(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子上の欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報の生成装置であって、
前記撮像素子上の画素の読み出し順に、前記画素に対して周期的な番号を割り振る計数手段と、
前記撮像素子上の画素それぞれについて欠陥画素であるか否かを検出する検出手段と、
前記検出手段により欠陥画素であると検出された画素について、前記計数手段により割り振られた前記番号を記憶手段に記憶されている前記欠陥画素情報に追加する格納手段と、を備え、
前記格納手段は、前記欠陥画素であると検出された画素に割り振られた番号と同じ番号が次に割り振られるまでに、前記検出手段によって検出された欠陥画素が存在しない場合は、該次に割り振られる番号あるいは該次に割り振られる番号よりも前に割り振られた番号を、当該番号が割り振られた画素が欠陥画素ではないことを示す情報とともに前記欠陥画素情報に追加することを特徴とする生成装置。
【請求項２】
前記格納手段により番号とともに、当該番号が割り振られた画素の状態を示す情報を前記欠陥画素情報に追加するように構成されることを特徴とする請求項１に記載の生成装置。
【請求項３】
前記画素の状態を示す情報が、欠陥画素の傷のレベルを示す情報を含む場合、
前記格納手段は、前記欠陥画素ではないことを示す情報として、前記欠陥画素の傷のレベルが最小レベルであることを示す情報を前記記憶手段に追加することを特徴とする請求項２に記載の生成装置。
【請求項４】
前記格納手段は、前記欠陥画素ではないことを示す情報とともに追加された画素に割り振られた番号と同じ番号が次に割り振られるまでに、前記検出手段によって検出された欠陥画素が存在しない場合は、該次に割り振られる番号あるいは該次に割り振られる番号よりも前に割り振られた番号を前記欠陥画素ではないことを示す情報とともに前記欠陥画素情報に追加することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の生成装置。
【請求項５】
撮像素子上の欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報の構成方法であって、
計数手段が、前記撮像素子上の画素の読み出し順に、前記画素に対して周期的な番号を割り振る計数工程と、
検出手段が、前記撮像素子上の画素それぞれについて欠陥画素であるか否かを検出する検出工程と、
格納手段が、前記検出工程において欠陥画素であると検出された画素について、前記計数工程において割り振られた前記番号を記憶手段に記憶されている前記欠陥画素情報に追加する格納工程と、を備え、
前記格納工程において前記格納手段は、前記欠陥画素であると検出された画素に割り振られた番号と同じ番号が次に割り振られるまでに、前記検出工程において検出された欠陥画素が存在しない場合は、該次に割り振られる番号あるいは該次に割り振られる番号よりも前に割り振られた番号を、当該番号が割り振られた画素が欠陥画素ではないことを示す情報とともに前記欠陥画素情報に追加することを特徴とする欠陥画素情報の構成方法。
【請求項６】
コンピュータを、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の生成装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子上の欠陥画素に起因する画像の画質劣化を補正する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）やＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）センサ等の半導体で形成される撮像素子には、半導体の局所的な結晶欠陥等が生じた、所謂欠陥画素が含まれていることがある。欠陥画素を有する撮像素子を用いて撮像を行った場合、欠陥画素からは正常な画像信号が出力されず、出力された画像の画質劣化の要因となる。
【０００３】
このような欠陥画素に起因する画像の画質劣化を低減させるための方法として、欠陥画素から出力された画像信号について、周囲の画素から出力された画像信号を用いた補正処理を行う方法が知られている。この場合、欠陥画素に起因する画像の画質劣化を補正するためには、欠陥画素の位置の情報を予め撮像装置の内部メモリ等に格納しておく必要がある。
