(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気的駆動源によって動作する可動装置と、
遊技を統括的に制御する遊技制御装置と、
前記遊技制御装置の信号により前記可動装置の動作を制御する可動制御装置と、
磁気状態を検知して、基準となる基準値から予め定められた許容範囲を外れたことが検出された場合に異常と判定する異常磁気判定手段と、
前記異常磁気判定手段により異常と判定された場合に、異常が発生していることを認識可能に報知する報知手段と、
を備えた遊技機において、
前記遊技制御装置は、
当該遊技機への電源投入に基づき、前記可動制御装置へ信号を送信し、前記可動装置を初期動作させて動作確認を行う初期動作手段を有し、
前記異常磁気判定手段は、
当該遊技機への電源投入に基づき、前記可動装置の初期動作によって発生した磁気の影響を受けた可能性のある当該遊技機の磁気状態を一次基準値として記憶する一次記憶手段と、
前記一次記憶手段により前記一次基準値が記憶されたことを契機として、前記一次基準値に基づいて遊技盤上の第一検知範囲の検知を行う一次検知手段と、
前記一次検知手段による前記第一検知範囲の検知開始後、磁気状態が異常であるか否かの判断とは別に前記一次記憶手段により磁気状態が記憶されたときの当該遊技機の状態がその後変化したか否かを一定期間ごとに判定する遊技機状態判定手段と、
前記遊技機状態判定手段により当該遊技機の状態に変化がないと判定された場合、または当該遊技機の状態に変化があると判定されても前記一次検知手段による前記第一検知範囲での磁気状態の異常が確認された場合には、前記一次検知手段による前記一次基準値に基づいた検知が継続されるようにする一方、当該遊技機の状態に変化があると判定され、かつ前記一次検知手段による前記第一検知範囲での磁気状態の異常が確認されていない場合には、当該遊技機の現在の磁気状態を二次基準値として記憶する二次記憶手段と、
前記二次記憶手段により前記二次基準値が記憶されたことを契機として、前記二次基準値に基づいて前記遊技盤上の前記第一検知範囲よりも広い第二検知範囲の検知を行う二次検知手段と、
を有することを特徴とする遊技機。
【請求項２】
前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段により前記二次基準値に基づいた異常と判定された場合には遊技動作を停止する一方、前記一次基準値に基づいた異常と判定された場合には遊技動作を停止しないことを特徴とする請求項１に記載の遊技機。
【請求項３】
前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段により異常と判定されてからの異常状態の経過時間を計測する異常時間計測手段を有し、
前記異常報知手段は、前記一次基準値に基づいた異常について、前記異常時間計測手段によって計測された時間が所定時間を超える前と所定時間を超えた後とで報知の態様を異ならせることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の遊技機。
【請求項４】
前記異常報知手段は、前記一次基準値に基づいた異常と前記二次基準値に基づいた異常とで報知の態様を異ならせることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の遊技機。
【請求項５】
前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段によって異常と判定された回数を記憶する磁気異常回数記憶手段を有することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁石等を用いた不正を検出する手段を備えた遊技機に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば下記特許文献１に記載されるように、流下する遊技球を磁石によって吸引し、強制的に遊技球を入賞口に入賞させるなどの不正行為を検知するための磁気検知機能が内蔵された遊技機が知られている。特許文献１の記載の遊技機では、遊技機の設置環境下における磁気状態を基準磁気状態として記憶しておき、基準磁気状態と現時点における磁気状態とを比較して、予め定められた許容範囲を外れる磁力が検出された場合に異常と判断するものである。つまり、機種毎に異なる基準値を設定することで、可動装置（役物）等から発生する磁気の大きさが遊技機の機種毎に異なるために不正な磁気を正確に検出することができないという問題を解消するものである。
【０００３】
しかし、一般的な遊技機では、電源投入を契機としてソレノイドやモータ等の磁気作用によって動作する可動装置の駆動源が初期動作を開始する（例えば特許文献２参照）。そのため、このような遊技機であると、ソレノイドやモータ等によって乱れた磁気状態が基準として設定される可能性があり、正確な不正検出を行うことができないおそれがあった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１８７９２０号公報
【特許文献２】特開２０１２−５５３４７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記実情に鑑み、本発明は、不正による異常な磁気状態をより正確に検出することが可能な遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するためになされた請求項１に記載の発明は、電気的駆動源によって動作する可動装置と、遊技を統括的に制御する遊技制御装置と、前記遊技制御装置の信号により前記可動装置の動作を制御する可動制御装置と、磁気状態を検知して、基準となる基準値から予め定められた許容範囲を外れたことが検出された場合に異常と判定する異常磁気判定手段と、前記異常磁気判定手段により異常と判定された場合に、異常が発生していることを認識可能に報知する報知手段と、を備えた遊技機において、前記遊技制御装置は、当該遊技機への電源投入に基づき、前記可動制御装置へ信号を送信し、前記可動装置を初期動作させて動作確認を行う初期動作手段を有し、前記異常磁気判定手段は、当該遊技機への電源投入に基づき、前記可動装置の初期動作によって発生した磁気の影響を受けた可能性のある当該遊技機の磁気状態を一次基準値として記憶する一次記憶手段と、前記一次記憶手段により前記一次基準値が記憶されたことを契機として、前記一次基準値に基づいて遊技盤上の第一検知範囲の検知を行う一次検知手段と、前記一次検知手段による前記第一検知範囲の検知開始後、磁気状態が異常であるか否かの判断とは別に前記一次記憶手段により磁気状態が記憶されたときの当該遊技機の状態がその後変化したか否かを一定期間ごとに判定する遊技機状態判定手段と、前記遊技機状態判定手段により当該遊技機の状態に変化がないと判定された場合、または当該遊技機の状態に変化があると判定されても前記一次検知手段による前記第一検知範囲での磁気状態の異常が確認された場合には、前記一次検知手段による前記一次基準値に基づいた検知が継続されるようにする一方、当該遊技機の状態に変化があると判定され、かつ前記一次検知手段による前記第一検知範囲での磁気状態の異常が確認されていない場合には、当該遊技機の現在の磁気状態を二次基準値として記憶する二次記憶手段と、前記二次記憶手段により前記二次基準値が記憶されたことを契機として、前記二次基準値に基づいて前記遊技盤上の前記第一検知範囲よりも広い第二検知範囲の検知を行う二次検知手段と、を有するところに特徴を有する。
【０００７】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の遊技機において、前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段により前記二次基準値に基づいた異常と判定された場合には遊技動作を停止する一方、前記一次基準値に基づいた異常と判定された場合には遊技動作を停止しないところに特徴を有する。
【０００８】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の遊技機において、前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段により異常と判定されてからの異常状態の経過時間を計測する異常時間計測手段を有し、前記異常報知手段は、前記一次基準値に基づいた異常について、前記異常時間計測手段によって計測された時間が所定時間を超える前と所定時間を超えた後とで報知の態様を異ならせたところに特徴を有する。
【０００９】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の遊技機において、前記異常報知手段は、前記一次基準値に基づいた異常と前記二次基準値に基づいた異常とで報知の態様を異ならせたところに特徴を有する。
