(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出装置であって、
電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能な検知部と、
前記検知部の出力信号に基づいて、判定対象期間におけるエネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する接触状態判定処理部と、
を備え、
前記検知部は、電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動を検知可能な振動検知部である、電線の導体接触検出装置。
【請求項２】
電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出装置であって、
電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能な検知部と、
前記検知部の出力信号に基づいて、判定対象期間におけるエネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する接触状態判定処理部と、
を備え、
前記検知部は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内の共振周波数を持つ共振型ＡＥセンサである、電線の導体接触検出装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間を分割した複数の判定期間毎に期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定し、期間毎の判定結果に基づいてストリップ刃と芯線との接触の有無を判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項４】
請求項３記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記検知部の出力信号に基づく期間毎のエネルギーに応じた量が予め設定されたエネルギー閾値を超えるときに、期間毎接触判定基準を満たすと判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項５】
請求項３又は請求項４記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、
前記期間毎接触判定基準を満たす数が予め設定された接触判定数を超えるときに、電線の導体と切込み刃との接触有りと判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項６】
請求項１又は請求項２記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーに応じた量に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項７】
請求項６記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの変化度合に応じて補正して、前記判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を求める、電線の導体接触検出装置。
【請求項８】
請求項１又は請求項２記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの継続性に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項９】
請求項８記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの継続性の有無を前記検知部の出力信号に含まれる周波数成分に基づいて判定する、電線の導体接触検出装置。
【請求項１０】
請求項１〜請求項９のいずれか一つに記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記判定対象期間は、前記切込み刃が前記電線に切込んでいく期間を含む、電線の導体接触検出装置。
【請求項１１】
請求項１〜請求項１０のいずれか一つに記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記判定対象期間は、前記切込み刃が前記電線に切込んで停止した後の期間を含む、電線の導体接触検出装置。
【請求項１２】
請求項１〜請求項１１のいずれか一つに記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記判定対象期間は、前記電線に切込んだ切込み刃が前記電線の端部側に相対移動して被覆を除去する際の期間を含む、電線の導体接触検出装置。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれか一つに記載の電線の導体接触検出装置であって、
電線の被覆に切込み可能な一対の切込み刃と、
前記一対の切込み刃を接近及び離隔移動させる刃駆動部と、
をさらに備える電線の導体接触検出装置。
【請求項１４】
請求項１３記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記検知部が前記一対の切込み刃の少なくとも一方に接触するように設けられている、電線の導体接触検出装置。
【請求項１５】
請求項１〜１４のいずれか一つに記載の電線の導体接触検出装置であって、
前記検知部は、電線の被覆をストリップするストリップ刃としての前記切込み刃と電線の芯線との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能に構成されている、電線の導体接触検出装置。
【請求項１６】
電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出方法であって、
（ａ）切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理を行うステップと、
（ｂ）前記ステップ（ａ）において発生するエネルギーである電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動に応じた物理量を検知するステップと、
（ｃ）前記工程（ｂ）における検知結果に基づいて、判定対象期間における前記エネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するステップと、
を備える電線の導体接触検出方法。
【請求項１７】
切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理中に発生するエネルギーである電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動に応じた物理量を検知し、その検知結果に基づいて、電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するための電線の導体接触検出プログラムであって、コンピュータに、
（Ａ）切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理中に発生する前記エネルギーに応じた物理量の検知結果を取得させるステップと、
（Ｂ）前記ステップ（Ａ）における検知結果に基づいて、判定対象期間における前記エネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するステップと、
を実現させるための電線の導体接触検出プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、切込み刃と電線の導体との接触を検出する技術、例えば、電線の被覆をストリップする際に、ストリップ刃と芯線との接触を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常、電線の被覆はストリップ刃を用いてストリップされる。ストリップ刃が電線の被覆に切込む際、ストリップ刃が芯線に接触してしまうと、芯線に傷が付いてしまう。【０００３】
従来、電線の被覆をストリップする際において、ストリップ刃と芯線との接触を検出する技術として、特許文献１に開示のものがある。【０００４】
特許文献１では、電線の被覆をストリップする際に、ストリップ刃と電線の芯線との導通の有無を検出することで、ストリップ刃と電線の芯線との接触を検出している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平６−２５３４３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示の技術では、ストリップ刃と電線の芯線との導通の有無を検出するためには、ストリップする部分以外で、検査用の電極を電線の芯線に電気的に接続する必要があり、その接続を如何に行うかが重要な問題となっていた。特に、所定長に調尺切断された電線に関して上記接触検出を行うためには、切断された電線それぞれに対して、検査用の電極を芯線に電気的に接続する必要があり、実現性には乏しいものとなっていた。【０００７】
そこで、本発明は、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触をより簡易に検出できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため、第１の態様は、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出装置であって、電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能な検知部と、前記検知部の出力信号に基づいて、判定対象期間におけるエネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する接触状態判定処理部とを備える。【０００９】
また、前記検知部は、電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動を検知可能な振動検知部とされている。
【００１０】
第２の態様は、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出装置であって、電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能な検知部と、前記検知部の出力信号に基づいて、判定対象期間におけるエネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する接触状態判定処理部とを備え、前記検知部は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内の共振周波数を持つ共振型ＡＥセンサとされている。
【００１１】
第３の態様は、第１又は第２の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間を分割した複数の判定期間毎に期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定し、期間毎の判定結果に基づいてストリップ刃と芯線との接触の有無を判定するものである。
【００１２】
第４の態様は、第３の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記検知部の出力信号に基づく期間毎のエネルギーに応じた量が予め設定されたエネルギー閾値を超えるときに、期間毎接触判定基準を満たすと判定する。
【００１３】
第５の態様は、第３又は第４の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記期間毎接触判定基準を満たす数が予め設定された接触判定数を超えるときに、電線の導体と切込み刃との接触有りと判定する。
【００１４】
第６の態様は、第１又は第２の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーに応じた量に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する。
【００１５】
第７の態様は、第６の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの変化度合に応じて補正して、前記判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を求める。
【００１６】
第８の態様は、第１又は第２の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの継続性に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定する。
【００１７】
第９の態様は、第８の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記接触状態判定処理部は、前記判定対象期間におけるエネルギーの継続性の有無を前記検知部の出力信号に含まれる周波数成分に基づいて判定する。
【００１８】
第１０の態様は、第１〜第９のいずれか一つの態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記判定対象期間は、前記切込み刃が前記電線に切込んでいく期間を含む。
【００１９】
第１１の態様は、第１〜第１０のいずれか一つの態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記判定対象期間は、前記切込み刃が前記電線に切込んで停止した後の期間を含む。
