(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
バックプレーンが有する複数の導電性のピンのうちの一つのピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出する配線検出手段と、
前記配線検出手段で検出した配線の両端のピンを記憶する配線記憶手段と、
それぞれ周波数の異なる信号を配線に送信した場合の各インピーダンスの値を記憶するインピーダンス値記憶手段と、
前記配線記憶手段で記憶されている配線の一端のピンから前記周波数の異なる信号を当該配線に送信してインピーダンスの値を測定する測定手段と、
前記測定手段で測定されたインピーダンスの値に基づいて、当該配線が正常であるか否かを判断する判断手段とを備え、
前記インピーダンス値記憶手段は、配線に送信した周波数毎に、正常とする範囲の最大のインピーダンスの値と最小のインピーダンスの値とを記憶しており、
前記判断手段は、測定した各周波数における各インピーダンスの値のいずれかが、記憶されている最大のインピーダンスの値を上回っている場合は、当該配線が断線する可能性が高いと判断し、最小のインピーダンスの値を下回っている場合は、ピンと配線との接合不良である可能性が高いと判断する
ことを特徴とするバックプレーン試験システム。
【請求項２】
バックプレーンに備えられたそれぞれが複数の導電性のピンを有する複数のスロットの一つに装着され、
前記複数の導電性のピンのうちの一つのピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信する信号送信手段と、
前記信号を受信したピンと当該信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出する配線検出手段とを備え、
前記配線検出手段は、他のスロットに装着されているバックプレーン試験ボードから、前記信号を受信したピンを示す情報を取得し、当該ピンと前記信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出する
ことを特徴とするバックプレーン試験ボード。
【請求項３】
それぞれ周波数の異なる信号を、ピンとピンとの間に形成されている配線に送出する信号送出手段と、
各周波数の信号を送出したときの、各周波数のインピーダンスを測定する測定手段と
をさらに備える
請求項２記載のバックプレーン試験ボード。
【請求項４】
複数の導電性のピンを有するバックプレーンのピンとピンとの間に形成されている配線を検出するバックプレーン試験システムにおけるバックプレーン試験方法であって、
前記バックプレーン試験システムが、
前記バックプレーンが有する複数の導電性のピンのうちの一つのピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出し、
検出した配線の両端のピンを記憶し、
記憶した配線の一端のピンからそれぞれ周波数の異なる信号を当該配線に送信してインピーダンスの値を測定し、
測定した各周波数における各インピーダンスの値のいずれかが、配線に送信した周波数毎の正常とする範囲の最大のインピーダンスの値を上回っている場合は、当該配線が断線する可能性が高いと判断し、前記範囲の最小のインピーダンスの値を下回っている場合は、ピンと配線との接合不良である可能性が高いと判断する
ことを特徴とするバックプレーン試験方法。
【請求項５】
バックプレーンが備える複数の導電性のピンを有したスロットに装着されるバックプレーン試験ボードにおいて実行されるコンピュータプログラムであって、
前記バックプレーン試験ボードが有するコンピュータに、
前記複数の導電性のピンのうちの一つのピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出する処理と、
検出した配線の両端のピンを記憶する処理と、
記憶した配線の一端のピンからそれぞれ周波数の異なる信号を当該配線に送信してインピーダンスの値を測定する処理と、
測定した各周波数における各インピーダンスの値のいずれかが、配線に送信した周波数毎の正常とする範囲の最大のインピーダンスの値を上回っている場合は、当該配線が断線する可能性が高いと判断し、前記範囲の最小のインピーダンスの値を下回っている場合は、ピンと配線との接合不良である可能性が高いと判断する処理とを実行させる
ことを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、バックプレーンの配線を試験する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
バックプレーンには複数のプリント基板を相互に接続するための配線が形成されており、その配線が断線していないか又は設計通りに形成されているか等を試験する技術がある。
【０００３】
例えば、出荷前等に、バックプレーンに形成されているはずの配線パターンの一端から試験信号を送信し、他端からその試験信号を受信することで、配線の存在を確認するという技術である（特許文献１参照）。
【０００４】
また、バックプレーンを使用している情報処理システム等の運用中に、バックプレーンのパターンショート及びパターン断線の定期的な試験を行う技術がある（特許文献２参照）。
【０００５】
これらの技術によれば、バックプレーンに形成されている配線が設計通りに存在し接続されていることを確認することができる。すなわち、バックプレーンを使用している情報処理システム等が正常に動作しない場合等に、その原因がバックプレーンの断線等によるものなのか否かの判断が容易となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平２−９１５８１号公報
【特許文献２】特開２００７−１０５５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、これらの技術は、どのような配線が形成されているかという配線情報を予め知っていることが前提となる。従って、配線情報が無いバックプレーン、例えば、他社から購入したバックプレーンについて、配線情報を入手することができない場合には試験を行うことができない。
【０００８】
そこで、本発明は、配線情報が無いバックプレーンであっても、配線情報を取得し、配線が配線情報の通りに接続されていることの確認を行うことが出来るようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の１形態に係るバックプレーン試験システムは、バックプレーンが有する複数の導電性のピンのうちの一つのピンから順に、他の全てのピンに対して信号を送信し、当該信号を受信したピンと当該信号を送信した前記ピンとの間に形成されている配線を検出する配線検出手段と、前記配線検出手段で検出した配線の両端のピンを記憶する配線記憶手段と、それぞれ周波数の異なる信号を配線に送信した場合の各インピーダンスの値を記憶するインピーダンス値記憶手段と、前記配線記憶手段で記憶されている配線の一端のピンから前記周波数の異なる信号を当該配線に送信してインピーダンスの値を測定する測定手段と、前記測定手段で測定されたインピーダンスの値に基づいて、当該配線が正常であるか否かを判断する判断手段と、を有する。前記インピーダンス値記憶手段は、配線に送信した周波数毎に、正常とする範囲の最大のインピーダンスの値と最小のインピーダンスの値とを記憶しており、前記判断手段は、測定した各周波数における各インピーダンスの値のいずれかが、記憶されている最大のインピーダンスの値を上回っている場合は、当該配線が断線する可能性が高いと判断し、最小のインピーダンスの値を下回っている場合は、ピンと配線との接合不良である可能性が高いと判断する。
【発明の効果】
【００１０】
上記構成のバックプレーン試験システムは、配線情報が無いバックプレーンであっても、配線情報を取得し、配線が配線情報の通りに接続されていることの確認を行うことが出来るようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施形態のバックプレーン試験システムの例を示す図である。
【図２】バックプレーンに装着した試験パッケージボードを上面から見た図である。
【図３】バックプレーン試験システムの作業手順の例を示すブロック図である。
【図４】バックプレーンに形成されている配線の例を示す図である。
【図５】試験パッケージボード及び表示装置の機能的構成の例を示すブロック図である。
【図６】試験パッケージボードの回路構成の例を示す図である。
【図７】配線情報収集処理及び接続確認処理時に使用する構成を示す図である。
【図８】配線情報テーブルの構成及び内容の例を示す図である（スロット１）。
【図９】配線情報テーブルの構成及び内容の例を示す図である（スロット２）。
【図１０】配線情報テーブルの構成及び内容の例を示す図である（スロット３）。
【図１１】３つのスロットを備えるバックプレーンに実装された試験パッケージボードが行う配線情報収集処理を示すフローチャートである。
【図１２】試験パッケージボード‐１自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【図１３】試験パッケージボード‐２自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【図１４】試験パッケージボード‐３自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【図１５】３つのスロットを備えるバックプレーンに実装された試験パッケージボードが行う接続確認処理を示すフローチャートである。
【図１６】インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理時に使用する構成を示す図である。
【図１７】インピーダンス測定方法の例を示す図である。
【図１８】インピーダンス／周波数特性サンプルの例、及び、正規分布曲線を示す図である。
【図１９】インピーダンス情報テーブルの構成及び内容の例を示す図である。
【図２０】インピーダンスマスク情報テーブルの構成及び内容の例を示す図である。
【図２１】マスクデータテーブルの構成及び内容の例を示す図である。
【図２２】正常性確認結果テーブルの構成及び内容の例を示す図である。
【図２３】３つのスロットを備えるバックプレーンに実装された試験パッケージボードが行うインピーダンス情報収集処理を示すフローチャートである。
【図２４】試験パッケージボード自身のピンのインピーダンス情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【図２５】３つのスロットを備えるバックプレーンに実装された試験パッケージボードが行う正常性確認処理を示すフローチャートである。
【図２６】延長板の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
＜実施形態＞
図１は、実施形態のバックプレーン試験システム９０の例を示す図である。
【００１３】
実施形態のバックプレーン試験システム９０は、試験対象であるバックプレーン２０、試験パッケージ１００１が搭載されているボード１０００（以下、「試験パッケージボード」という。）及び表示装置２０００を有する。
