(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１回転軸を中心に回転可能な第１回転ユニットと、
前記第１回転軸を中心に円状に配置される第２回転軸を中心に前記第１回転ユニットに回転可能に設けられ、電子部品が搭載される複数の装着部を含む複数の第２回転ユニットと、
前記装着部に搭載された電子部品の静電容量を測定する第１検査ユニットと、
前記装着部に搭載された複数の電子部品の絶縁抵抗を同時に測定する第２検査ユニットと
を含む電子部品検査装置。
【請求項２】
前記装着部は前記第２回転軸を中心に円状に配置される請求項１に記載の電子部品検査装置。
【請求項３】
前記装着部は前記第２回転ユニットの半径方向に沿って複数列に形成される請求項２に記載の電子部品検査装置。
【請求項４】
前記第１検査ユニットは一つ以上であり、
前記第２検査ユニットは二つ以上である請求項１から３のいずれか１項に記載の電子部品検査装置。
【請求項５】
前記第１検査ユニットと前記第２検査ユニットは、前記第１回転軸を基準に円状に配置される請求項１から４のいずれか１項に記載の電子部品検査装置。
【請求項６】
前記第１検査ユニットと前記第２検査ユニットは、前記第１回転ユニットの外側に配置される請求項５に記載の電子部品検査装置。
【請求項７】
前記検査ユニットは前記第２回転ユニットと対応するように配置される請求項６に記載の電子部品検査装置。
【請求項８】
前記第１回転ユニットに配置される第３回転ユニットをさらに含む請求項５に記載の電子部品検査装置。
【請求項９】
前記第１検査ユニットと前記第２検査ユニットは、前記第３回転ユニットに配置される請求項８に記載の電子部品検査装置。
【請求項１０】
前記第３回転ユニットは前記第１回転ユニットに対して相対的な回転運動が可能である請求項８または９に記載の電子部品検査装置。
【請求項１１】
前記第２検査ユニットは前記第２回転軸に沿った往復移動が可能である請求項１に記載の電子部品検査装置。
【請求項１２】
前記第２回転ユニットに検査対象の電子部品を供給する供給ユニットと、
前記第２回転ユニットから検査が終了した電子部品を排出する排出ユニットと、をさらに含む請求項１から１１のいずれか１項に記載の電子部品検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品検査装置に関し、より詳細には、電子部品の様々な特性を迅速かつ正確に検査することができる電子部品検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子製品の不良率を低め、電子製品の安定した性能を保障するためには、電子製品に搭載される電子部品の検査が必ず必要である。
【０００３】
電子部品の検査は、外観検査及び性能検査に分類されることができる。外観検査は電子部品の外形を検査して不良有無を検査することであり、性能検査は電子部品の電気的特性（例えば、静電容量、絶縁抵抗など）を検査することである。
【０００４】
一般的に、電子部品の外観検査は撮影装置を用いて迅速かつ正確になされることができる。
【０００５】
しかし、電子部品の性能検査は、電子部品の電気的特性を検査するのに基本的に時間がかかるため、多数の電子部品を迅速かつ正確に検査することは困難である。
【０００６】
特に、電子部品の静電容量の検査時間と電子部品の絶縁抵抗の検査時間には相当の偏差があるため、これら複数の性能検査を一つの検査装置または一つの検査ラインで同時に行うことが困難である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上記のような問題点を解決するためのものであって、電子部品の電気的特性を迅速かつ正確に検査することができる電子部品検査装置を提供することをその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を果たすための本発明の一実施例による電子部品検査装置は、第１回転軸を中心に回転可能な第１回転ユニットと、第２回転軸を中心に上記第１回転ユニットに回転可能に設けられる複数の第２回転ユニットと、上記第２回転ユニットに搭載された電子部品の特性を検査する検査ユニットと、を含むことができる。
【０００９】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第２回転軸は上記第１回転軸を中心に円状に配置されることができる。
【００１０】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第２回転ユニットは電子部品が搭載される複数の装着部を含むことができる。
【００１１】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記装着部は上記第２回転軸を中心に円状に配置されることができる。