【００２０】
第１２の態様は、第１〜第１１のいずれか一つの態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記判定対象期間は、前記電線に切込んだ切込み刃が前記電線の端部側に相対移動して被覆を除去する際の期間を含む。
【００２１】
第１３の態様は、第１〜第１２のいずれか一つの態様に係る電線の導体接触検出装置であって、電線の被覆に切込み可能な一対の切込み刃と、前記一対の切込み刃を接近及び離隔移動させる刃駆動部とをさらに備える。
【００２２】
第１４の態様は、第１３の態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記検知部が前記一対の切込み刃の少なくとも一方に接触するように設けられている。
【００２３】
第１５の態様は、第１〜第１４のいずれか一つの態様に係る電線の導体接触検出装置であって、前記検知部は、電線の被覆をストリップするストリップ刃としての前記切込み刃と電線の芯線との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能に構成されている。
【００２４】
第１６の態様は、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触を検出する電線の導体接触検出方法であって、（ａ）切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理を行うステップと、（ｂ）前記ステップ（ａ）において発生するエネルギーである電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動に応じた物理量を検知するステップと、（ｃ）前記工程（ｂ）における検知結果に基づいて、判定対象期間における前記エネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するステップと、を備える。
【００２５】
第１７の態様は、切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理中に発生するエネルギーである電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動に応じた物理量を検知し、その検知結果に基づいて、電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するための電線の導体接触検出プログラムであって、コンピュータに、（Ａ）切込み刃を電線に切込ませる処理を含む加工処理中に発生する前記エネルギーに応じた物理量の検知結果を取得させるステップと、（Ｂ）前記ステップ（Ａ）における検知結果に基づいて、判定対象期間における前記エネルギー発生状況に応じて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定するステップと、を実現させるための電線の導体接触検出プログラムである。
【発明の効果】
【００２６】
第１の態様によると、電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量が検知部によって検知される。そして、判定対象期間におけるエネルギーの発生状況に応じて、電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。これにより、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触をより簡易に検出できる。【００２７】
第１の態様によると、電線の導体と切込み刃との接触によって生じる振動エネルギーをより効果的に検知できる。
【００２８】
特に、通常、金属で形成される切込み刃と、金属で形成される導体とが接触することによって生ずる振動の周波数は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内で観測され易い。そこで、第２の態様のように、検知部として、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内の共振周波数を持つ共振型ＡＥセンサを用いることで、導体と切込み刃との接触をより確実に検出できる。
【００２９】
第３の態様によると、前記判定対象期間を分割した複数の判定期間毎に期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定し、期間毎の判定結果に基づいてストリップ刃と芯線との接触の有無を判定するため、より正確に導体と切込み刃との接触の有無を判定できる。
【００３０】
第４の態様によると、切込み刃と導体との接触によるエネルギーに応じた量の大小に基づいて、期間毎の導体と切込み刃との接触可能性を判定できる。
【００３１】
第５の態様によると、切込み刃と導体との接触によるエネルギーに応じた量の大小及びその継続状態に基づいて、期間毎の導体と切込み刃との接触可能性を判定できる。
【００３２】
電線の導体と切込み刃との接触によるエネルギーは、ある程度継続して発生する。そこで、第６の態様のように、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することで、より精度よく電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。
【００３３】
また、導体と切込み刃との接触によるエネルギー変化は比較的なだらかな変化として観測される。そこで、第７の態様のように、前記判定対象期間におけるエネルギーの変化度合に応じて補正して、前記判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を求めることで、導体と切込み刃との接触の有無をより確実に判定できる。
【００３４】
電線の導体と切込み刃との接触によるエネルギーは、ある程度継続して発生する。そこで、第８の態様のように、前記接触状態判定処理部は、期間におけるエネルギーの継続性に基づいて電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することで、より精度よく電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。
【００３５】
第９の態様によると、前記判定対象期間において電線の導体と切込み刃との接触によって発生する周波数成分が継続的に発生しているか否かにより、導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。
【００３６】
また、切込み刃が電線に切込んでいく際に導体に接触すると、比較的大きなエネルギーが発生する。そこで、第１０の態様のように、前記判定対象期間が、前記切込み刃が前記電線に切込んでいく期間を含むと、切込み刃と導体との接触の有無をより正確に判定できる。
【００３７】
また、切込み刃が停止した状態でも、切込み刃と導体との接触によるエネルギーが観察される。また、切込み刃が停止した状態では、他の要因によるノイズ発生は抑制されている。そこで、第１１の態様のように、前記判定対象期間が、前記切込み刃が前記電線に切込んで停止した後の期間を含むことで、より正確に切込み刃と導体との接触の有無を判定することができる。
【００３８】
さらに、切込み刃が被覆を除去する際にも、切込み刃と導体が接触しているとそれによるエネルギーが観察される。そこで、第１２の態様のように、前記判定対象期間が、前記電線に切込んだ切込み刃が前記電線の端部側に相対移動して前記被覆を除去する際の期間を含むことで、より正確に切込み刃と導体との接触の有無を判定することができる。
【００３９】
第１３の態様によると、導体と切込み刃との接触を簡易に検出しつつ、電線に切込む作業をすることができる。
【００４０】
第１４の態様によると、検知部が切込み刃に接触しているため、切込み刃と導体との接触をより確実に検知できる。
【００４１】
第１５の態様によると、ストリップ刃と芯線との接触を簡易に検出できる。
【００４２】
第１６の態様によると、電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量が検知される。そして、判定対象期間におけるエネルギーの発生状況に応じて、電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。これにより、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触をより簡易に検出できる。
【００４３】
第１７の態様によると、電線の導体と切込み刃との接触によって発生するエネルギーに応じた物理量が検知される。そして、期間におけるエネルギーの発生状況に応じて、電線の導体と切込み刃との接触の有無を判定することができる。これにより、電線に切込む切込み刃と電線の導体との接触をより簡易に検出できる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】実施形態１に係る電線ストリップ処理装置を示す概略側面図である。
【図２】ストリップ刃と電線とを示す説明図である。
【図３】ストリップ刃が電線に正常に切込んだ状態を示す説明図である。
【図４】ストリップ刃が芯線に接触した状態を示す説明図である。
【図５】接触状態判定処理部のハードウエア構成を示すブロック図である。
【図６】接触状態判定処理部による接触状態判定処理を示すフローチャートである。
【図７】実施形態２に係る接触状態判定処理部のハードウエア構成を示すブロック図である。
【図８】接触状態判定処理部の機能ブロック図である。
【図９】接触状態判定処理部による接触状態判定処理を示すフローチャートである。
【図１０】振幅波形とストリップ刃の移動速度との経時的な変化例及び判定範囲例を示す図である。
【図１１】図１０における矢符Ａ１の切込み状態を示す説明図である。
【図１２】図１０における矢符Ａ２の切込み状態を示す説明図である。
【図１３】図１０における矢符Ａ３の切込み状態を示す説明図である。
【図１４】ストリップを正常に行えた場合における振幅波形例を示す図である。
【図１５】ストリップを正常に行えた場合における振動エネルギー量の分布を時間順に示す図である。
【図１６】外来ノイズが混入した場合における振幅波形例を示す図である。
【図１７】外来ノイズが混入した場合における振動エネルギー量の分布を時間順に示す図である。
【図１８】芯線に傷付きが発生した場合における振幅波形例を示す図である。
【図１９】芯線に傷付きが発生した場合における振動エネルギー量の分布を時間順に示す図である。
【図２０】実施形態３に係る出力信号波形データから直接的に判定対象期間におけるエネルギーを求める処理を示すフローチャートである。
【図２１】波形例を示す説明図である。
【図２２】波形状の立上がり度合に応じた係数例を示す図である。
【図２３】実効値演算処理した波形データから判定対象期間におけるエネルギーを求める処理を示すフローチャートである。
【図２４】出力信号波形データ例を示す図である。
【図２５】出力信号波形データから実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データ例を示す図である。
【図２６】実効値演算処理した波形データから判定対象期間におけるエネルギーを求める他の処理を示すフローチャートである。
【図２７】実施形態４に係る判定処理を示すフローチャートである。
【図２８】周波数成分毎のエネルギー分布の一例を示す図である。
【図２９】変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【図３０】周波数成分毎のエネルギー分布の一例を示す図である。
【図３１】他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【図３２】重み付係数の例を示す図である。
【図３３】強調されたエネルギー分布波形例を示す図である。
【図３４】他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【図３５】他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【図３６】周波数成分毎のエネルギー分布を求めるための他の例を示す説明図である。
【図３７】周波数成分毎のエネルギー分布を求めるための他の例を示す説明図である。
【図３８】適用対象に係る変形例を示す説明図である。
【図３９】適用対象に係る変形例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００４５】
以下、実施の形態に係る電線の導体接触検出装置について説明する。ここでは、下記の各実施形態において、電線の導体接触検出装置を、電線の被覆をストリップ刃でストリップする際に、ストリップ刃と芯線との接触を検出する芯線接触検出装置に適用した例で説明する。
【００４６】
＜実施形態１＞
実施形態１では、下記の実施形態２〜実施形態４を包括する基本構成について説明する。
【００４７】
図１は電線ストリップ処理装置１０を示す概略側面図である。この電線ストリップ処理装置１０は、電線ストリップユニット１２と芯線接触検出装置４０とを備えている。
【００４８】
電線ストリップユニット１２は、電線Ｗの端部の被覆Ｗｂを皮剥ぎするための装置であり、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと、刃駆動部１６と、電線保持部２０と、被覆除去駆動部２２とを備えている。
【００４９】
