(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
産業機器用コントローラの絶縁耐圧試験方法であって、
（ａ）電源出力端子と、凸部と、を有する絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置を準備する工程と、
（ｂ）筐体と、前記筐体の一の壁の外側面に配置された電源入力端子と、前記筐体の内部に配置されると共にアレスタとバリスタとの少なくとも一方が搭載されたノイズフィルタ基板と、前記筐体の内部に配置され、弾性を有する導電性材料により形成され、前記ノイズフィルタ基板に電気的に接続され、前記筐体の前記一の壁の内側面に対向する対向部に雌ネジとすり鉢形状の受け孔とが形成された導電プレートと、を備える産業機器用コントローラを準備する工程と、
（ｃ）雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記試験電圧供給装置の前記電源出力端子を前記産業機器用コントローラの前記電源入力端子に接続して前記産業機器用コントローラの絶縁耐圧試験を行う工程と、を備え、
前記産業機器用コントローラの前記筐体の前記一の壁には、前記雌ネジに対向する位置にネジ用孔が形成されていると共に、雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置の電源出力端子が接続されると前記試験電圧供給装置に形成された凸部が挿入される凸部用孔が形成されており、
前記試験電圧供給装置の前記凸部は、柱状形状の軸部と、前記軸部の先端に形成され、前記軸部との境界付近に返し部が設けられた略円錐形状であり、前記軸部の中心軸に直交する方向の圧縮力が加えられると径が小さくなると共に前記圧縮力がなくなると径が元に戻るように構成された頭部と、を含み、
前記筐体の前記凸部用孔の径は、前記圧縮力が加えられていない状態における前記頭部の前記返し部の径より小さく、かつ、前記圧縮力が加えられた状態における前記頭部の前記返し部の径より大きく、
前記工程（ｃ）は、
前記雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に前記電源出力端子を接続することにより、前記凸部用孔に挿入された前記凸部の前記頭部が前記対向部を押して前記導電プレートと前記筐体の前記一の壁との接触を阻み、これにより前記導電プレートとグランドとの導電路を遮断する工程と、
前記導電路が遮断された状態で前記産業機器用コントローラの絶縁耐圧試験を行う工程と、
前記絶縁耐圧試験の後に、前記雄ネジを前記ネジ用孔に挿入して前記雌ネジに締め込むことにより、前記筐体の前記一の壁と前記導電プレートの前記対向部とを互いに接触した状態で固定し、これにより前記導電路を導通させると共に、前記雄ネジの締め込みによって前記導電プレートの前記対向部を前記筐体の前記一の壁に近づかせ、これにより前記導電プレートの前記受け孔が前記凸部の前記頭部に前記圧縮力を加えて前記返し部の径を前記凸部用孔の径よりも小さくすると共に前記凸部に前記凸部用孔を通過させる工程と、を含む、産業機器用コントローラの絶縁耐圧試験方法。
【請求項２】
産業機器用コントローラであって、
筐体と、
前記筐体の一の壁の外側面に配置された電源入力端子と、
前記筐体の内部に配置されると共にアレスタとバリスタとの少なくとも一方が搭載されたノイズフィルタ基板と、
前記筐体の内部に配置され、弾性を有する導電性材料により形成され、前記ノイズフィルタ基板に電気的に接続され、前記筐体の前記一の壁の内側面に対向する対向部に雌ネジとすり鉢形状の受け孔とが形成された導電プレートと、を備え、
前記筐体の前記一の壁には、前記雌ネジに対向する位置にネジ用孔が形成されていると共に、雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置の電源出力端子が接続されると前記試験電圧供給装置に形成された凸部が挿入される凸部用孔が形成されており、
前記試験電圧供給装置の前記凸部は、柱状形状の軸部と、前記軸部の先端に形成され、前記軸部との境界付近に返し部が設けられた略円錐形状であり、前記軸部の中心軸に直交する方向の圧縮力が加えられると径が小さくなると共に前記圧縮力がなくなると径が元に戻るように構成された頭部と、を含み、
前記筐体の前記凸部用孔の径は、前記圧縮力が加えられていない状態における前記頭部の前記返し部の径より小さく、かつ、前記圧縮力が加えられた状態における前記頭部の前記返し部の径より大きく、
前記導電プレートは、前記雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に前記電源出力端子が接続されると、前記凸部用孔に挿入された前記凸部の前記頭部が前記対向部を押して前記導電プレートと前記筐体の前記一の壁との接触を阻み、これにより前記導電プレートとグランドとの導電路が遮断され、かつ、前記雄ネジを前記ネジ用孔に挿入して前記雌ネジに締め込むと、前記筐体の前記一の壁と前記導電プレートの前記対向部とが互いに接触した状態で固定され、これにより前記導電路が導通されるように、構成され、
