(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層を有する光記録媒体にレーザー光を照射することにより情報を記録する光記録装置であって、
光記録媒体毎に予め求められた、記録パワーを調整する為の標準的目標値を、光記録媒体または光記録装置から読み出す、目標値読み出し手段と、
情報記録領域を有する記録層に配置された記録パワー調整領域に試し書きをすることで、記録パワーを調整する記録パワー調整手段と、
前記記録パワー調整手段で調整された前記記録パワーを用いて、前記情報記録領域を有する記録層に情報を記録する情報記録手段と、
前記記録パワー調整領域に対応する位置の、前記情報記録手段で記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層の記録状態を判断し、当該手前の記録層のうちの記録済層の層と未記録である層の数を求める記録状態判断手段と、
テストパターンを記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層のうちの記録済層の数が第１の値である第１の記録状態で記録したときと、前記手前の記録層のうち記録済層の数が、前記第１の値とは異なる第２の値である第２の記録状態で記録したときとの再生信号パラメータ差の半分と、前記手前の記録層の数の、前記第１の記録状態での前記記録済層の数から前記第２の記録状態での前記記録済層の数を引いた値に対する比とを乗算することで求めた基準目標値オフセット量と、前記記録状態判断手段で求めた前記記録済層の数から前記未記録である層の数を引いて前記手前の記録層の数で割った値をオフセット量補正係数として求め、前記基準目標値オフセット量に、前記オフセット量補正係数を掛けた値を、前記標準的目標値に加算することで、前記標準的目標値を補正して補正目標値を生成する目標値補正手段とを有し、
前記記録パワー調整手段は、前記補正目標値を用いて前記記録パワーを調整する
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
前記第１の記録状態は、前記手前の記録層の全てが未記録あるいは記録済となる場合であり、
前記第２の記録状態は、前記第１の記録状態とは記録済層の数が異なる記録状態である
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項３】
前記再生信号パラメータ差が、前記情報記録手段で記録する光記録媒体と同じ種類の１又は２以上の光記録媒体を用いて予め求められたものであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録装置。
【請求項４】
前記テストパターンを記録する記録層よりも手前の記録層が、前記第１の記録状態にある場合の前記テストパターンの記録と、前記第２の記録状態にある場合の前記テストパターンの記録が、同一の記録パワーで行われる
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項５】
前記第１の記録状態は、前記手前の記録層の全てが記録済である状態であり、
前記第２の記録状態は、前記手前の記録層の全てが未記録である状態であり、
前記第１の記録状態で記録した場合に得られる第１の再生信号パラメータがＢＲ、
前記第２の記録状態で記録した場合に得られる第２の再生信号パラメータがＢＵである場合に、
前記基準目標値オフセット量ＢＯは、
ＢＯ＝（ＢＲ−ＢＵ）／２
で求められ、
前記記録状態判断手段で求めた、記録済である層の数がＲ、未記録である層の数がＵ、前記情報記録手段で記録する記録層よりも手前の全ての記録層の数がＮｒで表される場合に、
前記目標値補正手段は、標準的目標値をＢＴ１とした時に、前記補正目標値ＢＴ２を
ＢＴ２＝ＢＴ１＋ＢＯ×（Ｒ−Ｕ）／Ｎｒ
で求めることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項６】
前記再生信号パラメータは、再生信号のアシンメトリ値であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項７】
前記再生信号パラメータは、再生信号の変調度であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項８】
光記録媒体の種類を示す情報と共に前記基準目標値オフセット量を記憶しておく基準目標値オフセット量記憶手段を有し、
前記基準目標値オフセット量を、光記録媒体の種類毎に、予め実験により求めておき、光記録媒体の種類を示す情報と共に前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶しておき、
光記録媒体の種類に応じて、前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶した基準目標値オフセット量を読み出し、前記目標値補正手段で前記標準的目標値を補正して、前記補正目標値を生成する
ことを特徴とした請求項１乃至７のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項９】
光記録媒体の固有情報と共に前記基準目標値オフセット量を記憶しておく基準目標値オフセット量記憶手段を有し、
前記基準目標値オフセット量を、光記録媒体の固有情報毎に、予め実験により求めておき、光記録媒体の固有情報と共に前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶しておき、
光記録媒体の固有情報に応じて、前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶した基準目標値オフセット量を読み出し、前記目標値補正手段で標準的目標値を補正して前記補正目標値を生成する
ことを特徴とした請求項１乃至７のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項１０】
複数の記録層を有する光記録媒体にレーザー光を照射することにより情報を記録する光記録方法であって、
光記録媒体毎に予め求められた、記録パワーを調整する為の標準的目標値を、光記録媒体または光記録方法の実施に用いられる光記録装置から読み出す、目標値読み出し工程と、
情報記録領域を有する記録層に配置された記録パワー調整領域に試し書きをすることで、記録パワーを調整する記録パワー調整工程と、
前記記録パワー調整工程で調整された前記記録パワーを用いて、前記情報記録領域を有する記録層に情報を記録する情報記録工程と、
前記記録パワー調整領域に対応する位置の、前記情報記録工程で記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層の記録状態を判断し、当該手前の記録層のうちの記録済層の層と未記録である層の数を求める記録状態判断工程と、
