(57)【要約】  記録パワー調整に要する時間を短縮し、ＰＣＡの消費量を抑制することが可能な情報記録再生装置を提供する。記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路とを備えた。
2009001522.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項３】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに、記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに、再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と、再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力を、最短マークの位相誤差平均値の値を基準に標準化する標準化パターン位相誤差演算回路と、
前記標準化パターン位相誤差演算回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項４】
請求項３に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項５】
請求項３または４に記載の情報記録再生装置において、
前記標準化パターン位相誤差演算回路は、前記パターン位相誤差平均回路の出力のうち、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの位相誤差平均値の値を基準に、前記パターン位相誤差平均回路の出力を標準化する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項６】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記記録発光波形調整回路において最短マークに関連する記録発光波形が調整されたか否かを判定する記録発光波形調整実施確認回路と、
前記記録発光波形調整実施確認回路による判定結果を受け、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整された場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整されなかった場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項７】
請求項６に記載の情報記録再生装置において、
前記記録発光波形調整実施確認回路は、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの記録発光波形が調整されたか否かを確認する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項８】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御し、前記記録パワー調整を行うよう制御する際は、前記検出された記録状態が所定の値より大きい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以下に設定し、前記検出された記録状態が前記所定の値より小さい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以上に設定する記録パワー調整範囲決定回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項９】
請求項８に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整範囲決定回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの記録媒体に情報を記録する情報記録再生装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク装置が情報記録再生分野において用いられている。光ディスク装置では、色素系記録媒体や相変化記録方式の記録媒体などが用いられており、記録媒体に形成されるマークの前端および後端に情報を有するマークエッジ記録方式によって情報が記録される。【０００３】
色素系記録媒体や相変化記録方式の記録媒体に対して記録を行う場合は、周囲温度や記録媒体の種類、あるいは線速度などにより、記録条件が異なり、そのときの最適な記録品質を得るための記録発光波形であるレーザ発光波形のパルス時間幅規則（以下、ライトストラテジと記す。）や記録パワーも異なっている。このため、情報を記録する前には、ライトストラテジ調整と、記録パワー調整とを行う記録学習を実施し、最適な記録品質を得られる記録条件を見つける必要がある。【０００４】
ライトストラテジに関しては、例えば、ＤＶＤ−Ｒ規格書（ＤＶＤ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ  ｆｏｒ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ  Ｄｉｓｃ  ｆｏｒ  Ｇｅｎｅｒａｌ）に記されているように、パルス制御方式（Ｍｕｌｔｉ  Ｐｕｌｓｅ）や、非マルチパルス方式（Ｎｏｎ  Ｍｕｌｔｉ  Ｐｕｌｓｅ）が規格化されている。【０００５】
また、色素系記録媒体や相変化記録媒体に関しては、一般に、情報を記録する前に記録パワー調整（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ、以下「ＯＰＣ」と記す。）と称されるテスト記録を行うことで記録パワーの最適化が行われている。【０００６】
ＯＰＣは、例えば特許文献１に記載されているように、記録媒体のパワー学習領域（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ、以下「ＰＣＡ」と記す。）と称される所定の領域に所定の情報を記録し、これを再生することにより行われる。具体的には、記録データで使用される最短マーク長と最長マーク長である、チャネルクロックの周期Ｔの３倍（３Ｔ）〜１４倍（１４Ｔ）のマークとスペースとからなる所定パターンのテストデータを用いて、記録パワーを数段階変化させてテスト記録し、このテストパターンを再生して、各記録パワーにおける記録品質を評価するための指標の１つであるアシンメトリなどを基準に、最適な記録パワーを算出する。【０００７】
アシンメトリは、光ディスクの反射光から生成される再生信号の対称性を示すもので、記録パワーの度合いを示す指標として使用される。【０００８】
図９にＡＣ結合後の再生信号を示す。【０００９】
ＡＣ結合後のアシンメトリβは、正側（スペース側）のピークレベルＡ１、負側（マーク側）のピークレベルＡ２を用いて
β＝（Ａ１＋Ａ２）÷（Ａ１−Ａ２）
Ａ１＋Ａ２：ＡＣ結合後の再生信号の正負ピークレベルの差分
Ａ１−Ａ２：ＡＣ結合後の再生信号の振幅値
として与えられる。記録パワーが小さくなるとＡ１＋Ａ２は負となり、アシンメトリβも負となる。アシンメトリβが０付近にないと記録パワーマージンが悪くなるため、アシンメトリβが一定範囲（例えば±数％以内）になるように記録パワーを設定することが必要となる。【００１０】
次に、従来の光ディスク装置におけるライトストラテジ調整について、図面を用いて説明する。【００１１】
図２は、従来の光ディスク装置２００の構成を示す。【００１２】
この従来の光ディスク装置２００は、光ディスク１に対して情報を読み書きする光学ヘッド２を有している。データを読み取るとき、光ディスク１に対して照射された反射光は、光学ヘッド２において、記録されたデータに対応する再生信号に変換される。【００１３】
再生信号は、波形等化器３によって波形整形された後、２値化回路４によって２値化され再生データ信号となる。位相比較器５は、入力された再生データ信号に基づいて、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を検出する。ローパスフィルタ（Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ、以下「ＬＰＦ」と記す。）６は、位相比較器５で検出された位相誤差から、電圧制御発振器７（Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｅｒ、以下「ＶＣＯ」と記す。）が追従すべき周波数を決定する。これによりＶＣＯ７が制御され、再生クロック信号を生成する。【００１４】
このように、従来の光ディスク装置２００では、位相比較器５、ＬＰＦ６、ＶＣＯ７によって位相同期回路（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ回路、以下ＰＬＬ回路）８が構成されている。ＰＬＬ回路８において、ＶＣＯ７から出力される再生クロック信号は、再生データ信号と位相誤差の平均が０に近づくようにフィードバック制御される。【００１５】
このようにして、再生データ信号に基づいて、再生データ信号と同期が取られて再生クロック信号が生成されるが、上述のように、再生データ信号と再生クロック信号との平均的な位相誤差を抑制した場合であっても、再生データ信号の各極性反転位置において再生クロック信号との位相誤差が生じ得る。この位相誤差は、ライトストラテジなどの記録パラメータが不適切であることなどが原因であり、マークエッジが適切な位置からシフトしていることによって生じる。【００１６】
したがって、それぞれの極性反転位置での位相誤差量である随時位相誤差量を検出すれば、対応するそれぞれのマークのエッジの位置が、理想的なマークのエッジ位置（再生クロック信号との位相誤差が０の位置）に対して、いずれの方向にどの程度ずれているかを示す値を検出することができる。【００１７】
なお、本明細書において、随時位相誤差量とは、各マークのエッジごとの、再生データ信号の各極性反転位置と、再生クロック信号との時間軸上のずれを意味するもので、一方、パターン平均位相誤差量とは、随時位相誤差量を平均化した値であり、随時位相誤差量と、パターン平均位相誤差量とを区別している。【００１８】
次に、従来の光ディスク装置２００における、位相誤差を用いた記録パラメータの最適化について説明する。【００１９】
パターン検出回路９は、２値化回路４から入力される再生データ信号と、ＶＣＯ７からの再生クロック信号とを用いて、マーク長とスペース長の組み合わせに対応する信号パターンを識別する。【００２０】
パターン位相誤差平均化回路１０は、パターン検出回路９からの信号パターンと、位相比較器５からの随時位相誤差量をもとに、前述の信号パターンの組み合わせごとに随時位相誤差量を平均化したパターン毎の平均位相誤差量であるパターン平均位相誤差量を求める。【００２１】
可変エッジ決定回路１１は、パターン位相誤差平均化回路１０からの入力をもとに、マーク長とスペース長の組み合わせごとに、パターン平均位相誤差量が所定の範囲内にあるか否かを判定し、記録パラメータを変更するエッジを決定する。【００２２】
前記位相誤差量が所定の範囲内にある場合は、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは適切であると判断して該記録パラメータを変更しない。一方、所定の範囲内にない場合、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは変更が必要であると判断される。例えば、パターン平均位相誤差量がチャンネルクロック周期Ｔに対して±５％以内にない場合は、可変エッジ決定回路１１は、変更が必要と判断された信号パターンのエッジの記録パラメータのみをパターン平均位相誤差量が０になる方向に変更するよう記録パルス生成回路１２に指令する。【００２３】
記録パルス生成回路１２は、可変エッジ決定回路１１からの入力をもとに、ライトストラテジを調整して記録パルスを生成し、レーザ駆動回路１３は、記録パルス生成回路１２からの入力をもとに、光学ヘッド２のレーザを駆動する。【００２４】
また、パワー調整実行回路１７は、アシンメトリ検出回路１４により検出されたアシンメトリ値をもとに、記録パワーを決定する。【００２５】
次に、記録時の信号パターンの分類、および位相誤差値テーブルおよび記録パラメータテーブルについて、図３と図４を用いて説明する。【００２６】
図３において、（ａ）は記録パルスを生成する基準となる記録クロックであり、（ｂ）はマークとスペースを形成するための記録データであり、（ｃ）はレーザ駆動回路に入力されるレーザ駆動波形であり、（ｄ）は光ディスク上に形成されるマークとスペースを示している。この例では３Ｔマーク、３Ｔスペース、６Ｔマーク、３Ｔスペース、３Ｔマークが連続するパターンを記録、再生する例を示している。（ｅ）は光ディスクから再生される再生信号であり、（ｆ）は再生信号をもとに２値化した再生データ信号である。（ｇ）は再生クロック信号であり、２値化された再生データ信号をもとにＰＬＬ回路８にて作られる。【００２７】
図３において、基準となる当該マークを６Ｔとすると、当該マークの前端スペースと後端スペースの長さはそれぞれ３Ｔであるので、当該マークの前端の信号パターンは、３Ｔスペース（以下ｓと省略）６Ｔマーク（以下ｍと省略）であり、これを以下、３ｓ６ｍパターンと記載する。また、当該マークの後端の信号パターンは、６Ｔマーク、３Ｔスペースであり、これを以下、６ｍ３ｓパターンと記載する。【００２８】
位相比較器５は、再生データ信号（ｆ）の極性が反転するたびに、再生クロック信号（ｇ）を基準に、再生データ信号（ｆ）の極性反転位置を随時比較し、随時位相誤差量として測定する。【００２９】
パターン検出回路９は、前記再生データ信号（ｆ）と再生クロック信号（ｇ）とから、基準となる当該マーク長と前端のスペース長から前端の記録パターンが３ｓ６ｍパターンであると検出する。また同様に、当該マーク長と後端のスペース長とから、後端の記録パターンを６ｍ３ｓパターンであると検出する。【００３０】
パターン検出回路９で検出された記録パターンと随時位相誤差量とから当該マークの前端の随時位相誤差量は３ｓ６ｍパターンの随時位相誤差量（３ｓ６ｍＴｄ）であると認識でき、後端の随時位相誤差量は６ｍ３ｓパターンの随時位相誤差量（６ｍ３ｓＴｄ）であることが認識できる。【００３１】
パターン位相誤差平均化回路１０は、例えば３ｓ６ｍパターン時に検出される３ｓ６ｍパターンの随時位相誤差量（３ｓ６ｍＴｄ）の積算値と、３ｓ６ｍパターンの発生回数とから、３ｓ６ｍパターンのパターン平均位相誤差量を求める。同様に、各記録パターン毎のパターン平均位相誤差量を求める。【００３２】
図４の（ａ）、（ｂ）は、基準となる当該マークのパターン平均位相誤差量を示すパターン位相誤差テーブル例であり、図４の（ａ）はマーク前端平均位相誤差量のテーブルで、（ｂ）はマーク後端平均位相誤差量のテーブルの例である。【００３３】
図４の（ａ）、（ｂ）は、それぞれ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔの長さの当該マークと、その前端、あるいは後端のスペースとの組み合わせでできる１６通りに関して、それぞれ前端と後端のパターン毎の位相誤差量を示している。【００３４】
例えば、ＬＡ３６は、マークの前端で３ｓ６ｍパターンのパターン平均位相誤差量を示している。また、例えば、ＴＡ３６は、マークの後端で６ｍ３ｓパターンのパターン平均位相誤差量を示している。なお、６Ｔ以上のマークおよびスペースに関係するデータパターンは、６Ｔ以上の長マークや長スペースではほとんど同じ位相誤差量となるため、今回の例では、７Ｔ以上のマーク及びスペースが関係する位相誤差量は測定していない。【００３５】
図４（ｃ）、（ｄ）は、図４（ａ）、（ｂ）の信号パターンに対応するマークの前端の記録パラメータ、及びマークの後端の記録パラメータのテーブル例を示す図である。【００３６】
例えばＬＢ３６は、マークの前端で６Ｔのマーク長とその直前の３Ｔのスペース長の場合（３ｓ６ｍパターン）における記録パラメータを示している。また、例えばＴＢ３６は、マークの後端で６Ｔのマーク長とその直後の３Ｔのスペース長の場合（６ｍ３ｓパターン）における記録パラメータを示している。【００３７】
光ディスク装置におけるライトストラテジ調整は、図４（ａ）、（ｂ）に示す全ての記録パターンの位相誤差の平均値がゼロに近づくように、図４（ｃ）、（ｄ）の記録パラメータテーブルの値を調整する。【００３８】
