(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
３相同時開閉のための開閉軸及び制御部としての過電流継電器を有する回路遮断器におけるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置において、
前記回路遮断器のオン位置又はオフ位置を示す電気的信号を出力する第１マイクロスイッチ、前記開閉軸との接触による押圧力又は正常に動作するかのテストのための人為的な押圧力により前記第１マイクロスイッチを動作させるように回動可能な第１軸接触レバー機構、前記回路遮断器がトリップ動作するか否かを示す電気的信号を出力する第２マイクロスイッチ、及び前記開閉軸との接触による押圧力又は正常に動作するかのテストのための人為的な押圧力により前記第２マイクロスイッチを動作させるように回動可能な第２レバーを有する付属機構モジュールと、
出力手段としてトリップバーを有し、前記過電流継電器からのトリップ制御信号又はテスト信号源からのテストトリップ制御信号に応答して前記回路遮断器がトリップ位置に動作するようにトリガする位置に前記トリップバーを動作させる電磁トリップ機構を備えるトリップ機構モジュールと、
を含む、回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項２】
上面が開放された箱状の部材で構成され、前記付属機構モジュール及び前記トリップ機構モジュールをそれぞれ内部の一側及び他側に収容する支持ベースをさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項３】
前記支持ベースは、前記付属機構モジュール及び前記トリップ機構モジュールを構成する部品を収容して遊動が最小限に抑えられるように支持するために、前記部品を収容する領域を形成する複数の仕切りを備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項４】
前記第１軸接触レバー機構は、
前記開閉軸側からの接触押圧力又はテストのための人為的な接触押圧力を受けることができ、レバー回動軸に支持されて回動可能な第１レバーと、前記第１レバーに接続されて前記第１レバーの回動に従ってローリングするローリング板と、前記ローリング板をローリング可能に支持するローリング軸と、前記ローリング板の一側部に上方に突出するように設けられて前記第１マイクロスイッチを動作させる第１スイッチ駆動突部とを含み、
前記第２レバーは、
前記レバー回動軸に支持される中間の軸受部、前記開閉軸側からの接触押圧力又はテストのための人為的な接触押圧力を受けることができるように、前記軸受部から斜め上方に延びる第１延長部、及び前記軸受部から前記第１延長部側と反対方向に前記第２マイクロスイッチを動作させるように延びる第２延長部を含むことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項５】
前記第１レバー及び前記第２レバーを押す力が消滅すると前記第１レバー及び前記第２レバーを元の位置に復帰させるように前記第１レバー及び前記第２レバーに接触する復帰スプリングをさらに含むことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項６】
前記トリップ機構モジュールは、
出力ピンを突出させて機械的トリップ信号を出力するものであり、制御電源又は電力回路の電圧が所定の基準電圧以下に降下すると前記機械的トリップ信号を出力する低電圧トリップ機構、又は遠隔地からの制御信号を受信すると前記機械的トリップ信号を出力するシャントトリップ機構から構成される副トリップ機構と、
突出する前記出力ピンに接触可能に前記出力ピンに対向するように一側に設けられる動力受け部を有し、前記出力ピンの押圧により直線移動して前記トリップ機構モジュールをトリガするように動作させる連動レバーと、
をさらに含むことを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項７】
前記トリップ機構モジュールは、動作テストのためのテスト信号を受信するリード線をさらに含むことを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【請求項８】
前記リード線に接続されて前記テスト信号を受信する複数のピン又はピンホールを有するコネクタをさらに含むことを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項に記載の回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路の異常電流が検出されるとトリップ制御信号を出力する制御部として過電流継電器（Over Current Relay; OCR）を有する気中遮断器などの回路遮断器におけるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
数十〜数百ボルトの低電圧電力の回路を開閉したり、回路の過電流や短絡電流などの事故電流が発生するとこれを検出して自動的に回路を遮断（トリップ）する低電圧回路遮断器における比較的大容量のものとしては、代表的に気中遮断器が挙げられる。本発明は、このような大容量の低電圧回路遮断器に関する。
【０００３】
本発明の出願人が提供する従来の大容量の低電圧回路遮断器は、開閉機構、トリップ機構、制御部、及び付属機構を含む。
【０００４】
前記開閉機構は、周知のように、３相の電力回路毎に設けられる可動接触子及び固定接触子のうち可動接触子を、対応する固定接触子に接触する閉路位置（オン（ＯＮ）位置）と、固定接触子から分離される開路位置（手動開路位置であるオフ（ＯＦＦ）位置、及び異常電流の検出による自動開路位置であるトリップ位置）とに駆動する機構である。前記開閉機構は、開閉スプリング、前記開閉スプリングの弾性駆動力を前記可動接触子に伝達する複数のリンク及びレバー、前記開閉スプリングの弾性エネルギーが蓄積された状態を維持するか又は解放するラッチ、並びに３つの３相の可動接触子が同時に前記閉路位置又は前記開路位置に開閉駆動されるように３相の回路に共通に接続される開閉軸（主軸とも呼ばれる）などを含む。
【０００５】
前記トリップ機構は、前記制御部からのトリップ制御信号に応答して、前記開閉機構がトリップ位置に動作するようにトリガする機構である。
【０００６】
ここで、トリガという表現を用いたのは、前記開閉機構がトリップ位置に動作するように、前記トリップ機構が駆動力を与えるのではなく、前記開閉機構の開閉スプリングが蓄積した弾性エネルギーを放出してトリップ動作のための駆動力を出力するように前記ラッチを解放させる動作を前記トリップ機構が行うからである。
【０００７】
前記トリップ機構は、前記制御部からのトリップ制御信号により励磁されて磁力を発生するコイル、及び当該コイルの励磁又は消磁によって移動するトリップバーなどを含む。
【０００８】
このような従来の大容量の低電圧回路遮断器は、回路の電圧が所定の正常基準電圧より低くなると前記開閉機構がトリップ位置に動作するようにトリガする低電圧トリップ機構（Under Voltage Trip Device; UVT）、又は遠隔地（遠方）からのトリップ制御信号に応答して前記開閉機構がトリップ位置に動作するようにトリガするシャントトリップ機構（Shunt Trip Device）をさらに含んでもよい。
【０００９】
前記制御部は、回路の異常電流が検出されるとトリップ制御信号を出力する過電流継電器、とりわけデジタル過電流継電器で構成してもよい。
【００１０】
前記過電流継電器は、単なる回路の事故電流の検出及び制御信号の出力だけでなく、回路に関する様々な状態情報の算出、線路の事故発生位置の算出など、様々な情報の提供と表示が可能な機器であって、様々な情報の処理及び算出と表示が可能なマイクロプロセッサ及びディスプレイが備えられた制御及び情報処理機器である。
【００１１】
前記付属機構は、回路遮断器の現在の回路開閉状態、すなわちオン位置又はオフ位置を示す信号を出力する補助スイッチ（Auxiliary Switch; AX）と、回路遮断器がトリップ動作した状態であることを示す信号を出力する警報スイッチ（Alarm Switch; AL）とを含んでもよい。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