テストパターンを記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層のうちの記録済層の数が第１の値である第１の記録状態で記録したときと、前記手前の記録層のうち記録済層の数が、前記第１の値とは異なる第２の値である第２の記録状態で記録したときとの再生信号パラメータ差の半分と、前記手前の記録層の数の、前記第１の記録状態での前記記録済層の数から前記第２の記録状態での前記記録済層の数を引いた値に対する比とを乗算することで求めた基準目標値オフセット量と、前記記録状態判断工程で求めた前記記録済層の数から前記未記録である層の数を引いて前記手前の記録層の数で割った値をオフセット量補正係数として求め、前記基準目標値オフセット量に、前記オフセット量補正係数を掛けた値を、前記標準的目標値に加算することで、前記標準的目標値を補正して補正目標値を生成する目標値補正工程とを有し、
前記記録パワー調整工程は、前記補正目標値を用いて前記記録パワーを調整する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項１１】
前記第１の記録状態は、前記手前の記録層の全てが未記録あるいは記録済となる場合であり、
前記第２の記録状態は、前記第１の記録状態とは記録済層の数が異なる記録状態である
ことを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
【請求項１２】
前記再生信号パラメータ差が、前記情報記録工程で記録する光記録媒体と同じ種類の１又は２以上の光記録媒体を用いて予め求められたものであることを特徴とする請求項１０又は１１に記載の光記録方法。
【請求項１３】
前記テストパターンを記録する記録層よりも手前の記録層が、前記第１の記録状態にある場合の前記テストパターンの記録と、前記第２の記録状態にある場合の前記テストパターンの記録が、同一の記録パワーで行われる
ことを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項１４】
前記第１の記録状態は、前記手前の記録層の全てが記録済である状態であり、
前記第２の記録状態は、前記手前の記録層の全てが未記録である状態であり、
前記第１の記録状態で記録した場合に得られる第１の再生信号パラメータがＢＲ、
前記第２の記録状態で記録した場合に得られる第２の再生信号パラメータがＢＵである場合に、
前記基準目標値オフセット量ＢＯは、
ＢＯ＝（ＢＲ−ＢＵ）／２
で求められ、
前記記録状態判断工程で求めた、記録済である層の数がＲ、未記録である層の数がＵ、前記情報記録工程で記録する記録層よりも手前の全ての記録層の数がＮｒで表される場合に、
前記目標値補正工程は、標準的目標値をＢＴ１とした時に、前記補正目標値ＢＴ２を
ＢＴ２＝ＢＴ１＋ＢＯ×（Ｒ−Ｕ）／Ｎｒ
で求めることを特徴とする請求項１０乃至１３のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項１５】
前記再生信号パラメータは、再生信号のアシンメトリ値であることを特徴とする請求項１０乃至１４のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項１６】
前記再生信号パラメータは、再生信号の変調度であることを特徴とする請求項１０乃至１４のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項１７】
前記基準目標値オフセット量を、光記録媒体の種類毎に、予め実験により求めておき、光記録媒体の種類を示す情報と共に基準目標値オフセット量記憶手段で記憶しておき、
光記録媒体の種類に応じて、前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶した基準目標値オフセット量を読み出し、前記目標値補正工程で前記標準的目標値を補正して、前記補正目標値を生成する
ことを特徴とした請求項１０乃至１６のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項１８】
前記基準目標値オフセット量を、光記録媒体の固有情報毎に、予め実験により求めておき、光記録媒体の固有情報と共に基準目標値オフセット量記憶手段で記憶しておき、
光記録媒体の固有情報に応じて、前記基準目標値オフセット量記憶手段で記憶した基準目標値オフセット量を読み出し、前記目標値補正工程で標準的目標値を補正して前記補正目標値を生成する
ことを特徴とした請求項１０乃至１６のいずれかに記載の光記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層を持つ光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録装置及び方法に関わるもので、特に記録パワーの最適化制御（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  ｐｏｗｅｒ  ｃｏｎｔｒｏｌ）に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに対して情報の記録を行うためには、情報の記録前に試し書きによるＯＰＣ（記録パワーの最適化制御）を行い、記録パワーを最適調整する必要がある。複数の記録層を有する多層光ディスクにおいては、記録光が入射する側から見て奥側に位置する層に記録を行う場合、手前側に位置する層が記録済状態であるか否かで最適な記録パワーが異なる。その為、情報記録領域において、記録を行う層よりも手前の層の状態として、記録済状態と未記録状態とが混在する場合にも性能変動を抑え安定した記録性能が得られる記録パワーに設定する必要がある。
【０００３】
この対応策として、ＯＰＣを行う領域内に、他の層の記録済状態／未記録状態の組合せが互いに異なる複数の小領域が形成されるように記録を行っておき、各小領域でＯＰＣを行い、記録時には条件に合致する組合せに対する最適記録パワーを用いるものがある（例えば特許文献１）。また、特許文献１と同様に、ＯＰＣを行う領域内に、他の層の記録済状態／未記録状態の組合せが互いに異なる複数の小領域が形成されるように記録を行っておき、各小領域でＯＰＣを行い、各々のＯＰＣ結果の平均値を最適パワーとして用いるものがある（例えば特許文献２）。また、スペース部の反射光量により手前の層が記録済状態か未記録状態かを判定し、状態に応じて記録パワーを切り換える様にしたものがある（例えば特許文献３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１９２２５８号公報（第１−１２頁、第１−６図）
【特許文献２】特開２００８−１０８３８８号公報（第１−１２頁、第１−５図）
【特許文献３】特開２００６−１７９１５３号公報（第１−１０頁、第１−４図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記の特許文献１及び２の従来の光記録装置では、ＯＰＣを行う領域内に、他の層の記録済状態／未記録状態の組合せが互いに異なる複数の小領域が形成されるように記録を行っておき、各小領域でＯＰＣを行うため、ＯＰＣに長い時間がかかり、記録開始までの時間が長いという問題がある。また、１回のＯＰＣで多量の領域を必要とするため、記録パワーを最適化できる回数が限られてしまい、情報の追記回数が制限されてしまう問題がある。
