(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバの一端を回転可能に把持し、該光ファイバの他端をフェルールに挿通して所定長露出させ、該露出部分を被測定光ファイバとし、該被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点に対して、該軸方向にほぼ垂直かつ互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱した２つの散乱反射光のそれぞれの代表位置を、該被測定光ファイバ軸と平行な軸上の座標位置として計測し、得られた２つの座標位置の差分を求め、次いで、該光ファイバを所定角度回転させ、同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求める操作を複数回繰返し、得られたそれぞれの角度での差分から［数１］式を用いて、正の値を取る振幅 ＳA の代表値を求め、
［数１］  ｄｉ ＝ ＳA ×ｃｏｓ（θｉ − φ）＋Δｚ  
（ここで、ｄｉは第ｉの差分、θｉは第ｉの角度、Δｚは平行な２本のビーム光線の間隔、φは位相角度をそれぞれ示している）
さらに振幅 ＳA から［数２］式を用いて曲率ｋを求め、これを第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率ｋとし、
［数２］  ｋ＝ＳA ／（２ Ｌ Δｚ）
（ここで、Ｌは光ファイバとスクリーンとの距離）
次いで、フェルールと２本の光ビームとの相対位置を一定に保ちつつ、フェルールを挿通する被測定光ファイバの挿通長さを変更することにより、ビーム光線を照射する被測定光ファイバの長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率を求める［数２］式までの一連の処理を行って、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率を求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率まで求めることを特徴とする光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項２】
前記第１の曲率から第ｍの曲率までの値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値を求める請求項１に記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項３】
光ファイバの一端を回転可能に把持し、該光ファイバの他端をフェルールに挿通して所定長露出させ、該露出部分を第１の被測定光ファイバとし、該第１の被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点に対して、該軸方向にほぼ垂直かつ互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱した２つの散乱反射光のそれぞれの代表位置を、該被測定光ファイバ軸と平行な軸上の座標位置として計測し、得られた２つの座標位置の差分を求め、次いで、該光ファイバを所定角度回転させ、同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求める操作を複数回繰返し、得られたそれぞれの角度での差分から［数３］式を用いて、正の値を取る振幅 ＳA の代表値を求め、
［数３］  ｄｉ ＝ ＳA ×ｃｏｓ（θｉ − φ）＋Δｚ  
（ここで、ｄｉは第ｉの差分、θｉは第ｉの角度、Δｚは平行な２本のビーム光線の間隔、φは位相角度をそれぞれ示す）
さらに振幅 ＳA から［数４］式を用いて曲率を求め、これを該第１の被測定光ファイバの、第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率ｋとし、
［数４］  ｋ＝ＳA ／（２ＬΔｚ）
（ここで、Ｌは光ファイバとスクリーンとの距離）
