(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
下記（ａ）〜（ｅ）の要件
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）被検査試料（タッチパネル）の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置を使用して、
タッチパネルを検査・評価する方法であって、
（１）前記装置にタッチパネルを装着し、
（２）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）を判断手段に電気的に接続するコネクターに接続させ、
（３）検査支持基盤上に配置された触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させ、
（４）各触圧棒の接触位置と検査結果を判断手段で判定し、
（５）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子と判断手段に電気的に接続するコネクターとの接続を解除し、
（６）次いで検査支持基盤上に配置された触圧棒を突出しして検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させ、
（７）かくして形成された隙間を利用してタッチパネルを検査支持基盤から取り出す
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、抵抗膜式タッチパネルの検査・評価方法に関する。さらに詳しくは、抵抗膜式タッチパネルの特性を、極めて高速でつまり短時間で検査し評価するための方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
抵抗膜式タッチパネル（以下、単に“タッチパネル”と略称することがある。）は、構造が簡単でかつ安価であり、指入力が可能であるため、その生産量が年々増大している。その生産量の拡大に伴い、その品質を確保するための検査方法および手段の改良にせまられている。
タッチパネルの検査・評価の１つとして、ペン入力に対する応答特性試験がある。具体的な検査方法は、所定の位置を指に代わりペン（触圧棒）で入力し、検出されたX軸とY軸の位置情報をコンピューターに入力して、算出によりリニアリティーなどを調べることである。また、耐久性などは、触圧棒の往復運動を繰返して特性が維持される回数を調べる検査である。
【０００３】
タッチパネルの応答特性試験を効率よく、しかも確実に実施するためには、タッチ面の全体に亘って検査すること、触圧棒の往復運動を高速で行うこと、被検査試料の設置と検査を素早く行うことおよび検査機自体が安定して長時間作動することなどが必要となる。
タッチパネルを高速で検査・評価するための装置として特許文献１が提案されている。この装置は、往復運動するシリンダ部材と一体に連動し、被検査試料の平面を所定の間隔で打点する触圧ペンと、その触圧ペンが二次元的にマトリックス状に複数個配列されている評価装置である。この評価装置は、被検査試料が固定支持台上に固定され、シリンダ部材を駆動させながら、触圧ペンと試料表面を打点させる方式であり、可成の高速で試験をすることが可能である。
この装置は、シリンダ部材の駆動とシリンダ部材と一体化して連動する触圧ペンの駆動の２つの駆動部分を有し、評価すべき全面を検査するためには、一定の時間を要する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開2005-310093号  公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明者は、抵抗膜式タッチパネルの生産拡大に伴い応答特性試験をより高速で行うことができる装置、特に耐久性試験をより短い時間で実施できる装置の開発について研究を進めた。また可動部分が少なくかつ故障の少ない検査・評価装置の開発について研究を進めた。
従来の検査装置では、固定支持盤上に被検査試料（タッチパネル）を、検査面を上にして固定し、その検査面上に複数の触圧棒を往復運動させながら、検査位置を移動させていた。この従来の方式とは異なり、固定支持盤上に複数の触圧棒を上方に向けて一定の配列状態で配置すると共に、この配列された触圧棒群の上に、被検査試料の検査面が対向し接触するように配置した装置は、可動部分が各触圧棒の上下運動のみであり、故障が少なく極めて短時間で検査・評価を実施できることが見出され先に提案した（特願2009-216567号）。
