(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を照射する放射線源と、
放射線を検出する放射線検出素子がマトリックス状に配列された検出面を有する放射線検出器と、
放射線検出器から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、
縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されており、放射線検出器の検出面を覆うように設けられた放射線グリッドと、
放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させない状態で放射線源と放射線検出器との横方向の位置を変化させながら放射線グリッドの撮影を行って、放射線グリッドの影が映り込んだグリッド画像を複数枚記憶するグリッド画像記憶手段と、
放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させた状態で被検体の撮影を行って、被検体の透視像と放射線グリッドの吸収箔の影との両方が映り込んだ元画像を記憶する元画像記憶手段と、
前記元画像を基に生成した元画像プロファイルから被検体の透視像の成分しか含まない領域を抜き出し補間処理を施すことで推定プロファイルを生成し、前記元画像プロファイルから前記推定プロファイルを減算することで放射線グリッドの吸収箔の影の成分のみから構成される比較用プロファイルを生成するプロファイル生成手段と、
前記比較用プロファイルを用いて前記グリッド画像記憶手段に記憶されている複数のグリッド画像のうち、元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンに最も類似したものを選択する選択手段と、
選択手段によって選択されたグリッド画像を元に、元画像に写り込んだ吸収箔の影を消去する消去手段とを備え、
放射線源と放射線検出器とが標準位置にあるとき、放射線源から照射された放射線ビームが放射線グリッドに遮られることにより放射線検出器の検出面に現れる吸収箔の影の配列ピッチが放射線検出素子の横方向の配列ピッチの整数倍となっているとともに、吸収箔の影が放射線検出素子の横方向に隣接する放射線検出素子に跨らずに現れるように放射線グリッドと放射線検出器との位置が決められていることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線撮影装置において、
前記グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線源に対する放射線検出器の位置を横方向に変更させながら撮影されたものであることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の放射線撮影装置において、
前記グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線源と放射線グリッドとの間に何も載置しない状態で撮影されたものであることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２に記載の放射線撮影装置において、
前記グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線源と放射線グリッドとの間に散乱線を生じるファントムを載置した状態で撮影されたものであることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項５】
放射線を照射する放射線源と、
放射線を検出する放射線検出素子がマトリックス状に配列された検出面を有する放射線検出器と、
放射線検出器から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、
縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されており、放射線検出器の検出面を覆うように設けられた放射線グリッドと、
放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させない状態で放射線源と放射線検出器との横方向の位置を変化させながら放射線グリッドの撮影を行って、放射線グリッドの影が映り込んだグリッド画像を複数枚記憶するグリッド画像記憶手段と、
放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させた状態で被検体の撮影を行って、被検体の透視像と放射線グリッドの吸収箔の影との両方が映り込んだ元画像を記憶する元画像記憶手段と、
グリッド画像記憶手段に記憶されている複数のグリッド画像のうち、元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンに最も類似したものを選択する選択手段と、
選択手段によって選択されたグリッド画像を元に、元画像に写り込んだ吸収箔の影を消去する消去手段と、
画素値が２次元的に配列された画像を基に、画素値が放射線グリッドの横方向に１列に並んだプロファイルを生成するプロファイル生成手段とを備え、
放射線源と放射線検出器とが標準位置にあるとき、放射線源から照射された放射線ビームが放射線グリッドに遮られることにより放射線検出器の検出面に現れる吸収箔の影の配列ピッチが放射線検出素子の横方向の配列ピッチの整数倍となっているとともに、吸収箔の影が放射線検出素子の横方向に隣接する放射線検出素子に跨らずに現れるように放射線グリッドと放射線検出器との位置が決められており、
選択手段は、元画像から生成された元画像プロファイル、およびグリッド画像から生成されたグリッドプロファイルを用いてグリッド画像を選択することを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項６】
請求項５に記載の放射線撮影装置において、
前記プロファイル生成手段は、元画像プロファイルより元画像に放射線グリッドが写り込んでいないとしたときの推定プロファイルを生成し、
元画像プロファイルから推定プロファイルを減算することで比較用プロファイルを生成し、
選択手段は、比較用プロファイルに最も類似しているグリッドプロファイルを選抜することでグリッド画像を選択することを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項７】
請求項６に記載の放射線撮影装置において、
