(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から発生した光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光のうち少なくとも一つにおいて被検査物によって生じる収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記複数の波長帯域の光を変調する複数の空間光変調手段と、
前記複数の空間光変調手段で変調された光を合波する波長合波手段と、
前記波長合波手段で合波された光を前記被検査物に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項２】
前記複数の空間光変調手段が、
前記複数の波長帯域の光のうち第１の光を変調する第１の空間光変調手段と、
前記第１の空間光変調手段に対して光学的に並列に配置され、前記複数の波長帯域の光のうち前記第１の光の波長帯域とは異なる波長帯域を持つ第２の光を変調する第２の空間光変調手段と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の補償光学装置。
【請求項３】
前記複数の空間光変調手段が、前記収差測定手段に対して光学的に共役な位置に設けられた反射型の液晶空間位相変調器であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の補償光学装置。
【請求項４】
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記複数の空間光変調手段の所定の波長毎に収差を算出する算出手段を有し、
前記複数の空間光変調手段が、前記算出手段の算出結果に基づいて、前記複数の波長帯域の光を変調することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項５】
前記被検査物が、被検眼であり、
前記複数の空間光変調手段が、前記被検眼の前眼部に対して光学的に共役な位置に配置されることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項６】
前記収差測定手段で前記収差を測定する際に用いる光と、前記被検査物の画像を取得する際に用いる光とが異なる光源から発生された光であることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項７】
前記波長合波手段が、前記照射手段で照射した光の前記被検査物からの戻り光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の空間光変調手段が、前記複数の波長帯域の光を変調し、
前記波長分離手段が、前記複数の空間光変調手段で変調された光を合波することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項８】
前記収差測定手段が、前記複数の波長帯域の光のうちそれぞれの光について前記被検査物によって生じる収差を測定することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の補償光学装置。
【請求項９】
光源から発生した光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物からの戻り光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光を変調する複数の空間光変調手段と、
前記変調された光を合波する波長合波手段と、
を有することを特徴とする補償光学装置。
【請求項１０】
請求項１乃至９のいずれか１項に記載の補償光学装置を備えた光画像撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物の戻り光に基づいて該被検査物の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする光画像撮像装置。
【請求項１１】
前記光源からの光が前記複数の空間光変調手段に入射される光と参照光とに分離手段によって分離され、
前記画像取得手段が、前記照射手段で照射した光の前記被検査物からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて該被検査物の断層画像を取得することを特徴とする請求項１０に記載の光画像撮像装置。
【請求項１２】
光源から発生した光を測定光と参照光とに分離する分離手段と、
前記測定光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光のうち第１の光を変調する第１の空間光変調手段と、
前記第１の空間光変調手段に対して光学的に並列に配置され、前記複数の波長帯域の光のうち前記第１の光の波長帯域とは異なる波長帯域を持つ第２の光を変調する第２の空間光変調手段と、
前記第１及び第２の空間光変調手段で変調された光を合波する波長合波手段と、
前記波長合波手段で合波された光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物の戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する画像取得手段と、
を有することを特徴とする光画像撮像装置。
【請求項１３】
光源からの光を測定光とし、被検査物に照射された該測定光による戻り光の強度により前記被検査物の画像を撮像する光画像撮像装置であって、
前記光源から前記被検査物への光路において、
前記光路を第１の光路と第２の光路とに波長に基づいて分岐するための分岐手段と、
前記第１の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第１の空間光変調手段と、
前記第２の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第２の空間光変調手段と、
前記第１の光路と前記第２の光路とを結合する結合手段と、
を有することを特徴とする光画像撮像装置。
【請求項１４】
前記第１の空間光変調手段と前記第２の空間光変調手段と前記収差測定手段とが、光学的に共役に配置され、
前記第１の分岐手段と前記第２の分岐手段とが共通の分岐手段で構成され、
前記第１の分岐手段と前記第２の分岐手段との少なくともいずれかが、ダイクロイックミラーとダイクロイックプリズムとのいずれかからなることを特徴とする請求項１３に記載の光画像撮像装置。
【請求項１５】
前記被検査物にて発生する収差を測定する収差測定手段を有し、
測定された収差に基づいて、前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行い、
前記収差測定光が前記被検査物に照射することにより発生した戻り光の収差を測定するように構成されることを特徴とする請求項１３または請求項１４に記載の光画像撮像装置。
