(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、
第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、
前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、
を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、
前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルの位置検出方法において、
前記２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する導電領域のすべてと、前記引出領域に隣接する前記導電領域本体部の導電領域より電位が検出されたか否か判断する電位検出判断工程と、
前記電位検出判断工程により検出された電位が全て同じ値であるか否か判断する電位値判断工程と、
前記電位検出判断工程において検出された電位が全て同じ値であるものと判断された場合には、接触位置は前記引出領域であるものとする第１の接触位置検出工程と、
を有することを特徴とするタッチパネルの位置検出方法。
【請求項２】
前記電位検出判断工程において検出された電位が全て同じ値であるものではないものと判断された場合には、接触位置は前記引出領域と、導電領域本体部であるものとする第２の接触位置検出工程と、
を有することを特徴とする請求項１に記載のタッチパネルの位置検出方法。
【請求項３】
前記第２の接触位置検出工程において、前記検出された電位の値のうち同じ値の電位に基づき、前記引出領域における接触位置の位置座標を検出し、前記検出された電位の値のうち前記同じ値の電位とは異なる値の電位に基づき、前記異なる値の電位の検出された導電領域における導電領域本体部の接触位置を検出するものであることを特徴とする請求項２に記載のタッチパネルの位置検出方法。
【請求項４】
前記異なる値の電位をＶａとし、前記同じ値の電位をＶｂとした場合に、
Ｖ＝２×Ｖｂ−Ｖａ
により得られる電位Ｖに基づき、前記異なる値の電位の検出された導電領域における導電領域本体部の接触位置を検出するものであることを特徴とする請求項３に記載のタッチパネルの位置検出方法。
【請求項５】
第１の接触位置検出工程において、前記検出された電位の値に基づき、前記引出領域における接触位置の位置座標を検出するものであることを特徴とする請求項１から４に記載のタッチパネルの位置検出方法。
【請求項６】
前記２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する第１の領域と、前記第１の領域における引出領域の一部を含み、前記２つの導電領域本体部とは異なる他の２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する第２の領域とを有し、
前記第１の領域を挟む前記２つの導電領域本体部の導電領域より検出された電位と、前記引出領域を有する導電領域より検出された電位との値が異なる場合には、接触位置は、前記第１の領域と前記第２の領域との２点であるものとし、接触位置を検出することを特徴とする請求項１から５に記載のタッチパネルの位置検出方法。
【請求項７】
第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、
第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、
前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、
を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、
前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルの位置検出方法において、
前記導電領域より検出された電位が、前記導電領域の導電領域本体部において検出されるべき電位の範囲内であるか否か判断する電位判断工程と、
前記電位判断工程において、前記導電領域の導電領域本体部において検出されるべき電位の範囲内ではないものと判断された場合には、接触位置は、前記引出領域と、前記導電領域の導電領域本体部であるものとし、接触位置を検出することを特徴とするタッチパネルの位置検出方法。
【請求項８】
第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、
第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、
前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、
を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、
前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルにおいて、
各々の前記導電領域には、導電領域間の抵抗値を測定するための抵抗測定部が設けられていることを特徴とするタッチパネル。
【請求項９】
前記抵抗測定部は複数設けられており、前記抵抗測定部は前記導電領域より選択された一の導電領域と、前記一の導電領域を除く導電領域とに各々接続されているものであることを特徴とする請求項８に記載のタッチパネル。
【請求項１０】
各々の前記導電領域と前記抵抗測定部とを接続するための接続部を有し、
前記接続部において、前記導電領域より選択された２つの導電領域と、前記抵抗測定部とを接続することを特徴とする請求項８に記載のタッチパネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タッチパネルの位置検出方法及びタッチパネルに関する。
【背景技術】
【０００２】
タッチパネルは、ディスプレイに直接入力をすることが可能な入力デバイスであり、ディスプレイの前面に設置して使用される。このタッチパネルは、ディスプレイにより視覚的にとらえた情報に基づき、直接入力することができることから、様々な用途において普及している。
【０００３】
このようなタッチパネルとしては、抵抗膜方式が広く知られている。抵抗膜方式のタッチパネルは、透明導電膜が形成された上部電極基板及び下部電極基板において、各々の透明導電膜同士が対向するように設置し、上部電極基板の一点に力を加えることにより各々の透明導電膜同士が接触し、力の加えられた位置の位置検出を行うことができるものである。
【０００４】
抵抗膜方式のタッチパネルは、４線式と５線式とに大別することができる。４線式は、上部電極基板又は下部電極基板のどちらか一方にＸ軸の電極が設けられており、他方にＹ軸の電極が設けられている。一方、５線式は、下部電極基板にＸ軸の電極及びＹ軸の電極がともに設けられており、上部電極基板は、電圧を検出するためのプローブとして機能するものである（例えば、特許文献１、２）。
【０００５】
具体的に、図１及び図２に基づき５線式のタッチパネルについて説明する。図１は、５線式のタッチパネルの斜視図であり、図２は、５線式のタッチパネルの断面の概要図である。
【０００６】
５線式のタッチパネル２００は、上部電極基板となる一方の面に透明導電膜２３０の形成されたフィルム２１０と、下部電極基板となる一方の面に透明導電膜２４０の形成されたガラス２２０からなり、透明導電膜２３０及び透明導電膜２４０が対向するようにスペーサ２５０を介し設置されている。５線式のタッチパネル２００と不図示のホストコンピュータとはケーブル２６０により電気的に接続されている。
【０００７】
このような構成の５線式のタッチパネル２００では、図３（ａ）に示すように、透明導電膜２４０の端部の４辺に設けられた電極２４１、２４２、２４３、２４４により、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に交互に電圧を印加し、透明導電膜２３０と透明導電膜２４０とが、接触位置Ａ点において接触することにより、図３（ｂ）に示すように、透明導電膜２３０を介し電位Ｖａを検出し、Ｘ軸方向及びＹ軸方向の各々の座標位置を検出する方式である。
【０００８】
ところで、上述した５線式のタッチパネルでは、一点における接触位置は検出することは可能であるが、複数点が同時に接触した場合には位置検出をすることができない。
【０００９】
即ち、図４（ａ）に示すように、透明導電膜２４０の４辺に設けられた電極２４１、２４２、２４３、２４４により、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に交互に電圧を印加した場合において、透明導電膜２３０と透明導電膜２４０とが接触位置Ａ点及びＢ点の２点において接触すると、Ａ点とＢ点の間の中間点における押下されていない一点の座標位置が検出されてしまう。これは、図４（ｂ）に示すように、電位検出による位置検出方法であることから、接触位置Ａ点及びＢ点の二点で接触した場合であっても、透明導電膜２３０を介し検出される電位はＶｃの１つだけであるため、接触位置が一点であるものと判断してしまうためである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００４−２７２７２２号公報
