【事件の表示】
　特願２０１３−　６９４４０「ＩＣＰ発光分光分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２６年１０月　６日出願公開、特開２０１４−１９０９５８、請求項の数（３）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２５年３月２８日の出願であって、平成２８年９月１４日付けで拒絶理由が通知され、同年１１月８日に意見書及び手続補正書が提出され、同年１１月２９日付けで拒絶査定（以下、「原査定」という。）されたところ、平成２９年２月３日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。
　その後当審において同年１２月２７日付けで拒絶理由（以下、「当審拒絶理由」という。）が通知され、平成３０年２月８日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。
第２　原査定の概要
　原査定の概要は、以下のとおりである。
１　請求項１、３に係る発明は、引用文献１に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定により特許を受けることができない。
２　請求項１、３に係る発明は引用文献１に基づいて、請求項２に係る発明は引用文献１−３に基づいて、請求項４−５に係る発明は引用文献１−４に基づいて、それぞれ、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
＜引用文献等一覧＞
１.特開昭５９−９４０４２号公報
２.実願昭６２−３５３９１号（実開昭６３−１４１９１２号）のマイクロフィルム
３.特開平１１−９５０６６号公報
４.特開平６−１２３８２５号公報
第３　本願発明
　本願請求項１−３に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」−「本願発明３」という。）は、平成３０年２月８日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１−３に記載された事項により特定される発明であり、本願発明１は当審にて分説し、以下のとおりＡ）−Ｆ）の見出しを付した。
「　　【請求項１】
Ａ）分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置と、
Ｂ）前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器と、
Ｃ）前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバーと、を備えるＩＣＰ発光分光分析装置であって、
Ｄ）前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴が設けられ、
Ｅ）前記光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である、
Ｆ）ＩＣＰ発光分光分析装置。」
　なお、本願発明２−３は、本願発明１を減縮した発明である。
第４　引用文献、引用発明等
１　引用文献１について
（１）引用文献１に記載された事項
　原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献１（特開昭５９−９４０４２号公報）には、図面とともに次の事項が記載されている（下線は当審にて付した。以下同様。）。
（引１ａ）「〔技術分野〕
　本発明は、分析試料を直流アーク（ＤＣＡ）、高圧スパーク（ＨＶＳ）及び直流プラズマ（ＤＣＰ）、誘導結合高周波プラズマ（ＩＣＰ）等の発光源により励起発光させて得た発光スペクトルを光学繊維を介して検出する発光分光分析装置に関する。」（第１頁右下欄１３−１９行目）
（引１ｂ）「〔発明の開示〕
　本発明は、上述の点に鑑み高放射線環境下のホットセル内における高放射性物質等の遠隔分析が可能な、また、被測定物の周囲環境の影響を受けずに正確な分析を行なえる
発光分光分析装置
誘導結合高周波プラズマ
の発光源により、分析試料を励起発光させ、発光スペクトル線を検出し、該検出したスペクトル線から分析試料の成分を判定し、また分析試料の成分の含有量を定量する発光分光分析装置において、前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に光伝送路を配設させた
（引１ｃ）「〔実施例〕
　以下、図面を参照して、本発明の一実施例につき説明する。
　第１図は本発明の発光分光分析装置の説明図である。第１図において、１は直流プラズマ発生装置で、１１はタングステンカソード電極、１２は黒鉛電極、１３は試料噴出ノズルを示す。プラズマ発生装置１においては、黒鉛電極１２に沿わせたノズルから不活性ガスよりなる電離性ガスとしてのアルゴン（Ａｒ）を吹き込むとともに、カソード１１と黒鉛電極１２間に直流アークを発生させ、吹き込まれたアルゴン（Ａｒ）を電離し、アルゴンプラズマ（Ｐ）を形成させる。
　次いで、セラミックネブライザにより霧化した分析試料を試料噴出ノズル１３からアルゴンプラズマ（Ｐ）中に導き、励起発光（Ｓ）させる。２は集光レンズで、励起発光（Ｓ）している領域の像を光伝送路３に入射させる。
光伝送路３としては、光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μｍ〜数１０μｍからなる光学繊維を数千本〜数万本を束ね光学繊維束とし、この光学繊維束の各光学繊維の両端部における位置が一対一に対応するように整列させてなるイメージガイドを用い
　
イメージガイド３の端面に結像された試料が励起発光（Ｓ）している領域の像はイメージガイド３中を伝播し、出射側端面まで導かれ
更に分光器４に設けたスリット６を通して試料の励起発光（Ｓ）を選択的に分光器まで導
　ところで、本実施例におけるイメージガイド３を用いた発光分光分析装置にて作成した検量線の一例としてＢ（２４９６Å）、Ｓｉ（２８８１Å）、Ｍｏ（３１３２Å）、Ｐｄ（３４０３Å）、Ａｌ（３９６１Å）、Ｃｅ（４１８６Å）、Ｌｉ（６１０３Å）およびＫ（７６９８Å）についての検量線を第２図（Ａ）〜（Ｈ）に示す。光検出強度と各種元素の含有量との関係を検量線として電算機に記憶させておくことにより分光分析器４にて分析試料の励起発光（Ｓ）のスペクトル線の波長により分析試料に含まれる成分を判定し、またそのスペクトル線およびスペクトル線の強度から含有成分の含有量を定量することができる。
