(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
筒状の側板と前記測板より側方外側に張出した張出部を有する底板とを備えた縦置き型のタンクを検査対象とし、ガイド波を利用して前記タンクの底板を検査するタンク底板検査装置であって、
前記底板の張出部上に前記側板の周方向の一部に沿って１列で配置され、それぞれ、前記底板にガイド波を送信するとともに前記底板中を伝播したガイド波を受信する複数の超音波探触子と、
ガイド波の送信周波数ｆを設定する周波数設定手段と、
前記底板の張出部上における前記複数の超音波探触子のそれぞれのガイド波送信位置と前記底板の端面位置との距離Ｄａを検出する検出手段と、
前記底板の径方向に伝播するガイド波の速度をＶａとし、整数をｎとしたとき、前記検出手段で検出した前記距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２となるように、前記複数の超音波探触子のそれぞれの位置を制御する位置制御手段とを備えたことを特徴とするタンク底板検査装置。
【請求項２】
筒状の側板と前記測板より側方外側に張出した張出部を有する底板とを備えた縦置き型のタンクを検査対象とし、ガイド波を利用して前記タンクの底板を検査するタンク底板検査装置であって、
前記底板の張出部上に前記側板の周方向の一部に沿って１列で配置され、それぞれ、前記底板にガイド波を送信するとともに前記底板中を伝播したガイド波を受信する複数の超音波探触子と、
ガイド波の送信周波数ｆを設定する周波数設定手段と、
前記底板の張出部上における前記複数の超音波探触子のそれぞれのガイド波送信位置と前記底板の端面位置との距離Ｄａを検出する検出手段と、
前記底板の径方向に伝播するガイド波の速度をＶａとし、整数をｎとしたとき、前記検出手段で検出した前記距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ）／８〜（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ±１）／８の範囲内で設定された所定値となるように前記複数の超音波探触子のそれぞれの位置を制御する位置制御手段とを備えたことを特徴とするタンク底板検査装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載のタンク底板検査装置において、前記底板の周方向に伝播するガイド波の位相速度をＶｂとし、隣接する前記超音波探触子のガイド波送信位置の間隔をＤｂとしたとき、前記間隔Ｄｂが（Ｖｂ／ｆ）／２以下となるように前記複数の超音波探触子を配置したことを特徴とするタンク底板検査装置
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、筒状の側板とこの側板より側方外側に張り出した張出部を有する底板とを備えた縦置き型のタンクを検査対象とし、ガイド波を利用してタンクの底板を検査するタンク底板検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
縦置き型のタンクの一つとして、円筒状の側板と、この側板より側方外側に張り出した張出部を有する円形状の底板とを備え、その底板が床上等に直接載置されたものがある。タンクは、使用環境の影響を受けて時間の経過とともに腐食が進行し、ついには破断に至って内容物が漏洩する可能性がある。そのため、このような事故を未然に防止するため、定期的に検査を実施する必要がある。
【０００３】
従来、タンクの側板を広範囲に一括検査する検査方法として、ガイド波（言い換えれば、境界面を有する物体中を伝播する板波）を利用した検査方法が提唱されている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に記載の検査装置は、タンクの側板の外周側に周方向の一部に沿って配列された第１列及び第２列の超音波探触子群を備えており、第１列の超音波探触子群に対して第２列の超音波探触子群をタンクの軸方向（上方向）に離間して配置している。そして、各列の超音波探触子群における複数の探触子の送信信号印加時間（パルス印加時間）をずらすことにより、超音波探触子群から送信されてタンクの側板中を伝播するガイド波の進行角度（伝播方向角）を任意に設定可能としている。
