(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基材と、前記基材上に設けられた粘着剤層とを備え、前記基材は、酢酸ビニル成分含有量が１０質量％以下であるエチレン−酢酸ビニル共重合体で形成され、前記粘着剤層は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部、架橋剤１〜１０質量部、シリコーン化合物０．０５〜５質量部を含有し、前記（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体と官能基含有単量体を重合した共重合体である、半導体ウエハの裏面研削用粘着シート。
【請求項２】
前記官能基含有単量体は、ヒドロキシル基とカルボキシル基のうちの一方又は両方を有する請求項１に記載の半導体ウエハの裏面研削用粘着シート。
【請求項３】
前記架橋剤がイソシアネート化合物である請求項２に記載の半導体ウエハの裏面研削用粘着シート。
【請求項４】
前記シリコーン化合物が、化学式（I）で示される構造を有する請求項１に記載の半導体ウエハの裏面研削用粘着シート。
【化１】
0005622727.tif 000005
ここで、Ｒ、Ｒ'は炭素数１〜６のアルキル基、Ｘはエポキシ基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、カルビノール基、アミノ基、（メタ）アクリル基、ビニル基のいずれかを有する。Ｙはポリエーテル、アルキル、アラルキルのいずれかの単位であり、添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎの合計が１〜８０の整数であり、シリコーン化合物中で添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎが付された各単量体単位の並び順は、化学式（I）で示している順序に限定されない。
【請求項５】
半導体ウエハの回路形成表面に請求項１に記載の粘着シートを貼り合せる貼合工程と、前記貼合工程後、前記半導体ウエハの裏面を研削する研削工程と、前記研削工程後に前記粘着シートを剥離する剥離工程を有する半導体ウエハの裏面研削方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、粘着シートと粘着シートを用いた半導体ウエハの研削方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体ウエハの裏面研削に用いる粘着フィルムとしては、特許文献１、２がある。【０００３】
一般的に、半導体集積回路は高純度シリコン単結晶等をスライスしてウエハとした後、一方の面に集積回路を組み込み（以下、この面をウエハの「回路形成表面」という。）、さらにウエハの回路が形成されていない面（以下、ウエハの「裏面」という。）をグラインディング、ポリッシング等により研削し、ウエハの厚みを５０〜５００μｍ程度まで薄くした後、ダイシングして個片化する方法で製造されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−１８９５０４号公報
【特許文献２】特開２００８−３１１５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
これら工程の中で、半導体ウエハの裏面を研削加工する際に半導体ウエハの破損、汚染を防止するため、半導体ウエハの回路形成表面に感圧接着粘着剤層を有する裏面研削用粘着シートを貼り付ける方法が用いられている。【０００６】
