(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップと、
前記光ピックアップをサーボ制御するサーボ制御部と、
光ディスクのテスト領域の記録済み領域終端を２分岐探索で探索する第１の探索部と、
前記２分岐探索中に前記サーボ制御に関するサーボ外れの発生を検出する検出部と、
前記サーボ制御への引き込みをリトライするリトライ部と、
前記検出部が前記サーボ外れの発生を検出し、且つ、前記リトライ部による前記サーボ外れからの復帰に失敗した後に、前記２分岐探索での未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所からトレースして前記テスト領域の記録済み領域終端を見つける第２の探索部とを備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
光ピックアップと、
前記光ピックアップをサーボ制御するサーボ制御部と、
光ディスクのテスト領域の記録済み領域終端を２分岐探索で探索する第１の探索部と、
前記２分岐探索中に前記サーボ制御に関するサーボ外れの発生を検出する検出部と、
前記検出部が前記サーボ外れの発生を検出し、且つ、前記サーボ外れからの復帰に失敗した後に、前記２分岐探索での未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所からトレースして前記テスト領域の記録済み領域終端を見つける第２の探索部とを備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記光ディスクが追記型光ディスクであり、前記テストデータの追記方向が前記光ディスクの外周から内周に向かう方向である請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
前記２分岐探索において、１回目の探索箇所は前記テスト領域を２分岐した位置であり、ｋ（ｋは２以上の整数）回目の探索箇所は、（ｋ−１）回目の探索箇所が記録済みでなければ（ｋ−１）回目の探索により２分岐された領域の外周側を２分岐した位置であり、（ｋ−１）回目の探索箇所が記録済みであれば（ｋ−１）回目の探索により２分岐された領域の内周側を２分岐した位置である請求項３に記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、書き込み可能な光ディスクに情報の記録を行える光ディスク記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク記録装置が光ディスクへ記録を行う場合、記録層の感度、記録層の温度、記録速度などに違いが生じるため、予め定められたレーザーパワーで書き込みを行ったのでは、常に一定の品質でデータ記録を行うことはできない。
【０００３】
そこで、以前より、データ記録の際には、光ディスクの内周部に設けられたテスト領域に記録パワーを変化させながらテストデータを書き込み、そのテスト領域に書き込んだテストデータを再生して再生信号の特性を評価することで、最適なレーザーパワーを決定するＯＰＣ（Optimum Power Control）処理を行って、その後、その最適なレーザーパワーを用いてデータ記録を行うようにしている。
【０００４】
追記型光ディスクのＯＰＣ処理では、テスト領域にテストデータを書き込む前に、どの位置からテストデータを追記して良いかを調べる為に、テスト領域の記録済み領域終端を探索する探索処理が行われる。当該探索処理は、処理時間の短縮を図るために、通常２分岐探索で行われる。
【０００５】
ここで、２分岐探索について図４及び図５を参照して説明する。図４及び図５は追記型光ディスクのテスト領域を模式的に示す図である。２分岐探索では、まずテスト領域を２分岐した位置である１回目の探索箇所に光ピックアップを移動させ、１回目の探索箇所が記録済みか否かを確認する。１回目の探索箇所が図４に示すように記録済みでなければ、１回目の探索により２分岐された領域の外周側を２分岐した位置である２回目の探索箇所に光ピックアップを移動させ、２回目の探索箇所が記録済みか否かを確認する。これに対して、１回目の探索箇所が図５に示すように記録済みであれば、１回目の探索により２分岐された領域の内周側を２分岐した位置である２回目の探索箇所に光ピックアップを移動させ、２回目の探索箇所が記録済みか否かを確認する。上記のような探索を複数回繰り返し、最終の探索箇所からトレースして記録済み領域終端を探索する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−３５８６４８号公報
【特許文献２】特開２００５−４４４３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の光ディスク記録装置では、例えば図６に示すように探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所（傷があったり高パワーでテストデータが書き込まれている箇所）ＤＰに該当し、そのダメージ箇所ＤＰでサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合、所定回数（例えば数十回）リトライし、それでも探索箇所が記録済みか否かを確認することができなければ、探索処理をエラー終了している。このように探索処理をエラー終了してしまった場合、光ディスクからの情報を読み出して再生することはできるが、光ディスクに情報を記録することができなくなってしまうという問題が生じる。
【０００８】
