(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光し試料セルに照射する励起側分光器と、
励起光が照射されたときに前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側回折格子及び該蛍光側回折格子を回転させて波長走査する蛍光側走査手段から成る蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計において、
特定波長の検査光が前記蛍光側回折格子に入射したときに当該蛍光側回折格子から前記検査光のｎ次回折光を出射させる前記蛍光側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光を出射させる前記蛍光側回折格子の回転角の差を記憶する蛍光側検査光回転角差記憶手段と、  
前記励起側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させ、前記蛍光側回折格子を回転させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を検出する蛍光側回転角差検出手段と、
前記蛍光側検査光回転角差記憶手段に記憶された回転角差と、前記蛍光側回転角差検出手段で検出された回転角差とを比較して前記励起側分光器の設定波長の正確さを検査する励起側検査手段と、
を備えることを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項２】
特定波長の検査光を出射する検査光源を着脱可能に備え、
前記蛍光側検査光回転角差記憶手段は、前記検査光源からの光を前記蛍光側回折格子に入射させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を記憶することを特徴とする請求項１に記載の蛍光分光光度計。
【請求項３】
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光して試料セルに照射する励起側回折格子及び該励起側回折格子を回転させて波長走査する励起側走査手段を備える励起側分光器と、
前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計において、
特定波長の検査光が前記励起側回折格子に入射したときに当該励起側回折格子から前記検査光のｎ次回折光を出射させる前記励起側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光を出射させる前記励起側回折格子の回転角の差を記憶する励起側検査光回転角差記憶手段と、
前記蛍光側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記蛍光側分光器に入射させ前記励起側回折格子を回転させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を検出する励起側回転角差検出手段と、
前記励起側検査光回転角差記憶手段に記憶された回転角差と、前記励起側回転角差検出手段で検出された回転角差とを比較して前記蛍光側分光器の設定波長の正確さを検査する蛍光側判定検査手段と、
を備えることを特徴とする蛍光分光光度計。
【請求項４】
前記励起側分光器からの出射光を前記検出器に直接入射させる検査光路と、
特定波長の検査光を出射する検査光源を着脱可能に備え、
前記励起側検査光回転角差記憶手段は、前記検査光源からの光を前記励起側回折格子に入射させたときに前記検査光路を通過して前記検出器に入射した光の検出結果に基づき、前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を記憶することを特徴とする請求項３に記載の蛍光分光光度計。
【請求項５】
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光し試料セルに照射する励起側分光器と、
励起光が照射されたときに前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側回折格子及び該蛍光側回折格子を回転させて波長走査する蛍光側走査手段から成る蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計における励起側分光器の設定波長検査方法であって、
特定波長の検査光が前記蛍光側回折格子に入射したときに前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を予め記憶し、
前記励起側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させつつ前記蛍光側回折格子を回転させ、
そのときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角と前記設定波長のｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を検出し、
