(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
液晶層を挟持するとともに、互いに対向するように配置された略矩形形状の素子基板および対向基板と、
前記素子基板および前記対向基板のうちの前記素子基板の前記液晶層側の表面と前記液晶層との間の外縁部に沿って設けられた配線と、
前記配線の外周に沿って設けられるとともに、断線したか否かにより少なくとも前記配線の欠けを検出するための検出配線と、を備え、
前記配線の欠けを検出しようとする第１箇所では、前記検出配線は、前記素子基板および前記対向基板のうちの一方の端辺近傍に配置され、
前記配線の欠けを検出しようとする前記第１箇所以外の第２箇所では、前記検出配線は、前記素子基板および前記対向基板のうちの一方の端辺近傍よりも内側に配置されるとともに、前記第１箇所から離れるに従って前記検出配線と前記素子基板および前記対向基板のうちの一方の端辺近傍との間の間隔が徐々に大きくなるように構成されている、
液晶表示装置。
【請求項２】
前記素子基板および前記対向基板は、それぞれ、トランジスタ素子を含み、
前記配線は、前記素子基板の前記液晶層側の表面と前記液晶層との間に設けられた共通電位配線を含み、
前記検出配線は、前記素子基板の前記液晶層側の表面と前記液晶層との間の前記共通電位配線の外周に沿って設けられるとともに、断線したか否かにより少なくとも前記共通電位配線の欠けを検出可能に構成されており、
前記第１箇所では、前記共通電位配線および前記検出配線は、前記素子基板の端辺近傍に配置され、前記第２箇所では、前記共通電位配線および前記検出配線は、前記素子基板の端辺近傍よりも内側に配置されている、
請求項１に記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記素子基板の表面上に設けられたゲート線をさらに備え、
前記ゲート線のうち前記第１箇所に対応する領域以外の箇所に位置する部分は、前記ゲート線のうち前記第１箇所に対応する領域に位置する部分よりも前記素子基板の前記第１箇所に対応する端辺に対して内側に配置されており、
前記共通電位配線は、前記素子基板の前記第１箇所に対応する端辺において略均一の幅に形成されるとともに、前記ゲート線の外周に沿って設けられている、
請求項２に記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記ゲート線は、前記第１箇所から離れるに従って前記素子基板の端辺との間隔が徐々に大きくなるように構成されており、
前記ゲート線の外周に沿って設けられた前記共通電位配線は、前記第１箇所から離れるに従って前記素子基板の端辺との間隔が徐々に大きくなるように構成されている、
請求項３に記載の液晶表示装置。
【請求項５】
前記検出配線の幅は、前記共通電位配線の幅以下である、
請求項２〜４のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記対向基板の表面積は、前記素子基板の表面積よりも小さく形成されており、
検出しようとする前記第１箇所は、平面的に見て、前記対向基板の角部と前記素子基板の表面とが重なる領域近傍である、
請求項２〜５のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記検出配線は、断線したか否かにより、前記配線の欠けのみならず、前記素子基板および前記対向基板のうちの一方の割れをも検査可能に構成されている、
請求項１〜６のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１項に記載の液晶表示装置を備える、電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置および電子機器に関し、特に、互いに対向するように配置された素子基板および対向基板のうちの素子基板の液晶層側の表面と、液晶層との間に設けられた検出配線を備える液晶表示装置および電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、互いに対向するように配置された素子基板および対向基板のうちの素子基板の液晶層側の表面と、液晶層との間に設けられた検出配線を備える液晶表示装置および電子機器が知られている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００３】
