(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
画像表示領域に、互いに交差するように設けられたデータ線及び走査線と、前記データ線及び前記走査線の交差に応じて設けられた画素部と、
前記基板の第１辺に沿って設けられた複数の接続端子と、
前記基板の第１辺と交差する第２辺に沿って設けられた複数の検査用端子と、
前記基板の第２辺と交差すると共に、前記基板の第１辺と対向する第３辺に沿って設けられた検査回路とを備え、
前記検査回路は、前記基板の第３辺に沿って設けられた供給回路と、前記供給回路と前記画像表示領域との間に、前記供給回路から供給された制御信号によって検査用配線と前記データ線とを電気的に接続する接続回路とを有し、
前記複数の接続端子は、駆動回路に第１電源を供給する第１端子を有し、
前記複数の検査用端子は、前記供給回路に第２電源を供給する第２端子を有し、
前記接続回路は、前記データ線及び前記検査用配線間に電気的に接続されたトランジスタと、前記第１電源が入力側に供給され、且つ、前記トランジスタのゲートが出力側に電気的に接続された制御回路とを有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記制御回路は、相補型トランジスタを有し、前記供給回路は、前記相補型トランジスタのゲートに電気的に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記検査用配線は、前記画素部の良否を判定する判定手段に電気的に接続される判定用配線を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかに記載の電気光学装置を具備してなること
を特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、液晶装置等の電気光学装置を検査するための検査回路、及びそのような検査回路を搭載した液晶装置等の電気光学装置、並びにプロジェクタ等の電子機器の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の電気光学装置では、通常、製造途中で、後工程に悪影響を及ぼさないように、欠陥の有無を判別する検査が行われる。特に、アクティブマトリクス型の電気光学装置では、素子基板に画素をスイッチングするトランジスタのような能動素子が形成されるので、その欠陥の有無の判別が重要である。更に、駆動回路内蔵型の電気光学装置では、素子基板に、駆動回路の一部又は全部が、画素をスイッチングするための能動素子とともに作り込まれるので、ますます検査が重要視されつつあり、その要請も高まっている。このような電気光学装置を検査する技術に対する要請の下、特許文献１は、検査回路を搭載した電気光学装置、及びそのような検査回路が実行可能な検査方法の一例を提案している。
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−７９５４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、電気光学装置の画像を表示させる際に駆動される駆動回路及び検査回路を共通の電源で駆動した場合、電気光学装置が画像を表示する際、即ち検査回路が動作していない期間に当該検査回路で消費電力が発生し、エネルギーが無駄に消費されてしまう問題点がある。加えて、検査回路が動作していない期間に当該検査回路に電源が供給されていると、検査回路を動作させるためのクロック信号が不安定となり、電気光学装置の誤動作を生じさせる虞がある。より具体的には、クロストーク等の表示不良を発生させる虞がある。
【０００５】
よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、検査回路に発生する消費電力を低減し、且つ電気光学装置の誤動作も低減可能な検査回路、及び電気光学装置、並びに電子機器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本件の参考発明に係る検査回路は上記課題を解決するために、（ｉ）互いに交差するように設けられたデータ線及び走査線と、（ｉｉ）前記データ線及び前記走査線の交差に応じて設けられた画素部と、（ｉｉｉ）前記画素部に信号を供給する駆動回路と、（ｉｖ）前記駆動回路に第１電源を供給する第１端子部とを備えた電気光学装置を検査するための検査回路であって、前記画素部が配列された画素領域を検査する検査手段に電気的に接続される検査用配線と、前記検査用配線と前記データ線とを電気的に接続する接続回路と、前記接続回路に、前記データ線及び前記検査用配線間の導通及び非導通を制御する制御信号を供給する供給回路とを備え、前記供給回路は、前記第１端子部とは異なる第２端子部から供給される第２電源によって駆動される。
【０００７】
本件の参考発明に係る検査回路によれば、接続回路は、前記画素部の検査用配線、及び前記データ線を電気的に接続可能であり、当該電気光学装置の検査時に、画素部に電気的に接続されたデータ線の電位が検査用配線に読み出される。
【０００８】
供給回路は、前記接続回路に、前記データ線及び前記検査用配線間の導通及び非導通を制御する制御信号を供給する。供給回路は、電気光学装置の検査時に、第１端子部と異なる第２端子部から供給される第２電源によって駆動される。したがって、電気光学装置は、その動作時、即ち、電気光学装置が画像を表示している際に、供給回路に第２電源が供給されていない状態で第１電源を電源として駆動回路が駆動され、画像が表示される。
