(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
大気圧雰囲気の下でイオンを生成するイオン化室と、高真空雰囲気の下でイオンを質量分離して検出する分析室との間に、１乃至複数の中間真空室を設けた多段差動排気系の構成の大気圧イオン化質量分析装置において、
前記イオン化室と次の第１段中間真空室との間を隔てる隔壁又は両室を連通するイオン導入部の出口端を第１電極とするとともに、第１段中間真空室と次の中間真空室又は分析室との間を隔てる隔壁又は両室を連通するイオン輸送部の入口端を第２電極とし、さらに第１段中間真空室内にイオンを収束させつつ輸送する電場を形成するイオン輸送用電極を配設し、
a)前記第１段中間真空室内でのクラスタイオンの生成が少なくなるように、前記第１電極と前記イオン輸送用電極との間の直流的な電位差を調整するべく、それら各電極への印加電圧をそれぞれ設定する第１電圧設定手段と、
b)フラグメントイオンの生成の要否に応じて、前記イオン輸送用電極と前記第２電極との間の直流的な電位差を調整するべく、それら各電極への印加電圧をそれぞれ設定する第２電圧設定手段と、
を備えることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項２】
請求項１に係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  前記イオン導入部は細径のキャピラリであることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項３】
請求項１に係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  前記イオン輸送部はオリフィスが形成されたスキマーであることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項４】
請求項１に係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  前記イオン輸送用電極は、高周波電場によりイオンを収束させるイオンガイドであることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  前記第１電圧設定手段は、第１電極とイオン輸送用電極との間の空間にイオンが加速されるような電場を形成するべく第１電極とイオン輸送用電極とにそれぞれ所定の直流電圧を印加することを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれかに係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  前記第２電圧設定手段は、インソースＣＩＤを行う際に、イオン輸送用電極と第２電極との間の空間にイオンが加速されるような電場を形成するべくイオン輸送用電極と第２電極とにそれぞれ適宜の直流電圧を印加することを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれかに係る大気圧イオン化質量分析装置であって、  設定電圧を複数段階に変化させながら所定の試料に対する分析を実行し、その分析結果に基づいて自動的に最も適切な電圧を決定する調整手段をさらに備えることを特徴とする大気圧イオン化質量分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、液体クロマトグラフ質量分析装置のように、液体試料を略大気圧雰囲気の下でイオン化して高真空雰囲気の下で質量分析する大気圧イオン化質量分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  液体クロマトグラフ（ＬＣ）と質量分析装置（ＭＳ）とを組み合わせた液体クロマトグラフ質量分析装置（ＬＣ／ＭＳ）では、液体試料から気体イオンを生成するためにエレクトロスプレイイオン化法（ＥＳＩ）や大気圧化学イオン化法（ＡＰＣＩ）などによる大気圧イオン源が一般に利用される。