【０００４】
また、第２列の超音波探触子群からガイド波が送信される時刻は、第１列の超音波探触子群からガイド波が送信される時刻に対し、例えば第１列の超音波探触子群から上方向に進行するガイド波が第２列の超音波探触子群に到達するまでの時間だけ遅延させている。これにより、第１列の超音波探触子群から上方向に進行するガイド波と第２列の超音波探触子群から上方向に進行するガイド波とを同位相とし、それらが干渉してタンクの側板中を上方向に進行するガイド波の振幅を増大させるようになっている。
【０００５】
そして、タンクの側板中を上方向に進行したガイド波は、その進行先に欠陥（詳細には、減肉、亀裂、又は剥離等、音響インピーダンスが変化する部位）が存在する場合に反射し、その反射波が下方向に進行する。そして、この反射波が第１列及び第２列の超音波探触子群で受信されて、欠陥が検出される。したがって、ガイド波を長距離伝播させて、タンクの側板の長距離区間を一括して検査することが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００９−１０９３９０号公報（図１８等参照）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記特許文献１に記載の従来技術では、タンクの側板の外周側に第１列及び第２列の超音波探触子群を配置し、それら超音波探触子群から送信されたガイド波によりタンクの側板を広範囲に一括検査するようになっている。そこで、タンクの底板も広範囲に一括検査するため、ガイド波を利用した検査方法を採用することが考えられる。この場合、タンクの底板が床上等に直接載置されていることから、超音波探触子群を底板の下面側に配置できず、底板の上面側に配置するとしても、底板の中央部には内容物が存在するから、底板の張出部に配置することになる。そして、底板の張出部が狭い場合、超音波探触子群を一列だけ配置することになる。このように配置・構成された超音波探触子群を用いてタンクの底板の中央部を検査する場合を想定すると、次のような課題が生じる。
【０００８】
超音波探触子から底板にガイド波を送信したとき、超音波探触子から底板の中央部側に進行するガイド波（以降、正波と称す）と、超音波探触子から底板の端面側に進行するガイド波（以降、副波と称す）が生じる。この副波は底板の端面で反射し、その反射波が底板の中央部側に進行して、正波と干渉する。そのため、場合によっては、底板の中央部側に進行するガイド波の振幅を低減させ、検査性能が低下する。
【０００９】
本発明の目的は、ガイド波の送信周波数の設定に対応して検査性能を向上することができるタンク底板検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
（１）上記目的を達成するために、本発明は、筒状の側板と前記測板より側方外側に張出した張出部を有する底板とを備えた縦置き型のタンクを検査対象とし、ガイド波を利用して前記タンクの底板を検査するタンク底板検査装置であって、前記底板の張出部上に前記側板の周方向の一部に沿って１列で配置され、それぞれ、前記底板にガイド波を送信するとともに前記底板中を伝播したガイド波を受信する複数の超音波探触子と、ガイド波の送信周波数ｆを設定する周波数設定手段と、前記底板の張出部上における前記複数の超音波探触子のそれぞれのガイド波送信位置と前記底板の端面位置との距離Ｄａを検出する検出手段と、前記底板の径方向に伝播するガイド波の速度をＶａとし、整数をｎとしたとき、前記検出手段で検出した前記距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２となるように、前記複数の超音波探触子のそれぞれの位置を制御する位置制御手段とを備える。
【００１１】
