(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の領域のセンター行に沿って配置された欠陥画素の値を置換する画像処理システムであって、前記領域は、前記センター行と、前記センター行の上に配置された前の行と、前記センター行の下の行に配置された次の行と、を有し、前記画像処理システムは、
前記前の行及び前記センター行に配置された画素の値を格納するバッファと、
前記次の行の画素の値を選択することなく前記前の行及び前記欠陥画素の位置に隣接するセンター行に配置された複数の画素の値を選択するセレクタと、
前記欠陥画素に対する置換値を、前記前の行及び前記センター行に配置された前記選択した画素の値から決定する計算器と、
を備え、
前記計算器は、前記欠陥画素に対する置換値を、前記前の行に沿って配置された三つの隣接画素及び前記センター行に沿って配置された二つの隣接画素を含む五つの隣接画素から決定し、
前記計算器は、前記欠陥画素に対する置換値を、前記五つの隣接画素の値の合計値を計算するとともに前記合計値を５の概略値で除算することによって決定し、
２の乗数の分数値を用いて５の値の概算値を求めるアプロキシメータを更に有することを特徴とする画像処理システム。
【請求項２】
前記アプロキシメータは、以下の式
【数１】
0005529886.tif 000006
を使用し、この場合、Ｘは、結果的に得られる概算値であり、ｐｎは画素値であり、ｎは、五つの最近隣接の添え字である請求項１に記載の画像処理システム。
【請求項３】
前記領域に対応する前記欠陥画素の位置を提供する欠陥画素マップを更に備える請求項１に記載の画像処理システム。
【請求項４】
前記欠陥画素の置換値を表示する表示装置を更に備える請求項１に記載の画像処理システム。
【請求項５】
画像の３行３列領域内に互いに隣接する複数の欠陥画素の値を置換する画像処理システムであって、
各欠陥画素の上にある前の行及び各欠陥画素の現在の行に配置された画素の値を記憶するバッファと、
各欠陥画素の下にある次の行の画素の値を選択することなく前記前の行及び各欠陥画素の位置に隣接する前記現在の行に配置された複数の画素の値を選択するセレクタと、
前記複数の欠陥画素に対する置換値を、前記前の行及び前記現在の行に配置された前記選択した画素の値から決定する計算器と、
を備え、
前記計算器は、前記複数の欠陥画素に対する置換値を、前記前の行に沿って配置された三つの隣接画素及び前記現在の行に沿って配置された二つの隣接画素を含む五つの隣接画素からそれぞれ決定し、
前記計算器は、前記複数の欠陥画素に対する置換値を、前記五つの隣接画素の値の合計値を計算するとともに前記合計値を５の概略値で除算することによって決定し、
２の乗数の分数値を用いて５の値の概算値を求めるアプロキシメータを更に有することを特徴とする画像処理システム。
【請求項６】
前記アプロキシメータは、以下の式
【数２】
0005529886.tif 000007
を使用し、この場合、Ｘは、結果的に得られる概算値であり、ｐｎは画素値であり、ｎは、五つの最近隣接の添え字である請求項５に記載の画像処理システム。
【請求項７】
前記複数の欠陥画素は、前記３行３列領域の行に配置されている請求項５に記載の画像処理システム。
【請求項８】
前記複数の欠陥画素は、前記３行３列領域の列に配置されている請求項５に記載の画像処理システム。
【請求項９】
画像の領域のセンター行に沿って配置された欠陥画素の値を置換する方法であって、前記領域は、前記センター行と、前記センター行の上に配置された前の行と、前記センター行の下の行に配置された次の行と、を有し、前記方法は、
前記前の行及び前記センター行に配置された画素の値を格納するステップと、
前記次の行の画素の値を選択することなく前記前の行及び前記欠陥画素の位置に隣接するセンター行に配置された複数の画素の値を選択するステップと、
前記欠陥画素に対する置換値を、前記前の行及び前記センター行に配置された前記選択した画素の値から決定するステップと、
を備え、
前記欠陥画素に対する置換値を、前記前の行に沿って配置された三つの隣接画素及び前記センター行に沿って配置された二つの隣接画素を含む五つの隣接画素から決定し、
前記欠陥画素に対する置換値を、前記五つの隣接画素の値の合計値を計算するとともに前記合計値を５の概略値で除算することによって決定し、
２の乗数の分数値を用いて５の値の概算値を求めることを特徴とする方法。
