【事件の表示】
　特願２０１３−１８３７６８「配線回路基板の導通検査方法および配線回路基板の製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２７年　３月１９日出願公開、特開２０１５−　５２４５４、請求項の数（６）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２５年９月５日の出願であって、その手続の経緯は以下のとおりである。
　平成２６年１２月２６日　　：手続補正書の提出
　平成２９年　３月１６日付け：拒絶理由通知書
　平成２９年　５月　１日　　：意見書、手続補正書の提出
　平成２９年１０月２３日付け：拒絶査定（送達日：同年同月３１日）
　平成２９年１２月１２日　　：審判請求書、手続補正書の提出
第２　原査定の概要
　原査定（平成２９年１０月２３日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。
　本願請求項１−４に係る発明は、以下の引用文献１に記載された発明と引用文献２に例示される周知技術に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
引用文献等一覧
　１．特開２０１３−５７５９７号公報
　２．“アナログＩＣ検査用「狭ピッチ・ケルビン検査用プローブ」を製品化”，[online]，２０１２年７月３０日，株式会社ヨコオ，[２０１７年１０月２０日検索]，インターネット＜ＵＲＬ： http://www.yokowo.co.jp/release/pdf/12_07_30.pdf ＞（周知技術を示す文献；新たに引用された文献）
第３　本願発明
　本願請求項１−６に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」−「本願発明６」という。）は、平成２９年１２月１２日に補正された特許請求の範囲の請求項１−６に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１は以下のとおりの発明である。
「【請求項１】
第１および第２の電極パッドが複数の線路により互いに電気的に接続された配線回路基板の導通検査方法であって、
　第１および第２の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるとともに、第３および第４の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるステップと、
　前記第１および第２の測定プローブを通して前記第１および第２の電極パッドならびに前記複数の線路に直流電流が流れるように電流経路を形成するステップと、
　前記電流経路の直流電流の値を測定するステップと、
　前記第３および第４の測定プローブ間の電圧の値を測定するステップと、
　測定された直流電流の値および測定された電圧の値に基づいて、前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップとを含み、
　前記第１および第３の測定プローブの直径は、それぞれ２０μｍ以上５０μｍ以下であり、
　前記接触させるステップは、前記第１および第３の測定プローブの中心間の距離が３０μｍ以上１５０μｍ以下となるように、前記第１および第３の測定プローブを前記第１の電極パッドに接触させることを含み、
　前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップは、
　測定された直流電流の値と測定された電圧の値との比である直流抵抗値を算出することと、
　算出された直流抵抗値を予め定められたしきい値と比較し、比較結果に基づいて前記配線回路基板における前記第１および第２の電極パッド間の前記複数の線路の導通が異常であるか否かを判定することとを含み、
　前記複数の線路は、前記第１の電極パッドに接続された単一の線路から分岐し、前記第２の電極パッドに接続された単一の線路に合流するように形成され、
　前記しきい値は、予め定められた第１のしきい値を含み、
　前記導通が異常であるか否かを判定することは、算出された直流抵抗値と前記第１のしきい値との比較結果に基づいて前記複数の線路のいずれかが断線しているか否かを判定することを含む、配線回路基板の導通検査方法。」
　なお、本願発明２−６は、本願発明１を減縮した発明である。
第４　引用文献、引用発明等
１．引用文献１について
（１）原査定の拒絶の理由に引用された上記引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審による。）。
ア　「【背景技術】
【０００２】
　プリント配線板に設けられた配線パターンの導通検査の方式には、主として、ピンコンタクト方式および非接触方式があることが知られている（特許文献１）。
【０００３】
　ピンコンタクト方式では、検査対象となるプリント配線板の配線パターンの両端にプローブピンを直接接触させ、一方のプローブピンに電流を流す。そして、他方のプローブピンで検出された電圧値から、配線パターンの直流抵抗値を求めることにより、配線パターンの導通検査を行う（特許文献１の段落［０００２］，［０００３］参照）。」
