(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
前記巻き取る工程による前記磁気テープの巻き取りが完了し、前記磁気テープの走行が停止した時点から５秒以上、巻き取った前記磁気テープに加わるテンションを保持させる工程とを有する巻取方法。
【請求項２】
磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
巻き取った前記磁気テープの全ての位置について、各位置に加わるテンションを各位置が巻取リールに巻き取られた時点から５秒以上経過するまで保持させる工程とを有する巻取方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の巻取方法であって、
前記磁気テープのバックコート層の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ１００ｎｍ以下の突起を有し、該バックコート層の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された２５ｎｍ以上、１００ｎｍ以下の突起密度が９０μｍ角あたり２３個以上１０００個以下であることを特徴とする、磁気テープの巻取方法。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに請求項１から３のいずれか１項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
【請求項５】
磁気テープを巻き取る巻取装置であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻き取る巻取機構と、前記巻取機構による前記磁気テープの巻き取りが完了し、前記磁気テープの走行が停止した時点から５秒以上、巻き取った前記磁気テープに加わるテンションを保持させるテンション制御を実行する制御部と、を備える巻取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、及び磁気テープカートリッジに関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータのデータバックアップ等を行う記録媒体としては、磁気テープが使用されている。磁気テープは、例えば、ベースフィルム上に下塗層と磁性層とを積層し、また、ベースフィルムにおける磁性層を形成した側と反対側にはバックコート層を形成した構成のものがある。
【０００３】
磁気テープは磁気テープカートリッジに収容されて使用される。磁気テープカートリッジは、例えば、磁気テープを巻き取ったテープリールと、このテープリールを収容するカートリッジ筐体とを備える構成である。
【０００４】
磁気テープカートリッジの組み立てでは、先に製造された磁気テープ用の原反ロールをスリットし、スリットされた磁気テープが巻取装置によって磁気テープカートリッジのテープリールに巻き取られる。
【０００５】
巻取装置によって磁気テープをテープリールに巻き取ったとき、テープリールに巻き重ねられた磁気テープ同士の間に、空気層（所謂、エアフィルム）が介在することがある。空気層は、巻き取り時に走行する磁気テープ近傍の空気が混入することで形成される。空気層が存在する場合には、テープリールに磁気テープを巻き取った後、巻き取りの際に磁気テープに加えられていたテンションを開放すると、巻き取られた磁気テープの巻き締めが緩むことがある。磁気テープに巻き締めの緩みが生じると、磁気テープカートリッジをドライブ装置に挿入した際に、磁気テープカートリッジから磁気テープをドライブ装置側に引き込むローディング動作やドライブ装置の磁気記録再生を行なう動作において、エラーが生じることがある。
【０００６】
特許文献１に示す巻取装置は、磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープ表面を押圧機構によってテープリールの内周側に押圧することで、走行する磁気テープに同伴して空気が巻き込まれることを抑えている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−３０７０９１号公報
【特許文献２】特許４０３７２９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、近年、磁気テープの高記録容量化及び高記録密度化が図られ、磁気テープの磁性層の薄層化やバックコート層の表面の平滑化が進んでいる。すると、巻き取られた磁気テープの一方の面に形成された磁性層と、その上に巻き回された磁気テープの他方の面に形成されたバックコート層との間に生じる空気層の影響が大きくなる。つまり、平滑な表面の突起のサイズが小さいために磁性層とバックコート層とが接触しづらくなり、摩擦力が低減することで、磁気テープの巻き緩みが生じることが懸念されている。