【特許文献２】特開２００８−２９３１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、複数の接触位置において同時に接触した場合においても、各々の接触位置を検出することができるとともに、接触位置が引出領域となる場合においても、位置検出が可能なタッチパネルの位置検出方法及びタッチパネルを提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルの位置検出方法において、前記２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する導電領域のすべてと、前記引出領域に隣接する前記導電領域本体部の導電領域より電位が検出されたか否か判断する電位検出判断工程と、前記電位検出判断工程により検出された電位が全て同じ値であるか否か判断する電位値判断工程と、前記電位検出判断工程において検出された電位が全て同じ値であるものと判断された場合には、接触位置は前記引出領域であるものとする第１の接触位置検出工程と、を有することを特徴とする。
【００１３】
また、本発明は、前記電位検出判断工程において検出された電位が全て同じ値であるものではないものと判断された場合には、接触位置は前記引出領域と、導電領域本体部であるものとする第２の接触位置検出工程と、を有することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明は、前記第２の接触位置検出工程において、前記検出された電位の値のうち同じ値の電位に基づき、前記引出領域における接触位置の位置座標を検出し、前記検出された電位の値のうち前記同じ値の電位とは異なる値の電位に基づき、前記異なる値の電位の検出された導電領域における導電領域本体部の接触位置を検出するものであることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明は、前記異なる値の電位をＶａとし、前記同じ値の電位をＶｂとした場合に、
Ｖ＝２×Ｖｂ−Ｖａ
により得られる電位Ｖに基づき、前記異なる値の電位の検出された導電領域における導電領域本体部の接触位置を検出するものであることを特徴とする。
【００１６】
また、本発明は、第１の接触位置検出工程において、前記検出された電位の値に基づき、前記引出領域における接触位置の位置座標を検出するものであることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明は、前記２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する第１の領域と、前記第１の領域における引出領域の一部を含み、前記２つの導電領域本体部とは異なる他の２つの導電領域本体部に挟まれた引出領域を有する第２の領域とを有し、前記第１の領域を挟む前記２つの導電領域本体部の導電領域より検出された電位と、前記引出領域を有する導電領域より検出された電位との値が異なる場合には、接触位置は、前記第１の領域と前記第２の領域との２点であるものとし、接触位置を検出することを特徴とする。
【００１８】
また、本発明は、第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルの位置検出方法において、前記導電領域より検出された電位が、前記導電領域の導電領域本体部において検出されるべき電位の範囲内であるか否か判断する電位判断工程と、前記電位判断工程において、前記導電領域の導電領域本体部において検出されるべき電位の範囲内ではないものと判断された場合には、接触位置は、前記引出領域と、前記導電領域の導電領域本体部であるものとし、接触位置を検出することを特徴とする。
【００１９】
また、本発明は、第１の基板上に形成された上部導電膜を有する上部電極基板と、第２の基板上に形成された下部導電膜を有する下部電極基板と、前記下部導電膜おいて電位分布を生じさせるために前記下部導電膜の四辺の端部に各々設けられた４つの電極と、を有し、前記上部導電膜と前記下部導電膜とは対向して設けられており、前記上部導電膜は、複数に分割された導電領域を有し、前記導電領域のうち一部の導電領域は導電領域本体部と引出領域とを有し、他の導電領域は導電領域本体部により形成されており、複数の前記引出領域が隣接して形成されているタッチパネルにおいて、各々の前記導電領域には、導電領域間の抵抗値を測定するための抵抗測定部が設けられていることを特徴とする。
【００２０】
また、本発明は、前記抵抗測定部は複数設けられており、前記抵抗測定部は前記導電領域より選択された一の導電領域と、前記一の導電領域を除く導電領域とに各々接続されているものであることを特徴とする。
【００２１】
また、本発明は、各々の前記導電領域と前記抵抗測定部とを接続するための接続部を有し、前記接続部において、前記導電領域より選択された２つの導電領域と、前記抵抗測定部とを接続することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、複数の接触位置において同時に接触した場合においても、各々の接触位置を検出することができるとともに、接触位置が引出領域となる場合においても、位置検出が可能なタッチパネルの位置検出方法及びタッチパネルを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】従来の５線式のタッチパネルの斜視図
【図２】従来の５線式のタッチパネルの断面概要図
【図３】従来の５線式のタッチパネルにおける座標検出方法の説明図（１）
【図４】従来の５線式のタッチパネルにおける座標検出方法の説明図（２）
【図５】第１の実施の形態におけるタッチパネルの上部電極基板における構造図
【図６】第１の実施の形態におけるタッチパネルの下部電極基板における構造図
【図７】第１の実施の形態におけるタッチパネルの断面図
【図８】第１の実施の形態におけるタッチパネルの説明図
【図９】第１の実施の形態におけるタッチパネルの導電領域ユニットの構成図
【図１０】第１の実施の形態における位置検出方法のフローチャート（１）
【図１１】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（１）
【図１２】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（２）
【図１３】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（３）
【図１４】第１の実施の形態における位置検出方法のフローチャート（２）
【図１５】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（４）
【図１６】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（５）
【図１７】第１の実施の形態における位置検出方法のフローチャート（３）
【図１８】第１の実施の形態における位置検出方法の説明図（６）
【図１９】第２の実施の形態における位置検出方法の説明図
【図２０】第２の実施の形態における位置検出方法のフローチャート
【図２１】第３の実施の形態におけるタッチパネルの構成図（１）
【図２２】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（１）
【図２３】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（２）
【図２４】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（３）
【図２５】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（４）
【図２６】第３の実施の形態におけるタッチパネルの構成図（２）
【図２７】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（５）
【図２８】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（６）
【図２９】第３の実施の形態におけるタッチパネルの説明図（７）
【図３０】第３の実施の形態における他の構成のタッチパネルの構成図
【発明を実施するための形態】
【００２４】
本発明を実施するための形態について、以下に説明する。
【００２５】
〔第１の実施の形態〕
（タッチパネル）
第１の実施の形態におけるタッチパネルについて説明する。図５は本実施の形態におけるタッチパネルの上部電極基板における構造図であり、図６は本実施の形態におけるタッチパネルの下部電極基板における構造図であり、図７は本実施の形態におけるタッチパネルの断面図であり、図８は本実施の形態におけるタッチパネルの説明図である。
【００２６】
本実施の形態におけるタッチパネルは、フィルム１１の一方の面に透明導電膜１２が形成された略長方形状の上部電極基板１０と、上部電極基板１０と略同じ形状のガラス基板２１の一方の面に透明導電膜２２が形成された下部電極基板２０により構成される。
【００２７】
上部電極基板１０と下部電極基板２０とは、上部電極基板１０における透明導電膜１２と下部電極基板２０における透明導電膜２２とが対向するように、スペーサ３１等を介し、接着剤または両面テープにより接合されている。
【００２８】
本実施の形態では、上部電極基板１０における透明導電膜１２は、縦方向に６分割、横方向に４分割されており全体が２４分割されている。透明導電膜１２を各々の導電領域の分割する方法は、導電領域となる領域間の透明導電膜１２を除去することにより行われる。これにより、分割された導電領域間では電気的に絶縁することができる。各々の分割された透明導電膜１２は、上部電極基板１０の縦方向の両端に設けられた引出電極部１３における各々の引出電極と接続されており、上部電極基板１０の周囲に配線され、上部電極基板１０の端部においてフレキシブル基板１４と接続されている。
