(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁ハウジングとの固定部から片持ち状に延出して互いに対向するように配置された一対のコンタクトを備え、それら一対のコンタクトの端部同士が接触するように配置されたものであって、
前記絶縁ハウジングに設けられた挿入穴を通して挿入された相手コネクタの押圧力によって、前記一対のコンタクトのうちの一方のコンタクトが押圧方向に移動し、他方のコンタクトから離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、
前記一対のコンタクトの双方が、前記固定部に連結されて固定状態に保持された支持基板と、その支持基板から片持ち状に延出する可撓性の弾性ビーム状部材を備えたものであって、
前記一対のコンタクトのうち少なくとも一方のコンタクトにおける前記弾性ビーム状部材が、前記支持基板の一端縁部であって前記他方のコンタクトと反対側の端縁部から略Ｕ字状に反転して延出するように折曲げ形成された折り返し部と、その折り返し部から前記他方のコンタクトに向かって平坦面状をなして延出する水平延在部と、当該水平延在部における延出方向の端縁部から前記相手コネクタの挿入方向に向かって斜め方向に折れ曲げられたクランク部と、そのクランク部から前記他方のコンタクトに接触する位置まで延出するメインビーム部と、を有しているとともに、
前記双方のコンタクトには、前記固定部と前記弾性ビーム状部材との境界部分に前記弾性ビーム状部材のスパン長を実質的に拡大する切欠き部が形成され、かつ
前記双方のコンタクトと前記絶縁ハウジングとの間に、前記弾性ビーム状部材の可撓性を確保する隙間が設けられていることを特徴とするスイッチ付同軸コネクタ。
【請求項２】
前記固定部は、前記一対のコンタクトが対向する方向に延在して前記絶縁ハウジングに係合されるように構成されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
【請求項３】
前記切欠き部は、前記固定部と前記弾性ビーム状部材との連結部分に溝状をなすように形成されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
【請求項４】
前記クランク部は、前記弾性ビーム状部材の延出方向の途中位置から前記相手コネクタの挿入方向側に向かって斜めに折れ曲がって延出した後、前記相手コネクタの挿入方向と反対方向側に斜めに折れ曲がるように構成され、
当該クランク部から延出する前記弾性ビーム状部材の先端部分が、前記他方のコンタクトに対して、前記相手コネクタの挿入方向と反対の方向から接触するように配置されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
【請求項５】
前記一方のコンタクトの前記弾性ビーム状部材には、相手方コネクタが接触する部位に貫通孔が形成されていることを特徴とする請求項１記載のスイッチ付同軸コネクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、相手コネクタが嵌合されることによって離間状態になされる一対のコンタクトを備えたスイッチ付同軸コネクタに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、携帯電話などのような電子機器又は電気機器にスイッチ付同軸コネクタが用いられている。このスイッチ付同軸コネクタは、例えば、機器内に設けられた高周波回路等の各種電子回路の状態や性能を検査するための小型回路検査スイッチなどとして用いられるものであるが、下記の特許文献１及び２等に開示された回路検査スイッチは、機器本体の電子回路を分断するように回路基板上に実装されたスイッチ付同軸コネクタからなるものであって、当該スイッチ付同軸コネクタに設けられた相手挿入穴を通して、相手コネクタとして検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）が、上方側から内部に挿入される構成になされている。
【０００３】
このようなスイッチ付同軸コネクタでは、絶縁ハウジングの外方側に、グランド接続用の導電性シェルが取り付けられており、その導電性シェルから一体的に突出する複数の基板接続部が、図示を省略した配線基板上の導電路に半田接合されることにより実装が行われて使用される構成になされている。このときの前記絶縁ハウジングの内部には、信号伝送用の可動コンタクトと固定コンタクトとからなるコンタクト対が取り付けられていて、それら一対の可動コンタクト及び固定コンタクトが、機器本体に設けられた電子回路（図示省略）の一方側及び他方側にそれぞれ接続されている。
【０００４】
そして、そのスイッチ付同軸コネクタに対して、上方側から挿入された検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）の先端部分が、略水平面内で揺動する前記可動コンタクトの自由端部分を押し開くように圧接し、それによって可動コンタクトが揺動して固定コンタクトから離間されて本来の電子回路が分断される。また、それと同時に、可動コンタクト１がプローブの下端部分に接触し、それによって機器本体の他の電子回路にプローブが導通状態となり、当該プローブを通して、電子回路からの電気信号が外部に取り出されることにより、例えば適宜の検査が実行されるようになっている。
【０００５】