一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂは、電線Ｗの被覆Ｗｂに切込み可能な刃形状に形成されている。被覆Ｗｂにはポリ塩化ビニル製などの絶縁樹脂部材が用いられる。ここでは、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの先端部が略Ｖ字状に凹むＶ字刃形状に形成されている（図２参照）。そして、そのＶ字刃形状部分が電線Ｗの被覆Ｗｂに切込み可能に形成されている（図３参照）。なお、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの形状は上記例に限られず、例えば、略円弧状凹刃形状であってもよい。
【００５０】
刃駆動部１６は、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを接近及び離隔移動可能に構成されている。ここでは、刃駆動部１６は、一対の刃支持部１７Ａ，１７Ｂと、刃支持部１７Ａ，１７Ｂを移動可能に支持するねじ部１８と、ねじ部１８を回転させるモータ１９とを有している。
【００５１】
ねじ部１８は、所定方向（ここでは上下方向）に沿って配設されており、その中心軸周りに回転自在に支持されている。ねじ部１８の一端側部分１８ａには、所定の螺旋方向に沿ったネジ溝が形成され、ねじ部１８の他端側部分１８ｂには、逆の螺旋方向に沿ったネジ溝が形成されている。
【００５２】
モータ１９は、サーボモータ等の回転量の駆動制御が可能なモータによって構成されており、その回転駆動力をねじ部１８に伝達可能な態様で配設されている。ここでは、モータ１９の駆動軸部がねじ部１８に直接的に連結されている。そして、モータ１９の回転駆動に応じて、ねじ部１８が正逆両方向に回転可能に構成されている。
【００５３】
一対の刃支持部１７Ａ，１７Ｂは、長尺状部材に形成されており、それぞれの先端部にストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが固定支持されている。また、一方の刃支持部１７Ａの基端部には、ねじ部１８の一端側部分１８ａと螺合可能な螺合部１７Ａａが形成されており、他方の刃支持部１７Ｂの基端部には、ねじ部１８の他端側部分１８ｂと螺合可能な螺合部１７Ｂａが形成されている。
【００５４】
そして、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの先端部を対向させる姿勢で、一方の刃支持部１７Ａの螺合部１７Ａａがねじ部１８の一端側部分１８ａに螺合されると共に、他方の刃支持部１７Ｂの螺合部１７Ｂａがねじ部１８の他端側部分１８ｂに螺合されている。この状態で、モータ１９を正方向或は逆方向に回転制御することで、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを接近移動或は離隔移動させることができる構成となっている。
【００５５】
もっとも、刃駆動部としては上記構成に限られず、エアシリンダ、油圧シリンダ、リニアモータ等で駆動する構成であってもよく、また、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂをそれぞれ別々に駆動する構成であってもよい。
【００５６】
電線保持部２０は、電線Ｗの端部を一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂ間に配設した姿勢で、当該電線Ｗを保持可能に構成されている。このような電線保持部２０としては、例えば、エアシリンダ、油圧シリンダ等のアクチュエータの駆動により一対の把持爪を開閉駆動する周知のチャック機構等を採用することができ、要するに、電線を保持可能な構成を採用することができる。
【００５７】
被覆除去駆動部２２は、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと上記電線保持部２０とを離間方向に移動させることで電線Ｗの端部の被覆Ｗｂを除去する運動を付与する機構として構成されている。ここでは、被覆除去駆動部２２は、エアシリンダ、油圧シリンダ等のアクチュエータ等により構成されており、上記電線保持部２０を、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂから離間させる方向に移動させるように構成されている。
【００５８】
この電線ストリップユニット１２は、ストリップ処理制御部２８の制御下、次のようにして電線Ｗの端部の被覆Ｗｂをストリップする。
【００５９】
すなわち、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを離間移動させた状態で、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂ間に電線Ｗの端部を配設するようにして、電線Ｗを電線保持部２０で保持する（図２参照）。この状態で、刃駆動部１６の駆動により一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを接近移動させる。すると、一対のストリップ刃１４Ａ，１４ＢのＶ字刃形状部分に囲まれた領域に芯線Ｗａを配設した状態で、Ｖ字刃形状部分が被覆Ｗｂに切込んでいく（図３参照）。このように、Ｖ字刃形状部分を被覆Ｗｂに切込ませた状態で、被覆除去駆動部２２の駆動により一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと電線保持部２０とを離間方向に移動させると、被覆ＷｂのうちＶ字刃形状部分より先端側の部分が、電線保持部２０で保持された電線Ｗ部分から除去され、電線Ｗの端部に芯線Ｗａが露出するようになる。なお、上記動作は、ストリップ処理制御部２８から電線ストリップユニット１２に与えられる動作信号に基づいて行われる。この動作信号には、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの動作制御に係る指令、例えば、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの駆動開始指令、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを被覆Ｗｂに切込ませた状態で停止させるべき位置に応じた目標位置指令等が含まれている。この動作信号は、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの動作タイミングを表す信号として後述する接触状態判定処理部５０に入力される。
【００６０】
ここで、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが被覆Ｗｂに切込んだ際に、一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが芯線Ｗａに接触してしまうことがある（図４参照）。ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが芯線Ｗａに接触してしまうと、芯線に傷付き或は芯線切れ等が発生し、接触不良或は断線等の要因となり得る。
【００６１】
芯線接触検出装置４０は、上記のように電線Ｗの被覆Ｗｂをストリップ刃１４Ａ，１４Ｂでストリップする際に、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触を検出する装置として構成されている。
【００６２】
すなわち、芯線接触検出装置４０は、振動検知部４２と、接触状態判定処理部５０とを備えている。
【００６３】
振動検知部４２は、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を検知可能に構成されており、より具体的には、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって生じる振動周波数を含む周波数域の振動を検知可能に構成されている。
【００６４】
つまり、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとが接触し芯線Ｗａに傷等の破壊が生じてしまった場合、ＡＥ（Acoustic  Emission）によってＡＥ波が発生する。そこで、振動検知部４２は、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によるＡＥ波の振動周波数を含む周波数域の振動を検知可能に構成されている。このＡＥ波は、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって発生する振動エネルギーに応じた物理量を呈する波形を有しおり、その波形の振幅値は接触によって発生するエネルギーに応じた値を示す。なお、本出願において、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって生じる振動周波数とは、当該接触によって生じる主たる範囲の振動周波数、或は、当該接触によって生じる主たる特定の振動周波数を意味している。
【００６５】
通常、芯線Ｗａは金属で形成されており、また、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂも金属で形成されている。そして、金属の破壊により発生するＡＥ波は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内で減衰が少なく観測し易い。このため、振動検知部４２は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲に対して部分的に或は全体的に重複する周波数域の振動を検知可能であることが好ましい。より好ましくは、振動検知部４２は、１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲で感度よく振動を検知できることが好ましく、より具体的には、振動検知部４２は１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの範囲内の共振周波数を持つ共振型ＡＥセンサであることが好ましい。さらに好ましくは、２００ｋＨｚの共振周波数を持つ共振型ＡＥセンサであることが好ましい。
【００６６】
ここでは、振動検知部４２はストリップ刃１４Ａに接触するようにして取付固定されている。より具体的には、振動検知部４２の検知面をストリップ刃１４Ａの一主面に接触させるようにして、振動検知部４２が取付固定されている。振動検知部４２の取付固定は、ネジ締め、接着等種々の取付構造により行うことができる。また、振動検知部４２の取付位置は、上記ストリップ作業を妨げない位置であれば、ストリップ刃１４Ａ自体であってもストリップ刃１４Ａを保持する部分等であってもよい。このように、振動検知部４２をストリップ刃１４Ａに接触させた態様で取付固定することで、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａとの接触によって生じるＡＥ波の振動をより確実に検知することができる。
【００６７】
なお、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ｂとの接触によって生じるＡＥ波も、電線Ｗ，ストリップ刃１４Ａ等を介して振動検知部４２に伝達される。このため、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ｂとの接触によって生じるＡＥ波の振動も、振動検知部４２によって検知できる。もっとも、振動検知部４２が一対のストリップ刃１４Ａ，１４Ｂのそれぞれに設けられていてもよい。
【００６８】
この振動検知部４２からの振動検知信号は、例えば、検知された振動に応じた電圧を持つアナログ信号として接触状態判定処理部５０に入力される。
【００６９】
図５は接触状態判定処理部５０のハードウエア構成を示すブロック図である。接触状態判定処理部５０は、上記振動検知部４２から入力される検知信号に基づいて、振動検知部４２の出力信号に基づいて、判定対象期間におけるエネルギー発生状況に応じて芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無を判定する５０としての処理を実行可能に構成されている。
【００７０】
ここで、判定対象期間とは、ある時間から他の時間までの幅を持つ期間を意味し、判定対象期間におけるエネルギー発生状況とは、そのような幅を持つ期間におけるエネルギーに応じた量、変化状況、或は、断続状況等を意味し、特定の時間における瞬間的なエネルギーの値だけに基づいて接触の有無を判定するものではないことを意味している。
【００７１】
より具体的には、接触状態判定処理部５０は、ＣＰＵ５２、ＲＯＭ５３、ＲＡＭ５４、外部記憶装置５５等がバスライン５１を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成されている。ＲＯＭ５３は基本プログラム等を格納しており、ＲＡＭ５４はＣＰＵ５２が所定の処理を行う際の作業領域として供される。外部記憶装置５５は、フラッシュメモリ或はハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成されている。外部記憶装置５５には、芯線接触検出処理を行うための接触検出プログラム５５ａが格納されている。この接触検出プログラム５５ａに記述された手順に従って、主制御部としてのＣＰＵ５２が演算処理を行うことにより、後述するようにストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触を検出する各種機能が実現されるように構成されている。なお、以下の各実施形態で説明する各処理も、接触検出プログラム１５５ａに実行手順として記述された処理であり、ＣＰＵ５２が接触検出プログラム１５５ａに従って所定の演算処理を行うことにより実現される。接触検出プログラム５５ａは、通常、予め外部記憶装置５５等のメモリに格納されて使用されるものであるが、ＣＤ−ＲＯＭ或はＤＶＤ−ＲＯＭ、外部のフラッシュメモリ等の記録媒体に記録された形態（プロフラムプロダクト）で提供され或はネットワークを介した外部サーバからのダウンロードなどにより提供され、追加的又は交換的に外部記憶装置５５等のメモリに格納されるものであってもよい。なお、上記接触状態判定処理部５０が行う一部或は全部の機能は、専用の論理回路等でハードウエア的に実現されてもよい。