【００１２】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記装着部は上記第２回転ユニットの半径方向に沿って複数列に形成されることができる。
【００１３】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記検査ユニットは、電子部品の第１特性を検査する第１検査ユニットと、電子部品の第２特性を検査する第２検査ユニットと、を含むことができる。
【００１４】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットは電子部品の静電容量を測定し、上記第２検査ユニットは電子部品の絶縁抵抗を測定することができる。
【００１５】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットは一つ以上であり、上記第２検査ユニットは二つ以上であることができる。
【００１６】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットと上記第２検査ユニットは、第１回転軸を基準に円状に配置されることができる。
【００１７】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットと上記第２検査ユニットは、上記第１回転ユニットの外側に配置されることができる。
【００１８】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記検査ユニットは上記第２回転ユニットと対応するように配置されることができる。
【００１９】
本発明の一実施例による電子部品検査装置は、上記第１回転ユニットに配置される第３回転ユニットをさらに含むことができる。
【００２０】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットと上記第２検査ユニットは、上記第３回転ユニットに配置されることができる。
【００２１】
本発明の一実施例による電子部品検査装置において、上記第３回転ユニットは上記第１回転ユニットに対して相対的な回転運動が可能である。
【００２２】
上記目的を果たすための本発明の他の実施例による電子部品検査装置は、第１回転軸を中心に回転可能な第１回転ユニットと、第２回転軸を中心に上記第１回転ユニットに回転可能に設けられ、電子部品が搭載される複数の装着部を含む複数の第２回転ユニットと、上記装着部に搭載された電子部品の第１特性を検査する第１検査ユニットと、上記装着部に搭載された複数の電子部品の第２特性を同時に検査する第２検査ユニットと、を含むことができる。
【００２３】
本発明の他の実施例による電子部品検査装置において、上記第２検査ユニットは上記第２回転軸に沿って上下移動が可能である。
【００２４】
本発明の他の実施例による電子部品検査装置において、上記第１検査ユニットは電子部品の静電容量を測定し、上記第２検査ユニットは電子部品の絶縁抵抗を測定することができる。
【００２５】
本発明の他の実施例による電子部品検査装置は、上記第２回転ユニットに検査対象の電子部品を供給する供給ユニットと、上記第２回転ユニットから検査が終了した電子部品を排出する排出ユニットと、をさらに含むことができる。
【００２６】
本発明の他の実施例による電子部品検査装置において、上記装着部は上記第２回転軸を中心に円状に配置されることができる。
【００２７】
本発明の他の実施例による電子部品検査装置において、上記装着部は上記第２回転ユニットの半径方向に沿って複数列に形成されることができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明は、電子部品の第１特性（例えば、静電容量）及び第２特性（例えば、絶縁抵抗）を一つの装置で検査することができるため、電子部品の性能検査にかかる時間を大幅に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の第１実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図２】本発明の第１実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図３】本発明の第２実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図４】本発明の第２実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図５】本発明の第３実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図６】本発明の第４実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図７】本発明の第５実施例による電子部品検査装置の構成図である。
