(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
次の（ａ）〜（ｇ）の各工程を含むことを特徴とする、超伝導バンド長さがｌの該超伝導バンドについての臨界電流の輸送能力に関する超伝導バンドの品質管理方法であって、
ａ）前記超伝導バンドの長さが、超伝導バンドの一部分の長さの倍数となる、超伝導バンドの一部分において、
超伝導状態となる時点の温度まで当該超伝導バンドの一部分を冷却する工程と、
ｂ）輸送電流を生成する装置手段は、前記超伝導バンドの長手方向に離間して配置した、
給電コンタクトおよび放電コンタクトによって形成されるコンタクト構成を備え、
当該給電コンタクトおよび当該放電コンタクトの間に輸送電流を生成するものであり、
電圧調整装置によって、当該輸送電流を 周期的に変動する形で調整すると共に、前記コンタクト構成を前記バンドに接触させることによって、前記超伝導バンドの一部分における前記超伝導バンドの長手方向に輸送交流電流を生成する工程であって、前記超電導バンドの一部分に生成される輸送交流電流の振動数は、（ｉ）前記超電導バンドの移動速度と、（ｉｉ）前記超伝導バンドの長手方向でのコンタクト部の長さとの比に対して等しいか、それ以上である、工程と、
ｃ）前記超伝導バンド上、あるいは、前記輸送交流電流を生成する装置上のどちらか、または、その両方において、前記輸送交流電流に反応する測定装置を設置する工程と、
ｄ）前記コンタクト構成を有するコンタクト部を、超電導バンドに電気的に接触させながら、前記超伝導バンドを当該超電導バンドの長手方向に、継続的に移動させる工程と、
ｅ）前記コンタクト部を介して前記超電導バンドを移動させている間、前記測定装置を使用して、
前記冷却され超伝導状態となった超伝導バンドの一部分において電気の輸送特性に関する測定値を物理測定パラメータとして測定する工程と、
ｆ）前記超伝導バンドを継続的に移動させている間、当該超電導バンドの移動速度を測定する工程と、
ｇ）前記超電導バンドの一部分において生成される輸送交流電流が、当該超伝導バンドの一部分に存在する欠陥の影響を受けていることを、前記物理測定パラメータに基づいて検出した場合、前記超伝導バンドの長手方向の移動速度と、前記欠陥の影響を受けた前記輸送交流電流の検出時点に基づいて特定した当該超伝導バンドの一部分の領域をマークする工程と、からなる、超電導バンドの品質管理方法。
【請求項２】
前記輸送交流電流は、一定、あるいは、時間に依存する前記輸送電流上に重ねあわされられること、および、前記物理測定パラメータは、前記輸送電流が重ね合わせられた結果に基づいて検出されることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記輸送交流電流の振動数は０．２から２００Ｈｚであることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記生成された輸送交流電流の振動数は、（ｉ）前記超電導バンドの移動速度と、（ｉｉ）前記超伝導バンドの長手方向でのコンタクト部の長さとの比に対して、１．０１倍から２０００倍大きい値であることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記超伝導バンドを介して透過する磁場を備え、前記輸送交流電流は、該磁場により、超伝導バンドの超伝導層の横断面の形状よりも小さな断面へと抑制されること、および、
前記物理測定パラメータは、前記抑制された輸送交流電流により、前記抑制されたバンドの領域で検出されることを特徴とする請求項１ 記載の方法。
【請求項６】
前記超伝導バンドの移動の間、継続して前記物理測定パラメータが検出されることを特徴とする請求項１ 記載の方法。
【請求項７】
前記コンタクト構成は複数の同極の電気コンタクトを有し、
一つ、または、それ以上の独立した輸送交流電流を前記超電導バンド中に生成するため、前記バンドに対して電気的な接触関係で、該複数の電気コンタクトが同時に適用できることを特徴とする請求項１ 記載の方法。
【請求項８】
前記超伝導状態に冷却された超伝導バンドの中に、二つまたはそれ以上のそれぞれ独立した輸送交流電流を生成するコンタクト構成を備え、
前記物理測定パラメータは、前記独立した種々の輸送交流電流に関連するよう、前記複数のコンタクト構成において、それぞれ独立して検出されることを特徴とする請求項７記載の方法。
【請求項９】
前記方法は、前記超伝導状態のバンドを超伝導状態から非超伝導状態の遷移範囲において実施されることを特徴とする請求項１ 記載の方法。
【請求項１０】
前記方法は、電気的なシャントを与えることがない超伝導層を有する超伝導バンドに対して実施される、あるいは、
前記方法は、少なくとも部分的にフェリーまたはフェロー磁性体材料からなる、または、その両方を含む超伝導層を有する超伝導バンドに対して実施されることを特徴とする請求項１ 記載の方法。
【請求項１１】
請求項１乃至１０に記載の方法を実施するために、次の（ａ）〜（ｇ）の各構成を備えることを特徴とする超伝導バンド長さがｌの該超伝導バンドについての臨界電流の輸送能力に関する超伝導バンドの品質管理装置であって、
（ａ）前記超伝導バンドの長さが、超伝導バンドの一部分の長さの倍数となる、超伝導バンドの一部分において、
超伝導状態となる時点の温度まで当該超電導バンドの一部分を冷却するための冷却部と、（ｂ）前記超伝導バンドの長手方向において、互いに離間して設置された、少なくとも一つの給電コンタクト、および、少なくとも一つの放電コンタクトを有し、
前記冷却されたバンド部分と接触することにより、当該給電コンタクトと放電コンタクトとの間に輸送交流電流を生成するコンタクト構成と、
（ｃ）前記コンタクト構成により生成される前記輸送交流電流の電圧を、 周期的に変動する形で調整できる電圧調整源を有し、
前記コンタクト構成を前記超伝導バンドに接触させることによって、前記超伝導バンド部分に輸送交流電流を生成し、前記超電導バンドの一部分に生成される輸送交流電流の振動数は、（ｉ）前記超電導バンドの移動速度と、（ｉｉ）前記超伝導バンドの長手方向でのコンタクト部の長さとの比に対して、等しいか、それ以上である、手段と、
（ｄ）前記超伝導バンドの一部分において輸送交流電流に反応する装置を用い、当該輸送交流電流を測定する測定部を備え、
前記測定部は、前記超伝導バンドの一部分に適用され、且つ、前記長手方向に離間して設置される、少なくとも二つの測定コンタクトを含み、
当該測定部において超伝導状態での電気の輸送特性に関しての測定値を物理パラメータとして測定を行う手段と、
（ｅ）前記輸送交流電流を生成するための手段によって、前記コンタクト構成と前記測定部とを、超電導バンドに電気的に接触させながら、前記超伝導バンドを当該超伝導バンドの長手方向に、継続的に移動させるための移動手段と、
（ｆ）前記超伝導バンドを継続的に移動させている間、当該超電導バンドの移動速度を測定する手段と、
（ｇ）前記超電導バンドの一部分において生成される輸送交流電流が、当該超伝導バンドの一部分に存在する欠陥の影響を受けていることを前記物理測定パラメータに基づいて検出した際に、前記超伝導バンドの長手方向の移動速度と、前記欠陥の影響を受けた前記輸送交流電流の検出時点に基づいて特定した当該超伝導バンドの一部分の領域をマークする手段と、を備える、超伝導バンドの品質管理装置。
【請求項１２】
前記超伝導バンドの長手方向でのバンドの移動の間、前記物理測定パラメータを継続的に検出するように、前記物理測定パラメータを検出する手段を前記超伝導バンドに、継続して適用することを特徴とする請求項１１記載の装置。
【請求項１３】
前記コンタクト構成は複数の同極の電気コンタクトを有し、
一つ、またはそれ以上の独立した輸送電流を前記超電導バンド中に生成するため、前記バンドに対して電気的な接触関係で、該複数の電気コンタクトが同時に適用できることを特徴とする請求項１１記載の装置。
【請求項１４】
前記コンタクト構成は、二つ以上の放電コンタクトと給電コンタクトのペアと、前記バンド部分と結び付けられることによる異なる輸送電流強度に従い前記バンドの異なる種々の領域内で、前記物理測定パラメータが検出できるように適用される物理測定パラメータを検出するための装置と、を有し、該二つ以上のコンタクトのペアは、それぞれ冷却したバンド部分の異なる領域で同時に複数の異なる電流強度の輸送交流電流が生成させるように配置されることを特徴とする請求項１１記載の装置。
【請求項１５】
前記複数のコンタクトペアは、  周期的に変化する輸送電流を生成するために適用されることを特徴とする請求項１４記載の装置。
【請求項１６】
前記輸送交流電流を生成する手段は、前記冷却されたバンド部分に交流電流の形式で輸送電流を生成するように適用されることを特徴とする請求項１５記載の装置。
【請求項１７】
前記複数のコンタクトペアは、交流電流の形式の輸送電流を前記超伝導バンド中に生成できるように適用され、
該輸送電流は、一定（すなわち、均一に変化する輸送電流強度）に調整された輸送電流が、同時に超伝導バンド中で生成され、
さらに、前記物理測定パラメータを検出する手段は、当該複数の輸送電流の重ね合わせによって、物理測定パラメータの変化を検出するために適用されることを特徴とする請求項１４記載の装置。
【請求項１８】
前記交流電流の振動数は、０．２から２００Ｈｚの間の範囲で生成されることを特徴とする請求項１６記載の装置。
【請求項１９】
磁場を生成する装置を備え、
前記装置により生成された磁場は、前記冷却されたバンド部分を介して透過し、
前記磁場により前記輸送電流は、前記超伝導バンドの長手軸方向の超伝導バンド領域の
横断面の形よりも小さな断面へと抑制され、
さらに、前記抑制された輸送電流に基づく前記物理パラメータの測定を行う手段が備えられていることを特徴とする請求項１１記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、超伝導バンドの品質管理の方法に関し、特に、高温超伝導（ＨＴＳ）バンドについての臨界電流の輸送能力に関する。さらに、本発明は、前記方法を実施するための装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
前記臨界輸送電流Ｉｃは、高温超伝導材料の工業技術的な利用において最も重要なパラメータの一つである。その点に関して、臨界輸送電流は、電気部品が未だ超伝導状態である時点での最大電流を規定する。臨界輸送電流よりも大きな輸送電流強度においては、超伝導状態が崩壊し、結果として電気電導経路の電気抵抗が増加することで、該電気抵抗の増加に関連付して発生した熱が、各部品の破壊に結びつき、前記電気部品は、操作不能になる場合さえある。
従って、超伝導体の電気工学的な部品あるいは装置における技術的利用のために、該部品あるいは装置が少なくとも、使用する際の条件に依存する最小の臨界輸送電流Ic（min）において、超伝導状態である必要がある。
【０００３】
研究室条件下のようには制御されない、超伝導バンドの工業生産においては、該超伝導バンドは前記臨界輸送電流を制限する欠陥を特定の割合で被る。