この回転角差を、予め記憶する前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差と比較して、前記励起側分光器の設定波長の正確さを検査する励起側分光器設定波長検査方法。
【請求項６】
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光して試料セルに照射する励起側回折格子及び該励起側回折格子を回転させて波長走査する励起側走査手段を備える励起側分光器と、
前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計における蛍光側分光器の設定波長検査方法であって、
特定波長の検査光が前記励起側回折格子に入射したときに前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を予め記憶し、
前記蛍光側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させつつ前記励起側回折格子を回転させ、
そのときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角と前記設定波長のｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を検出し、
この回転角差を、予め記憶する前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差と比較して、前記蛍光側分光器の設定波長の正確さを検査する蛍光側分光器設定波長検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光分光光度計に関し、特に蛍光分光光度計の励起側分光器と蛍光側分光器の波長正確さを容易に検査できる蛍光分光光度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
蛍光分光光度計では、キセノンランプなどの連続スペクトルを有する光源から放射された光が励起側分光器によって分光され、目的波長の励起光が試料セル内の試料に照射される。試料から生じた光は蛍光側分光器に入射し、励起試料から生じた蛍光のみが励起側分光器により分光されて検出器で検出される（特許文献１）。
【０００３】
励起側分光器、蛍光側分光器の波長は、各分光器内の回折格子の回転角を調整することにより設定される。従来、分光器の設定波長の正確さを確認するためには、水銀ランプのような、特定の既知の波長（約２５４ｎｍ）に輝線を有する光を各分光器に入射させ、各分光器の波長をそれぞれ走査して出射光を検出し、検出された輝線のピーク位置と設定波長とを比較するという方法が用いられている。
【０００４】
このような従来の検査方法では、分光器の波長正確さを確認するため、特定の波長に輝線を有する光源を使用する必要がある。しかし、前述のように、通常の蛍光分光分析では連続スペクトルを有する光源が用いられるため、分光器の波長検査を行う際には光源をキセノンランプから水銀ランプに取り替える必要がある。
【０００５】
分光器の設定波長の正確さは蛍光分光分析の精度に大きく関わるため、ある程度の頻度で分光器の波長検査を行う必要がある。しかし、使用者にとってランプの取り替え作業は手間を要する上、取り替え時にランプの軸がずれて分析精度が悪化するという恐れがあった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開2001-83093号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、分光器の波長正確さを容易に検査できる蛍光分光光度計を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために成された本願の第１発明は、
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光し試料セルに照射する励起側分光器と、
励起光が照射されたときに前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側回折格子及び該蛍光側回折格子を回転させて波長走査する蛍光側走査手段から成る蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計において、
特定波長の検査光が前記蛍光側回折格子に入射したときに当該蛍光側回折格子から前記検査光のｎ次回折光を出射させる前記蛍光側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光を出射させる前記蛍光側回折格子の回転角の差を記憶する蛍光側検査光回転角差記憶手段と、  
前記励起側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させ、前記蛍光側回折格子を回転させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を検出する蛍光側回転角差検出手段と、
前記蛍光側検査光回転角差記憶手段に記憶された回転角差と、前記蛍光側回転角差検出手段で検出された回転角差とを比較して前記励起側分光器の設定波長の正確さを検査する励起側検査手段と