【０００６】
この先に提案した装置は、下記（ａ）〜（ｅ）の要件より構成されるタッチパネルの高速検査・評価装置である。
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）被検査試料の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置。
【０００７】
この検査・評価装置は、固定支持盤上に多数の触圧棒が配置された触圧棒多段配列が設置され、その上に被検査試料（タッチパネル）が検査面を下方に向けて配置される構造であり、作動部分は事実上各触圧棒の上下往復運動の部分のみである。この装置では、前記触圧棒多段配列の上に被検査試料が配置されると、コンピューターにより制御された順序に従って触圧棒が所定の間隔で検査面を打点する。前記触圧棒多段配列は、検査面のほぼ全体を覆うことが望ましく、そうすることによって触圧棒やその配列を検査面に沿って移動する必要はない。例えば被検査試料の応答特性試験の場合、１０秒以下の短い時間で検査することが可能である。しかも可動部分が触圧棒の上下運動のみであるから、故障が少なく消費電力は僅かであるという利点を有している。
前記した装置は、被検査試料（タッチパネル）の検査面の全体を制御された順序に従って触圧棒を作動し検査する装置であり、この装置の使用により検査・評価は極めて短時間で完了し、その検査・評価を判断することも短時間で終了する。
【０００８】
この装置を使用して実際にタッチパネルの検査・評価を行うに当り、概ね下記手順により操作が実施される。
（ア）前記装置の検査支持基盤上にタッチパネルの検査面を下方に向けて挿入し設置する。
（イ）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）を、判断手段に電気的に接続するコネクター接続する、
（ウ）タッチパネルの検査面に、検査支持基盤上に設けられた触圧棒を順序に従って作動させ打点する、
（エ）触圧棒の打点に基づいて、触圧棒の接触位置と検査結果とを判別手段により判定する、
（オ）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）と、判断手段に電気的に接続されているコネクターとの接続を解除する、
（カ）検査・評価装置からタッチパネルを取り出す、
検査・評価装置の作動効率化、つまり一台のタッチパネルの検査・評価に要する時間の短縮には、前記（ア）〜（カ）の各工程の合計時間を短縮することが肝要である。
【０００９】
前記した各工程のうち（ウ）と（エ）の工程は、極めて短時間で実施できる。前記工程の（ア）および（オ）は手動（マニュアル）で比較的簡単に操作でき、時間もそれほど要しない。ところが装置からタッチパネルを取り出す場合、タッチパネルの検査面が装置の支持基盤面上に密着して装着されているために、手動でタッチパネルを取り出すことは、度々手間を取ることがあり、場合によってはかなりの時間を要することがある。
タッチパネルを検査・評価装置から手動で取り出すために、手間取る理由の１つは、タッチパネルの検査面と装置の支持基盤面が密着し、両面の間に隙間がないことにある。
【００１０】
そこで本発明者は、検査・評価装置からタッチパネルを取り出すために、検査・評価装置の支持基盤面に触圧棒がプレートの孔を通して突出す構造である点に着目した。
すなわち、検査・評価装置のために触圧棒の打点が終了し、検査・評価装置の判断が終了した後、再び触圧棒を作動させて突出し、タッチパネルを押上げて、支持基盤面とタッチパネルとの間に１ｍｍ〜３ｍｍ程度の隙間を形成させると、その隙間を利用して手動でタッチパネルを容易に取り出すことが可能であることを見出し本発明に到達した。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、かかる知見に基づいて達成されたものであり、本発明によれば下記のタッチパネルの高速検査・評価方法が提供される。
（ａ）検査支持基盤上に、多数の触圧棒が一列に直線状に配置された触圧棒配列かつ、この触圧棒配列が多段に配置された触圧棒多段配列を有し、
（ｂ）各触圧棒は、触圧棒多段配列の上部に設置された、プレート板の孔を通して、検査面に下方から上方に向けて突出すように支持基盤上に設置され、