尚、特許文献１及び特許文献２には、ＯＰＣ処理に関連する技術が開示されているが、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当した場合に、テスト領域の記録済み領域終端を探索する探索処理がエラー終了してしまうことを防止することができる技術に関しては何ら開示も示唆もされていない。
【０００９】
本発明は、上記の状況に鑑み、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当しても、テスト領域の記録済み領域終端を探索する探索処理を正常に終了させることができる光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明に係る光ディスク記録装置は、光ディスクに光を照射すると共に、前記光ディスクからの戻り光を光検出器で検出する光ピックアップと、前記光検出器から出力される電気信号を信号処理することよって生成される信号に基づいて前記光ピックアップをサーボ制御するサーボ制御部と、前記光ディスクのテスト領域にテストデータを書き込んで前記光ピックアップの最適記録パワー値を決定する決定部とを備え、前記決定部は、前記光ディスクが追記型光ディスクである場合に、前記テスト領域の記録済み領域終端を２分岐探索で探索する探索処理を行い、前記探索処理中に前記サーボ制御に関するサーボ外れが発生し前記サーボ外れから復帰できないときに、前記テスト領域の所定の位置からトレースして前記テスト領域の記録済み領域終端を見つける構成（第１の構成）とする。
【００１１】
このような構成によると、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合であっても、探索処理をエラー終了することなく、テスト領域の所定の位置からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行することで、探索処理を正常に終了させることができる。
【００１２】
また、上記第１の構成の光ディスク記録装置において、前記決定部は、前記探索処理中に前記サーボ制御に関するサーボ外れが発生したときに、前記サーボ制御への引き込みをリトライし、リトライ回数が上限に達しても前記サーボ制御への引き込みが成功しなければ、前記サーボ外れから復帰できないと判断する構成（第２の構成）にしてもよい。
【００１３】
また、上記第１又は第２の構成の光ディスク記録装置において、前記光ディスクが追記型光ディスクである場合に、前記テストデータの追記方向が前記光ディスクの外周から内周に向かう方向である構成（第３の構成）にしてもよい。
【００１４】
また、上記第１〜第３のいずれかの構成の光ディスク記録装置において、前記２分岐探索において、１回目の探索箇所は前記テスト領域を２分岐した位置であり、ｋ（ｋは２以上の整数）回目の探索箇所は、（ｋ−１）回目の探索箇所が記録済みでなければ（ｋ−１）回目の探索により２分岐された領域の外周側を２分岐した位置であり、（ｋ−１）回目の探索箇所が記録済みであれば（ｋ−１）回目の探索により２分岐された領域の内周側を２分岐した位置である構成（第４の構成）としてもよい。
【００１５】
また、上記第１〜第４のいずれかの構成の光ディスク記録装置において、前記テスト領域の所定の位置は、前記テスト領域の両端部のうち、記録済み領域の始端にならない方の端部である構成としてもよい。
【００１６】
また、上記第１〜第４のいずれかの構成の光ディスク記録装置において、前記テスト領域の所定の位置は、前記２分岐探索での未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所である構成としてもよい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に係る光ディスク記録装置によると、テスト領域の記録済み領域終端を２分岐探索で探索する探索処理中に前記サーボ制御に関するサーボ外れが発生し前記サーボ外れから復帰できないときに、前記テスト領域の所定の位置からトレースして前記テスト領域の記録済み領域終端を見つけるので、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合であっても、探索処理をエラー終了することなく、テスト領域の所定の位置からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行することで、探索処理を正常に終了させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係る光ディスク記録装置の一概略構成例を示す図である。
【図２】図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置が行う追記型光ディスクのＯＰＣ処理の一部である探索処理を示すフローチャートである。
【図３】図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置が行う追記型光ディスクのＯＰＣ処理の一部である探索処理の変形例を示すフローチャートである。
【図４】追記型光ディスクのテスト領域を模式的に示す図である。
【図５】追記型光ディスクのテスト領域を模式的に示す図である。
【図６】追記型光ディスクのテスト領域を模式的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
本発明の実施形態について図面を参照して以下に説明する。本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置の概略構成を図１に示す。
【００２０】
