(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク装置であって、
光ピックアップと、
前記光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理部と、
前記ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出部と、
前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御部と、
前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成部と、
前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御部と、
前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出部と、
前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御部に対して第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御部に対して第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御部と、
前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ前記光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御部に設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御部に設定する追記マーク記録制御部とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際に、前記反射率変化量検出部によって検出された前記反射率の変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御部をさらに備えることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第２の回転速度は、前記最低回転速度の２分の１以下であることを特徴とする請求項１又は２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第２の回転速度は、前記第１の回転速度の１０分の１以下であることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記第２のレーザパワーは、前記第１のレーザパワーの５倍以上、１０倍以下であることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、
前記トラッキング制御部は、位相差検出方式によりトラッキング制御を行うことを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記第２のレーザパワーで前記レーザ光が照射される発光区間は、前記凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載の光ディスク装置。 
【請求項８】
前記基準位置検出部は、少なくともＰＬＬ回路を用いて前記ＲＦ信号を復調し、前記第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、前記ＰＬＬ回路の周波数比較機能又は位相比較機能をホールドすることを特徴とする請求項１〜７のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、
前記トラッキング制御部は、前記第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、トラッキング制御をホールドすることを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記凹凸ピットは同期符号を含み、
前記同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、１フレーム長以下であり、かつ次の発光区間までの間隔は３フレーム長以上であることを特徴とする請求項１〜９のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記凹凸ピットは同期符号を含み、
前記同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、前記凹凸ピットのフレーム間隔の整数倍であることを特徴とする請求項１〜１０のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記光ディスクに前記凹凸ピットで記録されている前記主情報は、前記光ディスク内の物理的位置を示すアドレス情報を含み、
前記発光タイミング生成部は、前記アドレス情報が記録されている領域を避けて前記第２のレーザパワーで前記レーザ光を照射するように前記発光タイミングを生成することを特徴とする請求項１〜１１のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１３】
前記光ディスクに前記凹凸ピットで記録されている前記主情報は、一定単位のユーザデータに対してエラー訂正情報が付加されたエラー訂正ブロック単位で構成されており、
前記追記マーク記録制御部は、前記エラー訂正ブロック単位で、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーで発光される発光区間を制御することを特徴とする請求項１〜１２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１４】
前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、前記エラー訂正ブロックの単位長さの整数倍であることを特徴とする請求項１３記載の光ディスク装置。
【請求項１５】
前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、
前記トラッキング制御部は、前記第２のレーザパワーで発光される発光区間内において、トラッキング制御を行うことを特徴とする請求項１〜１４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記発光タイミング生成部は、前記エラー訂正ブロック内において、等間隔で複数の第２のレーザパワーで発光される発光タイミングを生成することを特徴とする請求項１３又は１４記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記発光タイミング生成部は、乱数を発生させ、発生させた乱数に基づいて、第２のレーザパワーで発光される発光タイミングの周期をランダムに変更することを特徴とする請求項１〜１６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記発光タイミング生成部は、光ディスク上で互いに重なることがないように事前に決められた第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのいずれかを生成し、
前記追記マーク記録制御部は、前記発光タイミング生成部に対し、前記第１の発光タイミングと前記第２の発光タイミングとのうちのいずれの発光タイミングを選択するかを指示することを特徴とする請求項１〜１７のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項１９】
前記反射率変化量検出部は、事前に決められた前記第１の発光タイミングにおける反射率変化量と、前記第２の発光タイミングにおける反射率変化量とを検出し、前記第１の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“０”を対応付けるとともに、前記第２の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“１”を対応付けた２値データを検出することを特徴とする請求項１８記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記反射率変化量検出部は、前記ＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した前記振幅平均値の変動量をモニタすることにより前記反射率変化量を検出することを特徴とする請求項１〜１９のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
前記基準位置検出部は、前記凹凸ピットのピット長を検出し、
前記反射率変化量検出部は、検出された前記ピット長が一定長以上である前記凹凸ピットの中央部での前記反射率変化量のみを検出することを特徴とする請求項２０記載の光ディスク装置。
【請求項２２】
前記反射率変化量検出部は、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間内におけるＲＦ信号の積分値と、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間以外で前記発光区間と同じ長さの区間内におけるＲＦ信号の積分値とをそれぞれ検出し、検出した２つの積分値の差を求めることにより前記反射率変化量を検出することを特徴とする請求項１〜１９のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２３】
前記発光タイミング生成部は、チャネルクロックに同期して、前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングを生成し、
前記第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、前記凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることを特徴とする請求項１〜２２のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、前記光ピックアップによって出射されるレーザ光を、前記光ディスクの半径方向の前記凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトさせるシフト制御部をさらに備えることを特徴とする請求項１〜２３のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記反射率変化量検出部は、前記追記マークからの反射光の分布が前記光ディスクの半径方向の前記凹凸ピットの中心に対して非対称であることを検出し、非対称である前記反射光の前記ＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した前記振幅平均値の変動量をモニタすることにより前記反射率変化量を検出することを特徴とする請求項２４記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記レーザパワー制御部は、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンにしたがって前記第２のレーザパワーが複数の値に変化するように制御することを特徴とする請求項１〜２５のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
前記反射率変化量検出部は、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、レーザ光が照射される前のＲＦ信号の波形とレーザ光が照射された後のＲＦ信号の波形との差分値と、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンとを比較して、前記差分値と前記パターンとが一致する場合、正常に前記追記マークが記録されたと判断し、前記差分値と前記パターンとが一致しない場合、正常に前記追記マークが記録されていないと判断することを特徴とする請求項２６記載の光ディスク装置。
【請求項２８】
前記第２のレーザパワーで前記レーザ光が照射される発光区間の長さは、乱数系列によって決まることを特徴とする請求項１〜２７のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項２９】
凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク装置が備える集積回路であって、
光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理回路と、
ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出回路と、
前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御回路と、
前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成回路と、
前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御回路と、
前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出回路と、
前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御回路に対して第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御回路に対して第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御回路と、
前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ前記光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御回路に設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御回路に設定する追記マーク記録制御回路とを備えることを特徴とする集積回路。
【請求項３０】
前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際に、前記反射率変化量検出回路によって検出された前記反射率変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御回路をさらに備えることを特徴とする請求項２９記載の集積回路。
