(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
浮上量を求めるシステムであって、
記憶媒体に対して配設されたヘッド・アセンブリと、
書込みチャネルと、
前記ヘッド・アセンブリおよび前記書込みチャネルの両方から情報を受け取るように動作可能である読取り回路と、
前記書込みチャネルから受け取った情報に対応する第１の信号を前記読取り回路から受け取り、前記第１の信号に基づいて、第１の基本周波数および第１の高次周波数を供給するように動作可能である周波数決定回路とを含み、前記周波数決定回路は、前記ヘッド・アセンブリから受け取った情報に対応する第２の信号を前記読取り回路から受け取り、前記第２の信号に基づいて、第２の基本周波数および第２の高次周波数を供給するように動作可能であり、さらに、
前記第１の基本周波数を前記第１の高次高調波で除算して、補償量を求めるように動作可能である補償量計算モジュールと、
前記第２の基本周波数を、前記第２の高次高調波および前記補償量で除算して、前記ヘッド・アセンブリと前記記憶媒体との間隔の指示を求めるように動作可能である浮上量計算モジュールとを備える、システム。
【請求項２】
前記書込みチャネルから受け取った前記情報と前記ヘッド・アセンブリから受け取った前記情報とが、６Ｔパターンと１２Ｔパターンとからなる群から選択されたパターンに対応する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記第１の高次高調波と前記第２の高次高調波とが、３次高調波と４次高調波と６次高調波とからなる群から選択される、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記周波数決定回路が離散フーリエ変換を実施する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
メモリをさらに備え、前記メモリが、前記補償量計算モジュールから前記補償量を受け取るように動作可能であり、前記メモリが、前記補償量を前記浮上量計算モジュールに供給するように動作可能である、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記補償量が前記記憶媒体の第１のゾーンに特有の第１の補償量であり、前記周波数決定回路が、前記書込みチャネルから受け取った情報に対応する第３の信号を前記読取り回路から受け取り、前記第３の信号に基づいて、第３の基本周波数および第３の高次周波数を供給するように動作可能であり、前記第３の基本周波数が前記記憶媒体の第２のゾーンに特有であり、前記補償量計算モジュールが、前記第３の基本周波数を前記第３の高次高調波で除算して、前記記憶媒体の前記第２のゾーンに特有の第２の補償量を求めるように動作可能である、請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
前記浮上量計算モジュールが、前記第２の情報が前記記憶媒体の前記第２のゾーンから取り出されることを示す指示を受け取り、前記浮上量計算モジュールが、前記第２の基本周波数を前記第２の高次高調波および前記第２の補償量で除算して、前記ヘッド・アセンブリと前記記憶媒体との間隔の指示を求めるように動作可能である、請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
相対的な浮上量を計算する方法であって、
ヘッド・アセンブリを、記憶媒体から、ある浮上量間隔で配設し、
書込み回路からの第１のパターンを書き込み、
読取り回路で前記第１のパターンを受け取り、
少なくとも前記第１のパターンに基づいて補償量を計算し、
前記補償量を記憶し、
前記記憶媒体から第２のパターンを受け取り、
少なくとも前記第２のパターンおよび前記補償量に基づいて、前記浮上量間隔の指示を計算し、
前記補償量を計算することが、
前記受け取った第１のパターンに対応する信号の基本周波数を求め、
前記受け取った第１のパターンに対応する前記信号の高次高調波を求め、そして、
前記基本周波数を前記高次高調波で除算して前記補償量を求める、ことを含み、
前記浮上量間隔の前記指示を計算することが、
前記受け取った第２のパターンに対応する信号の基本周波数を求め、
前記受け取った第２のパターンに対応する前記信号の高次高調波を求め、そして、
前記基本周波数を、前記高次高調波および前記補償量で除算して、前記浮上量間隔の前記指示を求める、ことを含む方法。
【請求項９】
前記第１のパターンと前記第２のパターンとが６Ｔパターンである、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記高次高調波が３次高調波と４次高調波と６次高調波とからなる群から選択される、請求項８に記載の方法。
【請求項１１】
前記基本周波数を求めることと前記高次高調波を求めることとが、離散フーリエ変換を実施することによって行われる、請求項８に記載の方法。
【請求項１２】
前記読取り回路がアナログ・フロントエンドを含み、前記補償量が、温度と電源電圧とディスク・ゾーンとからなる群から選択された前記アナログ・フロントエンドの１つまたは複数の変量を補償する、請求項８に記載の方法。
【請求項１３】
相対的な浮上量を計算する方法であって、
ヘッド・アセンブリを、記憶媒体から、ある浮上量間隔で配設し、
書込み回路からの第１のパターンを書き込み、
読取り回路で前記第１のパターンを受け取り、
少なくとも前記第１のパターンに基づいて補償量を計算し、
前記補償量を記憶し、
前記記憶媒体から第２のパターンを受け取り、
少なくとも前記第２のパターンおよび前記補償量に基づいて、前記浮上量間隔の指示を計算し、
前記読取り回路がアナログ・フロントエンドを含み、前記補償量が、温度と電源電圧とからなる群から選択された前記アナログ・フロントエンドの１つまたは複数の変量を補償し、
前記補償量を計算することが、温度および電源電圧のうちの１つまたは複数を含む第１の組合せに関する第１の補償量を計算し、そして温度および電源電圧のうちの１つまたは複数を含む第２の組合せに関する第２の補償量を計算することを含み、
前記第１の補償量および前記第２の補償量のうちの一方を選択することを含み、
前記浮上量間隔の前記指示を計算することが、
前記受け取った第２のパターンに対応する信号の基本周波数を求め、
前記受け取った第２のパターンに対応する前記信号の高次高調波を求め、そして、
前記基本周波数を、前記高次高調波および前記選択した補償量で除算して、前記浮上量間隔の前記指示を求める、ことを含む方法。
【請求項１４】
前記第１の補償量および前記第２の補償量のうちの前記一方を選択することが、
温度および電源電圧の少なくとも１つを測定し、そして、
測定温度および測定電源電圧のうちの１つまたは複数の組合せに基づいて、前記第１の補償量および前記第２の補償量のうちの一方を選択する、ことを含む請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記記憶媒体が少なくとも第１のディスク・ゾーンと第２のディスク・ゾーンとを含み、前記第１のパターンが前記第１のディスク・ゾーンに特有の基本周波数を示し、前記補償量が前記第１のディスク・ゾーンに特有であり、前記方法はさらに、
前記第２のパターンが前記第１のディスク・ゾーンから取り出されることを判定し、
前記第２のパターンが前記第１のディスク・ゾーンから取り出されるという前記判定に少なくとも一部基づいて、前記補償量を選択する、ことをさらに含み、
