(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＴＤＲ波形を測定する光パルス試験器で測定された被測定対象のＯＴＤＲ波形（以下、測定波形と記載する。）の変化点を検出し、検出された距離において損失又は反射が発生した場合のＯＴＤＲ波形（以下、理想波形と記載する。）を生成し、前記測定波形に含まれる損失又は反射を予測するイベント予測手順（Ｓ１０１）と、
損失及び反射がないときに前記光パルス試験器で測定されるＯＴＤＲ波形（以下、装置波形と記載する。）を用いて、前記イベント予測手順で予測した損失又は反射を前記光パルス試験器が測定したときのＯＴＤＲ波形（以下、予測波形と記載する。）を算出するＯＴＤＲ波形予測手順（Ｓ１０２）と、
前記測定波形と前記ＯＴＤＲ波形予測手順で算出された前記予測波形との各距離における差を求めて差分波形を生成する差分算出手順（Ｓ１０３）と、
を順に有する光パルス試験器イベント検出方法。
【請求項２】
前記差分算出手順において生成した前記差分波形に損失又は反射が含まれるか否かを判定するイベント追加判定手順（Ｓ１０４）を、前記差分算出手順の後にさらに有し、
前記イベント追加判定手順において含まれると判定した場合には、前記イベント予測手順に移行し、前記イベント予測手順において前記差分波形に相当する損失又は反射を前記理想波形に追加した新たな理想波形を生成し、当該新たな理想波形を用いて前記ＯＴＤＲ波形予測手順及び前記差分算出手順をさらに繰り返すことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験器イベント検出方法。
【請求項３】
前記光パルス試験器に前記被測定対象を接続しない状態で、前記光パルス試験器を用いてＯＴＤＲ波形を測定し、測定により得られたＯＴＤＲ波形を前記装置波形として記憶する装置波形記憶手順（Ｓ１０５）を、前記イベント予測手順の前にさらに有することを特徴とする請求項１または２に記載の光パルス試験器イベント検出方法。
【請求項４】
前記ＯＴＤＲ波形予測手順において、前記イベント予測手順で生成した前記理想波形に対し、前記装置波形の畳み込み演算を行うことで、前記予測波形を算出することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の光パルス試験器イベント検出方法。
【請求項５】
請求項１からの４のいずれかに記載の光パルス試験器イベント検出方法の前記イベント予測手順、前記ＯＴＤＲ波形予測手順、前記差分算出手順、前記イベント追加判定手順、前記装置波形記憶手順をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項６】
ＯＴＤＲ波形を測定する光パルス試験器で測定された被測定対象のＯＴＤＲ波形（以下、測定波形と記載する。）の変化点を検出し、検出された距離において損失又は反射が発生した場合のＯＴＤＲ波形（以下、理想波形と記載する。）を生成し、前記測定波形に含まれる損失又は反射を予測するファイバ状態推定部（１１）と、
損失及び反射がないときに前記光パルス試験器で測定されるＯＴＤＲ波形（以下、装置波形と記載する。）を用いて、前記ファイバ状態推定部の予測した損失又は反射を前記光パルス試験器が測定したときのＯＴＤＲ波形（以下、予測波形と記載する。）を算出するＯＴＤＲ波形予測部（１２）と、
前記測定波形と前記予測波形との各距離における差を求めて差分波形を生成する差分算出部（１３）と、
を備える光パルス試験器イベント検出装置。
【請求項７】
前記差分算出部の生成する前記差分波形に損失又は反射が含まれるか否かを判定し、前記差分波形に損失又は反射がさらに含まれる場合には前記差分波形を前記ファイバ状態推定部に出力するイベント追加判定部（１４）をさらに備え、
前記ファイバ状態推定部は、さらに、前記差分波形に相当する損失又は反射を前記理想波形に追加した新たな理想波形を生成し、当該新たな理想波形を前記ＯＴＤＲ波形予測部に出力することを特徴とする請求項６に記載の光パルス試験器イベント検出装置。
【請求項８】
前記ＯＴＤＲ波形予測部は、前記ファイバ状態推定部で生成した前記理想波形に対し、前記装置波形の畳み込み演算を行うことで、前記予測波形を算出することを特徴とする請求項６又は７に記載の光パルス試験器イベント検出装置。