前記選択手段は、比較用プロファイルとグリッドプロファイルとの類似性を相関法により判別することを特徴とする放射線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被検体に放射線を照射することで透視像を取得する放射線撮影装置に係り、特に、被検体で生じた散乱放射線を除去する放射線グリッドを備えた放射線撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療機関には、放射線で被検体の透視画像を撮影する放射線撮影装置が備えられている。この様な放射線撮影装置５１は、図１５に示すように被検体Ｍを載置する天板５２と、放射線を照射する放射線源５３と、放射線を検出する放射線検出器５４とを備えている。
【０００３】
放射線検出器５４の放射線が入射する入射面（検出面）には、被検体Ｍで生じた散乱放射線を除去する放射線グリッド５５が備えられている。放射線グリッド５５は、細長状の吸収箔がブラインドのように配列して構成される。この吸収箔に散乱放射線が当たると、ほとんどの放射線は吸収箔に吸収され、放射線検出器５４に入射することがない。散乱放射線は、放射線グリッド５５により吸収されて除去される。
【０００４】
放射線グリッド５５が設けられることで、散乱放射線が除去された鮮明な透視画像が取得できる一方で、次のような問題が生じる。すなわち、放射線検出器５４に吸収箔の影が写り込んでしまうのである。すると、透視画像に画素値の暗い縞模様が写り込むことになり、これが透視画像の視認性を悪化する。
【０００５】
従来の放射線撮影装置には、この縞模様を画像処理により除く構成となっているものがある。すなわち、従来の放射線装置は、透視画像に周波数解析を行って、縞模様を除去するのである。透視画像に写り込んでいる縞模様は、複数の暗い線が一定の間隔で配列したものなので、透視画像を周波数解析すると、縞模様の成分は、ある一定の周波数に集合する。この周波数成分を除く処理を行った後、周波数逆変換を行うと、縞模様が除去された透視画像が取得される。この様な構成は、特許文献１に詳しい。
【０００６】
この様な縞模様の除去方法は、同期型の放射線グリッドにも利用できる。同期型の放射線グリッドについて説明する。放射線検出器５４の検出面には、放射線を検出する検出素子がマトリックス状に配列されている。放射線検出器５４に写り込む吸収箔の影のピッチが検出素子のピッチの整数倍になるように、吸収箔を配列して放射線グリッドを製造したものが同期型の放射線グリッドである（特許文献２参照）。放射線源と放射線検出器を標準位置に設定して同期型の放射線グリッドを用いると、検出素子のピッチと吸収箔の影のピッチとが干渉してモアレが発生することがないので、より吸収箔の影による画像の乱れが少ない透視画像が取得できる。同期型の放射線グリッドを用いても、目立たなくなっているとはいえ、透視画像に縞模様が現れることに違いはなく、これは周波数解析によって除かれることになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０００−８３９５１号公報
【特許文献２】特開２００２−２５７９３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、従来の放射線撮影装置によれば、次のような問題点がある。
すなわち、従来の放射線撮影装置によれば、透視画像に現れる縞模様を完全に除去することが難しい。図１５に示すように、放射線源５３と放射線検出器５４とがＣアーム５７に支えられている場合、Ｃアーム５７が回転することで、放射線源５３と放射線検出器５４とが互いの位置を保った状態で傾斜できる。この様な放射線撮影装置を用いて撮影を行う場合は、Ｃアーム５７を傾斜させながら撮影が行われることになる。Ｃアーム５７が撓んで、放射線源５３と放射線検出器５４との相対位置がわずかながらズレてしまう。すると、放射線検出器５４の検出面に現れる吸収箔の影の位置がシフトてしまう。
【０００９】
従来型放射線グリッドは吸収箔の間にグラファイト等のスペーサを挟んで吸収泊を整列させているが、このスペーサもある程度は放射線を吸収する。同期型の放射線グリッドの場合、隣接する吸収箔の間には何も設けられておらず中空となっており、放射線の吸収を少なくできる。一方、中空構造のために吸収箔５５ａが歪を持ち正確に直線状になっていない可能性がある。つまり、蛇行した吸収箔の影が放射線検出器５４の検出面に投影されることになる。それでも吸収箔の影は、検出素子の横方向の中央に位置しており、横方向に隣接する検出素子に跨らず、吸収箔の影は、透視画像において、画素一個分の幅を有する縦線となって現れる。
【００１０】
この状態から、Ｃアームを傾斜させて撮影を行ったとすると、吸収箔の影が横方向に移動する。すると、吸収箔の影は、蛇行しているので、影は部分的に検出素子を横方向から跨ったり跨らなかったりする。すると、透視画像には、吸収箔の影は、複雑な縞模様として現れる。この様な縞模様を周波数解析により除くのは困難である。縞模様が複雑になってしまい、周波数解析により画一に取り除くことが難しくなる。
【００１１】
本発明はこの様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、放射線グリッドの吸収箔の影が放射線検出器に写り込むことにより透視画像に重畳する縞模様を確実に取り除くことができる放射線撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は上述の課題を解決するために次のような構成をとる。
すなわち、本発明に係る放射線撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を検出する放射線検出素子がマトリックス状に配列された検出面を有する放射線検出器と、放射線検出器から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されており、放射線検出器の検出面を覆うように設けられた放射線グリッドと、放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させない状態で放射線源と放射線検出器との横方向の位置を変化させながら放射線グリッドの撮影を行って、放射線グリッドの影が映り込んだグリッド画像を複数枚記憶するグリッド画像記憶手段と、放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させた状態で被検体の撮影を行って、被検体の透視像と放射線グリッドの吸収箔の影との両方が映り込んだ元画像を記憶する元画像記憶手段と、元画像を基に生成した元画像プロファイルから被検体の透視像の成分しか含まない領域を抜き出し補間処理を施すことで推定プロファイルを生成し、元画像プロファイルから推定プロファイルを減算することで放射線グリッドの吸収箔の影の成分のみから構成される比較用プロファイルを生成するプロファイル生成手段と、比較用プロファイルを用いてグリッド画像記憶手段に記憶されている複数のグリッド画像のうち、元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンに最も類似したものを選択する選択手段と、選択手段によって選択されたグリッド画像を元に、元画像に写り込んだ吸収箔の影を消去する消去手段とを備え、放射線源と放射線検出器とが標準位置にあるとき、放射線源から照射された放射線ビームが放射線グリッドに遮られることにより放射線検出器の検出面に現れる吸収箔の影の配列ピッチが放射線検出素子の横方向の配列ピッチの整数倍となっているとともに、吸収箔の影が放射線検出素子の横方向に隣接する放射線検出素子に跨らずに現れるように放射線グリッドと放射線検出器との位置が決められていることを特徴とするものである。
