(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１差動信号又は第２差動信号の少なくとも一方の位相を調整して出力する位相調整回路と、
前記位相調整回路から出力される前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか一方をクロック信号として用いて、前記クロック信号に同期して前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか他方をデータ信号として取得する差動ＤＦＦと
を含むクロック分配回路の前記位相調整回路の動作確認試験をコンピュータが行う動作確認試験方法であって、
前記コンピュータは、
前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの一方の信号の位相を、他方の信号の位相に対してシフトする第１位相シフト工程と、
前記第１位相シフト工程において位相がシフトされた前記第１差動信号及び前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得する第１データ取得工程と、
前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差が前記第１差動信号及び前記第２差動信号の１周期分に達するまで前記第１位相シフト工程及び前記第１データ取得工程を繰り返し実行することによって得る複数のデータ信号の値と、前記複数のデータ信号の第１期待値と比較する第１比較工程と
を実行する、動作確認試験方法。
【請求項２】
前記コンピュータは、前記第１比較工程で比較した前記複数のデータ信号の値と前記第１期待値が一致した場合に、
前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの前記他方の信号の位相を、前記一方の信号の位相に対してシフトする第２位相シフト工程と、
前記第２位相シフト工程において位相がシフトされた前記第１差動信号及び前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得する第２データ取得工程と、
前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差が前記第１差動信号及び前記第２差動信号の１周期分に達するまで前記第２位相シフト工程及び前記第２データ取得工程を繰り返し実行することによって得る複数のデータ信号の値と、前記複数のデータ信号の第２期待値と比較する第２比較工程と
をさらに実行する、請求項１に記載の動作確認試験方法。
【請求項３】
前記コンピュータは、前記第２比較工程で比較した前記複数のデータ信号の値と前記第２期待値が一致した場合に、
前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差を固定値に設定する位相差設定工程と、
前記固定値が位相差として設定された前記第１差動信号と前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得する第３データ取得工程と、
前記固定値を固定した状態で、前記第１差動信号及び前記第２差動信号の位相を所定分シフトする第３位相シフト工程と、
前記第１差動信号及び前記第２差動信号の位相シフト分が１周期分に達するまで前記第３データ取得工程及び前記第３位相シフト工程を繰り返し実行することによって得る複数の前記データ信号の値と、前記複数のデータ信号の第３期待値と比較する第３比較工程と
をさらに実行する、請求項２に記載の動作確認試験方法。
【請求項４】
前記位相差設定工程で設定する前記位相差の固定値は、前記複数のデータ信号に含まれるデータ値の変化点が現れる位相差の近傍値であり、前記第３期待値に含まれる複数のデータ値は、すべて同一値である、請求項３に記載の動作確認試験方法。
【請求項５】
前記近傍値は、前記複数のデータ信号に含まれるデータ値の変化点を挟む第１近傍値及び第２近傍値を含み、前記位相差の固定値は、前記第１近傍値又は前記第２近傍値に設定される、請求項４に記載の動作確認試験方法。
【請求項６】
第１差動信号又は第２差動信号の少なくとも一方の位相を調整して出力する位相調整回路と、
前記位相調整回路から出力される前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか一方をクロック信号として用いて、前記クロック信号に同期して前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか他方をデータ信号として取得する差動ＤＦＦと、
前記位相調整回路の動作確認試験を行うための動作確認試験装置に前記差動ＤＦＦから出力されるデータ信号を出力するための試験用出力端と、
前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの一方の位相を他方の位相に対してシフトさせるための位相シフト指令を前記動作確認試験装置から前記位相調整回路に入力するための試験用入力端と
を含み、前記位相調整回路は、前記位相シフト指令に基づいて前記第１差動信号又は前記第２差動信号の少なくとも一方の位相をシフトする、クロック分配回路。
【請求項７】
第１差動信号又は第２差動信号の少なくとも一方の位相を調整して出力する位相調整回路と、
前記位相調整回路から出力される前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか一方をクロック信号として用いて、前記クロック信号に同期して前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか他方をデータ信号として取得する差動ＤＦＦと、
前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの一方の信号の位相を、他方の信号の位相に対してシフトする位相シフト部と、
前記位相シフト部によって位相がシフトされた前記第１差動信号及び前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得するデータ取得部と、
前記位相シフト部による位相のシフトと、前記データ取得部による前記データ信号の取得とを前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差が前記第１差動信号及び前記第２差動信号の１周期分に達するまで繰り返し実行することによって得る複数のデータ信号の値と、前記複数のデータ信号の期待値と比較する比較部と
を含む、クロック分配回路。
【請求項８】
第１差動信号又は第２差動信号の少なくとも一方の位相を調整して出力する位相調整回路と、
前記位相調整回路から出力される前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか一方をクロック信号として用いて、前記クロック信号に同期して前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか他方をデータ信号として取得する差動ＤＦＦと
を含むクロック分配回路の前記位相調整回路の動作確認試験を実行させるための動作確認試験プログラムであって、
前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの一方の信号の位相を、他方の信号の位相に対してシフトする位相シフト部、
前記位相シフト部によって位相がシフトされた前記第１差動信号及び前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得するデータ取得部、及び
前記位相シフト部による位相のシフトと、前記データ取得部による前記データ信号の取得とを前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差が前記第１差動信号及び前記第２差動信号の１周期分に達するまで繰り返し実行することによって得る複数のデータ信号の値と、前記複数のデータ信号の期待値と比較する比較部
として機能させる、動作確認試験プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
動作確認試験方法、動作確認試験プログラム、及びクロック分配回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
同期したクロックで動作する通信装置システムは、装置間を接続するケーブルによる伝送遅延等によって入力データの位相が異なることがあるため、出力データに対する入力データの位相差を調整する位相調整回路を搭載している。従来の通信装置システムでは、位相調整回路を通信装置に搭載した状態で、位相調整回路の動作確認試験を行っていた。【０００３】
また、キャッシュチップにテスト論理を内蔵し、キャッシュチップの外部に設けたテスタからマイクロプログラムを読み込み、テスト論理が処理を行なうことによって機能テスト（動作確認試験）を行う半導体装置があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３２２３１号公報
【特許文献２】特開２００５−２８３５３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、従来は、位相調整回路を実装したシステム全体又は装置全体で動作確認試験を行っていた。【０００６】
このため、動作確認試験で動作不良があると判定された場合に、位相調整回路自体に動作不良の原因があるのか、位相調整回路以外の回路等に動作不良の原因があるのかを特定することが困難であった。【０００７】
また、位相調整回路を実装したシステム又は装置の動作確認試験における動作条件が限定されていて、位相調整回路の位相を調整できる範囲が限定されているような場合には、動作確認試験を行うことができない動作範囲が生じていた。このような場合には、位相調整回路を実装したシステム又は装置のすべての動作範囲を試験することができず、位相調整回路を実装したシステム又は装置の信頼性に問題が生じる可能性があった。【０００８】
そこで、位相調整回路の位相を調整可能な全範囲について動作確認試験が可能で、動作確認試験を容易かつ正確に行うことのできる動作確認試験方法、動作確認試験プログラム、及びクロック分配回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の実施の形態の動作確認試験方法は、第１差動信号又は第２差動信号の少なくとも一方の位相を調整して出力する位相調整回路と、前記位相調整回路から出力される前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか一方をクロック信号として用いて、前記クロック信号に同期して前記第１差動信号又は前記第２差動信号のいずれか他方をデータ信号として取得する差動ＤＦＦとを含むクロック分配回路の前記位相調整回路の動作確認試験をコンピュータが行う動作確認試験方法であって、前記コンピュータは、前記第１差動信号又は前記第２差動信号のうちの一方の信号の位相を、他方の信号の位相に対してシフトする第１位相シフト工程と、前記第１位相シフト工程において位相がシフトされた前記第１差動信号及び前記第２差動信号が入力される前記差動ＤＦＦのデータ信号を取得する第１データ取得工程と、前記第１差動信号と前記第２差動信号との位相差が前記第１差動信号及び前記第２差動信号の１周期分に達するまで前記第１位相シフト工程及び前記第１データ取得工程を繰り返し実行することによって得る複数のデータ信号の値と、前記複数のデータ信号の第１期待値と比較する第１比較工程とを実行する。
【発明の効果】
【００１０】
位相調整回路の位相を調整可能な全範囲について動作確認試験が可能で、動作確認試験を容易かつ正確に行うことのできる動作確認試験方法、動作確認試験プログラム、及びクロック分配回路を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態１のクロック分配回路が適用されるサーバを示すブロック図である。
