(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート（１１）と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器（１４）と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器（１５１〜１５Ｎ）と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のＤ／Ａ変換器（１８１〜１８Ｎ）と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート（１３１〜１３Ｎ）と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第１の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部（２０）と、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各Ｄ／Ａ変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部（１９）とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正システムにおいて、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに所定レベルの校正用信号を与える信号発生器（３０）と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器（４０）と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部に対し、前記可変減衰器に対する減衰量制御データを基準値から前記第１の分解能より微細な第２の分解能で単調変化させる減衰量単調可変手段（６１）、前記減衰量単調可変手段によって減衰量データが前記第２の分解能で単調変化している間に前記レベル測定器で測定された出力レベルを前記減衰量データに対応づけて記憶する減衰特性取得手段（６２）、該減衰特性取得手段で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する校正値抽出手段（６３）を有し、前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求める校正用制御装置（６０）とを備えたことを特徴とする携帯端末試験用接続装置の校正システム。
【請求項２】
前記校正用制御装置は、前記信号発生器が出力する前記校正用信号の周波数を可変制御する周波数制御手段（６４）を有し、前記校正用信号の異なる周波数毎の校正値を求めることを特徴とする請求項１記載の携帯端末試験用接続装置の校正システム。
【請求項３】
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート（１１）と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器（１４）と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器（１５１〜１５Ｎ）と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のＤ／Ａ変換器（１８１〜１８Ｎ）と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート（１３１〜１３Ｎ）と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第１の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部（２０）と、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各Ｄ／Ａ変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部（１９）とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正方法において、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与える段階と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部による前記可変減衰器に対する減衰量データを基準値から前記第１の分解能より微細な第２の分解能で単調変化させながら、前記端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得する段階と、
取得した減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する段階とを含むことを特徴とする携帯端末試験用接続装置の校正方法。