【００１４】
より詳細には、バックプレーン２０は、筐体２２及びコネクタ２１（以下、「バックプレーン側コネクタ」ということがある。）を有し、試験パッケージボード１０００は、バックプレーン側コネクタ２１と勘合するためのコネクタ１３（以下、「試験パッケージ側コネクタ」ということがある。）を有する。
【００１５】
また、バックプレーン試験システム９０を構成する複数の試験パッケージボード１０００は、相互にケーブル３１によって結ばれ、データの通信が可能となっている。図１では、説明の便宜上１本のケーブルのみを記載している。
【００１６】
更に、試験パッケージボード１０００のうちの１台は、表示装置２０００とケーブル３０によって結ばれている。試験結果を表示するためである。
【００１７】
尚、バックプレーン試験システム９０を１台の試験パッケージボード１０００で構成することも可能である。１つのスロット内の配線を試験するためである。
【００１８】
次に、図２は、バックプレーン２０に装着した試験パッケージボード１０００を上面から見た図である。試験パッケージボード１０００は、試験パッケージ側コネクタ１３がバックプレーン側コネクタ２１のスロットに挿入されることで、試験対象のバックプレーン２０に装着される。以下、複数あるバックプレーン側コネクタ２１のスロットを、スロット‐１〜スロット‐ｎという。
【００１９】
実施形態のバックプレーン試験システム９０は、多数のバックプレーン２０を出荷する前に、それらの配線が設計通りに形成されているか、また、配線は正常な状態であるのかを確かめるための試験を行うシステム９０である。
【００２０】
バックプレーン試験システム９０が行う試験の作業手順を、図３を用いて説明する。
【００２１】
図３は、バックプレーン試験システム９０の作業手順の例を示す図である。
【００２２】
バックプレーン試験システム９０は、大きく分けて２つの処理を行う。
【００２３】
１つ目は、配線情報が知られていないバックプレーン２０の配線情報を収集して正しい配線情報を推定する。推定した配線情報に基づいて、出荷するバックプレーン２０の配線が存在すること、すなわち、バックプレーン２０のピン同士が配線情報の通りに接続されているかを確認する処理である。
【００２４】
２つ目は、各配線のインピーダンスの正常範囲を求め、出荷するバックプレーン２０の配線のインピーダンスを測定して配線の正常性を確認する処理である。
【００２５】
１つ目の処理を図３の上段に示し、２つ目の処理を図３の下段に示す。
【００２６】
１つ目の処理では、出荷しようとする多数のバックプレーン２０のうちの適切な数、例えば、１〜５個のバックプレーン２０であるバックプレーン群６０から配線情報を収集し、正しい配線情報を推定する。以下、この処理を「配線情報収集処理」という。
【００２７】
具体的には、各バックプレーン側コネクタ２１に形成されている各ピンが他のピンと接続されているのか、接続されている場合はどのピンと接続されているのかという配線情報を自動的に収集する。
【００２８】
配線情報が不明のバックプレーンの配線情報を人間の手によって収集しようとすることは、配線の数が膨大であることから現実的ではない。しかし、この配線情報収集処理によって、配線情報が入手できないバックプレーンであっても、その配線情報を取得することが可能となる。
【００２９】
次に、取得した配線情報を基に、他の出荷しようとするバックプレーン２０であるバックプレーン群６１の配線が配線情報の通りに接続されているかの確認を行う。以下、この処理を「接続確認処理」という。
【００３０】
尚、バックプレーンの設計データ等から配線情報が取得可能な場合は、配線情報収集処理を行わずに、取得した配線情報を基に、接続確認処理を行ってもよい。
【００３１】
２つ目の処理では、まず、接続確認処理において配線の接続が配線情報の通りに接続されていると確認されているバックプレーン２０のうちの適切な枚数であるバックプレーン群６２から、各配線のインピーダンスの値であるインピーダンス情報を収集する。この処理を、以下「インピーダンス情報収集処理」という。
【００３２】
収集したインピーダンス情報から、配線毎の正常範囲と推定できるインピーダンスの値であるマスクデータを求める処理６３を行う。
【００３３】
次に、求めたマスクデータを基に、他の出荷しようとするバックプレーン２０であるバックプレーン群６４の配線の正常性の確認を行う。以下、この処理を「正常性確認処理」という。
【００３４】
正常性確認処理では、各配線のインピーダンスを測定し、測定したインピーダンスの値が正常範囲であるか否かを確認することで、配線の正常性を試験し、異常がある場合は異常原因の特定を行う。すなわち、配線における断線の兆候、芋半田による半田不良、接続部の接触不良を発見する処理である。これらが原因となる装置故障、通信異常、素子破壊等の障害を未然に防ぐことができる。
【００３５】
バックプレーン試験システム９０では、設計通りに配線が形成されているかの確認、すなわち、配線が存在し接続されていることの確認を行うだけでなく、配線自体に問題があることも検出する。
【００３６】
単に、配線パターンの一端から試験信号を送信し、他端からその試験信号を受信できることを確認するだけでは、配線に断線の兆候がある場合又は接続箇所に芋半田の半田不良がある場合等であっても、配線は存在し接続されていると検出される。
【００３７】
従って、このような問題のある配線を備えたバックプレーンが出荷され、例えば、通信装置に組み込まれて運用が行われていると、流れる電流により断線が生じたり、半田未接続の状態となり装置障害を引き起こすこととなる。また、配線断の状態にまではならない場合であっても、インピーダンス整合がとれず、配線に送信される信号のレベルが異常となり、通信異常、また最悪の場合には素子破壊を引き起こすこととなり得る。
【００３８】
そこで、実施形態のバックプレーン試験システム９０では、断線の兆候又は接続不良等の問題がある配線の検出も行う。
【００３９】
尚、設計データ等からマスクデータが取得可能な場合は、インピーダンス情報収集処理を行わずに、取得したマスクデータを基に、正常性確認処理を行ってもよい。
【００４０】
以下、実施形態のバックプレーン試験システム９０について、図を用いて説明する。
【００４１】
＜構成＞
図４は、バックプレーン２０に形成されている配線の例を示す図である。
【００４２】
図４では、説明の便宜上、３つのバックプレーン側コネクタ２１に形成されているピンを示す。
【００４３】
「スロット１」は、スロット‐１を有するバックプレーン側コネクタ２１を示す。また、「スロット２」は、スロット‐２を有するバックプレーン側コネクタ２１を示し、「スロット３」は、スロット‐３を有するバックプレーン側コネクタ２１を示す。
【００４４】
矩形は、ピンの位置を表し、各バックプレーン側コネクタ２１に４行２列の８個のピンが形成されている。以下、Ａ行１列のピンはピンＡ１と、Ａ行２列のピンはピンＡ２等という。
【００４５】
尚、以下、「スロットを有するコネクタに形成されているピン」を「スロットのピン」又は「スロットが備えるピン」という場合がある。
【００４６】
また、矩形の中の黒丸は、他のピンとの間で配線が形成されて接続されているピンを表す。また、白丸は、他のピンと接続されていないピンを表す。黒丸同士を結ぶ実線は配線を表す。
【００４７】
例えば、スロット‐１のピンＡ１とスロット‐２のピンＡ２との間に配線が形成されている。また、スロット‐１のピンＡ２は白丸で表わされているので、他のピンと接続されていない。
【００４８】
バックプレーン試験システム９０では、配線情報収集処理によってこれらの配線の存在を収集し、正常性の確認を行う。
【００４９】
図５は、試験パッケージボード１０００及び表示装置２０００の機能的構成の例を示すブロック図である。
【００５０】
図５では、図４で示したバックプレーン２０のスロット‐１、スロット‐２及びスロット‐３に、それぞれ試験パッケージボード１０００を挿入し、スロット‐１に挿入されている試験パッケージボード１０００を表示装置２０００にケーブル３０で接続した場合を想定する。
【００５１】
各スロットに挿入される試験パッケージボード１０００は、それぞれ同様の機能を有する
スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００を例に説明する。試験パッケージボード１０００Ｘは、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００を示し、試験パッケージボード１０００Ｙは、スロット‐３に実装された試験パッケージボード１０００を示す。
【００５２】
試験パッケージボード１０００は、操作部１１００、制御部１２００、配線情報収集部１３００、配線情報記憶部１４００、接続確認部１５００、インピーダンス情報収集部１６００、インピーダンス情報記憶部１７００、正常性確認部１８００及び通信部１９００を有する。
【００５３】
これら機能部が有する機能の全部または一部は、図６を用いて説明する試験パッケージボード１０００の回路構成において、ＣＰＵがメモリ等に記録されているプログラムを実行することにより実現される。
【００５４】
操作部１１００は、ユーザからの操作、具体的には、試験開始のスイッチが入れられたことを検知する機能等を有する。
【００５５】
制御部１２００は、バックプレーン試験システム９０の各機能を実現するために、他の機能部を制御する機能を有する。
【００５６】
配線情報収集部１３００は、適切な個数のバックプレーン２０から配線情報を収集し、正しいと推定する配線情報を取得する配線情報収集処理を行う機能を有する。
【００５７】
配線情報記憶部１４００は、配線情報収集部１３００が収集した配線情報を記憶する機能を有する。
【００５８】
接続確認部１５００は、配線情報記憶部１４００に記憶してある配線情報を基に、バックプレーン２０の配線の存在の確認を行う接続確認処理を行う機能を有する。
【００５９】
インピーダンス情報収集部１６００は、接続が確認されている複数のバックプレーン２０から、各配線のインピーダンスの値であるインピーダンス情報を収集するインピーダンス情報収集処理を行う機能を有する。また、収集したインピーダンス情報から、配線毎の正常範囲と推定できるインピーダンスの値であるマスクデータを求める処理を行う機能も有する。
【００６０】
インピーダンス情報記憶部１７００は、インピーダンス情報収集部１６００が収集したインピーダンス情報とマスタデータとを記憶する機能を有する。
【００６１】
正常性確認部１８００は、インピーダンス情報記憶部１７００に記憶されているマスクデータを基に、バックプレーン２０の配線の正常性の確認を行う正常性確認処理を行う機能を有する。
【００６２】
通信部１９００は、他の試験パッケージボード１０００及び表示装置２０００と通信する機能を有する。
【００６３】
表示装置２０００は、いわゆるノートパソコンであり、通信部２１００、制御部２２００及び表示部２３００を有する。
【００６４】
通信部２１００は、試験パッケージボード１０００と通信する機能を有する。
【００６５】
制御部２２００は、いわゆるノートパソコンが有する機能を有するほか、通信部２１００を介して受信した配線情報等のデータを表示部２３００に表示させる機能を有する。
【００６６】
