【事件の表示】
　上記当事者間の登録第４５７９４００号商標の登録取消審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
　審判費用は、請求人の負担とする。
【理　由】
第１　本件商標
　本件登録第４５７９４００号商標（以下「本件商標」という。）は、「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ」の欧文字を横書きしてなり、平成１１年５月７日に登録出願、第９類「表面の疵・欠陥を見つけるためのカメラ付き自動検査測定器具，電子計算機（中央処理装置及び電子計算機用プログラムを記憶させた磁気ディスク・磁気テープ・ＣＤ−ＲＯＭその他の周辺機器を含む。），その他の電子応用機械器具及びその部品」を指定商品として同１４年６月２１日に権利者を「コグネックス株式会社」として設定登録され、その後、平成２８年６月２０日に「コグネックス・コーポレーション」に、同年７月６日に「アメテック　インコーポレイテッド」にそれぞれ特定承継による本権の移転がされ、現に有効に存続しているものである。
　なお、本件取消の請求の登録は、平成２９年３月７日にされたものである。
第２　請求人の主張
　請求人は、本件商標の登録を取り消す、審判費用は被請求人の負担とするとの審決を求め、その理由を、本件商標は、その指定商品について、継続して３年以上日本国内において、商標権者、専用使用権者又は通常使用権者のいづれによっても使用されていないから、その登録は、商標法第５０条第１項の規定により取り消されるべきである旨述べた。
　なお、請求人は、被請求人の答弁に対して何ら弁駁していない。
第３　被請求人の主張
　被請求人は、結論同旨の審決を求めると答弁し、通常使用権者であるアメテック株式会社が、本件商標を、本件審判請求の登録前３年以内に、指定商品について日本国内において使用している旨次のように述べ、証拠方法として、乙第１号証ないし乙第１４号証を提出した。
１　証拠について
（１）乙第２号証ないし乙第４号証について
　乙第２号証は、紙パルプ産業の業界誌である「紙パ技協誌２０１６年１月号」の抜粋写しである。この雑誌は、日本学術会議法に定める登録学術団体である紙パルプ技術協会が発行し、メーカー、研究所、大学等に頒布されている（乙３）。
　「紙パ技協誌２０１６年１月号」には、アメテック株式会社の広告が掲載され、その中には、「自動欠陥検査・分類システム」の文字の下に、「ＳＭＡＲＴ」（「Ａ」の文字の横線はない。）及び「ＶＩＥＷ」の各文字が２段に大きく書され、「Ａ」の文字の右斜線と「Ｖ」の文字の左斜線とが一体となっている。「ＶＩＥＷ」の文字の左方に配した楕円形内には、「スマート・ビュー」の文字が書され、その下に「ＳｍａｒｔＶｉｅｗは、アメテック・サーフェースビジョンの最新技術を搭載した、連続シートプロセス向けの欠陥検査・分類システムです。現在、世界各国の多くの紙・金属・フィルム・不織布工場で導入され、高度な検査・品質管理を実現しています。」との説明文がある。
　乙第４号証は、自動欠陥検査・分類システム「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ」の製品カタログの写しであり、平成２７年１０月に作成されたものである。４頁中央の「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ　基本システム」の説明として、「各ラインに適切な光学系（照明種やカメラの配置）、その他ハードウェア、さらには検出分類ソフトウエアを組み合わせ、アプリケーションに最適な検査技術／ソリューションを提供します。」との記載がある。
（２）乙第５号証について
　乙第５号証は、紙パルプ産業の業界誌である「紙パルプ技術タイムス２０１６年２月号」の抜粋写しである。これによると、紙パルプ技術協会は、「第３９回紙パルプ計装技術発表会を平成２７年１２月１０日、東京都江戸川区・タワーホール船堀にて開催し」（２４頁）、「講演と併せて、展示ホールではサプライヤー２２社による展示会も開催された。」（２５頁）。また、各社の主な出展内容として「アメテック：表面欠陥検査システムＳｍａｒｔＶｉｅｗおよびＳｍａｒｔＶｉｅｗＣｏｌｏｒ」等の記載があり、第２６頁の写真によると、アメテックのブースには、当該システム「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ」が展示されている。
（３）乙第６号証ないし乙第９号証について
　乙第６号証は、フィルム・不織布・紙の情報誌である「ＷＥＢ　Ｊｏｕｒｎａｌ　２０１６年４月号」の抜粋写しである。その表紙には、乙第２号証とほぼ同じ内容の、本件商標を使用した商品の広告が掲載されている。そして、「第７回高機能フィルム展」、「２０１６年４月６日（水）〜８日（金）　東京ビッグサイト」、「アメテック出展小間番号　Ｅ１５−２８」の記載がある。
