(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定光ファイバの一端に任意のパルス幅および送出周期を有するパルス光を入射する送信部と、
前記被測定光ファイバの一端から出射する後方散乱光より任意の偏光成分を切り出すことで当該被測定光ファイバ中で発生した導波音響波型ブリルアン散乱による散乱光成分を取り出し、電気信号に変換して所定の周波数の正弦波信号と混合した後、得られた前記導波音響波型ブリルアン散乱光の時間波形の平均化処理を行う受信部とを有し、
前記導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数の変化量またはスペクトル幅の変化量もしくはその両方をもって、前記被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における外力を検出する
ことを特徴とする光パルス試験装置。
【請求項２】
前記送信部は、一定以上の強さを有する連続的な光波を発生する光源と、任意の幅および周期を有するパルス信号を発生するパルス発生器と、光源から出射された光波をパルス発生器からのパルス信号で変調し、パルス光として出力する変調器と、変調器からのパルス光を被測定光ファイバの一端に入射するとともに、当該被測定光ファイバの一端から出射される光を受信部へ入射する方向性結合器とを少なくとも備え、
前記受信部は、被測定光ファイバの一端から出射する光より任意の偏光成分を切り出す偏光子と、偏光子で切り出された任意の偏光成分の光信号を電気信号に変換する受光器と、所定の周波数の電気信号を発生する発振器と、受光器で変換された電気信号と発振器から出力された電気信号とを混合するミキサと、ミキサから出力された電気信号の時間波形に対して２乗平均処理を行い、被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における後方散乱光強度を取得する平均化処理部とを少なくとも備えた
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項３】
送信部において被測定光ファイバの一端に入射する光パルスの偏光面を制御する偏波制御器を設け、
偏光面が９０°異なる光波を入力した際の前記導波音響波型ブリルアン散乱光の散乱光強度の比より被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における外力を検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項４】
送信部において光源からの光波の一部を分波する光分波器を設け、
分波した光波を参照光として被測定光ファイバからの後方散乱光と合波して受光器に入射しヘテロダイン検波を行う
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項５】
受信部において送信部からの参照光の偏光面を制御する偏波制御器を設け、
参照光の偏光面と偏光子通過後の後方散乱光の偏光面とを一致させる
ことを特徴とする請求項４に記載の光パルス試験装置。
【請求項６】
連続光を出力する第２の光源を被測定光ファイバの他端側に設け、
当該第２の光源の波長と送信部の光源の波長との差に等しい周波数の前記導波音響波型ブリルアン散乱光の光強度を強める
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項７】
被測定光ファイバの一端側または他端側にＷＤＭカプラを介して分布ラマン増幅用光源を配置し、
被測定光ファイバ中の伝搬光パワーを増加させる
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項８】
取得した導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数およびスペクトル幅がそれぞれｆおよびΔｆであり、
初期値として参照する導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数およびスペクトル幅がそれぞれｆrefおよびΔｆrefであり、
固有周波数およびスペクトル幅の温度係数がそれぞれｋTおよびｋ'Tであり、
固有周波数およびスペクトル幅の歪係数がそれぞれｋSおよびｋ'Sであるとき、
被測定光ファイバの長手方向の任意の位置で生じる温度変化ΔＴおよび外力Ｓを
【数５】
0005388225.tif 000006
なる関係をもって検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験装置。