【図２】実施の形態１のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【図３】実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００にＬＳＩテスタを接続した状態を示す図である。
【図４】ＤＦＦのクロック信号に対してデータ信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトした場合におけるＤＦＦの出力を示す図である。
【図５】実施の形態１のクロック分配回路の調整回路Ａ、Ｂの出力位相に対する出力データ信号ＤＦＦｑの値を示す図である。
【図６Ａ】実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される第１段階目の動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【図６Ｂ】実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される第２段階目の動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【図７】実施の形態１の変形例のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【図８】実施の形態２のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【図９】実施の形態２の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【図１０】実施の形態３のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の動作確認試験方法、動作確認試験プログラム、及びクロック分配回路を適用した実施の形態について説明する。
【００１３】
＜実施の形態１＞
図１は、実施の形態１のクロック分配回路が適用されるサーバを示すブロック図である。
【００１４】
サーバ１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit：中央演算処理装置）１０、キャッシュ２０、メモリコントローラ３０、主記憶装置４０、及び補助記憶装置５０を含む情報処理装置である。ＣＰＵ１０、キャッシュ２０、メモリコントローラ３０、主記憶装置４０、及び補助記憶装置５０は、例えば、専用のシステムバス６０で接続されている。なお、サーバ１は、複数のＣＰＵ１０を含んでもよい。
【００１５】
キャッシュ２０は、ＣＰＵ１０が演算処理を行う際に必要なデータを一時的に格納するメモリであり、例えば、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）で実現される。
【００１６】
メモリコントローラ３０は、ＣＰＵ１０の指令に基づき、メモリコントローラ３０と主記憶装置４０との間でデータの読み書きを行う際の制御を行う制御装置である。
【００１７】
なお、ＣＰＵ１０、キャッシュ２０、及びメモリコントローラ３０は、例えば、ＬＳＩ（Large Scale Integration：大規模集積回路）で実現される。
【００１８】
主記憶装置４０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory：ダイナミックランダムアクセスメモリ）やＲＯＭ（Read Only Memory：読み出し専用メモリ）であり、補助記憶装置５０は、例えば、ハードディスクである。
【００１９】
なお、サーバ１は、外部装置との通信を行うためのデータ入出力ポート等を含んでいてもよい。
【００２０】
実施の形態１のクロック分配回路は、例えば、サーバ１内のＣＰＵ１０又はメモリコントローラ３０に内蔵されるが、以下では、実施の形態１のクロック分配回路が高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に内蔵されており、実施の形態１のクロック分配回路を内蔵する高速シリアルＩ／Ｏ受信回路がＣＰＵ１０（図１参照）に含まれている形態について説明する。実施の形態１のクロック分配回路を内蔵する高速シリアルＩ／Ｏ受信回路については、図２を用いて説明する。
【００２１】
図２は、実施の形態１のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【００２２】
高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００は、クロック分配回路１１０、アンプ１２０、ＤＦＥ（Decision Feedback Equalizer）１３０、及び試験用ポート１４０Ａ、１４０Ｂを含む。クロック分配回路１１０は、位相調整回路１１１、差動型ＤＦＦ（差動型Ｄフリップフロップ）１１２を有する。ＤＦＦ１３０の出力側には、データ処理回路１５０が接続されている。
【００２３】
位相調整回路１１１は、２相×２出力型の位相調整回路であり、調整回路Ａと調整回路Ｂを含む。位相調整回路１１１には、ＣＰＵ１０内の発振器１１Ａから出力されるクロック信号がＰＬＬ（Phase-locked loop：位相同期回路）１１Ｂを経て４相のクロック信号として入力する。位相調整回路１１１は、伝送経路におけるクロック信号の位相の遅延分を調整回路Ａ、Ｂで調整して、クロック信号を出力する。
【００２４】
調整回路Ａと調整回路Ｂとは、それぞれ２相のクロック信号を出力する。調整回路Ａ、Ｂからそれぞれ出力される２相のクロック信号は、互いに１８０°位相の異なる（位相の反転した）差動クロック信号である。なお、位相調整回路１１１には、クロック分配回路の動作確認試験の際に用いる試験用ポート１４０Ａが信号線を介して接続されている。試験用ポート１４０Ａには、クロック分配回路１１０の動作確認試験の際に、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相をシフトさせるための位相シフト指令が入力される。
【００２５】
差動型ＤＦＦ１１２は、データ入力端ｄ、ｄｘ、クロック入力端ｃｋ、ｃｋｘ、及びデータ出力端ｑを有する。
【００２６】
データ入力端ｄ、ｄｘは、それぞれ、調整回路Ａの一対の出力端に接続されており、調整回路Ａから出力される差動クロック信号が入力する。図２の例では、データ入力端ｄには非反転のクロック信号が入力し、データ入力端ｄｘには反転クロック信号が入力する。
【００２７】
クロック入力端ｃｋ、ｃｋｘは、それぞれ、調整回路Ｂの一対の出力端に接続されており、調整回路Ｂから出力される差動クロック信号が入力する。図２の例では、クロック入力端ｃｋには非反転のクロック信号が入力し、クロック入力端ｃｋｘには反転クロック信号が入力する。
【００２８】
データ出力端ｑは、差動型ＤＦＦ１１２でストローブされた出力データ信号を出力する出力端である。
【００２９】
差動型ＤＦＦ１１２は、クロック入力端ｃｋ、ｃｋｘに入力する差動クロック信号をクロックとして用いて、データ入力端ｄ、ｄｘに入力する差動クロック信号をデータとしてストローブし、データ出力端ｑから出力データ信号として出力する。
【００３０】
図２には、差動型ＤＦＦ１１２のデータ入力端ｄ、ｄｘに調整回路Ａが接続され、クロック入力端ｃｋ、ｃｋｘに調整回路Ｂが接続される形態を示す。しかしながら、調整回路Ａ、Ｂの出力は、ともに差動クロック信号であるため、データ入力端ｄ、ｄｘに調整回路Ｂを接続し、クロック入力端ｃｋ、ｃｋｘに調整回路Ａを接続するように接続してもよい。すなわち、差動型ＤＦＦ１１２は、調整回路Ａ、Ｂから出力される差動クロック信号の一方をクロック信号として用い、他方をデータ信号として用いて、クロック信号に同期してデータ信号をストローブする。
【００３１】
実施の形態１では、調整回路Ａ、Ｂから出力される差動クロック信号をデータ信号、クロック信号としてそれぞれ用い、クロック信号に対するデータ信号の位相をシフトさせて動作確認試験を行うとともに、データ信号に対するクロック信号の位相をシフトさせて動作確認試験を行う。
【００３２】
差動型ＤＦＦ１１２は、動作確認試験の出力を生成するために用いる回路であるため、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑには、信号線を介して、試験用ポート１４０Ｂが接続されている。なお、動作確認試験については後述する。
【００３３】
アンプ１２０は、ＣＰＵ１０（図１参照）内の信号線に接続されている。アンプ１２０は、信号線を介して、例えば、整数演算用又は浮動小数点演算用のデータが入力する。
【００３４】
ＤＦＥ１３０は、Ｄ／Ｌ（Decision Latch）１３１、１３２を有する。Ｄ／Ｌ１３１、１３２には、アンプ１２０からデータが入力する。また、Ｄ／Ｌ１３１には位相調整回路１１１の調整回路Ａからの差動クロック信号が、Ｄ／Ｌ１３２には調整回路Ｂから差動クロック信号が入力する。Ｄ／Ｌ１３１、１３２はそれぞれ、調整回路Ａ、Ｂから入力する差動クロック信号を用いて、アンプ１２０から入力するデータをラッチし、後段のデータ処理回路１５０に伝送する。
【００３５】
データ処理回路１５０は、ＦＦ（Flip Flop）１５１、１５２、及び演算部１５３を有する。ＦＦ１５１の入力端はＤ／Ｌ１３１に、ＦＦ１５２の入力端はＤ／Ｌ１３２にそれぞれ接続され、各ＦＦ１５１、１５２の出力端は演算部１５３に接続されている。演算部１５３は、ＦＦ１５１、１５２によって保持されるデータに基づいて整数演算又は浮動小数点演算を行うことができればよく、例えば、論理回路であればよい。
【００３６】
試験用ポート１４０Ａ、１４０Ｂは、クロック分配回路１１０の位相調整回路１１１の動作確認試験を行う際に、ＬＳＩテスタを接続するためのポートである。試験用ポート１４０Ａには、ＬＳＩテスタから位相シフト指令が入力し、差動型ＤＦＦ１１２の出力端ｑから出力される出力データは、試験用ポート１４０Ｂを介してＬＳＩテスタによって読み取られる。
【００３７】
図３は、実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００にＬＳＩテスタを接続した状態を示す図である。
【００３８】
ＬＳＩテスタ１６０は、サーバ１（図１参照）の外部に存在する動作確認試験装置であり、試験用ポート１４０Ａ、１４０Ｂに接続される。ＬＳＩテスタ１６０は、試験用ポート１４０Ａを介して位相シフト指令を高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００に入力し、試験用ポート１４０Ｂを介して、差動型ＤＦＦ１１２の出力端ｑから出力される出力データを読み取る。ＬＳＩテスタ１６０は、読み取ったデータを期待値データと比較することにより、位相調整回路１１１の動作確認試験を行う。
【００３９】
なお、期待値データとは、位相調整回路１１１の動作が正常である場合に、差動型ＤＦＦ１１２の出力端ｑから出力されると期待される出力データである。
【００４０】
ＬＳＩテスタ１６０は、例えば、位相調整回路１１１の動作確認試験用のプログラムを実行可能な演算処理装置であればよく、例えば、コンピュータを用いることができる。
【００４１】
ＬＳＩテスタ１６０は、動作確認試験処理部１６１とメモリ１６２を含む。動作確認試験処理部１６１は、データ取得部１６１Ａ、位相シフト部１６１Ｂ、及び比較部１６１Ｃを含み、動作確認試験用のプログラムを実行することにより、動作確認試験の処理を行う。
【００４２】
データ取得部１６１Ａは、試験用ポート１４０Ｂを介して差動型ＤＦＦ１１２から出力される出力データを取得し、メモリ１６２に格納する。
【００４３】
位相シフト部１６１Ｂは、試験用ポート１４０Ａを介して位相調整回路１１１に位相シフト指令を入力する。これにより、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相がシフトされる。位相シフト部１６１Ｂは、調整回路Ａから出力されるクロック信号と調整回路Ｂとから出力されるクロック信号との位相差が各信号の１周期分に達するまで、所定の位相単位で両クロック信号の位相をシフトする位相シフト指令を、繰り返し位相調整回路１１１に入力する。
