(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
塗布対象面に対する指又は指サックを用いた塗布動作に応じて、前記塗布対象面に配置された複数のセンサから得られる押圧力を検出する検出手段と、
前記検出手段により得られるセンサそれぞれにかかる押圧力の前記塗布対象面の各辺に係る割合に基づき、前記塗布対象面に対する前記塗布動作の押圧位置を推定する推定手段と、
前記検出手段により得られる押圧力及び前記推定手段により得られる押圧位置に基づき、前記塗布動作に応じた荷重分布を生成する荷重分布生成手段と、
前記荷重分布生成手段により得られた荷重分布を、画面上に表示する表示手段と、
前記推定手段により得られた押圧位置に係る前記押圧力に基づき、前記塗布動作による塗布圧の均一性を評価する評価手段とを有する塗布動作評価装置。
【請求項２】
前記荷重分布生成手段は、
前記検出手段により得られる押圧力に対応する色分布を生成する請求項１に記載の塗布動作評価装置。
【請求項３】
前記検出手段により得られる押圧力及び前記押圧位置を記録する記録手段を有し、
前記荷重分布生成手段は、
前記記録手段に記録された押圧力を、前記押圧位置ごとに累積した累積値を用いて、前記荷重分布を生成する請求項１又は２に記載の塗布動作評価装置。
【請求項４】
前記表示手段は、
前記検出手段により得られる時間とともに変化する押圧力を表示する請求項１乃至３のいずれか一項に記載の塗布動作評価装置。
【請求項５】
前記評価手段は、
前記押圧力の所定時間におけるピーク値又は平均値を予め設定された適正値と比較し、比較結果に応じて前記塗布動作を評価する請求項４に記載の塗布動作評価装置。
【請求項６】
前記検出手段は、
前記塗布対象面の上に設けられた皮膚外用剤を塗布する所定の塗布動作により得られた前記押圧力を検出する請求項１乃至５のいずれか一項に記載の塗布動作評価装置。
【請求項７】
塗布対象面に対する指又は指サックを用いた塗布動作に応じて、前記塗布対象面に配置された複数のセンサから得られる押圧力を検出する検出手順と、
前記検出手順により得られるセンサそれぞれにかかる押圧力の前記塗布対象面の各辺に係る割合に基づき、前記塗布対象面に対する前記塗布動作の押圧位置を推定する推定手順と、
前記検出手順により得られる押圧力及び前記推定手順により得られる押圧位置に基づき、前記塗布動作に応じた荷重分布を生成する荷重分布生成手順と、
前記荷重分布生成手順により得られた荷重分布を、画面上に表示する表示手順と、
前記推定手順により得られた押圧位置に係る前記押圧力に基づき、前記塗布動作による塗布圧の均一性を評価する評価手順とを有する塗布動作評価方法。
【請求項８】
前記荷重分布生成手順は、
前記検出手順により得られる押圧力に対応する色分布を生成する請求項７に記載の塗布動作評価方法。
【請求項９】
前記検出手順により得られる押圧力及び前記押圧位置を記録する記録手順を有し、
前記荷重分布生成手順は、
前記記録手順により記録された押圧力を、前記押圧位置ごとに累積した累積値を用いて、前記荷重分布を生成する請求項７又は８に記載の塗布動作評価方法。
【請求項１０】
前記表示手順は、
前記検出手順により得られる時間とともに変化する押圧力を表示する請求項７乃至９のいずれか一項に記載の塗布動作評価方法。
【請求項１１】
前記評価手順は、
前記押圧力の所定時間におけるピーク値又は平均値を予め設定された適正値と比較し、比較結果に応じて前記塗布動作を評価する請求項１０に記載の塗布動作評価方法。
【請求項１２】
前記検出手順は、
前記塗布対象面の上に設けられた皮膚外用剤を塗布する塗布動作により得られた前記押圧力を検出する請求項７乃至１１のいずれか一項に記載の塗布動作評価方法。
【請求項１３】
コンピュータを、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の塗布動作評価装置が有する各手段として機能させるための塗布動作評価プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、塗布動作評価装置、塗布動作評価方法、及び塗布動作評価プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
サンケア化粧品は、紫外線防御に特化した機能性化粧品として知られている。一般に、紫外線防御効果は、ＳＰＦ（Ｓｕｎ  Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ  Ｆａｃｔｏｒ）値に代表される数値化された指標が用いられ、消費者は実際に利用するシーンに応じて相応しい数値が表示された製品を購入する。
【０００３】
このＳＰＦ値は、「ＩＳＯ  ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定法」（例えば、非特許文献１参照）等に基づく値であり、ヒト被験者の皮膚を用いるｉｎ  ｖｉｖｏ測定によって得られる。ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定では、専門技術者（塗布者）が「指」を用いて規定された量のサンケア化粧品を皮膚に塗布した状態で測定する。この測定において指を用いるのは、消費者がサンケア化粧品を実際に利用する際に主として指を用いるためであり、皮膚上における塗布状態を近似させるためである。
【０００４】
しかしながら、同一のサンプルを用いて塗布した場合でも、一定の再現性（ｒｅｐｅａｔａｂｉｌｉｔｙ）が得られない塗布状態では、測定結果が異なってしまう。そこで、専門技術者においては、一定の再現性が得られる塗布状態を実現することが求められている。また、ある塗布者が、同一サンプルに対して高い再現性を得られたとしても、他の塗布者が同じような再現性を得られるとは限らない。したがって、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦによる測定結果の信頼性を高めるためには、所定の塗布者だけでなく、複数の塗布者による塗布状態の再現性を高めていくことが求められている。
【０００５】
ここで、塗布状態の再現性を高めるとは、毎回、同じような所定の塗布状態を実現することである。これは、例えば毎回、塗布面を均一な厚みで塗布するように仕上げることであり、塗布面のどの部位で測定しても、同一の測定結果が得られることを意味する。なお、塗布されたサンプルの実際の厚みは、配合成分中の残存分の割合に依存する。例えば、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定法で規定されたサンプル塗布量（２．００ｍｇ／ｃｍ２）に基づくとミクロン単位となり、この厚みで塗布面を均一に仕上げるように指で塗布するのは容易ではない。
【０００６】
また、近年では、被験者の皮膚を用いることなく、皮膚の代替となる塗布基板（例えば、特許文献１、非特許文献２参照）を用いて、サンプルのＳＰＦ値を物理的測定により予想するｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ測定による提案がなされている（例えば、特許文献２、３、非特許文献３参照）。この方法は、サンケア化粧品等の開発段階において、簡便かつ短時間に安価で測定できるため、しばしば利用される。
【０００７】
しかしながら、ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ測定は、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定の結果を予測するための方法であり、上述した塗布基板にサンプルを塗布する際には、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定の方法に準じて「指」を用いて塗布する。したがって、ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ測定においても、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定においても、上述した塗布状態の再現性を高めることが求められている。なお、近年では、塗布方法の詳細を標準化することで再現性を向上する提案がなされている（例えば、特許文献４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許第４４５４６９５号公報