【請求項９】
被測定光ファイバの一端に任意のパルス幅および送出周期を有するパルス光を入射し、
前記被測定光ファイバの一端から出射する後方散乱光より任意の偏光成分を切り出すことで当該被測定光ファイバ中で発生した導波音響波型ブリルアン散乱による散乱光成分を取り出し、
前記取り出した散乱光成分を電気信号に変換して所定の周波数の正弦波信号と混合し、
得られた前記導波音響波型ブリルアン散乱光の時間波形の平均化処理を行い、
前記導波音響波型ブリルアン散乱光の固有周波数の変化量またはスペクトル幅の変化量もしくはその両方をもって、前記被測定光ファイバの長手方向の任意の位置における外力を検出する
ことを特徴とする光パルス試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバまたは光ファイバケーブルに加わる側方からの外力または周囲の温度変化もしくはその両方を、非破壊かつ分布的に測定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバケーブル（以下、光ケーブル）は様々な敷設環境下で長期間使用されることから、製造プロセス、敷設時等における過剰な外力や周囲の温度変化に伴って発生する歪による伝送特性および機械的強度特性の劣化を十分抑える必要がある。そのため、製造プロセス、敷設時および保守作業時には、光ケーブルおよび光ケーブル内部の光ファイバ心線に発生する歪を測定するための様々な試験方法が用いられている。
【０００３】
歪を測定する試験方法としては、光ファイバを伝搬する光波の位相を検出することにより、当該光ファイバの長手方向全体の伸びを測定し、長手方向全体にかかる引張り歪を測定する試験方法があり、主に製造プロセスで利用される。また、後方ブリルアン散乱による散乱光を用いて測定を行うＢ−ＯＴＤＲは、入射端から分布的に引張り歪を測定でき、製造プロセスおよび敷設・保守作業時において発生する歪を測定するために広く利用されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の光学的な試験方法では、光ファイバの長手方向における引張り歪を測定できるのみであり、側方からの外力や周囲の温度変化による歪を直接測定することができないという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明では、被測定光ファイバまたは光ケーブル中で発生する導波音響波型ブリルアン散乱（以下、ＧＡＷＢＳ）による散乱光における固有周波数、散乱光強度またはスペクトル幅を、被測定光ファイバまたは光ケーブルの光の伝搬方向（長手方向）全体に亘って取得することにより、前記課題を解決する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、側方からの外力による歪を直接観測でき、既設の光ケーブルにおいて過剰な外力が発生している区間や光ファイバ被覆が劣化している区間など、機械的信頼性の劣化を非破壊で観測することが可能となり、光通信システム全体としての信頼性を向上することができるといった効果を奏する。また、従来のＢ−ＯＴＤＲに比較して低い周波数帯で測定を行うことから、発振器や受光器の帯域が低くなり、装置のコストを低減できるといった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】ＧＡＷＢＳによる散乱光を観測するための一般的な測定系の構成および測定結果の一例を示す図である。
【図２】光ファイバ中でＧＡＷＢＳを誘起する音響モードの振動分布の一例を示す図である。
【図３】光ファイバにおける非円率とＧＡＷＢＳによる散乱光の固有周波数との関係の一例を示す特性図である。
【図４】本発明の光パルス試験装置の第１の実施の形態を示す構成図である。
【図５】固有周波数およびスペクトル幅の距離特性の一例を示す特性図である。
【図６】本発明の光パルス試験装置の第２の実施の形態を示す構成図である。
【図７】本発明の光パルス試験装置の第３の実施の形態を示す構成図である。
【図８】本発明の光パルス試験装置の第４の実施の形態を示す構成図である。
【図９】本発明の光パルス試験装置の第５の実施の形態を示す構成図である。
【図１０】本発明の光パルス試験装置の第６の実施の形態を示す構成図である。
【図１１】ＧＡＷＢＳによる散乱光の固有周波数およびスペクトル幅の温度依存性の一例を示す特性図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
【０００９】
図１にＧＡＷＢＳによる散乱光を観測するための一般的な測定系の構成および測定結果の一例を示す。