を備えることを特徴とする蛍光分光光度計である。
【０００９】
この場合、特定波長の検査光を出射する検査光源を着脱可能に備え、前記蛍光側検査光回転角差記憶手段が、前記検査光源からの光を前記蛍光側回折格子に入射させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を記憶するようにしても良い。
【００１０】
また、第２発明は、
連続スペクトルを有する光源と、
前記光源が発する光を励起光として分光して試料セルに照射する励起側回折格子及び該励起側回折格子を回転させて波長走査する励起側走査手段を備える励起側分光器と、
前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側分光器と、
前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器と、
を備える蛍光分光光度計において、
特定波長の検査光が前記励起側回折格子に入射したときに当該励起側回折格子から前記検査光のｎ次回折光を出射させる前記励起側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光を出射させる前記励起側回折格子の回転角の差を記憶する励起側検査光回転角差記憶手段と、
前記蛍光側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記蛍光側分光器に入射させ前記励起側回折格子を回転させたときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を検出する励起側回転角差検出手段と、
前記励起側検査光回転角差記憶手段に記憶された回転角差と、前記励起側回転角差検出手段で検出された回転角差とを比較して前記蛍光側分光器の設定波長の正確さを検査する蛍光側検査手段と、
を備えることを特徴とする蛍光分光光度計である。
【００１１】
この場合、前記励起側分光器からの出射光を前記検出器に直接入射させる検査光路と、特定波長の検査光を出射する検査光源を着脱可能に備え、前記励起側検査光回転角差記憶手段は、前記検査光源からの光を前記励起側回折格子に入射させたときに前記検査光路を通過して前記検出器に入射した光の検出結果に基づき、前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を記憶するようにしても良い。
【００１２】
一方、本願の第３発明は、連続スペクトルを有する光源と、前記光源が発する光を励起光として分光し試料セルに照射する励起側分光器と、励起光が照射されたときに前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側回折格子及び該蛍光側回折格子を回転させて波長走査する蛍光側走査手段から成る蛍光側分光器と、前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器とを備える蛍光分光光度計における励起側分光器の設定波長検査方法であって、
特定波長の検査光が前記蛍光側回折格子に入射したときに前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を予め記憶し、
前記励起側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させつつ前記蛍光側回折格子を回転させ、
そのときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角と前記設定波長のｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を検出し、
この回転角差を、予め記憶する前記検査光のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差と比較して、前記励起側分光器の設定波長の正確さを検査するものである。
【００１３】
また、本願の第４発明は、連続スペクトルを有する光源と、前記光源が発する光を励起光として分光して試料セルに照射する励起側回折格子及び該励起側回折格子を回転させて波長走査する励起側走査手段を備える励起側分光器と、前記試料セルから発する光を分光して出射する蛍光側分光器と、前記蛍光側分光器からの出射光の強度を検出する検出器とを備える蛍光分光光度計における蛍光側分光器の設定波長検査方法であって、
特定波長の検査光が前記励起側回折格子に入射したときに前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を予め記憶し、
前記蛍光側分光器の設定波長を前記特定波長に設定して前記光源からの光を前記励起側分光器に入射させつつ前記励起側回折格子を回転させ、
そのときの前記検出器の検出結果に基づき、前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角と前記設定波長のｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差を検出し、