上記特許文献１には、トランジスタ素子を含む素子基板と、素子基板に対向するように配置された対向基板と、素子基板の表面上に設けられるとともに、素子基板に基板割れが発生しているか否かを診断するための診断用配線（検出配線）とを備える液晶表示装置が開示されている。この液晶表示装置では、診断用配線は、素子基板の端辺に沿って設けられており、診断用配線と素子基板の端辺との間の幅（間隔）は、素子基板の全周において略均一である。つまり、診断用配線は、素子基板の端辺に対して、略平行に配置されている。また、診断用配線の素子基板の端辺とは反対側には、データ線や配線パターンなどの信号線が設けられている。また、上記特許文献１には、明確に記載されていないが、診断用配線と信号線との間の領域（診断用配線の内側の領域）には、液晶表示装置の共通電極に接続された共通電位配線が診断用配線に沿って設けられていると考えられる。また、素子基板の割れおよび共通電位配線の欠けを検出しようとする第１箇所において、診断用配線を越えて共通電位配線まで届くような基板割れが発生した場合には、素子基板の表面上に設けられた診断用配線が断線するとともに、共通電位配線が欠けてしまう。この場合、診断用配線が断線したか否かを判断するための導通検査を行う際に、診断用配線が導通しないため、不良品と判断される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１７１３８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記特許文献１に記載の液晶表示装置では、第１箇所において発生した基板割れと同程度の基板割れが、素子基板の割れおよび共通電位配線の欠けを検出しなくてもよい第２箇所（検査非対象箇所）において発生した際にも、診断用配線が切断されてしまう場合がある。この場合、第２箇所における共通電位配線の欠けを検出してしまうという問題点がある。
【０００６】
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の目的は、第２箇所における配線の欠けを検出せずに、第１箇所における配線の欠けを検出することが可能な液晶表示装置および電子機器を提供することである。
【課題を解決するための手段および発明の効果】
【０００７】
上記目的を達成するために、この発明の第１の局面における液晶表示装置は、液晶層を挟持するとともに、互いに対向するように配置された略矩形形状の素子基板および対向基板と、素子基板および対向基板のうちの素子基板の液晶層側の表面と液晶層との間の外縁部に沿って設けられた配線と、配線の外周に沿って設けられるとともに、断線したか否かにより少なくとも配線の欠けを検出するための検出配線とを備え、配線の欠けを検出しようとする第１箇所では、検出配線は、素子基板および対向基板のうちの一方の端辺近傍に配置され、配線の欠けを検出しようとする第１箇所以外の第２箇所では、検出配線は、素子基板および対向基板のうちの一方の端辺近傍よりも内側に配置されるとともに、第１箇所から離れるに従って検出配線と素子基板および対向基板のうちの一方の端辺近傍との間の間隔が徐々に大きくなるように構成されている。
【０００８】
この第１の局面による液晶表示装置では、上記のように、配線の欠けを検出しようとする第１箇所では、検出配線を、素子基板および対向基板のうちの一方の端辺近傍に配置し、第２箇所では、検出配線を、素子基板および対向基板のうちの一方の端辺近傍よりも内側に配置することによって、第１箇所において、検出配線を越えて配線まで届くような基板割れが発生した場合には、基板割れに起因して第１箇所の検出配線が断線するので、素子基板および対向基板のうちの一方の第１箇所において配線の欠けが発生したことを検出することができる。その一方で、第１箇所において発生した基板割れと同程度の基板割れが第２箇所において発生した場合には、第２箇所における素子基板および対向基板のうちの一方の端辺と検出配線との間の幅（間隔）が、第１箇所における素子基板および対向基板のうちの一方の端辺と検出配線との間の幅（間隔）よりも大きいので、第２箇所における検出配線は断線しない。これにより、素子基板および対向基板のうちの一方の第２箇所における配線の欠けは検出されないので、第２箇所における配線の欠けを検出せずに、第１箇所における配線の欠けを検出することができる。