また、特許文献３の従来の光記録装置では、スペース部の反射光量により、記録状態と未記録状態を判定する様にしているが、光ディスクの記録膜等の形成状態の不均一による反射率変動があった場合に、誤判定がおこり、最適記録パワーで記録できない可能性がある。
【０００６】
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、情報を記録する層よりも、記録光が入射する側から見て手前側の記録層の状態として、記録済状態と未記録状態が混在する場合にも性能変動を抑え、安定した記録性能が得られる記録パワーに設定することができる光記録装置及び方法を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光記録装置は、
複数の記録層を有する光記録媒体にレーザー光を照射することにより情報を記録する光記録装置であって、
光記録媒体毎に予め求められた、記録パワーを調整する為の標準的目標値を、光記録媒体または光記録装置から読み出す、目標値読み出し手段と、
情報記録領域を有する記録層に配置された記録パワー調整領域に試し書きをすることで、記録パワーを調整する記録パワー調整手段と、
前記記録パワー調整手段で調整された前記記録パワーを用いて、前記情報記録領域を有する記録層に情報を記録する情報記録手段と、
前記記録パワー調整領域に対応する位置の、前記情報記録手段で記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層の記録状態を判断し、当該手前の記録層のうちの記録済層の層と未記録である層の数を求める記録状態判断手段と、
テストパターンを記録する記録層よりも、レーザー光を照射する側に位置する、手前の記録層のうちの記録済層の数が第１の値である第１の記録状態で記録したときと、前記手前の記録層のうち記録済層の数が、前記第１の値とは異なる第２の値である第２の記録状態で記録したときとの再生信号パラメータ差の半分と、前記手前の記録層の数の、前記第１の記録状態での前記記録済層の数から前記第２の記録状態での前記記録済層の数を引いた値に対する比とを乗算することで求めた基準目標値オフセット量と、前記記録状態判断手段で求めた記録済層の数から前記未記録である層の数を引いて前記手前の記録層の数で割った値をオフセット量補正係数として求め、前記基準目標値オフセット量に、前記オフセット量補正係数を掛けた値を、前記標準的目標値に加算することで、前記標準的目標値を補正して補正目標値を生成する目標値補正手段とを有し、
前記記録パワー調整手段は、前記補正目標値を用いて前記記録パワーを調整する
ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、情報を記録する領域において、記録層よりも手前側の記録層の状態として記録済状態と未記録状態が混在しても、状態の違いによる記録性能の変動を抑えることができ、安定した記録を行うことができる。また、ＯＰＣは記録を行う層と同じ層で実施するだけで良いので、ＯＰＣで最適記録パワーを求めるのに余分な時間と記録領域を必要としない。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】この発明の実施の形態における光記録再生装置を示すブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態における再生特性測定部において、測定される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。
【図３】この発明の実施の形態における再生特性測定部において、測定される再生信号の変調度の例を示した図である。
【図４】この発明の実施の形態における多層記録型光ディスクの一例として、３層の記録層を持つ場合のディスク構造を示した図である。
【図５】この発明の実施の形態における光ディスクの構成の一例を示した図である。
【図６】この発明の実施の形態１における多層記録型光ディスクのリードイン領域内のＯＰＣ領域の配置の一例を示した図である。
【図７】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、記録の手順の一例を示すフローチャートである。
【図８】この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ＯＰＣパラメータの補正手順の一例を示すフローチャートである。
【図９】多層光記録ディスクにおける記録パワーと記録性能の関係の一例を示した図である。
【図１０】多層光記録ディスクにおける記録パワーとアシンメトリ値の関係の一例を示した図である。
【図１１】多層光記録ディスクにおけるアシンメトリ値と記録性能の関係の一例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
図１は本発明の実施の形態１に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。ここで、図１の光記録再生装置１００は、例えば光ディスク５００がＢＤの場合を示している。
【００１１】
サーボ制御部１８０は、光ディスク５００を回転させる為のスピンドルモーター１８１、光ヘッド３００の位置を移動させる為のスレッドモーター１８２、光ヘッド３００のアクチュエーター１８３（機能ブロックとして示す）を制御する。
【００１２】
光ヘッド３００からの再生信号がプリアンプ回路１１０にて増幅され、中央制御部２００に入力される。入力された信号は中央制御部２００にてアドレス情報の復号が行われ、光ヘッド３００の現在位置が得られる。
【００１３】
現在位置にて得られたアドレス情報から、アクセスすべき位置（アクセス対象位置）のアドレス情報の差分をサーボ制御部１８０に与えることにより、サーボ制御部１８０がスレッドモーター１８２を制御し、光ヘッド３００をアクセス対象位置へ移動させる。さらに、サーボ制御部１８０は、プリアンプ１１０からのサーボエラー信号に基づき、アクチュエータ１８３を駆動して、フォーカス制御、トラッキング制御を行う。
【００１４】
データ再生時は、半導体レーザー３１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。光ディスク５００からの反射光は、対物レンズ３５０を通った後にビームスプリッタ３４０により入射光と分離され、検出レンズ３６０を介して受光素子３７０で受光される。
【００１５】
上記のうち、半導体レーザー３１０と、コリメートレンズ３３０と、ビームスプリッタ３４０と、対物レンズ３５０、検出レンズ３６０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子３７０と、レーザー駆動部３２０と、アクチュエーター１８３とで光ピックアップ３００が構成されている。ここで、光ピックアップ３００内の光学系において、球面収差を補正する素子やレンズ等を配置し、光ディスク５００に応じて最適に制御する場合もある。
