(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、
前記光源からの光で対象領域を走査して照明する走査光学系と、
前記対象領域からの光を分光する分光部と、
前記分光部により分光された光を検出してサンプリングし、複数のサンプリング時間において前記検出した光の強度に対応する信号を発生する光検出器と、
前記信号を読込むメモリと、
前記メモリから信号を読み出し、前記対象領域の画像を形成し、表示装置に表示させる制御部と、を備え、
前記光検出器の前記複数のサンプリング時間の間隔は、前記分光された光の波長に応じて変化し、且つ、前記走査光学系の光の出射角度が時間に比例しない場合にはサンプリングの回数とともに変化し、
前記制御部が、前記メモリが信号を読込んでから前記制御部が前記表示装置に当該信号を表示させるまでの経過時間を、前記分光された光の波長によって変化させることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御部が、前記経過時間を、前記分光された光の波長が短いほど長く設定することを特徴とする、請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記走査光学系が、印加される電圧の大きさに応じて内部に生じる屈折率の分布が変化する電気光学素子を備えることを特徴とする、請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記走査光学系が倍率色収差を有することを特徴とする、請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記サンプリング時間の間隔が、前記分光された光の波長が長いほど大きくなることを特徴とする、請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項６】
所定回数番目のサンプリングに関して、ある波長の光と他の波長の光との間での前記経過時間の差が、前記走査光学系の走査の開始時刻を基準とする前記サンプリング時間の時間差に等しいことを特徴とする、請求項１に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置に関する。画像形成装置は、例えば、内視鏡や顕微鏡等とともに用いられるものである。
【背景技術】
【０００２】
先端に電気光学素子を備えることにより、機械的な駆動なしで照明光を偏向して対象物の走査を行う内視鏡の光学系が知られている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特表２００２-５２３１６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来技術の方法では、電気光学素子の電気光学結晶が大きな屈折率波長分散を持つため、可視域の光源を用いると、波長に応じて対象物にスポット照明する位置がずれる。このように、電気光学素子等の倍率色収差の大きな走査光学系を用いた画像形成装置において、対象物からの戻り光を用いてカラー画像を形成すると、画像に色ずれが起きてしまうという問題があった。
【０００５】
本発明は、走査光学系を有する画像形成装置において、画像を形成して表示させる際に、画像の色ずれを防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のある態様に係る画像形成装置は、光源と、前記光源からの光で対象領域を走査して照明する走査光学系と、前記対象領域からの光を分光する分光部と、前記分光部により分光された光を検出してサンプリングし、複数のサンプリング時間において前記検出した光の強度に対応する信号を発生する光検出器と、前記信号を読込むメモリと、前記メモリから信号を読み出し、前記対象領域の画像を形成し、表示装置に表示させる制御部と、を備える。前記光検出器の前記複数のサンプリング時間の間隔は、前記分光された光の波長に応じて変化し、且つ、前記走査光学系の光の出射角度が時間に比例しない場合にはサンプリングの回数とともに変化する。前記制御部が、前記メモリが信号を読込んでから前記制御部が前記表示装置に当該信号を表示させるまでの経過時間を、前記分光された光の波長によって変化させる。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、走査光学系を有する画像形成装置において、画像を形成して表示させる際に、画像の色ずれを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第一実施形態に係る画像形成装置を示す概略構成図である。
