(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の発光点を備え、前記複数の発光点から射出された複数の光ビームを用いて感光体上に画像を形成する画像形成装置において、
前記複数の発光点から射出される光ビームを受光し、受光光量に応じた信号を出力する受光手段と、
前記受光手段に光ビームを入射させるために前記複数の発光点を順次点灯させる駆動手段と、
前記受光手段から出力される前記信号の出力レベルに応じた増幅率によって当該信号を増幅させる増幅手段と、
前記増幅手段によって増幅された信号に基づいて、当該信号に対応する前記発光点から射出される光ビームの光量を調整する調整手段と、を有し、
前記調整手段は、前記複数の発光点の各発光点が射出する光ビームの光量を制御するために前記受光手段に入射させる時間を前記増幅手段の増幅率に応じて異ならせるように前記駆動手段を制御することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記受光手段は、前記受光光量に応じた信号として電流を出力し、
前記調整手段は、前記電流を電圧に変換する電流−電圧変換回路を含み、
前記増幅手段は、前記電流−電圧変換回路が出力する電圧が第１の電圧の場合、第１の増幅率によって前記第１の電圧を増幅し、前記電流−電圧変換回路が出力する電圧が前記第１の電圧よりも低い第２の電圧の場合、前記第１の増幅率よりも高い第２の増幅率によって前記第２の電圧を増幅し、
前記調整手段は、前記電流−電圧変換回路が前記第２の電圧を出力している際に前記受光手段に光ビームを入射させる時間が、前記電流−電圧変換回路が前記第１の電圧を出力している際に前記受光手段に光ビームを入射させる時間よりも長くなるように前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記増幅手段は、前記増幅率を前記複数の発光点各々に対してあらかじめ決められた目標光量に対する前記受光手段から出力される前記信号の出力レベルに応じて設定し、
前記調整手段は、各発光点が射出する光ビームの光量を制御するために前記受光手段に入射させる時間を前記増幅率に応じて各発光点ごとに設定することを特徴とする請求項１または２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記調整手段は、走査ラインごとに光ビームの光量を調整する発光点の選択を行い、該選択された発光点に対して走査ライン間の非画像領域で前記受光手段に光ビームを入射させる時間を設定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記発光点の選択は、各発光点の前記受光手段に光ビームを入射させる時間をもとに、選択された発光点の前記受光手段に光ビームを入射させる時間の和が前記非画像領域の期間に収まるように行われ、かつ、光ビームの光量を調整する発光点の数が最大となるように行われることを特徴とする請求項４に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザビームプリンタ等の感光体上に複数の光ビームを走査して像形成を行う画像形成装置において、各光ビームの光量調整を短時間で高精度に行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、レーザビームプリンタなど、感光体上を走査露光して画像形成を行う電子写真方式の画像形成装置では、光ビームをレンズ系で集光し、ポリゴンミラーで偏向走査する走査光学系が多く用いられてきた。このような走査光学系を有する画像形成装置において、印字速度の高速化、高解像度化に対応するため、光源として面発光レーザ（以下「ＶＣＳＥＬ」という）を用いて発光点の数を増やして複数の光ビームを同時に走査して画像形成を行う技術が提案されている。