【００１０】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の遊技機において、前記遊技制御装置は、前記異常磁気判定手段によって異常と判定された回数を記憶する磁気異常回数記憶手段を有するところに特徴を有する。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１に記載の発明によれば、可動装置の初期動作によって発生した磁気の影響を受ける可能性がある初期動作時には、その時点での磁気状態を一次基準値として設定した上で、この一次基準値に基づき第一検知範囲の検知を行う。そして、一次基準値に基づく検知が実行されているときに、遊技状態の変化および異常が発生していないことが確認された場合には、その時点での磁気状態を二次基準値として設定した上で、この二次基準値に基づき第二検知範囲の検知を行う。つまり、可動装置の初期動作によって発生した磁気の影響を受ける可能性があるときにはその影響を加味した基準値を、モータやソレノイドの影響が排除された可能性が高いときには新たにその時点での基準値を設定する構成であるため、磁石を用いた不正の検出の確実性を向上させることが可能である。
【００１２】
請求項２に記載の発明によれば、一次基準値に基づいた異常と判定された場合には遊技動作が停止されない。つまり、可動装置から発生した磁気の影響を受ける可能性がある初期動作の度に遊技動作が停止してしまうことを抑制することが可能である。
【００１３】
一次基準値に基づいた異常が検知されたであっても、可動装置から発生した磁気の影響が原因ではなく、意図的な不正行為が原因となる可能性がある。そのため、請求項３に記載の発明のように、所定時間を超える前と所定時間を超えた後とで報知の態様を異ならせることにより、不正行為の存在の可能性を周囲に認識させることが可能となる。
【００１４】
請求項４に記載のように、一次基準値に基づいた異常と二次基準値に基づいた異常とで報知の態様を異ならせるようにすれば、どのような状態で異常が発生しているか（意図的な不正行為による異常の可能性の高低）を容易に認識させることが可能である。
【００１５】
請求項５に記載のような磁気異常回数記憶手段を有することで、過去に発生した異常の回数を容易に得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態にかかる遊技機の正面図である。
【図２】遊技盤の正面図である。
【図３】遊技機の制御ブロック図である。
【図４】主制御基板が行うメイン処理のフローチャートである。
【図５】割り込み処理のフローチャートである。
【図６】入賞検出処理のフローチャートである。
【図７】普通動作処理のフローチャートである。
【図８】特別動作処理のフローチャートである。
【図９】特別図柄待機処理のフローチャートである。
【図１０】特別図柄大当たり判定処理のフローチャートである。
【図１１】特別図柄選択処理のフローチャートである。
【図１２】特別図柄変動態様選択処理のフローチャートである。
【図１３】特別図柄乱数シフト処理のフローチャートである。
【図１４】変動中処理のフローチャートである。
【図１５】特別図柄確定処理のフローチャートである。
【図１６】特別電動役物処理のフローチャートである。
【図１７】保留球数処理のフローチャートである。
【図１８】電源断監視処理のフローチャートである。
【図１９】サブ制御基板が行うメイン処理のフローチャートである。
【図２０】受信割り込み処理のフローチャートである。
【図２１】二次記憶準備処理のフローチャートである。
【図２２】２ｍｓタイマ割り込み処理のフローチャートである。
【図２３】１０ｍｓタイマ割り込み処理のフローチャートである。
【図２４】磁気センサ検知処理のフローチャートである。
【図２５】二次記憶詳細処理のフローチャートである。
【図２６】異常報知処理のフローチャートである。
【図２７】磁気検知回数更新処理のフローチャートである。
【図２８】図２８（ａ）に示す表示装置に待機画面が表示されているときに特定のボタンを押すことにより、図２８（ｂ）に示すように表示装置に異常の発生回数（星のマークの数）が表示される構成を示した模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
（遊技機の全体構成）
以下、本発明にかかる実施形態について図１〜図３を参照して詳細に説明する。まず、遊技機１の全体構成について簡単に説明する。図１に示されるように、遊技機１は、所定の奥行きを有する額縁形状の機枠１０を備える。この機枠１０には前面枠１２が取り付けられている。前面枠１２は、その左側縁が機枠１０に回動自在に支持され、前側に開閉可能である。また、前面枠１２には、ガラス枠１４が取り付けられている。ガラス枠１４は、その左側縁が前面枠１２に回動自在に支持され、前側に開閉可能である。
【００１８】
ガラス枠１４の中央の開口部にはガラス板またはプラスチック板等の透明な板が設けられており、遊技者はこの透明な板を通して前側から遊技盤２６を視認できる。また、ガラス枠１４の下部には、払い出された遊技球を発射装置に送るまで貯めておく上皿ユニット１６が設けられている。上皿ユニット１６には、貯留されている遊技球を下皿ユニット２０に流下させる上皿スイッチや、貸し出し可能な貸し球を払い出す球貸しスイッチ等が設けられている。また、ガラス枠１４の上部左右両側には、スピーカ１８が設けられている。
【００１９】
前面枠１２の下部には、払い出された遊技球が上皿ユニット１６に入りきらない場合等に遊技球を貯めることができる下皿ユニット２０や、遊技球を発射操作するためのタッチスイッチを備える発射ハンドル２２等が設けられている。下皿ユニット２０の左側には、遊技者が押し下げ操作を行うことができる操作ボタン２４が設けられている。
【００２０】
遊技盤２６は、ほぼ正方形の合板により成形されており、前面枠１２に着脱可能に取り付けられている。この遊技盤２６には、発射装置から発射された遊技球をガイドする金属製の薄板からなる帯状のガイドレール２８が略円弧形状となるように設けられており、このガイドレール２８によって遊技領域の外郭の一部が形成されている。
【００２１】
遊技領域には、表示装置３０、第一始動入賞口３２１（いわゆるヘソ）、第二始動入賞口３２２（いわゆる電チュー）、普通図柄変動開始用ゲート３３、大入賞口３４、特別入賞口３５、アウト口３６などが設けられている。表示装置３０は、例えば液晶表示装置が用いられ、表示装置３０の表示画面（表示部）において特別図柄や普通図柄等が表示される。かかる表示装置３０の表示画面は、遊技盤２６に形成された開口を通じて視認可能である。
【００２２】
また、遊技盤２６の遊技領域には、流下する遊技球が衝突することにより遊技球の流下態様に変化を与える障害物としての図示しない遊技釘が複数設けられている。遊技領域を流下する遊技球は、遊技釘に衝突したときの条件に応じて様々な態様に変化する。
【００２３】
さらに、図２に示すように、遊技盤２６には磁気センサ２７が取り付けられている。本実施形態では、当該領域に遊技球が入賞した場合に、遊技者にとって有利な遊技状態となる特別入賞口３５近傍に磁気センサ２７が設けられている。つまり、磁気センサ２７は、磁石などを用いて遊技球を強制的に特別入賞口３５に入賞させようとする不正行為を防止するためのものである。
【００２４】
また、図３に示すように、遊技機１には、主制御基板４０、サブ制御基板４２等の各種制御基板が設けられている。サブ制御基板４２は、どのような主制御基板４０が行った大当たり抽選結果等に基づき、どのような演出を行うか決定する基板である。
【００２５】
このような遊技機１では、発射ハンドル２２の操作により、発射装置から遊技領域に遊技球を発射し、遊技領域を流下する遊技球が、始動入賞口３２１、３２２や大入賞口３４等の入賞口に入賞すると、所定の数の賞球が払出装置により払い出される。
【００２６】
（主制御基板が行う制御処理）
主制御基板４０が行う制御処理について説明する。主制御基板４０は、ＲＯＭに記憶されている制御用プログラムに従いマイクロコンピュータのＣＰＵにより制御処理を行う。図４は主制御基板４０が行うメイン処理のフローチャートである。
【００２７】
メイン処理では、まずデバイスの初期設定（Ｓ１０）が行われる。デバイスの初期設定（Ｓ１０）では、スタックの設定、割り込み時間の設定、ＣＰＵの設定、ＳＩＯ、ＰＩＯ、ＣＴＣの設定等が行われる。
【００２８】
次に、割り込み禁止処理（Ｓ２０）、主要乱数更新処理（Ｓ３０）、割り込み許可処理（Ｓ４０）が行われ、その後に再び割り込み禁止処理（Ｓ２０）に戻るループ処理が行われ、このループ処理の間に割り込み処理（Ｓ１００）が行われる。
【００２９】
割り込み禁止処理（Ｓ２０）では、４ｍｓｅｃごとに割り込み処理（Ｓ１００）が入ってきても、割り込み許可となるまで、割り込みを禁止する。次の主要乱数更新処理（Ｓ３０）では、種々の乱数が主要乱数更新処理（Ｓ３０）ごとに１加算され、各乱数の設定上限値に至ると次に最小値に戻って再び加算が行われる。更新された乱数は主制御基板４０のＲＡＭに記憶される。割り込み許可処理（Ｓ４０）では、４ｍｓｅｃごとに入ってくる割り込み処理（Ｓ１００）に対して許可をする。
【００３０】