次いで、フェルールと２本の光ビームとの相対位置を一定に保ちつつ、フェルールを挿通する被測定光ファイバの挿通長さを変更することにより、ビーム光線を照射する該第１の被測定光ファイバの長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率を求める［数４］式までの一連の処理を行って、該第１の被測定光ファイバの、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率を求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率まで求め、次に、該光ファイバの回転可能に把持した位置は変えずに、フェルールから露出した部分を切り詰めて前記第１の被測定光ファイバよりも短尺とし、これを第２の被測定光ファイバとし、同様の手順で、該第２の被測定光ファイバの、第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率を求め、該第２の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率と、前記第１の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率との差分を求め、同様にして前記第１の被測定光ファイバと該第２の被測定光ファイバとの第１の曲率から第ｍの曲率までの差分を求め、 前記第１の被測定光ファイバの第１の曲率から第ｍの曲率までの値を補正することを特徴とする光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項４】
前記第１の被測定光ファイバの第１の補正された曲率から第ｍの補正された曲率までの値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値を求める請求項３に記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項５】
前記スクリーン上で検出した２つの散乱光のそれぞれの代表位置が、受光強度の最大点位置である請求項１乃至４のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項６】
前記スクリーン上で検出した２つの散乱光のそれぞれの代表位置が、予め設定した所定の受光強度しきい値を越えた範囲の中点位置である請求項１乃至４のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項７】
第１の角度方向から第ｎの角度方向までの実質的な移動角度範囲が１８０°以上である請求項１乃至６のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項８】
前記ｎが、４以上である請求項７に記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項９】
前記ＳA の代表値が、最小２乗近似フィッティングによって求められる請求項１乃至８のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項１０】
前記ＳA の代表値が、フーリエ変換によって求められる請求項１乃至８のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
【請求項１１】
光ファイバの曲率ｋから［数５］式の計算を行なって曲率半径ｒを求める請求項１乃至１０のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
［数５］  ｒ ＝ １ ／ ｋ
【請求項１２】
光ファイバの曲率の代表値ｋａから［数６］式の計算を行なって曲率半径の代表値ｒａを求める請求項２または４乃至１１のいずれかに記載の光ファイバの曲率の測定方法。
（数６］  ｒａ ＝１／ｋａ
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバの長手方向の曲率、特には長手方向の曲率変動の測定方法に係る。
【背景技術】
【０００２】
通信用光ファイバの敷設に際し、ときには光ファイバを融着接続器で接続することがあるが、図１で示すように、一般に、２つの光ファイバ１の融着端近くをＶ溝２で把持し、光ファイバの先端をアーク放電により融着する。光ファイバがある曲率を持って湾曲している場合、Ｖ溝の把持部分で片持ち状態となった光ファイバの先端がＶ溝の延長線上からズレて、融着端での２つの光ファイバのコア同士にズレが生じ、接続損失の原因となる。このことから、光ファイバの曲率あるいは曲率半径は、精度良く測定する必要がある。なお、符号３はＶ溝台であり、符号４は把持部材である。
The International Electrotechnical Commission（IEC）発行の規格である技術文献１によると、光ファイバの曲率半径は２ｍ以上とされている。また、リボンケーブルの場合には、数本の光ファイバを一度に融着接続する必要性から、各光ファイバの曲率の影響を受けやすく、その規格は４ｍ以上とされている。
【０００３】
光ファイバの曲率、曲率半径の測定方法は幾つか提案されている。技術文献２に述べられているが、主に２つの手法に大別される。
