(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁ノイズを供試機器に注入する信号注入手段と、
前記供試機器における複数の測定箇所から電磁界強度を検出する電磁界強度検出手段と、
検出された前記電磁界強度を最大値検波により測定する最大値検波手段と、
前記供試機器における任意の測定箇所から得られた電磁界強度について、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうち、最小値を保持する最小値保持手段と、
前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器上の前記電磁ノイズの伝搬経路分布を検出するノイズ分布検出手段と、を備えることを特徴とする電磁ノイズ分布検出装置。
【請求項２】
前記信号注入手段は、前記供試機器内で発生する電磁ノイズの周波数に対して周波数を所定値分ずらした電磁ノイズを注入し、
前記ノイズ分布検出手段は、前記注入された電磁ノイズの周波数に対応する前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器内で発生する電磁ノイズの周波数における電磁ノイズの伝搬経路分布を近似することを特徴とする請求項１に記載の電磁ノイズ分布検出装置。
【請求項３】
前記信号注入手段は、前記供試機器内で発生する電磁ノイズの周波数に対して、周波数を所定値分高い側にずらした電磁ノイズと、周波数を所定値分低い側にずらした電磁ノイズとを注入し、
前記ノイズ分布検出手段は、前記注入された電磁ノイズの周波数に対応する前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器内で発生する電磁ノイズの周波数における電磁ノイズの伝搬経路分布を近似することを特徴とする請求項１に記載の電磁ノイズ分布検出装置。
【請求項４】
前記信号注入手段は、前記供試機器内で発生する電磁ノイズの周波数を含めた所定の周波数帯域の電磁ノイズを注入する請求項１乃至３のいずれか１つに記載の電磁ノイズ分布検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子機器内での電磁ノイズの伝搬経路分布を検出する電磁ノイズ分布検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器内の回路は、近傍にある他の回路の動作や外来電磁波などによる電磁ノイズの影響によって誤動作する場合がある。このため、電子機器の動作に対する電磁ノイズの影響を評価するイミュニティ試験が行われている。
【０００３】
イミュニティ試験の一例として、ＩＳＯ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ  Ｏｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ  ｆｏｒ  Ｓｔａｎｄａｒｄｉｚａｔｉｏｎ）１１４５２−４に記載のバルク電流注入（ＢＣＩ：Ｂｕｌｋ  Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｉｎｊｅｃｔｉｏｎ）法がある。同方法では、供試機器に電流プローブで電磁ノイズを注入し、供試機器の性能劣化や誤動作を評価する。しかし、この試験では、注入された電磁ノイズの供試機器の筐体内部での伝搬経路が特定できないため、ノイズ対策を施す場所を特定することが困難である。
【０００４】
そのため、従来の技術では、供試機器をノイズ可視化用アンテナのスキャンエリア上に配置して、供試機器の近磁界を測定する方法が開示されている。スキャンエリアに設けられた各微小アンテナ素子は供試機器から発生する電磁ノイズを検知し、各微小アンテナ素子の位置に対応付けられた電磁ノイズの強度をモニタに表示することで、電磁ノイズの伝搬経路分布を得る方法が開示されている（例えば、下記特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−３１８２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１に記載の従来の技術では、電磁ノイズの伝搬経路分布に、試験信号として注入された電磁ノイズの影響と、電子回路の動作や外来電磁波などに起因する供試機器内で発生する電磁ノイズの影響が混在しており、供試機器内でノイズ対策を施す場所を特定することが困難になる場合があるという問題点があった。
【０００７】
