(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象光源における試料の蛍光成分を含む分光反射率を算出する色処理装置であって、
分光放射輝度の複数の波形タイプについて、励起波長域を含む分光放射輝度と該分光放射輝度に対応する試料の蛍光量とを入力する第１手段と、
対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された分光放射輝度と前記蛍光量とから該対象光源における前記試料の蛍光量を求める第２手段と、
前記試料の蛍光成分を含まない分光反射率を入力する第３手段と、
前記求められた対象光源における試料の蛍光量と前記入力された試料の蛍光成分を含まない分光反射率とを用いて前記対象光源における前記試料の蛍光成分を含む分光反射率を求める第４手段と
を有し、
前記第２手段は、
前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された複数の波形タイプの分光放射輝度とを比較し、前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度の波形タイプを決定する決定手段と、
前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記決定された波形タイプの分光放射輝度との比率を求める算出手段と、
前記複数の波形タイプの蛍光量のうち前記決定された波形タイプの蛍光量に前記比率を掛けて得られる、前記対象光源における前記試料の蛍光量を取得する取得手段と
を有することを特徴とする色処理装置。
【請求項２】
前記複数の波形タイプは、代表的な形状に分類された複数の波形であることを特徴とする請求項１に記載の色処理装置。
【請求項３】
前記励起波長域は、試料に塗布される蛍光増白剤の励起波長域であり、少なくとも３００ｎｍから５００ｎｍの波長域を含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の色処理装置。
【請求項４】
前記決定手段は、前記対象光源における励起波長域の分光放射輝度に対する前記複数の波形タイプごとの励起波長域における分光放射輝度のＲＭＳ誤差が最小の波形タイプを前記対象光源の波形タイプに決定することを特徴とする請求項１に記載の色処理装置。
【請求項５】
前記決定手段は、前記対象光源における励起波長域の分光放射輝度に対する前記複数の波形タイプごとの励起波長域における分光放射輝度のＲＭＳ誤差が所定値より大きい場合、前記複数の波形タイプの励起波長域における分光放射輝度を合成して得られる波形タイプを前記対象光源の波形タイプに決定することを特徴とする請求項１に記載の色処理装置。
【請求項６】
前記取得手段は、前記決定された波形タイプの可視波長域における蛍光量に前記比率を掛けて得られる、前記対象光源における前記試料の蛍光量を取得することを特徴とする請求項１に記載の色処理装置。
【請求項７】
前記第４手段は、前記求められた対象光源における試料の蛍光量と前記入力された試料の蛍光成分を含まない分光反射率とを加算し、前記対象光源における前記試料の蛍光成分を含む分光反射率を求めることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の色処理装置。
【請求項８】
さらに、前記励起波長域を含む分光放射輝度と該分光放射輝度に対応する試料の蛍光量とを測定する測定手段を有し、前記第１手段は、該測定手段により測定された前記励起波長域を含む分光放射輝度と該分光放射輝度に対応する試料の蛍光量とを入力することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の色処理装置。
【請求項９】
対象光源における試料の蛍光成分を含む分光反射率を算出する色処理方法であって、
分光放射輝度の複数の波形タイプについて、励起波長域を含む分光放射輝度と該分光放射輝度に対応する試料の蛍光量とを入力する第１工程と、
対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された分光放射輝度と前記蛍光量とから該対象光源における前記試料の蛍光量を求める第２工程と、
前記試料の蛍光成分を含まない分光反射率を入力する第３工程と、
前記求められた対象光源における試料の蛍光量と前記入力された試料の蛍光成分を含まない分光反射率とを用いて前記対象光源における前記試料の蛍光成分を含む分光反射率を求める第４工程と
を有し、
前記第２工程は、