【０００９】
よって、本件の参考発明に係る検査回路によれば、第２電源は電気光学装置の検査時にのみ供給回路に供給されるため、電気光学装置の動作時に検査回路で消費される消費電力を低減することが可能である。
【００１０】
加えて、第１電源が供給される第１端子部と、第２電源が供給される第２端子部とは、物理的に別々に設けられているため、第１電源が供給回路に供給されることを確実になくすことが可能である。より具体的には、例えば、駆動回路及び供給回路の夫々に駆動用の電源を供給する端子部を共用する構成を備えた電気光学装置の動作時において、スイッチング素子で電源の供給先を切り換えた場合には、端子部、スイッチング素子、駆動回路及び供給回路相互の電気的な接続状態に応じて電源が供給回路に供給される可能性もあり、供給回路で発生する消費電力を確実に低減することが困難になる。
【００１１】
そこで、本件の参考発明に係る検査回路によれば、第１電源が供給される第１端子部と、第２電源が供給される第２端子部とが、物理的に別々に設けられているため、電気光学装置の動作時に、例えば、第２電源を供給する供給手段を第２端子部に電気的に接続しないことによって、確実に検査回路で消費される消費電力を低減できる。
【００１２】
また、電気光学装置の検査時には、第２電源によって駆動される供給回路が、前記データ線及び前記検査用配線間の導通及び非導通を制御する制御信号を前記接続回路に供給し、データ線及び検査用配線間が導通可能となる。これにより、画素部の検査が可能になる。
【００１３】
本件の参考発明に係る検査回路によれば、電気光学装置の動作時に第２電源が供給回路に供給されないことから、検査回路の停止時にそのクロックが不安定になることによって生じる電気光学装置の誤動作も防止でき、例えば、クロストーク等の表示不良の発生を低減可能である。
【００１４】
また、供給回路に供給されるクロック信号を供給する配線部は、電気光学装置の検査後にはフローティングとなるため、当該配線部に静電気が帯電した場合、検査回路を介して電気光学装置に誤動作が生じる虞があるが、本発明に係る検査回路によれば、電気光学装置の動作時に第２電源を供給回路に供給しないことによって、静電気の影響が検査回路を介して電気光学装置に及ぶことをなくすことができ、電気光学装置の表示性能を低下させることがない。
【００１５】
したがって、本件の参考発明に係る検査回路によれば、電気光学装置を検査できると共に検査回路の消費電力を低減可能である。加えて、電気光学装置の誤動作に起因する表示不良も低減でき、駆動回路及び供給回路の電源を共用する場合に比べて、電気光学装置の表示性能を高めることも可能である。
【００１６】
本件の参考発明に係る検査回路の一の態様では、前記接続回路は、前記データ線及び前記検査用配線間に電気的に接続されたトランジスタと、前記第１電源及び前記供給回路が入力側に電気的に接続され、且つ前記トランジスタのゲートが出力側に電気的に接続された制御回路とを有していてもよい。
【００１７】
この態様によれば、トランジスタは、例えばＮチャネル型のＴＦＴであり、前記データ線及び前記検査用配線間に電気的に接続されている。
【００１８】
制御回路は、例えば、入力側に抵抗素子が電気的に接続された相補型トランジスタ回路を含んで構成されており、前記第１電源及び前記供給回路が入力側に電気的に接続され、且つ前記トランジスタのゲートが出力側に電気的に接続されている。
【００１９】
このような制御回路によれば、供給回路から制御信号が入力側に供給されていない場合、即ち、電気光学装置の動作時には、Ｎチャネル型のトランジスタのゲートに当該トランジスタのしきい値より低い電圧が印加され、データ線及び検査用配線間は非導通状態になる。したがって、電気光学装置の動作時に、検査回路及びデータ線を電気的に遮断できるため、仮に検査回路の動作が不安定な場合であっても、電気光学装置が画像を表示する表示性能を低下させることがない。
【００２０】
一方、この態様によれば、電気光学装置の検査時には、供給回路から入力側に制御信号が供給された際に、第１電源がインバータ回路を介してＮチャネル型のトランジスタのゲートに供給され、データ線及び検査用配線間が導通状態となり、画素部の検査が可能になる。
【００２１】
したがって、この態様によれば、液晶装置の動作時及び検査時の夫々において、検査回路及び画素部間の導通及び非導通を切り換える制御が可能となり、検査時において確実に検査回路及び画素部を電気的に遮断することが可能であり、消費電力を低減しつつ、電気光学装置が画像を表示する表示性能の低下を抑制できる。
【００２２】
本件の参考発明に係る検査回路の他の態様では、前記検査用配線は、前記画素部の良否を判定する判定手段に電気的に接続される判定用配線を含んでいてもよい。
【００２３】
この態様によれば、接続回路は、前記画素部の良否を判定する判定手段に電気的に接続される判定用配線、及び前記データ線を電気的に接続可能であり、当該電気光学装置の検査時に、画素部に電気的に接続されたデータ線の電位を判定用配線に読み出し可能である。読み出された電位に基づいて判定手段が画素部の良否を判定することによって電気光学装置が検査可能になる。
【００２４】