【請求項３１】
凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク制御方法であって、
光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理ステップと、
前記ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出ステップと、
前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御ステップと、
前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成ステップと、
前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御ステップと、
前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出ステップと、
前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御ステップにおいて第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御ステップにおいて第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御ステップと、
前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御ステップにおいて設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御ステップにおいて設定する追記マーク記録制御ステップとを含むことを特徴とする光ディスク制御方法。
【請求項３２】
前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際に、前記反射率変化量検出ステップにおいて検出された前記反射率の変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御ステップをさらに含むことを特徴とする請求項３１記載の光ディスク制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、凹凸ピットによって主情報が記録されている光ディスクに対して、固有の追記マークを追記するとともに、追記した追記マークを検出する光ディスク装置、光ディスク制御方法及び集積回路に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
デジタルコンテンツデータを記録する媒体としてＤＶＤ−ＲＯＭ又はＢＤ−ＲＯＭなどの光ディスクが幅広く利用されている。ＤＶＤ−ＲＯＭにおいて、単層ディスクは４．７ＧＢ（ギガバイト）の記録容量を有し、２つの記録層を有する２層ディスクは８．５ＧＢの記録容量を有している。さらに、ＢＤ−ＲＯＭにおいて、単層ディスクは２５ＧＢの記録容量を有し、２層ディスクは５０ＧＢの記録容量を有している。そのため、光ディスクは、広くデジタルデータの配布媒体として普及してきている。特に、データ量を多く記録できるＢＤ−ＲＯＭはハイビジョン映像コンテンツデータなどを手軽に配布することができる光ディスクとして活用されている。
【０００３】
このように、光ディスクの記録容量が増大し、１枚の光ディスクに保存されるコンテンツ情報の容量が増えて光ディスク１枚あたりの価値が高まるにつれて、コンテンツ情報が凹凸ピットにより記録された光ディスクを１枚ごとに区別し管理したいという要望も強まっている。
【０００４】
しかし、一般に凹凸ピットによりコンテンツ情報を記録している光ディスクは、スタンパと呼ばれる原盤を作ることにより、一度に多数の光ディスクを複製することが可能であるという特徴を有する反面、同一原盤から複製するという特性上、原盤から複製された光ディスクは完全に同じピット形状を持っている。そのため、それぞれの光ディスクを１枚ごとに区別することは不可能である。
【０００５】
そこで、スタンパにより複製された光ディスクを１枚ごとに識別する技術として、光ディスクの内周部に、バーストカッティングエリア（ＢＣＡ）と呼ばれる特別な領域を設け、ＹＡＧレーザと呼ばれる高出力レーザを用いて、半径方向に長いマークをバーコード状に記録することによってディスク固有のＩＤを記録する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
あるいは、光ディスクに形成された所定長さ以上のピット又はランドの中央付近にチャネルクロック単位幅のごく短いパルス記録を行って反射率を局所的に変化させ、ディスク識別情報を記録する技術が開示されている（例えば、特許文献２参照）。
【０００７】
あるいは、光ディスクの領域をデータ領域と識別領域とに分割し、識別領域には、それぞれ変調後のパターンが予め決められている複数のピットと複数のランドとを繰り返し記録しておき、その繰り返しピット及びランドにガスレーザ光を照射して反射膜を変化させ、変化させた反射膜から再生信号を検出する技術が開示されている（例えば、特許文献３参照）。
【０００８】
あるいは、ランダムに配列された主情報であるコンテンツ情報を記録した凹凸マーク（凹凸ピット）に沿ってチャネルビット長の整数倍で、連続的又は間欠的なレーザ光を照射して反射膜の反射率を変化させて副情報を記録する技術が開示されている（例えば、特許文献４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特許第３０８９５９９号公報
【特許文献２】特許第３４５４４１０号公報
【特許文献３】特許第４２１１３９５号公報
【特許文献４】国際公開第２００７／１３９０７７号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、特許文献１で開示された発明においては、その文献の段落００３５で述べられているように、光ディスクの反射膜をスリット状に溶融させるため、記録に大きなエネルギーが必要であり、ＹＡＧレーザのような比較的大型で高出力の工業用パルスレーザを用いなければ記録することができない。つまり、特許文献１の記録装置は工場に設置するような大掛かりなものにならざるを得ず、比較的低出力の半導体レーザ光源しか搭載していない一般のパソコン用光ディスクドライブでは、アルミニウムの反射膜を溶融してディスク識別用のＩＤを記録することは不可能である。
【００１１】
また、特許文献２で開示された発明は、その文献の段落００１７で述べられているように、マークを記録する際は工場で仕上げ装置なる特殊な装置を用いて、ディスク再生信号のチャネルビット単位で正確に同期してディスク識別情報を記録する必要がある。ディスク識別情報の記録パルス幅は、ピットに本来書かれている情報の再生信号品質を損なわないために、ビット長より充分に短いことが必要である。特許文献２の例では、記録パルス幅は１チャネルビットである。通常、このように、熱伝導率の比較的良い反射膜に対し、再生装置での安定な検出を行いえる急峻なパルスを高精度な位置に記録するためには、記録型光ディスク装置と同等以上の精度を持つレーザ駆動回路と、比較的大きなレーザパワーを出力するレーザ光源とが必要である。
【００１２】
また、特許文献３で開示された発明は、その文献の段落００２７で述べられているように、レーザ源としてアルゴンレーザ又はＨｅ−Ｃｄレーザ等のガスレーザが必要であり、特許文献１及び特許文献２と同様に、工場で管理された特別な記録装置を使うものである。本特許文献３で開示されている発明では、光ディスクの特定領域に予め決められた複数のピット及びランドのパターンを用意しておかなければならない。特許文献３の図１１Ａ及び図１１Ｂには、３チャネルビット（３Ｔ）長のピット及びランドの繰り返しパターンが開示されている。また、特許文献３では、反射膜にガスレーザを照射して反射膜の特性を変化させた場合に、具体的にどの物理特性がどのように変化し、再生装置でどのような検出がなされるかは開示されていない。
【００１３】
また、特許文献４で開示された発明では、一定領域の凹凸ピットにレーザを照射して、光ディスクの反射率をある程度広い範囲にわたって変化させる。特許文献４で開示された発明は、反射率をある程度広い範囲にわたって変化させるため、反射率変化量が少ない場合でも検出感度がとりやすいという特徴がある。しなしながら、特許文献４では、凹凸ピットにレーザ光を照射してマークを記録することには触れているものの、具体的な記録装置の構成については言及されていない。
【００１４】
本発明は、上記の問題を解決するためになされたもので、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる光ディスク装置、光ディスク制御方法及び集積回路を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の一局面に係る光ディスク装置は、凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク装置であって、光ピックアップと、前記光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理部と、前記ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出部と、前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御部と、前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成部と、前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御部と、前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出部と、前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御部に対して第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御部に対して第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御部と、前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ前記光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御部に設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御部に設定する追記マーク記録制御部とを備える。
【００１６】
この構成によれば、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号が取得され、ＲＦ信号を復調して基準位置信号が検出される。回転速度制御部によって、光ディスクの回転速度が少なくとも２種類の回転速度に切り替えられ、発光タイミング生成部によって、基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングが生成され、レーザパワー制御部によって、発光タイミングにおいて光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーが増加される。反射率変化量検出部によって、ＲＦ信号から光ディスクによる反射光の反射率の変化量が検出される。そして、光ディスクに形成された凹凸ピットを再生する際に、回転速度制御部に対して第１の回転速度が設定され、かつレーザパワー制御部に対して第１のレーザパワーが設定される。また、光ディスクに追記マークを追記する際に、第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度が回転速度制御部に設定され、かつ発光タイミングに応じて第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーがレーザパワー制御部に設定される。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスク装置で使用する光ディスクのデータフォーマットを説明するための模式図である。
【図３】本発明の実施の形態１におけるマーク記録動作を示すタイミングチャートである。
【図４】凹凸ピットにより記録されたコンテンツデータを再生するデータ再生動作を示すフローチャートである。
【図５】追記マークを記録するマーク記録動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態１において、回転速度と、記録に必要なレーザパワーとの関係を示す図である。
【図７】光ディスクに記録された追記マークを検出するマーク検出動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態１におけるマーク検出処理を示すタイミングチャートである。
【図９】本発明の実施の形態１における他の追記マーク検出方法について説明するためのタイミングチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態１におけるマーク検出処理を更に詳細に説明するためのフローチャートである。
【図１１】本発明の実施の形態２におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１２】本発明の実施の形態３におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１３】本発明の実施の形態４におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１４】本発明の実施の形態５におけるマーク記録制御部及びタイミング生成部の動作を説明するためのマーク記録動作のタイミングチャートである。
