(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
センタ側の光線路の端部に接続されるセンタ側装置（１０）と加入者側の光線路の端部に接続される加入者側装置（３０）とを備える光パルス試験システムであって、
前記センタ側装置は、
第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力する第１の光源（１３）と、
前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記加入者側装置からの第２の光パルス及び前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第１の受光器（１５）と、
前記第１の受光器からの信号波形を記録する波形記録部（１９）と、
を備え、
前記加入者側装置は、
前記センタ側装置からの前記第１の光パルスを受光する第２の受光器（３４）と、
前記第２の受光器が前記第１の光パルスを受光すると、前記第２の光パルスを出力する第２の光源（３３）と、
前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置に向けて反射するミラー（３５）と、
を備える、
光パルス試験システム。
【請求項２】
前記センタ側装置は、
前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力と出力停止を制御し、前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力を停止させているときに前記第１の光源から前記第１の光パルスを出力して前記第１の受光器が前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第１の光パルス受光モードと、前記第２の光源からの前記第２の光パルスを出力させているときに前記第１の光源から前記第１の光パルスを出力して前記第１の受光器が前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記第２の光パルス及び前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第２の光パルス受光モードと、を切り替える制御部（２２）をさらに備え、
前記波形記録部は、前記第１の光パルス受光モードのときの前記第１の受光器からの信号波形（以降、第１の光パルス受光モードのときの信号波形を基準波形と称する。）を記録するとともに、前記第２の光パルス受光モードのときの前記第１の受光器からの信号波形（以降、第２の光パルス受光モードのときの信号波形を測定波形と称する。）を記録し、
前記波形記録部の記録した前記基準波形と前記測定波形との各距離における信号強度の差分を算出する演算部をさらに備える
ことを特徴とする請求項１に記載の光パルス試験システム。
【請求項３】
前記センタ側装置と複数の前記加入者側装置とが光スプリッタを介して接続され、
前記制御部は、前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力と出力停止を、前記加入者側装置ごとに制御し、前記第２の光パルス受光モードのときに、前記複数の加入者側装置のうちの任意の１つの前記加入者側装置の前記第２の光源から前記第２の光パルスを出力させる
ことを特徴とする請求項２に記載の光パルス試験システム。
【請求項４】
センタ側の光線路（９４）の端部に接続されるセンタ側装置（１０）と加入者側の光線路の端部に接続される加入者側装置（３０）とを用いる光パルス試験方法であって、
前記センタ側装置から第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力する第１の光パルス出力手順と、
前記センタ側装置からの前記第１の光パルスを前記加入者側装置が受光し、第２の光パルスを前記加入者側装置が前記センタ側装置に向けて出力し、前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記加入者側装置が前記センタ側装置に向けて反射する第２の光パルス出力手順と、
前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記第２の光パルス及び反射された前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置が受光し、前記センタ側装置の受光した光の信号波形（以降、複合光パルス波形記録手順で得られる信号波形を測定波形と称する。）を記録する複合光パルス波形記録手順と、
を順に有する光パルス試験方法。
【請求項５】