【０００９】
特許文献１は、磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープ表面を押圧機構によってテープリールの内周側に押圧することで、磁気テープに同伴する空気を排除することが記載されている。しかし、磁気テープの平滑化が進むと、押圧機構のみによって空気の巻き込みを防止しようとすると、巻芯の変形など他の弊害が発生する。また、フランジを有する巻取りでは、押圧機構を設けることが事実上困難である。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上記事情を鑑みてなされたものであり、巻き取られた磁気テープの巻き緩みが生じることを抑えられる磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジを提供する。
【００１１】
（１）磁気テープを巻き取る巻取方法であって、前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、前記巻き取る工程による前記磁気テープの巻き取りが完了し、前記磁気テープの走行が停止した時点から５秒以上、巻き取った前記磁気テープに加わるテンションを保持させる工程とを有する巻取方法。
（２）磁気テープを巻き取る巻取方法であって、前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、巻き取った前記磁気テープの全ての位置について、各位置に加わるテンションを各位置が巻取リールに巻き取られた時点から５秒以上経過するまで保持させる工程とを有する巻取方法。
（３）（１）又は（２）に記載の巻取方法であって、前記磁気テープのバックコート層の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ１００ｎｍ以下の突起を有し、該バックコート層の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された２５ｎｍ以上、１００ｎｍ以下の突起密度が９０μｍ角あたり２３個以上１０００個以下であることを特徴とする、磁気テープの巻取方法。
（４）（１）から（３）のいずれか１つに記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに（１）から（３）のいずれか１つに記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
（５）磁気テープを巻き取る巻取装置であって、前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻き取る巻取機構と、前記巻取機構による前記磁気テープの巻き取りが完了し、前記磁気テープの走行が停止した時点から５秒以上、巻き取った前記磁気テープに加わるテンションを保持させるテンション制御を実行する制御部と、を備える巻取装置。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、巻き取られた磁気テープに巻き緩みが生じることを抑えられる磁気テープの巻取方法、磁気テープの巻取装置、磁気テープカートリッジの製造方法、及び磁気テープカートリッジを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】磁気テープの構成を示す模式的な断面図である。
【図２】巻き取られた磁気テープを示す図である。
【図３】磁気テープの巻取装置の構成を概略的に示した図である。
【図４】磁気テープを巻き取るときの手順を示すフローチャートである。
【図５】図３の巻取装置を使用して磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープの速度を制御する手順を示すフローチャートである。
【図６】磁気テープカートリッジの構成を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１は、磁気テープの構成を示す模式的な断面図である。
【００１５】
図１に示す、磁気テープＭＴは、例えばコンピュータのバックアップ用の記録媒体として使用されるものである。磁気テープＭＴは、非磁性のベースフィルム（非磁性支持体）２と、ベースフィルム２の一方の面に形成された下塗層３と、下塗層３の上に形成された磁性層４と、ベースフィルム２の他方の面に形成されたバックコート層５とを有する。
【００１６】
ベースフィルム２は、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）等のポリエステル類、ポリオレフィン類、セルローストリアセテート、ポリカーボネート、ポリアミド（特に好ましくは芳香族ポリアミド）、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリスルフォン、アラミド、ポリフェニルスルホン、ＰＢＯ（ポリベンゾオキサゾール）等からなる公知のフィルムが使用できる。