しかしながら、このような従来のスイッチ付同軸コネクタにおいては、検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）が繰り返し挿入されるなどによって、コンタクトに永久変形を生じるおそれがあり、使用耐久性に問題がある。使用耐久性を向上させるため、コンタクトのスパンを長くして弾性を高める手段も考えられているが、単にコンタクトを長くしただけでは、コネクタ全体が大型化してしまい、近年の小型化や低背化の要請に反することとなる。また、使用雰囲気中に存在する微小ゴミや絶縁物等の塵埃が、検査用プラグコネクタのプローブ（検査針）の挿入穴を通して内部に侵入し、電気的な接続不良を発生させるおそれがあるという問題もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平０９−２４５９０７号公報
【特許文献２】特開２００２−３５９０３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで本発明は、簡易な構成で、大型化を回避しつつ、使用耐久性を高めるとともに、内部に侵入した塵埃による電気的な接続不良の発生を良好に防止することができるようにしたスイッチ付同軸コネクタを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため本発明では、絶縁ハウジングとの固定部から片持ち状に延出して互いに対向するように配置された一対のコンタクトを備え、それら一対のコンタクトの端部同士が接触するように配置されたものであって、前記絶縁ハウジングに設けられた挿入穴を通して挿入された相手コネクタの押圧力によって、前記一対のコンタクトのうちの一方のコンタクトが押圧方向に移動し、他方のコンタクトから離間されるように構成されたスイッチ付同軸コネクタにおいて、前記一対のコンタクトの双方が、前記固定部に連結されて固定状態に保持された支持基板と、その支持基板から片持ち状に延出する可撓性の弾性ビーム状部材を備えたものであって、前記一対のコンタクトのうち少なくとも一方のコンタクトにおける前記弾性ビーム状部材が、前記支持基板の一端縁部であって前記他方のコンタクトと反対側の端縁部から略Ｕ字状に反転して延出するように折曲げ形成された折り返し部と、その折り返し部から前記他方のコンタクトに向かって平坦面状をなして延出する水平延在部と、当該水平延在部における延出方向の端縁部から前記相手コネクタの挿入方向に向かって斜め方向に折れ曲げられたクランク部と、そのクランク部から前記他方のコンタクトに接触する位置まで延出するメインビーム部と、を有しているとともに、前記双方のコンタクトには、前記固定部と前記弾性ビーム状部材との境界部分に前記弾性ビーム状部材のスパン長を実質的に拡大する切欠き部が形成され、かつ前記双方のコンタクトと前記絶縁ハウジングとの間に、前記弾性ビーム状部材の可撓性を確保する隙間が設けられた構成が採用されている。
【０００９】
このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、少なくとも一方のコンタクトに設けられた折り返し部及びクランク部、並びに双方のコンタクトに設けられた切欠き部によって、相手コネクタの押圧力に対するコンタクトの弾性が高められるとともに、絶縁ハウジングとの間に設けられた隙間によって双方のコンタクトの可撓性が確保されることとなり、コネクタの小型化・低背化を行った場合においてもコンタクトの永久変形が防止される。また、相手コネクタが嵌合されていないときに開放されている相手挿入穴を通して内部に侵入した塵埃がコンタクト上に落下しても、コンタクトのクランク部が有する傾斜面に沿って塵埃が移動してコンタクト上に蓄積されることがなくなり、相手コネクタとコンタクトとの電気的な導通性、及びコンタクト同士の電気的な導通性が、塵埃により妨げられるおそれが低減される。
【００１０】
また、本発明における前記固定部は、前記一対のコンタクトが対向する方向に延在して前記絶縁ハウジングに係合されるように構成されていることが望ましい。
【００１１】
このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、双方のコンタクトに設けられた固定部が、コンタクト対向方向に延在した状態で絶縁ハウジングに固定されるため、相手コネクタの挿入方向に対するコンタクトの支持性が向上され、電気接触部における位置精度が向上し、コンタクトの振れ安定性が改善されるとともに、相手コネクタ及びコンタクト同士の押圧力に対して、各コンタクトの位置ズレが防止される。
【００１２】
また、本発明における前記切欠き部は、前記固定部と前記弾性ビーム状部材との連結部分に溝状をなすように形成されていることが望ましい。
【００１３】
このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、切欠き部を構成する溝長さにわたって、弾性ビーム状部材の実質的なスパン長が拡大されることから、弾性ビーム状部材の弾性が容易に高められるとともに、弾性ビーム状部材の撓み支点が、固定部の長さ方向の範囲内に位置することとなって、固定部による弾性ビーム状部材の保持性が向上される。
【００１４】
また、本発明における前記クランク部は、前記弾性ビーム状部材の延出方向の途中位置から前記相手コネクタの挿入方向側に向かって斜めに折れ曲がって延出した後、前記相手コネクタの挿入方向と反対方向側に斜めに折れ曲がるように構成され、当該クランク部から延出する前記弾性ビーム状部材の先端部分が、前記他方のコンタクトに対して、前記相手コネクタの挿入方向と反対の方向から接触するように配置されていることが望ましい。
【００１５】
このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、一方のコンタクトの先端部分が、他方のコンタクトに対して掬い上げるように接触し、相手コネクタの挿入・離脱時に双方のコンタクトの接点部同士が摺接するように接触することから、電気的な接触状態が良好に維持されるとともに、両コンタクト同士の、いわゆるワイピング作用によって、接点部における清浄性が向上されるようになっている。