【請求項１６】
前記第１の空間光変調手段と前記第２の空間光変調手段との所定の波長毎に、前記収差測定手段を用いて得た収差を算出する手段と、
前記所定の波長毎に算出された収差を用いて前記第１の空間光変調手段と前記第２の空間光変調手段における変調量を算出する算出手段と、
を有することを特徴とする請求項１５に記載の光画像撮像装置。
【請求項１７】
前記収差測定手段が、前記互いに異なる波長に分岐された波長毎の収差を測定する構成を備えることを特徴とする請求項１５または請求項１６に記載の光画像撮像装置。
【請求項１８】
前記光源からの光を前記測定光と参照光とに分割する分割手段と、
前記被検査物に照射された前記測定光による戻り光と、参照光路を経由した前記参照光とを干渉させる手段と、
干渉による干渉信号の強度を検出する手段と、
前記干渉信号に基づき前記被検査物の断層画像を生成する手段とを有することを特徴とする請求項１３乃至１７のいずれか１項に記載の光画像撮像装置。
【請求項１９】
光源から発生した光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光のうち少なくとも一つにおいて被検査物によって生じる収差を測定する収差測定手段の測定結果に基づいて、前記複数の波長帯域の光を変調し、
前記変調された光を合波することを特徴とする補償光学方法。
【請求項２０】
光源から発生した光を照射した被検査物からの戻り光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光を変調し、
前記変調された光を合波することを特徴とする補償光学方法。
【請求項２１】
光源から発生した光を測定光と参照光とに分離し、
前記測定光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光のうち第１の光を変調し、
前記第１の空間光変調手段に対して光学的に並列において、前記複数の波長帯域の光のうち前記第１の光の波長帯域とは異なる波長帯域を持つ第２の光を変調し、
前記変調された光を合波し、
前記合波された光を照射した被検査物からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得することを特徴とする光画像の撮像方法。
【請求項２２】
光源からの光を測定光とし、被検査物に照射された該測定光による戻り光の強度により前記被検査物の画像を撮像する光画像の撮像方法であって、
前記光源から前記被検査物への光路において、
前記光路を第１の光路と第２の光路とに波長に基づいて分岐するための分岐工程と、
前記第１の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第１の空間光変調工程と、
前記第２の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第２の空間光変調工程と、
前記第１の光路と前記第２の光路とを結合する結合工程と、
を有することを特徴とする光画像の撮像方法。
【請求項２３】
被検査物で発生した収差を補正する、分岐された異なる波長の一方に対して最適化された第１の空間光変調手段および分岐された異なる波長の他方に対して最適化された第２の空間光変調手段と、前記被検査物にて発生する収差を測定する収差測定手段を備え、
光源からの光を測定光とし、前記被検査物に照射された測定光による戻り光により、前記被検査物の画像を撮像する光画像の撮像方法であって、
前記収差測定手段を用い、前記第１の空間光変調手段及び前記第２の空間光変調手段からの前記被検査物にて発生する収差を、前記分岐された異なる波長毎に測定する第１の工程と、
前記第１の空間光変調手段及び前記第２の空間光変調手段における最適化波長毎に算出された収差を用い、前記第１の空間光変調手段と前記第二の空間光変調手段における変調量を算出する第２の工程と、
前記算出された変調量に基づいて、前記第１の空間光変調手段と前記第２の空間光変調手段とにおける前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかを変調し、前記被検査物で発生した収差を補正する第３の工程と、
を有することを特徴とする光画像の撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、補償光学装置および補償光学方法、光画像撮像装置および光画像の撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる補償光学装置および補償光学方法、光画像撮像装置および光画像の撮像方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）は、試料（特に眼底）の断層画像を高分解能に得る方法である。
以下、このようなＯＣＴによる光断層画像を撮像する光断層画像撮像装置をＯＣＴ装置と記す。
近年、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置において測定光のビーム径を大きくすることにより、高横分解能な網膜の断層画像を取得することが可能になっている。
測定光のビーム径の大径化に伴い、網膜の断層画像の取得において、被検眼における曲面のゆがみや屈折率の不均一性などによって発生する収差による断層画像のＳＮ比及び分解能の低下が問題になってきた。
それを解決するために、被検眼の収差を波面センサでリアルタイムに測定し、波面補正デバイスで補正する補償光学系を有する補償光学ＯＣＴ装置が開発され、高横分解能な断層画像の取得を可能にしている。
【０００３】
このような補償光学系を用いた装置として、特許文献１においては、走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ装置）において、補償光学系及び液晶空間位相変調器、ポリゴンミラー、ガルバノミラー等を用い、眼底画像を取得可能とした眼科撮影装置が提案されている。
この眼科撮影装置では、被検眼で発生する収差を液晶空間位相変調器を用いて補正することで、横分解能の劣化を防ぐように構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−１４５６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記特許文献１の補償光学系を有する眼科装置は、上記したように被検眼の収差を液晶空間位相変調器を用いて補正することにより、高横分解能な画像の取得が可能とされている。ここで、光源は一般に狭帯域である半導体レーザーが使用されているが、ＯＣＴ装置に用いられる広帯域の光源を用いることについては何も記載はない。
しかしながら、上記した液晶空間位相変調器は、液晶の複屈折性を用いて屈折率を変調する変調器であるため、変調量は波長に依存する。