粘着シートの粘着剤は、半導体ウエハに貼り合わされた後、経時的な濡れ広がりにより半導体ウエハとの密着性が高くなる。そのため、研削した半導体ウエハから粘着シートを剥離する際、半導体ウエハが破損することがあった。この現象は半導体ウエハが薄いとき生じやすい傾向にある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明によれば、基材と、前記基材上に設けられた粘着剤層とを備え、前記基材は、酢酸ビニル成分含有量が１０質量％以下であるエチレン−酢酸ビニル共重合体で形成され、前記粘着剤層は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部、架橋剤１〜１０質量部、シリコーン化合物０．０５〜５質量部を含有し、前記（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体と官能基含有単量体を重合した共重合体である粘着シートが提供される。【０００８】
この粘着シートを用いて半導体ウエハの裏面研削を行った場合、（１）粘着シートが貼り合わせられた半導体ウエハの回路形成表面への洗浄水の侵入が起こりにくく、（２）研削された半導体ウエハの面内厚みのバラツキが小さく、（３）粘着力の経時上昇率が小さく、（４）粘着シートの剥離後に半導体ウエハの回路形成表面へ糊残りが少ないという利点が得られる。これらの利点により、研削された半導体ウエハの厚さが薄い場合でも粘着シートの剥離の際に半導体ウエハの破損が起こりにくく、かつ半導体ウエハの回路形成表面の汚染が生じにくい。【０００９】
前記官能基含有単量体は、ヒドロキシル基とカルボキシル基のうちの一方又は両方を有することが好ましい。【００１０】
前記架橋剤はイソシアネート化合物であるのが好ましく、前記シリコーン化合物は化学式（I）で示される構造を有することが好ましい。
【化２】
0005622727.tif 000002
ここで、Ｒ、Ｒ’は炭素数１〜６のアルキル基、Ｘはエポキシ基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、カルビノール基、アミノ基、（メタ）アクリル基、ビニル基のいずれかを有する。Ｙはポリエーテル、アルキル、アラルキルのいずれかの単位であり、添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎの合計は１〜８０の整数であり、シリコーン化合物中で添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎが付された各単量体単位の並び順は、化学式（I）で示している順序に限定されない。【００１１】
本発明は、別の観点では、半導体ウエハの回路形成表面に上述の粘着シートを貼り合せた後、半導体ウエハの裏面を研削し、研削終了後に該粘着シートを剥離する半導体ウエハの裏面研削方法である。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の粘着シート及び半導体ウエハの研削方法によれば、研削された半導体ウエハの厚さが薄い場合でも粘着シートの剥離の際に半導体ウエハの破損が起こりにくく、かつ半導体ウエハの回路形成表面の汚染が生じにくいという効果が得られる。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本明細書において、単量体単位とは単量体に由来する構造単位を意味する。本明細書の部及び％は、特に記載がない限り質量基準とする。本明細書において（メタ）アクリレートとはアクリレート及びメタアクリレートの総称である。同様に（メタ）アクリル酸等の（メタ）を含む化合物も「メタ」を有する化合物と、有しない化合物の総称である。
【００１４】
＜１．粘着シート＞
本発明の一実施形態の粘着シートは、基材と、前記基材上に設けられた粘着剤層とを備え、前記基材は、酢酸ビニル成分含有量が１０質量％以下であるエチレン−酢酸ビニル共重合体で形成され、前記粘着剤層は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部、架橋剤１〜１０質量部、シリコーン化合物０．０５〜５質量部を含有し、前記（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体と官能基含有単量体を重合した共重合体である。
【００１５】
以下、本実施形態の粘着シートの各構成要素について詳述する。
