(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
４層以上の情報記録層を有する光記録媒体において、
隣接する前記情報記録層の間に配置される複数の中間層の屈折率が、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率よりも大きく、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、前記カバー層の屈折率をｎＣとした際に、
ｎ１＞ｎ２＞ｎＣ  となる
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】
前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３とした際に、
ｎ３＞ｎ１＞ｎ２＞ｎＣ  となることを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体。
【請求項３】
前記第１中間層の物理的厚みＴ１が１５．５μｍ、
前記第２中間層の物理的厚みＴ２が１９．５μｍ、
前記第３中間層の物理的厚みＴ３が１１．５μｍ、
前記カバー層の物理的厚みＴＣが５３．５μｍとなることを標準とし、更に公差１．５μｍ以内に収められていることを特徴とする請求項２に記載の光記録媒体。
【請求項４】
３層の情報記録層を有する光記録媒体において、
隣接する前記情報記録層の間に配置される複数の中間層の屈折率が、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率よりも大きく、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、前記カバー層の屈折率をｎＣとした際に、
ｎ２＞ｎ１＞ｎＣ  となることを特徴とする光記録媒体。
【請求項５】
前記第１中間層の物理的厚みＴ１が２６．５μｍ、
前記第２中間層の物理的厚みＴ２が１５．２μｍ、
前記カバー層の物理的厚みＴＣが５８．３μｍとなることを標準とし、更に公差３．０μｍ以内に収められていることを特徴とする請求項４に記載の光記録媒体。
【請求項６】
３層以上の情報記録層を有し、隣接する前記情報記録層の間には中間層が配置される光記録媒体において、
光入射面から遠い順番にｋ番目となる中間層の屈折率をｎｋ、物理的厚みをＴｋとした際に、前記ｋ番目の中間層と同じ光路長を実現できる、基準屈折率ｎにおける検証用厚みＨｋを次式で定義し、
Ｈｋ＝Ｔｋ×[tan{arcsin(ＮＡ/ｎｋ)}/tan{arcsin(ＮＡ/ｎ)}]
（ＮＡ：光記録媒体の光学系の開口数）
前記検証用厚みＨｋが、複数の前記中間層の間で互いに異なることを特徴とする光記録媒体。
【請求項７】
前記情報記録層を４層有しており、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、
前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、
前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３、物理的厚みをＴ３、検証用厚みをＨ３とし、
光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、
Ｈ２−Ｈ１≧１μｍ、かつ、
Ｈ１−Ｈ３≧１μｍ、かつ、
Ｈ３≧１０μｍ、かつ、
ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする請求項６に記載の光記録媒体。
【請求項８】
前記情報記録層を３層有しており、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、
前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、
光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、
Ｈ１−Ｈ２≧１μｍ、かつ、
ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする請求項６に記載の光記録媒体。
【請求項９】
３層以上の情報記録層を有する光記録媒体の製造方法において、
隣接する前記情報記録層の間に配置されて、光入射面から遠い順番にｋ番目となる中間層の屈折率をｎｋ、物理的厚みをＴｋとし、
前記ｋ番目の中間層と同じ光路長を実現できる、基準屈折率ｎにおける検証用厚みＨｋを次式を用いて算出し、
Ｈｋ＝Ｔｋ×[tan{arcsin(ＮＡ/ｎｋ)}/tan{arcsin(ＮＡ/ｎ)}]
（ＮＡ：光記録媒体の光学系の開口数）
前記検証用厚みＨｋが、複数の前記中間層の間で互いに異なるように前記屈折率ｎｋ、前記物理的厚みＴｋを設定して製造することを特徴とする光記録媒体の製造方法。
【請求項１０】
前記情報記録層を４層有しており、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、
前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、
前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３、物理的厚みをＴ３、検証用厚みをＨ３とし、
光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、
Ｈ２−Ｈ１≧１μｍ、かつ、
Ｈ１−Ｈ３≧１μｍ、かつ、
Ｈ３≧１０μｍ、かつ、
ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする請求項９に記載の光記録媒体の製造方法。
【請求項１１】
前記情報記録層を３層有しており、
前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、
前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、
光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、
Ｈ１−Ｈ２≧１μｍ、かつ、
ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする請求項９に記載の光記録媒体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、３層以上の情報記録層を有する光記録媒体、及び該光記録媒体の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ディジタル動画コンテンツの視聴や、ディジタルデータの記録のために、ＣＤ−ＤＡ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋／−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ：ＢＤ）などの光記録媒体が広く利用されている。この中でも、次世代型ＤＶＤ規格の一つとされるＢＤは、記録再生に用いるレーザー光の波長を４０５ｎｍと短くし、対物レンズの開口数を０．８５に設定される。ＢＤ規格に対応した光記録媒体側は、０．１〜０．５μｍのピッチでトラックが形成される。このようにすることで、光記録媒体の１つの情報記録層に対して２５ＧＢ以上の記録再生を可能にしている。
【０００３】
ところで、動画やデータの容量は今後益々増大することが予想される。従って、光記録媒体における情報記録層を多層化することで光記録媒体の容量を増大させる方法が検討されている。ＢＤ規格の光記録媒体では、６層〜８層の情報記録層を設けることで、２００ＧＢもの超大容量を実現する技術も報告されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】I. Ichimura et. al., Appl. Opt, 45, 1974-1803 (2006)
【非特許文献２】K. Mishima et. al., Proc. of SPIE, 6282, 62820I (2006)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
多層型の光記録媒体では、一般的に、対象となる情報記録層において記録再生を行う際に、他の情報記録層の信号又は雑音の漏れ込み（クロストーク）が生じてしまい、サーボ信号や記録信号の品質が劣化するという問題がある。
【０００６】
一方で、現在のＢＤ型の光記録媒体では、情報記録層が２層となる多層の型光記録媒体が実用化されている。この２層構造の場合、情報記録層間の距離を十分に確保することが出来るので、実用上問題が生じない程度までクロストークを低くすることが可能である。
【０００７】
しかし、３層以上の情報記録層を有する多層光記録媒体の場合、狭い範囲内に多数の情報記録層を配置する必要があるため、２層構造の場合と比較して、隣接する情報記録層の間隔（層間距離）を充分に確保することができない。従って、光記録媒体の設計によっては、クロストークが生じてしまい、サーボ信号や記録信号の品質が劣化するという問題がある。一方で、これを回避する為の具体的な設計手法等が存在していないため、信号品質の良い３層以上の光記録媒体を得るには、試行錯誤による多大な開発期間を要するという問題がある。
【０００８】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、３層以上の光記録媒体において、層間のクロストークを軽減する手法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明者らの鋭意研究によって、上記目的は以下の手段によって達成される。
【００１０】
上記目的を達成する本発明は、３層以上の情報記録層を有する光記録媒体において、隣接する前記情報記録層の間に配置される複数の中間層の屈折率が、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率よりも大きいことを特徴とする光記録媒体である。
【００１１】
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を４層以上有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、前記カバー層の屈折率をｎＣとした際に、ｎ１＞ｎ２＞ｎＣ  となることを特徴とする。
【００１２】
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を４層以上有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３、前記カバー層の屈折率をｎＣとした際に、ｎ３＞ｎ１＞ｎ２＞ｎＣ  となることを特徴とする。
【００１３】
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を４層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の物理的厚みをＴ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の物理的厚みをＴ２、前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の物理的厚みをＴ３、前記カバー層の物理的厚みをＴＣとした際に、Ｔ２−Ｔ１≧１μｍ、かつ、Ｔ１−Ｔ３≧１μｍ、かつ、Ｔ３≧１０μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２＋Ｔ３）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする。
【００１４】
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記第１中間層の物理的厚みＴ１が１５．５μｍ、前記第２中間層の物理的厚みＴ２が１９．５μｍ、前記第３中間層の物理的厚みＴ３が１１．５μｍ、前記カバー層の物理的厚みＴＣが５３．５μｍとなることを標準とし、更に公差１．５μｍ以内に収められていることを特徴とする。
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を３層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、前記カバー層の屈折率をｎＣとした際に、ｎ２＞ｎ１＞ｎＣ  となることを特徴とする。
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を３層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の物理的厚みをＴ１、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の物理的厚みをＴ２、前記カバー層の物理的厚みをＴＣとした際に、Ｔ１−Ｔ２≧１μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２）≧１μｍ、を満たすことを特徴とすることが好ましい。
