(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、を備え、
前記複数の測定手段のそれぞれには、発振周波数が変更可能な局部発振器と、前記局部発振器から出力される局部発振信号と入力端子から入力される信号とを混合して出力するミキサとが含まれており、
前記局部発振器からは前記局部発振器の動作状態を示す状態信号が出力され、
前記掃引制御手段は、前記状態信号によって動作可能状態であることが通知された前記局部発振器が含まれる前記測定手段に対して周波数掃引動作の制御を行う周波数特性測定装置。
【請求項２】
複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、を備え、
前記掃引制御手段は、
前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
を備える周波数特性測定装置。
【請求項３】
複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、を備え、
前記掃引制御手段は、
前記複数のトリガ信号を重複しないように選択する複数の選択手段と、
前記複数の選択手段によって選択された複数の前記トリガ信号のそれぞれに同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
を備える周波数特性測定装置。
【請求項４】
請求項１において、
前記掃引制御手段は、
前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての前記状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、前記複数の掃引手段への前記トリガ信号の入力を許可するトリガ入力制限手段と、
を備える周波数特性測定装置。
【請求項５】
請求項４において、
前記複数の掃引手段のそれぞれは、前記複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての前記状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する動作を行う周波数特性測定装置。
【請求項６】
複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、を備え、
前記掃引制御手段は、
前記複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、
前記選択手段によって選択された一つの前記トリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、
前記複数の測定手段の一部に対して、前記トリガ信号の入力タイミングを所定時間遅らせる遅延手段と、
を備える周波数特性測定装置。
【請求項７】
複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、
前記複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、
前記トリガ制御手段から出力される前記複数のトリガ信号に同期して、前記複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段と、を備え、
前記複数の測定手段のそれぞれには、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって構成された局部発振器が備わっており、
前記掃引制御手段は、前記可変分周器の分周比を変化させることにより周波数掃引動作の制御を行う周波数特性測定装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記局部発振器には、周波数可変範囲が異なる複数の前記ＶＣＯが備わっており、
複数の前記ＶＣＯが切り替えられる周波数特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スペクトラムアナライザ等において入力信号の周波数特性等を測定する周波数特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から周波数掃引を行うことにより入力信号の周波数特性を測定するスペクトラムアナライザが知られている（例えば、特許文献１参照。）。このスペクトラムアナライザは２系統の入力端子を有し、いずれかの入力端子から入力される信号の周波数特性を測定する。測定された周波数特性は表示部に表示される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−２３３８７５号公報（第３−４頁、図１−２）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、特許文献１等に開示された従来のスペクトラムアナライザは、２つの入力端子を有するが、周波数特性の測定は一方の入力端子から入力される信号について行われる。したがって、２種類の信号について同時に周波数特性を測定しようとすると、２台のスペクトラムアナライザや、これらの測定を同期させるためのトリガ信号を発生する外付けのトリガ装置が必要になり、測定のための構成が複雑になるとともに測定に手間がかかるという問題があった。また、２種類の信号の周波数特性を比較する方法としては、それぞれの測定結果を印刷して比較する方法が考えられるが、この方法では正確な解析が難しいという問題があった。あるいは、２種類の信号の周波数特性を比較する他の方法としては、測定によって得られた２種類の信号の周波数特性を外部の解析装置（外部コンピュータ）に取り込んでデータ処理を行って比較する方法が考えられるが、そのために解析装置を用意して測定とは別に解析作業をする必要があるため、さらに測定のための構成が複雑になるとともに測定に手間がかかるという問題があった。【０００５】
