(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレント長の光の一部を測定光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし、該参照光と前記測定光の反射光とを合成し、干渉させる干渉光学系と、
該干渉光学系によって得られた干渉光を導光する光ファイバーと、
前記光ファイバーを通過した干渉光を発する前記光ファイバーの端部と、該端部から発せられた干渉光を各周波数成分に分光するための回折格子と、該回折格子によって分光された干渉光を集光する集光レンズと、各周波数成分に分光された干渉光を受光する一次元受光素子とを含む分光光学系と、を備え、前記一次元受光素子からの前記干渉光による受光信号に基づいて被検眼の断層画像を取得する眼科装置であって、
前記一次元受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記一次元受光素子と、前記分光光学系に設けられた前記一次元受光素子以外の他の光学部材と、の相対的な位置関係を調整する調整手段を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項２】
請求項１の眼科装置において、前記調整手段は、少なくとも、分光光学系の光軸に対して垂直な平面上であって前記一次元受光素子の長手方向と直交する方向に関して、前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整する駆動機構を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項３】
請求項１〜２のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記他の光学部材に対して前記一次元受光素子の位置を調整する駆動機構を備えることを特徴とする眼科装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整するために前記一次元受光素子に入射させるキャリブレーション用の光束として前記参照光を用いることを特徴とする眼科装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記一次元受光素子から出力される受光信号に基づいて前記一次元受光素子に対する光の受光状態を判定し、その判定結果に基づいて前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整する駆動制御手段を備えることを特徴とする眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）を用いて、被検眼の光学断層画像撮影や光学表面プロファイルを測定する眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、分光光学系によるスペクトル干渉を用いた光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）にて被検眼の光学断層画像撮影や光学表面プロファイルを測定する眼科装置が知られている。このような装置は、測定時に参照ミラーを駆動させないため、スペクトル干渉を用いない通常のＯＣＴ装置に比べて高速測定が可能である。このような装置においては、例えば、被検眼に向けて近赤外域の低コヒーレント長の測定光（計測光）を照射し、その反射光を参照光と合成させて干渉させた後、回折格子等を用いて干渉光を各周波数成分に分光し、分けられた光束を受光素子に受光させ、その受光信号を解析することにより、被検眼の深さ方向の諸情報を得る眼科装置が知られている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、上記のようなスペクトル干渉を用いた眼科装置の場合、各周波数成分に分光された干渉光を受光するための受光素子において、受光素子の画素と各周波数成分との間には、所定の対応関係が定められている（例えば、受光素子の画素毎に受光する周波数成分が割り当てられている）。しかしながら、装置の輸送や装置の使用の間に分光光学系に設けられた受光素子や回折格子等に位置ずれが生じた場合、受光素子によって検出される分光情報（光強度分布）が当初のものから変化してしまい、誤った断層画像や光学表面プロファイルが得られてしまう可能性がある。
【０００４】
