(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光電変換素子により構成され、撮影光学系からの光束により形成された一対の被写体像を光電変換可能なラインセンサと、
焦点検出領域に対応する前記光電変換素子により光電変換された一対の像信号に基づいて、前記撮影光学系の焦点状態を検出する焦点検出手段と、
前記ラインセンサを複数のブロックに分割し、該分割のパターンに応じて撮影画面内に複数の使用可能な焦点検出領域を形成するブロック分割手段とを有し、
前記ブロック分割手段は、使用者の操作によって選択された焦点検出領域が前記使用可能な焦点検出領域に含まれるように前記ラインセンサを前記複数のブロックに分割するパターンを変更することで、前記撮影画面内における前記使用可能な焦点検出領域の配置を変更することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記ラインセンサを分割するモードとして、第１のパターンで分割する第１のモードと、当該第１のパターンと異なる第２のパターンで分割する第２のモードを設定可能であることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記第１のモードで前記使用可能な焦点検出領域に対応しない前記光電変換素子は、前記第２のモードで前記使用可能な焦点検出領域に対応することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
使用者が前記第１のモードと前記第２のモードを選択するための選択手段を有することを特徴とする請求項２又は３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記第１のモードと前記第２のモードで共通の前記使用可能な焦点検出領域を有することを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
合焦制御に用いる焦点検出領域を判定する判定手段をさらに有するとともに、
前記ラインセンサとして、第１の方向および該第１の方向と異なる第２の方向にそれぞれ前記複数の光電変換素子が配列された第１のラインセンサおよび第２のラインセンサを有し、
前記判定手段は、前記モードに応じたパターンで分割された前記第１のラインセンサの各ブロックに対応する前記使用可能な焦点検出領域および前記第２のラインセンサに対応する前記使用可能な焦点検出領域で検出された前記焦点状態に基づいて、合焦制御に用いる焦点検出領域を判定し、
前記ブロック分割手段は、該判定された焦点検出領域に応じて、次回の前記モードを設定することを特徴とする請求項２乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記ブロック分割手段は、前記分割のパターンの変更に応じて、前記ラインセンサにおける前記複数のブロックの分割位置を変更することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、焦点検出領域（測距点）の選択が可能な撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一眼レフデジタルカメラ等の撮像装置には、ＴＴＬ位相差検出方式でのオートフォーカス（ＡＦ）が可能なものが多い。ＴＴＬ位相差検出方式ＡＦでは、撮影光学系のうち撮影画面内にて設定された測距点に対応する領域からの光束を分割して一対の被写体像を形成し、該一対の被写体像をラインセンサ（光電変換素子列）により光電変換して一対の像信号を得る。そして、該一対の像信号の位相差から撮影光学系のデフォーカス量を求め、該デフォーカス量から得られた移動量だけフォーカスレンズを移動させることで合焦状態を得る。
【０００３】
測距点（焦点検出領域ともいう）は、撮影画面内に複数設けられている場合が多い。この場合、複数の測距点のうち撮像装置が自動的に選択した又は使用者が任意に選択した測距点で焦点検出が行われる。
【０００４】
また、撮影時の構図選択の自由度を高めるため、撮影画面内にはできるだけ多くの測距点が高密度に配置されていることが望ましい。測距点の数を増やすために、例えば図１０（ａ）に示すように、１本の長いラインセンサを複数（５つ）の光電変換素子ブロックＬｉｎｅ１〜５に分割し、各光電変換素子ブロックによって１つの測距点を形成する方法がある。