本発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板と、画像表示領域に、互いに交差するように設けられたデータ線及び走査線と、前記データ線及び前記走査線の交差に応じて設けられた画素部と、前記基板の第１辺に沿って設けられた複数の接続端子と、前記基板の第１辺と交差する第２辺に沿って設けられた複数の検査用端子と、
前記基板の第２辺と交差すると共に、前記基板の第１辺と対向する第３辺に沿って設けられた検査回路とを備え、前記検査回路は、前記基板の第３辺に沿って設けられた供給回路と、前記供給回路と前記画像表示領域との間に、前記供給回路から供給された制御信号によって検査用配線と前記データ線とを電気的に接続する接続回路とを有し、前記複数の接続端子は、駆動回路に第１電源を供給する第１端子を有し、前記複数の検査用端子は、前記供給回路に第２電源を供給する第２端子を有し、前記接続回路は、前記データ線及び前記検査用配線間に電気的に接続されたトランジスタと、前記第１電源が入力側に供給され、且つ、前記トランジスタのゲートが出力側に電気的に接続された制御回路とを有する。
また、前記制御回路は、相補型トランジスタを有し、前記供給回路は、前記相補型トランジスタのゲートに電気的に接続されている。
また、前記検査用配線は、前記画素部の良否を判定する判定手段に電気的に接続される判定用配線を含む。
【００２５】
本発明に係る電気光学装置によれば、上述の検査回路を備えて構成されているため、電気光学装置の検査時及び動作時の夫々において消費される消費電力の総量を低減できる。加えて、電気光学装置の誤動作に起因する表示不良も低減でき、駆動回路及び供給回路の電源を共用する場合に比べて、電気光学装置の表示性能を高めることも可能である。
できる。
【００２６】
本発明に係る電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の電気光学装置を備えている。
【００２７】
本発明に係る電子機器によれば、上述した本発明に係る電気光学装置を具備してなるので、高品位の表示が可能な、投射型表示装置、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルなどの各種電子機器を実現できる。また、本発明に係る電子機器として、例えば電子ペーパなどの電気泳動装置等も実現することが可能である。
【００２８】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図１乃至図８を参照しながら、本発明に係る検査回路、電気光学装置、及び電子機器の各実施形態を説明する。以下の実施形態では、本発明の電気光学装置の一例として、ＴＦＴアクティブマトリクス駆動方式の液晶装置を例に挙げる。
【００３０】
＜液晶装置及び検査回路＞
図１乃至図７を参照しながら、本実施形態に係る液晶装置及び当該液晶装置に搭載された検査回路を説明する。尚、本実施形態では、検査回路は、液晶装置に搭載されている。
【００３１】
先ず、図１及び図２を参照しながら、本実施形態に係る液晶装置１００の全体構成を説明する。図１は、本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図であり、図２は、図１のＨ−Ｈ´線断面図である。
【００３２】
図１及び図２において、液晶装置１００では、素子基板１０と対向基板２０とが対向配置されている。素子基板１０と対向基板２０との間に液晶層５０が封入されており、素子基板１０と対向基板２０とは、画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材５２により相互に接着されている。
【００３３】
図１において、シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、データ信号が供給されるデータ信号端子を含む外部回路接続端子１０２が素子基板１０の一辺に沿って設けられている。この一辺に沿ったシール領域よりも内側に、デマルチプレクサ７が額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。また、走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺に沿ったシール領域の内側に、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。更に、検査回路１６０は、この一辺に対向する辺に沿ったシール領域よりも内側に、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。加えて、検査回路１６０と電気的に接続された検査用ＰＡＤ１７０が、額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。本実施形態では、検査用ＰＡＤを介して、検査回路１６０に含まれるシフトレジスタ１６２（図３参照）を検査することが可能である。
【００３４】
素子基板１０上には、対向基板２０の４つのコーナー部に対向する領域に、両基板間を上下導通材１０７で接続するための上下導通端子１０６が配置されている。これらにより、素子基板１０と対向基板２０との間で電気的な導通をとることができる。
【００３５】