【００１７】
下塗層３は、ベースフィルム２と磁性層４の間に形成され、ベースフィルム２と磁性層４との間の密着性を向上させる役割を有する。この下塗層３は、結合剤、カーボンブラック、酸化チタン、酸化鉄、アルミナ等の非磁性粒子などを用いて形成される。
【００１８】
磁性層４は、磁性粉末と結合剤とを必須成分として形成され、磁気的変化としてデータ信号を記録し、また、その磁気的変化を再生ヘッドによって読み取ってデータ信号を再生することができるものである。
【００１９】
磁性層４の構成成分である磁性粉末は、高密度記録を可能とするため、強磁性金属粉末または六方晶フェライト磁性粉末が好ましい。強磁性金属粉末は、例えば、Ｆｅを主体とした針状粉末であり、Ｃｏ、Ｍｎ、Ｎｉ、Ｓｍ、Ｎｂ等が含まれる合金粉末が用いられる。
【００２０】
バックコート層５は、磁気テープＭＴの走行耐久性向上のために、磁性層４が設けられた側と反対側のベースフィルム２上に形成される。このバックコート層５は、結合剤、及びカーボンブラックを含有するものであることが好ましい。
【００２１】
バックコート層５は、その表面Ｓに、微小な突起が形成されている。この突起は、主にカーボンブラックによって形成される。
【００２２】
なお、磁気テープＭＴには、上述した下塗層３、磁性層４、バックコート層５以外の層が含まれていても良い。例えば、第２の磁性層、クッション層、オーバーコート層、接着層、保護層を有していても良い。
【００２３】
磁気テープＭＴの製造方法の一例としては、製造目標とする磁気テープＭＴの幅寸法よりも大きい幅寸法のベースフィルム２を用意し、このベースフィルム２に、上述の層を塗布工程で形成したウエブを巻き取り、原反ロールを製造する。そして、この原反ロールをスリット工程で所定の幅寸法にスリットすることで得られる。スリットされた磁気テープは、サーボ工程において、磁性層４にサーボ信号が記録される。なお、磁気テープＭＴの製造方法は、この例のものに限定されず、公知のものを採用することができる。
【００２４】
次に、巻取工程として、磁気テープＭＴは、後述する巻取装置を使用して、所定の速度で走行させ、走行させる磁気テープＭＴに所定のテンションを加えつつ、テープリール等の巻取部に巻き取られる。磁気テープＭＴは、該磁気テープＭＴの幅方向両端の位置を揃えて重ねられた状態で、巻き取られる。
【００２５】
次に、巻き取られた磁気テープに生じる空気層と、バックコート層の表面との関係について説明する。
【００２６】
図２は、巻き取られた磁気テープを示す図である。図２（ａ）は、巻き取られた磁気テープＭＴを示し、図２（ｂ）及び図２（ｃ）はそれぞれ概略的な断面図であり、磁気テープＭＴの一方の面に形成されている磁性層４と、該磁性層４の上に巻き重ねられた磁気テープＭＴの他方の面に形成されているバックコート層５を示している。
【００２７】
図２（ｂ）に示す磁気テープＭＴは、バックコート層５の表面が粗く、図２（ｃ）に示す磁気テープＭＴのバックコート層５に比べて、バックコート層５の表面に形成される突起６の寸法が平均的に大きい。このため、図２（ｂ）に示す磁気テープＭＴは、図２（ａ）のように巻き取ったとき、磁性層４の表面に接触する突起６の個数が多くなる。
【００２８】
一方、図２（ｃ）に示す磁気テープＭＴは、バックコート層５の表面が平滑であり、図２（ｂ）に示す磁気テープＭＴのバックコート層５に比べて、バックコート層５の表面に形成される突起６の寸法が平均的に小さい。このため、図２（ｃ）に示す磁気テープＭＴは、図２（ａ）のように巻き取ったとき、磁性層４の表面に接触する突起６の個数が少なくなる。図２（ｃ）に示す磁気テープＭＴは、磁性層４の表面とバックコート層５との間では、突起６が磁性層４に接触する部分では、この部分が隙間となる。
【００２９】
図２（ｂ）及び図２（ｃ）に示す磁気テープＭＴは、バックコート層５の表面が平滑であるほど、表面に形成される突起６の寸法が平均的に小さくなり、また、その突起６が所定の面積あたりに存在する個数や存在する割合も小さくなる。
【００３０】
したがって、磁性層４とバックコート層５の間の摩擦力が小さくなり、巻き取り後に磁気テープＭＴのテンションを開放したとき、この空気層ＡＦの存在に起因して巻き取られた磁気テープＭＴに緩みが生じるものと推察されている。
【００３１】
また、磁気テープＭＴの緩みは、巻き取られた磁気テープＭＴの巻き径の外周側において特に発生し易いことがわかっている。これは、本発明者の推察によれば、巻き径の内周側に形成された空気層ＡＦは、磁気テープＭＴを巻き取っている際に、時間経過とともに巻き込まれた空気が抜け出たことによることと、外周部に巻かれた磁気テープＭＴによる圧力により空気が排除されたことで、摩擦力が働くに十分な空気層厚になったからだと考えられる。