＜１−１．基材＞
本実施形態における基材は、エチレン−酢酸ビニル共重合体製のものであり、形状としては、フィルム状、シート状のものがある。基材の酢酸ビニル成分含有量は、１０質量％以下の範囲にする必要がある。基材の酢酸ビニル含有量が１０質量％より多いとウエハの研削性が低下するからである。酢酸ビニル成分含有量は、より好ましくは８質量％以下である。酢酸ビニル成分含有量は、少なすぎると半導体ウエハの表面に形成された凹凸に十分に追従しないことがあるので、１質量％以上が好ましく、さらに好ましくは３質量％以上、さらに好ましくは５質量％以上である。
基材の厚さは、３０〜３００μｍが好ましく、５０〜２５０μｍがより好ましい。
【００１６】
＜１−２．粘着剤層＞
【００１７】
本実施形態における粘着剤層は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部、架橋剤１〜１０質量部、シリコーン化合物を０．０５〜５質量部を含有する。この粘着剤層を形成する粘着剤には、発明の効果を阻害しない範囲で他の素材を配合することができる。粘着付与剤、可塑剤がある。
【００１８】
（（メタ）アクリル酸エステル共重合体）
本実施形態における（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体と官能基含有単量体を重合した共重合体である。（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体以外のビニル化合物に由来する単量体単位を有してもよい。
【００１９】
（メタ）アクリル酸エステル共重合体の重量平均分子量（Ｍｗ）は、例えば、２０万〜２５０万である。この重量平均分子量は、具体的には、例えば、２０万、４０万、６０万、８０万、１００万、１５０万、２００万、２５０万であり、ここで例示した何れか２つの値の範囲内であってもよい。
【００２０】
（メタ）アクリル酸エステル共重合体全体の質量に対する官能基含有単量体単位の質量の割合は、例えば、２〜２０質量％である。この割合は、具体的には、例えば、２、４、６、８、１２、１４、１６、１８、２０質量％であり、ここで例示した数値の何れか２つの間の範囲内であってもよい。
【００２１】
（メタ）アクリル酸エステル共重合体全体の質量に対する、アクリル酸エステル単量体以外のビニル化合物の質量の割合は、例えば、０〜１０質量％である。この割合は、具体的には、例えば、０、０．１、０．５、１、２、３、４、５、６、７、８、９、１０質量％であり、ここで例示した数値の何れか２つの間の範囲内であってもよい。
【００２２】
（メタ）アクリル酸エステルの単量体としては、例えばブチル（メタ）アクリレート、２−ブチル（メタ）アクリレート、ｔ−ブチル（メタ）アクリレート、ペンチル（メタ）アクリレート、オクチル（メタ）アクリレート、２−エチルヘキシル（メタ）アクリレート、ノニル（メタ）アクリレート、デシル（メタ）アクリレート、ラウリル（メタ）アクリレート、メチル（メタ）アクリレート、エチル（メタ）アクリレート、イソプロピル（メタ）アクリレート、トリデシル（メタ）アクリレート、ミリスチル（メタ）アクリレート、セチル（メタ）アクリレート、ステアリル（メタ）アクリレート、シクロヘキシル（メタ）アクリレート、イソボロニル（メタ）アクリレート、ジシクロペンタニル（メタ）アクリレート、ベンジル（メタ）アクリレート、メトキシエチル（メタ）アクリレート、エトキシエチル（メタ）アクリレート、ブトキシメチル（メタ）アクリレート、及びエトキシ−ｎ−プロピル（メタ）アクリレートがある。（メタ）アクリル酸エステル共重合体の製造に使用する（メタ）アクリル酸エステル単量体は、１種類であっても２種類以上であってもよい。
【００２３】
官能基含有単量体の官能基としては、ヒドロキシル基、カルボキシル基、エポキシ基、アミド基、アミノ基、メチロール基、スルホン酸基、スルファミン酸基、又は（亜）リン酸エステル基がある。官能基含有単量体としては、これら官能基の１種以上を有する官能基含有単量体がある。また、官能基含有単量体は、ヒドロキシル基とカルボキシル基のうちの一方又は両方を有するものであることが好ましく、ヒドロキシル基を有する（メタ）アクリレートであることがさらに好ましい。