【図２】光の波長による走査位置（スポット位置）の違いを説明する図である。
【図３】電気光学素子における光線の曲がり方を示す図である。電圧極に印加する電圧が正の場合を示す。
【図４】出射角度θの印加電圧Vの依存性を例示する図である。
【図５】印加電圧波形（印加電圧の時間依存性）の一例を示すグラフである。
【図６】出射角度θの時間依存性の一例を示すグラフである。各色に対するサンプリング時間を例示する。実線は、青色光、点線は赤色光を示す。
【図７】印加電圧波形（印加電圧の時間依存性）の他の例を示すグラフである。
【図８】出射角度θの時間依存性の他の例を示すグラフである。各色に対するサンプリング時間を例示する。実線は、青色光、点線は赤色光を示す。
【図９】第二実施形態に係る画像形成装置を示す部分構成図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
＜第一実施形態＞
図１を参照して、画像形成装置について説明する。なお、画像形成装置は、内視鏡とともに用いられるものとして、実施形態を説明する。しかし、本実施形態はこれに限定されることなく適用可能である。例えば、画像形成装置は、顕微鏡とともに用いられるものでよい。
【００１０】
画像形成装置は、光で対象物の走査対象領域１００を走査する光走査装置（ここでは内視鏡）２００と信号処理部３００を含む。光走査装置２００は、光源１、光射出部３（光射出手段）、ファイババンドル７、走査部９（走査手段）を含む。光走査装置２００は、光源１からの光で走査対象領域１００を走査して照明する走査光学系４０を備える。本実施形態では、走査光学系４０は、光射出部３、ファイババンドル７、走査部９、レンズ群５、１１、１３から構成されるが、これに限定されるものではない。
【００１１】
信号処理部３００は、分光器（分光部、分光手段）３２、各色の光検出器（光検出手段）３３、メモリ（記憶媒体）３４、コントローラ（制御部）１５、モニタ（表示装置）３５等から構成される。コントローラ１５は、中央演算処理装置（CPU)やメモリ等を有し、光源１や、光射出部３のガルバノミラー３ａ、３ｂ、走査部９等を制御する制御部又は制御手段として機能する。光検出器３３の例として、フォトダイオード、ＣＣＤ（電荷結合素子）、光電子増倍管などが挙げられる。なお、図１において、ファイババンドル７は、斜視図を用いて記載されている。
【００１２】
光源１は、三原色の光として赤色（Ｒ）の光（波長λr）、緑色（Ｇ）の光（波長λg）、及び青色（Ｂ）の光（波長λb）を射出する。光源１は、白色光源とＲＧＢフィルタを備えることにより三原色の光を射出するものでよい。或いは、光源１は、赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）、青色（Ｂ）の発光ダイオードやレーザダイオードを備えることにより、三原色の光を射出するものでもよい。また、光源１は、三原色に限らず、所望の数の所望の色の光を射出するものでもよい。なお、以下では、光源１からの複数の色の光が同時に射出され、走査対象領域１００に照射される場合を主に説明する。しかし、面順次方式により、それぞれの色の光を順番に異なる時間で走査対象領域１００に照射するものでもよい。
【００１３】
光射出部３は、光源１からの光を、ファイババンドル７の一方の端面（近位端）のファイバの一つに向けて射出する。これにより、光射出部３は、ファイババンドル７の複数ｎの光ファイバから一本の光ファイバを順次選択し、選択した光ファイバに光を入射させる。光は選択した光ファイバを通って走査部９に達する。
【００１４】
本実施形態において、光射出部３は、互いに垂直な方向に偏向動作を行う第一と第二のガルバノミラー３ａ、３ｂから構成される。ガルバノミラー３ａ、３ｂは、図示しないアクチュエータ（モータ等）を介して、コントローラ１５により制御される。光射出部３は、二つのガルバノミラー３ａ、３ｂを用いて、ファイババンドル７の近位端において二次元的な走査を行う。コントローラ１５はガルバノミラー３ａ、３ｂの角度を連続的（アナログ的に）変化させてもよい。この場合、光が一本のファイバを通っている間、そのファイバを通る一つの光路が選択されている。なお、コントローラ１５は、ガルバノミラー３ａ、３ｂの角度を数値的に（デジタル的に）制御してもよい。
