(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の正極用の極板を正極側の集電板に接合した正極側の構造体と、複数の負極用の極板を負極側の集電板に接合した負極側の構造体とが組み合わされ、両極の極板がセパレータを挟んで交互に積層された二次電池用構造体の検査方法において、
前記二次電池用構造体の端面であって前記極板の端部が間隔を設けて配置され前記集電板に挟まれた一対の端面のうち、一方の端面側に第１の照明装置を配置し、他方の端面側に第２の照明装置及び撮像装置を配置するとともに、
前記第１の照明装置により、複数の光束を有する第１の照明光を、前記二次電池用構造体の異なる位置に入射させること及び前記二次電池用構造体に対し異なる角度で入射させることの少なくとも一つを満たす状態で前記一方の端面に照射して前記各極板の間を通過させるとともに、前記第２の照明装置により第２の照明光を前記他方の端面に照射して、前記第１の照明光及び前記第２の照明光の両方を前記二次電池用構造体に照射した状態で前記撮像装置により前記二次電池用構造体を撮像し、撮像した画像を解析して検査を実施することを特徴とする二次電池用構造体の検査方法。
【請求項２】
複数の正極用の極板を正極側の集電板に接合した正極側の構造体と、複数の負極用の極板を負極側の集電板に接合した負極側の構造体とが組み合わされ、両極の極板がセパレータを挟んで交互に積層された二次電池用構造体の検査方法において、
前記二次電池用構造体の端面であって前記極板の端部が間隔を設けて配置され前記集電板に挟まれた一対の端面のうち、一方の端面側に第１の照明装置を配置し、他方の端面側に第２の照明装置及び撮像装置を配置するとともに、
前記第１の照明装置により第１の照明光を前記一方の端面に照射して前記各極板の間を通過させるとともに、前記第２の照明装置により第２の照明光を前記他方の端面に照射して、前記第１の照明光及び前記第２の照明光の両方を前記二次電池用構造体に照射した状態で前記撮像装置により前記二次電池用構造体を撮像し、撮像した画像を用いて前記各極板と前記集電板との接合部に形成されたフィレットの高さ及びその形状のうち少なくとも一方を検査することを特徴とする二次電池用構造体の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、二次電池を構成する各極板と集電板とを接合した構造体の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ニッケル・カドミウム電池やニッケル水素電池等の二次電池として、正極側の集電板に接合された複数の極板と負極側の集電板に接合された複数の極板とを、絶縁性のセパレータを介して交互に積層した連接構造体を電解液と共に電槽内に封入した構造の電池がある。
【０００３】
図１４はこのような連接構造体の一例を示している。連接構造体１００は、平行に配置された１対の集電板１０１，１０２を有し、集電板１０１，１０２の間には複数の極板１０５が並列された極板群１０３が設けられている。
【０００４】
図１５は、図１４中、連接構造体１００のＡ−Ａ線における断面図である。各極板１０５には、正極側の集電板１０１に接合される正極板１０６と、負極側に接合される負極板１０７とがあり、正極板１０６及び負極板１０７は、一定間隔で平行に並んで配設される。また、正極板１０６のうちリード部１０６ａを除く領域と、負極板５７のリード部１０７ａとを除く領域との間には、セパレータ１０８が介在している。これにより、各正極板１０６のリード部１０６ａの間には隙間Ｓ１が、及び負極板５７のリード部１０７ａには互いに隙間Ｓ２がそれぞれ設けられている。これらの正極板１０６及び負極板１０７は、集電板１０１，１０２に対して垂直に突き合せた状態で、その側縁をロウ付けや溶接で集電板１０１，１０２に一体に接合されている。
【０００５】
図１６の中央部に示すように、正極板１０６及び負極板１０７は、その幅方向（長手方向）における複数の箇所において集電板１０１，１０２にそれぞれ接合されている。各接合部分では、集電板１０１，１０２の表面に被覆されたろう材が溶融して、正極板１０６及び負極板１０７の両側に金属凝固部分であるフィレット１１０が形成されている。このフィレット１１０は、通常、各極板１０６，１０７の端面よりも内側に形成される。
【０００６】
図１５に示すように、フィレット１１０は、隣接する極板１０５の間及び両側に配置された極板１０５の外側にそれぞれ形成される。そして、フィレット１１０は、正極板１０６及び負極板１０７のリード部１０６ａ，１０７ａと集電板１０１，１０２とで形成されるコーナー部に充填される。そして、このようなフィレット１１０によって、正極板１０６及び負極板１０７は支持されるとともに集電板１０１，１０２にそれぞれ一体に接合される。また、フィレット１１０の形状としては、その上表面がＵ字状に湾曲した凹状となることが強度を確保する上で理想的である。
【０００７】
フィレット１１０が欠落したり、その高さや形状が不適切である場合には、集電板１０１，１０２に対する極板１０５の接合強度不良が発生し、衝撃等の外力により極板１０５が集電板１０１，１０２から外れることがある。このため、連接構造体１００を電槽内に封入する前に、極板１０５と集電板１０１，１０２との接合状態の検査が実施されている。
【０００８】
従来、その検査を実施するための検査装置として、例えば特許文献１に示すような検査装置が知られている。こうした検査装置では、極板１０５と集電板１０１，１０２との接合部を撮像し、撮像して得た画像を解析して各フィレット１１０の接合強度を評価するこ
とで、各極板１０５と集電板１０１，１０２との接合状態の良否を判定している。具体的には、例えば図１６に示すように、正極板１０６及び負極板１０７のうち集電板１０１，１０２に接合されていない一方の端面側に蛍光灯等の光源とアクリル板等の拡散部材を有する照明装置１１１を配置し、その照明装置１１１と連接構造体１００を挟んで対向するように、撮像装置１１２を配置している。そして照明装置１１１によって撮像装置１１２と反対側から連接構造体１００に対して光を照射した状態で、撮像装置１１２によって上記接合部を撮影する。このとき、照明装置１１１から出射された光は、連接構造体１００内の各極板１０５の間を通過し、撮像装置１１２で受光される。
【０００９】