イ　「【０００６】
　しかしながら、上記いずれの検査方法を用いても、多重配線パターンの導通検査を行うことは困難である。
多重配線パターンとは、第１の端子と第２の端子を有し、第１および第２の端子を電気的に接続する配線を複数有する配線パターンをいう
ウ　「【０００９】
　即ち、第１の端子としての端子５５と、第２の端子としての端子５６とを有するとともに、第１の端子および第２の端子を電気的に接続する第１の配線および第２の配線を有する。第１の配線は配線５４であり、第２の配線は、導体パターン５３Ｂ、貫通ビア６０および貫通ビア６１から構成される。
【００１０】
　第２の配線の抵抗は、導体パターン５３Ｂが導体パターン５３Ａよりも細く形成されているのに加えて貫通ビア６０および６１による抵抗が存在するため、第１の配線の抵抗よりも大きい。このため、ピンコンタクト方式により導通検査を行った場合、配線を構成する各要素の寸法ばらつきによっては、第２の配線よりも抵抗値の低い第１の配線が断線していることを検出できないおそれがある。」
エ　「【００２６】
　次に、４端子対法を採った場合のインダクタンス測定部１１０の構成について説明する。図２は、インダクタンス測定部１１０を構成するインダクタンス・メータ１６、ケルビンプローブ１２，１３および同軸ケーブル２１〜２４と、
検査対象の両面プリント配線板１
【００２７】
　まず、両面プリント配線板１の構成について説明する。絶縁基板２の表面および裏面にはそれぞれ、導体パターン３Ａおよび導体パターン３Ｂが形成されている。導体パターン３Ａは、配線４と、配線４の両端に端子５および端子６とを有する。同様に、導体パターン３Ｂは、配線７と、配線７の両端に端子８および端子９とを有する。
【００２８】
　図２に示すように、端子５および端子８は貫通ビア１０により電気的に接続され、同様に、端子６および端子９は貫通ビア１１により電気的に接続されている。このように、
両面プリント配線板１には、第１の端子としての端子５と、第２の端子としての端子６とを有するとともに、第１の端子および第２の端子を電気的に接続する２本の配線（第１の配線および第２の配線）を有する。第１の配線は配線４であり、第２の配線は、導体パターン３Ｂ、貫通ビア１０および貫通ビア１１から構成される配線である
図２
オ　「【００３０】
　次に、
インダクタンス測定部１１０を構成するインダクタンス・メータ１６、ケルビンプローブ
１２，１３
【００３１】
　インダクタンス・メータ１６は、多重配線パターンの端子５に測定用の交流電流を流す交流信号源１７と、端子６から流れ出た交流電流を測定する交流電流計１８と、端子５および端子６間の電圧を測定する交流電圧計１９とを有する。
【００３２】
　図２に示すように、
インダクタンスを測定する際、ケルビンプローブ１２を端子５に接触させ、ケルビンプローブ１３を端子６に接触させる
【００３３】
　
ケルビンプローブ１２はプローブピン１２ａおよび１２ｂを有し、ケルビンプローブ１３はプローブピン１３ａおよび１３ｂを有する
【００３４】
　また、
インダクタンス・メータ１６は、Ｈｃ、Ｈｐ、ＬｃおよびＬｐの４つの端子を有する
Ｈｐ端子は、
ケルビンプローブ１２のプローブピン１２ｂを介して端子５と電気的に接続される
Ｌｐ端子は、
ケルビンプローブ１３のプローブピン１３ａを介して端子６と電気的に接続される
【００３５】
　図２に示すように、同軸ケーブル２１〜２４の外部導体２１ｂ〜２４ｂは互いに導体２５により電気的に接続されている。
【００３６】
　同軸ケーブル２１は、交流信号源１７の出力端子と電気的に接続された中心導体２１ａ、および交流信号源１７の入力端子と電気的に接続された外部導体２１ｂを有する。同軸ケーブル２２は、交流電流計１８の入力端子と電気的に接続された中心導体２２ａ、および交流電流計１８の出力端子と電気的に接続された外部導体２２ｂを有する。同軸ケーブル２３は、交流電圧計１９の一方の端子と電気的に接続された中心導体２３ａと、同軸ケーブル２１の外部導体２１ｂと電気的に接続された外部導体２３ｂとを有する。同軸ケーブル２４は、交流電圧計１９の他方の端子と電気的に接続された中心導体２４ａと、同軸ケーブル２２の外部導体２２ｂおよび同軸ケーブル２３の外部導体２３ｂと電気的に接続された外部導体２４ｂとを有する。
【００３７】
　プローブピン１２ａは、同軸ケーブル２１の中心導体２１ａと電気的に接続されている。プローブピン１２ｂは、同軸ケーブル２３の中心導体２３ａと電気的に接続されている。プローブピン１３ａは、同軸ケーブル２４の中心導体２４ａと電気的に接続されている。プローブピン１３ｂは、同軸ケーブル２２の中心導体２２ａと電気的に接続されている。
【００３８】
　
Ｈｃ端子は、交流信号源１７と接続され、プローブピン１２ａを介して端子５に交流信号を印加する。端子５に印加された交流信号は、多重配線パターンを通り、端子６からプローブピン１３ｂ、そしてＬｃ端子を通り、交流電流計１８に入力される
【００３９】
　また
交流電圧計１９は、
Ｈｐ端子およびＬｐ端子に接続されており、端子５および端子６間の電圧を測定する
【００４０】