【００４４】
比較部１６１Ｃは、クロック分配回路１１０から出力された出力データ信号と、出力データの期待値とを比較する。位相シフト部１６１Ｂが所定位相単位での位相シフトを指示する位相シフト指令を繰り返し発するので、比較部１６１Ｃは、位相シフト指令が発せられる毎にクロック分配回路から出力される複数の出力データを取得し、出力データの複数の期待値と比較する。
【００４５】
なお、データ取得部１６１Ａ、位相シフト部１６１Ｂ、及び比較部１６１Ｃの処理は、ＬＳＩテスタ１６０として実行されるため、以下では、ＬＳＩテスタ１６０が各処理を行うものとして説明する。
【００４６】
メモリ１６２は、動作確認試験用のプログラムと、動作確認試験に際して取得するデータ等を格納する。
【００４７】
また、ＬＳＩテスタ１６０は、動作確認試験に際して、位相調整回路１１１に位相シフト指令を伝送するとともに、発振器１１Ａに発振指令を伝送する。
【００４８】
次に、実施の形態１のクロック分配回路１１０に含まれる位相調整回路１１１の動作確認試験について説明する。実施の形態１の動作確認試験は、第１段階と第２段階の２つの段階を含む。ここでは、まず、第１段階目の動作確認試験について説明する。
【００４９】
図４は、差動型ＤＦＦに入力するクロック信号に対して、差動型ＤＦＦ１１２に入力するデータ信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトした場合における、差動型ＤＦＦの出力データ信号を示す図である。
【００５０】
ここでは、一例として、クロック信号ＤＦＦｃｋは、差動型ＤＦＦ１１２（図３参照）のクロック入力端ｃｋに調整回路Ｂから入力するクロック信号であり、データ信号ＤＦＦｄは、差動型ＤＦＦ１１２のデータ入力端ｄに調整回路Ａから入力するデータ信号であるものとする。
【００５１】
図４は、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を固定し、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトした場合に得られる、差動型ＤＦＦの出力データ信号を示す。
【００５２】
なお、出力データ信号ＤＦＦｑは、差動型ＤＦＦ１１２（図３参照）の出力端ｑに出力される出力データ信号である。
【００５３】
第１段階目の動作確認試験のためのデータ信号の位相のシフトは、ＬＳＩテスタ１６０（図３参照）から位相調整回路１１１に入力する位相シフト指令によって行われる。また、クロック信号及びデータ信号の発振は、ＬＳＩテスタ１６０から位相調整回路１１１に入力する発振指令によって行われる。
【００５４】
また、ここでは、データ（data）が"０"であり、データバー（data bar）が"１"であるものとして説明する。
【００５５】
図４（Ａ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が０°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータ（data）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータ（data）となる。
【００５６】
図４（Ｂ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が４５°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータ（data）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータ（data）となる。
【００５７】
図４（Ｃ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が９０°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータ（data）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータ（data）となる。
【００５８】
図４（Ｄ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が１３５°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータバー（data bar）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータ（data）となる。
【００５９】
図４（Ｅ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が１８０°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータバー（data bar）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータバー（data bar）となる。
【００６０】
図４（Ｆ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が２２５°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータバー（data bar）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータバー（data bar）となる。
【００６１】
図４（Ｇ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が２７０°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータバー（data bar）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータバー（data bar）となる。
【００６２】
図４（Ｈ）に示すように、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄとの位相差が３１５°の場合は、クロック信号ＤＦＦｃｋの立ち上がりでストローブされるデータ信号ＤＦＦｄがデータバー（data bar）であるため、出力データ信号ＤＦＦｑはデータバー（data bar）となる。
【００６３】
以上のように、差動型ＤＦＦ１１２に入力するクロック信号の位相に対して差動型ＤＦＦ１１２に入力するデータ信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトさせると、８つの出力データ信号ＤＦＦｑの値は、"００００１１１１"となる。
【００６４】
ここで、８つの出力データ信号ＤＦＦｑに４つの"０"と４つの"１"とが含まれるのは、一周期（３６０°）のうちの１８０°ではデータ（data）"０"が差動型ＤＦＦ１１２でストローブされており、残りの１８０°ではデータバー（data bar）"１"が差動型ＤＦＦ１１２でストローブされているからである。また、"０"又は"１"が連続するのは、クロック信号とデータ信号との位相差が１８０°となるまでの間はデータ（data）"０"の状態が続き、残り１８０°の間はデータバー（data bar）"１" の状態が続くからである。
【００６５】
このため、１周期（３６０°）を８等分して、上述のようにクロック信号に対するデータ信号の位相を１／８周期分（４５°）ずつシフトさせながら動作確認試験を行うと、位相調整回路１１１が正常に動作していれば、"００００１１１１"という８つの出力データ信号ＤＦＦｑが得られることになる。
【００６６】
これに対して、例えば、差動型ＤＦＦ１１２から出力される８つの出力データ信号ＤＦＦｑが"０１００１１１１"である場合のように、"０"と"１"の数が異なる場合は、いずれかの出力データ信号ＤＦＦｑが動作不良によって生じたことが分かる。
【００６７】
８つの出力データ信号ＤＦＦｑの中でも"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる点は、動作不良領域を表す。例えば、図４に示すようにデータ信号の位相をシフトさせた場合に、８つの出力データ信号ＤＦＦｑが"０１００１１１１"であれば、ＤＦＦｑの左から２番目のデータ"１"に対応する、位相差を４５°とした場合の位相変調回路１１１の動作に異常があることが分かる。図４に示す動作例は、調整回路Ａからの出力信号の位相をシフトさせることによって得られる動作例であるため、８つの出力データ信号ＤＦＦｑが"０１００１１１１"であれば、調査回路Ａからの出力信号の位相を４５°進めた動作領域（あるいはその動作領域の付近）に不良があることが分かる。
【００６８】
従って、ＬＳＩテスタ１６０（図３参照）を高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００に接続して第１段階目の動作確認試験を行う際に、図４に示すように位相をシフトさせる場合は、ＬＳＩテスタ１６０で用いる期待値を"００００１１１１"に設定すればよい。そして、第１段階目の動作確認試験で得られる出力データ信号ＤＦＦｑと期待値をＬＳＩテスタ１６０で比較すれば、位相調整回路１１１の動作が正常であるか異常であるかを判定することができる。
【００６９】
ここでは、１周期（３６０°）を８等分する場合について説明するが、１周期の分割数は２以上であれば幾つであってもよい。１周期をｎ（ｎは２以上の整数）分割する場合は、クロック信号とデータ信号の位相差を１／ｎ周期分ずつシフトさせながら、ｎ個の出力データ信号ＤＦＦｑを得るように第１段階目の動作確認試験を行えばよい。
【００７０】
分割数ｎを偶数に設定する場合には、ｎ個の出力データ信号ＤＦＦｑの中に含まれる"０"と"１"の数が異なれば、動作不良領域があることが分かる。また、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所があれば、不連続的かつ突発的な出力データ信号ＤＦＦｑが生じた位相（あるいはその位相の前後）に位相調整回路１１１の動作不良領域があることが分かる。
【００７１】
また、分割数ｎを奇数に設定する場合には、ｎ個の出力データ信号ＤＦＦｑの中に含まれる"０"と"１"の数が１つ異なるが、その場合は、"０"と"１"の数の誤差を誤差「１」まで認めることとし、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所の有無で動作不良領域を把握すればよい。
【００７２】
分割数ｎの場合の期待値は、ｎ個の出力データ信号ＤＦＦｑに含まれるｎ個の"０"と"１"の個数の誤差を１個まで認め、かつ、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含まない値として設定すればよい。
【００７３】
なお、１周期をｎ分割する手法に限らず、クロック信号ＤＦＦｃｋ又はデータ信号ＤＦＦｄの位相を所定の位相差分だけシフトさせながら、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄの位相差が１周期分に達するまで、複数の出力データ信号ＤＦＦｑを得るように第１段階目の動作確認試験を行えばよい。例えば、クロック信号ＤＦＦｃｋ又はデータ信号ＤＦＦｄのいずれかの位相を３０°ずつシフトさせながら差動型ＤＦＦにデータ信号とクロック信号とを供給してＤＦＦｑを取得し、クロック信号ＤＦＦｃｋとデータ信号ＤＦＦｄの位相差が１周期分（３６０°）に達するまで、複数の出力データ信号ＤＦＦｑを得るように第１段階目の動作確認試験を行えばよい。
【００７４】
この場合の期待値は、複数の出力データ信号ＤＦＦｑに含まれるｎ個の"０"と"１"の個数の誤差を１個まで認め、かつ、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含まない値として設定すればよい。
【００７５】