【００１５】
ファイババンドル７は、束ねられた複数ｎ本の光ファイバから構成される。各光ファイバは、ファイババンドル７の近位端において入射した光を伝送して、ファイババンドル７の他方の端面（遠位端）から射出させる。なお、ｎは、例えば、数本から数千本である。
【００１６】
光射出部３とファイババンドル７の間には、適宜、レンズ群５が設けられる。レンズ群５は、光射出部３から出た光がファイババンドル７のうちの一本の光ファイバに入射するよう焦点が調整されている。ファイババンドル７と走査部９の間にも、適宜、レンズ群１１が設けられる。レンズ群１１は、光ファイバからの光をほぼ平行光にして、走査部９に入射させる。走査部９からの光は、レンズ群１３によって、対象物の走査の対象である走査対象領域（走査対象面）１００に合焦する。レンズ群１３により、所定倍率で走査範囲が拡大される。レンズ群５、１１、１３は、それぞれ一以上のレンズを含む。
【００１７】
走査部９は、ファイババンドルの遠位端から射出した射出光で、走査対象領域１００を連続的に且つ周期的に走査する。また、走査部９と光射出部３は、同時に走査を行う。ファイバ（F1,F2,F3等）へ光が入射している間、そのファイバに対応する部分領域（A1,A2,A3等）が走査される。各走査の間、走査位置（走査点）が対応する部分領域（A1,A2,A3等）内を隈なく移動する。図１では、例として、基準の走査位置（P1,P2,P3）とその他の走査位置（P1',P2',P3'）が示されている。基準の走査位置は、走査部９が動作していない場合にファイバコアからの光が達する走査点に相当する。その他の走査位置は、走査部９が動作している場合に、走査部９からの光が到達する点である。各部分領域は重複しないか、一部だけが重複するように隣接している。
【００１８】
走査部９は、互いに垂直な方向に偏向動作を行う２つの電気光学素子（ＥＯ）９ａ、９ｂを備える。電気光学素子９ａ、９ｂは、電気光学結晶から構成される。光の偏光方向と電圧の向きが平行である場合に、電気光学素子の偏向角は大きくなる。このため、光の偏光方向は、偏光板１９等により調整される。さらに、２つの電気光学素子９ａ、９ｂの間にλ／２板２１を設けて光の偏光方向が変えられる。
【００１９】
コントローラ（制御部、制御手段）１５は、後段の電気光学素子９ａの電極にY軸方向の電圧Vyを印加することによりY-Z面内でY軸方向の偏向動作を制御する。コントローラ１５（制御部）は、前段の電気光学素子９ｂの電極にX軸方向の電圧Vxを印加することによりX-Z面内でX軸方向の偏向動作を制御する。なお、Z軸は光軸方向の座標を示す。コントローラ１５が電圧Vx、Vyを変更することにより、走査位置をX-Y面内で二次元的に移動できるため、走査部９による二次元的な走査が可能になる。コントローラ１５は、電圧Vx、Vyの発生用の二つの電圧発生部を有する。
【００２０】
照明された対象物の走査対象領域１００からの戻り光（即ち、反射光及び散乱光）は、信号処理部３００の分光器３２に導光され、波長ごとに光検出器３３で受光する。分光器３２は、検出用光ファイバ３０からの光を各色に分光する。光検出器３３は、各走査位置（サンプリング位置）からの戻り光の強度を、検出用光ファイバ３０と分光器３２を通して検出（サンプリング）する。検出器３３は、各色ごとの検出器（赤色検出器３３ａ、緑色検出器３３ｂ、青色検出器３３ｃ等）を含む。照明された領域である走査位置に対して、光検出器３３の出力が、1対１で対応している。
【００２１】
光検出器３３からの時系列の検出データ（つまり光の強度信号）は、走査対象領域１００の画像データとしてメモリ３４（ＲＡＭなど）に波長ごとに記憶格納される。例えば、光検出器３３は、各サンプリング時間においてコントローラ１５から送られたサンプリング信号に応じて、光の強度信号を発生してメモリ３４へと出力してよい。サンプリング時間は、光検出器３３がサンプリングを実行すべき時間であり、後述するように波長ごとに定められてよい。コントローラ１５のメモリは、波長ごとにサンプリング時間を記憶してよい。或いは、光検出器３３は、独自にメモリを有する制御部を備え、このメモリは波長ごとにサンプリング時間を記憶し、光検出器３３の制御部がサンプリング時間においてサンプリング信号を発生する構成としてもよい。