　上記の接続方法は４端子対法と呼ばれる。交流信号源１７から出力された交流電流は同軸ケーブル２１，２２の中心導体２１ａ，２２ａを流れる。一方、リターン電流は同軸ケーブル２１〜２４の外部導体２１ｂ〜２４ｂを流れて交流信号源１７に戻る。このように測定電流とリターン電流が逆方向に流れるため、これらの電流により発生する磁界が打ち消され、外部に磁界を発生しない。このため、同軸ケーブル２１〜２４上に自己インダクタンスおよび相互インダクタンスが発生せず、インダクタンス測定部１１０は微小なインダクタンスを測定することができる。よって、
配線４および配線７のいずれか一方が断線しているときのインダクタンスと、配線４および配線７の両方とも非断線のときのインダクタンスとの間のわずかな差を測定できる
【００４１】
　
インダクタンス測定部１１０は、交流電圧計１９により測定された交流電圧と、交流電流計１８により測定された交流電流との比を計算することにより、端子５および端子６間のインダクタンス値を得る
カ　「【００４３】
　図２中の破線は、断線が発生していない場合の測定用の交流電流の経路を示している。もし第１の配線において断線が発生している場合、交流電流は第２の配線を通る。反対に、第２の配線において断線が発生している場合、交流電流は第１の配線を通る。
【００４４】
　第１の配線のインダクタンスをＬ１、第２の配線のインダクタンスをＬ２とする。そして、第１の配線と第２の配線の合成インダクタンスをＬ１_２とする。第１の配線および第２の配線がともに断線していない場合、合成インダクタンスＬ１_２は（Ｌ１×Ｌ２）／（Ｌ１＋Ｌ２）となる。一方、第１の配線および第２の配線のいずれか一方に断線が発生している場合（即ち、片側断線の場合）、合成インダクタンスはＬ１またはＬ２となる。なお、第１の配線および第２の配線の両方に断線が発生している場合、インダクタンス値は０となる。」
キ　「【００４７】
　配線長ｌ＝５０ｍｍ、配線幅Ｗ＝１００μｍ、配線厚Ｔ＝３０μｍとした場合、インダクタンスＬ１およびＬ２の値は、式（１）からそれぞれ７１．５ｎＨとなる。このインダクタンス値は、第１の配線および第２の配線のいずれか一方のみが断線した場合の値である。また、第１の配線および第２の配線のいずれも非断線の場合の合成インダクタンスＬ１_２は、３５．７ｎＨとなる。
【００４８】
　このように、多重配線パターンに片側断線が発生すると、相互インダクタンスが消滅し非断線の配線の自己インダクタンスのみとなることから、インダクタンス値が大きくなる。これを利用することで、第１の配線および第２の配線のうちいずれか一方が断線したことを検出することができる。なお、前述のように、第１の配線および第２の配線の両方に断線が発生している場合には、第１の端子と第２の端子間のインダクタンス値は０となる。よって、インダクタンス値の測定により、第１の配線および第２の配線が両方とも断線していることも検出できる。」
ク　「【００５５】
　図３に示す計算例において、
片側断線時におけるインダクタンスの下限値と、非断線時におけるインダクタンスの上限値との平均値
を導通判定用閾値とする場合
測定されたインダクタンス値から片側断線を検出することが可能である
ケ　「【００６２】
　また、配線長の変化に対する感度は、一般に、直流抵抗よりもインダクタンスの方が高い。このため、本実施形態によれば、ピンコンタクト方式に比べて高い精度で断線を検出することが可能である。」
コ　「【００６４】
（第２の実施形態）
　次に、第２の実施形態に係る導通検査装置１００Ａについて、図５を用いて説明する。第２の実施形態と第１の実施形態との相違点の一つは、導通検査装置１００Ａが抵抗測定部１５０を備えることである。以下、第１の実施形態と異なる部分を中心に説明する。
【００６５】
　導通検査装置１００Ａは、インダクタンス測定部１１０、導通判定部１２０、記憶部１３０および表示部１４０に加えて、端子５と端子６間の抵抗値を測定する抵抗測定部１５０を備える。
【００６６】
　より詳しくは、
抵抗測定部１５０は、多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す直流電流源と、端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する直流電圧計とを有し、電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子間の直流抵抗値を得る
【００６７】
　
導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較する
抵抗値がオープン判定用閾値よりも大きければ、多重配線パターンを構成する配線が全て断線していると判定する。この場合、前述のインダクタンス値を用いた導通検査は行わず、検査対象のプリント配線板は不良品と判定する
抗値がオープン判定用閾値よりも小さければ、第１の実施形態で説明したインダクタンス値による導通検査を行う
サ　「【００６９】
　図６のフローチャートを用いて、第２の実施形態に係る
導通検査方法
【００７０】
（１）まず、
抵抗測定部１５０は、前述のようにして多重配線パターンの端子５および端子６間の抵抗値を測定する（ステップＳ１１）