素子基板１０上には、外部回路接続端子１０２と、デマルチプレクサ７、走査線駆動回路１０４、上下導通端子１０６等とを電気的に接続するための引回配線９０が形成されている。外部回路接続端子１０２のうち、本発明の「第１端子部」の一例である接続端子１０２ａは、本発明の「第１電源」の一例である電源ＶＤＤＹを、本発明の「駆動回路」の一例である走査線駆動回路１０４に供給する電源回路に電気的に接続される端子部である。
【００３６】
液晶装置１００は、平面的に見て素子基板１０の４つの辺のうち外部回路接続端子１０２が配列された側の辺に交差する辺に沿って外部回路接続端子１０２とは別に設けられた検査用端子１１１、１１２、１１３、１１４及び１１５を備えている。本発明の「第２端子部」の一例である検査用端子１１１は、素子基板１０上において端子１０２ａと物理的に離して別々に設けられており、液晶装置１００の検査時に、電源ＶＤＤＣ（図３参照）を供給する電源回路に電気的に接続される。検査用端子１１２、１１３及び１１４の夫々は、クロック信号ＣＬＫ、スタートパルスＤＸ及び電源ＶＤＤＹを接続回路１６３に供給するための端子である。尚、電源ＶＤＤＣは、後述するデータ信号供給回路４００を駆動する電源ＶＤＤＸと共用されていてもよい。
【００３７】
図２において、素子基板１０上には、駆動素子である画素スイッチング用ＴＦＴや走査線、データ線等の配線が作り込まれた積層構造が形成されている。画像表示領域１０ａには、画素スイッチング用ＴＦＴや走査線、データ線等の配線の上層に画素電極９ａが設けられている。画素電極９ａ上には、配向膜が形成されている。他方、対向基板２０における素子基板１０との対向面上に、遮光膜２３が形成されている。遮光膜２３上に、ＩＴＯ等の透明材料からなる対向電極２１が複数の画素電極９ａと対向して形成されている。対向電極２１上には配向膜が形成されている。液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。
【００３８】
次に、図３から図７を参照しながら、液晶装置１００の電気的な構成を説明する。図３は、本実施形態に係る液晶装置１００の電気的な構成を示すブロック図である。図４は、本実施形態に係る液晶装置の画素部の等価回路図である。図５は、本実施形態に係る液晶装置の検査回路が有するシフトレジスタの動作を示すタイミングチャートである。図６は、本実施形態に係る液晶装置の検査回路が有するシフトレジスタの構成を示す回路図である。図７は、本実施形態に係る液晶装置の検査回路が有する接続回路の構成をシフトレジスタと共に示した回路図である。
【００３９】
図３において、液晶装置１００は、素子基板１０上に、デマルチプレクサ７、走査線駆動回路１０４及び検査回路１６０を備えている。素子基板１０上の外部回路接続端子１０２のうちデータ信号端子１０２ｄに外部回路としてのデータ信号供給回路４００が接続されている。
【００４０】
素子基板１０上の画像表示領域１０ａには、３２０行の走査線１１ａが行方向（即ち、Ｘ方向）に延在するように設けられ、また、４本毎にブロック化された４８０（＝１２０×４）列のデータ線６ａが、列方向（即ち、Ｙ方向）に延在するように、且つ、各走査線１１ａと互いに電気的な絶縁を保つように、設けられている。尚、走査線１１ａ及びデータ線６ａの本数はそれぞれ３２０本及び４８０本に限定されるものではない。１ブロックを構成するデータ線数は、本実施形態では「４」としたが、「２」以上であればよい。
【００４１】
画素部７００は、３２０本の走査線１１ａと４８０本のデータ線６ａとの交差に対応して、それぞれ配列されている。従って、本実施形態では、画素部７００は、縦３２０行×横４８０列で、所定の画素ピッチでマトリクス状に配列されている。
【００４２】
図４に示すように、画素部７００は、画素スイッチング用ＴＦＴ３０、液晶素子７２及び蓄積容量７０を備えている。
【００４３】
画素スイッチング用ＴＦＴ３０は、ソースがデータ線６ａに電気的に接続され、ゲートが走査線１１ａに電気的に接続され、ドレインが後述する液晶素子７２の画素電極９ａに電気的に接続されている。画素スイッチング用ＴＦＴ３０は、走査線駆動回路１０４から供給される走査信号によってオンオフが切り換えられる。
【００４４】
液晶素子７２は、画素電極９ａ、対向電極２１並びに画素電極９ａ及び対向電極２１間に狭持された液晶から構成されている。液晶素子７２において、データ線６ａ及び画素電極９ａを介して液晶に書き込まれた所定レベルのデータ信号は、対向電極２１との間で一定期間保持される。液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。ノーマリーホワイトモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が減少し、ノーマリーブラックモードであれば、各画素の単位で印加された電圧に応じて入射光に対する透過率が増加され、全体として電気光学装置からはデータ信号に応じたコントラストをもつ光が出射する。
【００４５】
蓄積容量７０は、保持されたデータ信号がリークするのを防ぐために、画素電極９ａと対向電極との間に形成される液晶容量と並列に付加されている。
【００４６】
以上のような画素部７００が、画像表示領域１０ａにマトリクス状に配列されているので、アクティブマトリクス駆動が可能となっている。
【００４７】
再び図３において、本実施形態では、１グループを構成する４列のデータ線６ａを区別するために、右から順にそれぞれａ、ｂ、ｃ、ｄ系列と呼ぶ場合がある。詳細には、ａ系列とは１、５、９、…、４７７列目のデータ線６ａであり、ｂ系列とは２、６、１０、…、４７８列目のデータ線６ａであり、ｃ系列とは３、７、１１、…、４７９列目のデータ線６ａであり、ｄ系列とは４、８、１２、…、４８０列目のデータ線６ａである。
