(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルに形成された複数の信号パッドに電気的信号を供給する複数のプローブピンを有するプローブユニットと、
前記プローブユニット下端で前後に移動可能な導電フィルムと、
前記導電フィルムを前方に移動させて前記複数の信号パッドと前記プローブピンとの間に前記導電フィルムを介在させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する１次検査信号供給部と、
前記導電フィルムを後方に移動させて前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する２次検査信号供給部と、
前記１次検査信号供給部と前記２次検査信号供給部によるいずれの検査によっても前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記信号パッド側の不良と判定し、前記１次検査信号供給部による検査では前記表示パネルの不良画素は検出されず前記２次検査信号供給部による検査により前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記プローブピンの不良と判定する不良判定部と、
を有することを特徴とする表示パネルの検査装置。
【請求項２】
前記導電フィルムは、
ベースフィルムと、
前記ベースフィルム上に形成され前記信号パッドと接続される導電膜と、
を含むことを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。
【請求項３】
前記導電フィルムは、
ベースフィルムと、
前記信号パッドと接続される領域の前記ベースフィルム上に形成される導電性ゴムと、
前記ベースフィルムの残りの領域上に形成される導電膜と、
を含むことを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。
【請求項４】
前記導電膜は、ＢｅＣｕで形成されることを特徴とする請求項２及び３のうちいずれかに記載の表示パネルの検査装置。
【請求項５】
前記導電フィルムの位置を調整すると同時に導電フィルムを固定させるフィルムブロックユニットを追加的に具備することを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。
【請求項６】
前記フィルムブロックユニットは、
前記導電フィルムが安着される段差面を有するフィルム固定バーと、
前記段差面上に安着される導電フィルムを固定させる固定ブロックと、
前記フィルムブロックユニットの位置を調整するシリンダと、
を含むことを特徴とする請求項５記載の表示パネルの検査装置。
【請求項７】
前記導電フィルムは各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分されて接続されることを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。
【請求項８】
前記１次検査信号供給部は、
前記プローブピンに同一の電気的信号を供給し、
前記２次検査信号供給部は、
前記プローブピンに少なくとも２以上の互いに異なる電気的信号を供給する、
ことを特徴とする請求項１に記載の表示パネルの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は表示パネルの検査装置に関し、特に検査工程の検出精度を向上させることができる表示パネルの検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常、液晶表示装置（ＬＣＤ）は、液晶表示パネルにマトリックス状に配列された液晶セルのそれぞれがビデオ信号を受信することによって光透過率を調節し画像を表示する。
【０００３】
このような液晶表示パネルは、液晶を間に置き、接着剤によって取り付けられる薄膜トランジスタ基板及びカラーフィルタ基板を具備する。
【０００４】
カラーフィルタ基板には、光漏れ防止のためのブラックマトリックス、色具現のためのカラーフィルタ、画素電極と垂直電界を成す共通電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された上部配向膜を含むカラーフィルタアレイが形成される。
【０００５】
薄膜トランジスタ基板には、下部基板上に互いに交差されるように形成されたゲートライン及びデータライン、それらの交差部に形成された薄膜トランジスタＴＦＴ、薄膜トランジスタと接続された画素電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された下部配向膜を含む薄膜トランジスタアレイが形成される。
【０００６】
このような従来の液晶表示パネルを製造するための製造工程は、薄膜トランジスタアレイのそれぞれとカラーフィルタアレイのそれぞれが形成されるパターニング工程、薄膜トランジスタ基板とカラーフィルタ基板が液晶を間において接着される接着工程、不良液晶表示パネルを検出する検査工程などに分けられる。
【０００７】
このうち、検査工程では、液晶表示パネルに駆動集積回路を取り付ける前の状態で液晶表示パネルの不良の有無を検査するようになる。具体的には、検査工程はバックライトユニット及び駆動集積回路が組み立てられた完製品の液晶表示モジュールと同一の環境で組み立てられた検査装置に液晶表示パネルを移動させる。検査装置に移動された液晶表示パネルには液晶表示モジュールを駆動させる時と同一の駆動信号である検査信号が印加され画像が具現される。この際、液晶表示パネルの信号ラインに不良が生じている場合、その不良が生じている信号ラインと接続された画素は正常な信号ラインと接続された画素とは異なる画像を具現するようになるので、液晶表示パネルの不良状態を容易に確認することができる。