【図８】図７に図示された電子部品検査装置の側面図である。
【図９】図７に図示された電子部品検査装置の変形例である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下、本発明の好ましい実施例を添付の例示図面に基づいて詳細に説明する。
【００３１】
以下で本発明を説明するにあたり、本発明の構成要素を指称する用語は、それぞれの構成要素の機能を考慮して命名されたものであるため、本発明の技術的構成要素を限定する意味に理解されてはならない。
【００３２】
電子部品の性能を検査するためには、少なくとも二つ以上の電気的特性を検査する必要がある。例えば、積層型セラミックキャパシタ（以下、ＭＬＣＣという）の性能を検査するためには、容量検査と絶縁抵抗検査が行われる。
【００３３】
ところで、ＭＬＣＣの容量検査は比較的短い時間内に行われることができるが、ＭＬＣＣの絶縁抵抗の測定は相対的に長い時間を要する。
【００３４】
従って、一つの検査ラインで多数のＭＬＣＣを検査する場合、ＭＬＣＣの性能検査の速度は、ＭＬＣＣの絶縁抵抗検査にかかる時間によって遅くなる。
【００３５】
一方、ＭＬＣＣの性能検査の速度を向上させるために、複数の絶縁抵抗検査装置を配置することができるが、このような方式には、ＭＬＣＣの絶縁抵抗検査が行われる間にＭＬＣＣの継続的な供給がなされないという欠点がある。
【００３６】
本発明は、このような問題点を解消するためのものであって、多数の電子部品（特に、ＭＬＣＣ）を連続的に検査することができる電子部品検査装置を提供することができる。
【００３７】
図１及び図２は本発明の第１実施例による電子部品検査装置の構成図であり、図３及び図４は本発明の第２実施例による電子部品検査装置の構成図であり、図５は本発明の第３実施例による電子部品検査装置の構成図であり、図６は本発明の第４実施例による電子部品検査装置の構成図であり、図７は本発明の第５実施例による電子部品検査装置の構成図であり、図８は図７に図示された電子部品検査装置の側面図であり、図９は図７に図示された電子部品検査装置の変形例である。
【００３８】
図１及び図２を参照して、本発明の第１実施例による電子部品検査装置を説明する。
【００３９】
第１実施例による電子部品検査装置１０は、第１回転ユニット１００と、第２回転ユニット２００、２１０と、検査ユニット４００、４１０と、を含むことができる。尚、電子部品検査装置１０は、電子部品供給ユニット５００と、電子部品排出ユニット５１０と、をさらに含むことができる。
【００４０】
また、この電子部品検査装置１０は、電子部品供給ユニット５００の電子部品を第２回転ユニット２００に運搬する第１移送ヘッド（不図示）と、第２回転ユニット２００の電子部品を電子部品排出ユニット５１０に運搬する第２移送ヘッド（不図示）と、をさらに含むことができる。ここで、第１移送ヘッドと第２移送ヘッドは、一つの装置に備えられたり、または一つの装置であることができる。
【００４１】
第１回転ユニット１００は第１回転軸１０２を有しており、第１回転軸１０２を中心に第１半径Ｒ１を有する円板状であることができる。
【００４２】
第１回転ユニット１００は第１回転軸１０２を中心に回転することができる。ここで、第１回転ユニット１００の回転は制御ユニット（不図示）によって間欠的になされることができる。例えば、図１に図示された第１回転ユニット１００は、一定時間毎に１８０°ずつ回転することができる。即ち、第１回転ユニット１００は、制御ユニットの第１作動信号に応じて１８０°ずつ回転することができる。
【００４３】
しかし、このような第１回転ユニット１００の回転角度は、第１回転ユニット１００に形成される第２回転ユニット２００、２１０の数によって異なることができる。例えば、第１回転ユニット１００に三つの第２回転ユニットが形成される場合、第１回転ユニット１００の１回の作動による回転角度は１２０°であることができる。また、第１回転ユニット１００に四つの第２回転ユニットが形成される場合、第１回転ユニット１００の１回の作動による回転角度は９０°であることができる。
【００４４】
第２回転ユニット２００、２１０は第２回転軸２０２、２１２を有しており、第２回転軸２０２、２１２を中心に第２半径Ｒ２を有する円板状であることができる。
【００４５】
第２回転ユニット２００、２１０は第１回転ユニット１００と結合することができる。より詳細には、第２回転ユニット２００、２１０は、第２回転軸２０２、２１２を介して第１回転ユニット１００と結合することができ、第２回転軸２０２、２１２を中心に第１回転ユニット１００上で回転することができる。ここで、第２回転軸２０２、２１２と第１回転軸１０２との間の距離Ｌは第１半径Ｒ１より小さい。
【００４６】
