(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、
前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、
前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
更に、前記処理手段に、
（３）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項２】
情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、
前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、
前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
更に、前記処理手段に、
（３）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（４）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項３】
情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、
前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けである第２のテストメニューレコードを２以上含む、第２のテストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、
前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
前記処理手段に、
前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに、
（３）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（４）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
更に、前記処理手段に、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項４】
情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、
ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムであり、
前記記憶手段は、
ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値又は前記テスト難易度算出要素データベースの数値及びＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶し、
前記処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第１のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（２）  当該テストメニューデータベースから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
（３）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出する処理を行わせ、
（４）  前記記憶手段のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させる処理を行わせ、
更に、前記処理手段に、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項５】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、
前記処理手段に、さらに、
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項６】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、
前記処理手段に、さらに、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させる処理を行わせ、
前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項７】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
前記ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
を記憶し、
前記処理手段に、さらに、
（６）  前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、
前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させ、
前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する処理を行わせ、
（７）  当該ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、
前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、前記記憶手段のＣＡＤプランに記憶させる処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項８】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、
前記処理手段に、さらに、
（６）  前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする処理を行わせ、
（７）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせ、
（８）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項９】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶し、
前記処理手段に、さらに、
（６）  前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする処理を行わせ、
（７）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示する処理を行わせ、
（８）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（７）の処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項１０】
請求項１乃至４記載のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムにおいて、
前記コンピュータシステムの記憶手段は、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶し、
前記処理手段に、さらに、
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する処理を行わせ、
（７）  当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、
前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（６）の処理を行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
【請求項１１】
情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段と、を備えたコンピュータシステムであって、
前記記憶手段が、請求項１乃至１０のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムの各情報を記憶し、
前記処理手段が、請求項１乃至１０のいずれか１記載のテストフロー提示コンピュータプログラムの各処理を行うこと、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、利用者がコンピュータシステムを使用して利用することができる、ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラム、に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩのテストフローを作成する際に、従来は、確たる基準も無く、知識と経験を元に手探りで製造上の不良を発見するテストフローの作成が行われていた。製造上の不良を発見するテストを説明すると、ＬＳＩの生産においては、製造工程で発生した不良の検出を目的として、テストが行われる。一例としては、製造中に微小なホコリが付着することによって信号線が短絡または断線したりすることがあるので、このような影響を受けた製品を不良品として発見することである。
【０００３】
近年の高度に集積されたＬＳＩにおいては、設計者が設計したままの回路に対して動作検証用のパターンを適用するだけでは充分に故障を検出できない。そのため、テスト容易化設計（ＤＦＴ）技術に基づいて回路を修正し、また、適切なテストパターンを生成する必要がある。この、回路に対するＤＦＴの適用およびテストパターン生成の一連の手続きをテストフローと呼ぶ。テストフローの作成は、従来は確たる基準もなく、知識と経験を元に手探りで行われていた。
【０００４】
しかし、知識と経験を元に手探りで製造上の不良を発見するテストフローの作成手法では、技術者のミスや、技術者によって判断が異なることがあり、不必要なテストをテストフローに含めることによって、不要にＬＳＩの回路規模が大きくなったり、パターン増加によるテストコスト増、良品・不良品を正確に判別できないことによる歩留まり損失（良品1チップあたりの製造コスト増加）、製造上の不良を発見するのに必要なテストを見落とすことによる市場不良の増加（信頼性の低下）、といった不都合がある。
【０００５】
必要なテストを見落とした場合、不良品が出荷されてしまう。不必要なテストをテストフローに含めてしまうと、本来良品である半導体を不良品としてしまう。良品を不良品と判断してしまう誤判定が発生しうる要因としては、例えば、テストしてはいけないパスに対してパターン生成をしてしまった場合が考えられる。具体的には、スキャン回路によって、通常動作では遷移できない状態に移行できるため、この状態でテストしてしまった場合など、である。他にも、テスト時は通常動作時より回路活性化率が高くなる（あちこち一斉にパタパタ動く）ため、テスト時のみ電力が足りなくなって遅く見えてしまい、プロセスばらつきとの相乗効果で一部のチップがスペックを下回ってしまう場合、などが考えられる。
【０００６】
テストフロー生成のやり直しを行わなければならない場合は、設計開発工数増加に繋がってしまうという不都合がある。これらの不都合を解決するため、知識や経験の浅い技術者でも最適なテストフローを作成することが出来る手法が望まれていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