割り込み処理（Ｓ１００）では、図５に示すように、出力処理（Ｓ１１０）、入力処理（Ｓ１２０）、普通図柄・特別図柄主要乱数更新処理（Ｓ１３０）、入賞検出処理（Ｓ１４０）、普通動作処理（Ｓ１５０）、特別動作処理（Ｓ１６０）、保留球数処理（Ｓ１７０）、電源断監視処理（Ｓ１８０）、その他の処理（Ｓ１９０）が行われる。
【００３１】
出力処理（Ｓ１１０）では、各処理で設定された出力用のコマンド（制御信号）や取得された数値データ等が各制御基板に送信される。入力処理（Ｓ１２０）では、遊技機１に取り付けられている各種センサ（スイッチ）が検知した場合の信号入力が行われる。普通図柄・特別図柄主要乱数更新処理（Ｓ１３０）では、メイン処理におけるループ処理内で行われている普通図柄・特別図柄主要乱数更新処理（Ｓ３０）と同様の処理が行われる。
【００３２】
入賞検出処理（Ｓ１４０）では、図６に示すように、始動入賞口３２１、３２２への入賞が検出されたか判断され（Ｓ１４０−１）、入賞が検出されていない場合には普通図柄変動開始用ゲート３３への遊技球通過が検出されたか判断される（Ｓ１４０−２）。ゲート３３への遊技球通過が検出されていない場合には、この入賞検出処理（Ｓ１４０）が終了する。一方、ゲート３３への遊技球通過が検出された場合には、普通図柄変動保留球数が４以上か判断され（Ｓ１４０−３）、４以上の場合にはこの入賞検出処理（Ｓ１４０）が終了する。一方、普通図柄変動保留球数が４未満であれば普通図柄変動保留球数に１加算されると共に（Ｓ１４０−４）、普通図柄乱数値が取得され、取得した普通図柄乱数値（小当たり乱数値）が主制御基板４０のＲＡＭにおける対応する領域（アドレス）に記憶され（Ｓ１４０−５）、この入賞検出処理（Ｓ１４０）が終了する。上記Ｓ１４０−１で始動入賞口３２１、３２２への入賞が検出されたと判断されると、特別図柄変動保留球数が４以上か判断され（Ｓ１４０−６）、４以上の場合にはこの入賞検出処理（Ｓ１４０）が終了する。一方、特別図柄変動保留球数が４未満であれば、特別図柄変動保留球数に１加算され（Ｓ１４０−７）、大当たり乱数値、リーチ乱数値、変動態様乱数値等が取得されて主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）の対応する領域（アドレス）に記憶され（Ｓ１４０−８）、この入賞検出処理（Ｓ１４０）が終了する。
【００３３】
普通動作処理（Ｓ１５０）では、図７に示すように、まず第二始動入賞口３２２の手前に設けられた開閉部材３２２ａ（図１参照）が開放中か確認される（Ｓ１５０−１）。開閉部材３２２ａが閉鎖中（狭小開放状態）であれば、普通図柄変動保留球数が０かどうか確認され（Ｓ１５０−２）、０であればこの普通動作処理（Ｓ１５０）が終了する。一方、普通図柄変動保留球数が０でない場合には、入賞検出処理（Ｓ１４０）の普通図柄乱数取得処理（Ｓ１４０−５）で取得されて主制御基板４０のＲＡＭに記憶されている普通図柄乱数値（小当たり乱数値）が読み出され（Ｓ１５０−３）、現在高確率状態（確率変動状態）かどうか確認される（Ｓ１５０−４）。高確率状態ではなく低確率状態の場合、取得普通図柄乱数値が予め設定されている低確率状態時の小当たり成立数値と対比されて両者が一致するか確認され、一致する場合には低確率状態での小当たりとなり、一致しない場合には外れと判断される（Ｓ１５０−５）。外れの場合には、この普通動作処理（Ｓ１５０）が終了し、一方、小当たりの場合には、開閉部材３２２ａを開放時間１秒、開放回数１回で開放する開閉部材開放処理が行われ（Ｓ１５０−６）、その後にこの普通動作処理（Ｓ１５０）が終了する。それに対して、Ｓ１５０−４で高確率状態と判断されると、取得普通図柄乱数値が予め設定されている高確率状態時の小当たり成立数値（低確率状態よりも数が多い。すなわち当選確率が高く設定されている）と対比されて両者が一致するか確認され、一致する場合には高確率状態での小当たりとなり、一致しない場合には外れと判断される（Ｓ１５０−７）。外れの場合には、この普通動作処理（Ｓ１５０）が終了し、一方、小当たりの場合には、開閉部材３２２ａを開放時間２秒、開放回数３回で開放する開閉部材開放処理が行われ（Ｓ１５０−８）、その後にこの普通動作処理（Ｓ１５０）が終了する。
【００３４】
また、Ｓ１５０−１で開閉部材３２２ａが開放中と判断されると、開閉部材３２２ａの開放時間が経過（終了）したか確認され（Ｓ１５０−９）、開閉部材３２２ａの開放時間が経過していない場合には、この普通動作処理（Ｓ１５０）が終了し、一方、開閉部材３２２ａの開放時間が経過した場合には、開閉部材３２２ａを閉鎖する（狭小開放状態とする）処理が行われ（Ｓ１５０−１０）、その後にこの普通動作処理（Ｓ１５０）が終了する。
【００３５】
特別動作処理（Ｓ１６０）では、図８に示すように、特別動作ステータスが１〜４の何れであるか判断される（Ｓ１６０−１〜Ｓ１６０−３）。特別動作ステータスが１の場合には特別図柄待機処理（Ｓ１６０−４）が行われ、特別動作ステータスが２の場合には変動中処理（Ｓ１６０−５）が行われ、特別動作ステータスが３の場合には特別図柄確定処理（Ｓ１６０−６）が行われ、特別動作ステータスが４の場合には特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が行われる。
【００３６】
特別動作ステータスが１の場合に行われる特別図柄待機処理（Ｓ１６０−４）では、図９に示すように、特別図柄変動保留球数が０か否か判断され（Ｓ１６０−４−１）、特別図柄変動保留球数が０の場合には表示装置３０に表示される画面が特別図柄の変動中ではない待機画面（待ち受け画面）中か否か判断され（Ｓ１６０−４−２）、待機画面（待ち受け画面）中であれば、この特別図柄待機処理（Ｓ１６０−４）が終了する。一方、待機画面（待ち受け画面）中ではない場合には、表示装置３０に表示される画面を待機画面（待ち受け画面）にするための待機画面設定処理（Ｓ１６０−４−３）が行われて表示装置３０に表示される画面が待機画面にセットされ（Ｓ１６０−４−４）、その後にこの特別図柄待機処理（Ｓ１６０−４）が終了する。
【００３７】
それに対してＳ１６０−４−１で特別図柄変動保留球数が０ではないと判断された場合には、図１０に示す特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）が行われる。特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）では、まず入賞検出処理（Ｓ１４０）の特別図柄関係乱数値取得処理（Ｓ１４０−８）で取得された、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）に記憶されている大当たり乱数値のうち、一番目の大当たり乱数値が読み出され（Ｓ１６０−４−５−１）、現在高確率状態（確率変動状態）か確認される（Ｓ１６０−４−５−２）。高確率状態ではない低確率状態の場合、取得された大当たり乱数値が予め設定されている低確率状態時の大当たり成立数値と対比されて両者が一致するか確認され、一致する場合には低確率状態での大当たりとなり、一致しない場合には外れと判断される（Ｓ１６０−４−５−３）。外れの場合には、この特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）が終了し、一方、大当たりの場合には、大当たりフラグがＯＮにセットされ（Ｓ１６０−４−５−４）、この特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）が終了する。それに対して、Ｓ１６０−４−５−２で高確率状態と判断されると、取得された大当たり乱数値が予め設定されている高確率状態時の大当たり成立数値（低確率状態よりも数が多い。すなわち当選確率が高く設定されている）と対比されて両者が一致するか確認され、一致する場合には高確率状態での大当たりとなり、一致しない場合には外れと判断される（Ｓ１６０−４−５−５）。外れの場合には、この特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）が終了し、一方、大当たりの場合には、大当たりフラグがＯＮにセットされ（Ｓ１６０−４−５−４）、この特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）が終了する。
【００３８】
