(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）が配置された表示部（５）と、
前記カーソルを移動させる操作部（２）と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部（８）と、
前記操作部によるカーソルの位置情報を検出する位置情報検出部（３）と、
予め規定された複数種類の基準波形パターンの波形情報、前記基準波形パターンのタップに配置されるカーソル毎の可変可能範囲、前記表示画面の１ドット当たりの前記振幅量、前記表示画面の１ドット当たりの時間を記憶する情報記憶部（４）と、
前記位置情報検出部が検出した前記カーソルの位置情報と前記情報記憶部の情報とに基づき、前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成するための設定値を算出する設定値算出部（７）とを備え、
前記エンファシス波形付加部は、前記設定値算出部が算出した前記設定値に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加することを特徴とするエンファシス付加装置。
【請求項２】
同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示部（５）の前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを、前記操作部（２）の操作により時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定することを特徴とする請求項１記載のエンファシス付加装置。
【請求項３】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）が配置された表示部（５）と、
前記カーソルを移動させる操作部（２）と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部（８）とを備え、
同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示部（５）の前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを、前記操作部（２）の操作により時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定することを特徴とするエンファシス付加装置。
【請求項４】
前記表示部（５）は、前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示することを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載のエンファシス付加装置。
【請求項５】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）を配置するプリエンファシス波形イメージ表示ステップ（Ｓ１）と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップ（Ｓ２）と、
該カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップ（Ｓ５）と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップ（Ｓ６）と、
予め規定された複数種類の基準波形パターンの波形情報、前記基準波形パターンに配置されるカーソル毎の可変可能範囲、前記表示画面の１ドット当たりの前記振幅量、前記表示画面の１ドット当たりの時間を記憶する情報記憶ステップ（Ｓ７）と、
移動された前記カーソルの位置情報を検出する位置情報検出ステップ（Ｓ３）と、
前記位置情報検出ステップで検出した前記カーソルの位置情報と前記情報記憶ステップにて記憶した情報とに基づき、前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成するための設定値算出ステップ（Ｓ４）とを含み、
前記エンファシス波形生成ステップは、前記設定値算出ステップが算出した前記設定値に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成することを特徴とするエンファシス付加方法。
【請求項６】
前記プリエンファシス波形イメージ表示ステップは、同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定するスキュー設定モード（Ｓ１０）をさらに含むことを特徴とする請求項５記載のエンファシス付加方法。
【請求項７】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）を配置し、同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示画面上に表示するプリエンファシス波形イメージ表示ステップ（Ｓ１）と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップ（Ｓ２）と、
該カーソルの移動に応じて可変される前記振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップ（Ｓ５）と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップ（Ｓ６）と、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定するスキュー設定モード（Ｓ１０）とを含むことを特徴とするエンファシス付加方法。
【請求項８】