この発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、供試機器内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、電磁ノイズを供試機器に注入する信号注入手段と、前記供試機器における複数の測定箇所から電磁界強度を検出する電磁界強度検出手段と、検出された前記電磁界強度を最大値検波により測定する最大値検波手段と、前記供試機器における任意の測定箇所から得られた電磁界強度について、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうち、最小値を保持する最小値保持手段と、前記最小値保持手段に保持された最小値に基づき、前記供試機器上の前記電磁ノイズの伝搬経路分布を検出するノイズ分布検出手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、供試機器内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができ、ノイズ対策を施す場所を特定できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１にかかる電磁ノイズ分布検出装置の構成例を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１にかかる電磁界強度計により検出された電磁ノイズの強度レベルにおける時間的な変動の一例を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１にかかる電磁ノイズ分布検出装置の動作例を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態１にかかる電磁ノイズの伝搬経路分布の一例を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態２にかかる注入された電磁ノイズと供試機器内で発生する電磁ノイズとの周波数の関係についての一例を示す図である。
【図６】この発明の実施の形態２にかかる注入された電磁ノイズと供試機器内で発生する電磁ノイズとの周波数の関係についての一例を示す図である。
【図７】この発明の実施の形態２にかかる電磁ノイズの伝搬経路分布の一例を示す図である。
【図８】この発明の実施の形態３にかかる注入された電磁ノイズと供試機器内で発生する電磁ノイズとの周波数の関係についての一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、それぞれが本発明を具体化する際の一形態であって、本発明をその範囲内に限定するものではない。
【００１２】
実施の形態１．
図１は本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置の構成例を示す図である。本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、信号発生器１、アンプ２、注入プローブ３、検出プローブ４、アンプ５、電磁界強度計６、可動部７、走査部８、制御部９、表示部１０を備える。また、電磁界強度計６は最大値検波手段６ａ、最小値保持手段６ｂを有する。制御部９はノイズ分布検出手段１１を有する。なお、図１に示す構成は一例であり、各部の実装形態はこの限りではない。例えば、各部の機能が共通するハードウェアによって実現されることや、複数のハードウェアに分離されて実現されるなどの変形が許容される。後述する実施の形態２、３においても同様とする。最小値保持手段６ｂは例えばメモリによって実現される。図１の例においては、最大値検波手段６ａと最小値保持手段６ｂは電磁界強度計６に含まれる構成としているが、これに限られない。すなわち、電磁界強度計６では電磁界強度の測定のみを行い、最大値検波手段６ａ、最小値保持手段６ｂは電磁界強度計６外に配置される変形も可能である。例えば、これらは制御部９やノイズ分布検出手段１１などの他の機能部によって実現されてもよい。または、処理動作に対応するソフトウェアと、これを実行するハードウェアによって構成されるなどにより、独立した機能部として実現されてもよい。
【００１３】
信号発生器１は、試験信号として電磁ノイズを発生する。アンプ２は、信号発生器１で発生した試験信号を増幅する。注入プローブ３は、供試機器１００の接続ケーブル（電源ケーブルなど）と接続され、アンプ２で増幅された試験信号を供試機器１００に注入する。検出プローブ４は、供試機器１００を伝搬する電磁ノイズを検出する。アンプ５は、検出プローブ４から出力された検出信号を増幅する。電磁界強度計６は、アンプ５で増幅された検出信号の強度レベルを測定する。なお、図１では、本実施の形態における供試機器１００の一例としてプリント基板を示しているが、プリント基板以外の電子機器を被測定物としてもよい。
【００１４】
信号発生器１とアンプ２と注入プローブ３とは、信号注入手段の一例に相当する。また、検出プローブ４とアンプ５と電磁界強度計６とは、電磁界強度検出手段の一例に相当する。なお、アンプ２は電磁ノイズのレベルが検出プローブ４で検出できる程度まで高ければ、省略してもよい。同様に、アンプ５は検出プローブ４からの検出信号のレベルが電磁界強度計６にて電磁界強度を計測できる程度まで高ければ、省略してもよい。また、図１の例では、注入プローブ３が、供試機器１００の接続ケーブルにクランプされるタイプとなっているが、この方法に限られない。試験信号として電磁ノイズを注入することができれば、他の接触型または非接触型の方法を用いることができる。
