(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する試験リスト保持部と、
各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブルを保持する対応テーブル保持部と、
前記試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を取得する試験結果値取得部と、
前記対応テーブル保持部を参照して、前記試験結果値取得部により取得された試験結果値をランク分けするランク判定部と、
前記ランク判定部により決定されたランクに応じて前記試験リストの内容を適応的に変更する試験リスト管理部と、
を備え、
前記ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類され、
前記良品ランクは、第１良品ランクおよび第２良品ランクに分類され、
前記第１良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、
前記第２良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであり、
前記試験リストに含まれる複数の試験項目には、温度特性試験が含まれ、
前記温度特性試験に先行する試験項目の試験結果値が、前記温度特性試験の省略が指定されている第１良品ランクに分類される場合、前記試験リスト管理部は、前記試験リストに含まれる前記温度特性試験を省略することを特徴とする試験管理装置。
【請求項２】
被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する試験リスト保持部と、
各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブルを保持する対応テーブル保持部と、
前記試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を取得する試験結果値取得部と、
前記対応テーブル保持部を参照して、前記試験結果値取得部により取得された試験結果値をランク分けするランク判定部と、
前記ランク判定部により決定されたランクに応じて前記試験リストの内容を適応的に変更する試験リスト管理部と、
を備え、
前記ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類され、
前記良品ランクは、第１良品ランク、第２良品ランクおよび第３良品ランクに分類され、
前記第１良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、
前記第２良品ランクは、試験項目の変更が不可能なランクであり、
前記第３良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであり、
前記試験リストに含まれる複数の試験項目には、温度特性試験が含まれ、
前記温度特性試験に先行する試験項目の試験結果値が、前記温度特性試験の省略が指定されている第１良品ランクに分類される場合、前記試験リスト管理部は、前記試験リストに含まれる前記温度特性試験を省略することを特徴とする試験管理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象に実施すべき試験を管理する試験管理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
様々な分野の製品（たとえば、光モジュール、マイクロコントローラ、システムメモリなど）において、試験の自動化が進んでいる。一般的に、自動試験では予め設定された試験項目、その順番にしたがい試験項目が順次実行される（たとえば、特許文献１〜３参照）。以下、本明細書では製品の試験が複数の試験項目からなることを前提とする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１２４８１１号公報
【特許文献２】特開２００８−２３４２３２号公報
【特許文献３】特開平５−１５７５９２号公報
【０００４】
複数の試験項目のうち、第１試験項目の測定値が所定の範囲内に収まる場合、第２試験項目の測定値が必ず規格内に収まるという関係が成り立つ場合がある。この場合、第２試験項目の測定を省略しても、試験評価の品質に何ら影響を与えない。また、第１試験項目の測定値が所定の範囲に収まる場合でも、測定値がその範囲の境界付近の値である場合、第３試験項目の測定値の採取が必須となる場合もある。
【０００５】
このように、同じ種類の製品でも個々の製品の特性バラツキにより、本来的に、必要とする試験項目は異なる。何が必要で何が不必要かは、実際に測定し、特性を評価しなければ分からない。そのため、従来の自動試験装置では、全ての製品で抜けが発生しないよう、全ての試験項目を実施することを原則としている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、全ての製品に対して全ての試験項目を実施するということは、上述したように不必要な試験が実施されることを意味する。これは時間的、コスト的な無駄が生じていることを意味する。
