(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
評価対象となる差動型トランスインピーダンスアンプの帯域とトランスインピーダンス利得の関係を評価する評価方法であって、
差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子を４ポートベクトルネットワークアナライザの４つポートにそれぞれ接続し、前記４ポートベクトルネットワークアナライザによって前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを測定し、
前記測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出し、
前記算出された差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出し、
前記算出された差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出する
ことを特徴とする差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法。
【請求項２】
請求項1に記載の差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法において、
前記差動型トランスインピーダンスアンプの入力側の端子を第1端子と第2端子とし、出力側の端子を第3端子と第4端子とするとき、
前記差動モードSパラメータ算出工程において、差動モードSパラメータSDDの各要素を（式1）で算出し、
前記差動モードZパラメータ算出工程において、差動モードZパラメータZDDの要素を（式2）で算出し、
前記トランスインピーダンス特性ZT算出工程において、トランスインピーダンス特性ZTを（式3）で算出する
ことを特徴とする差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法。
【数１】
0005483459.tif 000009
【数２】
0005483459.tif 000010
【数３】
0005483459.tif 000011
【請求項３】
差動型トランスインピーダンスアンプの入力側の二つの端子にそれぞれ光電変換素子が接続された光受信回路の特性を評価する光受信回路評価方法であって、
請求項１または請求項２に記載の差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法に続いて光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊を算出し、
前記光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊の算出は、
前記光電変換素子のインピーダンス特性ZPDと前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTとを乗算する次の式によって光受信回路のインピーダンス特性ZT＊を算出する
ことを特徴とする光受信回路評価方法。
0005483459.tif 000012
【請求項４】
差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子がそれぞれ接続される４つのポートを有する４ポートベクトルネットワークアナライザを備え、差動型トランスインピーダンスアンプの帯域とトランスインピーダンス利得の関係を評価する評価装置にコンピュータを組み込んで、
このコンピュータに、
前記４ポートベクトルネットワークアナライザによって前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを測定する測定工程と、
前記測定工程にて測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出する差動モードSパラメータ算出工程と、
前記差動モードSパラメータ算出工程にて算出された差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出する差動モードZパラメータ算出工程と、
前記差動モードZパラメータ算出工程にて算出された差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出するトランスインピーダンス特性ZT算出工程と、を実行させる
ことを特徴とする差動型トランスインピーダンスアンプの評価プログラム。
【請求項５】
差動型トランスインピーダンスアンプの入力側の二つの端子にそれぞれ光電変換素子が接続された光受信回路の特性を評価する光受信回路評価プログラムであって、
差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子がそれぞれ接続される４つのポートを有する４ポートベクトルネットワークアナライザを備えた評価装置にコンピュータを組み込んで、
このコンピュータに、
前記４ポートベクトルネットワークアナライザによって前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを測定する測定工程と、
前記測定工程にて測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出する差動モードSパラメータ算出工程と、
前記差動モードSパラメータ算出工程にて算出された差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出する差動モードZパラメータ算出工程と、