このような大気圧イオン源を用いた大気圧イオン化質量分析装置においては、イオンを生成するイオン化室は略大気圧雰囲気であるが、四重極質量フィルタなどの質量分析器や検出器が設置された分析室は高真空状態に維持する必要がある。そこで、イオン化室と分析室との間に１乃至複数の中間真空室を設け、段階的に真空度を上げる多段差動排気系の構成が採用されている。【０００３】  大気圧イオン化質量分析装置において、イオン化室の次段の中間真空室にはイオン化室からほぼ連続的に大気や気化溶媒が流れ込むため、真空雰囲気ではあるもののそのガス圧は比較的高い（一般的には１００[Pa]程度のガス圧）。このような比較的高いガス圧の下でイオンを効率よく後段に輸送するために、例えば、イオン光軸方向に互いに分離して配列された複数の電極板を１本の仮想ロッド電極とし、この仮想ロッド電極をイオン光軸を取り囲むように複数配設した構成のイオンガイドが利用されている（特許文献１〜３参照）。こうしたイオンガイドは、ガス圧が高い条件の下でもイオンを効率的に収束させつつ後段へと輸送することが可能であり、質量分析の感度向上に有用である。【０００４】  ところで、上記のような多段差動排気系の構成において１段目の中間真空室内でイオンを加速すると、エネルギーを付与されたイオンが残留ガスと衝突してフラグメントイオンを生成することが一般に知られている。これはインソース衝突誘起解離（ＣＩＤ）と呼ばれる機能であり、インソースＣＩＤで生成したフラグメントイオンを質量分析に供することにより物質の構造解析などが容易に行える。【０００５】  インソースＣＩＤでは、第１段中間真空室内でイオンの進行方向に離れて配設された第１電極と第２電極との間に直流的な電位差が生じるように各電極に電圧を印加し、その電位差をもった電場の作用でイオンを加速する手法が一般的である。インソースＣＩＤにおけるイオンの解離効率はイオンが付与されるエネルギーに依存する。そのため、従来、大気圧イオン化質量分析装置においてインソースＣＩＤを行う場合、目的とするイオンの強度が最大となるように各電極への印加電圧を調整するようなチューニングが行われている。また、大気圧イオン化質量分析装置においてインソースＣＩＤを行わない場合（フラグメントイオンを生成したくない場合）には、第１段中間真空室内でイオンの加速を行わないように各電極への印加電圧を制御するのが一般的である。【０００６】  しかしながら、こうした従来の装置では次のような問題がある。  即ち、略大気圧雰囲気であるイオン化室から例えば細径のキャピラリや微小径のオリフィスなどを介して第１段中間真空室内にイオンを導入すると、断熱膨張によってイオンが冷却され、複数のイオンがファン・デル・ワールス力により結合してクラスタイオン（イオンの集合体）を生成し易い。クラスタイオンが発生するとマススペクトルに意図せぬピー��が現れ、マススペクトルのピークパターンが複雑になって解析に支障をきたす。また、断熱膨張に伴いサンプル由来のイオンと移動相溶媒分子とが結合することによってマススペクトルのピークパターンが複雑になるほか、移動相溶媒イオンの２量体、３量体などが生成され、これがバックグラウンドノイズとなってクロマトグラムの質の低下を引き起こすこともある。【０００７】  従来の大気圧イオン化質量分析装置では、上記のように第１段中間真空室内で生成されるクラスタイオンなどに起因するバックグラウンドノイズの影響は殆ど考慮されておらず、こうしたノイズを積極的に低減させる試みも行われていない。特にインソースＣＩＤのために目的とするイオンの強度が最大となるように各電極への印加電圧を調整した場合、解離効率は良好であっても、同時にクラスタイオンの生成量が比較的多い状態となっていることが多く、そのためにマススペクトルやクロマトグラムの質が下がり、目的物質の定性分析や構造解析を困難にしているおそれがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２０００−１４９８６５号公報
【特許文献２】特開２００１−１０１９９２号公報