そのため、広帯域の光源を用いるＯＣＴ装置を構成する場合は、高分解能な画像を取得する上で、改善の余地を残している。
さらに、位相ラッピング技術を用いて収差を補正する場合には、その影響はさらに顕著になる。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑み、空間位相変調手段を用いた補償光学系を有する光画像撮像装置において、空間光変調手段の波長依存性の影響を低減することが可能となる補償光学装置および補償光学方法、光画像撮像装置および光画像の撮像方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、つぎのように構成した補償光学装置および補償光学方法、光画像撮像装置および光画像の撮像方法を提供するものである。
本発明の補償光学装置は、
光源から発生した光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光のうち少なくとも一つにおいて被検査物によって生じる収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記複数の波長帯域の光を変調する複数の空間光変調手段と、
前記複数の空間光変調手段で変調された光を合波する波長合波手段と、
前記波長合波手段で合波された光を前記被検査物に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学装置は、光源から発生した光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物からの戻り光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光を変調する複数の空間光変調手段と、
前記変調された光を合波する波長合波手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光画像撮像装置は、上記した補償光学装置を備えた光画像撮像装置であって、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物の戻り光に基づいて該被検査物の画像を取得する画像取得手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光画像撮像装置は、
光源から発生した光を測定光と参照光とに分離する分離手段と、
前記測定光を複数の波長帯域の光に分離する波長分離手段と、
前記複数の波長帯域の光のうち第１の光を変調する第１の空間光変調手段と、
前記第１の空間光変調手段に対して光学的に並列に配置され、前記複数の波長帯域の光のうち前記第１の光の波長帯域とは異なる波長帯域を持つ第２の光を変調する第２の空間光変調手段と、
前記第１及び第２の空間光変調手段で変調された光を合波する波長合波手段と、
前記波長合波手段で合波された光を被検査物に照射する照射手段と、
前記照射手段で照射した光の前記被検査物の戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得する画像取得手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光画像撮像装置は、
光源からの光を測定光とし、被検査物に照射された該測定光による戻り光の強度により前記被検査物の画像を撮像する光画像撮像装置であって、
前記光源から前記被検査物への光路において、
前記光路を第１の光路と第２の光路とに波長に基づいて分岐するための分岐手段と、
前記第１の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第１の空間光変調手段と、
前記第２の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第２の空間光変調手段と、
前記第１の光路と前記第２の光路とを結合する結合手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、光源から発生した光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光のうち少なくとも一つにおいて被検査物によって生じる収差を測定する収差測定手段の測定結果に基づいて、前記複数の波長帯域の光を変調し、
前記変調された光を合波することを特徴とする。
また、本発明の補償光学方法は、光源から発生した光を照射した被検査物からの戻り光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光を変調し、
前記変調された光を合波することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、光源から発生した光を測定光と参照光とに分離し、
前記測定光を複数の波長帯域の光に分離し、
前記複数の波長帯域の光のうち第１の光を変調し、
前記第１の空間光変調手段に対して光学的に並列において、前記複数の波長帯域の光のうち前記第１の光の波長帯域とは異なる波長帯域を持つ第２の光を変調し、
前記変調された光を合波し、
前記合波された光を照射した被検査物からの戻り光と前記参照光とが干渉した干渉光に基づいて、前記被検査物の断層画像を取得することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、光源からの光を測定光とし、被検査物に照射された該測定光による戻り光の強度により前記被検査物の画像を撮像する光画像の撮像方法であって、
前記光源から前記被検査物への光路において、
前記光路を第１の光路と第２の光路とに波長に基づいて分岐するための分岐工程と、
前記第１の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第１の空間光変調工程と、
前記第２の光路上の前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行う第２の空間光変調工程と、
前記第１の光路と前記第２の光路とを結合する結合工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、被検査物で発生した収差を補正する、分岐された異なる波長の一方に対して最適化された第１の空間光変調手段および分岐された異なる波長の他方に対して最適化された第２の空間光変調手段と、前記被検査物にて発生する収差を測定する収差測定手段を備え、
光源からの光を測定光とし、前記被検査物に照射された測定光による戻り光により、前記被検査物の画像を撮像する光画像の撮像方法であって、
前記収差測定手段を用い、前記第１の空間光変調手段及び前記第２の空間光変調手段からの前記被検査物にて発生する収差を、前記分岐された異なる波長毎に測定する第１の工程と、