また、特許文献２に記載された検査装置では、上記した検査装置の構成に加え、撮像装置１１２側から連接構造体１００に光を照射する照明装置をさらに備えている。そして、検査項目に応じて、照明装置１１１のみにより光を照射して撮影した画像と、その照明装置１１１と連接構造体１００を挟んで対向した上記照明装置のみにより光を照射して撮影した画像とのうちいずれか一方を取得し、取得した画像を解析して各フィレット１１０の接合強度を評価している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特許第４３８３６４８号公報
【特許文献２】特開２００９−１２９８４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ところで、上記したように、フィレット１１０は、並列配置された極板１０５の間に設けられ、且つ極板１０５の端面よりも内側に設けられているため、フィレット１１０の輪郭が画像上で明瞭となるように光を照射することは難しく、改良が重ねられていた。即ち、撮像装置１１２と連接構造体１００を挟んで対向する位置に配置された照明装置１１１から光を照射する場合には、極板１０５の折れ曲がりや湾曲等により光が一部遮られたりして、接合部を照らす光量が不足する。このため、フィレット１１０画像上でフィレット１１０の明瞭な像が得られない。
【００１２】
また、撮像装置１１２側に配置された照明装置により連接構造体１００を照明して撮像を実施する場合には、画像上で極板１０５の端面が白色等の高い明度で表示され、フィレット１１０がそれよりも低い明度で表示される。しかし、この場合にも、極板１０５の端面とフィレット１１０との濃淡差（コントラスト）が小さく、画像上でフィレット１１０の明瞭な像が得られないことがある。
【００１３】
このように接合部における光量不足が生じた場合には、フィレット１１０が形成されているにも関わらず、フィレット１１０が欠落している等の誤判定や、判定不可能との判定がなされてしまう。この誤判定等を回避するために、単に上記照明装置１１１の照度を上げることが考えられるが、照度の高い光が撮像装置１１２に直接入射すると強いハレーション（レンズフレア）により極板１０５が画像上で確認しにくくなり、かえって検査を的確に行うことができなくなる。
【００１４】
本発明は、こうした実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、二次電池用構造体に対する検査を的確に行うことができる二次電池用構造体の検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記問題点を解決するために、複数の正極用の極板を正極側の集電板に接合した正極側の構造体と、複数の負極用の極板を負極側の集電板に接合した負極側の構造体とが組み合わされ、両極の極板がセパレータを挟んで交互に積層された二次電池用構造体の検査方法において、前記二次電池用構造体の端面であって前記極板の端部が間隔を設けて配置され前記集電板に挟まれた一対の端面のうち、一方の端面側に第１の照明装置を配置し、他方の端面側に第２の照明装置及び撮像装置を配置するとともに、前記第１の照明装置により、複数の光束を有する第１の照明光を、前記二次電池用構造体の異なる位置に入射させること及び前記二次電池用構造体に対し異なる角度で入射させることの少なくとも一つを満たす状態で前記一方の端面に照射して前記各極板の間を通過させるとともに、前記第２の照明装置により第２の照明光を前記他方の端面に照射して、前記第１の照明光及び前記第２の照明光の両方を前記二次電池用構造体に照射した状態で前記撮像装置により前記二次電池用構造体を撮像し、撮像した画像を解析して検査を実施する。
【００１６】
上記方法では、二次電池用構造体の一方の端面側と他方の端面側との両方から光を照射して撮像した画像を用いて検査を実施する。このため、画像上では、例えば各極板と集電板との接合部の後方背景や、その接合部よりも第２の照明光の進行方向と反対側に位置する極板の端面等の像が高い明度で表示され、接合部の像が、後方背景や極板端面の像に比べて低い明度で表示される。このため、画像上で、接合部とそれ以外の領域との濃淡差（コントラスト）を大きくし、接合部を対象とした画像解析を的確に実施することができる。従って、接合部に関する誤判定や、判定不可能の検査結果を少なくし、極板と集電板との接合状態の検査をより的確に行うことができる。
また、上記方法では、第１の照明光を構成する複数の光束は、構造体の異なる位置か、構造体に対して異なる角度か、それらの両方を満たすように照射されるので、互いの光量が小さくなる領域を補い合うことができる。
【００１７】
上記問題点を解決するために、複数の正極用の極板を正極側の集電板に接合した正極側の構造体と、複数の負極用の極板を負極側の集電板に接合した負極側の構造体とが組み合わされ、両極の極板がセパレータを挟んで交互に積層された二次電池用構造体の検査方法において、前記二次電池用構造体の端面であって前記極板の端部が間隔を設けて配置され前記集電板に挟まれた一対の端面のうち、一方の端面側に第１の照明装置を配置し、他方の端面側に第２の照明装置及び撮像装置を配置するとともに、前記第１の照明装置により第１の照明光を前記一方の端面に照射して前記各極板の間を通過させるとともに、前記第２の照明装置により第２の照明光を前記他方の端面に照射して、前記第１の照明光及び前記第２の照明光の両方を前記二次電池用構造体に照射した状態で前記撮像装置により前記二次電池用構造体を撮像し、撮像した画像を用いて前記各極板と前記集電板との接合部に形成されたフィレットの高さ及びその形状のうち少なくとも一方を検査する。
【００１８】
上記方法では、二次電池用構造体の一方の端面側と他方の端面側との両方から光を照射して撮像した画像を用いて検査を実施する。このため、画像上では、例えば各極板と集電板との接合部の後方背景や、その接合部よりも第２の照明光の進行方向と反対側に位置する極板の端面等の像が高い明度で表示され、接合部の像が、後方背景や極板端面の像に比べて低い明度で表示される。このため、画像上で、接合部とそれ以外の領域との濃淡差（コントラスト）を大きくし、接合部を対象とした画像解析を的確に実施することができる。従って、接合部に関する誤判定や、判定不可能の検査結果を少なくし、極板と集電板との接合状態の検査をより的確に行うことができる。