一つは「Side view microscopy」と呼ばれる方法で、図２に示すように、光ファイバの一部を真空チャック方式のＶ溝などに半固定し、所定量前方に突き出させて片持ち状態にした状態で光ファイバを軸周りに回転させる。このとき、光ファイバの突き出した部分の曲率と、突き出した長さに応じて先端の振れ周り量が変わることを利用して測定する方法である。
先端の振れ周り量を顕微鏡などで測定し、Ｖ溝から突き出した部分の曲率が全長に亘って同一と仮定して、曲率を計算する。この手法は、測定装置が簡便な反面、Ｖ溝に光ファイバが接しながら回転するため、Ｖ溝表面と接する光ファイバ表面の平坦度や清浄度が測定誤差要因となる。また、突き出し部分の長さを十分長くすることによって、振れ周り量の測定精度が上がる反面、光ファイバの自重によるたわみの影響を受けやすくなる問題がある。
【０００４】
もう一つは「Laser beam scattering」と呼ばれる方法で、図３の様に、フェルール５を貫通して突き出した光ファイバ１の側面に２本の平行なビーム光線６を当て、反射した散乱光７の軸方向の広がり量を、ＣＣＤラインセンサ８などを用いて観測する。光ファイバ１を軸周りに回転させたときの、光ファイバ１の曲率に応じて広がり量の最大振幅が決定されることを利用して、２本のビーム光線６が当たった区間の曲率を測定する方法である。ここでフェルール５は、光ファイバ１をビーム光線６に対してほぼ垂直に保つための支持具に過ぎず、平坦度等の制約が比較的少ないため、比較的高精度な測定が可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】IEC 60793-2-50 Edition 3.0 2008-05,Optical fibres-Part 2-50:Product specifications-Sectional specification forclass Ｂ single mode fibres．
【特許文献２】IEC  60793-1-34,Optical fibres-Part １-34：Measurement methodsand test procedures-Fibre curl．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光ファイバの曲率の測定を重ねるうちに、この曲率が１本の光ファイバの長手方向に思いの外バラついていることが判明した。図４は、市販の光ファイバの曲率ｋ［／ｍ］を長手方向に測定した例である。測定には、市販のLaser beam scattering 方式の測定器（タキカワエンジニアリング社製、FB-240）を用いた。ここでは、光ファイバを２ｃｍずつ切り詰めながら測定器に挿入し、測定を繰り返した。図４からは、この光ファイバの曲率は、概ね ０．０６５±０．０４〜０．０５／ｍであり、その変動周期は５０〜４００ｍｍとまちまちであることが認められる。
光ファイバの曲率を正確に評価するには、このように光ファイバの長手方向に微小区間での曲率を複数点測定しなければならないが、数百ｍｍの区間の曲率変動を、光ファイバを切り詰めながらの測定は人手に頼らなければならず、１本の測定に１時間以上掛かることが普通であった。
【０００７】
このような状況に鑑みて、本発明の目的は、光ファイバの長手方向の曲率変動を容易かつ高精度に測定する方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の測定方法は、光ファイバの一端を回転可能に把持し、該光ファイバの他端をフェルールに挿通して所定長露出させ、該露出部分を被測定光ファイバとし、該被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点に対して、該軸方向にほぼ垂直かつ互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱した２つの散乱反射光のそれぞれの代表位置を、該被測定光ファイバ軸と平行な軸上の座標位置として計測し、得られた２つの座標位置の差分を求め、次いで、該光ファイバを所定角度回転させ、同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求める操作を複数回繰返し、得られたそれぞれの角度での差分から［数１］式を用いて、正の値を取る振幅
ＳA の代表値を求める。
［数１］
ｄｉ ＝ＳA ×ｃｏｓ（θｉ−φ）＋Δｚ  
（ここで、ｄｉは第ｉの差分、θｉは第ｉの角度、Δｚは平行な２本のビーム光線の間隔、φは適当な位相角度をそれぞれ示す）
さらに振幅 ＳA から［数２］式を用いて曲率ｋを求め、これを第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率ｋとする。
［数２］
ｋ＝ＳA ／（２ＬΔｚ）
（ここで、Ｌは光ファイバとスクリーンとの距離）
【０００９】