前記第１の空間光変調手段及び前記第２の空間光変調手段における最適化波長毎に算出された収差を用い、前記第１の空間光変調手段と前記第二の空間光変調手段における変調量を算出する第２の工程と、
前記算出された変調量に基づいて、前記第１の空間光変調手段と前記第２の空間光変調手段とにおける前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかを変調し、前記被検査物で発生した収差を補正する第３の工程と、
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、空間位相変調手段を用いた補償光学系を有する光画像撮像装置において、空間光変調手段の波長依存性の影響を低減することが可能となる補償光学装置および補償光学方法、光画像撮像装置および光画像の撮像方法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【図２】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【図３】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【図４】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の断層画像の取得方法を説明する図である。
【図５】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の波面収差を説明する図である。
【図６】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の波面収差を説明する図である。
【図７】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の断層画像の取得手順を説明する図である。
【図８】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明を実施するための形態を、以下の実施例により説明する。
【実施例】
【００１１】
つぎに、本発明の実施例について、図面を用いて詳細に説明する。
ここでは、光画像撮像装置として、被検査物を眼とした際の被検眼の撮像を行うＯＣＴ装置について説明するが、光を用いて画像を撮像する撮像装置であれば、走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ装置）等の他の装置にも適用できる。
【００１２】
［実施例１］
実施例１においては、本発明を適用したＯＣＴ装置について説明する。
実施例１では、特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する高横分解能の補償光学系を備えたＯＣＴ装置について説明する。
本実施例では、反射型の空間光変調器を用いて、被検眼の収差を補正して断層画像を取得するフーリエドメイン方式のＯＣＴ装置が構成され、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるように構成されている。
また、測定光が波長に基づいて２つに分岐され、さらに、その２つの測定光が２つの反射型の空間光変調器に入射し、別々に変調されていることを特徴としている。ここでは、空間光変調器は液晶の配向を利用した反射型の液晶空間位相変調器である。空間光変調器は光の位相を変調できればよく、液晶以外の材料を使用してもよい。
【００１３】
まず、図１を用いて、本実施例におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する。
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
図１において、光源１０１から出射された光は、光ファイバー１３０−１と光カプラー１３１とを介して、参照光１０５と測定光１０６とに、９０：１０の割合で分割される。
測定光１０６は、シングルモードファイバー１３０−４、ダイクロイックミラー１７０−１〜２、空間光変調器１５９−１〜２、ＸＹスキャナ１１９、球面ミラー１６０−１〜９等を介して、観察対象である被検眼１０７に導かれる。
なお、測定光１０６は、第一のダイクロイックミラー１７０−１にて、波長毎に２つに分岐された後、空間光変調器１５９−１〜２にそれぞれ入射され、第二のダイクロイックミラー１７０−２により１つに合波される。
【００１４】
測定光１０６は、観察対象である被検眼１０７によって反射あるいは散乱された戻り光１０８となって戻され、光カプラー１３１によって、参照光１０５と合波される。１５３−１〜４は偏光コントローラであり、測定光１０６と参照光１０５との偏光の状態を調整する。
参照光１０５と戻り光１０８とは合波された後、透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、ラインセンサ１３９に入射される。
ラインセンサ１３９は位置（波長）毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼１０７の断層画像が構成される。
戻り光１０８の有する収差（収差測定光）は波面センサ（収差測定手段）１５５にて計測される。
本実施例においては、該収差を、空間光変調器１５９−１〜２を制御して低減する機能を有し、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるように構成されている。
【００１５】
本実施例では、光学系の全体を主に球面ミラーを用いた反射光学系を用いて、構成しているが、球面ミラーの代わりにレンズを用いた屈折光学系によっても構成することができる。
また、本実施例では反射型の空間光変調器を用いたが、透過型の空間光変調器を用いても構成することができる。
【００１６】
つぎに、光源１０１の周辺について説明する。光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。
中心波長は８５０ｎｍ、バンド幅８０ｎｍである。
ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。ここでは、超広帯域のＳＬＤを選択し、高縦分解能の断層画像を得られる構成としている。
また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは８５０ｎｍとする。
観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
【００１７】
つぎに、参照光１０５の光路について説明する。
光カプラー１３１にて分割された参照光１０５はシングルモードファイバー１３０−２を通して、レンズ１３５−１に導かれ、ビーム径３ｍｍの平行光になるよう、調整される。
次に、参照光１０５は、ミラー１５７−１〜２によって、参照ミラーであるミラー１１４に導かれる。参照光１０５の光路長は、測定光１０６の光路長と略同一に調整されているため、参照光１０５と測定光１０６とを干渉させることができる。
