(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
各キースイッチがそれぞれ異なるオン抵抗値を有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置された複数のキースイッチと、
前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する電圧測定部と、
所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値を予め記憶する記憶部と、
前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する制御部と、
を備えることを特徴とするキースキャン回路。
【請求項２】
各キースイッチがそれぞれ異なるオン抵抗値を有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置された複数のキースイッチと、
前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する電圧測定部と、
所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値を予め記憶する記憶部と、
前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する制御部と、
を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項３】
それぞれ異なるオン抵抗値を有する複数のキースイッチを有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置されたキースキャン回路のキースキャン方法であって、
前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する工程と、
所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値と前記工程において測定された電圧値とを比較する工程と、
前記工程の比較結果により閉じられたキースイッチを検出する工程と、
を有することを特徴とするキースキャン方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の操作可能キーを有するキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年普及している携帯電話機や、ＰＤＡ（Personal Digital Assistants）等、小型の電子機器類には、テンキー等、複数の操作可能なキーが設けられているものが多い。
このような電子機器類は、その機能の向上とともに操作が複雑化し、従来設けられていたキーを単独で使用するだけでは電子機器が有する複数の機能全てに対応することが困難になってきている。このため、電子機器に設けられた複数のキーの同時押しを検出できるようにすることにより、キーの数を増やさずにより複雑な操作を可能にすることが要求されている。
【０００３】
しかし、複数の操作キーを有する従来の電子機器では、３個以上の同時押しを正確に検出できない。以下、従来の電子機器の操作キーのキー検出回路について、簡単に説明する。
図１は、複数の操作キーを有する従来の電子機器のキースキャン回路２００を示した図である。
図１に示すように、キースキャン回路２００は、５×５の合計２５個のキーにより構成されるキーマトリクス２０１と、キーマトリクスをスキャンしてこれらのキーのオン／オフ状態を検出できる演算部２０２とを有する。
【０００４】
キーマトリクス２０１は、キースイッチＫ２１１〜Ｋ２５５の２５個のキーがマトリクス状に配置された構成を有する。
演算部２０２の出力ポート２１にはラインＬ２１〜Ｌ２５が、入力ポート２２にはラインＩ２１〜Ｉ２５がそれぞれ接続され、ラインＩ２１〜Ｉ２５にはそれぞれプルアップ抵抗Ｒ２１〜２５が接続されている。
【０００５】
演算部２０２は、出力ポート２１に接続されたラインＬ２１〜Ｌ２５に順次ローレベルのキースキャン信号Ｓ２１を出力して、キーマトリクス２０１をスキャンすることにより、キースイッチＫ２１１〜Ｋ２５５の開閉状態を検出する。
【０００６】
以下、キースキャンの具体例について簡単に説明する。
例えば、キースキャン信号Ｓ２１をラインＬ２１に出力した場合に、ラインＬ２１上のキースイッチＫ２１１、Ｋ２２１、Ｋ２３１、Ｋ２４１、Ｋ２５１がいずれも開いていれば、入力ポート２２に接続されるラインＩ２１〜Ｉ２５のキーセンス信号Ｓ２２は全てハイレベルとなる。