本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる周波数特性測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決するために、本発明の周波数特性測定装置は、複数の入力信号のそれぞれに対して別々に周波数特性を測定する複数の測定手段と、複数の測定手段のそれぞれにおける測定開始タイミングを指定する複数のトリガ信号を出力するトリガ制御手段と、トリガ制御手段から出力される複数のトリガ信号に同期して、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する掃引制御手段とを備えている。これにより、内部で発生したトリガ信号に同期するように複数の入力信号に対する測定を並行して行うことが可能となり、外付けする装置が不要になるため、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる。【０００７】
上述した複数の測定手段には、発振周波数が変更可能な局部発振器と、局部発振器から出力される局部発振信号と入力端子から入力される信号とを混合して出力するミキサとが含まれており、局部発振器からは局部発振器の動作状態を示す状態信号が出力され、掃引制御手段は、状態信号によって動作可能状態であることが通知された局部発振器が含まれる測定手段に対して周波数掃引動作の制御を行う。これにより、周波数掃引が可能な状態を確認して周波数掃引制御を行うことができる。
【０００８】
あるいは、上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段とを備える。これにより、複数の測定手段における周波数掃引の開始タイミングを一致させることができ、容易に周波数特性の測定タイミングを合わせることができる。
【０００９】
あるいは、上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号を重複しないように選択する複数の選択手段と、複数の選択手段によって選択された複数のトリガ信号のそれぞれに同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段とを備える。これにより、複数の周波数特性測定装置を用いる場合のように、複数系統の測定動作を独立して行うことができる。
【００１０】
上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、複数の掃引手段へのトリガ信号の入力を許可するトリガ入力制限手段とを備えることが望ましい。これにより、全ての測定手段における周波数掃引が可能な場合に各掃引手段にトリガ信号が入力されるため、より確実に、２系統の測定を同時に開始することができる。【００１１】
上述した複数の掃引手段のそれぞれは、複数の測定手段のそれぞれに対応する全ての状態信号が動作可能状態であることを示す場合に、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を制御する動作を行うことが望ましい。これにより、一部の測定手段における周波数掃引の実施が不可能なときに、全ての測定手段における周波数掃引を停止することができるため、複数の測定手段における測定開始タイミングだけでなく周波数掃引途中の動作タイミングも確実に合わせることが可能となる。【００１２】
あるいは、上述した掃引制御手段は、複数のトリガ信号のいずれかを選択する選択手段と、選択手段によって選択された一つのトリガ信号が入力され、このトリガ信号に同期させて、複数の測定手段のそれぞれにおける周波数掃引動作を個別に制御する複数の掃引手段と、複数の測定手段の一部に対して、トリガ信号の入力タイミングを所定時間遅らせる遅延手段とを備える。これにより、複数の掃引手段にトリガ信号を入力するタイミングを正確に所定時間だけずらすことができ、複数系統の測定を行う際に掃引を開始するタイミングを正確にずらすことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。
【図２】ケース１に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
【図３】ケース１に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
【図４】ケース２に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
【図５】ケース３に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