第２回転ユニット２００、２１０は装着部２０４、２１４を含むことができる。装着部２０４、２１４は電子部品が搭載される空間であることができる。例えば、装着部２０４、２１４は、第２回転ユニット２００、２１０に形成される凹状の空間であることができる。または、装着部２０４、２１４は電子部品と結合することができる別の部材であることができる。
【００４７】
このように形成された装着部２０４、２１４は、第２回転軸２０２、２１２を中心に円状に配置されることができる。例えば、多数の装着部２０４、２１４は、図１に図示されたように、第２回転軸２０２、２１２を中心にそれぞれ一定の間隔で配列されることができる。一方、図１には、第２回転ユニット２００、２１０に六つの装着部２０４、２１４が形成されているものと図示されているが、装着部２０４、２１４の数は電子部品の種類によって増減されることができる。
【００４８】
第２回転ユニット２００、２１０は第２回転軸２０２、２１２を中心に回転することができる。ここで、第２回転ユニット２００、２１０の回転は、制御ユニット（不図示）によって間欠的になされることができる。例えば、図１に図示された第２回転ユニット２００、２１０は、一定時間毎に６０°ずつ回転することができる。即ち、第２回転ユニット２００、２１０は、制御ユニットの第２作動信号に応じて６０°ずつ回転することができる。
【００４９】
しかし、このような第２回転ユニット２００、２１０の回転角度は、第２回転ユニット２００、２１０に形成される装着部２０４、２１４の数によって異なることができる。例えば、第２回転ユニット２００、２１０に四つの装着部が形成される場合、第２回転ユニット２００、２１０の１回の作動による回転角度は９０°であることができる。また、第２回転ユニット２００、２１０に八つの装着部が形成される場合、第２回転ユニット２００、２１０の１回の作動による回転角度は４５°であることができる。
【００５０】
検査ユニット４００、４１０は電子部品の電気的特性を検査する装置であることができる。例えば、第１検査ユニット４００は電子部品の第１特性（静電容量）を測定する装置であり、第２検査ユニット４１０は電子部品の第２特性（絶縁抵抗）を測定する装置であることができる。
【００５１】
第１検査ユニット４００は一度に一つの電子部品を検査する装置であり、第２検査ユニット４１０は一度に二つ以上の電子部品を検査する装置であることができる。または、第１検査ユニット４００は一つであるが、第２検査ユニット４１０は、一度に複数の電子部品を検査できるように複数であることができる。
【００５２】
ここで、第２検査ユニット４１０の数または第２検査ユニット４１０が一度に検査できる電子部品の数は、第１特性検査時間と第２特性検査時間の比例値に比例して増加することができる。例えば、第１特性検査時間が１０秒で、第２特性検査時間が２０秒であると、第２検査ユニット４１０の数は第１検査ユニット４００の数の２倍であることができる。または、第１特性検査時間が１０秒で、第２特性検査時間が３０秒であると、第２検査ユニット４１０の数は第１検査ユニット４００の数の３倍であることができる。
【００５３】
このような構成は、電子部品の絶縁抵抗検査時間が電子部品の静電容量検査時間より相対的に長い場合に有用である。しかし、第１検査ユニット４００によって測定する検査特性が第２検査ユニット４１０によって測定する検査特性より相対的に長い時間を要する場合には、これと反対であることができる。
【００５４】
検査ユニット４００、４１０は第１回転ユニット１００の縁に配置されることができる。より詳細には、第１検査ユニット４００と第２検査ユニット４１０は、相異する第２回転ユニット２００、２１０の電子部品を検査するように配置されることができる。
【００５５】
例えば、第１検査ユニット４００は第２回転ユニット２００の電子部品を検査するように配置され、第２検査ユニット４１０は第２回転ユニット２１０の電子部品を検査するように配置されることができる。但し、これは図１を基準とした配置状態である。従って、第１回転ユニット１００が１８０°回転すると、検査ユニット４００、４１０の検査対象が変わることができる。
【００５６】
電子部品供給ユニット５００は電子部品を連続的または不連続的に供給する装置であることができる。例えば、電子部品供給ユニット５００はコンベア装置であることができる。
【００５７】
電子部品供給ユニット５００は電子部品を第２回転ユニット２００、２１０に供給することができる。例えば、電子部品供給ユニット５００は、第２回転ユニット２００、２１０と選択的に連結され、電子部品を供給することができる。または、電子部品供給ユニット５００は、第１移送ヘッドを介して電子部品を第２回転ユニット２００、２１０に供給することができる。
【００５８】
電子部品排出ユニット５１０は電子部品を連続的または不連続的に排出する装置であることができる。例えば、電子部品排出ユニット５１０はコンベア装置であることができる。
【００５９】