【０００５】
ただし、図１０（ａ）に示すラインセンサの分割方法では、１つの測距点あたりの光電変換素子ブロック長が短くなり、検出できるデフォーカス量の範囲が狭くなってしまう。
【０００６】
一方、図１０（ｂ）に示すように、光電変換素子ブロック同士をオーバーラップさせるように設定すれば、１つの測距点あたりの光電変換素子ブロック長を長くすることができる。この場合、長いラインセンサを一括で電荷蓄積制御し、該ラインセンサから読み出した像信号から１つの光電変換素子ブロックに対応する像信号部分を抜き出し、該像信号部分を用いて１つの測距点での焦点検出を行う。
【０００７】
特許文献１には、図１０（ｂ）に示すような方法で焦点検出を行う撮像装置が提案されている。この撮像装置では、１つの測距点で遠近競合が発生しているか否かを判定し、遠近競合が発生していると判定したときには光電変換素子ブロックの分割方法を変更して、すなわち光電変換素子ブロックの位置をずらして、焦点検出をやり直す。
【０００８】
特許文献１のように、光電変換素子ブロックの位置をずらすことで、測距点の位置を様々に変化させることが可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平０８−１５６０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、光電変換素子ブロックの位置をずらしても、複数の光電変換素子ブロック間にオーバーラップする部分が存在すると、各光電変換素子ブロックに対して最適な電荷蓄積制御を行うことができない。電荷蓄積制御が各光電変換素子ブロックに対して最適化されないと、良好な像信号が得られないため、信頼性のある焦点検出が行えない。
【００１１】
例えば、図１１に示すように、光電変換素子ブロックＬｉｎｅ１上に明るい被写体像が形成され、光電変換素子ブロックＬｉｎｅ２上に暗い被写体像が形成された場合について説明する。この場合、Ｌｉｎｅ１に対して最適化された電荷蓄積制御を行うと、Ｌｉｎｅ２からは十分な振幅のある像信号が得られない。逆にＬｉｎｅ２に対して最適化された電荷蓄積制御を行うと、Ｌｉｎｅ１の像信号が飽和してしまう。これらいずれの場合でも、良好な像信号が得られない。
【００１２】
このような問題を解消するために、図１２に示すように、１本の長いラインセンサを３つの光電変換素子ブロックに分割する分割パターンＡと、２つの光電変換素子ブロックに分割する分割パターンＢとを切り替えて使用する方法が考えられる。この方法によれば、５つの測距点を形成することができるとともに、光電変換素子ブロック間でのオーバーラップがないため、それぞれの光電変換素子ブロックに最適化した電荷蓄積制御を行うことができる。
【００１３】
ただし、この方法では、複数回の電荷蓄積動作、すなわち分割パターンＡでの電荷蓄積動作と分割パターンＢでの電荷蓄積動作を行う必要がある。このため、ＡＦに要する時間が増加する。
【００１４】
本発明は、ラインセンサにて複数の光電変換素子ブロックを分割設定する場合において、ＡＦに要する時間を増加させることなく、信頼性ある焦点検出結果が得られるようにした撮像装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の一側面としての撮像装置は、複数の光電変換素子により構成され、撮影光学系からの光束により形成された一対の被写体像を光電変換可能なラインセンサと、焦点検出領域に対応する前記光電変換素子により光電変換された一対の像信号に基づいて、前記撮影光学系の焦点状態を検出する焦点検出手段と、前記ラインセンサを複数のブロックに分割し、該分割のパターンに応じて撮影画面内に複数の使用可能な焦点検出領域を形成するブロック分割手段とを有し、前記ブロック分割手段は、使用者の操作によって選択された焦点検出領域が前記使用可能な焦点検出領域に含まれるように前記ラインセンサを前記複数のブロックに分割するパターンを変更することで、前記撮影画面内における前記使用可能な焦点検出領域の配置を変更することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、ラインセンサにおける複数の光電変換素子ブロックの分割パターンを適切に切り替えることで、多くの数の焦点検出領域を設けつつ、ピントを合わせたい被写体に対応する適切な像信号を得て焦点検出結果の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施例１であるカメラの構成を示す概略図。