【図６】ケース４に対応する掃引制御部の詳細構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を適用した一実施形態の周波数特性測定装置としてのスペクトラムアナライザについて、図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、一実施形態のスペクトラムアナライザの構成を示す図である。図１に示すように、本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、ミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部（中間周波処理部）１２０、２２０、掃引制御部３００、トリガ制御部３５０、ＣＰＵ４００、表示部４１０、操作部４２０を含んで構成されている。
【００１５】
本実施形態のスペクトラムアナライザ１０は、被測定信号が入力される２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２と外部トリガ信号が入力されるトリガ端子ＴＧとを備える。このスペクトラムアナライザ１０は、これら２つの入力端子ＩＮ１、ＩＮ２に入力される２つの被測定信号ｆin１、ｆin２の周波数特性を同時に測定し、測定結果としてのスペクトラムを表示する。
【００１６】
一方の入力端子ＩＮ１から入力される被測定信号ｆin１の周波数特性を測定するために、スペクトラムアナライザ１０には、ミキサ１１０、局部発振器１１２、ＩＦ部１２０が備わっている。ミキサ１１０は、一方の入力端子ＩＮ１から入力された被測定信号ｆin１と、局部発振器１１２から出力される局部発振信号ｆOSC1とが入力されており、これらの被測定信号ｆin１と局部発振信号ｆOSC1とを混合した信号を出力する。局部発振器１１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC1を出力する。例えば、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯ（電圧制御型発振器）を含むＰＬＬ回路によって局部発振器１１２が構成されている。また、局部発振器１１２から出力される局部発振信号の周波数可変範囲を広くするために、通常は周波数可変範囲が異なる複数のＶＣＯが用いられ、局部発振信号の周波数を一方向に変化させる際に、使用するＶＣＯの切り換え（バンド切り換え）が行われる。
【００１７】
ＩＦ部１２０は、ミキサ１１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って、被測定信号ｆin１の周波数特性の測定を行うものであり、中間周波フィルタ１２２、ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）１２４、ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）１２６を含んでいる。中間周波フィルタ１２２は、ミキサ１１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ１２４は、中間周波フィルタ１２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ１２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値（例えば信号レベルやビットエラー率など）を測定する。具体的には、ＤＳＰ１２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
【００１８】
同様に、他方の入力端子ＩＮ２から入力される被測定信号ｆin２の周波数特性を測定するために、ミキサ２１０、局部発振器２１２、ＩＦ部２２０が備わっている。ミキサ２１０は、他方の入力端子ＩＮ２から入力された被測定信号ｆin２と、局部発振器２１２から出力される局部発振信号ｆOSC2とが入力されており、これらの被測定信号ｆin２と局部発振信号ｆOSC2とを混合した信号を出力する。局部発振器２１２は、発振周波数が所定範囲で掃引可能な局部発振信号ｆOSC2を出力する。局部発振器１１２と同様に、例えば、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯ（電圧制御型発振器）を含むＰＬＬ回路によって局部発振器２１２が構成されている。また、局部発振器２１２から出力される局部発振信号の周波数可変範囲を広くするために、通常は周波数可変範囲が異なる複数のＶＣＯが用いられ、局部発振信号の周波数を一方向に変化させる際に、使用するＶＣＯの切り換え（バンド切り換え）が行われる。
【００１９】
ＩＦ部２２０は、ミキサ２１０の出力信号に対してアナログおよびデジタルの信号処理を行って、被測定信号ｆin２の周波数特性の測定を行うものであり、中間周波フィルタ２２２、ＡＤＣ２２４、ＤＳＰ２２６を含んでいる。中間周波フィルタ２２２は、ミキサ２１０の出力信号から所定の中間周波数成分（中間周波信号）のみを通過させる帯域通過フィルタである。ＡＤＣ２２４は、中間周波フィルタ２２２から出力される中間周波信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換する。ＤＳＰ２２６は、デジタルデータに変換された中間周波信号に対して各種の信号処理を行うことにより、この中間周波信号の特性値を測定する。具体的には、ＤＳＰ２２６によって、中間周波信号に対する検波処理やイメージ除去処理などが行われる。