このような本発明においては、まず、例えばタンクの底板の検査範囲等を考慮して、ガイド波の送信周波数ｆを周波数設定手段で設定する。すなわち、例えば超音波探触子から比較的遠い範囲を検査範囲とする場合は、送信周波数ｆを比較的低くなるように設定し、一方、例えば超音波探触子から比較的近い範囲を検査範囲とする場合は、送信周波数ｆを比較的高くなるように設定する。そして、検出手段は、底板の張出部上における各超音波探触子のガイド波送信位置と底板の端面位置との距離Ｄａを検出し、位置制御手段は、検出距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２＝λａ×ｎ／２（但し、λａは底板の径方向に伝播するガイド波の波長）となるように各超音波探触子の位置を制御する。ここで、比較例として、Ｄａ＝λａ×（２ｎ＋１）／４となるように各超音波探触子の位置を制御した場合を想定する。この場合は、超音波探触子から送信されて底板の端面側に進行し底板の端面で反射して底板の中央部側に進行する副波は、超音波探触子から底板の中央部側に進行する正波に対して逆位相となり、それらが干渉して底板の中央部側に進行するガイド波の振幅を低減させる。これに対し、本発明のようにＤａ＝λａ×ｎ／２となるように各超音波探触子の位置を制御する場合は、超音波探触子から送信されて底板の端面側に進行し底板の端面で反射して底板の中央部側に進行する副波は、超音波探触子から底板の中央部側に進行する正波に対して同位相となり、それらが干渉して底板の中央部側に進行するガイド波の振幅を増大させる。したがって、本発明においては、ガイド波の送信周波数ｆの設定に対応して検査性能を向上することができる。
【００１２】
（２）上記目的を達成するために、本発明は、筒状の側板と前記測板より側方外側に張出した張出部を有する底板とを備えた縦置き型のタンクを検査対象とし、ガイド波を利用して前記タンクの底板を検査するタンク底板検査装置であって、前記底板の張出部上に前記側板の周方向の一部に沿って１列で配置され、それぞれ、前記底板にガイド波を送信するとともに前記底板中を伝播したガイド波を受信する複数の超音波探触子と、ガイド波の送信周波数ｆを設定する周波数設定手段と、前記底板の張出部上における前記複数の超音波探触子のそれぞれのガイド波送信位置と前記底板の端面位置との距離Ｄａを検出する検出手段と、前記底板の径方向に伝播するガイド波の速度をＶａとし、整数をｎとしたとき、前記検出手段で検出した前記距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ）／８〜（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ±１）／８の範囲内で設定された所定値となるように前記複数の超音波探触子のそれぞれの位置を制御する位置制御手段とを備える。
【００１３】
本発明においては、例えばＤａ＝（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２＝λａ×ｎ／２となるように各超音波探触子の位置を制御する場合は、上記（１）と同様である。また、例えばＤａ＝（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ＋１）／８＝λａ×（４×ｎ＋１）／８またはＤａ＝（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ−１）／８＝λａ×（４×ｎ−１）／８となるように各超音波探触子の位置を制御する場合は、超音波探触子から送信されて底板の端面側に進行し底板の端面で反射して底板の中央部側に進行する副波は、超音波探触子から送信されて底板の中央部側に進行する正波に対して位相がλａ／４程度しかずれない。これにより、効果が小さくなるものの、底板の中央部側に進行するガイド波の振幅を増大させる。したがって、本発明においても、ガイド波の送信周波数ｆの設定に対応して検査性能を向上することができる。
【００１４】