前記浮上量間隔の前記指示を計算することが、
前記受け取った第２のパターンに対応する信号の基本周波数を求め、
前記受け取った第２のパターンに対応する前記信号の高次高調波を求め、そして、
前記基本周波数を、前記高次高調波および前記選択した補償量で除算して、前記浮上量間隔の前記指示を求める、ことを含む請求項８に記載の方法。
【請求項１６】
記憶媒体と、
前記記憶媒体から、ある間隔で配設されたヘッド・アセンブリと、
書込み回路と、
読取り回路とを含み、前記読取り回路は、前記ヘッド・アセンブリと前記書込みチャネルとの両方から情報を受け取るように動作可能であり、前記読取り回路は、受け取った信号を増幅するように動作可能な少なくとも１つの増幅器を含み、前記増幅器は温度変動と電源電圧変動との影響を受けやすいものであり、さらに、
周波数決定モジュールを含み、前記周波数決定モジュールは、規定された増幅器温度と増幅器電源電圧とで、前記書込みチャネルから受け取った情報に対応する第１の信号を前記読取り回路から受け取り、前記第１の信号に基づいて第１の基本周波数と第１の高次周波数とを供給するように動作可能であり、前記周波数決定モジュールは、前記ヘッド・アセンブリから受け取った情報に対応する第２の信号を前記読取り回路から受け取り、前記第２の信号に基づいて、第２の基本周波数および第２の高次周波数を供給するように動作可能であり、さらに、
前記第１の基本周波数を前記第１の高次高調波で除算して、前記規定された増幅器温度および規定された増幅器電源電圧に特有の補償量を求めるように動作可能である補償量計算モジュールと、
測定増幅器温度を供給するように動作可能な温度センサと、
測定増幅器電源電圧を供給するように動作可能な電源電圧センサと、
前記測定増幅器温度と前記測定増幅器電源電圧とに少なくとも一部基づいて前記補償量を選択し、前記第２の基本周波数を、前記第２の高次高調波および前記補償量で除算して、前記間隔の指示を求めるように動作可能である浮上量計算モジュールとを備える、記憶システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報を記憶媒体に、またそこから転送するシステムおよび方法に関し、より詳細には、センサを記憶媒体に対して位置決めするシステムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
様々な電子記憶媒体が、その記憶媒体に対して位置決めされる読取り／書込みヘッド・アセンブリを使用することによってアクセスされる。読取り／書込みヘッド・アセンブリは、ヘッド・アクチュエータによって支持され、記憶媒体から情報を読み取り、また、記憶媒体に情報を書き込むように動作可能である。読取り／書込みヘッド・アセンブリと、記憶媒体との間の高さは、典型的には浮上量（ｆｌｙ  ｈｅｉｇｈｔ）と呼ばれる。浮上量の制御は、記憶システムの適正動作にとって重要である。具体的には、読取り／書込みヘッド・アセンブリと、記憶媒体との間隔が増大すると、典型的には符号間干渉が増大することになる。符号間干渉が許容できないほど高くなると、記憶媒体に予め書き込まれた情報を確実に読み取ることが不可能になることがある。一方、浮上量が小さすぎると、読取り／書込みヘッド・アセンブリの過剰な摩耗、および／または記憶装置の早期クラッシュが生じる恐れがある。
【０００３】
典型的な記憶装置では、浮上量が所定の範囲内で動作するように設定される。動作中、浮上量は、所定の領域内で確実に動作し続けるように周期的に測定される。光干渉、読取り信号波形のスペクトル分析、および読取り信号のパルス幅値測定を含めて、浮上量を測定する多種多様な手法が開発されてきている。こうした手法によって、一般には、浮上量の妥当な推定値が得られるが、こうした手法は、様々な誤差の影響を受けやすい。こうした様々な誤差を補償するために、所定の浮上量動作範囲を十分大きく維持する必要がある。このため、浮上量の設定が、符号間干渉が高くなりすぎるほどになることがある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
したがって、少なくとも上述の理由で、センサを記憶媒体に対して位置決めする進化したシステムおよび方法が当技術分野で求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、情報を記憶媒体に、またそこから転送するシステムおよび方法に関し、より詳細には、センサを記憶媒体に対して位置決めするシステムおよび方法に関する。
【０００６】
本発明の様々な実施形態は、相対的な浮上量を計算する方法を提供する。かかる方法は、ヘッド・アセンブリを記憶媒体から、ある浮上量間隔で配設すること、書込み回路からの書込みパターンを書き込むこと、および読取り回路でその書込みパターンを受け取ることを含む。その書込みパターンに基づいて補償量を計算し、記憶する。記憶媒体から記憶パターンを受け取り、少なくともその記憶パターンおよび補償量に基づいて、浮上量間隔の指示を計算する。上述の実施形態のいくつかの例では、書込みパターンおよび記憶パターンは、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、．．．、などの周期的パターンである。２Ｔパターンには、論理１が２つ含まれ、その後に論理０が２つ続く。同様に、３Ｔパターンには、論理１が３つ含まれ、その後に論理０が３つ続く。他の周期的パターンも、同様の周期性を示す。
【０００７】
場合によっては、補償量を計算することは、受け取った書込みパターンに対応する信号の基本周波数を求めること、および受け取った書込みパターンに対応する信号の高次高調波を求めることを含む。基本周波数を高次高調波で除算して、補償量を求める。高次高調波は、それだけに限られるものではないが、３次高調波、４次高調波、または６次高調波でよい。上述の実施形態の特定の例では、基本周波数を求めること、および高次高調波を求めることは、離散フーリエ変換を実施することによって行われる。
【０００８】
様々な場合において、浮上量間隔の指示を計算することは、受け取った記憶パターンに対応する信号の基本周波数を求めること、および受け取った記憶パターンに対応する信号の高次高調波を求めることを含む。基本周波数を、高次高調波および補償量で除算して、浮上量間隔の指示を求める。高次高調波は、それだけに限られるものではないが、２次高調波、３次高調波、４次高調波、５次高調波、または６次高調波などでよい。上述の実施形態の特定の例では、基本周波数を求めること、および高次高調波を求めることは、離散フーリエ変換を実施することによって行われる。
【０００９】
上述の実施形態の特定の例では、補償量は、読取り回路と連動するアナログ・フロントエンドにおける温度変動および電源電圧変動のうちの１つまたは複数を補償する。かかる状況では、温度および／または電源電圧の１つまたは複数の組合せに特有の複数の補償量を得ることができる。様々な例において、書込みパターンによって、記憶媒体の特定のディスク・ゾーンに対応する基本周波数が得られる。かかる場合では、特定のディスク・ゾーンに特有の複数の補償量を得ることができる。いくつかの例では、温度、電源電圧、および／またはディスク・ゾーンの１つまたは複数の組合せに特有の複数の補償量を得ることができる。
【００１０】