【図２】実施例１のカメラにおける測距点のレイアウトを示す図。
【図３】実施例１のカメラにおける測距点の選択方法を説明する図。
【図４】実施例１のカメラにおけるＡＦ処理を示すフローチャート。
【図５】本発明の実施例２であるカメラにおけるラインセンサ（縦ライン）を示す図。
【図６】実施例２のカメラにおけるＡＦ処理を示すフローチャート。
【図７】本発明の実施例３であるカメラにおけるラインセンサの分割方法を説明する図。
【図８】実施例３のカメラにおけるＡＦ処理を示すフローチャート。
【図９】実施例３のカメラにおける選択測距点とラインセンサの分割方法との対応関係を示す図。
【図１０】従来のカメラにおけるラインセンサの分割方法を示す図。
【図１１】従来のカメラにおけるラインセンサでの電荷蓄積例を示す図。
【図１２】従来のカメラにおけるラインセンサの分割パターン切り替えを説明する図。
【図１３】実施例１のカメラにおけるラインセンサ（横ライン）を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００２０】
以下の実施例では、例として、図２に示すように、撮影画面内（ファインダー内）に３３個の測距点（焦点検出領域）が配置された一眼レフデジタルカメラ（撮像装置）について説明する。
【００２１】
このカメラでは、測距点配置モードとして、図１３（ａ）の左側に示すように、３３個の測距点のうち１９個の測距点を有効測距点（有効焦点検出領域）として含むＡモードの設定が可能である。また、他の測距点配置モードとして、３３個の測距点のうち１５個の測距点を有効測距点として含むＢモードの選択も可能である。有効測距点（有効焦点検出領域）は、使用測距点（使用焦点検出領域）として選択可能な測距点を意味する。使用測距点は、その測距点に存在する被写体に対するＡＦが行われる測距点である。
【００２２】
Ａモードにおける１９個の有効測距点とＢモードにおける１５個の有効測距点はそれぞれ、共通する中央の有効測距点を除いて、一方のモードにおける有効測距点が他方のモードにおける有効測距点間の隙間を埋めるように配置されている。
【００２３】
ＡモードとＢモードとでは、図１３（ｂ）に示すように、それぞれ水平方向に延び、上下方向に並べられた複数（ここでは例として５本とする）の長いラインセンサにおける光電変換素子ブロックの分割パターン（以下、ブロック分割パターンという）が異なる。
【００２４】
各ラインセンサは、複数の光電変換素子が水平方向に配列されて構成されており、撮影光学系からの光束により形成された後述する一対の被写体像を光電変換可能である。各ラインセンサを構成する複数の光電変換素子を、それぞれ２以上の光電変換素子を含むグループに分けた場合の各グループを、本実施例では「光電変換素子ブロック」という。また、「ブロック分割パターン」とは、光電変換素子ブロックの分割の仕方である。
【００２５】
図１３（ｂ）では、Ａモードでのブロック分割パターンを太実線で示し、Ｂモードでのブロック分割パターンを太点線で示している。Ａモードでのブロック分割パターンとＢモードでのブロック分割パターンはそれぞれ、中央の共通する光電変換素子ブロックを除いて、一方のモードでの光電変換素子ブロックが他方のモードでの光電変換素子ブロック間の隙間を埋めるように設定されている。
【００２６】
このように、複数のラインセンサのそれぞれを複数の光電変換素子ブロックに分割することで、撮影画面内に複数の有効測距点を形成することができる。そして、ブロック分割パターンを変更（切り替える）ことで、撮影画面内において複数の有効測距点（中央の測距点を除く）の位置をシフトさせることができる。
【００２７】
図１には、本発明の実施例１であるカメラの構成を示している。１０１はカメラ本体であり、その前面には交換レンズとしての撮影レンズ（撮影光学系）１０２が取り外し可能に装着されている。カメラ本体１０１と撮影レンズ１０２は、マウント接点１１２を介して電気的にも接続されている。撮影レンズ１０２内には、不図示の変倍レンズおよびフォーカスレンズが設けられており、さらにカメラ本体１０１内に取り込まれる光量を調節するための絞り１１３が設けられている。
【００２８】
