(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テープを細長く切断する作業中に、複合テープの幅を測定する装置であって、
テープ表面に放射エネルギーの平面を送る送波器と、
テープの端部を通過する、前記送波器からの前記放射エネルギーの平面を受けて、テープの幅に関連する信号を発生させる受波器と、
前記送波器及び前記受波器がそれぞれ取り付けられている共通の担体と、
テープの長さに対して直角の方向へ移動するために、前記共通の担体を取り付ける手段とを備え、
前記テープの幅に関連する信号を解析することにより、前記放射エネルギーの平面内の任意の数のテープの端部を検出可能である、装置。
【請求項２】
テープの長さに対して直角の方向へ移動するために、連結した送波器及び受波器を取り付ける手段を更に含む、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記取付け手段が、
送波器及び受波器のうちの少なくとも一つが取り付けられた少なくとも一つの第１キャリッジ、並びに
テープの長さに対して直角の方向に沿ったキャリッジの移動を案内するガイド
を含む、請求項２に記載の装置。
【請求項４】
ガイドに沿ってキャリッジを駆動する電気駆動装置をさらに備える、請求項３に記載の装置。
【請求項５】
ガイドに沿ってキャリッジの位置を検出するセンサをさらに備える、請求項３に記載の装置。
【請求項６】
センサによって検出されたキャリッジの位置に基づいて、キャリッジの動きを制御するセンサに接続されたコントローラをさらに含む、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
放射エネルギーが光である、請求項１に記載の装置。
【請求項８】
スリット機においてテープが所望の幅に細長く切断されている時に、複合テープの幅を測定する方法であって、
（Ａ）テープが細長く切断された後に、送波器からテープに放射エネルギーの一平面を送り、
（Ｂ）前記放射エネルギーの平面を使用して、前記放射エネルギーの平面内の任意の数のテープの端部の位置を、受波器が受けた前記放射エネルギーの平面を解析することにより判定し、
（Ｃ）ステップ（Ｂ）において判定された端部の位置を使用して、細長く切断されたテープの幅を計算するステップを含み、
前記送波器及び前記受波器がそれぞれ取り付けられている共通の担体と、
テープの長さに対して直角の方向へ移動するために、前記共通の担体を取り付ける手段とを備える方法。
【請求項９】
ステップ（Ａ）が、テープ上で放射エネルギーの平面を位置づけして、平面の一部が少なくとも一端部表面を通過するようにするステップを含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
ステップ（Ｂ）が、
少なくとも一端部表面を通過する放射エネルギーの平面の一部を受け、
受け取った平面の一部の基準点に対する位置を判定する
ステップを含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
ステップ（Ａ）が、テープの一側面上に送波器を位置づけするステップを含み、
ステップ（Ｂ）が、テープの対向する側面上の、送波器と光学的に配列される位置に受波器を位置づけするステップを含む、請求項８に記載の方法。
【請求項１２】
さらに、
（Ｄ）テープが送波器と受波器の間を通る時に、テープを引き伸ばす
ステップを含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
ステップ（Ａ）が、少なくとも一端部に対して送波器の横方向の位置を調節するステップを含み、
ステップ（Ｂ）が、少なくとも一端部に対して受波器の横方向の位置を調節するステップを含む、請求項１１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は概して、動いている物質の寸法を測定するのに使われる設備に関し、さらに具体的には、スリット機で複合テープがある幅に切断されている時に、複合テープの幅を測定する方法及び装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＮＣ制御テープ積層機は、複合テープのストリップから形成される複合構造を積層するために、自動車、海洋及び航空宇宙産業において使用することができる。連続的な長さのテープがロールからテープ貼付ヘッドへ引き出され、貼付ヘッドによってテープが積層器具上に置かれると「同時に」、テープがある長さに切断される。
