(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
矩形断面をなす直定規状のスケール部に２つの脚部を、その一方はスケール部の一端側に固定して他方は目盛りを有するスケール部に摺動可能にそれぞれ設け、前記２つの脚部間に摺動ブロックを摺動可能に設け、この摺動ブロックにダイヤルゲージのステム部を垂直に固定した平坦度測定装置であって、
前記２つの脚部はそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられ、前記スケール部の目盛りは、２つの脚部の内向き延出部の対向面を互いに接触させた状態における、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置をゼロ点とする目盛りであり、かつ、前記ダイヤルゲージのスピンドルの軸心を前記固定脚部の内向き延出部の対向面位置に一致させた状態における、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置が、前記ゼロ点に一致していることを特徴とする平坦度測定装置。
【請求項２】
前記摺動ブロックとスケール部とは、スケール部をレールとし摺動ブロックをスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構を構成するものであって、前記スケール部の上下面に転動体摺動溝を設けてレールとし、摺動ブロック側に前記スケール部側転動体摺動溝に対応する摺動ブロック側転動体摺動溝及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝と摺動ブロック側転動体摺動溝転動体との間に形成された転動体軌道路を転動する転動体を無限循環可能にする転動体戻し路を設けてスライダとしたことを特徴とする請求項１記載に平坦度測定装置。
【請求項３】
ダイヤルゲージのスピンドルの軸心が摺動ブロックの幅Ｗの中心位置にあることを特徴とする請求項１又は２記載の平坦度測定装置。
【請求項４】
２つの脚部の内向き延出部の対向面の縦溝が概ね半円形であり、その溝深さがスピンドルの半径に等しいか僅かに大きいことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の平坦度測定装置。
【請求項５】
脚部の内向き延出部のスケール部厚み方向両側に、摺動ブロック、ダイヤルゲージ及びスケール部を含めた平坦度測定装置全体の重心・安定性を考慮した安定用張り出し部を設けたことを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の平坦度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば角形鋼管や軽量形鋼その他種々の物の平坦面の平坦度を測定するための平坦度測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
平坦度を測定するものとして、例えば図１２に示した平坦度測定具（反り測定器）１のように、ダイヤルゲージ５を取り付けた支持梁２に２つの脚部３、４を取り付けた構造のものは一般的である（特許文献１）。この平坦度測定具１は、２つの脚部３、４がそれぞれ支持梁２上を移動調節可能であり、移動調節した脚部３、４はネジ３ａ、４ａで固定される。また、ダイヤルゲージ５はその取付部（Ｔ形支柱６）にあけた貫通穴を貫通する支持梁２にネジで締め付け固定されるようになっており、支持梁２上の位置を調節することもできる。なお、特許文献１では板材７の反りを測定する反り測定器としているが、平坦度を測定する器具と実質同一である。
【０００３】
上記測定具１で板材７の反りを測定する場合、予め水平面（定盤等）上に測定具１を載置して、ダイヤルゲージ５の目盛りを０（ゼロ）にするゼロ点調整を行っておく。そして、この測定具１を被測定板材７の所定位置に載置して、ダイヤルゲージ５の目盛りを読み取ることで、板材７の反り（平坦度）を測定できる。この場合、測定しようとする反りに対応させて両脚部３、４の位置を適切に調節し、かつダイヤルゲージ５のスピンドル（測定子）５ａを測定点に位置させる。