【００１０】
ＧＡＷＢＳは、図１（ａ）に示すように、光源１から被測定光ファイバ／光ケーブル（以下、単に被測定光ファイバ）２の一端に入射された光波により当該被測定光ファイバ２内に微小な振動が生じ、対応する周波数の偏波変調光（ブリルアン散乱光）を生じる現象である。また、ＧＡＷＢＳによる散乱光は、図１（ａ）に示すように、被測定光ファイバ２の他端から出射された光より偏光子３を通して任意の偏光成分を切り出し、これを受光器４で電気信号に変換することによって、スペクトルアナライザ５等で観測することができる。
【００１１】
図１（ｂ）は一般的な単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）で生じたＧＡＷＢＳによる散乱光の周波数スペクトルを示すもので、数百ＭＨｚの比較的低い周波数帯で多数のピークが発生していることが確認できる。各ピークの周波数は、ＧＡＷＢＳに作用する音響モードＴＲ2,mモード（ｍは自然数）の固有周波数に対応し、この音響モードは光ファイバの材料およびクラッド径によって決定され、コア構造にはほとんど依存しない。なお、これらの現象および理論は、非特許文献１において詳述されている。
【００１２】
図２に光ファイバ中でＧＡＷＢＳを誘起する音響モード（ＴＲ2,mモード）の振動分布の一例、ここでは最も大きな散乱光強度が得られるＴＲ2,7モードの振動分布の例を示す。
【００１３】
図２（ａ）は光ファイバ中に歪や変形がない状態における振動分布を示しており、例えば直交するｘ軸とｙ軸を仮定すると、それぞれの軸上で同じ分布が得られている。ここで、ＧＡＷＢＳによる散乱光の効率は、非特許文献１より、光波の伝搬領域における音響モードの振幅の大きさに比例する。従って、光ファイバが真円の場合、周方向で９０°ごとに同じ振幅が得られる（例えば、図２（ａ）の区間(1)と(2)では同じ分布）ため、受光信号は偏光角に対して９０°周期で同じ散乱光強度が得られる。また、このときの固有周波数ｆmは140.14ＭＨｚであった。
【００１４】
図２（ｂ）に示すように、光ファイバに外力（側圧）を加え、光ファイバ中に歪・変形が生じた場合を考える。図２（ｃ）は外力により光ファイバの非円率が５％となったときのＴＲ2,7モードの振動分布を示す。固有周波数は138.76ＭＨｚであり、外力によって周波数が変化していることが確認できる。従って、散乱光の固有周波数の変化量より、側方から印加された外力を検出することが可能である。
【００１５】
また、図２（ｃ）より、外力により対称軸が変化し、左右方向の軸上と上下方向の軸上での振幅が異なることが分かる。図２（ａ）と同様に直交するｘ軸とｙ軸を仮定すると、それぞれの軸上でのモード分布が異なり、ｘ軸上の振幅の最大値はｙ軸上の振幅の最大値より大きい。そのため、受信信号は偏光角に対して散乱光強度が大きい角度帯（区間(1)）と、散乱光強度が小さくなる角度帯（区間(2)）とが存在する。従って、例えば図１（ａ）に示したように、光源１と被測定光ファイバ２との間に設置された偏波制御器６を制御して偏光面が９０°異なる光波を入力した際のブリルアン散乱光を取得し、それぞれの散乱光強度の比から印加された外力を検出することが可能である。
【００１６】
また、固有周波数の変化量と、偏光状態に対する散乱光強度の変化とを併せて取得することで、より高精度に外力を検出することができ、好ましい。
【００１７】
ここで、図２に示したように、ＧＡＷＢＳを誘起する音響モードの振動成分は光ファイバの断面内（長手方向と垂直な面内）全体に広がっている。そのため、外力によって光ファイバ中に歪や変形を生じたとき、音響モードの分布や固有周波数は外力に対して非常に敏感に変化すると考えられる。一方で前述の通り、コア構造に対する依存性がほとんどないため、主材料が同じ光ファイバ（例えば石英系光ファイバ）であれば光学特性が異なるものであっても、ＧＡＷＢＳに関する特性は同じになる。
【００１８】
図３に光ファイバにおける非円率とＧＡＷＢＳによる散乱光の固有周波数との関係の一例を示す。図中、実線、破線および点線はそれぞれ、比較的大きな散乱光強度が得られるＴＲ2,5モード、ＴＲ2,7モードおよびＴＲ2,8モードの特性を表し、縦軸は非円率０％を基準とした固有周波数の変化量を表す。図３より、非円率が大きくなるほど、固有周波数の変化量が単純増加していることがわかる。従って、外力が加わり、非円率が変化した場合、被測定光ファイバの任意の位置における散乱光周波数における、周波数の変化を検出することでその位置で加わっている外力を検出することができる。また、図３に示すように、非円率に対する周波数の変化の割合は音響モードのモード次数によって異なる。従って、複数の散乱光周波数に対して変化量を検出することで、高精度な試験が可能となり、好ましい。