また、上記方法では、第１の照明光及び第２の照明光の両方を入射させることによりフィレットが明瞭に表示された画像を用いて、フィレットの高さ及びその形状のうち少なくとも一方が検査されるので、フィレットの検査を的確に行うことができる。
【発明の効果】
【００２６】
以上のように、本発明によれば、二次電池用構造体に対する検査を的確に行うことができる二次電池用構造体の検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】この発明の一実施形態である検査方法に用いる検査装置についてその全体構成を示す模式図。
【図２】同検査装置の照明装置と連接構造体との位置関係を示す模式図。
【図３】（ａ）は後方照明装置に照明された連接構造体の側面図、（ｂ）はその平面図。
【図４】（ａ）は連接構造体に対し上方右側の第１照明部により照明して撮像した画像を示し、（ｂ）は下方左側の第２照明部により照明して撮像した画像を示す図、（ｃ）は両方の照明部により照明して撮像した画像を示す図。
【図５】前方照明装置に照明された連接構造体の側面図。
【図６】前方照明装置に照明して撮像した画像を示す図。
【図７】後方照明装置及び前方照明装置により照明して撮像した画像を示す図。
【図８】同実施形態の検査方法における処理手順を示すフローチャート。
【図９】同処理手順を示すフローチャート。
【図１０】（ａ）はフランジ基準の基準水平線の算出態様を、（ｂ）は集電板面基準の基準水平線の算出態様を、それぞれ模式的に示す略図。
【図１１】（ａ）〜（ｃ）はフィレット切り出しの手順をそれぞれ模式的に示す略図。
【図１２】（ａ）はフランジ基準で基準水平線を設定した際、（ｂ）は集電板面基準で基準水平線を設定した際の、極板の厚さ、高さ及び枚数の判定態様をそれぞれ示す略図。
【図１３】フィレット形状の判定態様をそれぞれ示す図。
【図１４】従来の密閉式電池を構成する連接構造体を示す斜視図。
【図１５】従来の連接構造体のＡ−Ａ線における断面を示す模式図。
【図１６】従来の連接構造体の検査装置における照明態様及び撮像態様を示す模式図。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、本発明に係る二次電池用構造体の検査方法を具体化した一実施形態を図１〜図１３にしたがって説明する。
図１に示すように、検査装置１１のフレーム１２には連接構造体を支持するためのワーク支持部１３が設けられている。このワーク支持部１３は、連接構造体１を把持するためのチャック１３ａと、そのチャック１３ａを水平方向及び垂直方向に移動させるとともに、所定の軸回りに回転させる調整機構１３ｂとが設けられている。
【００２９】
この検査装置１１の検査対象となる連接構造体１は、複数の正極板を正極側の集電板に接合した正極側の構造体と、複数の負極板を負極側の集電板に接合した負極側の構造体とを、両極の極板がセパレータを挟んで交互に積層するように組み合わせた構成である。各極板及び集電板は、それぞれ導電性の金属からなり、極板の長さや集電板の形状等は特に限定されない。また、検査を実施する際には、チャック１３ａは、連接構造体１を、一対の集電板が上下に配置され、且つ極板のうち集電板に接合されていない各端面が図１中左側と右側に配置されるように固定する。また連接構造体１及び上部と下部であって、隣接する極板５と集電板面とのコーナー部と、最も外側に配置された極板５の外側面とにはフィレットがそれぞれ形成されている。これらのフィレットは、極板の左側の端面から右側の端面に向かう長手方向に沿って複数形成されている。本実施形態では、連接構造体１の上部及び下部に設けられ、最も右側に形成された各フィレットを検査対象としている。尚、ここでいう接合部とは、極板のリード部（基端部）、極板と集電板との接合面及び集電板を含む領域を指す。
【００３０】
また、フレーム１２には、連接構造体１の図中右側の端面側から極板と集電板との接合部を撮像する撮像装置１５が固定されている。撮像装置１５は、入射した光を集光するテレセントリックレンズを含む光学系１６と、光学系１６を通過した光を受光するＣＣＤカメラ１７とを備えている。この撮像装置１５は、フレーム１２の撮像装置支持部１２ａによって、光学系１６及びＣＣＤカメラ１７の光軸を任意に角度調整可能とされ、検査対象である接合部を撮像可能な角度に調整される。
【００３１】
ＣＣＤカメラ１７は、制御装置２５により制御されるようになっている。制御装置２５は、ＣＣＤカメラ１７により撮像された画像を取り込み、その画像を用いて、極板と集電板との接合状態の良否を検査するための処理を実施する。この際、制御装置２５が解析に用いる画像データは、グレースケール画像である。この制御装置２５には、キーボードやマウス等の入力デバイスや、ディスプレイ等の出力デバイスが設けられている。また、制御装置２５は、ワーク支持部１３のチャック１３ａや調整機構１３ｂの制御も実施している。
【００３２】
連接構造体１を挟んで撮像装置１５と対向する位置には、後方照明装置２０が配置されている。後方照明装置２０は、第１照明部２１及び第２照明部２２とを有し、各照明部２１，２２は、指向性を有するスポット照明からなる。つまり各照明部２１，２２の照射範囲は、連接構造体１の端面全体ではなく、その一部であって、各照明部２１，２２から出射される光束の光軸周辺である。これらの各照明部２１，２２は、制御装置２５によって点灯を制御され、撮像対象である上記接合部を、撮像装置１５と対向する方向、即ち接合部の後方から照射する。これらの第１照明部２１及び第２照明部２２は、連接構造体１に対して異なる位置に、且つ異なる角度で光を入射する。尚、本実施形態において、後方照明装置２０からの光が請求項に記載の第１の照明光に対応する。
【００３３】
具体的には、撮像装置１５側を連接構造体１の前方とした場合、図２に示すように、第１照明部２１は、連接構造体１の後方であって且つ右側上方に配置され、その光軸を連接構造体１の下方に位置する集電板３に向けて、下方に傾いた状態で固定されている。第２照明部２２は、連接構造体１の後方であって且つ左側下方に配置され、その光軸を連接構造体１の上方に位置する集電板２に向けて、上方に傾いた状態で固定されている。即ち、第１照明部２１及び第２照明部２２は水平方向及び垂直方向に異なる位置に配置されるとともに、その光軸が各集電板２，３の主面に対して異なる角度になるように設けられている。尚、図２では、連接構造体１の下部に位置する接合部を検査対象とした状態を示している。
【００３４】