ここで、キースイッチＫ２１１が押下されていれば、入力ポート２２にはラインＩ２１にローレベルの、他のラインＩ２２〜Ｉ２５にはハイレベルのキーセンス信号Ｓ２２が入力されるため、演算部２０２はキーマトリクス２０１上においてラインＬ２１とラインＩ２１の交点に位置するキースイッチＫ２１１が閉じられていることを検出できる。
【０００７】
２つのキースイッチ、例えば、Ｋ２１１及びＫ２２１が同時に閉じられた場合は、演算部２０２の入力ポート２２にはラインＩ２１及びＩ２２にローレベルのキーセンス信号Ｓ２２が入力されるため、演算部２０２はキーマトリクス２０１上でラインＬ２１とラインＩ２１の交点に位置するキースイッチＫ２１１、及び、ラインＬ２１とラインＩ２２に位置するキースイッチＫ２２１の２つが閉じられていることを検出できる。
また、２つのキースイッチ、例えば、Ｋ２１１及びＫ２１２が同時に閉じられた場合は、演算部２０２の出力ポート２１からラインＬ２１にキースキャン信号が出力された時に入力ポート２２にはラインＩ２１にローレベルのキーセンス信号が入力され、また、出力ポート２１からラインＬ２２にキースキャン信号が出力された時にも入力ポート２２にはラインＩ２１にローレベルのキーセンス信号が入力されるため、演算部２０２は、ラインＬ２１とラインＩ２１の交点に位置するキースイッチＫ２１１、及び、ラインＬ２２とラインＩ２１の交点に位置するキースイッチＫ２１２の２つが閉じられていることを検出できる。
【０００８】
次に、例えば、キースイッチＫ２１１、Ｋ２１２、Ｋ２２１に対応する３個のキーが同時に押された場合を考える。
この場合は、出力ポート２１のラインＬ２１にローレベルのキースキャン信号Ｓ２１が出力された時、キースイッチＫ２１１及びＫ２２１は閉じているので、入力ポート２２には、ラインＩ２１及びＩ２２にローレベル、ラインＩ２３、Ｉ２４及びＩ２５にハイレベルのキーセンス信号Ｓ２２が入力される。
【０００９】
次に、ラインＬ２２にキースキャン信号Ｓ２１が出力された時には、キースイッチＫ２１１と２２１とにより短絡が発生し、入力ポート２２のラインＩ２２にローレベルのキーセンス信号が入力されてしまう。これにより、閉じられていないキースイッチＫ２２２が閉じられているようにキースキャン回路２００が誤認識してしまう。
このような事態は、同一の出力ライン（ラインＬ２１〜Ｌ２５のいずれか）上の複数のキースイッチと、他の出力ライン上のキースイッチとが同時に閉じられた場合に生じうる。
【００１０】
すなわち、従来のキースキャン回路２００においては、３個以上のキー同時押しがなされた場合に、キー押下によって閉じられたキースイッチをキースキャン回路が正確に検知できない場合があった。
このような事態を回避するために、例えば特許文献１及び２に開示された技術がある。
【特許文献１】特開平５−１８９１１６号公報
【特許文献２】特開２００４−７８６８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
特許文献１には、各キースイッチにダイオードを設け、閉じられていないキースイッチのキーセンス信号を遮断することにより、３個以上の同時押しを正しく検出することができる技術が開示されている。
また、特許文献２には、同時押しが想定されるキーのキーマトリクスを複数用意することにより、同一のキーマトリクス内のキー同時押しが２つ以内であれば、３個以上の同時押しを検出可能な技術が開示されている。
【００１２】
しかし、特許文献１に開示された技術では、キースイッチごとにダイオードを用意する必要があるためコストが嵩む、という不利益がある。また、小型の電子機器においては、ダイオードをキースイッチ内に用意するためのスペースが確保しにくい、という不利益がある。
また、特許文献２に開示された技術では、同一のキーマトリクス内での３個以上の同時押しは検出できない、という不利益がある。さらに、キースキャン回路の出力・入力ポート数が増大する、という不利益がある。
【００１３】
本発明は上記した不利益を解消するためになされたものであり、組み合わせの制限なく３個以上の同時押しを検出可能なキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記した課題を解決するために、第１の発明のキースキャン回路は、各キースイッチがそれぞれ異なるオン抵抗値を有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置された複数のキースイッチと、前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する電圧測定部と、所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値を予め記憶する記憶部と、前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する制御部と、を備える。