【０００７】
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある態様の試験管理装置は、被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する試験リスト保持部と、各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブルを保持する対応テーブル保持部と、試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を取得する試験結果値取得部と、対応テーブル保持部を参照して、試験結果値取得部により取得された試験結果値をランク分けするランク判定部と、ランク判定部により決定されたランクに応じて試験リストの内容を適応的に変更する試験リスト管理部と、を備える。
【０００９】
この態様によると、試験結果値に応じて、試験リストの内容を適応的に変更することにより、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる。
【００１０】
ランクは、良品ランクと不良品ランクとに分類されてもよい。良品ランクは、第１良品ランクおよび第２良品ランクに分類されてもよい。第１良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第２良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであってもよい。
【００１１】
また、良品ランクは、第１良品ランク、第２良品ランクおよび第３良品ランクに分類されてもよい。第１良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第２良品ランクは、試験項目の変更が不可能なランクであり、第３良品ランクは、試験項目の追加を指定可能なランクであってもよい。
【００１２】
試験リストに含まれる複数の試験項目には、温度特性試験が含まれ、温度特性試験に先行する試験項目の試験結果値が、温度特性試験の省略が指定されている第１良品ランクに分類される場合、試験リスト管理部は、試験リストに含まれる温度特性試験を省略してもよい。温度特性試験を省略できれば、試験時間を大幅に短縮できる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施の形態に係る試験管理装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態に係る試験管理装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】測定値のランク分けの一例を示す図である。
【図４】ランク定義データの一例を示す図である。
【図５】試験リスト内の試験項目の変遷例を示す図である。
【図６】ＯＳＮＲとＢＥＲとの関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
図１は、本発明の実施の形態に係る試験管理装置１００の構成を示す図である。試験管理装置１００は、たとえば、ＰＣ、専用機などにより構築できる。試験管理装置１００は、実際に試験を行う試験設備と一体的に構成されていてもよいし、離れた位置に設置されていてもよい。また、試験管理装置１００と試験設備とは有線または無線ネットワークにより接続されており、電子的に情報をやりとりする構成であってもよいし、試験実施者（以下、ユーザという）を介してやりとりする構成であってもよい。後者の場合、ユーザは試験結果値を操作部から入力してもよいし、試験結果値が書き込まれた記録メディアを試験管理装置１００に装着することにより、入力してもよい。
【００１６】
試験管理装置１００は、保持部１０、処理部２０およびユーザインタフェース３０を備える。保持部１０は、試験項目保持部１１、試験リスト保持部１２、対応テーブル保持部１３および試験結果保持部１４を含む。
【００１７】
処理部２０は、試験項目指定部２１、試験結果値取得部２２、ランク判定部２３、試験リスト管理部２４および良品判定部２５を含む。処理部２０の構成は、ソフトウエア的にはメモリにロードされたプログラムなどによって実現されるが、ここではそれらの連携によって実現される機能ブロックを描いている。したがって、これらの機能ブロックがハードウエアのみ、ソフトウエアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは、当業者には理解されるところである。
【００１８】