【００１６】
受光素子３７０は光信号を電気信号に変換する。受光素子３７０において変換された電気信号は、プリアンプ１１０を介して中央制御部２００、再生信号処理部１２０にそれぞれ入力される。
再生信号処理部１２０は、プリアンプ１１０からの電気信号をイコライズ処理（波形整形）し、記録品質測定部１３０と、データデコーダー１４０とに入力する。また、再生信号処理部１２０は、イコライズ処理する前の信号を再生特性測定部１５０に入力する。
【００１７】
再生特性測定部１５０は、記録時に必要な記録パワーの調整用にアシンメトリ値あるいは、変調度値等の再生信号パラメータを求める。また、記録品質測定部１３０は、再生信号のジッター値やエラーレート等の信号品質を測定する。
データデコーダー１４０は、入力された再生信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク５００に記録されたデータを生成（再生）する。光記録再生装置１００は上位コントローラー４００と接続されており、中央制御部２００は、生成されたデータを、バッファメモリ１９０に格納した後、上位コントローラー４００へ送る。
【００１８】
再生特性測定部１５０がアシンメトリ値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号（プリアンプ１１０から出力される信号）をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号に基づいてアシンメトリ値βを算出する。
図２（ａ）〜（ｃ）に、上記のＡＣカップリングされた電気信号の例が示されている。再生特性測定部１５０は、図２（ａ）〜（ｃ）に例示される信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）    …（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。
【００１９】
上記のように、図２（ａ）〜（ｃ）は、再生特性測定部１５０において、検出される再生信号（プリアンプ１１０から出力される信号）のアシンメトリの検出例を示すが、そのうち、図２（ａ）はβ＜０の場合を示し、図２（ｂ）はβ＝０の場合を示し、図２（ｃ）はβ＞０の場合を示す。
【００２０】
ここで、アシンメトリ値は上記の求め方に限定されるものではなく、記録された最長マーク（ＢＤの場合は８Ｔ信号）の信号と、記録された信号の最短マーク（ＢＤの場合は２Ｔ信号）の信号の非対称度が求められれば良い。
【００２１】
また、再生特性測定部１５０が変調度値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号のピークレベルＰＫとボトムレベルＢＭを検出する。この場合、アシンメトリを求める場合とは異なり、ＡＣカップリングをせずにそのまま（ＤＣカップリングで）得られた信号のピークレベルＰＫと、ボトムレベルＢＭとを検出し、これらから、以下の式（２）を用いて変調度を算出する。
変調度＝（ＰＫ−ＢＭ）／ＰＫ    …（２）
【００２２】
図３にそのようなＤＣカップリングで得られた信号の一例を示す。図示のように、ピークＰＫ、ボトムＢＭは、ゼロレベル（受光素子３７０への入力がない（光ディスクからの反射光入力がない）ときの出力オフセット値）が基準となる。ピークＰＫ、ボトムＢＭはそれぞれ最長スペース、最長マークのレベルに対応する。
【００２３】
データ記録時には、中央制御部２００は、上位コントローラー４００からのデータをバッファメモリ１９０に格納した後、データエンコーダー１６０で誤り訂正符号を付加し、変調規則に従って変調し、記録データを光ディスク５００のフォーマットに従って生成する。
【００２４】
ライトストラテジ制御部１７０は、記録データに基づきライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２００からライトストラテジが設定された後、データエンコーダー１６０から、マークの長さを表す周期数ｎを指定する記録データが与えられると、ライトストラテジ制御部１７０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。
【００２５】
レーザー駆動部３２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザー３１０を駆動する。半導体レーザー３１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。
【００２６】
中央制御部２００は、光記録再生装置１００による光ディスク５００への書き込みや読み出しの際に、装置の全体を制御するもので、記録品質測定部１３０からのジッター等の記録品質、再生特性測定部１５０からのアシンメトリ値や変調度値、データデコーダー１４０からの再生データを受ける一方、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、レーザー駆動部３２０、サーボ制御部１８０に制御信号を与える。
【００２７】
中央制御部２００はまた、後に図７乃至図１１を参照して説明するＯＰＣパラメータの補正制御などを行う。
【００２８】
中央制御部２００は例えばＣＰＵ２１０と該ＣＰＵ２１０の動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２２０とデータを記憶するＲＡＭ２３０とを備えている。ＲＯＭ２２０に格納されたプログラムは、後に図８を参照して説明されるＯＰＣパラメータ補正の演算、及び演算に必要となる設定値等を定義する部分を含む。
【００２９】
次に、片面に記録層を複数持つ多層記録型光ディスクの構造と、多層記録特有の現象について説明する。
図４に、本発明の実施の形態における多層記録型光ディスクの一例として、３層の記録層を持つ場合を示した図である。図示の光ディスク５００は、基板５１０と、第１の記録層５２１と、第２の記録層５２２と、第３の記録層５２３と、カバー層５３０と、保護層５４０とを有する。図１に示される光ピックアップ３００の対物レンズ３５０からの光は、保護層５４０の側から入射される。
【００３０】
図５は、光ディスクの構成の一例を示した図である。内周付近にリードイン領域ＬＩＡが配置されており、この中に光ディスクの固有情報や、記録動作及び再生動作を制御するための制御情報等が記録されている。また、ＯＰＣ（記録パワーの最適化制御乃至記録パワーの調整）を行う領域もリードイン領域ＬＩＡ内に配置される。また、これらの情報及び領域は、リードアウト領域ＬＯＡにも配置される場合がある。
【００３１】
図６は、リードイン領域ＬＩＡ内のＯＰＣ領域の配置例を示したものである。
リードイン領域ＬＩＡには、第１の記録層用ＯＰＣ領域ＯＡ１、第２の記録層用ＯＰＣ領域ＯＡ２、第３の記録層用ＯＰＣ領域ＯＡ３、及び制御情報領域ＣＡが含まれる。ＯＰＣ領域ＯＡ１、ＯＡ２及びＯＡ３は、記録パワー調整領域とも呼ばれる。
