(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、
前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと
を包含し、
前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含み、
前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なり、
前記検出ステップは、
前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップと
をさらに含む、情報再生方法。
【請求項２】
前記第１のエラーパターンにおけるエラービット数と前記第２のエラーパターンにおけるエラービット数とは互いに異なる、請求項１に記載の情報再生方法。
【請求項３】
前記第１のエラーパターンは、
前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンと、
前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンと
を含み、
前記第２のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークのエッジずれで発生するエラーパターンである、請求項２に記載の情報再生方法。
【請求項４】
前記情報の再生に用いるレーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数ＮＡとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ／（４×ＮＡ）以下の長さである、請求項３に記載の情報再生方法。
【請求項５】
前記レーザ光の波長λは４００ｎｍから４１０ｎｍ、前記対物レンズの開口数ＮＡは０．８４から０．８６である、請求項４に記載の情報再生方法。
【請求項６】
前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが反転する２つのグループで、前記長さ誤差および前記位相誤差をそれぞれ演算する、請求項５に記載の情報再生方法。
【請求項７】
最短ラン長が２ＴであるＲＬＬ（１，７）符号を用いた情報が複数の長さを有する記録マークおよびスペースとして形成された情報記録媒体から情報を再生する情報再生方法であって、
ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであるＰＲＭＬ方式を用いて、前記情報記録媒体から再生される再生信号から前記情報を復調する再生ステップと、
前記ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと
を包含し、
前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含み、
前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なり、
正解パターンのビット列が"１１１００１１０００"であり、前記第１のエラーパターンが"１１００１１１０００"および"１１１０００１１００"を含む場合と、正解パターンのビット列が"０００１１００１１１"であり、前記第１のエラーパターンが"００１１０００１１１"および"０００１１１００１１"を含む場合とにおいて、前記検出ステップは、
前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップと
をさらに含む、情報再生方法。
【請求項８】
情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、
前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと、
前記長さ誤差および前記位相誤差に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を調整する調整ステップと、
前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップと
を包含し、
前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含み、
前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なり、
前記検出ステップは、
前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、
前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップと
をさらに含む、情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報が光学的に記録可能な情報記録面を有する情報記録媒体に対して、高密度記録をより安定に実現する情報再生方法、情報記録方法、およびそのような方法において調整された記録条件を記録する情報記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）などの光ディスクは、映像やデータなどを保存する記録媒体として使用されており、さらなる高密度化が必要とされている。【０００３】
前記光ディスクでは、記録層に記録マークおよびスペースを形成することで情報が記録される。光ディスクをさらに高密度記録を行うためには、記録マークおよびスペースの長さを短くする必要がある。【０００４】
しかしながら、光ディスクの高密度化により、符号間干渉の増大とＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となる。記録マークおよびスペースの長さを短くすると再生信号が小さくなるとともに、さらに前記符号干渉の影響で、記録マークおよびスペースの組合せに応じて再生信号に差が生じる。例えば、同じ記録マーク長においても、前後のスペース長の違いにより、特に記録マークのエッジ部における再生信号が異なって検出される。そのため、再生信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を適用することが有効とされている。【０００５】
また、高密度記録において、スペースの長さが短くなることにより、前後の記録マークによる熱干渉の影響が大きくなる。この熱干渉の影響で、形成される記録マークのエッジ位置が変動する。そのため、適切なエッジ位置となる記録マークを形成するために、前記スペースの長さに応じた記録レーザのパルス形状を微調整（記録補償）する必要がある。【０００６】
ここで、記録レーザのパルス波形について簡単に説明する。図２に、記録パルス波形および記録パワーの説明図を示す。【０００７】
図２（ａ）は、記録データ生成時の基準信号となるチャネルクロックの周期Ｔｗであり、前記周期Ｔｗにより図２（ｂ）に示す記録信号であるＮＲＺＩ信号（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｉｎｇ）の記録マークおよびスペースの時間間隔が決定する。図２（ｂ）では、ＮＲＺＩ信号の部分的な一例として、２Ｔマーク−２Ｔスペース−４Ｔマークの記録パターンを示している。【０００８】
図２（ｃ）は、記録マークを形成するためのレーザ光のマルチパルス列である。マルチパルス列の記録パワーＰｗは、記録マークの形成に必要となる加熱効果のあるピークパワーＰｐ２０１、冷却効果のあるボトムパワーＰｂ２０２およびクーリングパワーＰｃ２０３と、スペース部における記録パワーであるスペースパワーＰｓ２０４により構成される。ピークパワーＰｐ２０１、ボトムパワーＰｂ２０２、クーリングパワーＰｃ２０３およびスペースパワーＰｓ２０４は、レーザ光の消光時に検出される消光レベル２０５を基準レベルとして設定される。【０００９】
なお、ボトムパワーＰｂ２０２とクーリングパワーＰｃ２０３は同等の記録パワーが設定されるが、クーリングパワーＰｃ２０３は記録マーク終端部の熱量調整のために、ボトムパワーＰｂ２０２と異なる設定を行うことがある。また、スペース部では記録マークを形成する必要がないために、一般的にスペースパワーＰｓ２０４は低い記録パワー（例えば再生パワーやボトムパワーなどと同等）で設定される。しかしながら、書き換え型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥ）においては、既存の記録マークを消去してスペース部を形成する必要があり、また追記型の光ディスク（例えば、ＤＶＤ−ＲやＢＤ−Ｒ）では次の記録マークを形成するための予熱パワーとして、スペースパワーＰｓ２０４は、高めの記録パワーに設定されることがある。但し、この場合でも、スペースパワーＰｓ２０４は、ピークパワーＰｐ２０１よりも高い記録パワーに設定されることはない。【００１０】
パルス幅に関して、先頭のパルス幅Ｔｔｏｐは２Ｔ、３Ｔおよび４Ｔ以上の記録信号において各々設定される。３Ｔ以上のマルチパルス列に存在する前記Ｔｔｏｐ以降のパルス幅Ｔｍｐは同一設定とし、最終のパルス幅Ｔｍｐはラストパルス幅Ｔｌｐとして設定される。また、各記録マーク長において、記録マークの始端位置を調整するための記録開始位置オフセットｄＴｔｏｐ、終端位置を調整するための記録終了位置オフセットｄＴｓが設定される。記録補償（ここではスペース補償）とは、前方のスペースあるいは後方のスペースの長さに応じて、記録パルスの記録パラメータ（例えばｄＴｔｏｐ）を変化させることである。【００１１】
前記マルチパルス列の記録パワーの各値およびパルス幅などの記録時のレーザ発光条件は、光ディスク内部に記載されている。従って、光ディスク内部に記載されたマルチパルス列の記録パワーおよびパルス幅を再現し、光ディスクの記録層にレーザ光を照射することができれば、図２（ｄ）に示すような記録マークを形成することができる。【００１２】
なお、記録パルス形状としては、図２（ｃ）のマルチパルス波形以外にも、図３に示すような記録パルス形状が存在する。図３（ａ）はモノパルス波形、図３（ｂ）はＬ型パルス波形、図３（ｃ）はＣａｓｔｌｅ型パルス波形である。各記録パルス波形は、光ディスクの記録層で蓄積される熱量がそれぞれ異なり、最適な記録マークを形成するために記録層の膜特性に応じた記録パルス形状が選択される。【００１３】
ＰＲＭＬ方式で再生信号を処理して記録補償を行う記録制御方法の一例が、特許文献１や特許文献２に開示されている。【００１４】
特許文献１では、復調結果である第１ビット列（最も確からしい状態遷移列）と、前記第１ビット列に対して１ビットシフトした第２ビット列（２番目に確からしい状態遷移列）を用いて、再生信号と第１ビット列とのユークリッド距離Ｐａ、再生信号と第２ビット列とのユークリッド距離Ｐｂをそれぞれ算出する。さらに、前記第１ビット列および第２ビット列のユークリッド距離をＰｓｔｄとして、算出される｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの平均値により、パターンごとのエッジのずれ方向とずれ量を検出される。その結果、前後のスペース長とマーク長によってテーブル化された適応的な記録パラメータが、前記パターンごとに対応した前記エッジのずれ方向およびずれ量に応じて最適化される。【００１５】
特許文献２では、復調結果である第１パターン（最も確からしい状態遷移列）と、前記第１パターンに関連する第２パターンおよび第３パターンの各エラーパターンが設定される。前記第２パターンおよび第３パターンは、前記第１パターンに対して、検出されるエッジが左右にシフトした場合にエラーとなる任意のパターンである。再生信号と第１パターンとのユークリッド距離Ｅ１、再生信号と第２パターンとのユークリッド距離Ｅ２、再生信号と第３パターンとのユークリッド距離Ｅ３がそれぞれ算出される。さらに、距離差Ｄ２＝Ｅ２−Ｅ１およびＤ３＝Ｅ３−Ｅ１により、Ｄ２の平均値Ｍ２および標準偏差σ２と、Ｄ３の平均値Ｍ３および標準偏差σ３が求まる。そして、記録パルスの補正量が、Ｅｃ＝（σ２＊Ｍ３＋σ３＊Ｍ２）／（σ２＋σ３）の関係式から決定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１６】
【特許文献１】特開２００４−３３５０７９号公報
【特許文献２】特許第３６９７４０９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
情報記録媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮＲ劣化がさらに問題となる。【００１８】
特に、最短ラン長の連続信号、すなわち最短の記録マークおよびスペースが繰り返される信号が、光学分解能を超える場合では、再生信号の振幅はゼロとなる。光学分解能を超える条件とは、レーザの波長をλ、対物レンズの開口数をＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉａｌ  Ａｐｅｒｔｕｒｅ）とすると、記録マークおよびスペースの長さＬが、λ／（４×ＮＡ）以下となる条件である。例えば、ＢＤシステムの場合では、一般的にλ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５であるため、長さＬは約１１９．１ｎｍとなる。これは、ディスク構造を同じとした場合、記録容量は約３１ＧＢに相当する。従って、記録容量が約３１ＧＢとなる高密度記録では、最短ラン長の連続信号での振幅はゼロとなる。【００１９】
光学分解能を超える場合では、再生信号がゼロとなる信号は、記録マークのエッジが出現しないため、ＰＲＭＬ方式による記録制御方法が必要となる。【００２０】
また、前述のように、ディスク構造、および光学条件を同一として、高密度記録を行う場合、記録マークおよびスペースの長さを短く形成する必要がある。【００２１】
図４に、記録密度により異なる記録マークの形状変化を説明する図を示す。【００２２】
同図において、図４（ａ）は記録密度が低い、図４（ｂ）は記録密度が高い記録マークであり、記録密度の差は、記録マークの長さである。【００２３】
図４（ａ）のように、記録密度が低い場合では、記録パルスの始端側を変化させると、記録マークの始端エッジの片側が変化する。【００２４】
しかしながら、図４（ｂ）のように記録密度が高い場合では、記録パルスの始端側を変化させると、記録マークの始端および終端エッジの両側が変化する。これは、記録マークの形成時において、始端側の熱変化が終端側に影響するためである。すなわち、自己マーク形成時における熱干渉の影響が発生する。【００２５】
ＢＤで記録密度２５ＧＢにおいても、最短の記録マークでは、厳密には図４（ｂ）のような自己マークの熱干渉が発生する。しかし、光学分解能に余裕があるため、自己マークの熱干渉の影響は少なく、実際は、始端および終端で記録条件を分離した記録調整が行われている。光学分解能の限界に近づく又は超えると、自己マークの熱干渉の影響は無視できなくなる。【００２６】
そのため、高密度記録（例えば３０ＧＢ以上）における最短の記録マークは、図７のように、前後スペースに応じて、記録条件が設定されることが望ましい。但し、さらに高密度（例えば、４０ＧＢ以上）である場合、最短の記録マークだけではなく、２番目に短い記録マークも対象となる。【００２７】
このように、高密度記録においては、特に最短の記録マークおよびスペースの長さを適切に形成することが非常に困難であり、調整精度が必要とされる。【００２８】
ここで、ＢＤにおけるビットエラーについて説明する。【００２９】
ＢＤにおける変調符号の最短ラン長は２Ｔであり、最短の長さである２Ｔ信号の記録マークまたはスペースに関するエラーが支配的である。【００３０】
ＢＤで記録密度２５ＧＢにおいては、記録マークのエッジずれで発生する１ビットエラーが多かった。そのため、特許文献１のように、１ビットエラーに対する記録調整が行われている。【００３１】
