(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項２】
請求項１に記載の識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子の何れかから出力されるアナログ信号の値との差を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項３】
請求項１に記載の識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子から出力されるアナログ信号の値の平均値との差を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項４】
請求項１から３までの何れか１項に記載の識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、上記アナログ信号の値が最も安定する条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項５】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値が最も安定する条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項６】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項７】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項８】
請求項１から７までの何れか１項に記載の識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下で出力されたアナログ信号の差分に基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項９】
上記半導体集積回路は、液晶ドライバである、ことを特徴とする請求項１から８の何れか一項に記載の識別子生成方法。
【請求項１０】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成し、
上記半導体集積回路は、液晶ドライバである、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項１１】
上記アナログ信号は、出力アンプから出力される電圧信号である、ことを特徴とする請求項９または１０に記載の識別子生成方法。
【請求項１２】
上記アナログ信号は、対となる同色隣接回路の何れか一方から出力される電圧信号であることを特徴とする請求項９から１１までのいずれか１項に記載の識別子生成方法。
【請求項１３】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、当該半導体集積回路に供給される電源電流の値であって、デバイス状態により変化する電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値を除いた時系列に基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値の差分に基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項１５】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値であって、デバイス状態により変化する電源電流値の差分に基づいて生成する、ことを特徴とする識別子生成方法。
【請求項１６】
同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成装置であって、
上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴とする識別子生成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路の識別子生成方法および識別子生成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体集積回路の製造工程において不良品の発生率を下げること、すなわち、歩留まりを向上させることは、半導体の製造業者にとって重要な課題の一つである。歩留まりを向上させるためには、個々の半導体集積回路の製造時期，製造ライン，製造ロットなどの製造履歴や、検査種別，検査結果などの検査履歴等の履歴情報に基づいて不良原因の解明が行われることが望ましい。
【０００３】
これらの履歴情報の特定を行うための手段の一つとして、半導体集積回路の各々に、当該半導体集積回路を他の半導体集積回路と識別するため識別子を付与し、当該半導体集積回路の履歴情報を当該識別子と関連付けてデータベース上で管理することが挙げられる。
【０００４】
個々の半導体集積回路に識別子を付与することは、歩留まりの向上に役立つのみならず、製造後に不良が発見された場合等においても、不良箇所の迅速な特定および解析に役立つというメリットがある。
【０００５】
従来、半導体集積回路への識別子の付与方法として、半導体集積回路内に、不揮発性メモリを設け、当該不揮発性メモリに識別子を書き込む方法が知られていた。しかしながら、一般に半導体集積回路内部へ不揮発性メモリを作りこむ工程は複雑であるため、半導体集積回路が本来の規格として不揮発性メモリを有し、そこに識別子を書き込むことが可能であるような場合を除き、工程数や製造コストが増加してしまうという問題が生じる。
【０００６】
また、別の方法として、レーザーで半導体集積回路へ直接マーキングする方法、レーザーを用いたヒューズカットによる方法などが知られていたが、それぞれ、マーキングやヒューズカットを行うための工程が別途必要になるため、上記の方法と同様に工程数や製造コストが増加するという問題を生じる。
【０００７】
特許文献１には、図１８に示すような基本的回路の複数から構成される多ビット識別番号発生回路が開示されている。この多ビット識別番号発生回路は、上記基本的回路を構成するゲート回路の論理しきい値のバラツキがランダムであることに起因して、ランダムな多ビット番号を出力する。当該ランダムな多ビット番号は個々の半導体集積回路の識別子として利用することができる。
【０００８】
上記の半導体識別回路によれば、それぞれの半導体集積回路に識別子を書き込む工程が不要になるというメリットがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００３−３３２４５２号公報（２００３年１１月２１日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記の従来の方法では、半導体集積回路内に、別途、多ビット識別番号発生回路を設けることが必要であるため、チップ面積が増加するという問題を生じる。また、同様の理由により半導体集積回路の製造コストが増加するという問題も生じる。さらに、半導体集積回路の一部が不具合を有する場合、識別子を生成できなくなり、そのような半導体集積回路の製造履歴や検査履歴をトレースすることができなくなるという問題を招来する。
【００１１】
本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、チップ面積を増加させることなく、また、半導体集積回路の一部に不具合があるような場合であっても識別子の判別が可能な方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴としている。
【００１３】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値が最も安定する条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴としている。
【００１４】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことを特徴としている。
【００１５】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことを特徴としている。
【００１６】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成し、上記半導体集積回路は、液晶ドライバである、ことを特徴としている。
【００１７】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、当該半導体集積回路に供給される電源電流の値であって、デバイス状態により変化する電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値を除いた時系列に基づいて生成する、ことを特徴としている。
【００１８】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値であって、デバイス状態により変化する電源電流値の差分に基づいて生成する、ことを特徴としている。
【００１９】
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成装置は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成装置であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことを特徴としている。
【発明の効果】
【００２０】
本発明を用いることにより、半導体集積回路に新たな識別子用回路や工程を用いることなく、従来から備わっている機能を利用して識別子を生成することができるので、製造コストの増加を抑えることができる。また、ユーザーからの返品や不良品のように、識別すべき半導体集積回路の一部に不具合があり出力信号が出力されないアナログ出力端子が存在する場合であっても、識別子の判別が可能であるため、半導体集積回路の製造履歴を確実にトレースすることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１の実施形態を示すものであって、識別子生成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態において識別子を付与すべき半導体集積回路を示すものであって、液晶ドライバの構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の第１の実施形態において識別子を付与すべき半導体集積回路を示すものであって、液晶ドライバにおけるガンマ抵抗を有する基準電源回路の回路図である。
【図４】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバからの出力電圧の値を示すグラフである。
【図５】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、（ａ）〜（ｄ）は異なる液晶ドライバからの最小階調における出力電圧の値を示すグラフである。
