(57)【要約】  この発明は、温度分布測定等における位置の測定誤差を効果的に低減するための構造を備えた光ファイバ特性分布センサに関する。当該センサは、一部が測定対象物に設置され、プローブ光とポンプ光が対向入射される光ファイバ部を備える。光ファイバ部はマーカー部を含み、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態でマーカー部におけるＢＧＳの形状関連データが事前に測定されている。ＢＧＳの形状関連データを測定しながら光ファイバ部の長手方向の特性分布を算出する際、一例として、プローブ光及びポンプ光の位相差走査範囲をシフトさせることで、算出される利得発生位置が誤差補正される。位相差走査範囲のシフト量は、マーカー部で発生した利得を反映するＢＧＳが測定されたときの測定時位相差と、該マーカー部におけるＢＧＳの既知の形状関連データが事前測定されたときの基準位相差との差分値によって与えられる。
2008023699.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プローブ光及びポンプ光を出力する光源システムと、
前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する位相差調整部と、
少なくとも一部が測定対象物に設置され、前記プローブ光が一端から入力される一方、前記ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が前記光源システムに光学的に接続された光ファイバ部であって、前記プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータが事前に測定されているマーカー部を含む光ファイバ部と、
前記光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、該ブリルアン散乱により受光プローブ光が得たブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定するスペクトル測定部と、
前記マーカー部で発生した利得を反映するブリルアンゲインスペクトルが前記スペクトル測定部により測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、前記マーカー部に関する前記基準データが測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分を算出する位相差差分算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルの発生位置を決定する位置算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルごとに、その形状に関連するデータから前記光ファイバ部における各部の特性情報を抽出する特性算出部と、そして、
前記位置算出部で算出された発生位置に関する情報と前記特性算出部で算出された特性に関する情報とから、前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する特性分布算出部と、を備えた光ファイバ特性分布センサにおいて、
前記位相差調整部は、前記位相差差分算出部で算出された差分値だけ位相差の走査範囲をシフトさせることで、前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する光ファイバ特性分布センサ。
【請求項２】
プローブ光及びポンプ光を出力する光源システムと、
前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する位相差調整部と、
前記プローブ光及びポンプ光の少なくともいずれかに遅延を与える光遅延器と、
少なくとも一部が測定対象物に設置され、前記プローブ光が一端から入力される一方、前記ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が前記光源システムに光学的に接続された光ファイバ部であって、前記プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータが事前に測定されているマーカー部を含む光ファイバ部と、
前記光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、該ブリルアン散乱により受光プローブ光が得たブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定するスペクトル測定部と、
前記マーカー部で発生した利得を反映するブリルアンゲインスペクトルが前記スペクトル測定部により測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、前記マーカー部に関する前記基準データが測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分を算出する位相差差分算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルの発生位置を決定する位置算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルごとに、その形状に関連するデータから前記光ファイバ部における各部の特性情報を抽出する特性算出部と、
前記位置算出部で算出された発生位置に関する情報と前記特性算出部で算出された特性に関する情報とから、前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する特性分布算出部と、そして、
