(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
地中に埋設された金属製のパイプラインにクーポンを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度によってパイプラインの交流腐食リスクを評価する方法であって、
クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定する周波数特定工程と、
特定された周波数の１周期を１単位時間として、当該１単位時間内のクーポン電流の計測値から１組のクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度を求めるクーポン電流密度算出工程を有し、
前記周波数特定工程は、
商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの中から一つの周波数を順次選択して、選択した周波数の１周期でクーポン電流の計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値と最小値の出現時刻の差が選択した周波数の１周期の１／２と一致するか否かを判定し、当該判定の結果が一致する場合に、選択した周波数を交流腐食発生源の周波数として特定することを特徴とするパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法。
【請求項２】
前記１単位時間をサブユニットとして、当該サブユニットを複数連続させた１ユニットを設定し、前記サブユニット毎に求めたクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度を比較して前記１ユニット内での最大値，最小値を求め、当該最大値，最小値によってパイプラインの交流腐食リスクを評価することを特徴とする請求項１に記載されたパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法。
【請求項３】
前記１ユニットの計測時間は、交流腐食発生源の周波数が１６−２／３Ｈｚであると特定された場合には１２ｓに設定し、交流腐食発生源の周波数が５０Ｈｚであると特定された場合には１０ｓに設定し、交流腐食発生源の周波数が６０Ｈｚであると特定された場合には８．３５ｓに設定することを特徴とする請求項２に記載されたパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法。
【請求項４】
前記クーポン電流の計測値波形は、０．１ｍｓのサンプリング間隔で計測されたクーポン電流の時系列データであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載されたパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法。
【請求項５】
地中に埋設された金属製のパイプラインにクーポンを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度によってパイプラインの交流腐食リスクを評価する装置であって、
クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定する周波数特定手段と、
特定された周波数の１周期を１単位時間として、当該１単位時間内のクーポン電流の計測値から１組のクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度を求めるクーポン電流密度算出手段とを有し、
前記周波数特定手段は、
商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの中から一つの周波数を順次選択して、選択した周波数の１周期でクーポン電流の計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値と最小値の出現時刻の差が選択した周波数の１周期の１／２と一致するか否かを判定し、当該判定の結果が一致する場合に、選択した周波数を交流腐食発生源の周波数として特定することを特徴とするパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、クーポン電流を計測することでパイプラインの交流腐食リスクを計測評価する計測評価方法及び計測評価装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、地中に埋設されている金属製のパイプライン（以下、これを単にパイプラインという）は、外表面が高抵抗率のプラスチックコーティングで被覆されており、また、高圧交流送電線や交流電気鉄道輸送路と長距離にわたって並行して敷設される状況が増えていることから、交流腐食リスクを計測評価することの必要性が高まっている。パイプラインの交流腐食事例の解析結果によると、交流腐食の発生源はパイプラインと並行する高圧交流送電線または交流電気鉄道輸送システムであると言える。交流腐食は、これらの交流腐食発生源の影響を受けてパイプラインに交流誘導電圧が発生している状態でパイプラインのコーティング欠陥部で生じる。したがって、コーティング欠陥部の面積における交流電流密度ＩAC［Ａ／ｍ2］が交流腐食速度を把握するための指標になる。