【図６】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、（ａ）〜（ｃ）は同一の液晶ドライバから出力される出力電圧を異なる時刻において測定した結果を示すグラフであり、（ｄ）は、（ａ）〜（ｃ）のグラフを重ねて表示したものである。
【図７】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、（ａ）〜（ｄ）は、それぞれ、図５の（ａ）〜（ｄ）の出力電圧の値を２値化することにより生成したバーコードを示す図である。
【図８】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、出力アンプの１つにオープン不良が生じた状況を示す図である。
【図９】本発明の第１の実施形態を説明するものであって、（ａ）は液晶ドライバにおける同色隣接回路を示す図であり、（ｂ）は同色隣接回路の１つにオープン不良が生じた状況を示す図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態を説明するものであって、（ａ）および（ｂ）はそれぞれ異なる液晶ドライバの特定の出力端子からの出力電圧を示すグラフである。
【図１１】本発明の第２の実施形態を説明するものであって、（ａ）および（ｂ）はそれぞれ図１０（ａ）および（ｂ）に示された出力電圧と理想電圧との差分を示すグラフである。
【図１２】本発明の第２の実施形態を説明するものであって、（ａ）および（ｂ）はそれぞれ図１１（ａ）および（ｂ）に示された差分電圧を２値化することにより生成されたバーコードを示す図である。
【図１３】本発明の第３の実施形態を説明するものであって、ＬＥＤドライバの全アナログ出力端子からの出力電圧を全階調に対してプロットしたグラフであり、（ｂ）は（ａ）のグラフを２値化処理した結果を示す表であり、（ｃ）は当該２値化処理により生成されたバーコードを示す図である。
【図１４】本発明の第４の実施形態を説明するものであって、半導体集積回路からの電流出力に基づき２値化処理を行った結果を示す表であり、（ｂ）は当該２値化処理により生成された識別子をバーコード表示した図である。
【図１５】本発明の第４の実施形態を示すものであって、識別子生成装置の構成を示すブロック図である。
【図１６】本発明の第５の実施形態を説明するものであって、（ａ）は半導体集積回路に供給される電源電流を複数の時刻において測定した結果を示すグラフであり、（ｂ）は（ａ）のグラフを２値化処理した結果を示す表であり、（ｃ）は当該２値化処理により生成された識別子をバーコード表示した図である。
【図１７】本発明の第５の実施形態を示すものであって、識別子生成装置の構成を示すブロック図である。
【図１８】特許文献１に開示された多ビット識別番号発生回路を構成する基本的回路を示す図である。
【図１９】本発明の第６の実施形態を説明するものであって、（ａ）は、ウエハテスト時における液晶ドライバの有する７２０本のアナログ出力端子の各々から出力される電圧値をアナログ出力端子の端子番号ごとに示す表であり、（ｂ）は、ウエハテスト時における液晶ドライバの各アナログ出力端子から出力される電圧値を、その値の降順に並び替えた表であり、（ｃ）は、パッケージ実装後における液晶ドライバの有する７２０本のアナログ出力端子の各々から出力される電圧値をアナログ出力端子の端子番号ごとに示す表であり、（ｄ）は、パッケージ実装後における液晶ドライバの各アナログ出力端子から出力される電圧値を、その値の降順に並び替えた表である。
【図２０】本発明の第６の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバの一致率を測定した結果を示すグラフである。
【図２１】本発明の第７の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバのアナログ出力端子から出力されるドライブ電流値を端子番号順にプロットしたグラフである。
【図２２】本発明の第７の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバのアナログ出力端子から出力されるアナログ電圧値を端子番号順にプロットしたグラフである。
【図２３】本発明の第７の実施形態を説明するものであって、複数の液晶ドライバ同士を照合した結果を示す図である。
【図２４】本発明の第７の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバから出力された０ボルトのデータを当該液晶ドライバから出力される平均電圧値に置き換えた結果を示すグラフである。
【図２５】本発明の第７の実施形態を説明するものであって、図２４のデータに基づいて、複数の液晶ドライバ同士を照合した結果を示す図である。
【図２６】本発明の第８の実施形態を説明するものであって、液晶ドライバのある特定の電源供給端子に対して供給される電源電流値を測定した結果をプロットしたグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
〔実施形態１〕
第１の実施形態に係る半導体集積回路の識別子生成方法について、図面を参照して説明すれば以下のとおりである。
【００２３】
まず、本実施形態に係る識別子生成方法の識別子付与対象となる半導体集積回路の例として、アナログ出力機能を有する液晶ドライバのブロック図を図２に示す。図２に示した液晶ドライバは、液晶ディスプレイの液晶パネル（不図示）を駆動するための駆動信号（アナログ信号）を出力するための半導体集積回路である。
【００２４】
図２に示した液晶ドライバにおいて、ロジック部に入力されたデジタル映像入力信号は、ＤＡＣ部でアナログ信号に変換され、レベルシフタ部において電圧レベル変換が施され、出力アンプ部を経て、液晶駆動信号として各アナログ出力端子から出力される。なお、図２に示した液晶ドライバはアナログ出力端子ごとに２５６階調のアナログ信号を出力することが可能である。
【００２５】
図３は、上記レベルシフタ部におけるアナログ信号のガンマ補正に用いられる基準電源回路を模式的に示したものである。ＶＨ１、ＶＨ３１、・・・、ＶＨ２４７、ＶＨ２５５から電圧が入力され、抵抗分割されてガンマ特性が生成される。
【００２６】
以下、図２に示した液晶ドライバから出力される液晶駆動信号としての出力電圧（アナログ信号）に基づき、上記液晶ドライバ自身に付与するための識別子を生成する方法について説明する。
【００２７】
図４は図２に示した液晶ドライバから出力される液晶駆動信号としての出力電圧（単位：ボルト）のプロファイルを示す図である。すなわち、各端子からの第０階調（最小階調）における出力電圧値，各端子からの第１階調における出力電圧値，各端子からの第２階調における出力電圧値，．．．，各端子からの第２５５階調（最大階調）における出力電圧値を階調順に並べてプロットした図である。
【００２８】
なお、図２に示した液晶ドライバは４１４本のアナログ出力端子を有している。従って、図４に示されたプロファイルは、合計４１４×２５６＝１０５９８４個の出力電圧値から構成されている。
【００２９】
図５の（ａ）は、図４のプロットの左端部付近を拡大して示したものであり、上記液晶ドライバの全アナログ出力端子からの最小階調に対応する出力電圧を示している。
【００３０】
より具体的には、図５の（ａ）は、液晶ドライバに入力されるデジタル映像入力信号をＡＬＬ“０”とした場合に、上記液晶ドライバの各アナログ出力端子から出力される出力電圧の値を示したものである。なお、デジタル映像入力信号をＡＬＬ“０”とした場合の出力電圧を用いるのは、他のデジタル映像入力信号を入力した場合と比べて液晶ドライバの回路動作が少なく、各アナログ出力端子から出力が安定するという利点があるためである。
【００３１】
以下では、上記出力電圧を用いて、上記液晶ドライバに付与するための識別子を生成する方法および当該識別子を生成する装置について説明する。
【００３２】
本実施形態に係る半導体識別方法は、上記出力電圧のプロファイルが各々の液晶ドライバに固有のものであることに着目する。すなわち、上記出力電圧のプロファイルは、液晶ドライバごとに異なり、また、ある一定の測定誤差の範囲で再現性を有することに着目する。
【００３３】
上記出力電圧のプロファイルは、主として、液晶ドライバを構成する各半導体素子の特性に応じて決まる。上記出力電圧のプロファイルが液晶ドライバごとに異なるのは、液晶ドライバを構成する半導体素子の特性に、加工寸法の不均一性や、製造工程においてドープされる不純物の濃度の不均一性などの微視的要因に基づくばらつきがあるためである。
【００３４】
図５の（ｂ）〜（ｄ）は３つの液晶ドライバのアナログ出力端子からの、最小階調における出力電圧をプロットしたものである。これらの図から明らかなように、出力電圧のプロファイルは、実際に、液晶ドライバごとに異なっている。
【００３５】
また、上記ばらつきは、端子ごとに見れば、複数の液晶ドライバの特定の端子から出力される出力電圧の値が液晶ドライバごとに異なっていることに起因している。
【００３６】
なお、本実施形態においては、アナログ出力端子からの出力電圧の測定誤差は±１ｍＶ程度である。すなわち、本実施形態における出力電圧の測定誤差は、上記出力電圧のばらつきに比べて、十分に小さい。従って、上記のばらつきは、主として、個々の液晶ドライバの特性に起因するものである。
【００３７】
図６の（ａ）〜（ｃ）は、上記最小階調における液晶ドライバのアナログ出力端子の全端子の出力電圧を、同一条件下で、時間をおいて合計３回にわたり測定した結果を示したものであり、図６の（ｄ）は１回目の測定値，２回目の測定値，３回目の測定値を重ねてプロットしたものである。図６の（ｄ）から明らかなように、アナログ出力端子からの出力電圧のプロファイルは時間をおいて測定しても測定誤差の範囲で不変である。
【００３８】
このように、上記出力電圧のプロファイルは、同一条件下において個々の液晶ドライバごとに異なり、また、測定誤差の範囲で再現性を有する。従って、本実施形態で用いている液晶ドライバのアナログ出力端子からの出力電圧のプロファイルを液晶ドライバ自身に対する識別子として活用することが可能である。
【００３９】
具体的な活用の方法としては、アナログ出力端子からの出力電圧の値を直接的に識別子として利用してもよいが、アナログ出力端子からの出力電圧の値を数値処理したものを利用してもよい。
【００４０】
本実施形態においては、より具体的には、隣接するアナログ出力端子からの出力電圧の電位差（以下、差分電圧とよぶ）を、当該電位差の絶対値がある閾値以下であるか、または、そうでないかに応じて、「０」または「１」に２値化することにより、識別子を生成する。
【００４１】
図７（ａ）は、上記の２値化処理を行うことにより生成された識別子をバーコード表示したものであり、図７の（ｂ）〜（ｄ）は、それぞれ、図６の（ｂ）〜（ｄ）に対応する液晶ドライバの隣接アナログ出力端子からの差分電圧の絶対値を、図７の（ａ）を生成する際に用いた閾値と同じ閾値を用いて２値化処理を行うことにより生成された識別子をバーコード表示したものである。
【００４２】
