(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
蛍光増白試料からなる測定試料を、前記測定試料を測定するためのライトブース内の照明光であって任意のスペクトル分布を持つ照明光としての環境光で照明したときの分光特性を測定する測定装置であって、
前記測定試料を相対紫外強度が異なる第１、第２照明光で照明する照明部と、
前記測定試料からの放射光を受光して分光分布を測定する受光部と、
前記測定試料を前記第１、第２照明光で照明し、前記蛍光増白試料からの放射光を前記受光部で測定することで第１、第２分光分布を取得し、取得した前記第１、第２分光分布から前記測定試料の第１、第２分光特性を求め、求めた前記第１、第２分光特性を波長毎の値を有する重み係数によって重みつき線形結合し、前記測定試料を環境光で照明したときの前記測定試料の合成分光特性を求める演算部とを備え、
前記演算部は、前記重み係数を以下の第１〜第３工程で求める測定装置。
第１工程：環境光で照明された無蛍光基準試料からの放射光及び前記測定試料と類似の二分光特性をもつ蛍光基準試料からの放射光を前記受光部で測定することで前記無蛍光基準試料の放射光の分光分布及及び前記蛍光基準試料の放射光の分光分布を取得し、取得した前記無蛍光基準試料の放射光の分光分布及び前記蛍光基準試料の放射光の分光分布と、前記無蛍光基準試料の既知の基準分光特性とから、前記蛍光基準試料の基準分光特性を求める。
第２工程：前記蛍光基準試料を前記第１、第２照明光で照明し、前記蛍光基準試料からの放射光を前記受光部で測定することで第１、第２分光分布を取得し、取得した前記第１、第２分光分布から前記蛍光基準試料の第１、第２分光特性を求める。
第３工程：前記第１、第２分光特性の重みつき線形結合が前記基準分光特性に一致するように前記重み係数を求めて記憶する。
【請求項２】
前記第１照明光は、紫外域に強度をもたず、
前記第２照明光は、紫外域に強度をもつ請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
前記合成分光特性は、合成全分光放射率係数であり、
前記第１、第２分光特性は、第１、第２全分光放射率係数であり、
前記基準分光特性は、基準全分光放射率係数である請求項１記載の測定装置。
【請求項４】
前記第２照明光は、紫外域のみに強度をもち、
前記合成分光特性は、合成全分光放射率係数であり、
前記第１分光特性は、反射分光放射率係数であり、
前記第２分光特性は、分光蛍光特性である請求項２記載の測定装置。
【請求項５】
前記演算部は、前記環境光の照明時と前記第１、第２照明光の照明時とのジオメトリの差に起因する前記基準分光特性の誤差を、蛍光を生じない波長域での、前記基準分光特性と前記第１分光特性又は第２分光特性との差で補正し、補正した前記基準分光特性を用いて前記重み係数を求める請求項１〜４のいずれかに記載の測定装置。
【請求項６】
前記演算部は、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と前記基準分光分布とに基づいて、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の第２全分光放射率係数を推定し、推定した前記第２全分光放射率係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求める請求項３記載の測定装置。
【請求項７】
前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）、前記第１、第２全分光放射率係数をＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）、前記測定時の前記第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の第２全分光放射率係数
Ｂｘ０２（λ）を以下によって推定する請求項６記載の測定装置。
Ｂｘ０２（λ）＝Ｂｘ１（λ）＋ｃ・Ｆｘ２（λ）・ｄ（λ）
但し、
Ｆｘ２（λ）＝Ｂｘ２（λ）−Ｂｘ１（λ）
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ２（λ）／Ｉ０２（λ）
【請求項８】
前記演算部は、前記重み係数設定時の前記蛍光基準試料の前記第１、第２全分光放射率係数を保存すると共に、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、保存した前記第１、第２全分光放射率係数と、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と、前記基準分光分布とを基に、前記測定時の第２照明光で前記蛍光基準試料を照明した場合の前記第２全分光放射率係数を推定し、推定した前記第２全分光放射率係数を用いて前記重み係数を再設定し、再設定した重み係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求める請求項３記載の測定装置。
【請求項９】
前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）とし、前記重み係数設定時の前記第１、第２全分光放射率係数をＢｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）、前記測定時の前記第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記測定時の前記第２照明光による前記蛍光基準試料の第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を以下によって推定する請求項８記載の測定装置。
Ｂｒ２（λ）＝Ｂｒ０１（λ）＋ｃ・Ｆｒ０２（λ）・ｄ（λ）
但し、
Ｆｒ０２（λ）＝Ｂｒ０２（λ）−Ｂｒ０１（λ）
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ０２（λ）／Ｉ２（λ）
【請求項１０】
前記演算部は、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と前記基準分光分布とに基づいて、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の分光蛍光特性を推定し、推定した前記分光蛍光特性を用いて前記合成全分光放射率係数を求める請求項４記載の測定装置。
【請求項１１】
前記演算部は、基準分光分布をＩ０２（λ）、前記測定時の前記分光蛍光特性をＦｘ２（λ）、前記測定時の第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記重み係数設定時の前記第２照明光による分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を以下によって推定する請求項１０記載の測定装置。
Ｆｘ０２（λ）＝ｃ・Ｆｘ２（λ）
但し、
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
【請求項１２】
前記演算部は、前記重み係数設定時の前記蛍光基準試料の前記反射分光放射率係数と、前記分光蛍光特性とを保存すると共に、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、保存した前記分光蛍光特性と、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と、前記基準分光分布とを基に、前記測定時の前記第２照明光で前記蛍光基準試料を照明した場合の前記分光蛍光特性を推定し、推定した前記分光蛍光特性を用いて前記重み係数を再設定し、再設定した重み係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求める請求項４記載の測定装置。
【請求項１３】
前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）、前記重み係数設定時の前記分光蛍光特性をＦｒ０２（λ）、前記測定時の第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記
測定時の前記第２照明光による分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を以下によって推定する請求項１２記載の測定装置。
Ｆｒ２（λ）＝ｃ・Ｆｒ０２（λ）
但し、
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
【請求項１４】
前記蛍光増白試料は、蛍光増白紙上に印刷された印刷面であり、
前記蛍光基準試料は、前記蛍光増白紙である請求項１〜１３のいずれかに記載の測定装置。
【請求項１５】
前記蛍光増白試料は、蛍光増白紙上に印刷された印刷面であり、
前記蛍光基準試料は、
前記蛍光増白紙と、
前記蛍光増白紙上に１種以上のプライマリインクが印刷された面積率１００％の印刷面と、
前記蛍光増白紙上に前記プライマリインクが重ねて印刷された面積率１００％の印刷面とであり、
前記演算部は、前記蛍光基準試料のそれぞれについて前記重み係数を求めて保存しておくと共に、前記蛍光基準試料のそれぞれについての分光蛍光特性を保存しておき、前記測定試料の前記第１分光特性又は第２分光特性から各蛍光基準試料に対応する要素の面積率を推定し、推定した各面積率と、保存しておいた前記分光蛍光特性とから各蛍光基準試料の蛍光寄与率を算出し、算出した各蛍光寄与率と保存しておいた前記重み係数とから前記測定試料の実効的な重み係数を算出し、算出した重み係数を用いて前記測定試料の合成分光特性を求める請求項１〜１３のいずれかに記載の測定装置。
【請求項１６】
ｎ個の前記蛍光基準試料の重み係数をＷｎ（λ）、前記分光蛍光特性をＦｒ２ｎ（λ）、前記蛍光基準試料の面積率をＳｎとすると、前記実効的な重み係数Ｗｅ（λ）を以下によって求める請求項１５記載の測定装置。
Ｗｅ（λ）＝ΣｎＣｎ（λ）・Ｗｎ（λ）
但し、
Ｃｎ（λ）＝Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ）／Σｎ（Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ））
【請求項１７】
前記第１、第２照明光のいずれかは、励起波長域に強度をもたない照明光であり、
前記照明光による全分光放射率係数から、各面積率を求める請求項１５又は１６記載の測定装置。
【請求項１８】
前記受光部は、
対物レンズと、前記対物レンズの焦点近傍に設けられた入射開口とを含む対物光学系であって、試料放射光の前記対物光学系の光軸に平行な成分を前記入射開口に収束する対物光学系を備える請求項１〜１７のいずれかに記載の測定装置。
【請求項１９】
試料に前記環境光を照射して放射光を測定する際に、前記測定装置の本体部を保持する設定用保持台を更に備え、
前記設定用保持台は、前記環境光による前記測定域への照明を遮らず、かつ、前記測定域からの放射光を遮らずに前記対物光学系に導く請求項１８記載の測定装置。
【請求項２０】
前記設定用保持台は、前記本体部が前記測定域の外縁を通る法線と交わらないように、前記本体部を保持する請求項１９記載の測定装置。
【請求項２１】
前記設定用保持台は、