前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された複数の波形タイプの分光放射輝度とを比較し、前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度の波形タイプを決定する決定工程と、
前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記決定された波形タイプの分光放射輝度との比率を求める算出工程と、
前記複数の波形タイプの蛍光量のうち前記決定された波形タイプの蛍光量に前記比率を掛けて得られる、前記対象光源における前記試料の蛍光量を取得する取得工程と
を有することを特徴とする色処理方法。
【請求項１０】
コンピュータで実行されることにより、該コンピュータを請求項１乃至８のいずれか１項に記載の色処理装置の各手段として機能させるためのコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料に蛍光成分が含まれる場合の色処理を行う色処理装置および色処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
入力機器、出力機器のそれぞれの再現色を一致させるカラーマッチング処理は、マッチングの対象となる各機器の色再現特性を考慮して、各機器の再現色を対応付ける。【０００３】
一般的に、上記色再現特性の算出は図１８に示す一般的な測色器を用いて、図１７に示すような手順に従って行われる。図１７に、画像出力機器の色再現特性算出の手順の一例を示す。まず、画像出力機器で所定のメディアに色票をプリント出力し、出力された該色票の分光反射率Ｒ（λ）を測色器で測定する。図１８に示す測色器においては、まず測色器に内蔵された測色光源から試料（色票）に光が照射される。照射された光は、試料によって反射され、受光器は反射された反射光の分光放射輝度を分光器を通して受光する。そして、受光された反射光の分光放射輝度を光源の分光放射輝度で除算することにより試料の分光反射率Ｒ（λ）を算出する。次に、出力した画像を観察する光源（観察光源）の分光放射輝度Ｓ（λ）を測定する。そして、測定した分光反射率Ｒ（λ）と観察光源の分光放射輝度Ｓλ）、及び等色関数ｘ（λ），ｙ（λ），ｚ（λ）から、以下の式（１）を用いて、ＣＩＥ三刺激値ＸＹＺを算出する。【０００４】
【数１】
0005456053.tif 000002
【０００５】
しかしながら、メディアやインクに蛍光成分を含む材料（蛍光増白材等）が含まれている場合、上記方法で測定した画像出力機器の分光反射率は、観察光源下における分光反射率と異なる場合がある。ここで、蛍光成分とは、照射光の所定の波長域である励起波長域の光を異なる波長域（つまり、発光波長域）に反射する成分である。【０００６】
蛍光成分を含んだ試料の分光反射率を図１８に示す測色器で測定した場合について図１９を用いて説明する。図１８のような測色器を用いて蛍光成分を含む試料を測定すると、励起波長域の光は、試料の蛍光成分に反応し、発光波長域に反射する。そのため、測色光源の励起波長域の分光放射輝度に依存した蛍光量が加味された反射光が測色器に受光される。すなわち、分光反射率も測色光源に依存したものとなる。よって、図２０（ａ）のように、測色光源と観察光源とが同じ場合には、観察光源の励起波長域の分光放射輝度と蛍光量とが対応しているため、正しいＸＹＺ値が算出される。一方で、図２０（ｂ）のように、測色光源と観察光源とが異なる場合には、観察光源の励起波長域の分光放射輝度と蛍光量とが対応していないため、正しいＸＹＺ値が算出できない。即ち、蛍光成分を含む試料を測定した光源と実際の観察環境の光源が異なると、測色値であるＸＹＺ値と実際の見えとが対応しないという問題がある。【０００７】
この問題に対して、蛍光成分を考慮して、測色光源とは異なる観察光源下における試料の分光反射率を推定する方法が特許文献１に記載されている。特許文献１は、２つの異なる光源下において試料の分光反射率を測定し、各光源における、励起波長域の分光放射輝度の総和と発光波長域の分光放射輝度の総和との比に基づいて、観察光源下における試料の分光反射率を算出するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００６−８４３３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、蛍光量は、励起波長域の分光放射輝度の総和によって決まるものではない。そのため、上記のような総和の比で蛍光量を算出したとしても、任意の観察光源下における分光反射率を高精度に求めることは出来ない。【００１０】