【０００４】
しかしながら、近年の撮像素子の画素密度が拡大すると、撮像素子の画素ごとに欠陥画素であるか否かを示す情報を記憶する方法ではデータ量が増大して回路構成が大型化してしまう。また、例えば撮像素子の温度等によっても欠陥画素の状態が変化するため、様々な撮像素子の状態に対応する欠陥画素の情報を格納しておく必要があり、欠陥画素情報のデータ量はさらに増大する。
【０００５】
特許文献１には、撮像素子の画素に対してアドレスを設定し、任意の欠陥画素から次の欠陥画素までの相対アドレスを用いて欠陥画素の位置を表すことにより、欠陥画素情報のデータ量を低減する技術が開示されている。また特許文献１には、相対アドレスに最大値を設定し、欠陥画素間の相対アドレスが最大値を越えないように、ダミーの欠陥画素の情報を挿入することにより、欠陥画素情報のデータ量を低減することについても開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１−１０３３７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上述したような欠陥画素情報は、例えばデジタルカメラ等の撮像装置の出荷前に撮像素子の欠陥画素を検出して、内部メモリに記憶される。しかしながら、撮像素子の経年変化等によって新たな欠陥画素が生じたり、出荷時に検出されていた欠陥画素の度合い（傷レベル）がより悪化することがある。
【０００８】
このように、撮像素子上の欠陥画素の分布に変化があった場合、出荷前に記憶された欠陥画素情報を用いて画像における欠陥画素の画質劣化を補正を行ったとしても、適正な補正を行うことはできない。即ち、出力された画像内には、出荷後に生じた欠陥画素によって欠落画素が含まれてしまったり、欠陥画素の傷レベルに対応しない補正を行うことにより不自然な画素が生じてしまう。
【０００９】
このため、欠陥画素の分布の変化にも対応可能なように、出荷後も欠陥画素を検出して欠陥画素情報を更新する必要がある。しかしながら、特許文献１のように欠陥画素間の相対アドレスを用いて欠陥画素情報が構成されている場合、例えば新たに欠陥画素情報が追加された場合に、他の欠陥画素の相対アドレスも変更する必要があり、処理時間が増大してしまう。
【００１０】
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、データ量が少なく、かつ追加及び更新が容易な欠陥画素情報を生成することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前述の目的を達成するために、本発明の欠陥画素情報の構成方法は、以下の構成を備える。
撮像素子上の欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報の構成方法であって、計数手段が、撮像素子上の画素の読み出し順に、画素に対して周期的な番号を割り振る計数工程と、検出手段が、撮像素子上の画素それぞれについて欠陥画素であるか否かを検出する検出工程と、格納手段が、検出工程において欠陥画素であると検出された画素について、計数工程において割り振られた番号を記憶手段に記憶されている欠陥画素情報に追加する格納工程と、を備え、格納工程において格納手段は、欠陥画素であると検出された画素に割り振られた番号と同じ番号が次に割り振られるまでに、検出工程において検出された欠陥画素が存在しない場合は、該次に割り振られる番号あるいは該次に割り振られる番号よりも前に割り振られた番号を、当該番号が割り振られた画素が欠陥画素ではないことを示す情報とともに欠陥画素情報に追加することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
このような構成により本発明によれば、データ量が少なく、かつ追加及び更新が容易な欠陥画素情報を生成することを可能とする。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの機能構成を示すブロック図。
【図２】実施形態に係る欠陥画素情報の１つの画素の情報のデータ構造を示す図。
【図３】実施形態に係る撮像素子上の欠陥画素の分布例を示す図。
