(57)【要約】  ダミーピクセル領域（２）の検査配線領域（１）側に設ける、有効表示領域（３）における隣接走査線（Ｇｊ）と同様の寄生容量効果を有するダミー線を、検査用スイッチ線（１ａ）で兼用する。検査用スイッチ線（１ａ）は、ダミー走査線（ＤＧ）から、有効表示領域（３）における走査線（Ｇｊ）どうしの間隔だけ離して配置する。これにより、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネル、およびそれを備えた表示装置を実現する。
2008026344.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、
前記第１回路は、データ線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、データ線ごとに対応して前記第１配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、
前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、
前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域における走査線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする表示パネル。
【請求項２】
実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、
前記第１回路は、データ線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、データ線ごとに対応して前記第１配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、
前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、
前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線を兼ねており、
前記スイッチング素子は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの前記データ線との導通および遮断を行うアクティブ素子を兼ねていることを特徴とする表示パネル。
【請求項３】
実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第２の第１回路を備え、
前記第２の第１回路は、走査線に所定の信号を供給する１つ以上の第２の第１配線と、走査線ごとに対応して前記第２の第１配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられた第２のスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記第２のスイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２の第２配線とを有し、
前記有効表示領域よりも前記第２の第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有する第２のダミーピクセルを備え、
前記第２の第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記第２のダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする請求項１または２に記載の表示パネル。
【請求項４】
実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、
前記第１回路は、走査線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、走査線ごとに対応して前記第１配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、
前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、
前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴とする表示パネル。
【請求項５】
前記ダミーピクセルの領域に、前記表示パネル上での位置を示すパターンが形成されていることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項６】
前記第２配線に印加される、前記スイッチング素子を導通状態とする電圧は、前記有効表示領域における走査線に印加される選択電圧と同じであることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項７】
前記スイッチング素子が導通状態となるときに、前記第１配線を介して前記データ線に前記所定の信号が供給されて点灯検査が行われることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項８】
前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴とする請求項１、２、４のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項９】
前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されるとともに、前記第２の第２配線に前記第２のスイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴とする請求項３に記載の表示パネル。
【請求項１０】
前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧として、前記有効表示領域における走査線に印加される非選択電圧と同じ電圧が印加されることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項１１】
表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第１回路が設けられていない額縁領域に設けられていることを特徴とする請求項１、２、４のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項１２】
表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第１回路および前記第２の第１回路のいずれも設けられていない額縁領域に設けられていることを特徴とする請求項３に記載の表示パネル。
【請求項１３】
液晶表示パネルであることを特徴とする請求項１ないし１２のいずれか１項に記載の表示パネル。
【請求項１４】
請求項１ないし１３のいずれか１項に記載の表示パネルを備えていることを特徴とする表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネルの検査回路構成に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
アクティブマトリクス型の液晶表示装置の製造工程においては、アクティブマトリクス基板と対向基板（ＣＦ基板）とを組み合わせて液晶を注入して表示パネルを組み立てた後、走査信号線駆動回路やデータ信号線駆動回路などの表示パネルの駆動回路や制御回路を実装する前に、表示パネルの点灯検査を行って、配線の製造不良などを検査する工程が設けられる。【０００３】
図６に、特許文献１に記載された液晶表示パネルの検査回路の構成を示す。【０００４】
図６に示された液晶表示パネルは、アクティブマトリクス基板１１６と対向基板１１８とが組み合わされ、その間に液晶が注入された構成である。アクティブマトリクス基板１１６と対向基板１１８とが重なっている領域のうち、有効表示領域１１７は実際の表示に使用可能な領域であって、図示しないバックライトからの光が透過可能な領域である。アクティブマトリクス基板１１６と対向基板１１８とが重なっている領域のうちの、有効表示領域１１７外の領域は、対向基板１１８によって遮光されている領域である。【０００５】
アクティブマトリクス基板１１６は、当該液晶表示パネルの１組の隣接する２端辺付近に、対向基板１１８と重ならない余白領域を有しており、該余白領域の一方の端辺領域にデータ信号線駆動回路１２０ａが、また、他方の端辺領域に走査信号線駆動回路１２０ｂが実装されている。【０００６】
アクティブマトリクス基板１１６では、検査用表示信号線１２１およびデータ線検査用スイッチング素子である検査用ＴＦＴ１２６ａが、データ信号線駆動回路１２０ａと有効表示領域１１７を挟むように設けられており、また、検査用走査信号線１２２および走査線検査用スイッチング素子である検査用ＴＦＴ１２６ｂが、走査信号線駆動回路１２０ｂと有効表示領域１１７を挟むように設けられている。【０００７】