（３）上記（１）又は（２）において、好ましくは、前記底板の周方向に伝播するガイド波の位相速度をＶｂとし、隣接する前記超音波探触子のガイド波送信位置の間隔をＤｂとしたとき、前記間隔Ｄｂが（Ｖｂ／ｆ）／２以下となるように前記複数の超音波探触子を配置する。
【００１５】
すなわち、間隔Ｄｂが（Ｖｂ／ｆ）／２＝λｂ／２（但し、λｂは底板の周方向に伝播するガイド波の波長）以下となるように複数の超音波探触子を配置することにより、底板の周方向に伝播するガイド波を要因としたノイズを低減することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ガイド波の送信周波数の設定に対応して検査性能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態におけるタンク底板検査装置の構成を、検査対象である縦置き型のタンクとともに表す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態における探傷制御器の遅延時間制御部の機能を説明するための図である。
【図３】本発明の一実施形態における位置調整機構の構造をタンクとともに表す概略図である。
【図４】本発明の一実施形態における作用効果を説明するためのガイド波の波形図である。
【図５】本発明の一変家例における作用効果を説明するためのガイド波の波形図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の一実施形態を、図面を参照しつつ説明する。
【００１９】
図１は、本実施形態におけるタンク底板検査装置の構成を、検査対象である縦置き型のタンクとともに表す概略図であり、タンクの構造を斜視図で示している。
【００２０】
縦置き型のタンク１は、円筒状の側板２と、この側板２の下端側（図１中下側）に全周溶接等で接合された円盤状の底板３とを備え、その底板３が床上等に直接載置されている。底板３は、側板２の内周側に位置する中央部３ａと、側板２の外周側に位置する（言い換えれば、側板２より側方外側に張出した）張出部３ｂとを有している。そして、側板２と底板３の中央部３ａとで区画された空間に内容物が溜められている。
【００２１】
本実施形態のタンク底板検査装置は、ガイド波を利用してタンク１の底板３を広範囲に一括検査するものであり、ガイド波センサ４と、位置調整機構５（後述の図３参照）と、探傷制御器６と、キーボード等の入力器７と、表示器８（モニタ）とを備えている。
【００２２】
ガイド波センサ４は、例えば、ガイド波の送受信機能を有する超音波探触子（振動子）９を２個で１組として並列接続し、８組の超音波探触子９ａ〜９ｈ（言い換えれば、合計１６個の超音波探触子９）を備えている。超音波探触子９は、位置調整機構５に取り付けられて、タンク１の底板３の張出部３ｂ上に側板２の周方向の一部に沿って等間隔に１列で配置されている。そして、超音波探触子９は、タンク１の底板３にガイド波を送信するとともに、底板３中を伝播したガイド波（詳細には、例えば底板３の中央部３ａに存在する欠陥で反射したガイド波）を受信するようになっている。
【００２３】
ガイド波は、一般にＬモード（ラム波対称モード）、Ｆモード（ラム波非対称モード）、及びＴモード（ＳＨ波）に分類することができ、本実施形態ではＴモード（詳細には、非分散性の０次モードのＳＨ波）を採用している。すなわち、１次モードのＳＨ波が誘起されないためのカットオフ周波数ｆｃ（ＭＨｚ）は、底板３の厚みＤ（ｍｍ）と０次モードのＳＨ波の音速Ｕ（ｋｍ／ｓ）を用いてＦ＝Ｕ／（２×Ｄ）で表されるので、このカットオフ周波数ｆｃを上限としてガイド波の送信周波数ｆを設定している。
【００２４】
また、超音波探触子９は、底板３の周方向に伝播するガイド波の位相速度をＶｂとし、隣接する超音波探触子９の間隔（詳細には、ガイド波送信位置の間隔）をＤｂとしたときに、間隔Ｄｂが（Ｖｂ／ｆｃ）／２以下となるように配置されている。
【００２５】