官能基含有単量体の例としては、具体的には、以下のものがある。
【００２４】
ヒドロキシル基を有する官能基含有単量体としては、例えば２−ヒドロキシエチル（メタ）アクリレート、２−ヒドロキシプロピル（メタ）アクリレート、２−ヒドロキシブチル（メタ）アクリレート又は２−ヒドロキシビニルエーテルがある。カルボキシル基を有する官能基含有単量体としては、例えば（メタ）アクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、無水マレイン酸、イタコン酸、フマール酸、アクリルアミドＮ−グリコール酸又はケイ皮酸がある。
【００２５】
エポキシ基を有する官能基含有単量体としては、例えばグリシジル（メタ）アクリレートがある。アミド基を有する官能基含有単量体としては、例えば（メタ）アクリルアミドがある。アミノ基を有する官能基含有単量体としては、例えばＮ，Ｎ−ジメチルアミノエチル（メタ）アクリレート、Ｎ−ｔ−ブチルアミノエチル（メタ）アクリレートがある。メチロール基を有する官能基含有単量体としては、例えばＮ−メチロール（メタ）アクリルアミドがある。
【００２６】
スルホン酸基を有する官能基含有単量体としては、例えば（メタ）アクリルスルホン酸、（メタ）アリルスルホン酸、ビニルベンジルスルホン酸、スチレンスルホン酸、２−（メタ）アクリロイルエタンスルホン酸、２−（メタ）アクリロイルプロパンスルホン酸、（メタ）アクリロイルオキシメチルスルホン酸、（メタ）アクリロイルオキシエチルスルホン酸、（メタ）アクリロイルオキシプロピルスルホン酸、３−メタアクリロイルオキシ−２−ヒドロキシプロピルスルホン酸、２-（メタ）アクリルアミド-２-メチルエタンスルホン酸、２−（メタ）アクリルアミド−２−メチルプロパンスルホン酸、２-（メタ）アクリルアミド-２-メチルブタンスルホン酸がある。
【００２７】
スルファミン酸基を有する官能基含有単量体としては、例えばヒドロキシエチル−Ｎ−［２−アクリロイルオキシエチル］スルファミン酸、Ｎ，Ｎ−ビス［２−アクリロイルオキシエチル］スルファミン酸、アクリロイルイソシアネートとＮ，Ｎ−ジ（２−ヒドロキシエチル）スルファミン酸の付加体、ヒドロキシエチル−Ｎ−［２−メタアクリロイルオキシエチル］スルファミン酸、Ｎ，Ｎ−ビス［２−メタアクリロイルオキシエチル］スルファミン酸、メタアクリロイルイソシアネートとＮ，Ｎ−ジ（２−ヒドロキシエチル）スルファミン酸の付加体等が挙げられる。
【００２８】
（亜）リン酸エステル基を有する官能基含有単量体としては、例えばアシッドホスホオキシエチル（メタ）アクリレート、アシッドホスホオキシプロピル（メタ）アクリレート、３−クロロ−２−アシッドホスホオキシプロピル（メタ）アクリレート、アシッドホスホオキシポリオキシエチレングリコールモノ（メタ）アクリレート、アシッドホスホオキシポリオキシプロピレングリコールモノ（メタ）アクリレートがある。
【００２９】
上述したように、（メタ）アクリル酸エステル共重合体は、（メタ）アクリル酸エステル単量体以外のビニル化合物に由来する単量体単位を有してもよい。このような単量体単位になる単量体を以下、「ビニル化合物単量体」と称する。
ビニル化合物単量体としては、ヒドロキシル基、カルボキシル基、エポキシ基、アミド基、アミノ基、メチロール基、スルホン酸基、スルファミン酸基、及び（亜）リン酸エステル基からなる官能基群の１種以上を有するものを好適に用いることができる。
【００３０】