【請求項１０】
前記置換値を、以下の式
【数３】
0005529886.tif 000008
を使用して決定し、この場合、Ｘは、結果的に得られる概算値であり、ｐｎは画素値であり、ｎは、五つの最近隣接の添え字である請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記領域に対応する前記欠陥画素の位置を提供するステップを更に備える請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記欠陥画素の置換値を表示するステップを更に備える請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
従来の集積回路撮像装置(integrated circuit imaging devices)は、装置を照明する画像の信号表示を生成するために相互接続された光検出素子又は画素のアレイを有する。従来の集積回路撮像装置の一般的な例は、電荷結合素子（ＣＣＤ）、相補型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）撮像素子及び焦点面アレイ（ＦＰＡ）である。そのような集積回路は、素子を照射する光の強度にほぼ比例する電流を流すことができるフォトダイオードやフォトトランジスタのような画素と、蓄電素子とを用いる。画素からの信号の集合は、アレイから見えるシーンの画像を表す。
【背景技術】
【０００２】
各画素は、シーンのサンプルを表し、したがって、撮像システムによって生成される２次元画像のデータ値となる。一般的に「不良画素」と称される欠陥画素は、アレイ欠陥によって生じ、正確な光強度値を提供しない。不良画素は、画像品質を著しく劣化させうる画像アーチファクト(image artifacts)として出現する。特に、不良画素は、全ての画素の露出レベルが均一であるときに隣接画素の平均出力レベルから著しく逸脱する出力信号を生成する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
欠陥画素は、典型的にはランダムに分布される。ある状況において、欠陥画素が集まることがある。しかしながら、隣接する欠陥画素の「不良列」及び隣接する欠陥画素の「不良行」も生じることがある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明は、画像の領域のセンター行に沿って配置された欠陥画素の値を置換する画像処理システムを提供する。領域は、センター行と、センター行の上に配置された前の行と、センター行の下に配置された次の行と、を有する。画像処理システムは、前の行に配置された画素の値及びセンター行に配置された画素の値を格納するバッファを有する。画像処理システムは、次の行の画素の値を選択することなく欠陥画素の位置に隣接する前の行及びセンター行に配置された複数の画素の値を選択するセレクタも有する。画像処理システムは、前の行及びセンター行に配置された選択した画素の値から欠陥画素の置換値を決定する計算器も有する。
【０００５】
本発明は、画像の３行×３列領域内で互いに隣接する複数の欠陥画素の値を置換する画像処理システムも提供する。画像処理システムは、各欠陥画素の上の前の行及び各欠陥画素の現在の行に配置された画素の値を格納するバッファを有する。画像処理システムは、各欠陥画素の下の次の行の画素の値を選択することなく各欠陥画素の位置に隣接する前の行及び現在の行に配置された複数の画素の値を選択するセレクタも有する。画像処理システムは、複数の欠陥画素の置換値を前の行及び現在の行に配置された選択した画素の値から決定する計算器も有する。
【０００６】
本発明は、画像の領域のセンター行に沿って配置された欠陥画素の値を置換する方法も提供する。領域は、センター行と、センター行の上に配置された前の行と、センター行の下に配置された次の行と、を有する。方法は、前の行に配置された画素の値及びセンター行に配置された画素の値を格納するステップを有する。方法は、次の行の画素の値を選択することなく欠陥画素の位置に隣接する前の行及びセンター行に配置された複数の画素の値を選択するステップも有する。画像処理システムは、前の行及びセンター行に配置された選択した画素の値から欠陥画素の置換値を決定するステップも有する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１（ａ）は、欠陥画素及び二つの最近隣画素を有する画像の３×３領域の典型的な実例であり、図１（ｂ）は、欠陥画素及び四つの最近隣画素を有する画像の３×３領域の典型的な実例であり、図１（ｃ）は、欠陥画素及び八つの最近隣画素を有する画像の３×３領域の典型的な実例である。