【図１５】本発明の実施の形態６におけるタイミング生成部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明の実施の形態６におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１７】本発明の実施の形態７におけるタイミング生成部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図１８】本発明の実施の形態７におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１９】本発明の実施の形態８におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図２０】本発明の実施の形態９における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２１】本発明の実施の形態９におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図２２】本発明の実施の形態１０におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作及び追記マーク検出動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図２３】本発明の実施の形態１１におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態について説明する。尚、以下の実施の形態は、本発明を具体化した一例であって、本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
【００２０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１において、光ディスク装置１００は、入出力部１０１、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１０２、タイミング生成部１０６、レーザパワー切替部１０７、ディスク回転速度切替部１０８、光ピックアップ１０９、ディスクモータ１１０、ＲＦ信号処理部１１１、フォーカス及びトラッキング制御部１１２、復調回路１１３、誤り訂正部１１４及びマーク検出部１１５を備える。図１の破線内のブロックは、半導体集積回路１２４として、まとめてひとつのチップに実装される。
【００２１】
光ディスク装置１００は、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスク１に対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する。また、光ディスク装置１００は、凹凸ピットによって記録された主情報を再生するとともに、追記された追記マークを再生する。
【００２２】
ディスクモータ１１０は、光ディスク１を一定速度で回転させる。光ピックアップ１０９は、光ディスク１から凹凸ピットにより記録された主情報を読み取る。光ピックアップ１０９は、光ディスク１にレーザ光を照射するとともに、光ディスク１からの反射光を受光し、光ピックアップ出力信号Ｐ０を出力する。
【００２３】
ＲＦ信号処理部１１１は、光ピックアップ１０９からの光ピックアップ出力信号Ｐ０に基づいてＲＦ信号ＲＦＳを取得する。フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、光ピックアップ１０９の照射する光ビームが正確に光ディスク１上の凹凸ピットをトレースするようにフォーカス方向及びトラキング方向に光ピックアップ１０９を駆動する。トラッキング制御方式としては、通常、凹凸ピットで構成されたコンテンツ情報を再生する際には位相差検出方式が用いられる。すなわち、フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、位相差検出方式によりトラッキング制御を行う。復調回路１１３は、ＲＦ信号ＲＦＳを復調し、復調したデジタル信号ＤＳを出力する。また、復調回路１１３は、ＲＦ信号ＲＦＳに含まれている同期符号を検出し、基準位置信号ＳＹを発生させる。
【００２４】
誤り訂正部１１４は、復調回路１１３によって復調されたデジタル信号ＤＳに含まれているランダムエラー及びバーストエラーを訂正し、デジタル再生信号ＲＤとして入出力部１０１に伝達する。
【００２５】
入出力部１０１は、光ディスク装置１００が例えば外部のパーソナルコンピュータなどから再生コマンドを受けられるようにするインタフェースである。入出力部１０１は、外部から入力される、データ再生、マーク記録及びマーク検出などの動作命令をＣＰＵ１０２へ出力する。また、入出力部１０１は、誤り訂正部１１４によって誤り訂正が行われたデジタル再生信号ＲＤ及びマーク検出部１１５によるマーク検出結果ＭＤＲを受け取り、外部へ出力する。
【００２６】
ＣＰＵ１０２は、光ディスク装置１００全体を制御し、データ再生制御部１０３、マーク記録制御部１０４及びマーク検出制御部１０５を備える。
【００２７】
マーク検出部１１５は、反射膜の反射率を変化させることにより記録された追記マークを検出する。マーク検出部１１５は、ＲＦ信号ＲＦＳから光ディスク１による反射光の反射率の変化量を検出する。タイミング生成部１０６は、ＣＰＵ１０２からの指令を受け、復調回路１１３から受領する基準位置信号ＳＹに同期して発光区間信号ＥＺを生成する。タイミング生成部１０６は、基準位置信号ＳＹにしたがって、あらかじめ決められた位置で光ピックアップ１０９から照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する。
【００２８】
レーザパワー切替部１０７は、レーザパワーを切り替える。レーザパワー切替部１０７は、タイミング生成部１０６によって生成される発光タイミングにおいて光ピックアップ１０９から照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させる。ディスク回転速度切替部１０８は、光ディスク１の回転速度を切り替える。ディスク回転速度切替部１０８は、光ディスク１の回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える。
【００２９】
データ再生制御部１０３は、光ディスク１に形成された凹凸ピットを再生する際に、ディスク回転速度切替部１０８に対して第１の回転速度を設定し、かつレーザパワー切替部１０７に対して第１のレーザパワーを設定する。
【００３０】
マーク記録制御部１０４は、光ディスク１に追記マークを追記する際に、第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度をディスク回転速度切替部１０８に設定し、かつ発光タイミングに応じて第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーをレーザパワー切替部１０７に設定する。
【００３１】
マーク検出制御部１０５は、光ディスク１に形成された追記マークを検出する際に、マーク検出部１１５によって検出された反射率の変化量に基づいて追記マークを検出するよう制御する。
【００３２】
なお、本実施の形態において、ＲＦ信号処理部１１１がＲＦ信号処理部の一例に相当し、復調回路１１３が基準位置検出部の一例に相当し、ディスク回転速度切替部１０８が回転速度制御部の一例に相当し、タイミング生成部１０６が発光タイミング生成部の一例に相当し、レーザパワー切替部１０７がレーザパワー制御部の一例に相当し、マーク検出部１１５が反射率変化量検出部の一例に相当し、データ再生制御部１０３が凹凸ピット再生制御部の一例に相当し、マーク記録制御部１０４が追記マーク記録制御部の一例に相当し、マーク検出制御部１０５が追記マーク検出制御部の一例に相当し、フォーカス及びトラッキング制御部１１２がトラッキング制御部の一例に相当する。
【００３３】
図２は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置で使用する光ディスクのデータフォーマットを説明するための模式図である。図２において、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）ブロック２は、光ディスク１から再生したデジタル信号ＤＳに対して、誤り訂正可能な最小単位を表わす。フレーム３は、同期符号が付加される変調データの最小単位を表わす。通常、一つのＥＣＣブロックは、数百のフレームから構成される。更に、フレーム３は、同期符号４と変調データ５とから構成される。同期符号４は、ディスク上の再生データの位置決めをするために付加されている信号であり、通常は変調データには現れることのないユニークなパターンが用いられる。復調回路１１３は、同期符号４を検出することにより、基準位置信号ＳＹを発生させる。
【００３４】
復調回路１１３は、基準位置信号ＳＹを連続的に出力することも可能であるが、復調回路１１３内部にアドレス復調回路を有し、特定の開始アドレスに同期してアドレス復調回路から基準位置信号ＳＹを出力するように構成することもできる。
【００３５】
図３は、本発明の実施の形態１におけるマーク記録動作を示すタイミングチャートである。タイミング生成部１０６は、基準位置信号ＳＹに基づいて、発光区間信号ＥＺを出力する。レーザパワー切替部１０７は、発光区間信号ＥＺがＬｏｗである場合は、第１のレーザパワーレベル１１で光ピックアップ１０９に搭載されたレーザ光源を発光させる。また、レーザパワー切替部１０７は、発光区間信号ＥＺがＨｉｇｈである場合には、第１のレーザパワーレベル１１より大きい第２のレーザパワーレベル１０で光ピックアップ１０９に搭載されたレーザ光源を発光させる。レーザパワーが第２のレーザパワーレベル１０である区間において、ディスク盤面上の凹凸ピット７に沿って、追記マーク８がディスク盤面上に形成される。
【００３６】
安定して追記マーク８を検出するためには、凹凸ピット７の復調信号とは異なる周波数帯域で追記マーク８を記録しなければ、ＲＦ信号ＲＦＳにおいて追記マーク８と凹凸ピット７との区別がつかなくなるおそれがある。このため、追記マーク８の長さは、凹凸ピット７の最短ピット長の１０倍以上であることが望ましい。すなわち、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間は、凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることが好ましい。
【００３７】
安価な半導体レーザ光源を用いる場合には、第２のレーザパワーレベル１０を著しく高く設定することはできない。第２のレーザパワーは、レーザ光源の寿命の観点から、第１のレーザパワーに比して５倍以上、１０倍以下であることが好ましい。
【００３８】
次に、本発明の実施の形態１の特徴である、ＣＰＵ１０２の指令を受けた場合のマーク検出部１１５、タイミング生成部１０６、レーザパワー切替部１０７及びディスク回転速度切替部１０８の動作について、図４、図５及び図７のフローチャートと、図６の説明図とを用いて更に詳細に説明する。
【００３９】
図４は、凹凸ピットにより記録されたコンテンツデータを再生するデータ再生動作を示すフローチャートである。
【００４０】
まず、入出力部１０１は、データ再生制御部１０３へ、凹凸ピットにより記録されたコンテンツデータを再生するためのデータ再生命令を出力する（ステップＳ１１）。データ再生制御部１０３は、入出力部１０１から入力されたデータ再生命令を受け取り、光ディスク１を再生してコンテンツデータを読み取るために、光ディスク１の回転速度を設定するためのディスク回転速度設定信号ＤＲＳ、光ピックアップ１０９から出射されるレーザ光のレーザパワーを設定するためのレーザパワー設定信号ＬＰＳ、及びレーザ光の発光タイミングを設定するための発光タイミング設定信号ＥＺＣを出力する。
【００４１】
次に、データ再生制御部１０３は、ディスク回転速度設定信号ＤＲＳをディスク回転速度切替部１０８へ出力し、ディスクモータ１１０により光ディスク１が第１の回転速度、つまりコンテンツデータを再生する場合の回転速度で回転するようにディスク回転速度切替部１０８を設定する（ステップＳ１２）。
【００４２】
次に、データ再生制御部１０３は、レーザパワー設定信号ＬＰＳをレーザパワー切替部１０７へ出力し、コンテンツデータの再生時に用いられる第１のレーザパワーでレーザ光源を発光するようにレーザパワー切替部１０７を設定する（ステップＳ１３）。
【００４３】
次に、データ再生制御部１０３は、発光タイミング設定信号ＥＺＣをタイミング生成部１０６へ出力し、レーザ光源が常に第１のレーザパワーで発光する発光区間信号ＥＺを出力するように、つまり第２のレーザパワーで発光する発光区間信号ＥＺを出力しないようにタイミング生成部１０６を設定する（ステップＳ１４）。
【００４４】
光ディスク１からのコンテンツデータの再生が開始されると、光ピックアップ１０９及びＲＦ信号処理部１１１を経由して、復調回路１１３にＲＦ信号ＲＦＳが入力される。次に、復調回路１１３は、ＲＦ信号ＲＦＳを復調し、デジタル信号ＤＳの再生を開始する（ステップＳ１５）。次に、誤り訂正部１１４は、デジタル信号ＤＳの誤り訂正を行い、デジタル再生信号ＲＤを入出力部１０１へ出力する（ステップＳ１６）。
【００４５】
なお、データ再生時には、フォーカス及びトラッキング制御部１１２によるフォーカス制御及びトラッキング制御、又は光ピックアップ１０９の位置制御なども必要であるが、これらは一般の光ディスク装置が普通に備えている機能であり、ここでは説明を省略している。
【００４６】
図５は、追記マークを記録するマーク記録動作を示すフローチャートである。
【００４７】
まず、入出力部１０１は、マーク記録制御部１０４へ、追記マークを記録するためのマーク記録命令を出力する（ステップＳ２１）。マーク記録制御部１０４は、入出力部１０１から入力されたマーク記録命令を受け取り、追記マークを記録するために、光ピックアップ１０９から出射されるレーザ光のレーザパワーを設定するためのレーザパワー設定信号ＬＰＳ、光ディスク１の回転速度を設定するためのディスク回転速度設定信号ＤＲＳ、及びレーザ光の発光タイミングを設定するための発光タイミング設定信号ＥＺＣを出力する。
【００４８】
次に、マーク記録制御部１０４は、レーザパワー設定信号ＬＰＳをレーザパワー切替部１０７へ出力し、第２のレーザパワーでレーザ光源を発光するようにレーザパワー切替部１０７を設定する（ステップＳ２２）。
【００４９】
次に、マーク記録制御部１０４は、ディスク回転速度設定信号ＤＲＳをディスク回転速度切替部１０８へ出力し、ディスクモータ１１０により光ディスク１が第２の回転速度で回転するようにディスク回転速度切替部１０８を設定する（ステップＳ２３）。
【００５０】
次に、マーク記録制御部１０４は、発光タイミング設定信号ＥＺＣをタイミング生成部１０６へ出力し、レーザ光源が第２のレーザパワーで発光する発光区間信号ＥＺを出力するようにタイミング生成部１０６を設定する（ステップＳ２４）。図３に示すタイミングチャートの例では、マーク記録制御部１０４は、基準位置信号ＳＹの後に、一定区間幅のパルスを生成するように発光タイミングを設定する。
【００５１】
光ディスク上の再生位置が同期符号の位置に達すると、復調回路１１３より基準位置信号ＳＹが出力される。マーク記録制御部１０４は、基準位置信号ＳＹが記録開始位置であるか否かを判断する（ステップＳ２５）。ここで、基準位置信号ＳＹが記録開始位置ではないと判断された場合（ステップＳ２５でＮＯ）、基準位置信号ＳＹが記録開始位置になるまでステップＳ２５の判断処理が繰り返し行われる。
【００５２】