前記欠陥は、例えば、局所的な非化学量的な欠陥に起因して材料の化学反応性蒸着による超伝導バンドの製造時に生じるもの、使用した前駆体の局所的に不完全な反応、中間および最終の各生産物の熱分解反応、または、焼き戻しに関する不規則性、あるいは、各基板上での超伝導材料のエピタキシャル成長の場面での局所的な欠陥など、種々の異なった性質がある。
前記欠陥は臨界電流を限定し、その結果、各バンドはそれぞれの使用目的においてはスクラップであると考えられる、あるいは、低レベルの技術要件しか求められない場合にのみ使用される。
超伝導バンドの品質管理は、特に、商用技術的な用途の該バンドが非常に長い時、例えば、容易に該バンドが容易に数百メートルあるいは数キロメートルの長さとなるような、超伝導コイルまたは送電線の製造に重要である。
【０００４】
加えて、本発明にかかる方法は、その方法が一日当り数キロメートルのバンドの生産能力を有する設備の製造プロセスにおける品質管理を可能にするための、技術的利用に向け、大きな工業的スケールで生産される超伝導バンドの場合においての適切な品質管理を最適化することを目的としている。
【０００５】
欧州特許番号８６０７０５Ｂ１号公報は、超伝導ワイヤーの臨界電流値を測定するための方法および装置を開示している。
該超伝導ワイヤーは、（概念的に）長手方向に配列した多数のワイヤー部分から構成されている。
電流強度の異なる多数の電流は、予め決められており、そこで、（予め決められ）与えられた電流強度の各電流は、超伝導状態まで冷却された各バンド部分を介して、繰り返し流される。そして、それぞれのバンド部分で生じた電圧は、すべてのバンド部分について生じた電圧がすべての電流強度となるまで検出される。
このような測定操作は、測定部に静止した状態で設置されたバンド部分により達成される。
そして前記バンドは、その後、前記測定部において、その次に来る各バンド部分が静止して設置されるように、前記バンド部分の長さで前進させられ、且つ、異なる多数の大きさの電流強度を適用することで同様の検査が行われる。
所望のバンド全体をバンド部分ごとにサンプリングすることにより、定常電流I(m)により取得された該バンド部分の個々の電圧は総計の電圧に達するまで足し合わされる。
前記足し合わされた電圧は、複数の異なる電流の各電流により確かめられる。
その後、超伝導ワイヤーの臨界電流値は、電圧の差に基づいて計算できる。
【０００６】
前記欧州特許番号８６０７０５Ａ１号公報にかかる方法は、研究室スケールでの超伝導バンドの検査に適切なものである。しかし、各バンドの生産および品質管理を含むバンドの総生産速度が、少なくとも品質管理の工程によって（実質的に）制限されない生産製造エンジニアリングでの品質管理には適していない。
その点に関して、例えば、適当な緩衝剤と超伝導材料を用いた反応性のコーティングによる超伝導バンドの前記生産速度は、個々の装置において一日あたり数キロメートルの程度の容量を容易に達成することができる。
しかしながら、品質管理の条件の下でのそのような（生産速度の）高速化は、欧州特許番号８６０７０５Ａ１号公報にかかる方法で達成することはできない。
【０００７】
加えて、超伝導バンドの製造エンジニアリングでの品質管理においては、臨界電流を制限するバンド上の欠陥をできうる限り正確に見つけ出し、該バンドを、例えば各欠陥領域へ超伝導材料を適用する、又は、適切な処置により、復活させることが望ましい。
しかしながら、与えられたバンド部分に関連する欠陥を決定することがほぼ可能な欧州特許番号８６０７０５Ａ１号公報による方法では、それを行うことは不可能である。
また一方で、すべての欠陥バンド部分に作用させなければならないため、あまりにも（該欠陥部分の）位置決め作業は不正確であろう。
他方で、欠陥のより正確な位置を決めることは、各バンド部分の長さを短くすることだけでは、事実上不可能である。それは、十分に正確な位置決め行うため、バンド検査時間が許容されない程度に増加してしまわない程度に、バンド部分が短い長さでなければならない。
【０００８】
米国特許番号６８４１９８８Ｂ１号公報は、超伝導材料の臨界電流強度の決定を行う方法、及び、装置を開示している。該公報において、超伝導化したバンドは、様々変化する外部磁場を通過して搬送されている。
前記測定方法は、外部磁場により、超伝導バンド中で誘起される磁界の非接触測定を可能にする。
前記非接触測定工程によって、超伝導バンドは測定部を経由して継続的に輸送される。上記の超伝導バンドに関連するいくつかのパラメータは、確かにそのような方法で、決定することはできるが、極めて間接的に欠陥のポイントへ外部磁場が向けられることで、バンド中で渦電流が生成される。このような方法では、前記バンドの臨界輸送電流にかかる品質管理は不可能である。
従って、バンドの長手方向への欠陥の配向に関しての情報、また、臨界輸送電流に対する制限への明瞭な言及もまた、前記方法では行う事はできない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】欧州特許番号８６０７０５Ｂ１号公報
【特許文献２】欧州特許番号８６０７０５Ａ１号公報
【特許文献３】米国特許番号６８４１９８８Ｂ１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、超伝導バンド、特に高温超伝導帯の 輸送電流に関する技術利用に関し、大きな工業的スケールでの製造工程での品質のモニタリングを可能にし、且つ、好ましくは、大きな工業的スケールでの製造工程に統合されたときバンドの製造時の全製造速度を実質的に制限することのない、超伝導バンドの品質管理のための方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記目的は、ａ）からｅ）の特徴を持つ請求項１記載の方法によって、且つ、請求項１２記載の方法を実施した装置の提供によって達成される。また、効果的な開発は各従属請求項に記載されている。
【００１２】
本発明についての方法を実施するために、例えば液体窒素の冷却部において超伝導温度まで冷却されたバンド部分は、１以上の給電コンタクトと放電コンタクトを含む電気コンタクト構成と接触しコンタクト間（給電コンタクトと放電コンタクトの間）で バンドに 長手方向への 輸送電流を生成する 。
従って、該給電コンタクトと放電コンタクトは、コンタクト部を形成し、前記輸送電流は前記バンドを 流れ、前記給電コンタクトと放電コンタクトを 流れる。
前記バンドを通過する、すなわち、バンド中の輸送電流は、前記二つの特定のコンタクトによって生成、または、印加される。
加えて、コンタクト部内および／または輸送電流生成装置内（前記バンドへの送電線を含む）に適切な測定部が配置されており、それにより、前記輸送電流 、あるいは、輸送電流から生じ、および／または、輸送電流に依存する物理測定パラメータが検出される。それは、超伝導バンド部分の超電導性能に関する測定または、 輸送電流のための測定である。
従って、前記輸送電流は測定部を 流すこともまた可能である。最も単純な場合では、輸送電流の大きさの測定は輸送電流を生成する電流源で実施することができ、その際、バンドにかかる電圧が測定される、あるいは、制御される。
【００１３】
本発明についてより具体的に説明すれば、すなわち、本発明に従ったコンタクト部内には、測定部が設置されている。該測定部は、バンドの長手方向に離間して設置され、且つ、前記バンド（コンタクト構成の“内部電圧コンタクト”）と電気的に接触するような二つの測定コンタクトにより形成される。
前記測定コンタクトは、特に正確で再現可能で、且つ、超伝導層（もしくは、超伝導層の上に配置した電気的な導電性カバー層）に関する電流コンタクトの接触抵抗には依存しない品質モニタリングも可能である。
この品質モニタリングは、超伝導状態まで冷却されたバンドにおける電流コンタクトでの電圧降下に起因した故障を回避する。さもなければ、測定部を通過した電圧降下に関しては、十分に低く、又は、無視できるほどに小さいものでなければならないだろう。
【００１４】
本発明によれば、前記バンド（すなわち、一般的には検査されるバンドの一部分 、その一部分の長さは、 各時点で冷却されたバンド部分の長さの数倍であろう）は、適切な輸送手段によって、該バンドの長手方向に測定部を通過して継続して移動する。
前記バンドの移動の間に、前記バンドの長手方向へ前進する輸送電流は、前記バンドが電気的にコンタクトすることによりバンド内に生成される。前記コンタクトは、給電コンタクトおよび放電コンタクトとして働く。   そのように生成された輸送電流は、 各時点において前記バンドの長手方向において一方向に流れ、且つ、前記電流は、バンド中で（単に）オームの法則に従った電圧降下を引き起こし 、渦電流ではない。
【００１５】
前記輸送電流の生成を伴う前記接触操作は、検査を受けるバンドの一部の移動の間、継続的に実施することができ、その結果、輸送電流はバンド又は検査を受けるバンドの一部を、各バンド部分全体にわたって継続的に進む。
該測定コンタクトはまた、バンドが移動する間バンドと継続的に接触できることが望ましい。該測定値は、継続的、或いは、段階的に（すなわち、時間について循環して）検出ができる。
【００１６】
検査されるべき前記バンドの領域は実質的にすべてのバンド長さを含みうるが、例えば、輸送装置および／または巻き戻し装置にバンドを取り付ける為、末端のバンド部分については唯一除外されることが理解されよう。もちろん、前記バンドの検査された 部分または前記バンドは、前記冷却されたバンド部分 の非整数倍とできる。
いずれの場合にも、前記”バンド”という用語は、検査されるバンドの一部分を含むことを意図し、該バンドの長さは、 各時点 で冷却されているバンド部分、及び/またはコンタクト構成の長さの倍数である  。
【００１７】
本発明によればさらに、 物理的パラメータは、前記バンドの各瞬間的なコンタクト部分および／またはバンドの測定部分に関連して生成された輸送電流に基づいて、検出される。そこで、前記物理測定パラメータは、前記バンド部分、または、その一部の超伝導を示す電気的な輸送特性（あるいは輸送電流）についての測定となるように選択される。
それ故、例えば予め規定され、例えば一定である電流は、例えば電気コンタクト構成の給電コンタクトと放電コンタクトの手段により、各バンド部分に導入ができる。また、電流を流した結果測定部の間で生じる電圧降下が検出される。そして、前記輸送電流は電圧制御された様式で生成が可能である。
しかしながら、欠陥が生じると、超伝導電流経路の焼失のリスクを生じるため、ここでは、例えば、最大輸送電流を超過した際に、印加した電圧を自動的に減少させるような適切な過負荷安全装置が備えつけられるべきである。
【００１８】
特に好ましくは、  規定された、例えば一定の、一時的に規定された、または、予め規定され た電圧が、コンタクト構成（輸送電流が電流制御された様式に従って生成されるように）の給電コンタクトと放電コンタクト によって、それぞれ接触したバンド部分上に印加される。その場合には、検出された物理測定パラメータは、結果として生じる（オーミックな）輸送電流そのもの 、あるいは、  測定された電圧降下、または、生成された（測定された）輸送電流と適切な 相関性を持ったその他の適切な物理測定パラメータである（例えば、電気抵抗または伝導性のような）。