このような従来の大容量の低電圧回路遮断器は、付属機構の補助スイッチ及び警報スイッチ、トリップ機構、トリップ機構と連動する低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構が分散配置されており、これらの組み立て、テスト、及び生産に長時間かかるという問題があった。
【００１３】
また、このような従来の大容量の低電圧回路遮断器は、付属機構の補助スイッチ及び警報スイッチ、トリップ機構、低電圧トリップ機構、又はシャントトリップ機構を組み立てる前にそれぞれ正常に動作するかをテストすることができず、全てを組み立てた後にテストしなければならない構成であるため、不良が発生した場合、不良の原因を調べるのに長時間かかり、回路遮断器全体を分解しなければならないという問題があった。
【００１４】
そこで、本発明は、このような従来技術の問題を解決するためになされたものであり、本発明の第１の目的は、付属機構と、トリップ機構及びトリップ機構と連動する低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構をそれぞれモジュール化して回路遮断器全体を小型化することができ、これらの組み立て、テスト、及び生産にかかる時間を短縮することができる、回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにある。
【００１５】
本発明の第２の目的は、付属機構モジュールと、トリップ機構及びトリップ機構と連動する低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構のモジュールを組み立てる前にそれぞれ正常に動作するかをテストすることができる、回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにある。
【００１６】
本発明の第３の目的は、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構の動作とトリップ機構の動作を連動させ、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構とトリップ機構とを１つのモジュールで構成することにより、回路遮断器の小型化と共に、組み立て、テスト、及び生産性能を向上させることができる、回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記の本発明の第１の目的は、３相同時開閉のための開閉軸及び制御部としての過電流継電器を有する回路遮断器におけるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置において、前記回路遮断器のオン位置又はオフ位置を示す電気的信号を出力する第１マイクロスイッチ、前記開閉軸との接触により又は正常に動作するかのテストのための人為的な押圧力により前記第１マイクロスイッチを動作させるように回動可能な第１軸接触レバー機構、前記回路遮断器がトリップ動作するか否かを示す電気的信号を出力する第２マイクロスイッチ、及び前記開閉軸との接触により又は正常に動作するかのテストのための人為的な押圧力により前記第２マイクロスイッチを動作させるように回動可能な第２レバーを有する付属機構モジュールと、出力手段としてトリップバーを有し、前記過電流継電器からのトリップ制御信号又はテスト信号源からのテストトリップ制御信号に応答して前記回路遮断器がトリップ位置に動作するようにトリガする位置（トリガ位置）に前記トリップバーを動作させる電磁トリップ機構（Electromagnetic Trip Device; MTD）を備えるトリップ機構モジュールとを含む、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにより達成される。
【００１８】
上記の本発明の第２の目的は、前記トリップ機構モジュールが、動作テストのためのテスト信号を受信するリード線をさらに含むことを特徴とする、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにより達成される。
【００１９】
上記の本発明の第２の目的は、上記の本発明の第１の目的を達成する本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置において、前記第１軸接触レバー機構は、前記開閉軸側からの接触押圧力又はテストのための人為的な接触押圧力を受けることができ、レバー回動軸に支持されて回動可能な第１レバーと、前記第１レバーに接続されて前記第１レバーの回動に従ってローリングするローリング板と、前記ローリング板をローリング可能に支持するローリング軸と、前記ローリング板の一側部に上方に突出するように設けられて前記第１マイクロスイッチを動作させる第１スイッチ駆動突部とを含み、前記第２レバーは、前記レバー回動軸に支持される中間の軸受部、前記開閉軸側からの接触押圧力又はテストのための人為的な接触押圧力を受けることができるように、前記軸受部から斜め上方に延びる第１延長部、及び前記軸受部から前記第１延長部側と反対方向に前記第２マイクロスイッチを動作させるように延びる第２延長部を含むことにより、前記第１レバー及び前記第２レバーを人為的に押して前記第１マイクロスイッチ及び前記第２マイクロスイッチが正常に動作するかをテストすることができるので、達成することができる。
【００２０】
上記の本発明の第３の目的は、前記トリップ機構モジュールが、電磁力により出力ピンを突出させて機械的トリップ信号を出力するものであり、制御電源又は電力回路の電圧が所定の基準電圧以下に降下すると前記機械的トリップ信号を出力する低電圧トリップ機構、又は遠隔地からの制御信号を受信すると前記機械的トリップ信号を出力するシャントトリップ機構から構成される副トリップ機構と、突出する前記出力ピンに接触可能に前記出力ピンに対向するように一側に設けられる動力受け部を有し、前記出力ピンの押圧により直線移動して前記トリップ機構モジュールをトリガするように動作させる連動レバーとをさらに含む、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置を提供することにより達成される。
【００２１】
本発明の好ましい一態様によれば、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、上面が開放された箱状の部材で構成され、前記付属機構モジュール及び前記トリップ機構モジュールをそれぞれ内部の一側及び他側に収容する支持ベースをさらに含む。
【００２２】
本発明の好ましい他の態様によれば、前記支持ベースは、前記付属機構モジュール及び前記トリップ機構モジュールを構成する部品を収容して遊動が最小限に抑えられるように支持するために、前記部品を収容する領域を形成する複数の仕切りを備える。
【００２３】
本発明の好ましいさらに他の態様によれば、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、前記第１レバー及び前記第２レバーを押す力が消滅すると前記第１レバー及び前記第２レバーを元の位置に復帰させるように前記第１レバー及び前記第２レバーに接触する復帰スプリングをさらに含む。
【００２４】
本発明の好ましいさらに他の態様によれば、前記トリップ機構モジュールは、出力ピンを突出させて機械的トリップ信号を出力するものであり、制御電源又は電力回路の電圧が所定の基準電圧以下に降下すると前記機械的トリップ信号を出力する低電圧トリップ機構、又は遠隔地からの制御信号を受信すると前記機械的トリップ信号を出力するシャントトリップ機構から構成される副トリップ機構と、突出する前記出力ピンに接触可能に前記出力ピンに対向するように一側に設けられる動力受け部を有し、前記出力ピンの押圧により直線移動して前記トリップ機構モジュールをトリガするように動作させる連動レバーとをさらに含む。
【００２５】
本発明の好ましいさらに他の態様によれば、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、前記リード線に接続されて前記テスト信号を受信する複数のピン又はピンホールを有するコネクタをさらに含む。
【発明の効果】
【００２６】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、付属機構モジュールとトリップ機構モジュールをモジュール化しており、当該モジュールに含まれる補助スイッチ、警報スイッチ、及びその作動機構を１つのモジュールで構成し、回路遮断器（特に、回路遮断器の開閉機構）がトリップ位置に動作するようにトリガするためのトリップ機構を他の１つのモジュールで構成することにより、これらをそれぞれ個別部品として回路遮断器に分散配置する従来技術に比べて、回路遮断器全体を小型化すると共に、組み立て、テスト、及び生産性能を大幅に向上させるという効果がある。