【００１６】
また、本発明における前記一方のコンタクトの前記弾性ビーム状部材には、相手方コネクタが接触する部位に貫通孔が形成されていることが望ましい。
【００１７】
このような構成からなるスイッチ付同軸コネクタによれば、一方のコンタクト上に落下したゴミ等の塵埃が、貫通穴を通して外方に排出されるとともに、相手コネクタに対して貫通穴の内周縁部が、当該貫通穴の対角線方向の両側から接触することとなり、相手コネクタとコンタクトとの接触性が高められる。
【発明の効果】
【００１８】
以上述べたように本発明にかかるスイッチ付同軸コネクタは、絶縁ハウジング内で片持ち状に延出する双方のコンタクトを弾性ビーム状部材から形成し、少なくとも一方のコンタクトに折り返し部及びクランク部を設けるとともに、双方のコンタクトに、弾性ビーム状部材のスパン長を実質的に拡大する切欠き部と、弾性ビーム状部材の可撓性を確保する絶縁ハウジングとの間の隙間を設けたことにより、コンタクトの弾性を高めつつ可撓性を確保し、コンタクトの永久変形を防止するとともに、内部に侵入した塵埃をクランク部に沿って移動させて、電気的な導通性を良好に確保する構成を採用したものであるから、簡易な構成で、大型化を回避しつつ、使用耐久性を高めるとともに、塵埃による電気的な接続不良の発生を良好に防止することができ、スイッチ付同軸コネクタの信頼性を安価かつ大幅に高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の一実施形態にかかる回路検査スイッチを構成しているスイッチ付同軸コネクタの全体構造を正面上方側から見たときの外観斜視説明図である。
【図２】図１に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの全体構造を正面下方側から見たときの外観斜視説明図である。
【図３】図１及び図２に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの平面説明図である。
【図４】図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの正面説明図である。
【図５】図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの側面説明図である。
【図６】図１乃至図３に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタの背面説明図である。
【図７】図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている一方のコンタクトを正面上方側から見たときの外観斜視説明図である。
【図８】図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている他方のコンタクトを正面上方側から見たときの外観斜視説明図である。
【図９】図１乃至図６に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている双方のコンタクト同士の配置関係を正面上方側から見たときの外観斜視説明図である。
【図１０】図３中の A−A 線に沿った縦断面説明図である。
【図１１】図１０に相当する図であって、相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入される直前の状態を表した縦断面説明図である。
【図１２】図１１の状態から相手コネクタ（検査用プラグコネクタ）が挿入された状態を表した縦断面説明図である。
【図１３】図１乃至図１２に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている他方のコンタクトの構造を表した平面説明図である。
【図１４】図１３に示されている他方のコンタクトを横方向から見たときの側面説明図である。
【図１５】図１０中のＢ部を拡大して表した部分縦断面説明図である。
【図１６】図１乃至図１２に示された本発明の一実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタに用いられている一方のコンタクトの構造を表した平面説明図である。
【図１７】図１６に示されている一方のコンタクトを横方向から見たときの側面説明図である。
【図１８】図１２中のＣ部を拡大して表した部分縦断面説明図である。
【図１９】図１８に示されている一方のコンタクトの取り付け状態を拡大して表した正面説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明にかかるスイッチ付同軸コネクタを回路検査スイッチとして採用した実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２１】
［回路検査スイッチの全体構造について］
まず、図１〜図６及び図１０〜１２に示された本発明の第１の実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタ１０は、図示を省略した配線基板上に実装されるものであって、当該スイッチ付同軸コネクタ１０に対して、相手コネクタとしての検査用プラグコネクタ２０（図１１及び図１２参照）が上方側から嵌合され、又は上方側に向かって抜出される構成になされている。すなわち、そのスイッチ付同軸コネクタ１０の上方側に配置された検査用プラグコネクタ２０が、作業者の手で把持されながら下方側のスイッチ付同軸コネクタ１０に向かって適宜の力で押し込まれ、それによって両コネクタ同士が嵌合された装着状態になされる。また、その両コネクタの装着状態から検査用プラグコネクタ２０を把持して上方側に適宜の力で引き上げれば、当該検査用プラグコネクタがスイッチ付同軸コネクタ１０から上方に離脱して抜出が行われる。なお、検査用プラグコネクタ２０は作業者の手で挿抜されることに限らず、機械によって自動的に挿抜されてもよい。以下、この検査用プラグコネクタの挿入方向及び抜出方向を、それぞれ「下方向」及び「上方向」とする。