図に示す様に、各記録層のＯＰＣ領域ＯＡ１、ＯＡ２及びＯＡ３は半径方向に対し、互いに重ならない様に、かつ一定の間隔ＧＳ１２、ＧＳ２３を開けて配置される。
【００３２】
この間隔ＧＳ１２、ＧＳ２３は、各層の偏芯成分、及び奥の層に記録再生する場合の手前の層の位置におけるビーム径を考慮して、これらの影響を違いに受けないために設けられる。
【００３３】
尚、図示していないが、ディスクの管理情報等を記録する為の領域等が、ＯＰＣ領域やＣＡ領域以外の位置に配置されることがある。その為、ディスクの管理情報領域が、ＯＰＣ領域として配置された位置の手前の層に配置される場合は、ディスクの管理情報領域への記録がされているか否かで、ＯＰＣ領域の手前の層が記録済か否かが変わってしまうことになる。
【００３４】
また、このディスク管理情報を記録する領域には、ＯＰＣに使用された領域の情報や、リードイン領域やリードアウト領域、データ領域の記録状況が例えば、記録終了アドレスやフラグ情報として記録される。
尚、これらの情報が記録されるか否か、どの様に記録されるかは、光ディスクの仕様によって異なる。
【００３５】
一般に、記録再生装置に挿入された光ディスクに情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。また、複数の記録層を有する多層光ディスクにおいては、情報を記録する記録層と同じ記録層に配置されたＯＰＣ領域を利用して、記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００３６】
最初に、例えばランダムな記録データパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク５００への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を再生し、再生特性測定部１５０により再生信号パラメータとしてアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２００において、目標とするアシンメトリ値（ＯＰＣ目標値）と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。ここで、アシンメトリ値は、追記型の光記録媒体において記録パワーを最適化する場合に用いられる場合が多い。
【００３７】
中央制御部２００では、互いに異なる複数の記録パワーにそれぞれ対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
【００３８】
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク５００への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して記録パワーの最適値を求めるようにしても良い。
【００３９】
ここで、ＯＰＣ目標値として、追記型ディスク（ＤＶＤ−Ｒや、ＢＤ−Ｒ等）では一般的にアシンメトリ値が利用される。また、書換型ディスク（ＤＶＤ−ＲＷや、ＢＤ−ＲＥ等）では、アシンメトリ値の代わりに変調度を利用する場合が多い。また、書換型ディスクの場合には、最適記録パワーとなる変調度を目標値とするのではなく、記録パワーの変化に対する変調度の変化が大きい記録パワーの領域（最適記録パワーよりも小さい記録パワーの領域）における変調度を目標値として、求まった記録パワーに予め設定した係数を掛けることで最適記録パワーを算出する方法などを用いる場合が一般的である。
【００４０】
以下、図７を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に光ディスク５００が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２００に伝えられ、中央制御部２００は、サーボ制御部１８０を介して光ヘッド３００を駆動して、光記録再生装置１００に挿入された光ディスク５００の種別（ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の種別）や、光ディスク５００が何層ディスクか等を判別する（ステップＳ１１）。
【００４１】
次に、ステップＳ１２において、光ディスク５００とのチルト角度や、サーボ条件等を調整した後、ステップＳ１３において、光ディスク５００から、光ディスクの固有情報や記録動作、再生動作を制御するための制御情報等を読み出す。
【００４２】
次に、ステップＳ１４で、読み出された光ディスクの固有情報（ＩＤ等の情報）に基づき記録パラメータが決定される。ここで、光記録再生装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に、予め光ディスクの固有情報毎に標準的な条件下で目標とすべき記録パラメータ、即ち記録パラメータの標準的目標値）がテーブルとして格納されており、読み出した光ディスクの固有情報に対応する記録パラメータ（標準的目標値）を読み出し、記録に用いる記録パラメータとして設定する。記録パラメータには、発光パルスの形を決める為のパラメータであるライトストラテジ（標準的ライトストラテジ）と、記録パワーを決定する為のＯＰＣ用パラメータ（ＯＰＣ標準的目標値）が含まれている。
【００４３】
また、同テーブルには、後述のＯＰＣ用パラメータを補正する為に必要な情報も格納されており、これについても読み出しておく。
【００４４】
上記の固有情報は、光ディスクの種類毎、型式毎、或いはロット毎に異なる値が与えられるものであり、従って、固有情報毎の記録パラメータの標準的目標値は、種類毎、型式毎、或いはロット毎の記録パラメータの標準的目標値であるとも言える。
【００４５】
尚、上記の様に予め格納されたテーブルから記録パラメータを決定する以外の方法として、光ディスク５００に予め記録されている記録パラメータの推奨値を読み出して使用したり、あるいは読み出した推奨値から所定の計算等を行なったりすることで、修正した記録パラメータを記録に用いる様にしても良い。
【００４６】
ステップＳ１４の処理の後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（ステップＳ１５でＹＥＳ）、ステップＳ１６で、ＯＰＣ用パラメータの補正を行う。その詳細については後述する。
【００４７】
ステップＳ１７において、ステップＳ１６で補正されたＯＰＣ用パラメータ及びステップＳ１４で設定された記録パラメータを用いて光ディスク５００への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１４において中央制御部２００内に設定された記録パラメータのライトストラテジをライトストラテジ制御部１７０に設定し、ライトストラテジ制御部１７０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ヘッド３００を用いて光ディスク５００への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を光ヘッド３００で再生し、再生特性測定部１５０により検出された再生信号パラメータ（アシンメトリ値あるいは変調度）とステップＳ１６において補正されたＯＰＣパラメータ（アシンメトリ値あるいは変調度）とを中央制御部２００で比較して両者が一致するように制御を行い、両者が一致したときの記録パワーを最適な記録パワーとして決定する。
