(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する劣化速度予測手段と、
前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測手段により予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する寿命予測手段と、
前記寿命予測手段で予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測手段で予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する報知手段と、
を備えた管理装置。
【請求項２】
交換が可能な前記放射線検出手段同士の組み合わせを記憶する記憶手段を備え、前記報知手段は、残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士の関係が前記記憶手段に記憶されている前記組み合わせを満たす場合に、前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する、請求項１に記載の管理装置。
【請求項３】
前記報知手段は、予め定められた条件を満たした場合に、前記放射線検出手段同士の交換を行うよう報知する、請求項１または請求項２に記載の管理装置。
【請求項４】
前記放射線検出手段の劣化速度の予測及び前記現在の使用状況における残り寿命の予測は、予め定められた期間毎に行い、かつ、前記予め定められた条件は、前記現在の使用状況における残り寿命の予測が行われた場合である、請求項３に記載の管理装置。
【請求項５】
前記予め定められた条件は、前記寿命予測手段で予測した前記複数の放射線検出手段同士の寿命の差が予め定められ閾値に達した場合であり、前記報知手段は、前記寿命の差が予め定められた閾値に達した前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する、請求項３に記載の管理装置。
【請求項６】
前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度と、に基づいて、前記放射線検出手段同士を交換した場合のそれぞれの前記放射線検出手段の交換後の使用状況における残り寿命を予測する交換後寿命予測手段を備え、
前記予め定められた条件は、前記放射線検出手段を交換した場合の前記複数の放射線検出手段各々の前記交換後の使用状況における残り寿命が予め定められた範囲内となる場合であり、前記報知手段は、前記交換後の使用状況における残り寿命が予め定められた範囲内となる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する、請求項３に記載の管理装置。
【請求項７】
前記予め定められた条件は、前記放射線検出手段の前記現在の使用状況における残り寿命が閾値に達した場合である、請求項３に記載の管理装置。
【請求項８】
前記寿命予測手段は、前記放射線検出手段が現在までに検出した放射線の検出量に基づいて、前記放射線検出手段の現在の劣化状態を検出する、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の管理装置。
【請求項９】
被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、
前記放射線照射手段により照射され、被検体を透過した放射線を検出して放射線画像を取得する複数の放射線検出手段と、
前記放射線検出手段の寿命を管理する請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の管理装置と、
を備えた放射線画像撮影システム。
【請求項１０】
被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する劣化速度予測ステップと、
前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測ステップにより予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する寿命予測ステップと、
前記寿命予測ステップで予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測ステップで予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する報知ステップと、
を備えた処理をコンピュータに実行させるための管理プログラム。
【請求項１１】
劣化速度予測手段により、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する工程と、
寿命予測手段により、前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測手段により予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する工程と、
報知手段により、前記寿命予測手段で予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測手段で予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する工程と、
を備えた放射線検出手段の管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、管理装置、放射線画像撮影システム、管理プログラム、及び放射線検出手段の管理方法に係り、特に放射線検出手段の寿命の管理装置、放射線画像撮影システム、管理プログラム、及び放射線検出手段の管理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、医療診断を目的とした放射線撮影を行う放射線画像撮影システムが知られている。当該放射線画像撮影システムでは、被検体を透過した放射線を検出する検出手段として、いわゆるカセッテ等の放射線検出パネルが用いられている。
【０００３】