前記試料が配置される試料台板と、
前記試料台板とＶ字状に結合され、前記本体部を保持する保持台板とを備える請求項１９又は２０記載の測定装置。
【請求項２２】
前記試料台板は、前記試料が載置される試料配置部と、前記試料配置部に配置された無蛍光基準試料と、前記無蛍光基準試料上に前記試料を導くスリットとを備える請求項２１記載の測定装置。
【請求項２３】
前記保持台板は、前記測定域からの放射光を前記対物光学系に導き、かつ、前記測定域以外からの放射光が前記対物光学系に入射することを抑制する遮光筒を備える請求項２１又は２２記載の測定装置。
【請求項２４】
前記設定用保持台は、黒色である請求項１９〜２３のいずれかに記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光増白試料の光学特性、特に、環境光による全分光放射率係数等の分光特性を測定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
照明光の紫外成分を吸収して、青領域の光を放射することで白さを改善する蛍光増白材を含む蛍光増白紙が印刷用紙などに、広く用いられている。蛍光増白紙等の蛍光増白試料の視覚的な反射特性は、ある条件で照明された試料からの放射光の、同条件で照明された完全拡散反射体からの放射光に対する波長毎の比である全分光放射率係数Ｂ（λ）で表される。
【０００３】
蛍光試料の放射光は、反射光と蛍光との和で表される。全分光放射率係数Ｂ（λ）も、試料からの反射光及び蛍光の、同条件で照明された完全拡散反射体からの放射光に対する波長毎の比である反射分光放射率係数（分光反射率係数ともいう。）Ｒ（λ）及び蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）の和で表され、式（１）で表される。
【０００４】
Ｂ（λ）＝Ｒ（λ）＋Ｆ（λ）    （１）
完全拡散反射体は蛍光を放射せず、その反射率は波長に依存しないので、比例定数を別にすれば、全分光放射率係数Ｂ（λ）、反射分光放射率係数Ｒ（λ）、及び蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）は、各々、試料の放射光、反射光、及び蛍光の、照明光に対する波長毎の比で表される。
【０００５】
（蛍光試料の光学特性）
蛍光物質の励起特性及び蛍光特性は、波長μの照明光で照明された蛍光試料から放射された波長λの蛍光の、同条件で照明された完全拡散反射体からの放射光に対する比である二分光蛍光放射率係数（Bispectral luminescent Radiance Factor）Ｆ（μ，λ）によって記述される。分光分布Ｉ（μ）の照明光で照明された二分光蛍光放射率係数Ｆ（μ，λ）の蛍光試料の蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）は、比例定数を別にすれば、式（２）で表される。
【０００６】
Ｆ（λ）＝∫Ｆ（μ，λ）・Ｉ（μ）ｄμ／Ｉ（λ）    （２）
二分光蛍光放射率係数（二分光特性）は二分光測定器（Bispectro fluorimeter）で測定される。
【０００７】
式（２）が示すように、蛍光試料の蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）は、照明光の分光分布Ｉ（μ）に依存する。蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）と、照明光の分光分布Ｉ（μ）に依存しない反射分光放射率係数Ｒ（λ）との和である全分光放射率係数Ｂ（λ）も、照明光の分光分布Ｉ（μ）に依存する。
【０００８】
従って、蛍光試料の評価には評価用照明光の分光分布Ｉ（μ）を特定する必要がある。測定においても、測定器の照明光の相対分光分布を評価用照明光の相対分光分布と一致させる必要があるが、評価用照明光として、Ｄ５０などの標準イルミナントを採用する場合であっても、目視評価との相関を得るためにライトブースなどの実照明光を採用する場合であっても、評価用照明光と同じ相対分光分布をもつ照明光を測定器が照射することは困難である。
【０００９】
一方、照明光の分光分布Ｉ（μ）と、試料の二分光蛍光放射率係数Ｆ（μ，λ）とから式（２）によって蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）を求め、更に式（１）によって全分光放射率係数Ｂ（λ）を求めることができるが、二分光蛍光測定器が複雑かつ高価であり、測定にも長時間を要することから実用的でない。
【００１０】
（特許文献１および２の方法）
これらを実用的に代替する方法として、特許文献１、２の方法が提案されている。この方法は、紫外域に強度をもつ第１照明光と、紫外域に強度をもたない第２照明光とで蛍光増白試料ｘを照明して、各照明光による第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。そして、求めた第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を、式（３）に示すように、予め設定されて保存され、波長毎の値を有する重み係数Ｗ（λ）で重みつき線形結合する。そして、評価用照明光で照明された蛍光増白試料ｘの全分光放射率係数Ｂ（λ）に近似する合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【００１１】
Ｂｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）    （３）
上記の重み係数Ｗ（λ）は、以下のように設定される。まず、蛍光増白試料ｘに近似の励起特性及び蛍光特性をもち、評価用照明光で照明された時の基準全分光放射率係数Ｂｓ（λ）が既知の蛍光基準試料ｓを用意する。そして、この蛍光基準試料ｓを上記の第１、第２照明光で照明して第１、第２全分光放射率係数Ｂｓ１（λ）、Ｂｓ２（λ）を測定する。そして、第１、第２全分光放射率係数Ｂｓ１（λ）、Ｂｓ２（λ）の線形結合であるＷ（λ）・Ｂｓ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｓ２（λ）が、基準全分光放射率係数Ｂｓ（λ）に等しくなるように、波長毎に重み係数Ｗ（λ）を設定する。
【００１２】
（蛍光増白紙上の印刷面の光学特性）
蛍光増白紙上に印刷された試料も蛍光の影響を受ける。インクで覆われていない部分はそのまま蛍光が蛍光増白紙に到達し、インクで覆われた部分はインクの分光透過率に応じた励起光が蛍光増白紙に到達する。そのため、評価域の二分光特性（分光励起効率及び蛍光分光強度）は、蛍光増白紙の二分光特性だけでなく、インクの分光透過特性及びインクの面積率に依存する。通常のカラー印刷では、蛍光増白紙は各プライマリインク（Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋ）及びこれらの重なり（ＹＭ、ＭＣ、ＣＹ、ＹＭＣ）で覆われるので、印刷面の二分光特性は、各プライマリインク及びそれらの重なりの分光透過特性と面積率、つまり印刷色に依存する。
【００１３】
（特許文献３の方法）
この方法では、蛍光増白紙の既知の二分光特性と、各プライマリインクの分光透過率と、紫外域に強度をもたない照明光による全分光放射率係数から推定した各プライマリインク及びこれらの重なりの面積率とから、評価域の実効的な二分光特性が推定されている。さらに、各プライマリインク及びこれらの重なりと、非印刷面との既知の二分光特性と、推定した面積率とから、評価域の実効的な二分光特性を推定する方法も示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開平８−３１３３４９号公報
【特許文献２】特開平１１−１１８６０３号公報
【特許文献３】特開２００６−２９２５１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、特許文献１、２の手法では、基準全分光放射率係数Ｂｓ（λ）を値づけるためには、蛍光基準試料の二分光特性と、照明光の励起域を含む分光分布とが必要となる。そして、二分光特性の測定には長い測定時間を要する。また、環境光下の分光放射率係数の測定には、環境光の少なくとも３００ｎｍまでの紫外域を測定レンジとする分光放射輝度計を要する。そのため、特許文献１、２の方法は実用性が低い。
【００１６】
また、特許文献１、２の方法はいずれも、二分光特性の印刷色依存性を考慮しておらず、蛍光増白紙上の印刷面に適用すると誤差が生じる。また、特許文献３の方法も、高価な測定器による測定を必要とし、実用性が低い。
【００１７】
本発明の目的は、高価な測定器を用いずに、蛍光増白試料の環境光下での全分光放射率係数等の分光特性を、実用的、かつ、高精度で測定する測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
（１）本発明による測定装置は、蛍光増白試料からなる測定試料を、前記測定試料を測定するためのライトブース内の照明光であって任意のスペクトル分布を持つ照明光としての環境光で照明したときの分光特性を測定する測定装置であって、前記測定試料を相対紫外強度が異なる第１、第２照明光で照明する照明部と、前記測定試料からの放射光を受光して分光分布を測定する受光部と、前記測定試料を前記第１、第２照明光で照明し、前記蛍光増白試料からの放射光を前記受光部で測定することで第１、第２分光分布を取得し、取得した前記第１、第２分光分布から前記測定試料の第１、第２分光特性を求め、求めた前記第１、第２分光特性を波長毎の値を有する重み係数によって重みつき線形結合し、前記測定試料を環境光で照明したときの前記測定試料の合成分光特性を求める演算部とを備え、前記演算部は、前記重み係数を以下の第１〜第３工程で求める。
【００１９】
第１工程：環境光で照明された無蛍光基準試料からの放射光及び前記測定試料と類似の二分光特性をもつ蛍光基準試料からの放射光を前記受光部で測定することで前記無蛍光基準試料の放射光の分光分布及及び前記蛍光基準試料の放射光の分光分布を取得し、取得した前記無蛍光基準試料の放射光の分光分布及び前記蛍光基準試料の放射光の分光分布と、前記無蛍光基準試料の既知の基準分光特性とから、前記蛍光基準試料の基準分光特性を求める。
【００２０】
第２工程：前記蛍光基準試料を前記第１、第２照明光で照明し、前記蛍光基準試料からの放射光を前記受光部で測定することで第１、第２分光分布を取得し、取得した前記第１、第２分光分布から前記蛍光基準試料の第１、第２分光特性を求める。
【００２１】
第３工程：前記第１、第２分光特性の重みつき線形結合が前記基準分光特性に一致するように前記重み係数を求めて記憶する。
【００２２】
この構成によれば、無蛍光基準試料を環境光で照明すると共に、蛍光増白試料からなる測定試料と類似の二分光特性をもつ蛍光基準試料を環境光及び第１、第２照明光で照明することで、蛍光基準試料の基準分光特性及び第１、第２分光特性が求められ、重み係数が算出されている。そして、この重み係数を用いて、測定試料の第１、第２分光特性が重み付き線形結合され、測定試料を環境光で照明した場合の合成分光特性が算出されている。そのため、測定試料の二分光特性や環境光の分光分布が未知であっても、測定試料を環境光で照明した場合の分光特性を測定することができる。その結果、高価な二分光測定器や紫外可視域分光放射輝度計を用いることなく、実用的に蛍光増白試料の分光特性を求めることができる。また、工程１〜工程３により得られた重み係数を用いて合成分光特性が求められているため、測定試料の分光特性を高精度に求めることができる。なお、「測定試料と類似の二分光特性をもつ蛍光基準試料」とは、測定試料と二分光特性が類似している場合のみならず、測定試料と二分光特性が同一の場合も含まれる。また、分光特性としては、全分光放射率係数が含まれる。また、二分光特性としては、二分光蛍光放射率係数が含まれる。