【００２９】
また、下部電極基板２０は、図８に示すように下部電極基板２０を構成する４辺の端部において、透明導電膜２２上に４つの電極２３、２４、２５、２６が設けられており、これら４つの電極２３、２４、２５、２６は引出線により、下部電極基板２０の周囲より引出され、図６に示すように、下部電極基板２０の端部においてフレキシブル基板２７と接続されている。
【００３０】
フレキシブル基板１４とフレキシブル基板２７はともに不図示の制御回路に接続されており、更に不図示のホストコンピュータに接続されている。尚、透明導電膜１２及び透明導電膜２２を構成する材料としては、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide）、ＺｎＯ（酸化亜鉛）にＡｌまたはＧａ等が添加された材料、ＳｎＯ２（酸化スズ）にＳｂ等が添加された材料等が挙げられる。
【００３１】
また、フィルム１１は、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート：polyethylene terephthalate）、ＰＣ（ポリカーボネート：Polycarbonate）及び、可視領域において透明の樹脂材料が挙げられる。更に、ガラス基板２１に代えて、樹脂基板を用いてもよい。
【００３２】
本実施の形態におけるタッチパネルは、上部電極基板１０を指等により押すことにより、上部電極基板１０における透明導電膜１２と、下部電極基板２０における透明導電膜２２とが接触し、接触した位置における電圧を検知することにより、上部電極基板１０と下部電極基板２０との接触位置、即ち、上部電極基板１０が指等により押された位置が特定される。具体的には、上部電極基板１０において、分割された透明導電膜１２の各々について時分割による走査がされており、接触したタイミングにより接触位置が含まれる導電領域を特定することができる。尚、下部電極基板２０における透明導電膜２２上の４辺に設けられた電極２３、２４、２５、２６により、Ｘ軸方向、Ｙ軸方向に交互に電圧が印加されている。
【００３３】
このように、上部電極基板１０において透明導電膜１２を分割し導電領域を形成することにより、上部電極基板１０と下部電極基板２０とが接触した接触位置が複数であっても、分割された透明導電膜１２の導電領域ごとに接触位置を特定することができるため、各々の接触位置を独立して検出することが可能である。
【００３４】
即ち、図８に示すように、上部電極基板１０における透明導電膜１２と下部電極基板２０における透明導電膜２２との接触位置が、矢印Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅに示すように５つの場合であっても、各々の接触位置は、分割された透明導電膜１２の領域が異なるため、各々独立して接触位置が検出することが可能なのである。具体的には、上部電極基板１０と下部電極基板２０との接触位置が矢印Ａに示す位置である場合、透明導電膜１２の導電領域１２ａにおいて接触しており、接触位置が矢印Ｂに示す位置である場合、透明導電膜１２の導電領域１２ｂにおいて接触しており、接触位置が矢印Ｃに示す位置である場合、透明導電膜１２の導電領域１２ｃにおいて接触しており、接触位置が矢印Ｄに示す位置である場合、透明導電膜１２の導電領域１２ｄにおいて接触しており、接触位置が矢印Ｅに示す位置である場合、透明導電膜１２の導電領域１２ｅにおいて接触しているが、透明導電膜１２の導電領域１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅは相互に絶縁された異なる領域であることから、各々を独立して検出することができる。よって、上部電極基板１０と下部電極基板２０との接触位置が５つの場合であっても、各々の接触位置を特定することが可能である。
【００３５】
以上より、透明導電膜１２と透明導電膜２２との接触位置が複数であっても、接触した導電領域を特定することができるとともに、透明導電膜２２における電位分布を検出することにより、より正確に座標位置も検出することが可能である。また、透明導電膜１２と透明導電膜２２との接触位置を移動させた場合においても、接触位置が移動したことを認識することができるとともに、透明導電膜２２における電位分布を検出することにより、移動した接触位置の位置座標を検出することも可能である。
【００３６】
尚、透明導電膜１２において各々の導電領域は、各々の導電領域の周辺部に沿って透明導電膜１２を除去することにより形成する。これにより、隣接する導電領域との間において絶縁性を保つことが可能である。
【００３７】
透明導電膜１２を除去する方法としては、透明導電膜１２が除去される領域にレーザ光を照射し、レーザ光の照射された部分の透明導電膜１２を熱又はアブレーションにより除去する方法、透明導電膜１２上にフォトレジストを塗布し、露光装置により露光、現像を行うことにより導電領域となる領域上にレジストパターンを形成し、ドライエッチング又はウエットエッジングを行うことにより、レジストパターンの形成されていない領域の透明導電膜１２を除去する方法、更には、透明導電膜１２が除去される領域上にエッチングペーストを印刷等し除去する方法等が挙げられる。好ましくは、レーザ光の照射により透明導電膜１２を除去する方法が好ましい。
【００３８】
尚、タッチパネルにおいては、形成される導電領域の幅が広くなると、検出不能領域が多くなってしまい、タッチパネルとしての機能を十分に発揮することができない。よって、タッチパネルに接触が想定されるものが指またはペン等であり、ペン等の先端は半径０．８ｍｍ程度であることから、透明導電膜１２が除去される領域の幅が所定の値以下であれば、タッチパネルとしての機能に支障をきたさないものと考えられる。
【００３９】
より詳細に本実施の形態におけるタッチパネルの上部電極基板１０について説明する。図５に示されるように、本実施の形態におけるタッチパネルの上部電極基板１０は、図９に示す導電領域ユニット４０が、縦に２個、横に２個、計４個設けられている。導電領域ユニット４０は、上部電極基板１０における透明導電膜１２を縦方向に３分割、横方向に２分割した６つの導電領域を一つの導電領域ユニット４０とするものである。これにより上部電極基板１０における透明導電膜１２を縦方向に６分割、横方向に４分割されたものとすることができる。具体的には、一つの導電領域ユニット４０は、６つの導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６により構成されており、上部電極基板１０の端部側より内部側に向かって、導電領域４１、４２、４３の順に、導電領域４４、４５、４６の順に形成されている。また、上部電極基板１０の端部側に接していない導電領域４２、４３、４５、４６には、上部電極基板１０の端部近傍に設けられる引出電極と接続するための引出領域が各々設けられている。即ち、導電領域４２は、導電領域本体部４２ａと引出領域４２ｂとにより構成されており、導電領域４３は、導電領域本体部４３ａと引出領域４３ｂ及び４３ｃとにより構成されており、導電領域４５は、導電領域本体部４５ａと引出領域４５ｂとにより構成されており、導電領域４６は、導電領域本体部４６ａと引出領域４６ｂ及び４６ｃとにより構成されている。尚、導電領域４１及び４４は、導電領域４１及び４４の全体が導電領域本体部となるため、導電領域４１は導電領域本体部４１ａと、導電領域４４は導電領域本体部４４ａと記載する場合がある。また、引出領域４３ｂ及び４３ｃ、引出領域４６ｂ及び４６ｃは一体化された引出領域であり、導電領域本体部４３ａ、４６ａは、導電領域本体部４２ａ、４５ａよりも、上部電極基板１０の端部からみて、より内部に設けられているため、引出領域４３ｂ及び４３ｃからなる引出領域と引出領域４６ｂ及び４６ｃからなる引出領域は、引出領域４２ｂまたは引出領域４５ｂよりも長く形成されている。また、導電領域４３と導電領域４６とは、透明導電膜１２が除去された領域である境界線４０Ａを介し接するよう形成されており、導電領域４１、４２、４３からなる領域と導電領域４４、４５、４６からなる領域とは、その境界線４０Ａを対称軸として線対称となるように形成されている。尚、後述するように、引出領域が密集する二点差線で囲まれた領域Ｇは、導電領域４１と４４との間に挟まれた引出領域４２ｂ、４３ｂ、４５ｂ、４６ｂを含む領域であり、導電領域４１及び４４の一部も含まれる。また、引出領域が密集する二点差線で囲まれた領域Ｈは、導電領域本体部４２ａと４５ａとの間に挟まれた引出領域４３ｃ、４６ｃを含む領域であり、導電領域本体部４２ａ及び４５ａの一部も含まれる。
【００４０】
このような引出領域４２ｂ、４３ｂ及び４３ｃ、４５ｂ、４６ｂ及び４６ｃは、幅が約０．５ｍｍ程度と細く形成されているため、例えば、導電領域４１と導電領域４６とにより挟まれた領域Ｇにおいて指等が接触した場合、６つの導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６のすべてより電位が検出される。同様に、導電領域本体部４２ａと導電領域本体部４５ａとにより挟まれた領域Ｈにおいて指等が接触した場合、４つの導電領域４２、４３、４５、４６のすべてより電位が検出される。このため、引出領域が密集する領域Ｇ及び領域Ｈにおいて指等が接触した場合には、指等が接触した位置の正確な位置の検出はできない。よって、これら領域を除外して位置検出を行うこととなる。
【００４１】
（位置検出方法）