【００３２】
巻き取った磁気テープＭＴに空気層ＡＦが、どの程度の層厚みで生じているかを検出する方法としては、巻き取った磁気テープの巻き径を測定し、この巻き径から該磁気テープＭＴの厚みに巻き数を乗じた数値を減算することで全ての空気層を合わせた厚みを検出する。そして、全ての空気層を合わせた厚みを磁気テープＭＴ同士の間隔の数（つまり、巻き数−１）で割ることで、空気層ＡＦの厚みを検出することができる。なお、摩擦力が働くに十分なエアフイルムの厚さになる条件で巻いた磁気テープＭＴの上に、摩擦力が働くに十分ではないエアフイルムの厚みになる条件で磁気テープＭＴを巻いた場合、エアフイルムの厚さに影響するのは、後者の磁気テープＭＴの巻き数となる。
【００３３】
図３は、磁気テープの巻取装置の構成を概略的に示した図である。
【００３４】
巻取装置１０は、磁気テープの製造工程において、スリットされた磁気テープを、巻取リール１３に巻き取るものであって、ワインダともいう。ここで、巻取リール１３は、磁気テープカートリッジに収容されているテープリールに相当する。
【００３５】
巻取装置１０は、送出リール１１と、巻取リール１３と、テンション調整部１４と、検尺ローラ１５と、テープ端処理部１６と、を備えている。
【００３６】
送出リール１１は、スリットされた磁気テープを巻き付けた状態で保持し、磁気テープＭＴを巻取リール１３側に送り出す。
【００３７】
巻取リール１３は、送出リール１１から送り出された磁気テープＭＴを巻き取る。巻取リール１３は、磁気テープＭＴを巻き取った後、磁気テープカートリッジ５１のカートリッジ筐体に収容されるテープリールとして機能する。
【００３８】
巻取装置１０は、磁気テープＭＴが巻きつけられていないテープリールを収容する磁気テープカートリッジ５１を先に製造し、この磁気テープカートリッジ５１のテープリールを巻取リール１３として使用して磁気テープＭＴを巻き取るものである。しかし、磁気テープＭＴを巻取リール１３に巻き取った後で、この巻取リール１３をテープリールとして磁気テープカートリッジの筐体に収容してから磁気テープカートリッジ５１を組み立てても良い。
【００３９】
磁気テープＭＴは、送出リール１１から巻取リール１３に向かって走行する間、巻取装置１０に配置された複数のガイドローラ１２のそれぞれに案内される。
【００４０】
テンション調整部１４は、走行する磁気テープＭＴに所定の量のテンションを加える動作、及び、加えているテンションを開放する動作を実行する。テンション調整部１４は、回転自在に保持されたローラ１４ａと、このローラ１４ａを走行する磁気テープＭＴの面に摺接する位置とこの面から離れる位置との間で移動させるアーム部１４ｂとを備える。テンション調整部１４は、アーム部１４ｂの移動により、ローラ１４ａを磁気テープＭＴの表面に押圧させることによって磁気テープＭＴに加わるテンションを調整する。なお、テンション調整部１４の構成はこれに限定されず、磁気テープＭＴに所定の量のテンションをかけたり、テンションを開放したりすることができれば、構成の変更は可能である。
【００４１】
検尺ローラ１５は、回転自在な円筒形状を有し、その外周面が走行する磁気テープＭＴと接触して、磁気テープＭＴの走行に応じて、回転する構成である。巻取装置１０、この検尺ローラ１５の回転量を、図示しない回転量検出部で検出することで、磁気テープＭＴの走行量を測定する。測定された磁気テープＭＴの走行量は後述する制御部２０にデータとして出力される。
【００４２】
テープ端処理部１６は、磁気テープＭＴを巻取リール１３に予め定められた巻取量を巻き取ったときに、磁気テープＭＴを切断する。また、テープ端処理部１６は、切断した磁気テープＭＴのテープ端を吸引して保持する機構や、切断した磁気テープＭＴの端部に後述するリーダ部を形成する機構や、保持したテープ端を巻取リール１３に送り込む機構を備えていてもよい。
【００４３】
また、巻取装置１０は、駆動部２１、２２、２３と、記憶部２４と、入力部２５と、制御部２０とを備える。
【００４４】
駆動部２１は、送出リール１１を駆動し、該送出リール１１を回転させることによって送出リール１１に磁気テープＭＴの送り出しを実行させる。
【００４５】
駆動部２２は、テンション調整部１４のアーム部を駆動することによって、テンション調整部１４に磁気テープＭＴにかかるテンションを加える動作、及び、テンションを開放する動作を実行させる。
【００４６】
駆動部２３は、巻取リール１３を駆動し、巻取リール１３を回転させることによって巻取リール１３に磁気テープＭＴの巻き取りを実行させる。
【００４７】
記憶部２４は、磁気テープＭＴの種類などの巻き取りの処理に必要な情報がデータとして記憶されている。記憶部２４に記憶される磁気テープＭＴの情報については、後述する。
【００４８】