【００２７】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、付属機構モジュール及びトリップ機構モジュールをそれぞれ内部の一側及び他側に収容する支持ベースをさらに含み、付属機構モジュール、トリップ機構モジュール、及び支持ベースを１つの組立体で構成することにより、回路遮断器における占有体積が最小限に抑えられ、組み立て生産性が向上するという利点がある。
【００２８】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、補助スイッチに該当する第１マイクロスイッチを動作させる第１軸接触レバー機構と、警報スイッチに該当する第２マイクロスイッチを動作させる第２レバーとを含み、前記第１軸接触レバー機構及び前記第２レバーを人為的に動作させることにより、それぞれのマイクロスイッチが正常に動作するかを組み立てる前に容易にテストすることができ、それによるテスト作業時間の短縮及び完成した回路遮断器の動作信頼性の向上を図ることができるという効果がある。
【００２９】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、前記第１軸接触レバー機構及び前記第２レバーを元の位置に復帰させるように前記第１軸接触レバー機構及び前記第２レバーに接触する復帰スプリングをさらに含み、前記第１軸接触レバー機構及び前記第２レバーを回路遮断器に組み込んで正常動作する際に開閉軸による押圧力が消滅するか、又は前記第１軸接触レバー機構及び前記第２レバーを回路遮断器に組み込む前に人為的な押圧力を与えてテストを行った後に外力がなくなったとき、元の位置に自動復帰させることにより、元の位置への復帰のための別途の操作が不要となるので、テスト作業の利便性及び迅速性、並びに回路遮断器の動作の利便性を提供するという利点がある。
【００３０】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置において、前記トリップ機構モジュールは、突出する出力ピンを有する低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構から構成される副トリップ機構と、突出する前記出力ピンに接触可能に前記出力ピンに対向するように一側に設けられる動力受け部を有し、前記出力ピンの押圧により直線移動して前記トリップ機構モジュールをトリガするように動作させる連動レバーとを含み、前記副トリップ機構を前記トリップ機構と連動するように構成し、かつ他のトリップ機構モジュールとして構成することにより、事故電流の検出による基本的トリップ動作の他に、低電圧トリップ動作又は遠隔制御トリップ動作が１つのトリップ機構モジュールにより可能となり、当該機能部の１つのモジュール化構成により回路遮断器全体の小型化、及び部品組み立て又はテストの効率が向上するという効果がある。
【００３１】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、前記トリップ機構モジュールがそれぞれ動作テストのためのテスト信号を受信するリード線をさらに含み、当該リード線に電気的信号、例えば電圧信号を供給することにより、当該モジュールを回路遮断器に組み込む前に予め正常に動作するかをテストすることができ、従って、不良部品を予め排除することができ、完成した回路遮断器の動作信頼性を確保することができ、組み立て、テスト、及び生産性能を向上させることができるという効果がある。
【００３２】
本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置は、前記リード線に接続されて前記テスト信号を受信できるように、複数のピン又はピンホールの接続構造を有するコネクタをさらに含み、前記コネクタとテスト信号を供給するコネクタとの接続をピンとピンホールの接続で行うことにより、モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置のテストを簡単に行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の好ましい実施形態によるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置が組み立てられた状態の回路遮断器を示す斜視図である。
【図２】本発明の好ましい実施形態によるトリップ機構モジュール、付属機構モジュール、及び支持ベースの組立体の外形を示す斜視図である。
【図３】本発明の好ましい実施形態によるトリップ機構モジュール及び付属機構モジュールをそれぞれ示す斜視図である。
【図４】本発明の好ましい実施形態によるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置における支持ベース、トリップ機構モジュール、付属機構モジュールのレバー機構の分解斜視図である。
【図５】本発明の好ましい実施形態による低電圧トリップ機構及びシャントトリップ機構を排除したトリップ機構モジュールの斜視図である。
【図６】本発明の好ましい実施形態による低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構と連動レバー機構とを含むトリップ機構モジュールの斜視図である。
【図７】本発明の好ましい実施形態による付属機構モジュールと開閉軸の連動構成を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
上記の本発明の目的とそれを達成する本発明の構成及び作用効果は、添付の図面を参照した本発明の好ましい実施形態の後述する詳細な説明によりさらに明確に理解できるであろう。
【００３５】
図１は、本発明の好ましい実施形態によるモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置が組み立てられた状態の回路遮断器を示す斜視図である。
【００３６】
図１に示すように、本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置が設けられる回路遮断器１０００は、開閉機構１００、過電流継電器２００、モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置３００、並びに主カバー４００を含む。
【００３７】
開閉機構１００は、周知のように、３相の電力回路毎に設けられる可動接触子及び固定接触子のうち可動接触子を、対応する固定接触子に接触する閉路位置と、固定接触子から分離される開路位置（トリップ位置）とに駆動する機構であって、開閉スプリング、前記開閉スプリングの弾性駆動力を前記可動接触子に伝達する複数のリンク及びレバー、前記開閉スプリングの弾性エネルギーが蓄積された状態を維持するか又は解放するラッチ、並びに３つの３相の可動接触子が同時に前記閉路位置又は前記開路位置に開閉駆動されるように３相の回路に共通に接続される開閉軸（図７の符号５００参照）などを含んでもよい。
【００３８】
開閉軸５００は、図７に示すように、長い棒状の軸であって、前記軸上に設けられて３相の回路を開閉するようにそれぞれ３相の可動接触子（図示せず）に駆動接続される３つの駆動リンク５１０と、前記軸上に設けられて後述する第１レバー３３５を押して駆動する第１レバー押圧レバー５２０と、前記軸上に設けられて後述する第２レバー３３６を押して駆動する第２レバー押圧レバー５３０とを含む。
【００３９】
過電流継電器２００は、回路の異常電流が検出されるとトリップ制御信号を出力する制御部であって、特に、回路の過電流や短絡電流などの事故電流の検出信号を含む様々な入力信号がデジタル信号に変換されて入力され、マイクロプロセッサにより処理され、トリップ制御信号を含むデジタル出力信号がマイクロプロセッサにより出力されるデジタル過電流継電器で構成してもよい。
【００４０】
主カバー４００は、回路遮断器１０００の外箱を形成する部分であって、内部に開閉機構１００、過電流継電器２００、モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置３００を収容する。
【００４１】