【００２０】
なお、上述した説明では周波数特性の測定に必要な概略的な構成のみが示されている。実際には、入力端子ＩＮ１とミキサ１１０の間や入力端子ＩＮ２とミキサ２１０の間には減衰器が備わっており、信号レベルの調整が行われる。また、実際には、ミキサと局部発振器を１組あるいは複数組追加することによってイメージ除去処理が行われる。また、周波数測定に必要な構成は、適宜要求仕様に合わせて変更することができる。
【００２１】
掃引制御部３００は、２種類のトリガ信号Ｔ１、Ｔ２と、局部発振器１１２、２１２のそれぞれから出力されるＬＯ１redy、ＬＯ２redy信号とが入力されており、２つの局部発振器１１２、２１２のそれぞれに掃引信号Ｓ１、Ｓ２を送って、これら２つの局部発振器１１２、２１２のそれぞれに対して掃引制御を行う。ここで、ＬＯ１redy信号は、局部発振器１１２の動作状態を示す信号であり、例えば掃引動作可能な状態（イネーブル状態）になったときにハイレベルになる。例えば、周波数掃引中にＶＣＯを切り換えるバンド切り換えが行われる場合を考えると、このバンド切り換え中はＬＯ１redy信号がローレベルになり、バンド切り換えが終了した時点でＬＯ１redy信号が再びハイレベルになる。ＬＯ２redy信号についても同様である。
【００２２】
トリガ制御部３５０は、測定の開始を指示するトリガ信号Ｔ１、Ｔ２を発生する。これらのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２は、トリガ端子ＴＧに入力される外部トリガ信号や、ＩＦ部１２０、２２０から出力されるＩＦトリガ信号あるいはビデオトリガ信号などに同期して生成される。
【００２３】
ＣＰＵ４００は、スペクトラムアナライザ１０の全体を制御するとともに、ＩＦ部１２０、２２０から出力される２つの測定結果（特性値）を表示部４１０に同時に表示したり、操作部４２０を用いた利用者の指示に応じて測定条件を設定する処理を行う。操作部４２０は、利用者によって操作される複数のスイッチや操作ボリューム等を備えている。操作部４２０に備わったスイッチや操作ボリューム等を操作することにより、測定条件の設定や測定開始、終了等の指示が利用者によって行われる。
【００２４】
次に、トリガ制御部３５０から出力されるトリガ信号Ｔ１、Ｔ２に基づいて掃引制御部３００によって掃引信号Ｓ１、Ｓ２を生成する具体例について説明する。例えば、以下に示す４つのケース（ケース１−４）を実現する掃引制御部３００の具体例について説明する。
【００２５】
（ケース１）
図２は、ケース１に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図２に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２および２つの切替部３２０、３２２を含んで構成されている。掃引部３１０は、局部発振器１１２の周波数を掃引するために必要な掃引信号Ｓ１を出力する。上述したように、可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって局部発振器１１２が構成されているものとすると、掃引制御部３１０は、この可変分周器の分周比を一方向に変化させる掃引動作の開始と終了を指示する掃引信号Ｓ１を生成して出力する。この掃引信号Ｓ１は、局部発振器１１２に入力される。また、掃引部３１０には、局部発振器１１２から入力されるＬＯ１redy信号と、切替部３２０を介して入力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）とが入力されている。掃引部３１０は、ＬＯ１redy信号がハイレベルのときにトリガ信号Ｔ１等が入力されると、掃引信号Ｓ１の出力を開始する。なお、掃引信号Ｓ１はＩＦ部１２０にも入力されており、掃引制御の開始と終了がＩＦ部１２０に通知される。
【００２６】
同様に、掃引部３１２は、局部発振器２１２の周波数を掃引するために必要な掃引信号Ｓ２を出力する。可変分周器、位相比較器、ＶＣＯを含むＰＬＬ回路によって局部発振器２１２が構成されているものとすると、掃引制御部３１２は、この可変分周器の分周比を一方向に変化させる掃引動作の開始と終了を指示する掃引信号Ｓ２を生成して出力する。この掃引信号Ｓ２は、局部発振器２１２に入力される。また、掃引部３１２には、局部発振器２１２から入力されるＬＯ２redy信号と、切替部３２２を介して入力されるトリガ信号Ｔ２（あるいはＴ１）とが入力されている。掃引部３１２は、ＬＯ２redy信号がハイレベルのときにトリガ信号Ｔ２等が入力されると、掃引信号Ｓ２の出力を開始する。なお、掃引信号Ｓ２はＩＦ部２２０にも入力されており、掃引制御の開始と終了がＩＦ部２２０に通知される。
【００２７】
切替部３２０は、２つのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２のいずれかを選択的に掃引部３１０に向けて出力する。また、切替部３２２は、２つのトリガ信号Ｔ１、Ｔ２のいずれかを選択的に掃引部３１２に向けて出力する。図２に示す例では、切替部３２０ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１０に入力されている。また、切替部３２２ではトリガ信号Ｔ２が選択されて掃引部３１２に入力されている。
【００２８】
