(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のレーザダイオードが直列に接続されると共に、それぞれの前記レーザダイオードが、前記レーザダイオードよりも降下電圧が大きいバイパス回路と並列に接続されている励起光源回路と、
前記励起光源回路の一方側に接続される定電圧源と、
前記励起光源回路の他方側に接続される定電流回路と、
前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて、前記レーザダイオードの故障を検出する故障検出回路と、
前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて、前記レーザダイオードがオープンモード及びショートモードのいずれの故障モードで故障したかを判断する判断回路を更に備え、
前記レーザダイオードの順方向降下電圧と、前記レーザダイオードと並列に接続されるバイパス回路の降下電圧との差が、互いに並列に接続されているレーザダイオードとバイパス回路との組み合わせ毎に異なる値とされ、
前記判断回路は、前記故障モードがオープンモードである場合に、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて、故障したレーザダイオードを特定すること
を特徴とする励起光源装置。
【請求項２】
前記定電流回路は、前記励起光源回路と直列に接続される電流制御素子を有し、
前記故障検出回路は、前記電流制御素子の電圧を検出することにより、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて前記レーザダイオードの故障を検出することを特徴とする請求項１に記載の励起光源装置。
【請求項３】
それぞれの前記バイパス回路は、互いに直列に接続されたダイオード、及び、抵抗から構成され、
それぞれの前記ダイオードは、互いに同じ順方向降下電圧とされると共に、それぞれの前記ダイオードと並列に接続される前記レーザダイオードより高い順方向降下電圧とされ、
それぞれの前記抵抗は、それぞれの前記バイパス回路毎に異なる抵抗値とされることを特徴とする請求項1または２に記載の励起光源装置。
【請求項４】
それぞれの前記レーザダイオードは、互いに同じ順方向降下電圧とされることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の励起光源装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、励起光源装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
加工機、医療機器、測定器の分野等において用いられるレーザ装置の一つとして、ファイバレーザ装置が知られている。ファイバレーザ装置は、一般的に、発振器等から出力される比較的パワーの小さい種光が、励起光源から出力される励起光により増幅されて、出力光として出力されるというものである。そして、加工機、医療機器、測定器等に用いられるファイバレーザ装置においては、パワーの強い出力光を得るために、パワーの強い励起光を必要とする場合が多い。そして、このようなパワーの強い励起光を得るためには、一般的に複数のレーザダイオードから励起光が出力される。
【０００３】
このレーザダイオードの故障を検出する方法がいくつか提案されている。下記特許文献１に記載のレーザダイオードの故障検出方法においては、レーザダイオードの故障はショートモードによる故障であるという前提で、レーザダイオードのアノード−カソード間の電圧を検出する。そして、この電圧が、所定の電圧より下がった場合に、レーザダイオードがショートモードのより故障したとするものである。また、下記特許文献２に記載のレーザダイオードの故障検出方法においては、直列に接続された複数のレーザダイオードのそれぞれにバイパス回路が並列に接続され、さらに、それぞれのレーザダイオードのアノード−カソード間の電圧を検出する。そして、検出した電圧に基づいて、それぞれのレーザダイオードがオープンモードで故障した場合に、その故障を検出するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−１６８４５２号公報
【特許文献２】特開２００５−５７０３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１、２に記載のレーザダイオードの故障検出方法では、ショートモードによる故障の検出、或いは、オープンモードによる故障の検出のみしか行われず、更に、個々のレーザダイオードの電圧を検出する必要があり、構成が複雑であった。
【０００６】
そこで、本発明は、簡易な構成で、レーザダイオードがショートモードにより故障した場合でも、オープンモードにより故障した場合でも、故障の検出ができる励起光源装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の励起光源装置は、複数のレーザダイオードが直列に接続されると共に、それぞれの前記レーザダイオードが、前記レーザダイオードよりも降下電圧が大きいバイパス回路と並列に接続されている励起光源回路と、前記励起光源回路の一方側に接続される定電圧源と、前記励起光源回路の他方側に接続される定電流回路と、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて前記レーザダイオードの故障を検出する故障検出回路と、を備えることを特徴とするものである。
