(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
暗室及び支持ブラケットを備え、前記暗室の少なくとも１つの側壁には、開口が設けられ、前記支持ブラケットは、前記開口の内側に回転可能に装着されるシールド板と、試験対象物を支持するための第１の試験台及び第２の試験台とを備え、前記第１の試験台は前記シールド板の一方の面側に配設され、前記第２の試験台は前記シールド板の他方の面側に配設され、試験を行う際、前記第１の試験台及び第２の試験台のうちの一方の試験台に設置された試験対象物は、前記暗室の内部に位置し、他方の試験台に設置された試験対象物は、前記暗室の外部に位置することを特徴とする電波暗室。
【請求項２】
互いに反対側を向いた前記シールド板の両側の面には支持プレートがそれぞれ設けられ、一方の支持プレートには前記第１の試験台が固定され、他方の支持プレートには前記第２の試験台が固定されることを特徴とする請求項１に記載の電波暗室。
【請求項３】
互いに反対側を向いた前記シールド板の両側の面には、電磁波吸収材料がそれぞれ設けられることを特徴とする請求項１又は２に記載の電波暗室。
【請求項４】
前記開口の内縁面のうちの頂面及び底面には、互いに対向する位置にシャフト穴がそれぞれ設けられ、前記シールド板の上縁面及び下縁面には、前記シャフト穴に回転可能に枢着されたシャフトがそれぞれ設けられることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の電波暗室。
【請求項５】
前記開口の内縁面のうちの左右両側の側面には、横断面の形状が円弧状を呈する弾性変形可能な位置決め凸部がそれぞれ設けられ、前記シールド板の左右両側の側縁面には、前記位置決め凸部と係合する位置決め凹部がそれぞれ設けられることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の電波暗室。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁試験の分野に関するものであり、特に電波暗室に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的な電磁互換性（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ、ＥＭＣ）の試験は、試験場として電波暗室を使用して試験を行う必要がある。従来の電波暗室は、一般的に、暗室と、該暗室内に設置されるターンテーブルと、アンテナを設置する受信機とを備える。従来の電波暗室の試験過程は、下記のステップを備える。まず、試験対象物をターンテーブル上に設置し、試験対象物をオンにした後、試験対象物にデバッグを行う。次に、受信機のアンテナが、試験対象物から放射される電磁信号を受信し且つ該電磁信号を電気信号に転換した後、さらに該電気信号を受信機に送信する。これにより、試験対象物が空間に放射した電磁信号の信号強度を試験する。試験対象物の試験が終了すると、電波暗室の動作を停止して、試験対象物を電波暗室から取り出し、引き続き別の試験対象物をターンテーブルに設置した後、上記のステップを繰り返して試験を行う。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記した従来の技術では、試験対象物をターンテーブルに設置したりターンテーブルから取り外したりするのに多くの時間を必要とし、このように試験対象物を設置したり取り外したりしている間は電波暗室が動作しない状態であるため、電波暗室の使用率が低いという問題がある。この課題を解決するために、本発明は、使用率が高い電波暗室を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明に係る電波暗室は、暗室及び支持ブラケットを備え、前記暗室の少なくとも１つの側壁には、開口が設けられ、前記支持ブラケットは、前記開口の内側に回転可能に装着されたシールド板と、試験対象物を支持するための第１の試験台及び第２の試験台とを備え、前記第１の試験台は前記シールド板の一方の面側に配設され、前記第２の試験台は前記シールド板の他方の面側に配設され、試験を行う際、前記第１の試験台及び第２の試験台のうちの一方の試験台に設置された試験対象物は、前記暗室の内部に位置し、他方の試験台に設置された試験対象物は、前記暗室の外部に位置する。なお、本発明において、シールド板の一方の面及び他方の面は、互いに反対側の方向を向いた表面を指す。
【発明の効果】
【０００５】
本発明に係る電波暗室によれば、シールド板を回転させることにより、該シールド板の両側にそれぞれ配設された２つの試験台を電波暗室内に交互に位置させることができる。このため、一方の試験台に設置された試験対象物に対して電波暗室内で試験が行われている間、電波暗室の外部に位置する他方の試験台に別の試験対象物を設置することができる。従って、従来の技術と比べ、電波暗室の使用率が向上される。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本発明の実施形態に係る電波暗室の分解図である。
【図２】図１に示した電波暗室の組立図である。
【図３】図２に示した電波暗室のＩＩＩ−ＩＩＩ線に沿った横断面図である
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００８】
