(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源部、干渉計本体部およびファイバを有し、前記光源部からの光を前記ファイバの入射端に入射して前記ファイバの出射端から前記干渉計本体部の内部に導入する干渉計であって、
前記ファイバの入射端側を保持するとともに、前記光源部に対して着脱可能に設けられたファイバ保持部材と、
該ファイバ保持部材の内部に、前記ファイバの入射端に焦点位置を合わせて配置された集光光学系と、
を備え、
前記光源部は、
平行光束を出射する光束発生部と、
前記ファイバ保持部材を着脱可能に保持し、装着時に前記平行光束が前記集光光学系の光軸に沿って入射するように前記ファイバ保持部材を位置決めする着脱部と、
を備えることを特徴とする干渉計。
【請求項２】
前記ファイバ保持部材は、
先端側に前記集光光学系の光軸と略同軸に設けられた円筒状の被嵌合面と、前記集光光学系の光軸と直交して設けられた被位置決め面と、を備え、
前記着脱部は、前記被嵌合面を嵌合する嵌合面と、前記被位置決め面を前記光束発生部の光軸に直交する位置に位置決めする位置決め面と、を備えることを特徴とする請求項１に記載の干渉計。
【請求項３】
前記ファイバ保持部材は、
前記集光光学系と前記ファイバの入射端との相対位置を調整する位置調整機構を備えることを特徴とする請求項１または２に記載の干渉計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源部からの光を、ファイバを通して干渉計本体部に導入する干渉計に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、干渉計では、例えば気体レーザや半導体レーザなどのレーザ光源が用いられている。レーザ光源は発熱するため、干渉縞を取得する光学系を内蔵する干渉計本体部に設けると、干渉計本体部の内部の温度変化によって干渉縞のゆらぎを起こしやすい。このため、レーザ光源を含む光源部を干渉計本体部と別体に設け、光源部からの光を、ファイバを通して干渉計本体部に導入する干渉計が知られている。
このような干渉計の一例として、例えば、特許文献１には、光源装置（光源部）において半導体レーザから出射されたレーザ光をファイバのコアに集光させて、光源装置に取り付けられたファイバ内を伝搬させて、干渉計本体部の内部に出射させ、干渉計本体部の内部のコリメータレンズによって干渉縞を得るための平行光束を形成する干渉計装置が記載されている。
特許文献１の干渉計装置では、ファイバは光源装置と一体に設けられている。そして、ファイバの出射端部に、干渉計本体部に設けられたレセプタクルに着脱する光コネクタのプラグが設けられている。このような構成により、光源部がファイバを介して干渉計本体部に接続されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１６３３３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記のような従来の干渉計には、以下のような問題があった。
特許文献１に記載の技術では、ファイバが光源部と一体に設けられているため、例えば、ファイバまたは光源部に損傷や故障が発生した場合、ファイバのみ、あるいは光源部のみを交換することは容易にはできず、特に使用者がそのような交換作業を行うことは困難であるという問題がある。このため、使用者が部品交換して修理する場合、ファイバのみが損傷した場合でも、光源部も合わせて交換しなければならず、修理費用が高価になってしまう。また、メーカ等に修理を依頼してファイバのみを交換する場合でも、ファイバの交換後にレーザ光源とファイバの入射端との位置関係を再調整する必要がある。このため、やはり修理費が高価につくという問題がある。
ファイバのみを交換できるように、例えば、干渉計本体部と同様のレセブタクルを光源部に設け、ファイバの入射端にはプラグを設けて、ファイバを光源部に着脱可能に設けることも考えられるが、プラグに固定されたファイバのフェルールとレセプタクルの嵌合穴との間の嵌め合いの寸法公差では、着脱したときに光源部に対するファイバコアの位置がばらつくため、集光された光束を確実にはファイバコアに入射させることができない。このため、干渉計本体部との連結に用いられる光コネクタと同様の光コネクタでは、光源部との間でファイバを着脱することができないという問題がある。
【０００５】
本発明は、上記のような問題に鑑みてなされたものであり、光源部からの光を干渉計本体部に導入するファイバを光源部に対して容易に着脱することができる干渉計を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明では、光源部、干渉計本体部およびファイバを有し、前記光源部からの光を前記ファイバの入射端に入射して前記ファイバの出射端から前記干渉計本体部の内部に導入する干渉計であって、前記ファイバの入射端側を保持するとともに、前記光源部に対して着脱可能に設けられたファイバ保持部材と、該ファイバ保持部材の内部に、前記ファイバの入射端に焦点位置を合わせて配置された集光光学系と、を備え、前記光源部は、平行光束を出射する光束発生部と、前記ファイバ保持部材を着脱可能に保持し、装着時に前記平行光束が前記集光光学系の光軸に沿って入射するように前記ファイバ保持部材を位置決めする着脱部と、を備える構成とする。
【０００７】
請求項２に記載の発明では、請求項１に記載の干渉計において、前記ファイバ保持部材は、先端側に前記集光光学系の光軸と略同軸に設けられた円筒状の被嵌合面と、前記集光光学系の光軸と直交して設けられた被位置決め面と、を備え、前記着脱部は、前記被嵌合面を嵌合する嵌合面と、前記被位置決め面を前記光束発生部の光軸に直交する位置に位置決めする位置決め面と、を備える構成とする。
【０００８】