【図２】図２（ａ）は、５最近隣法(five nearest neighbor method)に従って置換値を決定するために用いられる単一の欠陥画素に対する最近隣画素を示す画像の３×３領域の典型的な実例であり、図２（ｂ）は、５最近隣法に従って置換値を決定するために用いられる欠陥画素の列に対する最近隣画素を示す画像の３×３領域の典型的な実例であり、図２（ｃ）は、５最近隣法に従って置換値を決定するために用いられる欠陥画素の行に対する最近隣画素を示す画像の３×３領域の典型的な実例である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態による欠陥画素の置換値を決定する画像処理システムのブロック図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態による欠陥画素の置換値を決定する方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
欠陥画素、欠陥画素の列又は欠陥画素の行を置換するための画素値を決定する従来の方法は、ドット落ち画素(dead-pixel)置換又はドット落ちセル(dead-cell)置換として知られている。これらのアプローチにおいて、欠陥画素の置換値は、欠陥画素を包囲する３行×３列領域（３×３領域）内の欠陥画素に隣接（すなわち、最近隣）画素の値を平均化することによって概算される。すなわち、置換画素は、欠陥画素を包囲する３×３領域の画素値の平均である。
【０００９】
通常のシフトレジスタを用いた乗算及び除算は、２の乗数（すなわち、２，４，８，．．．等）による乗算及び除算を行うときには簡単である。すなわち、２の乗数による乗算及び除算は、２の乗数でない値による乗算及び除算よりも必要なデジタル論理が少なく、その結果、消費電力が少なくなる。したがって、従来の画素置換法は、欠陥画素の置換値を決定するために二つ、四つ又は八つの最近隣接(two, four or eight nearest neighbors)を用いる。２最近隣法(two nearest neighbor method)を用いた３×３領域を図１（ａ）に示し、４最近隣法(four nearest neighbor method)を用いた３×３領域を図１（ｂ）に示し、８最近隣法(eight nearest neighbor method)を用いた３×３領域を図１（ｃ）に示す。例えば、欠陥画素の値を置換するために二つの隣接画素を用いる場合、置換値は、リソースとパワーの両方において「フリー」オペレーション("free" operation)となる単純なビットシフトを要求する二つの隣接画素の和の２による除算によって計算される。
【００１０】
３×３領域は、センター行、センター行の上にある前の行及びセンター行の下にある次の行を有する。本発明によれば、欠陥画素を、３×３領域の中心に存在させる。３×３領域は、多数の列及び行の画素によって表される画像の一部のみを表す。画像の各画素の値を、行の各画素を順番に並べる(sequencing through)とともに次の行に進むことによって取得する。欠陥画素に続く行に存在する隣接画素を用いる従来の方法は、隣接画素に到達するまで欠陥画素の行の各画素及び次の行の各画素を順番に並べるとともにバッファリングすることを必要とする。したがって、行全体のレイテンシが、最近隣画素の値を取得するプロセスに追加される。
【００１１】
図１（ａ）に示す２最近隣法は、画素１及び画素２の値のみを用いて欠陥画素Ｄの置換値を決定する。２最近隣法が、欠陥画素の行に続く行に沿った隣接画素を用いないが、欠陥画素の置換値は、二つの隣接画素から決定され、その結果、欠陥画素に対して正確な値でない可能性がある置換値が生じる。
【００１２】
図１（ｂ）に示す４最近隣法及び図１（ｃ）に示す８最近隣法はそれぞれ、欠陥画素Ｄに対して、２最近隣法よりも正確な置換値を決定することができる。しかしながら、４最近隣法及び８最近隣法は、欠陥画素Ｄの行に続く行に沿った隣接画素（すなわち、図１（ｂ）の画素３及び図１（ｃ）の画素６〜８）を用いる。すなわち、４最近隣法及び８最近隣法は、置換値を決定することができる前に２行の映像（すなわち、プログレッシブ読出しモードにおける第１の行及び第３の行）をバッファリングする必要があり、その結果、行全体のレイテンシが生じる。