　第１図において５はイメージガイド３の位置調整用微動台を示す。」（第２頁左下欄４行目−第３頁左上欄１６行目）
（引１ｄ）「上述の実施例では
光伝送路として
イメージガイド
に限るものではなく、
光学繊維そのもの
を
用いることもできる
（引１ｅ）図１は、以下のようなものである。
　図１から、
スリット６が光伝送路３の出射側端面に隣接して設けられ
分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光（Ｓ）が照射され
（２）引用文献１に記載された発明
　上記（引１ｂ）−（引１ｃ）の下線部の事項に、上記（２）での検討を加えて整理すると、引用文献１には、以下の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
　なお、引用発明の認定の根拠となった対応する摘記箇所等を付記し、ａ）−ｈ）の見出しを付した。
「ａ）誘導結合高周波プラズマの発光源により、分析試料を励起発光させ、発光スペクトル線を検出し、該検出したスペクトル線から分析試料の成分を判定し、また分析試料の成分の含有量を定量する発光分光分析装置において（引１ｂ）、
ｂ）前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に光伝送路を配設させ（引１ｂ）、
ｃ）光伝送路３としては、光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μｍ〜数１０μｍからなる光学繊維を数千本〜数万本を束ね光学繊維束とし、この光学繊維束の各光学繊維の両端部における位置が一対一に対応するように整列させてなるイメージガイドを用い（引１ｃ）、
ｄ）イメージガイド３の端面に結像された試料が励起発光（Ｓ）している領域の像はイメージガイド３中を伝播し、出射側端面まで導かれ、更に分光器４に設けたスリット６を通して試料の励起発光（Ｓ）を選択的に分光器まで導き、（引１ｃ）、
ｅ）スリット６が光伝送路３の出射側端面に隣接して設けられ（引１ｅ）、
ｆ）分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光（Ｓ）が照射され（引１ｅ）、
ｇ）光伝送路としてイメージガイドに限るものではなく、光学繊維そのものを用いることもできる（引１ｄ）、
ｈ）発光分光分析装置。」
２　引用文献２−４について
（１）引用文献２について
　原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献２（実願昭６２−３５３９１号（実開昭６３−１４１９１２号）のマイクロフィルム）には、その「産業上の利用分野」（明細書第１頁１２−１５行目）の記載からみて、「光ファイバケーブルを、光パワーメーター等の計測器に装備されているセンサ部に接続する際にアダプタキャップを用いる」という技術的事項が記載されている。
（２）引用文献３について
　原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献３（特開平１１−９５０６６号公報）には、その請求項１、３の記載からみて、「光ファイバを収容する本体部を有するフェルールをハウジング本体のフェルール収容室に挿着した光コネクタにおいて、前記ハウジング本体が光絞り部を有し、前記光絞り部がキャップである」という技術的事項が記載されている。
（３）引用文献４について
　原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献４（特開平６−１２３８２５号公報）には、その【００１８】、【００２０】段落の記載からみて、「光ファイバ１の端部に装着されたフェルール２と嵌合するレセプタクル部と、受光素子５を収容したハウジング部とから構成され、レセプタクル部とハウジング部との間には光ファイバ１から出射された光が通過する孔４ａが形成されている光コネクタアダプタにおいて、孔４のテーパ状の形状は、光ファイバ１の端面から出射された光の拡散が妨げられないように形状が決定されている」という技術的事項が記載されている。
３　その他の文献について
　平成２９年４月１９日付け前置報告書において、新たに、
　引用文献５：厚生労働省告示平成２３年第６５号，日本，２０１１年　３月２４日，PP.1976-1980、
　引用文献６：特開２００６−１５３７６３号公報
　が提示されている。
（１）引用文献５について
　本願出願前に頒布された刊行物である引用文献５（厚生労働省告示平成２３年第６５号，日本，２０１１年　３月２４日，PP.1976-1980）には、その第１９７８頁左欄下から２−６行目の記載からみて、「プラズマの測定位置は、横方向観測方式の場合は、誘導コイルの上端より１０〜２５ｍｍの範囲であり、軸方向観測方式の場合は、測定される発光強度の最大値が得られるように光軸の調整を行う」という技術的事項が記載されている。
（２）引用文献６について
　本願出願前に頒布された刊行物である引用文献６（特開２００６−１５３７６３号公報）には、「高いＳＮ比を得るには、光ファイバ２１８により導入された信号光束を高い効率で利用する必要がある。そこで、コリメート光学系２３１の役割は、光ファイバ２１８により導入された信号光束（発散光）をロスすることなく、例えば、遮る、無駄にするなどなく、取り込んで、後ろ側に続く回折格子２３３、２３４、２３５に導くことである」（【００２３】段落）、「光ファイバのコネクタは、ＦＣ型コネクタであるほうが、位置再現精度が高いので好ましい」（【００６０】段落）との記載がある。
第５　対比・判断
１　本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
ア　Ａ）について
　引用発明のａ）「誘導結合高周波プラズマの発光源により、分析試料を励起発光させ」ることは、本願発明１のＡ）「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る」ことに相当するから、引用発明のａ）「分析試料を励起発光させ」る「誘導結合高周波プラズマの発光源」であるｂ）「前記分析試料の発光部」は、本願発明１の「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置」に相当する。