上述の実施形態のいくつかの例では、読取り回路は、アナログ・フロントエンドを含み、補償量は、アナログ・フロントエンドにおける温度変動および／または電源電圧変動を補償する。かかる例では、補償量を計算することは、温度および電源電圧のうちの１つまたは複数を含む第１の組合せに関する第１の補償量を計算すること、および温度および電源電圧のうちの１つまたは複数を含む第２の組合せに関する第２の補償量を計算することを含む。本方法は、温度測定値および／または電源電圧測定値のうちの１つまたは複数に基づいて、第１の補償量および第２の補償量のうちの一方を選択することをさらに含む。浮上量間隔の指示を計算することは、受け取った記憶パターンに対応する信号の基本周波数を求めること、受け取った記憶パターンに対応する信号の高次高調波を求めること、ならびに基本周波数を高次高調波および選択した補償量で除算して、浮上量間隔の指示を求めることを含む。
【００１１】
本発明の他の実施形態は、浮上量を求めるシステムを提供する。かかるシステムは、記憶媒体に対して配設されたヘッド・アセンブリと、書込みチャネルと、読取り回路とを含む。この読取り回路は、ヘッド・アセンブリおよび書込みチャネルの両方から情報を受け取るように動作可能である。書込みチャネルから受け取った情報に対応する第１の信号を読取り回路から受け取り、その第１の信号に基づいて、第１の基本周波数および第１の高次周波数を供給するように動作可能である周波数決定回路が含まれ、この周波数決定回路は、ヘッド・アセンブリ・チャネルから受け取った情報に対応する第２の信号を読取り回路から受け取り、第２の信号に基づいて、第２の基本周波数および第２の高次周波数を供給するように動作可能である。第１の基本周波数を第１の高次高調波で除算して、補償量を求めるように動作可能である補償量計算モジュールが含まれる。第２の基本周波数を、第２の高次高調波および補償量で除算して、ヘッド・アセンブリと記憶媒体との間隔の指示を求めるように動作可能である浮上量計算モジュールが含まれる。
【００１２】
本発明のさらに他の実施形態は、記憶媒体と、記憶媒体から、ある間隔で配設されたヘッド・アセンブリと、書込み回路と、読取り回路とを含む記憶システムを提供する。読取り回路は、ヘッド・アセンブリおよび書込み回路の両方から情報を受け取るように動作可能である。さらに、読取り回路は、温度変動および電源電圧変動の影響を受けやすい少なくとも１つの増幅器を含む。この記憶システムは、規定された増幅器温度および増幅器電源電圧で書込み回路から受け取った情報に対応する第１の信号を読取り回路から受け取り、その第１の信号に基づいて、第１の基本周波数および第１の高次周波数を供給するように動作可能である周波数決定モジュールをさらに含む。この周波数決定回路はまた、ヘッド・アセンブリ・チャネルから受け取った情報に対応する第２の信号を読取り回路から受け取り、その第２の信号に基づいて、第２の基本周波数および第２の高次周波数を供給するように動作可能である。第１の基本周波数を第１の高次高調波で除算して、規定された増幅器温度および規定された増幅器電源電圧に特有の補償量を求めるように動作可能である補償量計算モジュールが含まれる。測定増幅器温度を供給する温度センサが含まれ、測定増幅器電源電圧を供給する電源電圧センサが含まれる。測定増幅器温度および測定増幅器電源電圧に少なくとも一部基づいて補償量を選択し、第２の基本周波数を、第２の高次高調波および補償量で除算して、間隔の指示を求めるように動作可能である浮上量計算モジュールが含まれる。
【００１３】
本概要は、本発明のいくつかの実施形態の全体的な概略を示すものにすぎない。本発明の数多くの他の目的、特徴、利点、および他の実施形態が、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、および添付の図面からよりよく明らかとなろう。
【００１４】
本明細書の以下で説明する図を参照することによって、本発明の様々な実施形態のさらなる理解が得られよう。図では、いくつかの図面にわたって、同じ参照符号を用いて同じ構成要素を示す。場合によっては、小文字からなるサブラベルが、複数の同じ構成要素のうちの１つを示すために参照符号に付記されていることがある。既存のサブレベルの明記なく参照符号を参照する場合は、かかる複数の同じ構成要素全体を指すことになる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】従来技術による浮上量測定システムを示す図である。
【図２】本発明の１つまたは複数の実施形態による、変量補償を含む浮上量測定システムを示す図である。
【図３】本発明のいくつかの実施形態による、浮上量を求める方法を示す流れ図である。
【図４】本発明の１つまたは複数の実施形態による、ディスク・ゾーンによる変量補償を含む浮上量測定システムを示す図である。
【図５】本発明のいくつかの実施形態による、ディスク・ゾーン情報を用いて浮上量を求める方法を示す流れ図である。
【図６】本発明の１つまたは複数の実施形態による、ディスク・ゾーン、温度、および電圧による変量補償を含む浮上量測定システムを示す図である。
【図７】、本発明のいくつかの実施形態による、ディスク・ゾーン情報、温度、および電圧を用いて浮上量を求める方法を示す流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明は、情報を記憶媒体に、またそこから転送するシステムおよび方法に関し、より詳細には、センサを記憶媒体に対して位置決めするシステムおよび方法に関する。
【００１７】
図１に移ると、従来技術による浮上量測定システム１００が示されている。浮上量測定システム１００は、書込み回路１１０および読取り回路１２０を含む。書込み回路１１０は、当技術分野で既知のように、デジタル書込みデータ１０５を受け取り、そのデータを書込み可能なフォーマットで読取り／書込みヘッド・アセンブリ１９０に供給する書込みチャネル１１５を含む。読取り回路１２０は、当技術分野で既知のように、読取り／書込みヘッド・アセンブリ１９０から情報を受け取り、その受け取ったデータをデジタル・データ・ストリームとしてデータ検出器１９５に供給するアナログ・フロントエンド１２５を含む。具体的には、アナログ・フロントエンド１２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ１９０からアナログ生信号を受け取る増幅器１３０を含む。増幅器１３０は、増幅した出力を、アナログ低域フィルタ機能を実施する連続時間フィルタ１３５に供給し、このフィルタ１３５は、フィルタリングされた出力をアナログ・デジタル変換器１４０に供給する。アナログ・デジタル変換器１４０は、アナログ信号を一連のデジタル・ビットに変換し、これらのデジタル・ビットはデータ検出器１９５に供給される。
【００１８】
アナログ・デジタル変換器１４０の出力はまた、浮上量１８５が大きすぎるか、または小さすぎるかを判定するように動作可能である浮上量計算モジュール１６０にも供給される。図示のように、浮上量１８５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ１９０からディスク・プラッタ１８０の表面までの間隔である。相対的な浮上量が、浮上量出力１６５として供給される。
【００１９】
動作に際しては、一連の論理１および論理０が、読出し時にそれらの論理によって増幅器１３０の出力で正弦波が得られるように、ディスク・プラッタ１８０に予め書き込まれている。この正弦波は、基本周波数を示す。浮上量計算モジュール１６０は、正弦波の基本周波数だけでなく、正弦波の３次高調波も求める離散フーリエ変換を実施する。ここから、以下の式に基づいて、浮上量係数（すなわち、浮上量出力１６５）を計算することができる。
