(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼眼底上で測定光を走査するための光走査部を有し測定光と参照光との光干渉により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える眼科撮影装置において、
被検眼眼底の観察画像を取得する観察画像取得手段と、
前記観察画像取得手段によって取得された前記観察画像から画像処理により被検眼眼底の特徴点を抽出し、抽出された前記特徴点に対する相対的な断層画像の取得位置を取得し、前記取得位置における眼底の断層画像が得られるように前記光走査部を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項２】
被検眼眼底上で測定光を走査するための光走査部を有し測定光と参照光との光干渉により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える眼科撮影装置において、
被検眼眼底の観察画像を取得する観察画像取得手段と、
前記観察画像取得手段によって取得された前記観察画像から画像処理により被検眼眼底の乳頭を抽出し、抽出された前記乳頭に対する相対的な断層画像の取得位置を取得し、前記取得位置における眼底の断層画像が得られるように前記光走査部を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える眼科撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、網膜機能を非侵襲的に画像化する装置が知られている。この装置は網膜を照明する照明手段と、網膜の機能応答を誘導する刺激光を照射する網膜刺激照明手段とを有し、刺激光を網膜に照射する前後の網膜画像の状態に基づいて網膜機能を計測し、画像化して評価しようとするものである（特許文献１参照）。
【０００３】
また、被検眼眼底の画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るための干渉光学系を持つ装置が知られている（特許文献２参照）。
【特許文献１】特表２００２−５２１１１５号公報
【特許文献２】特開平１０−３３４８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したような網膜の機能を計測する装置は、刺激光を照射する前の網膜画像の明るさに対する照射後の網膜画像の明るさの変化を読み取るものであるが、刺激光に対する網膜の変化（刺激光による神経組織の活動変化）は微小であるため、その変化を精度よく検出することが重要となる。また、より詳細な網膜機能の計測を行うためには、網膜の深さ方向に渡って計測を行うことが必要となる。
【０００５】
また、前述の干渉光学系において網膜断層像の評価が行われているが、改善の余地がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）  
被検眼眼底上で測定光を走査するための光走査部を有し測定光と参照光との光干渉により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える眼科撮影装置において、
被検眼眼底の観察画像を取得する観察画像取得手段と、
前記観察画像取得手段によって取得された前記観察画像から画像処理により被検眼眼底の特徴点を抽出し、抽出された前記特徴点に対する相対的な断層画像の取得位置を取得し、前記取得位置における眼底の断層画像が得られるように前記光走査部を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。
（２）
被検眼眼底上で測定光を走査するための光走査部を有し測定光と参照光との光干渉により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える眼科撮影装置において、
被検眼眼底の観察画像を取得する観察画像取得手段と、
前記観察画像取得手段によって取得された前記観察画像から画像処理により被検眼眼底の乳頭を抽出し、抽出された前記乳頭に対する相対的な断層画像の取得位置を取得し、前記取得位置における眼底の断層画像が得られるように前記光走査部を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態の眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直（被検者の顔面と同一平面）な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。