【００２３】
（２）前記第１照明光は、紫外域に強度をもたず、前記第２照明光は、紫外域に強度をもつことが好ましい。
【００２４】
この構成によれば、第１照明光が紫外域に強度をもたず、第２照明光が紫外域に強度をもつため、第１分光特性は、蛍光の寄与を殆ど受けなくなり、第１照明光の分光分布の変化の影響を受けなくなる。そのため、第１、第２照明光の分光分布が変化した際に生じる合成分光特性の誤差の補正を簡略化することができる。
【００２５】
（３）前記合成分光特性は、合成全分光放射率係数であり、前記第１、第２分光特性は、第１、第２全分光放射率係数であり、前記基準分光特性は、基準全分光放射率係数であることが好ましい。
【００２６】
この構成によれば、最終的に合成全分光放射率係数が算出されるため、測定結果から直ちに、様々な色彩値を導くことができる。
【００２７】
（４）前記第２照明光は、紫外域のみに強度をもち、前記合成分光特性は、合成全分光放射率係数であり、前記第１分光特性は、反射分光放射率係数であり、前記第２分光特性は、分光蛍光特性であることが好ましい。
【００２８】
この構成によれば、第２照明光を例えばＵＶＬＥＤ（紫外線発光ダイオード）の放射光で実現でき、第２照明光の分光分布が変化した場合に発生する合成全分光放射率係数の誤差の補正を簡略化することができる。
【００２９】
（５）前記演算部は、前記環境光の照明時と前記第１、第２照明光の照明時とのジオメトリの差に起因する前記基準分光特性の誤差を、蛍光を生じない波長域での、前記基準分光特性と前記第１分光特性又は第２分光特性との差で補正し、補正した前記基準分光特性を用いて前記重み係数を求めることが好ましい。
【００３０】
この構成によれば、環境光で照明する際の測定装置のジオメトリと、第１、第２照明光で照明する際の測定装置のジオメトリとが異なっていても、その影響を抑えて重み係数を求めることができる。そのため、測定試料の合成分光特性を精度よく求めることができる。
【００３１】
（６）前記演算部は、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と前記基準分光分布とに基づいて、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の第２全分光放射率係数を推定し、推定した前記第２全分光放射率係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求めることが好ましい。
【００３２】
この構成によれば、重み係数設定時の第２照明光で照明した場合の測定試料の第２全分光放射率係数が推定され、この第２全分光放射率係数を用いて合成全分光放射率係数が求められている。そのため、測定試料の測定時の第２照明光の分光分布が、重み係数設定時の分光分布から変化しても、既存の重み係数を用いて、測定試料の全分光放射率係数を精度よく求めることができる。なお、この構成は、駆動による温度上昇で分光分布が変化しやすい白色ＬＥＤ、ＵＶＬＥＤを第１、第２照明光の光源として用いた場合に特に有効である。
【００３３】
（７）前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）、前記第１、第２全分光放射率係数をＢｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）、前記測定時の前記第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）を以下によって推定することが好ましい。
【００３４】
Ｂｘ０２（λ）＝Ｂｘ１（λ）＋ｃ・Ｆｘ２（λ）・ｄ（λ）
但し、
Ｆｘ２（λ）＝Ｂｘ２（λ）−Ｂｘ１（λ）
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ２（λ）／Ｉ０２（λ）
この構成によれば、重み係数設定時の第２照明光で測定試料を照明した場合の第２全分光放射率係数を精度良く推定することができる。
【００３５】
（８）前記演算部は、前記重み係数設定時の前記蛍光基準試料の前記第１、第２全分光放射率係数を保存すると共に、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、保存した前記第１、第２全分光放射率係数と、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と、前記基準分光分布とを基に、前記測定時の第２照明光で前記蛍光基準試料を照明した場合の前記第２全分光放射率係数を推定し、推定した前記第２全分光放射率係数を用いて前記重み係数を再設定し、再設定した重み係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求めることが好ましい。
【００３６】
この構成によれば、測定試料を測定する毎に、第２照明光の分光分布に対応した重み係数を設定することができ、測定試料の全分光放射率係数を精度よく求めることができる。
【００３７】
（９）前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）とし、前記重み係数設定時の前記第１、第２全分光放射率係数をＢｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）、前記測定時の前記第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記測定時の前記第２照明光による前記蛍光基準試料の第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を以下によって推定することが好ましい。
【００３８】
Ｂｒ２（λ）＝Ｂｒ０１（λ）＋ｃ・Ｆｒ０２（λ）・ｄ（λ）
但し、
Ｆｒ０２（λ）＝Ｂｒ０２（λ）−Ｂｒ０１（λ）
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ０２（λ）／Ｉ２（λ）
この構成によれば、蛍光基準試料を測定時の第２照明光で照明した場合の第２全分光放射率係数を精度良く推定することができる。
【００３９】
（１０）前記演算部は、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と前記基準分光分布とに基づいて、前記重み係数設定時の前記第２照明光による前記測定試料の蛍光分光特性を推定し、推定した前記分光蛍光特性を用いて前記合成全分光放射率係数を求めることが好ましい。
【００４０】
この構成によれば、測定時の第２照明光の分光分布が、重み係数設定時の分光分布から変化しても、測定試料の分光全放射率係数を精度よく求めることができる。
【００４１】
（１１）前記演算部は、基準分光分布をＩ０２（λ）、前記測定時の前記蛍光分光特性をＦｘ２（λ）、前記測定時の第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記重み係数設定時の前記第２照明光による蛍光分光特性Ｆｘ０２（λ）を以下によって推定することが好ましい。
【００４２】
Ｆｘ０２（λ）＝ｃ・Ｆｘ２（λ）
但し、
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
この構成によれば、重み係数設定時の第２照明光で測定試料を照明した場合の分光蛍光特性を精度良く推定することができる。
【００４３】
（１２）前記演算部は、前記重み係数設定時の前記蛍光基準試料の前記反射分光放射率係数と、前記分光蛍光特性とを保存すると共に、前記重み係数設定時の前記第２照明光の分光分布を基準分光分布として保存し、保存した前記分光蛍光特性と、前記測定試料の測定時の前記第２照明光の分光分布と、前記基準分光分布とを基に、前記測定時の前記第２照明光で前記蛍光基準試料を照明した場合の前記分光蛍光特性を推定し、推定した前記分光蛍光特性を用いて前記重み係数を再設定し、再設定した重み係数を用いて前記合成全分光放射率係数を求めることが好ましい。
【００４４】
この構成によれば、測定試料を測定する毎に、測定時の第２照明光の分光分布に対応した重み係数を設定でき、測定試料の合成全分光放射率係数を精度よく求めることができる。
【００４５】
（１３）前記演算部は、前記基準分光分布をＩ０２（λ）、前記重み係数設定時の前記蛍光分光特性をＦｒ０２（λ）、前記測定時の第２照明光の分光分布をＩ２（λ）とすると、前記測定時の前記第２照明光による分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を以下によって推定することが好ましい。
【００４６】
Ｆｒ２（λ）＝ｃ・Ｆｒ０２（λ）
但し、
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
この構成によれば、測定試料の測定時の第２照明光による蛍光基準試料の分光蛍光特性を精度よく推定することができる。
【００４７】
（１４）前記蛍光増白試料は、蛍光増白紙上に印刷された印刷面であり、前記蛍光基準試料は、前記蛍光増白紙であることが好ましい。
【００４８】
この構成によれば、インクの分光透過率の励起域での波長依存性が無視できる場合には、蛍光増白紙上の印刷面の分光特性及びそれから導かれる色彩特性を、実用的かつ高精度で測定することができる。
【００４９】
（１５）前記蛍光増白試料は、蛍光増白紙上に印刷された印刷面であり、前記蛍光基準試料は、前記蛍光増白紙と、前記蛍光増白紙上に１種以上のプライマリインクが印刷された面積率１００％の印刷面と、前記蛍光増白紙上に前記プライマリインクが重ねて印刷された面積率１００％の印刷面とであり、前記演算部は、前記蛍光基準試料のそれぞれについて前記重み係数を求めて保存しておくと共に、前記蛍光基準試料のそれぞれについての分光蛍光特性を保存しておき、前記測定試料の前記第１又は第２分光特性から各蛍光基準試料に対応する要素の面積率を推定し、推定した各面積率と、保存しておいた前記分光蛍光特性とから各蛍光基準試料の蛍光寄与率を算出し、算出した各蛍光寄与率と保存しておいた前記重み係数とから前記測定試料の実効的な重み係数を算出し、算出した重み係数を用いて前記測定試料の合成分光特性を求めることが好ましい。
【００５０】
この構成によれば、インクの分光透過率の励起域での波長依存性が無視できない場合であっても、蛍光増白紙上の印刷面の環境光下での分光特性及びそれから導かれる色彩特性を実用的かつ高精度で測定することができる。
【００５１】
（１６）ｎ個の前記蛍光基準試料の重み係数をＷｎ（λ）、前記分光蛍光特性をＦｒ２ｎ（λ）、前記蛍光基準試料の面積率をＳｎとすると、前記実効的な重み係数Ｗｅ（λ）を以下によって求めることが好ましい。
【００５２】
Ｗｅ（λ）＝ΣｎＣｎ（λ）・Ｗｎ（λ）
但し、