【００１３】
［作用・効果］本発明の放射線撮影装置によれば、放射線検出器の検出素子の配列に同期した同期型の放射線グリッドが設けられている。すなわち、放射線グリッドの吸収箔の配列ピッチが放射線検出素子の配列ピッチを基に決められている。これにより、最も使用頻度が高い放射線源と放射線検出器とが標準位置にある場合に吸収箔の影の配列と、放射線検出素子の配列とが干渉してモアレを発生させることがないので、より視認性の高い放射線画像が生成できる。
【００１４】
しかしながら、この様な同期型の放射線グリッドは、吸収箔に歪みが発生しやすい。吸収箔の形状がイビツであると、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンを予測することが難しく、元画像から放射線グリッドの影を除去することが難しい。
【００１５】
そこで、本発明によれば、複数のグリッド画像を予め撮影しておいて、元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンに最も類似したグリッド画像を選択し、これを用いて元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンを消去するようになっている。本発明によれば、元画像にどのような形状の放射線グリッドの影が写りこんでいるかを予測して元画像から放射線グリッドの影のパターンを正確に除去することができる。
【００１６】
また、上述の放射線撮影装置において、グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線検出器に対する放射線源の位置を横方向に変更させながら撮影されたものであればより望ましい。
【００１７】
［作用・効果］上述の構成によれば、グリッド画像をより適切に撮影することができる。放射線源と放射線検出器との位置関係が横方向にズレると、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンは大きく変化する。そこで、上述の構成では、放射線検出器に対する放射線源の位置を横方向に変更させながらグリッド画像を撮影しておく。この様にすれば、元画像取得時に放射線源と放射線検出器との位置関係が横方向にズレたとしても、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンは、グリッド画像として既に撮影されたものから選択できる。したがって、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンを正確に予測することができる。
【００１８】
また、上述の放射線撮影装置において、グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線源と放射線グリッドとの間に何も載置しない状態で撮影されたものであればより望ましい。
【００１９】
［作用・効果］上述の構成によれば、グリッド画像をより適切に撮影することができる。上述のように構成すれば、グリッド画像には放射線グリッドの影のみが写り込んでいるので、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンを正確に表したものとなる。
【００２０】
また、上述の放射線撮影装置において、グリッド画像記憶手段に記憶されているグリッド画像は、放射線源と放射線グリッドとの間に散乱線を生じるファントムを載置した状態で撮影されたものとすることもできる。
【００２１】
［作用・効果］上述の構成によれば、グリッド画像をより適切に撮影することができる。元画像には、被検体から発生した散乱線の成分が含まれており、元画像に現れる放射線グリッドの影のパターンも散乱線の影響を受けて変化する。したがって、散乱線を発生させた状態でグリッド画像を撮影した方が元画像に現れる放射線グリッドの影をより正確に知ることができる場合がある。上述の構成によれば、散乱線の影響を考慮済みのグリッド画像を取得することができる。
【００２２】
また、本発明に係る放射線撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を検出する放射線検出素子がマトリックス状に配列された検出面を有する放射線検出器と、放射線検出器から出力された検出信号を基に画像を生成する画像生成手段と、縦方向に伸びた吸収箔が横方向に配列されており、放射線検出器の検出面を覆うように設けられた放射線グリッドと、放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させない状態で放射線源と放射線検出器との横方向の位置を変化させながら放射線グリッドの撮影を行って、放射線グリッドの影が映り込んだグリッド画像を複数枚記憶するグリッド画像記憶手段と、放射線源と放射線検出器との間に被検体を介在させた状態で被検体の撮影を行って、被検体の透視像と放射線グリッドの吸収箔の影との両方が映り込んだ元画像を記憶する元画像記憶手段と、グリッド画像記憶手段に記憶されている複数のグリッド画像のうち、元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンに最も類似したものを選択する選択手段と、選択手段によって選択されたグリッド画像を元に、元画像に写り込んだ吸収箔の影を消去する消去手段と、画素値が２次元的に配列された画像を基に、画素値が放射線グリッドの横方向に１列に並んだプロファイルを生成するプロファイル生成手段とを備え、放射線源と放射線検出器とが標準位置にあるとき、放射線源から照射された放射線ビームが放射線グリッドに遮られることにより放射線検出器の検出面に現れる吸収箔の影の配列ピッチが放射線検出素子の横方向の配列ピッチの整数倍となっているとともに、吸収箔の影が放射線検出素子の横方向に隣接する放射線検出素子に跨らずに現れるように放射線グリッドと放射線検出器との位置が決められており、選択手段は、元画像から生成された元画像プロファイル、およびグリッド画像から生成されたグリッドプロファイルを用いてグリッド画像を選択することを特徴とするものである。
【００２３】