【０００８】
このような検査工程の際、信号ラインに検査信号を供給するために、信号ラインと接続された信号パッドのそれぞれはプローブピンと一対一で接続される。
【０００９】
しかし、信号パッドに異物が付着しているかプローブピンに損傷が発生される場合または信号パッドとプローブピンとの間にミスアラインが発生される場合、液晶表示パネルに具現される画像が同一となる場合があるので、このような場合には、作業者は信号パッドの断線による不良であるのかプローブピンによる不良であるのかを容易に判別できないという問題点があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
従って、本発明の達成しようとする技術的課題は、検査工程の検出精度を向上させることができる表示パネルの検査装置及び検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記問題点を達成するために、本発明による表示パネルの検査装置は、表示パネルに形成された複数の信号パッドに電気的信号を供給する複数のプローブピンを有するプローブユニットと、前記プローブユニット下端で前後に移動可能な導電フィルムと、前記導電フィルムを前方に移動させて前記複数の信号パッドと前記プローブピンとの間に前記導電フィルムを介在させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する１次検査信号供給部と、前記導電フィルムを後方に移動させて前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する２次検査信号供給部と、前記１次検査信号供給部と前記２次検査信号供給部によるいずれの検査によっても前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記信号パッド側の不良と判定し、前記１次検査信号供給部による検査では前記表示パネルの不良画素は検出されず前記２次検査信号供給部による検査により前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記プローブピンの不良と判定する不良判定部と、を有することを特徴とする。
【００１２】
前記導電フィルムの第１実施形態はベースフィルムと、前記ベースフィルム上に形成され前記信号パッドと接続される導電膜と、を含むことを特徴とする。
【００１３】
前記導電フィルムの第２実施形態は、ベースフィルムと、前記信号パッドと接続される領域の前記ベースフィルム上に形成される導電性ゴムと、前記ベースフィルムの残りの領域上に形成される導電膜と、を含むことを特徴とする。
【００１４】
ここで、前記導電膜はＢｅＣｕで形成されることを特徴とする。
【００１５】
一方、本発明による表示パネルの検査装置は、前記導電フィルムの位置を調整すると同時に導電フィルムを固定させるフィルムブロックユニットを追加的に具備することを特徴とする。
【００１６】
ここで、前記フィルムブロックユニットは前記導電フィルムが安着される段差面を有するフィルム固定バーと、前記段差面上に安着される導電フィルムを固定させる固定ブロックと、前記フィルムブロックユニットの位置を調節するシリンダと、を含むことを特徴とする。
【００１７】
前記導電フィルムは各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分されて接続されることを特徴とする。
【００１８】
前記第１モードでは前記プローブピンに同一の電気的信号が印加され、前記第２モードでは前記プローブピンに少なくとも２以上の互いに異なる電気的信号が印加されることを特徴とする。
【００１９】
前記問題点を達成するために、本発明による表示パネルの検査方法は表示パネルに形成された複数の信号パッドと前記プローブピンの間に導電フィルムが介在されるように前記導電フィルムを前方に移動させる段階と、前記導電フィルムと接続された複数の信号パッドに前記プローブピンを用いて１次電気的信号を供給する段階と、前記導電フィルムを後方に移動させ前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させる段階と、前記複数の信号パッドそれぞれに前記プローブピンを用いて２次電気的信号を供給する段階と、を含むことを特徴とする。
【００２０】
ここで、前記１次電気的信号を供給する段階は、前記プローブピンを用いて前記複数の信号パッドに同一の検査信号を供給する段階を含むことを特徴とする。
【００２１】
そして、前記２次電気的信号を供給する段階は、前記プローブピンを用いて前記複数の信号パッドに少なくとも２以上の互いに異なる検査信号を供給する段階を含むことを特徴とする。
【００２２】
一方、前記導電フィルムは、フィルムブロックユニットに固定され前記前後に移動可能であることを特徴とする。
【００２３】
また、前記導電フィルムは、各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分され接続されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２４】
本発明に係る表示パネルの検査装置によれば、表示パネルの検査工程の検出精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明の望ましい一実施例を図１乃至図１０を参照してより詳細に説明する。
【００２６】
図１は本発明による表示パネルの検査装置を示す斜視図である。
【００２７】
図１を参照すると、本発明による表示パネルの検査装置は信号パッド１０６、選択的に接続される導電フィルム１１０、信号パッド１０６に検査信号を供給するプローブユニット１２０を具備する。
【００２８】