この回転角差を、予め記憶する前記検査光のｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差と比較して、前記蛍光側分光器の設定波長の正確さを検査するものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、前記蛍光側分光器或いは励起側分光器の設定波長の正確さを容易に検査できる蛍光分光光度計及び設定波長検査方法である。
本発明の蛍光分光光度計では、予め、蛍光側分光器が備える回折格子、或いは励起側分光器が備える回折格子に対して特定波長を有する検査光が入射されたときに、前記蛍光側回折格子、或いは励起側回折格子から前記検査光のｎ次回折光を出射させる各回折格子の回転角と、前記検査光のｎ＋１次回折光を出射させる各回折格子の回転角の差が蛍光側検査光回転角差記憶手段、或いは励起側検査光回転角差記憶手段に記憶される。
蛍光側検査光回転角差記憶手段、及び励起側検査光回転角差記憶手段に回転角差を記憶させる処理は、通常は製品の出荷前或いは出荷時に工場内で行われる。
【００１５】
一方、蛍光側分光器或いは励起側分光器の設定波長の正確さの検査は、製品納入時や納入後に行われる。
例えば第１発明に係る蛍光分光光度計では、連続スペクトルを有する光源からの光は励起側分光器と試料セルに順次入射される。そして、試料セルから発せられた光は蛍光側分光器に入射され、蛍光側分光器からの出射光が検出器で検出される。このとき、励起側分光器から試料セルに入射した設定波長の励起光の一部は、試料セルの内部でのレイリー散乱によって蛍光側分光器に入射する。従って、励起側分光器の設定波長の正確さの検査時、励起側分光器の設定波長を検査光波長と同一に設定すると共に、蛍光側回転角差検出手段が、検出器の検出結果に基づき前記設定波長のｎ次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記蛍光側回折格子の回転角の差を検出するように設定すれば、試料セルからレイリー散乱によって蛍光側分光器に入射した励起光のｎ次回折光とｎ＋１次回折光が得られる蛍光側回折格子の回転角の差が蛍光側回転角差検出手段によって検出されることになる。
【００１６】
このようにして得られた回転角差は、回折格子の特性上、一意的な値を持つ。即ち、波長λ１の光が入射したときのｎ次回折光とｎ＋１次回折光の回折格子回転角差Δθ１と、他の波長λ２の光が入射したときのｎ次回折光とｎ＋１次回折光の回折格子回転角差Δθ２は、必ず異なった値をとる。従って、波長検査時に検出された回転角差が、予め蛍光側検査光回転角差記憶手段に記憶されている検査光入射時の回転角差と同一であれば、励起側分光器の波長が正確に設定されていることを確認することができる。
【００１７】
第２発明に係る蛍光分光光度計は、蛍光側分光器の波長正確さを容易に検査するためのものであり、第１発明に係る蛍光分光光度計において励起側分光器の設定波長の正確さを検査する方法と基本的原理は同一である。もっとも第１発明とは異なり、第２発明では、蛍光側分光器の設定波長を検査光波長と同一に設定し、蛍光側分光器が該設定波長光のみを分光して放射する状態で、励起側分光器の波長走査を行い、ｎ次回折光が得られる回転角とｎ＋１次回折光が得られる回転角との差を検出する。つまり、第２発明に係る蛍光分光光度計では、蛍光側分光器の設定波長の検査時、連続スペクトルを有する光源からの光を励起側分光器と試料セルに順次入射させ、試料セルの内部でのレイリー散乱により蛍光側分光器に入射した励起光について、そのｎ次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角とｎ＋１次回折光が得られる前記励起側回折格子の回転角の差が励起側回転角差検出手段によって検出される。
【００１８】
このように本発明に係る蛍光分光光度計では、各分光器の波長検査に先立って、特定波長の検査光の回折光が得られる回折格子回転角差を回転角差記憶手段に記憶させておく。従って、光源を検査光源に取り替える作業は、この回転角差記憶時に必要となるだけである。また、蛍光分光光度計の出荷前又は出荷時に検査光の回転角差データを回転角差記憶手段に記憶させておけば、本蛍光分光光度計の出荷後、各使用者が光源を取り替える必要がない。従って、波長検査の手間を大幅に削減することができ、各分光器の設定波長の正確さを容易に検査することが可能になる。また、光源の取り替え時に光源ランプの軸がずれて分析精度が悪化するという問題も回避することができる。
【００１９】
本願の第３発明及び第４に係る設定波長検査方法においても、上述した第１発明及び第２発明と同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の一実施形態に係る蛍光分光光度計の概略構成図。
【図２】本発明の実施例１の準備段階で用いられる蛍光分光光度計の概略構成図。
【図３】本発明の実施例１の準備段階における工程を示すフローチャート図。
【図４】本発明の実施例１の波長検査段階における工程を示すフローチャート。
【図５】本発明の実施例１の準備段階で得られるスペクトルの例を示す図。
【図６】本発明の実施例１の波長検査段階で得られるスペクトルの例を示す図。