【００４８】
走査線駆動回路１０４は、１、２、３、…、３２０行目の走査線１１ａに、走査信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、…、Ｇ３２０を供給する。詳細には、走査線駆動回路１０４は、１フレームの期間にわたって１、２、３、…、３２０行目の走査線１１ａを順番に選択するとともに、選択した走査線への走査信号を選択電圧に相当するＨレベルとし、それ以外の走査線への走査信号を非選択電圧に相当するＬレベルとする。
【００４９】
データ信号供給回路４００は、素子基板１０とは別体構成であり、液晶装置１００の動作時、即ち液晶装置１００による表示動作の際には、外部回路接続端子１０２に含まれるデータ信号端子１０２ｄを介して素子基板１０に電気的に接続される。データ信号供給回路４００は、走査線駆動回路１０４によって選択された走査線１１ａと、各ブロックに属する４列のデータ線６ａのうち、デマルチプレクサ７によって選ばれるデータ線６ａとに対応する画素部７００に対し、画素の階調に応じた電圧のデータ信号を出力する。一方、液晶装置１００の検査時には、データ信号供給回路４００の代わりに、プローブが接続されて、検査動作に合わせたデータ信号が供給される。
【００５０】
尚、本実施形態では、上述したように、データ線６ａの列数は「４８０」であり、これらが４列毎にブロック化されているので、データ信号端子１０２ｄの個数は「１２０」である。
【００５１】
デマルチプレクサ７は、データ線６ａ毎に設けられたＴＦＴ７１を含んで構成されている。ここで、ＴＦＴ７１はｎチャネル型であり、各ドレインはデータ線６ａの一端に電気的に接続され、同一ブロックに属するデータ線６ａに対応する４個のＴＦＴ７１のソースは共通接続されて、当該ブロックに対応するデータ信号が供給される。
【００５２】
即ち、ｍ番目（但し、ｍは１以上１２０以下の整数）のブロックは、ａ系列の（４ｍ−３）列目、ｂ系列の（４ｍ−２）列目、ｃ系列の（４ｍ−１）列目及びｄ系列の（４ｍ）列目のデータ線６ａから構成されるので、これら４列のデータ線６ａに対応するＴＦＴ７１のソースは共通接続されて、データ信号ｄ（ｍ）が供給される。（４ｍ−３）列目のデータ線６ａに対応するＴＦＴ７１のゲートには、制御信号Ｓｅｌ１が供給され、同様に（４ｍ−２）列目、（４ｍ−１）列目及び（４ｍ）列目のデータ線６ａに対応するＴＦＴ７１のゲートには、制御信号Ｓｅｌ２、Ｓｅｌ３及びＳｅｌ４が供給される。尚、制御信号Ｓｅｌ１、Ｓｅｌ２、Ｓｅｌ３及びＳｅｌ４は、図示しない外部回路としてのタイミング制御回路から外部回路接続端子１０２を介して供給される。
【００５３】
図３において、検査回路１６０は、本発明の「供給回路」の一例であるシフトレジスタ１６２、及び接続回路１６３を備えて構成されている。接続回路１６３は、本発明の「トランジスタ」の一例であるＴＦＴ１６４、及び、本発明の「制御回路」の一例である制御回路１９０を備えて構成されている。
【００５４】
接続回路１６３は、本発明の「検査用配線」の一例を構成する４本の判定用配線１６９と、データ線６ａとの間において、それぞれに電気的に接続されている。接続回路１６３の動作、即ち、判定用配線１６９及びデータ線６ａ間の導通及び非導通を制御する制御動作は、シフトレジスタ１６２から接続回路１６３に出力される転送パルス信号Ｘｍによって制御される。
【００５５】
液晶装置１００の検査時において、接続回路１６３は、判定用配線１６９及びデータ線６ａを導通させる。判定用配線１６９は、検査用端子１１５を介して外部の「検査手段(判定手段)」の一例を構成する判定回路（不図示）に電気的に接続されている。検査用のデータ信号に応じて画素部７００から出力された出力信号Ｃｘ１〜４は、データ線６ａ及び接続回路１６３、並びに判定用配線１６９を介して出力される。検査用端子１１５に電気的に接続された判定回路は、出力信号Ｃｘ１〜４の電位に基づいて画素部７００の良否を判定する。これにより、液晶装置１００の良否が判定され、液晶装置１００が検査される。
【００５６】
シフトレジスタ１６２は、液晶装置１００の検査時において、走査線駆動回路１０４を駆動する電源ＶＤＤＹが供給される外部回路接続端子１０２ａと異なる検査用端子１１１から供給され、且つ電源ＶＤＤＹと異なる電源ＶＤＤＣによって駆動される。電源ＶＤＤＣは、液晶装置１００の検査時にのみ検査用端子１１１に電源回路が電気的に接続されることによって、液晶装置１００の検査時にのみシフトレジスタ１６２に供給される。
【００５７】
したがって、液晶装置１００では、その動作時、即ち、液晶装置１００が画像を表示している際に、シフトレジスタ１６２に電源ＶＤＤＣが供給されていない状態で電源ＶＤＤＹを電源として走査線駆動回路１０４が駆動されることによって画像が表示可能となるため、液晶装置１００の動作時にシフトレジスタ１６２で消費される消費電力を低減できる。
【００５８】
ここで、走査線駆動回路１０４及びシフトレジスタ１６２の夫々について、駆動用の電源を供給する端子部を共用した場合、液晶装置１００の動作時にスイッチング素子によって電源ＶＤＤＹ及びＶＤＤＣの供給先を切り換えると、端子部、スイッチング素子、走査線駆動回路１０４及びシフトレジスタ１６２相互の電気的な接続状態に応じて電源ＶＤＤＹがシフトレジスタ１６２に供給される可能性があり、シフトレジスタ１６２で発生する消費電力を確実に低減することが困難になる。