［作用・効果］上述の構成は、グリッド画像の選択方法の詳細を表したものとなっている。すなわち、元画像とグリッド画像の類似判断は、画像そのものを用いるのではなく、画像に写り込む放射線グリッドの影の特徴を表したプロファイルを用いて行われる。プロファイルは、画素値が１列に並んだものであるので、プロファイル同士の比較は高速で行うことができる。したがって、元画像を連続的に撮影する検査においても、元画像に写り込む放射線グリッドの影を確実に除去させることができる。
【００２４】
また、上述の放射線撮影装置において、プロファイル生成手段は、元画像プロファイルより元画像に放射線グリッドが写り込んでいないとしたときの推定プロファイルを生成し、元画像プロファイルから推定プロファイルを減算することで比較用プロファイルを生成し、選択手段は、比較用プロファイルに最も類似しているグリッドプロファイルを選抜することでグリッド画像を選択すればより望ましい。
【００２５】
［作用・効果］上述の構成は、グリッド画像の選択方法の詳細を表したものとなっている。すなわち、元画像には、被検体像と放射線グリッドの影とが重なり合っている。元画像のプロファイルをそのままプロファイル同士の比較に用いると、元画像のプロファイルに重畳する被検体像の成分がプロファイルの類似性の判断を攪乱させてしまう。本発明はこの様な事情に鑑みて、元画像に被検体像が写り込んでいないとしたときの比較用プロファイルを元画像プロファイルから生成し、これをグリッドプロファイルとの比較に用いることで両プロファイルの類似性を判断する構成となっている。これにより、元画像に写り込む放射線グリッドの影をより確実に知ることができる。
【００２６】
また、上述の放射線撮影装置において、選択手段は、比較用プロファイルとグリッドプロファイルとの類似性を相関法により判別すればより望ましい。
【００２７】
［作用・効果］上述の構成は、両プロファイルの類似性の判断の具体的方法を表したものである。両プロファイルの相関係数を求める相関法により比較を行えば、元画像に写り込む放射線グリッドの影をより確実に知ることができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明の放射線撮影装置によれば、吸収箔の歪みが発生しやすい同期型の放射線グリッドを備えている。吸収箔の形状がイビツであると、元画像から放射線グリッドの影を除去することが難しい。そこで、本発明によれば、複数のグリッド画像を予め撮影しておいて、これらの中から適切なグリッド画像を選択し、選択されたグリッド画像を用いて元画像に写り込んだ放射線グリッドの影のパターンを消去するようになっている。本発明によれば、元画像から放射線グリッドの影のパターンを正確に除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】実施例１に係るＸ線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。
【図２】実施例１に係るＣアームの移動様式を説明する模式図である。
【図３】実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する斜視図である。
【図４】実施例１に係るＸ線グリッド、ＦＰＤ、Ｘ線管の位置関係を説明する模式図である。
【図５】実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する斜視図である。
【図６】実施例１に係るグリッド画像の取得方法を説明する模式図である。
【図７】実施例１に係るグリッド画像の取得方法を説明する模式図である。
【図８】実施例１に係るグリッド画像を説明する模式図である。
【図９】実施例１に係るグリッド画像を説明する模式図である。
【図１０】実施例１に係るグリッドプロファイルを説明する模式図である。
【図１１】実施例１に係る動作を説明するフローチャート図である。
【図１２】実施例１に係る比較用プロファイルの取得方法を説明する模式図である。
【図１３】実施例１に係る元画像を説明する模式図である。
【図１４】本発明の１変形例を説明する模式図である。
【図１５】従来構成のＸ線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。
【実施例１】
【００３０】
以降、本発明の実施例を説明する。実施例におけるＸ線は、本発明の放射線に相当する。
【００３１】
＜Ｘ線撮影装置の構成＞
実施例１に係るＸ線撮影装置１は、図１に示すように被検体Ｍを載置する天板２と、天板２の下側に設けられたＸ線を照射するＸ線管３と、天板２の上側に設けられたＸ線を検出するフラットパネル・ディテクタ（ＦＰＤ）４と、Ｘ線管３の管電流、管電圧を制御するＸ線管制御部６と、Ｘ線管３およびＦＰＤ４を支持するＣアーム７と、Ｃアーム７を支持する支柱８と、Ｃアーム７を移動させるＣアーム移動機構２１と、これを制御するＣアーム移動制御部２２とを備えている。Ｘ線管３は、本発明の放射線源に相当し、ＦＰＤ４は、本発明の放射線検出器に相当する。
【００３２】
Ｃアーム７は、Ｃアーム移動機構２１により、鉛直方向、水平方向に移動することもできれば回転することもできる。すなわち、Ｃアーム７は、図２（ａ）に示すように湾曲したＣアーム７が沿う仮想円ＶＡに沿って回転することもできれば、図２（ｂ）に示すように、Ｃアーム７の両端が支柱８から突き出す方向を突出方向（体軸方向Ａ）としたとき、Ｃアーム７は、突出方向と直交する平面上の仮想円ＶＢに両端が沿うように回転することもできる。
【００３３】
Ｘ線グリッド５は、ＦＰＤ４の有するＸ線検出面を覆うように設けられている。図３は、実施例１に係るＸ線グリッドの構成について説明する斜視図である。図３に示すように、実施例１に係るＸ線グリッド５は、縦方向に延伸した短冊状の吸収箔５ａを備えている。この吸収箔５ａは、横方向に配列しており、Ｘ線グリッド５全体で見れば、ブラインド状に配列される。そして、その配列ピッチは、例えば、４００μｍとなっている。なお、この吸収箔５ａは、Ｘ線を吸収するモリブデン合金やタンタル合金などからなっている。Ｘ線グリッド５は、本発明の放射線グリッドに相当する。
【００３４】
ＦＰＤシフト機構２３は、ＦＰＤ４をＸ線管３に接近・離反させる目的で設けられている。これにより、ＦＰＤ４に写り込む被検体像の拡大率を調節することができる。ＦＰＤシフト制御部２４は、ＦＰＤシフト機構２３を制御する目的で設けられている。ＦＰＤ４をＦＰＤシフト機構２３で移動させると、Ｘ線グリッド５もこれに追従して移動することになる。
【００３５】
ＦＰＤ４とＸ線グリッド５の位置関係について説明する。図４はＸ線グリッド５およびＦＰＤ４とＸ線管３の関係を示している。Ｘ線ＤｘはＸ線管３の焦点Ｐから放射される。図３の吸収箔５ａは平行に配列されているように見えるが、実際はこの放射されたＸ線Ｄｘに沿うように微小に角度を変化させて配列されている。吸収箔５ａによる影ＳがＦＰＤ４の検出素子４ａの中央に写るようなＦＰＤ４とＸ線管３の位置関係を標準位置と呼ぶ。