図１〜図３を参照すると、本発明の実施形態に係る電波暗室１００は、パソコン、液晶ディスプレイ、携帯電話などの試験対象物５００から放射される電磁信号の信号強度を測定するために用いられる。該電波暗室１００は、暗室１０、支持ブラケット３０及び受信機５０を備える。該受信機５０には、試験対象物５００から放射された電磁信号を受信するためのアンテナ５２が設置される。
【０００９】
暗室１０は、底壁１１と、頂壁１２と、底壁１１と頂壁１２との間に垂直に立設されて底壁１１及び頂壁１２にそれぞれ連設された４つの側壁１４とを備える。これら底壁１１、頂壁１２及び側壁１４によって、内部に収容空間１５が形成される。暗室１０の内表面には、電磁波吸収材料１７が設けられる。暗室１０の１つの側壁１４には、矩形状の開口１６が設けられる。図１を平面視した場合の開口１６の内縁面のうちの左右両側の側面には、横断面の形状が円弧状を呈する弾性変形可能な位置決め凸部１４２がそれぞれ設置され、開口１６の内縁面のうちの頂面及び底面の中央部には、シャフト穴１４４がそれぞれ設けられる。位置決め凸部１４２は、開口１６の前記側面に沿って鉛直方向に延在するバー状の部分である。開口１６の前記頂面におけるシャフト穴１４４と開口１６の前記底面におけるシャフト穴１４４とは、互いに対向する位置に配設されている。
【００１０】
支持ブラケット３０は、開口１６の形状に対応する形状からなる、つまり矩形を呈するシールド板３２と、互いに反対側を向いたシールド板３２の両側の面にそれぞれ突設された２つの半円形の支持プレート３４と、を備える。各支持プレート３４の上面には、試験対象物５００を支持するための試験台３４５が設けられている。すなわち、一方の支持プレート３４には、シールド板３２の一方の面側に配設される第１の試験台３４５が固定され、他方の支持プレート３４には、シールド板３２の他方の面側に配設される第２の試験台３４５が固定される。また、互いに反対側を向いたシールド板３２の両側の面には、電磁波吸収材料１７がそれぞれ設けられる。シールド板３２の左右両側の側縁面には、横断面の形状が円弧形を呈する位置決め凹部３２５がそれぞれ設けられる。位置決め凹部３２５は、シールド板３２の縦方向に沿って延在する溝状の部分である。シールド板３２の上縁面及び下縁面の中央部には、開口１６の内縁面に形成されたシャフト穴１４４に回転可能に枢着されるシャフト３２７がそれぞれ設けられる。このシャフト３２７をシャフト穴１４４内に枢着させることにより、支持ブラケット３０を、暗室１０の開口１６の内側に、シャフト３２７を中心に（つまり、シールド板３２の横方向の中央を通る鉛直軸線を中心に）回転可能に装着することができる。
【００１１】
本発明の電波暗室１００を使用する場合、まず、試験対象物５００を支持ブラケット３０の一方の試験台３４５上に設置した後、シャフト３２７を中心にしてシールド板３２を回転させ、シールド板３２の位置決め凹部３２５を開口１６の内縁面の位置決め凸部１４２に係合させる。この際、シールド板３２は、暗室１０の開口１６を閉塞し、試験対象物５００は、暗室１０内の収容空間１５に位置し且つ受信機５０のアンテナ５２に対応し、受信機５０は、その試験対象物５００に対して試験を行う。この間、暗室１０の外部に位置する他方の試験台３４５に対して、別の試験対象物５００を設置する。そして、暗室１０内の試験対象物５００の試験が終了した後、シールド板３２を、シャフト３２７を中心に１８０度回転させることにより、暗室１０の外部に位置する他方の試験台３４５上に設置された前記別の試験対象物５００を暗室１０の内部に配置させることができると共に、暗室１０の内部に位置する一方の試験台３４５上に設置された試験が終了した試験対象物５００を暗室１０の外部に配置させることができる。その後、暗室１０の内部に新たに配置された別の試験対象物５００に対して試験を行う。この間、暗室１０の外部に取り出された試験台３４５から、試験が終了した試験対象物５００を取り外し、さらにその試験台３４５に対して別の試験対象物５００を設置する。以上のステップを繰り返すことにより、複数の試験対象物５００を連続的に試験することができ、電波暗室１００の使用率を大幅に向上させることができる。
【００１２】
なお、上述した本発明の実施形態では、暗室１０の４つの側壁１４のうちの１つに開口１６が１つだけ設けられ、その開口１６の内側に支持ブラケット３０が回転可能に装着されているが、本発明は、１つの側壁１４に２つ以上の開口１６が設けられ、それらの開口１６の各々の内側に支持ブラケット３０がそれぞれ回転可能に装着されていてもよく、或いは、２つ以上の側壁１４に開口１６がそれぞれ設けられ、それらの開口１６の各々の内側に支持ブラケット３０がそれぞれ回転可能に装着されていてもよい。
【符号の説明】
【００１３】
１００  電波暗室
１０  暗室
３０  支持ブラケット
１１  底壁
１２  頂壁
１４  側壁
１５  収容空間
１６  開口
１７  電磁波吸収材料
１４２  位置決め凸部
１４４  シャフト穴
５０  受信機
５２  アンテナ
３２  シールド板
３４  支持プレート
３２５  位置決め凹部
３２７  シャフト
５００  試験対象物
３４５  試験台
【図１】
0005486104.tif 000002
【図２】
0005486104.tif 000003
【図３】
0005486104.tif 000004