次いで、フェルールと２本の光ビームとの相対位置を一定に保ちつつ、フェルールを挿通する被測定光ファイバの挿通長さを変更することにより、ビーム光線を照射する被測定光ファイバの長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率を求める［数２］式までの一連の処理を行って、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率を求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率まで求めることを特徴としている。なお、前記第１の曲率から第ｍの曲率までの値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値が求められる。
【００１０】
本発明の第２の測定方法は、光ファイバの一端を回転可能に把持し、該光ファイバの他端をフェルールに挿通して所定長露出させ、該露出部分を第１の被測定光ファイバとし、該第１の被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点に対して、該軸方向にほぼ垂直かつ互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱した２つの散乱反射光のそれぞれの代表位置を、該被測定光ファイバ軸と平行な軸上の座標位置として計測し、得られた２つの座標位置の差分を求め、次いで、該光ファイバを所定角度回転させ、同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求める操作を複数回繰返し、得られたそれぞれの角度での差分から［数３］式を用いて、正の値を取る振幅ＳA の代表値を求める。
［数３］  
ｄｉ ＝ＳA ×ｃｏｓ（θｉ−φ）＋Δｚ  
（ここで、ｄｉは第ｉの差分、θｉは第ｉの角度、Δｚは平行な２本のビーム光線の間隔、φは位相角度をそれぞれ示す）
さらに振幅 ＳA から［数４］式を用いて曲率を求め、これを該第１の被測定光ファイバの、第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率ｋとする。
［数４］  ｋ＝ＳA ／（２ＬΔｚ）
（ここで、Ｌは光ファイバとスクリーンとの距離）
【００１１】
次いで、フェルールと２本の光ビームとの相対位置を一定に保ちつつ、フェルールを挿通する被測定光ファイバの挿通長さを変更することにより、ビーム光線を照射する該第１の被測定光ファイバの長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率を求める［数４］式までの一連の処理を行って、該第１の被測定光ファイバの、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率を求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率まで求める。
【００１２】
次に、該光ファイバの回転可能に把持した位置は変えずに、フェルールから露出した部分を切り詰めて前記第１の被測定光ファイバよりも短尺とし、これを第２の被測定光ファイバとし、同様の手順で、該第２の被測定光ファイバの、第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率を求め、該第２の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率と、前記第１の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率との差分を求め、同様にして前記第１の被測定光ファイバと該第２の被測定光ファイバとの第１の曲率から第ｍの曲率までの差分を求め、
前記第１の被測定光ファイバの第１の曲率から第ｍの曲率までの値を補正することを特徴としている。そして、前記第１の被測定光ファイバの第１の補正された曲率から第ｍの補正された曲率までの値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値が求められる。
【００１３】
前記スクリーン上で検出した２つの散乱光のそれぞれの代表位置は、受光強度の最大点位置、もしくは予め設定した所定の受光強度しきい値を越えた範囲の中点位置としてもよい。
また、第１の角度方向から第ｎの角度方向までの実質的な移動角度範囲は１８０°以上とするのが望ましい。なお、ｎは４以上とするのが望ましい。
前記ＳA の代表値は、最小２乗近似フィッティングによって、あるいはフーリエ変換によって求めてもよい。
【００１４】
また、光ファイバの曲率ｋから［数５］式の計算を行なって曲率半径ｒが求められる。
［数５］  ｒ＝１／ｋ