【特許文献２】特開２００８−０９６１５１号公報
【特許文献３】特許第４３６５４５２号公報
【特許文献４】国際公開第２０１０／１１３９６１号パンフレット
【非特許文献１】ＩＳＯ  ２４４４４，ＩＮＴＥＲＮＡＴＩＯＮＡＬ  ＳＴＡＮＤＡＲＤ，  Ｃｏｓｍｅｔｉｃｓ−Ｓｕｎ  ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ  ｔｅｓｔ  ｍｅｔｈｏｄｓ−  Ｉｎ  ｖｉｖｏ  ｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｔｈｅ  ｓｕｎ  ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ  ｆａｃｔｏｒ  （ＳＰＦ）
【非特許文献２】Ｆｅｒｒｅｒｏ  Ｌ．ｅｔ  ａｌ．，  Ｉｍｐｏｒｔａｎｃｅ  ｏｆ  Ｓｕｂｓｔｒａｔｅ  Ｒｏｕｇｈｎｅｓｓ  ｆｏｒ  Ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  Ｓｕｎ  Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ  Ａｓｓｅｓｓｍｅｎｔ，ＩＦＳＣＣ  Ｍａｇａｚｉｎｅ，Ｖｏｌ．９，Ｎｏ．２，２−１３（２００６）
【非特許文献３】Ｓｔａｎｆｉｅｌｄ  Ｊ．ｅｔ  ａｌ．，  Ｏｐｔｉｍｉｚｉｎｇ  ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  ｏｆ  Ｓｕｎｓｃｒｅｅｎ  Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ，ＳＯＦＷ−Ｊｏｕｒｎａｌ，７，１９−２３（２００６）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、上述したサンケア化粧品の塗布方法及び塗布に由来する再現性については、科学的に研究された事例がほとんどない。例えば、上述した特許文献４では、塗布方法の詳細を標準化することで再現性を向上する提案がなされているが、再現性に影響する要因については明らかにされていない。したがって、ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ測定及びｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定においては、塗布者内又は塗布者間において、上述した再現性を高めるための塗布方法を取得するための相当なトレーニングが求められている。
【００１０】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、塗布動作に関する再現性を向上させるための塗布動作評価装置、塗布動作評価方法、及び塗布動作評価プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記目的を達成するために、塗布動作評価装置において、塗布対象面に対する指又は指サックを用いた塗布動作に応じて、前記塗布対象面に配置された複数のセンサから得られる押圧力を検出する検出手段と、前記検出手段により得られるセンサそれぞれにかかる押圧力の前記塗布対象面の各辺に係る割合に基づき、前記塗布対象面に対する前記塗布動作の押圧位置を推定する推定手段と、前記検出手段により得られる押圧力及び前記推定手段により得られる押圧位置に基づき、前記塗布動作に応じた荷重分布を生成する荷重分布生成手段と、前記荷重分布生成手段により得られた荷重分布を、画面上に表示する表示手段と、前記推定手段により得られた押圧位置に係る前記押圧力に基づき、前記塗布動作による塗布圧の均一性を評価する評価手段とを有する。
【発明の効果】
【００１２】
塗布動作に関する再現性を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本実施形態に係る塗布動作評価装置の外観図を示す図である。
【図２】本実施形態に係る塗布動作評価装置の機能構成の一例を示す図である。
【図３】本実施形態に係る塗布動作評価装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【図４】本実施形態に係る塗布動作評価処理手順を示すフローチャートである。
【図５】塗布基板上で塗布されるサンプル塗布方法を説明する図である。
【図６】押圧力測定におけるセンサキャリブレーションを説明する図である。
【図７】押圧位置推定前におけるセンサキャリブレーションについて説明する図である。
【図８】座標補正量取得処理の流れを示すフローチャートである。
【図９】変位量を取得するときに用いる式の考え方の一例を説明する図である。
【図１０】押圧位置推定処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】塗布動作中に示される表示画面の一例を示す図である。
【図１２】各ステップの荷重分布及び結果を示す表示画面の一例を示す図である。
【図１３】各塗布動作とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値との関係を示す図である。
【図１４】各サンプルの塗布圧とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値との関係を示す図である。
【図１５】各サンプルの塗布圧とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値のＣＶ値（％）との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１５】
＜本発明について＞
上述したように、塗布状態の再現性を高める条件の１つとして均一な厚みで塗布することが求められている。本発明者により、例えば所定の塗布圧で塗布した塗布面を分光測定装置により多点計測したところ、均一な厚みの塗布は、均一な塗布圧で塗布することにより得られることが分かった。本発明は、塗布動作における塗布圧を計測し、均一な塗布圧で塗布するよう塗布動作を評価することで、上述した均一な厚みの塗布を実現し、塗布状態の再現性を向上させる。
【００１６】
＜塗布動作評価装置の概略図＞
図１は、本実施形態に係る塗布動作評価装置の外観図を示している。図１（Ａ）は、塗布動作評価装置全体を示す。また、図１（Ｂ）は、塗布対象面上での塗布動作を示す。また、図１（Ｃ）は、塗布対象面に配置されたセンサを示す。
【００１７】
なお、以下の説明では、塗布対象面に塗布する皮膚外用剤の一例としてサンケア化粧品（日焼け止め）を用いるが、本発明においてはこれに限定されず、例えばメーキャップ化粧品、スキンケア化粧品等を用いることが可能である。また、塗布対象面での塗布動作は、ｉｎ  ｖｉｖｏ  ＳＰＦ測定方法に準じて、サンケア化粧品の所定量のサンプルを、例えば指又は指サックを用いて塗布する動作を示すが、本発明においてはこれに限定されず、皮膚外用剤を用いない塗布動作であっても良い。
【００１８】
図１（Ａ）〜図１（Ｃ）に示すように、塗布動作評価装置１０は、塗布動作に応じて押圧力（塗布圧）を検出するセンサ部２０と、センサ部２０で検出された押圧データを処理して生成された画像を表示する表示部３０とを有するように構成される。
【００１９】
センサ部２０は、塗布基板２１と、センサ２２と、塗布基板２１の位置を規制する位置規制部材２３とを有するように構成される。
【００２０】
塗布基板２１は、所定部位の皮溝及び皮丘を模した皮膚代替膜（プレート）であり、例えば「ＳＰＦ  ＭＡＳＴＥＲ  ＰＡ０１」等を用いることができるが、これに限定されるものではない。
【００２１】