【００２２】
このような回路検査スイッチの組立体を構成しているスイッチ付同軸コネクタ１０は、例えば携帯電話等の電子機器に設けられた電子回路基板（図示省略）上に半田付けにより実装されて使用され、その電子機器に設けられた電子回路を、例えば機器本体側とアンテナ側とを分断又は接続するように配置される。
【００２３】
［絶縁ハウジングの構成について］
図１０〜図１２にも示されているように、上述したスイッチ付同軸コネクタ１０の本体部を構成している絶縁ハウジング１１は、プラスチック等の樹脂材を用いて例えばモールド成形されたものであって、平面略矩形状の板状部材からなるベース枠体部１１ａと、そのベース枠体部１１ａの上面中央部分に配置された挿入ガイド部１１ｂとを一体的に有している。
【００２４】
挿入ガイド部１１ｂは、上述したベース枠体部１１ａの上側表面から略円筒状をなして上方に立ち上がるように形成されている。この挿入ガイド部１１ｂの内周側表面は、略すり鉢状をなすように形成されており、当該挿入ガイド部１１ｂの上端縁部分に形成された円環状外縁部から、中心部分に相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴１１ｃの上面側開口部に向かって斜め下方に延在する傾斜ガイド面１１ｄが形成されている。この傾斜ガイド面１１ｄは、前述した検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ２０ａをプローブ挿入穴１１ｃに向かって案内する機能を有するものであって、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａがプローブ挿入穴１１ｃの真上に配置されていない場合であっても、傾斜ガイド面１１ｄの傾斜面上にプローブの先端部が当接されれば、プローブ２０ａの先端部が傾斜ガイド面１１ｄに沿って下方に滑り落ちるように移動され、プローブ挿入穴１１ｃまで円滑に案内されるようになっている。
【００２５】
相手挿入穴として設けられたプローブ挿入穴１１ｃは、上述したように挿入ガイド部１１ｂの上端開口部からベース枠体部１１ａの中心軸に沿って下方に延出しており、絶縁ハウジング１１の正面と背面との間を貫通するように設けられたコンタクト挿入通路に対して上方側から開口するように設けられている。このプローブ挿入穴１１ｃは、後述する一方のコンタクト１２の頂上に位置するように配置されていて、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａを挿入可能とする内径を有する大きさの平面略円形状をなすように形成されている。また、当該プローブ挿入穴１１ｃの上面側開口部の周囲には、上述した挿入ガイド部１１ｂが略同心状をなすように配置されている。
【００２６】
［コンタクトの構成について］
一方、図７〜図１０にも示されているように、絶縁ハウジング１１のベース枠体部１１ａに設けられたコンタクト挿入通路の内部には、信号伝送用の第１コンタクト（一方のコンタクト）１２、及び第２コンタクト（他方のコンタクト）１３が、上述した検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）２０の挿入・抜去の方向（上下方向）に対して略直交する水平方向に、互いに対向するように挿入されて取り付けられている。以下、これらの第１コンタクト１２及び第２コンタクト１３同士が対向する方向を、単に「コンタクト対向方向」と呼び、また、各コンタクト１２，１３が互いに向かっている方向を「前方」、その反対方向を「後方」とする。
【００２７】
これらの第１コンタクト１２及び第２コンタクト１３は、いわゆるコンタクト対を構成するものであって、絶縁ハウジング１１の正面・背面の両端面側からコンタクト挿入通路の内部に対面するように挿入され、それら両コンタクト１２，１３同士が互いに弾性的に接触した状態となるように絶縁ハウジング１１に取り付けられている。このときの両コンタクト１２，１３同士の接触状態は、後述するように検査用プラグコネクタ２０の嵌合によって解除されて離間状態になされる。
【００２８】
ここで、上述した第１コンタクト１２及び第２コンタクト１３は、共に可撓性を有する弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａを有しているが、それらの両弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａは、後述するようにほぼ固定状態に保持された支持基板１２ｂ，１３ｂから、コンタクト対向方向である前方に向かって片持ち状に延出している。これらの弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの構造については後段において詳細に説明する。
【００２９】