【０００４】
また、図１３に示した平坦度測定具（真直度測定器）１１は、基準直定規１２を両側の脚部１３で支持し、ダイヤルゲージ（指針測微器）１４を取り付けたメータホルダ１５を基準直定規１２にスライド可能に取り付けた構造であるが、メーターホルダ１５は基準直定規１２に１２個のガイドローラ（ベアリング）と６個の樹脂製のライナー（接触子）を介して基準直定規１２を抱くようにしてスライド可能にされている（特許文献２）。
【０００５】
また、図１４に示すように、ノギス２１の固定の脚部（ジョー）２３とスライダ２８に一体に設けた脚部（ジョー）２４との間のスケール部２２に摺動ブロック２６を摺動可能に設け、この摺動ブロック２６にダイヤルゲージ２５のステム部２５ａを垂直に固定した平坦度測定装置２０がある。
【特許文献１】特開平７−２３９２０２の図１、段落番号[０００７]等
【特許文献２】特公平６−２３６４２の第５欄、第６欄、図２（ａ）、図３〜図４
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
図１２に示した従来の平坦度測定具１では、ダイヤルゲージ５を支持梁２上で移動調節して、２点間の所望の位置の平坦度を測定するが、単なる貫通穴に支持梁２を貫通させた構造では、ダイヤルゲージ５をスライド（取付部６をスライド）させた時にダイヤルゲージの高さ位置を正確に維持するのは困難なので、平坦度測定の精度は低い。
【０００７】
上記従来のいずれの平坦度測定装置１、１１、２０も、２つの脚部間の距離は、ダイヤルゲージ取付部（Ｔ形支柱６、キャリッジ１６、摺動ブロック２６）の幅により制約されて、一定距離より狭くすることができず、したがって、測定スパン（平坦度を測定しようとする領域の幅）が狭い場合に対応できない。
したがって、例えば図１４の平坦度測定装置２０の場合で説明すると、図１１（イ）に模式的に示したように、例えば角形鋼管２９のコーナー部近傍の狭い領域αの平坦度を測定したい場合に、摺動ブロック２６の幅Ｗ３が制約となって、そのαという測定スパンの平坦度を測定できない。
また、測定スパン内の任意の位置について平坦度を測定できる訳ではなく、図１４に示すように、各脚部２３、２４の下端位置すなわち測定スパンＬの両端位置からそれぞれ摺動ブロック幅Ｗ３の半分（Ｗ３／２）以下の領域では、平坦度を測定できない。
【０００８】
また、いずれの平坦度測定装置も、平坦度測定位置及び測定スパンを知るためには、ダイヤルゲージの位置の計測（確認）、及び、両脚部間隔の計測との両方が必要であるが、これらの計測が簡単にできれば望ましい。
【０００９】
本発明は上記従来の欠点を解消するためになされたもので、平坦度を測定可能な測定スパンの下限に制約がなく、かつ、測定スパン内の任意の位置の平坦度を測定することが可能であり、また、高い精度を確保することができる平坦度測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決する請求項１の発明は、矩形断面をなす直定規状のスケール部に２つの脚部を、その一方はスケール部の一端側に固定して他方は目盛りを有するスケール部に摺動可能にそれぞれ設け、前記２つの脚部間に摺動ブロックを摺動可能に設け、この摺動ブロックにダイヤルゲージのステム部を垂直に固定した平坦度測定装置であって、
前記２つの脚部はそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられ、前記スケール部の目盛りは、２つの脚部の内向き延出部の対向面を互いに接触させた状態における、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置をゼロ点とする目盛りであり、かつ、前記ダイヤルゲージのスピンドルの軸心を前記固定脚部の内向き延出部の対向面位置に一致させた状態における、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置が、前記ゼロ点に一致していることを特徴とする。
【００１２】
