(57)【要約】光ピックアップ（１）は、少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、照射された主ビーム及び副ビームを、第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段（１７）と、集光された主ビーム及び副ビームに起因する光ディスクからの主光及び副光を受光して主光信号及び副光信号を出力する主受光素子（１５１）及び副受光素子（１５２，１５３）と、副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段（２０）と、照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する第１及び第２記録層の他方からの無効光であって副受光素子により副光と共に受光される無効光と副光との干渉により副光に生じるノイズ成分を、主光信号及び副光信号に基づいて算出するノイズ成分演算手段（２１）と、算出されたノイズ成分を、トラッキングエラー信号から除去するノイズ除去手段（２２）とを備える。
2008023422.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段とを備える光ピックアップにおけるノイズ除去装置であって、
前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出するノイズ成分演算手段と、
該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するノイズ除去手段と
を備えることを特徴とするノイズ除去装置。
【請求項２】
前記ノイズ成分演算手段は、前記副光信号を定数倍した第１演算信号と前記主光信号とを加算し、該加算された信号の直流成分を除去し前記ノイズ成分を算出することを特徴とする請求項１記載のノイズ除去装置。
【請求項３】
前記ノイズ除去手段は、前記第１演算信号から前記ノイズ成分を除去することにより、前記ノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去することを特徴とする請求項２記載のノイズ除去装置。
【請求項４】
前記ノイズ除去手段は、前記主光信号から前記第１演算信号を減算した第２演算信号から前記ノイズ成分を除去することにより、前記ノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去することを特徴とする請求項２記載のノイズ除去装置。
【請求項５】
少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段とを備える光ピックアップにおける、前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、除去するノイズ除去方法であって、
前記ノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出する工程と、
該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去する工程と
を備えることを特徴とするノイズ除去方法。
【請求項６】
少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、
該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、
該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、
前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、
前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、
前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出するノイズ成分演算手段と、
該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するノイズ除去手段と