（ｃ）被検査試料（タッチパネル）の検査面が下方に向けて、触圧棒と接触するように配置しうる試料配置手段を有し、
（ｄ）各触圧棒は、所定の間隔で打点するようにした制御手段および
（ｅ）各触圧棒の触圧位置と検査結果とを判定する判断手段
を有する抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価装置を使用して、
タッチパネルを検査・評価する方法であって、
【００１２】
（１）前記装置にタッチパネルを装着し、
（２）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）を判断手段に電気的に接続するコネクターに接続させ、
（３）検査支持基盤上に配置された触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させ、
（４）各触圧棒の接触位置と検査結果を判断手段で判定し、
（５）タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子と判断手段に電気的に接続するコネクターとの接続を解除し、
（６）次いで検査支持基盤上に配置された触圧棒を突出しして検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させ、
（７）かくして形成された隙間を利用してタッチパネルを検査支持基盤から取り出す
ことを特徴とする抵抗膜式タッチパネルの高速検査・評価方法。
【００１３】
前記した本発明の高速検査・評価方法においては下記の態様（Ａ−１）〜（Ａ−３）であることが好ましい。
（Ａ−１）前記検査・評価装置にタッチパネルを装着する場合、その装置の検査支持基盤上にコ字型またはＬ字型のガイド枠を設け、このガイド枠内にタッチパネルを定位置に収納すること、
（Ａ−２）前記検査・評価装置の検査支持基盤上には、タッチパネルを装着した場合タッチパネルの端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）の先端部が判断手段に電気的に接続するコネクターと接続するようにコネクターが設置されていること、
（Ａ−３）前記検査・評価装置の支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させる場合、検査・評価のための触圧棒とは別個に或いは兼用して設けられた触圧棒を作動させてその触圧棒をタッチパネル検査面へ突出させること、
【発明の効果】
【００１４】
本発明の方法によれば、検査・評価装置からタッチパネルを評価判断した後、触圧棒を作動させて前記装置の支持基盤面とタッチパネルの検査面との間に隙間を形成させ、この隙間を利用して手動によりタッチパネルを容易に取り出すことが可能となり、全体として１台のタッチパネルの検査面に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の方法において使用する装置であって、支持基盤１およびその上部に固定して配置された触圧棒多段配列の上部に設置されたプレート板２を模式的に示した平面図である。
【図２】本発明の方法において使用する装置であって、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
【図３】本発明の方法において使用する装置であって、被検査試料（タッチパネル）を装置に配置した状態の断面図を示す。
【図４】支持基盤上に被検査試料を配列した状態を上から見た平面図を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明の方法は、本発明者が先に提案したタッチパネルの高速検査・評価装置を使用して実施される。この装置は特願2009-216567号（平成21年9月19日出願）として既に出願されている。この装置について図面により先ず説明する。
図１は検査・評価装置の支持基盤１に固定して配置された触圧棒多段配列の上部に設置されたプレート板２を模式的に示した平面図である。この検査・評価装置は、支持基盤１上に触圧棒多段配列が固定され、この触圧棒多段配列は、触圧棒配列が多段で配列されている。
【００１７】