一般に、放射線検出パネルは、繰り返し使用できるものではあるが、使用限界、すなわち寿命が存在する。具体的には、例えば、放射線検出パネルにより得られた放射線画像が許容できない画質まで劣化する場合等が挙げられる。放射線検出パネルは、それを構成する材料によって程度は異なるが、一般に、放射線を多く浴びる（被曝する）とシンチレータの感度が低下するという傾向がある。たとえば累積放射線量（被曝量）が数１０ｋＲに達すると、ＧＯＳを用いたシンチレータである場合は、感度の低下はほぼゼロだが、ＣｓＩ、ＣｓＢｒ、ＢａＦ等を用いたシンチレータである場合は、数１０％感度が低下することが知られている。感度が低下した場合において、感度の低下前と同レベルの画質の放射線画像を得るためには、感度が低下した分、多量の放射線を放射線検出パネルに照射しなくてはならず、被検体にとっては被曝量が増えることになる。さらに、感度が低下して、閾値に達すると、許容できない画質となる。また、感度の低下以外にも、繰り返し使用することにより、画素欠陥等が増加したり、(数・大きさ)、前撮影の残像が消えにくくなったりすることがあり、画像補正の限度を超えると補正残差が残り許容できない画質になってしまう。このように、許容できない画質まで劣化して使用限界に達することを寿命と称している。また、現在から寿命に達するまでの時間を残り寿命と称している。
【０００４】
一般に、放射線検出パネルの寿命を検出する技術がある。例えば、特許文献１には、品質の管理及びパネルの寿命を把握するために、パネルへの累積照射線量を検知する技術が記載されている。
【０００５】
また、特許文献２には、Ｘ線による異物検査装置において、シンチレータやフォトダイオードアレイの劣化度合いに基づいて寿命を予測し、交換を促す報知を行う技術が記載されている。
【０００６】
また、特許文献３には、Ｘ線による検査装置において、フラットパネルＸ線検出器への累積入射線量を見積もり、これを所定の判定基準と比較することによってフラットパネルＸ線検出器の寿命を判定し、その判定結果に基づいてフラットパネルＸ線検出器の交換を警告する技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００１−２１６９６号公報
【特許文献２】特開２００５−３０８６００号公報
【特許文献３】特開２００７−１２１０１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
放射線検出パネルを複数備えて構成される放射線画像撮影システムでは、放射線検出パネル毎に劣化速度が異なる場合がある。例えば、被検体が立位状態及び臥位状態で撮影を行う場合、通常、立位状態の撮影を行うための立位用の放射線検出パネルと、臥位状態の撮影を行うための臥位用の放射線検出パネルとを備えており、それぞれ専用に使用される。しかしながら、病院や診療科等によって撮影線量や撮影部位が異なるため、一方の放射線検出パネルが非常に多く被曝してしまう場合がある。例えば、立位用の放射線検出パネルを使用する放射線撮影は胸部等、比較的線量の少ないことが予想されるが、集団検診等に使用される機会も多く撮影回数は多くなり、その結果、臥位用の放射線検出パネルよりも早く劣化する場合がある。一方、臥位用の放射線検出パネルは腰椎等の比較的放射線量の多い撮影が予想されるため、撮影回数が多い施設では立位用の放射線検出パネルよりも早く劣化する場合がある。
【０００９】
このように、放射線検出パネルは、使用頻度や、使用毎の被曝量により、劣化速度が異なるが、特許文献１〜３に記載の技術は、単に、寿命に基づいて予め定められた閾値に達すると、残り寿命が短いであろうと予測するものであり、適切に残り寿命を予測できない  場合がある。
【００１０】
本発明は、このような従来の技術に比べて、放射線検出手段の寿命の管理を適切に行うことができる管理装置、放射線画像撮影システム、管理プログラム、及び放射線検出手段の管理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の管理装置は、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する劣化速度予測手段と、前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測手段により予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する寿命予測手段と、前記寿命予測手段で予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測手段で予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する報知手段と、を備える。
【００１２】
劣化速度予測手段は、現在の使用状況において使用した場合の放射線検出手段の劣化速度を、現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測し、寿命予測手段は、複数の放射線検出手段毎に、放射線検出手段の現在の劣化状態と、劣化速度予測手段により予測した劣化速度とに基づいて、現在の使用状況における放射線検出手段の残り寿命を予測する。
【００１３】
一般に、使用頻度や、放射線量が異なるため、使用状況に応じて放射線検出手段の劣化速度や劣化状態は異なる。このように、複数の放射線検出手段毎に、現在の使用状況において使用した場合の劣化速度と、劣化状態とに基づいて、残り寿命を予測するため、使用状況の違いに係わらず、放射線検出手段の寿命の管理を行うことができる。
【００１４】
また、請求項１に記載の管理装置は、前記寿命予測手段で予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測手段で予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する報知手段を備える。
【００１６】
このように、複数の放射線検出手段に対して各々の使用状況における残り寿命を予測し、残り寿命が異なる放射線検出手段同士を交換する、すなわち入れ替えるよう報知するため、放射線検出手段を備えた放射線画像撮影システム全体の寿命を長くすることができる。
【００１７】
また、本発明は、請求項２に記載の管理装置のように、交換が可能な前記放射線検出手段同士の組み合わせを記憶する記憶手段を備え、前記報知手段は、残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士の関係が前記記憶手段に記憶されている前記組み合わせを満たす場合に、前記放射線検出手段同士を交換するよう報知するようにしてもよい。