【００４８】
最後にステップＳ１８において、ステップＳ１４で設定された記録パラメータのライトストラテジと、ステップＳ１７で決定された記録パワーにより、光ディスク５００への本来のデータの書き込み（本書き込み）を開始する。
【００４９】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１１、及びステップＳ１２の処理は、光ヘッド３００、プリアンプ１１０、サーボ制御部１８０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１３の処理は、光ヘッド３００、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、データデコーダー１４０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１４の処理は、中央制御部２００により行われ、ステップＳ１５の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１６の処理は、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、再生特性測定部１５０、中央制御部２００、ライトストラテジ制御部１７０、及び光ヘッド３００により行われ、ステップＳ１７以降のデータ記録処理は、中央制御部２００、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、サーボ制御部１８０、及び光ヘッド３００により行われる。
【００５０】
次に、ステップＳ１６のＯＰＣパラメータの補正のための処理を図８を参照して説明する。
ステップＳ２０において、ＯＰＣを行う領域を含む記録層に対し、記録光が入射される側から見て手前側の記録層の、ＯＰＣを行う領域に対応する領域の状態を調べる。
【００５１】
例えば、光ディスク５００の管理領域から、次に使用するＯＰＣ領域の位置を示す情報（アドレス情報）を読み取り、それに対応する領域の手前の層の領域がすでに記録されているか否かを、光ディスク５００の管理領域等に記録されているリードイン領域の記録管理情報から調べる。
【００５２】
ここで、必ずしも管理領域の情報から手前の層の状態を把握する必要はなく、光ディスク５００の仕様として決められている場合は、その仕様に基づいて判断する様にすれば良いし、管理領域や光ディスクの仕様から特定できない場合は、実際に対応する層の領域を再生して、信号が記録されているか否かを調べることとしても良い。
【００５３】
ステップＳ２１において、調べた手前の層の状態として、手前の層の総数をＮｒ、手前の層のうちの記録済層の数をＲ、手前の層のうちの未記録層の数をＵとして設定する。
【００５４】
次に、ステップＳ２２において、次式によりＯＰＣパラメータの補正を行う。
ＢＴ２＝ＢＴ１＋ＢＯ×（Ｒ−Ｕ）／Ｎｒ      …（３）
ここで、ＢＴ２は補正後のＯＰＣパラメータ（補正目標値）、
ＢＯは光ディスク個々に設定したＯＰＣ目標値オフセット係数（「基準目標値オフセット量」とも言う）、
ＢＴ１は補正前のＯＰＣパラメータで、記録性能が総合的に最良となるＯＰＣ標準的目標値である。ここで、「記録性能が総合的に最良となる」とは、種々の異なる条件下で得られる記録性能を総合したときに最良となることを意味し、例えば平均的乃至中間的な記録条件で記録性能が最良となる場合に、記録性能が総合的に最良となる場合が多い。
【００５５】
ここで、ＯＰＣ標準的目標値のＢＴ１は、例えば、光ディスクの固有情報毎に予め実験を行うことで、図１１に示す様な特性を求め、多数の種々異なる記録条件、例えば記録パワーでの記録性能が総合的に最良となる値を求めておく。図１１においては、ＢＴ１が総合的最良値となる。なお、光ディスクに記録されたＯＰＣ目標値の推奨値を上記のＯＰＣ標準的目標値として用いる様にしても良い。ＯＰＣ標準的目標値ＢＴ１は、記録性能が最良となる値にする必要はなく、再生信号パラメータに対する記録性能の変動幅を考慮して、例えば、再生信号パラメータがある値を中心としてプラス側及びマイナス側に同量変化した場合の記録性能の劣化が許容されるマージンの範囲内で、かつ同程度となる場合に、上記の値をＯＰＣ標準的目標値としても良い。
【００５６】
ＯＰＣ目標値オフセット係数ＢＯは、手前の層が全て記録済の場合と、手前の層が全て未記録の場合において、同一記録パワーで記録した時のアシンメトリ値βの差ＤＢ（再生信号パラメータの差）の半分であり、具体的には次式となる。
ＢＯ＝（ＢＲ−ＢＵ）／２    …（４）
【００５７】
ここで、ＢＲとＢＵは共に同じパワーで記録した場合のアシンメトリ値βであり、ＢＲは手前の層全てが記録済の場合、ＢＵは手前の層全てが未記録の場合のアシンメトリ値βである。ＢＲとＢＵは、予め個々の光ディスク、例えば種類、型式、ロット毎に異なる固有情報毎に調べておき、ＢＲとＢＵからＢＯを求めた後、上記の標準的目標値ＢＴ１とともに、固有情報毎のテーブルの一部として光記録再生装置１００の中央制御部２００内のＲＯＭ２２０に格納しておく。
このようにＲＯＭ２２０は、固有情報別ＯＰＣ目標値オフセット係数、即ち基準目標値オフセット量（ＢＯ）と、固有情報別標準的目標値（ＢＴ１）とを記憶する手段としても用いられている。
【００５８】
次に、この様にして、ＯＰＣパラメータを補正する理由について説明する。
図９、図１０、及び図１１に、多層光ディスクにおいて記録再生した場合の特性の一例を示す。
【００５９】
図９は記録光の入射側から見て一番奥の層である第１の記録層における、記録パワーと記録性能の関係を示したものである。ここで、記録性能とは、信号を記録した領域を再生した時の再生性能のことで、例えば、ジッター値や、ＭＬＳＥ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ  Ｅｒｒｏｒ）や、エラーレート等のことである。また、実線は、手前の記録層（第１の記録層より手前の全ての層）が全て未記録の場合の特性、破線は、手前の記録層（第２の記録層から第４の記録層まで）が全て記録済の場合の特性の一例を示している。この様に、手前の記録層が未記録か記録済かによって、再生性能が最良となる記録パワーが異なる。ここで、図中のＰＯ１が手前の記録層が全て未記録の場合の最適記録パワー、ＰＯ２が手前の記録層が全て記録済の場合の最適記録パワーを示している。
【００６０】
従って、例えば記録パワーＰＯ１を用いて記録を行った場合、手前の記録層が全て未記録の領域では最良の記録性能を得る事ができるが、手前の記録層が全て記録済の領域にも記録が行われた場合、記録性能はＱａ点で示す記録特性値まで急激に悪化してしまうことになる。