表示部２３００は、ディスプレイを含み、制御部２２００から渡されたデータを所定の形式で表示する機能を有する。
【００６７】
上述した機能の全部または一部は、表示装置２０００の有するＣＰＵが、表示装置２０００のメモリ等に記録されているプログラムを実行することにより実現される。
【００６８】
図６は、試験パッケージボード１０００の回路構成の例を示す図である。
【００６９】
ＣＰＵ間通信ＦＰＧＡ１は、試験パッケージボード１０００同士の通信を行うＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）であり、ＣＰＵ２から制御される。
【００７０】
ＣＰＵ２は、試験パッケージボード１０００の制御、外部インタフェース等の制御を行うＣＰＵ（Central Processing Unit）である。
【００７１】
ＣＰＵ制御メモリ３は、ファームウェアを格納するＲＯＭ（Read Only Memory）及び作業メモリ等として用いるＲＡＭ（Random Access Memory）等のメモリから構成される。
【００７２】
不揮発性メモリ４は、配線情報及びインピーダンス情報等を格納するフラッシュメモリ等の不揮発性メモリである。
【００７３】
スロット設定スイッチ５は、ディップスイッチ等で構成され、試験パッケージボード１０００自身が実装されたスロットの番号及び全スロットの数の設定を行う。
【００７４】
ＦＰＧＡ６は、入出力データの制御、出力信号の周波数設定等を行うＦＰＧＡであり、ＣＰＵインタフェースを介してＣＰＵ２から制御される。
【００７５】
出力データ設定回路７は、ＦＰＧＡ６の内部回路であり、配線情報収集処理及び接続確認処理を行う際に、出力するデータ、具体的には、出力レベル”Ｌ”の設定を行う。
【００７６】
入出力設定回路８は、ＦＰＧＡ６の内部回路であり、配線情報収集処理及び接続確認処理を行う際に、各ピンの入出力制御を行う。
【００７７】
入力データ確認回路９は、ＦＰＧＡ６の内部回路であり、配線情報収集処理及び接続確認処理を行う際に、入力したデータ、具体的には、入力レベルが”Ｌ”又は”Ｈ”のいずれかであるかの確認を行う。
【００７８】
Ａ／Ｄコンバータ１０は、アナログ／デジタルコンバータであり、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、出力信号に対してシリアルに接続された抵抗の両端のレベルを測定する。ＣＰＵアクセスバス１４を介してＣＰＵ２からアクセスされる。
【００７９】
ＳＥＬ１１は、セレクタ回路であり、ＣＰＵ２からの制御により、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、各ピンに対する入出力制御を行う。
【００８０】
ＳＥＬ１２は、セレクタ回路であり、ＣＰＵ２からの制御により、配線情報収集処理、接続確認処理、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、経路の切替えを行う。尚、ＳＥＬ１１及びＳＥＬ１２に対するＣＰＵ２からの制御線は、一部のみ記載している。
【００８１】
コネクタ１３は、試験対象であるバックプレーンと勘合する試験パッケージ側コネクタである。
【００８２】
ＣＰＵアクセスバス１４は、ＣＰＵ２からＡ／Ｄコンバータ１０にアクセスを行う。
【００８３】
信号線１５は、配線情報収集処理及び接続確認処理を行う際に、入出力されるデータ配線である。
【００８４】
信号線１６は、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、出力される信号の配線である。
【００８５】
信号線１７は、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、入出力される信号の配線である。
【００８６】
周波数設定回路１８は、ＦＰＧＡ６の内部回路であり、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に、出力する周波数の設定を行う。
【００８７】
試験制御スイッチ１９は、ユーザが各処理の実行の開始を指示するためのスイッチである。
【００８８】
尚、点線で囲んだ回路等は、試験パッケージ側コネクタ１３に形成されているピンに対応して、ピンの数分が実装されている。点線で囲まれた回路等とは、出力データ設定回路７、入出力設定回路８、入力データ確認回路９、Ａ／Ｄコンバータ１０、ＳＥＬ１１、ＳＥＬ１２及び配線等である。
【００８９】
以下、配線情報収集処理及び接続確認処理について説明し、その後、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理について説明する。
【００９０】
＜配線情報収集処理及び接続確認処理＞
図７は、配線情報収集処理及び接続確認処理を実現する際に用いる回路等を、図６で示した試験パッケージボード１０００の回路構成から抜き出して記載したものである。
【００９１】
右側の点線で囲った回路等で、試験パッケージ側コネクタ１３に形成されているピンから信号を出力する際の信号の流れを実線で示している。また、左側の点線で囲った回路等で、ピンから信号を入力する際の信号の流れを実線で示している。尚、信号が流れない回路及び信号線は点線で記載している。
【００９２】
配線情報収集処理においては、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００から順に、試験パッケージボード１０００自身が挿入されているスロットが備えるピンの配線情報を取得していく。最初にピンの配線情報を取得する試験パッケージボード１０００が、以後の配線情報収集処理を制御する。
【００９３】
図４に示すバックプレーン２０の場合は、まず、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００が自身のピンの配線情報を取得する。次に、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００が自身のピンの配線情報を取得し、最後に、スロット‐３に挿入された試験パッケージボード１０００が自身のピンの配線情報を取得する。詳細は、＜動作＞の項で説明する。
【００９４】
＜データ＞
バックプレーン試験システム９０が配線情報収集処理及び接続確認処理を行う際に用いるデータについて図８〜図１０を用いて説明する。
【００９５】
図８は、配線情報テーブル１４１０の構成及び内容の例を示す図である。
【００９６】
この配線情報テーブル１４１０は、配線情報収集部１３００が行う配線情報収集処理において作成され、配線情報記憶部１４００に記憶される。また、接続確認部１５００が行う接続確認処理において参照される。
【００９７】
この配線情報テーブル１４１０は、試験パッケージボード１０００が挿入されたスロットが備えるピン（以下、「試験パッケージボードのピン」という。）が、どこに接続しているのかを示すものである。従って、各試験パッケージボード１０００は、自身の備えるピンの配線情報テーブル１４１０を記憶する。
【００９８】
配線情報テーブル１４１０は、スロットＩＤ１４１１、ピンＩＤ１４１２、接続先スロットＩＤ１４１３及び接続先ピンＩＤ１４１４を有する。
【００９９】
スロットＩＤ１４１１は、試験パッケージボード１０００が挿入されているスロットの識別子を示す。スロットの識別子としてスロットの番号を用いる。
【０１００】
ピンＩＤ１４１２は、スロットＩＤ１４１１で示されるスロットが備えるピンの識別子を示す。ピンの識別子としてピンの位置を用いる。実施形態では、図４に示すように、行と列を用いて指定する。
【０１０１】
接続先スロットＩＤ１４１３は、ピンＩＤ１４１２で示されるピンが接続されているピンが備えられているスロットの識別子であるスロットの番号を示す。
【０１０２】
接続先ピンＩＤ１４１４は、ピンＩＤ１４１２で示されるピンが接続されているピンの識別子であるピンの位置を示す。
【０１０３】
接続先スロットＩＤ１４１３及び接続先ピンＩＤ１４１４に「−」が設定された場合は、ピンＩＤ１４１２で示されるピンは、いずれのピンとも接続されていないことを示す。
【０１０４】
例えば、ピンＩＤ１４１２「Ａ１」で示されるピンは、接続先スロットＩＤ１４１３「２」で示されるスロット‐２の、接続先ピンＩＤ１４１４「Ａ２」で示されるピンと接続されている。また、ピンＩＤ１４１２「Ｂ１」で示されるピンは、接続先スロットＩＤ１４１３「−」及び接続先ピンＩＤ１４１４「−」であるので、いずれのピンとも接続されていない。
【０１０５】
尚、ピンの接続先のピンが複数ある場合は、複数の接続先スロットＩＤ１４１３と接続先ピンＩＤ１４１４とを設ける。
【０１０６】
次に、図９及び図１０は、図８と同様に、配線情報テーブル１４１０の構成及び内容の例を示す図である。但し、図９及び図１０は、最終的な配線情報テーブル１４１０の内容だけでなく、配線情報を収集する途中の内容も示す。
【０１０７】
図９は、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００が記憶する配線情報テーブル１４１０の内容例を示す。
【０１０８】
白抜き矢印の上の配線情報テーブル１４１０の内容は、自身のピンの配線情報の取得を開始する時、すなわち、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００が自身のピンの配線情報の取得を終了した時の内容である。また、白抜き矢印の下の配線情報テーブル１４１０は、自身のピンの配線情報の取得を終了した時の内容である。
【０１０９】
図１０は、スロット‐３に挿入された試験パッケージボード１０００が記憶する配線情報テーブル１４１０の内容例を示す。
【０１１０】
白抜き矢印の上の配線情報テーブル１４１０の内容は、自身のピンの配線情報の取得を開始する時、すなわち、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００が自身のピンの配線情報の取得を終了した時の内容である。また、白抜き矢印の下の配線情報テーブル１４１０は、自身のピンの配線情報の取得を終了した時の内容である。
【０１１１】
尚、図８は、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００が記憶する配線情報テーブル１４１０の内容例を示し、自身のピンの配線情報の取得を終了したときの内容である。
【０１１２】
また、スロット１の試験パッケージボード１０００は、バックプレーン試験システム９０を構成する全ての試験パッケージボード１０００がそれぞれ記憶する配線情報テーブル１４１０を記憶するものとする。バックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００のうちの１つに全ての試験パッケージボード１０００の配線情報を記憶させておき、接続確認処理で用いる又は表示装置２０００に表示するためである。実施形態では、スロット‐１の試験パッケージボード１０００を表示装置２０００と接続し、配線情報を必要に応じて表示する。
【０１１３】
＜動作＞
以下、実施形態のバックプレーン試験システム９０が配線情報収集処理を行う場合の動作について図１１〜図１４を用いて説明する。また、接続確認処理を行う場合の動作について図１５を用いて説明する。