前記差動モードZパラメータ算出工程にて算出された差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出するトランスインピーダンス特性ZT算出工程と、
前記光電変換素子のインピーダンス特性ZPDと前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTとを乗算して光受信回路のインピーダンス特性ZT＊を算出する光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊算出工程と、を実行させる
ことを特徴とする光受信回路評価プログラム。
【請求項６】
差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子がそれぞれ接続される４つのポートを有する４ポートベクトルネットワークアナライザと、
前記4ポートベクトルネットワークアナライザを制御して前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを取得させるとともに、前記Sパラメータに基づいて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出する演算制御手段と、を備え、
前記演算制御手段は、前記測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出した後にこの差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出し、さらに前記差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出する
ことを特徴とする差動型トランスインピーダンスアンプの評価装置。
【請求項７】
差動型トランスインピーダンスアンプの入力側の二つの端子にそれぞれ光電変換素子が接続された光受信回路の特性を評価する光受信回路評価装置であって、
差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子がそれぞれ接続される４つのポートを有する４ポートベクトルネットワークアナライザと、
前記4ポートベクトルネットワークアナライザを制御して前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを取得させるとともに、前記Sパラメータに基づいて前記光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊を算出する演算制御手段と、を備え、
前記演算制御手段は、
前記測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出した後にこの差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出し、さらに、前記差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出し、
続いて、前記光電変換素子のインピーダンス特性ZPDと前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTとを乗算して前記光受信回路のインピーダンス特性ZT＊を算出する
ことを特徴とする光受信回路評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法、光受信回路評価方法、差動型トランスインピーダンスアンプの評価プログラム、光受信回路評価プログラム、差動型トランスインピーダンスアンプの評価装置および光受信回路評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
長距離光伝送システムにおいて、光信号を復調するとともに増幅する光受信回路が用いられる。
一例として、差動位相シフトキーイング（DPSK: Differential Phase Shift Keying）を変調符号に用いた場合の光受信回路200を図8に示す。図8において、1ビット遅延干渉計108は、1組の導波路の一方に1ビット遅延素子105を備えており、互いに隣接するビット間の位相差に応じた一対の光信号S1, S2を出力する。一対の光信号S1, S2は、２つのフォトダイオード104, 104にそれぞれ入射する。
フォトダイオード104, 104は、それぞれの光信号の強度に応じて光電変換し、電流信号を出力する。２つのフォトダイオード104, 104は、直接に差動型トランスインピーダンスアンプ100に接続されており、差動型のトランスインピーダンスアンプ100によって信号の差分が増幅されて出力される。これにより、DPSK信号が復調されるとともに増幅して出力される。【０００３】
このようにDPSK信号を復調する光受信回路200においては、フォトダイオード104, 104からの電流信号を電圧信号に変換して増幅する差動型のトランスインピーダンスアンプ100が必要となる。
そして、情報伝送の更なる高速化と大容量化が求められるところ、差動型トランスインピーダンス100の特性評価を正確に行うことが重要である。【０００４】
ここで、差動増幅器の利得帯域特性の評価方法としては、ベクトルネットワークアナライザ（VNA）を用い、Sパラメータを測定して利得帯域特性を求めることが一般的である（特許文献１、特許文献２）。
ベクトルネットワークアナライザとしては、２ポート式のものと４ポート式のものがある。