上述したように、アナログ出力端子からの出力電圧のプロファイルは、各個体ごとに異なるため、生成された識別子も液晶ドライバごとに異なっている。
【００４３】
このように複数のアナログ出力端子からの出力電圧の電位差を用いることにより、出力電圧を測定する際の系統的な測定誤差を打ち消すことができるので、識別子生成に対する測定誤差の影響を低減することができる。
【００４４】
なお、一般に、識別子を生成する際に用いる閾値は、同種の液晶ドライバに対しては、同一の値であることが望ましい。また、液晶ドライバの識別子を生成する工程（生成工程）において用いた閾値と、後述する液晶ドライバの識別子を判別する工程（判別工程）において用いる閾値は、同一であることが望ましい。
【００４５】
また、上記のように、隣接アナログ出力端子からの差分電圧を２値化処理することによる識別子生成以外にも、各々のアナログ出力端子からの出力電圧を直接２値化処理することによる識別子生成なども可能である。
【００４６】
そのような場合、例えば、「全アナログ出力端子からの出力電圧の平均値±標準偏差」を２値化処理の際に閾値として用いることができる。
【００４７】
本実施形態においては、合計で４１４端子からの隣接アナログ出力端子からの差分電圧を２値化することにより識別子を生成している。従って、当該識別子は、４１３ビットである。すなわち、理想的には、２413個の液晶ドライバに対して異なった識別子が生成で
きる計算になる。
【００４８】
このように、出力端子が多数である場合、図８に示すように、出力端子のうち一本、または数本が何らかの不具合で出力電圧を出力できなくなった場合であっても、他の出力端子が正常に動作していれば、正常な端子からの出力電圧を用いて実用上何ら識別に支障のない識別子を生成することができる。例えば、上記４１４本のアナログ出力端子のうち、１０本程度の端子に不具合が生じた場合にあっても、４００ビット以上の情報を用いて、液晶ドライバの識別子の生成が可能である。
【００４９】
また、本実施形態において識別の対象となっている液晶ドライバの場合、図９（ａ）のような同色隣接回路が内蔵されており、それを利用して識別子を生成することも可能である。同色隣接回路の対となる２本はほぼ同様の特性を備えているため、図９（ｂ）のように一方に不具合があって出力されない場合でも、もう一方を利用することにより識別子の生成が可能である。
【００５０】
以上が、本実施形態に係る半導体集積回路の識別子生成方法についての説明である。次に、上記識別子生成方法を実際に使用するために使用される、本発明に係る識別子生成装置１について説明する。
【００５１】
（識別子生成装置１）
図１は、本実施形態に係る識別子生成装置１のブロック図を示している。識別子生成装置１は、ボルテージフォロア部１０と、アナログ出力選択部１１と、アナログ出力測定部１２と、メモリ部１３と、演算部１４と、比較部１５と、入力信号供給部１６とを備えている。識別子生成装置１は、例えば、データベース５０に接続される。
【００５２】
まず、識別すべき液晶ドライバに識別子を付与する識別子付与工程を具体的な信号の流れに沿って説明する。説明の便宜上、液晶ドライバの各アナログ出力端子には、他のアナログ出力端子と区別するための端子番号が付されているものとする。
【００５３】
入力信号供給部１６は、一定のデジタル映像入力信号を、識別すべき液晶ドライバに供給する手段である。具体的には、ＡＬＬ“０”のデジタル信号や、ＡＬＬ“１”のデジタル信号を用いることができる。また、識別すべき同種の液晶ドライバに対しては、同一のデジタル映像入力信号を入力することが望ましい。
【００５４】
ボルテージフォロア部１０は、前段の回路と後段の回路との間の干渉を防ぐための手段であり、複数のボルテージフォロアより構成されている。各々のボルテージフォロアのインプット端子には、識別すべき液晶ドライバの各アナログ出力端子が接続される。各々のボルテージフォロアは入力インピーダンスが高く、また出力インピーダンスが低いことが望ましい。
【００５５】
液晶ドライバの各アナログ出力端子からの出力信号は、ボルテージフォロア１０を介して、アナログ出力選択部１１に送られる。
【００５６】
アナログ出力選択部１１は、ボルテージフォロア部１０より入力されるアナログ信号を選択し、後段のアナログ出力測定部１２に供給するための手段である。具体的には、アナログ出力選択部１１はボルテージフォロア部１０より入力されるアナログ信号をアナログ出力端子番号順にアナログ出力測定部１２に供給する。
【００５７】
アナログ出力測定部１２は、アナログ出力選択部１１より順次供給される上記アナログ信号の電圧を測定するための手段である。具体的には、アナログ出力測定部１２は、上記アナログ信号の電圧を順次測定し、測定した値をメモリ部１３に順次出力する。アナログ出力測定部１２は、電圧測定の誤差が小さい高精度の電圧計であることが好ましい。
【００５８】
メモリ部１３はアナログ出力測定部１２から順次入力された電圧測定値を、液晶ドライバごとに蓄積する。
【００５９】
演算部１４は、メモリ部１３に蓄積された電圧測定値を多値化するための手段である。本実施形態においては、具体的には、演算部１４は、メモリ部１３に蓄積された電圧測定値に基づく２値化処理を行い、液晶ドライバごとに識別子を生成する。より具体的には、メモリ部１３に蓄積された各アナログ出力端子に対応する電圧測定値に基づき各隣接端子の組に対して当該隣接端子間の差分電圧を算定し、当該差分電圧の値が、あらかじめ設定された範囲の範囲内か、または、そうでないかに応じて、当該差分電圧を、それぞれ、「０」または「１」に２値化する。
【００６０】
演算部１４は、上記２値化処理をすべての隣接アナログ出力端子からの出力電圧に対して行うことにより、個々の液晶ドライバに対して、識別子を生成する。このようにして液晶ドライバごとに生成された識別子は、データベース５０に対して出力される。
【００６１】
データベース５０は、各半導体集積回路に対して入力される識別子を、当該半導体集積回路に関する製造履歴や検査履歴等との関連付けを行い、関連付けされた情報を蓄積および管理するための手段である。
【００６２】
データベース５０は、具体的には、入力された識別子と、当該液晶ドライバの製造履歴や検査履歴等との関連付けを行い、関連づけされたデータを液晶ドライバごとに蓄積し管理する。
【００６３】
このようにして、本実施形態に係る識別子生成装置１を用いることで、液晶ドライバごとに固有の識別子を生成することができ、データベース５０と併用することで、個々の半導体集積回路に関する製造情報や検査情報等を蓄積および管理することができる。
【００６４】
本実施形態においては、演算部１４は、上記のように、隣接アナログ出力端子からの差分電圧を２値化処理することによる識別子生成を行ったが、本発明はこれに限られるものではない。具体的には、上記のような隣接アナログ出力端子からの差分電圧と利用する以外にも、各々のアナログ出力端子からの出力電圧を直接２値化処理することによる識別子生成を行ってもよい。
【００６５】
一方で、検査工程において不良が見つかった液晶ドライバや、ユーザーから返品された液晶ドライバの製造情報や検査情報等を特定するための識別子判別工程は、以下のように行うことができる。
【００６６】
まず、当該液晶ドライバの各アナログ出力端子からの出力信号は、上記の信号の流れと同様に、ボルテージフォロア部１０およびアナログ出力選択部１１を介して、アナログ出力端子番号順に、アナログ出力測定部１２に送られる。アナログ出力測定部１２は、上記信号の電圧を測定し、測定した値をメモリ部１３に順次出力する。
【００６７】
メモリ部１３はアナログ出力測定部１２から入力された電圧測定値を、液晶ドライバごとに蓄積する。演算部１４は、メモリ部１３に蓄積された電圧測定値に基づく２値化処理を行い、液晶ドライバごとに識別子を生成する。生成された識別子は、比較部１５に入力される。
【００６８】
比較部１５は、入力された識別子を、データベース５０に蓄積された同種の半導体集積回路についての識別子と比較し、入力された識別子を、データベース５０に蓄積された同種の半導体集積回路についての識別子のうちの１つに同定する手段である。
【００６９】
具体的には、比較部１５は入力された識別子と、データベース５０に蓄積された同種の液晶ドライバについての全ての識別子とを比較し、入力された識別子を、データベース５０に蓄積された同種の液晶ドライバの識別子のいずれか１つに同定する。
【００７０】
上記同定作業は、データベース５０に蓄積された識別子のうちいずれか１つと、上記入力された識別子とを、例えば、各々のアナログ出力端子番号順に比較することを繰り返すことにより、簡便に行うことができる。
【００７１】
理想的な状況においては、比較部１５は、データベース５０に蓄積された識別子と、入力された識別子とを比較し、すべてのビットが一致する場合に両識別子を同一の識別子と判定する。
【００７２】
実際上、アナログ出力測定部１２における電圧の測定には、測定誤差が伴うため、データベース５０に蓄積された識別子と、入力された識別子とが、完全には一致しない場合もあり得る。しかしながら、多数の出力端子を有する半導体集積回路であれば実際上十分な精度で同定が可能である。具体的には、比較部１５は、測定誤差に起因して、データベース５０に蓄積された識別子と、入力された識別子とが、測定誤差に起因して数ビット程度異なっていたとしても、残りのビットが一致していれば、両識別子を同一の識別子であると同定してもよく、当該同定作業は実用上全く問題のない程度に、非常に高い精度を有する。
【００７３】
したがって、本実施形態のように多数の出力端子を有する半導体集積回路に対しては、測定誤差を考慮しても、実用上十分な精度で、識別子の同定を行うことが可能である。
【００７４】
上記の説明では、最小階調における液晶ドライバの全アナログ出力端子からの出力電圧に基づいて識別子を生成する方法および装置について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。最小階調以外の階調における出力電圧に基づいて識別子を生成することも可能である。
【００７５】
特に、デジタル映像入力信号をＡＬＬ“１”とし、各アナログ出力端子からの出力が最大階調となる場合にも識別子の生成を好適に行うことができる。これは、デジタル映像入力信号をＡＬＬ“１”とする場合も、デジタル映像入力信号をＡＬＬ“０”とする場合と同様に液晶ドライバの回路動作が少なく、各アナログ出力端子から出力が安定するという利点があるためである。なお、その他のデジタル映像入力信号に対する出力に対しても、本発明を適用することができることは言うまでもない。
【００７６】
また、識別子を付与する対象は液晶ドライバに限られるものではなく、本発明は、その他の半導体集積回路にも適用が可能である。
【００７７】
本実施形態においては、具体的な数値処理として、隣接アナログ出力端子からの差分電圧を２値化することにより識別子を生成したが、本発明はこれに限られるものではない。具体的な数値処理として、演算部１４において複数の閾値を用いて出力電圧の多値化を行い、当該多値化したデータに基づいて識別子を生成してもよい。
【００７８】