【０００８】
このような励起光源装置によれば、励起光源回路には定電圧源により一定の電圧が印加され、かつ、定電流回路により、一定の電流が流れる。従って、いずれかのレーザダイオードがショートモードにより故障した場合、励起光源回路全体の降下電圧が小さくなる。一方、いずれかのレーザダイオードがオープンモードにより故障した場合、故障したレーザダイオードと並列に接続されているバイパス回路の抵抗により、励起光源全体の降下電圧が大きくなる。従って、故障検出回路が、励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障の検出を行うことにより、それぞれのレーザダイオードに故障検出回路を設ける必要がなく、簡易な構成で、レーザダイオードがショートモードにより故障でも、オープンモードにより故障した場合でも、故障の検出ができる。
【０００９】
また、上記励起光源装置において、前記定電流回路は、前記励起光源回路と直列に接続される電流制御素子を有し、前記故障検出回路は、前記電流制御素子の電圧を検出することにより、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて前記レーザダイオードの故障を検出することが好ましい。
【００１０】
このような励起光源装置によれば、励起光源回路全体の降下電圧を直接検出する必要がなく、簡易に励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障を検出することができる。
【００１１】
また、上記励起光源装置において、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて、前記レーザダイオードがオープンモード及びショートモードのいずれの故障モードで故障したかを判断する判断回路を更に備えることが好ましい。
【００１２】
このような励起光源装置によれば、判断回路の結果により、レーザダイオードが、オープンモード及びショートモードのいずれの故障モードで故障したかを容易に知ることができる。
【００１３】
また、上記励起光源装置において、前記レーザダイオードの順方向降下電圧と、前記レーザダイオードと並列に接続されるバイパス回路の降下電圧との差が、互いに並列に接続されているレーザダイオードとバイパス回路との組み合わせ毎に異なる値とされ、前記判断回路は、前記故障モードがオープンモードである場合に、前記励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいて、故障したレーザダイオードを特定することが好ましい。
【００１４】
このような励起光源装置によれば、レーザダイオードが、オープンモードで故障した場合に、故障したレーザダイオードの場所によって、励起光源回路全体の降下電圧が変わる。従って、レーザダイオードが、オープンモードで故障した場合には、励起光源回路全体での降下電圧の変化に基づいた判断回路の結果により、どのレーザダイオードが、オープンモードにより故障したのかを容易に知ることができる。
【００１５】
また、上記励起光源装置において、それぞれの前記バイパス回路は、互いに直列に接続されたダイオード、及び、抵抗から構成され、それぞれの前記ダイオードは、互いに同じ順方向降下電圧とされると共に、それぞれの前記ダイオードと並列に接続される前記レーザダイオードより高い順方向降下電圧とされ、それぞれの前記抵抗は、それぞれの前記バイパス回路毎に異なる抵抗値とされることが好ましい。
【００１６】
このような励起光源装置によれば、レーザダイオードよりも高い順方向降下電圧を有するダイオードにより、レーザダイオードがオープンモードで故障しない限りバイパス回路に電流が流れないため、励起光源回路が正常であるか、故障したかの判断を行うことができる。さらに、オープンモードで故障した場合には、バイパス回路の降下電圧によりどのレーザダイオードが故障したかを特定することができるので、簡単な構成で、オープンモードにより故障したレーザダイオードの特定をすることができる。
【００１７】
また、上記励起光源装置において、それぞれの前記レーザダイオードは、互いに同じ順方向降下電圧とされても良い。
【発明の効果】
【００１８】
以上説明したように、本発明によれば、簡易な構成で、レーザダイオードがショートモードにより故障した場合でも、オープンモードにより故障した場合でも、故障の検出ができる励起光源装置が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明に係る励起光源装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明に係る励起光源装置の好適な実施形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２１】
図１は、本発明の励起光源装置を示す図である。図１に示すように、励起光源装置１は、励起光源回路２０と、励起光源装置２０の一方側に接続される定電圧源１０と、励起光源装置２０の他方側に接続される定電流回路３０と、励起光源回路２０の故障を検出する故障検出回路４０と、を主な構成として備える。