【００１８】
記憶手段が記憶する交換が可能な前記放射線検出手段同士の組み合わせを満たす場合に、放射線検出手段同士を交換するように報知することにより、不適切な交換（例えば、画質が低い放射線検出手段への交換）を防止することができる。
【００１９】
また、本発明は、請求項３に記載の管理装置のように、前記報知手段は、予め定められた条件を満たした場合に、前記放射線検出手段同士の交換を行うよう報知するようにすることができる。
【００２０】
また、本発明は、請求項４に記載の管理装置のように、前記放射線検出手段の劣化速度の予測及び前記現在の使用状況における残り寿命の予測は、予め定められた期間毎に行い、かつ、前記予め定められた条件は、前記現在の使用状況における残り寿命の予測が行われた場合であるようにしてもよい。
【００２１】
このように、予め定められた期間毎に、残り寿命の予測を行い、放射線検出手段同士を交換するよう報知するため、放射線検出手段の使用実績を平準化することができる。
【００２２】
また、本発明は、請求項５に記載の管理装置のように、前記予め定められた条件は、前記寿命予測手段で予測した複数の前記放射線検出手段同士の寿命の差が予め定められ閾値に達した場合であり、前記報知手段は、前記寿命の差が予め定められた閾値に達した前記放射線検出手段同士を交換するよう報知するようにしてもよい。
【００２３】
このように、寿命の差が予め定められた閾値に達した場合に、放射線検出手段同士を交換するよう報知するため、放射線検出手段の交換回数を少なくすることができる。
【００２４】
また、本発明は、請求項６に記載の管理装置のように、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度と、に基づいて、前記放射線検出手段同士を交換した場合のそれぞれの前記放射線検出手段の交換後の使用状況における残り寿命を予測する交換後寿命予測手段を備え、前記予め定められた条件は、前記放射線検出手段を交換した場合の複数の前記放射線検出手段各々の前記交換後の使用状況における残り寿命が予め定められた範囲内となる場合であり、前記報知手段は、前記交換後の使用状況における残り寿命が予め定められた範囲内となる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知するようにしてもよい。
【００２５】
このように、放射線検出手段同士を交換した場合の交換後の使用状況における劣化速度から交換後の残り寿命を予測し、交換後の残り寿命が予め定められた範囲内となるように放射線検出手段同士を交換するよう報知するため、放射線検出手段が寿命に達するまでの時間を長くすることができ、放射線検出手段を備えた放射線画像撮影システム全体の寿命を長くすることができる。
【００２６】
また、本発明は、請求項７に記載の管理装置のように、前記予め定められた条件は、前記放射線検出手段の前記現在の使用状況における残り寿命が閾値に達した場合であってもよい。
【００２７】
また、本発明は、請求項８に記載の管理装置のように、前記寿命予測手段は、前記放射線検出手段が現在までに検出した放射線の検出量に基づいて、前記放射線検出手段の現在の劣化状態を検出するようにしてもよい。
【００２８】
また、請求項９に記載の放射線画像撮影システムは、被検体に放射線を照射する放射線照射手段と、前記放射線照射手段により照射され、被検体を透過した放射線を検出して放射線画像を取得する複数の放射線検出手段と、前記放射線検出手段の寿命を管理する請求項１から請求項８のいずれか１項に記載の管理装置と、を備える。
【００２９】
また、請求項１０に記載の管理プログラムは、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する劣化速度予測ステップと、前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測ステップにより予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する寿命予測ステップと、前記寿命予測ステップで予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測ステップで予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する報知ステップと、を備えた処理をコンピュータに実行させるためのものである。
【００３０】
また、請求項１１に記載の放射線検出手段の管理方法は、劣化速度予測手段により、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段を現在の使用状況において使用した場合の、前記放射線検出手段の劣化速度を、前記現在の使用状況が異なる複数の放射線検出手段毎に予測する工程と、寿命予測手段により、前記複数の放射線検出手段毎に、前記放射線検出手段の現在の劣化状態と、前記劣化速度予測手段により予測した劣化速度とに基づいて、前記現在の使用状況における残り寿命を予測する工程と、報知手段により、前記寿命予測手段で予測した残り寿命に基づいて、前記複数の放射線検出手段のうち前記劣化速度予測手段で予測した残り寿命が異なる前記放射線検出手段同士を交換するよう報知する工程と、を備える。
【発明の効果】
【００３１】
以上説明したように、現在の使用状況において使用した場合における残り寿命を予測することができるという効果が得られる。従って、本発明によれば放射線検出手段の寿命の管理を適切に行うことができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本実施の形態に係る放射線画像撮影システムの構成の一例を示す平面図である。
【図２】図１に示した本実施の形態に係る放射線画像撮影システムの概略構成の一例を示す構成図である。
【図３】図１に示した本実施の形態に係る撮影制御装置の概略構成の一例を示す機能ブロックである。