以下、図２〜図７を参照して、モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置３００の構成及び作用を説明する。
【００４２】
図２に示すように、モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置３００は、付属機構モジュール３３０及びトリップ機構モジュール３１０を含み、支持ベース３０１をさらに含んでもよい。
【００４３】
図２及び図４に示すように、支持ベース３０１は、上面が開放された箱状の部材で構成され、付属機構モジュール３３０及びトリップ機構モジュール３１０をそれぞれ内部の一側及び他側に収容する。図２においては、支持ベース３０１の内部の左側に付属機構モジュール３３０が収容され、支持ベース３０１の内部の右側にトリップ機構モジュール３１０が収容される。
【００４４】
支持ベース３０１は、組み立てに必要な許容公差の範囲内で前記部品を収容する領域を形成する複数の仕切り３０１ｄを備える。これは、付属機構モジュール３３０及びトリップ機構モジュール３１０を構成する部品を収容して遊動が最小限に抑えられるように支持するためのものである。
【００４５】
また、支持ベース３０１は、内部の左側底面に開口部（図示せず）を有する。前記開口部は、後述する第１マイクロスイッチ３３２及び第２マイクロスイッチ３３１からスイッチの開閉のための機械的動力を接触により得るために下方に延びる接触レバー（図示せず）の下方延長を可能にするためのものである。
【００４６】
さらに、支持ベース３０１は、底面から下方に突設される軸受孔部３０１ｂ及び軸受孔部３０１ｃを備える。軸受孔部３０１ｂは、後述するレバー回動軸３３７を軸受するためのものであり、軸受孔部３０１ｃは、後述するローリング軸３４０ａを軸受するためのものである。
【００４７】
さらに、支持ベース３０１は、図４に示すようなフック状の弾性支持片部３０１ａを複数備える。弾性支持片部３０１ａは、支持ベース３０１が図１の回路遮断器１０００の外箱を形成する主カバー４００に遊動することなく配設されるように組み立てるためのものである。
【００４８】
主カバー４００は、弾性支持片部３０１ａに対応するように主カバー４００の内側壁面から突出する顎部（図示せず）を備え、当該顎部の底面に弾性支持片部３０１ａが弾性支持されることにより、支持ベース３０１を主カバー４００に遊動しないように取り付けることができる。
【００４９】
まず、図３、図４、及び図７を参照して付属機構モジュール３３０の構成及び作用を説明する。
【００５０】
付属機構モジュール３３０は、第１マイクロスイッチ３３２、第１軸接触レバー機構３３５Ｍ、第２マイクロスイッチ３３１、及び第２レバー３３６を含む。
【００５１】
第１マイクロスイッチ３３２は、回路遮断器のオン位置又はオフ位置を示す電気的信号を出力するマイクロスイッチであり、周知のように機械的接触により電気的出力信号を発生させる手段である。
【００５２】
このために、第１マイクロスイッチ３３２は、予め定められた、例えば直流電圧信号を入力信号として受信する入力端子３３２ａ、内部のスイッチ接点（図示せず）、出力端子３３２ｂ、及び前記内部のスイッチ接点を開位置又は閉位置に動作させるための機械的駆動力を得るために第１マイクロスイッチ３３２の底部から斜め下方に延設されて好ましい実施形態によればローラが端部に備えられる接触レバー（図示せず）を有する。
【００５３】
第１軸接触レバー機構３３５Ｍは、開閉軸５００に接触して第１マイクロスイッチ３３２を動作させるように回動可能である。
【００５４】
第１軸接触レバー機構３３５Ｍは、第１レバー３３５、ローリング板３４０、ローリング軸３４０ａ、及び第１スイッチ駆動突部３４０ｄを含む。第１軸接触レバー機構３３５Ｍは、ローリング板３４０と第１レバー３３５とを接続させる接続突部３４０ｃをさらに含んでもよい。
【００５５】
第１レバー３３５は、レバー回動軸３３７に支持されて回動可能な手段であって、開閉軸５００側から接触押圧力を受けたり、テストのために人が手で押す手動押圧力などの人為的な接触押圧力を受けることができる。
【００５６】
また、第１レバー３３５は、図４に詳細に示すように、レバー回動軸３３７に支持される中間の軸受部（符号なし）と、当該軸受部から斜め上方に延び、開閉軸５００側（より詳細には、開閉軸５００の第１レバー押圧レバー５２０）から接触押圧力を受けるか、又は使用者から人為的な接触押圧力を受ける第１延長部３３５ａと、前記軸受部から第１延長部３３５ａ側と反対方向に延び、端部に後述する接続突部３４０ｃが挿入される接続口部３３５ｂを有する第２延長部（符号なし）とを含む。
【００５７】
図４を参照すると、ローリング板３４０は、接続突部３４０ｃと接続口部３３５ｂの接続により第１レバー３３５に接続され、第１レバー３３５の回動に従ってローリング軸３４０ａを中心にシーソーのようにローリングする手段である。
【００５８】
ローリング板３４０は、ローリング軸３４０ａを中心にローリングできるように、対称な一対の板の対向面を当接させて結合することにより構成され、前記各板は、中心部にローリング軸３４０ａが貫通する軸受孔を形成するように内壁面が半円状の凹部からなる軸受部３４０ｅを備える。
【００５９】
つまり、ローリング板３４０は、ローリング軸３４０ａを中心として、第１スイッチ駆動突部３４０ｄが位置する第１半部と、接続突部３４０ｃが位置する第２半部とを含み、前記第２半部が下降すると前記第１半部は上昇し、前記第２半部が上昇すると前記第１半部は下降する。
【００６０】
ここで、前記第１半部が上昇すると、第１スイッチ駆動突部３４０ｄが上昇して前記接触レバーを押圧することにより、第１マイクロスイッチ３３２から回路遮断器のオン位置又はオフ位置を示す電気的信号を出力させる。
【００６１】
また、前記第１半部が下降すると、第１スイッチ駆動突部３４０ｄが下降して前記接触レバーから離隔することにより、第１マイクロスイッチ３３２から回路遮断器のオン位置又はオフ位置を示す電気的信号が出力されなくなる。
【００６２】
ローリング軸３４０ａは、ローリング板３４０をローリング可能に支持する手段である。ローリング軸３４０ａは、長い棒状の軸であって、長手方向両端部側に一対のＯリング（O-ring）３４０ｂが設けられる。
【００６３】
一対のＯリング３４０ｂは、ローリング軸３４０ａが軸受部３４０ｅから軸方向に離脱することを防止するためのものであり、ローリング軸３４０ａの長手方向両端部側に形成された設置溝（図示せず）にそれぞれ嵌められて設けられる。
【００６４】
ローリング軸３４０ａは、支持ベース３０１の軸受孔部３０１ｃに軸受されて支持される。
【００６５】
第１スイッチ駆動突部３４０ｄは、ローリング板３４０の一側部に上方に突出するように設けられて第１マイクロスイッチ３３２を動作させる手段である。
【００６６】
第１スイッチ駆動突部３４０ｄは、ローリング板３４０から延設されるようにローリング板３４０と一体に構成してもよく、変形例として、ローリング板３４０と別体に構成し、溶接又は螺合によりローリング板３４０に接続される板に形成してもよい。
【００６７】
接続突部３４０ｃは、ローリング板３４０の一側面から前方（図４の右側）に向かって延設されるように構成してもよく、変形例として、ローリング板３４０と別体に構成し、溶接又は螺合によりローリング板３４０の一側面（図４の右側面）に接続される板に形成してもよい。
【００６８】
接続突部３４０ｃは、第１レバー３３５からの駆動力を受けることができるように第１レバー３３５の接続口部３３５ｂに挿入されて駆動接続される手段である。
【００６９】
第２マイクロスイッチ３３１は、前記回路遮断器がトリップ動作するか否かを示す電気的信号を出力する手段である。
【００７０】
第２マイクロスイッチ３３１は、周知のように機械的接触により電気的出力信号を発生させる手段である。
【００７１】
このために、第２マイクロスイッチ３３１は、予め定められた、例えば直流電圧信号を入力信号として受信する入力端子（図示せず）、内部のスイッチ接点（図示せず）、出力端子３３１ａ、及び前記内部のスイッチ接点を開位置又は閉位置に動作させるための機械的駆動力を得るために第２マイクロスイッチ３３１の底部から斜め下方に延設されて好ましい実施形態によればローラが端部に備えられる接触レバー（図示せず）を有する。
【００７２】
第２レバー３３６は、開閉軸５００に接触して第２マイクロスイッチ３３１を動作させるように回動可能である。
【００７３】