次に、従来の光ディスク装置２００における記録学習方法を、図５、図６、図７を用いて説明する。【００３９】
図５は、該光ディスク装置２００における記録学習方法を示すフローチャートである。【００４０】
該光ディスク装置２００は、まず初期の記録パラメータ設定と、記録パワー設定を行う（ステップＳ５０１）。この初期の記録パラメータや、初期の記録パワーは、例えばＤＶＤ−Ｒではランドプリピット（ＬＰＰ）の情報に含まれるディスクごとの推奨ライトストラテジでもよいし、ファームウェアに初期値を持っていてもよい。【００４１】
次に記録パワー調整ＲＰＡを行う（ステップＳ５０２）が、この記録パワー調整ＲＰＡとしては、たとえば、設定した記録パワーを中心に、例えば±２０％の範囲で４％づつパワーを変化させて記録を行う。【００４２】
図６は、記録パワー調整時の記録パワーの例を示す。【００４３】
設定記録パワーが２０ｍＷであった場合、１６ｍＷから階段状に０．８ｍＷづつ記録パワーを上げて２４．０ｍＷまで１１段階の記録パワーで記録パワー調整用パターンからなるテストデータを記録する。【００４４】
次に、各記録パワーで記録されたテストデータについて、後に述べるライトストラテジ調整を経て、アシンメトリ値βを測定し（ステップＳ５０３）、目標アシンメトリ値と比較し、目標アシンメトリとなる記録パワー値を決定し、記録パワーとして設定する（ステップＳ５０４）。【００４５】
次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡについて説明する。【００４６】
例えば初期の記録パラメータは、図７（ａ）、（ｂ）に示すように全て０とする。これは、記録パラメータのうち、トップパルスの幅やラストパルスの幅などの基本的な量を示す記録パラメータは、前記推奨ライトストラテジとし、スペース長とマーク長による組み合わせパターンでの微調整を行う記録パラメータの初期値は、全て０であるということである。また、ライトストラテジ用テスト記録データは、マークとスペースの全ての組み合わせが含まれる記録パターンとする。【００４７】
ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、記録パルスを生成し、レーザを駆動させて、テスト記録を行う（ステップＳ５０５）。【００４８】
次にテスト記録した部分の位相誤差を測定し、図４（ａ）、（ｂ）の各記録パターンごとにパターン平均位相誤差量を求める（ステップＳ５０６）。【００４９】
次に、パターン平均位相誤差量の全ての位相誤差量が一定値以内となっているか否かを判定し（ステップＳ５０７）、一定値以内となっている場合は、記録学習を終了する。【００５０】
一方、一定値以内となっていない場合は、可変エッジ決定回路１１により、位相誤差の大きなエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する、すなわち、パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する（ステップＳ５０８）。【００５１】
その後、前記記録パワー調整ＲＰＡで決まった記録パワーで、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数行ったかを判定し（ステップＳ５０９）、所定回数より少ない場合は、再度ライトストラテジ調整ＷＳＡを行い、所定回数に達した場合は、ライトストラテジが変化したことによりアシンメトリがずれたと判断して、再度記録パワー調整ＲＰＡを行う。【００５２】
今回の記録パワー調整ＲＰＡでは、ライトストラテジ調整ＷＳＡに用いた前回の記録パワー調整ＲＰＡで決定した記録パワーを設定記録パワーとして、前述の記録パワー調整で説明したように記録パワーを階段状に変化させて記録し、それぞれの記録パワーでのアシンメトリβを求め、目標アシンメトリとなる記録パワーを決定し、設定する。【００５３】
このように、記録パワー調整ＲＰＡとライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、全ての記録パターンの組み合わせのパターン位相誤差量が一定以下になるまで調整を行う。【００５４】
図７（ｃ）、（ｄ）は全てのパターン位相誤差量が一定以下になった場合の記録パラメータテーブルの例である。例えば３ｓ６ｍパターンの記録パラメータ値ＬＢ３６は初期値０から−０．１５Ｔだけシフトした値になっている。【００５５】
図７（ｃ）、（ｄ）は全てのパターン位相誤差量が一定以下になった場合の記録パラメータテーブルを示す図である。例えば３ｓ６ｍパターンの記録パラメータ値ＬＢ３６は、初期値０から−０．１５Ｔだけシフトした値になっている。【００５６】
なお、図５のフローチャートには記載していないが、記録パワー調整ＲＰＡとライトストラテジ調整ＷＳＡの合計の実施回数は別途判定しており、所定の回数を実施しても全てのパターン位相誤差量が一定以下にならない場合は、記録学習エラーとして終了する。
【特許文献１】特開２００２−２９８３５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００５７】
従来は、ライトストラテジ調整を所定回数繰り返すごとに記録パワー調整を行っていたため記録学習に時間がかかるとともに、記録パワー調整を行うことにより記録パワーが変化するとライトストラテジ調整で調整した位相誤差がずれてしまうという問題があった。【００５８】
また、ＤＶＤ−Ｒのような１回しか記録できない記録媒体では、ＰＣＡの領域が一定量しかないため、ＰＣＡの記録学習による消費量を少なくし、記録学習の実施回数を多くしないといけないという課題を有していた。【００５９】
本発明は、上記のような従来の問題点に鑑みてなされたもので、記録学習の時間を短縮できるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることができる情報記録再生装置を提供することを目的としている。【００６０】
また、本発明は、さらに記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなり、より精密なライトストラテジ調整を行うことのできる情報記録再生装置を提供することを目的としている。【００６１】
また、本発明は、さらに記録パワー調整における記録パワーの可変範囲を制限することができ、ＰＣＡの消費量を抑えられるとともに、記録パワー調整の時間をも短縮することのできる情報記録再生装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００６２】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。【００６３】
また、本発明の請求項２に係る情報記録再生装置は、請求項１に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。【００６４】
また、本発明の請求項３に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに、記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに、再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と、再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力を、最短マークの位相誤差平均値の値を基準に標準化する標準化パターン位相誤差演算回路と、前記標準化パターン位相誤差演算回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。【００６５】
また、本発明の請求項４に係る情報記録再生装置は、請求項３に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。【００６６】
また、本発明の請求項５に係る情報記録再生装置は、請求項３または４に記載の情報記録再生装置において、前記標準化パターン位相誤差演算回路は、前記パターン位相誤差平均回路の出力のうち、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの位相誤差平均値の値を基準に、前記パターン位相誤差平均回路の出力を標準化することを特徴とする。【００６７】
また、本発明の請求項６に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記記録発光波形調整回路において最短マークに関連する記録発光波形が調整されたか否かを判定する記録発光波形調整実施確認回路と、前記記録発光波形調整実施確認回路による判定結果を受け、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整された場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整されなかった場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。【００６８】
また、本発明の請求項７に係る情報記録再生装置は、請求項６に記載の情報記録再生装置において、前記記録発光波形調整実施確認回路は、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの記録発光波形が調整されたか否かを確認することを特徴とする。【００６９】
また、本発明の請求項８に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御し、前記記録パワー調整を行うよう制御する際は、前記検出された記録状態が所定の値より大きい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以下に設定し、前記検出された記録状態が前記所定の値より小さい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以上に設定する記録パワー調整範囲決定回路と、を備えることを特徴とする。【００７０】
また、本発明の請求項９に係る情報記録再生装置は、請求項８に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整範囲決定回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【００７１】
本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後にアシンメトリを測定し、アシンメトリ値が所定値以下の場合は記録パワー調整を実施しないので、記録学習における記録パワー調整の頻度を減らすことができ、これにより、記録学習の時間を短縮することができるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。【００７２】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、アシンメトリに関連する最短マーク長の位相誤差を基準にライトストラテジを調整するので、ライトストラテジ調整によるアシンメトリ変動を抑えることができ、これにより、記録パワー調整による記録パワー調整量が少なくなるため、記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなり、より精密なライトストラテジ調整が可能となる。【００７３】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後に、ライトストラテジ調整においてアシンメトリに関連する最短マーク長の記録パラメータが調整されたか否かを確認し、最短マーク長の記録パラメータが調整されていない場合は、アシンメトリ変化が少ないものとして記録パワー調整を実施しないので、記録学習における記録パワー調整の頻度を減らすことができ、これにより、記録学習の時間を短縮することができるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。【００７４】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後にアシンメトリを測定するので、現在の設定記録パワーでのアシンメトリ値と、目標アシンメトリ値との差分値を検出することができ、該差分値に応じて、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を制限することで、ＰＣＡの消費量を抑えることができるとともに、記録パワー調整に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】図１は、本発明の実施の形態１による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】図２は、従来の光ディスク装置を示すブロック図である。
【図３】図３は、記録クロック、記録データ、レーザ駆動波形、光ディスク上のマークとスペース、再生波形、再生データ信号、再生クロック信号の関係説明図である。
【図４】図４は、パターン位相誤差テーブル、及び記録パラメータテーブルの説明図である。
【図５】図５は、従来の技術による記録学習のフローチャート図である。
【図６】図６は、従来の記録パワー調整の説明図である。
【図７】図７は、記録パラメータテーブル例を示す説明図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態１による記録学習のフローチャート図である。
【図９】図９は、アシンメトリ検出方法の説明図である。
【図１０】図１０は、本発明の実施の形態２による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施の形態３による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施の形態４による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施の形態２による記録学習のフローチャート図である。
【図１４】図１４は、本発明の実施の形態３による記録学習のフローチャート図である。
【図１５】図１５は、本発明の実施の形態４による記録学習のフローチャート図である。
【図１６】図１６は、パターン位相誤差テーブルの例を示す説明図である。
【図１７】図１７は、本発明の実施の形態４による記録パワー調整の説明図である。
【符号の説明】
【００７６】
１  光ディスク
２  レーザ駆動回路
３  波形等化器
４  ２値化回路
５  位相比較器
６  ＬＰＦ
７  ＶＣＯ
８  ＰＬＬ回路
９  パターン検出器
１０  パターン位相誤差平均化回路
１１  可変エッジ決定回路
１２  記録パルス生成回路
１３  レーザ駆動回路
１４  アシンメトリ検出回路
１５  記録発光波形調整部
１６  記録パワー設定部
１７  記録パワー調整実行回路
１８  記録パワー調整用記録パワー設定回路
１９  記録パワー調整実行判断回路
２０  標準化パターン位相誤差演算回路
２１  最短マークエッジ可変確認回路
２２  可変エッジ記録パワー調整実行判断回路
２３  記録パワー調整範囲決定回路
【発明を実施するための最良の形態】
【００７７】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。【００７８】
（実施の形態１）
図１は本実施の形態１による情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示すブロック図である。【００７９】
図１において、１は記録媒体である光ディスク、２は、光ディスク１に対して情報を書き込み、あるいは情報を読み出す光学ヘッド、３は、光ディスク１より読み出された再生信号の波形整形を行なう波形等化器、４は、再生信号を２値化して再生データ信号を生成する２値化回路である。【００８０】
８は、位相比較器５と、ＬＰＦ６と、ＶＣＯ７とからなるＰＬＬ回路であり、再生クロックを生成するものである。位相比較器５は、再生データ信号と、再生クロックとの位相誤差を検出して、再生データ信号の極性反転位置での位相誤差量である随時位相誤差量を検出する。【００８１】