以下の特許文献１には、ＬＳＩのテストに関する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００６−３１３５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の解決しようとする課題は、技術者の知識や経験に依存することなく、良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成を実現することである。
【０００９】
具体的には、必ずしも数学的な最適を保証するものでなくとも、設計開発工数を（人手でやるよりずっと）削減することや、製造コスト及びテストコストを削減すること、製造されたＬＳＩの信頼性を向上させること、ができるテストフローの作成の自動化を実現することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
１、
【００１１】
（１）
そこで、上記課題を解決するため、本発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、情報を記憶する記憶手段と、情報を処理する処理手段と、利用者に情報を表示する出力手段と、利用者からの命令を受け付ける入力手段とを備えたコンピュータシステムにおけるコンピュータプログラムであって、ＬＳＩのテストフロー作成を支援するテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００１２】
また、前記コンピュータシステムの記憶手段は、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けを含むテスト難易度算出要素データベースを記憶し、
前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含む、テストメニューデータベースを記憶し、
前記ＤＦＴ手法と前記優先度との関連付けを１以上含むテストフローデータベースを記憶している。
【００１３】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、以下の（３）の処理も行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００１４】
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出すること、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（３）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
【００１５】
（２）
ここで、「記憶手段」とは、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ＨＤＤ等のコンピュータシステムにおける記憶装置が該当する。
「処理手段」とは、例えば、ＣＰＵ等のコンピュータシステムにおける演算装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける中央処理サーバコンピュータが該当する。
「出力手段」とは、例えば、ディスプレイ等のコンピュータシステムにおける情報を表示する出力装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける情報端末としての携帯電話端末やパーソナルコンピュータ等が該当する。
「入力手段」とは、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル等のコンピュータシステムにおける入力装置や、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおける情報端末としての携帯電話端末やパーソナルコンピュータ等が該当する。
【００１６】
「コンピュータシステム」は、パーソナルコンピュータ等の１のハードウェア内にて完結して構成される場合もあるし、複数のコンピュータにより構成される場合もある。複数のコンピュータにより構成される場合の例として、通信ネットワークで接続されたコンピュータシステムにおいて、「処理手段」は中央処理サーバコンピュータ、「記憶手段」は中央処理サーバコンピュータが管理する記憶装置、「出力手段」や「入力手段」としては中央処理サーバコンピュータと通信する情報端末（携帯電話、パーソナルコンピュータ）、等の場合が該当する。
【００１７】
「ネットリスト」とは、ＬＳＩの回路記述の一種であり、回路は論理ゲートの接続として現される。ＬＳＩ設計フローにおいて、ネットリストはレジスタ転送レベル（ＲＴＬ）で記述された回路の論理合成によって得られる。この「ネットリスト」により、ＬＳＩ設計図の回路のゲート数、回路内のＦＦ数、機能ピン数（回路のプライマリ入力、プライマリ出力数）が決定される。
また、「パッケージピン数」とは、チップの使用として決定されるＬＳＩを収めるパッケージに備わっている接続ピン数である。
「テストピン数」とは、「パッケージピン数」のうち、「機能ピン数」及び「電源・グランドピン数」を除いた、ＬＳＩのテストに使用できるピン数のことである。
「機能ピン数」とは、ＬＳＩの本来の回路に使用される必要ピン数である。
「電源・グランドピン数」とは、電源供給及び、接地に使用されるピンのピン数のことであり、信号のやりとり以外に使用されるピンのピン数である。これらの合計数を電源・グランドピン数と呼ぶ。
【００１８】
「希望動作周波数」とは、ＬＳＩの回路が実動作する場合に保証されるべき周波数のことである。実動作速度テスト（遅延テスト、機能テストなど）を行う場合には、テスト周波数の決定要因となる。
「プロセステクノロジー情報」とは、半導体工場の性能、及びそこで製造される半導体製品そのものに関する情報であり、クリーンルームの塵除去能力、最小加工線幅、配線材料、メタル層の数、などが該当する。
【００１９】
「テスト時の消費電力」とは、テスト対象の半導体製品が通常の動作によって消費する電力（通常時の消費電力）とは異なり、半導体製品をテストする際に消費される電力である。近年の低消費電力設計が適用された回路では、通常時の消費電力よりも、テスト時の消費電力のほうが大きくなることが多い。半導体の設計は通常時の消費電力を念頭に行われるため、テスト時の消費電力によって、製品が故障してしまう可能性もある。テスト時の消費電力を抑えるようテスト手法を選択する必要がある。
「テスター容量」とは、ＬＳＩのテストを実行するテスターのメモリ容量である。
【００２０】
「テスト難易度算出式」とは、テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するための算出式であって、テスト難易度算出要素データベースの数値の１以上の情報を変数として、テスト難易度を算出するための式である。
「テスト難易度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を適用したＬＳＩのテストの難易度について、数値で難易度を表したものである。
「テスト難易度基準式」とは、テスト難易度算出式により算出されたテスト難易度が、当該基準式を満たしているか否かにより、特定の「ＤＦＴ手法」が必要であるか否かを判断するための判定式である。
「ＤＦＴ手法」とは、ＬＳＩのテストを行うため、設計段階でテストの際に必要となる回路の追加や工夫を施す手法である。これにより、ＬＳＩのテストの適用時間を短縮し、テスト対象範囲を拡大したテストを実施することが出来る。
「優先度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を実施するために適した順番を表す優先順位を表したものである。それぞれのＤＦＴ手法を実施する順番を誤ると、不都合が生じる場合があるからである。
「テストメニューレコード」とは、テスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであり、テストメニューデータベースを構成する各レコードである。テストメニューデータベースは、テストメニューレコードを２以上含んでいる。
【００２１】
「当該算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式」とは、テスト難易度基準式で要求される基準を、算出されたテスト難易度が満足する、という意味である。
「当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし」とは、優先度が表す優先順位の順に、ＤＦＴ手法をソートする、という意味である。
【００２２】
（３）
本発明では、前記（１）の処理により、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、前記（２）の処理により、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、前記（３）の処理により、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。
【００２３】
この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
よって、技術者の知識や経験に依存することなく、良品を良品として、不良品を不良品として正確に検出するために必要となるテストを含み、不必要なテストを含まないテストフローの作成を自動化することができる。
また、必ずしも数学的な最適を保証するものでなくとも、設計開発工数を人手でやるよりも削減することや、製造コスト及びテストコストを削減すること、製造されたＬＳＩの信頼性を向上させること、についてテストフローの作成を自動化することができる。
【００２４】
２、
【００２５】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段に、さらに、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースを記憶している。
【００２６】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、以下の（３）、（４）、（５）の処理も行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００２７】
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出すること、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（３）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出すること、
（４）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
【００２８】
（２）
ここで、「第２のテスト難易度算出式」とは、テスト難易度算出要素データベースの数値とＤＦＴ手法とをもとに、テスト難易度を算出するための算出式であって、テスト難易度算出要素データベースの数値の１以上の情報と、１以上のＤＦＴ手法を変数として、テスト難易度を算出するための式である。
「第２のテストメニューデータベース」は、第２のテストメニューレコードを１以上含んでいる。
「第２のテストメニューレコード」とは、第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであり、第２のテストメニューデータベースを構成する各レコードである。
【００２９】