浮上量出力１６５＝（測定基本周波数）／（測定３次高調波周波数）
浮上量が増大すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して低減する（すなわち、浮上量出力１６５が増大する）。浮上量が低減すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して増大する（すなわち、浮上量出力１６５が低減する）。
【００２０】
しかし、浮上量出力１６５は、温度、工程、および／または電源電圧によって大幅に変動し得ることが判明している。したがって、上述の式によって相対的な浮上量の妥当な推定値が得られるものの、アナログ・フロントエンド１２５において、温度、電圧、および工程に変動がある場合、その推定値はかなり不正確となり得る。上記に基づいて、浮上量出力１６５は、以下の式によってより正確に表されることが判明している。
浮上量出力１６５＝（（測定基本周波数）／（測定３次高調波周波数））×αＡＦＥ
式中、αＡＦＥは、アナログ・フロントエンド１２５における変動を補償する工程、温度、および／または電圧依存変量である。本発明の様々な実施形態は、αＡＦＥを補償するシステムおよび方法を提供し、それによって、より正確な浮上量の決定を実現する。
【００２１】
図２に移ると、本発明の１つまたは複数の実施形態による、変量補償を含む浮上量測定システム２００が示されている。浮上量測定システム２００は、書込み回路２１０および読取り回路２２０を含む。書込み回路２１０は、デジタル書込みデータ２０５を受け取り、そのデータを書込み可能なフォーマットで読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０に供給する書込みチャネル２１５を含む。書込み回路２１０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリに情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な書込み回路が当業者には認識されよう。読取り回路２２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０から情報を受け取り、その受け取ったデータをデジタル・データ・ストリームとしてデータ検出器２９５に供給するアナログ・フロントエンド２２５を含む。読取り回路２２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから受取り装置に情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り回路が当業者には認識されよう。
【００２２】
アナログ・フロントエンド２２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０からアナログ生信号を受け取る増幅器２３０を含むことができる。増幅器２３０は、増幅した出力を、アナログ低域フィルタ機能を実施する連続時間フィルタ２３５に供給し、このフィルタ２３５は、フィルタリングされた出力をアナログ・デジタル変換器２４０に供給する。アナログ・デジタル変換器２４０は、アナログ信号を一連のデジタル・ビットに変換し、これらのデジタル・ビットはデータ検出器２９５に供給される。アナログ・フロントエンド２２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから情報を受け取り、そのデジタル表現を供給することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様なアナログ・フロントエンドが当業者には認識されよう。さらに、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０は、記憶媒体に情報を記録することが可能であり、記憶媒体に予め書き込まれた情報を感知するどのような回路、装置、および／またはアセンブリでもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り／書込みヘッド・アセンブリが当業者には認識されよう。
【００２３】
書込み回路２１０から、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０（すなわち、標準の書込みモード）、または読取り回路２２０（すなわち、ループバック・モード）のいずれかにデータを送り、かつ読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０から読取り回路２２０（すなわち、標準の読取りモード）にデータを送るデータ制御器回路２４５が含まれる。アナログ・デジタル変換器２４０の出力は、浮上量２８５が大きすぎるか、または小さすぎるかを判定するように動作可能である浮上量計算モジュール２６０にさらに供給される。図示のように、浮上量２８５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０からディスク・プラッタ２８０の表面までの間隔である。相対的な浮上量が、浮上量出力２６５として供給される。さらに、アナログ・デジタル変換器２４０の出力は、アナログ・フロントエンド２２５に関するαＡＦＥを求めるように動作可能である浮上量較正モジュール２５０に供給される。浮上量較正モジュール２５０は、周期的較正イネーブル信号２５７に基づいてイネーブルになり、求めたαＡＦＥ値は、周期的較正イネーブル信号２５７がアサートされる度にメモリ２５５に更新される。このαＡＦＥをメモリ２５５から取り出し、浮上量計算モジュール２６０によって使用して浮上量出力２６５を計算することができる。
【００２４】
動作に際しては、周期的較正イネーブル２５７がアサートされる場合、データ制御器２４５はループバック・モードに構成され、したがって、書込み回路２１０を介して書き込まれたデータが、読取り回路２２０に供給されることになる。この構成では、一連の論理１および論理０が、書込み回路２１０を介して読取り回路に書き込まれる。これらの一連の論理１および論理０によって、連続時間フィルタ２３５の出力で正弦波が得られる。正弦波の代わりに他の反復波形を使用してもよいことに留意されたい。この正弦波は、基本周波数を示す。周期的較正イネーブル２５７がアサートされると、浮上量較正モジュール２５０は、受け取った正弦波に対して離散フーリエ変換を実施し、そこから正弦波の基本周波数だけでなく、正弦波の３次高調波も求める。ここから、以下の式に基づいてαＡＦＥを計算する。
αＡＦＥ＝（ループバック・モードでの測定基本周波数）／（ループバック・モードでの測定３次高調波周波数）
このαＡＦＥ値は、メモリ２５５に書き込まれる。本発明の特定の一実施形態では、浮上量較正モジュール２５０は、基本周波数および３次高調波周波数を求めることが可能な離散時間フーリエ変換回路を含む。これらの２つの周波数は、前述の式の数学的操作を実施するファームウェア／ソフトウェア命令を実行するプロセッサに供給される。本発明の他の実施形態では、数学的操作は、ハードウェア内で実施される。
【００２５】
周期的較正イネーブル２５７がアサートされない場合の標準動作の間、対応する一連の論理０および論理１が、読取り／書込みヘッド・アセンブリ２９０を介してディスク・プラッタ２８０から読み取られ、データ制御器２４５によって読取り回路２２５に供給される。アナログ・デジタル変換器２４０からの出力が、浮上量計算モジュール２６０に供給される。浮上量計算モジュール２６０は、離散フーリエ変換を実施し、ここでもやはり、正弦波の基本周波数および正弦波の３次高調波を求める。上記およびメモリ２５５からのαＡＦＥ値から、以下の式に基づいて浮上量係数（すなわち、浮上量出力２６５）を計算することができる。