９は、再生データ信号と再生クロック信号とから、再生データ信号のパターンを検出するパターン検出回路、１０は、位相比較器５より出力される随時位相誤差量と、パターン検出回路９の出力とに基づいて、各パターン毎の随時位相誤差量の平均値であるパターン平均位相誤差量を求めるパターン位相誤差平均化回路である。【００８２】
１５は、記録発光波形調整部であり、パターン位相誤差平均化回路１０の出力から、調整すべき記録パラメータを決定する可変エッジ決定回路１１と、可変エッジ決定回路１１の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録パルス生成回路１２とからなる。【００８３】
１３は、レーザ駆動手段であるレーザ駆動回路であり、１４は、再生信号のアシンメトリ値を検出するアシンメトリ検出回路である。１６は、アシンメトリ検出回路１４の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定部であり、記録パワー調整実行回路１７と、記録パワー調整用記録パワー設定回路１８とからなる。【００８４】
１９は、アシンメトリ検出回路１４により検出されたアシンメトリ値に基づいて、記録パワー調整を実行するか否かを判断する記録パワー調整実行判断回路である。【００８５】
次に本実施の形態１の情報記録再生装置１００の動作を、図１の構成図、および図８の記録学習方法を説明するためのフローチャートを用いて説明する。【００８６】
本実施の形態１の光ディスク装置１００の、従来の光ディスク装置２００との違いは、アシンメトリ検出回路１４の出力に応じて記録パワー調整を実行するかを判断するアシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９を有していることと、その記録学習方法においてライトストラテジ調整の記録パラメータを変更した後でアシンメトリ測定を行い、アシンメトリ値が所定値以内の場合は記録パワー調整を実行せず、所定値以上であれば記録パワー調整を実行することとである。【００８７】
一般に記録学習は、データの記録を行うに先立ち最適な記録品質を得られるようライトストラテジや記録パワーを最適化するために行われる。記録学習は、記録パワー調整とライトストラテジ調整を繰り返すことにより、最適なライトストラテジと記録パワーを決定するものである。【００８８】
本実施の形態１において、光ディスク装置１００は光学ヘッド２を移動しＰＣＡでデータの記録再生が行えるようにするとともに、記録学習を行うために、初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行う（ステップＳ８０１）。【００８９】
次に、上記従来の光ディスク装置２００における記録パワー調整ＲＰＡと同様な記録パワー調整ＲＰＡを行い、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ８０２）。【００９０】
次に、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ８０３）、その後、ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し、再生信号を得る。再生信号は、図１の波形等化器３によって整形されたあと、２値化回路４によって２値化され、再生データ信号となる。図１の位相比較器５は、入力された再生データ信号に基づき、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ８０４）。【００９１】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ８０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は求めたパターン平均位相誤差量をもとにパターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを変更の必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。【００９２】
そののち、記録パルス生成回路１２は可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを位相誤差が０になる方向に変更する（ステップ８０６）。上記ステップＳ８０３〜Ｓ８０６よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを、所定回数繰り返し（ステップＳ８０７）、記録パラメータの変更を繰り返す。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。【００９３】
上記のように所定回数の記録パラメータの調整を繰り返した後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリをアシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ８０８）。【００９４】
次に、図１のアシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、この測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整ＲＰＡの目標アシンメトリ値に対して所定以内の範囲であれば（ステップＳ８０９でＹＥＳ）、記録パワー調整ＲＰＡは実行する必要がないと判断し、図１のパワー調整実行回路１７に、記録パワー調整ＲＰＡを行わないよう指令する。このときの所定以内の範囲は、目標アシンメトリとの差が、記録パワー調整ＲＰＡでの調整誤差に対応するアシンメトリ値であるものとする。例えば、記録パワー調整ＲＰＡでの調整誤差が記録パワーで±０．２ｍＷとすると、±０．２ｍＷに相当するアシンメトリ値（例えば±１％）以内であれば記録パワー調整ＲＰＡを行わないようにする。【００９５】
これにより、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減り、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられる。【００９６】
一方、測定したアシンメトリ値が記録パワー調整ＲＰＡの目標アシンメトリ値に対して所定値範囲以外であれば（ステップＳ８０９でＮＯ）、従来と同様、記録パワー調整ＲＰＡ（ステップＳ８０２）を行う。【００９７】
そして、これら記録パワー調整ＲＰＡと、ライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、すべてのマークエッジの位相誤差が一定値以内になった時点で記録学習を終了する。【００９８】
なお、前記実施の形態１では、記録パワー調整実行判断手段は記録パワー調整の実行可否判断範囲を記録パワー調整の調整誤差範囲で判断するものとしたが、これは例えば複数の光ディスク装置で確認し、記録パワー調整の必要がないとして決定した範囲であっても良い。【００９９】
以上のように、本実施の形態１の情報記録再生装置によれば、記録パワー調整とライトストラテジ調整とを繰り返して行なう記録学習において、ライトストラテジ調整を行った後にアシンメトリを測定し、アシンメトリ値が所定の範囲内の場合は記録パワー調整を実行せず、アシンメトリ値が所定の範囲外の場合に記録パワー調整を実行するようにしたので、記録学習における記録パワー調整の実行頻度を減らすことができ、これにより、記録学習時間を短縮することができ、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。【０１００】
（実施の形態２）
図１０は、本実施の形態２による情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示すブロック図である。【０１０１】
本実施の形態２による光ディスク装置３００は、実施の形態１の光ディスク装置１００の構成において、標準化パターン位相誤差演算回路２０を、さらに備えたものである。【０１０２】
標準化パターン位相誤差演算回路２０は、パターン位相誤差平均化回路１０により演算されたパターン平均位相誤差量のうち、３ｓ３ｍパターン、及び３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に、各パターンの標準化パターン位相誤差量を求めるものである。【０１０３】
次に、本実施の形態２の光ディスク装置３００の動作を、図１０の構成図、図１３の記録学習方法を説明するためのフローチャート、図１６のパターン位相誤差テーブルを用いて、説明する。【０１０４】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１３０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡを行う、すなわち、記録パワー設定部１６により、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１３０２）。【０１０５】
そして次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１３０３）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得、位相比較器５により、入力された再生信号から、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１３０４）。【０１０６】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１３０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。【０１０７】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、標準化パターン位相誤差演算回路２１は、前記求めたパターン平均位相誤差量をもとにパターン平均位相誤差量のうち３ｓ３ｍパターンおよび３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に標準化を行い、標準化位相誤差量を求める（ステップＳ１３０６）。【０１０８】
例えば、図１６の（ａ）、（ｂ）は、パターン位相誤差平均化回路１０によって求められたパターン位相誤差テーブルである。前端のパターン位相誤差テーブルにおいて、３ｓ３ｍパターンの平均位相誤差量は＋５％であるため、この値を基準に、前端の３ｓ３ｍパターン以外の信号パターンの平均位相誤差量を−５％し、標準化パターン位相誤差量を求めると、図１６の（ｃ）の標準化パターン位相誤差テーブルが得られる。また、後端のパターン位相誤差テーブルにおいても、３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に、標準化パターン位相誤差量を求めると、図１６の（ｄ）の標準化パターン位相誤差テーブルが得られる。【０１０９】
次に、図１０の可変エッジ決定回路１１は、前記標準化パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。そして、図１０の記録パルス生成回路１２は、前記可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する（ステップ１３０７）。【０１１０】
上記ステップＳ１３０３〜Ｓ１３０７よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを、所定回数繰り返し（ステップＳ１３０８）、記録パラメータの変更を繰り返す。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。【０１１１】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返した後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリを、アシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ１３０９）【０１１２】
次に、アシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、上記の測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定値以内の範囲内にあれば（ステップＳ１３１０でＹＥＳ）、記録パワー調整はする必要がないと判断し、パワー調整実行回路１７に記録パワー調整を行わないよう指令する（図１３のフローでは、ステップＳ１３１０でＹＥＳのとき、記録パワー調整ＲＰＡのステップＳ１３０２を経ずに、ライトストラテジ調整ＷＳＡに入る）。【０１１３】
このとき、記録パラメータの変更エッジを、標準化パターン位相誤差量により決定しているため、アシンメトリの変化が抑えられ、測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定以内になる確率が増加する。【０１１４】
これは一般的な記録データは、３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多いため、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているので、３Ｔマークの位相誤差を基準に、記録パラメータを調整することにより、アシンメトリの変化を抑えることができるからである。【０１１５】
これにより、図１３のライトストラテジ調整ＷＳＡを行った後にアシンメトリ測定を行うと、アシンメトリの変動が少ないため、アシンメトリ値が所定の範囲内に収まる確率が高くなり、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減るため、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。【０１１６】
一方、上記ステップＳ１３０９でアシンメトリ値を測定したのち、該測定したアシンメトリ値が所定の範囲外にあると判断した場合（ステップＳ１３１０においてＮＯ）は、従来と同様、記録パワー調整ＲＰＡ（ステップＳ１３０２）を実行する。【０１１７】
そして、これら記録パワー調整ＲＰＡと、ライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、すべてのマークエッジの位相誤差が一定値以内になった時点で記録学習を終了する。【０１１８】
以上のように、本実施の形態２の情報記録再生装置によれば、実施の形態１の情報記録再生装置の構成において、標準化パターン位相誤差演算回路を設け、該標準化パターン位相誤差演算手段の出力をもとに記録発光波形調整手段により記録発光波形を調整するようにし、記録パワー調整実行判断手段によりアシンメトリ検出手段の出力である記録状態が所定の範囲内にある場合は記録パワー調整を行わないようにしたので、ライトストラテジ調整後にアシンメトリを測定し、該アシンメトリが所定のアシンメトリ値以下のときは記録パワー調整を実施しないようにしていることにより、記録学習の時間を短縮でき、ＰＣＡの消費量をも低く抑えることができる。【０１１９】
また、前記標準化パターン位相誤差演算手段は、前記パターン位相誤差平均手段の出力に対しそのうち最短マークとその前端の最短スペースのパターン、および最短マークとその後端の最短スペースのパターンの位相誤差平均値の値を基準に標準化を行って標準化パターン位相誤差を求め、このアシンメトリに関連する最短マーク長の標準化パターン位相誤差を基準にライトストラテジを調整しているため、ライトストラテジ調整でのアシンメトリ変動を抑えることができ、記録パワー調整による記録パワー調整量が少なくなり、記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなって、より精密なライトストラテジ調整が可能となる効果が得られる。【０１２０】
（実施の形態３）
図１１は、本実施の形態３に係る情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示す図である。【０１２１】
本実施の形態３による光ディスク装置５００は、実施の形態１による光ディスク装置１００の構成において、記録パワー調整実行判断回路１９に代えて、最短マークエッジ可変確認回路２１、および可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２２を、備えたものである。【０１２２】