請求項２は請求項１の平坦度測定装置において、前記摺動ブロックとスケール部とは、スケール部をレールとし摺動ブロックをスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構を構成するものであって、前記スケール部の上下面に転動体摺動溝を設けてレールとし、摺動ブロック側に前記スケール部側転動体摺動溝に対応する摺動ブロック側転動体摺動溝及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝と摺動ブロック側転動体摺動溝転動体との間に形成された転動体軌道路を転動する転動体を無限循環可能にする転動体戻し路を設けてスライダとしたことを特徴とする。
【００１３】
請求項３は、請求項１又は２の平坦度測定装置において、ダイヤルゲージのスピンドルの軸心が摺動ブロックの幅Ｗの中心位置にあることを特徴とする。
【００１５】
請求項４は、請求項１〜３のいずれか１項の平坦度測定装置において、２つの脚部の内向き延出部の対向面の縦溝が概ね半円形であり、その溝深さがスピンドルの半径に等しいか僅かに大きいことを特徴とする。
【００１７】
請求項５は、請求項１〜４のいずれか１項の平坦度測定装置において、脚部の内向き延出部のスケール部厚み方向両側に、摺動ブロック、ダイヤルゲージ及びスケール部を含めた平坦度測定装置全体の重心・安定性を考慮した安定用張り出し部を設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
請求項１の発明によれば、２つの脚部がそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられているので、測定スパン（平坦度を測定しようとする領域の幅）の下限がなくなる。すなわち、測定スパンがゼロまで可能となる。また、測定可能な最大測定スパン以下であれば、測定スパン内の全範囲について平坦度を測定できる。
さらに、平坦度測定操作時に、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、摺動脚部の内向き延出部の対向面が基準支点位置（固定脚部の内向き延出部の対向面の位置）から離間した距離を表す。したがって、測定スパン（両脚部の内向き延出部の対向面間の距離）を直ちに読み取ることができる。
【００２０】
さらに、平坦度測定操作時に、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、スピンドル軸心が基準支点位置（固定脚部の内向き延出部の対向面の位置）から移動した距離を表す。したがって、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
【００２１】
請求項２によれば、摺動ブロックとスケール部とが、円滑な直線移動が可能なリニアガイド機構を構成するものであるから、測定に際して摺動ブロック及びダイヤルゲージの移動がスムーズで、作業性が良好である。
また、ダイヤルゲージのスピンドルに働くモーメントを算出し、そのモーメントに対応するリニアガイドを選定すれば、スピンドルの傾き等が生じることなく、精度よく平坦度を測定できる。
【００２４】
請求項５の平坦度測定装置では、安定用張り出し部の存在で、測定時にスケール部及び摺動ブロックが傾くことを防止でき、摺動ブロックに取り付けたダイヤルゲージのスピンドルが傾くことを有効に防止することができ、測定誤差の発生を防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の平坦度測定装置の実施例を、図１〜図１１参照して説明する。
【実施例１】
【００２６】
図１は本発明の一実施例の平坦度測定装置３１の正面図、図２は同平面図、図３は図１のＡ−Ａ断面矢視図、図４は同Ｂ−Ｂ断面矢視図、図５は同要部のＣ−Ｃ断面矢視図である。
この平坦度測定装置３１は、矩形断面をなす直定規状のスケール部３２に固定脚部３３と摺動脚部３４とを設け、固定脚部３３と摺動脚部３４との間に、ダイヤルゲージ３５を取り付けた摺動ブロック３６を摺動可能に設けている。
前記固定脚部３３は、スケール部３２の一端側に固定されている。固定脚部３３の上部の固定部３３ｅと別部材の押さえ部３３ｆとでスケール部３２を挟みボルトで固定されている。
