(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置（１０１）であって、
光を出力する光源（１１）と、
前記光源からの光を２つの分岐光に分岐する光分岐部（１５）と、
前記光分岐部からの一方の分岐光を透過又は遮光する第１の光シャッタ（１６）と、
前記光分岐部からの前記分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる光遅延器（２０）と、
前記光遅延器からの光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の一方として出力する第１の光出力部（１７）と、
前記光分岐部からの他方の分岐光を透過又は遮光する第２の光シャッタ（１８）と、
前記第２の光シャッタの出力光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として出力する第２の光出力部（１９）と、
前記光源と前記第１の光出力部との間の光路に配置され、少なくとも前記分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ（２１）と、
複数の入力端子を有し、前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号及び前記ゲイン調整前の電気信号が前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力される二信号入力部（２２）と、
前記二信号入力部に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力するパワー検出部（２３）と、
前記光コヒーレント検波器でバランスド受光するバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定部（２５）と、
前記パワー検出部で検出した信号パワーを用いて信号処理を行う二信号処理部（２６）と、
前記二信号処理部の信号処理結果を表示する二信号表示部（２７）と、
前記第１の光シャッタ、前記第２の光シャッタ、前記光遅延器、前記偏波コントローラ、前記バイアス電圧設定部、前記二信号処理部及び前記二信号表示部の動作を制御する二信号制御部（２８）と、
を備える光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項２】
前記二信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタ及び前記第２の光シャッタに前記分岐光を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号非差動遅延制御部（２８−１１）を備え、
前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号非差動位相処理部（２６−１１）を備え、
前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する二信号非差動位相表示部（２７−１１）を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項３】
前記二信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタ及び前記第２の光シャッタに前記分岐光を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号差動遅延制御部（２８−１２）を備え、
前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号差動位相処理部（２６−１２）を備え、
前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する二信号差動位相表示部（２７−１２）を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項４】
前記光コヒーレント検波器は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力し、
前記二信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮断させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記偏波コントローラの偏波状態を変化させながら、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号偏波状態制御部（２８−１４）を備え、
前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を用いて、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出する二信号ローカル光分岐比処理部（２６−１４）を備え、
前記二信号表示部は、前記二信号処理部の算出する前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示する二信号ローカル光分岐比表示部（２７−１４）を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項５】
前記光源からの光を入力された位相変調信号で位相変調する光位相変調器（１２）と、
前記位相変調信号を発生する位相変調信号発生部（１３）と、
前記位相変調信号発生部からの信号に従って前記光位相変調器を駆動し、前記光位相変調器から位相変調光を出力させるドライバ（１４）と、
前記二信号入力部に入力された前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する波形測定部（２４）と、をさらに備え、
前記二信号制御部は、前記光位相変調器に位相変調光を出力させ、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号位相変調光制御部（２８−１５）を備え、
前記二信号処理部は、前記信号パワーに代えて、前記波形測定部で測定した信号波形を用いる
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項６】
前記光源は、光の出力波長が可変であり、
前記二信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方及び前記分岐光の他方を出力させる二信号干渉光波長制御部（２８−１６）を備え、
前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号干渉光処理部（２６−１６）を備え、
前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を、前記入力端子ごとに表示する二信号干渉光表示部（２７−１６）を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項７】
前記光源は、光の出力波長が可変であり、
前記二信号制御部は、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を遮光させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方を出力させるか、或いは前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮光させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の他方を出力させる二信号分岐光波長制御部（２８−１７）を備え、
前記二信号処理部は、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出する二信号光損失処理部（２６−１７）を備え、
前記二信号表示部は、前記二信号処理部の算出する前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を前記入力端子ごとに表示する二信号光損失表示部（２７−１７）を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項８】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置（１０２）であって、
強度変調光を出力する強度変調光源（３１）と、
前記強度変調光源からの強度変調光を２つの分岐光に分岐する光分岐部（１５）と、
前記光分岐部からの一方の分岐光を透過又は遮光する第１の光シャッタ（１６）と、
前記光分岐部からの前記分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる光遅延器（２０）と、
前記光遅延器からの光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の一方として出力する第１の光出力部（１７）と、
前記光分岐部からの他方の分岐光を透過又は遮光する第２の光シャッタ（１８）と、
前記第２の光シャッタの出力光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として出力する第２の光出力部（１９）と、
前記強度変調光源と前記第１の光シャッタとの間の光路に挿入され、少なくとも前記分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ（２１）と、
複数の入力端子を有し、前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号又は前記ゲイン調整前の電気信号のいずれかの電気信号が前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力される一信号入力部（３４）と、
前記一信号入力部に入力された前記ゲイン調整前の強度変調された電気信号を、前記入力端子ごとに交流から直流に変換する整流回路（３５）と、
前記整流回路からの電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力するパワー検出部（２３）と、
前記光コヒーレント検波器でバランスド受光するバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定部（２５）と、
前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作を設定するゲイン調整回路設定部（３９）と、
前記パワー検出部で検出した信号パワーを用いて信号処理を行う一信号処理部（３６）と、
前記一信号処理部の信号処理結果を表示する一信号表示部（３７）と、
前記偏波コントローラ、前記第１の光シャッタ、前記第２の光シャッタ、前記光遅延器、前記バイアス電圧設定部、前記ゲイン調整回路設定部、前記一信号処理部及び前記一信号表示部の動作を制御する一信号制御部（３８）と、
を備える光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項９】
前記一信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号非差動遅延制御部（３８−２１）を備え、
前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号非差動位相処理部（３６−２１）を備え、
前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する一信号非差動位相表示部（３７−２１）を備える
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１０】
前記一信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号差動遅延制御部（３８−２２）を備え、
前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号差動位相処理部（３６−２２）を備え、
前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する一信号差動位相表示部（３７−２２）を備える
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１１】
前記光コヒーレント検波器は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号又は前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号のいずれかの電気信号を出力し、
前記一信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮断させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記偏波コントローラの偏波状態を変化させながら、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号偏波状態制御部（３８−２４）を備え、
前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を用いて、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出する一信号ローカル光分岐比処理部（３６−２４）を備え、
前記一信号表示部は、前記一信号処理部の算出する前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示する一信号ローカル光分岐比表示部（３７−２４）を備える
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１２】
連続光を出力する連続光源（３０）と、
前記連続光源からの連続光を、入力された位相変調信号で位相変調する光位相変調器（１２）と、
前記位相変調信号を発生する位相変調信号発生部（１３）と、
前記位相変調信号発生部からの信号に従って前記光位相変調器を駆動し、前記光位相変調器から位相変調光を出力させるドライバ（１４）と、
前記一信号入力部に入力された前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する波形測定部（２４）と、をさらに備え、
前記一信号制御部は、前記光位相変調器に位相変調光を出力させ、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路が動作するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号位相変調光制御部（３８−２５）を備え、
前記一信号処理部は、前記信号パワーに代えて、前記波形測定部で測定した信号波形を用いる
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１３】
前記強度変調光源は、光の出力波長が可変であり、
前記一信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記強度変調光源の出力波長を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号干渉光波長制御部（３８−２６）を備え、
前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号干渉光処理部（３６−２６）を備え、
前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記強度変調光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を、前記入力端子ごとに表示する一信号干渉光表示部（３７−２６）を備える
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１４】
前記強度変調光源は、光の出力波長が可変であり、
前記一信号制御部は、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を遮光させて前記強度変調光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方を出力させるか、或いは前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮光させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させて前記強度変調光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の他方を出力させる一信号分岐光波長制御部（３８−２７）を備え、
前記一信号処理部は、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を、前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出する一信号光損失処理部（３６−２７）を備え、
前記一信号表示部は、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を前記入力端子ごとに表示する一信号光損失表示部（３７−２７）を備える
ことを特徴とする請求項８に記載の光コヒーレント検波器評価装置。
【請求項１５】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を２つの分岐光に分岐し、分岐した一方の分岐光の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号非差動遅延光出力手順（Ｓ１１１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する二信号非差動位相処理手順（Ｓ１１２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項１６】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号差動遅延光出力手順（Ｓ１２１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する二信号差動位相処理手順（Ｓ１２２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項１７】