以上では、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を固定し、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトした場合に得られる、差動型ＤＦＦの出力データ信号について説明した。
【００７６】
図４に示した例で得られる８つの出力データ信号は"００００１１１１"であり、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を１３５°にした場合と、１８０°にした場合との間に、出力データ信号が"０"から"１"に変化する点があることが分かる。
【００７７】
ところで、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を段階的にシフトする単位を４５°に設定したのは、説明の便宜上の理由によるものであり、一般的には、実際に位相をシフトさせる単位は、より小さな値に設定される。
【００７８】
例えば、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を固定し、１周期分（３６０°）を７２等分して調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を段階的にシフトする単位を５°に設定したとすると、７２個の出力データ信号が得られることになる。
【００７９】
ここで、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を５°ずつ段階的にシフトした場合に、クロック信号の位相が０°から１６５°の間で３４個の"０"が連続し、クロック信号の位相が１７０°から３４５°の間で３６個の"１"が連続し、クロック信号の位相が３５０°から３５５°の間で２個の"０"が連続する７２個の出力データ信号が得られたとする。
【００８０】
この７２個の出力データ信号からは、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を１６５°にした場合と、１７０°にした場合との間に、出力データ信号が"０"から"１"に変化する点があることが分かる。
【００８１】
このように、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を段階的にシフトする単位を小さくすれば、出力データ信号が"０"から"１"に変化する点を、より狭い範囲で把握することができる。
【００８２】
実施の形態１のクロック分配回路１１０に含まれる位相調整回路１１１の動作確認試験では、上述のように第１段階目で出力データ信号が"０"から"１"に変化する位相の範囲を把握した後に、さらに、以下で図５を用いて原理を説明する第２段階目の動作確認試験を実行する。
【００８３】
以下、第２段階目の動作確認試験の原理を説明するにあたり、出力データ信号が"０"から"１"に変化する点は、一例として、調整回路Ａから出力するクロック信号と、調整回路Ｂから出力するクロック信号との位相差が１６８°の動作点で得られることとする。
【００８４】
この１６８°という値を上述の７２個の出力データ信号から把握することはできないが、以下で説明する第２段階目の動作確認試験により、実施の形態１のクロック分配回路１１０に含まれる位相調整回路１１１の動作確認試験を、より高精度に実施することができる。
【００８５】
図５は、実施の形態１のクロック分配回路の調整回路Ａ、Ｂの出力位相に対する出力データ信号ＤＦＦｑの値を示す図である。
【００８６】
図５に示す出力データ信号ＤＦＦｑの値は、一例として、上述のように、調整回路Ａから出力するクロック信号と、調整回路Ｂから出力するクロック信号との位相差が１６８°であるときに出力データ信号が"０"から"１"に変化する動作例で得られる出力データ信号ＤＦＦｑの値である。図５に示すように、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相との関係に応じて、ＤＦＦｑが"１"となる領域と、ＤＦＦｑが"０"となる領域に分けられる。
【００８７】
このように、調整回路Ａから出力するクロック信号と、調整回路Ｂから出力するクロック信号との位相差が１６８°であるときに出力データ信号が"０"から"１"に変化する場合において、位相差１６８°は、出力データ信号が"０"から"１"に変化する変化点が現れる位相差である。
【００８８】
図５において、横軸（以下「横軸Ａ」または「軸Ａ」と称する）は調整回路Ａから出力する信号の位相のシフト量を、縦軸（以下「縦軸Ｂ」または「軸Ｂ」と称する）は調整回路Ｂから出力する信号の位相のシフト量を、それぞれ示す。図５に示す領域は、横軸Ａ（Ａ＝０°〜３６０°）と縦軸Ｂ（Ｂ＝０°〜３６０°）で表されるものとする。
【００８９】
調整回路Ａ、Ｂのそれぞれの位相を０°〜３６０°までシフトさせた場合における出力データ信号ＤＦＦｑの値は、図５に示すように、データ（data）"０"又はデータバー（data bar）"１"が得られる領域に分けられる。
【００９０】
図５に示すように、出力データ信号が"０"から"１"に変化する変化点が現れる位相差が１６８°である動作例において、出力データ信号ＤＦＦｑの値"０"の領域と"１"の領域との境界は、以下の（１Ａ）（１Ｂ）（２Ａ）（２Ｂ）式で表される。なお、図５中に示す括弧書きの数字（（１Ａ）〜（２Ｂ））は、（１Ａ）〜（２Ｂ）式で表される直線を示す。
【００９１】
Ｂ＝Ａ−３４８°  ・・・（１Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：３４８°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ＋１２°    ・・・（１Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：０°〜３４８°）
Ｂ＝Ａ−１６８°  ・・・（２Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：１６８°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ＋１９２°  ・・・（２Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：０°〜１６８°）
データ（data）"０"が得られる領域は、直線（１Ａ）よりも下の領域、直線（２Ａ）と直線（１Ｂ）の間の領域、及び直線（２Ｂ）よりも上の領域である。
【００９２】
また、データバー（data bar）"１"が得られる領域は、直線（１Ａ）と直線（２Ａ）の間の領域、及び直線（１Ｂ）と直線（２Ｂ）の間の領域である。
【００９３】
なお、調整回路Ａ、Ｂから出力するクロック信号の位相は、０°〜３６０°の値を取り得るため、（１Ａ）式と（１Ｂ）式によって表される直線（１Ａ）と直線（１Ｂ）は一続きの領域の境界を表す。（１Ａ）式と（１Ｂ）式を区別しない場合には、（１）式と称し、直線（１Ａ）と直線（１Ｂ）を区別しない場合には、直線（１）と称す。
【００９４】
同様に、（２Ａ）式と（２Ｂ）式によって表される直線（２Ａ）と直線（２Ｂ）は一続きの領域の境界を表す。（２Ａ）式と（２Ｂ）式を区別しない場合には、（２）式と称し、直線（２Ａ）と直線（２Ｂ）を区別しない場合には、直線（２）と称す。
【００９５】
また、直線（１Ａ）〜（２Ｂ）上の出力値については、直線（１Ａ）（１Ｂ）上では"１"、直線（２Ａ）（２Ｂ）上では"０"とする。
【００９６】
また、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を固定し、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を４５°ずつ段階的にシフトした場合に得られる８つの出力データ信号ＤＦＦｑは、Ａ軸上で与えられることになる。８つの出力データ信号ＤＦＦｑは、それぞれ、Ａ−Ｂ座標において、（Ａ，Ｂ）＝（０°，０°）、（４５°，０°）、（９０°，０°）、（１３５°，０°）、（１８０°，０°）、（２２５°，０°）、（２７０°，０°）、（３１５°，０°）の８点で与えられる。
【００９７】
ここで、図５の動作例は、出力データ信号が"０"から"１"に変化する変化点が現れる位相差（調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相との位相差）が１６８°である動作例である。
【００９８】
出力データ信号が"０"から"１"に変化する変化点が現れる位相差（調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相との位相差）をα°とすると、（１Ａ）〜（２Ｂ）式は、一般式として次の（３Ａ）〜（４Ｂ）式のように表すことができる。なお、位相差αは、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相に対して、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相が進む分を正の値で示す。
【００９９】
Ｂ＝Ａ−（１８０＋α）°  ・・（３Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：（α＋１８０）°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ＋（１８０−α）°  ・・（３Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：（０°〜（α＋１８０）°）
Ｂ＝Ａ−α°              ・・（４Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：α°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ＋（３６０−α）°  ・・（４Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：０°〜α°）
このように、出力データ信号が"０"から"１"に変化する変化点が現れる位相差をα°で表す場合には、出力データ信号ＤＦＦｑの値"０"の領域と"１"の領域との境界は、上述の（３Ａ）〜（４Ｂ）式で表すことができる。
【０１００】
ここで、上述のように、出力データ信号の変化点が現れる位相差αを出力データ信号から把握することはできないが、複数の出力データ信号を得る際に、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相との位相差を小さくしていけば、出力データ信号の変化点が現れる位相差αを、ある範囲に絞ることができる。すなわち、出力データ信号の変化点が現れる位相差αを２つの値で挟むことができる。この２つの値は、出力データ信号の変化点が現れる位相差αの前後の近傍に位置する近傍値である。
【０１０１】
これは、上述のように、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を５°ずつシフトして７２個の出力データ信号を得た場合に、実際には把握できない出力データ信号の変化点が現れる位相差（１６８°）が、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を１６５°にした場合と、１７０°にした場合との間にあることが分かる場合に相当する。すなわち、この動作例では、出力データ信号の変化点が現れる位相差αは１６８°であり、２つの近傍値は、１６５°と１７０°である。
【０１０２】
実施の形態１では、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相との位相差を出力データ信号の変化点が現れる位相差の近傍値に固定し、調整回路Ａ、Ｂから出力するクロック信号の位相を同時に０°〜３６０°の範囲でシフトさせることにより、第２段階目の動作確認試験を行う。上述のように、近傍値は２つあるため、両方の近傍値について動作確認を行うことができる。
【０１０３】