最短マークエッジ可変確認回路２１は、ある記録パワーでのライトストラテジ調整において、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更されたか否かを判定し、その結果を出力するものである。【０１２３】
可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２２は、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更された場合は、記録パワー調整を行なうが、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更されていない場合は、記録パワー調整を行なわないよう記録パワー設定部１６に指令を与えるものである。これは、一般的な記録データは３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多く、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているので、３Ｔマークに関連した記録パラメータが調整されていなければ、アシンメトリの変化が少ないと推定できることによる。【０１２４】
次に、本実施の形態３の光ディスク装置５００の動作を、図１１の構成図、および図１４の記録学習方法を説明するためのフローチャートを用いて説明する。【０１２５】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１４０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡを行う、すなわち、記録パワー設定部１６により、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１４０２）。【０１２６】
そして次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１４０３）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得、位相比較器５により、入力された再生データ信号から、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１４０４）。【０１２７】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量を、パターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１４０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。【０１２８】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は、前記求めたパターン平均位相誤差量をもとに、該パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは、別々に決定される。そして、記録パルス生成回路１２により、可変エッジ決定回路１１で決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する（ステップＳ１４０６）。【０１２９】
上記ステップＳ１４０３〜Ｓ１４０６よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数繰り返し（ステップＳ１４０７）、記録パラメータの変更を繰り返す。このとき、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。【０１３０】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返した後、最短マークエッジ可変確認回路２２は、前回の記録パワー調整時の記録パラメータと、所定回数記録パラメータの調整を繰り返した記録パラメータとを比較し、３ｓ３ｍパターン、および３ｍ３ｓパターンのエッジの記録パラメータ（ＬＢ３３、ＴＢ３３）の変更があったかを、確認する（ステップＳ１４０８）【０１３１】
可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２０は、３ｓ３ｍパターン、および３ｍ３ｓパターンのエッジの変更がない場合（ステップＳ１４０８でＮＯ）は、アシンメトリの変動は少ないと推定し、記録パワー調整ＲＰＡを行わず、変更があった場合（ステップＳ１４０８でＹＥＳ）は、アシンメトリの変動があると判断し、従来と同じ記録パワー学習を行うよう記録パワー調整実行回路１７に指令する。【０１３２】
このように最短マークである３Ｔマークに関連した信号パターンの記録パラメータの変更の有無によっては記録パワーの調整をしないようにする理由は、一般的な記録データは、３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多く、そのため、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているため、３Ｔマークに関連した記録パラメータの調整の有無により、アシンメトリの変化が少ないことを推定できるためである。【０１３３】
これにより、図１４のライトストラテジの調整を行った後に、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更が無い場合には、記録パワー調整ＲＰＡを行わないため、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減り、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。【０１３４】
以上のように、本実施の形態３による情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後に、当該ライトストラテジ調整において３Ｔマーク関連の記録パラメータが調整されたか否かを確認し、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更が無い場合は、アシンメトリ変化が少ないと推定して記録パワー調整を行わず、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更がなされた場合のみ記録パワー調整を行うので、記録学習において記録パワー調整を実行する頻度を減らすことができ、この結果、記録学習時間を短縮し、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。【０１３５】
（実施の形態４）
図１２は、本実施の形態４に係る情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示す図である。【０１３６】
本実施の形態４による光ディスク装置７００の、実施の形態１の光ディスク装置１００との主な相違は、記録パワー調整範囲決定回路２３を設けたものである。【０１３７】
記録パワー調整範囲決定回路２３は、アシンメトリ検出回路１４の出力から記録パワー調整を実行するか否かを判断し、かつ、記録パワー調整が必要と判断した場合は、その記録パワーを変化させる範囲を、アシンメトリ検出回路１４の出力に応じて変更するものである。【０１３８】
次に、本実施の形態４の光ディスク装置７００の動作を、図１２の構成図、図１５の記録学習方法を説明するためのフローチャート図、および図１７の記録パワー調整の説明図を用いて、説明する。【０１３９】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１５０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡにおいて、設定記録パワーを中心に記録パワーを変化させて記録パワー調整用学習パターンを記録するステップＳ１５０２、各記録パワーでのアシンメトリを測定するステップＳ１５０３を経て、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１５０４）。【０１４０】
そして、ライトストラジ調整ＷＳＡにおいて、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１５０５）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得る。位相比較器５は入力された再生データ信号に基づき、再生データ信号と再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１５０６）。【０１４１】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化しパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１５０７）、一定値以内であれば記録学習を終了する。【０１４２】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は前記求めたパターン平均位相誤差量をもとに該パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを変更必要なエッジとして決定する。ここで、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。【０１４３】
図１２の記録パルス生成回路１２は、前記可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを位相誤差が０になる方向に変更する（ステップＳ１５０８）。【０１４４】
上記ステップＳ１５０５〜Ｓ１５０８よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数繰り返し記録パラメータの変更を繰り返す（ステップＳ１５０９）。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのはライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。【０１４５】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返し後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリをアシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ１５１０）。【０１４６】
次に、アシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、この測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定値以内の範囲であれば（ステップＳ１５１１でＹＥＳ）記録パワー調整はする必要がないと判断し、パワー調整実行回路１７に記録パワー調整を行わないよう、すなわち記録パワー調整ＲＰＡに行かず、ライトストラテジ調整ＷＳＡに行くよう指令する。また測定されたアシンメトリが所定の範囲内にない場合は（ステップＳ１３０４でＮＯ）、記録パワー調整ＲＰＡに行くよう指令する。【０１４７】
この記録パワー調整ＲＰＡが実施されるとき、記録パワー調整範囲決定回路２３は、測定されたアシンメトリ値を記録パワー調整ＲＰＡでの目標アシンメトリ値と比較し、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きい場合（ステップＳ１５１２でＹＥＳ）は、ステップＳ１５１３に進んで、記録パワー調整ＲＰＡの記録パワー範囲を、設定記録パワーより小さい範囲に設定し記録パワーの決定および記録パワー調整用学習パターンの記録を行い、目標アシンメトリ値より小さい場合（ステップＳ１５１２でＮＯ）は、ステップＳ１５１４に進んで、記録パワー調整ＲＰＡの記録パワー範囲を、設定記録パワーより大きい範囲に設定し記録パワーの決定および記録パワー調整用学習パターンの記録を行う。【０１４８】
このとき測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きな場合は、記録パワーを下げる必要があるため、記録パワー調整範囲は設定記録パワーより小さな記録パワーとなるように調整すればよい。そのため、記録パワー調整ＲＰＡでの記録パワー範囲を設定記録パワーから−２０％の範囲で４％づつ記録パワーを変化させて記録するようにすればよい。【０１４９】
また、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より小さな場合は、記録パワーを上げる必要があるため、記録パワー調整範囲は設定記録パワーより大きな記録パワーとなるように調整すればよい。そのため、記録パワー調整ＲＰＡでの記録パワー範囲を設定記録パワーから＋２０％の範囲で４％づつ記録パワーを変化させて記録するようにすればよい。【０１５０】
例えば、設定記録パワーを２０ｍＷとすると、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きな場合は、図１７の（ａ）のように記録パワーを変化させて記録を行い、アシンメトリ値が目標アシンメトリよりも小さな場合は、図１７の（ｂ）のように記録パワーを変化させて記録を行うようにする。【０１５１】
これは、ライトストラテジ調整後にアシンメトリ測定を行うことにより、記録パワー調整をする前にライトストラテジ調整ＷＳＡで決定された記録パラメータで記録した場合に、設定記録パワーが目標アシンメトリ値の記録パワーに対して大きいがどうかを判定できるためである。【０１５２】
これにより、記録パワー調整ＲＰＡが実行された場合において記録パワー範囲を制限できるため、記録パワー調整時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。【０１５３】
以上のような本実施の形態４による情報記録再生装置によれば、実施の形態１の情報記録再生装置の構成において、記録パワー調整範囲決定手段である記録パワー調整範囲決定回路を設けて、アシンメトリ検出手段の出力である記録状態が所定の記録状態より記録パワーが大きい場合は、記録パワー調整の記録パワー範囲を設定記録パワー以下とし、所定の記録状態より記録パワーが小さい場合は、記録パワー調整の記録パワー範囲を設定記録パワー以上とするようにしたので、現在の設定記録パワーでのアシンメトリ値と目標アシンメトリ値との差が分かるため、記録パワー調整における記録パワーの可変範囲を制限することができ、ＰＣＡの消費量を抑えられるとともに、記録パワー調整の時間をも短縮することができる効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【０１５４】
本発明の情報記録再生装置によれば、記録対象の光ディスクの特性に合った記録条件を求める記録学習にかかる時間を短縮できるとともにＰＣＡの消費量も抑えることができ、たとえば光ディスク装置において、データの録画指令を受けてから実際に記録を開始するまでの時間を短くすることができる点において有用である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【手続補正書】
【提出日】平成21年12月15日(2009.12.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの記録媒体に情報を記録する情報記録再生装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク装置が情報記録再生分野において用いられている。光ディスク装置では、色素系記録媒体や相変化記録方式の記録媒体などが用いられており、記録媒体に形成されるマークの前端および後端に情報を有するマークエッジ記録方式によって情報が記録される。
【０００３】
色素系記録媒体や相変化記録方式の記録媒体に対して記録を行う場合は、周囲温度や記録媒体の種類、あるいは線速度などにより、記録条件が異なり、そのときの最適な記録品質を得るための記録発光波形であるレーザ発光波形のパルス時間幅規則（以下、ライトストラテジと記す。）や記録パワーも異なっている。このため、情報を記録する前には、ライトストラテジ調整と、記録パワー調整とを行う記録学習を実施し、最適な記録品質を得られる記録条件を見つける必要がある。