前記摺動脚部３４は、スケール部３２上をスライド可能なスライド部３７と一体に設けられている。スライド部３７は摺動脚部３４と一体の本体部３７ｂとこれにボルトで固定された別体の押さえ蓋３７ｃとでスケール部３２を抱く態様で摺動可能にされている。スライド部３７は、スケール部３２に止めるためのセットボルト４０を備え、また、図示は省略するがスケール部３２の上面側に、スライド部３７を上方に付勢する板ばねを内蔵している。
両脚部３３、３４はそれぞれ内側に延出する内向き延出部３３ａ、３４ａを備えている。実施例の両内向き延出部３３ａ、３４ａの延出量Ｂ及びＣは同寸法である（Ｂ＝Ｃ）。
それぞれの内向き延出部３３ａ、３４ａの先端部にはスケール部厚み方向両側に延びる安定用張り出し部３３ｂ、３４ｂが一体に設けられ、この安定用張り出し部３３ｂ、３４ｂの内側面が、互いに接触する対向面３３ｃ、３４ｃとなっており、この対向面３３ｃ、３４ｃにダイヤルゲージ３５のスピンドル３５ｂが収容可能な半円形の縦溝３３ｄ、３４ｄが設けられている。
【００２７】
ダイヤルゲージ３５はその筒状のステム部３５ａにおいて、固定部材３８により摺動ブロック３６に固定されている。スピンドル３５ｂは筒状のステム部３５ａ内を上下動して面の凹凸を検出する接触子である。
ダイヤルゲージ３５はスピンドル３５ｂの軸心Ｎが摺動ブロック３６の幅Ｗの中心と一致するように前記固定部材３８で摺動ブロック３６に固定されている。
ダイヤルゲージ３５は摺動ブロック３６の幅Ｗの中心に取り付けられており、摺動ブロック３６の幅Ｗは図示例では固定脚部３３の内向き延出部３３ａの延出量Ｂと摺動脚部３４の内向き延出部３４ａの延出量Ｃとの和に等しい（Ｗ＝Ｂ＋Ｃ（＝２Ｂ＝２Ｃ））。
また、内向き延出部３３ａ、３４ａの先端面の縦溝３３ｄ、３４ｄの溝深さは、図示例ではスピンドル３５ｂの半径に等しくしている。すなわち、対向面３３ｃ、３４ｃを接触させた時の２つの縦溝３３ｄ、３４ｄがなす円形はスピンドル３５ｂの直径に等しい。但し、後述するように、縦溝３３ｄ、３４ｄの溝深さ（半径）はスピンドル３５ｂを余裕をもって収容できる深さとするのがよい。
また、摺動ブロック３６の幅Ｗも、後述するように、実際にはＢ＋Ｃより僅かに小さくするのが適切である。
【００２８】
この実施例では摺動ブロック３６とスケール部３２とは、スケール部３２をレールとし摺動ブロック３６をスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構４４を構成している。すなわち、図６に示すように、スケール部３２の上下面に転動体摺動溝（スケール部側転動体摺動溝）３２ａを設けてレールとし、摺動ブロック３６側に前記スケール部側転動体摺動溝３２ａに対応する摺動ブロック側転動体摺動溝３６ａ及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝３２ａと摺動ブロック側転動体摺動溝３６ａとの間に形成された転動体軌道路３９を転動する転動体４１を無限循環可能にする転動体戻し路３６ｂを設けてスライダとしている。
隣り合う転動体４１と転動体４１との間にはセパレータ４２が配置される。
リニアガイド機構のスライダとして機能する摺動ブロック３６は、本体部３６ｃの幅方向両側にキャップ部３６ｄを備え、このキャップ部３６ｄには転動体戻り路３６ｂの一部である両側の円弧状部３６ｂ’を備えている。
なお、この摺動ブロック３６とスケール部３２とからなる実施例のリニアガイド機構４４は一般的なリニアガイド機構を利用したものであり、市販されたリニアガイド装置（直動装置）を用いることができる。
市販されているリニアガイド装置は、使用に際してスライダ（摺動ブロック３６）に作用するモーメントに対応する剛性を持つように作られているので、平坦度測定装置として使用する場合に摺動ブロック３６に実際に作用するモーメントの大きさに対応する適切なモーメント性能を持つリニアガイド装置を使用することで、作用するモーメントで摺動ブロック３６が傾くことを防止することができ、平坦度測定の誤差を少なくすることができる。すなわち、平坦度測定装置の使用時に摺動ブロック３６に作用するモーメントには、図６の断面内で作用するモーメントＭａ、及び図６（ロ）の断面内で作用するモーメントＭｂとがあり、そのモーメントで摺動ブロック３６がＭａ方向あるいはＭｂ方向に傾くと、スピンドル３５ｂが傾いて平坦度測定の誤差となるが、この誤差の発生を防止できる。なお、図６に示したリニアガイド機構は簡略化して示したものである。