入力部２５は、使用者が、巻取装置１０に所望の処理を実行させる際に、直接入力を行うためのものである。例えば、使用者は、磁気テープＭＴの巻き取りの開始を入力部２５によって指示することができる。
【００４９】
制御部２０は、駆動部２１、２２、２３、記憶部２４、入力部２５を統括的に制御する。制御部２０は、テンション調整部１４を制御することにより、磁気テープＭＴのテンションを制御する。また、制御部２０は、巻き取りの際に、駆動部２１、駆動部２３を制御することで、走行している磁気テープＭＴの速度を制御する。また、制御部２０が、巻き取り終了時に、テープ端処理部１６によって磁気テープＭＴを切断する処理や、切断された磁気テープＭＴの端部を、巻取リール１３を収容している磁気テープカートリッジ５１内に収容する処理を制御する構成としても良い。
【００５０】
次に、図３に示す巻取装置１０を使用して磁気テープＭＴを巻き取る場合の手順を説明する。
【００５１】
図４は、磁気テープを巻き取るときの手順を示すフローチャートである。
【００５２】
最初に、巻取装置１０に先にスリットされた磁気テープＭＴを巻き取った状態の送出リール１１をセットする。そして、送出リール１１から磁気テープＭＴの走行方向の先端部を引き出し、巻取リール１３に固定する。このとき、磁気テープＭＴを複数のガイドローラ１２それぞれに架け渡し、テンション調整部１４を初期位置にセットする。その後、送出リール１１及び巻取リール１３をそれぞれ回動させて、磁気テープＭＴの走行を開始する（ステップＳ１０）。ここで、磁気テープＭＴにかかるテンションは、制御部２０によって所定の値に制御される。
【００５３】
制御部２０は、検尺ローラ１５の出力に基づいて、磁気テープＭＴの巻取量を判定する（ステップＳ１２）。そして、ステップＳ１２において、所定の巻取量に達したと判断すると、駆動部２１、２３の駆動を停止させて、送出リール１１及び巻取リール１３の回転を停止させ、磁気テープＭＴの走行を停止する（ステップＳ１４）。
【００５４】
磁気テープＭＴの走行を停止した後、制御部２０は、テンション調整部１４を制御して、走行が停止している磁気テープＭＴに加えられているテンションを、予め定めた時間だけ保持する制御を行う。この制御をテンション制御とする。このテンション制御によって、巻き取られた磁気テープＭＴに発生している空気層は、空気が抜け出すことにより摩擦力が働く程度まで薄くなる。
【００５５】
ここで、予め定めた時間とは、空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるのに十分な時間である。空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるのに十分な時間は、巻取りを行なう磁気テープＭＴのバックコート層５の表面の粗さと、走行する磁気テープＭＴの走行方向に対する速さと、磁気テープＭＴに加えるテンションの大きさとによって予め測定される。予め行なわれる測定では、磁気テープＭＴの粗さごとに、速さとテンションとを変えた場合において、空気層の厚さと、発生した空気層が摩擦力が働く程度まで薄くなるまでの時間を測定し、この測定結果からデータを作成する。
【００５６】
制御部２０は、予め定めた時間が経過したかを判定し（ステップＳ１８）、所定時間が経過したと判断した場合には、テープ端処理部１６によって磁気テープＭＴを切断し、磁気テープＭＴに加わるテンションを開放し、テンションをゼロにする（ステップＳ２０）。
【００５７】
テンションを開放した後、切断された磁気テープＭＴの端部が巻取リール１３に回収される（ステップＳ２２）。こうして、磁気テープＭＴを巻き取る手順が終了する。
【００５８】
上述の手順によれば、磁気テープＭＴを巻き取った後で、直ぐにテンションを開放することなく、空気層を無くすためにテンションを保持する制御を行うことにより、テンションが開放されたときに空気層が発生している部分の磁気テープＭＴに緩みが生じることを抑えられる。例えば、バックコート層５の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ１００ｎｍ以下の突起を有し、該バックコート層５の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された２５ｎｍ以上、１００ｎｍ以下の突起密度が９０μｍ角あたり２３個以上１０００個以下であることを特徴とする、磁気テープＭＴの巻取りでは、５秒を境にして、巻き緩みの発生確率が４０％から５％に急峻に変化するため、５秒以上テンションを保持する時間を設けることが好ましい。この例よりも粗いバックコート層５を用いた場合も、５秒以上のテンション保持時間を設けることによって、巻き緩みを抑制できると考えられる。なお、よりバックコート層５が平滑な磁気テープＭＴについては、より長い保持時間が必要であると想定される。
【００５９】