請求項３に記載の発明では、請求項１または２に記載の干渉計において、前記ファイバ保持部材は、前記集光光学系と前記ファイバの入射端との相対位置を調整する位置調整機構を備える構成とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の干渉計によれば、光源部から平行光束をファイバの入射端上に集光する集光光学系を備えたファイバ保持部材を介して、ファイバを光源部に着脱する構成としたため、光源部からの光を干渉計本体部に導入するファイバを光源部に対して容易に着脱することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施形態に係る干渉計の概略構成を示す模式的な構成図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光源部およびファイバ保持部材の装着時の概略構成を示す模式的な断面図である。
【図３】本発明の実施形態に係るファイバ保持部材の取り外し時の様子を示す模式的な断面図である。
【図４】図３におけるＡ視の側面図、およびそのＣ−Ｃ断面図である。
【図５】図３におけるＢ視の側面図である。
【図６】本発明の実施形態に係るファイバ保持部材に用いるレセプタクルの模式的な側面図である。
【図７】集光光学系のチルト偏心、シフト偏心における集光位置の位置ずれを説明する模式図、およびファイバ組立体の調整精度について説明する模式図である。
【図８】プラグとレセプタクルとの嵌め合い公差によるファイバコアの位置ずれについて説明する模式図である。
【図９】本発明の実施形態の第１変形例に係る干渉計の光源部およびファイル保持部材の概略構成を示す模式的な断面図である。
【図１０】本発明の実施形態の第２変形例に係る光源部およびファイル保持部材の装着時の概略構成および取り外し時の様子を示す模式的な部分断面図である。
【図１１】本発明の実施形態の第３変形例に係るファイル保持部材の概略構成を示す模式的な断面図、そのＥ視側面図、およびＦ視側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下では、本発明の実施形態について添付図面を参照して説明する。すべての図面において、実施形態が異なる場合であっても、同一または相当する部材には同一の符号を付し、共通する説明は省略する。
【００１２】
本発明の実施形態に係る干渉計について説明する。
図１は、本発明の実施形態に係る干渉計の概略構成を示す模式的な構成図である。図２は、本発明の実施形態に係る光源部およびファイバ保持部材の装着時の概略構成を示す模式的な断面図である。図３は、本発明の実施形態に係るファイバ保持部材の取り外し時の様子を示す模式的な断面図である。図４（ａ）は、図３におけるＡ視の側面図である。図４（ｂ）は、図４（ａ）におけるＣ−Ｃ断面図である。図５は、図３におけるＢ視の部分側面図である。図６は、本発明の実施形態に係るファイバ保持部材に用いるレセプタクルの模式的な側面図である。
なお、各図面は、模式図のため形状や寸法は誇張されている（以下の図面も同じ）。
【００１３】
本実施形態の干渉計５０は、図１に示すように、被測定体５の被測定面５ａの干渉縞画像を取得するフィゾー干渉計である。
被測定面５ａとしては、例えば、凸球面や平面等でもよいが、以下では、一例として、平凹レンズからなる被測定体５の凹球面の場合で説明する。
干渉計５０の概略構成は、光源部５２、ファイバ組立体５５、および干渉計本体部５１を備える。また、光源部５２および干渉計本体部５１には、これらの動作の制御を行う制御部５３がそれぞれ電気的に接続されている。
【００１４】
光源部５２は、干渉縞を形成するためのコヒーレント光を発生するもので、図２に示すように、光源部筐体５２ａの内部に設けられたレーザ光源２０およびレーザ電源２１と、光源部筐体５２ａの一側面に貫通して一部が表面に露出された固定部材２４（着脱部）とを備える。
レーザ光源２０は、例えば、Ｈｅ−Ｎｅレーザなどの気体レーザからなる細長い円柱状の部材である。レーザ光源２０には、レーザ電源２１が接続され、レーザ電源２１から電力の供給を受けてレーザ光を発振し、先端側に設けられた出射開口２０ａから平行光３１ａを出射できるようになっている。このため、レーザ光源２０は、平行光束を出射する光束発生部を構成している。
レーザ電源２１は、レーザ光源２０および制御部５３に電気的に接続され、制御部５３からの制御信号に基づいて、レーザ光源２０に電力の供給と停止とを行うものである。
【００１５】
レーザ光源２０の先端側および後端側は、それぞれ光源部筐体５２ａの底面に固定されたブロック状の支持部材２２、２３によって光源部筐体５２ａの底面に平行に保持されている。このため、レーザ光源２０の光軸Ｏは、光源部筐体５２ａの底面と平行（図２の水平方向）に配置されている。
【００１６】
支持部材２２は、レーザ光源２０の先端側および固定部材２４をそれぞれ光源部筐体５２ａの内部で支持するための部材であり、一方の側面に固定部材２４を固定するための固定部材取付部２２ｂが設けられている。この固定部材取付部２２ｂは、光源部筐体５２ａの一側面に近接して対向する位置に配置されている。
固定部材取付部２２ｂは、固定部材２４を固定するため図示鉛直方向に延ばされた平面部と、固定部材２４を固定ねじ２９で固定するためこの平面部から水平方向内側に設けられた４つの雌ねじ部２２ｄ（図４（ｂ）参照）とで構成される。
固定部材取付部２２ｂの材質は、例えば、ステンレス鋼などの適宜の金属を採用することができる。
固定部材取付部２２ｂの裏面側の側面には、レーザ光源２０の先端側を保持するための横穴部である光源保持部２２ａが設けられている。光源保持部２２ａの中心には、平行光３１ａを通過させるため、固定部材取付部２２ｂに貫通された孔部２２ｃが設けられている。
また、特に図示しないが、孔部２２ｃには、孔部２２ｃを通過する平行光３１ａの光量を規制するため、フィルタや可変絞りなどの適宜の光量規制部材が設けられていてもよい。
【００１７】
固定部材２４は、図３、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、円板部材の中心に貫通孔が形成された全体として円環状の部材であり、例えば、ステンレス鋼などの適宜の金属で構成される。
固定部材２４は、板厚方向の一方の平面である被固定部２４ａの中心に設けられた開口部２４ｂを備える。また、板厚方向の他方の平面側から開口部２４ｂと同軸かつ開口部２４ｂよりも大径の内径Ｄ０（呼び寸法）を有する円筒穴形状に設けられた嵌合穴部２４ｃと備える。また、嵌合穴部２４ｃの内側面と開口部２４ｂとの間に、嵌合穴部２４ｃの中心軸に直交する平面である当付面２４ｄ（位置決め面）を備える。嵌合穴部２４ｃの円筒面状の内側面は、後述する被嵌合部２５ｅを嵌合する嵌合面を構成している。
