動作の詳細を、図８を用いて説明する。図８は、ランダム試験プログラム１２３の実行の動作を示した流れ図である。
【００４７】
図８を参照すると、まず、試験命令実行手段１１５が、被試験情報処理装置２０の先行制御を有効にした状態でランダム試験プログラム１２３を実行し（ステップＳ８０１）、該実行結果を試験装置１０上のワークエリアに格納する（ステップＳ８０２）。
【００４８】
次に、試験命令実行手段１１５は、被試験情報処理装置２０の先行制御を無効にした状態でランダム試験手順１０４を実行し（ステップＳ８０３）、該実行結果を同様に試験装置１０上のワークエリアに格納する（ステップＳ８０４）。
【００４９】
ここで、ランダム試験プログラム１２３の実行の具体的な動作を図５で示すランダム試験順の例で説明する。試験命令実行手段１１５は、第１命令から試験終了通知命令までを連続して実行していき、試験終了通知命令を実行すると、試験終了通知命令実行時のソフトウェア可視のレジスタ類と、ランダム試験手順１０４がアクセスしたメモリ領域の内容を、実行結果として試験装置１０上のワークエリアに格納する。なお、図５の例では、ランダム試験手順の命令数は１００であるが、上述したように、該命令数は任意の数とすることができる。
【００５０】
被試験情報処理装置２０の先行制御を有効・無効にした２つの状態においてのランダム試験プログラム１２３の実行が終了すると、実行結果判定手段１１６が、ワークエリアに格納された２つの実行結果が一致するか否かを判定する（ステップＳ８０５）。
【００５１】
該２つの実行結果が一致しない場合（ステップＳ８０５”ＮＯ”）、実行結果判定手段１１６は、比較エラーを検出したことを出力し、処理を終了する（ステップＳ８０６）。
【００５２】
ここで、図６に戻ると、ステップＳ６０４の後、試験装置１０は、ユーザによる終了操作等の、外部からの終了要求があるかどうかを検査し（ステップＳ６０５）、終了要求が有る場合は処理を終了し（ステップＳ６０５”ＹＥＳ”）、終了要求が無い場合は、ステップＳ６０１に戻ってランダム試験を継続する（ステップＳ６０５”ＮＯ”）。
【００５３】
（第１の実施の形態による効果）
次に本実施の形態の効果について説明する。
【００５４】
本発明の第１の実施の形態によれば、ランダムに選択された個別命令と予め生成した命令列パタンをランダムに混在させたランダム試験プログラムを生成できる。
【００５５】
その理由は、個別命令格納テーブル１２１に格納されている個別命令と命令列パタン選択識別子を組み合わせた試験命令テーブル１０１を生成し、該試験命令テーブル１０１からランダムに試験命令を選択することでランダム試験実行手順１０４を生成するからである。
【００５６】
（第２の実施の形態）
次に、本発明の第２の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００５７】
図９は、本発明の第２の実施の形態による情報処理装置試験システムの構成を示す図である。図９を参照すると、本実施の形態の試験システム１００は、第１の実施の形態と比較し、試験命令テーブル生成手段１１１で生成される試験命令テーブル１０１の構成が異なる。
【００５８】
ここで、本実施の形態の試験命令テーブル生成手段１１１によって生成される試験命令テーブル例を図９に示す。
【００５９】
第１の実施の形態では、試験命令テーブル生成手段１１１は、個別格納テーブル１２１に格納されているすべての個別命令に、命令列パタン選択識別子を加えて試験命令テーブル１０１を生成していた。
【００６０】
これに対し、本実施の形態では、試験命令テーブル生成手段１１１は、個別格納テーブル１２１に格納されているすべての個別命令に、命令列パタン格納テーブル１２２に格納されている命令列パタンのすべての命令列パタン識別子を加えて試験命令テーブル１０１を生成する。なお、命令列パタン識別子とは、図１０に示す「ｇ１命令列識別子」「ｇ２命令列識別子」等を指す。
【００６１】
また、第１の実施の形態における試験命令選択手段１１２と命令列パタン三択手段１１３が、本実施の形態では試験命令／命令パタン選択手段１１７へと統合されている。
【００６２】
上述の部分以外の構成については、図１に示す第１の実施の形態の構成と同様のため、その詳細については省略する。
【００６３】
（第２の実施の形態の動作の説明）
次に、図面を参照して、本実施の形態の動作について詳細に説明する。本実施の形態の動作は、図７に示す第１の実施の形態によるランダム試験手順１０４の生成の動作以外は第１の実施の形態と同様であるため、その詳細については省略する。
【００６４】
（ランダム試験手順生成の動作）
本実施の形態によるランダム試験手順生成の動作の詳細を、図１１を用いて説明する。図１１は、本実施の形態によるランダム試験手順１０４の生成の動作を示した流れ図である。
【００６５】
まず、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、試験命令テーブル生成手段１１１が生成した試験命令テーブル１０１の中から、乱数を使用してランダムに試験命令を選択する。具体的には、試験命令選択手段１１２は、まず、試験命令テーブル１０１に格納されている試験命令数Ｎを求める（ステップＳ１１０１）。
【００６６】
次に、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、Ｎを法とする乱数ｎを発生させ（ステップＳ１１０２）、試験命令テーブル１０１に格納されているｎ番目の試験命令を、該試験命令テーブル１０１から選択する（ステップＳ１１０３）。なお、試験命令テーブル１０１の一番上を１番目の命令としても、一番下を１番目の命令としてもよい。