ここで、図５に示す動作例を用いて具体的に説明する。例えば、図５において、調整回路Ａと調整回路Ｂの位相差を一方の近傍値である１６５°に設定して第２段階目の動作確認試験を行うとともに、調整回路Ａと調整回路Ｂの位相差を他方の近傍値である１７０°に設定して第２段階目の動作確認試験を行う。
【０１０４】
すなわち、以下の（５Ａ）（５Ｂ）式を満たすように、調整回路Ａの出力位相と調整回路Ｂの出力位相とをシフトさせて一方の近傍値について第２段階目の動作確認試験を行い、次に、（６Ａ）（６Ｂ）式を満たすように、調整回路Ａの出力位相と調整回路Ｂの出力位相とをシフトさせて他方の近傍値について第２段階目の動作確認試験を行う。なお、図５中に、式（５Ａ）（５Ｂ）（６Ａ）（６Ｂ）で表される直線（５Ａ）（５Ｂ）（６Ａ）（６Ｂ）を示す。
【０１０５】
Ｂ＝Ａ−１６５°    ・・・（５Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：１６５°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ−１６５°    ・・・（５Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：０°〜１６５°）
Ｂ＝Ａ−１７０°    ・・・（６Ａ）  （調整回路Ａの出力位相：１７０°〜３６０°）
Ｂ＝Ａ−１７０°    ・・・（６Ｂ）  （調整回路Ａの出力位相：０°〜１７０°）
なお、以下では、（５Ａ）式と（５Ｂ）式を区別しない場合には（５）式と称し、直線（５Ａ）と直線（５Ｂ）を区別しない場合には直線（５）と称す。同様に、（６Ａ）式と（６Ｂ）式を区別しない場合には（６）式と称し、直線（６Ａ）と直線（６Ｂ）を区別しない場合には直線（６）と称す。
【０１０６】
（５Ａ）式で表される直線（５Ａ）は、（２Ａ）式で表される直線（２Ａ）よりもＢ軸の正方向において３°高い位置に存在しており、出力データ信号ＤＦＦｑの値が"０"となる領域内に存在する。同様に、（５Ｂ）式で表される直線（５Ｂ）は、（２Ｂ）式で表される直線（２Ｂ）よりもＢ軸の正方向において３°高い位置に存在しており、出力データ信号ＤＦＦｑの値が"０"となる領域内に存在する。
【０１０７】
このため、（５）式を満たすように調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相差を固定して、調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相を同時にシフトさせて得る出力データ信号ＤＦＦｑの値を確認すれば、直線（２）の近傍に位置する直線（５）上の出力データ信号ＤＦＦｑを確認できる。このため、位相調整回路１１１の動作確認試験を、より高精度に行うことができる。
【０１０８】
直線（５）は出力データ信号ＤＦＦｑの値が"０"の領域内に存在するため、位相調整回路１１１が正常に動作すれば、出力データ信号ＤＦＦｑの値は常に"０"となる。
【０１０９】
従って、出力データ信号ＤＦＦｑの値に１つでも"１"が含まれる場合は、位相調整回路１１１に動作不良領域が存在することになる。
【０１１０】
また、同様に、（６Ａ）式で表される直線（６Ａ）は、（２Ａ）式で表される直線（２Ａ）よりもＢ軸の負方向において２°低い位置に存在しており、出力データ信号ＤＦＦｑの値が"１"となる領域内に存在する。同様に、（６Ｂ）式で表される直線（６Ｂ）は、（２Ｂ）式で表される直線（２Ｂ）よりもＢ軸の負方向において２°低い位置に存在しており、出力データ信号ＤＦＦｑの値が"１"となる領域内に存在する。
【０１１１】
このため、（６）式を満たすように調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相差を固定して、調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相を同時にシフトさせて得る出力データ信号ＤＦＦｑの値を確認すれば、直線（２）の近傍に位置する直線（６）上の出力データ信号ＤＦＦｑを確認できる。このため、位相調整回路１１１の動作確認試験をより高精度に行うことができる。
【０１１２】
直線（６）は出力データ信号ＤＦＦｑの値が"１"の領域内に存在するため、位相調整回路１１１が正常に動作すれば、出力データ信号ＤＦＦｑの値は常に"１"となる。
【０１１３】
従って、出力データ信号ＤＦＦｑの値に１つでも"０"が含まれる場合は、位相調整回路１１１に動作不良領域が存在することになる。
【０１１４】
以上、調整回路Ａと調整回路Ｂの位相差を変化点の位相差（１６８°）の２つの近傍値である１６５°と１７０°に設定して第２段階目の動作確認試験を行う形態について説明したが、第２段階目の動作確認試験は、いずれか一方の近傍値についてのみ行ってもよい。
【０１１５】
また、図５では、調整回路Ａと調整回路Ｂの位相差を変化点の位相差αが１６８°の場合に、調整回路Ａ、Ｂから出力されるクロック信号の位相差を近傍値である１６５°と１７０°に固定して第２段階目の動作確認試験を行う形態について説明した。しかしながら、調整回路Ａと調整回路Ｂの位相差を変化点の位相差の一般値であるα（０°〜３６０°）に対する近傍値に固定することにより、任意の位相差αに対して第２段階目の動作確認試験を実行することができる。
【０１１６】
なお、以上では、直線（２）の近傍に位置する直線（５）、（６）を用いた第２段階目の動作確認試験の原理について説明したが、差動型ＤＦＦ１１２の出力データ信号ＤＦＦｑは、直線（１）にも出力値の境界を有する。直線（１）は、直線（２）とは横軸Ａ方向又は縦軸Ｂ方向に１８０°異なる位置に存在する直線である。このため、直線（２）の代わりに直線（１）について第２段階目の動作確認試験を行ってもよいし、直線（２）と直線（１）の両方について第２段階目の動作確認試験を行ってもよい。
【０１１７】
図６Ａは、実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される第１段階目の動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【０１１８】
ここでは、図４をより一般化して７２個の出力データ信号を得た場合と同様に、１周期（３６０°）を７２等分して、差動型ＤＦＦ１１２に入力するクロック信号に対して差動型ＤＦＦ１１２に入力するデータ信号の位相を５°ずつ段階的にシフトさせて差動型ＤＦＦに供給し、差動型ＤＦＦ１１２の出力データ信号ＤＦＦｑを得る場合について説明する。
【０１１９】
ＬＳＩテスタ１６０は、まず、調整回路Ｂから出力する信号の位相を固定し、調整回路Ａから出力する信号位相を５°単位でシフトさせることにより、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑから出力される出力データ信号に基づいて第１段階目の動作確認試験を行う。すなわち、調整回路Ａから差動型ＤＦＦ１１２にデータ（ｄ、ｄｘ）として入力する差動クロック信号の位相をシフトさせることによって第１段階目の動作確認試験を行う。これにより、調整回路Ａの動作を確認することができる。
【０１２０】
そして、次に、調整回路Ａから出力する信号の位相を固定し、調整回路Ｂから出力する信号の位相を５°単位でシフトさせることにより、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑから出力される出力データ信号に基づいて第１段階目の動作確認試験を行う。すなわち、調整回路Ｂから差動型ＤＦＦ１１２にクロック（ｃｋ、ｃｋｘ）として入力する差動クロック信号の位相をシフトさせることによって第１段階目の動作確認試験を行う。これにより、調整回路Ｂの動作を確認することができる。
【０１２１】
第１段階目の動作確認試験の処理手順は、具体的には、次の通りである。
【０１２２】
ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａ、Ｂから出力する信号の位相差を初期値（０°）に設定する（ステップＳ１）。なお、このとき調整回路Ａ、Ｂの位相差は０°であるため、ＬＳＩテスタ１６０から位相調整回路１１１に伝送される位相シフト指令は０°を表す。
【０１２３】
次いで、ＬＳＩテスタ１６０は、発振器１１Ａにクロック信号を出力させるべく、発振指令を発振器１１Ａに伝送する（ステップＳ２）。これにより、発振器１１Ａからクロック信号が出力され、ＰＬＬ１１Ｂを介して位相調整回路１１１に４相のクロック信号が入力する。位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂからは、差動クロック信号同士の位相差が０°の４相のクロック信号が出力され、それぞれ差動型ＤＦＦ１１２のクロック入力端ｃｋ、ｃｋｘ、データ入力端ｄ、ｄｘに入力する。そして、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑから出力データ信号が出力される。調整回路Ａ、Ｂの位相差が０°の場合の出力データ信号は、図４（Ａ）に示す通り、通常時にはデータ（data）"０"となる。
【０１２４】
ＬＳＩテスタ１６０は、差動型ＤＦＦ１１２からの出力データ信号の値をメモリ１６２に格納する（ステップＳ３）。
【０１２５】
ＬＳＩテスタ１６０は、予め定められたすべての位相差についての動作確認試験が完了したか否かを判定する（ステップＳ４）。具体的には、ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を５°単位でシフトさせることにより、１周期（３６０°）を７２等分したすべての位相差（０°から５°刻みで３５５°まで）についての動作確認試験を行ったか否かを判定する。
【０１２６】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ４ですべての位相差についての動作確認試験を行っていないと判定した場合（Ｓ４  ＮＯ）は、フローをステップＳ５に進行させ、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を５°進める（ステップＳ５）。すなわち、差動型ＤＦＦ１１２に入力するクロック信号（ｃｋ、ｃｋｘ）に対して、データ信号（ｄ、ｄｘ）の位相が５°進められる。
【０１２７】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ５の処理が終了すると、フローをステップＳ２にリターンする。これにより、すべての位相差について動作確認試験が終了するまで、ステップＳ２からＳ４の処理が繰り返し実行されることになる。調整回路Ａから出力するクロック信号の位相が３５５°進められた状態までステップＳ２〜Ｓ４が繰り返されると、ＬＳＩテスタ１６０のメモリ１６２には、７２個の出力データ信号を表すデータが格納される。
【０１２８】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ４ですべての位相差について動作確認試験が終了したと判定すると（Ｓ４  ＹＥＳ）、７２個の出力データ信号を表すデータを期待値と比較する（ステップＳ６）。
【０１２９】
出力データ信号ＤＦＦｑが３６個の"０"と３６個の"１"を含み、かつ、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含まなければ、７２個の出力データ信号ＤＦＦｑは期待値と同一であると判定され、動作確認試験は合格となる。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は、少なくとも調整回路Ａについては良品と判定される。
【０１３０】
一方、出力データ信号ＤＦＦｑが含む"０"と"１"の数が異なる場合、又は、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含む場合は、動作確認試験は不合格となる。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は不良品と判定される。