上述の手順では、磁気テープＭＴの巻き取りが完了した時点から予め定めた時間だけテンション制御を行った。しかし、巻き取りを行っている間のある時点で検出される磁気テープＭＴの速度と、該時点での磁気テープＭＴに加わるテンションとを検出し、この検出した値と、上述のように予め測定で得られた値とを比較することで、該時点に巻き取られた磁気テープＭＴに空気層が発生しているか否かを判断しても良い。つまり、テンション制御は、巻き取りが終了した時点を制御の開始のための起点とする必要はなく、巻き取り中のある時点を起点として、上述の予め定めた時間だけ制御を行なってもよい。例えば、ある時点で巻かれた磁気テープＭＴの位置については、その時点からテンションを維持すべき時間がわかるため、磁気テープＭＴの全ての位置についてテンションを維持すべき時間を求め、その時間だけテンション制御を行うことによって、磁気テープＭＴの全ての位置について、巻き緩みの発生を抑えることができる。この場合、テンション制御を行うべき時間において、磁気テープＭＴの巻き込みは停止されている必要はなく、磁気テープＭＴが巻き込まれている間にテンションを維持すべき時間が経過するようにしてもよい。
【００６０】
制御部２０は、巻き取り中の磁気テープＭＴの速度を、検尺ローラ１５からの出力を用いて測定することができる。また、制御部２０は、巻き取り中の磁気テープＭＴに加わるテンションを、テンション調整部１４のアーム部１４ｂの位置を図示しないポテンショメータ等を用いて検出し、その出力から測定することができる。なお、磁気テープＭＴの速度やテンションが所定の規則に従って制御されている場合は、その規則から値を想定してもよい。
【００６１】
また、巻取装置１０は、記憶部２４に、予め測定で得られた、磁気テープＭＴの速度と、テンションと、テンション制御を行う時間との関係とを示すデータを記憶させておくことができる。制御部２０は、検出した速度及びテンションのデータと、記憶部２４から読み出した予め測定で得られたデータとを比較することで、テンション制御を行う時間を設定することができる。磁気テープＭＴの種類が変更された場合には、後述するように、タグ６０から磁気テープＭＴの情報を得て、その磁気テープＭＴに適したテンション制御を行うようにしてもよい。そうすることによって、テンション制御時間を必要最小限に抑えることができる。
【００６２】
次に、巻き取られる磁気テープの速度を制御することによって、巻き取られた磁気テープに緩みが生じることを抑える手段について説明する。
【００６３】
先ず、巻き取るときの磁気テープの速度と、巻き取られた磁気テープの緩みとの関係を説明する。
【００６４】
巻き取るときの磁気テープＭＴの速度は、巻き取られる磁気テープＭＴに発生する空気層に影響がある。具体的には、巻き取る速度が高い場合には走行する磁気テープＭＴに同伴する空気の量も多くなるため、厚い空気層が発生しやすくなる傾向がある。一方で、巻き取る速度が低い場合には、空気層が発生したとしても、速度が高い場合に比べて空気層の厚みは薄くなる傾向がある。
【００６５】
そして、磁気テープＭＴのバックコート層５の表面の粗さを一定にしたとき、磁気テープＭＴを巻き取った後でテンションを解放すると、空気層が厚いほど磁気テープＭＴの重なり合う面の境界（つまり、磁性層４表面とバックコート層５表面との境界）で滑りが生じ、これに起因して巻き取られた磁気テープＭＴの緩みが発生しやすくなる。
【００６６】
つまり、磁気テープＭＴのバックコート層５の表面の粗さを一定としたとき、巻き取り時の磁気テープＭＴの走行する速度がある程度高くなると磁気テープＭＴの緩みが発生し、ある程度低くなると磁気テープＭＴの緩みは発生しない現象がある。以下では、磁気テープＭＴの緩みが発生するかどうかの基準となる、巻き取り時の走行する磁気テープＭＴの速度の値を、速度の閾値とする。
【００６７】
そこで、磁気テープＭＴを実際に巻き取る前に、速度の閾値を、実験的に測定する。速度の閾値の測定方法としては、同じ磁気テープＭＴを、走行する速度を変えて、複数回巻き取る試験を行う。そして、巻き取り後にテンションを開放して、巻き取られた磁気テープＭＴに緩みが発生したかを確認する。こうすることで、巻き取り後に緩みが生じない速度の閾値を測定することができる。磁気テープＭＴは種類によって、バックコート層５の表面の平滑性、つまり、突起の高さやその分布が異なるため、磁気テープＭＴの種類ごとに上の試験を行い、それぞれの磁気テープＭＴの種類に応じた速度の閾値を測定する。この測定された速度の閾値はデータとして、図３の巻取装置１０の記憶部２４に記憶しておくことが好ましい。または、測定された速度の閾値はデータを、後述する磁気テープカートリッジ５０の無線通信可能なタグ６０に記憶してもよい。
【００６８】
次に、上述した巻取装置を使用して磁気テープを巻き取る際に、巻き取られる磁気テープの速度を制御する手順を、図５を用いて説明する。なお、以下で説明する手順において、巻取装置は、図３に示す構成と同じである。