【００５９】
検査回路１６０によれば、電源ＶＤＤＹが供給される外部回路接続端子１０２ａと、電源ＶＤＤＣが供給される検査用端子１１１とが、物理的に別々に設けられているため、液晶装置１００の動作時に電源ＶＤＤＣを供給する電源回路を検査用端子１１１に電気的に接続しないことによって、電源ＶＤＤＹがシフトレジスタ１６２に供給されることがなく、シフトレジスタ１６２で消費される消費電力を確実に低減できる。
【００６０】
図３及び図５に示すように、シフトレジスタ１６２は、液晶装置１００の検査時において、検査制御回路（図示省略）から検査用端子１１３を介して供給される転送開始パルスＤＸを、検査用端子１１２を介して供給されるクロック信号ＣＬＸに従って順次シフトして、本発明の「制御信号」の一例である転送パルスＸ１、Ｘ２、…、Ｘ１２０を各ブロックに対応して出力する。
【００６１】
ここで、図６を参照しながら、シフトレジスタ１６２の構成及びその動作を説明する。
【００６２】
図６に示すように、シフトレジスタ１６２は、１２０段の単位回路Ｅｉ（但し、ｉ＝１、…、１２０）が多段接続（或いは縦続接続）されて構成されている。単位回路Ｅｉは、２つのラッチ回路Ｕｋ及びＵｋ＋１（但し、ｋ＝２ｉ−１、ｉ＝１、…１２０）、論理回路６２４並びにバッファ回路６２６を含んでいる。ラッチ回路Ｕｋ及びＵｋ＋１、論理回路６２４、並びにバッファ回路６２６の夫々は、液晶装置１００の検査時において、電源ＶＤＤＣを駆動用の電源として用いて駆動される。
【００６３】
ラッチ回路Ｕｋ及びＵｋ−１の各々は、インバータ６３１、６３２及び６３３から構成されている。インバータ６３１は、クロック信号ＣＬＸがＨレベルである場合に入力信号の論理レベルを反転出力し、クロック信号ＣＬＸがＬレベルである場合にハイインピーダンス状態とする。インバータ６３２は、単なるＮＯＴ回路として機能する。インバータ６３３は、クロック信号ＣＬＸと論理反転の関係にあるクロック信号ＣＬＸｉｎｖがＨレベルである場合に入力信号の論理レベルを反転出力し、クロック信号ＣＬＸｉｎｖがＬレベルである場合にハイインピーダンス状態とする。ラッチ回路Ｕｋ及びＵｋ＋１は、ラッチ回路Ｕｋからの出力信号がラッチ回路Ｕｋ＋１の入力となるように互いに接続されている。即ち、ラッチ回路Ｕ１、…、Ｕ２４０は、多段接続されている。
【００６４】
再び図５に示すように、上述のように構成されたラッチ回路Ｕ１、Ｕ２、…、Ｕ２４０は、転送開始パルスＤＸが順次シフトされたシフト信号Ｆ１、Ｆ２、…、Ｆ２４０をそれぞれ出力する。ラッチ回路Ｕ１が出力するシフト信号Ｆ１は、クロック信号ＣＬＸがＨレベルの期間では、転送開始パルスＤＸを正転出力したものであり、クロック信号ＣＬＸがＬレベルの期間では、その直前での正転出力をラッチ（或いは保持）したものである。ラッチ回路Ｕ２が出力する信号Ｆ２は、クロック信号ＣＬＸがＬレベルの期間では、シフト信号Ｆ１の正転出力であり、クロック信号ＣＬＸがＨレベルの期間では、その直前での正転出力をラッチしたものである。以降、ラッチ回路Ｕ３、Ｕ４、…、Ｕ２４０についても同様である。つまり、シフト信号Ｆ１、Ｆ２、…、Ｆ２４０は、クロック信号ＣＬＸ（或いはクロック信号ＣＬＸｉｎｖ）の半周期だけ順次シフトしたものである。
【００６５】
論理回路６２４は、ラッチ回路Ｕｋ及びＵｋ−１の各々からのシフト信号Ｆｋ及びＦｋ−１の論理積信号を出力するように構成されている。
【００６６】
バッファ回路６２６は、論理回路６２４からの論理積信号を、その駆動能力を高めて、転送パルスＸｉとして出力する。
【００６７】
尚、シフトレジスタ１６２が上述のような構成であるので、検査制御回路は、転送開始パルスＤＸをシフトレジスタ１６２に対して出力してから、クロック信号ＣＬＸを何周期分供給したかによって、いずれのシフト信号がＨレベルとなるのかを把握することができる。
【００６８】
このようなシフトレジスタ１６２によれば、液晶装置１００の動作時に電源ＶＤＤＣが供給されないことから、検査回路１６０の停止時、より具体的にはシフトレジスタ１６２の停止時にそのクロックが不安定になることによって生じる液晶装置１００の誤動作が防止可能になる。よって、検査回路１６０の誤動作を一因として液晶装置１００に発生するクロストーク等の表示不良を低減可能である。
【００６９】
また、シフトレジスタ１６２にクロック信号ＣＬＫを供給する配線は、液晶装置１００の検査後にはフローティングとなるため、当該配線に静電気が帯電した場合、検査回路１６０を介して液晶装置１００に誤動作が生じる虞がある。
【００７０】
しかしながら、検査回路１６０によれば、液晶装置１００の動作時に電源ＶＤＤＣがシフトレジスタ１６２に供給されないことによって、静電気の影響が検査回路１６０を介して液晶装置１００に及ぶことをなくすことができ、液晶装置１００の表示性能を低下させることがない。
【００７１】
再び、図３において、複数のＴＦＴ１６４の夫々のソースは、データ線６ａの他端（即ち、データ線６ａにおけるデマルチプレクサ７が電気的に接続された一端とは反対側である他端）に電気的に接続されている。同一ブロックに属するデータ線６ａに対応する４個のＴＦＴ１６４のゲートは共通接続されて、当該ブロックに対応する転送パルスＸｍが供給される。
【００７２】