【０００３】
複合テープロールは、テープスリット機を使用して複合材料の長さを所望の幅に切断することにより作製される。複合材料は、複合材料を所望の幅に細長く切断する一又は複数のカッターを介して供給ロールから供給される。カッターは同じ又は異なる幅のテープを作製するように調節することができる。所望のテープ幅は、おおよその所望のテープ幅の幅位置にカッターを設置し、材料のサンプル長さをスリッターに通すことによって得られる。スリット機は次に停止され、ある長さのスリットテープが取り外されて、テープの実際の幅を判定するために手動で測定される。この手動測定値に基づいて、カッターを調節し、第２サンプル長さが切断されて手動で測定される。サンプルの手動測定及びカッターの調節プロセスは、所望のテープ幅が得られるまで継続される。
【０００４】
上述した測定方法は遅く、不正確になりやすく、カッターを設置するのに必要な未使用の長さのテープが屑になってしまうため浪費的であり得る。したがって、上述した問題を除去し、スリッティングプロセス中の迅速で連続的及び正確なテープ幅の測定を可能にする、複合テープの幅を測定する方法及び装置が必要である。本発明の実施形態はこの必要を満たすように意図されている。
【発明の概要】
【０００５】
本発明の実施形態は、スリット機で複合テープが細長い幅の断片に切断されている時の、複合テープの自動測定方法及び装置を提供する。一又は複数の光学マイクロメータを使用して、複合テープがある幅に細長く切断された直後に、テープが巻き取りリール上に巻かれる前に複合テープの幅を連続的に測定する。光学マイクロメータを調節して広範囲のテープ幅の測定に適応させることができる。一実施形態では、マイクロメータの位置はプログラミングされたコントローラによって自動的に制御される。コントローラはまた、送波器と受波器の動きを同期して、位置調節が行われるときに光学的配列を維持することができる。光学マイクロメータによる非接触測定により、スリット機におけるテープの通常の供給、切断及び巻き取りへの妨害が回避される。
【０００６】
本発明の一実施形態によれば、テープのスリッティング作業中に複合テープの幅を測定する装置が提供されており、この装置は、テープ表面に放射エネルギーを送る送波器と、テープの端部を通過する、送波器からの放射エネルギーを受けて、テープの幅に関連する信号を発生させる受波器を備えている。送波器及び受波器を共通の担体に取り付けて、これらの光学的配列を維持することができる。受波器と送波器の位置は、異なる幅の複合テープの測定に適応するように調節することができる。放射エネルギーは、スリッティング作業中にテープが受波器と送波器の間で移動するときに、テープの平面に照射される光の平面を含むことができる。
【０００７】
本発明の別の実施形態によれば、テープがある幅に細長く切断されるときに、テープの幅を監視する複合テープスリット機と共に使用する装置が提供されている。この装置は、テープが所望の幅に細長く切断された後に、テープの少なくとも一端部の位置を光学的に検出するために機械に取り付けられた光学検出デバイスと、検出した位置をテープの幅を表す信号に変換する手段を含む。光学検出デバイスは、テープの少なくとも一端部表面に放射エネルギーを送る、テープの一側面上の送波器と、テープの端部を通過する、送波器からの放射エネルギーを受ける、テープの別の側面に位置づけされる受波器を含むことができる。受波器は、テープの端部の位置を記録するカメラを含むことができ、放射エネルギーは送波器によってテープの表面上に投影される光の平面を含むことができる。光学検出デバイスは、ガイドに沿ってテープの長さに対して直角の方向に移動するために、キャリッジに取り付けることができ、これにより光学検出装置の位置の調節が可能になる。
【０００８】
本発明の別の実施形態によれば、複合材料を細長く切断し測定する装置が提供されており、この装置は、ある長さの複合材料を予め選択された幅を有する少なくともある長さのテープに細長く切断する少なくとも一つのカッターと、その長さの複合材料をカッターに供給する手段と、複合材料がカッターによって細長く切断された後に、テープを巻き取る巻き取り手段と、テープが巻き取られている時にテープの幅を測定するデバイスを備えている。測定デバイスは、テープの対向する端部を光学的に検出して、検出した対向する端部間の距離に関する電気信号を発生させる光学マイクロメータを含むことができる。光学マイクロメータは、放射エネルギー光線をテープ幅に送る送波器と、テープの端部を通過する送波器からの放射エネルギーを受ける受波器を含むことができる。この装置は、テープが測定デバイスによって測定されている間に、テープを所望の高さに保持する手段をさらに含むことができる。