特別図柄大当たり判定処理（Ｓ１６０−４−５）の次に特別図柄選択処理（Ｓ１６０−４−６）が行われる。特別図柄選択処理（Ｓ１６０−４−６）では、表示装置３０で停止表示する特別図柄が決定される。まず、特別図柄選択処理（Ｓ１６０−４−６）では、図１１に示すように、大当たりフラグがＯＮか判断され（Ｓ１６０−４−６−１）、大当たりフラグがＯＮ、すなわち大当たりの場合には当該大当たりの種類に応じた特別図柄の組み合わせが停止する図柄としてセットされる（Ｓ１６０−４−６−２）。一方、大当たりフラグがＯＮではない、すなわち外れの場合には、左・中・右図柄乱数用カウンタによって左・中・右図柄乱数値（以下、左図柄乱数値を特別図柄データ１、中図柄乱数値を特別図柄データ２・右図柄乱数値を特別図柄データ３と称する）を取得し（Ｓ１６０−４−６−３）、特別図柄データ１と特別図柄データ２と特別図柄データ３の乱数値が全て一致しているか判断され（Ｓ１６０−４−６−４）、一致している場合にはリーチ乱数値がリーチ成立数値と一致しているか判断される（Ｓ１６０−４−６−５）。リーチ乱数値が予め設定されているリーチ成立数値と一致している場合にはリーチ有りとなり、特別図柄データ１の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止左特別図柄、特別図柄データ２の乱数値に１加算した乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄、特別図柄データ３の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止右特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−６）。一方、リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致していない場合にはリーチ無しとなり、特別図柄データ１の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止左特別図柄、特別図柄データ２の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄、特別図柄データ３の乱数値に１加算した乱数値に割り当てられている特別図柄が停止右特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−７）。
【００３９】
上記Ｓ１６０−４−６−４で特別図柄データ１と２と３の乱数値が一致していないと判断された場合には、特別図柄データ１と３の乱数値が一致しているか判断される（Ｓ１６０−４−６−８）。特別図柄データ１と３の乱数値が一致している場合には、リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致しているか判断される（Ｓ１６０−４−６−９）。リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致している場合にはリーチ有りとなり、特別図柄データ１の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止左特別図柄、特別図柄データ２の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄、特別図柄データ３の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止右特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−１０）。一方、リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致していない場合にはリーチ無しとなり、特別図柄データ１の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止左特別図柄、特別図柄データ２の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄、特別図柄データ３の乱数値に１加算した乱数値に割り当てられている特別図柄が停止右特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−７）。つまり、リーチを成立させないよう、停止左特別図柄と停止右特別図柄が異なる図柄となるように加算操作がなされる。
【００４０】
上記Ｓ１６０−４−６−８で特別図柄データ１と３の乱数値が一致していない、すなわち特別図柄データ１，２，３が全て異なると判断された場合には、リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致しているか判断される（Ｓ１６０−４−６−１１）。リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致している場合にはリーチ有りとなり、特別図柄データ１と特別図柄データ３の値が特別図柄データ１あるいは特別図柄データ３の乱数値に割り当てられている特別図柄と同一になるように停止左特別図柄と停止右特別図柄がセットされると共に、その同一にした特別図柄データ１或いは特別図柄データ３の乱数値に１加算した乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−１２）。一方、リーチ乱数値がリーチ成立数値と一致していない場合にはリーチ無しとなり、特別図柄データ１の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止左特別図柄、特別図柄データ２の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止中特別図柄、特別図柄データ３の乱数値に割り当てられている特別図柄が停止右特別図柄にセットされる（Ｓ１６０−４−６−１０）。
【００４１】
続いて、特別図柄変動態様選択処理（Ｓ１６０−４−７）が行われる。特別図柄変動態様選択処理（Ｓ１６０−４−７）では、図１２に示すように、遊技状態が低確率状態中か高確率状態中か確認される（Ｓ１６０−４−７−１）。低確率状態中の場合には大当たりフラグがＯＮ（当否判定結果が大当たりか）か確認され（Ｓ１６０−４−７−２）、大当たりフラグがＯＮの場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）において読み出し順序が一番目に記憶されている変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている低確率状態中の当たりテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ａとする）（Ｓ１６０−４−７−３）。一方、上記Ｓ１６０−４−７−２において大当たりフラグがＯＮではない（当否判定結果が外れである）と判断された場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目のリーチ乱数値がロードされて予め設定されているリーチ成立数値と対比され、両者が一致する場合にはリーチ有りとされ、一致しない場合にはリーチ無しとされる（Ｓ１６０−４−７−４）。リーチ有りの場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目の変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている低確率状態中のリーチ外れテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ｃとする）（Ｓ１６０−４−７−５）。また、Ｓ１６０−４−７−４でリーチ無しと判断された場合、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目の変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている低確率状態中の外れテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ｄとする）（Ｓ１６０−４−７−６）。
【００４２】
一方、Ｓ１６０−４−７−１で高確率状態中と判断された場合、大当たりフラグがＯＮ（当否判定結果が大当たりか）か確認され（Ｓ１６０−４−７−７）、大当たりフラグがＯＮの場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目の変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている高確率状態中の当たりテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ｂとする）（Ｓ１６０−４−７−８）。一方、上記Ｓ１６０−４−７−７において大当たりフラグがＯＮではない（当否判定結果が外れである）と判断された場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目のリーチ乱数値がロードされてリーチ成立数値と対比され、両者が一致する場合にはリーチ有りとされ、一致しない場合にはリーチ無しとなる（Ｓ１６０−４−７−９）。リーチ有りの場合には、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目の変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている高確率状態中のリーチ外れテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ｅとする）（Ｓ１６０−４−７−１０）。また、Ｓ１６０−４−７−９でリーチ無しと判断された場合、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）における一番目の変動態様乱数値がロードされ、予め設定されている高確率状態中の外れテーブルにおける変動態様乱数値と一致する変動態様が選択される（ここで選択された変動態様を変動態様Ｆとする）（Ｓ１６０−４−７−１１）。変動態様の選択後、選択した変動コマンドを送信バッファに格納し（Ｓ１６０−４−７−１２）、その他必要な処理（Ｓ１６０−４−７−１３）が行われた後、この特別図柄変動態様選択処理（Ｓ１６０−４−７）が終了する。なお、ここで選択された変動コマンドはサブ制御基板４２へ送信される。
