(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
２値の位相変調を行う複数のポートを有するＸ／Ｙ偏波用の２つのＱＰＳＫ変調回路と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を被試験デバイスとし、前記被試験デバイスに対してビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を送信し、前記被試験デバイスの各ポートから送信された信号の入力データと前記基準データとから前記被試験デバイスにおけるビット誤り測定試験を行う複数のビット誤り測定部（１９）と、
前記被試験デバイスから直交する偏波成分と直交する位相成分とを分離した状態で信号を入力して位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示する詳細表示エリア（Ｅ２）と、前記直交する偏波成分と前記直交する位相成分とで分けられた入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリア（Ｅ３）と、
を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面（Ｓ）を表示部（１６）の表示画面上に表示制御する表示制御部（１５）と、
を備えたことを特徴とする誤り率測定表示装置。
【請求項２】
前記詳細表示エリア（Ｅ２）は、
前記多重化した入力データに応じた複数の表示エリアに区分けされ、
前記区分けした各表示エリア内には、ビット誤り率を表示する表示項目とビットのエラー個数を表示する表示項目との各項目についてそれぞれの合計値の表示項目と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラーを表示する表示項目と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー表示する表示項目とが対応付けした状態で表示されることを特徴とする請求項１記載の誤り率測定表示装置。
【請求項３】
前記詳細表示エリア（Ｅ２）には、さらに前記入力データの周波数を表示する表示項目と、クロックカウント数と表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目と、前記入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうちの少なくとも１つの項目が表示されることを特徴とする請求項１又は２記載の誤り率測定表示装置。
【請求項４】
前記簡易表示エリア（Ｅ３）には、さらにビット誤り率を表示する表示項目と、ビットのエラー個数を表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうちの少なくとも１つの項目が表示されることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の誤り率測定表示装置。
【請求項５】
２値の位相変調を行う複数のポートを有するＸ／Ｙ偏波用の２つのＱＰＳＫ変調回路と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を被試験デバイスとして前記各ポートに対して実施したビット誤り測定試験の測定結果を表示部（１６）に表示する誤り率測定表示方法であって、
前記被試験デバイスに対してビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を送信し、前記被試験デバイスの各ポートから送信された信号の入力データと前記基準データとから前記被試験デバイスにおける各ポートに応じたビット誤り測定試験を行うステップと、
前記被試験デバイスから直交する偏波成分と直交する位相成分とを分離した状態で信号を入力して位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示する詳細表示エリア（Ｅ２）と、前記直交する偏波成分と前記直交する位相成分とで分けられた入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリア（Ｅ３）と、を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面（Ｓ）を前記表示部の表示画面上に表示制御するステップと、
を含むことを特徴とする誤り率測定表示方法。
【請求項６】
前記詳細表示エリア（Ｅ２）を前記多重化した入力データに応じた複数の表示エリアに区分けし、
前記区分けした各表示エリア内に、ビット誤り率を表示する表示項目とビットのエラー個数を表示する表示項目との各項目についてそれぞれの合計値の表示項目と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラーを表示する表示項目と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー表示する表示項目とが対応付けした状態で表示するステップを含むことを特徴とする請求項５記載の誤り率測定表示方法。