【００１５】
第２の発明の電子機器は、各キースイッチがそれぞれ異なるオン抵抗値を有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置された複数のキースイッチと、前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する電圧測定部と、所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値を予め記憶する記憶部と、前記電圧測定部が測定した電圧値と、前記記憶部に記憶された電圧値とを比較することにより閉じられたキースイッチを検出する制御部と、を備える。
【００１６】
第３の発明のキースキャン方法は、それぞれ異なるオン抵抗値を有する複数のキースイッチを有し、入力ラインと出力ラインとがマトリクス状に配置されたキースキャン回路のキースキャン方法であって、前記キースイッチが閉じられた場合に、電圧値を測定する工程と、所定数のキースイッチが閉じられた場合の全ての組み合わせそれぞれに対応した複数の電圧値と前記工程において測定された電圧値とを比較する工程と、前記工程の比較結果により閉じられたキースイッチを検出する工程と、を有する。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、組み合わせの制限なく３個以上の同時押しを検出可能なキースキャン回路、電子機器及びキースキャン方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の電子機器の一例として、携帯端末１０００について説明する。
本実施形態の携帯端末１０００は、例えば携帯電話機である。
図２は、携帯端末１０００の構成の一例を示す図である。
図２に示すように、携帯端末１０００は、通信部１、記憶部２、表示部３、入力部４、制御部５を有する。
【００１９】
通信部１は、図２に図示しない基地局等を介して、公衆ネットワークと通信を行い、データの送受信を行う無線通信ユニットである。通信部１が送受信を行うデータとしては、例えば、携帯端末１０００の音声通話時の音声データや、ウェブブラウジング時のウェブページデータ等である。
記憶部２は、携帯端末１０００の各種動作に必要なデータを記憶するメモリであり、例えば、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）等により構成される。記憶部２に記憶されるデータは、例えば、携帯端末１０００の各種動作を実行するためのプログラム、後述するウェブブラウジング時のプラグイン再生機能を実行するための、本発明の再生プログラムとしてのプラグインプログラム、音声通話やメール送受信用のアドレス帳データ、後述する音声読み上げ機能の実行に必要な音声データ等である。
【００２０】
表示部３は、携帯端末１０００の各種動作にかかわる表示を行うための表示デバイスであり、例えば液晶ディスプレイ（ＬＣＤ：Liquid Crystal Display）や有機ＥＬ（electro luminescence）パネル等により構成される。表示部３は、例えば音声発着信時の発着信画面、音声通話時の音声通話画面、ウェブブラウジング時のウェブブラウザ画面、メール作成画面やメール受信画面等である。
【００２１】
入力部４は、携帯端末１０００に対する各種入力を受け付ける入力デバイスであり、例えば、十字キーやテンキー等により構成される。
入力部４は、キースキャン回路１００を内包し、どのキーが押下されたかの検出を行う。キースキャン回路１００についての詳細は後述する。
【００２２】
制御部５は、携帯端末１０００の各種構成を統括的に制御し、携帯端末１０００の各種機能を実行するための制御デバイスであり、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）等により構成される。制御部５が実行する各種機能は、例えば、音声通話機能、メール送受信機能等である。制御部５は、後述するキースキャン回路１００の演算部１０２から出力される入力信号（入力部４のどのキーが押下されたかを示す信号）を取得し、これに応じて各種機能の制御を行う。
【００２３】
以下、キースキャン回路１００について説明する。
図３は、キースキャン回路１００の構成を示す図である。
キースキャン回路１００は、キーマトリクス１０１、演算部１０２及び、電源を供給する電源電圧（本発明の電源部に対応）ＶＤＤを有する。
【００２４】