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記第１中間層の物理的厚みＴ１が２６．５μｍ、前記第２中間層の物理的厚みＴ２が１５．２μｍ、前記カバー層の物理的厚みＴＣが５８．３μｍとなることを標準とし、更に公差３．０μｍ以内に収められていることを特徴とする。
【００１５】
上記目的を達成する本発明は、３層以上の情報記録層を有し、隣接する前記情報記録層の間には中間層が配置される光記録媒体において、光入射面から遠い順番にｋ番目となる中間層の屈折率をｎｋ、物理的厚みをＴｋとした際に、前記ｋ番目の中間層と同じ光路長を実現できる、基準屈折率ｎにおける検証用厚みＨｋを次式で定義し、Ｈｋ＝Ｔｋ×[tan{arcsin(ＮＡ/ｎｋ)}/tan{arcsin(ＮＡ/ｎ)}]（ＮＡ：光記録媒体の光学系の開口数）、前記検証用厚みＨｋが、複数の前記中間層の間で互いに異なることを特徴とする光記録媒体である。
【００１６】
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を４層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３、物理的厚みをＴ３、検証用厚みをＨ３とし、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、Ｈ２−Ｈ１≧１μｍ、かつ、Ｈ１−Ｈ３≧１μｍ、かつ、Ｈ３≧１０μｍ、かつ、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする。なお、この際に、Ｔ２−Ｔ１≧１μｍ、かつ、Ｔ１−Ｔ３≧１μｍ、かつ、Ｔ３≧１０μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２＋Ｔ３）≧１μｍ、を同時に満たすことも好ましい。
上記目的を達成する光記録媒体は、上記発明において、前記情報記録層を３層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、Ｈ１−Ｈ２≧１μｍ、かつ、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする。なお、この際に、Ｔ１−Ｔ２≧１μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２）≧１μｍ、を同時に満たすことの好ましい。
【００１７】
上記目的を達成する本発明は、３層以上の情報記録層を有する光記録媒体の製造方法において、隣接する前記情報記録層の間に配置されて、光入射面から遠い順番にｋ番目となる中間層の屈折率をｎｋ、物理的厚みをＴｋとし、前記ｋ番目の中間層と同じ光路長を実現できる、基準屈折率ｎにおける検証用厚みＨｋを次式を用いて算出し、Ｈｋ＝Ｔｋ×[tan{arcsin(ＮＡ/ｎｋ)}/tan{arcsin(ＮＡ/ｎ)}]（ＮＡ：光記録媒体の光学系の開口数）、前記検証用厚みＨｋが、複数の前記中間層の間で互いに異なるように前記屈折率ｎｋ、前記物理的厚みＴｋを設定して製造することを特徴とする光記録媒体の製造方法である。
【００１８】
上記目的を達成する光記録媒体の製造方法は、上記発明において、前記情報記録層を４層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、前記光入射面から３番目に遠い第３中間層の屈折率をｎ３、物理的厚みをＴ３、検証用厚みをＨ３とし、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、Ｈ２−Ｈ１≧１μｍ、かつ、Ｈ１−Ｈ３≧１μｍ、かつ、Ｈ３≧１０μｍ、かつ、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする。なお、この際に、Ｔ２−Ｔ１≧１μｍ、かつ、Ｔ１−Ｔ３≧１μｍ、かつ、Ｔ３≧１０μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２＋Ｔ３）≧１μｍ、を同時に満たすことが好ましい。
上記目的を達成する光記録媒体の製造方法は、上記発明において、前記情報記録層を３層有しており、前記光入射面から最も遠い第１中間層の屈折率をｎ１、物理的厚みをＴ１、検証用厚みをＨ１とし、前記光入射面から２番目に遠い第２中間層の屈折率をｎ２、物理的厚みをＴ２、検証用厚みをＨ２とし、光入射面と該光入射面から最も近い前記情報記録層の間に配置されるカバー層の屈折率をｎＣ、物理的厚みをＴＣ、検証用厚みをＨＣとした際に、Ｈ１−Ｈ２≧１μｍ、かつ、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２）≧１μｍ、を満たすことを特徴とする。なお、この際に、Ｔ１−Ｔ２≧１μｍ、かつ、ＴＣ−（Ｔ１＋Ｔ２）≧１μｍ、を同時に満たすことが好ましい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、情報記録層を３層以上有する光記録媒体において、層間のクロストークを軽減できるという優れた効果を奏し得る。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光記録媒体、及びこの光記録媒体を記録再生する光ピックアップの構造を示すブロック図
【図２】同光記録媒体の構造を示す部分拡大図
【図３】同光記録媒体の設計適否を判断するための第１検証結果を示す表図
【図４】同光記録媒体の設計適否を判断するための第２検証結果を示す表図
【図５】同光記録媒体の設計適否を判断するための第３検証結果を示す表図
【図６】同光記録媒体の設計適否を判断するための第４検証結果を示す表図
【図７】球面収差補正を一定にするための屈折率と焦点位置の換算テーブル
【図８】クロストークの発生原理を説明するための光記録媒体の部分拡大図
【図９】クロストークの発生原理を説明するための光記録媒体の部分拡大図
【図１０】クロストークの発生原理を説明するための光記録媒体の部分拡大図
【図１１】クロストークの発生原理を説明するための光記録媒体の部分拡大図
【図１２】クロストークの発生原理を説明するための、光記録媒体の層間差（距離）とＦＳ信号振幅の相関図
【図１３】クロストークの発生原理を説明するための光記録媒体の部分拡大図
【図１４】クロストークの発生原理を説明するための、光記録媒体の層間厚みとジッタの相関図
【発明を実施するための形態】
【００２１】
＜クロストークが生じる原理の説明＞
【００２２】
まず、４層の情報記録層を有する光記録媒体において、クロストークが生じる原理について説明する。なお、クロストークが生じる主な原因として、多面反射光によるクロストークと、隣接する情報記録層の映り込みによるクロストークがある。
【００２３】