前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示するステップをさらに含むことを特徴とする請求項５〜７の何れかに記載のエンファシス付加方法。
【請求項９】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）が配置され、該カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示する表示部（５）と、
前記カーソルを移動させる操作部（２）と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部（８）とを備えたことを特徴とするエンファシス付加装置。
【請求項１０】
試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル（２１）を配置するプリエンファシス波形イメージ表示ステップ（Ｓ１）と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップ（Ｓ２）と、
該カーソルの移動に応じて可変される前記振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップ（Ｓ５）と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップ（Ｓ６）と、
前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示するステップとを含むことを特徴とするエンファシス付加方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば高速バスを有するコネクタ付き回路実装基板等の試験対象物に同軸ケーブル等の伝送路を介して入力される試験用信号の波形歪みを克服するべく、元信号となる試験用信号にエンファシスを付加するエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば安価かつ高速化を図った高速バスを有するコネクタ付き回路実装基板を試験対象物（ＤＵＴ）とした場合、この試験対象物に同軸ケーブルを介して電気信号や光信号を用いたデジタル信号を入力すると、試験対象物の特性によってデジタル信号の波形品質が劣化する。そして、この波形品質の劣化によりビット誤り率の増加、ジッタの増加、波形の振幅変動、アイパターンの形状変化等が生じる。
【０００３】
ここで、上記試験対象物の波形品質の劣化を試験する場合には、図９に示すような測定系１００が一般的に用いられる。図９の測定系１００では、試験対象物（ＤＵＴ）Ｗの入力側に信号発生装置１０１を接続し、試験対象物Ｗの出力側に誤り率測定装置１０２を接続した状態で、信号発生装置１０１から所定パターンの試験用信号を試験対象物Ｗに入力し、この試験用信号の入力に伴って試験対象物Ｗから出力される信号を誤り率測定装置１０２で受信する。そして、誤り率測定装置１０２において、受信信号と試験対象物Ｗに入力した試験用信号とを比較し、ビット誤り率を測定したり、アイパターンを測定して試験対象物Ｗの各種試験を行っている。
【０００４】
しかしながら、図９の測定系１００において、プリエンファシスされていない試験用信号をそのまま同軸ケーブルを介して試験対象物Ｗに入力すると、周波数の高い方に向うに連れて信号に歪みが生じて減衰し、これによりビット誤り率が悪化し、正常なビット誤り率測定を行うことができなかった。
【０００５】
そこで、上述した信号の歪みを克服するべく信号の減衰する部分を補って試験用信号を忠実に生成するための有効な解決策として、元信号となる試験用信号にプリエンファシスをかけることが考えられる。このプリエンファシスされた信号を生成する装置及び方法としては、例えば下記特許文献１に開示されるものが知られている。
【０００６】
特許文献１に開示される装置及び方法では、デジタル・データ・パターン波形を表すデジタル・データを含む入力ファイルを受けて、Ｆｓ／Ｆｄのレートでアップ・サンプルし、アップ・サンプルされたデジタル・データを用いてステップ応答を生成し、生成したステップ応答を微分し、プリエンファシス・フィルタの係数を生成し、この係数をデジタル・データ・パターン波形入力信号と畳み込み積分し、プリエンファシスされたデジタル・データ・パターンを生成している。これにより、種々のデータ発生装置によるプリエンファシスされた信号の生成を実現している。
【０００７】
ところで、上述した試験対象物に入力する所望のパルスパターンを発生する装置として、例えば下記特許文献２に開示されるパルスパターン発生装置が知られている。この特許文献２のパルスパターン発生装置では、所望のパルスパターンの試験用信号を発生させるべく、図１０に示すように、テキストボックス１１０への直接入力による数値の増減や予め決められた設定範囲内でのスクロールバー１１１の移動により振幅やクロスポイントを設定していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−２７１５５２号公報
【特許文献２】特開２００５−０９４１７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ここで、試験対象物に入力される試験用信号にプリエンファシスをかける際、事前にプリエンファシスに関するパラメータの設定が必要になる。このプリエンファシスに関するパラメータの設定に関して、例えば特許文献２に開示される設定方法を採用した場合には、図１０に示すテキストボックス１１０への直接入力による数値の増減や予め決められた設定範囲内でのスクロールバー１１１の移動によって各パラメータ毎に設定を行う必要がある。このため、各パラメータ毎の設定操作に手間を要するという問題が生じる。また、特許文献２に開示される設定方法では、生成されるプリエンファシス波形をイメージすることができず、プリエンファシス波形のどの部分を操作しているかも判らないため、各パラメータをユーザが直感的に設定することができないという課題がある。