【００２２】
定電圧源１０は、例えば、ＤＣ−ＤＣコンバータから構成されており、一定の電圧Ｖｃｃを出力する。
【００２３】
励起光源回路２０は、複数の励起光出力用のレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎを有し、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎが直列に接続されている。このレーザダイオードの数は、例えば、６個とされる。また、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎは、同様の構成とされ、互いに同じ順方向降下電圧とされる。
【００２４】
そして、レーザダイオードＬＤ１には、ダイオードＤ１と抵抗Ｒ１とからなるバイパス回路ＢＰ１が並列に接続されている。そして、このバイパス回路ＢＰ１において、ダイオードＤ１のカソードと抵抗Ｒ１とが接続されており、ダイオードＤ１のアノードがレーザダイオードＬＤ１のアノードと接続され、抵抗Ｒ１のダイオードＤ１と接続される側と反対側がレーザダイオードＬＤ１のカソードと接続されている。レーザダイオードＬＤ２〜ＬＤｎについても同様のバイパス回路が並列に接続されており、レーザダイオードＬＤｎには、ダイオードＤｎと抵抗Ｒｎとからなるバイパス回路ＢＰｎが並列に接続されている。そして、このバイパス回路ＢＰｎにおいて、ダイオードＤｎのカソードと抵抗Ｒｎとが接続されており、ダイオードＤｎのアノードがレーザダイオードＬＤｎのアノードと接続され、抵抗ＲｎのダイオードＤｎと接続される側と反対側がレーザダイオードＬＤｎのカソードと接続されている。
【００２５】
なお、それぞれのバイパス回路におけるそれぞれのダイオードＤ１〜Ｄｎは、互いに同じ順方向降下電圧とされると共に、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎよりも高い順方向降下電圧とされている。さらに、それぞれの抵抗Ｒ１〜Ｒｎは、互いに異なる抵抗値とされている。従って、それぞれのバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎは、互いに異なる降下電圧とされている。このように、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎが互いに同じ順方向降下電圧とされ、それぞれのバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎが、互いに異なる降下電圧とされているため、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧と、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎに並列に接続されているバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎの降下電圧との差が、互いに並列に接続されているレーザダイオードとバイパス回路との組み合わせ毎に異なる値とされている。
【００２６】
定電流回路３０は、電流制御素子Ｔｒと、電流制御素子Ｔｒに接続される抵抗Ｒｓと、電流制御素子Ｔｒ及び抵抗Ｒｓと接続される比較回路Ｏｐと、比較回路Ｏｐに所定のリファレンス電圧Ｖｔｈを印加する基準電圧源３１とを主な構成として備える。
【００２７】
電流制御素子Ｔｒは、例えば、バイポーラトランジスタや、電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）といった、スイッチ機能を有する能動素子から構成される。そして、電流制御素子Ｔｒがバイポーラトランジスタである場合には、電流制御素子Ｔｒのコレクタが励起光源回路２０に接続され、電流制御素子ＴｒがＦＥＴである場合には、電流制御素子Ｔｒのドレインが励起光源回路２０に接続される。
【００２８】
抵抗Ｒｓは、一方側が電流制御素子Ｔｒの励起光源回路２０と接続される側と反対側と接続されている。従って、電流制御素子Ｔｒが、バイポーラトランジスタである場合、抵抗Ｒｓの一方側は、エミッタと接続され、電流制御素子Ｔｒが、ＦＥＴである場合、ソースと接続される。また、抵抗Ｒｓの他方側は、グランドと接続される。
【００２９】
比較回路Ｏｐは、一組の入力端子と、出力端子を有しており、一方の入力端子が、電流制御素子Ｔｒに対して、抵抗Ｒｓと並列に接続され、他の入力端子が、基準電圧源３１に接続されている。また、出力端子は、電流制御素子Ｔｒを制御可能なように電流制御素子Ｔｒに接続されている。従って、出力端子は、電流制御素子Ｔｒがバイポーラトランジスタである場合には、ベースに接続され、電流制御素子ＴｒがＦＥＴである場合には、ゲートに接続される。このような比較回路Ｏｐとしては、例えば、オペアンプを用いることができる。
【００３０】
故障検出回路４０は、電圧検出回路４１と判断回路４２とを主な構成として備える。電圧検出回路４１は、定電流回路３０の電流制御素子Ｔｒに並列に接続されており、電流制御素子Ｔｒの電圧（端子間電圧）Ｖｔｒを検出する。電圧検出回路４１は、電流制御素子Ｔｒがバイポーラトランジスタである場合には、コレクタ、エミッタに接続されて、電流制御素子Ｔｒのコレクタ−エミッタ電圧を検出する。また、電圧検出回路４１は、電流制御素子ＴｒがＦＥＴである場合には、ドレイン、ソースに接続され、電流制御素子Ｔｒのドレイン−ソース電圧を検出する。