浮上量出力２６５＝（（測定基本周波数）／（測定３次高調波周波数））×αＡＦＥ
浮上量が増大すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して低減する（すなわち、浮上量出力２６５が増大する）。浮上量が低減すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して増大する（すなわち、浮上量出力２６５が低減する）。浮上量出力２６５の計算にαＡＦＥを組み込むことによって、温度、電源電圧、および工程のため生じるアナログ・フロントエンドにおける変動を低減させることができる。
【００２６】
図３に移ると、本発明のいくつかの実施形態による、浮上量を求める方法を示す流れ図３００が示されている。流れ図３００によれば、較正工程を選択するか判定する（ブロック３０５）。かかる較正工程は、例えば、周期的較正イネーブル２５７をアサートすることによって選択することができる。較正工程を選択する場合（ブロック３０５）、データ・ループバックがセットアップされる（ブロック３１０）。かかるループバックによって、書込み回路によって書き込まれたデータが読取り回路に直接送られることになる。書込み回路を介して６Ｔパターン（すなわち、１２Ｔの周期を有する１１１１１１００００００）を書き込み（ブロック３１５）、読取り回路を介して受け取る（ブロック３２０）。かかるパターンによって、正弦波が得られる。この正弦波に対して高調波感知を実施して、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数を求める（ブロック３２５）。本発明の特定の一実施形態では、高調波感知は、基本周波数および３次高調波周波数を求める離散フーリエ変換を用いて行われる。基本周波数を３次高調波周波数で除算して、αＡＦＥを求め（ブロック３３０）、このαＡＦＥをメモリに記憶する（ブロック３３５）。
【００２７】
通常動作モードでは（すなわち、較正を選択しない場合）（ブロック３０５）、このシステムは、記憶媒体から読取り回路に情報を転送するようにセットアップされる（ブロック３７５）。記憶媒体から６Ｔパターンを読み取り（ブロック３８０）、この６Ｔパターンに対して高調波感知を実施する（ブロック３８５）。高調波感知は、較正フェーズで使用するものと同じ高調波感知でよい。したがって、例えば、高調波感知は、６Ｔパターンによって得られる正弦波に対して離散フーリエ変換を実施することによって行うことができる。上記によって、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数の両方が求められる。基本周波数を、３次高調波周波数およびメモリ内に先に記憶したαＡＦＥ値で除算する（ブロック３９０）。その結果得られる値は、補償された浮上量値として得られる（ブロック３９５）。
【００２８】
図４に移ると、本発明の１つまたは複数の実施形態による、ディスク・ゾーンによる変量補償を含む浮上量測定システム４００が示されている。浮上量測定システム４００は、書込み回路４１０および読取り回路４２０を含む。書込み回路４１０は、デジタル書込みデータ４０５を受け取り、そのデータを書込み可能なフォーマットで読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０に供給する書込みチャネル４１５を含む。書込み回路４１０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリに情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な書込み回路が当業者には認識されよう。読取り回路４２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０から情報を受け取り、その受け取ったデータをデジタル・データ・ストリームとしてデータ検出器４９５に供給するアナログ・フロントエンド４２５を含む。読取り回路４２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから受取り装置に情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り回路が当業者には認識されよう。
【００２９】
アナログ・フロントエンド４２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０からアナログ生信号を受け取る増幅器４３０を含むことができる。増幅器４３０は、増幅した出力を、アナログ低域フィルタ機能を実施する連続時間フィルタ４３５に供給し、このフィルタ４３５は、フィルタリングされた出力をアナログ・デジタル変換器４４０に供給する。アナログ・デジタル変換器４４０は、アナログ信号を一連のデジタル・ビットに変換し、これらのデジタル・ビットはデータ検出器４９５に供給される。アナログ・フロントエンド４２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから情報を受け取り、そのデジタル表現を供給することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様なアナログ・フロントエンドが当業者には認識されよう。さらに、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０は、記憶媒体に情報を記録することが可能であり、記憶媒体に予め書き込まれた情報を感知するどのような回路、装置、および／またはアセンブリでもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り／書込みヘッド・アセンブリが当業者には認識されよう。
【００３０】
書込み回路４１０から、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０（すなわち、標準の書込みモード）、または読取り回路４２０（すなわち、ループバック・モード）のいずれかにデータを送り、かつ読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０から読取り回路４２０（すなわち、標準の読取りモード）にデータを送るデータ制御器回路４４５が含まれる。アナログ・デジタル変換器４４０の出力は、浮上量４８５が大きすぎるか、または小さすぎるかを判定するように動作可能である浮上量計算モジュール４６０にさらに供給される。図示のように、浮上量４８５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０からディスク・プラッタ４８０の表面までの間隔である。相対的な浮上量が、浮上量出力４６５として供給される。さらに、アナログ・デジタル変換器４４０の出力は、アナログ・フロントエンド４２５に関するαＡＦＥを求めるように動作可能である浮上量較正モジュール４５０に供給される。浮上量較正モジュール４５０は、周期的較正イネーブル信号４５７に基づいてイネーブルになり、求めたαＡＦＥ値は、周期的較正イネーブル信号４５７がアサートされる度にルックアップ・メモリ４５５に更新される。このαＡＦＥをメモリ４５５から取り出し、浮上量計算モジュール４６０によって使用して浮上量出力４６５を計算することができる。