２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を２つの分岐光に分岐し、光源からの光の偏波状態を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の他方として前記分岐光を出力する二信号偏光出力手順（１４１）と、
前記分岐光の他方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記入力端子及び前記所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態における前記入力光の他方の分岐比を算出して表示する二信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ１４２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項１８】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光を位相変調して２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の一方及び前記入力光の他方として前記分岐光を出力する二信号位相変調光出力手順（Ｓ１５１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する二信号スキュー処理手順（Ｓ１５２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項１９】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ１６１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器での合成光の光強度を、前記入力端子ごとに表示する二信号干渉強度測定手順（Ｓ１６２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２０】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光のいずれか一方として前記２つの分岐光のいずれか一方を出力する二信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ１７１）と、分岐したいずれか一方の分岐光を、
前記２つの分岐光のいずれか一方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号に変換し、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出し、前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を、前記入力端子ごとに表示する二信号損失測定手順（Ｓ１７２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２１】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号非差動遅延光出力手順（Ｓ２１１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する一信号非差動位相処理手順（Ｓ２１２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２２】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光するか或いはゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号差動遅延光出力手順（Ｓ２２１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する一信号差動位相処理手順（Ｓ２２２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２３】
２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記強度変調光の偏波状態を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の他方として前記分岐光を出力する一信号偏光出力手順（Ｓ２４１）と、
前記分岐光の他方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記入力端子及び前記所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態における前記入力光の他方の分岐比を算出して表示する一信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ２４２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２４】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
位相変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の一方及び前記入力光の他方として前記分岐光を出力する一信号位相変調光出力手順（Ｓ２５１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する一信号スキュー処理手順（Ｓ２５２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２５】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
強度変調光源からの強度変調光の出力波長を変化させながら前記強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ２６１）と、
前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器での合成光の光強度を、前記入力端子ごとに表示する一信号干渉強度測定手順（Ｓ２６２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【請求項２６】
２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、
強度変調光源からの強度変調光の出力波長を変化させながら前記強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光のいずれか一方として前記２つの分岐光のいずれか一方を出力する一信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ２７１）と、分岐したいずれか一方の分岐光を、
前記２つの分岐光のいずれか一方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号に変換し、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出し、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を、前記入力端子ごとに表示する一信号損失測定手順（Ｓ２７２）と、
を順に有する光コヒーレント検波器評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル光コヒーレント検波受信部のフロントエンドに用いられる光コヒーレント検波器を評価するための光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
昨今、光通信の大容量化に伴い、１００Ｇ（ｂｐｓ／チャネル）級の長距離伝送が要求されており、これらの長距離伝送ではファイバの分散や波長フィルタリングに対する耐力がある伝送方式や、１つの信号（シンボル）上に複数データをのせる周波数効率のよい多値変調方式が注目され、その一技術としてデジタル光コヒーレント検波技術の研究が盛んに行われている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
例えば、直交２変調多重と４値変調であるＱＰＳＫ（Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ  Ｐｈａｓｅ  Ｓｈｉｆｔ  Ｋｅｙｉｎｇ）方式やＤＰ−ＱＰＳＫ（Ｄｕａｌ  Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−Ｑｕａｄｒａｔｕｒｅ  Ｐｈａｓｅ  Ｓｈｉｆｔ  Ｋｅｙｉｎｇ）方式は、２５Ｇ／シンボルの信号で、１００Ｇｂｐｓ級の伝送を行うことができる伝送方式であるが、ここにもデジタル光コヒーレント検波の技術が用いられている。
【０００４】
デジタル光コヒーレント検波の光コヒーレント検波器では、入力光コヒーレント検波信号光の偏波ダイバーシティを行うための偏光分離や、ローカル光として用いる狭線幅レーザや入力光コヒーレント検波信号光をホモダイン検波又はヘテロダイン検波して復調するための９０°光ハイブリッドが必要となる。これらには複数の光素子が集積化されており、各部の特性を評価することが難しく、送信部と受信部間に実際に信号を流してビット誤り率から送受信部の評価を総合的に行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１５３８６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
送受信部間の総合的な評価で問題があった場合には、その原因を突き止めることの必要性から、個々の不具合を特定することが必要となるが、現時点ではそれを容易に行うことはできない。
【０００７】
そこで、本発明は、光コヒーレント検波器を簡易に評価することのできる光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置（１０１）であって、光を出力する光源（１１）と、前記光源からの光を２つの分岐光に分岐する光分岐部（１５）と、前記光分岐部からの一方の分岐光を透過又は遮光する第１の光シャッタ（１６）と、前記光分岐部からの前記分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる光遅延器（２０）と、前記光遅延器からの光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の一方として出力する第１の光出力部（１７）と、前記光分岐部からの他方の分岐光を透過又は遮光する第２の光シャッタ（１８）と、前記第２の光シャッタの出力光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として出力する第２の光出力部（１９）と、前記光源と前記第１の光出力部との間の光路に配置され、少なくとも前記分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ（２１）と、複数の入力端子を有し、前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号及び前記ゲイン調整前の電気信号が前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力される二信号入力部（２２）と、前記二信号入力部に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力するパワー検出部（２３）と、前記光コヒーレント検波器でバランスド受光するバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定部（２５）と、前記パワー検出部で検出した信号パワーを用いて信号処理を行う二信号処理部（２６）と、前記二信号処理部の信号処理結果を表示する二信号表示部（２７）と、前記第１の光シャッタ、前記第２の光シャッタ、前記光遅延器、前記偏波コントローラ、前記バイアス電圧設定部、前記二信号処理部及び前記二信号表示部の動作を制御する二信号制御部（２８）と、を備える。
【０００９】
光源（１１）と、光分岐部（１５）と、第１の光出力部（１７）と、第２の光出力部（１９）と、二信号入力部（２２）と、パワー検出部（２３）と、二信号処理部（２６）と、を備えるため、光コヒーレント検波器（４１）に光を入力し、光コヒーレント検波器（４１）からの出力信号を解析することができる。第１の光シャッタ（１６）と、第２の光シャッタ（１８）と、偏波コントローラ（２１）と、バイアス電圧設定部（２５）と、二信号制御部（２８）と、を備えるため、光コヒーレント検波器（４１）についての種々の評価を行うことができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器を簡易に評価することができる。
【００１０】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記二信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタ及び前記第２の光シャッタに前記分岐光を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号非差動遅延制御部（２８−１１）を備え、前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号非差動位相処理部（２６−１１）を備え、前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する二信号非差動位相表示部（２７−１１）を備えるを備えてもよい。
二信号非差動遅延制御部（２８−１１）を備えるため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）の各出力信号の位相差を測定することができる。二信号非差動位相処理部（２６−１１）及び二信号非差動位相表示部（２７−１１）を備えるため、各コヒーレント検波器の各出力信号の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００１１】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記二信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタ及び前記第２の光シャッタに前記分岐光を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号差動遅延制御部（２８−１２）を備え、前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号差動位相処理部（２６−１２）を備え、前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する二信号差動位相表示部（２７−１２）を備えてもよい。
二信号差動遅延制御部（２８−１２）を備えるため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光する。二信号差動位相処理部（２６−１２）及び二信号差動位相表示部（２７−１２）を備えるため、バランスド受光した信号の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００１２】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記光コヒーレント検波器は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力し、前記二信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮断させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記偏波コントローラの偏波状態を変化させながら、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号偏波状態制御部（２８−１４）を備え、前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を用いて、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出する二信号ローカル光分岐比処理部（２６−１４）を備え、前記二信号表示部は、前記二信号処理部の算出する前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示する二信号ローカル光分岐比表示部（２７−１４）を備えてもよい。
これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、入力光の他方を、Ｐ偏光成分側とＳ偏光成分側とに分岐した光を受光する。二信号ローカル光分岐比処理部（２６−１４）及び二信号ローカル光分岐比表示部（２７−１４）を備えるため、光コヒーレント検波器（４１）が分岐したＰ偏光成分側の光とＳ偏光成分側の光の強度比を測定し、光コヒーレント検波器（４１）のローカル光の分岐比を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の分岐比を簡易に評価することができる。
【００１３】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記光源からの光を入力された位相変調信号で位相変調する光位相変調器（１２）と、前記位相変調信号を発生する位相変調信号発生部（１３）と、前記位相変調信号発生部からの信号に従って前記光位相変調器を駆動し、前記光位相変調器から位相変調光を出力させるドライバ（１４）と、前記二信号入力部に入力された前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する波形測定部（２４）と、をさらに備え、前記二信号制御部は、前記光位相変調器に位相変調光を出力させ、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる二信号位相変調光制御部（２８−１５）を備え、前記二信号処理部は、前記信号パワーに代えて、前記波形測定部で測定した信号波形を用いてもよい。