【特許文献３】特開２００１−３５１５６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】  本発明は上記課題に鑑みて成されたものであって、その目的とするところは、クロマトグラム等におけるバックグラウンドノイズの原因となるクラスタイオンの生成を抑えつつ、インソースＣＩＤの場合にはフラグメントイオンの生成量を増加させて感度を向上させることができる大気圧イオン化質量分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】  多段差動排気系の構成を有する大気圧イオン化質量分析装置において、略大気圧雰囲気であるイオン化室の次段の中間真空室内部におけるクラスタイオンの発生やインソースＣＩＤによるフラグメントイオンの生成は、従来、中間真空室内全体という巨視的な観点でしか捉えられていなかった。これに対し本願発明者は、中間真空室内におけるより狭い領域でのイオンの挙動に着目し、クラスタイオンが主として生成される領域と、フラグメントイオンが主として生成される領域とが相違していることを実験的に見い出した。【００１１】  具体的には、クラスタイオンが生成される領域は主としてイオン化室から次の中間真空室へイオン（通常、微小液滴が入り混じったイオン）を導入する導入部の出口端とイオン輸送光学系（例えば上記イオンガイド）との間の領域であるのに対し、ＣＩＤによりフラグメントイオンが生成される領域は主として上記イオン輸送光学系と第１段中間真空室から次の中間真空室へイオンを導入する導入部の入口端との間の領域であることが判明した。同じ中間真空室内であってもクラスタイオンが生成される領域とフラグメントイオンが生成される領域とが空間的に分かれていることにより、それぞれのイオンの生成のし易さを独立に制御することが可能である。本願発明はこうした知見に基づいてなされたものである。【００１２】
上記課題を解決するために成された本発明は、大気圧雰囲気の下でイオンを生成するイオン化室と、高真空雰囲気の下でイオンを質量分離して検出する分析室との間に、１乃至複数の中間真空室を設けた多段差動排気系の構成の大気圧イオン化質量分析装置において、
前記イオン化室と次の第１段中間真空室との間を隔てる隔壁又は両室を連通するイオン導入部の出口端を第１電極とするとともに、第１段中間真空室と次の中間真空室又は分析室との間を隔てる隔壁又は両室を連通するイオン輸送部の入口端を第２電極とし、さらに第１段中間真空室内にイオンを収束させつつ輸送する電場を形成するイオン輸送用電極を配設し、
a)前記第１段中間真空室内でのクラスタイオンの生成が少なくなるように、前記第１電極と前記イオン輸送用電極との間の直流的な電位差を調整するべく、それら各電極への印加電圧をそれぞれ設定する第１電圧設定手段と、
b)フラグメントイオンの生成の要否に応じて、前記イオン輸送用電極と前記第２電極との間の直流的な電位差を調整するべく、それら各電極への印加電圧をそれぞれ設定する第２電圧設定手段と、
を備えることを特徴としている。
【００１３】  ここで、イオン導入部及びイオン輸送部はそれぞれ、例えば細径のキャピラリやパイプ、又はオリフィスが形成されたスキマーなどである。【００１４】  また、イオン輸送用電極は、一般に、高周波電場によりイオンを収束させるイオンガイド又はイオンレンズであるが、様々な形態が考えられる。例えば、イオン光軸を取り囲むように複数のロッド電極が配置された多重極（例えば四重極、八重極など）イオンガイドや、これをさらに改良した上記特許文献１−３に記載の仮想ロッド型多重極イオンガイドを用いることができる。また、第１電極、イオン輸送用電極、及び第２電極によるイオン光軸は必ずしも直線である必要はなく、例えば中性粒子などを除去するための軸ずらしの構造をとるものでもよい。イオンを収束させるために高周波電場を形成する場合には、高周波電圧に直流電圧が重畳されてイオン輸送用電極に印加される。【００１５】  本発明に係る大気圧イオン化質量分析装置では基本的に、第１電圧設定手段により、第１電極とイオン輸送用電極との間の空間にイオンが加速されるような電場を形成するべく第１電極とイオン輸送用電極とにそれぞれ適宜の直流電圧を印加する。