ここで、図9に、4ポート式のベクトルネットワークアナライザ101を用いた差動増幅器109の測定系のブロック図を示す。差動増幅器109の入力側端子である第1端子と第2端子を4ポート式ベクトルネットワークアナライザ101の第1ポートと第2ポートとにそれぞれ接続し、差動増幅器109の出力側端子である第3端子と第4端子を4ポート式ベクトルネットワークアナライザ101の第3ポートと第4ポートとにそれぞれ接続する。
また、図10に、２ポート式のベクトルネットワークアナライザ201を用いた差動増幅器109の測定系のブロック図を示す。差動増幅器109の入力側の第1端子は２ポート式ベクトルネットワークアナライザ201の第1ポートに接続し、差動増幅器109の出力側の第3端子は２ポート式ベクトルネットワークアナライザ201の第2ポートに接続する。そして、差動増幅器109の入力側の第2端子および出力側の第4端子は50Ωの終端抵抗R3に接続する。
図11は、上記測定系でそれぞれ測定した結果を示す図である。図11中において、SDD31は、図9の4ポート式ベクトルネットワークアナライザ101で測定したSパラメータから求めた差動モードのSパラメータであり、S21は図10の2ポート式ベクトルネットワークアナライザ201によって測定したSパラメータである。
図11に示されるように、Sパラメータを用いて差動増幅器109の利得帯域特性を評価する場合、2ポート式のベクトルネットワークアナライザ201でも４ポート式のベクトルネットワークアナライザ101でも同様に測定でき、どちらからでも広い周波数範囲で同じ振る舞いをするSパラメータの評価データが得られる。なお、図11中において、２ポート式ベクトルネットワークアナライザ201による測定値のSパラメータS21と４ポート式ベクトルネットワークアナライザ101による測定値から求めた差動モードのSパラメータSDD31とでは単相入力と両相入力との違いである6dBの違いが生じうるが、6dBの大きさの違いだけであり利得の周波数特性としての振る舞いは広く一致しているので、どちらを用いても差動増幅器の利得帯域特性を求めることが可能である。【０００５】
しかしながら、差動型トランスインピーダンスアンプにあってはトランスインピーダンス特性を用いて回路特性を評価する必要があるが、ベクトルネットワークアナライザ（VNA）では直接にトランスインピーダンス特性を測定することはできない。
低周波域であれば、入力電流値と出力電圧値と比（V＝ZI）からトランスインピーダンスZを求めることもできるが、本発明が主眼とする高周波領域における回路特性の評価にあっては、全く適用できない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開2005-055438号公報
【特許文献２】特開平06-088844号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、差動型トランスインピーダンスアンプの特性を高精度に評価する差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法、光受信回路評価方法、そのプログラムが格納された記憶媒体および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法は、評価対象となる差動型トランスインピーダンスアンプの帯域とトランスインピーダンス利得の関係を評価する評価方法であって、差動型トランスインピーダンスアンプの４つの端子を４ポートベクトルネットワークアナライザの４つポートにそれぞれ接続し、前記４ポートベクトルネットワークアナライザによって前記差動型トランスインピーダンスアンプのSパラメータを測定する測定工程と、前記測定工程にて測定されたSパラメータに基づいて差動モードのSパラメータSDDを算出する差動モードSパラメータ算出工程と、前記差動モードSパラメータ算出工程にて算出された差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを算出する差動モードZパラメータ算出工程と、前記差動モードZパラメータ算出工程にて算出された差動モードのZパラメータZDDを用いて前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTを算出するトランスインピーダンス特性ZT算出工程と、を備えることを特徴とする。【０００９】
本発明の光受信回路の評価方法は、差動型トランスインピーダンスアンプの入力側の二つの端子にそれぞれ光電変換素子が接続された光受信回路の特性を評価する光受信回路評価方法であって、前記差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法に続いて光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊を算出する光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊算出工程を備え、前記光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊算出工程は、前記光電変換素子のインピーダンス特性ZPDと前記差動型トランスインピーダンスアンプのトランスインピーダンス特性ZTとを乗算して光受信回路のインピーダンス特性ZT＊を算出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明により、差動型トランスインピーダンスアンプの特性を高精度に評価する差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法、光受信回路評価方法、そのプログラムおよび装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施形態において、差動型トランスインピーダンスアンプの評価装置を示す図である。