本発明は、上記問題点を鑑み、分光光学系で光学部材の位置ずれが生じても、信頼性の高い断層画像や光学表面プロファイルを得ることができる眼科装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００６】
（１）  
低コヒーレント長の光の一部を測定光とするとともに前記低コヒーレント長の光の一部を参照光とし、該参照光と前記測定光の反射光とを合成し、干渉させる干渉光学系と、
該干渉光学系によって得られた干渉光を導光する光ファイバーと、
前記光ファイバーを通過した干渉光を発する前記光ファイバーの端部と、該端部から発せられた干渉光を各周波数成分に分光するための回折格子と、該回折格子によって分光された干渉光を集光する集光レンズと、各周波数成分に分光された干渉光を受光する一次元受光素子とを含む分光光学系と、を備え、前記一次元受光素子からの前記干渉光による受光信号に基づいて被検眼の断層画像を取得する眼科装置であって、
前記一次元受光素子から出力される受光信号に基づいて、前記一次元受光素子と、前記分光光学系に設けられた前記一次元受光素子以外の他の光学部材と、の相対的な位置関係を調整する調整手段を備えることを特徴とする。
（２）
請求項１の眼科装置において、前記調整手段は、少なくとも、分光光学系の光軸に対して垂直な平面上であって前記一次元受光素子の長手方向と直交する方向に関して、前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整する駆動機構を備えることを特徴とする。
（３）  
請求項１〜２のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記他の光学部材に対して前記一次元受光素子の位置を調整する駆動機構を備えることを特徴とする。
（４）
請求項１〜３のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整するために前記一次元受光素子に入射させるキャリブレーション用の光束として前記参照光を用いることを特徴とする。
（５）  
請求項１〜４のいずれかの眼科装置において、前記調整手段は、前記一次元受光素子から出力される受光信号に基づいて前記一次元受光素子に対する光の受光状態を判定し、その判定結果に基づいて前記一次元受光素子と前記他の光学部材との相対的な位置関係を調整する駆動制御手段を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、分光光学系で光学部材の位置ずれが生じても、信頼性の高い断層画像や光学表面プロファイルを得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る眼科装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直（被検者の顔面と同一平面）な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。
【０００９】
図１において、その光学系は、低コヒーレント長の光の一部を測定光とするとともに低コヒーレント長の光の一部を参照光とし，参照光と測定光の反射光とを合成し，干渉させる干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００と、干渉光学系によって得られた干渉光を周波数（波長）毎に分光し，分光された干渉光を受光手段（本実施形態においては、１次元受光素子）に受光させる分光光学系２００と、赤外光によって照明された被検眼眼底を二次元受光素子にて撮影することによって眼底観察用の眼底画像を取得することができる眼底観察光学系３００と、を備える。干渉光学系１００は、測定光学系１００ａと参照光光学系１００ｂを含む。また、ダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系１００の測定光として用いられる波長成分の光を反射し、眼底観察光学系３００の観察光として用いられる波長成分の光を透過する特性を有する。
【００１０】