検査用ＴＦＴ１２６ａのドレインはそれぞれデータ線１０３に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用表示信号線１２１に接続されている。そして、検査用ＴＦＴ１２６ａのゲートは、該検査用ＴＦＴ１２６ａが接続されているデータ線１０３の該当する色ごとに、データ線検査用制御信号線として、赤の検査用制御信号線１２５Ｒ、緑の検査用制御信号線１２５Ｇ、青の検査用制御信号線１２５Ｂに接続されている。各データ線検査用制御信号線１２５Ｒ・１２５Ｇ・１２５Ｂには、検査用の入力端子（以下、検査端子と略記）１３０Ｒ・１３０Ｇ・１３０Ｂより信号が入力され、検査用表示信号線１２１には検査端子１３２から信号が入力される。検査端子１３０Ｒ・１３０Ｇ・１３０Ｂ・１３２は、アクティブマトリクス基板１１６の余白領域に設けられている。【０００８】
また、検査用ＴＦＴ１２６ｂのドレインはそれぞれ走査線１０２に接続されており、そのソースはいずれも共通の検査用走査信号線１２２に接続されている。そして、検査用ＴＦＴ１２６ｂのゲートは、走査線検査用制御信号線１２４に接続されている。走査線検査用制御信号線１２４には、検査端子１４１より信号が入力され、検査用走査信号線１２２には検査端子１３９から信号が入力される。また、補助容量配線１０４が設けられており、該補助容量配線１０４には検査端子１４３から信号が入力される。検査端子１３９・１４１・１４３は、アクティブマトリクス基板１１６の余白領域に設けられている。【０００９】
また、アクティブマトリクス基板１１６の余白領域の端辺に、走査信号線駆動回路１２０ｂへの配線あるいは余白領域に設けられた対向基板用信号入力端子１２７に接続された複数の端子ｐ…と、データ信号線駆動回路１２０ａへの配線が接続された複数の端子ｑ…とが設けられている。さらに検査端子１２７はコモン転移部１１９に接続されている。【００１０】
上記の構成の液晶表示パネルの点灯検査を行うには、対向基板用信号入力端子１２７および検査端子１４３に所定の信号を入力して対向電極および補助容量配線１０４の電圧を設定しておき、検査端子１４１から入力した信号により全ての検査用ＴＦＴ１２６ｂ…をＯＮ状態とすることにより、全ての走査線１０２…を検査端子１３９から入力した信号で選択状態とするとともに、検査端子１３０Ｒ・１３０Ｇ・１３０Ｂから入力した信号により、対応する色の検査用ＴＦＴ１２６ａ…をＯＮ状態とすることにより、検査端子１３２から入力した信号を、ＯＮ状態とした検査用ＴＦＴ１２６ａに接続されているデータ線１０３に供給する。【００１１】
このようにして、ＲＧＢのそれぞれの色表示を行いつつ点灯検査することによって、輝点のみならず、絵素電極とそれに信号を供給すべきでないデータ線１０３（一般には隣接絵素に信号を供給するデータ線１０３）とのリークがあった場合の欠陥である黒点の検出、及び隣接絵素どうしのリーク欠陥、並びに隣接するデータ線１０３・１０３間のリーク欠陥の検出も目視によって容易に行える。【００１２】
また、特許文献２には、表示エリアの外側に、走査線間を短絡するように接続されたＴＦＴを有する検査用アレイと、信号線間を短絡するように接続されたＴＦＴを有する検査用アレイとを備え、検査時にこれら検査用アレイの全ＴＦＴを導通状態とすることによりパネル全体の表示を行う構成が開示されている。【００１３】
また、上述した検査回路と類似の構成の検査回路として、図７に示すものがある。【００１４】
この検査回路は、検査用のデータ信号をＲＧＢの色別に設定することができるとともに、これらのデータ信号をデータ線に供給するか否かを制御するためのスイッチング素子（後述の検査用ＴＦＴ２０１ｂ…）の全てが、同時にＯＮとなるかＯＦＦとなるかに限られる点で、図６のものとは異なっている。【００１５】
図７に示すように、この検査回路を含む液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域２０１、余剰領域２０２、ダミーピクセル領域２０３、および、有効表示領域２０４が配置されている。検査配線領域２０１、余剰領域２０２、および、ダミーピクセル領域２０３は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。有効表示領域２０４は、図６の有効表示領域１１７に対応するものである。【００１６】
有効表示領域２０４は、互いに直交するように配置された走査線Ｇｊ（ｊは整数）とデータ線Ｓｉ（ｉは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。図８に各ピクセルの構成例を示す。なお、図７では図示の便宜上、有効表示領域２０４のピクセルのピクセル電極をＰ、ダミーピクセルのピクセル電極をＤＰと表記してある。【００１７】
各ピクセルは、ゲートが走査線Ｇｊへ、ソースがデータ線Ｓｉに接続されるＴＦＴ（ＳＷ）と、このＴＦＴ（ＳＷ）のドレインに一方の電極が接続される画素容量Ｃｐとを備えて構成される。前記画素容量Ｃｐの他方の電極は、全ピクセルに共通の共通電極線に接続されている。前記画素容量Ｃｐは、液晶容量ＣＬと、必要に応じて付加される補助容量Ｃｓとから構成されている。【００１８】
検査配線領域２０１には、走査線Ｇｊに平行な方向に設けられたＲＧＢの各色用の３本の検査用データ線（第１配線）２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂと、これらの検査用データ線２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂに平行に設けられた検査用スイッチ線（第２配線）２０１ａと、検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）２０１ｂ…とが配置されている。検査用データ線２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂと、検査用スイッチ線２０１ａと、検査用ＴＦＴ２０１ｂ…とで構成される回路を第１回路とする。検査用スイッチ線２０１ａは、検査用データ線２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂよりも有効表示領域２０４側に１つだけ配置されており、検査用ＴＦＴ２０１ｂ…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用ＴＦＴ２０１ｂはデータ線Ｓｉごとに１つずつ設けられ、該データ線Ｓｉと、該データ線Ｓｉの色と対応する検査用データ線２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用ＴＦＴ２０１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線２０１ａに接続されている。【００１９】
余剰領域２０２は、データ線Ｓｉに沿ったピクセル幅単位のラインが、端から何番目に位置するのかを示すパターン２０２ａを形成するナンバリングを施した領域である。【００２０】
ダミーピクセル領域２０３は、有効表示領域２０４のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域２０３のピクセルは複数行ある場合もあるが、有効表示領域２０４に最も近いピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）のゲートはダミー走査線ＤＧに接続されている。このダミー走査線ＤＧは、有効表示領域２０４の最も額縁領域に近いピクセルが、有効表示領域２０４の他のピクセルがその隣接走査線Ｇｊから受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域２０４のピクセルと同じ構成として、有効表示領域２０４の全ピクセルが極力その周囲から等しい影響を受けるようにしている。従って、ダミーピクセル領域２０３にも、その余剰領域２０２側に、隣接走査線Ｇｊと同様の寄生容量効果を有するダミー線ＤＬが設けられている。【００２１】
図７の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線Ｇｊおよびダミー走査線ＤＧに選択電圧を印加して有効表示領域２０４の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用スイッチ線２０１ａにより全ての検査用ＴＦＴ２０１ｂ…をＯＮ状態として、検査用データ線２０１Ｒ・２０１Ｇ・２０１Ｂのそれぞれに入力された信号をデータ線Ｓｉを介して各ピクセルに書き込む。
【特許文献１】日本国公開特許公報「特開２００５−１２２２０９号公報（公開日：２００５年５月１２日）」
【特許文献２】日本国公開特許公報「特開平１１−１４９０９２号公報（公開日：１９９９年６月２日）」
【特許文献３】日本国公開特許公報「特開平９−８０４７８号公報（公開日：１９９７年３月２８日）」
【発明の開示】
【００２２】
特許文献１の液晶表示パネルも、図７の液晶表示パネルも、検査回路を作り込んだ後に検査回路の領域の基板を除去せずに組み立て可能なように構成されたものである。これにより、検査回路の領域の基板を除去する工程を省略することができるため、液晶表示パネルの製造工程を簡略化することができる。