【００４３】
特別図柄変動態様選択処理（Ｓ１６０−４−７）に次いで特別図柄乱数シフト処理（Ｓ１６０−４−８）が行われる。特別図柄乱数シフト処理（Ｓ１６０−４−８）では、主制御基板４０のＲＡＭにおける特別図柄変動保留球数のデータ記憶領域において、ロード（読み出し）順位一位のアドレスの記憶領域に記憶されていた特別図柄主要乱数値（大当たり乱数値、リーチ乱数値、変動態様乱数値）等のデータが、先の処理でロードされて空席となることに起因して、ロード順位が二位以降のアドレスに記憶されている特別図柄主要乱数値（大当たり乱数値、リーチ乱数値、変動態様乱数値）等のデータについて、ロード順位を一つずつ繰り上げるアドレスのシフトが行われる。具体的には、図１３に示すように、まず当否判定手段の判定結果に基づく特別図柄（識別情報）の変動表示が行われることにより、主制御基板４０のＲＡＭに記憶されていた特別図柄変動保留球数から１減算（例えば保留球数２のものは１にされ、３のものは２にされる等）され（Ｓ１６０−４−８−１）、次に各保留に対応するデータが各保留から１減算した保留のＲＡＭアドレスにシフトされ（Ｓ１６０−４−８−２）、続いて最下位（ロード順位が最後、本実施例では４個目）の保留に対応するＲＡＭアドレスに０がセットされる（Ｓ１６０−４−８−３）。
【００４４】
特別図柄乱数シフト処理（Ｓ１６０−４−８）に次いで、特別図柄変動開始設定処理（Ｓ１６０−４−９）が行われる。特別図柄変動開始設定処理（Ｓ１６０−４−９）では、特別図柄の変動開始に必要なコマンドの準備などの設定が行われる。特別図柄変動開始設定処理（Ｓ１６０−４−９）の次に、特別動作ステータスが２に設定され（Ｓ１６０−４−１０）、待機中が解除され（Ｓ１６０−４−１１）、特別図柄待機処理（Ｓ１６０−４）が終了する。
【００４５】
特別動作ステータスが２の場合に行われる変動中処理（Ｓ１６０−５）では図１４に示すように、特別動作タイマ判定処理が行われる（Ｓ１６０−５−１）。詳しくは、特別図柄の変動時間（変動態様の変動時間）が終了したか否か（動作タイマ＝０か否か）が判断され（Ｓ１６０−５−２）、変動時間が終了していなければこの変動中処理（Ｓ１６０−５）が終了する。一方、変動時間が終了していれば変動停止コマンドがセットされる（Ｓ１６０−５−３）。続いて特別動作ステータスが３にセットされ（Ｓ１６０−５−４）、その他必要な処理（Ｓ１６０−５−５）が行われた後に、この変動中処理（Ｓ１６０−５）が終了する。
【００４６】
特別動作ステータスが３の場合に行われる特別図柄確定処理（Ｓ１６０−６）では図１５に示すように、まず大当たりフラグがＯＮ（「１」）か否か、すなわち大当たりか否か判断される（Ｓ１６０−６−１）。大当たりフラグがＯＮ、すなわち大当たりの場合には、ラウンドカウンタがセットされ（Ｓ１６０−６−２）、特別動作ステータスが４にセットされた（Ｓ１６０−６−３）後、この特別図柄確定処理（Ｓ１６０−６）が終了する。ラウンドカウンタは、成立した大当たりのラウンド数に対応した値にセットされる。一方、Ｓ１６０−６−１で大当たりフラグがＯＦＦ、すなわち外れと判断された場合には、特別動作ステータスが１にセットされ（Ｓ１６０−６−４）、この特別図柄確定処理（Ｓ１６０−６）が終了する。
【００４７】
特別動作ステータスが４の場合に行われる特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）では、図１６に示すように、確変（高確率状態）フラグがＯＦＦされ（Ｓ１６０−７−１）、大当たりのオープニングが実施されたか否か（これから大当たりが始まる旨の映像が表示装置３０に表示されたか否か等）が確認される（Ｓ１６０−７−２）。大当たりのオープニングが実施されたことが確認された後、大当たり終了フラグがＯＮ（「１」）か否か判断され（Ｓ１６０−７−３）、大当たり終了フラグがＯＮではない、すなわち大当たり遊技終了ではない場合には現在大入賞口３４が開放中か否か判断され（Ｓ１６０−７−４）、開放中ではなく閉鎖中の場合には大入賞口３４の開放時間か否か判断される（Ｓ１６０−７−５）。大入賞口３４の開放時間の場合には大入賞口３４の開放処理が行われ（Ｓ１６０−７−６）、その後にこの特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。それに対して大入賞口３４の開放時間となっていないときには、この特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。
【００４８】
一方、Ｓ１６０−７−４で大入賞口３４が開放中と判断されると、大入賞口３４に１０個遊技球が入賞（Ｓ１６０−７−７）、若しくはラウンド終了時間経過（Ｓ１６０−７−８）の何れかであるか否か判断され、何れでもない場合にはそのままこの特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。それに対して大入賞口３４に１０個遊技球が入賞、若しくはラウンド終了時間経過の何れかである場合には、大入賞口閉鎖処理（Ｓ１６０−７−９）とラウンドカウンタの値から１減算する処理（Ｓ１６０−７−１０）が行われる。なお、大入賞口閉鎖処理（Ｓ１６０−７−９）では、大入賞口３４閉鎖のコマンドが出力バッファにセットされる。続いて、ラウンドカウンタが０か否か判断され（Ｓ１６０−７−１１）、ラウンドカウンタが０ではない場合には、そのままこの特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了し、それに対してラウンドカウンタが０の場合には、大当たり終了処理（Ｓ１６０−７−１２）が行われる。その後、大当たり終了フラグがＯＮにされ（Ｓ１６０−７−１３）、この特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。
【００４９】
それに対し、上記Ｓ１６０−７−１で大当たり終了フラグがＯＮ（「１」）、すなわち大当たり終了と判断されると、大当たり終了フラグをＯＦＦにセットする処理（Ｓ１６０−７−１４）と、大当たりフラグをＯＦＦにする処理（Ｓ１６０−７−１５）が行われ、大当たりが確率変動大当たりか否かが確認される（Ｓ１６０−７−１６）。確率変動大当たりの場合には、再び確率変動フラグがＯＮにされる（Ｓ１６０−７−１７）。その後、特別動作ステータスが１にセットされ（Ｓ１６０−７−１８）、この特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。一方、上記Ｓ１６０−７−１６において、確率変動大当たりでない場合には、確率変動フラグをＯＮにすることなく（ＯＦＦにした状態のまま）、この特別電動役物処理（Ｓ１６０−７）が終了する。
【００５０】
特別動作処理（Ｓ１６０）の次に保留球数処理（Ｓ１７０）が行われる。保留球数処理（Ｓ１７０）では、図１７に示すように現在の特別図柄、普通図柄の保留球数がロードされ（Ｓ１７０−１）、保留球数が特図保留コマンド、普図保留コマンドとして出力バッファにセットされる（Ｓ１７０−２）。この保留球数処理（Ｓ１７０）により、主制御基板４０のＲＡＭ（保留記憶手段）の保留球数に関する記憶がサブ制御基板４２へ出力されるようにセットされる。
【００５１】
前記保留球数処理（Ｓ１７０）の次に電源断監視処理（Ｓ１８０）が行われる。電源断監視処理（Ｓ１８０）では、図１８に示すように、電源断信号が入力したか判断され（Ｓ１８０−１）、入力していなければこの電源断監視処理（Ｓ１８０）が終了する。一方、電源断信号が入力している場合には、現在のデータ（状態）が前記主制御基板２００のＲＡＭに記憶され（Ｓ１８０−２）、次いで電源断フラグがＯＮにされ（Ｓ１８０−３）、その後ループ処理が行われる。また、電源投入時は設定値を確認し、大当たり時に設定される演出ステータス値をサブ制御基板４２に送信するように構成されている。
【００５２】
その他の処理（Ｓ１９０）では、遊技に必要なその他の様々な処理が必要に応じて行われる。
【００５３】
（サブ制御基板が行う制御処理）
次に、上記サブ制御基板４２（演出制御手段）が行う制御処理について説明する。上記サブ制御基板４２が行うサブ制御メイン処理（Ｓ２００）では、図１９に示すように、電源が投入されたことを契機として、ＣＰＵ初期化処理が行われる（Ｓ２０１）。詳しくは、スタックの設定、ＣＰＵの設定、ＳＩＯ、ＣＴＣの設定等が行われる。そして、サブ制御基板４２のＲＡＭの内容が正常であるか否かを判断する処理が行われる（Ｓ２０２）。ＲＡＭの内容が正常でない場合には、ＲＡＭの初期化を行う（Ｓ２０３）。