【００７１】
（２）
導通判定部１２０は、抵抗値とオープン判定用閾値との比較を行い、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定する（ステップＳ１２）
配線が全て断線していると判定した場合には、検査対象のプリント配線板は不良品であると判定し（ステップＳ１３）、そうでなければ、ステップＳ１４に進む
【００７２】
（３）
インダクタンス測定部１１０は、４端子対法などを用いて多重配線パターンの端子５および端子６間のインダクタンス値を測定する（ステップＳ１４）
【００７３】
（４）
導通判定部１２０は、インダクタンス値と導通判定用閾値との比較を行い、多重配線パターンに断線が発生しているか否かを判定する（ステップＳ１５）
【００７４】
　このように、第２の実施形態では、第１の実施形態で説明したインダクタンス値による導通検査を行う前に、抵抗値を測定し、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定する。これにより、比較的精度の高い閾値設定が必要なインダクタンス測定の回数を減らし、より効率的に多重配線パターンの導通検査を行うことができる。」
図６
（２）引用文献１の上記（１）の記載によれば、以下のことが認められる。
ア　導通検査方法（【００６９】より。以下同様。）の検査対象は、第１の端子と第２の端子を有し、第１および第２の端子を電気的に接続する配線を複数有する配線パターンである多重配線パターン（【０００６】、【００７０】）を有する両面プリント配線板１（プリント配線板）である（【００２６】、【００７１】）。
イ　両面プリント配線板１は、第１の端子としての端子５と、第２の端子としての端子６とを有するとともに、第１の端子および第２の端子を電気的に接続する２本の配線（第１の配線および第２の配線）を有し、第１の配線は配線４であり、第２の配線は、導体パターン３Ｂ、貫通ビア１０および貫通ビア１１から構成される配線である（【００２８】）。
ウ　抵抗測定部１５０は、多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す直流電流源と、端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する直流電圧計とを有し、電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得る（ステップＳ１１）（【００６６】、【００７０】）。
エ　導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定し（ステップＳ１２）、抵抗値がオープン判定用閾値よりも大きければ、多重配線パターンを構成する配線が全て断線していると判定し、インダクタンス値を用いた導通検査は行わず、検査対象のプリント配線板は不良品であると判定し（ステップＳ１３）、抵抗値がオープン判定用閾値よりも小さければ、ステップＳ１４に進んでインダクタンス値による導通検査を行う（【００６７】、【００７１】）。
オ　インダクタンス測定部１１０は、４端子対法などを用いて多重配線パターンの端子５および端子６間のインダクタンス値を測定する（ステップＳ１４）（【００７２】）。
カ　インダクタンス測定部１１０を構成するケルビンプローブ１２，１３（【００３０】）のうち、ケルビンプローブ１２はプローブピン１２ａおよび１２ｂを有し、ケルビンプローブ１３はプローブピン１３ａおよび１３ｂを有しており（【００３３】）、インダクタンスを測定する際、ケルビンプローブ１２を端子５に接触させ、ケルビンプローブ１３を端子６に接触させる（【００３２】）。
キ　インダクタンス測定部１１０を構成するインダクタンス・メータ１６は、Ｈｃ、Ｈｐ、ＬｃおよびＬｐの４つの端子を有している（【００３０】、【００３４】）。
ク　Ｈｃ端子は、交流信号源１７と接続され、プローブピン１２ａを介して端子５に交流信号を印加し、端子５に印加された交流信号は、多重配線パターンを通り、端子６からプローブピン１３ｂ、そしてＬｃ端子を通り、交流電流計１８に入力される（【００３８】）。
ケ　Ｈｐ端子は、ケルビンプローブ１２のプローブピン１２ｂを介して端子５と電気的に接続され、Ｌｐ端子は、ケルビンプローブ１３のプローブピン１３ａを介して端子６と電気的に接続され（【００３４】）、交流電圧計１９は、Ｈｐ端子およびＬｐ端子に接続されており、端子５および端子６間の電圧を測定する（【００３９】）。
コ　インダクタンス測定部１１０は、交流電圧計１９により測定された交流電圧と、交流電流計１８により測定された交流電流との比を計算することにより、端子５および端子６間のインダクタンス値を得（【００４１】）、配線４および配線７のいずれか一方が断線しているときのインダクタンスと、配線４および配線７の両方とも非断線のときのインダクタンスとの間のわずかな差を測定できる（【００４０】）。
サ　導通判定部１２０は、インダクタンス値と導通判定用閾値との比較を行い、多重配線パターンに断線が発生しているか否かを判定する（ステップＳ１５）（【００７３】）。片側断線時におけるインダクタンスの下限値と、非断線時におけるインダクタンスの上限値との平均値を導通判定用閾値とする場合、測定されたインダクタンス値から片側断線を検出することが可能である（【００５５】）。