【図４】本実施の形態に係る放射線検出パネルの寿命管理処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図５】本実施の形態に係る放射線検出パネルの寿命管理において、所定期間毎に交換を促す処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図６】本実施の形態に係る放射線検出パネルの寿命管理において、寿命差に基づいて交換を促す処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図７】本実施の形態に係る放射線検出パネル同士が同時に寿命に達するタイミングの具体的一例を説明するための説明図である。
【図８】本実施の形態に係る放射線検出パネル同士が同時に寿命に達するタイミングの具体的一例を説明するための説明図である。
【図９】本実施の形態に係る放射線検出パネルの寿命管理において、同時に寿命に達するように交換を促す処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１０】本実施の形態に係る放射線検出パネル同士が同時に寿命に達するように交換を促すことにより、放射線画像撮影システム全体の寿命が長くなる一例を説明するための説明図であり、（Ａ）は、放射線検出パネル同士が同時に寿命に達するように交換を促さず、寿命に達するまでそのまま使用する場合を示しており、（Ｂ）は、放射線検出パネル同士が同時に寿命に達するように交換を促した場合を示している。
【発明を実施するための形態】
【００３３】
以下、各図面を参照して本発明の実施の形態の一例について説明する。
【００３４】
図１及び図２に本実施の形態の、放射線画像撮影システムの概略構成を示す。放射線画像撮影システム１０は、放射線（例えばエックス線（Ｘ線）等）を被検体１８に照射する放射線照射装置と、放射線照射装置１６から照射され、被検体１８を透過した放射線を検出する放射線検出パネル１４と、放射線画像の撮影を指示すると共に、放射線検出パネル１４から画像情報を取得して各種の処理を行うマイクロコンピュータや各種の電気回路を含んで構成された撮影制御装置１２と、を備えて構成されている。放射線照射装置１６から照射され撮影位置に位置している被検体１８を透過することで画像情報を担持した放射線は放射線検出パネル１４に照射される。
【００３５】
撮影制御装置１２は、放射線画像撮影システム１０全体の制御（撮影に関する制御）を行う機能を有するものである。
【００３６】
放射線照射装置１６は、管球等の放射線源２４が設けられている。
【００３７】
また、本実施の形態の放射線画像撮影システム１０は、複数（図２ではｎ個）の放射線検出パネル１４（１４１〜１４ｎ）を備えている。なお、以下の説明において個々を区別する場合は、数字の後に個々を区別するための符号（１〜ｎ）を付して説明し、個々を区別せずに総称する場合は、符号（１〜ｎ）の記載を省略する。
【００３８】
本実施の形態の放射線検出パネル１４は、ＦＰＤ（Ｆｌａｔ  Ｐａｎｅｌ  Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）であり、いわゆるカセッテ等が挙げられる。放射線検出パネル１４は、放射線検出部２２を備えて構成されている。放射線検出部２２は、ＴＦＴ基板、シンチレータ層、及び信号検出回路（いずれも図示省略）を含んで構成されている。シンチレータ層は、照射された放射線を光に変換し、変換した光をＴＦＴ基板に照射する。ＴＦＴ基板は、シンチレータ層から照射された光を受けて電荷を蓄積する。放射線画像の読出時には、ＴＦＴ基板が有するＴＦＴスイッチのゲート電極に順次ＯＮ信号が印加される。これにより、蓄積された電荷量に応じた電気信号が出力される。信号検出回路は、出力された電気信号に基づいて蓄積された電荷量を、画像を構成する各画素の情報として検出する。このようにして、撮影が行われ、放射線検出パネル１４に照射された放射線により示される画像を表す放射線画像が得られる。
【００３９】
なお、複数備えられた放射線検出パネル１４は、それぞれ同じものであってもよいし、例えば、大きさや材質等が異なるものであってもよい。
【００４０】
また、本実施の形態の放射線画像撮影システム１０では、表示装置２０を備えており、放射線検出パネル１４により得られた放射線画像が、表示装置２０のディスプレイ２６に表示されるようになっている。なお、表示装置２０は必須の構成ではなく、放射線検出パネル１４により得られた放射線画像を外部の他の装置に送信するようにしてもよいし、蓄積しておくものであってもよい。
【００４１】
本実施の形態の放射線画像撮影システム１０では、このように複数備えた放射線検出パネル１４の寿命の管理を行い、予め定められた条件（トリガー）に応じて、放射線検出パネル１４の交換（新しいものとの交換、及び放射線検出パネル１４同士の交換）を報知する。そのため、撮影制御装置１２が、放射線検出パネル１４の寿命を管理する機能を有している。
【００４２】
図３に、本実施の形態に係る撮影制御装置１２における、放射線検出パネル１４の寿命を管理する機能の概略構成の一例の機能ブロック図を示す。本実施の形態の撮影制御装置１２は、制御部３０、記憶部３２、劣化速度予測部３４、寿命予測部３６、劣化状態検出部３８、通信Ｉ／Ｆ部４０、及びユーザＩ／Ｆ部４２を備えて構成されている。制御部３０、記憶部３２、劣化速度予測部３４、寿命予測部３６、劣化状態検出部３８、通信Ｉ／Ｆ部４０、及びユーザＩ／Ｆ部４２は、バス４４を介して互いに信号等の授受が可能に接続されている。
【００４３】
制御部３０は、撮影制御装置１２全体の動作を制御する機能を有するものであり、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）４６、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）及びＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）を含むメモリ４８、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）やフラッシュメモリ等から成る不揮発性の記憶部５０を備えて構成されている。
【００４４】
放射線検出パネル１４の寿命の管理を行う際には、メモリ４８のＲＯＭの所定の領域に予め記憶されている、放射線検出パネル１４寿命管理処理のプログラム等がＣＰＵ４６により実行される。
【００４５】