前記導電プレートの前記受け孔は、前記雄ネジの締め込みによって前記導電プレートの前記対向部が前記筐体の前記一の壁に近づくと、前記凸部の前記頭部に前記圧縮力を加えて前記返し部の径を前記凸部用孔の径よりも小さくするように形成されている、産業機器用コントローラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ロボット等の産業機器用のコントローラおよびその絶縁耐圧試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ロボット用コントローラは、例えば出荷時に、絶縁耐圧試験に供される。ロボット用コントローラは、ノイズ耐性を高めるために、アレスタやバリスタが搭載されたノイズフィルタ基板を搭載している。このアレスタやバリスタは、ロボット用コントローラに印加される試験電圧をノイズ扱いするため、ロボット用コントローラにアレスタやバリスタが搭載された状態では、絶縁耐圧試験が正しく実行できない。そのため、従来は、ロボット用コントローラにアレスタやバリスタが搭載されていないダミーのノイズフィルタ基板を搭載した状態で絶縁耐圧試験を行い、試験終了後に、ダミーのノイズフィルタ基板をアレスタやバリスタが搭載された正規のノイズフィルタ基板に交換する作業を行っていた。このため、従来、ロボット用コントローラの絶縁耐圧試験の作業は繁雑なものとなっていた。
【０００３】
電力用配電盤等にバネの付勢力によって導電状態となる回路を有する電圧試験用端子を設けると共に、電圧試験用端子内に挿入すると当該回路を遮断する構造の電圧試験用プラグを用いて、試験中は試験器と特定の電気回路とを電気的に遮断することにより、電圧試験作業の効率化を図る技術が知られている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−３６５９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来技術では、試験作業の効率化が図られるものの、試験中以外の通常の運用時において、バネの付勢力によって導電状態を確保することとなり、導電状態が不安定になるおそれがある。ロボット用コントローラの通常の運用時において、アレスタやバリスタが搭載されたノイズフィルタ基板とグランドとの導電状態が不安定であると、例えば落雷が発生した場合に、内部回路にダメージを受けるおそれがある。従って、ロボット用コントローラの通常の運用時においては、上記導電状態が安定的に維持されることが必要である。
【０００６】
なお、上記課題は、ロボット用コントローラの絶縁耐圧試験に限らず、産業機器用コントローラの絶縁耐圧試験に共通する問題であった。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、産業機器用コントローラにおいて、通常の運用時におけるノイズフィルタ基板とグランドとの導電状態を安定的に維持しつつ、絶縁耐圧試験を効率的に実行可能とすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題の少なくとも一部を解決するために、本発明は、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
【０００９】
［適用例１］産業機器用コントローラであって、
筐体と、
前記筐体の一の壁の外側面に配置された電源入力端子と、
前記筐体の内部に配置されると共にアレスタとバリスタとの少なくとも一方が搭載されたノイズフィルタ基板と、
前記筐体の内部に配置され、弾性を有する導電性材料により形成され、前記ノイズフィルタ基板に電気的に接続され、前記筐体の前記一の壁の内側面に対向する対向部に雌ネジとすり鉢形状の受け孔とが形成された導電プレートと、を備え、
前記筐体の前記一の壁には、前記雌ネジに対向する位置にネジ用孔が形成されていると共に、雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置の電源出力端子が接続されると前記試験電圧供給装置に形成された凸部が挿入される凸部用孔が形成されており、
前記試験電圧供給装置の前記凸部は、柱状形状の軸部と、前記軸部の先端に形成され、前記軸部との境界付近に返し部が設けられた略円錐形状であり、前記軸部の中心軸に直交する方向の圧縮力が加えられると径が小さくなると共に前記圧縮力がなくなると径が元に戻るように構成された頭部と、を含み、
前記筐体の前記凸部用孔の径は、前記圧縮力が加えられていない状態における前記頭部の前記返し部の径より小さく、かつ、前記圧縮力が加えられた状態における前記頭部の前記返し部の径より大きく、
前記導電プレートは、前記雄ネジが前記雌ネジに締め込まれていない状態で前記電源入力端子に前記電源出力端子が接続されると、前記凸部用孔に挿入された前記凸部の前記頭部が前記対向部を押して前記導電プレートと前記筐体の前記一の壁との接触を阻み、これにより前記導電プレートとグランドとの導電路が遮断され、かつ、前記雄ネジを前記ネジ用孔に挿入して前記雌ネジに締め込むと、前記筐体の前記一の壁と前記導電プレートの前記対向部とが互いに接触した状態で固定され、これにより前記導電路が導通されるように、構成され、
前記導電プレートの前記受け孔は、前記雄ネジの締め込みによって前記導電プレートの前記対向部が前記筐体の前記一の壁に近づくと、前記凸部の前記頭部に前記圧縮力を加えて前記返し部の径を前記凸部用孔の径よりも小さくするように形成されている、産業機器用コントローラ。
【００１０】