前記位相差差分算出部で算出された差分値に基づいて、前記光遅延器が与える遅延を調整する遅延調整部と、を備えた光ファイバ特性分布センサ。
【請求項３】
前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する際の位置情報を得るためのカウントを提供する時計を更に備え、
前記位相調整部は、前記時計により提供されるカウントごとに、前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整し、前記スペクトル測定部は、前記時計により提供されるカウントごとにブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定し、そして、前記位置算出部は、前記時計より提供されるカウント情報を利用して、測定されたブリルアンゲインスペクトルの発生位置を決定することを特徴とする請求項１又は２記載の光ファイバ特性分布センサ。
【請求項４】
プローブ光及びポンプ光を出力する光源システムと、
前記光源システムから出力される前記プローブ光及びポンプ光の位相差を調整する位相差調整部と、
前記プローブ光及びポンプ光の少なくともいずれかに遅延を与える光遅延器と、
少なくとも一部が測定対象物に設置され、前記プローブ光が一端から入力される一方、前記ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が前記光源システムに光学的に接続された光ファイバ部であって、前記プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータが事前に測定されているマーカー部を含む光ファイバ部と、
前記光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、ブリルアン散乱により受光プローブ光が得た利得のスペクトルであるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定するスペクトル測定部と、
前記位相差調整部により調整された前記プローブ光及びポンプ光の位相差に基づいて、前記スペクトル測定部により測定されるブリルアンゲインスペクトルの発生位置を算出する位置算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータから、前記光ファイバ部における各部の特性情報を抽出する特性算出部と、
前記位置算出部で算出された発生位置に関する情報と前記特性算出部で算出された特性に関する情報とから、前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する特性分布算出部と、そして、
前記マーカー部におけるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する測定データが事前に測定された前記基準データと一致するよう、前記光遅延器が与える遅延を調整する遅延調整部と、を備えた光ファイバ特性分布センサ。
【請求項５】
プローブ光及びポンプ光を出力する光源システムと、
前記光源システムから出力される前記プローブ光及びポンプ光の位相差を調整する位相差調整部と、
少なくとも一部が測定対象物に設置され、前記プローブ光が一端から入力される一方、前記ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が前記光源システムに光学的に接続された光ファイバ部であって、前記プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータが事前に測定されているマーカー部を含む光ファイバ部と、
前記光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、ブリルアン散乱により受光プローブ光が得た利得のスペクトルであるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定するスペクトル測定部と、
前記位相差調整部により調整された前記プローブ光及びポンプ光の位相差に基づいて、前記スペクトル測定部により測定されるブリルアンゲインスペクトルの発生位置を算出する位置算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータから、前記光ファイバ部における各部の特性情報を抽出する特性算出部と、
前記位置算出部で算出された発生位置に関する情報と前記特性算出部で算出された特性に関する情報とから、前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する特性分布算出部と、を備えた光ファイバ特性分布センサにおいて、
前記位相差調整部は、前記マーカー部におけるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する測定データが事前に測定された前記基準データと一致するよう、前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する光ファイバ特性分布センサ。
【請求項６】
プローブ光及びポンプ光を出力する光源システムと、
前記光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する位相差調整部と、
少なくとも一部が測定対象物に設置され、前記プローブ光が一端から入力される一方、前記ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が前記光源システムに光学的に接続された光ファイバ部であって、前記プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータが事前に測定されているマーカー部を含む光ファイバ部と、