各場合、この方法は、電流の印加効果、および／または、特に好ましくは、電圧の印加の効果を得るため適用される。
前記印加された、或いは、生成された輸送電流（参照値）は、最小臨界輸送電流と一致させることができ、それが維持されることが前記バンド長全体でモニターされる。
前記バンドの超伝導層の断面を明らかとすることにより、臨界電流密度はそれぞれの場面において臨界電流強度の代わりに使用することもできる。その一方で、予め規定された輸送電流による測定を超えた電圧制御による測定の特別なメリットは、欠陥事象での導電体の焼失が確実に回避できるという点である。
さらに、電圧制御による測定では、測定操作の間に電気的シャント（すなわち、十分な厚さの低抵抗保護層が、もはや超伝導状態ではない超伝導材料から電流をシンク、或いは、アースに放電する）を伝導体に備える必要はない。従って、本発明にかかる方法は、電気的シャントを備えることのない超伝導状態のバンドの品質管理に関し、特に、電流リミッター（ＦＣＬ）の製造のための超伝導状態のバンドにも関する。
本発明にかかる方法のさらなるメリットは、前記輸送電流または輸送電流に依存する前記パラメータの測定が、相対的に高い外部磁場の使用により実施される必要はないということである。つまり、原理的に、一定の電流による測定の場合、超伝導体の臨界電流は、外部磁場の適用によって、前記臨界電流を超える時であっても、測定電流が伝導体の焼失を起こすに十分ではないような程度まで  低下され得る。しかし、一般的には、例えば０．６T（テスラ）のような相対的に強い磁場が要求される。
しかしながら、その一方で、そのように強い外部磁場の場合の超伝導材料の特性は、多くの応用には向いておらず、他方では、前述した強い磁場により、特にフェリ磁性体基板、或いは、フェロ磁性体基板を扱う際、および、特に連続的な測定において、とても強い力が前記バンド上に働くため、外部磁場を通過する際に、複雑なガイドが必要になる。加えて、幅のあるバンドを扱う際、前記磁場は超伝導バンドの全幅の上で極めて均質なものでもなければならない。
これらすべてのデメリットは、本発明にかかる方法において生じることはない。
従って、本発明もまた、例えばNi合金のような、フェリ磁性体および／またはフェロ磁性体基板上の超伝導バンドの品質管理に関し、そこでは、基板と超伝導層の間に、例えば酸化材を含むことができる緩衝層のようなさらなる層を備えることができる。
また一方で、前記本発明にかかる方法は、≧１−２ｃｍ、または、≧５−７ｃｍ、または、≧９−１１ｃｍのバンド幅、かつ、前記バンド幅が≦１３−１５ｃｍ、あるいは、≦９−１１ｃｍにおいて、検査が可能である。
【００１９】
一般的に、本発明にかかる輸送電流の生成は、その都度、電圧制御された様式でもたらされ、そこで、結果として生じる（理想的な）輸送電流は、一定に、又は、時間依存にできる。
前記電圧は一定、又は、時間に依存する値となるように制御できる。
時間依存性の輸送電流（例えば輸送交流電流）にかかる説明は、理想的な輸送電流（すなわち、前述した超伝導材料中の不規則性に基づく不規則性のない）に関係し、かつ、本発明に従い輸送電流を発生する電圧にも、またそれぞれ直接に当てはまる。 例えば、時間依存プロファイル（正弦波状、鋸歯状など）、振動数等に 適用できる。
あるいは、前記説明は、各場合に制御された輸送電流 に関連付けることもでき、 例えば、電圧降下が測定パラメータとなるであろう。
【００２０】
従って、本発明にかかる方法は、実施される最小臨界輸送電流に関する特定の要求事項を満たすか確かめるために、超伝導バンド（或いは、その一部分）を各製造工程において持続的に調べることが可能である。
その照合操作は、本発明にかかる方法（または、それを実施するのための装置）が超伝導バンドについて連続的な製造工程（又は、装置）の直接的な一部分とできるように、各製造工程での統合的な関係において達成されるか、また、該照合操作は、例えば潅浴モードを含むような、生産設備として、少なくとも実質的に同じ速度、或いは、より高速度（時間に関係するバンドの長さに従うよう）に、独立して操作をすることが可能である。
その目的を達成するために、例えば、所与の長さのバンドは巻き上げられ、つぎにコイルが本発明に従う方法で検査される。
従って、例えば、８６０７０５Ａ１号公報に従い、バンドが静止しているときに各バンド部分の検査を行い、バンドの長手方向のその次のバンド部分を測定部に置き、次いで測定部にそのバンド部分を静止させてそれを検査することは最早、必要ない。
従って、本発明にかかる方法は、実質的により一層に速い速度で実施することができる。
加えて、超伝導バンドは、物理パラメータ検出中に継続的に移動でき、その結果、静止測定の場面において必要であるようなバンドの正または負の加速が最小となり、若しくは完全に不要であり、それにより、超伝導バンドへの欠陥の発生に至る超伝導バンド上への機械的な負荷もまた避けられる 。  
【００２１】
加えて、本発明にかかる方法に関し、それ自体は未だ予め規定された最小臨界輸送電流Ｉｃ（ｍｉｎ）が全バンド長さ上（或いは、モニターされるバンドの一部）で維持されたかどうかに対するモニターは未だ必要ではあるが、超伝導バンド部分、或いは、全バンドの完璧な電流―電圧特性を記録する必要はない。
電圧制御による測定の特別なメリットに関しては、それぞれの測定位置（すなわち、測定される超伝導バンドのそれぞれの領域について）に対しての実際の臨界電流Ｉｃを確かめるために単に一度の測定操作のみが要求される。
【００２２】
最小臨界輸送電流として規定された電流Ｉｃ（ｍｉｎ）が 、コンタクト部（すなわち、給電および放電コンタクトの間）を経由して超伝導バンド中に連続的な電流の形式で給電され、その結果、超伝導の基準がコンタクト部及び/または測定部において十分に満たされているかを検出するため、電圧降下または電圧降下から生じる物理パラメータのみが測定部で測定されることが有利である。
従って、前記電流Ｉｃ（ｍｉｎ）は、要求に従って検査されるプロフィールが含むべき臨界輸送電流のレベルとすることが可能である。
前記給電された電流は、一般的に、コンタクト部を横切る電圧降下が０、または０．００１、または ０．０１−２５μＶ／ｃｍの間、０．０５−１０μＶ／ｃｍの間、０．１−５μＶ／ｃｍ、０．５−３μＶ／ｃｍの間、又は約１μＶ／ｃｍの範囲であるように、本発明においては選択される。
【００２３】
本発明にかかる方法は、一般的に、超電導バンド部分の測定部において生成される輸送電流が、使用する各場面に十分に高い臨界電流強度である予め規定された参照値と同等、またはそれ以下であるような方法で実施され、その参照値は、例えば、電圧降下の５〜１０μＶ／ｃｍまでの間、好適には１−２μＶ／ｃｍまでの間、０．５−０．７５μＶ／ｃｍまでの間、０．１−０．２μＶ／ｃｍまでの間である 。
本発明にかかる超伝導バンドは、約０．５ｍ／ｓｅｃから５０ｍ／ｓｅｃの間また、おそらくは、より低速度または高速度で、測定部を介して移動できる。
【００２４】
従って、バンド全体（少なくとも基準点から）、あるいは検査を受ける部分、特に、そのためコンタクト部及び/又は測定部をも通る部分、の品質管理は、超伝導バンドの一定の輸送速度において行うことができる。好ましくは、該速度は、超伝導バンドの速度の平均値から、例えば、≦±３０−５０％、または≦±１０−２０％、≦±３−５％ 異なってもよい。
好ましくは、超伝導バンド速度は、方法の実施中に検出あるいは測定されるが、この検出は、少なくとも１つの予め規定された基準点で、  方法を実施する間中、好ましくは、時間依存的(time-dependent mode)に行われ、及び/又は、品質管理を始めるバンド上のあらかじめ規定された基準点が通過した時点にされる。そのようにして、この方法はバンドの各部分についてコンタクト部及び/又は測定部の位置の特定が、検査が終了後であっても常にわかるように行うことができる。
【００２５】
好適な物理測定パラメータは、特に、超伝導部分の長さの倍数である超伝導バンドが移動手段により移動する間で継続して検出される。
原則として、本発明にかかる方法は、与えられたバンド長さに制限されない。それ故に、個別のバンドの長さは、与えられたバンド長さに限定されることなしに、２００−５００ｍ以上、２００−５００ｍ以上、１０００−２０００ｍ以上、または、５０００ｍ以上の長さへと容易に適用できる。
従って、超伝導バンドの長さ（あるいは検査された部分の長さ）は、冷却されたバンド部分の１００倍以上、２００−５００倍以上、または１０００−５０００倍以上となる。
本発明にかかる方法は、一日あたりのバンド長さが１−５キロメートル以上の通過で供給することが可能であるが、それに限られず、５−２０ｋｍ／ｄ（ｋｍ／日）、または、２０−５０ｋｍ／ｄ以上もまた容易く、５０−１００ｋｍ／ｄ以上で可能である。また、前記の場合において、前記通過経路は前記バンド速度に相当するものとすることができる。
前記計測部を介したバンド速度は、例えば約０．１ｍ／ｓｅｃと約５０ｍ／ｓｅｃとできる。
【００２６】
加えて、本発明にかかる方法は、バンドの部分の欠陥の単純な高速検出、および／または、臨界輸送電流Ｉｃを制限する（または、必要な最小輸送電流Ｉｃ（ｍｉｎ）未満に、電流の低下に至らせる）欠陥の位置の位置決めを同時に許す。  そこで、前記欠陥の位置決めに関する位置分解能は、前記コンタクト部（測定される前記輸送電流を生成するための複数の給電コンタクトおよび／または放電コンタクト 、と（間接的に）全てのコンタクト、或いは、おそらく給電および放電コンタクトの間の 非常に小さな空間を含む。 ）の長さ よりも長く、または、前記コンタクト部の１／４と１／２の間、または、１／８と１／１６の間よりも長いものである。
バンドの搬送に起因して、各欠陥がコンタクト部および／または測定部の中へ進む際に、各物理測定パラメータは、例えば、場合によっては超伝導状態が崩壊する程、電圧の大きな上昇、又は、輸送電流の大きな降下のように、大きく変化する。 局所的な欠陥のある領域の超伝導バンドの部分は、適切な手段によって直接マークできる。あるいは、もし超伝導バンドの輸送速度が既知であり、例えば、もし、物理測定パラメータが時間に依存して（バンド輸送速度が変化する場合、その後、バンド速度の時間依存性も確認される）で検出される場合、欠陥のあるバンド部分は、全バンドの調査の後に位置決めが可能である 。
その後、欠陥を有するバンド部分は、全バンド長さ上で、要求された臨界輸送電流を観測が行えるようにするため、特定の位置を目標として局所的に修復できる。
欧州特許番号８６０７０５Ａ１号公報の方法に関しては、本発明のそれと比較すると、所与の部分が欠陥を被っているか否かを決定することを可能にしただけである。
しかしながら、該方法は、独立測定の数を最小化するように、バンド部分は、可能な限り長くしなければならないので、そもそも非常に長いバンド長さであるときは、この方法は依然、実施可能ではであるが、実際上、全バンド部分がバンドから分離され、又はつなげられなければならず、これは非常に不都合である。
【００２７】
前記物理測定パラメータは、コンタクト部および／または測定部を超伝導バンドの移動の間、 継続して検出されることが好適である。検査される超伝導バンドの全部分、または、全バンドは、停止せずにコンタクト部および／または測定部を通過し、該測定パラメータが該操作において検出される。