【００３１】
また、電圧検出回路４１は、検出した端子間電圧Ｖｔｒに応じた信号を判断回路４２に出力する。判断回路４２は、例えば、メモリとマイクロコンピュータにより構成されている。メモリには、励起光源回路２０が正常な状態の場合における電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに基づく情報、及び、励起光源回路２０のいずれかのレーザダイオードがショートモードで故障した場合における電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに基づく情報、及び、励起光源回路２０のいずれかのレーザダイオードがオープンモードで故障した場合において、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎ毎に、それぞれのレーザダイオードが故障した場合における電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに基づく情報が記憶されている。そして、電圧検出回路４１から出力された信号を基に、励起光源回路２０の状態を判断して、判断結果を出力する。
【００３２】
次に励起光源装置１の動作について説明する。
【００３３】
定電圧源１０から励起光源回路２０に所定の電圧Ｖｃｃが印加されると、励起光源回路２０が正常な状態においては、励起光源回路２０のそれぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎが発光して、励起光が出力される。そして、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎ、及び、電流制御素子Ｔｒ、及び、抵抗Ｒｓによる電圧降下が生じて、最終的にグランドされる。このとき比較回路Ｏｐは、電流制御素子Ｔｒと抵抗Ｒｓの間の電位と、基準電圧源３１から印加されるリファレンス電圧Ｖｔｈとを比較して、電流制御素子Ｔｒを流れる電流が一定になるように、電流制御素子Ｔｒを制御する。こうして定電流回路３０と直列に接続される励起光源回路２０には、一定の電流Ｉｌｄが流れ、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎは、所定の光パワーを出力する。
【００３４】
また、故障検出回路４０の電圧検出回路４１は、電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒを検出する。励起光源回路２０が、上述のように正常な状態においては、それぞれのレーザダイオードの順方向降下電圧をＶｌｄとする場合に、電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒは、次のようになる。
【数１】
0005583442.tif 000002
【００３５】
なお、上述のようにそれぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧は、それぞれ同じであるため、それぞれのレーザダイオードの降下電圧を同じ値Ｖｌｄとすることができる。そして、電圧検出回路４１は、検出した電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに応じた信号を判断回路４２に出力する。判断回路４２は、判断回路４２が有しているテーブルを参照して、Ｖｔｒが正常な電圧であれば、励起光源回路２０が正常である旨の判断をして、この判断結果を出力する。
【００３６】
レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎのいずれかがショートモードで故障した場合には、故障したレーザダイオードの順方向降下電圧は、殆ど０になる。従って、この場合の電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒは、次のようになる。
【数２】
0005583442.tif 000003
【００３７】
この場合、端子間電圧Ｖｔｒは、励起光源回路２０が正常な場合に比べて、Ｖｌｄだけ高い電圧になる。そして、電圧検出回路４１は、検出した電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに応じた信号を判断回路４２に出力する。このとき判断回路４２は、判断回路４２が有しているテーブルを参照して、端子間電圧Ｖｔｒが正常な電圧よりも高い電圧であるため、励起光源回路２０がショートモードで故障している旨の判断をして、この判断結果を出力する。
【００３８】
レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎのいずれかがオープンモードで故障した場合には、故障したレーザダイオードには電流が流れない。このため、故障したレーザダイオードと並列に接続されているバイパス回路に電流が流れる。例えば、レーザダイオードＬＤｎがオープンモードで故障した場合、バイパス回路ＢＰｎに電流が流れる。このときバイパス回路ＢＰｎにおけるダイオードＤｎの順方向降下電圧をＶｄとし、抵抗Ｒｎの抵抗値をＲｎとする場合、バイパス回路ＢＰｎの降下電圧は、次のようになる。