また、図１に示すように、連接構造体１の他方の端面１ａ側であって、撮像装置１５の近くには、前方照明装置２３が配置されている。前方照明装置２３もまたスポット照明からなり、制御装置２５によってその点灯を制御される。また、前方照明装置２３は、撮像対象である上記接合部を、撮像装置１５と同じ側、即ち接合部の前方から照射する。尚、
本実施形態において、前方照明装置２３からの光が請求項に記載の第２の照明光に対応する。
【００３５】
具体的には、図２に示すように、前方照明装置２３は、その撮像装置１５の近傍であって、撮像装置１５に対して上方、より具体的には真上の位置であって、連接構造体１（極板５）の端面１ａに対して正面（真横）の位置に設けられている。即ち、前方照明装置２３の光軸を集電板３と平行な面（図３（ａ）で示すＸ−Ｙ平面）に投影した軸と、撮像装置１５の光軸とは同一又は平行となっている。尚、前方照明装置２３の位置は、右側上方又は左側上方でもよく、検査対象である上記接合部を照明可能である場合には、右側下方又は左側下方に配置してもよい。
【００３６】
次に、各照明装置２０，２３の作用について具体的に説明する。後方照明装置２０の第１照明部２１は、図３（ａ）に示すように、連接構造体１に対し、＋５°以上＋２０°以下の鉛直方向の入射角度θｖ１をもった照明光ＩＬ１を射出する。この入射角度は、連接構造体１の集電板３の主面（以下、集電板面という）に対する鉛直方向の角度であって、「＋（プラス）」は連接構造体１に対して鉛直方向上方からの入射角度であることを意味する。尚、図３では、連接構造体１の下部に位置する接合部を検査対象とした状態を示している。
【００３７】
また、図３（ｂ）に示すように、平面視において、第１照明部２１から出射される照明光ＩＬ１は、連接構造体１の中心軸Ｘ１に対し、右側に５°以上２０°以下の水平方向の入射角度θｈ１を有している。この照明光ＩＬ１は、連接構造体１の下側に配置された集電板３、若しくは一方の極板のリード部（ここでは負極側の極板５のリード部５ａ）に入射する。そして、照明光ＩＬ１は、極板５のリード部５ａの間を通過し、且つ他方の極板の先端（ここでは正極側の極板４の先端）及びセパレータの先端と、集電板３との間で反射を繰り返しながら、連接構造体１の端面１ｂから端面１ａに向かって進み、端面１ａから出射されて撮像装置１５に受光される。即ち、照明光ＩＬ１は、極板５の間を直線的に進まないため、撮像装置１５に直接受光されず、ハレーション（レンズフレア）による撮像不良が起こらない。このため、本実施形態では、照明光ＩＬ１の照度を大きくすることができる。従って、極板５等の反射の度に光量がロスされても、上記接合部に到達するまでに十分な光量が確保されている。また、極板５が折れ曲がったり湾曲していたとしても、照明光ＩＬ１の光量不足により、画像上で接合部が不明瞭となることはない。
【００３８】
一方、第１照明部２１の光源はスポット光源であって、連接構造体１に対して右側上方に配置されるため、接合部を、即ち連接構造体１の前方から撮像した画像上では、その対角側である連接構造体１の左側は、右側に比べ比較的暗く映し出される。このため、第１照明部２１のみを点灯させて撮像した画像ＶＡは、図４（ａ）に示すように、接合部の左側の明度が低くなって黒色に表示され、極板５及びフィレットＦの輪郭が明瞭とならない。
【００３９】
また図３（ａ）に示すように、第２照明部２２から出射される照明光ＩＬ２は、連接構造体１に対し、−５°以上−２０°以下の鉛直方向の入射角度θｖ２（図示略）を有する。ここで、「−（マイナス）」は、連接構造体１に対し鉛直方向下方からの入射角度であることを意味する。また、図３（ｂ）に示すように、照明光ＩＬ２は、連接構造体１の中心軸Ｘ１に対し、左側に５°以上２０°以下の入射角度θｈ２を有する。この照明光ＩＬ２は、第１照明部２１から出射された照明光ＩＬ１と同様に、極板５のリード部５ａの間を通過し、且つ他方の極板の先端（ここでは正極側の極板４の先端）及びセパレータの先端と、集電板３との間で反射を繰り返しながら、連接構造体１の端面１ａから端面１ｂに向かって進み、端面１ａから出射されて撮像装置１５に受光される。
【００４０】
一方、第２照明部２２の光源もまたスポット光源であって、且つ連接構造体１に対して左側下方に配置されるため、画像上では、その対角側である連接構造体１の接合部の右側は、左側に比べ比較的暗く映し出される。このため、第２照明部２２のみを点灯させて撮像した画像は、図４（ｂ）に示すように、接合部の右側の明度が低くなって黒色に表示され、極板５の輪郭及びフィレットＦの輪郭が明瞭とならない。
【００４１】
このため、後方照明装置２０により連接構造体１を照明する際には、第１照明部２１及び第２照明部２２を点灯させ、各照明部２１，２２の光量不足となる領域を互いに補足している。その結果、図４（ｃ）に示すように、第１照明部２１及び第２照明部２２を点灯した状態で撮像装置１５により撮像された後方照明画像Ｖ１では、極板５が極端に折れ曲がっていない場合には、全ての極板５や集電板３、フィレットＦが影として映し出される。即ち、後方照明画像Ｖ１では、極板５、集電板３及びフィレットＦの像の明度は低くなり黒又は黒に近い色調で表示され、バックグラウンド（背景）を含むそれ以外の部分の像の明度は高くなり白又は白に近い色調で表示される。
【００４２】
また、例えば構造体１全体を照らす１つの蛍光灯から構造体１の中心軸Ｘ１（図３（ｂ）参照）と平行な光を、例えば構造体１の端面１ｂに対し正面から照射した場合、極板５の折れ曲がりにより光が遮断されやすくなる。これに対し、本実施形態では、構造体１を局所的に照射するスポット照明を後方照明装置２０及び前方照明装置２３に用いるとともに、後方照明装置２０から出射される第１照明光ＩＬ１を連接構造体１内で反射させながら通過させているため、極板５の折れ曲がりによる画像への悪影響が少なくなる。
【００４３】
図５に示すように、前方照明装置２３は、接合部に対し鋭角に光を入射する。より具体的には、前方照明装置２３から出射される照明光ＩＬ３は、連接構造体１に対し、＋０°以上＋１０°以下の鉛直方向の入射角度θｖ３を有している。照明光ＩＬ３の水平方向の入射角度は特に限定されず、連接構造体１の中心軸Ｘ１（図３（ｂ）参照）に対する角度が小さいほど好ましい。即ち、この照明光ＩＬ３は、検査対象のフィレットＦをほぼ真正面に近い位置から照射する。また、前方照明装置２３は、上記位置に配置されることにより接合部に対し効率的に光を照射することができる。即ち、前方照明装置２３を、例えば撮像装置１５よりも下方の位置に設けると、前方照明装置２３から出射された光が、集電板２，３により遮蔽されることがある。また、前方照明装置２３を連接構造体１の真横に設けると、極板４，５により遮蔽されたりする。このため、前方照明装置２３を上記位置に配設することで、光が遮蔽されることなく、接合部のフィレットにおける光量が不足することがない。尚、図５では、連接構造体１の下部に位置する接合部を検査対象とした状態を示している。