【図４】実施形態に係る撮像素子上の画素の位置とカウントの対応を示した図。
【図５】実施形態に係る欠陥画素情報生成処理のフローチャート。
【図６】実施形態に係る欠陥画素情報を説明するための図。
【図７】実施形態に係る追加される欠陥画素情報を示した図。
【図８】実施形態に係る欠陥画素情報統合処理のフローチャート。
【図９】実施形態に係る統合された欠陥画素情報を示した図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の好適な一実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、以下に説明する一実施形態は、欠陥画素情報生成装置の一例として、撮像素子を備えるデジタルカメラにおいて、本発明を適用した例を説明する。しかし、本発明は、撮像素子を有し、当該撮像素子に含まれる欠陥画素を検出することが可能な任意の機器、及び撮像素子を有する機器と接続して欠陥画素の検出が可能な任意の機器に適用可能である。
【００１５】
図１は、本発明の実施形態に係るデジタルカメラ１００の機能構成を示すブロック図である。
制御部１０１は、例えばマイクロプロセッサであり、デジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作を制御する。制御部１０１は、例えばＲＯＭ１０２に記憶されているデジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作プラグラムを読み出し、ＲＡＭ１０３に展開して実行することにより、デジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作を制御する。なお、本実施形態ではデジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作を当該ブロックの動作プログラムにより制御するものとして説明するが、本発明の実施はこれに限らず、各ブロックは当該動作プログラムと同様の処理を行う回路で構成されてもよい。
【００１６】
ＲＯＭ１０２は、例えばフラッシュメモリ等の書き換え可能な不揮発性メモリであり、デジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作プログラムに加え、欠陥画素情報や欠陥画素により生じる画質劣化を補正するための信号補間方法等の情報が格納される。ＲＡＭ１０３は、書き換え可能な揮発性メモリであり、デジタルカメラ１００が備える各ブロックの動作において必要なパラメータや設定等を一時的に格納する領域として用いられる。
【００１７】
撮像部１０５は、例えばＣＣＤやＣＭＯＳセンサ等で構成される撮像素子であり、光学系１０４により撮像素子上に結像された光学像を光電変換して得られたアナログ画像信号を、撮像素子上の画素の読み出し順に読み出して、撮像信号処理部１０６に出力する。
【００１８】
撮像信号処理部１０６は撮像部１０５より入力されたアナログ画像信号に対し、信号の増幅、Ａ／Ｄ変換等の処理を行うことにより、デジタル画像データを出力する。また、撮像信号処理部１０６は後述する欠陥画素検出部１１１及び欠陥補正部１１２を備える。欠陥画素検出部１１１は、撮像部１０５から出力された撮像素子上の画素ごとのアナログ画像信号から、欠陥画素を検出する。欠陥画素の検出方法は、公知の方法を用いればよく、本明細書では説明を省略する。
【００１９】
検出された欠陥画素の情報は、欠陥画素情報として例えばＲＯＭ１０２に記憶される。欠陥補正部１１２は、欠陥画素検出部１１１で検出されＲＯＭ１０２に記憶された欠陥画素情報に従って、入力されたアナログ画像信号のうちの欠陥画素から出力された信号を補正する。なお、欠陥画素から出力された信号の補正については、欠陥画素の分布が変更ないと判断される場合は、例えば欠陥画素情報から生成されてＲＯＭ１０２に記憶されている、欠陥画素により生じる画質劣化を補正するための信号補間方法等を用いて補正を行ってもよい。
【００２０】
画像処理部１０７は、撮像信号処理部１０６から入力されたデジタル画像データに対し、各種画像処理及び符号化処理等を実行し、記録媒体１０９に出力する。記録媒体１０９は、例えばデジタルカメラ１００が備える内蔵メモリや、デジタルカメラ１００に着脱可能に接続されるメモリカードやＨＤＤ等の記録装置であってよく、入力されたデジタル画像データを記録する。