【０００３】
コーティング欠陥部の面積Ｓ［ｍ2］における交流電流密度ＩAC［Ａ／ｍ2］は、ＩAC＝ＶAC／（Ｒ・Ｓ）となり（ここで、ＶAC：パイプラインに生じている交流誘導電圧，Ｒ：コーティング欠陥部の接地抵抗）、コーティング欠陥部を直径ｄ［ｍ］の円形とすると、コーティング欠陥部の接地抵抗Ｒ［Ω］は、Ｒ＝ρ／（２ｄ）で表される（ここで、ρ：電解質の抵抗率［Ω・ｍ］；下記非特許文献１参照）。これによって、コーティング欠陥部の面積Ｓ［ｍ2］における交流電流密度ＩAC［Ａ／ｍ2］は、以下の式で表すことができる。
【数１】
0005586572.tif 000002
ここで、
j：虚数単位
ω：2πf（f：送電線、電車線を流れる電流の周波数）
M：送電線、電車線と埋設されたコーティングパイプラインとの相互インダクタンス
I：送電線電流、電車線電流
L：送電線、電車線と埋設されたコーティングパイプラインとの並行距離
【０００４】
この式から明らかなように、交流誘導電圧ＶACが大きい（すなわち、高圧交流送電線や交流電気鉄道輸送システムの送電線電流，電車電流が大きい、及び／または送電線，電車線とパイプラインとの並行距離が長い）ほど、コーティング欠陥部に接する電解質の抵抗率ρが低いほど、コーティング欠陥部の面積Ｓが小さいほど、交流電流密度ＩACは大きくなり、交流腐食速度が大きくなる。また、別の見方をすると、交流電圧ＶACがそれほど大きくなくても、コーティング欠陥部に接する電解質の抵抗率ρが低く、コーティング欠陥部の面積Ｓが小さいと交流電流密度ＩACは大きくなり、交流腐食速度が大きくなる。
【０００５】
地中に埋設されているコーティングパイプラインにおけるコーティング欠陥部の交流電流密度は、実際には計測不可能である。そこで、パイプラインの交流腐食リスクは、パイプラインに近接して埋設されたクーポンとパイプラインとを電気的に接続し、その接続電線を流れる電流の計測値から得られるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度の２つの値（この２つの値を総称してクーポン電流密度という）を、クーポン電流密度を指標としたカソード防食基準と照査することで評価している。ここでいうクーポンとは、パイプラインのコーティング欠陥部を模擬したものであり、パイプラインと同じ金属材料で作られた表面積が既知の金属片である（下記非特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】W. V. Baeckmann and W. Schwenk：Handbuch des kathodischen Korrosionsschutzes, WILEY-VCH Verlag GmbH, Weinheim, Deutschland, 1999
【非特許文献２】電気学会・電食防止研究委員会編「電食防止・電気防食ハンドブック」株式会社オーム社，２０１１年１月２０日，ｐ．１２３〜１５６
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
図１は、パイプラインにおけるクーポン電流密度の計測方法を示した説明図である。図１（ａ）に示すように、地中に埋設されたパイプラインＰに近接してクーポンＣを埋設し、クーポンＣとパイプラインＰとを電線Ｗで電気的に接続する。パイプラインＰの外表面はプラスチック材料のコーティングＰ１で被覆されており、クーポンＣの先端部Ｃ１の表面積ＡがコーティングＰ１の欠陥部を模擬している。クーポンＣとパイプラインＰを電気的に接続する電線Ｗにはシャント抵抗Ｒｓが設けられ、シャント抵抗Ｒｓに流れる電流（クーポン電流）を計測する計測装置Ｍによって、クーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACが求められる。
【０００８】
図１（ｂ）に示した例では、クーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACは、０．１ｍｓ間隔でサンプリングされたクーポン電流の計測値（Ｉ(1)，Ｉ(2)，Ｉ(3)，…）から求められる。この際、クーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACは、交流腐食発生源（例えば、高圧交流送電線及び／または交流電気鉄道輸送システム）の交流周期を１サブユニットとして、１サブユニット毎に一組のクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを求めるように定義されており、複数のサブユニットからなる１ユニット毎に、クーポン直流電流密度ＩDCの平均値ＩDCave，最大値ＩDCmax，最小値ＩDCmin、クーポン交流電流密度ＩACの平均値ＩACave，最大値ＩACmax，最小値ＩACminを求めている。