その場合、前記物理測定パラメータはある時間のサイクル(time-cycled relationship)で検出される事も可能である。
該サイクリング時間は、臨界輸送速度を制限する局所的な欠陥の位置決めに対して望まれた位置分解能に依存して決定され、および／または、位置分解能として使用することもできる。
サイクリング時間はバンドの連続した部分の２個の測定結果の間の時間間隔が、測定部の長さと測定部を通過するバンドの速度の割合よりも小さくなるように選択することができる。
物理測定パラメータの検出をしない二つの測定結果の間の時間範囲は、一般的に、コンタクト部、あるいは、測定部の長さとバンド速度（それは、二次的、あるいは、測定値検出時の瞬間速度）の割合の、＜１、または、≦１／２と１／４の間、または、≦１／８と１／１６の間、または、≦１／３２と１／６４の間、または、≦１／２００と１／５００の間とすることができる。
そのような場合、前記コンタクト部、あるいは、測定部の長さは、超伝導バンドの長手方向での各コンタクトの間隔によって規定される。
例えば、バンド部分が測定部を通過するときに多くの測定ができれば、測定パラメータを検出し、サイクル数により評価するとき、各欠陥部の位置の特定について相当する高い水準の位置分解能を達成することができる。
その場合、前記測定コンタクトは、バンドと常時接触することができ、あるいは、おそらく、ある時間サイクルによって移動するバンドと接触することができる。
【００２８】
前記電気的なコンタクト構成の手段によって、超伝導バンド中に導入される、規定された輸送電流は、超伝導バンドの移動により一定レベル（例えば、参照値の≦±１０−２０％、≦±５−７、または、±２−３％、または、±１％のようなある限度内で変動することが認められよう。）とすることができる。
規定され、導入された電流は直流電流であることが好適である。
従って、前記直流電流は、各バンド、或いは、その部分において、本発明にかかる実施の期間において途切れることなく、または、前記直流電流は観測される最小臨界輸送電流を下回ることはできない。
【００２９】
超伝導バンド中で生成され、規定された輸送電流は、時間に関して 連続的に変化する（例えば、コンタクト部または測定部の長さのバンド部分がコンタクト部または測定部を通過する間、輸送電流が増大又は減少する）ことも可能であり、その変化は線形、若しくは、非線形であってもよい。
【００３０】
前記冷却されたバンド部分における輸送電流は 交流電流の形式で生成することができ、これに基づいて、物理測定パラメータが検出される。
前記交流は周期的、或いは、非周期的に変化し得る。
別途記載がされているのでない限り、“輸送電流／輸送交流”という用語は、理想化された電流  をさし、 すなわち、バンド材料（特に、超伝導材料）の中の不規則性が生じることによる輸送電流中の不規則性をもたない理想化された電流をさしている。
前記交流電流（特に、周期的、或いは、非周期的であっても）は、  印加された（または、制御された）周期的または非周期的に変化が可能なＡＣ電圧によって  生成される  。
輸送電流に関係する記述は、  それぞれ、輸送電流を生成する印加電圧に、特に時間依存性（正弦波、のこぎり歯状等の、振動数などの）にもあてはまる。
【００３１】
前記交流電流は、電流の強度を調節するように（これは給電/放電コンタクトにおける極性の変化を起こす必要はない）基礎電流、例えば一定のまたは変化する基礎電流、に重ね合わされる交流でもよい（相当する考え方は輸送電流を生成する電圧にも当てはまる）。
前記輸送電流および／または変調された電圧の変化は、一般的に、例えば、正弦波状、のこぎり歯状の形態、台形、三角形状の形態、或いは、長方形の形態、或いは別の適切なプロファイルの特性に従って達成することができる。
前記交流電流および／またはＡＣ電圧の周期および／または振幅は、超伝導バンドの検査された部分上で一定に、或いは、お互いに規定された関係で独立して変更できる。
各場合に重要なことは、例えば、適当な手段により電流/電圧の変化が一定であること又は決定されていることであり、そして、物理的パラメータの比例的なあるいは一般的に一定でかつ予測可能な変化に至ることであり、この物理的パラメータは測定部により検出され、その結果、欠陥が検出できることである。
相当する考慮はまた、一般的に、他の物理的パラメータにもあてはまる。例えば、電圧が印加されたときのようにこの他の物理的パラメータにより連続的な電流が測定部で生成され、これに基づいて、各物理測定パラメータが検出され得る。
【００３２】
その場合、輸送交流電流（或いは、電流強度の変調）が生成されることが好適であり、該輸送交流電流の振動数（変調振動数）は、（ｉ）移動するバンドの速度、および（ｉｉ）コンタクト部および／または測定部の長さ、または、一般に、所期の瞬間に物理測定パラメータが決定されるバンド領域の長さ、の割合と等しい、若しくはそれ以上である。同じ考え方が、輸送電流を生成する、 印加されたＡＣ電圧に対して、適用することが好適である。
その場合、 超伝導材料中の不規則な部分で生じる、対応する変動を受けた輸送交流電流が生じることが理想的である。
前記バンド速度は、コンタクト部または測定部を 通過する際の、平均的なバンド速度、あるいは、バンドの瞬間的な速度であろう。
振動数が前記の割合より大きい場合、欠陥の位置の特定、及びその欠陥による輸送電流の制限に関し、各バンド部分の位置を特定した特徴付けが、何らかの方法により可能になる。他方、振動数は、輸送電流の生成に関する緩和現象や、例えば磁場の望ましくない生成のような何らかの二次的な効果等を常に最少することができない程高過ぎるべきではない。
輸送交流電流が要因となり起こる物理測定パラメータの変化は、測定部で検出される。
【００３３】
輸送交流の振動数、または、ＡＣ電圧が生成する振動数は、０．０５から１００Ｈｚの間の範囲で、好ましくは、０．１から２００Ｈｚの間の範囲で、特に、好ましくは０．２から１００Ｈｚの間の範囲で、さらに好ましくは１から１０Ｈｚの間の範囲において、例えば約５Ｈｚとできる。
もし、例えば、不要な渦電流のために測定結果の歪曲が十分に無視できる程度であれば、前記振動数は、最大で１０００−２０００Ｈｚまで、或いは、５０００Ｈｚまで、またはそれ以上にできる。
【００３４】
特に好ましくは、輸送交流／印加したＡＣ電圧が一定である、或いは、時間に依存して経時的に変化する輸送電流（基準電流）／基準電圧上に重ね合わせることである。そこで、物理測定パラメータは、重ね合わせにより生じる輸送電流に基づいて検出される。
その場合に、コンタクト構成の入力と放電コンタクトでの極性の逆転が起こらないよう、電圧の基準電流／レベルの強度が、重ね合わせた輸送交流／ＡＣ電圧の最大振幅よりも大きいことが好適である。
例えば、輸送交流の振幅は、電圧振幅／定常電圧を求めることに対応する考え方から、生成された定常輸送電流の電流強度の≦９８％，≦８０−９５％，≦７０−８０％，≦４０−６０％，または≦１０−２０％の値とできる。
その場合、各輸送電流の生成は、好適には、基準電流の調整に従い電流調整された様式において、或いは、電圧制御された様式のどちらか一方によって達成される。
【００３５】
輸送交流の生成（恐らく基礎電流の重ね合わせを伴う）、特に好ましくは調節されたac電圧によるものは、継続的に移動するバンドに関して、各バンド部分のまたは最終的にはバンド全体のある種の電流-電圧の特性を生成する。これはバンドが静止しているときに電流-電圧特性を決定することと比較して、測定操作時バンドに速度があるため、ある程度鮮明さを欠く。それにもかかわらず、品質管理において、その方法により、各部と接触する各バンド部分の臨界電流強度に関する、局所的に比較的詳細な情報を得ることができる。従って、その方法によりバンド部分の電流-電圧特性の勾配をほぼ決定できる。すなわち、指数関数で記述する特性場合のn値を決定できる。
【００３６】
従って、実現される最小臨界輸送電流は、予測された範囲内の電流強度で変化に従って調査されるであろう範囲でモニターできる。すなわち、該範囲は（可能な）臨界電流強度（好ましくは調整した電圧の手段によって）に関して検査される。さらに、それらのみではなく、輸送交流電流のそれぞれの最小および最大強度に依存する電流強度範囲内の臨界電流に関する情報を提供するため、輸送交流電流の振幅レベルに関するモニターが、可能である。
【００３７】
従って、もし局所的な欠陥が交流電流における電流ピークを検出するならば、輸送電流はより低い電流、しかし最小臨界電流よりも高くあり得る電流、に制限される。そしてそれは検出される測定パラメータの対応する変化を生じる。ついで輸送交流電流の周期数によってバンド上の局所的欠陥の位置を決定することも可能である。欠陥の位置は、検出を受け、バンド上の予め定めた基準点から関係づけられる。その場合、バンド全体の最小臨界輸送電流より大きいけれども、臨界輸送電流Icを制限するそのような欠陥は、最終的にはバンド上に統計的に分散されるように配置されると想定され、バンド全体にわたる欠陥の位置的分散、及び臨界輸送電流の水準を限定する、”干渉エネルギー”の二つの点から各欠陥の性質に対応すると想定される。その点で、各欠陥が多少「重大」又は「軽度」である欠陥であり得、例えば高温超電導層における多少重大な格子欠陥あるいは電子的欠陥を生じさせ、よって、臨界輸送電流を多少大きく制限することができると理解されよう。そのため、そのようにして、バンド全体のより徹底した品質の特性を与えることもできる。加えて、生成される交流電流のパターンの選択により必要とされるときは、バンドで測定された電圧降下の各誘導成分は変わり得る。
【００３８】
もし、一定電流強度の“基準電流”、或いは、基準電圧と重ね合わせることができる交流電流成分（若しくは、ＡＣ電圧成分）により、輸送電流、或いは、これを生成する電圧が生成されるなら、超伝導バンドで測定された前記電圧降下は、抵抗および誘導成分を含む。
前記抵抗成分は、直流電流（すなわち、バンド品質管理に関する所望された信号）による超伝導バンドでの電圧降下が原因で、生じる。
電圧降下の第二の成分は、時間に関連して変化する、また、バンド中の交流損失と呼ばれる現象を与える、電流を原因とする。
それら交流損失は、計算によって見積もることができる。前記交流損失の見積もりを、該測定を開始する前に行うことができ、そのため本発明にかかる装置は、コンピューターを有している。
前記見積もりは、生成された交流電流の振動数、および、振幅に基づき、また、幾何学的な寸法、伝導率、交流状態の電流抵抗などのような検査を受ける超伝導 バンドの特性値に基づいて、成し遂げられる。
物理測定パラメータの測定は、交流損失が局所的臨界電流Ｉｃ（ｌｏｃ）を決定する上で実質的に影響を及ぼすことがないように、本発明に従い成し遂げられる。
その点に関して、輸送電流中の純粋な直流電流により測定される真の臨界電流からのズレは、  ±２０または±５−１０％または±１−２％を、許容可能な範囲にできる。
低交流損失を維持するために、交流電流成分の振幅および振動数は、相応にして低いものを選択することができる。
