(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の周囲に存在し、ＨＣＦＣ−２２およびＣＦＣ−１２の少なくともいずれかを主成分とする塩素系冷媒を分析する分析ステップと、
前記分析ステップにおいて、前記塩素系冷媒中に、前記塩素系冷媒の主成分と前記希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、前記希土類永久磁石が腐食したと判定する判定ステップとを含み、
前記反応生成物は、ＨＦＣ−３２、ＨＦＣ−２３およびＨＣＦＣ−３１からなる群から選択される少なくとも１種の化合物であることを特徴とする、希土類永久磁石の腐食診断方法。
【請求項２】
前記分析ステップにおいて、ガスクロマトグラフ質量分析装置を用いて、Ｍ／Ｚ＝５１とＭ／Ｚ＝６８でスキャンを行って前記反応生成物の分析を行う、請求項１に記載の希土類永久磁石の腐食診断方法。
【請求項３】
保護皮膜で被覆された希土類永久磁石と、塩素系冷媒を用いた冷媒回路とを備え、前記希土類永久磁石が前記塩素系冷媒に曝されている機器において、前記希土類永久磁石の腐食を診断する、請求項１または２に記載の希土類永久磁石の腐食診断方法であって、
前記分析ステップで、運転中の前記機器から採取された前記塩素系冷媒を分析する、希土類永久磁石の腐食診断方法。
【請求項４】
前記機器は冷凍空調機であり、
前記塩素系冷媒は前記冷凍空調機の前記冷媒回路内の冷媒であり、
前記冷媒回路は、前記希土類永久磁石が設置された圧縮機を含み、
前記分析ステップにおいて、前記冷媒回路内から採取した前記塩素系冷媒を分析する、
請求項３に記載の希土類永久磁石の腐食診断方法。
【請求項５】
前記希土類永久磁石を塩素系冷媒環境下に所定時間暴露する暴露試験を行い、
該暴露試験後に請求項１または２に記載の希土類永久磁石の腐食診断方法を実施して、
その結果、前記希土類永久磁石が腐食したと判定された場合に、前記希土類永久磁石の耐腐食性が不合格であると判定する、希土類永久磁石の耐腐食性検査方法。
【請求項６】
保護皮膜で被覆された希土類永久磁石と、ＨＣＦＣ−２２およびＣＦＣ−１２の少なくともいずれかを主成分とする塩素系冷媒を用いた冷媒回路とを備え、前記希土類永久磁石が前記塩素系冷媒に曝されている冷凍空調機において、前記希土類永久磁石の腐食を診断する腐食診断システムであって、
運転中の前記冷凍空調機の前記冷媒回路から採取された前記塩素系冷媒を分析するための分析器と、
前記分析器において、前記塩素系冷媒の主成分と前記希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、前記希土類永久磁石が腐食したと判定する判定機器とを備え、
前記反応生成物は、ＨＦＣ−３２、ＨＦＣ−２３およびＨＣＦＣ−３１からなる群から選択される少なくとも１種の化合物であることを特徴とする、冷凍空調機の希土類永久磁石の腐食診断システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、冷凍空調機等に用いられる希土類永久磁石についての腐食診断方法、耐腐食性検査方法および腐食診断システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
希土類永久磁石は優れた磁気特性を有するため、多くの電気・電子機器で利用されており、近年その生産量は急激に増大している。例えば、冷凍空調機の圧縮機に使用されている。これらの希土類永久磁石は、主成分として希土類元素および鉄を含有するため、湿度をおびた空気中では短時間のうちに容易に酸化するという欠点を有している。即ち、酸化腐食により磁気特性の低下や発生した錆等による周辺機器の汚染が発生する問題がある。このため、一般に希土類永久磁石は表面処理を行って使用されている。
【０００３】
例えば、希土類永久磁石における表面処理方法として、特許文献１（特許第４１９０７４３号公報）には、主成分をＲ（ＲはＮｄまたはＮｄと他の希土類元素の１種または２種以上との組み合わせ）、Ｔ（ＴはＦｅ、またはＦｅおよびＣｏ）、およびＢとし、Ｎｄが１７〜３３．５重量％でＲの合計量が２６．８〜３３．５重量％、Ｂが０．７８〜１．２５重量％、Ｎｉ，Ｇａ，Ｚｒ，Ｎｂ，Ｈｆ，Ｔａ，Ｍｎ，Ｓｎ，Ｍｏ，Ｚｎ，Ｐｂ，Ｓｂ，Ａｌ，Ｓｉ，Ｖ，Ｃｒ，Ｔｉ，Ｃｕ，Ｃａ，Ｍｇから選ばれる１種または２種以上の元素の合計量が０．０５〜３．５重量％、残部がＴおよび不可避の不純物からなる合金を鋳造し、アルゴン、窒素または真空の無酸素雰囲気中で粉砕した後、微粉砕、磁場中成型、焼結、時効を順次行って焼結磁石とする方法が開示されている。