【００１３】
それに対し、本発明は、欠陥画素に先行する行（前の行）に及び欠陥画素の行（センター行）に沿って存在する五つの最近隣画素を用いて欠陥画素の置換値を決定する。
【００１４】
欠陥画素の置換値を、五つの最近隣画素の値の合計値を計算するとともに計算値を５で除算することによって決定する。５最近隣接法による欠陥画素に対する置換値を決定するアルゴリズムを、以下の式（１）に示す。
【数１】
0005529886.tif 000002
この場合、Ｘは、結果的に得られる平均概算値(average approximation)であり、ｐｎは、デジタルカウントの画素値であり、ｎは、五つの最近隣接の添え字(indexes)である。
【００１５】
式（１）に示すように、５の値は、２の乗数（すなわち、１／８，１／１６及び１／６４）である数値を加算することによって概算され、その結果、完全な除算器(full divider)の代わりに二つの加算器が追加されるだけである。５の値の概算の結果、＋１．５６２５％の誤差が生じ、この誤差は、５最近隣法によってもたらされる時間（レイテンシ）及びコスト削減（電力消費及びハードウェア）とのバランスをとるときには比較的小さい。例えば、通常のＦＰＧＡ装置で実現される１２ビット画素値に対して、概算の結果、ＦＰＧＡリソースが９０％削減され、電力が削減される。
【００１６】
図２（ａ）は、５最近隣法を用いて単一の欠陥画素に対する置換値を決定するための３×３領域を示す。図２（ａ）に示すように、欠陥画素Ｄは、３×３領域のセンター行に沿って存在する。前の行に沿って存在する最近隣画素１，２及び３の値及びセンター行に沿って存在する最近隣画素５及び６は、欠陥画素Ｄの置換値を決定するために用いられる。図２（ａ）の画素１〜５を用いて欠陥画素Ｄの置換値を決定することによって、行全体から単一の画素（すなわち、画素５）までのレイテンシを減少させる。さらに、現在の行の画素５に続く画素及び次の行の画素のバッファリングに必要な記憶容量は、画像サイズに関係なく５０％削減される。
【００１７】
単一の欠陥画素に対する置換値の決定に加えて、５最近隣法は、欠陥画素の列に対する置換値及び欠陥画素の行に対する置換値を決定することもできる。図２（ｂ）は、欠陥画素の列に対する置換値を決定する３×３領域を示し、図２（ｃ）は、欠陥画素の行に対する置換値を決定する３×３領域を示す。
【００１８】
図２（ｂ）に示すように、欠陥画素Ｄ１，Ｄ２及びＤ３の列は、３×３領域のセンター列に沿って存在する。欠陥画素Ｄ１に対する置換値を、五つの最近隣接を用いて単一の欠陥画素に対する置換値を決定する上述した典型的な方法に従って決定することができる。例えば、欠陥画素Ｄ１に対する置換値を、前の行（図示せず）に沿って存在する最近隣画素の値及び最近隣画素１及び３の値から決定することができる。したがって、欠陥画素Ｄ１に対する置換値を、次の行（画素４、欠陥画素Ｄ２及び画素５を含むセンター行）の画素に対する値を用いることなく決定することができ、その結果、行全体から単一の隣接画素３までのレイテンシを減少させる。
【００１９】
欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するためにＤ１の置換値を用いることができる。他の欠陥画素の値を決定するために欠陥画素の置換値を用いることが望ましくない可能性があるが、欠陥画素の置換値を用いることによって、電力消費及び記憶容量が減少する。欠陥画素が置換されたという情報を、ターゲットとなる欠陥画素に到達するまで各クロックサイクル（画素ごとに１クロックサイクル）に対して格納する必要がある。したがって、電力消費及び記憶容量を削減するために、この情報を格納しなくてもよく、欠陥画素の置換値を用いることができる。
【００２０】
図２（ｂ）に示す実施の形態において、欠陥画素Ｄ１の置換値が用いられない場合、欠陥画素Ｄ１が置換されたという情報を、次の行の欠陥画素Ｄ２に到達するまで各クロックサイクルに対して格納する必要がある。したがって、Ｄ１に対する置換値を決定した後、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するためにＤ１の値を用いることができ、その結果、欠陥画素Ｄ１を置換したという情報を格納するのに必要な電力消費及び記憶容量を削減することができる。