【請求項７】
前記詳細表示エリア（Ｅ２）内に、前記入力データの周波数を表示する表示項目と、クロックカウント数と表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目と、前記入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうち、少なくとも１つの項目を表示するステップを含むことを特徴とする請求項５又は６記載の誤り率測定表示方法。
【請求項８】
前記簡易表示エリア（Ｅ３）内に、ビット誤り率を表示する表示項目と、ビットのエラー個数を表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうち、少なくとも１つの項目を表示するステップを含むことを特徴とする請求項５〜７の何れかに記載の誤り率測定表示方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験デバイスを介して入力される被測定信号のビット誤り率測定を行う誤り率測定表示装置に係り、特に複数台の被試験デバイスや複数のポートを有する被試験デバイスからの入力データのビットエラー結果や任意に選択した入力データを多重化した際のビットエラー結果を一画面上に閲覧可能に表示する誤り率測定表示装置及び方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種のディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められている。そして、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標として、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率（Bit Error Rate）が知られている。
【０００３】
また、試験対象となる光変換部品等の被試験デバイス（Device Under Test ：ＤＵＴ）に対して固定データを含むテスト信号を送信し、被試験デバイスを介して入力される被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較して、被測定信号の誤り率を検出する装置として、例えば下記特許文献１に開示されるような装置が公知である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２７４４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、次世代の光通信の実現には、大容量の通信データを高速に扱う技術が必要であり、これらを満足するために被試験デバイスも多チャネル化してきている。このような流れの中、近年では１波長あたり１００Ｇｂｉｔ／ｓ級の大容量光通信の実現に向けた多値位相変調ディジタルコヒーレント伝送技術として偏波直交多重多値デジタル信号の変調方式の１つであるＤＰ−ＱＰＳＫ（Dual Polarization Differential Quadrature Phase Shift Keying）方式の変調を行う光変調器として、Ｘ／Ｙ偏波用の２つのＱＰＳＫ変調回路（それぞれ２値の位相変調を行うＩポート、Ｑポートを有する）と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるＬＮ光交換器が開発されている。
【０００６】
しかしながら、特許文献１を含む従来の誤り率測定装置では、１つのポートを有する被試験デバイスとの接続を前提とした装置構成であるため、上記のような複数のポートを有する被試験デバイスのビット誤り測定試験をすることができなかった。また、この種の被試験デバイスに対し、複数台の誤り率測定装置を接続することで試験を行うことは可能であるが、データを多重化する試験を行うには各ポートのデータの位相合わせ等を行う必要があるため、非常に困難であった。
【０００７】
さらに、上述した複数ポートを有する被試験デバイスや複数台の被試験デバイスにおける測定結果を表示部に表示した場合、例えば複数ポートのデータを多重化した測定結果の表示と、複数あるポートの測定結果のうち何れか１つの測定結果しか表示できないため、多重化したデータにビット誤りが存在した場合、被試験デバイスのどのポートにビット誤りが存在するのか、その都度、表示画面を切り換えて見比べなければならず確認作業が煩雑であった。