【請求項４】
前記校正用信号の周波数を変化させる段階を含み、前記校正用信号の異なる周波数における前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求めることを特徴とする請求項３記載の携帯端末試験用接続装置の校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯電話やスマートフォン等の携帯端末の試験を複数台まとめて行うために用いられる携帯端末試験用接続装置の校正を短時間に行うための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯端末の製造現場では、製造品の検査を効率よく行うために、試験用のダウンリンク信号を複数に分岐して試験対象の複数の携帯端末に与え、それら複数の携帯端末から出力されるアップリンク信号のいずれかを選択的に受信して試験を行う試験システムが知られている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
このように、試験用のダウンリンク信号を複数の携帯端末に分配し、それら複数の携帯端末からのアップリンク信号を選択的に受信して試験を行うシステムでは、ダウンリンク側の信号を分岐する回路、携帯端末に接続するケーブル等の僅かな違いにより、経路毎にロスが異なる。
【０００４】
このような経路毎にロスの違いが存在すると、試験対象の複数の携帯端末に与える信号レベルが異なってしまい、同一条件での試験が行えない。
【０００５】
特に、接続可能な端末数を多くするために、試験装置本体とは別に構成した携帯端末試験用接続装置（以下、単に接続装置と記す）を用いる場合、その経路差による損失のバラツキが顕著となるので、そのバラツキを補正するために各経路に可変減衰器を挿入し、これらの減衰量を制御することで、各経路に等しい損失を与える処理が必要となる。
【０００６】
図６は、上記補正処理機能を有する接続装置１０の構成例を示している。この接続装置１０は、試験装置本体１００に接続するための試験装置接続ポート１１、１２と、試験対象の複数Ｎの携帯端末１１〜１Ｎに接続するための複数Ｎの端末接続ポート１３１〜１３Ｎとを有している。
【０００７】
一方の試験装置接続ポート１１は、試験装置本体１００からのダウンリンク信号を受けるためのポートであり、他方の試験装置接続ポート１２は、携帯端末から試験装置本体１００へのアップリンク信号を出力するためのポートであり、この例ではこれら二つのポート１１、１２が分離しているものとするが、接続装置１０の内部に方向性結合器を設けることで、一つの共通の試験装置接続ポートで試験装置本体１００との間で信号の入出力を行うように構成されている場合もある。
【０００８】
試験装置接続ポート１１に入力されたダウンリンク信号は分配器１４に入力されて、複数Ｎの経路に分岐され、それら分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器１５１〜１５Ｎに入力され、各可変減衰器１５１〜１５Ｎを通過した信号が各カプラ（方向性結合器）１６１〜１６Ｎおよび各端末接続ポート１３１〜１３Ｎを介して携帯端末１１〜１Ｎに入力されることになる。なお、ここで言う端末接続ポート１３１〜１３Ｎは、試験対象の携帯端末の信号入力端に接続する部分であり、ケーブルを介して試験対象の携帯端末の信号入力端に接続する場合には、そのケーブルの末端とする。
【０００９】
また、端末接続ポート１３１〜１３Ｎ側から入力される信号は、カプラ１６１〜１６Ｎを介して信号選択器１７に入力され、そのうち指定された信号が選択されて試験装置接続ポート１２に出力される（この信号指定は試験装置本体１００からなされる）。
【００１０】
各分岐経路に挿入された可変減衰器１５１〜１５Ｎの減衰量は、それぞれＤ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎから与えられる制御信号Ｖ１〜ＶＮによって制御され、Ｄ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎは、減衰量制御部１９からそれぞれ設定された減衰量データＤＡ１〜ＤＡＮに対応した制御信号Ｖ１〜ＶＮを発生する。
【００１１】
減衰量制御部１９は、試験モードでは外部の試験装置本体１００から所定の分解能（例えば０．１ｄＢ）で指定された損失データＤＬに対応した損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データＤＡ１〜ＤＡＮを、各Ｄ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎに与えるように構成されている。
【００１２】