【図７】本発明の実施例２の準備段階で用いられる蛍光分光光度計の概略構成図。
【図８】本発明の実施例２の波長検査段階で用いられる蛍光分光光度計の概略構成図。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の一実施形態について図１〜図８を用いて説明する。
【００２２】
図１は、本実施形態に係る蛍光分光光度計の概略構成図である。本実施形態に係る蛍光分光光度計は、連続スペクトルを有する光源としてのキセノンランプ１、励起側分光器２、試料セル３、蛍光側分光器４、検出器５、演算部６、記憶部７を有する。キセノンランプ１からの光は励起側分光器２を経て試料セル３に入射し、それによって試料セル３から発せられた光が蛍光側分光器４に入射する。
励起側分光器２は、励起側回折格子２１と励起側駆動機構２２を備えており、励起側駆動機構２２で励起側回折格子２１を回転駆動させることによって、入射した光に対して波長走査を行う。
蛍光側分光器４は、蛍光側回折格子４１と蛍光側駆動機構４２を備えており、蛍光側駆動機構４２で蛍光側回折格子４１を回転駆動させることによって、入射した光に対して波長走査を行う。
蛍光側分光器４から出射された光は検出器５で検出される。検出器５は出射光の強度を測定し、その測定結果は演算部６で演算され、必要なデータが記憶部７に記憶される。
以下、本実施形態の分光光度計における励起側分光器２の設定波長の検査方法を実施例１、蛍光側分光器４の設定波長の検査方法を実施例２として説明する。
【実施例１】
【００２３】
ここでは、励起側分光器２の設定波長の検査方法を、準備段階と波長検査段階に分けて説明する。
【００２４】
（準備段階）
準備段階とは、特定波長に輝線を有する検査光源の光を蛍光側分光器４に直接入射させ、蛍光側回折格子４１の波長走査を行って、特定波長の回折光が得られる蛍光側回折格子４１の回転角差を記憶部７に記憶させておく段階である。準備段階は、図２に記載の構成の蛍光分光光度計において行われる。即ち、検査光源としての水銀ランプ８からの光が蛍光側分光器４に入射される。蛍光側分光器４では、蛍光側駆動機構４２によって蛍光側回折格子４１が回転駆動されることによって、入射した光に対して波長走査が行われる。蛍光側分光器４から出射された光は検出器５に入射されその強度が測定される。検出器５の測定結果は演算部６に入力され、その演算結果が記憶部７に記憶される。
【００２５】
なお、準備段階で用いる分光光度計は、図１に示す本実施形態の分光光度計とは別の分光光度計でも良いが、本実施形態の分光光度計を利用することも可能である。図１に示す分光光度計を利用する場合、当該分光光度計は、キセノンランプ１に代えて検査光源としての水銀ランプ８を取り付け可能に備えており、光源から光が励起側分光器２に入射する光路と蛍光側分光器４に入射する光路を切り替え可能に備えている。もしくは、励起側分光器２の設定波長を検査光源の輝線波長、または０次光（全ての波長を含む光）に設定することで、検査光源からの輝線は励起側分光器２を経て試料セル３に照射され、その後、試料セル３に照射された光の一部は試料セル３内のバッファーにより散乱（レイリー散乱）されて蛍光側分光器４に入射する。
【００２６】
準備段階は、図３に記載のフローチャートに沿って行われる。
まず、水銀ランプ８の光を蛍光側分光器４に直接照射させる（ステップＳ１１）。そして、蛍光側分光器４内の回折格子４１を蛍光側駆動機構４２により回転させて波長走査を行い、その際検出器５で得られる検出信号に基づき、回折格子４１からの放射光のスペクトルが作成される（ステップＳ１２）。次のステップ１３では、作成された放射スペクトルから１次回折光と２次回折光のピークが得られる回折格子４１の回転角が検出され、それらの回転角差が算出される。ステップ１２及びステップ１３の処理は演算部６で行われる。
【００２７】
図５は、演算部６で作成された放射スペクトルの一例を示している。このスペクトルによると、蛍光側回折格子４１の回転角がθｉのときに１次回折光の、θｊのときに２次回折光のピークが出現している。従って、演算部６では、図５に示すスペクトルから１次回折光と２次回折光のピークが得られる回転角（θｉ、θｊ）を検出し、それらの回転角差ΔθＥｍ２５４=｜θj−θi｜を算出する。算出された回転角差ΔθＥｍ２５４は記憶部７に記憶される（ステップＳ１４）。
【００２８】
（波長検査段階）
波長検査段階では、準備段階で記憶部７に記憶された回転角差を用いて、励起側分光器２の設定波長の正確さを検査する。波長検査段階は、図１に記載の本実施形態の分光光度計において、その光源を取り替えることなく行われる。
【００２９】
波長検査段階は、図４に記載のフローチャートに沿って行われる。
まず、励起側分光器２の分光波長を、水銀ランプ８の輝線波長と同一波長（２５４ｎｍ）に設定し（ステップＳ２１）、励起側分光器２にキセノンランプ１の光を照射する（ステップＳ２２）。キセノンランプ１の光は、水銀ランプ８と異なり連続スペクトルを有するが、励起側分光器２の設定波長は水銀ランプの輝線波長と同一であるため、励起側分光器２の波長設定が正確であれば、励起側分光器２で分光された光は水銀ランプ照射時と同じ波長（２５４ｎｍ）を有するはずである。励起側分光器２で分光された光は試料セル３に照射され、試料セル３から発せされた光が蛍光側分光器４に入射する。このとき、試料セル３に入射した励起光の一部は、試料セル３内のバッファーにより散乱（レイリー散乱）されて蛍光側分光器４に入射する。