また、数値処理を行わず、出力されたアナログ値をそのまま用いて識別子を生成してもよい。そのような場合には、識別子生成装置１における比較部１５は、与えられた測定誤差の範囲内で、アナログ値の比較判定を適切に行うことができることが望ましい。
【００７９】
〔実施形態２〕
第１の実施形態においては、液晶ドライバに付与する識別子を、各端子から出力される最小階調に対応する出力電圧に基づいて生成する方法について説明したが、識別子を生成するために参照可能なアナログ信号はこれに限定されるものではない。一例として、本実施形態においては、液晶ドライバに付与する識別子を、特定端子から出力される各階調に対応する出力電圧に基づいて生成する方法について説明する。
【００８０】
図１０（ａ）は、ある入力信号に対して、ある液晶ドライバ（以下液晶ドライバＡと呼ぶ）のある特定のアナログ出力端子、すなわち、ある特定の端子番号のアナログ出力端子（以下端子番号１とする）から出力される出力電圧を、階調ごとにプロットしたものである。液晶ドライバＡは、アナログ出力端子ごとに２５６階調の各々に対応する出力電圧を出力する。なお、図１０の縦軸の単位はボルト（Ｖ）である。
【００８１】
以下では、液晶ドライバＡの端子番号１のアナログ出力端子から出力される２５６階調の各々に対応する出力電圧のばらつきに基づいて、識別子を生成する方法について説明する。
【００８２】
図１１（ａ）は、上記出力電圧の、理想電圧からの電位差を、２５６階調すべてについて階調ごとにプロットしたものである。ここで理想電圧とは、ある入力信号に対して、階調ごとに液晶ドライバが出力すべき電圧の規格値のことである。
【００８３】
図１２（ａ）は、上記アナログ出力端子ごとの上記電位差をある閾値に基づいて判別し、上記電位差が当該閾値以上であれば「１」に、上記電位差が当該閾値未満であれば「０」に、上記アナログ出力端子ごとの電位差を２値化したものである。なお、本実施形態においては、上記閾値は、４ｍＶとした。
【００８４】
図１０（ｂ）は、液晶ドライバＡと同種かつ別の個体の液晶ドライバＢの端子番号１のアナログ出力端子から出力される出力電圧を階調ごとにプロットしたものである。
【００８５】
図１１（ｂ）は、上記出力電圧の、理想電圧からの電位差を、階調ごとにプロットしたものである。ここで、階調ごとの理想電圧の値は、液晶ドライバＡに対して用いられた理想電圧の値と同一のものである。
【００８６】
図１１（ａ）と図１１（ｂ）から明らかなように、液晶ドライバＡからの出力電圧と、液晶ドライバＢからの出力電圧との理想電圧からの電位差は階調ごとに異なっている。この差異は、液晶ドライバごとに、階調ごとの増幅率がわずかに異なることに起因しており、各液晶ドライバを構成する半導体素子の特性の微視的要因に基づくばらつきに帰着される。
【００８７】
従って、上記理想電圧からのばらつきは、液晶ドライバごと、また、アナログ出力端子ごとにランダムであることは容易に理解されるであろう。
【００８８】
図１２（ｂ）は、図１１（ｂ）に示された電位差を、図１２（ａ）のバーコードの生成に用いた閾値と同じ閾値、すなわち４ｍＶの閾値を用いて、バーコードを生成したものである。図１２（ａ）と図１２（ｂ）とから明らかなように、液晶ドライバＡに対して生成されたバーコードと、液晶ドライバＢに対して生成されたバーコードとは異なっている。
【００８９】
実際上の上記バーコードの生成は、実施形態１とほぼ同様に識別子生成装置１を用いて行うことができる。ただし、本実施形態においては、識別子生成装置１に対する入力信号は、各々の液晶ドライバに対して、階調ごとに順次供給されることが望ましい。
【００９０】
また、本実施形態においては、アナログ出力選択部１１は、識別すべき液晶ドライバのある特定のアナログ出力端子番号を有するアナログ出力端子のみを選択すればよい。ただし、識別すべき同種の液晶ドライバに対して同一のアナログ出力端子番号を選択することが好ましい。
【００９１】
本実施形態においては、アナログ出力測定部１２は上記特定のアナログ出力端子番号を有するアナログ出力端子から出力される電圧を階調ごとに順次測定し、測定した値をメモリ部１３に順次出力する。
【００９２】
本実施形態においては、演算部１４は、メモリ部１３に蓄積された階調ごとの電圧測定値とあらかじめ定められた基準値との差分をとり、当該差分値を、当該差分の値があらかじめ決められた閾値より小さいか、または、そうでないかに応じて、それぞれ、「０」または「１」に２値化する。なお、本実施形態においては、上記閾値は４ｍＶである。
【００９３】
演算部１４は、上記２値化処理をすべてのアナログ出力端子からの出力電圧に対して行うことにより、個々の液晶ドライバに対して、識別子を生成する。
【００９４】
液晶ドライバごとに生成された識別子は、データベース５０に対して出力され、データベース５０において、各々の各液晶ドライバの製造履歴や検査履歴等と関連付けがおこなわれ、蓄積および管理される。
【００９５】
また、検査工程において不良が見つかった液晶ドライバや、ユーザーから返品された液晶ドライバの製造情報や検査情報等の特定も、実施形態１と同様に行うことができる。
【００９６】
本実施形態においては、階調ごとの出力電圧と当該階調における理想電圧との電位差に基づいて、識別子を生成したが、本発明はこれに限定されるものではない。たとえば、隣接する階調における出力電圧の電位差に対して、適切な閾値を設定することにより、２値化を行ってもよい。このように異なった階調に対する出力電圧の相対的な電位差を用いることにより、入力信号の系統的な誤差や、出力電圧を測定する際の測定誤差の系統的な成分を打ち消すことができるので、識別子生成に対するこれらの誤差の影響を低減することが可能になる。
【００９７】
〔実施形態３〕
第１及び第２の実施形態においては、液晶ドライバに付与する識別子を生成する方法について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。すなわち、本発明によれば、液晶ドライバ以外の半導体集積回路に付与する識別子を生成することもできる。一例として、本実施形態においては、ＬＥＤドライバに付与する識別子を、ＬＥＤドライバからの出力電圧に基づいて生成する方法について説明する。
【００９８】
ＬＥＤドライバは、液晶ディスプレイのバックライトを駆動するためのＬＥＤドライブ信号を出力するための半導体集積回路である。本実施形態におけるＬＥＤドライバは、８つの出力端子を有している。
【００９９】
図１３（ａ）は、上記ＬＥＤドライバの各出力端子からの出力電圧を３２階調の入力信号に対してプロットしたものである。なお、図１３（ａ）の縦軸の単位はｍＶである。
【０１００】
図１３（ｂ）は、階調０および階調１の入力信号に対する、全８端子の出力電圧の２値化処理の結果を表している。
【０１０１】
図１３（ｂ）の第１列は、入力信号を示している。具体的には、００ｈは階調０の入力信号を表しており、０１ｈは階調１の入力信号を表している。第２列は、各入力信号に対して上記ＬＥＤドライバの全８端子から出力される出力電圧を示している。第３列は、各入力信号に対する出力電圧の平均値を示している。第４列は、入力信号ごとの出力電圧の平均値と各々の出力電圧との差分を示している。
【０１０２】
図１３（ｂ）の第５列は、上記出力電圧を、当該出力電圧と各入力信号毎の出力電圧の平均値との電位差の絶対値が３ｍＶ以上であれば「１」に、当該絶対値が３ｍＶ未満であれば「０」に２値化した結果を示したものである。
【０１０３】
各出力端子および各階調に対する出力電圧のばらつきは、各ＬＥＤドライバを構成する半導体素子の特性の微視的要因に基づくばらつきに帰着される。従って、上記出力電圧のばらつきは、ＬＥＤドライバごとにランダムであることは容易に理解されるであろう。
【０１０４】
図１３（ｃ）は、上記の２値化処理に基づいて生成したバーコードを示している。このようにして、各ＬＥＤドライバに対して、２５６ビットの識別子を生成することができる。
【０１０５】
本実施形態においても、上記バーコードの生成は、実施形態１とほぼ同様に識別子生成装置１を用いて行うことができる。ただし、本実施形態においては、識別子生成装置１に対する入力信号は、各々のＬＥＤドライバに対して、階調ごとに順次供給されることが望ましい。
【０１０６】
また、本実施形態においては、アナログ出力選択部１１は、識別すべきＬＥＤドライバのアナログ出力端子を選択する手段である。
【０１０７】
本実施形態においては、アナログ出力測定部１２は上記アナログ出力端子から出力される電圧を階調ごとに順次測定し、測定した値をメモリ部１３に順次出力する。
【０１０８】
本実施形態においては、演算部１４は、階調ごとにメモリ部１３に蓄積された電圧測定値の平均値を階調ごとに算出し、当該平均値と、当該階調における各電圧測定値との差分を算出する。
【０１０９】
また、演算部１４は、上記差分を、上記差分があらかじめ定められた範囲の範囲内にあるか、または、そうでないかに応じて、「０」または「１」に２値化する処理を行う。具体的には、上記差分の絶対値が３ｍＶ以下であれば「０」に、上記差分の絶対値が３ｍＶより大きければ「１」に２値化する。
【０１１０】
演算部１４は、上記２値化処理をすべてのアナログ出力端子からの出力電圧に対して行うことにより、また、すべての階調に対して行うことにより、個々の液晶ドライバに対して、バーコードを生成する。
【０１１１】
液晶ドライバごとに生成されたバーコードは、データベース５０に対して出力され、データベース５０において、各々の各液晶ドライバの製造履歴や検査履歴等と関連付けがおこなわれ、蓄積および管理される。
【０１１２】
また、検査工程において不良が見つかった液晶ドライバや、ユーザーから返品された液晶ドライバの製造情報や検査情報等の特定も、実施形態１と同様に行うことができる。
【０１１３】
本実施形態においては、階調ごとの出力電圧と、当該階調における出力電圧の平均値との電位差に基づいて、識別子を生成したが、本発明はこれに限定されるものではない。たとえば、隣接する階調における出力電圧の電位差に対して、適切な閾値を設定することにより、２値化を行ってもよい。
【０１１４】
〔実施形態４〕
第１、第２、及び第３の実施形態においては、半導体集積回路に付与する識別子を、その半導体集積回路から出力される電圧信号に基づいて生成する方法について説明したが、識別子を生成するために参照可能なアナログ信号は電圧信号に限定されない。すなわち、半導体集積回路に付与する識別子を、その半導体集積回路から出力される電流信号に基づいて生成するようにしてもよい。
【０１１５】
図１４の（ａ）は、ある半導体集積回路の各端子からの電流出力の一部を示したものである。図１４の（ａ）の第１列は、出力されたアナログ電流の値を、端子ごとに示している。具体的な電流出力の測定は、各アナログ出力端子に一定の電位を印加し、各アナログ出力端子から出力される出力電圧と、当該印加電圧との電位差に基づいて流れる電流を測定することにより行う。
【０１１６】
図１４（ａ）の第２列は、隣接するアナログ出力端子からの電流出力の差（以下、差分電流とよぶ）を示している。第３列は、各々の差分電流を、当該差分電流の絶対値が０．０５μＡ以下であれば「０」に、当該差分電流の絶対値が０．０５μＡより大きければ「１」に、２値化した結果を示している。
【０１１７】