ここで、前記したように、分岐経路の違いやＤ／Ａ変換器、可変減衰器の特性のバラツキにより、各Ｄ／Ａ変換器に同一データを与えても、端末接続ポートから出力されるダウンリンク信号のレベルを等しくすることは困難であり、そのレベル差により、複数の携帯端末の試験を同一条件で正確に行うことはできない。
【００１３】
これを解消するために、入出力ポート間の実際の損失が、指定値に対して許容される誤差範囲で等しくなるために必要な減衰量データを予め求め、これを減衰量データ記憶部２０に記憶させておき（校正処理）、試験時に減衰量制御部１９が、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを減衰量データ記憶部２０から読み出してそれぞれのＤ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎへ与えるようにする。
【００１４】
上記のような接続装置１０の校正を行う場合、図７のように、試験装置本体１００の代わりに信号発生器３０を用い、携帯端末の代わりにレベル測定器４０を用い、これらの測定器と接続装置１０とを、コンピュータ構成の校正制御装置５０で制御できるようにした校正システムを用いる。
【００１５】
そして、校正制御装置５０が、図８のフローチャートにしたがって校正処理を行う。
即ち、始めに、校正対象の分岐経路を指定する値ｎを１に初期化し（Ｓ１）、レベル測定器４０をｎ番目の端末接続ポート１３ｎに接続し（Ｓ２）、接続装置１０に指定する損失データＤＬを最小Ｄmin （例えばｄＢの単位で００．００）に設定する（Ｓ３）。なお、この校正モードにおいて、接続装置１０の減衰量制御部１９は、外部から指定された損失データＤＬを、そのまま（桁変更を行う場合も含む）減衰量データとして各Ｄ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎに与える機能を有しているものとする。
【００１６】
そして、信号発生器３０の出力を基準レベル（例えば０ｄＢｍ）、出力周波数ｆを測定範囲の最低周波数Ｆmin （例えば７００ＭＨｚ）に設定する（Ｓ４）。
【００１７】
この状態で、信号発生器３０から出力された基準レベルの校正用信号Ｓinは、接続装置１０の分配器１４でＮ経路にほぼ等しく分配され、減衰量がほぼ０ｄＢに設定された可変減衰器１５１〜１５Ｎを通過して各端末接続ポート１３１〜１３Ｎに出力され、そのうちｎ番目（この場合ｎ＝１）の端末接続ポート１３ｎから出力される信号がレベル測定器４０に入力される。このように減衰量データが０のときに、入力出力ポート間に生じる損失は、その経路が定常的に有している経路損失であり、校正用信号のレベルが０ｄＢｍであれば、ｎ番目の端末接続ポート１３ｎから出力される信号レベルＬｎが経路損失となり、この値が記憶される（Ｓ５）。
【００１８】
そして、校正ポイント指示値ｋを１に設定し、試験モードの際に試験装置本体１００から指定される損失データの分解能が０．１ｄＢステップとすれば、出力レベルが許容誤差内で（Ｌｎ−０．１×ｋ）ｄＢｍに等しくなるまで、減衰量データの追い込み制御を行い、その追込み制御で得られた減衰量データを、実損失０．１×ｋ（ｄＢ）を与える減衰量データと決定し、これを校正値として記憶する（Ｓ６〜Ｓ８）。
【００１９】
この追い込み制御は、例えば、現段階の減衰量データを０．１ｄＢ分増やし、それによる出力信号レベルの変動が収まるまで待ってから出力値を取り込み、その出力値と目標値とを比較し、その差分が許容誤差（例えば０．００５ｄＢ）より多い場合には、減衰量データをその差分の符号と絶対値に応じて変化させるという処理を、出力値が目標値に対して許容誤差内で等しくなるまで繰り返す。
【００２０】
以下同様に、出力レベルがＬｎから０．１ｄＢずつ下がるように減衰量データの追い込み制御を繰返し、その都度度決定される減衰量データを記憶する処理を可変減衰器の減衰量可変幅（例えば２０ｄＢ）分（つまり２０／０．１個）求めた段階で、校正用信号の周波数を所定値ΔＦ分変化させて上記処理を繰返す（Ｓ９、Ｓ１０）。
【００２１】
以下、上記処理を周波数が上限値ＦＭＡＸになるまで繰返し、その後、校正対象の端末接続ポートを次のポートに順次変更して、上記処理を繰り返す（Ｓ１１〜１４）。
【００２２】
これによって、各端末接続ポートについて、入出力間に経路損失以外の実損失を与えるための減衰量データが測定周波数毎に得られ、これらを減衰量データ記憶部２０に書き込んでおき、端末試験時に、試験装置本体１００から指定された損失データから経路損失分を差し引いた値に対応する損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データを減衰量制御部１９が読み出してＤ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎに与えることで、全ての端末接続ポートに等しいレベルの試験信号を与えることができる。
【００２３】
なお、このような可変減衰器の校正を行う技術は、例えば特許文献２に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２４】