塗布基板２１は、センサ２２上に設けられた板部材等に配置され、マグネット等の位置規制部材２３により配置位置が規制される。塗布基板２１の塗布対象面２４は、例えば約５×５ｃｍ程度の大きさを有するが、これに限定されるものではない。本実施形態では、ユーザの指又は指サック等により塗布対象面２４にサンプルを塗布する動作が行われる。
【００２２】
センサ２２は、例えば４つのセンサ２２Ａ〜センサ２２Ｄを有する。また、センサ２２は、例えば塗布対象面２４の下面の４隅に配置される。センサ２２は、例えば歪ゲージやロードセル等であり、センサ２２Ａ〜センサ２２Ｄに加わる押圧力（微小荷重）の変化を測定する。なお、センサ２２は、配置を変更することにより、例えば３つのセンサにより構成しても良い。
【００２３】
表示部３０は、塗布対象面２４に対するユーザの塗布動作により時間とともに変化する押圧力を逐次表示モードにより表示したり、時間とともに変化する押圧力を塗布動作評価装置１０の内部に設けられたメモリ等に記憶しておき、累積表示モードにより画面上に荷重分布を表示したりすることができる。また、表示部３０は、塗布動作評価装置１０を用いたユーザの塗布動作を評価するための各種設定画面等を表示する。
【００２４】
＜塗布動作評価装置：機能構成例＞
次に、上述した塗布動作評価装置１０の機能構成について説明する。図２は、本実施形態に係る塗布動作評価装置の機能構成の一例を示している。
【００２５】
図２に示すように、塗布動作評価装置１０は、入力手段４１と、出力手段４２と、記録手段４３と、検出手段４４と、算出手段４５と、推定手段４６と、荷重分布生成手段４７と、評価手段４８と、画面生成手段４９と、制御手段５０とを有するように構成される。
【００２６】
入力手段４１は、例えばキーボードや、マウス等のポインティングデバイス等を有し、各種指示の開始や終了等の入力を受け付ける。
【００２７】
出力手段４２は、例えばディスプレイやスピーカ等を有し、入力手段４１により入力された内容や、入力内容に基づいて実行された内容等の表示、音声出力等を行う。出力手段４２は、例えば、図１に示す表示部３０に対応し、荷重分布生成手段４７により得られた荷重分布を画面に表示したり、画面生成手段４９により生成された各種画面を表示したりする。
【００２８】
記録手段４３は、検出手段４４により得られるセンサ２２Ａ〜２２Ｂにかかる押圧力や推定手段４６により推定された押圧位置を記録する。また、記録手段４３は、算出手段４５による算出結果等を記録したり、予め設定された押圧力の適正値を記録しておいたりしても良い。
【００２９】
検出手段４４は、例えば、図１に示すセンサ部２０に対応し、塗布対象面２４に対する塗布動作に応じて、塗布対象面２４に配置された複数のセンサ２２から得られるデータを処理して押圧力を検出する。検出手段４４は、塗布対象面２４に対する指又は指サックを用いた塗布動作により得られた押圧力や、塗布対象面２４上に設けられた皮膚外用剤を塗布する塗布動作により得られた押圧力を検出する。
【００３０】
算出手段４５は、検出手段４４により得られる押圧力を、例えば２０ｍｓごとに取得し、所定時間（例えば０．５秒）の押圧力のピーク値を算出する。なお、算出手段４５は、上記の算出手法に限定されるものではなく、例えば所定時間に含まれる押圧力の平均値を算出しても良い。また、押圧力を取得する時間間隔は、上述した２０ｍｓごとに限定されるものではなく、例えば、塗布動作の違い等に応じて変化させることができる。
【００３１】
推定手段４６は、検出手段４４により得られるセンサ２２それぞれにかかる押圧力に基づき、塗布対象面２４における塗布動作の押圧位置を推定する。なお、推定手段４６における押圧位置推定方法については後述する。
【００３２】
荷重分布生成手段４７は、リアルタイムで検出手段４４により得られる押圧力及び推定手段４６により得られる押圧位置に基づき、塗布対象面２４に対する塗布動作により得られる荷重分布を生成する。荷重分布生成手段４７は、例えば、荷重に対応する色情報を予め設定しておき、検出手段４４により得られた押圧力による荷重情報に基づいて、塗布対象面２４上の対応する押圧位置に色分布を生成する。
【００３３】
なお、押圧位置の情報は、推定手段４６により得られる。また、荷重分布生成手段４７は、例えば記録手段４３に記録された押圧力を押圧位置ごとに累積した累積値を用いて荷重分布（累積色分布）を生成する。
【００３４】
評価手段４８は、算出手段４５により得られる所定時間の押圧力のピーク値又は平均値を予め設定された適正値と比較し、比較結果に応じて塗布動作を評価する。
【００３５】
画面生成手段４９は、本実施形態における塗布動作の評価を実行するための各種画面や実行結果の画面等を生成する。また、画面生成手段４９は、生成した画面を出力手段４２等に出力する。
【００３６】
制御手段５０は、塗布動作評価装置１０の各構成部全体の制御を行う。制御手段５０は、例えばユーザ等による入力手段４１からの指示に基づいて、検出手段４４や、推定手段４６、荷重分布生成手段４７等を制御する。
【００３７】
＜塗布動作評価装置：ハードウェア構成例＞
上述した塗布動作評価装置１０の各構成は、各機能をコンピュータに実行させる塗布動作評価プログラムを生成し、例えば汎用のパーソナルコンピュータやサーバ等にインストールすることにより実行することが可能である。図３は、本実施形態に係る塗布動作評価装置のハードウェア構成の一例を示す図である。
【００３８】
図３に示すように、塗布動作評価装置１０は、入力装置５１と、出力装置５２と、ドライブ装置５３と、補助記憶装置５４と、メモリ装置５５と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）５６と、ネットワーク接続装置５７とを有するように構成されており、これらはシステムバスＢで相互に接続されている。
【００３９】
入力装置５１は、ユーザ等が操作するキーボード及びマウス等のポインティングデバイスを有し、ユーザ等からのプログラムの実行等、各種操作信号を入力する。
【００４０】
出力装置５２は、本実施形態の各処理を行うためのコンピュータ本体を操作するのに必要なＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ  Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）や画面生成手段４９により生成された画面等を表示するディスプレイを有し、ＣＰＵ５６が有する制御プログラムによりプログラムの実行経過や結果等を表示する。
【００４１】
なお、入力装置５１と出力装置５２とは、例えばタッチパネル等のような一体型の入出力装置であっても良い。
【００４２】
ここで、コンピュータ本体にインストールされる塗布動作評価プログラムは、例えばＵＳＢメモリやＣＤ−ＲＯＭ等の可搬型の記録媒体５８等により提供される。記録媒体５８は、ドライブ装置５３にセット可能であり、記録媒体５８に含まれるプログラムが、記録媒体５８からドライブ装置６３を介して補助記憶装置５４にインストールされる。
【００４３】
補助記憶装置５４は、ハードディスク等のストレージ手段であり、塗布動作評価プログラムや、コンピュータに設けられた制御プログラム等を記憶し、必要に応じて入出力が行える。
【００４４】
メモリ装置５５は、ＣＰＵ５６により補助記憶装置５４から読み出されたプログラム等を格納する。メモリ装置５５は、例えばＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）やＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を用いる。
【００４５】
ＣＰＵ５６は、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）等の制御プログラム、及びメモリ装置５５に格納されているプログラムに基づいて各種演算や各ハードウェア構成部とのデータの入出力等、コンピュータ全体の処理を制御する。なお、プログラム実行中の各種情報等は、補助記憶装置５４から取得し、また実行結果等を格納する。
【００４６】
ネットワーク接続装置５７は、通信ネットワーク等と接続することにより、通信ネットワークに接続されている他の装置からプログラムを取得したり、プログラムを実行することで得られた実行結果等を他の装置に提供したりする。