前記センタ側装置から第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力し、前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置が受光し、前記センタ側装置の受光した光の信号波形（以降、単一光パルス波形記録手順で得られる信号波形を基準波形と称する。）を記録する単一光パルス波形記録手順を、前記第１の光パルス出力手順の前又は前記複合光パルス波形記録手順の後にさらに有し、
前記単一光パルス波形記録手順で記録した基準波形と前記複合光パルス波形記録手順で記録した測定波形との各距離における信号強度の差分を算出する演算手順を、前記単一光パルス波形記録手順及び前記複合光パルス波形記録手順の後にさらに有する
ことを特徴とする請求項４に記載の光パルス試験方法。
【請求項６】
前記センタ側装置と複数の前記加入者側装置とが光スプリッタを介して接続され、
前記第２の光パルス出力手順において、前記複数の加入者側装置のうちの任意の１つの前記加入者側装置から前記第２の光パルスを出力する
ことを特徴とする請求項４又は５に記載の光パルス試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光パルス試験システム及び光パルス試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
日本国内での光アクセスネットワークは大部分がＰＯＮ（Ｐａｓｓｉｖｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）構成へと移行が進んでいる。ＰＯＮではセンタ側のＯＬＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｌｉｎｅ  Ｔｅｒｍｉｎａｌ）と加入者側のＯＮＵ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｎｅｒｔｗｏｒｋ  Ｕｎｉｔ）との間にスプリッタが配置され、１対多の構成により効率の高い加入者収容を実現している。ところが光線路の保守を実施しようとすると、一般的に用いられているＯＴＤＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ−Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）ではＯＬＴ側からスプリッタの下部を個別に測定することは原理的に困難となっている。そのため、工夫を施してスプリッタ下部の光線路を把握するための技術が検討されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
スプリッタ下部の光線路をＯＴＤＲによって測定することが困難な理由としては、スプリッタにより分岐された光線路からの後方散乱光はそれぞれの分岐された光線路からも生じるものであり、それらは、時間的に分離ができないため、時間的な後方散乱光の変化を距離に換算する原理をもつＯＴＤＲでは、スプリッタにより分離された光線路からの後方散乱光が重なってしまうため、個別に測定することができない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−６３３７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
前記課題を解決するために、本発明は、スプリッタ下部の光線路をＯＴＤＲによってセンタ側から測定可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験システムは、センタ側の光線路の端部に接続されるセンタ側装置（１０）と加入者側の光線路の端部に接続される加入者側装置（３０）とを備える光パルス試験システムであって、前記センタ側装置は、第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力する第１の光源（１３）と、前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記加入者側装置からの第２の光パルス及び前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第１の受光器（１５）と、前記第１の受光器からの信号波形を記録する波形記録部（１９）と、を備え、前記加入者側装置は、前記センタ側装置からの前記第１の光パルスを受光する第２の受光器（３４）と、前記第２の受光器が前記第１の光パルスを受光すると、前記第２の光パルスを出力する第２の光源（３３）と、前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置に向けて反射するミラー（３５）と、を備える。
【０００７】