を備えることを特徴とする光ピックアップ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばＤＶＤ等の少なくとも第１及び第２の記録層が積層されてなる光ディスクにビームを照射することにより、トラッキングエラー信号を生成しつつ情報の記録又は再生を行う光ディスク装置に関し、特に、トラッキングエラー信号におけるノイズを除去する、新規なノイズ除去装置及び方法、並びに低ノイズのトラッキングエラー信号を生成する光ピックアップに関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の光ディスク装置によって光ディスクへ情報の記録又は再生を行う場合、トラッキングエラー信号の生成には、例えば、３ビームによる差動プッシュプル法（ＤＰＰ法）が用いられている（特許文献１参照）。ＤＰＰ法では、光ディスクからのメインビーム及びサブビームの反射光を夫々対応する受光素子で検出し、３つのプッシュプル信号を生成する。そして、メインビームのプッシュプル信号とサブビームのプッシュプル信号との差動によりトラッキングエラー信号を生成する。【０００３】
このようなトラッキングエラー信号に基づくトラッキングが行われるＤＶＤ等の光ディスクでは、その記録容量を高めるため、片面に記録層を２層積層した構造を持つ光ディスク（以下「２層ディスク」と言う。）が利用される場合がある。２層ディスクへ情報の記録又は再生を行う場合には、光スポットの焦点位置が対象となる層に合わせられた状態で、トラッキングが行われる。【０００４】
【特許文献１】特開平１１−２７３１１８
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、２層ディスクに対してトラッキングを行う場合、受光素子上には対象とする一方の層からのフォーカスされた反射光の他に、対象としていない他方の層からのデフォーカスされた主にメインビームの反射光も存在する。そのため、一方の層からの反射光と他方の層からの反射光とが干渉し、受光素子上に干渉縞を形成する。この干渉縞は、光ディスクが動いている限り、即ち光ディスクへ情報の記録又は再生を行う限り、絶えず変化しプッシュプル信号のノイズとなる。【０００６】
尚、２層ディスクの場合に限らず、３層以上記録層が積層されて構成される多層ディスクにおいても同様の技術的な問題がある。【０００７】
本発明は例えばかかる問題に鑑みてなされたものであり、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、トラッキングエラー信号におけるノイズを低減可能なノイズ除去装置及び方法、並びに該ノイズ除去方法によって低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる光ピックアップを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のノイズ除去装置は上記課題を解決するために、少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段とを備える光ピックアップにおけるノイズ除去装置であって、前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出するノイズ成分演算手段と、該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するノイズ除去手段とを備える。【０００９】
本発明の光ピックアップによれば、例えば半導体レーザ等の照射手段から出射したビームは、例えば回折格子によって主ビーム及び副ビームに分割され、例えば対物レンズ等の集光手段によって、例えばＤＶＤ等の光ディスク上に集光される。光ディスクは、少なくとも第１及び第２記録層が積層されて形成されている。そのため、光ディスクに対し情報の記録又は再生を行う際には、主ビーム及び副ビームは、集光手段によって、第１及び第２記録層のうち所望の一方に対して焦点を結ぶように選択的に集光される。【００１０】
これらの集光された光ビームに起因する光ディスクからの光、典型的には反射光は、主ビーム及び副ビームに夫々対応した、主受光素子及び副受光素子上に集光される。ここに本発明に係る「受光素子」とは、例えばフォトディテクタと呼ばれる光集積回路等の、光を電気信号に変換する電子部品である。受光素子の受光面は、少なくとも光ディスクのトラックに交わる方向（即ちディスクの径方向）に光学的に対応する方向に延びる分割線により、２分割に区画される。或いは、受光素子は、加えてトラックに沿った方向に光学的に対応する方向に延びる分割線により、４分割に区画される。受光素子は各区画の光量に応じた受光信号を区画別に出力する。また本発明に係る「集光された光ビームに起因する光ディスクからの光」は、典型的には反射光であるが、例えば透過光、回折光、屈折光など、他の種類の光を用いてもよい。【００１１】
例えば複数の演算回路を組み合わせた回路であるトラッキングエラー信号生成回路は、副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成する。【００１２】