図１４（ｂ）は、隣接アナログ出力端子のすべての組について、上記の２値化処理を行うことにより生成されたバーコードを示している。
【０１１８】
上記電流出力のばらつきは、各半導体集積回路を構成する半導体素子の特性の微視的要因に基づくばらつきに帰着される。従って、上記出力電圧のばらつきは、半導体集積回路ごとにランダムであることは容易に理解されるであろう。
【０１１９】
このようにして、半導体集積回路の各端子からの電流出力に基づくことによっても、当該半導体集積回路に対する識別子を生成することが可能である。
【０１２０】
上記識別子の具体的な生成および判別は、以下に説明する識別子生成装置２によって行うことができる。
【０１２１】
（識別子生成装置２）
図１５には、本実施形態に係る識別子生成装置２のブロック図が示されている。識別子生成装置２は、ＤＣ測定部２１と、メモリ部２２と、演算部２３と、比較部２４とを備えている。識別子生成装置２は、例えば、データベース５０に接続される。
【０１２２】
入力信号供給部２５は、一定の入力信号を、識別すべき半導体集積回路に供給する手段である。識別すべき同種の液晶ドライバに対しては、同一のデジタル映像入力信号を入力することが望ましい。
【０１２３】
ＤＣ測定部２１は、半導体集積回路の各端子からの電流出力を測定するための手段である。具体的には、ＤＣ測定部２０は、各アナログ出力端子に一定の電位を印加し、各アナログ出力端子から出力される出力電圧と、当該印加電圧との電位差に基づいて流れる電流を測定する。
【０１２４】
ＤＣ測定部２１において測定された各端子に対する電流値は、順次メモリ部２２に送られ、半導体集積回路ごとに蓄積される。
【０１２５】
演算部２３は、メモリ部２２に蓄積された電流測定値を多値化するための手段である。具体的には、演算部２３は、メモリ部２２に蓄積された電流測定値に基づく２値化処理を行い、半導体集積回路ごとに識別子を生成する。
【０１２６】
より具体的には、演算部２３は、メモリ部２２に蓄積された各々の差分電流を、当該差分電流の絶対値が０．０５μＡ以下であれば「０」に、当該差分電流の絶対値が０．０５μＡより大きければ「１」に、２値化する処理を行う。
【０１２７】
演算部２３は、上記２値化処理をすべての隣接アナログ出力端子からの差分電流に対して行うことにより、個々の半導体集積回路に対して、バーコードを生成する。
【０１２８】
このようにして半導体集積回路ごとに生成されたバーコードは、データベース５０に対して出力される。
【０１２９】
データベース５０は実施形態１と同じく、各半導体集積回路に対して入力される識別子を、当該半導体集積回路に関する製造情報や検査情報等との関連付けを行い、関連付けされた情報を蓄積および管理するための手段である。
【０１３０】
検査工程において不良が見つかった半導体集積回路や、ユーザーから返品された半導体集積回路の製造情報や検査情報等の特定は、比較部２４を用いて、実施形態１と同様に行うことができる。
【０１３１】
本実施形態においては、隣接するアナログ出力端子からの電流出力の差に基づいて、識別子を生成したが、本発明はこれに限定されるものではない。たとえば、各アナログ出力端子からの電流出力と、全アナログ出力端子からの電流出力の平均値との電流差に対して適切な閾値を設定することにより、２値化を行ってもよい。
【０１３２】
〔実施形態５〕
本発明に係る第５の実施形態は、半導体集積回路の電源電流を用いて、識別子を生成する方法についてである。
【０１３３】
図１６（ａ）は、ある半導体集積回路に供給される電源電流の値を特定の電源供給端子に対して合計１０２４回サンプリングした結果をプロットしたものであり、縦軸の単位はμＡである。
【０１３４】
一般に、半導体集積回路に供給される電源電流は一定ではなく、デバイス状態により変動を伴う。従って、特定の電源供給端子に対して各デバイス状態ごとの複数回のサンプリングを行うことにより、上記電源電流を利用した識別子の生成を行うことができる。
【０１３５】
図１６（ｂ）に複数回のサンプリングにより測定された電源電流値に基づいて行われた２値化処理の結果を示す。第１列は、複数回のサンプリングによる電源電流の値に対して付与されたサンプリング番号を示している。第２列は、各サンプリングにおいて測定された電源電流の値を示している。第３列は、連続する２つのサンプリング番号に対応する電源電流値の差分電流の値を表している。
【０１３６】
本実施形態においては、上記差分電流の値を２値化することにより、識別子を生成する。具体的には、図１６（ｂ）の第４列に示すように、図１６（ｂ）の第３列の差分電流値を、当該差分電流の絶対値が０．１５μＡ以内であるか、または、そうでないかに応じて、それぞれ、「０」または「１」に２値化する演算処理を行う。
【０１３７】
図１６（ｃ）は、上記のような２値化処理を行った結果をバーコード表示したものである。
【０１３８】
このようにして、半導体集積回路の電源電流値に基づいても、当該半導体集積回路に対する識別子を生成することができる。
【０１３９】
具体的な識別子の生成および判別は、以下に説明する識別子生成装置３に基づいて行うことができる。
【０１４０】
（識別子生成装置３）
図１７には、本実施形態に係る識別子生成装置３のブロック図が示されている。識別子生成装置２は、ＤＣ測定部３１と、メモリ部３２と、演算部３３と、比較部３４と、電源供給部３５とを備えている。識別子生成装置３は、例えば、データベース５０に接続される。また、図１７における２重線は電源電流の経路を、実線は信号の経路を示している。
【０１４１】
電源供給部３５は識別すべき半導体集積回路に対して、電源を供給するための手段である。
【０１４２】
ＤＣ測定部３１は、電源供給部３５から半導体集積回路に供給される電源電流を測定するための手段である。特に、本実施形態においては、ＤＣ測定部３１は、上記電源電流を複数回サンプリングし、サンプリングごとに上記電源電流を測定する。測定された電流値は、各々のサンプリングごとに順次メモリ部３２へ送られる。
【０１４３】
メモリ部３２はＤＣ測定部３１から送られてきたサンプリングごとの電源電流値を、半導体集積回路ごとに蓄積する手段である。
【０１４４】
演算部３３は、メモリ部３２に蓄積された電源電流値に基づき多値化処理を行うための手段である。演算部３３は、具体的には、連続する２つのサンプリング番号に対応する電源電流値の差分電流の値を算出し、当該差分電流値を、当該差分電流値の絶対値が０．１５μＡ以下であるか、またはそうでないかに応じて、それぞれ、「０」または「１」に２値化する。
【０１４５】
演算部３３は、上記２値化処理をすべての連続する２つのサンプリング番号に対応する電源電流値の差分電流値に対して行うことにより、個々の半導体集積回路に対して、バーコードを生成する。
【０１４６】
このようにして半導体集積回路ごとに生成されたバーコードは、データベース５０に対して出力される。
【０１４７】
データベース５０は実施形態１と同じく、各半導体集積回路に対して入力される識別子を、当該半導体集積回路に関する製造情報や検査情報等との関連付けを行い、関連付けされた情報を蓄積および管理するための手段である。
【０１４８】
検査工程において不良が見つかった半導体集積回路や、ユーザーから返品された半導体集積回路の製造情報や検査情報等の特定は、比較部３４を用いて、実施形態１と同様に行うことができる。
【０１４９】
本実施形態においては、連続する２つのサンプリング番号に対応する電源電流値の差分電流の値に基づいて識別子を生成したが、本発明はこれに限定されるものではない。たとえば、電源電流値の平均値と、各サンプリングにおける電源電流の値との電流差に対して適切な閾値を設定することにより、２値化を行ってもよい。
【０１５０】
〔実施形態６〕
本発明に係る第６の実施形態は、半導体集積回路の複数アナログ出力端子の各々から出力されるアナログ電圧値を、その値の大小に応じて並び替えたものに基づき当該半導体集積回路に対する識別子を生成する方法についてである。
【０１５１】
以下では、本発明の第６の実施形態について、図１９（ａ）〜（ｄ）および図２０を参照して説明する。
【０１５２】
図１９（ａ）は、ウエハテスト時における液晶ドライバＡ’の有する７２０本のアナログ出力端子の各々から出力される電圧値をアナログ出力端子の端子番号ごとに示す表である。図１９（ａ）においては、特に、１から３０までの端子番号を有するアナログ出力端子から出力される電圧値、および、６９１から７２０までの端子番号を有するアナログ出力端子から出力される電圧値が示されている。図１９（ｂ）は、液晶ドライバＡ’の各アナログ出力端子から出力される電圧値を、その値の降順に並び替えたものである。図１９（ｂ）においては、特に、電圧値が大きい順に１から３０番目までの電圧値、および、電圧値が大きい順に６９１から７２０番目までの電圧値が示されている。
【０１５３】
一方で、図１９（ｃ）は、パッケージ実装後における液晶ドライバＢ’の有する７２０本のアナログ出力端子の各々から出力される電圧値をアナログ出力端子の端子番号ごとに示す表である。図１９（ｃ）においては、特に、１から３０までの端子番号を有するアナログ出力端子から出力される電圧値、および、６９１から７２０までの端子番号を有するアナログ出力端子から出力される電圧値が示されている。図１９（ｄ）は、液晶ドライバＢ’の各アナログ出力端子から出力される電圧値を、その値の降順に並び替えたものである。図１９（ｄ）においては、特に、電圧値が大きい順に１から３０番目までの電圧値、および、電圧値が大きい順に６９１から７２０番目までの電圧値が示されている。
【０１５４】
図１９（ｂ）および（ｄ）において、１から３０番目までの電圧値を出力する端子番号のうち、網掛けされた端子番号は、ウエハテスト時、および、パッケージ実装後の双方の測定時点において、１から３０番目までの電圧値を出力する端子番号を示している。
【０１５５】
同様に、図１９（ｂ）および（ｄ）において、６９１から７２０番目までの電圧値を出力する端子番号のうち、網掛けされた端子番号は、ウエハテスト時、および、パッケージ実装後の双方の測定時点において、６９１から７２０番目までの電圧値を出力する端子番号を示している。
【０１５６】
図１９（ｂ）および（ｄ）に示すように、ウエハテスト時において１から３０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子３０本のうち、２６本のアナログ出力端子は、パッケージ実装後においても、１から３０番目までの電圧値を出力している。すなわち、ウエハテスト時、および、パッケージ実装後の双方の測定時点における１から３０番目までの電圧値を出力するアナログ端子の端子番号の一致率は略８６．７パーセントである。
【０１５７】
また、図１９（ｂ）および（ｄ）に示すように、ウエハテスト時において６９１から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子３０本のうち、２５本のアナログ出力端子は、パッケージ実装後においても、６９１から７２０番目までの電圧値を出力している。すなわち、ウエハテスト時、および、パッケージ実装後の双方の測定時点における６９１から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ端子の端子番号の一致率は略８３．３パーセントである。