【００２１】
したがって、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を、前の行に沿って存在する最近隣画素１、欠陥画素Ｄ１及び最近隣画素３の値並びにセンター行に沿って存在する最近隣画素４及び５の値によって決定することができる。すなわち、欠陥画素Ｄ２に対する置換値は、次の行（欠陥画素Ｄ３を含む行）の画素に対する値を用いることなく決定され、その結果、行全体から単一の隣接画素５までのレイテンシを減少させる。その後、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を決定するために、同一の５最近隣法を用いることができる。
【００２２】
図２（ｃ）に示すように、欠陥画素Ｄ１，Ｄ２及びＤ３の行は、３×３領域のセンター行に沿って存在する。欠陥画素Ｄ１，Ｄ２及びＤ３に対する置換値を、五つの最近隣接を用いて単一の欠陥画素に対する置換値を決定する上述した典型的な方法に従って決定することができる。しかしながら、欠陥画素Ｄ１，Ｄ２及びＤ３に対する置換値を、表２に示すように三つ、四つ又は五つの最近隣画素の値を用いて決定することができる。
【００２３】
欠陥画素Ｄ１に対する置換値を、最近隣画素３又は４の値から決定することができる。例えば、欠陥画素Ｄ１に対する置換値を、前の行に沿って存在する三つの最近隣画素（画素１の左側の画素（図示せず）、画素１及び画素２）から決定することができる。欠陥画素Ｄ２に対する置換値がまだ決定されていないので、欠陥画素Ｄ１に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ２を用いることができない。しかしながら、欠陥画素Ｄ１の置換値を決定するために欠陥画素Ｄ１の左側の最近隣画素（図示せず）の値を、使用してもよく又は使用しなくてもよい。欠陥画素Ｄ１の左側の最近隣画素の値を用いる場合、欠陥画素Ｄ１の置換値を決定するために四つの最近隣画素を用いる。欠陥画素Ｄ１の左側の最近隣画素の値を用いない場合、欠陥画素Ｄ１の置換値を決定するために三つの最近隣画素を用いる。
【００２４】
図２（ｂ）に関連して上述したように、（センター行の）欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するために（第１の行の）Ｄ１の値を用いることができ、その結果、欠陥画素Ｄ１が置換されたという情報を格納するのに必要な消費電力及び記憶容量を削減することができる。
【００２５】
しかしながら、図２（ｃ）に示す不良行の実施の形態において、用いることができる画素値は、欠陥画素Ｄ１の左側にある。検出画素Ｄ１の左の画素の値が置換されなかった場合、画素値を用いることができる。Ｄ１の左側の検出画素が置換された場合、Ｄ１の左側の欠陥画素が置換されたという情報を１クロックサイクルに対して記憶するだけでよい。したがって、欠陥画素Ｄ１に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ１の左側の最近隣画素の値を用いることができる。欠陥画素Ｄ１に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ１の左側の最近隣画素の値を用いなくてもよい。
【００２６】
欠陥画素Ｄ２に対する置換値を、三つ又は四つの最近隣画素の値から決定することができる。欠陥画素Ｄ２に対する置換値を、前の行に沿って存在する最近隣画素（画素１，２及び３）の値から決定することができる。上述したように、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ１の置換値を、使用してもよく又は使用しなくてもよい。しかしながら、欠陥画素Ｄ３に対する置換値がまだ決定されていないので、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ３を用いることができない。
【００２７】
欠陥画素Ｄ１の置換値が用いられる場合、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するために四つの最近隣画素が用いられる。欠陥画素Ｄ１の置換値が用いられない場合、欠陥画素Ｄ２に対する置換値を決定するために三つの最近隣画素が用いられる。
【００２８】