【００６９】
最初に、図４の手順のステップＳ１０と同じように、磁気テープＭＴをセットし、磁気テープＭＴの走行を開始する（ステップＳ３０）。ここで、磁気テープＭＴにかかるテンションは、制御部２０によって一定の値に制御される。
【００７０】
制御部２０は、磁気テープＭＴの巻き取りを行っている間、磁気テープＭＴの走行する方向の速度を検出する。そして、制御部２０は、記憶部２４から予め記憶されている磁気テープＭＴの速度の閾値を読み出し、検出した速度の値と、閾値より低いか否かを判定する（ステップＳ３２）。
【００７１】
制御部２０は、走行する磁気テープＭＴの速度が閾値以上であると判断した場合には、駆動部２１、２３を制御して、送出リール１１と巻取リール１３の回転速度を調整することで、磁気テープＭＴの速度を閾値未満となるように調整する（ステップＳ３４）。そして、ステップＳ３６の手順に進む。
【００７２】
ステップＳ３６において、制御部２０は、検尺ローラ１５の出力に基づいて、磁気テープＭＴの巻取量を判定する。そして、ステップＳ３６において、所定の巻取量に達したと判断すると、磁気テープＭＴの走行を停止する（ステップＳ３８）。ステップＳ３８で磁気テープＭＴの走行を停止した後、テープ端処理部１６が磁気テープＭＴを所定の位置で切断する。そして、切断された磁気テープＭＴの端部が巻取リール１３に回収される（ステップＳ４０）。こうして、磁気テープＭＴを巻き取る手順が終了する。
【００７３】
ステップＳ３６において、制御部２０は、所定の巻取量に達していないと判断した場合には、磁気テープの巻き取りを継続し、ステップＳ３２の、走行する磁気テープＭＴの速度の判定を行なう。
【００７４】
巻き取られた磁気テープＭＴの巻き径の外周側に緩みが発生しやすいことを鑑みて、磁気テープＭＴの速度制御を行うタイミングは、磁気テープＭＴの巻き取りを行なう期間の後半の所定の時間だけ行なっても良い。このとき、磁気テープＭＴを巻き取る時間を短縮する観点で、磁気テープＭＴの開始からある時点までは一定の速度で磁気テープＭＴを走行させ、ある時点から速度制御を実行し、速度が閾値未満となるように制御する。
【００７５】
なお、上述の巻取装置は、一例としてワインダの構成を用いて説明したが、巻取装置はワインダに限定されず、磁気テープＭＴをテープリール等に巻き取る機構を備える装置に適用することができる。
【００７６】
次に、上述した磁気テープＭＴを収容し、巻取装置を使用して磁気テープＭＴの巻き取りを行なうことが可能な磁気テープカートリッジの構成について説明する。
【００７７】
図６は、磁気テープカートリッジの構成を示す斜視図である。
【００７８】
磁気テープカートリッジ５１は、カートリッジ筐体５３と、このカートリッジ筐体５３の内部に収容され、磁気テープＭＴが巻き取れた単一のテープリール５５と、を備えている。カートリッジ筐体５３は、シェルと呼ばれる一対の部材を、互いに接合することで構成される。
【００７９】
テープリール５５は、円筒形状のハブ５５ａと、このハブ５５ａの両端部から同心円状に広がった２つのフランジ部５５ｂとを有する。磁気テープＭＴは、ハブ５５ａの外周面に繰り返して巻き重ねることによって、テープリール５５に巻き取られている。
【００８０】
磁気テープカートリッジ５１は、図６の矢印方向にドライブ装置に装填されると、カートリッジ筐体５３における該装填方向の先頭側に形成された窓部５７が開放され、該窓部５７から磁気テープＭＴの先端に設けられたリーダ部材５９が、ドライブ装置のローディング部によって引き出される。そして、磁気テープＭＴがドライブ装置内で所定のテープ経路に沿って導かれ、磁気テープＭＴの磁性層に対して情報の読み書きが行われる。
【００８１】
磁気テープカートリッジ５１のカートリッジ筐体５３における矢印とは反対側の背面６１には、カートリッジのラベルを添付するためのエリアがある。また、カートリッジ筐体５３には、該カートリッジ筐体５３の内部における背面６１の近傍の位置に、タグ６０が搭載されている。
【００８２】
タグ６０は、無線通信アンテナにより構成されているＲＦＩＤ（Ｒａｄｉｏ Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグであり、磁気テープカートリッジ外部のリーダライタと、磁場または電磁波を使用して通信することができる。ＲＦＩＤタグは、カートリッジ外部のリーダライタと無線通信して、情報の書き込み、読み取り、書き換え、さらには電力の供給を受けることができる。
【００８３】
タグ６０には、磁気テープＭＴの仕様や諸元を示す種類や、該磁気テープＭＴの構成を示す情報が記憶されている。この情報には、磁気テープＭＴのバックコート層５の表面の粗さを示す情報が含まれる。バックコート層５の表面の粗さとは、例えば、バックコート層５の表面粗さや、バックコート層５の単位面積あたりに存在する所定の高さ以上の突起の数や、単位面積あたりに突起が形成されている面積の比率などを示す数値である。または、バックコート層５の表面の粗さは、バックコート層５の表面の粗さを、上述の数値の大小に基づいてランク等の分類記号で表される場合には、その分類記号でもよい。