【請求項９】
請求項６から８のいずれかに記載の光パルス試験器イベント検出装置と、
ＯＴＤＲ波形を測定する前記光パルス試験器と、
備える光パルス試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）測定を行う光パルス試験器のイベント検出機能に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ブロードバンド環境は更なる高速大容量を支えるため、ＡＤＳＬ（Ａｓｙｍｍｅｔｒｉｃ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｕｂｓｃｒｉｂｅｒ  Ｌｉｎｅ）から光ファイバに移行してきている。ＦＴＴＨ（Ｆｉｂｅｒ  Ｔｏ  Ｔｈｅ  Ｈｏｍｅ）では現在、ほとんどが、敷設時のコストメリットのあるＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）構成をとっている。図１０に、ＰＯＮの構成とＯＴＤＲ波形の一例を示す。ＰＯＮは、スプリッタ５３まで１本の光ファイバで多数の加入者宅５２−１〜５２−Ｎを収容できるため、敷設コストを抑えることが可能である反面、従来のＳＳ（Ｓｉｎｇｌｅ  Ｓｔａｒ）方式に比べて保守の困難さが問題となっている。
【０００３】
局舎５１側から光パルス試験を行った場合、スプリッタ５３までは通常の保守が行えるが、スプリッタ５３よりも加入者宅５２−１〜５２−Ｎ側は分岐されているため、それぞれのポートのＯＴＤＲ信号が重なってしまう。このため、局舎５１側からのＰＯＮの監視が困難になっている。また、スプリッタ５３では分岐数に応じた損失が生じることから、光パルス試験器によりよい性能が要求されてきている。
【０００４】
測定波形の変化点を抽出し、その点が設定閾値を超えたイベントであるか否かを判断し、イベントとして検出している。この場合、測定波形に変化点がないような場合（受信機により帯域制限されるため、その帯域以下のような変化）には、イベントを検出することが困難となっている。具体的には、大きな損失がある場合その直後のロスイベントや、デッドゾーンよりも短い反射点などの検出は困難である。
【０００５】
例えば、スプリッタ５３の出口では、コネクタ接続や融着接続のトラブルが発生する場合がある。この場合に、スプリッタ５３では分岐数に応じて大きな損失が生じるため、距距離Ｄ２におけるＯＴＤＲ波形に示すように、コネクタ接続や融着接続のトラブルのイベントがデッドゾーン以下で分岐数に応じた損失に重なってしまう。このため、コネクタ接続や融着接続のトラブルのイベントを検出することは困難である。
【０００６】
また、加入者宅５２−２及び加入者宅５２−３のように、スプリッタ５３からの距離が互いに近い場合がある。この場合に、加入者宅５２−２及び加入者宅５２−３でのフレネル反射は、距離Ｄ３及び距離Ｄ４におけるＯＴＤＲ波形に示すように、デッドゾーン以下で互いに重なってしまう。このため、加入者宅５２−３のフレネル反射を検出することは困難である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】ＷＯ２００５／００３７１４
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本願発明は、光パルス試験器の特性である装置波形を用いて、イベントが測定された場合に光パルス試験器で測定されるべき予測波形を算出し、予測波形と実際の測定波形とを比較することで、イベントを検出することを特徴とする。
【００１０】
具体的には、本願発明の光パルス試験器イベント検出方法は、ＯＴＤＲ波形を測定する光パルス試験器で測定された被測定対象のＯＴＤＲ波形（以下、測定波形と記載する。）の変化点を検出し、検出された距離において損失又は反射が発生した場合のＯＴＤＲ波形（以下、理想波形と記載する。）を生成し、前記測定波形に含まれる損失又は反射を予測するイベント予測手順（Ｓ１０１）と、損失及び反射がないときに前記光パルス試験器で測定されるＯＴＤＲ波形（以下、装置波形と記載する。）を用いて、前記イベント予測手順で予測した損失又は反射を前記光パルス試験器が測定したときのＯＴＤＲ波形（以下、予測波形と記載する。）を算出するＯＴＤＲ波形予測手順（Ｓ１０２）と、前記測定波形と前記ＯＴＤＲ波形予測手順で算出された前記予測波形との各距離における差を求めて差分波形を生成する差分算出手順（Ｓ１０３）と、を順に有する。