次に、本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法について説明する。本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法は、複数の領域に分割され引出領域を有するタッチパネルにおいて、引出領域において指等が接触した場合や、引出領域を含む領域に複数の指等が接触した場合において、接触した複数の座標位置を検出することができるものである。尚、本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法は、上述した導電領域ユニット４０を一つの単位として行うものである。よって、図９に基づき、本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法について説明する。
【００４２】
（領域Ｇにおける位置検出方法）
図１０に基づき、領域Ｇにおいて指等が接触した場合について説明する。
【００４３】
最初に、ステップ１０２（Ｓ１０２）において、導電領域４１〜４６の全てから電位が検出されたか否かが判断される。即ち、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、指等が領域Ｇにおいて接触している可能性が極めて高いため、領域Ｇにおいて指等が接触しているか否かの判断を行うことができる。よって、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、ステップ１０６に移行する。一方、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てからは電位が検出されなかった場合には、ステップ１０４に移行する。尚、本実施の形態における説明では、導電領域４１〜４６の全てから電位が検出された場合について説明しているが、導電領域４２、４３、４５、４６の全てからと、導電領域４１または４４のどちらか一方から電位が検出された場合、即ち、導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域から電位が検出された場合においても、同様に考えることが可能である。
【００４４】
次に、ステップ１０４（Ｓ１０４）において、指等の接触している位置が検出される。具体的には、指等の接触位置は領域Ｇにはないものと判断されたため、導電領域４１、４４、導電領域本体部４２ａ、４３ａ、４５ａ、４６ａにける指等による接触が１点または２点以上あったものと考えられ、通常の方法により指等の接触位置が検出される。この後、ステップ１１４に移行する。尚、導電領域４１〜４６のいずれの領域からも電位が検出されなかった場合には、この導電領域ユニット４０においては、指等の接触がなかったものと判断され、指等の接触位置の検出がされることなく終了し、次の導電領域ユニット４０における位置検出が行われる。
【００４５】
次に、ステップ１０６（Ｓ１０６）において、導電領域４１〜４６から検出された電位の全てが、同じ電位であるか否かが判断される。即ち、導電領域４１〜４６から検出された電位の全てが、同じ値である場合、領域Ｇの一点において指等が接触している可能性が極めて高い。一方、導電領域４１〜４６から検出された電位のうち、異なる電位のものが存在している場合には、領域Ｇと、領域Ｇとは異なる領域の２点以上において指等が接触している可能性が極めて高い。このため、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６からの電位の全てが、同じ電位であるものと判断された場合には、ステップ１０８に移行する。一方、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６からの電位の全てが、同じ電位ではないものと判断された場合には、ステップ１１０に移行する。尚、上述したように、ステップ１０２において、導電領域４２、４３、４５、４６の全てからと、導電領域４１または４４のどちらか一方において電位が検出された場合、即ち、導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域から電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４２、４３、４５、４６の全てからと、導電領域４１または４４のどちらか一方における電位が同じ電位であるか否か、即ち、検出された導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域の電位が、同じ電位であるか否かにより判断する。
【００４６】
次に、ステップ１０８（Ｓ１０８）において、領域Ｇにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、図１１に示すように、領域Ｇにおける１点において、指等５１が接触しているものと判断されるため、導電領域４１から４６における電位に基づき、接触位置が検出される。尚、上述したように、導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域より電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域の電位に基づき、領域Ｇにおける接触位置が検出される。この後、ステップ１１４に移行する。
【００４７】
一方、ステップ１１０（Ｓ１１０）において、領域Ｇにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、領域Ｇと領域Ｇ以外の領域との２点以上において、指等が接触しているものと判断されるため、領域Ｇにおける接触位置と領域Ｇ以外の領域における接触位置を検出する。例えば、図１２に示すように、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４３から検出される電位と導電領域４３以外の導電領域４１、４２、４４、４５、４６から検出される電位とが異なる。このため、ステップ１１０において、領域Ｇにおいて指等５１が接触している位置の位置検出を行い、次に、ステップ１１２において、指等５２が接触している位置の位置検出を行う。ステップ１１０における位置検出では、導電領域４３以外の導電領域における電位は同じ電位となるため、導電領域４３以外の導電領域４１、４２、４４、４５、４６における電位に基づき、領域Ｇにおける指等５１の接触位置の位置検出を行う。尚、上述したように、ステップ１０２において、導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域より電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４２、４５、４６を含む４つの導電領域の電位に基づき、領域Ｇにおける指等５１の接触位置が検出される。
【００４８】
次に、ステップ１１２（Ｓ１１２）において、領域Ｇ以外の領域における接触位置の位置検出がなされる。例えば、図１２に示すように、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４３から検出される電位は、導電領域４３以外の導電領域４１、４２、４４、４５、４６より検出される電位とは異なる。この場合、領域Ｇにおける導電領域４３の引出領域４３ｂにおいても接触しているため、導電領域４３より検出される電位Ｖａは、引出領域４３ｂにおいて指等５１が接触している位置と、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している位置の中点の電位となる。従って、引出領域４３ｂにおいて単独で指等５１が接触している位置の電位をＶｂは、導電領域４１、４２、４４、４５、４６より検出された電位に基づき得ることができるため、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて単独で指等５２が接触している位置の電位Ｖは、下記の（１）に示す式により得ることができる。
【００４９】
Ｖ＝２×Ｖａ−Ｖｂ・・・・・（１）
この電位Ｖに基づき指等５２が接触している接触位置を算出することにより、指等５２が接触している接触位置の検出を行うことができる。
【００５０】
次に、ステップ１１４（Ｓ１１４）において、指等の接触位置として検出された位置座標等が出力される。これにより、指等の接触位置の位置座標等の情報を得ることができる。
【００５１】
尚、ステップ１１０において、領域Ｇと領域Ｇ以外の２点の計３点において、指等が接触していた場合、即ち、図１３に示すように、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触し、導電領域４６の導電領域本体部４６ａにおいて指等５３が接触している場合においても、同様に指等５１、５２、５３の位置検出を行うことができる。具体的には、導電領域４３から検出される電位と、導電領域４６から検出される電位と、導電領域４３及び４６以外の導電領域４１、４２、４４、４５から検出される電位は各々異なる。よって、ステップ１１０においては、導電領域４３及び４６以外の導電領域における電位は同じ電位となるため、導電領域４３及び４６以外の導電領域４１、４２、４４、４５における電位に基づき、領域Ｇにおける指等５１の接触位置の位置検出を行い。次に、ステップ１１２においては、導電領域４３及び４６より検出される電位に基づき、指等５２及び５３が接触している位置の位置検出を各々行うことができる。
【００５２】
（領域Ｈにおける位置検出方法）
次に、図９及び図１４に基づき、領域Ｈにおいて指等が接触した場合について説明する。
【００５３】