探傷制御器６は、機能的構成として、中央制御部１０、記憶部１１、信号発生部１２、遅延時間制御部１３、送受信部１４、Ａ／Ｄ変換部１５、信号処理・解析部１６、及び位置制御部１７を有している。中央制御部１０は、入力器７から入力された測定条件（詳細には、例えば送信波形、送信周波数ｆ、伝播方向角、受信増幅率、及びセンサ位置等）を記憶部１１に設定記憶するようになっている。また、中央制御部１０は、入力器７から入力された検査準備又は検査開始等の指示に応じて、信号発生部１２、遅延時間制御部１３、送受信部１４、Ａ／Ｄ変換部１５、信号処理・解析部１６、及び位置制御部１７を連携して制御するようになっている。
【００２６】
信号発生部１２は、中央制御部１０からの指令に応じて、記憶部１１に設定記憶された送信波形（詳細には、例えば振幅変調バースト波又は連続波等の設定）や送信周波数ｆに基づき波形信号（送信信号）を生成し、遅延時間制御部１３を介し送受信部１４に出力する。送受信部１４は、中央制御部１０からの指令に応じて、送信信号を増幅して超音波探触子９ａ〜９ｈにそれぞれ印加し、これによって超音波探触子９ａ〜９ｈから底板３にガイド波を送信させるようになっている。
【００２７】
遅延時間制御部１３は、中央制御部１０からの指令に応じて、記憶部１１に設定記憶された伝播方向角（及びその伝播方向角を得るために予め作成された遅延時間制御パターン）に基づき、送受信部１４を介し超音波探触子９ａ〜９ｈにそれぞれ出力する送信信号の遅延時間（言い換えれば、パルス印加時間）を制御する。これにより、超音波探触子９ａ〜９ｈから底板３に送信するガイド波の位相の重ね合わせ位置を制御し、合成されるガイド波の伝播方向角を制御するようになっている。具体的な一例としては図２（ａ）で示すように、ガイド波センサ４の中心から底板３の中心へ向かう方向（図中右方向）と同じになるように伝播方向角を制御したり、他の例としては図２（ｂ）で示すように、ガイド波センサ４の中心から底板３の中心へ向かう方向に対して傾くように伝播方向角を制御したりする。
【００２８】
超音波探触子９ａ〜９ｈは、例えば底板３の中央部３ａに存在する欠陥（詳細には、減肉、亀裂、又は剥離等、音響インピーダンスが変化する部位）で反射したガイド波を受信すると、その波形信号（受信信号）を送受信部１４に出力する。送受信部１４は、中央制御部１０からの指令に応じて、記憶部１１に設定記憶された受信増幅率に基づき超音波探触子９ａ〜９ｈからの受信信号を増幅し、この受信信号をＡ／Ｄ変換部１５に出力する。Ａ／Ｄ変換部１５は、中央制御部１０からの指令に応じて、受信信号をアナログ信号からデジタル信号に変換し、信号処理・解析部１６に出力する。
【００２９】
信号処理・解析部１６は、中央制御部１０からの指令に応じて、超音波探触子９ａ〜９ｈの受信信号を処理して受信波形画像を生成し、そのデータを記憶部１１に格納する。また、中央制御部１０からの指令に応じて、受信波形画像を解析して欠陥を検知するとともに、底板３における欠陥の位置を示す欠陥画像を生成し、そのデータを記憶部１１に格納する。そして、中央制御部１０は、入力器７から入力された画像表示の指示に応じて、記憶部１１に格納された画像データを表示器８に出力して表示させるようになっている。
【００３０】
表示器８は、例えば受信波形画像を表示する場合、横軸にガイド波センサ４の位置（若しくは底板３の端面位置）を基準にとって底板３における径方向位置（詳細には、受信時間を換算したもの）を表し、縦軸に受信波形の振幅を表すようになっている（Ａスコープ表示）。また、例えば欠陥画像を表示する場合、底板の平面図上で欠陥を輝度や色度で示すようになっている（Ｂスコープ表示）。
【００３１】
図３は、位置調整機構５の構造をタンク１とともに表す概略図であり、タンク１の構造を部分拡大縦断面図で示している。
【００３２】