支持基板１２ｂ，１３ｂは、特に図７及び図９に示されているように、略水平に延在する板状部材から形成されており、当該支持基板１２ｂ，１３ｂの両側縁部、すなわちコンタクト対向方向と直交する板幅方向の両端部からは、絶縁ハウジング１１に対する固定部としての固定片１２ｃ，１３ｃが、両側外方に向かって略水平に延出している。これらの固定片１２ｃ，１３ｃは、絶縁ハウジング１１の壁面に溝状をなすように凹設された固定溝部に対して圧入される構成になされており、絶縁ハウジング１１に対する当該固定片１２ｃ，１３ｃの係合力によって、第１コンタクト１２，及び第２コンタクト１３の全体の保持が行われるようになっている。
【００３０】
また、上述した固定片１２ｃ，１３ｃが、前記支持基板１２ｂ，１３ｂと連結されている両部材同士の連結境界部分には、コンタクト対向方向に沿って延在する切欠き部１２ｄ，１３ｄがそれぞれ形成されている。それらの切欠き部１２ｄ，１３ｄは、上述した弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの根本部分を、前方側及び後方側の双方から後方側及び前方側に向かって所定の長さだけ切り込むように形成されている。
【００３１】
そのうちの固定片１３ｃ側に設けられた切欠き部１３ｄは、前方側及び後方側の双方が細幅の溝形状をなすように形成されているが、固定片１２ｃ側に設けられた切欠き部１２ｄは、前後で異なる形状になされている。具体的には、後方側に配置された切欠き部１２ｄが、細幅の溝形状をなすように形成されているのに対して、前方側に配置された切欠き部１２ｄは、前記支持基板１２ｂの前端部分のほぼ全幅にわたって略Ｕ字状に大きく後方側に窪むように形成されている。そして、これらの切欠き部１２ｄ，１３ｄが設けられていることによって、固定片１２ｃ，１３ｃと支持基板１２ｂ，１３ｂとの連結部分が細幅になされ、そのように細幅になされた分、つまり切欠き部１２ｄ，１３ｄが備えている長さ分にわたって、後述する弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａのスパン長が実質的に拡大された構成になされている。
【００３２】
すなわち、本実施形態においては、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａが、支持基板１２ｂの後方側の端縁部から略Ｕ字状に折曲げ形成された折返し部１２ａ１を介在して相手側の第２コンタクト１３側に延出する構成になされているため、当該弾性ビーム状部材１２ａの実質的なスパン長は、特に後方側の切欠き部１２ｄが設けられることにより拡大されている。これに対して、第２のコンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａについては、支持基板１３ｂの前端縁部から相手側の第１コンタクト１２に向かって直接的に延出する構成になされているため、特に前方側の切欠き部１３ｄが形成されていることで当該弾性ビーム状部材１３ａの実質的なスパン長が拡大されている。従って、仮に、第１コンタクト１２が、支持基板１２ｂの前端縁部から相手側の第２コンタクト１３に向かって直接的に延出する構成になされている場合には、前方側の切欠き部１２ｄを形成すれば良い。
【００３３】
さらに、上述した支持基板１２ｂ，１３ｂにおいては、弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａが突出している端縁部と反対側の端縁部分、すなわち第１コンタクト１２の支持基板１２ｂでは前端縁部分、また第２コンタクト１３の支持基板１３ｂでは後端縁部分のそれぞれが、下方に向かって略直角に折り曲げ形成されており、その略直角下方折り曲げ部分の下端部分から、基板接続部１２ｅ，１３ｅが略水平に延出している。第１コンタクト１２側に設けられた基板接続部１２ｅは、コネクタ対向方向と反対側の後方側に向かって延出しているとともに、第２コンタクト１３側に設けられた基板接続部１３ｅは、コネクタ対向方向である前方側に向かって延出している。そして、これらの基板接続部１２ｅ，１３ｅの下面が、上述した配線基板上に設けられた信号伝送用の導電路に半田接合されることで実装が行われるようになっている。
【００３４】
ここで、前述した第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａ、及び第２コンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａは、互いに近接するように突出する片持ち状の帯状バネ部材から形成されている。そのうちの第２コンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａは、上述した支持基板１３ｂの前端縁部から、相手側の第１コンタクト１２に向かって直接的に延出する構成になされている。一方、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａは、支持基板１２ｂの後方側の端縁部から、略Ｕ字状に折曲げ形成された折返し部１２ａ１を介在して相手側の第２コンタクト１３側に延出する構成になされている。
【００３５】
より具体的に説明すると、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａは、上述した折返し部１２ａ１から延出する水平延在部１２ａ２が、支持基板１２ｂの上方位置をコネクタ対向方向である前方側に向かって略水平に延びており、その水平延在部１２ａ２の前方側に、斜め下方に向かって折り曲げられたクランク部１２ａ３が一体的に連接され、さらにそのクランク部１２ａ３を介して、メインビーム部１２ａ４がコネクタ対向方向である前方側に向かって延出する構成になされている。このような弾性ビーム状部材１２ａの全体は、折返し部１２ａ１又はその近傍を支点とした弾性的な可撓性を有しており、前記支点を中心として上下方向に揺動される構成になされている。
【００３６】