【００４７】
塗布動作評価装置１０は、上述したハードウェア構成を有することにより、本実施形態に係る各処理を実行することが可能となる。
【００４８】
＜塗布動作評価処理手順＞
次に、上述した塗布動作評価装置１０により実行される塗布動作評価処理手順について説明する。図４は、本実施形態に係る塗布動作評価処理手順を示すフローチャートである。
【００４９】
図４に示すように、塗布動作評価装置１０は、塗布対象面２４に対する塗布動作に応じて、検出手段４４によりセンサ２２Ａ〜２２Ｄから得られる押圧力を検出すると（Ｓ１０）、算出手段４５が、時間とともに変化する押圧力を取得する（Ｓ１１）。
【００５０】
推定手段４６は、検出手段４４により得られるセンサ２２それぞれにかかる押圧力に基づき、塗布対象面２４における塗布動作の押圧位置を推定する（Ｓ１２）。
【００５１】
次に、出力手段４２は、算出手段４５により取得した押圧力を表示する（Ｓ１３）。また、荷重分布生成手段４７は、検出手段４４により得られる押圧力及び推定手段４６により得られる押圧位置に基づき、塗布動作に応じた荷重分布を生成し、生成された荷重分布を出力手段４２に表示する（Ｓ１４）。
【００５２】
評価手段４８は、算出手段４５により得られた所定時間の押圧力のピーク値と予め設定された適正値とを比較し、比較結果に応じて塗布動作を評価する（Ｓ１５）。
【００５３】
次に、制御手段５０は、塗布動作が終了したか否か判断し（Ｓ１６）、終了していないと判断した場合（Ｓ１６において、ＮＯ）、Ｓ１０の処理に戻る。一方、終了したと判断した場合（Ｓ１６において、ＹＥＳ）、処理を終了する。
【００５４】
＜サンプル塗布方法＞
次に、上述した塗布基板２１上で塗布されるサンプル塗布方法（サンプル秤量から塗布までの手順）について説明する。図５は、塗布基板上で塗布されるサンプル塗布方法を説明する図である。なお、図５（Ａ）は、サンプル秤量を示す図であり、図５（Ｂ）は、サンプル秤量を行った塗布基板２１を固定した図であり、図５（Ｃ）は、塗布手順の流れを示す図である。
【００５５】
図５（Ａ）に示すように、サンプル秤量は、所定時間内に、例えばシリンジ等を用いて、例えば５×５ｃｍの大きさの塗布基板２１上に、約３０〜６０スポットの範囲で行う。
【００５６】
次に、図５（Ｂ）に示すように、塗布基板２１を、塗布動作評価装置１０のセンサ部２０上に配置して位置規制部材２３により位置を規制する。
【００５７】
次に、指又は指サックを使用して、以下に示す塗布動作を開始する。まず、ステップ１として、約１０秒間で、塗布基板２１上に小さい円を何度も描いてサンプルを全体に広げる。このとき、２５〜５０ｇの塗布圧でサンプルを、塗布基板２１の塗布対象面２４全体に伸ばすように塗布すると良い。
【００５８】
次に、ステップ２として、図５（Ｃ）の［Ｉ］に示すように、垂直方向（図５の例では縦方向）への塗布動作として、１ストローク（例えば、約０．５秒）を１０回行う。また、図５（Ｃ）の［ＩＩ］に示すように、水平方向（図５の例では横方向）への塗布動作として、１ストローク（例えば、約０．５秒）を１０回行う。ステップ２では、上述した垂直方向への塗布動作（例えば、約５秒）と水平方向への塗布動作（例えば、約５秒）とを１セットとして、５セット繰り返す（例えば、約５０秒）。
【００５９】
本実施形態では、塗布動作評価装置１０により、上述した塗布動作により得られる塗布圧等から塗布動作を評価する。
【００６０】
＜押圧力測定におけるセンサキャリブレーション＞
図６は、押圧力測定におけるセンサキャリブレーションを説明するための図である。算出手段４５は、まず起動時のキャリブレーションとして以下の処理を実行する。
【００６１】
図６（Ａ）に示すように、何も載せていない状態（０ｇ）時の各センサ（センサ２２Ａ〜２２Ｄ）のデータ（ゼロ値データ）を取得して合計出力値Ａとする。また、図６（Ｂ）に示すように、例えば１００ｇの重り（分銅）を塗布基板２１の中央に乗せた状態の各センサのデータを取得して合計出力値Ｂとする。なお、合計出力値Ａ及び合計出力値Ｂは、以下に示す（１）式、（２）式で算出される。
【００６２】
【数１】
0005458196.tif 000002
【００６３】
ここで、ゼロ値データａ０，ｎを０ｇ時の各センサ出力（ｎはセンサ番号１，２，３，４に対応し、番号１〜４はセンサ２２Ａ〜２２Ｄに対応する）とし、ｂ１００，ｎを１００ｇ時の各センサ出力とする。次に、キャリブレーション用の係数ｋを求める。係数ｋは、ｋ＝１００．０／（Ｂ−Ａ）として求めることができる。
【００６４】
次に、測定開始にあたり、０ｇ時のセンサの値を取得し、合計出力値Ａを求め、実際に測定が開始すると、各センサのデータを逐次取得して合計出力値Ｃとする。なお、各センサ出力をｃ計，ｎとし、合計出力値Ｃは、以下に示す（３）式で算出される。
【００６５】
【数２】
0005458196.tif 000003
【００６６】
次に、センサ２２の出力を逐次０ｇ時の値との差分を取り、上述した係数ｋを掛け、測定押圧（すなわち押圧力）Ｇを求める。測定押圧Ｇは、例えばＧ＝ｋ（Ｃ−Ａ）として求めることができる。
【００６７】
＜押圧位置推定前のセンササキャリブレーション（事前処理）＞
図７は、押圧位置推定前のセンサキャリブレーションについて説明する図である。図７（Ａ）に示すように、センサ２２Ａ〜２２Ｄ上に設けられた塗布対象面２４の矩形領域を１６分割し、分割された矩形領域のそれぞれの座標（ｘ、ｙ）を、（ｘ，ｙ）＝（０，０）〜（４、４）とする。
【００６８】
推定手段４６は、まず、塗布対象面２４に何も載せていない状態（例えば０ｇ）で、センサ２２Ａ〜２２Ｄから得られる出力値（ゼロ値データａ０，ｎ）を取得する。次に、図７（Ｂ）に示すように、設定された座標各点（図７（Ｂ）の例では２５ヶ所）に所定の重り（例えば１００ｇ）の分銅を載せて、センサ２２Ａ〜２２Ｄから得られる出力値ｃｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得する（ｘ＝０，１，２，３，４、ｙ＝０，１，２，３，４）。
【００６９】
次に、所定の重りを載せた出力値ｃｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）からゼロ値データａ０，ｎを差し引き、ゼロ値補正をした出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得する。なお、ゼロ値補正をした出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）は、例えば以下の式（４）を用いて求める。
【００７０】
【数３】
0005458196.tif 000004
【００７１】
次に、上述の座標各点においてセンサ２２Ａ〜２２Ｄのゼロ値補正をした出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を合計して、合計出力値Ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を、例えば以下の式（５）を用いて取得する。また、合計出力値Ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）に対するセンサ２２Ａ〜２２Ｄそれぞれの出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）の割合（個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ））を、例えば以下の式（６）を用いて取得する。
【００７２】
ここで、センサ２２Ａ〜２２Ｄの個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）の最大値と最小値との差が所定の値（例えば「１００」）となるように、例えば以下の式（７）を用いて校正値Ｖａｌｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を求める。次に、校正値Ｖａｌｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を用いて、センサ２２Ａ〜２２Ｄの個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）の最大値と最小値とがそれぞれ所定の値（例えば「１００」、「０」）となるように、校正した値ｆｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を、例えば以下の式（８）を用いて求める。