欠陥画素Ｄ３に対する置換値を、三つ、四つ又は五つの隣接画素から決定することができる。例えば、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を、前の行に沿って存在する三つの最近隣画素（画素２、画素３及び画素３の左側の画素（図示せず））の値から決定することができる。上述したように、ターゲットとなる欠陥画素に対する置換値を決定するためにターゲットとなる欠陥画素の左側の画素の置換値を、使用してもよく又は使用しなくてもよい。すなわち、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を決定するために欠陥画素Ｄ２の置換値を、使用してもよく又は使用しなくてもよい。
【００２９】
画素に欠陥がない場合、欠陥画素Ｄ３の右側の最近隣画素（図示せず）の値を用いることができる。しかしながら、画素に欠陥がある場合、欠陥画素Ｄ３に右側の最近隣画素の値を用いることができない。したがって、Ｄ２と、欠陥画素Ｄ３の右側の最近隣画素との両方が用いられる場合、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を決定するために五つの最近隣画素が用いられる。Ｄ２と、欠陥画素Ｄ３の右側の最近隣画素とのうちの一方のみが用いられる場合、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を決定するために四つの最近隣画素が用いられる。Ｄ２と、欠陥画素Ｄ３の右側の最近隣画素とのいずれもが用いられない場合、欠陥画素Ｄ３に対する置換値を決定するために三つの最近隣画素が用いられる。
【００３０】
表１及び表２は、単一の欠陥画素（不良画素）の置換値、欠陥画素の列（不良列）の置換値及び欠陥画素の行（不良行）の置換値を２最近隣（２ＮＮ）法、４最近（４ＮＮ）法、５最近隣（５ＮＮ）法及び８最近隣（８ＮＮ）法を用いて決定するのに利用できる最近隣画素の個数を示す。表１は、以前に補正した画素を含まない利用できる最近隣画素の個数を示す。表２は、以前に補正した画素を含んだ利用できる最近隣画素の個数を示す。
【００３１】
表１に示すように、５最近隣法は、２最近隣法及び４最近隣法より多くの利用できる最近隣画素を有する。８最近隣法が、５最近隣法より多くの利用できる最近隣画素を有するが、８最近隣法は、ターゲットとなる欠陥画素に対する置換値を決定するためにターゲット欠陥画素を含む行に続く行の画素値を用いる必要がある。
【００３２】
それに対し、５最近隣法は、ターゲットとなる欠陥画素を含む行に続く行の画素を用いることなく利用できる最大数の最近隣画素を用いることによって、ターゲットとなる欠陥画素に対する置換値を決定する。したがって、５最近隣法は、行全体から単一の画素までのレイテンシの不利益を軽減しながら高い精度を有する置換値を決定する。
【表１】
0005529886.tif 000003
【表２】
0005529886.tif 000004
【００３３】
図３は、本発明の典型的な実施の形態による５最近隣法を用いた欠陥画素、欠陥画素の列及び欠陥画素の行に対する置換値を決定する画像処理システムのブロック図である。図３に示すように、画像処理システム３００は、プロセッサ３０２と、欠陥画素マップ３０４と、ディスプレイ３０６と、を有する。プロセッサ３０２は、ディスプレイ３０６に対する欠陥画素の位置を欠陥画素マップ３０４から受け取る。欠陥画素マップは、典型的には、ディスプレイ３０６が工場で製造された後に販売及び流通のために工場から出荷される前に準備される。典型的な欠陥画素マップを、後に表３に示す。
【００３４】
表３に示すように、欠陥画素を、ディスプレイ３０６の行（ｉ）及び列（ｊ）の交差する位置において決定することができる。例えば、表３に示すように、第１の欠陥画素を、行２列３（Ｐ２，３）においてマッピングすることができ、第２の欠陥画素を、行４列７（Ｐ４，７）においてマッピングすることができる。典型的な欠陥画素マップは、任意の数の欠陥画素を有することができる。
【表３】
0005529886.tif 000005
【００３５】
プロセッサ３０２は、画像データ３０８も受信する。画像データ３０８は、複数の行及び列を有し、その各々は、画像を構成する複数の画素を有する。プロセッサ３０２は、画像の各画素をリアルタイムで処理する。プロセッサ３０２は、欠陥画素マップ３０４によって提供される各欠陥画素に対する置換値を決定し、各欠陥画素の置換値を含む各画素の値をディスプレイ３０６に供給する。