前記光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、ブリルアン散乱により受光プローブ光が得た利得のスペクトルであるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータを測定するスペクトル測定部と、
前記マーカー部で発生した利得を反映するブリルアンゲインスペクトルが前記スペクトル測定部により測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、前記マーカー部に関する前記基準データが測定されたときの前記プローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分を算出する位相差差分算出部と、
前記位相差調整部により調整された前記プローブ光及びポンプ光の位相差と、前記位相差差分算出部で算出された差分値に基づいて、前記スペクトル測定部により測定されるブリルアンゲインスペクトルの発生位置を算出する位置算出部と、
前記スペクトル測定部により測定されたブリルアンゲインスペクトルの形状に関連するデータから、前記光ファイバ部における各部の特性情報を抽出する特性算出部と、そして、
前記位置算出部で算出された発生位置に関する情報と前記特性算出部で算出された特性に関する情報とから、前記光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する特性分布算出部と、を備えた光ファイバ特性分布センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ファイバから出力されるブリルアン散乱による利得を利用して温度測定又は歪測定を行う光ファイバ特性分布センサに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ファイバにおいて発生したブリルアン散乱に起因する利得が反映されたブリルアンゲインスペクトル（以下、ＢＧＳという）の形状は、光ファイバにおいてそのブリルアン散乱による利得が発生した位置の温度及び歪により変化する。この変化を利用して温度及び歪を測定する技術が知られている。【０００３】
下記非特許文献１には、ＢＯＣＤＡ（Brillouin Optical Correlation Domain Analysis）を用いて光ファイバの歪を測定する技術が記載されている。ＢＯＣＤＡは、プローブ光及びポンプ光を測定用光ファイバの両端から対向入射させ、測定用光ファイバ中における両者の位相が一致する位置において利得を発生させる技術である。下記非特許文献１に記載の技術では、プローブ光及びポンプ光の位相差を変化させることにより、測定用光ファイバの各位置で利得を発生させ、各利得のＢＧＳを測定することにより測定用光ファイバの歪分布を求めている。
【非特許文献１】Kazuo HOTATE, et al., 「Simplified System of Fiber Brillouin Optical Correlation Domain Analysis for Distributed Strain Sensing」, 第16回光ファイバセンサ国際会議(OFS-16), 2003年10月, We2-3, p.290-293
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
発明者らは、従来技術について検討した結果、以下のような課題を発見した。すなわち、上記非特許文献１に記載されたＢＯＣＤＡでは、プローブ光及びポンプ光の位相差は次のように設定される。まず、位相差を指示する指示値に応じてある周波数、振幅で変調された注入電流が波形発生器により出力される。この出力された注入電流がＤＦＢ−ＬＤに入力され、それぞれ光周波数変調されたプローブ光及びポンプ光が出力される。出力されたプローブ光は、遅延用光ファイバを介して測定用光ファイバに入力される。【０００５】
ところが、指示値に対する波形発生器から出力される注入電流、及び、注入電流に対するＤＦＢ−ＬＤの光周波数応答特性は、経時的に変化する。よって、ＤＦＢ−ＬＤから出力されたポンプ光及びプローブ光の位相差の実際の値は、指示値に対して経時的に変化する。【０００６】
また、遅延用光ファイバに与えられる引張張力の変化又は温度変化が起こると、プローブ光の光路長が変化する。プローブ光の光路長が変化すると、測定用光ファイバに入力するときのプローブ光の位相が変化する。【０００７】
これらの要因から、測定用光ファイバ中の各位置における位相差が設定した値から変化し、指示値が示す位相差及び遅延用光ファイバが与える遅延に基づいて算出する温度測定位置がずれることになる。この場合、ＢＧＳ形状に基づく温度分布測定に誤差が生じる。【０００８】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたものであり、温度分布や歪分布などの特性分布の測定における位置の測定誤差を効果的に低減するための構造を備えた光ファイバ特性分布センサを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、長手方向の位置が既知であってその位置におけるＢＧＳ変化も既知であるマーカー部を含む光ファイバ部を備え、該光ファイバ部におけるマーカー部の測定された位置情報と既知の位置情報とが異なる状況に起因する測定誤差を補正していくための構造を備える。この誤差補正としては、マーカー部の測定された位置情報と既知の位置情報とが一致するよう、プローブ光とポンプ光の位相差を補正する方法と、マーカー部の測定された位置情報と既知の位置情報のずれに基づいて位置測定結果を補正する方法がある。また、プローブ光とポンプ光との位相差の補正には、測定された位相差と既知の位相差との差分値を利用した調整と、測定されたＢＧＳを既知のＢＧＳに一致させる調整がある。【００１０】