【０００９】
また、第１箇所から少し離れた場合にも、第２箇所では、第１箇所に比べて、素子基板および対向基板のうちの一方の端辺と検出配線との間の幅（間隔）が大きいので、第１箇所と第２箇所とにおいて基板割れが発生した場合には、第１箇所では検出配線が断線する一方、第２箇所では検出配線が断線しないようにすることができる。
【００１０】
上記第１の局面による液晶表示装置において、好ましくは、素子基板および対向基板は、それぞれ、トランジスタ素子を含む素子基板および対向基板であり、配線は、素子基板の液晶層側の表面と液晶層との間に設けられた共通電位配線を含み、検出配線は、素子基板の液晶層側の表面と液晶層との間の共通電位配線の外周に沿って設けられるとともに、断線したか否かにより少なくとも共通電位配線の欠けを検出可能に構成されており、第１箇所では、共通電位配線および検出配線は、素子基板の端辺近傍に配置され、第２箇所では、共通電位配線および検出配線は、素子基板の端辺近傍よりも内側に配置されている。このように構成すれば、第１箇所において、検出配線を越えて共通電位配線まで届くような素子基板の割れが発生した場合には、素子基板の割れに起因して第１箇所の検出配線が断線するので、素子基板の第１箇所において共通電位配線の欠けが発生したことを検出できる。その一方で、第１箇所において発生した素子基板の割れと同程度の素子基板の割れが第２箇所において発生した場合には、第２箇所における素子基板の端辺と検出配線との間の幅（間隔）が、第１箇所における素子基板の端辺と検出配線との間の幅（間隔）よりも大きいので、第２箇所における検出配線は断線しない。これにより、素子基板の第２箇所における共通電位配線の欠けは検出されないので、第２箇所における共通電位配線の欠けを検出せずに、第１箇所における共通電位配線の欠けを検出することができる。
【００１１】
この場合、好ましくは、素子基板の表面上に設けられたゲート線をさらに備え、ゲート線のうち第１箇所に対応する領域以外の箇所に位置する部分は、ゲート線のうち第１箇所に対応する領域に位置する部分よりも素子基板の第１箇所に対応する端辺より内側に配置されており、共通電位配線は、素子基板の第１箇所に対応する端辺において略均一の幅に形成されるとともに、ゲート線の外周に沿って設けられている。このように構成すれば、第２箇所では、第１箇所に比べて、素子基板の端辺と共通電位配線との間の間隔が大きくなるので、素子基板の端辺と検出配線との間の間隔を大きくすることができる。また、共通電位配線の幅を略均一の幅に形成することによって、第２箇所でも共通電位配線が細くなるので、この場合には、第２箇所でも共通電位配線の欠けを検出するのが好ましい。本発明では、この場合に、第２箇所において素子基板の大きな割れが発生して、共通電位配線の欠けが発生したことを検出配線の断線により検出することができるので、この点でも有利な効果を得ることができる。
【００１２】
上記素子基板の表面上にゲート線が設けられた液晶表示装置において、好ましくは、ゲート線は、第１箇所から離れるに従って素子基板の端辺との間隔が徐々に大きくなるように構成されており、ゲート線の外周に沿って設けられた共通電位配線は、第１箇所から離れるに従って素子基板の端辺との間隔が徐々に大きくなるように構成されている。このように構成すれば、第１箇所から少し離れた場合にも、第２箇所では、第１箇所に比べて、素子基板の端辺と共通電位配線との間の間隔が大きくなるので、素子基板の端辺と検出配線との間の間隔を大きくすることができる。
【００１３】
上記共通電位配線を含む配線を備える液晶表示装置において、好ましくは、検出配線の幅は、共通電位配線の幅以下である。このように構成すれば、検出配線の幅が共通電位配線の幅よりも大きい場合と比べて、検出配線が断線し易くなるので、共通電位配線が欠けたことを検出し易くすることができる。
【００１４】
上記共通電位配線を含む配線を備える液晶表示装置において、好ましくは、対向基板の表面積は、素子基板の表面積よりも小さく形成されており、検出しようとする第１箇所は、平面的に見て、対向基板の角部と素子基板の表面とが重なる領域近傍である。このように構成すれば、対向基板の角部と素子基板の表面とが重なる領域近傍における検出配線の割れおよび共通電位配線の欠けを検出することができる。
【００１５】