図８には、４層構造の光記録媒体４０が示されている。この光記録媒体４０は、光入射面４０ｚに近い側から順番に、Ｌ３情報記録層４０ａ、Ｌ２情報記録層４０ｂ、Ｌ１情報記録層４０ｃ、Ｌ０情報記録層４０ｄを備えている。光記録媒体４０は、更に、カバー層４２、第３中間層４３、第２中間層４４、第１中間層４５を有している。なお、カバー層４２（光入射面４０ｚからＬ３情報記録層４０ａまでの基材）の厚みをＴＣ、第３中間層４３（Ｌ３情報記録層４０ａからＬ２情報記録層４０ｂまでの基材）の厚みをＴ３、第２中間層４４（Ｌ２情報記録層４０ｂからＬ１情報記録層４０ｃまでの基材）の厚みをＴ２、第１中間層４５（Ｌ１情報記録層４０ｃからＬ０情報記録層４０ｄまでの基材）の厚みをＴ１とする。また、光入射面４０ｚからＬ３情報記録層４０ａまでの距離をｄ１（≒ＴＣ）、光入射面４０ｚからＬ２情報記録層４０ｂまでの距離をｄ２（≒ＴＣ＋Ｔ３）、光入射面４０ｚからＬ１情報記録層４０ｃまでの距離をｄ３（≒ＴＣ＋Ｔ３＋Ｔ２）、光入射面４０ｚからＬ０情報記録層４０ｄまでの距離をｄ４（≒ＴＣ＋Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１）とする。
【００２４】
ここでまず、多面反射光によるクロストークの発生原理について図８〜図１１を用いて説明する。図８のように、再生または記録のためにＬ０情報記録層４０ｄに集光されたビーム７０は、情報記録層の半透過性により複数の光ビームに分岐してしまう。図９では、Ｌ０情報記録層４０ｄの記録再生目的のビームから分岐したビーム７１が、Ｌ１情報記録層４０ｃで反射してＬ２情報記録層４０ｂで焦点を結び、この反射光が再びＬ１情報記録層４０ｃで反射して検出される現象が示されている。この現象を、情報記録層の裏焦点光と呼ぶ。
【００２５】
図１０では、Ｌ０情報記録層４０ｄの記録再生目的のビームから分岐したビーム７２が、Ｌ２情報記録層４０ｂで反射して光入射面４０ｚで焦点を結び、この反射光が再びＬ２情報記録層４０ｂで反射して検出される現象が示されている。これを光入射面の裏焦点光と呼ぶ。
【００２６】
図１１では、Ｌ０情報記録層４０ｄの記録再生目的のビームから分岐したビーム７３が、他の情報記録層で焦点を結ばないが、Ｌ１情報記録層４０ｃ、Ｌ３情報記録層４０ａ、Ｌ２情報記録層４０ｂの順で反射して検出される現象が示されている。
【００２７】
これら図８〜図１１で示す現象において、例えば、Ｔ１＝Ｔ２に設定すると、ビーム７０とビーム７１の光路長と光束径が一致してしまい、同時に光検出器（フォトディテクタ）に入射する。同様に、Ｔ１＋Ｔ２＝Ｔ３＋ＴＣに設定するとビーム７０とビーム７２光路長と光束径が一致してしまい、またＴ３＝Ｔ１に設定するとビーム７０とビーム７３の光路長と光束径が一致してしまう。
【００２８】
ビーム７０と比較して、多面反射光であるビーム７１〜７３の光量は小さいが、等しい光路長と等しい光束径で光検出器に入射するため干渉による影響は大きく、光検出器で受光した光量が、微少な層間厚みの変化で大きく変動し、安定な信号を検出することが困難となる。これが多面反射光によるクロストークの要因である。
【００２９】
図１２には、ビーム７０と比較して、ビーム７１、ビーム７２またはビーム７３の光量比が１００：１となる場合を仮定し、更にカバー層４２と第３中間層４３の屈折率がいずれも１．５７となる際において、層間厚みの差に対するＦＳ信号の振幅変動が示されている。なお横軸は、カバー層４２と第３中間層４３の厚みの差、縦軸はＦＳ信号振幅であり、ビーム７０のみの反射光を光検出器で受光した際の値をＤＣ光量で規格化した値である。図１２から明らかなように、層間厚みの差が１μｍ以下になると、光量比としては小さい多面反射光との干渉によって、ＦＳ信号が急激に変動することがわかる。
【００３０】
なお、図１３に示されるように、カバー層４２の厚みＴＣと、第１〜第３中間層４３〜４５の厚みの総和（Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１）との差が１μｍ以下になっても、図１０と全く同じ原理によって、分岐したビーム７４が、Ｌ３情報記録層４０ａと光入射面４０ｚで多面反射することから、ＦＳ信号の変動などの問題が生じる。
【００３１】
次に隣接する情報記録層の映り込みによるクロストークについて説明する。情報記録層間の層間距離が小さすぎると、隣接する情報記録層からのクロストークの影響を受ける。従って、所定値以上の層間距離が必要となる。本発明者らは、実験によって、層間厚みとクロストークの影響を研究している。図１４には、各情報記録層の反射率がほぼ等しい光記録媒体において、層間厚みとジッタとの関係を示す。図１４の横軸は層間厚み、縦軸はジッタ値を示している。層間厚みが薄くなるとジッタは劣化し、変曲点は約８μｍとなり、それ以下の層間厚みでは急激なジッタの劣化が起こることを明らかにしている。
【００３２】
なお、一般的に光記録媒体の設計や製造上、各情報記録層の反射率は、１．５倍程度の差が生じ得る。例えば、記録再生対象となる情報記録層の反射率に対して、隣接する他の情報記録層の反射率が１．５倍となる場合、干渉の影響は、光の振幅比で√１．５倍となる。この反射率変動の影響を含めた層間厚みに対するジッターは、図１４の破線で示されているようになる。従って、実際の設計上では、層間厚みの最小値は、８μｍから２μｍ増やして１０μｍ以上に設定することが好ましい。このようにすると、他の情報記録層の迷光が光検出器で検出される際の光量密度は、反射率１．５×（８／１０）２＝０．９６となり、他の情報記録層の反射効率の増加分を、層間厚みの増加で相殺することができる。結論として、層間厚みの最小値は１０μｍが最適となる。
【００３３】
＜第１実施形態＞
【００３４】
次に、本発明の実施の形態に係る光記録媒体、及びその設計・製造方法について説明する。なお、ここでは各層の実際の厚みを「物理的厚み」と表現し、後述するような計算によって導き出される「検証用厚み」の概念と区別する。
【００３５】
図１には、本実施形態に係る光記録媒体３０と、この記録再生に用いられる光ピックアップ２０１の構成を示す。光源１から出射された波長４００〜４１０ｎｍ（ここでは４０５ｎｍ）となる発散性のビーム７０は、焦点距離ｆ１が１５ｍｍとなると共に球面収差補正手段９３を備えたコリメートレンズ５３を透過し、偏光ビームスプリッタ５２に入射する。偏光ビームスプリッタ５２に入射したビーム７０は、偏光ビームスプリッタ５２を透過し、４分の１波長板５４を透過して円偏光に変換された後、焦点距離ｆ２が２ｍｍとなる対物レンズ５６で収束ビームに変換される。このビームは、光記録媒体３０の透明基板を透過し、光記録媒体３０内部に形成されたＬ０〜Ｌ３情報記録層３０ｄ〜３０ａ（図２参照）のいずれかの上に集光される。対物レンズ５６は、Ｌ３情報記録層３０ａとＬ０情報記録層３０ｄの中間の深さ位置で球面収差が０となる様に設計されており、各情報記録層３０ａ〜３０ｄに集光する場合に発生する球面収差は、球面収差補正手段９３がコリメートレンズ５３の位置を光軸方向に移動することにより除去するようになっている。