本発明は、上記の点を鑑み、蛍光成分を含む試料の任意の観察光源下における色を高精度に求めることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る色処理装置は、対象光源における試料の蛍光成分を含む分光反射率を算出する色処理装置であって、分光放射輝度の複数の波形タイプについて、励起波長域を含む分光放射輝度と該分光放射輝度に対応する試料の蛍光量とを入力する第１手段と、対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された分光放射輝度と前記蛍光量とから該対象光源における前記試料の蛍光量を求める第２手段と、前記試料の蛍光成分を含まない分光反射率を入力する第３手段と、前記求められた対象光源における試料の蛍光量と前記入力された試料の蛍光成分を含まない分光反射率とを用いて前記対象光源における前記試料の蛍光成分を含む分光反射率を求める第４手段とを有し、前記第２手段は、前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記入力された複数の波形タイプの分光放射輝度とを比較し、前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度の波形タイプを決定する決定手段と、前記対象光源における励起波長域を含む分光放射輝度と前記決定された波形タイプの分光放射輝度との比率を求める算出手段と、前記複数の波形タイプの蛍光量のうち前記決定された波形タイプの蛍光量に前記比率を掛けて得られる、前記対象光源における前記試料の蛍光量を取得する取得手段とを有する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、蛍光成分を含む試料の任意の観察光源下における色を高精度に求めることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】蛍光の原理を説明する概念図である。
【図２】色処理装置の構成を示す図である。
【図３】色処理装置の機能構成を示す図である。
【図４】色処理装置における処理のフローチャートである。
【図５】ＵＩ表示部が表示するユーザインタフェースを示す図である。
【図６】観察光源の分光放射輝度の例を示す図である。
【図７】波形タイプ別分光放射輝度の例を示す図である。
【図８】波形タイプの例を示す図である。
【図９】試料の蛍光を除外した分光反射率、及び各波形タイプに対応する蛍光量の例を示す図である。
【図１０】蛍光を除外した分光反射率と波形タイプごとの蛍光量との関係を示す図である。
【図１１】単色光の入力に対する各波長の反射光を測定する方法の例を示す図である。
【図１２】波形タイプの決定処理を示すフローチャートである。
【図１３】分光反射率の推定処理のフローチャートである。
【図１４】実施例２に係る色処理装置の構成を示す図である。
【図１５】実施例２に係るユーザインタフェースを示す図である。
【図１６】実施例３に係る色処理装置の構成を示す図である。
【図１７】観察光源下における測定値を算出する従来の方法を示す図である。
【図１８】一般的な測色器の例を示す図である。
【図１９】一般的な測色器における分光反射率測定の流れを示す図である。
【図２０】ＸＹＺ値の算出における光源との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
（実施例１）
はじめに、図１を参照しながら蛍光成分について説明する。ここで、蛍光成分とは、照射光の所定の波長域である励起波長域の光を異なる波長域（つまり、発光波長域）に発光する成分のことである。図１（ａ）は、試料に３５０ｎｍの単色光を照射した場合に試料から反射される光の強度を示している。ここで、図中の５０１は照射した３５０ｎｍの単色光に対する３５０ｎｍの反射光であり、図中の５０２は照射した３５０ｎｍの単色光により励起される蛍光成分が４４０ｎｍに発光する蛍光を示している。一方、図１（ｂ）は、試料に４４０ｎｍの単色光を照射した場合に試料から反射される光の強度を示している。ここで、図中の５０３は照射した４４０ｎｍの単色光に対する４４０ｎｍの反射光である。
【００１６】