上記第１の局面による液晶表示装置において、好ましくは、検出配線は、断線したか否かにより、配線の欠けのみならず、素子基板および対向基板のうちの一方の割れをも検査可能に構成されている。このように構成すれば、配線の欠けと、素子基板および対向基板のうちの一方の割れとの検査を１つの検出配線を用いて兼用することができるので、検出配線の本数が増加するのを抑制することができる。
【００１６】
この発明の第２の局面による電子機器は、上記のいずれかの構成を有する液晶表示装置を備える。このように構成すれば、第２箇所における配線の欠けを検出せずに、第１箇所における配線の欠けを検出することが可能な液晶表示装置を備えた電子機器を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本実施形態による液晶表示装置の斜視図である。
【図２】本実施形態による液晶表示装置の分解斜視図である。
【図３】本実施形態による液晶表示装置の上面側から見た平面図である。
【図４】本実施形態による液晶表示装置の等価回路図である。
【図５】本実施形態による液晶表示装置の検査対象箇所において基板割れが発生した場合を示した図である。
【図６】本実施形態による液晶表示装置の検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）において基板割れが発生した場合を示した図である。
【図７】本実施形態による液晶表示装置の検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）において大きな基板割れが発生した場合を示した図である。
【図８】本実施形態による液晶表示装置を用いた電子機器の第１の例を説明するための図である。
【図９】本実施形態による液晶表示装置を用いた電子機器の第２の例を説明するための図である。
【図１０】本実施形態による液晶表示装置を用いた電子機器の第３の例を説明するための図である。
【図１１】本実施形態による液晶表示装置の変形例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１９】
図１〜図４を参照して、本発明の一実施形態による液晶表示装置１００の構成について説明する。
【００２０】
本発明の一実施形態による液晶表示装置１００は、図１および図２に示すように、ガラスからなるＴＦＴ基板１と、ＴＦＴ基板１に対向するように配置されるとともに、ガラスからなる対向基板２とを備えている。なお、ＴＦＴ基板１は、本発明の「素子基板」の一例である。また、ＴＦＴ基板１および対向基板２は、平面的に見て、略矩形形状を有している。また、ＴＦＴ基板１の表面上には、後述するＴＦＴ１４が形成されている。なお、ＴＦＴ１４は、本発明の「トランジスタ素子」の一例である。また、対向基板２の表面積は、ＴＦＴ基板１の表面積よりも小さく形成されている。また、ＴＦＴ基板１と対向基板２との間には、図示しない液晶層が封入されている。また、ＴＦＴ基板１および対向基板２は、略矩形形状の表示領域３を有している。
【００２１】
また、図３に示すように、ＴＦＴ基板１の表示領域３に対応する領域には、Ｘ方向に沿って延びる複数のゲート線４と、Ｙ方向に沿って延びる複数のデータ線５とが設けられている。また、ゲート線４とデータ線５とが交差する領域には、副画素６が設けられている。
【００２２】
また、ＴＦＴ基板１の表示領域３に対応する領域の外周には、ゲート線４と同一層からなるとともに、ゲート線４と電気的に接続されたＹ方向に沿って延びるゲート線７が設けられている。また、ゲート線７は、複数本のゲート線を含むとともに、検査対象箇所からＹ１方向に離れるに従って本数が減るように構成されている。なお、検査対象箇所は、本発明の「第１箇所」の一例である。また、ゲート線７のＸ１方向、Ｘ２方向およびＹ１方向側の外周には、ゲート線７と所定の間隔を隔てて、共通電位配線８（Ｖｃｏｍ配線）が設けられている。なお、共通電位配線８は、本発明の「配線」の一例である。この共通電位配線８は、約５μｍ以上約５０μｍ以下の幅を有する。また、共通電位配線８のＸ１方向、Ｘ２方向およびＹ１方向側の外周には、共通電位配線８と約５μｍ以上約５０μｍ以下の間隔を隔てて、金属配線からなる検出配線９が設けられている。また、検出配線９は、約５μｍ以上約５０μｍ以下の幅を有する。また、検出配線９は、検出配線９が断線したか否かを判断することにより、共通電位配線８の欠けおよびＴＦＴ基板１の割れを検出するために設けられている。また、検出配線９の幅は、共通電位配線８の幅以下である。