【００４４】
その結果、図６に示すように、前方照明装置２３のみを点灯した状態で撮像装置１５により撮像された前方照明画像Ｖ２では、前方照明装置２３から出射された光が、金属製で反射率が高い極板５の端面及び集電板３の端面に反射するため、極板５の端面や集電板３の端面の像の明度が高くなる。また、極板５や集電板３の端面よりも内側（奥側）に位置するフィレットＦは、その像の明度が極板５や集電板３の端面に比べ低くなる。即ち、前方照明画像Ｖ２では、極板５、集電板３の端面の像が、白色に近い色又は白色で表示され、フィレットＦは黒と白との間の色であるグレーで表示され、それ以外の部分は黒又は黒に近い色で表示される。従って、フィレットＦの像とその周辺の極板等との濃淡差が十分大きくないため、前方照明画像Ｖ２のみでは、フィレットＦの明瞭な画像を得ることはできない。
【００４５】
従って、フィレットＦの形状等、フィレットＦに関する詳細な検査を実施する場合には、後方照明装置２０及び前方照明装置２３の両方を点灯した状態で撮像が行われる。その撮像により得られた両側照明画像Ｖ３は、図７に示すように、後方照明装置２０から出射
された照明光ＩＬ１，ＩＬ２により極板５間等のバックグラウンドの明度が高くなり、前方照明装置２３から出射された照明光ＩＬ３により極板５及び集電板３の端面の像の明度が高くなる。また、極板５の端面よりも内側（奥側）に設けられたフィレットＦの像は明度が低くなる。つまり、接合部に大きい照度の光が後方及び前方からそれぞれ照射されることにより、光が直接的に照射される箇所と光が照射されにくい箇所等と間の濃淡差（コントラスト）が強調される。このため、極板５の端面及び集電板３の端面は、白色に近い色又は白色で表示されるが、極板５の端面奥側に設けられたフィレットＦの明度は低く、白色に表示された極板５及び集電板３の中で黒く浮かびあがる。このため、フィレットＦの形状や高さ等が判定しやすい明瞭な画像を得ることができる。
【００４６】
次に、こうした照明装置２０，２３を備えた検査装置１１により実施される二次電池用連接構造体の接合状態の検査について図８及び図９にしたがって具体的に説明する。
検査が開始されると、制御装置２５は、連接構造体１の下方に配置された集電板（ここでは負極側の集電板３とする）の底面が、規定の基準位置に位置されるように、調整機構１３ｂを制御して、チャック１３ａに把持された連接構造体１の基準位置決めを行う（ステップＳ１）。ここでは、まず連接構造体１の下部に位置し、集電板３と極板５との接合部を検査対象とした場合について説明する。
【００４７】
連接構造体１を基準位置に配置すると、制御装置２５は、後方照明装置２０を点灯するとともに撮像装置１５を制御して、後方照明画像Ｖ１を取り込む（ステップＳ２）。即ち、後方照明装置２０のみを点灯した状態で、ＣＣＤカメラ１７によって、連接構造体１の接合部を含む領域の撮像を行うことにより、後方照明画像Ｖ１の画像データを取得し、ＲＯＭ等の記憶部に記憶する。尚、ここでは、隣接する極板５の間であって、極板５の長手方向の複数箇所に設けられた各フィレットＦのうち、撮像装置１５に最も近く、最も右側に位置する各フィレットを検査対象としている。
【００４８】
同様にして、制御装置２５は、前方照明装置２３のみを点灯した状態で撮像装置１５を制御して、前方照明画像Ｖ２を取り込む（ステップＳ３）。また、制御装置２５は、後方照明装置２０及び前方照明装置２３の両方を点灯した状態で撮像装置１５を制御して、両側照明画像Ｖ３を取り込む（ステップＳ４）。
【００４９】
次に、図９に示すように、制御装置２５は、検査の際に基準とされる基準水平線の算出法が、「フランジ基準」、「集電板面基準」のいずれかに設定されているかを判断する（ステップＳ５）。尚、いずれかの基準水平線算出法を採択するかは、検査に先立って予め設定されるようになっている。また、いずれの算出法を採択する場合においても、基準水平線の算出は、後方照明画像Ｖ１を用いて行われる。
【００５０】
基準水平線の算出法が「フランジ基準」に設定されている場合、制御装置２５は、フランジ位置から基準水平線を算出する（ステップＳ６）。フランジは、集電板３の両端を垂直に折り曲げられた部分である。この基準水平線の算出方法について詳述すると、図１０（ａ）に示すように、制御装置２５は、後方照明画像Ｖ１を読み出し、この後方照明画像Ｖ１の左端付近及び右端付近に測定領域Ａ１をそれぞれ設定する。そして、各測定領域Ａ１に対して、上方から下方へ画素の濃淡を演算していき、隣接する画素又は隣接する画素群の間で濃淡変化が基準値以上となった箇所を、フランジの上端と判定する。そして、各測定領域Ａ１内でフランジの上端と判断された点又は線を結んだ直線を、基準水平線ＨＬ１に設定する。
【００５１】
尚、集電板３のフランジの高さの製造公差によっては、基準水平線ＨＬ１を適切に設定できないことがある。このため、制御装置２５は、ステップＳ６において基準水平線ＨＬ１の算出処理を行った後、基準水平線ＨＬ１の算出が成功したか否かを判断し（ステップ
Ｓ７）、不成功であると判断すると（ステップＳ７においてＮＯ）、図９に示すように基準線エラー信号を出力して（ステップＳ２０）、その回の検査を終了する。一方、図８に示すように基準水平線ＨＬ１を適切に設定し、算出が成功したと判断すると（ステップＳ７においてＹＥＳ）、図９に示す次のステップ（ステップＳ９）に進む。
【００５２】
一方、ステップＳ５において、基準水平線の算出法が「集電板面基準」に設定されている場合、制御装置２５は、集電板面から基準水平線を算出する（ステップＳ８）。具体的には、図１０（ｂ）に示すように、基準位置決め（ステップＳ１）の際に基準位置とされた集電板３の底面に当たる直線を、基準水平線ＨＬ２として設定する。尚、集電板面基準では、集電板の板厚の製造公差は十分に小さく、製造公差によって基準水平線ＨＬ２が不適切となることがないので、制御装置２５は基準水平線ＨＬ２を適切に設定できたか否かの判断を行わず、図９に示す次のステップ（ステップＳ９）に進む。尚、基準水平線ＨＬ１，ＨＬ２に平行な方向をＸ方向、垂直な方向をＹ方向と記載する。