【００１５】
可動部７は、検出プローブ４をＸ（横）、Ｙ（縦）、Ｚ（高さ）、θ（回転）方向に移動させるように構成される。走査部８は、検出プローブ４をＸＹＺθ方向に走査させるために、可動部７の制御を行う。
【００１６】
可動部７と走査部８は、供試機器１００上の検出位置を移動させる走査手段の一例に相当する。なお、可動部７は、検出プローブ４をＸＹＺθ方向に走査するとしているが、走査方法はこれに限られない。例えば、検出プローブ４を走査する代わりに、供試機器１００を移動させてもよい。または、検出プローブ４と供試機器１００の両方を移動させてもよい。検出プローブ４と供試機器１００との相対的な位置関係を変える方法以外にも、走査領域内に予め多数の検出機器を配置し、各検出機器がそれぞれ測定したデータから電磁ノイズの伝搬経路分布を求めることも可能である。このように、供試機器１００を伝搬する電磁ノイズの伝搬経路分布を得る種々の方法を適用することができる。
【００１７】
制御部９は、電磁ノイズ分布検出装置の各部に対する制御を行う。例えば、信号発生器１の発生信号周波数の設定、走査部８に対して検出プローブ４の走査方向や走査量の設定、電磁界強度計６の測定制御などを行う。ノイズ分布検出手段１１は、電磁界強度計６からの出力データに基づいて電磁ノイズの伝搬経路分布を得るための数値処理を行う。表示部１０は、検出された電磁ノイズの伝搬経路分布を表示する。制御部９をコンピュータなどの情報処理装置とした場合には、ノイズ分布検出手段１１は、その情報処理装置で動作するソフトウェアとして実現することができる。なお、図１の例においては、ノイズ分布検出手段１１は制御部９に含まれる構成としているが、これに限られない。例えば、制御部９以外の他の機能部によって実現されてもよい。または、処理動作に対応するソフトウェアと、これを実行するハードウェアによって構成されるなどにより、独立した機能部として実現されてもよい。
【００１８】
次に、電磁界強度計６において、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響を低減させる方法について説明する。本実施の形態では、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの強度レベルは、時間的に変動するとする。一方、注入プローブ３から試験信号として注入された電磁ノイズの強度レベルは、時間的に変動しないか、または、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの時間的な変動に比べて十分に小さい場合について説明する。
【００１９】
図２は本実施の形態にかかる電磁界強度計により検出された電磁ノイズの強度レベルにおける時間的な変動の一例を示す図である。図２の縦軸は電磁ノイズの強度レベルを示し、横軸はそれぞれ時間と周波数を示す。図示するように、強度レベルが時間的に変動しない周波数成分ｆ１と強度レベルが時間的に変動する周波数成分ｆ２が示されている。図２では説明のため、周波数ｆ１と周波数ｆ２を周波数軸上の異なる位置に示しているが、周波数ｆ１と周波数ｆ２は同じ周波数であってもよい。
【００２０】
電磁界強度計６の最大値検波手段６ａは、供試機器１００における任意の測定箇所からの検出信号に対して、最大値検波による測定を複数回行う。図２では一例として、ｔ１からｔ５について５回の最大値検波による測定が示されている。電磁界強度計６の最小値保持手段６ｂは複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうちの最小値を保持する。この結果、最小値保持手段６ｂに保持される測定結果は、電磁界強度の強度レベルが時間的に変動しない周波数成分ｆ１ではほぼ一定値となるが、時間的に変動する周波数成分ｆ２では、時間ｔ４の時の強度レベルとなる。この場合、ノイズ分布検出手段１１はその測定箇所についてはｔ４の時についての強度レベルを採用する。このようにして、別の測定箇所についても同様に電磁界強度を取得する。その結果、供試機器の複数箇所毎に得られた最小値保持手段６ｂの最小値から、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができる。
【００２１】