【００３９】
測定工程においての交流成分により、前記臨界電流強度Ic（最小）を出来得る限り正確な決定を行うため、電圧を取り出す測地線は、誘導測定電圧が最小化されるようにできる。
その目的のために、コンタクト構成の給電コンタクトおよび放電コンタクトの間、および／または、測定部を規定する二つのコンタクト間の電気的な接触は、それらが測定部の両側で同等に強い誘導された磁場を生成するような形態にできる。
別の方法では、あるいはそれに加えて、そこでは、磁場を生じる一つ、または、それ以上の補償コイルを備えることができ、そこでの磁場の強さは、測定信号の誘導成分が最小となるようにされる。
前記磁場の強さの調整は、実験的に、或いは、シミュレーション手段によって、成し遂げられる。
【００４０】
或いは、 例えば、測定の手段によって、および／または、輸送電流の時間に関する変化ｄＩ／ｄｔの情報によって、生成された輸送交流電流に起因して生じる電圧降下の誘導成分を計算によって、補うことも、さらに可能である。
従って、前記電流降下の誘導成分は、例えば、アナログ／デジタル（ＡＤ）変換の原理に基づいたマイクロコントローラにより、測定信号から、計算によって差し引くことができる。
【００４１】
コンタクト部および／または測定部の周辺の超伝導バンドを 通過する磁場を生ずる装置を備えることが有利であり、そこで、前記磁場は、バンドの長手方向に対し横断方向に、好適には垂直に設置される。
前記磁場は、バンドの表面、或いは、バンドの長手方向に対して、横断してまたは垂直に、例えば、４５−１３５°、７０−１１０°、或いは、約９０°となるように  配置されることが好適である。
もし、バンド、或いは、超伝導体層が主面（例えば超伝導バンドの面に平行）を持つ場合、その際は、前記磁場は超伝導層面に対して垂直に調整される（任意に垂線からの、前述した逸脱を伴う）ことが好適である。
従って、前記磁場は、超伝導バンドの前記超伝導体層の幾何学的断面よりも小さな断面へと輸送電流を限定するように、コンタクト部および／または測定部の領域にあるバンドに対する位置となるよう配置される。そのように輸送電流は限定されるので、電流が限定された領域が実際の測定領域となる。
そのとき、前記物理測定パラメータは、抑制された輸送電流の断面によって、超伝導バンド領域で検出することができる。
従って、外部磁場により、バンドを通過するより小さい輸送電流で超電導層の品質または性質に関する各情報を得ることができる。（均一な）磁場の領域 は、測定部  に限定でき、好ましくは、超伝導バンドの長手方向での（均一な）磁場の広がりがコンタクト部および／または測定部の長さよりも短いものである。
従って、給電コンタクト、放電コンタクト、および／または、測定コンタクトは、該磁場の外側に設置することができる。
前記磁場は、超伝導バンドの長手方向での磁場の広がりに関して均一にできる。
それ故に、前記磁場は、コンタクト部、或いは、測定部の長さの範囲にまで拡がることができるが、しかし、上述した特段の事情により、前記磁場は、前記範囲の一部分のみに存在することが好適である。
【００４２】
さらに、前記輸送電流、或いは、臨界輸送電流は、磁場の強さに依存して測定部によって検出することができる。
交流磁場となることを回避する ために、冷却したバンド部分の種々の領域は、
異なる強さ の磁場を通過させることができるが、一定の強さであることが望ましい。
そのようにして、例えば、外部磁場の強さに依存した輸送電流についての情報のように、超伝導層についてのさらに重要な品質基準が取得できる。
【００４３】
前記磁場は、特に、定常磁場にできる。
前記磁場の強さは、０．００１テスラから１０テスラの範囲で可能（各バンドに垂直な成分に関して、超伝導層に対し垂直なことが好適である）であり、別段その値に限定されることなく、例えば０．０５から１までの範囲、若しくは、約０．１から０．２、０．３、もしくは、最大で０．５テスラまでとすることも可能である。
特に、磁場の強さは、例えば０．００１テスラから例えば０．５テスラ、或いは、０．４テスラまで、特に≦０．２５−０．３テスラ、若しくは≦０．２−０．１５テスラとされる。
また、磁場の強さは、例えば、≧０．００１テスラ、≧０．００５−０．０１テスラ、≧０．０１５−０．０２テスラ、或いは≧０．０５テスラの範囲とすることもできる。
前記磁場は、永久磁石、磁気コイル、或いは、適切な装置によって、それぞれ生成される。
【００４４】
特に、本発明の方法では、超伝導バンドの超伝導状態から非超伝導（通常の導電状態）状態への遷移領域内で実施することができる
前記目的のために、本発明の方法は、例えば、時間に従って変化する輸送電流（輸送交流電流）を生成することを可能にし、その最小値は、超電導材料の超電導状態にあり、その最大値は通常の導電状態またはそれらの間の遷移領域にある。
特に、前記交流電流は、例えば、正弦波、或いは、鋸歯状プロファイルであるようなＡＣ電圧により、特に電圧制御された様式で生成できる。
前記外部磁場は、高磁場により常伝導状態または遷移状態が生じる一方で、低磁場により、超伝導状態が適用されるよう、時間に依存する関係で変化させることも可能である。
ここで、“遷移状態”という用語は、超伝導体を部分的に失っている各状態を示す為に使用される。
そのような、本方法の実施は、特に、抵抗電流リミッタ、および、同様の用途のためのＨＴＣバンド材料の検査に際して、行われうる。通常の超伝導体―常電導体間での遷移の急な傾き、又は、幅がそのようにして、確かめられる。
前記傾きΔｘ／Δｙは、例えばΔＩ／Δｔ、或いは、ΔＵ／ΔＩよって特定することができる。そこで、Δは、未だ超伝導化している状態とすでに常伝導化している状態間での電流の差、或いは、電圧の差であり、Ｕは輸送電流を生成する電圧であり、さらに、ｔは電圧が変化する時間である。そこでは電圧が変化する以上、両方の場合でのΔＵ／Δｔの関係は、それぞれ一定であることが好適である。また、Ｉは輸送電流である。
【００４５】
給電コンタクトとして、例えば、２、３あるいは４つ以上の  同極性の複数の電気コンタクトを備え、これらは、同時に、バンドに複数の部分電流を供給し、バンドに輸送電流を生成するため、バンドと電気的に接触し、又は接触できる複数の電気コンタクトであることが好適である。
本発明の方法における種々の展開は、そのような方法で行うことができる。
一方で、バンドに同時に適用でき、バンドの長手方向に移動しながらバンドに接触する複数の給電コンタクトは、放電コンタクト（或いは、放電コンタクトのグループ）と  組み合わせることが可能である。その場合、前記測定部は、（放電コンタクトに隣接した）給電コンタクトおよび放電コンタクト（バンドの移動方向の第一番目）の間に設置される。
そのような方法で、超伝導バンド中に導入され 、および、それに基づいて物理測定パラメータが検出される輸送電流は、給電コンタクトとバンド輸送中の超伝導バンドの間での接触抵抗により制限されることはなく、また、他の装置、または、他の方法の態様 特に、高い輸送電流とともに、速いバンド速度が可能である。
【００４６】
バンド部分の各領域に各独立した輸送電流を生成するための給電コンタクトと放電コンタクトをそれぞれ含む２以上のコンタクト部及び、測定部を形成する各電気測定コンタクトを備えることが可能である。これら２以上の各コンタクト構成は、バンドが移動する間、同時にバンドに接触することができる。
そのような方法で、独立した複数の輸送電流は、冷却されたバンド部分の種々の領域で同時に生成される。そこで、物理測定パラメータは、各輸送電流について、互いに独立して、  前記バンド部分の種々の領域で検出される。
種々のコンタクト構成 より冷却されたバンドの種々の領域内に導入された、前記輸送電流は、例えば、より正確な品質管理を可能とするため、同じレベルとすることができる。
異なる電流強度の各輸送電流は、種々のコンタクト構成によってバンド中で生成されることが好適であり、各物理測定パラメータはそれを基に検出されるであろう。
そのような方法で、輸送電流強度のレベルへの各物理測定パラメータの依存性を同時に決定できる、あるいは、バンドが基準値に適合しているか１つだけではなく複数の異なる輸送電流の強度について決定することができる。そのようにして、例えば、種々の品質Ａ、Ｂ等とバンドを関係づけることができる。
前記種々の輸送電流は、各冷却されたバンド部分での時間に関しては同時刻に、又は、独立に、あるいは、連続して生成できる。その際、輸送電流Ａが、物理測定パラメータの検出と併せて既に中断されたときにのみ、または電流の測定について相互の影響を排除するため０に設定されたときにのみ、輸送電流Ｂは生成される。
【００４７】
もし、超伝導バンドの長手方向でお互いに特定の間隔である、二つ、もしくは、それ以上の給電コンタクトを備えている場合、その時、(最小)臨界輸送電流を制限する欠陥の位置の特定の実施することが、その手段により可能である。
もし、前記バンドの輸送中に、欠陥が第１と第２の給電コンタクト領域の間を通過する際には、第１給電コンタクトが放電コンタクトから最も遠い位置であるため、その時、輸送電流を生成するための第１給電電流、および、それによる輸送電流は、全く中断される、あるいは、減少する。それ（該輸送電流）は、そのコンタクト構成の測定部において、すでに検出されているであろう。
従って、前記欠陥は第１と第２給電接触の間に位置決めされることが可能である。
もし、バンドの輸送により、欠陥が、第１と第２給電コンタクトの間の領域中を通過する場合であれば、その時、第２接触電流もまた中断される、または、減少することなどが起こるであろう。
前記欠陥の位置は、直接的にバンド上に、または、測定時点に関する情報、および、前記バンドの速度の情報から位置決めができる。
また一方で、複数の給電コンタクトおよび／または放電コンタクトは、バンド上で近接して連続的に配置とすることもできる。
【００４８】
各コンタクト構成は、できる限り複数の放電コンタクトを有することができる。
それにより、バンドに供給される全電流が、超電導が生じるように冷却されたバンドへ適用される放電コンタクトにより放電されることを確実にする。
【００４９】
輸送電流がバンドに供給される際のバンド速度は、好適には、約０．１ｍ／ｓｅｃ−２０ｍ／ｓｅｃの間、より好適には、０．５−１０ｍ／ｓｅｃの間、または、０．５−５ｍ／ｓｅｃの間である。
前記速度は、一方では、本発明全体にかかる方法に対し、十分に速い速度で実施を可能にし、また一方で、過剰に速いバンド速度での接触における問題を限定的なものとする。
【００５０】
生成された輸送交流電流の振動数と、(i)移動するバンドのバンド速度と(ii)バンドの長手方向の測定部の長さ（これは所与のバンド部分に関連し、及び/又は輸送電流が生成されるコンタクト部分の長さに関連する）の比率との割合は、例えば、≧１、≧１．０１−１．０５、または、≧１．１にでき、好適には、≧１．５−２、または、≧３−５であり、より好適には、≧１０−１５、または、≧２０−５０であり、例えば≦１００−２００，≦３００−５００、≦１０００−２０００、または、≦５０００である。
それは、誘電損失および、測定結果の歪みを最小にする。
【００５１】