まず、ＯＣＴ光学系１００の構成について説明する。２７はＯＣＴ光学系１００の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、中心波長８４０ｎｍで５０ｎｍの帯域を持つ光源が用いられる。２８は、光源２７に強い光量の光が入射することによって光源２７が故障してしまうのを防止するために、後述する光ファイバ３１からの光をカットするためのアイソレータである。２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３０を通過して端部３０ａより出射され、二つのコリメータレンズの間に配置されたアイソレータ２８を介して、光ファイバ３１の端部３１ａに入射し、ファイバーカップラー２６に達する。そして、ファイバーカップラー２６によって参照光と測定光とに分割され、測定光は光ファイバ３２を介して測定光光学系１００ａに向かい、参照光は光ファイバ３３を介して参照光光学系１００ｂに向かう。
【００１１】
被検眼Ｅへ向けて測定光を出射しその反射光を得る測定光学系１００ａには、測定光を出射する光ファイバ３２の端部３２ａ、被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なリレーレンズ２４、測定光の光路長を調整するための光路長補正ガラス４１、ガルバノ駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を高速で走査させることが可能な一対のガルバノミラーからなる走査部２３、リレーレンズ２２、ダイクロイックミラー４０、対物レンズ１０が配置されている。なお、光ファイバ３２の端部３２ａは、被検眼眼底と共役となるように配置されている。また、走査部２３のガルバノミラーの反射面は、眼底上でＸＹ方向に走査される測定光が被検眼瞳孔によってけられないように、被検眼瞳孔と略共役な位置に配置される。本実施形態では、一対のガルバノミラーの中間位置と被検眼瞳孔とが共役関係になるようにガルバノミラーを配置することにより、被検眼瞳孔と略共役な位置に一対のガルバノミラーの両方の反射面が被検眼瞳孔と略共役な位置に配置されるようになっている。なお、一対のガルバノミラーの両方の反射面が被検眼瞳孔と共役関係になるような光学配置としてもよい。
【００１２】
光ファイバ３２の端部３２ａから出射した測定光は、リレーレンズ２４、光路長補正ガラス４１を介して、走査部２３のガルバノミラーに達し、一対のガルバノミラーの駆動により反射方向が変えられる。そして、ガルバノミラーで反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、ダイクロイックミラー４０で反射された後、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。
【００１３】
そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ１０を介して、ダイクロイックミラー４０で反射し、リレーレンズ２２、走査部２３のガルバノミラー、光路長補正ガラス４１を介して、リレーレンズ２４によって集光されたのち、光ファイバ３２の端部３２ａに入射する。端部３２ａに入射した測定光は、光ファイバ３２、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３５を介して、ファイバーカップラー３４に達する。
【００１４】
一方、参照光の光路長を被検眼の深さ方向（光軸方向）に変化させることができる参照光学系１００ｂには、参照光を出射する光ファイバ３３の端部３３ａ、コリメータレンズ６０、参照光の光路長を調整するための光路長補正用ガラス６１、ファイバーカップラ３４に達する際の測定光の光強度と参照光全体の光強度の大きさをほぼ等しいレベルにするための減衰フィルタ６２、フォーカシングレンズ６３、光ファイバー３６の端部３６ａが配置されている。光路長補正用ガラス６１は、複数の周波数成分を持つ測定光が測定光学系１００ａの対物レンズ１０、リレーレンズ２２、リレーレンズ２４を通過したことによる測定光の光路長の変化に合わせて、参照光の光路長を補正するために用いられる。なお、測定光学系１００ａに配置された光路長補正ガラス４１は、参照光光学系１００ｂに減衰フィルタ６２を挿入することによる参照光の光路長の変化に合わせて、測定光の光路長を補正するために用いられる。
【００１５】
フォーカシングレンズ６３及び光ファイバー３６の端部３６ａは、参照光の光路長を変化させるべく、駆動機構５０により光軸方向に一体的に移動可能な構成となっている。これにより、従来の参照ミラーを光軸方向に移動させる方式と比べて、構成を簡略化させることができる。
【００１６】
光ファイバー３３の端部３３ａから出射した参照光は、コリメータレンズ６０で平行光束とされ、光路長補正用ガラス６１、減衰フィルタ６２を介して、フォーカシングレンズ６３によって集光され、光ファイバー３６の端部３６ａに入射する。端部３６ａに入射した参照光は、光ファイバ３６を介して、ファイバーカップラー３４に達する。