【００５４】
その後、初期動作時間設定処理（Ｓ２０４）を行う。初期動作時間設定処理（Ｓ２０４）では、電源投入時に行われる初期動作が完了するまでに要する時間（例えば５秒）を設定する。初期動作は、電源投入後、遊技機１に備えられる各種入賞口を開閉する開閉部材（例えば開閉部材３２２ａ）や所定の演出を実行する役物３８等、モータやソレノイドといった磁気作用によって駆動する電気的駆動源を駆動源とする可動装置を動作させ、その動作を確認するものである。この可動装置の動作を制御する手段が本発明における可動制御装置に相当し、電源投入時にこの初期動作を実行するよう信号を送信する手段が初期動作手段に相当する。この初期動作時間が経過するまでの間に、役物３８等の可動装置の初期動作が完了する。この初期動作開始と同時に、磁気センサ２７は動作を開始するため（本実施形態の磁気センサ２７は遊技機１への電源投入によって磁気センサ本体に電源が供給されたタイミングで自動的に動作を開始するように構成されている）、当該初期動作が実行されているときにおける磁気状態を検出し、その磁気状態（磁気センサ２７が検知する磁気の大きさ）を一次基準値として記憶する。この一次基準値を記憶する手段が本発明における一次記憶手段に相当する。そして、これとともに磁気センサ２７によって検知する範囲を図２に示す第一検知範囲Ｓ１に設定した上で、当該第一検知範囲Ｓ１内における磁気状態の異常の有無を監視する。具体的には、第一検知範囲Ｓ１内において磁気センサ２７が検知する磁気の大きさと上記第一基準値との差が、予め定められた閾値（許容範囲）を超えているか否かを判定する（以下、当該一次基準値に基づく検知を単に一次検知と称することもある）。この一次検知を行う手段が本発明における一次検知手段に相当する。当該閾値を超えた場合には異常と判定し、閾値を超えない場合には正常と判定する。この判定手段が本発明における異常磁気判定手段に相当する。第一検知範囲Ｓ１は、遊技盤２６の平面方向で考えれば、磁気センサ２７を中心としたある大きさの円の内側の範囲であり、当該範囲の大きさは後述する第二検知範囲Ｓ２の大きさよりも小さい（円の大きさが小さい）。また、本実施形態の磁気センサ２７は、センサ本体に電源から電力が供給されたタイミングで自動的に磁気状態を記憶するように構成しているが、例えば制御装置からの信号に基づいて磁気状態を記憶するように構成してもよい。
【００５５】
初期動作時間設定処理の後、ウォッチドッグタイマカウンタ１（２ｍｓ用）ウォッチドッグタイマカウンタ２（１０ｍｓ用）の初期化を行う（Ｓ２０５）。ウォッチドッグタイマカウンタの初期化後、割り込みを禁止した上で（Ｓ２０６）、各種演出や各種図柄乱数等の更新処理を行う（乱数シード更新；Ｓ２０７）。更新処理後、割り込みを許可して（Ｓ２０８）ループ処理が行われる。このループ処理では、受信割り込み処理（Ｓ３００）、２ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ４００）、および１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）が行われる。
【００５６】
図２０に示す受信割り込み処理（Ｓ３００）は、主制御基板４０からのコマンド（制御信号）を受信するための処理である。受信割り込み処理（Ｓ３００）では、まず上記主制御基板４０からのストローブ（ＳＴＢ）信号がＯＮか確認され（Ｓ３０１）、ストローブ信号がＯＮ、すなわち外部ＩＮＴ入力部にストローブ信号が入力されると、上記主制御基板４０から出力されたコマンド（制御信号）の受信およびＲＡＭへの格納が行われる（Ｓ３０２）。
【００５７】
一方、ストローブ信号がＯＮになっていなければ、ＲＡＭ初期化コマンドまたは客待ちコマンドを受信したかどうかが確認される（Ｓ３０３）。ＲＡＭ初期化コマンドは、遊技機１に備えられているＲＡＭクリアボタン（図示せず）が操作され、ＲＡＭがクリアされた場合にサブ制御基板４２が主制御基板４０から受信する信号である。具体的には、ＲＡＭの初期化は、ＲＡＭクリアボタンを操作しながら電源を投入することにより行う。この操作によってＲＡＭの初期化が完了した場合に、サブ制御基板４２はＲＡＭ初期化コマンドを受信するように構成されている。客待ちコマンドは、遊技が所定時間行われず（発射ハンドル２２が所定時間操作されず）、遊技機が待機状態に移行した場合（上記Ｓ１６０−４−４の処理が実行された場合）にサブ制御基板４２が主制御基板４０から受信する信号である。このＲＡＭ初期化コマンドまたは客待ちコマンドを受信している場合には、二次記憶準備処理（Ｓ３０４）に移行する。
【００５８】
図２１に示す二次記憶準備処理では、まず上記Ｓ２０４の初期動作時間設定処理において設定した初期動作時間（例えば５秒）が経過したか否かを判断する（Ｓ３０４−１）。初期動作時間が経過していない場合には、役物３８等の駆動装置の初期動作が完了していない、完了していてもソレノイドやモータ等の駆動源による磁気の乱れが残存しているとみなし、二次記憶準備処理は終了する。つまり、第一検知範囲Ｓ１内における異常の有無の監視を継続する。一方、初期動作時間が経過している場合には、客待ち待機中であるか否かを確認する（Ｓ３０４−２）。具体的には、表示装置３０に客待ち画面（待機画面）が表示されているか否かを確認する。客待ち待機中でない場合には二次記憶準備処理は終了する。客待ち待機中である場合には磁気センサ２７の二次記憶処理が未実行状態（デフォルト状態）であるか否か（Ｘ＝ＯＦＦかどうか）を確認する（Ｓ３０４−３）。二次記憶処理が未実行状態（二次基準値が記憶されていない状態）でない場合、すなわち既に二次基準値の記憶が開始可能な状態である（Ｘ＝ＯＮ１）、記憶を実行中である（Ｘ＝ＯＮ２）、記憶が完了している（Ｘ＝ＯＮ３）のいずれかの状態である場合には二次記憶処理の準備をする必要がないということになり、二次記憶準備処理は終了する。二次記憶処理が未実行状態である場合には、二次基準値の記憶を開始可能な状態とする（Ｘ＝ＯＮ１に設定する）（Ｓ３０４−４）。つまり、初期動作時間が経過し、かつ客待ち待機中である場合となってはじめて、二次記憶処理が開始可能な状態とされる。
【００５９】
図２２に示す２ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ４００）は、２ｍｓ経過の度に行われる処理であり、１０ｍｓタイマ割り込み処理より優先して行われる。ランプデータデータ出力処理（Ｓ４０１）では、ランプ点灯パターンや音声パターンなどを２ｍｓ毎に作成して出力する。ＳＷ／駆動出力処理（Ｓ４０２）では、駆動物（役物３８等）を駆動するための制御データを作成して出力する。入力処理（Ｓ４０３）では、操作ボタン２４の操作によるエッジデータやレベルデータ（スイッチデータ）の作成を行う。ウォッチドッグタイマカウンタ１初期化処理（Ｓ４０４）では、ウォッチドッグタイマ１を初期化する。
【００６０】
図２３に示す１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）は、１０ｍｓ経過する度に行われる処理である。メインコマンド解析処理（Ｓ５０１）として、受信割り込み処理で主制御基板４０から受信したコマンド（制御信号）を解析し、コマンドに対応した処理を行う。詳細は省略するが、例えば、メインコマンドに基づいて実行する演出を決定する処理等を行う。メインコマンド解析処理（Ｓ５０１）の後、出力するランプデータの作成を行うランプ処理（Ｓ５０２）、およびその他の処理（Ｓ５０３）を行った後、磁気センサ検知処理（Ｓ５０４）を行う。
【００６１】
図２４に示す磁気センサ検知処理（Ｓ５０４）では、扉（前面枠１２およびガラス枠１４）が開放された状態から閉鎖されたか否かが検出される（Ｓ５０４−１）。電源の投入は、扉が開放された状態で行われることが多いため、その扉が開放した状態から変化があったか否かを検出する。１０ｍｓごとにこの処理を行う手段が、遊技機の状態が変化したか否かを一定期間ごとに検出する本発明における遊技機状態判定手段に相当する。つまり、本実施形態では、扉の開閉状態を遊技機の状態として設定し、扉が開状態の場合に遊技機の状態に変化がない（扉が閉状態となった場合に遊技機の状態に変化があった）と判定するようにしている。なお、扉の開閉状態以外の状態を遊技機の状態の変化の基準として設定してもよい。また、扉の開閉状態に加えてそれ以外の状態を変化の基準として設定し、それら全てに変化がなかった場合に遊技機の状態に変化がないと判定するようにしてもよい。例えば、客待ち状態中の変化を遊技機の状態の変化の基準として設定してもよい。
【００６２】
扉が閉鎖されず開放が維持されている場合、すなわち遊技機の状態に変化がないと判定されるときには、磁気センサ２７の二次記憶処理をデフォルト状態に、記憶タイマ（磁気センサ２７が磁気状態を記憶するために必要な時間をカウントするセンサ）を０に、記憶ポート（磁気センサ２７が磁気状態を記憶するためのポート）をＯＦＦにする（Ｓ５０４−２）。