【０００９】
本発明の方法の一実施形態によれば、複数のステップによって、テープがスリット機において所望の幅に細長く切断されている時に、複合テープの幅を測定することができ、これらのステップは、テープが細長く切断された後に、放射エネルギーの一平面をテープに送り、放射エネルギーの平面を使ってテープの少なくとも一端部の位置を判定し、判定した端部の位置を使用して細長く切断されたテープの幅を計算するステップを含む。放射エネルギーは、平面の一部がテープの少なくとも一端部を通過するように放射エネルギーの平面をテープ上に位置づけすることによって放射エネルギーをテープに送ることができる。テープの端部の位置は、端部を通過する放射エネルギーの平面の一部を受信して、基準点に対して受信した平面の一部の位置を判別することによって判定することができる。
本発明の実施形態の他の特徴、利点及び効果は、添付の図面と請求項に基づいてみなす時に、下記の実施形態の説明から明らかとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】複合材料を所望の幅のテープに細長く切断するスリット機の斜視図である。
【図２】図１に示す機械の特定部品の概略図であり、本発明の実施形態によるテープ幅を測定するデバイスを示す。
【図３】図１に示す機械の斜視図であり、調節可能なテープカッターの位置をより良く示している。
【図４】図１に示す機械の一部を形成する巻き取りリールの斜視図である。
【図５】テープ測定デバイスの一部を形成する受波器と送波器の間を通過するテープを示す斜視図である。
【図６】図１に示す機械で使用される一対の調節可能に取り付けられた光学マイクロメータの斜視図である。
【図７】図６に示す光学マイクロメータの一つの斜視図であり、端部の位置を検出するためにマイクロメータによって使用される光の一平面に対するある長さのテープの位置をより良く示している。
【図８】図７の線８−８に沿って切り取った断面図である。
【図９】光学マイクロメータを形成する送波器と受波器の位置を別々に制御するシステムのブロック図及び該略図の組み合わせである。
【図１０】図９と同様の図であるが、送波器と受波器が一緒に取り付けられている光学マイクロメータの位置を制御する別のシステムを示している。
【図１１ａ】光学マイクロメータがどのようにしてテープの一端部のみを検出することによってテープ幅を測定するかを示す概略図である。
【図１１ｂ】図１１ａと同様の図であるが、光学マイクロメータがどのようにしてテープの対向する端部を検出することによってテープ幅を測定するかを示している。
【図１２】測定装置を制御するシステムの全体的なブロック概略図である。
【図１３】測定装置を制御するのに使用されるソフトウェアの指令を示すフロー図である。
【図１４】航空機の製造及び点検方法のフロー図である。
【図１５】航空機のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
最初に図１〜８を参照すると、テープスリット機２０（図１）は、長さ２２の複合材料を所望の幅の複合テープ片２２ａ、２２ｂに切断するのに使用される。ある長さの材料２２は材料経路２６の方向に供給ロール２４からガイドローラ２８上に引き出されて、スチール・ローラ３０に当接する円形カッター３２に送られる。カッター３２は、材料２２を所望の幅のテープ片２２ａ、２２ｂに細長く切断するようにレール３４上のカッターの位置が調節可能になるように、支持レール３４に沿って滑動するように取り付けることができる。
所望の幅に切断された後、分離したテープ片２２ａ、２２ｂは駆動ローラ３６、３８周囲を通って、それぞれ別々に上方及び下方巻き取りローラ４２ａ、４２ｂに送られる。図４で最適に見られるように、個々のテープ片２２ａ、２２ｂは、巻き取りローラ４２ａ、４２ｂに取り外し可能に取り付けられたリール６０に巻かれることができる。リール６０によって、テープ片２２ａ、２２ｂを分離して、蓄積した長さのテープ片２２ａ、２２ｂをローラ４２ａ、４２ｂから別々に取り外すことが可能になる。
【００１２】