１０３はメインミラーであり、ハーフミラーにより構成されている。メインミラー１０３は、ファインダ観察状態では撮影光路上に斜めに配置され、撮影レンズ１０２からの光束の一部をファインダ光学系に向けて反射するとともに、他の一部を透過させる。メインミラー１０３を透過した光束は、サブミラー１０４で反射してＡＦユニット１０５に入射する。メインミラー１０３は、撮影状態では撮影光路外に退避する。
【００２９】
ＡＦユニット１０５は、図１３（ｂ）に示した５本のラインセンサを有するセンサ部と、撮影レンズ１０２のうち図２に示した各測距点に対応する領域を通過した光束を２分割してラインセンサ上に一対の被写体像を形成する二次結像光学系とを含む。ラインセンサ内の光電変換素子ブロックは、該一対の被写体像を光電変換して一対の像信号を出力する。
【００３０】
カメラＣＰＵ１１８は、一対の像信号に対して相関演算を行うことにより、該一対の像信号の位相差を算出する。そして、カメラＣＰＵ１１８は、該位相差から撮影レンズ１０２の焦点状態を示す焦点情報としてのデフォーカス量を算出し、さらにデフォーカス量から撮影レンズ１０２の合焦状態を得るために必要なフォーカスレンズの移動量を算出する。算出された移動量は、撮影レンズ１０２内の不図示のレンズＣＰＵに送信される。レンズＣＰＵは、受信した移動量に応じてフォーカスレンズを移動させる。このようにして、ＴＴＬ位相差検出方式でのＡＦが行われる。ＡＦユニット１０５とカメラＣＰＵ１１８により、焦点検出手段が構成される。
【００３１】
カメラＣＰＵ１１８は、ＡＦユニット１０５のラインセンサにおける光電変換素子ブロックの分割処理を行うブロック分割手段として機能するとともに、上記ＡＦの制御を行うフォーカス制御手段としても機能する。さらに、カメラＣＰＵ１１８は、後述する撮影動作を制御する撮影制御手段としても機能する。また、カメラＣＰＵ１１８内には不図示の記憶部が設けられており、該記憶部には、ＡＦや撮影動作の制御を行うために必要なコンピュータプログラムやデータが記憶されている。
【００３２】
１０８はＣＣＤセンサやＣＭＯＳセンサにより構成される撮像素子である。１０６は撮像素子１０８の前面に配置されたローパスフィルターである。１０７は撮像素子１０８の露光量を制御するフォーカルプレーンシャッタである。
【００３３】
１０９はピント板であり、１１０はペンタプリズムである。１１４はアイピースである。ピント板１０９、ペンタプリズム１１０およびアイピース１１４によりファインダ光学系が構成される。ファインダ観察状態において、撮影者（使用者）はアイピース１１４を通してピント板１０９を観察することにより、撮影画面内の被写体および測距点を観察することができる。１１１はペンタプリズム１１０からの光束を用いて測光を行うＡＥユニットである。
【００３４】
１１５はレリーズボタンである。レリーズボタン１１５が半押し操作されて不図示の撮影準備スイッチＳＷ１がＯＮになることによって、ＡＥおよびＡＦ等の撮影準備動作が行われる。また、レリーズボタン１１５が全押し操作されて不図示の撮影開始スイッチＳＷ２がＯＮになることによって、フォーカルプレーンシャッタ１０７が動作して撮像素子１０８が露光され、撮影処理が行われる。
【００３５】
１１６はカメラ本体１０１の背面に設けられたディスプレイユニットであり、液晶パネルや有機ＥＬパネル等によって構成されている。ディスプレイユニット１１６は、撮影により生成された画像や撮影に関する各種情報を表示する。
【００３６】
１１７は測距点選択スイッチであり、上下左右の操作キーと中央の操作キーとを含む。上下左右の操作キーの操作によって測距点の選択を行うことができる。また、中央の操作キーの操作によって、測距点選択モードを任意選択モードと自動選択モードとに切り替えることができる。
【００３７】
任意選択モードでは、カメラＣＰＵ１１８は、撮影者に測距点選択スイッチ１１７における上下左右の操作キーの操作によって任意の１つの測距点（使用測距点）を選択させる。そして、カメラＣＰＵ１１８は、その１つの使用測距点で得られたデフォーカス量に基づいてＡＦを行う。また、自動選択モードでは、カメラＣＰＵ１１８は、撮影者に測距点選択スイッチ１１７における中央の操作キーの操作によって測距モードを選択させる。そして、カメラＣＰＵ１１８は、選択された測距モードにおける複数の有効測距点でのデフォーカス量から所定のアルゴリズムに従って１つの使用測距点を選択し、その１つの使用測距点で得られたデフォーカス量に基づいてＡＦを行う。