【０００８】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、複数台の被試験デバイスや複数のポートを有する被試験デバイスの測定試験に対応し、且つ測定結果を一画面上に閲覧可能として利便性の向上を図ることのできる誤り率測定表示装置及び方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記した目的を達成するため、請求項１記載の誤り率測定表示装置は、２値の位相変調を行う複数のポートを有するＸ／Ｙ偏波用の２つのＱＰＳＫ変調回路と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を被試験デバイスとし、前記被試験デバイスに対してビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を送信し、前記被試験デバイスの各ポートから送信された信号の入力データと前記基準データとから前記被試験デバイスにおけるビット誤り測定試験を行う複数のビット誤り測定部１９と、
前記被試験デバイスから直交する偏波成分と直交する位相成分とを分離した状態で信号を入力して位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示する詳細表示エリアＥ２と、前記直交する偏波成分と前記直交する位相成分とで分けられた入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリアＥ３と、
を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面Ｓを表示部１６の表示画面上に表示制御する表示制御部１５と、
を備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の誤り率測定表示装置は、前記詳細表示エリアＥ２は、
前記多重化した入力データに応じた複数の表示エリアに区分けされ、
前記区分けした各表示エリア内には、ビット誤り率を表示する表示項目とビットのエラー個数を表示する表示項目との各項目についてそれぞれの合計値の表示項目と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラーを表示する表示項目と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー表示する表示項目とが対応付けした状態で表示されることを特徴とする。
【００１１】
請求項３記載の誤り率測定表示装置は、請求項１又は２記載の誤り率測定表示装置において、前記詳細表示エリア（Ｅ２）には、さらに前記入力データの周波数を表示する表示項目と、クロックカウント数と表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目と、前記入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうちの少なくとも１つの項目が表示されることを特徴とする。
【００１２】
請求項４記載の誤り率測定表示装置は、請求項１〜３の何れかに記載の誤り率測定表示装置において、前記簡易表示エリア（Ｅ３）には、さらにビット誤り率を表示する表示項目と、ビットのエラー個数を表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうちの少なくとも１つの項目が表示されることを特徴とする。
また、請求項５記載の誤り率測定表示方法は、２値の位相変調を行う複数のポートを有するＸ／Ｙ偏波用の２つのＱＰＳＫ変調回路と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を被試験デバイスとして前記各ポートに対して実施したビット誤り測定試験の測定結果を表示部（１６）に表示する誤り率測定表示方法であって、
前記被試験デバイスに対してビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を送信し、前記被試験デバイスの各ポートから送信された信号の入力データと前記基準データとから前記被試験デバイスにおける各ポートに応じたビット誤り測定試験を行うステップと、
前記被試験デバイスから直交する偏波成分と直交する位相成分とを分離した状態で信号を入力して位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示する詳細表示エリア（Ｅ２）と、前記直交する偏波成分と前記直交する位相成分とで分けられた入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリア（Ｅ３）と、を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面（Ｓ）を前記表示部の表示画面上に表示制御するステップと、
を含むことを特徴とする。
また、請求項６記載の誤り率測定表示方法は、請求項５記載の誤り率測定表示方法において、前記詳細表示エリア（Ｅ２）を前記多重化した入力データに応じた複数の表示エリアに区分けし、
前記区分けした各表示エリア内に、ビット誤り率を表示する表示項目とビットのエラー個数を表示する表示項目との各項目についてそれぞれの合計値の表示項目と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラーを表示する表示項目と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー表示する表示項目とが対応付けした状態で表示するステップを含むことを特徴とする。