本願発明の光パルス試験システムは、第１の光源（１３）と、第１の受光器（１５）と、を備えるため、第１の光パルスによって生じる後方散乱光を観測することができる。本願発明の光パルス試験システムは、第１の光源（１３）と、第２の受光器（３４）と、第２の光源（３３）と、ミラー（３５）と、を備えるため、第１の受光器（１５）は、第２の光パルスによって生じる後方散乱光を観測することができる。第２の光パルスは加入者側から出力した光パルスであるため、本願発明の光パルス試験システムは、スプリッタ下部の光線路をＯＴＤＲによってセンタ側から測定することができる。
【０００８】
本願発明の光パルス試験システムでは、前記センタ側装置は、前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力と出力停止を制御し、前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力を停止させているときに前記第１の光源から前記第１の光パルスを出力して前記第１の受光器が前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第１の光パルス受光モードと、前記第２の光源からの前記第２の光パルスを出力させているときに前記第１の光源から前記第１の光パルスを出力して前記第１の受光器が前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記第２の光パルス及び前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を受光する第２の光パルス受光モードと、を切り替える制御部（２２）をさらに備え、前記波形記録部は、前記第１の光パルス受光モードのときの前記第１の受光器からの信号波形（以降、第１の光パルス受光モードのときの信号波形を基準波形と称する。）を記録するとともに、前記第２の光パルス受光モードのときの前記第１の受光器からの信号波形（以降、第２の光パルス受光モードのときの信号波形を測定波形と称する。）を記録し、前記波形記録部の記録した前記基準波形と前記測定波形との各距離における信号強度の差分を算出する演算部をさらに備えてもよい。
【０００９】
本願発明の光パルス試験システムでは、前記センタ側装置と複数の前記加入者側装置とが光スプリッタを介して接続され、前記制御部は、前記第２の光源からの前記第２の光パルスの出力と出力停止を、前記加入者側装置ごとに制御し、前記第２の光パルス受光モードのときに、前記複数の加入者側装置のうちの任意の１つの前記加入者側装置の前記第２の光源から前記第２の光パルスを出力させてもよい。
【００１０】
上記目的を達成するために、本願発明の光パルス試験方法は、センタ側の光線路（９４）の端部に接続されるセンタ側装置（１０）と加入者側の光線路の端部に接続される加入者側装置（３０）とを用いる光パルス試験方法であって、前記センタ側装置から第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力する第１の光パルス出力手順と、前記センタ側装置からの前記第１の光パルスを前記加入者側装置が受光し、第２の光パルスを前記加入者側装置が前記センタ側装置に向けて出力し、前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記加入者側装置が前記センタ側装置に向けて反射する第２の光パルス出力手順と、前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光、前記第２の光パルス及び反射された前記第２の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置が受光し、前記センタ側装置の受光した光の信号波形（以降、複合光パルス波形記録手順で得られる信号波形を測定波形と称する。）を記録する複合光パルス波形記録手順と、を順に有する。
【００１１】
本願発明の光パルス試験方法は、第１の光パルス出力手順と、第２の光パルス出力手順と、複合光パルス波形記録手順と、を順に有するため、第１の光パルスによって生じる後方散乱光を観測するとともに、第２の光パルスによって生じる後方散乱光を観測することができる。第２の光パルスは加入者側から出力した光パルスであるため、本願発明の光パルス試験方法は、スプリッタ下部の光線路をＯＴＤＲによってセンタ側から測定することができる。
【００１２】
本願発明の光パルス試験方法では、前記センタ側装置から第１の光パルスを前記加入者側装置に向けて出力し、前記第１の光パルスによって生じる後方散乱光を前記センタ側装置が受光し、前記センタ側装置の受光した光の信号波形（以降、単一光パルス波形記録手順で得られる信号波形を基準波形と称する。）を記録する単一光パルス波形記録手順を、前記第１の光パルス出力手順の前又は前記複合光パルス波形記録手順の後にさらに有し、前記単一光パルス波形記録手順で記録した基準波形と前記複合光パルス波形記録手順で記録した測定波形との各距離における信号強度の差分を算出する演算手順を、前記単一光パルス波形記録手順及び前記複合光パルス波形記録手順の後にさらに有してもよい。