図２においては、周波数成分ｆ２の測定値が時間ｔ４のときに、測定限界レベル以下まで低下した例を示している。この場合、供試機器１００内で発生する電磁ノイズ成分は完全に除去される。他の測定箇所でも同様に除去できれば、試験信号として注入された電磁ノイズの影響だけを評価した伝搬経路分布を得ることができる。また、時間的に変動する周波数成分が測定限界レベル以下まで低下しない場合であったとしても、得られる電磁ノイズの伝搬経路分布において、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響を低減させることができる。このように、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響が低減された、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができる。なお、測定値の最小レベルを導出する方法については最大値検波による測定に偏差が存在するので、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうちの最小値を保持するとしている。この測定回数は供試機器１００内で発生する電磁ノイズの時間的変動などに応じて適宜決定することができる。
【００２２】
次に、本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置の動作について説明する。図３は本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置の動作例を示すフローチャートである。信号発生器１は、ノイズ分布検出手段１１からの指示に基づいて、試験信号として電磁ノイズを発生する（ステップＳ３１）。電磁ノイズは注入プローブ３を通じて供試機器１００に注入される（ステップＳ３２）。注入された電磁ノイズは供試機器１００を伝搬し、供試機器１００の一面に分布する。次に、検出プローブ４は電磁ノイズの伝搬を検出するために、供試機器１００の一面を走査し、注入された電磁ノイズと供試機器１００内で発生する電磁ノイズとが混在した電磁界強度を検出する（ステップＳ３３）。電磁界強度計６の最大値検波手段６ａは、検出信号に対して最大値検波による測定を複数回行う（ステップＳ３４）。電磁界強度計６の最小値保持手段６ｂは、複数回の最大値検波による測定から得られた測定値のうち最小値を保持する（ステップＳ３５）。ノイズ分布検出手段１１は、最小値保持手段６ｂに保持されている最小値に基づき、注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を検出する（ステップＳ３６）。検出された電磁ノイズの伝搬経路分布は表示部１０に表示される（ステップＳ３７）。
【００２３】
図４は本実施の形態にかかる電磁ノイズの伝搬経路分布の一例を示す図である。図示するように、電磁界強度分布が可視化され、注入プローブ３から注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができる。
【００２４】
以上のように、本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、供試機器１００に電磁ノイズを注入し、供試機器１００から検出された検出信号に対して、複数回の最大値検波による測定を行い、その測定値のうちの最小値を保持する構成とした。これにより、電磁ノイズの伝搬経路分布において、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響が低減され、試験信号として注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができる。また、得られた伝搬経路分布に基づきノイズ対策を施す場所を特定することが可能となる。
【００２５】
実施の形態２．
実施の形態１の方法では、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの強度レベルの時間的な変動が無いか、または、時間的な変動が小さい場合にはその強度レベルを十分に低減させることが困難となる。あるいは、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの強度レベルの時間的な変動があり、実施の形態１の構成によりその強度レベルを低減させることができたとしても、その強度レベルが未だ大きいために、注入された電磁ノイズの強度レベルに対して影響を十分に排除できていない場合がある。本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置において、注入する電磁ノイズの周波数は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数から所定値分ずらしたものとする。本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置の各部の構成は実施の形態１と同様であるため、重複する各部の説明は省略する。
【００２６】