【０００４】
ライトストラテジに関しては、例えば、ＤＶＤ−Ｒ規格書（ＤＶＤ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ  ｆｏｒ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ  Ｄｉｓｃ  ｆｏｒ  Ｇｅｎｅｒａｌ）に記されているように、パルス制御方式（Ｍｕｌｔｉ  Ｐｕｌｓｅ）や、非マルチパルス方式（Ｎｏｎ  Ｍｕｌｔｉ  Ｐｕｌｓｅ）が規格化されている。
【０００５】
また、色素系記録媒体や相変化記録媒体に関しては、一般に、情報を記録する前に記録パワー調整（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ、以下「ＯＰＣ」と記す。）と称されるテスト記録を行うことで記録パワーの最適化が行われている。
【０００６】
ＯＰＣは、例えば特許文献１に記載されているように、記録媒体のパワー学習領域（Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ  Ａｒｅａ、以下「ＰＣＡ」と記す。）と称される所定の領域に所定の情報を記録し、これを再生することにより行われる。具体的には、記録データで使用される最短マーク長と最長マーク長である、チャネルクロックの周期Ｔの３倍（３Ｔ）〜１４倍（１４Ｔ）のマークとスペースとからなる所定パターンのテストデータを用いて、記録パワーを数段階変化させてテスト記録し、このテストパターンを再生して、各記録パワーにおける記録品質を評価するための指標の１つであるアシンメトリなどを基準に、最適な記録パワーを算出する。
【０００７】
アシンメトリは、光ディスクの反射光から生成される再生信号の対称性を示すもので、記録パワーの度合いを示す指標として使用される。
【０００８】
図９にＡＣ結合後の再生信号を示す。
【０００９】
ＡＣ結合後のアシンメトリβは、正側（スペース側）のピークレベルＡ１、負側（マーク側）のピークレベルＡ２を用いて
β＝（Ａ１＋Ａ２）÷（Ａ１−Ａ２）
Ａ１＋Ａ２：ＡＣ結合後の再生信号の正負ピークレベルの差分
Ａ１−Ａ２：ＡＣ結合後の再生信号の振幅値
として与えられる。記録パワーが小さくなるとＡ１＋Ａ２は負となり、アシンメトリβも負となる。アシンメトリβが０付近にないと記録パワーマージンが悪くなるため、アシンメトリβが一定範囲（例えば±数％以内）になるように記録パワーを設定することが必要となる。
【００１０】
次に、従来の光ディスク装置におけるライトストラテジ調整について、図面を用いて説明する。
【００１１】
図２は、従来の光ディスク装置２００の構成を示す。
【００１２】
この従来の光ディスク装置２００は、光ディスク１に対して情報を読み書きする光学ヘッド２を有している。データを読み取るとき、光ディスク１に対して照射された反射光は、光学ヘッド２において、記録されたデータに対応する再生信号に変換される。
【００１３】
再生信号は、波形等化器３によって波形整形された後、２値化回路４によって２値化され再生データ信号となる。位相比較器５は、入力された再生データ信号に基づいて、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を検出する。ローパスフィルタ（Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ、以下「ＬＰＦ」と記す。）６は、位相比較器５で検出された位相誤差から、電圧制御発振器７（Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｅｒ、以下「ＶＣＯ」と記す。）が追従すべき周波数を決定する。これによりＶＣＯ７が制御され、再生クロック信号を生成する。
【００１４】
このように、従来の光ディスク装置２００では、位相比較器５、ＬＰＦ６、ＶＣＯ７によって位相同期回路（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ回路、以下ＰＬＬ回路）８が構成されている。ＰＬＬ回路８において、ＶＣＯ７から出力される再生クロック信号は、再生データ信号と位相誤差の平均が０に近づくようにフィードバック制御される。
【００１５】
このようにして、再生データ信号に基づいて、再生データ信号と同期が取られて再生クロック信号が生成されるが、上述のように、再生データ信号と再生クロック信号との平均的な位相誤差を抑制した場合であっても、再生データ信号の各極性反転位置において再生クロック信号との位相誤差が生じ得る。この位相誤差は、ライトストラテジなどの記録パラメータが不適切であることなどが原因であり、マークエッジが適切な位置からシフトしていることによって生じる。
【００１６】
したがって、それぞれの極性反転位置での位相誤差量である随時位相誤差量を検出すれば、対応するそれぞれのマークのエッジの位置が、理想的なマークのエッジ位置（再生クロック信号との位相誤差が０の位置）に対して、いずれの方向にどの程度ずれているかを示す値を検出することができる。
【００１７】
なお、本明細書において、随時位相誤差量とは、各マークのエッジごとの、再生データ信号の各極性反転位置と、再生クロック信号との時間軸上のずれを意味するもので、一方、パターン平均位相誤差量とは、随時位相誤差量を平均化した値であり、随時位相誤差量と、パターン平均位相誤差量とを区別している。
【００１８】
次に、従来の光ディスク装置２００における、位相誤差を用いた記録パラメータの最適化について説明する。
【００１９】
パターン検出回路９は、２値化回路４から入力される再生データ信号と、ＶＣＯ７からの再生クロック信号とを用いて、マーク長とスペース長の組み合わせに対応する信号パターンを識別する。
【００２０】
パターン位相誤差平均化回路１０は、パターン検出回路９からの信号パターンと、位相比較器５からの随時位相誤差量をもとに、前述の信号パターンの組み合わせごとに随時位相誤差量を平均化したパターン毎の平均位相誤差量であるパターン平均位相誤差量を求める。
【００２１】
可変エッジ決定回路１１は、パターン位相誤差平均化回路１０からの入力をもとに、マーク長とスペース長の組み合わせごとに、パターン平均位相誤差量が所定の範囲内にあるか否かを判定し、記録パラメータを変更するエッジを決定する。
【００２２】
前記位相誤差量が所定の範囲内にある場合は、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは適切であると判断して該記録パラメータを変更しない。一方、所定の範囲内にない場合、その組み合わせに対応付けられた記録パラメータは変更が必要であると判断される。例えば、パターン平均位相誤差量がチャンネルクロック周期Ｔに対して±５％以内にない場合は、可変エッジ決定回路１１は、変更が必要と判断された信号パターンのエッジの記録パラメータのみをパターン平均位相誤差量が０になる方向に変更するよう記録パルス生成回路１２に指令する。
【００２３】
記録パルス生成回路１２は、可変エッジ決定回路１１からの入力をもとに、ライトストラテジを調整して記録パルスを生成し、レーザ駆動回路１３は、記録パルス生成回路１２からの入力をもとに、光学ヘッド２のレーザを駆動する。
【００２４】
また、パワー調整実行回路１７は、アシンメトリ検出回路１４により検出されたアシンメトリ値をもとに、記録パワーを決定する。
【００２５】
次に、記録時の信号パターンの分類、および位相誤差値テーブルおよび記録パラメータテーブルについて、図３と図４を用いて説明する。
【００２６】
図３において、（ａ）は記録パルスを生成する基準となる記録クロックであり、（ｂ）はマークとスペースを形成するための記録データであり、（ｃ）はレーザ駆動回路に入力されるレーザ駆動波形であり、（ｄ）は光ディスク上に形成されるマークとスペースを示している。この例では３Ｔマーク、３Ｔスペース、６Ｔマーク、３Ｔスペース、３Ｔマークが連続するパターンを記録、再生する例を示している。（ｅ）は光ディスクから再生される再生信号であり、（ｆ）は再生信号をもとに２値化した再生データ信号である。（ｇ）は再生クロック信号であり、２値化された再生データ信号をもとにＰＬＬ回路８にて作られる。
【００２７】
図３において、基準となる当該マークを６Ｔとすると、当該マークの前端スペースと後端スペースの長さはそれぞれ３Ｔであるので、当該マークの前端の信号パターンは、３Ｔスペース（以下ｓと省略）６Ｔマーク（以下ｍと省略）であり、これを以下、３ｓ６ｍパターンと記載する。また、当該マークの後端の信号パターンは、６Ｔマーク、３Ｔスペースであり、これを以下、６ｍ３ｓパターンと記載する。
【００２８】
位相比較器５は、再生データ信号（ｆ）の極性が反転するたびに、再生クロック信号（ｇ）を基準に、再生データ信号（ｆ）の極性反転位置を随時比較し、随時位相誤差量として測定する。
【００２９】
パターン検出回路９は、前記再生データ信号（ｆ）と再生クロック信号（ｇ）とから、基準となる当該マーク長と前端のスペース長から前端の記録パターンが３ｓ６ｍパターンであると検出する。また同様に、当該マーク長と後端のスペース長とから、後端の記録パターンを６ｍ３ｓパターンであると検出する。
【００３０】
パターン検出回路９で検出された記録パターンと随時位相誤差量とから当該マークの前端の随時位相誤差量は３ｓ６ｍパターンの随時位相誤差量（３ｓ６ｍＴｄ）であると認識でき、後端の随時位相誤差量は６ｍ３ｓパターンの随時位相誤差量（６ｍ３ｓＴｄ）であることが認識できる。
【００３１】
パターン位相誤差平均化回路１０は、例えば３ｓ６ｍパターン時に検出される３ｓ６ｍパターンの随時位相誤差量（３ｓ６ｍＴｄ）の積算値と、３ｓ６ｍパターンの発生回数とから、３ｓ６ｍパターンのパターン平均位相誤差量を求める。同様に、各記録パターン毎のパターン平均位相誤差量を求める。
【００３２】
図４の（ａ）、（ｂ）は、基準となる当該マークのパターン平均位相誤差量を示すパターン位相誤差テーブル例であり、図４の（ａ）はマーク前端平均位相誤差量のテーブルで、（ｂ）はマーク後端平均位相誤差量のテーブルの例である。
【００３３】
図４の（ａ）、（ｂ）は、それぞれ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔの長さの当該マークと、その前端、あるいは後端のスペースとの組み合わせでできる１６通りに関して、それぞれ前端と後端のパターン毎の位相誤差量を示している。
【００３４】
例えば、ＬＡ３６は、マークの前端で３ｓ６ｍパターンのパターン平均位相誤差量を示している。また、例えば、ＴＡ３６は、マークの後端で６ｍ３ｓパターンのパターン平均位相誤差量を示している。なお、６Ｔ以上のマークおよびスペースに関係するデータパターンは、６Ｔ以上の長マークや長スペースではほとんど同じ位相誤差量となるため、今回の例では、７Ｔ以上のマーク及びスペースが関係する位相誤差量は測定していない。
【００３５】
図４（ｃ）、（ｄ）は、図４（ａ）、（ｂ）の信号パターンに対応するマークの前端の記録パラメータ、及びマークの後端の記録パラメータのテーブル例を示す図である。
【００３６】
例えばＬＢ３６は、マークの前端で６Ｔのマーク長とその直前の３Ｔのスペース長の場合（３ｓ６ｍパターン）における記録パラメータを示している。また、例えばＴＢ３６は、マークの後端で６Ｔのマーク長とその直後の３Ｔのスペース長の場合（６ｍ３ｓパターン）における記録パラメータを示している。
【００３７】
光ディスク装置におけるライトストラテジ調整は、図４（ａ）、（ｂ）に示す全ての記録パターンの位相誤差の平均値がゼロに近づくように、図４（ｃ）、（ｄ）の記録パラメータテーブルの値を調整する。
【００３８】
次に、従来の光ディスク装置２００における記録学習方法を、図５、図６、図７を用いて説明する。
【００３９】
図５は、該光ディスク装置２００における記録学習方法を示すフローチャートである。
【００４０】
該光ディスク装置２００は、まず初期の記録パラメータ設定と、記録パワー設定を行う（ステップＳ５０１）。この初期の記録パラメータや、初期の記録パワーは、例えばＤＶＤ−Ｒではランドプリピット（ＬＰＰ）の情報に含まれるディスクごとの推奨ライトストラテジでもよいし、ファームウェアに初期値を持っていてもよい。
【００４１】
次に記録パワー調整ＲＰＡを行う（ステップＳ５０２）が、この記録パワー調整ＲＰＡとしては、たとえば、設定した記録パワーを中心に、例えば±２０％の範囲で４％づつパワーを変化させて記録を行う。
【００４２】
図６は、記録パワー調整時の記録パワーの例を示す。
【００４３】
設定記録パワーが２０ｍＷであった場合、１６ｍＷから階段状に０．８ｍＷづつ記録パワーを上げて２４．０ｍＷまで１１段階の記録パワーで記録パワー調整用パターンからなるテストデータを記録する。
【００４４】
次に、各記録パワーで記録されたテストデータについて、後に述べるライトストラテジ調整を経て、アシンメトリ値βを測定し（ステップＳ５０３）、目標アシンメトリ値と比較し、目標アシンメトリとなる記録パワー値を決定し、記録パワーとして設定する（ステップＳ５０４）。
【００４５】
次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡについて説明する。
【００４６】
例えば初期の記録パラメータは、図７（ａ）、（ｂ）に示すように全て０とする。これは、記録パラメータのうち、トップパルスの幅やラストパルスの幅などの基本的な量を示す記録パラメータは、前記推奨ライトストラテジとし、スペース長とマーク長による組み合わせパターンでの微調整を行う記録パラメータの初期値は、全て０であるということである。また、ライトストラテジ用テスト記録データは、マークとスペースの全ての組み合わせが含まれる記録パターンとする。
【００４７】
ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、記録パルスを生成し、レーザを駆動させて、テスト記録を行う（ステップＳ５０５）。
【００４８】
次にテスト記録した部分の位相誤差を測定し、図４（ａ）、（ｂ）の各記録パターンごとにパターン平均位相誤差量を求める（ステップＳ５０６）。
【００４９】
次に、パターン平均位相誤差量の全ての位相誤差量が一定値以内となっているか否かを判定し（ステップＳ５０７）、一定値以内となっている場合は、記録学習を終了する。
【００５０】
一方、一定値以内となっていない場合は、可変エッジ決定回路１１により、位相誤差の大きなエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する、すなわち、パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する（ステップＳ５０８）。
【００５１】
その後、前記記録パワー調整ＲＰＡで決まった記録パワーで、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数行ったかを判定し（ステップＳ５０９）、所定回数より少ない場合は、再度ライトストラテジ調整ＷＳＡを行い、所定回数に達した場合は、ライトストラテジが変化したことによりアシンメトリがずれたと判断して、再度記録パワー調整ＲＰＡを行う。
【００５２】
今回の記録パワー調整ＲＰＡでは、ライトストラテジ調整ＷＳＡに用いた前回の記録パワー調整ＲＰＡで決定した記録パワーを設定記録パワーとして、前述の記録パワー調整で説明したように記録パワーを階段状に変化させて記録し、それぞれの記録パワーでのアシンメトリβを求め、目標アシンメトリとなる記録パワーを決定し、設定する。
【００５３】
このように、記録パワー調整ＲＰＡとライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、全ての記録パターンの組み合わせのパターン位相誤差量が一定以下になるまで調整を行う。
【００５４】
図７（ｃ）、（ｄ）は全てのパターン位相誤差量が一定以下になった場合の記録パラメータテーブルの例である。例えば３ｓ６ｍパターンの記録パラメータ値ＬＢ３６は初期値０から−０．１５Ｔだけシフトした値になっている。
【００５５】