【００２３】
液晶表示パネルを搭載する携帯機器など小型化を要求される機器においては、さらなる小型化を進めるために、液晶表示パネルの額縁領域をより狭くする必要がある。従って、検査回路の領域の基板を残して製造工程の簡略化を確保したまま、さらなる狭額縁化を図るためには、額縁領域における回路規模をより小さくすることが有効である。
【００２４】
しかしながら、図７のようにダミーピクセル領域２０３を有し、この領域が液晶表示パネルにとって必須である場合には、ダミーピクセルが有効表示領域２０４のピクセルと同じ大きさであるために、ダミーピクセル領域２０３以外で額縁領域を小さくしなければならず、額縁領域の縮小は特に困難であった。
【００２５】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネル、およびそれを備えた表示装置を実現することにある。
【００２６】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第１回路は、データ線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、データ線ごとに対応して前記第１配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域における走査線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴としている。
【００２７】
上記の発明によれば、第２配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線から、有効表示領域から遠ざかる向きに、有効表示領域における走査線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第２配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第１回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。
【００２８】
以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
【００２９】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第１回路は、データ線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、データ線ごとに対応して前記第１配線の所定のものとデータ線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、走査線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの走査線を兼ねており、前記スイッチング素子は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルの前記データ線との導通および遮断を行うアクティブ素子を兼ねていることを特徴としている。
【００３０】
上記の発明によれば、第２配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線を兼ねており、スイッチング素子が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルのデータ線との導通および遮断を行うアクティブ素子を兼ねていることから、従来、第２配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がなくなるとともに、スイッチング素子とアクティブ素子との一方の形成領域が不要となる。従って、余剰領域および形成不要素子の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第１回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。
【００３１】
以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
【００３２】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第２の第１回路を備え、前記第２の第１回路は、走査線に所定の信号を供給する１つ以上の第２の第１配線と、走査線ごとに対応して前記第２の第１配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられた第２のスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記第２のスイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２の第２配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第２の第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有する第２のダミーピクセルを備え、前記第２の第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記第２のダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴としている。
【００３３】
上記の発明によれば、第２の第２配線が、有効表示領域から最も遠く離れている第２のダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域から遠ざかる向きに、有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第２の第２配線と第２のダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第２の第１回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。
【００３４】
以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
【００３５】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、実際の表示に使用可能な領域である有効表示領域の外に第１回路を備えるアクティブマトリクス型の表示パネルであって、前記第１回路は、走査線に所定の信号を供給する１つ以上の第１配線と、走査線ごとに対応して前記第１配線の所定のものと走査線との間の導通および遮断を行うように設けられたスイッチング素子と、データ線に平行に設けられるとともに前記スイッチング素子に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する１つの第２配線とを有し、前記有効表示領域よりも前記第２配線側の外側に、前記有効表示領域のピクセル相当の構成を有するダミーピクセルを備える表示パネルにおいて、前記第２配線は、前記有効表示領域から最も遠く離れている前記ダミーピクセルのデータ線から、前記有効表示領域から遠ざかる向きに、前記有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることを特徴としている。
【００３６】
上記の発明によれば、第２配線が、有効表示領域から最も遠く離れているダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域から遠ざかる向きに、有効表示領域におけるデータ線どうしの間隔だけ離れて配置されていることから、従来、第２配線とダミーピクセル領域との間に存在した余剰領域がない。従って、余剰領域の大きさだけ額縁領域を縮小することができる。第１回路はたとえば点灯検査に用いる検査回路とすることができるが、その他の回路でもよい。
【００３７】
以上により、額縁領域に検査回路領域およびダミーピクセル領域を有しながら、額縁領域を縮小することのできる表示パネルを実現することができるという効果を奏する。
【００３８】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記ダミーピクセルの領域に、前記表示パネル上での位置を示すパターンが形成されていることを特徴としている。
【００３９】
上記の発明によれば、従来のように余剰領域が存在しなくても、表示パネル上での位置を知ることができるという効果を奏する。
【００４０】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記第２配線に印加される、前記スイッチング素子を導通状態とする電圧は、前記有効表示領域における走査線に印加される選択電圧と同じであることを特徴としている。
【００４１】