【図２】第１実施形態において、差動型トランスインピーダンスアンプの評価方法の動作手順を示すフローチャートである。
【図３】第１実施形態に係る評価方法を用いて求めたトランスインピーダンス特性ZTをグラフに表した図である。
【図４】第2実施形態における評価方法の動作手順を示すフローチャートである。
【図５】受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊を示すグラフである。
【図６】比較例において、2ポートベクトルネットワークアナライザを使用した測定系の構成を示す図である。
【図７】比較例において、2ポートベクトルネットワークアナライザを使用して求めたトランスインピーダンス特性ZT（2ポート測定）と、回路解析によって求めたZT（シミュレーション）と、を示す図である。
【図８】背景技術の説明において、差動位相シフトキーイングを変調符号に用いた場合の光受信回路を示す図である。
【図９】背景技術において、4ポート式のベクトルネットワークアナライザを用いた差動増幅器の測定系のブロック図である。
【図１０】背景技術において、2ポート式のベクトルネットワークアナライザを用いた差動増幅器の測定系のブロック図である。
【図１１】背景技術において、図9および図10の測定系によって求めた差動増幅器の利得帯域特性を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
（第1実施形態）
本発明の第1実施形態について説明する。
図1は、差動型トランスインピーダンスアンプ100の評価装置300を示す図である。
評価装置300は、ベクトルネットワークアナライザ（VNA）101と、演算制御部110と、出力手段としての表示部112と、を備える。
【００１３】
評価対象である差動型トランスインピーダンスアンプ100は、2対の入出力端子を有する差動アンプに帰還抵抗R1およびR2が接続された構成である。
ここで、図1のように、入力側の端子を第１端子および第2端子とし、出力側の端子を第3端子および第4端子とする。そして、帰還抵抗R1は第1端子と第3端子との間に設けられ、帰還抵抗R2は第2端子と第4端子との間に設けられている。
【００１４】
ベクトルネットワークアナライザ（VNA）101は、回路の高周波特性を測定しSパラメータを求める計測器である。
本実施形態では、ベクトルネットワークアナライザ101は4ポート方式であり、第1ポート、第2ポート、第3ポートおよび第4ポートを有する。そして、差動型トランスインピーダンスアンプ100の第1端子は第1ポートに接続し、第2端子は第2ポートに接続し、第3端子は第3ポートに接続し、第4端子は第4ポートに接続する。
【００１５】
演算制御部110は、ベクトルネットワークアナライザ101を制御して差動型トランスインピーダンスアンプ100のSパラメータを取得させるとともに、Sパラメータに基づいて差動型トランスインピーダンスアンプ100のトランスインピーダンス特性ZTを算出する。
演算制御部110は、CPUおよびメモリを備えたマイクロコントローラであり、メモリに格納された評価プログラムを実行することによって差動型トランスインピーダンスアンプ100のトランスインピーダンス特性ZTを求める機能を実現するものである。具体的な動作についてはフローチャート（図2）を用いて後述する。
表示部112は、演算制御部110にて算出されたトランスインピーダンス特性ZTを表示する。なお、出力手段としてはディスプレイ等の表示手段に限らず、プリンタなどであってもよい。
入力部102は、演算制御部110の操作等を行う手段であり、例えば、各種のパラメータ値の設定、変更などを行う。
【００１６】
次に、差動型トランスインピーダンスアンプ100の評価方法について説明する。
図2は、差動型トランスインピーダンスアンプ100の評価方法の動作手順を示すフローチャートである。
本評価方法は、演算制御部110の評価プログラムが実行されることによって実現される。
本評価方法は、測定工程(ST100)、演算工程(ST200)、出力工程(ST400)と、を備えている。
各工程について順を追って説明する。
【００１７】
まず、測定工程(ST100)において、ベクトルネットワークアナライザ101により差動型トランスインピーダンスアンプ100のSパラメータを測定する。
すなわち、図1に示すように差動型トランスインピーダンスアンプ100の2つの入力側端子（第１端子、第2端子）をベクトルネットワークアナライザ101の第1ポートと第2ポートにそれぞれ接続し、2つの出力側端子（第3端子、第4端子）をベクトルネットワークアナライザ101の第3ポートと第4ポートに接続する。
この状態で差動型トランスインピーダンスアンプ100のSパラメータを測定する。
ここで、各端子において出力波の振幅をb1,b2,b3,b4とし、入力波の振幅をa1、a2、a3、a4とするとき、Sパラメータは次の式で表わされる行列Sである。
すなわち、測定工程ST100においては、Sパラメータの行列の要素である、S11、S12、S13、S14、S21、S22、S23、S24、S31、S32、S33、S34、S41、S42、S43、S44を測定する。
【００１８】
0005483459.tif 000002
【００１９】