キーマトリクス１０１は、通常は開いており、入力部４の複数のキーが押下された場合に閉じるキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５５と、プルアップ抵抗Ｒ１１〜１５（抵抗値は一律Ｒとする）とを有する。
キースイッチＫ１１１〜Ｋ１５５は、後述する演算部１０２の出力ポートに接続された出力ライン（本発明の第１の信号線群に対応）Ｌ１１〜Ｌ１５と、入力ポート１２に接続されたラインＩ１１〜Ｉ１５（本発明の第２の信号線群に対応）との交点に設置されており、ラインＩ１１〜Ｉ１５にはそれぞれプルアップ抵抗Ｒ１１〜１５が接続されている。また、これらには電源電圧ＶＤＤが接続されている。なお、プルアップ抵抗Ｒは例えば１００ｋΩから２００ｋΩ程度の抵抗である。
これらキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５５は、それぞれ同じ所定のＯＮ抵抗値Ｒｓを有する。
【００２５】
演算部１０２は、出力ポート１１、入力ポート１２、電圧測定部１３、Ａ／Ｄ変換部１４、記憶部１５、制御部１６を有する。
出力ポート１１及び入力ポート１２は、演算部１０２の出力及び入力のためのポートである。
電圧測定部１３は、入力ポート１２に接続された各入力ラインＩ１１〜Ｉ１５のアナログ電圧値を測定する。ここで入力ラインＩ１１〜Ｉ１５のうちのいずれかの電圧値は、スキャン中の出力ラインとその入力ラインとの交点に位置するキースイッチの電位である。
Ａ／Ｄ（Analog/Digital）変換部１４は、電圧測定部１３が測定した各入力ラインＩ１１〜Ｉ１５のアナログ電圧値をデジタル値へ変換して制御部１６に出力する。
記憶部１５は、閉じられたキースイッチの数に応じた、入力ライン（ラインＩ１１〜Ｉ１５）の電圧値Ｖｔｒｕｅを記憶する。Ｖｔｒｕｅについては詳しくは後述する。
【００２６】
制御部１６は、演算部１０２全体を統括的に制御する。
また、制御部１６は、出力ポート１１に接続されたラインＬ１１〜Ｌ１５に順次ローレベルのキースキャン信号Ｓ１１を出力して、その結果Ａ／Ｄ変換部１４から得られた電圧のデジタル値を基に、キースイッチＫ１１１〜Ｋ１５５の開閉状態を判断する。
【００２７】
以下、キースキャン回路１００におけるキースキャンの具体例について説明する。
まず、入力部４の複数のキーのうち１つが押下された場合、すなわち、キーマトリクス１０１内の１個のスイッチが閉じられた場合として、例えば図３に示すキーマトリクス１０１のキースイッチＫ１１１のみ閉じられた場合について説明する。
制御部１６は、まず、ラインＬ１１をローレベルとしてキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５１のスキャンを行う。このとき、電圧測定部１３が測定するラインＩ１１の電圧値は、プルアップ抵抗Ｒ１１とキースイッチＫ１１１のＯＮ抵抗Ｒｓにより、ＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））となる。一方、ラインＩ１２〜Ｉ１５の電圧値は、ＶＤＤである。すなわち、キースイッチが閉じられている入力ラインの電圧値と、閉じられていない入力ラインの電圧値とが異なる。制御部１６は、これらの差異を検知することにより閉じられたキースイッチを検出する。
【００２８】
次に、キーが２つ同時に押下された場合、すなわち、キーマトリクス１０１内の２個のスイッチが閉じられた場合として、例えばキースイッチＫ１１１とＫ１２１とが閉じられた場合について説明する。
制御部１６が、ラインＬ１１をローレベルとしてキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５１のスキャンを行った時、電圧測定部１３が測定するラインＩ１１の電圧値は、上記説明した１個押しの場合と同様、ＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））である。同様に、ラインＩ１２の電圧値も、ＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））である。そして、ラインＩ１３〜Ｉ１５の電圧値は、ＶＤＤである。従って、キースイッチＫ１１１が閉じられている入力ラインＩ１１及びキースイッチＫ１２１が閉じられている入力ラインＩ１２の電圧値と、閉じられていない入力ラインＩ１３〜Ｉ１５の電圧値とが異なるため、キースイッチＫ１１１及びＫ１２１が閉じられていることが検出可能である。
【００２９】
次に、キーが２つ同時に押下された場合、例えばキースイッチＫ１１１とＫ１１２とが閉じられた場合について説明する。