【００５３】
図９に示すように、ステップＳ９では、制御装置２５は、両側照明画像Ｖ３を用いて、フィレットＦの個数を算出するためのフィレットの切り出し枠の設定を行う。具体的には、図１１（ａ）に示すように、両側照明画像Ｖ３の基準水平線ＨＬ１，ＨＬ２を基準とし接合部を中心とした所定範囲の矩形範囲を、測定領域Ａ２として設定する。そして、この測定領域Ａ２をＸ方向に走査して、極板５の側面及び集電板３の側面をエッジとして検出する。上記したように、両側照明画像Ｖ３では、極板５の端面の像が白く表示され、フィレットＦの像が黒く表示されているため、少なくとも極板５とフィレットＦとの境界面は明瞭である。このため、測定領域Ａ２の画素列の濃淡をＸ方向に順次演算する工程を、Ｙ方向に並ぶ所定数の画素列だけ繰り返して境界面を求め、その境界面を延長することにより測定領域Ａ２内に含まれる各極板５のエッジをそれぞれ検出することができる。また、エッジを検出すると、そのエッジを測定領域Ａ２の下辺まで延長する。
【００５４】
次に、図１１（ｂ）に示すように、制御装置２５は、上記したように検出したエッジＬＡ，ＬＢに基づき、隣接する極板５の間の領域を検出する。そして該領域内の濃淡変化をＹ方向に演算することにより、隣接する極板５間に白く表示されたバックグラウンドと、隣接する極板５の間に黒く表示されたフィレットＦとの境界線ＬＣを検出するとともに、その境界線ＬＣの位置を取得する。
【００５５】
次に、図１１（ｃ）に示すように、制御装置２５は、先に検出したエッジＬＡ，ＬＢをそれぞれ左右の辺とし、それら極板５間で検出した境界線ＬＣを下辺とし、上記測定領域Ａ２の上辺から所定長さ下方にずらした線を上辺とした長方形状の領域を、各極板５の間にそれぞれ設定する。そして、その領域の下方の所定領域を取り出し、その領域に合わせた枠を重畳した切り出し枠ＦＦを、隣接する極板５の間の各々に設定する。
【００５６】
こうして切り出し枠ＦＦを設定すると、制御装置２５は、その切り出し枠ＦＦの個数に基づき、切り出しが成功したか否かを判断する（ステップＳ１０）。即ち、切り出し枠ＦＦの個数と、予め設定された個数とを比較して、その個数が適切であるか否かを判断する。切り出し枠ＦＦの個数が適切であって、切り出しが成功したと判断すると（ステップＳ１０においてＹＥＳ）、次のステップ（ステップＳ１２）に進む。
【００５７】
一方、切り出し枠ＦＦの個数が不適切であるため、切り出し不成功であると判断すると（ステップＳ１０においてＮＯ）、極板５間の連続潰れが無いかを判断する（ステップＳ１１）。ここでの「潰れ」とは、極板５の折れ曲がりや湾曲等で、画像上で極板５間の部分が影となってしまい、隣接する極板５間に切り出し枠ＦＦを設定することができなかった状況を指す。また、「連続潰れ」とは、切り出し枠ＦＦが２つ以上連続して設定できなかった状況を指す。
【００５８】
制御装置２５は、先に設定した切り出し枠ＦＦに基づき、上記のような連続潰れがあるか否かを判断し、連続潰れがあると判断すると（ステップＳ１１においてＮＯ）、フィレット数エラー信号を出力して（ステップＳ２０）、その回の検査を終了する。一方、潰れがあっても連続潰れがない場合、潰れがない場合には、ステップＳ１２に進む。
【００５９】
ここで連続潰れがなければ、即ち単独潰れのみであれば検査を継続するのは次の理由による。極板５の両側に十分な高さや厚み等を有する適切なフィレットＦが形成されている場合には、集電板３に対する極板の接合強度は十分に確保されている。一方、極板５の片側にのみ、適切なフィレットＦが形成されている場合も、集電板３に対する極板５の接合強度を十分に確保することができる。これに対して、極板５の両側に適切なフィレットＦが形成されていない状態は、いわゆる「中落ち」と呼ばれる接合強度不良の状態であり、集電板３に対する極板５の接合強度は不十分となっている。よってステップＳ１１で接合強度不良として検出が必要なのは、上記のような中落ちの状態である。
【００６０】
フィレットＦの切り出し枠ＦＦが適切に設定されたか（ステップＳ１０においてＹＥＳ）、切り出し枠ＦＦの個数が不適切であっても連続潰れがない場合には（ステップＳ１１においてＹＥＳ）、前方照明画像Ｖ２を用いて、極板５の厚み、枚数及び高さを算出する（ステップＳ１２）。
【００６１】
このステップＳ１２について、まずフランジ基準で基準水平線ＨＬ１を検出した場合について具体的に説明する。図１２（ａ）に示すように、制御装置２５は、予め取得した前方照明画像Ｖ２を読み出し、前方照明画像Ｖ２のうち、例えば上記測定領域Ａ２中の画素の濃淡をＸ方向に沿って演算し、濃淡値の差が所定値以上となる境界点の座標を取得する。例えば、Ｘ方向における黒から白の変化点ｘ１、Ｘ方向における白から黒の変化点ｘ２の座標をそれぞれ求める。そして、変化点ｘ１から変化点ｘ２までの距離を極板５の厚みｗとして算出する。
【００６２】
また、制御装置２５は、一対の変化点ｘ１，ｘ２の数か、或いは先に検出した一対のエッジＬＡ，ＬＢの数等に基づいて、極板５の枚数を算出する。さらに、制御装置２５は、前方照明画像Ｖ２を用いて、特定した各極板５の像に対し、反Ｙ方向に濃淡を演算し、白からグレーへの変化点ｙ１を各極板５の下端として検出する。そして、変化点ｙ１から基準水平線ＨＬ１までのＹ方向の距離を、その極板５の高さｈ１として算出する。
【００６３】
次に、集電板基準で基準水平線ＨＬ２を検出した場合について具体的に説明する。図１２（ｂ）に示すように、制御装置２５は、基準水平線ＨＬ２を上方に規定寸法ｙ２だけ平行にずらした直線ＨＬａを設定し、直線ＨＬａに重なる画素の濃淡をＸ方向に演算し、黒から白への変化点ｘ１の座標、白から黒への変化点ｘ２の座標をそれぞれ求める。そして、これらの変化点ｘ１、ｘ２のｘ方向における距離を極板５の厚みｗとして算出する。また制御装置２５は、特定した各極板５の像に対し、反Ｙ方向に濃淡を演算し、白から黒への変化点ｙ１を各極板５の下端として検出し、変化点ｙ１から直線ＨＬａまでのＹ方向の距離を、その極板５の高さｈ２として算出する。
【００６４】
こうして極板５の厚み、枚数及び高さを算出すると、極板５の厚み、枚数及び高さは適切であるか否かを判定する（ステップＳ１３）。制御装置２５は予め設定された厚み、枚数及び高さの基準値と、算出した厚み、枚数及び高さとを比較して、適切であると判定すると（ステップＳ１３においてＹＥＳ）、ステップＳ１４に進む。不適切であると判定すると（ステップＳ１３においてＮＯ）、極板エラー信号を出力して（ステップＳ２０）、その回の検査を終了する。