試験項目保持部１１は、試験管理装置１００が管理対象としている様々な被試験対象物に対する各種試験項目を保持する。試験リスト保持部１２は、被試験対象物に実施すべき複数の試験項目とその順番を規定した試験リストを保持する。この試験リストは、試験項目保持部１１に保持される各種試験項目の中から、被試験対象物の種別および試験の種別に応じて、予め設計者またはユーザにより生成されたものである。たとえば、ユーザは、ユーザインタフェース３０の操作部を操作することにより、ある被試験対象物に対する出荷試験の試験リストを生成できる。より具体的には、この試験で実施すべき試験項目およびその順番を決定してリスト化できる。
【００１９】
対応テーブル保持部１３は、各試験項目の結果値をランク分けし、各ランクと、省略または追加する試験項目とを対応付けたテーブル（以下、このテーブルに構築されるデータをランク定義データという）を保持する。この各試験項目の結果値とランクとの関係は、規格や要求仕様にもとづき、予め決定される。なお、ランクに関する詳細な説明は後述する。試験結果保持部１４は、被試験対象物に対して実施された試験の結果値を保存する。
【００２０】
試験項目指定部２１は、被試験対象物の試験リストにもとづき、つぎに実施すべき試験項目を試験設備またはユーザに指定する。試験結果値取得部２２は、当該試験リストにしたがい実施された試験項目の試験結果値を試験設備またはユーザから取得する。ランク判定部２３は、対応テーブル保持部１３を参照して、試験結果値取得部２２により取得された試験結果値をランク分けする。
【００２１】
以下、ランクの構成例について説明する。まず、３ランクに分類する第１構成例を説明する。ランクは、大分類として良品ランクと不良品ランクに２分類される。第１構成例では、良品ランクは第１良品ランクおよび第２良品ランクに２分類される。ここで、第１良品ランクは試験項目の省略を指定可能なランクであり、第２良品ランクは試験項目の追加を指定可能なランクである。
【００２２】
つぎに、４ランクに分類する第２構成例を説明する。第２構成例では、良品ランクは第１良品ランク、第２良品ランクおよび第３良品ランクに３分類される。ここで、第１良品ランクは、試験項目の省略を指定可能なランクであり、第２良品ランクは試験項目の変更が不可能なランクであり、第３良品ランクは試験項目の追加を指定可能なランクである。
【００２３】
試験リスト管理部２４は、ランク判定部２３により決定されたランクに応じて、試験リストの内容を適応的に変更または試験リスト内の試験項目を適応的に組み換える。より具体的には、試験リスト内の指定された試験項目を削除するか、試験リスト内に指定された試験項目を追加するか、試験リストを変更せずにその内容を維持する。試験項目を追加する場合、ランク判定部２３からその追加位置（すなわち、実施順番）も指定される。良品判定部２５は、試験リストに含まれる全ての試験項目をパスした被試験対象物を良品と判定し、いずれかの試験項目をパスできなかった被試験対象物を不良品と判定する。
【００２４】
図２は、本発明の実施の形態に係る試験管理装置１００の動作を示すフローチャートである。ユーザインタフェース３０は、ユーザから被試験対象とすべき製品種別を受け付ける（Ｓ１０）。なお、同一製品に対して複数の試験種別がある場合、その種別も受け付ける。
【００２５】
試験項目指定部２１は、受け付けた製品種別に対応する試験リストを試験リスト保持部１２内で特定し、その試験リストに含まれる試験項目を試験項目保持部１１から読み出し、初期の試験リストを生成する（Ｓ１１）。試験項目指定部２１は、つぎに実施すべき試験項目を指定し（Ｓ１２）、その試験項目の実施を試験設備またはユーザに指示する（Ｓ１３）。なお、試験開始時は当該試験リストで最初に実施すべき試験項目が、つぎに実施すべき試験項目となる。
【００２６】
試験結果値取得部２２は、指定された試験項目を実施した試験設備またはユーザから、その試験結果値（以下、測定値という）を取得し、試験結果保持部１４に保存する（Ｓ１４）。当該試験設備または当該ユーザから、試験終了通知を取得すると（Ｓ１５）、ランク判定部２３および試験リスト管理部２４は、当該試験リスト内の試験項目変更確認処理を開始する（Ｓ１６）。
【００２７】
ランク判定部２３および試験リスト管理部２４は、対応テーブル保持部１３からランク定義データを取得する（Ｓ１７）。ランク判定部２３は、試験結果値取得部２２により取得された測定値をランク分けする（Ｓ１８）。試験リスト管理部２４は、ランク判定部２３により分類された測定値のランクと、当該ランク定義データを参照して、試験項目の追加または削除の有無を判定する（Ｓ１９）。
【００２８】
試験項目の追加または削除が存在する場合（Ｓ２０のＹ）、試験リスト管理部２４は当該試験リストに、その追加または削除を反映させる（Ｓ２１）。すなわち、当該試験リストの内容を変更する。ステップＳ２０にて、試験項目の追加または削除が存在しない場合（Ｓ２０のＮ）、ステップＳ２１の処理をスキップする。
【００２９】
試験項目指定部２１は、当該試験リスト内の全ての試験項目が終了したか否か判定する（Ｓ２２）。全ての試験項目が終了していない場合（Ｓ２２のＮ）、ステップＳ１２に遷移し、ステップＳ１３〜ステップＳ２１までの処理を実行する。全ての試験項目が終了した場合（Ｓ２２のＹ）、指定された試験を終了する。
【００３０】