（３）
本発明では、前記（１）の処理により、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、前記（２）の処理により、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
【００３０】
さらに、前記（３）の処理により、第２のテスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースと、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、それぞれの第２のテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、第２のテストメニューレコードごと）に、第２のテスト難易度が算出される。
そして、前記（４）の処理により、それぞれの第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
【００３１】
その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、前記（５）の処理により、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。
【００３２】
この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。
【００３３】
３、
【００３４】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段に、さらに、第２のテストメニューデータベースに第２のテストメニューレコードを２以上含んで記憶している。
【００３５】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに、以下の（１）及び（２）の処理を行わせ、
前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに、以下の（３）及び（４）の処理を行わせ、
以下の（５）の処理も行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００３６】
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに第１のテスト難易度を算出すること、
（２）  当該テストメニューデータベースのテストメニューレコードから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（３）  前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
当該第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードごとに第２のテスト難易度を算出すること、
（４）    前記記憶手段の第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
【００３７】
（２）
本発明では、この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。
さらに、テストメニューデータベースには、２以上のテストメニューレコードが存在し、第２のテストメニューデータベースには、２以上の第２のテストメニューレコードが存在しているため、夫々のデータベースのレコードに、より多面的、詳細で柔軟な判断基準を設定することができる。
【００３８】
４、
【００３９】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記記憶手段のテストメニューデータベースが、前記テスト難易度算出要素データベースの数値又は前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式と、ＤＦＴ手法と、優先度と、の関連付けであるテストメニューレコードを２以上含んでいる。
【００４０】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、
前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、以下の（１）及び（２）の処理と、（３）及び（４）の処理を行わせ、
以下の（５）の処理も行わせること、
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００４１】
（１）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第１のテスト難易度を算出すること、
（２）  当該テストメニューデータベースから、
当該算出した第１のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（３）  前記テスト難易度算出式に基づいて、
前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、
第２のテスト難易度を算出すること、
（４）  前記記憶手段のテストメニューデータベースから、
当該算出した第２のテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、当該特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶させること、
（５）  前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、
当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示すること。
【００４２】
（２）
「テストメニューレコード」には、前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードと、前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコード、がある。
よって、「前記記憶手段のテストメニューデータベースのテストメニューレコードについて、以下の（１）及び（２）の処理と、（３）及び（４）の処理を行わせ」とは、前記テスト難易度算出要素データベースの数値をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードについては、少なくとも（１）及び（２）の処理を行い、前記テスト難易度算出要素データベースの数値及び前記ＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式が存在するレコードについては、少なくとも（３）及び（４）の処理を行う、という程度の意味である。
【００４３】
（３）
【００４４】
本発明では、この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積されていない段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報からテストフローを生成し、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積された段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報と、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、テストフローを生成することができる。
例えば、複数のレコードから構成される１のテストメニューデータベースだけでも、柔軟で詳細な設定が可能となる。
【００４５】
５、
【００４６】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。
【００４７】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法のみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用すること。
【００４８】
（２）
ここで、「ＣＡＤツール環境制約データベース」とは、コンピュータシステムの利用者が利用することができるＣＡＤツールソフトウェアの環境制約を表すデータベースである。ＣＡＤツールソフトウェアは、高価なものが多く、テストフローで提示されたＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールソフトウェアが利用者の環境に存在しない場合があるため、環境制約を判断するために「ＣＡＤツール環境制約データベース」が利用される。
また、「ＣＡＤツール特定データベース」とは、ＤＦＴ手法を具体的に実現するためのＣＡＤツールソフトウェアを特定するデータベースである。特定のＤＦＴ手法を具体的に実現するためのＣＡＤツールソフトウェアが、２以上存在するケースがあるからである。
【００４９】
（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
【００５０】
６、
【００５１】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。
【００５２】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、以下の（６）の処理を行わせ、前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させること。
【００５３】
（２）
ここで、「スクリプト生成情報」とは、特定のＤＦＴ手法を実現するためのコンピュータプログラムの一種であるスクリプトを生成するための情報である。ＤＦＴ手法及びＣＡＤツールの組み合わせによって、特定することができる。
「使用優先度」とは、それぞれのＤＦＴ手法を実現するための各種のＣＡＤツールのうち、ＣＡＤツールの使用を優先する順番を表す優先順位を表したものである。特定のＤＦＴ手法を実現するためのＣＡＤツールが複数存在する場合、ＬＳＩの特性や、ＣＡＤツールの特徴、等から、使用の優先順位をつけた方がよいことが多々あるからである。
【００５４】
また、「テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する」とは、テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法に関連付いているスクリプト生成情報を元にして、テストフローとしてのＤＦＴ手法の順番にスクリプト生成し、テストフローに沿ったテストを実行するためのプログラムをＣＡＤで生成することを意味する。
「前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツール」とは、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている利用者が利用可能なＣＡＤツールのうち、当該ＤＦＴ手法について最も使用を優先すべきＣＡＤツール、という意味である。
「当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、前記ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させる」とは、優先度とＤＦＴ手法とＣＡＤツールとスクリプト生成情報との関連付けを1以上含む、ＣＡＤプランを、記憶手段に記憶させる、という意味である。
【００５５】