【００１９】
以下、本発明の光パルス試験装置の実施の形態について具体的に説明する。
【００２０】
図４は本発明の光パルス試験装置の第１の実施の形態、ここでは最も基本的な構成例を示すもので、本光パルス試験装置は、光源１１、パルス発生器１２、変調器１３および方向性結合器１４を少なくとも備えた送信部１０と、偏光子２１、受光器２２、発振器２３、ミキサ２４、平均化処理部２５および表示部２６を少なくとも備えた受信部２０とからなっている。
【００２１】
ここで、光源１１は、一定以上の強さを有する連続的な光波（レーザー光）を発生する。パルス発生器１２は、任意の幅および周期を有するパルス信号（電気信号）を発生する。変調器１３は、光源１１から出射された光波をパルス発生器１２からのパルス信号で変調し、パルス光として出力する。方向性結合器１４は、変調器１３からのパルス光を被測定光ファイバ２の一端に入射するとともに、当該被測定光ファイバ２の一端から出射される光を受信部２０へ入射する。
【００２２】
また、偏光子２１は、被測定光ファイバ２の一端から出射する光より任意の偏光成分を切り出す。受光器２２は、偏光子２１で切り出された任意の偏光成分の光信号を電気信号に変換する。発振器２３は、所定の周波数の電気信号を発生する。ミキサ２４は、受光器２２で変換された電気信号と発振器２３から出力された電気信号とを混合（ミキシング）する。
【００２３】
平均化処理部２５は、ミキサ２４から出力された電気信号の時間波形に対して２乗平均処理を行い、光波の伝搬時間ｔと伝搬距離Ｌとの関係がＬ＝Ｖｇ・ｔ／２であることを利用して、被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置における後方散乱光強度を取得する。ここで、Ｖｇは光波の群速度であり、石英系光ファイバでは約２．０×１０8ｍ／ｓである。表示部２６は、被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置に対する後方散乱光強度等の試験結果を表示する。
【００２４】
前記構成において、送信部１０では、光源１１から出射された光波が変調器１３により任意のパルス幅および送出周期を有する光パルスに変調され、方向性結合器１４を介して被測定光ファイバ２の一端に入射される。被測定光ファイバ２に入射された光パルスは被測定光ファイバ２中で散乱光を発生しながら他端側へ伝搬する。この散乱光のうち、被測定光ファイバ２の一端側に戻ってくる後方散乱光が方向性結合器１４を通して受信部２０に入射される。
【００２５】
受信部２０では、被測定光ファイバ２の一端側に戻ってきた後方散乱光を偏光子２１に通すことでＧＡＷＢＳによる散乱光成分を取り出す、即ち強度変調信号に変換した後、受光器２２にて電気信号に変換する。その後、受光器２２で得られた電気信号と発振器２３からの所定の周波数の電気信号とをミキサ２４にて混合した後、平均化処理部２５により、混合後の電気信号の時間波形に対して２乗平均処理を行い、前述したように光波の伝搬時間ｔと伝搬距離Ｌの関係がＬ＝Ｖｇ・ｔ／２であることを利用して、被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置における後方散乱光強度を取得し、表示部２６に表示する。
【００２６】
この際、発振器２３における周波数を可変とし、複数の周波数に対する後方散乱光の距離特性を取得することにより、被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置における後方散乱光強度に対する周波数特性を得ることができる。即ち、平均化処理部２５の後段に信号処理部を配置し、各周波数に対して平均化処理を行った後方散乱光の距離特性を当該信号処理部にて記憶し、後方散乱光の距離特性・周波数特性を得る。ここで、ブリルアン散乱光の周波数スペクトルはローレンツ分布に従うことから、測定した周波数帯において次式のローレンツ分布を用いてフィッティングを行い、被測定光ファイバ２の位置Ｌにおける散乱光強度Ａ（Ｌ）、固有周波数ｆm（Ｌ）およびスペクトル幅Δｆm（Ｌ）を得る。
【００２７】
【数１】
0005388225.tif 000002