【０００４】
また、特許文献２（特開２００３−１７３４９号公報）には、希土類元素を含む磁石本体の表面にポリシラザン被膜を形成する工程と、前記ポリシラザン被膜からガラス状保護被膜を得る工程とを有する磁石の製造方法が開示されている。
【０００５】
また、特許文献３（特許第４４４９３４２号公報）には、アルカリ珪酸塩被膜中に熱可塑性樹脂を０．１重量％〜５０重量％の含量で均一分散させることを特徴とする磁石の表面処理方法が開示されている。
【０００６】
また、特許文献４（特開２０１１−９７００４号公報）には、希土類系焼結磁石に対し、酸素分圧が１×１０２Ｐａ〜１×１０５Ｐａで水蒸気分圧が２００Ｐａ〜１０００Ｐａの雰囲気下、２５０℃〜６００℃で熱処理工程を含み、常温から熱処理開始温度までの昇温を、酸素分圧が１×１０２Ｐａ〜１×１０５Ｐａで水蒸気分圧が１×１０−３Ｐａ〜１００Ｐａの雰囲気下で２段階工程で行い、常温から２００℃迄の昇温を２０分間未満で行った後、２００℃から熱処理開始温度迄の昇温を２０分間以上で行う。
【０００７】
このような保護皮膜で被覆された希土類永久磁石を用いた電気・電子機器（冷凍空調機など）であっても、保護皮膜の経時劣化や欠損等に起因して、希土類永久磁石の酸化腐食が発生する可能性がある。したがって、希土類永久磁石の酸化腐食の有無を診断する必要があるが、運転中の機器を解体することなく希土類永久磁石の腐食状態を診断する方法は皆無であり、腐食の有無を調べるためには、機器を解体し、磁石を取り出して診断を行う必要があった。
【０００８】
また、製品としての信頼性の観点から、使用前の希土類永久磁石の耐腐食性の検査（保護皮膜の被覆状態の検査）を行う必要性もあるが、検査後の（検査に合格した）希土類永久磁石を問題なく製品に使用できるような検査方法が望まれていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特許第４１９０７４３号公報
【特許文献２】特開２００３−１７３４９号公報
【特許文献３】特許第４４４９３４２号公報
【特許文献４】特開２０１１−９７００４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の目的は、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石を用いた電気・電子機器において、機器を解体することなく容易に実施できる希土類永久磁石の腐食診断方法を提供することである。
【００１１】
また、本発明の別の目的は、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石を検査後も問題なく製品に使用できるような希土類永久磁石の耐腐食性検査方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の周囲に存在する塩素系冷媒を分析する分析ステップと、
前記分析ステップにおいて、前記塩素系冷媒中に、前記塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、前記希土類永久磁石が腐食したと判定する判定ステップと
を含むことを特徴とする、希土類永久磁石の腐食診断方法である。
【００１３】
また、本発明は、希土類永久磁石を塩素系冷媒環境下に所定時間暴露する暴露試験を行い、
該暴露試験後に上記の腐食診断方法を実施して、
その結果、前記希土類永久磁石が腐食したと判定された場合に、前記希土類永久磁石の耐腐食性が不合格であると判定する、希土類永久磁石の耐腐食性検査方法にも関する。
【００１４】
また、本発明は、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石と塩素系冷媒を用いた冷媒回路とを備え、前記希土類永久磁石が前記塩素系冷媒に曝されている冷凍空調機において、前記希土類永久磁石の腐食を診断する腐食診断システムであって、
運転中の前記冷凍空調機の前記冷媒回路から採取された前記塩素系冷媒を分析するための分析器と、