第２レバー３３６は、レバー回動軸３３７に支持される中間の軸受部３３６ｂと、開閉軸５００側（より詳細には、開閉軸５００の第２レバー押圧レバー５３０）からの接触押圧力又はテストのための人為的な接触押圧力を受けることができるように、軸受部３３６ｂから斜め上方に延びる第１延長部３３６ａと、軸受部３３６ｂから第１延長部３３６ａ側と反対方向に第２マイクロスイッチ３３１を動作させるように延びる第２延長部３３６ｃとを含む。
【００７４】
特に、第２延長部３３６ｃは、第２マイクロスイッチ３３１の前記接触レバーを押圧できるように、自由端部から垂直方向に突出して延びる作用突部を有する。
【００７５】
一対のＯリング３３７ａは、レバー回動軸３３７の長手方向両端部側に形成された設置溝（図示せず）にそれぞれ固定され、第１レバー３３５及び第２レバー３３６の軸方向離脱を防止する。
【００７６】
一方、図３及び図４に示すように、付属機構モジュール３３０は、復帰スプリング３３８、３３９をさらに含んでもよい。
【００７７】
復帰スプリング３３８、３３９は、第１復帰スプリング３３９と第２復帰スプリング３３８とからなり、第１復帰スプリング３３９は、第１レバー３３５を押す力が消滅すると第１レバー３３５を元の位置に復帰させるように第１レバー３３５に接触して付勢し、第２復帰スプリング３３８は、第２レバー３３６を押す力が消滅すると第２レバー３３６を元の位置に復帰させるように第２レバー３３６に接触して付勢する。
【００７８】
第１復帰スプリング３３９は、一端部が第１レバー３３５の上面に形成されたスプリング支持突部（図示せず）に支持され、他端部は支持ベース３０１の一側部の底面に形成されたスプリング支持突部（図示せず）に支持される。同様に、第２復帰スプリング３３８は、一端部が第２レバー３３６の上面に形成されたスプリング支持突部（図示せず）に支持され、他端部は支持ベース３０１の一側部の底面に形成されたスプリング支持突部（図示せず）に支持される。
【００７９】
第２復帰スプリング３３８が支持ベース３０１の一側部の底面に設けられた状態を図２に示す。
【００８０】
次に、図３〜図６を参照してトリップ機構モジュール３１０の構成及び作用を説明する。
【００８１】
トリップ機構モジュール３１０は、電磁トリップ機構３２１を含んでもよい。
【００８２】
また、本発明の好ましい実施形態によれば、電磁トリップ機構３２１は、回路遮断器がトリップ動作するようにトリガした後に電磁トリップ機構３２１を元の位置に復帰させるリセット機構をさらに含んでもよい。
【００８３】
電磁トリップ機構３２１は、電磁石機構、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３を含む。
【００８４】
前記電磁石機構は、図１の過電流継電器２００からのトリップ制御信号（トリップ指令信号）により励磁されるコイル（図示せず）、前記コイルが巻回されるボビン（符号なし）、可動コア３２２、バイアススプリング３２３、及び可動コア３２２を吸引する磁力を与える永久磁石（図示せず）を内蔵して含む。
【００８５】
可動コア３２２は、前記電磁石機構のコイルが励磁されるか消磁されるかによって直線状に前進又は後退可能な鉄心で構成される。
【００８６】
バイアススプリング３２３は、前記電磁石機構のボビンと可動コア３２２との間に設けられ、可動コア３２２が前進する方向に付勢するスプリングで構成されてもよい。
【００８７】
つまり、過電流継電器２００からのトリップ制御信号（トリップ指令信号）により前記コイルが励磁されると、前記永久磁石の磁気吸引力が相殺され、従って、バイアススプリング３２３が可動コア３２２に付勢力を与えて、可動コア３２２が前進する。
【００８８】
図６に示すように、ラッチ３２５は、可動コア３２２に対向する自由端である一端部と、後述するトリップバー機構３１３の筐体上で回動軸（符号なし）により回動可能に支持される中間部と、トリップバー機構３１３のトリップバー３１３ａを拘束する位置又は解放する位置への可動コア３２２の前進又は後退に従って回動可能な他端部とを含む。
【００８９】
本発明の好ましい実施形態によれば、ラッチ３２５は、上下一対の略Ｕ字状のレバーで構成されてもよい。
【００９０】
トリップバー機構３１３は、回路遮断器、とりわけ回路遮断器の開閉機構がトリップ位置に動作するようにトリガする位置（トリガ位置）に直線移動可能なトリップバー３１３ａと、トリップバー３１３ａが直線移動するようにガイドして支持する筐体（符号なし）と、一端部は前記筐体に支持されて他端部はトリップバー３１３ａに接続されてトリップバー３１３ａを前記トリガ位置に付勢するスプリング３１３ｃとを含む。
【００９１】
トリップバー３１３ａは、トリップバー３１３ａに接続されるか又は一体に形成され、後述するリセットプレート３１４により接触押圧され得るリセットプレート接触部３１３ｂを含む。
【００９２】
トリップバー機構３１３のトリップバー３１３ａは、ラッチ３２５の他端部に係止されて停止する係止顎部（図示せず）を有する。トリップバー３１３ａは、可動コア３２２の前進又は後退によりラッチ３２５が回動するか否かによって、ラッチ３２５から解放されるか又はラッチ３２５により拘束される。すなわち、ラッチ３２５が回動すると、トリップバー３１３ａがラッチ３２５の拘束から解放されると共に、引っ張られたスプリング３１３ｃが収縮してトリップバー３１３ａを引き寄せることにより、トリップバー３１３ａが前記トリガ位置に移動する。
【００９３】
それに対して、ラッチ３２５が回動しないと、トリップバー３１３ａがラッチ３２５の他端部により拘束され、スプリング３１３ｃは引っ張られた状態を維持する。
【００９４】
電磁トリップ機構３２１を元の位置に復帰させるリセット機構は、リセットプレート３１４、復帰スプリング３１５、ピンアセンブリ３２０、リセット作用板３２４、及び作用板支持軸３２４ａを含む。
【００９５】
リセットプレート３１４は、トリップバー機構３１３のリセットプレート接触部３１３ｂに接触して押圧し得るトリップバー押圧部３１４ｂと、ピンアセンブリ３２０をリセット作用板３２４側に押圧するようにピンアセンブリ３２０側に突設されるピンアセンブリ押圧部３１４ｃとを備える。
【００９６】
さらに、リセットプレート３１４は、下部に一対の軸受部３１４ａを備えて、軸受部３１４ａによりリセットプレート回動支持軸３１５ａに回動可能に支持される。
【００９７】
図４を参照すると、リセットプレート回動支持軸３１５ａからのリセットプレート３１４の軸方向離脱を防止するために、リセットプレート回動支持軸３１５ａの長手方向両端部には溝（図示せず）が形成され、当該溝にはリセットプレート３１４の軸方向離脱を防止する一対のＯリング３１５ｂが設けられる。
【００９８】
図３に示すような復帰スプリング３１５は、リセットプレート回動支持軸３１５ａに嵌められて支持される一端部、及びリセットプレート３１４に嵌められて支持される他端部を有するトーションスプリングで構成されてもよい。復帰スプリング３１５は、使用者が開閉機構１００のハンドル（符号なし）をオフ位置に操作するリセット操作力がなくなると、リセットプレート３１４を付勢して図５の時計方向に回動させることにより、ピンアセンブリ３２０及びトリップバー機構３１３のリセットプレート接触部３１３ｂから離れた初期位置に復帰させる。
【００９９】
図４及び図５を参照すると、ピンアセンブリ３２０は、支持ベース３０１により支持され、スライド可能にガイドされる筐体部（符号なし）と、前記筐体部により支持され、前記筐体部からリセット作用板３２４側に突出して延びるピン部３２０ａと、前記筐体部の内部に設けられ、ピン部３２０ａがリセット作用板３２４側に突出するように付勢するスプリング３２０ｂとを含む。
【０１００】
図５及び図６を参照すると、リセット作用板３２４は、作用板支持軸３２４ａにより回動可能に支持され、ピンアセンブリ３２０のピン部３２０ａにより回動のための動力を受ける下部動力受け部と、前記下部動力受け部がピン部３２０ａにより押圧されて回動すると電磁トリップ機構３２１の可動コア３２２が初期位置に復帰するように押圧する上部作用部とを含む。
【０１０１】
リセット作用板３２４とラッチ３２５との間にはリセット作用板復帰用復帰スプリング（符号なし）が設けられており、リセット作用を行ったリセット作用板３２４が初期位置に復帰するように付勢する。
【０１０２】
作用板支持軸３２４ａは、リセット作用板３２４を回動可能に支持する。
【０１０３】
以下、前記のように構成される本発明の好ましい実施形態による電磁トリップ機構３２１を元の位置に復帰させるリセット機構のリセット動作を簡単に説明する。
【０１０４】