【００８４】
磁気テープＭＴの種類とバックコート層５の表面の粗さとの関係を示すテーブルを巻き取り装置側に持っておき、巻き取り装置では、タグ６０から読み出した磁気テープＭＴの種類に基づいてバックコート層５の表面の粗さを得て、その情報に基づいてテンション制御を行うようにしてもよい。
【００８５】
こうすれば、上述した巻取装置は、汎用のリーダライタ等の読み出し装置を設けることで、磁気テープをテープリールに巻き取る際に、該テープリールを収容するカートリッジ筐体に設けられたタグ６０に記憶されている情報を、読み出し装置によって読み出すことができる。そして、制御部は、磁気テープＭＴを巻き取る際に、読み出した磁気テープＭＴの情報に応じて、予め測定によって定められているテンション制御を実行する時間や走行する磁気テープＭＴの速度の閾値を選択し、磁気テープＭＴの巻き取りを実行することができる。
【００８６】
本明細書は次の事項を開示する。
（１）磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
巻き取った前記磁気テープの、該磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御を有する巻取方法。
（２）（１）に記載の巻取方法であって、
前記磁気テープに加わるテンションを５秒以上保持させるテンション制御を有する巻取方法。
（３）（１）又は（２）に記載の巻取方法であって、
前記磁気テープのバックコート層の表面が原子間力顕微鏡によって測定された高さ１００ｎｍ以下の突起を有し、該バックコート層の表面に存在する原子間力顕微鏡によって測定された２５ｎｍ以上、１００ｎｍ以下の突起密度が９０μｍ角あたり２３個以上１０００個以下であることを特徴とする、磁気テープの巻取方法。
（４）磁気テープを巻き取る巻取方法であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻いていくことによって巻き取る工程と、
走行している前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
（５）（４）に記載の巻取り方法であって、
前記磁気テープを巻き取ったときの巻き径における外周部のみ前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する工程を有する巻取方法。
（６）（１）から（５）のいずれか１つに記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取ったテープリールを、カートリッジに組み込む、又は予めカートリッジに組み込まれたテープリールに請求項１から５のいずれか１項に記載の巻取方法によって磁気テープを巻き取る磁気テープカートリッジの製造方法。
（７）磁気テープを巻き取る巻取装置であって、
前記磁気テープを走行させ、走行する前記磁気テープを巻取リールに重ねて巻き取る巻取機構と、
巻き取った前記磁気テープについて前記磁気テープに加わるテンションを予め定めた時間だけ保持させるテンション制御、又は、巻き取りの際に走行する前記磁気テープの速度を閾値の速度より低くする速度制御を実行する制御部と、を備える巻取装置。
（８）磁気テープを備える磁気テープカートリッジであって、
カートリッジ筐体と、
前記カートリッジ筐体に収容され、前記磁気テープを巻き取るためのテープリールと、
前記カートリッジ筐体に設けられ、無線通信可能な記憶部と、を備え、
前記記憶部には、（７）に記載の巻取装置によって読み出し可能であって、前記磁気テープの種類を示す情報が記憶されている磁気テープカートリッジ。
（９）（８）に記載の磁気テープカートリッジであって、
前記磁気テープは、少なくとも磁性層と、非磁性層と、バックコート層とを備えた積層構造を有し、
前記磁気テープの一方の面が前記磁性層の表面であって、他方の面が前記バックコート層の表面であり、
前記磁気テープの種類を示す情報は、前記バックコート層の表面の粗さを示す情報を含む磁気テープカートリッジ。
【符号の説明】
【００８７】
４    磁性層
５    バックコート層
６    （バックコート層の表面の）突起
１０    巻取装置
１１    巻取リール
１３    送出リール
１４    テンション調整部
２０    制御部
５１    磁気テープカートリッジ
６０    タグ
ＭＴ    磁気テープ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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