【００１３】
本願発明の光パルス試験方法では、前記センタ側装置と複数の前記加入者側装置とが光スプリッタを介して接続され、前記第２の光パルス出力手順において、前記複数の加入者側装置のうちの任意の１つの前記加入者側装置から前記第２の光パルスを出力してもよい。
【００１４】
なお、上記各発明は、可能な限り組み合わせることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、プリッタ下部の光線路をＯＴＤＲによってセンタ側から測定可能にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】実施形態１に係る光パルス試験システムの一例を示す。
【図２】センタ側装置１０及び加入者側装置３０の具体例を示す。
【図３】第１の光パルス出力手順の後における光パルス試験システムの状態の一例を示す。
【図４】第２の光パルス出力手順における光パルス試験システムの状態の一例を示す。
【図５】実施形態１に係る測定波形の一例を示す。
【図６】実施形態２に係る光パルス試験システムの一例を示す。
【図７】センタ側装置及び加入者側装置の具体例を示す。
【図８】実施形態２に係る基準波形の一例を示す。
【図９】実施形態２に係る測定波形の一例を示す。
【図１０】演算部の演算結果の一例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施の例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００１８】
（実施形態１）
図１に、実施形態１に係る光パルス試験システムの一例を示す。本実施形態では、ＯＬＴ９１とＯＮＵ９２とが１対１で接続された光ネットワークの光パルス試験を行う。本実施形態に係る光パルス試験システムは、センタ側装置１０及び加入者側装置３０を備える。センタ側装置１０はＯＬＴ９１側の光線路９４の端部に接続され、加入者側装置３０はＯＮＵ９２側の光線路９４の端部に接続される。
【００１９】
図２に、センタ側装置１０及び加入者側装置３０の具体例を示す。センタ側装置１０は、タイミング制御部１１と、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）ドライバ１２と、第１の光源としてのＬＤ１３と、光カプラ１４と、第１の受光器としてのＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ  Ｐｈｏｔｏ−Ｄｉｏｄｅｓ）１５と、増幅器１６と、ＡＤ（Ａｎａｌｏｇ  ｔｏ  Ｄｉｇｉｔａｌ）コンバータ１７と、加算部１８と、波形記録部１９と、表示部２０と、を備える。加入者側装置３０は、光カプラ３１と、ミラー３５と、光カプラ３２と、第２の光源としてのＬＤ３３と、第２の受光器としてのＰＤ（Ｐｈｏｔｏ−Ｄｉｏｄｅｓ）３４と、を備える。センタ側装置１０と加入者側装置３０との光線路９４に、ＤＵＦ（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ Ｆｉｂｅｒ）４０が挿入されていてもよい。
【００２０】
本実施形態に係る光パルス試験方法は、センタ側装置１０と加入者側装置３０とを用いる光パルス試験方法であって、第１の光パルス出力手順と、第２の光パルス出力手順と、複合光パルス波形記録手順と、を順に有する。
【００２１】
第１の光パルス出力手順では、センタ側装置１０から第１の光パルスＬ１を加入者側装置３０に向けて出力する。例えば、タイミング制御部１１からのタイミング信号に従い、ＬＤドライバ１２はＬＤ１３を駆動する。ＬＤ１３は、タイミング信号に従って第１の光パルスＬ１を光カプラ１４に出力する。光カプラ１４は第１の光パルスＬ１を光線路９４に出力する。
【００２２】
図３に、第１の光パルス出力手順の後における光パルス試験システムの状態の一例を示す。第１の光パルスＬ１は、光線路９４を伝送され、加入者側装置３０に到達する。一方で、光線路９４において、第１の光パルスＬ１が光線路９４で反射又は散乱された後方散乱光Ｂ１が発生する。
【００２３】
第２の光パルス出力手順では、センタ側装置１０からの第１の光パルスＬ１をＰＤ３４が受光する。受光した光に同期してＬＤ３３は、第２の光パルスＬ２をセンタ側装置１０に向けて出力する。
【００２４】
図４に、第２の光パルス出力手順における光パルス試験システムの状態の一例を示す。光線路９４において、第２の光パルスＬ２が光線路９４で反射又は散乱された後方散乱光Ｂ２が発生し、後方散乱光Ｂ２が加入者側装置３０に到達する。ミラー３５は、後方散乱光Ｂ２を、センタ側装置１０に向けて反射する。ミラー３５の反射した後方散乱光Ｂ３は、光線路９４にて伝送され、センタ側装置１０に到達する。