【００２９】
スケール部３２には目盛り４５が設けられている。この目盛り４５は例えば貼り付けあるいは刻印により形成することができる。
目盛り４５は次のように設けられている。すなわち、図７のように、両脚部３３、３４の内向き延出部３３ａ、３４ａの対向面３３ｃ、３４ｃを互いに接触させた時、摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面位置３７ａの位置をゼロ点とする目盛りである。
これにより、平坦度測定操作時に、摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面３７ａの位置の目盛りを読み取ると、その目盛りの数値は、摺動脚部３４の内向き延出部３４ａの対向面３４ｃが基準支点位置（固定脚部３３の内向き延出部３３ａの対向面３３ｃの位置）から離間した距離を表す。したがって、測定スパン（両脚部３３、３４の対向面３３ｃ、３４ｃ間の距離）を直ちに読み取ることができる。
【００３０】
また、図７あるいは図８のように、ダイヤルゲージ３５のスピンドル３５ｂの軸心Ｎを固定脚部３３の対向面３３ｃの位置に一致させた時、摺動ブロック３６の摺動脚部側端面３６ｅの位置が、スケール部３２の目盛り４５のゼロ点に一致している。
これにより、平坦度測定操作時に、摺動ブロック３６の摺動脚部側端面３６ｅの位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、スピンドル３５ｂの軸心Ｎが基準支点位置（固定脚部３３の対向面３３ｃの位置）から移動した距離を表す。したがって、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
【００３１】
上記のことは、固定脚部３３側の延出量Ｂと摺動脚部３４側の延出量Ｃとが等しく、かつ摺動ブロック３６の幅ＷがＢ＋Ｃに等しい場合に、正確に実現される。但し、スピンドル３５ｂの軸心Ｎが摺動ブロック３６の幅Ｗの中心にあることを前提としている。
これにより、測定スパンを読み取る目盛りのゼロ点と、平坦度測定位置を読み取る目盛りのゼロ点とが一致するものとなっており、測定時の測定スパンの読み取り及び平坦度測定位置の読み取りの作業が容易になる。
【００３２】
上記の平坦度測定装置３１で平坦度を測定する要領の一例について説明する。
図７に示すように、摺動脚部３４の内向き延出部３４ａの対向面３４ｃを、固定脚部３３の内向き延出部３３ａの対向面３３ｃに接触させる。この時、ダイヤルゲージ３５のスピンドル３５ｂは、両対向面３３ｃ、３４ｃの縦溝３３ｄ、３４ｄで形成された円形穴に挿通された状態となり、その軸心Ｎは互いに接触している対向面３３ｃ、３４ｃの位置と一致している。そして、摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面３７ａは、目盛りのゼロ点を指している。すなわち、この段階で摺動脚部３４のゼロ点位置すなわち測定スパンを計測するゼロ点位置が確認されたことになる。
次いで、摺動脚部３４の対向面３４ｃを図８のように、対象とする測定スパンの他端位置まで移動させる。測定スパンをＬとすると、摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面３７ａの位置の目盛りを読み取れば、その目盛りの数値は、摺動脚部３４の移動距離を表す（すなわち、図８でＬ’＝Ｌ）ことになり、したがって、測定スパンＬが直ちに読み取られることになる。
続いて、摺動ブロック３６を、平坦度を測定しようとする所望の位置に移動させる。例えば、摺動ブロック３６を図１の位置に移動させたとした場合、スピンドル３５ｂの移動距離Ｊは、摺動ブロック３６の摺動脚部側端面３６ｅ（右側端面）の移動距離Ｊ’に等しいから、摺動脚部側端面３６ｅの位置の目盛りを読み取れば、その目盛りの位置が平坦度測定位置を指すことになり、摺動ブロック３６に読取窓を設ける等の必要なしに、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