記憶部３２は、放射線検出パネル１４が寿命に達したとみなす被曝量の閾値や、交換可能な放射線検出パネル１４同士の組み合わせ（詳細後述）等を記憶する機能を有するものである。
【００４６】
劣化速度予測部３４は、放射線検出パネル１４の劣化速度を予測する機能を有するものである。本実施の形態では、現在の使用状況における劣化速度を予測する機能と、放射線検出パネル１４を交換した場合の使用状況における劣化速度を予測する機能と、を有している。放射線検出パネル１４は、使用状況において劣化速度が異なる。主に、照射回数や１回当たりに照射される放射線量（１回当たりの被曝量）により、劣化速度は異なってくる。そのため、本実施の形態では、一定期間（１ヶ月）当たりの被曝量に基づいて、劣化速度を予測する。
【００４７】
劣化状態検出部３８は、現在の放射線検出パネル１４の劣化状態を検出する機能を有するものである。本実施の形態では、劣化状態検出部３８は、放射線累積量記憶部５２を有しており、放射線検出パネル１４に放射線照射装置１６から照射された放射線の累積量（被曝量の累積）を記憶している。なお、本実施の形態では、劣化状態検出部３８が放射線検出パネル１４毎に放射線の累積量を記憶するものとして構成しているがこれに限らず、記憶部３２等に記憶するものであってもよいし、放射線検出パネル１４が記憶している場合は、記憶せずに、劣化状態を検出する際に、放射線検出パネル１４から取得するようにしてもよい。また、放射線の累積量は、放射線検出パネル１４の単位面積当たりであってもよいし、放射線検出パネル１４全体当たりであってもよい。
【００４８】
寿命予測部３６は、劣化速度予測部３４で予測した劣化速度と、劣化状態検出部３８で検出した放射線検出パネル１４の劣化状態と、に基づいて当該放射線検出パネル１４の残り寿命を予測する機能を有するものである。本実施の形態では、寿命予測部３６は、現在の使用状況における残り寿命を予測する機能と、放射線検出パネル１４を交換した場合の使用状況における残り寿命を予測する機能と、を有している
【００４９】
通信Ｉ／Ｆ部４０は、表示装置２０に放射線検出パネル１４の交換に関する情報を報知する機能を有する通信インターフェイスである。
【００５０】
ユーザＩ／Ｆ部４２は、放射線検出パネル１４の交換を促すトリガー（詳細後述）等をユーザが設定するための機能を有するインターフェイスであり、例えば、タッチディスプレイや、各種ボタン等が挙げられる。なお、ユーザＩ／Ｆ部４２は、ユーザに対して放射線検出パネル１４の交換に関する情報を報知する機能を有するものであってもよい。
【００５１】
次に、本実施の形態に係る撮影制御装置１２における放射線検出パネル１４の寿命の管理処理について図面を参照して説明する。以下では、放射線画像撮影システム１０に備えられた放射線検出パネル１４同士で交換を行う場合について詳細に説明する。なお、放射線検出パネル１４同士の交換とは、使用状況が交換されることを意味している。
【００５２】
図４は、本実施の形態に係る撮影制御装置１２において実行される、放射線検出パネル１４の寿命管理処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、本処理は、メモリ４８に格納されているプログラムがＣＰＵ４６で処理されることにより実行される。
【００５３】
図４に示した寿命管理処理は、撮影制御装置１２の電源投入毎、一定期間毎、または放射線画像撮影毎等、予めさだめられた期間や条件に応じて実行される。
【００５４】
ステップ１００では、交換を促すトリガーの設定が所定期間毎に設定されているか否かを判断する。当該トリガーは、所定期間（例えば、６ヶ月）毎に、残り寿命の予測及び比較を行い、交換を促す場合であり、定期的に放射線検出パネル１４同士の交換を促す場合である。当該トリガーが設定されている場合は、肯定されてステップ１０２へ進み、所定期間毎に交換を促す処理（詳細後述）を行った後、本処理を終了する。
【００５５】
一方、設定されていない場合は、否定されてステップ１０４へ進み、交換を促すトリガーの設定が寿命差に基づくものであるか否かを判断する。当該トリガーは、予測した放射線検出パネル１４同士の残り寿命の差が閾値（例えば、６ヶ月）を越えたら、放射線検出パネル１４同士の交換を促す場合である。当該トリガーが設定されている場合は、肯定されてステップ１０６へ進み、寿命差に基づいて交換を促す処理（詳細後述）を行った後、本処理を終了する。
【００５６】
一方、設定されていない場合は、否定されてステップ１０８へ進み、交換を促すトリガーの設定が放射線検出パネル１４同士が同時（同時とみなせる時期）に寿命に達するようなタイミングであるか否かを判断する。当該トリガーは、放射線検出パネル１４同士を交換した後の残り寿命がほぼ一致するようなタイミングになった場合に放射線検出パネル１４同士の交換を促す場合である。当該トリガーが設定されている場合は、肯定されてステップ１１０へ進み、同時に寿命に達するように交換を促す処理（詳細後述）を行った後、本処理を終了する。
【００５７】
一方、設定されていない場合は、否定されてステップ１１２へ進み、その他の条件に応じて交換を促す処理を行った後、本処理を終了する。例えば、放射線検出パネル１４のいずれかが寿命に達した場合に、別の放射線検出パネル１４（現在、放射線画像撮影システム１０に備えられていない放射線検出パネル１４）に交換するように促すような場合が挙げられる。なお、このような場合、寿命に達した放射線検出パネル１４と、放射線画像撮影システム１０が備える複数の放射線検出パネル１４のうち最も劣化速度の遅い放射線検出パネル１４と、を交換するように促すようにしてもよい。このようにすることにより、交換するための別の放射線検出パネル１４がユーザの手元に無い場合に放射線検出パネル１４を入手するまで、放射線画像の撮影が行えなくなるのを防止することができる。
【００５８】
次に、各トリガー毎に、交換を促す処理について図を参照して詳細に説明する。まず、トリガーが所定期間毎に設定されており、所定期間毎に交換を促す処理を行う場合について説明する。図５に、所定期間毎に交換を促す処理（図４、ステップ１０２）の流れの一例のフローチャートを示す。
【００５９】