また、請求項７記載の誤り率測定表示方法は、請求項５又は６記載の誤り率測定表示方法において、前記詳細表示エリア（Ｅ２）内に、前記入力データの周波数を表示する表示項目と、クロックカウント数と表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目と、前記入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうち、少なくとも１つの項目を表示するステップを含むことを特徴とする。
また、請求項８記載の誤り率測定表示方法は、請求項５〜７の何れかに記載の誤り率測定表示方法において、前記簡易表示エリア（Ｅ３）内に、ビット誤り率を表示する表示項目と、ビットのエラー個数を表示する表示項目と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目のうち、少なくとも１つの項目を表示するステップを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の誤り率測定表示装置によれば、複数のポートを有する被試験デバイス又は複数台の被試験デバイスに対するビット誤り測定試験を実施することができ、さらに各ポートにおける入力データの測定結果や入力データを多重化したときの測定結果等を見比べる際に、測定結果表示画面上に全て表示されているため、表示画面を切り替えることなく被試験デバイスのビット誤り測定試験の測定結果を容易に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明に係る誤り率測定表示装置の概略ブロック図である。
【図２】（ａ）、（ｂ）はビット誤り測定試験時における同装置と被試験デバイスとの接続例を示す説明図である。
【図３】同装置における誤り率測定結果の表示例を示す説明図である。
【図４】同装置における誤り率測定結果の表示例を示す説明図である。
【図５】同装置における誤り率測定結果の表示例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。また、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではなく、この形態に基づいて当業者などによりなされる実施可能な他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれる。
【００１６】
本発明の誤り率測定表示装置は、被試験デバイスの品質を評価するための測定試験を実施するにあたり、基準になるデータを表す信号を被試験デバイスに送信し、被試験デバイスが受信した信号を再度受信することで、被試験デバイスの測定試験として実施される被試験デバイスからの入力信号と基準になるデータとを比較してビット誤りの検出と、入力信号のデータのビット数に対するビット誤り率等の測定試験結果を表示部に表示する装置である。
【００１７】
そして、本装置では、被試験デバイスと接続するポートを複数有し、複数台の被試験デバイスからの各入力信号の測定結果と多重化した信号の測定試験結果や、複数ポートを有する被試験デバイスにおける各ポートの入力信号の測定結果と各入力信号を多重化した測定試験結果を一画面上に一覧表示してユーザの利便性を図っている。
【００１８】
なお、被試験デバイスは、ビット列からなるデータを表す信号を送信するものであれば如何なるものでもよい。また、誤り率測定表示装置と被試験デバイスとの間で送受信されるデータは、電気信号でもよく、又は光信号でもよい。
【００１９】
また、本装置の測定対象となる被試験デバイスとしては、従来から周知のポートが１つの光変換器の他、複数のポートを有する例えば１００Ｇｂｉｔ／ｓのシステムに適用するＤＰ−ＱＰＳＫ型ＬＮ光変調器等の各種光部品を対象としている。
【００２０】
まず、本発明に係る誤り率測定表示装置の構成について説明する。
図１に示すように、本例の誤り率測定表示装置１は、記憶部１１と、信号送信部１２と、信号受信部１３と、測定処理部１４、表示制御部１５と、表示部１６と、設定操作部１７とで構成されている。図示の例では、本装置が複数のポートを有する被試験デバイスと接続して測定試験を行う際の構成例である。
【００２１】
また、本例の誤り率測定表示装置１は、図中点線で示すように記憶部１１と、信号送信部１２と、信号受信部１３との構成を「信号送受信部１８」とし、複数台の被試験デバイスや複数のポートを有する被試験デバイスの測定を可能とするため、図中二点鎖線で示すようにこの信号送受信部１８と測定処理部１４と一組としたビット誤り測定部１９を、１ユニット内に複数組（本例では４組）備えた構成となっている。
【００２２】
なお、図１に示したように、誤り率測定表示装置１は、各部を一体化したものとして構成して説明するが、表示制御部１５、表示部１６及び設定操作部１７を別構成であるＰＣ等の情報処理端末で代用してもよい。
【００２３】