ここで特に、少なくとも第１及び第２記録層が積層されて形成されている光ディスクの場合には、記録又は再生の対象とする一方の記録層からの反射光と対象としていない他方の記録層からの無効光である反射光とが干渉し、受光素子上に干渉縞を形成する。本発明に係る「無効光」とは、多層ディスクにおいて、記録又は再生の対象となっていない記録層からの、記録又は再生のために役立たない光或いは記録又は再生の妨げとなる光を意味する。特に、副光のビーム強度は、例えば主光のビーム強度の約７％と弱く、他方の層からの反射光のビーム強度と同程度であるため、他方の層からの反射光（即ち、無効光）の影響を大きく受ける。この結果、仮に何らの対策を施さないとすれば、ビーム強度の弱い副光に起因する副光信号に、上述の干渉によるノイズ成分が、無視し得ない程度で伴う。よって、例えば、ＤＰＰ法によりトラッキングエラー信号を生成する場合、出力されるトラッキングエラー信号にはノイズの影響が現れる。【００１３】
しかるに本願発明者の研究によれば、ノイズ成分を伴わない理想的な主光信号とノイズ成分を伴わない理想的な副光信号とは、互いに逆相で同じ形状をしている。従って、記録又は再生の対象としていない記録層からの反射光の悪影響（即ち、無効光との干渉による悪影響）を、強度の関係で殆ど受けない主光信号と、この悪影響を受けるが故にノイズ成分を伴う副光信号とに基づいて、かかるノイズ成分、即ち上述の干渉による信号の歪みを、算出可能であることが判明している。【００１４】
そこで本発明では、例えば演算回路であるノイズ成分演算手段によって、主光信号及び副光信号に基づいて、副光信号に生じるノイズ成分を算出し、例えば演算回路であるノイズ除去手段によって、該算出されたノイズ成分を、トラッキングエラー信号から除去する。【００１５】
尚、ノイズ除去手段は、副光信号の段階で夫々除去してもよいし、トラッキングエラー信号の生成途中で生成される合算信号の段階で除去してもよいし、トラッキングエラー信号になった段階で除去してもよい。言い換えれば、除去しつつトラッキングエラー信号を生成するのでもよい。【００１６】
以上の結果、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、トラッキングエラー信号におけるノイズを低減することができる。【００１７】
本発明のノイズ除去装置の一態様では、前記ノイズ成分演算手段は、前記副光信号を定数倍した第１演算信号と前記主光信号とを加算し、該加算された信号の直流成分を除去し前記ノイズ成分を算出する。【００１８】
この態様によれば、副光信号を定数倍した第１演算信号と、主光信号とが、例えば加算回路及びキャパシタ等を有するノイズ成分演算手段によって、加算され直流成分が除去され、比較的容易にしてノイズ成分が算出される。【００１９】
この第１演算信号を用いる態様では、前記ノイズ除去手段は、前記第１演算信号から前記ノイズ成分を除去することにより、前記ノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するように構成してもよい。【００２０】
このように構成すれば、例えば減算回路であるノイズ除去手段によって、第１演算信号からノイズ成分が除去される。これにより、例えば副ビームのプッシュプル信号であるノイズ成分を伴う第１演算信号からノイズ成分が除去される。よって、トラッキングエラー信号におけるノイズを低減することができる。【００２１】
或いは、この第１演算信号を用いる態様では、前記ノイズ除去手段は、前記主光信号から前記第１演算信号を減算した第２演算信号から前記ノイズ成分を除去することにより、前記ノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するように構成してもよい。【００２２】
このように構成すれば、例えば加算回路であるノイズ除去手段によって、主光信号から第１演算信号を減算した第２演算信号と、ノイズ成分とが加算される。これにより、例えばＤＰＰ信号であるノイズ成分を伴う第２演算回路からノイズ成分が除去される。よって、トラッキングエラー信号におけるノイズを低減することができる。【００２３】
本発明のノイズ除去方法は上記課題を解決するために、少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段とを備える光ピックアップにおける、前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、除去するノイズ除去方法であって、前記ノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出する工程と、該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去する工程とを備える。【００２４】