このように２つの切替部３２０、３２２の切替状態（選択状態）を設定することにより、一方の入力端子ＩＮ１から入力される被測定信号ｆin１に対する周波数特性の測定をトリガ信号Ｔ１に同期して行うともに、他方の入力端子ＩＮ２から入力される被測定信号ｆin２に対する周波数特性の測定をトリガ信号Ｔ２に同期して行うことが可能になる。しかも、これら２系統の測定動作は、独立して行うことができる。
【００２９】
また、切替部３２０、３２２の切替状態を変更して、１つのトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）に同期して２系統の測定動作を行うこともできる。図３は、切替部３２２の切替状態を変更した場合の掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図３に示す構成は図２に示した構成と同じであって、切替部３２２の切替状態のみが変更されている。
【００３０】
図３に示す例では、切替部３２０ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１０に入力され、切替部３２２ではトリガ信号Ｔ１が選択されて掃引部３１２に入力されている。すなわち、同じトリガ信号Ｔ１が２つの切替部３２０、３２２によって選択されて２つの掃引部３１０、３１２に入力される。したがって、掃引部３１０、３１２から掃引信号Ｓ１、Ｓ２が出力されるタイミングが一致し、２系統の測定を一つのトリガ信号Ｔ１に同期して行うことが可能となる。これにより、例えば、バースト波の高調波成分を測定するときにそのＩＦレベル（中間周波信号のレベル）に応じて出力されるＩＦトリガ信号に同期した掃引制御を行うことが従来から行われているが、ＩＦレベルが小さくてＩＦトリガ信号が生成できない場合には、従来は掃引制御を行うことができなかった。しかし、図３に示す構成では、このようにＩＦレベルが小さい場合であっても、バースト波の基本波の測定をトリガ信号Ｔ１に同期して行うとともに、高調波を同じトリガ信号Ｔ１に同期して測定することが可能となる。
【００３１】
（ケース２）
図４は、ケース２に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図４に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、２つの切替部３２０、３２２、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４を含んで構成されている。図４に示す構成は、図３に示した構成に対して、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４が追加された点が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
【００３２】
アンド回路３３０は、切替部３２０と掃引部３１０の間に挿入されている。アンド回路３３０の一方の入力端には、切替部３２０から出力されるトリガ信号Ｔ１が入力され、他方の入力端にはアンド回路３３４の出力端が接続されている。また、アンド回路３３２は、切替部３２２と掃引部３１２の間に挿入されている。アンド回路３３２の一方の入力端には、切替部３２２から出力されるトリガ信号Ｔ１が入力され、他方の入力端にはアンド回路３３４の出力端が接続されている。アンド回路３３４は、２つの入力端のそれぞれにＬＯ１redy信号およびＬＯ２redy信号が入力されており、これらの論理積信号を出力する。すなわち、ＬＯ１redy信号およびＬＯ２redy信号がともにイネーブル状態（ハイレベル）のときにハイレベルの信号を出力する。
【００３３】
図４に示す例は、図３に示した例に比べると、トリガ信号Ｔ１が２つの掃引部３１０、３１２に入力される点で共通しているが、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときでないと２つの掃引部３１０、３１２へのトリガ信号Ｔ１の入力が行われない点が異なっている。すなわち、２つの局部発振器１１２、２１２の両方が動作可能な状態のときに限って２つの掃引部３１０、３１２にトリガ信号Ｔ１を入力し、２つの掃引部
３１０、３１２からトリガ信号Ｔ１に同期して同時に掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力することが可能になる。これにより、より確実に、２系統の被測定信号に対する測定を同時に開始することができる。
【００３４】
なお、上述した説明では、トリガ信号Ｔ１に同期して２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力するようにしたが、トリガ信号Ｔ２に同期して２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２を出力するようにしてもよい。
【００３５】
（ケース３）
図５は、ケース３に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図５に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、２つの切替部３２０、３２２、３つのアンド回路３３０、３３２、３３４を含んで構成されている。図５に示す構成は、図４に示した構成に対して、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号の入力経路が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