触圧棒多段配列とは、多数の触圧棒が一列に直線状に配列された触圧棒配列が、多段で重ねられた状態で配列されたものを言う。触圧棒多段配列は、図１ではプレート板２と支持基盤１との間に配置されており、そのため図面上は示されていない。プレート板２の多数の孔３に対応して触圧棒が配置されている。図１では、説明を簡単にするために、支持基盤１、プレート板２およびプレート板２に設けられた孔の平面図が示されている。図１のプレート板２の多数の孔３の配置の状態から理解されるように、図１の場合、１０個の触圧棒が一列（左右横方向）に直線状に配置された触圧棒配列が６段（上下縦方向）で配置されていることを示している。
【００１８】
触圧棒多段配列の上面にプレート板２が設けられ、そのプレート板２に開けられた孔３を介して触圧棒の先端部が突出されているようになっている。つまり、プレート板２には触圧棒多段配列に存在する触圧棒の数と同じ数の孔が開けられている（図１では６×１０の６０個である）。
次にプレート板２について説明する。プレート板２の上面には、被検査試料（タッチパネル）の検査面が密着した状態で設置される。プレート板２のそれぞれの孔３から触圧棒が突出し検査面を押圧する。そのためプレート板２の孔３は、触圧棒が貫通することができるに充分な孔径を有しており、通常は、径が０．７ｍｍ〜１．５ｍｍ好ましくは０．８ｍｍ〜１．２ｍｍが適当である。
【００１９】
因みに、触圧棒の直径は、一般に０．９ｍｍ〜１．１ｍｍ程度であり、触圧棒の形状は円柱状であって、その最先端（頂部）はフラットでもよく、また半円形乃至ドーム形であってもよい。プレート板２に設けられている孔の位置は、検査面の位置を決める役割を負っている。そのため、プレート板２の孔３の配列位置は、触圧棒多段配列の位置に合致している。プレート板２はタッチパネルのリニアリティーの検査・評価のために、孔３が直線状でかつ等間隔で配置され、また多段配列においても同じ間隔となるように孔が設けられていることが望ましい。最も好ましくは、検査面の全体が覆われるようにかつ縦と横が同じ間隔となるように孔の位置を配列する。孔の間隔（ピッチ間隔）は３ｍｍ〜１５ｍｍ、好ましくは４ｍｍ〜１３ｍｍであるのが有利である。このように孔の配列が直線状であり、縦方向および横方向の間隔が一定であるように配列することによって、触圧棒による感知の状態の判別を容易に行うことができる。
【００２０】
プレート板２は、平坦で表面が平滑なものが好ましく、プラスチック板または金属板（好ましくはアルミ板）が使用でき、その厚さは１ｍｍ〜５ｍｍ、好ましくは２ｍｍ〜４ｍｍが望ましい。
図２は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。
図２では、触圧棒配列における隣り合う２つの触圧棒の部分拡大図を示す。プレート板２の下部には、触圧棒が上下運動し検査面の表面を押圧するアクチュエーターが設置されている。触圧棒を上下運動させるアクチュエーターは、例えばソレノイド方式（電磁式）やピエゾ素子方式（圧電素子方式）を採用することができる。図２ではソレノイド方式で、触圧棒５を上下運動する態様が示されている。図２では触圧棒５の数に対応して、ソレノイド６が横方向に配列した状態が示されている。ソレノイド方式は、孔のピッチ間隔が約５ｍｍ以上の場合に適している。
【００２１】
触圧棒５は、検査面へ接触するとき、その接圧が約３０ｇ〜２５０ｇとなるように設定される。被検査試料（タッチパネル）の検査面とプレート板２の表面とは密着し検査時に離れないように固定すべきである。被検査試料とプレート板との固定化手段は後で説明する。
１個の触圧棒が検査面に押圧した時の接触時間は、約０．１秒であれば充分である。従って本発明の装置において、1列が１０個の触圧棒配列の場合、１列の検査に要する時間は約１秒である。図１のように６段に配列した場合６０個の触圧棒を連続して作動させると約６秒で全面を検査できることになる。仮に１００個の触圧棒を設置した場合、約１０秒で検査をすることができる。従って本発明の検査・評価装置を使用して、タッチパネルの製品の適否を判別するには、装置の入れ換え時間が３０秒であるとすれば、約４０秒〜約５０秒で検査が終了することになる。かくして本発明の検査・評価装置は、製品の機能が適格に作動するか否かの判別には極めて短時間で完了することになる。また、耐久性を調べる場合でも短時間で検査をすることが可能となる。
【００２２】