上記の発明によれば、第２配線がダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域において隣接走査線がピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができるという効果を奏する。
【００４２】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記スイッチング素子が導通状態となるときに、前記第１配線を介して前記データ線に前記所定の信号が供給されて点灯検査が行われることを特徴としている。
【００４３】
上記の発明によれば、第１回路を点灯検査回路として備えながら、額縁領域を縮小することができるという効果を奏する。
【００４４】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴としている。
【００４５】
上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第１配線とデータ線とが遮断状態となったスイッチング素子によって分離されるので、データ線の電位が第１配線から影響を受けずに済むという効果を奏する。
【００４６】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されるとともに、前記第２の第２配線に前記第２のスイッチング素子を遮断状態とする電圧が印加されることを特徴としている。
【００４７】
上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第１配線とデータ線とが遮断状態となったスイッチング素子によって分離されるとともに、第２の第１配線と走査線とが遮断状態となった第２のスイッチング素子によって分離されるので、データ線の電位が第１配線から影響を受けずに済むとともに、走査線の電位が第２の第１配線から影響を受けずに済むという効果を奏する。
【００４８】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、前記表示パネルの通常使用時は、前記第２配線に、前記スイッチング素子を遮断状態とする電圧として、前記有効表示領域における走査線に印加される非選択電圧と同じ電圧が印加されることを特徴としている。
【００４９】
上記の発明によれば、表示パネルの通常使用時に、第２配線がダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域において隣接走査線がピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができるという効果を奏する。
【００５０】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第１回路が設けられていない額縁領域に設けられていることを特徴としている。
【００５１】
上記の発明によれば、第１回路が設けられる額縁領域と、表示ドライバが設けられる表示領域とを異ならせるので、各額縁領域を小さくすることができるという効果を奏する。
【００５２】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、表示ドライバが、前記有効表示領域の外側にある各額縁領域のうち、前記第１回路および前記第２の第１回路のいずれも設けられていない額縁領域に設けられていることを特徴としている。
【００５３】
上記の発明によれば、第１回路が設けられる額縁領域および第２の第１回路が設けられる額縁領域と、表示ドライバが設けられる表示領域とを異ならせるので、各額縁領域を小さくすることができるという効果を奏する。
【００５４】
本発明の表示パネルは、上記課題を解決するために、液晶表示パネルであることを特徴としている。
【００５５】
上記の発明によれば、液晶表示パネルにおいて、額縁領域を小さくすることができるという効果を奏する。
【００５６】
本発明の表示装置は、上記課題を解決するために、前記表示パネルを備えていることを特徴としている。
【００５７】
上記の発明によれば、額縁領域の縮小された表示装置を実現することができるという効果を奏する。
【００５８】
本発明の他の目的、特徴、および優れた点は、以下に示す記載によって十分分かるであろう。また、本発明の利点は、添付図面を参照した次の説明によって明白になるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の第１の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。
【図２】図１の表示パネルを応用した表示パネルの構成を示す平面図である。
【図３】本発明の第２の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。
【図４】図３の表示パネルを応用した表示パネルの構成を示す平面図である。
【図５】本発明の第３の実施形態を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。
【図６】第１の従来技術を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。
【図７】第２の従来技術を示すものであり、表示パネルの要部構成を示すブロック図である。
【図８】ピクセルの構成を示す等価回路図である。
【符号の説明】
【００６０】
１ａ、２１ａ、３１ａ、３６ａ
検査用スイッチ線（第２配線）
１ｂ、２１ｂ、３１ｂ、３６ｂ
検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）
１Ｒ、１Ｇ、１Ｂ、２１Ｒ、２１Ｇ、２１Ｂ、３１Ｒ、３１Ｇ、３１Ｂ
検査用データ線（第１配線）
２ａ、２２ａ、３２ａ
パターン
３              有効表示領域
３６ｃ          検査用走査線（第１配線）
Ｇｊ            走査線
Ｓｉ            データ線
ＳＷ            ＴＦＴ（アクティブ素子）
【発明を実施するための最良の形態】
【００６１】
〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態について図１、図２、および図８に基づいて説明すると以下の通りである。【００６２】
図１に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル（表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。【００６３】
この液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域１、ダミーピクセル領域２、および、有効表示領域３が配置されている。検査配線領域１およびダミーピクセル領域２は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。【００６４】
有効表示領域３は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線Ｇｊ（ｊは整数）とデータ線Ｓｉ（ｉは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図８に示した通りである。なお、図１では図示の便宜上、有効表示領域３のピクセルのピクセル電極をＰ、ダミーピクセルのピクセル電極をＤＰと表記してある。【００６５】
検査配線領域１には、走査線Ｇｊに平行な方向に設けられたＲＧＢの各色用の３本の検査用データ線（第１配線）１Ｒ・１Ｇ・１Ｂと、これらの検査用データ線１Ｒ・１Ｇ・１Ｂに平行に設けられた検査用スイッチ線（第２配線）１ａと、検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）１ｂ…とが配置されている。検査用データ線１Ｒ・１Ｇ・１Ｂと、検査用スイッチ線１ａと、検査用ＴＦＴ１ｂ…とで構成される回路を第１回路とする。検査用スイッチ線１ａは、検査用データ線１Ｒ・１Ｇ・１Ｂよりも有効表示領域３側に１つだけ配置されており、検査用ＴＦＴ１ｂ…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用ＴＦＴ１ｂはデータ線Ｓｉごとに１つずつ設けられ、該データ線Ｓｉと、該データ線Ｓｉの色と対応する検査用データ線１Ｒ・１Ｇ・１Ｂとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用ＴＦＴ１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線１ａに接続されている。【００６６】