一方、基準位置信号ＳＹが記録開始位置であると判断された場合（ステップＳ２５でＹＥＳ）タイミング生成部１０６は、基準位置信号ＳＹに基づいて、レーザ光を発光させる区間を表す発光区間信号ＥＺを生成する（ステップＳ２６）。レーザパワー切替部１０７は、発光区間信号ＥＺで表される発光区間において、レーザ光源の発光パワーを、第１のレーザパワーから第２のレーザパワーに切り替える（ステップＳ２７）。
【００５３】
次に、マーク記録制御部１０４は、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスであるか否かを判断する（ステップＳ２８）。ここで、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスではないと判断された場合（ステップＳ２８でＮＯ）、ステップＳ２６の処理へ戻る。一方、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスであると判断された場合（ステップＳ２８でＹＥＳ）、マーク記録動作を終了する。以上のステップＳ２６〜ステップＳ２８の動作が、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスになるまで繰り返されて、追記マークが記録される。
【００５４】
上記の説明では、光ディスク上の再生位置が特定位置になったとき、基準位置信号ＳＹが出力されるとしているが、基準位置信号ＳＹが同期符号の位置で常に出力されるように構成し、アドレス情報が復調回路１１３からタイミング生成部１０６に基準位置信号ＳＹと同時に出力され、タイミング生成部１０６がアドレス情報に基づいて特定位置を判断するように構成することも可能である。
【００５５】
図６は、本発明の実施の形態１において、回転速度と、記録に必要なレーザパワーとの関係を示す図である。凹凸ピットが形成された光ディスク１に追記マークを記録する際には、レーザ光を照射することにより一定の熱エネルギーを反射膜に与え、反射膜に物理的及び光学的な変化を起こさせる。光ディスク１の線速度つまり回転速度が速いほど、反射膜の単位長さあたりに加えられる熱量は少なくなり、光ピックアップ１０９から大きなレーザパワーでレーザ光を照射しないと反射膜に変化を起こさせることができない。
【００５６】
図６のパワー曲線１２において、第１の回転速度ｘ１及びレーザパワーＡで反射膜に物理的及び光学的な変化を与えることが可能であるとする。このとき、第１の回転速度ｘ１よりも低速な第２の回転速度ｘ２で反射膜に第１の回転速度ｘ１で回転させた場合と同じ物理的及び光学的な変化を与えるために必要なレーザパワーはレーザパワーＢであり、レーザパワーＢはレーザパワーＡよりも低い値になる。
【００５７】
第２の回転速度は、光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度の２分の１以下であることが好ましい。本発明の実施の形態１においては、第２の回転速度ｘ２が、通常光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度ｘ３に対して例えば半分以下に設定されることにより、充分に低いレーザパワーで反射膜に物理的及び光学的な変化を起こさせるように構成することができる。
【００５８】
また、第２の回転速度は、第１の回転速度の１０分の１以下であることが好ましい。一般的に、光ディスク装置は、コンテンツデータの再生を高速に行い得るように設計するのが普通であるが、第２の回転速度は、第１の回転速度の１０分の１以下とすることにより、充分に低いレーザパワーで反射膜に物理的及び光学的な変化を起こさせることが可能となる。
【００５９】
図７は、光ディスクに記録された追記マークを検出するマーク検出動作を示すフローチャートである。
【００６０】
まず、入出力部１０１は、マーク検出制御部１０５へ、光ディスク１に記録された追記マークを検出するためのマーク検出命令を出力する（ステップＳ３１）。マーク検出制御部１０５は、入出力部１０１からマーク検出命令を受け取り、光ディスク１に記録された追記マークを検出するために、レーザ光の発光タイミングを設定するための発光タイミング設定信号ＥＺＣ、光ピックアップ１０９から出射されるレーザ光のレーザパワーを設定するためのレーザパワー設定信号ＬＰＳ、及び光ディスク１の回転速度を設定するためのディスク回転速度設定信号ＤＲＳを出力する。
【００６１】
次に、マーク検出制御部１０５は、レーザパワー設定信号ＬＰＳをレーザパワー切替部１０７へ出力し、コンテンツデータの再生時に用いられる第１のレーザパワーでレーザ光源を発光するようにレーザパワー切替部１０７を設定する（ステップＳ３２）。
【００６２】
次に、マーク検出制御部１０５は、ディスク回転速度設定信号ＤＲＳをディスク回転速度切替部１０８へ出力し、ディスクモータ１１０により光ディスク１が第１の回転速度で回転するようにディスク回転速度切替部１０８を設定する（ステップＳ３３）。
【００６３】
次に、マーク検出制御部１０５は、発光タイミング設定信号ＥＺＣをタイミング生成部１０６へ出力し、レーザ光源が第１のレーザパワーで発光する発光区間信号ＥＺを出力するように、つまり第２のレーザパワーで発光する発光区間信号ＥＺを出力しないようにタイミング生成部１０６を設定する（ステップＳ３４）。
【００６４】
光ディスク１からのコンテンツデータの再生が開始されると、光ピックアップ１０９及びＲＦ信号処理部１１１を経由して、復調回路１１３にＲＦ信号ＲＦＳが入力される。次に、復調回路１１３は、ＲＦ信号ＲＦＳを復調し、基準位置信号ＳＹを出力する（ステップＳ３５）。
【００６５】
次に、マーク検出部１１５は、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスであるか否かを判断する（ステップＳ３６）。ここで、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスであると判断された場合（ステップＳ３６でＹＥＳ）、マーク検出部１１５は、マーク検出結果ＭＤＲを入出力部１０１に出力し、マーク検出動作は終了となる（ステップＳ３７）。一方、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスに到達する前であれば、すなわち、基準位置信号ＳＹが最終記録アドレスではないと判断された場合（ステップＳ３６でＮＯ）、マーク検出部１１５は、後述するマーク検出処理を実行する（ステップＳ３８）。
【００６６】
本実施の形態では、マーク検出動作時のディスク回転速度は第１の回転速度であるとしているが、第２の回転速度で追記マークを検出するように構成することもできる。一般に、ディスクモータの回転速度の切り替えには応答時間が必要であり、切り替えに要する応答時間が、データ再生動作、マーク記録動作及びマーク検出動作全体の所要時間に影響を与える。そのため、コンテンツデータの再生、追記マークの記録及び追記マークの再生の各動作順序を考慮しながら、全体の処理時間が最短になるように回転速度を決定することが好ましい。
【００６７】
図８は、本発明の実施の形態１におけるマーク検出処理について説明するためのタイミングチャートである。図８において、ＥＣＣブロック２、フレーム３、凹凸ピット７及び追記マーク８は、図２と同じである。
【００６８】
図８に示すＲＦ信号１３は、ＲＦ信号処理部１１１から出力されたＲＦ信号ＲＦＳをアナログ波形として示している。ＲＦ信号ＲＦＳの先頭には同期符号部があり、続いて規定の変調規則に則った見かけ上ランダムなピット列がデータとして並んでいる。破線で示すＲＦ信号１４は、追記マークが記録された後のＲＦ信号を表し、実線で示すＲＦ信号１５は、追記マークが記録される前のＲＦ信号を表しており、ＲＦ信号１４はＲＦ信号１５に対して反射率の変化があることを示している。一点鎖線で示す追記マークが記録された後のＲＦ信号の平均値１７は、二点鎖線で示す追記マークが記録される前のＲＦ信号の平均値１６よりも増加している。つまり、追記マークの有無は、追記マークがない場合のＲＦ信号の平均値と、追記マークがある場合のＲＦ信号の平均値との差分１８として検出することができる。マーク検出部１１５は、ＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した振幅平均値の変動量をモニタすることにより反射率変化量を検出する。
【００６９】
また、マーク検出部１１５は、追記マークが記録されているマーク追記部のＲＦ信号波形を積分し、積分量の変化に基づいて追記マークを検出してもよい。すなわち、マーク検出部１１５は、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間内におけるＲＦ信号の積分値と、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間以外で発光区間と同じ長さの区間内におけるＲＦ信号の積分値とをそれぞれ検出し、検出した２つの積分値の差を求めることにより反射率変化量を検出してもよい。
【００７０】
また、マーク検出部１１５は、復調回路１１３からピット長に関する情報を取得し、一定長以上のピット又はランドの中央部付近のみの値を平均値の算出に用いてもよい。すなわち、マーク検出部１１５は、検出されたピット長が一定長以上である凹凸ピットの中央部での反射率の変化量のみを検出する。これにより、凹凸ピットが長短入り乱れてランダムに並んでいることによる振幅平均値算出時の誤差を低減することができる。また、マーク検出部１１５は、同じ長さのピット又はランドだけを平均値の算出に用いてもよい。
【００７１】
また、マーク検出部１１５は、追記マークの記録による反射率の変化を、ＲＦ信号の微小な揺らぎとして検出しても良い。例えば、図８において、追記マークが記録される前のＲＦ信号１５に比べて、追記マークが記録された後のＲＦ信号１４は、追記マークの影響により、時間軸上で微小に変化している（ずれている）ことが判る。マーク検出部１１５は、ＲＦ信号の時間軸上の微小な変化を、所定の統計処理を行うことで、追記マークの有無を検出することできる。統計処理は、例えば、一般的なジッタ値を導出する処理である。すなわち、追記マークの有無は、ジッタ値の違いにより、検出することができる。
【００７２】
または、図９で表される追記マーク検出方法を用いてもよい。図９は、本発明の実施の形態１における他の追記マーク検出方法について説明するためのタイミングチャートである。
【００７３】
図９において、タイミング生成部１０６は、追記マーク検出時に事前に知られている追記マーク記録区間に追記マークが記録されているか検出するため、追記マークが記録されているはずの区間で検出区間信号ＤＺをマーク検出部１１５に出力する。マーク検出部１１５は、検出区間信号ＤＺの出力区間において、光ディスク１の再生が不安定になった場合に追記マークが記録されていると判断する。
【００７４】
例えば、マーク検出部１１５は、検出区間信号ＤＺの出力区間でＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋ  Ｌｏｏｐ）回路のロックが外れたことを検出する。ＰＬＬ回路のロックが外れたことは、周波数が所定基準値以上ずれたことを意味する。
【００７５】
なお、これまで述べたマーク検出部１１５によって追記マークを検出する際に、再生信号品質を一定に保つために光ディスク装置に一般的に備わっている所定の信号処理機能、例えば、ＲＦ信号振幅の中心を調整するベースライン制御機能、振幅を一定の幅に保つよう調整するＡＧＣ機能、又は周波数を一定に保つＰＬＬ機能を動作させないことによって、追記マーク検出感度を上げることができる。これらの信号処理機能は、一般的にＲＦ信号の変化を補正するように動作する。そのため、これらの信号処理機能が動作していると、追記マークによるＲＦ信号の変動が小さくなってしまうため、追記マークの検出感度が劣る。
【００７６】
図１０は、本発明の実施の形態１におけるマーク検出処理を更に詳細に説明するためのフローチャートである。図１０を用いて、マーク検出部１１５の詳細な動作について説明する。
【００７７】
マーク検出処理が開始されると、マーク検出部１１５は、各所定区間のＲＦ信号波形の信号レベルの平均値を算出する（ステップＳ４１）。次に、マーク検出部１１５は、識別領域のＲＦ信号波形の取得が完了したか否かを判断する（ステップＳ４２）。ここで、識別領域のＲＦ信号波形の取得が完了していないと判断された場合（ステップＳ４２でＮＯ）、ステップＳ４１の処理へ戻る。
【００７８】
一方、識別領域のＲＦ信号波形の取得が完了したと判断された場合（ステップＳ４２でＹＥＳ）、マーク検出部１１５は、他の区間と比較してＲＦ信号波形の信号レベルの平均値が所定値以上高い区間が存在するか否かを判断する（ステップＳ４３）。ここで、他の区間と比較してＲＦ信号波形の信号レベルの平均値が所定値以上高い区間が存在すると判断された場合（ステップＳ４３でＹＥＳ）、マーク検出部１１５は、該当区間に追記マークが存在すると判定する（ステップＳ４４）。一方、他の区間と比較してＲＦ信号波形の信号レベルの平均値が所定値以上高い区間が存在しないと判断された場合（ステップＳ４３でＮＯ）、マーク検出部１１５は、該当区間に追記マークが存在しないと判定する（ステップＳ４５）。
【００７９】
このように、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる。
【００８０】
また、１チャネルビット幅といった高精度なパルス記録は不要であり、例えばフレーム長の整数倍といった周波数帯域の低いレーザパワー制御で追記マークの記録が可能となるので、記録型光ディスクで用いられているような高速かつ高精度なレーザ駆動回路が不要となり、光ディスク装置を安価に構成することができる。
【００８１】
また、追記マークは、ルーペなどで目視可能なストライプ状のマークではないため、ユーザが追記マークの存在を特定することが困難であり、追記マークにより記録された情報のセキュリティを向上させることができる。
【００８２】
また、同期符号パターン上に追記マークを形成しなければならないという制約もなく、追記マークを記録する下地にあたる凹凸ピットの変調パターンが予め決められた固定パターンである必要はない。そのため、追記マークの記録位置は光ディスク上のどこにでも設定可能であり、運用上の融通性が高いという利点を持つ。
【００８３】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態２における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【００８４】
本発明では、タイミング生成部１０６の動作を工夫することで、追記マークの形成方法が多種考えられる。図１１は、本発明の実施の形態２におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。実施の形態２における光ディスク装置の構成要素は図１と同じなので、説明を省略し、実施の形態１とは異なるタイミング生成部の動作のみを説明する。