【００３６】
ＦＰＤ４のＸ線を検出する検出面には、図５に示すように、Ｘ線を検出する検出素子４ａが縦横に配列されている。Ｘ線管３からＸ線が照射されると、Ｘ線グリッド５の吸収箔５ａの影ＳがＦＰＤ４の検出素子４ａのいずれかに写り込むことになる。この時、影Ｓは、図５に示すように、ある検出素子４ａの横方向の中央に来るようになっている。したがって、吸収箔５ａの影Ｓは検出素子４ａの横方向に隣接する検出素子４ａに跨らずに現れる。しかも、影Ｓの横方向の配列ピッチは、ＦＰＤ４の検出素子４ａの配列ピッチの整数倍（実施例においては４倍）となっている。この様に、ＦＰＤ４上における吸収箔５ａの位置および吸収箔５ａの横方向における配列のピッチは、影Ｓと検出素子４ａとの位置、および検出素子４ａの横方向の配列ピッチのそれぞれを基準として決められている。このような吸収箔５ａの配列ピッチが検出素子４ａの配列ピッチに合わせられているＸ線グリッド５を、同期型のＸ線グリッドと呼ぶ。検出素子４ａは、本発明の放射線検出素子に相当する。
【００３７】
もっとも、図２のようにＣアーム７が回転すると、Ｘ線グリッド５の吸収箔５ａの影ＳがＦＰＤ４の検出素子４ａの横方向の中央からズレてきてしまう。Ｘ線管３は、重荷物であり、これをＣアーム７で支えようとすると、Ｃアーム７が撓んでしまうのである。この撓みは、Ｘ線管３が支柱８から離れるに従って大きくなる。ＦＰＤ４と影Ｓが図５のような状態となっているのは、図１に示すような、Ｘ線管３がＦＰＤ４の直下にある状態の時である。
【００３８】
また、ＦＰＤシフト機構２３により、ＦＰＤ４をＸ線管３に接近・離反させても、Ｘ線グリッド５の吸収箔５ａの影ＳがＦＰＤ４の検出素子４ａの横方向の中央からズレてきてしまう。ＦＰＤ４をＸ線管３に接近・離反させると、ＦＰＤ４上におけるＸ線グリッド５の拡大率が変動するからである。ＦＰＤ４と影Ｓが図５のような状態となっているのは、Ｘ線管３とＦＰＤ４とが所定の標準距離にある時である。
【００３９】
実施例１におけるＸ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にある場合とは、図１に示すような、Ｘ線管３がＦＰＤ４の直下にあり、かつ、Ｘ線管３とＦＰＤ４との距離が標準距離にある場合をいう。具体的には図４を参照されたい。この時、影Ｓは、図５に示すように、ある検出素子４ａの横方向の中央に来るようになっている。
【００４０】
また、実施例１に係るＸ線撮影装置１は、図１に示すように各種画像を生成する画像生成部１１と、比較用プロファイルｃを生成するプロファイル生成部１２と、グリッド画像Ｇのうちの１つを選択するグリッド画像選択部１３と、元画像Ｐ０に写り込んでいるＸ線グリッド５の影を取り除く消去部１４と、術者の指示を入力させる操作卓３１と、補正画像を表示する表示部３２と、各種情報を記憶する情報記憶部３３とを備えている。消去部１４は、本発明の消去手段に相当し、画像生成部１１は、本発明の画像生成手段に相当する。また、プロファイル生成部１２は、本発明のプロファイル生成手段に相当し、グリッド画像選択部１３は、本発明の選択手段に相当する。また、情報記憶部３３は、本発明のグリッド画像記憶手段、元画像記憶手段に相当する。
【００４１】
また、実施例１に係るＸ線撮影装置１は、各部６，１１，１２，１３，１４，２２，２４を統括的に制御する主制御部３４を備えている。主制御部３４は、ＣＰＵによって構成され、種々のプログラムを実行することにより、各部を実現している。また、上述の各部は、それらを担当する演算装置に分割されて実行されてもよい。
【００４２】
情報記憶部３３は、後述のグリッド画像Ｇと、元画像Ｐ０とを記憶するものである。この情報記憶部３３は、例えば、Ｘ線管制御部６が制御に用いる管電圧・管電流・パルス幅等のＸ線撮影装置１の制御に参照される各種パラメータの一切を記憶する。
【００４３】
グリッド画像Ｇについて説明する。グリッド画像Ｇは、ＦＰＤ４に設けられたＸ線グリッド５をＸ線で撮影した画像であり、情報記憶部３３に１８９枚記憶されている。このグリッド画像Ｇは、Ｃアーム７からＸ線管３、およびＦＰＤ４を取り外した状態で取得される。すなわち、Ｘ線グリッド５が取り付けられたＦＰＤ４に向けてＸ線を照射して、グリッド画像Ｇを取得するのである。
【００４４】
グリッド画像Ｇの撮影方法について説明する。グリッド画像Ｇの撮影の際、Ｘ線を照射するＸ線管３は、図６に示すように、Ｘ線管３をＸ線グリッド５の横方向に移動させるステージ２５に載置されている。このようにすることで、Ｘ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にある状態からＸ線管３をＦＰＤ４に対して横方向に移動させることができる。また、ステージ２５は、Ｘ線管３をＦＰＤ４に接近・離反させることもできる。したがって、Ｘ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にある状態からＸ線管３をＦＰＤ４に対して接近・離反させることができる。この様に、Ｘ線管３を載置させるステージ２５は、直交する２方向に移動可能なＸＹステージとなっている。
【００４５】
グリッド画像Ｇが撮影される様子について説明する。グリッド画像Ｇを撮影するには、まず、Ｘ線管３からＸ線が照射される。すると、Ｘ線グリッド５の影がＦＰＤ４に写り込む。画像生成部１１は、ＦＰＤ４より検出データを受信し、Ｘ線グリッド５の影が映り込んだグリッド画像Ｇを生成する。このグリッド画像Ｇは、情報記憶部３３で記憶される。
【００４６】
この様な撮影は、Ｘ線管３を横方向にスライドさせながら複数回に亘って行われる。すなわち、Ｘ線管３は、ステージによって横方向に移動され、いったん停止した後、再びＸ線グリッド５の撮影が行われる。この様なＸ線グリッド５の移動と撮影とが繰り返されてグリッド画像Ｇが次々と撮影される。
【００４７】
グリッド画像Ｇの撮影に際して、Ｘ線管３がどのように移動されるかを説明する。図６は、Ｘ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にあるときの両者の位置関係を示しているものとする。図中の符号Ｐは、Ｘ線管３の発するＸ線ビームの焦点を表している。グリッド画像Ｇの撮影は、Ｘ線管３を移動させながら次々と行われるのであるから、ＦＰＤ４に対するＸ線管３の焦点の位置も次々と変化していくのである。
【００４８】