【０１５８】
また、１から３０番目まで、および、６９１から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子６０本のうち、５１本のアナログ出力端子は、パッケージ実装後においても、１から３０番目まで、および、６９１から７２０番目までの電圧値を出力している。すなわち、ウエハテスト時、および、パッケージ実装後の双方の測定時点における１から３０番目、および、６９１番目から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ端子の端子番号の一致率は８５．０パーセントである。
【０１５９】
本実施形態においては、電圧値が大きい順に１から３０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号、および、６９１番目から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号のリストを、液晶ドライバＡ’に付与する識別子とする。
【０１６０】
換言すれば、本実施形態においては、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子（アナログ出力端子）の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号（電圧値）の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する。
【０１６１】
一般に、半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号は、外部の環境、および、入力信号の値などに応じて変動するオフセットを含む。
【０１６２】
本実施形態に係る方法によれば、複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成するため、上記オフセットの影響を受けずに、識別子を生成することができる。
【０１６３】
図２０は、以上のように識別子が付与された約４８００個の液晶ドライバから、特定の２０個の液晶ドライバを抜き出し、当該２０個の液晶ドライバに対する、上記約４８００個の液晶ドライバの一致率を測定した結果を示すグラフである。
【０１６４】
図２０に示すように、上記特定の２０個の液晶ドライバ各々に対する一致率は、略８０パーセント以上であるのに対し、上記特定の２０個以外の液晶ドライバに対する一致率は、略３０パーセント以下である。
【０１６５】
すなわち、図２０から明らかなように、上記約４８００個の液晶ドライバから上記特定の液晶ドライバを十分高い精度で識別することが可能である。
【０１６６】
したがって、本実施形態に係る識別子付与方法を用いて付与された液晶ドライバは、実用上十分な精度で互いに識別することが可能である。
【０１６７】
なお、上記の例においては、液晶ドライバＡ’の有する７２０本のアナログ出力端子のうち、電圧値が大きい順に１から３０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号、および、６９１番目から７２０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号のリストを、液晶ドライバＡ’に付与する識別子とする場合について説明を行ったが、本発明はこれに限られるものではない。また、また、上記の例では、半導体集積回路として液晶ドライバを例に挙げ説明を行ったが、本発明はこれに限定されるものではない。
【０１６８】
一般に、電圧値が大きい順にｍからｎ番目（ｍ、ｎは、半導体集積回路の有する端子数以下の整数）までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号から成るリストを識別子として付与してもよく、より一般には、複数の端子の端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものを識別子として付与してもよい。
【０１６９】
また、上記の説明では、出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものを識別子として付与する場合を例に挙げたが、出力されるアナログ信号の絶対値の大きさに応じて並べ替えたものを識別子として付与してもよい。
【０１７０】
また、上記の例では、半導体集積回路として液晶ドライバを例に挙げ説明を行ったが、本発明はこれに限定されるものではなく、液晶ドライバ以外の半導体集積回路に対して適用することが可能である。また、上記の例では、半導体集積回路からのアナログ出力として、アナログ電圧値を例に挙げ説明を行ったが、本発明は、これに限られるものではない。例えば、半導体集積回路から出力されるアナログ電流値に対しても、同様に適用することが可能である。
【０１７１】
〔実施形態７〕
本発明に係る第７の実施形態は、半導体集積回路が有する複数のアナログ出力端子の各々から出力されるアナログ値を測定し、測定されたアナログ値のセットから、接触不良などに起因した、他の値と有意に異なる値を除いたものに基づいて識別子を付与する方法についてである。
【０１７２】
図２１は、液晶ドライバのアナログ出力端子から出力されるドライブ電流値を端子番号順にプロットしたものである。なお、図２１の縦軸の単位はミリアンペア（ｍＡ）である。
【０１７３】
ここで、ドライブ電流値とは、半導体集積回路の各アナログ出力端子に対して接続された負荷に対して供給される電流の値のことである。
【０１７４】
図２１に示すように、実際の測定においては、接触不良などに起因して、他のデータとは明らかに値が異なるデータ（図２１における丸印によって示されたデータ）が発生する。ここで、明らかに値が異なるデータ（以下、異常データと呼ぶ）とは、例えば、全データの平均値との差が、予め定められた閾値以上であるデータのことである。また、上記予め定められた閾値としては、例えば、全データの分散を用いてもよいし、全データの標準偏差を用いてもよい。
【０１７５】
本実施形態においては、上記異常データを除いたドライブ電流値のセットに基づいて、上記半導体集積回路に付与する識別子を生成する。
【０１７６】
このような方法をとることによって、本実施形態においては、接触不良などに起因した異常データの影響を抑制しつつ、識別子を生成することが可能となる。
【０１７７】
なお、具体的な識別子の生成方法としては、上記実施形態において説明した方法を用いればよい。
【０１７８】
また、本実施形態は、半導体集積回路から出力されるアナログ電流値のみならず、半導体集積回路から出力されるアナログ電圧値に対しても適用することができる。
【０１７９】
図２２〜図２５は、本実施形態に係る識別子付与方法を、上述した実施形態６に適用した場合について説明するための図である。
【０１８０】
図２２は、液晶ドライバＣ’の有する約４００本のアナログ出力端子の端子番号と、各アナログ出力端子から出力されたアナログ電圧値を示したものである。なお、図２２の縦軸の単位はボルト（Ｖ）である。
【０１８１】
図２２に示すように、丸印で示しているアナログ出力端子２８６から３０５番から出力される電圧値が、接触不良のため０ボルトになっている。
【０１８２】
図２３は、液晶ドライバＣ’を含む複数の液晶ドライバ同士を実施形態６に示した方法によって付与された識別子に基づいて照合した結果を示す図である。
【０１８３】
図２３におけるのＭＡＸは電圧値が大きい順に１から３０番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号を照合していることを示し、ＭＩＮは電圧値が大きい順に３７１から４００番目までの電圧値を出力するアナログ出力端子の端子番号を照合していることを示す。また、カッコ内の数字のうち、左側に示された番号は、ウエハテスト時において各液晶ドライバに付与された識別子に１対１に対応する番号であり、カッコ内の数字のうち、右側に示された番号は、パッケージ実装後において各液晶ドライバに付与された識別子に１対１に対応する番号である。
【０１８４】
また、ウエハテスト時において上記液晶ドライバＣ’に割り振られた上記番号は１６３番であり、パッケージ実装後において上記液晶ドライバＣ’に割り振られた上記番号は１４番である。
また、ウエハテスト時においては、液晶ドライバＣ’以外の液晶ドライバには、１６３番以外の番号が割り当てられており、パッケージ実装後においては、液晶ドライバＣ’以外の液晶ドライバには、１４番以外の番号が割り当てられている。また、カッコ内の２つの番号は、その番号同士を照合したことを指し、行末の数字は、照合結果を一致率（％）で示したものである。
【０１８５】
図２３に示すＭＡＸ（１６３、１４）に対応する一致率が８０．０パーセントであることから、ウエハテスト時において１６３番に割り当てられた液晶ドライバＣ’と、パッケージ実装後において、１４番に割り当てられた液晶ドライバＣ’とは、実施形態６に示した方法によって、正しく同定されることが分かる。
【０１８６】
一方で、電圧値が大きい順に３７１から４００番目までを照合した結果ＭＩＮ（１６３、１４）は６０．０％の一致率と低い数字になっていることがわかる。これは、液晶ドライバＣ’の識別子が、図２２に示された端子番号２８６から３０５番までの０ボルトの出力を含むデータに基づいて生成されているためである。
【０１８７】
図２４は、図２２で表示されている０ボルトのアナログ出力端子に、平均アナログ電圧値を割り当てた場合の、液晶ドライバＣ’のアナログ出力端子番号と各アナログ出力端子から出力されたアナログ電圧値を示す。なお、図２４の縦軸の単位はボルト（Ｖ）である。
【０１８８】
図２４の丸印で示す部分が、平均アナログ電圧値に割り当てられた端子を示している。これにより、０ボルトの異常データは平均値に置き換えられるため、電圧値が大きい順に並び替えをした場合であっても、当該異常データの影響を受けることなく、識別子を生成することができる。
【０１８９】
本実施形態においては、上記のように異常データを全データの平均値によって置き換えることにより、異常データの影響を受けることなく、識別子を生成することが可能である。
【０１９０】
また、本実施形態において、上記のように異常データを全データの平均値によって置き換えたデータに基づいて識別子を生成することは、他の端子から出力されるアナログ信号の値からかけ離れた値のアナログ信号を除いたデータを用いて識別子を生成することと同等である。また、他の端子から出力されるアナログ信号の値からかけ離れた値のアナログ信号とは、他の端子から出力されるアナログ信号の値からの偏差の大きいアナログ信号であると捉えることができる。
【０１９１】
このように、本実施形態においては、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号（異常データ）を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する。
【０１９２】