【００６３】
一方、扉が閉鎖された場合、すなわち遊技機の状態に変化があったことが検出された場合には、磁気状態が異常であるか否かを判断する（Ｓ５０４−３）。異常が検知された場合には、二次基準値の記憶が開始可能な状態であるか、または実行中であるかどうか（Ｘ＝ＯＮ１またはＯＮ２であるかどうか）が判断される（Ｓ５０４−４）。二次基準値の記憶が開始可能な状態である、または実行中である場合には、未だ二次基準値の記憶が完了していないということであり、上記磁気状態の異常は一次検知によるものであるということになる。そのため、磁気センサ２７の記憶処理をデフォルト状態（Ｘ＝ＯＦＦ）に、記憶タイマ（詳細は後述）を０に、記憶ポート（磁気センサ２７が磁気状態を記憶するためのポート）をＯＦＦにする（Ｓ５０４−５）。その後、異常報知処理（詳細は後述）を実行する（Ｓ５０４−６（Ｓ６００））。一方、二次基準値の記憶が開始可能な状態ではない、または実行中でない（Ｘ＝ＯＮ１、ＯＮ２でない）場合には、磁気センサ２７の二次記憶処理が未実行状態（デフォルト状態）であるかどうか（Ｘ＝ＯＦＦであるかどうか）が確認される（Ｓ５０４−７）。当該未実行状態（Ｘ＝ＯＦＦ）である場合には、未だ二次基準値の記憶が完了していないということであり、上記磁気状態の異常は一次検知によるものであるということになる。その後、異常報知処理（詳細は後述）を実行する（Ｓ５０４−６（Ｓ６００））。一方、磁気センサ２７の二次記憶処理が未実行状態（Ｘ＝ＯＦＦ）でない、すなわち二次基準値の記憶が完了している状態（Ｘ＝ＯＮ３）である場合には、詳細を後述する二次記憶詳細処理Ｓ５０４−１１内で異常報知処理が実行される。
【００６４】
上記Ｓ５０４−３において異常磁気が検知されていないとき、または異常磁気が検知されて上記Ｓ５０４−４〜Ｓ５０４−７の処理を実行した後、二次記憶処理が完了しているかどうか（Ｘ＝ＯＮ３であるかどうか）を確認する（Ｓ５０４−８）。二次記憶処理が完了している場合には、扉の開放が維持されているかどうかを再度確認する（Ｓ５０４−９）。扉が開放中である場合には、詳細を後述する検知タイマ、被検知タイマ、および報知フラグを全てリセットする（検知タイマおよび被検知タイマは０に、報知フラグはＯＦＦにセットする）（Ｓ５０４−１０）。すなわち、上記Ｓ５０４−３において異常が検知された場合であっても扉が開放中であれば異常報知を行わないようにしている。そうすることで扉の開放によって発生した磁気の乱れを異常として検知したとしても異常報知が行われることはないから、誤報知の発生を抑制することが可能となる。上記Ｓ５０４−８において二次記憶処理が完了していない場合、上記Ｓ５０４−９において扉が開放中でない場合、上記Ｓ５０４−１０においてリセットが完了した場合には、二次記憶詳細処理（Ｓ５０４−１１）を行う。
【００６５】
図２５に示す二次記憶詳細処理（Ｓ５０４−１１）では、まず、二次基準値の記憶が開始可能な状態かどうか（Ｘ＝ＯＮ１であるかどうか）が判断される（Ｓ５０４−１１−１）。当該記憶が開始可能な状態である場合には、二次基準値の記憶の実行を開始する。具体的には、Ｘ＝ＯＮ２に設定した上で、記憶が完了するまでの時間を測定する記憶タイマを１００ｍｓに、磁気状態の異常を報知したかどうかの報知フラグをＯＦＦに、磁気状態が異常であると判断するまでの時間を測定する検知タイマを０に、報知フラグをＯＦＦにするまでの時間を測定する非検知タイマを０にセットする（Ｓ５０４−１１−２）。
【００６６】
上記Ｓ５０４−１１−１においてＸ＝ＯＮ１でない場合には、二次基準値の記憶が実行されている状態かどうか（Ｘ＝ＯＮ２であるかどうか）が判断される（Ｓ５０４−１１−３）。Ｘ＝ＯＮ２である場合または上記Ｓ５０４−１１−２の処理が行われた後、上記Ｓ５０４−１１−２において初期値１００ｍｓに設定された記憶タイマが０になったかどうかが判断される（Ｓ５０４−１１−４）。記憶タイマが０になっているということは、記憶を開始してから記憶が完了するまでの時間１００ｍｓが経過したということであるから、二次基準値の記憶が完了している状態を設定する（Ｘ＝ＯＮ３に設定する）とともに、記憶ポートがＯＦＦに設定される（Ｓ５０４−１１−５）。一方、記憶タイマが０になっていない場合には、記憶を開始してから記憶が完了するまでの時間が経過していないということになるから、タイマの減算を行う。本処理は、１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）の一部を構成するものであるから、記憶タイマの数値を１０ｍｓ減算する（Ｓ５０４−１１−６）。そして、１０ｍｓ減算後の記憶タイマの値（残り時間）が６０ｍｓを超えるかどうかが判断され（Ｓ５０４−１１−７）、６０ｍｓを超えている場合（記憶を開始してから４０ｍｓが経過していない場合）には、記憶ポートをＯＦＦにする（Ｓ５０４−１１−８）。一方、６０ｍｓ以下である場合には、記憶ポートをＯＮにする（Ｓ５０４−１１−９）。これは、本実施形態で用いる磁気センサ２７が、実際に記憶を実行する時間として４０ｍｓが、記憶を維持させる（定着、安定させる）ための時間として６０ｍｓが必要であるために行われるものである。センサの仕様が異なる場合には、当該工程を適宜変更または削除すればよい。つまり、上記Ｓ５０４−１１−４〜Ｓ５０４−１１−９の工程は、磁気センサ２７に二次基準値を記憶させるための時間を確保するものであればよい。なお、この二次基準値を記憶する手段が本発明における二次記憶手段に相当する。このように、Ｘ＝ＯＮ２である場合には、Ｘ＝ＯＮ３の設定または記憶タイマの減算を行い、二次記憶詳細処理は終了する。
【００６７】
上記Ｓ５０４−１１−３においてＸ＝ＯＮ２でない場合には、磁気センサ２７が二次基準値の記憶が完了しているかどうか（Ｘ＝ＯＮ３であるかどうか）が判断される（Ｓ５０４−１１−１０）。Ｘ＝ＯＮ３である場合には、磁気センサ２７の検知範囲を上記第一検知範囲Ｓ１よりも大きい第二検知範囲Ｓ２（図２参照）に設定する（Ｓ５０４−１１−１１）。このように第二検知範囲Ｓ２が設定された以降は、第二検知範囲Ｓ２内において磁気センサ２７が検知する磁気の大きさと上記第二基準値との差が、予め定められた閾値（許容範囲）を超えているか否かを異常磁気判定手段が判定することになる（以下、当該二次基準値に基づく検知を単に二次検知と称することもある）。この二次検知を行う手段が本発明における二次検知手段に相当する。Ｘ＝ＯＮ３に設定後、異常報知処理（詳細は後述）を行い（Ｓ５０４−１１−１２（Ｓ６００））、二次記憶詳細処理は終了する。一方、上記Ｓ５０４−１１−１０においてＸ＝ＯＮ３ではない場合には、Ｘ≠ＯＮ１、ＯＮ２、ＯＮ３である、すなわち一次検知が継続されるＸ＝ＯＦＦの状態であるということになるから、二次記憶詳細処理は終了する。
【００６８】
上記Ｓ５０４−６またはＳ５０４−１１−１２で実行される異常報知処理（Ｓ６００）では、図２６に示すように、まず異常磁気の検知があったか否かが判断される（Ｓ６００−１）。なお、当該工程における異常には、一次検知によるものおよび二次検知によるものの両方を含む。異常磁気の検知があった場合には、報知フラグがＯＮかどうかが判断される（Ｓ６００−２）。報知フラグがＯＮである場合には、検知タイマおよび非検知タイマを０にセット（０になっていることを確認）し（Ｓ６００−３）、異常報知処理を終了する。
【００６９】
一方、報知フラグがＯＮでない場合には、当該異常磁気が意図的なものかどうかを判断するための一連の工程を実行する。まず、検知タイマが１００ｍｓに達したかどうかが判断される（Ｓ６００−４）。検知タイマが１００ｍｓに達していない場合には、検知タイマに１０ｍｓを加算する操作を行い（Ｓ６００−５）、異常報知処理を終了する。当該工程は、異常磁気が検知され続けていれば１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）の度に実行されるものであるから、当該工程で１０ｍｓが加算されていくことにより検知タイマは１００ｍｓに達する。このようにして検知タイマが１００ｍｓに達したときに、報知フラグがＯＮにセットされる（Ｓ６００−６）。つまり、上記閾値を超える磁気の検出が少なくとも１００ｍｓ続いたことをもって、異常状態であると判断する。このような工程を経ることにより、偶発的に発生した磁気を異常として判断してしまうことを抑制することが可能となる。検知タイマが１００ｍｓに達した場合には、報知フラグがＯＮにセットされるとともに、検知タイマおよび非検知タイマは０にセット（リセット）される（Ｓ６００−６）。
【００７０】