【特許文献１】特開平１１−２７４９９８号公報
【特許文献２】特開２００３−１８１０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
しかしながら、上記構成の接続装置に求められる仕様が、例えば試験に必要な減衰量可変範囲＝２０ｄＢ（分解能０．１ｄＢ）、周波数範囲＝７００ＭＨｚ〜３．８ＧＨｚ（測定間隔２０ＭＨｚ）、接続可能端末数＝８台とすると、減衰量データの追い込み制御を、
（２０／０．１）×［（３８００−７００）／２０］×８＝２４８０００（回）
行う必要がある。
【００２６】
そして、一つの減衰量データを得るための追い込み制御には、前記したように、
減衰量データ可変→出力安定時間待ち→レベル測定→誤差判定
という処理を繰り返す必要があり、上記校正の校正システムによる追い込み制御では、現状で１校正ポイント当たり２秒程度かかってしまい、全ポイントの校正に、
２４８０００×２＝４９６０００（秒）≒１３８（時間）
かかることになり、校正に膨大な時間を要していた。
【００２７】
本発明は、この問題を解決し、各経路に設けられた可変減衰器に関する校正を短時間に行うことができる携帯端末試験用接続装置の校正システムおよび校正方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２８】
前記目的を達成するために、本発明の携帯端末試験用接続装置の校正システムは、
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート（１１）と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器（１４）と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器（１５１〜１５Ｎ）と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のＤ／Ａ変換器（１８１〜１８Ｎ）と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート（１３１〜１３Ｎ）と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第１の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部（２０）と、外部からの指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各Ｄ／Ａ変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部（１９）とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正システムにおいて、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに所定レベルの校正用信号を与える信号発生器（３０）と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器（４０）と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部に対し、前記可変減衰器に対する減衰量制御データを基準値から前記第１の分解能より微細な第２の分解能で単調変化させる減衰量単調可変手段（６１）、前記減衰量単調可変手段によって減衰量データが前記第２の分解能で単調変化している間に前記レベル測定器で測定された出力レベルを前記減衰量データに対応づけて記憶する減衰特性取得手段（６２）、該減衰特性取得手段で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する校正値抽出手段（６３）を有し、前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求める校正用制御装置（６０）とを備えたことを特徴とする。
【００２９】
また、本発明の請求項２の携帯端末試験用接続装置の校正システムは、請求項１記載の携帯端末試験用接続装置の校正システムにおいて、
前記校正用制御装置は、前記信号発生器が出力する前記校正用信号の周波数を可変制御する周波数制御手段（６４）を有し、前記校正用信号の異なる周波数毎の校正値を求めることを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項３の携帯端末試験用接続装置の校正方法は、