【００３０】
この状態で蛍光側分光器４内の回折格子４１を回転させて波長走査を行う。その際、検出器５で得られた検出信号に基づき演算部６は回折格子４１からの放射光のスペクトルを作成する（ステップＳ２３）。図６は、ステップＳ２３で得られた放射スペクトルの一例を示す。このスペクトルによると、蛍光側回折格子４１の回転角がθｋのときに１次回折光の、θｌのときに２次回折光のピークが出現していることが分かる。このようにして得られた結果を基に、演算部６は励起側分光器２の設定波長の１次回折光と２次回折光の回転角差ΔθＥｍを算出する（ステップＳ２４）。つまり、試料セル３の内部のレイリー散乱によって蛍光側分光器４に入射した励起光の１次回折光と２次回折光の回転角差ΔθＥｍが算出される。
【００３１】
次いで、演算部６は、記憶部７に格納されている回転角差ΔθＥｍ２５４と、ステップＳ２４で算出された回転角差ΔθＥｍを比較し（ステップＳ２５）、励起側分光器２の設定波長の正確さを判定する（ステップＳ２６）。例えば、回転角差ΔθＥｍ２５４と回転角差ΔθＥｍが同一である場合、或いは両者の差が予め設定した閾値以下である場合には、励起側分光器２の波長設定が正確であると判定する。
【実施例２】
【００３２】
ここでは、蛍光側分光器４の設定波長の検査方法を、実施例１と同様、準備段階と波長検査段階に分けて説明する。
【００３３】
（準備段階）
実施例２の準備段階とは、特定波長に輝線を有する検査光源の光を励起側分光器２に入射させ、励起側回折格子２１の波長走査を行って、特定波長の回折光が得られる励起側回折格子２１の回転角差を記憶部７に記憶させておく段階である。ここでは、図７に示す分光光度計を用いて、水銀ランプ８からの光を励起側分光器２に入射させ、励起側回折格子２１を回転駆動して波長走査しつつ、励起側分光器２から放射された光を検出器５で検出する。演算部６は、検出器５の検出結果に基づき放射スペクトルを作成し、そのスペクトルから特定波長の１次回折光と２次回折光の回転角差ΔθＥＸ２５４を算出する。算出された回転角差ΔθＥＸ２５４は記憶部７に記憶される。
【００３４】
なお、準備段階で用いる分光光度計は、図１に示す本実施形態に係る分光光度計とは別の分光光度計でも良いが、図１の分光光度計を利用することも可能である。図１の分光光度計を利用する場合、当該分光光度計は、励起側分光器２から放射された光が試料セルに入射する光路と検出器５に入射する光路を切り替え可能に備えている。もしくは蛍光側分光器４の設定波長を検査光源の輝線波長、または０次光（全ての波長を含んだ光）に設定することで、励起分光器２から出射された検査光の一部が試料セル３内のバッファーによる散乱（レイリー散乱）を経て蛍光側分光器に入射し、続いて検査光は蛍光分光器を経て検出器５に入射する。
【００３５】
（波長検査段階）
実施例２の波長検査段階では、準備段階で記憶部７に記憶された回転角差を用いて、蛍光側分光器４の設定波長の正確さを検査する。実施例２では、図８に示すように、蛍光側分光器４内の回折格子４１の回転角を固定して分光波長を２５４ｎｍに設定する。
【００３６】
そして、キセノンランプ１の光を励起側分光器２に照射し、励起側分光器２内の回折格子２１を駆動機構２２により回転させて波長走査を行う。励起側分光器２で分光されて試料セル３に照射された励起光の一部は、試料セル３内のバッファーにより散乱し、蛍光側分光器４に入射する。蛍光側分光器４は２５４ｎｍに設定されているため、蛍光側分光器４の波長設定が正確であれば、散乱光の内、波長２５４ｎｍの光のみが検出器５で検出されるはずである。演算部６は、散乱光（レイリー散乱光）の１次回折光と２次回折光が得られる回転角を検出し、回転角差ΔθＥＸを算出する）。
【００３７】
最後に、ステップＳ１１４で記憶部７に格納された回転角差ΔθＥＸ２５４と、ステップＳ１２４で算出された回転角差ΔθＥＸとを比較し、これらが同一であれば励起側分光器２の波長設定が正確であると判定することができる。
【００３８】
なお、本発明は上記実施例に限定されず、発明の趣旨の範囲内で変更が許容される。例えば、本実施例では準備段階で検査用光源として水銀ランプを使用しているが、特定波長の輝線を有する光源であればその種類は問わない。また、実施例１、２では１次回折光と２次回折光の得られる回転角の差を利用して波長検査を行っているが、検出する回折光は何次のものでもよく、例えば３次回折光と４次回折光の得られる回転角の差を利用することもできる。
【符号の説明】
【００３９】
１…キセノンランプ
２…励起側分光器
３…試料セル
４…蛍光側分光器
５…検出器
６…演算部
７…記憶部
８…水銀ランプ
２１…励起側回折格子
２２…励起側回折格子駆動機構
４１…蛍光側回折格子
４２…蛍光側回折格子駆動機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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