図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置は、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ及びＢＤ−Ｒ／ＲＥといった書き込み可能な光ディスクＯＤに情報の書き込みを行うことができる装置であって、スピンドルモータ１と、スピンドルモータ駆動部２と、光ピックアップ３と、エンコーダ４と、レーザ駆動部５と、信号処理部６と、サーボ制御部７と、ドライバ８と、入力部９と、記憶部１０と、システムコントローラ１１とを備える。なお、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置は記録機能に加え再生機能も有している。
【００２１】
スピンドルモータ１は、その出力軸がターンテーブル（不図示）に連結される。そして、そのターンテーブルは光ディスクＯＤを着脱可能に保持できるようになっている。これにより、スピンドルモータ１を回転させることで光ディスクＯＤを回転させることが可能となっている。
【００２２】
なお、スピンドルモータ１は、スピンドルモータ駆動部２に接続されている。スピンドルモータ１の駆動制御は、システムコントローラ１１の管理下において、スピンドルモータ駆動部２によって行われる。
【００２３】
光ピックアップ３は、所定の波長のレーザ光を出射する半導体レーザ光源（不図示）と、半導体レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクＯＤの記録層に集光する対物レンズ（不図示）と、光ディスクＯＤで反射されたレーザ光を受光して光電変換を行う光検出器（不図示）とを備える。また、光ピックアップ３は、移動手段（不図示）によって、光ディスクＯＤの半径方向（図１の左右方向）に対して平行な方向に移動可能となっている。
【００２４】
スピンドルモータ１によって光ディスクＯＤを回転させて、光ピックアップ３の位置を適宜移動させることにより、光ピックアップ３から出射されるレーザ光のスポット位置を、光ディスクＯＤの記録可能領域の全域に移動できる。したがって、光ピックアップ３を用いて、光ディスクＯＤの記録可能領域の全てに情報を記録することが可能となる。
【００２５】
なお、上述のように、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置は、ＣＤ系、ＤＶＤ系、及びＢＤ系のディスクに対応している。このため、半導体レーザ光源は、例えば、波長７８０ｎｍ帯の赤外レーザビーム（ＣＤ用レーザビーム）と、波長６５０ｎｍ帯の赤色レーザビーム（ＤＶＤ用レーザビーム）とを出射できる２波長一体型ＬＤ（Laser Diode）と、４０５ｎｍ帯の青色レーザビーム（ＢＤ用レーザビーム）を出射できるＬＤとによって構成される。
【００２６】
また、光ピックアップ３が備える対物レンズは、対物レンズアクチュエータ（不図示）によって、光軸方向に対して平行な方向（図１の上下方向）であるフォーカス方向と、光ディスクＯＤの半径方向に対して平行な方向（図１の左右方向）であるトラッキング方向とに移動可能となっている。これは、対物レンズの焦点位置が常に光ディスクＯＤの記録層に合うように制御するフォーカス制御と、対物レンズによって集光されたビームスポットの位置が常に光ディスクＯＤに形成されるトラックに追随するように制御するトラッキング制御とを行えるようにするためである。
【００２７】
また、光ピックアップ３を移動させる移動手段は、例えば、固定部分に配置されるスライドモータ（不図示）と、スライドモータの回転によって回転されるピニオン（不図示）と、光ピックアップ３本体に取り付けられるラック（不図示）とによって構成される。このような構成によると、ラックとピニオンの関係を利用して、光ピックアップ３の移動が実現される。
【００２８】
エンコーダ４は、システムコントローラ１１から供給された情報について、所定の方式で符号化処理を行い、その符号化された情報に基づいて記録パルスを作成し、その記録パルスをレーザ駆動部５に出力する。レーザ駆動部５は、エンコーダ４から出力される記録パルスにしたがって、光ピックアップ３の半導体レーザ光源を発振させる。また、レーザ駆動部５は、光ディスクＯＤの種類によって、光ピックアップ３の半導体レーザ光源から出射されるレーザ光の波長を切り替える機能も有する。
【００２９】
信号処理部６は、光ピックアップ３に備えられ複数の領域に分割される光検出器から出力される電気信号を演算処理し、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、及びウォブル信号を生成する。これらの信号は、サーボ制御部７に送られる。また、信号処理部６は、光ピックアップ３に備えられる光検出器の各分割領域から出力される電気信号を総加算し、ＲＦ信号を生成してシステムコントローラ１１のＡ／Ｄ変換入力ポート（不図示）に送出する。
【００３０】
サーボ制御部７は、信号処理部６から送られてきたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を用いて、ドライバ８を介してフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。また、サーボ制御部７は、ドライバ８を介して、光ディスクＯＤの半径方向に対して平行な方向での光ピックアップ３の移動についても制御する。なお、サーボ制御部７は、ウォブル中にアドレス信号が含まれている場合には、アドレス生成を行う機能も有する。
【００３１】
ドライバ８は、サーボ制御部７からの指令にしたがって、上述の光ピックアップ３を移動させる移動手段と、対物レンズアクチュエータとを駆動させる回路である。
【００３２】