この産業機器用コントローラでは、筐体の一の壁の外側面に電源入力端子が配置され、筐体内部に弾性を有する導電性材料により形成された導電プレートが配置されている。導電プレートは、アレスタとバリスタとの少なくとも一方が搭載されたノイズフィルタ基板に電気的に接続されており、導電プレートにおける上記一の壁の内側面に対向する対向部には、雌ネジとすり鉢形状の受け孔とが形成されている。また、筐体の上記一の壁には、雌ネジに対向する位置にネジ用孔が形成されていると共に、雄ネジが雌ネジに締め込まれていない状態で電源入力端子に絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置の電源出力端子が接続されると試験電圧供給装置に形成された凸部が挿入される凸部用孔が形成されている。また、試験電圧供給装置の凸部は、柱状形状の軸部と軸部の先端に形成された頭部とを含んでいる。頭部は、軸部との境界付近に返し部が設けられた略円錐形状であり、軸部の中心軸に直交する方向の圧縮力が加えられると径が小さくなると共に上記圧縮力がなくなると径が元に戻るように構成されている。筐体の凸部用孔の径は、上記圧縮力が加えられていない状態における頭部の返し部の径より小さく、かつ、上記圧縮力が加えられた状態における頭部の返し部の径より大きい。導電プレートは、雄ネジが雌ネジに締め込まれていない状態で電源入力端子に電源出力端子が接続されると、凸部用孔に挿入された凸部の頭部が対向部を押して導電プレートと筐体の上記一の壁との接触を阻み、これにより導電プレートとグランドとの導電路が遮断されるように構成されている。そのため、この産業機器用コントローラでは、アレスタやバリスタが搭載されたノイズフィルタ基板を設置した状態においても、ノイズフィルタ基板とグランドとの間の導電路を確実に遮断して絶縁耐圧試験を正しく実行することができ、絶縁耐圧試験を効率的に実行することができる。
【００１１】
また、導電プレートは、雄ネジをネジ用孔に挿入して雌ネジに締め込むと、筐体の上記一の壁と導電プレートの対向部とが互いに接触した状態で固定され、これにより上記導電路が導通されるように構成されているため、試験完了後の通常の運用時におけるノイズフィルタ基板とグランドとの導電状態を安定的に維持することができる。また、導電プレートの受け孔は、雄ネジの締め込みによって導電プレートの対向部が筐体の上記一の壁に近づくと、凸部の頭部に上記圧縮力を加えて返し部の径を凸部用孔の径よりも小さくするように形成されているため、雄ネジを締め込むことにより、凸部の返し部の径が凸部用孔の径よりも小さくなって試験電圧供給装置が産業機器用コントローラから取り外されるため、絶縁耐圧試験完了後の試験電圧供給装置の取り外しを効率的に実行することができる。また、雄ネジを締め込まないと、凸部の返し部の径が凸部用孔の径より大きいために試験電圧供給装置を取り外すことができないことから、雄ネジの締め込み忘れの発生を抑制することができる。
【００１２】
以上のことから、この産業機器用コントローラでは、通常の運用時におけるノイズフィルタ基板とグランドとの導電状態を安定的に維持しつつ、絶縁耐圧試験を効率的に実行可能とすることができる。
【００１３】
なお、本発明は、種々の態様で実現することが可能であり、例えば、産業機器用コントローラおよびその絶縁耐圧試験方法、産業機器用コントローラと絶縁耐圧試験用の試験電圧供給装置とを備えるシステム、等の態様で実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施例におけるコントローラ１００の外部構成を概略的に示す説明図である。
【図２】実施例におけるコントローラ１００の内部構成を概略的に示す説明図である。
【図３】実施例における導電プレート１３０の構成を示す説明図である。
【図４】実施例において絶縁耐圧試験に用いられる試験電圧供給装置２００の構成を概略的に示す説明図である。
【図５】検査ベンチ２２０の凸部２２４の詳細構成を示す説明図である。
【図６】実施例におけるコントローラ１００の絶縁耐圧試験の処理の流れを示すフローチャートである。
【図７】実施例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００に接続された状態におけるコントローラ１００の断面を示す説明図である。
【図８】実施例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００に接続された状態におけるコントローラ１００の断面を示す説明図である。
【図９】実施例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００から取り外された状態におけるコントローラ１００の断面を示す説明図である。
【図１０】変形例における検査ベンチ２２０の凸部２２４ａの詳細構成を示す説明図である。
【図１１】ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する変形例におけるコントローラ１００ｂの外部構成を概略的に示す説明図である。
【図１２】ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する変形例における導電プレート１３０ｂの構成を示す説明図である。
【図１３】変形例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００ｂに接続された状態におけるコントローラ１００ｂの断面を示す説明図である。
【図１４】変形例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００ｂから取り外された状態におけるコントローラ１００ｂの断面を示す説明図である。
【図１５】ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する変形例におけるコントローラ１００ｃの外部構成を概略的に示す説明図である。
【図１６】ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する変形例における導電プレート１３０ｃの構成を示す説明図である。
【図１７】変形例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００ｃに接続された状態におけるコントローラ１００ｃの断面を示す説明図である。