【０１１４】
＜配線情報収集処理＞
図１１は、３つのスロットを備えるバックプレーン２０に実装された試験パッケージボード１０００が行う配線情報収集処理を示すフローチャートである。
【０１１５】
図４で示した配線を有するバックプレーン２０の配線情報を収集する場合を想定した配線情報収集処理を説明する。この際、図７の回路構成を参照する。
【０１１６】
図１１において、「スロット１」のフローチャートは、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００が行う動作を示す。「スロット２」のフローチャートは、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００が行う動作を示し、「スロット３」のフローチャートは、スロット‐３に挿入された試験パッケージボード１０００が行う動作を示す。また、点線矢印は、他の試験パッケージボード１０００と、それぞれの通信部１９００を介した通信を示す。図１２等のフローチャートについても同様である。
【０１１７】
まず、ユーザは、試験パッケージボード１０００をスロットに挿入し、操作部１１００を操作して初期設定を行う。
【０１１８】
具体的には、各スロットに挿入した試験パッケージボード１０００のスロット設定スイッチ５を操作して、各試験パッケージボード１０００が挿入されたスロットの番号及びバックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００の総数を設定する。尚、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００と表示装置２０００とはケーブル３０で接続し、各試験パッケージボード１０００同士はケーブル３１で接続する。
【０１１９】
以下、スロット‐１に挿入された試験パッケージボード１０００を「試験パッケージボード‐１」といい、スロット‐２に挿入された試験パッケージボード１０００を「試験パッケージボード‐２」といい、スロット‐３に挿入された試験パッケージボード１０００を「試験パッケージボード‐３」というものとする。
【０１２０】
試験対象のバックプレーン２０は３つのスロットを備えることから（図４参照）、試験パッケージボード１０００の総数は「３」となる。従って、ユーザは、試験パッケージボード‐１に、スロットの番号「１」及び試験パッケージボード１０００の総数「３」を設定する。また、試験パッケージボード‐２に、スロットの番号「２」及び試験パッケージボード１０００の総数「３」を設定し、試験パッケージボード‐３に、スロットの番号「３」及び試験パッケージボード１０００の総数「３」を設定する。
【０１２１】
次に、ユーザは、試験パッケージボード‐１の操作部１１００を操作して配線情報収集処理の開始を指示する。具体的には、試験パッケージボード‐１の試験制御スイッチ１９を操作して、配線情報収集処理の開始を指示する。尚、この開始の指示は、ユーザが表示装置２０００を操作することで行ってもよい。
【０１２２】
配線情報収集処理の開始の指示を検出した操作部１１００は、その旨を制御部１２００に通知し、通知を受けた制御部１２００は、配線情報収集処理を開始する旨の通知を通信部１９００を介して、他の試験パッケージボード１０００、すなわち、試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に通知する（ステップＳ１００）。
【０１２３】
通知を受信した試験パッケージボード‐２の通信部１９００は、配線情報収集処理を開始する旨の通知を受けたことを制御部１２００に通知する。
【０１２４】
通知を受けた試験パッケージボード‐２の制御部１２００は、配線情報収集処理を行うための準備処理を行う（ステップＳ２００）。
【０１２５】
具体的には、スロット設定スイッチ５に設定されている、試験パッケージボード‐２が挿入されたスロットのスロットＩＤ「２」を読み出して「自スロットＩＤ」として、制御部１２００の作業メモリ、すなわち、ＣＰＵ制御メモリ３に記憶する。また、バックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００の総数「３」を読み出して、「試験パッケージボード１０００の総数」として作業メモリに記憶する。
【０１２６】
また、配線情報記憶部１４００に、スロットが備えるピンの数分のレコードを有する配線情報テーブル１４１０を作成する。スロットＩＤ１４１１として、スロットＩＤ「２」を設定し、ピンＩＤ１４１２にピンＩＤを設定する。ピンＩＤは、予め決められているものとする。また、全てのレコードの接続先スロットＩＤ１４１３及び接続先ピンＩＤ１４１４として「−」を設定する。その他の必要な処理を行う。
【０１２７】
試験パッケージボード‐１及び試験パッケージボード‐３も、同様に準備処理を行う（ステップＳ１０１、ステップＳ３００）。
【０１２８】
準備処理を終えた試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３は、準備が完了した旨を試験パッケージボード‐１に対して、各通信部１９００を介して通知する。
【０１２９】
試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３から準備が完了した旨の通知を受けた試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、配線情報収集部１３００に配線情報の収集を開始するよう指示する。また、作業メモリに、「作業中のスロットの番号」として「１」を記憶する。
【０１３０】
指示を受けた試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐１自身のピンの配線情報を収集する（ステップＳ１０２）。この際、試験パッケージボード‐１のピン同士が接続している配線と、試験パッケージボード‐１のピンと試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３のピンとが接続している配線とを収集する。この処理が終了した時に、試験パッケージボード‐１が記憶している配線情報テーブル１４１０の内容は、図８で示す内容となっている。このステップＳ１０２の処理については、図１２を用いて後で説明する。
【０１３１】
自身のピンの配線情報の収集を完了した試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、その旨を制御部１２００に通知する。
【０１３２】
配線情報の収集を完了した旨の通知を受けた試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、全部のスロットに対して配線情報収集処理の開始の指示を送信したかを判断する。詳細には、作業メモリに記憶してある「作業中のスロットの番号」が、「試験パッケージボード１０００の総数」より小さい場合には、全部のスロットに対して配線情報収集処理の開始の指示を送信していない判断する。
【０１３３】
作業メモリの試験パッケージボード１０００の総数は「３」であり、「作業中のスロットの番号」は「１」であるので（ステップＳ１０６：Ｎｏ）、試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、次のスロットに、配線情報収集処理の開始の指示を送信する（ステップＳ１０３）。
【０１３４】
詳細には、試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、作業メモリに記憶されている「自スロットＩＤ」が「１」、すなわち、自身のスロットの番号が「１」であるので、１加算した「２」がスロットの番号であるスロットに、配線情報収集処理の開始の指示を送信する。また、指示を送信したスロットの番号「２」を、「作業中のスロットの番号」として作業メモリに記憶する。
【０１３５】
指示を受信した試験パッケージボード‐２の通信部１９００は、配線情報収集処理の開始の指示を受信したことを制御部１２００に通知し、通知を受けた試験パッケージボード‐２の制御部１２００は、配線情報収集部１３００に配線情報の収集を開始するよう指示する。
【０１３６】
指示を受けた試験パッケージボード‐２の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐２自身のピンの配線情報を収集する（ステップＳ２０１）。この際、試験パッケージボード‐２のピン同士が接続している配線と、試験パッケージボード‐２のピンと試験パッケージボード‐３のピンとが接続している配線とを収集する。試験パッケージボード‐２が記憶している配線情報テーブル１４１０の内容は、この処理を開始する時には、図９の上図で示す内容となっており、このステップＳ２０１の処理を終了した時には、下図で示す内容となっている。このステップＳ２０１の処理については、図１３を用いて後で説明する。
【０１３７】
自身のピンの配線情報の収集を完了した試験パッケージボード‐２の配線情報収集部１３００は、その旨及び収集した配線情報、具体的には、配線情報テーブル１４１０を試験パッケージボード‐１に送信する（ステップＳ２０２）。
【０１３８】
試験パッケージボード‐２から、配線情報の収集を完了した旨の通知及び配線情報を受信した試験パッケージボード‐１の制御部１２００は（ステップＳ１０４）、受信した配線情報を配線情報記憶部１４００、すなわち、不揮発性メモリ４に記憶する（ステップＳ１０５）。
【０１３９】
配線情報を配線情報記憶部１４００に記憶させた試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、全部のスロットに対して配線情報収集処理の開始の指示を送信したかを判断する。
【０１４０】
詳細には、作業メモリに記憶してある「試験パッケージボード１０００の総数」が「３」であり、「作業中のスロットの番号」が「２」であるので（ステップＳ１０６：Ｎｏ）次のスロットに、配線情報収集処理の開始の指示を送信する（ステップＳ１０３）。
【０１４１】
すなわち、試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、作業メモリに記憶してある作業中のスロットの番号「２」に１加算した「３」がスロットの番号であるスロットに、配線情報収集処理の開始の指示を送信する。また、指示を送信したスロットの番号「３」を、「作業中のスロットの番号」として作業メモリに記憶する。
【０１４２】
指示を受信した試験パッケージボード‐３の通信部１９００は、配線情報収集処理の開始の指示を受信したことを制御部１２００に通知し、通知を受けた試験パッケージボード‐３の制御部１２００は、配線情報収集部１３００に配線情報の収集を開始するよう指示する。
【０１４３】
指示を受けた試験パッケージボード‐３の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐３自身のピンの配線情報を収集する（ステップＳ３０１）。この際、試験パッケージボード‐３のピン同士の配線を収集する。試験パッケージボード‐３が記憶している配線情報テーブル１４１０の内容は、この処理を開始する時には、図１０の上図で示す内容となっており、この処理を終了した時には、下図で示す内容となっている。このステップＳ３０１の処理については、図１４を用いて後で説明する。