巻き取りローラ４２ａ、４２ｂは、ガイドレール５６上の滑動調節可能な前部及び後部である後方フレーム部５４に取り付けることができる。図示しないが、例えば駆動ローラ３６、３８と巻き取りローラ４２ａ、４２ｂ等の機械２０の種々の構成要素に動力を供給するために、駆動モータを配設することができる。これらの駆動部は供給速度、テープ張力等を制御するためにコントローラ５８によって操作可能である。
本発明の実施形態によれば、テープ片２２ａ、２２ｂがある幅に切断された後であるが、ローラ４２ａ、４２ｂに巻き取られる前に、テープ片２２ａ、２２ｂの幅を測定する方法及び装置が提供されている。測定装置は、機械２０の一又は複数のフレーム部材５２の、テープカッター３２と巻き取りローラ４２ａ、４２ｂの間の位置に取り付けられた一又は複数の光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを備えることができる。図２に示すように、各光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは、テープ片２２ａ、２２ｂのうちの一つの対向する側部に位置づけされた送波器４４と受波器４６を含む。各対の送波器４４及び受波器４６は、フレーム部材５２に固定されたガイド５０に沿って次に移動可能なキャリッジ４８に取り付けられる。キャリッジ４８は、例えば滑動可能な対の案内面、ボールベアリング等の任意の適切な機械的接続によってガイド５０に取り付けることができる。
【００１３】
図６〜８に示す実施形態においては、送波器４４及び受波器４６の個別の横方向の調節を可能にする、垂直方向に間隔を置いて配置されたガイドレール５０が配設されているが、後述するように、送波器４４及び受波器４６は単一のガイドレール５０に沿って移動するように取り付けることができる。テープガイド６２は、テープ片２２ａ、２２ｂが光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを通る直前に、テープ経路２６に沿って配設することができる。テープガイド６２はテープ片２２ａ、２２ｂの底部と係合することにより、テープ２２ａ、２２ｂが平坦になり、ひらひらすることなく光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを通過するように機能する。
【００１４】
光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは、送波器４４から受波器４６へ送られる平面的な光線６４の形態の放射エネルギーを使用して、テープ２２ａ、２２ｂの幅を検出する。後述するように、平面的な光線６４は、テープ片２２ａ、２２ｂが光線６４を通過するときに、テープガイド６２によって平坦に保持されるテープ片２２ａ、２２ｂの平面に送られる。光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは、例えば非限定的に、ニュージャージー州ウッドクリフレイクにある米国キーエンス社から市販されている高速のレーザースキャンマイクロメータを含むことができる。これらの光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは、受波器４６の一部を形成するＣＣＤカメラ（図示せず）を含むことができる光学受波器アセンブリによって受信される走査型レーザー光線６４を投影する半導体レーザー及び光学走査型素子を有する送波器４４を用いることができる。これらの光学マイクロメータは０．０５μｍまでの解像度が可能であり、例えばテープ片２２ａ、２２ｂ等の移動するターゲットを測定するための振動抑制手段を含むことができる。
【００１５】
光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは毎秒２４００回測定することができ、これはスリット機２０が毎分６００フィートの速度で稼動している時に、０．０５０インチ毎に測定しているのと同じである。一実施形態においては、テープ幅測定の精度及び反復率の組み合わせは、測定範囲０．０２〜２．５６インチに対して０．１２ミリインチであってよい。これにより、光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを使用して、単一の送波器及び受波器４６を使って１／８〜２インチの様々なテープ幅を測定することが可能になる。しかしながら、幅広いテープ幅の測定は、光線６４がより広い範囲にかかるように複数の送波器４４及び受波器４６を並行するように取り付けることによって可能になる。
【００１６】