制御部１６が、ラインＬ１１をローレベルとしてキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５１のスキャンを行った時、電圧測定部１３が測定するラインＩ１１の電圧値は、ＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））となり、ラインＩ１２〜Ｉ１５の電圧値はＶＤＤとなる。同様に、ラインＬ１２をローレベルとしてＫ１１２〜Ｋ１５２のスキャンを行ったとき、ラインＩ１１の電圧値はＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ）となり、ラインＩ１２〜Ｉ１５の電圧値はＶＤＤとなる。従って、キースイッチＫ１１１及びＫ１１２が閉じられていることが検出される。
【００３０】
次に、キーが３つ同時押しされた場合について説明する。
例えば、従来のキースキャン回路で誤認識が発生した場合と同様の、Ｋ１１１、Ｋ１２１及びＫ１１２に対応するキーが同時押しされた場合について説明する。
まず、制御部１６が、ラインＬ１１をローレベルとしてキースイッチＫ１１１〜Ｋ１５１のスキャンを行った時には、ラインＩ１１及びラインＩ１２がＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））となる。
【００３１】
次に、ラインＬ１２をローレベルとしてキースイッチＫ１１２、Ｋ１２２、Ｋ１３２、Ｋ１４２、Ｋ１５２のスキャンを行った場合、キースイッチＫ１１１とキースイッチＫ１２１とによる短絡のために、ラインＩ１１の電圧値がＶＤＤ＊Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ）に、ラインＩ１２の電圧値がＶＤＤ＊３Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ）となる。
３個同時押しの場合に、ラインＬ１２をローレベルとしてスキャンを行った時のキースキャン回路１００の等価回路を図４に示す。
図４（ａ）は、キーマトリクス１０１の各構成のうち、電圧降下に寄与する構成のみを抽出したものであり、図４（ｂ）はその等価回路を示している。
【００３２】
ここで、制御部１６は、予めキースイッチが閉じられている場合の電圧値、すなわちＶＤＤ＊Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ）を、記憶部１５に記憶された電圧値Ｖｔｒｕｅと一致したラインＩ１１上のキースイッチＫ１１２が閉じられていると判断し、電圧値がＶｔｒｕｅと一致しなかったラインＩ１２上のキースイッチＫ１２２は閉じられていない、と判断する。
Ｖｔｒｕｅは、予め算出され記憶部１５に記憶された、入力ライン上のキースイッチが閉じられている場合の入力ラインの電圧値の取り得る値である。すなわち、３個以上の同時押しを検出するために、ＶＤＤ＊（Ｒｓ／（Ｒ＋Ｒｓ））とＶＤＤ＊Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ）とが予めＶｔｒｕｅとして記憶部１５に記憶されている。制御部１６は、これを参照することにより、３個以上の同時押しの場合でも閉じられたキースイッチを検出することができる。
【００３３】
なお、同一の出力ライン（Ｌ１１〜Ｌ１５のいずれか）上の３個以上のキースイッチが同時に閉じられた場合や、同一の入力ライン（Ｉ１１〜Ｉ１５のいずれか）上の３個以上のキースイッチが同時に閉じられた場合は、上記説明した２個同時押しの場合と同様に、閉じられたキースイッチを含む入力ラインの電圧値が全て同一となるため、制御部１６は容易に閉じたキースイッチを判断することができる。
制御部１６は、以上のように３個以上の同時押しを検出可能である。
【００３４】
次に、いずれかのキースイッチが閉じられた場合の制御部１６の判断時の動作例について図５を参照して説明する。
図５は、いずれかのキースイッチが閉じられた場合の制御部１６の動作例を示すフローチャートである。
【００３５】
ステップＳＴ１：
制御部１６は、出力ライン（Ｌ１１〜Ｌ１５）Ｌｉ（ｉは１１から１５のいずれか）をローレベルにする。
ステップＳＴ２：
制御部１６は、ステップＳＴ１の結果、電圧測定部１３が測定した電圧値をＡ／Ｄ変換部１４から取得する。
【００３６】
ステップＳＴ３：
制御部１６は、ステップＳＴ２において取得したラインＩ１１〜Ｉ１５の電圧値のうち、電圧値がＶＤＤであるものを除外する。何故なら、電圧値がＶＤＤである入力ライン上のキースイッチは閉じられていないからである。
ステップＳＴ４：
制御部１６は、ステップＳＴ２において取得したラインＩ１１〜Ｉ１５の電圧値を、記憶部１５内のＶｔｒｕｅと比較する。
【００３７】
ステップＳＴ５：