測定された位相差と既知の位相差との差分値を利用した調整の場合、この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、光源システムと、光ファイバ部と、位相差調整部と、スペクトル測定部と、位相差差分算出部と、位置算出部と、特性算出部と、そして、特性分布算出部とを備える。【００１１】
光源システムは、プローブ光及びポンプ光を出力する。光ファイバ部は、少なくとも一部が測定対象物に設置され、プローブ光が一端から入力される一方、ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が光源システムに光学的に接続されている。また、光ファイバ部は、所定位置に配置されたマーカー部を含む。なお、このマーカー部に関しては、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のＢＧＳの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ＢＧＳの形状に関連するデータが事前に測定されている。位相差調整部は、光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。スペクトル測定部は、光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光しながら、ＢＧＳの形状に関連するデータを測定していく。位相差差分算出部は、マーカー部で発生した利得を反映するＢＧＳがスペクトル測定部により測定されたときのプローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、マーカー部に関する基準データが測定されたときのプローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分を算出する。位置算出部は、時計より提供されるカウント情報を利用して、測定されたＢＧＳの発生位置を決定する。特性算出部は、スペクトル測定部により測定されたＢＧＳごとに、その形状に関連するデータから光ファイバ部における各部の特性情報（温度又は歪）を抽出する。特性分布算出部は、位置算出部で算出された発生位置に関する情報と特性算出部で算出された特性に関する情報とから、光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する。【００１２】
特に、この発明に係る光ファイバ特性分布センサにおいて、位相差調整部は、位相差差分算出部で算出された差分値だけ位相差の走査範囲をシフトさせることで、光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。すなわち、光源システムから出力されるプローブ光とポンプ光の位相差が変化した分だけ、位相差調整部が位相差の走査範囲をシフトさせるので、該シフト分だけ位置算出部が算出する利得発生位置が誤差補正される。【００１３】
また、測定された位相差と既知の位相差との差分値を利用した調整の場合、この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、上述のような光源システム、光ファイバ部、位相差調整部、スペクトル測定部、位相差差分算出部、位置算出部、特性算出部、特性分布算出部の他、プローブ光及びポンプ光の少なくともいずれかに遅延を与える光遅延器と、該光遅延器に与える遅延を調整する遅延調整部を備えてもよい。この場合、遅延調整部は、位相差差分算出部で算出された差分値に基づいて、光遅延器が与える遅延を調整する。【００１４】
さらに、この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する際の位置情報を得るためのカウントを提供する時計を備えてもよい。この場合、位置情報としてのカウントが時計によって提供され、提供されるカウントごとに光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差が調整される。光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光は、光ファイバ部に対向入射される。プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴いブリルアン散乱光が発生し、発生したブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が光ファイバ部から出力される。そのＢＧＳの形状に関連するデータがカウントごとにスペクトル測定部によって測定される。また、光ファイバ部にはマーカー部が設けられており、そのマーカー部において発生した利得のＢＧＳの形状に関連するデータが基準データとして事前に得られている（光ファイバ部が所定温度かつ歪が加えられていない正常な状態に設置された状態で測定）。また、マーカー部で発生した利得を反映するＢＧＳがスペクトル測定部により測定されたときのプローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、マーカー部に関する基準データが測定されたときのプローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分が、位相差差分算出部によって算出される。そして、時計より提供されたカウントに基づきＢＧＳの発生位置が位置算出部によって決定される。測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから特性（温度または歪）に関する情報が特性算出部によって抽出され、位置算出部で算出された発生位置に関する情報と特性算出部で算出された特性情報とから特性分布が、特性分布算出部によって算出される。さらに、位相差差分算出部で算出された差分値だけ、位相差の走査範囲をシフトさせることで、光源システムから出力されるプローブ光およびポンプ光の位相差が位相差調整部によって調整される。この構成により、位置の測定誤差が低減される。【００１５】