このとき、当該弾性ビーム状部材１２ａの水平延在部１２ａ２は、上述した絶縁ハウジング１１に設けられたコンタクト挿入通路の上壁面に沿って延在するように配置されているが、その弾性ビーム状部材１２ａの水平延在部１２ａ２と、絶縁ハウジング１１の挿入通路の上壁面との間には、弾性ビーム状部材１２ａの可撓性を確保する隙間Ｓ１が設けられている。
【００３７】
また、弾性ビーム状部材１２ａに設けられたクランク部１２ａ３は、当該弾性ビーム状部材１２ａの延出方向の途中位置から、前述した検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）２０の挿入方向である下方側に向かって斜めに折れ曲がって延出しており、その斜め下方の延出端である下端部から、検査用プラグコネクタ２０の挿入方向と反対方向である上方側に斜めに折れ曲がるように構成されている。そして、そのようなクランク部１２ａ３によって、弾性ビーム状部材１２ａの途中部分に下降段差が形成され、弾性ビーム状部材１２ａ全体の弾性が高められている。
【００３８】
さらに、その第１コンタクト１２に設けられたクランク部１２ａ３の下端部からは、コネクタ対向方向である前方側に向かって斜め上方に、上述したメインビーム部１２ａ４が略直線状に延在している。そのメインビーム部１２ａ４の延出側の先端部分には、接点部が設けられており、当該第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａに設けられた接点部が、後述する第２コンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａに設けられた接点部に対して下方側から接触されている。これらの両接点部は、両弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの弾性付勢力によって弾性的な接触が行われる。
【００３９】
また、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａを構成しているメインビーム部１２ａ４は、前述したプローブ挿入穴１１ｃの直下位置を延在するように配置されており、当該プローブ挿入穴１１ｃの下端開口部が、メインビーム部１２ａ４の途中部分に上方側から臨む位置関係になされている。そして、特に図１１及び図１２に示されているように、検査用プラグコネクタ２０が上方側から嵌合され、当該検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａがプローブ挿入穴１１ｃを通してコネクタ内部に挿入されると、プローブ挿入穴１１ｃから下方に突出したプローブ２０ａが、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａを構成しているメインビーム部１２ａ３の途中部分に上方側から当接する。さらに、検査用プラグコネクタ２０が下方に押し下げられると、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａに設けられた接点部が、プローブ２０ａの押圧力によって、第２コンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａに設けられた接点部から下方に離間されるようになっている。
【００４０】
このとき、第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａを構成しているメインビーム部１２ａ４の途中位置、すなわち検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａが当接する位置には、当該検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａが上方側から接触する貫通穴１２ａ５がスリット状をなすように形成されている。この貫通穴１２ａ５は、メインビーム部１２ａ４の長手方向に沿って細長状に延在する長穴から形成されており、上述したプローブ挿入穴１１ｃの直下位置から前後方向に延在するように設けられている。
【００４１】
このように第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａを構成しているメインビーム部１２ａ４に貫通穴１２ａ５を設けておけば、検査用プラグコネクタ２０が嵌合されていないときに開放状態にあるプローブ挿入穴（相手挿入穴）１１ｃを通して内部に進入するゴミ等の塵埃が、特にメインビーム部１２ａ４の傾斜面に沿って下方に案内されていき、貫通穴１２ａ５を通して排出される。その結果、第１コンタクト１２や第２コンタクト１３の上に塵埃が蓄積することがなくなり、第１コンタクト１２と第２コンタクト１３との電気的な導通性が塵埃により妨げられるおそれが低減される。
【００４２】
また、上述した貫通穴１２ａ５の開口縁部には、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａに接触する傾斜面が設けられており、当該貫通穴１２ａ５の開口縁部が、検査用プラグコネクタ２０のプローブ２０ａの先端側部分に形成された湾曲面に対して略接線方向に接触して、当該貫通穴１２ａ５の対角線方向の両側からプローブ２０ａと多点的に当接されるようになっている。
【００４３】
このような構成としておけば、検査用コネクタ２０のプローブ２０ａと第１コンタクト１２との電気的な接続が良好に行われるとともに、貫通穴１２ａ５を通して排出される塵埃が、貫通穴１２ａ５の傾斜面によって円滑に案内される。また、検査用コネクタ２０のプローブ２０ａが第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａに接触した際の応力が、第１コンタクト１２の固定片１２ｃの一部に集中することなく分散されることとなり、第１コンタクト１２の使用耐久性が向上される。