同様に、手前の記録層が全て未記録の領域に記録パワーＰＯ２を用いて記録が行われた場合に、Ｑｂ点で示す記録特性値まで急激に悪化してしまうことになる。
従って、手前の記録層が全て未記録の場合、及び手前の記録層が全て記録済の場合のどちらにおいても良好な記録を行うことができる記録パワー、即ち、中間的な記録条件下で最良の記録性能が得られ、当該中間的な記録条件からの変化に対して、記録性能の低下が少ない記録パワーＰＯで記録を行う様にするのが望ましいことがわかる。
【００６１】
図１０は、記録パワーとアシンメトリ値の関係の一例を示す。同図は図９の縦軸を記録性能からアシンメトリ値に置き換えた場合を示している。図に示す様に、アシンメトリ値は手前の記録層が未記録か記録済かの状態によりオフセットすることになる。
【００６２】
図１１は、アシンメトリ値と記録性能の関係の一例を示す。同図は図９の横軸を記録パワーからアシンメトリ値に置き換えた場合を示している。図に示す様に、アシンメトリ値に対する記録性能は、手前の記録層が未記録か記録済かによる差は殆どなく、最適アシンメトリ値は符号ＢＴ１で示す値（総合的最良値）となる。ここで、アシンメトリ値（総合的最良値）ＢＴ１をＯＰＣの目標値として記録パワー調整を行うと、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層が全て未記録の場合は、図９のＰＯ１に、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層が全て記録済の場合は、図９のＰＯ２にそれぞれ調整される事が分かる。
【００６３】
次に、本実施の形態１におけるＯＰＣパラメータの補正を行った場合を説明する。
ＯＰＣを行う領域を有する記録層の手前の記録層が全て未記録の場合、アシンメトリ値をＢＴ１に維持するには、図１０に示すように、記録パワーＰＯ１に増加させる必要があり、一方、記録パワーをＰＯ（≦ＰＯ１）としたときのＯＰＣの目標値（目標アシンメトリ値）は、図１０に示されるようにＢＴ１よりも小さい値であるＢＵとする必要がある。逆に、ＯＰＣを行う領域を有する記録層の手前の記録層が全て記録済の場合、アシンメトリ値をＢＴ１に維持するには、図１０に示すように、記録パワーＰＯ２に減少させる必要があり、一方、
記録パワーをＰＯ（≧ＰＯ２）としたときのＯＰＣの目標値（目標アシンメトリ値）は、図１０に示されるようにＢＴ１よりも大きい値であるＢＲとする必要がある。
ここで、ＢＴ１はＢＵとＢＲの丁度中間に位置する為、ＢＵとＢＲは、ＢＴ１に対して、（ＢＲ−ＢＵ）／２であるオフセット量ＢＯを加算又は減算した値として求められる。
【００６４】
ここで、例えば光ディスクが４層の記録層を有する場合に、第１の記録層（一番奥の層）に記録する場合、ステップＳ２１で設定するＮｒ、Ｒ、Ｕは、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層が全て未記録の場合は、Ｎｒ＝３、Ｒ＝０、Ｕ＝３となり、式（３）より、
ＢＴ２＝ＢＴ１＋ＢＯ×（０−３）／３＝ＢＴ１−ＢＯ    …（３Ａ）
となる。また、図１０よりＢＲ＞ＢＵであるため、式（４）から求められるＢＯは、この例の場合は、正の値となる為、この結果がＢＵに相当する事が分かる。
逆に、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層が全て記録済の場合は、Ｎｒ＝３、Ｒ＝３、Ｕ＝０となり、式（３）より、
ＢＴ２＝ＢＴ１＋ＢＯ×（３−０）／３＝ＢＴ１＋ＢＯ    …（３Ｂ）
となる。また、ＢＯは正の値となる為、この結果がＢＲに相当する事が分かる。
【００６５】
以上は、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層が全て未記録の場合と、全て記録済の場合について述べたが、次に、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層のうちの一部の記録層のみが記録済の場合について説明する。
【００６６】
図示していないが、記録を行う記録層より手前の記録層のうち一部の記録層のみが記録済の場合は、図１０に示した記録パワーとアシンメトリ値の関係として、実線で示した手前の記録層が全て未記録の場合と、破線で示した手前の記録層が全て記録済の場合との間にシフトした状態となる。例えば、手前の記録層のうちの記録済層の数と未記録層の数が同数の場合は、全て未記録の場合のアシンメトリ値と、全て記録済の場合のアシンメトリ値とのほぼ中間のアシンメトリ値が得られることとなる。従って、手前の記録層のうちの記録済層の数と未記録層の数に応じて、アシンメトリ値がシフトすることになる。
その為、ＯＰＣを行う領域の手前の記録層のうちの記録済層の数Ｒと、未記録層の数Ｕに応じて、式（３）により各々の層の数に応じたオフセット量が加算される様にしている。
【００６７】
図９の特性から、ＯＰＣの目標値ではなく、記録パワーをＯＰＣの結果の最適記録パワーからシフトする案も考えられるが、ＯＰＣの目標値を変更することで、以下のメリットがある。
記録パワーと記録性能の関係では、図９からもその傾向が分かるように、最適記録パワーに対して、高パワー側と、低パワー側の変動幅に差が生じることがある。これは、図１０に示す特性において、記録パワーとアシンメトリ値の関係が線形ではなく、低パワー側の傾きが急になることが原因である。逆に図１１からも分かる様に、アシンメトリ値に対する記録性能は、高パワー側と低パワー側で変動幅がほぼ同等となる。
【００６８】
また、記録パワーは、温度等の影響でも特性がシフトすることがある為、予めオフセット量を求めた際の温度条件等から、実際に記録を行う際の温度条件が異なる場合等、適正なパワーシフトが難しく、場合によってはパワーを過剰にオフセットさせてしまう可能性があり、その結果、記録性能の変動が激しくなる可能性がある。
一方、アシンメトリ値と記録性能の関係は、温度等による影響を受けにくい為、ＯＰＣの目標値を用いることで、適正な補正を行うことが可能となる。
【００６９】
以上の様に本実施の形態１においては、ＯＰＣを行う領域に対する手前の記録層のうちの未記録層の数（Ｕ）と、記録済層の数（Ｒ）と、予め求めたアシンメトリ値の変動量（ＢＲ−ＢＲ）とから、ＯＰＣを行う際の目標アシンメトリ値を補正する様にした為、情報を記録する記録領域において、手前の記録層のうちの未記録層の数（Ｕ）と、記録済層の数（Ｒ）が変化しても記録性能の変動を抑え、安定した記録を行うことができる。
また、この為に追加のＯＰＣ領域を必要とせず、またＯＰＣに要する処理時間も増えることがない。
【００７０】
また、本実施の形態においては、光記録再生装置１００が、例えば光ディスク５００がＢＤの場合について示していたが、これ以外の多層光ディスクに対しても本発明を適用することができる。
【００７１】
また、本実施の形態においては、手前の記録層が全て未記録の場合と、手前の記録層が全て記録済の場合の同一パワーにおけるアシンメトリ値のオフセット量（基準オフセット量）と、手前の記録層のうちの記録済層の数と未記録層の数からＯＰＣ目標値を補正する様にしているが、基準オフセット量を求める条件としては、これに限定されない。例えば手前の記録層が全て未記録の場合と、手前の記録層が１層のみ記録済の場合のアシンメトリ値のオフセット量を基準オフセット量とし、手前の記録層のうちの記録済層の数と未記録層の数からＯＰＣ目標値を補正する様にしても良い。