【００３１】
動作に際しては、周期的較正イネーブル４５７がアサートされる場合、データ制御器４４５はループバック・モードに構成され、したがって、書込み回路４１０を介して書き込まれたデータが、読取り回路４２０に供給されることになる。この構成では、一連の論理１および論理０が、書込み回路４１０を介して読取り回路４２０に書き込まれる。これらの一連の論理１および論理０によって、連続時間フィルタ４３５の出力で正弦波が得られる。正弦波の代わりに他の反復波形を使用してもよいことに留意されたい。この正弦波は、基本周波数を示し、この基本周波数は、パターンの再生（ｒｅｐｌｉｃａｔｅ）が予想されるいくつかのディスク・ゾーン４９２に応じて異なる。具体的には、ディスク・プラッタ４８０は、Ａ〜Ｇで標示された、いくつかの放射状ディスク・ゾーン４９２に分割される。ディスク・ゾーンの数は単なる例示にすぎず、本発明の異なる実施形態では、いくつのディスク・ゾーンでも使用できることに留意されたい。中心により近いディスク・ゾーン（例えば、ディスク・ゾーンＧ）に書き込まれた、反映すべき書込みパターンの基本周波数は、外縁部により近いディスク・ゾーン（例えば、ディスク・ゾーンＡ）に書き込まれた、反映すべき書込みパターンの基本周波数よりも高い。特定のディスク・ゾーンが、どのディスク・ゾーン４９２が、書込み回路４１０を介して書き込まれたデータによって再生されているのかを示すディスク・ゾーン入力４９３によって示される。周期的較正イネーブル４５７がアサートされると、浮上量較正モジュール４５０は、受け取った正弦波に対して離散フーリエ変換を実施し、そこから正弦波の基本周波数だけでなく、正弦波の３次高調波も求める。ここから、以下の式に基づいてαＡＦＥを計算する。
αＡＦＥ＝（ループバック・モードでの測定基本周波数）／（ループバック・モードでの測定３次高調波周波数）
このαＡＦＥ値は、ルックアップ・メモリ４５５の、ディスク・ゾーン入力４９３によって指示された位置に書き込まれる。本発明の特定の一実施形態では、浮上量較正モジュール４５０は、基本周波数および３次高調波周波数を求めることが可能な離散時間フーリエ変換回路を含む。これらの２つの周波数は、前述の式の数学的操作を実施するファームウェア／ソフトウェア命令を実行するプロセッサに供給される。本発明の他の実施形態では、数学的操作は、ハードウェア内で実施される。この工程は、ディスク・ゾーン４９２のそれぞれについて繰り返され、異なるαＡＦＥ値がルックアップ・メモリ４５５に書き込まれる。
【００３２】
周期的較正イネーブル４５７がアサートされない場合の標準操作の間、対応する一連の論理０および論理１が、読取り／書込みヘッド・アセンブリ４９０を介してディスク・プラッタ４８０から読み取られ、データ制御器４４５によって読取り回路４２５に供給される。データを受け取ると、どのディスク・ゾーン４９２からパターンが取り出されたのかを示すディスク・ゾーン入力４９３がアサートされる。アナログ・デジタル変換器４４０からの出力が、浮上量計算モジュール４６０に供給される。浮上量計算モジュール４６０は、離散フーリエ変換を実施し、ここでもやはり、正弦波の基本周波数および正弦波の３次高調波を求める。上記およびルックアップ・メモリ４５５にアクセスしたディスク・ゾーン入力４９３によって特定されたディスク・ゾーン４９２に対応するαＡＦＥ値から、以下の式に基づいて浮上量係数（すなわち、浮上量出力４６５）を計算することができる。
浮上量出力４６５＝（（測定基本周波数）／（測定３次高調波周波数））×αＡＦＥ
浮上量が増大すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して低減する（すなわち、浮上量出力４６５が増大する）。浮上量が低減すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して増大する（すなわち、浮上量出力４６５が低減する）。浮上量出力４６５の計算にαＡＦＥを組み込むことによって、温度、電源電圧、および工程のため生じるアナログ・フロントエンドにおける変動を低減させることができる。ディスク・ゾーンを用いることによって、特にデータを生成する特定の領域について、より正確なαＡＦＥの推定値を得ることができる。
【００３３】
図５に移ると、本発明のいくつかの実施形態による、ディスク・ゾーン特有情報を用いて浮上量を求める方法を示す流れ図５００が示されている。流れ図５００によれば、較正工程を選択するか判定する（ブロック５０５）。かかる較正工程は、例えば、周期的較正イネーブル４５７をアサートすることによって選択することができる。場合によっては、較正は、記憶システム作製の間、記憶媒体のバーンインの間、あるいは記憶システムの寿命の間のうち指定された、または選択された時点で行われる。較正工程を選択すると（ブロック５０５）、データ・ループバックがセットアップされる（ブロック５１０）。かかるループバックによって、書込み回路によって書き込まれたデータが読取り回路に直接送られることになる。さらに、αＡＦＥ信号を計算することになる第１のディスク・ゾーンを選択する（ブロック５１２）。書込み回路を介して６Ｔパターン（すなわち、１２Ｔの周期を有する１１１１１１００００００）を書き込み（ブロック５１５）、読取り回路を介して受け取る（ブロック５２０）。６Ｔパターンの周波数は、選択したディスク・ゾーンに応じて変動する。かかるパターンによって、正弦波が得られる。この正弦波に対して高調波感知を実施して、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数を求める（ブロック５２５）。本発明の特定の一実施形態によれば、高調波感知は、基本周波数および３次高調波周波数を求める離散フーリエ変換を用いて行われる。基本周波数を３次高調波周波数で除算して、選択したディスク・ゾーンに特有のαＡＦＥ値を求め（ブロック５３０）、このαＡＦＥ値を、メモリの、選択したディスク・ゾーンに対応するアドレスに記憶する（ブロック５３５）。
【００３４】
次いで、αＡＦＥ値を求め、メモリに記憶すべき追加のディスク・ゾーンが残っているか判定する（ブロック５４０）。追加のディスク・ゾーンが残る場合（ブロック５４０）、次のディスク・ゾーンを選択し（ブロック５４５）、その選択したディスク・ゾーンについて、ブロック５１５〜５４０の工程を繰り返す。追加のディスク・ゾーンが残らない場合（ブロック５４０）、メモリは、それぞれのディスク・ゾーンに関するαＡＦＥ値で満たされたことになり、較正工程は完了したとみなされる。
【００３５】
通常動作モードでは（すなわち、較正を選択しない場合）（ブロック５０５）、このシステムは、記憶媒体から読取り回路に情報を転送するようにセットアップされる（ブロック５７５）。記憶媒体から６Ｔパターンを読み取り（ブロック５８０）、この６Ｔパターンに対して高調波感知を実施する（ブロック５８５）。高調波感知は、較正フェーズで使用するものと同じ高調波感知でよい。したがって、例えば、高調波感知は、６Ｔパターンによって得られる正弦波に対して離散フーリエ変換を実施することによって行うことができる。上記によって、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数の両方が求められる。データを取り出すディスク・ゾーンを決定し（ブロック５８７）、その情報を用いて、メモリから適切なαＡＦＥ値を選択する。基本周波数を、３次高調波周波数および特定されたディスク・ゾーンに特有のαＡＦＥ値で除算する（ブロック５９０）。その結果得られる値は、補償された浮上量値として得られる（ブロック５９５）。