【００７２】
また、外部記憶装置５５には、上記芯線接触検出処理を行う際の基準となる判断基準５５ｂが格納されている。
【００７３】
また、この接触状態判定処理部５０では、検知信号入力回路部５６，出力回路部５７ａ，入力回路部５７ｂ，入力部５８，表示部５９もバスライン５１に接続されている。
【００７４】
検知信号入力回路部５６は、増幅回路、フィルタ回路、ＡＤ変換回路等を有している。そして、振動検知部４２によって得られた振動検知信号がアナログ信号で入力されると、増幅回路及びフィルタ回路を経て、ＡＤ変換回路に入力されてデジタル信号に変換されるように構成されている。なお、フィルタ回路としては、例えば、金属の破壊によるＡＥ波に応じた１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの通過領域を持つバンドパスフィルタを用いることが好ましい。この検知信号入力回路部５６でデジタル信号に変換された振動検知信号は、例えば、振幅値が経時的に変化する波形データとしてＲＡＭ５４或は外部記憶装置５５に記憶され、後述する接触検出処理に供される。
【００７５】
出力回路部５７ａは、ＣＰＵ５２による制御下、他の機器への制御信号等を出力する出力回路である。入力回路部５７ｂには、外部からの諸信号、ここでは、ストリップ処理制御部２８からの動作信号が、本入力回路部５７ｂを通じて入力される。
【００７６】
入力部５８は、各種スイッチ、タッチパネル等により構成されており、上記判断基準５５ｂの入力設定指示の他、接触状態判定処理部５０に対する諸指示を受付可能に構成されている。
【００７７】
表示部５９は、液晶表示装置、ランプ等により構成されており、ＣＰＵ５２による制御下、接触状態の判定結果等の諸情報を表示可能に構成されている。
【００７８】
図６は接触状態判定処理部５０による接触状態判定処理を示すフローチャートである。
【００７９】
接触状態判定処理開始後、接触状態判定処理部５０は、ステップＴ１において、電線ストリップユニット１２からの動作信号を元に、判定対象データを取得する。判定対象データは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく少なくとも一部の期間を含む判定対象期間に対応するデータであることが好ましい。この範囲は、より好ましくは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく際、芯線Ｗａに接触してしまう可能性がある期間、例えば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく途中から停止するまで或は停止する直前までの期間として設定される。上記判定範囲は、電線ストリップユニット１２によるストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの動作開始指令時又は動作停止指令を基準として一定期間を切出したものであってもよい。或は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの速度情報或は位置情報がフィードバックされている場合には、当該速度情報或は位置情報に基づいて切出されてもよい。速度情報に基づいて判定範囲を切出す場合には、例えば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んだ後徐々に速度低下して停止することに鑑み、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが最高速度からある程度減速した期間で切出すようにするとよい。
【００８０】
次ステップＴ２では、取得された判定対象データに基づき、判定対象期間におけるエネルギーの発生状況を分析する。より具体的には、上記判定対象データに基づいて、複数の時点におけるエネルギーの大きさを表す値（データ）に基づいてエネルギーの発生状況に応じた評価値を算出する。このような評価値としては、例えば、判定対象期間を分割した複数の判定期間に対する所定の条件の充足性に関する評価値、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を表す評価値或は判定対象期間におけるエネルギーの継続性を示す評価値、エネルギーの変化度合を表す評価値（例えば、波形の瞬間的な傾き、平均的な傾き等）等が考えられる。これらのより具体的な例については、実施形態２〜４で説明する。
【００８１】
次ステップＴ３では、分析されたエネルギーの発生状況が判断基準５５ｂを満たすか否かを判断する。判断基準５５ｂは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが被覆Ｗｂに切込んでいく際等、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの非接触状態期間におけるエネルギーの発生状況と、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとが接触する期間において観察されるエネルギーの発生状況とを区別するための判断基準（閾値等）であり、実験的経験的に決定され、記憶部５５に予め格納されている。
【００８２】
そして、判断基準５５ｂが満たされると判断されると、接触有りと判定され、その判定結果が出力される。判定結果に基づいて、表示部５９において接触有る旨の表示がなされる。或は、判定結果に基づいて、ストリップ処理を停止させる旨の信号が電線ストリップユニット１２に与えられる。これにより、電線ストリップユニット１２側では、当該信号を受けてストリップ処理を一時的に停止するとよい。
【００８３】
一方、判断基準５５ｂが満たされないと判定されると、接触無しと判定される。これにより、続けてストリップ作業等が実施される。
【００８４】
以上のように構成された芯線接触検出装置、芯線接触検出方法及び芯線接触検出プログラムによると、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとが接触すると、その際の振動が振動検知部４２を通じて検知される。そして、振動検知部４２より入力される振動検知信号に基づき、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定することができる。これにより、電線Ｗの被覆Ｗｂをストリップする際に、検査用の電極を芯線に電気的に接続等しなくとも、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触を簡易に検出できる。
【００８５】
また、以下の理由により、ノイズの影響を抑制しつつ、ストリップ刃と芯線との接触をより正確に判定できる。
【００８６】
まず、振動検知部４２からの振動検知信号には、ストリップ刃と芯線との接触による振動だけではなく、他の各種外来ノイズが含まれる。他の各種外来ノイズは、ストリップ刃と芯線との接触による振動による大きさに比べて大きいのが一般的である。とすると、単に、検知された振動の振幅が所定値を越えたときに、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触有りと判定する手法では、上記外来ノイズの影響を排除できず、正確な判定を行うことが困難となる。
【００８７】
ところで、ストリップ刃と芯線との接触による振動は、ストリップ刃と芯線との接触期間中、ある程度継続的に発生する。これに対して、各種外来ノイズは、機械の他の部分の金属同士の衝突或は擦れ期間中にのみ発生し、ストリップ刃と芯線との接触による振動発生期間と比べると、比較的短時間であるのが一般的である。
【００８８】
そこで、本実施形態のように、判定対象期間において、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって発生するエネルギーの発生状況に応じて、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無を判定すると、大きな外来ノイズであっても、その発生時間が十分に短ければ、その外来ノイズの影響を抑制できる。このため、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触をより正確に判定できることになる。
【００８９】
以下、本実施形態１を前提として、実施形態２〜４に基づいてより具体的な構成を説明する。なお、下記の各実施形態の説明において、本実施形態１で説明した構成と同様構成については同一符号を付する等して説明を省略することがある。
【００９０】
＜実施形態２＞
実施形態２では、接触状態判定処理部が、判定対象期間を複数に分割した判定期間におけるエネルギーに応じた量に基づいて複数の期間毎に期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定し、期間毎の判定信号に基づいてストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定する構成について説明する。
【００９１】
図７は接触状態判定処理部５０のハードウエア構成を示すブロック図である。接触状態判定処理部５０は、上記振動検知部４２から入力される検知信号に基づいて、複数の判定期間毎に期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定し、期間毎の判定結果に基づいてストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定する接触状態判定処理部５０としての処理を実行可能に構成されている。
【００９２】
より具体的には、接触状態判定処理部５０は、ＣＰＵ５２、ＲＯＭ５３、ＲＡＭ５４、外部記憶装置５５等がバスライン５１を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成されている。ＲＯＭ５３は基本プログラム等を格納しており、ＲＡＭ５４はＣＰＵ５２が所定の処理を行う際の作業領域として供される。外部記憶装置５５は、フラッシュメモリ或はハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成されている。外部記憶装置５５には、後述する芯線接触検出処理を行うための接触検出プログラム１５５ａが格納されている。この接触検出プログラム１５５ａに記述された手順に従って、主制御部としてのＣＰＵ５２が演算処理を行うことにより、後述するようにストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触を検出する各種機能が実現されるように構成されている。接触検出プログラム１５５ａは、通常、予め外部記憶装置５５等のメモリに格納されて使用されるものであるが、ＣＤ−ＲＯＭ或はＤＶＤ−ＲＯＭ、外部のフラッシュメモリ等の記録媒体に記録された形態（プログラムプロダクト）で提供され或はネットワークを介した外部サーバからのダウンロードなどにより提供され、追加的又は交換的に外部記憶装置５５等のメモリに格納されるものであってもよい。なお、上記接触状態判定処理部５０が行う一部或は全部の機能は、専用の論理回路等でハードウエア的に実現されてもよい。
【００９３】
また、外部記憶装置５５には、上記芯線接触検出処理を行う際の基準となるエネルギー閾値としての閾値１５５ｂ、接触判定数としての規定値１５５ｃが格納されている。これらの閾値１５５ｂ及び規定値１５５ｃについては後述する。
【００９４】
また、この接触状態判定処理部５０では、検知信号入力回路部５６，出力回路部５７ａ，入力回路部５７ｂ，入力部５８，表示部５９もバスライン５１に接続されている。
【００９５】
検知信号入力回路部５６は、増幅回路、フィルタ回路、ＡＤ変換回路等を有している。そして、振動検知部４２によって得られた振動検知信号がアナログ信号で入力されると、増幅回路及びフィルタ回路を経て、ＡＤ変換回路に入力されてデジタル信号に変換されるように構成されている。なお、フィルタ回路としては、例えば、金属の破壊によるＡＥ波に応じた１００ｋＨｚ〜３００ｋＨｚの通過領域を持つバンドパスフィルタを用いることが好ましい。この検知信号入力回路部５６でデジタル信号に変換された振動検知信号は、例えば、振幅値が経時的に変化する波形データとしてＲＡＭ５４或は外部記憶装置５５に記憶され、後述する接触検出処理に供される。
【００９６】
出力回路部５７ａは、ＣＰＵ５２による制御下、他の機器への制御信号等を出力する出力回路である。入力回路部５７ｂには、外部からの諸信号、ここでは、ストリップ処理制御部２８からの動作信号が、本入力回路部５７ｂを通じて入力される。
【００９７】
入力部５８は、各種スイッチ、タッチパネル等により構成されており、上記閾値１５５ｂ、規定値１５５ｃの入力設定指示の他、接触状態判定処理部５０に対する諸指示を受付可能に構成されている。
【００９８】
表示部５９は、液晶表示装置、ランプ等により構成されており、ＣＰＵ５２による制御下、接触状態の判定結果等の諸情報を表示可能に構成されている。
【００９９】