【００７３】
【数４】
0005458196.tif 000005
【００７４】
上述のように、予めセンサキャリブレーションを行う。また、校正した値ｆｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を用いて、以下の通り、塗布対象面２４の矩形領域（補正対象領域）の座標を設定するために用いられる座標補正量を取得する。
【００７５】
なお、以下の説明では、図７（Ｃ）に示すように、センサ２２Ａ及びセンサ２２Ｂを端部とする辺を左辺とし、センサ２２Ｂ及びセンサ２２Ｃを端部とする辺を下辺とする。また、センサ２２Ｃ及びセンサ２２Ｄを端部とする辺を右辺とし、センサ２２Ｄ及びセンサ２２Ａを端部とする辺を上辺とし、この各辺により構成された矩形領域（すなわち補正対象領域）を、塗布対象面２４に対応させたものとして説明する。
【００７６】
＜座標補正量取得処理の流れ＞
図８は、座標補正量取得処理の流れを示すフローチャートである。図８に示すように、センサ２２Ａ〜２２Ｄからゼロ値データａ０，ｎを取得すると（Ｓ２０）、座標地点（図７の例では、２５ヶ所）に所定の重り（例えば１００ｇ）を載せたときの出力値ｃｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得して（Ｓ２１）、各座標地点でゼロ値補正をした出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得する（Ｓ２２）。
【００７７】
次に、各座標地点の合計出力値Ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得すると、各座標地点の合計出力値Ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）に対するセンサ２２Ａ〜２２Ｄそれぞれの出力値ｄｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）の割合（個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ））を取得する（Ｓ２３）。
【００７８】
次に、センサ２２Ａ〜２２Ｄの個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）のうち最大値と最小値とを求め、最大値と最小値との差が所定の値（例えば「１００」）となるための校正値Ｖａｌｃａｌ，ｎを求める（Ｓ２４）。
【００７９】
次に、上述した最大値と最小値とがそれぞれ所定の値（例えば「１００」、「０」）となるよう、センサ２２Ａ〜２２Ｄの個別出力割合ｅｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を、校正値Ｖａｌｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を用いて校正し、校正した値ｆｃａｌ，ｎ（ｘ，ｙ）を取得する（Ｓ２５）。
【００８０】
次に、各辺の所定位置（例えば上述した２５ヶ所のうち、塗布対象面２４の外周と接する１６ヶ所）での各辺に係る圧力の割合Ｕｃａｌ（ｘ，ｙ）、Ｂｃａｌ（ｘ，ｙ）、Ｌｃａｌ（ｘ，ｙ）、Ｒｃａｌ（ｘ，ｙ）を、以下の式（９）を用いて取得する（Ｓ２６）。
【００８１】
【数５】
0005458196.tif 000006
【００８２】
例えば、座標（０，０）における上辺に係る割合を求める場合には、Ｕｃａｌ（０，０）＝ｆｃａｌ，４（０，０）／（ｆｃａｌ，１（０，０）＋ｆｃａｌ，４（０，０））を用いる。同様に、座標（０，０）における下辺、左辺、右辺に係る圧力の割合についてもそれぞれ求める。
【００８３】
次に、上述した所定位置（例えば２５ヶ所のうち、塗布対象面２４の外周と接する１６ヶ所）を押圧したときの垂直方向に係る圧力の割合Ｖｃａｌ（ｘ，ｙ）又は水平方向に係る圧力の割合Ｈｃａｌ（ｘ，ｙ）を、以下の式（１０）を用いて求める（Ｓ２７）。
【００８４】
【数６】
0005458196.tif 000007
【００８５】
次に、上述した所定位置（例えば２５ヶ所のうち、塗布対象面２４の外周と接する１６ヶ所）における各辺からの変位量ＷＸｃａｌ（ｘ，ｙ）、ＷＹｃａｌ（ｘ，ｙ）を、以下の式（１１）を用いて取得する（Ｓ２８）。
【００８６】
なお、各辺からの変位量ＷＸｃａｌ（ｘ，ｙ）、ＷＹｃａｌ（ｘ，ｙ）を取得するときに用いる式の考え方については後述するが、この変位量は、所定位置を押圧したときのセンサ２２Ａ〜２２Ｄの出力値に対応する位置情報に変換される。
【００８７】
【数７】
0005458196.tif 000008
【００８８】
次に、上述した各辺の変位量の平均値を、以下の式（１２）を用いて取得する（Ｓ２９）。
【００８９】
【数８】
0005458196.tif 000009
【００９０】
例えば左辺の場合には、左辺の座標各点（０，１）、（０，２）、（０，３）、（０，４）で得られる各変位量から、左辺の変位量の平均値を取得する（Ｌｃｘ＝ａｖｅｒａｇｅ（ＷＸｃａｌ（０，ｙ））。同様に、右辺、上辺、下辺の座標各点で得られる各変位量から、右辺、上辺、下辺の各変位量の平均値を取得する。
【００９１】
次に、上述した塗布対象面２４の矩形領域（すなわち補正対象領域）の座標を設定するのに用いられる座標補正量を取得し（Ｓ３０）、処理を終了する。
【００９２】
ここでは、例えば左辺の変位量の平均値Ｌｃｘを基準点ｃａｌＸｖａｌとし、上辺の変位量の平均値Ｕｃｙを基準点ｃａｌＹｖａｌとする。また、左辺の変位量の平均値Ｌｃｘと右辺の変位量の平均値Ｒｃｘとの差分を用いて、差分が所定の値（例えば「１００」）となる分解能ｃａｌＸｓｃａｌｅを取得する。また、同様に、上辺の変位量の平均値Ｕｃｙと下辺の変位量の平均値Ｂｃｙとの差分を用いて、差分が所定の値（例えば「１００」）となる分解能ｃａｌＹｓｃａｌｅを取得する。
【００９３】
なお、上述した座標補正量（基準点ｃａｌＸｖａｌ、ｃａｌＸｖａｌ、分解能ｃａｌＸｓｃａｌｅ、ｃａｌＹｓｃａｌｅ）を、例えば以下の式（１３）を用いて取得する。
【００９４】
【数９】
0005458196.tif 000010
【００９５】
上述したように、予め補正対象領域の座標を設定するための座標補正量を取得しておき、押圧位置推定処理において用いるものとする。なお、座標補正量の取得例はこれに限定されるものではない。
【００９６】
＜変位量を取得するときに用いる式の考え方＞
次に、上述した変位量を取得する際に用いる式（１１）について説明する。図９は、変位量を取得するときに用いる式の考え方の一例を説明する図である。
【００９７】
図９に示すように、塗布対象面２４の任意の位置（例えば押圧位置Ａ）を押したときの押圧位置における各辺からの変位量ＷＸ（すなわちＸ座標）の取得方法について説明する。ここでは、例えば上辺及び下辺のＸ方向（横方向）の荷重割合の比を加味したものとなる。
【００９８】
上述したように、上辺に係る圧力の割合を、
Ｕｃａｌ＝ｆｃａｌ，４／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
として表し、下辺に係る圧力の割合を、
Ｂｃａｌ＝ｆｃａｌ，３／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）
として表すものとする。
【００９９】
ここで、例えば、全体に対する上辺の重さの割合と、全体に対する下辺の重さの割合とをそれぞれ以下のように表すものとする。
【０１００】
例えば全体に対する上辺の重さの割合を、
Ｖｃａｌ＝（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