この平坦度測定操作において、スピンドル３５ｂは測定スパンＬの全範囲に移動することができる。すなわち、測定スパンＬの一方の基準支点位置Ｐ０から反対端Ｐ１までの全範囲を移動することができ、したがって、測定スパンＬの全範囲において平坦度を測定することができる。
【００３３】
上記の平坦度測定装置３１で、例えば角形鋼管のコーナー部近傍の狭い領域の平坦度を測定しようとする場合について、図１１を参照して説明すると、従来の平坦度測定装置２０では、図１１（イ）に模式的に示したように、摺動ブロック２６の幅Ｗ３が制約となって、そのαという測定スパンの平坦度を測定できない。
しかし、上記の本発明の平坦度測定装置３１によれば、図１１（ロ）に示すように、２つの脚部３３、３４の対向面３３ｃ、３４ｃが互いに接触可能であり、測定スパンがゼロまで測定可能であるから、極めて短い測定スパンαに対しても測定することができる。
また、測定スパンＬの範囲内においても、従来の平坦度測定装置２０では摺動ブロック２６の幅Ｗ３の半分（Ｗ３／２）以下の領域βでは、平坦度を測定できないが、前述した通り、本発明の平坦度測定装置３１では、測定スパンＬの全範囲について任意の位置の平坦度を測定できる。
【００３４】
平坦度測定装置３１で平坦度を測定する際の装置の姿勢の安定性について、図３を参照して説明すると、摺動ブロック３６、ダイヤルゲージ３５及びスケール部３２等を含めた平坦度測定装置３１の全体の重心をＧとした時、各安定用張り出し部３３ｂ、３４ｂの左右の張り出し量を、重心Ｇを通る鉛直線Ｋの位置を中心としてそれぞれ等しい距離Ｓの幅に設定する。このＳの幅は、装置の転倒限界より充分大きな寸法とする。すなわち、重心Ｇと安定用張り出し部３３ｂ、３４ｂの下端面におけるダイヤルゲージ３５と反対側のコーナーとを結んだ直線Ｔと重心Ｇを通る鉛直線Ｋとがなす角度θが、この平坦度測定装置３１で作業するする際に作業者が傾けてしまう可能性のある角度より充分大きいような角度に設定しておく。
これにより、測定時に平坦度測定装置３１が転倒するおそれをなくすことができるだけでなく、充分に安定した垂直度（スピンドル３５ｂの垂直度）を保って測定することが容易になり、測定誤差を極力なくすことができる。
【実施例２】
【００３５】
上述の説明では、摺動ブロック３６の幅Ｗを両脚部３３、３４の内向き延出部３３ａ、３４ａの延出量ＢとＣとの和に設定するものとして説明したが、実際には摺動ブロック３６の幅ＷはＢ＋Ｃ（＝２Ｂ＝２Ｃ）より僅かに小さくしておくのが適切である。
すなわち、各部の加工精度等の関係で、摺動ブロック３６の両端面と固定脚部３３の端面及び摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面３７ａとの間に隙間ｃが生じるように余裕として持たせることが適切である。
例えば、図９に示すように、両脚部３３、３４の内向き延出部３３ａ、３４ａの延出量Ｂ、Ｃを３０ｍｍ（Ｂ＋Ｃ＝６０ｍｍ）とした場合、摺動ブロック幅Ｗを例えば５９ｍｍとし、両側に０．５ｍｍの隙間ｃを余裕として持たせることが適切である。これにより、スピンドル３５ｂの軸心Ｎを正しく基準支点位置Ｐ０に位置させることができる。
【００３６】
また、上述の説明では、両脚部３３、３４の内向き延出部３３ａ、３４ａの対向面３３ｃ、３４ｃに形成する半円形の縦溝３３ｄ、３４ｄの深さを、スピンドル３５ｂの直径と等しいとして説明したが、実際には余裕を持たせることが適切である。例えば、図１０に示すように、例えばスピンドル３５ｂの直径ｄ＝５．０ｍｍに対して、２つの対向面３３ｃ、３４ｃを接触させた時に形成される円形穴の直径Ｄ＝６．０ｍｍにする等が適切である。
これにより、スピンドル３５ｂに直接曲げ力ないし剪断力が作用することを防止できる。
【００３７】