図８は接触状態判定処理部５０の機能ブロック図である。同図に示すように、接触状態判定処理部５０は、比較部１５２ａと判定部１５２ｂとしての機能を備えている。これら各機能は、上記したようにＣＰＵ５２が接触検出プログラム１５５ａに従って所定の演算処理を行うことにより実現される。
【０１００】
比較部１５２ａは、入力された振動検知信号に基づいて、前記閾値を参照して期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定する。この判定は、入力された振動検知信号のうち判定範囲となる期間（判定対象期間）を複数に分割し、その分割された期間毎になされる。そして、比較部１５２ａは、その比較結果を判定部１５２ｂに与える。
【０１０１】
判定部１５２ｂは、上記比較部１５２ａによる期間毎の判定結果に基づいて、前記規定値を参照してストリップ刃と芯線との接触の有無を判定し、その判定結果を出力する。判定結果は、電線ストリップユニット１２の停止制御、表示部５９への表示等に供される。
【０１０２】
図９は接触状態判定処理部５０による接触状態判定処理を示すフローチャートである。
【０１０３】
接触状態判定処理開始後、接触状態判定処理部５０は、ステップＳ７１において、電線ストリップユニット１２からの動作信号を元に、振動検知部４２により検知された振動を表す波形データを所定の判定範囲で切出す。ここで、判定範囲は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく少なくとも一部の期間を含むことが好ましい。判定範囲は、より好ましくは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく際、芯線Ｗａに接触してしまう可能性がある期間、例えば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく途中から停止するまで或は停止する直前までの期間として設定される。上記判定範囲は、電線ストリップユニット１２によるストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの動作開始指令時又は動作停止指令を基準として一定期間を切出したものであってもよい。或は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの速度情報或は位置情報がフィードバックされている場合には、当該速度情報或は位置情報に基づいて切出されてもよい。速度情報に基づいて判定範囲を切出す場合には、例えば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んだ後徐々に速度低下して停止することに鑑み、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが最高速度からある程度減速した期間で切出すようにするとよい。
【０１０４】
次ステップＳ７２では、サンプリングされた波形データに基づき、上記判定範囲を複数の期間に分割し、それぞれの期間毎に、振動検知信号が表す振動エネルギー量（実際の振動に応じたエネルギー量を含む）を計算する。振動検知部４２によって検知される振動のエネルギー量は、振幅波形の振幅の大きさに応じた量として表される。このため、振動エネルギー量は、各期間における上記波形データの振幅値（絶対値）の平均値、積算値、実効値（いわゆる近似的に算出された実効値であってもよいし、真の実効値であってもよい）、又は、後述する実施形態３或は実施形態４のように、波形データの振幅値、実効値等に基づいて振動エネルギー量に応じた値として近似的に算出される値、又は、各期間における代表値等によって表される。要するに、振動検知信号に基づいて、各期間において検知された振動エネルギーに応じた量が取得されればよい。判定範囲は、少なくとも２つに分割されていればよい。また、判定範囲は、通常、均等に複数に分割するとよいが、必ずしも均等に分割する必要はない。
【０１０５】
次ステップＳ７３では、計算された振動エネルギー量の値を個々に閾値１５５ｂと比較し、振動エネルギー量の値が閾値１５５ｂを超えた数をカウントする。ここで、閾値１５５ｂは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが被覆Ｗｂに切込んでいく際に観察される振幅値よりも大きな（好ましくはやや大きい程度）値であり、実験的経験的に決定され、記憶部５５に予め格納されている。なお、振動エネルギー量の値が閾値１５５ｂと同じである場合には、カウント数に加算してもよいし、加算しなくともよい。そして、全ての期間についての比較が終了すると、次ステップＳ７４に進む。
【０１０６】
ステップＳ７４では、カウント数が規定値１５５ｃを超えたか否かを判定する。ここで、規定値１５５ｃは、判定範囲において、振動エネルギー量の値が閾値１５５ｂを超えた期間の割合がどの程度であれば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが芯線Ｗａに接触したと判定するのかを示す基準値を示している。かかる規定値１５５ｃは、通常２以上の値であり、判定範囲を分割した期間の長さ、上記閾値１５５ｂ等に応じて実験的経験的に決定され、記憶部５５に予め格納されている。
【０１０７】
そして、カウント数が規定値を超えたと判定されると、接触有りと判定され、その判定結果が出力される。判定結果に基づいて、表示部５９において接触有る旨の表示がなされる。或は、判定結果に基づいて、ストリップ処理を停止させる旨の信号が電線ストリップユニット１２に与えられる。これにより、電線ストリップユニット１２側では、当該信号を受けてストリップ処理を一時的に停止するとよい。
【０１０８】
一方、カウント数が規定値を超えないと判定されると、接触無しと判定される。これにより、続けてストリップ作業等が実施される。
【０１０９】
カウント数が規定値と同じである場合には、接触有りと判定してもよいし、接触有りと判定してもよい。
【０１１０】
以上のように構成された芯線接触検出装置、芯線接触検出方法及び芯線接触検出プログラムによると、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとが接触すると、その際の振動が振動検知部４２を通じて検知される。そして、振動検知部４２より入力される振動検知信号に基づき、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定することができる。これにより、電線Ｗの被覆Ｗｂをストリップする際に、検査用の電極を芯線に電気的に接続等しなくとも、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触を簡易に検出できる。
【０１１１】
また、以下の理由により、ノイズの影響を抑制しつつ、ストリップ刃と芯線との接触をより正確に判定できる。
【０１１２】
まず、振動検知部４２からの振動検知信号には、ストリップ刃と芯線との接触による振動だけではなく、他の各種外来ノイズが含まれる。他の各種外来ノイズは、ストリップ刃と芯線との接触による振動による大きさに比べて大きいのが一般的である。しかも、外来ノイズの発生源が機械の他の部分から生じる金属同士の衝突或は擦れによるものである場合には、ストリップ刃と芯線との接触による振動周波数と外来ノイズの周波数とは似ている。このため、判定に必要な信号と外来ノイズとを分離することは困難となってしまう。とすると、単に、検知された振動の振幅が所定値を越えたときに、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触有りと判定する手法では、上記外来ノイズの影響を排除できず、正確な判定を行うことが困難となる。
【０１１３】
ところで、ストリップ刃と芯線との接触による振動は、ストリップ刃と芯線との接触期間中、ある程度継続的に発生する。これに対して、各種外来ノイズは、機械の他の部分の金属同士の衝突或は擦れ期間中にのみ発生し、ストリップ刃と芯線との接触による振動発生期間と比べると、比較的短時間であるのが一般的である。
【０１１４】
そこで、本実施形態のように、振動検知信号に基づき、複数の期間毎に振動エネルギー量を計算して振動エネルギー量の値が閾値１５５ｂを超えた数をカウントし、カウント数が規定値を超えたと判定された場合に、接触有りと判定するようにすると、大きな外来ノイズであっても、その発生時間が十分に短ければ、その外来ノイズの影響を抑制して、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触をより正確に判定できることになる。
【０１１５】
また、各期間における振動エネルギー量の値を閾値１５５ｂと比較することで、期間毎接触判定基準を満たすか否かの判定を比較的簡易な処理で行うことができる。
【０１１６】
また、各期間における振動エネルギー量の値が閾値１５５ｂを超えたカウント数が規定値１５５ｃを超えるときに、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触有りと判定することで、接触の有無判定を比較的簡易に行うことができる。
【０１１７】
また、上記動作範囲がストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく期間を含むと、その期間においてストリップ刃と芯線との接触の有無をより正確に判定できる。
【０１１８】
ここで、判定範囲（判定対象期間）の他の設定例について説明する。図１０は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂがストリップ処理を開始して最高速度に達した後からストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが減速しつつ被覆Ｗｂに十分に切込んで停止する直前迄の期間における、振幅波形とストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの移動速度との経時的な変化例を示している。図１０において、矢符Ａ１で示す時間では、図１１に示すようにストリップ刃１４Ａ，１４Ｂは被覆Ｗｂに切込む直前状態であり、矢符Ａ２に示す時間では、図１２に示すように、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂは被覆Ｗｂに切込んだ状態であり、矢符Ａ３に示す時間では、図１３に示すように、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂは被覆Ｗｂに十分に切込んだ状態となっている。
【０１１９】
上記実施形態では、判定範囲は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく途中から停止するまで或は停止する直前までの期間Ｔ１として設定する例を説明した。
【０１２０】
判定範囲は、そのような場合に限定されず、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと電線Ｗとの接触により振動が発生し得る各種期間に設定されていてもよい。
【０１２１】
例えば、判定範囲は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んで停止した後の期間Ｔａを含む期間Ｔ２に設定されていてもよい。
【０１２２】
すなわち、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいき停止した状態でも、短期間ではあるものの、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触による振動が検知されることが確認された。
【０１２３】
そこで、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んで停止した後の期間Ｔａを含む判定期間Ｔ２によって、上記のように、接触の有無を判定することができる。しかも、電線Ｗに切込んで停止した後の期間Ｔａは、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの駆動機構部分の動作が停止した状態であるため、外来ノイズの発生が抑制されている。そこで、当該期間Ｔａを判定期間として含めることで、より正確にストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定できる。
【０１２４】
また、例えば、判定範囲は、電線Ｗに切込んだストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗの端部側に相対移動して被覆Ｗｂを除去する際の期間Ｔｂを含む期間Ｔ３に設定されていてもよい。
【０１２５】
すなわち、電線Ｗに切込んだストリップ刃１４Ａ，１４Ｂを電線Ｗの端部側に相対移動させて被覆Ｗｂを除去する際にも、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触による振動が検知されることが確認された。そこで、被覆Ｗｂを除去する期間Ｔｂを含む期間Ｔ３によっても、上記のように接触の有無を判定することができる。
【０１２６】
なお、判定範囲は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んで停止した後の期間Ｔａのみを含む期間、或は、被覆Ｗｂを除去する期間Ｔｂのみを含む期間等であってもよい。つまり、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと電線Ｗとの接触により振動が発生し得る期間であれば、どのような期間に設定されていてもよい。このような判定範囲（判定対象期間）の設定は、上記実施形態１，実施形態３及び４等にも同様に適用できる。