入力部９は、例えば、複数の入力ボタン（不図示）及び／又はリモートコントローラ送信機から送信されるリモートコントロール信号を受信する受信部（不図示）から成り、ユーザーからの指示内容を入力し、その指示内容をシステムコントローラ１１に送出する。
【００３３】
記憶部１０は、各種のプログラムやデータを記憶しており、システムコントローラ１１用の作業メモリや一時記憶メモリとしても機能する。
【００３４】
システムコントローラ１１は、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置を構成する各部が実行すべき所要の動作に応じて適宜制御処理を実行する。
【００３５】
次に、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置が行う追記型光ディスクのＯＰＣ処理の一部である探索処理について、図２に示すフローチャートを参照して説明する。尚、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置が行う追記型光ディスクのＯＰＣ処理の一部である探索処理は、２分岐探索での探索処理である。
【００３６】
光ディスクＯＤが追記型光ディスクである場合にシステムコントローラ１１が書き込みコマンドを受け付けると、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置は図２に示すフローチャートの動作を開始する。
【００３７】
まず、ステップＳ１０において、システムコントローラ１１は、記憶部１０に記憶されているパラメータＮを１にする。
【００３８】
ステップＳ１０に続くステップＳ２０では、ドライバ８は、システムコントローラ１１からの制御にしたがって、Ｎ回目の探索箇所に光スポットがくるように光ピックアップ３を移動させる。パラメータＮが１である場合、Ｎ回目の探索箇所はテスト領域を２分岐した位置である。パラメータＮが２以上である場合、Ｎ回目の探索箇所は、（Ｎ−１）回目の探索箇所が記録済みでなければ（Ｎ−１）回目の探索により２分岐された領域の外周側を２分岐した位置であり、（Ｎ−１）回目の探索箇所が記録済みであれば（Ｎ−１）回目の探索により２分岐された領域の内周側を２分岐した位置である。
【００３９】
ステップＳ２０に続くステップＳ３０では、システムコントローラ１１は、サーボ制御部７から送られてくるサーボ制御の状態を示す情報に基づいて、Ｎ回目の探索箇所でサーボ外れが発生していないか否かを判定する。
【００４０】
Ｎ回目の探索箇所でサーボ外れが発生していなければ（ステップＳ３０のＮＯ）、システムコントローラ１１は、パラメータＮが所定数に達したか否かを判定する（ステップＳ４０）。パラメータＮが所定数に達していなければ（ステップＳ４０のＮＯ）、システムコントローラ１１は、パラメータＮを１つインクリメントして記憶部１０に記憶させてから（ステップＳ５０）、ステップＳ２０に移行する。パラメータＮが所定数に達していれば（ステップＳ４０のＹＥＳ）、後述するステップＳ８０に移行する。
【００４１】
一方、Ｎ回目の探索箇所でサーボ外れが発生すれば（ステップＳ３０のＹＥＳ）、システムコントローラ１１は、サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限（例えば数十回）に達したか否かを判定する（ステップＳ６０）。サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限に達していなければ（ステップＳ６０のＮＯ）、システムコントローラ１１は、サーボ制御への引き込みのリトライをサーボ制御部７に命じてから（ステップＳ７０）、ステップＳ３０に移行する。サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限に達すれば（ステップＳ６０のＹＥＳ）、後述するステップＳ１３０に移行する。
【００４２】
ステップＳ８０では、ドライバ８は、システムコントローラ１１からの制御にしたがって、最終の探索箇所からトレースを開始するように、光ディスク３を移動させる。（ステップＳ８０）。最終の探索箇所が記録済みであれば、テストデータの追記方向が最終の探索箇所からのトレース方向になり、最終の探索箇所が記録済みでなければ、テストデータの追記方向の逆方向が最終の探索箇所からのトレース方向になる。
【００４３】
最終の探索箇所が記録済みであれば、トレース中の或るトレース箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じてトレース中の或るトレース箇所が記録済みか否かを確認することができないおそれがある。そこで、ステップＳ８０に続くステップＳ９０では、システムコントローラ１１は、サーボ制御部７から送られてくるサーボ制御の状態を示す情報に基づいて、トレース中にサーボ外れが発生していないか否かを判定する（ステップＳ９０）。
【００４４】
トレース中にサーボ外れが発生していなければ（ステップＳ９０のＮＯ）、システムコントローラ１１は、信号処理部６から送られてくるＲＦ信号に基づいて、記録済み領域の終端を発見したか否かを判定する（ステップＳ１００）。記録済み領域の終端が発見されていなければ（ステップＳ１００のＮＯ）、ステップＳ９０に移行して、トレースを続行する。記録済み領域の終端が発見されると（ステップＳ１００のＹＥＳ）、本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置は探索処理を正常終了させる。
【００４５】