【０００９】
図１（ｂ）に示した例は、交流腐食発生源の商用交流周波数が５０Ｈｚ（周期が２０ｍｓ）の場合である。この場合には、１サブユニットが２０ｍｓに設定され、この１サブユニットで２００個の計測値（Ｉ(1)，Ｉ(2)，Ｉ(3)，…Ｉ(199)，Ｉ(200)）がサンプリングされる。そして、この計測値Ｉ(t)（t＝１〜200）から、下記（１），（２）式によってクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACが求められる（式中のＡはクーポンの表面積）。
【数２】
0005586572.tif 000003
【００１０】
前述した式で定義されるクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを求める際には、交流腐食発生源の商用交流周波数が予め判っていることが前提になっており、その商用交流周波数の１周期でサブユニットを区切って一組のクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを求めている。しかしながら、交流腐食発生源の商用交流周波数には、１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの３種類があり、地域毎と用途毎に異なる周波数で運用されている。例えば、フランスのように高圧交流送電線と交流電気鉄道輸送システムの周波数が同一の５０Ｈｚの国もあれば、ドイツのように高圧交流送電線は５０Ｈｚ、交流電気鉄道輸送システムは１６−２／３Ｈｚという国もある。日本の高圧交流送電線の周波数は、東日本が５０Ｈｚで西日本が６０Ｈｚであるが、東海道新幹線は東京から６０Ｈｚで運転されているので、関東地区は５０Ｈｚと６０Ｈｚが交流腐食発生源の周波数となり得る。
【００１１】
これに対して、これまでのクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACの計測は、一つの商用交流周波数を対象にした固定サブユニットで行われており、異なる商用交流周波数を運用する地域間で計測評価装置を併用することができない問題があった。そして、固定サブユニットの計測評価装置を用いて、固定サブユニットの計測時間と異なる周期の商用交流周波数に対してクーポン交流電流密度ＩACを求めると、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度ＩACを得ることができない問題があった。
【００１２】
また、クーポン電流密度の計測地点で、交流腐食発生源を明確に特定できない場合や、異なる商用交流周波数を用いた交流腐食発生源の影響が混在している場合があり、計測時においてクーポン電流密度を求めるためのサブユニットの計測時間を設定できない場合がある。このような場合にも、予め設定していた固定サブユニットの計測時間とパイプラインに影響している交流腐食発生源の交流周期が異なる場合には、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度ＩACを得ることができない問題があった。
【００１３】
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、パイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法及び計測評価装置において、異なる商用交流周波数を運用する地域で併用できる計測評価方法及び計測評価装置を提供できること、一つの計測評価装置で異なる商用交流周波数を運用する地域毎に、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度を得ることができること、クーポン電流密度の計測地点で、交流腐食発生源を明確に特定できない場合や、異なる商用交流周波数を用いた交流腐食発生源の影響が混在している場合であっても、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度を得ることができること、などが本発明の目的である。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
このような目的を達成するために、本発明のパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法及び計測評価装置は以下の構成を少なくとも具備している。
【００１５】