イ　Ｂ）について
　引用発明のｂ）「前記発光スペクトルの検出部である分光器」は、本願発明１のＢ）「前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器」に相当する。
ウ　Ｃ）について
　引用発明のｇ）「光学繊維そのものを用いる」「光伝送路」は、ｃ）「光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μｍ〜数１０μｍからなる」ものであるから、本願発明１の「光ファイバー」に相当する。
　したがって、引用発明のｂ）「前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に」「配設」されたｇ）「光学繊維そのものを用いる」「光伝送路」は、本願発明１のＣ）「前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバー」に相当する。
エ　Ｄ）について
　引用発明のｅ）「光伝送路３の出射側端面に隣接して設けられ」、ｄ）「出射側端面まで導かれ」た「試料が励起発光（Ｓ）している領域の像」を「選択的に分光器まで導」く「スリット６」は、本願発明１のＤ）「前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴」に相当する。
オ　Ｅ）について
　引用発明のｆ）「分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光（Ｓ）が照射され」ることと、本願発明１のＥ）「前記光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」こととは、分光器内に設けられた凹面鏡に原子発光線が照射される点で共通する。
カ　Ｆ）について
　引用発明のａ）「誘導結合高周波プラズマの発光源」を備えるｈ）「発光分光分析装置」は、本願発明のＦ）「ＩＣＰ発光分光分析装置」に相当する。
キ　上記ア−カから、本願発明１と引用発明との間には、次の一致点、相違点がある。
（一致点）
「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置と、
　前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器と、
　前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバーと、を備えるＩＣＰ発光分光分析装置であって、
　前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴が設けられ、
　分光器内に設けられた凹面鏡に原子発光線が照射される、
　ＩＣＰ発光分光分析装置。」
（相違点）
　光出射穴と光ファイバーの端面の距離について、本願発明１は、Ｅ）「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」のに対して、引用発明には、「スリット６」と「光伝送路３の出射側端面」との距離に関する特定がない点。
（２）相違点についての判断
　「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」ようにすることは、引用文献１−６には記載も示唆もされていない。
　特に、引用文献１の図１（上記第４の１（１）（引１ｅ）を参照。）は、「分光器内に設けられた凹面鏡に」「照射され」る「試料の励起発光（Ｓ）」の大きさと「凹面鏡」の反射有効口径の大きさとの大小関係を正確に反映させたものであるか不明であるから、図１から、「分光器内に設けられた凹面鏡に」「照射され」る「試料の励起発光（Ｓ）」が「凹面鏡」の反射有効口径よりも大きいことは、読み取れない。
　したがって、本願発明１は、当業者であっても、引用発明及び引用文献１−６に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
２　本願発明２−３について
　本願発明２−３も、本願発明１の「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」ことと同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても、引用発明及び引用文献１−６に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。
第６　原査定についての判断
　上記「第３　本願発明」から「第５　対比・判断」に示したとおり、本願発明１は、拒絶査定において引用された引用文献１に記載された発明ではなく、また、本願発明１−３は、当業者であっても、拒絶査定において引用された引用文献１−４に基づいて、容易に発明をすることができたものともいえない。
　したがって、原査定の理由を維持することはできない。
第７　当審拒絶理由について
１　特許法第３６条第６項第１号について
　当審では、請求項１−３に係る発明は、発明の詳細な説明に開示がない「照射領域」が「凹面鏡の反射有効口径」と等くなるような距離とすることが含まれているとの拒絶の理由を通知しているが、平成３０年２月８日付けの補正によって、「照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなる」と補正された結果、この拒絶の理由は解消した。
２　特許法第１７条の２第３項について
　当審では、平成２９年２月３日付け手続補正によって請求項１に対して追加された発明特定事項である「前記光出射穴の中心軸と前記光ファイバーの端面の中心軸とのずれが、前記凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径から外れないような範囲である」ことは、当初明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものであるとはいえないとの拒絶の理由を通知しているが、平成３０年２月８日付けの補正によって、当該発明特定事項に関する記載が削除された結果、この拒絶の理由は解消した。
第８　むすび
　以上のとおり、原査定の理由及び当審拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。