【００１１】
イベント予測手順（Ｓ１０１）及びＯＴＤＲ波形予測手順（Ｓ１０２）を実行することで、予測したイベントが測定された場合に光パルス試験器で測定されるべき予測波形を算出することができる。差分算出手順（Ｓ１０３）を実行することで、予測したイベント以外にもイベントが発生していることを検出することができる。したがって、本願発明の光パルス試験器イベント検出方法は、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することができる。
【００１２】
本願発明の光パルス試験器イベント検出方法では、前記差分算出手順において生成した前記差分波形に損失又は反射が含まれるか否かを判定するイベント追加判定手順（Ｓ１０４）を、前記差分算出手順の後にさらに有し、前記イベント追加判定手順において含まれると判定した場合には、前記イベント予測手順に移行し、前記イベント予測手順において前記差分波形に相当する損失又は反射を前記理想波形に追加した新たな理想波形を生成し、当該新たな理想波形を用いて前記ＯＴＤＲ波形予測手順及び前記差分算出手順をさらに繰り返してもよい。
イベント追加判定手順を有するため、予測したイベント以外のイベントを検出することができる。その後にさらにイベント予測手順、ＯＴＤＲ波形予測手順及び差分算出手順を繰り返すことで、デッドゾーン以下のイベントを検出することができる。
【００１３】
本願発明の光パルス試験器イベント検出方法では、前記光パルス試験器に前記被測定対象を接続しない状態で、前記光パルス試験器を用いてＯＴＤＲ波形を測定し、測定により得られたＯＴＤＲ波形を前記装置波形として記憶する装置波形記憶手順（Ｓ１０５）を、前記イベント予測手順の前にさらに有してもよい。
装置波形記憶手順（Ｓ１０５）を有するため、個々の光パルス試験器の装置波形を更新することができる。このため、任意の光パルス試験器の予測波形を算出することができる。
【００１４】
本願発明の光パルス試験器イベント検出方法では、前記ＯＴＤＲ波形予測手順において、前記イベント予測手順で生成した前記理想波形に対し、前記装置波形の畳み込み演算を行うことで、前記予測波形を算出してもよい。
【００１５】
具体的には、本願発明のプログラムは、本願発明の光パルス試験器イベント検出方法における前記イベント予測手順、前記ＯＴＤＲ波形予測手順及び前記差分算出手順、または、前記イベント予測手順、前記ＯＴＤＲ波形予測手順、前記差分算出手順及び前記イベント追加判定手順、または、前記装置波形記憶手順、前記イベント予測手順、前記ＯＴＤＲ波形予測手順及び前記差分算出手順、または、前記装置波形記憶手順、前記イベント予測手順、前記ＯＴＤＲ波形予測手順、前記差分算出手順及び前記イベント追加判定手順をコンピュータに実行させる。
【００１６】
具体的には、本願発明の光パルス試験器イベント検出装置は、ＯＴＤＲ波形を測定する光パルス試験器で測定された被測定対象のＯＴＤＲ波形（以下、測定波形と記載する。）の変化点を検出し、検出された距離において損失又は反射が発生した場合のＯＴＤＲ波形（以下、理想波形と記載する。）を生成し、前記測定波形に含まれる損失又は反射を予測するファイバ状態推定部（１１）と、損失及び反射がないときに前記光パルス試験器で測定されるＯＴＤＲ波形（以下、装置波形と記載する。）を用いて、前記ファイバ状態推定部の予測した損失又は反射を前記光パルス試験器が測定したときのＯＴＤＲ波形（以下、予測波形と記載する。）を算出するＯＴＤＲ波形予測部（１２）と、前記測定波形と前記予測波形との各距離における差を求めて差分波形を生成する差分算出部（１３）と、を備える。
【００１７】
ファイバ状態推定部（１１）及びＯＴＤＲ波形予測部（１２）を備えることで、予測したイベントが測定された場合に光パルス試験器で測定されるべき予測波形を算出することができる。差分算出部（１３）を備えることで、予測したイベント以外にもイベントが発生していることを検出することができる。したがって、本願発明の光パルス試験器イベント検出装置は、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することができる。