【００１１】
図１において、その光学系は、被検眼眼底の画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得るための干渉光学系（以下、ＯＣＴ光学系とする）１００と、赤外光を用いて被検眼の眼底を照明し観察するための眼底ＳＬＯ画像を取得するスキャニングレーザオフサルモスコープ光学系２００（以下、ＳＬＯ光学系とする）と、網膜を刺激するための刺激光を被検眼の眼底に向けて照射するための刺激光照射光学系３００に大別される。本実施形態において、ＯＣＴ光学系１００は、測定光を眼底上にて二次元的に走査する走査ユニットと、被検眼の深さ方向に対する干渉信号を得るために走査ユニットによる測定光の走査に同期させて参照光の光路長を変化させる光路長変化ユニットを有する。
【００１２】
以下にＯＣＴ光学系１００の構成について説明する。１０はＯＣＴ光学系１００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源１０には、例えば、中心波長８４０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。１１は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。ＯＣＴ光源１０から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３０ａを介して、ファイバーカップラー１１によって参照光と測定光とに分割される。したがって、測定光は光ファイバ３０ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３０ｃを介して、後述する参照ミラーユニット４０へと向かう。
【００１３】
測定光を被検眼Ｅへ向けて出射する光路には、測定光を出射する光ファイバ３０ｂの端部３１ｂ、被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なリレーレンズ１２、ガルバノミラー駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を高速で走査させることが可能な一対のガルバノミラーからなる走査部２０と、被検眼Ｅの眼底と共役位置に集光させるためのリレーレンズ２１が配置されている。また、１３はダイクロイックミラー、１４は対物レンズである。ダイクロイックミラー１３は、ＯＣＴ光源１０からの光（赤外光）を反射し、後述する刺激光及び固視灯の光（可視光）を透過する特性を持つ。また、光ファイバ３０ｂの端部３１ｂは、被検眼眼底と共役となるように配置される。また、走査部２０のガルバノミラーの反射面は、被検眼瞳孔と共役な位置に配置される（本実施形態では、一対のガルバノミラーの中間位置と被検眼瞳孔とが共役関係になるように配置されている）。
【００１４】
光ファイバ３０ｂの端部３１ｂから出射した測定光は、リレーレンズ１２を介して、走査部２０のガルバノミラーに達し、一対のガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、ガルバノミラーで反射された測定光は光軸Ｌ２上を通り、リレーレンズ２１を介して、ダイクロイックミラー１３で反射され光軸Ｌ１上を通り、対物レンズ１４を介して、被検眼眼底に集光される。
【００１５】
眼底で反射した測定光は、対物レンズ１４を介して、ダイクロイックミラー１３で反射し、ＯＣＴ光学系１００に向かい、リレーレンズ２１、走査部２０のガルバノミラー、リレーレンズ１２を介して、光ファイバ３０ｂの端部３１ｂに入射する。端部３１ｂに入射した測定光は、光ファイバ３０ｂ、ファイバーカップラー１１、光ファイバ３０ｄを介して、ファイバーカップラー１５に達する。
【００１６】
一方、ファイバーカップラー１１から参照光を参照ミラーユニット４０に向けて出射する光路には、参照光を出射する光ファイバ３０ｃの端部３１ｃ、コリメータレンズ１６、参照ミラーユニット４０、集光レンズ１７、参照光が入射する光ファイバ３０ｅの端部３１ｅが配置されている。参照ミラーユニット４０は、参照光の光路長を変化させるべく、参照ミラー駆動機構５０により光軸方向に移動可能な構成となっている。なお、参照ミラーユニット４０は、ミラー４０ａとミラー４０ｂにより構成される。
【００１７】
光ファイバー３０ｃの端部３１ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ１６で平行光束とされ、参照ミラーユニット４０を構成するミラー４０ａとミラー４０ｂで反射された後、集光レンズ１７により集光されて光ファイバ３０ｅの端部３１ｅに入射する。端部３１ｅに入射した参照光は、光ファイバ３０ｅを介して、ファイバーカップラー１５に達する。