導電フィルム１１０は図２に示されたように各集積回路に対して対応される複数の信号パッド１０６からなる２個以下のブロック単位に形成されるか図３に示されたように複数の信号パッド１０６と全部接続されるように一体的に形成される。ブロック単位または一体的に形成された導電フィルム１１０は信号パッド１０６とプローブピン１２２との間でこれらを接触させる。これにより、プローブピン１２２を介してブラック検査信号は導電フィルム１１０と接続された信号パッド１０６に供給される。この場合、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラックを具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現するようになる。このように、導電フィルム１１０は信号パッド１０６及びその信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８の断線を検出するために用いられる。
【００２９】
このような導電フィルム１１０は図４に示されたフィルムブロックユニット１３０に安着され固定される。フィルムブロックユニット１３０は段差面１３４を有するフィルム固定バー１３２と、段差面１３４上に安着される導電フィルム１１０を固定させる固定ブロック１３６を含む。また、フィルムブロックユニット１３０に形成されたシリンダ（図示せず）はフィルムブロックユニット１３０を水平または垂直方向に直線運動させる。このようなシリンダによってフィルムブロックユニット１３０に固定された導電フィルム１１０は自動に信号パッド１０６に接続されるか非接続される。
【００３０】
一方、導電フィルム１１０は図５に示されたようにベースフィルム１１２上に導電性材質で形成された導電膜１１４からなる。または、図６に示されたように信号パッド１０６と接続される領域のベースフィルム１１２上に形成された導電性ゴム１１６と、信号パッド１０６と非接続される領域のベースフィルム１１２上に導電性材質で形成された導電膜１１４からなる。ここで、導電膜１１４は、例えば、約２０〜１００μｍの厚さのＢｅＣｕから形成される。導電性ゴム１１６は信号パッド１０６との接触力を向上させるために弾性を有する材質から形成される。
【００３１】
プローブユニット１２０はプローブ本体１２４と、プローブ本体１２４から突出されたプローブピンを含む。
【００３２】
プローブ本体１２４にはプローブピン１２２が固定され、プローブ本体１２４に固定されたプローブピン１２２はプローブ本体１２４の移動によって位置が調整される。
【００３３】
プローブピン１２０は、信号パッド１０６とまたは信号ライン１０８の不良検査の際導電フィルム１１０を通じて信号パッド１０６と、ブロック単位または一体的に接続される。そして、プローブピン１２０はそのプローブピン１２０自体の不良検査の際信号パッド１０６と一対一で直接接続される。このようなプローブピン１２０はプローブユニットと接続された検査装置（図示せず）からのブラック検査信号を信号パッド１０６に供給する。
【００３４】
一方、信号パッド１０６及び信号ライン１０８が形成された表示パネル１００は、液晶を間に置いて接着された薄膜トランジスタ基板１０４及びカラーフィルタ基板１０２からなる液晶表示パネル１００に適用可能である。この液晶表示パネル１００のゲートラインにゲート信号を供給するゲート集積回路はゲートテープキャリアパッケージＴＣＰ上に実装される。または、複数の薄膜トランジスタＴＦＴを含むシフトレジスタで構成されるので液晶表示パネル１００の各画素と接続された薄膜トランジスタＴＦＴ及び複数の信号ラインと共に形成され非表示領域に内蔵される。
【００３５】
また、図１に示された表示パネルは液晶表示パネルだけではなくプラズマ表示パネルＰＤＰ、電界発光素子ＥＬ、及び電界放出素子ＦＥＤなどにも適用可能である。
【００３６】
図７及び図１０は本発明による表示パネルの検査方法を説明するための斜視図及び断面図である。
【００３７】
まず、フィルムブロックユニット１３０に固定された導電フィルム１１０はフィルムブロックユニット１３０のシリンダによって液晶表示パネル１００の信号パッド１０６の方である前方に移動するようになる。その後、液晶表示パネル１００は図示されていないローディング装置によって導電フィルム１１０の方に上昇してその液晶表示パネル１００の信号パッド１０６と導電フィルム１１０が接続するようになる。この際、導電フィルム１１０は少なくとも一つのブロックそれぞれに含まれた複数個の信号パッド１０６を電気的に短絡される。
【００３８】
導電フィルム１１０を通じて短絡された信号パッド１０６は図７及び図８に示すように導電フィルム１１０の方に下降するプローブユニット１２０のプローブピン１２２と接続するようになる。プローブピン１２２はプローブユニット１２０と接続された検査装置（図示せず）からのブラック信号である１次検査信号をブロック単位で短絡された信号パッド１０６に供給する。この際、各ブロックに含まれた信号パッド１０６のうち少なくともいずれか一つまたは各ブロックと対応されるプローブピン１２２のうち少なくともいずれか一つに損傷が発生されても導電フィルム１１０を通じて各ブロックの信号パッド１０６に同一の検査信号を供給することができる。これにより、プローブピン１２２と信号パッド１０６との接触不良を防止することができる。信号パッド１０６に供給された検査信号はその信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８を通じて信号ライン１０８と接続された画素に供給される。
【００３９】