【０１３１】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ６で出力データ信号の値と期待値とが一致、言い換えると動作確認試験が合格と判定した場合は、調整回路Ｂの動作確認試験を行うべく、ステップＳ７以下の処理を実行する。ステップＳ７〜Ｓ１２の処理は、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を５°ずつ進めること以外は、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相を５°ずつ進めながら動作確認試験を行うステップＳ１〜Ｓ６の処理と同一である。
【０１３２】
ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａ、Ｂの各々からの信号の位相差を初期値（０°）に設定する（ステップＳ７）。なお、このとき調整回路Ａ、Ｂの出力位相の位相差は０°であるため、ＬＳＩテスタ１６０から位相調整回路１１１に伝送される位相シフト指令は０°を表す。
【０１３３】
次いで、ＬＳＩテスタ１６０は、発振器１１Ａにクロック信号を出力させるべく、発振指令を発振器１１Ａに伝送する（ステップＳ８）。これにより、発振器１１Ａからクロック信号が出力され、ＰＬＬ１１Ｂを介して位相調整回路１１１に４相のクロック信号が入力する。位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂからは、差動クロック信号同士の位相差が０°の４相のクロック信号が出力され、差動型ＤＦＦ１１２のクロック入力端ｃｋ、ｃｋｘ、データ入力端ｄ、ｄｘにそれぞれ入力する。そして、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑから出力データ信号が出力される。調整回路Ａ、Ｂの位相差が０°の場合の出力データ信号は、データ（data）"０"となる。
【０１３４】
ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号の値をメモリ１６２に格納する（ステップＳ９）。
【０１３５】
ＬＳＩテスタ１６０は、予め定められたすべての位相差について動作確認試験を行ったか否かを判定する（ステップＳ１０）。具体的には、ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ｂのから出力するクロック信号の位相をシフトさせることにより、１周期（３６０°）を７２等分したすべての位相差（０°から５°刻みで３５５°まで）についての動作確認試験を行ったか否かを判定する。
【０１３６】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０ですべての位相差についての動作確認試験を行っていないと判定した場合は、フローをステップＳ１１に進行させ、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相を５°進める（ステップＳ１１）。すなわち、差動型ＤＦＦ１１２に入力されるデータ信号（ｄ、ｄｘ）に対して、クロック信号（ｃｋ、ｃｋｘ）の位相が５°進められる。
【０１３７】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１１の処理が終了すると、フローをステップＳ８にリターンする。これにより、すべての位相差について動作確認試験が終了するまで、ステップＳ８からＳ１０の処理が繰り返し実行されることになる。調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相が３５５°進められた状態までステップＳ８〜Ｓ１０が繰り返されると、ＬＳＩテスタ１６０のメモリ１６２には、７２個の出力データ信号を表すデータが格納される。
【０１３８】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０ですべての位相差について動作確認試験が終了したと判定すると、７２個の出力データ信号を表すデータを期待値と比較する（ステップＳ１２）。
【０１３９】
出力データ信号ＤＦＦｑが３６個の"０"と３６個の"１"を含み、かつ、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含まなければ、７２個の出力データ信号ＤＦＦｑは期待値と同一であると判定され、動作確認試験は合格となる。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は、調整回路Ａ、Ｂの両方について良品と判定される。
【０１４０】
一方、出力データ信号ＤＦＦｑが含む"０"と"１"の数が異なる場合、又は、"０"又は"１"が不連続的かつ突発的に生じる箇所を含む場合は、動作確認試験は不合格となる。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は不良品と判定される。
【０１４１】
以上により、調整回路Ａ、Ｂの第１段階目の動作確認試験が終了する。
【０１４２】
図６Ａを用いて説明したように、調整回路Ａ、Ｂから出力する信号の位相を別々にシフトさせながら位相調整回路１１１の動作確認試験を行うことにより、調整回路Ａ、Ｂの動作確認を容易かつ正確に行うことができる。
【０１４３】
差動型ＤＦＦ１１２の出力データ信号は、２相２出力型の位相調整回路１１１の差動出力を直接的にクロック信号及びデータ信号として用いることによって得られているので、位相調整回路１１１の動作の良否を正確に把握することができる。
【０１４４】
また、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂの各々から出力される差動出力を差動型ＤＦＦ１１２のクロック信号（ｃｋ、ｃｋｘ）及びデータ信号（ｄ、ｄｘ）として用いて出力データ信号を得ているので、メタステーブルのような不安定な出力が極めて生じにくく、安定した出力を得ることができる。
【０１４５】
また、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂの出力位相をＬＳＩテスタ１６０で直接シフトさせながら動作確認試験を行っているので、位相調整回路１１１の出力位相を調整可能な全範囲について動作確認試験を行うことができる。
【０１４６】
なお、以上では、ステップＳ５とステップＳ１１でシフトさせる位相差分がそれぞれ５°で等しい場合について説明したが、ステップＳ５でシフトさせる位相差分とステップＳ１１でシフトさせる位相差分とは異なっていてもよい。
【０１４７】
図６Ａに示す第１段階目の動作確認試験で良品と判定された位相調整回路１１１については、以下で説明する、より高精度な第２段階目の動作確認試験を行うことができる。
【０１４８】
次に、図６Ｂを用いて第２段階目の動作確認試験の処理手順について説明する。
【０１４９】
図６Ｂは、実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される第２段階目の動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【０１５０】
ここでは、一例として、図５に示す動作例と同一条件の場合について説明を行う。また、第２段階目の動作確認試験では、調整回路Ａ、Ｂから出力するクロック信号の位相を５°ずつ変化させるものとする。
【０１５１】
ＬＳＩテスタ１６０は、第２段階目の動作確認試験を開始すると、調整回路Ａ、Ｂの出力位相を初期値に設定する（ステップＳ１３）。ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１３の処理を図６Ａに示すステップＳ１２に続く処理として実行する。
【０１５２】
ここで、第２段階目の動作確認試験において、調整回路Ａ、Ｂの出力位相の初期値は、調整回路Ａ、Ｂの出力位相の位相差を出力データ信号の変化点が現れる位相差の近傍値に固定して、調整回路Ａ、Ｂのいずれか一方の出力位相を０°にすることによって与えられる。
【０１５３】
ＬＳＩテスタ１６０は、まず、２つの近傍値の一方を用い、調整回路Ａの出力位相を１６５°、調整回路の出力位相を０°に設定する。なお、このときＬＳＩテスタ１６０から位相調整回路１１１に伝送される位相シフト指令は１６５°を表す。
【０１５４】
これにより、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相は１６５°に設定され、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相は０°に設定される。すなわち、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相は、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相に対して１６５°進んだ位相に設定される。この状態は、図５に示す直線（５）とＡ軸の交点に相当する。
【０１５５】
次いで、ＬＳＩテスタ１６０は、発振器１１Ａにクロック信号を出力させるべく、発振指令を発振器１１Ａに伝送する（ステップＳ１４）。これにより、発振器１１Ａからクロック信号が出力され、ＰＬＬ１１Ｂを介して位相調整回路１１１に４相のクロック信号が入力する。位相調整回路１１１からは、調整回路Ａ、Ｂの各々から出力される差動クロック信号同士の位相差が０°の４相のクロック信号が出力され、各クロック信号はそれぞれ差動型ＤＦＦ１１２のクロック入力端ｃｋ、ｃｋｘ、データ入力端ｄ、ｄｘに入力する。そして、差動型ＤＦＦ１１２のデータ出力端ｑから出力データ信号が出力される。Ｓ１３で位相の初期値を設定した状態では、位相調整回路１１１の動作が正常であれば、出力データ信号ＤＦＦｑの値は"０"となる。これは、直線（５）が出力データ信号ＤＦＦｑの値が"０"の領域内に存在するからである。
【０１５６】
ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号のデータをメモリ１６２に格納する（ステップＳ１５）。
【０１５７】
ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａ、Ｂの全動作範囲についての動作確認試験が完了したか否かを判定する（ステップＳ１６）。具体的には、ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａ、Ｂの出力位相を５°刻みで順次シフトさせることにより、１周期（３６０°）分の動作確認試験を行ったか否かを判定する。
【０１５８】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１６で全動作範囲についての動作確認試験が完了していないと判定した場合は、フローをステップＳ１７に進行させ、調整回路Ａ、Ｂの出力位相をともに５°進める（ステップＳ１７）。すなわち、調整回路Ａ、Ｂの出力位相が図５に示す直線（５）に沿って、５°進められる。
【０１５９】
なお、ここでは、ステップＳ１７で進める位相の値（５°）は、ステップＳ５又はＳ１１でシフトする位相差の値（５°）と同一の値に設定されているが、ステップＳ１７で進める位相の値は、ステップＳ５又はＳ１１でシフトする位相差の値と異なる値であってもよい。
【０１６０】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１７の処理が終了すると、フローをステップＳ１４にリターンする。これにより、調整回路Ａ、Ｂの全動作範囲についての動作確認試験が完了するまで、ステップＳ１４からＳ１７の処理が繰り返し実行されることになる。調整回路Ａ、Ｂの出力位相が１周期分に到達するまで進められると、ＬＳＩテスタ１６０のメモリ１６２には、７２個の出力データ信号を表すデータが格納される。これは、図５に示す直線（５）に沿って、調整回路Ａ、Ｂの出力位相を５°ずつ進めながら、出力データ信号を取得した場合に相当する。
【０１６１】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１６で全動作範囲についての動作確認試験が完了したと判定すると、すべての出力データ信号を表す７２個のデータを期待値と比較する（ステップＳ１８）。ここで、図５の直線（５）に沿った場合、期待値は、すべての位相に対して"０"である。