とする。上辺と下辺の重さの割合の合計を「１」とすると、下辺の重さの割合は、
１−Ｖｃａｌ＝（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
と表すことが可能である。なお、Ｖｃａｌは、上述した垂直方向に係る圧力の割合として説明したものと同様の式である。
【０１０１】
ここで、押圧位置Ａを押したときの上辺の点Ｐ（Ｕｃａｌ，０）に係る圧力を、ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４とし、下辺の点Ｑ（Ｂｃａｌ，０）に係る圧力を、ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３とする。
【０１０２】
点Ｐと、点Ｑとの重心のＸ座標（すなわちＷＸのｘ座標）は、以下のように表すことが可能である。例えば質量ｍ、ｎがあり、質点ａ、ｂの座標をそれぞれ（Ｘａ，Ｙａ）、（Ｘｂ，Ｙｂ）とすると、質点ａとｂとの重心の座標（Ｘ，Ｙ）を求める式（すなわち質量ｍの質点ａと、質量ｎの質点ｂとを内分する式）、例えばＸ＝（ｎ×Ｘａ＋ｍ×Ｘｂ）／（ｍ＋ｎ）、Ｙ＝（ｎ×Ｙａ＋ｍ×Ｙｂ）／（ｍ＋ｎ）の式により、
ＷＸ（ｘ）＝（Ｕｃａｌ×（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）＋Ｂｃａｌ×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４））／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
＝Ｕｃａｌ×（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）＋Ｂｃａｌ×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
＝（Ｕｃａｌ×（１−Ｖｃａｌ）＋Ｂｃａｌ×Ｖｃａｌ）・・・（１４）
【０１０３】
同様に、押圧位置Ａを押したときのＷＸのｙ座標は、以下のように示すことができる。
【０１０４】
ＷＸ（ｙ）＝（０×（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）＋１×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４））／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
＝ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
＝Ｖｃａｌ
【０１０５】
上述したＷＸ（ｘ）とＷＸ（ｙ）とから、ＷＸ（ｘ，ｙ）は以下のように表せる。
【０１０６】
ＷＸ（ｘ，ｙ）＝（Ｕｃａｌ×（１−Ｖｃａｌ）＋Ｂｃａｌ×Ｖｃａｌ，Ｖｃａｌ）
したがって、上辺、下辺の横方向の加重割合を加味した、押圧位置ＡのＸ座標は、Ｕｃａｌ×（１−Ｖｃａｌ）＋Ｂｃａｌ×Ｖｃａｌと表すことが可能である。
【０１０７】
また、押圧位置Ａを押したときの押圧位置Ａにおける各辺からの変位量ＷＹ（すなわちＹ座標）の取得方法について説明する。ここでは、例えば右辺及び左辺のＹ方向（縦方向）の荷重割合の比を加味したものである。
【０１０８】
上述したように、左辺に係る圧力の割合を、
Ｌｃａｌ＝ｆｃａｌ，２／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）
として表し、右辺に係る圧力の割合を、
Ｒｃａｌ＝ｆｃａｌ，３／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
と表すものとする。
【０１０９】
ここで、例えば、全体に対する左辺の重さの割合と、全体に対する右辺の重さの割合とをそれぞれ以下のように表すものとする。
【０１１０】
例えば全体に対する左辺の重さの割合を、
Ｈｃａｌ＝（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
とする。左辺と右辺の重さの割合の合計を「１」とすると、右辺の重さの割合は、
１−Ｈｃａｌ＝（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
と表すことが可能である。なお、Ｈｃａｌは、上述した水平方向に係る圧力の割合として説明したものと同様の式である。
【０１１１】
ここで、押圧位置Ａを押したときの左辺の点Ｐ’（０，Ｌｃａｌ）に係る圧力をｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，2とし、右辺の点Ｑ’（１，Ｒｃａｌ）に係る圧力をｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４とする。
【０１１２】
点Ｐ’と、点Ｑ’との重心のＹ座標（すなわちＷＹのｙ座標）は、上述した質量ｍの質点ａと、質量ｎの質点ｂを内分する内分する式により、以下のように表すことが可能である。
【０１１３】
ＷＹ（ｙ）＝（Ｌｃａｌ×（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）＋Ｒｃａｌ×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）
＝Ｌｃａｌ×（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）＋Ｒｃａｌ×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）
＝Ｌｃａｌ×（１−Ｈｃａｌ）＋Ｒｃａｌ×Ｈｃａｌ）
【０１１４】
同様に、押圧位置Ａを押したときの変位量ＷＹのｘ座標は、以下のように示すことができる。
【０１１５】
ＷＹ（ｘ）＝（０×（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）＋１×（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）
＝ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２／（ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４＋ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２）
＝Ｈｃａｌ
【０１１６】
上述したＷＹ（ｘ）とＷＹ（ｙ）とから、ＷＹ（ｘ，ｙ）は以下のように表せる。
【０１１７】
ＷＹ（ｘ，ｙ）＝（Ｈｃａｌ，Ｌｃａｌ×（１−Ｈｃａｌ）＋Ｒｃａｌ×Ｈｃａｌ）
したがって、左辺、右辺の縦方向の加重割合を加味した、押圧位置ＡのＹ座標は、Ｌｃａｌ×（１−Ｈｃａｌ）＋Ｒｃａｌ×Ｈｃａｌと表すことが可能となる。
【０１１８】
なお、上述したＷＸ，ＷＹは、以下のように求めても良い。
【０１１９】
例えば、ＷＸの場合、図９に示す上辺の左端を座標（ｘ１，ｙ１）、下辺の左端を座標（ｘ１，ｙ１＋１）、上辺の右端を座標（ｘ４，ｙ４）、下辺の右端を座標（ｘ４、ｙ４＋１）とする。
【０１２０】
ここで、上述した点Ｐの座標を（Ｐｘ，Ｐｙ）とし、上辺の座標（ｘ１，ｙ１）から点Ｐまでの圧力の割合をｆｃａｌ，１／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）とし、点Ｐから上辺の座標（ｘ４，ｙ４）までの圧力の割合をｆｃａｌ，４／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）とする。
【０１２１】
また、上述した点Ｑの座標を（Ｑｘ，Ｑｙ）とし、下辺の座標（ｘ１，ｙ１＋１）から点Ｑまでの圧力の割合をｆｃａｌ，２／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）とし、点Ｑから下辺の座標（ｘ４，ｙ４＋１）までの圧力の割合をｆｃａｌ，３／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）とする。
【０１２２】
このとき、Ｐｘ及びＱｘは以下のようにそれぞれ表すことが可能である。