光位相変調器（１２）、位相変調信号発生部（１３）、ドライバ（１４）、波形測定部（２４）及び二信号位相変調光制御部（２８−１５）を備えるため、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に位相変調光を入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）からの出力信号の波形を用いてスキューを測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器のスキューを簡易に評価することができる。
【００１４】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記光源は、光の出力波長が可変であり、前記二信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方及び前記分岐光の他方を出力させる二信号干渉光波長制御部（２８−１６）を備え、前記二信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶する二信号干渉光処理部（２６−１６）を備え、前記二信号表示部は、前記二信号処理部の記憶する前記光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を、前記入力端子ごとに表示する二信号干渉光表示部（２７−１６）を備えてもよい。
二信号干渉光波長制御部（２８−１６）を備えるため、波長を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の波長において２つの入力光を合成した合成光を受光する。二信号干渉光処理部（２６−１６）及び二信号干渉光表示部（２７−１６）を備えるため、各合成光の光強度を波長ごとに測定して、干渉強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
【００１５】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記光源は、光の出力波長が可変であり、前記二信号制御部は、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を遮光させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方を出力させるか、或いは前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮光させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させて前記光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の他方を出力させる二信号分岐光波長制御部（２８−１７）を備え、前記二信号処理部は、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を、前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出する二信号光損失処理部（２６−１７）を備え、前記二信号表示部は、前記二信号処理部の算出する前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を前記入力端子ごとに表示する二信号光損失表示部（２７−１７）を備えてもよい。
二信号分岐光波長制御部（２８−１７）を備えるため、波長を変化させながら、入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。二信号光損失処理部（２６−１７）及び二信号光損失表示部（２７−１７）を備えるため、光コヒーレント検波器（４１）からの出力光の光パワーを用いて光コヒーレント検波器（４１）の各入出力ポート間の損失を測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の損失の波長特性を簡易に評価することができる。
【００１６】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価装置（１０２）であって、強度変調光を出力する強度変調光源（３１）と、前記強度変調光源からの強度変調光を２つの分岐光に分岐する光分岐部（１５）と、前記光分岐部からの一方の分岐光を透過又は遮光する第１の光シャッタ（１６）と、前記光分岐部からの前記分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる光遅延器（２０）と、前記光遅延器からの光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の一方として出力する第１の光出力部（１７）と、前記光分岐部からの他方の分岐光を透過又は遮光する第２の光シャッタ（１８）と、前記第２の光シャッタの出力光を、前記光コヒーレント検波器の入力光の他方として出力する第２の光出力部（１９）と、前記強度変調光源と前記第１の光シャッタとの間の光路に挿入され、少なくとも前記分岐光の一方の偏波状態を変化させる偏波コントローラ（２１）と、複数の入力端子を有し、前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号又は前記ゲイン調整前の電気信号のいずれかの電気信号が前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力される一信号入力部（３４）と、前記一信号入力部に入力された前記ゲイン調整前の強度変調された電気信号を、前記入力端子ごとに交流から直流に変換する整流回路（３５）と、前記整流回路からの電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力するパワー検出部（２３）と、前記光コヒーレント検波器でバランスド受光するバイアス電圧を設定するバイアス電圧設定部（２５）と、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作を設定するゲイン調整回路設定部（３９）と、前記パワー検出部で検出した信号パワーを用いて信号処理を行う一信号処理部（３６）と、前記一信号処理部の信号処理結果を表示する一信号表示部（３７）と、前記偏波コントローラ、前記第１の光シャッタ、前記第２の光シャッタ、前記光遅延器、前記バイアス電圧設定部、前記ゲイン調整回路設定部、前記一信号処理部及び前記一信号表示部の動作を制御する一信号制御部（３８）と、を備える。
【００１７】
強度変調光源（３１）と、光分岐部（１５）と、第１の光出力部（１７）と、第２の光出力部（１９）と、一信号入力部（３４）と、パワー検出部（２３）と、一信号処理部（３６）を備えるため、光コヒーレント検波器（４２）に光を入力し、光コヒーレント検波器（４２）からの出力信号を解析することができる。ゲイン調整回路設定部（３９）と、整流回路（３５）と、を備えるため、光コヒーレント検波器（４２）からゲイン調整前の電気信号を出力することができる。第１の光シャッタ（１６）と、第２の光シャッタ（１８）と、偏波コントローラ（２１）と、バイアス電圧設定部（２５）と、を備えるため、光コヒーレント検波器（４２）についての種々の評価を行うことができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器を簡易に評価することができる。
【００１８】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記一信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号非差動遅延制御部（３８−２１）を備え、前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号非差動位相処理部（３６−２１）を備え、前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する一信号非差動位相表示部（３７−２１）を備えてもよい。
一信号非差動遅延制御部（３８−２１）を備えるため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）の各出力信号の位相差を測定することができる。一信号非差動位相処理部（３６−２１）及び一信号非差動位相表示部（３７−２１）を備えるため、各コヒーレント検波器の各出力信号の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００１９】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記一信号制御部は、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御した状態で、前記光遅延器の遅延量を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号差動遅延制御部（３８−２２）を備え、前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号差動位相処理部（３６−２２）を備え、前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記デジタル信号の出力値を、前記光遅延器の遅延量に対するグラフで表示する一信号差動位相表示部（３７−２２）を備えてもよい。
一信号差動遅延制御部（３８−２２）を備えるため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光する。一信号差動位相処理部（３６−２２）及び一信号差動位相表示部（３７−２２）を備えるため、バランスド受光した信号を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００２０】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記光コヒーレント検波器は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号又は前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号のいずれかの電気信号を出力し、前記一信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮断させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記偏波コントローラの偏波状態を変化させながら、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号偏波状態制御部（３８−２４）を備え、前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を用いて、前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出する一信号ローカル光分岐比処理部（３６−２４）を備え、前記一信号表示部は、前記一信号処理部の算出する前記任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示する一信号ローカル光分岐比表示部（３７−２４）を備えてもよい。
一信号偏波状態制御部（３８−２４）を備えるため、入力光の他方を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、入力光の他方を、Ｐ偏光成分側とＳ偏光成分側とに分岐して受光する。一信号ローカル光分岐比処理部（３６−２４）及び一信号ローカル光分岐比表示部（３７−２４）を備えるため、光コヒーレント検波器（４２）が分岐したＰ偏光成分側の光とＳ偏光成分側の光の強度比を測定し、光コヒーレント検波器（４２）のローカル光の分岐比を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の分岐比を簡易に評価することができる。
【００２１】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、連続光を出力する連続光源（３０）と、前記連続光源からの連続光を、入力された位相変調信号で位相変調する光位相変調器（１２）と、前記位相変調信号を発生する位相変調信号発生部（１３）と、前記位相変調信号発生部からの信号に従って前記光位相変調器を駆動し、前記光位相変調器から位相変調光を出力させるドライバ（１４）と、前記一信号入力部に入力された前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する波形測定部（２４）と、をさらに備え、前記一信号制御部は、前記光位相変調器に位相変調光を出力させ、前記偏波コントローラの変化させる偏波状態を一定に保ち、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路が動作するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号位相変調光制御部（３８−２５）を備え、前記一信号処理部は、前記信号パワーに代えて、前記波形測定部で測定した信号波形を用いてもよい。
連続光源（３０）、光位相変調器（１２）、位相変調信号発生部（１３）、ドライバ（１４）、波形測定部（２４）及び一信号位相変調光制御部（３８−２５）を備えるため、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に位相変調光を入力することができる。光コヒーレント検波器（４２）は２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光するため、光コヒーレント検波器（４２）からの出力信号の波形を用いてスキューを測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器のスキューを簡易に評価することができる。
【００２２】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記強度変調光源は、光の出力波長が可変であり、前記一信号制御部は、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させ、前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させ、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記強度変調光源の出力波長を変化させながら、前記第１の光出力部から前記分岐光の一方を出力させるとともに、前記第２の光出力部から前記分岐光の他方を出力させる一信号干渉光波長制御部（３８−２６）を備え、前記一信号処理部は、前記パワー検出部からのデジタル信号の出力値を、前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶する一信号干渉光処理部（３６−２６）を備え、前記一信号表示部は、前記一信号処理部の記憶する前記強度変調光源の各出力波長での前記デジタル信号の出力値を、前記入力端子ごとに表示する一信号干渉光表示部（３７−２６）を備えてもよい。
一信号干渉光波長制御部（３８−２６）を備えるため、波長を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、任意の波長において２つの入力光を合成した合成光を受光する。一信号干渉光処理部（３６−２６）及び一信号干渉光表示部（３７−２６）を備えるため、各合成光の光強度を波長ごとに測定して、干渉強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
【００２３】
本願発明の光コヒーレント検波器評価装置では、前記強度変調光源は、光の出力波長が可変であり、前記一信号制御部は、前記光コヒーレント検波器で前記合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧に前記バイアス電圧設定部を制御し、前記光コヒーレント検波器でゲイン調整する回路の動作が停止するように前記ゲイン調整回路設定部を制御した状態で、前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を透過させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を遮光させて前記強度変調光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の一方を出力させるか、或いは前記第１の光シャッタに前記分岐光の一方を遮光させて前記第２の光シャッタに前記分岐光の他方を透過させて前記強度変調光源の出力波長を変化させながら前記分岐光の他方を出力させる一信号分岐光波長制御部（３８−２７）を備え、前記一信号処理部は、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を、前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出する一信号光損失処理部（３６−２７）を備え、前記一信号表示部は、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を前記入力端子ごとに表示する一信号光損失表示部（３７−２７）を備えてもよい。
一信号分岐光波長制御部（３８−２７）を備えるため、波長を変化させながら、入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。一信号光損失処理部（３６−２７）及び一信号光損失表示部（３７−２７）を備えるため、光コヒーレント検波器（４２）からの出力光の光パワーを用いて光コヒーレント検波器（４１）の各入出力ポート間の損失を測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価装置は、光コヒーレント検波器の損失の波長特性を簡易に評価することができる。