【０１６２】
ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号ＤＦＦｑがすべて"０"であれば、２つの近傍値の一方（ここでは１６５°）についての第２段階目の動作確認試験は合格と判定する（Ｓ１８  ＹＥＳ）。
【０１６３】
一方、ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号ＤＦＦｑが一つでも"１"を含む場合は、動作確認試験は不合格と判定する（Ｓ１８  ＮＯ）。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は不良品と判定される。
【０１６４】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１８において第２段階目の動作確認試験は合格と判定した場合は、２つの近傍値の両方についての第２段階目の動作確認試験が終了したか否かを判定する（ステップＳ１９）。
【０１６５】
ＬＳＩテスタ１６０は、２つの近傍値の両方についての第２段階目の動作確認試験が終了していないと判定した場合は、他方の近傍値（ここでは、１７０°）についての第２段階目の動作確認試験を行うべく、フローをステップＳ１３にリターンする。
【０１６６】
フローをステップＳ１３にリターンすると、ＬＳＩテスタ１６０は、調整回路Ａ、Ｂの出力位相を初期値に設定するために、２つの近傍値の他方を用い、調整回路Ａの出力位相を１７０°、調整回路の出力位相を０°に設定する。なお、このときＬＳＩテスタ１６０から位相調整回路１１１に伝送される位相シフト指令は１７０°を表す。
【０１６７】
これにより、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相は１７０°に設定され、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相は０°に設定される。すなわち、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相は、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相に対して１７０°進んだ位相に設定される。この状態は、図５に示す直線（６）とＡ軸の交点に相当する。
【０１６８】
以下、ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１４乃至Ｓ１７を実行し、調整回路Ａから出力するクロック信号の位相と、調整回路Ｂから出力するクロック信号の位相との位相差を１７０°に固定して、７２個の出力データ信号を取得する。
【０１６９】
そして、ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１８において、すべての出力データ信号を表す７２個のデータを期待値と比較する（ステップＳ１８）。ここで、図５の直線（６）に沿った場合、期待値は、すべての位相に対して"１"である。
【０１７０】
ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号ＤＦＦｑがすべて"１"であれば、２つの近傍値の他方（ここでは１７０°）についての第２段階目の動作確認試験は合格と判定する（Ｓ１８  ＹＥＳ）。
【０１７１】
一方、ＬＳＩテスタ１６０は、出力データ信号ＤＦＦｑに一つでも"１"が含まれる場合は、動作確認試験は不合格と判定する（Ｓ１８  ＮＯ）。すなわち、その位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は不良品と判定される。
【０１７２】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１８において２つの近傍値の他方についても第２段階目の動作確認試験は合格と判定した場合は、ステップＳ１９において、２つの近傍値の両方についての第２段階目の動作確認試験が終了したと判定する（Ｓ１９  ＹＥＳ）。
【０１７３】
この結果、位相調整回路１１１を含むクロック分配回路１１０は良品と判定される。
【０１７４】
以上、第１段階目の動作確認試験で良品と判定された位相調整回路１１１について、調整回路Ａ、Ｂの出力位相の位相差を出力データ信号の変化点が現れる位相差の近傍値に固定して第２段階目の動作確認試験を行うことにより、調整回路Ａ、Ｂの動作確認を容易かつ正確に行うことができる。
【０１７５】
また、上述のような第１段階及び第２段階を含む動作確認試験を行う際に、差動型ＤＦＦ１１２の出力データ信号は、２相２出力型の位相調整回路１１１の差動出力をクロック信号及びデータ信号として用いることによって得られるので、位相調整回路１１１の動作の良否を容易かつ正確に判定することができる。
【０１７６】
また、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂの各々から出力される差動出力を差動型ＤＦＦ１１２のクロック信号（ｃｋ、ｃｋｘ）及びデータ信号（ｄ、ｄｘ）として用いて出力データ信号を得ているので、メタステーブルのような不安定な出力が極めて生じにくく、安定した出力を得ることができる。
【０１７７】
また、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂの出力位相をＬＳＩテスタ１６０で直接シフトさせながら動作確認試験を行っているので、位相調整回路１１１の出力位相を調整可能な全範囲について動作確認試験を行うことができる。
【０１７８】
なお、図６Ｂに示す第２段階目の動作確認試験の説明では、調整回路Ａ、Ｂの出力位相を５°ずつ進めながら差動型ＤＦＦ１１２の出力データ信号を得る方法について説明したが、調整回路Ａ、Ｂの出力位相は、さらに細かい刻み（例えば、１°あるいはそれ以下）で進めるようにしてもよい。このように、より細かい刻みで調整回路Ａ、Ｂの出力位相を進めながら出力データ信号を得る場合は、より高精度な動作確認試験を行うことができる。
【０１７９】
以上では、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂからそれぞれ出力される差動出力をクロック信号（ｃｋ、ｃｋｘ）及びデータ信号（ｄ、ｄｘ）として用いる差動型ＤＦＦ１１２を含む、実施の形態１のクロック分配回路１１０の動作確認試験について説明を行った。
【０１８０】
差動型ＤＦＦ１１２の出力は、位相調整回路１１１の出力を直接用いており、また、クロック信号及びデータ信号ともに差動出力を用いているので、位相調整回路１１１の動作確認を容易かつ正確に行うことができる。
【０１８１】
また、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂの出力位相をＬＳＩテスタ１６０で直接シフトさせながら動作確認試験を行っているので、位相調整回路１１１の出力位相を調整可能な全範囲について動作確認試験を行うことができる。
【０１８２】
なお、以上では、クロック分配回路１１０がＣＰＵ１０内の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００に含まれる形態について説明したが、クロック分配回路１１０は、サーバ１内でクロック信号が必要な部位であれば、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００以外の回路等に含ませることができる。
【０１８３】
また、以上では、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００にアンプ１２０、ＤＦＥ１３０、データ処理回路１５０が含まれる形態について説明したが、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００に含まれる回路は、これらに限定されず、他の回路等であってもよい。
【０１８４】
また、以上では、ＬＳＩテスタ１６０がサーバ１の外部装置である形態について説明したが、サーバ１、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００、又はクロック分配回路１１０がＬＳＩテスタを内蔵していてもよい。
【０１８５】
図７は、実施の形態１の変形例の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【０１８６】
実施の形態１の変形例の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００Ａに含まれるクロック分配回路１１０は、動作確認試験装置としてのＬＳＩテスタ１６０を内蔵する点が図２，図３に示す実施の形態１のクロック分配回路１１０と異なる。また、クロック分配回路１１０がＬＳＩテスタ１６０を内蔵することにより、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００Ａが試験用ポート１４０Ａ、１４０Ｂを含まない点が、図２，図３に示す実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００と異なる。その他は、図２，図３に示す実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００、クロック分配回路１１０と同一であるため、説明を省略する。
【０１８７】
図７に示すように、クロック分配回路１１０がＬＳＩテスタ１６０を内蔵することにより、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００ＡがＬＳＩテスタ１６０を内蔵することになり、また、サーバ１（図１参照）がＬＳＩテスタ１６０を内蔵することになる。なお、図７には、ＬＳＩテスタ１６０がクロック分配回路１１０に含まれる形態を示すが、ＬＳＩテスタ１６０は、クロック分配回路１１０の外部で高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００Ａの内部となる場所に配設されてもよい。また、同様に、ＬＳＩテスタ１６０は、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００Ａの外部でサーバ１（図１参照）の内部となる場所に配設されてもよい。
【０１８８】
実施の形態１によれば、図７に示すように、ＬＳＩテスタ１６０がクロック分配回路１１０、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００Ａ、又はサーバ１の内部に配設される場合にうおいても、位相調整回路１１１の動作確認を容易かつ正確に行うことができる。
【０１８９】
＜実施の形態２＞
図８は、実施の形態２のクロック分配回路を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路を示す図である。
【０１９０】
実施の形態２の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路２００は、クロック分配回路２１０に含まれる２相２出力型の位相調整回路２１１、アンプ（１２０−１〜１２０−ｋ）、及びＤＦＥ（１３０−１〜１３０−ｋ）が多段化されている点が実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路２００と異なる。
【０１９１】
ここで、ｋは段数を示す段数番号であり、任意の２以上の整数であればよい。その他は、実施の形態１の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路１００と同一であるため、同一の要素には同一符号を付し、その説明を省略する。
【０１９２】
なお、高速シリアルＩ／Ｏ受信回路２００に接続されるデータ処理回路（１５０−１〜１５０−ｋ）も多段化されている。
【０１９３】
位相調整回路２１１は、調整回路Ａ１、Ｂ１、・・・、Ａｋ、Ｂｋを有する。調整回路Ａ、Ｂ、・・・、Ａｋ、Ｂｋは、Ａ、Ｂの対で用いられる。