【００８５】
実施の形態２では、タイミング生成部１０６は、追記マークの記録区間を、基準位置信号ＳＹの整数倍とする。すなわち、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、凹凸ピットのフレーム間隔の整数倍であることが好ましい。このように構成することにより、追記マークの始端及び終端をフレーム単位で構成できるという利点を持つ。
【００８６】
また、追記マークの長さを、あるＥＣＣブロックの先頭フレームから出力される基準位置信号ＳＹから、次のＥＣＣブロックの先頭フレームから出力される基準位置信号ＳＹまでの長さで記録するように構成することもできる。このようにすることにより、追記マークの始端及び終端をＥＣＣブロック単位で容易に管理及び構成できる。
【００８７】
また、通常、光ディスク装置においては、ＥＣＣブロックは凹凸ピットで記録されている物理アドレス情報と関連づけて管理されている。そのため、追記マークの記録長をＥＣＣブロックの整数倍として、記録の開始点と終了点とを比較的容易に管理できるように構成することもできる。
【００８８】
すなわち、光ディスク１に凹凸ピットで記録されている主情報は、一定単位のユーザデータに対してエラー訂正情報が付加されたエラー訂正ブロック単位で構成されている。マーク記録制御部１０４は、エラー訂正ブロック単位で、タイミング生成部１０６によって生成される第２のレーザパワーで発光される発光区間を制御する。このとき、タイミング生成部１０６によって生成される第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、エラー訂正ブロックの単位長さの整数倍である。
【００８９】
このような長期間にわたり、第２のレーザパワーに切り替える場合には、その発光区間でフォトディテクタの感度を切り替え、位相差サーボを第２のレーザパワー発光時にも行うように構成することができる。すなわち、フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、第２のレーザパワーで発光される発光区間内においても、トラッキング制御を行う。
【００９０】
また、上記のように追記された追記マークを検出する際には、追記マークの長さが長いので、ＲＦ信号の平均値が安定し、メディアの傷又は汚れなどの外乱に追記マークの検出結果が左右されにくいという特徴を持つ。また、記録区間が長いので、ＲＦ信号の平均値に基づいて追記マークを検出するのではなく、ＲＦ信号の変化量に比例したパラメータ、例えば主情報の変調符号の再生ジッタの悪化、又はアシンメトリの変化に基づいて追記マークを検出することも可能である。
【００９１】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態３における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【００９２】
図１２は、本発明の実施の形態３におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。実施の形態３における光ディスク装置の構成要素は図１と同じなので、説明を省略し、実施の形態１及び２とは異なるタイミング生成部の動作のみを説明する。本実施の形態３では、追記マーク２１は、例えば４フレーム間隔で記録される。
【００９３】
レーザパワーを通常の再生パワー以上の第２のレーザパワーに切り替えて追記マーク２１を記録している発光区間２２では、光ピックアップ１０９のフォトディテクタが飽和してしまい、正常な光ピックアップ出力信号Ｐ０を出力できなくなる場合がある。このような場合、フォーカス及びトラッキング制御部１１２にも正常な信号が入力されないため、一時的に光ピックアップ１０９のトラッキング制御が不能となる。
【００９４】
そこで、実施の形態３では、追記マーク２１を記録するために第２のレーザパワーで発光している発光区間２２は、１フレーム長以下とし、フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、発光区間２２内において位相差信号によるトラッキングサーボをホールドする。そして、フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、隣接する追記マーク２１の間の３フレーム長以上の区間２３においてトラッキング制御のリカバリを行う。
【００９５】
すなわち、フォーカス及びトラッキング制御部１１２は、第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、トラッキング制御をホールドする。また、凹凸ピットは同期符号を含み、同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間２２の長さは、１フレーム長以下であり、かつ次の発光区間２２までの間隔は３フレーム長以上である。
【００９６】
なお、復調回路１１３が、自動ゲイン制御（ＡＧＣ）回路又はＰＬＬ回路を内蔵している場合、それらの回路も第２のレーザパワーによる光ピックアップ出力信号Ｐ０の変動に応答しないように、ホールドすることが好ましい。すなわち、復調回路１１３は、第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、ＰＬＬ回路の周波数比較機能又は位相比較機能をホールドする。
【００９７】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態４における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【００９８】
図１３は、本発明の実施の形態４におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。図１３において、４フレームごとに追記マークを記録することは、実施の形態３と同じであるが、本実施の形態４では、２種類の記録モードを持たせている。タイミング生成部１０６は、エラー訂正ブロック内において、等間隔で複数の第２のレーザパワーで発光される発光タイミングを生成する。
【００９９】
図１３に示すように、４フレーム周期の第１の位相で第２のレーザパワーを有するレーザ光を発光させた場合には、第１の追記マーク２４が光ディスク１に形成される。また、第１の位相から１フレームだけずらした４フレーム周期の第２の位相で第２のレーザパワーを有するレーザ光を発光させた場合は、第２の追記マーク２５が光ディスク１に形成される。マーク記録制御部１０４は、タイミング生成部１０６に対して、第１の位相及び第２の位相のいずれの位相で記録するかを指示する。
【０１００】
タイミング生成部１０６は、光ディスク１上で互いに重なることがないように事前に決められた第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのいずれかを生成する。マーク記録制御部１０４は、タイミング生成部１０６に対し、第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのうちのいずれの発光タイミングを選択するかを指示する。
【０１０１】
つまり、追記マークの検出時に、記録されている位相を検出することにより、２種類の情報を記録及び識別することが可能である。２種類の情報は、例えばバイナリデータの“０”及び“１”に対応させることができる。隣接する追記マークが４フレーム間隔であれば、各位相をそれぞれ１フレームずつずらすことにより、最大４種類の情報を記録することができ、バイナリデータの“００”、“０１”、“１０”及び“１１”などに対応させることができる。この場合、マーク検出部１１５は、それぞれの位相に対応した区間でのみ検出処理を行う複数の検出回路を有する必要がある。
【０１０２】
マーク検出部１１５は、事前に決められた第１の発光タイミングにおける反射率変化量と、第２の発光タイミングにおける反射率変化量とを検出し、第１の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“０”を対応付けるとともに、第２の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“１”を対応付けた２値データを検出する。
【０１０３】
（実施の形態５）
次に、実施の形態５における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態５における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１０４】
図１４は、本発明の実施の形態５におけるマーク記録制御部及びタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【０１０５】
実施の形態５において、マーク記録制御部１０４は、第２のレーザパワーをさらに２種類用意して、追記マークを記録するフレームに応じて、第３のレーザパワーと、第３のレーザパワーより大きい第４のレーザパワーとの２種類のレーザパワーを使い分ける。
【０１０６】
追記マーク２６は、第３のレーザパワーのレーザ光を照射することにより追記された追記マークである。追記マーク２７は、第４のレーザパワーのレーザ光を照射することにより追記された追記マークである。追記マーク２８は、第３のレーザパワーのレーザ光を照射した上に、さらに第４のレーザパワーのレーザ光を照射することにより追記された追記マークである。
【０１０７】
実施の形態５では、複数のレーザパワーを使い分けることにより、光ディスク１に複数の異なった種類の追記マークを形成している。第３のレーザパワーと第４のレーザパワーとを異ならせることにより、図８で説明したマーク検出部１１５において検出されるＲＦ信号の平均値の差分１８が異なる。実施の形態５では、マーク検出部１１５は、追記マーク２６に対応したＲＦ信号の平均値、追記マーク２７に対応したＲＦ信号の平均値、追記マーク２８に対応したＲＦ信号の平均値、及び追記マークのない部分２９に対応したＲＦ信号の平均値の４種類の値を検出する。したがって、これらの値を実施の形態４と同様に２ビットのバイナリデータとして用いることができる。
【０１０８】
また、一度追記した追記マークの記録が光ディスクの汚れ等、何らかの原因で不十分であった場合に、レーザパワーを第３のレーザパワーから第４のレーザパワーに増大させて、追記マークを改めて形成しなおす用途に用いることもできる。追記マークが充分に形成されているかどうかは、図４に示したＲＦ信号の平均値の変化量から推定することができる。
【０１０９】
（実施の形態６）
次に、実施の形態６における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態６における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１１０】
図１５は、本発明の実施の形態６におけるタイミング生成部の詳細な構成を示すブロック図である。光ディスク装置１００は、タイミング生成部１０６に替えてタイミング生成部１１６を備える。図１５において、タイミング生成部１１６は、アドレス領域識別部１１７、マーク間隔生成器１１８及びマーク幅生成器１１９を備える。アドレス領域識別部１１７は、特定フレームにアドレス情報が含まれているかどうかを識別する。ここで、アドレス領域識別部１１７は、アドレス情報が含まれているアドレス領域（フレーム）を識別するために必要なアドレス検出情報を復調回路１１３から取得する。マーク間隔生成器１１８は、発光区間信号ＥＺの周期を決定する。マーク幅生成器１１９は、事前に決められた幅の発光区間信号ＥＺを生成する。
【０１１１】
次に、図１６に示すタイミングチャートを用いて、実施の形態６の追記マーク記録動作について説明する。図１６は、本発明の実施の形態６におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【０１１２】
図１６において、ＥＣＣブロック２は、アドレス情報の存在しないフレーム３０と、アドレス情報が存在するフレーム３１とを含む。実施の形態６におけるタイミング生成部１１６は、アドレス情報の存在しているフレーム３１の区間においては、発光区間信号ＥＺを出力しない。この結果、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光区間は、アドレス情報の存在しないフレーム３０に対応する区間だけとなる。したがって、アドレス情報の存在しないフレーム３０において、追記マーク３２は記録されるが、アドレス情報の存在しているフレーム３１において、レーザパワーが第２のレーザパワーにはならず、追記マーク３２は形成されない。
【０１１３】
すなわち、光ディスク１に凹凸ピットで記録されている主情報は、光ディスク１内の物理的位置を示すアドレス情報を含む。タイミング生成部１１６は、アドレス情報が記録されている領域を避けて第２のレーザパワーでレーザ光を照射するように発光タイミングを生成する。
【０１１４】
実施の形態３において、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光区間では、光ピックアップ１０９のフォトディテクタが飽和することを例示したが、フォトディテクタが飽和することによりサーボ制御を行うフォーカス及びトラッキング制御部１１２以外のＲＦ信号処理部１１１においても、正常な信号処理ができなくなることがある。この発光区間において、ＲＦ信号処理部１１１が有するＡＧＣ回路又はＰＬＬ回路をホールドした場合、ホールドした区間では、次段の復調回路１１３に正常な信号が出力されず、よってアドレス情報を復調することができなくなる。
【０１１５】
実施の形態６では、図１６に示すようにアドレス情報を含む区間（フレーム）を避けて追記マークが形成されることにより、複数の追記マークが形成される場合でも、アドレス情報が記録されたフレームでは第２のレーザパワーに切り替わらない。そのため、サーボ制御及び復調処理が可能となり、アドレス情報も検出可能となる。このため、復調されるアドレス情報の連続性を、例えば復調回路１１３又はマーク記録制御部１０４が監視することができ、メディアの傷又は外乱によるトラック飛びを検出することができる。
【０１１６】
（実施の形態７）
次に、実施の形態７における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態７における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１１７】