固定部材２４の内径Ｄ０は、平行光３１ａの光束径よりも大きい適宜の寸法とすることができるが、本実施形態では、後述する入射端側プラグ１２ａの外形よりも大きな寸法、例えば、Ｄ０＝３５（ｍｍ）としている。
固定部材２４の当付面２４ｄ上には、嵌合穴部２４ｃの中心と同心の円周を４等分する位置に、固定ねじ２８をそれぞれねじ締結するための４つの雌ねじ部２４ｅが設けられている。
また、嵌合穴部２４ｃの外周側には、嵌合穴部２４ｃの中心と同心の円周を４等分する位置に、固定ねじ２９をそれぞれ挿通させるための４つの固定ねじ挿通孔２４ｆ（図４（ｂ）参照）が設けられている。
【００１８】
本実施形態の固定部材２４は、支持部材２２、２３に保持されたレーザ光源２０の光軸Ｏと嵌合穴部２４ｃの中心軸とが整列されるとともに、当付面２４ｄが光軸Ｏに直交する位置関係に配置されて、この状態で４本の固定ねじ２９によって支持部材２２に固定されている。
固定部材２４は、機械的な突き当てや嵌合等によってこのような位置関係に配置してもよいが、本実施形態では、支持部材２２に対して固定部材２４を位置調整してから固定している。
例えば、固定部材２４の径方向の位置調整は、固定部材２４を径方向に移動可能に保持する適宜の組み付け治具などを用いることができる。また、固定部材２４の軸方向の位置調整は、例えば、固定部材取付部２２ｂと被固定部２４ａとの間にシムを挟むことなどによって、高精度に調整することができる。
なお、レーザ光源２０からは平行光３１ａが出射されるため、レーザ光源２０と固定部材２４との間の光軸Ｏ方向の距離は適宜に設定することができる。
【００１９】
ファイバ組立体５５は、両端部に入射端側プラグ１２ａと出射端側プラグ１２ｂとを有するファイバ１２と、ファイバ１２の入射端側を保持するとともに光源部５２の固定部材２４に対して着脱可能に設けられたファイバ保持部材２５と、ファイバ保持部材２５の内部にファイバ１２の入射端に焦点位置を合わせて配置された集光レンズ２６（集光光学系）とを備える。
【００２０】
本実施形態のファイバ１２は、偏波面保存ファイバを採用しており、入射端のファイバ端面は、ファイバ中心軸に直交する面から、例えば８°程度傾斜した研磨面で構成されている。これによりファイバ端面での反射光がレーザ光源２０に戻らないため、レーザ発振が不安定になることが防止されている。
【００２１】
入射端側プラグ１２ａは、ファイバ保持部材２５に固定されたレセプタクル２７に対して、ファイバ１２の入射側の端部に設けられたフェルール１２ｃを固定するもので、フェルール１２ｃの外周部にはレセプタクル２７と連結するための連結部１２ｄが設けられている。
フェルール１２ｃおよび連結部１２ｄの形状は、例えば、ＪＩＳ−Ｃ５９７０−Ｆ０１などに規定される光ファイバコネクタの適宜のプラグ形状を採用することができる。ただし、本実施形態の入射端側プラグ１２ａとレセプタクル２７とは、干渉計５０の使用者が着脱することはないため、装着後容易に取り外しできないように接着剤（例えば、アラルダイト）が施されている。
【００２２】
出射端側プラグ１２ｂは、詳細の形状の図示は省略するが、ファイバ１２の出射側の端部に設けられたフェルールを、後述する干渉計本体部５１のレセプタクル１３に対して着脱可能に固定するもので、出射端側プラグ１２ｂのフェルールの外周部には、レセプタクル１３と連結するための連結部が設けられている。
出射端側プラグ１２ｂのフェルールおよび連結部の形状は、入射端側プラグ１２ａと同様に、例えば、ＪＩＳ−Ｃ５９７０−Ｆ０１などに規定される光ファイバコネクタの適宜のプラグ形状を採用することができる。ただし、本実施形態の出射端側プラグ１２ｂとレセプタクル１３とは、従来の干渉計において干渉縞本体部に着脱可能に設けられたファイバと同様に、干渉計５０の使用者が容易に着脱できるようになっている。
【００２３】
本実施形態のファイバ保持部材２５の形状は、図２、３に示すように、外形が円筒状の筒体であり、先端側（図２の図示左側）に、被当付面２５ｆ（被位置決め面）と被嵌合部２５ｅ（被嵌合面）とが設けられている。
被当付面２５ｆは、固定部材２４の当付面２４ｄに当て付けられる平面からなる。
被嵌合部２５ｅは、外径Ｄ０（呼び寸法）を有し、被当付面２５ｆから嵌合穴部２４ｃの深さ以上の範囲にわたって設けられた円筒面である。
嵌合穴部２４ｃの内径Ｄ０と被嵌合部２５ｅの外径Ｄ０との寸法公差は、使用者が、ファイバ保持部材２５を容易に着脱できるように隙間嵌めであることが好ましい。本実施形態では、呼び寸法Ｄ０＝３５（ｍｍ）の場合の一例として、穴側の嵌合穴部２４ｃは、＋０．０１ｍｍ〜＋０．０３ｍｍ、軸側の被嵌合部２５ｅは、−０．０３ｍｍ〜−０．０１ｍｍとしている。この場合、嵌合穴部２４ｃの中心と被嵌合部２５ｅの中心とは、最大０．０６ｍｍずれることになる。
【００２４】
また、ファイバ保持部材２５の中心軸上には、先端側に集光レンズ２６を取り付ける穴部であるレンズ取付部２５ａが、後端側にはレセプタクル２７を取り付ける穴部であるレセプタクル固定部２５ｃがそれぞれ設けられている。
レンズ取付部２５ａおよびレセプタクル固定部２５ｃの間には、光束を通過させるための貫通孔２５ｂがファイバ保持部材２５の中心軸と略同軸の位置に設けられている。
レンズ取付部２５ａおよびレセプタクル固定部２５ｃの少なくともいずれかは、被取付物を径方向に位置調整ができるような大きさを備えている。本実施形態では、一例として被取付物であるレセプタクル２７を位置調整できるように、レセプタクル固定部２５ｃの径方向の大きさをレセプタクル２７の外形よりも大きく設定して（図５参照）、レセプタクル２７の径方向の位置を調整できるにしている。
レンズ取付部２５ａとレセプタクル固定部２５ｃとの間の軸方向の距離は、レセプタクル固定部２５ｃに固定されたレセプタクル２７においてフェルール１２ｃの先端に位置するファイバコア１２ｅの端面（ファイバ１２に入射端）が集光レンズ２６の焦点面と整列する寸法に設定される。本実施形態では、レンズ取付部２５ａ、レセプタクル固定部２５ｃはファイバ保持部材２５に一体に設けられており、それぞれの加工寸法によって距離が調整されている。