【０１９４】
アンプ１２０−１〜１２０−ｋは、それぞれの入力側がＣＰＵ１０（図１参照）内の信号線に接続されている。アンプ１２０−１〜１２０−ｋの出力側は、それぞれ、段数番号の等しいＤＦＥ１３０−１〜１３０−ｋに接続されている。
【０１９５】
ＤＦＥ１３０−１〜１３０−ｋは、それぞれ、Ｄ／Ｌ１３１及びＤ／Ｌ１３２を有する。
【０１９６】
データ処理回路１５０−１〜１５０−ｋは、それぞれ、段数番号の等しいＤＦＥ１３０−１〜１３０−ｋに接続されている。データ処理回路１５０−１〜１５０−ｋは、それぞれ、ＦＦ１５１、１５２、及び演算部１５３を有する。
【０１９７】
クロック分配回路２１０は、多段化された位相調整回路２１１と差動型ＤＦＦ１１２との間にセレクタ２０１、２０１を含む。
【０１９８】
セレクタ２０１は、入力側が調整回路Ａ１〜Ａｋに接続されており、出力側は差動型ＤＦＦ１１２のクロック入力端ｃｋ、ｃｋｘに接続されている。セレクタ２０１は、調整回路Ａ１〜Ａｋのいずれか１つを選択し、選択した調整回路が出力する差動クロック信号を差動型ＤＦＦ１１２のクロック入力端ｃｋ、ｃｋｘに入力する。
【０１９９】
セレクタ２０２は、入力側が調整回路Ｂ１〜Ｂｋに接続されており、出力側は差動型ＤＦＦ１１２のデータ入力端ｄ、ｄｘに接続されている。セレクタ２０２は、調整回路Ｂ１〜Ｂｋのいずれか１つを選択し、選択した調整回路が出力する差動クロック信号を差動型ＤＦＦ１１２のデータ入力端ｄ、ｄｘに入力する。
【０２００】
セレクタ２０１、２０２は、ＬＳＩテスタ１６０から入力する回線選択指令に基づいて調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋのうちのいずれか一対に接続される回線を選択する。これにより、調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋの選択が行われる。なお、セレクタ２０１、２０２が選択する一対の回線に接続される調整回路は、調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋのうち段数番号ｋの等しい調整回路である。これにより、調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋは、Ａ、Ｂの対で用いられることになる。
【０２０１】
また、ＤＦＥ１３０−１〜１３０−ｋの各々のＤ／Ｌ１３１には、段数番号ｋの等しい調整回路Ａ１〜Ａｋの差動クロック信号が入力する。同様に、ＤＦＥ１３０−１〜１３０−ｋの各々のＤ／Ｌ１３２には、段数番号ｋの等しい調整回路Ｂ１〜Ｂｋの差動クロック信号が入力する。
【０２０２】
すなわち、ＤＦＥ１３０−１のＤ／Ｌ１３１には、調整回路Ａ１の差動クロック信号が入力し、ＤＦＥ１３０−１のＤ／Ｌ１３２には、調整回路Ｂ１の差動クロック信号が入力する。ＤＦＥ１３０−ｋのＤ／Ｌ１３１には、調整回路Ａｋの差動クロック信号が入力し、ＤＦＥ１３０−ｋのＤ／Ｌ１３２には、調整回路Ｂｋの差動クロック信号が入力する。
【０２０３】
なお、ＤＦＥ１３０−２からＤＦＥ１３０−（ｋ−１）、調整回路Ａ２〜Ａ（ｋ−１）、Ｂ２〜Ｂ（ｋ−１）、及びＤＦＥ１３０−２からＤＦＥ１３０−（ｋ−１）と、調整回路Ａ２〜Ａ（ｋ−１）、Ｂ２〜Ｂ（ｋ−１）とを接続する信号線については図示を省略する。
【０２０４】
ＬＳＩテスタ１６０は、回線選択指令を用いてセレクタ２０１、２０２で調整回路Ａ１、Ｂ１・・・Ａｋ、Ｂｋを選択しながら、図６Ａ及び図６Ｂに示した処理を実行し、多段化された位相調整回路２１１の動作確認試験を実行する。
【０２０５】
ここで、ＬＳＩテスタ１６０が回線選択指令を用いてセレクタ２０１、２０２を切り替える処理について図９を用いて説明する。
【０２０６】
図９は、実施の形態２の高速シリアルＩ／Ｏ受信回路に接続されるＬＳＩテスタで実行される動作確認試験の処理内容を示すフローチャートである。
【０２０７】
図９に示す動作試験の処理内容は、実施の形態１の第１段階目の動作試験（図６Ａ参照）と第２段階目の動作試験（図６Ｂ参照）との前後に、それぞれ、回線選択指令を出力する処理と、すべての回線を選択したか否かを判定する処理とを加えたものである。
【０２０８】
このため、第１段階目の動作試験及び第２段階目の動作試験の内容自体は、実施の形態１の第１段階目の動作試験及び第２段階目の動作試験と同一であるため、その説明を省略し、フローチャートも省略して示す。
【０２０９】
ＬＳＩテスタ１６０は、位相調整回路２１１の調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋを一対ずつ選択して動作確認試験を行うために、回線選択指令をセレクタ２０１、２０２に伝送する（ステップＳ１００）。ステップＳ１００の処理は、すべての回線を選択するまで、すなわち、調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋを一対ずつ選択してすべての選択が完了するまで、繰り返し実行される処理である。
【０２１０】
ＬＳＩテスタ１６０は、第１段階目の動作確認試験を行い、動作不良の有無を判定する（ステップＳ１０１）。
【０２１１】
ステップＳ１０１の処理は、図６Ａに示すステップＳ１〜Ｓ１２によって実現される、第１段階目の動作確認試験を実行することにより、動作不良の有無を判定する処理である。ステップＳ１００〜Ｓ１０３が繰り返されることにより、ステップＳ１０１では、位相調整回路２１１に含まれる調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋの第１段階目の動作確認試験を一対ずつ行うことになる。
【０２１２】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０１で動作不良と判定した場合、すなわち、図６Ａに示すステップＳ６又はＳ１２で動作不良と判定した場合は、位相調整回路２１１が不良品であると判定する（Ｓ１０１  ＮＯ）。この場合は、動作確認試験が終了する。
【０２１３】
ＬＳＩテスタ１６０は、第１段階目の動作確認試験で動作が良好であると判定した場合は、第２段階目の動作確認試験を行い、動作不良の有無を判定する（ステップＳ１０２）。
【０２１４】
ステップＳ１０２の処理は、図６Ｂに示すステップＳ１３〜Ｓ１９によって実現される、第２段階目の動作確認試験を実行することにより、動作不良の有無を判定する処理である。ステップＳ１００〜Ｓ１０３が繰り返されることにより、ステップＳ１０２では、位相調整回路２１１に含まれる調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋの第２段階目の動作確認試験を一対ずつ行うことになる。
【０２１５】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０２で動作不良と判定した場合、すなわち、図６Ｂに示すステップＳ１８で動作不良と判定した場合は、位相調整回路２１１が不良品であると判定する（Ｓ１０２  ＮＯ）。この場合は、動作確認試験が終了する。
【０２１６】
ＬＳＩテスタ１６０は、第２段階目の動作確認試験で動作が良好であると判定した場合は、すべての調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋについて動作確認試験が終了したか否かを判定する（ステップＳ１０３）。ステップＳ１０３の処理は、例えば、段数番号がｋに到達したか否かによって判定することができる。
【０２１７】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０３ですべての調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋについて動作確認試験が終了していない（Ｓ１０３  ＮＯ）と判定した場合は、フローをステップＳ１００にリターンする。この場合は、ステップＳ１００において、セレクタ２０１、２０１の接続先を、次の段数番号の調整回路（Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋのいずれかの対）を切り替えるために、回線選択指令をセレクタ２０１、２０２に伝送する。
【０２１８】
ＬＳＩテスタ１６０は、ステップＳ１０３ですべての調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋについて動作確認試験が終了した（Ｓ１０３  ＹＥＳ）と判定した場合は、位相調整回路２１１の調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋは、すべて動作が良好であると判定し、一連の処理を終了する。これにより、位相調整回路２１１を含む実施の形態２のクロック分配回路２１０は良品であると判定される。
【０２１９】
以上、実施の形態２によれば、多段化された位相調整回路２１１に含まれるすべての調整回路Ａ１〜Ａｋ、Ｂ１〜Ｂｋについても、実施の形態１の位相調整回路１１１に含まれるすべての調整回路Ａ、Ｂと同様に動作確認試験を行うことができる。
【０２２０】
＜実施の形態３＞
図１０は、実施の形態３のクロック分配回路を示す図である。
【０２２１】
実施の形態３のクロック分配回路３１０を含む高速シリアルＩ／Ｏ受信回路３００は、位相調整回路１１１の調整回路Ａ、Ｂに接続されるクロック分配器３０１Ａ、３０１Ｂを含む点が実施の形態１のクロック分配回路１１０と異なる。クロック分配器３０１Ａの出力側にはコア４０１が、３０１Ｂの出力側にはコア４０２が、それぞれ接続される。クロック分配回路３１０は、サーバ１（図１参照）内のどこに用いられていてもよい。
【０２２２】
コア４０１、４０２は、それぞれ、ＦＦ１〜ＦＦｍ（ｍは２以上の整数）を含み、クロック分配器３０１Ａ、３０１Ｂの出力側に接続されている。コア４０１、４０２は、例えば、プロセッサコアであり、クロック分配器３０１Ａ、３０１Ｂを介して入力するクロック信号を用いて、所定の演算（例えば、整数演算又は浮動小数点演算）を実行する。
【０２２３】
位相調整回路１１１の動作確認試験は、実施の形態１のクロック分配回路１１０に含まれる位相調整回路１１１と同様に行えばよい。
【０２２４】
以上、実施の形態３によれば、図１０に示すようなクロック分配回路３１０に含まれる位相調整回路１１１についても、実施の形態１の位相調整回路１１１と同様に動作確認試験を行うことができる。
【０２２５】
以上、本発明の例示的な実施の形態の動作確認試験方法、動作確認試験プログラム、及びクロック分配回路について説明したが、本発明は、具体的に開示された実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。
【符号の説明】
【０２２６】
１  サーバ
１０  ＣＰＵ
１１Ａ  発振器
１１Ｂ  ＰＬＬ
２０  キャッシュ
３０  メモリコントローラ
４０  主記憶装置
５０  補助記憶装置
６０  システムバス
１００  高速シリアルＩ／Ｏ受信回路
１１０  クロック分配回路
１１１  位相調整回路
１１２  差動型ＤＦＦ
１２０  アンプ
１３０  ＤＦＥ
１３１、１３２  Ｄ／Ｌ
１４０Ａ、１４０Ｂ  試験用ポート
１５０  データ処理回路
１５１、１５２  ＦＦ
１５３  演算部
１６０  ＬＳＩテスタ
１６１  動作確認試験処理部
１６１Ａ  データ取得部
１６１Ｂ  位相シフト部
１６１Ｃ  比較部
１６２  メモリ
２００  高速シリアルＩ／Ｏ受信回路
２１０  クロック分配回路
２１１  位相調整回路
１２０−１〜１２０−ｋ  アンプ
１３０−１〜１３０−ｋ  ＤＦＥ
１５０−１〜１５０−ｋ  データ処理回路
２０１、２０１  セレクタ
３１０  クロック分配回路
３０１Ａ、３０１Ｂ  クロック分配器
４０１、４０２  コア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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