試料に蛍光成分が含まれる場合、図１（ａ）のように励起波長の光を照射すると、照射した光の波長の反射光とは別に、照射した光の波長とは異なる波長で発光が観測される。一方、励起波長ではない光を照射すると、照射した光の波長の反射光が観測される。そのため、３５０ｎｍ及び４４０ｎｍのいずれの波長成分も含む光源下において、試料から観測される４４０ｎｍの光は、発光５０２と反射光５０３の和となる。勿論、一般的な光源は多くの波長成分を有するため、それらの各波長に対する４４０ｎｍでの反射光及び発光の総和が、その光源下において試料から観測される４４０ｎｍの光になる。
【００１７】
このように、試料に蛍光成分が含まれている場合、任意の観察環境下における試料の測色値を正確に得るためには、照射光の励起波長域の光に依存する蛍光を考慮する必要がある。以下、観察光源（対象光源）の励起波長域の光の波形に応じて試料の分光反射率を推定し、正確な試料の測色値を得る色処理装置について説明する。
【００１８】
本実施例では、予め保持されている観察光源の分光放射輝度、励起波長における波形タイプごとの分光放射輝度、試料の分光反射率及び蛍光量の各データに基づいて、観察光源下における試料のＸＹＺ値を算出する処理を説明する。各データの詳細については後述する。
【００１９】
図２は本実施例における色処理装置の構成図である。色処理装置は、ＣＰＵ２０１、メインメモリ２０２、ＨＤＤ２０３、汎用インタフェース２０４、モニタ２０５、メインバス２０６、キーボードやマウス等の指示入力部２０７、外部記憶装置２０８を備える。汎用インタフェース２０４は、指示入力部２０７や外部記憶装置２０８などをメインバス２０６に接続する。
【００２０】
以下では、ＣＰＵ２０１がＨＤＤ２０３に格納された、色処理アプリケーションを含む各種ソフトウェア（コンピュータプログラム）を動作させることで実現する各種処理について述べる。
【００２１】
まず、ＣＰＵ２０１は、指示入力部２０７に対するユーザの指示により、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８に格納されている色処理アプリケーションを起動する。そして、色処理アプリケーションをメインメモリ２０２に展開すると共にモニタ２０５にユーザインタフェースを表示する。続いて、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８に格納されている各種データが、ＣＰＵ２０１からの指令に基づきメインバス２０６経由によりメインメモリ２０２に転送される。前記メインメモリ２０２に転送された各種データは、ＣＰＵ２０１からの指令により所定の演算処理が行われ、演算処理の結果がメインバス２０６経由によってモニタ１１０上に表示、あるいは、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８に格納される。
【００２２】
上記構成において、ＣＰＵ２０１からの指令に基づき色処理アプリケーションが観察光源下における測色値を算出する処理について説明する。
【００２３】
図３は、本実施例における色処理装置の機能構成を示す図である。なお前述の通り、本実施例においては、図３で説明する構成は、色処理アプリケーションソフトウェアとして実現される。
【００２４】
図３において、色処理装置１０１は、表示部１０２、分光放射輝度入力部１０３、波形タイプ決定部１０４、分光反射率推定部１０５、測色値算出部１０６、出力部１０７、タイプ別分光放射輝度入力部１０８、分光反射率入力部１０９を有する。表示部１０２は、ユーザインタフェースなどをモニタ２０５に表示する。分光放射輝度入力部１０３は、観察光源の分光放射輝度を入力する。波形タイプ決定部１０４は、観察光源の励起波長域における波形タイプを決定する。分光反射率推定部１０５は、観察光源下における試料の分光反射率を推定する。測色値算出部１０６は、試料の分光反射率と観察光源の分光放射輝度からＣＩＥ三刺激値ＸＹＺを算出する。出力部１０７は、測色値算出部１０６で算出された測色値をＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８などにファイル出力する。タイプ別分光放射輝度入力部１０８は、予め複数に分類された波形タイプの励起波長における分光放射輝度を入力する。分光反射率入力部１０９は、試料の蛍光成分による影響を除いた分光反射率（蛍光を除外した分光反射率）を入力する。また、蛍光量取得手段として、各波形タイプの蛍光量を入力する。
【００２５】
＜色処理装置１０１における動作＞
図４は色処理装置１０１にて実行される処理のフローチャートである。
【００２６】