携帯端末試験用の試験装置本体からの出力されたダウンリンク信号を受けるための試験装置接続ポート（１１）と、該試験装置接続ポートから入力されたダウンリンク信号を複数の経路に分岐する分配器（１４）と、該分岐された各経路にそれぞれ挿入された可変減衰器（１５１〜１５Ｎ）と、入力された減衰量データに応じた制御信号を前記可変減衰器に与える複数のＤ／Ａ変換器（１８１〜１８Ｎ）と、前記各可変減衰器を通過した信号を試験対象の携帯端末に入力するための複数の端末接続ポート（１３１〜１３Ｎ）と、前記試験装置接続ポートから前記各端末接続ポートに至る複数の経路に等しい損失を所定範囲で第１の分解能で与えるために必要な前記可変減衰器毎の減衰量データを予め記憶する減衰量データ記憶部（２０）と、外部から指定された損失データに対応した減衰量データを前記減衰量データ記憶部から読み出して前記各Ｄ／Ａ変換器に与えることで前記各可変減衰器の減衰量を制御し、前記各端末接続ポートに接続される試験対象の複数の携帯端末に等しいレベルの信号を与える減衰量制御部（１９）とを有する携帯端末試験用接続装置の前記外部から指定される損失データと前記減衰量データとの関係を対応付けるための校正方法において、
前記携帯端末試験用接続装置の前記試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与える段階と、
前記携帯端末試験用接続装置の前記減衰量制御部による前記可変減衰器に対する減衰量データを基準値から前記第１の分解能より微細な第２の分解能で単調変化させながら、前記端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得する段階と、
取得した減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が前記第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する段階とを含むことを特徴とする。
【００３１】
また、本発明の請求項４の携帯端末試験用接続装置の校正方法は、請求項３記載の携帯端末試験用接続装置の校正方法において、
前記校正用信号の周波数を変化させる段階を含み、前記校正用信号の異なる周波数における前記複数の経路についての減衰量データの校正値を求めることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３２】
このように、本発明では、携帯端末試験用接続装置の試験装置接続ポートに、所定レベルの校正用信号を与えた状態で、減衰量制御部が出力する減衰量データを基準値から第１の分解能より微細な第２の分解能で単調変化させながら、校正対象の端末接続ポートから出力される信号の出力レベルを測定し、減衰量データ対出力レベルの特性を取得し、その取得した特性から、出力レベルの差が第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出するようにしているので、１校正ポイントごとに減衰量データの追込み制御を行う必要がなく、端末接続ポートが多くても極めて短時間に校正処理を完了させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の実施形態の校正システムの構成図
【図２】実施形態の要部の処理手順を示すフローチャート
【図３】実施形態の動作を説明するための図
【図４】減衰量データの微小な単調変化期間における出力レベルの変動例を示す図
【図５】得られた特性データと、減衰量データの校正値との関係を示す図
【図６】接続装置を用いて複数の携帯端末の試験を行うシステムの構成図
【図７】接続装置の校正を行うためのシステムの構成図
【図８】従来の校正手順を示すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００３４】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明を適用した接続装置の校正システムの構成を示している。
【００３５】
この校正システムの校正対象となる接続装置１０は、前述したものと同等であるので、各構成部に同一符号を付して説明を省略する。
【００３６】
また、校正用信号を出力する信号発生器３０および端末接続ポートから出力される信号のレベルを測定するレベル測定器４０に関しても前述の校正システムと同様である。
【００３７】
この校正システムの校正用制御装置６０は、コンピュータ構成で、信号発生器３０の制御、レベル測定器４０の制御および測定結果の取得、接続装置１０の減衰量制御部１９に対する制御等を行う。
【００３８】
この校正用制御装置６０は、減衰量単調可変手段６１、減衰特性取得手段６２、校正値抽出手段６３、周波数制御手段６４、減衰量データ更新手段６５を有している。
【００３９】