【００１０】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ユーザの直感的な操作によって設定を行うことができるエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたエンファシス付加装置は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１が配置された表示部５と、
前記カーソルを移動させる操作部２と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部８と、
前記操作部によるカーソルの位置情報を検出する位置情報検出部３と、
予め規定された複数種類の基準波形パターンの波形情報、前記基準波形パターンのタップに配置されるカーソル毎の可変可能範囲、前記表示画面の１ドット当たりの前記振幅量、前記表示画面の１ドット当たりの時間を記憶する情報記憶部４と、
前記位置情報検出部が検出した前記カーソルの位置情報と前記情報記憶部の情報とに基づき、前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成するための設定値を算出する設定値算出部７とを備え、
前記エンファシス波形付加部は、前記設定値算出部が算出した前記設定値に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加することを特徴とする。
【００１２】
請求項２に記載されたエンファシス付加装置は、請求項１のエンファシス付加装置において、
同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示部５の前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを、前記操作部２の操作により時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定することを特徴とする。
【００１３】
請求項３に記載されたエンファシス付加装置は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１が配置された表示部５と、
前記カーソルを移動させる操作部２と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部８とを備え、
同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示部５の前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを、前記操作部２の操作により時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定することを特徴とする。
【００１４】
請求項４に記載されたエンファシス付加装置は、請求項１〜３の何れかのエンファシス付加装置において、
前記表示部５は、前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示することを特徴とする。
【００１５】
請求項５に記載されたエンファシス付加方法は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１を配置するプリエンファシス波形イメージ表示ステップＳ１と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップＳ２と、
該カーソルの移動に応じて可変される前記振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップＳ５と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップＳ６と、
予め規定された複数種類の基準波形パターンの波形情報、前記基準波形パターンに配置されるカーソル毎の可変可能範囲、前記表示画面の１ドット当たりの前記振幅量、前記表示画面の１ドット当たりの時間を記憶する情報記憶ステップＳ７と、
移動された前記カーソルの位置情報を検出する位置情報検出ステップＳ３と、
前記位置情報検出ステップで検出した前記カーソルの位置情報と前記情報記憶ステップにて記憶した情報とに基づき、前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成するための設定値算出ステップＳ４とを含み、
前記エンファシス波形生成ステップは、前記設定値算出ステップが算出した前記設定値に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成することを特徴とする。
【００１６】
請求項６に記載されたエンファシス付加方法は、請求項５のエンファシス付加方法において、
前記プリエンファシス波形イメージ表示ステップは、同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示画面上に表示し、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定するスキュー設定モードＳ１０をさらに含むことを特徴とする。
