(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価ボードに着脱可能に実装される光トランシーバを測定評価する光トランシーバ測定装置であって、
前記光トランシーバを駆動するための電源回路と前記光トランシーバを測定評価するための測定評価回路が実装され、前記評価ボードと着脱可能に接続するための信号系コネクタと電源系コネクタを有し、
前記測定評価回路は、前記光トランシーバへの電源・コントロール信号の供給、電圧・電流・ステータス信号のモニタ、通信機能、抵抗値のモニタ機能を備え、前記光トランシーバ内部のＡＰＳ電源用抵抗の測定抵抗値に基づき所定のＡＰＳ電圧換算式に従った電源電圧を設定することを特徴とする光トランシーバ測定装置。
【請求項２】
前記評価ボードが複数ｎ系統接続されたことを特徴とする請求項１に記載の光トランシーバ測定装置。
【請求項３】
前記光トランシーバ測定装置はプラグイン・モジュール構造であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光トランシーバ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光トランシーバ測定装置に関し、詳しくは、各種の光トランシーバの測定評価に好適な測定装置に関するものである。
【０００２】
光ネットワークを構築する光伝送装置において、光信号と電気信号の変換を行うのにあたり、ＳＦＰ(Small Form Factor Pluggable)，ＸＦＰ（10（X）Gigabit Small Form Factor Pluggable），ＳＦＰ＋(Small Form Factor Pluggable Plus)，ＸＥＮＰＡＫ（10(X) Gigabit EtherNet transceiver PAcKage）（EtherNetは登録商標）など、用途に応じて各種の光トランシーバが用いられる。
【０００３】
図３は、従来の光トランシーバ測定装置の一例を示すブロック図であり、ＸＦＰ，ＳＦＰ＋の評価系を示している。
【０００４】
評価対象となる光トランシーバ１は、評価ボード２に着脱可能に実装される。評価ボード２に実装される光トランシーバ１は、外部の直流安定化電源３から評価ボード２を介して供給される複数系統の電源（５Ｖ，３．３Ｖ，１．８Ｖ，−５．２Ｖ）により駆動される。これら光トランシーバ１の各部に供給される駆動電圧と消費電流は、評価ボード２を介して接続されるディジタルマルチメータ４で測定される。
【０００５】
光トランシーバ１から出力されるステータス信号は、ＬＥＤ５の点灯状態によりモニタされる。光トランシーバ１のコントロール信号のレベルは、電源とグラウンドに接続されたスイッチＳＷを切り替えることにより、ＨｉｇｈレベルとＬｏｗレベルに切り替えられる。
【０００６】
ＰＣ５は、Ｉ２Ｃ（Inter-Integrated Circuit）コントローラ６を介して、光トランシーバ１との間でシリアルデータＳＤＡとシリアルクロックＳＣＬの授受を行い、光トランシーバ１の内部に設けられているＲＯＭのＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅを実行する。
【０００７】
図４は、従来の光トランシーバ測定装置の他の例を示すブロック図であり、ＸＥＮＰＡＫの評価系を示している。なお、図３と共通する部分には同一の符号を付けている。
【０００８】
評価対象となる光トランシーバ１は、評価ボード２に着脱可能に実装される。評価ボード２に実装される光トランシーバ１は、外部の直流安定化電源３から評価ボード２を介して供給される複数系統の電源（５Ｖ，３．３Ｖ，ＡＰＳ（Adaptable Power Supply））により駆動される。これら光トランシーバ１の各部に供給される駆動電圧と消費電流は、評価ボード２を介して接続されるディジタルマルチメータ４で測定される。また、光トランシーバ１内部のＡＰＳ電源用の所望電圧を設定するための抵抗値は、評価ボード２を介して接続される抵抗計７で測定される。
【０００９】
光トランシーバ１から出力されるステータス信号は、ＬＥＤの点灯状態によりモニタされる。光トランシーバ１のコントロール信号のレベルは、電源とグラウンドに接続されたスイッチＳＷを切り替えることによって、ＨｉｇｈレベルとＬｏｗレベルに切り替えられる。
【００１０】
ＰＣ５は、ＭＤＩＯ（Management Data IO）コントローラ８を介して、光トランシーバ１との間でデータＭＤＩＯとクロックＭＤＣの授受を行い、光トランシーバ１の内部に設けられているＲＯＭのＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅを実行する。
【００１１】
特許文献１には、多数のテスト機器を集積して、多数の光トランシーバを同時にテストするテストシステムとテスト方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００４−６１５１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかし、従来の構成によれば、測定する光トランシーバの種類に合わせて評価系を構築しなければならず、光トランシーバに接続する測定器が多くなるとともに、配線が複雑になるという問題がある。