電子部品排出ユニット５１０は第２回転ユニット２００、２１０の電子部品を外部に搬出することができる。例えば、電子部品排出ユニット５１０は、第２回転ユニット２００、２１０と選択的に連結され、電子部品を外部に搬出することができる。または、電子部品排出ユニット５１０は、第２移送ヘッドを介して電子部品を第２回転ユニット２００、２１０から外部に搬出することができる。
【００６０】
以下、上記のように構成された電子部品検査装置を用いた検査工程について説明する。
【００６１】
本実施例による電子部品検査装置を用いた検査工程は、電子部品の供給段階と、第１検査段階と、位置変更段階と、排出及び第２検査段階と、を含むことができる。
【００６２】
（電子部品の供給段階）
本段階は、電子部品を供給する段階である。即ち、本段階では、電子部品供給ユニット５００によって第２回転ユニット２００に電子部品６００、６１０、６２０、６３０、６４０、６５０を供給することができる。
【００６３】
電子部品は、電子部品供給ユニット５００によって連続的または不連続的に第２回転ユニット２００に供給されることができる。ここで、電子部品供給ユニット５００の電子部品は、別の移送ヘッドによって第２回転ユニット２００の装着部２０４に搭載されることができる。
【００６４】
一方、本段階で、第２回転ユニット２００は一定の速度で回転することができる。例えば、第２回転ユニット２００は、新しい装着部２０４が電子部品供給ユニット５００と隣接するように第１時間間隔で回転することができる。ここで、第１時間間隔は、電子部品供給ユニット５００の電子部品を装着部２０４に搭載するのにかかる時間である。
【００６５】
しかし、第１移送ヘッドが電子部品供給ユニット５００の電子部品をそれぞれの装着部２０４に自動で運搬する構成の場合は、本段階で第２回転ユニット２００は回転しないことができる。
【００６６】
（第１検査段階）
本段階は、電子部品の一つの特性を検査する段階である。即ち、本段階で、検査ユニット４００、４１０は電子部品の第１特性または第２特性を検査することができる。
【００６７】
より詳細には、第２回転ユニット２００の装着部２０４に電子部品が全部搭載されると、第１検査ユニット４００は装着部２０４の電子部品６００、６１０、６２０、６３０、６４０、６５０を検査することができる。例えば、第１検査ユニット４００は一度に一つの電子部品を検査することができ、電子部品の第１特性（例えば、静電容量）を測定することができる。
【００６８】
第１検査ユニット４００は、測定された第１検査値を制御ユニットに送出することができる。または、第１検査ユニット４００は、第１検査値に基づいて該当電子部品の不良有無を判断することができる。一方、第１検査ユニット４００または制御ユニットによって不良と判断された電子部品は、別の移送ヘッドによって本段階または以後の段階で除去されることができる。
【００６９】
第２回転ユニット２００は第２時間間隔で回転することができる。例えば、第１検査ユニット４００による電子部品６００の第１特性検査が終了すると、第２回転ユニット２００は第１角度θ１だけ回転することができる。
【００７０】
ここで、第２時間間隔は、電子部品の第１特性を検査するのにかかる時間であり、第１角度θ１は、隣合う二つの装着部２０４と第２回転軸２０２とがなす角度である。例えば、図１において第１角度θ１は６０°である。但し、上記第１角度は本実施例に限るものであるため、第２回転ユニット２００に形成される装着部２０４の数によって異なることができる。
【００７１】
第１検査ユニット４００が電子部品６００、６１０、６２０、６３０、６４０、６５０の第１特性を検査するのに第１検査時間がかかることができる。ここで、第１検査時間Ｔ１は数式１で表されることができる。
【００７２】
［数１］
Ｔ１＝（Ｅ１＋Ｔｒ２）×Ｐｎ
【００７３】
ここで、Ｔ１は第２回転ユニットに搭載された全ての電子部品の第１特性を検査するのにかかる時間であり、Ｅ１は電子部品の第１特性を検査するのにかかる時間であり、Ｔｒ２は第２回転ユニットが第１角度を回転するのにかかる時間であり、Ｐｎは第２回転ユニットに搭載される電子部品数の和である。
【００７４】
一方、第１検査ユニット４００による電子部品の検査は、電子部品の供給と同時に行われることができる。
【００７５】
本段階では、第２検査ユニット４１０による電子部品の検査が同時に行われることができる。即ち、第２回転ユニット２１０に電子部品が搭載された場合、第２検査ユニット４１０は該当電子部品７００、７１０、７２０、７３０、７４０、７５０の第２特性を検査することができる。
【００７６】
例えば、第２検査ユニット４１０は一度に二つ以上の電子部品を検査することができ、電子部品の第２特性（例えば、絶縁抵抗）を測定することができる。
【００７７】