　また、９頁から１１頁に、アメテック株式会社の社員が作成した「アメテック・サーブエースビジョンのウェブ欠陥検査システムＳｍａｒｔＶｉｅｗ７シリーズ」の紹介記事があり、その中に、「今回、リリースしたＳｍａｒｔＶｉｅｗ７シリーズは、これまでのＳｍａｒｔＶｉｅｗの欠陥検出/欠陥判定のコンセプトはそのままに、高速・高解像度カメラやカラー・カメラなど、さまざまな種類のカメラを搭載でき、また、スリッター向けのアプリケーション・ソフトウェアやストリーミング・ビデオ画像を表示できるなど、ユーザーにとって有用な機能アップを図っている。」との記載がある。
　乙第７号証は、２０１６年４月６日（水）から８日（金）まで東京ビッグサイトで開催された「第７回高機能フィルム展」の招待券の写しである。その裏面の出展社一覧には、「（株）アメテック」の記載がある。
　乙第８号証は、「第７回高機能フィルム展」における、アメテック株式会社のブースの写真である。壁及びディスプレイ置台の側面に、「Ａ」の文字の右斜線と「Ｖ」の文字の左斜線とが一体となった「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ」の文字、ブース上部に、「ＡＭＥＴＥＫ」、「欠陥検査システム」等の記載がある。
　乙第９号証は、「紙パルプ技術タイムス２０１６年５月号」の抜粋写しである。「高機能素材ワールド２０１６が４月６〜８日、東京・有明の東京ビッグサイトで開催された。」、その展示会の１つである、第７回高機能フィルム展（フィルムテックジャパン）では、アメテックが「紙・フィルム・不織布・金属など幅広い産業向けに世界で１０００システム以上の実績をもつ高性能表面検査欠陥システム“ＳｍａｒｔＶｉｅｗ”および拡張製品、画像モニタリング・プロセス解析システムなどを出展」との記載がある。この記事の下にある写真の被写体であるアメテックの展示ブースは、乙第８号証の写真と同一である。
（４）乙第１０号証ないし乙第１２号証について
　乙第１０号証は、「紙パルプ技術タイムス２０１６年１２月号」の抜粋写しである。「紙パルプ技術協会は、２０１６年１０月５〜７日の３日間にわたり、香川県高松市において『第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会』を開催」、「サプライヤー６１社による紙パルプ関連機器・資材・薬品などの展示会がサンメッセ香川の展示ホールで開催された。」、出展社として「アメテック（株）　欠陥システム“スマートビューカラー”・・・などを展示。」との記載、アメテックの展示ブースの写真がある。
　乙第１１号証は、「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会」における、アメテック株式会社のブースの写真である。ブースの上部に「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ（旧コグニックス　欠陥検査システム）の文字、パネルに「スマートビューカラー」、「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ　Ｃｏｌｏｒ」の文字の記載がある。被写体であるアメテックの展示ブースは、乙第１０号証の写真と同一である。
　乙第１２号証は、「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会　講演要旨集」の抜粋写しである。３８１頁から３８５頁に、アメテック株式会社の社員が作成した「新しい検査システムにおけるカラー欠陥判定」の記事があり、その中に、「アメテック・サーフェースビジョンはこのたび、カラー・ラインカメラを搭載した欠陥検査システム『ＳｍａｒｔＶｉｅｗ７．２Ｃ』をリリースした。日本国内の紙パルプ業界では、カラーにもとづいた検査要求が年々増しており、当社はユーザーの意向を受けてカラー・ラインカメラによる欠陥検査システム（以下、カラー欠陥検査システムと呼ぶ）を開発するに至った。」との記載がある。また、２０頁には、乙第２号証とほぼ同じ内容の、本件商標を使用した商品の広告が掲載されている。
（５）乙第１３号証について
　乙第１３号証は、平成２８年１２月２１日に、東京都江戸川区・タワーホール船堀にて開催された「第４０回紙パルプ計装技術発表会　講演要旨集・計装ショー案内」の抜粋写しである。１頁の展示ホール地図には、「アメテック（株）」、２頁及び３頁の「アメテック株式会社」の項には、「表面欠陥検査システムＳｍａｒｔＶｉｅｗ　Ｃｏｌｏｒ（スマート・ビュー・カラー）」、「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ（スマート・ビュー）の記載がある。また、２９頁には、乙第２号証とほぼ同じ内容の、本件商標を使用した商品の広告が掲載されている。