【００２５】
なお、レンズ取付部２５ａの形状は、集光レンズ２６の固定方法に応じて適宜の形状を採用することができる。
例えば、本実施形態では、集光レンズ２６を接着固定しているため、必要に応じて接着剤の供給溝（不図示）を備える略円筒穴形状とされている。
また、例えば、雄ねじが設けられたレンズ押さえリングなどの押さえ部材を用いて固定する場合には、レンズ押さえリングを取り付ける雌ねじ部などがレンズ取付部２５ａの内周側に設けておく。
【００２６】
ファイバ保持部材２５において、レンズ取付部２５ａおよびレセプタクル固定部２５ｃの径方向外側には、固定ねじ２９を挿通させるための４つの固定ねじ挿通孔２５ｄが軸方向に貫通して設けられている。４つの固定ねじ挿通孔２５ｄの径方向および周方向における位置関係は、各固定ねじ挿通孔２５ｄが、固定部材２４に設けられた各雌ねじ部２４ｅと重なる位置関係とされている。
また、レセプタクル固定部２５ｃの底面部には、固定ねじ３０（図５参照）によってレセプタクル２７を固定するための雌ねじ部２５ｇが、後述するレセプタクル２７の固定ねじ挿通孔２７ｅと同一の位置関係に設けられている。
【００２７】
レセプタクル２７は、図２、３、５、６に示すように、レセプタクル固定部２５ｃの内部に挿入して、レセプタクル固定部２５ｃの底面に固定面２７ｄを押し当てて取り付けられる略円板状の部材である。
レセプタクル２７の固定面２７ｄと反対側の面には、中心に入射端側プラグ１２ａを嵌合して位置決めするフェルール固定部２７ｂが設けられ、フェルール固定部２７ｂの外周部には、入射端側プラグ１２ａの連結部１２ｄと連結するための連結部２７ｃが設けられている。フェルール固定部２７ｂと固定面２７ｄとの間には、集光レンズ２６を透過した光束をフェルール１２ｃの中心に設けられたファイバコア１２ｅに導くための開口部２７ａが設けられている。
フェルール固定部２７ｂおよび連結部２７ｄの形状は、例えば、ＪＩＳ−Ｃ５９７０−Ｆ０１などに規定される光ファイバコネクタの適宜のレセプタクル形状を採用することができる。
【００２８】
連結部２７ｃの外周部には、図６に示すように、レセプタクル２７をファイバ保持部材２５に固定するための固定ねじ３０を挿通させる４つの固定ねじ挿通孔２７ｅが、フェルール固定部２７ｂと同心の円周を４等分する位置に設けられている。各固定ねじ挿通孔２７ｅの径方向の位置は、レセプタクル２７を固定ねじ３０によってレセプタクル固定部２５ｃに固定したとき、固定ねじ３０のねじ頭が入射端側プラグ１２ａに干渉しない適宜位置に設定される。
【００２９】
集光レンズ２６は、レーザ光源２０から出射された平行光３１ａをレセプタクル２７に固定されたフェルール１２ｃの入射端であるファイバコア１２ｅ上に集光するためもので、正の屈折力を有するレンズまたはレンズ群からなる。
集光レンズ２６のレンズ構成は、一例として凸平レンズの場合を図示しているが、レンズ形状はこれには限定されず、また単レンズにも限定されない。
【００３０】
本実施形態のファイバ組立体５５の組立方法の一例について説明する。
まず、ファイバ保持部材２５のレンズ取付部２５ａに集光レンズ２６を挿入して、集光レンズ２６をレンズ取付部２５ａに接着する。
次に、固定部材２４と同様な構成の嵌合部が設けられた調整治具上にファイバ保持部材２５を固定する。そして、ファイバ１２の入射端側プラグ１２ａが連結されたレセプタクル２７をファイバ保持部材２５のレセプタクル固定部２５ｃに配置し、適宜の移動調整治具によって、レセプタクル２７の固定面２７ｄをレセプタクル固定部２５ｃに押圧保持する。
次に、ファイバ１２の出射端側プラグ１２ｂを調整用の光検出装置に接続し、調整用の平行光束を集光レンズ２６に入射させて、光検出装置によって、ファイバ１２の出射端から出射される光量を測定する。
そして、移動調整治具によってレセプタクル２７を径方向に移動させ、光検出装置の測定光量が最大となる位置にレセプタクル２７を位置合わせする。この状態で、固定ねじ３０を用いて、レセプタクル２７をファイバ保持部材２５に固定する。
なお、その際、ファイバ１２の入射端側プラグ１２ａが使用者によってレセプタクル２７から容易に取り外しできないように、接着剤（例えば、アラルダイト）などによりレセプタクル２７に対して入射端側プラグ１２ａを固定する。
以上で、ファイバ組立体５５の組立が終了する。
【００３１】
次に、干渉計本体部５１の構成について説明する。
干渉計本体部５１は、図１に示すように、コリメータレンズ２、ビームスプリッタ３、フィゾーレンズ４、レンズ駆動部８、駆動制御部９、保持台１０、集光レンズ６、およびＣＣＤ７を備える。これらは、本体部筐体５１ａの内部で不図示の支持部材によって支持され、互いの相対位置が位置決めされている。
また、コリメータレンズ２の光軸上の本体部筐体５１ａには、ファイバ１２の出射端側プラグ１２ｂを着脱可能に連結するレセプタクル１３が設けられている。
【００３２】
コリメータレンズ２は、レセプタクル１３に連結されたファイバ１２の出射端に焦点が位置合わせされた正の屈折力を有するレンズもしくはレンズ群であり、ファイバ１２から出射された発散光を平行光３２ａとして、コリメータレンズ２の光軸上に設けられたビームスプリッタ３に向けて出射するものである。
ビームスプリッタ３は、平行光３２ａを反射してフィゾーレンズ４の光軸Ｌ上に導くとともに、フィゾーレンズ４側から入射する後述の被測定面反射光３２ｃ、参照面反射光３２ｄを透過する光分岐素子である。
【００３３】
フィゾーレンズ４は、光軸Ｌ上に入射された平行光３２ａの一部をフィゾー面４ａで反射して、参照面反射光３２ｄを形成し、光軸Ｌ上に入射された平行光３２ａの他の部分を透過光３２ｂとして透過し、透過光３２ｂを集光するレンズであり、平行光３２ａを分割する機能を有する。
フィゾー面４ａの形状は、精度よく仕上げられた球面である。このため、フィゾー面４ａは、被測定面５ａで反射された被測定面反射光３０ｃの波面を変換して参照面反射光３２ｄとの干渉縞を形成するための参照面を構成している。
【００３４】
フィゾーレンズ駆動部８は、フィゾーレンズ４を光軸Ｌに沿う方向に微小移動させる移動機構であり、例えばピエゾ素子などで構成される。