【００３８】
図３（ａ）には、任意選択モードにおける測距点選択スイッチ１１７による使用測距点の選択方法を示している。測距点選択スイッチ１１７の上下左右のいずれかの操作キーが操作されると、まず任意選択モードが設定される。任意選択モードでは、デフォルトの使用測距点として中央の測距点１７が設定されている。例えば、測距点１７から測距点４へと使用測距点を変更する場合は、測距点選択スイッチ１１７の上の操作キーを操作した後に右の操作キーを操作すればよい。
【００３９】
図３（ｂ）には、自動選択モードにおける測距点配置モード（つまりはブロック分割パターン）の選択方法を示している。測距点選択スイッチ１１７の中央の操作キーが操作されると、まず自動選択モードが設定される。自動選択モードでは、デフォルトの測距点配置モードとしてＡモードが設定されている。再び中央の操作キーが操作されると、測距点配置モードがＡモードからＢモードに変更される。さらに、中央の操作キーが操作されると、測距点配置モードがＢモードからＡモードに変更される。
【００４０】
次に、図４のフローチャートを用いて、本実施例におけるＡＦ処理および撮影処理について説明する。この一連の処理は、カメラＣＰＵ１１８がコンピュータプログラムに従って実行する。
【００４１】
撮影者によりＳＷ１がＯＮされると、カメラＣＰＵ１１８はＡＦ処理をスタートする。
【００４２】
まず、ステップＳ４０１では、カメラＣＰＵ１１８は、測距点選択スイッチ１１７の操作によって予め設定されている測距点情報を取得する。測距点情報には、測距点選択モード（任意選択モードか自動選択モードか）を示す情報と、使用測距点の位置を示す情報や、自動選択モードでの測距点配置モード（ＡモードかＢモードか）を示す情報が含まれる。
【００４３】
ステップＳ４０２では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ４０１で取得した測距点選択モードが任意選択モードか自動選択モードかを判断する。任意選択モードである場合はステップＳ４０３に移行し、自動選択モードである場合はステップＳ４０５に移行する。
【００４４】
ステップＳ４０３では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ４０１で取得した使用測距点の位置に基づいてＡモードとＢモードのうち一方を選択する。具体的には、使用測距点が図２に示した測距点１，３，５，６，８，１１，１３，１５，１６，１７，１８，２０，２１，２３，２６，２８，２９，３１，３３のうちの１つである場合は、Ａモードを選択する。また、使用測距点が、測距点２，４，７，９，１０，１２，１５，１９，２２，２４，２５，２７，３０，３２のうちの１つである場合は、Ｂモードを選択する。その後、ステップＳ４０４に進む。
【００４５】
ステップＳ４０４では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ４０３で選択した測距点配置モードに対応するブロック分割パターンで複数の光電変換素子ブロックを分割設定する。そして、該複数の光電変換素子ブロックのうち、使用測距点に対応する光電変換素子ブロックでの電荷蓄積制御を行い、前述したように任意選択モードでのＡＦを行う。その後、ステップＳ４０７に進む。
【００４６】
一方、ステップＳ４０５では、カメラＣＰＵ１１８は、自動選択モードにおいて撮影者により選択された測距点配置モードがＡモードかＢモードかを判断し、該判断の結果に対応した測距点配置モードを設定する。その後、ステップＳ４０６に進む。
【００４７】
ステップＳ４０６では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ４０５で設定した測距点配置モードに対応するブロック分割パターンで各ラインセンサを複数の光電変換素子ブロックに分割する。そして、これら分割された複数の光電変換素子ブロックでの電荷蓄積制御を行い、前述した自動選択モードでのＡＦを行う。その後、ステップＳ４０７に進む。
【００４８】
ステップＳ４０７では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ２がＯＮされたか否かを判定し、ＯＮされた場合はステップＳ４０８に移行する。一方、ＯＮされていなければステップＳ４０９に移行する。