以下、図３〜図５を参照しながら本発明の実施の形態に係る試験管理装置１００の処理例を説明する。図３は、測定値のランク分けの一例を示す図である。図３に示すように当該処理例では、測定値を４ランクに分類する。より具体的には、Ｓランク、Ａランク、ＢランクおよびＣランクに分類する。このうち、Ｓランク、ＡランクおよびＢランクは良品である。Ｃランクは不良品である。図３に示すように良品範囲のうち、理想値とその近傍にＳランクの範囲が設定される。Ｓランクは、試験リスト内において後続の試験項目の解除を指定できるランクである。
【００３１】
Ａランクは、良品範囲内のＳランクの外側に設定されるが、不良品範囲との間に一定のマージンを持つ範囲に設定される。Ａランクは、試験リスト内の試験項目を変更できないランクである。Ｂランクは、良品範囲内のＡランクの外側に設定され、不良品範囲と接する範囲に設定される。Ｂランクは、試験リスト内に、試験項目の追加を指定できるランクである。Ｃランクは、良品範囲の外側の不良品範囲に設定される。Ｃランクは、試験リスト内の試験項目を変更できないランクである。
【００３２】
図４は、ランク定義データの一例を示す図である。当該ランク定義データは、試験リスト保持部１２に構築される。当該ランク定義データにおけるＳランク、ＡランクおよびＢランクは、図３に示すＳランク、ＡランクおよびＢランクにそれぞれ対応している。当該ランク定義データでは、試験項目１〜８が規定され、各試験項目ごとに各ランクの数値範囲が定義されている。図３に示すように各ランクの数値範囲は重複しないため、各試験項目の測定値は、いずれかのランクに振り分けられる。
【００３３】
Ｓランクは削除項目をさらに含み、Ｂランクは追加項目をさらに含む。当該ランク定義データでは、試験項目２の測定値がＳランクの数値範囲に入ると、試験項目５が削除されるよう定義されている。同様に、試験項目４および６の測定値がＳランクの数値範囲にそれぞれ入ると、試験項目７および８がそれぞれ削除されるよう定義されている。反対に、試験項目１の測定値がＢランクの数値範囲に入ると、試験項目３が追加されるよう定義されている。
【００３４】
図５は、図３および図４を前提とした、試験リスト内の試験項目の変遷例を示す図である。開始前状態の試験リストでは、試験項目１、２、４−８の７項目が指定されている。すなわち、試験項目３は予定項目に含まれていない（１行目参照）。まず、試験項目１が実行され、その測定値はＢランクの数値範囲に含まれる。図４を参照すると、試験項目１の測定値がＢランクの場合、試験項目３が追加される（２行目参照）。つぎに、試験項目２が実行され、その測定値はＳランクの数値範囲に含まれる。図４を参照すると、試験項目２の測定値がＳランクの場合、試験項目５が削除される（３行目参照）。
【００３５】
つぎに、試験項目３が実行され、その測定値はＡランクの数値範囲に含まれる。Ａランクの場合、試験項目に変更が発生しない（４行目参照）。つぎに、試験項目４が実行され、その測定値はＳランクの数値範囲に含まれる。図４を参照すると、試験項目４の測定値がＳランクの場合、試験項目７が削除される（５行目参照）。つぎに、試験項目６が実行される。試験項目５は試験項目２の測定値がＳランクの数値範囲に含まれるため、既に削除されている。試験項目６の測定値はＳランクの数値範囲に含まれる。図４を参照すると、試験項目６の測定値がＳランクの場合、試験項目８が削除される（６行目参照）。試験項目７、８は既に削除されているため、試験項目６で試験全体が終了となる。初期状態として、７項目の試験を予定していたが、実際には５項目の試験で終了となった。
【００３６】
以下、本発明の実施の形態に係る試験管理装置１００の適用例について説明する。被試験対象物が光モジュールや半導体モジュールなど温度特性を持つ場合、上記試験リストの試験項目に、温度特性試験が含まれることになる。温度特性試験は、常温、高温、低温の三状態で試験することが一般的であり、測定値を得るまでに時間がかかるという問題点がある。また、大量の被試験対象物を同時に試験するには、恒温槽の数を増やさなければならいという問題点もある。このように、温度特性試験は、試験全体のボトルネックとなっている。したがって、温度特性試験の回数をできるだけ減らすことが試験時間の短縮に有効である。
【００３７】
以下、受光側の光モジュール（以下、光レシーバという）の試験を例に説明する。以下、説明を単純化するため、信号通し試験→ＢＥＲ（Bit Error Rate）試験（ノーマル）→ＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ；Optical Signal-to-Noise Ratio）→アラーム試験を順次実行する例を考える。実際にはより多くの種類の試験が実行されることが一般的である。
【００３８】