【数３】
0005583442.tif 000004
【００３９】
従って、この場合の電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒは、次のようになる。
【数４】
0005583442.tif 000005
【００４０】
なお、上述のようにそれぞれのダイオードＤ１〜Ｄｎの順方向降下電圧は、それぞれ同じであるため、どのレーザダイオードが故障する場合においても、ダイオードによる降下電圧を同じ値Ｖｄとすることができる。また、端子間電圧Ｖｔｒの値は、抵抗Ｒｎの抵抗値Ｒｎにより変化する。つまり、故障したレーザダイオードＬＤｎの順方向降下電圧Ｖｌｄと、故障したレーザダイオードＬＤｎに並列に接続されるバイパス回路ＢＰｎの降下電圧との差は、端子間電圧Ｖｔｒを表す式のうち、次のようになる。
【数５】
0005583442.tif 000006
【００４１】
この値は、それぞれの抵抗Ｒ１〜Ｒｎの抵抗値が異なるため、互いに並列に接続されているレーザダイオードとバイパス回路との組み合わせ毎に異なる。従って、電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒは、オープンモードで故障したレーザダイオードの場所によって、異なる電圧となる。そして、電圧検出回路４１は、検出した電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒに応じた信号を判断回路４２に出力する。このとき判断回路４２は、判断回路４２が有しているテーブルを参照して、励起光源回路２０がオープンモードで故障している旨の判断をすると共に、レーザダイオードＬＤｎが故障している旨の判断をして、この判断結果を出力する。
【００４２】
このようにして、故障検出回路４０は、電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒを検出することで、励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの故障を検出する。
【００４３】
以上説明したように、本実施形態による励起光源装置１によれば、励起光源回路２０には定電圧源１０により一定の電圧Ｖｃｃが印加され、かつ、定電流回路３０により、一定の電流Ｖｌｄが流れる。従って、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎのうちいずれかがショートモードにより故障した場合、励起光源回路２０全体の降下電圧が小さくなる。一方、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎのうちいずれかがオープンモードにより故障した場合、故障したレーザダイオードと並列に接続されているバイパス回路の降下電圧により、励起光源回路２０全体の降下電圧が大きくなる。従って、故障検出回路４０が、励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障の検出を行うことにより、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎに故障検出回路を設ける必要がなく、簡易な構成で、レーザダイオードがショートモードにより故障した場合でも、オープンモードにより故障した場合でも故障の検出ができる。
【００４４】
また、故障検出回路４０は、電流制御素子Ｔｒの端子間電圧Ｖｔｒを検出することにより、励起光源回路２０全体の電圧を直接検出する必要がなく、簡易に励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障を検出することができる。
【００４５】
また、励起光源装置１の使用者は、判断回路４２の結果により、レーザダイオードが、オープンモード及びショートモードのいずれの故障モードで故障したかを容易に知ることができる。
【００４６】
また、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧と、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎに並列に接続されているバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎの降下電圧との差が、互いに並列に接続されているレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎとバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎとの組み合わせ毎に異なる値とされているため、いずれかのレーザダイオードが、オープンモードで故障した場合に、故障したレーザダイオードの場所によって、励起光源回路２０全体の降下電圧が変わる。従って、いずれかのレーザダイオードが、オープンモードで故障した場合には、励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいた判断回路４２の結果により、どのレーザダイオードが、オープンモードにより故障したのかを容易に知ることができる。
【００４７】