【００６５】
極板５の厚み、枚数及び高さが適切である場合（ステップＳ１３においてＹＥＳ）、両側照明画像Ｖ３に基づいて、フィレットＦの高さを算出する（ステップＳ１４）。具体的には、制御装置２５は、図１２（ａ）に示すように、先に検出したエッジＬＡ，ＬＢに挟まれた領域に対し、Ｙ方向に濃淡変化を演算していく。両側照明画像Ｖ３ではフィレットＦの像は黒色に表示され、バックグラウンドはそれよりも明度が高い白い色調で表示されているため、バックグラウンドとフィレットの上表面との差が明瞭となっている。このため、例えばエッジＬＡ，ＬＢに基づいて極板間の領域を求め、その領域に対してＹ軸方向に濃淡変化を演算して、濃度変化量が所定値以上である、黒から白となる境界線ＬＣを求める。そして、その境界線ＬＣのうちＹ軸方向における最下点Ｐ１の座標を求める。尚、図１２（ａ）では、便宜上、前方照明画像Ｖ２を用いて説明しているが、実際には両側証明画像Ｖ３を用いるものとする。
【００６６】
フランジ基準で基準水平線ＨＬ１を設定した場合には、基準水平線ＨＬ１を下方に規定寸法ｙ３だけずらした直線ＨＬｂから最下点Ｐ１までの距離を、フィレットＦの高さｈ３とする。
【００６７】
また、集電板面基準で基準水平線ＨＬ２を設定した場合には、図１２（ｂ）に示すように、基準水平線ＨＬ２から最下点Ｐ１までの距離を、フィレットＦの高さｈ４とする。尚、図１２（ｂ）では、便宜上、前方照明画像Ｖ２を用いて説明しているが、実際には両側証明画像Ｖ３を用いるものとする。
【００６８】
フィレットＦの高さを算出すると、予め設定されたフィレット高さの最適範囲と、算出した全てのフィレットＦの高さとを比較して、各フィレットＦの高さが適切であるか否かをそれぞれ判断する（ステップＳ１５）。各フィレットＦの高さが十分である場合、即ち全てのフィレットＦが十分な厚みを有していれば、連接構造体１における極板５と集電板３との接合強度は良好に確保されている。このため、全てのフィレットＦの高さが適切である場合には（ステップＳ１５においてＹＥＳ）、接合状態が良好であるとして、その回の検査を終了する。
【００６９】
一方、ステップＳ１５において、一つでも高さが不適切なフィレットＦがあると判断すると（ステップＳ１５においてＮＯ）、両側照明画像Ｖ３を用いて、その不適切なフィレットＦに対しフィレット形状の算出を行う（ステップＳ１６）。
【００７０】
具体的には、高さが不適切と判定されたフィレットＦに対して図１３に示すように、先に検出されたエッジＬＡ，ＬＢから所定の距離ｘａだけ内側の位置に、エッジＬＡ，ＬＢと平行なエッジ検出ラインＥＤＬをそれぞれ設定する。そして、エッジ検出ラインＥＤＬ上の画素に対し、下方から上方へと濃淡を演算し、黒から白への変化点であるエッジ点Ｊ及びエッジ点Ｋをそれぞれ検出する。尚、図１３では、極板５のエッジＬＡ，ＬＢやフィレットの境界線等のみを示している。
【００７１】
次に、制御装置２５は、フィレットＦの上表面における最下点Ｐ１と、上記エッジ点Ｊ，ＫとのＸ方向及びＹ方向における相対位置を演算する。エッジ点Ｊ，ＫのＸ方向及びＹ方向の座標をそれぞれ、（ｘｊ，ｙｊ）、（ｘｋ，ｙｋ）とし、最下点Ｐ１の座標を（ｘｐ，ｙｐ）とすると、最下点Ｐ１と各エッジ点Ｊ，ＫとのＹ方向の相対距離Ｈｊ，Ｈｋは次式（１）、（２）よりそれぞれ求められる。最下点Ｐ１と各エッジ点Ｊ，ＫとのＸ方向の相対距離Ｗｊ，Ｗｋは次式（３）、（４）からそれぞれ求められる。
【００７２】
エッジ点ＪのＹ方向における相対距離Ｈｊ＝ｙｊ−ｙｐ      …（１）
エッジ点ＫのＹ方向における相対距離Ｈｋ＝ｙｋ−ｙｐ      …（２）
エッジ点ＪのＸ方向における相対距離Ｗｊ＝ｘｐ−ｘｊ      …（３）
エッジ点ＫのＸ方向における相対距離Ｗｋ＝ｘｋ−ｘｐ      …（４）
そして、制御装置２５は、フィレットＦの形状が適切であるか否かを判断する（ステップＳ１７）。即ち、Ｙ方向における相対距離Ｈｊ，ＨｋとＸ方向における相対距離Ｗｊ，Ｗｋとが基準値以上であるか否かを判断する。即ち、少なくともＹ方向の相対距離Ｈｊ，ＨｋがそれぞれＹ方向の基準値以上であれば、そのフィレットＦは、その上表面の端が、極板５に沿って十分に盛り上がっており、十分な接合強度を保持しているといえる。また、少なくともＸ方向の相対距離Ｗｊ，ＷｋがそれぞれＸ方向の基準値以上であれば、フィレットＦの最下点Ｐ１がその両側のいずれも極板５にも偏って近接しておらず、フィレットＦは十分な接合強度を保持しているといえる。
【００７３】
従って、制御装置２５は、Ｙ方向の相対距離Ｈｊ，ＨｋがそれぞれＹ方向の基準値以上であること及びＸ方向の相対距離Ｗｊ，ＷｋがそれぞれＸ方向の基準値以上であることの少なくとも一方が満たされていれば、各フィレットＦの形状が適切であると判断する（ステップＳ１７においてＹＥＳ）。そして、連接構造体１における極板５と集電板３との接合強度は良好に確保されているとして、その回の検査を終了する。
【００７４】
一方、制御装置２５は、それらのいずれもが満たされていない場合、フィレットＦの形状が不適切であると判断して（ステップＳ１７においてＮＯ）、「中落ちＮＧ信号」を出力して、その回の検査を終了する。
【００７５】
尚、連接構造体１の下部に設けられた接合部の検査が終了すると、制御装置２５は、ワーク支持部１３を制御して、連接構造体１の上部に設けられた接合部に対して、上記した検査と同様の検査を行う。
【００７６】
上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）上記実施形態では、フィレットＦを含む各極板４，５と集電板２，３との接合部に対し、後方照明装置２０及び前方照明装置２３により、極板４，５の一方の端面側と他方の端面側から光を照射して撮像を行い、両側照明画像Ｖ３を取得し、この両側照明画像Ｖ３を解析して各極板４，５と集電板２，３との接合状態を極板の湾曲、折れ曲がり等の有無を評価する。このように両側から接合部を照明することにより、画像上では、その接合部の後方背景、接合部よりも撮像装置側に位置する極板４，５の端面等の像が、例えば白色等の高い明度で表示され、接合部の像が、例えば黒色等、後方背景や極板端面の像に比べ低い明度で表示される。このため、画像上で、接合部とそれ以外の領域との濃淡差（コントラスト）を大きくし、接合部を対象とした画像解析を的確に実施することができる。従って、接合部に関する誤判定や、判定不可能の検査結果を少なくし、極板と集電板との接合状態の検査をより的確に行うことができる。