しかし、ＢＤシステムで光学分解能を超える高密度記録（約３１ＧＢ）を行った場合では、１ビットエラーだけではなく、２ビットエラー、３ビットエラーなどが発生する。【００３２】
ここで２ビットエラーとは、最短の記録マークまたはスペースの２Ｔが１Ｔシフトして復号されるエラーである。例えば、正解パターンがＸＴスペース−２Ｔマーク−ＹＴスペース（Ｘｓ２ｍＹｓ）である場合、復号結果は（Ｘ−１）ｓ２ｍ（Ｙ＋１）ｓまたは（Ｘ＋１）ｓ２ｍ（Ｙ−１）ｓに誤る。２Ｔスペースの場合（Ｘｍ２ｓＹｍ）も同様である。【００３３】
なお、Ｘ，Ｙは任意の正の整数であり、変調符号により決定される。例えば、ＲＬＬ（１，７）符号では、Ｘ，Ｙは２Ｔ〜８Ｔ（Ｓｙｎｃ部に９Ｔが存在する）となる。そのため、（Ｘ−１）または（Ｙ−１）におけるＸおよびＹは、必然的に３Ｔ以上となる。【００３４】
また、３ビットエラーとは、最短の記録マークおよびスペースの２Ｔ連続が１Ｔシフトして復号されるエラーである。例えば、正解パターンがＸＴマーク−２Ｔスペース−２Ｔマーク−ＹＴスペース（Ｘｍ２ｓ２ｍＹｓ）である場合、復号結果は（Ｘ−１）ｍ２ｓ２ｍ（Ｙ＋１）ｓまたは（Ｘ＋１）ｍ２ｓ２ｍ（Ｙ−１）ｓに誤る。２Ｔマーク−２Ｔスペースの場合（Ｘｓ２ｍ２ｓＹｍ）も同様である。高密度記録では、この３ビットエラーによる影響が大きい。【００３５】
そのため、特許文献１による１ビットエラーに対応した記録調整では不十分である。また、特許文献１では、２Ｔ連続のエッジは検出されない。【００３６】
特許文献２では、記録調整するエッジに対する検出エッジが左右にシフトした場合のエラーパターンが設定される。そのため、特許文献２では、１ビットエラーだけではなく、２ビットエラーにも対応したエッジ検出が記載されている。【００３７】
ここで、図５に、１ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す。図５（ａ）は再生ノイズが低い場合で、ノイズが低いために、パターン分布の広がりは少ない。しかし、図５（ｂ）のように、再生ノイズが高くなると、パターン分布の広がりは大きくなる。但し、図５（ｂ）におけるパターン分布の平均値は、図５（ａ）におけるパターン分布の平均値と殆ど変わらない。【００３８】
なお、ユークリッド距離差は、信号Ｓ１および信号Ｓ２とのユークリッド距離の２乗を表す。ユークリッド距離差Ｄは、次式により計算される。
【数１】
0005607148.tif 000002
【００３９】
次に、図６に、２ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す。図６（ａ）は再生ノイズが低い場合で、図５（ａ）と同じ例としている。図６（ｂ）のように、再生ノイズが高くなると、図５（ｂ）と同様に、パターン分布の広がりは大きくなる。さらに、図６（ｂ）におけるパターン分布の平均値は、図６（ａ）におけるパターン分布の平均値と異なる。【００４０】
この平均値ずれは、ＰＲＭＬ方式を用いた再生信号の適応等化処理が不十分、すなわち等化誤差が残る場合に発生する。光学分解能を超える条件において、再生装置の回路規模や部品などに制限があるため、この平均値ずれが発生する。【００４１】
なお、この平均値ずれは、３ビットエラーの場合にも発生する。【００４２】
図５または図６において、各パターン分布の平均値を平均したエッジ検出は、ノイズの影響を受けない。しかし、ユークリッド距離が異なるパターン分布を用いる場合（例えば、図５（ａ）における左のパターン分布と、図６（ａ）における右のパターン分布）、各パターン分布の平均値を平均したエッジ検出は、ノイズの影響を受ける。【００４３】
このように、特許文献２では、再生ノイズの影響を受ける記録制御となっている。【００４４】
さらに、図７に、記録パラメータのテーブルの一例を示す。【００４５】
図７は、記録パラメータの記録補償（ここではスペース補償）の説明例であり、図７（ａ）は始端エッジに対する記録マーク長と前方スペースとの関係を示し、図７（ｂ）は終端エッジに対する記録マーク長と後方スペースとの関係を示す。【００４６】
図７において、記録マークＭ（ｉ）、前方スペースＳ（ｉ−１）、後方スペースＳ（ｉ＋１）の各記号は、図８に示すような記録マークおよびスペースの時系列によって表される。記号Ｍは記録マーク、記号Ｓはスペース、任意の記録マークおよびスペースの時系列は記号ｉを用いて表し、図７の記録パラメータに対応する記録マークをＭ（ｉ）で表す。【００４７】
従って、記録マークＭ（ｉ）の前方スペースはＳ（ｉ−１）、記録マークＭ（ｉ）の後方スペースはＳ（ｉ＋１）である。そのため、例えば図７の始端エッジにおけるパターン３Ｔｓ４ＴｍはＳ（ｉ−１）＝３Ｔ、Ｍ（ｉ）＝４Ｔの関係となり、終端エッジにおけるパターン３Ｔｍ２ＴｓはＭ（ｉ）＝３Ｔ、Ｓ（ｉ＋１）＝２Ｔの関係となる。【００４８】
例えば、図７において、始端エッジの記録パラメータとしてＴｔｏｐおよびｄＴｔｏｐ、終端エッジの記録パラメータとしてＴｌｐおよびｄＴｓが設定される。【００４９】
特許文献１および２ともに、図７のように始端エッジでは前方スペース、終端エッジでは後方スペースに対してのみ記録パラメータが設定される。【００５０】
しかし、上記したように、高密度記録では自己マークの熱干渉の影響が発生する。そのため、前方および後方スペースに対応した記録パラメータの設定が必要となる。【００５１】
以上のことから、光学分解能を超える高密度記録を行う場合、ＰＲＭＬ方式におけるユークリッド距離差に対するノイズの影響を低減し、なおかつ自己マークの熱干渉の影響を考慮した記録調整が必要となる。そのため、従来技術のようなエッジ検出で、前方または後方スペースのみ記録パラメータを設定した記録調整では、特に最短の記録マークおよびスペースが繰り返される信号に対する記録調整性能が不十分であるという課題を有していた。【００５２】
本発明は、これらの課題を解決するため、高密度記録において、最尤復号を行うときのエラーの発生する確率が最小となるように、情報の記録時に記録パラメータを最適化する情報再生方法、情報記録方法、およびそのような方法において調整された記録条件を記録する情報記録媒体を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００５３】
本発明の情報再生方法は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なる。前記検出ステップは、前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。【００５４】
ある実施形態によれば、前記第１のエラーパターンにおけるエラービット数と前記第２のエラーパターンにおけるエラービット数とは互いに異なる。
【００５５】
ある実施形態によれば、前記第１のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンと、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンとを含む。前記第２のエラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークのエッジずれで発生するエラーパターンである。【００５６】
ある実施形態によれば、前記情報の再生に用いるレーザ光の波長をλ、対物レンズの開口数ＮＡとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ／（４×ＮＡ）以下の長さである。【００５７】
ある実施形態によれば、前記レーザ光の波長λは４００ｎｍから４１０ｎｍ、前記対物レンズの開口数ＮＡは０．８４から０．８６である。【００５８】
ある実施形態によれば、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが反転する２つのグループで、前記長さ誤差および前記位相誤差をそれぞれ演算する。【００５９】
また、本発明の情報再生方法は、最短ラン長が２ＴであるＲＬＬ（１，７）符号を用いた情報が複数の長さを有する記録マークおよびスペースとして形成された情報記録媒体から情報を再生する。情報再生方法は、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであるＰＲＭＬ方式を用いて、前記情報記録媒体から再生される再生信号から前記情報を復調する再生ステップと、前記ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なる。正解パターンのビット列が“１１１００１１０００”であり、前記第１のエラーパターンが“１１００１１１０００”および“１１１０００１１００”を含む場合と、正解パターンのビット列が“０００１１００１１１”であり、前記第１のエラーパターンが“００１１０００１１１”および“０００１１１００１１”を含む場合とにおいて、前記検出ステップは、前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。【００６０】
本発明の情報記録方法は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生ステップと、前記復調された正解パターンに対応する複数のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する検出ステップと、前記長さ誤差および前記位相誤差に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録するための記録条件を調整する調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップとを包含する。前記検出ステップは、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンを検出するステップを含む。前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なる。前記検出ステップは、前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第１のパターンシフト量を演算するステップと、前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して、第２のパターンシフト量を演算するステップと、前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、前記長さ誤差および前記位相誤差を演算するステップとをさらに含む。【００６１】
本発明の情報記録媒体は、トラックを有する情報記録媒体であって、前記トラックには情報が記録され、前記トラックを再生した再生信号から情報が復調される。前記復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンが検出され、前記複数のエラーパターンのうちの第１および第２のエラーパターンが検出される。前記第１のエラーパターンと前記第２のエラーパターンは、前記正解パターンとの間のユークリッド距離の２乗が互いに異なる。前記第１のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第１のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化することにより、第１のパターンシフト量が演算される。前記第２のエラーパターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、前記正解パターンと前記再生信号との間のユークリッド距離の２乗との差を、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンの時間関係に応じて、前記正解パターンと前記第２のエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化することにより、第２のパターンシフト量が演算される。前記第１のパターンシフト量と前記第２のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差が演算され、前記長さ誤差と前記位相誤差に基づいて調整された記録条件が前記情報記録媒体に記録される。【００６２】
本発明の情報再生装置は、前記情報記録媒体から情報の再生を行う情報再生装置であって、前記情報記録媒体にレーザ光を照射する光ヘッド部と、前記情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調する再生部を備える。【００６３】
また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトとによって前記信号指標値を算出する。【００６４】
ある実施形態によれば、前記信号指標値が０に最も近くなる、または前記信号指標値の絶対値が最小となるように、記録パルスまたは記録パワーを調整する。【００６５】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００６６】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１１０００”、前記第２エラーパターンは“１１１０００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１０００１１１”、前記第２エラーパターンは“０００１１１００１１”である。【００６７】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００６８】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１００００”、前記第２エラーパターンは“１１１１００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１００１１１１”、前記第２エラーパターンは“００００１１００１１”である。【００６９】
ある実施形態によれば、前記情報記録再生装置におけるレーザ波長をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ／（４×ＮＡ）以下の長さである。【００７０】
ある実施形態によれば、前記レーザの波長λは４００ｎｍから４１０ｎｍである。【００７１】
ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数ＮＡは０．８４から０．８６である。【００７２】
ある実施形態によれば、前記エラーパターンは、さらに、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第３エラーパターンおよび第４エラーパターンを含み、前記正解パターンに対応する第３エラーパターンのユークリッド距離は、前記正解パターンに対応する第１エラーパターンのユークリッド距離と同じであり、かつ、前記正解パターンに対する前記第３エラーパターンのエラービット数は、前記正解パターンに対する前記第１エラーパターンのエラービット数と異なる。前記信号指標値は、さらに、前記第３エラーパターンおよび第４エラーパターンで検出される各パターンシフトの差を用いて算出される。【００７３】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第３エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第４エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００７４】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１１０００”、前記第２エラーパターンは“１１１０００１１００”、前記第３エラーパターンは“１１００１１００００”、前記第４エラーパターンは“１１１１００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１０００１１１”、前記第２エラーパターンは“０００１１１００１１”、前記第３エラーパターンは“００１１００１１１１”、前記第４エラーパターンは“００００１１００１１”である。【００７５】