最初に、ステップ２０２（Ｓ２０２）において、導電領域４２、４３、４５、４６の全てから電位が検出されたか否かが判断される。即ち、導電領域４２、４３、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、図１５に示すように、指等が領域Ｈにおいて接触している可能性が極めて高いため、領域Ｈにおいて指等が接触しているか否かの判断を行うことができる。よって、導電領域４２、４３、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、ステップ２０６に移行する。一方、導電領域４２、４３、４５、４６の全てからは電位が検出されなかった場合には、ステップ２０４に移行する。尚、本実施の形態における説明では、導電領域４２、４３、４５、４６の全てから電位が検出された場合について説明しているが、導電領域４３、４６の全てからと、導電領域４２または４５のどちらか一方から電位が検出された場合、即ち、導電領域４３、４６を含む３つの導電領域から電位が検出された場合においても、同様に考えることが可能である。
【００５４】
次に、ステップ２０４（Ｓ２０４）において、指等の接触している位置が検出される。具体的には、指等の接触位置は領域Ｈにはないものと判断されたため、導電領域４２、４３、４５、４６における導電領域本体部４２ａ、４３ａ、４５ａ、４６ａにおいて、指等による接触が１点または２点以上あったものと考えられ、通常の方法により指等の接触位置が検出される。この後、ステップ２１４に移行する。尚、導電領域４２、４３、４５、４６のいずれの領域からも電位が検出されなかった場合には、この導電領域ユニット４０においては、指等の接触がなかったものと判断され、指等の接触位置の検出がされることなく終了し、次の導電領域ユニット４０における位置検出が行われる。
【００５５】
次に、ステップ２０６（Ｓ２０６）において、導電領域４２、４３、４５、４６から検出された電位の全てが、同じ電位であるか否かが判断される。即ち、導電領域４２、４３、４５、４６から検出された電位の全てが同じ値である場合、領域Ｈの１点において指等が接触している可能性が極めて高い。一方、導電領域４２、４３、４５、４６から検出された電位のうち、異なる電位のものが存在している場合には、領域Ｈと、領域Ｈとは異なる領域の２点以上において指等が接触している可能性が極めて高い。このため、導電領域４２、４３、４５、４６から検出された電位の全てが、同じ電位であるものと判断された場合には、ステップ２０８に移行する。一方、導電領域４２、４３、４５、４６から検出された電位の全てが、同じ電位ではないものと判断された場合には、ステップ２１０に移行する。尚、上述したように、ステップ２０２において、導電領域４３、４６の全てからと、導電領域４２または４５のどちらか一方において電位が検出された場合、即ち、導電領域４３、４６を含む３つの導電領域から電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４３、４６の全てからと、導電領域４２または４５のどちらか一方における電位が同じ電位であるか否か、即ち、検出された導電領域４３、４６を含む３つの導電領域の電位が、同じ電位であるか否かにより判断する。
【００５６】
次に、ステップ２０８（Ｓ２０８）において、領域Ｈにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、図１５に示すように、領域Ｈにおける１点において、指等５１が接触しているものと判断されるため、導電領域４２、４３、４５、４６における電位に基づき、接触位置が検出される。尚、上述したように、導電領域４３、４６を含む３つの導電領域より電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４３、４６を含む３つの導電領域の電位に基づき、領域Ｈにおける接触位置が検出される。この後、ステップ２１４に移行する。
【００５７】
一方、ステップ２１０（Ｓ２１０）において、領域Ｈにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、領域Ｈと領域Ｈ以外の領域との２点以上において、指等が接触しているものと判断されるため、領域Ｈにおける接触位置と領域Ｈ以外の領域における接触位置を検出する。例えば、図１６に示すように、領域Ｈにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４３から検出される電位と導電領域４３以外の導電領域４２、４４、４５から検出される電位とが異なる。このため、ステップ２１０において、領域Ｈにおいて指等５１が接触している位置の位置検出を行い、次に、ステップ２１２において、指等５２が接触している位置の位置検出を行う。ステップ２１０における位置検出では、導電領域４３以外の導電領域における電位は同じ電位となるため、導電領域４３以外の導電領域４２、４５、４６における電位に基づき、領域Ｈにおける指等５１の接触位置の位置検出を行う。尚、上述したように、ステップ２０２において、導電領域４３、４６を含む３つの導電領域より電位が検出された場合においても同様に考えるものとした場合においては、検出された導電領域４６を含む２つの導電領域の電位に基づき、領域Ｈにおける指等５１の接触位置が検出される。
【００５８】
次に、ステップ２１２（Ｓ２１２）において、領域Ｈ以外の領域における接触位置の位置検出がなされる。例えば、図１６に示すように、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４３より検出される電位は、導電領域４３以外の導電領域４２、４５、４６より検出される電位とは異なる。この場合、領域Ｈにおける導電領域４３の引出領域４３ｃにおいても接触しているため、導電領域４３より検出される電位Ｖｃは、引出領域４３ｃにおいて指等５１が接触している位置と、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している位置の中点の電位となる。従って、引出領域４３ｃにおいて単独で指等５１が接触している位置の電位Ｖｄは、導電領域４２、４５、４６より検出された電位に基づき得ることができるため、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて単独で指等５２が接触している位置の電位Ｖは、下記の（２）に示す式により得ることができる。
【００５９】
Ｖ＝２×Ｖｃ−Ｖｄ・・・・・（２）
この電位Ｖに基づき指等５２が接触している接触位置を算出することにより、指等５２が接触している接触位置の検出を各々行うことができる。
【００６０】
次に、ステップ２１４（Ｓ２１４）において、指等の接触位置として検出された位置座標等が出力される。これにより、指等の接触位置の位置座標等の情報を得ることができる。
【００６１】
（領域Ｇ及び領域Ｈにおける位置検出方法）
次に、図９及び図１７に基づき、領域Ｇ及び領域Ｈにおいて指等が接触した場合について説明する。
【００６２】
最初に、ステップ３０２（Ｓ３０２）において、導電領域４１〜４６の全てから電位が検出されたか否かが判断される。即ち、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、指等が領域Ｇにおいて接触している可能性が極めて高いため、領域Ｇにおいて指等が接触しているか否かの判断を行うことができる。よって、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てから電位が検出された場合には、ステップ３０６に移行する。一方、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６の全てからは電位が検出されなかった場合には、ステップ３０４に移行する。尚、本実施の形態における説明では、導電領域４１〜４６の全てから電位が検出された場合について説明しているが、導電領域４２、４３、４５、４６の全てからと、導電領域４１または４４のどちらか一方から電位が検出された場合、即ち、導電領域４２、４３、４５、４６を含む５つの導電領域から電位が検出された場合においても、同様に考えることが可能である。
【００６３】
次に、ステップ３０４（Ｓ３０４）において、指等の接触している位置が検出される。具体的には、指等の接触位置は領域Ｇにはないものと判断されるため、導電領域４１、４４、導電領域本体部４２ａ、４３ａ、４５ａ、４６ａにおいて、指等による接触が１点または２点以上あったものと考えられ、通常の方法により指等の接触位置が検出される。この後、ステップ３１８に移行する。尚、導電領域４１〜４６のいずれの領域からも電位が検出されなかった場合には、この導電領域ユニット４０においては、指等の接触がなかったものと判断され、指等の接触位置の検出がされることなく終了し、次の導電領域ユニット４０における位置検出が行われる。
【００６４】
次に、ステップ３０６（Ｓ３０６）において、導電領域４１〜４６から検出された電位の全てが、同じ電位であるか否かが判断される。即ち、導電領域４１〜４６から検出された電位の全てが、同じ値である場合、領域Ｇの一点において指等が接触している可能性が極めて高い。一方、導電領域４１〜４６から検出された電位のうち、異なる電位のものが存在している場合には、領域Ｇと、領域Ｇとは異なる領域の２点以上において指等が接触している可能性が極めて高い。このため、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６からの電位の全てが、同じ電位であるものと判断された場合には、ステップ３０８に移行する。一方、導電領域４１、４２、４３、４４、４５、４６からの電位の全てが、同じ電位ではないものと判断された場合には、ステップ３１０に移行する。