測定されたＢＧＳを既知のＢＧＳに一致させる調整の場合、この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、光源システムと、位相差調整部と、光遅延器と、光ファイバ部と、スペクトル測定部と、位置算出部と、特性算出部と、特性分布算出部と、そして、遅延調整部とを備えてもよい。【００１６】
光源システムは、プローブ光及びポンプ光を出力する。位相差調整部は、光源システムから出力される前記プローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。光遅延器は、プローブ光及びポンプ光の少なくともいずれかにに遅延を与える。光ファイバ部は、少なくとも一部が測定対象物に設置され、プローブ光が一端から入力される一方、ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が光源システムに光学的に接続されている。また、光ファイバ部は、所定位置に配置されたマーカー部を含む。なお、このマーカー部に関しては、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のＢＧＳの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ＢＧＳの形状に関連するデータが事前に測定されている。スペクトル測定部は、光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、ブリルアン散乱により受光プローブ光が得た利得のスペクトルであるＢＧＳの形状に関連するデータを測定する。位置算出部は、位相差調整部により調整されたプローブ光及びポンプ光の位相差に基づいて、スペクトル測定部により測定されるＢＧＳの発生位置を算出する。特性算出部は、スペクトル測定部により測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから、光ファイバ部における各部の特性情報（温度又は歪）を抽出する。特性分布算出部は、位置算出部で算出された発生位置に関する情報と特性算出部で算出された特性に関する情報とから、光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する。そして、遅延調整部は、マーカー部におけるＢＧＳの形状に関連する測定データが事前に測定された基準データと一致するよう、光遅延器が与える遅延を調整する。【００１７】
上述のような構造により、この発明では、位相差調整部により位相差が調整されたプローブ光及びポンプ光が光源システムから出力される。プローブ光とポンプ光とのうち少なくとも一方には光遅延器によって遅延が与えられる。その後、プローブ光及びポンプ光が光ファイバ部に対向入射され、プローブ光及びポンプ光の伝搬によりブリルアン散乱光が光ファイバ部内で発生する。そして、発生したブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が光ファイバ部から出力される。そのＢＧＳの形状に関連するデータがスペクトル測定部によって測定される。また、位相差調整部で調整された位相差に基づいてＢＧＳの発生位置が位置算出部によって算出される。測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから特性（温度又は歪）に関する情報が特性算出部によって抽出される。さらに、それぞれ算出された発生位置に関する情報と特性に関する情報とから、光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布が特性分布算出部によって算出される。また、光ファイバ部に設けられたマーカー部において発生した利得のＢＧＳの形状に関連するデータは、基準データとして事前に得られている（光ファイバ部が所定温度かつ歪が加えられていない正常な状態に設置された状態で測定）。マーカー部におけるＢＧＳの形状に関連する測定データが事前に測定されている基準データとなるように、光遅延器によって与えられる遅延が遅延調整部によって調整される。よって、この構成によっても特性分布測定における位置の測定誤差は効果的に低減される。【００１８】
なお、測定されたＢＧＳを既知のＢＧＳに一致させる調整は、上述のように、光源システムと、光ファイバ部と、位相差調整部と、スペクトル測定部と、位相差差分算出部と、位置算出部と、特性算出部と、そして、特性分布算出部とを備えた光ファイバ特性分布センサによっても実現可能である。この場合、位相差調整部は、マーカー部におけるブリルアンゲインスペクトルの形状に関連する測定データが事前に測定された基準データと一致するよう、光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。この構成によっても特性分布測定における位置の測定誤差は効果的に低減される。【００１９】
さらに、この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、光源システムと、位相差調整部と、光ファイバ部と、スペクトル測定部と、位相差差分算出部と、位置算出部と、特性算出部と、そして、特性分布算出部とを備えてもよい。【００２０】