前記分析器において、前記塩素系冷媒の主成分と前記希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、前記希土類永久磁石が腐食したと判定する判定機器とを備えることを特徴とする、冷凍空調機の希土類永久磁石の腐食診断システムにも関する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の腐食診断方法または腐食診断システムによれば、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石を用いた電気・電子機器において、比較的容易に採取できる冷媒を分析することで、機器を解体することなく容易に希土類永久磁石の腐食を診断することができる。
【００１６】
本発明の耐腐食性検査方法によれば、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の耐腐食性を検査することができ、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石を検査後も問題なく製品に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】実施の形態２における加熱後のＨＦＣ−１３４ａのクロマトグラムである。
【図２】実施の形態２におけるＨＣＦＣ−２２を注入した場合のクロマトグラムである。
【図３】実施の形態２におけるＨＣＦＣ−２２を注入した場合の別のクロマトグラムである。
【図４】実施の形態２におけるＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１のピーク面積値の合計と希土類永久磁石の腐食減量の関係を示すグラフである。
【図５】実施の形態３の腐食診断システムの一例を説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、実施の形態を挙げて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【００１９】
（実施の形態１）
本発明の希土類永久磁石の腐食診断方法は、（１）保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の周囲に存在する塩素系冷媒を分析する分析ステップと、（２）分析ステップにおいて、塩素系冷媒中に、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、希土類永久磁石が腐食したと判定する判定ステップとを含むことを特徴とする。
【００２０】
希土類永久磁石とは、主成分として希土類元素および鉄を含有する磁石である。希土類永久磁石は、湿度をおびた空気中では短時間のうちに容易に酸化するという欠点を有しているため、製品に用いられる際には保護皮膜でその表面が被覆される。保護皮膜としては、種々公知のものを用いることができ、例えば、上記特許文献１〜４に記載される保護皮膜が挙げられる。
【００２１】
分析ステップで分析対象となる、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の周囲に存在する塩素系冷媒とは、例えば、運転中の冷凍空調機においては、希土類永久磁石が設置されている雰囲気中の塩素系冷媒である。ただし、この希土類永久磁石が設置されている雰囲気中の塩素系冷媒が、冷凍空調機の冷媒回路を循環している場合は、冷媒回路中の塩素系冷媒も分析対象に含まれる。また、例えば、希土類永久磁石を塩素系冷媒環境下に所定時間暴露する暴露試験を行った場合は、希土類永久磁石が設置されている雰囲気中の塩素系冷媒である。
【００２２】
なお、分析対象となる塩素系冷媒は、所定以上の時間、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石の周囲に存在していたものであることが好ましい。希土類永久磁石の周囲に存在していた時間が短すぎると、腐食が生じていても検出可能な量の反応生成物（塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物）が生成されず、正確な腐食診断が行えない場合があるからである。
【００２３】
分析ステップで分析対象となる塩素系冷媒の主成分としては、ハイドロクロロフルオロカーボン（ＨＣＦＣ）、クロロフルオロカーボン（ＣＦＣ）などが挙げられ、好ましくはハイドロクロロフルオロカーボンである。また、ハイドロフルオロカーボンとしては、ＨＣＦＣ−２２、クロロフルオロカーボンとしては、ＣＦＣ−１２などが挙げられ、好ましくはＨＣＦＣ−２２である。