ステップＳ１において、ＵＩ表示部１０２は、色処理に必要な情報をユーザに入力してもらうためのユーザインタフェースをモニタ２０５に表示する。表示するユーザインタフェースの例を図５に示す。指示入力部１００１は撮影光源の分光放射輝度を指示入力する。指示入力部１００２は、予め複数に分類された波形タイプの分光放射輝度を指示入力する。指示入力部１００３は、試料の蛍光を除く分光反射率、及び各波形タイプの蛍光量を指示入力する。指示入力部１００４は色処理装置１０１で算出された試料の測色値を保存する際のファイル名を指示入力する。ボタン１００５は色処理装置１０１の処理の実行を指示するためのＯＫボタンであり、当該ボタンによる実行指示によって、ステップＳ２へ進む。なお、図５に示すユーザインタフェースは、一例であり、観察光源の分光放射輝度、波形タイプごとの分光放射輝度、試料の蛍光除く分光反射率、及び各波形タイプの蛍光量を指示するユーザインタフェースであれば良い。
【００２７】
ステップＳ２において、分光放射輝度入力部１０３は、ステップＳ１で表示したユーザインタフェースの指示入力部１００１により指示されたファイル名に基づき、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８から観察光源の分光放射輝度を入力する。一般的に、人間の目に見える光の波長範囲（可視波長域）は、３８０ｎｍから７８０ｎｍであるが、本実施例においては、試料の蛍光成分を考慮するため、励起波長域を含んだ分光放射輝度を入力する。なお、試料の蛍光成分の励起波長域は、例えば、印刷メディアに塗布された蛍光増白剤等の材料によって決定される。本実施例においては、以降、励起波長域を３００ｎｍから５００ｎｍとする例について以後の処理を説明する。図６に、ユーザによって指示される観察光源の分光放射輝度のデータ構造を示す。図６に示すように、３００ｎｍから７８０ｎｍまでの１０ｎｍ間隔の波長に対する分光放射輝度がユーザによって指示される。
【００２８】
ステップＳ３において、タイプ別分光放射輝度入力部１０８は、ステップＳ１で表示したユーザインタフェースの指示入力部１００２により指示されたファイル名に基づき、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８から波形タイプ別の分光放射輝度を入力する。図７にユーザによって指示されるタイプ別分光放射輝度の例を示す。図７に示すように、予め励起波長域の波形の形状によって分類された複数の光源の分光放射輝度がファイルに保存されている。本実施例においては、励起波長域の波形タイプを、励起波長域の波形の形状が特徴的である３つに分類した場合の例について説明する。ここで、図８に分類された光源の波形タイプの例を示す。図８に示すように、予め励起波長域において、波形の形状のパターンである波形タイプが異なる複数の光源を、ｔｙｐｅ１からｔｙｐｅ３のような代表的な波形タイプに分類しておく。分類は、例えば、蛍光灯やＬＥＤ、電球など、様々な光源の励起波長域の分光放射輝度を測定しておき、波形が近いものをグルーピングすることで行う。
【００２９】
ステップＳ４において、分光反射率入力部１０９は、ステップＳ１で表示したユーザインタフェースの指示入力部１００３により指示されたファイル名に基づき、試料の分光反射率をＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８から取得する。図９に、ユーザによって指示される試料の分光反射率の例を示す。図９に示すように、ユーザによって指示されるファイルには、試料の蛍光を除外した分光反射率Ｒ（λ）と、波形タイプごとの蛍光量Ｆ（λ）が保存されている。蛍光を除外した分光反射率Ｒ（λ）と波形タイプごとの蛍光量Ｆ（λ）は、図１０に示す関係となっており、光源の波形タイプごとに蛍光量Ｆ（λ）が異なっている。
【００３０】
ここで、蛍光を除外した分光反射率Ｒ（λ）は、例えば、図１１に示すような測定方法を用いることで測定することが出来る。まず、光源から分光器を通した単色光を試料に照射する。そして、試料から反射される反射光の中から、照射光と同一の単色光のみを分光器を通して受光器で受光する。このような方法で測定することで、反射光と蛍光とを区別することが可能となり、蛍光を除外した測定を行うことが出来る。この測定を可視波長域の波長について行い、測定結果をファイルに保存しておけば良い。
【００３１】