【００１８】
ここで、測定光は眼底の各層で反射し、それぞれ時間的な遅れと、異なる強度を持つ反射測定光となって、ファイバカップラー１５にて参照光と合流する。この２つの光の光路長が等しくなったときに生じる干渉現象を利用して反射測定光の強度を受光素子１８により検出し、さらに参照ミラーユニット４０を光軸方向に移動（走査）させることにより、光軸方向（被検眼の深さ方向）の反射強度分布を得ることができる。なお、本実施形態においては、ある眼底上の一点で参照ミラーユニットの光路長を変化させて光軸方向の反射強度分布を得る方式をＡスキャンとする。さらに、走査部２０により測定光を眼底上でＸ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底のＸＺ面もしくはＹＺ面における断層画像を取得できる。なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して１次元走査し、参照ミラーユニットの光軸方向の移動による光路長を変化によって、網膜断層画像を得る方式をＢスキャンとする。さらに、参照ミラーユニット４０を固定したまま、走査部２０により測定光をＸＹ方向に２次元的に走査することにより、２次元的に眼底画像（ＸＹ面）を得ることも可能である。なお、本実施形態においては、測定光を眼底に対して２次元的に走査させ、参照ミラーの光路とコヒーレンス長内で一致した場合に得られる干渉信号により２次元的な平面のＯＣＴ画像を得る方式をＣスキャンとする。さらに、これらを利用して、走査ユニット２０による測定光の走査及び参照ミラーユニット４０に同期して得られる干渉信号に基づいて３次元ＯＣＴ画像情報を取得できる。この場合、参照ミラーユニット４０を光軸方向に移動させつつ、走査部２０により測定光を眼底に対して２次元に走査することにより、眼底の３次元ＯＣＴ画像情報を取得できる。
【００１９】
なお、Ａスキャン信号を光軸方向手前から測定し、全く信号のない位置から、最初に強い信号を得ることができる位置が眼底表層（網膜表面）の情報となる。したがって、測定光を２軸で走査した際の眼底上の各測定位置（撮影位置）でのＡスキャン信号についてそれぞれ最初に強い信号の反射強度をつなぎ合わせていくことにより、眼底表層を２次元的に表現する眼底平面のＯＣＴ画像（en-face画像）を取得することができる。また、Ｂスキャンによって取得された断層画像は、Ａスキャン信号の１軸スキャンによって構築されるものであるため、眼底表層ＯＣＴ画像の一部の画像信号と、取得された断層画像の眼底表層部分の画像信号とが照合する位置を求めることにより、眼底表層ＯＣＴ画像上のどの位置の断層画像であるかを正確に検出することができる。
【００２０】
次に、ＳＬＯ光学系２００について説明する。本実施形態では、ＳＬＯ光学系の光源としてＯＣＴ光源（光源１０）を兼用するとともに、リレーレンズ１２と光ファイバ３０ｂの端部３１ｂの間にハーフミラー６０を設け、ハーフミラー６０の反射方向に共焦点光学系を構成するための集光レンズ６１と、眼底に共役な共焦点開口６２と、ＳＬＯ用受光素子６３とが設けられている。ＳＬＯ光学系２００において、ハーフミラー６０〜被検眼Ｅまでの光路は、ＯＣＴ光学系１００と共用する。ガルバノミラー（走査部２０）は、ＳＬＯ光学系に用いる光を眼底上でＸＹ方向に走査するために、ＯＣＴ光学系１００と兼用される。この場合、走査部２０により測定光をＸＹ方向に２次元的に走査することにより、眼底ＳＬＯ画像を取得することができる。
【００２１】
次に、刺激光照射光学系について説明する。刺激光照射光学系３００は、フラッシュランプ等の光源２２、波長選択フィルタ２３、投光レンズ２４、ハーフミラー２５、対物レンズ１４からなる。波長選択フィルタ２３は、網膜を刺激することが可能な波長を選択的に透過させる特性を有する。なお、波長選択フィルタ２３は、錐体刺激用フィルタ、桿体刺激用フィルタ、赤色,緑色,青色のみを各々透過させる色フィルタ等の複数の波長選択フィルタを用意して、適宜取り替えるようにすることもできる。
【００２２】
光源２２は投光レンズ２４、対物レンズ１４を介して被検眼Ｅの瞳孔付近と共役な位置に配置されている。光源２２から発せられた光（刺激光）は、波長選択フィルタ、投光レンズ２４を介した後、ハーフミラー２５により反射される。ハーフミラー２５により反射した刺激光は、ダイクロイックミラー１３を透過した後、対物レンズ１４を経て被検眼Ｅの瞳孔付近にて一旦集光した後、被検眼眼底を一様に照明する。