制御部１６は、ステップＳＴ４においてＶｔｒｕｅと一致した電圧値の入力ライン上のキースイッチを閉じられていると判断する。
ステップＳＴ６：
制御部１６は、全ての出力ラインのスキャンが終わるまで、ｉ＝ｉ＋１としてステップＳＴ１に戻る。
以上のようにすることにより、本実施形態のキースキャン回路１００は、３個以上の同時押しを検出可能となる。
【００３８】
以上説明したように、本実施形態のキースキャン回路１００を有する携帯端末１０００においては、キーマトリクス１０１の各キースイッチＫ１１１〜Ｋ１５５にそれぞれ同じＯＮ抵抗値Ｒｓを持たせ、記憶部１５に予め記憶された、入力ライン上のキースイッチが閉じられている場合の入力ラインの電圧値Ｖｔｒｕｅを参照し、出力ラインをローレベルにした結果取得した各入力ラインの電圧値をＶｔｒｕｅと比較して、Ｖｔｒｕｅと一致する電圧値の入力ライン上のキースイッチが閉じられていると検出するため、３個以上の同時押しが行われた場合でも、同時押しにより閉じられたキースイッチを正しく検出することができる。また、各キースイッチに持たせるＯＮ抵抗は、例えばダイオードよりも安価であるため、製造コストを比較的低く抑えることができる。
【００３９】
なお、入力ラインの電圧値を互いに比較する際に、キースイッチが閉じられた入力ラインの電圧値（上述した例では例えばＶＤＤ＊Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ））と、キースイッチが閉じられていない入力ラインの電圧値（上述した例では例えばＶＤＤ*３Ｒｓ／（Ｒ＋３Ｒｓ））とが比較可能な程度に異なっている必要がある、このことから、ＯＮ抵抗Ｒｓの値としては、プルアップ抵抗Ｒの１０〜２０％程度の抵抗値とすればよいことが経験的に分かっている。
【００４０】
本発明は上述した実施形態には限定されない。
すなわち、本発明の実施に際しては、本発明の技術的範囲またはその均等の範囲内において、上述した実施形態の構成要素に関し様々な変更、コンビネーション、サブコンビネーション、並びに代替を行ってもよい。
【００４１】
上述した実施形態では、３個以下の同時押しについて説明したが、本発明のキースキャン回路は４個以上の同時押しも検出可能である。短絡によりＶＤＤと異なる複数種類の入力ラインの電圧値が検出されるような場合には、予め記憶部１５にその場合のＶｔｒｕｅを記憶しておくことにより対応可能である。
また、上述した実施形態ではＯＮ抵抗値Ｒｓを全て同一の値Ｒｓとしたが、本発明はこれには限定されず、全て異なる抵抗値としてもよい。この場合、どのキースイッチが何個閉じられたかによって、入力ラインの電圧値が一意に決まるため、記憶部１５に予め全てのキーの同時押しの組み合わせ時の電圧値Ｖｔｒｕｅを記憶させることにより、容易に閉じられたキースイッチを検出することができる。
【００４２】
また、上述した実施形態のキースキャン回路１００は、携帯端末１０００以外にも、例えばＰＤＡ等の複数のキーを有する携帯電子機器にも適用が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】図１は、複数の操作キーを有する従来の電子機器のキースキャン回路を示した図である。
【図２】図２は、本実施形態の携帯端末の構成の一例を示す図である。
【図３】図３は、本実施形態のキースキャン回路の構成を示す図である。
【図４】図４は、本実施形態のキースキャン回路における、３個同時押しの場合のキースキャン回路の等価回路を示した図である。
【図５】図５は、本実施形態のキースキャン回路における、いずれかのキースイッチが閉じられた場合の制御部の動作例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４４】
１０００…携帯端末、１…通信部、２…記憶部、３…表示部、４…入力部、５…制御部、１００…キースキャン回路、１０１…キーマトリクス、１０２…演算部、１１…出力ポート、１２…入力ポート、１３…電圧測定部、１４…変換部、１５…記憶部、１６…制御部、Ｌ１１〜Ｌ１５…出力ライン、Ｉ１１〜Ｉ１５…入力ライン、２００…キースキャン回路、２０１…キーマトリクス、２０２…演算部、２１…出力ポート、２２…入力ポート、Ｓ１１…キースキャン信号、Ｓ２１…キースキャン信号、Ｓ２２…キーセンス信号、Ｒ…プルアップ抵抗の抵抗値、Ｒｓ…キースイッチＫ１１１〜１５５の各々のＯＮ（オン）抵抗値、Ｌ２１〜２５出力ライン（第１の信号線群）、Ｉ２１〜２５入力ライン（第２の信号線群）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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