また、蛍光量Ｆ（λ）は、図１８に示すような、一般的な測定によって得られる蛍光を含む分光反射率と、蛍光を除外した分光反射率との差分を求めることで算出することが出来る。よって、波形タイプごとに蛍光を含む分光反射率を測定し、それぞれ蛍光を除外した分光反射率を減算し、減算した結果をファイルに保存しておけばよい。なお、蛍光は、試料の材質によって発光する波長域（発光波長域）が決まっているため、図９に示すように発光波長域のみ蛍光量Ｆ（λ）を保持するようにすると良い。
【００３２】
ステップＳ５において、波形タイプ決定部１０４は、ステップＳ２で入力した観察光源の波形タイプを決定する。波形タイプ決定部１０４の具体的な処理については後述する。
【００３３】
ステップＳ６において、分光反射率推定部１０５は、ステップＳ５において決定した波形タイプ、及び観察光源の励起波長域の分光放射輝度に基づき、観察光源に対応する分光反射率を推定する。分光反射率推定部１０５の具体的な処理については、後述する。
【００３４】
ステップＳ７において、測色値算出部１０６は、ステップＳ６で推定した分光反射率、及び観察光源の分光放射輝度から、測色値を算出する。本実施例における測色値とは、ＣＩＥ三刺激値であり、上述した式（１）によって算出する。
【００３５】
ステップＳ８において、出力部１０７は、ステップＳ７で算出された測色値を指示入力部１００４により指示された出力ファイル名でＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８に保存し、処理を終了する。
【００３６】
＜波形タイプ決定部１０４（ステップＳ５）の動作＞
図１２に、図４のステップＳ５で行われる波形タイプの決定処理のフローチャートを示す。
【００３７】
ステップＳ５１において、図４のステップＳ２で入力した観察光源の分光放射輝度を取得する。
【００３８】
ステップＳ５２において、図４のステップＳ３で入力した波形タイプごとの分光放射輝度を取得する。
【００３９】
ステップＳ５３において、ステップＳ５２で取得した波形タイプごとの分光放射輝度（励起波長域）と、ステップＳ５１で取得した観察光源の分光放射輝度（励起波長域）とを正規化する。正規化は、各光源の励起波長域の積分値で分光放射輝度を除算することで行う。具体的には、以下の式（２）を励起波長域全ての輝度に適用する。式中、Ｓ（λ）は各光源の分光放射輝度、Ｓ’（λ）は各光源の正規化後の分光放射輝度である。
【００４０】
【数２】
0005456053.tif 000003
【００４１】
ステップＳ５４において、ステップＳ５３で正規化された、観察光源の正規化後の分光放射輝度と、各波形タイプの正規化後の分光放射輝度とを比較し、両者のＲＭＳ誤差を以下の式（３）を用いて算出する。式中、Ｓ’ｖ（λ）は観察光源の正規化後の分光放射輝度、Ｓ’ｔｙｐｅ＿ｉ（λ）はｔｙｐｅｉ光源の正規化後の分光放射輝度、Ｅｔｙｐｅ＿ｉは両者のＲＭＳ誤差である。
【００４２】
【数３】
0005456053.tif 000004
【００４３】
このＲＭＳ誤差の算出の計算は、各波形タイプごとに実行する。なお、本実施例においては、波形タイプは３種類であるため、このＲＭＳ誤差の算出の計算を３回実行することになる。
【００４４】
ステップＳ５５において、観察光源の励起波長における波形タイプを決定する。具体的には、ステップＳ５４で算出したＲＭＳ誤差が最小になる波形タイプに決定し、処理を終了する。なお、本実施例においては、観察光源の波形タイプがｔｙｐｅ３であったとして、以後の処理を説明する。
【００４５】
＜分光反射率推定部１０５（ステップＳ６）の動作＞
図１３に、図４のステップＳ６で行われる分光反射率の推定処理のフローチャートを示す。
【００４６】
ステップＳ６１において、図４のステップＳ２で入力した観察光源の分光放射輝度Ｓｖ（λ）を取得する。
【００４７】
ステップＳ６２において、図４のステップＳ３で入力した波形タイプ別の分光放射輝度から、図４のステップＳ５で決定された観察光源の波形タイプの分光放射輝度を取得する。本実施例においては、観察光源の波形タイプはｔｙｐｅ３であるので、ｔｙｐｅ３の分光放射輝度Ｓｔｙｐｅ＿３（λ）を取得する。
【００４８】
ステップＳ６３において、図４のステップＳ４で入力した試料の蛍光を除外した分光反射率Ｒ（λ）を取得する。
【００４９】
ステップＳ６４において、図４のステップＳ４で入力した波形タイプごとの蛍光量Ｆ（λ）の内、ステップＳ６２で取得した観察光源の波形タイプに対応する蛍光量を取得する。本実施例においては、観察光源の波形タイプはｔｙｐｅ３であるので、ｔｙｐｅ３に対応する蛍光量Ｆｔｙｐｅ＿３（λ）を取得する。
【００５０】