図１の回路遮断器１０００がリセット動作を行うと、すなわち使用者が開閉機構１００のハンドル（符号なし）をオフ位置に操作すると、それに連動して、図５のリセットプレート３１４は、リセットプレート回動支持軸３１５ａを中心に図の反時計方向に回動して、ピンアセンブリ３２０をリセット作用板３２４側に押すと共に、トリップバー機構３１３のリセットプレート接触部３１３ｂを押圧する。
【０１０５】
従って、リセットプレート接触部３１３ｂにより押圧されたトリップバー３１３ａが前記トリガ位置から後退して、トリップバー３１３ａの顎部（図示せず）がラッチ３２５の他端部に拘束されると共に、トリップバー３１３ａに一端部が支持されたスプリング３１３ｃが引っ張られて弾性エネルギーを蓄積した状態で拘束される。
【０１０６】
それと同時に、図５のピンアセンブリ３２０のピン部３２０ａがリセット作用板３２４の下部を押すと、リセット作用板３２４が作用板支持軸３２４ａを中心に図の時計方向に回動して、リセット作用板３２４の上部が可動コア３２２を押して初期位置に復帰させる。
【０１０７】
このようなリセット作用が行われると、リセット作用板３２４は、リセット作用板３２４とラッチ３２５との間に設けられたリセット作用板復帰用復帰スプリングにより初期位置に復帰する。
【０１０８】
一方、図５及び図６に示すように、本発明の好ましい実施形態によれば、トリップ機構モジュール３１０は、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１と、連動レバー機構３１２とをさらに含む。
【０１０９】
低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１は、図６に示すように、選択的に低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構から構成される副トリップ機構３１１ｂと、副トリップ機構３１１ｂの後述するコイルを励磁又は消磁する制御信号を受信して伝達するプリント基板部３１１ａとを含んでもよい。
【０１１０】
副トリップ機構３１１ｂが低電圧トリップ機構から構成される場合、当該低電圧トリップ機構は、本発明による回路遮断器１０００が接続される電力回路の電圧又は制御電源の電圧が所定の基準電圧以下に降下することを検出する図１の過電流継電器２００からの制御信号をプリント基板部３１１ａが受信して伝達することにより駆動される電磁アクチュエータで構成されてもよい。
【０１１１】
当該電磁アクチュエータは、周知のように、固定コア（図示せず）、前記固定コアに近づく位置と前記固定コアから遠ざかる位置とに移動可能な可動コア（図示せず）、前記可動コアの一部として構成される出力ピン３１１ｂ１、前記可動コアを前記固定コア側に引き寄せる磁力を与える永久磁石（図示せず）、前記固定コアの周囲に設けられ、前記制御信号により前記固定コアと共に磁化して前記永久磁石の磁力を相殺する磁力を発生するコイル（図示せず）、前記永久磁石の磁力が相殺されると前記可動コアを前記固定コアから遠ざかる方向に付勢するスプリングなどを含んでもよい。
【０１１２】
このような電磁アクチュエータの内部構成は周知の通りであるので図示を省略する。
【０１１３】
副トリップ機構３１１ｂがシャントトリップ機構から構成される場合、当該シャントトリップ機構は、本発明による回路遮断器１０００から遠隔地に設けられた例えば監視盤から送信された制御信号により駆動される電磁アクチュエータで構成されてもよい。当該電磁アクチュエータは、低電圧トリップ機構を構成する電磁アクチュエータと同様に構成されてもよい。
【０１１４】
つまり、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１は、図１の過電流継電器２００から又は例えば遠隔地の監視盤から制御信号を受信すると、前記制御信号により磁化した前記コイル及び固定コアの磁力により前記永久磁石の磁力が相殺され、従って、前記スプリングの付勢力により前記可動コア及び出力ピン３１１ｂ１が突出する。
【０１１５】
突出する出力ピン３１１ｂ１は、対向して設けられる連動レバー機構３１２を押圧して前方に直線移動させる。
【０１１６】
連動レバー機構３１２は、連動レバー３１２ａ、復帰スプリング３１２ｂ、及びラッチ押圧部３１２ｃを含み、筐体（符号なし）に収容される。
【０１１７】
連動レバー３１２ａは、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１の突出する出力ピン３１１ｂ１に接触できるように出力ピン３１１ｂ１に対向して一側に設けられる動力受け部３１２ａ−１と、動力受け部３１２ａ−１から電磁トリップ機構３２１のラッチ３２５側に延びて形成される作用部としてのラッチ押圧部３１２ｃとを有する。
【０１１８】
連動レバー３１２ａは、出力ピン３１１ｂ１の押圧により直線移動して、トリップ機構モジュール３１０をトリガするように動作させることができる。より詳細には、連動レバー３１２ａが出力ピン３１１ｂ１の押圧により直線移動してラッチ３２５を押圧し、押圧されたラッチ３２５が回動してトリップバー３１３ａを解放すると、引っ張られたスプリングがトリップバー３１３ａを引き寄せることにより、トリップバー３１３ａがトリガ位置に移動する。
【０１１９】
従って、図１の回路遮断器１０００の開閉機構１００がトリップ位置に動作する。
【０１２０】
復帰スプリング３１２ｂは、ラッチ３２５を押圧するように移動した連動レバー３１２ａが初期位置に復帰するように連動レバー３１２ａに付勢力を与える手段であって、一端部は、連動レバー３１２ａのうち出力ピン３１１ｂ１に対向する面の反対側面に形成されたスプリング固定用突部（図示せず）に嵌められて支持され、他端部は、連動レバー機構３１２の筐体の壁面に支持される。
【０１２１】
ラッチ押圧部３１２ｃは、連動レバー３１２ａに接続されるか又は一体に延びるように形成される作用部であって、出力ピン３１１ｂ１の押圧により直線移動してラッチ３２５を押圧できるように、ラッチ３２５に対向して位置する。
【０１２２】
図３に示すように、本発明の好ましい実施形態によるトリップ機構モジュール３１０は、動作テストのためのテスト信号を受信するリード線３１６、３１８をさらに含む。ここで、テスト信号を出力する手段としては、所定レベルの電圧信号を出力する信号源であればいかなる手段でも使用可能である。
【０１２３】
リード線３１６、３１８は、遠隔地からの遠隔トリップ制御信号、又は低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１が正常に動作するかをテストするためのテスト信号の伝達経路を提供するリード線３１６と、過電流継電器２００からのトリップ制御信号、又は電磁トリップ機構３２１が正常に動作するかをテストするためのテスト信号の伝達経路を提供するリード線３１８とを含む。
【０１２４】
図３に示すように、本発明の好ましい実施形態によるトリップ機構モジュール３１０は、リード線３１６、３１８に接続されて前記遠隔トリップ制御信号、トリップ制御信号、又はテスト信号を受信する複数のピン又はピンホールを有するコネクタ３１７、３１９をさらに含んでもよい。
【０１２５】
コネクタ３１７、３１９は、遠隔地からの遠隔トリップ制御信号、又は低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１が正常に動作するかをテストするためのテスト信号を受信する手段を提供するコネクタ３１７と、過電流継電器２００からのトリップ制御信号、又は電磁トリップ機構３２１が正常に動作するかをテストするためのテスト信号を受信する手段を提供するコネクタ３１９とを含む。
【０１２６】
前記遠隔地の監視盤からの遠隔トリップ制御信号又は信号源（テスト信号発生源）からのテスト信号がコネクタ３１７とリード線３１６を介して低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１のプリント基板部３１１ａに受信されると、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１が正常の場合、プリント基板部３１１ａからの制御信号により磁化した前記コイル及び固定コアの磁力により前記永久磁石の磁力が相殺され、従って、前記スプリングの付勢力により出力ピン３１１ｂ１が突出する。
【０１２７】
低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１が異常（不良）の場合は、出力ピン３１１ｂ１が突出しない。