（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
特に、スクリプト生成情報に基づいて、テストフローとしての優先度が表すＤＦＴ手法の順番通りに、テストを実行するためのスクリプト生成情報に基づいてスクリプト生成されるため、ＣＡＤですぐ実行することができるＣＡＤプランを得ることができる。
また、得られたＣＡＤプランでは、各々のＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールの選択を利用者が任意に決めずとも、利用者の環境に合致したＣＡＤツールの特定がなされている。
【００５６】
７、
【００５７】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピュータシステムの記憶手段が、さらに、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、前記ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、を記憶している。
【００５８】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラム。
（６）  前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法ごとに、
前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶させ、
前記テストフローとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成すること、
（７）  当該ＣＡＤプランとして前記記憶手段に記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、
前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、前記記憶手段のＣＡＤプランに記憶させること。
【００５９】
（２）
ここで、「ＣＡＤツールフロー」とは、ＣＡＤツールを特定の順番に２以上関連付けた情報であって、ＣＡＤツールが特定の順番に実行される場合に、コンバートスクリプトの実行の可否を判断するために利用される。
「ＣＡＤツールフロー」の具体例として、「コンバート元ＣＡＤツール」と「コンバート先ＣＡＤツール」とを関連付け、ＣＡＤツールの順番を表す構成が考えられる。
「コンバートスクリプト」とは、特定のＣＡＤで使用できる形式のデータを、他のＣＡＤでも利用できる形式のデータに変換するプログラムである。
「コンバート方法情報」とは、コンバートスクリプトが必要か否かと、必要ならば具体的にどのコンバートスクリプトが必要か、を表す情報である。
【００６０】
「前記記憶手段のコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当する前記ＣＡＤツールフローを特定し」とは、ＣＡＤツールを特定の順番に２以上関連付けた情報であるＣＡＤツールフローのうち、ＣＡＤプランに記憶されているＣＡＤツールの順番と合致するものを特定する、という意味である。ＣＡＤプランに記憶されているＣＡＤツールの順番について、全部一致だけでなく、ＣＡＤツールの順番の一部一致も含む。
「特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し」とは、合致したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づいて、コンバートスクリプトが必要な場合には、必要となるＣＡＤプランのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトを挿入して関連付ける、という意味である。
【００６１】
（３）
本発明により、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールフローと、コンバートスクリプトと、の関連付けを含むコンバートデータベースを入力しておく事により、ＣＡＤプランとしてのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトの実行を必要とするものが含まれる場合、コンバートスクリプトを、当該ＣＡＤツールの順番に挿入する。
これにより、異なるＣＡＤでテストフローを実行する際にも、利用者がＣＡＤツール環境の差異を意識せずに、ＣＡＤプランを生成する事ができる。
【００６２】
８、
【００６３】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶している。
【００６４】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）、（８）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
（６）  前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とし、
（７）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示し、
（８）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を前記出力手段に表示させ提示すること。
【００６５】
（２）
ここで、
「テスト制約見積式」とは、１以上のＤＦＴ手法と、テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するための算出式である。
「テスト制約値」とは、それぞれのＤＦＴ手法を適用したＬＳＩのテストについて、制約条件について数値で度合いを表したものである。
「テスト制約基準値」とは、テスト制約見積式により算出されたテスト制約値が、当該基準値を満たしているか否かにより、特定の「ＤＦＴ手法」を実現すべきか否か、テスト難易度算出要素データベースの数値を修正すべきか否か、などを判断するための判定値である。
【００６６】
（３）
本発明により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示し、再入力の助けとすることができる。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行を、利用者が修正する事ができるため、テストのやり直し等による時間、費用のロスが削減できる。
特に、具体的にどのテスト制約値が問題となっているのかを利用者が知ることができるため、利用者が、どのようにテスト難易度算出要素データベースの数値を修正すればよいかについての情報を得ることができる。
【００６７】
９、
【００６８】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、１以上の前記ＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上記憶し、テスト制約基準値修正式を１以上記憶している。
【００６９】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）、（８）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
（６）  前記記憶手段のテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、
前記テストフローデータベースとして前記記憶手段に記憶されたＤＦＴ手法と、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、
をもとにテスト制約値を算出し、
前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とし、
（７）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、前記記憶手段のテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示し、
（８）  当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（７）の処理を行うこと。
【００７０】
（２）
「テスト制約基準値修正式」とは、テスト制約値、テスト制約基準値、などの情報を変数として、テスト難易度算出要素データベースの１以上の数値を修正するための算出式である。
「当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し」とは、テスト制約基準値のうち、満たさないテスト制約基準値やテスト制約値を変数として、テスト制約基準値修正式により、テスト難易度算出要素データベースのうち、当該満たさないテスト制約基準値に関する値を更新することを意味する。
【００７１】
（３）
本発明により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行について、利用者が明示的に修正しなくても、テスト制約基準値を満たすようになるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
【００７２】
１０、
【００７３】
（１）
また、他の発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラムは、前記コンピータシステムの記憶手段が、さらに、
前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、
１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、
テスト制約基準値修正式を１以上記憶している。
【００７４】
そして、前記コンピュータシステムの処理手段に、さらに、以下の（６）、（７）の処理を行わせること、を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
（６）  前記記憶手段のＣＡＤツール特定データベースに含まれる前記ＤＦＴ手法のうち、前記記憶手段のＣＡＤツール環境制約データベースに含まれている前記ＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、
前記記憶手段における前記テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用すること、
（７）  当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、
前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、前記（１）−（６）の処理を行うこと。
を特徴とするテストフロー提示コンピュータプログラムである。
【００７５】
（２）
「当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し」とは、テストフローデータベースのＤＦＴ手法として採用しなかったＤＦＴ手法について、当該ＤＦＴ手法を必要と判断したテストメニューデータベース又は第２のテストメニューデータベースのレコードに存在する、テスト難易度算出式又は第２のテスト難易度算出式において変数として要求されたテスト難易度算出要素データベースの値について、テスト制約基準値修正式に基づいて値の更新を行うこと、を意味する。