減衰量単調可変手段６１は、接続装置１０の減衰量制御部１９に対し、各可変減衰器１５１〜１５Ｎにそれぞれ対応するＤ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎに与える減衰量データを、例えば最小値０．００ｄＢを基準にして第１の分解能（前記例では０．１ｄＢ）より微細な第２の分解能（例えば０．０１ｄＢ）で単調増加させるように指示する。なお、この例では減衰量データの単調変化の可変幅を試験モードで使用される減衰量範囲（０〜２０ｄＢ）より若干広く（例えば０〜２０＋α    α＝３ｄＢ）設定して、０〜２０ｄＢの範囲の実減衰を与えるデータを確実に抽出できるようにしている。また、この例では、減衰量最小の状態を基準にして単調変化させているが、上記余裕をもたせた範囲で、例えば減衰量データを２３ｄＢ相当に設定した状態を基準にして減衰量最小状態まで単調変化させてもよい。
【００４０】
減衰特性取得手段６２は、減衰量単調可変手段６１の指示によって減衰量データが基準値から第２の分解能で単調変化している期間中にレベル測定器４０で測定された出力レベルを減衰量データに対応づけて内部メモリ（図示せず）に記憶する。
【００４１】
この減衰特性取得手段６２による減衰量データ対出力レベルの特性の取得開始タイミングの制御は、レベル測定器４０の構造に応じて種々の方式が考えられる。
【００４２】
例えば、レベル測定器４０が、オシロスコープ（スペクトラムアナライザの掃引周波数を入力信号周波数に一致させた状態で停止させてタイムドメイン測定する場合も含む）のように、入力信号の所定レベル以上の急峻な立ち上がり変化（または立ち下がり変化）があったときから、入力信号に対するサンプリングを開始するレベルトリガ機能を有している場合には、減衰特性取得手段６２は、減衰量単調可変手段６１による減衰量データの単調可変に先立って、減衰量を所定以上の幅で前記基準値までステップ変化させるものとする。また、レベル測定器４０が信号入力端子と別系統のトリガ専用端子を有している場合には、そのトリガ専用端子に測定開始タイミングに同期してレベルが遷移するトリガクロックを与える構成でもよい。
【００４３】
また、レベル測定器４０がトリガタイミングから入力信号に対するサンプリングを行い、取得した一連の特性データを内部に記憶しておき、その記憶した一連の特性データを外部装置（この場合、校正用制御装置６０）からの指示でまとめて送出する機能を有している場合には、減衰量データの単調変化が最終値まで到達してその出力レベルのサンプリングが完了したタイミングに減衰特性取得手段６２からレベル測定器４０に対して特性データの送出要求を行い、レベル測定器４０の内部メモリに記憶された一連の特性データを校正用制御装置６０へ送らせる。
【００４４】
また、レベル測定器４０が、上記のようなトリガ機能やサンプリングした一連の特性データを記憶してからまとめて送出する機能を有しておらず、入力信号に対するサンプリングと、そのサンプリング結果の出力を定常的に行う構成の場合には、減衰量単調可変手段６１によって減衰量データが基準値に設定されたタイミングから減衰量データが最終値まで変化するまでの期間、レベル測定器４０から出力されるサンプリングデータの取り込みを行う。
【００４５】
校正値抽出手段６３は、減衰特性取得手段６２で得られた減衰量データ対出力レベルの特性から、出力レベルの差が第１の分解能となる減衰量データを校正値として抽出する。
【００４６】
この校正値の抽出処理は、減衰量データ対出力レベルの特性データのうち、減衰量が変化した直後の過渡変動期間が経過し、且つ次の減衰量変化が起きる前の安定期間にサンプリングされたデータを対象とする（そのデータが一つの場合にはそのデータを用い、複数ある場合には、そのうちの中間の値あるいは平均値を用いる）。
【００４７】
周波数制御手段６４は、信号発生器３０が出力する校正用信号の周波数を可変制御し、また、レベル測定器４０が、測定周波数可変型の場合には、その測定周波数を校正用信号の周波数に合わせる制御を行う。
【００４８】
減衰量データ更新手段６５は、校正値抽出手段６３によって得られた減衰量データの校正値を接続装置１０の減衰量制御部１９に与え、減衰量データ記憶部２０に対する減衰量データを校正値に更新させる。
【００４９】
図２は、上記構成の校正用制御装置６０の処理手順を示すフローチャートである。以下、このフローチャートに基づいて実施形態の校正システムの動作例を説明する。なお、この動作例は、レベル測定器４０が前記したトリガ機能と、サンプリングした一連の特性データを内部メモリに記憶し、外部装置からの要求でその記憶した特性データをまとめて送出する機能を有し、入力信号のタイムドメイン測定が可能なスペクトラムアナライザを用いたものである。
【００５０】
始めに、校正対象の分岐経路を指定する値ｎを１に初期化し（Ｓ２１）、レベル測定器４０をｎ番目の端末接続ポート１３ｎに接続し（Ｓ２２）、接続装置１０に指定する損失データＤＬを、図３のＡのように、０〜２０ｄＢの校正範囲をカバーする可変範囲の最大値Ｄmax （例えばｄＢの単位で２０．００＋α  αは例えば３ｄＢ）に設定する（Ｓ２３）。なお、前記したように、この校正モードにおいて接続装置１０の減衰量制御部１９は、外部から指定された損失データＤＬを、そのまま（桁変更を含む）各Ｄ／Ａ変換器１８１〜１８Ｎに与える機能を有しているものとする。
【００５１】