Ｃｎ（λ）＝Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ）／Σｎ（Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ））
この構成によれば、蛍光増白紙上の印刷面の環境光下での分光特性及びそれから導かれる色彩特性を実用的かつ高精度に測定することができる。
【００５３】
（１７）前記第１、第２照明光のいずれかは、励起波長域に強度をもたない照明光であり、前記照明光による全分光放射率係数から、各面積率を求めることが好ましい。
【００５４】
この構成によれば、一回の測定で蛍光の影響なく面積率を求めることができ、蛍光増白紙上の印刷面の分光特性及びそれから導かれる色彩特性を高精度で測定することができる。
【００５５】
（１８）前記受光部は、対物レンズと、前記対物レンズの焦点近傍に設けられた入射開口とを含む対物光学系であって、試料放射光の前記対物光学系の光軸に平行な成分を前記入射開口に収束する対物光学系を備えることが好ましい。
【００５６】
この構成によれば、対物光学系の光軸に平行な成分のみが受光されるので、環境光で照明された試料面と光学系との距離が大きくなっても、測定域のサイズの増大を抑制することができる。
【００５７】
（１９）試料に前記環境光を照射して放射光を測定する際に、前記測定装置の本体部を保持する設定用保持台を更に備え、前記設定用保持台は、前記環境光による前記測定域への照明を遮らず、かつ、前記測定域からの放射光を遮らずに前記対物光学系に導くことが好ましい。
【００５８】
この構成によれば、無蛍光基準試料及び蛍光基準試料を実質的に目視観察と同じ照明光で照明することができ、測定試料を目視観察した場合と相関のある測定試料の合成分光特性を得ることができる。
【００５９】
（２０）前記設定用保持台は、前記本体部が前記測定域の外縁を通る法線と交わらないように、前記本体部を保持することが好ましい。
【００６０】
この構成によれば、環境光による測定域の照明を実質的に遮ることを無くすることができる。
【００６１】
（２１）前記設定用保持台は、前記試料が配置される試料台板と、前記試料台板とＶ字状に結合され、前記本体部を保持する保持台板とを備えることが好ましい。
【００６２】
この構成によれば、環境光の照明を実質的に遮らず、測定域からの放射光を対物光学系に入射させるように、測定装置の本体部を試料から遠ざけることができる。
【００６３】
（２２）前記試料台板は、前記試料が載置される試料配置部と、前記試料配置部に配置された無蛍光基準試料と、前記無蛍光基準試料上に前記試料を導くスリットとを備えることが好ましい。
【００６４】
この構成によれば、無蛍光基準試料と前記蛍光基準試料とを、環境光による照明条件を変えることなく容易に交換できる。
【００６５】
（２３）前記保持台板は、前記測定域からの放射光を前記対物光学系に導き、かつ、前記測定域以外からの放射光が前記対物光学系に入射することを抑制する遮光筒を備えることが好ましい。
【００６６】
この構成によれば、測定域外からの放射光によるノイズを抑制することができる。
【００６７】
（２４）前記設定用保持台は、黒色であることが好ましい。
【００６８】
この構成によれば、設定用保持台からの反射光の混入によって試料の照明光の相対分光分布が環境光の相対分光分布から変化することによる誤差を抑制するとともに、測定域外からの放射光によるノイズを抑制することができる。
【発明の効果】
【００６９】
本発明によれば、高価な測定装置を用いずに、蛍光増白試料の環境光下での全分光放射率係数等の分光特性を実用的、かつ、高精度で測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】本発明の実施の形態による測定装置において第１、第２照明光で試料を照明する場合の外観構成図を示している。
【図２】本発明の実施の形態による測定装置の非測定時における外観構成図を示している。
【図３】第１、第２照明部の相対分光分布を示したグラフであり、縦軸は相対強度を示し、横軸は波長を示している。
【図４】無蛍光基準試料及び蛍光基準試料を環境光で照明する場合の測定装置の外観構成図を示している。
【図５】環境光で照明して得られた基準全分光放射率係数と、第１、第２全分光放射率係数とのジオメトリの差に起因する誤差を示したグラフである。
【図６】設定用保持台の変形例を示した図である。
【図７】白色校正時の手順を示すフローチャートである。
【図８】試料の測定手順を示すフローチャートである。
【図９】重み係数の設定手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００７１】
図１は、本発明の実施の形態による測定装置において第１、第２照明光で試料を照明する場合の外観構成図を示している。図１に示す測定装置は、ハウジング１１により覆われた本体部１０と、本体部１０を保持する測定用保持台２０とを備えている。本体部１０は、白熱ランプを光源とする第１照明部１２と、ＵＶＬＥＤ（紫外発光ダイオード）を光源とする第２照明部１３と、対物レンズ１４と、受光部１５と、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ等のマイクロコンピュータにより構成される制御処理部１６とを備える。以下、図１、２、４、６において、左側を前方と記述し、右側を後方と記述する。
【００７２】
制御処理部１６は、駆動回路１２ａを制御して第１照明部１２を点灯させる。駆動回路１２ａは、制御処理部１６からの制御に基づいて、第１照明部１２を点灯及び消灯させる。第１照明部１２は、測定試料１を法線に対し４５°の方向から光束１２ｂで照明する。
【００７３】
同様に、制御処理部１６は、駆動回路１３ａを制御して第２照明部１３を点灯させる。駆動回路１３ａは、制御処理部１６の制御に基づいて、第２照明部１３を点灯及び消灯させる。第２照明部１３は測定試料１を法線に対し４５°の方向から光束１３ｂで照明する。測定試料１、無蛍光基準試料２、及び蛍光基準試料３の反射光の法線成分１ａ、２ａ、３ａは対物レンズ１４を介して受光部１５に入射する。つまり、本測定装置は、４５°：０°ジオメトリの測定装置である。
【００７４】
測定試料１の測定時において、本体部１０は測定用保持台２０に装着される。測定用保持台２０は、測定試料１の測定域Ｄ１を包含して規定する試料開口２１ａを備えている。試料開口２１ａ内の測定試料１が、光束１２ｂ、１３ｂによって照明され、測定試料１の放射光の対物レンズ１４の光軸に平行な成分が、対物レンズ１４の焦点近傍の入射開口１５ａに導かれる。従って、測定域Ｄ１は、対物レンズ１４の有効径で規定される。
【００７５】
また、測定用保持台２０は、測定試料１に載置される試料台板２１と、ハウジング１１が取り付けられる測定装置台板２２とを備えている。
【００７６】
図２は、本発明の実施の形態による測定装置の非測定時における外観構成図を示している。図２に示すように、試料台板２１と、測定装置台板２２とは軸２０ａを中心に回転可能に結合されている。ユーザは、まず、測定装置台板２２を上げた図２の状態で、試料開口２１ａから測定試料１を視認して、試料開口２１ａの上方に対物レンズ１４が位置するように、試料台板２１及び測定装置台板２２を閉じ、本体部１０を位置決めする。これにより、測定装置は図１の状態になる。続いて、測定装置が起動されると、制御処理部１６は、まず、駆動回路１２ａを駆動して第１照明部１２を点灯し、光束１２ｂで測定試料１を照明する。
【００７７】
照明された測定試料１からの放射光の法線成分１ａは、対物レンズ１４によって受光部１５の入射開口１５ａに収束して入射し、測定試料１を第１照明光で照明した場合の第１分光分布Ｅｘ１（λ）が制御処理部１６に取り込まれる。
【００７８】
続いて、制御処理部１６は、駆動回路１３ａを駆動して第２照明部１３を点灯し、第１照明部１２と第２照明部１３との双方による第２照明光で測定試料１を照明し、照明された測定試料１の放射光の第２分光分布Ｅｘ２（λ）を取り込む。
【００７９】
図３は、第１、第２照明部１２、１３の相対分光分布を示したグラフであり、縦軸は相対強度を示し、横軸は波長を示している。グラフＧ１、Ｇ２、Ｇ３は、それぞれ、白熱ランプ、ＵＶＬＥＤ、及び白熱ランプに置き換え得る白色ＬＥＤ及び紫ＬＥＤ（ＰＬＥＤ）からなる光源の相対分光分布を示している。
【００８０】
グラフＧ１に示すように、白熱ランプは、紫外域の相対強度が低い。そのため、白熱ランプから構成される第１照明部１２からの照明光である第１照明光は、相対紫外強度が低い。また、グラフＧ２に示すようにＵＶＬＥＤの照明光は、紫外域に相対強度を持つ。よって、白熱ランプの照明光とＵＶＬＥＤの照明光とからなる第２照明光Ｉ２は相対紫外強度が高い。白色ＬＥＤ及びＰＬＥＤからなる光源は、グラフＧ３に示すように、４５０ｎｍ付近、及び６００ｎｍ付近で２つのピークを有し、紫外域に強度をもたない。
【００８１】
測定試料１の測定に先だつ白色校正フェーズでは、測定試料１と同様にして無蛍光基準試料２の測定が行われる。つまり、図１に示すように、まず、無蛍光基準試料２が第１照明光により照明され、無蛍光基準試料２からの放射光の第１分光分布Ｅｗ１（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６により取り込まれて記憶される。続いて、無蛍光基準試料が第２照明光により照明され、無蛍光基準試料２からの放射光の第２分光分布Ｅｗ２（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６により取り込まれて記憶される。
【００８２】
測定試料１の測定フェーズにおいて、制御処理部１６は、測定試料１の第１、第２分光分布Ｅｘ１（λ）、Ｅｘ２（λ）を取り込んだ際、白色校正時に記憶しておいた無蛍光基準試料２の第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）と、無蛍光基準試料２の既知の分光反射率係数Ｒｗ（λ）とから、測定試料１の第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。
【００８３】
具体的には、制御処理部１６は、式（４）を用いて、第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。
【００８４】
Ｂｘ１（λ）＝Ｒｗ（λ）・Ｅｘ１（λ）／Ｅｗ１（λ）
Ｂｘ２（λ）＝Ｒｗ（λ）・Ｅｘ２（λ）／Ｅｗ２（λ）    （４）
無蛍光基準試料２の測定時と測定試料１の測定時とにおいて、第１、第２照明光の分光分布Ｉ１（λ）、Ｉ２（λ）の変動が問題になる場合は、公知のように、各試料からの放射光の分光分布Ｅ（λ）を、そのときの照明光の分光分布Ｉ（λ）で基準化したＥ（λ）／Ｉ（λ）に置き換えればよい。
【００８５】
制御処理部１６は、式（５）に示すように、第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を、予め記憶されている重み係数Ｗ（λ）で重みつき線形結合し、環境光で測定試料１を照明したときの測定試料１の全分光放射率係数を近似する合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【００８６】