また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも１つの前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。【００７６】
また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。【００７７】
ある実施形態によれば、前記パターンシフトの差に対する係数を、前記分類された各グループで符号反転する。【００７８】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンおよび第２エラーパターンは、前記分類された各グループに対しても、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである。【００７９】
ある実施形態によれば、検出される前記エラーパターンの数が各グループで同じである。【００８０】
ある実施形態によれば、前記分類されたグループは、最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが「スペース／記録マーク」、「記録マーク／スペース」、「スペース／記録マーク／スペース」である。前記記録調整部は、「スペース／記録マーク」および「記録マーク／スペース」に対して、前記信号指標値により記録条件を調整し、前記調整された記録条件に基づいて「スペース／記録マーク／スペース」の記録条件を決定する。【００８１】
また、本発明の情報記録再生装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生部と、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整部と、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録部を備える。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整部は、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも１つの前記分類された各グループにおける前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。【００８２】
また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。【００８３】
ある実施形態によれば、前記信号指標値が０に最も近くなる、または前記信号指標値の絶対値が最小となるように、記録パルスまたは記録パワーを調整する。【００８４】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００８５】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１１０００”、前記第２エラーパターンは“１１１０００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１０００１１１”、前記第２エラーパターンは“０００１１１００１１”である。【００８６】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００８７】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１００００”、前記第２エラーパターンは“１１１１００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１００１１１１”、前記第２エラーパターンは“００００１１００１１”である。【００８８】
ある実施形態によれば、前記情報記録再生方法におけるレーザ波長をλ、対物レンズの開口数をＮＡとすると、前記最短ラン長の記録マークおよびスペースの長さは、λ／（４×ＮＡ）以下の長さである。【００８９】
ある実施形態によれば、前記レーザの波長λは４００ｎｍから４１０ｎｍである。【００９０】
ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数ＮＡは０．８４から０．８６である。【００９１】
ある実施形態によれば、前記エラーパターンは、さらに、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第３エラーパターンおよび第４エラーパターンを含み、前記正解パターンに対応する第３エラーパターンのユークリッド距離は、前記正解パターンに対応する第１エラーパターンのユークリッド距離と同じであり、かつ、前記正解パターンに対する前記第３エラーパターンのエラービット数は、前記正解パターンに対する前記第１エラーパターンのエラービット数と異なる。前記信号指標値は、さらに、前記第３エラーパターンおよび第４エラーパターンで検出される各パターンシフトの差を用いて算出される。【００９２】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第２エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークまたはスペースが後方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第３エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が前方に１ビットシフトするエラーパターンであり、前記第４エラーパターンは、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの連続が後方に１ビットシフトするエラーパターンである。【００９３】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式がＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬであり、最短ラン長が２Ｔである符号を用いた情報であり、正解パターンのビット列“１１１００１１０００”に対する前記第１エラーパターンは“１１００１１１０００”、前記第２エラーパターンは“１１１０００１１００”、前記第３エラーパターンは“１１００１１００００”、前記第４エラーパターンは”１１１１００１１００”である。または、正解パターンのビット列“０００１１００１１１”に対する前記第１エラーパターンは“００１１０００１１１”、前記第２エラーパターンは“０００１１１００１１”、前記第３エラーパターンは“００１１００１１１１”、前記第４エラーパターンは“００００１１００１１”である。【００９４】
また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも１つの前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。【００９５】
また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記記録調整ステップは、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。【００９６】
ある実施形態によれば、前記パターンシフトの差に対する係数を、前記分類された各グループで符号反転する。【００９７】
ある実施形態によれば、前記第１エラーパターンおよび第２エラーパターンは、前記分類された各グループに対しても、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである。【００９８】
ある実施形態によれば、検出される前記エラーパターンの数が各グループで同じである。【００９９】
ある実施形態によれば、前記分類されたグループは、最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが「スペース／記録マーク」、「記録マーク／スペース」、「スペース／記録マーク／スペース」である。前記記録調整ステップは、「スペース／記録マーク」および「記録マーク／スペース」に対して、前記信号指標値により記録条件を調整し、前記調整された記録条件に基づいて「スペース／記録マーク／スペース」の記録条件を決定する。【０１００】
また、本発明の情報記録再生方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する再生ステップと、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差および位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を、前記情報における最短ラン長の記録マークおよびスペースの並びが異なるグループに分類して調整する記録調整ステップと、前記記録条件に基づいて、前記情報記録媒体に前記情報を記録する記録ステップを含む。前記分類された各グループにおける前記エラーパターンの１つは、少なくとも、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを含む。前記記録調整ステップは、前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。少なくとも１つの前記分類された各グループにおける前記パターンシフトの差に対する係数を、長さ誤差および位相誤差の算出時で符号反転する。【０１０１】
また、本発明の情報記録制御装置は、情報記録媒体から再生した情報を示す再生信号に対して、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。【０１０２】
また、本発明の情報記録制御方法は、情報記録媒体から再生した情報を示す再生信号に対して、ＰＲＭＬ方式で識別される正解パターンおよび前記正解パターンに対応するユークリッド距離が異なる２つ以上のエラーパターンを検出し、前記デジタル信号と前記正解パターンとのユークリッド距離の２乗と、前記デジタル信号と前記エラーパターンとのユークリッド距離の２乗との差であるパターンシフトをそれぞれ検出し、前記パターンシフトによって長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出し、前記信号指標値に基づいて前記情報記録媒体に前記情報を記録するための記録条件を調整する。前記エラーパターンの１つは、前記正解パターンに対するユークリッド距離が同じで、かつエラービット数が同じである第１エラーパターンおよび第２エラーパターンを少なくとも含む。前記第１エラーパターンおよび前記第２エラーパターンで検出される各パターンシフトの差と、他のエラーパターンで検出されるパターンシフトによって前記信号指標値を算出する。
【発明の効果】
【０１０３】
本発明によれば、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調し、復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する際に、最短の記録マークまたはスペースに関係するビットがシフトすることで発生する第１のエラーパターンと、記録マークのエッジずれで発生する第２のエラーパターンとを使用する。このとき、第１のエラーパターンと第２のエラーパターンは、正解パターンとのユークリッド距離の２乗が互いに異なる。そして、エラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、正解パターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗の差を、正解パターンとエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して得られるパターンシフトを、複数のエラーパターンごとに検出する。そして、第１のエラーパターンに対して正規化された第１のパターンシフト量と、第２のエラーパターンに対して正規化された第２のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差を演算する。【０１０４】
このとき、第１のエラーパターンは、少なくとも最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンと、後方にビットシフトするエラーパターンを含む。そして、第１のパターンシフト量によって、最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトと、後方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトの平均的な位置を検出することができる。平均的な位置を求めることで、再生ノイズによって前方方向および後方方向に変化するパターンシフトのずれ量を抑制することができる。そのため、第１のパターンシフト量によって、再生ノイズの影響を受けないエッジ検出ができる。【０１０５】
このように、本発明によれば、正解パターンとのユークリッド距離の２乗が互いに異なる第１のエラーパターンと第２エラーパターンを用いて演算した長さ誤差および位相誤差を、再生ノイズが変化しても、適切に検出することができる。【０１０６】
本発明は、最短の記録マークまたはスペースに関するビットがシフトすることで発生するエラーが含まれる光学分解能を超える高密度記録に対して特に有効である。本発明により記録条件を調整することによって、光学分解能を超える高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録を行うことができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本発明の実施形態による情報記録再生装置を示す図である。
【図２】（ａ）から（ｄ）は、記録パルス波形および記録パワーを説明する図である。
【図３】（ａ）から（ｃ）は、記録パルス形状を説明する図である。
【図４】（ａ）および（ｂ）は、記録密度により異なる記録マークの形状変化を説明する図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）は、１ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す図である。
【図６】（ａ）および（ｂ）は、２ビットエラーに対するユークリッド距離差のパターン分布を示す図である。
【図７】（ａ）および（ｂ）は、記録パラメータのテーブルを示す図である。
【図８】記録マークおよびスペースの時系列を説明する図である。
【図９】（ａ）および（ｂ）は、本発明の実施形態における記録パラメータのパターンテーブルを説明する図である。
【図１０】（ａ）から（ｃ）は、本発明の実施形態における２Ｔ連続パターンの分類を説明する図である。
【図１１】本発明の実施形態におけるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図１２】本発明の実施形態における図１１に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図１３】本発明の実施形態における表１に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図１４】本発明の実施形態における表２に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図１５】本発明の実施形態における表３に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図１６】（ａ）から（ｆ）は、本発明の実施形態におけるＳＭグループの２Ｔマーク変化時に誤りやすいパターンを説明する図である。
【図１７】（ａ）から（ｆ）は、本発明の実施形態におけるＭＳグループの２Ｔマーク変化時に誤りやすいパターンを説明する図である。