コンタクト部および／または測定部を形成するコンタクトの間隔は、０．２−２０ｍまたは０．５−１５ｍの範囲とすることができ、好適には、１−１０ｍの範囲である。しかし、本発明は、該範囲で制限されるものではない。
しかしながら、測定部の長さは、より長いものからより短い長さのものとできるが、過度に長い測定部は、欠陥が存在することが原因で超伝導バンドの焼失の危険が増大するというデメリットを、負うこととなる。
給電コンタクトと放電コンタクト間の間隔は、一般的に、測定部よりも長いものであり、該測定コンタクトはコンタクト部内に配置される。
【００５２】
各コンタクトの構成は、四点コンタクト測定構成の様式で、給電コンタクトと放電コンタクト及びそれらの間に配された２つの測定コンタクトを含み、その場合、２つの測定コンタクトには電流(輸送電流の生成に関して)が流れない。
特に、これは、電圧を印加し、電流強度を測定するときにあてはまる。
前記コンタクトの構成は、例えば、二つの測定するコンタクトのうち一つが、同時に給電コンタクトとして、または、同時に放電コンタクトの役割を果すことが好適 であるように、三点コンタクト構成の様式での設計も可能である。
本発明では、その他の適切なコンタクトの構成についても、できる限り使用され得る。
【００５３】
臨界輸送電流を制限する欠陥を検出する際に、該欠陥を有する局所的なバンド領域は、例えば超伝導バンドまたは超伝導層をノッチングするような適切な手段によってマークされることができる。
前記チェックが超伝導バンド全体行われた後、前記マークされた位置が特定されて、修復されることができる。
マーキングは、本発明にかかる方法が実施された後、前記欠陥が再度位置決めを行うことができるように、 バンドの輸送速度および  基準点からバンドの前進移動の時間を連続的に、例えば、十分に近接した時間サイクルで、検出することによって、間接的に成し遂げることもできる。
任意に、それぞれの局所的な欠陥は、検出後すぐに切り取ることができ、あるいは、もし、各バンド部分が冷却部を出て、不完全なバンド部分を修復するために、バンド輸送を中断することができる場合、各場合、該修復を直ちに行うことができ、バンド輸送は継続される。
超伝導バンドを修復するために、欠陥は、一般的にはバンドまたは超伝導層から切り取られ、各場合、欠陥に隣接した二つの領域 は、低オーミック接合によってつなぎ合わせられる。
あるいは、超伝導材料の未使用の部分を前記超伝導層に適用することができ、また、該バンド部分で要求された臨界電流強度を満足する程度に、欠陥部分を電気的に強化することも可能である。
【００５４】
さらに、本発明は、超伝導バンドの品質管理のための請求項１に記載の方法を実施するための装置も含んでいる。また、該装置は請求項１３から２６に記載の特徴を有するよう設計できる。
【００５５】
特に、コンタクト構成の給電コンタクトおよび／または放電コンタクト、および／または測定コンタクトが、局所的な接触、または点での接触ではなく、バンド領域の長手方向にわたり接触されていることが好ましい。
その場合、該コンタクトは、線状形式（バンドの長手方向）、或いは、面状の関係で超伝導バンドに接触することができる。
前記目的のために、前記コンタクトは、ローラーまたは滑りコンタクトの形式であることが好適であり、そこで、コンタクト領域を備えるために、超伝導バンドは、  外縁部分でローラーに接触 することができる。また、前記超伝導バンドは、前記外縁部分でコンタクトローラーの周りに延びることも可能である。それは、高速バンド速度において良好な電気的接触を提供し、且つ、前記バンドとローラーの滑りを避けることができる。
その場合、前記ローラーは、適当な駆動手段により独立して駆動され得、または、受動的に動き、その場合、バンドは、他の輸送手段によりその長手方向に輸送される、例えば、バンドを冷却部と測定部を通って輸送するため互いに独立して駆動され得る巻き上げリールと巻き戻しリールにより、輸送される。
他の超伝導バンドのための輸送手段については、 例えば、輸送ローラーの形式で、できる限り提供されることもでき、各場合で、上記の説明があてはまる。
各場合で前記超伝導バンドは、向かい合って配置した二つのローラー間で摩擦接触での前進が可能である。
また、超伝導バンドは、バンドの上側および下側に接触して搬送するよう、向かい合って配置されたローラー間でガイドすることができる。
この場合、超伝導バンドは、ローラー間、又は、ローラー周辺を、真っ直ぐに、好適には弓状に、或いは、蛇行する形状でガイドできる。
前記超伝導バンドは、各ローラーに対して外縁部で、≧１０−２０°の 角度で接触でき、好適には≧３０−４５°、または、≧６０−９０°であり、該角度は１２０°まで、或いは、最大で≧１８０°以上の角度で接触することもできる。
前記各ローラーは、加圧ローラーの形態とすることが可能であり、また、該ローラーについては前記超伝導バンドの滑りが最小となるような適切な圧迫手段によって、前記超伝導バンドに対して圧力を加えることができる。
特に、 バンドの長手方向に線状または面状で形成され、および、密接かつ可能な限り間の空間を有することがないようにバンドを取り囲む コンタクトをもつ、複数の給電ローラー又は給電コンタクトを備えることができる。
前記ローラーの軸受けは、冷却部の外部にそれぞれ配置することができる。
輸送電流を生成するために、 輸送電流を電圧制御された様式で生成する 、変調電圧源を備えることができる。
【００５６】
一般的に、本発明にかかる“超伝導バンド”或いは“高温超伝導バンド”は、二軸延伸できるような適切な基板上に設置が可能な（高温）超伝導層を有することを、さらに留意すべきである。
特に、前記基板は、フェリ磁性体あるいはフェロー磁性体とすることができる。
一つ、あるいは、それ以上の、緩衝層、若しくは、その他の中間層が、超伝導層と基板の間に適用できる。また、それらの層については、例えば、基板上のＨＴＳ層の二軸延伸での成長を可能とし、および／または、同時に拡散障壁として機能することができる。
本発明にかかる“超伝導バンドの接触”という用語は、もし、輸送電流が基板との接触により、超伝導体中に生成することができない場合に、一般的にバンドの長手方向において連続的な、超伝導層の接触を示すために、用いられる。
前記基板は、特定の組成物で限定されるものではない、ただし、特に、前記基板は、ニッケル合金であり、特にＷ含有のニッケル合金は≧１−２重量のＷ、或いは、≧５−１０重量のＷで含むことができる。
前記高温超伝導材料は、例えば、Ｙ−Ｂａ−Ｃｕ或いはＢｉ−Ｓｒ−Ｃａ−Ｃｕタイプなどの、特定のセラミック超伝導体が材料となり得、所与の材料に限定されるものではない。
その点に関して、高温超伝導体と呼ばれる前記材料は、７７ケルビンよりも高い転移温度を有する材料を意味するよう使用されるが、本発明の方法では該材料に 限定されるものではない。
品質管理後の超伝導バンドは、例えば、カバー層、あるいは、それに類似するものが配置されるように、さらなる製造ステップを行うことができる。
前記本発明にかかる方法および装置は、特に、反応性化学堆積によって製造された高温超伝導材料の検査ができるように、適用される。
しかしながら、前記超伝導層は、例えば、気相蒸着、スパッタ法やそれに類似の別の様式により、製造することもできる。
本発明にかかる“バンド”という用語は、所与の横断面の形状に限定されることを意図しているものではなく、もし、各超伝導バンドの長さがバンドの幅の数倍であると、該形状は、ワイヤーなどのような適切な断面である。
【００５７】
本発明は以下に例示する実施形態を用いて、開示および説明される。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明にかかる方法を実施するための装置の概略説明図である。
【図２】図１の装置の開発に従うコンタクト構成の側面図である。
【図３】外部磁場を備えた図１の装置の開発の側面図である。
【図４−Ａ】超伝導層中の欠陥の現れた時間に関連する、正弦波の交流電流成分を                重ね合わせた輸送電流の図である。
【図４−Ｂ】超伝導層中の欠陥の現れた時間に関連する、鋸歯状の交流電流成分を                重ね合わせた輸送電流の図である。
【図５】図１に示された本発明にかかる装置のコンタクト構成の平面図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例１】
【００５９】
図１を参照すると、（高温）超伝導バンドの品質管理のための本発明にかかる方法の実施のための装置１は、バンドの一部分が超伝導状態となる温度になるよう、超伝導バンド３の 部分３ａを、冷却するための冷却部２を備える。
前記目的のため、冷却部２は、前記バンドが通過する、例えば液体窒素のような適切な冷却媒体を保持できる。
さらに、前記冷却部は、中央管理装置へ、前記冷却部および／または前記超伝導バンドについて、決定した温度を伝えるための、温度監視装置２ａを備えることができる。
前記装置は、ある基準温度とするために、前記温度を制御、あるいは、調整するための装置を備えることができる。
さらに、前記冷却部は、超伝導バンドを 周辺温度から超電導温度に予め冷却させる予備冷却部２ｂ、および／または バンド中に温度による圧力の誘発、凝縮水などを避けるようことができるよう、冷却後かなり遅いペースで前記周辺温度となるようバンドを加熱する焼き戻し部２ｃを備える。
【００６０】
前記装置に設置された前記超伝導バンド３は、数百メートルの長さとすることができる。 前記冷却部の長さ、或いは、超伝導バンドの冷却部中で超伝導状態まで各冷却される長さは、例えば１から１０ｍの範囲とすることができる。
前記規定された長さは、前記特定の値で制限されるものではない。
この場合、前記超伝導バンド３の長さは、超伝導状態に冷却されたバンド部分３ａの長さの倍数である。
一般に、  連続的なバンド投入が行えるようバンド格納装置を備えることも可能である。
【００６１】
本発明にかかる装置は、超伝導バンドが、図１に示されるように、装置の上流側に配置された部分から、自動でバンドの供給が提供されるよう、超伝導バンドの製造のための装置の中に結合させることができ、前記超伝導バンドは、リール４上に設置され、また、前記バンドは、冷却部を通り抜けた後、巻き上げリール５によって受け取られる。
【００６２】
装置１は、さらに、超電導バンドの長手方向への超伝導バンドの継続的な移動のための手段６（輸送手段）を備えている。
それら手段６は、例えば、巻き戻しリールのための駆動部６ａ、および、巻き上げリールのための駆動部６ｂが、冷却部の上流および／または下流にそれぞれ設置された、該駆動手段を含むことができる。
加えて、そこでは、例えば、下の部分に記載されたローラーについての駆動部６ｃ、６ｄの形式（すなわち、輸送用ローラーから離して備えられた）で、冷却部における駆動手段を備えることができる。
前記輸送手段は、全体としてバンドに掛かる張力及び/または圧縮力を含む機械的負荷が最小化されるような配置である。
前記輸送手段は、バンドの全長又はバンドの検査期間にわたり、冷却部を好ましくは一定速度で連続的又は均一なバンドの移動を行うことができ、その結果バンドが停止すること又は後述するコンタクト部にバンドを静置することは生じない。