次に、ミラー１１４にて反射され、再び光カプラー１３１に導かれる。ここで、参照光１０５が通過した分散補償用ガラス１１５は、被検眼１０７に測定光１０６が往復した時の分散を、参照光１０５に対して補償するものである。
分散補償用ガラス１１５の長さはＬ１であり、ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、Ｌ１＝２３ｍｍとする。
さらに、１１７−１は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光１０５の光路長を、調整し制御することができる。
また、電動ステージ１１７−１はパソコン１２５の制御の下に駆動される。
【００１８】
つぎに、本実施例の特徴的な構成である測定光１０６の光路について説明する。
光カプラー１３１によって分割された測定光１０６は、シングルモードファイバー１３０−４を介して、レンズ１３５−４に導かれ、ビーム径３ｍｍの平行光になるよう調整される。
測定光１０６は、ビームスプリッタ１５８、グラントムソンプリズム１７１を通過し、球面ミラー１６０−１にて反射され、第一のダイクロイックミラー（第一の分岐手段）１７０−１に入射される。また、グラントムソンプリズム１７１により、測定光１０６の偏光状態は紙面に平行な方向の直線偏光となる。ここでは、偏光状態の調整にグラントムソンプリズムを用いたが、直線偏光に調整できれば、グランテーラープリズムやサバール板等、他の光学素子を用いてもよい。
ここで、測定光１０６は主に波長８５０ｎｍ以上の成分からなる第一の光路に導かれる第一の測定光１０６−１と、主に波長８５０ｎｍ以下の成分からなる第二の光路に導かれる第二の測定光１０６−２とに分岐される。
ここで、ダイクロイックミラー１７０−１〜２はおおよそ波長８５０ｎｍ以上の成分を透過し、８５０ｎｍ未満を反射するダイクロイックミラーである。
第一の光路上の第一の測定光１０６−１は球面ミラー１６０−２を介し、第一の空間光変調器１５９−１にて変調され、球面ミラー１６０−３を介し、被検査物側に位置する第二のダイクロイックミラー（第二の分岐手段）１７０−２に入射される。
ここで、第一の空間光変調器１５９−１は波長８７０ｎｍに最適化され、波長８５０−８９０ｎｍの光を変調する役割を有している。
さらに、第二の光路上の第二の測定光１０６−２は球面ミラー１６０−４を介し、第二の空間光変調器１５９−２にて変調され、球面ミラー１６０−５を介し、第二のダイクロイックミラー１７０−２に入射される。
ここで、第二の空間光変調器１５９−２は波長８３０ｎｍに最適化され、波長８１０−８５０ｎｍの光を変調する役割を有している。
【００１９】
また、空間光変調器１５９−１〜２はＰ偏光（紙面に平行）の位相を変調する向きに配置されている。
第一の測定光１０６−１と第二の測定光１０６−２とは、第二のダイクロイックミラー１７０−２にて合波され測定光１０６として、ミラー１６０−６を介して、ＸＹスキャナ１１９のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、ＸＹスキャナ１１９は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置され、網膜１２７上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光１０６の中心はＸＹスキャナ１１９のミラーの回転中心と一致するように調整されている。
球面ミラー１６０−７〜９は網膜１２７を走査するための光学系であり、測定光１０６を角膜１２６の付近を支点として、網膜１２７をスキャンする役割がある。
ここで、測定光１０６の角膜への入射ビーム径は４ｍｍであるが、より高横分解能な断層画像を取得するために、ビーム径はより大径化してもよい。
また、１１７−２は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随する球面ミラーである球面ミラー１６０−８の位置を、パソコン１２５の制御の下に調整し制御することができる。
球面ミラー１６０−８の位置を調整することで、被検眼１０７の網膜１２７の所定の層に測定光１０６を合焦し、観察することが可能になる。
また、被検眼１０７が屈折異常を有している場合にも対応できる。
測定光１０６は被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８となり、再び光カプラー１３１に導かれ、ラインセンサ１３９に到達する。
ここで、戻り光１０８は、第二のダイクロイックミラー１７０−２において、波長毎（８５０ｎｍ以上あるいは未満）に分割され、空間光変調器１５９−１〜２でそれぞれ変調され、第一のダイクロイックミラー１７０−１にて合波される。
【００２０】
また、ビームスプリッタ１５８にて分割される戻り光１０８の一部は、波面センサ１５５に入射され、戻り光１０８の収差が測定される。波面センサ１５５はパソコン１２５に電気的に接続されている。
【００２１】
ここで、角膜１２６、ＸＹスキャナ１１９、波面センサ１５５、空間光変調器１５９−１〜２、は光学的に共役になるよう、球面ミラー１６０−１〜９が配置されている。互いに共役な位置には「Ｐ」の文字を付した。そのため、波面センサ１５５は被検眼１０７の収差を測定することが可能になっている。また、空間光変調器１５９−１〜２は被検眼１０７の収差を補正することが可能になっている。さらに、得られた収差に基づいて、空間光変調器１５９−１〜２をリアルタイムに制御することで、被検眼１０７で発生する収差を補正し、より高横分解能な断層画像の取得を可能にしている。
ここで、球面ミラー１６０−１〜９の代わりに、非球面ミラーや自由曲面ミラーを用いてもよい。
ここでは、ダイクロイックミラー１７０−１〜２を用いて、測定光１０６を波長毎に分割しているが、波長毎に分割できれば、他の素子を用いてもよい。例えば、ダイクロイックプリズム等を用いることができる。
ここでは、球面ミラー１６０−８は、被検眼１０７の収差（屈折異常）によっては、代わりにシリンドリカルミラーを用いてもよい。
また、新たなレンズを測定光１０６の光路に追加してもよい。
ここでは、測定光１０６を用いて、波面センサ１５５を用いた収差の測定を行っているが、収差の測定のために別の光源を用いてもよい。また、収差の測定のために別の光路を構成してもよい。例えば、球面ミラー１６０−９と角膜１２６の間から、ビームスプリッタを用いて、収差の測定のための光を入射することができる。
【００２２】
ここでは、１つの波面センサ１５５を用いて、最適化波長の異なる２つの空間光変調器１５９−１〜２の変調量を算出しているが、２つに波長毎に分割された光路中にさらに共役点を設け、それぞれに波面センサを配置し、波長毎に収差を測定してもよい。
ここでは、球面ミラー１６０−１の後で、ダイクロイックミラー１７０−１を用いて、測定光１０６を第一の測定光１０６−１と、第二の測定光１０６−２とに分岐したが、他の箇所で分岐して測定光路を構成してもよい。