【０１２７】
また、上記判定範囲が複数に区分され、区分毎に閾値が異なる値に設定されていてもよい。例えば、例えば、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んでいく期間における閾値に対して、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが電線Ｗに切込んで停止した後の期間Ｔａの閾値が小さな値に設定されていてもよい。
【０１２８】
ここで、実際の実験結果に基づき、ストリップ処理時に表れる振動の振幅波形と、期間毎に計算された振動エネルギー量の分布との関係を説明する。
【０１２９】
図１４はストリップを正常に行えた場合、つまり、芯線Ｗａに傷、切断等を生じさせることなく、被覆Ｗｂだけをうまく除去できた場合において、上記判定範囲における時間（ｓ）と振幅（Ｖ）との関係（振幅波形）を示している。この場合、判定範囲初期に例外的に振幅が大きくなる箇所が観測されるものの、全体的には、比較的小さい振幅波形を示す。
【０１３０】
図１５は、上記判定範囲を２０に区分して期間毎の振動エネルギー量を算出し、算出された振動エネルギー量の分布を時間順に示した図である。同図に示すように、ストリップを正常に行えた場合には、振動エネルギー量の分布は、２つの期間で０．１（Ｖ）を超える他は、概ね０．１（Ｖ）以下となり、比較的低い値となる。
【０１３１】
図１６は、ストリップを正常に行え、かつ、外来ノイズが混入した場合における振幅波形を示している。この場合、判定範囲中期において、外来ノイズに起因して極端に振幅が大きくなる箇所が観測され、他の箇所では比較的小さい振幅波形を示している。
【０１３２】
図１７は、図１６の振動エネルギー量の分布を時間順に示す図である。同図に示すように、判定範囲中期において、外来ノイズに起因して振動エネルギー量が比較的大きくなる箇所が観測される。他の箇所は、上記図１５に示す場合と同様となる。
【０１３３】
図１８は、ストリップ処理中に芯線Ｗａに傷付きが発生した場合の振幅波形を示している。この場合、判定範囲全体において、比較的大きな振幅が観測されている。
【０１３４】
図１９は、図１８の振動エネルギー量の分布を時間順に示す図である。同図に示すように、判定範囲全体において、振動エネルギー量が比較的大きくなっている。
【０１３５】
これらに示すように、ストリップを正常に行えた場合には、複数の期間における振動エネルギー量は比較的小さく、また、外来ノイズの影響があったとしても、比較的少ない数の期間で振動エネルギー量が大きくなるだけであることが確認される。
【０１３６】
一方、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂが芯線Ｗａに接触した場合には、より多くの期間で振動による振動エネルギー量が大きくなることがわかる。
【０１３７】
このため、外来ノイズの影響による振動エネルギー量の変化を排除するように、上記閾値１５５ｂ、規定値１５５ｃ等を適切な値に設定することで、外来ノイズの影響を排除して、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無をより正確に判定できることが確認された。
【０１３８】
なお、上記のような閾値、規定値は、実際には、芯線Ｗａ、被覆Ｗｂの材質、形状、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの材質、形状、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂの動作状況等、実験的、経験的に、設定される。
【０１３９】
なお、上記実施形態では、期間毎に振動エネルギー量が閾値を超えるか否かを判定することで、期間毎接触判定基準を満たすか否かを判定しているが、必ずしもその必要はない。例えば、期間毎の波形状（例えば、振幅の変化度合、ある基準波形との波形比較）等に基づいて、期間毎接触判定基準を満たすか否かが設定されていてもよい。
【０１４０】
要するに、判定範囲が複数に分割され、分割された期間毎に何らかの判定基準を満たすか否かが判定されればよい。
【０１４１】
また、そのような場合でも、その判定基準を満たす数が予め設定された接触判定数を超えるときに、ストリップ刃と芯線との接触有りと判定することができる。
【０１４２】
また、本実施形態において、規定値は１であってもよく、この場合、分割された期間のいずれか一つにおいてエネルギーの量が閾値１５５ｂを超えていると判断されると、接触有りと判断されることとなる。
【０１４３】
また、本実施形態において、分割された期間に対して求められたエネルギーの量の最大値及び最小値のいずれか一方を切捨てて上記判定処理を行ってもよい。これにより、偶発的な事情等による不安定要因を取り除いて、より確実に接触の有無を判定できる。
【０１４４】
＜実施形態３＞
実施形態３では、接触状態判定処理部５０が、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量に基づいて芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無を判定する例について説明する。
【０１４５】
すなわち、上記したように、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触による振動エネルギーは、ある程度継続して観察される（図１８参照）。これに対して、各種外来ノイズは、機械の他の部分の金属同士の衝突或は擦れ期間中にのみ発生し、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触による振動エネルギーの発生期間と比べると、比較的短時間である（図１６参照）。
【０１４６】
そこで、ある程度継続的な判定対象期間におけるエネルギーに応じた量に基づくことで、外来ノイズの影響を抑制して、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無をより確実に判定することが可能となる。ここで、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量は、振動検知部４２からの出力信号波形データから直接的に得られる値であってもよいし、或は、出力信号波形データを加工したデータ（例えば、実効値演算処理したデータ、或は、一定期間毎に平均値演算処理したデータ等）であってもよい。また、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量は、それらのデータに基づいて近似計算、或は、簡易計算された値であってもよい。以下の実施形態３Ａ、３Ｂはより具体的な例である。
【０１４７】
＜実施形態３Ａ＞
実施形態３Ａでは、振動検知部４２からの出力信号波形データから直接的に判定対象期間におけるエネルギーに応じた量（実施形態１における評価値、以下、便宜的に単に”エネルギー”と表記する場合がある）を求め、当該エネルギーの値が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定する例について説明する。
【０１４８】
判定対象データの取得ステップ（ステップＴ１）、判断基準を満たすか否かの処理（ステップＴ３）等については、実施形態１における図６と同様であるため、振動検知部４２からの出力信号波形データから直接的に判定対象期間におけるエネルギーを求める処理を中心に説明する。
【０１４９】
図２０は出力信号波形データから直接的に判定対象期間におけるエネルギーを求める処理を示すフローチャートであり、図２１は波形例を示す説明図である。なお、対象波形は、振動検知部４２から接触によって発生するエネルギーに応じた物理量を表す波形であれば、電圧波形であっても、電流波形であってもよい。
【０１５０】
本処理では、概略的には判定対象期間Ｐにおいて、所定のベースレベル閾値を超えるエネルギーの量を求め、当該エネルギーの量に基づいて接触の有無を判定する。ベースレベル閾値は、電線ストリップ処理装置１０の非動作状態で観察されるレベルを超える値に設定されている。これにより、主として、電線ストリップ処理装置１０の動作を要因として発生するエネルギーの量を求めるようにしている。なお、判定対象期間Ｐにおいて、所定のベースレベル閾値を超える領域が複数観察された場合の処理については後で説明する。
【０１５１】
図２０に示すフローチャートは、レベル（振幅）が所定のベースレベル閾値を超える領域の面積を簡略的に求める処理を示している。すなわち、レベルが前記ベースレベル閾値を超えた時間軸上の位置をｔ１、その後、レベルがベースレベル閾値を下回った時間軸上の位置をｔ２として、ｔ１からｔ２の期間で波形のピーク値をｈとすると、（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２の式からエネルギーの量を算出している。なお、式中における値２は常数であるため、接触の有無を判定する閾値にその点を考慮しておけば、当該値２は省略してもよい。
【０１５２】
図２０に示すフローチャートに即して説明する。なお、下記で、時点とは、判定対象期間Ｐにおける波形の横軸の位置（時間、サンプリングポイント等）を示しており、初期では、判定対象期間の初期時点に設定されている。また、下記の処理で、現在値とは、判断対象となる時点でのエネルギーの量を表す値（レベル値、振幅値等）であり、ゼロクロスの判定（ステップＳ８参照）を除いて、絶対値（現在値がマイナスの場合は符号を反転させる）で表される。
【０１５３】
ステップＳ１において、変数ｔ１ａが記録済か否かが判断される。変数ｔ１ａは、ベースレベル閾値を超えた現在値を有する時点を一時的に格納しておくための変数であり、初期は未記録状態（例えば、０）である。変数ｔ１ａが記録済（何らかの時点を格納済）でないと判断されると、ステップＳ２に進み、記録済と判断されると、ステップＳ１４に進む。
【０１５４】
ステップＳ２では、ベースレベル閾値＜現在値か否かが判断される。ＹＥＳと判断されるとステップＳ３に進んで、変数ｔ１ａに現在の時点を書込み、その後、ステップＳ４に進む。一方、ステップＳ２において、ＮＯと判断されるとステップＳ４に進む。なお、ベースレベル閾値＝現在値である場合、いずれの処理へ進んでもよい。これらのステップＳ１〜Ｓ３によって、現在値がベースレベル閾値を超えた時点が変数ｔ１ａに記録される。
【０１５５】
一方、ステップＳ１４では、変数ｔ２ａが記録済か否かが判断される。変数ｔ２ａは、ベースレベル閾値を下回った現在値を有する時点を一時的に格納しておくための変数であり、初期は未記録状態（例えば、０）である。変数ｔ２ａが記録済（何らかの時点を格納済）と判断されると、ステップＳ４に進み、記録済でないと判断されると、ステップＳ１５に進む。
【０１５６】
ステップＳ１５では、ベースレベル閾値＞現在値か否かが判断される。ＹＥＳと判断されると、ステップＳ１６に進んで、変数ｔ２ａに現在の時点を書込み、その後、ステップＳ４に進む。なお、ベースレベル閾値＝現在値の場合、いずれの処理に進んでもよい。これらのステップＳ１４〜Ｓ１６によって、現在値がベースレベル閾値を下回った時点が変数ｔ２ａに記録される。
【０１５７】
ステップＳ４では、ｈ＜現在値か否かが判定される。ステップＳ４における判定結果がＹＥＳであればステップＳ５に進み、変数ｈに現在値を書込んだ後、ステップＳ６に進む。一方、ステップＳ４における判定結果がＮＯであれば、ステップＳ６に進む。変数ｈは、ベースレベル閾値を超えた現在値を有する時点を格納するための変数であり、複数の時点に対して上記ステップＳ４、Ｓ５が繰返されることで、最終的には当該複数の時点を含む期間におけるピーク値が記録されることになる。
【０１５８】
ステップＳ６では、時点に１加え（時点を次の時点に進める）、次ステップＳ７に進む。
【０１５９】
ステップＳ７では、時点が判定対象期間の終了時点に対応するものであるか否か等に基づいて、判定波形終了か否かを判断する。そして、判定波形終了でないと判断されると、ステップＳ８に進み、判定波形終了と判断されると、ステップＳ１７に進む。
【０１６０】
ステップＳ８では、ゼロクロスか否かが判断される。ゼロクロスか否かの判断は、レベル（振幅）に関する現在値とその一つ前の値がゼロレベルをまたぐ関係にあるか否かによって判断される。ステップＳ８は、ステップＳ６より前のステップＳ１〜Ｓ５、Ｓ１４〜Ｓ１６に係る処理が、波形が示す半周期分の一つの山における最終の時点に対する処理であるか否かを判断するステップであり、ステップＳ８での判断結果がＮＯであればステップＳ１に戻って、以降の処理を繰返す。一方、ステップＳ８においてＹＥＳと判断されると、ステップＳ９に進む。
【０１６１】
ステップＳ９では、変数ｔ１ａが記録済か否かが判断され、ＮＯと判断されるとステップＳ１７に進み、ＹＥＳと判断されるとステップＳ１０に進む。
【０１６２】
ステップＳ１０では、変数ｔ１が記録済か否かが判断される。判断結果がＮＯであれば、ステップＳ１１に進んで、変数ｔ１に変数ｔ１ａの値を書込む。変数ｔ１は、初期では未記録状態（例えば、０が格納されている）であり、ステップＳ１０、Ｓ１１を経ることによって、最初に書込まれた変数ｔ１ａの値が変数ｔ１に書込まれ、前記ベースレベル閾値を超えた時間軸上の最初の位置が変数ｔ１の値として得られることになる。この後、ステップＳ１２に進む。
【０１６３】
ステップＳ１２では、変数ｔ２に変数ｔ２ａの値を格納し、その後、ステップＳ１３に進む。本ステップＳ１２によって、ベースレベル閾値を下回った時間軸上の位置が変数ｔ２の値として得られる。
【０１６４】
次ステップＳ１３では、変数ｔ１ａ、ｔ２ａをクリア（未記録状態に）し、その後、ステップＳ１に戻る。
【０１６５】