【図１８】変形例において試験電圧供給装置２００がコントローラ１００ｃから取り外された状態におけるコントローラ１００ｃの断面を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
次に、本発明の実施の形態を実施例に基づいて以下の順序で説明する。
Ａ．実施例：
Ｂ．変形例：
【００１６】
Ａ．実施例：
図１は、本発明の実施例におけるコントローラ１００の外部構成を概略的に示す説明図である。また、図２は、実施例におけるコントローラ１００の内部構成を概略的に示す説明図である。本実施例のコントローラ１００は、ロボット等の産業機器の制御を行うコントローラである。なお、図１および図２では、本実施例の説明に不要なコントローラ１００の構成要素については図示を省略している。また、図２は、後述する絶縁耐圧試験の開始前におけるコントローラ１００の状態を示している。
【００１７】
コントローラ１００は、金属製の筐体１１０を備えている。本実施例では、筐体１１０は、外装として機能すると共に、電気的なグランドとしても機能する。筐体１１０の内部には、産業機器の制御のために必要な図示しない回路が配置されている。
【００１８】
図１に示すように、筐体１１０の一の側壁の外側面には、後述の絶縁耐圧試験の際に試験用電圧が入力される電源入力端子１１２が配置されている。また、当該側壁には、凸部用孔１１４およびネジ用孔１１６の２つの貫通孔が形成されている。凸部用孔１１４およびネジ用孔１１６は、正面から見て横に並んで配置されている。図２に示すように、凸部用孔１１４の径はＲ１である。なお、以下の説明では、凸部用孔１１４およびネジ用孔１１６が形成された筐体１１０の側壁を「特定壁」と呼ぶものとする。
【００１９】
図２に示すように、筐体１１０の内部には、ノイズ耐性を高めるためのアレスタ１２２が搭載されたノイズフィルタ基板１２０が配置されている。ノイズフィルタ基板１２０は、筐体１１０の底面に固定されている。なお、ノイズフィルタ基板１２０には、アレスタ１２２に代えて、あるいはアレスタ１２２と共に、バリスタが搭載されているとしてもよい。
【００２０】
筐体１１０の内部には、また、弾性を有する金属により形成された導電プレート１３０が配置されている。導電プレート１３０は、略Ｌ字形状の断面を有する。すなわち、導電プレート１３０は、平板形状の固定用部１３４と、固定用部１３４に略直交する略平板形状の対向部１３２と、から構成されている。導電プレート１３０は、固定用部１３４においてネジ１４０によりノイズフィルタ基板１２０の端部に固定されている。この状態において、導電プレート１３０は、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２と電気的に接続されている。また、導電プレート１３０の対向部１３２は、筐体１１０の特定壁の内側面に対向している。本実施例では、後述する絶縁耐圧試験の開始前には、導電プレート１３０の対向部１３２の少なくとも一部は、筐体１１０の特定壁の内側に面接触している。なお、本実施例では、凸部用孔１１４は、筐体１１０の特定壁における対向部１３２と接触した部分に形成されている。
【００２１】
図３は、実施例における導電プレート１３０の構成を示す説明図である。図３（ａ）には導電プレート１３０を対向部１３２の正面から見た構成を示し、図３（ｂ）には図３（ａ）におけるＢ−Ｂ断面の構成を示している。図示するように、導電プレート１３０の対向部１３２には、受け孔１３６と雌ネジ１３８とが形成されている。受け孔１３６は、対向部１３２と筐体１１０の特定壁とが対向している状態（図２参照）において凸部用孔１１４に対応する位置に形成されており、雌ネジ１３８は、対向部１３２と特定壁とが対向している状態においてネジ用孔１１６に対応する位置に形成されている。図３（ｂ）に示すように、受け孔１３６は、すり鉢形状の孔である。なお、本実施例では、受け孔１３６は貫通孔ではないが、受け孔１３６が貫通孔であるとしてもよい。また、後述する絶縁耐圧試験の開始前には、雌ネジ１３８には雄ネジが締め込まれていない。
【００２２】
コントローラ１００は、例えば出荷時に、試験電圧供給装置を用いた絶縁耐圧試験に供される。図４は、実施例において絶縁耐圧試験に用いられる試験電圧供給装置２００の構成を概略的に示す説明図である。図４に示すように、試験電圧供給装置２００は、本体２１０と本体２１０に接続された検査ベンチ２２０とを有している。本体２１０は、試験電圧を生成・出力するための図示しない電源や制御回路を含んでいる。検査ベンチ２２０は、平板形状のベース部２２６の一方の面に配置された電源出力端子２２２および凸部２２４を有している。電源出力端子２２２は、本体２１０において生成された試験用電圧の出力端子として機能する。電源出力端子２２２と凸部２２４との位置関係は、コントローラ１００（図１）の電源入力端子１１２に試験電圧供給装置２００の電源出力端子２２２が接続される際に凸部２２４が筐体１１０の凸部用孔１１４に挿入されるような位置関係となっている。
【００２３】
図５は、検査ベンチ２２０の凸部２２４の詳細構成を示す説明図である。図５（ａ）に示すように、検査ベンチ２２０の凸部２２４は、ベース部２２６から垂直に伸びる柱状形状の軸部ＳＰと、軸部ＳＰの先端に形成された頭部ＨＰと、から構成されている。頭部ＨＰは、軸部ＳＰの中心軸と略同一の中心軸を有し軸部ＳＰとの境界面を底面とする略円錐形状に形成されている。頭部ＨＰの少なくとも先端の部分は、例えば樹脂といった絶縁体により形成されている。頭部ＨＰの径（凸部２２４の中心軸に直交する方向に沿った幅）は、軸部ＳＰとの境界において最も大きく、その値は軸部ＳＰの径より大きい。この頭部ＨＰにおける軸部ＳＰとの境界部分は、返しとして機能するため、以下、返し部ＢＰと呼ぶ。