【００２１】
画素カウンタ１０８は、本実施形態において、撮像素子上の画素を、画素の読み出し順にカウントする計数手段である。画素カウンタ１０８は例えば１６ビットのカウントであり、本実施形態では欠陥画素情報における欠陥画素の位置を示すための情報として、画素カウンタ１０８のカウントのうち、下位４ビットをＲＯＭ１０２に格納する。なお、欠陥画素情報における欠陥画素の位置を示すための情報は、本実施形態のようにカウントの下位の情報を抽出して用いる方法でなくてもよい。即ち、本発明において欠陥画素情報における欠陥画素の位置の情報は、少なくとも隣り合う画素と異なる値となるような、周期的に割り振られる番号（カウント）であればよい。
【００２２】
（欠陥画素情報の構成）
以下、撮像素子上の欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報の構成について、図を用いて詳細に説明する。
図２は、本実施形態における１つの欠陥画素に関する欠陥画素情報の構成を示している。図示されているように１つの欠陥画素に関する欠陥画素情報は、上位４ビットが欠陥画素の傷レベルを示す情報、下位４ビットが欠陥画素の位置を示すための情報で構成され、データ量は１バイトに収まるように構成されている。
【００２３】
例えば撮像素子が図３のように１２×８の画素で構成され、図において斜線で示されるように、欠陥画素検出部１１１により検出された欠陥画素が分布している場合について、欠陥画素情報を構成する方法について説明する。撮像素子からの出力信号は、撮像部１０５により例えば撮像素子の行ごとの左端から右方向に、最上行から最下行まで読み出されて撮像信号処理部１０６に出力される。なお、本発明は、撮像素子に通常設定されている読み出し順で、画素カウンタ１０８によりカウントされた値を各画素の位置を示す情報として付すため、撮像素子の各画素で光電変換された電荷の走査方式（読み出し順）は、上述の方式に限定されない。
【００２４】
制御部１０１は撮像信号処理部１０６に、入力されたアナログ画像信号について、欠陥画素検出部１１１で画素ごとに欠陥画素であるか否か、または欠陥画素の傷レベルを検出させる。また同時に制御部１０１は、画素カウンタ１０８のカウントをリセットし、読み出し開始画素からカウントを開始させる。即ち、撮像部１０５から入力されたアナログ画像信号は、画素ごとに画素カウンタ１０８によりカウントが行われ、かつ当該画素が欠陥画素であるか否か、または欠陥画素の傷レベルを欠陥画素検出部１１１により判断する。
【００２５】
図４は、図３に示した撮像素子の全画素について、画素カウンタ１０８により割り当てられたカウント値、及び欠陥画素であるか否かの情報を示している。なお、図４の各画素の座標の情報は、図３の撮像素子の左上を原点（ｘ，ｙ）＝（０，０）として示している。制御部１０１は、このように撮像素子の全画素についてカウント値を付し、かつ欠陥画素であるか否かを判断しながら欠陥画素情報を構成する。なお、欠陥画素であるか否かの情報は１ビットの情報として構成してもよいし、欠陥画素の傷レベルが最小レベルであるか否かにより表される構成であってもよい。
【００２６】
（欠陥画素情報生成処理）
以下、本実施形態の欠陥画素情報生成処理について、図５のフローチャートを用いて具体的な処理を説明する。当該フローチャートに対応する処理は、制御部１０１が、例えばＲＯＭ１０２に記憶されている対応する処理プログラムを読み出し、ＲＡＭ１０３に展開して実行することにより実現することができる。なお、本欠陥画素情報生成処理は、出荷前、または例えばユーザがデジタルカメラ１００の電源をＯＦＦにする際に、シャッタをあけずに露光が行われて開始されるものとして説明する。
【００２７】
Ｓ５０１で、制御部１０１は、画素カウンタ１０８のカウントをリセットさせる。そしてＳ５０２から、制御部１０１は、撮像部１０５から撮像素子上の各画素について、欠陥画素情報に追加するか否かを判断する。
【００２８】