【０００３】
このような面発光レーザを用いた画像形成装置では、光源から射出された光ビームをハーフミラーで透過光を感光体方向に、反射光を光量センサ方向に振分け、ハーフミラーの反射光が集光レンズによって光量センサの受光面上に集光させる。そして光ビームが感光体上の画像領域外を走査する非画像領域の期間において発光点毎にこの光量センサで検出した光量に基づいて各発光点の光量制御を行う自動光量制御（以下「ＡＰＣ」という）の技術が提案されている。図８に、数ライン周期でＡＰＣを行う場合のＡＰＣのシーケンスを示す。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１５６９３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光量センサへの入射光をレンズで集光する方式では、受光面上に光を集光することで光量センサの受光面積を広げることなく、光量センサへの入射光量を増やすことができる。しかし、従来の技術においてはＶＣＳＥＬの発光点が益々増えてくると、光量センサおよびレンズ系の部品配置は、装置の大きさによって制約されるため、全ての光ビームを光量センサの受光面中心に集光することは困難となる。このため各々の発光点が同一光量の光ビームを発光していたとしても、発光点の位置によっては光量センサに入射される光量が変わるため検出される光量にばらつきが出てしまう。
【０００６】
またコリメータ後の光ビームを光量センサに入射する場合、光量センサが光検出できるだけの光を入射する必要がある。ＶＣＳＥＬは、端面発光レーザに比べて出力光の光量が少ないため、感光体上に照射する光量を十分に保つためには、光量センサ側に分離する光ビームの光量が少なくなるようにハーフミラーの透過と反射の比率を設定しなくてはならない。さらに低光量の光を検出するためには、光量センサからの出力を増幅する必要があるが、増幅器は増幅率を上げると応答速度が下がってしまう。このため、１発光点の光量制御に必要となる時間（ＡＰＣ時間）は長くなる。また、一般的に光量センサは受光面積によって応答速度が変化するため、受光面積を広げて入射する光量を増やしたとしても、光量センサの応答速度が下がってしまいＡＰＣにかかる時間は長くなってしまう。
【０００７】
このため発光点が増えてくるとビーム数分のＡＰＣ時間を非画像領域の期間に設けることが困難となり、全ビームに対して精度よくＡＰＣを行うには問題があった。
【０００８】
本発明は上記課題に鑑み、複数のビームを有する画像形成装置において、各発光点の光量センサへの入射光量が低光量で、かつ、入射光量がばらついても、各発光点のＡＰＣを高頻度に行う画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本出願に係る発明は以下の構成を有する。
【００１０】
複数の発光点を備え、前記複数の発光点から射出された複数の光ビームを用いて感光体上に画像を形成する画像形成装置において、前記複数の発光点から射出される光ビームを受光し、受光光量に応じた信号を出力する受光手段と、前記受光手段に光ビームを入射させるために前記複数の発光点を順次点灯させる駆動手段と、前記受光手段から出力される前記信号の出力レベルに応じた増幅率によって当該信号を増幅させる増幅手段と、前記増幅手段によって増幅された信号に基づいて、当該信号に対応する前記発光点から射出される光ビームの光量を調整する調整手段と、を有し、前記調整手段は、前記複数の発光点の各発光点が射出する光ビームの光量を制御するために前記受光手段に入射させる時間を前記増幅手段の増幅率に応じて異ならせるように前記駆動手段を制御することを特徴とする画像形成装置。