ステップ２００では、所定期間が経過したか否か判断する。前回、放射線検出パネル１４の交換を促してから所定期間がまだ経過していない場合は、否定されて本処理を終了する一方、所定期間が経過した場合は、肯定されてステップ２０２へ進む。ステップ２０２では、放射線画像撮影システム１０に備えられた複数の放射線検出パネル１４から１つを選択する。なお、図面が猥雑になるのを避けるため、図面中では、放射線検出パネル１４のことを単に「パネル」と記載している。
【００６０】
次のステップ２０４では、選択した放射線検出パネル１４の現在の使用状況における劣化速度を劣化速度予測部３４により予測する。例えば、立位用の放射線検出パネル１４では現在の使用状況が立位用であるため、このまま立位用として使用した場合の劣化速度を予測する。また例えば、臥位用の放射線検出パネル１４では現在の使用状況が臥位用であるため、このまま臥位用として使用した場合の劣化速度を予測する。劣化速度の予測は、一定期間（例えば、最近一ヶ月の間）の被曝量や、現在の使用状況下で使用されるようになってからの平均被曝量等に基づいて行えばよい。
【００６１】
次のステップ２０６では、選択した放射線検出パネル１４の劣化状態を劣化状態検出部３８により検出し、次のステップ２０８では、選択した放射線検出パネル１４の現在の使用状況における残り寿命を寿命予測部３６により予測する。本実施の形態では、放射線検出パネル１４の被曝量の閾値（寿命に達したとみなす閾値）が予め記憶部３２に記憶されており、当該被曝量の閾値と、ステップ２０６で検出した被曝量（劣化状態）と、の差を算出し、算出した差と、ステップ２０４で予測した劣化速度と、に基づいて残り寿命を予測する。
【００６２】
次のステップ２１０では、全部の放射線検出パネル１４について残り寿命の予測を終了したか否か判断する。終了していない場合は、否定されてステップ２０２に戻り本処理を繰り返し、一方、終了した場合は、肯定されてステップ２１２へ進む。
【００６３】
ステップ２１２では、予測した放射線検出パネル１４同士の残り寿命を比較し、次のステップ２１４では、比較結果に基づいて、放射線検出パネル１４同士の交換を促す旨の報知を通信Ｉ／Ｆ部４０により、表示装置２０に対して行った後、本処理を終了する。ここでは、残り寿命の長い放射線検出パネル１４と、残り寿命の短い放射線検出パネル１４と、を入れ替えるように交換を促す。なお、全ての放射線検出パネル１４の残り寿命が一致する場合または、残り寿命の差が予め定められた範囲内である場合は、交換を行わなくてよい旨を報知するようにしてもよいし、何も報知しないようにしてもよい。
【００６４】
このように所定期間毎に交換を促す処理を行う場合、放射線検出パネル１４の交換（入れ替え）回数が他の場合に比べて多くなるものの、複数の放射線検出パネル１４の使用実績（累積照射量）を平準化し、放射線画像撮影システム１０全体として長持ちさせることができる、という効果が得られる。特に、放射線検出パネル１４を３つ以上備えている場合に行うことが効果的である。
【００６５】
次に、トリガーが所定期間毎に設定されており、寿命差に基づいて交換を促す処理を行う場合について説明する。図６に、寿命差に基づいて交換を促す処理（図４、ステップ１０６）の流れの一例のフローチャートを示す。なお、当該処理は、上述の所定期間毎に交換を促す処理（図５参照）と略同様の処理を含んでいるため、略同様の処理はその旨を示し、詳細な説明は省略する。
【００６６】
ステップ３００は図５のステップ２０２に、ステップ３０２は図５のステップ２０４に、ステップ３０４は図５のステップ２０６に、ステップ３０６は図５のステップ２０８に、ステップ３０８は図５のステップ２１０に、それぞれ対応している。
【００６７】
全部の放射線検出パネル１４について残り寿命の予測を終了した場合のステップ３１０では、予測した放射線検出パネル１４同士の残り寿命を比較し、残り寿命の差を算出する。次のステップ３１２では、比較結果に基づいて、残り寿命の差が予め定められた閾値を越えたか否か判断する。越えていない場合は、放射線検出パネル１４同士の交換を行わないため、このまま本処理を終了する。一方、閾値を越えた場合は、肯定されてステップ３１４へ進む。ステップ３１４では、閾値を越えた放射線検出パネル１４同士を入れ替えるよう、交換を促す旨の報知を行った後、本処理を終了する。
【００６８】
このように寿命差に基づいて交換を促す処理を行う場合、所定期間毎に交換を促す場合に比べて、放射線検出パネル１４の使用実績に偏りが生じるものの、所定期間毎に交換を行う場合に比べて、放射線検出パネル１４の交換回数が少なくてすむ、という効果が得られる。
【００６９】
次に、トリガーが放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するようなタイミングに設定されており、同時に寿命に達するように交換を促す処理を行う場合について説明する。このような放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するタイミングの具体的一例を説明するための説明図を図７及び図８に示す。なお、ここでは説明を簡略化するため、立位の撮影に用いられる立位用の放射線検出パネル１４１と、臥位の撮影に用いられる臥位用の放射線検出パネル１４２と、の寿命を管理し、残り寿命に応じて両者の交換を促す場合について詳細に説明する。
【００７０】
図７に示した表は、立位用の放射線検出パネル１４１では、劣化速度（１ヶ月当たりの劣化量）が「１」であり、現在の使用状況（立位）における残り寿命が、４．８ヶ月有ることを示している。一方、臥位用の放射線検出パネル１４２では、劣化速度（１ヶ月当たりの劣化量）が「０．４」であり、現在の使用状況（臥位）における残り寿命が、３０ヶ月有ることを示している。現在の使用状況においては、臥位用では、劣化速度が遅いため立位用の場合に比べて残り寿命が長い。両者を入れ替えた場合（交換後）の使用状況における残り寿命は、現在、立位用の放射線検出パネル１４１では、交換後は臥位用として用いられることになり、劣化速度が、「０．４」になるため、４．８×１／０．４＝１２により算出され、「１２」となる。一方、現在、臥位用の放射線検出パネル１４２では、交換後は立位用として用いられることになり、劣化速度が、「１」になるため、３０×０．４／１＝１２により算出され、「１２」となる。従って、図７及び８に示すように、当該タイミングで両者を入れ替えることにより、両者が同時に寿命に達することがわかる。
【００７１】