【０１４４】
自身のピンの配線情報の収集を完了した試験パッケージボード‐３の配線情報収集部１３００は、その旨及び収集した配線情報を試験パッケージボード‐１に送信する（ステップＳ３０２）。
【０１４５】
試験パッケージボード‐３から、配線情報の収集を完了した旨の通知及び配線情報を受信した試験パッケージボード‐１の制御部１２００は（ステップＳ１０４）、受信した配線情報を配線情報記憶部１４００に記憶する（ステップＳ１０５）。
【０１４６】
配線情報を配線情報記憶部１４００に記憶させた試験パッケージボード‐１の制御部１２００は、全部のスロットに対して配線情報収集処理の開始の指示を送信したかを判断する。
【０１４７】
詳細には、作業メモリに記憶してある「試験パッケージボード１０００の総数」が「３」であり、「作業中のスロットの番号」が「３」であるので（ステップＳ１０６：Ｙｅｓ）、配線情報収集処理を終了する。
【０１４８】
次に、図１２を用いて、試験パッケージボード‐１自身のピンの配線情報を収集する処理について説明する。
【０１４９】
図１２は、試験パッケージボード‐１自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【０１５０】
図１２における白抜き矢印は、ピンから送信される信号を示す。図１３等においても同様である。
【０１５１】
この処理は、図１１のフローチャートにおけるステップＳ１０２の処理である。また、この処理は、各試験パッケージボード１０００の配線情報収集部１３００が行う処理であり、配線情報の収集は、１ピンずつ行う。
【０１５２】
試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、まず、通信部１９００を介して、他の試験パッケージボード１０００、すなわち、試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に対してピンから信号を送信する旨を送信する。
【０１５３】
通信部１９００を介して、信号を送信する旨を受信した試験パッケージボード‐２の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐２の全ピンを入力設定にして待機する。具体的には、入出力設定回路８を入力に設定し、ＳＥＬ１２を信号線１５側の入力に設定する（図７の左側の点線で囲った回路等参照）。試験パッケージボード‐１及び試験パッケージボード‐３も同様に、全ピンを入力設定にして待機する。
【０１５４】
試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に対してピンから信号を送信する旨を送信した試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、ピンを１つ選択し、他の試験パッケージボード１０００に通知する（ステップＳ１１０）。この際、選択したピンのピンＩＤと試験パッケージボード‐１のスロットＩＤとを送信する。試験パッケージボード‐１のスロットＩＤとは、作業メモリに記憶してある「自スロットＩＤ」の「１」である。
【０１５５】
通知を受けた試験パッケージボード‐２の配線情報収集部１３００は、受信したピンＩＤとスロットＩＤとを作業メモリに記憶する。例えば、「ピンＩＤ」として「Ａ１」を記憶し、「スロットＩＤ」として「１」を記憶する。
【０１５６】
選択したピンのピンＩＤを送信した試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、入出力設定回路８を出力に設定し、ＳＥＬ１２を出力に設定する。その後、出力データ設定回路７に指示を出して、選択したピンの出力レベルを”Ｌ”とする（ステップＳ１１１）。
【０１５７】
試験パッケージボード‐２の各ピンに対応する入力データ確認回路９において”Ｌ”が検出された場合は（ステップＳ２１０：Ｙｅｓ）、配線情報を配線情報テーブル１４１０に記憶する。”Ｌ”が検出されたということは、試験パッケージボード‐１のピンＡ１との接続があることになる。Ｐｕｌｌ−ｕｐ回路が接続されていることから、”Ｈ”のままだと接続がないことになるからである。
【０１５８】
例えば、選択されたピンがピンＡ１である場合、試験パッケージボード‐２のピンＡ２で”Ｌ”が検出される（図４参照）。この時、試験パッケージボード‐２の配線情報収集部１３００は、配線情報テーブル１４１０のピンＩＤ１４１２が「Ａ２」のレコードに、接続先スロットＩＤ１４１３として作業メモリに「スロットＩＤ」として記憶してある「１」を設定し、接続先ピンＩＤ１４１４として作業メモリに「ピンＩＤ」として記憶してある「Ａ１」を設定する（図９の上図参照）。
【０１５９】
その後、”Ｌ”を検出したピンのピンＩＤ及び試験パッケージボード‐２のスロットＩＤ「２」を試験パッケージボード‐１に通知する（ステップＳ２１１）。
【０１６０】
尚、入力データ確認回路９において”Ｌ”が検出されない場合、すなわち、”Ｈ”のままである場合は（ステップＳ２１０：Ｎｏ）、何も行わない。
【０１６１】
”Ｌ”が検出されたピンが複数ある場合には、同様に、そのピンの位置を配線情報テーブル１４１０に記憶し、そのピンのピンＩＤを試験パッケージボード‐１に通知する。
【０１６２】
試験パッケージボード‐３においても、同様に、各ピンに対応する入力データ確認回路９において”Ｌ”が検出された場合は（ステップＳ３１０：Ｙｅｓ）、配線情報を配線情報テーブル１４１０に記憶し、そのピンＩＤ及び試験パッケージボード‐３のスロットＩＤ「３」を試験パッケージボード‐１に通知する（ステップＳ３１１）。
【０１６３】
選択したピンの出力レベルを”Ｌ”とした試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐２又は試験パッケージボード‐３からスロットＩＤ及びピンＩＤを受信した場合は、配線情報を配線情報テーブル１４１０に記憶する（ステップＳ１１３、ステップＳ１１４）。
【０１６４】
例えば、受信したスロットＩＤが「２」であり、受信したピンＩＤが「Ａ２」である場合、配線情報テーブル１４１０のピンＩＤ１４１２が選択されたピンのピンＩＤ「Ａ１」であるレコードの、接続先スロットＩＤ１４１３として「２」を設定し、接続先ピンＩＤ１４１４として「Ａ２」を設定する。
【０１６５】
また、試験パッケージボード‐１のピンのうち、選択されたピン以外のピンに対応する入力データ確認回路９において”Ｌ”が検出された場合は（ステップＳ１１２）、配線情報を配線情報テーブル１４１０に記憶する（ステップＳ１１４）。
【０１６６】
選択したピンの出力レベルを”Ｌ”とした試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、所定時間経過したら（ステップＳ１１５：Ｙｅｓ）、次のピンを選択する（ステップＳ１１０）。また、出力データ設定回路７に指示を出して、選択したピンの出力レベルを”Ｈ”に戻す。
【０１６７】
所定時間内に、試験パッケージボード‐２又は試験パッケージボード‐３からスロットＩＤ及びピンＩＤを受信しなかった場合は、選択されたピンはいずれのピンとも接続されていないことになる。すなわち、配線情報テーブル１４１０のピンＩＤ１４１２が、選択されたピンのピンＩＤであるレコードの接続先スロットＩＤ１４１３として「−」が設定されたままであり、接続先ピンＩＤ１４１４として「−」が設定されたままである。
【０１６８】
試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐１のピンを順に選択してステップＳ１１０からステップＳ１１５の処理を行う（ステップＳ１１６：Ｎｏ）。
【０１６９】
例えば、図８に示す配線情報テーブル１４１０のピンＩＤ１４１２が示すピンを上から順に選択する。
【０１７０】
全てのピンに対してステップＳ１１０からステップＳ１１５の処理を行った場合は（ステップＳ１１６：Ｙｅｓ）、処理を終了する。
【０１７１】
次に、図１３を用いて、試験パッケージボード‐２自身のピンの配線情報を収集する処理について説明する。
【０１７２】
図１３は、試験パッケージボード‐２自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【０１７３】
この処理は、図１１のフローチャートにおけるステップＳ２０１の処理である。
【０１７４】
試験パッケージボード‐２が自身のピンの配線情報を収集する処理は、基本的に、図１２を用いて説明した試験パッケージボード‐１が自身のピンの配線情報を収集する処理と同じである。
【０１７５】
異なる点は、試験パッケージボード‐１が行う収集処理では、試験パッケージボード‐１のピンと試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３のピンとの配線情報を収集したが、試験パッケージボード‐２が行う収集処理では、試験パッケージボード‐２のピンと試験パッケージボード‐３のピンとの配線情報を収集する点である。
【０１７６】
すなわち、試験パッケージボード‐２のピンと試験パッケージボード‐１のピンとの配線情報は、試験パッケージボード‐１が行った収集処理において収集されているためである。
【０１７７】
図１３に記載のステップＳ２２０〜ステップＳ２２６の処理は、図１２に記載のステップＳ１１０〜ステップＳ１１６の処理と同様である。
【０１７８】
但し、図１２に記載のステップ１１０の処理では、配線情報テーブル１４１０のピンＩＤ１４１２が示すピンを上から順に選択していたが、ステップ２２０におけるピンの選択は、配線情報が設定されているピンは選択しない点が異なる。
【０１７９】
例えば、図９の上図の配線情報テーブル１４１０は、図１３に記載の処理が開始される前の状態である。この場合は、ピンＩＤ１４１２が「Ａ２」及び「Ａ４」で示されるピンは、選択されない。ピンＩＤ１４１２「Ａ２」が示すピンは、接続先スロットＩＤ１４１３「１」で示されるスロットの、接続先ピンＩＤ１４１４「Ａ１」が示すピンと接続されていることが判っているからである。同様に、ピンＩＤ１４１２「Ａ４」が示すピンは、接続先スロットＩＤ１４１３「１」で示されるスロットの、接続先ピンＩＤ１４１４「Ａ４」が示すピンと接続されていることが判っているからである。
【０１８０】
また、図１３に記載のステップＳ３２０及びステップＳ３２１の処理は、図１２に記載のステップＳ３１０及びステップＳ３１１の処理と同様である。
【０１８１】
次に、図１４を用いて、試験パッケージボード‐３自身のピンの配線情報を収集する処理について説明する。
【０１８２】
図１４は、試験パッケージボード‐３自身のピンの配線情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【０１８３】
この処理は、図１１のフローチャートにおけるステップＳ３０１の処理である。
【０１８４】
試験パッケージボード‐３は、バックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００のうち、配線情報収集処理における最後の試験パッケージボード１０００である。
【０１８５】