ヒドロキシル基を有するビニル化合物単量体としては、例えばビニルアルコールがある。カルボキシル基を有するビニル化合物単量体としては、例えば（メタ）アクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、無水マレイン酸、イタコン酸、フマル酸、アクリルアミドＮ−グリコール酸、及びケイ皮酸がある。エポキシ基を有するビニル化合物単量体としては、例えばアリルグリシジルエーテル、及び（メタ）アクリル酸グリシジルエーテルがある。アミド基を有するビニル化合物単量体としては、例えば（メタ）アクリルアミドがある。アミノ基を有するビニル化合物単量体としては、例えばＮ，Ｎ−ジメチルアミノエチル（メタ）アクリレートがある。メチロール基を有するビニル化合物単量体としては、例えばＮ−メチロールアクリルアミドがある。
【００３１】
（架橋剤）
本実施形態に用いられる架橋剤としては、共重合されている官能基含有単量体の官能基と反応するものであれば何れでも良く、例えばイソシアネート化合物、エポキシ化合物、イミン化合物、アミノ化合物、ハロゲン化合物、アミン化合物、カルボン酸があり、イソシアネート化合物が好ましい。
【００３２】
架橋剤としてのイソシアネート化合物としては、複数のイソシアネート基を有する化合物がある。複数のイソシアネート基を有する化合物としては、例えば芳香族系イソシアネート、脂環族系イソシアネート又は脂肪族系イソシアネートがある。芳香族系ジイソシアネートとしては、例えばトリレンジイソシアネート、４，４−ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネートがある。脂環族系ジイソシアネートとしては、例えばイソホロンジイソシアネート、メチレンビス（４−シクロヘキシルイソシアネート）がある。脂肪族ジイソシアネートとしては、例えばヘキサメチレンジイソシアネート、トリメチルヘキサメチレンジイソシアネートがある。これらのイソシアネート化合物は二量体や三量体であってもよく、またポリオール化合物と反応させて得られるアダクト体であってもよく、このアダクト体としては、例えば２，４−トリレンジイソシアネートとトリメチロールプロパンのアダクト体、２，６−トリレンジイソシアネートとトリメチロールプロパンのアダクト体、ヘキサメチレンジイソシアネートとトリメチリールプロパンのアダクト体、イソホロンジイソシアネートとトリメチロールプロパンのアダクト体がある。
【００３３】
架橋剤としてのエポキシ化合物としては、例えば、ビスフェノールＡ型エポキシ化合物、ビスフェノールＦ型エポキシ化合物、Ｎ・Ｎ−グリシジルアニリン、Ｎ・Ｎ−グリシジルトルイジン、ｍ−Ｎ・Ｎ−グリシジルアミノフェニルグリシジルエーテル、ｐ−Ｎ・Ｎ−グリシジルアミノフェニルグリシジルエーテル、トリグリシジルイソシアヌレート、Ｎ・Ｎ・Ｎ’・Ｎ’−テトラグリシジルジアミノジフェニルメタン、Ｎ・Ｎ・Ｎ’・Ｎ’−テトラグリシジル−ｍ−キシリレンジアミン、Ｎ・Ｎ・Ｎ’・Ｎ’・Ｎ’’−ペンタグリシジルジエチレントリアミンなどが挙げられる。
【００３４】
架橋剤としてのイミン化合物としては、例えばＮ，Ｎ’−ジフェニルメタン−４，４’−ビス（１−アジリジンカルボキシアミド）、トリメチロールプロパン−トリ−β−アジリジニルプロピオナート、テトラメチロールメタン−トリ−β−アジリジニルプロピオナート、Ｎ，Ｎ’−トルエン−２，４−ビス−（１−アジリジンカルボキシアミド）トリエチレンメラミンがある。
【００３５】
これらの架橋剤は、単独で用いてもよく、二種以上を組み合わせて用いてもよい。
【００３６】
架橋剤の配合量は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部に対し、１〜１０質量部の範囲である。１質量部未満の場合は糊残りや経時的な要因からなる粘着テープの剥離不良が発生し、１０質量部を超えると粘着力が低くなりウエハ裏面研削加工時にウエハ表面と粘着シートの間に冷却水や切削屑の進入が発生してしまうため、かかる範囲であることが必要である。
【００３７】
（シリコーン化合物）
本実施形態に用いられるシリコーン化合物は、基本骨格にシロキサン結合（−ＳｉＯ−）を有する化合物であり、例えば、シロキサン結合を有するオイルやレジンである。シリコーン化合物は、化学式（I）で示される構造を有することが好ましい。
【化３】
0005622727.tif 000003
【００３８】