図９に、同時に寿命に達するように交換を促す処理（図４、ステップ１１０）の流れの一例のフローチャートを示す。なお、当該処理は、上述の所定期間毎に交換を促す処理（図５参照）と略同様の処理を含んでいるため、略同様の処理はその旨を示し、詳細な説明は省略する。
【００７２】
ステップ４００は図５のステップ２０２に対応している。放射線検出パネル１４選択後のステップ４０２では、本実施の形態では、選択した放射線検出パネル１４の現在の使用状況における劣化速度を劣化速度予測部３４により予測する。例えば、立位用の放射線検出パネル１４１では現在の使用状況が立位用であるため、このまま立位用として使用した場合の劣化速度を予測する。さらに、本実施の形態では、交換した場合の使用状況における劣化速度である、当該放射線検出パネル１４１を臥位用として用いた場合の劣化速度を予測する。即ち、上述した具体的一例では、図７に示した、立位用である場合の劣化速度＝「１」、臥位用で有る場合の劣化速度＝「０．４」、と予測する。また、臥位用の放射線検出パネル１４２では現在の使用状況が臥位用であるため、このまま臥位用として使用した場合の劣化速度を予測する。さらに、本実施の形態では、交換した場合の使用状況における劣化速度である、当該放射線検出パネル１４２を立位用として用いた場合の劣化速度を予測する。
【００７３】
次のステップ４０４は図５のステップ２０６に対応している。劣化状態を検出した後のステップ４０６では、本実施の形態では、現在の使用状況における残り寿命及び交換した場合の使用状況における残り寿命を予測する（図７参照）。
【００７４】
次のステップ４０８は図５のステップ２１０に対応している。
【００７５】
全部の放射線検出パネル１４について残り寿命の予測を終了した場合のステップ４１０では、予測した放射線検出パネル１４同士の残り寿命を比較し、次のステップ４１２では、放射線検出パネル１４同士の残り寿命が一緒になる交換時期を取得する。本実施の形態では、図７及び図８に示した交換時期を取得する。
【００７６】
次のステップ４１４では、交換時期であるか否か判断する。交換時期ではない場合は、否定されて本処理を終了する。一方、交換時期である場合は、肯定されてステップ４１６へ進み、ステップ４１６では、残り寿命が一緒になる放射線検出パネル１４同士を入れ替えるよう、交換を促す旨の報知を行った後、本処理を終了する。なお、交換時期でないと判断した場合、交換時期を記憶部３２等に記憶しておき、この後、交換時期がきた場合に、交換を促すよう報知を行うようにしてもよい。
【００７７】
このように同時に寿命に達するように交換を促す処理を行う場合、複数の放射線検出パネル１４が同時に寿命に達するため、当該放射線検出パネル１４らと交換するための別の放射線検出パネル１４（現在、放射線画像撮影システム１０に備えられていない放射線検出パネル１４）が予め用意していない場合は、放射線検出パネル１４を入手するまで、放射線画像の撮影が行えないという状態が生じるものの、その他の所定期間毎に交換を促す場合や寿命差に基づいて交換を促す場合等に比べて、放射線画像撮影システム１０全体の寿命を、長くすることができる、という効果が得られる。当該効果について図１０を参照して説明する。図１０は、本実施の形態に係る放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するように交換を促すことにより、放射線画像撮影システム１０全体の寿命が長くなる一例を説明するための説明図であり、（Ａ）は、放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するように交換を促さず、寿命に達するまでそのまま使用する場合を示しており、（Ｂ）は、放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するように交換を促した場合を示している。ここでは、２つの放射線検出パネル１４を備え、一方は、使用頻度が高いために劣化速度が早くなる（３年で寿命に到達）状況にあり、他方は、使用頻度が少ないために劣化速度の遅くなる（９年で寿命に到達）状況にある放射線画像撮影システム１０について示している。図１０（Ａ）に示すように、放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するように交換を促さず、寿命に達するまでそのまま使用する場合では、９年の間で、劣化速度が速い状況にある放射線検出パネル１４は、３年毎に新しいものと交換するため、３回交換が行われる。また、劣化速度が遅い状況にある放射線検出パネル１４は、９年目に新しいものと考案するため、１回交換が行われ、放射線画像撮影システム１０全体では、９年で４枚の放射線検出パネル１４が消費される。一方、図１０（Ｂ）に示すように、放射線検出パネル１４同士が同時に寿命に達するように交換を促した場合では、４．５年毎に、両方の放射線検出パネル１４を交換するため、放射線画像撮影システム１０全体では、９年で４枚の放射線検出パネル１４が消費される。いずれも、９年で４枚の放射線検出パネル１４が消費されることにはかわりはないが、このように、交換を促さない図１０（Ａ）の場合では、３年目で新しい放射線検出パネル１４を１枚、購入する必要があるのに対し、交換を促す図１０（Ｂ）の場合では、４．５年目まで新しい放射線検出パネル１４を購入しなくてよい。従って、放射線画像撮影システム１０全体の寿命が長くなり、例えば、短期で放射線画像撮影システム１０の入れ替えを検討する病院等は、放射線検出パネル１４を新たに購入せずに放射線画像撮影システム１０を使用できる期間が長くなり、余計な放射線検出パネル１４を購入してしまうことを防止できる。また、放射線検出パネル１４の劣化を平準化することにより、中古放射線検出パネル１４の画質が揃いやすくなるため、放射線検出パネル１４のリユースが行いやすくなる。
【００７８】
なお、本実施の形態では、３種類のトリガーに従って、放射線検出パネル１４の交換を促す場合について詳細に説明したがこれに限らず、その他のトリガーに従って、放射線検出パネル１４の交換を促すようにしてもよい。また、上記３種類のトリガーを組み合わせて用いてもよい。放射線検出パネル１４を入れ替える場合、入れ替え直後は、画質のとびが生じたり、キャリブレーションが必要になったりする場合がある。そのため、放射線検出パネル１４の交換回数を少なくしたい場合は、交換回数が少なくなるトリガーを設定しておけばよいし、放射線画像撮影システム１０全体の寿命を長くしたい場合は、寿命が長くなるトリガーを設定しておけばよい。このようなトリガーの設定は、予め設定（初期設定）されていてもよいし、ユーザがユーザＩ／Ｆ部４２により行うようにしてもよいし、放射線画像撮影システム１０の途中で変更、追加等できるようにしてあってもよい。