前記バンド速度は、例えば、約５ｍ／ｓｅｃである。特に、冷却部、および／または、コンタクト部、または、測定部の中での、超伝導バンドの輸送速度は、適切な手段により管理、あるいは、制御をすることが可能である。また、実際の輸送速度は、検査の全期間、時間と共に制御装置１０により検出され、および、記憶される。
【００６３】
本発明にかかる装置は、冷却したバンド部に接触するための複数の電気コンタクト２１〜２４を有するコンタクト構成２０を備える。
その場合、コンタクト２１から２３が給電コンタクトとして機能を果たし、且つ、少なくとも一つのコンタクト２４が放電コンタクトの機能を果たす。そこで、前記超伝導バンドの長手方向に間隔を開けて設置される給電コンタクトおよび放電コンタクトが、電気コンタクト部（該コンタクト部によって、該コンタクト部と接触する前記バンド部分３ｃでのバンドの長手方向で輸送電流が生成する）を形成する。
超伝導バンドの長手方向に連続して設置された複数の給電コンタクト２１から２３の配置により、超電導層中に、指定された品質要件について満たすべき最小臨界電流強度Ic(min)の領域またはそれより高い領域にある、十分に高い電流強度を発生するため、たとえ比較的高速度であっても十分に高い輸送電流が超伝導バンド中（より正確には、バンドの高温超電導層）に導入され得る。
給電コンタクト、および、放電コンタクト（さらに、以下に記載の測定コンタクト）は、外縁部でバンド又は超電導層と接触するローラーの形式でも良く、好ましくは滑らない形式がとられる。
前記コンタクトは、例えば滑りコンタクトの形式のような、別な方法に設計され得る。
【００６４】
給電コンタクトおよび放電コンタクトの間に備えた部材は、前述したコンタクト間で電流を生成するための電圧源２５である。そこで、超伝導バンドで生成される輸送電流は、管理／制御システム２６の手段によって、電圧制御された様式あるいは電流制御された様式で生成できる。
加えて、そこには、生成された輸送電流（電流または電圧）についての設定値を表示するためのディスプレイ２７が存在する。そこで、該設定値は、超伝導バンド速度に関して好適な速さでの、できうる限り適切な時間サイクリングで、制御装置１０へ継続的な送信が行われる。
前記輸送電流は、本発明にかかる方法の適用期間、あるいは、所望のバンド長さにおいてバンドが移動する際に、連続性の悪い中において供給ができる。
【００６５】
加えて、前記コンタクト構成２０は、冷却されたバンド部分（より正確に言えば、バンドの超伝導層）と接触するための、複数の電気コンタクト３１，３２を備える測定配置３０を備える。そこで、前記コンタクト３１，３２は、超伝導バンドの長さの一部分上において、測定部を形成するために、超伝導バンドの長手方向で互いに間隔を開けて配置されている。
一般的に、超伝導層は、例えば、ある層は、一般的に“シャント”とみなされるもの、および、水滴から超伝導層を守る役割を果たすような、導電層によりカバーするようにもできる。
その後、前記導電カバー層、或いは、包有するための層は、一般的にコンタクト部および測定部を形成するコンタクトにより、接触することもできる。
また一方で、（本発明は）シャントを含まないようにすることもできる。
測定コンタクト３１，３２は、接触したバンド部分に関連して、生成された輸送電流に基づく物理測定パラメータを検出するために信号送信の手段３５と結合する。そこで、前記輸送電流は電気コンタクト構成を経由して生成される。
その点に関して、前記物理測定パラメータは、前記バンド部分あるいはバンド部分の一部分の超伝導状態での電気輸送特性、または、実際の輸送電流にかかる測定値を表わすように選択される。
順次、物理測定パラメータを検出するための前記手段３５は、測定パラメータを伝達するための信号送信に関連する制御装置１０と接続している。
それ故に、例えば、もし、前記輸送電流がコンタクト部を経由して、電流制御された関係で超伝導バンド部分中で、生成された場合、測定部（コンタクト３１，３２の間隔）を横切る電圧降下が物理測定パラメータとして検出できる。
また、もし、前記輸送電流が、コンタクト部を経由し電圧制御された様式において生成されたならば、前記物理測定パラメータは、前記コンタクト３１，３２の測定部を介した流れる輸送電流とすることができるであろう。
当然のことながら、生成された輸送電流が、他の適切な物理測定パラメータ（例えば、輸送電流、または、電圧降下、または電気抵抗などから導き出された物理パラメータ）により、検出できる。
【００６６】
本発明にかかる方法の実施のために、輸送電流は、継続して移動するバンド（すなわち、前記超電導バンドの超伝導層）中で生成され、該輸送電流は、計測部を介して超伝導バンドの前進する間、バンドの長手方向で、連続的、又は、段階的に進む。
従って、本発明に関する前記輸送電流は、計測部を通過したバンドの移動の間で中断されないことが好適であり、また、所定の長さである前記バンドは、複合された冷却されたバンド部分の長さあるいは複合された測定部の長さである。
それ故に、ハイ・バンド・スループットを許すＨＴＳバンドにかかる品質保証方法は、バンド輸送の継続する間での物理計測パラメータの検出によって、提供される。
【００６７】
概して、本発明の実施形態にかかる前記輸送電流は、例えば、一定となるように、或いは、時間において変化するように調整された電圧によって生成できる。
従って、前記（理想化された）輸送電流ついてさらなる記載としては、輸送電流の生成のために、ふさわしく調整された電圧を適用する。
前記記載は、通常（―特に指定のない限り―）超伝導材料中に不規則性を有することなく調整された電圧への応答のように、理想化された輸送電流に関するものであり、それは、もし例えば、輸送電流が制御されたために、電圧降下が超伝導材料の不規則性に関連する測定値のように計測された場合、前記調整された電圧による輸送電流中の非線形変化につながるであろう。
【００６８】
一例として、観測される、且つ、品質保証に従って規定される前記最小臨界輸送電流Ｉｃ（ｍｉｎ）は、直流電流の形式で適用される。また、もし、電圧降下が超伝導状態の基準を満足するような、例えば、最大で１μＶ／ｃｍまでの場合であれば、電流フローのように超伝導バンド部分を通過した電圧降下は、それ決定するための電圧コンタクトとして機能する測定部を経由して測定され、チェックされる。
測定部を介して通過する際には、それは、制御装置１０のような最適な装置において表示を行うことができ、また、時間依存した様式で記録するため、要求された各最小臨界輸送電流に従う品質基準が、本方法の実施の時間での各瞬間で満たされることが好適である。
もう一つの方法として、電圧が電圧制御された様式（電圧が超伝導体材料の導電体において予測された参照値を関連性を持つ輸送電流を生成する）で適用されることも好適である。
【００６９】
加えて、超伝導バンドの超伝導層の臨界輸送電流を制限するどのような局所欠陥であっても、本発明のかかる方法、および、本発明の装置の手段、すなわち、コンタクト部および／または測定部の長さよりも正確な位置分解能によって、位置決めされる。
もし、超伝導バンドが輸送時において、そのような欠陥がコンタクト部（すなわち、給電コンタクトおよび放電コンタクトの間）を通過すると、超伝導層中の超伝導状態における輸送電流は、多かれ少なかれ減少する、あるいは、崩壊する。
そのとき、その輸送電流は、例えば、電圧中の激しい上昇（電流制御された測定）または、輸送電流の激しい減少（電圧制御された測定）によって、測定部中で検出され、且つ、時間に依存した関係で制御装置１０への表示、および／または、ストアがされる。
その後、コンタクト構成および／または計測部内を通過する、超伝導バンドの領域、あるいは、超伝導層は、適切な手段４０によってマークできる。すなわち、欠陥を有する領域は、所与の基準点から検査の期間において装置５０の手段によるバンドの速度を検出又は  規定  し、また、基準点からの検査時間を検出することにより確定される。
一般的なマーキングは、例えば、既知のバンド速度と前記方法の継続時間により、バンド位置 の適切な追跡により、冷却部の外部でも達成することができる。
もし、給電コンタクト２１、２２、または、給電コンタクト２２、２３が、超伝導バンドの長手方向に間隔をあけて設置される場合、測定装置の手段によって、それらコンタクトの間の領域中を欠陥が通過する時に、欠陥を検出することも可能である。また、 信号 の変化と前記信号の検出時点は、バンド速度の情報によりあるいは、これを決定することにより前記欠陥の位置決めができるように、制御装置１０へ受け渡される。
その後、前記欠陥を有するバンド領域は、先に記載したように、適切な手段により修復され、要求された超伝導体を製造する 。
十分に高い程度に位置分解能を確保するため、前記コンタクト部および前記測定部は適切な長さであるように、および、前記コンタクト部および前記測定部のそれぞれの部の長さがそれぞれ適切にマッチされることが、理解されよう。
【実施例２】
【００７０】
加えて、図２に示されるような、測定部５２（上述した、コンタクト部と測定部に対応する）に関連した、さらなるコンタクト部５０は、冷却したバンド部分に備えることができる。該コンタクト部および測定部は、第１コンタクト部２０と第１測定部３０（給電コンタクト２１と放電コンタクト２４、および、測定コンタクト３１と３２を備える）に独立して操作可能であり、また、前記コンタクト部は、給電コンタクト５３、放電コンタクト５４、および、測定コンタクト５５を独立して有することができる。従って、また、（バンド部分３ｃ中の輸送電流からは）異なる大きさ、および／または、異なる時間依存性（すなわち、時間プロフィールが）の輸送電流が、適切な手段５６を伴う、上記コンタクト部の近くに接触されたバンド部分３ｄ中に生成される。その場合、測定部５２上の物理的な測定パラメータが、装置５８で検出される。
従って、その方法で物理測定パラメータは、確認され、また、制御装置１０において時間依存した状態で検出する。そこで、最初の最小臨界輸送電流は、第１のコンタクト構成２０においてバンドの検査された長さにおいて観測される。また、該最初の輸送電流とは異なる（そこでは、最初に述べた電流強度Ｉｃ（ｍｉｎ１）とは異なる、輸送電流としての第２の最小輸送電流強度をチェックするための）輸送電流Ｉｃ（ｍｉｎ２）が、第２のコンタクト構成５０において前記バンド部分３ｄ中で生成される。
従って、全バンドの検査がバンドの輸送により行うことができる。
以下に記載される輸送交流電流は、時間依存性の交流電流プロファイルで規定されたことにより、一定レベル（或いは、できうる限り一定なレベルで）の輸送電流から生成できる。
従って、前記輸送交流電流の生成は、異なる時間プロフィールを含む輸送電流を生成するために異なるバンド領域において、例えば、一定高さの輸送電流が、第１のコンタクト構成にて生成される、他のコンタクト構成によって可能である。また、振動数Ｆ１と振幅Ａ１の正弦波状輸送電流により重ねあわされた輸送電流は、さらなるコンタクト構成により生成できる。一定高さの輸送電流は、振動数Ｆ２と振幅Ａ２の輸送交流電流の重ね合わせによって、次のコンタクト構成で生成することができる。そこで、Ｆ１はＦ２とは不等に、および／または、Ａ１はＡ２とは不等にできる、すなわち、台形形状の輸送交流もしくはそれに類似したものにできる。