請求項７に記載されたエンファシス付加方法は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１を配置し、同一波形からなる２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを前記表示画面上に表示するプリエンファシス波形イメージ表示ステップＳ１と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップＳ２と、
該カーソルの移動に応じて可変される前記振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップＳ５と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップＳ６と、
前記２チャンネル分の前記試験用信号に対応する前記プリエンファシス波形イメージを時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定するスキュー設定モードＳ１０とを含むことを特徴とする。
請求項８に記載されたエンファシス付加方法は、請求項５〜７の何れかのエンファシス付加方法において、
前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示するステップをさらに含むことを特徴とする。
請求項９に記載されたエンファシス付加装置は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加装置であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１が配置され、該カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示する表示部５と、
前記カーソルを移動させる操作部２と、
前記カーソルの移動に応じて可変される振幅量に基づいて前記表示画面上の前記プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成して前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加部８とを備えたことを特徴とする。
請求項１０に記載されたエンファシス付加方法は、試験対象物に入力するデジタルの試験用信号にプリエンファシスをかけるためのエンファシス付加方法であって、
横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいて前記プリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソル２１を配置するプリエンファシス波形イメージ表示ステップＳ１と、
前記カーソルを移動させるカーソル移動ステップＳ２と、
該カーソルの移動に応じて可変される前記振幅量に基づいて前記プリエンファシス波形イメージに対応する波形のエンファシス波形を生成するエンファシス波形生成ステップＳ５と、
前記生成した前記エンファシス波形を前記試験用信号に付加するエンファシス波形付加ステップＳ６と、
前記カーソルに対応したｄＢ表示の振幅量とＶｐ−ｐ表示の振幅電圧値とを表示するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、操作部の操作で波形の各強調ビットに対応したカーソルを移動させ、各強調ビット単位で振幅を変えることができる。これにより、元信号（試験用信号）にエンファシス波形を付加する際の設定に要する操作の手間を省くことができる。しかも、生成されるエンファシス波形を設定画面上でイメージできるだけでなく、エンファシス波形のどの部分を操作しているかも表示画面上で把握でき、エンファシスに関する各パラメータをユーザが直感的に設定することができる。
【００１８】
また、同一波形からなる２チャンネル分のプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示させ、操作部の操作により一方のプリエンファシス波形イメージを時間軸方向に移動可能範囲内の所望の位置まで移動させれば、２つのプリエンファシス波形イメージ間の位相を可変してスキュー設定を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明に係るエンファシス付加装置のブロック構成図である。
【図２】（ａ）波形編集設定モードの表示例を示す図であって、プリエンファシス波形イメージの全体を表示した例である。  （ｂ）プリエンファシス波形イメージの一部を表示した例である。  （ｃ）プリエンファシス波形イメージの一部の表示であって、正のビットの一部だけでなく、負のビットの一部を表示した例である。
【図３】スキュー設定モードの表示例を示す図である。
【図４】オフセット設定モードの表示例を示す図である。
【図５】本発明に係るエンファシス付加装置のエンファシス波形付加部の具体的な回路構成の一例を示す図である。
【図６】図５の回路構成における各セレクタの極性、各セレクタに対応して振り分けられる振幅電圧、振幅電圧に対応する増幅器の制御電圧の関係を示す図である。
【図７】（ａ）〜（ｃ）  本発明に係るエンファシス付加装置による設定変更前後の具体例を示す図である。
【図８】本発明に係るエンファシス付加装置のソフトウェア動作を説明するためのフローチャートである。
【図９】試験対象物の波形品質の劣化を試験する場合の一般的な測定系の概略図である。
【図１０】特許文献２に開示されるパラメータの設定を行う画面の表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照しながら具体的に説明する。図１は本発明に係るエンファシス付加装置のブロック構成図、図２（ａ）〜（ｃ）は波形編集設定モードのプリエンファシス波形イメージの表示例を示す図、図３はスキュー設定モードの表示例を示す図、図４はオフセット設定モードの表示例を示す図、図５は同装置のエンファシス波形付加部の具体的な回路構成の一例を示す図、図６は図５の回路構成における各セレクタの極性、各セレクタに対応して振り分けられる振幅電圧、振幅電圧に対応する増幅器の制御電圧の関係を示す図、図７（ａ）〜（ｃ）は同装置における設定変更前後の具体例を示す図、図８は本発明に係るエンファシス付加装置のソフトウェア動作を説明するためのフローチャートである。