なお、図５のフローチャートには記載していないが、記録パワー調整ＲＰＡとライトストラテジ調整ＷＳＡの合計の実施回数は別途判定しており、所定の回数を実施しても全てのパターン位相誤差量が一定以下にならない場合は、記録学習エラーとして終了する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００５６】
【特許文献１】特開２００２−２９８３５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００５７】
従来は、ライトストラテジ調整を所定回数繰り返すごとに記録パワー調整を行っていたため記録学習に時間がかかるとともに、記録パワー調整を行うことにより記録パワーが変化するとライトストラテジ調整で調整した位相誤差がずれてしまうという問題があった。
【００５８】
また、ＤＶＤ−Ｒのような１回しか記録できない記録媒体では、ＰＣＡの領域が一定量しかないため、ＰＣＡの記録学習による消費量を少なくし、記録学習の実施回数を多くしないといけないという課題を有していた。
【００５９】
本発明は、上記のような従来の問題点に鑑みてなされたもので、記録学習の時間を短縮できるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることができる情報記録再生装置を提供することを目的としている。
【００６０】
また、本発明は、さらに記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなり、より精密なライトストラテジ調整を行うことのできる情報記録再生装置を提供することを目的としている。
【００６１】
また、本発明は、さらに記録パワー調整における記録パワーの可変範囲を制限することができ、ＰＣＡの消費量を抑えられるとともに、記録パワー調整の時間をも短縮することのできる情報記録再生装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００６２】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。
【００６３】
また、本発明の請求項２に係る情報記録再生装置は、請求項１に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。
【００６４】
また、本発明の請求項３に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに、記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに、再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と、再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力を、最短マークの位相誤差平均値の値を基準に標準化する標準化パターン位相誤差演算回路と、前記標準化パターン位相誤差演算回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。
【００６５】
また、本発明の請求項４に係る情報記録再生装置は、請求項３に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。
【００６６】
また、本発明の請求項５に係る情報記録再生装置は、請求項３または４に記載の情報記録再生装置において、前記標準化パターン位相誤差演算回路は、前記パターン位相誤差平均回路の出力のうち、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの位相誤差平均値の値を基準に、前記パターン位相誤差平均回路の出力を標準化することを特徴とする。
【００６７】
また、本発明の請求項６に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記記録発光波形調整回路において最短マークに関連する記録発光波形が調整されたか否かを判定する記録発光波形調整実施確認回路と、前記記録発光波形調整実施確認回路による判定結果を受け、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整された場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整されなかった場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備えることを特徴とする。
【００６８】
また、本発明の請求項７に係る情報記録再生装置は、請求項６に記載の情報記録再生装置において、前記記録発光波形調整実施確認回路は、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの記録発光波形が調整されたか否かを確認することを特徴とする。
【００６９】
また、本発明の請求項８に係る情報記録再生装置は、記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御し、前記記録パワー調整を行うよう制御する際は、前記検出された記録状態が所定の値より大きい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以下に設定し、前記検出された記録状態が前記所定の値より小さい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以上に設定する記録パワー調整範囲決定回路と、を備えることを特徴とする。
【００７０】
また、本発明の請求項９に係る情報記録再生装置は、請求項８に記載の情報記録再生装置において、前記記録パワー調整範囲決定回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【００７１】
本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後にアシンメトリを測定し、アシンメトリ値が所定値以下の場合は記録パワー調整を実施しないので、記録学習における記録パワー調整の頻度を減らすことができ、これにより、記録学習の時間を短縮することができるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。
【００７２】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、アシンメトリに関連する最短マーク長の位相誤差を基準にライトストラテジを調整するので、ライトストラテジ調整によるアシンメトリ変動を抑えることができ、これにより、記録パワー調整による記録パワー調整量が少なくなるため、記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなり、より精密なライトストラテジ調整が可能となる。
【００７３】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後に、ライトストラテジ調整においてアシンメトリに関連する最短マーク長の記録パラメータが調整されたか否かを確認し、最短マーク長の記録パラメータが調整されていない場合は、アシンメトリ変化が少ないものとして記録パワー調整を実施しないので、記録学習における記録パワー調整の頻度を減らすことができ、これにより、記録学習の時間を短縮することができるとともに、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。
【００７４】
また、本発明の情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後にアシンメトリを測定するので、現在の設定記録パワーでのアシンメトリ値と、目標アシンメトリ値との差分値を検出することができ、該差分値に応じて、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を制限することで、ＰＣＡの消費量を抑えることができるとともに、記録パワー調整に要する時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】図１は、本発明の実施の形態１による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】図２は、従来の光ディスク装置を示すブロック図である。
【図３】図３は、記録クロック、記録データ、レーザ駆動波形、光ディスク上のマークとスペース、再生波形、再生データ信号、再生クロック信号の関係説明図である。
【図４】図４は、パターン位相誤差テーブル、及び記録パラメータテーブルの説明図である。
【図５】図５は、従来の技術による記録学習のフローチャート図である。
【図６】図６は、従来の記録パワー調整の説明図である。
【図７】図７は、記録パラメータテーブル例を示す説明図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態１による記録学習のフローチャート図である。
【図９】図９は、アシンメトリ検出方法の説明図である。
【図１０】図１０は、本発明の実施の形態２による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施の形態３による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施の形態４による光ディスク装置を示すブロック図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施の形態２による記録学習のフローチャート図である。
【図１４】図１４は、本発明の実施の形態３による記録学習のフローチャート図である。
【図１５】図１５は、本発明の実施の形態４による記録学習のフローチャート図である。
【図１６】図１６は、パターン位相誤差テーブルの例を示す説明図である。
【図１７】図１７は、本発明の実施の形態４による記録パワー調整の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００７６】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【００７７】
（実施の形態１）
図１は本実施の形態１による情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００７８】
図１において、１は記録媒体である光ディスク、２は、光ディスク１に対して情報を書き込み、あるいは情報を読み出す光学ヘッド、３は、光ディスク１より読み出された再生信号の波形整形を行なう波形等化器、４は、再生信号を２値化して再生データ信号を生成する２値化回路である。
【００７９】
８は、位相比較器５と、ＬＰＦ６と、ＶＣＯ７とからなるＰＬＬ回路であり、再生クロックを生成するものである。位相比較器５は、再生データ信号と、再生クロックとの位相誤差を検出して、再生データ信号の極性反転位置での位相誤差量である随時位相誤差量を検出する。
【００８０】
９は、再生データ信号と再生クロック信号とから、再生データ信号のパターンを検出するパターン検出回路、１０は、位相比較器５より出力される随時位相誤差量と、パターン検出回路９の出力とに基づいて、各パターン毎の随時位相誤差量の平均値であるパターン平均位相誤差量を求めるパターン位相誤差平均化回路である。
【００８１】
１５は、記録発光波形調整部であり、パターン位相誤差平均化回路１０の出力から、調整すべき記録パラメータを決定する可変エッジ決定回路１１と、可変エッジ決定回路１１の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録パルス生成回路１２とからなる。
【００８２】
１３は、レーザ駆動手段であるレーザ駆動回路であり、１４は、再生信号のアシンメトリ値を検出するアシンメトリ検出回路である。１６は、アシンメトリ検出回路１４の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定部であり、記録パワー調整実行回路１７と、記録パワー調整用記録パワー設定回路１８とからなる。
【００８３】
１９は、アシンメトリ検出回路１４により検出されたアシンメトリ値に基づいて、記録パワー調整を実行するか否かを判断する記録パワー調整実行判断回路である。
【００８４】
次に本実施の形態１の情報記録再生装置１００の動作を、図１の構成図、および図８の記録学習方法を説明するためのフローチャートを用いて説明する。
【００８５】
本実施の形態１の光ディスク装置１００の、従来の光ディスク装置２００との違いは、アシンメトリ検出回路１４の出力に応じて記録パワー調整を実行するかを判断するアシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９を有していることと、その記録学習方法においてライトストラテジ調整の記録パラメータを変更した後でアシンメトリ測定を行い、アシンメトリ値が所定値以内の場合は記録パワー調整を実行せず、所定値以上であれば記録パワー調整を実行することとである。
【００８６】
一般に記録学習は、データの記録を行うに先立ち最適な記録品質を得られるようライトストラテジや記録パワーを最適化するために行われる。記録学習は、記録パワー調整とライトストラテジ調整を繰り返すことにより、最適なライトストラテジと記録パワーを決定するものである。
【００８７】
本実施の形態１において、光ディスク装置１００は光学ヘッド２を移動しＰＣＡでデータの記録再生が行えるようにするとともに、記録学習を行うために、初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行う（ステップＳ８０１）。
【００８８】
次に、上記従来の光ディスク装置２００における記録パワー調整ＲＰＡと同様な記録パワー調整ＲＰＡを行い、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ８０２）。
【００８９】
次に、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ８０３）、その後、ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し、再生信号を得る。再生信号は、図１の波形等化器３によって整形されたあと、２値化回路４によって２値化され、再生データ信号となる。図１の位相比較器５は、入力された再生データ信号に基づき、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ８０４）。
【００９０】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ８０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は求めたパターン平均位相誤差量をもとにパターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを変更の必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。
【００９１】
そののち、記録パルス生成回路１２は可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを位相誤差が０になる方向に変更する（ステップ８０６）。上記ステップＳ８０３〜Ｓ８０６よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを、所定回数繰り返し（ステップＳ８０７）、記録パラメータの変更を繰り返す。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。
【００９２】
上記のように所定回数の記録パラメータの調整を繰り返した後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリをアシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ８０８）。
【００９３】