【００１７】
ここで、ファイバーカップラー３４にて測定光の反射光と参照光とが合成されて干渉光となったのち、光ファイバ３９を介して、分光光学系２００へと向かう。
【００１８】
分光光学系２００には、コリメータレンズ８０、光ファイバ３９の端部３９ａから発せられた干渉光を各周波数成分に分光する作用を果たす回折格子８１（分散プリズム等を用いてもよい）、回折格子８１によって分光された干渉光を集光する集光レンズ８２、受光手段として各周波数成分に分光された干渉光を受光する受光素子８３（本実施形態では、１次元受光素子）が配置されている。光ファイバ３９の端部３９ａから発せられた干渉光（測定光と合成された参照光）は、コリメータレンズ８０により平行光となり、回折格子８１によって各周波数成分に分光され、集光レンズ８２を経て、受光素子８３に集光する。これにより、受光素子８３上でスペクトル干渉縞（パワースペクトル）が記録される。そして、受光素子８３からの受光信号は、制御部７０へと入力される。ここで、受光素子８３にて受光されたパワースペクトルと相関関数との間にはフーリエ変換の関係が存在する。従って、制御部７０は、受光素子８３で計測されるスペクトル干渉縞をフーリエ変換することで、測定光と参照光の相互相関関数が得られ、これがＯＣＴ信号となる。これにより、被検眼の深さ方向の形状が計測可能となる。
【００１９】
次に、受光素子８３の位置を分光光学系２００の他の部材に対して調整する位置調整機構９０の構成について説明する（図２参照）。位置調整機構９０は、受光素子８３が取り付けられるステージ面９１を有し、このステージ面を直線方向の３軸（ｘｙｚ）方向に移動させる直線駆動機構９２と回転方向の２軸（ψ、α）方向に移動させる回転駆動機構９３の駆動によって、受光素子８３を各方向（５軸）に移動させることができる。なお、直線駆動機構９２は、ステージ面を分光光学系２００の光軸Ｌ２方向（ｚ方向）及び該光軸に垂直な平面（ｘｙ平面）に対して移動させる。また、位置調整機構９０には、受光素子８３の１画素あたりの寸法に考慮して、数ミクロンもしくはナノオーダーで位置調整可能なものが好ましく、例えば、直線方向の移動量の最小単位が１μｍ、回転方向の移動量の最小単位が２分のものを用いる。また、位置調整機構９０に用いる駆動機構としては、精密な位置調整ができるように、圧電（ピエゾ）素子やステッピングモータを利用したものが考えられる。
【００２０】
次に、図１に戻って眼底観察光学系３００について説明する。眼底観察光学系３００には、対物レンズ１０、撮像レンズ１２、二次元撮像素子１３が配置されている。ここで、図示なき眼底観察用照明光学系によって照明された眼底からの反射光は、対物レンズ１０、ダイクロイックミラー４０、撮像レンズ１２を経て、二次元撮像素子１３に結像する。そして、２次元撮像素子１３から出力される撮像信号は、制御部７０へと入力される。そして、制御部７０は、撮像素子１３によって撮像された眼底画像を表示モニタ７５の画面上に表示する。撮像素子１３によって撮像された眼底画像は、被検眼眼底の観察や断層画像を取得する際の被検眼に対するアライメントに利用される。７２はメモリであり、取得された断層画像や、受光素子８３の位置調整を行うためのキャリブレーション情報となる基準分光情報等を記憶する。
【００２１】
また、制御部７０には、スイッチ部７４が接続されている。なお、スイッチ部７４には、例えば、測定開始スイッチ７４ａ、測定位置設定スイッチ７４ｂ、オートコヒーレンススイッチ７４ｃ等が接続されている。
【００２２】
以上のような構成を備える装置において、その動作について説明する。まず、位置調整機構９０の駆動による受光素子８３の位置調整（キャリブレーション）について説明する。なお、本実施形態においては、参照光をキャリブレーション用の光束として用い、受光素子８３に参照光のみを入射させるようにした状態にて行う。この場合、参照光と測定光の反射光とを合成させないよう規制するための遮光板９９を、測定光が通過する光路中（本実施形態では、検査窓の前）に設置することにより、測定光の反射光が光ファイバ３２の端部に達しないようにする。この場合、制御部７０による所定の駆動機構により遮光板９９を移動させるようにしてもよい。
【００２３】