地中に埋設された金属製のパイプラインにクーポンを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度によってパイプラインの交流腐食リスクを評価する方法であって、クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定する周波数特定工程と、特定された周波数の１周期を１単位時間として、当該１単位時間内のクーポン電流の計測値から１組のクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度を求めるクーポン電流密度算出工程を有し、前記周波数特定工程は、商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの中から一つの周波数を順次選択して、選択した周波数の１周期でクーポン電流の計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値と最小値の出現時刻の差が選択した周波数の１周期の１／２と一致するか否かを判定し、当該判定の結果が一致する場合に、選択した周波数を交流腐食発生源の周波数として特定することを特徴とするパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法。
【００１６】
地中に埋設された金属製のパイプラインにクーポンを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度によってパイプラインの交流腐食リスクを評価する装置であって、クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定する周波数特定手段と、特定された周波数の１周期を１単位時間として、当該１単位時間内のクーポン電流の計測値から１組のクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度を求めるクーポン電流密度算出手段とを有し、前記周波数特定手段は、商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの中から一つの周波数を順次選択して、選択した周波数の１周期でクーポン電流の計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値と最小値の出現時刻の差が選択した周波数の１周期の１／２と一致するか否かを判定し、当該判定の結果が一致する場合に、選択した周波数を交流腐食発生源の周波数として特定することを特徴とするパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価装置。
【発明の効果】
【００１７】
本発明は、このような特徴を備えることで、異なる商用交流周波数を運用する地域で併用できる計測評価方法及び計測評価装置を提供することができる。また、一つの計測評価装置で異なる商用交流周波数を運用する地域毎に、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度を得ることができる。また、クーポン電流密度の計測地点で、交流腐食発生源を明確に特定できない場合や、異なる商用交流周波数を用いた交流腐食発生源の影響が混在している場合であっても、交流腐食発生源の周波数を特定して、交流腐食リスクを評価するために適する精緻なクーポン交流電流密度を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】パイプラインにおけるクーポン電流密度の計測方法を示した説明図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法を示した説明図（工程フロー）である。
【図３】本発明の実施形態における周波数特定工程の具体例を示した説明図である。
【図４】本発明の実施形態におけるクーポン電流密度算出工程の具体例を示した説明図である。
【図５】本発明の一実施形態に係るパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価装置を示した説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態を説明する。図２は本発明の一実施形態に係るパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法を示した説明図（工程フロー）である。本発明の実施形態に係る計測評価方法は、図１に示した方法と同様に、地中に埋設された金属製のパイプラインＰにクーポンＣを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン交流電流密度によってパイプラインＰの交流腐食リスクを評価する方法であって、クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定する周波数特定工程と、特定された周波数の１周期を１単位時間として、１単位時間内のクーポン電流の計測値波形から１つのクーポン交流電流密度を求めるクーポン電流密度算出工程を有する。
【００２０】