【０１２８】
過電流継電器２００からのトリップ制御信号又は信号源（テスト信号発生源）からのテスト信号がコネクタ３１９とリード線３１８を介して電磁トリップ機構３２１の前記コイルに受信されると、電磁トリップ機構３２１が正常の場合、可動コア３２２の前進によるラッチ３２５の回動に従ってトリップバー３１３ａがラッチ３２５から解放される。これと同時に、引っ張られたスプリング３１３ｃが収縮してトリップバー３１３ａを引き寄せることにより、トリップバー３１３ａが移動する。
【０１２９】
電磁トリップ機構３２１が異常（不良）の場合は、トリップバー３１３ａが移動しないので、これから正常であるか否かを確認することができる。
【０１３０】
以下、図１〜図７を参照して、前述したように構成される本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置の動作を説明する。
【０１３１】
まず、本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置のテスト動作を説明する。
【０１３２】
付属機構モジュール３３０のテスト動作を説明すると次の通りである。ここで、テスト動作とは、組み立てる前に付属機構モジュール３３０のみを対象として行うテスト動作を意味する。
【０１３３】
まず、付属機構モジュール３３０のうち第１マイクロスイッチ３３２及び第１軸接触レバー機構３３５Ｍが正常に動作するかをテストするために、入力端子３３２ａに所定の電圧信号を供給した状態で、第１レバー３３５を例えば手で押して人為的な動作条件を与えると、第１レバー３３５の接続口部３３５ｂが下降する。
【０１３４】
すると、ローリング板３４０の第２半部（図４の右側半部）は下降し、ローリング板３４０の第１半部（図４の左側半部）は上昇し、従って、前記第１半部に位置する第１スイッチ駆動突部３４０ｄが上昇する。
【０１３５】
上昇する第１スイッチ駆動突部３４０ｄが第１マイクロスイッチ３３２の接触レバーを押圧して第１マイクロスイッチ３３２内部の接点が例えば閉じると、第１マイクロスイッチ３３２の出力端子３３２ｂから出力信号が出力される。
【０１３６】
当該出力信号が出力されるか否かを、信号線などを介して電圧計やオシロスコープなどの電圧又は電圧波形を計測できる装置に接続して確認することにより、第１マイクロスイッチ３３２及び第１軸接触レバー機構３３５Ｍが正常に動作するか否かを確認することができる。
【０１３７】
すなわち、出力電圧の検出結果が正常であるか、出力波形の検出結果が正常であると、第１マイクロスイッチ３３２及び第１軸接触レバー機構３３５Ｍは正常である。逆に、出力電圧の検出結果が正常でないか、出力波形の検出結果が正常でないと、第１マイクロスイッチ３３２及び第１軸接触レバー機構３３５Ｍは異常（不良）である。
【０１３８】
同様の方法で、付属機構モジュール３３０のうち第２マイクロスイッチ３３１及び第２レバー３３６が正常に動作するかをテストすることができる。
【０１３９】
すなわち、付属機構モジュール３３０のうち第２マイクロスイッチ３３１及び第２レバー３３６が正常に動作するかをテストするために、入力端子（図示せず）に所定の電圧信号を供給した状態で、第１延長部３３６ａを例えば手で押して人為的な動作条件を与えると、第２レバー３３６の第２延長部３３６ｃが下降して第２マイクロスイッチ３３１の接触レバーを押圧する。
【０１４０】
それにより第２マイクロスイッチ３３１内部の接点が例えば閉じると、第２マイクロスイッチ３３１の出力端子３３１ａから出力信号が出力される。当該出力信号が出力されるか否かを、信号線などを介して電圧計やオシロスコープなどの電圧又は電圧波形を計測できる装置に接続して確認することにより、第２マイクロスイッチ３３１及び第２レバー３３６が正常に動作するか否かを確認することができる。
【０１４１】
すなわち、出力電圧の検出結果が正常であるか、出力波形の検出結果が正常であると、第２マイクロスイッチ３３１及び第２レバー３３６は正常である。逆に、出力電圧の検出結果が正常でないか、出力波形の検出結果が正常でないと、第２マイクロスイッチ３３１及び第２レバー３３６は異常（不良）である。
【０１４２】
そして、トリップ機構モジュール３１０のテスト動作を説明すると次の通りである。ここで、テスト動作とは、組み立てる前にトリップ機構モジュール３１０のみを対象として行うテスト動作を意味する。
【０１４３】
まず、トリップ機構モジュール３１０のうち、電磁トリップ機構３２１、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３のテスト動作を説明する。
【０１４４】
テストのために、トリップ制御信号として、例えば過電流継電器からのトリップ制御信号などの所定の電圧レベルを有する電圧信号を、信号発生器からコネクタ３１９を介して電磁トリップ機構３２１に供給する。
【０１４５】
すると、当該トリップ制御信号により、電磁トリップ機構３２１のコイルが励磁されて内部の永久磁石の磁力が相殺され、従って、バイアススプリング３２３により可動コア３２２が前進する。そして、前進する可動コア３２２の押圧によりラッチ３２５が回動し、回動するラッチ３２５によりトリップバー３１３ａに対する拘束が解放される。
【０１４６】
従って、トリップバー３１３ａは、スプリング３１３ｃが収縮して引き寄せる付勢力により移動する。
【０１４７】
このように、人為的なトリップ制御信号の供給によりトリップバー３１３ａが移動すると、電磁トリップ機構３２１、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３の動作は正常である。
【０１４８】
逆に、人為的なトリップ制御信号を供給してもトリップバー３１３ａが移動しないと、電磁トリップ機構３２１、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３の動作は異常（不良）である。
【０１４９】
次に、トリップ機構モジュール３１０のうち、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１、連動レバー機構３１２、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３のテスト動作を説明する。
【０１５０】
テストのために、トリップ制御信号として、例えば過電流継電器からの低電圧トリップ制御信号又は遠隔地からの遠隔トリップ制御信号などの所定の電圧レベルを有する電圧信号を、信号発生器からコネクタ３１７を介して低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１に供給する。
【０１５１】
すると、当該トリップ制御信号により、副トリップ機構３１１ｂのコイルが励磁されて内部の永久磁石の磁力が相殺され、従って、スプリング（図示せず）により出力ピン３１１ｂ１が前進する。
【０１５２】
そして、前進する出力ピン３１１ｂ１の押圧により連動レバー３１２ａが前進し、前進する連動レバー３１２ａのラッチ押圧部３１２ｃによりラッチ３２５が押圧される。
【０１５３】
従って、ラッチ３２５が回動し、回動するラッチ３２５により解放されたトリップバー３１３ａは、スプリング３１３ｃが収縮して引き寄せる付勢力により移動する。
【０１５４】
このように、人為的なトリップ制御信号の供給によりトリップバー３１３ａが移動すると、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１、連動レバー機構３１２、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３の動作は正常である。
【０１５５】
逆に、人為的なトリップ制御信号を供給してもトリップバー３１３ａが移動しないと、低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１、連動レバー機構３１２、ラッチ３２５、及びトリップバー機構３１３の動作は異常（不良）である。
【０１５６】
以上のように、本発明による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置においては、付属機構モジュールとトリップ機構モジュールを回路遮断器に組み込む前に正常であるか否かをそれぞれテストすることができ、組み立て、テスト、及び生産にかかる時間を短縮し、コストを削減することができるという効果がある。
【０１５７】