【００３６】
対物レンズ５６の開口はアパーチャ５５で制限され、開口数ＮＡを０．８０〜０．９０（ここでは０．８５）としている。例えばＬ０情報記録層３０ｄで反射されたビーム７０は、対物レンズ５６、４分の１波長板５４を透過して往路とは９０度異なる直線偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ５２で反射される。偏光ビームスプリッタ５２で反射されたビーム７０は、焦点距離ｆ３が３０ｍｍとなる集光レンズ５９を透過して収束光に変換され、シリンドリカルレンズ５７を経て、光検出器３２に入射する。ビーム７０には、シリンドリカルレンズ５７を透過する際、非点収差が付与される。
【００３７】
光検出器３２は、図示しない４つの受光部を有し、それぞれ受光した光量に応じた電流信号を出力する。これら電流信号から、非点収差法によるフォーカス誤差（以下ＦＥとする）信号、プッシュプル法によるトラッキング誤差（以下ＴＥとする）信号、光記録媒体３０に記録された情報（以下ＲＦとする）信号が生成される。ＦＥ信号およびＴＥ信号は、所望のレベルに増幅および位相補償が行われた後、アクチュエータ９１および９２にフィードバック供給されて、フォーカスおよびトラッキング制御がなされる。
【００３８】
図２は、光記録媒体３０の構成が示されている。この光記録媒体３０は、光入射面３０ｚから遠い順番（即ち基板側から順番に）にＬ０〜Ｌ３情報記録層３０ｄ〜３０ａを備えている。Ｌ０情報記録層３０ｄとＬ１情報記録層３０ｃの間には第１中間層３５が配置され、Ｌ１情報記録層３０ｃとＬ２情報記録層３０ｂの間には第２中間層３４が配置され、Ｌ２情報記録層３０ｂとＬ３情報記録層３０ａの間には第３中間層３３が配置され、Ｌ３情報記録層３０ａと光入射面３０ｚの間にはカバー層３２が配置されている。
【００３９】
この光記録媒体３０では、他の情報記録層や表面からの反射光の悪影響を解決するために、製作上の物理的厚みバラツキも考慮して、少なくとも以下の第１〜第７膜厚条件、及び屈折率条件を確保するようにしている。
【００４０】
＜第１膜厚条件＞カバー層３２の物理的厚みＴＣを厚くとるため、ＴＣ＞５０μｍとすることが好ましい。これは、光入射面面に傷や汚れがある場合の情報再生信号劣化を低く抑えることが出来るからである。本発明者らは、特にカートリッジなどの保護デバイスを使わずに、光記録媒体をベアの状態で用いるためには、このカバー層の物理的厚みＴＣを、ＴＣ＞５０μｍとしなければ、指紋などの異物が媒体の光入射面３０ｚに付着したときの耐性が充分ではないことを明らかにしている。
【００４１】
＜第２膜厚条件＞カバー層３２の物理的厚みＴＣと、中間層３３〜３５の物理的厚みの総和（Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１）との差を１μｍ以上確保することが好ましい。なお、Ｌ０情報記録層３０ｄの光入射面３０ｚからの位置ｄ４の標準値を、市場のＢＤディスクと同じ１００μｍにすることが望ましい。従って、この第２条件において、第１条件であるＴＣ＞５０μｍという条件と組み合わせると、ＴＣ−（Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１）≧１μｍということになる。
【００４２】
＜第３膜厚条件＞カバー層３２の物理的厚みＴＣと第３中間層３３の物理的厚みＴ３の和（ＴＣ＋Ｔ３）に対して、第２中間層３４の物理的厚みＴ２と第１中間層３５の物理的厚みＴ１の和（Ｔ２＋Ｔ１）の差を１μｍ以上確保することが好ましい。なお、この条件は、第１及び第２条件を満たせば自然と満たされる。
【００４３】
＜第４膜厚条件＞ＴＣ，Ｔ３，Ｔ２，Ｔ１の任意の２値の互いの差が、いずれも１μｍ以上であるようにすることが好ましい。
【００４４】
＜第５膜厚条件＞層間厚み（中間層の厚み）の最小値は、先に述べたように、１０μｍ以上確保することが好ましい。即ちＴ３，Ｔ２，Ｔ１がいずれも１０μｍ以上であるようにする。
【００４５】
＜第６膜厚条件＞第１〜第３中間層３５〜３３の物理的厚みＴ１，Ｔ２，Ｔ３の物理的厚さの順番は、Ｔ２＞Ｔ１＞Ｔ３にすることが好ましい。Ｌ２情報記録層３０ｂは、Ｌ３情報記録層３０ａとＬ１情報記録層３０ｃの双方に挟まれている。Ｌ１情報記録層３０ｃはＬ２情報記録層３０ｂとＬ０情報記録層３０ｄの双方に挟まれている。即ちＬ２情報記録層３０ｂとＬ１情報記録層３０ｃは、いずれも、両側の隣接する２面からのクロストーク信号の影響を受けるため、その影響を少なくする必要がある。
【００４６】
従って、まず、第２中間層３４（Ｔ２）を物理的厚みを大きくすることによって、Ｌ２情報記録層３０ｂ又はＬ１情報記録層３０ｃを再生する際の他層からのクロストークを減らすようにする。この結果、Ｔ２を最も厚くすることが望ましい。また、各情報記録層と光入射面３０ｚとの距離が小さい程、チルトマージンが広くなるので、第３中間層３３の物理的厚みＴ３を薄くし、且つ第１中間層３５の物理的厚みＴ１を厚くすることで、Ｌ２情報記録層３０ｂ及びＬ１情報記録層３０ｃの双方を光入射面３０ｚに近づける方が好ましい。以上の考察から物理的厚さの順番は、Ｔ２＞Ｔ１＞Ｔ３とすることが好ましい。
【００４７】
＜第７膜厚条件＞光入射面３０ｚから一番遠いＬ０情報記録層３０ｄは、光入射面３０ｚから概ね１００μｍとすることで、現在市販されている光ディスクの中で最も大容量であるＢＤと互換性を持たせることが好ましい。またこのようにすることで、チルトマージン等のシステムマージンも充分に確保できるという利点を得るようにする。この結果、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の中で、カバー層３２の物理的厚みＴＣが最も大きくなる。
【００４８】
なお、上記第１〜第７膜厚条件に基づけば、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の物理的厚みの大小関係としては、ＴＣ＞Ｔ２＞Ｔ１＞Ｔ３  という結論となる。
【００４９】
＜具体的膜厚計算＞上記第１〜第７膜厚条件のもとで、カバー層や中間層の設計において、製造上で許される誤差やばらつきを最も大きくできる構造を考える必要がある。カバー層３２及び中間層３３〜３５の作製バラツキを一律に±ｅμｍとすると、上記条件を満たす各中間層の物理的厚みＴ３〜Ｔ１の中心値は、上限値、下限値を考えると、最も小さく設定できる第３中間層３３の物理的厚さＴ３が、Ｔ３＝１０＋ｅ（μｍ）となる。これは、−ｅμｍの製造誤差が生じても、１０μｍを確保できるからである。第１中間層３５の物理的厚さＴ１は、Ｔ３に対して膜厚差１μｍを確保しなければならない為、誤差を考慮して、Ｔ１＝（Ｔ３＋ｅ）＋１＋ｅ＝１０＋３ｅ＋１（μｍ）となる。更に、第２中間層３４の物理的厚さＴ２は、Ｔ１に対して膜厚差１μｍを確保しなければならない為、誤差を考慮して、Ｔ２＝（Ｔ１＋ｅ）＋１＋ｅ＝１０＋５ｅ＋２（μｍ）となる。