【００２４】
上記判定ステップでは、分析ステップにおいて、塩素系冷媒中に、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、希土類永久磁石が腐食したと判定するが、ここでいう「塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合」とは、ほんのわずかでも反応性生成物が検出された場合であってもよく、あらかじめ定めた特定量以上の反応生成物が検出された場合であってもよい。
【００２５】
塩素系冷媒の主成分がＨＣＦＣ−２２である場合、この主成分と希土類永久磁石との反応生成物は、好ましくはＨＦＣ−３２、ＨＦＣ−２３およびＨＣＦＣ−３１からなる群から選択される少なくとも１種の化合物である。
【００２６】
本発明の腐食診断方法は、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石と塩素系冷媒を用いた冷媒回路とを備え、希土類永久磁石が前記塩素系冷媒に曝されている機器において、希土類永久磁石の腐食を診断する場合に用いられることが好ましい。この場合、分析ステップで、運転中の前記機器から採取された塩素系冷媒を分析することが好ましい。また、分析対象となる塩素系冷媒は、機器の冷媒回路内の塩素系冷媒であることが好ましい。
【００２７】
上記機器としては、冷凍空調機、冷蔵空調機等が挙げられ、好ましくは冷凍空調機である。
【００２８】
本発明の希土類永久磁石の腐食診断方法において、例えば、冷凍空調機内の希土類永久磁石を診断対照とする場合、分析対象となる反応生成物は、以下に説明する塩素系冷媒、冷凍機油および金属の特殊な劣化反応によって生成されると考えられる。
【００２９】
（１）Ｓｐａｕｓｃｈｕｓ反応
Ｓｐａｕｓｃｈｕｓ反応とは、含塩素冷媒の劣化反応でＣＦＣ−１２と鉄、冷凍機油が反応し、冷媒が劣化するとともにスラッジが発生する反応である。この反応は、以下の平衡反応：
３ＣＣｌ２Ｆ２＋Ｆｅ  →  ３ＣＣｌＦ２＊＋ＦｅＣｌ３    ・・・平衡反応１
ＣＣｌＦ２＊＋ＲＣＨ３→ＣＨＣｌＦ２＋ＲＣＨ２＊        ・・・平衡反応２
２ＲＣＨ２＊→ＲＣＨ２ＣＨ２Ｒ                        ・・・平衡反応３
からなる。
【００３０】
すなわち、
平衡反応１：ＣＦＣ−１２が鉄と反応し、塩化鉄が生成するとともにＣＦＣ−１２のラジカル（＊）が生成する。
平衡反応２：ＣＦＣ−１２のラジカルが冷凍機油（ＲＣＨ３）と反応し、ＨＣＦＣ−２２と冷凍機油のラジカルが生成する。
平衡反応３：冷凍機油のラジカル同士が反応し、冷凍機油の高分子量化が起こる。高分子量化した冷凍機油はさらに他の冷媒のラジカルとの反応を繰り返し、さらに高分子化した冷凍機油がスラッジとなる。
（平衡反応２で生成したＨＣＦＣ−２２は、ＣＦＣ−１２と比べて反応性が低く、上記の反応を考える場合は安定化合物とみなされる）。
【００３１】
（２）ＨＣＦＣ−２２と鉄、冷凍機油の劣化反応
（１）の反応ではＨＣＦＣ−２２は安定化合物とみなされるが、ＨＣＦＣ−２２にも塩素が含まれる。このため、ＨＣＦＣ−２２と希土類永久磁石中の鉄や冷凍機油との反応として、ＨＣＦＣ−２２を中心化合物とした場合は、上記と同様に以下の平衡反応： 
６ＣＨＣｌＦ２＋２Ｆｅ  →  ６ＣＨＦ２＊＋２ＦｅＣｌ３    ・・・平衡反応Ａ
ＣＨＦ２＊＋ＲＣＨ３→ＣＨ２Ｆ２＋ＲＣＨ２＊              ・・・平衡反応Ｂ−１
ＣＨＦ２＊＋  ＣＨＣｌＦ２→ＣＨＦ３＋  ＣＨＣｌＦ＊    ・・・平衡反応Ｂ−２
ＣＨＣｌＦ＊＋  ＲＣＨ３→ＣＨ２ＣｌＦ＋ＲＣＨ２＊    ・・・平衡反応Ｃ−１
２ＲＣＨ２＊→ＲＣＨ２ＣＨ２Ｒ                      ・・・平衡反応Ｃ−２
を考えることができる。
【００３２】
すなわち、
平衡反応Ａ：ＨＣＦＣ−２２が鉄と反応し、塩化鉄が生成するとともにラジカル（＊）が生成する。
平衡反応Ｂ−１：ＨＣＦＣ−２２のラジカルが冷凍機油と反応し、ＨＦＣ−３２と冷凍機油のラジカルが生成する。ＨＦＣ−３２には塩素が無いので、ここで反応は停止する。
平衡反応Ｂ−２：ＨＣＦＣ−２２のラジカルがＨＣＦＣ−２２と反応し、ＨＦＣ−２３とＨＣＦＣ−２２のラジカル（Ｆが引き抜かれて発生するラジカル）が生成する。