Ｂｃ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｘ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｘ２（λ）    （５）
（重み係数の設定）
重み係数設定フェーズでは、測定試料１に二分光特性が近似する蛍光基準試料３と、無蛍光基準試料２とが特定の環境光４で照明され、重み係数Ｗ（λ）が求められる。
【００８７】
特定の環境光４としては、例えば、特定のライトブースの照明が採用される。つまり、蛍光基準試料３、無蛍光基準試料２がライトブースに設置されて重み係数Ｗ（λ）が求められる。以下、具体的に説明する。
【００８８】
まず、本体部１０は設定用保持台３０に装着されてライトブース内に置かれる。図４は、無蛍光基準試料２及び蛍光基準試料３を環境光４で照明する場合の測定装置の外観構成図を示している。図４に示す設定用保持台３０は、無蛍光基準試料２及び蛍光基準試料３を環境光４で照明して放射光を測定する際に、本体部１０を保持する。以下、無蛍光基準試料２及び蛍光基準試料３を特に区別しない場合は基準試料２、３と記述する。
【００８９】
ここで、設定用保持台３０は、環境光４による測定域Ｄ１への照明を実質的に遮らず、かつ、測定域Ｄ１からの放射光を遮らずに対物レンズ１４に導く。
【００９０】
具体的には、設定用保持台３０は、基準試料２、３の上面に載置される試料台板３１と、本体部１０が取り付けられる測定装置台板３２とを備えている。試料台板３１と測定装置台板３２とは、測定装置台板３２に取り付けられた本体部１０が、測定域Ｄ１の外縁を通る法線Ｄ２と交わらないように、側面視においてＶ字形に結合されている。
【００９１】
試料台板３１には測定域Ｄ１を規定する試料開口３１ａが設けられている。測定装置台板３２には受光開口３２ａと遮光筒３２ｂとが設けられている。
【００９２】
遮光筒３２ｂは、測定域Ｄ１からの放射光を対物レンズ１４に導き、かつ、測定域Ｄ１以外からの放射光が対物レンズ１４に入射することを抑制する。具体的には、遮光筒３２ｂは、無底の円筒形状を有し、中心軸が測定装置台板３２と直交するように測定装置台板３２の下面に取り付けられている。受光開口３２ａは、遮光筒３２ｂを連通させるために、測定装置台板３２に形成されている。
【００９３】
測定装置台板３２に取り付けられた本体部１０は、対物レンズ１４の光軸が、受光開口３２ａと遮光筒３２ｂとの中心を通り、試料開口３１ａの中心を通る。この状態で、基準試料２、３が試料開口３１ａの下に配置されると基準試料２、３は、試料開口３１ａを通じて環境光４で照明される。
【００９４】
対物レンズ１４の焦点位置には受光部１５の入射開口１５ａが位置している。そのため、基準試料２，３の放射光の対物レンズ１４の光軸に平行な成分２ｃ、３ｃが入射開口１５ａに収束されて入射され、分光分布が測定される。
【００９５】
次に、基準試料２、３の測定について説明する。まず、試料開口３１ａの下に無蛍光基準試料２が配置され、測定装置が起動されて、ライトブースの照明光（環境光４）で照明された無蛍光基準試料２からの放射光の分光分布Ｅｗｅ（λ）が受光部１５で測定される。測定された分光分布Ｅｗｅ（λ）は、制御処理部１６に取り込まれて記憶される。
【００９６】
続いて、蛍光基準試料３が配置され、測定装置が起動されて、同じ照明光（環境光４）で照明された蛍光基準試料からの放射光の分光分布Ｅｒｅ（λ）が受光部１５で測定される。測定された分光分布Ｅｒｅ（λ）は、制御処理部１６に取り込まれて記憶される。
【００９７】
制御処理部１６は、取り込んだ分光分布Ｅｗｅ（λ）、Ｅｒｅ（λ）と、無蛍光基準試料２の既知の分光反射率係数Ｒｗ（λ）とから、式（６）を用いて、環境光４で蛍光基準試料３を照明したときの蛍光基準試料３の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を求めて記憶する。
【００９８】
Ｂｒｅ（λ）＝Ｒｗ（λ）・Ｅｒｅ（λ）／Ｅｗｅ（λ）    （６）
続いて、図１、２に示すように、本体部１０が測定用保持台２０に装着され、前述の測定試料１の測定と同様にして、蛍光基準試料３が第１、第２照明光で照明され、第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６に記憶される。これらの測定の後、制御処理部１６は、第１全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）と、第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）との重みつき線形結合が、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）に一致するように、つまり、式（７）を満たすように波長毎の値を有する重み係数Ｗ（λ）を求めて記憶する。
【００９９】
Ｂｒｅ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｒ１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｒ２（λ）    （７）
ここで、制御処理部１６は、λを所定の分解能で変化させ、λを変化させる都度、式（７）を解いてＷ（λ）を求めればよい。これにより、波長毎の値を有する重み係数Ｗ（λ）が得られる。
【０１００】
蛍光基準試料３に類似の二分光特性をもつ蛍光増白試料（測定試料１）の測定時には、この重み係数Ｗ（λ）を式（５）に代入する。そして、測定試料１の第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求め、求めた第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を重み係数Ｗ（λ）で線形結合する。これにより、測定試料１の測定時において、重み係数設定時と同じ環境光４で測定試料１を照明したときの合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求めることができる。
【０１０１】
（分光蛍光特性を用いる方法）
上記の測定装置では、紫外成分を殆ど含まない白熱ランプの照明光が第１照明光とされ、第１全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）が求められた。また、白熱ランプの照明光とＵＶＬＥＤの照明光とが第２照明光とされ、第２全分光放射率係数Ｂ２ｘ（λ）が求められた。そして、式（５）を用いて、第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）が重み係数Ｗ（λ）で線形結合され、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）が求められた。
【０１０２】
しかしながら、これに限定されず、本測定装置は、下記の手法を採用してもよい。すなわち、第１照明部１２に紫外カットフィルター等を取り付け、紫外成分が抑制された照明光を第１照明光として、測定試料１を照明して反射分光放射率係数Ｒｘ１（λ）を受光部１５で測定し、制御処理部１６に取り込む。また、第２照明光をＵＶＬＥＤのみの照明光、つまり、第２照明部１３の照明光のみを第２照明光として測定試料１を照明して分光蛍光特性Ｆｘ２（λ）を受光部１５で測定し、制御処理部１６に取り込む。そして、式（８）に示すように、反射分光放射率係数Ｒｘ１（λ）と、分光蛍光特性Ｆｘ２（λ）とを重み係数Ｗ（λ）で重み付けして線形結合し、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１０３】
この場合、分光蛍光特性Ｆｘ２（λ）は、蛍光域において、波長依存性がなく強度が１の仮想的な照明光に対する蛍光分光放射率係数として扱われる。
【０１０４】
Ｂｃ（λ）＝Ｒｘ１（λ）＋Ｗ（λ）・Ｆｘ２（λ）    （８）
ここで、式（８）の重み係数Ｗ（λ）は、上記の（重み係数の設定）の項目で述べた手法と同一の手法を用いて設定される。
【０１０５】
すなわち、図４に示す設定用保持台３０に本体部１０を載置し、環境光４で無蛍光基準試料２、蛍光基準試料３を順次に照明して、分光分布Ｅｗｅ（λ）、Ｅｒｅ（λ）を順次に測定する。
【０１０６】
続いて、式（６）を用いて、蛍光基準試料３の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を求める。続いて、図１、２に示すように、本体部１０を測定用保持台２０に装着し、蛍光基準試料３を紫外成分が抑制された第１照明光で照明して、反射分光放射率係数Ｒｒ１（λ）を測定する。続いて、蛍光基準試料３をＵＶＬＥＤの照明光のみからなる第２照明光で照明して、分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を測定する。
【０１０７】
続いて、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）、反射分光放射率係数Ｒｒ１（λ）、及び分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を式（８）´に代入して、重み係数Ｗ（λ）を求める。
【０１０８】
Ｂｒｅ（λ）＝Ｒｒ１（λ）＋Ｗ（λ）・Ｆｒ２（λ）    （８）´
本体部１０と遮光筒３２ｂとを含む測定装置台板３２が、少なくとも法線方向から測定域Ｄ１に到達する照明光を遮ることを防止するために、図４に示すように、本体部１０は測定域Ｄ１から所定距離離間させて測定装置台板３２に載置されている。これにより、対物レンズ１４は、法線Ｄ２の方向に対して所定角度傾いた方向から基準試料２、３の放射光を受光する。
【０１０９】
この場合、測定域Ｄ１と本体部１０との距離が大きくなってしまう。しかしながら、対物レンズ１４は光軸に略平行な光束を入射開口１５ａに入射させている。そのため、測定領域Ｄ１は、対物レンズ１４の有効径によって規定され、離間によって拡がることが防止されている。
【０１１０】
測定域Ｄ１外からの放射光の入射スリット１５ａへの入射は、遮光筒３２ｂにより抑制されている。しかしながら、遮光筒３２ｂによる抑制が十分でない場合もある。この場合、試料開口３１ａの下に殆ど反射のない黒色キャビティを配置して、迷光の分光分布Ｅｓｅ（λ）を測定する。そして、分光分布Ｅｗｅ（λ）、Ｅｒｅ（λ）のそれぞれから分光分布Ｅｓｅ（λ）減じて分光分布Ｅｗｅ（λ）、Ｅｒｅ（λ）を補正すればよい。
【０１１１】
遮光筒３２ｂを含む測定装置台板３２は試料開口３１ａの近傍にあるので、基準試料２、３やその周辺で反射された光が測定装置台板３２等で反射されて基準試料２、３を間接照明する虞がある。この間接照明光が環境光４とは異なる相対分光分布をもつと、基準試料２、３を環境光４と同じ相対分光分布の照明光で照明することができなくなる虞がある。この場合、重み係数Ｗ（λ）に誤差が生じる。
【０１１２】
本実施の形態では、遮光筒３２ｂを含む測定装置台板３２は黒色とされている。これにより、遮光筒３２ｂを含む測定装置台板３２が低反射率かつ低波長依存性を有することになり、重み係数Ｗ（λ）の誤差を抑制できる。
【０１１３】
（ジオメトリ差の補正）
通常の環境光４による照明は不完全な拡散照明であり、第１、第２照明光で照明するときの測定装置のジオメトリである４５°：０°ジオメトリと、環境光４で照明するときの測定装置のジオメトリとの差に起因する誤差が避けられない。
【０１１４】