Ｘ線グリッド画像Ｇが撮影された時点におけるＸ線管３の焦点位置は、図７に示すＰ１１〜Ｐ４７のいずれかとなっている。Ｘ線グリッド画像を撮影するには、まず、Ｘ線管３の焦点がＰ２４で示す標準位置から横方向に移動されながら、図７のＡ２で示す７つの焦点位置での撮影が行われる。その後、Ｘ線管３の焦点がＦＰＤ４に対して接近されたあと、横方向に移動されながら撮影が行われ、図７のＡ１に示すＰ１１〜Ｐ１７の各焦点位置でのＸ線グリッド画像が撮影される。同様に、Ｘ線管３の焦点がＦＰＤ４に対して離反されたあと、横方向に移動されながら撮影が行われ、図７のＡ３，Ａ４に示す各７つの焦点位置でのＸ線グリッド画像が撮影される。なお、図７においては、簡潔な説明の目的で、７つの焦点位置についての撮影を４層に亘って行い、合計２８点の焦点位置についてＸ線グリッド画像の撮影を行っているが、実施例１の実際の操作としては、９つの焦点位置についての撮影を２１層に亘って行うことで、合計１８９点の焦点位置についてＸ線グリッド画像の撮影を行う。
【００４９】
取得されたＸ線グリッド画像Ｇについて簡単に説明する。Ｘ線管３が標準位置にあるとき（Ｘ線管３の焦点が図７のＰ２４にあるとき）、吸収箔の影Ｓは、図８の左側に示すようにＦＰＤ４に写り込む。このときのＸ線グリッド画像Ｇには、図８の右側に示すように画素１個分の幅を持った暗い線が現れる。ところで、吸収箔は、捻れたり、撓んだりしているので、その影Ｓもある程度イビツなものとなっている。たとえば、吸収箔５ａが捻れることにより、影Ｓの横方向の幅は一致していない。これに影響されて、Ｘ線グリッド画像Ｇに現れる暗い線には、図８の右側に示すように部分的な暗さのムラが現れている。
【００５０】
Ｘ線管３を標準位置から移動させると、吸収箔の影Ｓは、図９の左側に示すように図８の状態から横方向にシフトしてＦＰＤ４に写り込む。吸収箔の影Ｓは、イビツな形状となっているので、影Ｓは部分的に、検出素子４ａを横方向から跨ったり跨らなかったりする。このときのＸ線グリッド画像Ｇには、図９の右側に示すように複雑な形状をした暗い線が現れる。影Ｓが検出素子４ａに跨っている部分では、影Ｓが横方向に隣り合う検出素子４ａに分配され、Ｘ線グリッド画像Ｇには、画素２個分の幅を持った暗い線が現れる。影Ｓが検出素子４ａに跨っていない部分では、Ｘ線グリッド画像Ｇに現れる暗い線の幅は画素１個分のままである。
【００５１】
Ｘ線グリッド画像Ｇは、画像生成部１１により、撮影時のＸ線管３とＦＰＤ４との位置関係に関する情報が付与された後、プロファイル生成部１２に送出される。プロファイル生成部１２は、２次元画像となっているＸ線グリッド画像Ｇを１次元データに変換するものである。すなわち、プロファイル生成部１２は、図１０に示すように、Ｘ線グリッド画像Ｇを構成する画素値のうち、縦方向に１列に並ぶ画素値を平均して、平均値が横方向に配列されたグリッドプロファイルｇを生成する。グリッドプロファイルｇを生成する他の方法としては、図１０の矢印ａで示すＸ線グリッド画像Ｇの縦方向のある位置について横方向の１列に配列された画素値群を抜き出すようにしてもよい。プロファイル生成部１２は、Ｘ線グリッド画像Ｇと、これを基に生成されたグリッドプロファイルｇとを関連させて情報記憶部３３に記憶させる。この様にして、情報記憶部３３には、２８枚（実際には１８９枚）のＸ線グリッド画像Ｇ，およびグリッドプロファイルｇが関連づけられて記憶されることになる。
【００５２】
＜Ｘ線撮影装置の動作＞
次に、Ｘ線撮影装置の動作について説明する。実施例１のＸ線撮影装置で検査を行うには、まず、図１１に示すように、予めＸ線グリッド５を撮影し、複数のグリッド画像Ｇを取得しておく（グリッド撮影ステップＳ１）。そして、被検体Ｍを天板２に載置した状態で、被検体Ｍの撮影を行って元画像Ｐ０を取得し（被検体撮影ステップＳ２）、元画像Ｐ０を元に比較用プロファイルｃを取得する（比較用プロファイル生成ステップＳ３）。続いて、比較用プロファイルｃと、グリッド画像Ｇ（正確には、そのプロファイルデータ）とを比較して、元画像Ｐ０に写り込んでいるＸ線グリッド５の影の縞模様に最も類似しているグリッド画像Ｇを選択する（グリッド画像選択ステップＳ４）。最後に、選択されたグリッド画像Ｇを用いて元画像Ｐ０に写り込んでいるＸ線グリッド５の影の縞模様を消去する（消去ステップＳ５）。以降、これらの各ステップについて、順を追って説明する。
【００５３】
＜グリッド撮影ステップＳ１，被検体撮影ステップＳ２＞
まず、Ｘ線管３をステージに載置した状態で、Ｘ線グリッド５の撮影を行う。このステップは、Ｘ線撮影装置１の出荷前に一度行っておけばよい。したがって、実際の被検体Ｍの検査は、被検体Ｍが天板２に載置され、被検体Ｍに向けてＸ線ビームが照射されるところから始まる（被検体撮影ステップＳ２）。ＦＰＤ４は、被検体Ｍを透過してきたＸ線ビームを検出して、検出データを画像生成部１１に送出する。画像生成部１１は、検出データを２次元的に配列するなどして被検体Ｍの透視像とＸ線グリッド５の影との両方が写り込んだ元画像Ｐ０を取得する。
【００５４】
＜比較用プロファイル生成ステップＳ３：元画像プロファイルｐの生成＞
元画像Ｐ０は、プロファイル生成部１２に送出される。プロファイル生成部１２は、グリッドプロファイルｇを生成した同じ要領で元画像Ｐ０のプロファイルである元画像プロファイルｐを生成する。元画像プロファイルｐは、画素値を平均するか、元画像Ｐ０の横方向の１列に配列された画素値群から抜き出すかして取得される。元画像プロファイルｐは、図１２（ａ）に示すように、斜線で示す吸収箔の影Ｓに由来する成分と、網掛けで示す被検体Ｍの透視像に由来する成分の２つが重畳したものとなっている。
【００５５】
＜比較用プロファイル生成ステップＳ３：領域Ａの抜き出し＞
プロファイル生成部１２は、図１２（ａ）に示す元画像プロファイルｐのうち、領域Ａ由来の画素のみを抜き出す。この領域Ａについて説明する。Ｘ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にあるとき、吸収箔の影Ｓが写り込む領域を領域Ｂとする。領域Ａとは、元画像プロファイルｐにおいて、領域Ｂから横方向に画素２つ分だけ離れた領域である。図１２（ｂ）は、抜き出された領域Ａの画素値を棒グラフで表している。領域Ａは、後述のように、必ず吸収箔の影Ｓが写り込んでいない領域であるので、領域Ａ同士を比較して画素値に違いがあったとすれば、それは、吸収箔の影Ｓが原因ではなく、被検体Ｍの透視像の成分が原因なのである。つまり、プロファイル生成部１２は、領域Ａ由来の画素のみを抜き出すことで、元画像プロファイルｐに写り込む被検体像の成分しか含まない画素群を抜き出したことになる。
【００５６】
領域Ａが被検体像の成分しか含まない理由について説明する。図１３は、元画像Ｐ０に現れる吸収箔の影の模式図である。Ｘ線管３とＦＰＤ４とが標準位置にあるとき、吸収箔の影Ｓは、図１３の上側で示すように１画素分の幅の領域Ｂに現れる。領域Ｂは、横方向に繰り返し現れ、元画像Ｐ０全体で見ればストライプ状となっている。なお、図１３においては、斜線で示す吸収箔の影Ｓに由来する成分と、網掛けで示す被検体Ｍの透視像に由来する成分（被検体像の成分）の２つが重畳したものとなっている。網掛けで示す被検体Ｍの透視像は、実際は、被検体Ｍの内臓組織や、骨組織などである。