【００４９】
ステップＳ４０８では、カメラＣＰＵ１１８は、ＡＥユニット１１１により得られた測光情報に基づいてシャッタ１０７、撮像素子１０８および絞り１１３を制御して撮影動作を行う。その後、ステップＳ４０９に進む。
【００５０】
ステップＳ４０９では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ１がＯＦＦされたか否かを判定し、ＯＦＦされている場合は本処理を終了する。また、ＯＦＦされていない場合は、ステップＳ４０１に戻る。
【００５１】
以上説明したように、本実施例では、任意測距モードにおいては、撮影者の操作に応じて選択された使用測距点に応じて測距点配置モード（ブロック分割パターン）を切り替える。これにより、選択された使用測距点に存在する被写体の像（一対の被写体像）に対応した良好な像信号を得ることができ、ＡＦの精度（信頼性）を向上させることができる。しかも、ラインセンサでの電荷蓄積を１回で行うことができるので、ＡＦに要する時間が増加することもない。
【００５２】
また、自動選択モードにおいても撮影者が予め測距点配置モード（ブロック分割パターン）を設定することで、撮影者が意図する構図に対して有効測距点を適切に配置することができる。この結果、使用測距点に含まれる被写体の像（一対の被写体像）に対応した良好な像信号を得ることができ、ＡＦの精度（信頼性）を向上させることができる。
【００５３】
なお、前述したように、ＡモードおよびＢモードのいずれにおいても、中央の測距点が共通して有効測距点に設定される。これは、撮影画面の中央には撮影対象である主被写体が存在する場合が多いため、該主被写体に対してはＡモードとＢモードの切り替えを行わなくてもＡＦが行えるようにすることで、モード切り替えの煩わしさを軽減することができるようにするためである。
【実施例２】
【００５４】
次に、本発明の実施例２について説明する。本実施例のカメラの構成は、実施例１（図１）に示したカメラの構成と基本的に同じである。ただし、ＡＦユニット１０５におけるラインセンサの配置が実施例１とは異なる。
【００５５】
本実施例におけるＡＦユニット１０５では、図１３（ｂ）に示したように水平方向に複数の光電変換素子が配列された複数の水平ラインセンサに加えて、図５（ｂ）に示すように垂直方向に複数の光電変換素子が配列された複数の垂直ラインセンサも含む。水平ラインセンサが第１の方向に光電変換素子が配列された第１のラインセンサに相当し、垂直ラインセンサが、第１の方向とは異なる第２の方向に光電変換素子が配列された第２のラインセンサに相当する。
【００５６】
各垂直ラインセンサでは、図中に太実線で示すように、１又は複数の光電変換素子ブロックが設定されている。撮影画面内では、３３個の測距点に対応する３３個の光電変換素子ブロックが設定されている。
【００５７】
複数の光電変換素子ブロックに分割された垂直ラインセンサでは、該複数の光電変換素子ブロックが互いにオーバーラップしないように設定されている。
【００５８】
図６のフローチャートを用いて、本実施例におけるＡＦ処理および撮影処理について説明する。この一連の処理は、カメラＣＰＵ１１８がコンピュータプログラムに従って実行する。
【００５９】
撮影者によりＳＷ１がＯＮされると、カメラＣＰＵ１１８はＡＦ処理をスタートする。ここでは、自動選択モードでのＡＦ処理について説明する。
【００６０】
まずステップＳ６０１では、カメラＣＰＵ１１８は、該カメラＣＰＵ１１８内の記憶部に記憶されている測距点配置モード（Ａモード又はＢモード）の情報をクリアする。
【００６１】
次に、ステップＳ６０２では、カメラＣＰＵ１１８は、記憶部に測距点配置モードの情報が記憶されているか否かを判断する。測距点配置モードが記憶されている場合はステップＳ６０３に移行し、記憶されていない場合はステップＳ６０５に移行する。
【００６２】
ステップＳ６０３では、カメラＣＰＵ１１８は、測距点選択スイッチ１１７の操作によって予め設定されている測距点情報を取得する。ここでの測距点情報は、測距点配置モード（ＡモードかＢモードか）を示す情報である。そして、ステップＳ６０４に進む。
【００６３】
ステップＳ６０４では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ６０３で取得した測距点配置モードの情報に対応した測距点配置モードを設定する。その後、ステップＳ６０６に進む。