第２検査ユニット４１０は、測定された第２検査値を制御ユニットに送出することができる。または、第２検査ユニット４１０は、第２検査値に基づいて該当電子部品の不良有無を判断することができる。一方、第２検査ユニット４１０または制御ユニットによって不良と判断された電子部品は、別の移送ヘッドによって本段階または以後の段階で除去されることができる。
【００７８】
第２回転ユニット２１０は第３時間間隔で回転することができる。例えば、第２検査ユニット４１０による電子部品７００、７５０の第２特性検査が終了すると、第２回転ユニット２１０は第２角度θ２だけ回転することができる。
【００７９】
ここで、第３時間間隔は、電子部品の第２特性を検査するのにかかる時間であり、第２角度θ２は、検査対象の電子部品と次の検査対象の電子部品が第２回転軸２１２となす角度であることができる。より詳細には、第２角度θ２は、第１角度θ１に第２検査ユニット４１０によって検査される電子部品の数を乗じた値であることができる。例えば、図１において第２角度θ２は１２０°である。但し、上記第２角度は第１角度と同様に、第２回転ユニット２１０に形成される装着部２１４の数によって異なることができる。
【００８０】
第２検査ユニット４１０が電子部品７００、７１０、７２０、７３０、７４０、７５０の第２特性を検査するのに第２検査時間がかかることができる。ここで、第２検査時間Ｔ２は数式２で表されることができる。
【００８１】
［数２］
Ｔ２＝（Ｅ２＋Ｔｒ２）×Ｐｎ／Ｅ２ｎ
【００８２】
ここで、Ｔ２は第２回転ユニットに搭載された全ての電子部品の第２特性を検査するのにかかる時間であり、Ｅ２は電子部品の第２特性を検査するのにかかる時間であり、Ｔｒ２は第２回転ユニットが第２角度を回転するのにかかる時間であり、Ｐｎは第２回転ユニットに搭載される電子部品数の和であり、Ｅ２ｎは第２検査ユニット４１０が１回に検査できる電子部品の数である。
【００８３】
参考に、第２回転ユニット２１０の電子部品７００、７１０、７２０、７３０、７４０、７５０は、第１検査ユニット４００によって第１特性検査が終了した部品であることができる。
【００８４】
このように構成された本段階によると、電子部品の第１特性と第２特性を同時に検査することができるため、電子部品の電気的特性を迅速に検査することができる。
【００８５】
（位置変更段階）
本段階は、検査ユニットに対する第２回転ユニットの位置を変更する段階である。
【００８６】
即ち、本段階では、第１回転ユニット１００が回転して検査ユニット４００、４１０に対する第２回転ユニット２００、２１０の相対的位置を図２に図示されたように変更することができる。
【００８７】
検査ユニット４００が第２回転ユニット２００の電子部品に対する第１特性検査を終了し、第２検査ユニット４１０が第２回転ユニット２１０の電子部品に対する第２特性検査を終了すると、第１回転ユニット１００は第３角度θ３だけ回転することができる。ここで、第３角度θ３は、二つの第２回転ユニット２００、２１０と第１回転軸１０２とが成す角度であることができる。例えば、図１において第３角度θ３は１８０°である。
【００８８】
このように第１回転ユニット１００が第３角度θ３で回転すると、検査ユニット４００、４１０に対する第２回転ユニット２００、２１０の相対的な位置が変更されるため、検査ユニット４００、４１０を用いて新しい電子部品の特性を検査することができる（図２参照）。
【００８９】
（排出及び第２検査段階）
本段階は、一部の電子部品を排出し、他の電子部品の他の特性を検査する段階である。
【００９０】
即ち、本段階では、第２検査ユニット４１０は第２回転ユニット２００の電子部品を検査し、第２移送ヘッド（不図示）は第２回転ユニット２１０の電子部品を排出することができる。
【００９１】
第２回転ユニット２００の電子部品６００、６１０、６２０、６３０、６４０、６５０は第１検査ユニット４００による第１特性検査のみが終了した部品であるため、第２検査ユニット４１０による第２特性検査が行われる。
【００９２】
これと異なって、第２回転ユニット２１０の電子部品７００、７１０、７２０、７３０、７４０、７５０は第１検査ユニット４００及び第２検査ユニット４１０による特性検査が全て終了した部品であるため、本段階で排出されることができる。
【００９３】
検査が終了した電子部品は、電子部品排出ユニット５１０によって他の工程に運搬されることができる。尚、検査された電子部品のうち不良と判定された部品は、別の移送手段によって除去されることができる。
【００９４】
一方、第２回転ユニット２１０の装着部２１４から電子部品７００、７１０、７２０、７３０、７４０、７５０が排出されると、空いた装着部２１４に新しい電子部品が搭載されることができる。即ち、装着部２１４からの電子部品の排出と装着部２１４への電子部品の供給は、同時に行われることができる。
【００９５】
このような段階を含む電子部品検査装置の検査工程は、電子部品の第１特性検査及び第２特性検査を同時に行うため、電子部品の検査時間を大幅に短縮することができる。