【００２４】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光を２つの分岐光に分岐し、分岐した一方の分岐光の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号非差動遅延光出力手順（Ｓ１１１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する二信号非差動位相処理手順（Ｓ１１２）と、を順に有する。
二信号非差動遅延光出力手順（Ｓ１１１）を有するため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をそれぞれ受光する。二信号非差動位相処理手順（Ｓ１１２）を有するため、各合成光の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００２５】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号差動遅延光出力手順（Ｓ１２１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する二信号差動位相処理手順（Ｓ１２２）と、を順に有する。
二信号差動遅延光出力手順（Ｓ１２１）を有するため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光する。二信号差動位相処理手順（Ｓ１２２）を有するため、バランスド受光した信号の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００２６】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光を２つの分岐光に分岐し、光源からの光の偏波状態を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の他方として前記分岐光を出力する二信号偏光出力手順（１４１）と、前記分岐光の他方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記入力端子及び前記所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態における前記入力光の他方の分岐比を算出して表示する二信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ１４２）と、を順に有する。
二信号偏光出力手順（１４１）を有するため、入力光の他方を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、入力光の他方を、Ｐ偏光成分側とＳ偏光成分側とに分岐した光を受光する。二信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ１４２）を有するため、光コヒーレント検波器（４１）が分岐したＰ偏光成分側の光とＳ偏光成分側の光の強度比を測定し、光コヒーレント検波器（４１）のローカル光の分岐比を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の分岐比を簡易に評価することができる。
【００２７】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光を位相変調して２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の一方及び前記入力光の他方として前記分岐光を出力する二信号位相変調光出力手順（Ｓ１５１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する二信号スキュー処理手順（Ｓ１５２）と、を順に有する。
二信号位相変調光出力手順（Ｓ１５１）を有するため、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に強度変調光を入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光してゲイン調整する。二信号スキュー処理手順（Ｓ１５２）を有するため、光コヒーレント検波器（４１）からの出力信号の波形を用いてスキューを測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器のスキューを簡易に評価することができる。
【００２８】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する二信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ１６１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器での合成光の光強度を、前記入力端子ごとに表示する二信号干渉強度測定手順（Ｓ１６２）と、を順に有する。
二信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ１６１）を有するため、波長を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の波長の２つの入力光を合成した合成光を受光する。二信号干渉強度測定手順（Ｓ１６２）を有するため、受光した信号を波長ごとに測定して、干渉強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
【００２９】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４１）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、光源からの光の出力波長を変化させながら前記光源からの光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光のいずれか一方として前記２つの分岐光のいずれか一方を出力する二信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ１７１）と、分岐したいずれか一方の分岐光を、前記２つの分岐光のいずれか一方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号に変換し、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を前記光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出し、前記光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を、前記入力端子ごとに表示する二信号損失測定手順（Ｓ１７２）と、を順に有する。
二信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ１７１）を有するため、波長を変化させながら、入力光を光コヒーレント検波器（４１）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の波長の入力光を分離して受光する。二信号損失測定手順（Ｓ１７２）を有するため、光コヒーレント検波器（４１）からの出力光の光パワーを用いて光コヒーレント検波器（４１）の損失を測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の損失の波長特性を簡易に評価することができる。
【００３０】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号非差動遅延光出力手順（Ｓ２１１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する一信号非差動位相処理手順（Ｓ２１２）と、を順に有する。
一信号非差動遅延光出力手順（Ｓ２１１）を有するため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をそれぞれ受光する。一信号非差動位相処理手順（Ｓ２１２）を有するため、各合成光の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００３１】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するとともに前記合成光のペアをバランスド受光するか或いはゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記分岐光の一方の遅延量を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号差動遅延光出力手順（Ｓ２２１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号を出力し、前記遅延量に対する前記デジタル信号の出力値をグラフ表示する一信号差動位相処理手順（Ｓ２２２）と、を順に有する。
一信号差動遅延光出力手順（Ｓ２２１）を有するため、２つの入力光の位相差を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、任意の位相差の２つの入力光を合成した合成光をそれぞれ受光する。一信号差動位相処理手順（Ｓ２２２）を有するため、各合成光の位相を比較して位相直交度を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の位相直交度を簡易に評価することができる。
【００３２】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光のうちの一方を所定の偏波状態で分離しかつ前記２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記強度変調光の偏波状態を変化させながら、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の他方として前記分岐光を出力する一信号偏光出力手順（Ｓ２４１）と、前記分岐光の他方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記入力端子及び前記所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態における前記入力光の他方の分岐比を算出して表示する一信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ２４２）と、を順に有する。
一信号偏光出力手順（Ｓ２４１）を有するため、入力光の他方を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、入力光の他方を、Ｐ偏光成分側とＳ偏光成分側とに分岐した光を受光する。一信号ローカル光分岐比測定手順（Ｓ２４２）を有するため、光コヒーレント検波器（４２）が分岐したＰ偏光成分側の光とＳ偏光成分側の光の強度比を測定し、光コヒーレント検波器（４２）のローカル光の分岐比を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の分岐比を簡易に評価することができる。
【００３３】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、位相変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光の一方及び前記入力光の他方として前記分岐光を出力する一信号位相変調光出力手順（Ｓ２５１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器でバランスド受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整後の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整後の電気信号の信号波形を前記入力端子ごとに測定する一信号スキュー処理手順（Ｓ２５２）と、を順に有する。
一信号位相変調光出力手順（Ｓ２５１）を有するため、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に強度変調光を入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光してゲイン調整する。一信号スキュー処理手順（Ｓ２５２）を有するため、光コヒーレント検波器（４２）からの出力信号の波形を用いてスキューを測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器のスキューを簡易に評価することができる。
【００３４】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、強度変調光源からの強度変調光の出力波長を変化させながら前記強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記２つの入力光として前記２つの分岐光を出力する一信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ２６１）と、前記２つの分岐光が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記光コヒーレント検波器からの前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記入力端子に入力された前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーをデジタル信号に変換し、前記デジタル信号の出力値を前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器での合成光の光強度を、前記入力端子ごとに表示する一信号干渉強度測定手順（Ｓ２６２）と、を順に有する。
一信号干渉用波長可変光出力手順（Ｓ２６１）を有するため、波長を変化させながら、２つの入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４２）は、任意の波長において２つの入力光を合成した合成光をバランスド受光する。一信号干渉強度測定手順（Ｓ２６２）を有するため、バランスド受光した信号を波長ごとに測定して、干渉強度の波長特性を評価することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の干渉強度の波長特性を簡易に評価することができる。
【００３５】
上記目的を達成するために、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成して前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号を出力するか或いは前記ペアを構成する前記合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号を出力する光コヒーレント検波器（４２）の試験を行う光コヒーレント検波器評価方法であって、強度変調光源からの強度変調光の出力波長を変化させながら前記強度変調光を２つの分岐光に分岐し、前記光コヒーレント検波器の前記入力光のいずれか一方として前記２つの分岐光のいずれか一方を出力する一信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ２７１）と、分岐したいずれか一方の分岐光を、前記２つの分岐光のいずれか一方が前記光コヒーレント検波器で受光されて出力された前記ゲイン調整前の電気信号を前記合成光のペアごとにそれぞれ異なる前記入力端子に入力し、前記ゲイン調整前の電気信号の信号パワーを前記入力端子ごとに検出してデジタル信号に変換し、前記偏波コントローラで偏波状態を変化させたときに最大となる前記各デジタル信号の出力値を前記強度変調光源の出力波長及び前記入力端子に関連付けて記憶し、前記強度変調光源の出力パワー及び前記デジタル信号の出力値を用いて前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の各入出力ポート間の損失を前記入力端子ごとに算出し、前記強度変調光源の各出力波長での前記光コヒーレント検波器の損失を、前記入力端子ごとに表示する一信号損失測定手順（Ｓ２７２）と、を順に有する。
一信号波長可変分岐光出力手順（Ｓ２７１）を有するため、波長を変化させながら、入力光を光コヒーレント検波器（４２）に入力することができる。これにより、光コヒーレント検波器（４１）は、任意の波長の入力光を分離して受光する。一信号損失測定手順（Ｓ２７２）を有するため、光コヒーレント検波器（４２）からの出力光の光パワーを用いて光コヒーレント検波器（４２）の損失を測定することができる。したがって、本願発明の光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器の損失の波長特性を簡易に評価することができる。
【００３６】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００３７】
本発明によれば、光コヒーレント検波器を簡易に評価することのできる光コヒーレント検波器評価装置及び光コヒーレント検波器評価方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価装置の一例を示す。
【図２】実施形態１に係る光コヒーレント検波器の一例を示す。
【図３】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第１例を示す。
【図４】二信号非差動位相表示部の表示例を示す。
【図５】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第２例を示す。
【図６】二信号差動位相表示部の表示例を示す。
【図７】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第３例を示す。
【図８】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第４例を示す。