（３）したがって、上記引用文献１には次の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
「第１の端子としての端子５と、第２の端子としての端子６とを有するとともに、第１の端子および第２の端子を電気的に接続する２本の配線（第１の配線および第２の配線）を有している両面プリント配線板１の導通検査方法であって（上記（２）ア、イより。以下同様。）、
　第１の配線は配線４であり、第２の配線は、導体パターン３Ｂ、貫通ビア１０および貫通ビア１１から構成される配線であり（上記（２）イ）、
　第１の端子と第２の端子を有し、第１および第２の端子を電気的に接続する配線を複数有する配線パターンを、多重配線パターンといい（上記（２）ア）、
　抵抗測定部１５０は、多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す直流電流源と、端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する直流電圧計とを有し、電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得（ステップＳ１１）（上記（２）ウ）、
　導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定し（ステップＳ１２）、抵抗値がオープン判定用閾値よりも大きければ、多重配線パターンを構成する配線が全て断線していると判定し、インダクタンス値を用いた導通検査は行わず、検査対象のプリント配線板は不良品であると判定し（ステップＳ１３）、抵抗値がオープン判定用閾値よりも小さければ、ステップＳ１４に進んでインダクタンス値による導通検査を行い（上記（２）エ）、
　インダクタンス測定部１１０は、４端子対法などを用いて多重配線パターンの端子５および端子６間のインダクタンス値を測定し（ステップＳ１４）（上記（２）オ）、
　インダクタンス測定部１１０を構成するケルビンプローブ１２，１３のうち、ケルビンプローブ１２はプローブピン１２ａおよび１２ｂを有し、ケルビンプローブ１３はプローブピン１３ａおよび１３ｂを有しており、インダクタンスを測定する際、ケルビンプローブ１２を端子５に接触させ、ケルビンプローブ１３を端子６に接触させ（上記（２）カ）、
　インダクタンス測定部１１０を構成するインダクタンス・メータ１６は、Ｈｃ、Ｈｐ、ＬｃおよびＬｐの４つの端子を有しており（上記（２）キ）、
　Ｈｃ端子は、交流信号源１７と接続され、プローブピン１２ａを介して端子５に交流信号を印加し、端子５に印加された交流信号は、多重配線パターンを通り、端子６からプローブピン１３ｂ、そしてＬｃ端子を通り、交流電流計１８に入力され（上記（２）ク）、
　Ｈｐ端子は、ケルビンプローブ１２のプローブピン１２ｂを介して端子５と電気的に接続され、Ｌｐ端子は、ケルビンプローブ１３のプローブピン１３ａを介して端子６と電気的に接続され、交流電圧計１９は、Ｈｐ端子およびＬｐ端子に接続されており、端子５および端子６間の電圧を測定し（上記（２）ケ）、
　インダクタンス測定部１１０は、交流電圧計１９により測定された交流電圧と、交流電流計１８により測定された交流電流との比を計算することにより、端子５および端子６間のインダクタンス値を得、配線４および配線７のいずれか一方が断線しているときのインダクタンスと、配線４および配線７の両方とも非断線のときのインダクタンスとの間のわずかな差を測定でき（上記（２）コ）、
　導通判定部１２０は、インダクタンス値と導通判定用閾値との比較を行い、多重配線パターンに断線が発生しているか否かを判定し、片側断線時におけるインダクタンスの下限値と、非断線時におけるインダクタンスの上限値との平均値を導通判定用閾値とする場合、測定されたインダクタンス値から片側断線を検出することが可能である（上記（２）サ）、
　両面プリント配線板１の導通検査方法（上記（２）ア、イ）。」
２．引用文献２について
　原査定において、周知技術を示す文献として引用された上記引用文献２には、概略、ケルビンプローブにおいてケルビンピッチ（フォースピンとセンスピンとのピッチ）を、検査端子のピッチに合わせる（５０μｍ又は２５μｍ）周知技術が記載されていると認められる。
第５　対比・判断
１．本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
ア　引用発明における「第１の端子としての端子５」、「第２の端子としての端子６」は、それぞれ、本願発明１における「第１の電極パッド」、「第２の電極パッド」に相当する。
イ　引用発明における「第１の端子および第２の端子を電気的に接続する２本の配線（第１の配線および第２の配線）」は、本願発明１における「複数の線路」に相当する。
　なお、引用発明では、「第１の端子と第２の端子を有し、第１および第２の端子を電気的に接続する配線を複数有する配線パターン」を「多重配線パターン」としているから、引用発明における「多重配線パターン」は、本願発明１における「第１の電極パッド」、「第２の電極パッド」及び「複数の線路」に相当するといえる。