光源システムは、プローブ光及びポンプ光を出力する。位相差調整部は、光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。光ファイバ部は、少なくとも一部が測定対象物に設置され、プローブ光が一端から入力される一方、ポンプ光が他端から入力されるよう、その両端が光源システムに光学的に接続されている。また、光ファイバ部は、所定位置に配置されたマーカー部を含む。なお、このマーカー部に関しては、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光のＢＧＳの形状に関連する基準データとして、当該光ファイバ部が正常状態に設置された状態で該ＢＧＳの形状に関連するデータが事前に測定されている。スペクトル測定部は、光ファイバ部からの出力光として、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光を受光し、ブリルアン散乱により受光プローブ光が得た利得のスペクトルであるＢＧＳの形状に関連するデータを測定する。位相差差分算出部は、マーカー部で発生した利得を反映するＢＧＳがスペクトル測定部により測定されたときのプローブ光及びポンプ光の測定時位相差と、マーカー部に関する基準データが測定されたときのプローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分を算出する。位置算出部は、位相差調整部により調整されたプローブ光及びポンプ光の位相差と、位相差差分算出部で算出された差分値に基づいて、スペクトル測定部により測定されるＢＧＳの発生位置を算出する。特性算出部は、スペクトル測定部により測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから、光ファイバ部における各部の特性情報（温度又は歪）を抽出する。そして、特性分布算出部は、位置算出部で算出された発生位置に関する情報と特性算出部で算出された特性に関する情報とから、光ファイバ部の長手方向に沿った特性分布を算出する。【００２１】
上述のような構成により、この発明では、位相差調整部により位相差が調整されたプローブ光及びポンプ光が光源システムから出力される。その後、プローブ光及びポンプ光が光ファイバ部に対向入射され、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴いブリルアン散乱光が光ファイバ部内で発生する。発生したブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が光ファイバ部から出力される。そのブリルアン散乱光のＢＧＳの形状に関連するデータがスペクトル測定部によって測定される。また、光ファイバ部に設けられたマーカー部において発生した利得のＢＧＳの形状に関連するデータは、基準データとして事前に得られている（光ファイバ部が所定温度かつ歪が加えられていない正常な状態に設置された状態で測定）。マーカー部におけるＢＧＳの形状に関連する測定データを得たときのプローブ光及びポンプ光の測定位相差と、事前に測定されている基準データを得たときのプローブ光及びポンプ光の基準位相差との差分が、位相差差分算出部によって算出される。位相差調整部で調整された位相差と位相差差分算出部で算出された差分値に基づいて、ＢＧＳの発生位置が位置算出部によって算出される。測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから特性に関する情報が特性算出部によって抽出される。そして、このように算出された発生位置に関する情報と特性に関する情報とから特性分布が特性分布算出部によって算出される。この構成によっても特性分布測定における位置の測定誤差は効果的に低減される。【００２２】
好ましくは、位相差調整部は、位相差差分算出部で算出された差分値だけ位相差の走査範囲をシフトさせることにより、光源システムから出力されるプローブ光及びポンプ光の位相差を調整する。【００２３】
なお、この発明に係る各実施例は、以下の詳細な説明及び添付図面によりさらに十分に理解可能となる。これら実施例は単に例示のために示されるものであって、この発明を限定するものと考えるべきではない。【００２４】
また、この発明のさらなる応用範囲は、以下の詳細な説明から明らかになる。しかしながら、詳細な説明及び特定の事例はこの発明の好適な実施例を示すものではあるが、例示のためにのみ示されているものであって、この発明の範囲における様々な変形および改良はこの詳細な説明から当業者には自明であることは明らかである。
【発明の効果】
【００２５】
この発明によれば、温度分布測定における位置の測定誤差を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第1実施例の構成を示す図である。
【図２】は、ＢＧＳを示すグラフである。
【図３】は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第２実施例の構成を示す図である。
【図４】は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第３実施例の構成を示す図である。
【符号の説明】
【００２７】
１〜３…光ファイバ特性分布センサ、１１…光源、１２…光ファイバ部、１３…時計、１４…位相差調整部、１５…スペクトル測定部、１６…位相差差分算出部、１７，１７ａ，１７ｂ…位置算出部、１８…特性算出部、１９…特性分布算出部、２０…第１光ファイバ、２１…第２光ファイバ、２２…マーカー部、３１…光遅延器、３２…遅延調整部。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの各実施例を、図１〜４を参照して詳細に説明する。なお、図面の説明において同一要素、同一部位には同一符号を付して重複する説明を省略する。【００２９】