その後、作業者は肉眼検査または光学器具による自動検査を通じて液晶表示パネル１００に表示された画像によって液晶表示パネル１００の不良を判別するようになる。即ち、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラック画像を具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現する。このように、導電フィルム１１０を通じて不良信号パッド１０６、不良信号ライン１０８及び不良画素を検出することができる。
【００４０】
その後、液晶表示パネル１００はローディング装置（図示せず）によって導電フィルム１１０と反対方向側に下降するようになる。導電フィルム１１０は図９及び図１０に示すようにフィルムブロックユニット１３０のシリンダによって液晶表示パネル１００の信号パッド１０６と遠くなるように後方に移動するようになる。
【００４１】
以後、液晶表示パネル１００の信号パッド１０６はその信号パッド１０６の方に下降するようになるプローブユニット１２０を通じてプローブピン１２２と接続する。この際、プローブピン１２２は信号パッド１０６それぞれと一対一に対応される。プローブピン１２２と一対一で接続された信号パッド１０６はプローブユニット１２０と接続された検査装置（図示せず）からブラック信号である２次検査信号が供給される。ここで、２次検査信号は１次検査信号と同一であるか異なることができ、２次検査信号は少なくとも２以上の互いに異なる検査信号であることもできる。この２次検査信号は信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８を通じて信号ライン１０８と接続された画素に供給される。
【００４２】
その後作業者は肉眼検査または光学器具による自動検査を通じて液晶表示パネル１００に表示された画像によって液晶表示パネル１００の不良を判別するようになる。即ち、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラック画像を具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現するようになる。
【００４３】
この際、１次検査工程と２次検査工程の際、重複検出された信号パッド１０６及び信号ライン１０８は断線が発生されるか異物が発生された信号パッド１０６及び信号ライン１０８である。反面、１次検査工程の際検出されなく２次検査工程の際検出された信号パッド１０６及び信号ライン１０８は信号パッド１０６と対応されるプローブピン１２２の不良である。このように、２次検査工程ではプローブピン１２２と信号パッド１０６を一対一対応させてプローブピン１２２の不良を検出することができる。
【００４４】
上述したように、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は、少なくとも一つのブロックからなる複数の信号パッドを電気的に短絡させて複数の信号パッドに同一の１次検査信号を供給した後複数の信号パッドそれぞれに２次検査信号を供給する。
【００４５】
これにより、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は１及び２次検査信号を用いた検査工程によって信号ライン、信号パッド、画素の不良有無判断の正確性が高くなる。また、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は信号パッドと接続されるプローブピンの不良有無を判断することもできる。
【００４６】
以上、本発明の実施形態によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明は、表示パネルの検査に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明による表示パネルの検査装置を示す斜視図である。
【図２】図１に示された導電フィルムがブロック形に形成された図面である。
【図３】図１に示された導電フィルムが一体形に形成された図面である。
【図４】図１に示された導電フィルムを固定させるためのフィルム固定ユニットを示す斜視図である。
【図５】図１に示された導電フィルムの第１及び第２実施形態を示す斜視図である。
【図６】図１に示された導電フィルムの第１及び第２実施形態を示す斜視図である。
【図７】本発明による表示パネルの信号ライン及び信号パッドの不良を検出する方法を説明するための図面である。
【図８】本発明による表示パネルの信号ライン及び信号パッドの不良を検出する方法を説明するための図面である。
【図９】本発明による検査装置の不良を検出する方法を説明するための図面である。
【図１０】本発明による検査装置の不良を検出する方法を説明するための図面である。
【符号の説明】
【００４９】
１００    液晶表示パネル、
１０２    カラーフィルタ基板、
１０４    薄膜トランジスタ基板、
１０６    信号パッド、
１０８    信号ライン、
１１０    導電フィルム、
１１２    ベースフィルム、
１１４    導電膜、
１１６    導電性ゴム、
１２０    プローブユニット、
１２２    プローブピン、
１２４    プローブ本体、
１３０    フィルムブロックユニット。
【００５０】
１３２    フィルム固定バー、
１３４    段差面、
１３６    固定ブロック。
【図１】
0005441315.tif 000002
【図２】
0005441315.tif 000003
【図３】
0005441315.tif 000004
【図４】
0005441315.tif 000005
【図５】
0005441315.tif 000006
【図６】
0005441315.tif 000007
【図７】
0005441315.tif 000008
【図８】
0005441315.tif 000009
【図９】
0005441315.tif 000010
【図１０】
0005441315.tif 000011