図５は、環境光４で照明して得られた基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）と、第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）とのジオメトリの差に起因する誤差を示したグラフである。図５において縦軸は全分光放射率係数を示し、横軸は波長を示している。
【０１１５】
図５において、Ｂｒｅは蛍光基準試料３の環境光４下の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を示し、Ｂｒ１、Ｂｒ２は第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）を示している。
【０１１６】
蛍光のない６００ｎｍ以上の波長域で、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）が第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）より一様に高くなっており、誤差が生じていることが分かる。この誤差は、ジオメトリの差による正反射光の寄与により生じる。つまり、拡散照明に近い環境光４は、対物レンズ１４により受光される正反射光が、第１、第２照明光の正反射光より大きくなるために、このような誤差が発生するのである。
【０１１７】
この誤差は、正反射の反射率は波長依存性が小さいことに基づいて下記のように補正することができる。すなわち、６００ｎｍ以上の波長域の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）と、第１全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）との差ΔＢｒ（λ）の平均値Ｂｒ＿ａｖｅを求める。そして、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）から平均値Ｂｒ＿ａｖｅ減じて基準全分光放射率係数Ｂｒｅ´（λ）を求める。これにより、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）に含まれる誤差を除去することができる。そして、分光放射率係数Ｂｒｅ´（λ）を式（７）の左辺に代入することで重み係数Ｗ（λ）を求めればよい。
【０１１８】
なお、平均値Ｂｒ＿ａｖｅは、以下のようにして求めることができる。すなわち、６００ｎｍ以上の波長域において、所定の分解能で波長を変化させ、波長を変化させる都度、差ΔＢｒ（λ）＝基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）−第１全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）を求める。そして、差ΔＢｒ（λ）の平均値を求める。この平均値が、Ｂｒ＿ａｖｅとなる。
【０１１９】
なお、上記説明では、基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）と第１全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）とを用いて、平均値Ｂｒ＿ａｖｅを求め、Ｂｒｅ´（λ）を求めたが、第１全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）に代えて、第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を用いて平均値Ｂｒ＿ａｖｅを求め、Ｂｒｅ´（λ）を求めても良い。
【０１２０】
図６は、設定用保持台３０の変形例を示した図である。この変形例では、設定用保持台３０の試料台板３１に、無蛍光基準試料２が取り付けられた基準試料台板２ｂが装着される。
【０１２１】
試料台板３１に基準試料台板２ｂが装着されると、無蛍光基準試料２は、試料開口３１ａに対向する。また、試料台板３１の下面には段差が設けられ、試料台板３１は試料開口３１ａから前方への肉厚が、後方への肉厚に比べて薄くなっている。
【０１２２】
これにより、試料台板３１の下面と基準試料台板２ｂの上面との間にスリット３１ｂが形成される。
【０１２３】
まず、基準試料台板２ｂの上側に設定用保持台３０が載置され、環境光４が無蛍光基準試料２に照射され、無蛍光基準試料２からの放射光の分光分布Ｅｗｅ（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６に取り込まれる。
【０１２４】
続いて、スリット３１ｂの前方から蛍光増白紙からなる蛍光基準試料３が挿入され、蛍光基準試料３に環境光４が照射され、蛍光基準試料３からの放射光の分光分布Ｉｒｅ（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６により取り込まれる。
【０１２５】
図６の例では、無蛍光基準試料２が蛍光基準試料３の挿入で汚染されないように、無蛍光基準試料２の上面は、基準試料台板２ｂの上面より、わずかに低くなっている。この場合、無蛍光基準試料２と蛍光基準試料３とは表面の位置がずれるが、このずれは、環境光４の光源及び基準試料２、３間の距離と、基準試料２、３及び対物レンズ１４間の距離とに比べて小さい。よって、このずれによる影響は無視できる。
【０１２６】
（基本工程のフローチャート）
図７は白色校正時の手順を示すフローチャートである。まず、図２に示すように、本体部１０を測定用保持台２０に取り付ける（ステップＳ１）。次に、試料開口２１ａに無蛍光基準試料２が配置され、試料台板２１と測定装置台板２２とが閉じられて、ハウジング１１の下面が試料台板２１に当接され、第１照明部１２が点灯され、紫外成分が殆どない第１照明光で無蛍光基準試料２が照明される（ステップＳ２）。
【０１２７】
次に、第１照明光で照明された無蛍光基準試料２の放射光の法線成分２ａが対物レンズ１４を介して受光部１５で受光され、受光部１５により放射光の法線成分２ａの第１分光分布Ｅｗ１（λ）が測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ３）。
【０１２８】
次に、第１照明部１２の点灯が維持された状態で、第２照明部１３が点灯され、紫外成分をもつ第２照明光で無蛍光基準試料２が照明される（ステップＳ４）。
【０１２９】
次に、第２照明光で照明された無蛍光基準試料２の放射光の法線成分２ａが対物レンズ１４を介して受光部１５で受光され、受光部１５により第２分光分布Ｅｗ２（λ）が測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ５）。次に、第１、第２照明部１２、１３が消灯される（ステップＳ６）。
【０１３０】
図８は、測定試料１の測定手順を示すフローチャートである。まず、本体部１０が測定用保持台２０に取り付けられる（ステップＳ１１）。次に、上記の図７のステップＳ２〜Ｓ６に示す白色校正が実行される。具体的には、無蛍光基準試料２が第１、第２照明光で順次に照明され、制御処理部１６により、無蛍光基準試料２の放射光の第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）が順次に測定され、第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）が順次に保存される（ステップＳ１２）。
【０１３１】
次に、試料開口２１ａに測定試料１が配置され、第１照明部１２が点灯され、紫外成分が殆どない第１照明光で測定試料１が照明される（ステップＳ１３）。
【０１３２】
次に、第１照明光で照明された測定試料１の放射光の法線成分１ａが、対物レンズ１４を介して受光部１５により受光され、受光部１５により第１分光分布Ｅｘ１（λ）が測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ１４）。
【０１３３】
次に、第１照明部１２の点灯が維持された状態で、第２照明部１３が点灯され、紫外成分をもつ第２照明光で測定試料１が照明される（ステップＳ１５）。
【０１３４】
次に、第２照明光で照明された測定試料１の放射光の法線成分１ａが対物レンズ１４を介して受光部１５で受光され、受光部１５により分光分布Ｅｘ２（λ）が測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ１６）。
【０１３５】
次に、第１、第２照明部１２、１３が消灯される（ステップＳ１７）。次に、制御処理部１６は、保存している測定試料１の第１、第２分光分布Ｅｘ１（λ）、Ｅｘ２（λ）と、無蛍光基準試料２の第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）と、既知の分光反射率係数Ｒｗ（λ）とを式（４）に代入し、測定試料１の第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める（ステップＳ１８）。
【０１３６】
次に、制御処理部１６は、式（５）に、第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）と、保存している重み係数Ｗ（λ）とを代入し、測定試料１を環境光４で照明したときの全分光放射率係数を近似する合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める（ステップＳ１９）。
【０１３７】
図９は、重み係数Ｗ（λ）の設定手順を示すフローチャートである。まず、本体部１０を設定用保持台３０に取り付け、試料開口３１ａ下の無蛍光基準試料２を環境光４で照明させる（ステップＳ３１）。
【０１３８】
次に、環境光４で照明された無蛍光基準試料２の放射光の対物レンズ１４の光軸に平行な成分２ｃが対物レンズ１４を介して受光部１５で受光され、受光部１５により分光分布Ｅｗｅ（λ）が測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ３２）。
【０１３９】
次に、スリット３１ｂに蛍光増白紙である蛍光基準試料３が挿入され、環境光４で照明された蛍光基準試料３の分光分布Ｅｒｅ（λ）が受光部１５により測定される（ステップＳ３３）。
【０１４０】
次に、制御処理部１６は、蛍光基準試料３の分光分布Ｅｒｅ（λ）と、保存されている無蛍光基準試料２の分光分布Ｅｗｅ（λ）と、既知の分光反射率係数Ｒｗ（λ）とを式（６）に代入し、環境光４で蛍光基準試料３を照明した場合の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を求めて保存する（ステップＳ３４）。
【０１４１】
次に、本体部１０が設定用保持台３０から取り外され、測定用保持台２０に取り付けられる（ステップＳ３５）。次に、図７のステップＳ２〜Ｓ６の白色校正が実行され、無蛍光基準試料２の放射光の法線成分２ａの第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）が受光部１５により測定され、制御処理部１６により保存される（ステップＳ３６）。
【０１４２】
次に、試料開口２１ａに蛍光基準試料３が配置され、第１照明部１２が点灯され、蛍光基準試料３が紫外成分の殆どない第１照明光で照明される（ステップＳ３７）。
【０１４３】