【００２２】
メモリ３４に格納された各色の光の強度信号は、対象物の画素の画素値に対応する。故に、表示装置としてのモニタ３５に強度信号を時系列で表示することで、走査対象領域１００の表面情報を画像として出力できる。メモリ３４からの画像データは、コントローラ１５の指令により画像表示装置としてのモニタ３５に出力・表示される。コントローラ１５は、メモリ３４に格納された各波長の強度信号をモニタ３５に出力するタイミングを、波長が短い光のデータほどメモリ３４に格納された時刻から遅らせる。即ち、コントローラ１５は、メモリ３４が信号を読込んでからコントローラ１５がモニタ３５に強度信号を表示させるまでの経過時間Tpを、分光された光の波長が短いほど長く設定する。
【００２３】
図２のように、青色光と赤色光を波長の短い光と長い光の例に挙げて光の波長による走査位置の違いを説明する。ここで、赤色光は、光源１の最大波長の光の例であり、青色光は、最大波長以外の波長を有する光の例である。
【００２４】
屈折率分散のため屈折率は赤色光で小さく青色光で大きい。従って、電気光学素子９a、９ｂへの印加電圧Vx、Vyが同じ場合、図２のように、赤色光による走査位置（Ａ点）は青色光による走査位置（Ｂ点）より光軸側に位置している。Ａ点からの戻り光とＢ点からの戻り光の信号が、同じタイミングでモニタ３５に表示されると、色ずれが生じる。
【００２５】
このため、本実施形態では、コントローラ１５は、メモリ３４が信号を読込んでからモニタ３５に当該信号を表示させるまでの経過時間Tpを、分光された光の波長が短いほど長く設定する。この結果、同じ走査位置からの青色光と赤色光の強度信号が同時にモニタ３５に表示できる。青色光と赤色光との間の経過時間（Tp）の差は、青色光が所定位置（例えばＡ点）を照射した時から、赤色光がこの所定位置（例えばＡ点）を照射するまでの遅延時間Δtmである。即ち、青色光に関する経過時間Tp（λb）、赤色光に関する経過時間Tp（λr）とすると、第ｍ番目のサンプリングに関して、Tp（λb）−Tp（λr）=Δtmが成立する。
【００２６】
図３は、電気光学素子（電気光学結晶）における光線の曲がり方について説明する図である。簡単のため、図３では、Y軸走査用の電気光学素子９aだけについて説明するが、X軸走査用の電気光学素子９ｂについても同様である。Y軸は印加電圧V(=Vy)による電場の方向の座標を示す。電気光学素子の光の入射面はXY面とする。なお、電圧極２０ａから接地極２０ｂに向かって座標Yは増加するものとする。
【００２７】
電源からの印加電圧Vが、電極（電圧極２０ａと接地極２０ｂ）を介して、電気光学素子９ａに加えられる。図３は、電気光学素子に加えられる印加電圧Vがプラスの場合を示す。
【００２８】
電気光学素子へ電圧を印加することで、カー効果等により屈折率の分布（屈折率分布）が生じる。カー効果は、等方性材料に電場をかけると、複屈折率性が生じる現象で、屈折率変化が内部に生じる電界の２乗に比例する。屈折率分布のため、電気光学素子に入射した光は、曲げられて電気光学素子より出射する。また、屈折率分布は印加電圧により変化する。このため、電気光学素子への印加電圧を変化させることで、電気光学素子から出射する光線の出射角度θが変わる。また、印加電圧Vを変化させることにより対象物に照射する光のスポット（走査点）を移動することができる。なお、電流の注入により電気光学素子（例えば、KTa1-xNbxO3）内に電荷を生じさせることにより印加電圧の方向に電界を傾斜させて、屈折率の大きな傾斜を得ることができることが知られている（特開２００８-１５８３２５号公報、特開２００７−３１０１０４公報等参照）。
【００２９】
以下の実施例１と実施例２において、電気光学素子がKTa1-xNbxO3である場合について、具体的に述べる。
【００３０】
−実施例１−
電気光学素子がKTa1-xNbxO3である場合、光軸Zに対する電気光学素子からの光の出射角度θは、以下の数式（１）のように、印加電圧Vの二乗に略比例する（Appl.Phys.Lett. 89,131115(2006)参照）。
【００３１】
【数１】
0005506266.tif 000002
【００３２】
ここでkθは、電気光学結晶の大きさや特性によって決まる比例係数であり、入射波長に依存する。
【００３３】