記憶部１１は、例えば書き換え可能なＲＯＭやＲＡＭなどの半導体メモリやＨＤＤなどで構成され、被試験デバイスに送信する基準となる試験用データ（以下、「基準データ」という）を予め記憶している。記憶部１１は、被試験デバイスの測定を行う際に信号送信部１２によって基準データが読み込まれる。また、記憶部１１は、信号受信部１２が受信した信号の入力データのビット誤り測定を行う際に、測定処理部１５によって基準データが読み込まれる。
【００２４】
信号送信部１２は、記憶部１１に記憶される基準データを読み込み、この読み込んだデータを表す信号を被試験デバイスに送信している。
【００２５】
信号受信部１３は、被試験デバイスから送信された信号を受信し、受信した信号の入力データを測定処理部１４に出力している。
【００２６】
測定処理部１４は、設定操作部１７からの測定試験に応じた操作指示により、記憶部１１から読み込んだ基準データと、信号受信部１３が受信した入力データとの同期を取り、測定試験を開始する位置にある記憶部１１の基準となるデータのビットから順に、信号受信部１３から出力されたビットと比較してビット誤りやビット誤り率等の測定試験内容に則した処理を行う。そして、測定処理部１４は、測定した結果を測定結果データとして表示制御部１５に出力している。
【００２７】
表示制御部１５は、測定処理部１４からの測定結果データと設定操作部１７からの設定情報とに応じた表示制御情報を表示部１６に出力し、表示部１６の画面上に表示制御情報に応じた測定結果表示画面Ｓを表示させている。詳述すると、表示制御部１５は、設定操作部１７で設定された測定試験の設定条件内容を、測定結果表示画面Ｓ上の設定条件表示エリアＥ１内の対応する項目に反映させるための設定条件表示情報を表示部１６に出力している。また、表示制御部１５は、誤り率測定表示装置１に接続される被試験デバイス（又は複数の被試験デバイス）の各ポートから入力した信号の入力データのうち選択された入力データの詳細内容を、測定結果表示画面Ｓ上の詳細表示エリアＥ２に表示するための詳細表示情報を表示部１６に出力している。
【００２８】
さらに、表示制御部１５は、被試験デバイスから受信した信号の入力データを多重化した表示を、測定結果表示画面Ｓ上の詳細表示エリアＥ２に表示するための多重化表示情報を表示部１６に出力している。また、表示制御部１５は、誤り率測定表示装置１に接続される被試験デバイス（又は複数の被試験デバイス）の各ポートから入力した信号の全入力データの簡易内容を、測定結果表示画面Ｓ上の簡易表示エリアＥ３に表示するための簡易表示情報を表示部１６に出力している。
【００２９】
表示部１６は、液晶ディスプレイやＣＲＴ等の表示機器で構成され、表示制御部１５からの表示制御に応じて測定処理部１４で測定された測定結果を測定結果表示画面Ｓとして表示出力している。
【００３０】
ここで、表示部１６に表示される測定結果表示画面Ｓの表示例について、図２〜図５を参照しながら説明する。
なお、図３、図４に示す表示例１は、図２（ａ）に示す本例の誤り率測定表示装置１に４つの光変調器（ポート数：１つ）を被試験デバイスとして接続してビット誤り検出等の測定を行った際の表示例である。また、図５に示す表示例２は、図２（ｂ）に示す本例の誤り率測定表示装置１に複数のポート（ポート数：４つ）を有する変調方式がＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を被試験デバイスとして接続してビット誤り検出等の測定を行った際の表示例である。
【００３１】
（表示例１−１）
図３に示すように、本例の誤り率測定表示装置１に被試験デバイスとして４つの光変調器を接続して測定試験を行ったときに表示される測定結果表示画面Ｓである。この測定結果表示画面Ｓには、設定条件表示エリアＥ１と、詳細表示エリアＥ２と、簡易表示エリアＥ３の３つの表示エリアに大別される。なお、各表示エリア内の表示項目については主要なものについてのみ説明する。
【００３２】
設定条件表示エリアＥ１は、被試験デバイスの測定試験を実施する際に必要な測定サイクルの設定に必要な各項目が表示されるエリアである。表示内容としては、測定サイクルを繰り返し行うかを設定する表示項目（図中「Ｃｙｃｌｅ」）と、測定サイクルの間隔を設定する表示項目（図中「Ｕｎｉｔ」）と、カレント表示のＯＮ／ＯＦＦを設定する表示項目（図中「Ｃｕｒｅｎｔ」）と、表示周期を設定する表示項目（図中「Ｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎ」）とがエリア内に表示されている。
【００３３】
詳細表示エリアＥ２は、複数の被試験デバイスにおける各ポートからの入力データを多重化したときの測定結果や、被試験デバイスの各ポートからの入力データの中から任意に選択された１つの測定結果について詳細な測定結果を表示するエリアである。表示内容としては、「Ｄａｔｅ２」についての詳細表示であり、ビット誤り率を表示する表示項目（図中「ＥＲ」）と、ビットのエラー個数を表示する表示項目（図中「ＥＣ」）との各項目について、合計値の表示項目（図中「Ｔｏｔａｌ」）と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラー（Insertion Error ）を表示する表示項目（図中「ＩＮＳ」）と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー（Omision Error ）表示する表示項目（図中「ＯＭＩ」）とが表示されている。