【００２４】
図５（ａ）に示すように、凸部２２４の頭部ＨＰおよび軸部ＳＰの少なくとも一部は、中心軸付近において断面が欠損しており、複数の部分に分割されている。そのため、中心軸に直交する方向の圧縮力（以下、単に「圧縮力」とも呼ぶ）が頭部ＨＰに加えられると、図５（ｂ）に示すように、凸部２２４は頭部ＨＰおよび軸部ＳＰの複数の部分が互いに近づくように変形し、頭部ＨＰにおける径が小さくなる。一方、圧縮力がなくなると、凸部２２４は元に戻る。以下、圧縮力が加えられていない状態（図５（ａ）参照）における頭部ＨＰの返し部ＢＰにおける径を通常時返し部径Ｒ２と呼び、圧縮力が加えられた状態（図５（ｂ）参照）における頭部ＨＰの返し部ＢＰにおける径を圧縮時返し部径Ｒ３と呼ぶものとする。図５（ａ）および図５（ｂ）に示すように、通常時返し部径Ｒ２は凸部用孔１１４の径Ｒ１より大きく、圧縮時返し部径Ｒ３は凸部用孔１１４の径Ｒ１より小さい。なお、図示していないが、軸部ＳＰの径は凸部用孔１１４の径Ｒ１より小さい。
【００２５】
図６は、実施例におけるコントローラ１００の絶縁耐圧試験の処理の流れを示すフローチャートである。ステップＳ１１０では、試験電圧供給装置２００がコントローラ１００に接続される。より詳細には、試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０に設けられた電源出力端子２２２（図４参照）が、コントローラ１００の特定壁に設けられた電源入力端子１１２（図１参照）に接続される。このとき、検査ベンチ２２０に設けられた凸部２２４の頭部ＨＰは、コントローラ１００の特定壁に設けられた凸部用孔１１４を通過する際に凸部用孔１１４によって圧縮力を受けて変形する。これにより、凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰの径は、凸部用孔１１４の径より小さい圧縮時返し部径Ｒ３となる。そのため、凸部２２４の頭部ＨＰは凸部用孔１１４を通り抜ける。なお、頭部ＨＰが凸部用孔１１４を通過した後は、凸部用孔１１４による圧縮力がなくなるため、変形が元に戻り、頭部ＨＰの返し部ＢＰの径は通常時返し部径Ｒ２となる。
【００２６】
図７は、試験電圧供給装置２００がコントローラ１００に接続された状態におけるコントローラ１００の断面を示している。図７に示すように、試験電圧供給装置２００がコントローラ１００に接続される際には、検査ベンチ２２０に設けられた凸部２２４が凸部用孔１１４を通り抜けて、導電プレート１３０の対向部１３２の受け孔１３６（図３参照）に当たり、対向部１３２を押す。これにより、弾性を有する導電プレート１３０の対向部１３２は筐体１１０の特定壁から遠ざかる方向に変形する。この結果、導電プレート１３０と筐体１１０との接触が阻まれ、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０との間の導電路が確実に遮断される。
【００２７】
絶縁耐圧試験のステップＳ１２０（図６）では、アレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０との間の導電路が遮断された状態で、試験電圧供給装置２００から電源出力端子２２２を介してコントローラ１００の電源入力端子１１２に試験用電圧が供給され、絶縁耐圧試験が実行される。このとき、アレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０との間の導電路が遮断されているため、コントローラ１００に印加された試験用電圧がアレスタ１２２によってノイズ扱いされることがなく、絶縁耐圧試験が正しく実行される。
【００２８】
絶縁耐圧試験のステップＳ１３０（図６）では、コントローラ１００から試験電圧供給装置２００が取り外される。ここで、凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰの径は凸部用孔１１４の径Ｒ１より大きい通常時返し部径Ｒ２であるため、仮に、検査ベンチ２２０を引っ張って取り外そうとすると、図８に示すように、凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰが凸部用孔１１４に引っかかって取り外すことができない。
【００２９】
本実施例では、コントローラ１００からの試験電圧供給装置２００の取り外し（ステップＳ１３０）の際に、雄ネジ２５０がコントローラ１００の筐体１１０の特定壁に形成されたネジ用孔１１６（図１参照）に挿入され、導電プレート１３０の対向部１３２に形成された雌ネジ１３８に締め込まれる（図９（ａ）参照）。これにより、導電プレート１３０の対向部１３２は、筐体１１０の特定壁の方向に引き寄せられ、対向部１３２の少なくとも一部が筐体１１０の特定壁に密着した状態で筐体１１０に固定される。そのため、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０との間の導電路が安定的に導通状態に維持される。
【００３０】
また、図９（ｂ）に示すように、導電プレート１３０の対向部１３２が筐体１１０の特定壁方向に移動すると、凸部２２４の頭部ＨＰの先端はすり鉢形状の受け孔１３６のより奥側に接することとなり、頭部ＨＰは受け孔１３６の壁面から圧縮力を受ける。これにより、凸部２２４は変形して、頭部ＨＰの返し部ＢＰの径は小さくなる。本実施例の受け孔１３６のすり鉢形状は、対向部１３２が筐体１１０の特定壁に近づくと凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰの径が凸部用孔１１４の径Ｒ１より小さくなるような形状に設定されている。従って、図９（ａ）に示すように、雄ネジ２５０が雌ネジ１３８に締め込まれることにより、凸部２２４の頭部ＨＰは凸部用孔１１４を通過して筐体１１０の外部に移動する。この結果、コントローラ１００から試験電圧供給装置２００が取り外される。以上で、コントローラ１００の絶縁耐圧試験が完了する。