ここで、ｇB（ｆ，Ｌ）は位置Ｌにおける散乱光スペクトルである。これにより、被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置において、ＧＡＷＢＳによって発生した散乱光の固有周波数、散乱光強度およびスペクトル幅を得ることができ、固有周波数およびスペクトル幅の距離特性を得ることができる。これを用いることによって、例えば図３に示したように、外力によって固有周波数は変化するため、外力の生じない参照地点で得られた固有周波数と、敷設時の固有周波数とを比較して、その敷設地点で被測定光ファイバ２に印加されている外力を検出することができる。例えば、図５（ａ）（ｂ）にそれぞれ示すように固有周波数またはスペクトル幅の距離特性を取得し、値が変化している区間を外力が加わっている区間と特定でき、かつ図３の関係から周波数の変化量などを外力またはその変化量に変換して得ることができる。
【００２８】
ここで、送信部１０において変調器１３と方向性結合器１４との間に偏波制御器１５を設置し、被測定光ファイバ２に入射する光パルスの偏光面を制御、具体的には偏光面を９０°回転させ、この回転の前後における前記ＧＡＷＢＳによる散乱光を取得し、それぞれの散乱光強度の比から被測定光ファイバ２の長手方向の任意の位置における外力を検出することが可能である。
【００２９】
また、送信部１０において光源１１と変調器１３との間に光分波器１６を設置し、光源１１からの光波の一部を分波して参照光として受信部２０へ出力し、この参照光を被測定光ファイバ２からの後方散乱光と合波して受光器２２に入射しヘテロダイン検波を行うことで、受光器２２における信号強度を上げることができ、受光信号の信号対雑音比を改善でき、好ましい。
【００３０】
また、図６に示す第２の実施の形態では、受信部２０において送信部１０からの参照光の偏光面を制御する偏波制御器２７を設け、当該参照光の偏光面と偏光子２１通過後の後方散乱光の偏光面とを一致させることで、受光器２２における信号強度を最大化することができ、受光信号の信号対雑音比をより改善でき、好ましい。
【００３１】
また、図７に示す第３の実施の形態では、連続光を出力する光源３１およびその偏光面を制御する偏波制御器３２を被測定光ファイバ２の他端側に設置することで、ＧＡＷＢＳによって発生した任意の周波数の散乱光を強めることができる。ここで、送信部１０の光源１１の波長をλ、他端側の光源３１の波長をλc、観測したい散乱光の周波数をｆmとした場合、λとλcの差はｆmと等しい。このとき、周波数ｆmの散乱光強度が強まり、受光信号の信号対雑音比を改善でき、好ましい。
【００３２】
また、図８に示す第４の実施の形態および図９に示す第５の実施の形態では、被測定光ファイバ２の一端側または他端側にＷＤＭカプラ３３を介して分布ラマン増幅用光源３４を配置することで、被測定光ファイバ２中の伝搬光パワーを増加させることができる。ここで、送信部の光源１１の波長をλ、分布ラマン増幅用光源３４の波長をλRとした場合、λとλRの差は約１３ＴＨｚ（λ＝1550ｎｍのとき、λR＝1480ｎｍ）である。ＧＡＷＢＳによる散乱光の散乱光強度は伝搬光強度に比例して増加するため、分布ラマン増幅を行うことにより受信部２０における信号対雑音比を改善でき、好ましい。
【００３３】
また、図１０に示す第６の実施の形態では、送信部１０においてパルス発生器の代わりに発振器１７を配置し、変調光のキャリア周波数をスイープすることで、被測定光ファイバ２の周波数応答特性を用いて任意の位置における散乱光特性を得ることができる。この場合、発振器１７からの変調信号で光源１１からの光波を光強度変調し、方向性結合器１４を介して被測定光ファイバ２の一端に入射する。ここで、発振器１７の変調周波数ｆは時間ｔに対して周期的に変化するものとする（例えば、周波数ｆは時間ｔに対して比例して増加する等）。
【００３４】
被測定光ファイバ２の任意の地点で発生した後方散乱光を偏光子２１を通した光信号を、光源１１からの光波の一部を分波して取り出した参照光と合波して受光器２２に入射し差動検波を行うことで電気信号に変換する。得られた電気信号は所定の周波数帯のみを通すバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）２８を通して信号処理部２９に入力する。ここで、ＢＰＦ２８の中心周波数は、測定を行う散乱光の固有周波数とする。その後、ＢＰＦ２８からの出力信号に対して信号処理部２９においてフーリエ変換を行い、周波数応答特性を求める。
【００３５】
ここで、発振器１７の変調信号の周波数と時間との関係を用いて、周波数応答の周波数を時間におきなおし、第１の実施の形態で説明した時間と距離の関係から、距離に対する散乱光強度を求める。ＢＰＦ２８の通過帯域を可変とすることで、任意の位置における散乱光の周波数特性を得ることができる。
【００３６】
次に、被測定光ファイバの任意の地点で温度変化が生じている場合について説明する。
【００３７】