【００２３】
なお、１はＬＥＤ等からなる固視用の光源、２は絞り、３はコリメータレンズ、４はリレーレンズである。なお、絞り２はコリメータレンズ３、リレーレンズ４、対物レンズ１４を介して被検眼Ｅの眼底と共役な位置に置かれる。固視用の光源１を発した光束は、絞り２を照明する。絞り２を透過した光は、コリメータレンズ３、リレーレンズ４、ハーフミラー２５を介した後、ダイクロイックミラー１３付近（眼底共役位置）にて一旦収束し、対物レンズ１４を経て被検眼Ｅ眼底に収束する。
【００２４】
７０は装置全体の制御を行うためのＣＰＵ等からなる制御部である。制御部７０には光源１，１０，２２、参照ミラー駆動機構５０、ガルバノミラー駆動機構５１、受光素子１８，６３、画像処理部７１、記憶部７２、種々の操作を行うためのスイッチ類が設けられたコントロール部７３、モニタ７４等が接続される。画像処理部７１は、受光素子１８や受光素子６３にて受光した信号を基に被検眼眼底の画像形成や網膜機能を画像化する役目を持つ。また、モニタ７４には画像処理部７１にて形成した眼底画像や網膜機能情報が表示される。なお、コントロール部７３には、ＯＣＴ画像における撮影条件を設定するための条件設定スイッチ群７３ａ、ＳＬＯ画像やＯＣＴ画像を取得するための撮影スイッチ７３ｂ、刺激光照射スイッチ７３ｃ、刺激光照射前と照射後における網膜の状態変化を解析するための解析用のスイッチ７３ｄ等が用意される。条件設定スイッチ群７３ａでは、Ｂスキャン画像（網膜断層像）やＣスキャン画像（眼底平面の画像）、または３次元的な画像（Ｂスキャン+Ｃスキャン）の選択、Ｃスキャン画像における深さ方向（奥行方向）の撮像ステップ間隔の設定等を行うことができる。
【００２５】
以上のような構成を備える装置において、その動作を説明する。なお、ここではＯＣＴ画像としてＣスキャン画像を得て網膜の機能測定を行う方法を説明する。まず、検者は、コントロール部７３の条件設定スイッチ群７３ａを用いて、Ｃスキャン画像の取り込み，及び奥行方向における撮像ステップの間隔（例えば、１ｍｍの奥行を５０μｍステップで撮影）を設定しておく。
【００２６】
光源１０からは測定光（低コヒーレント光）がＯＣＴ光学系１００を介して被検眼Ｅの眼底上を２次元的に走査しており、眼底からの反射光はＳＬＯ光学系２００によって受光されている。画像処理部７１は得られた受光信号に基づいて図２に示すような眼底観察画像（ＳＬＯ画像）をモニタ７４の画面上にリアルタイムで表示する。また、検者は、表示モニタ７５に表示されるＳＬＯ画像に基づいて眼底にフォーカスを合わせた後、固視用光源１を点灯させ、被検眼Ｅを固視させておく。
【００２７】
被検眼Ｅと装置とのアライメントが完了したら、次に検者は撮影スイッチ７３ｂを使用し、刺激光照射前のＯＣＴ画像の撮影を行う。撮影スイッチ７３ｂが使用されると、制御部７０は、参照ミラー駆動機構５０を駆動させ、所定の走査ステップ数での画像が得られるよう走査部２０の駆動に対応させて参照ミラーユニット４０を光軸方向に移動させていく。受光素子１８では、参照光と眼底からの反射測定光との合成による干渉光が逐次検出され、画像処理７１は、測定光のＸＹ方向の反射強度分布を取得する。なお、参照ミラーユニット３１が光軸方向に移動しているため、奥行方向における所定間隔毎の反射強度分布を取得することができる。そして、画像処理部７１は、得られた奥行方向における各深さ毎のＸＺ方向の反射強度分布に基づいて眼底のＯＣＴ画像（Ｃスキャン画像）を得る。また、画像処理部７１は同時に眼底表面のＳＬＯ画像（静止画像）も取得しておき、このＳＬＯ画像と共にＯＣＴ画像をＳＬＯ画像に対応付けた状態で記憶部７２に記憶させておく。
【００２８】
次に検者は、刺激光照射スイッチ７３ｃを使用して、被検眼眼底に刺激光を照射させる。刺激光照射スイッチ７３ｃが押されると、制御部７０は光源２２を用いてフラッシュ光を発し、被検眼Ｅの網膜を刺激する。被検眼Ｅの眼底に刺激光が照射されることより、網膜を構成する細胞が刺激され、これに基づく神経細胞の活動が起こる。
【００２９】
刺激光の照射後、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００、ＳＬＯ光学系２００及び画像処理部７１を用いて、刺激光の照射後の眼底画像を前述同様に撮影し、ＳＬＯ画像及び対応するＯＣＴ画像を取得し記憶部７２に記憶させる。刺激光照射後に行う撮影は１回だけでなく、網膜機能の変化が判るように、刺激光照射後、所定の間隔（例えば照射１秒後、２秒後…）にて経時的に眼底画像を撮影、記憶させてもよい。なお、本実施形態では、刺激光照射から照射後の眼底画像取得まで、自動的に行われるものとしているが、これに限るものではなく、個々の動作を手動にて行うようにすることもできる。