そして、信号発生器３０の出力を基準レベル（例えば０ｄＢｍ）、測定周波数ｆを測定範囲の最低周波数Ｆmin （例えばＦmin ＝７００ＭＨｚ）に設定する（Ｓ２４）。
【００５２】
この状態で、信号発生器３０から出力された基準レベルの校正用信号Ｓinは、接続装置１０の分配器１４でＮ経路にほぼ等しく分配され、各分岐経路の可変減衰器１５１〜１５Ｎによりほぼ２３ｄＢの減衰を受けて各端末接続ポート１３１〜１３Ｎに出力されることになり、そのうちｎ番目（この場合ｎ＝１）の端末接続ポート１３ｎから出力される信号がレベル測定器４０に入力される。このときの各可変減衰器１５１〜１５Ｎの減衰量はほぼ２３ｄＢと大きく、端末接続ポート１３ｎに対応した経路には可変減衰器以外の経路損失も含まれているから、レベル測定器４０に入力される信号レベルは低レベルで、トリガが掛からず、レベル測定器４０によるレベル検出処理は開始されない。
【００５３】
この状態から、校正用制御装置６０は、接続装置１０に対して指定する損失データＤＬを、最小値Ｄmin （ｄＢの単位で０．００）に変更する(Ｓ２５)。
【００５４】
このため、各可変減衰器１５１〜１５Ｎの減衰量はほぼ２３ｄＢから０ｄＢまで急激に変化し、レベル測定器４０の入力信号レベルがほぼ２３ｄＢ大きくなってトリガ機能が働いてレベル測定器４０によるレベル検出処理が、所定のサンプリング周期Ｔｓで開始され、その検出されたレベルデータが例えばレベル測定器４０内のメモリに順次記憶されていく。
【００５５】
ただし、この急激な減衰量変化により出力レベルに過渡変動が生じるので、その変動が収束するまでの期間（図３のＢのＴ１時間）だけ待つ（Ｓ２６）。
【００５６】
そして、この変動が収束して安定した後、減衰量制御部１９に指示する損失データＤＬを、試験モードで指定される損失データの分解能（第１の分解能０．１ｄＢ）より微細な第２の分解能（例えば０．０１ｄＢ）のステップΔｄで基準値（最小値Ｄmin ）から最大値Ｄmax まで単調増加させていく（Ｓ２７）。
【００５７】
この単調変化期間（図３のＣ）における減衰量の実変化量はほぼ０．０１ｄＢと微小であるので、図４のように、それによる出力レベルの過渡変動の期間Ｔｖは例えば５００μＳ以下と短い。よってこの単調変化の間隔Ｔ２を例えば１ｍＳとすれば、時間Ｔ２から過渡変動期間Ｔｖを除いた安定期間Ｔａは５００μＳ以上となり、レベル測定器４０によるサンプリング周期Ｔｓが例えば時間Ｔ２の１／１０の１００μＳ程度であれば、安定期間Ｔａ中に５個程度のサンプリング値（図中黒丸で示す）が得られることになる。
【００５８】
このように接続装置１０に対して指定する損失データを、第２の分解能の微小ステップで基準値から単調変化させることで、ｎ番目の分岐経路についての１測定周波数における可変減衰器への減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られることになり、最終段階まで損失データを変化させてそのレベルデータが得られたタイミングで、レベル測定器４０に記憶された一連の特性データの送出を要求して、レベル測定器４０から送出された一連の特性データを校正用制御装置６０が取り込む（Ｓ２８）。
【００５９】
上記Ｓ２５〜Ｓ２８までの処理を、周波数を所定ステップΔＦ（例えばΔＦ＝２０ＭＨｚ）ずつ高く変化させる毎に繰返し、最高値Ｆmax （例えばＦmax ＝３．８ＧＨｚ）まで行うことで、ｎ番目の分岐経路に関する全ての測定周波数についての減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られる（Ｓ２９、Ｓ３０）。
【００６０】
このようにしてｎ番目の分岐経路についての特性データが得られた後、ｎを１だけ更新して、処理Ｓ２２〜Ｓ３０を前記同様に行うことで、次の分岐経路に関する全ての周波数についての減衰量データと実際の出力レベルの関係を表す特性データが得られ、これをｎ＝Ｎまで行えば、全ての分岐経路に関する全ての測定周波数についての特性データが得られる（Ｓ３１、Ｓ３２）。
【００６１】
そして、上記のようにして得られた特性データから、第２の分解能（０．０１ｄＢ）より粗い第１の分解能（例えば０．１ｄＢ）の損失を各分岐経路に等しく与えるために必要な減衰量データを校正データとして抽出し、その抽出したデータを、接続装置１０に与えて減衰量データ記憶部２０の内容を更新することで校正処理が終了する（Ｓ３３、Ｓ３４）。
【００６２】
この特性データから校正データの抽出は、例えば図５に示すように行う。
即ち、ある測定周波数における一つの端末接続ポートについての測定で得られた特性データを図５（ａ）とする。この図５（ａ）で、左欄の指定値は、指定された損失データに対応するＤ／Ａ変換器への減衰量データであり、指定損失データ００．００〜２０．００＋α（ｄＢ）を４桁整数に桁変更したデータが対応している。また、右欄は出力レベルの測定値であり、前記した安定期間Ｔａにサンプリングされたデータを基に決定されたものである。校正用信号の入力レベルを０ｄＢｍとしたとき、初期値００００のときに得られた測定値−１０．０９（ｄＢｍ）が、測定対象のポートに定常的に存在する経路損失であり、今この値をＬｎとする。