次に、図１のアシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、この測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整ＲＰＡの目標アシンメトリ値に対して所定以内の範囲であれば（ステップＳ８０９でＹＥＳ）、記録パワー調整ＲＰＡは実行する必要がないと判断し、図１のパワー調整実行回路１７に、記録パワー調整ＲＰＡを行わないよう指令する。このときの所定以内の範囲は、目標アシンメトリとの差が、記録パワー調整ＲＰＡでの調整誤差に対応するアシンメトリ値であるものとする。例えば、記録パワー調整ＲＰＡでの調整誤差が記録パワーで±０．２ｍＷとすると、±０．２ｍＷに相当するアシンメトリ値（例えば±１％）以内であれば記録パワー調整ＲＰＡを行わないようにする。
【００９４】
これにより、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減り、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられる。
【００９５】
一方、測定したアシンメトリ値が記録パワー調整ＲＰＡの目標アシンメトリ値に対して所定値範囲以外であれば（ステップＳ８０９でＮＯ）、従来と同様、記録パワー調整ＲＰＡ（ステップＳ８０２）を行う。
【００９６】
そして、これら記録パワー調整ＲＰＡと、ライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、すべてのマークエッジの位相誤差が一定値以内になった時点で記録学習を終了する。
【００９７】
なお、前記実施の形態１では、記録パワー調整実行判断手段は記録パワー調整の実行可否判断範囲を記録パワー調整の調整誤差範囲で判断するものとしたが、これは例えば複数の光ディスク装置で確認し、記録パワー調整の必要がないとして決定した範囲であっても良い。
【００９８】
以上のように、本実施の形態１の情報記録再生装置によれば、記録パワー調整とライトストラテジ調整とを繰り返して行なう記録学習において、ライトストラテジ調整を行った後にアシンメトリを測定し、アシンメトリ値が所定の範囲内の場合は記録パワー調整を実行せず、アシンメトリ値が所定の範囲外の場合に記録パワー調整を実行するようにしたので、記録学習における記録パワー調整の実行頻度を減らすことができ、これにより、記録学習時間を短縮することができ、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。
【００９９】
（実施の形態２）
図１０は、本実施の形態２による情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【０１００】
本実施の形態２による光ディスク装置３００は、実施の形態１の光ディスク装置１００の構成において、標準化パターン位相誤差演算回路２０を、さらに備えたものである。
【０１０１】
標準化パターン位相誤差演算回路２０は、パターン位相誤差平均化回路１０により演算されたパターン平均位相誤差量のうち、３ｓ３ｍパターン、及び３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に、各パターンの標準化パターン位相誤差量を求めるものである。
【０１０２】
次に、本実施の形態２の光ディスク装置３００の動作を、図１０の構成図、図１３の記録学習方法を説明するためのフローチャート、図１６のパターン位相誤差テーブルを用いて、説明する。
【０１０３】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１３０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡを行う、すなわち、記録パワー設定部１６により、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１３０２）。
【０１０４】
そして次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１３０３）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得、位相比較器５により、入力された再生信号から、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１３０４）。
【０１０５】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１３０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。
【０１０６】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、標準化パターン位相誤差演算回路２１は、前記求めたパターン平均位相誤差量をもとにパターン平均位相誤差量のうち３ｓ３ｍパターンおよび３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に標準化を行い、標準化位相誤差量を求める（ステップＳ１３０６）。
【０１０７】
例えば、図１６の（ａ）、（ｂ）は、パターン位相誤差平均化回路１０によって求められたパターン位相誤差テーブルである。前端のパターン位相誤差テーブルにおいて、３ｓ３ｍパターンの平均位相誤差量は＋５％であるため、この値を基準に、前端の３ｓ３ｍパターン以外の信号パターンの平均位相誤差量を−５％し、標準化パターン位相誤差量を求めると、図１６の（ｃ）の標準化パターン位相誤差テーブルが得られる。また、後端のパターン位相誤差テーブルにおいても、３ｍ３ｓパターンの平均位相誤差量を基準に、標準化パターン位相誤差量を求めると、図１６の（ｄ）の標準化パターン位相誤差テーブルが得られる。
【０１０８】
次に、図１０の可変エッジ決定回路１１は、前記標準化パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。そして、図１０の記録パルス生成回路１２は、前記可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する（ステップ１３０７）。
【０１０９】
上記ステップＳ１３０３〜Ｓ１３０７よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを、所定回数繰り返し（ステップＳ１３０８）、記録パラメータの変更を繰り返す。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。
【０１１０】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返した後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリを、アシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ１３０９）
【０１１１】
次に、アシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、上記の測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定値以内の範囲内にあれば（ステップＳ１３１０でＹＥＳ）、記録パワー調整はする必要がないと判断し、パワー調整実行回路１７に記録パワー調整を行わないよう指令する（図１３のフローでは、ステップＳ１３１０でＹＥＳのとき、記録パワー調整ＲＰＡのステップＳ１３０２を経ずに、ライトストラテジ調整ＷＳＡに入る）。
【０１１２】
このとき、記録パラメータの変更エッジを、標準化パターン位相誤差量により決定しているため、アシンメトリの変化が抑えられ、測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定以内になる確率が増加する。
【０１１３】
これは一般的な記録データは、３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多いため、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているので、３Ｔマークの位相誤差を基準に、記録パラメータを調整することにより、アシンメトリの変化を抑えることができるからである。
【０１１４】
これにより、図１３のライトストラテジ調整ＷＳＡを行った後にアシンメトリ測定を行うと、アシンメトリの変動が少ないため、アシンメトリ値が所定の範囲内に収まる確率が高くなり、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減るため、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。
【０１１５】
一方、上記ステップＳ１３０９でアシンメトリ値を測定したのち、該測定したアシンメトリ値が所定の範囲外にあると判断した場合（ステップＳ１３１０においてＮＯ）は、従来と同様、記録パワー調整ＲＰＡ（ステップＳ１３０２）を実行する。
【０１１６】
そして、これら記録パワー調整ＲＰＡと、ライトストラテジ調整ＷＳＡを繰り返し、すべてのマークエッジの位相誤差が一定値以内になった時点で記録学習を終了する。
【０１１７】
以上のように、本実施の形態２の情報記録再生装置によれば、実施の形態１の情報記録再生装置の構成において、標準化パターン位相誤差演算回路を設け、該標準化パターン位相誤差演算手段の出力をもとに記録発光波形調整手段により記録発光波形を調整するようにし、記録パワー調整実行判断手段によりアシンメトリ検出手段の出力である記録状態が所定の範囲内にある場合は記録パワー調整を行わないようにしたので、ライトストラテジ調整後にアシンメトリを測定し、該アシンメトリが所定のアシンメトリ値以下のときは記録パワー調整を実施しないようにしていることにより、記録学習の時間を短縮でき、ＰＣＡの消費量をも低く抑えることができる。
【０１１８】
また、前記標準化パターン位相誤差演算手段は、前記パターン位相誤差平均手段の出力に対しそのうち最短マークとその前端の最短スペースのパターン、および最短マークとその後端の最短スペースのパターンの位相誤差平均値の値を基準に標準化を行って標準化パターン位相誤差を求め、このアシンメトリに関連する最短マーク長の標準化パターン位相誤差を基準にライトストラテジを調整しているため、ライトストラテジ調整でのアシンメトリ変動を抑えることができ、記録パワー調整による記録パワー調整量が少なくなり、記録パワー調整による位相誤差のずれ量が少なくなって、より精密なライトストラテジ調整が可能となる効果が得られる。
【０１１９】
（実施の形態３）
図１１は、本実施の形態３に係る情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示す図である。
【０１２０】
本実施の形態３による光ディスク装置５００は、実施の形態１による光ディスク装置１００の構成において、記録パワー調整実行判断回路１９に代えて、最短マークエッジ可変確認回路２１、および可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２２を、備えたものである。
【０１２１】
最短マークエッジ可変確認回路２１は、ある記録パワーでのライトストラテジ調整において、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更されたか否かを判定し、その結果を出力するものである。
【０１２２】
可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２２は、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更された場合は、記録パワー調整を行なうが、３Ｔマーク関連の記録パラメータが変更されていない場合は、記録パワー調整を行なわないよう記録パワー設定部１６に指令を与えるものである。これは、一般的な記録データは３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多く、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているので、３Ｔマークに関連した記録パラメータが調整されていなければ、アシンメトリの変化が少ないと推定できることによる。
【０１２３】
次に、本実施の形態３の光ディスク装置５００の動作を、図１１の構成図、および図１４の記録学習方法を説明するためのフローチャートを用いて説明する。
【０１２４】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１４０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡを行う、すなわち、記録パワー設定部１６により、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１４０２）。
【０１２５】
そして次に、ライトストラテジ調整ＷＳＡにおいては、まず、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１４０３）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得、位相比較器５により、入力された再生データ信号から、再生データ信号と、再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１４０４）。
【０１２６】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に、位相比較器５の出力である随時位相誤差量を、パターン位相誤差平均化回路１０により平均化してパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１４０５）、一定値以内であれば記録学習を終了する。
【０１２７】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は、前記求めたパターン平均位相誤差量をもとに、該パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを、変更必要なエッジとして決定する。このとき、前端のエッジと後端のエッジは、別々に決定される。そして、記録パルス生成回路１２により、可変エッジ決定回路１１で決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを、位相誤差が０になる方向に変更する（ステップＳ１４０６）。
【０１２８】
上記ステップＳ１４０３〜Ｓ１４０６よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数繰り返し（ステップＳ１４０７）、記録パラメータの変更を繰り返す。このとき、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのは、該ライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。
【０１２９】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返した後、最短マークエッジ可変確認回路２２は、前回の記録パワー調整時の記録パラメータと、所定回数記録パラメータの調整を繰り返した記録パラメータとを比較し、３ｓ３ｍパターン、および３ｍ３ｓパターンのエッジの記録パラメータ（ＬＢ３３、ＴＢ３３）の変更があったかを、確認する（ステップＳ１４０８）
【０１３０】
可変エッジ記録パワー調整実行判断回路２０は、３ｓ３ｍパターン、および３ｍ３ｓパターンのエッジの変更がない場合（ステップＳ１４０８でＮＯ）は、アシンメトリの変動は少ないと推定し、記録パワー調整ＲＰＡを行わず、変更があった場合（ステップＳ１４０８でＹＥＳ）は、アシンメトリの変動があると判断し、従来と同じ記録パワー学習を行うよう記録パワー調整実行回路１７に指令する。
【０１３１】
このように最短マークである３Ｔマークに関連した信号パターンの記録パラメータの変更の有無によっては記録パワーの調整をしないようにする理由は、一般的な記録データは、３Ｔマークや３Ｔスペースのような最短長の記録データの反転が最も発生頻度が多く、そのため、３Ｔマークの記録状態とアシンメトリとが密接に関係しているため、３Ｔマークに関連した記録パラメータの調整の有無により、アシンメトリの変化が少ないことを推定できるためである。
【０１３２】