図３は、被検査試料（タッチパネル）を、検査・評価装置に配置した状態における断面図を示す。支持基盤１上に触圧棒多段配列９が固定して載置されている。この触圧棒多段配列９はその上面にプレート板２が固定化されている。図３には、触圧棒多段配列９における触圧棒およびプレート板２における孔は、図面上省略されている。触圧棒は、プレート板の孔を通して、その先端が被検査試料の検査面へ押圧されるようになっている。プレート板の上面には、被検査試料がその検査面が密着した状態で重ねられている。
被検査試料８は、支持基盤１上に設けられたガイド枠１０内に収納される状態で、定位置に固定化される。
【００２３】
図３は、検査・評価装置に、被検査試料８が配置されている状態を示し、被検査試料８は、検査面とプレート板が密着した状態で水平に設置されている。
本発明の方法で使用する検査・評価装置は、図３に示すように、被検査試料が固定して設置されると、電気的に可動する部分は触圧棒の上下運動のみであり、触圧棒多段配列９や被検査試料８は固定されたままである。検査・評価のために、触圧棒が上下に作動するので被検査試料８は上下に動かないように固定されているが、図３にはその固定手段は図示されていない。この固定手段は被検査試料８がそれ自体上下に動かない手段であればよく、図３の被検査試料の上から加重を加えておくなどの方法であってもよい。
【００２４】
図２は、触圧棒配列の部分断面拡大図を示す。図２では隣り合う２つの触圧棒配列とプレート板との位置関係が示されている。図２の触圧棒配列においては触圧棒の上下運動にソレノイド方式（電磁式）を使用した例が示されている。各触圧棒は、それぞれのソレノイドにより電磁的に上下する。触圧棒の上端部はプレート板が配置されそのプレート板の孔を通して触圧棒がプレート板の上面へ突出し、被検査試料の検査面を押圧する構造となっている。前述したように、試料の検査面はプレート板の上面と密接して設置されるが、図２では被検査試料は示されていない。
【００２５】
本発明の検査・評価装置を用いて、被検査試料（タッチパネル）を試験するに当たっては、プレート板２に設けられた孔の位置に対応してX軸およびY軸に基づいて、触圧棒を一端部から他端部へ、また一段目から多段へ連続的に押圧し、得られたX軸およびY軸の結果の差をコンピューターによって算出し、所定の基準値を基に整合性を判別することによって、リニアリティーの適否を評価することができる。
本発明の方法において使用する検査・評価装置は、下記（Ｂ−１）〜（Ｂ−７）の態様であることが好ましい。
（Ｂ−１）前記触圧棒多段配列は、被検査試料の検査面のほぼ全面を覆っていること、
（Ｂ−２）前記触圧棒配列は、各触圧棒が一定の間隔で配置されていること
（Ｂ−３）前記触圧棒多段配列は、各触圧棒配列が一定の間隔で配置されていること、
（Ｂ−４）各触圧棒は、各触圧棒配列において、一端から他端へ順次突出すように制御されていること、
（Ｂ−５）各触圧棒配列において、各触圧棒はソレノイド方式により上下に作動すること、  
（Ｂ−６）各触圧棒配列において、触圧棒はピエゾ素子方式により上下に作動すること、
（Ｂ−７）各触圧棒配列において、各触圧棒は、３〜１５ｍｍの間隔で配置されていること、
【００２６】
図４は支持基盤１上に被検査試料８を設置した状態を上から見た平面図を示す。支持基盤１の上に設けられたガイド枠１０内に被検査試料８が収納されている。この図４においてガイド枠１０はコ字型を示しているがＬ字型であってもよい。好ましいガイド枠はコ字型である。図４において被検査試料８は検査のためにコ字型のガイド枠１０の開放された下部から挿入される。挿入されると、被検査試料（タッチパネル）８の端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）の先端部１２は、コネクター１１に電気的に接続される。このコネクター１１は電気的に判断手段（図示されていない）に接続されている。支持基盤１上に設けられたガイド枠１０は被検査試料８を触圧棒配列４上の定位置に固定されること並びに被検査試料８の端部にあるＦＰＣの先端部１２の位置が適確にコネクター１１と電気的に接触する位置に設置することのために重要な役割を果たす。
【００２７】
本発明の方法を実施するに当たっては、下記（１）〜（７）の手順より行われる。
（１）検査・評価装置に被検査試料（タッチパネル）を装着する。この際、検査・評価装置の支持基盤１上に、ガイド枠１０を設け、このガイド枠１０内にタッチパネルを収納させることが望ましい。