【００２１】
本発明に係るエンファシス付加装置及びエンファシス付加方法は、例えば高速バスを有するコネクタ付き回路実装基板等を試験対象物（ＤＵＴ）とし、この試験対象物に同軸ケーブル等の伝送路を介して入力される試験用信号の波形歪みを克服するべく、試験用信号（元信号）にエンファシス波形を付加するものである。
【００２２】
図１に示すように、エンファシス付加装置１は、予め決められた所定パターンの試験用信号（元信号）にエンファシス波形を付加するにあたって、エンファシスに関するパラメータをユーザが直感的に設定することができるように、操作部２、位置情報検出部３、情報記憶部４、表示部５、表示制御部６、設定値算出部７、エンファシス波形付加部８を備えて概略構成される。
【００２３】
操作部２は、例えばマウスなどのユーザが操作するポインティングデバイスで構成され、各種操作・設定を行っている。各種操作・設定としては、追って詳述するが、図２（ａ）の「波形編集設定モード」、図３の「スキュー設定モード」、図４の「オフセット設定モード」などの各種設定モードの選択、各種設定モードにおける設定画面の切り替え、「波形編集設定モード」で表示部５の表示画面上に表示されるプリエンファシス波形イメージの各タップのカーソルの上下移動、「スキュー設定モード」で表示部５の表示画面上に表示される２チャンネルのプリエンファシス波形イメージの時間軸方向の相対移動、「オフセット設定モード」でのオフセット線の上下移動、各設定モード時のテキストボックスの数値入力エリアへのパラメータの数値入力などがある。
【００２４】
尚、本例では、プリエンファシス波形イメージにおいて、振幅量の増減によりビットを強調させることができる箇所をタップと称し、波形の繰り返し周期内の４箇所のタップに操作部２により移動可能なカーソルを配置している。しかし、カーソルの数は４つに限定されるものではなく、さらにカーソルの数を増加すれば、更に細かい振幅量の設定を行うことが可能である。
【００２５】
また、表示画面上におけるカーソルの形状は、操作部２により表示画面上を移動されるポインタがプリエンファシス波形イメージのカーソル移動可能位置に来たときに、たとえば両矢印の形状となるようにしてもよい。
【００２６】
位置情報検出部３は、操作部２のマウスで操作される表示部５の表示画面上に表示されるカーソルの位置情報を常時検出しており、この検出によって得られる位置情報を表示制御部６に逐次出力している。
【００２７】
情報記憶部４は、元信号となる試験用信号にエンファシス波形を付加するために必要な各種情報を記憶している。各種情報としては、例えばＯＩＦ２０８．０２９．０６で規定されている「１ｐｒｅ−１ｐｏｓｔ−Ｃｕｒｓｏｒ」のプリエンファシス波形を含む予め決められた複数種類の基準波形パターンの波形情報（波形形状を特定する各パラメータ値）、基準波形パターンのタップに配置されるカーソル毎の可変可能範囲（上限値、下限値）の情報、表示部５の表示画面の１ドット当たりの振幅量や１ドット当たりの時間などがある。
【００２８】
表示部５は、例えば液晶表示器で構成され、操作部２の操作により選択された設定モードで所望の設定を行うべく、操作部２の操作に基づく表示制御部６の制御により、各種設定画面（例えば追って説明する図２（ａ）、図３、図４の設定画面など）の表示を行っている。
【００２９】
表示制御部６は、操作部２の操作に基づく位置情報検出部３からの位置情報や情報記憶部４に記憶された各種情報に基づいて表示部５の表示を制御している。また、表示制御部６は、「波形編集設定モード」で操作部２のマウスによりドラッグされたカーソル、「スキュー設定モード」で操作部２のマウスによりドラッグされたプリエンファシス波形イメージを予め設定された色で識別表示している。
【００３０】
尚、図１の例では、操作部２、表示部５、表示制御部６を機能分けして別々のブロックで示したが、これらをコンピュータグラフィックスとマウスなどのポインティングデバイスを用いた直感的な操作により各種の操作・設定が行える機能を有するＧＵＩ（graphical user interface）で構成することができる。
【００３１】
ここで、操作部２の操作に基づいて表示部５に表示される各種設定モードの設定画面の表示内容について図２（ａ）、図３、図４を参照しながら説明する。
【００３２】
図２（ａ）は、プリエンファシス波形イメージを編集設定する「波形編集設定モード」が操作部２により選択された場合の設定画面を示している。この設定画面には、デフォルト設定されたプリエンファシス波形イメージ、「波形編集設定モード」で操作部２により複数の中から選択されたプリエンファシス波形イメージ、前回設定されたプリエンファシス波形イメージの何れかが横軸を時間、縦軸を変調量として表示される。表示画面上のプリエンファシス波形イメージは、波形の繰り返し周期内で予め決められた箇所のタップにカーソル２１が配置されており、操作部２のマウスで何れかのカーソル２１をドラッグして上下方向に移動すれば、そのカーソル２１のタップの振幅量を予め決められた可変可能範囲で可変することができる。
【００３３】
なお、変調量は、基準波形の振幅電圧値に対し、プリエンファシスをかける量に対応して増減される振幅量（変動量）である。
【００３４】