図１７は、本発明の実施の形態７におけるタイミング生成部の詳細な構成を示すブロック図である。光ディスク装置１００は、タイミング生成部１０６に替えてタイミング生成部１２０を備える。図１７において、タイミング生成部１２０は、乱数発生器１２１、マーク間隔生成器１２２及びマーク幅発生器１２３を備える。乱数発生器１２１は、乱数を発生させる。マーク間隔生成器１２２は、乱数発生器１２１から発生された乱数に基づき、発光区間信号ＥＺの周期をランダムに生成する。マーク幅発生器１２３は、事前に決められた幅の発光区間信号ＥＺを生成する。
【０１１８】
すなわち、タイミング生成部１２０は、乱数を発生させ、発生させた乱数に基づいて、第２のレーザパワーで発光される発光タイミングの周期をランダムに変更する。
【０１１９】
次に、図１８のタイミングチャートを用いて、実施の形態７における追記マークの記録動作について説明する。図１８は、本発明の実施の形態７におけるタイミング生成部の動作を説明するためのタイミングチャートである。図１８において、追記マーク３６の間隔３３，３４，３５は、乱数によってランダムに変わる。
【０１２０】
実施の形態７では、追記マーク３６の記録位置がランダムである。そのため、マーク検出時においては、マーク検出部１１５は、追記マーク３６が記録されている位置を正確に把握して、検出タイミングを生成しなければならない。しかしながら、乱数発生器１２１における乱数系列を適宜入れ替えることにより、複数の記録パターンで追記マークを記録することが可能となる。
【０１２１】
（実施の形態８）
次に、実施の形態８における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態８における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１２２】
図１９は、本発明の実施の形態８におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。図１９において、基準位置信号ＳＹの間の１フレーム内に、複数の追記マークが記録される。
【０１２３】
タイミング生成部１０６は、復調回路１１３によって生成されるチャネルクロックに同期して、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光区間信号ＥＺを生成する。実施の形態８では、基準位置信号ＳＹと、追記マークの記録が開始されるタイミングとが異なる。そのため、追記マーク検出時においては、マーク検出部１１５は、記録されているマーク位置を正確に把握して、検出タイミングを生成しなければならない。しかしながら、１フレーム内に複数の追記マークを記録するように発光区間信号ＥＺが生成されるため、追記マークの記録情報量を増加させることができる。
【０１２４】
なお、第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることが好ましい。
【０１２５】
（実施の形態９）
次に、実施の形態９における光ディスク装置について説明する。図２０は、本発明の実施の形態９における光ディスク装置の構成を示すブロック図である。なお、実施の形態９における光ディスク装置１００’において、図１に示す実施の形態１における光ディスク装置１００と同じ構成については同じ符号を付し、説明を省略する。光ディスク装置１００’は、シフト制御部１２５をさらに備える。
【０１２６】
ＣＰＵ１０２のマーク記録制御部１０４は、シフト制御設定信号ＳＳを出力し、追記マーク記録時にレーザ光照射位置が光ディスクの半径方向に事前に決められた微少距離だけシフトするようシフト制御部１２５を設定する。シフト制御部１２５は、シフト制御設定信号ＳＳに従って、タイミング生成部１０６から出力される発光区間信号ＥＺのタイミングに同期して光ピックアップ１０９が光ディスクの半径方向に対して事前に決められた微少距離だけシフトするようトラッキング制御信号をフォーカス及びトラッキング制御部１１２へ出力する。
【０１２７】
図２１は、本発明の実施の形態９におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。図２１において、追記マーク４１ａ，４１ｂは、凹凸ピット４０が記録されている位置より光ディスクの半径方向に微小距離だけシフトして記録される。
【０１２８】
シフト制御部１２５は、光ディスクの半径方向の追記マークの中心がピットの中心から内周側又は外周側へ微小距離だけシフトさせて追記マークを記録するための第１の追記マークシフト信号と、第１の追記マークシフト信号とは逆の方向へ微小距離だけシフトさせて追記マークを記録するための第２の追記マークシフト信号とを生成する。
【０１２９】
シフト制御部１２５は、タイミング生成部１０６によって生成される第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、光ピックアップ１０９によって出射されるレーザ光を、光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトさせる。
【０１３０】
シフト制御部１２５によって第１の追記マークシフト信号が出力されている区間では、追記マーク４１ａは、光ディスクの半径方向の追記マークの中心が凹凸ピット４０の中心から内周側又は外周側へ微小距離だけシフトさせて記録される。また、シフト制御部１２５によって第２の追記マークシフト信号が出力されている区間では、追記マーク４１ｂは、第１の追記マークシフト信号とは逆の方向へ微小距離だけシフトさせて記録される。
【０１３１】
例えば、図２１に示すように、追記マーク４１ａの中心線４２は、凹凸ピット４０の中心線４３に対して内周側へシフトしており、追記マーク４１ｂの中心線４４は、凹凸ピット４０の中心線４３に対して外周側へシフトしている。
【０１３２】
実施の形態８のマーク検出時においては、光ピックアップ１０９が反射光の反射率の非対称性を検出し、追記マークが記録されていることだけでなく、追記マークが内周方向又は外周方向にシフトしていることを検出する。
【０１３３】
すなわち、マーク検出部１１５は、追記マークからの反射光の分布が光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心に対して非対称であることを検出し、非対称である反射光のＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した振幅平均値の変動量をモニタすることにより反射率変化量を検出する。
【０１３４】
本実施の形態８では、追記マークを光ディスクの半径方向に微小距離だけシフトすることによって記録できる情報量を増加させることができる。
【０１３５】
（実施の形態１０）
次に、実施の形態１０における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態１０における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１３６】
図２２は、本発明の実施の形態１０におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作及び追記マーク検出動作を説明するためのタイミングチャートである。図２２に示す実施の形態１０では、レーザ光を異なる振幅で出力させ、追記マーク検出時において凹凸ピット５５による影響を除いた、矩形以外の形状のＲＦ信号波形を取得する。
【０１３７】
レーザパワー切替部１０７は、追記マークを記録する際に、光ピックアップ１０９が出力するレーザ光の振幅を例えば、事前に決められたパターン又は乱数系列に基づいたランダムなパターンによって変化させて、追記マーク５９を記録する。これにより、１つの追記マーク５９には、反射率の異なる複数の領域５６，５７，５８が含まれる。すなわち、レーザパワー切替部１０７は、タイミング生成部１０６によって生成される第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンにしたがって第２のレーザパワーが複数の値に変化するように制御する。
【０１３８】
また、図２２では、追記マークが記録される前のＲＦ信号５１と、追記マークが記録された後のＲＦ信号５２と、追記マークが記録される前のＲＦ信号５１と追記マークが記録された後のＲＦ信号５２との差分５３と、追記マークが記録される前のＲＦ信号５１と追記マークが記録された後のＲＦ信号５２との理想的な差分５４とを示している。
【０１３９】
実施の形態８では、マーク検出部１１５は、追記マークが検出される際に、再生されたＲＦ信号の追記マークによる差分５３と、再生されたＲＦ信号の追記マークによる理想的な差分５４とを比較する。マーク検出部１１５は、追記マークが検出される際に、再生されたＲＦ信号の追記マークによる差分５３と、再生されたＲＦ信号の追記マークによる理想的な差分５４とが一致するか否かを判断する。
【０１４０】
すなわち、マーク検出部１１５は、タイミング生成部１０６によって生成される第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、レーザ光が照射される前のＲＦ信号の波形とレーザ光が照射された後のＲＦ信号の波形との差分値と、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンとを比較して、差分値とパターンとが一致する場合、正常に追記マークが記録されたと判断し、差分値とパターンとが一致しない場合、正常に追記マークが記録されていないと判断する。
【０１４１】
これにより、例えば、追記マークの検出を鍵認証として利用することができる。マーク検出部１１５は、正しい記録位置に、ＲＦ信号の理想的な差分５４と一致するＲＦ信号の差分５３が検出されない場合、事前に正しい鍵が追記マークとして記録されていないとして、光ディスク１に凹凸ピットにより記録されているコンテンツデータの再生を禁止する。
【０１４２】
（実施の形態１１）
次に、実施の形態１１における光ディスク装置について説明する。なお、実施の形態１１における光ディスク装置の構成は、実施の形態１における光ディスク装置１００の構成と同じであるので説明を省略し、光ディスク装置１００と異なる点についてのみ説明する。
【０１４３】
図２３は、本発明の実施の形態１１におけるタイミング生成部の追記マーク記録動作を説明するためのタイミングチャートである。
【０１４４】
図２３において、追記マーク６１の記録区間と未記録区間とはともに周期が一定でなく、例えば乱数によって記録区間と未記録区間とをランダムに変化させる。すなわち、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、乱数系列によって決まる。タイミング生成部１０６は、乱数を発生させ、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さ及び隣接する発光区間の間隔を、発生させた乱数によって決定する。
【０１４５】
この場合、追記マーク６１の記録位置がランダムに変化しているため、乱数に基づいて記録されている位置を正確に把握して検出タイミングを生成しなければならない。しかしながら、乱数系列を適宜入れ替えることにより、複数の記録パターンで追記マークを記録することが可能となる。
【０１４６】
なお、上述した具体的実施形態には以下の構成を有する発明が主に含まれている。
【０１４７】
本発明の一局面に係る光ディスク装置は、凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク装置であって、光ピックアップと、前記光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理部と、前記ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出部と、前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御部と、前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成部と、前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御部と、前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出部と、前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御部に対して第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御部に対して第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御部と、前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ前記光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御部に設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御部に設定する追記マーク記録制御部とを備える。
【０１４８】
この構成によれば、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号が取得され、ＲＦ信号を復調して基準位置信号が検出される。回転速度制御部によって、光ディスクの回転速度が少なくとも２種類の回転速度に切り替えられ、発光タイミング生成部によって、基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングが生成され、レーザパワー制御部によって、発光タイミングにおいて光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーが増加される。反射率変化量検出部によって、ＲＦ信号から光ディスクによる反射光の反射率の変化量が検出される。そして、光ディスクに形成された凹凸ピットを再生する際に、回転速度制御部に対して第１の回転速度が設定され、かつレーザパワー制御部に対して第１のレーザパワーが設定される。また、光ディスクに追記マークを追記する際に、第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度が回転速度制御部に設定され、かつ発光タイミングに応じて第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーがレーザパワー制御部に設定される。
【０１４９】
したがって、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる。
【０１５０】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際に、前記反射率変化量検出部によって検出された前記反射率の変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御部をさらに備えることが好ましい。