ダミーピクセル領域２は、有効表示領域３のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域２のピクセルは複数行ある場合もあるが、有効表示領域３に最も近いピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）のゲートはダミー走査線ＤＧに接続されている。このダミー走査線ＤＧは、有効表示領域３の最もダミーピクセル領域２に近いピクセルが、有効表示領域３の他のピクセルがその隣接走査線Ｇｊから受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。すなわち、ダミー走査線ＤＧは、走査線Ｇ１から、有効表示領域３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域３のピクセルと同じ構成として、有効表示領域３の全ピクセルが極力その周囲から等しい影響を受けるようにしている。【００６７】
従って、ダミーピクセル領域２にも、その検査配線領域１側に、隣接走査線Ｇｊと同様の寄生容量効果を有するダミー線が設けられるのが好ましいが、本実施形態ではこのダミー線を検査用スイッチ線１ａで兼用する。検査用スイッチ線１ａは、ダミー走査線ＤＧから、有効表示領域３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。ダミーピクセルが複数行ある場合も含めると、検査用スイッチ線１ａは、有効表示領域３から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線から、有効表示領域３から遠ざかる向きに、有効表示領域３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。これにより、本実施形態では、図７に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域２０２に相当する領域が存在しない。【００６８】
また、ダミーピクセル領域２には、データ線Ｓｉに沿ったピクセル幅単位のラインが、端から何番目に位置するのかを示すパターン２ａを形成するナンバリングが施されている。このパターン２ａには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン２ａは例えばゲートメタルで形成可能である。【００６９】
図１の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線Ｇｊおよびダミー走査線ＤＧに選択電圧を印加して有効表示領域３の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用スイッチ線１ａにより全ての検査用ＴＦＴ１ｂ…をＯＮ状態として、検査用データ線１Ｒ・１Ｇ・１Ｂのそれぞれに入力された信号をデータ線Ｓｉを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スイッチ線１ａに印加する選択電圧を、走査線Ｇｊに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スイッチ線１ａがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３において隣接走査線Ｇｊがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【００７０】
また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スイッチ線１ａに、検査用ＴＦＴ１ｂ…がＯＦＦ状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線Ｇｊに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スイッチ線１ａがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３において隣接走査線Ｇｊがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【００７１】
通常使用時のダミーピクセルについては、ダミー走査線ＤＧに走査線Ｇｊとは独立した信号を別途供給して駆動してもよいし、ダミー走査線ＤＧを走査線Ｇｊとともに順次走査の対象に組み込んで駆動してもよい。また、ダミー走査線ＤＧをフローティングとすることも可能である。【００７２】
このように、本実施形態では、検査用スイッチ線１ａが、ダミーピクセルに寄生容量効果を及ぼす隣接走査線相当のダミー線を兼ねることにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすため、額縁領域をデータ線Ｓｉ方向に縮小することができる。例えば、ＱＶＧＡのような携帯機器用液晶表示パネルにおいて、ほぼ１ドット分あるいは１ライン分のデータ線Ｓｉ方向の幅１５０μｍ〜２００μｍといった大きな縮小幅を達成することができる。【００７３】
なお、ダミーピクセルが複数行設けられる場合には、検査用スイッチ線１ａは、最も検査配線領域１に近い行のダミーピクセルの、隣接走査線相当のダミー線を兼ねるようにする。また、上記例では検査用データ線をＲＧＢの各色用に設けて３本としたが、これに限らず、何本でもよい。【００７４】
次に、図２に、図１の構成を応用した液晶表示パネル５０の構成を示す。【００７５】
液晶表示パネル５０は、アクティブマトリクス基板５１と対向基板５２とが組み合わされて、それらの間に液晶が注入された構成である。【００７６】
アクティブマトリクス基板５１と対向基板５２とが互いに重なっている領域（対向基板５２の全面領域に等しい）のうち、図中破線で囲んだ中央部分の領域は有効表示領域３であり、残りの領域は対向基板５２によって遮光された領域である。【００７７】
アクティブマトリクス基板５１には対向基板５２と重ならない余白領域５１ａが、余白領域５１ａの１端辺の外側に設けられている。余白領域５１ａは、走査線ドライバとデータ線ドライバとを一体的に含むドライバＤＲが設けられる領域と、点灯検査のときに各種検査用信号が入力される端子５５〜６０が設けられる領域とを有している。ドライバＤＲが設けられる領域は、余白領域５１ａのうち対向基板５２側の約半分を占める領域であり、端子５５〜６０が設けられる領域は、余白領域５１ａのうち残りの約半分を占める領域である。ドライバＤＲが設けられる領域と端子５５〜６０が設けられる領域との境界は分断線５１ｂとなっている。【００７８】
余白領域５１ａは、アクティブマトリクス基板５１と対向基板５２とを組み合わせてから点灯検査を行うまでは、ドライバＤＲが設けられる領域と端子５５〜６０が設けられる領域との両方が存在するが、点灯検査が終了した後は分断線５１ｂで分断してドライバＤＲが設けられる領域のみを残し、そこにドライバＤＲを実装する。余白領域５１ａを分断線５１ｂで分断した後の、有効表示領域３以外の領域は、当該液晶表示パネル５０を有する液晶表示装置（表示装置）における額縁領域となる。【００７９】
液晶表示パネル５０において、偶数番目の走査線Ｇｊは、アクティブマトリクス基板５１上で端子５５から図２の有効表示領域３の左外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域３に配置され、奇数番目の走査線Ｇｊは、アクティブマトリクス基板５１上で端子５７から図２の右外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域３に配置される（図２において、仮に、上端の走査線Ｇｊを０番目としている）。この場合に、端子５５からの走査線Ｇｊの引き回し配線と、端子５７からの走査線Ｇｊの引き回し配線とは、それぞれ、後にドライバＤＲの接続端子が実装に伴って接続される箇所を通過するように配置されている。これにより、点灯検査時と通常使用時とで、走査線Ｇｊの引き回し配線を共通に使用することができ、それだけ液晶表示パネル５０における回路領域を小さくすることができる。【００８０】
また、有効表示領域３を挟んで余白領域５１ａと反対側の領域が、検査配線領域１とダミーピクセル領域２とを有する領域となっている。ここでは、検査配線領域１の検査用データ線として、奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線１ｏと偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線１ｅとの２つが設けられている（図２において、仮に、左端のデータ線Ｓｉを１番目としている）。そして、検査用データ線１ｏと奇数番目の各データ線Ｓｉとの間と、検査用データ線１ｅと偶数番目の各データ線との間に、それぞれ検査用ＴＦＴ１ｂが設けられている。検査用ＴＦＴ１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線１ａに接続されている。【００８１】