【００１８】
本願発明の光パルス試験器イベント検出装置では、前記差分算出部の生成する前記差分波形に損失又は反射が含まれるか否かを判定し、前記差分波形に損失又は反射がさらに含まれる場合には前記差分波形を前記ファイバ状態推定部に出力するイベント追加判定部（１４）をさらに備え、前記ファイバ状態推定部は、さらに、前記差分波形に相当する損失又は反射を前記理想波形に追加した新たな理想波形を生成し、当該新たな理想波形を前記ＯＴＤＲ波形予測部に出力してもよい。
イベント追加判定部を備えるため、予測したイベント以外のイベントを検出することができる。その後にさらにファイバ状態推定部で新たな理想波形を生成するため、デッドゾーン以下のイベントを検出することができる。
【００１９】
本願発明の光パルス試験器イベント検出装置では、前記ＯＴＤＲ波形予測部は、前記ファイバ状態推定部で生成した前記理想波形に対し、前記装置波形の畳み込み演算を行うことで、前記予測波形を算出してもよい。
【００２０】
具体的には、本願発明の光パルス試験装置は、本願発明に係る光パルス試験器イベント検出装置と、ＯＴＤＲ波形を測定する前記光パルス試験器と、を備える。
本願発明の光パルス試験装置は、本願発明に係る光パルス試験器イベント検出装置を備えるため、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することができる。
【００２１】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。
【図２】本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出方法の一例を示す。
【図３】装置波形の一例を示す。
【図４】作成した被測定対象１００の状態の一例である。
【図５】光パルス試験器１０での被測定対象１００の測定波形の一例を示す。
【図６】理想波形の一例を示す。
【図７】予測波形及び測定波形の一例であり、実線は予測波形を示し、破線は測定波形を示す。
【図８】測定波形と予測波形との差分波形の一例を示す。
【図９】差分波形を用いて生成した新たな理想波形の一例を示す。
【図１０】ＰＯＮの構成とＯＴＤＲ波形の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２５】
図１に、本実施形態に係る光パルス試験装置の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験装置は、光パルス試験器１０と、光パルス試験器イベント検出装置２０と、を備える。光パルス試験器１０は、被測定対象１００に光パルスを出力してその戻り光を観測することによりＯＴＤＲ波形を測定する。被測定対象１００は、例えば光ファイバ又はＰＯＮである。
【００２６】
光パルス試験器イベント検出装置２０は、光パルス試験器１０の測定波形を用いて、被測定対象１００における損失又は反射を検出する。例えば、光パルス試験器イベント検出装置２０は、ファイバ状態推定部１１と、ＯＴＤＲ波形予測部１２と、差分算出部１３と、イベント追加判定部１４と、装置波形記憶部１５と、を備える。
【００２７】
図２に、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出方法の一例を示す。本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出方法は、装置波形記憶手順Ｓ１０５と、イベント予測手順Ｓ１０１と、ＯＴＤＲ波形予測手順Ｓ１０２と、差分算出手順Ｓ１０３と、イベント追加判定手順Ｓ１０４と、を順に有する。
【００２８】
まず、装置波形記憶手順Ｓ１０５を行う。装置波形記憶手順Ｓ１０５では、装置波形記憶部１５が、装置波形を記憶する。装置波形は、損失及び反射がないときに光パルス試験器１０で測定されるＯＴＤＲ波形である。たとえば、光パルス試験器１０に被測定対象１００を接続しない状態で、光パルス試験器１０がＯＴＤＲ測定を行う。そして、光パルス試験器１０はそのＯＴＤＲ波形を装置波形記憶部１５に出力する。
【００２９】