【図１８】（ａ）および（ｂ）は、本発明の実施形態におけるＳＭグループの２Ｔマークの長さ変化および位相変化を示す図である。
【図１９】（ａ）から（ｆ）は、本発明の実施形態における記録調整を行う記録パルスを説明する図である。
【図２０】本発明の実施形態における記録パルス条件の調整手順を示すフローチャートである。
【図２１】本発明の実施形態における長さ調整および位相調整の調整手順を示すフローチャートである。
【図２２】（ａ）および（ｂ）は、ＳＭパターンおよびＭＳパターンにおける記録パルスの変化に対するパターンシフトの変化量を示す図である。
【図２３】本発明の実施形態における情報記録媒体を示す図である。
【図２４】本発明の実施形態における情報再生装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０１０８】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。
【０１０９】
なお、本発明の実施形態の説明では、ＢＤシステムで光学分解能を超える高密度記録について説明を行う。上記のように、光学分解能を超える記録密度は約３１ＧＢ以上である。但し、本実施形態は、約３１ＧＢ以上に限定されず、ほぼ同じ記録密度である３０ＧＢに適用してもよい。
【０１１０】
また、本実施形態における再生系の信号処理にＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式を採用し、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いる。このとき、変調符号の最短ラン長は２Ｔとして説明を行う。そのため、最短マークおよびスペースである２Ｔの長さが１１９．１ｎｍ以下となる。
【０１１１】
はじめに、本実施形態における記録条件である記録パラメータのテーブル（以下、パターンテーブル）について説明する。なお、本実施形態における記録条件は、記録パルス条件として説明するが、記録パワー条件など他の記録パラメータであってもよい。
【０１１２】
図９に、本実施形態における記録パラメータのパターンテーブルを示す。
【０１１３】
図９（ａ）は記録マークの始端エッジ、図９（ｂ）は記録マークの終端エッジに関する記録パラメータのパターンテーブルである。ここでの特徴は、最短マークに対する記録において、記録パラメータが前方および後方スペースの両方（以下、前後スペース）に対して設定されることである。
【０１１４】
図９（ａ）では、後方スペースの長さに応じて記録パラメータ設定が分離される。
【０１１５】
図９（ｂ）では、前方スペースの長さに応じて記録パラメータ設定が分離される。
【０１１６】
図９において、記録パラメータの対象となる記録マークは、上述した図７および図６と同様に、記録マークＭ（ｉ）で表す。その他のスペースまたは記録マークに関しても同様の記号を用いる。図９（ａ）におけるＳ（ｉ＋１）の記号！２Ｔｓは、後方スペースが２Ｔスペース以外、すなわち３Ｔスペース以上（例えば３Ｔスペース）であることを表現している。図９（ｂ）におけるＳ（ｉ−１）の記号！２Ｔｓも同様である。
【０１１７】
従って、最短マーク２Ｔｍは、前後スペースで記録パラメータが設定されることになる。例えば、図９（ａ）における３Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓは、前方スペースが３Ｔスペース、後方スペースが２Ｔスペースであることを表している。
【０１１８】
また、記号ｘＴｓは、スペースの長さを特に限定する必要がないことを表している。
【０１１９】
さらに、図７と同様のパターン表現に関しては、カッコ（  ）を付与する。例えば、図７（ａ）のパターン２Ｔｓ３Ｔｍは、図９（ａ）ではパターン（２Ｔｓ３Ｔｍ）と表現される。これらの記号は、他のパターンに対しても同じである。
【０１２０】
図９のパターンテーブルにより、記録マークが最短マーク以外、すなわち、３Ｔマーク以上は従来のパターンテーブル図７と同じである。そして、記録マークＭ（ｉ）が最短マークとなる場合のみ、図９（ａ）では後方のスペースＳ（ｉ＋１）の長さ、図９（ｂ）では前方のスペースＳ（ｉ−１）の長さに応じて、パターン表現が異なる。つまり、最短マークの後方または前方のスペース長の違いにより、記録パラメータが異なる設定で行われることを意味する。
【０１２１】
このように、本実施形態では、自己マークの熱干渉の影響が生じる高密度記録においても、より適切な記録マークが形成できるように、最短マークの後方または前方のスペース長の違いによって、記録パラメータを分離している。
【０１２２】
図９において、ＳＭＳグループ、ＳＭグループ、ＭＳグループは、２Ｔ連続パターンに関係する記録パラメータである。
【０１２３】
ここで、本実施形態における２Ｔ連続パターン、すなわち最短の記録マークおよびスペースが繰り返されるパターンの分類について説明する。
【０１２４】
図１０に、２Ｔ連続パターンの分類を示す。
【０１２５】
図１０（ａ）では、記録マークが２Ｔマークであり、前方スペースが２Ｔスペース、後方スペースが２Ｔスペースである。図１０（ｂ）では、記録マークが２Ｔマークであり、前方スペースが２Ｔスペース、後方スペースが３Ｔ以上のスペースである。図１０（ｃ）では、記録マークが２Ｔマークであり、前方スペースが３Ｔ以上のスペース、後方スペースが２Ｔスペースである。なお、Ｘ，Ｙは任意の整数である。
【０１２６】
図１０において、図１０（ａ）は前後スペースが２Ｔスペースであり、図１０（ｂ）および図１０（ｃ）は前方または後方スペースの一方が２Ｔスペースである。従って、図１０（ａ）における２Ｔ連続パターンは、２Ｔマークを含み、２Ｔマークおよび２Ｔスペースが少なくとも３回以上連続する。図１０（ｂ）および図１０（ｃ）における２Ｔ連続パターンは、２Ｔマークを含み、２Ｔマークおよび２Ｔスペースが少なくとも２回以上連続する。
【０１２７】
本実施形態では、図１０（ａ）の２Ｔ連続パターンをＳＭＳパターン、図１０（ｂ）の２Ｔ連続パターンをＳＭパターン、図１０（ｃ）の２Ｔ連続パターンをＭＳパターンとする。
【０１２８】
上述したように、図９におけるＳＭＳグループ、ＳＭグループ、ＭＳグループは、２Ｔ連続パターンに関係する記録パラメータである。
【０１２９】
図９におけるＳＭＳグループは、図１０（ａ）のＳＭＳパターンに対する記録パラメータである。ＳＭＳグループは、図９（ａ）の始端エッジに対しては２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、図９（ｂ）の終端エッジに対しては２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓとなる。
【０１３０】
図９におけるＳＭグループは、図１０（ｂ）のＳＭパターンに対する記録パラメータである。ＳＭグループは、図９（ａ）の始端エッジに対しては２Ｔｓ２Ｔｍ！２Ｔｓ、図９（ｂ）の終端エッジに対しては２Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ、２Ｔｓ２Ｔｍ４Ｔｓ、２Ｔｓ２Ｔｍ５Ｔｓとなる。
【０１３１】
図９におけるＭＳグループは、図１０（ｃ）のＭＳパターンに対する記録パラメータである。ＭＳグループは、図９（ａ）の始端エッジに対しては３Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、４Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、５Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、図９（ｂ）の終端エッジに対しては！２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓとなる。
【０１３２】
従って、２Ｔ連続パターンに対する記録調整は、上述した２Ｔ連続パターンの各分類に対する記録パラメータにより調整することできる。
【０１３３】
なお、図９の記録マークが２Ｔマークの記録パラメータにおいて、ＳＭＳグループ、ＳＭグループ、ＭＳグループ以外の記録パラメータ（例えば、図９（ａ）における３Ｔｓ２Ｔｍ！２Ｔｓ）は、２Ｔ連続パターンではないため、従来技術を用いて記録調整を行えばよい。すなわち、図９（ａ）の始端エッジは前方スペースに対して、図９（ｂ）の終端エッジは後方スペースに対してエッジ調整を行う。
【０１３４】
なお、本実施形態では、図９（ａ）のように、前方スペースに対する後方スペースの設定は、最短スペース２Ｔｓとそれ以外！２Ｔで分離した。これは、記録パラメータを記憶する回路の規模を考慮して、熱干渉の影響が最も大きい最短スペースで分離した場合であるが、本実施形態はこれに限定されない。例えば、後方スペースの設定は、３Ｔ以上（例えば、前方スペースと同じように３Ｔ，４Ｔ，≧５Ｔ）で分離してもよい。図９（ｂ）のように、後方スペースに対する前方スペースの設定も同様である。
【０１３５】
また、すべての記録パラメータを前方スペースまたは後方スペースを基準とした記録パラメータに設定（図９（ａ）、（ｂ）のどちらかに統一）しても良い。この場合においても、２Ｔ連続パターンの各分類は同様に設定される。
【０１３６】
図９における記録パラメータでは、２Ｔ連続パターンを考慮したために、２Ｔマークに対する記録パラメータが拡張されているが、３Ｔ以上の記録マークに対しても同様に、前後スペースに対する設定を行ってもよい。
【０１３７】
次に、２Ｔ連続パターンの記録調整時に使用するエッジ検出について説明する。
【０１３８】
まず、図１１および図１２を参照して、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬを簡単に説明する。図１１は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図１２は、図１１に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【０１３９】
ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【０１４０】
図１１に示すＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。
【０１４１】
ここで、括弧内に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移で、どの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図１２に示すトレリス図が得られる。
【０１４２】
図１２に示すＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移列パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。しかしながら、エラーを引き起こす可能性が高いパターンは、判別が難しい特定のパターンに限定される。特にエラーが発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬの状態遷移列パターンは、表１、表２および表３に示すようにまとめることができる。
【０１４３】
【表１】
0005607148.tif 000003
【０１４４】
【表２】
0005607148.tif 000004
【０１４５】
【表３】
0005607148.tif 000005
【０１４６】
表１は１ビットエラー、表２は２ビットエラー、表３は３ビットエラーに対応している。
【０１４７】
表１〜表３において、第１番目の列は、エラーを起こしやすい２つの状態遷移が分岐して再合流する状態遷移（Ｓｍｋ−９→Ｓｎｋ）を表す。
【０１４８】
第２番目の列は、この状態遷移を発生する遷移データ列（ｂｋ−ｉ，・・・，ｂｋ）を表す。
【０１４９】
遷移データ列中のＸは、これらのデータの中でエラーを起こす可能性が高いビットを示しており、この状態遷移がエラーと判定された際に、このＸ数（！Ｘも同様）がエラー数となる。
【０１５０】
遷移データ列の中で、Ｘが１もしくは０となった一方が、最も確からしい第１の状態遷移列に対応し、もう一方が２番目に確からしい第２の状態遷移列に対応する。
【０１５１】
表２および表３において、！ＸはＸのビット反転を表している。
【０１５２】
ビタビ復号などにより復調を行った復調データ列の中から、この遷移データ列と比較（Ｘの箇所はＤｏｎ’ｔ  Ｃａｒｅ）を行うことで、エラーを起こしやすい最も確からしい第１の状態遷移列と２番目に確からしい第２の状態遷移列を抽出することができる。
【０１５３】
３番目の列は、第１の状態遷移列および第２の状態遷移列に対する検出パターンを表している。表１〜表３において、かっこ［  ］内の記号は、第１の状態遷移列および第２の状態遷移列のユークリッド距離差を表している。但し、表２および表３における各ユークリッド距離差は１２であるため、各表を区別するために、表２の記号は１２Ａ、表３の記号は１２Ｂとしている。また、かっこ［  ］外の数字は、１８種類存在する検出パターンを区別しており、記号Ａ，Ｂは２つの状態遷移列を区別している。
【０１５４】
４番目の列は、各時刻における状態Ｓを表している。
【０１５５】
５番目の列は、それぞれの状態遷移を経由した場合の２つの理想的な再生波形（ＰＲ等化理想値）を示しており、６番目の列は、この２つの理想信号のユークリッド距離の２乗（ユークリッド距離差）を示している。
【０１５６】
表１は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離差が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類が存在する。これらのパターンは、記録マークとスペースの切り替わり部分（再生信号のエッジ部分）に該当する。
【０１５７】
一例として、表１の状態遷移におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパス、すなわち、４Ｔ以上スペース、３Ｔマーク、２Ｔ以上スペースが検出される。なお、再生データの“０”はスペース部分、“１”はマーク部分とする。
【０１５８】
図１３は、表１に示す上記記録系列のＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。上記示した記録系列のＰＲ等化理想波形を図１３にパスＡの信号波形として示す。
【０１５９】
同様に、図１４は、表２で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図１５は、表３で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。
【０１６０】
図１３、図１４および図１５において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【０１６１】
上述したように、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。
【０１６２】
表１の状態遷移におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、５Ｔ以上スペース、２Ｔマーク、２Ｔ以上スペースとなる。そのパスのＰＲ等化理想波形を図１３にパスＢの信号波形として示す。
【０１６３】
表１に示すユークリッド距離差が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれている点が特徴である。
【０１６４】
表２は、ユークリッド距離差が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類が存在する。
【０１６５】
これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。
【０１６６】