本発明のノイズ除去方法によれば、上述した本発明のノイズ除去装置と同様に、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、トラッキングエラー信号におけるノイズを低減することができる。【００２５】
尚、本発明のノイズ除去方法においても、上述した本発明のノイズ除去装置における各種態様と同様の各種態様を採ることが可能である。【００２６】
本発明の光ピックアップは上記課題を解決するために、少なくとも第１及び第２記録層が積層されてなる光ディスクに向けて、主ビーム及び副ビームを照射する照射手段と、該照射された主ビーム及び副ビームを、前記第１及び第２記録層の一方に対して選択的に集光する集光手段と、該集光された主ビームに起因する前記光ディスクからの主光を受光して主光信号を出力する主受光素子と、前記集光された副ビームに起因する前記光ディスクからの副光を受光して副光信号を出力する副受光素子と、前記副光信号に基づいて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記照射された主ビーム及び副ビームの少なくとも一方に起因する前記第１及び第２記録層の他方からの無効光であって前記副受光素子により前記副光と共に受光される該無効光と前記副光との干渉により前記副光信号に生じるノイズ成分を、前記主光信号及び前記副光信号に基づいて算出するノイズ成分演算手段と、該算出されたノイズ成分を、前記トラッキングエラー信号から除去するノイズ除去手段とを備える。【００２７】
本発明の光ピックアップによれば、上述した本発明のノイズ除去装置と同様に、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる。【００２８】
尚、本発明の光ピックアップにおいても、上述した本発明のノイズ除去装置における各種態様と同様の各種態様を採ることが可能である。【００２９】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】第１実施形態に係る光ピックアップのブロック図である。
【図２】第１実施形態に係る受光部のブロック図である。
【図３】第１実施形態に係る受光部から出力される信号等を示す図である。
【図４】第１実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部のブロック図である。
【図５】第１実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部における信号処理に伴う信号を示す図である。
【図６】第２実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部のブロック図である。
【符号の説明】
【００３１】
１、光ピックアップ
１１、半導体レーザ
１２、回折格子
１３、ハーフミラー
１４、光ディスク
１５、受光部
１６、コリメータレンズ
１７、対物レンズ
２０、トラッキングエラー信号生成部
２１、ノイズ成分演算部
２２、ノイズ除去部
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。【００３３】
＜第１実施形態＞
本発明のノイズ除去装置及び方法、並びに光ピックアップに係る第１実施形態を、図１から図５を参照して説明する。【００３４】
先ず、図１を参照して、本実施形態に係る光ピックアップの構成について説明する。図１は、本実施形態に係る光ピックアップのブロック図である。【００３５】
図1において、光ピックアップ１は、半導体レーザ１１、回折格子１２、ハーフミラー１３、受光部１５、コリメートレンズ１６及び対物レンズ１７と、トラッキングエラー信号生成部２０とを備えて構成されている。トラッキングエラー信号生成部２０は、ノイズ成分演算部２１とノイズ除去部２２とを備えている。【００３６】
尚、本実施形態に係る「半導体レーザ１１」及び「対物レンズ１７」は、夫々、本発明に係る「照射手段」及び「集光手段」の一例である。また、本実施形態に係る「トラッキングエラー信号生成部２０」、「ノイズ成分演算部２１」及び「ノイズ除去部２１」は、夫々、本発明に係る「トラッキングエラー信号生成手段」、「ノイズ成分演算手段」及び「ノイズ除去手段」の一例である。【００３７】