これにより、図１４のライトストラテジの調整を行った後に、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更が無い場合には、記録パワー調整ＲＰＡを行わないため、記録パワー調整ＲＰＡを実行する頻度が減り、記録学習時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。
【０１３３】
以上のように、本実施の形態３による情報記録再生装置によれば、ライトストラテジを調整した後に、当該ライトストラテジ調整において３Ｔマーク関連の記録パラメータが調整されたか否かを確認し、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更が無い場合は、アシンメトリ変化が少ないと推定して記録パワー調整を行わず、３Ｔマーク関連の記録パラメータの変更がなされた場合のみ記録パワー調整を行うので、記録学習において記録パワー調整を実行する頻度を減らすことができ、この結果、記録学習時間を短縮し、ＰＣＡの消費量を抑えることが可能となる。
【０１３４】
（実施の形態４）
図１２は、本実施の形態４に係る情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示す図である。
【０１３５】
本実施の形態４による光ディスク装置７００の、実施の形態１の光ディスク装置１００との主な相違は、記録パワー調整範囲決定回路２３を設けたものである。
【０１３６】
記録パワー調整範囲決定回路２３は、アシンメトリ検出回路１４の出力から記録パワー調整を実行するか否かを判断し、かつ、記録パワー調整が必要と判断した場合は、その記録パワーを変化させる範囲を、アシンメトリ検出回路１４の出力に応じて変更するものである。
【０１３７】
次に、本実施の形態４の光ディスク装置７００の動作を、図１２の構成図、図１５の記録学習方法を説明するためのフローチャート図、および図１７の記録パワー調整の説明図を用いて、説明する。
【０１３８】
まず、記録学習を行うために初期記録パラメータの設定と、初期記録パワーの設定を行い（ステップＳ１５０１）、次に、記録パワー調整ＲＰＡにおいて、設定記録パワーを中心に記録パワーを変化させて記録パワー調整用学習パターンを記録するステップＳ１５０２、各記録パワーでのアシンメトリを測定するステップＳ１５０３を経て、最適な記録パワーを決定し設定する（ステップＳ１５０４）。
【０１３９】
そして、ライトストラジ調整ＷＳＡにおいて、設定されたライトストラテジでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録し（ステップＳ１５０５）、その後ライトストラテジ調整用学習パターンを再生し再生信号を得て、２値化回路４によって再生データ信号を得る。位相比較器５は入力された再生データ信号に基づき、再生データ信号と再生クロック信号との位相誤差を測定する（ステップＳ１５０６）。
【０１４０】
次に、パターン検出回路９で検出されたパターン毎に位相比較器５の出力である随時位相誤差量をパターン位相誤差平均化回路１０により平均化しパターン平均位相誤差量を求め、全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内かを判定し（ステップＳ１５０７）、一定値以内であれば記録学習を終了する。
【０１４１】
一方、前記全てのパターン平均位相誤差量が一定値以内でない場合は、可変エッジ決定回路１１は前記求めたパターン平均位相誤差量をもとに該パターン平均位相誤差量の最も大きな位相誤差量の信号パターンのエッジを変更必要なエッジとして決定する。ここで、前端のエッジと後端のエッジは別々に決定される。
【０１４２】
図１２の記録パルス生成回路１２は、前記可変エッジ決定回路１１により決定された前端および後端のエッジの記録パラメータを位相誤差が０になる方向に変更する（ステップＳ１５０８）。
【０１４３】
上記ステップＳ１５０５〜Ｓ１５０８よりなるライトストラテジ調整ＷＳＡを所定回数繰り返し記録パラメータの変更を繰り返す（ステップＳ１５０９）。ここで、前端と後端の記録パラメータの変更を同時に行うのはライトストラテジ調整ＷＳＡを効率よく行うためである。
【０１４４】
上記のように所定回数記録パラメータの調整を繰り返し後、最後の記録パラメータでライトストラテジ調整用の学習パターンを記録した領域のアシンメトリをアシンメトリ検出回路１４で測定する（ステップＳ１５１０）。
【０１４５】
次に、アシンメトリ記録パワー調整実行判断回路１９により、この測定されたアシンメトリ値が記録パワー調整の目標アシンメトリ値に対して所定値以内の範囲であれば（ステップＳ１５１１でＹＥＳ）記録パワー調整はする必要がないと判断し、パワー調整実行回路１７に記録パワー調整を行わないよう、すなわち記録パワー調整ＲＰＡに行かず、ライトストラテジ調整ＷＳＡに行くよう指令する。また測定されたアシンメトリが所定の範囲内にない場合は（ステップＳ１３０４でＮＯ）、記録パワー調整ＲＰＡに行くよう指令する。
【０１４６】
この記録パワー調整ＲＰＡが実施されるとき、記録パワー調整範囲決定回路２３は、測定されたアシンメトリ値を記録パワー調整ＲＰＡでの目標アシンメトリ値と比較し、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きい場合（ステップＳ１５１２でＹＥＳ）は、ステップＳ１５１３に進んで、記録パワー調整ＲＰＡの記録パワー範囲を、設定記録パワーより小さい範囲に設定し記録パワーの決定および記録パワー調整用学習パターンの記録を行い、目標アシンメトリ値より小さい場合（ステップＳ１５１２でＮＯ）は、ステップＳ１５１４に進んで、記録パワー調整ＲＰＡの記録パワー範囲を、設定記録パワーより大きい範囲に設定し記録パワーの決定および記録パワー調整用学習パターンの記録を行う。
【０１４７】
このとき測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きな場合は、記録パワーを下げる必要があるため、記録パワー調整範囲は設定記録パワーより小さな記録パワーとなるように調整すればよい。そのため、記録パワー調整ＲＰＡでの記録パワー範囲を設定記録パワーから−２０％の範囲で４％づつ記録パワーを変化させて記録するようにすればよい。
【０１４８】
また、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より小さな場合は、記録パワーを上げる必要があるため、記録パワー調整範囲は設定記録パワーより大きな記録パワーとなるように調整すればよい。そのため、記録パワー調整ＲＰＡでの記録パワー範囲を設定記録パワーから＋２０％の範囲で４％づつ記録パワーを変化させて記録するようにすればよい。
【０１４９】
例えば、設定記録パワーを２０ｍＷとすると、測定されたアシンメトリ値が目標アシンメトリ値より大きな場合は、図１７の（ａ）のように記録パワーを変化させて記録を行い、アシンメトリ値が目標アシンメトリよりも小さな場合は、図１７の（ｂ）のように記録パワーを変化させて記録を行うようにする。
【０１５０】
これは、ライトストラテジ調整後にアシンメトリ測定を行うことにより、記録パワー調整をする前にライトストラテジ調整ＷＳＡで決定された記録パラメータで記録した場合に、設定記録パワーが目標アシンメトリ値の記録パワーに対して大きいがどうかを判定できるためである。
【０１５１】
これにより、記録パワー調整ＲＰＡが実行された場合において記録パワー範囲を制限できるため、記録パワー調整時間が短縮されるとともに、ＰＣＡの消費量も抑えられるものである。
【０１５２】
以上のような本実施の形態４による情報記録再生装置によれば、実施の形態１の情報記録再生装置の構成において、記録パワー調整範囲決定手段である記録パワー調整範囲決定回路を設けて、アシンメトリ検出手段の出力である記録状態が所定の記録状態より記録パワーが大きい場合は、記録パワー調整の記録パワー範囲を設定記録パワー以下とし、所定の記録状態より記録パワーが小さい場合は、記録パワー調整の記録パワー範囲を設定記録パワー以上とするようにしたので、現在の設定記録パワーでのアシンメトリ値と目標アシンメトリ値との差が分かるため、記録パワー調整における記録パワーの可変範囲を制限することができ、ＰＣＡの消費量を抑えられるとともに、記録パワー調整の時間をも短縮することができる効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【０１５３】
本発明の情報記録再生装置によれば、記録対象の光ディスクの特性に合った記録条件を求める記録学習にかかる時間を短縮できるとともにＰＣＡの消費量も抑えることができ、たとえば光ディスク装置において、データの録画指令を受けてから実際に記録を開始するまでの時間を短くすることができる点において有用である。
【符号の説明】
【０１５４】
１  光ディスク
２  レーザ駆動回路
３  波形等化器
４  ２値化回路
５  位相比較器
６  ＬＰＦ
７  ＶＣＯ
８  ＰＬＬ回路
９  パターン検出器
１０  パターン位相誤差平均化回路
１１  可変エッジ決定回路
１２  記録パルス生成回路
１３  レーザ駆動回路
１４  アシンメトリ検出回路
１５  記録発光波形調整部
１６  記録パワー設定部
１７  記録パワー調整実行回路
１８  記録パワー調整用記録パワー設定回路
１９  記録パワー調整実行判断回路
２０  標準化パターン位相誤差演算回路
２１  最短マークエッジ可変確認回路
２２  可変エッジ記録パワー調整実行判断回路
２３  記録パワー調整範囲決定回路
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項３】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに、記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに、再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と、再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力を、最短マークの位相誤差平均値の値を基準に標準化する標準化パターン位相誤差演算回路と、
前記標準化パターン位相誤差演算回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項４】
請求項３に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整実行判断回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項５】
請求項３または４に記載の情報記録再生装置において、
前記標準化パターン位相誤差演算回路は、前記パターン位相誤差平均回路の出力のうち、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの位相誤差平均値の値を基準に、前記パターン位相誤差平均回路の出力を標準化する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項６】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記記録発光波形調整回路において最短マークに関連する記録発光波形が調整されたか否かを判定する記録発光波形調整実施確認回路と、
前記記録発光波形調整実施確認回路による判定結果を受け、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整された場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記最短マークに関連する記録発光波形が調整されなかった場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する記録パワー調整実行判断回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項７】
請求項６に記載の情報記録再生装置において、
前記記録発光波形調整実施確認回路は、最短マークとその前端の最短スペースよりなるパターン、及び最短マークとその後端の最短スペースよりなるパターンの記録発光波形が調整されたか否かを確認する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項８】
記録媒体に形成されるマークの前端、及び後端に情報を有するマークエッジ記録方式により記録された波形信号から情報を再生する情報記録再生装置において、
前記記録媒体の記録面にレーザ光を照射して記録データを記録するレーザ駆動回路と、
前記記録媒体からの再生信号から、記録パワーに応じて変化する記録状態を検出するアシンメトリ検出回路と、
前記アシンメトリ検出回路の出力をもとに記録パワー調整を行う記録パワー設定回路と、
前記再生信号をもとに再生クロックを生成する再生クロック生成回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、再生信号と再生クロックとの位相誤差を検出する位相誤差検出回路と、
前記再生信号、及び前記再生クロックをもとに、前記再生信号のパターンを検出するパターン検出回路と、
前記パターン検出回路の出力と、前記位相誤差検出回路の出力とから、各パターンごとの位相誤差の平均値を求めるパターン位相誤差平均回路と、
前記パターン位相誤差平均回路の出力をもとに、記録発光波形を調整する記録発光波形調整回路と、
前記検出された記録状態が所定の範囲外にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が所定の範囲内にある場合は、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御し、前記記録パワー調整を行うよう制御する際は、前記検出された記録状態が所定の値より大きい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以下に設定し、前記検出された記録状態が前記所定の値より小さい場合は、記録パワー調整における記録パワーの変更範囲を設定記録パワー以上に設定する記録パワー調整範囲決定回路と、を備える、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項９】
請求項８に記載の情報記録再生装置において、
前記記録パワー調整範囲決定回路は、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲外にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行うよう制御し、前記検出された記録状態が、記録パワー調整における調整誤差の記録パワーに相当する記録状態の範囲内にある場合に、前記記録パワー設定回路に対して記録パワー調整を行わないよう制御する、
ことを特徴とする情報記録再生装置。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2009001522.tif 000020
【図２】
2009001522.tif 000021
【図３】
2009001522.tif 000022
【図４】
2009001522.tif 000023
【図５】
2009001522.tif 000024
【図６】
2009001522.tif 000025
【図７】
2009001522.tif 000026
【図８】
2009001522.tif 000027
【図９】
2009001522.tif 000028
【図１０】
2009001522.tif 000029
【図１１】
2009001522.tif 000030
【図１２】
2009001522.tif 000031
【図１３】
2009001522.tif 000032
【図１４】
2009001522.tif 000033
【図１５】
2009001522.tif 000034
【図１６】
2009001522.tif 000035
【図１７】
2009001522.tif 000036
【国際調査報告】
2009001522.tif 000037
2009001522.tif 000038
2009001522.tif 000039