ここで、「テスト制約基準値修正式」に与えられる変数として、テスト難易度又は第２のテスト難易度や、テスト難易度算出式又は第２のテスト難易度算出式において変数として要求されたテスト難易度算出要素データベースの値、が考えられる。
【００７６】
（３）
本発明により、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いていないＤＦＴ手法については、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用せず、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは作成されず、利用者が明示的に修正しなくても、利用者の環境では実現することができるテストフローの作成がなされるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
特に、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
【００７７】
１１、
【００７８】
（１）
なお、上記の発明に関し、用語等の補足説明を行う。
【００７９】
（２）
以下は、一般的にＬＳＩのテストの設計・製造制約として与えられるものである。
ネットリスト
設計者が作成した回路記述（通常RTL）を論理合成したものである。
回路のゲート数、回路内のFF数、機能ピン数（回路のプライマリ入力、プライマリ出力数）が決定される。
動作周波数
回路が実動作する場合に保証されるべき周波数である。
実動作速度テストを行う場合、テスト周波数の決定要因である。
実動作速度：  遅延テスト、機能テストなど
ＤＦＴ回路の挿入の可否に対する制約となる。
ＤＦＴ挿入によって回路内の機能パスの遅延が増加する可能性がある。よって、動作周波数を満たさなくなってはいけない。
テクノロジ（プロセスルール）
チップの仕様として決定される。
チップサイズの決定要因である。
同じゲート数なら先端プロセスほどチップサイズは小さくなる。
製造コストの決定要因となる。
先端プロセス：  単位面積あたりの製造コストは大きく、製品立ち上げコストは大きくなる。
故障モデルの決定要因である。
先端プロセス：  遅延テストなどを行う必要がある。
パッケージ
チップの仕様として決定される。
使用可能な総ピン数が決定される。
【００８０】
（３）  以下は、一般的にＬＳＩのテスト設計者が決定できるものである。
テストピン数
通常、使用可能な総ピン数−機能ピン数、により算出される。
電源およびクロックピン数として決定される。
機能ピンをテスト時にテストピンとして流用することが可能なケースも存在する。
テスト制御ピン（テストモード、スキャンイネーブル等）、テストデータ入力、テストデータ出力、テストデータの入力および出力、でピンを共有するケースも存在する。
最低5本あればテストが可能である。
JTAGインタフェース：  制御コマンドおよびデータをシリアル入出力（テスト実行時間は非常に長くなる）
外部入力／出力スキャンチェーン数
チップ外部に引き出された、スキャンチェーンに接続されているピン数である。
テストピンのうち、テストデータを入力／出力するピン数である。
圧縮マクロを使用しない場合、内部スキャンチェーン数と等しい。
圧縮マクロを使用する場合、圧縮率の決定要因となる。
圧縮率 = 内部スキャンチェーン数／外部入力スキャンチェーン数、の関係になる。
テストデータ量の決定要因となる。
内部スキャンチェーン本数、内部スキャン長
内部スキャンチェーン本数：  回路内に存在するスキャンチェーンの本数である。
内部スキャン長：  回路内に存在するスキャンチェーンの1本あたりの最大の長さである。
ＦＦ間の距離などの問題によって、各スキャンチェーンの長さは等しくならない可能性がある。
スキャンチェーンの長さが等しい場合、ＦＦ数＝内部スキャンチェーン本数＊スキャン長、の関係になる。
配線混雑の影響により、上限が存在する。
圧縮マクロの分散化によって上限を増加可能である。
故障モデルおよびカバレージ
テストパターン生成（ATPG）において対象となる故障モデル、および目標故障カバレージである。
代表的な故障モデルとして、縮退故障モデル、遷移遅延故障モデル、がある。
縮退故障モデル(Stuck-at fault model)
回路内の配線が欠陥によって0または1に固定すると仮定する。
低速でテスト可能である。
ATPGによって容易に高カバレージ(95%、99%、100%など)を達成可能である。
標準的に適用される。
遷移遅延故障モデル(Transition delay fault model)
回路内の配線に欠陥による信号伝播遅延が発生すると仮定する。
実動作速度でのテストが要求される。
高カバレージの達成が困難である。
パターン生成が困難である。
パターン数が非常に増加する可能性がある。
先端プロセス(＜90nm)において適用が要求される。
テストパターン数の決定要因
実際のパターン数はATPG実行後に決定される。
歩留り損失および市場不良率（テスト見逃し）の決定要因である。
歩留り損失：  良品を不良品として判断すること。
市場不良：  不良品を良品として判断すること。
定量的な評価は困難である。
テスト実行時間
テスタによってテストパターンを実行する時間である。
テスト実行時間＝(１／テスト周波数)＊(テストパターン数＋１)＊１、の関係になる。
パターンの適用に必要なクロック数は、
1パターンの適用に必要なクロック数：  縮退故障の場合には、内部スキャン長＋１となる。
データをスキャンイン→1クロック動作（パターン実行）→スキャンアウト、の流れになる。
スキャンアウトは次のデータのスキャンインと同時になる。
遅延テストの場合には、内部スキャン長＋２、の関係になる。
パターン実行時に２クロック動作、または1クロック余計にシフト→1クロック動作。
２個のパターンを連続して実行する必要があるため、遅延テストでは、スキャンイン／アウトは低速で行い、パターン実行だけ実速度で行う場合も、低速なテスタを使用可能であるが、実行時間は増加する。
テストデータ量
テスタが保持する、1チップに対して適用されるテストデータの総量（ビット数）である。
パターン数、外部スキャンチェーン数、内部スキャン長から決定される。
テストデータ量＝パターン数＊{(外部入力スキャンチェーン数＊内部スキャン長)+(外部出力スキャンチェーン数＊内部スキャン長)}、の関係になる。
各パターンに対して、入力値 および出力期待値を保持する必要がある。
テスタの決定要因となる。
全データをテスタメモリに搭載不可(メモリ量＜データ量)である。
テスト中にテストデータの追加読み込み→実行時間の大幅な増加の可能性がある。
圧縮マクロ
外部スキャン入力から入力されたデータを内部スキャンに展開する（入力展開）。
内部スキャンから出力されるテスト応答を圧縮して外部スキャンピンに出力する（応答圧縮）。
入力展開および応答圧縮で異なる圧縮率を適用可能である。
テストデータ量の決定要因となる。
圧縮によって1パターンあたりのデータ量が削減できる。
高圧縮率→ＡＴＰＧ生成が困難に→パターン数が増加する可能性がある。
同じ圧縮率でもＥＤＡベンダによる効率の違いがある（パターン数、カバレージ、付加面積）。
Ａ社のマクロを付加→Ｂ社のツールでＡＴＰＧ生成、はおそらく不可能である。
チップサイズの決定要因となる。
圧縮マクロ：付加回路
高圧縮率→より大きな付加回路となる。
元々の回路：大→付加回路の影響：相対的に小さくなる。
設計・製造コストの決定要因となる。
圧縮マクロを使用する権利をＥＤＡベンダから購入する必要がある。
→使用可能な圧縮マクロが限定されている可能性がある。
チップサイズ
回路のゲート数、ＤＦＴによるオーバヘッド(ＦＦ→スキャンＦＦ、圧縮マクロ)、テクノロジによって決定される。
正確なチップサイズは配置配線後に決定される。
見積：同一テクノロジであればチップサイズはゲート数にほぼ比例する。
製造コストの決定要因となる。
テスタ(Automatic Test Equipment: ATE)
最大動作周波数、搭載メモリ容量、ピン数など、様々なパラメータがある。
テストデータ量、テスト周波数、ピン数などにより、あるテスタを利用可能か決定できる。
テスタ適用コストを決定→製造コストの決定要因となる。
１チップあたりのテストコスト＝１秒あたりのテスタ適用コスト＊テスト実行時間(秒)、の関係になる。
【発明の効果】
【００８１】
以上のように、本発明を利用すると、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図２】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図３】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図４】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図５】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。
【図６】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図７】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例を図示したものである。
【図８】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。
【図９】本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例を図示したものである。
【発明を実施するための形態】
【００８３】
以下、本発明の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。
【００８４】
１、  本発明の実施の構成について
【００８５】
（１）
本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、出力手段と、処理手段と、入力手段と、記憶手段と、から構成されている。そして、これら各手段は、バスを介して電気的に接続し、相互に情報の伝達（信号の通信）を行うことができる。
【００８６】
テストフロー提示コンピュータシステムにおける構成要素を更に詳述する。
出力手段は、情報をテストフロー提示コンピュータシステムの利用者に表示するための出力装置であり、例えば液晶やＣＲＴ方式等のディスプレイ装置が該当する。
また、処理手段は、上記他の手段（装置）に働きかける計算装置であり、例えばＣＰＵが該当する。
入力手段は、テストフロー提示コンピュータシステムの利用者からの命令を受け付ける入力装置であり、例えばマウスやキーボードが該当する。
記憶手段は、大量の情報を記憶させておく補助記憶装置や、処理手段による実行の対象となる情報を記憶させておく主記憶装置であり、例えばハードディスク（ＨＤＤ）やメインメモリが該当する。
バスは、テストフロー提示コンピュータシステムの内部で各手段が情報を通信するための伝送路である。
【００８７】
本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、パーソナルコンピュータのようなローカルのコンピュータシステムであっても実施が可能であり、当該前提により以下説明を行う。
しかし、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムは、複数のコンピュータシステムから構成される場合もある。