次に、第１照明光で照明された蛍光基準試料３の放射光の法線成分３ａの分光分布Ｅｒ１（λ）が受光部１５で測定され、制御処理部１６に保存される（ステップＳ３８）。
【０１４４】
次に、第１照明部１２の点灯が維持された状態で、第２照明部１３が点灯され、紫外成分をもつ第２照明光で蛍光基準試料３が照明される（ステップＳ３９）。
【０１４５】
次に、第２照明光で照明された蛍光基準試料３の放射光の法線成分３ａが対物レンズ１４を介して受光部１５で受光され、受光部１５により分光分布Ｅｒ２（λ）が測定され、制御処理部１６に保存される（ステップＳ４０）。次に、第１、第２照明部１２、１３が消灯される（ステップＳ４１）。
【０１４６】
次に、制御処理部１６は、保存している蛍光基準試料３の放射光の法線成分３ａの分光分布Ｅｒ１（λ）、Ｅｒ２（λ）と、無蛍光基準試料２の放射光の法線線分２ａの第１、第２分光分布Ｅｗ１（λ）、Ｅｗ２（λ）と、既知の分光反射率係数Ｒｗ（λ）とを式（４）に代入し、蛍光基準試料３の第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）を求める（ステップＳ４２）。
【０１４７】
次に、制御処理部１６は、蛍光基準試料３の第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１（λ）、Ｂｒ２（λ）と、保存している基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）とを式（７）に代入し、重み係数Ｗ（λ）を求めて保存する（ステップＳ４３）。
【０１４８】
（照明光の分光分布の変動による誤差の補正）
基準試料２、３の測定で設定された重み係数Ｗ（λ）を適用できるのは、第１、第２照明光の分光分布が、重み係数設定時から変化していないことが前提である。しかしながら、測定試料１の測定時と重み係数設定時とで第１、第２照明光の分光分布が変化しても、重み係数設定時の第１、第２照明光で照明した場合の測定試料１の第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ０１（λ）、Ｂｘ０２（λ）を推定すれば、重み係数Ｗ（λ）を適用して、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求めることができる。
【０１４９】
そこで、制御処理部１６は、重み係数の設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）を保存しておき、測定試料１の測定時の第２照明光の分光分布Ｉ２（λ）と、重み係数設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）とに基づいて、重み係数設定時の第２照明光による第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）を推定し、推定した第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）を用いて合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１５０】
第１全分光放射率係数Ｂｘ０１（λ）は、第１照明光の紫外成分が相対的に小さく、蛍光の寄与が小さいため、反射分光放射率係数とみなすことができ、反射分光放射率係数は照明光の分光分布の変化に影響されないため、Ｂｘ０１（λ）＝Ｂｘ１（λ）とできる。
【０１５１】
一方、第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）は、第２照明光の紫外成分が相対的に大きく、無視できない蛍光の寄与があるため、Ｂｘ２（λ）に変化するが、この第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）は、以下に示すように推定することができる。
【０１５２】
式（１）に示すように、全分光放射率係数Ｂ（λ）は、反射分光放射率係数Ｒ（λ）と、蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）との和（Ｂ（λ）＝Ｒ（λ）＋Ｆ（λ））で表される。第２照明光の分光分布に依存するのは蛍光分光放射率係数Ｆ（λ）だけなので、測定試料１の蛍光分光放射率係数Ｆｘ２（λ）について考える。
【０１５３】
上記からＦｘ２（λ）は式（９）により表される。
【０１５４】
Ｆｘ２（λ）＝Ｂｘ２（λ）−Ｂｘ１（λ）    （９）
同時に、式（２）より、Ｆｘ２（λ）は式（２）´で表すことができる。
【０１５５】
Ｆｘ２（λ）＝∫Ｆｘ（μ，λ）・Ｉ２（μ）ｄμ／Ｉ２（λ）    （２）´
第２照明光の分光分布Ｉ２（μ）の変化による蛍光分光放射率係数Ｆｘ２（λ）の変化について、ＵＶＬＥＤ（第２照明部１３）による励起域の変化と、白熱ランプ（第１照明部１２）による蛍光域の変化とに分けて考える。
【０１５６】
ＵＶＬＥＤの発光波長域における励起効率の波長依存性が小さいとすると、式（２）´が示すように、蛍光分光放射率係数Ｆｘ２（λ）は、ＵＶＬＥＤ放射光の励起域での変化によって、形状を維持しつつ、面積∫Ｉ２（μ）ｄμに比例して強度が変化する。
【０１５７】
本実施の形態では、ＵＶＬＥＤとして、中心波長が３７５ｎｍであり、中心波長の温度依存性が０．０５ｎｍ／℃程度と小さいものが採用されている。一般的な蛍光増白剤は、３７５ｎｍ近辺での励起効率の波長依存性が小さいため、ＵＶＬＥＤの発光特性が変化した場合、蛍光分光放射率係数Ｆｘ２（λ）は強度のみが面積∫Ｉ２（μ）ｄμに比例して変化する。
【０１５８】
一方、白熱ランプ放射光が蛍光域で変化した場合、式（２）´に示すようにＩ２（λ）は、積分の外の分母に存在するため、蛍光分光放射率係数Ｆｘ２（λ）は、１／Ｉ２（λ）に比例して変化し、波長依存性のある変化がもたらされる。
【０１５９】
したがって、第２照明光の分光分布がＩ０２（λ）からＩ２（λ）に変化し、蛍光分光放射率係数がＦｘ０２（λ）からＦｘ２（λ）に変化したとすると、変化前の蛍光分光放射率係数Ｆｘ０２（λ）は式（１０）により求められる。
【０１６０】
Ｆｘ０２（λ）＝ｃ・Ｆｘ２（λ）・ｄ（λ）    （１０）
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ２（λ）／Ｉ０２（λ）
式（１０）で得られた蛍光分光放射率係数Ｆｘ０２（λ）に、反射分光放射率係数Ｒ（λ）を近似するＢｘ１（λ）を加える（式（１１））。これにより、重み係数設定時の第２照明光で測定試料１を照明した場合の第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）を推定することができる。
【０１６１】
Ｂｘ０２（λ）＝Ｂｘ１（λ）＋Ｆｘ０２（λ）    （１１）
そして、式（１１）で得られた第２全分光放射率係数Ｂｘ０２（λ）を式（５）のＢｘ２（λ）に代入し、保存しておいた重み係数Ｗ（λ）を式（５）に代入することで、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。これにより、第１、第２照明光の分光分布が重み係数設定時から変動したことに起因して発生する合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）の誤差を抑制することができる。
【０１６２】
（照明光の分光分布の変動による誤差の補正の別法１）
第１、第２照明光の分光分布の変動による誤差の補正の別法１として、制御処理部１６は、以下の処理を採用してもよい。
【０１６３】
すなわち、重み係数設定時の蛍光基準試料３の第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）を保存しておくと共に、重み係数設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）を保存しておく。
【０１６４】
そして、保存しておいた第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）と、測定試料１の測定時の第２照明光の分光分布Ｉ２（λ）と、保存しておいた第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）とを基に、測定試料１の測定時の第２照明光で蛍光基準試料３を測定した場合の第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を推定する。
【０１６５】
そして、推定した第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を用いて重み係数Ｗ（λ）を再設定し、再設定した重み係数Ｗ（λ）を用いて合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１６６】
具体的には制御処理部１６は下記の処理を実行する。重み係数設定時に用いた蛍光基準試料３の第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）から、式（１２）を用いて重み係数設定時の蛍光分光放射率係数Ｆｒ０２（λ）を求める。
【０１６７】
Ｆｒ０２（λ）＝Ｂｒ０２（λ）−Ｂｒ０１（λ）    （１２）
そして、測定試料１の測定時と同じ分光分布を有する第２照明光で蛍光基準試料３を照明した場合の蛍光分光放射率係数Ｆｒ２（λ）を、式（１３）により求める。
【０１６８】
Ｆｒ２（λ）＝ｃ・Ｆｒ０２（λ）・ｄ（λ）    （１３）
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
ｄ（λ）＝Ｉ０２（λ）／Ｉ２（λ）
そして、式（１３）で得られ蛍光分光放射率係数Ｆｒ２（λ）を、式（１４）に示すように、保存しておいた第１全分光放射率係数Ｂｒ０１（λ）に加え、第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を求める。これにより、蛍光基準試料３を測定試料１の測定時の第２照明光で照明した場合の第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を推定することができる。
【０１６９】
Ｂｒ２（λ）＝Ｂｒ０１（λ）＋Ｆｒ２（λ）    （１４）
ここで、重み係数設定時の第１、第２全分光放射率係数をＢｒ０１（λ）、Ｂｒ０２（λ）と表したため、式（７）は、Ｂｒｅ（λ）＝Ｗ（λ）・Ｂｒ０１（λ）＋（１−Ｗ（λ））・Ｂｒ０２（λ）と表される。
【０１７０】
そして、式（１４）で得られた第２全分光放射率係数Ｂｒ２（λ）を、式（７）の第２全分光放射率係数Ｂｒ０２（λ）に代入する。また、第１照明光の分光分布の変動に影響されない第１全分光放射率係数Ｂｒ０１（λ）には、保存しておいたＢｒ０１（λ）を代入する。
【０１７１】
また、式（７）のＢｒｅ（λ）には、環境光４下で測定され、保存された重み係数設定時のＢｒｅ（λ）を代入する。これにより、重み係数Ｗ（λ）を再設定する。
【０１７２】
そして、測定試料１を測定して、第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求め、式（５）に、再設定した重み係数Ｗ（λ）及び第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を代入し、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１７３】