周波数特定工程は、パイプラインＰに交流誘導電圧を発生させている交流腐食発生源の周波数を特定するための工程である。この工程を設けることで、交流腐食発生源の周波数が予測可能であるか予測不可能であるかに拘わらず、クーポン電流の計測値波形から交流腐食発生源の周波数を特定することができる。
【００２１】
具体的には、先ず、所定時間だけ設定されたサンプリング間隔でクーポン電流Ｉ(t)を計測する（ＳＴＥＰ１）。ここでのサンプリング間隔は、商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの周期変化が明確に把握できる微細な間隔（例えば、０．１ｍｓ間隔）が好ましい。計測されたクーポン電流Ｉ(t)は、出現時刻と対応した時系列データとして記憶手段に記憶される。
【００２２】
次に、商用交流周波数である１６−２／３Ｈｚ，５０Ｈｚ，６０Ｈｚの中から一つの周波数Ｆｂを順次選択する（ＳＴＥＰ２）。そして、選択した周波数Ｆｂ［Ｈｚ］の１周期Ｔ（＝１０００／Ｆｂ）［ｍｓ］でクーポン電流Ｉ(t)の計測値波形を切り出し（ＳＴＥＰ３）、切り出した波形の最大値と最小値の出現時刻差Δｔが選択した周波数Ｆｂの１周期Ｔの１／２と一致するか否かを判定する（ＳＴＥＰ５）。Δｔ≠（１／２）・Ｔの場合（ＳＴＥＰ５：ＮＯ）には、選択する周波数Ｆｂを異なる商用交流周波数に換えて、ＳＴＥＰ２〜ＳＴＥＰ５を行う。これにより、Δｔ＝（１／２）・Ｔとなった場合（ＳＴＥＰ５：ＹＥＳ）には、このときに選択した周波数Ｆｂを交流腐食発生源の周波数として特定する。
【００２３】
図３は、前述した周波数特定工程の具体例を示した説明図である。図示のように、クーポン電流Ｉ(t)の計測値波形（時系列データ）が得られている場合に、先ず、周波数Ｆｂとして６０Ｈｚを選択する。６０Ｈｚの１周期Ｔ1は１６．７ｍｓであるから、図３（ａ）に示すように、１周期Ｔ1で計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値の出現時刻ｔmaxと最小値の出現時刻ｔminの出現時刻差Δｔを求める。そして、求めたΔｔが（１／２）・Ｔ1と等しいか否かを判定する。図３（ａ）に示した例ではΔｔ≠（１／２）・Ｔ1であるから、次に、周波数Ｆｂとして５０Ｈｚを選択する。５０Ｈｚの１周期Ｔ2は２０ｍｓであるから、図３（ｂ）に示すように、１周期Ｔ2で計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値の出現時刻ｔmaxと最小値の出現時刻ｔminの出現時刻差Δｔを求める。そして、求めたΔｔが（１／２）・Ｔ2と等しいか否かを判定する。図３（ｂ）に示した例ではΔｔ≠（１／２）・Ｔ2であるから、次に、周波数Ｆｂとして１６−２／３Ｈｚを選択する。
【００２４】
１６−２／３Ｈｚの１周期Ｔ3は６０ｍｓであるから、図３（ｃ）に示すように、１周期Ｔ3で計測値波形を切り出し、切り出した波形の最大値の出現時刻ｔmaxと最小値の出現時刻ｔminの出現時刻差Δｔを求める。そして、求めたΔｔが（１／２）・Ｔ3と等しいか否かを判定する。図３（ｃ）に示した例ではΔｔ＝（１／２）・Ｔ3であるから、この例のクーポン電流Ｉ(t)の計測値波形からは交流腐食発生源の周波数を１６−２／３Ｈｚに特定することができる。
【００２５】
図２において、交流腐食発生源の周波数Ｆｂが特定されると（ＳＴＥＰ６）、特定された周波数の１周期を１単位時間として、この１単位時間内のクーポン電流Ｉ(t)の計測値波形から１つのクーポン交流電流密度ＩACを求めるクーポン電流密度算出工程が実行される。
【００２６】
具体的には、前述した１単位時間をサブユニットとして設定し、更にこのサブユニットを複数連続させた１ユニットを設定する（ＳＴＥＰ７）。そして、このサブユニット毎にクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを求める（ＳＴＥＰ８）。この際、クーポン交流電流密度ＩACを求めるためには、必然的にクーポン直流電流密度ＩDCを求めることが必要になる。
【００２７】
その後、サブユニット毎に求めたクーポン直流電流密度ＩDC，クーポン交流電流密度ＩACを１ユニット内で比較して、１ユニット内での平均値ＩDCave，ＩACave，最大値ＩDCmax，ＩACmax，最小値ＩDCmin，ＩACminを求める（ＳＴＥＰ９）。そして、これらの値（ＩDCave，ＩDCmax，ＩDCmin，ＩACave，ＩACmax，ＩACmin）によってパイプラインの交流腐食リスクを評価する（ＳＴＥＰ１０）。
【００２８】
図４は、クーポン電流密度算出工程の具体例を示した説明図である。周波数Ｆｂが特定された後の各周波数Ｆｂにおける１サブユニットと１ユニットは、下記の表１に示すように設定することができる。
【表１】
0005586572.tif 000004
【００２９】