ウ　引用発明における「両面プリント配線板１」、「導通検査方法」は、それぞれ、本願発明１における「配線回路基板」、「導通検査方法」に相当する。
　したがって、上記ア、イをふまえると、引用発明における「第１の端子としての端子５と、第２の端子としての端子６とを有するとともに、第１の端子および第２の端子を電気的に接続する２本の配線（第１の配線および第２の配線）を有している両面プリント配線板１の導通検査方法」は、本願発明１における「第１および第２の電極パッドが複数の線路により互いに電気的に接続された配線回路基板の導通検査方法」に相当する。
エ　引用発明では「ケルビンプローブ１２を端子５に接触させ、ケルビンプローブ１３を端子６に接触させ」、「ケルビンプローブ１２はプローブピン１２ａおよび１２ｂを有し、ケルビンプローブ１３はプローブピン１３ａおよび１３ｂを有しており」、「Ｈｃ端子は、交流信号源１７と接続され、プローブピン１２ａを介して端子５に交流信号を印加し、端子５に印加された交流信号は、多重配線パターンを通り、端子６からプローブピン１３ｂ、そしてＬｃ端子を通り、交流電流計１８に入力され」るから、引用発明における「プローブピン１２ａ」は、「端子５」に接触しているといえ、引用発明における「プローブピン１３ｂ」は、「端子６」に接触しているといえる。
　また、引用発明では「ケルビンプローブ１２を端子５に接触させ、ケルビンプローブ１３を端子６に接触させ」、「ケルビンプローブ１２はプローブピン１２ａおよび１２ｂを有し、ケルビンプローブ１３はプローブピン１３ａおよび１３ｂを有しており」、「Ｈｐ端子は、ケルビンプローブ１２のプローブピン１２ｂを介して端子５と電気的に接続され、Ｌｐ端子は、ケルビンプローブ１３のプローブピン１３ａを介して端子６と電気的に接続され」るから、引用発明における「プローブピン１２ｂ」は、「端子５」に接触しているといえ、引用発明における「プローブピン１３ａ」は、「端子６」に接触しているといえる。
　したがって、引用発明における「プローブピン１２ａ」、「プローブピン１３ｂ」、「プローブピン１２ｂ」、「プローブピン１３ａ」は、それぞれ、本願発明１における「第１の測定プローブ」、「第２の測定プローブ」、「第３の測定プローブ」、「第４の測定プローブ」に相当し、上記アをふまえると、引用発明における、「プローブピン１２ａ」を「端子５」に接触させ、「プローブピン１３ｂ」を「端子６」に接触させ、「プローブピン１２ｂ」を「端子５」に接触させ、「プローブピン１３ａ」を「端子６」に接触させることは、本願発明１における「第１および第２の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるとともに、第３および第４の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるステップ」に相当する。
オ　引用発明では、「抵抗測定部１５０は、多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す直流電流源と、端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する直流電圧計とを有し、電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得」ているところ、「端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定」し、「電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得」ているのであるから、「直流電流源」が「多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す」のは、「多重配線パターンの端子５および端子６間」で「直流電流（Ｉ）を流」しているといえる。
　したがって、上記ア、イをふまえると、引用発明において「直流電流源」が「多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す」ことは、本願発明１における「前記第１および第２の測定プローブを通して前記第１および第２の電極パッドならびに前記複数の線路に直流電流が流れるように電流経路を形成するステップ」と、「前記第１および第２の電極パッドならびに前記複数の線路に直流電流が流れるように電流経路を形成するステップ」である点で共通する。
カ　また、引用発明において「電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得」るには、当然に「電流」の値を知っておく必要があるから、「直流電流源」が「多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す」にあたり、その「直流電流」の値を測定していることは明らかであるといえる。