ここで、送波器４４及び受波器４６の位置を調節する一配置構成を図示する図９に注目する。この実施形態においては、送波器４４及び受波器４６は個別のガイドレール５０上に滑動可能に取り付けられたキャリッジ４８に別々に取り付けることができる。キャリッジ４８は個別のＤＣ電気モータ６８によって回転する、対応する打込みネジ６６と連結していてよい。モータ６８による打込みネジ６６の回転により、モータ６８の回転方向に応じて、キャリッジ４８がガイドレール５０に沿ってどちらか一方の方向に移動する。モータ６８は、位置センサ７２によって供給される情報に一部基づいてコントローラ７０によって操作される。位置センサ７２はガイドレール５０に沿ったキャリッジ４８の位置、又はキャリッジ４８の位置調節を間接的に示す打込みネジ６６の回転のいずれかを検出することができる。後述するように、コントローラ７０はキャリッジ４８、したがって送波器４４及び受波器４６が互いに同期して移動し、選択されたテープ調節位置に関わらず光学的に配列された状態に留まるように、モータ６８の操作を同期する適切にプログラミングされた指令を含む。
【００１７】
光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂの位置を調節する別の配置構成を図１０に示す。この実施形態においては、キャリッジ４８は固定式連結金具７４によって接続されており、この連結金具７４は、送波器４４及び受波器４６を固くつなぐ単一のブラケットを含むことができ、これにより、送波器４４及び受波器４６が単一のガイドレール５０に沿って一対の送波器４４及び受波器４６として移動する。この配置構成では、送波器４４と受波器４６の両方の位置を調節するのに、単一のモータ６８及び打込みネジ６６のみを必要とする。
光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを用いて、テープ片２２ａ、２２ｂの幅を２つのうちのいずれかの方法で測定することができる。最初に、図１１ａに示すように、送波器及び受波器４４、４６の位置は、光線６４がテープ片２２ａの一端部７６全体のみを照らすように調節することができる。テープ片２２ａの対向する端部は、テープ片２２ａが光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂを通過する時に、ガイド７８に当接して位置づけされる。送波器４４及び受波器４６の位置はガイド７８の面に対して既知であるため、簡単な計算を行って検出された端部７６からガイド７８の面までの距離を判定することができる。
【００１８】
あるいは、図１１ｂに示すように、光線がテープ片２２ａ、２２ａａの全体幅を横切ることにより、各テープ片２２ａ、２２ａａの対向する端部両方全体を通過することができる。受波器４６の一部を形成するＣＣＤ（図示せず）又は他の記録機器を用いて、測定された幅をそれぞれ表す、テープ片２２ａ、２２ａａの対向する端部間の記録された距離を表す信号を発生させることができる。
【００１９】
ここで、上述した装置を使用して複合テープの幅を測定するシステムを形成するコンポーネントを広く示す図１２に注目する。光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは、制御プログラム１３２の形態のプログラミングされた指令を使用して、システムの様々な機能を制御するコンピュータを含むことができるコントローラ７０によって制御される。統計的プロセス制御を行う目的で測定値を取得して保存するために、コントローラ７０がアクセスし使用するデータ保存及び統計的分析コンポーネント１３４を配設することができる。オペレータインターフェース及びディスプレイ１３６を配設して、測定した幅、統計的情報等を含む情報を視覚的に表示することができる。コントローラ７０は、制御プログラム１３２からの指令、インターフェース１３６を使用してオペレータによって選択された設定、及び位置センサ７２からのフィードバック情報に基づいて位置づけモータ６８の操作を制御する。コントローラ７０はまた、ローラ３６、３８、４２ａ、４２ｂ等のローラを制御するテープ駆動モータ１２６も制御する。
【００２０】