【００３６】
図６に移ると、本発明の１つまたは複数の実施形態による、ディスク・ゾーン、温度、および電圧による補償を含む浮上量測定システム６００が示されている。浮上量測定システム６００は、書込み回路６１０および読取り回路６２０を含む。書込み回路６１０は、デジタル書込みデータ６０５を受け取り、そのデータを書込み可能なフォーマットで読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０に供給する書込みチャネル６１５を含む。書込み回路６１０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリに情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な書込み回路が当業者には認識されよう。読取り回路６２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０から情報を受け取り、その受け取ったデータをデジタル・データ・ストリームとしてデータ検出器６９５に供給するアナログ・フロントエンド６２５を含む。読取り回路６２０は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから受取り装置に情報を転送することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り回路が当業者には認識されよう。
【００３７】
アナログ・フロントエンド６２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０からアナログ生信号を受け取る増幅器６３０を含むことができる。増幅器６３０は、増幅した出力を、アナログ低域フィルタ機能を実施する連続時間フィルタ６３５に供給し、このフィルタ６３５は、フィルタリングされた出力をアナログ・デジタル変換器６４０に供給する。アナログ・デジタル変換器６４０は、アナログ信号を一連のデジタル・ビットに変換し、これらのデジタル・ビットはデータ検出器６９５に供給される。アナログ・フロントエンド６２５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリから情報を受け取り、そのデジタル表現を供給することが可能などのような回路、アセンブリ、および／またはプロセッサ・ベースの機能でもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様なアナログ・フロントエンドが当業者には認識されよう。さらに、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０は、記憶媒体に情報を記録することが可能であり、記憶媒体に予め書き込まれた情報を感知するどのような回路、装置、および／またはアセンブリでもよい。本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に関して使用することができる多種多様な読取り／書込みヘッド・アセンブリが当業者には認識されよう。
【００３８】
書込み回路６１０から、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０（すなわち、標準の書込みモード）、または読取り回路６２０（すなわち、ループバック・モード）のいずれかにデータを送り、かつ読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０から読取り回路６２０（すなわち、標準の読取りモード）にデータを送るデータ制御器回路６４５が含まれる。連続時間フィルタ６３５の出力は、浮上量６８５が大きすぎるか、または小さすぎるかを判定するように動作可能である浮上量計算モジュール６６０にさらに供給される。図示のように、浮上量６８５は、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０からディスク・プラッタ６８０の表面までの間隔である。相対的な浮上量が、浮上量出力６６５として供給される。さらに、連続時間フィルタ６３５の出力は、アナログ・フロントエンド６２５に関するαＡＦＥを求めるように動作可能である浮上量較正モジュール６５０に供給される。浮上量較正モジュール６５０は、周期的較正イネーブル信号６５７に基づいてイネーブルになり、求めたαＡＦＥ値は、周期的較正イネーブル信号６４５７がアサートされる度にルックアップ・メモリ６５５に更新される。このαＡＦＥ値をメモリ６５５から取り出し、浮上量計算モジュール６６０によって使用して浮上量出力６６５を計算することができる。
【００３９】
動作に際しては、周期的較正イネーブル６５７がアサートされる場合、データ制御器６４５はループバック・モードに構成され、したがって、書込み回路６１０を介して書き込まれたデータが、読取り回路６２０に供給されることになる。この構成では、一連の論理１および論理０が、書込み回路６１０を介して読取り回路６２０に書き込まれる。これらの一連の論理１および論理０によって、連続時間フィルタ６３５の出力で正弦波が得られる。正弦波の代わりに他の反復波形を使用してもよいことに留意されたい。この正弦波は、基本周波数を示し、この基本周波数は、パターンの再生が予想されるいくつかのディスク・ゾーン６９２に応じて異なる。具体的には、ディスク・プラッタ６８０は、Ａ〜Ｇで標示された、いくつかの放射状ディスク・ゾーン６９２に分割される。ディスク・ゾーンの数は単なる例示にすぎず、本発明の異なる実施形態では、いくつのディスク・ゾーンでも使用できることに留意されたい。中心により近いディスク・ゾーン（例えば、ディスク・ゾーンＧ）に書き込まれた、反映すべき書込みパターンの基本周波数は、外縁部により近いディスク・ゾーン（例えば、ディスク・ゾーンＡ）に書き込まれた、反映すべき書込みパターンの基本周波数よりも高い。特定のディスク・ゾーンが、どのディスク・ゾーン６９２が、書込み回路６１０を介して書き込まれたデータによって再生されるのかを示すディスク・ゾーン入力６９３によって示される。周期的較正イネーブル６５７がアサートされると、浮上量較正モジュール６５０は、受け取った正弦波に対して離散フーリエ変換を実施し、そこから正弦波の基本周波数だけでなく、正弦波の３次高調波も求める。ここから、以下の式に基づいてαＡＦＥを計算する。
αＡＦＥ＝（ループバック・モードでの測定基本周波数）／（ループバック・モードでの測定３次高調波周波数）
この値は、温度（温度センサ６７５によって示される）および電源電圧（電源センサ６７０によって示される）の様々な変動について再度計算される。計算されたαＡＦＥ値は、ルックアップ・メモリ６５５の、ディスク・ゾーン入力６９３、温度（温度センサ６７５の出力によって示される）、および電源電圧（電源センサ６７０の出力によって示される）によって指示された位置に書き込まれる。本発明の特定の一実施形態では、浮上量較正モジュール６５０は、基本周波数および３次高調波周波数を求めることが可能な離散時間フーリエ変換回路を含む。これらの２つの周波数は、前述の式の数学的操作を実施するファームウェア／ソフトウェア命令を実行するプロセッサに供給される。本発明の他の実施形態では、数学的操作は、ハードウェア内で実施される。この工程は、ディスク・ゾーン６９２、ならびに選択された温度および電源電圧の変動のそれぞれについて繰り返され、各計算について異なるαＡＦＥ値がルックアップ・メモリ６５５に書き込まれる。