【００９６】
即ち、本実施例によると、電子部品の第１特性検査及び電子部品の第２特性検査が別の回転ユニット２００、２１０でそれぞれ行われるため、相異する電気的特性を一つのラインで検査する際に生じる待機時間を最小化することができる。
【００９７】
例えば、電子部品の第１特性検査及び電子部品の第２特性検査を一つのラインで行う場合、第１特性検査にかかる時間（例えば１０秒）と第２特性検査にかかる時間（例えば２０秒）との差だけ、待機時間（３０秒−２０秒＝１０秒）が生じる。
【００９８】
一方、本実施例によると、第２回転ユニット２００によって六つの電子部品の第１特性を検査するのに６０秒（６×１０＝６０）がかかり、他の第２回転ユニット２１０によって六つの電子部品の第２特性を検査するのに６０秒（６／２×２０＝６０）がかかるため（数式２参照）、六つの電子部品の第１特性及び第２特性を実質的に待機時間なしに連続的に検査することができる。
【００９９】
以下、図３から図９を参照して本発明の他の実施例について説明する。参考までに、以下の実施例において第１実施例と同一の構成要素は同一の図面符号を用いて、これら構成要素についての詳細な説明を省略する。
【０１００】
図３及び図４を参照して、本発明の第２実施例による電子部品検査装置について説明する。
【０１０１】
第２実施例による電子部品検査装置１０は、第２回転ユニット及び検査ユニットの数において第１実施例と区別されることができる。
【０１０２】
図３に図示された電子部品検査装置１０は、三つの第２回転ユニット２００、２１０、２２０と三つの検査ユニット４００、４１０、４２０とを含むことができ、図４に図示された電子部品検査装置１０は、四つの第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０と四つの検査ユニット４００、４１０、４２０、４３０と、を含むことができる。
【０１０３】
第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０は多数の電子部品を保有することができる。それぞれの第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０は、第２時間間隔または第３時間間隔で回転することができる。または、それぞれの第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０は同一の時間間隔で回転することができ、相異する時間間隔で回転することもできる。
【０１０４】
検査ユニット４００、４１０、４２０、４３０は、電子部品の第１特性または第２特性またはその他の特性を検査することができる。例えば、第１検査ユニット４００は電子部品の第１特性（例えば、静電容量）を検査し、残りの検査ユニット４１０、４２０、４３０は電子部品の第２特性（例えば、絶縁抵抗）を検査することができる。または、第１検査ユニット４００は電子部品の第１特性を検査し、第２検査ユニット４１０及び第２検査ユニット４２０は電子部品の第２特性を検査し、第４検査ユニット４３０は電子部品の第３特性を検査することができる。
【０１０５】
このように構成された電子部品検査装置１０は、第１回転ユニット１００に多数の第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０が形成されるため、多数の電子部品をさらに迅速に検査することができる。
【０１０６】
尚、多数の検査ユニットを含むため、電子部品の多様な特性を同時に検査することができる。
【０１０７】
以下、図５を参照して本発明の第３実施例による電子部品検査装置について説明する。
【０１０８】
第３実施例による電子部品検査装置１０は、装着部の形状において上述の実施例と区別されることができる。
【０１０９】
即ち、図５に図示されたように、第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０は複数列に形成された装着部２０４、２１４、２２４、２３４を含むことができる。より詳細には、装着部２０４、２１４、２２４、２３４は第２回転軸２０２、２１２、２２２、２３２を中心に円状に配列されるとともに、第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０の半径方向に沿って複数列に配列されることができる。
【０１１０】
このように構成された電子部品検査装置１０は、第２回転ユニット２００、２１０、２２０、２３０に相対的により多い数の電子部品が搭載されることができるため、電子部品の検査速度をさらに向上させることができる。
【０１１１】
以下、図６を参照して本発明の第４実施例による電子部品検査装置について説明する。
【０１１２】