このように測定工程(ST100)によって取得されたSパラメータに基づいて次に演算工程(ST200)が実行される。
演算工程(ST200)は、差動モードSパラメータ算出工程(ST210)と、差動モードZパラメータ算出工程(ST220)と、トランスインピーダンス特性算出工程(ST230)と、を備える。
【００２０】
差動モードSパラメータ算出工程(ST210)において、ST100で取得されたSパラメータから差動モードのSパラメータSDDを求める。
ここで、差動モードの反射波の振幅をy1、y3とし、入射波の振幅をx1、x3とするとき、差動モードのSパラメータSDDは、次の式で表わされる行列SDDである。
すなわち、差動モードSパラメータ算出工程(ST210)においては、この差動モードのSパラメータSDD の行列要素であるSDD11、SDD13、SDD31、SDD33を求める。
【００２１】
なお、y1は、第2端子を基準にした第1端子の振幅値であり、y3は、第4端子を基準にした第3端子の振幅値である。また、x1は、端子2を基準にした端子1の振幅値であり、x3は、端子4を基準にした端子3の振幅値である。
【００２２】
0005483459.tif 000003
【００２３】
そして、差動モードのSパラメータSDDの各要素は、Sパラメータの要素を用いて次のように表わされる。
【００２４】
0005483459.tif 000004
【００２５】
この（式3）によって差動モードSパラメータSDDの各要素を算出する。
【００２６】
このように差動モードのSパラメータSDDが求められたところで、次に、差動モードのSパラメータSDDを用いて差動モードのZパラメータZDDを求める（差動モードZパラメータ算出工程ST220）。
ここで、差動モードのZパラメータは、概念上、次の（式4）で表わされる行列Zである。
なお、V1は、第2端子を基準にした第1端子の電圧値であり、V3は、第4端子を基準にした第3端子の電圧値である。また、I1は、第2端子を基準にした第1端子の電流値であり、I3は、第4端子を基準にした第3端子の電流値である。
【００２７】
0005483459.tif 000005
【００２８】
そして、差動モードのZパラメータZDDにおいて、ZDD31、ZDD33は差動モードのSパラメータSDDを用いて次のように表わされる。
【００２９】
【数５】
0005483459.tif 000006
【００３０】
この（式5）によって差動モードのZパラメータZDDの要素ZDD31、ZDD33を算出する。
【００３１】
次に、差動モードのZパラメータの要素ZDD31、ZDD33を用いて、差動型トランスインピーダンスアンプの第1端子と第3端子との間のトランスインピーダンス特性ZTを次の（式6）で求める（トランスインピーダンス特性算出工程ST230）。
【００３２】
0005483459.tif 000007
【００３３】
このようにしてトランスインピーダンス特性ZTが算出される。算出されたトランスインピーダンス特性ZTは表示部に出力される（出力工程ST400）。
【００３４】
図3は、本評価方法を用いて求めたトランスインピーダンス特性ZTをグラフに表した図である。
図3には、等価回路を用いた回路解析によって求めたトランスインピーダンス特性ZT（シミュレーション）もあわせて示す。
図3に示されるように、両者は広い周波数範囲に渡って良く一致しており、本評価方法によって広い周波数範囲におけるトランスインピーダンス利得を正確に評価できることがわかる。
【００３５】
（第2実施形態）
次に本発明の第2実施形態について説明する。
第2実施形態においては、フォトダイオード104を含めた光受信回路200のトランスインピーダンス特性ZT＊を求める点に特徴を有する。
図4は、第2実施形態における評価方法の動作手順を示すフローチャートである。
第2実施形態においては、ST230にてトランスインピーダンス特性ZTを算出した後、続いて、ST240においてフォトダイオード104を含めた光受信回路200のトランスインピーダンス特性ZT＊を算出する。すなわち、演算工程ST300は、トランスインピーダンス特性ZT算出工程（ST230）に続いて光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊算出工程(ST240)を備える。
【００３６】
ここで、光受信回路200とは、光信号の受信および復調を行う回路であって、図8で説明したように光信号を光電変換するとともに信号増幅を行うものである。
光受信回路200のトランスインピーダンス特性ZT＊を算出するにあたり、演算制御部110には、予めフォトダイオード104の等価回路を用いて算出したフォトダイオード104のインピーダンスZPDが設定記憶されている。そして、ST240において、光受信回路200のトランスインピーダンス特性ZT＊を、次の式（7）で算出する。
【００３７】
0005483459.tif 000008
【００３８】
このようにして算出したトランスインピーダンス特性ZT＊は、ST400において表示部112に表示される（出力工程ST400）。
図５は、光受信回路のトランスインピーダンス特性ZT＊を示すグラフである。
このように第2実施形態によれば、光受信回路のフォトダイオードを含めたトランスインピーダンス特性ZT*を正確に評価することができる。
【００３９】
（比較例）
次に、本発明の比較例を示す。
本発明に係る上記実施形態では、差動型トランスインピーダンスアンプ100のトランスインピーダンス特性ZTを評価するにあたり、測定工程S100において、差動型トランスインピーダンスアンプ100のSパラメータを4ポートベクトルネットワークアナライザ101によって測定して得た。