ステップＳ６５において、ステップＳ６１で取得した観察光源の分光放射輝度Ｓｖ（λ）と、ステップＳ６２で取得したｔｙｐｅ３の分光放射輝度Ｓｔｙｐｅ＿３（λ）とから式（４）を用いてエネルギー比ｒａｔｉｏを算出する。なお、エネルギー比ｒａｔｉｏの計算は、励起波長域のみで行う。
【００５１】
【数４】
0005456053.tif 000005
【００５２】
ステップＳ６６において、ステップＳ６４で取得したｔｙｐｅ３の蛍光量Ｆｔｙｐｅ＿３（λ）とステップＳ６５で算出したエネルギー比ｒａｔｉｏとに基づき、観察光源に対応する蛍光量Ｆｖ（λ）を算出する。具体的には、以下の式（５）を発光波長域全ての波長に適用し算出する。
【００５３】
【数５】
0005456053.tif 000006
【００５４】
ステップＳ６７において、ステップＳ６３で取得した試料の蛍光を除外した分光反射率Ｒ（λ）に、ステップＳ６６で算出した観察光源に対応する蛍光量Ｆｖ（λ）を加算する。具体的には、以下の式（６）を用いて、観察光源下における分光反射率Ｒｖ（λ）を算出し、処理を終了する。
【００５５】
【数６】
0005456053.tif 000007
【００５６】
以上説明したように、本実施例によれば、観察光源の励起波長域における波形タイプ及び分光放射輝度に基づき、任意の観察光源下において蛍光成分の影響を考慮した分光反射率を推定することが出来る。したがって、任意の観察光源下における蛍光成分を含む試料の見え方を考慮した測色値を算出することが出来る。
【００５７】
（実施例２）
実施例１では、ＨＤＤ２０３や外部記憶装置２０８に格納されているデータに基づいて、観察光源下における試料のＸＹＺ値を算出するアプリケーションを例に説明した。実施例２では、事前に格納されたデータに対する処理ではなく、測色器と接続された測色アプリケーションの指示に基づき測色器を制御することで、ＸＹＺ値を算出する。以下、実施例１と異なる点について説明し、実施例１と同様の点については説明を省略する。
【００５８】
実施例２における色処理装置３０１の構成を図１４に示す。図１４において、実施例１と異なる点は、分光放射輝度入力部３０３及び測色器を制御する外部デバイス制御部３１０である。本実施例における外部デバイス制御部３１０は、例えば、汎用ＯＳ上のデバイスドライバとして実現できる。
【００５９】
以下、実施例１における観察光源の分光放射輝度を入力する動作（図４のステップＳ２）について詳細に説明する。
実施例１のステップＳ１でＵＩ表示部１０２に表示されるユーザインタフェースについて、実施例２において表示されるユーザインタフェースを図１５に示す。図１５のユーザインタフェースには、実施例１のユーザインタフェース例（図５）の指示入力部１００１の代わりに、観察光源測定ボタン３００１が表示される。観察光源測定ボタン３００１がユーザによって押下されると、分光放射輝度入力部３０３は、外部デバイス制御部３１０に測色器の制御を指示する。指示を受けた外部デバイス制御部３１０は、汎用インタフェース２０４に接続されている図１１に示す測色器を制御し、観察光源の分光放射輝度を測定する。測定された観察光源の分光放射輝度は、実施例１の図６で説明したようなデータ構造として分光放射輝度入力部３０３により入力される。なお、測定データの該データ構造への変換は外部デバイス制御部３１０が実行しても良いし、分光放射輝度入力部３０３が実行しても良い。
【００６０】
以上のように観察光源の分光放射輝度を入力した後は、実施例１で説明した処理を行えば良い。
【００６１】
以上説明したように、実施例２によれば、測色器に接続された測色アプリケーションにより、蛍光成分を含む試料の任意の観察光源下における色を高精度に求めることが出来る。
【００６２】
（実施例３）
前記実施例では、外部から情報を取得する例について説明したが、実施例３では測定機能を有する構成の例について説明する。例えば、演算機能を持つ測色器や、測色機能を持つハンディタイプのコンピュータ等が本実施例に該当する。
【００６３】
図１６は、実施例３における色処理装置の構成を示すブロック図である。
図１６において、色処理装置４０１は、画像出力装置から色票や観察光源を測定して測色値を算出し、以下の構成を有する。
【００６４】
測定部４０２は、観察環境の励起波長域を含む分光放射輝度などの光源情報や、試料の観察環境の励起波長域を含む分光放射輝度に対応する蛍光量や、試料の分光反射率を測定する。
【００６５】
演算部４０３は、測定部４０２で測定した試料の分光反射率や光源の分光放射輝度を入力として、観察光源に対応した試料の分光反射率の算出を行う。演算部４０３は、実施例１における色処理装置１０１の分光放射輝度入力部１０３、波形タイプ決定部１０４、分光反射率推定部１０５、測色値算出部１０６、タイプ別分光放射輝度入力部１０８、分光反射率入力部１０９を含む構成である。