【図９】二信号スキュー表示部の表示例を示す。
【図１０】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第５例を示す。
【図１１】二信号干渉光表示部の表示例を示す。
【図１２】実施形態１に係る光コヒーレント検波器評価方法の第６例を示す。
【図１３】二信号光損失表示部の表示例を示す。
【図１４】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価装置の一例を示す。
【図１５】実施形態２に係る光コヒーレント検波器の一例を示す。
【図１６】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第１例を示す。ｓ
【図１７】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第２例を示す。
【図１８】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第３例を示す。
【図１９】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第４例を示す。
【図２０】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第５例を示す。
【図２１】実施形態２に係る光コヒーレント検波器評価方法の第６例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００３９】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００４０】
（実施形態１）
図１は、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置の一例を示す。本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置１０１は、光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価装置１０１は、光源１１と、光位相変調器１２と、位相変調信号発生部１３と、ドライバ１４と、光分岐部１５と、第１の光シャッタ１６と、光遅延器２０と、第１の光出力部１７と、第２の光シャッタ１８と、第２の光出力部１９と、偏波コントローラ２１と、二信号入力部２２と、パワー検出部２３と、波形測定部２４と、バイアス電圧設定部２５と、二信号処理部２６と、二信号表示部２７と、二信号制御部２８と、を備える。
【００４１】
図２は、光コヒーレント検波器の一例を示す。光コヒーレント検波器４１は、入力光の一方Ｓ及び入力光の他方Ｌを合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。信号光として入力光の一方Ｓが入力され、ローカル光として入力光の他方Ｌが入力されることで、光コヒーレント検波器４１は、信号光Ｓの検波を行う。
【００４２】
光コヒーレント検波器４１は、入力ポート５１と、入力ポート５４と、ＰＢＳ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  Ｂｅａｍ  Ｓｐｌｉｔｔｅｒ）５２と、ＢＳ（Ｂｅａｍ  Ｓｐｌｉｔｔｅｒ）５５と、９０°光ハイブリッド５３−Ｐと、バランスドＰＤ（Ｐｈｏｔｏ  Ｄｉｏｄｅ）５７−１，５７−２，５７−３，５７−４と、ＴＩＡ（Ｔｒａｎｓ  Ｉｍｐｅｄａｎｃｅ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）５８−１，５８−２，５８−３，５８−４と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）５９−１，５９−２，５９−３，５９−４と、を備える。
【００４３】
ＰＢＳ５２は、入力ポート５１に入力された入力光を、偏光成分ごとに分離する。例えば、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に分離する。ＢＳ５５は、入力ポート５４に入力された入力光を、分岐する。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、ＰＢＳ５２からのＰ偏光成分の光及びＢＳ５５からの光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成する。例えば、９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、合成光（Ｐ＋Ｌ）及び合成光（Ｐ−Ｌ）の合成光のペアと、合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）の合成光のペアを生成する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、ＰＢＳ５２からのＳ偏光成分の光及びＢＳ５５からの光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成する。例えば、９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、合成光（Ｓ＋Ｌ）及び合成光（Ｓ−Ｌ）の合成光のペアと、合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）の合成光のペアを生成する。
【００４４】
バランスドＰＤ５７−１，５７−２，５７−３，５７−４は、合成光のペアをバランスド受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１は、合成光（Ｐ＋Ｌ）と合成光（Ｐ―Ｌ）をバランスド受光する。バランスドＰＤ５７−２は、合成光（Ｐ＋ｊＬ）と合成光（Ｐ−ｊＬ）をバランスド受光する。バランスドＰＤ５７−３は、合成光（Ｓ＋Ｌ）と合成光（Ｓ−Ｌ）をバランスド受光する。バランスドＰＤ５７−４は、合成光（Ｓ＋ｊＬ）と合成光（Ｓ−ｊＬ）をバランスド受光する。
【００４５】
ＴＩＡ５８−１は、バランスドＰＤ５７−１の出力電流を電圧に変換し、ＡＧＣ５９−１及び出力ポートに出力する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＴＩＡ５８−１からの電気信号ＰＩＵを入力端子２２−２に出力する。ＡＧＣ５９−１は、ＴＩＡ５８−１からの出力電圧をゲイン調整する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＡＧＣ５９−１からの電気信号ＰＩＣを入力端子２２−１に出力する。
【００４６】
ＴＩＡ５８−２は、バランスドＰＤ５７−２の出力電流を電圧に変換し、ＡＧＣ５９−２及び出力ポートに出力する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＴＩＡ５８−２からの電気信号ＰＱＵを入力端子２２−４に出力する。ＡＧＣ５９−２は、ＴＩＡ５８−２からの出力電圧をゲイン調整する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＡＧＣ５９−２からの電気信号ＰＱＣを入力端子２２−３に出力する。
【００４７】
ＴＩＡ５８−３は、バランスドＰＤ５７−３の出力電流を電圧に変換し、ＡＧＣ５９−３及び出力ポートに出力する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＴＩＡ５８−３からの電気信号ＳＩＵを入力端子２２−６に出力する。ＡＧＣ５９−３は、ＴＩＡ５８−３からの出力電圧をゲイン調整する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＡＧＣ５９−３からの電気信号ＳＩＣを入力端子２２−５に出力する。
【００４８】
ＴＩＡ５８−４は、バランスドＰＤ５７−４の出力電流を電圧に変換し、ＡＧＣ５９−４及び出力ポートに出力する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＴＩＡ５８−４からの電気信号ＳＱＵを入力端子２２−８に出力する。ＡＧＣ５９−４は、ＴＩＡ５８−４からの出力電圧をゲイン調整する。これにより、光コヒーレント検波器４１は、ＡＧＣ５９−４からの電気信号ＳＱＣを入力端子２２−７に出力する。
【００４９】
図１に示す光源１１は、連続光を出力する。光位相変調器１２は、光源１１からの光を入力された位相変調信号で位相変調する。位相変調信号発生部１３は、位相変調信号を発生する。ドライバ１４は、位相変調信号発生部１３からの信号に従って光位相変調器１２を駆動し、光位相変調器１２から位相変調光又は連続光を出力させる。光分岐部１５は、光位相変調器１２からの光を２つの分岐光に分岐する。
【００５０】
光遅延器２０は、光分岐部１５からの分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる。偏波コントローラ２１は、光位相変調器１２と第１の光出力部１７との間の光路に配置され、少なくとも分岐光の一方の偏波状態を変化させる。
【００５１】
第１の光シャッタ１６は、光分岐部１５からの一方の分岐光を透過又は遮光する。第１の光出力部１７は、光遅延器２０からの光を、光コヒーレント検波器４１の入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に出力する。第２の光シャッタ１８は、光分岐部１５からの他方の分岐光を透過又は遮光する。第２の光出力部１９は、第２の光シャッタ１８の出力光を、光コヒーレント検波器４１の入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に出力する。
【００５２】
二信号入力部２２は、複数の入力端子２２−１〜２２−８を有し、光コヒーレント検波器４１からのゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ及びゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵが合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力される。例えば、電気信号ＰＩＣが入力端子２２−１に入力され、電気信号ＰＩＵが入力端子２２−２に入力され、電気信号ＰＱＣが入力端子２２−３に入力され、電気信号ＰＱＵが入力端子２２−４に入力され、電気信号ＳＩＣが入力端子２２−５に入力され、電気信号ＳＩＵが入力端子２２−６に入力され、電気信号ＳＱＣが入力端子２２−７に入力され、電気信号ＳＱＵが入力端子２２−８に入力される。
【００５３】
パワー検出部２３は、二信号入力部２２に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−２，２２−４，２２−６，２２−８ごとに検出してデジタル信号を出力する。波形測定部２４は、二信号入力部２２に入力されたゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣの信号波形を入力端子２２−１，２２−３，２２−５，２２−７ごとに測定する。
【００５４】
二信号処理部２６は、パワー検出部２３で検出した信号パワー及び波形測定部２４で測定した信号波形を用いて信号処理を行う。二信号処理部２６は、二信号非差動位相処理部２６−１１と、二信号差動位相処理部２６−１２と、二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４と、二信号スキュー処理部２６−１５と、二信号干渉光処理部２６−１６と、二信号光損失処理部２６−１７と、を備える。
【００５５】
表示部２７は、二信号処理部２６の信号処理結果を表示する。二信号表示部２７は、二信号非差動位相表示部２７−１１と、二信号差動位相表示部２７−１２と、二信号ローカル光分岐比表示部２７−１４と、二信号スキュー表示部２７−１５と、二信号干渉光表示部２７−１６と、二信号光損失表示部２７−１７と、を備える。
【００５６】
バイアス電圧設定部２５は、光コヒーレント検波器４１でバランスド受光するバランスドＰＤ５７−１〜５７−４のバイアス電圧を設定する。バランスドＰＤの各ＰＤに印加する電圧をオープン状態にするか、Ｉ−Ｖ変換電流が流れないような電圧、例えば０Ｖ、に設定することで、２つのＰＤのうちの受光するＰＤを選択する。二信号制御部２８は、位相変調信号発生部１３、ドライバ１４、第１の光シャッタ１６、第２の光シャッタ１８、光遅延器２０、偏波コントローラ２１、バイアス電圧設定部２５、二信号処理部２６及び二信号表示部２７の動作を制御する。例えば、二信号制御部２８は、光コヒーレント検波器４１の評価内容に応じて、光源１１の出力波長を制御したり、第１の光シャッタ１６及び第２の光シャッタ１８のＯＮ／ＯＦＦを切り替えたり、光遅延器２０の遅延量を制御したり、偏波コントローラ２１の偏波状態を制御したり、二信号処理部２６の動作を切り替えたり、二信号表示部２７の表示を切り替えたりする。以下、光コヒーレント検波器４１の具体的な評価例について説明する。
【００５７】
二信号制御部２８は、二信号非差動遅延制御部２８−１１と、二信号差動遅延制御部２８−１２と、二信号偏波状態制御部２８−１４と、二信号位相変調光制御部２８−１５と、二信号干渉光波長制御部２８−１６と、二信号分岐光波長制御部２８−１７と、を備える。
【００５８】
図３に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第１例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第１例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第１例は、二信号非差動遅延光出力手順Ｓ１１１と、二信号非差動位相処理手順Ｓ１１２と、を順に有し、各合成光の位相を評価する。
【００５９】
二信号非差動遅延光出力手順Ｓ１１１では、光源１１からの光を２つの分岐光に分岐し、分岐した一方の分岐光の遅延量を変化させながら、光コヒーレント検波器４１の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。このとき、二信号非差動遅延制御部２８−１１は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６及び第２の光シャッタ１８に分岐光を透過させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、光遅延器２０の遅延量を変化させながら、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【００６０】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）を出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）を出力する。
【００６１】
バランスドＰＤ５７−１、バランスドＰＤ５７−２、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４は、合成光のペアの片方を受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ＋ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ＋ｊＬ）を受光する。又は、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ−ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ−ｊＬ）を受光する。
【００６２】
二信号非差動位相処理手順Ｓ１１２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４１で受光されて出力された光コヒーレント検波器４１からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−１〜２２−８ごとに検出してデジタル信号を出力し、遅延量に対するデジタル信号の出力値をグラフ表示する。
【００６３】
例えば、電気信号ＰＩＵを入力端子２２−２に入力し、電気信号ＰＱＵを入力端子２２−４に入力し、電気信号ＳＩＵを入力端子２２−６に入力し、電気信号ＳＱＵを入力端子２２−８に入力する。パワー検出部２３は、電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−２，２２−４，２２−６，２２−８ごとに検出してデジタル信号を出力する。二信号非差動位相処理部２６−１１は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量及び入力端子２２−２，２２−４，２２−６，２２−８に関連付けて記憶する。二信号非差動位相表示部２７−１１は、二信号処理部２６の記憶するデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。
【００６４】
図４に、二信号非差動位相表示部２７−１１の表示例を示す。合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）、合成光（Ｓ＋Ｌ）及び合成光（Ｓ＋ｊＬ）の光強度を、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。光源１１の波長相当の遅延量可変によって干渉強度は１周期の強度変化が生じるため、光遅延器２０の遅延量は少なくとも１周期以上変化させる。これにより、合成光（Ｐ＋Ｌ）と合成光（Ｐ＋ｊＬ）と合成光（Ｓ＋Ｌ）と合成光（Ｓ＋ｊＬ）の位相差又は合成光（Ｐ―Ｌ）と合成光（Ｐ―ｊＬ）と合成光（Ｓ―Ｌ）と合成光（Ｓ―ｊＬ）の位相差の評価を行うことができる。なお、光遅延器２０の可変ステップは、数ｎｍ以下であることが好ましい。
【００６５】
図５に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第２例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第２例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第２例は、二信号差動遅延光出力手順Ｓ１２１と、二信号差動位相処理手順Ｓ１２２と、を順に有し、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の出力信号を評価する。