イオン導入部を経てイオン化室から相対的にガス圧の低い第１段中間真空室に導入されたイオンは、上記加速電場により加速されることでかたまりにくくなり、クラスタイオンの生成が抑制される。これにより、バックグラウンドノイズとなるクラスタイオンの量を減らし、マススペクトルやクロマトグラムの質を向上させることができる。【００１６】  一方、インソースＣＩＤを行いたい場合には、第２電圧設定手段により、イオン輸送用電極と第２電極との間の空間にイオンが加速されるような電場を形成するべくイオン輸送用電極と第２電極とにそれぞれ適宜の直流電圧を印加する。イオン輸送用電極で収束されたイオンは上記加速電場により加速され、エネルギーを付与されて残留ガスに衝突し、効率よく開裂してフラグメントイオンを生じる。これにより、フラグメントイオンの量を増やすことで、その検出感度を向上させることができる。【００１７】  本発明に係る大気圧イオン化質量分析装置では、標準試料等の分析結果を用いてユーザ（オペレータ）が第１電極、イオン輸送用電極、及び第２電極にそれぞれ印加される電圧を決めるようにしてもよいが、設定電圧を複数段階に変化させながら標準試料等に対する分析を実行し、その分析結果（例えば特定の質量電荷比のピーク強度など）に基づいて自動的に最も適切な電圧を決定する調整手段を備えるようにしてもよい。
【発明の効果】
【００１８】  本発明に係る大気圧イオン化質量分析装置によれば、インソースＣＩＤを行わない場合、つまりフラグメントイオンを生成したくない場合には、フラグメントイオンの生成をできる限り抑えつつクラスタイオンの生成も抑え、バックグラウンドノイズの少ない質のよいマススペクトルやクロマトグラムを取得することができる。それにより、定性分析の精度を上げることができるとともに、マススペクトルが複雑化することなく解析が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施例である大気圧イオン化質量分析装置の全体構成図。
【図２】図１中の第１段中間真空室を中心とする詳細図（Ａ）及びイオン光軸上の直流ポテンシャルの例を示す図。
【図３】電圧印加条件を変えたときに得られるトータルイオンクロマトグラムの実測例。
【図４】電圧印加条件を変えたときに得られる特定時刻でのマススペクトルの実測例。
【図５】電圧印加条件を変えたときに得られる特定時刻でのマススペクトルの実測例。
【発明を実施するための形態】
【００２０】  以下、本発明に係る大気圧イオン化質量分析装置の一実施例について、添付図面を参照して説明する。  図１は本実施例の大気圧イオン化質量分析装置の要部の概略構成図、図２（Ａ）は図１中の第１段中間真空室を中心とする詳細図である。
【００２１】  この質量分析装置は、例えば図示しないＬＣのカラム出口端から液体試料が供給される噴霧ノズル２が配設されたイオン化室１と、四重極質量フィルタ１３及び検出器１４が内設された分析室１２との間に、それぞれ隔壁で隔てられた第１段及び第２段なる２つの中間真空室６、９が設けられている。イオン化室１と第１段中間真空室６とは、ブロックヒータ４により加熱される細径の脱溶媒管（キャピラリ）３を通して連通している。また、第１段中間真空室６と第２段中間真空室９は、スキマー８の頂部に穿設された極小径の通過孔（オリフィス）８ａを通して連通している。第１段中間真空室６内には、イオン光軸Ｃ方向に互いに分離した状態で配設された複数の電極板から１本の仮想ロッド電極が構成され、イオン光軸Ｃを囲むように複数本の仮想ロッド電極が配設されてなる第１イオンガイド７が設置されている。また、第２段中間真空室９内には、それぞれがイオン光軸Ｃ方向に延伸し、該イオン光軸Ｃを囲むように配設された複数本（例えば８本）のロッド電極からなる第２イオンガイド１０が配設されている。