【００４４】
一方、第２コンタクト１３の弾性ビーム状部材１３ａは、図８，図１０に示されているように、前述したように支持基板１３ｂの前端縁部から相手側の第１コンタクト１２に向かって直接的に延出する構成になされているが、コネクタ対向方向の前方側に向かって略水平に延在した後に斜め下方に折り曲げられている。そして、当該弾性ビーム状部材１３ａの全体は、支持基板１３ｂとの連結部又はその近傍を支点とした弾性的な可撓性を有しており、前記支点を中心として上下方向に揺動される構成になされている。
【００４５】
この弾性ビーム状部材１３ａの水平延在部分は、上述した絶縁ハウジング１１に設けられたコンタクト挿入通路の上壁面に沿って延在するように配置されているが、その弾性ビーム状部材１３ａの水平延在部分と、絶縁ハウジング１１の挿入通路の上壁面との間には、弾性ビーム状部材１３ａの可撓性を確保する隙間Ｓ２が設けられている。
【００４６】
さらに、この第２コンタクト１３における弾性ビーム状部材１３ａの前端部分は、上述したように斜め下方折れ曲がって延出しているが、その斜め下方の延出側の先端部分に設けられた接点部が、前述したように第１コンタクト１２の弾性ビーム状部材１２ａに設けられた接点部に対して、上方側から接触されている。このときの両接点部は、両弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの弾性付勢力によって弾性的な接触が行われる構成になされている。
【００４７】
このような構成を有する本実施形態にかかるスイッチ付同軸コネクタ１０によれば、第１コンタクト１２に設けられたクランク部１２ａ３、及び第１及び第２のコンタクト１２，１３の双方に設けられた切欠き部１２ｄ，１３ｄによって、相手コネクタである検査用プラグコネクタ２０の押圧力に対する弾性が高められるとともに、絶縁ハウジング１１との間に設けられた隙間Ｓ１，Ｓ２によって第１及び第２のコンタクト１２，１３の双方に可撓性が確保されることとなり、コネクタの小型化・低背化が行われた場合でも、コンタクト１２，１３の永久変形が防止される。
【００４８】
特に、本実施形態においては、固定片１２ｃ，１３ｃに設けられた切欠き部１２ｄ，１３ｄの長さにわたって、第１及び第２のコンタクト１２，１３を構成している弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの実質的なスパン長が拡大されていることから、当該弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの弾性がより高められている。また、それらの弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの撓み支点が、固定片１２ｃ，１３ｃの長さ方向の範囲内に位置していることから、固定片１２ｃ，１３ｃによる弾性ビーム状部材１２ａ，１３ａの保持性が向上される。
【００４９】
また、本実施形態においては、第１及び第２のコンタクト１２，１３の双方に設けられた固定片１２ｃ，１３ｃが、略水平方向に延在した状態で絶縁ハウジング１１に固定されているため、検査用プラグコネクタ２０に設けられたプローブ２０ａの挿入方向における第１及び第２のコンタクト１２，１３の支持性が向上されており、電気的接触部における位置精度が向上し、両コンタクト１２，１３の振れ安定性が改善されるとともに、検査用プラグコネクタ２０及び両コンタクト１２，１３同士の押圧力に対して、第１及び第２のコンタクト１２，１３の位置ズレが防止される。
【００５０】
加えて、本実施形態においては、第１のコンタクト１２を構成している弾性ビーム状部材１２ａが、第２のコンタクト１３を構成している弾性ビーム状部材１３ａに対して掬い上げるように接触し、検査用プラグコネクタ２０の挿入・離脱時に、第１及び第２のコンタクト１２，１３の双方に設けられた接点部同士が摺接するようにして接触することから、電気的な接触状態が良好に維持されるとともに、両コンタクト１２，１３同士の、いわゆるワイピング作用によって、接点部における清浄性が向上される。
【００５１】
［導電性シェルについて］
一方、図１〜図６にも示されているように、上述した絶縁ハウジング１１の上面側表面には、薄板状の導電性部材からなる導電性シェル１４が上方側から覆うようにして装着されている。この導電性シェル１４は、絶縁ハウジング１１の上面側から挿入ガイド部１１ｂの外周面の一部を覆うように装着されているが、この導電性シェル１４が絶縁ハウジング１１の上面側表面を覆っている上面基板１４ａが平面略矩形状をなすように形成されている。
【００５２】
その導電性シェル１４における略矩形状をなす上面基板１４ａの中央部分には、上述した絶縁ハウジング１１の挿入ガイド部１１ｂを外方側から覆うグランド端子部１４ｂが略中空円筒状をなすようにして一体に設けられている。このグランド端子部１４ｂの外周表面には、円環状をなす固定係止溝１４ｃが凹設されており、その固定係止溝１４ｃに対して、前述した検査用プラグコネクタ２０の導電性シェルに設けられた係合突部２０ｂが嵌め込まれ、それによってスイッチ付同軸コネクタ１０に検査用プラグコネクタ２０が適宜の嵌合力で連結された状態に維持されるようになっている。
【００５３】