従って、自身のスロットに備えられているピン同士の接続情報を収集するのみの処理でよい。試験パッケージボード‐３と、他の試験パッケージボード１０００である試験パッケージボード‐１及び試験パッケージボード‐２との配線情報は、試験パッケージボード‐１及び試験パッケージボード‐２が行った収集処理において収集されているためである。
【０１８６】
試験パッケージボード‐３が自身のピンの配線情報を収集する処理は、基本的に、図１２を用いて説明した試験パッケージボード‐１が自身のピンの配線情報を収集する処理のうち、試験パッケージボード‐１のピン、すなわち、同じスロットに備えられているピン同士の接続情報を収集する処理と同じである。
【０１８７】
図１４に記載のステップＳ３３０〜ステップＳ３３２の処理は、図１３に記載のステップＳ２２０〜ステップＳ２２２の処理と同様である。また、ステップＳ３３３及びステップＳ３３４の処理は、それぞれ図１３のステップ２２４及びステップＳ２２６の処理と同様である。
【０１８８】
＜接続確認処理＞
次に、図１５を用いて、接続確認処理について説明する。
【０１８９】
図１５は、３つのスロットを備えるバックプレーン２０に実装された試験パッケージボード１０００が行う接続確認処理を示すフローチャートである。
【０１９０】
図１１等を用いて説明した配線情報収集処理と、図１５を用いて説明する接続確認処理は、その処理の目的は異なるが、その手順は共通する部分が多い。
【０１９１】
配線情報収集処理は、バックプレーンの未知である配線について、その配線情報を収集することを目的とする。接続確認処理は、あるバックプレーンの配線が、配線情報通りであるかを確認することを目的とする。
【０１９２】
実施形態の接続確認処理では、対象のバックプレーンの配線情報を収集し、収集した配線情報と正しい配線情報との比較を行い、同じである場合は正しいと判断する。
【０１９３】
従って、接続確認処理では、配線情報収集処理と同様の手順で配線情報を収集し、収集した配線情報と正しい配線情報とを比較する。
【０１９４】
図１５に記載の接続確認処理が図１１に記載の配線情報収集処理と異なる点は、次の３点である。
【０１９５】
１点目は、接続確認処理を開始する前に、試験パッケージボード‐１の配線情報記憶部１４００に、各試験パッケージボード１０００の正しい配線情報テーブル１４１０を記憶しておく点である。
【０１９６】
２点目は、ステップＳ１４０において、ユーザが、試験パッケージボード‐１の操作部１１００を操作して接続確認処理の開始を指示する点である。それに伴い、接続確認処理の開始の指示を検出した操作部１１００は、その旨を制御部１２００に通知し、通知を受けた制御部１２００は、接続確認処理を開始する旨の通知を通信部１９００を介して、他の試験パッケージボード１０００、すなわち、試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に通知する。
【０１９７】
３点目は、ステップＳ１４１において、各試験パッケージボード１０００から受信した配線情報テーブル１４１０と、記憶している正しい配線情報テーブル１４１０とを比較する点である。
【０１９８】
試験パッケージボード‐１の配線情報収集部１３００は、試験パッケージボード‐２から配線情報テーブル１４１０を受信したら、記憶してある正しい試験パッケージボード‐２の配線情報テーブル１４１０と比較する。異なる配線情報がある場合（ステップＳ１４１：ＮＧ）は、処理を終了する。異なる配線情報とは、具体的には、在るべき配線が無いという情報、又は、無いはずの配線が在るという情報である。
【０１９９】
異なる配線情報がない場合（ステップＳ１４１：ＯＫ）は、試験パッケージボード‐３に配線情報収集処理を行うよう指示を出す。
【０２００】
実施形態では、試験パッケージボード１０００単位の配線情報を比較したが、試験パッケージボード１０００において、１つのピンの配線情報を収集する毎に正しい配線情報と比較してもよい。この場合、各試験パッケージボード１０００は、自身の正しい配線情報テーブル１４１０を記憶しておく必要がある。
【０２０１】
また、試験パッケージボード１０００から配線情報テーブル１４１０を受信したら記憶しておき、全ての試験パッケージボード１０００から配線情報テーブル１４１０を受信した後に、正しい配線情報テーブル１４１０と比較してもよい。
【０２０２】
＜インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理＞
図１６は、インピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に用いる回路等を、図６で示した試験パッケージボード１０００の回路構成から抜き出して記載したものである。
【０２０３】
右側の点線で囲った回路等において、ピンから信号を出力する際の信号の流れを実線で示し、左側の点線で囲った回路等において、ピンから信号を入力する際の信号の流れを実線で示す。尚、信号が流れない回路は点線で記載している。
【０２０４】
まず、インピーダンス情報収集処理において、正常性確認処理で用いるインピーダンス情報を収集する。インピーダンス情報が設計データとして有る場合は、その設計データを使用すればよいが、設計データがない場合にはインピーダンス情報を取得する必要があるからである。
【０２０５】
インピーダンス情報収集処理を、インピーダンス情報が不明なバックプレーンのうちの複数個に対して実行し、その結果から各配線に対するマスクデータを作成して記憶する。
【０２０６】
ここで、インピーダンスの測定方法について、図１７を用いて説明する。
【０２０７】
図１７は、インピーダンス測定方法の例を示す図である。
【０２０８】
図１７において、「マスタスロット」は、配線のインピーダンスを測定するために信号を送信する側のスロットに挿入されている試験パッケージボード１０００を示す（以下、「マスタ試験パッケージボード１０００」という。）。また、「接続先スロット」は、信号を受信する側のスロットに挿入されている試験パッケージボード１０００を示す（以下、「接続先試験パッケージボード１０００」という。）。
【０２０９】
インピーダンスの測定は、配線の一方からある周波数の信号を送信し、送信端において
配線にシリアルに接続された抵抗の両端のレベルを測定することにより行われる。
【０２１０】
このとき、受信端は終端抵抗による終端となる。１本の配線に対して、それぞれ周波数を異ならせた複数の信号を送信し、それぞれの信号のレベルを測定する。
【０２１１】
具体的には、まず、出力する信号の周波数を周波数設定回路１８にて生成し、測定対象の配線の１端であるマスタスロット側のピンを出力に設定することで信号を出力する。すなわち、ＳＥＬ１１を信号線１６の側に設定し、ＳＥＬ１２を信号線１７の側に設定し、且つ、信号線１７を出力に設定する（図１６：右側の点線で囲った回路等参照）。
【０２１２】
このとき、測定対象の配線の他端である接続先スロット側のピンを入力に設定する。すなわち、ＳＥＬ１１を終端抵抗側に設定し、ＳＥＬ１２を信号線１７側に設定し、且つ、信号線１７を入力に設定する（図１６：左側の点線で囲った回路等参照）。
【０２１３】
接続先スロット側のピンが信号を受信したら、接続先試験パッケージボード１０００が、マスタ試験パッケージボード１０００に信号を受信していることを通知する。
【０２１４】
通知を受けたマスタ試験パッケージボード１０００は、マスタスロット側のピンに接続される抵抗Ｒ１の両端のレベル（Ｖ１及びＶ２）を、Ａ／Ｄコンバータ１０により測定する。
【０２１５】
同様に、周波数設定回路１８の設定を変更して、異なる周波数の信号を送信した場合の測定を行う。測定結果は、ＣＰＵアクセスバス１４を介してＣＰＵ２が読み取りを行う（図１６参照）。測定結果を基に、以下の式１を用いてインピーダンスを求める。
【０２１６】
式１）インピーダンス：Ｚ＝Ｒ１Ｖ１／（Ｖ１−Ｖ２）
インピーダンスの測定の結果は、バックプレーンによってバラツキが生じる。従って、インピーダンス情報収集処理を、対象となるバックプレーンの複数個に対して行う。
【０２１７】
得られた複数の測定値から大きく掛け離れたデータを除いた複数のデータの標準偏差を求めて、正常とみなされるインピーダンスの値のマスク領域を求める。
【０２１８】
図１８に、インピーダンス／周波数特性サンプルの例、及び、正規分布曲線を示す。
【０２１９】
平均値をμ、標準偏差をσとしたとき、インピーダンスのデータは、図１８の下図に示すような正規分布曲線となる。
【０２２０】
この正規分布曲線における３σの分布領域（μ−３σ〜μ＋３σ)をインピーダンスデータ領域として複数の周波数、例えば、7種類の周波数に対して３σの分布領域を求める。
【０２２１】
このようにして、複数の周波数に対する３σの分布領域から、図１８の上図に示すインピーダンス/周波数特性のマスク領域を導き出す。
【０２２２】
各周波数に対する平均値をμとすると、３σ分布上限がμ＋３σ、３σ分布下限がμ−３σとなる。μ＋３σとμ−３σに囲まれた範囲をインピーダンスの正常領域とし、範囲外を異常領域とする。
【０２２３】
＜データ＞
バックプレーン試験システム９０がインピーダンス情報収集処理及び正常性確認処理を行う際に用いるデータについて図１９〜図２２を用いて説明する。
【０２２４】
図１９は、インピーダンス情報テーブル１７１０の構成及び内容の例を示す図である。
【０２２５】
このインピーダンス情報テーブル１７１０は、インピーダンス情報収集部１６００が行うインピーダンス情報収集処理において作成され、インピーダンス情報記憶部１７００に記憶される。
【０２２６】
尚、図１９では、バックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００すべてのインピーダンス情報をまとめたテーブルを示している。すなわち、バックプレーン２０が備える全ての配線のインピーダンスの値を記憶したものである。
【０２２７】
図１９の内容のテーブルは、インピーダンス情報収集処理を終了した時にスロット‐１に挿入された試験パッケージボード‐１が記憶している。
【０２２８】
インピーダンス情報テーブル１７１０は、スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４、周波数１７１５及び試験値１７１６を有する。
【０２２９】
スロットＩＤ１７１１は、試験パッケージボード１０００が挿入されているスロットの識別子を示す。スロットの識別子としてスロットの番号を用いる。
【０２３０】
ピンＩＤ１７１２は、スロットＩＤ１７１１で示されるスロットに備えられているピンの識別子を示す。ピンの識別子としてピンの位置を用いる。実施形態では、図４に示すように、行と列を用いて指定する。尚、ピンＩＤ１７１２には、いずれかのピンに接続されているピンのみが登録されている。
【０２３１】
接続先スロットＩＤ１７１３は、ピンＩＤ１７１２で示されるピンが接続されているピンが備えられているスロットの識別子であるスロットの番号を示す。
【０２３２】
接続先ピンＩＤ１７１４は、ピンＩＤ１７１２で示されるピンが接続されているピンの識別子であるピンの位置を示す。
【０２３３】
周波数１７１５は、配線に通された信号の周波数を示す。
【０２３４】
試験値１７１６は、測定されたインピーダンスの値を示す。