駆動制御部９は、制御部５３からの制御信号に基づいて、フィゾーレンズ駆動部８の駆動量を制御し、これにより被測定面５ａのフィゾー面４ａに対する光軸Ｌに沿う方向の相対位置を制御するものである。
【００３５】
保持台１０は、被測定体５を、被測定面５ａがフィゾーレンズ４のフィゾー面４ａに対向するように配置して保持するものであり、保持台移動機構１１によって移動可能に支持されている。
保持台移動機構１１は、保持台１０上の被測定面５ａの光軸を光軸Ｌと同軸に位置合わせするとともに、フィゾーレンズ４と被測定体５との間の光軸Ｌに沿う方向の距離を調整する機構である。
【００３６】
集光レンズ６は、被測定面反射光３０ｃ、参照面反射光３０ｄによる干渉縞を、ＣＣＤ７の撮像面７ａ上に投影する光学素子である。
ＣＣＤ７は、撮像面７ａ上に投影された干渉縞画像を光電変換する撮像素子である。
ＣＣＤ７は、制御部５３に電気的に接続されており、制御部５３によって撮像動作が制御される。ＣＣＤ７で撮像した画像信号は制御部５３に送出される。
【００３７】
制御部５３が行う干渉計本体部５１の動作制御としては、ＣＣＤ７から送出される干渉縞画像をモニタ５４に表示させる制御や、駆動制御部９から取得されるフィゾー面４ａの位置情報に基づいて取得した干渉縞画像を画像処理し、例えばフリンジスキャン法などによって、被測定面５ａの波面を算出し、算出された波面をモニタ５４に表示させる制御などを挙げることができる。
制御部５３の装置構成は、本実施形態では、ＣＰＵ、メモリ、入出力インターフェース、外部記憶装置などからなるコンピュータで構成され、このコンピュータにより適宜の制御プログラム、演算プログラムを実行することで上記の動作制御の機能を実現している。
【００３８】
次に、干渉計５０の作用について説明する。干渉計本体部５１における干渉縞測定は、従来のフィゾー型干渉計と同様に行うことができるため、以下では、光源部５２およびファイバ組立体５５の作用を中心に説明する。
図７（ａ）、（ｂ）は、それぞれ、集光光学系のチルト偏心、シフト偏心における集光位置の位置ずれを説明する模式図である。図７（ｃ）は、ファイバ組立体の調整精度について説明する模式図である。図８は、プラグとレセプタクルとの嵌め合い公差によるファイバコアの位置ずれについて説明する模式図である。
【００３９】
図２に示すように、制御部５３によってレーザ光源２０を発振させると、出射開口２０ａから平行光３１ａが出射される。平行光３１ａは、開口部２４ｂを通過して、固定部材２４に固定されたファイバ保持部材２５内の集光レンズ２６に入射して集光レンズ２６の焦点位置に集光される。
ファイバ組立体５５は、調整治具によって集光レンズ２６に対するレセプタクル２７の位置関係が調整されているため、平行光３１ａは、レセプタクル２７に保持されたファイバ１２の入射端のファイバコア１２ｅに入射する。
ファイバコア１２ｅに入射された光は、ファイバ１２を通して、出射端側プラグ１２ｂの出射端まで伝送され、出射端から発散光として干渉計本体部５１内に出射される。この発散光はコリメータレンズ２によって平行光３２ａに変換され、干渉縞画像の取得に用いられる。
【００４０】
本実施形態では、固定ねじ２８を取り外すことで、図３に示すように、ファイバ組立体５５を固定部材２４から容易に取り外すことができる。
また、ファイバ保持部材２５の被嵌合部２５ｅを嵌合穴部２４ｃに嵌合させ、固定ねじ２８によって、ファイバ保持部材２５を固定部材２４に固定することで、ファイバ組立体５５を固定部材２４に装着することができる。
このとき、ファイバ保持部材２５は、固定部材２４の嵌合穴部２４ｃと当付面２４ｄとによって、位置決めされるため、当付面２４ｄの配置位置に集光レンズ２６の光軸Ｏ方向の位置およびチルト姿勢が位置決めされ、嵌合穴部２４ｃおよび被嵌合部２５ｅの嵌め合い公差の範囲で集光レンズ２６の径方向の位置が位置決めされる。
【００４１】
しかしながら、固定部材２４およびファイバ保持部材２５に製作誤差があると、ファイバ保持部材２５に固定された集光レンズ２６がレーザ光源２０の光軸Ｏに対するシフト偏心とチルト偏心とを起こす可能性がある。
例えば、図７（ａ）に示すように、ファイバコア１２ｅの中心の点Ｐが集光レンズ２６の焦点位置に位置合わせされている場合、ファイバ保持部材２５が光軸Ｏに対して角度θだけ傾斜すると、平行光３１ａの集光位置が点Ｐに対して径方向にδｔ（＝ｆ・ｔａｎθ）だけずれることになる。ここで、ｆは集光レンズ２６の焦点距離である。
また、図７（ｂ）に示すように、ファイバ保持部材２５が光軸Ｏに対して径方向にδｓだけ平行にずれると、平行光３１ａは集光レンズ２６の光軸ＯＬ上に集光されるので、集光位置が平行光３１ａの光軸Ｏからδｓだけ平行移動され、ファイバ保持部材２５の固定されたファイバコア１２ｅの中心の点Ｐ上に集光される。
このように、本実施形態では、ファイバ組立体５５が集光レンズ２６を備えるため、ファイバ保持部材２５の中心軸と光軸Ｏとの平行が保たれていれば、平行光３１ａを確実にファイバコア１２ｅに結合することができる。
【００４２】
これに対して、集光レンズ２６の集光位置で、レセプタクル２７と入射端側プラグ１２ａとを着脱する場合には、フェルール１２ｃとフェルール固定部２７ｂとの嵌め合い誤差があるため、集光レンズ２６で集光されたレーザ光をファイバ１２に結合することが困難である。
この点について、具体的な数値例で説明する。例えば、レセプタクル２７および入射端側プラグ１２ａがＪＩＳ−Ｃ５９７０−Ｆ０１形単心光ファイバコネクタのうち、プラグの等級Ｂの場合の一例を図８に示す。
フェルール１２ｃおよびフェルール固定部２７ｂの外径および内径の呼び寸法は２．５ｍｍであり、ファイバコア１２ｅの径ｄ１は、モードフィールド径を採用すると、ｄ１＝０．００４５（ｍｍ）である。このとき、フェルール１２ｃとファイバコア１２ｅの同軸度は０．００１４ｍｍ以下であり、フェルール１２ｃの外径ｄ２（ｍｍ）は、２．４９８５≦ｄ２≦２．４９９５である。一方、フェルール固定部２７ｂの内径ｄ３（ｍｍ）は、２．５０４≧ｄ３≧２．５０１である。
したがって、フェルール１２ｃの外径とフェルール固定部２７ｂの内径との間の隙間Δは、最大で、Δ＝０．００５５（ｍｍ）となり、さらにフェルール１２ｃとファイバコアとの同軸度０．００１４ｍｍを考慮して、０．００６９ｍｍが、フェルール固定部２７ｂの中心Ｑとファイバコア１２ｅの中心Ｐとの最大ずれ量になる。