【００１４】
また、ステータス信号をＬＥＤの点灯状態でモニタしているとともに、コントロール信号のＨｉｇｈレベル／Ｌｏｗレベルの切替を手動スイッチで行っていることから、測定の自動化は困難である。
【００１５】
本発明は、このような従来の問題点に着目したものであり、その目的は、各種の光トランシーバを、１台の構成で自動測定により効率よく測定評価できる光トランシーバ測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
このような課題を達成する請求項１の発明は、
評価ボードに着脱可能に実装される光トランシーバを測定評価する光トランシーバ測定装置であって、
前記光トランシーバを駆動するための電源回路と前記光トランシーバを測定評価するための測定評価回路が実装され、前記評価ボードと着脱可能に接続するための信号系コネクタと電源系コネクタを有し、
前記測定評価回路は、前記光トランシーバへの電源・コントロール信号の供給、電圧・電流・ステータス信号のモニタ、通信機能、抵抗値のモニタ機能を備え、前記光トランシーバ内部のＡＰＳ電源用抵抗の測定抵抗値に基づき所定のＡＰＳ電圧換算式に従った電源電圧を設定することを特徴とする。
【００１８】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光トランシーバ測定装置において、
前記評価ボードが複数ｎ系統接続されたことを特徴とする
【００１９】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の光トランシーバ測定装置において、
前記光トランシーバ測定装置はプラグイン・モジュール構造であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
これらにより、各種の光トランシーバを、１台の光トランシーバ測定装置で自動測定により効率よく測定評価できる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明の他の実施例を示すブロック図である。
【図３】従来の光トランシーバ測定装置の一例を示すブロック図である。
【図４】従来の光トランシーバ測定装置の他の例を示すブロック図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明について、図面を用いて説明する。図１は、本発明の一実施例を示すブロック図である。図１において、評価対象となる光トランシーバ１は、評価ボード１００に着脱可能に実装される。評価ボード１００には、信号系コネクタ１１０と電源系コネクタ１２０が設けられている。
【００２３】
光トランシーバ測定装置２００は、制御回路２１０と、各種の機能回路２２１〜２２８と、信号系コネクタ２３０と、電源系コネクタ２４０で構成されている。
【００２４】
制御回路２１０と信号系コネクタ２３０の間には、Ｉ２Ｃインタフェース回路２２１と、ＭＤＩＯインタフェース回路２２２と、コントロール信号設定回路２２３と、ステータス信号モニタ回路２２４と、抵抗値モニタ回路２２５と、電源電圧モニタ回路２２６が接続されている。
【００２５】
制御回路２１０とで電源系コネクタ２４０の間には、電源電圧発生回路２２７と、電流モニタ回路２２８が接続されている。
【００２６】
評価対象となる光トランシーバ１の測定にあたっては、評価ボード１００の信号系コネクタ１１０と光トランシーバ測定装置２００の信号系コネクタ２３０を信号ケーブルで接続するとともに、評価ボード１００の電源系コネクタ１２０と光トランシーバ測定装置２００の電源系コネクタ２４０を電源ケーブルで接続する。
【００２７】
制御回路２１０は、各種の機能回路２２１〜２２８を制御するとともに、光トランシーバ１が測定したエラーカウント値をＩ２ＣやＭＤＩＯで読み出した結果に基づきビットエラーレートを算出する。
【００２８】
Ｉ２Ｃインタフェース回路２２１は、Ｉ２Ｃ通信用のシリアルクロックＳＣＬの発生と周波数の切替や、通信プロトコルに従ったシリアルデータＳＤＡでの光トランシーバ１の内部ＲＯＭのＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ制御などを行う。
【００２９】
ＭＤＩＯインタフェース回路２２２は、ＭＤＩＯ通信用のクロックＭＤＣの発生と周波数の切替や、通信プロトコルに従ったデータＭＤＩＯでの光トランシーバ１の内部ＲＯＭのＲｅａｄ／Ｗｒｉｔｅ制御などを行う。
【００３０】
コントロール信号設定回路２２３は、３．３Ｖ系と１．２Ｖ系のそれぞれについて個別に、コントロール信号をＨｉｇｈレベル／Ｌｏｗレベルに設定して出力する
【００３１】
ステータス信号モニタ回路２２４は、光トランシーバ１から出力されるステータス信号の電圧値をアナログで測定するとともに、ロジック閾値を設定することにより、Ｈｉｇｈレベル／Ｌｏｗレベルの判定を行う。
【００３２】
抵抗値モニタ回路２２５は、光トランシーバ１内部のＡＰＳ電源用抵抗の測定を行い、測定した抵抗値を制御回路２１０にフィードバックする。これにより、ＡＰＳ電圧換算式に従った電源電圧を、電源電圧発生回路２２７に設定することもできる。