報知フラグをＯＮにセットした後、上記Ｓ６００−１において検知された異常磁気が一次検知によるものかどうかが判断される（Ｓ６００−７）。一次検知による異常である場合には、表示装置３０に異常が発生している旨表示する（Ｓ６００−８）。一方、一次検知による異常でない、すなわち二次検知による異常である場合には、表示装置３０に異常が発生している旨表示するとともに、スピーカ１８を介して警告音を発生させる（Ｓ６００−９）。このように本実施形態では、一次検知によって異常が検知された場合の報知態様と、二次検知によって異常が検知された場合の報知態様とを異ならせている。具体的には、一次検知に基づく報知は、初期動作時に駆動するモータやソレノイドの影響を受けたために異常と判断されている可能性があることから相対的に穏やかな態様とし、二次検知に基づく報知は、初期動作時に駆動するモータやソレノイドの影響がない状態で発生する異常であって意図的な不正行為による異常である可能性が高いことから相対的に激しい（警告音によって周囲に居る人がすぐに異常の発生を認識できるような）態様としている。なお、このように表示や音によって以上を報知する手段が本発明における報知手段に相当する。このような異常報知後、詳細を後述する磁気検知回数更新処理（Ｓ６００−１０）を実行し、異常報知処理は終了する。
【００７１】
本実施形態では、二次検知による異常が発生した場合には、上記警告音を含む相対的に激しい報知を実行するとともに、遊技動作を停止する。つまり、遊技機のリセット等を実行しない限り、それ以上遊技を続けることができないように（大当たりの抽選を受けられないように）する。これに対し、一次検知による異常が発生した場合には、駆動するモータやソレノイドの影響を受けたためであることが考えられ、その後当該異常が解消される可能性があるため、遊技動作を停止しない。
【００７２】
しかし、一次検知による異常も意図的な不正行為によって発生する可能性がある。そのような場合には、表示装置３０に異常が発生している旨表示するだけではその不正が見逃されてしまう可能性があるため、所定時間を超える一次検知による異常の継続が認められた場合には、当該所定時間を超える前と超えた後で異常の報知態様を異ならせるようにするとよい。なお、ここでいう「報知態様が異なる」には、所定時間を超える前に行われる報知態様の一部または全部と、所定時間を超えた後に行われる報知態様の一部が重複する構成も含まれる。例えば、一次検知による異常と判定されてからの異常状態の経過時間を計測するタイマ（本発明における異常時間計測手段に相当する）を備え、そのタイマによって計測される時間が上記所定時間を超えるまで異常状態の継続が認められた場合には、表示装置３０への表示に加え、遊技機１に設けられた各種ライトを激しく点滅させるようにする。つまり、所定時間を超える前よりも超えた後の報知の態様を音や光等を用いて激しくする（より認識しやすい態様にする）ことにより、不正行為によって異常が発生しているのではないかということを周囲が認識できるようにしている。
【００７３】
一方、上記Ｓ６００−１において異常磁気を検知していないと判断される場合には、報知フラグがＯＮかどうかが判断される（Ｓ６００−１１）。報知フラグがＯＮでない場合には、報知フラグをＯＦＦにし（ＯＦＦを維持し）、検知タイマおよび非検知タイマを０にセットする（維持する）（Ｓ６００−１２）。これに対し報知フラグがＯＮである場合には、非検知タイマが１００ｍｓを超えたかどうかが判断される（Ｓ６００−１３）。１００ｍｓを超えていない場合には、非検知タイマに１０ｍｓが加算され（Ｓ６００−１４）、異常報知処理は終了する。当該１０ｍｓの加算工程は、異常磁気が検出されずに報知フラグがＯＮに維持されていれば１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）が発生する度に実行されるものであるから、当該工程で１０ｍｓが加算され続けていくと検知タイマは１００ｍｓを超える。この加算操作により検知タイマが１００ｍｓを超えると、報知フラグはＯＦＦにされる。つまり、ある異常磁気を検出したことにより一旦ＯＮになった報知フラグは、その異常磁気が検出されない状態となった後、１００ｍｓを経過したときにＯＦＦになるように設定されている。このように１００ｍｓの計測を経て報知フラグをＯＦＦにした後、異常報知処理は終了する。
【００７４】
上記Ｓ６００−１０で実行される図２７に示す磁気検知回数更新処理は、異常磁気を検出した回数を記憶するための処理である。まず、ＲＡＭに記憶している過去の異常磁気の発生回数を読み出す（ロードする）（Ｓ６００−１０−１）。そして、この読み出した発生回数に１加算して得られた値をＲＡＭに書き込む（Ｓ６００−１０−２、Ｓ６００−１０−３）。この値が現時点での異常磁気の発生回数となる（この異常磁気の発生回数を記憶する手段が本発明における磁気異常回数記憶手段に相当する）。この異常磁気の発生回数は、所定の操作によって読み出すことができる。例えば、図２８（ａ）に示すように表示装置３０に待機画面が表示されているときに特定のボタンを押すことにより、図２８（ｂ）に示すように表示装置３０に異常の発生回数が表示される構成とすればよい。なお、本実施形態では、一次検知による異常と二次検知による異常を合わせたものを磁気検知回数として記憶させるが、一次検知による異常と二次検知による異常とを区別して記憶させる構成としてもよい。このような異常磁気の発生回数を記憶し、所定の操作によって表示する手段を設ければ、遊技機１の設置店はいつでも異常の発生回数を確認することが可能となる。
【００７５】
以上説明した磁気センサ検知処理を経て、１０ｍｓタイマ割り込み処理（Ｓ５００）を終了する。
【００７６】
以上説明した本実施形態にかかる遊技機１における異常磁気の検出の流れをまとめると、次の通りになる。
【００７７】
１）駆動するモータやソレノイドの影響を受けている可能性がある電源投入時（初期動作時）における磁気状態を基準値（一次基準値）とする一次検知を行う。電源投入時には、自動的に初期動作時間設定処理（Ｓ２０４）が実行され、初期動作のために必要な時間が設定されるとともに、当該時間内に初期動作、一次基準値および第一検知範囲Ｓ１の設定が行われ、当該時間経過後（二次検知が開始するまで）一次検知が開示される。一次検知は、図２に示す相対的に小さい（第二検知範囲Ｓ２よりも小さい）第一検知範囲Ｓ１について行う。
【００７８】
２）扉が閉鎖されない、すなわち遊技機の状態に変化がないとされる場合（Ｓ５０４−１「ＹＥＳ」）、または扉は閉鎖され遊技機の状態に変化があったにも拘わらず上記一次検知による異常が検知された場合（Ｓ５０４「ＮＯ」→Ｓ５０４−３「ＹＥＳ」）には、二次検知に突入することなく、一次検知が継続される（上記二条件が成立する場合、二次記憶詳細処理（Ｓ５０４−１１）においてＸ＝ＯＮ３まで移行しないため）。扉が閉鎖されないということは、電源が投入されてから、通常の遊技が開始されるに至る準備ができていないということであるから一次検知を継続すれば十分である。また、一次検知による異常が検知された場合には、一次検知を継続する（一次検知による異常を報知する）ことによって遊技機の状態の改善や原因の調査を促す。
【００７９】
３）扉が閉鎖される、すなわち遊技機の状態に変化があり（Ｓ５０４−１「ＮＯ」）、かつ上記一次検知による異常が検知されていない場合（Ｓ５０４−３「ＮＯ」）には、扉が閉鎖されたことにより遊技が開始される可能性があるし、駆動するモータやソレノイド等の電気的駆動源の影響を加味した判断では異常が検知されなかったということであるため、二次検知に移行する（上記条件が成立する場合、二次記憶詳細処理（Ｓ５０４−１１）においてＸ＝ＯＮ３まで移行するため）。具体的には、遊技機の現在の磁気状態（上記モータやソレノイドの影響（初期動作の影響）を受けていない状態）を基準値（二次基準値）とする二次検知を行う。二次検知は、図２に示す相対的に大きい（第一検知範囲Ｓ１よりも大きい）第二検知範囲Ｓ２について行う。二次検知により異常が検知された場合は、当該異常の原因が意図的な不正行為に基づく可能性が高いため、一次検知による異常よりも激しい報知を実行する。
【００８０】
以上説明したように、本実施形態にかかる遊技機１では、駆動するモータやソレノイド等から発生する磁気の影響を受ける可能性がある初期動作時には、その時点での磁気状態を一次基準値として設定した上で、この一次基準値に基づき第一検知範囲Ｓ１の検知（一次検知）を行う。そして、扉の閉鎖（遊技状態の変化）および一次検知による異常が発生していないことを契機として、その時点での磁気状態を二次基準値として設定した上で、この二次基準値に基づき第二検知範囲Ｓ２の検知（二次検知）を行う。つまり、モータやソレノイドの影響が排除されていない可能性があるときにはその影響を加味した基準値を、モータやソレノイドの影響が排除された可能性が高いときには新たにその時点での基準値を設定する構成であるため、磁石を用いた不正の検出の確実性を向上させることが可能である。
【００８１】
以上、本発明の実施の形態について詳細に説明したが、本発明は上記実施の形態に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の改変が可能である。
【符号の説明】
【００８２】
１  遊技機
２６  遊技盤
２７  磁気センサ
４２  サブ制御基板
Ｓ１  第一検出範囲
Ｓ２  第二検出範囲
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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