【００３１】
以上説明したように、本実施例における絶縁耐圧試験では、雄ネジ２５０が雌ネジ１３８に締め込まれていない状態でコントローラ１００の電源入力端子１１２に試験電圧供給装置２００の電源出力端子２２２が接続されると、筐体１１０の凸部用孔１１４に挿入された試験電圧供給装置２００の凸部２２４の頭部ＨＰが導電プレート１３０の対向部１３２を押して、導電プレート１３０とグランドとしての筐体１１０との接触を阻むため、コントローラ１００にアレスタ１２２が搭載されたノイズフィルタ基板１２０を設置した状態においても、アレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０との間の導電路を確実に遮断して絶縁耐圧試験を正しく実行することができ、絶縁耐圧試験を効率的に実行することができる。
【００３２】
また、本実施例では、絶縁耐圧試験の終了後、雄ネジ２５０を雌ネジ１３８に締め込むことにより、導電プレート１３０の対向部１３２と筐体１１０の特定壁とが互いに接触した状態で固定されるため、試験完了後の通常の運用時におけるノイズフィルタ基板１２０とグランドとしての筐体１１０との導電状態を安定的に維持することができる。さらに、絶縁耐圧試験の終了後に雄ネジ２５０を雌ネジ１３８に締め込むことにより、凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰの径が凸部用孔１１４の径よりも小さくなって試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０がコントローラ１００から取り外されるため、絶縁耐圧試験完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しを効率的に実行することができる。また、雄ネジ２５０を締め込まないと、凸部２２４の頭部ＨＰの返し部ＢＰの径が凸部用孔１１４の径より大きいために試験電圧供給装置２００を取り外すことができないことから、雄ネジ２５０の締め込み忘れの発生を抑制することができる。
【００３３】
また、本実施例では、絶縁耐圧試験の開始前には、導電プレート１３０の対向部１３２の少なくとも一部が筐体１１０の特定壁の内側に接触しており、凸部用孔１１４は筐体１１０の特定壁における対向部１３２と接触した部分に形成されている。そのため、試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０の凸部２２４の寸法誤差や使用による摩耗の有無に拘わらず、試験電圧供給装置２００の電源出力端子２２２をコントローラ１００の電源入力端子１１２に接続する際に、凸部２２４が確実に対向部１３２を押して、導電プレート１３０と筐体１１０との接触が確実に遮断される。さらに、絶縁耐圧試験の終了後に雄ネジ２５０が雌ネジ１３８に締め込まれると、凸部用孔１１４が導電プレート１３０の対向部１３２によって確実に閉鎖されるため、コントローラ１００への塵等の進入を確実に防止することができる。なお、凸部用孔１１４の位置は、筐体１１０の特定壁における対向部１３２と接触した部分の内の、対向部１３２の長さ方向（固定用部１３４との境界から対向部１３２の先端に向かう方向）に沿った中央付近であることが、上記した導電プレート１３０と筐体１１０との接触遮断および凸部用孔１１４の閉鎖をより確実にできるという点で、好ましい。
【００３４】
また、本実施例では、ネジ用孔１１６は、凸部用孔１１４の横方向（対向部１３２の長さ方向に略直交する方向）に並んで配置されているため、雄ネジ２５０の雌ネジ１３８への締め込みによる導電プレート１３０の対向部１３２と筐体１１０の特定壁との接触をより確実に実現させることができる。
【００３５】
Ｂ．変形例：
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【００３６】
Ｂ１．変形例１：
上記実施例における検査ベンチ２２０の凸部２２４の構成はあくまで一例であり、凸部２２４の構成は種々変形可能である。図１０は、変形例における検査ベンチ２２０の凸部２２４ａの詳細構成を示す説明図である。図１０に示す変形例における検査ベンチ２２０の凸部２２４ａは、頭部ＨＰａの構成が図５に示した実施例の凸部２２４と異なっており、その他の点は実施例の凸部２２４と同様である。図１０（ａ）に示すように、変形例の凸部２２４ａでは、頭部ＨＰａが、先端から軸部ＳＰ側に向かって斜めに伸びる爪状要素により構成されている。凸部２２４ａの爪状要素の後端付近の部分は、返し部ＢＰａとして機能する。
【００３７】
図１０（ａ）に示すように、凸部２２４ａの爪状要素の後端は軸部ＳＰに接触していないため、中心軸に直交する方向の圧縮力が頭部ＨＰａに加えられると、図１０（ｂ）に示すように、爪状要素が軸部ＳＰに近づくように変形して頭部ＨＰａにおける径が小さくなる。一方、圧縮力がなくなると、凸部２２４ａは元に戻る。圧縮力が加えられていない状態（図１０（ａ）参照）における頭部ＨＰａの返し部ＢＰａにおける径Ｒ４は凸部用孔１１４の径Ｒ１より大きく、圧縮力が加えられた状態（図１０（ｂ）参照）における頭部ＨＰａの返し部ＢＰａにおける径Ｒ５は凸部用孔１１４の径Ｒ１より小さい。従って、変形例の凸部２２４ａを採用しても、絶縁耐圧試験の終了後に雄ネジ２５０を雌ネジ１３８に締め込むことにより、凸部２２４ａの頭部ＨＰａの返し部ＢＰａの径が凸部用孔１１４の径よりも小さくなって試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０がコントローラ１００から取り外されるため、絶縁耐圧試験完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しを効率的に実行することができる。また、雄ネジ２５０を締め込まないと、凸部２２４ａの頭部ＨＰａの返し部ＢＰａの径が凸部用孔１１４の径より大きいために試験電圧供給装置２００を取り外すことができないことから、雄ネジ２５０の締め込み忘れの発生を抑制することができる。