【発明の効果】
【００１１】
本出願に係る発明の画像形成装置は、レーザ毎にＡＰＣの目標光量と、ＡＰＣ時間を設定する。これにより、受光素子への入射光量がビーム毎にばらついても、ビーム毎の光量を一定の目標値に制御可能である。また、ＡＰＣ期間設定部により、ＡＰＣ時間の設定を受光素子の応答に応じて行うことで、各レーザのＡＰＣ時間を各々最短に設定可能であり、ＡＰＣ時間を短縮化できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】面発光レーザの出力光をハーフミラーでＰＤに導く光学系を示す図
【図２】実施例１におけるＡＰＣ制御を行う回路のブロック図
【図３】ＰＤの受光面上でのレーザ照射位置を示す図
【図４】実施例１における受光光量に対する光検出手段の出力波形を示す図
【図５】実施例１におけるＣＰＵの動作を示すフローチャート
【図６】実施例１におけるＡＰＣのシーケンスを示す図
【図７】実施例２におけるＣＰＵの動作を示すフローチャート
【図８】従来例におけるＡＰＣのシーケンスを示す図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための形態を、実施例により詳しく説明する。
【実施例１】
【００１４】
本発明に係る第１の実施の形態を以下に示す。本実施例は、光源としての面発光レーザ（ＶＣＳＥＬ）からの出力光をハーフミラーで透過光と反射光に分離し、透過光で感光体上を走査し、反射光を受光素子の受光面上に照射して各光ビームの光量検出を行う。この検出した光量（検出結果）をもとに自動光量制御（ＡＰＣ）を行う画像形成装置に関するものである。以下に詳細を述べる。
【００１５】
図１に本発明の第１の実施の形態に係る光走査装置１００を示す。尚、この光走査装置１００は、画像形成装置に搭載されて、画像形成装置が備える感光体６００をその軸方向（主走査方向であり矢印Ａの方向）に露光走査する。光走査装置１００は、面発光レーザアレイ（ＶＣＳＥＬ）１０１、光量センサ１０２、コリメータレンズ６０３、ハーフミラー６０４、集光レンズ６０５、シリンダレンズ６０６、ポリゴンミラー６０７、ｆθレンズ６０８、駆動回路１２０を備える。
【００１６】
光源としてのＶＣＳＥＬ１０１は、複数の発光点が二次元配列されており、複数の光ビームを同時に出力することができる。光走査装置１００は、このようなＶＣＳＥＬ１０１を光源として用いることで、複数の光ビームを同時に露光走査させることが可能となる。
【００１７】
また光走査装置１００は、ＶＣＳＥＬ１０１を駆動させるための駆動回路１２０を備え、ＶＣＳＥＬ１０１は駆動回路１２０と接続されている。ＶＣＳＥＬ１０１の各発光点は、駆動回路１２０から駆動電流が供給されることにより発光し、供給された駆動電流値に応じた光量の光ビームを出力する。光走査装置１００は、ＶＣＳＥＬ１０１から出力された光ビームの進行方向下流側には、コリメータレンズ６０３、及び光分離手段としてのハーフミラー６０４が順に配置されている。コリメータレンズ６０３は、ＶＣＳＥＬ１０１から出力された各光ビームを発散光から略並行光に変換する。コリメータレンズ６０３を透過した各光ビームはハーフミラー６０４に入射され、各光ビームの一部はハーフミラー６０４を透過し、残りの一部はハーフミラー６０４によって反射される。なお、本実施形態では、ハーフミラー６０４の透過光が感光体６００を露光走査するために用いられる光ビームとして、ポリゴンミラー６０７の反射面に入射されるようになっている。
【００１８】
ハーフミラー６０４とポリゴンミラー６０７の間には、シリンダレンズ６０６が配置されている。シリンダレンズ６０６は、主走査方向と直交する方向（以下、「副走査方向」という）にパワーを有し、光ビームをポリゴンミラー６０７の反射面上に主走査方向に細長い線像として収束させる。