ここで、検者により装置の電源が投入されると、制御部７０は、光源２７を点灯する。このとき、光源２７より発せられた測定光は、光ファイバ３２の端部３２ａより出射されるが、その反射光が光ファイバ３２の端部に達しないように傾斜を持って配置された遮光板９９の作用によって、反射光が端部３２ａに入射しない。よって、結果的に参照光と測定光は合成されることなく、参照光のみが一次元受光素子８３に受光される。
【００２４】
制御部７０は、上記のように参照光を受光素子８３に受光させることによって得られる分光情報とメモリ７２に予め記憶された基準分光情報とに基づいてキャリブレーションを行う。なお、本実施形態において、キャリブレーションの基準となる基準分光情報として、受光素子８３の画素と各周波数成分との間の対応関係が所定の対応関係にある場合の分光情報であって、分光光学系２００に設けられた各光学部材の配置が適正な位置に置かれた状態にある場合に受光素子８３に受光された分光情報を用いる。より具体的には、受光素子８３の各画素に予め割り当てられた周波数成分の光が検出される場合の分光情報であって、受光素子８３の各画素毎に適正な光強度が得られる場合の分光情報を用いる。この場合、光源２７が発するコヒーレント光の分光情報に等しいものを基準分光情報としても用いることも可能である。
【００２５】
以下に、受光素子８３の位置を調整する際の基本的な考え方を記す。以下の説明では、図４に示すように、図１における光軸Ｌ２方向成分をｚ方向、光軸Ｌ２方向に対して垂直な平面上にあって基準分光情報を検出することができる位置（キャリブレーション完了後の位置）に配置された受光素子８３の長手方向と直交する方向成分をｙ（上下）方向，光軸Ｌ２方向に垂直な平面上にあって基準分光情報を検出することができる位置（キャリブレーション完了後の位置）に配置された受光素子８３の長手方向成分をｘ（左右）方向、光軸Ｌ２を回転中心とする回転方向成分をψ方向、ｙ軸を回転中心とする回転方向成分をα方向として説明する。なお、受光素子８３は、その受光面が集光レンズ８２に対して対向するように位置調整機構９０のステージ面９１上に取り付けられている。
【００２６】
ここで、メモリ７２に記憶された基準分光情報（図３参照）に対して、受光素子８３にて検出された分光情報の波形に変化がない状態であって分光情報の全体の光量レベルが減衰している場合には、制御部７０は、直線駆動機構９２を駆動させ、受光素子８３をｙ方向のいずれかに移動させる。受光素子８３がｙ方向に移動されると、分光情報全体の光量レベルが増加もしくは減衰するので、制御部７０は受光素子８３に検出された分光情報の変化に応じて、分光情報全体の光量レベルが基準分光情報の波形に近づくように受光素子８３をｙ方向に移動させる。この場合、例えば、分光情報のピークが所定の光量レベルになるようにすればよい。
【００２７】
また、メモリ７２に記憶された基準分光情報（図３参照）に対して、受光素子８３にて検出された分光情報の波形がなだらかな状態であって分光情報において中央部の光量レベルが減衰し周辺部の光量レベルが増加しているような場合には、制御部７０は、直線駆動機構９２を駆動させ、受光素子８３をｚ方向のいずれかに移動させる。受光素子８３がｚ方向に移動されると、分光情報の波形が変化するので、制御部７０は、受光素子８３に検出された分光情報の変化に応じて、基準分光情報の波形に近づくように受光素子８３をｚ方向に移動させる。
【００２８】
また、メモリ７２に記憶された基準分光情報（図３参照）に対して、受光素子８３にて検出された分光情報のピークを検出する受光素子８３の画素の位置がシフトしているような場合には、制御部７０は、直線駆動機構９２を駆動させ、受光素子８３をｘ方向のいずれかに移動させる。受光素子８３がｘ方向に移動されると、受光素子８３における分光情報のピークの検出位置がシフトするので、制御部７０は、受光素子８３に検出された分光情報の変化に応じて、受光素子８３におけるピークの検出位置が、基準分光情報におけるピークの検出位置に近づくように（受光素子８３における予め設定された一画素にてピークが検出されるようにする）受光素子８３をｘ方向に移動させる。
【００２９】
また、メモリ７２に記憶された基準分光情報（図３参照）に対して、受光素子８３にて検出された分光情報のある周波数域は減衰していないがその他の周波数域で減衰する場合には、制御部７０は、回転駆動機構９３を駆動させ、受光素子８３をψ方向のいずれか、もしくはα方向のいずれかに移動させる。受光素子８３が回転されると、減衰していた周波数域の波形が変化するので、制御部７０は、受光素子８３に検出された分光情報の変化に応じて、基準分光情報の波形に近づくように受光素子８３をψ方向もしくはα方向に移動させる。
【００３０】