信号発生器１は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数（ｆ０）から電磁界強度計６の周波数についての分解能帯域幅（以下、ＲＢＷ：Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ  Ｂａｎｄｗｉｄｔｈ）分よりも広いΔｆずれた周波数ｆｎ（ｆｎ＝ｆ０＋Δｆまたはｆｎ＝ｆ０−Δｆ）の電磁ノイズを試験信号として出力する。検出プローブ４は、供試機器１００との位置関係を変えながら、試験信号の周波数成分ｆｎの信号を検出する。電磁界強度計６は、検出信号の周波数（ｆｎ）の強度レベルについて、最大値検波手段６ａで複数回の最大値検波による測定を行い、その測定値のうちの最小値を最小値保持手段６ｂに保持する。
【００２７】
図５は、本実施の形態にかかる注入された電磁ノイズと供試機器内で発生する電磁ノイズとの周波数の関係についての一例を示す図である。図示するように、注入された電磁ノイズの周波数は供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数ｆ０からΔｆだけずらされたものである。Δｆが電磁界強度計６のＲＢＷ程度まで小さければｆｎ≒ｆ０と近似することができる。このため、検出プローブ４で検出する周波数成分ｆｎの電磁界強度分布から、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数成分ｆ０の電磁界強度分布を近似的に得ることができる。
【００２８】
周波数をΔｆずらして注入された電磁ノイズが、供試機器１００内で発生する電磁ノイズと同じ傾向を示すためには、供試機器１００内で発生する電磁ノイズと注入された電磁ノイズとの位相差がλ／４よりずれないことが望ましい。このため、試験信号の周波数を設定する際に、Δｆは上記の条件を満たす周波数範囲で選択される。このとき、電磁界強度計６が、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数と注入された電磁ノイズの周波数とを分離して測定できるように、電磁界強度計６のＲＢＷは、この２つの周波数の間隔よりも狭く設定する必要がある。
【００２９】
図５では被測定周波数ｆ０よりΔｆ分高い側にずらした周波数をｆｎとしたが、Δｆ分低い側にずらした周波数でもよい。さらには、図６に示すようにｆ０に対して、Δｆ分低い側にずらした周波数ｆｎ１＝ｆ０−Δｆと、Δｆ分高い側にずらした周波数ｆｎ２＝ｆ０＋Δｆとの、２つの周波数の電磁ノイズを試験信号として注入することも可能である。供試機器１００上の任意位置における周波数ｆ０の電磁界強度を、周波数成分ｆｎ１とｆｎ２において得られる検出信号の平均値として求めることができる。図７に示すように、注入された電磁ノイズの周波数成分ｆｎ１による電磁ノイズの伝搬経路分布（図７の（ａ））と、電磁ノイズの周波数成分ｆｎ２による電磁ノイズの伝搬経路分布（図７の（ｂ））とを平均化することによって、被測定周波数ｆ０の近似的な電磁ノイズの伝搬経路分布（図７の（ｃ））を得ることができる。周波数成分ｆ１とｆ２について得られる最小値保持手段６ｂの最小値について平均化を行う数値処理はノイズ分布検出手段１１により実行される。なお、図５、図６において、ｆ０に対してΔｆ分高い側にずらした周波数の電磁ノイズとΔｆ分低い側にずらした周波数の電磁ノイズを１つ注入するものであるが、高い側、低い側、その両方について複数の電磁ノイズを注入し、それらからｆ０の伝搬経路分布を求めてもよい。
【００３０】
また、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数ｆ０に対して、１／ｎ波長（λ／ｎ）ずれた周波数の試験信号を注入する場合は、その周波数はｆｎ＝ｎｆ０／（ｎ＋１）とｎｆ０／（ｎ−１）となる。ｆｎ１＝ｎｆ０／（ｎ＋１）とｆｎ２＝ｎｆ０／（ｎ−１）の周波数の試験信号を注入プローブ３で印加し、各々の周波数成分に対応する検出信号から算出した電磁界強度分布に基づいて、被測定周波数ｆ０の電磁界強度分布を内挿する。ここで、周波数成分ｆｎ１とｆｎ２をなるべく被測定周波数ｆ０に近づけるように設定すれば、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの電磁界強度分布との誤差を減少させることができる。すなわち、周波数成分ｆｎ１とｆｎ２におけるΔｆの設定により、近似する電磁界強度分布と供試機器１００内で発生する電磁ノイズの電磁界強度分布との誤差範囲を限定することが可能になる。例えば、１／４波長（λ／４）ずれた場合、４ｆ０／５と４ｆ０／３となるため、誤差範囲は、−２０％〜約１３３．３％の範囲で近似が可能である。１／２０波長（λ／２０）ずれた場合、２０ｆ０／２１と２０ｆ０／１９となるため、誤差は（約−４．８％〜約１０５％）となる。
【００３１】
なお、上述のように周波数成分ｆｎ１とｆｎ２において供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数ｆ０からのずれ量は両方とも同じ値のΔｆにより定義したが、ｆ０からみて等周波数間隔である必要はない。周波数成分ｆｎ１とｆｎ２の式におけるΔｆは、供試機器１００で発生する電磁ノイズに応じてそれぞれ適宜選択することができる。
【００３２】