一例として、表２の状態遷移におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【０１６７】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパス、すなわち、４Ｔ以上スペース、２Ｔマーク、５Ｔ以上スペースが検出される。そのパスのＰＲ等化理想波形を図１４にパスＡの信号波形として示す。
【０１６８】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、５Ｔ以上スペース、２Ｔマーク、４Ｔ以上スペースとなる。そのパスのＰＲ等化理想波形を図１４にパスＢの信号波形として示す。
【０１６９】
表２に示すユークリッド距離差が１２のパターンの特徴は、２Ｔの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【０１７０】
表３は、ユークリッド距離差が１２となる状態遷移列パターンを示し、１８種類が存在する。
【０１７１】
これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。
【０１７２】
一例として、表３の状態遷移におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。
【０１７３】
この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパス、すなわち、４Ｔ以上スペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔ以上スペースが検出される。そのパスのＰＲ等化理想波形を図１５にパスＡの信号波形として示す。
【０１７４】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、５Ｔ以上スペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔ以上スペースとなる。そのパスのＰＲ等化理想波形を図１５にパスＢの信号波形として示す。
【０１７５】
表３に示すユークリッド距離差が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【０１７６】
本実施形態における記録調整は、はじめにＳＭグループとＭＳグループの２Ｔマークの記録条件をそれぞれ調整し、続いてＳＭＳグループの２Ｔマークの記録条件をＳＭグループおよびＭＳグループの各記録調整結果から調整する。これは、ＳＭＳグループにおける２Ｔマークの始終端エッジに対して直接検出できるエッジずれ情報が少ないためである。また、ＳＭＳグループは、ＳＭグループおよびＭＳグループにおける２Ｔ連続パターンを含む。
【０１７７】
従って、本実施形態では、ＳＭグループおよびＭＳグループの検出を行う。
【０１７８】
ここで、２Ｔ連続パターンにおける２Ｔマークの長さおよび位相変化に対して、誤りやすいパターンについて説明する。
【０１７９】
図１６にＳＭグループの２Ｔマーク変化時に誤りやすいパターン、図１７にＭＳグループの２Ｔマーク変化時に誤りやすいパターンを示す。
【０１８０】
図１６（ａ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、熱干渉の影響で前マークの終端エッジが１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｘは３以上の整数である。なお、図１６（ａ）は１ビットエラーであるため、上記表１の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８１】
図１６（ｂ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークの終端エッジが１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１６（ｂ）は１ビットエラーであるため、上記表１の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８２】
図１６（ｃ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマーク前方の２Ｔスペースが前方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｘは３以上の整数である。なお、図１６（ｃ）は２ビットエラーであるため、上記表２の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８３】
図１６（ｄ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークが後方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１６（ｄ）は２ビットエラーであるため、上記表２の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８４】
図１６（ｅ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔスペースおよび２Ｔマークが前方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｘは３以上の整数である。なお、図１６（ｅ）は３ビットエラーであるため、上記表３の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８５】
図１６（ｆ）は、ＳＭグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔスペースおよび２Ｔマークが後方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１６（ｆ）は３ビットエラーであるため、上記表３の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８６】
図１７の説明についても、図１６と同様である。
【０１８７】
図１７（ａ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークの始端エッジが１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１７（ａ）は１ビットエラーであるため、上記表１の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８８】
図１７（ｂ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、熱干渉の影響で後マークの始端エッジが１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｙは３以上の整数である。なお、図１７（ｂ）は１ビットエラーであるため、上記表１の状態遷移列パターンで検出される。
【０１８９】
図１７（ｃ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークが前方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１７（ｃ）は２ビットエラーであるため、上記表２の状態遷移列パターンで検出される。
【０１９０】
図１７（ｄ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマーク後方の２Ｔスペースが後方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｙは３以上の整数である。なお、図１７（ｄ）は２ビットエラーであるため、上記表２の状態遷移列パターンで検出される。
【０１９１】
図１７（ｅ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークおよび２Ｔスペースが前方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。なお、図１７（ｅ）は３ビットエラーであるため、上記表３の状態遷移列パターンで検出される。
【０１９２】
図１７（ｆ）は、ＭＳグループにおける２Ｔマークが変化した場合に、２Ｔマークおよび２Ｔスペースが後方に１ビットシフトして誤るエラーパターン（図中の矢印）である。このとき、Ｙは３以上の整数である。なお、図１７（ｆ）は３ビットエラーであるため、上記表３の状態遷移列パターンで検出される。
【０１９３】
上記、表１、表２および表３は、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬにおける特にエラーが発生しやすいパターンに着目した検出パターンを表している。本実施形態における２Ｔ連続パターンに対する記録調整では、表１、表２および表３におけるすべての検出パターンを使用する必要はない。
【０１９４】
そのため、図１６における各エラーパターンに対して、
図１６（ａ）は、表１における［１４］６Ａ，［１４］９Ａ，［１４］１８Ａ、
図１６（ｂ）は、表１における［１４］４Ｂ，［１４］５Ｂ，［１４］６Ｂ、
図１６（ｃ）は、表２における［１２Ａ］４Ａ，［１２Ａ］７Ａ，［１２Ａ］１６Ａ、
図１６（ｄ）は、表２における［１２Ａ］１３Ａ，［１２Ａ］１４Ａ，［１２Ａ］１５Ａ、
図１６（ｅ）は、表３における［１２Ｂ］４Ａ，［１２Ｂ］５Ａ，［１２Ｂ］７Ａ，［１２Ｂ］８Ａ，［１２Ｂ］１６Ａ，［１２Ｂ］１７Ａ、
図１６（ｆ）は、表３における［１２Ｂ］４Ｂ，［１２Ｂ］５Ｂ，［１２Ｂ］６Ｂ，［１２Ｂ］７Ｂ，［１２Ｂ］８Ｂ，［１２Ｂ］９Ｂ，［１２Ｂ］１６Ｂ，［１２Ｂ］１７Ｂ，［１２Ｂ］１８Ｂ
の検出パターンにより、各グループにおけるパターン分布の平均値ずれ（パターンシフト）が検出される。
【０１９５】
同様に、図１７における各エラーパターンに対して、
図１７（ａ）は、表１における［１４］１Ｂ，［１４］１０Ｂ，［１４］１３Ｂ、
図１７（ｂ）は、表１における［１４］１３Ａ，［１４］１４Ａ，［１４］１５Ａ、
図１７（ｃ）は、表２における［１２Ａ］３Ｂ，［１２Ａ］１２Ｂ，［１２Ａ］１５Ｂ、
図１７（ｄ）は、表２における［１２Ａ］４Ｂ，［１２Ａ］５Ｂ，［１２Ａ］６Ｂ、
図１７（ｅ）は、表３における［１２Ｂ］１Ｂ，［１２Ｂ］２Ｂ，［１２Ｂ］３Ｂ，［１２Ｂ］１０Ｂ，［１２Ｂ］１１Ｂ，［１２Ｂ］１２Ｂ，［１２Ｂ］１３Ｂ，［１２Ｂ］１４Ｂ，［１２Ｂ］１５Ｂ、
図１７（ｆ）は、表３における［１２Ｂ］１Ａ，［１２Ｂ］２Ａ，［１２Ｂ］３Ａ，［１２Ｂ］１０Ａ，［１２Ｂ］１１Ａ，［１２Ｂ］１２Ａ
の検出パターンにより、各グループにおけるパターン分布の平均値ずれ（パターンシフト）が検出される。
【０１９６】
このように、ＳＭパターンとＭＳパターンの差は、記録マークおよびスペースの並びが異なるだけである。そのため、ＳＭパターンおよびＭＳパターンにおいて、再生信号の復号結果である２値化データ（正解パターン）に対するユークリッド距離やエラービット数は同じであり、また検出されるエラーパターン数も同じとなる。但し、本実施形態は、これに限定されず、ユークリッド距離やエラーパターン数を変更したパターンシフトを検出してもよい。
【０１９７】
本実施形態において、再生信号をＳ、正解パターンの信号をＴ、前記２値化データにおける対象エッジが前方に１ビットシフトするエラーパターンの信号をＬ、前記２値化データにおける対象エッジが後方に１ビットシフトするエラーパターンの信号をＲとすると、
正解パターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はＤ（Ｔ，Ｓ）、
前方に１ビットシフトするエラーパターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はＤ（Ｌ，Ｓ）、
後方に１ビットシフトするエラーパターンの信号と再生信号のユークリッド距離差はＤ（Ｒ，Ｓ）、
正解パターンの信号と前方に１ビットシフトするエラーパターンの信号のユークリッド距離差はＤ（Ｔ，Ｌ）、
正解パターンの信号と後方に１ビットシフトするエラーパターンの信号のユークリッド距離差はＤ（Ｔ，Ｒ）
となる。
【０１９８】
このとき、前方に１ビットシフトするエラーパターンに関係するパターンシフトＰＳ１は、次式により計算される。
【数２】
0005607148.tif 000006
【０１９９】
また、後方に１ビットシフトするエラーパターンに関係するパターンシフトＰＳ２は、次式により計算される。
【数３】
0005607148.tif 000007
【０２００】
なお、再生信号に対して対象エッジは複数回検出されるため、パターンシフトＰＳ１およびＰＳ２は複数回検出した累積結果を平均することで、パターンシフトの検出精度を向上させることができる。
【０２０１】
図１６のＳＭグループにおける各パターンシフトは、式２または式３により計算される。
【０２０２】
図１６（ａ）におけるパターンシフトをＰＸＭ２Ｓとすると、ＰＸＭ２Ｓは式２で計算される。
【０２０３】
図１６（ｂ）におけるパターンシフトをＰ２ＭＸＳとすると、Ｐ２ＭＸＳは式３で計算される。
【０２０４】
図１６（ｃ）におけるパターンシフトをＡＳＭ＿Ｌとすると、ＡＳＭ＿Ｌは式２で計算される。
【０２０５】
図１６（ｄ）におけるパターンシフトをＡＳＭ＿Ｒとすると、ＡＳＭ＿Ｒは式３で計算される。
【０２０６】
図１６（ｅ）におけるパターンシフトをＢＳＭ＿Ｌとすると、ＢＳＭ＿Ｌは式２で計算される。
【０２０７】
図１６（ｆ）におけるパターンシフトをＢＳＭ＿Ｒとすると、ＢＳＭ＿Ｒは式３で計算される。
【０２０８】
同様に、図１７のＭＳグループにおける各パターンシフトも、式２または式３により計算される。
【０２０９】
図１７（ａ）におけるパターンシフトをＰＸＳ２Ｍとすると、ＰＸＳ２Ｍは式２で計算される。
【０２１０】
図１７（ｂ）におけるパターンシフトをＰ２ＳＸＭとすると、Ｐ２ＳＸＭは式３で計算される。
【０２１１】
図１７（ｃ）におけるパターンシフトをＡＭＳ＿Ｌとすると、ＡＭＳ＿Ｌは式２で計算される。
【０２１２】
図１７（ｄ）におけるパターンシフトをＡＭＳ＿Ｒとすると、ＡＭＳ＿Ｒは式３で計算される。
【０２１３】
図１７（ｅ）におけるパターンシフトをＢＭＳ＿Ｌとすると、ＢＭＳ＿Ｌは式２で計算される。
【０２１４】
図１７（ｆ）におけるパターンシフトをＢＭＳ＿Ｒとすると、ＢＭＳ＿Ｒは式３で計算される。
【０２１５】
本実施形態において、ＳＭグループにおける２Ｔマークの長さ誤差Ｌｓｍおよび位相誤差Ｐｓｍは、図１６の各パターンシフトを用いて検出され、次式により計算される。
【数４】
0005607148.tif 000008
【数５】
0005607148.tif 000009
【０２１６】
なお、係数ａ１，ｂ１，ｃ１，ａ２，ｂ２，ｃ２は実数である。前記係数は、各成分との加減算を行うための符号、または各成分との重み付けを行うために使用される。
【０２１７】
ここで、（式４）および（式５）において、第２項および第３項は同じユークリッド距離差における各成分の平均値としている。
【０２１８】
すなわち、前方に１ビットシフトする成分と後方に１ビットシフトする成分の平均的な位置を検出している。
【０２１９】
このようにして、上記課題に対して、再生ノイズにより発生するユークリッド距離差のパターン分布の平均値ずれを抑制することができる。
【０２２０】
そのため、長さ誤差および位相誤差の計算において、第２項および第３項の計算式は同じとなる。但し、係数ｂ１とｂ２、または係数ｃ１とｃ２が異なってもよい。
【０２２１】
また、（式４）および（式５）における各パターンシフトは、（式２）および（式３）においてユークリッド距離差で正規化されているため、ユークリッド距離差が異なる項に対して、（式４）および（式５）の計算が可能となる。
【０２２２】
なお、本実施形態において、ユークリッド距離差が異なる項は、第１項とその他（第２項および第３項）の関係である。
【０２２３】
さらに、長さ誤差および位相誤差の計算における第１項内の符号の違いについて説明する。