Ｓ５０２で、制御部１０１は、撮像素子上の全画素のアナログ画像信号の、撮像信号処理部１０６への出力が完了したかを判断する。具体的には、制御部１０１は、撮像信号処理部１０６から全画素のアナログ画像信号を読み込んだか否かの情報を取得することにより、撮像素子上の全画素のアナログ画像信号の出力が完了しているかを判断する。制御部１０１は、全画素のアナログ画像信号の出力が完了していないと判断した場合は、Ｓ５０３からＳ５０６までの処理を新たな対象画素のアナログ画像信号に対して実行し、出力が完了している場合はループ処理を抜けて欠陥画素情報生成処理を完了する。
【００２９】
Ｓ５０３で、制御部１０１は、画素カウンタ１０８に現在入力されているアナログ画像信号の画素（対象画素）の位置を示すための情報となる、カウントの値を増加させる。また制御部１０１はＳ５０４で、撮像信号処理部１０６に対象画素が欠陥画素であるか否かを判断させる。具体的には、制御部１０１は、撮像信号処理部１０６の欠陥画素検出部１１１において入力された対象画素のアナログ画像信号は欠陥画素であるか否かを検出させる。なお、本実施形態の欠陥画素情報は対象画素が欠陥画素であった場合、欠陥画素検出部１１１は対象画素の傷レベルを４ビットの値で出力するものとする。即ち、対象画素が欠陥画素ではないと判断された場合は、欠陥画素検出部１１１は欠陥画素の傷レベルを最小レベルである０として出力するものとする。制御部１０１は、対象画素が欠陥画素であると判断された場合は処理をＳ５０６に移し、欠陥画素ではないと判断された場合は処理をＳ５０５に移す。
【００３０】
Ｓ５０５で、制御部１０１は、対象画素のカウントの値が、ＲＯＭ１０２に記憶されている欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントの値と同じであるか否かを判断する。なお、欠陥画素情報は撮像素子上の欠陥画素の位置の情報をまとめた情報であり、例えば本欠陥画素情報生成処理の開始時に最小限の容量を有する新たな欠陥画素情報の領域を確保し、検出された欠陥画素の情報が追加されていくものとする。
【００３１】
本発明では欠陥画素の位置を示すために周期的に割り振られるカウントを用いるため、例えば本実施形態のように画素カウンタ１０８のカウントの下位４ビットを、位置を示す情報として用いる場合、同一のカウントが割り当てられる画素が１６画素間隔で存在する。このため、カウントが１周する間に欠陥画素が存在しない場合、次に検出された欠陥画素の位置を一意に定義することができない。即ち、後述するＳ５０６で制御部１０１は、カウントが１周したことを示すダミーの欠陥画素として傷レベルが０の情報を欠陥画素情報に追加する。
【００３２】
例えば撮像素子の読み出し順において、欠陥画素として検出された（ｘ，ｙ）＝（７，０）の画素の次に検出される欠陥画素は（ｘ，ｙ）＝（８，２）であるが、両欠陥画素の間は２５カウントの差があいている。つまり、この場合前者の欠陥画素のあとに、当該欠陥画素と同一のカウントの値を有する（ｘ，ｙ）＝（１１，１）の画素がダミーの欠陥画素として欠陥画素情報に追加されることになる。
【００３３】
また、このように欠陥画素の位置を一意に定義することは、最初に検出される欠陥画素に対しても考慮する必要がある。本実施形態では、撮像素子の画素のうち最初に読み出される画素は、欠陥画素であるか否かに関わらず、欠陥画素情報に追加されるものとする。しかし、本発明の実施はこれに限らず、周期的なカウントの最初の１周の間に欠陥画素が存在しない場合に、当該最初の１周のカウントのうち、いずれかのカウントに対応付けられた画素の情報を欠陥画素情報に追加するようにしてもよい。
【００３４】
制御部１０１は、対象画素のカウントの値が、欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントの値と同じ場合は処理をＳ５０６に移し、異なる場合はループ処理を進めて処理をＳ５０２に戻す。そしてＳ５０６で、制御部１０１は、対象画素のカウント及び傷レベルの情報を欠陥画素情報に追加する。
【００３５】