ここで、分光光学系２００における光学部材（回折格子８１や受光素子８３等）の位置ズレは、一方向のみとは限らないので、本実施形態では、以下のようにして受光素子８３の位置を調整する（図５のフローチャート参照）。例えば、まず、受光素子８３にて現在の分光情報を検出し、メモリ７２に記憶された基準分光情報と比較する。そして、制御部７０は、はじめに、受光素子８３に検出される分光情報に基づいて、受光素子８３を直線移動させたり、受光素子８３をψ方向もしくはα方向に回転移動させることにより、受光素子８３における分光情報のピークの検出位置を基準分光情報におけるピークの検出位置に近づくように受光素子８３の位置を調整する。このようにして、受光素子８３におけるピークの検出位置の調整を行ったら、制御部７０は、受光素子８３を直線移動させたり、受光素子８３をψ方向もしくはα方向に回転移動させることにより、受光素子８３にて検出される分光情報の波形が基準分光情報の波形に近づくように受光素子８３の位置を調整する。このようにして、波形の調整を行ったら、制御部７０は、受光素子８３を直線移動させることにより、受光素子８３にて検出される分光情報のピークが所定の光量レベルに近づくように受光素子８３の位置を調整する。なお、上記のように受光素子８３の位置調整を行い、受光素子８３にて検出される分光情報がメモリ７２に記憶された基準分光情報に一致しない場合には、再度ピークの検出位置の調整に戻り、再度位置調整を行う。
【００３１】
このようにして、受光素子８３の位置を調整することにより、受光素子８３にて検出される分光情報が、メモリ７２に記憶された基準分光情報に等しいものと判断された場合、制御部７０は、受光素子８３の画素と各周波数成分との間の対応関係が断層画像の取得に適正な状態となるように受光素子８３が配置されたとみなし、被検眼の断層画像を取得するステップに移行する。このようにして、受光素子８３に検出される分光情報とメモリ７２に記憶された基準分光情報とに基づいて受光素子８３の位置を分光光学系２００の他の部材に対して移動させることにより、正確な断層画像を得ることができる。
【００３２】
以下に、被検眼の断層画像を取得する際の装置の動作について簡単に説明する。まず、検者は、図示なき前眼部観察用カメラで撮影された画面で瞳孔中心に測定光軸がくるようにアライメントし、被検者に図示なき可動固視灯を注視させ、検者の所望する測定部位に誘導する。図６は、眼底観察光学系３００によって取得された眼底観察画像が表示モニタ７５の画面上に表示されたものである。検者は、表示モニタ７５上の赤外眼底画像に基づいて眼底にフォーカスを合わせ、次にオートコヒーレンススイッチ７４ｃを押されると、制御部７０による駆動機構５０の駆動により、ＯＣＴ信号が検出されるまで自動でファイバ３６の端部３６ａ及びフォーカシングレンズ６３が一体的に移動される。
【００３３】
ここで、検者より測定開始スイッチ７４ａからの入力があると、制御部７０は、走査部２３をＸＹ方向に駆動させることにより、測定光を二次元的に移動させる。この場合、制御部７０は、測定光のＸＹ方向の走査に同期して得られる受光素子８３からの干渉（受光）信号に基づいて被検眼の深さ方向の情報を取得していくことにより、３次元ＯＣＴ情報を取得することができる。
【００３４】
制御部７０は、取得された３次元ＯＣＴ画像情報からＯＣＴ観察画像として用いる画像信号を取得し、取得された画像信号を検者が測定位置を設定するための測定位置設定ラインＬ１と共にＯＣＴ観察画像上に表示させる（図７参照）。これにより、検者は、ＯＣＴ観察画像から測定位置を設定することができる。そして、測定位置が設定されたら、制御部７０は、設定された測定位置に対応する断層画像を３次元ＯＣＴ画像から取得し、これを表示モニタ７５に表示する（図８参照）。これにより、検者は、断層画像から診断を行うことができる。
【００３５】
なお、以上の説明のように、受光素子８３を他の分光光学系の光学部材に対して移動させるようにしたことにより、受光素子８３のみの移動によって分光光学系に設けられた光学部材の位置ズレの問題を解消することができる。
【００３６】
また、以上の説明においては、受光素子８３を移動させるような構成としたが、これに限るものではなく、受光素子８３と分光光学系１００の他の光学部材（回折格子８１や集光レンズ８２）の相対的な位置関係が調整できるものであればよい。例えば、回折格子８１や集光レンズ８２を受光素子８３に対して移動させるようにしてもよい。より具体的には、受光素子８３にて検出された分光情報に基づいて、回折格子８１をψ方向に回転移動、集光レンズ８２をｘｙｚ方向に直線移動及びα方向に回転移動させるようにしてもよい。