なお、上記のように、摺動ブロック幅Ｗに余裕を持たせ（若干短くし）、縦溝３３ｄ、３４ｄの深さに余裕を持たせる（深くする）と、測定スパンＬの計測値、あるいは平坦度測定位置の計測値に若干の誤差（上記の場合で最大０．５ｍｍ）が生じる可能性があるが、測定スパンの誤差あるいは平坦度測定位置の誤差は０．５ｍｍ程度であれば、例えば角形鋼管や軽量形鋼等の平坦度の測定にはほとんど問題とならない。
【００３８】
上述した実施例のように、両脚部３３、３４の内向き延出部３３ａ、３４ａの延出量ＢとＣとを等しくするのが極めて適切であるが、必ずしも等しくしなくてもよい。
また、摺動ブロック３６の幅Ｗを両脚部３３、３４の延出量の和Ｂ＋Ｃに等しいか若干小さくしたが、これに限らずさらに幅を狭くすることができる。要するに、摺動ブロック３６の幅Ｗは両脚部３３、３４の対向面３３ｃ、３４ｃを接触させるために障害とならない幅寸法であればよい。
また、上述の実施例では、摺動脚部３４のスライド部３７の内側端面３７ａを測定スパン計測時の目盛り読み取り位置としたが、必ずしもこれに限らず、脚部３４と一体の適切に設けられた部分で目盛りを指し示すようにすることも可能である。
同様に、平坦度測定位置計測の目盛り読み取り位置を摺動ブロック３６の摺動脚部側端面３６ｅとしたが、これに限らず、摺動ブロック３６と一体の適切に設けられた部分で目盛りを指し示すようにすることが可能である。
また、実施例では摺動ブロック３６及びスケール部３２を、転動体４１が無限転動軌道３９を転動して相互に摺動するリニアガイド機構を採用したが、必ずしもこれに限らず、単なる平坦な摺動面どうしの摺動による摺動機構を採用することも可能である。
また、実施例では２つの脚部の一方３３はスケール部３２に固定された固定脚部としたが、両脚部ともスケール部３２上を摺動可能な摺動脚部とすることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の一実施例の平坦度測定装置の正面図である。
【図２】上記平坦度測定装置の平面図である。
【図３】図１のＡ−Ａ断面矢視図である。
【図４】図１のＢ−Ｂ断面矢視図である。
【図５】図１の要部のＣ−Ｃ断面矢視図である。
【図６】上記平坦度測定装置における摺動ブロックのスケール部に対する摺動機構（リニアガイド機構）を簡略化して示したもので、（イ）は断面図、（ロ）は（イ）のＤ−Ｄ断面図である。
【図７】図１において摺動脚部を固定脚部に接触させた状態を示した図である。
【図８】図７において摺動脚部を固定脚部から測定スパンだけ離間させた状態を示した図である。
【図９】摺動ブロックの幅及び脚部の安定用張り出し部の縦溝の深さについての他の実施例を示すもので、平坦度測定装置の正面図（図７に対応する図）である。
【図１０】図９におけるダイヤルゲージのスピンドル部分の拡大水平断面図である。
【図１１】角形鋼管のコーナー部近傍の狭い領域αの平坦度を測定しようとする場合を例にして、本発明の効果を説明するための図であり、（イ）は従来装置で測定しようとする場合、（ロ）は本発明の平坦度測定装置で測定する場合をそれぞれ示す。
【図１２】従来の平坦度測定装置の正面図である。
【図１３】他の従来の平坦度測定装置の斜視図である。
【図１４】さらに他の従来の平坦度測定装置の正面図である。
【符号の説明】
【００４０】
３１  平坦度測定装置
３２  スケール部
３２ａ  スケール部側の転動体摺動溝
３３  固定脚部
３４  摺動脚部
３３ａ、３４ａ  内向き延出部
３３ｂ、３４ｂ  安定用張り出し部
３３ｃ、３４ｃ  対向面
３３ｄ、３４ｄ  縦溝
３５  ダイヤルゲージ
３５ａ  ステム部
３５ｂ  スピンドル
３６  摺動ブロック
３６ａ  摺動ブロック側の転動体摺動溝
３６ｂ  転動体戻し路
３６ｂ’ 円弧状部
３６ｃ  本体部
３６ｄ  キャップ部
３６ｅ  （摺動ブロックの）摺動脚部側端面
３７  スライド部
３７ａ  （スライド部の）内側端面
３８  固定部材
３９  転動体軌道路
４０  セットボルト
４１  転動体
４２  セパレータ
４４  リニアガイド機構
４５  目盛り
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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