例えば、図２に示すように、球面ミラー１６０−２の後で、ダイクロイックミラー１７０を用いて、測定光１０６を第一の測定光１０６−１と、第二の測定光１０６−２とに分岐することができる。ここで、第一の測定光１０６−１は第一の空間光変調器１５９−１にて変調され、ダイクロイックミラー１７０を透過し、球面ミラー１６０−３に入射される。
同様に、第二の測定光１０６−２は第二の空間光変調器１５９−２にて変調され、ダイクロイックミラー１７０にて反射され、球面ミラー１６０−３に入射される。
これにより、ダイクロイックミラー１７０によって、上記した二つのダイクロイックミラー１７０−１、ダイクロイックミラー１７０−２を兼ねた構成を採ることができる。
ここでは、空間光変調器１５９−１〜２に反射型の液晶空間位相変調器を用いたが、透過型の液晶空間位相変調器を用いてもよい。
例えば、図３に示すように、空間光変調器１５９に透過型の液晶空間位相変調器を用いることができる。空間光変調器１５９の種類および、球面ミラー１６０−１０〜１１の追加以外は図２と同じ構成であるため、同じ番号を付し、説明を省略する。
【００２３】
つぎに、本実施例のＯＣＴ装置における測定系の構成について説明する。
ＯＣＴ装置１００は、マイケルソン干渉系による干渉信号の強度から構成される断層画像（ＯＣＴ像）を取得することができる。
その測定系について説明すると、網膜１２７にて反射や散乱された光である戻り光１０８は、参照光１０５と光カプラー１３１にて合波される。
そして、合波された光１４２は光ファイバー１３０−３とレンズ１３５−２とを介して、透過型グレーティング１４１に入射される。
そして、合波された光１４２は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−３で集光され、ラインセンサ１３９にて光の強度が位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインセンサ１３９上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
【００２４】
ラインセンサ１３９で得られた電圧信号群はフレームグラバー１４０にてデジタル値に変換されて、パソコン１２５にてデータ処理を行い断層画像を形成する。
ここでは、ラインセンサ１３９は１０２４画素を有し、合波された光１４２の波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。
また、ビームスプリッタ１５８にて分割される戻り光１０８の一部は、波面センサ１５５に入射され、戻り光１０８の収差が測定される。
波面センサ１５５はシャックハルトマン方式の波面センサである。
得られた収差はツェルニケ多項式を用いて表現され、これは被検眼１０７の収差を示している。
ツェルニケ多項式は、チルト（傾き）の項、デフォーカス（ｄｅｆｏｃｕｓ）の項、アスティグマ（非点収差）の項、コマの項、トリフォイルの項等からなる。
【００２５】
つぎに、ＯＣＴ装置を用いた断層画像の取得方法について説明する。
ＯＣＴ装置１００は、ＸＹスキャナ１１９を制御し、ラインセンサ１３９で干渉縞を取得することで、網膜１２７の断層画像を取得することができる（図１）。ここでは、図４を用いて網膜１２７の断層画像（光軸に平行な面）の取得方法について説明する。
図４（ａ）は被検眼１０７の模式図であり、ＯＣＴ装置１００によって観察されている様子を示している。
図４（ａ）に示すように、測定光１０６は角膜１２６を通して、網膜１２７に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光１０８となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインセンサ１３９に到達する。
ここでは、光源１０１のバンド幅が広く、コヒーレンス長が短いために、参照光路の光路長と測定光路の光路長とが略等しい場合のみ、ラインセンサ１３９にて、干渉縞が検出できる。
上述のように、ラインセンサ１３９で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。
次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインセンサ１３９と透過型グレーティング１４１との特性を考慮して、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の輝度情報が得られる。
【００２６】
さらに、図４（ｂ）に示すように、ＸＹスキャナ１１９のＸ軸を駆動しながら、該干渉縞を検知すれば、各Ｘ軸の位置毎に干渉縞が得られ、つまり、各Ｘ軸の位置毎の深さ方向の輝度情報を得ることができる。
結果として、ＸＺ面での戻り光１０８の強度の２次元分布が得られ、それはすなわち断層画像１３２である（図４（ｃ））。
本来は、断層画像１３２は上記説明したように、該戻り光１０８の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。
ここでは得られた断層画像の境界のみ強調して表示している。ここで、１４６は網膜色素上皮層、１４７は視神経線維層である。
【００２７】
つぎに、本実施例の特徴的な構成である空間光変調器の構成について、図５を用いて説明する。
ここでは、被検眼１０７が球面度数−３Ｄ（近視）の屈折異常を有し、入射瞳径４ｍｍの場合に、測定光１０６を網膜１２７に結像させる場合を考える。
上述した空間光変調器１５９である浜松ホトニクス製ＬＣＯＳ型空間光変調器（Ｘ１０４６８−０２）の変調面は□１２ｍｍ、画素サイズは□２０μｍ、使用画素数は６００×６００である。
ここで、屈折異常を補正するために、空間光変調器１５９−１〜２の変調面から出射されるべき測定光１０６の波面を図５（ａ）に破線で示した。
空間光変調器１５９の最大変調量はここではλであり、破線で示した波面を直接生成することはできないため、位相ラッピング技術を用いて生成する。
位相ラッピング技術を用いると、破線の波面を実現するための変調量は実線で表わされる。ここで、横軸は変調面上の座標、縦軸（＋方向が位相遅れ）は波面を示す。
【００２８】
つぎに、図５（ａ）に示した変調量を空間光変調器１５９−１にて変調した場合に、想定される残さ（所望の変調量−実際の変調量）を波長毎に図５（ｂ）に示した。
横軸は空間光変調器上の位置座標（ｍｍ）であり、縦軸は、波面収差（λ）である。ここで、前述のように空間光変調器１５９−１は波長８７０ｎｍに最適化され、波長８５０−８９０ｎｍの光を変調する役割を有している。
同様に、図５（ａ）に示した変調量を空間光変調器１５９−２にて変調した場合に、想定される残さを波長毎に図６（ａ）に示した。
ここで、前述のように空間光変調器１５９−２は波長８３０ｎｍに最適化され、波長８１０−８５０ｎｍの光を変調する役割を有している。