【００５０】
第２膜厚条件を満たすためには、カバー層３２の物理的厚みＴＣの下限値が、Ｔ１〜Ｔ３の上限値の和よりも１μｍ厚くなる必要があるので、ＴＣ−ｅ＝（Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１＋３ｅ）＋１（μｍ）＝３４＋１２ｅとなる。この結果、ＴＣ＝３４＋１３ｅとなる。
【００５１】
第７膜厚条件から、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の物理的厚みの合計値は１００μｍであるので、ＴＣ＋Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１＝６７＋２２ｅ＝１００（μｍ）となり、この結果、許容誤差ｅ＝３３／２２＝１．５（μｍ）となる。
【００５２】
以上の結果、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の物理的厚みの標準値は、ＴＣ＝５３．５（μｍ）、Ｔ３＝１１．５（μｍ）、Ｔ２＝１９．５（μｍ）、Ｔ１＝１５．５（μｍ）となる。なお、光入射面３０ｚからの距離に換算すると、ｄ１＝ＴＣ＝５３．５（μｍ）、ｄ２＝ＴＣ＋Ｔ３＝６５．０（μｍ）、ｄ３＝ｄ２＋Ｔ２＝８４．５（μｍ）、ｄ４＝１００（μｍ）となる。これらの物理的厚みの標準値に対して、±１．５μｍの製造誤差は許容されることになる。
【００５３】
なお、カバー層や各中間層３３〜３５の作製時のばらつきが±ｅ（μｍ）内に入っていれば、必ず第１から第７膜厚条件が満足される。いわば、許容値ｅは、第１条件から第７条件を満たすための必要条件である。なお、仮にカバー層３２の物理的厚みＴＣの誤差がｅを超えていても、他の中間層の物理的厚みが基準値に近ければ、第１条件から第７条件を満たす場合もあり得る。なお、フォーカス引き込み動作の際に、良好なフォーカスエラー信号品質を得るためには、光入射面から各情報記録層までの距離が、上記誤差内になければならない。
【００５４】
＜屈折率条件＞次に、屈折率条件について説明する。この光記録媒体３０において、カバー層３２、第３中間層３３、第２中間層３４、第１中間層３５の光路長を、各々、ＬＣ、Ｌ３、Ｌ２、Ｌ１と定義する。既述の多面反射光によるクロストークは、Ｌｉ＝Ｌｊ（ｉ、ｊ＝１，２，３，Ｃ  且つ  ｉ≠ｊ）となったときや、ＬＣ、Ｌ３、Ｌ２、Ｌ１の任意の組み合わせの光路長の和が，それ以外の組み合わせの光路長の和と等しくなったとき（例えばＬ１＋Ｌ２＝Ｌ３＋ＬＣ）に生じる。第７膜厚条件で説明したように、ＢＤでは、光記録媒体３０の光入射面３０ｚから最も遠いＬ０情報記録層３０ｄまでの光路長が１００μｍとなるように規格化されているが、この光路長は、カバー層３２及び中間層３３〜３５の全ての屈折率が１．６である場合に、物理的厚さと一致すると定義される。即ち、屈折率が１．６で無い場合には、物理的厚さと光路長は異なってくることを意味する。
【００５５】
ここで、基板側から順番に第ｋ番目（ｋ＝１，２，３，Ｃ）となる、第１中間層３５、第２中間層３４、第３中間層３３、カバー層３２の屈折率をｎｋ，物理的厚みをＴｋ、光路長をＬｋと定義した際に，これらの光路長Ｌｋと、屈折率が１．６で物理的厚みがＴ１．６となる仮想膜の光路長Ｌ１．６が、どのようなときに等価となるか考察する。
【００５６】
まず、光路長が等しくなってしまうことで、多面反射光によるクロストークが生じるケースについて考察する。屈折率ｎ１、ｎ２の媒質に対して、入射角が各々θ１、θ２となるように光が入射するとき、次関係式１（Ｓｎｅｌｌの法則）が成立する。
【００５７】
ｎ１×sinθ１＝ｎ２×sinθ２（＝ＮＡ＝０．８５，ＢＤの場合）・・・式１
【００５８】
一方、屈折率ｎ１、物理的膜厚Ｔ１、光がθ１の角度で入射する媒質と、屈折率ｎ２、物理的膜厚Ｔ２、光がθ２の角度で入射する媒質とを比較し、その光路長が一致するケースは、幾何学的考察により、次式２で与えられる。
【００５９】
Ｔ１×tanθ１＝Ｔ２×tanθ２・・・式２
【００６０】
この結果、屈折率ｎｋ、物理的膜厚Ｔｋとなるカバー層３２や中間層３３〜３５の光路長Ｌｋと、屈折率１．６、物理的膜厚Ｔ１．６となるカバー層や中間層の光路長Ｌ１．６が一致する条件は、次式３で与えられる。
【００６１】
Ｔ１．６×tanθ１．６＝Ｔｋ×tanθｎｋ・・・式３
【００６２】
ここでＳｎｅｌｌの法則より、θｎｋ＝arcsin（ＮＡ／ｎｋ）、θ１．６=arcsin（ＮＡ／１．６）となるので、上式は、次式４に置き換えられる。
【００６３】
Ｔ１．６（Ｈｋ）＝Ｔｋ×[tan{arcsin（ＮＡ／ｎｋ）}／tan{arcsin（ＮＡ／１．６）}]  ・・・式４
【００６４】
屈折率ｎｋ、物理的膜厚Ｔｋのカバー層や中間層は、光路長が同一となる条件の下で、上式４を用いることにより、屈折率１．６の場合の膜厚Ｔ１．６（これを「基準屈折率を１．６に設定した際の検証用厚みＨｋ」と呼ぶ）に換算できることになる。
【００６５】
本来、多面反射光によるクロストークは、屈折率変化を考慮した上で、光路長が一致する際に発生するものである。従って、これを確実に検証するには、各カバー層や中間層の実際の屈折率ｎｋと物理的厚みＴｋを利用して、基準となる屈折率１．６の場合の検証用厚みＨｋに換算し、この検証用厚みＨｋについても、物理的厚みに加えて上記第１〜第７膜厚条件を満たしておくことが重要となる。即ち、この検証用厚みＨｋを利用して、カバー層及び中間層の膜厚が一致しないように設計する。
【００６６】
なお、上記式４に基づけば、屈折率ｎｋが基準屈折率（１．６）より大きいと、物理的厚みＴｋに対して検証用厚みＨｋが小さくなることが分かる。一方で、屈折率ｎｋが１．６より小さいと、物理的厚みＴｋに対して検証用厚みＨｋが大きくなる。第２膜厚条件では、ＴＣ＞Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１  となることが前提であることから、中間層側の全屈折率ｎ１〜ｎ３と比較して、カバー層側の屈折率ｎＣを小さく設定すると、この第２膜厚条件を一層満たしやすい状況が得られる。
【００６７】