【００６４】
一方、ステップＳ６０５では、カメラＣＰＵ１１８は、記憶部に記憶されている測距点配置モードの情報に応じた測距点配置モードを設定する。その後、ステップＳ６０６に進む。
【００６５】
ステップＳ６０６では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ６０４又はステップＳ６０５で設定した測距点配置モードに対応するブロック分割パターンで水平ラインセンサを複数の光電変換素子ブロックに分割する。そして、該複数の光電変換素子ブロックでの電荷蓄積制御を行う。また、垂直ラインセンサにおける１又は複数の光電変換素子ブロックでの電荷蓄積制御を行う。
【００６６】
そして、カメラＣＰＵ１１８は、撮影画面のうち主被写体がどの測距点に存在するかを判定する。ここでは、水平ラインセンサに対するＡモードとＢモードの測距点配置モードの情報と、垂直ラインセンサにより得られるデフォーカス量の情報とから主被写体が存在する測距点（使用測距点）を判定する。例えば、Ａモードでは、水平方向については図１３（ａ）に示した１９個の有効測距点でデフォーカス量を得る。このとき、垂直ラインセンサでは、３３個のすべての測距点を有効測距点としてデフォーカス量を得る。そして、水平方向における１９個の有効測距点で得たデフォーカス量と、垂直方向における３３個の有効測距点で得たデフォーカス量とに基づいて、主被写体が存在する使用測距点を判定する。こうして使用測距点を判定した後、カメラＣＰＵ１１８は、使用測距点に存在する被写体に対して合焦状態が得られるようにＡＦを行う。その後、ステップＳ６０７に進む。
【００６７】
ステップＳ６０７では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ６０６で選択された使用測距点に対応した測距点配置モード（ＡモードあるいはＢモード）を、記憶部に記憶する。
【００６８】
具体的には、使用測距点が図２に示した測距点１，３，５，６，８，１１，１３，１５，１６，１７，１８，２０，２１，２３，２６，２８，２９，３１，３３のうちの１つである場合は、Ａモードを記憶部に記憶する。また、使用測距点が、測距点２，４，７，９，１０，１２，１５，１９，２２，２４，２５，２７，３０，３２のうちの１つである場合は、Ｂモードを記憶部に記憶する。その後、ステップＳ６０８に進む。
【００６９】
ステップＳ６０８では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ２がＯＮされたか否かを判定し、ＯＮされた場合はステップＳ６０９に移行する。一方、ＯＮされていなければステップＳ６１０に移行する。
【００７０】
ステップＳ６０９では、カメラＣＰＵ１１８は、ＡＥユニット１１１により得られた測光情報に基づいてシャッタ１０７、撮像素子１０８および絞り１１３を制御して撮影動作を行う。その後、ステップＳ６１０に進む。
【００７１】
ステップＳ６１０では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ１がＯＦＦされたか否かを判定し、ＯＦＦされている場合は本処理を終了する。また、ＯＦＦされていない場合は、ステップＳ６０２に戻る。
【００７２】
以上説明したように、本実施例では、自動選択モードで選択された使用測距点に応じて次回のＡＦでの測距点配置モード（Ａモード／Ｂモード）を切り替える。これにより、連続してＡＦを行う場合において被写体が当初の構図から移動した後においても適切な測距点配置モードでＡＦを行うことができる。
【００７３】
また、被写体が移動した場合に、垂直ラインセンサのみでＡＦが行われることがあるが、次回のＡＦで測距点配置モードを切り替えることで、水平ラインセンサと垂直ラインセンサの両方から得られたデフォーカス量に基づいてＡＦを行うことができる。このため、ＡＦの精度を向上させることができる。
【実施例３】
【００７４】
次に、本発明の実施例３について説明する。本実施例のカメラの構成は、実施例１（図１）に示したカメラの構成と基本的に同じである。ただし、ＡＦユニット１０５におけるラインセンサの配置が実施例１とは異なる。
【００７５】