ここで、Ｒ、Ｒ’は炭素数１〜６のアルキル基、Ｘはエポキシ基、カルボキシル基、ヒドロキシル基、カルビノール基、アミノ基、（メタ）アクリル基、ビニル基のいずれかを有する。Ｙはポリエーテル、アルキル、アラルキルのいずれかの単位である。添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎの合計は１〜８０の整数である。シリコーン化合物中で添字ｋ、ｌ、ｍ、ｎが付された各単量体単位の並び順は、化学式（I）で示している順序に限定されない。
【００３９】
化学式（I）でのＸは、エポキシ基、アミノ基、（メタ）アクリル基、カルボキシル基のいずれかを有する官能基が特に好ましい。
【００４０】
シリコーン化合物の配合量は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体１００質量部に対し、０．０５〜５質量部の範囲であり、０．１〜４質量部の範囲が好ましい。０．０５部未満の場合は、ウエハに貼り合せた粘着シートの経時的な濡れ広がりにより半導体部材との密着性が高くなることによって、研削したウエハから粘着シートを剥離する際の粘着力が高まり、引いては、特に薄ウエハの場合にはウエハの破損を発生する。５質量部を超えると凝集力が低下し、本発明における優れた安定した粘着力を示さない。
【００４１】
（粘着剤層の厚さ）
粘着剤層の厚さは１〜１００μｍが好ましく、５〜６０μｍがより好ましい。粘着剤層が薄いと粘着力が低下し、ウエハ裏面研削加工時に水周りが生じる場合がある。粘着剤層が厚いと粘着力が高く、糊残りや剥離不良が発生する場合がある。
【００４２】
＜２．粘着シートの製造方法＞
粘着シートの製造方法としては、基材上に粘着剤層を積層して粘着シートとする方法があり、粘着剤を塗布する方法、印刷する方法がある。粘着剤を塗布する方法としては、例えばグラビアコーター、コンマコーター、バーコーター、ナイフコーター、ダイコーター又はロールコーター等のコーターで基材上に粘着剤を直接又は間接的に塗布する方法がある。印刷する方法としては、凸板印刷、凹板印刷、平板印刷、フレキソ印刷、オフセット印刷又はスクリーン印刷がある。また、粘着シートは、剥離フィルム上に粘着剤を塗布し乾燥させた後基材に転写、積層するなどして製造してもよい。粘着シートを製造するにあたり剥離フィルムは適宜用いることができる。
【００４３】
＜３．半導体ウエハの裏面研削方法＞
本実施形態に係る半導体ウエハの裏面研削方法は、半導体ウエハの回路形成表面に上述の粘着シートを貼り合せる貼合工程と、貼合工程後、半導体ウエハの裏面を研削する研削工程と、研削工程後に粘着シートを剥離する剥離工程を有する。
上記の粘着シートを用いて半導体ウエハの裏面研削を行った場合、（１）粘着シートが貼り合わせられた半導体ウエハの回路形成表面への洗浄水の侵入が起こりにくく、（２）研削された半導体ウエハの面内厚みのバラツキが小さく、（３）粘着力の経時上昇率が小さく、（４）粘着シートの剥離後に半導体ウエハの回路形成表面へ糊残りが少ないという利点が得られる。これらの利点により、研削された半導体ウエハの厚さが薄い場合でも粘着シートの剥離の際に半導体ウエハの破損が起こりにくく、かつ半導体ウエハの回路形成表面の汚染が生じにくい。
【実施例】
【００４４】
本発明に係る粘着シートの実施例及び半導体ウエハの裏面研削方法について詳細に説明する。【００４５】
実施例、比較例に係る粘着シートは次の処方で製造した。主な配合と、各実験例の結果を表１に示す。【００４６】
【表１】
0005622727.tif 000004
【００４７】
＜基材＞
エチレン−酢酸ビニル共重合体、厚み１２０μｍ、酢酸ビニル含有量：１％、５％、９％、１２％【００４８】
＜粘着剤層＞
（１）（メタ）アクリル酸エステル共重合体
ブチルアクリレート８０質量％、メチルメタアクリレート１１質量％、２−ヒドロキシエチルメタアクリレート８質量％、アクリル酸１質量％の共重合体の共重合体であり、重量平均分子量７２万のもの。
（２）架橋剤（硬化剤）