２　本件商標の使用について
（１）使用商品及び使用商標
　乙第４号証（製品カタログ）の表紙並びに乙第６号証、乙第１２号証及び乙第１３号証の広告には、「自動欠陥検査・分類システム」の文字の下に、「ＳＭＡＲＴ」（「Ａ」の文字の横線はない。）及び「ＶＩＥＷ」の各文字（「Ａ」の文字の右斜線と「Ｖ」の文字の左斜線とが一体となっている。）が２段に書されている。
　また、乙第４号証３頁の「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ　基本システム」の項には、「各ラインに適切な光学系（照明種やカメラの配置）、その他ハードウェア、さらには検出分類ソフトウェアを組み合わせ、アプリケーションに最適な検査技術／ソリューションを提供します。」との記載があることから、このカタログは、被請求人の製品である「表面の疵・欠陥を見つけるためのカメラ付き自動検査測定器具」、コンピュータハードウェア及びソフトウェアを含む「電子計算機（中央処理装置及び電子計算機用プログラムを記憶させた磁気ディスク・磁気テープ・ＣＤ−ＲＯＭその他の周辺機器を含む。）、その他の電子応用機械器具及びその部品」についてのカタログであり、乙第６号証、乙第１２号証及び乙第１３号証も、前記商品についての広告である。
　次に、「Ａ」の文字の右斜線と「Ｖ」の文字の左斜線とが一体となった「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ」の文字は、本件商標の書体のみに変更を加えた、同一の文字からなる商標である。また、楕円形内に書された「スマート・ビュー」の文字は、本件商標を構成するローマ字を片仮名に変更したものであって、「スマートビュー」の称呼及び「精密で高感度な視野」の観念を共通とする商標である。さらに、乙第５号証、乙第８号証及び乙第１１号証の写真において、展示ブースに掲出された「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ」の商標は、本件商標とは、大文字・小文字の差異を有するにすぎない。
　したがって、いずれの商標も、商標法第５０条第１項に定める、本件商標と社会通念上同一と認められる商標である。
（２）使用者
　乙第４号証（製品カタログ）の表紙並びに乙第６号証、乙第１２号証及び乙第１３号証の広告には、「アメテック株式会社」と記載されていることから、カタログの作成者および広告主は、アメテック株式会社である。したがって、上記カタログ等は、商標権者の製品の販売のために、アメテック株式会社により作成され頒布されたものと理解するのが自然である。
　そして、アメテック株式会社のウェブサイト（乙１４）によれば、商標権者である「ＡＭＥＴＥＫ　Ｉｎｃ．は米国ペンシルバニア州バーウィンに本社を置くモーターなどの電動機器、航空機用の計器、精密機器、分析機器、各種計測機器のグローバルに活動するメーカー」であって、「日本法人であるアメテック（株）はＡＭＥＴＥＫ　Ｉｎｃ．のビジョンを実現させるための日本拠点として２００９年４月に設立された」ものである。
　したがって、アメテック株式会社は、本件商標の使用について、被請求人（商標権者）から黙示の許諾を受けていた通常使用権者である。
（３）使用時期及び使用場所
　乙第４号証（製品カタログ）の表紙並びに乙第６号証、乙第１２号証及び乙第１３号証の広告は、２０１５年（平成２７年）１０月から２０１６年（平成２８年）１２月にかけて、我が国で発行されたものである。
　また、各展示会は、２０１５年（平成２７年）１２月から２０１６年（平成２８年）１２月にかけて、我が国で開催されたものである。
（４）小括
　以上を総合すると、２０１５年（平成２７年）１０月から２０１６年（平成２８年）１２月にかけて、本件商標の通常使用権者であるアメテック株式会社が、本件商標と社会通念上同一と認められる商標を、指定商品「表面の疵・欠陥を見つけるためのカメラ付き自動検査測定器具、電子計算機（中央処理装置及び電子計算機用プログラムを記憶させた磁気ディスク・磁気テープ・ＣＤ−ＲＯＭその他の周辺機器を含む。），その他の電子応用機械器具及びその部品」について、その販売を目的とした製品カタログ及び広告に付して、日本国内で頒布していた。
　また、同社は、２０１５年（平成２７年）１２月から２０１６年（平成２８年）１２月にかけて、本件商標と社会通念上同一と認められる商標を、上記商品に関する広告に付して、日本国内で展示していた。