【００３０】
所定の眼底画像を記憶部７２に記憶した後、コントロール部７３の解析スイッチ７３ｄを押す。解析スイッチ７３ｄが押されると、画像処理部７１は、記憶部７２に記憶された刺激光照射前のＯＣＴ画像と照射後のＯＣＴ画像とに基づいて、その輝度の差から網膜機能を計測し、その結果をモニタ７４に表示する。被検眼Ｅの眼底に網膜を刺激する刺激光が照射され、網膜を構成する細胞が刺激を受けると、この刺激に伴って神経細胞の活動に変化が起こり、この神経活動が起こった部位の反射光の強度（反射率）が変化する。このため、刺激光照射前後における眼底画像の明るさの変化を読み取ることにより、この神経細胞の活動の変化に起因する内因性の信号変化が得られることとなり、これによって網膜機能を計測できることとなる。
【００３１】
次に、この網膜機能を計測するための方法を図３のフローチャートを用いて以下に説明する。
【００３２】
画像処理部７１は、網膜機能を計測するにあたって始めに記憶部７２に記憶させた刺激光照射前のＳＬＯ画像と照射後のＳＬＯ画像との位置合せを行う。位置合せは、照射前のＳＬＯ画像及び照射後のＳＬＯ画像から画像処理により特徴点（例えば、血管形状、乳頭、黄斑部等）を抽出し、両画像を相対的に移動、拡大、縮小等行うようにして両画像の特徴点が最も一致する位置を演算処理により求める。なお、位置合せの方法はこれに限るものではなく、周知の画像処理技術を用いてもよい。
【００３３】
このような照射前と照射後のＳＬＯ画像の位置合わせにより、両ＳＬＯ画像の相対的な位置ズレ量が求まることとなる。次に画像処理部７１は得られた両ＳＬＯ画像の相対的な位置ズレ量（位置ズレ情報）に基づいて、両ＳＬＯ画像の各々に対応して記憶されているＯＣＴ画像同士の相対的な位置ズレがなくなるように演算処理しておく。画像処理部７１は照射前及び照射後のＯＣＴ画像同士の位置ズレが相殺された状態で、照射前のＯＣＴ画像に対する照射後のＯＣＴ画像の明るさの変化を各画素毎に求める。明るさの変化は差分や比等求めることによって得られる。画像処理部７１は、得られた明るさの変化情報を各画素に対応させてモニタ７４に表示する。明るさの変化情報としては、濃淡の画像として表示する方法や、差分や比の数値情報、この数値情報を網膜機能を評価するための所定の解析プログラムにより演算処理した情報等によってグラフィックや数値情報として表すことができる。なお、網膜機能の計測のために比較をするＯＣＴ画像は、共に同じ深さ（奥行）で得られたＯＣＴ画像同士を用いる。したがって、本実施形態では奥行方向に対して所定間隔毎にＯＣＴ画像を得ているため、照射前及び照射後における同じ深さのＯＣＴ画像同士を順次比較して、その変化情報をモニタ７４に表示することにより、網膜機能の変化を眼底の深さ方向に対して詳細に計測することができる。また、取得したＯＣＴ画像を全て比較しなくとも、コントロール部７３により深さ位置を選択して、対応する照射前及び照射後のＯＣＴ画像同士を比較することも可能である。
【００３４】
このようにＯＣＴ画像は奥行方向に対して非常に分解能がよく網膜の機能を計測するのに適している反面、横方向に対しては分解能がよくないため特徴点を抽出し難く、時間をおいて撮影した画像同士の位置ズレを補正するのには不向きである。一方、ＳＬＯ画像はＯＣＴ画像に比べ奥行方向の分解能は劣るものの、横方向に対して非常に分解能が良く、得られた画像における特徴点の抽出が行い。したがって、時間をおいて撮影した画像同士の位置ズレを補正するのには大変有効である。
【００３５】
なお、上述ではＣスキャンのＯＣＴ画像を用いた網膜機能の計測を例に挙げ、説明したが、これに限るものではない。Ｂスキャンの網膜断面画像を用いて網膜機能の計測を行うこともできる。以下にＢスキャン画像（網膜断面画像）を用いて網膜機能を計測する場合について説明する。
【００３６】
まず、検者はコントロール部７３の条件設定スイッチ群７３ａを用いて、Ｂスキャン画像を取得する条件設定を行うとともに、リアルタイムで観察される表示モニタ７４上のＳＬＯ画像から検者の撮影したい網膜断層画像の位置を設定する。検者は、図示なき測定位置設定スイッチを操作して、図４に示すように画面上のＳＬＯ画像上に電子的に表示される測定位置（取得位置）を表すライン２００をＳＬＯ画像に対して移動させていき、コントロール部７３を用いて測定位置を決定する。
【００３７】