　したがって、上記オをふまえると、引用発明では、「抵抗測定部１５０は、多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流す直流電流源と、端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する直流電圧計とを有し、電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得」る際に、本願発明１における「前記電流経路の直流電流の値を測定するステップ」に相当するステップを経ているといえる。
キ　引用発明における、「直流電圧計」が「端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定する」ことは、本願発明１における「前記第３および第４の測定プローブ間の電圧の値を測定するステップ」と、「電圧の値を測定するステップ」である点で共通する。
ク　引用発明における、「電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得」ることは、上記カ、キをふまえると、本願発明１における「測定された直流電流の値と測定された電圧の値との比である直流抵抗値を算出すること」に相当する。
ケ　また、引用発明における、「導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定」することは、上記イ、ウ、クをふまえると、本願発明１における、「算出された直流抵抗値を予め定められたしきい値と比較し、比較結果に基づいて前記配線回路基板における前記第１および第２の電極パッド間の前記複数の線路の導通が異常であるか否かを判定すること」に相当し、「測定された直流電流の値および測定された電圧の値に基づいて、前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップ」にも相当する。
コ　上記ク、ケをまとめると、引用発明における、「抵抗測定部１５０は、」「電圧と電流の比（Ｖ／Ｉ）を計算することにより多重配線パターンの端子５および端子６間の直流抵抗値を得（ステップＳ１１）、導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定」する「（ステップＳ１２）」ことは、本願発明１における、「測定された直流電流の値と測定された電圧の値との比である直流抵抗値を算出することと、算出された直流抵抗値を予め定められたしきい値と比較し、比較結果に基づいて前記配線回路基板における前記第１および第２の電極パッド間の前記複数の線路の導通が異常であるか否かを判定することとを含」む、「測定された直流電流の値および測定された電圧の値に基づいて、前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップ」に相当するといえる。
サ　上記ケに関してはさらに、引用発明における、「導通判定部１２０は、抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定」することは、上記イ、クをふまえると、本願発明１における「前記しきい値は、予め定められた第１のしきい値を含み、前記導通が異常であるか否かを判定することは、算出された直流抵抗値と前記第１のしきい値との比較結果に基づいて前記複数の線路のいずれかが断線しているか否かを判定することを含む」という事項と、「前記しきい値は、予め定められた第１のしきい値を含み、前記導通が異常であるか否かを判定することは、算出された直流抵抗値と前記第１のしきい値との比較結果に基づいて前記複数の線路が断線しているか否かを判定することを含む」という点で共通する。
　してみると、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点、相違点があるといえる。
（一致点）
「第１および第２の電極パッドが複数の線路により互いに電気的に接続された配線回路基板の導通検査方法であって、
　第１および第２の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるとともに、第３および第４の測定プローブを前記第１および第２の電極パッドにそれぞれ接触させるステップと、
　前記第１および第２の電極パッドならびに前記複数の線路に直流電流が流れるように電流経路を形成するステップと、
　前記電流経路の直流電流の値を測定するステップと、
　電圧の値を測定するステップと、
　測定された直流電流の値および測定された電圧の値に基づいて、前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップとを含み、
　前記第１および第２の電極パッド間の導通を検査するステップは、
　測定された直流電流の値と測定された電圧の値との比である直流抵抗値を算出することと、
　算出された直流抵抗値を予め定められたしきい値と比較し、比較結果に基づいて前記配線回路基板における前記第１および第２の電極パッド間の前記複数の線路の導通が異常であるか否かを判定することとを含み、
　前記しきい値は、予め定められた第１のしきい値を含み、