なお、欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントの値と同じ値の対象画素を欠陥画素情報に追加することが望ましいが、欠陥画素情報に追加する情報は必ずしも、当該最後に追加された画素のカウントと同じ値の画素である必要はない。例えば、欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントが８であり、その後、対象画素のカウントの値が８となった際に、対象画素のカウントよりも少ない６や７のカウントに対応付けられた画素の情報を欠陥画素情報に追加するようにしてもよい。即ち、ダミーの欠陥画素は、周期的なカウントが１周する間に当該カウントに対応する画素において欠陥画素が存在しないことを示すため、少なくとも連続するカウントの画素を選択しない限りは、データ量を削減する効果を奏する。また、ダミー画素について、例えば周期的なカウントが１周する間に欠陥画素が存在しない場合に最後に追加されたダミー画素ではない欠陥画素のカウントの１つ前のカウントに対応する画素の情報を追加するように予め欠陥画素情報の構成を設定してもよい。なお、このように構成することによっても、上述した周期的なカウントの最初の１周の間に欠陥画素が存在しない場合の欠陥画素の位置を一意に定義することは可能となる。
【００３６】
このように本欠陥画素情報生成処理を実行することで、データ量を低減した欠陥画素情報を構成することができる。例えば図３に示した撮像素子については、図６（ｂ）に示すような欠陥画素情報が生成される。図６（ｂ）において傷レベルが０の情報はダミーの欠陥画素として追加された情報であり、当該ダミーの欠陥画素は、図６（ａ）に○で示されている。
【００３７】
（欠陥画素情報の追加及び更新）
デジタルカメラ１００の出荷後に、撮像素子における欠陥画素の分布や欠陥画素の傷レベルに変化が生じた場合、適切に欠陥画素の情報を補正するためには、欠陥画素情報を更新する必要がある。
【００３８】
例えば、上述したようにユーザがデジタルカメラ１００の電源をＯＦＦにする際に制御部１０１が欠陥画素情報生成処理を行った際に、既知ではない欠陥画素について新たな欠陥画素情報が得られる。即ち、既に欠陥画素情報に含まれている欠陥画素については、撮像信号処理部１０６に撮像素子の各画素から出力されるアナログ画像信号に対し、欠陥補正部１１２による補正が行われる。このため、出荷後に欠陥画素検出部１１１によって検出される欠陥画素は、経年変化により新たに生じた欠陥画素か、既に欠陥画素情報に含まれている欠陥画素のうち傷レベルが変化（一般的には悪化）した欠陥画素ということになる。即ち、出荷後に実行された欠陥画素情報生成処理によって生成された新たな欠陥画素情報には既知の欠陥画素情報が含まれていないため、欠陥補正部１１２での欠陥画素の補正処理を考えると、既知の欠陥画素情報と新たな欠陥画素情報とを統合することが望ましい。
【００３９】
（欠陥画素情報統合処理）
以下、本実施形態の欠陥画素情報統合処理について、図８のフローチャートを用いて具体的な処理を説明する。当該フローチャートに対応する処理は、制御部１０１が、例えばＲＯＭ１０２に記憶されている対応する処理プログラムを読み出し、ＲＡＭ１０３に展開して実行することにより実現することができる。なお、本欠陥画素情報統合処理は、例えば出荷後にユーザがデジタルカメラ１００の電源をＯＦＦにする際に、シャッタをあけずに露光が行われた場合に前述の欠陥画素生成処理が実行され、当該処理の完了後に開始されるものとして説明する。しかしながら、本欠陥画素情報統合処理の実行はこれに限らず、同一の撮像素子の状態に分類される欠陥画素情報が複数存在することを制御部１０１が認識した際に実行されてもよい。
【００４０】
なお、本欠陥画素情報統合処理では、例えば出荷前にＲＯＭ１０２に格納された第１の欠陥画素情報と、当該処理の直前に行われた欠陥画素情報生成処理において生成されてＲＯＭ１０２に格納された第２の欠陥画素情報とを統合するものとして以下に説明する。第１の欠陥画素情報は図６（ｂ）に示されるような情報、第２の欠陥画素情報は図７に示されるような情報で構成されているものとする。また、図９は、これら第１の欠陥画素情報及び第２の欠陥画素情報を統合した新たな欠陥画素情報を示す。
【００４１】
Ｓ８０１で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから、撮像素子の読み出し順において先頭となる欠陥画素の、位置を示すための情報であるカウントの値を読み出す。本実施形態においては、それぞれの欠陥画素情報には欠陥画素であるか否かに関わらず、撮像素子の読み出し順において最初に読み出される画素の情報が格納されている。このため、本ステップにおいて第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから読み出されるカウントの値は同一となる。