このような最大ずれ量は、ファイバコア１２ｅの径ｄ１よりも大きいので、集光レンズ２６で集光された光がファイバコア１２ｅにまったく入らない場合が起こりうることになる。
従来の干渉計（例えば、上記の特許文献１に記載の干渉計装置）において、光源部に接続されたファイバを規格化された光コネクタによって着脱可能に設けることができないのはこのような理由による。
【００４３】
次に、本実施形態における固定部材２４の光軸Ｏに対する調整精度や、被当付面２５ｆの形状精度などの設定方法について説明する。
図８（ｃ）に示すように、集光レンズ２６とレセプタクル２７との調整誤差によって、集光レンズ２６が、ファイバコア１２ｅに対してδ２だけシフト偏心し、レーザ光源２０と固定部材２４との間の調整誤差、集光レンズ２６の組み付け誤差、あるいは被当付面２５ｆの製作誤差などによって、集光レンズ２６が角度θだけチルト偏心したとする。チルト偏心による集光位置の位置ずれδ１は、上記δｔと同様に次式（１）で表される。
【００４４】
δ１＝ｆ・ｔａｎθ                                          ・・・（１）
【００４５】
一方、集光位置の点Ｐに対する許容偏心量δａは、ガウスビームを仮定すると次式（２）で表される。
【００４６】
【数１】
0005562600.tif 000002
【００４７】
ここで、ｗ１は、集光レンズ２６で集光したレーザ光のスポット半径であり、エアリーのディスクの公式より、レーザ光の波長をλ、集光レンズ２６の開口数をＮＡとして、上記の式（３）のように表される。
また、ｗ２は、ファイバコア１２ｅの半径であり、モードフィールド径ｄ１を用いて、ｗ２＝ｄ１／２で表される。
また、ηはファイバのカップリング効率である。
【００４８】
位置ずれ量δ１、δ２の和が許容偏心量δａの範囲内に収まることが調整精度の条件となるから、次式（４）が、調整精度を求める条件式になる。
【００４９】
δａ≧ｆ・ｔａｎθ＋δ２                                    ・・・（４）
【００５０】
本実施形態によれば、固定部材２４の光軸Ｏに対する調整精度や、被当付面２５ｆの形状精度などによって決まる角度θとシフト偏心δ２を、上記の式（４）を満足させるので、ファイバ保持部材２５の被嵌合部２５ｅと固定部材２４の嵌合穴部２４ｃとの嵌合公差によってファイバ保持部材２５が径方向にずれても、レーザ光源２０からの平行光３１ａが常に一定のカップリング効率η以上でファイバ１２に結合される。
本実施形態の例では、被嵌合部２５ｅと嵌合穴部２４ｃとの嵌合公差によって、光軸Ｏと集光レンズ２６の光軸ＯＬとは、最大０．０６ｍｍ（本実施形態の例のモードフィールド径の１３倍以上に相当）ずれるが、確実にファイバ１２に光結合させることができる。
また、このように被嵌合部２５ｅを嵌合穴部２４ｃに対して隙間嵌めの嵌合で着脱することができるので、固定ねじ２９を外すことで、使用者でも容易に、ファイバ組立体５５を光源部５２に着脱することができる。
また、交換用のファイバ組立体５５を同様の寸法精度、調整精度で用意しておくことで、互換性を有するファイバ組立体５５が得られるので、例えばファイバ１２が損傷した場合には、使用者によってファイバ組立体５５だけを交換することができるので、容易に修理することができ、修理費用を低減することができる。
【００５１】
以上に説明したように、本実施形態の干渉計５０によれば、光源部５２から平行光３１ａを出射し、ファイバ１２の入射端を保持するとともにファイバ１２の入射端に焦点位置を合わせて配置された集光レンズ２６を有するファイバ保持部材２５によってファイバ１２を保持し、ファイバ保持部材２５を光源部５２の固定部材２４に着脱する構成としたため、ファイバ１２を光源部５２に対して容易に着脱することができる。
【００５２】
［第１変形例］
次に、本実施形態の第１変形例に係る干渉計について説明する。
図９は、本発明の実施形態の第１変形例に係る干渉計の光源部およびファイル保持部材の概略構成を示す模式的な断面図である。
【００５３】
本変形例の干渉計５０Ａは、図１、９に示すように、上記実施形態の干渉計５０の光源部５２に代えて、光源部５２Ａを備える。以下、上記実施形態と異なる点を中心に説明する。
【００５４】
光源部５２Ａは、図９に示すように、上記実施形態の光源部５２のレーザ光源２０に代えて、半導体レーザ４０およびコリメータレンズ４１を備え、半導体レーザ４０から出射された発散光をコリメータレンズ４１で平行光束化して、上記実施形態と同様の平行光３１ａを生成するようにしたものである。
本変形例では、半導体レーザ４０およびコリメータレンズ４１は、コリメータレンズ４１の焦点位置を半導体レーザ４０の発光点に位置合わせされた状態で、円筒状の外形を有する鏡筒部材４２の中心軸に沿って保持されている。このため、半導体レーザ４０から出射される平行光３１ａの光軸は、鏡筒部材４２の中心軸に整列されている。
また、光源部５２Ａは、これらの変更に合わせて、光源部５２から支持部材２３を削除し、支持部材２２、レーザ電源２１に代えて、支持部材２２Ａ、レーザ駆動部２１Ａを備える。
【００５５】
支持部材２２Ａは、光源部筐体５２ａの内部に支持部材２２と同様な位置に設けられ、鏡筒部材４２に保持された半導体レーザ４０およびコリメータレンズ４１を上記実施形態と同様な光軸Ｏ上に保持するとともに、支持部材２２と同様にして固定部材２４を固定するブロック状部材である。
このため、支持部材２２Ａは、支持部材２２の光源保持部２２ａ、孔部２２ｃに代えて、鏡筒部材４２の中心軸が光軸Ｏに整列するように鏡筒部材４２を保持する貫通孔からなる光源保持部２２ｄを備える。
鏡筒部材４２は、例えば、不図示の固定ねじなどによって、支持部材２２Ａに固定されている。
【００５６】
レーザ駆動部２１Ａは、制御部５３および半導体レーザ４０に電気的に接続され、制御部５３からの制御信号に基づいて、半導体レーザ４０に電流の供給と停止とを行うものである。なお、特に図示しないが、必要に応じて、半導体レーザ４０の近傍に、例えばペルチェ素子などからなる冷却部材を設けてもよい。
【００５７】