この図３において、位置調整機構５は、ガイド波センサ４を構成する１６個の超音波探触子９のそれぞれの位置を調整可能としている。この位置調整機構５は、タンク１の側板２の外周側に取付けられ、タンク周方向に延在する円環状の案内レール１８と、この案内レール１８に沿って移動可能に設けられたスライダ１９と、このスライダ１９をタンク周方向に移動させる第１電動機構（図示せず）と、スライダ１９に対してタンク径方向（図３中左右方向）に移動可能に設けられた１６個のアーム２０と、これらアーム２０をタンク径方向にそれぞれ移動させる第２電動機構（図示せず）と、各アーム２０に設けられ各超音波探触子９を保持するとともに底板３の張出部３ｂに押付けるエアシリンダ（図示せず）とを備えている。各アーム２０には位置センサ２１が設けられており、この位置センサ２１は、各アーム２０（言い換えれば、各超音波探触子９）を基準とした底板３の端面の相対位置を検出し、その検出値を探傷制御部６の位置制御部１７に出力するようになっている。
【００３３】
前述の図１に戻り、探傷制御部６の位置制御部１７は、中央制御部１０からの指令に応じて、記憶部１０に設定記憶されたセンサ位置に基づき第１電動機構を制御して、スライダ１９のタンク周方向位置ひいてはガイド波センサ４のタンク周方向位置を制御するようになっている。
【００３４】
また、本実施形態の大きな特徴として、探傷制御器６の位置制御部１７は、中央制御部１０からの指令に応じて、対応する位置センサ２１の検出値に基づき、底板３の張出部３ｂ上における各超音波探触子９のガイド波送信位置Ｏと底板３の端面位置との距離Ｄａを演算する。そして、記憶部１１に設定記憶された送信周波数ｆ等を読み込んで下記の式（１）の右辺を演算し、距離Ｄａが下記の式（１）の関係を満たすように、第２電動機構を制御して各アーム２０のタンク径方向位置ひいては各超音波探触子９の径方向位置を制御するようになっている。なお、Ｖａは底板３の径方向に伝播するガイド波の速度であり、λａは底板３の径方向に伝播するガイド波の波長であり、ｎは整数であり、速度Ｖａ及び整数ｎは記憶部１１に予め設定記憶されている。
【００３５】
Ｄａ＝（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２＝λａ×ｎ／２・・・（１）
次に、本実施形態の動作を説明する。
【００３６】
まず、検査者は位置調整機構５及びガイド波センサ４をタンク１の検査箇所に取り付け、測定条件を入力器７で入力して設定する。すなわち、例えばガイド波センサ４から比較的遠い範囲を検査範囲とする場合は、送信周波数ｆを比較的低くなるように設定し、一方、例えばガイド波センサ４から比較的近い範囲を検査範囲とする場合は、送信周波数ｆを比較的高くなるように設定する。そして、検査者が入力器７で検査準備の指示を入力すると、探傷制御器６は、各位置センサ２１の検出値に基づき、底板３の張出部３ｂ上における各超音波探触子９のガイド波送信位置と底板３の端面位置との距離Ｄａを演算し、上記の式（１）の関係を満たすように、位置調整機構５を制御して各超音波探触子９の径方向位置を制御する。その後、位置調整機構５を制御して各超音波探触子９を底板３の張出部３ｂに押し付けさせる。
【００３７】
その後、検査者が入力器７で検査開始の指示を入力すると、探傷制御器６は、超音波探触子９ａ〜９ｈから底板３にガイド波を送信させる。そして、例えば底板３の中央部３ａに欠陥が存在する場合は、この欠陥で反射したガイド波を超音波探触子９ａ〜９ｈで受信する。探傷制御器６は、超音波探触子９ａ〜９ｈで受信した受信信号を処理・解析し、その結果を表示器８に表示させる。この表示器８に表示された検査結果により、検査者はタンク１の底板３に欠陥が生じていないかどうかを確認することができる。
【００３８】
次に、本実施形態の作用効果を、図４及び前述の図３を用いて説明する。
【００３９】
前述の図３で示すように、超音波探触子９からタンク１の底板３にガイド波を送信したとき、超音波探触子９から底板３の中心側（図３中右側）に進行するガイド波Ａ（以降、正波Ａと称す）と、超音波探触子９から底板３の端面側（図３中左側）に進行するガイド波Ｂ（以降、副波Ｂと称す）が生じる。これら正波Ａ及び副波Ｂの波形を図４（ａ）で示す。この図４（ａ）において、横軸は、底板３の張出部３ｂ上における超音波探触子９のガイド波送信位置Ｏを原点にとってタンク径方向位置を表し、縦軸は、波形の振幅を表している。
【００４０】