【００４２】
Ｓ８０２で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから読み出されたカウントの値に対して、ＲＯＭ１０２に記憶されている新たな欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントの値を減算したそれぞれの値の大小を比較する。具体的には、制御部１０１は、第１の欠陥画素情報から読み出されたカウントＸと第２の欠陥画素情報から読み出されたＹのそれぞれから、新たな欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントＺを減算し、Ｘ−ＺとＹ−Ｚの大小を判断する。即ち、本ステップでは、第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから読み出されている画素のどちらが、撮像素子の読み出し順において先に読み出される画素であるかを判断する。
【００４３】
制御部１０１は、第１の欠陥画素情報から読み出されたカウントの値から最後に追加された画素のカウントを減算した値の方（Ｘ−Ｚ）が小さい場合は処理をＳ８０３に移す。また、制御部１０１は、第２の欠陥画素情報から読み出されたカウントの値から最後に追加された画素のカウントを減算した値（Ｙ−Ｚ）の方が小さい場合は処理をＳ８０５に移す。また、制御部１０１は、両者の値が同値である場合は処理をＳ８０７に移す。
【００４４】
なお、本ステップにおいて、新たな欠陥画素情報に最後に追加された画素のカウントを減算するが、新たな欠陥画素情報に追加された画素の情報が存在しない場合は、当該減算が必要ないことは容易に理解されよう。また、当該減算の結果が負の値が出力された場合は当該値を正の値に換算した値で比較を行うものとする。例えば本実施形態のようにカウントの値が４ビットで示される場合、計算結果も４ビットの値、即ち−３であった場合は、２４−３＝１６−３＝１３と換算されるものとする。
【００４５】
Ｓ８０３で、制御部１０１は、第１の欠陥画素情報から読み出されたカウントに対応する画素の情報（カウント＋傷レベル）を取得して、ＲＯＭ１０２に記憶されている新たな欠陥画素情報に追加する。そしてＳ８０４で、制御部１０１は、第１の欠陥画素情報から当該追加した画素の次の画素のカウントの値を読み出して処理をＳ８０９に移す。
【００４６】
同様にＳ８０５で、制御部１０１は、第２の欠陥画素情報から読み出されたカウントに対応する画素の情報を取得して、ＲＯＭ１０２に記憶されている新たな欠陥画素情報に追加する。そしてＳ８０６で、制御部１０１は、第２の欠陥画素情報から当該追加した画素の次の画素のカウントの値を読み出して処理をＳ８０９に移す。
【００４７】
Ｓ８０７で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから読み出されたカウントに対応する画素の情報を読み出し、両者の傷レベルを加算することにより当該カウントの画素の情報を更新する。そして制御部１０１は更新された当該画素の情報を、ＲＯＭ１０２に記憶されている新たな欠陥画素情報に追加する。そしてＳ８０８で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のそれぞれから、当該追加した画素の次の画素のカウントの値を読み出して処理をＳ８０９に移す。
【００４８】
Ｓ８０９で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のいずれかに含まれる全て欠陥画素の情報が、新たな欠陥画素情報に追加されたかを判断する。即ち、Ｓ８０４、Ｓ８０６、及びＳ８０８のいずれかで、新たな欠陥画素情報に追加された画素の次の画素の情報を読み出そうとした場合の次の画素の情報の有無により、全ての画素の情報が追加されたか否かを判断する。制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報に含まれる全ての欠陥画素の情報の、新たな欠陥画素情報への追加がいずれも完了していないと判断した場合は処理をＳ８０２に戻す。また、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報の少なくともいずれかに含まれる全ての欠陥画素の情報の、新たな欠陥画素情報への追加が完了していると判断した場合は処理をＳ８１０へ移す。