【００２３】
ここで、本実施形態では、共通電位配線８の欠けおよびＴＦＴ基板１の割れを検出しようとする検査対象箇所は、平面的に見て、対向基板２の角部とＴＦＴ基板１の表面とが重なる領域近傍の箇所（共通電位配線８およびＴＦＴ基板１）である。なお、対向基板２の角部とＴＦＴ基板１の表面とが重なる領域近傍の箇所では、ＴＦＴ基板１および対向基板２が割れやすいとともに、ＴＦＴ基板１および対向基板２の割れに伴って共通電位配線８が欠けやすい。このため、対向基板２の角部とＴＦＴ基板１の表面とが重なる領域近傍の箇所を検査対象箇所とした。また、共通電位配線８（ＴＦＴ基板１）の検査対象箇所のＹ１方向側の箇所（検査対象箇所以外の箇所）は、共通電位配線８の欠けおよびＴＦＴ基板１の割れの検出の対象箇所ではない検査非対象箇所である。なお、検査対象箇所以外の箇所は、本発明の「第２箇所」の一例である。
【００２４】
また、ゲート線７のうち検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）に対応する部分は、ゲート線７のうち検査対象箇所に対応する部分よりもＴＦＴ基板１の端辺１ａに対して内側に設けられている。具体的には、ゲート線７は、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って内側（表示領域３側）に先細るように設けられている。これにより、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って、ゲート線７とＴＦＴ基板１の端辺１ａとの間の間隔がＸ方向に徐々に大きくなるように構成されている。
【００２５】
また、共通電位配線８は、略均一の幅に形成されている。また、共通電位配線８のうち検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）に対応する部分は、共通電位配線８のうち検査対象箇所に対応する部分よりもＴＦＴ基板１の端辺１ａに対して内側に配置されている。具体的には、共通電位配線８は、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って内側（表示領域３側）に入り込むように配置されている。これにより、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って、共通電位配線８とＴＦＴ基板１の端辺１ａとの間の間隔がＸ方向に徐々に大きくなるように構成されている。
【００２６】
また、本実施形態では、検出配線９は、共通電位配線８の欠けおよびＴＦＴ基板１の割れを検出しようとする検査対象箇所では、ＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍に配置されている。また、検出配線９は、共通電位配線８の欠けおよびＴＦＴ基板１の割れの検出の対象箇所ではない検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）では、ＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍よりも内側に設けられている。具体的には、検出配線９は、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って内側（表示領域３側）に入り込むように配置されている。これにより、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所からＹ１方向側に離れるに従って、検出配線９とＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍との間の間隔がＸ方向に徐々に大きくなるように構成されている。また、検出配線９は、検査対象箇所と検査非対象箇所とを接続する領域において、直線状に形成されている。
【００２７】