【０１２３】
Ｐｘ＝ｘ１＋（ｘ４−ｘ１）×ｆｃａｌ，１／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，４）
Ｑｘ＝ｘ１＋（ｘ４−ｘ１）×ｆｃａｌ，２／（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）
【０１２４】
したがって、ＷＸは以下のように表すことが可能である。
【０１２５】
ＷＸ＝Ｐｘ×（ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）＋Ｑｘ×（ｆｃａｌ，1＋ｆｃａｌ，４）／（ｆｃａｌ，１＋ｆｃａｌ，２＋ｆｃａｌ，３＋ｆｃａｌ，４）
＝Ｐｘ×（１−Ｖ）＋Ｑｘ×Ｖ・・・（１５）
【０１２６】
上述した式（１５）は、上述した式（１４）と同等の意味を示すため、上述した手法によりＷＸと求めることも可能である。また、ＷＹの場合についても上述したＷＸの場合と同様の手法で求めることが可能である。
【０１２７】
＜変位量取得式を説明する他の例＞
更に、上述した変位量を取得する際に用いる式（１１）を他の方法で説明する。例えば、図９の例で、左辺から点ＰまでをＰ（ｘ）とし、左辺から点ＱまでをＱ（ｘ）とし、左辺から押圧位置ＡまでをＸ（ｘ）とする。
【０１２８】
また、点Ｐから下辺に垂直に下ろした線と、左辺から押圧位置Ａを通過して右辺まで垂直に下ろした線とが交わる点から押圧位置Ａまでをａ（ｘ）とする。また、上辺から押圧位置Ａを通過して下辺まで垂直に下ろしたときに下辺と交わる点と点Ｑまでをｂ（ｘ）とする。
【０１２９】
このとき、押圧位置ＡのＸ座標は、以下の方法で表すことが可能である。
【０１３０】
ａ（ｘ）：Ｖ＝ｂ（ｘ）：（１−Ｖ）とすると、
ａ（ｘ）×（１−Ｖ）＝ｂ（ｘ）×Ｖ
＝（Ｑ（ｘ）−Ｐ（ｘ）−ａ（ｘ））×Ｖ
＝Ｑ（ｘ）×Ｖ−Ｐ（ｘ）×Ｖ−ａ（ｘ）×Ｖ
ａ（ｘ）×（１−Ｖ）＋ａ（ｘ）×Ｖ＝Ｑ（ｘ）×Ｖ−Ｐ（ｘ）×Ｖ
ａ（ｘ）−（ａ（ｘ）×Ｖ）＋（ａ（ｘ）×Ｖ）＝Ｑ（ｘ）×Ｖ−Ｐ（ｘ）×Ｖ
ａ（ｘ）＝Ｑ（ｘ）×Ｖ−Ｐ（ｘ）×Ｖ
すなわち、Ｘ（ｘ）＝Ｐ（ｘ）＋ａ（ｘ）
＝Ｐ（ｘ）−Ｐ（ｘ）×Ｖ＋Ｑ（ｘ）×Ｖ
＝Ｐ（ｘ）×（１−Ｖ）＋Ｑ（ｘ）×Ｖ
又は、ａ（ｘ）：Ｖ＝（ａ（ｘ）＋ｂ（ｘ））：１
ａ（ｘ）＝（ａ（ｘ）×Ｖ）＋（ｂ（ｘ）×Ｖ）
ａ（ｘ）−（ａ（ｘ）×Ｖ）＝ｂ（ｘ）×Ｖ
＝（Ｑ（ｘ）−Ｐ（ｘ）−ａ（ｘ））×Ｖ
＝Ｑ（ｘ）×Ｖ−Ｐ（ｘ）×Ｖ
すなわち、Ｘ（ｘ）＝Ｐ（ｘ）＋ａ（ｘ）
＝Ｐ（ｘ）−Ｐ（ｘ）×Ｖ＋Ｑ（ｘ）×Ｖ
＝Ｐ（ｘ）×（１−Ｖ）＋Ｑ（ｘ）×Ｖ・・・（１６）
となる。
【０１３１】
上述した式（１６）は、上述した式（１４）、式（１５）と同等の意味を示すため、上述した手法によりＷＸと求めることが可能である。また、ＷＹの場合についても上述したＷＸの場合と同様の手法で求めることが可能である。
【０１３２】
上述した変位量を取得する式を用いて、例えばユーザにより押圧されたときの押圧位置における各辺からの変位量ＷＸ、ＷＹを求めることで、以下の通り、押圧位置を推定することが可能となる。
【０１３３】
＜押圧位置推定処理の流れ＞
次に、上述した塗布対象面２４（すなわち補正対象領域）が、実際にユーザにより押圧されたときの押圧位置推定処理について説明する。図１０は、押圧位置推定処理の流れを示すフローチャートである。図１０のＳ３１〜Ｓ３６までの処理は、図８のＳ２２〜Ｓ２３、Ｓ２５〜Ｓ２８までの処理で用いた方法により実行される。
【０１３４】
なお、図８の処理は塗布対象面２４での座標を設定するために、所定位置（例えば等間隔で区切られた２５カ所）に所定の重りを載せることで、所定位置を押圧したときの変位量を求めていくのに対し、図１０の処理はユーザが押圧したときのセンサ２２Ａ〜２２Ｄから得られる出力値に基づいて変位量を求める点で異なる。
【０１３５】
図１０に示すように、実際の測定時に、ユーザによる押圧力を検出すると、センサ２２Ａ〜２２Ｄの出力値それぞれから、図８のＳ２０の処理で取得したゼロ値データａを引いて、ゼロ値補正した出力値ｄｃａｌを取得する（Ｓ３１）。
【０１３６】
次に、Ｓ３１の処理で取得した４つの出力値ｄｃａｌから合計出力値Ｄｃａｌを求め、合計出力値Ｄｃａｌに対するセンサ２２Ａ〜２２Ｄのそれぞれの出力値の割合（個別出力割合ｅｃａｌ）を取得する（Ｓ３２）。
【０１３７】
次に、センサ２２Ａ〜２２Ｄの個別出力割合ｅｃａｌのうち最大値と最小値とを求め、最大値と最小値とがそれぞれの所定の値（例えば「１００」、「０」）となるように、上述した図８のＳ２４の処理で求めた校正値Ｖａｌｃａｌを用いて校正し、校正した値ｆｃａｌを取得する（Ｓ３３）。
【０１３８】
次に、Ｓ３３の処理で取得した４つの校正した値ｆｃａｌを用いて、各辺に係る圧力の割合Ｕｃａｌ、Ｂｃａｌ、Ｌｃａｌ、Ｒｃａｌを求める（Ｓ３４）。次に、垂直方向に係る圧力の割合Ｖｃａｌ又は水平方向に係る圧力の割合Ｈｃａｌを求める（Ｓ３５）。次に、各辺からの変位量ＷＸｃａｌ、ＷＹｃａｌを取得する（Ｓ３６）。
【０１３９】
次に、図８の処理で予め取得した座標補正量（例えば、基準点ｃａｌＸｖａｌ、ｃａｌＹｖａｌ、分解能ｃａｌＸｓｃａｌｅ、ｃａｌＹｓｃａｌｅ）を用いて、Ｓ３６の処理で取得した各辺からの変位量ＷＸｃａｌ、ＷＹｃａｌを補正し、押圧位置の座標Ｘｐ、Ｙｐを求め(Ｓ３７)、処理を終了する。
【０１４０】
ここでは、座標の基準点をｃａｌＸｖａｌ、ｃａｌＹｖａｌとし、分解能ｃａｌＸｓｃａｌｅ、ｃａｌＹｓｃａｌｅで補正した変位量ＷＸｃａｌ、ＷＹｃａｌを、押圧位置の座標Ｘｐ、Ｙｐとする。なお、押圧位置の座標Ｘｐ、Ｙｐを、例えば以下の式（１７）を用いて取得すると良い。
【０１４１】
【数１０】
0005458196.tif 000011
【０１４２】
Ｓ３７の処理で求めた座標Ｘｐ、Ｙｐは、例えば塗布対象面２４の左辺と下辺の交点（すなわち左下の隅）が原点（基準点）となる。したがって、例えば塗布対象面２４の中央を原点とするためには、所定の値（例えば対角線上を１００分割した場合には、「５０」）を用いて、位置オフセット値ｃａｌＸｐｏｓＯｆｆｓｅｔ、ｃａｌＹｐｏｓＯｆｆｓｅｔを求め、押圧位置の座標Ｘｐ、Ｙｐを表しても良い。
【０１４３】
例えば、位置オフセット値ｃａｌＸｐｏｓＯｆｆｓｅｔ、ｃａｌＹｐｏｓＯｆｆｓｅｔを以下の式（１８）を用いて取得すると良い。
【０１４４】
【数１１】
0005458196.tif 000012
【０１４５】
次に、位置オフセット値ｃａｌＸｐｏｓＯｆｆｓｅｔ、ｃａｌＹｐｏｓＯｆｆｓｅｔをを用いて、押圧位置の座標Ｘｐ、Ｙｐを中央座標からの値（すなわち座標Ｘｐｏｓ、Ｙｐｏｓ）とする。なお、座標Ｘｐｏｓ、Ｙｐｏｓは、例えば以下の式（１９）を用いて求めると良い。
【０１４６】
【数１２】
0005458196.tif 000013
【０１４７】
このように、予め事前処理で得られた座標を設定するための座標補正量を用いて、実際の測定時におけるユーザにより押圧された塗布対象面２４上の押圧位置を判定することが可能となる。
【０１４８】
上述した処理により、推定手段４６は、検出手段４４により得られるセンサ２２それぞれにかかる押圧力に基づき、塗布対象面２４における塗布動作の押圧位置を推定することができる。なお、本実施形態における押圧力の測定手法及び押圧位置の推定手法については、これに限定されるものではない。
【０１４９】
＜塗布動作評価装置１０の表示画面＞
次に、上述した画面生成手段４９により生成され、塗布動作評価装置１０に表示される画面例について説明する。図１１は、塗布動作中に示される表示画面の一例を示す図である。
【０１５０】
図１１（Ａ）に示す画面６０には、サンプル表示部６１と、操作表示部６２と、押圧力推移表示部６３と、荷重分布表示部６４と、評価結果表示部６５とが示されている。
【０１５１】
サンプル表示部６１には、入力手段４１により入力された皮膚外用剤のサンプル名（図７の例では「Ｓａｍｐｌｅ  Ａ」）等が示されている。
【０１５２】
操作表示部６２には、「ＲＥＣ」、「ＰＬＡＹ」、「ＬＯＡＤ」、「ＲＥＳＵＬＴ」等の選択ボタンが示されている。例えば、上述したステップ１（Ｓｔｅｐ１）又はステップ２（Ｓｔｅｐ２）の塗布動作の前に、「ＲＥＣ」ボタンを選択すると、塗布動作に応じて検出される押圧力や押圧位置が記録手段４３に記録される。