【０２３５】
スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４によって、１本の配線の両端のピンを示す。すなわち、配線を特定することになる。
【０２３６】
図２０は、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０の構成及び内容の例を示す図である。また、図２１は、マスクデータテーブル１７３０の構成及び内容の例を示す図である。
【０２３７】
このインピーダンスマスク情報テーブル１７２０及びマスクデータテーブル１７３０は、インピーダンス情報収集部１６００が行うインピーダンス情報収集処理において作成された複数のインピーダンス情報テーブル１７１０のデータを基に作成され、試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報記憶部１７００に記憶される。実施形態では、インピーダンス情報収集部１６００がユーザの指示により作成して記憶する。
【０２３８】
インピーダンスマスク情報テーブル１７２０は、スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４及びインピーダンスマスクＩＤ１７２１を有する。
【０２３９】
スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４はそれぞれ、インピーダンス情報テーブル１７１０のスロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４と同様のものを示す。
【０２４０】
インピーダンスマスクＩＤ１７２１は、スロットＩＤ１７１１〜接続先ピンＩＤ１７１４で示される配線のインピーダンス値のマスクデータの識別子を示す。
【０２４１】
図２１は、マスクデータテーブル１７３０の構成及び内容の例を示す図である。
【０２４２】
マスクデータテーブル１７３０は、インピーダンスマスクＩＤ１７３１、周波数１７３２、下限値１７３３及び上限値１７３４を有する。
【０２４３】
インピーダンスマスクＩＤ１７３１は、マスクデータの識別子を示す。インピーダンスマスク情報テーブル１７２０のインピーダンスマスクＩＤ１７２１として、このインピーダンスマスクＩＤ１７３１に設定されている識別子を設定する。
【０２４４】
周波数１７３２は、配線に通された信号の周波数を示す。
【０２４５】
下限値１７３３は、周波数１７３２で示される周波数の信号を通した場合のインピーダンス値のマスク領域の最小値を示し、上限値１７３４は、最大値を示す。
【０２４６】
図２２は、正常性確認結果テーブル１７４０の構成及び内容の例を示す図である。
【０２４７】
この正常性確認結果テーブル１７４０は、正常性確認部１８００が行う正常性確認処理において作成され、試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報記憶部１７００に記憶される。
【０２４８】
正常性確認結果テーブル１７４０は、スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４、周波数１７１５、試験値１７１６及び試験結果１７４１を有する。
【０２４９】
スロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４、周波数１７１５、試験値１７１６はそれぞれ、インピーダンス情報テーブル１７１０のスロットＩＤ１７１１、ピンＩＤ１７１２、接続先スロットＩＤ１７１３、接続先ピンＩＤ１７１４、周波数１７１５、試験値１７１６と同様のものを示す。
【０２５０】
試験結果１７４１は、スロットＩＤ１７１１〜接続先ピンＩＤ１７１４で示される配線のインピーダンス値が、正常の範囲であるか否かを示す。
【０２５１】
試験結果１７４１に記載された「正常」は、試験値１７１６で示されるインピーダンス値がすべて正常の範囲であることを示す。「高」は、試験値１７１６で示されるインピーダンス値のうち、正常の範囲の上限値を超えたものがあることを示し、「低」は、試験値１７１６で示されるインピーダンス値のうち、正常の範囲の下限値を下回ったものがあることを示す。
【０２５２】
＜動作＞
以下、実施形態のバックプレーン試験システム９０がインピーダンス情報収集処理を行う場合の動作について図２３及び図２４を用いて説明する。また、正常性確認処理を行う場合の動作について図２５を用いて説明する。
【０２５３】
＜インピーダンス情報収集処理＞
図２３は、３つのスロットを備えるバックプレーン２０に実装された試験パッケージボード１０００が行うインピーダンス情報収集処理を示すフローチャートである。
【０２５４】
図１１等を用いて説明した配線情報収集処理と、図２３を用いて説明するインピーダンス情報収集処理は、その処理の手順はほぼ同じであり、収集する情報が異なる。
【０２５５】
図２３に記載のインピーダンス情報収集処理が図１１に記載の配線情報収集処理と異なる点は、次の４点である。
【０２５６】
１点目は、ステップＳ１５０において、ユーザが、試験パッケージボード‐１の操作部１１００を操作してインピーダンス情報収集処理の開始を指示する点である。それに伴い、インピーダンス情報収集処理の開始の指示を検出した操作部１１００は、その旨を制御部１２００に通知し、通知を受けた制御部１２００は、インピーダンス情報収集処理を開始する旨の通知を通信部１９００を介して、他の試験パッケージボード１０００、すなわち、試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に通知する。
【０２５７】
２点目は、ステップＳ１５１、ステップＳ２５０及びステップＳ３５０の準備処理において、配線情報記憶部１４００に配線情報テーブル１４１０を作成する代わりに、インピーダンス情報記憶部１７００にインピーダンス情報テーブル１７１０を作成する点である。
【０２５８】
各試験パッケージボード１０００のインピーダンス情報収集部１６００は、配線情報記憶部１４００の配線情報テーブル１４１０（図８等参照）を参照して、インピーダンス情報テーブル１７１０を作成する。
【０２５９】
具体的には、スロットＩＤ１７１１〜接続先ピンＩＤ１７１４には、配線情報テーブル１４１０の接続先スロットＩＤ１４１３及び接続先ピンＩＤ１４１４が「−」でないレコードの、スロットＩＤ１４１１〜接続先ピンＩＤ１４１４をそれぞれ設定してインピーダンス情報テーブル１７１０を作成する。各試験パッケージボード１０００は、スロットＩＤ１７１１に自身のスロット番号が設定されたテーブルのみを作成する。
【０２６０】
３点目は、ステップＳ１５２、ステップＳ２５１及びステップＳ３５１のインピーダンス情報収集処理が異なる。この処理については、図２４を用いて後で説明する。
【０２６１】
４点目は、ステップＳ１５３において、各試験パッケージボード１０００から受信したインピーダンス情報テーブル１７１０をインピーダンス情報記憶部１７００に記憶する点が異なる。ステップＳ２５２及びステップＳ３５２において、各試験パッケージボード１０００は、自身のスロットのインピーダンス情報を試験パッケージボード‐１に送信する。
【０２６２】
次に、図２４を用いて、各試験パッケージボード１０００自身のピンのインピーダンス情報を収集する処理について説明する。
【０２６３】
図２４は、試験パッケージボード１０００自身のピンのインピーダンス情報を収集する処理を示すフローチャートである。
【０２６４】
この処理は、図２３のフローチャートにおけるステップＳ１５２、ステップＳ２５１及びステップＳ３５１の処理である。
【０２６５】
図２４において、「マスタスロット」のフローチャートは、ステップＳ１５２において、試験パッケージボード‐１が行う処理である。また、ステップＳ２５１においては、試験パッケージボード‐２が行う処理であり、ステップＳ３５１においては、試験パッケージボード‐３が行う処理である。また、「接続先スロット」のフローチャートは、選択されたピンの接続先の試験パッケージボード１０００が行う処理である。この「接続先スロット」は、「マスタスロット」と同じスロットである場合もある。配線が同じスロットのピン同士を接続する配線の場合である。
【０２６６】
また、この処理は、各試験パッケージボード１０００のインピーダンス情報収集部１６００が行う処理であり、インピーダンス情報の収集は、１ピンずつ行う。
【０２６７】
以下、マスタ試験パッケージボード１０００が試験パッケージボード‐１である場合を説明する。
【０２６８】
試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報収集部１６００は、インピーダンス情報テーブル１７１０の上から順にピンを１つ選択し（ステップＳ４００）、接続先のスロットＩＤの試験パッケージボード１０００に、接続先のピンＩＤを通知する（ステップＳ４０１）。
【０２６９】
具体的には、ピンＩＤ１７１２「Ａ１」を選択した場合は、接続先スロットＩＤ１７１３「２」、接続先スロットＩＤ１７１３「Ａ２」であるので、試験パッケージボード‐２に対して「Ａ２」を通知する。
【０２７０】
通知を受けた試験パッケージボード‐２のインピーダンス情報収集部１６００は、受信したピンＩＤが示すピンに対応する回路を、入力に設定する（図１６：左側の点線で囲った回路参照）。
【０２７１】
試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報収集部１６００は、出力する信号の周波数を周波数設定回路１８にて生成し（ステップＳ４０２）、選択したピンを出力に設定することで信号を出力する（ステップＳ４０３、図１６：右側の点線で囲った回路参照）。
【０２７２】
試験パッケージボード‐２のピンが信号を受信したら、試験パッケージボード‐２のインピーダンス情報収集部１６００は、試験パッケージボード‐１に信号を受信していることを通知する（ステップＳ５００）。
【０２７３】
通知を受けた試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報収集部１６００は、インピーダンス値を求め（ステップＳ４０４）、求めたインピーダンス値をインピーダンス情報記憶部１７００に記憶する（ステップＳ４０５）。
【０２７４】
具体的には、インピーダンス情報テーブル１７１０のピンＩＤ１７１２が選択したピンと同じであって、周波数１７１５が送信した信号の周波数と同じであるレコードの試験値１７１６に、求めたインピーダンスを設定する。
【０２７５】
予め決めてある周波数の数分の信号におけるインピーダンス値を求めていない場合は（ステップＳ４０６：Ｎｏ）、次の周波数を設定してステップＳ４０２〜ステップＳ４０５の処理を行い、すべての周波数に対してインピーダンス値を求めた場合は（ステップＳ４０６：Ｙｅｓ）、次のピンを選択してステップＳ４００からステップＳ４０６の処理を行う（ステップＳ４０７：Ｎｏ）。
【０２７６】
全てのピンに対してステップＳ４００からステップＳ４０６の処理を行った場合は（ステップＳ４０７：Ｙｅｓ）、処理を終了する。
【０２７７】
＜正常性確認処理＞
次に、図２５を用いて、正常性確認処理について説明する。
【０２７８】
図２５は、３つのスロットを備えるバックプレーン２０に実装された試験パッケージボード１０００が行う正常性確認処理を示すフローチャートである。