半導体レーザ１１から出射されたビームは、回折格子１２によって、メインビームと２つのサブビームとに分割され、ハーフミラー１３で反射され、コリメートレンズ１６及び対物レンズ１７を介して、記録層１４１及び１４２が積層されて形成されている光ディスク１４上に集光される。光ディスク１４からのビームの反射光は、対物レンズ１７、コリメートレンズ１６及びハーフミラー１３を透過し、受光部１５上に集光される。尚、本実施形態に係る「メインビーム」は、本発明に係る「主ビーム」の一例であり、本実施形態に係る「サブビーム」は、本発明に係る「副ビーム」の一例である。また、本実施形態に係る「記録層１４１及び１４２」は、本発明に係る「第１及び第２記録層」の一例である。【００３８】
ハーフミラー１３は、半導体レーザ１１からのビームを反射し、光ディスク１４からのビームの反射光を透過させる。ハーフミラー１３は、例えばダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムであってもよい。受光部１５は、光ディスク１４からのビームの反射光を受光し、受光量に応じた受光信号を出力する。【００３９】
ここで、受光部１５について、図２を参照して説明を加える。ここに図２は、本実施形態に係る受光部１５のブロック図である。【００４０】
受光部１５は、メインビームに起因する光ディスク１４からのメインビームの反射光を受光して、主光信号を出力する受光素子１５１と、サブビームに起因する光ディスク１４からのサブビームの反射光を受光して、副光信号を出力する受光素子１５２及び１５３とを有している。受光部１５は、更に、加算回路１５４及び１５５と、減算回路１５６乃至１５８とを有している。尚、本実施形態に係る「メインビームの反射光」及び「サブビームの反射光」は、夫々本発明に係る「主光」及び「副光」の一例である。また、本実施形態に係る「受光素子１５１」及び「受光素子１５２及び１５３」は、夫々本発明に係る「主受光素子」及び「副受光素子」の一例である。【００４１】
受光素子１５１の受光面は、光ディスク１４のトラックに交わる方向（即ちディスクの径方向）に光学的に対応する方向に延びる分割線と、トラックに沿った方向に光学的に対応する方向に延びる分割線とにより４つに区画されている。受光素子１５１は、受光面の区画別に信号Ｍ１乃至Ｍ４を出力する。加算回路１５４は、信号Ｍ１と信号Ｍ４とを加算する。加算回路１５５は、信号Ｍ２と信号Ｍ３とを加算する。減算回路１５６は、加算回路１５５からの出力を加算回路１５４からの出力から減算する。これにより（Ｍ１＋Ｍ４）−（Ｍ２＋Ｍ３）により表されるメインビームに起因する信号ＭＰＰを生成する。ここに、本実施形態に係る「信号ＭＰＰ」は、本発明に係る「主光信号」の一例である。【００４２】
受光素子１５２及び１５３の受光面は、トラックに交わる方向に光学的に延びる分割線により２つに区画されている。受光素子１５２は、受光面の区画別に信号Ｓ１及びＳ２を出力する。減算回路１５７は、信号Ｓ１から信号Ｓ２を減算する。これにより（Ｓ１−Ｓ２）により表される第１のサブビームに起因する信号ＳＰＰ１を生成する。受光素子１５３は、受光面の区画別に信号Ｓ３及びＳ４を出力する。減算回路１５８は、信号Ｓ４から信号Ｓ３を減算する。これにより（Ｓ４−Ｓ３）により表される第２のサブビームに起因する信号ＳＰＰ２を生成する。尚、受光素子１５２，１５３の受光面は、更に、トラックに沿った方向に光学的に対応する方向に延びる分割線により４つに区画されていてもよい。【００４３】
図３は、本実施形態に係る受光部１５から出力される信号等を示す図である。図３（ａ）は信号ＭＰＰの一例である。図３（ｂ）は、受光部１５の後に続く、例えば加算回路等によって信号ＳＰＰ１と信号ＳＰＰ２とが加算された、（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２）により表される信号ＳＰＰの一例である。ここに、本実施形態に係る「信号ＳＰＰ」は、本発明に係る「副光信号」の一例である。【００４４】
図３（ｂ）からわかるように信号ＳＰＰには、うねりが存在している。これは、光ディスク１４からのメインビーム及びサブビームの反射光に起因するノイズ成分によるものである。具体的には、例えば、記録層１４１に対し情報の記録または再生を行う場合、記録層１４１からの反射光と記録層１４２からの反射光とが相互に干渉する。これにより、受光素子１５１〜１５３上に干渉縞が形成され、ノイズ成分として受光素子１５１〜１５３からの出力に現れる。しかしながら、記録層１４１からの反射光と比較して、記録層１４２からの反射光はデフォーカスされているので、ビーム強度の大きい記録層１４１からのメインビームの反射光に起因する信号ＭＰＰには、図３（ａ）に示すように、影響がほとんど現れないが、ビーム強度の小さい記録層１４１からのサブビームの反射光に起因する信号ＳＰＰには、図３（ｂ）に示すように、影響が大きく現れる。【００４５】