【００７７】
（２）上記実施形態では、後方照明装置２０は、各極板４，５が接合される集電板面に対し鋭角に光を入射し、その光を連接構造体１内で反射させながら各極板４，５の間を通過させる。このように照明光ＩＬ１，ＩＬ２を出射することにより、撮像装置１５には、後方照明装置２０から出射された光が直接入射しない。このため、撮像装置１５におけるレンズフレアを抑制することができる。従って、後方照明装置２０の照度を大きくすることができるため、接合部における光量不足を抑制し、接合部の明瞭な両側照明画像Ｖ３を得ることができる。また、後方照明装置２０として上記スポット照明を用い、その照明光ＩＬ１を連接構造体１内を反射させながら通過させているため、極板５の折れ曲がりによる悪影響が少なくなる。さらに、極板４，５や集電板２，３の輪郭が明瞭な後方照明画像Ｖ１を得ることができる。
【００７８】
（３）上記実施形態では、後方照明装置２０は、第１照明部２１及び第２照明部２２を有し、これらの照明部２１，２２は、連接構造体１の異なる位置、且つ前記連接構造体１
に対し異なる角度で光をそれぞれ入射する。即ち、第１照明部２１及び第２照明部２２から集電板２，３に対し斜めに光を入射した場合、接合部のうち、その光軸上及びその周辺は光量が十分大きいが、その反対側は光量が若干小さくなる。従って、複数の第１照明部２１及び第２照明部２２から、連接構造体に対し異なる位置又は異なる角度で光を入射させることで、互いの光量が小さくなる領域に光を照射することができる。
【００７９】
（４）上記実施形態では、制御装置２５は、検査項目に応じて、後方照明装置２０を点灯させた状態で撮像された後方照明画像Ｖ１、前方照明装置２３を点灯させた状態で撮像した前方照明画像Ｖ２、及び後方照明装置２０と前方照明装置２３とを点灯させた状態で撮像した両側照明画像Ｖ３のうち１つを選択する。そして、その画像を解析して各極板４，５と集電板２，３との接合状態を評価する。このため、例えば基準水平線を算出する際は、集電板２，３の輪郭が明瞭な後方照明画像Ｖ１を用い、極板４，５の厚み、枚数及び高さ等を算出する際は、極板４，５と背景との境界や極板の高さ方向の端が明瞭な前方照明画像Ｖ２を用いることができる。また、フィレットＦの高さ及びその形状を算出する際は、フィレットＦが明瞭に表示された両側照明画像Ｖ３を用いることができる。このため、検査項目に適した１つを選択して検査を行うので、各極板４，５と集電板２，３との接合状態を的確に判定することができる。
【００８０】
尚、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
・制御装置２５が解析に用いる画像データは、グレースケール画像以外の画像、例えばＲＧＢカラー画像等を用いてもよい。
【００８１】
・後方照明装置２０及び前方照明装置２３の光源に、撮像装置１５に直接光が入射しても検査不良とならないような照度の光源を用いる場合には、集電板面に対して光を鋭角に入射させず、蛍光灯等により連接構造体１に対し平行に出射してもよい。
【００８２】
・上記実施形態では、フィレットの高さや形状等を検査するために両側照明画像Ｖ３を用いたが、例えば極板５の各端面よりも内側の局所的な形状等、連接構造体１の各端面の内側の状態を検査する際に、両側照明画像Ｖ３を用いてもよい。
【００８３】
・後方照明装置２０の光源は、２つ以上の複数でもよく、照度が十分得られる光源であれば単数でもよい。また、後方照明装置２０を、１つの光源をそれぞれ有する第１照明部２１及び第２照明部２２に分けたが、複数の光源を配列した１つの装置から構成してもよい。
【００８４】
・上記実施形態では、基準水平線の算出に後方照明画像Ｖ１を用いたが、前方照明画像Ｖ２を用いてもよく、両側照明画像Ｖ３を用いてもよい。また、極板の厚み、枚数、高さの判定に、前方照明画像Ｖ２のみを用いたが、後方照明画像Ｖ１又は両側照明画像Ｖ３を用いてもよい。或いは、後方照明画像Ｖ１，前方照明画像Ｖ２、両側照明画像Ｖ３のうち複数を用いてもよい。例えば、枚数の判定に、後方照明画像Ｖ１を用い、厚み及び高さの算出に前方照明画像Ｖ２を用いてもよい。
【００８５】
・上記実施の形態での基準水平線の算出やフィレット切り出し、極板の厚み・枚数・高さの算出、フィレット高さ検査及び形状検査の詳細は、上述した態様に限らず、適宜変更することができる。また必要がなければ、それら検査手順のステップの１つ若しくは複数を割愛するようにしても良い。要は、連続潰れ判定及びフィレット接合状態の検査に際してのフィレットＦの高さや形状の検出に両側照明画像を用いて行うこととすれば、光のハレーションによる極板の撮像性の悪化を懸念することなく、後方照明画像Ｖ１の撮像時の照明の照度を上げることが可能となる。そしてその結果、フィレット形状をより的確に検出可能となって、フィレットＦの接合状態の検査をより的確に行うことができるようにな
る。
【００８６】
・上記実施の形態における検査装置の詳細部分を適宜に変更するようにしても良い。要は、二次電池用連接構造体の一方の側方に配置される撮像装置１５、連接構造体１の撮像装置１５と同じ側の側方に配置された前方照明装置２３、及び連接構造体１を挟んで撮像装置１５と対向して配置された後方照明装置２０を備えるように検査装置が構成されていれば、各画像Ｖ１〜Ｖ３の撮像が可能となる。そしてそれら３つの画像のうち１つを解析してフィレット接合状態の検査を行うこととすれば、より的確な検査を可能とすることができる。
【符号の説明】
【００８７】
Ｆ…フィレット、ｈ１〜ｈ４…高さ、ＩＬ１…第１の照明光、ＩＬ２…第２の照明光、ＶＡ…画像、Ｖ１…後方照明画像、Ｖ２…前方照明画像、Ｖ３…両側照明画像、Ｘ１…中心軸、１…連接構造体、１ａ，１ｂ…端面、２，３，１０１，１０２…集電板、４，５，１０６，１０７ｃ…極板、１１…検査装置、１５…撮像装置、２０…第１照明装置、２１…光源としての第１照明部、２２…光源としての第２照明部２３…第２照明装置、２５…評価手段としての制御装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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