一方、トレース中にサーボ外れが発生すれば（ステップＳ９０のＹＥＳ）、システムコントローラ１１は、サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限（例えば数十回）に達したか否かを判定する（ステップＳ１１０）。サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限に達していなければ（ステップＳ１１０のＮＯ）、システムコントローラ１１は、サーボ制御への引き込みのリトライをサーボ制御部７に命じてから（ステップＳ１２０）、ステップＳ９０に移行する。サーボ制御への引き込みのリトライ回数が上限に達すれば（ステップＳ１１０のＹＥＳ）、後述するステップＳ１３０に移行する。
【００４６】
ステップＳ１３０では、ドライバ８は、システムコントローラ１１からの制御にしたがって、テスト領域の先頭位置からトレースして記録済み領域の終端を見つけるように、光ディスク３を移動させる。そして、そのトレースによって記録済み領域の終端が見つかると、探索処理を正常終了させる。ここで、テスト領域の先頭位置は、テスト領域の両端部のうち、記録済み領域の始端にならない方の端部である。
【００４７】
上記のような動作により、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合であっても、探索処理をエラー終了することなく、テスト領域の先頭位置からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行することで、探索処理を正常に終了させることができる。
【００４８】
図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置では、テスト領域の先頭位置からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行した場合、従来よりも探索処理に要する時間が長くなるが、あくまで、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合の例外的な処理であり、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当しない場合には、従来と同様に処理時間で探索処理を正常に終了させることができる。
【００４９】
また、図１に示す本発明の一実施形態に係る光ディスク記録装置が、図２に示すフローチャートの動作の代わりに、図３に示すフローチャートの動作を行うようにしてもよい。
【００５０】
図３に示すフローチャートは、図２に示すフローチャートにおいてステップＳ１３０をステップＳ１４０に置換したものである。
【００５１】
ステップＳ１４０では、ドライバ８は、システムコントローラ１１からの制御にしたがって、未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所からトレースして記録済み領域の終端を見つけるように、光ディスク３を移動させる。そして、そのトレースによって記録済み領域の終端が見つかると、探索処理を正常終了させる。
【００５２】
図３に示すフローチャートの動作により、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合であっても、探索処理をエラー終了することなく、未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行することで、探索処理を正常に終了させることができる。
【００５３】
また、図３に示すフローチャートの動作では、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合に、テスト領域の先頭位置からトレースするのではなく、未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所からトレースして記録済み領域の終端を見つける処理を実行する。したがって、図３に示すフローチャートの動作では、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合の例外的な処理に要する時間が、図２に示すフローチャートの動作に比べて短くなる。
【００５４】
ただし、図３に示すフローチャートの動作では、探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当し、そのダメージ箇所でサーボ外れが生じて探索箇所が記録済みか否かを確認することができない場合に備えて、未記録領域の探索箇所のうち最も後に探索した探索箇所を記憶しておく必要があるため、図２に示すフローチャートの動作に比べて処理が複雑になる。
【００５５】
また、１回目の探索箇所が記録済み領域内のダメージ箇所に該当する場合、ステップＳ１４０の実行が不可能になってしまうので、図に示すフローチャートの動作において、ステップＳ１１０からステップＳ１４０に移行したにもかかわらず、ステップＳ１４０の実行が不可能である場合には、ステップＳ１４０の代わりにステップＳ１３０を実行するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００５６】
１  スピンドルモータ
２  スピンドルモータ駆動部
３  光ピックアップ
４  エンコーダ
５  レーザ駆動部
６  信号処理部
７  サーボ制御部
８  ドライバ
９  入力部
１０  記憶部
１１  システムコントローラ
ＤＰ  記録済み領域内のダメージ箇所
【図１】
0005434974.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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