さらに、参考のために、図５（ｂ）に示した変調量を一つの空間光変調器で波長８１０−８９０ｎｍの光を変調した場合の残さを図６（ｂ）に示す。ここでは、空間光変調器は波長８５０ｎｍに最適化されている。
ここで、図５（ｂ）、図６（ａ）と図６（ｂ）とを比較すると、本実施例における残さは０．３λ程度（ＰＶ）と非常に小さく抑えられており、断層画像の分解能やコントラストの向上につなげることができる。
【００２９】
つぎに、ＯＣＴ装置を用いた断層画像の取得の手順について図１〜７を用いて説明する。
図７はＯＣＴ装置１００の断層画像の取得の手順について説明する図である。ここでは、図５には、空間光変調器１５９−１〜２を用いて、近視及び乱視の被検眼１０７が有する収差を補正し、高横分解能な網膜１２７の断層画像を取得する手順が示されている。
もちろん、被検眼１０７が単なる近視や遠視であっても同様の手順を用いることができる。
断層画像の取得方法は以下の（１）〜（９）の手順で、例えば連続して行うものである。
或いは、適宜工程を戻って行うこともできる。また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。
図７に、上記断層画像の取得方法を説明するフロー図を示す。
（１）ステップ１（図７のＳ１）において、被検眼１０７に固視灯（不図示）を注視させた状態で、測定光１０６を被検眼１０７に対して入射させる。
ここでは、測定光１０６は平行光の状態で、被検眼１０７に対して入射するように、球面ミラー１６０−８の位置が電動ステージ１１７−２によって調整されている。
（２）ステップ２（図７のＳ２）において、ＸＹスキャナ１１９のＸ軸を駆動しながら、ラインセンサ１３９にて干渉縞を検知して、断層画像を得る。
（３）ステップ３（図７のＳ３）において、（２）の工程を行いながら、断層画像のコントラストが高くなるように、電動ステージ１１７−２を用いて球面ミラー１６０−８の位置を調整する。
（４）ステップ４（図７のＳ４）において、戻り光１０８の収差を波面センサ１５５で測定し、該収差を空間光変調器１５９−１〜２の最適化波長毎（波長８３０ｎｍと８７０ｎｍ）に算出する。ここで、該収差の単位は波長（それぞれの最適化波長）とする。
（５）ステップ５（図７のＳ５）において、得られた収差をパソコン１２５にてツェルニケ多項式の表現に変換し、そのデータをパソコン１２５内のメモリーに記録する。
（６）ステップ６（図７のＳ６）において、パソコン１２５により得られた収差が最小になるような変調量を空間光変調器１５９−１〜２の最適化波長毎に算出し、空間光変調器１５９−１〜２を変調する。
（７）ステップ７（図７のＳ７）収差が最小になるように、波面センサ１５５、空間光変調器１５９−１〜２、パソコン１２５を用いてフィードバック制御を行い、リアルタイムに空間光変調器１５９−１〜２を制御する。
（８）ステップ８（図７のＳ８）収差が設定値以下か判断し、収束するまで、ステップ４〜７を繰り返す。該設定値は０．１μｍ（ＲＭＳ）程度が望ましい。
（９）ステップ９（図７のＳ９）において、ＸＹスキャナ１１９のＸ軸を駆動しながら、ラインセンサ１３９にて干渉縞を検知して、再び断層画像を得る。
【００３０】
以上のように、本実施例によれば、
測定光あるいは戻り光を、ダイクロイックミラーを用いて、波長に基づいて分岐し、２つの空間光変調器を用いて収差の補正を行うことで、空間光変調器の波長依存性の影響を低減し、収差補正後の収差の残さを少なくすることができる。結果として、断層画像の分解能、コントラストを高くすることが可能となる。
また、収差に基づいて、測定光と戻り光との少なくともいずれかの収差の補正を行うことで、被検査物（ここでは被検眼）自身が有する収差を補正し、結果として、断層画像の分解能、コントラストを高くすることが可能となる。
また、２つの空間光変調器と、波面センサとが光学的に共役に配置されていることで、効率的に収差を補正することが可能となる。
また、ダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを用いることで、測定光あるいは戻り光を波長に基づいて分岐あるいは結合することができ、光路を構成することが可能となる。
また、光路の分岐と結合とを共通のダイクロイックミラーで行うことで、小型な光学系を有する光画像撮像装置を実現することが可能となる。
また、波面センサによって、戻り光の収差を測定し、戻り光の収差を２つの空間光変調器のそれぞれの最適化波長毎に算出する。
そして、この算出された収差を用いることで、パソコンにより最適化波長の異なる２つの空間光変調器の変調量を正確に算出することができる。
また、２つの波面センサを用いて、波長毎に戻り光の収差を測定することで、被検眼の色収差を含めた収差を測定することができ、結果的に分解能、コントラストが高い光断層画像を取得することが可能となる。
また、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検査物に照射された測定光による戻り光と、参照光路を経由した参照光とを干渉させ、干渉による干渉信号の強度により被検査物の光断層画像撮像を行うことができる。
これにより、分解能、コントラストが高い光断層画像を取得することが可能となる。
また、本実施例では、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、被検査物に照射された該測定光による戻り光と、参照光路を経由した該参照光とを干渉させた干渉信号を用い、次の前記被検査物の断層画像を撮像する光画像の撮像方法を構成することができる。
まず、第１の工程において、前記戻り光の収差を測定する収差測定手段を用いて、第一の空間光変調手段及び第二の空間光変調手段からの戻り光の収差を、分岐された異なる波長毎に測定する。
この第一の空間光変調手段および第二の空間光変調手段は、分岐された異なる波長の一方と他方に対してそれぞれ最適化されている。
次に、第２の工程において、前記前記第一の空間光変調手段及び前記第二の空間光変調手段における最適化波長毎に算出された戻り光の収差を用い、前記第一の空間光変調手段と前記第二の空間光変調手段における変調量を算出する。
次に、第３の工程において、前記算出された変調量に基づいて、前記第一の空間光変調手段と前記第二の空間光変調手段とにおける前記測定光と前記戻り光との少なくともいずれかを変調し、前記被検査物で発生した収差を補正する。
【００３１】
［実施例２］
実施例２においては、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する高横分解能の補償光学系を備えたＯＣＴ装置について説明する。
本実施例では、実施例１と同様に、被検眼の収差を空間光変調器を用いて補正して断層画像を取得するフーリエドメイン方式のＯＣＴ装置が構成され、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるようにされている。