また、図２（ａ）の表示画面において、プリエンファシス波形イメージの近傍には、カーソル２１の移動に連動して変化する振幅量と振幅電圧値の数値入力エリアを有するテキストボックス２２が表示される。このテキストボックスは、操作部２のマウスで選択されたカーソル２１に対応して表示され、操作部２の操作により数値入力エリアの振幅量の数値と振幅電圧値の数値を予め決められた可変可能範囲でそれぞれ増減して可変することもできる。
【００３５】
なお、プリエンファシス波形イメージは図２（ａ）に示すように波形の全体を表示してもよく、また図２（ｂ）に示すようにプリエンファシス波形イメージの一部を表示してもよい。さらに、図２（ｃ）に示すように正のビットの一部だけでなく、負のビットの一部を表示するようにしてもよい。
【００３６】
図３は、同一波形からなる２チャンネルのプリエンファシス波形イメージを表示してスキュー設定を行う「スキュー設定モード」が操作部２により選択された場合の設定画面を示している。この設定画面には、横軸を時間、縦軸を変調量として、同一波形からなる２チャンネルのプリエンファシス波形イメージが上下に並んで表示される。この「スキュー設定モード」の設定画面では、操作部２のマウスにより一方のプリエンファシス波形イメージの立ち上がりエッジをドラッグし、時間軸方向に移動可能範囲内の所望の位置まで移動させてドロップすることにより、２つのプリエンファシス波形イメージ間の位相を可変することもできる。
【００３７】
また、図３の表示画面において、２チャンネルのプリエンファシス波形イメージの近傍には、両波形イメージの時間軸方向の移動に連動して変化する遅延量の数値入力エリアを有するテキストボックス２３が表示される。このテキストボックス２３は、操作部２の操作により数値入力エリアの遅延量の数値を予め決められた可変可能範囲で増減して可変することもできる。
【００３８】
図４は、オフセットを設定する「オフセット設定モード」が操作部２により選択された場合の設定画面を示している。この設定画面には、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージが表示されるとともに、時間軸と平行にオフセット線２４が表示される。この「オフセット設定モード」の設定画面では、図４の一点鎖線や二点鎖線で示すように、操作部２のマウスによりオフセット線２４をドラッグし、上下方向に移動可能範囲内の所望の位置まで移動させてドロップすることにより、オフセット値を可変することができる。
【００３９】
また、図４の表示画面において、プリエンファシス波形イメージの近傍には、オフセット線２４の移動に連動して変化するオフセット量の数値入力エリアを有するテキストボックス２５が表示される。このテキストボックス２５は、操作部２の操作により数値入力エリアのオフセット量の数値を予め決められた可変可能範囲で増減して可変することもできる。
【００４０】
設定値算出部７は、「波形編集設定モード」において、操作部２のマウスでカーソル２１をドラッグして上下方向に移動させてドロップしたときの位置情報検出部３からの位置情報と、情報記憶部４の各種情報とに基づき、振幅電圧値に対して増減される振幅量（変動量）を算出している。そして、表示画面上のプリエンファシス波形イメージと同一のエンファシス波形がエンファシス波形付加部８で試験用信号に付加されるべく、算出された振幅量（変動量）を、後述する切替回路１３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に対応して４つの振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）に振り分け、この振り分けた４つの振幅電圧（ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を設定値として出力している。
【００４１】
また、設定値算出部７は、「スキュー設定モード」において、操作部２のマウスで何れか一方のプリエンファシス波形イメージの立ち上がりエッジをドラッグして時間軸方向に移動させてドロップしたときの位置情報検出部３からの位置情報と、情報記憶部４の各種情報とから２チャンネルのプリエンファシス波形イメージ間の位相差を示す遅延量を設定値として算出している。
【００４２】
さらに、設定値算出部７は、「オフセット設定モード」において、操作部２のマウスでオフセット線２４をドラッグして上下方向に移動させてドロップしたときの位置情報検出部３からの位置情報と、情報記憶部４の各種情報とからオフセット量を設定値として算出している。
【００４３】
尚、設定値算出部７は、操作部２のマウスによるプリエンファシス波形イメージのタップ（カーソル２１）やエッジのドラッグ操作中において、この操作部２の操作に連動して、位置情報検出部３の位置情報と情報記憶部４の各種情報から設定値を常に算出しており、操作部２のマウスをドロップした時点で設定値を確定している。この設定値算出部７で常時算出された設定値は、表示制御部６の制御により、表示部５の表示画面上に例えば図２（ａ）、図３、図４に示すテキストボックスの数値入力エリアに更新して表示される。
【００４４】
エンファシス波形付加部８は、試験対象物に入力される所定パターンの試験用信号（エンファシス付加前の元信号）に対し、「波形編集設定モード」で設定されたプリエンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を付加して出力している。
【００４５】
さらに説明すると、エンファシス波形付加部８は、例えば図５に示すような制御回路１１、データ保持回路１２、切替回路１３、増幅回路１４、加算回路１５を備えた周知の回路によって構成することができる。
【００４６】