【００１９】
ポリゴンミラー６０７は、図示しないポリゴンモータによって所定速度で矢印Ｂ方向に回転されており、この回転によって反射面に対する光ビームの入射角度が連続的に変化し、反射面に入射した光ビームが偏向される。これにより、ＶＣＳＥＬ１０１から出力された各光ビームが主走査方向（矢印Ａ参照）に走査されることになる。
【００２０】
ポリゴンミラー６０７によって反射された光ビームの進行方向には、第１のレンズ及び第２のレンズからなるｆθレンズ６０８が配置されている。ポリゴンミラー６０７によって反射された光ビームは、ｆθレンズ６０８を透過した後、感光体６００に照射される。このとき、ポリゴンミラー６０７によって反射された光ビームは、ｆθレンズ６０８によって、感光体６００の表面上で結像点が結ばれ、かつ感光体６００上での走査速度が略等速度にされる。画像形成装置では、光走査装置１００によって光ビームを感光体６００上で主走査させ、且つ感光体６００を矢印Ｃ方向に一定速度で回転することで副走査がなされ、感光体６００上に潜像を形成することができる。
【００２１】
ｆθレンズ６０８よりも光の進行方向下流側で、且つ主走査方向の最上流側にはフォトダイオード等の受光素子を備えたＳＯＳ（Ｓｔａｒｔ  ｏｆ  Ｓｃａｎ）センサ６０９が配設されている。光走査装置１００では、感光体６００上を光ビームが走査する毎に、感光体６００上の走査開始手前の光ビームがＳＯＳセンサ６０９へと案内され、ＳＯＳセンサ６０９によって走査開始タイミングを検知することができるようになっている。画像形成装置に光走査装置１００が搭載された際には、このＳＯＳセンサ６０９による走査開始タイミングの検知信号（ＳＯＳ信号）が駆動回路１２０に入力され、光走査装置１００の各種動作タイミングの制御がなされる。
【００２２】
一方、ハーフミラー６０４による光の反射方向には、集光レンズ６０５、及び光量モニタ用の光量センサ１０２が配設されている。ハーフミラー６０４によって反射された光ビームは、モニタビームとして、集光レンズ６０５によって集光されて光量センサ１０２に入射されることになる。光量センサ１０２は、本発明の受光手段に対応するものであり、入射したモニタビームを受光し、その受光量に応じた値の電流を駆動回路１２０に出力する。また光量センサ１０２は、各発光点を時系列に順次点灯させてモニタビームが入射される。
【００２３】
図２に本発明の第１の実施の形態に係る駆動回路１２０を示す。駆動回路１２０には、外部（画像形成装置のコントローラ）から点灯信号、光量指示信号、光量制御実行指示（ＡＰＣ）信号といった各種の制御信号が入力されるようになっている。駆動回路１２０は、点灯信号に従って、ＶＣＳＥＬ１０１の対応する発光点への駆動電流の供給をＯＮ／ＯＦＦし、発光点をビーム点灯させたり消灯させたりする。具体的に、画像形成装置に搭載時には、ＳＯＳ信号を取得するためにビーム点灯させたり、光量制御のためにビーム点灯させたり、画像データに基づいてビーム点灯させるための点灯信号が入力される。
【００２４】
また、駆動回路１２０は、光量制御のためにＶＣＳＥＬ１０１の何れかの発光点の点灯を指示する点灯信号と、光量制御の実行を指示するＡＰＣ信号とが入力された光量制御時には、次の調整を行う。点灯信号に従って該当する発光点を点灯させた状態で、モニタ光量信号が光量指示信号と略一致するように、すなわち光量センサ１０２での検出光量が光量指示信号で指示されている所定光量となるように、該当する発光点へ供給する駆動電流値を調整する。これにより、当該発光点から出力される光ビームの光量を制御することができ、光量制御後は調整後の駆動電流値を保持し、当該発光点の以降の点灯時には、該駆動電流値の電流を供給する。この発光点へ供給する駆動電流値を調整するのに必要な時間が本発明の光量調整時間（ＡＰＣ時間）に対応するものである。