【０１５１】
この構成によれば、光ディスクに形成された追記マークを検出する際に、反射率変化量検出部によって検出された反射率の変化量に基づいて追記マークを検出することができる。
【０１５２】
また、上記の光ディスク装置において、前記第２の回転速度は、前記最低回転速度の２分の１以下であることが好ましい。この構成によれば、最低回転速度の２分の１以下である第２の回転速度で、光ディスクに追記マークを追記することができる。
【０１５３】
また、上記の光ディスク装置において、前記第２の回転速度は、前記第１の回転速度の１０分の１以下であることが好ましい。この構成によれば、第１の回転速度の１０分の１以下である第２の回転速度で、光ディスクに追記マークを追記することができる。
【０１５４】
また、上記の光ディスク装置において、前記第２のレーザパワーは、前記第１のレーザパワーの５倍以上、１０倍以下であることが好ましい。この構成によれば、第１のレーザパワーの５倍以上、１０倍以下である第２のレーザパワーで、光ディスクに追記マークを追記することができる。
【０１５５】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、前記トラッキング制御部は、位相差検出方式によりトラッキング制御を行うことが好ましい。この構成によれば、位相差検出方式によりトラッキング制御を行うことができる。
【０１５６】
また、上記の光ディスク装置において、前記第２のレーザパワーで前記レーザ光が照射される発光区間は、前記凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることが好ましい。
【０１５７】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間は、凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であるので、ＲＦ信号において追記マークと凹凸ピットとをより明確に区別することができる。
【０１５８】
また、上記の光ディスク装置において、前記基準位置検出部は、少なくともＰＬＬ回路を用いて前記ＲＦ信号を復調し、前記第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、前記ＰＬＬ回路の周波数比較機能又は位相比較機能をホールドすることが好ましい。
【０１５９】
この構成によれば、少なくともＰＬＬ回路を用いてＲＦ信号が復調され、第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、ＰＬＬ回路の周波数比較機能又は位相比較機能がホールドされるので、ＰＬＬ回路の周波数比較機能又は位相比較機能が第２のレーザパワーによる光ピックアップ出力信号の変動に応答しなくなり、正常にＲＦ信号を復調することができる。
【０１６０】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、前記トラッキング制御部は、前記第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、トラッキング制御をホールドすることが好ましい。
【０１６１】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光を照射する際には、トラッキング制御がホールドされるので、トラッキング制御が第２のレーザパワーによる光ピックアップ出力信号の変動に応答しなくなり、正常にトラッキング制御を行うことができる。
【０１６２】
また、上記の光ディスク装置において、前記凹凸ピットは同期符号を含み、前記同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、１フレーム長以下であり、かつ次の発光区間までの間隔は３フレーム長以上であることが好ましい。
【０１６３】
この構成によれば、同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、１フレーム長以下であり、かつ次の発光区間までの間隔は３フレーム長以上であるので、発光区間内においてトラッキング制御をホールドし、隣接する追記マークの間の３フレーム長以上の区間においてトラッキング制御のリカバリを行うことができる。
【０１６４】
また、上記の光ディスク装置において、前記凹凸ピットは同期符号を含み、前記同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、前記凹凸ピットのフレーム間隔の整数倍であることが好ましい。
【０１６５】
この構成によれば、同期符号間の距離を１フレーム長としたとき、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、凹凸ピットのフレーム間隔の整数倍であるので、周波数帯域の低いレーザパワー制御で追記マークの追記が可能となるので、記録型光ディスクで用いられているような高速かつ高精度なレーザ駆動回路が不要となり、光ディスク装置を安価に製造することができる。
【０１６６】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ディスクに前記凹凸ピットで記録されている前記主情報は、前記光ディスク内の物理的位置を示すアドレス情報を含み、前記発光タイミング生成部は、前記アドレス情報が記録されている領域を避けて前記第２のレーザパワーで前記レーザ光を照射するように前記発光タイミングを生成することが好ましい。
【０１６７】
この構成によれば、アドレス情報が記録されている領域を避けて第２のレーザパワーでレーザ光を照射するように発光タイミングが生成される。したがって、複数の追記マークが形成される場合でも、アドレス情報が記録された領域では第２のレーザパワーに切り替わらないため、当該領域におけるサーボ制御及び復調処理が可能となり、正常にアドレス情報を検出することができる。
【０１６８】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ディスクに前記凹凸ピットで記録されている前記主情報は、一定単位のユーザデータに対してエラー訂正情報が付加されたエラー訂正ブロック単位で構成されており、前記追記マーク記録制御部は、前記エラー訂正ブロック単位で、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーで発光される発光区間を制御することが好ましい。
【０１６９】
この構成によれば、光ディスクに凹凸ピットで記録されている主情報は、一定単位のユーザデータに対してエラー訂正情報が付加されたエラー訂正ブロック単位で構成されている。そして、エラー訂正ブロック単位で、第２のレーザパワーで発光される発光区間が制御されるので、追記マークの記録の開始点と終了点とを比較的容易に管理することができる。
【０１７０】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、前記エラー訂正ブロックの単位長さの整数倍であることが好ましい。
【０１７１】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、エラー訂正ブロックの単位長さの整数倍であるので、追記マークの記録の開始点と終了点とを比較的容易に管理することができる。
【０１７２】
また、上記の光ディスク装置において、前記光ピックアップに対するトラッキングを制御するトラッキング制御部をさらに備え、前記トラッキング制御部は、前記第２のレーザパワーで発光される発光区間内において、トラッキング制御を行うことが好ましい。この構成によれば、第２のレーザパワーで発光される発光区間内において、トラッキング制御を行うことができる。
【０１７３】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部は、前記エラー訂正ブロック内において、等間隔で複数の第２のレーザパワーで発光される発光タイミングを生成することが好ましい。
【０１７４】
この構成によれば、エラー訂正ブロック内において、等間隔で複数の第２のレーザパワーで発光される発光タイミングが生成されるので、追記マークの記録の開始点と終了点とを比較的容易に管理することができる。
【０１７５】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部は、乱数を発生させ、発生させた乱数に基づいて、第２のレーザパワーで発光される発光タイミングの周期をランダムに変更することが好ましい。
【０１７６】
この構成によれば、乱数が発生され、発生された乱数に基づいて、第２のレーザパワーで発光される発光タイミングの周期がランダムに変更されるので、複数の記録パターンで追記マークを記録することができ、追記マークの複製を困難にすることができる。
【０１７７】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部は、光ディスク上で互いに重なることがないように事前に決められた第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのいずれかを生成し、前記追記マーク記録制御部は、前記発光タイミング生成部に対し、前記第１の発光タイミングと前記第２の発光タイミングとのうちのいずれの発光タイミングを選択するかを指示することが好ましい。
【０１７８】
この構成によれば、光ディスク上で互いに重なることがないように事前に決められた第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのいずれかが生成され、第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのうちのいずれの発光タイミングを選択するかが指示される。したがって、光ディスク上で互いに重なることがないように事前に決められた第１の発光タイミングと第２の発光タイミングとのうちのいずれの発光タイミングを選択するかが指示されるので、複数種類の情報を追記マークにより追記することができる。
【０１７９】
また、上記の光ディスク装置において、前記反射率変化量検出部は、事前に決められた前記第１の発光タイミングにおける反射率変化量と、前記第２の発光タイミングにおける反射率変化量とを検出し、前記第１の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“０”を対応付けるとともに、前記第２の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“１”を対応付けた２値データを検出することが好ましい。
【０１８０】
この構成によれば、事前に決められた第１の発光タイミングにおける反射率変化量と、第２の発光タイミングにおける反射率変化量とが検出され、第１の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“０”が対応付けられるとともに、第２の発光タイミングにおいて反射率変化量が検出された場合には値“１”が対応付けられた２値データが検出される。したがって、複数種類の情報を追記マークにより追記することができる。
【０１８１】
また、上記の光ディスク装置において、前記反射率変化量検出部は、前記ＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した前記振幅平均値の変動量をモニタすることにより前記反射率変化量を検出することが好ましい。
【０１８２】
この構成によれば、ＲＦ信号の振幅平均値が計測され、計測された振幅平均値の変動量がモニタされることにより反射率変化量が検出される。したがって、反射率変化量を検出することにより、追記マークの有無を検出することができる。
【０１８３】
また、上記の光ディスク装置において、前記基準位置検出部は、前記凹凸ピットのピット長を検出し、前記反射率変化量検出部は、検出された前記ピット長が一定長以上である前記凹凸ピットの中央部での前記反射率変化量のみを検出することが好ましい。
【０１８４】
この構成によれば、凹凸ピットのピット長が検出され、検出されたピット長が一定長以上である凹凸ピットの中央部での反射率変化量のみが検出されるので、凹凸ピットが長短入り乱れてランダムに並んでいることによる振幅平均値算出時の誤差を低減することができる。
【０１８５】
また、上記の光ディスク装置において、前記反射率変化量検出部は、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間内におけるＲＦ信号の積分値と、前記第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間以外で前記発光区間と同じ長さの区間内におけるＲＦ信号の積分値とをそれぞれ検出し、検出した２つの積分値の差を求めることにより前記反射率変化量を検出することが好ましい。
【０１８６】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間内におけるＲＦ信号の積分値と、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間以外で発光区間と同じ長さの区間内におけるＲＦ信号の積分値とがそれぞれ検出され、検出された２つの積分値の差を求めることにより反射率変化量が検出される。したがって、反射率変化量を検出することにより、追記マークの有無を検出することができる。
【０１８７】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部は、チャネルクロックに同期して、前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングを生成し、前記第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、前記凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上であることが好ましい。
【０１８８】
この構成によれば、チャネルクロックに同期して、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングが生成され、第２のレーザパワーでレーザ光が発光される発光区間は、凹凸ピットの最短ピット長の１０倍以上である。したがって、１フレーム内に複数の追記マークを記録するように発光タイミングが生成されるため、追記マークの記録情報量を増加させることができる。
【０１８９】