【００２５】
複合光パルス波形記録手順では、後方散乱光Ｂ１、第２の光パルスＬ２及び後方散乱光Ｂ３をＡＰＤ１５が受光する。増幅器１６は、ＡＰＤ１５の受光信号を増幅する。ＡＤコンバータ１７は、増幅器１６からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。加算部１８は、タイミング制御部１１からのタイミング信号以降のＡＤコンバータ１７からのデジタルデータを時刻ごとに記憶する。波形記録部１９は、加算部１８の記憶したデジタルデータを用いて得られるＯＴＤＲ波形を記録する。これにより、ＡＰＤ１５の受光した光の信号波形（以降、複合光パルス波形記録手順で得られる信号波形を測定波形と称する。）を記録する。
【００２６】
図５に、測定波形の一例を示す。スプリッタ９３の位置にピークＰＢ１が現れ、ＯＮＵ９２の位置にピークＰＯＮＵが現れる。また、第２の光パルスＬ２がスプリッタ９３で反射されたフレネル反射のピークＰＢ３が現れる。
【００２７】
本実施形態では、ＰＯＮの両端測定を目的としている。ＯＮＵ９２側に光源と光検出器と全反射ミラーを搭載した加入者側装置３０を設置し、ＯＬＴ９１側から第１の光パルスＬ１がＯＮＵ９２に届いた際に第２の光パルスＬ２を出力させる。ＯＮＵ９２側から出力した第２の光パルスＬ２による後方散乱光は加入者側装置３０に戻り、その光は全反射ミラー３５によりセンタ側装置１０へ再度反射される。このため、ＯＬＴ９１側ではＯＮＵ９２側から光線路を測定したかのように波形を測定することができる。このように、本発明は、ＰＯＮに限らず両端からの測定が必要なアプリケーションにおいて、あたかも両端測定を実施したかのような波形を取得することが可能となる。
【００２８】
この光源と光検出器はＯＮＵ９２の構成部品であるため、第１の光パルスＬ１及び第２の光パルスＬ２の波長が信号波長と同じ波長であれば、ＯＮＵ９２に全反射ミラーを追加するだけで加入者側装置３０を構成することが可能である。ミラーとしても機能する反射フィルタはＯＮＵ９２の構成部品であるため、第１の光パルスＬ１及び第２の光パルスＬ２の波長が信号波長と異なる波長であれば、ＯＮＵ９２のミラー３５にＯＮＵ９２の反射フィルタを用いることが可能である。
【００２９】
また、加入者側装置３０を小型のＯＴＤＲとしてもよい。その場合、通常のスプリッタ９３下部のＯＴＤＲ測定は現場で実施し、現場で波形確認が可能であるが、センタ側でその波形を確認するためには何かしらの通信手段をもって波形データを送付する必要がある。ところが本願の構成を用いることにより、あたかも現場での波形をセンタ側のＯＴＤＲにより把握することが可能で効率的に現場へ指示が可能となる。
【００３０】
（実施形態２）
図６に、実施形態２に係る光パルス試験システムの一例を示す。本実施形態では、ＯＬＴ９１とＯＮＵ９２とが１対複数で接続されたＰＯＮの光パルス試験を行う。各ＯＮＵ９２＿１〜９２＿４には加入者側装置３０＿１〜３０＿４が配置されている。
【００３１】
図７に、センタ側装置１０及び加入者側装置３０の具体例を示す。本実施形態に係るセンタ側装置１０は、実施形態１のセンタ側装置１０に、さらに、制御部２２と、演算部２１と、を備える。本実施形態に係る加入者側装置３０は、実施形態１の加入者側装置３０に、さらに、制御部３６を備えている。
【００３２】
本実施形態では、単一光パルス波形記録手順を第１の光パルス出力手順の前にさらに有するとともに、演算手順を複合光パルス波形記録手順の後に有する。単一光パルス波形記録手順では第１の光パルス受光モードで動作し、第１の光パルス出力手順、第２の光パルス出力手順及び複合光パルス波形記録手順では第２の光パルス受光モードで動作する。
【００３３】
単一光パルス波形記録手順では、制御部２２は、センタ側装置１０及び加入者側装置３０＿１〜３０＿４を第１の光パルス受光モードに設定する。例えば、制御部２２は、ＬＤドライバ１２を駆動して、ＬＤ１３から制御信号を送信する。制御信号は各加入者側装置３０＿１〜３０＿４のＰＤ３４で受光される。制御部３６は、ＰＤ３４の受光した制御信号に従い、ＬＤ３３の駆動を停止させる。各加入者側装置３０のＬＤ３３からの第１の光パルスＬ１の出力を停止させる。
【００３４】
この状態で、制御部２２は、ＬＤ１３から第１の光パルスを出力し、ＡＰＤ１５が第１の光パルスによって生じる後方散乱光Ｂ１を受光する。増幅器１６は、ＡＰＤ１５の受光信号を増幅する。ＡＤコンバータ１７は、増幅器１６からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。加算部１８は、タイミング制御部１１からのタイミング信号以降のＡＤコンバータ１７からのデジタルデータを時刻ごとに記憶する。波形記録部１９は、加算部１８の記憶したデジタルデータを用いて得られるＯＴＤＲ波形を記録する。これにより、ＡＰＤ１５の受光した光の信号波形（以降、単一光パルス波形記録手順で得られる信号波形を基準波形と称する。）を記録する。