図３に、装置波形の一例を示す。図３に示すように、被測定対象１００が接続されていない場合であっても、光パルス試験器１０では装置固有の波形が測定される。この装置固有の波形を装置波形と称する。この装置波形は、装置ごとに異なるとともに、パルス幅によっても異なる。このため、装置波形記憶手順Ｓ１０５では、光パルス試験器１０で使用可能な各種パルス幅についての装置波形を測定しておくことが好ましい。
【００３０】
以下、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出装置２０及び光パルス試験器イベント検出方法について、作成した被測定対象１００の具体例を用いて説明する。図４は、作成した被測定対象１００の状態の一例である。作成した被測定対象１００は、距離Ｄ１にスプリッタ（図１０に示す符号５３）が配置され、スプリッタの出口である距離Ｄ２に接続損失が発生し、距離Ｄ３及び距離Ｄ４に加入者宅からのフレネル反射がある。
【００３１】
図５に、光パルス試験器１０での被測定対象１００の測定波形の一例を示す。測定波形では、距離Ｄ１及びＤ２付近に損失が検出され、距離Ｄ３及びＤ４付近にフレネル反射が検出されている。
【００３２】
イベント予測手順Ｓ１０１では、ファイバ状態推定部１１が、測定波形の変化点を検出し、検出された距離において損失又は反射が発生した場合のＯＴＤＲ波形（以下、理想波形と記載する。）を生成し、測定波形に含まれる損失又は反射を予測する。
【００３３】
理想波形を生成するに際し、まず、図５に示す測定波形の変化点とそのイベントを検出する。例えば、距離Ｄ１までの領域Ａ１では光強度は単調に低下し、距離Ｄ１で低下幅が増加している。これにより、距離Ｄ１における損失を検出する。また、領域Ａ２では光強度は単調に低下しており、距離Ｄ３で光強度が高くなり始め、一定強度を超える光強度のピークが現れている。ここで、一定強度は、フレネル反射とノイズを判別可能な光強度である。これにより、距離Ｄ３におけるフレネル反射を検出する。そして、検出した距離Ｄ１における損失及び距離Ｄ３におけるフレネル反射を用いて理想波形を生成する。図６に、理想波形の一例を示す。
【００３４】
理想波形の作成は、例えば以下のように行う。
領域Ａ２の直線を距離Ｄ１まで延長し、この延長線と距離Ｄ１における変化点とを直線で結ぶ。このとき、最小二乗近似直線を用いて領域Ａ２における直線を求める。そして、当該直線の延長線を距離Ｄ１における変化点に交わらせても良い。
また、領域Ａ２の直線を距離Ｄ３以上の最長距離まで延長し、距離Ｄ３の位置に予め定められた線幅かつ光強度の反射を追加する。このとき、測定波形の距離Ｄ３及び距離Ｄ４におけるピークの光強度Ｉ３と装置波形から定まる定数Ｃとを乗じて、距離Ｄ３におけるピークレベルを決定する。こうすることで、フレネル反射部の理想波形を得ることができる。ここで、定数Ｃは、装置関数のパルス波形の半値全幅分のポイント数である。
【００３５】
ＯＴＤＲ波形予測手順Ｓ１０２では、ＯＴＤＲ波形予測部１２が、理想波形及び装置波形を用いて、イベント予測手順Ｓ１０１で予測した損失又は反射を光パルス試験器１０が測定したときのＯＴＤＲ波形（以下、予測波形と記載する。）を算出する。例えば、ＯＴＤＲ波形予測部１２は、理想波形に対し、装置波形の畳み込み演算を行うことで、予測波形を算出する。これにより、図７に示すような予測波形が算出される。ここで、畳み込み演算は、例えば、距離ｋにおける理想波形の光強度をｘｋ、距離ｋにおける装置波形をｈｋとすると、予測波形ｙｎは次式で表される。
【数１】
0005410463.tif 000002
【００３６】
差分算出手順Ｓ１０３では、差分算出部１３が、測定波形と予測波形との差分波形を算出する。差分波形は、測定波形と予測波形との各距離における差を求めることによって得られる。各距離における差は、例えば、距離Ｄ２における測定波形の光強度と、距離Ｄ２における予測波形の光強度と、の差である。
【００３７】
本実施形態では、距離Ｄ１及び距離Ｄ３だけでなく、距離Ｄ２及び距離Ｄ４においてもイベントが発生している。このため、図７に示すように、距離Ｄ２及び距離Ｄ４において、測定波形の光強度と予測波形の光強度との間に差が生じる。この場合、差分波形には、図８に示すように、距離Ｄ２及び距離Ｄ４におけるイベントが現れる。
【００３８】