従って、｛ＭＰＰ−α×（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２）｝により表されるＤＰＰ信号、即ち、ＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号にもノイズ成分が存在する（図３（ｃ））。ここでαは、任意の係数である。【００４６】
そこで本発明では、後述するノイズ成分演算部２１によって、例えば、図３（ｄ）に示すようなノイズ成分を算出し、該算出されたノイズ成分を、トラッキングエラー信号から除去している。【００４７】
再び図１に戻り、トラッキングエラー信号生成部２０は、信号ＳＰＰに基づいて、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。ノイズ成分演算部２１は、メインビーム及びサブビームの少なくとも一方に起因する記録層１４１及び１４２の情報の記録又は再生の対象としていない記録層からの無効光であって受光素子１５２及び１５３によりサブビームの反射光と共に受光される該無効光とサブビームの反射光との干渉により信号ＳＰＰに生じるノイズ成分を、信号ＭＰＰ及びＳＰＰに基づいて算出する。ノイズ除去部２２は、該算出されたノイズ成分を、トラッキングエラー信号ＴＥから除去する。【００４８】
次に、トラッキングエラー信号生成部２０において、信号ＳＰＰに生ずるノイズ成分を算出し、トラッキングエラー信号ＴＥからノイズ成分を除去する方法について、図４を参照して説明する。図４は、本実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部２０のブロック図である。【００４９】
トラッキングエラー信号生成部２０は、加算回路２０１及び２０３と、減算回路２０５及び２０６と、増幅回路２０２と、キャパシタ２０４とを備えて構成されている。【００５０】
加算回路２０１は、信号ＳＰＰ１と信号ＳＰＰ２とを加算する。これにより（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２）＝（Ｓ１＋Ｓ４−Ｓ２−Ｓ３）により表される信号ＳＰＰを生成する。増幅回路２０２は、所定利得ｋにより信号ＳＰＰを増幅する。これにより（ｋ×ＳＰＰ）により表される信号ｋＳＰＰを生成する。ここで所定利得ｋは、信号ＭＰＰの振幅と信号ＳＰＰの振幅との比によって表される任意の係数である。尚、本実施形態に係る「信号ｋＳＰＰ」は、本発明に係る「第１演算信号」の一例である。【００５１】
加算回路２０３は、信号ｋＳＰＰと信号ＭＰＰとを加算する。キャパシタ２０４は、加算回路２０３によって加算された信号から直流成分を除去する。これにより（ｋＳＰＰ＋ＭＰＰ）により表される信号がＡＣカップリングされた信号ＤＰＰ´を生成する。ここで、ＡＣカップリングとは、信号の直流成分を除去することをいう。尚、本実施形態に係る「信号ＤＰＰ´」は、本発明に係る「ノイズ成分」の一例である。また、図３（ｄ）に示す信号は、信号ＤＰＰ´の一例である。【００５２】
加算回路２０３及びキャパシタ２０４は、ノイズ成分演算部２１を構成する。尚、キャパシタ２０４は、直流成分を除去する要素であればよく、例えばハイパスフィルタであってもよい。【００５３】
減算回路２０５は、ノイズ除去部２２を構成する。減算回路２０５は、信号ｋＳＰＰから信号ＤＰＰ´を減算する。これにより（ｋＳＰＰ−ＤＰＰ´）により表される信号ＳＰＰIIを生成する。この結果、信号ｋＳＰＰが伴うノイズ成分の位相と信号ＤＰＰ´の位相とは同位相なので、信号ｋＳＰＰからノイズ成分を除去することができる。即ち、光ディスク１４からの無効光とサブビームの反射光との干渉によるノイズ成分を除去することができる。【００５４】
減算回路２０６は、信号ＭＰＰから信号ＳＰＰIIを減算する。これにより（ＭＰＰ−ＳＰＰII）により表される信号ＤＰＰIIを生成する。ここで、図５を参照して説明を加える。図５は、本実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部２０における信号処理に伴う信号を示す図である。図５（ａ）〜（ｃ）は、夫々、信号ＭＰＰの他の例、信号ＳＰＰIIの一例及び信号ＤＰＰIIの一例である。図５（ｂ）からわかるように、ノイズ除去部２２によってノイズ成分が除去されているので、信号ＳＰＰIIには、うねりが存在しない。よって、信号ＭＰＰから信号ＳＰＰIIを減算することにより、光ディスク１４からの無効光とサブビームの反射光との干渉によるノイズ成分の無い信号ＤＰＰIIを得ることができる。【００５５】