また、ＴＦＴ基板１の表面上には、液晶表示装置１００を駆動させるための駆動用ＩＣ１０が設けられている。この駆動用ＩＣ１０は、ゲート線７、共通電位配線８および検出配線９と接続されるとともに、種々の駆動信号を出力するように構成されている。また、駆動用ＩＣ１０は、ゲート線４に駆動信号を出力するための後述するゲート線駆動回路１１、および、データ線５に駆動信号を出力するための後述するデータ線駆動回路１２とを含んでいる。また、ＴＦＴ基板１の表面上には、電子機器本体と接続するためのコネクタが実装されたＦＰＣ１３（Ｆｌｅｘｉｂｌｅ  Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔｓ）が設けられている。
【００２８】
また、図４に示すように、副画素６は、ＴＦＴ１４（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）、副画素６毎に形成された画素電極１５、表示領域３全域に形成された共通電極１６および画素電極１５の電圧を保持するための保持容量１７から構成されている。また、ＴＦＴ１４は、ソース電極１４ａ、ドレイン電極１４ｂおよびゲート電極１４ｃから構成されている。ソース電極１４ａは、データ線５に接続されている。データ線５は、データ線駆動回路１２に接続されている。また、ゲート電極１４ｃは、ゲート線４に接続されている。ゲート線４（ゲート線７）は、ゲート線駆動回路１１に接続されている。また、ドレイン電極１４ｂは、画素電極１５および保持容量１７の一方電極に接続されている。また、共通電極１６は、液晶層を挟んで画素電極１５に対向するように設けられている。共通電極１６は、共通電位配線８に接続されている。また、保持容量１７の他方電極は、保持容量線１８に接続されている。
【００２９】
次に、図５および図６を参照して、共通電位配線８の欠けの検出方法について説明する。
【００３０】
まず、ＴＦＴ基板１と対向基板２とを貼り合わせた後のパネル検査時において、検出配線９の両端部に診断用の配線などを接続するとともに、検出配線９が導通するか否かを確認する。なお、ＴＦＴ基板１に駆動用ＩＣ１０を実装する前の場合には、検出配線９の各々に診断用のプローブを当てて、検出配線９が導通しているか否かを検査するとよい。また、ＴＦＴ基板１に駆動用ＩＣ１０およびＦＰＣ１３を実装した後の場合には、ＦＰＣ１３を介して駆動用ＩＣ１０に信号を出力することにより、駆動用ＩＣ１０に内蔵されている診断機能によって、検出配線９が導通しているか否かを検査可能である。そして、図５に示すように、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所において、検出配線９を越えて共通電位配線８にまで届くような基板割れが発生した場合には、検出配線９が断線するため、検出配線９は導通しない状態になる。これにより、共通電位配線８が欠けた状態であると判断される。この場合には、パネルは不良品であると判断される。
【００３１】
また、図６に示すように、ＴＦＴ基板１の検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）において、上記した検査対象箇所に発生したＴＦＴ基板１の割れと同程度の基板割れが発生した場合には、検出配線９は断線していないため、検出配線９は接続されたままの状態である。すなわち、検査非対象箇所に検査対象箇所と同程度の基板割れが生じてもパネルは良品であると判断される。
【００３２】
なお、共通電位配線８の幅が均一ではなく、検査対象箇所からＹ１方向に離れるに従って、共通電位配線８の幅が徐々に大きくなる場合では、検査非対象箇所において、共通電位配線８の幅が大きい分、共通電位配線８の欠けを検出する必要がない。つまり、検査対象箇所における共通電位配線８の幅が最小となるため、検査対象箇所における共通電位配線８の欠けを検出する必要がある。一方、共通電位配線８の幅を略均一の幅に形成する場合では、検査対象箇所以外の箇所（検査非対象箇所）でも共通電位配線８が細くなるので、検査非対象箇所でも共通電位配線８の欠けを検出するのが好ましい。たとえば、図７に示すように、検査非対象箇所において、検出配線９を越えて共通電位配線８にまで届くような、上記検査対象箇所に発生したＴＦＴ基板１の割れ（図５参照）よりも大きな基板割れが発生した場合には、検出配線９が断線するため、検出配線９は導通しない状態になる。これにより、共通電位配線８が欠けた状態であると判断される。この場合にも、パネルは不良品であると判断される。
【００３３】