【０１５３】
また、「ＰＬＡＹ」ボタンを選択すると、出力手段４２から、塗布動作の開始を合図する合図音が出力され、例えば、各ステップの速度（例えば１ストローク／０．５秒）に合わせて塗布動作を行わせるためのタイミングを指示する指示音が出力される。
【０１５４】
押圧力推移表示部６３には、横軸がＴｉｍｅ［ｓｅｃ］を示し、縦軸が押圧力［ｇ］を示す折れ線グラフ等により、押圧力の時間変化が表示される。図１１（Ａ）に示す波形６６は、例えば２０ｍｓごとに取得された時間軸の信号である。
【０１５５】
荷重分布表示部６４には、塗布対象面２４に対応する画面が示される。具体的には、荷重分布生成手段４７は、推定手段４６により推定された押圧位置ごとに累積された押圧力の累積値を用いて、荷重分布を生成する。このように生成された荷重分布が、塗布対象面２４に対応する画面に表示される。
【０１５６】
図１１（Ａ）の例では、累積された押圧力の強さによって色分けされた色分布（例えば色６７に示す２０ｇから色６８に示す２００ｇ等）が示されている。この色分布を用いて、荷重分布表示部６４には、塗布対象面２４の中央部分に対応する領域において色６８により荷重がかかっている状態が示され、塗布対象面２４の端部に対応する領域おいて色６７により荷重がかかっていない状態が示されている。
【０１５７】
上述した荷重分布によりサンプルの塗布状態を示すことで、例えば箇所ごとの加圧の結果を把握することが可能となる。すなわち、例えば何度も塗布した箇所や、力がかかる箇所が可視化されるため、例えば塗布ムラが生じている箇所や、こそがれる箇所等を容易に把握することが可能となる。
【０１５８】
また、評価結果表示部６５には、評価手段４８により、１ストロークごと（例えば０．５秒ごと）の押圧力のピークが、予め設定された適正値（図１１（Ａ）の例では、網掛けされた７５ｇ〜１２５ｇの範囲）に含まれるか否か判定された結果が表示される（図１１（Ａ）の例では「Ｇｏｏｄ」）。
【０１５９】
図１１（Ｂ）に示す画面６９は、操作表示部６２の「ＲＥＳＵＬＴ」ボタンが選択された場合に表示される画面である。図１１（Ｂ）の例では、予め設定されたステップ（Ｓｔｅｐ）ごとに塗布圧（Ｆｉｎｇｅｒ  Ｐｒｅｓｓｕｒｅ）の平均値（Ａｖｅ−ｇ）と、圧力分布の均一性（Ｕｎｉｆｏｒｍｉｔｙ）の値（％）と、ステップ終了後の荷重分布とが表示されている。また、判定結果（Ｔｏｔａｌ  Ｊｕｄｇｅｍｅｎｔ）では、例えば各ステップの平均値と均一性の値が基準値を満たすか否かにより合否が判定されるが、これに限定されるものではない。
【０１６０】
図１２は、各ステップの荷重分布及び結果を示す表示画面の一例を示す図である。図１２（Ａ）に示す画面７０には、各ステップ後の荷重分布（「ＳＴＥＰ１」、「ＳＴＥＰ２」）とステップ全体が終了した後の荷重分布（「ＡＬＬ」）とが示されている。なお、これらの荷重分布は、例えば検出手段４４により得られる押圧力に対応する色分布が表示されている。これにより、色によって示された塗布動作の結果を、容易かつ正確に取得することができる。
【０１６１】
なお、図１２（Ｂ）に示す画面７１には、「トータル」、「Ｓｔｅｐ１」、「Ｓｔｅｐ２」の押圧力の推移が詳細に示されている。例えば、図１２（Ｂ）の例では、判定結果が予め任意に設定された合格基準を満たす場合には、「ＰＡＳＳ」と表示され、判定結果が合格規準を満たさない場合には、「ＦＡＩＬ」と表示される。これにより、どの部分において塗布圧が均一でないか容易に把握することができる。なお、合格基準は利用目的に応じて自由に変更可能である。
【０１６２】
＜各塗布動作と評価との関係＞
次に、各塗布動作と評価との関係について説明する。図１３は、各塗布動作とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値との関係を示す図である。図１３の例では、塗布動作評価装置１０を用いて、「Ｓａｍｐｌｅ  Ａ」を塗布する際に、「塗布圧（押圧力）」、１ストローク当りの「速度（秒）」、「プレート支持」、「塗布時間（秒）」を変化させたときの塗布面に対するｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値が示されている。この予測値によれば、例えば「塗布圧」を変化させるとｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値が著しく変動していることが示されている。なお、従来では、塗布方法を定義する際に塗布量や塗布時間等が規定されることがあったが、塗布圧が変動因子として考慮されることがなかった。
【０１６３】
図１４は、各サンプルの塗布圧とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値との関係を示す図である。なお、サンプルとしてＳ１〜Ｓ４を用いている。図１４の例では、塗布動作評価装置１０を用いて、サンプルごとに「２５ｇ」、「１００ｇ」、「２００ｇ」の塗布圧により塗布したときの塗布面に対するｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値の平均値を示している。図１４に示すように、いずれのサンプルも塗布圧を変化させると予測値が変化している。このように、いずれのサンプルを用いた場合でも、ｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値に塗布圧の影響があることが分かる。
【０１６４】
図１５は、各サンプルの塗布圧とｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦ予測値のＣＶ値（％）との関係を示す図である。図１５の例では、図１４と同様のサンプル（Ｓ１〜Ｓ４）を用いて、図１４のｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値から求めたＣＶ値が示されている。再現性の合格基準として、通常ＣＶ値は、概ね２０％以下が有効値とされているが、サンプルによっては、塗布圧が「２５ｇ」、及び「２００ｇ」の場合に、有効値が得られないケースがあることを示している。
【０１６５】
なお、上述したｉｎ  ｖｉｔｒｏ  ＳＰＦの予測値は、サンプルを塗布基板ＳＰＦ  ＭＡＳＴＥＲ  ＰＡ−０１（資生堂医理化テクノロジー株式会社）に２．００ｍｇ／ｃｍ２の量で塗布して、ＳＰＦ  ＭＡＳＴＥＲ（資生堂医理化テクノロジー株式会社）を用いて測定した結果を示したものである。
【０１６６】
したがって、例えば塗布圧を「１００ｇ」となるように、塗布動作評価装置１０を用いて塗布動作を標準化して評価することにより、有効なＣＶ値が得られる均一な厚みの塗布を実現するための評価を行うことが可能となる。また、塗布動作評価装置１０を用いて、再現性に影響する各値を変化させていくことで、更に再現性を向上させる値を得ることが可能となる。
【０１６７】
上述したように、本実施形態によれば、塗布動作に関する再現性を向上させることが可能となる。
【０１６８】
以上、本発明の好ましい実施例について詳述したが、本発明に係る特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、変更が可能である。
【符号の説明】
【０１６９】
１０  塗布動作評価装置
２０  センサ部
２１  塗布基板
２２  センサ
２３  位置規制部材
２４  塗布対象面
３０  表示部
４１  入力手段
４２  出力手段
４３  記録手段
４４  検出手段
４５  算出手段
４６  推定手段
４７  荷重分布生成手段
４８  評価手段
４９  画面生成手段
５０  制御手段
５１  入力装置
５２  出力装置
５３  ドライブ装置
５４  補助記憶装置
５５  メモリ装置
５６  ＣＰＵ
５７  ネットワーク接続装置
５８  記録媒体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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