故に、図４のように、波長によって、光の曲がり方が異なる。図４において、kθRは赤色の光に対する係数kθ(λ)、kθBは青色の光に対する係数kθ(λ)として、出射角度θの印加電圧Vの依存性を例示する。なお、光軸Zに対するレンズ群１３から出射する光の偏向角αは、出射角度θに比例するため、偏向角αも印加電圧Vの二乗に比例することになる。なお、赤色の光は、光源１の最大波長の光として示し、青色の光は、それ以外の波長の光の例として示すものである。
【００３４】
実施例１では、図５のように、印加電圧Vが繰り返し電気光学結晶に加えられる。つまり、数式（２）の通り電圧Vが印加される。
【００３５】
【数２】
0005506266.tif 000003
【００３６】
ただし、数式（２）において、走査の開始時刻において、時間tはゼロとする。時間t0の時、印加電圧Vは最大値V0になるとすると、kvは、数式（３）のように表わされる。
【００３７】
【数３】
0005506266.tif 000004
【００３８】
数式（１）と数式（２）より、出射角度θと時間tは、数式（４）で表わされる。
【００３９】
【数４】
0005506266.tif 000005
【００４０】
なお、kは、電気光学結晶への入射光の波長λに依存する。
【００４１】
従って、出射角度θ（つまり偏向角α）が均等の間隔になるようにサンプリングする為には、各波長の光に関して、図６のようにサンプリング時間t1(λ),t2(λ),t3(λ),・・・の時点で対象物からの戻り光を検出すれば良い。なお、サンプリング時間は、走査の開始時刻を基準としているため、面順次方式の場合も、各色の光での走査について、走査の開始時刻を基準としてサンプリング時間が表わされている。
【００４２】
図６では、赤色の光（波長λr）を検出するサンプリング時間t1, t2, t3は、t1=t1(λr), t2=t2(λr), t3=t3(λr)であり、青色の光（波長λｂ）を検出するサンプリング時間t1’, t2’, t3’は、t1’=t1(λb), t2’=t2(λb), t3’=t3(λb)と表されている。
【００４３】
ここで、出射角度θの間隔をΔθ、ｍをサンプル回数（ｍ=0、１、２、・・・）とす
ると、サンプリング時間tm(λ)は以下の数式（５）で表わされる。
【００４４】
【数５】
0005506266.tif 000006
【００４５】
実施例１では、サンプリングの時間間隔tm+1(λ)- tm (λ)は、波長ごとの一定値Δθ/ k(λ)になる。
【００４６】
係数ｋ=k(λ)は電気光学結晶への入射光の波長λに依存するので、サンプリング時間tm(λ)とサンプリングの時間間隔Δθ/ k(λ)も波長λに依存する。このように、波長が異なっても同じ出射角度θで照明されている走査位置からの強度信号を検出するには、サンプリング時間とサンプリングの時間間隔を光の波長λごとに変えればよい。さらに、波長が異なっても同じ走査位置からの強度信号を同時にモニタ３５に表示するには、波長λに依存する遅延時間Δtmの分だけ、メモリが画像を取得してからの画
像表示のタイミングをずらせば良い。
【００４７】
例えば、最大波長の赤色光に対する青色光の遅延時間Δtmは数式（６）の通りとなる。
【００４８】
【数６】
0005506266.tif 000007
【００４９】
ここで、kR=k(λr)、kB=k(λb)であり、kR＜kBである。遅延時間Δtmは、最大波長を有さない光の波長が短いほど、k(λ)が増加するため大きくなる。
【００５０】
メモリ３４が信号を読込んでからモニタ３５に当該信号を表示させるまでの経過時間Tpに関して、青色光（最大波長以外の光）に関する経過時間をTp（λb）、赤色光（最大波長の光）に関する経過時間をTp（λr）と表す。この場合、第ｍ番目のサンプリングに関して、Tp（λb）−Tp（λr）=Δtmが成立する。遅延時間Δtmは、最大波長以外の光の波長が短いほど大きくなるため、経過時間Tpは、分光された光の波長が短いほど長く設定される。
【００５１】
−実施例２−
実施例２では、図７のように、時間tに比例するよう電圧Vが印加される。つまり、数式（７）の通り電圧Vが印加される。
【００５２】
【数７】
0005506266.tif 000008
【００５３】
ただし、走査の開始時刻において、時間tはゼロとする。
【００５４】
故に、出射角度θと時間tの関係は、数式（８）で表わされる。
【００５５】
【数８】
0005506266.tif 000009