これに対し、本比較例として、差動増幅器のSパラメータを測定する際に最も一般的に使用される2ポートベクトルネットワークアナライザ201を測定系に使用し、この2ポートベクトルネットワークアナライザによって得たSパラメータを用いてトランスインピーダンス特性ZTを評価した場合を示す。
【００４０】
図6は、４ポートベクトルネットワークアナライザ101に代えて、２ポートベクトルネットワークアナライザ201を使用した測定系の構成である。
図6において、差動型トランスインピーダンスアンプ100の入力側の端子を第１端子および第2端子とし、出力側の端子を第3端子および第4端子とする。
本比較例におけるベクトルネットワークアナライザ201は２ポート式であり、第1ポートおよび第2ポートを有する。
そして、差動型トランスインピーダンスアンプ100の第1端子は２ポート式ベクトルネットワークアナライザ201の第1ポートに接続し、第3端子は第2ポートに接続する。
また、差動型トランスインピーダンスアンプ100の第2端子および第4端子には50Ωの終端抵抗R3を接続する。
このような測定系の構成においてSパラメータを測定し、測定したSパラメータに基づいてトランスインピーダンス特性ZTを算出する。
このようにして求められたトランスインピーダンス特性をZT（２ポート測定）として図7に示す。
また、図７には、差動型トランスインピーダンスアンプ100の等価回路を用いた回路解析によって求めたトランスインピーダンス特性ZT（シミュレーション）をあわせて示す。
【００４１】
この図7に示されるように、２ポート式ベクトルネットワークアナライザ201を用いて求めたトランスインピーダンス特性ZT（２ポート測定）は、回路解析にて求められたトランスインピーダンス特性ZT（シミュレーション）とは全く異なった特性を示していることが分かる。すなわち、２ポートベクトルネットワークアナライザ201を用いて求めたトランスインピーダンス特性ZT（２ポート測定）と回路解析にて求めたトランスインピーダンス特性ZT（シミュレーション）との差異は6dBΩの大きさの違いだけではなく、周波数特性の評価として全くことなるものとなっている。
この図７より、差動型トランスインピーダンスアンプの特性評価においては、一般に用いられる２ポート式ベクトルネットワークアナライザを用いては正確な評価ができないことがわかる。
【００４２】
その一方、上記（図3）で説明したように、本発明の実施形態によれば、測定値に基づいて求めたトランスインピーダンス特性ZTと回路解析によって求めたトランスインピーダンス特性ZT（シミュレーション）とは、広い周波数範囲に渡って良く一致している。
これにより、本発明によれば、差動型トランスインピーダンスアンプ100のトランスインピーダンス利得を広い周波数範囲において正確に評価できるという格別な効果を奏することが示された。
【００４３】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加えうることはもちろんである。
上記(式6）においては終端抵抗が50Ωの場合に適用できる式を示したが、終端抵抗が別の値である場合には（式6）の50の値を適宜変更すればよい。また、（式6）では、差動モードのZパラメータの要素ZDD31、ZDD33を用いた式を示したが、相補的関係にあるZDD42、ZDD44に置き換えても等価であり、本発明の範囲であることはもちろんである。
【００４４】
また、上述した評価プログラムは、記録媒体に記録して提供することも可能であり、また、インターネットその他の通信媒体を介して伝送することにより提供することも可能である。また、記憶媒体には、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＲＯＭ（Read Only Memory）カートリッジ、バッテリバックアップ付きＲＡＭ（Random Access Memory）メモリカートリッジ、フラッシュメモリカートリッジ、不揮発性ＲＡＭカートリッジ等が含まれる。また、通信媒体には、電話回線等の有線通信媒体、マイクロ波回線等の無線通信媒体等が含まれる。
【００４５】
この出願は、２００８年８月８日に出願された日本出願特願２００８−２０４９８７を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
本発明は、光通信の受信機に用いられるトランスインピーダンス増幅器の評価に適用することができる。例えば、変調符号としてゼロ復帰符号（RZ: Return-to-zero）の差動位相シフトキーイングや、ゼロ復帰符号の差動四相移送シフトキーイング（DQPSK: Differential Quadrature Phase Shift Keying）の光信号を受信して復調する光受信回路に用いられる差動型トランスインピーダンス増幅器の評価に適用することができる。
【符号の説明】
【００４７】
100…差動型トランスインピーダンスアンプ、101…4ポート式ベクトルネットワークアナライザ、102…入力部、104…フォトダイオード、105…ビット遅延素子、108…ビット遅延干渉計、109…差動増幅器、110…演算制御部、112…表示部、200…光受信回路、201…2ポート式ベクトルネットワークアナライザ、300…差動型トランスインピーダンスアンプの評価装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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