【００６６】
記憶部４０４は、測定部４０２での測定値や、演算部４０３での演算結果などを記憶する。測定部４０２は、実施例１で説明した波形タイプ別の光源を内蔵しており、該波形タイプ別の光源の分光放射輝度は記憶部４０４に保存されている。測定部４０２は、光源の波形タイプに対応した試料の分光反射率や観察光源の分光放射輝度を測定し、測定結果を記憶部４０４に保存する。記憶部４０４に保存された各データは、演算部４０３の分光放射輝度入力部１０３、タイプ別分光放射輝度入力部１０８、及び分光反射率入力部１０９によって演算部に入力され、観察光源に対応した試料の測色値が計算される。
【００６７】
以上、実施例３で説明した色処理装置によれば、内蔵された波形タイプごとの光源で試料の分光反射率を測定し、観察光源の分光放射輝度を測定し、該測定データを演算部で利用出来るように構成している。従って、任意の観察光源下における試料の色を色処理装置のみを用いて高精度に求めることが出来る。
【００６８】
（その他の実施例）
前記実施例においては、観察光源に対応した試料の測色値（ＸＹＺ値）を出力していたが、測色値はこれに限定されるものではない。例えば、試料の分光反射率を直接出力するようにしても良いし、ＣＩＥＬＡＢやＣＩＥＣＡＭ０２などの知覚空間の値に変換して出力するようにしても良い。
【００６９】
また、該測色値を用いて作成したカラープロファイルの形式で出力することも可能である。カラープロファイルは、カラーマネジメントシステムで利用されるプロファイルであり、デバイスの色再現特性が記述されている。例えば、ＲＧＢプリンタの一般的なカラープロファイルには、ＲＧＢ各９ステップ、計７２９（＝９３）色の色票のＲＧＢとＸＹＺ（ＣＩＥＬＡＢ、ＣＩＥＣＡＭ０２）との対応関係がＬＵＴとして記述されている。よって、前記実施例で説明した方法で各色のＸＹＺを算出し、カラープロファイルを作成することが可能である。その場合、前記実施例における分光反射率入力部１０９は、図９に示した蛍光を除外した分光反射率、及び各波形タイプに対応する蛍光量を色票ごとに入力する。そして、分光反射率推定部１０５における分光反射率の推定、及び測色値算出部１０６における測色値算出を各色票について実行することになる。
【００７０】
また、前記実施例の波形タイプ決定部１０４においては、３種類の波形タイプから観察光源の波形タイプを１種類選ぶように構成していたが、観察光源の波形タイプは１種類に限定しなくても良い。
【００７１】
観察光源が複数の光源をミックスしたミックス光であった場合等は、複数の波形タイプを選択することも出来る。例えば、波形タイプ決定部１０４において算出する観察光源と各波形タイプとのＲＭＳ誤差が所定値である閾値Ｔよりも大きかった場合には、以下の式（７）を用いて各波形タイプを合成する。式中、ｓ，ｔ，ｕは、波形の合成比率であり、ｓ＋ｔ＋ｕ＝１である。
【００７２】
【数７】
0005456053.tif 000008
【００７３】
そして、観察光源とのＲＭＳ誤差が閾値Ｔ以下になるまで繰り返し合成比率を算出する。この場合、該合成比率は、分光反射率推定部１０５における蛍光量の算出にも用いられる。具体的には、以下の式（８）を用いて、蛍光量を算出すればよい。
【００７４】
【数８】
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【００７５】
また、前記実施例においては、観察光源の波形タイプを、複数の波形タイプとのＲＭＳ誤差により決定する例について説明したが、ユーザインタフェースを介した指定により波形タイプを決定しても良い。
【００７６】
また、上述した実施例における測色値の算出処理は、画像入力デバイスや表示デバイス、出力デバイスに一体型の測色器に適用することも出来る。例えば、プリンタ一体型の測色器の場合、算出した測色値はプリンタの色再現特性のキャリブレーションや、カラープロファイルの更新に用いることが出来る。
【００７７】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するコンピュータ読取り可能なソフトウェア（コンピュータプログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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