【００５７】
Ｘ線管３とＦＰＤ４との相対位置が標準位置からずれてくると、図１３の下側のように、吸収箔の影Ｓは、領域Ｂからはみ出して現れるようになる。しかし、図１３に示す領域Ａに吸収箔の影Ｓが現われることがない。Ｘ線管３とＦＰＤ４との位置関係が被検体Ｍの撮影中に如何に変動しても、元画像Ｐ０における吸収箔の影Ｓの横方向の移動の距離は、画素１個分の距離に満たず、吸収箔の影Ｓは、領域Ｂから横方向に２画素ぶんだけ離れた領域Ａには移動しないのである。
【００５８】
その理由について説明する。Ｃアーム７の撓みによりＸ線管３とＦＰＤ４との位置のズレは、２ｍｍ程度である。Ｘ線管３からＦＰＤ４間での距離は標準位置で約１，０００ｍｍであり、Ｘ線グリッド５とＦＰＤ４との距離は２０ｍｍである。これらのことからすれば、Ｘ線管３とＦＰＤ４との相対位置がＸ線グリッド５の横方向に２ｍｍ変動することにより、吸収箔の影Ｓは、４０μｍだけ横方向に移動する。吸収箔の影Ｓの横方向の幅は、多少の変動はあるものの、約３０μｍであり、ＦＰＤ４の検出面に配列された検出素子４ａの横方向の幅は、１００μｍであるので、元画像Ｐ０の領域Ｂに存していた吸収箔の影Ｓが、１００μｍ以上離れた領域Ａまで移動することは、あり得ないと言ってよい。
【００５９】
＜比較用プロファイル生成ステップＳ３：推定プロファイルｓｐの生成＞
プロファイル生成部１２は、領域Ａを抜き出した後、被検体像の成分を元画像プロファイルｐの全域において知る目的で画素値の補間を行う。すなわち、プロファイル生成部１２は、領域Ａの画素値を用いて、互いに隣接する領域Ａの間に存するはずである３画素分の画素値を推定する。プロファイル生成部１２が行う画素値の推定方法としては、例えばスプライン補間法が挙げられる。図１２（ｃ）は、この作業が終わった時点を示している。図１２（ｃ）では、プロファイル生成部１２により推定された画素値を区別のため網掛けなしの棒グラフで表している。この推定プロファイルｓｐを１次元データとして表現すると、図１２（ｄ）のようになる。推定プロファイルｓｐは、網掛けで示す被検体Ｍの透視像成分のみから構成される。
【００６０】
＜比較用プロファイル生成ステップＳ３：比較用プロファイルｃの生成＞
プロファイル生成部１２は、元画像プロファイルｐから推定プロファイルｓｐを減算することで、プロファイルの比較に用いる比較用プロファイルｃを生成する。比較用プロファイルｃは、図１２（ｅ）に示すように、斜線で示す吸収箔の影Ｓの成分のみから構成される。
【００６１】
＜グリッド画像選択ステップＳ４＞
比較用プロファイルｃは、グリッド画像選択部１３に送出される。この比較用プロファイルｃは、元画像Ｐ０に写り込むＸ線グリッド５の影のパターンを表している。情報記憶部３３には、比較用プロファイルｃと同じパターンのグリッドプロファイルｇが存在するはずである。グリッド画像選択部１３は、比較用プロファイルｃのパターンに最も類似したグリッドプロファイルｇを選抜する。
【００６２】
グリッドプロファイルｇの選抜の動作の詳細について説明する。グリッド画像選択部１３は、まず、大まかにグリッド画像Ｇの選抜を行う。このグリッド画像選択部１３には、ＦＰＤシフト制御部２４より、Ｘ線管３とＦＰＤ４との距離情報が送られてきている。グリッド画像選択部１３は、元画像Ｐ０を撮影した際のＦＰＤ４に対するＸ線管３の位置が図７におけるＡ１〜Ａ４のいずれに近いかを選択する。このとき例えば、グリッド画像選択部１３は、Ａ１を選択したとする。グリッド画像選択部１３は、Ｘ線管３の焦点がＡ１の位置で撮影された７枚のＸ線グリッド画像Ｇ（正確には、そのグリッドプロファイルｇ）を情報記憶部３３から読み出す。
【００６３】
そして、グリッド画像選択部１３は、両プロファイルｇ，ｃの比較により、７枚のＸ線グリッド画像Ｇのうちから１枚のＸ線グリッド画像Ｇを選択する。具体的には、７枚のＸ線グリッド画像Ｇのグリッドプロファイルｇを順次、比較用プロファイルｃに作用させ、相関係数ｈを求めて、グリッド画像Ｇを選択する。この相関係数ｈは、グリッドプロファイルｇと比較用プロファイルｃとの一致度を示す指標である。相関係数ｈが高ければ高いほど両プロファイルは一致していることになる。グリッドプロファイルｇ，および比較用プロファイルｃは、グリッド画像Ｇ，および元画像Ｐ０に現れているＸ線グリッド５の影のパターンを表している。したがって、両プロファイルの相関係数ｈが高いと言うことは、グリッド画像Ｇに現れているＸ線グリッド５の影のパターンと、元画像Ｐ０に現れているＸ線グリッド５の影のパターンとが類似していることを表している。
【００６４】
グリッド画像選択部１３の相関係数ｈの取得方法について説明する。グリッドプロファイルｇは、画素値が横一列に並んでいるものであるので、グリッドプロファイルｇを次のような行列で表すことができる。
ｇ＝｛ｇ１，ｇ２，…ｇｎ｝
【００６５】
同様に、比較用プロファイルｃも、画素値が横一列に並んでいるものであるので、比較用プロファイルｃを次のような行列で表すことができる。
ｃ＝｛ｃ１，ｃ２，…ｃｎ｝
【００６６】
グリッド画像選択部１３は、相関係数ｈを次の式によって算出する。相関係数ｈは、スカラー値である。
ｈ＝（ｇ１ｃ１＋ｇ２ｃ２＋…＋ｇｎｃｎ）
／（ｇ１２＋ｇ２２＋…＋ｇｎ２）１／２・（ｃ１２＋ｃ２２＋…＋ｃｎ２）１／２
【００６７】
グリッド画像選択部１３は、７つのグリッドプロファイルｇについて相関係数ｈをそれぞれ求める。そして、グリッド画像選択部１３は、相関係数ｈが最も大きいグリッドプロファイルｇを選択し、これに対応するグリッド画像Ｇを選択する。これにより、グリッド画像選択部１３は、グリッド画像Ｇのうち、元画像Ｐ０に写り込んだＸ線グリッド５の影のパターンに最も類似したものを選択したことになる。相関係数ｈは、両プロファイルｇ，ｃの内積を所定の値で除算したものとなっている。このときの分母は、内積の値を正規化する目的で設けられているものである。
【００６８】
次に、相関係数ｈの具体的な例を示す。例えば、両プロファイルｇ，ｃが完全に同一であるとすると、相関係数ｈの値は１となる。また、両プロファイルｇ，ｃが一致しなくなるに従って、相関係数ｈは０に近づく。このような相関係数ｈを用いて画像の類似性を判断する方法を相関法と呼ぶ。グリッド画像選択部１３は、グリッド画像Ｇのうちグリッド画像Ｇａを選択したものとして、以降の説明を行う。
【００６９】
＜消去ステップＳ５＞
グリッド画像選択部１３は、選択したグリッド画像Ｇａを消去部１４に送出する。消去部１４は、グリッド画像Ｇａの反転パターンと元画像Ｐ０とを重ね合わせることにより、元画像Ｐ０からＸ線グリッド５の影のパターンが除去された校正画像Ｐ１を生成する。グリッド画像Ｇａには、元画像Ｐ０に重畳するＸ線グリッド５の影のパターンと同じパターンが写り込んでいるので、これらを重ね合わせれば、元画像Ｐ０におけるＸ線グリッド５の影は正確に消去されることになる。この校正画像Ｐ１が表示部３２に表示されて検査は終了となる。