【０２７９】
図２３等を用いて説明したインピーダンス情報収集処理と、図２５を用いて説明する正常性確認処理は、その処理の目的は異なるが、その手順は共通する部分が多い。
【０２８０】
インピーダンス情報収集処理は、バックプレーンの配線のインピーダンス情報を収集することを目的とする。正常性確認処理は、バックプレーンの配線が、正常であるかを確認することを目的とする。
【０２８１】
実施形態の正常性確認処理では、対象のバックプレーンの配線のインピーダンス値を求め、求めたインピーダンス値が正常範囲にあるかを判断する。正常範囲の上限値より大きい値をとった場合は、インピーダンスが大きくなることから接触不良あるいは配線の細化による「断線の兆候」と判定する。正常範囲の下限値より小さい値をとった場合は、インピーダンスが小さくなることから「芋半田による接続」と判定する。
【０２８２】
図２５に記載の正常性確認処理が図２３に記載のインピーダンス情報収集処理と異なる点は、次の４点である。
【０２８３】
１点目は、正常性確認処理を開始する前に、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０及びマスクデータテーブル１７３０を作成し、試験パッケージボード‐１のインピーダンス情報記憶部１７００に記憶しておく点である。
【０２８４】
２点目は、ステップＳ１６０において、ユーザが、試験パッケージボード‐１の操作部１１００を操作して正常性確認処理の開始を指示する点である。それに伴い、正常性確認処理の開始の指示を検出した操作部１１００は、その旨を制御部１２００に通知し、通知を受けた制御部１２００は、正常性確認処理を開始する旨の通知を通信部１９００を介して、他の試験パッケージボード１０００、すなわち、試験パッケージボード‐２及び試験パッケージボード‐３に通知する。
【０２８５】
３点目は、ステップＳ１６２において、各試験パッケージボード１０００から受信したインピーダンス情報テーブル１７１０を基に、正常性確認結果テーブル１７４０を作成する点である。試験パッケージボード‐１の正常性確認部１８００は、受信した各試験パッケージボード１０００から送られたインピーダンス情報テーブル１７１０を元に正常性確認結果テーブル１７４０を作成し、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０及びマスクデータテーブル１７３０を参照して試験結果１７４１を記載していく。
【０２８６】
具体的には、正常性確認結果テーブル１７４０のスロットＩＤ１７１１〜接続先ピンＩＤ１７１４で示される配線の周波数１７１５毎に試験値１７１６で示される値を、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０及びマスクデータテーブル１７３０から求められる同じ配線の周波数１７３２毎の下限値１７３３及び上限値１７３４で示される値とを比較して、試験結果を１７４１を決定する。
【０２８７】
例えば、正常性確認結果テーブル１７４０のスロットＩＤ１７１１「１」、ピンＩＤ１７１２「Ａ１」、接続先スロットＩＤ１７１３「２」及び接続先ピンＩＤ１７１４「Ａ２」で示される配線の周波数１７１５「１ｋ」の試験値１７１６「３．００」と、マスクデータテーブル１７３０のインピーダンスマスクＩＤ１７３１「Ｍ１」、周波数１７３２「１ｋ」の下限値１７３３「２．５０」及び上限値１７３４「３．５０」とを比較する。
【０２８８】
インピーダンスマスクＩＤ１７３１「Ｍ１」は、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０のスロットＩＤ１７１１「１」、ピンＩＤ１７１２「Ａ１」、接続先スロットＩＤ１７１３「２」及び接続先ピンＩＤ１７１４「Ａ２」で示される配線のインピーダンスマスクＩＤ１７２１を参照して求める。
【０２８９】
すべての配線の試験結果１７１４を求めた試験パッケージボード‐１の正常性確認部１８００は、正常性確認結果テーブル１７４０を表示装置２０００に送信する。
【０２９０】
表示装置２０００の通信部２１００を介して、正常性確認結果テーブル１７４０を受信した制御部２２００は、受信した正常性確認結果テーブル１７４０を表示部２３００に渡して表示を依頼する。表示を依頼された表示部２３００は、所定の形式で正常性確認結果テーブル１７４０の内容をディスプレイに表示する（ステップＳ１６２）。
【０２９１】
実施形態では、バックプレーン２０すべての配線のインピーダンス値を求めてから、各配線の正常性を判断したが、各配線のインピーダンスを求める都度に正常範囲であるかを判断することとしてもよい。また、１つの試験パッケージボード１０００のすべての配線のインピーダンス値を求める毎に判断することとしてもよい。この場合は、各試験パッケージボード１０００は、インピーダンスマスク情報テーブル１７２０及びマスクデータテーブル１７３０のうち必要なデータをインピーダンス情報記憶部１７００に記憶しておく必要がある。
【０２９２】
＜補足＞
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記形態に限らず、以下のようにしてもよい。
（１）実施形態では、試験対象であるバックプレーン２０が備えるスロットの数を３つとして説明したが、３つより多くてもよい。
【０２９３】
最初の試験パッケージボード１０００は実施形態の試験パッケージボード‐１と同様の処理を行い、最後の試験パッケージボード１０００は実施形態の試験パッケージボード‐３と同様の処理を行う。他の試験パッケージボード１０００は、実施形態の試験パッケージボード‐２と同様の処理を行う。
【０２９４】
すなわち、バックプレーン試験システム９０を構成する試験パッケージボード１０００がｎ個であったとする。試験パッケージボード‐２〜試験パッケージボード‐（ｎ−１）は、自身よりも大きな番号の試験パッケージボード１０００のピンとの間の配線情報を収集する。試験パッケージボードnは、自分より大きな番号の試験パッケージボード１０００が存在しないため、試験パッケージボード‐ｎ自身内のピン間のみの配線情報を収集する。
（２）試験パッケージボード１０００に備えられたコネクタ１３と勘合しないコネクタ２１を有するバックプレーン２０に対しては、図２６に示すような延長板４０を使用することで試験を実施することが可能となる。延長板４０はバックプレーン側コネクタ２１と環濠するコネクタ４１を備え、試験パッケージ側コネクタ１３のピンが１対１に接続される配線を持つ。試験パッケージボード１０００側のコネクタ１３のピン数は十分に大きなものとしておき、バックプレーン側コネクタ２１のピンに対して余分が出た場合は、未接続としておく。
（３）実施形態では、正常性確認処理の結果のみを表示装置２０００に表示しているが、接続確認処理の結果を記憶して表示することとしてももちろんよい。
【０２９５】
また、実施形態では、正常性確認処理において、試験値１７１６とマスクデータとを比較して正常性を判定しているが、この判定を表示装置２０００で行うこととしてもよい。
（４）実施形態では、配線情報収集処理等において、接続先のピンが検出済みのピンに対しては、配線情報の収集処理を行わないこととしているが、全てのピンに対して処理を行うこととしてもよい。例えば、実施形態の場合は、図４のスロット‐１のピンＡ４の接続先として、スロット‐２のピンＡ４とスロット‐３のピンＡ４が通知される。実際には、スロット‐３のピンＡ４はスロット‐２のピンＡ４と接続しており、この接続関係を明らかにしたい場合は、全てのピンに対して配線情報の収集処理を行う。
（５）実施形態では、表示装置２０００は試験結果を表示することのみに使用しているが、表示装置２０００が接続されている試験パッケージボード‐１を介して、バックプレーン試験システム９０を制御することとしてもよい。
（６）試験パッケージボード１０００は、図５等の各構成要素の全部又は一部を、１チップ又は複数チップの集積回路で実現してもよい。
（７）試験パッケージボード１０００は、図５等の各構成要素の全部又は一部を、コンピュータのプログラムで実現してもよいし、その他どのような形態で実施してもよい。
【０２９６】
コンピュータプログラムの場合、メモリカード、ＣＤ−ＲＯＭなどいかなる記録媒体に書き込まれたものをコンピュータに読み込ませて実行させる形にしてもよいし、ネットワークを経由してプログラムをダウンロードして実行させる形にしてもよい。
【符号の説明】
【０２９７】
１  ＣＰＵ間通信ＦＰＧＡ
２  ＣＰＵ
３  ＣＰＵ制御メモリ
４  不揮発性メモリ
５  スロット設定スイッチ
７  出力データ設定回路
８  入出力設定回路
９  入力データ確認回路
１０  Ａ／Ｄコンバータ
１３  試験パッケージ側コネクタ
１４  アクセスバス
１５  １６  １７  信号線
１８  周波数設定回路
１９  試験制御スイッチ
２０  ６０  ６１  ６１  ６４  バックプレーン
２１  バックプレーン側コネクタ
２２  筐体
３０  ３１  ケーブル
４０  延長板
４１  コネクタ
１０００  １００１  試験パッケージボード
１１００  操作部
１２００  制御部
１３００  配線情報収集部
１４００  配線情報記憶部
１５００  接続確認部
１６００  インピーダンス情報収集部
１７００  インピーダンス情報記憶部
１７２０  インピーダンスマスク情報テーブル
１７３０  マスクデータテーブル
１７３２  周波数
１７３３  下限値
１７３４  上限値
１７４０  正常性確認結果テーブル
１８００  正常性確認部
１９００  通信部
２０００  表示装置
【図１】
0005444930.tif 000002
【図２】
0005444930.tif 000003
【図３】
0005444930.tif 000004
【図４】
0005444930.tif 000005
【図５】
0005444930.tif 000006
【図６】
0005444930.tif 000007
【図７】
0005444930.tif 000008
【図８】
0005444930.tif 000009
【図９】
0005444930.tif 000010
【図１０】
0005444930.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
0005444930.tif 000013
【図１３】
0005444930.tif 000014
【図１４】
0005444930.tif 000015
【図１５】
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【図１６】
0005444930.tif 000017
【図１７】
0005444930.tif 000018
【図１８】
0005444930.tif 000019
【図１９】
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【図２０】
0005444930.tif 000021
【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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