【００６５】
次に、ステップ３０８（Ｓ３０８）において、領域Ｇにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、図１１に示すように、領域Ｇにおける１点において、指等５１が接触しているものと判断されるため、導電領域４１から４６における電位に基づき、接触位置が検出される。
【００６６】
一方、ステップ３１０（Ｓ３１０）において、領域Ｇにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、領域Ｇと領域Ｇ以外の領域との２点以上において、指等が接触しているものと判断されるため、領域Ｇにおける接触位置と領域Ｇ以外の領域における接触位置を検出する。このような場合としては、図１２に示されるような場合と、図１８に示されるように、領域Ｇと領域Ｈの２点において指等が接触している場合が考えられる。図１２に示されるような場合は、ステップ１１０において説明した場合と同様の方法により領域Ｇにおける接触位置の位置検出がなされる。また、図１８に示すように、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、領域Ｈにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４１及び４４から検出される電位と導電領域４１及び４４以外の導電領域４２、４３、４５、４６より検出される電位とが異なる。よって、図１８に示す場合では、ステップ３１０において、領域Ｇにおいて指等５１が接触している位置の位置検出を行い、後述するステップ３１４において、領域Ｈにおいて指等５２が接触している位置の位置検出を行う。ステップ３１０における位置検出では、導電領域４１及び４４から検出される電位は同じ電位となるため、導電領域４１及び４４から検出される電位に基づき、領域Ｇにおける指等５１の接触位置の位置検出を行う。
【００６７】
次に、ステップ３１２（Ｓ３１２）において、導電領域４１及び４４より検出される電位と導電領域４２、４３、４５、４６より検出される電位との間に電位の差があるか否かが判断される。具体的には、図１８に示すように、領域Ｇと領域Ｈとの２点において指等が接触している場合には、導電領域４１より検出される電位と導電領域４４より検出される電位は同じ値の電位となり、４２、４３、４５、４６より検出される電位はすべて同じ値の電位となり、導電領域４１及び４４より検出される電位と４２、４３、４５、４６より検出される電位との間には電位の差が生じる。よって、導電領域４１及び４４より検出される電位と４２、４３、４５、４６より検出される電位との間に電位の差があるものと判断された場合には、ステップ３１４に移行する。一方、導電領域４１及び４４より検出される電位と導電領域４２、４３、４５、４６より検出される電位との間に電位の差がないものと判断された場合には、ステップ３１６に移行する。
【００６８】
次に、ステップ３１４（Ｓ３１４）において、領域Ｈにおける接触位置の位置検出がなされる。具体的には、図１８に示すように領域Ｇにおいて指等５１が接触し、領域Ｈにおいて指等５２が接触しているものと判断されるため、４２、４３、４５、４６より検出される電位に基づき領域Ｈにおいて指等５２が接触している位置が検出される。
【００６９】
次に、ステップ３１６（Ｓ３１６）において、領域Ｇ以外の領域における接触位置の位置検出がなされる。例えば、図１２に示すように、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、ステップ１１２の場合と同様の方法により、導電領域４３から検出される電位に基づき指等５２が接触している接触位置の検出を行う。
【００７０】
次に、ステップ３１８（Ｓ３１８）において、指等の接触位置として検出された位置座標等が出力される。これにより、指等の接触位置の位置座標等の情報を得ることができる。
【００７１】
以上より、引出領域を有するタッチパネルにおいて、引出領域部分における指等の接触位置の位置検出を行うことができる。また、指等による接触位置が、引出領域部分と引出領域部分以外の複数の接触位置の場合であっても、各々の接触位置を正確に検出することができる。
【００７２】
〔第２の実施の形態〕
次に、第２の実施の形態について説明する。本実施の形態は、第１の実施の形態に記載されているタッチパネルを用いた位置検出方法であって、第１の実施の形態とは異なる位置検出方法である。
【００７３】
本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法は、検出される電位に基づき位置検出を行う位置検出方法である。具体的には、図１９に示されるように、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合の２点で接触している場合、導電領域４３より検出される電位Ｖｅは、領域Ｇにおいて指等５１が接触している接触位置における電位と、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している接触位置における電位との中点の電位となる。導電領域本体部４３ａにおいては、取り得る電位の範囲が限られるため、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域４３より検出される電圧は、導電領域本体部４３ａにおいて取り得る電位の範囲内には存在しない値となる。例えば、図１９に示すように、電位Ｖｅは、導電領域４２の導電領域本体部４２ａにおいて取り得る電位の範囲内の値となり、導電領域本体部４３ａにおいて取り得る電位の範囲には、存在し得ない値となる。このため、検出された電位Ｖｅが、導電領域本体部４３ａにおいて取り得る電位の範囲内になければ、２点で接触、即ち、領域Ｇにおいて指等５１が接触し、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触しているものと判断し、逆に、検出された電位Ｖｅが、導電領域本体部４３ａにおいて取り得る電位の範囲内にあれば、２点では接触していないものと判断する。本実施の形態における位置検出方法は、上記内容に基づくものである。
【００７４】
尚、領域Ｇと導電領域４６との２点において指等による接触があった場合も同様である。
【００７５】
次に、図２０に基づき本実施の形態におけるタッチパネルの位置検出方法について説明する。尚、前述したように、本実施の形態に用いられるタッチパネルは、第１の実施の形態に記載されているものと同じものであり、図９に示される構成の導電領域ユニット４０が複数設けられて構成されているものである。
【００７６】
最初に、ステップ４０２（Ｓ４０２）において、導電領域４１、４４から電位が検出され、かつ、導電領域４３、４６から電位が検出されたか否かが判断される。導電領域４１、４４からの電位の検出は、導電領域４１及び導電領域４４のいずれか一方から電位が検出された場合であっても、双方から電位が検出された場合であってもどちらでもよく、使用形態等により定めることも可能である。また、導電領域４３、４６からの電位の検出は、導電領域４３及び導電領域４６のいずれか一方から電位が検出された場合であっても、双方から電位が検出された場合であってもどちらでもよい。よって、導電領域４１、４４から電位が検出され、かつ、導電領域４３、４６から電位が検出された場合には、ステップ４０６に移行する。一方、導電領域４１、４４から電位が検出され、かつ、導電領域４３、４６から電位が検出された場合には該当しない場合には、ステップ４０４に移行する。尚、後述する導電領域４２、４５については、指等による接触位置が領域Ｇのみである場合には、導電領域４２、４５より検出される電位は、導電領域４１及び導電領域４４より検出される電位と同じ値の電位となる。
【００７７】
次に、ステップ４０４（Ｓ４０４）において、導電領域４１〜４６より電位が検出された場合には、各々の導電領域４１〜４６より検出された電位に基づき、通常の方法により指等の接触位置の位置検出が行われる。この後、ステップ４１６に移行する。尚、導電領域４１〜４６より電位が検出されない場合には、この導電領域ユニット４０には、接触位置が存在しないため、次の導電領域ユニット４０において位置検出が行われる。
【００７８】
次に、ステップ４０６（Ｓ４０６）において、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位とが異なる値であるか否かが判断される。例えば、図１９に示すように、２点で接触していた場合、即ち、指等５１が領域Ｇにおいて接触しており、指等５２が導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおいて接触していた場合、導電領域４１より検出された電位と、導電領域４３より検出された電位とは異なる値となる。一方、指等による接触位置が領域Ｇの１点のみである場合には、導電領域４１より検出された電位と、導電領域４３より検出された電位とは同じ値となる（この場合、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位は同じ値となる）。よって、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位とが異なる値である場合には、ステップ４１０に移行する。一方、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位とが同じ値である場合には、ステップ４０８に移行する。