制御回路１１は、Ｄ／Ａコンバータを含む回路であり、図６の制御条件に示すように、設定値算出部７からの設定値（振幅電圧：ＶＥＥ１，ＶＥＥ２，ＶＥＥ３，ＶＥＥ４）を、増幅回路１４の後述する各増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄを個別に制御するためのアナログ値からなる制御信号（４つの制御電圧）に変換して出力している。図６の制御条件では、振幅電圧ＶＥＥ１＝１５０ｍＶに対応する制御電圧が５００ｍＶ、振幅電圧ＶＥＥ２＝５００ｍＶに対応する制御電圧が２００ｍＶ、振幅電圧ＶＥＥ３＝１５０ｍＶに対応する制御電圧が２００ｍＶ、振幅電圧ＶＥＥ４＝０ｍＶに対応する制御電圧が５００ｍＶに変換された例を示している。
【００４７】
データ保持回路１２は、Ｃ（クロック）端子の立ち上がりのエッジでＤ端子の入力の値がＱ出力として保持される４つのＤ型フリップフロップ回路（以下、Ｄ−ＦＦと略称する）１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄを直列接続して構成される。データ保持回路１２は、初段のＤ−ＦＦ１２ａのＤ端子にエンファシス波形を付加する前の元信号（試験用信号）が入力され、位相が１ビットずれとなる４つのデータ信号に分岐して各Ｄ−ＦＦ１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄのＱ端子から出力している。
【００４８】
切替回路１３は、データ保持回路１２の４つのＤ−ＦＦ１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄのＱ端子と１対１に対応して接続される４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４で構成される。切替回路１３の各セレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４は、切替信号の入力により、極性が「ＰＯＳ（ポジティブ）」又は「ＮＥＧ（ネガティブ）」の何れかの状態に予め設定されている。図６の制御条件では、セレクタＰ２の極性が「ＰＯＳ」に設定され、他のセレクタＰ１，Ｐ３，Ｐ４の極性が「ＮＥＧ」に設定された例を示している。
【００４９】
増幅回路１４は、切替回路１３の４つのセレクタＰ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の出力と１対１に対応して接続される４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄで構成される。これら４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄは、制御回路１１からの制御信号（４つの制御電圧）によって個別に電圧が制御される。
【００５０】
加算回路１５は、増幅回路１４の４つの増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄの出力を加算し、元信号である試験用信号にエンファシス波形を付加した信号を出力している。
【００５１】
ここで、上述したエンファシス波形付加部８による設定変更前後の動作について図７（ａ）〜（ｃ）を参照しながら説明する。
【００５２】
操作部２の操作により「波形編集設定モード」を選択すると、現在設定されているプリエンファシス波形イメージ（図７（ａ））が表示部５の表示画面に表示される。この状態において、エンファシス波形付加部８は、図６の制御条件を元に、増幅回路１４の各増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄの電圧を制御している。
【００５３】
すなわち、図６の設定条件では、セレクタＰ１に対応する振幅電圧ＶＥＥ１＝１５０ｍＶ、セレクタＰ２に対応する振幅電圧ＶＥＥ２＝５００ｍＶ、セレクタＰ３に対応する振幅電圧ＶＥＥ３＝１５０ｍＶ、セレクタＰ４に対応する振幅電圧ＶＥＥ４＝０ｍＶである。
【００５４】
この状態で、図５のエンファシス波形付加部８の増幅回路１４は、上記図６の設定条件により、振幅電圧ＶＥＥ１＝１５０ｍＶに対応する制御電圧５００ｍＶを増幅器１４ａに印加し、振幅電圧ＶＥＥ２＝５００ｍＶに対応する制御電圧２００ｍＶを増幅器１４ｂに印加し、振幅電圧ＶＥＥ３＝１５０ｍＶに対応する制御電圧２００ｍＶを増幅器１４ｃに印加し、振幅電圧ＶＥＥ４＝０ｍＶに対応する制御電圧５００ｍＶを増幅器１４ｄに印加する。
【００５５】
そして、エンファシス波形付加部８は、設定変更前において、図７（ａ）のプリエンファシス波形イメージと同一のエンファシス波形を試験用信号に付加して出力している。
【００５６】
今、「波形編集設定モード」において、図７（ａ）のプリエンファシス波形イメージの左端のタップに配置されたカーソル２１を操作部２のマウスでドラッグ＆ドロップし、プリエンファシス波形イメージを図７（ａ）の状態から図７（ｂ）の状態に変更する。この状態変更により、エンファシス波形付加部８は、図７（ｃ）の制御条件を元に、増幅回路１４の各増幅器１４ａ，１４ｂ，１４ｃ，１４ｄの電圧を制御する。
【００５７】
すなわち、図７（ｃ）の制御条件では、セレクタＰ１に対応する振幅電圧ＶＥＥ１＝１５０ｍＶ、セレクタＰ２に対応する振幅電圧ＶＥＥ２＝７００ｍＶ、セレクタＰ３に対応する振幅電圧ＶＥＥ３＝３５０ｍＶ、セレクタＰ４に対応する振幅電圧ＶＥＥ４＝０ｍＶである。
【００５８】
そして、図５のエンファシス波形付加部８の増幅回路１４は、上記図７（ｃ）の設定条件により、振幅電圧ＶＥＥ１＝１５０ｍＶに対応する制御電圧９００ｍＶを増幅器１４ａに印加し、振幅電圧ＶＥＥ２＝７００ｍＶに対応する制御電圧２００ｍＶを増幅器１４ｂに印加し、振幅電圧ＶＥＥ３＝３５０ｍＶに対応する制御電圧２００ｍＶを増幅器１４ｃに印加し、振幅電圧ＶＥＥ４＝０ｍＶに対応する制御電圧５００ｍＶを増幅器１４ｄに印加する。