また、上述した導電性シェル１４の上面基板１４ａにおける略矩形状の四隅部分には、下方に向かって垂れ下がるように延在する基板接続部１４ｄがそれぞれ連設されている。それら４体の基板接続部１４ｄのうち、前述した第１コンタクト１２と第２コンタクト１３との対向方向に隣接する２体の基板接続部１４ｄ，１４ｄ同士は、一体的に連結されていて、それら一体連結された一方側の基板接続部１４ｄ，１４ｄと、他方側の基板接続部１４ｄ，１４ｄとが、第１コンタクト１２と第２コンタクト１３とからなるコンタクト対を両側から挟むように配置されている。そして、それらの各基板接続部１４ｄの先端部分を形成する半田接合片１４ｆが、図示を省略した配線基板上のグランド用導電路に半田接合されることによって、グランド接続が行われるとともに、スイッチ付同軸コネクタ１０の全体の保持が行われるようになっている。
【００５４】
このとき、それらの各基板接続部１４ｄは、上述した上面基板１４ａの端縁から下方に向かって湾曲形状をなすように延在しており、２体の基板接続部１４ｄ，１４ｄ同士の連結方向と直交する方向における横断面形状が、略Ｓ字又は略Ｚ字形状をなすように湾曲形成されている。
【００５５】
この導電性シェル１４に設けられた基板接続部１４ｄの形状を具体的に説明すると、当該基板接続部１４ｄは、上述した上面基板１４ａの端縁からコネクタ内方側に向かって斜め下方に窪むように延出する逆テーパ状の傾斜壁面を有しているとともに、その傾斜壁面の下端部から、再びコネクタ外方に向かって略水平に突出する水平壁面を有している。そして、その基板接続部１４ａに設けられた逆テーパ状の傾斜壁面と水平壁面とによって、前述した第２コンタクト１３及び第１コンタクト１２側に向かって窪む凹部１４ｅが画成されており、当該凹部１４ｅが、基板接続部１４ｄに窪むように設けられた構成になされている。また、上述した基板接続部１４ａの水平壁面によって、配線基板上に半田接合される半田接合片１４ｆが形成された構成になされている。
【００５６】
このように基板接続部１４ａに凹部１４ｅを窪ませるようにして設けておけば、導電性シェル１４の基板接続部１４ａに対して使用した半田材の余剰分やフラックスが、基板接続部１４ａや導電性シェル１４の他の壁面に沿って這い上がろうとしても、その這い上がろうとする半田材の余剰分やフラックスが凹部１４ｅの内部に蓄えられる。また、その凹部１４ｅの壁面を構成する逆テーパ状の傾斜壁面によって、半田材やフラックスの這い上がり作用力が低減されることとなる。さらに、当該凹部１４ｅの壁面が湾曲状に延在していることによって、半田材及びフラックスの這い上がり長さが延長されることとなり、いわゆる半田上がり良好に防止されて、電気的な導通状態への影響が大幅に低減される。
【００５７】
また、本実施形態にかかる導電性シェル１４の基板接続部１４ａには、前述したように凹部１４ｅからコネクタ外方に向かって延出する半田接合片１４ｆを有していることから、基板接続部１４ａの半田接合片１４ｆに対する半田材の接合状態が、作業者によって直ちに目視されることとなって作業効率が向上される。
【００５８】
このとき、本実施形態にかかる半田接合片１４ｆの先端部は、上述した導電性シェル１４の最大外形である上面基板１４ａの幅方向寸法と同一か、ややコネクタ内方側に位置している。このような構成によって、当該半田接合片１４ｆに対する半田付け作業に支障を与えることなく全体の小型化が可能となっている。
【００５９】
以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本実施形態は上述した実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形可能であるというのはいうまでもない。
【００６０】
例えば、上述した実施形態においては、クランク部を第１コンタクトのみに設けているが、双方のコンタクトに設けるようにしても良い。
【００６１】
また、上述した実施形態においては、第１コンタクトに貫通穴を設けているが、全体の配置関係に応じて、第２コンタクトに貫通穴を設けるようにしても良い。
【００６２】
さらに、本発明は、上述した実施形態のような回路検査スイッチ以外の用途に用いられるスイッチ付同軸コネクタに対しても同様に適用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
以上のように本発明は、各種電子・電気機器に使用される多種多様なスイッチ付同軸コネクタに対して広く適用することが可能である。
【符号の説明】
【００６４】
１０  スイッチ付同軸コネクタ
１１  絶縁ハウジング
１１ａ  ベース枠体部
１１ｂ  挿入ガイド部
１１ｃ  プローブ挿入穴（相手挿入穴）
１１ｄ  傾斜ガイド面
１２  第１コンタクト
１２ａ  弾性ビーム状部材
１２ａ１  折返し部
１２ａ２  水平延在部
１２ａ３  クランク部
１２ａ４  メインビーム部
１２ａ５  貫通穴
１２ｂ  支持基板
１２ｃ  固定片
１２ｄ  切欠き部
１２ｅ  基板接続部
Ｓ１  隙間
１３  第２コンタクト
１３ａ  弾性ビーム状部材
１３ｂ  支持基板
１３ｃ  固定片
１３ｄ  切欠き部
１３ｅ  基板接続部
Ｓ２  隙間
１４  導電性シェル
１４ａ  上面基板
１４ｂ  グランド端子部
１４ｃ  固定係止溝
１４ｄ  基板接続部
１４ｅ  凹部
１４ｆ  半田接合片
２０  検査用プラグコネクタ（相手コネクタ）
２０ａ  プローブ
２０ｂ  係合突部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
0005532041.tif 000017
【図１７】
0005532041.tif 000018
【図１８】
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【図１９】
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