一方、ステップＳ１７では、変数ｔ１が記録済か否かが判断され、ＮＯと判断されると処理を終了する。つまり、ベースレベル閾値を超える現在値を持つ時点が生じなかった場合には、処理を終了する。一方、ステップＳ１７において、ＹＥＳと判断されると、ステップＳ１８に進む。
【０１６６】
ステップＳ１８では、変数ｔ２ａが記録済か否かが判断され、ＮＯと判断されるとステップＳ１９に進み、ＹＥＳと判断されるとステップＳ２０に進む。ステップＳ１９では、変数ｔ２に現在の時点を格納する。すなわち、現在値がベースレベル閾値を下回る前での判定波形終了により変数ｔ２が得られなかった場合には、便宜的に変数ｔ２に現在の時点を格納する。この後、ステップＳ２０に進む。
【０１６７】
ステップＳ２０では、各変数の値を（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２に代入して、エネルギーの量を算出する。
【０１６８】
そして、当該エネルギーの量が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定する。当該エネルギーの量が所定の閾値と同じである場合には接触有り、無しのいずれに判断してもよい。
【０１６９】
ところで、判定対象期間Ｐが終了するまで、図２０に示す処理を繰返すと、ベースレベル閾値を超える領域が複数観察され、それに応じて、エネルギーの量が複数算出される可能性がある。この場合には、複数の算出値のいずれか一つが閾値を超えた場合に接触有りと判定してもよいし、或は、複数の算出値それぞれについて所定の閾値との比較を行い、所定の閾値を超えたカウント数が所定のカウント閾値を超えた場合に接触有りと判断してもよい。または、複数の算出値の最大値を閾値と比較することで接触の有無を判定してもよいし、或は、複数の算出値の平均値或は合計値を閾値と比較することで接触の有無を判定してもよい。
【０１７０】
なお、本実施形態では、レベルがベースレベル閾値を下回った時間軸上の位置をｔ２としたが、波形のピーク値ｈが表れた時点をｔ２として、上記と同様に（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２により、エネルギーの量を算出してもよい。式中における値２を省略してもよい点は上記と同様である。
【０１７１】
この場合に、判定対象期間Ｐにおいて複数のエネルギーの量が算出された場合における、接触の有無の判定例は上記した通りである。
【０１７２】
ところで、発明者らが検討を行ったところ、芯線の接触とストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって生ずる波形状は比較的緩やかに立上がる形状を呈し、電気的ノイズや機械的衝撃によって生ずる波形状は比較的急峻な立上がり形状を呈することが確認された。
【０１７３】
そこで、判定対象期間におけるエネルギーの変化度合に応じて補正して、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を求めるとよい。すなわち、上記のように算出したエネルギーの量に対して、波形状の立上がり度合に応じた係数を乗じることで、芯線の接触とストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によって生ずる波形状に基づくエネルギーの量を強調したエネルギーの量を求める。
【０１７４】
そのような係数としては、例えば、次のような係数を採用するとよい。すなわち、図２０におけるフローチャートから、時点ｔ１におけるレベル、時点ｔ２におけるレベル、ピーク値を呈する時点を容易に取得可能であることに鑑み、時点ｔ１における波形ポイントＱ１、時点ｔ２における波形ポイントＱ２、ピーク値を呈する時点における波形ポイントＱ３とする（図２１参照）。そして、係数として角Ｑ２Ｑ１Ｑ３に対して逆相関の関係にある数を採用する。例えば、図２２に示すように、角Ｑ２Ｑ１Ｑ３が９０度で０又は０に近くなり、０度で１に又は１に近くなるような係数を採用するとよい。このような係数は、角Ｑ２Ｑ１Ｑ３を変数とする算出式によって求められるものであってもよいし、或は、複数の角Ｑ２Ｑ１Ｑ３の値に対して係数を対応づけたテーブルが事前に格納され、当該テーブルに基づいて求められるものであってもよい。
【０１７５】
＜実施形態３Ｂ＞
実施形態３Ｂでは、振動検知部４２からの出力信号波形データを加工したデータ、より具体的には、実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データに基づいて接触の有無を判定する例について説明する。
【０１７６】
まず、実効値演算（或は平均値演算）された値自体が、所定の期間（例えば、一波長分）のデータに基づいて演算された値であることに鑑み、当該所定の期間が判定対象期間であると捉えると、実効値演算（或は平均値演算）された値が、幅を有する当該判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を表していると考えることができる。
【０１７７】
そこで、上記ある期間（例えば、上記判定対象期間Ｐにおける実効値（又は平均値）のピーク値（波高値）を特定し、当該ピーク値が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定することができる。
【０１７８】
また、実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データに基づいて判定対象期間Ｐにおけるエネルギーに応じた量（実施形態１における評価値、以下、単に”エネルギー”と表記する場合がある）を求め、当該エネルギーの値が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定する例について説明する。
【０１７９】
判定対象データの取得ステップ（ステップＴ１）、判断基準を満たすか否かの処理（ステップＴ３）等については、実施形態１における図６と同様であるため、実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データから判定対象期間におけるエネルギーを求める処理を中心に説明する。
【０１８０】
図２３は実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データから判定対象期間Ｐにおけるエネルギーを求める処理を示すフローチャートであり、図２４は振動検知部４２からの出力信号波形データ例を示す図であり、図２５は出力信号波形データから実効値演算処理（又は平均値演算）した波形データ例を示す図である。
【０１８１】
すなわち、図２４に示す出力信号波形データを実効値演算処理（又は平均値演算）すると、図２５に示すような波形データが得られる。本処理では、概略的には判定対象期間Ｐにおいて、所定のベースレベル閾値を超えるエネルギーの量を求め、当該エネルギーの量に基づいて接触の有無を判定する。ベースレベル閾値は、電線ストリップ処理装置１０の非動作状態で観察されるエネルギー（実効値又は平均値により表されている）を超える値に設定されている。これにより、主として、電線ストリップ処理装置１０の動作を要因として発生するエネルギーの量を求めるようにしている。なお、判定対象期間Ｐにおいて、所定のベースレベル閾値を超える領域が複数観察された場合の処理については上記実施形態３Ａで説明した場合と同様である。
【０１８２】
図２３に示すフローチャートは、レベル（実効値又は平均値）が所定のベースレベル閾値を超える領域の面積を簡略的に求める処理を示している。すなわち、レベルが前記ベースレベル閾値を超えた時間軸上の位置をｔ１、その後、レベルがベースレベル閾値を下回った時間軸上の位置をｔ２として、ｔ１からｔ２の期間で波形のピーク値をｈとすると、（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２をエネルギーの量として算出している。なお、式中の値２は常数であるため、接触の有無を判定する閾値にその点を考慮しておけば、当該値２は省略してもよい。
【０１８３】
図２３に示すフローチャートに即して説明する。なお、下記で、時点とは、判定対象期間Ｐにおける波形の横軸の位置（時間、サンプリングポイント等）を示しており、初期では、判定対象期間の初期時点に設定されている。
【０１８４】
ステップＳ３１において、変数ｔ１が記録済か否かが判断される。変数ｔ１は、ベースレベル閾値を超えた現在値を有する時点を格納しておくための変数であり、初期は未記録状態（例えば、０）である。変数ｔ１が記録済（何らかの時点を格納済）でないと判断されると、ステップＳ３２に進み、記録済と判断されると、ステップＳ３８に進む。
【０１８５】
ステップＳ３２では、ベースレベル閾値＜現在値か否かが判断される。ＹＥＳと判断されるとステップＳ３３に進んで、変数ｔ１に現在の時点を書込み、その後、ステップＳ３４に進む。一方、ステップＳ３２において、ＮＯと判断されるとステップＳ３４に進む。なお、ベースレベル閾値＝現在値である場合、いずれの処理へ進んでもよい。これらのステップＳ３１〜Ｓ３３によって、現在値がベースレベル閾値を超えた時点が変数ｔ１に記録される。
【０１８６】
一方、ステップＳ３８では、ベースレベル閾値＞現在値か否かが判断される。ＹＥＳと判断されると、ステップＳ３９に進んで、変数ｔ２に現在の時点を書込み、その後、ステップＳ３４に進む。なお、ベースレベル閾値＝現在値の場合、いずれの処理に進んでもよい。これらのステップＳ３８〜Ｓ３９によって、現在値がベースレベル閾値を下回った時点が変数ｔ２に記録される。
【０１８７】
ステップＳ３４では、ｈ＜現在値か否かが判定される。ステップＳ３４における判定結果がＹＥＳであればステップＳ３５に進み、変数ｈに現在値を書込んだ後、ステップＳ３６に進む。一方、ステップＳ３４における判定結果がＮＯであれば、ステップＳ３６に進む。変数ｈは、ベースレベル閾値を超えた現在値を有する時点を格納するための変数であり、複数の時点に対して上記ステップＳ３４、Ｓ３５が繰返されることで、最終的には当該複数の時点を含む期間におけるピーク値が記録されることになる。
【０１８８】
ステップＳ３６では、変数ｔ２が記録済か否かが判断され、ＮＯと判断されると、時点に１加える（時点を次の時点に進める）ステップＳ４０を経て、ステップＳ３１に戻る。一方、ステップＳ３６においてＹＥＳと判断されると、ステップＳ３７に進む。
【０１８９】
ステップＳ３７では、各変数の値を（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２に代入して、エネルギーの量を算出する。
【０１９０】
そして、当該エネルギーの量が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定する。当該エネルギーの量が所定の閾値と同じである場合には接触有り、無しのいずれに判断してもよい。
【０１９１】
図２３に示すフローチャートでは、レベルがベースレベル閾値を下回ることが前提となっていたが、レベルがベースレベル閾値を下回る前に判定対象期間Ｐが終了することもあり得る。この場合には、処理を途中で終了して、処理結果を破棄してもよいが、図２６に示すフローチャートのようにしてもよい。
【０１９２】
図２６に示すフローチャートにおいて、ステップＳ５１〜Ｓ５６に至る処理、ステップＳ６２、Ｓ６３の処理は、図２３に示すフローチャートのステップＳ３１〜Ｓ３６に至る処理、Ｓ３８、Ｓ３９に示す処理と同じである。
【０１９３】
ステップＳ５６では、変数ｔ２が記録済か否かが判断され、ＹＥＳと判断されると、ステップＳ６１に進む。一方、ステップＳ５６において、ＮＯと判断されると、時点に１加える（時点を次の時点に進める）ステップＳ５７を経て、ステップＳ５８に進む。
【０１９４】
ステップＳ５８では、時点が判定対象期間の終了時点に対応するものであるか否か等に基づいて、判定波形終了か否かを判断する。そして、判定波形終了でないと判断されると、ステップＳ５１に戻り、以降の処理を繰返す。一方、ステップＳ５８において判定波形終了であると判断されると、ステップＳ５９に進む。
【０１９５】
ステップＳ５９では、変数ｔ１が記録済か否かが判断され、ＮＯと判断されると処理を終了し、ＹＥＳと判断されるとステップＳ６０に進む。
【０１９６】
ステップＳ６０では、変数ｔ２に、現在の時点から１減算した値（現在時点よりも一つ前の時点）を書込み、その後、ステップＳ６１に進む。
【０１９７】
ステップＳ６１では、各変数の値を（ｔ２−ｔ１）×ｈ÷２に代入して、エネルギーの量を算出する。
【０１９８】
そして、当該エネルギーの量が所定の閾値（判断基準）を超えたときに接触有りと判定する。当該エネルギーの量が所定の閾値と同じである場合には接触有り、無しのいずれに判断してもよい。
【０１９９】
本処理によると、判定対象期間Ｐが終了した段階で、レベルがベースレベル閾値を下回っていなかったときでも、終了時点の一つ前の時点をｔ２として、エネルギーの量を算出することができる。
【０２００】
なお、上記波形のピーク値ｈが表れた時点をｔ２としてもよい点、また、判定対象期間Ｐにおけるエネルギーの変化度合に応じて補正して、判定対象期間におけるエネルギーに応じた量を求めてもよい点は、上記実施形態３Ａと同様である。
【０２０１】
＜実施形態３に関する変形例＞
なお、本実施形態において、分割された複数の期間のそれぞれに対してエネルギーの量を算出し、算出された複数のエネルギーの量の最大値（或は任意数順位の値）又は最小値（或は任意数順位の値）と判定基準である閾値とを比較することで、接触の有無を判定してもよい。
【０２０２】
さらに、分割された複数の期間のそれぞれについて算出されたエネルギーの量の平均値を求め、その平均値と判定基準である閾値とを比較することで、接触の有無を判定してもよい。