本実施形態に係る方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値のアナログ信号の影響を抑制しつつ識別子を生成することができる。
【０１９３】
また、上述した実施形態１、３、および、４においても、他の端子から出力されるアナログ信号の値からかけ離れた値のアナログ信号を除いたデータを用いて識別子を生成することによって、異常データの影響を抑制しつつ、識別子を生成することが可能である。
【０１９４】
また、上述した実施形態２においては、上記特定の端子が複数存在するような場合には、他の端子から出力されるアナログ信号の値からかけ離れた値のアナログ信号を除いたデータを用いて識別子を生成することによって、異常データの影響を抑制しつつ、識別子を生成することが可能である。
【０１９５】
図２５は、図２４に示す液晶ドライバＣ’のアナログ電圧値に基づき、上記実施形態６を用いて識別子を付与し、図２３と同様の照合を行った結果である。図２５においても、図２３と同様に、ウエハテスト時における液晶ドライバＣ’の上記番号は１６３番であり、パッケージ実装後における上記番号は、１４番である。
【０１９６】
図２５に示すように、ＭＩＮ（１６３、１４）に対応する一致率は、８６．７％であり、図２３におけるＭＩＮ（１６３、１４）に対応する一致率６０．０％に比べて高い一致率を示している。
【０１９７】
すなわち、図２５から明らかなように、異常データを除いて識別子を生成することにより、異常データの影響を受けることなく識別子を生成することができるため、デバイスの一致率が向上する。
【０１９８】
したがって、本実施形態に係る識別子付与方法を用いて付与された液晶ドライバは、実用上十分な精度で互いに識別することが可能である。
【０１９９】
なお、上記の例では、半導体集積回路として液晶ドライバを例に挙げ説明を行ったが、本発明はこれに限定されるものではなく、液晶ドライバ以外の半導体集積回路に対して適用することが可能である。また、上記の具体例では、半導体集積回路から出力されるアナログ電圧値を例に挙げ説明を行ったが、本発明は、これに限られるものではない。半導体集積回路から出力されるアナログ電流値に対しても、同様に適用することが可能である。
【０２００】
また、本実施形態は、上記のように半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値のセットから、異常データを除いたセットに基づいて識別子を生成する場合に限定されるものではない。
【０２０１】
例えば、本実施形態においては、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下で出力されたアナログ信号の差分に基づいて生成するようにしてもよい。
【０２０２】
具体的には、各出力端子に対して、負荷抵抗のより小さい負荷を接続して測定したドライブ電流と、負荷抵抗のより大きい負荷を接続して測定したドライブ電流との差分に基づいて、識別子を生成してもよい。
【０２０３】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下で出力されたアナログ信号の差分に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値のアナログ信号の影響を抑制しつつ識別子を生成することができる。
【０２０４】
また、上述した実施形態１から４においても、異なる２つの条件下で出力されたアナログ値の差分に基づいて識別子を生成することが可能である。
【０２０５】
このように、異なる２つの条件下で出力されたアナログ値の差分に基づいて識別子を生成することによって、接触不良の影響を打ち消すことができる。したがって、このような方法によって生成された識別子が付与された半導体集積回路は、実用上十分な精度で互いに識別することが可能である。
【０２０６】
〔実施形態８〕
本発明に係る第８の実施形態は、半導体集積回路に供給される電源電流の値のセットから、ノイズ、または、接触不良などに起因した、他の値と有意に異なる値を除いたものに基づいて識別子を生成する方法についてである。
【０２０７】
図２６は、液晶ドライバのある特定の電源供給端子に対して供給される電源電流値を、当該液晶ドライバのデバイス状態を変化させながら測定した結果をプロットしたものである。また、図２６における濃淡の異なる複数のグラフは、異なるアナログ出力に対する電源電流値を示している。また、図２６において丸印で囲まれた部分は、他のサンプリングポイントにおける測定値と大きく異なる異常値を示している。なお、図２６の縦軸の単位はミリアンペア（ｍＡ）である。
【０２０８】
一般に、半導体集積回路に供給される電源電流は一定ではなく、デバイス状態により変動を伴う。従って、特定の電源供給端子に対してデバイス状態ごとの複数回のサンプリングを行うことにより、上記電源電流を利用した識別子の生成を行うことができる。
【０２０９】
図２６に示すように、実際の測定には、実施形態７においても説明したように、ノイズの影響や測定系の接触不良により異常データが発生する。
【０２１０】
本実施形態においては、上記異常データ（すなわち、他のサンプリングポイントにおける電源電流値からかけ離れた電源電流値）を除いた電源電流値のセットに基づいて、上記半導体集積回路に付与する識別子を生成する。ここで、上記異常データとは、他のサンプリングポイントにおける電源電流値からの偏差の大きい電源電流値と捉えることができる。
【０２１１】
このような方法をとることによって、本実施形態においては、ノイズや接触不良などに起因した異常データの影響を抑制しつつ、識別子を生成することが可能となる。
【０２１２】
このように、本実施形態においては、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路に供給される電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値（異常データ）を除いた時系列に基づいて生成する。
【０２１３】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路に供給される電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値を除いた時系列に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値の電源電流の影響を抑制しつつ識別子を生成することができる。
【０２１４】
なお、具体的な識別子の生成方法としては、上記実施形態において説明した方法を用いればよい。また、データが異常データであるか否かは、例えば、実施形態７において説明した方法によって判別することができる。
【０２１５】
また、上述した実施形態５においても、異常データを除いた電源電流値のセットに基づいて、上記半導体集積回路に付与する識別子を生成することが可能である。
【０２１６】
また、本実施形態は、上記のように半導体集積回路に供給される電源電流の値のセットから、異常データを除いたセットに基づいて識別子を生成する場合に限定されるものではない。
【０２１７】
例えば、本実施形態においては、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値の差分に基づいて生成するようにしてもよい。
【０２１８】
具体的には、各出力端子に対して、負荷抵抗のより小さい負荷を接続して測定した電源電流値と、負荷抵抗のより大きい負荷を接続して測定した電源電流値との差分に基づいて、識別子を生成してもよい。
【０２１９】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値の差分に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値の電源電流の影響を抑制しつつ識別子を生成することができる。
【０２２０】
また、上述した実施形態５においても、異なる２つの条件下に置かれた半導体集積回路に対して供給される電源電流の値の差分に基づいて識別子を生成することが可能である。
【０２２１】
このように、異なる２つの条件下において供給される電源電流値の差分に基づいて識別子を生成することによって、接触不良の影響を打ち消すことができる。したがって、このような方法によって生成された識別子が付与された半導体集積回路は、実用上十分な精度で互いに識別することが可能である。
【０２２２】
〔まとめ〕
上記の課題を解決するために、本発明に係る識別子生成方法は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成方法であって、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成する、ことを特徴としている。
【０２２３】
一般に、半導体集積回路を構成する各半導体素子は、加工寸法の僅かな不均一性や、ドープされる不純物の僅かな不均一性などの微視的要因に起因して、同種の半導体素子であってもそれらの特性は互いに異なる。従って、同種の半導体素子により構成された同一の構成を有する半導体集積回路であっても、同一条件下において出力される出力信号は半導体集積回路ごとに異なる。
【０２２４】
また、半導体集積回路を構成する各半導体素子の特性は、時間が経過してもほとんど変化することはない。従って、同一条件下で或る半導体集積回路から出力される出力信号の値は、ほとんど変化することがない。
【０２２５】
それゆえ、同一条件で半導体集積回路から出力される出力信号の値を各半導体集積回路に固有の識別子として利用することが可能である。
【０２２６】
上記識別子生成方法によれば、複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成することができるので、チップ面積を増加させることなく識別子の生成を行う方法を実現することができるという効果を奏する。
【０２２７】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２２８】
上記識別子生成方法によれば、上記アナログ信号の値を２値化又は多値化することにより、上記アナログ信号の値を直接的に識別子として利用する場合に比べて少ないデータ量を用いて識別子を生成することができるという効果を奏する。
【０２２９】
従って、上記識別子生成方法によれば、生成された識別子を半導体集積回路の製造履歴や検査履歴と関連付けしてデータベース上に蓄積および管理を行うことが容易になるという効果を奏する。
【０２３０】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２３１】
上記識別子生成方法によれば、半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより識別子を生成するため、桁数の大きい、多数の半導体集積回路を識別可能な識別子を生成することができるという効果を奏する。
【０２３２】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子の何れかから出力されるアナログ信号の値との差を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２３３】