以上のように、本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、実施の形態１の構成に加え、信号発生器１は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数から所定値分ずらした周波数の電磁ノイズを発生する構成とした。これによって、実施の形態１と同様の効果に加え、供試機器１００内で発生する電磁ノイズに、強度レベルの時間的な変動が無いか、あるいは、時間的な変動が小さい周波数成分が含まれる場合でも、電磁ノイズの伝搬経路分布において、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの影響を低減することができ、試験信号として注入された電磁ノイズの伝搬経路分布を得ることができる。また、得られた伝搬経路分布に基づきノイズ対策を施す場所を特定することが可能となる。
【００３３】
実施の形態３．
本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数を含んだ所定の周波数帯域の電磁ノイズを注入する構成とする。本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置の各部の構成は実施の形態１と同様であるため、重複する各部の説明は省略する。
【００３４】
図８は、本実施の形態にかかる電磁ノイズと供試機器内で発生する電磁ノイズとの周波数の関係についての一例を示す図である。信号発生器１は供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数を含んだ広帯域な電磁ノイズを発生する。検出プローブ４は、供試機器１００との位置関係を変えながら、注入された電磁ノイズの周波数成分毎に、供試機器１００上の電磁界強度を検出する。電磁界強度計６は、検出信号の強度レベルについて、複数回の最大値検波による測定を行い、その測定値のうちの最小値を最小値保持手段６ｂに保持する。
【００３５】
実施の形態１および２では、電磁ノイズの注入前に、注入する電磁ノイズの周波数を予め定めていた。本実施の形態では、予め電磁ノイズの周波数を特定せずに、広帯域の電磁ノイズを注入して各周波数について検出信号を得る。得られた検出信号に対し、実施の形態１または２に記載の方法で、所望の電磁ノイズの周波数について供試機器１００内に伝搬する電磁ノイズの伝搬経路分布を検出することができる。なお、注入する電磁ノイズの周波数帯域幅は、試験対象とする周波数帯域幅に応じて適宜決定することができる。
【００３６】
以上のように、本実施の形態にかかる電磁ノイズ分布検出装置は、実施の形態１または２の構成において、信号発生器は、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数を含んだ周波数帯域の電磁ノイズを発生する構成とした。これによって、実施の形態１または２の効果に加えて、複数の電磁ノイズの周波数に対しても、１度のノイズ注入作業で済むために、試験時間を短縮することができる。
【００３７】
なお、上述の説明では、実施の形態２、３の構成は実施の形態１の構成と併せて実施するとしているが、実施の形態１の構成を用いずに実施の形態２、３の構成を実施することも可能である。すなわち、実施の形態１における時間的に変動する周波数成分を最大値検波よって複数回測定する構成と、その測定値のうちの最小値保持により低減させる構成を用いずに、実施の形態２の供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数ｆ０からΔｆ分ずらされた周波数の電磁ノイズを注入し、周波数ｆ０の電磁ノイズの伝搬経路分布を近似する構成を実施してもよい。同様に、実施の形態１の上記構成を用いずに、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの周波数ｆ０を含んだ周波数帯域の電磁ノイズを注入する構成を実施してもよい。
【符号の説明】
【００３８】
１００    供試機器
１        信号発生器
２        アンプ
３        注入プローブ
４        検出プローブ
５        アンプ
６        電磁界強度計
６ａ      最大値検波手段
６ｂ      最小値保持手段
７        可動部
８        走査部
９        制御部
１０      表示部
１１      ノイズ分布検出手段
【図１】
0005527266.tif 000002
【図２】
0005527266.tif 000003
【図３】
0005527266.tif 000004
【図４】
0005527266.tif 000005
【図５】
0005527266.tif 000006
【図６】
0005527266.tif 000007
【図７】
0005527266.tif 000008
【図８】
0005527266.tif 000009