また、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎよりも高い順方向降下電圧を有するダイオードＤ１〜Ｄｎにより、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎがオープンモードで故障しない限りバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎに電流が流れない。このため、励起光源回路２０が正常であるか、故障したかの判断を行うことができる。さらに、オープンモードで故障した場合には、バイパス回路の抵抗によりどのレーザダイオードが故障したかを特定することができるので、簡単な構成で、オープンモードにより故障したレーザダイオードの特定をすることができる。
【００４８】
以上、本発明について、実施形態を例に説明したが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【００４９】
例えば、上記実施形態においては、電流制御素子Ｔｒの電圧を検出することで、励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障を検出したが、励起光源回路２０全体の電圧を直接検出して、励起光源回路２０全体での降下電圧の変化に基づいてレーザダイオードの故障を検出しても良い。
【００５０】
また、上記実施形態においては、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの故障のモードを判断回路４２により判断しており、更に、いずれかのレーザダイオードがオープンモードで故障した場合に、判断回路４２により、どのレーザダイオードが故障したかを判断していた。しかし、判断回路４２は、必ずしも必須ではなく、故障検出回路４０は、電圧検出回路４１の出力結果に基いて、故障である旨のみを出力する構成であっても良い。この場合、励起光源装置の使用者が、電圧検出回路４１の出力結果により、故障モードの判断や、レーザダイオードがオープンモードで故障した場合における故障したレーザダイオードの特定を行えば良い。この場合、判断回路４２がない分、簡易な構成にすることができる。
【００５１】
また、バイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎのダイオードＤ１〜Ｄｎを、ツェナーダイオードにして、ツェナーダイオードのアノードと抵抗とが接続されており、ツェナーダイオードのカソードがレーザダイオードのアノードと接続される構成にしても良い。この場合、レーザダイオードがオープンモードで故障した場合に、ツェナーブレイクが生じるようにすればよい。
【００５２】
或いは、それぞれのバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎのダイオードＤ１〜Ｄｎを、互いに異なる順方向降下電圧にして、それぞれのバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎの抵抗Ｒ１〜Ｒｎを省略しても良い。
【００５３】
また、上記実施形態においては、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧が互いに同じであるとしたが、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧が互いに異なっていても良い。この場合、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの降下電圧と、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎと並列に接続されるバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎの降下電圧との差が、互いに並列に接続されているレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎとバイパス回路ＢＰ１〜ＢＰｎとの組み合わせ毎に異なる値とされることが好ましい。このようにすることで、それぞれのレーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎの順方向降下電圧が互いに異なっていても、レーザダイオードＬＤ１〜ＬＤｎのいずれかがオープンモードで壊れた場合に、壊れたレーザダイオードの場所によって、励起光源回路２０全体の降下電圧の変化の大きさが変わる。従って、励起光源回路２０全体の降下電圧の変化に基づいてどのレーザダイオードが壊れたかの特定をすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明によれば、簡易な構成で、レーザダイオードがショートモードにより故障した場合でも、オープンモードにより故障した場合でも、故障の検出ができる励起光源装置が提供される。
【符号の説明】
【００５５】
１・・・励起光源装置
１０・・・定電圧源
２０・・・励起光源回路
３０・・・定電流回路
３１・・・基準電圧源
４０・・・故障検出回路
４１・・・電圧検出回路
４２・・・判断回路
ＢＰ１〜ＢＰｎ・・・バイパス回路
Ｄ１〜Ｄｎ・・・ダイオード
ＬＤ１〜ＬＤｎ・・・レーザダイオード
Ｏｐ・・・比較回路
Ｒ１〜Ｒｎ、Ｒｓ・・・抵抗
Ｔｒ・・・電流制御素子
【図１】
0005583442.tif 000007