本実施形態では、上記のように、共通電位配線８の欠けを検出しようとする検査対象箇所では、検出配線９を、ＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍に配置し、検査対象箇所以外の箇所では、検出配線９を、ＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍よりも内側に配置することによって、検査対象箇所において、検出配線９を越えて共通電位配線８まで届くような基板割れが発生した場合には、基板割れに起因して検査対象箇所の検出配線９が断線するので、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所において共通電位配線８の欠けが発生したことを検出することができる。その一方で、検査対象箇所において発生した基板割れと同程度の基板割れが検査非対象箇所（検査対象箇所以外の箇所）において発生した場合には、検査対象箇所以外の箇所におけるＴＦＴ基板１の端辺１ａと検出配線９との間の幅（間隔）が、検査対象箇所におけるＴＦＴ基板１の端辺１ａと検出配線９との間の幅（間隔）よりも大きいので、検査非対象箇所における検出配線９は断線しない。これにより、ＴＦＴ基板１の検査非対象箇所における共通電位配線８の欠けは検出されないので、検査非対象箇所における共通電位配線８の欠けを検出せずに、検査対象箇所における共通電位配線８の欠けを検出することができる。
【００３４】
また、本実施形態では、上記のように、検査対象箇所から離れるに従って検出配線９とＴＦＴ基板１の端辺１ａ近傍との間の間隔を徐々に大きくすることによって、検査対象箇所から少し離れた場合にも、検査非対象箇所では、検査対象箇所に比べて、ＴＦＴ基板１の端辺１ａと検出配線９との間の幅（間隔）が大きいので、検査対象箇所と検査非対象箇所とにおいて基板割れが発生した場合には、検査対象箇所では検出配線９が断線する一方、検査非対象箇所では検出配線９が断線しないようにすることができる。また、共通電位配線８の幅を略均一の幅に形成することによって、検査対象箇所以外の箇所（検査非対象箇所）でも共通電位配線８が細くなるので、この場合には、検査非対象箇所でも共通電位配線８の欠けを検出するのが好ましい。本発明では、この場合に、検査非対象箇所においてＴＦＴ基板１の大きな割れが発生して、共通電位配線８の欠けが発生したことを検出配線９の断線により検出することができるので、この点でも有利な効果を得ることができる。
【００３５】
また、本実施形態では、上記のように、共通電位配線８を、ＴＦＴ基板１の検査対象箇所に対応する端辺１ａにおいて略均一の幅に形成するとともに、ゲート線７の外周に沿って設けることによって、検査非対象箇所では、検査対象箇所に比べて、ＴＦＴ基板１の端辺１ａと共通電位配線８との間の間隔が大きくなるので、ＴＦＴ基板１の端辺１ａと検出配線９との間の間隔を大きくすることができる。
【００３６】
また、本実施形態では、上記のように、ゲート線７を、検査対象箇所から離れるに従ってＴＦＴ基板１の端辺１ａとの間隔が徐々に大きくなるように構成し、ゲート線７の外周に沿って設けられた共通電位配線８を、検査対象箇所から離れるに従ってＴＦＴ基板１の端辺１ａとの間隔が徐々に大きくなるように構成することによって、検査対象箇所から少し離れた場合にも、検査非対象箇所では、検査対象箇所に比べて、ＴＦＴ基板１の端辺１ａと共通電位配線８との間の間隔が大きくなるので、ＴＦＴ基板１の端辺１ａと検出配線９との間の間隔を大きくすることができる。
【００３７】
また、本実施形態では、上記のように、検出配線９の幅を、共通電位配線８の幅以下にすることによって、検出配線９の幅が共通電位配線８の幅よりも大きい場合と比べて、検出配線９が断線し易くなるので、共通電位配線８が欠けたことを検出し易くすることができる。
【００３８】
また、本実施形態では、上記のように、検出しようとする検査対象箇所を、平面的に見て、対向基板２の角部とＴＦＴ基板１の表面とが重なる領域近傍にすることによって、対向基板２の角部とＴＦＴ基板１の表面とが重なる領域近傍における検出配線９の割れおよび共通電位配線８の欠けを検出することができる。
【００３９】
また、本実施形態では、上記のように、検出配線９を、断線したか否かにより、共通電位配線８の欠けのみならず、ＴＦＴ基板１の割れをも検査可能に構成することによって、共通電位配線８の欠けと、ＴＦＴ基板１の割れとの検査を１つの検出配線９を用いて兼用することができるので、検出配線９の本数が増加するのを抑制することができる。