【００６３】
この測定結果で、測定値がＬｎ−０．１＝−１０．１９（ｄＢｍ）に等しくなるのは、減衰量データが００１０のときであり、これは理論値と一致する。
【００６４】
また、測定値がＬｎ−０．１×２＝−１０．２９（ｄＢｍ）に等しくなるのは、減衰量データが００２１のときであり、理論上のデータ００２０を指定すると誤差が生じることになる。
【００６５】
以下同様にして、測定値が、試験状態で指定される損失データの分解能（この場合０．１ｄＢ）間隔となる減衰量データを校正値として抽出する。
【００６６】
図５の（ｂ）は、上記のように抽出した校正データに基づいて、可変減衰器による実減衰量と、その減衰量を実現するためにＤ／Ａ変換器に与えるべき減衰量データとの対応関係を示すものである。
【００６７】
前記した経路損失Ｌｎと、図５（ｂ）の内容を減衰量データ記憶部２０に記憶しておき、試験状態において、試験対象の経路に対して０．１ｄＢの分解能で経路損失Ｌｎより大きな損失データＤＬが指定されたとき、減衰量制御部１９は、両者の差分、
ＤＬ−Ｌｎ＝ΔＬ
を求め、図５（ｂ）の左欄のうちの差分ΔＬと等しい実減衰量に対応した減衰量データを選択して対象となる経路のＤ／Ａ変換器に設定する。
【００６８】
これによって、対象となる経路の損失は、指定された損失ＤＬデータに正確に対応することになる。この処理を全ての経路について並行して行えば、全ての経路における損失を等しく設定することができ、それら経路の端末接続ポートに接続された複数の携帯端末に同一レベルの試験信号を与えることができる。
【００６９】
上記したように実施形態の校正システムでは、各経路に挿入された可変減衰器にそれぞれ対応するＤ／Ａ変換器に与えるための減衰量データを、試験状態で指定される損失データの分解能より微細なステップで単調変化させて、減衰量データ対出力レベルの特性データを求め、その特性データから、出力レベルが試験状態で指定される損失データの分解能で変化する減衰量データを校正データとして抽出している。
【００７０】
このため、従来の追込み制御のように、校正ポイント毎に減衰量データを試験状態で指定される損失データの分解能に近い幅で可変し、それによって生じる過渡変動期間を待ち、安定した値と理論値との差を求め、その差の符号と絶対値に応じて減衰量データを増減するという処理を繰り返す必要がなくなり、極めて短時間に校正処理を完了することができる。
【００７１】
ここで数値例を示す。例えば、トリガ掃引に伴う過渡変動収束の時間Ｔ１を１００ｍＳ、減衰量データの単調可変の間隔Ｔ２を１ｍＳ、減衰量データの可変範囲を２０ｄＢで可変ステップを０．０１ｄＢとすれば、１測定周波数、１経路当たりの特性データを取得するために要する時間は、
（２０／０．０１）×１＋１００＝２１００ｍＳ＝２．１Ｓ
となる。
【００７２】
これに、特性データの取り込みや校正データの抽出処理を加えても、せいぜい３〜４秒程度しか掛からない（なお、特性データの取り込みに要する時間は短く、またその取り込み処理は次の特性データの取得中に並行して行うことができるので無視し得る）。
【００７３】
そして、上記時間を４秒、周波数範囲＝７００ＭＨｚ〜３．８ＧＨｚ（測定間隔２０ＭＨｚ）、接続可能端末数＝８台とすると、全測定周波数、全経路の特性データの取得に必要な時間は、
４×（３１００／２０）×８＝４９６０Ｓ≒８３分
となり、前記した１校正ポイント毎に追込み制御する方式に比べて格段に高速であることがわかる。
【００７４】
なお、前記実施形態では、レベル測定器４０のトリガ機能を用いるために、損失データを最大値から最小値へ急激に変化させていたが、前記したように、レベル測定器４０として、入力信号に対するレベル検出処理とその出力を定常的に行う構成のものを用いる場合には、トリガ用のデータ変更をせずに、損失データを初期値（最小値または最大値）から第２の分解能のステップで単調変化させながら、測定値の取り込みを行えばよい。その場合には、前記した収束待ちの時間Ｔ１もほぼ不要となるので、さらに校正処理を短時間に完了できる。
【符号の説明】
【００７５】
１０……携帯端末試験用接続装置、１１……試験装置接続ポート、１３１〜１３Ｎ……端末接続ポート、１４……分配器、１５１〜１５Ｎ……可変減衰器、１８１〜１８Ｎ……Ｄ／Ａ変換器、１９……減衰量制御部、２０……減衰量データ記憶部、３０……信号発生器、４０……レベル測定器、６０……校正用制御装置、６１……減衰量単調可変手段、６２……減衰特性取得手段、６３……校正値抽出手段、６４……周波数制御手段、６５……減衰量データ更新手段、１００……試験装置本体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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