また、検査用スイッチ線１ａ、検査用データ線１ｅ、および、検査用データ線１ｏは、アクティブマトリクス基板５１上で有効表示領域３の右外側の領域を引き回されて、順に、端子５８、端子５９、端子６０に接続されている。点灯検査時には、端子５８に検査用スイッチ信号（検査用ＴＦＴ１ｂ…をＯＮ／ＯＦＦする信号）、端子５９に第１データ線検査信号（奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用信号）、端子６０に第２データ線検査信号（偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用信号）が、それぞれ検査機のプローブを介して入力される。検査配線領域１の検査用データ線として、奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線１ｏと偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線１ｅとが設けられていることにより、隣接するデータ線Ｓｉ間のリークを検出することが可能となる。【００８２】
また、ダミーピクセル領域２のダミー走査線ＤＧは、アクティブマトリクス基板５１上で有効表示領域３の右外側の領域を引き回されて端子５７に接続されている。このダミー走査線ＤＧの引き回し配線も、奇数番目の走査線Ｇｊの引き回し配線と同様にドライバＤＲの実装箇所を通過するようになっている。【００８３】
また、アクティブマトリクス基板５１上において、端子５６からは、有効表示領域３を取り囲むとともに、その取り囲み部分から有効表示領域３を走査線Ｇｊと平行に横断する配線が設けられている。この配線には、端子５６から共通電位が供給される。有効表示領域３を走査線Ｇｊと平行に横断する配線部分は補助容量配線ＣｓＬである。また、取り囲み配線上の、検査回路が設けられている付近に、黒丸で示したコモン転移部６５が設けられており、このコモン転移部６５を介して対向基板５２の対向電極に共通電位が供給されるようになっている。この端子５６からの引き回し配線も、端子５５・５７からの引き回し配線と同様に、ドライバＤＲの実装箇所を通過するように配置されている。点灯検査時には、端子５６に共通電位が検査機のプローブを介して入力される。【００８４】
なお、図２の例ではドライバが液晶表示パネルの１辺にのみ設けられるものであったが、これに限らず、ドライバが２辺以上に設けられるものも可能である。【００８５】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施形態について図３、図４、および図８に基づいて説明すると以下の通りである。【００８６】
図３に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル（表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。【００８７】
この液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域２１、および、有効表示領域２３が配置されている。また、検査配線領域２１の有効表示領域２３側の部分はダミーピクセル領域２２となっている。検査配線領域２１は額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。【００８８】
有効表示領域２３は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線Ｇｊ（ｊは整数）とデータ線Ｓｉ（ｉは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図８に示した通りである。なお、図３では図示の便宜上、有効表示領域２３のピクセルのピクセル電極をＰと表記してある。ダミーピクセルのピクセル電極の表記は省略してある。【００８９】
検査配線領域２１には、走査線Ｇｊに平行な方向に設けられたＲＧＢの各色用の３本の検査用データ線（第１配線）２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂと、これらの検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂに平行に設けられた検査用スイッチ線（第２配線）２１ａと、検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）２１ｂ…とが配置されている。検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂと、検査用スイッチ線２１ａと、検査用ＴＦＴ２１ｂ…とで構成される回路を第１回路とする。検査用スイッチ線２１ａは、検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂよりも有効表示領域２３側に１つだけ配置されており、検査用ＴＦＴ２１ｂ…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。【００９０】
検査用ＴＦＴ２１ｂはデータ線Ｓｉごとに１つずつ設けられ、該データ線Ｓｉと、該データ線Ｓｉの色と対応する検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用ＴＦＴ２１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線２１ａに接続されている。また、検査用ＴＦＴ２１ｂ…のそれぞれは、ダミーピクセルの、データ線Ｓｉとの導通および遮断を行うアクティブ素子であるＴＦＴ（ＳＷ）を兼ねており、図示しないダミーピクセル電極にも接続されている。検査用スイッチ線２１ａは、ダミーピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）用の走査線であるダミー走査線ＤＧを兼ねており、走査線Ｇ１から、有効表示領域２３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。このようにして、検査配線領域２１の検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂよりも有効表示領域２３側の部分は、各検査用ＴＦＴ２１ｂが各ダミーピクセルに対応したダミーピクセル領域２２となっている。【００９１】
ダミーピクセル領域２２においてダミーピクセルが複数行ある場合には、有効表示領域２３から最も遠く離れている行のダミーピクセルを上記の構成のダミーピクセルとし、その他の行のダミーピクセルを、実施の形態１と同様の構成のダミーピクセルとする。従って、ダミーピクセルが複数行ある場合を含めると、検査用スイッチ線２１ａは、有効表示領域２３から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線を兼ねており、検査用ＴＦＴ２１ｂは、有効表示領域２３から最も遠く離れているダミーピクセルのアクティブ素子を兼ねている。これにより、検査用スイッチ線２１ａが、その内側に隣接するピクセルの走査線から、有効表示領域２３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されていることは明らかである。【００９２】
従って、本実施形態では、図７に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域２０２に相当する領域が存在せず、また、図７に示した検査配線領域２０１の検査用ＴＦＴ２０１ｂとダミーピクセル領域２０３のＴＦＴ（ＳＷ）とのうちの一方の形成領域が不要となる。【００９３】
また、ダミーピクセル領域２２には、データ線Ｓｉに沿ったピクセル幅単位のラインが、端から何番目に位置するのかを示すパターン２２ａを形成するナンバリングが施されている。このパターン２２ａには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン２２ａは例えばゲートメタルで形成可能である。【００９４】
図３の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、全ての走査線Ｇｊおよび検査用スイッチ線２１ａに選択電圧を印加して有効表示領域２３の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用データ線２１Ｒ・２１Ｇ・２１Ｂのそれぞれに入力された信号をデータ線Ｓｉを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スイッチ線２１ａに印加する選択電圧を、走査線Ｇｊに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スイッチ線２１ａが走査線Ｇ１に接続されたピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３において隣接走査線Ｇｊがその他のピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【００９５】