　前記導通が異常であるか否かを判定することは、算出された直流抵抗値と前記第１のしきい値との比較結果に基づいて前記複数の線路が断線しているか否かを判定することを含む、配線回路基板の導通検査方法。」
（相違点）
（相違点１）本願発明１では、「前記第１および第２の電極パッドならびに前記複数の線路に直流電流が流れるように電流経路を形成する」ことを「前記第１および第２の測定プローブを通して」行い、第１および第２の電極パッド間の「電圧の値を測定する」ことを「前記第３および第４の測定プローブ間の電圧の値を測定する」ことで行っているが、引用発明では、「多重配線パターンに直流電流（Ｉ）を流」したり、「端子５および端子６間に発生する電圧（Ｖ）を測定」したりするのを、具体的にどのような構成で行っているのかは明記されておらず、インダクタンスを測定する際に用いられる、交流信号を流すための「プローブピン１２ａ」及び「プローブピン１３ｂ」や、交流電圧を測定するための「プローブピン１２ｂ」及び「プローブピン１３ａ」を、抵抗測定時にも使用しているかは不明な点。
（相違点２）本願発明１では、「前記第１および第３の測定プローブの直径は、それぞれ２０μｍ以上５０μｍ以下であり、前記接触させるステップは、前記第１および第３の測定プローブの中心間の距離が３０μｍ以上１５０μｍ以下となるように、前記第１および第３の測定プローブを前記第１の電極パッドに接触させることを含み」と特定されているのに対し、引用発明では、「プローブピン１２ａ」及び「プローブピン１２ｂ」の直径や中心間の距離は特定されていない点。
（相違点３）本願発明１では、「前記複数の線路は、前記第１の電極パッドに接続された単一の線路から分岐し、前記第２の電極パッドに接続された単一の線路に合流するように形成され」るのに対し、引用発明では、「第１の配線は配線４であり、第２の配線は、導体パターン３Ｂ、貫通ビア１０および貫通ビア１１から構成される配線であ」って、「第１の配線」や「第２の配線」が、「端子５」に接続された単一の線路から分岐し、「端子６」に接続された単一の線路に合流するように形成されるものではない点。
（相違点４）本願発明１では、「算出された直流抵抗値と前記第１のしきい値との比較結果に基づいて前記複数の線路のいずれかが断線しているか否かを判定する」のに対し、引用発明では、「抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定」しており、「配線４および配線７のいずれか一方が断線」する「片側断線」は、インダクタンス値により検出している点。
（２）相違点についての判断
　事案に鑑み、上記相違点４を検討する。
　引用発明は、直流抵抗値による導通検査では、第１の配線および第２の配線を有する多重配線パターンの場合、いずれか一方の配線が断線していることを検出できないおそれがある、という課題（上記第４　１．（１）アないしウ）のもと、配線長の変化に対する感度は、一般に、直流抵抗よりもインダクタンスの方が高い（上記第４　１．（１）ケ）という認識に基づいてなされたものであり、「抵抗測定部１５０により測定された抵抗値と、所定の判定閾値（オープン判定用閾値）とを比較して、多重配線パターンを構成する配線が全て断線しているか否かを判定し」、「抵抗値がオープン判定用閾値よりも小さければ、ステップＳ１４に進んでインダクタンス値による導通検査を行い」、「インダクタンス値と導通判定用閾値との比較」により、「配線４および配線７のいずれか一方が断線」する「片側断線を検出する」ものである。
　すなわち、引用発明では、直流抵抗よりもインダクタンスの方が配線長の変化に対する感度が高いから、高感度な検出が必要となる、複数の線路のいずれかが断線している片側断線は、直流抵抗値ではなくインダクタンス値により検出する構成を採用しているのであって、その構成に代えて、インダクタンスよりも配線長の変化に対する感度が低いとされる直流抵抗値により片側断線をも検出する構成を採用しようとする動機づけを見出すことはできない。
　また、原査定において、周知技術を示す文献として引用された上記引用文献２も、上記相違点４に関連する技術事項を記載するものではない。
　したがって、上記相違点１ないし３について判断するまでもなく、本願発明１は、当業者であっても、引用文献１−２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
２．本願発明２−６について
　本願発明２−６は本願発明１を減縮した発明であり、本願発明２−６は、本願発明１の上記相違点４に係る構成と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても、引用文献１−２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
第６　原査定について
　以上のとおりであって、原査定時の請求項１−４に係る発明に対応する本願発明１−２は、当業者であっても、拒絶査定において引用された引用文献１−２に基づいて容易に発明できたものとはいえない。したがって、原査定の理由を維持することはできない。
第７　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。