２，４−トリレンジイソシアネートとトリメチロールプロパンのアダクト体
（３）シリコーン化合物
Ｓ１：エポキシ基含有シリコーン化合物
Ｓ２：カルボキシル基含有シリコーン化合物
Ｓ３：カルビノール基含有シリコーン化合物
Ｓ４：シリコーン油【００４９】
実施例１に係る粘着剤は、（メタ）アクリル酸エステル共重合体成分１００質量部、架橋剤（硬化剤）３．５質量部及びシリコーン化合物（Ｓ１）２質量部の混合物である。他の粘着剤の配合は、表１に示した点以外は実施例１と同様の処方で作製した。【００５０】
（粘着シートの作製）
上述の粘着剤をポリエチレンテレフタレート製剥離フィルム上に塗布し、乾燥後の粘着剤層の厚みが４０μｍとなるように塗工し、１２０μｍの基材に積層し粘着シートを得た。【００５１】
（評価）
〔水周りの評価方法〕
直径６インチ、厚み６２５μｍのシリコンウエハに実施例・比較例の粘着シートを貼り合せ、研削装置を用いて水をかけながらシリコンウエハの裏面を研削して厚みを１５０μｍにした。
研削装置はディスコ社製ＤＦＧ−８５０を用いた。研削ホイールは１軸にＧＦ０１−ＳＤ３６０−ＶＳ−１００、２軸にＧＦ０１−ＳＤ２０００−ＢＫ０９−１００ともにディスコ社製を用い下記の条件にて研削試験を行った。
１軸：テーブル回転数：２００ｒｐｍ、ホイール回転数：４８００ｒｐｍ、送り速度：８μｍ／ｓｅｃ．
２軸：テーブル回転数：３００ｒｐｍ、ホイール回転数：４５００ｒｐｍ、送り速度：０．８μｍ／ｓｅｃ．
切削水温度：２５℃
切削水（冷却水）量：２．５Ｌ／分【００５２】
〔水周りの評価基準〕
研削後のウエハの水周り（粘着シートを貼り付けた面に水が侵入すること）の有無を観察した。
優：水周りが発生しなかったもの。
良：水周りは発生しているが、ウエハ外周部の平坦部の際から内側に１ｍｍ以内のもの
不可：水周りがウエハ外周部の平坦部の際から内側に１ｍｍを超えて発生しているもの【００５３】
〔研削性の評価方法〕
研削したウエハの面内厚みバラツキをＡＤＥ社製ウエハフラットネス測定機ウルトラゲージ型９５００Ａを用いて測定した。【００５４】
〔研削性の評価基準〕
上記方法にて評価したウエハ面内厚みの最大値と最小値との差（ＴＴＶ：Ｔｏｔａｌ  Ｔｈｉｃｋｎｅｓｓ  Ｖａｒｉａｔｉｏｎ）の値で判定した。
優：ＴＴＶが３μｍ以下
良：ＴＴＶが３μｍ超〜４．５μｍ以下
不可：ＴＴＶが４．５μｍ超【００５５】
〔粘着力の経時変化の評価方法〕
シリコンウエハ鏡面に粘着シートを貼り合わせ、２ｋｇロ−ラの１往復で圧着し、２０分間放置後に、１８０°ピ−ル、引張り速度３００ｍｍ／分の条件で粘着力を測定した。さらに、この条件の圧着後の貼合放置時間が２０分の試験体と７日の試験体を作製し、２０分放置の試験体の粘着力Ａ、７日放置の試験体の粘着力Ｂをそれぞれ測定し、次の計算式で求めた上昇率で評価した。
上昇率＝（１００×（Ｂ−Ａ））／Ａ【００５６】
〔粘着力の経時変化の評価基準〕
優：上昇率が５％未満であったもの。
良：上昇率が５％以上１０％未満であったもの。
不可：上昇率が１０％以上であったもの。【００５７】
〔糊残りの評価方法〕
パーティクル管理された５インチサイズのウエハに粘着シートを貼り合せて２０分間放置後、粘着シートを除去した後のウエハ面に付着している残渣をウエハ表面検査装置ＷＭ−７Ｓ（トプコン社製）を用いてサイズ０．２８μｍ以上のパーティクル数で評価した。【００５８】
〔糊残りの評価基準〕
優：パーティクルが５０個以下
良：パーティクルが５０個超〜１００個以下
不可：パーティクルが１００個超【００５９】
〔評価結果〕
上記の基準に従って行った評価の結果を表１に示す。表１に示すように、実施例１乃至１２の粘着シートを用いて半導体ウエハの裏面研削を行った場合、水周り、研削性、粘着力の経時変化及び糊残りのいずれにおいても良好な結果が得られた。一方、比較例１乃至５の粘着シートを用いて半導体ウエハの裏面研削を行った場合は、表１に示すように、水周り、研削性、粘着力の経時変化及び糊残りのいずれかにおいて、評価結果が良好でなく、比較例１乃至５の粘着シートは採用できないものであることが分かった。