また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スイッチ線２１ａに、検査用ＴＦＴ２１ｂ…がＯＦＦ状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線Ｇｊに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スイッチ線２１ａが走査線Ｇ１に接続されたピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３において隣接走査線Ｇｊがその他のピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【００９６】
このように、本実施形態では、ダミーピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）を検査用ＴＦＴ２１ｂで兼用し、ダミーピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）用のダミー走査線ＤＧを検査用スイッチ線２１ａで兼用することにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすとともに、１行分のＴＦＴの形成領域を削減することができるので、額縁領域をデータ線Ｓｉ方向に縮小することができる。【００９７】
なお、上記例では検査用データ線をＲＧＢの各色用に設けて３本としたが、これに限らず、何本でもよい。【００９８】
次に、図４に、図３の構成を応用した液晶表示パネル７０の構成を示す。【００９９】
液晶表示パネル７０は、アクティブマトリクス基板７１と対向基板７２とが組み合わされて、それらの間に液晶が注入された構成である。【０１００】
アクティブマトリクス基板７１と対向基板７２とが互いに重なっている領域（対向基板７２の全面領域に等しい）のうち、図中破線で囲んだ中央部分の領域は有効表示領域２３であり、残りの領域は対向基板７２によって遮光された領域である。【０１０１】
アクティブマトリクス基板７１には対向基板７２と重ならない余白領域７１ａが、余白領域７１ａの１端辺の外側に設けられている。余白領域７１ａは、走査線ドライバとデータ線ドライバとを一体的に含むドライバＤＲが設けられる領域と、点灯検査のときに各種検査用信号が入力される端子７５〜８０が設けられる領域とを有している。ドライバＤＲが設けられる領域は、余白領域７１ａのうち対向基板７２側の約半分を占める領域であり、端子７５〜８０が設けられる領域は、余白領域７１ａのうち残りの約半分を占める領域である。ドライバＤＲが設けられる領域と端子７５〜８０が設けられる領域との境界は分断線７１ｂとなっている。【０１０２】
余白領域７１ａは、アクティブマトリクス基板７１と対向基板７２とを組み合わせてから点灯検査を行うまでは、ドライバＤＲが設けられる領域と端子７５〜８０が設けられる領域との両方が存在するが、点灯検査が終了した後は分断線７１ｂで分断してドライバＤＲが設けられる領域のみを残し、そこにドライバＤＲを実装する。余白領域７１ａを分断線７１ｂで分断した後の、有効表示領域２３以外の領域は、当該液晶表示パネル７０を有する液晶表示装置（表示装置）における額縁領域となる。【０１０３】
液晶表示パネル７０において、偶数番目の走査線Ｇｊは、アクティブマトリクス基板７１上で端子７５から図４の有効表示領域２３の左外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域２３に配置され、奇数番目の走査線Ｇｊは、アクティブマトリクス基板７１上で端子７７から図４の右外側の領域を引き回されるようにして有効表示領域２３に配置される（図４において、仮に、上端の走査線Ｇｊを０番目としている）。この場合に、端子７５からの走査線Ｇｊの引き回し配線と、端子７７からの走査線Ｇｊの引き回し配線とは、それぞれ、後にドライバＤＲの接続端子が実装に伴って接続される箇所を通過するように配置されている。これにより、点灯検査時と通常使用時とで、走査線Ｇｊの引き回し配線を共通に使用することができ、それだけ液晶表示パネル７０における回路領域を小さくすることができる。【０１０４】
また、有効表示領域２３を挟んで余白領域７１ａと反対側の領域が、ダミーピクセル領域２２を含んだ検査配線領域２１を有する領域となっている。ここでは、検査配線領域２１の検査用データ線として、奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線２１ｏと偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線２１ｅとの２つが設けられている（図４において、仮に、左端のデータ線Ｓｉを１番目としている）。そして、検査用データ線２１ｏと奇数番目の各データ線Ｓｉとの間と、検査用データ線２１ｅと偶数番目の各データ線との間に、それぞれ検査用ＴＦＴ２１ｂが設けられている。検査用ＴＦＴ２１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線２１ａに接続されている。【０１０５】
また、検査用スイッチ線２１ａ、検査用データ線２１ｅ、および、検査用データ線２１ｏは、アクティブマトリクス基板７１上で有効表示領域２３の右外側の領域を引き回されて、順に、端子７８、端子７９、端子８０に接続されている。点灯検査時には、端子７８に検査用スイッチ信号（検査用ＴＦＴ１ｂ…をＯＮ／ＯＦＦする信号）、端子７９に第１データ線検査信号（奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用信号）、端子８０に第２データ線検査信号（偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用信号）が、それぞれ検査機のプローブを介して入力される。検査配線領域２１の検査用データ線として、奇数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線２１ｏと偶数番目のデータ線Ｓｉ用の検査用データ線２１ｅとが設けられていることにより、隣接するデータ線Ｓｉ間のリークを検出することが可能となる。【０１０６】
また、アクティブマトリクス基板７１上において、端子７６からは、有効表示領域２３を取り囲むとともに、その取り囲み部分から有効表示領域２３を走査線Ｇｊと平行に横断する配線が設けられている。この配線には、端子７６から共通電位が供給される。有効表示領域２３を走査線Ｇｊと平行に横断する配線部分は補助容量配線ＣｓＬである。また、取り囲み配線上の、検査回路が設けられている付近に、黒丸で示したコモン転移部８５が設けられており、このコモン転移部８５を介して対向基板７２の対向電極に共通電位が供給されるようになっている。この端子７６からの引き回し配線も、端子７５・７７からの引き回し配線と同様に、ドライバＤＲの実装箇所を通過するように配置されている。点灯検査時には、端子７６に共通電位が検査機のプローブを介して入力される。【０１０７】
なお、図４の例ではドライバが液晶表示パネルの１辺にのみ設けられるものであったが、これに限らず、ドライバが２辺以上に設けられるものも可能である。【０１０８】
〔実施の形態３〕
本発明のさらに他の実施形態について図５および図８に基づいて説明すると以下の通りである。【０１０９】
図５に、本実施形態に係るアクティブマトリクス型の液晶表示パネル（表示パネル）の、額縁領域となる領域と、有効表示領域との境界付近の回路構成を示す。【０１１０】
この液晶表示パネルにおいては、データ線の延びる方向に順に、検査配線領域３１、ダミーピクセル領域３２、および、有効表示領域３３が配置されている。また、有効表示領域３３の走査線の延びる方向の左隣にダミーピクセル領域３４、右隣にダミーピクセル領域３５が配置されており、ダミーピクセル領域３５のさらに走査線方向外側に検査配線領域３６が配置されている。検査配線領域３１、ダミーピクセル領域２、ダミーピクセル領域３４、ダミーピクセル領域３５、および、検査配線領域３６は、額縁領域内に配置されており、この領域は対向基板によって遮光される。【０１１１】
有効表示領域３３は、実際の表示に使用可能な領域であって、互いに直交するように配置された走査線Ｇｊ（ｊは整数）とデータ線Ｓｉ（ｉは整数）とに囲まれる各領域にピクセルが配置された構成である。各ピクセルの構成例は、前述の図８に示した通りである。なお、図５では図示の便宜上、有効表示領域３３のピクセルのピクセル電極をＰ、ダミーピクセルのピクセル電極をＤＰと表記してある。【０１１２】
検査配線領域３１には、走査線Ｇｊに平行な方向に設けられたＲＧＢの各色用の３本の検査用データ線（第１配線）３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂと、これらの検査用データ線３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂに平行に設けられた検査用スイッチ線（第２配線）３１ａと、検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）３１ｂ…とが配置されている。検査用データ線３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂと、検査用スイッチ線３１ａと、検査用ＴＦＴ３１ｂ…とで構成される回路を第１回路とする。検査用スイッチ線３１ａは、検査用データ線３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂよりも有効表示領域３３側に１つだけ配置されており、検査用ＴＦＴ３１ｂ…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。検査用ＴＦＴ３１ｂはデータ線Ｓｉごとに１つずつ設けられ、該データ線Ｓｉと、該データ線Ｓｉの色と対応する検査用データ線３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂとの間に、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。また、検査用ＴＦＴ３１ｂ…のゲートは検査用スイッチ線３１ａに接続されている。【０１１３】