【００７２】
一般的に、ある記録層（第１の記録層）の手前の記録済層の数がａの状態（第１の記録状態）において、第１の記録層に記録した場合の、アシンメトリ値（第１の再生信号パラメータ）Ｂａと、第１の記録層の手前の記録済層の数がｂの状態（第２の記録状態）において、上記第１の記録状態の場合と同一の記録パワーＰＯで、上記第１の記録層に記録した場合の、アシンメトリ値（第２の再生信号パラメータ）Ｂｂを求め、これらに基づいて、基準目標値オフセット量ＢＯを求める場合、上記の式（４）の代わりに下記の式（５）を用いる。
ＢＯ＝｛（Ｂａ−Ｂｂ）／２｝×｛Ｎｔ／（ａ−ｂ）｝      …（５）
式（５）のうち、
Ｎｔは、第１の記録状態及び第２の記録状態における、手前の記録層の数であり、
（Ｎｔ／（ａ−ｂ））は、第１の記録状態における手前の記録済層の数ａと、第２の記録状態における手前の記録済層の数ｂの差に対する、手前の記録層の数Ｎｔの比を表す。
基準目標値オフセット量ＢＯは、予め個々の光ディスク、例えば固有情報毎に調べ、ＲＯＭ２２０などに格納しておく。
【００７３】
記録のために光記録再生装置に挿入された光ディスクについて、補正目標値ＢＴ２を算出する際には、記憶された基準目標値オフセット量ＢＯ（式（５）を用いて算出されたもの）を用いて、式（３）の計算を行う。即ち、例えば記録状態判断手段（Ｓ２０）で求めた、記録済みである記録層の数（Ｒ）から未記録である記録層の数（Ｕ）を引いた値を記録層の総数（Ｎｒ）で割った値を掛けたもの（（Ｒ−Ｕ）／Ｎｒ）をオフセット量補正係数として求め、基準目標値オフセット量（ＢＯ）に、オフセット量補正係数(Ｒ-Ｕ)／Ｎｒを掛けた値を、標準的目標値（ＢＴ１）に加算することで、補正目標値（ＢＴ２）を求める。
【００７４】
上記のａをＮｔ又は０とすることとしても良い。ａ＝Ｎｔ(、従ってＢａ＝ＢＲ)の場合には、式（５）は、以下のように変形される。
ＢＯ＝｛（ＢＲ−Ｂｂ）／２｝×｛Ｎｔ／（Ｎｔ−ｂ）｝
…（６）
また、ａ＝０(、従ってＢａ＝ＢＵ)の場合には、式（５）は、以下のように変形される。
ＢＯ＝｛（ＢＵ−Ｂｂ）／２｝×｛Ｎｔ／（０−ｂ）｝    …（７Ａ）
＝｛（Ｂｂ−ＢＵ）／２｝×｛Ｎｔ／ｂ｝            …（７Ｂ）
【００７５】
また、本実施の形態においては、手前の記録層が全て未記録の場合と、手前の記録層が全て記録済の場合の同一パワーにおけるアシンメトリ値のオフセット量（基準オフセット量）に対して、手前の記録層のうちの記録済層の数と未記録層の数から補正係数を決定して、ＯＰＣ目標値を補正する様にしているが、基準オフセット量が小さい場合等は、これらの層の数に応じて補正係数を厳密に計算する必要はない。例えば、手前の記録層のうちの記録済層の数が、手前の記録層のうちの未記録層の数より多い場合と同程度の場合と少ない場合という様に、大まかに設定する様にしても良い。
【００７６】
また、本実施の形態においては、手前の記録層が全て未記録の場合と、手前の記録層が全て記録済の場合の同一パワーにおけるＯＰＣ目標値の補正量が、同量となる様にしているが、多層光ディスクに記録を行う場合、一般的には奥の記録層から記録が行われることが多く、特に記録層が多い場合は、手前の層が全て記録済となる場合が少なくなる為、手前の層が未記録の場合の記録性能がより良好となる様に、ＯＰＣ補正量をさらにオフセットさせる、または係数を掛ける等により、補正後のＯＰＣ目標値が図１０で示すＢＵに近くなる様にしても良い。
【００７７】
また、本実施の形態においては、手前の記録層が全て記録済の場合の同一パワーにおけるアシンメトリ値のオフセット量を、光ディスクの固有情報毎に予め求める様にしているが、これを予め求めていない光ディスクに対しては、予め調べている他の複数の光ディスクのアシンメトリ値のオフセット量の平均値を用いる様にしてもよい。
【００７８】
または、ＯＰＣ領域等の試し書き領域を利用して、少なくとも一つ以上の手前の層の状態が異なる領域を作成し、記録層に同一記録パワーで各々の領域において記録した場合のアシンメトリ値の差を測定し、その結果を用いる様にしても良い。
【００７９】
また、本実施の形態においては、アシンメトリ値を目標値とするＯＰＣ方法について述べているが、変調度を目標値とするＯＰＣ方法についても同様の方法を用いる事ができる。ただし、この場合、記録パワーに対する変調度の特性は、記録パワーが高い領域では、飽和する特性があるので、変調度が飽和しない低いパワーにおける変調度のオフセット量を求める必要がある。
【００８０】
また、本実施の形態においては、式（３）、式（４）、式（５）、式（６）、式（７Ｂ）を用いて、ＯＰＣ目標値を補正する様にしているが、同様の結果が得られる別の式を用いても良い。
【００８１】
また、本実施の形態においては、手前の記録層が全て未記録の場合と、手前の記録層が全て記録済の場合における、アシンメトリ値の変動量を予め光ディスクの固有情報毎に求める様にしているが、光ディスクのタイプ（例えば、追記型光ディスク、書き換え型光ディスク等）や、光ディスクの記録層数（例えば、３層光ディスク、４層光ディスク等）毎に設定する様にしても良いが、光ディスクの固有情報毎に求めるのが望ましい。
また、予め求めておくアシンメトリ値の変動量は、記録対象の層毎に求めておくのが望ましいが、同一の光ディスク内で差がない場合は同一のアシンメトリ値の変動量を用いる様にしても良い。
【００８２】
また、アシンメトリ値の変動量は、各型式の光記録再生装置に対して一度行えば良く、同じ型式の多数の光記録再生装置に対して同じ値を用いることができる。即ち、ある型式の光記録再生装置に関してアシンメトリ値の変動量を求めたら、求められた変動量を同じ型式の光記録再生装置に設定して出荷することとすれば良い。
【符号の説明】
【００８３】
１００  光記録装置、  １１０  プリアンプ、  １２０  再生信号処理部、  １３０  記録品質測定部、  １４０  データデコーダー、  １５０  再生特性測定部、  １６０  データエンコーダー、  １７０  ライトストラテジ制御部、  １８０  サーボ制御部、  １８１  スピンドルモーター、  １８２  スレッドモーター、  １９０  バッファメモリ、  ２００  中央制御部、  ２１０  ＣＰＵ、  ２２０  ＲＯＭ、  ２３０  ＲＡＭ、  ３００  光ヘッド、  ３１０  半導体レーザー、  ３２０  レーザー駆動回路、  ３３０  コリメートレンズ、  ３４０  ビームスプリッタ、  ３５０  対物レンズ、  ３６０  検出レンズ、  ３７０  受光素子、  ４００  上位コントローラー、  ５００  光ディスク。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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