【００４０】
図８〜図１０は、それぞれ、上記した本実施形態による液晶表示装置１００を用いた電子機器の第１の例〜第３の例を説明するための図である。図８〜図１０を参照して、本実施形態による液晶表示装置１００を用いた電子機器について説明する。
【００４１】
本実施形態による液晶表示装置１００は、図８〜図１０に示すように、第１の例としてのＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）２００、第２の例としての携帯電話３００、および、第３の例としての情報携帯端末４００（ＰＤＡ：Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｄｉｇｉｔａｌ  Ａｓｓｉｓｔａｎｔｓ）などに用いることが可能である。
【００４２】
図８の第１の例によるＰＣ２００においては、キーボードなどの入力部２１０および表示画面２２０などに本実施形態による液晶表示装置１００を用いることが可能である。図９の第２の例による携帯電話３００においては、表示画面３１０に本実施形態による液晶表示装置１００が用いられる。図１０の第３の例による情報携帯端末４００においては、表示画面４１０に本実施形態による液晶表示装置１００が用いられる。
【００４３】
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
【００４４】
たとえば、上記実施形態では、検査対象箇所から離れるに従って検出配線とＴＦＴ基板の端辺近傍との間の間隔が徐々に大きくなる例を示したが、本発明はこれに限らない。本発明では、検査対象箇所では検出配線がＴＦＴ基板の端辺近傍に配置されるとともに、検査非対象箇所では検出配線がＴＦＴ基板の端辺よりも内側に配置されていればよい。たとえば、検出配線を曲線状に形成してもよいし、検出配線を階段状に形成してもよい。
【００４５】
また、上記実施形態では、共通電位配線の幅を略均一に形成する例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、図１１に示す変形例のように、共通電位配線の幅をＹ１方向に沿って徐々に大きくなるように形成してもよい。ただし、共通電位配線のうち検査非対象箇所に対応する部分は、共通電位配線のうち検査対象箇所に対応する部分よりもＴＦＴ基板の端辺に対して内側に配置する。
【００４６】
また、上記実施形態では、本発明の欠けを検出する配線の一例として共通電位配線を適用する例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、本発明の欠けを検出する配線の一例として共通電位配線以外の配線に適用してもよい。
【００４７】
また、上記実施形態では、検出配線の幅を共通電位配線の幅以下に形成する例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、検出配線の幅を共通電位配線の幅より大きくしてもよい。
【００４８】
また、上記実施形態では、検出配線および共通電位配線をＴＦＴ基板上に形成する例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、検出配線および共通電位配線を対向基板上に形成してもよい。
【００４９】
また、上記実施形態では、対向基板の角部とＴＦＴ基板の表面とが重なる領域近傍の箇所を検査対象箇所とする例を示したが、本発明はこれに限らない。たとえば、検査対象箇所を対向基板の角部とＴＦＴ基板の表面とが重なる領域近傍の箇所以外の箇所にしてもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１  ＴＦＴ基板（素子基板）      １ａ  端辺      ２  対向基板      ８  共通電位配線（配線）      ９  検出配線      １３  ＴＦＴ（トランジスタ素子）      １００  液晶表示装置      ２００  ＰＣ（電子機器）      ３００  携帯電話（電子機器）      ４００  情報携帯端末（電子機器）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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