【０２２４】
図１８に、ＳＭグループの２Ｔマークの長さ変化および位相変化を示す。
【０２２５】
図１８（ａ）は、２Ｔマークの長さが長くなるように２Ｔマークの始端エッジを変化させた場合のマーク変化である。
【０２２６】
図１８（ｂ）は、２Ｔマークの始終端エッジによって２Ｔマークの位相を前方に変化させた場合のマーク変化である。
【０２２７】
図１８（ａ）において、２Ｔマークの始端エッジを変化させると、２Ｔマークの始端エッジおよび終端エッジ、さらに前方の記録マークの終端エッジが変化する。このとき、前方の記録マークの終端エッジの変化量をΔｘ１、２Ｔマークの終端エッジの変化量をΔｘ２とする。
【０２２８】
図１８（ｂ）において、２Ｔマークの始終端エッジを同一方向に変化させると、２Ｔマークの始端エッジおよび終端エッジ、さらに前方の記録マークの終端エッジが変化する。このとき、前方の記録マークの終端エッジの変化量をΔｙ１、２Ｔマークの終端エッジの変化量をΔｙ２とする。
【０２２９】
なお、変化量Δｘ１、Δｘ２、Δｙ１は、他のマークエッジの変化により、熱干渉の影響を受けたエッジ変化量である。そのため、各変化量は、マークエッジの変化量よりも小さい。
【０２３０】
図１８（ａ）および図１８（ｂ）において、２Ｔマークの始端エッジの変化は前方に変化するため、前方の記録マークの終端エッジの変化量Δｘ１およびΔｙ１は同一方向に変化する。図１８の場合では、Δｘ１およびΔｙ１は後方に変化する。しかし、２Ｔマークの終端エッジの変化は、２Ｔマークの長さおよび位相変化によって、逆方向に変化する。図１８の場合では、Δｘ２は後方に、Δｙ２は前方に変化する。このように、長さ変化および位相変化によって、同一方向と逆方向に変化する変化量が存在する。
【０２３１】
従って、（式４）および（式５）における第１項に関して、ＰＸＭ２Ｓの符号は同じで、Ｐ２ＭＸＳの符号は異なっている。
【０２３２】
同様に、本実施形態において、ＭＳグループにおける２Ｔマークの長さ誤差Ｌｍｓおよび位相誤差Ｐｍｓは、図１７の各パターンシフトを用いて検出され、次式により計算される。
【数６】
0005607148.tif 000010
【数７】
0005607148.tif 000011
【０２３３】
なお、係数ａ３，ｂ３，ｃ３，ａ４，ｂ４，ｃ４は実数である。前記係数は、各成分との加減算を行うための符号、または各成分との重み付けを行うために使用される。
【０２３４】
このようにして、ＳＭグループおよびＭＳグループの２Ｔマークは、長さ誤差および位相誤差を検出することで、記録調整することが可能となる。
【０２３５】
なお、ＳＭＳグループの２Ｔマークは、ＳＭグループおよびＭＳグループの各調整結果を反映すればよい。例えば、ＳＭＳグループの２Ｔマークにおける記録条件（例えばｄＴｔｏｐ）は、ＳＭグループの２Ｔマークにおける記録条件およびＭＳグループの２Ｔマークにおける記録条件の平均値に設定される。あるいは、初期記録条件に対するＳＭグループの調整結果（記録条件の変化量）とＭＳグループの調整結果（記録条件の変化量）とした場合、ＳＭＳグループの２Ｔマークにおける記録条件は、各変化量を平均した値を初期条件に加算してもよい。前記調整結果の反映は、長さ調整または位相調整ごとに記録条件を反映しても良く、長さ調整および位相調整を一度に調整した後に記録条件を反映しても良い。
【０２３６】
なお、本実施形態の図１６および図１７では、正解パターンのビット列は次のように検出することになる。
【０２３７】
図１６（ａ）、（ｃ）、（ｅ）の正解パターンは、ビット列“１１１００１１０００”である。
【０２３８】
図１６（ｂ）、（ｄ）、（ｆ）の正解パターンは、ビット列“１１００１１０００”である。
【０２３９】
図１７（ａ）、（ｃ）、（ｅ）の正解パターンは、ビット列“０００１１００１１”である。
【０２４０】
図１７（ｂ）、（ｄ）、（ｆ）の正解パターンは、ビット列“０００１１００１１１”である。
【０２４１】
但し、正解パターンに対するエラーパターンのビット変化により、正解パターンのビット列は次のように検出してもよい。
【０２４２】
図１６（ａ）、（ｃ）の正解パターンは、ビット列“１１１００１”となる。
【０２４３】
図１６（ｂ）、（ｄ）の正解パターンは、ビット列“０１１０００”となる。
【０２４４】
図１７（ａ）、（ｃ）の正解パターンは、ビット列“０００１１０”となる。
【０２４５】
図１７（ｂ）、（ｄ）の正解パターンは、ビット列“１００１１１”となる。
【０２４６】
これにより、上記検出ビットに関する回路規模を減少することができる。このとき、上記正解パターンのビット列は、２Ｔ連続ではないビット列を含む検出パターンとなる。例えば、ビット列“１１１００１”がビット列“１１１００１１１”の一部である場合である。そのため、記録調整を行う際に使用する記録信号における２Ｔマークまたは２Ｔスペースは、必ず２Ｔが連続する記録信号に設定することにより、上記正解パターンのビット列を置き換えることがより望ましい。
【０２４７】
また、図１６（ｄ）の正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図１６（ｃ）の正解パターンと一致させるために、ビット列“１１００１１０００”をビット列“１１１００１１０００”に変更してもよい。同様に、図１７（ｃ）の正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図１７（ｄ）の正解パターンと一致させるために、ビット列“０００１１００１１”をビット列“０００１１００１１１”に変更してもよい。
【０２４８】
さらに、図１６（ｆ）の正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図１６（ｅ）の正解パターンと一致させるために、ビット列“１１００１１０００”をビット列“１１１００１１０００”に変更してもよい。同様に、図１７（ｅ）の正解パターンは、同一ユークリッド距離差である図１７（ｆ）の正解パターンと一致させるために、ビット列“０００１１００１１”をビット列“０００１１００１１１”に変更してもよい。
【０２４９】
この場合、図１６（ｆ）の検出パターンは、表３における［１２Ｂ］７Ｂ，［１２Ｂ］８Ｂ，［１２Ｂ］９Ｂ，［１２Ｂ］１６Ｂ，［１２Ｂ］１７Ｂ，［１２Ｂ］１８Ｂとなり、図１７（ｅ）の検出パターンは、表３における［１２Ｂ］１Ａ，［１２Ｂ］２Ａ，［１２Ｂ］３Ａ，［１２Ｂ］１０Ａ，［１２Ｂ］１１Ａ，［１２Ｂ］１２Ａとなる。
【０２５０】
これにより、信号振幅がない２Ｔが３連続以上する高周波数成分の信号を除去することができ、より精度良くＳＭパターンおよびＭＳパターンの信号に対するシフトずれを検出することができる。
【０２５１】
次に、本発明の実施形態による情報記録再生装置を説明する。図１に本発明の実施形態による情報記録再生装置１００を示す。
【０２５２】
情報記録再生装置１００は、再生部１０１、記録調整部１０２、記録部１０３を備える。
【０２５３】
再生部１０１は、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７を備える。
【０２５４】
記録調整部１０２は、ＰＲ等化部８、最尤復号部９、パターンシフト検出部１０、制御部１５を備える。制御部１５は評価指標計算部１６を有する。
【０２５５】
記録部１０３は、光ヘッド２、記録パターン発生部１１、記録補償部１２、レーザ駆動部１３、レーザパワー設定部１４を備える。
【０２５６】
情報記録再生装置１００には、情報記録媒体１が搭載される。情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生が行われる情報記録媒体であり、例えば光ディスクである。
【０２５７】
光ヘッド２は、対物レンズを通過したレーザ光を情報記録媒体１の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。例えば、対物レンズの開口数ＮＡは０．８４から０．８６であり、より好ましくは０．８５である。レーザ光の波長は４００から４１０ｎｍであり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【０２５８】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ部４へ出力する。
【０２５９】
ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【０２６０】
波形等化部５は、再生信号の高域を遮断するＬＰＦ特性と、再生信号の所定の周波数帯域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形を所望の特性に整形させてＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０２６１】
ＰＬＬ部７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【０２６２】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ部７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７およびＡＧＣ部４へ出力する。
【０２６３】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、記録時および再生時のデジタル再生信号の周波数特性が最尤復号部９の想定する特性（例えばＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）となるように、デジタル再生信号の周波数を調整する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。最尤復号部９は、例えばビタビ復号部である。ＰＲ等化部８および最尤復号部９を組み合わせた再生信号処理技術がＰＲＭＬ方式である。
【０２６４】
パターンシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。パターンシフト検出部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックからパターンシフトを求める。このとき、パターンシフト検出部１０は、２値化信号に基づいて、表１〜表３の検出パターンに応じて前記パターンシフトを検出する。
【０２６５】
制御部１５は、記録パルス条件を調整するために、再生部１０１、記録調整部１０２、記録部１０３、サーボ制御部（図示せず）など記録再生装置における各部を制御する。また、制御部１５は、記録パルス条件の調整時において、記録パターンの選択および記録再生動作を制御する。
【０２６６】
制御部１５は、光ヘッド２の光学条件（レーザ光の波長、ＮＡ）により、光学回折限界以上の長さとなる記録マークが少なくとも１つ以上含まれる記録信号が情報記録媒体に記録されるように、記録部１０３を制御する。例えば、上記光ヘッド２の好ましい光学条件では、最短マークの長さと最短スペースの長さを加算した長さは２３８．２ｎｍ未満となる。
【０２６７】
また、制御部１５は、設定した記録マークの長さに応じた最適な等化特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性）をＰＲ等化部８に対して設定する。
【０２６８】
制御部１５は、パターンシフト検出部１０から出力された検出パターンに応じたパターンシフトを受け取り、ＳＭグループおよびＭＳグループのパターンシフトに分離する。各グループに対応するパターンシフトに基づいて、長さ誤差または位相誤差の評価指標値が評価指標計算部１６によって計算される。評価指標計算部１６は、ユークリッド距離差が異なるパターンシフトを用いて評価指標値を計算する。評価指標値として、ＳＭグループにおける長さ誤差および位相誤差は（式４）および（式５）により計算される。また、ＭＳグループにおける長さ誤差および位相誤差は（式６）および（式７）により計算される。
【０２６９】
制御部１５は、前記情報記録媒体に対して、複数の記録条件で記録信号の記録および再生を行う。さらに制御部１５は、各記録条件に対して測定される評価指標値と、制御部１５の内部に記憶されている指標目標値とを比較し、前記指標目標値に最も近い記録条件を判断する。指標目標値は例えば０である。この場合、評価指標値自体が調整誤差となるため、制御部１５は、調整誤差が０に最も近い、または調整誤差の絶対値が最小となる記録条件に調整する。制御部１５は、例えば光ディスクコントローラである。
【０２７０】
記録パターン発生部１１は、入力された記録データから記録パターンとなるＮＲＺＩ信号を生成する。記録補償部１２は、制御部１５で変更される記録パラメータをもとに、ＮＲＺＩ信号に従って記録パルス列を生成する。レーザパワー設定部１４は、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、記録パルス列およびレーザパワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。
【０２７１】
情報記録再生装置１００の動作をさらに説明する。
【０２７２】
図１９に、本実施形態において記録調整を行う記録パルスを示す。
【０２７３】
図１９（ａ）はパターン２Ｔｓ  ２Ｔｍ  ２ＴｓのＮＲＺＩ信号、図１９（ｂ）はパターン２Ｔｓ２Ｔｍ２ＴｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０２７４】
図１９（ｃ）はパターン２Ｔｓ  ２Ｔｍ  ≧３ＴｓのＮＲＺＩ信号、図１９（ｄ）はパターン２Ｔｓ  ２Ｔｍ  ≧３ＴｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０２７５】
図１９（ｅ）はパターン≧３Ｔｓ  ２Ｔｍ  ２ＴｓのＮＲＺＩ信号、図１９（ｆ）はパターン≧３Ｔｓ  ２Ｔｍ  ２ＴｓのＮＲＺＩ信号に対する記録パルスを示している。
【０２７６】
記録パラメータの設定対象となる記録マークは、２Ｔマークである。図１９（ｂ）はＳＭＳグループ、図１９（ｄ）はＳＭグループ、図１９（ｆ）はＭＳグループの記録パルスである。
【０２７７】
図１９において、ｄＴｐｓおよびｄＴｐｅは記録マークの始端エッジ、ｄＣｐは記録マークの終端エッジに関する記録パラメータである。
【０２７８】
始端エッジは、先頭パルスの立ち上がりエッジ位置ｄＴｐｓおよび先頭パルスの立ち下がりエッジ位置ｄＴｐｅの記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図９のパターンテーブルは、前記ｄＴｐｓおよびｄＴｐｅの２つのテーブルが存在することになる。終端エッジは、記録終了位置オフセットｄＣｐの記録パラメータにより、適切なエッジ位置に調整される。この場合、図９のパターンテーブルは、前記ｄＣｐのテーブルが存在することになる。
【０２７９】
また、図１９の記録パルスおよび図９の記録パラメータ設定の関係では、ＳＭＳグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータｄＴｐｓおよびｄＴｐｅは図９（ａ）の２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、終端エッジの記録パラメータｄＣｐは図９（ｂ）の２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓに対応する。ＳＭグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータｄＴｐｓおよびｄＴｐｅは図９（ａ）の２Ｔｓ２Ｔｍ！２Ｔｓ、終端エッジの記録パラメータｄＣｐは図９（ｂ）の２Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ、２Ｔｓ２Ｔｍ４Ｔｓ、２Ｔｓ２Ｔｍ５Ｔｓに対応する。ＭＳグループの記録パルスでは、始端エッジの記録パラメータｄＴｐｓおよびｄＴｐｅは図９（ａ）の３Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、４Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、５Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓ、終端エッジの記録パラメータｄＣｐは図９（ｂ）の！２Ｔｓ２Ｔｍ２Ｔｓに対応する。