【００７９】
次に、ステップ４０８（Ｓ４０８）において、領域Ｇにおける接触位置が検出される。具体的には、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位とが同じ値である場合、指等による接触位置は、領域Ｇにおける一点であるものと判断されるため、導電領域４１、４４及び領域４３、４６より検出された電位に基づき、領域Ｇにおける指等の接触位置が検出される。この後、ステップ４１６に移行する。
【００８０】
次に、ステップ４１０（Ｓ４１０）において、導電領域４３、４６より検出される電位は、導電領域本体部４３ａ、４６ａにおいて取り得る範囲内の値であるか否かが判断される。即ち、図１９に示されるように、指等５１が領域Ｇにおいて接触しており、また、指等５２が導電領域４３、４６において接触している状態であるか否かが判断される。尚、導電領域本体部４３ａ等において取り得る範囲内の値とは、導電領域本体部４３ａ等において、単独で接触した場合に検出される範囲の電位の値である。導電領域本体部４３ａ等は所定の位置に形成されているため、この位置により導電領域本体部４３ａ等において取り得る範囲が定まる。上述のように、導電領域４３、４６より検出される電位が、導電領域本体部４３ａ、４６ａにおいて取り得る電位の範囲である場合には、図１９に示すように２点で接触しているものとは考えられない。一方、導電領域４３、４６より検出される電位が、導電領域本体部４３ａ、４６ａにおいて取り得る電位の範囲外である場合には、図１９に示すように２点で接触しているものと考えられる。よって、導電領域４３、４６より検出される電位は、導電領域本体部４３ａ、４６ａにおいて取り得る範囲内の値である場合には、本実施の形態における指等の接触位置の位置検出は行うことができないため終了する。一方、導電領域４３、４６より検出される電位は、導電領域本体部４３ａ、４６ａにおいて取り得る範囲外の値である場合には、ステップＳ４１２に移行する。
【００８１】
次に、ステップ４１２（Ｓ４１２）において、領域Ｇにおける接触位置が検出される。具体的には、導電領域４１、４４より検出された電位と、導電領域４３、４６より検出された電位とが異なる値である場合、例えば、図１９に示されるように、指等による接触位置は領域Ｇと、導電領域４３の２点であるものと判断される。このため、ステップ４１０において、導電領域４１、４４より検出された電位に基づき、領域Ｇにおける指等の接触位置が検出される。
【００８２】
次に、ステップ４１４（Ｓ４１４）において、他の領域となる導電領域４３、４６における接触位置の位置検出が行われる。具体的には、図１９に示す場合において、領域Ｇにおける指等５１による接触位置の電位をＶｆとした場合、導電領域４３より検出される電位Ｖｅは、導電領域４３における指等５２による接触位置の電位Ｖの中点の値となる。よって、（３）に示す式に基づき、電位Ｖの値を算出し、この電位Ｖの値に基づき、導電領域４３の導電領域本体部４３ａにおける接触位置を算出する。
【００８３】
Ｖ＝２×Ｖｅ−Ｖｆ・・・・・・（３）
これにより、導電領域４３における指等５２による接触位置を検出することができる。
【００８４】
次に、ステップ４１６（Ｓ４１６）において、指等の接触位置として検出された位置座標等が出力される。これにより、指等の接触位置の位置座標等の情報を得ることができる。
【００８５】
尚、上記説明では、領域Ｇと導電領域４３の２点で接触している場合について説明したが、領域Ｇと導電領域４３及び導電領域４６の３点で接触している場合についても、同様に、指等による接触位置を算出することができる。
【００８６】
〔第３の実施の形態〕
次に、第３の実施の形態について説明する。本実施の形態は、第１の実施の形態に記載されているタッチパネルに抵抗測定部を付加した構成のタッチパネル、及び、この構成のタッチパネルを用いた位置検出方法である。
【００８７】
（タッチパネル）
図２１に基づき、本実施の形態におけるタッチパネルについて説明する。本実施の形態におけるタッチパネルは、第１の実施の形態に記載されているタッチパネルに５個の抵抗測定部が接続されている。具体的には、導電領域４１と導電領域４２との間に抵抗測定部１０１が接続されており、導電領域４１と導電領域４３との間に抵抗測定部１０２が接続されており、導電領域４１と導電領域４６との間に抵抗測定部１０３が接続されており、導電領域４１と導電領域４５との間に抵抗測定部１０４が接続されており、導電領域４１と導電領域４４との間に抵抗測定部１０５が接続されている。尚、導電領域４２と抵抗測定部１０１との接続は、引出領域４２ｂにおいて接続されており、導電領域４３と抵抗測定部１０２との接続は、引出領域４３ｂにおいて接続されており、導電領域４６と抵抗測定部１０３との接続は、引出領域４６ｂにおいて接続されており、導電領域４５と抵抗測定部１０４との接続は、引出領域４５ｂにおいて接続されている。抵抗測定部１０１、１０２、１０３、１０４、１０５は、テスタ等の抵抗測定器であり、各々独立して、抵抗値を測定することが可能である。
【００８８】
尚、導電領域４１〜４６は、各々の導電領域を隔てる溝が形成されているため、各々の導電領域４１〜４６間は絶縁されている。このため、導電領域ユニット４０内において、指等による接触位置がない場合、または、導電領域本体部４１ａ〜４６ａのいずれか一点のみで接触している場合は、抵抗測定部１０１〜１０５において検出される抵抗値は極めて高く、理論上は無限大となる。
【００８９】
しかしながら、導電領域ユニット４０内における導電領域４１〜４６において、指等による接触位置が所定の２点以上である場合、または、領域Ｇにおいて接触している場合には、抵抗測定部１０１〜１０５のいずれかにおいて、所定の値の低い抵抗値が検出される。指等による接触位置が所定の２点以上である場合、または、領域Ｇにおいて接触している場合には、下部電極基板２０を介して電気的に接続されるからである。
【００９０】
具体的に説明すると、導電領域ユニット４０内において、導電領域本体部４１ａ〜４６ａのいずれか１点においてのみ指等が接触している場合、例えば、図２２に示すように、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合では、導電領域本体部４３ａを有する導電領域４３は、導電領域４１、４２、４４、４５、４６のいずれの導電領域とも絶縁されており、抵抗測定部１０１〜１０５において、所定の抵抗値が検出されることはない。
【００９１】
一方、図２３に示すように、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触しており、導電領域４１において指等５１が接触している場合には、下部電極基板２０を介し電気的に接続されるため、抵抗測定部１０２において、下部電極基板２０により形成される抵抗１２１により所定の抵抗値が検出される。
【００９２】
また、図２４に示すように、領域Ｇにおいて指等５１が接触している場合、導電領域４１、４４、引出領域４２ｂ、４３ｂ、４５ｂ、４６ｂにおいて接触している。即ち、導電領域４１〜４６のすべてが下部電極基板２０と接続される。このため、抵抗測定部１０１〜１０５において、領域Ｇに指等５１が接触した場合の所定の抵抗値が検出される。この際、検出される抵抗値は、導電領域４１、４４、引出領域４２ｂ、４３ｂ、４５ｂ、４６ｂが極めて近い位置に存在しているため、下部電極基板２０により形成される抵抗による抵抗値は低い値となる。例えば、導電領域４１と引出領域４３ｂとの間には、抵抗１２２が形成され、この抵抗１２２の取り得る値は、前述した抵抗１２１が取り得る値よりも低い値となる。
【００９３】
また、図２５に示すように、領域Ｇにおいて指等５１が接触しており、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合、図２４の場合と同様に、抵抗測定部１０１、１０３、１０４、１０５において、領域Ｇに指等５１が接触した場合の所定の抵抗値が検出される。また、抵抗測定部１０２においては、領域Ｇにおいて指等５１が接触しており、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触していることから、抵抗１２１と、領域Ｇにおいて形成される抵抗１２２が形成されるため、この合成抵抗の値が検出される。この合成抵抗の値は、抵抗１２１と抵抗１２２とを並列にしたものであり、抵抗１２１及び抵抗１２２の値よりも低い値となる。
【００９４】
以上より、抵抗値の関係は、（抵抗１２１）＞（抵抗１２２）＞（抵抗１２１と抵抗１２２の合成抵抗）となる。よって、これらの抵抗値の取り得る値は、各々概ね定まっているため、抵抗測定部１０１〜１０５において検出される抵抗値の値に基づき、指等による接触が、領域Ｇであるか否か、また、領域Ｇを含む複数の接触点であるか否かを判断することができる。
【００９５】
即ち、本実施の形態では、抵抗測定部１０１〜１０５において測定された抵抗値に基づき、指等が領域Ｇで接触しているか否かの判断をすることができ、また、図２３に示すような指等が導電領域４１及び導電領域本体部４３ａの２点で接触している場合と、図２５に示すような指等が領域Ｇと導電領域本体部４３ａの２点で接触している場合とを判断をすることができる。
【００９６】
具体的には、指等が領域Ｇで接触しているか否かについては、抵抗測定部１０１、１０３、１０４、１０５のすべてにおいて抵抗値が検出されたか否か、または、抵抗測定部１０１、１０３、１０４、１０５のいずれかにおいて、領域Ｇで指等が接触した場合に検出されるべき範囲内の抵抗値が検出されたか否かにより判断することができる。