また、上記第１〜第７膜厚条件では、既に述べたように、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の物理的厚みの大小関係としては、ＴＣ＞Ｔ２＞Ｔ１＞Ｔ３  という結論となっている。従って、この順番を必ず崩さないようにする為には、カバー層３２及び第１〜第３中間層３５〜３３の屈折率の大小関係として、これとは反対のｎ３＞ｎ１＞ｎ２＞ｎＣ  に設定することが好ましい。
【００６８】
なお、第３中間層３３の屈折率ｎ３を、仮に１．６よりも大きくする場合には、物理的厚みＴ３によりも、検証用厚みＨ３が小さくなる。従って、この検証用厚みＨ３が、１０＋ｅ（μｍ）となるように、実際の物理的厚みＴ３を再定義することも好ましい。
【００６９】
＜第１検証例＞カバー層３２と第３〜第１中間層３３〜３５の屈折率を１．４５とし、ＴＣ＝５３．５（μｍ）、Ｔ３＝１１．５（μｍ）、Ｔ２＝１９．５（μｍ）、Ｔ１＝１５．５（μｍ）となる光記録媒体３０について検証した。製造上の公差ｅとして、全ての膜厚が±１．５μｍのばらつきを持ちうるとする。なお、製造時において、第３〜第１中間層３３〜３５については連続的に成膜することから、同方向（全てがプラス側又はマイナス側）に膜厚がばらつくと仮定し、（１）標準厚さの場合、（２）カバー層３２及び第３〜第１中間層３３〜３５の全てが薄い（−１．５μｍ）場合、（３）カバー層３２及び第３〜第１中間層３３〜３５の全てが厚い（＋１．５μｍ）場合、（４）カバー層３２が薄く（−１．５μｍ）、第３〜第１中間層３３〜３５が厚い（＋１．５μｍ）場合、（５）カバー層３２が厚く（＋１．５μｍ）、第３〜第１中間層３３〜３５が薄い（−１．５μｍ）場合の５種類の状況を想定した。また、第１検証例では、カバー層３２と第３〜第１中間層３３〜３５が基準屈折率１．６となる場合について、各厚みを検証用厚みＨｋに換算した。膜厚条件の検証は、多面反射光によるクロストーク回避条件である、Ｈ２−Ｈ１≧１μｍ、Ｈ１−Ｈ３≧１μｍ、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍと、隣接層間クロストーク回避条件であるＨ３≧１０μｍの合計４条件を満たすか否かについて行った。この結果を図３に示す。
【００７０】
図３から分かるように、この第１検証例では、膜厚の公差内のばらつきを考慮しても、４つの条件を満たすことが分かる。また、屈折率１．４５は、基準屈折率１．６よりも小さいので、物理的厚さＴｋよりも検証用厚さＨｋが大きくなることから、隣接層間のクロストークを回避できる最低膜厚である１０μｍについても、検証用厚さＨｋが満たしていることが分かる。
【００７１】
＜第２検証例＞物理的膜厚は第１検証例と全く同様とし、カバー層３２の屈折率を１．４５、第３〜第１中間層３３〜３５の屈折率を１．７とした場合について検証した。検証方法も第１検証例と全く同様にした。この結果を図４に示す。この場合、Ｈ３≧１０μｍを満たすことが出来ず、隣接層間のクロストークを回避すべき条件が満たされない場合が生じ得ることが分かる。なお、多面反射光によるクロストーク回避条件については、全て満たすことが分かる。従って、カバー層３２の屈折率に対して、中間層側の屈折率を大きくすることが、多面反射光によるクロストークを回避する点で好ましいことが分かる。なお、層間クロストークを回避する為には、少なくとも第３中間層３３の屈折率ｎ３を、カバー層３２の屈折率ｎＣよりも大きい範囲内で、小さくすることが好ましいことになる。
【００７２】
＜第３検証例＞物理的膜厚は第１検証例と全く同様とし、カバー層３２及び第３〜第１中間層３３〜３５の屈折率を１．７とした場合について検証した。検証方法も第１検証例と全く同様にした。この結果を図５に示す。この場合、Ｈ３≧１０μｍを満たすことが出来ず、隣接層間のクロストークを回避すべき条件が満たされない場合が生じ得ることが分かる。また、多面反射光によるクロストーク回避条件についても、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍを満たすことができない場合が生じ得ることが分かる。従って、カバー層３２と中間層側の屈折率を同等にしても、例えば基準屈折率となる１．６を双方が超える場合は、多面反射光によるクロストークや隣接層間のクロストークを回避できない可能性があることが分かる。従って、カバー層３２の屈折率は、１．６よりも小さくすることが好ましく、又少なくとも第３中間層３３の屈折率ｎ３を、カバー層３２の屈折率ｎＣよりも大きい範囲内で、小さくすることが好ましいことになる。
【００７３】
＜第４検証例＞物理的膜厚は第１検証例と全く同様とし、カバー層３２の屈折率を１．７、第３〜第１中間層３３〜３５の屈折率を１．４５とした場合について検証した。検証方法も第１検証例と全く同様にした。この結果を図６に示す。この場合、Ｈ３≧１０μｍについては満たすことが可能であり、隣接層間のクロストークを回避すべき条件が満たされる。しかし、多面反射光によるクロストーク回避条件については、多くの場合に、ＨＣ−（Ｈ１＋Ｈ２＋Ｈ３）≧１μｍを満たないすことができない。従って、カバー層３２の屈折率に対して、中間層側の屈折率を小さくしてしまうと、多面反射光によるクロストークを回避できなくなることが分かる。
【００７４】
＜第２実施形態＞
【００７５】
次に、本発明の第２実施形態として、情報記録層が３層となる光記録媒体について簡単に説明する。この光記録媒体は、基板、Ｌ０情報記録層、第１中間層、Ｌ１情報記録層、第２中間層、Ｌ２情報記録層、カバー層、光入射面をこの順に有する。この光記録媒体の場合については以下の膜厚条件が必要となる。
【００７６】
＜第１膜厚条件＞カバー層の物理的厚みＴＣを厚くとるため、ＴＣ＞５０μｍとすることが好ましい。
【００７７】
＜第２膜厚条件＞カバー層の物理的厚みＴＣと、第１、第２中間層の物理的厚みの総和（Ｔ２＋Ｔ１）との差を１μｍ以上確保することが好ましい。なお、Ｌ０情報記録層の光入射面からの位置の標準値を、市場のＢＤディスクと同じ１００μｍにすることが望ましい。従って、この第２条件において、第１条件であるＴＣ＞５０μｍという条件と組み合わせると、ＴＣ−（Ｔ２＋Ｔ１）≧１μｍということになる。
【００７８】
＜第３膜厚条件＞ＴＣ，Ｔ２，Ｔ１の任意の２値の互いの差が、いずれも１μｍ以上であるようにすることが好ましい。
【００７９】
＜第４膜厚条件＞層間厚み（中間層の厚み）の最小値を１０μｍ以上確保することが好ましい。即ちＴ２，Ｔ１がいずれも１０μｍ以上であるようにする。
【００８０】
＜第５膜厚条件＞情報記録層と光入射面との距離が小さい程チルトマージンが広くなる。従って、第２中間層の厚みＴ２を小さく、第１中間層の厚みＴ１を大きくすることが好ましい。即ちＴ１＞Ｔ２となる。この結果、ＴＣ＞Ｔ１＞Ｔ２の順番となる。
【００８１】
＜第６膜厚条件＞光入射面から一番遠いＬ０情報記録層は、光入射面から概ね１００μｍとすることで、現在市販されている光ディスクの中で最も大容量であるＢＤと互換性を持たせることが好ましい。