【０２８０】
ＳＭグループの記録パルスの終端エッジ、およびＭＳグループの記録パルスの始端エッジは、複数の記録パラメータが対象となる。そのため、本実施形態では、各グループにおける記録パラメータ（ｄＴｐｓ，ｄＴｐｅ，ｄＣｐ）は、始端エッジもしくは終端エッジで、初期の記録パルス条件に対して、同一方向にオフセット変化させて使用する。但し、各グループ内においても前後スペース長に応じてオフセット変化を行ってもよい。各記録パラメータは、オフセット変化ではなく、ｄＴｔｏｐ，Ｔｔｏｐなどの設定値に置き換えてもよい。
【０２８１】
本実施形態における長さ調整は、ＳＭグループではｄＴｐｓ（２Ｔ連続パターン）が変化し、ＭＳグループではｄＴｐｅおよびｄＴｐｓ（２Ｔ連続パターン）が同一方向に変化する。位相調整は、ＳＭグループまたはＭＳグループにおける各記録パラメータが同一方向に変化する。
【０２８２】
長さ調整では、長いスペースを含むエッジではなく、熱干渉の影響が大きい最短スペースに対するエッジ（２Ｔ連続パターン）を変化させることでより精度良く記録調整を行うことができる。但し、２Ｔ連続パターンのエッジおよび長いスペースを含むエッジ、すなわち始終端エッジを同時に変化させても構わない。この場合、始端エッジの記録パラメータ（ｄＴｐｓ）と、終端エッジの記録パラメータ（ｄＴｐｅおよびｄＣｐ）は逆方向に変化する。また、記録マークの大きさを変更するために、最短マークのみに関する記録パワーＰｐを各グループで変化させても構わない。
【０２８３】
図２０は、本実施形態の情報記録再生装置１００における記録パルス条件の調整手順をフローチャートで示している。
【０２８４】
以下、図２０を参照して、記録パルス条件の調整手順をステップごとに説明する。この記録パルス条件の調整手順は、情報記録再生装置１００によって、情報記録媒体１に対して実行される。
【０２８５】
第１ステップ（Ｓ２００１）では、記録条件の設定値を読み出す。
【０２８６】
情報記録再生装置１００は、情報記録媒体１もしくは情報記録再生装置１００の内部（例えばメモリ）に記憶されている記録パワーおよび記録パルス条件に関する情報を初期記録条件の記録パラメータとして読み出す。
【０２８７】
ここで、情報記録媒体１の内部に記憶されている情報とは、媒体の製造時において製造者が媒体の記録特性を評価した結果に基づいて記録条件をあらかじめ指定した値である。また、情報記録媒体１の内部に記憶されている情報としては、前記情報記録媒体１に対する情報記録再生装置（例えば光ディスクドライブ）が装置固有の情報を記録するための領域に、記録条件を過去に記録した値などがある。また、情報記録再生装置１００の内部に記録されている情報とは、装置の製造時において製造者が装置の記録特性を評価した結果に基づいて記録条件をあらかじめ指定した値である。また、情報記録再生装置自身が過去に使用した情報記録媒体に対して記録条件の履歴情報を記憶している値も含まれる。なお、記録パワーおよび記録パルス条件としては、図２で説明した記録パワーや記録パルスに関する設定値である。
【０２８８】
第２ステップ（Ｓ２００２）では、記録条件テーブルを生成する。
【０２８９】
制御部１５は、複数の記録条件で所定の記録パターンを記録する際に使用する記録条件テーブルを生成する。
【０２９０】
記録条件テーブルとは、記録パラメータを変化させるためのテーブルである。
【０２９１】
例えば、ＳＭグループの長さ調整を行う場合、制御部１５は記録条件テーブルに従って、始端エッジの記録パラメータ（ｄＴｐｓ）を、−４ｓｔｅｐから＋４ｓｔｅｐの範囲を、１ｓｔｅｐ間隔でオフセット変化させる。ＭＳグループの長さ調整を行う場合も同様に、制御部１５は記録条件テーブルに従って、終端エッジの記録パラメータ（ｄＴｐｅおよびｄＣｐ）を、−４ｓｔｅｐから＋４ｓｔｅｐの範囲を、１ｓｔｅｐ間隔でオフセット変化させる。
【０２９２】
例えば、ＳＭグループの位相調整を行う場合、制御部１５は記録条件テーブルに従って、始終端エッジの記録パラメータを、−８ｓｔｅｐから＋８ｓｔｅｐの範囲を、２ｓｔｅｐ間隔でオフセット変化させる。ＭＳグループの位相調整を行う場合も同様に、制御部１５は記録条件テーブルに従って、始終端エッジの記録パラメータを、−８ｓｔｅｐから＋８ｓｔｅｐの範囲を、２ｓｔｅｐ間隔でオフセット変化させる。
【０２９３】
なお、ＳＭグループおよびＭＳグループで、記録パラメータのオフセット量およびオフセット間隔が異なってもよい。また、同一グループにおける長さ調整および位相調整で、記録パラメータのオフセット量およびオフセット間隔が異なってもよい。
【０２９４】
ここでの１ｓｔｅｐは、例えば、記録クロックの周期Ｔを３２分割した単位である。周期Ｔが１３２ＭＨｚである場合、１ｓｔｅｐは約２３７ｐｓとなる。また、１ｓｔｅｐは固定値（例えば、２５０ｐｓ）で設定されてもよい。
【０２９５】
第３ステップ（Ｓ２００３）では、最短のマークおよびスペース長の連続を含む記録パターンが設定される。
【０２９６】
制御部１５は、記録パターン発生部１１に記録パターンを指定する。なお、前記記録パターンは、記録動作の度にパターン生成しても構わない。記録パターンの生成時間を短縮するために、予め生成された記録パターンを情報記録再生装置の内部に記憶させておくことがより好ましい。
【０２９７】
記録パターンは、例えばＲＬＬ（１，７）符号のランダム信号である。但し、２Ｔ連続パターンの出現頻度を考慮した記録パターンであってもよい。例えば、記録調整を行うＳＭグループおよびＭＳグループのエッジが多数検出されるように、２Ｔｓ  ２Ｔｍ  ≧３Ｔｓおよび≧３Ｔｓ  ２Ｔｍ  ２Ｔｓの出現頻度が前記ランダム信号よりも多い記録パターンであってもよい。
【０２９８】
記録パターン発生部１１は、指定された記録パターンに基づいて、ＮＲＺＩ信号を生成する。
【０２９９】
記録補償部１２は、制御部１５から出力された記録パラメータの記録パルス形状、および記録パターン発生部１１から出力されたＮＲＺＩ信号をもとに、レーザ発光波形の記録パルス列を生成する。
【０３００】
レーザパワー設定部１４は、制御部１５の初期記録条件に応じて、ピークパワーＰｐ、ボトムパワーＰｂなど各記録パワー設定を行う。
【０３０１】
第４ステップ（Ｓ２００４）では、情報記録媒体１に対して記録パターンの記録動作が実行される。
【０３０２】
制御部１５は、記録パラメータを調整するための記録領域に光ヘッド２を移動させる。前記記録領域は、例えば情報記録媒体の最内周に設けられた記録パワーおよび記録パルス調整用の記録領域であり、ＤＶＤではＰＣＡ領域（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ）と呼ばれている。また、情報記録媒体や情報記録再生装置などの製造段階において、製造者が情報記録媒体または情報記録再生装置の記録特性を評価する場合などでは、ユーザデータを記録するユーザデータ領域を使用してもよい。
【０３０３】
次に、レーザ駆動部１３は、記録補償部１２で生成された記録パルス列、およびレーザパワー設定部１４で設定される記録パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御して、情報記録媒体１の前記記録領域のトラック（図示せず）に、所定の記録長（例えば、最小記録単位での長さ、アドレス単位など）で記録パターンを記録する。
【０３０４】
このとき、制御部１５は、ステップＳ２００２で生成した記録条件テーブルを参照して、レーザ駆動部１３が記録条件を変化させて記録パターンを記録するように制御する。
【０３０５】
第５ステップ（Ｓ２００５）では、複数の記録条件で記録された記録パターンの再生動作が実行される。
【０３０６】
情報記録再生装置１００は、記録パターンが複数の記録条件で記録されたトラックを再生する。
【０３０７】
光ヘッド２は、情報記録媒体１から読み出した情報を示すアナログ再生信号を生成する。アナログ再生信号は、プリアンプ部３によって増幅されてＡＣカップリングされたのち、ＡＧＣ部４に入力される。ＡＧＣ部４では後段の波形等化部５の出力が一定振幅となるようゲインが調整される。ＡＧＣ部４から出力されたアナログ再生信号は波形等化部５によって波形整形される。波形整形されたアナログ再生信号はＡ／Ｄ変換部６に出力される。Ａ／Ｄ変換部６はＰＬＬ部７から出力された再生クロックに同期してアナログ再生信号をサンプリングする。ＰＬＬ部７はＡ／Ｄ変換部６でサンプリングされたデジタル再生信号から再生クロックを抽出する。
【０３０８】
Ａ／Ｄ変換部６のサンプリングにより生成されたデジタル再生信号はＰＲ等化部８に入力される。ＰＲ等化部８は、デジタル再生信号の波形を整形する。最尤復号部９は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、２値化信号を生成する。パターンシフト検出部１０は、ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、最尤復号部９から出力された２値化信号とを受け取る。さらに、パターンシフト検出部１０は、再生信号とＰＲ等化理想値とのずれであるパターンシフトを求める。前記パターンシフトは、制御部１５に出力される。
【０３０９】
第６ステップ（Ｓ２００６）では、複数の記録条件に対する評価指標値が検出される。
【０３１０】
制御部１５は、パターンシフト検出部１０から出力された検出パターンに応じたパターンシフトを受け取る。さらに、ＳＭグループまたはＭＳグループに対応するパターンシフトに基づいて、長さ誤差または位相誤差の評価指標値が評価指標計算部１６によって計算される。評価指標計算部１６は、ユークリッド距離差が異なるパターンシフトを用いて評価指標値を計算する。評価指標計算部１６は、長さ調整時ではＳＭグループおよびＭＳグループの長さ誤差を計算し、位相調整時ではＳＭグループおよびＭＳグループの位相誤差を計算する。
【０３１１】
第７ステップ（Ｓ２００７）では、最適な記録条件の決定処理が行われる。
【０３１２】
制御部１５は、ステップＳ２００６で検出された複数の記録条件に対する評価指標値と、制御部１５の内部に記憶されている指標目標値とを比較し、前記指標目標値に最も近い記録条件を選択する。この結果、ＳＭグループおよびＭＳグループに対する記録条件が決定する。
【０３１３】
さらに、制御部１５は、ＳＭグループおよびＭＳグループの記録調整結果から、ＳＭＳグループの記録条件を決定する。
【０３１４】
例えば、前記記録調整結果である記録パルス条件の設定値（ｄＴｔｏｐなど）からＳＭＳグループの記録パルス条件を決定する場合では、制御部１５は、ＳＭグループおよびＭＳグループの各記録パルス条件の設定値を平均した値を、ＳＭＳグループの記録パルス条件に設定することで、ＳＭＳグループの記録条件を決定する。
【０３１５】
また、前記記録調整結果である記録パラメータの変化量（ｄＴｐｓなど）からＳＭＳグループの記録パルス条件を決定する場合では、制御部１５は、ＳＭグループおよびＭＳグループの各記録パラメータの変化量を平均した値を、ＳＭＳグループの記録パラメータの変化量として、初期記録条件に加算することで、ＳＭＳグループの記録条件を決定する。
【０３１６】
なお、前記平均値が設定単位の中間値となる場合では、中間値は切り上げ、または切り下げられる。
【０３１７】
このようにして、情報記録再生装置１００における記録パルス条件の調整が実施され、制御部１５によって２Ｔ連続パターンの長さ調整または位相調整が行われる。なお、上記記録パルス条件の調整において、ＳＭグループとＭＳグループを同時に記録調整する必要はなく、別々に記録調整を行ってもよい。
【０３１８】
図２１に、本実施形態の情報記録再生装置１００における長さ調整および位相調整の調整手順を示す。
【０３１９】
第１ステップ（Ｓ２１０１）では、２Ｔ連続パターンに関する長さ調整が実行される。
【０３２０】
さらに、第２ステップ（Ｓ２１０２）では、２Ｔ連続パターンに関する位相調整が実行される。
【０３２１】
２Ｔ連続パターン、すなわちＳＭＳグループ、ＳＭグループ、ＭＳグループの記録パルス条件に対して、図２０の記録パルス条件の調整フローにより、長さ調整および位相調整が実行される。
【０３２２】
上述したように、光学分解能を超える高密度記録においては、特に最短マークで自己マークによる熱干渉の影響が大きい。熱干渉の影響は、記録マークの位置変化よりも、長さ変化に対して大きい。記録マークの位置変化は、記録パルス幅を一定に維持した状態で記録パルスが変化するため、記録マークを形成する熱量が一定であり、自己マークによる熱干渉の影響は少ない。そのため、自己マークの熱干渉の影響が大きい長さ調整が実行された後に、位相調整が実行されることが望ましい。
【０３２３】
これにより、始端エッジまたは終端エッジの片方を変化させる従来の記録調整方法では除去できない自己マークの熱干渉の影響を抑制することができる。
【０３２４】
以上のように、本実施形態の記録動作は、光学分解能を超える高密度記録を考慮した前記パターンテーブルに従って記録動作を行うため、従来のように１つのスペースと記録マークに対するエッジずれに対する記録調整ではなく、前後スペースを考慮した記録条件の記録調整となっている。さらに、前記パターンテーブルに対して、ＰＲＭＬ方式で検出される２Ｔ連続パターンの誤りやすいパターンに分離したグループでの記録調整となっている。
【０３２５】
そのため、光学分解能を超える高密度記録に対して、記録情報のエラーレートが低減する記録条件に調整することができ、より安定した記録再生システムを提供することができる。
【０３２６】
以上、図面を参照して、本発明の実施形態を説明した。
【０３２７】
本実施形態では、長さ誤差および位相誤差の計算式における係数の設定方法は特に限定されないが、設定例を以下に示す。
【０３２８】
情報記録媒体はＢＤ−ＲＥディスクとし、情報記録再生装置における光ヘッドの対物レンズの開口数ＮＡは０．８５、レーザ光の波長は４０５ｎｍ、ＰＲＭＬはＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式、記録符号はＲＬＬ（１，７）符号であるＢＤシステムにおいて、記録容量が約３３．４ＧＢの記録再生について上述した。このとき、最短の２Ｔマークおよび２Ｔスペースの長さは、約１１１．７ｎｍである。上述したように、最短マークおよびスペースである２Ｔの長さが１１９．１ｎｍ以下であるため、光学分解能を超える記録条件である。
【０３２９】
図２２（ａ）は、ＳＭパターンにおける記録パルスの変化に対するパターンシフトの変化量を示す。図２２（ｂ）は、ＭＳパターンにおける記録パルスの変化に対するパターンシフトの変化量を示す。
【０３３０】
ここで、各パターンシフトの変化量は、記録パルスが０．２５ｎｓ変化したときの変化量であり、ユークリッド距離差で正規化された変化量（％単位）である。
【０３３１】
ＳＭパターンの長さ変化に対する記録パルスの変化は、図１９（ｄ）において、ｄＴｐｓを前方に変化させた。この場合、ＳＭパターンの２Ｔマークは大きくなる方向である。
【０３３２】
ＳＭパターンの位相変化に対する記録パルスの変化は、図１９（ｄ）において、ｄＴｐｓ、ｄＴｐｅ、ｄＣｐを同時に前方に変化させた。この場合、ＳＭパターンの２Ｔマークは前方にシフトする方向である。
【０３３３】
ＭＳパターンの長さ変化に対する記録パルスの変化は、図１９（ｆ）において、ｄＴｐｅ、ｄＣｐを同時に後方に変化させた。この場合、ＭＳパターンの２Ｔマークは大きくなる方向である。
【０３３４】
ＭＳパターンの位相変化に対する記録パルスの変化は、図１９（ｆ）において、ｄＴｐｓ、ｄＴｐｅ、ｄＣｐを同時に前方に変化させた。この場合、ＭＳパターンの２Ｔマークは前方にシフトする方向である。
【０３３５】