【００６７】
次いで、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、選択した試験命令が命令列パタン識別子であるかどうかを確認する（ステップＳ１１０４）。
【００６８】
試験命令が命令列パタン識別子であった場合（ステップＳ１１０４”ＹＥＳ”）、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、該命令列パタン識別子が指定する命令列パタンを命令列パタン格納テーブル１２２から選択する（ステップＳ１１０５）。例えば、命令列パタン識別子が図１０に示す「ｇ１命令列識別子」であった場合、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、命令列パタン格納テーブル１２２から、ｇ１命令列パタンを選択する。
【００６９】
次に、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、選択した命令列パタンをランダム試験プログラム生成手段１１４へ渡す（ステップＳ１１０６）。
【００７０】
試験命令が命令列パタン選択識別子でなかった場合、すなわち試験命令が個別命令であった場合（ステップＳ１１０４”ＮＯ”）、試験命令／命令パタン選択手段１１７は、該個別命令をランダム試験プログラム生成手段１１４へ渡す（ステップＳ１１０７）。
【００７１】
以後、ステップＳ１１０８〜Ｓ１１１０までの動作は図７に示すステップＳ７０８〜Ｓ７１０の動作と同様であるため、詳細は省略する。
【００７２】
（第２の実施の形態による効果）
次に本実施の形態の効果について説明する。
【００７３】
本実施の形態によれば、第１の実施の形態と比べ、ランダム試験プログラムの生成の高速化が可能となる。
【００７４】
その理由は、本実施の形態では、試験命令テーブル１０１に命令列パタンを直接選択するための命令列パタン識別子を設定する構成としているため、図７に示す第１の実施の形態におけるステップＳ７０５の処理が省略できるためである。
【００７５】
次に、本発明の試験装置１０のハードウェア構成例について、図１２を参照して説明する。図１２は、試験装置１０のハードウェア構成例を示すブロック図である。
【００７６】
図１２を参照すると、試験装置１０は、一般的なコンピュータ装置と同様のハードウェア構成であり、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）８０１、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等のメモリからなる、データの作業領域やデータの一時退避領域に用いられる主記憶部８０２、ネットワークを介してデータの送受信を行う通信部８０３、入力装置８０５や出力装置８０６及び記憶装置８０７と接続してデータの送受信を行う入出力インタフェース部８０４、上記各構成要素を相互に接続するシステムバス８０８を備えている。記憶装置８０７は、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、磁気ディスク、半導体メモリ等の不揮発性メモリから構成されるハードディスク装置等で実現される。
【００７７】
本発明の試験装置１０の処理部１１０は、プログラムを組み込んだ、ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）等のハードウェア部品である回路部品を実装することにより、その動作をハードウェア的に実現することは勿論として、その機能を提供するプログラムを、記憶装置８０７に格納し、そのプログラムを主記憶部８０２にロードしてＣＰＵ８０１で実行することにより、ソフトウェア的に実現することも可能である。
【産業上の利用可能性】
【００７８】
本発明によれば、乱数を使用しランダムに生成した試験データ及び試験命令列を用いて行う情報処理装置の試験に適用できる。
【００７９】
以上好ましい実施の形態をあげて本発明を説明したが、本発明は必ずしも、上記実施の形態に限定されるものでなく、その技術的思想の範囲内において様々に変形して実施することができる。
【符号の説明】
【００８０】
１００：情報処理装置試験システム
１０：試験装置
１１０：処理部
１１１：試験命令テーブル生成手段
１１２：試験命令選択手段
１１３：命令列パタン選択手段
１１４：ランダム試験プログラム生成手段
１１５：試験命令実行手段
１１６：実行結果判定手段
１１７：試験命令／命令パタン選択手段
１２０：メモリ部
１２１：個別命令格納テーブル
１２２：命令列パタン格納テーブル
１２３：ランダム試験プログラム
１０１：試験命令テーブル
１０４：ランダム試験手順
２０：被試験情報処理装置
８０１：ＣＰＵ
８０２：主記憶部
８０３：通信部
８０４：入出力インタフェース部
８０５：入力装置
８０６：出力装置
８０７：記憶装置
８０８：システムバス
９０１：主記憶装置
９１０：オペレーティングシステム
９２０：ランダム試験タスク
９２１：抑止命令指定手段
９２４：ランダム試験プログラム生成手段
９２５：試験命令実行手段
９２６：実行結果判定手段
９３０：ランダム試験プログラム
９０２：被試験情報処理装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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