ところで、信号ＳＰＰIIは、信号ｋＳＰＰからノイズ成分を除去した信号であるので、信号ＤＰＰIIは、（ＭＰＰ−ｋ×ＳＰＰ）＝（ＭＰＰ−ｋＳＰＰ）で表されるＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号からノイズ成分を除去した信号と同一である。よって、信号ＤＰＰIIをトラッキングエラー信号ＴＥとして用いることにより、低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる。【００５６】
以上のように第１実施形態によれば、光ディスク１４からの無効光とサブビームの反射光との干渉により信号ＳＰＰに生ずるノイズ成分が除去されたトラッキングエラー信号ＴＥを得ることができる。従って、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる。【００５７】
＜第２実施形態＞
本発明のノイズ除去装置及び方法、並びに光ピックアップに係る第２実施形態を、図６を参照して説明する。第２実施形態では、第１実施形態と比較して、トラッキングエラー信号生成部における信号処理の工程が異なっている。よって、第２実施形態について、第１実施形態と重複する説明を省略すると共に、図面上における共通箇所には同一符号を付して示し、基本的に異なる点についてのみ、図６を参照して説明する。【００５８】
先ず、図６を参照して、本実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部２０の構成について説明する。図６は、本実施形態に係るトラッキングエラー信号生成部２０のブロック図である。【００５９】
図６において、トラッキングエラー信号生成部２０は、加算回路２０１，２０８及び２１０と、減算回路２０７と、増幅回路２０２と、キャパシタ２０９とを備えて構成されている。【００６０】
次に、トラッキングエラー信号生成部２０において、トラッキングエラー信号生成部２０において、信号ＳＰＰに生ずるノイズ成分を算出し、トラッキングエラー信号ＴＥからノイズ成分を除去する方法について説明する。【００６１】
加算回路２０１は、信号ＳＰＰ１と信号ＳＰＰ２とを加算し、信号ＳＰＰを生成する。増幅回路２０２は、所定利得ｋにより信号ＳＰＰを増幅し、信号ｋＳＰＰを生成する。ここで所定利得ｋは、信号ＭＰＰの振幅と信号ＳＰＰの振幅との比によって表される任意の係数である。尚、本実施形態に係る「信号ｋＳＰＰ」は、本発明に係る「第１演算信号」の一例である。【００６２】
減算回路２０７は、信号ＭＰＰから信号ｋＳＰＰを減算する。これにより（ＭＰＰ−ｋＳＰＰ）により表される信号ＤＰＰを生成する。尚、本実施形態に係る「信号ＤＰＰ」は、本発明に係る「第２演算信号」の一例である。【００６３】
加算回路２０８は、信号ｋＳＰＰと信号ＭＰＰとを加算する。キャパシタ２０９は、加算回路２０８によって加算された信号から直流成分を除去する。これにより（ｋＳＰＰ＋ＭＰＰ）により表される信号がＡＣカップリングされた信号ＤＰＰ´を生成する。尚、本実施形態に係る「信号ＤＰＰ´」は、本発明に係る「ノイズ成分」の一例である。【００６４】
加算回路２０８及びキャパシタ２０９は、ノイズ成分演算部２１を構成する。尚、キャパシタ２０４は、直流成分を除去する要素であればよく、例えばハイパスフィルタであってもよい。【００６５】
加算回路２１０は、ノイズ除去部２２を構成する。加算回路２１０は、信号ＤＰＰと信号ＤＰＰ´とを加算する。これにより（ＤＰＰ＋ＤＰＰ´）により表される信号ＤＰＰIIを生成する。この結果、信号ＤＰＰが伴うノイズ成分の位相と信号ＤＰＰ´の位相とは逆位相なので、信号ＤＰＰからノイズ成分を除去することができる。よって、信号ＤＰＰIIをトラッキングエラー信号ＴＥとして用いることにより、低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる。【００６６】
以上のように第２実施形態によれば、光ディスク１４からの無効光とサブビームの反射光との干渉により信号ＳＰＰに生ずるノイズ成分が除去されたトラッキングエラー信号ＴＥを得ることができる。従って、複数の記録層が積層されて形成されている光ディスクにビームを照射することにより情報の記録又は再生を行う際に、低ノイズのトラッキングエラー信号を得ることができる。【００６７】
尚、本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨、或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うノイズ除去装置及び方法、並びに光ピックアップもまた、本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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