【００３５】
図８に、基準波形の一例を示す。スプリッタ９３の位置にピークＰＢ１が現れ、ＯＮＵ９２＿１の位置にピークＰ１が現れ、ＯＮＵ９２＿２の位置にピークＰ２が現れ、ＯＮＵ９２＿３の位置にピークＰ３が現れ、ＯＮＵ９２＿４の位置にピークＰ４が現れる。
【００３６】
第１の光パルス出力手順では、制御部２２は、センタ側装置１０を第２の光パルス受光モードに設定するとともに、加入者側装置３０＿１〜３０＿４のうちの任意の１つである加入者側装置３０＿２を第２の光パルス受光モードに設定する。例えば、制御部２２は、ＬＤドライバ１２を駆動して、ＬＤ１３から制御信号を送信する。制御信号は各加入者側装置３０＿１〜３０＿４のうちの１つの加入者側装置３０＿２を第２の光パルス受光モードに設定する旨の信号である。制御信号は各加入者側装置３０＿１〜３０＿４のＰＤ３４で受光される。各加入者側装置３０＿１〜３０＿４の各制御部３６は、ＰＤ３４の受光した制御信号に従い、ＬＤ３３の駆動を停止させるか駆動させる。これにより、加入者側装置３０＿２のみが第２の光パルス受光モードに設定される。
【００３７】
この状態で、制御部２２は、ＬＤ１３から第１の光パルスＬ１を出力する。例えば、タイミング制御部１１からのタイミング信号に従い、ＬＤドライバ１２はＬＤ１３を駆動する。ＬＤ１３は、タイミング信号に従って第１の光パルスＬ１を光カプラ１４に出力する。光カプラ１４は第１の光パルスＬ１を光線路９４＿０に出力する。
【００３８】
第２の光パルス出力手順では、センタ側装置１０からの第１の光パルスＬ１をＰＤ３４が受光する。ＬＤ３３は、第２の光パルスＬ２をセンタ側装置１０に向けて出力する。
【００３９】
複合光パルス波形記録手順では、後方散乱光Ｂ１、第２の光パルスＬ２及び後方散乱光Ｂ３をＡＰＤ１５が受光する。増幅器１６は、ＡＰＤ１５の受光信号を増幅する。ＡＤコンバータ１７は、増幅器１６からのアナログ信号をデジタル信号に変換する。加算部１８は、タイミング制御部１１からのタイミング信号以降のＡＤコンバータ１７からのデジタルデータを時刻ごとに記憶する。波形記録部１９は、加算部１８の記憶したデジタルデータを用いて得られるＯＴＤＲ波形を記録する。これにより、ＡＰＤ１５の受光した光の信号波形（以降、複合光パルス波形記録手順で得られる信号波形を測定波形と称する。）を記録する。
【００４０】
図９に、測定波形の一例を示す。基準波形と同様に、ピークＰＢ１、ピークＰ１、ピークＰ２、ピークＰ３、ピークＰ４が現れる。測定波形では、第２の光パルスＬ２が含まれるため、ＯＮＵ９２＿２でのフレネル反射のピークＰ２の強度が高くなっている。また、後方散乱光Ｂ３が含まれるため、ミラー３５が位置するピークＰ２の位置からスプリッタ９３が位置するピークＰＢ１までの後方散乱光強度が増えている。
【００４１】
演算手順では、演算部２１が、波形記録部１９の記録した基準波形と測定波形との各距離における信号強度の差分を算出する。例えば、図８に示す基準波形と図９に示す測定波形の差分を算出する。このときの波形は、図１０のようになる。
【００４２】
本実施形態では、ＯＬＴ９１側ではＯＮＵ９２＿２側からスプリッタ９３下部の光線路９４＿２を測定したかのように波形を測定することができる。ＯＮＵ９２＿２側から第２の光パルスＬ２を出力した場合のＯＬＴ９１側の波形と出力しない場合のＯＬＴ９１側の波形の差分を計算することにより、図１０のようなＯＮＵ９２＿２側からスプリッタ９３下部を測定した波形のみをＯＬＴ９１側で取り出すことが可能となる。
【００４３】
なお、単一光パルス波形記録手順は、複合光パルス波形記録手順の後であってもよい。また、ＯＮＵの数は４に限定しない。
【産業上の利用可能性】
【００４４】
本発明は情報通信産業に適用することができる。
【符号の説明】
【００４５】
１０：センタ側装置
１１：タイミング制御部
１２：ＬＤドライバ
１３：ＬＤ
１４：光カプラ
１５：ＡＰＤ
１６：増幅器
１７：ＡＤコンバータ
１８：加算部
１９：波形記録部
２０：表示部
２１:演算部
２２：制御部
３０、３０＿１〜３０＿４：加入者側装置
３１：光カプラ
３２：光カプラ
３３：ＬＤ
３４：ＰＤ
３５：ミラー
３６：制御部
４０：ＤＵＦ
９１：ＯＬＴ
９２、９２＿１〜９２＿４：ＯＮＵ
９３：スプリッタ
９４、９４＿０〜９４＿４：光線路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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