平衡反応Ｃ−１：ＨＣＦＣ−２２のラジカル（Ｆが引き抜かれて発生するラジカル）が冷凍機油と反応し、ＨＣＦＣ−３１と冷凍機油のラジカルが生成する。
平衡反応Ｃ−２：冷凍機油のラジカル同士が反応し、冷凍機油の高分子量化が起こる、高分子量化した冷凍機油はさらに他の冷媒のラジカルとの反応を繰り返し、さらに高分子化した冷凍機油がスラッジとなる。
【００３３】
以上で述べたように、希土類永久磁石の腐食は、塩素系冷媒と希土類永久磁石中の鉄との直接的な反応により進行するものと考えられる。
【００３４】
（試験例１）
保護皮膜で被覆された希土類永久磁石について、塩素系冷媒中における実際の腐食を確認するための試験を行った。試験方法はＪＩＳ  Ｋ  ２２１１を参考にした。ガラス容器に触媒である鉄、銅およびアルミニウムと評価対象である希土類永久磁石を入れ、冷凍機油０．７ｍＬ、冷媒０．７ｍＬを注入後密封する。この密閉ガラス容器を１７５℃で２週間加熱したときの希土類永久磁石の重量変化を測定した。ここでの冷凍機油は、エーテル系冷凍機油である。冷媒として、塩素系冷媒であるＨＣＦＣ−２２を注入したガラス容器と塩素非含有のＨＦＣ−１３４ａを注入したガラス容器を用意した。希土類永久磁石として、保護皮膜で被覆されたネオジム磁石（磁石Ａ）を入れたガラス容器、保護皮膜が未完全なネオジム磁石（磁石Ｂ）を入れたガラス容器、そして、保護皮膜を施していないネオジム磁石（磁石Ｃ）を入れたガラス容器を用意した。
【００３５】
表１に加熱後の磁石の重量変化を記す。表に示すように、ＨＣＦＣ−２２を注入した場合、磁石は腐食により減量した。ＨＦＣ−１３４ａを注入した場合、磁石は減量しなかった。この結果は、先に述べた塩素系冷媒、冷凍機油および金属の劣化メカニズムと一致しており、塩素系冷媒を用いることで磁石が腐食したことが分かる。
【００３６】
保護皮膜で被覆されたネオジム磁石Ａの腐食減量は１．７ｇ、保護皮膜が未完全なネオジム磁石Ｂの腐食減量は４６．５ｇ、保護皮膜を施していないネオジム磁石Ｃの腐食減量は１３４．６ｇであった。このように、希土類永久磁石の保護皮膜が未完全であるほど腐食減量が大きくなり、塩素系冷媒を用いることで希土類永久磁石の保護皮膜を検査することができることを示す。
【００３７】
【表１】
0005642103.tif 000002
【００３８】
（試験例２）
次に、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物の生成と、希土類永久磁石の腐食状態の関係を調べる試験を行った。
【００３９】
実施の形態１で述べたガラス容器から冷媒を採取し、ガスクロマトグラフ質量分析装置で分析した。図１に、加熱後のＨＦＣ−１３４ａのクロマトグラムを示す。図１に示すように、ＨＦＣ−１３４ａは希土類永久磁石と反応しないため希土類永久磁石とＨＦＣ−１３４ａの反応生成物は検出されなかった。図２と図３にＨＣＦＣ−２２を注入した場合の分析結果（クロマトグラム）を示す。図２は、ＨＦＣ−２３とＨＦＣ−３２を検出するため、フラグメントイオンピークの強度が強いＭ／Ｚ＝５１でスキャンした解析結果である。図３は、ＨＣＦＣ−３１を検出するため、フラグメントイオンピークの強度が強いＭ／Ｚ＝６８でスキャンした解析結果である。
【００４０】
図２と図３に示すように、ＨＣＦＣ−２２は希土類永久磁石と反応するため、希土類永久磁石とＨＣＦＣ−２２の反応生成物と考えられるＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１が検出された。
【００４１】
表２にＨＣＦＣ−２２を注入した場合のＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１のＧＣ／ＭＳのピーク面積値を示す。図４は、ＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１のピーク面積値の合計と希土類永久磁石の腐食減量の関係を示すグラフである。図４に示すように、希土類永久磁石の腐食減量が大きくなるにしたがって、ＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１のピーク面積値の合計は大きくなった。
【００４２】