ここで、システムを制御するのに使用される制御プログラム１３２（図１２）のフロー図を示す図１３に注目する。このシステムは、２つのモードのいずれか一方において稼働することができる。第１モードにより、オペレータがローラカッター３２を所望のテープ幅位置に手動で位置づけすることが可能になる。オペレータは次にコントローラ７０の走査モードを選択し、これにより光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂが所望の位置までガイドレール５０に沿って移動する。各テープ２２ａ、２２ｂの幅が走査された後に、コントローラ７０は得られた幅の測定値を表示し、その後オペレータが測定された幅に対する調節をコントローラ７０に入力することができる。制御プログラム１３２は次に、他の測定された幅に対する幅の変更値を表示して、残りのローラカッター３２が互いに関連して調節されるべきであることを表示する。
【００２１】
システム操作の第２モードは、スリット機２０が複合材料を予め決定された幅のテープ片２２ａ、２２ｂに切断するサンプリングモードを含む。サンプリングモードにおいては、光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂによって例えば０．４ミリ秒毎等の定期的な測定を行うことができる。スリット幅測定値は、左から右の順番に読まれる。測定領域を形成する幅測定値の数はスリットテープ幅とともに変化する。光学マイクロメータ４０ａ、４０ｂは例えば３秒等のある期間、一つの領域上にとどまり、その後に次のスリット幅領域に進むことができる。このモードを使用して統計的プロセス制御情報を表示し、品質制御プログラムの一部を形成するプロセス機能及び改善を達成することができる。
【００２２】
ここで特に図１３を参照すると、プロセスはステップ８０において開始し、オペレータがトウ幅、トウの数、及び端部マージン幅を含むシステムパラメータを入力する。次に、ステップ８２において、上方巻取りローラ４２ａ及び下方巻取りローラ４２ｂの公称トウ位置が判定される。ステップ８４において、オペレータは次に操作モードを選択する。ステップ８６において、オペレータが設定モード又は処理モードを選択したかどうかが判定される。設定モードが選択されると、プロセスはステップ８８に続き、サンプルの数と頻度によってナイフ（カッター）の位置が設定される。ステップ９０においては、運動制御及び測定ループが開始される。ステップ９２においては、ある数のサンプルを処理後に運動制御が順序通りに次の位置へ移動する。サンプルデータは次にステップ９４においてトウ数と対になり、ステップ９６において連続的な幅測定値、サンプル番号及びトウ番号がディスクに記録される。
【００２３】
ステップ９８において、すべてのトウがサンプリングされた後に、運動制御及び測定ループが終了する。ステップ１００においてトウ幅が許容範囲内にあると判定された場合、プロセスはステップ８４に戻り、そうでなければ、プロセスはステップ１０２に移ってトウ幅測定値に基づき、トウ幅が許容範囲にない場合にどのカッター３２を移動すべきかの決定がなされる。次に、ステップ１０４において、システムはステップ９０の初期設定開始位置に戻る。
ステップ８６において検出されたようにオペレータが設定モードを選択しない場合は、システムは次にサンプリングするトウ番号と同時に、サンプルの数及び頻度を入力することからなるステップ１０６に進む。次に、ステップ１０８において、サンプリングするトウのリストを開始する。ステップ１１０においてマイクロメータ４２ａ、４２ｂがトウ位置に移動し、次にステップ１１２において幅の測定が行われる。次にステップ１１４において、幅の測定値、サンプル番号及びトウ番号がディスクに送られる。ステップ１１６において幅の測定が終了し、プロセスはステップ１１８において次のトウに進む。ステップ１２０においてトウリストの最後に到達すると、ステップ１２２においてプロセス機能が判定され、ステップ１２４においてオペレータによって選択された表示チャート及びデータが表示される。
【００２４】
本発明の実施形態は、様々な可能性のある応用形態、特に例えば航空宇宙及び自動車への応用を含む運送業において使用することができる。したがって、ここで図１４及び１５を参照すると、本発明の実施形態は図１４に示す航空機の製造及び点検方法１３８及び図１５に示す航空機１４０において使用可能である。本発明の実施形態の航空機への応用は、例えば非限定的に幾つか例を挙げると、機体外板、翼外板、制御面、昇降口、床板、ドア・パネル、アクセス・パネル及び尾翼等の複合補強部材を含むことができる。試作段階においては、例示の方法１３８は航空機１４０の規格及び設計１４２と、材料調達１４４を含むことができる。製造段階においては、航空機１４０の構成部品及びサブアセンブリの製造１４６と、システム統合１４８がおこなわれる。そのあとに、航空機１４０は、検査及び納入１５０を経て就航１５２されることができる。顧客によって使用されている間に、航空機１４０には所定の保守及び点検１５４（変更、再構成、改装等を含むこともできる）が予定される。