【００２５】
駆動回路１２０は、電流／電圧変換回路１０３、電圧増幅部１０４、比較器１０５、ＡＰＣ制御部１０６、サンプル・ホールド回路１１０、電流源１１１、ＣＰＵ１１２、メモリ１１３と、を備える。またＡＰＣ制御部１０６は、基準電圧設定部１０７、ゲイン選択部１０８、ＡＰＣ期間設定部１０９と、を備える。
【００２６】
ＡＰＣ期間設定部１０９が、本発明の調整期間設定部に対応するものである。
【００２７】
光量センサ１０２の出力は、電流／電圧変換回路１０３を介して電圧増幅部１０４と接続されている。光量センサ１０２から出力された受光量に応じた電流値は電流／電圧変換回路１０３によって電圧変換され、該電流値に応じた値の電圧信号（以下、モニタ光量信号）となって、電圧増幅部１０４に入力される。これにより、ＶＣＳＥＬ１０１から出力された光ビームのうち、ハーフミラー６０４によって反射されたモニタビームの光量を表すモニタ光量信号が電圧増幅部１０４に入力されることになる。
【００２８】
電圧増幅部１０４は、増幅率の異なる複数の増幅器（電圧増幅器Ａ〜電圧増幅器Ｆ）を備えており、光量センサ１０２への入射光量に応じて、つまり発光点に応じて増幅器の選択を行う。比較器１０５は、基準電圧設定部１０７からＶＣＳＥＬ１０１の発光点毎に指示される基準電圧と、電圧増幅部１０４の出力電圧とを比較し、各発光点に対応した電流源１１１の出力電流値を設定する。すなわち、光量センサ１０２への入射光量をもとに光ビームの光量を調整する光量調整が行われる。比較器１０５の出力はサンプルホールド回路１１０に入力され、そのサンプルホールドされた電圧値をもとに発光点毎に電流源１１１の電流値が設定される。ＡＰＣ期間設定部１０９は、ＡＰＣ期間において各発光点に対応するサンプルホールド回路１１０にＯＮ／ＯＦＦ、基準電圧設定部１０７に基準電圧の切り替え、及び電圧増幅部１０４に増幅器の切り替えを指示する。
【００２９】
ＣＰＵ１１２は、メモリ１１３に格納された各発光点の設定光量を読み出し、基準電圧設定部１０７に各発光点に対応した基準電圧値を指示し、電圧増幅部１０４に各発光点に対応した増幅器を指示する。基準電圧設定部１０７は、各発光点に対応した基準電圧を生成し、ＡＰＣ期間設定部の指示に応じてＡＰＣを行う発光点に対応した基準電圧を出力する。ゲイン選択部１０８は、電圧増幅部１０４に対してＡＰＣ期間設定部の指示に応じてＡＰＣを行う発光点に対応した増幅器の選択を指示する。
【００３０】
本実施例では、感光体６００に潜像形成する際（画像形成中）に走査面上での光ビームの光量を一定に保つため、ＡＰＣを光ビームが感光体６００の画像領域を走査する以外の非画像領域の期間で実施する。また複数の発光点から射出される光ビームの各々を単一の光量センサ１０２で受光する。このためＶＣＳＥＬ１０１の発光点の数が多くなると端部に位置する発光点から射出された光ビームを光量センサ１０２の受光面内の中心に集光することが困難になる。光量センサ１０２の受光面の中心位置からずれるため（図３（ａ））、光量センサ１０２の受光面の中心に照射される光ビームの光量に対して、端部に照射される光ビームの光量は低くなる（図３（ｂ））。つまり、光量センサ１０２の受光面上での光ビームの照射位置は、発光点ＬＤ１〜ＬＤ６毎に異なり、光量センサ１０２で出力される光量も発光点ＬＤ１〜ＬＤ６毎に位置の影響を受ける。このため光量センサ１０２上で各発光点の照射光量が一定とならない。つまり感光体６００上に照射される光量が均一だとしても、光量センサ１０２上での照射光量はばらついてしまう。
【００３１】
そこで本願発明では、電圧増幅部１０４に増幅率の異なる複数の電圧増幅器Ａ〜Ｆを備えており、ＣＰＵ１１２は、電圧増幅部に光量センサ１０２への照射光量に応じて、つまり各発光点に対応した（発光点ＬＤ１〜６毎に）電圧増幅器Ａ〜Ｆの選択を行う。