【００６６】
二信号差動遅延光出力手順Ｓ１２１では、光源１１からの光を２つの分岐光に分岐し、分岐光の一方の遅延量を変化させながら、光コヒーレント検波器４１の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。例えば、二信号差動遅延制御部２８−１２は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６及び第２の光シャッタ１８に分岐光を透過させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、光遅延器２０の遅延量を変化させながら、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【００６７】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）を出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）を出力する。
【００６８】
このとき、バランスドＰＤ５７−１、バランスドＰＤ５７−２、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４は、合成光のペアをバランスド受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ＋Ｌ）及び合成光（Ｐ−Ｌ）をバランスド受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）をバランスド受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ＋Ｌ）及び合成光（Ｓ−Ｌ）をバランスド受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）をバランスド受光する。
【００６９】
二信号差動位相処理手順Ｓ１２２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４１でバランスド受光されて出力された光コヒーレント検波器４１からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−１〜２２−８ごとに検出してデジタル信号を出力し、遅延量に対するデジタル信号の出力値をグラフ表示する。
【００７０】
例えば、電気信号ＰＩＵを入力端子２２−２に入力し、電気信号ＰＱＵを入力端子２２−４に入力し、電気信号ＳＩＵを入力端子２２−６に入力し、電気信号ＳＱＵを入力端子２２−８に入力する。パワー検出部２３は、電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−２，２２−４，２２−６，２２−８ごとに検出してデジタル信号を出力する。二信号差動位相処理部２６−１２は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量及び入力端子２２−２，２２−４，２２−６，２２−８に関連付けて記憶する。二信号差動位相表示部２７−１２は、二信号処理部２６の記憶するデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。
【００７１】
図６に、二信号差動位相表示部２７−１２の表示例を示す。電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。光源１１の波長相当の遅延量可変によって信号パワーは１周期の変化が生じるため、光遅延器２０の遅延量は少なくとも１周期以上変化させる。これにより、電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーの位相差の評価を行うことができる。
【００７２】
図７に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第３例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第３例は、２つの入力光のうちの一方をＰ偏光とＳ偏光の所定の偏波状態で分離しかつ２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第３例は、二信号偏光出力手順Ｓ１４１と、二信号ローカル光分岐比測定手順Ｓ１４２と、を順に有し、ＢＳ５５の分岐比を評価する。
【００７３】
二信号偏光出力手順１４１では、光源１１からの光を２つの分岐光に分岐し、光源１１からの光の偏波状態を変化させながら、光コヒーレント検波器４１の入力光の他方Ｌとして分岐光を出力する。このとき、二信号偏波状態制御部２８−１４は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を遮断させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、偏波コントローラ２１の偏波状態を変化させながら、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【００７４】
入力光の他方Ｌが入力ポート５４に入力される。ＢＳ５５は、入力光の他方Ｌを分岐する。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、ＢＳ５５からの分岐光をさらに分岐して４つの出力ポートから出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、ＢＳ５５からの分岐光をさらに分岐して４つの出力ポートから出力する。バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２には、９０°光ハイブリッド５３−Ｐからの２つの出力光が入力される。バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４には、９０°光ハイブリッド５３−Ｓからの２つの出力光が入力される。
【００７５】
バランスドＰＤ５７−１、バランスドＰＤ５７−２、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４は、合成光のペアの片方を受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２は、入力された２つの分岐光のうちの一方のみを受光する。そして、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２は、入力された２つの分岐光のうちの他方のみを受光する。これにより、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２は、ＰＢＳ５２で分岐された分岐光を受光する。バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４についても、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２と同様にして、ＰＢＳ５２で分離された分岐光を受光する。
【００７６】
二信号ローカル光分岐比測定手順Ｓ１４２では、分岐光の他方が光コヒーレント検波器４１で受光されて出力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、入力端子２２−１〜２２−８に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーをデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を入力端子２２−１〜２２−８及びＰ偏光とＳ偏光の所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出して表示する。
【００７７】
このとき、二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を用いて、任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を算出する。二信号ローカル光分岐比表示部２７−１４は、二信号処理部２６の算出する任意の偏波状態におけるローカル光の分岐比を表示する。
【００７８】
例えば、二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４は、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２が分岐光のうちの一方のみを受光したときの電気信号ＰＩＵ及び電気信号ＰＱＵのデジタル信号の出力値と、バランスドＰＤ５７−１及びバランスドＰＤ５７−２が分岐光のうちの他方のみを受光したときの電気信号ＰＩＵ及び電気信号ＰＱＵのデジタル信号の出力値と、のすべての出力値の和を算出する。これにより、Ｐ偏光側の光パワーを算出する。一方で、二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４は、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４が分岐光のうちの一方のみを受光したときの電気信号ＳＩＵ及び電気信号ＳＱＵのデジタル信号の出力値と、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４が分岐光のうちの他方のみを受光したときの電気信号ＳＩＵ及び電気信号ＳＱＵのデジタル信号の出力値と、のすべての出力値の和を算出する。これにより、Ｓ偏光側の光パワーを算出する。二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４は、Ｐ偏光側の光パワーとＳ偏光側の光パワーの比を算出する。
【００７９】
図８に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第４例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第４例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第４例は、二信号位相変調光出力手順Ｓ１５１と、二信号スキュー処理手順Ｓ１５２と、を順に有し、電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣのスキュー評価を行う。
【００８０】
二信号位相変調光出力手順Ｓ１５１では、光源１１からの光を位相変調して２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４１の入力光の一方Ｓ及び入力光の他方Ｌとして分岐光を出力する。このとき、二信号位相変調光制御部２８−１５は、光位相変調器１２に位相変調光を出力させ、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。入力光の一方Ｓが入力ポート５１に入力され、入力光の他方Ｌが入力ポート５４に入力される。バランスドＰＤ５７−１〜５７−４は、バランスド受光する。
【００８１】
二信号スキュー処理手順Ｓ１５２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４１でバランスド受光されて出力された光コヒーレント検波器４１からのゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、ゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣの信号波形を入力端子２２−１〜２２−８ごとに測定し、入力端子２２−１〜２２−８ごとの信号波形を用いてゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ間の遅延時間を求めて表示する。このとき、二信号スキュー処理部２６−１５は、波形測定部２４の測定する入力端子２２−１〜２２−８ごとの信号波形を用いて、ゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ間の遅延時間を求める。二信号スキュー表示部２７−１５は、二信号処理部２６の求める遅延時間を表示する。
【００８２】
図９に、二信号スキュー表示部２７−１５の表示例を示す。電気信号ＰＩＣ、電気信号ＰＱＣ、電気信号ＳＩＣ及び電気信号ＳＱＣは、位相変調されているため、信号の立ち上がりと立下りを検出することができる。この信号の立ち上がり又は立下りの時点を用いてスキューの評価を行う。例えば、電気信号ＰＩＣの立ち上がり時点ｔＰＩから電気信号ＰＱＣの立ち下がり時点ｔＰＱまでの遅延時間を測定し、電気信号ＰＩＣの立ち上がり時点ｔＰＩから電気信号ＳＩＣの立ち上がり時点ｔＳＩまでの遅延時間を測定し、電気信号ＰＩＣの立ち上がり時点ｔＰＩから電気信号ＳＱＣの立ち下がり時点ｔＳＱまでの遅延時間を測定することで、電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣのスキュー評価を行うことができる。
【００８３】
図１０に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第５例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第５例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第５例は、二信号干渉用波長可変光出力手順Ｓ１６１と、二信号干渉強度測定手順Ｓ１６２と、を順に有し、波長に対する干渉強度の変化を評価する。
【００８４】
二信号干渉用波長可変光出力手順Ｓ１６１では、光源１１からの光の出力波長を変化させながら光源１１からの光を２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４１の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。このとき、二信号干渉光波長制御部２８−１６は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、光源１１の出力波長を変化させながら分岐光の一方及び分岐光の他方を出力させる。
【００８５】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）を出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）を出力する。
【００８６】
バランスドＰＤ５７−１、バランスドＰＤ５７−２、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４は、合成光のペアの片方を受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ＋ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ＋ｊＬ）を受光する。又は、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ−ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ−ｊＬ）を受光する。
【００８７】
二信号干渉強度測定手順Ｓ１６２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４１で受光されて出力された光コヒーレント検波器４１からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、入力端子２２−１〜２２−８に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーをデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を光源１１の出力波長及び入力端子２２−１〜２２−８に関連付けて記憶し、光源１１の各出力波長での光コヒーレント検波器４１での干渉光の光強度を、入力端子２２−１〜２２−８ごとに表示する。
【００８８】
このとき、二信号干渉光処理部２６−１６は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、光源１１の出力波長及び入力端子２２−１〜２２−８に関連付けて記憶する。二信号干渉光表示部２７−１６は、二信号処理部２６の記憶する光源１１の各出力波長でのデジタル信号の出力値を、入力端子２２−１〜２２−８ごとに表示する。
【００８９】
図１１に、二信号干渉光表示部２７−１６の表示例を示す。合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）、合成光（Ｐ−ｊＬ）、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）又は合成光（Ｓ−ｊＬ）の光強度を、光源１１の出力波長に対するグラフで表示する。これにより、干渉強度の波長特性を測定することができる。
【００９０】
図１２に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第６例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第６例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してペアを構成する合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともにペアを構成する合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４１の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第６例は、二信号波長可変分岐光出力手順Ｓ１７１と、二信号損失測定手順Ｓ１７２と、を順に有し、光コヒーレント検波器４１での光損失を評価する。
【００９１】