【００２５】
本方法１３８の各プロセスは、システムインテグレータ、第三者、及び／又はオペレータ（例えば顧客等）によって行う又は実施することができる。この説明のために、システムインテグレータは限定しないが、任意の数の航空機メーカー、及び主要システムの下請け業者を含むことができ；第三者は限定しないが、任意の数の供給メーカー、下請け業者、及びサプライヤを含むことができ；オペレータは、航空会社、リース会社、軍部、サービス組織等であってよい。
図１５に示すように、例示の方法１３８で製造された航空機１４０は、複数のシステム１５８と内装１６０を有する機体１５６を備えることができる。高レベルシステム１５８の例は、一以上の推進システム１６２、電気システム１６６、油圧システム１６４、及び環境システム１６８が挙げられる。任意の数の他のシステムを含むことができる。航空宇宙での実施例を示したが、本発明の原理は例えば自動車産業等の他の産業分野に応用することが可能である。
【００２６】
本明細書に具現化された装置及び方法を、航空機の製造及び点検方法１３８の任意の一又は複数の段階に採用することができる。例えば、製造プロセス１４６に対応する構成要素又はサブアセンブリを、航空機１４０が使用されている間に製造される構成要素又はサブアセンブリと同じ方法で加工又は製造することができる。また、一又は複数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はこれらの組み合わせを、例えば、航空機１４０を実質的に組立てやすくする、又は航空機１４０にかかる費用を削減することによって、製造段階１４６及び１４８において用いることが可能である。同様に、航空機１４０が使用されている間に、一又は複数の装置の実施形態、方法の実施形態、またはこれらの組み合わせを、例えば非限定的に保守及び点検１５４に用いることができる。
【産業上の利用可能性】
【００２７】
本発明の実施形態を特定の例示の実施形態について説明したが、当然ながら特定の実施形態は例示目的のものであって、限定するものではなく、当業者によって他の変形例を発想することが可能である。
また、本発明は以下に記載する態様を含む。
（態様１）
テープを細長く切断する作業中に、複合テープの幅を測定する装置であって、
テープ表面に放射エネルギーを送る送波器、並びに
テープの端部を通過する、送波器からの放射エネルギーを受けて、テープの幅に関連する信号を発生させる受波器
を備える装置。
（態様２）
送波器及び受波器がそれぞれ取り付けられている共通の担体をさらに含む、態様１に記載の装置。
（態様３）
テープの長さに対して直角の方向へ移動するために、共通の担体を取り付ける手段を更に含む、態様２に記載の装置。
（態様４）
テープの長さに対して直角の方向へ移動するために、連結した送波器及び受波器を取り付ける手段を更に含む、態様１に記載の装置。
（態様５）
前記取付け手段が、
送波器及び受波器のうちの少なくとも一つが取り付けられた少なくとも一つの第１キャリッジ、並びに
テープの長さに対して直角の方向に沿ったキャリッジの移動を案内するガイド
を含む、態様４に記載の装置。
（態様６）
ガイドに沿ってキャリッジを駆動する電気駆動装置をさらに備える、態様５に記載の装置。
（態様７）
ガイドに沿ってキャリッジの位置を検出するセンサをさらに備える、態様５に記載の装置。
（態様８）
センサによって検出されたキャリッジの位置に基づいて、キャリッジの動きを制御するセンサに接続されたコントローラをさらに含む、態様７に記載の装置。
（態様９）
放射エネルギーが光である、態様１に記載の装置。
（態様１０）
テープスリット機とともに使用する、テープをある幅に細長く切断している間にテープの幅を監視する装置であって、
テープが所望の幅に細長く切断された後に、テープの少なくとも一端部の位置を光学的に検出する機械に取り付けられた光学検出デバイス、並びに
検出した位置を、テープの幅を表す信号に変換する手段
を備える装置。
（態様１１）
光学検出デバイスが、
テープの少なくとも一端部表面に放射エネルギーを送るために、テープの一側面に位置づけされた送波器、並びに
テープの一端部を通過する、送波器からの放射エネルギーを受けるために、テープの対向する側面に位置づけされた受波器
を含む、態様１０に記載の装置。
（態様１２）
受波器が、一端部の位置を記録するカメラを含む、態様１１に記載の装置。