例えば、クライアント側のコンピュータシステムが出力手段及び入力手段となり、サーバ側のコンピュータシステムが処理手段及び記憶手段となり、インターネットなどの広域通信回線がバスとなることによって、複数のコンピュータシステムから構成される場合も考えられる。
【００８８】
（２）
次に、テストフロー提示コンピュータシステムの記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている各種情報について説明する。
記憶手段としてのＨＤＤは、各種のデータベースと、テストフロー提示コンピュータプログラムと、ＯＳその他プログラムを、データベースやファイルの形式により記憶している。
各種のデータベースとして、テスト難易度算出要素データベース、テストメニューデータベース、テストフローデータベース、ＣＡＤツール特定データベース、ＣＡＤツール環境制約データベース、コンバートデータベース、等がある。
これら各種のデータベースは、同種のデータベースが２以上存在することもある。例えば、テストメニューデータベースが２以上存在することによる、第２のテストメニューデータベース、第３のテストメニューデータベース、が存在することもある。
【００８９】
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている各情報を、記憶手段としてのメモリに読み込むことにより、プログラムやデータの解釈・実行を行なう。
また、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＯＳその他プログラムと、テストフロー提示コンピュータプログラムを、記憶手段としてのメモリに読み込んで解釈し、実行する事により、本発明に係るテストフロー提示処理等が行なわれるのである。
【００９０】
このように、本実施形態では、初期状態として記憶手段としてのＨＤＤに各情報が記憶されているとして説明するが、初期状態において記憶手段としてのメモリに各情報が全て記憶されていても当然実施は可能である。
【００９１】
２、  本発明の実施のフローについて
【００９２】
図１は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の実施のフローを説明する。
【００９３】
（１）
まず、入力手段としてのマウスやキーボードを介し、テストフロー提示処理の命令を受信すると、処理手段としてのＣＰＵは、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、テストメニューデータベースのテストメニューレコードごとにテスト難易度を算出する。
図１のフローでは、Ｃ１‐（１）の処理が該当する。図１のＣ１−Ｂのテストメニューデータベースでは、ネットリスト、希望動作周波数、プロセステクノロジー情報、がテスト難易度算出式の変数となっている。
【００９４】
（２）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、算出したテスト難易度が満たすテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶させる。
図１のフローでは、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理が該当する。
Ｃ１‐（１）、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理は、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。
【００９５】
（３）
そして、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてのディスプレイ装置に表示させ提示する。
図１のフローでは、Ｃ１‐（３）の処理が該当する。
【００９６】
（４）
すなわち、テスト難易度算出式に基づいて、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、それぞれのテストメニューデータベースに記憶されているＬＳＩのテストごと（ＤＦＴ手法ごと、テストメニューレコードごと）に、テスト難易度が算出される。
そして、それぞれのテストメニューデータベースのテストメニューレコードごとに算出したテスト難易度に応じたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを特定し、テストフローデータベースに記憶させていく。
その上で、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度との関連付けを、テストフローとして矛盾が生じないように、優先度を基準としてソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして前記記憶手段に記憶させ、前記出力手段に表示させ提示させる。
【００９７】
この一連のハードウェア資源が協調した情報処理の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
図１では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ１‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ１‐Ｂのテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ１‐Ｃのテストフローデータベースの内容を得ることができる。
【００９８】
３、  本発明の他の実施形態について
【００９９】
図２は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１００】
（１）
他の実施形態では、さらに、テスト難易度算出要素データベースの数値とＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出する第２のテスト難易度算出式と、テスト難易度とＤＦＴ手法と優先度との関連付けと、を含む第２のテストメニューデータベースが記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
そして、図１のフローでの、Ｃ１‐（１）、Ｃ１‐（２）‐Ａ、Ｃ１‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図２のフローでの、Ｃ２‐（１）、Ｃ２‐（２）‐Ａ、Ｃ２‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図１のフローと同様である。
【０１０１】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤの第２のテストメニューデータベースにおける第２のテスト難易度算出式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、第２のテスト難易度を算出する。
図２のフローでは、Ｃ２‐（３）‐Ａの処理が該当する。
【０１０２】
（３）
続いて、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤの第２のテストメニューデータベースから、算出した第２のテスト難易度が満たす第２のテスト難易度基準式に関連付いているＤＦＴ手法と優先度との関連付けを全て特定し、特定したＤＦＴ手法と優先度との関連付けを記憶手段としてのテストフローデータベースに記憶させる。
図２のフローでは、Ｃ２‐（３）‐Ｂ、Ｃ２‐（４）の処理が該当する。
【０１０３】
（４）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてディスプレイ装置に表示させ提示する。
図２のフローでは、Ｃ２‐（５）の処理が該当する。
【０１０４】
（５）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースだけではなく、すでに必要と判断したＤＦＴ手法の情報も元にして、さらに各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、第２のテスト難易度を算出し、第２のテスト難易度基準式で判断し、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができるため、柔軟なテストフロー作成が可能となる。
図２では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ２‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ２‐Ｂのテストメニューデータベースと、Ｃ２‐Ｄの第２のテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ２‐Ｅのテストフローデータベースの内容を得ることができる。
【０１０５】
４、  本発明の他の実施形態２について
【０１０６】
図３は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１０７】
（１）
他の実施形態では、記憶手段としてのＨＤＤに第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードが２以上含まれ、処理手段としてのＣＰＵが、第２のテストメニューレコードごとに上記の第２のテスト難易度算出処理を行い、テストフローデータベースへの記憶処理を行う。
【０１０８】
（２）
図２のフローでの、Ｃ２‐（１）、Ｃ２‐（２）‐Ａ、Ｃ２‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図３のフローでの、Ｃ３‐（１）、Ｃ３‐（２）‐Ａ、Ｃ３‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図２のフローと同様である。
さらに、図２のフローでの、Ｃ２‐（３）‐Ａ、Ｃ２‐（３）‐Ｂ、Ｃ２‐（４）の処理に該当する、図３のフローでの、Ｃ３‐（３）‐Ａ、Ｃ３‐（３）‐Ｂ、Ｃ３‐（４）の処理を、第２のテストメニューデータベースの第２のテストメニューレコードの全てについて処理を行う。
そして、図２のフローでの、Ｃ２‐（５）の処理に該当するＣ３‐（５）の処理を行う。
【０１０９】
（３）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストメニューデータベースには、２以上のテストメニューレコードが存在し、第２のテストメニューデータベースには、２以上の第２のテストメニューレコードが存在しているため、夫々のデータベースのレコードに、より多面的、詳細で柔軟な判断基準を設定することができる。
図３では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ３‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ３‐Ｂのテストメニューデータベースと、Ｃ３‐Ｄの第２のテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ３‐Ｅのテストフローデータベースの内容を得ることができる。
【０１１０】
５、  本発明の他の実施形態３について
【０１１１】
図４は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１１２】
（１）