【００４０】
周期的較正イネーブル２５７がアサートされない場合の標準操作の間、対応する一連の論理０および論理１が、読取り／書込みヘッド・アセンブリ６９０を介してディスク・プラッタ６８０から読み取られ、データ制御器６４５によって読取り回路６２５に供給される。データを受け取ると、どのディスク・ゾーン６９２からパターンが取り出されたのかを示すディスク・ゾーン入力６９３がアサートされる。連続時間フィルタ６３５からの出力が、浮上量計算モジュール６６０に供給される。浮上量計算モジュール６６０は、離散フーリエ変換を実施し、ここでもやはり、正弦波の基本周波数および正弦波の３次高調波を求める。上記ならびにルックアップ・メモリ６５５にアクセスしたディスク・ゾーン入力４９３によって特定されたディスク・ゾーン４９２、温度、および電源電圧に対応するαＡＦＥ値から、以下の式に基づいて浮上量係数（すなわち、浮上量出力６６５）を計算することができる。
浮上量出力６６５＝（（測定基本周波数）／（測定３次高調波周波数））×αＡＦＥ
浮上量が増大すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して低減する（すなわち、浮上量出力６６５が増大する）。浮上量が低減すると、３次高調波周波数が基本周波数に対して増大する（すなわち、浮上量出力６６５が低減する）。浮上量出力６６５の計算にαＡＦＥを組み込むことによって、温度、電源電圧、および工程のため生じるアナログ・フロントエンドにおける変動を低減させることができる。ディスク・ゾーンを用いることによって、特にデータを生成し、かつ温度および電源電圧が変動する特定の領域について、より正確なαＡＦＥの推定値を得ることができる。
【００４１】
図７に移ると、本発明のいくつかの実施形態による、ディスク・ゾーン特有情報を用いて浮上量を求める方法を示す流れ図７００が示されている。流れ図７００によれば、較正工程を選択するか判定する（ブロック７０５）。かかる較正工程は、例えば、周期的較正イネーブル６５７をアサートすることによって選択することができる。場合によっては、較正は、記憶システム作製の間、記憶媒体のバーンインの間、あるいは記憶システムの寿命の間のうち指定された、または選択された時点で行われる。較正工程を選択すると（ブロック７０５）、データ・ループバックがセットアップされる（ブロック７１０）。かかるループバックによって、書込み回路によって書き込まれたデータが読取り回路に直接送られることになる。さらに、αＡＦＥ信号を計算することになる第１のディスク・ゾーン、および温度／電源電圧の組合せを選択する（ブロック７１２）。書込み回路を介して６Ｔパターン（すなわち、１２Ｔの周期を有する１１１１１１００００００）を書き込み（ブロック７１５）、読取り回路を介して受け取る（ブロック７２０）。６Ｔパターンの周波数は、選択したディスク・ゾーンに応じて変動する。かかるパターンによって、正弦波が得られる。この正弦波に対して高調波感知を実施して、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数を求める（ブロック７２５）。本発明の特定の一実施形態によれば、高調波感知は、基本周波数および３次高調波周波数を求める離散フーリエ変換を用いて行われる。基本周波数を３次高調波周波数で除算して、選択したディスク・ゾーンに特有のαＡＦＥ値を求め（ブロック７３０）、このαＡＦＥ値を、メモリの、選択したディスク・ゾーンに対応するアドレスに記憶する（ブロック７３５）。
【００４２】
次いで、選択したディスク・ゾーンについてαＡＦＥ値を求めるべき追加の温度／電源電圧の組合せが残っているか判定する（ブロック７３６）。追加の温度／電源電圧組合せが残る場合（ブロック７３６）、次の温度／電源電圧組合せを選択し（ブロック７３８）、その選択した温度／電源電圧組合せについて、ブロック７１５〜７３６の工程を繰り返す。追加の温度／電源電圧組合せが残らない場合（ブロック７３８）、メモリは、特定のディスク・ゾーンについて所望の各温度／電源電圧組合せに関するαＡＦＥ値で満たされたことになる。
【００４３】
次いで、αＡＦＥ値を求め、メモリに記憶すべき追加のディスク・ゾーンが残っているか判定する（ブロック７４０）。追加のディスク・ゾーンが残る場合（ブロック７４０）、次のディスク・ゾーンを選択し（ブロック７４５）、選択したディスク・ゾーンについて、ブロック７１５〜７４０の工程を繰り返す。追加のディスク・ゾーンが残らない場合（ブロック７４０）、メモリは、それぞれのディスク・ゾーン、温度、および電源電圧に関するαＡＦＥ値で満たされたことになり、較正工程は完了したとみなされる。
【００４４】
通常動作モードでは（すなわち、較正を選択しない場合）（ブロック７０５）、このシステムは、記憶媒体から読取り回路に情報を転送するようにセットアップされる（ブロック７７５）。記憶媒体から６Ｔパターンを読み取り（ブロック７８０）、この６Ｔパターンに対して高調波感知を実施する（ブロック７８５）。高調波感知は、較正フェーズで使用するものと同じ高調波感知でよい。したがって、例えば、高調波感知は、６Ｔパターンによって得られる正弦波に対して離散フーリエ変換を実施することによって行うことができる。上記によって、正弦波の基本周波数、および正弦波の３次高調波周波数の両方が求められる。データを取り出すディスク・ゾーンを決定し、温度および電源電圧を測定し（ブロック７８７）、その情報を用いて、メモリから適切なαＡＦＥ値を選択する。基本周波数を、３次高調波周波数ならびに特定されたディスク・ゾーン、温度、および電源電圧に特有のαＡＦＥ値で除算する（ブロック７９０）。その結果得られる値は、補償された浮上量値として得られる（ブロック７９５）。
【００４５】
結論として、本発明は、浮上量を測定する新規なシステム、装置、方法、および構成を提供する。本発明の１つまたは複数の実施形態の詳細な説明を上記で挙げてきたが、本発明の趣旨から逸脱することなく、様々な代替形態、改変形態、および均等物が当業者には明白であろう。例えば、上述のシステムおよび装置は、より高次の高調波で動作するように改変することができる。したがって、例えば、本手法は、基本周波数、および６Ｔのパターンの代わりに書き込まれた１２Ｔパターン（すなわち、２４Ｔの周期を有する１１１１１１１１１１１１００００００００００００）の４次高調波、または６次高調波のいずれかを測定することを含み得る。かかる場合、αＡＦＥを規定するには以下の式が作用する。
αＡＦＥ＝（ループバック・モードでの測定基本周波数）／（ループバック・モードでの測定４次または６次高調波周波数）
同様に、浮上量出力を計算する式は、以下の式に従って計算される。
浮上量出力＝（（測定基本周波数）／（測定４次または６次高調波周波数））×αＡＦＥ
本明細書に記載の開示に基づけば、本発明の様々な実施形態に従って、正確な浮上量を得るために行うことができる多種多様な他の測定および計算が当業者には認識されよう。したがって、上記説明は、本発明の範囲を限定するものとして解釈すべきではなく、本発明の範囲は、添付の特許請求の範囲によって規定される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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