（照明光の分光分布の変動による誤差の補正の別法２）
別法２は、式（８）の手法に（照明光の分光分布の変動による誤差の補正）の欄で記載した手法を適用したものである。つまり、測定試料１に重み係数設定時の第２照明光を照射した場合の分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を推定し、推定した分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を式（８）のＦｘ２（λ）に置き換えて、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１７４】
具体的には、制御処理部１６は、重み係数設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）を保存しておく。そして、測定試料１に第２照明光を照明して得られる分光蛍光特性Ｆｘ２（λ）と、測定試料１の測定時の第２照明光の分光分布Ｉ２（λ）と、分光分布Ｉ０２（λ）とに基づいて、重み係数設定時の第２照明光による分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を推定する。そして、推定した分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を用いて合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１７５】
ここで、制御処理部１６は、式（１５）を用いて、分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を推定する。
【０１７６】
Ｆｘ０２（λ）＝ｃ・Ｆｘ２（λ）    （１５）
ｃ＝∫Ｉ０２（μ）ｄμ／∫Ｉ２（μ）ｄμ
そして、制御処理部１６は、式（１５）により得られた分光蛍光特性Ｆｘ０２（λ）を、式（８）のＦｘ２（λ）に代入し、測定試料１を第１照明光で照明して得られた反射分光放射率係数Ｒｘ１（λ）、重み係数Ｗ（λ）を式（８）に代入し、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。これにより、第２照明光の分光分布が重み係数設定時と測定試料１の測定時とで変化したとしても、この変化による誤差が抑制されるように、既存の重み係数Ｗ（λ）を用いて、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求めることができる。
【０１７７】
（照明光の分光分布の変動による誤差の補正の別法３）
別法３は、式（８）の手法に（照明光の分光分布の変動による誤差の補正の別法１）の欄で記載した手法を適用したものである。
【０１７８】
具体的には、制御処理部１６は、重み係数設定時の反射分光放射率係数Ｒｒ０１（λ）と、分光蛍光特性Ｆｒ０２（λ）とを保存しておくと共に、重み係数設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）を保存しておく。そして、保存しておいた分光蛍光特性Ｆｒ０２（λ）と、重み係数設定時の第２照明光の分光分布Ｉ０２（λ）と、測定試料１の測定時の第２照明光の分光分布Ｉ２（λ）とを基に、測定試料１の測定時に蛍光基準試料３を第２照明光で照明した場合の分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を推定する。そして、推定した分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を用いて重み係数Ｗ（λ）を再設定し、再設定した重み係数Ｗ（λ）を用いて合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１７９】
ここで、制御処理部１６は、式（１６）を用いて、分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を推定する。
【０１８０】
Ｆｒ２（λ）＝ｃ・Ｆｒ０２（λ）    （１６）
ｃ＝∫Ｉ２（μ）ｄμ／∫Ｉ０２（μ）ｄμ
重み係数設定時の反射分光放射率係数、分光蛍光特性をＲｒ０１（λ）、Ｆｒ０２（λ）と表したため、式（８）´は、Ｂｒｅ（λ）=Ｒｒ０１（λ）+Ｗ（λ）・Ｆｒ０２（λ）と表される。
【０１８１】
そして、式（１６）で得られた分光蛍光特性Ｆｒ２（λ）を式（８）´のＦｒ０２（λ）に代入し、保存しておいた反射分光放射率係数Ｒｒ０１、及び重み係数設定時の基準全分光放射率係数Ｂｒｅ（λ）を式（８）´に代入することで重み係数Ｗ（λ）を再設定する。
【０１８２】
そして、再設定した重み係数Ｗ（λ）、測定試料１に第１照明光を照明して求めた反射分光放射率係数Ｒｘ１（λ）、測定試料１に第２照明光を照明して求めた分光蛍光特性Ｆｘ２（λ）を式（８）に代入することで、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１８３】
これらの補正法は、いずれも第１照明光の紫外成分が相対的に小さいことを前提としているため、第１照明部１２の前に紫外カットフィルターを配置することが効果的である。第２照明光の分光分布の変化は、図示されていない参照用の光学系と分光器とによってモニタすることができるが、ＵＶＬＥＤについては、特開２００８−２９８５７９号公報に開示されているように、定電流駆動したときの順電圧変化から推定することもできる。
【０１８４】
また、第１照明部１２の光源を白色ＬＥＤ、あるいは、図３のグラフＧ３で示す白色ＬＥＤ＋ＰＬＥＤとする場合は、同様に、定電流駆動された各ＬＥＤの順電圧変化から、分光分布変化を推定することができる。
【０１８５】
（蛍光増白紙上の印刷面の全分光放射率係数）
蛍光増白紙の印刷面はインクで覆われているため、印刷面の励起特性及び蛍光特性は、蛍光増白紙の励起特性及び蛍光特性だけでなく、各プライマリインク（Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋ）及びプライマリインクの重なり（ＹＭ、ＭＣ、ＣＹ、ＹＭＣ）の分光透過特性と面積率、つまり色に依存する。以下、各プライマリインクと、各プライマリインクのうち少なくともいずれか２つの重なりとを拡張プライマリインクと記述する。
【０１８６】
第１照明光が紫外成分を含まず、第１全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）が反射分光放射率係数と考えられる場合は、制御処理部１６は、以下によって、インクが印刷された測定試料１の実効的な重み係数Ｗｅ（λ）を求め、測定試料１の合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）を求める。
【０１８７】
まず、９領域をもつ蛍光増白紙を用意し、１領域を非印刷域とし、残り８領域に、それぞれ、異なる拡張プライマリインクを１００％の面積率で印刷し、９種の蛍光基準試料Ｒｎ（ｎ＝０〜８、Ｒ０は蛍光増白紙の非印刷領域）を用意する。次に、９種の蛍光基準試料Ｒｎにおける重み係数Ｗｎ（λ）を（重み係数の設定）の欄で述べた手法を用いて求める。同時に、９種の蛍光基準試料Ｒｎを、それぞれ、第１、第２照明光で照明して求めた、第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１ｎ（λ）、Ｂｒ２ｎ（λ）から、式（１７）を用いて蛍光分光放射率係数Ｆｒ２ｎ（λ）を求め、保存しておく。
【０１８８】
Ｆｒ２ｎ（λ）＝Ｂｒ２ｎ（λ）−Ｂｒ１ｎ（λ）    （１７）
測定試料１の測定フェーズでは、測定試料１の第１、第２全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）、Ｂｘ２（λ）を求める。そして、印刷面の蛍光が寄与しない第１全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）から、Ｎｅｕｇｅｂａｕｅｒの式やＥｕｌｅ−Ｎｉｅｌｓｅｎの式等の公知の手法を用いて各拡張プライマリインクＰｎの面積率Ｓｎを推定する。なお、第１全分光放射率係数Ｂｘ１（λ）に代えて、第２全分光放射率係数Ｂｘ２（λ）を用いて面積率Ｓｎを推定してもよい。
【０１８９】
印刷面からの蛍光に占める各拡張プライマリインクＰｎの印刷面からの蛍光の寄与は、推定した面積率Ｓｎと、保存しておいた蛍光分光放射率係数Ｆｒ２ｎとの積に比例するため、蛍光寄与率Ｃｎ（λ）は、式（１８）で与えられる。なお、簡単のために、ここでは測定時の第１、第２照明光は変化しないとしている。
【０１９０】
Ｃｎ（λ）＝Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ）／Σｎ（Ｓｎ・Ｆｒ２ｎ（λ））    （１８）
測定試料１の印刷面の実質的な重み係数Ｗｅ（λ）は、蛍光寄与率Ｃｎ（λ）を用いて、式（１９）で与えられる。
【０１９１】
Ｗｅ（λ）＝Σｎ（Ｃｎ（λ）・Ｗｎ（λ））    （１９）
つまり、印刷面がインクで印刷された測定試料１の全分光放射率係数の測定においては、予め求められた複数の蛍光基準試料Ｒｎの重み係数Ｗｎ（λ）と、試料ごとに求められる面積率Ｓｎに依存する蛍光寄与率Ｃｎ（λ）とに基づいて、重み係数Ｗｅ（λ）が求められる。そして、求めた重み係数Ｗｅ（λ）が式（５）に代入され、合成全分光放射率係数Ｂｃ（λ）が求められる。
【０１９２】
上記では蛍光基準試料Ｒｎを９種としたが、これに限定されない。すなわち、Ｋ（黒）インクおよびＹ（黄）インクは照明光の紫外成分を殆ど透過しないため、Ｙ及びＫの少なくともいずれか一方を含む拡張プライマリインクＰｎ（Ｙ、Ｋ、ＹＭ、ＣＹ、ＹＭＣ）による印刷部分からの蛍光は、無視できる。そのため、通常、蛍光増白紙上の非印刷域、及びＭ、Ｃ、ＭＣの拡張プライマリインクＰｎが面積率１００％で印刷された印刷域の４種の蛍光基準試料Ｒｎを用意すれば十分である。この場合、無視する蛍光基準試料Ｒｎの蛍光分光放射率係数Ｆｒ２ｎ（λ）は、Ｆｒ２ｎ（λ）＝０とすればよい。
【０１９３】
前述の分光蛍光特性を用いる方法でも同様の方法で、環境光下の印刷試料の全分光放射率係数が測定できる。
【０１９４】
なお、上記説明では、分光蛍光特性の一例として蛍光分光放射率係数を採用したが、これに限定されず、蛍光分光強度を採用してもよい。
【符号の説明】
【０１９５】
１  測定試料
２  無蛍光基準試料
３  蛍光基準試料
４  環境光
１０  本体部
１２  第１照明部
１３  第２照明部
１６  制御処理部（演算部）
Ｂｘ１（λ）  第１全分光放射率係数
Ｂｘ２（λ）  第２全分光放射率係数
Ｂｃ（λ）  合成全分光放射率係数
Ｃｎ（λ）  蛍光寄与率
Ｄ１  測定域
Ｐｎ  拡張プライマリインク
Ｒ（λ）  反射分光放射率係数
Ｒｎ  蛍光基準試料
Ｒｗ（λ）  無蛍光基準試料の分光反射率係数
Ｒｘ１（λ）  反射分光放射率係数
Ｓｎ  面積率
Ｗ（λ）  重み係数
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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