第４実施例による電子部品検査装置１０は、検査ユニット４００、４１０、４２０の配置構造において上述の実施例と区別されることができる。
【０１１３】
電子部品検査装置１０は、図６に図示されたように、第３回転ユニット３００をさらに含むことができる。
【０１１４】
第３回転ユニット３００は第１回転ユニット１００と結合することができる。より詳細には、第３回転ユニット３００は第１回転ユニット１００の第１回転軸１０２と結合することができる。
【０１１５】
第３回転ユニット３００は、第１回転ユニット１００に対して相対的な回転運動をすることがができる。より詳細には、第３回転ユニット３００は、第１回転ユニット１００が回転する際に、回転せずに現在の位置をそのまま維持することができる。即ち、第３回転ユニット３００は第１回転ユニット１００とともに回転しないことができる。
【０１１６】
検査ユニット４００、４１０、４２０は第３回転ユニット３００に形成されることができる。検査ユニット４００、４１０、４２０は、第１回転ユニット１００の第２回転ユニット２００、２１０、２２０とそれぞれ対応するように、第３回転ユニット３００に配置されることができる。
【０１１７】
このように構成された電子部品検査装置１０は、検査ユニット４００、４１０、４２０が第１回転ユニット１００上に配置されるため、電子部品検査装置１０の全体サイズを減らすことができる。
【０１１８】
以下、図７から図９を参照して、本発明の第５実施例による電子部品検査装置について説明する。
【０１１９】
第５実施例による電子部品検査装置１０は、第２検査ユニット４１０において上述の実施例と区別されることができる。
【０１２０】
即ち、この電子部品検査装置１０において第２検査ユニット４１０は、第２回転ユニット２１０に搭載された電子部品の特性を同時に検査することができる構造である。尚、第２検査ユニット４１０は複数の特性を検査することができる装置である。
【０１２１】
第２検査ユニット４１０は、図７に図示されたように、水平方向に移動したり、または第２回転ユニット２１０を基準に上下方向（図８基準方向）に移動することができる。
【０１２２】
尚、第２検査ユニット４１０は、図８に図示されたように、多数の電子部品と接続するための多数の端子４１２を含むことができる。多数の端子４１２は、第２検査ユニット４１０の上下移動によって第２回転ユニット２１０の電子部品と接続することができる。
【０１２３】
このような構造の第２検査ユニット４１０は、第２回転ユニット２１０の全ての電子部品と接続することができるため、電子部品の電気的特性を同時に検査することができる。従って、本実施例において第２回転ユニット２１０は、図面符号２００の回転ユニットと異なって回転しないことができる。
【０１２４】
このように構成された電子部品検査装置１０は、第１検査ユニット４００が第２回転ユニット２００の電子部品を個別的に検査する間、第２検査ユニット４１０が第２回転ユニット２１０の電子部品を一度に検査することができるため、第２検査ユニット４１０の検査期間を十分に保障することができる。
【０１２５】
従って、本実施例は、非常に長い時間がかかる電子部品の特性を第２検査ユニット４１０によって検査するのに有効である。
【０１２６】
一方、第５実施例による電子部品検査装置１０は、図９に図示されたように、第２回転ユニット２２０と検査ユニット４２０とをさらに含むことができる。
【０１２７】
本発明は以上で説明された実施例にのみ限定されるものではなく、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、添付の特許請求範囲に記載の本発明の技術的思想の要旨を外れない範囲内で多様に変更して施すことができる。
【符号の説明】
【０１２８】
１０  電子部品検査装置
１００  第１回転ユニット
１０２  第１回転軸
２００、２１０、２２０、２３０  第２回転ユニット
２０２、２１２、２２２、２３２  第２回転軸
２０４、２１４、２２４、２３４  装着部
３００  第３回転ユニット
４００  第１検査ユニット
４１０  第２検査ユニット
５００  （電子部品）供給ユニット
５１０  （電子部品）排出ユニット
【図１】
0005521232.tif 000002
【図２】
0005521232.tif 000003
【図３】
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【図４】
0005521232.tif 000005
【図５】
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【図６】
0005521232.tif 000007
【図７】
0005521232.tif 000008
【図８】
0005521232.tif 000009
【図９】
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