一方、本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置の組み立て動作を簡単に説明すると次の通りである。
【０１５８】
まず、前述したようなテストにより正常が確認された付属機構モジュール３３０及びトリップ機構モジュール３１０を準備する。
【０１５９】
そして、支持ベース３０１を準備し、支持ベース３０１の仕切り３０１ｄにより区分された所定の位置に付属機構モジュール３３０及びトリップ機構モジュール３１０を組み込み、支持ベース３０１、付属機構モジュール３３０、及びトリップ機構モジュール３１０の組立体を得る。
【０１６０】
その後、支持ベース３０１、付属機構モジュール３３０、及びトリップ機構モジュール３１０の組立体を主カバー４００内に設置すると、支持ベース３０１、付属機構モジュール３３０、及びトリップ機構モジュール３１０の組み立てが完了する。
【０１６１】
次に、本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置が回路遮断器に組み込まれた状態での付属機構モジュールの動作を説明する。
【０１６２】
まず、図７に示すように、回路遮断器１０００のオン位置又はオフ位置による開閉軸５００の回動に従って、開閉軸５００の軸上に設けられた第１レバー押圧レバー５２０が第１レバー３３５の第１延長部３３５ａを押すと、第１レバー３３５の接続口部３３５ｂが下降する。
【０１６３】
すると、ローリング板３４０の第２半部（図４の右側半部）は下降し、ローリング板３４０の第１半部（図４の左側半部）は上昇し、従って、前記第１半部に位置する第１スイッチ駆動突部３４０ｄが上昇する。
【０１６４】
上昇する第１スイッチ駆動突部３４０ｄが第１マイクロスイッチ３３２の接触レバーを押圧して第１マイクロスイッチ３３２内部の接点が例えば閉じると、第１マイクロスイッチ３３２の出力端子３３２ｂから現在回路遮断器１０００がオン位置であるかオフ位置であるかを示す出力信号が出力される。
【０１６５】
当該出力信号は、過電流継電器２００に伝達され、現在回路遮断器１０００がオン位置であるかオフ位置であるかを表示するのに用いられ、かつ／又は状態情報データとしてメモリに保存され、かつ／又は状態情報として遠隔地の監視盤に送信するのに用いられる。
【０１６６】
そして、回路遮断器１０００のトリップ動作が行われると、それによる開閉軸５００の回動に従って、開閉軸５００の軸上に設けられた第２レバー押圧レバー５３０が第２レバー３３６の第１延長部３３６ａを押す。
【０１６７】
すると、レバー回動軸３３７を中心に回動する第２レバー３３６により、第２延長部３３６ｃが下降して第２マイクロスイッチ３３１の接触レバーを押圧する。
【０１６８】
それにより第２マイクロスイッチ３３１内部の接点が例えば閉じると、第２マイクロスイッチ３３１の出力端子３３１ａから回路遮断器１０００がトリップ動作を行ったことを示す出力信号が出力される。
【０１６９】
当該出力信号は、過電流継電器２００に伝達され、回路遮断器１０００がトリップ動作を行ったことを表示するのに用いられ、かつ／又は状態情報データとしてメモリに保存され、かつ／又は状態情報として遠隔地の監視盤に送信するのに用いられる。
【０１７０】
次に、本発明の好ましい実施形態による回路遮断器のモジュール化したトリップ機構及び付属機構装置が回路遮断器に組み込まれた状態でのトリップ機構モジュールの動作を説明する。
【０１７１】
過電流継電器２００からのトリップ制御信号の受信によるトリップ動作は次の通りである。
【０１７２】
過電流継電器２００は、回路遮断器１０００が接続された電力回路に過電流や短絡電流などの事故電流が発生してこれを検出すると、トリップ制御信号を出力する。
【０１７３】
過電流継電器２００からのトリップ制御信号がコネクタ３１９とリード線３１８を介して電磁トリップ機構３２１の前記コイルに受信されると、可動コア３２２の前進によるラッチ３２５の回動に従ってトリップバー３１３ａがラッチ３２５から解放される。これと同時に、引っ張られたスプリング３１３ｃが収縮してトリップバー３１３ａを引き寄せることにより、トリップバー３１３ａがトリガ位置に移動する。
【０１７４】
そして、トリップバー３１３ａのトリガ位置への移動によりトリガされた開閉機構１００がトリップ動作して、相毎の可動接触子（図示せず）を対応する固定接触子から分離することにより、自動回路遮断（トリップ）動作が完了する。
【０１７５】
遠隔地からの遠隔トリップ制御信号、又は過電流継電器２００からの低電圧トリップ制御信号の受信によるトリップ動作は次の通りである。
【０１７６】
遠隔地に設けられた監視盤からの遠隔トリップ制御信号、又は回路の低電圧の発生を検出した過電流継電器２００からの低電圧トリップ制御信号がコネクタ３１７とリード線３１６を介して低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構３１１のプリント基板部３１１ａに受信されると、当該遠隔トリップ制御信号又は低電圧トリップ制御信号により、副トリップ機構３１１ｂのコイルが励磁されて内部の永久磁石の磁力が相殺される。
【０１７７】
従って、スプリング（図示せず）により出力ピン３１１ｂ１が前進する。そして、前進する出力ピン３１１ｂ１の押圧により連動レバー３１２ａが前進し、前進する連動レバー３１２ａのラッチ押圧部３１２ｃによりラッチ３２５が押圧される。
【０１７８】
従って、ラッチ３２５が回動し、回動するラッチ３２５により解放されたトリップバー３１３ａは、スプリング３１３ｃが収縮して引き寄せる付勢力によりトリガ位置に移動する。
【０１７９】
そして、トリップバー３１３ａのトリガ位置への移動によりトリガされた開閉機構１００がトリップ動作して、相毎の可動接触子（図示せず）を対応する固定接触子から分離することにより、自動回路遮断（トリップ）動作が完了する。
【符号の説明】
【０１８０】
１００    開閉機構
２００    過電流継電器
３００    モジュール化したトリップ機構及び付属機構装置
３０１    支持ベース
３０１ａ    弾性支持片部
３０１ｂ    軸受孔部
３０１ｃ    軸受孔部
３０１ｄ    仕切り
３１０    トリップ機構モジュール
３１１    低電圧トリップ機構若しくはシャントトリップ機構
３１１ａ    プリント基板部
３１１ｂ    副トリップ機構
３１１ｂ１    出力ピン
３１２    連動レバー機構
３１２ａ    連動レバー
３１２ｂ    復帰スプリング
３１２ｃ    ラッチ押圧部
３１３    トリップバー機構
３１３ａ    トリップバー
３１３ｂ    リセットプレート接触部
３１３ｃ    スプリング
３１４    リセットプレート
３１４ａ    軸受部
３１４ｂ    トリップバー押圧部
３１４ｃ    ピンアセンブリ押圧部
３１５    復帰スプリング
３１５ａ    リセットプレート回動支持軸
３１５ｂ    Ｏリング
３１６，３１８    リード線
３１７，３１９    コネクタ
３２０    ピンアセンブリ
３２０ａ    ピン部
３２０ｂ    スプリング
３２１    電磁トリップ機構
３２２    可動コア
３２３    バイアススプリング
３２４    リセット作用板
３２４ａ    作用板支持軸
３２５    ラッチ
３３０    付属機構モジュール
３３１    第２マイクロスイッチ
３３１ａ    出力端子
３３２    第１マイクロスイッチ
３３２ａ    入力端子
３３２ｂ    出力端子
３３５    第１レバー
３３５ａ    第１延長部
３３５ｂ    接続口部
３３５Ｍ    第１軸接触レバー機構
３３６    第２レバー
３３６ａ    第１延長部
３３６ｂ    軸受部
３３６ｃ    第２延長部
３３７    レバー回動軸
３３７ａ    Ｏリング
３３８    第２復帰スプリング
３３９    第１復帰スプリング
３４０    ローリング板
３４０ａ    ローリング軸
３４０ｂ    Ｏリング
３４０ｃ    接続突部
３４０ｄ    第１スイッチ駆動突部
３４０ｅ    軸受部
４００    主カバー
５００    開閉軸
５１０    駆動リンク
５２０    第１レバー押圧レバー
５３０    第２レバー押圧レバー
１０００    回路遮断器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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