【００９７】
また、図２３に示す場合と図２５に示す場合との判別は、抵抗測定部１０２において検出される抵抗値が、抵抗１２１による抵抗値の範囲のものか、抵抗１２１と抵抗１２２との合成抵抗による抵抗値の範囲のものかにより判別することができる。
【００９８】
また、図２４に示す場合と図２５に示す場合との判別は、抵抗測定部１０２において検出される抵抗値が、抵抗１２２による抵抗値の範囲のものか、抵抗１２１と抵抗１２２との合成抵抗による抵抗値の範囲のものかにより判別することができる。
【００９９】
尚、上記説明では、領域Ｇと導電領域４３とについて説明したが、領域Ｇと導電領域４２、４４、４５、４６とにおいても同様である。
【０１００】
更に、図２６に示すような構成にすることにより、領域Ｇに加えて領域Ｈにおいても領域Ｇと同様に位置検出を行うことができる。この場合には、第１の実施の形態に記載されているタッチパネルに８個の抵抗測定部が接続されている。具体的には、図２６に示すタッチパネルは、図２１に示す構成のタッチパネルに更に３個の抵抗測定部を接続したものであり、導電領域４２と導電領域４３との間に抵抗測定部１０６が接続されており、導電領域４２と導電領域４４との間に抵抗測定部１０７が接続されており、導電領域４２と導電領域４５との間に抵抗測定部１０８が接続されている。尚、導電領域４２と抵抗測定部１０６、１０７、１０８との接続は、引出領域４２ｂにおいて接続されており、導電領域４３と抵抗測定部１０６との接続は、引出領域４３ｂにおいて接続されており、導電領域４４と抵抗測定部１０７との接続は、引出領域４４ｂにおいて接続されており、導電領域４５と抵抗測定部１０８との接続は、引出領域４５ｂにおいて接続されている。抵抗測定部１０６、１０７、１０８は、抵抗測定部１０１〜１０５と同様に、各々独立して、抵抗値を測定することが可能である。
【０１０１】
よって、導電領域ユニット４０内における導電領域４２、４３、４５、４６において、指等による接触位置が所定の２点以上である場合、または、領域Ｈにおいて接触している場合には、抵抗測定部１０６〜１０８のいずれかにおいて、所定の値の低い抵抗値が検出される。即ち、指等による接触位置が所定の２点以上である場合、または、領域Ｈにおいて接触している場合には、下部電極基板２０を介して電気的に接続されるからである。
【０１０２】
具体的に説明すると、図２７に示すように、導電領域本体部４２ａにおいて指等５１が接触しており、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合には、下部電極基板２０を介し電気的に接続されるため、抵抗測定部１０６において、下部電極基板２０により形成される抵抗１２３により所定の抵抗値が検出される。
【０１０３】
また、図２８に示すように、領域Ｈにおいて指等５１が接触している場合、引出領域４２ｃ、４３ｃ、４５ｃ、４６ｃにおいて接触している。即ち、導電領域４２、４３、４５、４６のすべてが下部電極基板２０と接続される。このため、抵抗測定部１０６〜１０８において、領域Ｈに指等５１が接触した場合の所定の抵抗値が検出される。この際、検出される抵抗値は、引出領域４２ｃ、４３ｃ、４５ｃ、４６ｃが極めて近い位置に存在しているため、下部電極基板２０により形成される抵抗による抵抗値は低い値となる。例えば、領域Ｈに指等５１が接触した場合においては、引出領域４２ｃと引出領域４３ｃとの間には、抵抗１２４が形成され、この抵抗１２４の取り得る値は、前述した抵抗１２３が取り得る値よりも低い値となる。
【０１０４】
また、図２９に示すように、領域Ｈにおいて指等５１が接触しており、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触している場合、図２８の場合と同様に、抵抗測定部１０７、１０８において、領域Ｈに指等５１が接触した場合の所定の抵抗値が検出される。また、抵抗測定部１０６においては、領域Ｈにおいて指等５１が接触しており、導電領域本体部４３ａにおいて指等５２が接触していることから、抵抗１２３と、領域Ｈにおいて形成される抵抗１２４とが形成され、これらの合成抵抗の値が検出される。この合成抵抗の値は、抵抗１２３と抵抗１２４とを並列にしたものであり、抵抗１２３及び抵抗１２４の値よりも低い値となる。
【０１０５】
以上より、抵抗値の関係は、（抵抗１２３）＞（抵抗１２４）＞（抵抗１２３と抵抗１２４の合成抵抗）となる。よって、これらの抵抗値の取り得る値は、各々概ね決まっていることから、抵抗測定部１０６〜１０８において検出される抵抗値の値に基づき、指等による接触が、領域Ｈであるか否か、また、領域Ｈを含む複数の接触点であるか否かを判断することができる。
【０１０６】
即ち、抵抗測定部１０６〜１０８において測定された抵抗値に基づき、指等が領域Ｈで接触しているか否かの判断をすることができ、また、図２７に示すような指等が導電領域本体部４２ａ及び導電領域本体部４３ａの２点で接触している場合と、図２８に示すような指等が領域Ｈと導電領域本体部４３ａの２点で接触している場合とを判断をすることができる。
【０１０７】
具体的には、指等が領域Ｈで接触しているか否かについては、抵抗測定部１０６〜１０８のすべてにおいて抵抗値が検出されたか否か、または、抵抗測定部１０６〜１０８のいずれかにおいて、領域Ｈで指等が接触した場合に検出されるべき範囲内の抵抗値が検出されたか否かにより判断することができる。
【０１０８】
また、図２７に示す場合と図２９に示す場合との判別は、抵抗測定部１０６において検出される抵抗値が、抵抗１２３による抵抗値の範囲のものであるか、抵抗１２３と抵抗１２４との合成抵抗による抵抗値の範囲のものであるか、により判別することができる。
【０１０９】
また、図２８に示す場合と図２９に示す場合との判別は、抵抗測定部１０６において検出される抵抗値が、抵抗１２４による抵抗値の範囲のものであるか、抵抗１２３と抵抗１２４との合成抵抗による抵抗値の範囲のものであるか、により判別することができる。
【０１１０】
尚、上記説明では、領域Ｈと導電領域４３とについて説明したが、領域Ｈと導電領域４５、４６とにおいても同様である。
【０１１１】
更に、本実施の形態におけるタッチパネルでは、図３０に示すように、接続部１４０と抵抗測定部１６０により構成したものとすることも可能である。具体的には、接続部１４０はマルチプレクサとしての機能を有するものを２つ設けた構成のものであり、入力端子１４１〜１４６と、入力端子１４１〜１４６と接続される出力端子１５１及び１５２を有している。接続部１４０における入力端子１４１から１４６は、導電領域４１から４６と各々接続されている。即ち、導電領域４１には入力端子１４１が接続されており、導電領域４２の引出領域４２ｂには入力端子１４２が接続されており、導電領域４３の引出領域４３ｂには入力端子１４３が接続されており、導電領域４４には入力端子１４４が接続されており、導電領域４５の引出領域４５ｂには入力端子１４５が接続されており、導電領域４６の引出領域４６ｂには入力端子１４６が接続されている。また、接続部１４０における出力端子１５１及び出力端子１５２は、抵抗測定部１６０に接続されている。接続部１４０では、出力端子１５１及び出力端子１５２は、入力端子１４１〜１４６より選択されたいずれか２つの入力端子と接続される。この接続は不図示の制御系による制御により、時分割して順次接続することが可能であり、入力端子１４１〜１４６から選択された２つの入力端子の全てを出力端子１５１及び出力端子１５２と接続、即ち、１５通りの接続をすることができる。これにより、一つの抵抗測定部１４０において、導電領域４１〜４６から選択された２つの抵抗値のすべてを測定することが可能である。
【０１１２】
以上、本発明の実施に係る形態について説明したが、上記内容は、発明の内容を限定するものではない。
【産業上の利用可能性】
【０１１３】
本発明は、５線式の抵抗膜式タッチパネルに適用することができ、各種情報処理機器のディスプレイが、５線式の抵抗膜式タッチパネルで構成される場合に有用である。この場合の情報処理機器の例としては、携帯電話、情報携帯端末（ＰＤＡ）、携帯音楽プレイヤー、携帯画像プレイヤー、携帯ブラウザ、ワンセグチューナー、電子辞書、カーナビゲーションシステム、コンピュータ、ＰＯＳ端末、在庫管理端末、ＡＴＭ、各種マルチメディア端末等がある。
【符号の説明】
【０１１４】
１０    上部電極基板
１１    フィルム
１２    透明導電膜
１３    引出電極部
１４    フレキシブル基板
２０    下部電極基板
２１    ガラス
２２    透明導電膜
２３    電極
２４    電極
２５    電極
２６    電極
２７    フレキシブル基板
３１    スペーサ
４０    導電領域ユニット
４０Ａ  境界線
４１    導電領域
４２    導電領域
４２ａ  導電領域本体部
４２ｂ  引出領域
４３    導電領域
４３ａ  導電領域本体部
４３ｂ  引出領域
４３ｃ  引出領域
４４    導電領域
４４ａ  導電領域本体部
４４ｂ  引出領域
４４ｃ  引出領域
４５    導電領域
４５ａ  導電領域本体部
４５ｂ  引出領域
４６    導電領域
５１    指等
５２    指等
Ｇ      領域
Ｈ      領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図７】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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