【００３２】
本願発明では、工場での組み立て時において、各発光点の感光体の表面相当位置での光量が均一になる状態で、光量センサ１０２への光ビームの照射光量を測定し、各発光点の光量センサ１０２への照射光量をメモリ１１３に格納する。
【００３３】
このようにＡＰＣを行う際の目標光量は発光点毎にばらつくが、増幅率の異なる増幅器を選択することで安定してＡＰＣを行うことが可能となる。しかし、低光量になるとＰＤ及び増幅器の応答速度が遅くなってくる。
【００３４】
また本実施例では、発光点毎のＡＰＣ時間は、光量センサ１０２への入射光量によって決定される。図４は、低光量時の増幅器で増幅された受光光量の出力と、高光量時の出力を示す図である。なお、本図におけるＬＤ１、ＬＤ４は図３におけるＬＤ１、ＬＤ４に対応する。このように受光光量によって応答速度がばらつくため、必要最小となるＡＰＣ時間が発光点毎に異なってくる。本実施例においては、各発光点の光量センサ１０２への照射光量に応じて、最小となるＡＰＣ時間を予めメモリ１１３に記録しておき、各レーザのＡＰＣ時間の決定を行うことで、各発光点のＡＰＣ時間の総和が最小になるようにする。
【００３５】
図５に、ＣＰＵ１１２によるＡＰＣ期間設定のフローチャートを示す。Ｓ１０１〜１０２では、電源投入時にメモリ１１３から各発光点の目標光量値を読み出す。Ｓ１０３では、目標光量値を基準電圧設定部１０７の各発光点に対応したレジスタ（光量設定部）に設定する。Ｓ１０４では、ゲイン選択部１０８に各発光点のゲイン設定を行う。ここで、各発光点のゲインは目標光量値に対して決定するものであり、光量値が低い場合は高いゲインが選択され、光量値が高い場合は低いゲインが選択される。また、選択されるゲインによって、比較器１０５に入力する光検出出力が変化するため、基準電圧設定部１０７に設定される各発光点の基準電圧は、各発光点の目標光量値と選択するゲインを積算した値が設定される。
【００３６】
Ｓ１０５では、メモリ１１３から各発光点に対応したＡＰＣ時間の読み出しを行い、Ｓ１０６〜Ｓ１０８でライン間のＡＰＣシーケンスを決定する。Ｓ１０６では、ライン間でＡＰＣを行う発光点を最初に一つ選択する。Ｓ１０７では、Ｓ１０５で読み出したＡＰＣ時間が、非画像領域期間における時間間隔に対して長いか否かを判別する。選択したレーザのＡＰＣ時間の総和が非画像領域期間より短い場合、Ｓ１０８において発光点の選択数を一つ増やす。ＡＰＣ時間の総和が非画像領域期間より長くなった場合、Ｓ１０９で最後に追加した発光点を選択から外す。
【００３７】
Ｓ１１０では、選択した発光点と、各発光点のＡＰＣ時間をもとにライン間のＡＰＣ時間をＡＰＣ期間設定部１０９に設定する。ここで、ＡＰＣ時間の設定は、ＡＰＣを実施しない画像領域中に行う。Ｓ１０６で最初に選択される発光点は、前ライン間で最後にＡＰＣを行った発光点の次の発光点が選択される。Ｓ１０６〜１０８の動作によって、非画像領域期間とＡＰＣ時間の総和を比較しながら、一つずつ選択する発光点を追加してゆき、非画像領域期間よりＡＰＣ時間の総和が長くなったところで、Ｓ１０９に移行して最後に選択した発光点を選択から外す。この動作によってライン間で、常に最大数の発光点を選択してＡＰＣを行う。
【００３８】
図６にＡＰＣのシーケンスを示す。各発光点のＡＰＣは、走査ライン間の非画像領域中で行われ、１ライン間で複数の発光点のＡＰＣを順次行い、総数ｎ個の発光点のＡＰＣを順に行う。本実施例においては、各発光点のＡＰＣ時間の総和が、ライン間の非画像領域期間より長いため、複数ライン毎にＡＰＣのシーケンスを組む。
【００３９】