　そして、通常使用権者の上記行為は、「商品・・・に関する広告・・・に標章を付して展示し、若しくは頒布・・・する行為」（商標法第２条第３項第８号）に該当するものである。
３　以上のとおり、通常使用権者が、本件商標を、本件審判請求の登録前３年以内に、日本国内において、指定商品について使用していたことは明らかである。
第４　当審の判断
１　被請求人の主張及び提出の証拠によれば、以下の事実を認めることができる。
（１）乙第１０号証について
　乙第１０号証は、「紙パルプ技術タイムス２０１６年１２月号」の抜粋写しとして提出されたものであるところ、その表紙部には、「紙パルプ／技術タイムス」「Ｄｅｃｅｍｂｅｒ　２０１６」の記載、その記事中に「第５９回年次大会に約８３０名が参加−サプライヤー６１社による展示会も併催−」の見出しの下に、「紙パルプ技術協会は１０月５日〜７日の３日間にわたり、香川県高松市において『第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会』を開催、国内製紙会社の技術担当部門をはじめとして業界関係者約８３０名が参加した。」との記載とともに「アメテック（株）　欠陥検査システム“スマートビューカラー”・・・などを展示」の記載があり、同ページにアメテックの展示ブースとして紹介されている写真が掲載されている。また、奥付部には「第５９巻　第１２号　通巻第７２２号　２０１６年１２月１日発行」、「発行所　株式会社テックタイムス」の記載がある。
（２）乙第１１号証について
　乙第１１号証は、乙第１０号証の記事で紹介された「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会」における、アメテック株式会社のブースの写真とされるものであるところ、乙第１０号証の記事とともに掲載された写真中の「アメテック」として紹介された写真における展示ブースの看板やパネル等の配置と整合する写真が３枚並べてプリントされたものである。そして、該写真中には、ブースの上部に「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ」の文字（以下「使用商標」という。）が表示された看板がかけられ、展示台に「アメテック株式会社／（旧コグネックス株式会社）」の記載がある。
（３）乙第１２号証
　乙第１２号証は、乙第１０号証の記事中で紹介された「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会」の「講演要旨集」の抜粋写しとするものであり、１葉目上段左の表紙と思われる写しに「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会」、「平成２８年１０月５−７日」、「講演要旨集」及び「紙パルプ技術協会」が記載されており、該年次大会にあわせて作成、頒布されたものと推認されるものであるところ、その右側の記事中には「新しい検査システムにおけるカラー欠陥判定」の見出しのもと、クレジットとして「アメテック株式会社」、記事内容として「１．はじめに」として「アメテック・サーフェースビジョンはこのたび、カラー・ラインカメラを搭載した欠陥検査システム『ＳｍａｒｔＶｉｅｗ７．２Ｃ』をリリースした。日本国内の紙パルプ業界では、カラーにもとづいた検査要求が年々増しており、当社はユーザーの意向を受けてカラー・ラインカメラによる欠陥検査システム（以下、カラー欠陥検査システムと呼ぶ）を開発するに至った。」との記載がある。
　そして、２葉目の２０頁には、「『アメテック・サーフェースビジョン』は、新しい検査技術を提案していきます。」との表題のもと、「自動欠陥検査・分類システム」の文字の下に、ロゴ化した「ＳＭＡＲＴＶＩＥＷ」の文字と楕円形内に「スマート・ビュー」の文字が表されている。そして、その下の説明文には「ＳｍａｒｔＶｉｅｗは、アメテック・サーフェースビジョンの最新技術を搭載した、連続シートプロセス向けの欠陥検査・分類システムです。現在、世界各国の多くの紙・金属・フィルム・不織布工場で導入され、高度な検査・品質管理を実現しています。」との説明文と、「高精度な欠陥検出・判定」及び「学習機能による判定率の向上」の記載とともに、カメラとコンピュータをＬＡＮで結んだシステム構成図が紹介され、頁の右下に「アメテック株式会社」の表示及び住所、電話番号、アドレスの表示があることから、当該頁はアメテック株式会社による「自動欠陥検査・分類システム」の広告といえる。
（４）乙第１３号証