二信号波長可変分岐光出力手順Ｓ１７１では、光源１１からの光の出力波長を変化させながら光源１１からの光を２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４１の入力光のいずれか一方として２つの分岐光のいずれか一方を出力する。このとき、二信号分岐光波長制御部２８−１７は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、光コヒーレント検波器４１で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御した状態で、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を遮光させて第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させて光源１１の出力波長を変化させながら分岐光の他方を出力させる。
【００９２】
第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）及び合成光（Ｐ−ｊＬ）を出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｓは、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）及び合成光（Ｓ−ｊＬ）を出力する。
【００９３】
バランスドＰＤ５７−１、バランスドＰＤ５７−２、バランスドＰＤ５７−３及びバランスドＰＤ５７−４は、合成光のペアの片方を受光する。例えば、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ＋ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ＋Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ＋ｊＬ）を受光する。又は、バランスドＰＤ５７−１が合成光（Ｐ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−２が合成光（Ｐ−ｊＬ）を受光し、バランスドＰＤ５７−３が合成光（Ｓ−Ｌ）を受光し、バランスドＰＤ５７−４が合成光（Ｓ−ｊＬ）を受光する。
【００９４】
二信号損失測定手順Ｓ１７２では、２つの分岐光のいずれか一方が光コヒーレント検波器４１で受光されて出力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子２２−１〜２２−８に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子２２−１〜２２−８ごとに検出してデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を光源１１の出力波長及び入力端子２２−１〜２２−８に関連付けて記憶し、光源１１の出力パワー及びデジタル信号の出力値を用いて光源１１の各出力波長での光コヒーレント検波器４１の各入出力ポート間の損失を入力端子２２−１〜２２−８ごとに算出し、光源１１の各出力波長での光コヒーレント検波器４１の損失を、入力端子２２−１〜２２−８ごとに表示する。
【００９５】
このとき、二信号光損失処理部２６−１７は、偏波コントローラ２１で偏波状態を変化させたときに最大となるパワー検出部２３からの各デジタル信号の出力値を、光源１１の出力波長及び入力端子２２−１〜２２−８に関連付けて記憶し、光源１１の出力パワー及びデジタル信号の出力値を用いて光源１１の各出力波長での光コヒーレント検波器４１の各入出力ポート間での損失を入力端子２２−１〜２２−８ごとに算出する。二信号光損失表示部２７−１７は、二信号処理部２６の算出する光源１１の各出力波長での光コヒーレント検波器４１の損失を入力端子２２−１〜２２−８ごとに表示する。
【００９６】
図１３に、二信号光損失表示部２７−１７の表示例を示す。合成光（Ｐ＋Ｌ）、合成光（Ｐ−Ｌ）、合成光（Ｐ＋ｊＬ）、合成光（Ｐ−ｊＬ）、合成光（Ｓ＋Ｌ）、合成光（Ｓ−Ｌ）、合成光（Ｓ＋ｊＬ）又は合成光（Ｓ−ｊＬ）の各入出力ポート間での損失を、光源１１の出力波長に対するグラフで表示する。これにより、光コヒーレント検波器４１の損失の波長特性を測定することができる。
【００９７】
なお、二信号波長可変分岐光出力手順Ｓ１７１において、二信号分岐光波長制御部２８−１７は、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させて第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を遮光させて光源１１の出力波長を変化させながら分岐光の一方を出力させてもよい。これにより、入力光Ｓの一方が入力ポート５１に入力され、入力ポート５１と各出力ポートとの間での損失を測定することができる。
【００９８】
以上説明したように、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置１０１及び本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器４１の評価を簡易に行うことができる。
【００９９】
なお、本実施形態の光コヒーレント検波器４１では、９０°光ハイブリッドを２個備える例を示したが、９０°光ハイブリッドは１個であってもよいし、３個以上であってもよい。９０°光ハイブリッドは１個の場合は二信号入力部２２の入力端子の数を４個にすればよいし、９０°光ハイブリッドがＮ個の場合は二信号入力部２２の入力端子の数を４×Ｎ個にすればよい。
【０１００】
（実施形態２）
図１４は、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置の一例を示す。本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置１０２は、光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器４２は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するか或いは合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。信号光として入力光の一方Ｓが入力され、ローカル光として入力光の他方Ｌが入力されることで、光コヒーレント検波器４２は、信号光Ｓの検波を行う。
【０１０１】
図１５に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器の一例を示す。本実施形態に係る光コヒーレント検波器４２は、図２に示す光コヒーレント検波器４１と同様に、入力ポート５１と、入力ポート５４と、ＰＢＳ５２と、ＢＳ５５と、９０°光ハイブリッド５３−Ｐと、バランスドＰＤ５７−１，５７−２，５７−３，５７−４と、ＴＩＡ５８−１，５８−２，５８−３，５８−４と、ＡＧＣ５９−１，５９−２，５９−３，５９−４と、を備える。光コヒーレント検波器４２は、ＡＧＣ５９−１〜５９−４が機能を発揮しているときには電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力し、ＡＧＣ５９−１〜５９−４が機能を停止しているときには電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１０２】
図１４に示す光コヒーレント検波器評価装置１０２は、連続光源３０と、光位相変調器１２と、位相変調信号発生部１３と、ドライバ１４と、光分岐部１５と、第１の光シャッタ１６と、第１の光出力部１７と、第２の光シャッタ１８と、第２の光出力部１９と、光遅延器２０と、偏波コントローラ２１と、パワー検出部２３と、波形測定部２４と、バイアス電圧設定部２５と、一信号処理部３６と、一信号表示部３７と、強度変調光源３１と、強度変調信号発生部３２と、光スイッチ３３と、一信号入力部３４と、整流回路３５と、一信号制御部３８と、バイアス電圧設定部２５と、ゲイン調整回路設定部３９と、を備える。
【０１０３】
図１４に示す連続光源３０は、連続光を出力する。光位相変調器１２は、連続光源３０からの連続光を入力された位相変調信号で位相変調する。位相変調信号発生部１３は、位相変調信号を発生する。ドライバ１４は、位相変調信号発生部１３からの信号に従って光位相変調器１２を駆動し、光位相変調器１２から位相変調光又は連続光を出力させる。強度変調信号発生部３２は、強度変調信号を発生する。強度変調光源３１は、強度変調信号発生部３２からの強度変調信号に従って強度変調光を出力する。光スイッチ３３は、光位相変調器１２からの位相変調光若しくは連続光及び強度変調光源３１からの強度変調光が入力され、位相変調光、連続光又は強度変調光を選択出力する。偏波コントローラ２１は、光スイッチ３３からの光の偏波状態を変化させる。光分岐部１５は、偏波コントローラ２１からの光を２つの分岐光に分岐する。
【０１０４】
第１の光シャッタ１６は、光分岐部１５からの一方の分岐光を透過又は遮光する。光遅延器２０は、光分岐部１５からの分岐光の一方を任意の遅延量で遅延させる。第１の光出力部１７は、光遅延器２０からの光を、光コヒーレント検波器４２の入力光の一方Ｓとして出力する。第２の光シャッタ１８は、光分岐部１５からの他方の分岐光を透過又は遮光する。第２の光出力部１９は、第２の光シャッタ１８の出力光を、光コヒーレント検波器４２の入力光の他方Ｌとして出力する。
【０１０５】
一信号入力部３４は、複数の入力端子３４−１〜３４−４を有し、光コヒーレント検波器４２からのゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ又はゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵのいずれかの電気信号が合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力される。整流回路３５は、一信号入力部３４に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを、入力端子３４−１〜３４−４ごとに交流から直流に変換する。バイアス電圧設定部２５は、光コヒーレント検波器４２でバランスド受光するバランスドＰＤ５７−１〜５７−４のバイアス電圧を設定する。ゲイン調整回路設定部３９は、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作を設定する。
【０１０６】
パワー検出部２３は、強度変調された強度変調光源の光を整流回路３５で検波した電気信号の信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号を出力する。波形測定部２４は、一信号入力部３４に入力されたゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣの信号波形を入力端子３４−１〜３４−４ごとに測定する。一信号処理部３６は、パワー検出部２３で検出した信号パワー及び波形測定部２４で測定した信号波形を用いて信号処理を行う。一信号表示部３７は、一信号処理部３６の信号処理結果を表示する。
【０１０７】
一信号制御部３８は、強度変調信号発生部３２、位相変調信号発生部１３、ドライバ１４、強度変調光源３１、偏波コントローラ２１、光スイッチ３３、第１の光シャッタ１６、第２の光シャッタ１８、光遅延器２０、バイアス電圧設定部２５、ゲイン調整回路設定部３９、一信号処理部３６及び一信号表示部３７の動作を制御する。
【０１０８】
図１６に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第１例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第１例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第１例は、一信号非差動遅延光出力手順Ｓ２１１と、一信号非差動位相処理手順Ｓ２１２と、を順に有し、各合成光の位相を評価する。
【０１０９】
一信号非差動遅延光出力手順Ｓ２１１では、強度変調光源３１からの強度変調光を２つの分岐光に分岐し、分岐した一方の分岐光の遅延量を変化させながら、光コヒーレント検波器４２の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。このとき、一信号非差動遅延制御部３８−２１は、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、光遅延器２０の遅延量を変化させながら、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【０１１０】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第１例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止しているため、光コヒーレント検波器４２はＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１１１】
一信号非差動位相処理手順Ｓ２１２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４２で受光されて出力された光コヒーレント検波器４２からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号を出力し、遅延量に対するデジタル信号の出力値をグラフ表示する。
【０１１２】
例えば、電気信号ＰＩＵを入力端子３４−１に入力し、電気信号ＰＱＵを入力端子３４−２に入力し、電気信号ＳＩＵを入力端子３４−３に入力し、電気信号ＳＱＵを入力端子３４−４に入力する。パワー検出部２３は、電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号を出力する。一信号非差動位相処理部３６−２１は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶する。一信号非差動位相表示部３７−２１は、一信号処理部３６の記憶するデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。一信号非差動位相表示部３７−２１の表示例は、図４で説明した二信号非差動位相表示部２７−１１の表示例と同様である。
【０１１３】
図１７に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第２例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第２例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するとともに合成光のペアをバランスド受光するか或いはゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第２例は、一信号差動遅延光出力手順Ｓ２２１と、一信号差動位相処理手順Ｓ２２２と、を順に有し、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の出力信号を評価する。
【０１１４】
一信号差動遅延光出力手順Ｓ２２１では、強度変調光源３１からの強度変調光を２つの分岐光に分岐し、分岐光の一方の遅延量を変化させながら、光コヒーレント検波器４２の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。このとき、一信号差動遅延制御部３８−２２は、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整する回路の動作が停止するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、光遅延器２０の遅延量を変化させながら、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【０１１５】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第２例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止しているため、光コヒーレント検波器４２はＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１１６】
一信号差動位相処理手順Ｓ２２２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４２でバランスド受光されて出力された光コヒーレント検波器４２からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号を出力し、遅延量に対するデジタル信号の出力値をグラフ表示する。
【０１１７】
例えば、電気信号ＰＩＵを入力端子３４−１に入力し、電気信号ＰＱＵを入力端子３４−２に入力し、電気信号ＳＩＵを入力端子３４−３に入力し、電気信号ＳＱＵを入力端子３４−４に入力する。パワー検出部２３は、電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号を出力する。一信号差動位相処理部３６−２２は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶する。一信号差動位相表示部３７−２２は、一信号処理部３６の記憶するデジタル信号の出力値を、光遅延器２０の遅延量に対するグラフで表示する。一信号差動位相表示部３７−２２の表示例は、図６で説明した二信号差動位相表示部２７−１２の表示例と同様である。
【０１１８】
図１８に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第３例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第３例は、２つの入力光のうちの一方をＰ偏光とＳ偏光の所定の偏波状態で分離しかつ２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するか或いは合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第３例は、一信号偏光出力手順Ｓ２４１と、一信号ローカル光分岐比測定手順Ｓ２４２と、を順に有し、ＢＳ５５の分岐比を評価する。
【０１１９】