（２）タッチパネル８の端部にあるフレキシブル回路端子（ＦＰＣ）の先端部１２を判断手段に電気的に接続するコネクター１１に接続させる。このＦＰＣの先端部１２とコネクター１１が所定の位置に位置づけされるように、両者の位置を正確に位置決めし、電気的に回路が接続されるようにすることが肝要である。
（３）ＦＰＣの先端部１２とコネクター１１との接続が完了すると、検査支持基盤１上に配置された触圧棒多段配列における触圧棒を所定の間隔でタッチパネルの検査面へ打点させる。
（４）各触圧棒の接触位置と検査結果とを判断手段で判定する。
（５）判断手段で判定が終了すると、タッチパネル８の端部にあるＦＰＣの先端部１２と、判断手段に電気的に接続するコネクター１１との接続を解除する。
（６）次いで検査基盤１上に配置された触圧棒を突出して検査支持基盤面とタッチパネル検査面との間に隙間を形成させる。
（７）かくして形成された隙間を利用して検査支持基盤からタッチパネルを取り出す。
前記（６）および（７）の手順について、より具体的に説明する。検査支持基盤１上に装置されたタッチパネル８は、図３に示すようにタッチパネル８の検査面は、触圧棒多段配列の上にプレート板２を介して密着した状態で接触している。前記手段（４）および（５）を終わって検査・評価が完了すると、タッチパネル８は支持基盤上のプレート板２に密着しており、隙間が全くないためにタッチパネル８を支持基盤から素早く取り出すことは簡単ではない。
【００２８】
そこで本発明では、検査・評価装置が支持基盤１上に、触圧棒多段配列９を有している構造であることに着眼し、検査・評価のための触圧棒の打点が終了し、判断が終了した後、再び触圧棒を作動し、突出させると、触圧棒が突出し棒として機能し、タッチパネルが押上げられ、タッチパネルの検査面とプレート板との間に隙間が生じ、この隙間を利用してタッチパネルを支持基盤から簡単に素早く取り出すことが可能となった。
触圧棒によって形成される隙間の幅は１〜３ｍｍ好ましくは１．５〜２．５ｍｍ程度であればよい。
またタッチパネルの検査面とプレート板との間の隙間の形成は、タッチパネルの検査面の全体であってもよいが必ずしもその必要はない。例えば：タッチパネルの片方の辺（図４で示すとタッチパネル８の下部の辺や図１で示すと触圧棒多段配列の下段の配列に対向するタッチパネルの辺）に隙間が形成されていてもよい。この場合、タッチパネル８の検査面の片方の辺（図４では下部）に隙間が形成され、この隙間を利用してタッチパネルを手で簡単に取り出すことが可能となる。
【００２９】
タッチパネルを押上げて隙間を形成させるための触圧棒は、検査・評価のための触圧棒の一部または全部であってよいし、一部の場合、一配列（殊に片方の下部の辺の一配列）であってもよい。
さらに、タッチパネルを押上げるための触圧棒は、検査・評価のために使用される触圧棒である必要はなく、押上げるために別個に設けた触圧棒（突上げ棒）であってもよい。すなわち、触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒多段配列とは別個に設けた触圧棒（突上げ棒）を所定の位置（好ましくはタッチパネルの片方の下辺；図４では下部）に設置することができる。
【００３０】
この際、当然のことながら、プレート板には、この別個の触圧棒の先端部が突出るように孔を設けておくことが必要である。この別個に押上げ用の触圧棒を設けることによって、隙間を充分な間隔で形成させることが容易となる。
タッチパネルの検査面とプレート板との隙間を形成するために、触圧棒（或いは突上げ棒）の作動は、前記手段（５）において、ＦＰＣの先端部とコネクターと接続を解除した後に実施することができるが、手順（５）において前記接続を解除すると同時に、自動的に触圧棒（突上げ棒）を作動させることもできる。このように自動的に作動させることにより、タッチパネルの取り出すために要する時間を一層短縮することが可能となる。
【符号の説明】
【００３１】
１       支持基盤
２       プレート板
３       孔
４       触圧棒配列
５       触圧棒
６       ソレノイド
７       ソレノイド支持体
８       被検査試料
９       触圧棒多段配列
１０  ガイド枠
１１  コネクター
１２  フレキシブル回路端子の先端部
【図１】
0005474688.tif 000002
【図２】
0005474688.tif 000003
【図３】
0005474688.tif 000004
【図４】
0005474688.tif 000005