そして、本実施例では、測定光が波長に基づいて２つに分岐され、さらに、その２つの測定光が２つの反射型の空間光変調器に入射し、別々に変調されていることを特徴としている。
実施例１では、光学系の全体を主に球面ミラーを用いた反射光学系を用いて構成されているが、ここでは、球面ミラーの代わりにレンズを用いた屈折光学系を用いて構成している。
【００３２】
まず、図８を用いて、本実施例におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する。
本実施例において、図１と同じ構成には同じ番号を付し、その説明を省略する。測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７０、空間光変調器１５９−１〜２、ＸＹスキャナ１１９、レンズ１３５−４〜９等を介して、観察対象である被検眼１０７に導かれる。
なお、測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７０にて、波長毎に２つに分岐された後、空間光変調器１５９−１〜２に入射され、ダイクロイックミラー１７０により１つに合波される。
戻り光１０８の有する収差は波面センサ１５５にて計測される。ここでは、該収差を、空間光変調器１５９−１〜２を制御して低減する機能を有し、被検眼の視度や収差によらず良好な断層画像が得られるようにされている。
本実施例では反射型の空間光変調器を用いたが、透過型の空間光変調器を用いても構成することができる。
なお、光源１０１および参照光路に関しては、実施例１と同様のため説明を省略する。
【００３３】
つぎに、本実施例の特徴的な構成である測定光１０６の光路について説明する。
光カプラー１３１によって分割された測定光１０６は、シングルモードファイバー１３０−４を介して、レンズ１３５−４に導かれ、ビーム径３ｍｍの平行光になるよう調整される。
測定光１０６は、第一のビームスプリッタ１５８−１を通過し、レンズ１３５−５を介して、第二のビームスプリッタ１５８−２に入射される。
ここで、測定光１０６の一部は反射され、レンズ１３５−６を介して、ダイクロイックミラー１７０に入射される。
ここで、測定光１０６は第一の測定光１０６−１と第二の測定光１０６−２とに分岐される。
ここで、ダイクロイックミラー１７０はおおよそ波長８５０ｎｍ以上の成分を透過し、８５０ｎｍ未満を反射するダイクロイックミラーである。
第一の測定光１０６−１は、第一の空間光変調器１５９−１にて変調され、再びダイクロイックミラー１７０に入射される。ここで、第一の空間光変調器１５９−１は波長８７０ｎｍに最適化されている。
【００３４】
さらに、第二の測定光１０６−２は、第二の空間光変調器１５９−２にて変調され、再びダイクロイックミラー１７０に入射される。ここで、第二の空間光変調器１５９−２は波長８３０ｎｍに最適化されている。
また、空間光変調器１５９−１〜２はＰ偏光（紙面に平行）の位相を変調する向きに配置されている。
さらに、第一の測定光１０６−１と第二の測定光１０６−２とはダイクロイックミラー１７０にて、同一の位置に入射し合波され、再び一つの測定光１０６となる。
【００３５】
次に、測定光１０６は、レンズ１３５−７を介して、ＸＹスキャナ１１９のミラーに入射される。
レンズ１３５−８〜９は網膜１２７を走査するための光学系であり、測定光１０６を角膜１２６の付近を支点として、網膜１２７をスキャンする役割がある。
また、１１７−２は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ１３５−９の位置を、パソコン１２５の制御の下に調整し制御することができる。
レンズ１３５−９の位置を調整することで、被検眼１０７の網膜１２７の所定の層に測定光１０６を合焦し、観察することが可能になる。
また、被検眼１０７が屈折異常を有している場合にも対応できる。
測定光１０６は被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８となり、再び光カプラー１３１に導かれ、ラインセンサ１３９に到達する。
ここで、戻り光１０８は、ダイクロイックミラー１７０において、波長毎に分割され、空間光変調器１５９−１〜２でそれぞれ変調され、ダイクロイックミラー１７０にて再び合波される。
また、ビームスプリッタ１５８−１にて分割される戻り光１０８の一部は、波面センサ１５５に入射され、戻り光１０８の収差が測定される。波面センサ１５５はパソコン１２５に電気的に接続されている。
【００３６】
ここで、角膜１２６、ＸＹスキャナ１１９、波面センサ１５５、空間光変調器１５９−１〜２とは光学的に共役になるよう、レンズ１３５−４〜９が配置されている。互いに共役な位置には「Ｐ」の文字を付した。
そのため、波面センサ１５５は被検眼１０７の収差を測定することが可能になっている。
また、空間光変調器１５９−１〜２は被検眼１０７の収差を補正することが可能になっている。さらに、得られた収差に基づいて、空間光変調器１５９−１〜２をリアルタイムに制御することで、被検眼１０７で発生する収差を補正し、より高横分解能な断層画像の取得を可能にしている。
ここでは、レンズ１３５−９に球面レンズを用いているが、被検眼１０７の収差（屈折異常）によっては、レンズ１３５−９にシリンドリカルレンズを用いてもよい。
また、新たなレンズを測定光１０６の光路に追加してもよい。
ここでは、空間光変調器１５９−１〜２に反射型の液晶空間位相変調器を用いたが、透過型の液晶空間位相変調器を用いてもよい。
【００３７】
なお、測定系の構成、断層画像の取得方法および断層画像の取得手順に関しては、実施例１と同様のため説明を省略する。
本実施例では、実施例１と異なり、レンズ１３５−９の位置を調整することで、被検眼１０７の網膜１２７の所定の層に測定光１０６を合焦し、観察を行っている。
以上のように、本実施例によれば、実施例１と同様の効果を得ることができる。更に、実施例１と比べて、使用する部品点数を少なくすることができ、また、光学系の調整が容易となる。
【符号の説明】
【００３８】
１００：ＯＣＴ装置
１０１：光源
１０５：参照光
１０６：測定光
１０７：被検眼
１０８：戻り光
１１４、１５７：ミラー
１１５：分散補償用ガラス
１１７：電動ステージ
１１９：ＸＹスキャナ
１２５：パソコン
１２６：角膜
１２７：網膜
１３０：光ファイバー
１３１：光カプラー
１３５：レンズ
１４０：フレームグラバー
１４１：透過型グレーティング
１５５：波面センサ
１５８：ビームスプリッタ
１５９：空間光変調器
１６０：球面ミラー
１７０：ダイクロイックミラー
１７１：グラントムソンプリズム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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