本変形例では、半導体レーザ４０およびコリメータレンズ４１が平行光３１ａを出射する光束発生部を構成しており、上記実施形態と同様の平行光３１ａを、コリメータレンズ４１から出射することができる。ファイバ組立体５５、および固定部材２４の構成は、上記実施形態と同様のため、ファイバ１２の着脱性に関しては、上記実施形態と同様の作用効果を備える。
本変形例の光源部５２Ａでは、レーザ光源２０に代えて半導体レーザ４０を用いるため、光源部５２に比べて、光源部筐体５２ａを格段に小型化することができる。
【００５８】
また、本変形例では、上記実施形態と同様に、支持部材２２Ａに鏡筒部材４２を介して固定されたレーザ光の光軸に合わせて固定部材２４の位置調整することができる。ただし、鏡筒部材４２は、レーザ光源２０に比べて格段に小さいため、固定部材２４を支持部材２２Ａに固定してから、鏡筒部材４２の側で位置調整を行うことも可能である。例えば、支持部材２２Ａに複数のマイクロヘッドなどの位置調整手段を設け、鏡筒部材４２の保持位置を光源保持部２２ｄの内部で位置、姿勢の調整を行ってもよい。
【００５９】
［第２変形例］
次に、本実施形態の第２変形例に係る干渉計について説明する。
図１０（ａ）は、本発明の実施形態の第２変形例に係る光源部およびファイル保持部材の装着時の概略構成を示す模式的な部分断面図である。図１０（ｂ）は、本発明の実施形態に係るファイバ保持部材の取り外し時の様子を示す模式的な断面図である。
【００６０】
本変形例の干渉計５０Ｂは、磁力によって光源部にファイバ保持部材を装着できるようにしたものであり、図１、図１０（ａ）に示すように、上記実施形態の干渉計５０の光源部５２、ファイバ組立体５５に代えて、光源部５２Ｂ、ファイバ組立体５５Ａを備える。以下、上記実施形態と異なる点を中心に説明する。
【００６１】
光源部５２Ｂは、図１０（ａ）に示すように、上記実施形態の光源部５２の固定部材２４に代えて、固定部材２４Ａ（着脱部）を備える。
固定部材２４Ａは、上記実施形態の固定部材２４から雌ねじ部２４ｅを削除した形状を、磁性体からなる金属で形成したものである。
【００６２】
ファイバ組立体５５Ａは、上記実施形態のファイバ組立体５５のファイバ保持部材２５に代えて、ファイバ保持部材２５Ａおよび磁石４３を備え、固定ねじ２８を削除したものである。
ファイバ保持部材２５Ａは、上記実施形態のファイバ保持部材２５の固定ねじ挿通孔２５ｄを削除し、被当付面２５ｆに磁石４３を埋設するための磁石取付穴２５ｈを設けたものである。
磁石取付穴２５ｈの平面視の形状は、磁石４３の個数および形状に応じて適宜の形状を採用することができる。また、磁石取付穴２５ｈの深さは、磁石４３の厚さよりわずかに深い深さとされ、磁石取付穴２５ｈに取り付けられた磁石４３は、被当付面２５ｆからは突出しないようになっている。
磁石４３は、適宜形状の永久磁石を採用することができるが、磁石４３は、固定部材２４Ａにファイバ保持部材２５Ａを安定して装着するために、被当付面２５ｆの周方向にわたってバランスよく吸引力が得られる構成とすることが好ましい。
例えば、円板状の磁石４３を被当付面２５ｆの周方向を等分する位置に３以上設ける構成や、円環状の磁石４３を被嵌合部２５ｅと略同軸に配置する構成などを好適に採用することができる。
【００６３】
本変形例によれば、被当付面２５ｆを固定部材２４Ａの当付面２４ｄに向けて、被嵌合部２５ｅを嵌合穴部２４ｃに嵌合させると、磁石４３の磁力によって、固定部材２４Ａが吸引され、被当付面２５ｆが磁力によって当付面２４ｄに押圧され、図１０（ａ）に示すように、ファイバ保持部材２５Ａが光源部５２Ｂの固定部材２４Ａに装着される。
また、ファイバ保持部材２５Ａの側面を持って引き抜くことにより、図１０（ｂ）に示すように、ファイバ保持部材２５Ａを固定部材２４Ａから取り外すことができる。
このように、本変形例では、上記実施形態のように複数の固定ねじ２８を用いていないため、上記実施形態に比べて、容易かつ迅速にファイバ組立体５５Ａを着脱することができる。
【００６４】
［第３変形例］
次に、本実施形態の第３変形例に係る干渉計について説明する。
図１１（ａ）は、本発明の実施形態の第３変形例に係るファイル保持部材の概略構成を示す模式的な断面図である。図１１（ｂ）は、図１１（ａ）におけるＥ視側面図である。図１１（ｃ）は、図１１（ａ）におけるＦ視側面図である。
【００６５】
本変形例の干渉計５０Ｃは、図１、図１１（ａ）に示すように、上記実施形態の干渉計５０のファイバ組立体５５に代えて、ファイバ組立体５５Ｂを備える。以下、上記実施形態と異なる点を中心に説明する。
【００６６】
ファイバ組立体５５Ｂは、上記実施形態のファイバ組立体５５のファイバ保持部材２５、レセプタクル２７に代えて、ファイバ保持部材２５Ｂ、レセプタクル２７Ａを備えたものである。
ファイバ保持部材２５Ｂは、上記実施形態のファイバ保持部材２５のレンズ取付部２５ａに代えて、集光レンズ２６の位置を軸方向に調整するためのスライド孔２５ｉを備え、ファイバ保持部材２５Ｂの側面からスライド孔２５ｉの側面まで径方向に貫通する雌ねじ部２５ｋと、ファイバ保持部材２５Ｂの側面からレセプタクル固定部２５ｃの側面まで径方向に貫通する４つの雌ねじ部２５ｊとを追加したものである。
レセプタクル２７Ａは、図１１（ｃ）に示すように、上記第１の実施形態のレセプタクル２７の平面視形状を角が丸められた正方形形状として、平面状の４つの側面部２７ｆを設けたものである。
【００６７】
４つの雌ねじ部２５ｊは、レセプタクル２７Ａの４つの側面部２７ｆの径方向の位置を調整するための調整ねじ４５を螺合するためのものであり、レセプタクル固定部２５ｃを周方向に４等分する位置に設けられている。調整ねじ４５としては、例えば、六角穴付き止めねじなどを好適に採用することができる。
【００６８】
スライド孔２５ｉの内部には、集光レンズ２６が内部に固定され、スライド孔２５ｉに摺動可能に内嵌する円筒面を有するレンズホルダ４４が配置されている。レンズホルダ４４は、雌ねじ部２５ｋに螺合されたレンズ固定ねじ４６をねじ込んでレンズホルダ４４の側面を押圧することで、軸方向の適宜位置に固定することができるようになっている。
【００６９】