【００２２】  イオン源であるイオン化室１の内部は、噴霧ノズル２から連続的に供給される液体試料の気化溶媒分子によりほぼ大気圧雰囲気（約１０5[Pa]）である。次の第１段中間真空室６内はロータリーポンプ１５により約１０2[Pa]の低真空状態まで真空排気される。その次の第２段中間真空室９内は、ターボ分子ポンプ１６により約１０-1〜１０-2[Pa]の中真空状態まで真空排気される。最終段の分析室１２内は別のターボ分子ポンプにより約１０-3〜１０-4[Pa]の高真空状態まで真空排気される。即ち、この質量分析装置には、イオン化室１から分析室１２に向かって各室毎に真空度を段階的に高くした多段差動排気系の構成が採用されている。
【００２３】  この大気圧イオン化質量分析装置による質量分析動作を概略的に説明する。  液体試料は噴霧ノズル２の先端から、電荷を付与されつつイオン化室１内に噴霧（エレクトロスプレイ）され、液滴中の溶媒が蒸発する過程で試料分子はイオン化される。液滴が入り混じったイオンは、イオン化室１と第１段中間真空室６との差圧により、脱溶媒管３中に引き込まれる。脱溶媒管３は高温に加熱されているため、脱溶媒管３を通過する過程で溶媒気化がさらに促進されイオン化が進む。
【００２４】  脱溶媒管３の出口端から第１段中間真空室６内に吐き出されたイオンは、第１イオンガイド７に印加されている高周波電圧により形成される高周波電場の作用によって収束されつつ輸送され、スキマー８のオリフィス８ａ近傍に収束されて効率良くオリフィス８ａを通過する。第２段中間真空室９に導入されたイオンは第２イオンガイド１０により収束されつつ輸送され分析室１２へと送られる。分析室１２では、四重極質量フィルタ１３に印加された電圧に応じた特定の質量電荷比を有するイオンのみが四重極質量フィルタ１３を通り抜け、それ以外の質量電荷比を持つイオンは途中で発散する。そして、四重極質量フィルタ１３を通り抜けたイオンは検出器１４に到達し、検出器１４ではそのイオン量に応じたイオン強度信号をデータ処理部１８に出力する。
【００２５】  四重極質量フィルタ１３への印加電圧を所定の範囲で走査すると該フィルタ１３を通過するイオンの質量電荷比が走査されるから、その走査に伴って得られるデータをデータ処理部１８が処理することでマススペクトルが作成される。また、質量走査を繰り返すことで得られるデータをデータ処理部１８が処理することで、トータルイオンクロマトグラムやマスクロマトグラムが作成される。
【００２６】  図２（Ａ）に示すように、脱溶媒管３の入口端３ａはイオン化室１内にあって、出口端３ｂは第１段中間真空室６内にある。両端には差圧があるため、イオン化室１内の大気は脱溶媒管３を通って連続的に第１段中間真空室６内に流れ込む。イオンや試料液滴はこの流れに乗って脱溶媒管３を通るが、出口端３ｂから第１段中間真空室６内にはき出されると急に冷却されるため、断熱膨張によってクラスタイオンが発生し易い。クラスタイオンはバックグラウンドノイズとなるため、その生成をできるだけ抑制することが好ましい。一方、インソースＣＩＤの場合には、第１段中間真空室６内に多く残る大気ガスを利用し、エネルギーを付与したイオンを残留大気ガスに衝突させることでイオンを開裂させてフラグメントイオンの量を増やす必要がある。
【００２７】  クラスタイオンを減らすには加速電場によりイオンを加速することが有効であるものの、上述のように、加速されるとイオンのエネルギーが高くなり、インソースＣＩＤを行わない場合でもフラグメントイオンが増加してしまって、目的とするイオンのピーク強度が十分に得られない、マススペクトルが複雑になる、といった不都合が生じる。そこで、この実施例の大気圧イオン化質量分析装置では、次のようにして上記問題を解決している。
【００２８】  上記装置において、脱溶媒管３の出口端３ｂ（本発明における第１電極に相当）、第１イオンガイド７（本発明におけるイオン輸送用電極に相当）、スキマー８（本発明における第２電極に相当）にそれぞれ印加する電圧を変化させたときの、標準試料の分析結果を示して説明する。なお、第１イオンガイド７の各仮想ロッド電極はイオン光軸Ｃ方向に分離された複数の電極板からなるが、ここでは、それら電極板には同一の直流電圧を印加するようにしている。また、第１イオンガイド７の各仮想ロッド電極には、直流電圧のみでなくイオンを収束させるための高周波電圧を印加するが、ここでは、直流電圧のみに着目する。