ダミーピクセル領域３２は、有効表示領域３３のピクセル相当の構成を有するピクセルを配置した領域である。ダミーピクセル領域３２のピクセルは複数行ある場合もあるが、有効表示領域３３に最も近いピクセルのＴＦＴ（ＳＷ）のゲートはダミー走査線ＤＧに接続されている。このダミー走査線ＤＧは、有効表示領域３３の最もダミーピクセル領域３２に近いピクセルが、有効表示領域３３の他のピクセルがその隣接走査線Ｇｊから受ける寄生容量の影響と同じ影響を受けるように、設けられている。すなわち、ダミー走査線ＤＧは、走査線Ｇ１から、有効表示領域３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。同様の観点から、ダミーピクセル全体の構成も、有効表示領域３３のピクセルと同じ構成として、有効表示領域３３の全ピクセルが極力その周囲から等しい影響を受けるようにしている。【０１１４】
従って、ダミーピクセル領域３２にも、その検査配線領域３１側に、隣接走査線Ｇｊと同様の寄生容量効果を有するダミー線が設けられるのが好ましいが、本実施形態ではこのダミー線を検査用スイッチ線３１ａで兼用する。検査用スイッチ線３１ａは、ダミー走査線ＤＧから、有効表示領域３３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。ダミーピクセルが複数行ある場合も含めると、検査用スイッチ線３１ａは、有効表示領域３３から最も遠く離れているダミーピクセルの走査線から、有効表示領域３３から遠ざかる向きに、有効表示領域３３における走査線Ｇｊどうしの間隔だけ離れて配置されている。これにより、本実施形態では、図７に示した従来の液晶表示パネルに設けられた余剰領域２０２に相当する領域が存在しない。【０１１５】
また、ダミーピクセル領域３２には、有効表示領域３３を通過するデータ線Ｓｉに沿ったピクセル幅単位のラインが、有効表示領域３３の端から何番目に位置するのかを示すパターン３２ａを形成するナンバリングが施されている。このパターン３２ａには、数字のみならず、位置を特定することのできるパターンであれば文字、記号など任意のものを使用することができる。また、パターン２ａは例えばゲートメタルで形成可能である。【０１１６】
ダミーピクセル領域３４・３５は、上記ダミーピクセル領域３２と同様の目的で、有効表示領域３３のピクセルの構成を走査線Ｓｉ方向に繰り返し配置したものである。ダミーピクセル領域３５のダミーデータ線ＤＳは、有効表示領域３３の右端の列のピクセルに対して寄生容量効果を及ぼす隣接データ線である。そのダミーピクセル領域３５のピクセルに対して寄生容量効果を及ぼす隣接データ線として、検査用スイッチ線（第２配線）３６ａが、検査配線領域３６に設けられている。検査配線領域３６にはこの他に、検査用ＴＦＴ（スイッチング素子）３６ｂ…と検査用走査線（第１配線）３６ｃとが設けられている。検査用走査線３６ｃと、検査用スイッチ線３６ａと、検査用ＴＦＴ３６ｂ…とで構成される回路も第１回路に相当する。【０１１７】
検査用ＴＦＴ３６ｂは、検査用走査線３６ｃと各走査線Ｇｊおよびダミー走査線ＤＧとの間のそれぞれに、これらの間の導通および遮断を制御するように接続されている。検査用ＴＦＴ３６ｂ…のゲートは検査用スイッチ線３６ａに接続されており、検査用ＴＦＴ３６ｂ…は検査用スイッチ線３６ａに入力される信号によってＯＮ／ＯＦＦ制御される。【０１１８】
検査用スイッチ線３６ａは１つだけ配置されており、検査用ＴＦＴ３６ｂ…に導通動作および遮断動作の制御信号を共通に供給する。ダミーピクセル領域３５にダミーピクセルが複数列ある場合も含めると、検査用スイッチ線３６ａは、有効表示領域３３から最も遠く離れているダミーピクセル領域３５のダミーピクセルのデータ線から、有効表示領域３３から遠ざかる向きに、有効表示領域３３におけるデータ線Ｓｉどうしの間隔だけ離れて配置されている。【０１１９】
図５の構成の液晶表示パネルでは、点灯検査のときには、検査用スイッチ線３６ａにより全ての検査用ＴＦＴ３６ｂ…をＯＮ状態として、検査用走査線３６ｃから検査用ＴＦＴ３６ｂ…を介して全ての走査線Ｇｊおよびダミー走査線ＤＧに選択電圧を印加して有効表示領域３３の全てのピクセルおよびダミーピクセルを選択状態とし、検査用スイッチ線３１ａにより全ての検査用ＴＦＴ３１ｂ…をＯＮ状態として、検査用データ線３１Ｒ・３１Ｇ・３１Ｂのそれぞれに入力された信号をデータ線Ｓｉを介して各ピクセルに書き込む。このとき、検査用スイッチ線３１ａに印加する選択電圧を、走査線Ｇｊに印加する選択電圧と同じにすれば、検査用スイッチ線３１ａがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３３において隣接走査線Ｇｊがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【０１２０】
また、液晶表示パネルの通常使用時には、検査用スイッチ線３１ａに、検査用ＴＦＴ３１ｂ…がＯＦＦ状態となるような電圧を印加する。この電圧を、走査線Ｇｊに印加する非選択電圧と同じにすれば、通常使用時にも、検査用スイッチ線３１ａがダミーピクセルに及ぼす寄生容量効果を、有効表示領域３において隣接走査線Ｇｊがピクセルへ及ぼす寄生容量効果に近くすることができる。【０１２１】
通常使用時のダミーピクセルについては、ダミー走査線ＤＧに走査線Ｇｊとは独立した信号を別途供給して駆動してもよいし、ダミー走査線ＤＧを走査線Ｇｊとともに順次走査の対象に組み込んで駆動してもよい。また、ダミー走査線ＤＧをフローティングとすることも可能である。【０１２２】
このように、本実施形態では、検査用スイッチ線３１ａが、ダミーピクセルに寄生容量効果を及ぼす隣接走査線相当のダミー線を兼ねることにより、額縁領域に従来設けられていた余剰領域をなくすため、額縁領域をデータ線Ｓｉ方向に縮小することができる。例えば、ＱＶＧＡのような携帯機器用液晶表示パネルにおいて、ほぼ１ドット分あるいは１ライン分のデータ線Ｓｉ方向の幅１５０μｍ〜２００μｍといった大きな縮小幅を達成することができる。【０１２３】
また、本実施形態では、走査線方向に繰り返し配置されるダミーピクセルが設けられるとともに、有効表示領域の走査線Ｇｊ方向に隣接する領域に、走査線Ｇｊに接続される検査回路が設けられる場合に、データ線方向と同様に余剰領域に相当する領域を設ける必要がないので、データ線方向と同様の額縁領域の縮小を達成することができる。必要ならば、ダミーピクセル領域３５にパターン３２ａと同様のナンバリングを施せばよい。【０１２４】
なお、ダミーピクセル領域３２にダミーピクセルが複数行設けられる場合には、検査用スイッチ線３１ａは、最も検査配線領域３１に近い行のダミーピクセルの、隣接走査線相当のダミー線を兼ねるようにする。ダミーピクセル領域３５にダミーピクセルが複数列設けられる場合には、検査用スイッチ線３６ａは、最も検査配線領域３６に近い行のダミーピクセルの、隣接データ線相当のダミー線を兼ねるようにする。また、上記例では検査用データ線をＲＧＢの各色用に設けて３本としたが、これに限らず、何本でもよい。【０１２５】
以上、各実施形態について述べた。各実施形態の表示パネルは、通常の組み立て工程に従い、ベゼルなどの取り付けによって各種表示装置として完成させることができることは言うまでもない。【０１２６】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。【０１２７】
発明の詳細な説明の項においてなされた具体的な実施形態または実施例は、あくまでも、本発明の技術内容を明らかにするものであって、そのような具体例にのみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発明の精神と次に記載する請求の範囲内において、いろいろと変更して実施することができるものである。
【産業上の利用可能性】
【０１２８】
本発明は、特に液晶表示パネルを搭載する携帯機器に好適に使用することができる他、液晶表示パネルを有するＴＶなどにも使用可能である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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