【００３３】
電源電圧モニタ回路２２６は、光トランシーバ用電源（５Ｖ，３．３Ｖ，０．８〜１．８Ｖ，−５．２Ｖ）および評価ボード１００用の電源電圧を測定し、測定した電圧値を制御回路２１０にフィードバックする。これにより、接続ケーブルなどによる電圧降下分を補正するように、電源電圧発生回路２２７を設定することができる。
【００３４】
電源電圧発生回路２２７は、光トランシーバ用電源（５Ｖ，３．３Ｖ，０．８〜１．８Ｖ，−５．２Ｖ）および評価ボード用電源を発生する。これら各系統の電源電圧発生回路は独立したものであってそれぞれ電圧値を可変でき、光トランシーバ１の電源電圧変動特性について測定評価することができる。
【００３５】
電流モニタ回路２２８は、光トランシーバ用電源（５Ｖ，３．３Ｖ，０．８〜１．８Ｖ，−５．２Ｖ）および評価ボード用電源について、それぞれの消費電流の測定を行う。ここで、光トランシーバ用電源と評価ボード用電源は分離して設けられているため、評価ボード１００で消費される電流を含まない光トランシーバ１の消費電流のみを測定できる。
【００３６】
このような構成において、評価ボード１００と光トランシーバ測定装置２００は、信号系コネクタ１１０と２３０および電源系コネクタ１２０と２４０により分離されていることから、各種光トランシーバの生産ラインにおける測定系としてフレキシブルに対応することができ、生産ラインの測定系の変更を最小限に抑えることができる。
【００３７】
また、評価ボード１００と光トランシーバ測定装置２００が分離されていることから、評価対象となる光トランシーバのみを評価ボード１００に実装して恒温槽などの別の環境下に置いて試験評価することができる。
【００３８】
また、光トランシーバ１に対する電源供給、制御および測定が１台の光トランシーバ測定装置２００のみで行えるため、生産ラインの省スペース化が図れ、光トランシーバ測定装置２００と光トランシーバ評価ボード１００間の配線数を削減できるとともに光トランシーバ生産ラインの測定系の完全自動化が実現できる。
【００３９】
また、光トランシーバ測定装置２００をプラグイン・モジュール構造とすることで、測定する光トランシーバの数量に合わせて１つの筐体に複数台の光トランシーバ測定装置を実装するなど、構成を容易に変更できる。
【００４０】
また、光トランシーバ１内部のＡＰＳ電源用抵抗の抵抗値を制御回路２１０にフィードバックしているので、ＡＰＳ電圧換算式に従った電源を設定できる。なお、フィードバックの有効／無効が切り替えられるようにしてもよい。
【００４１】
また、光トランシーバ用電源と評価ボード用電源を分離しているため、評価ボード１００で消費される電流を含まない光トランシーバ１のみの消費電流を測定できる。
【００４２】
また、ステータス信号モニタ回路２２４は、電圧値をアナログで測定できるため、たとえば熱電対を接続することで、光トランシーバ１の温度を測定できる。
【００４３】
図２は、本発明の他の実施例を示すブロック図であり、図１と共通する部分には同一の符号を付けている。図２の実施例では、光トランシーバ測定装置２００の信号系コネクタ２５０と電源系コネクタ２６０を２系統対応形に変更して１台の光トランシーバ測定装置２００に２系統の評価ボード１００Ａ，１００Ｂを接続し、２系統の評価対象となる光トランシーバ１Ａ，１Ｂの電源供給、制御、測定が行えるようにしたものである。
【００４４】
これにより、光トランシーバ１台あたりのテスト所要時間を、図１の構成に比べてほぼ１／２にすることができ、評価効率を改善できる。
【００４５】
なお、１台の光トランシーバ測定装置２００に接続する評価ボード１００は２系統に限るものではなく、複数ｎ系統であってもよく、複数ｎ系統接続することにより、光トランシーバ１台あたりのテスト所要時間を、図１の構成に比べてほぼ１／ｎに短縮できる。
【００４６】
以上説明したように、本発明によれば、各種の光トランシーバを１台の構成で自動測定により効率よく評価できる光トランシーバ測定装置が実現できる。
そして、光トランシーバに対する電源供給、制御および測定が１台の光トランシーバ測定装置のみで行えることから生産ラインの省スペース化が図れ、各種光トランシーバの生産ラインにおける測定系としてフレキシブルに対応できることから生産ラインの測定系の変更を最小限に抑えることができ、光トランシーバ測定装置と光トランシーバ評価ボード間の配線数を削減できる。
【符号の説明】
【００４７】
１  光トランシーバ
１００  評価ボード
１１０  信号系コネクタ
１２０  電源系コネクタ
２００  光トランシーバ測定装置
２１０  制御回路
２２１  Ｉ２Ｃインタフェース回路
２２２  ＭＤＩＯインタフェース回路
２２３  コントロール信号設定回路
２２４  ステータス信号モニタ回路
２２５  抵抗値モニタ回路
２２６  電源電圧モニタ回路
２２７  電源電圧発生回路
２２８  電流モニタ回路
２３０、２５０  信号系コネクタ
２４０、２６０  電源系コネクタ
【図１】
0005522431.tif 000002
【図２】
0005522431.tif 000003
【図３】
0005522431.tif 000004
【図４】
0005522431.tif 000005