【００５６】
なお、kは、電気光学結晶への入射光の波長λに依存する。
【００５７】
従って、出射角度θ（つまり偏向角α）が均等の間隔になるようにサンプリングする為には、各波長の光に関して、図８のようにサンプリング時間t1(λ),t2(λ),t3(λ),・・・の時点で対象物からの戻り光が検出される。図８では、赤色の光（波長λr）を検出するサンプリング時間t1, t2, t3は、t1=t1(λr), t2=t2(λr), t3=t3(λr)であり、青色の光（波長λｂ）を検出するサンプリング時間t1’, t2’, t3’は、t1’=t1(λb), t2’=t2(λb), t3’=t3(λb)である。
【００５８】
ここで、出射角度θの間隔をΔθ、ｍをサンプル回数（ｍ=0、１、２、・・・）とす
ると、サンプリング時間tm(λ)は以下の数式（９）で表わされる。
【００５９】
【数９】
0005506266.tif 000010
【００６０】
実施例２では、サンプリングの時間間隔tm+1(λ)-tm(λ)は一定値ではなく、サンプリングの回数ｍに応じて変化する。
【００６１】
ここで、係数ｋ=k(λ)は電気光学結晶への入射光の波長λに依存するので、サンプリング時間tm(λ)とサンプリングの時間間隔tm+1(λ)-tm(λ)も波長λに依存する。このように、波長が異なっても同じ出射角度θで照明されている走査位置からの強度信号を検出するには、サンプリング時間とサンプリングの時間間隔を光の波長λごと（色ごと）に変えればよい。さらに、波長が異なっても同じ走査位置からの強度信号を同時にモニタ３５に表示するには、波長λに依存する遅延時間Δtmの分だけ、メモリが画像を取得してからの画像表示のタイミングをずらせば良い。
【００６２】
例えば、最も波長の長い赤色光に対する青色光の遅延時間Δtmは数式（１０）の通
りとなる。
【００６３】
【数１０】
0005506266.tif 000011
【００６４】
ここで、kR=k(λr)、kB=k(λb)であり、kR＜kBである。遅延時間Δtmは、最大波長を有さない光の波長が短いほど大きくなる。
【００６５】
メモリ３４が信号を読込んでからモニタ３５に当該信号を表示させるまでの経過時間Tpに関して、青色光（最大波長以外の光）に関する経過時間をTp（λb）、赤色光（最大波長の光）に関する経過時間をTp（λr）と表す。この場合、第ｍ番目のサンプリングに関して、Tp（λb）−Tp（λr）=Δtmが成立する。遅延時間Δtmは、最大波長以外の光の波長が短いほど大きくなるため、経過時間Tpは、分光された光の波長が短いほど長く設定される。
【００６６】
なお実施例１、２において、数式（１）のように出射角度θは印加電圧Vの二乗に比例する場合を示したが、出射角度θと印加電圧Vの関係がこれと異なる場合でも、同様にサンプリング時間tm(λ)と遅延時間Δtmを求めることができる。例えば、出射角度θは印加電圧Vに比例する場合などでも、同様にサンプリング時間tm(λ)と遅延時間Δtmを求めることができる。
【００６７】
作用効果
画像形成装置は、分光部３２により分光された光を受光して、複数のサンプリング時間tm(λ)において検出した光の強度に対応する信号を発生する光検出器３３と、この信号を読込むメモリ３４とを備える。さらに、画像形成装置は、メモリ３４から信号を読み出し、対象領域の画像を形成し、表示装置３５に表示させる制御部１５を備える。
【００６８】
光検出器のサンプリング時間の間隔（tm+1(λ)- tm (λ)）が分光された光の波長に応じて変化する。これにより、対象領域上での走査位置（サンプリング位置）とその間隔は、光の色によらず同じにすることができる。さらに、制御部１５が、メモリ３４が信号を読込んでから制御部が表示装置３５に当該信号を表示させるまでの経過時間（Tp）を、分光された光の波長によって変化させる。これにより、同じ走査位置からの各色の光の信号を同時に表示でき、表示装置に表示する画像の色ずれを防止できる。
【００６９】
制御部が、経過時間（Tp）を、分光された光の波長が短いほど長く設定する。これにより、分光された光の波長が短いほど、メモリ３４が信号を読込んだ時点を基準として当該信号が表示装置に表示されるタイミングを遅らせて、的確に表示装置に表示する画像の色ずれを防止できる。
【００７０】