【００３８】
Ｂ２．変形例２：
上記実施例では、コントローラ１００の筐体１１０の特定壁に、凸部用孔１１４およびネジ用孔１１６の２つの貫通孔が正面から見て横方向（対向部１３２の長さ方向（固定用部１３４との境界から対向部１３２の先端に向かう方向）に略直交する方向）に並んで配置されている（図１参照）が、凸部用孔１１４およびネジ用孔１１６の位置関係は種々変形可能である。例えば、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置して２つの貫通孔が正面から見て縦方向（対向部１３２の長さ方向に略平行な方向）に並んで配置されているとしてもよい。図１１は、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する変形例におけるコントローラ１００ｂの外部構成を概略的に示す説明図である。また、図１２は、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する変形例における導電プレート１３０ｂの構成を示す説明図である。上記実施例と同様に、受け孔１３６は導電プレート１３０ｂの対向部１３２ｂと筐体１１０ｂの特定壁とが対向している状態において凸部用孔１１４に対応する位置に形成されており、雌ネジ１３８は対向部１３２ｂと特定壁とが対向している状態においてネジ用孔１１６に対応する位置に形成されているため、雌ネジ１３８は受け孔１３６の上に位置することとなる。
【００３９】
図１０および図１１に示したネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する変形例においても、絶縁耐圧試験の際に、試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０に設けられた電源出力端子２２２がコントローラ１００ｂの特定壁に設けられた電源入力端子１１２に接続されると、図１３に示すように、検査ベンチ２２０に設けられた凸部２２４が凸部用孔１１４を通り抜けて導電プレート１３０ｂの対向部１３２ｂの受け孔１３６に当たり、対向部１３２ｂを押す。これにより、対向部１３２ｂは筐体１１０ｂの特定壁から遠ざかる方向に変形し、導電プレート１３０ｂと筐体１１０ｂとの接触が阻まれ、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０ｂとの間の導電路が確実に遮断される。
【００４０】
また、この変形例においても、絶縁耐圧試験の完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しの際に、雄ネジ２５０がコントローラ１００ｂの筐体１１０ｂの特定壁に形成されたネジ用孔１１６に挿入され、対向部１３２ｂに形成された雌ネジ１３８に締め込まれると（図１４参照）、対向部１３２ｂの少なくとも一部が筐体１１０ｂの特定壁に密着した状態で筐体１１０ｂに固定され、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０ｂとの間の導電路が安定的に導通状態に維持される。さらに、対向部１３２ｂが筐体１１０ｂの特定壁方向に移動する際に、凸部２２４の頭部ＨＰに受け孔１３６の壁面から圧縮力が作用して頭部ＨＰの返し部ＢＰの径が小さくなり、図１４に示すように、凸部２２４の頭部ＨＰは凸部用孔１１４を通過して筐体１１０ｂの外部に移動するため、絶縁耐圧試験完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しを効率的に実行することができると共に、雄ネジ２５０の締め込み忘れの発生を抑制することができる。
【００４１】
なお、図１０および図１１に示すように、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の上に位置する構成を採用すると、筐体１１０ｂ内部への雄ネジ２５０の突出位置が比較的上側の位置（すなわち、筐体１１０ｂの底面から離れた位置）となるため（図１４参照）、雄ネジ２５０による筐体１１０ｂ内の電子部品（例えばノイズフィルタ基板１２０）への接触の発生を抑制することができる。
【００４２】
また、他の変形例として、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置して２つの貫通孔が正面から見て縦方向（対向部１３２の長さ方向に略平行な方向）に並んで配置されているとしてもよい。図１５は、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する変形例におけるコントローラ１００ｃの外部構成を概略的に示す説明図である。また、図１６は、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する変形例における導電プレート１３０ｃの構成を示す説明図である。上記実施例と同様に、受け孔１３６は導電プレート１３０ｃの対向部１３２ｃと筐体１１０ｃの特定壁とが対向している状態において凸部用孔１１４に対応する位置に形成されており、雌ネジ１３８は対向部１３２ｃと特定壁とが対向している状態においてネジ用孔１１６に対応する位置に形成されているため、雌ネジ１３８は受け孔１３６の下に位置することとなる。