さらに、光ファイバの曲率の代表値ｋａから［数６］式の計算を行なって曲率半径の代表値ｒａが求められる。
［数６］  ｒａ ＝１／ｋａ
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、長手方向の測定動作は自動化も容易で、測定作業を簡略化することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】光ファイバの融着作業を説明する概略図である。
【図２】Side view microscopy法と呼ばれる光ファイバの曲率測定方法を説明する概略図である。
【図３】Laser beam scattering法と呼ばれる光ファイバの曲率測定方法を説明する概略図である。
【図４】市販の光ファイバの曲率ｋ［／ｍ］を長手方向Ｌに測定した例を示すグラフである。
【図５】実施例で使用した曲率測定装置の概略を示す図である。
【図６】ｄｉ とθｉとの関係を示すグラフである。
【図７】被測定光ファイバの長手方向の位置ｚと曲率ｋとの関係を示すグラフである。
【図８】図７とは別の光ファイバで測定した、被測定光ファイバの長手方向の位置ｚと曲率ｋとの関係を示すグラフである。
【図９】被測定光ファイバの下端を切り詰め短くして測定する様子を説明する図である。
【図１０】補正した被測定光ファイバの長手方向の位置ｚと曲率ｋとの関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の第１の測定方法は、光ファイバの一端を回転ホルダに把持し、他端をフェルール（光ファイバの外径と同程度のやや大きめの穴のあいた円筒）に挿通して所定長露出させ、該露出部分を被測定光ファイバとし、該被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点のそれぞれに対し、前記軸方向に垂直な方向から互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱したそれぞれのビーム光線の散乱反射光を、該光ファイバから所定長離れた位置に設置したスクリーン上で検出し、それぞれのビーム光線に対する２つの散乱反射光の代表位置を該光ファイバ軸と平行な軸上の座標位置としてそれぞれ計測し、得られた２つの座標位置の差分を算出し、これを第１の角度方向の第１の差分とする。
【００１８】
次いで、該光ファイバを該軸を中心に所定角度回転させ、上記と同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求め、これを第２の角度方向の第２の差分とし、さらに、該光ファイバを該軸を中心に所定角度回転させて前記座標位置の差分を求める操作を繰返し、ｉ回目の回転に対して第（ｉ＋１）の角度方向の第（ｉ＋１）の差分とし、この操作を複数回繰返して、第ｎの角度方向の第ｎの差分まで求める。
【００１９】
これらｎ個の差分を対応するそれぞれの角度に対して、前記［数１］式を用いて
正の値を取る振幅 ＳA の代表値を求める。なお、［数１］式で用いる位相角度φもフィッティグによってSaとともに得られる適当な代表値であり、物理的にはファイバの屈曲している方向の角度を示す。これらは、通常は例えば最小２乗近似アルゴリズムを用いてdiとSa×cos(θi-φ)＋Δzとの誤差が最小になる様に決定される。また、diの値の中に測定不具合等による特異値が存在する場合に、それを予め設定したしきい値等により検出し、近似計算操作から除外するアルゴリズムを用いることもできる。
【００２０】
次いで、ビーム光線を照射する光ファイバ長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率ｋを求める前記［数２］式までの一連の処理を行って、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率ｋを求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率までが求められる。得られた第１から第ｍまでの曲率の値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値を求める。
【００２１】
本発明の第２の測定方法は、光ファイバの一端を回転ホルダに把持し、他端はフェルールに挿通して所定長露出させ、これを第１の被測定光ファイバとし、該第１の被測定光ファイバの軸方向側面上の所定長離れた２点のそれぞれに対し、前記軸方向に垂直な方向から互いに平行な２本のビーム光線を照射し、前記側面上で散乱したそれぞれのビーム光線の散乱反射光を、該光ファイバから所定長離れた位置に設置したスクリーン上で検出し、それぞれのビーム光線に対する２つの散乱反射光の代表位置を該被測定光ファイバの軸と平行な軸上の座標位置としてそれぞれ計測し、得られた２つの座標位置の差分を算出し、これを第１の角度方向の第１の差分とする。