（態様１３）
放射エネルギーは送波器によってテープの一表面に投影された光の一平面である、態様１１に記載の装置。
（態様１４）
テープの長さに対して直角の方向に延びるガイド、並びに
ガイドに沿って移動させるためにガイド上に取り付けられたキャリッジであって、光学検出デバイスがキャリッジに取り付けられ、キャリッジとともに移動可能であることにより、テープに対する検出デバイスの位置の調節が可能であるキャリッジ
をさらに備える、態様１０に記載の装置。
（態様１５）
送波器が、テープ幅に光線を投影する、態様１１に記載の装置。
（態様１６）
検出デバイスが、送波器と受波器の間につながれ、送波器と受波器を互いに配列された関係に保持する固定式連結金具をさらに含む、態様１１に記載の装置。
（態様１７）
検出デバイスが、テープの長さに対して直角の方向に移動するために、調節可能に機械に取り付けられている、態様１１に記載の装置。
（態様１８）
複合材料を細長く切断し測定する装置であって、
ある長さの複合材料を、予め選択された幅を有する、少なくとも一つの長さのテープに細長く切断する少なくとも一つのカッター、
前記長さの複合材料をカッターに供給する手段、
複合材料がカッターによって細長く切断された後に、テープを巻き取るための巻き取り手段、並びに
テープが巻き取られている時に、テープの幅を測定するデバイス
を備える装置。
（態様１９）
カッターに前記長さの複合材料を供給する供給ロールをさらに備え、
巻き取り手段が、テープを巻き取るための巻き取りローラを含む、
態様１８に記載の装置。
（態様２０）
測定デバイスが、テープの対向する端部を光学的に検出して、検出した対向する端部間の距離に関連する電気信号を発生させるための光学マイクロメータを含む、態様１８に記載の装置。
（態様２１）
光学マイクロメータが、
テープ幅に放射エネルギー光線を送る送波器、並びに
テープの端部を通過する、送波器からの放射エネルギーを受ける受波器
を含む、態様１８に記載の装置。
（態様２２）
テープが測定デバイスによって測定されている間、テープを所望の高さに保持する手段をさらに備える、態様１８に記載の装置。
（態様２３）
測定デバイスの位置を、テープの少なくとも一端部に対して調節する手段をさらに備える、態様１８に記載の装置。
（態様２４）
スリット機においてテープが所望の幅に細長く切断されている時に、複合テープの幅を測定する方法であって、
（Ａ）テープが細長く切断された後に、テープに放射エネルギーの一平面を送り、
（Ｂ）前記放射エネルギーの平面を使用して、テープの少なくとも一端部の位置を判定し、
（Ｃ）ステップ（Ｂ）において判定された端部の位置を使用して、細長く切断されたテープの幅を計算する
ステップを含む方法。
（態様２５）
ステップ（Ａ）が、テープ上で放射エネルギーの平面を位置づけして、平面の一部が少なくとも一端部表面を通過するようにするステップを含む、態様２４に記載の方法。
（態様２６）
ステップ（Ｂ）が、
少なくとも一端部表面を通過する放射エネルギーの平面の一部を受け、
受け取った平面の一部の基準点に対する位置を判定する
ステップを含む、態様２５に記載の方法。
（態様２７）
ステップ（Ａ）及び（Ｂ）が光学マイクロメータを使用して行われる、態様２４に記載の方法。
（態様２８）
ステップ（Ａ）が、テープの一側面上に送波器を位置づけするステップを含み、
ステップ（Ｂ）が、テープの対向する側面上の、送波器と光学的に配列される位置に受波器を位置づけするステップを含む、態様２４に記載の方法。
（態様２９）
さらに、
（Ｄ）テープが送波器と受波器の間を通る時に、テープを引き伸ばす
ステップを含む、態様２８に記載の方法。
（態様３０）
ステップ（Ａ）が、少なくとも一端部に対して送波器の横方向の位置を調節するステップを含み、
ステップ（Ｂ）が、少なくとも一端部に対して受波器の横方向の位置を調節するステップを含む、態様２８に記載の方法。
（態様３１）
送波器及び受波器の調節が同期的に行われる、態様３０に記載の方法。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１ａ】
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【図１１ｂ】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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