【００４３】
図１５および図１６に示したネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する変形例においても、絶縁耐圧試験の際に、試験電圧供給装置２００の検査ベンチ２２０に設けられた電源出力端子２２２がコントローラ１００ｃの特定壁に設けられた電源入力端子１１２に接続されると、図１７に示すように、検査ベンチ２２０に設けられた凸部２２４が凸部用孔１１４を通り抜けて導電プレート１３０ｃの対向部１３２ｃの受け孔１３６に当たり、対向部１３２ｃを押す。これにより、対向部１３２ｃは筐体１１０ｃの特定壁から遠ざかる方向に変形し、導電プレート１３０ｃと筐体１１０ｃとの接触が阻まれ、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０ｃとの間の導電路が確実に遮断される。
【００４４】
また、この変形例においても、絶縁耐圧試験の完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しの際に、雄ネジ２５０がコントローラ１００ｃの筐体１１０ｃの特定壁に形成されたネジ用孔１１６に挿入され、対向部１３２ｃに形成された雌ネジ１３８に締め込まれると（図１８参照）、対向部１３２ｃの少なくとも一部が筐体１１０ｃの特定壁に密着した状態で筐体１１０ｃに固定され、ノイズフィルタ基板１２０に搭載されたアレスタ１２２とグランドとしての筐体１１０ｃとの間の導電路が安定的に導通状態に維持される。さらに、対向部１３２ｃが筐体１１０ｃの特定壁方向に移動する際に、凸部２２４の頭部ＨＰに受け孔１３６の壁面から圧縮力が作用して頭部ＨＰの返し部ＢＰの径が小さくなり、図１８に示すように、凸部２２４の頭部ＨＰは凸部用孔１１４を通過して筐体１１０ｃの外部に移動するため、絶縁耐圧試験完了後の試験電圧供給装置２００の取り外しを効率的に実行することができると共に、雄ネジ２５０の締め込み忘れの発生を抑制することができる。
【００４５】
なお、図１５および図１６に示すように、ネジ用孔１１６が凸部用孔１１４の下に位置する構成を採用すると、雄ネジ２５０に対して筐体１１０ｃの内側方向への引張力が作用するため、雄ネジ２５０の抜けの発生を抑制することができる。
【００４６】
Ｂ３．変形例３：
上記実施例では、導電プレート１３０は略Ｌ字形状の断面を有するとしているが、導電プレート１３０は、ノイズフィルタ基板１２０に電気的に接続されると共に筐体１１０の特定壁に対向する対向部１３２を有するように構成されれば、略Ｌ字形状の断面を有する必要はない。また、導電プレート１３０は、金属製である必要はなく、弾性を有する導電性材料であれば他の材料により形成されるとしてもよい。
【００４７】
Ｂ４．変形例４：
上記実施例では、筐体１１０がグランドとして機能するとしているが、コントローラ１００において筐体１１０がグランドとして機能する必要はなく、例えばグランドプレートといった他の構成要素がグランドとして機能するとしてもよい。この場合にも、導電プレート１３０と筐体１１０の特定壁との接触が阻まれることにより導電プレート１３０とグランドとの導電路が遮断され、導電プレート１３０と筐体１１０の特定壁との接触が確保されることにより導電プレート１３０とグランドとの導電路が導通されるような構成を採用すればよい。なお、他の構成要素がグランドとして機能する場合には、筐体１１０は導電性を有しない他の材料（例えば樹脂材料）により形成されるとしてもよい。
【００４８】
Ｂ５．変形例５：
上記実施例では、コントローラ１００の電源入力端子１１２や凸部用孔１１４、ネジ用孔１１６が、筐体１１０の側面の壁に設けられているが、電源入力端子１１２、凸部用孔１１４、ネジ用孔１１６の３つは、同一の壁に設けられていれば、側面の壁以外の壁（例えば天面の壁）に設けられているとしてもよい。また、上記実施例では、ノイズフィルタ基板１２０が筐体１１０の底面の壁に固定されているとしているが、ノイズフィルタ基板１２０は底面以外の壁（例えば側面の壁）に固定されているとしてもよい。
【００４９】
Ｂ６．変形例６：
上記実施例では、絶縁耐圧試験の開始前のコントローラ１００において、導電プレート１３０の対向部１３２の少なくとも一部が筐体１１０の特定壁の内側に面接触しているとしているが、対向部１３２と筐体１１０の特定壁とが線接触しているとしてもよいし、対向部１３２と筐体１１０の特定壁とが接触していないとしてもよい。
【００５０】
Ｂ７．変形例７：
上記実施例では、ロボット用のコントローラ１００を例に用いて説明したが、本発明は例えば工作機器といった他の産業機器用のコントローラおよび当該コントローラの絶縁耐圧試験方法にも適用可能である。
【符号の説明】
【００５１】
１００…コントローラ
１１０…筐体
１１２…電源入力端子
１１４…凸部用孔
１１６…ネジ用孔
１２０…ノイズフィルタ基板
１２２…アレスタ
１３０…導電プレート
１３２…対向部
１３４…固定用部
１３６…受け孔
１３８…雌ネジ
１４０…ネジ
２００…試験電圧供給装置
２１０…本体
２２０…検査ベンチ
２２２…電源出力端子
２２４…凸部
２２６…ベース部
２５０…雄ネジ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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