　乙第１３号証は、平成２８年１２月２１日に開催された「第４０回紙パルプ計装技術発表会」の「講演要旨集・計装ショー案内」の抜粋写しとして提出されたものであるところ、その１葉目下段の表紙と思われる写しには、「第４０回紙パルプ計装技術発表会　講演要旨集・計装ショー案内」、「平成２８年１２月２１日（水）タワーホール船堀」及び「主催：紙パルプ技術協会」の表示が有り、２葉目に「とき：平成２８年１２月２１日（水）　９：００計装ショー開催、９：５０発表会開会」及び「ところ：タワーホール船堀（東京都江戸川区船堀４−１−１）」の記載と共に、１頁には会場配置図と思しき図があり、その図中に「アメテック（株）」と記載されている枠がある。また、３葉目の２頁には、「２　アメテック株式会社」の項目下に「（１）表面欠陥検査システム／ＳｍａｒｔＶｉｅｗＣｏｌｏｒ（スマート・ビュー・カラー）／ＳｍａｒｔＶｉｅｗ（スマート・ビュー）」の記載、３頁のこれに続く表中に「（１）ＳｍａｒｔＶｉｅｗ（スマート・ビュー）」、「カラー識別機能付加による卓越した欠陥分類」、「・精度の高い欠陥分類能力」、「・大量の欠陥を処理できる高パフォーマンス」及び「・欠陥情報を共有できるオープンネットワーク連携」旨の説明がされている。
　また、１葉目の２９頁には、乙第１２号証の２葉目の２０頁における表示と同様の表示が掲載されている。
（５）乙第１４号証
　乙第１４号証は、アメテック株式会社のウェブページをプリントアウトしたものとして提出されているところ、「社長あいさつ」として「ＡＭＥＴＥＫ　Ｉｎｃ．は米国ペンシルバニア州バーウィンに本社を置くモーターなどの電動機器、航空機用の計器、精密機器、分析機器、各種計測機器のグローバルに活動するメーカーです。」及び「日本法人であるアメテック（株）はＡＭＥＴＥＫ　Ｉｎｃ．のビジョンを実現させるための日本拠点として２００９年４月に設立されました。」の記載がある。
２　前記１で認定した事実によれば、以下のとおりである。
（１）使用商品及び使用商標
　乙第１０号証ないし乙第１３号証においてアメテック株式会社の取り扱う商品として紹介されている「欠陥検査システム」又は「自動欠陥検査・分類システム」と称されている機器は、その説明及び機器の構成図からすれば、カメラとコンピュータ等の情報処理機器をＬＡＮで結んだ表面欠陥検査用の検出機器と認められるものであり、これは、本件商標の指定商品中「表面の疵・欠陥を見つけるためのカメラ付き自動検査測定器具」に該当する商品と認められる。
　次に、当該書証において確認できる使用商標は「ＳｍａｒｔＶｉｅｗ」の文字からなるところ、本件商標とは、大文字と小文字の違いはあるものの、構成文字を同じくするものであり、社会通念上同一の商標と認められる。
（２）使用者について
　乙第１０号証ないし乙第１３号証において紹介されている記事、写真はいずれもアメテック株式会社の取り扱う商品に使用商標が表示されているものであるところ、乙第１４号証によれば、アメテック株式会社は、商標権者であるアメテック　インコーポレイテッドの日本法人として２００９年４月に設立された関連会社と認められるものであって、本権商標の使用にあたっては、商標権者の関連会社としてその使用を許諾されていたものとみて差し支えない関係にあったといえる。
（３）使用時期について
　乙第１０号証に掲載の「第５９回−２０１６年紙パルプ技術協会年次大会」及び併設で開催された展示会は、平成２８年１０月５日〜７日に香川県で開催されたものであり、乙第１２号証の講演要旨集もこの時期に合わせ作成されたものであって、乙１３号証の「第４０回紙パルプ計装技術発表会講演要旨集・計装ショー案内」も平成２８年１２月２１日に開催された「第４０回紙パルプ計装技術発表会」にあわせて作成、頒布されたものであるから、いずれも本件取消の請求の登録３年以内（以下「要証期間内」という。）に我が国において展示又は頒布されたものと認められる。
　なお、乙第１０号証ないし乙第１３号証の作成時期、頒布時期は、いずれもアメテック株式会社の関連会社であるアメテック　インコーポレイテッドが本件商標の商標権者となった平成２８年７月６日から要証期間内のものである。
３　以上からすれば、平成２８年７月６日から商標権者となったアメテック　インコーポレイテッドの関連会社であって通常使用権者と認められるアメテック株式会社は、日本国内において、本件審判の請求の登録前３年以内である平成２８年１０月及び同年１２月に日本国内において、本件審判の請求に係る指定商品に含まれる「表面の疵・欠陥を見つけるためのカメラ付き自動検査測定器具」の展示会及び広告に、本件商標と社会通念上同一の商標を表示し展示又は頒布したとみることができ、この行為は、商標法第２条第３項第８号にいう商標の使用に該当するものと認めることができる。
４　むすび
　以上のとおりであるから、本件商標は、商標法第５０条の規定により、その登録を取り消すことはできない。
　よって、結論のとおり審決する。