１ユニットの計測時間は、高速鉄道の通過によってパイプラインＰに発生する交流腐食リスクを十分把握できるものでなくてはならない。高速鉄道とは、おもな区間を時速２００ｋｍ以上の速度で走行する列車やそのための路線を指しており、これは日本の新幹線の定義とも一致している。高速鉄道の車両の長さが２５ｍ、１６両編成とすると１編成の長さは４００ｍとなる。この高速鉄道は、時速２００ｋｍでクーポン電流密度の計測地点を通過するのに７．２秒を要することになる。よって、１ユニットの計測時間を８．３５〜１２ｓに設定しておけば、どの周波数でも高速鉄道の通過によってパイプラインに発生する交流腐食リスクを十分把握できることになる。
【００３０】
図４（ａ）には、周波数Ｆｂが１６−２／３Ｈｚに特定された場合のクーポン電流密度の算出例を示している。この場合は、表１に示したように、１サブユニットの計測時間は６０ｍｓに設定され、１ユニットの計測時間は１２ｓに設定されており、クーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACは下記（３），（４）式によって求められる。
【数３】
0005586572.tif 000005
【００３１】
図４（ｂ）には、周波数Ｆｂが６０Ｈｚに特定された場合のクーポン電流密度の算出例を示している。この場合は、表１に示したように、１サブユニットの計測時間は１６．７ｍｓに設定され、１ユニットの計測時間は８．３５ｓに設定されており、クーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACは下記（５），（６）式によって求められる。
【数４】
0005586572.tif 000006
【００３２】
周波数Ｆｂが５０Ｈｚに特定された場合のクーポン電流密度の算出例は、図１（ｂ）に示したとおりであり、算出式は前述した（１），（２）式に示したとおりである。
【００３３】
図５は、本発明の一実施形態に係るパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価装置を示した説明図である。この計測評価装置１０は、地中に埋設された金属製のパイプラインＰにクーポンＣを接続し、クーポン電流の計測値から求められるクーポン直流電流密度とクーポン交流電流密度によってパイプラインＰの交流腐食リスクを評価する装置であって、周波数特定手段１１とクーポン電流密度算出手段１２を備えている。
【００３４】
周波数特定手段１１は、携帯型ＰＣやプログラマブルコントローラなどの制御装置によって構成することができ、クーポン電流密度算出手段１２から得られるクーポン電流Ｉ(t)の計測値波形によって前述した周波数特定工程を実行するためのプログラムを備えている。周波数特定手段１１によって特定された周波数がクーポン電流密度算出手段１２に出力される。
【００３５】
クーポン電流密度算出手段１２は、前述したクーポン電流密度算出工程を実行するためのプログラムを備えており、周波数特定手段１１によって特定された周波数から１サブユニットと１ユニットの計測時間が設定され、０．１ｍｓのサンプリング間隔で計測されるクーポン電流Ｉ(t)から１サブユニット毎にクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACが算出され、１ユニット毎にＩDCave，ＩDCmax，ＩDCmin，ＩACave，ＩACmax，ＩACminが求められる。
【００３６】
このような特徴を有するパイプラインにおける交流腐食リスクの計測評価方法或いはこの方法を実行するための計測評価装置１０によると、計測されたクーポン電流Ｉ(t)によって交流腐食発生源の周波数を特定することができるので、特定された周波数に基づいて１サブユニットと１ユニットの計測時間がその都度設定されることになる。これによって、交流腐食リスクを評価するための指標となるクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを精緻な値で得ることができる。
【００３７】
これによると、如何なる地域で交流腐食リスクの計測評価を行う場合であっても、地域毎の商用交流周波数の違いを問題にすること無く、交流腐食リスクを評価するための指標となるクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを精緻な値で得ることができる。また、クーポン電流密度の計測地点で、交流腐食発生源を明確に特定できない場合や、異なる商用交流周波数を用いた交流腐食発生源の影響が混在している場合であっても、計測評価を行う際に交流腐食発生源の周波数を特定することができるので、特定された周波数に基づいてクーポン直流電流密度ＩDCとクーポン交流電流密度ＩACを精緻な値で得ることができる。
【符号の説明】
【００３８】
１０：計測評価装置，
１１：周波数特定手段，１２：クーポン電流密度算出手段，
Ｐ：パイプライン，Ｐ１：コーティング，Ｃ：クーポン，Ｗ：電線，
Ｒｓ：シャント抵抗，Ｍ：計測装置
【図１】
0005586572.tif 000007
【図２】
0005586572.tif 000008
【図３】
0005586572.tif 000009
【図４】
0005586572.tif 000010
【図５】
0005586572.tif 000011