イベント追加判定手順Ｓ１０４では、イベント追加判定部１４が、差分算出手順Ｓ１０３において生成した差分波形に損失又は反射が含まれるか否かを判定する。差分波形に損失又は反射がさらに含まれないと判定した場合には、イベント追加判定部１４は、その旨をポートＰ２から出力する。
【００３９】
しかし、本実施形態では、図８に示す差分波形は、距離Ｄ２までは光強度は一定であるが、距離Ｄ２において光強度が高くなり始め、一定強度を超える光強度のピークが現れている。このため、イベント追加判定部１４は、距離Ｄ２におけるフレネル反射を検出する。また、図８に示す差分波形は、距離Ｄ４において光強度が高くなり始め、一定強度を超える光強度のピークが現れている。このため、イベント追加判定部１４は、距離Ｄ４におけるフレネル反射を検出する。したがって、イベント追加判定部１４は、差分波形に損失又は反射が含まれると判定する。
【００４０】
この場合、イベント追加判定部１４は、図８に示す波形をポートＰ１から差分波形をファイバ状態推定部１１に出力する。そして、イベント予測手順Ｓ１０１に移行する。
【００４１】
イベント予測手順Ｓ１０１では、差分波形に相当する損失又は反射を追加した理想波形を生成し、ＯＴＤＲ波形予測手順Ｓ１０２及び差分算出手順Ｓ１０３をさらに繰り返す。例えば、図８に示す差分波形を用いて距離Ｄ２におけるフレネル反射と距離Ｄ４におけるフレネル反射の理想波形を生成し、生成した波形を前回生成した図６に示す理想波形に追加する。この結果生成された新たな理想波形を図９に示す。そして、この新たな理想波形をＯＴＤＲ波形予測部１２に出力しする。そして、前述のＯＴＤＲ波形予測手順Ｓ１０２、差分算出手順Ｓ１０３及びイベント追加判定手順Ｓ１０４を繰り返す。
【００４２】
図９に示す理想波形は図４に示す作成した被測定対象１００の状態が含まれているため、イベント追加判定手順Ｓ１０４において、測定波形に損失又は反射がさらに含まれないと判定される。これにより、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出方法を終了する。
【００４３】
以上説明したように、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出装置２０及びこれを備える光パルス試験装置並びに光パルス試験器イベント検出方法は、距離Ｄ２及び距離Ｄ４におけるイベントを検出することができる。したがって、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出装置２０及びこれを備える光パルス試験装置は、デッドゾーン以下にイベントが生じている場合でも、イベントがあることを検出することができる。
【００４４】
なお、装置波形記憶手順Ｓ１０５は、イベント予測手順Ｓ１０１とＯＴＤＲ波形予測手順Ｓ１０２の間に行ってもよい。また、本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出装置２０は、コンピュータに本実施形態に係る光パルス試験器イベント検出方法を実行させることで実現してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００４５】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００４６】
１０：光パルス試験器
１１：ファイバ状態推定部
１２：ＯＴＤＲ波形予測部
１３：差分算出部
１４：イベント追加判定部
１５：装置波形記憶部
２０：光パルス試験器イベント検出装置
５１：局舎
５２−１、５２−２、５２−３、５２−４、５２−５、５２−Ｎ：加入者宅
５３：スプリッタ
１００：被測定対象
【図１】
0005410463.tif 000003
【図２】
0005410463.tif 000004
【図３】
0005410463.tif 000005
【図４】
0005410463.tif 000006
【図５】
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【図６】
0005410463.tif 000008
【図７】
0005410463.tif 000009
【図８】
0005410463.tif 000010
【図９】
0005410463.tif 000011
【図１０】
0005410463.tif 000012