他の実施形態では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテストメニューデータベースは、テスト難易度算出要素データベースの数値又はテスト難易度算出要素データベースの数値及びＤＦＴ手法をもとにテスト難易度を算出するテスト難易度算出式と、テスト難易度基準式とＤＦＴ手法と優先度との関連付けであるテストメニューレコードを２以上含んでいる。
【０１１３】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、上記の第２のテスト難易度算出処理において、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、プロセステクノロジー情報と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報を利用して、第２のテスト難易度を算出する。
【０１１４】
（３）
図３のフローでの、Ｃ３‐（１）、Ｃ３‐（２）‐Ａ、Ｃ３‐（２）‐Ｂの処理に該当する、図４のフローでの、Ｃ４‐（１）、Ｃ４‐（２）‐Ａ、Ｃ４‐（２）‐Ｂの処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。ここまでは、図３のフローと同様である。
さらに、図３のフローでの、Ｃ３‐（３）‐Ａ、Ｃ３‐（３）‐Ｂ、Ｃ３‐（４）の処理に該当する、図４のフローでの、Ｃ４‐（３）‐Ａ、Ｃ４‐（３）‐Ｂ、Ｃ４‐（４）の処理を、テストメニューデータベースのテストメニューレコードの全てについて処理を行う。
そして、図３のフローでの、Ｃ３‐（５）の処理に該当するＣ４‐（５）の処理を行う。
【０１１５】
（４）
この実施形態の結果、回路設計者が作成した情報等から構成される、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースから、各ＤＦＴ手法が必要かどうかについて、テスト難易度を算出し、テスト難易度基準式で判断し、優先度の順にソートすることで、自動的に、矛盾のないテストフローを得ることができる。
特に、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積されていない段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報からテストフローを生成し、テストフローデータベースにＤＦＴ手法が蓄積された段階では、回路設計図に関する情報を記憶したテスト難易度算出要素データベースの情報と、テストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法とから、テストフローを生成することができる。
例えば、複数のレコードから構成される１のテストメニューデータベースだけでも、柔軟で詳細な設定が可能となる。
【０１１６】
（５）
図４では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ４‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ４‐Ｂのテストメニューデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ４‐Ｃのテストフローデータベースの内容を得ることができる。
【０１１７】
６、  本発明の他の実施形態４について
【０１１８】
図５は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１１９】
（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上のＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
【０１２０】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースに含まれるＤＦＴ手法のうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、記憶手段としてのＨＤＤにおけるテストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する。
【０１２１】
（３）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
【０１２２】
（４）
図５では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ５‐ＡのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ５‐ＢのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、ＤＦＴ手法「スキャン生成」の場合はＣＡＤツール「スキャンツール１」、ＤＦＴ手法「ＡＴＰＧパターン生成」の場合はＣＡＤツール「ＡＴＰＧツール１」、と特定でき、環境制約もクリアするため、テストフローのＤＦＴ手法として採用される。
一方、ＤＦＴ手法「遅延テストパターン生成」の場合はＣＡＤツール「ＡＴＰＧツール２」が特定できるものの、環境制約をクリアしないため、テストフローのＤＦＴ手法として採用されない。
【０１２３】
７、  本発明の他の実施形態５について
【０１２４】
図６は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１２５】
（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上のＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
【０１２６】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法ごとに、以下の処理を行わせ、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する。
具体的には、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させる。
【０１２７】
（３）
図６のフローでは、Ｃ６‐（６）‐Ａ、Ｃ６‐（６）‐Ｂ、Ｃ６‐（６）‐Ｃ、Ｃ６‐（６）‐Ｄ、Ｃ６‐（６）‐Ｅの処理が該当する。
Ｃ６‐（６）‐Ｂ、Ｃ６‐（６）‐Ｃ、Ｃ６‐（６）‐Ｄ、Ｃ６‐（６）‐Ｅの処理については、ＣＡＤプランのＤＦＴ手法全てについて、ＣＡＤツール及びスクリプト生成情報が特定されるまで、繰り返し行う。
ＣＡＤツール環境制約データベースに、テストフローデータベースのＤＦＴ手法に該当するＣＡＤツールが全く存在しない場合は、ＣＡＤプランのＣＡＤツール及びスクリプト生成情報をブランクとして処理する、ということも考えられる。
【０１２８】
（４）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールソフトウェア環境制約をＣＡＤツール環境制約データベースに入力しておく事により、利用することができるＣＡＤツールソフトウェアについてのＤＦＴ手法のみが、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用される。これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
特に、スクリプト生成情報に基づいて、テストフローとしての優先度が表すＤＦＴ手法の順番通りに、テストを実行するためのスクリプト生成情報に基づいてスクリプト生成されるため、ＣＡＤですぐ実行することができるＣＡＤプランを得ることができる。
また、得られたＣＡＤプランでは、各々のＤＦＴ手法を実現するＣＡＤツールの選択を利用者が任意に決めずとも、利用者の環境に合致したＣＡＤツールの特定がなされている。
【０１２９】
（５）
図６では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ６‐Ａのテストフローデータベースと、Ｃ６‐ＢのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ６‐ＣのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ６‐ＤのＣＡＤプランの内容を得ることができる。
各種のＤＦＴ手法について、ＣＡＤツール環境制約データベースに存在し、使用優先度がより高いＣＡＤツールが選択されている。
【０１３０】
８、  本発明の他の実施形態６について
【０１３１】
図７は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが行う処理フロー図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１３２】
（１）
他の実施形態では、さらに、ＤＦＴ手法とＣＡＤツールと使用優先度とスクリプト生成情報との関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、ＣＡＤツールを２以上関連付けたＣＡＤツールフローと、コンバート方法情報と、の関連付けを含むコンバートデータベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、が記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
【０１３３】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法ごとに、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールのうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースで当該ＤＦＴ手法に関連付いており、関連付いている使用優先度が最も高いＣＡＤツールと、当該特定したＣＡＤツールに関連付いているスクリプト生成情報を特定し、
当該特定したＣＡＤツール及びスクリプト生成情報を、当該ＤＦＴ手法に関連付けて、ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、テストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法の順番に対応したＣＡＤプランを作成する。
【０１３４】
（３）
さらに、処理手段としてのＣＰＵが、当該ＣＡＤプランとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＣＡＤツールの順番に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのコンバートデータベースから、当該ＣＡＤツールの順番に該当するＣＡＤツールフローを特定し、特定したＣＡＤツールフローに関連付いているコンバート方法情報に基づき、当該ＣＡＤツールの順番にコンバートスクリプトを関連付けて挿入し、記憶手段としてのＨＤＤにＣＡＤプランに記憶させる。
【０１３５】
（４）
図７のフローでは、Ｃ７‐（６）‐Ａ、Ｃ７‐（６）‐Ｂ、Ｃ７‐（６）‐Ｃ、Ｃ７‐（６）‐Ｄ、Ｃ７‐（６）‐Ｅ、Ｃ７‐（６）‐Ｆ、Ｃ７‐（６）‐Ｇ、Ｃ７‐（６）‐Ｈの処理が該当する。
Ｃ７‐（６）‐Ｉ、Ｃ７‐（６）‐Ｊ、Ｃ７‐（６）‐Ｋ、Ｃ７‐（６）‐Ｌ、Ｃ７‐（６）‐Ｍ、Ｃ７‐（６）‐Ｎ、Ｃ７‐（６）‐Ｏ、Ｃ７‐（６）‐Ｐ、Ｃ７‐（６）‐Ｑの処理は、ＣＡＤプランのＣＡＤツールの順番に該当するＣＡＤツールフローが、コンバートデータベースに全く存在しない場合を想定した処理である。