この結果は、塩素系冷媒、冷凍機油および金属の劣化メカニズムと一致しており、冷凍空調機から塩素系冷媒を採取して分析することで、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物（ＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２およびＨＣＦＣ−３１）の検出の有無に基づいて、希土類永久磁石の腐食状態を診断できることを示す。
【００４３】
【表２】
0005642103.tif 000003
【００４４】
（実施の形態２）
実施の形態２として、希土類永久磁石の耐腐食性検査方法について説明する。本実施の形態では、希土類永久磁石を塩素系冷媒環境下に所定時間暴露する暴露試験を行い、該暴露試験後の塩素系冷媒を分析対象として、実施の形態１と同様の方法で希土類永久磁石の腐食の有無を診断し、その結果、希土類永久磁石が腐食したと判定された場合に、希土類永久磁石の耐腐食性が不合格であると判定する。
【００４５】
暴露試験では、希土類永久磁石を、塩素系冷媒と冷凍機油の共存する環境下に所定時間暴露することが好ましく、また、加熱環境下で実施されることが好ましい。これにより、保護皮膜に欠損があることや保護皮膜が経時劣化しやすいこと等により、希土類永久磁石の耐腐食性が低い場合には、前記塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が十分な量生成されるため、より正確に希土類永久磁石の耐腐食性の検査を実施することができる。
【００４６】
ただし、使用前の(新品の)希土類永久磁石について検査を行い、検査に合格した希土類永久磁石を製品に使用する場合は、検査後の希土類永久磁石の性能が損なわれないような検査条件を設定することが好ましい。このような検査条件を設定することで、検査後の希土類永久磁石を問題なく製品に使用することができる。
【００４７】
（実施の形態３：腐食診断システム）
本実施の形態では、保護皮膜で被覆された希土類永久磁石と塩素系冷媒を用いた冷媒回路とを備え、前記希土類永久磁石が前記塩素系冷媒に曝されている冷凍空調機において、前記希土類永久磁石の腐食を診断する腐食診断システムについて説明する。
【００４８】
この腐食診断システムは、運転中の前記冷凍空調機の前記冷媒回路から採取された前記塩素系冷媒を分析するための分析器と、
前記分析器において、前記塩素系冷媒の主成分と前記希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、前記希土類永久磁石が腐食したと判定する判定機器とを備えることを特徴とする。
【００４９】
本実施の形態の腐食診断システムの一例を図５に示す。運転中の冷凍空調機内の希土類永久磁石の腐食診断システムは、冷凍空調機の冷媒回路から塩素系冷媒を採取する採取手段１０と、採取手段１０で採取された塩素系冷媒を分析するための分析器２１と、分析器２１において、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物が検出された場合に、希土類永久磁石が腐食したと判定する判定機器２２とを備える。分析器２１は、ガスクロマトグラフ質量分析装置であることが好ましい。
【００５０】
以下に、運転中の冷凍空調機内の希土類永久磁石の腐食診断システムを用いた診断手順を説明する。まず、採取手段１０により冷凍空調機の冷媒回路から塩素系冷媒を採取する。次に、分析器２１を用いて、採取手段１０により採取した塩素系冷媒中の化合物を分析する。その後、判定機器２２は、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物の検出の有無に基づいて、運転中の冷凍空調機内の希土類永久磁石の腐食の有無を判定する。すなわち、判定機器２２は、採取手段１０により採取した塩素系冷媒中から、塩素系冷媒の主成分と希土類永久磁石との反応生成物（例えば、ＨＦＣ−２３、ＨＦＣ−３２、ＨＣＦＣ−３１）が検出された場合に、冷凍空調機内の希土類永久磁石が腐食したと判定する。
【００５１】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００５２】
１０  採取手段、２１  分析器、２２  判定機器。
【図１】
0005642103.tif 000004
【図２】
0005642103.tif 000005
【図３】
0005642103.tif 000006
【図４】
0005642103.tif 000007
【図５】
0005642103.tif 000008