【００７９】
なお、本実施の形態では、放射線検出パネル１４がシンチレータ層を備えたカセッテである場合について説明したがこれに限定されず、シンチレータ層を有さず、放射線を直接電荷に変換するものであってもよい。また、放射線検出パネル１４は、カセッテに限らず、ビルトインであってもよい。また、ビルトイン同士(要サービスマン)、カセッテ同士も交換可能である。カセッテ固定台を用いることで、ビルトインの替りにカセッテを用いることも可能である。
【００８０】
なお、複数の放射線検出パネル１４を備えた放射線画像撮影システム１０では、シンチレータ層の材質やパネルサイズの異なる放射線検出パネル１４が混在する場合がある。また、放射線画像撮影システム１０はビルトインの放射線検出パネル１４とカセッテの放射線検出パネル１４とが混在することもある。この場合は、単純に放射線検出パネル１４同士の入れ替えを促すのでなく、材料の特性やパネルサイズや装填性を考慮した入れ替えを促す。例えば、シンチレータ層の材質がＣｓＩである放射線検出パネル１４は材質がＧＯＳである放射線検出パネル１４よりも画質が良いので、ＧＯＳを用いた放射線検出パネル１４をＣｓＩを用いた放射線検出パネル１４と交換することがないように、このような場合は、交換を促さない。また、パネルサイズが大きい放射線検出パネル１４を小さい放射線検出パネル１４で交換することがないように、このような場合は、交換を促さない。このように交換可能な放射線検出パネル１４が限定されるような場合には、交換可能な放射線検出パネル１４同士の組み合わせを記憶部３２に記憶させておき、当該組み合わせに基づいて、交換を促すようにするとよい。
【００８１】
また、本実施の形態では、劣化速度や劣化状態を放射線検出パネル１４の被曝量により予測及び検出しているが、放射線検出パネル１４は、被曝以外にも、温度や湿度、通電時間によってもエレキ系部品やシンチレータ層の劣化が進むため、これに限らず、その他の方法であってもよい。
【００８２】
また、本実施の形態では、放射線画像撮影システム１０内の放射線検出パネル１４同士を交換する場合について詳細に説明したが、これに限らず、別の（放射線画像撮影システム１０外の、例えば新品の放射線検出パネル１４）に交換してもよい。放射線検出パネル１４が寿命に達する少し前(例えば、残り寿命が６ヶ月)に達したにも関わらず、劣化していない別の放射線検出パネル１４は交換せずにそのまま撮影を続けたいユーザの場合は、放射線画像撮影システム１０内での放射線検出パネル１４の入れ替えは為されないが、劣化して寿命になった放射線検出パネル１４を新品と交換しなくてはいけないので通信Ｉ／Ｆ部４０を介してサービスコールを出す。また、ある放射線検出パネル１４が寿命に達してしまったものの、放射線画像撮影システム１０内に交換可能な放射線検出パネル１４がない場合も通信Ｉ／Ｆ部４０を介してサービスコールを出すようにする。
【００８３】
その他、本実施の形態で説明した放射線画像撮影システム１０、放射線検出パネル１４、放射線照射装置１６、及び撮影制御装置１２等の構成は一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において状況に応じて変更可能であることは言うまでもない。
【００８４】
また、本実施の形態で説明した寿命管理処理の流れの一例（図４、５、６、９）も一例であり、本発明の主旨を逸脱しない範囲内において状況に応じて変更可能であることは言うまでもない。
【００８５】
また、本実施の形態では、本発明の放射線としてＸ線を適用した場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、γ線などを適用してもよい。
【００８６】
以上、説明したように、本実施の形態に係る使用状況が異なる複数の放射線検出パネル１４を備えた放射線画像撮影システム１０の撮影制御装置１２は、トリガーに応じて、放射線検出パネル１４の交換（新しいものとの交換、及び放射線画像撮影システム１０内の放射線検出パネル１４同士での入れ替え）を報知することにより、放射線検出パネル１４の寿命を管理する。放射線検出パネル１４毎に、劣化速度予測部３４で現在の使用状況に応じた劣化速度を予測し、劣化状態検出部３８で現在の劣化状態を検出し、寿命予測部３６で、現在の使用状況に応じた劣化速度と、劣化状態とに基づいて、現在の使用状況（このまま使用した場合）における残り寿命を予測する。放射線画像撮影システム１０内の放射線検出パネル１４の残り寿命を比較し、通信Ｉ／Ｆ部４０を介して、寿命の長い放射線検出パネル１４と、寿命の短い放射線検出パネル１４との交換を促す旨を報知する。
【００８７】
このように、現在の使用状況に応じた劣化速度と現在の劣化状態とに基づいて残り寿命を予測するため、使用状況に応じた残り寿命が予測できるため、放射線検出パネル１４の寿命の管理を適切に行うことができる。また、放射線画像撮影システム１０内で、残り寿命の長い放射線検出パネル１４と短い放射線検出パネル１４とを入れ替えるように促すため、放射線画像撮影システム１０全体の寿命を長くすることができる。
【符号の説明】
【００８８】
１０  放射線画像撮影システム
１２  撮影制御装置
１４  放射線検出パネル
１６  放射線照射装置
３０  制御部
３２  記憶部
３４  劣化速度予測部
３６  寿命予測部
３８  劣化状態検出部
４０  通信Ｉ／Ｆ部
４２  ユーザＩ／Ｆ部
【図１】
0005542586.tif 000002
【図２】
0005542586.tif 000003
【図３】
0005542586.tif 000004
【図４】
0005542586.tif 000005
【図５】
0005542586.tif 000006
【図６】
0005542586.tif 000007
【図７】
0005542586.tif 000008
【図８】
0005542586.tif 000009
【図９】
0005542586.tif 000010
【図１０】
0005542586.tif 000011