【００２９】  スキマー８への印加電圧を０Ｖ（接地電位）一定とし、脱溶媒管３の出口端３ｂへ印加される直流電圧ＶDL、及び第１イオンガイド７に印加される直流電圧ＶQDCを、（ＶDL，ＶQDC）＝（０Ｖ，０Ｖ）、（−１００Ｖ，０Ｖ）、（−６０Ｖ，−６０Ｖ）、に変化させたときの実測トータルイオンクロマトグラム（ＴＩＣ）を図３に示す。サンプルはエリスロマイシン（Erythromycin）であり、イオン化モードは負イオン化モードである。なお、３つのＴＩＣの横軸（時間軸）は同じであるが、縦軸（強度軸）は相違する（（ｃ）は（ａ）、（ｂ）の１／１０の強度である）。
【００３０】  図３の（ｂ）及び（ｃ）では４本のピークが明瞭に現れているのに対し、（ａ）では特に１本目のピークが不明瞭である。また、バックグラウンドノイズが全般的に高いことが分かる。（ｂ）と（ｃ）とを比較すると、４本のピークの検出感度は（ｂ）のほうが数倍程度高い。こうしたことから、ＴＩＣの質は（ｂ）が最もよく、（ｃ）、（ａ）の順に悪くなると言うことができる。
【００３１】  図４は図３に示したＴＩＣの１．８１[min]におけるクロマトピーク（図３中の太矢印のピーク）の実測マススペクトルである。図４において、質量電荷比m/z７７８に現れるピークは目的分子関連イオンピークである。（ａ）ではこの分子関連イオンピークが明瞭に現れているが、m/z９１に蟻酸の２量体によるバックグラウンドイオンピークが観察されている。（ｂ）では上記の分子関連イオンピークが明瞭に現れており、質の高いマススペクトルであると言える。（ｃ）では上記の分子関連イオンピークは不明瞭で、その代わりに、m/z７３２、４９８などのフラグメントイオンピークが多く観察され、マススペクトルが複雑であることが分かる。  これらのことから、図３におけるＴＩＣの質はバックグラウンドノイズの多少に依存していることが分かり、（ｂ）の条件ではバックグラウンドノイズの除去効果が高いためにＴＩＣの質がよいことが分かる。
【００３２】  図５は図３に示したＴＩＣの０．５[min]、つまり特有のピークが観察されない時間における実測マススペクトルである。m/z４５は蟻酸の１量体、m/z９１は蟻酸の２量体によるバックグラウンドイオンである。図５の（ａ）ではm/z９１のバックグラウンドイオンピークが高いが、（ｂ）ではこのバックグラウンドピークが除去されていることが分かる。（ｃ）ではm/z４５、m/z９１ともに減少しているが、これはフラグメントイオンの生成により、さらに低m/zのイオンに分解されたためであると推測できる。
【００３３】  図２（Ｂａ）、（Ｂｂ）、（Ｂｃ）はそれぞれ上記の（ＶDL，ＶQDC）＝（０Ｖ，０Ｖ）、（−１００Ｖ，０Ｖ）、（−６０Ｖ，−６０Ｖ）におけるイオン光軸上の直流ポテンシャルを示す図である。
【００３４】  （ＶDL，ＶQDC）＝（−１００Ｖ，０Ｖ）では、図２（Ｂｂ）に示すように、脱溶媒管３の出口端３ｂと第１イオンガイド７入口との間付近の領域Ａに負イオンを加速させる加速電場が形成されており、これに対して第１イオンガイド７出口とスキマー８との間付近の領域Ｂには電場は存在しない。上述したように、この状態では、ＴＩＣのバックグラウンドノイズが低く、マススペクトルにはフラグメントピークが見られない。
【００３５】  （ＶDL，ＶQDC）＝（−６０Ｖ，−６０Ｖ）では、図２（Ｂｃ）に示すように、領域Ａには電場は存在せず、これに対して領域Ｂには負イオンを加速させる加速電場が形成されている。上述したように、この状態では、マススペクトルには多くのフラグメントピークが見られる。
【００３６】  （ＶDL，ＶQDC）＝（０Ｖ，０Ｖ）では、図２（Ｂａ）に示すように、領域Ａ、領域Ｂともに加速電場は存在しない。この状態では、マススペクトルにはフラグメントピークが見られないが、ＴＩＣのバックグラウンドノイズが高くＴＩＣの質があまり良くない。