信号通し試験は、光レシーバに光ファイバおよび光源を接続し、光レシーバで光信号が受信されているか否かを検査する試験である。ＢＥＲ試験（ノーマル）は、光レシーバに光パワーを入力した場合のビットエラーレートを検出する試験である。ＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）は、ノイズが重畳された光信号を入力した場合のビットエラーレートを検出する試験である。アラーム試験は光信号が切断された場合に、アラームがなるか否かを検査する試験である。
【００３９】
ここで、ＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）について常温、高温、低温の三状態の温度で試験する場合について考える。試験時間を無視すれば、三状態の全てにおいて試験することが望ましいが、以下、無駄な試験を排除することにより、試験時間を短縮する手法を考える。
【００４０】
図６は、ＯＳＮＲとＢＥＲとの関係を示す図である。ＯＳＮＲの理想特性Ｌｉ（実線）の周囲にＳランク領域Ｒｓ（実線と点線との間の領域）が設定される。そのＳランク領域Ｒｓの外側にＢランク領域Ｒｂ（一点鎖線と点線との間の領域）が設定される。Ｂランク領域Ｒｂの外延は、常温において、規格または要求仕様により許容される境界を示している。
【００４１】
基本的に、光レシーバのＢＥＲは高温になると高くなる。光レシーバ内で使用されている電子部品の多くが正の温度特性を持つためである。仮に、負の温度特性を持つ回路素子を使用していない場合、高温状態でＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）を実行し、それが良品であれば、常温状態および低温状態での試験を省略できる。
【００４２】
また、最初に常温状態でＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）を実行してもよい。この場合、恒温槽を用いずに試験することも可能である。ここで、常温状態でのＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）の測定値が、Ｓランク領域Ｒｓに収まる場合は、高温状態および低温状態でも良品となることが予め保証される関係にある場合について考える。この場合、常温状態でのＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）の測定値が、Ｓランク領域Ｒｓに収まる場合、高温状態および低温状態での試験を省略できる。
【００４３】
常温状態でのＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）の測定値が、Ｓランク領域Ｒｓには収まらないが、Ｂランク領域Ｒｂには収まる場合、高温状態および低温状態での試験を実行する必要がある。なお、高温状態でＢＥＲ試験（ＯＳＮＲ）を実行し、それが良品であれば、低温状態での試験を省略してもよい。
【００４４】
なお、この手法は光レシーバのＢＥＲ試験（ノーマル）、アラーム試験に適用してもよいし、送信側の光モジュールの消光比試験、クロスポイント試験、パルスマスク試験、アラーム試験などに適用してもよい。これらの試験は既知の試験であるため、その詳細な説明は省略する。
【００４５】
以上説明したように本実施の形態によれば、試験の最中に、個々の製品の特性を測定および評価して、動的に試験項目を変更することにより、個々の製品の特性に合った最適な試験を実行できる。より具体的には、個々の製品の測定値を評価分類することにより、個々の製品の特性の違いを判断し、試験評価に必要不可欠または必要最小限の最適な試験項目を見いだし、随時、試験項目を自動変更しながら試験を実行する。これにより、試験の信頼性を低下させることなく、試験時間を短縮させることができる。
【００４６】
従来、試験中において、試験項目、試験条件、規格を変更するには、ユーザが対話形式で端末装置を操作する手法が一般的であった。これに対して、本実施の形態では試験前にそれらをユーザが設定するだけで足り、試験中は全自動で適応的に変更される。したがって、人的ミスの発生が抑制され、試験時間も短縮される。
【００４７】
また、温度特性試験を可及的にスキップするように試験項目を変更するアリゴリズムを採用することにより、試験時間を大幅に短縮できる。
【００４８】
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
【符号の説明】
【００４９】
１０  保持部、  １１  試験項目保持部、  １２  試験リスト保持部、  １３  対応テーブル保持部、  １４  試験結果保持部、  ２０  処理部、  ２１  試験項目指定部、  ２２  試験結果値取得部、  ２３  ランク判定部、  ２４  試験リスト管理部、  ２５  良品判定部、  ３０  ユーザインタフェース、  １００  試験管理装置。
【図１】
0005554750.tif 000002
【図２】
0005554750.tif 000003
【図３】
0005554750.tif 000004
【図４】
0005554750.tif 000005
【図５】
0005554750.tif 000006
【図６】
0005554750.tif 000007