ＣＰＵ１１２は各ライン間において、ＡＰＣを行う発光点のＡＰＣ時間の総和が、非画像領域期間より小さくなり、かつ、ＡＰＣを行う発光点の数が最大となるように、ＡＰＣを行う発光点の選択を指示する。例えば、Ｌ１においては、以下の式が成り立つため、１〜５の発光点のＡＰＣを指示する。
非画像領域＞ＬＤ１＋ＬＤ２＋ＬＤ３＋ＬＤ４＋ＬＤ５
非画像領域＜ＬＤ１＋ＬＤ２＋ＬＤ３＋ＬＤ４＋ＬＤ５＋ＬＤ６
上記した本実施例では、各発光点の光量センサ１０２への照射光量をもとに各発光点のＡＰＣ時間を必要最小の値になるように決定し、ライン間において行う発光点のＡＰＣ時間の総和が非画像領域期間を超えない最大の数になるようにＡＰＣシーケンスを組む。ＬＤ１は、本発明の第１の発光点に対応するものであり、ＬＤ２は、本発明の第２の発光点に対応するものである。
【００４０】
比較例として、各発光点ともに一定時間のＡＰＣ時間設定してＡＰＣ制御を行う場合、低光量のレーザが必要とするＡＰＣ時間に合わせてＡＰＣ期間を設定するため、ＡＰＣ時間の総和が長くなりＡＰＣの頻度が落ちてしまう。本実施例では各発光点のＡＰＣ時間の総和が最短となるように、ＡＰＣ時間を発光点毎に最小化し、ライン間においてＡＰＣを行う発光点の数が多くなるようにＡＰＣシーケンスを組むことで、ＡＰＣの頻度を上げることが可能となり光量の安定化が可能となる。
【実施例２】
【００４１】
本発明に係る第２の実施例について以下に示す。実施例１と異なる点に関して特に述べる。本実施例においては、ＡＰＣ期間設定部において、発光点毎に選択される増幅器に応じて各発光点のＡＰＣ時間が決定される。
【００４２】
ＣＰＵ１１２は、メモリ１１３に格納された各発光点の設定光量を読み出し、基準電圧設定部１０７に各発光点に対応した基準電圧値を指示し、電圧増幅部１０４に各発光点に対応した増幅器を指示する。基準電圧設定部１０７は、各発光点に対応した基準電圧を生成し、ＡＰＣ期間設定部の指示に応じてＡＰＣを行う発光点に対応した基準電圧を出力する。ゲイン選択部１０８は、電圧増幅部１０４に対してＡＰＣ期間設定部の指示に応じてＡＰＣを行う発光点に対応した増幅器の選択を指示する。
【００４３】
本実施例においては、光量が低いほど増幅器の増幅率を上げ、入力値が低くても比較器１０５への入力電圧が一定レベル以上になるように増幅器を選択する。増幅器は増幅率を高くするほど応答速度が下がるため、選択する増幅器によってＡＰＣに必要な時間が異なってくる。そのため本実施例では、各発光点が選択した増幅器に応じてＡＰＣ時間を決定する。
【００４４】
図７に、ＣＰＵ１１２の動作を示す。Ｓ２０１〜２０２では、電源投入時にメモリ１１３から各光ビームの目標光量値を読み出す。Ｓ２０３では、目標光量値を基準電圧設定部１０７の各光ビームに対応した基準電圧をレジスタに設定する。Ｓ２０４では、ゲイン選択部に各光ビームのゲイン設定を行う。Ｓ２０５では、Ｓ２０４で選択したゲインに対応してＡＰＣ時間を決定する。Ｓ２０６〜Ｓ２０８では、実施例１と同様の動作でライン間のＡＰＣシーケンスを決定する。
【００４５】
本実施例においては、上記したように光検出の際のゲインに応じてＡＰＣ期間を設定する。光出力を増幅する際にゲインの違いにより検出速度が変化しても、ゲインに応じてＡＰＣ時間を決定することで、ＡＰＣに必要な時間を確保すると同時に各発光点のＡＰＣ時間を最小に設定する。これによって、ＡＰＣの頻度を上げ、光量を安定化させることが可能となる。
【符号の説明】
【００４６】
１００  光走査装置
１０１  ＶＣＳＥＬ（複数の発光点に対応）
１０２  光量センサ（受光手段に対応）
１２０  駆動回路（調整手段に対応）
６００  感光体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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