【００３６】
具体的には、図５に示す例は、図４に示した例に比べると、ＬＯ１redy信号に代えてアンド回路３３４の出力信号（ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号の論理積信号）が掃引部３１０に入力されている点と、ＬＯ２redy信号に代えてアンド回路３３４の出力信号が掃引部３１２に入力されている点が異なっている。すなわち、２つの掃引部３１０、３１２では、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときに限って動作可能になるとともに、ＬＯ１redy信号とＬＯ２redy信号がともにハイレベルのときに限ってトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）が入力される。これにより、例えば、一方の局部発振器１１２のみがバンド切り換えで動作不可能（ディスイネーブル状態）になった場合であっても、掃引部３１０からの掃引信号Ｓ１の出力と掃引部３１２からの掃引信号Ｓ２の出力を同時に停止して２系統の測定を同時に停止させ、その後、局部発振器１１２のバンド切り換えが終了したときにこれら２つの掃引信号Ｓ１、Ｓ２の出力を同じタイミングで再開して２系統の測定を同時に再開することができる。このように、２系統の測定開始タイミングだけでなく周波数掃引途中の動作タイミングも確実に合わせることが可能となる。
【００３７】
（ケース４）
図６は、ケース４に対応する掃引制御部３００の詳細構成を示す図である。図６に示す掃引制御部３００は、２つの掃引部３１０、３１２、切替部３２０、遅延部（Ｄ）３４０を含んで構成されている。図６に示す構成は、図２に示した構成に対して、切替部３２２を削除し、遅延部３４０を追加した点が異なっている。以下では、主にこの相違点に着目して説明する。
【００３８】
具体的には、切替部３２０から選択的に出力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）は、掃引部３１０に直接入力されるとともに、掃引部３１２に遅延部３４０を介して入力される。遅延部３４０は、入力されるトリガ信号Ｔ１（あるいはＴ２）を所定時間ｔ遅延した後に出力する。この時間ｔは所定範囲内で任意に設定可能であり、例えばＣＰＵ４００によって設定される。これにより、トリガ信号Ｔ１を掃引部３１０に入力するタイミングと掃引部３１２に入力するタイミングとを正確に時間ｔだけずらすことができ、２系統の測定を行う際に掃引を開始するタイミングを正確に時間ｔずらすことができる。
【００３９】
上述したミキサ１１０、２１０、局部発振器１１２、２１２、ＩＦ部１２０、２２０が複数の測定手段に、トリガ制御部３５０がトリガ制御手段に、掃引制御部３００が掃引制御手段にそれぞれ対応する。また、切替部３２０、３２２が選択手段に、掃引部３１０、３１２が掃引手段に、アンド回路３３０、３３２、３３４がトリガ入力制限手段に、遅延部３４０が遅延手段にそれぞれ対応する。
【００４０】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変形実施が可能である。上述した実施形態では、ケース１−４のそれぞれに対応する掃引制御部３００の詳細構成を図２から図６を用いて個別に示したが、これらの構成の全てあるいは複数を一つの掃引制御部３００に持たせるようにしてもよい。
【００４１】
また、上述した実施形態では、２つの入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ２組の構成を備えるようにしたが、３つ以上の入力信号の周波数特性を同時に測定するために同じ構成を３組以上備えるようにしてもよい。
【００４２】
また、上述した実施形態では、２つのＤＳＰ１２６、２２６を備えるようにしたが、処理能力に余裕がある場合には、他方のＤＳＰ２２６を省略して一方のＤＳＰ１２６でＤＳＰ２２６の処理を行うようにしてもよい。これにより、部品点数削減にともなうコストの低減が可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明によれば、内部で発生したトリガ信号に同期するように複数の入力信号に対する測定を並行して行うことが可能となり、外付けする装置が不要になるため、測定のための構成を簡素化することができ、測定にかかる手間を低減することができる。
【符号の説明】
【００４４】
１０  スペクトラムアナライザ
１１０、２１０  ミキサ
１１２、２１２  局部発振器
１２０、２２０  ＩＦ部（中間周波処理部）
１２２、２２２  中間周波フィルタ
１２４、２２４  ＡＤＣ（アナログ−デジタル変換器）
１２６、２２６  ＤＳＰ（デジタル信号プロセッサ）
３００  掃引制御部
３１０、３１２  掃引部
３２０、３２２  切替部
３３０、３３２、３３４  アンド回路
３４０  遅延部
３５０  トリガ制御部
４００  ＣＰＵ
４１０  表示部
４２０  操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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