【００３４】
また、詳細表示エリアＥ２内には、測定区間（時間）中のエラーフリーの率を表示する表示項目（図中「％ＥＦＩ」）と、測定区間（時間）中にエラーが発生したインターバル数を表示する表示項目（図中「ＥＩ」）とが表示されている。さらに、詳細表示エリアＥ２内には、入力データの周波数（ＫＨｚ）を表示する表示項目（図中「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ」）、クロックカウント数と表示する表示項目（図中「Ｃｌｏｃｋ  Ｃｏｕｎｔ」）、クロックロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｃｌｏｃｋ  Ｌｏｓｓ」）と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｓｙｎｃ  Ｌｏｓｓ」）、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目（図中「Ｅｒｒｏｒ」）とが表示されている。また、上記「Ｃｌｏｃｋ  Ｌｏｓｓ」、「Ｓｙｎｃ  Ｌｏｓｓ」及び「Ｅｒｒｏｒ」の項目には、それぞれカレントデータ又はヒストリカルデータによる測定結果であることが識別可能な表示アイコン（例えば、カレントデータを「赤」、ヒストリカルデータを「黄」のような色別表示）が連動表示されている。
【００３５】
（表示例１−２）
なお、詳細表示エリアＥ２には、複数の被試験デバイスからの信号を任意に選択し、これらの信号の入力データを多重化した測定結果を表示することもできる。この場合、図４に示すように、任意に選択した信号の入力データを多重化した測定結果の詳細内容を詳細表示エリアＥ２に表示するようになっている。ここでは、図例ではＤｅｔａ１とＤｅｔａ２を多重化したデータの詳細内容を詳細表示エリアＥ２に表示した例である。
【００３６】
（表示例２）
図５に示すように、本例の誤り率測定表示装置１に被試験デバイスとして変調方式がＤＰ−ＱＰＳＫ方式のＬＮ光変調器を接続して測定試験を行ったときに表示される測定結果表示画面Ｓである。この測定結果表示画面Ｓには、設定条件表示エリアＥ１と、詳細表示エリアＥ２と、簡易表示エリアＥ３の３つの表示エリアに大別される。なお、各表示エリア内の表示項目については主要なものについてのみ説明する。
【００３７】
設定条件表示エリアＥ１は、被試験デバイスの測定試験を実施する際に必要な測定サイクルの設定に必要な各項目が表示されるエリアである。表示内容としては、測定サイクルを繰り返し行うかを設定する表示項目（図中「Ｃｙｃｌｅ」）と、測定サイクルの間隔を設定する表示項目（図中「Ｕｎｉｔ」）と、カレント表示のＯＮ／ＯＦＦを設定する表示項目（図中「Ｃｕｒｅｎｔ」）と、表示周期を設定する表示項目（図中「Ｃａｌｃｕｌａｔｉｏｎ」）とがエリア内に表示されている。
【００３８】
詳細表示エリアＥ２は、被試験デバイスから直交する偏波成分（Ｘ偏波、Ｙ偏波）と直交する位相成分（Ｉ／Ｑチャネル）を分離した状態で信号を入力し、位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示するエリアである。表示内容としては、多重化した入力データ毎に２つの表示エリア（本例では、Ｉ変調の２つの入力データを多重化したデータの測定結果を表示するエリアと、Ｑ変調した２つの入力データを多重化したデータの測定結果を表示するエリア）に区分けされており、各エリアにはビット誤り率を表示する表示項目（図中「ＥＲ」）と、ビットのエラー個数を表示する表示項目（図中「ＥＣ」）との各項目について、合計値の表示項目（図中「Ｔｏｔａｌ」）と、正側パルスを［０］の正しいビット値が［１］の誤ったビット値に変化するインサーションエラー（Insertion Error ）を表示する表示項目（図中「ＩＮＳ」）と、負側パルスを［１］の正しいビット値が［０］の誤ったビット値に変化するオミッションエラー（Omision Error ）表示する表示項目（図中「ＯＭＩ」）とが表示されている。
【００３９】
また、詳細表示エリアＥ２内には、測定区間（時間）中のエラーフリーの率を表示する表示項目（図中「％ＥＦＩ」）と、測定区間（時間）中にエラーが発生したインターバル数を表示する表示項目（図中「ＥＩ」）とが表示されている。さらに、詳細表示エリアＥ２内には、入力データの周波数（ＫＨｚ）を表示する表示項目（図中「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ」）、クロックカウント数と表示する表示項目（図中「Ｃｌｏｃｋ  Ｃｏｕｎｔ」）、クロックロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｃｌｏｃｋ  Ｌｏｓｓ」）と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｓｙｎｃ  Ｌｏｓｓ」）、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目（図中「Ｅｒｒｏｒ」）とが表示されている。また、上記「Ｃｌｏｃｋ  Ｌｏｓｓ」、「Ｓｙｎｃ  Ｌｏｓｓ」及び「Ｅｒｒｏｒ」の項目は、それぞれカレントデータ又はヒストリカルデータによる測定結果であることが識別可能な表示アイコン（例えば、カレントデータを「赤」、ヒストリカルデータを「黄」のような色別表示）が連動表示されている。