実施例１，２では図１３（ａ）に示すような２つのブロック分割パターンを有する場合について説明したが、本実施例では図７に示すように、ラインセンサを一定間隔（一定の光電変換素子数）で分割するとともに、その分割開始位置を任意に設定できる。ここでの一定間隔は、検出可能なデフォーカス量の大きさに応じて決定してもよいし、撮影レンズ１０２の光学特性から決定してもよい。
【００７６】
図８のフローチャートを用いて、本実施例におけるＡＦ処理および撮影処理について説明する。この一連の処理は、カメラＣＰＵ１１８がコンピュータプログラムに従って実行する。
【００７７】
撮影者によりＳＷ１がＯＮされると、カメラＣＰＵ１１８はＡＦ処理をスタートする。ここでは、任意選択モードでのＡＦ処理について説明する。
【００７８】
まずステップＳ８０１では、カメラＣＰＵ１１８は、測距点選択スイッチ１１７の操作によって予め設定されている測距点情報を取得する。ここでの測距点情報は、使用測距点の位置を示す情報である。
【００７９】
次にステップＳ８０２では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ８０１で取得した使用測距点の位置に応じてブロック分割パターンを設定（変更）する。図９には、中央の測距点を含む複数の測距点を構成するラインセンサにおけるブロック分割パターンの設定例を示している。このラインセンサは、図２に示した測距点１４〜２０のうちいずれかが使用測距点として選択された場合に像信号を生成するための光電変換を行う。
【００８０】
測距点１４，１７，２０のうちいずれかが使用測距点として選択された場合は、図９（ａ）に示すように分割開始位置をラインセンサの先頭画素に設定する。また、測距点１５，１９のうちいずれかが使用測距点として選択された場合は、図９（ｂ）に示すように分割開始位置をラインセンサの先頭画素からｂ番目の画素に設定する。測距点１６が使用測距点として選択された場合は、図９（ｃ）に示すように、分割開始位置をラインセンサの先頭画素からｃ番目の画素に設定する。さらに、測距点１８が使用測距点として選択された場合は、図９（ｄ）に示すように、分割開始位置をラインセンサの先頭画素からｄ番目の画素に設定する。
【００８１】
ステップＳ８０３では、カメラＣＰＵ１１８は、ステップＳ８０２で設定したブロック分割パターンで各ラインセンサを複数の光電変換素子ブロックに分割する。そして、使用測距点に対応する光電変換素子ブロックでの電荷蓄積制御を行い、前述した任意選択モードでのＡＦを行う。その後、ステップＳ８０４に進む。
【００８２】
ステップＳ８０４では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ２がＯＮされたか否かを判定し、ＯＮされた場合はステップＳ８０５に移行する。一方、ＯＮされていなければステップＳ８０６に移行する。
【００８３】
ステップＳ８０５では、カメラＣＰＵ１１８は、ＡＥユニット１１１により得られた測光情報に基づいてシャッタ１０７、撮像素子１０８および絞り１１３を制御して撮影動作を行う。その後、ステップＳ８０６に進む。
【００８４】
ステップＳ８０６では、カメラＣＰＵ１１８は、ＳＷ１がＯＦＦされたか否かを判定し、ＯＦＦされている場合は本処理を終了する。また、ＯＦＦされていない場合は、ステップＳ８０１に戻る。
【００８５】
以上説明したように、本実施例では、任意選択モードにおいて選択された使用測距点に応じて光電変換素子ブロックの分割開始位置を設定する。これにより、選択された使用測距点に存在する被写体の像（一対の被写体像）に対応した良好な像信号を得ることができ、ＡＦの精度（信頼性）を向上させることができる。
【００８６】
また、ブロック分割パターンをラインセンサごとに設定できるようにすれば、実施例１，２で説明したＡモードやＢモードの測距点配置パターンを実現することも可能である。
【００８７】
以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００８８】
ＡＦの精度（信頼性）が高い撮像装置を提供することができる。
【符号の説明】
【００８９】
１０５  ＡＦユニット
１０８  撮像素子
１１７  測距点選択スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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