【００３７】
なお、以上説明したようなキャリブレーション動作によっても、適正な分光情報が得られないような場合、制御部７０は、分光光学系の光学部材に位置ズレが生じている旨のメッセージを検者に報知するようにしてもよい（例えば、表示モニタ７５にその旨を表示する）。
【００３８】
また、受光素子８３によって検出された分光情報が基準分光情報と一致しない場合、制御部７０は、分光光学系で光学部材の位置ずれが生じている旨のメッセージを検者に報知するようにしてもよい。
【００３９】
なお、上記のようなキャリブレーションを行うための専用のモードを設け、キャリブレーションモードに設定するための所定のモード設定スイッチ（スイッチ部７４に設ければよい）の入力によって、上記キャリブレーションが行われるようにしてもよい。この場合、モード設定スイッチの入力に応じて、所定の駆動機構を駆動制御し、上記遮光板９９を測定光の光路中に挿入させるようにしてもよい。また、上記のような分光光学系で光学部材の位置ずれが生じている旨のメッセージの報知に基づいて、上記設定スイッチを押すような手法も考えられる。
【００４０】
なお、本実施形態において、基準分光情報は、眼科装置で使用される光学系が適正な位置に置かれた状態にて取得されるものとしているが、この適正位置とは、各光学部材の配置が必ずしも最良な状態を意味するものではなく、信頼性の高い画像情報をキャリブレーションによって再現することができる光学配置位置（状態）が確保されていればよい。
【００４１】
また、以上の説明においては、光源２７から発せられた参照光をキャリブレーション用の光束として用いるような構成としたが、これに限るものではない。すなわち、分光光学系２００に対して所定の光源（専用の光源でもよい）からキャリブレーション用の光束を導光し、導光されたキャリブレーション用の光束を分光光学系２００を介して受光素子８３に受光させることにより、上記のようなキャリブレーションを行うような構成としてもよい。
【００４２】
また、キャリブレーション用の光源の経時変化によって光源自体が発する光の分光情報が変化する可能性があるため、スペクトロラジオメータ等を用いて光源そのものの分光情報を計測するようにするとよい。例えば、光源２７から発せられた分光情報を計測し、計測された分光情報を受光素子８３の位置調整を行う際の基準分光情報として用いるよう、予め設定された基準分光情報のデータを更新するようにすれば、より正確な断層画像の取得が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本実施形態に係る眼科装置の光学系及び制御系を示す図である。
【図２】受光素子の位置を分光光学系の他の部材に対して調整する位置調整機構の構成について説明するための図である。
【図３】予め設定された断層画像の取得に適正な分光情報の例を示す図である。
【図４】受光素子の位置を調整する際の基本的な考え方を示すための図である。
【図５】受光素子の位置を調整する際の例を示すフローチャートである。
【図６】眼底観察光学系によって取得された眼底観察画像が表示モニタの画面上に表示されたものである。
【図７】取得された画像信号を検者が測定位置を設定するための測定位置設定ラインＬ１と共にＯＣＴ観察画像上に表示させたものである。
【図８】設定された測定位置に対応する断層画像を３次元ＯＣＴ画像から取得し表示モニタに表示した場合の例である。
【符号の説明】
【００４４】
２７  光源
３４  ファイバーカップラー
３６  光ファイバ
３９  光ファイバ
７０  制御部
７２  メモリ
７５  モニタ
８０  コリメータレンズ
８１  回折格子
８２  集光レンズ
８３  受光素子
９０  位置調整機構
９１  ステージ面
９２  直線駆動機構
９３  回転駆動機構
１００  干渉光学系
１００ａ  測定光学系
１００ｂ  参照光光学系
２００  分光光学系
Ｅ  被検眼
【図１】
0005397919.tif 000002
【図２】
0005397919.tif 000003
【図３】
0005397919.tif 000004
【図４】
0005397919.tif 000005
【図５】
0005397919.tif 000006
【図６】
0005397919.tif 000007
【図７】
0005397919.tif 000008
【図８】
0005397919.tif 000009