【０２０３】
また、分割された複数の期間について算出されたエネルギーの量の平均値のそれぞれに、各期間幅を乗算する等してエネルギーの総量を求め、当該総量と判定基準である閾値とを比較することで、接触の有無を判定してもよい。
【０２０４】
また、これらの場合において、分割された期間に対して求められたエネルギーの量の最大値及び最小値のいずれか一方を切捨てて上記判定処理を行ってもよい。これにより、偶発的な事情等による不安定要因を取り除いて、より確実に接触の有無を判定できる。
【０２０５】
＜実施形態４＞
本実施形態では、判定対象期間において発生するエネルギーの継続性に基づいて芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無を判定する構成について説明する。
【０２０６】
すなわち、上記したように芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触による振動エネルギーはある程度継続的に発生するのに対して、各種外来ノイズは比較的短時間であるのが一般的である。そこで、判定対象期間において発生するエネルギーが継続的か否かを判断することで、接触の有無を判定することができる。
【０２０７】
ここでは、判定対象期間におけるエネルギーの継続性の有無を振動検知部４２の出力信号に含まれる周波数成分に基づいて判断する例について説明する。
【０２０８】
図２７は本実施形態における判定処理を示すフローチャートである。
【０２０９】
すなわち、ステップＳ８１に示すように、振動検知部４２によって得られた判定対象波形を周波数エネルギー変換し、当該判定波形における周波数成分毎のエネルギー分布を求める。本処理自体は、ＦＦＴ（Fast Fourier Transform）等の各種周波数解析手法によって実現することができる。周波数成分毎のエネルギー分布の一例を図２８に示す。
【０２１０】
次ステップＳ８２において、任意周波数のエネルギーを求める。任意周波数は、予め設定された値であり、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触による振動周波数のうち最も大きなエネルギーとして観測されると考えられる周波数（例えば、２００ｋＨｚ）に設定されている。
【０２１１】
次ステップＳ８３では、求められた任意周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値を上回るか否かが判断される。判断結果がＹＥＳであれば接触有りと判定され（ステップＳ８４）、ＮＯであれば接触無しと判定され（ステップＳ８５）、処理を終了する。なお、求められた任意周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値と同じである場合、いずれの判断としてもよい。
【０２１２】
芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によってエネルギーが発生すると、前記任意周波数における振動周波数成分の振動エネルギーが継続する。このため、上記任意周波数成分のエネルギーが大きな値として観察される。そこで、上記のように判断することで、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触によると考えられる振動周波数成分のエネルギーの継続性によって、接触の有無を判定することができる。このため、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触の有無をより確実に判定することができる。
【０２１３】
図２９は本実施形態の変形例に係る判定処理を示すフローチャートであり、図３０は周波数成分毎のエネルギー分布の一例を示す図である。
【０２１４】
図２９のステップＳ９１は上記ステップＳ８１と同じである。
【０２１５】
次のステップＳ９２においては、任意周波数帯域内のエネルギーの最大値を求める。任意周波数帯域は、予め設定された帯域であり、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触による振動周波数のうち比較的大きなエネルギーとして観察されると考えられる周波数帯域（例えば、１８０ｋＨｚ〜２２０ｋＨｚ）に設定されている。
【０２１６】
次ステップＳ９３では、求められたエネルギーの最大値が判断基準としての閾値を上回るか否かが判断される。判断結果がＹＥＳであれば接触有りと判定され（ステップＳ９４）、ＮＯであれば接触無しと判定され（ステップＳ９５）、処理を終了する。なお、求められた任意周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値と同じである場合、いずれの判断としてもよい。
【０２１７】
本処理によると、ある程度の幅を有する周波数帯域の中からエネルギーの最大値を求めて、接触の有無を判定するので、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触による振動周波数のうち最も大きなエネルギーとして観測されると考えられる周波数が実際とはずれてしまったような場合にも、より確実に接触の有無を判定できる。
【０２１８】
図３１は本実施形態の他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【０２１９】
図２９のステップＳ１０１は上記ステップＳ８１と同じである。
【０２２０】
次のステップＳ１０２においては、周波数成分毎のエネルギー分布波形（ここではＦＦＴ波形）に、各周波数成分に応じた重み付け係数を乗じる。重み付け係数は、図３２に示すように、芯線Ｗａとストリップ刃１４Ａ，１４Ｂとの接触による振動周波数のうちより大きなエネルギーとして観察されるであろう周波数成分に対してはより大きな値に設定され、より小さなエネルギーとして観察されるであろう周波数成分に対してはより小さな値に設定されている。この重み付係数は、周波数成分に応じた値を示すテーブル又は算出式として予め記憶されている。例えば、図３０に示すエネルギー分布波形（ＦＦＴ波形）に、図３２に示す重み付計数を乗じると、図３３に示すように、接触によって生じるであろう周波数成分が強調されたエネルギー分布波形が得られる。このため、より正確に接触の有無を判定することができる。
【０２２１】
この後、次ステップＳ１０３において、任意周波数のエネルギーを求める。
【０２２２】
次ステップＳ１０４では、求められた任意周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値を上回るか否かが判断される。判断結果がＹＥＳであれば接触有りと判定され（ステップＳ１０５）、ＮＯであれば接触無しと判定され（ステップＳ１０６）、処理を終了する。なお、求められた任意周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値と同じである場合、いずれの判断としてもよい。
【０２２３】
図３４は本実施形態の他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。
【０２２４】
本処理におけるステップＳ１１１、Ｓ１１２、Ｓ１１４〜Ｓ１１６は、図３１に示すステップＳ１０１、Ｓ１０２、Ｓ１０４〜Ｓ１０６と同じであり、異なるのはステップＳ１１３である。
【０２２５】
すなわち、ステップＳ１１３では、接触によって生じるであろう周波数成分が強調されたエネルギー分布波形（図３３参照）から任意周波数帯域内のエネルギーの最大値を求める。任意周波数帯域は、図２９に示すフローチャートのステップＳ９２において説明した通りである。
【０２２６】
図３５は本実施形態の他の変形例に係る判定処理を示すフローチャートである。このフローチャートでは、上記した各処理を切替えられるようにしている。
【０２２７】
すなわち、ステップＳ１２１において、振動検知部４２によって得られた判定対象となる測定波形を周波数エネルギー変換し、当該測定波形における周波数成分毎のエネルギー分布を求める。
【０２２８】
次ステップＳ１２２において、重み付け係数使用の有無が判断される。本判断は、本装置に対する利用者等による設定指示等に基づいて行われる。本ステップＳ１２２において、ＮＯと判断されると、ステップＳ１２４に進み、ＹＥＳと判断されるとステップＳ１２３に進む。
【０２２９】
ステップＳ１２３では、周波数成分毎のエネルギー分布波形（ＦＦＴ波形）に、各周波数成分に応じた重み付計数を乗じ、接触によって生じるであろう周波数成分が強調されたエネルギー分布波形を得る（図３３参照）。この後、ステップＳ１２４に進む。
【０２３０】
ステップＳ１２４では、周波数帯域の使用の有無が判断される。本判断は、本装置に対する利用者等による設定指示等に基づいて行われる。本ステップＳ１２４における判断結果がＹＥＳであればステップＳ１２５に進み、ＮＯであればステップＳ１２８に進む。
【０２３１】
ステップＳ１２５では、周波数成分毎のエネルギー分布（ステップＳ１２３を経ている場合には接触によって生じるであろう周波数成分が強調されたエネルギー分布波形）において、任意周波数帯域内のエネルギーの最大値を求める。その後、ステップＳ１２６に進む。
【０２３２】
一方、ステップＳ１２８に進んだ場合、周波数成分毎のエネルギー分布（ステップＳ１２３を経ている場合には接触によって生じるであろう周波数成分が強調されたエネルギー分布波形）において、任意周波数のエネルギーを求めるその後、ステップＳ１２６に進む。
【０２３３】
ステップＳ１２６では、求められたエネルギーが、判断基準としての閾値を上回るか否かが判断される。判断結果がＹＥＳであれば接触有りと判定され（ステップＳ１２７）、ＮＯであれば接触無しと判定され（ステップＳ１２９）、処理を終了する。なお、求められた周波数におけるエネルギーが、判断基準としての閾値と同じである場合、いずれの判断としてもよい。
【０２３４】
なお、上記各処理において、任意周波数帯域における最大値を求める代りに、quasi-peak値（ＱＰ値：準尖頭値）等のピーク値を反映した値を閾値と比較して接触の有無を判定してもよく、或は、任意周波数帯域におけるエネルギーの平均値又は総和と閾値とを比較して接触の有無を判定してもよい。
【０２３５】
また、上記各処理の基となる周波数成分毎のエネルギー分布は、判定対象期間Ｐ全体を一つの対象区間として切出して行ったものである必要はない。
【０２３６】
例えば、図３６に示すように、判定対象期間Ｐを複数の期間１〜７に分割した期間として切出し、それぞれの期間を対象としてＦＦＴ変換等によって周波数成分毎のエネルギー分布を求め、図３７に示すように、その複数の周波数成分毎のエネルギー分布を平均化してノイズ除去した周波数成分毎のエネルギー分布を得、その周波数成分毎のエネルギー分布に基づいて上記各処理を行ってもよい。
【０２３７】
また、上記任意周波数、任意周波数帯域、重み付係数は、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂ、芯線Ｗａの材質等に応じて、異なる値に設定可能とされていてもよい。
【０２３８】
＜その他＞
上記実施形態では、ストリップ刃１４Ａ，１４Ｂと芯線Ｗａとの接触の有無を判定する例で説明したが、必ずしもそのような例に限られない。電線の導体接触検出装置自体は、ストリップ刃と芯線との接触を検出する場合に限らず、切込み刃が電線に切込んでいく際に、切込み刃と電線の導体との接触を検出する各種構成に適用できる。電線の導体としては、例えば、電線の芯線以外に、電線の芯線を、内部被覆を挟んで囲うシールド部分等、金属導体で形成された各種部分が想定される。
【０２３９】
例えば、図３８及び図３９に示すように、芯線２０１の外周囲に内部絶縁層２０２が被覆され、その外周囲に金属網等の編組層又は金属テープ等により構成されるシールド層２０３が被覆され、さらにその外周囲に外部絶縁層２０４が被覆されている電線２００を対象としてもよい。そのような電線２００に対しては、切込み刃２１０を外部絶縁層２０４に切込ませて、当該外部絶縁層２０４を除去する。この場合、切込み刃２１０がシールド層２０３に接触しないようにする必要がある。このような場合に、切込み刃２１０とシールド層２０３との接触を検知する装置として、上記接触検出装置を適用することができる。
【０２４０】
また、複数の電線の外周囲をシールド層で覆うと共に、さらにその外周囲を外部絶縁層で覆った電線（ケーブルともいわれる）に対して、外部絶縁層を切込み刃で除去する場合にも、同様に上記接触検出装置を適用することができる。
【０２４１】
なお、上記実施形態は例示であって、本発明の内容は当該実施形態で説明したものに限定されない。例えば、上記実施形態１〜４及び各種変形例で説明した内容は、相反する内容でない限り、適宜組合わせることができる。
【符号の説明】
【０２４２】
１０  電線ストリップ処理装置
１４Ａ，１４Ｂ  ストリップ刃
１６  刃駆動部
２０  電線保持部
２２  被覆除去駆動部
２８  ストリップ処理制御部
４０  芯線接触検出装置
４２  振動検知部
５０  接触状態判定処理部
５５  外部記憶装置
５５ａ  接触検出プログラム
５５ｂ  判断基準
１５２ａ  比較部
１５２ｂ  判定部
１５５ａ  接触検出プログラム
１５５ｂ  閾値
１５５ｃ  規定値
２００、Ｗ  電線
２０１、Ｗａ  芯線
２０３  シールド層
２１０      切込み刃
【図１】
0005421453.tif 000002
【図２】
0005421453.tif 000003
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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