【００２２】
次いで、該光ファイバを該軸を中心に所定角度回転させ、上記と同様の操作を行って２つの座標位置の差分を求め、これを第２の角度方向の第２の差分とし、さらに、該光ファイバを該軸を中心に所定角度回転させて前記座標位置の差分を求める操作を繰返し、ｉ回目の回転に対して第（ｉ＋１）の角度方向の第（ｉ＋１）の差分とし、この操作を複数回繰返して、第ｎの角度方向の第ｎの差分まで求める。
【００２３】
これらｎ個の差分を対応するそれぞれの角度に対して、前記［数３］式を用いて正の値を取る振幅 ＳA の代表値を求める。
さらに、算出した振幅ＳA 値を前記［数４］式に代入して曲率ｋを求め、これを第１の被測定光ファイバの、第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率とする。
【００２４】
次いで、ビーム光線を照射する該第１の被測定光ファイバの長手位置を光ファイバの軸方向に沿って所定長移動し、再び同様にして、複数の角度での前記差分及び振幅ＳA 値を得て曲率を求める［数４］式までの一連の処理を行って、第１の被測定光ファイバの、第２の光ファイバ長手位置の第２の曲率を求め、この一連の処理をさらに複数回繰り返して、第ｍの光ファイバ長手位置の第ｍの曲率までを求める。
【００２５】
次に、該光ファイバの回転可能に把持した位置は変えずに、フェルールから露出した部分を切り詰めて前記第１の被測定光ファイバよりも短尺とし、これを第２の被測定光ファイバとし、同様の手順で、該第２の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率を求める。
【００２６】
該第２の被測定光ファイバの第１の光ファイバ長手位置の第１の曲率と、前記第１の被測定光ファイバの第１の長手位置の第１の曲率との差分を求め、同様にして前記第１の被測定光ファイバと該第２の被測定光ファイバとの第１の曲率から第ｍの曲率までの差分を求め、前記第１の被測定光ファイバの第１の曲率から第ｍの曲率までの値を補正する。
そして、前記第１の被測定光ファイバの第１の補正された曲率から第ｍの補正された曲率までの値に基づいて、該光ファイバの曲率の代表値が求められる。
【００２７】
光ファイバの曲率を測定する従来の方法は、先に説明した Laser beam scattering方式を応用したものであるが、その従来方式では、光ファイバの先端を４０〜５０ｍｍ程度被覆除去を行い、この部分を被測定光ファイバとして測定器に挿入し、光ファイバを軸方向に手動回転させながらスクリーン上の散乱光の幅（差分）ｄを観察し、２本の平行なビーム光線の間隔Δｚとから、振幅が最大値ＳmaxとなるＳ（＝ｄ-Δｚ）をピークホールドによって求めるものである。
【００２８】
これに対して、本発明の第１の測定方法では、光ファイバの先端を２００〜３００ｍｍあるいはそれ以上被覆を除去し、この部分を被測定光ファイバとし、測定器に挿入する。ここでフェルールと２本のビーム光線とスクリーン（ＣＣＤラインセンサなど）との相対的な位置関係は一定であり、フェルールに挿通した光ファイバの露出長さを可変にしたのが特徴であり、被測定光ファイバの長手方向の任意の位置にビーム光線を当てることができる。すなわち被測定光ファイバの長手方向の任意の位置の局所的な曲率を容易に測定できることになる。それぞれの測定位置では、回転ステージの回転角度θｉと散乱光の幅ｄｉの組み合わせを複数点、少なくとも４点求め、これらを前記［数１］式に当てはめて、ＳＡを求める。ここで、最小２乗近似によるフィッティングを行なっても良く、フーリエ変換を行なっても良い。こうすることによって、散乱光のノイズによる測定誤差を最小限に抑えることができる。また、光ファイバを切り詰めずに長尺のまま測定するので、位置合わせも自動化が可能になり、作業者による作業が最小限で済む。
【００２９】
第１の発明の測定方法で注意しなければならないのは、（１）被測定光ファイバの曲率が全体的に大きい場合、（２）被測定光ファイバが概ね１００ｍｍを超える長さとなった場合、である。この様な場合、フェルールから突き出した光ファイバが重力によって撓む影響で、曲率の値が真の値よりも小さくなってしまいがちである。
そこで、第２の発明の測定方法では、一旦長尺の光ファイバで長手方向の曲率を評価した後、被測定光ファイバを概ね１００ｍｍ以下の長さに切り詰めて、再度測定を行い、長尺光ファイバの曲率測定値を補正するものである。第１の発明に比べると、１回短尺に切り詰めなければならないため若干手間がかかるものの、曲率の測定精度は向上する。
【実施例１】
【００３０】