【００８２】
＜具体的膜厚計算＞
【００８３】
カバー層や中間層の物理的厚みのばらつきを一律に±ｅμｍとすると、上記条件を満たすカバー層、中間層の物理的厚みＴＣ、Ｔ２、Ｔ１の中心値は、次の様に算出される。第２中間層の物理的厚さＴ２は、Ｔ２＝１０＋ｅ（μｍ）となる。第１中間層の物理的厚さＴ１は、Ｔ１＝（Ｔ２＋ｅ）＋１＋ｅ＝１０＋３ｅ＋１（μｍ）となる。第２膜厚条件より、カバー層の厚みＴＣの下限値が、Ｔ１〜Ｔ２の上限値の和よりも１μｍ厚くなる必要があるので、ＴＣ−ｅ＝（Ｔ１＋Ｔ２＋２ｅ）＋１（μｍ）＝２２＋６ｅ  となる。この結果、ＴＣ＝２２＋７ｅ  となる。ＴＣ〜Ｔ２の合計は、第６膜厚条件から、１００μｍであるので、ＴＣ＋Ｔ２＋Ｔ１＝４３＋１１ｅ＝１００（μｍ）となり、この結果、許容誤差ｅ＝５７／１１≒５．２（μｍ）となる。
【００８４】
以上の結果、カバー層、第２中間層、第１中間層の物理的厚さの標準値は、ＴＣ＝５８．３（μｍ）、Ｔ２＝１５．２（μｍ）、Ｔ１＝２６．５（μｍ）となる。
【００８５】
ところで、すでに市場において普及している２層構造のＢＤディスクは、情報記録層の間の中間層の厚さが２５μｍ程度であるので、この３層構造の光記録媒体において、Ｌ１情報記録層の位置を２層構造のＢＤディスクに合わせた方が、再生機や記録器の対応が容易である。また、第１中間層の物理的厚みＴ１のばらつき（公差）は、±３μｍもあれば容易にディスクの製造が可能である。そこで、Ｔ１＝２６．５±５．２μｍ  に代えて、この範囲内であるＴ１＝２５±３μｍとすることが好ましい。これを前提として、層間クロストークを抑えて良好な再生信号を得るために、第２中間層の物理的厚みＴ２をなるべく大きくすると、Ｔ２＝１８±３μｍとなる。更にカバー層の物理的厚みＴＣは、ＴＣ＝１００−（Ｔ３＋Ｔ２）＝５７（μｍ）とすることが好ましいことになる。この結果、ＴＣは５２〜６２μｍ、Ｔ２は１５〜２１μｍ、Ｔ１は２２〜２８μｍを満たすようにすることが好ましい。ここで、カバー層の物理的厚みＴＣは中間層より厚いので、公差も大きくとることが望ましいことから、±５μｍの公差としている。
【００８６】
なお、上記計算は、カバー層と第１、第２中間層の屈折率が基準屈折率１．６である場合を想定している。従って、屈折率が１．６ではない場合は、既に述べたように、物理的膜厚Ｔｋを、検証用膜厚Ｈｋに換算して、上記膜厚条件を満たすように再検証する。この場合においても、第１実施形態と同様に、中間層側の全屈折率ｎ１〜ｎ３と比較して、カバー層側の屈折率ｎＣを小さく設定することが必要となる。ＨＣ＞Ｈ１＋Ｈ２の条件を満たしやすい状況が得られるからである。また、ＨＣ＞Ｈ１＞Ｈ２の順番を必ず崩さないようにする為には、カバー層の屈折率ｎＣ、第２中間層の屈折率ｎ２、第１中間層の屈折率ｎ１の大小関係として、これとは反対のｎ２＞ｎ１＞ｎＣ  に設定することが好ましい。
【００８７】
なお、上記実施形態では、検証用膜厚に換算する際の基準屈折率を１．６に設定した場合に限って示したが、本発明はこれに限定されず、他の数値を用いることも可能である。また、上記実施形態では光記録媒体３０の情報記録層が３層又は４層である場合に限って示したが、５層以上であってもよい。
【００８８】
また、上記実施形態では、カバー層や中間層の厚み設定について、屈折率による光路長変化を考慮する場合を示したが、光路長変化に加えて、球面収差補正量を一定にすることも条件に加えることも好ましい。具体的には、図１で示した光ピックアップ２０１の対物レンズ５６は、Ｌ３情報記録層３０ａとＬ０情報記録層３０ｄの中間の深さ位置で球面収差が０となる様に設計されており、各情報記録層３０ａ〜３０ｄに集光する場合に発生する球面収差は、球面収差補正手段９３がコリメートレンズ５３の位置を光軸方向に移動することにより補正する。この補正量は、光記録媒体の屈折率が１．６であることを前提に、光ピックアップ２０１側に組み込まれているソフトウエアによって一義的に決定するようになっている。従って、仮にカバー層や中間層の屈折率が１．６で無い場合、光路長が変わるので、想定した焦点位置とは異なる位置に焦点を結んでしまい、そこに情報記録層が存在しない状況も発生しうる。そこで、例えば図７に示されるような、屈折率と焦点位置の換算テーブルを用いて、その換算結果から得られる場所に情報記録層を配置するようにする。具体的に上記実施形態では、屈折率が１．６の場合、Ｌ０情報記録層が、光入射面から１００μｍの位置に配置することを前提としているが、カバー層や中間層の屈折率が１．６より大きい１．７場合は、図７のテーブルを利用して、その屈折率に対応する位置となる１００＋α（μｍ）にＬ０情報記録層を配置しておく。なお、カバー層や中間層の屈折率が１．６より小さい場合には、その屈折率に対応する位置、例えば１００（μｍ）よりも近い位置にＬ０情報記録層を配置する。このようにすると、屈折率が１．６であると思い込んで、光ピックアップ２０１側に組み込まれているソフトウエアによって一義的に球面収差を補正しても、実際の焦点位置に情報記録層が存在できる。従って、第１実施形態で考えると、屈折率が１．７の場合は、具体的な膜厚計算において、ＴＣ＋Ｔ３＋Ｔ２＋Ｔ１＝１００±α  という条件を利用して、具体的な値を計算していくことが好ましい。
【００８９】
尚、本発明は、上記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【産業上の利用可能性】
【００９０】
本発明は、３層以上の光記録媒体においてクロストークを軽減する際に適用することが可能である。
【符号の説明】
【００９１】
３０      光記録媒体
３０ａ    Ｌ３情報記録層
３０ｂ    Ｌ２情報記録層
３０ｃ    Ｌ１情報記録層
３０ｄ    Ｌ０情報記録層
３０ｚ    光入射面
３２      カバー層
３３      第３中間層
３４      第２中間層
３５      第１中間層
２０１    光ピックアップ
【図１】
0005441586.tif 000002
【図２】
0005441586.tif 000003
【図３】
0005441586.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
0005441586.tif 000007
【図７】
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【図８】
0005441586.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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