即ち、ｍ番目のブロックを構成する（４ｍ−３）列目、（４ｍ−２）列目、（４ｍ−１）列目及び（４ｍ）列目のデータ線６ａに対応するＴＦＴ１６４のゲートには、シフトレジスタ１６２による転送パルスＸｍが共通に供給される。
【００７３】
１番目から１２０番目までのブロックにおいてａ系列のデータ線６ａに対応するＴＦＴ１６４のドレインは、ブロックを構成するデータ線６ａの数と同じ本数である４本の判定用配線１６９のうち、出力信号Ｃｘ１として読み出す判定用配線１６９に共通接続されている。同様に、各ブロックにおいて、ｂ、ｃ及びｄ系列のデータ線６ａに対応するＴＦＴ１６４のドレインは、４本の判定用配線１６９のうち、出力信号Ｃｘ２、Ｃｘ３、Ｃｘ４として読み出す判定用配線１６９に共通接続されている。
【００７４】
次に、図７を参照しながら、接続回路１６３の詳細な構成を説明し、接続回路１６３による判定用配線１６９及びデータ線６ａ間の導通及び非導通の制御動作を説明する。尚、以下では、説明の便宜上、一本のデータ線６ａ及び当該データ線６ａに電気的に接続された判定用配線１６９間の導通及び非導通を制御する制御動作を説明するが、他のデータ線６ａ及び判定用配線１６９間でも接続回路１６３は転送パルスＸｍが供給されるタイミングに応じて同様の制御動作を実行する。
【００７５】
図７において、接続回路１６３は、ＴＦＴ１６４、及び制御回路１９０を備えて構成されている。
【００７６】
ＴＦＴ１６４は、そのソースがデータ線６ａに電気的に接続されており、ドレインが判定用配線１６９に電気的に接続されている。
【００７７】
制御回路１９０は、Ｎチャネル型のＴＦＴ１９１及びＰチャネル型のＴＦＴ１９２から構成された相補型トランジスタであるＣＭＯＳ回路１９３及び抵抗素子Ｒを備えて構成されている。
【００７８】
Ｎチャネル型のＴＦＴ１９１及びＰチャネル型のＴＦＴ１９２の夫々のゲートは、シフトレジスタ１６２及び抵抗素子Ｒに電気的に接続されている。抵抗素子Ｒの両端のうちＴＦＴ１９１及びＴＦＴ１９２の夫々のゲートに接続された一端に対する他方の端は、電源ＶＤＤＹに電気的に接続されている。ＴＦＴ１９２のソースは、電源ＶＤＤＹに電気的に接続されている。本実施形態では、Ｎチャネル型のＴＦＴ１９１及びＰチャネル型のＴＦＴ１９２の夫々のゲート、及びＴＦＴ１９２のソースが、本発明の「接続回路の入力側」の一例である。ＴＦＴ１９１のソースの電位は、接地電位ＧＮＤに設定されている。なお、この接地電位ＧＮＤは、走査線駆動回路１０４の接地電位ＧＮＤと同電位とすることが好ましい。例えば、接地電位とされた共通の配線を引き回し、それぞれに電気的に接続させて電位の整合をとることにより、その動作を安定化させることができる。
【００７９】
ＣＭＯＳ回路１９３の出力側は、ＴＦＴ１６４のゲートに電気的に接続されている。ＴＦＴ１６４は、液晶装置１００の検査時及び液晶装置１００の動作時の夫々においてＣＭＯＳ回路１９３から出力される信号Ｓ１及びＳ２に応じてオンオフ動作が制御され、データ線６ａ及び判定用配線１６９間の導通及び非導通が制御される。
【００８０】
次に、図７を参照しながら、接続回路１６３による判定用配線１６９及びデータ線６ａ間の導通及び非導通の制御動作を説明する。
【００８１】
図７において、液晶装置１００の動作時、即ち、液晶装置１００が画像を表示する表示期間において、シフトレジスタ１６２から転送パルスＸｍがＣＭＯＳ回路１９３の入力側に供給されないため、ＴＦＴ１９１がオン状態であり、接地電位ＧＮＤと同電位を有する信号Ｓ１がＴＦＴ１９１を介してＴＦＴ１６４のゲートに供給される。このとき、ＴＦＴ１６４のソース及びゲート間のゲート電圧は、ＴＦＴ１６４が動作可能になるしきい値電圧Ｖｔｈより低くなるため、ＴＦＴ１６４はオフ状態となり、データ線６ａ及び判定用配線１６９間は非導通状態になる。したがって、液晶装置１００の動作時に、検査回路１６０及びデータ線６ａを電気的に遮断できるため、仮に検査回路１６０の動作が不安定な場合であっても、液晶装置１００が画像を表示する表示性能を低下させることがない。
【００８２】
一方、液晶装置１００の検査時には、正極性の電位を有する電源ＶＤＤＹとは逆である負極性の電位を有する転送パルス信号Ｘｍがシフトレジスタ１６２からＣＭＯＳ回路１９３の入力側に供給されることにより、ＴＦＴ１９１がオフ状態となり、ＴＦＴ１９２がオン状態となる。したがって、液晶装置１００の検査時には、転送パルス信号Ｘｍに応じてＴＦＴ１９２のソースから電源ＶＤＤＹと同じ極性の電位を有する信号Ｓ２がＴＦＴ１６４のゲートに供給され、ＴＦＴ１６４がオン状態となる。よって、液晶装置１００の動作時には、ＴＦＴ１６４を介してゲート線６ａ及び判定用配線１６９間が導通し、画素部７００から出力された出力信号Ｃｘが、判定用配線１６９を介して外部の判定回路に出力可能になる。これにより、画素部７００の検査が可能になる。
【００８３】
したがって、本実施形態に係る検査回路１６０によれば、液晶装置１００の動作時において、検査回路１６０及びデータ線６ａを電気的に確実に遮断可能であるため、検査回路１６０の誤動作を一因として液晶装置１００の表示性能が低下することを抑制できる。
【００８４】
尚、液晶装置１００の検査時には、検査回路１６０によって、例えば、データ線６ａのブロック毎にシフトレジスタ１６２から転送パルスＸ１、Ｘ２、…、Ｘ１２０を出力して、各ブロックに対応するＴＦＴ１６４をオン状態とすることで、予め所定の電圧のデータ信号が供給されたデータ線６ａの電位を、４本の判定用配線１６９に出力する。そして、４本の判定用配線１６９に電気的に接続された外部の判定回路によって４本の判定用配線１６９が所定の電位であるか否か、即ち出力信号Ｃｘの電位を判定することで、デマルチプレクサ７や各データ線６ａの良否を判定する検査が行われる。