【００３６】
５最近隣画素セレクタ３１０は、例えば表３に示す欠陥画素マップを用いてディスプレイ３０４の欠陥画素の位置を受け取り、欠陥画素に続く行（次の行）の画素を選択することなく欠陥画素に先行する行（前の行）に存在する三つの最近隣画素及び欠陥画素の行（現在の行）に沿って存在する二つの最近隣画素を選択する。
【００３７】
例えば、５最近隣画素セレクタ３１０は、ディスプレイ３０６の行２列３に第１の欠陥画素の位置を表す表３の典型的な欠陥画素マップから第１の欠陥画素（Ｐ２，３）の位置を受け取ることができる。この場合、５最近隣画素セレクタ３１０は、次の行（行３）の画素を選択することなく前の行に存在する三つの最近隣画素（Ｐ１，２，Ｐ１，３及びＰ１，４）及び欠陥画素の現在の行に沿って存在する二つの最近隣画素（Ｐ２，２及びＰ２，４）を選択する。
【００３８】
５最近隣画素セレクタ３１０は、欠陥画素及び五つの最近隣画素の位置をバッファメモリ３１２に供給する。したがって、バッファメモリ３１２は、前の行の画素及び現在の行の画素を順番に並べ、前の行の画素の値及び欠陥画素（Ｐ２，３）に続く最近隣画素（Ｐ２，４）で終了する現在の行の画素の値を記憶する。
【００３９】
したがって、本発明の典型的な実施の形態によれば、バッファメモリ３１２は、前の行の画素の値及び欠陥画素に続く最近隣画素（Ｐ２，４）までの画素の値のみを記憶し、これによって、行全体（次の行）から欠陥画素（Ｐ２，３）に続く単一の画素までのレイテンシの不利益を減少させる。
【００４０】
計算器３１４は、アプロキシメータ３１６によって与えられる式（１）を用いて、５最近隣画素の合計値を５で除算することによって欠陥画素に対する置換値を決定する。その後、ディスプレイ３０６は、各欠陥画素に対する置換値を含む画像の画素の各々に対する置換値を表示する。
【００４１】
図４は、本発明の実施の形態による欠陥画素に対する置換値を決定する方法を示すフローチャートである。ステップ４００で示すように、画像の領域に対応する欠陥画素の位置を提供する。欠陥画素の位置を、表３に示す欠陥画素マップのような欠陥画素マップによって提供することができる。
【００４２】
ステップ４０２において、画像の前の行及びセンター行に配置された画素の値を記憶する。これらの値を、例えば、図３に示すバッファメモリ３１２のようなバッファに記憶させることができる。
【００４３】
ステップ４０４において、前の行及び欠陥画素の位置に隣接するセンター行に配置された複数の画素の値を選択する。次の行に配置された画素の値が選択されず、したがって、行全体から単一の画素までのレイテンシの不利益を減少させる。この場合、複数の画素の値を、典型的なバッファに供給することができる。
【００４４】
ステップ４０６において、欠陥画素に対する置換値を、前の行及びセンター行に配置された選択した画素の値から決定する。欠陥画素に対する置換値を、前の行に沿って配置された三つの隣接画素及びセンター行に沿って配置された二つの隣接画素を含む五つの隣接画素から決定する。例えば、図２（ａ）の欠陥画素Ｄに対する置換値を、前の行に沿って配置された三つの隣接画素１，２，３及びセンター行に沿って配置された二つの隣接画素４，５から決定する。
【００４５】
その後、欠陥画素に対する置換値を、五つの隣接画素の値の合計を計算するとともに合計値を５の逆数の概略値で除算することによって決定することができる。５の逆数の値を、式（１）に示すように２の分数乗（１／８，１／１６及び１／６４）を用いることによって概算する(be approximated)ことができる。
【００４６】
ここでは、本発明を、特定の実施の形態を参照しながら図示し及び説明したが、本発明は、示した詳細な説明に限定されるものではない。更に正確に言えば、種々の変更を、特許請求の範囲内で本発明を逸脱することなく詳細な説明において行うことができる。
【図１（ａ）】
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【図１（ｂ）】
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【図１（ｃ）】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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