本変形例によれば、レンズ固定ねじ４６を緩めて、スライド孔２５ｉの開口部から差し入れたチャック治具などによってレンズホルダ４４の端部を把持して軸方向に位置調整を行い、調整後にレンズ固定ねじ４６によってレンズホルダ４４の位置を固定することができる。
また、レセプタクル２７Ａを固定する４つの固定ねじ３０を緩めて、互いに対向する位置に螺合された２組の調整ねじ４５を螺進させて径方向に進退させることで、調整ねじ４５の先端でレセプタクル２７Ａの側面部２７ｆの位置を規制して、２軸方向に沿って移動させることができる。
このため、４つの調整ねじ４５および雌ねじ部２５ｊは、レセプタクル２７Ａの集光レンズ２６に対する相対位置を調整する位置調整機構を構成している。
【００７０】
本変形例のファイバ組立体５５Ｂの組立方法は、まず、ファイバ保持部材２５Ｂのスライド孔２５ｉに、集光レンズ２６を固定したレンズホルダ４４を挿入し、適宜位置に仮固定する。
次に、第１の実施形態で用いた調整治具上にファイバ保持部材２５Ｂを固定する。そして、レセプタクル固定部２５ｃと同位置に受光センサを配置して、集光レンズ２６によって集光されたスポット径を測定ながら、レンズホルダ４４を軸方向に移動させてスポット径が最小となる位置を見つけて、集光レンズ２６の集光面がレセプタクル固定部２５ｃに整列するように調整する。そして、レンズ固定ねじ４６を締めて、レンズホルダ４４の位置を固定する。
次に、ファイバ１２の入射端側プラグ１２ａが連結されたレセプタクル２７Ａをファイバ保持部材２５Ｂのレセプタクル固定部２５ｃに配置し、レセプタクル２７Ａの固定面２７ｄをレセプタクル固定部２５ｃに押圧保持する。
次に、ファイバ１２の出射端側プラグ１２ｂを調整用の光検出装置に接続し、調整用の平行光束を集光レンズ２６に入射させて、光検出装置によって、ファイバ１２の出射端から出射される光量を測定する。
そして、調整ねじ４５を移動させて、レセプタクル２７Ａを径方向に移動させ、光検出装置の測定光量が最大となる位置にレセプタクル２７Ａを位置合わせする。この状態で、固定ねじ３０を用いて、レセプタクル２７をファイバ保持部材２５Ｂに固定する。
以上で、ファイバ組立体５５Ｂの組立が終了する。
【００７１】
本変形例では、レセプタクル２７Ａの移動調整治具が、ファイバ保持部材２５Ｂに組み込まれているので、ファイバ組立体５５Ｂの組立に用いる移動調整治具を簡素化することができる。また、レセプタクル２７Ａの規格などの違いにより、レセプタクル２７Ａの形状が異なっていても、同様の組立工程によって、組立を行うことができるので、組立作業の効率を向上することができる。
また、例えば、組立工程で調整不良が発生した場合や、外力を受けるなどして集光レンズ２６とレセプタクル２７Ａとの位置関係に狂いが生じて使用不能になった場合でも、調整ねじ４５やレンズ固定ねじ４６を緩めるだけで容易に再調整を行うことができるので、集光レンズ２６やレセプタクル２７Ａを接着などによって固定する場合に比べて、修理が容易となる。
【００７２】
なお、上記の説明では、干渉計本体部がフィゾー干渉計の構成を有する場合の例で説明したが、これは一例であって、本発明の干渉計はフィゾー干渉計には限定されない。例えば、マイケルソン干渉計、マッハ・ツェンダ干渉計、トワイマングリーン干渉計などであってもよい。
【００７３】
また、上記の説明では、当付面２４ｄ、被当付面２５ｆは、互いに全面が当接する平面として説明したが、位置決めに必要な部分のみが当接すればよく、当接面は、部分的に設けられた平面や、点接触する突起などから構成されていてもよい。
【００７４】
また、上記の第１変形例の説明では、半導体レーザ４０およびコリメータレンズ４１は、鏡筒部材４２でコリメート調整を行い、鏡筒部材４２を支持部材２２に固定する場合の例で説明したが、半導体レーザ４０またはコリメータレンズ４１を、支持部材２２Ａに固定し、支持部材２２Ａにおいてコリメート調整を行ってもよい。
【００７５】
また、上記の第２変形例の説明では、固定部材２４Ａを磁性体として、ファイバ保持部材２５Ａの側に磁石４３を設けた場合の例で説明したが、ファイバ保持部材を磁性体で構成し、磁石４３を固定部材側に設けた構成や、ファイバ保持部材と固定部材の両方に磁石４３を設けた構成としてもよい。
【００７６】
また、上記の説明では、ファイバ保持部材を取り外した際に、固定部材が開口されたままになる場合の例で説明したが、光源部には、レーザ光の漏洩防止のためのシャッタを光路上の適宜位置に設けることができる。
また、固定部材、またはその近傍に、ファイバ保持部材の装着および取り外しに連動して、開放および閉止されるシャッタ機構を設けてもよい。
【００７７】
また、上記の実施形態、各変形例に説明したすべての構成要素は、本発明の技術的思想の範囲で適宜組み合わせを代えて実施することができる。
【符号の説明】
【００７８】
１２  ファイバ
１２ａ  入射端側プラグ
１２ｅ  ファイバコア
２７、２７Ａ  レセプタクル
２０  レーザ光源（光束発生部）
２４、２４Ａ  固定部材（着脱部）
２４ｃ  嵌合穴部（被嵌合面）
２４ｄ  当付面（位置決め面）
２５、２５Ａ、２５Ｂ  ファイバ保持部材
２５ｃ  レセプタクル固定部
２５ｅ  被嵌合部（被嵌合面）
２５ｆ  被当付面（被位置決め面）
２５ｊ  雌ねじ部（位置調整機構）
２６  集光レンズ（集光光学系）
４０  半導体レーザ（光束発生部）
４１  コリメータレンズ（光束発生部）
４５  調整ねじ（位置調整機構）
３１ａ  平行光
５０、５０Ａ、５０Ｂ、５０Ｃ  干渉計
５１  干渉計本体部
５２、５２Ａ、５２Ｂ  光源部
５５、５５Ａ、５５Ｂ  ファイバ組立体
Ｌ、Ｏ、ＯＬ  光軸
【図１】
0005562600.tif 000003
【図２】
0005562600.tif 000004
【図３】
0005562600.tif 000005
【図４】
0005562600.tif 000006
【図５】
0005562600.tif 000007
【図６】
0005562600.tif 000008
【図７】
0005562600.tif 000009
【図８】
0005562600.tif 000010
【図９】
0005562600.tif 000011
【図１０】
0005562600.tif 000012
【図１１】
0005562600.tif 000013