【００３７】  以上のことから、バックグラウンドノイズの原因となるクラスタイオンは主として領域Ａで生成され、この領域Ａにイオンを加速する直流電場を形成することでクラスタイオンの生成を抑制し、ＴＩＣのバックグラウンドノイズを抑えることができることが分かる。一方、イオンの開裂に伴うフラグメントイオンは主として領域Ｂで生成され、この領域Ｂのみにイオンを加速する直流電場を形成することで、クラスタイオンの生成を抑制しながらフラグメントイオンを多く生成できることが分かる。したがって、インソースＣＩＤによる分析を行いたい、つまり第１段中間真空室６内でフラグメントイオンを多く生成したい場合には、領域Ｂに加速電場を形成するように第１イオンガイド７とスキマー８への印加電圧を決めればよく、インソースＣＩＤによる分析でない通常の分析においてクラスタイオンの生成を抑えたい場合には、領域Ｂには加速電場を形成することなく領域Ａに加速電場を形成するように脱溶媒管３と第１イオンガイド７への印加電圧を決めればよい。
【００３８】  図２（Ａ）に示すように、本実施例の大気圧イオン化質量分析装置では、制御部２０の下に、スキマー電源部２３はスキマー８に所定の直流電圧を印加し、イオンガイド電源部２２は第１イオンガイド７に所定の直流電圧を印加し、脱溶媒管電源部２１は脱溶媒管３に所定の直流電圧を印加する。例えば制御部２０は、分析モードとしてインソースＣＩＤモードが選択されているか否かに従って、図２（Ｂｂ）に示したように領域Ａに加速電場を形成する状態と、図２（Ｂｃ）に示したように領域Ｂに加速電場を形成する状態と、を切り替えるべく各電源部２１、２２、２３を制御する。このとき、脱溶媒管３、第１イオンガイド７及びスキマー８に印加される電圧は予め決められた電圧でもよいが、制御部２０が最適な印加電圧を決める自動調整機能を有する構成とするのが好ましい。
【００３９】  即ち、分析条件の自動調整モードにおいて制御部２０は、予め決められた複数段階の電圧を脱溶媒管３、第１イオンガイド７及びスキマー８にそれぞれ印加するように各電源部２１、２２、２３を制御し、各設定電圧の組み合わせの条件の下で標準試料に対する質量分析を実行してデータを収集する。データ処理部１８は、例えばマススペクトル上に現れるピークの質量電荷比とピーク強度とを調べ、クラスタイオンの生成が最も抑制される電圧条件と、フラグメントイオンの生成が最も良好になる電圧条件を見い出し、制御部２０はこの電圧条件を内部メモリに記憶する。そして、分析モードとしてインソースＣＩＤモードが設定されているか否かに応じて、より適切な電圧条件を内部メモリから読み出して各電源部２１、２２、２３を制御する。これにより、インソースＣＩＤモードを行う際には、クラスタイオンの生成が抑えられつつフラグメントイオンが多量に生成される。また、インソースＣＩＤモードを行わないときには、クラスタイオン、フラグメントイオンの生成が共に抑制される。
【００４０】  上記説明では、分析対象が負イオンである場合について述べたが、分析対象が正イオンである場合には脱溶媒管３、第１イオンガイド７及びスキマー８への印加電圧の極性を反転させることでイオンに対する加速電場を形成できることは明らかである。
【００４１】  なお、上記実施例は本発明の一例であり、本発明の趣旨の範囲で適宜変形、修正及び追加を行っても本願請求の範囲に包含されることは明らかである。
【符号の説明】
【００４２】１…イオン化室２…噴霧ノズル３…脱溶媒管３ａ…入口端３ｂ…出口端４…ブロックヒータ６…第１段中間真空室７…第１イオンガイド８…スキマー８ａ…オリフィス９…第２段中間真空室１０…第２イオンガイド１２…分析室１３…四重極質量フィルタ１４…検出器１５…ロータリーポンプ１６…ターボ分子ポンプ１８…データ処理部２０…制御部２１…脱溶媒管電源部２２…イオンガイド電源部２３…スキマー電源部Ｃ…イオン光軸
【図１】
0005601370.tif 000002
【図２】
0005601370.tif 000003
【図３】
0005601370.tif 000004
【図４】
0005601370.tif 000005
【図５】
0005601370.tif 000006