非特許文献２、非特許文献３および図３で示される通り、ＧＡＷＢＳによって発生する散乱光の固有周波数等の特性は温度および外力によって変化する。そのため、測定地点で温度変化も生じている場合には、測定結果から温度による寄与と外力による寄与とを分離する必要がある。
【００３８】
図１１にＧＡＷＢＳによる散乱光の固有周波数およびスペクトル幅の温度依存性の一例を示す。図１１（ａ）および（ｂ）はそれぞれＴＲ2,5モードおよびＴＲ2,7モードにおける特性である。ここで、丸印は固有周波数、四角印はスペクトル幅を表す。図１１より、固有周波数は温度Ｔに対して線形に増加し、スペクトル幅Δｆは温度に対して指数関数的に減少する（スペクトル幅の目盛りは対数目盛）。
【００３９】
従って、参照用の温度をＴref（例えば２０℃）、Ｔrefにおける固有周波数およびスペクトル幅をｆrefおよびΔｆrefとすると、参照温度からの温度変化ΔＴによる固有周波数の変化ｆTおよびスペクトル幅の変化ΔｆTは次式で表せる。
【００４０】
【数２】
0005388225.tif 000003
ここで、ｋT、ｋ'Tはそれぞれ固有周波数、スペクトル幅の温度変化における比例係数（温度係数）である。例えば図１１では、ＴＲ2,5モードおよびＴＲ2,7モードに対してそれぞれ、ｋTは５．０ｋＨｚ／℃および７．４ｋＨｚ／℃、ｋ'Tはどちらのモードでも−0.64℃-1であった。
【００４１】
また、非特許文献２および非特許文献３より、ＧＡＷＢＳによる散乱光の特性と外力の関係は、上記で示した温度との関係と同じ比例関係となる。即ち、外力Ｓによる固有周波数の変化ｆSおよびスペクトル幅の変化ΔｆSは次式で表せる。
【００４２】
【数３】
0005388225.tif 000004
ここで、ｋS、ｋ'Sはそれぞれ固有周波数、スペクトル幅の外力の変化における比例係数（歪係数）である。従って、測定結果で得られた固有周波数およびスペクトル幅がｆおよびΔｆのとき、次式の連立方程式を解くことで、温度変化ΔＴおよび外力Ｓを得ることができる。
【００４３】
【数４】
0005388225.tif 000005
【産業上の利用可能性】
【００４４】
本発明は、光ファイバおよび光ケーブルの製造プロセス、敷設時および保守作業時において任意の位置における外力および温度変化を検出する試験に利用できる。
【符号の説明】
【００４５】
２：被測定光ファイバ／光ケーブル、１０：送信部、１１：光源、１２：パルス発生器、１３：変調器、１４：方向性結合器、１５：偏波制御器、１６：光分波器、１７：発振器、２０：受信部、２１：偏光子、２２：受光器、２３：発振器、２４：ミキサ、２５：平均化処理部、２６：表示部、２７：偏波制御器、２８：ＢＰＦ、２９：信号処理部、３１，３４：光源、３２：偏波制御器、３３：ＷＤＭカプラ。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００４６】
【非特許文献１】R. Shelbey et al, "Guided acoustic-wave Brillouin scattering," Phisical review B, vol.31, pp.127-134, Apr. 1985
【非特許文献２】Y. Tanaka et al, "Temperature coefficient of sideband frequencies produced by depolarized guided acoustic-wave Brillouin scattering," Photonics Technology Letters, vol.10, pp.1769-1771, Dec. 1998
【非特許文献３】Y. Tanaka et al, "Tensile-starin coefficient of resonance frequency of depolarized guided acoustic-wave Brillouin scattering," vol.11, pp.865-867, Jul. 1999
【図１】
0005388225.tif 000007
【図３】
0005388225.tif 000008
【図４】
0005388225.tif 000009
【図５】
0005388225.tif 000010
【図６】
0005388225.tif 000011
【図７】
0005388225.tif 000012
【図８】
0005388225.tif 000013
【図９】
0005388225.tif 000014
【図１０】
0005388225.tif 000015
【図１１】
0005388225.tif 000016
【図２】
0005388225.tif 000017