【００７０】
以上のように、実施例１のＸ線撮影装置１によれば、ＦＰＤ４の検出素子４ａの配列に同期した同期型のＸ線グリッド５が設けられている。Ｘ線グリッド５の吸収箔５ａの配列ピッチは、検出素子４ａの配列ピッチを基に決められている。これにより、最も使用頻度が高い標準位置において吸収箔５ａの影の配列と、検出素子４ａの配列とが干渉してモアレを発生させることがないので、より視認性の高いＸ線画像が生成できる。
【００７１】
しかしながら、この様な同期型のＸ線グリッド５は、吸収箔５ａの歪みが発生しやすい。吸収箔５ａの形状がイビツであると、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンを予測することが難しく、元画像Ｐ０からＸ線グリッド５の影を除去することが難しい。
【００７２】
そこで、実施例１の構成は、複数のグリッド画像Ｇを予め撮影しておいて、元画像Ｐ０に写り込んだＸ線グリッド５の影のパターンに最も類似したグリッド画像Ｇを選択し、これを用いて元画像Ｐ０に写り込んだＸ線グリッド５の影のパターンを消去するようになっている。つまり、実施例１の構成によれば、元画像Ｐ０にどのような形状のＸ線グリッド５の影が写りこんでいるかを予め知った上で元画像Ｐ０からＸ線グリッド５の影のパターンを正確に除去することができる。
【００７３】
また、実施例１の構成によれば、グリッド画像Ｇをより適切に撮影することができる。Ｘ線管３とＦＰＤ４との位置関係が横方向にズレると、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンは大きく変化する。そこで、上述の構成では、Ｘ線管３に対するＦＰＤ４の位置を横方向に変更させながらグリッド画像Ｇを撮影しておく。この様にすれば、元画像取得時にＸ線管３とＦＰＤ４との位置関係が横方向にズレたとしても、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンは、グリッド画像Ｇとして既に撮影されたものとなっている。したがって、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンを正確に予測することができる。
【００７４】
そして、実施例１の構成によれば、グリッド画像Ｇをより適切に撮影することができる。実施例１のようにＸ線管３とＦＰＤ４との間にＸ線グリッド５以外に何も介在させないでグリッド画像Ｇを撮影するようにすれば、グリッド画像ＧにはＸ線グリッド５の影のみが写り込むことになるので、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンを正確に表したものとなる。
【００７５】
また、実施例１の構成によれば、元画像Ｐ０とグリッド画像Ｇの類似判断は、画像そのものを用いるのではなく、画像に写り込むＸ線グリッド５の影の特徴を表したプロファイルを用いて行われる。実施例１に係るプロファイルは、画素値が１列に並んだものであるので、プロファイル同士の比較は高速で行うことができる。したがって、元画像Ｐ０を連続的に撮影する検査においても、元画像Ｐ０に写り込むＸ線グリッド５の影を確実に除去させることができる。
【００７６】
ところで、元画像Ｐ０には、被検体像とＸ線グリッド５の影とが重なり合っている。元画像Ｐ０のプロファイルをそのままプロファイル同士の比較に用いると、元画像Ｐ０のプロファイルに重畳する被検体像の成分がプロファイルの類似性の判断を攪乱させてしまう。実施例１はこの様な事情に鑑みて、元画像Ｐ０に被検体像が写り込んでいないとしたときの比較用プロファイルｃを元画像プロファイルｐから生成し、これをグリッドプロファイルｇとの比較に用いることで元画像Ｐ０に写り込むＸ線グリッド５の影と、グリッド画像Ｇとの類似性を判断する構成となっている。これにより、元画像Ｐ０に写り込むＸ線グリッド５の影をより確実に知ることができる。
【００７７】
また、実施例１のように両プロファイルの相関係数を求める相関法により比較を行えば、元画像Ｐ０に写り込むＸ線グリッド５の影をより確実に知ることができる。
【００７８】
本発明は、図７を用いた説明でも明らかなように、ＦＰＤ４とＸ線管３の距離が図４の標準位置に相当する距離より長い場合にも短い場合にも適用できる。
【００７９】
本発明は、上述の実施例の構成に限られず、下記のように変形実施することができる。
【００８０】
（１）実施例１では、Ｘ線管３とＦＰＤ４との間にＸ線グリッド５以外を載置しないでグリッド画像Ｇを撮影していたが、本発明はこの構成に限らない。図１４に示すように、Ｘ線管３とＦＰＤ４との間に散乱線を発生する板状のファントムＰｈを載置してグリッド画像Ｇを撮影するようにしてもよい。元画像Ｐ０には、被検体Ｍから発生した散乱線の成分が含まれており、元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影のパターンも散乱線の影響を受けて変化する。したがって、散乱線を発生させた状態でグリッド画像Ｇを撮影した方が元画像Ｐ０に現れるＸ線グリッド５の影をより正確に知ることができる場合がある。本変形例の構成によれば、散乱線の影響を考慮済みのグリッド画像Ｇを取得することができる。
【００８１】
（２）上述した実施例において、Ｘ線撮影装置１には、単一のＣアーム７が設けられていたが、本発明は、これに限らない。本発明は、Ｃアーム７を２つ設けたバイプレーンシステムに適応されてもよい。
【００８２】
（３）上述した実施例は、医用の装置であったが、本発明は、工業用や、原子力用の装置に適用することもできる。
【００８３】
（４）上述した実施例のいうＸ線は、本発明における放射線の一例である。したがって、本発明は、Ｘ線以外の放射線にも適応できる。
【符号の説明】
【００８４】
ｃ     比較用プロファイル
ｇ     グリッドプロファイル
ｐ     元画像プロファイル
ｓｐ   推定プロファイル
Ｇ     グリッド画像
Ｐ０   元画像
３     Ｘ線管（放射線源）
４     ＦＰＤ（放射線検出器）
４ａ   検出素子（放射線検出素子）
５     Ｘ線グリッド（放射線グリッド）
５ａ   吸収箔
１１   画像生成部（画像生成手段）
１２   プロファイル生成部（プロファイル生成手段）
１３   グリッド画像選択部（選択手段）
１４   消去部（消去手段）
３３   情報記憶部（グリッド画像記憶手段、元画像記憶手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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