図５に装置の概観を示す。光ファイバ１の一端は回転ステージ９に固定され、その他端はフェルール５に挿通されており、フェルール５に挿通された被測定光ファイバは側面の被覆が除去されている。被測定光ファイバの側面に２本の平行なビーム光線６が照射され、これはフェルール５の穴の延長線に対してほぼ直角の位置関係にある。すなわち、フェルール５に挿通された被測定光ファイバに対してもほぼ直角の関係を有している。フェルール５の直下約５ｍｍに第１のビーム光線６、そこから約２０ｍｍ直下に第２のビーム光線６が照射される位置関係にある。被測定光ファイバの側面で散乱した散乱光は、フェルールの穴の延長線に平行かつ光ファイバ１からＬ＝２４２．８ｍｍ離れた位置に設置したＣＣＤラインセンサ８で検出される。これらフェルール５と平行なビーム光線６とラインセンサ８との位置関係は測定中一定に保たれる。回転ステージ９は、上下に移動可能なＺ軸ステージに取り付けられており、回転ステージ９とともに光ファイバ１が軸方向に移動し、フェルール５からの貫通量が調整可能になっている。すなわち、２本のビーム光線６の照射位置が調整可能であるため、被測定光ファイバの長手方向の任意の位置で、光ファイバの曲率を測定することができる。ここで、光ファイバ１を上方で把持し、鉛直下向きに設置した理由は、光ファイバの被測定光ファイバが重力によって撓む影響を軽減するためである。
【００３１】
光ファイバの全長は４００ｍｍで、被覆を除去した被測定光ファイバの長さは約２５０ｍｍである。光ファイバをフェルール下端から５０ｍｍ貫通させた時の曲率の測定例を示す。光ファイバ下端から約２５ｍｍ上方に第２のビーム光線が照射され、同約４５ｍｍ上方に第１のビーム光線を照射した。回転ステージにより光ファイバを軸周りに１０°刻みで回転させ、０°〜３６０°の合計３７点の計測を行なった。各計測点ではスクリーン上の散乱光の位置を検出し、各ビーム光線の散乱光の適当なしきい値を超えた強度の中点を散乱光位置の代表値とし、２つのビームの散乱光の代表位置の差分すなわち間隔ｄｉ（ｉ＝１、２、．．．、３７）を計測した。これら角度θｉ と ｄｉ との関係を表１に示す。
【００３２】
【表１】
0005611168.tif 000002
【００３３】
これを前記［数１］式に当てはめて、振幅ＳAを最小２乗近似法によって計算したところ、図６の様な近似曲線が得られ、振幅ＳA= １．０２５５［ｍｍ］、Δｚ=  ２０．１２１２［ｍｍ］という代表値が得られた。
次に、得られた振幅ＳAを前記［数２］式に当てはめて曲率ｋを計算すると、ｋ = ０．１０５０［／m］が得られた。
次に、同様の測定を、被測定光ファイバの長手方向の位置を移動しながら行なった。長手方向の曲率の測定結果を図７に示す。曲率の平均値(メジアン)は０．６２２［／ｍ］であった。これは曲率半径になおすと１６．１［ｍ］である。
【実施例２】
【００３４】
実施例１と同様の装置構成で別の光ファイバの曲率の測定を行った。先ず、光ファイバを約４００ｍｍ切出し、約２５０ｍｍの区間の被覆を除去して被測定光ファイバとして、装置に固定しフェルールに挿通した。この被測定光ファイバの曲率の長手方向の測定結果を図８において●印で示した。この測定で得られた曲率の平均値（メジアン）は０．２５５［／ｍ］であり、曲率半径３．９２［ｍ］に相当する。ところが、この様な曲率の大きい光ファイバの場合、鉛直に吊下げた場合でも、湾曲した被測定光ファイバ下端に重力が作用し、曲率の測定値への影響が無視できない。
【００３５】
そこで、図９の左側の状態で測定後、図の右側に示すように、同じ光ファイバの下端を約１５０ｍｍ程度切り詰め、被測定光ファイバを短尺にした状態で光ファイバの曲率を再度測定した。その結果を図８の□印で示した。明らかに曲率の測定値が大きくなっている。短尺の測定値と長尺の測定値との差分を評価したものが図８の◇印である。これに、直線近似によるフィッティングを行ったところ、傾き＝ ０．０００５５の直線となった。
【００３６】
そこで、次式により長手方向の曲率測定値の補正を行なった。 
（補正された曲率） ＝ (長尺時の曲率) +（測定位置ｚ）×０．０００５５ 
得られた補正された曲率の光ファイバ長手方向の分布を図１０に示した。補正された曲率の平均値（メジアン）は０．３１１８４［／ｍ］で、曲率半径３．２１［ｍ］相当であることが判明した。このように第２の発明の方式によれば、特に光ファイバの曲率が大きいときに、さらに精度良く曲率を評価することが可能になる。
【符号の説明】
【００３７】
１．光ファイバ、
２．Ｖ溝、
３．Ｖ溝台、
４．把持部材、
５．フェルール、
６．ビーム光線、
７． 散乱光、
８．スクリーン（ＣＣＤラインセンサ）、 
９．回転ステージ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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