【００５９】
これにより、設定変更後において、エンファシス波形付加部８は、図７（ｂ）のプリエンファシス波形イメージと同一のエンファシス波形を試験用信号に付加して出力する。
【００６０】
尚、エンファシス波形付加部８は、位置情報検出部３の位置情報、情報記憶部４の各種情報、及び設定値算出部７で算出された設定値に基づいて「波形編集設定モード」で設定されたプリエンファシス波形イメージと同じエンファシス波形を試験用信号に付加できる構成であれば、図５の回路構成に限定されるものではない。
【００６１】
このように、本例のエンファシス付加装置及び方法では、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示部５の表示画面上に表示し、操作部２のマウスによるドラッグ＆ドロップ操作で波形の各強調ビットに対応したカーソルを移動させ、各強調ビット単位で振幅を変えることができる。これにより、元信号となる試験用信号にエンファシス波形を付加する際の設定に要する操作の手間を省くことができる。しかも、生成されるエンファシス波形を設定画面上でイメージできるだけでなく、エンファシス波形のどの部分を操作しているかも表示画面上で把握でき、エンファシスに関する各パラメータをユーザが直感的に設定することができる。
【００６２】
ここで、図８を用いて、本発明のソフトウェア動作を説明する。
はじめに、予め規定された複数種類の基準波形パターンの波形情報、基準波形パターンに配置されるカーソル毎の可変可能範囲、表示画面の１ドット当たりの振幅量、表示画面の１ドット当たりの時間を記憶しておく（Ｓ７）。
次に、波形編集設定モード（Ｓ９）、スキュー設定モード（Ｓ１０）、オフセット設定モード（Ｓ１１）のいずれかのモードを選択する（Ｓ８）。
次に、さらなる設定の有無を確認し、さらなる設定が有る場合は、Ｓ８のモード選択に戻り、さらなる設定が無い場合には、次に記載するステップへと進む（Ｓ１２）。
次に、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいてプリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソルを配置する（Ｓ１）
次に、カーソルが移動される（Ｓ２）。
次に、移動されたカーソルの位置情報を検出する（Ｓ３）。
次に、検出したカーソルの位置情報とＳ７にて記憶した情報とに基づき、プリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成するための設定値を算出する（Ｓ４）。
次に、算出した設定値に基づいてプリエンファシス波形イメージに対応するエンファシス波形を生成する（Ｓ５）。
次に、生成したエンファシス波形を試験用信号に付加する（Ｓ６）。
【００６３】
ここで、前述したいずれかのモードを選択するステップ（Ｓ８）において、スキュー設定モード（Ｓ１０）が選択された場合について図８を用いて説明する。
スキュー設定モード（Ｓ１０）が選択された場合、横軸を時間、縦軸を変調量としてプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示し、該プリエンファシス波形イメージにおいてプリエンファシスの強弱を可変することができる箇所にカーソルを配置している（Ｓ１）が、さらに同一波形からなる２チャンネル分の試験用信号に対応するプリエンファシス波形イメージを表示画面上に表示する。
そして、２チャンネル分の試験用信号に対応するプリエンファシス波形イメージを時間軸方向に相対的に移動させてスキュー設定することができるように構成されている。
【００６４】
また、図３に示す「スキュー設定モード」の設定画面では、操作部２のマウスで一方のプリエンファシス波形イメージの立ち上がりエッジをドラッグし、時間軸方向に移動可能範囲内の所望の位置まで移動させてドロップすれば、２つのプリエンファシス波形イメージ間の位相を可変してスキュー設定を容易に行うことができる。
【００６５】
さらに、図４に示す「オフセット設定モード」の設定画面では、操作部２のマウスでオフセット線をドラッグし、上下方向に移動可能範囲内の所望の位置まで移動させてドロップするだけで容易にオフセット設定することができる。
【００６６】
また、操作部２のマウスによるドラッグ操作中は、位置情報検出部３の位置情報と情報記憶部４の各種情報に基づいて設定値算出部７が設定値を操作部２の操作に連動して算出し、設定値を自動的に更新表示することができる。
【符号の説明】
【００６７】
１  エンファシス付加装置
２  操作部
３  位置情報検出部
４  情報記憶部
５  表示部
６  表示制御部
７  設定値算出部
８  エンファシス波形付加部
１１  制御回路
１２  データ保持回路
１３  切替回路
１４  増幅回路
１５  加算回路
２１  カーソル
２２  テキストボックス
２３  テキストボックス
２４  オフセット線
２５  テキストボックス
【図１】
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【図２】
0005496940.tif 000003
【図３】
0005496940.tif 000004
【図４】
0005496940.tif 000005
【図５】
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【図６】
0005496940.tif 000007
【図７】
0005496940.tif 000008
【図８】
0005496940.tif 000009
【図９】
0005496940.tif 000010
【図１０】
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