一信号偏光出力手順Ｓ２４１では、強度変調光源３１からの強度変調光を２つの分岐光に分岐し、偏波状態を変化させながら、光コヒーレント検波器４２の入力光の他方Ｌとして分岐光を出力する。このとき、一信号偏波状態制御部３８−２４は、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を遮断させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、偏波コントローラ２１の偏波状態を変化させながら、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【０１２０】
入力光の他方Ｌが入力ポート５４に入力される。ＢＳ５５は、入力光の他方Ｌを分岐する。９０°光ハイブリッド５３−Ｐは、ＢＳ５５からの分岐光をさらに分岐して４つの出力ポートから出力する。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第３例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止しているため、光コヒーレント検波器４２はＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１２１】
一信号ローカル光分岐比測定手順Ｓ２４２では、分岐光の他方が光コヒーレント検波器４２で受光されて出力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、入力端子に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーをデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を入力端子３４−１〜３４−４及びＰ偏光とＳ偏光の所定の偏波状態に関連付けて記憶し、任意の偏波状態における入力光の他方Ｌの分岐比を算出して表示する。
【０１２２】
このとき、一信号ローカル光分岐比処理部３６−２４は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を用いて、任意の偏波状態における入力光の他方Ｌの分岐比を算出する。一信号ローカル光分岐比処理部３６−２４の動作は、実施形態１で説明した二信号ローカル光分岐比処理部２６−１４と同様である。一信号ローカル光分岐比表示部３７−２４は、一信号処理部３６の算出する任意の偏波状態における入力光の他方Ｌの分岐比を表示する。
【０１２３】
図１９に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第４例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第４例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するか或いは合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第４例は、一信号位相変調光出力手順Ｓ２５１と、一信号スキュー処理手順Ｓ２５２と、を順に有し、電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣのスキュー評価を行う。
【０１２４】
一信号位相変調光出力手順Ｓ２５１では、連続光源３０からの光を位相変調して２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４２の入力光の一方Ｓ及び入力光の他方Ｌとして分岐光を出力する。このとき、一信号位相変調光制御部３８−２５は、光位相変調器１２に位相変調光を出力させ、偏波コントローラ２１の変化させる偏波状態を一定に保ち、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４が動作するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【０１２５】
入力光の一方Ｓが入力ポート５１に入力され、入力光の他方Ｌが入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第４例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４が動作しているため、光コヒーレント検波器４２は電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力する。
【０１２６】
一信号スキュー処理手順Ｓ２５２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４２でバランスド受光されて出力された光コヒーレント検波器４２からのゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、ゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣの信号波形を入力端子３４−１〜３４−４ごとに測定し、入力端子３４−１〜３４−４ごとの信号波形を用いてゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ間の遅延時間を求めて表示する。このとき、一信号スキュー処理部３６−２５は、波形測定部２４の測定する入力端子３４−１〜３４−４ごとの信号波形を用いて、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整して出力された電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣ間の遅延時間を求める。一信号スキュー表示部３７−２５は、一信号スキュー処理部３６−２５の求める遅延時間を表示する。一信号スキュー表示部３７−２５の表示例は、図９に示す二信号スキュー表示部２７−１５の表示例と同様である。
【０１２７】
図２０に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第５例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第５例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してバランスド受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するか或いは合成光のペアをバランスド受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第５例は、一信号干渉用波長可変光出力手順Ｓ２６１と、一信号干渉強度測定手順Ｓ２６２と、を順に有し、波長に対する合成光の光強度の変化を評価する。
【０１２８】
一信号干渉用波長可変光出力手順Ｓ２６１では、強度変調光源３１からの強度変調光の出力波長を変化させながら強度変調光源３１からの強度変調光を２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４２の２つの入力光として２つの分岐光を出力する。このとき、一信号干渉光波長制御部３８−２６は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させ、第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を透過させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアをバランスド受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、強度変調光源３１の出力波長を変化させながら、第１の光出力部１７から分岐光の一方を出力させるとともに、第２の光出力部１９から分岐光の他方を出力させる。
【０１２９】
第１の光出力部１７から分岐光の一方が入力光の一方Ｓとして入力ポート５１に入力され、第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第５例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止しているため、光コヒーレント検波器４２はＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１３０】
一信号干渉強度測定手順Ｓ２６２では、２つの分岐光が光コヒーレント検波器４２でバランスド受光されて出力された光コヒーレント検波器４２からのゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、入力端子３４−１〜３４−４に入力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーをデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を強度変調光源３１の出力波長及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶し、強度変調光源３１の各出力波長での光コヒーレント検波器４２での合成光の光強度を、入力端子３４−１〜３４−４ごとに表示する。
【０１３１】
このとき、一信号干渉光処理部３６−２６は、パワー検出部２３からのデジタル信号の出力値を、強度変調光源３１の出力波長及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶する。一信号干渉光表示部３７−２６は、一信号処理部３６の記憶する強度変調光源３１の各出力波長でのデジタル信号の出力値を、入力端子３４−１〜３４−４ごとに表示する。一信号干渉光表示部３７−２６の表示例は、図１１に示す二信号干渉光表示部２７−１６の表示例と同様である。
【０１３２】
図２１に、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法の第６例を示す。光コヒーレント検波器評価方法の第６例は、２つの入力光を合成して位相の反転する合成光のペアを生成してペアを構成する合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整したゲイン調整後の電気信号ＰＩＣ，ＰＱＣ，ＳＩＣ，ＳＱＣを出力するか或いはペアを構成する合成光のいずれか一方を受光しかつゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する光コヒーレント検波器４２の試験を行う。光コヒーレント検波器評価方法の第６例は、一信号波長可変分岐光出力手順Ｓ２７１と、一信号損失測定手順Ｓ２７２と、を順に有し、光コヒーレント検波器４２での光損失を評価する。
【０１３３】
一信号波長可変分岐光出力手順Ｓ２７１では、強度変調光源３１からの強度変調光の出力波長を変化させながら強度変調光源３１からの強度変調光を２つの分岐光に分岐し、光コヒーレント検波器４２の入力光のいずれか一方として２つの分岐光のいずれか一方を出力する。このとき、一信号分岐光波長制御部３８−２７は、光位相変調器１２に連続光を出力させ、光コヒーレント検波器４２で合成光のペアの片方を受光するバイアス電圧にバイアス電圧設定部２５を制御し、光コヒーレント検波器４２でゲイン調整するＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止するようにゲイン調整回路設定部３９を制御した状態で、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させて第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を遮光させて強度変調光源３１の出力波長を変化させながら分岐光の一方を出力させる。
【０１３４】
第２の光出力部１９から分岐光の他方が入力光の他方Ｌとして入力ポート５４に入力される。９０°光ハイブリッド５３−Ｐ、９０°光ハイブリッド５３−Ｓ、バランスドＰＤ５７−１〜５７−４の動作は、実施形態１で説明した光コヒーレント検波器評価方法の第３例と同様である。ＡＧＣ５９−１〜５９−４の動作が停止しているため、光コヒーレント検波器４２はＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを出力する。
【０１３５】
一信号損失測定手順Ｓ２７２では、２つの分岐光のいずれか一方が光コヒーレント検波器４２で受光されて出力されたゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵを合成光のペアごとにそれぞれ異なる入力端子３４−１〜３４−４に入力し、ゲイン調整前の電気信号ＰＩＵ，ＰＱＵ，ＳＩＵ，ＳＱＵの信号パワーを入力端子３４−１〜３４−４ごとに検出してデジタル信号に変換し、デジタル信号の出力値を強度変調光源３１の出力波長及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶し、強度変調光源３１の出力パワー及びデジタル信号の出力値を用いて強度変調光源３１の各出力波長での光コヒーレント検波器４２の各入出力ポート間の損失を入力端子３４−１〜３４−４ごとに算出し、強度変調光源３１の各出力波長での光コヒーレント検波器４２の損失を、入力端子３４−１〜３４−４ごとに表示する。
【０１３６】
このとき、一信号光損失処理部３６−２７は、偏波コントローラ２１で偏波状態を変化させたときに最大となるパワー検出部２３からの各デジタル信号の出力値を、強度変調光源３１の出力波長及び入力端子３４−１〜３４−４に関連付けて記憶し、強度変調光源３１の出力パワー及びデジタル信号の出力値を用いて強度変調光源３１の各出力波長での光コヒーレント検波器４２の損失を入力端子３４−１〜３４−４ごとに算出する。一信号光損失表示部３７−２７は、強度変調光源３１の各出力波長での光コヒーレント検波器４２の各入出力ポート間での損失を入力端子３４−１〜３４−４ごとに表示する。一信号光損失表示部３７−２７の表示例は、図１３に示す二信号光損失表示部２７−１７の表示例と同様である。
【０１３７】
なお、一信号波長可変分岐光出力手順Ｓ２７１において、一信号分岐光波長制御部３８−２７は、第１の光シャッタ１６に分岐光の一方を透過させて第２の光シャッタ１８に分岐光の他方を遮光させて強度変調光源３１の出力波長を変化させながら分岐光の一方を出力させてもよい。これにより、入力光Ｓの一方が入力ポート５１に入力され、入力ポート５１と各出力ポートとの間での損失を測定することができる。
【０１３８】
以上説明したように、本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価装置１０２及び本実施形態に係る光コヒーレント検波器評価方法は、光コヒーレント検波器４２の評価を簡易に行うことができる。
【０１３９】
なお、本実施形態の光コヒーレント検波器４２では、９０°光ハイブリッドを２個備える例を示したが、９０°光ハイブリッドは１個であってもよいし、３個以上であってもよい。９０°光ハイブリッドは１個の場合は一信号入力部３４の入力端子の数を４個にすればよいし、９０°光ハイブリッドがＮ個の場合は一信号入力部３４の入力端子の数を４×Ｎ個にすればよい。
【産業上の利用可能性】
【０１４０】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【０１４１】
１１：光源
１２：光位相変調器
１３：位相変調信号発生部
１４：ドライバ
１５：光分岐部
１６：第１の光シャッタ
１７：第１の光出力部
１８：第２の光シャッタ
１９：第２の光出力部
２０：光遅延器
２１：偏波コントローラ
２２：二信号入力部
２２−１、２２−２、２２−３、２２−４、２２−５、１１−６、２２−７、２２−８：入力端子
２３：パワー検出部
２４：波形測定部
２５：バイアス電圧設定部
２６：二信号信号処理部
２６−１１：二信号非差動位相処理部
２６−１２：二信号差動位相処理部
２６−１４：二信号ローカル光分岐比処理部
２６−１５：二信号スキュー処理部
２６−１６：二信号干渉光処理部
２６−１７：二信号光損失処理部
２７：二信号表示部
２７−１１：二信号非差動位相表示部
２７−１２：二信号差動位相表示部
２７−１４：二信号ローカル光分岐比表示部
２７−１５：二信号スキュー表示部
２７−１６：二信号干渉光表示部
２７−１７：二信号光損失表示部
２８：二信号制御部
２８−１１：二信号非差動遅延制御部
２８−１２：二信号差動遅延制御部
２８−１４：二信号偏波状態制御部
２８−１５：二信号位相変調光制御部
２８−１６：二信号干渉光波長制御部
２８−１７：二信号分岐光波長制御部
３０：連続光源
３１：強度変調光源
３２：強度変調信号発生部
３３：光スイッチ
３４：一信号入力部
３４−１、３４−２、３４−３、３４−４、３４−５、３４−６、３４−７、３４−８：入力端子
３５：整流回路
３６：一信号処理部
３６−２１：一信号非差動位相処理部
３６−２２：一信号差動位相処理部
３６−２４：一信号ローカル光分岐比処理部
３６−２５：一信号スキュー処理部
３６−２６：一信号干渉光処理部
３６−２７：一信号光損失処理部
３７：一信号表示部
３７−２１：一信号非差動位相表示部
３７−２２：一信号差動位相表示部
３７−２４：一信号ローカル光分岐比表示部
３７−２５：一信号スキュー表示部
３７−２６：一信号干渉光表示部
３７−２７：一信号光損失表示部
３８：一信号制御部
３８−２１：一信号非差動遅延制御部
３８−２２：一信号差動遅延制御部
３８−２４：一信号偏波状態制御部
３８−２５：一信号位相変調光制御部
３８−２６：一信号干渉光波長制御部
３８−２７：一信号分岐光波長制御部
３９：ゲイン調整回路設定部
４１、４２：光コヒーレント検波器
５１：、５４：入力ポート
５２：ＰＢＳ
５３−Ｐ、５３−Ｓ：９０°光ハイブリッド
５５：ＢＳ
５７−１、５７−２、５７−３、５７−４：バランスドＰＤ
５８−１、５８−２、５８−３、５８−４：ＴＩＡ
５９−１、５９−２、５９−３、５９−４：ＡＧＣ
６１−１、６１−２、６１−３、６１−４：ＬＰＦ
６２−１、６２−２、６２−３、６２−４：ＡＤＣ
１０１、１０２：光コヒーレント検波器評価装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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