【００４０】
簡易表示エリアＥ３は、直交する偏波成分（Ｘ／Ｙ偏波）と位相成分（Ｉ／Ｑチャネル）とで分けられた４つの入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示するエリアである。表示内容としては、表示内容としては、ビット誤り率を表示する表示項目（図中「ＥＲ」）と、ビットのエラー個数を表示する表示項目（図中「ＥＣ」）と、クロックロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｃｌｏｃｋ  Ｌｏｓｓ」）と、シンクロロスインターバル数を表示する表示項目（図中「Ｓｙｎｃ  Ｌｏｓｓ」）、入力データ内にエラーの有無を直感的に識別可能な表示項目（図中「Ｅｒｒｏｒ」）とが表示され、各項目にはカレントデータ又はヒストリカルデータによる測定結果であることが識別可能な表示アイコン（例えば、カレントデータを「赤」、ヒストリカルデータを「黄」のような色別表示）が連動表示されている。
【００４１】
設定操作部１７は、テンキーや各種操作キー、表示部１６の表示画面上に表示された表示要素の画像領域を操作するマウス又はタッチパネル等のポインティングデバイスで構成される。設定操作部１７は、ユーザが被試験デバイスの評価試験を行う際に所望の試験条件を設定や、表示部１６に表示する表示内容の切り替え時に操作され、操作した内容に応じた設定情報が設定対象となる設定先に出力される。
【００４２】
そして、上述した誤り率測定表示装置１では、まず測定対象となる被試験デバイスに対するビット誤り測定試験を実施する。次に、接続される複数台の被試験デバイス又は複数のポートを有する被試験デバイスからの入力データに応じた簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリアＥ３と、複数台の被試験デバイスからの入力データに対する測定結果のうち任意に選択された被試験デバイスの測定結果の詳細表示又は被試験デバイスが有する複数のポートに対応する入力データの測定結果のうち任意に選択された入力データを多重化した測定結果の詳細内容を表示する詳細表示エリアＥ２と、を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面Ｓを表示部１６の表示画面上に表示制御している。
【００４３】
以上説明したように、上述した誤り率測定表示装置１は、複数のポートを有する被試験デバイス又は複数台の被試験デバイスに対するビット誤り測定試験を実施するため、ビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を被試験デバイスに送信し、被試験デバイスから送信された信号の入力データと基準データとから被試験デバイスにおけるビット誤り測定試験を行うビット誤り測定部１９を複数備えた構成とする。そして、ビット誤り測定部１９で測定した被試験デバイスからの各入力データにおける簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリアＥ３と、ビット誤り測定部１９で測定されたポート毎の測定結果のうち、任意に選択された入力データ又は任意に選択して多重化した測定結果の詳細内容を表示する詳細表示エリアＥ２とを少なくとも一画面上にエリア分けした状態の表示画面を測定結果表示画面Ｓとして表示部１６の表示画面上に表示制御している。
【００４４】
これにより、複数のポートを有する被試験デバイス又は複数台の被試験デバイスに対するビット誤り測定試験を実施することができ、さらに各ポートにおける入力データの測定結果や入力データを多重化したときの測定結果等を見比べる際に、測定結果表示画面Ｓ上に全て表示されているため、表示画面を切り替えることなく被試験デバイスのビット誤り測定試験の測定結果を容易に把握することができる。
【符号の説明】
【００４５】
１…誤り率測定表示装置
１１…記憶部
１２…信号送信部
１３…信号受信部
１４…測定処理部
１５…表示制御部
１６…表示部
１７…設定操作部
１８…信号送受信部
１９…ビット誤り測定部
Ｓ…測定結果表示画面
Ｅ１…設定条件表示エリア
Ｅ２…詳細表示エリア
Ｅ３…簡易表示エリア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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