それは、超伝導バンドの細部にわたった高度な品質管理を許す。
ここで、前記輸送交流電流は電流制御された様式、または、好適には電圧調制御された様式で、それぞれの場面において生成される。
【００７１】
従って、物理測定パラメータを検出するための（そのような特徴を有する）手段３５と５８は、前記物理測定パラメータが超伝導バンドの長手方向へのバンドの移動の間、実質的に連続して（例えば、時間に関して途切れることもなく、あるいは、循環的に）検出されるように操作される。また、例え（連続的で）あっても、時間サイクリングは、前記バンド速度（例えば≧２−４倍、または、≧１０−２０倍、≧５０−１００倍、或いは、≧１０００倍）よりも実質的に速い速度を生じされることができる。
前記超伝導バンドは、輸送手段を用いることで、コンタクト部、および／または、計測部を介して（すなわち、物理測定パラメータの検出の間）一定のバンド速度で輸送される。
【００７２】
同時に、給電から放電にかけての２１―２４に至る経路（および／または、任意の測定コンタクト）は、同時にバンドを移動するための手段の形式にできる。また、その目的のために、超伝導バンドの向かい側での同等のローラーの構成によって、（できうる限りの）摩擦接触の状態で、それらローラーの外周に超伝導バンドを合わせることができる。
概して、任意に離脱または付加される手段は、例えば輸送ローラーのように、バンドを輸送するために、備えることができる。
ここで、超伝導バンドは、ローラー２１−２３の周囲で、蛇行経路の状態でループ化され、また、超伝導バンドは、線状または面状の関係となるよう、前記ローラーに対して、接触させることができる。
給電コンタクトおよび放電コンタクトは、バンドを輸送するための輸送手段６ｃと６ｄを有する。
【実施例３】
【００７３】
図３は、図１および図２に図示された装置の開発の一部分である。該装置部分は永久磁場の形式での定常磁場６１を生成するための装置６０を備える。
そのように、生成された前記磁場は、超伝導バンド、または、超伝導層の長手方向に関して水平、または、垂直の形で、前記コンタクト部２０、および／または、測定部３０の周辺の超伝導バンド３を介して透過する。
該磁場は、超伝導バンドの超伝導層の断面の形よりも小さな断面部分へと輸送電流を抑制する。
その時、前記超伝導層の電流抑制された領域６２は、磁場により制限される輸送電流のように実際の測定部が形成する。
従って、前記給電コンタクト２１、放電コンタクト２４および測定コンタクト３１，３２は、前記磁場の外側に設置される。
前記磁場は、超伝導バンドの長手方向での空間上で均一であり、また、前記磁場は、例えば０．００１と０．１テスラの間、０．０５と０．０９テスラの間、および、０．０２５テスラの強度とすることができる。
【実施例４】
【００７４】
図４−Ａは、時間ｔに関係して重ね合わせられた、交流成分Ｉ´による、輸送電流（基準電流Ｉｇ）の図表、すなわち、超伝導層中の欠陥ＦＳの存在下における、基準電流の変調の一種である。
前記輸送交流は、電流制御された、あるいは、特に電圧制御されたことによって、生成される。そこで、前記輸送電流に関してさらに言えば、例えば欠陥のように、輸送交流電流による電圧の相関性を妨げることのない超伝導材料中の不規則性の場合では、電圧の代わりにふさわしいく適用する。
【００７５】
前記重ねあわされた交流電流成分Ｉ´、あるいは、これを生成する  ＡＣ電圧Ｕ´は、正弦波（Ｕ軸およびＩ軸のスケーリングは、異なっているが、電圧と生成電流が相関していること、かつ、同様な時間依存性を持つことを示している。）である。
前記交流電流成分／ＡＣ電圧成分の振動数は、バンド速度とコンタクト部または測定部の長さの割合よりも大きく、また、交流電流成分の振幅Ａ（必ずしも必要ではないが）は基準電流Ｉｇのレベルよりも低い。
対応する考え方が、基準電圧に関連するＡＣ電圧成分の生成に適用する。
もし、局所的な欠陥ＦＳ１、ＦＳ２が交流電流に関して電流のピークを受ける場合、輸送電流は低い電流Ic（minFS1）、Ic(minFS2)に限定され、（これはしかし、最小臨界電流Ic(min)（または、印加された基礎電流Ig）より高い場合があり得る）検出される測定パラメータに対応する変化が現れる。従って、各欠陥部分に対応する電流”I”が高いほど、輸送電流が限定され輸送電流が障害を受ける可能性は低くなる。
その時の、超伝導バンド上の局所的な欠陥の位置を決めることは、輸送交流電流の周期の数といったようなものでも可能であり、欠陥は、バンド上の予め定めた基準点からの距離として検出され、位置が特定され、或いは、時間ｔ１、ｔ２  により、検出されて、特定される。
所与のバンド速度ｖにより、前記いくつかの欠陥は、時間ｔ＝０での超伝導バンドのｓ＝０の位置（コンタクト部あるいは計測部中へ、前記バンド領域が最初に入った位置）を起点に特定され、また、時間ｔ１およびｔ２では、位置  ｓ１およびｓ２が特定される。
一方で、位置ｓ３、または、ｓ４での欠陥ＦＳ３およびＦＳ４は、検出されない。
従って、そのようにして  バンド全体でのより大規模な品質の特性の評価の実施もまた可能である。この場合、交流電流の成分によって、欠陥ＦＳ３およびＦＳ４は、検出されない。
ここで、バンド速度／測定部の長さ、または、バンド速度／コンタクト部の長さの比に対する輸送交流電流の振動数の比は、例えば１以上、例えば≧２−５、または１０−５０、さらにそれ以上とすることができる。
この場合、図中４ｂのように、コンタクト部の長さがａであり、また、基準点（ｔ＝０，ｓ＝０）から間隔ａにおけるバンド上の位置がｓ（ａ）である。
【００７６】
図４−Ｂは、図４−Ａに対応する時間ｔに関連する交流電流成分Ｉ´が重ねあわされたことによる輸送電流（基準電流Ｉｇ）の図である。そこで、重ね合わせられた“交流電流成分Ｉ´”は、鋸波状である。
この場合でも、前記輸送交流電流は、電流調整された、または特に調整された電圧によって生成でき、この点に関しては、特に図４−Ａに関連した記載で示されているように正の方向に注意が向けられる。
ここで、交流成分（またはＡＣ電圧成分）の振動数、すなわち前記最大値に向かって上がっていく傾斜は、バンドの速度およびコンタクト部あるいは測定部の長さと等しい、または、それよりも大きいものにできる。例えば、Ｉ／ｔプロフィールまたはＵ／ｔプロフィールの正確な一つの傾きは、コンタクト部または計測部を介して通過する際に、前記超伝導バンド部分の各長さに含まれる。
この場合もまた、前記バンド速度／測定部の長さ、或いは、前記バンド速度／コンタクト部の長さの比となる鋸歯状の振動数の比は、例えば、≧１−５、例えば、約１０−５０とすることができる。
従って、バンド部分の経路において１の比率を含む、コンタクト部または計測部の長さにより、コンタクト部または測定部を介した、正確な一つのＩ／ｔ傾きが超伝導バンド部分上に与えられる。
ここで、前記交流電流成分（ＡＣ電圧成分）の振幅Ａは、基準電流Ｉｇ（基準電圧Ｕｇ）のレベルに比べ、非常に小さい（必要性のない程度に）。
それ故、図４−Ｂに示される欠陥ＦＳ２、ＦＳ３、およびＦＳ４は、それらの位置により検出できる。すなわち、ゼロ（原）点位置からのｓ２，ｓ３，ｓ４の間隔は、バンド速度ｖと時間ｔ２，ｔ３，ｔ４により、結びつけることができるが、ただし、位置ｓ１での欠陥ＦＳ１については、行うことができない。
【００７７】
このような方法を使用する際の特別な状況としては、低い電流（電圧を低く設定）によりＨＴＣ材料が超伝導状態となり、高い電流（電圧を高く設定）によりＨＴＣ材料が常伝導状態となる、それらの間であるような前記輸送電流の電圧調整が、実施される時である。
前記輸送電流を生み出す前記ＡＣ電圧は、例えば、正弦波状、或いは、鋸歯状とすることができる。
この場合、例えば、超伝導バンドの超伝導状態から非超伝導（通常の伝導状態）へ転移範囲、または、特に転移範囲の幅について検査を行う事ができる。
【実施例５】
【００７８】
図５は、超伝導バンド３の上方からの平面図においての本発明にかかる装置の開発である。
測定工程における交流輸送成分により、臨界電流強度Ｉｃ（ｍｉｎ）を精度が最も高いレベルにより決定を行うため、電圧タッピングのための給電ライン１００と測定ライン１１０は、測定誘導電圧が最小となるようなパスでそれぞれ渡される。また、コンタクト構成の給電コンタクト２３と放電コンタクト２４の間、および、２つの測定コンタクト３１，３２の間の結合は、測定部の両サイド上（すなわち、例えば、超伝導バンドの両サイド上で等しいサイズの線によって囲われたエリア）に、等しい強さで、向き合った方向に誘導された磁場Ｍ１およびＭ２を生成するようなパスで渡される。
加えて、そこでは、測定信号の誘導成分を最小にするための磁場を生成する補償コイル１２０が備えられており、該コイルは、それぞれ、コンタクト部および測定部の各領域を二分するような場所に配置される。
補償コイルの磁場強度の調整は、アクチュエーティング手段１２５、および、結合されたコンピュータ１３０により達成される。上述したように、補償コイルの磁場強度の調整は、測定信号からの電流降下の誘導成分を差し引くことによっても達成され、また、その目的のために、そこでは、例えばアクチュエーティング手段１２５に結合されたマイクロコントローラーが備えられる。
この場合においても、前記輸送電流は、電流調整される、または、好適には電圧調整された様式において生成される。
【符号の説明】
【００７９】
１・・・装置
２・・・冷却部
２ａ・・・温度監視装置
２ｂ・・・予備冷却部
２ｃ・・・焼き戻し部
３・・・超伝導バンド
３ａ・・・バンドの冷却部分
３ｃ・・・バンド部分
３ｄ・・・バンド部分
４・・・巻き戻しリール
５・・・巻き上げリール
６・・・輸送手段
６ａ・・・巻き戻しリールのための駆動部
６ｂ・・・巻き上げリールのための駆動部
６ｃ・・・ローラーについての駆動部
６ｄ・・・ローラーについての駆動部
１０・・・制御装置
２０・・・コンタクト構成
２１・・・電気コンタクト
２２・・・電気コンタクト
２３・・・電気コンタクト
２４・・・電気コンタクト
２５・・・電圧源
２６・・・制御／調整システム
２７・・・ディスプレイ
３０・・・測定配置
３１・・・測定コンタクト
３２・・・測定コンタクト
３５・・・信号送信手段
４０・・・マークを行う手段
５０・・・コンタクト部
５２・・・測定部
５３・・・給電コンタクト
５４・・・放電コンタクト
５５・・・測定コンタクト
５６・・・電圧源
５８・・・検出装置
６０・・・磁場生成装置
６１・・・定常磁場
１００・・・給電ライン
１１０・・・測定ライン
１２０・・・補償コイル
１２５・・・アクチュエーティング手段
１３０・・・コンピュータ
Ｍ１・・・磁場
Ｍ２・・・磁場
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４−Ａ】
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【図４−Ｂ】
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【図５】
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