また、上記の光ディスク装置において、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、前記光ピックアップによって出射されるレーザ光を、前記光ディスクの半径方向の前記凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトさせるシフト制御部をさらに備えることが好ましい。
【０１９０】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、光ピックアップによって出射されるレーザ光が、光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトされる。
【０１９１】
したがって、追記マークが、光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトして追記されるので、追記マークにより記録できる情報量を増加させることができる。
【０１９２】
また、上記の光ディスク装置において、前記反射率変化量検出部は、前記追記マークからの反射光の分布が前記光ディスクの半径方向の前記凹凸ピットの中心に対して非対称であることを検出し、非対称である前記反射光の前記ＲＦ信号の振幅平均値を計測し、計測した前記振幅平均値の変動量をモニタすることにより前記反射率変化量を検出することが好ましい。
【０１９３】
この構成によれば、追記マークからの反射光の分布が光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心に対して非対称であることが検出され、非対称である反射光のＲＦ信号の振幅平均値が計測され、計測された振幅平均値の変動量がモニタされることにより反射率変化量が検出される。
【０１９４】
したがって、光ディスクの半径方向の凹凸ピットの中心から所定の距離だけ内周方向又は外周方向にシフトして追記された追記マークを検出することができ、追記マークにより記録できる情報量を増加させることができる。
【０１９５】
また、上記の光ディスク装置において、前記レーザパワー制御部は、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンにしたがって前記第２のレーザパワーが複数の値に変化するように制御することが好ましい。
【０１９６】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンにしたがって第２のレーザパワーが複数の値に変化するように制御される。したがって、反射率の異なる複数の領域を含む追記マークを追記することができる。
【０１９７】
また、上記の光ディスク装置において、前記反射率変化量検出部は、前記発光タイミング生成部によって生成される前記第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、レーザ光が照射される前のＲＦ信号の波形とレーザ光が照射された後のＲＦ信号の波形との差分値と、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンとを比較して、前記差分値と前記パターンとが一致する場合、正常に前記追記マークが記録されたと判断し、前記差分値と前記パターンとが一致しない場合、正常に前記追記マークが記録されていないと判断することが好ましい。
【０１９８】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光を発光する発光タイミングにおいて、レーザ光が照射される前のＲＦ信号の波形とレーザ光が照射された後のＲＦ信号の波形との差分値と、事前に決められたパターン又は乱数系列によって決まるランダムなパターンとが比較される。そして、差分値とパターンとが一致する場合、正常に追記マークが記録されたと判断され、差分値とパターンとが一致しない場合、正常に追記マークが記録されていないと判断される。したがって、追記マークの検出を鍵認証として利用することができる。
【０１９９】
また、上記の光ディスク装置において、前記第２のレーザパワーで前記レーザ光が照射される発光区間の長さは、乱数系列によって決まることが好ましい。
【０２００】
この構成によれば、第２のレーザパワーでレーザ光が照射される発光区間の長さは、乱数系列によって決まる。したがって、追記マークの記録位置がランダムに変化するため、乱数に基づいて記録されている位置を正確に把握して検出タイミングを生成しなければならず、乱数系列を適宜入れ替えることにより、複数の記録パターンで追記マークを記録することができる。
【０２０１】
本発明の他の局面に係る集積回路は、凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク装置が備える集積回路であって、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理回路と、ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出回路と、前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御回路と、前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成回路と、前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御回路と、前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出回路と、前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御回路に対して第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御回路に対して第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御回路と、前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ前記光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御回路に設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御回路に設定する追記マーク記録制御回路とを備える。
【０２０２】
この構成によれば、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号が取得され、ＲＦ信号を復調して基準位置信号が検出される。回転速度制御回路によって、光ディスクの回転速度が少なくとも２種類の回転速度に切り替えられ、発光タイミング生成回路によって、基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングが生成され、レーザパワー制御回路によって、発光タイミングにおいて光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーが増加される。反射率変化量検出回路によって、ＲＦ信号から光ディスクによる反射光の反射率の変化量が検出される。そして、光ディスクに形成された凹凸ピットを再生する際に、回転速度制御回路に対して第１の回転速度が設定され、かつレーザパワー制御回路に対して第１のレーザパワーが設定される。また、光ディスクに追記マークを追記する際に、第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度が回転速度制御回路に設定され、かつ発光タイミングに応じて第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーがレーザパワー制御回路に設定される。
【０２０３】
したがって、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる。
【０２０４】
また、上記の集積回路において、前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際には、前記反射率変化量検出回路によって検出された前記反射率変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御回路をさらに備えることが好ましい。
【０２０５】
この構成によれば、光ディスクに形成された追記マークを検出する際には、反射率変化量検出回路によって検出された反射率の変化量に基づいて追記マークを検出することができる。
【０２０６】
本発明の他の局面に係る光ディスク制御方法は、凹凸ピットによってコンテンツデータを含む主情報が記録された光ディスクに対して、前記凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記する光ディスク制御方法であって、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号を取得するＲＦ信号処理ステップと、前記ＲＦ信号を復調して基準位置信号を検出する基準位置検出ステップと、前記光ディスクの回転速度を少なくとも２種類の回転速度に切り替える回転速度制御ステップと、前記基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で前記光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングを生成する発光タイミング生成ステップと、前記発光タイミングにおいて前記光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーを増加させるレーザパワー制御ステップと、前記ＲＦ信号から前記光ディスクによる反射光の反射率の変化量を検出する反射率変化量検出ステップと、前記光ディスクに形成された前記凹凸ピットを再生する際に、前記回転速度制御ステップにおいて第１の回転速度を設定し、かつ前記レーザパワー制御ステップにおいて第１のレーザパワーを設定する凹凸ピット再生制御ステップと、前記光ディスクに前記追記マークを追記する際に、前記第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っている前記コンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ前記基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度を前記回転速度制御ステップにおいて設定し、かつ前記発光タイミングに応じて前記第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーを前記レーザパワー制御ステップにおいて設定する追記マーク記録制御ステップとを含む。
【０２０７】
この構成によれば、光ピックアップからの出力に基づいてＲＦ信号が取得され、ＲＦ信号を復調して基準位置信号が検出される。回転速度制御ステップにおいて、光ディスクの回転速度が少なくとも２種類の回転速度に切り替えられ、発光タイミング生成ステップにおいて、基準位置信号にしたがって、あらかじめ決められた位置で光ピックアップから照射されるレーザ光の発光タイミングが生成され、レーザパワー制御ステップにおいて、発光タイミングにおいて光ピックアップから照射されるレーザ光のレーザパワーが増加される。反射率変化量検出ステップにおいて、ＲＦ信号から光ディスクによる反射光の反射率の変化量が検出される。そして、光ディスクに形成された凹凸ピットを再生する際に、回転速度制御ステップにおいて第１の回転速度が設定され、かつレーザパワー制御ステップにおいて第１のレーザパワーが設定される。また、光ディスクに追記マークを追記する際に、第１の回転速度よりも遅くかつ光ディスク装置が持っているコンテンツデータの再生に必要な最低回転速度よりも遅くかつ基準位置信号を検出することが可能な第２の回転速度が回転速度制御ステップにおいて設定され、かつ発光タイミングに応じて第１のレーザパワーよりも大きい第２のレーザパワーがレーザパワー制御ステップにおいて設定される。
【０２０８】
したがって、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる。
【０２０９】
また、上記の光ディスク制御方法において、前記光ディスクに形成された前記追記マークを検出する際には、前記反射率変化量検出ステップにおいて検出された前記反射率の変化量に基づいて前記追記マークを検出するよう制御する追記マーク検出制御ステップをさらに含むことが好ましい。
【０２１０】
この構成によれば、光ディスクに形成された追記マークを検出する際には、反射率変化量検出ステップにおいて検出された反射率の変化量に基づいて追記マークを検出することができる。
【０２１１】
なお、発明を実施するための形態の項においてなされた具体的な実施態様または実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と特許請求事項との範囲内で、種々変更して実施することができるものである。
【産業上の利用可能性】
【０２１２】
本発明に係る光ディスク装置、光ディスク制御方法及び集積回路は、工場内の特殊装置又は高出力のレーザ光源を用いることなく、比較的安価で低出力のレーザ光源を用いて、凹凸ピットによって主情報が記録された光ディスクに対して、凹凸ピット上に形成された反射膜の反射率を変化させることにより追記マークを追記することができる光ディスク装置、光ディスク制御方法及び集積回路に利用可能である。
【図１】
0005480297.tif 000002
【図２】
0005480297.tif 000003
【図４】
0005480297.tif 000004
【図５】
0005480297.tif 000005
【図６】
0005480297.tif 000006
【図７】
0005480297.tif 000007
【図１０】
0005480297.tif 000008
【図１４】
0005480297.tif 000009
【図１５】
0005480297.tif 000010
【図１７】
0005480297.tif 000011
【図２０】
0005480297.tif 000012
【図３】
0005480297.tif 000013
【図８】
0005480297.tif 000014
【図９】
0005480297.tif 000015
【図１１】
0005480297.tif 000016
【図１２】
0005480297.tif 000017
【図１３】
0005480297.tif 000018
【図１６】
0005480297.tif 000019
【図１８】
0005480297.tif 000020
【図１９】
0005480297.tif 000021
【図２１】
0005480297.tif 000022
【図２２】
0005480297.tif 000023
【図２３】
0005480297.tif 000024