ここで、比較例として、例えばＤａ＝λａ／４又は３λａ／４（言い換えれば、Ｄａ＝λａ×（２ｎ＋１）／４）となるように各超音波探触子９の位置を制御した場合を想定する。このような場合は、図４（ｂ）又は図４（ｄ）で示すように、底板３の端面で反射して底板３の中心側に進行する副波Ｂは、超音波探触子９から底板３の中心側に進行する正波Ａ（図４（ａ）参照）に対して逆位相となり、それらが干渉して底板３の中心側に進行するガイド波の振幅を低減させる。
【００４１】
一方、本実施形態においては、例えばＤａ＝λａ／２又はλａ（言い換えれば、Ｄａ＝λａ×ｎ／２）となるように各超音波探触子９の位置を制御している。これにより、図４（ｃ）又は図４（ｄ）で示すように、底板３の端面で反射して底板３の中心側に進行する副波Ｂは、超音波探触子９から底板３の中心側に進行する正波Ａ（図４（ａ）参照）に対して同位相となり、それらが干渉して底板３の中心側に進行するガイド波の振幅を増大させる。したがって、本実施形態においては、ガイド波の送信周波数ｆの設定に対応して検査性能を向上することができる。
【００４２】
また、本実施形態においては、隣接する超音波探触子９の間隔Ｄｂが（Ｖｂ／ｆｃ）／２以下、言い換えれば（Ｖｂ／ｆ）＝λｂ／２（但し、λｂは底板３の周方向に伝播するガイド波の波長）以下となるように配置することにより、底板３の周方向に伝播するガイド波を要因としたノイズを低減することができる。
【００４３】
なお、上記一実施形態においては、距離Ｄａ＝（Ｖａ／ｆ）×ｎ／２＝λａ×ｎ／２となるように各超音波探触子９の位置を制御する場合を例にとって説明したが、距離Ｄａが（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ）／８〜（Ｖａ／ｆ）×（４×ｎ±１）／８の範囲内で設定された所定値となるように各超音波探触子９の位置を制御してもよい。言い換えれば、距離Ｄａがλａ×（４×ｎ）／８〜λａ×（４×ｎ±１）／８の範囲内（具体例としては、距離Ｄａが０〜λａ／８、３λ／８〜５λ／８、７λ／８〜９λ／８、…の範囲内）で設定された所定値となるように、各超音波探触子９の位置を制御してもよい。そして、例えばＤａ＝λａ／８、３λ／８、５λ／８、又は７λ／８となるように各超音波探触子９の位置を制御する場合は、図５（ｂ）、図５（ｃ）、図５（ｄ）、又は図５（ｅ）で示すように、底板３の端面で反射して底板３の中心側に進行する副波Ｂは、超音波探触子９から底板３の中心側に進行する正波Ａ（図５（ａ）参照）に対して位相がλａ／４程度しかずれない。これにより、効果が小さくなるものの、底板３の中心側に進行するガイド波の振幅を増大させる。したがって、このような変形例においても、ガイド波の送信周波数ｆの設定に対応して検査性能を向上することができる。
【００４４】
また、上記一実施形態においては、ガイド波センサ４は、８組の超音波探触子９ａ〜９ｈ（合計１６個の超音波探触子９）を備えた場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、超音波探触子９の個数は、１６個に限られず、タンク１の寸法や検査領域によって選定すればよい。
【００４５】
また、検査対象である縦置き型のタンク１は、円筒状の側板２と円形状の底板３とを備えた場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、例えば、多角筒状の側板を備えてもよいし、多角形状の底板を備えてもよく、このような縦置き型のタンク１を検査対象として本発明を適用してもよいことは言うまでもない。
【符号の説明】
【００４６】
１      縦置き型のタンク
２      側板
３      底板
３ａ    中央部
３ｂ    張出部
５      位置調整機構（位置制御手段）
６      探傷制御器（周波数設定手段、位置制御手段、検出手段）
７      入力器（周波数設定手段）
９      超音波探触子
２１    位置センサ（検出手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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