【００４９】
Ｓ８１０で、制御部１０１は、第１及び第２の欠陥画素情報のうち、全ての欠陥画素の情報の読み出しが完了していない欠陥画素情報がいずれであるかを判断する。制御部１０１は、全ての欠陥画素の情報の読み出しが完了していない欠陥画素情報が第１の欠陥画素情報である場合は処理をＳ８１１に、第２の欠陥画素情報である場合は処理をＳ８１２に移す。また、制御部１０１は、両欠陥画素情報とも全ての欠陥画素の情報の読み出しが完了している場合は処理をＳ８１３に移す。
【００５０】
Ｓ８１１で、制御部１０１は、第１の欠陥画素情報に含まれる画素の情報のうち、まだ新たな欠陥画素情報に追加されていない情報を、当該新たな欠陥画素情報に追加する。またＳ８１２で、制御部１０１は、第２の欠陥画素情報に含まれる画素の情報のうち、まだ新たな欠陥画素情報に追加されていない情報を、当該新たな欠陥画素情報に追加する。
【００５１】
Ｓ８１３で、制御部１０１は、ＲＯＭ１０２から第１及び第２の欠陥画素情報を消去し、本欠陥画素情報統合処理で生成された新たな欠陥画素情報のみを保持させて、本欠陥画素情報統合処理を完了する。即ち、次から撮像されて撮像部１０５から出力されるアナログ画像信号については、当該処理で生成された新たな欠陥画素情報に基づいて欠陥補正部１１２にて補正が行われる。
【００５２】
なお、本実施形態では、欠陥画素情報統合処理において、ダミーの欠陥画素を含む全ての画素の情報を統合するものとして説明した。しかしながら、ダミーの欠陥画素の前に新たな欠陥画素の情報が追加されることにより不必要となった当該ダミーの欠陥画素の情報は、欠陥画素情報のデータ量低減の観点から削除してもよい。
【００５３】
このように、本発明の欠陥画素情報の構成方法で構成された欠陥画素情報では、新たな欠陥画素が生じた場合や欠陥画素の傷のレベルに変化が生じた場合等に、既知の欠陥画素情報のアドレス情報を更新することなく欠陥画素情報を追加及び更新することができる。
【００５４】
（欠陥画素情報の削除）
また、ＲＯＭ１０２は上限のある記憶領域であるため、欠陥画素情報のデータ量の増大により記憶できない状況を防ぐために、欠陥画素情報のデータ量に上限設定がなされることが考えられる。このような場合、例えば経年変化により生じた新たな欠陥画素の情報を上述の欠陥画素統合処理によって追加して得られた欠陥画素情報のデータ量が、予め定められたデータ量の上限を超える場合は、以下のように処理すればよい。即ち制御部１０１は、例えば欠陥画素情報に含まれる全ての欠陥画素の情報のうち、傷レベルの低い欠陥画素の情報を削除する。つまり、本発明の欠陥画素情報の構成方法で構成された欠陥画素情報では、他の欠陥画素の位置の情報を更新することなく、欠陥画素の情報の削除することができる。なお、傷レベルの低い欠陥画素が比較的近い位置に集中しており、これらの情報を削除することによりカウントが１周する間に欠陥画素が存在しなく状況が生じる場合には、上述した方法によってダミーの欠陥画素を欠陥画素情報に追加すればよい。
【００５５】
以上説明したように、本発明の欠陥画素情報の構成方法を用いることにより、撮像素子上の欠陥画素の位置を示す欠陥画素情報を、データ量を少なく、かつ追加及び更新が容易なように生成することができる。具体的には、欠陥画素情報生成装置は、撮像素子上の画素の読み出し順に、少なくとも隣り合う画素と異なる番号となるように、画素に対して周期的な番号を割り振る。そして撮像素子上の画素が欠陥画素であることを検出すると、検出された欠陥画素に割り振られた番号を、当該画素の位置を示す情報として欠陥画素情報に追加する。なお、欠陥画素であると検出された画素に割り振られた番号から次に同じ番号が割り振られるまでに次の欠陥画素が検出されなかった場合は、当該同じ番号が割り振られた画素が欠陥画素ではないことを示す情報とともに、当該同じ番号を欠陥画素情報に追加する。なお、このとき欠陥画素に追加する番号は、当該同じ番号よりも前に割り振られた番号であっても構わない。
【００５６】
（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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