このとき、図２２において、ＳＭパターンの長さ変化時のパターンシフトの変化量を（式４）に割り当てると、（ＰＸＭ２Ｓ−Ｐ２ＭＸＳ）＞０、（ＡＳＭ＿Ｒ−ＡＳＭ＿Ｌ）＞０、（ＢＳＭ＿Ｒ−ＢＳＭ＿Ｌ）＜０となる。（式４）において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数ａ１、ｂ１、ｃ１は、ａ１＝１、ｂ１＝１、ｃ１＝−１となる。
【０３３６】
また、ＳＭパターンの位相変化時のパターンシフトの変化量を（式５）に割り当てると、（ＰＸＭ２Ｓ＋Ｐ２ＭＸＳ）＞０、（ＡＳＭ＿Ｒ−ＡＳＭ＿Ｌ）＞０、（ＢＳＭ＿Ｒ−ＢＳＭ＿Ｌ）＞０となる。（式５）において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数ａ２、ｂ２、ｃ２は、ａ２＝１、ｂ２＝１、ｃ２＝１となる。
【０３３７】
同一成分に対する係数を比較すると、（式４）および（式５）の第３項におけるｃ１およびｃ２が符号反転する関係にある。
【０３３８】
同様に、図２２において、ＭＳパターンの長さ変化時のパターンシフトの変化量を（式６）に割り当てると、（Ｐ２ＳＸＭ−ＰＸＳ２Ｍ）＞０、（ＡＭＳ＿Ｒ−ＡＭＳ＿Ｌ）＜０、（ＢＭＳ＿Ｒ−ＢＭＳ＿Ｌ）＞０となる。（式６）において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数ａ３、ｂ３、ｃ３は、ａ３＝１、ｂ３＝−１、ｃ３＝１となる。
【０３３９】
また、ＭＳパターンの位相変化時のパターンシフトの変化量を（式７）に割り当てると、（Ｐ２ＳＸＭ＋ＰＸＳ２Ｍ）＜０、（ＡＭＳ＿Ｒ−ＡＭＳ＿Ｌ）＞０、（ＢＭＳ＿Ｒ−ＢＭＳ＿Ｌ）＞０となる。（式７）において、各成分の重み付けを同じに設定すると、係数ａ４、ｂ４、ｃ４は、ａ４＝−１、ｂ４＝１、ｃ４＝１となる。
【０３４０】
同一成分に対する係数を比較すると、（式６）および（式７）の第１項におけるａ３およびａ４、および第２項におけるｂ３およびｂ４が符号反転する関係にある。
【０３４１】
なお、ＭＳパターンの位相変化は前方に変化させたが、２Ｔスペース側である後方を基準とする場合、係数ａ４、ｂ４、ｃ４の符号は反転し、ａ４＝１、ｂ４＝−１、ｃ４＝−１となる。この場合、同一成分に対する係数を比較すると、（式６）および（式７）の第３項におけるｃ３およびｃ４が符号反転する関係にある。
【０３４２】
従って、ＳＭパターンおよびＭＳパターンの長さおよび位相変化において、２Ｔスペース側を正方向とした記録パルスの変化では、長さ誤差および位相誤差の計算式における係数の関係は、第３項が符号反転する。すなわち、エラーパターンによってパターンシフトの差を符号反転させることで、パターンシフトの差を含む長さ誤差および位相誤差を計算することができる。
【０３４３】
さらに、ＳＭパターンとＭＳパターンの係数を比較すると、長さ変化および位相変化ともに、第２項および第３項の係数が反転する関係にある。すなわち、最短の記録マークおよびスペースの並びが異なるエラーパターンの分類に対する長さ誤差または位相誤差の計算において、各分類に対してパターンシフトの差を符号反転させることで、各分類に対する長さ誤差または位相誤差を計算することができる。
【０３４４】
このように、上記ＢＤシステムにおいて、上記関係を有する係数を用いて、ＳＭパターンおよびＭＳパターンの記録調整を行うことが可能である。
【０３４５】
要するに、本発明は、情報記録媒体から再生される再生信号から情報を復調し、復調される正解パターンに対応する複数のエラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗差に基づいて、記録マークの長さ誤差および位相誤差を検出する際に、最短の記録マークまたはスペースに関係するビットがシフトすることで発生する第１のエラーパターンと、記録マークのエッジずれで発生する第２のエラーパターンとを使用する。このとき、第１のエラーパターンと第２のエラーパターンは、正解パターンとのユークリッド距離の２乗が互いに異なる。さらに本発明は、エラーパターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗と、正解パターンと再生信号との間のユークリッド距離の２乗の差を、正解パターンとエラーパターンとの間のユークリッド距離の２乗で正規化して得られるパターンシフトを、複数のエラーパターンごとに検出する。そして、第１のエラーパターンに対して正規化された第１のパターンシフト量と、第２のエラーパターンに対して正規化された第２のパターンシフト量との和または差により、長さ誤差と位相誤差を演算する。
【０３４６】
このとき、第１のエラーパターンは、少なくとも最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンと、後方にビットシフトするエラーパターンを含む。そして、第１のパターンシフト量によって、最短の記録マークまたはスペースが前方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトと、後方にビットシフトするエラーパターンから検出されるパターンシフトの平均的な位置が検出される。平均的な位置を求めることで、再生ノイズによって前方方向および後方方向に変化するパターンシフトのずれ量を抑制することができる。そのため、第１のパターンシフト量によって、再生ノイズの影響を受けないエッジ検出ができる。
【０３４７】
このように、本発明の実施形態によれば、正解パターンとのユークリッド距離の２乗が互いに異なる第１のエラーパターンと第２エラーパターンを用いて演算した長さ誤差および位相誤差を、再生ノイズが変化しても、適切に検出することができる。従って、本発明は、最短の記録マークまたはスペースに関するビットがシフトすることで発生するエラーが含まれる光学分解能を超える高密度記録に対して特に有効である。
【０３４８】
本実施形態では、記録再生動作を説明するために、再生部１０１を含めた情報記録再生装置としたが、装置は、記録制御だけを行う記録制御部１０２および記録部１０３を有する情報記録装置として構成されてもよい。この場合、記録条件の調整が不要となるため、例えば再生専用ディスク（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｄｉｓｃ）などに対して情報の記録動作のみを行う記録装置に適用可能である。また、入力信号に対する長さ誤差および位相誤差が検出可能な情報記録装置としてもよい。
【０３４９】
本実施形態におけるパターンテーブルは、５Ｔ以上の記録マークおよびスペースの長さを一つにまとめたが、５Ｔから最長マークまでの記録マークおよびスペースに対して各々設定しても構わない。また、前記パターンテーブルにおいて、前方スペースあるいは後方スペースを３Ｔ以上としたが、３Ｔから最長スペースに対して各々設定しても構わない。
【０３５０】
さらに、前記パターンテーブルで分類された記録条件は、情報記録媒体１内に記載されてもよい。これにより、制御部１５は、情報記録媒体の種類や記録倍速ごとに対するパターンテーブルの記録条件を記憶する必要がなくなり、回路規模の削減が可能となる。また、前記情報記録媒体に対する最適な記録条件が前記パターンテーブルに従って記載されている場合では、記録パラメータの調整削減、または調整時間の短縮を行うことができる。
【０３５１】
なお、情報記録再生装置１００（図１）は、情報再生装置としても適用できる。この場合、再生部１０１および記録調整部１０２は図１と同じ構成であり、記録部１０３は、光ヘッド２、レーザ駆動部１３、レーザパワー設定部１４から構成される。レーザパワー設定部１４は、再生パワー設定を行う。レーザ駆動部１３は、レーザパワー設定部１４で設定される再生パワーに従って、光ヘッド２のレーザ発光動作を制御する。この情報再生装置は、情報が記録された書換え可能ディスクまたは再生専用ディスクに対して再生を行い、長さ誤差または位相誤差である信号指標値を算出する。これにより、情報再生装置は、再生した光ディスクに対する記録マークのエッジずれを評価することができる。すなわち、情報再生装置は、情報記録装置（例えば、再生専用ディスクの製造装置）が記録する信号品質を検査、または記録条件を補正する再生装置として使用することができる。
【０３５２】
図２３は、本実施形態の情報記録媒体１の模式図である。図２３に示す情報記録媒体１はＢＤであり、内周領域に設けられたＰＩＣ領域（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ＆  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｄａｔａ  Ｚｏｎｅ）３０１と、それよりも外周側に設けられたユーザデータ領域３０２を有する。ＰＩＣ領域はトラック溝を変調することにより、ディスク構造やディスクの記録時に必要な情報等が記録される領域である。上述のように情報記録媒体１の製造段階で調整された記録条件は、例えば、このＰＩＣ領域に記載される。ユーザデータ領域３０２には、光学分解能を超える高密度記録により、情報が記録される。
【０３５３】
また、図２４に、本実施形態における情報記録媒体１を再生する情報再生装置４００を示す。図１における情報記録再生装置１００と共通する構成要素には同じ参照符号を付している。情報再生装置４００は、光ヘッド２、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４、波形等化部５、Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、ＰＲ等化部８、最尤復号部９を備える。情報再生装置４００は、情報記録媒体１のユーザデータ領域３０２にレーザ光を照射し、情報記録媒体１から再生される再生信号から記録情報を復調することができる。
【０３５４】
なお、本実施形態では、指標目標値は、各メーカーの情報記録媒体の種類や記録倍速ごと、あるいは前記パターンテーブルに対して分離されたグループごとに設定されてもよい。前記指標目標値は、例えば情報記録再生装置の製造工程において記憶される。また、新たに開発される情報記録媒体に応じた指標目標値をさらに記憶させていくことで、新規情報記録媒体に対する対応が可能となるため、指標目標値は書き換え型のメモリに記憶されることが望ましい。また、新規情報記録媒体に対する指標目標値は、情報記録再生装置１００が最適となる記録パラメータで形成された記録マークを再生することで決定できる。
【０３５５】
なお、本実施形態では、ユークリッド距離差が１２となる表２および表３に対するエラーについて説明したが、本実施形態はこれに限定されない。例えば、ユークリッド距離差が１２であり、２Ｔの３連続部が１ビットシフトすることによる４ビットエラーに対しても同様に適用できる。
【０３５６】
本実施形態では、最短マーク長さが２Ｔである符号と等化方式ＰＲ（１、２、２、２、１）から定まる状態遷移則を用いて最尤復号を行なう場合について説明したが、本発明はこれに限定されない。
【０３５７】
例えば、最短マーク長さが２Ｔまたは３Ｔである符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合、最短マーク長さが２Ｔまたは３Ｔである符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合や最短マーク長さが３Ｔである符号と等化方式ＰＲ（Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ１、Ｃ０）を用いた場合においても適用できる。Ｃ０、Ｃ１、Ｃ２は任意の正の数である。また、再生系の信号処理は、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式ではなく、ＰＲ（２，３，３，３，２）ＭＬ方式であってもよい。
【０３５８】
なお、本実施形態では、パターンテーブルにおいて、最短マークの記録条件に対して前後スペースで分離しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、最短マークでなくても、最短マークの次に長いマークに対しても前後スペースで分離した場合にも適用できる。
【０３５９】
なお、本実施形態における情報記録媒体は、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなどの光ディスクに限定されず、ＭＯ（Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄｉｓｃ）などの光磁気媒体や、デジタル信号の記録符号（０または１）が連続する長さである極性間隔に応じて形成される情報（本実施形態では記録マークおよびスペース）の長さまたは位相を変化させて情報を記録する情報記録媒体に対しても適用できる。
【０３６０】
さらに、本発明における情報記録再生装置の一部は、情報記録媒体に情報を記録するための記録パルス形状を調整する記録条件調整装置として、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部の機能として製造され得る。なお、情報記録再生装置の一部が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、記録パラメータを調整するための信号処理時間を大幅に短縮することができる。情報記録再生装置の各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０３６１】
本発明は、レーザ光や電磁力などによってデータ信号の記録を行う種々の情報記録媒体、例えばＤＶＤ−ＲＡＭやＢＤ−ＲＥやその他の情報記録媒体に対して、記録再生を行う情報記録再生装置、例えばＤＶＤドライブ、ＤＶＤレコーダー、ＢＤレコーダーやその他の機器に適用できる。
【符号の説明】
【０３６２】
１  情報記録媒体
２  光ヘッド
３  プリアンプ部
４  ＡＧＣ部
５  波形等化部
６  Ａ／Ｄ変換部
７  ＰＬＬ部
８  ＰＲ等化部
９  最尤復号部
１０  パターンシフト検出部
１１  記録パターン発生部
１２  記録補償部
１３  レーザ駆動部
１４  レーザパワー設定部
１５  制御部
１６  評価指標計算部
１００  情報記録再生装置
１０１  再生部
１０２  記録調整部
１０３  記録部
２０１  ピークパワー
２０２  ボトムパワー
２０３  クーリングパワー
２０４  スペースパワー
２０５  消光レベル
【図１】
0005607148.tif 000012
【図２】
0005607148.tif 000013
【図３】
0005607148.tif 000014
【図４】
0005607148.tif 000015
【図５】
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【図６】
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【図７】
0005607148.tif 000018
【図８】
0005607148.tif 000019
【図９】
0005607148.tif 000020
【図１０】
0005607148.tif 000021
【図１１】
0005607148.tif 000022
【図１２】
0005607148.tif 000023
【図１３】
0005607148.tif 000024
【図１４】
0005607148.tif 000025
【図１５】
0005607148.tif 000026
【図１６】
0005607148.tif 000027
【図１７】
0005607148.tif 000028
【図１８】
0005607148.tif 000029
【図１９】
0005607148.tif 000030
【図２０】
0005607148.tif 000031
【図２１】
0005607148.tif 000032
【図２２】
0005607148.tif 000033
【図２３】
0005607148.tif 000034
【図２４】
0005607148.tif 000035