一般に、半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を測定する際には、測定誤差が付随する。当該測定誤差は、生成される識別子に含有されているため、当該測定誤差の影響が大きくなると、生成される識別子の同一性（再現性）が害されるという問題を招来する。
【０２３４】
しかしながら、上記識別子生成方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子の何れかから出力されるアナログ信号の値との差を２値化又は多値化することにより生成するため、測定誤差の系統的な成分が打ち消し合うという効果を奏する。従って、上記識別子生成方法によれば、識別子に含有される測定誤差の影響を低減させることができるという効果を奏する。
【０２３５】
また、２値化又は多値化を行っているため、識別子として扱うべきデータ量が、２値化又は多値化を行わない場合に比べて小さくなるという効果を奏する。従って、上記識別子生成方法によれば、生成された識別子を半導体集積回路の製造履歴や検査履歴と関連付けしてデータベース上に蓄積および管理を行うことが容易になるという効果を奏する。
【０２３６】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子から出力されるアナログ信号の値の平均値との差を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２３７】
一般に、半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を測定する際には、測定誤差が付随する。当該測定誤差は、生成される識別子に含有されているため、当該測定誤差の影響が大きくなると、生成される識別子の同一性が害されるという問題を招来する。
【０２３８】
しかしながら、上記識別子生成方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値と、該複数の端子から出力されるアナログ信号の値の平均値との差を２値化又は多値化することにより生成するため、測定誤差の系統的な成分が打ち消し合うという効果を奏する。従って、上記識別子生成方法によれば、識別子に含有される測定誤差の影響を低減させることができるという効果を奏する。
【０２３９】
また、２値化又は多値化を行っているため、識別子として扱うべきデータ量が、２値化又は多値化を行わない場合に比べて小さくなるという効果を奏する。従って、上記識別子生成方法によれば、生成された識別子を半導体集積回路の製造履歴や検査履歴と関連付けしてデータベース上に蓄積および管理を行うことが容易になるという効果を奏する。
【０２４０】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、出力信号の値が最も安定する条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２４１】
上記識別子生成方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、出力信号の値が最も安定する条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成するため、より再現性の高い識別子を生成することができるという効果を奏する。
【０２４２】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、複数の条件下で該半導体集積回路が備えている特定の端子から出力されたアナログ信号の値を２値化又は多値化することにより生成する、ことが好ましい。
【０２４３】
上記識別子生成方法によれば、複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成することができるので、チップ面積を増加させることなく識別子の生成を行う方法を実現することができるという効果を奏する。
【０２４４】
また、上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことが好ましい。
【０２４５】
一般に、半導体集積回路が備えている複数の端子の各々から出力されるアナログ信号は、外部の環境、および、入力信号の値などに応じて変動するオフセットを含む。
【０２４６】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成するため、上記オフセットの影響を受けずに、識別子を生成することができるという更なる効果を奏する。
【０２４７】
また、上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成する、ことが好ましい。
【０２４８】
ここで、偏差の大きいアナログ信号とは、例えば、上記複数の端子の各々が出力するアナログ信号の平均値との差が予め定められた閾値よりも大きいアナログ信号のことを指す。あるいは、上記複数の端子が出力するアナログ信号の値を母集団として、偏差値が予め定められた閾値よりも大きいアナログ信号のことを指す。
【０２４９】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路が備えている複数の端子から、偏差の大きいアナログ信号を出力する端子を除いた端子の各々に付与された端子番号を該複数の端子の各々から出力されるアナログ信号の値に応じて並べ替えたものに基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値のアナログ信号の影響を抑制しつつ識別子を生成することができるという更なる効果を奏する。
【０２５０】
また、上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下で出力されたアナログ信号の差分に基づいて生成する、ことが好ましい。
【０２５１】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下で出力されたアナログ信号の差分に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値のアナログ信号の影響を抑制しつつ識別子を生成することができるという更なる効果を奏する。
【０２５２】
また、上記半導体集積回路は、液晶ドライバであってもよい。
【０２５３】
液晶ドライバは多数のアナログ出力端子を有し、各端子からは多数の階調に対応したアナログ信号が出力されるため、上記識別子生成方法を好適に用いることができるという効果を奏する。
【０２５４】
また、上記アナログ信号は、出力アンプから出力される電圧信号であることが好ましい。
【０２５５】
出力アンプから出力される電圧信号を上記アナログ信号とすることにより、上記識別子生成方法を好適に用いることができるという効果を奏する。
【０２５６】
上記アナログ信号は、対となる同色隣接回路の何れか一方から出力される電圧信号であることが好ましい。
【０２５７】
同色隣接回路の対となる２本はほぼ同様の特性を備えているため、一方に不具合があって出力されない場合でも、もう一方を利用することにより識別子の生成が可能になるという効果を奏する。
【０２５８】
上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、当該半導体集積回路に供給される電源電流の値のデバイス状態による変化に基づいて生成する、ことを特徴としている。
【０２５９】
一般に、半導体集積回路に供給される電源電流の値はデバイス内部状態による変化を伴うため、該電源電流の値のデバイス内部状態による変化に基づき識別子の生成が可能であるため、チップ面積を増加させることなく識別子の生成を行う方法を実現することができるという効果を奏する。
【０２６０】
また、上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路に供給される電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値を除いた時系列に基づいて生成する、ことが好ましい。
【０２６１】
ここで、偏差の大きい電源電流値とは、例えば、上記時系列における電源電流値の平均から、予め定められた閾値以上離れている電源電流値のことを指す。
【０２６２】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、該半導体集積回路に供給される電源電流値の時系列から、偏差の大きい電源電流値を除いた時系列に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値の電源電流の影響を抑制しつつ識別子を生成することができるという更なる効果を奏する。
【０２６３】
また、上記識別子生成方法は、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値の差分に基づいて生成する、ことが好ましい。
【０２６４】
上記の方法によれば、上記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、予め定められた２つの条件下に置かれた該半導体集積回路に供給される電源電流の値の差分に基づいて生成することができるので、ノイズや接触不良などによって生じる異常な値の電源電流の影響を抑制しつつ識別子を生成することができるという更なる効果を奏する。
【０２６５】
本発明に係る識別子生成装置は、同一の構成を有する複数の半導体集積回路を互いに識別するための識別子を生成する識別子生成装置であって、記複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成する、ことを特徴としている。
【０２６６】
上記識別子生成装置によれば、複数の半導体集積回路の各々に付与する識別子を、同一条件下で該半導体集積回路から出力されるアナログ信号に基づいて生成することができるので、チップ面積を増加させることなく識別子の生成を行う装置を実現することができるという効果を奏する。
【０２６７】
また、本発明は上述した各実施の形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項で示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０２６８】
本発明に係る識別子生成方法は、アナログ出力を有する半導体集積回路の識別に好適に用いることができる。
【符号の説明】
【０２６９】
１  識別子生成装置
１０  ボルテージフォロア部
１１  アナログ出力選択部
１２  アナログ出力測定部
１３  メモリ部
１４  演算部
１５  比較部
１６  入力信号供給部
５０  データベース
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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