走査光学系が、印加される電圧の大きさに応じて内部に生じる屈折率の分布が変化する電気光学素子９ａ、９ｂを備えるため、画像形成装置は、制御部の印加電圧制御により簡便に対象領域の走査を行える。
【００７１】
サンプリング時間の間隔（tm+1(λ)- tm (λ)）が、サンプリング回数ｍとともに変化する。これにより、出射角度θが時間ｔに比例しない場合でも、一定の出射角度の間隔Δθでサンプリングでき、対象領域上での走査位置（サンプリング位置）の間隔を均等にすることができる。
【００７２】
サンプリング時間の間隔（tm+1(λ)- tm (λ)）が、分光された光の波長が長いほど大きくなるため、対象領域上での走査位置（サンプリング位置）の間隔は、光の色によらず的確に同じにすることができる。
【００７３】
所定回数（ｍ）番目のサンプリングに関して、ある波長λ’の光と他の波長λの光との間での経過時間の差（Tp（λ’）- Tp（λ））が、走査光学系の走査の開始時刻を基準とするサンプリング時間の時間差（Δtm）に等しい。これにより、表示装置に表示する画像の色ずれを確実に防止できる。
【００７４】
＜第二実施形態＞
図９のように、電気光学素子だけでなく一般的な倍率色収差を持つ走査光学系である場合にも、第一実施形態と同様に色ずれの防止が可能である。
【００７５】
図９では、光射出部３が、直接的に走査対象領域１００を走査する構成となっている。このため、第一実施形態と異なり、ファイババンドル７や走査部９が存在しない。走査光学系６０は、光射出部３とレンズ群１３から構成され、倍率色収差を有するものである。第二実施形態の信号処理部は、第一実施形態と同じである。
【００７６】
走査光学系６０に対して、実験やシミュレーションから数式（４）や（８）のような波長に依存する出射角度θ（つまり偏向角）の時間依存性がわかる。このため、第一実施形態と同様に、出射角度θが均等の間隔になるようにサンプリングするためのサンプリング時間tm(λ) を求めることができる。そして、画像を形成して表示させる際、画像の色ずれを防止するための遅延時間Δtmを各色ごとに求めることができる。コントローラ１５は、メモリ３４に格納されてから各波長の強度信号をモニタ３５に出力するタイミングを、遅延時間Δtmの分だけ遅らせるようにする。遅延時間Δtmは波長が短い光のデータほど長く設定される。
【００７７】
第二実施形態では、第一実施形態と同様の作用効果を奏する。
【００７８】
なお、上記の第一と第二実施形態において、光射出部３は、走査手段としてのガルバノミラーから構成される場合を記載した。しかし、光射出部３は、走査手段としてのデジタルミラーデバイスから構成されてもよい。また、光射出部３は、光ファイバに対向して配置されるＬＥＤ（発光ダイオード）アレイやＬＤ（レーザダイオード）アレイから構成され、ファイババンドルのいずれか一つの光ファイバに選択的に光を入射してもよい。また、光射出部３は、振動的に変位する単一の光ファイバから構成され、ファイババンドルのいずれか一つの光ファイバに選択的に光を入射してもよい。
【００７９】
また、上記の第一と第二実施形態において、走査部９が、電気光学素子から構成される場合を記載した。しかし、走査部９は、ファイババンドルの遠位端を走査する手段から構成されてもよい。また、走査部９は、変位可能な偏心レンズ、音響光学素子、及び、ＭＥＭＳ（マイクロ-エレクトロ-メカニカルシステム）ミラー等の走査手段から構成されてもよい。なお、偏心レンズは、光軸に垂直方向に移動されるか光軸に対して傾けられ、光を偏向できる。
【００８０】
本発明は上記の第一と第二実施形態に限定されずに、その技術的な思想の範囲内において種々の変更がなしうることは明白である。
【符号の説明】
【００８１】
１  光源
３  光射出部
３ａ、３ｂ  ガルバノミラー
５、１１、１３  レンズ群
７  ファイババンドル
９  走査部
９ａ、９ｂ  電気光学素子
１５  コントローラ（制御部、制御手段）
２０ａ  電圧極
２０ｂ  接地極
３２  分光器（分光部、分光手段）
３３  光検出器（光検出部、光検出手段）
３４  メモリ（記憶媒体）
３５  モニタ（表示装置）
４０、６０  走査光学系
１００  走査対象領域
２００  光走査装置
３００  信号処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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