つまり、Ａ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールからＢ社のＤＦＴ２用のＣＡＤツールへのコンバートスクリプトを持っているが、Ａ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールからＣ社のＤＦＴ２用のＣＡＤツールへのコンバートスクリプトを持っていないとする。この場合、ＡからＢのコンバートスクリプト（方法情報）だけがコンバートデータベースにある。
ここで、ＣＡＤプランにすでにＤＦＴ１用にＡ社のＣＡＤツールが選ばれてしまっている場合、ＣＡＤツール特定データベースだけを使用すると、ＤＦＴ２用に、Ｃ社のＣＡＤツールが選ばれたとしても、Ａ社のＣＡＤツールからＣ社のＣＡＤツールにデータをコンバートする方法が無いことが、コンバートデータベースから分かる。
そこで、Ａ社のＣＡＤツールではなく、Ｃ社のＤＦＴ１用のＣＡＤツールをＣＡＤプランに採用し直す作業が必要になる。よって、ＣＡＤツールの組み合わせであるＣＡＤツールフローが存在しないこともあり得るため、ＣＡＤツールＡの特定ができたかどうかの判断を、Ｃ７‐（６）‐Ｉ、Ｃ７‐（６）‐Ｐで行っている。
【０１３６】
（５）
この実施形態の結果、事前に、コンピュータシステムの利用者がＣＡＤツールフローと、コンバートスクリプトと、の関連付けを含むコンバートデータベースを入力しておく事により、ＣＡＤプランとしてのＣＡＤツールの順番に、コンバートスクリプトの実行を必要とするものが含まれる場合、コンバートスクリプトを、当該ＣＡＤツールの順番に挿入する。
これにより、異なるＣＡＤでテストフローを実行する際にも、利用者がＣＡＤツール環境の差異を意識せずに、ＣＡＤプランを生成する事ができる。
【０１３７】
（６）
図７では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ７‐Ａのテストフローデータベースと、Ｃ７‐ＢのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ７‐ＣのＣＡＤツール環境制約データベースと、Ｃ７‐Ｄのコンバートデータベースとから、本発明に係る処理により、Ｃ７‐ＥのＣＡＤプランの内容を得ることができる。
【０１３８】
９、  本発明の他の実施形態７について
【０１３９】
図８は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１４０】
（１）
他の実施形態では、さらに、１以上のＤＦＴ手法と、テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
【０１４１】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、テストフローデータベースとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法と、記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、をもとにテスト制約値を算出し、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする。
【０１４２】
（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段としてのディスプレイに表示させ提示する。
【０１４３】
（４）
処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、満たさないテスト制約値を出力手段としてのディスプレイに表示させ提示する。
【０１４４】
（５）
この実施形態の結果、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示し、再入力の助けとすることができる。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行を、利用者が修正する事ができるため、テストのやり直し等による時間、費用のロスが削減できる。
特に、具体的にどのテスト制約値が問題となっているのかを利用者が知ることができるため、利用者が、どのようにテスト難易度算出要素データベースの数値を修正すればよいかについての情報を得ることができる。
【０１４５】
図８では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ８‐Ａのテスト難易度算出要素データベースと、Ｃ８‐Ｂのテスト制約データベースとから、本発明に係る処理により、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約値を表示する。
【０１４６】
１０、  本発明の他の実施形態８について
【０１４７】
（１）
他の実施形態では、１以上のＤＦＴ手法と、前記テスト難易度算出要素データベースの数値と、をもとにテスト制約値を算出するテスト制約見積式を１以上、テスト制約基準値修正式を１以上、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されている。
【０１４８】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵが、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約見積式ごとに、当該テスト制約見積式に基づいて、テストフローデータベースとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶されたＤＦＴ手法と、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報と、をもとにテスト制約値を算出し、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースの、ネットリストと、パッケージピン数と、テストピン数と、希望動作周波数と、テスト時の消費電力と、テスター容量と、の関連付けのうち、１以上の情報をテスト制約基準値とする。
【０１４９】
（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値をすべて満たす場合は、記憶手段としてのＨＤＤのテストフローデータベースに記憶されたＤＦＴ手法と優先度の関連付けを、当該関連付いている優先度の順にＤＦＴ手法をソートし、当該ソートしたＤＦＴ手法をテストフローとして記憶手段としてのＨＤＤに記憶させ、出力手段のディスプレイに表示させ提示する。
【０１５０】
（４）
続いて、処理手段としてのＣＰＵが、当該テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、当該テスト制約基準値を満たさない場合は、当該テスト制約基準値のうち満たさないテスト制約基準値について、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約基準値修正式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度のテストフロー提示処理を行う。
【０１５１】
（５）
この実施形態の結果、テスト制約見積式ごとに算出したテスト制約値が、テスト制約基準値を満たすかどうか判断し、満たす場合はテストフローを表示し、満たさない場合は、満たさないテスト制約基準値について、前記記憶手段のテスト制約基準値修正式に基づいて、前記記憶手段のテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、テスト制約基準値を満たさないテストフローの生成、実行について、利用者が明示的に修正しなくても、テスト制約基準値を満たすようになるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
【０１５２】
１１、  本発明の他の実施形態９について
【０１５３】
図９は、本発明に係るテストフロー提示コンピュータシステムが使用するデータベースの図の一例である。同図に基づいて、本発明の他の実施のフローを説明する。
【０１５４】
（１）
他の実施形態では、前記ＤＦＴ手法とＣＡＤツールとの関連付けを含むＣＡＤツール特定データベースと、１以上の前記ＣＡＤツールを記憶するＣＡＤツール環境制約データベースと、テスト制約基準値修正式を、１以上記憶手段としてのＨＤＤに記憶している。
【０１５５】
（２）
そして、処理手段としてのＣＰＵは、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール特定データベースに含まれるＤＦＴ手法のうち、記憶手段としてのＨＤＤのＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法についてのみを、記憶手段としてのＨＤＤにおけるテストフローとしてのＤＦＴ手法として採用する。
【０１５６】
（３）
次に、処理手段としてのＣＰＵは、当該テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用しないＤＦＴ手法について、記憶手段としてのＨＤＤのテスト制約基準値修正式に基づいて、記憶手段としてのＨＤＤのテスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度のテストフロー提示処理を行う。
【０１５７】
（４）
この実施形態の結果、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いていないＤＦＴ手法については、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用せず、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
これにより、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは作成されず、利用者が明示的に修正しなくても、利用者の環境では実現することができるテストフローの作成がなされるまで、再度のテストフロー作成が行われる。
特に、利用者の環境では実現することが不可能なテストフローは、作成されなくなるため、個々の利用者の環境に合致した現実的なテストフロー作成が実現できる。
【０１５８】
図９では、記憶手段としてのＨＤＤに記憶されているＣ１０‐ＡのＣＡＤツール特定データベースと、Ｃ１０‐ＢのＣＡＤツール環境制約データベースとから、本発明に係る処理により、ＣＡＤツール環境制約データベースに含まれているＣＡＤツールに関連付いているＤＦＴ手法のみを、テストフローとしてのＤＦＴ手法として採用し、テスト制約基準値修正式に基づいて、テスト難易度算出要素データベースにおける情報を更新し、再度、処理を行う。
【産業上の利用可能性】
【０１５９】
本発明に係るテストフロー提示コンピュータプログラム、コンピュータシステムを、生産、販売することにより、産業の発達に寄与することができる。
【図１】
0005567322.tif 000002
【図２】
0005567322.tif 000003
【図３】
0005567322.tif 000004
【図４】
0005567322.tif 000005
【図５】
0005567322.tif 000006
【図６】
0005567322.tif 000007
【図７】
0005567322.tif 000008
【図８】
0005567322.tif 000009
【図９】
0005567322.tif 000010