【００８５】
以上説明したように、本実施形態に係る検査回路１６０によれば、液晶装置１００を検査できると共に検査回路１６０の消費電力を低減可能である。加えて、液晶装置１００の誤動作に起因する表示不良も低減でき、走査線駆動回路１０４及びシフトレジスタ１６２の電源を共用する場合に比べて、液晶装置１００の表示性能を高めることも可能である。
【００８６】
＜電子機器＞
次に、図８を参照しながら、上述の液晶装置を備えたプロジェクタを説明する。図８は、本実施形態に係るプロジェクタの構成を示した平面図である。本実施形態に係るプロジェクタは、上述の液晶装置をライトバルブとして用いている。
【００８７】
図９において、プロジェクタ１１００内部には、ハロゲンランプ等の白色光源からなるランプユニット１１０２が設けられている。このランプユニット１１０２から射出された投射光は、ライトガイド１１０４内に配置された４枚のミラー１１０６及び２枚のダイクロイックミラー１１０８によってＲＧＢの３原色に分離され、各原色に対応するライトバルブとしての液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇに入射される。
【００８８】
液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇの構成は、上述した液晶装置と同等であり、データ信号処理回路から供給されるＲ、Ｇ、Ｂの原色信号でそれぞれ駆動されるものである。そして、これらの液晶パネルによって変調された光は、ダイクロイックプリズム１１１２に３方向から入射される。このダイクロイックプリズム１１１２においては、Ｒ及びＢの光が９０度に屈折する一方、Ｇの光が直進する。従って、各色の画像が合成される結果、投射レンズ１１１４を介して、スクリーン等にカラー画像が投写されることとなる。
【００８９】
ここで、各液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇによる表示像について着目すると、液晶パネル１１１０Ｇによる表示像は、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂによる表示像に対して左右反転することが必要となる。
【００９０】
尚、液晶パネル１１１０Ｒ、１１１０Ｂ及び１１１０Ｇには、ダイクロイックミラー１１０８によって、Ｒ、Ｇ、Ｂの各原色に対応する光が入射するので、カラーフィルタを設ける必要はない。
【００９１】
尚、図９を参照して説明した電子機器の他にも、モバイル型のパーソナルコンピュータや、携帯電話、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等が挙げられる。そして、これらの各種電子機器に適用可能なのは言うまでもない。
【００９２】
また本発明は、上述の実施形態で説明した液晶装置以外にも、シリコン基板上に素子を形成する反射型液晶装置（ＬＣＯＳ）、プラズマディスプレイ（ＰＤＰ）、電界放出型ディスプレイ（ＦＥＤ、ＳＥＤ）、有機ＥＬディスプレイ、デジタルマイクロミラーデバイス（ＤＭＤ）、電気泳動装置等にも適用可能である。
【００９３】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う検査回路及び電気光学装置、並びに該電気光学装置を備えてなる電子機器もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】本実施形態に係る液晶装置の全体構成を示す平面図である。
【図２】図１のＨ−Ｈ´線断面図である。
【図３】本実施形態に係る液晶装置の電気的な構成を示すブロック図である。
【図４】本実施形態に係る液晶装置の画素部の等価回路図である。
【図５】本実施形態に係る検査回路に含まれるシフトレジスタの動作を示すタイミングチャートである。
【図６】本実施形態に係る検査回路に含まれるシフトレジスタの構成を示す回路図である。
【図７】本実施形態に係る検査回路を有する接続回路の回路構成を示した回路図である。
【図８】本実施形態に係る電気光学装置を適用した電子機器の一例であるプロジェクタの構成を示す平面図である。
【符号の説明】
【００９５】
６ａ・・・データ線、７・・・デマルチプレクサ、９ａ・・・画素電極、１０・・・素子基板、１０ａ・・・画像表示領域、１１ａ・・・走査線、２０・・・対向基板、２１・・・対向電極、２３・・・遮光膜、５０・・・液晶層、５２・・・シール材、５３・・・額縁遮光膜、１０２・・・外部回路接続端子、１０２ｄ・・・データ信号端子、１０４・・・走査線駆動回路、１６０・・・検査回路、１６２・・・シフトレジスタ、１６３・・・接続回路
【図１】
0005428299.tif 000002
【図２】
0005428299.tif 000003
【図３】
0005428299.tif 000004
【図４】
0005428299.tif 000005
【図５】
0005428299.tif 000006
【図６】
0005428299.tif 000007
【図７】
0005428299.tif 000008
【図８】
0005428299.tif 000009