測定位置が決定されると、画像処理部７１は、モニタ７４上に表示されているＳＬＯ画像（観察画像）に対するライン２００の形成位置情報を記憶部７２に記憶させておく。ＳＬＯ画像に対するライン２００の形成位置情報は、例えばＳＬＯ画像の特徴点（血管、乳頭等）に対するライン２００の形成位置情報として取得しておけばよい。
【００３８】
その後、検者により撮影スイッチ７４ｂの入力があると、制御部７０は、モニタ７４に表示されているＳＬＯ画像をＢスキャン画像取得時における観察画像として記憶部７２に記憶させると共に、画面上のＳＬＯ画像上に設定されたライン２００の表示位置に基づいて、このライン２００の位置における眼底の断層画像が得られるように、走査部２０を駆動させて測定光を走査させる。なお、ライン２００の表示位置（モニタ上における座標位置）と走査部２０による測定光の走査位置との関係は、予め定まっているので、制御部７０は設定したライン２０の表示位置に対応する走査範囲に対して測定光が走査されるように、走査部２０の一対のガルバノミラーを適宜駆動制御する。また、制御部７０は参照ミラー駆動機構５０を駆動させ、所定の走査ステップ数での画像が得られるよう参照ミラーユニット４０を光軸方向に移動させていき、Ｂスキャン画像を取得する。得られたＢスキャン画像は先に取得したＳＬＯ画像に対応付けられて記憶部７２に記憶される。
【００３９】
次に検者は、刺激光照射スイッチ７３ｃを使用して、被検眼眼底に刺激光を照射させる。刺激光照射スイッチ７３ｃが押されると、制御部７０は光源２２を用いてフラッシュ光を発し、被検眼Ｅの網膜を刺激する。刺激光の照射後、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００、ＳＬＯ光学系２００及び画像処理部７１を用いて、刺激光の照射後のＢスキャン画像を前述同様に撮影し、ＳＬＯ画像及び対応するＢスキャン画像を取得し記憶部７２に記憶させる。なお、照射後の被検眼ＥのＢスキャン画像は、記憶部７２に記憶されたＳＬＯ画像に対するライン２００の形成位置情報に基づいて取得される。得られた照射後のＢスキャン画像は記憶部７２に記憶される。
【００４０】
所定の眼底画像を記憶部７２に記憶した後、コントロール部７３の解析スイッチ７３ｄを押す。解析スイッチ７３ｄが押されると、画像処理部７１は、記憶部７２に記憶された刺激光照射前のＢスキャン画像と照射後のＢスキャン画像とに基づいて、その輝度の差から網膜機能を計測し、その結果をモニタ７４に表示する。このようなＢスキャンのＯＣＴ画像では、眼底の深さ方向に対しての網膜機能の評価を行うことができる。
【００４１】
なお、ＢスキャンとＣスキャンのＯＣＴ画像を走査範囲全体に渡って取得することにより、３次元的な眼底のＯＣＴ画像を取得することも可能である。このように一度に３次元的なＯＣＴ画像を取得する際においても、刺激光照射前、照射後のＳＬＯ画像と対応させてＯＣＴ画像を記憶させておき、位置ズレ補正はＳＬＯ画像によって行っておけばよい。このように予め３次元的にＯＣＴ画像を取得しておけば、適宜Ｂスキャン画像、Ｃスキャン画像を取り出して、網膜機能を計測することが可能となる。
【００４２】
また、以上の説明においては、参照ミラーユニット４０を光軸上に移動させて光路長を変化させることにより、光干渉画像を取得する構成を持つＴＤ−ＯＣＴ（time domain OCT）を用いたが、これに限るものではなく、他の測定原理によって干渉画像を取得するものであってもよい。例えば、測定光と参照光の合成により得られる干渉光を回折格子を介して周波数成分に分光して受光させ、得られた受光信号をフーリエ変換を用いて演算することにより干渉画像像を取得するＳＤ−ＯＣＴ（spectral domain OCT）であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本実施形態の光学系及び制御系を示した図である。
【図２】モニタに表示される観察画像の一例を示した図である。
【図３】刺激光照射前及び照射後のＯＣＴ画像を比較方法の流れを示したフローチャートである。
【図４】網膜断面画像の取得位置の設定を示した図である。
【符号の説明】
【００４４】
１  固視用光源
２  絞り
１０  ＯＣＴ光源
２０  走査ユニット
２２  光源
２３  波長選択フィルタ
４０  参照ミラーユニット
７０  制御部
７１  画像処理部
７２  記憶部
７３  コントロール部
７４  モニタ
１００  ＯＣＴ光学系
２００  ＳＬＯ光学系
３００  刺激光照射光学系
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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