（第１実施例）
図１は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第１実施例の構成を示す図である。この第１実施例に係る光ファイバ特性分布センサ１は、一部が測定対象物Ｍと接した状態で配置された光ファイバ部１２をセンサとして利用し、該光ファイバ部１２から出力されるブリルアン散乱光のＢＧＳの形状関連データに基づいて、測定対象物Ｍの温度分布や歪み分布を測定する装置である。【００３０】
ブリルアン散乱光は、光ファイバに入力されたポンプ光と、ポンプ光によって光ファイバ中に発生する音響波との相互作用により、ポンプ光の進行方向とは逆の方向にダウンコンバートされる散乱光である。このブリルアン散乱光は、光ファイバにプローブ光とポンプ光とを対向入射させることにより、入射されたプローブ光とポンプ光との相関ピークを示す位置において発生する。ＢＧＳは、ブリルアン散乱によりプローブ光が受ける利得スペクトルである。【００３１】
図２は、ＢＧＳを示すグラフである。図２に示されたように、ＢＧＳは、プローブ光とポンプ光との光周波数差をνとして、式（１）のローレンツ型関数で表される。
【数１】
2008023699.tif 000003
式（１）において、g0は最大ゲイン、νBは中心周波数、ΔνBは線幅（半値全幅）を示す。最大ゲインg0、中心周波数νB、及び線幅ΔνBは、ＢＧＳを特徴付けるパラメータである。これらのパラメータは、光ファイバにおける利得が発生した発生位置の温度に依存して変化する。【００３２】
プローブ光とポンプ光の位相を変化させることにより、相関ピークを示す位置が移動し、光ファイバの長手方向に沿った各位置で利得を発生させることができる。光ファイバ特性分布センサ１では、光ファイバ部１２の各位置において発生した利得が反映されたＢＧＳを測定していくことで、そのＢＧＳの中心周波数に基づいて利得発生位置での温度情報、歪情報など測定対象物の特性を算出する。さらに、プローブ光とポンプ光の位相差に基づいて、各利得発生位置が算出される。このようにして、光ファイバ特性分布センサ１では、光ファイバ部１２の長手方向に沿った特性分布を測定する。特性分布とは、少なくとも歪分布、温度分布等を含む。【００３３】
引き続き、図１を参照して光ファイバ特性分布センサ１の構成について詳細に説明する。なお、この第１実施例に係る光ファイバ特性分布センサ１の構成例として、以下、時計を含む構成について説明する。光ファイバ特性分布センサ１は、光源システム１１、光ファイバ部１２、時計１３、位相差調整部１４、スペクトル測定部１５、位相差差分算出部１６、位置算出部１７、特性算出部１８、及び特性分布算出部１９を備える。なお、光源システム１１は、上記非特許文献１に開示されたように１つの光源によりプローブ光及びポンプ光を生成することも可能であるが、以下の各実施例では、光源システム１１の構成として、プローブ光を出力する光源１１ａと、ポンプ光を出力する光源１１ｂを含む構成が示されている。【００３４】
上述のように、光源システム１１は、プローブ光を出力する光源１１ａと、ポンプ光を出力する光源１１ｂを含む。【００３５】
光ファイバ部１２は、その一部が測定対象物Ｍに設置され、光源１１ａから出力されたプローブ光が一端に入力される一方、光源１１ｂから出力されたポンプ光が他端に入力されるよう、光源システム１１に光学的に接続されている。また、この光ファイバ部１２からは、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が出力される。光ファイバ部１２は、互いに直列に接続された第１光ファイバ２０と第２光ファイバ２１とを含む。第１光ファイバ２０の零分散波長は１３１０ｎｍであり、第２光ファイバ２１の零分散波長は１５５０ｎｍである。【００３６】
第１光ファイバ２０と第２光ファイバ２１との接続部分であるマーカー部２２において発生した利得が反映されたＢＧＳは、光ファイバ部１２が正常な状態（所定温度に維持されるとともに不要な歪みも加えられていない状態）で事前に測定され、そのＢＧＳの形状に関連する測定データが基準データとして得られている。このマーカー部２２は、外観からも判別できるように、被覆の色が他の部分と異なる色に着色されている。なお、測定対象物Ｍに設置された光ファイバ部１２の領域（測定対象領域）は、測定対象物Ｍに浸漬されていてもよいし、埋設されてもよい。【００３７】
時計１３は、特性分布を算出する際に位置情報を得るためのカウントを提供する。【００３８】
位相差調整部１４は、カウントごとに光源システム１１から出力されるプローブ光とポンプ光の位相差を調整する。また、位相差調整部１４は、位相差差分算出部１６で算出された位相差の差分値だけ、位相差の走査範囲をシフトさせることで、光源システム１１から出力されるプローブ光とポンプ光の位相差を調整する。なお、位相差調整部１４は、プローブ光の位相とポンプ光の位相をそれぞれ調整してもよいし、一方の光の位相を固定して他方の光の位相を調整してもよい。また、位相差調整部１４は、プローブ光とポンプ光の位相差を示す指示値を出力して、光源システム１１がこの指示値に応じてプローブ光とポンプ光の位相差を設定する構成であってもよい。【００３９】
スペクトル測定部１５は、光ファイバ部１２からサーキュレータ２３を経て出力されたプローブ光を受光し、時計１３から提供されるカウントごとにＢＧＳの形状に関連するデータを測定する。ＢＧＳの形状に関連するデータとは、ＢＧＳの形状を特徴付けるパラメータ、その他のピークの形状を表す数値（例えば、中心周波数からのゲインが減少する部分の傾き値）や２つのピーク部の中心周波数差などのスペクトルの特異な形状に関連するデータを指す。この実施例では、例として、中心周波数を用いる。【００４０】
位相差差分算出部１６は、基準位相差に対する測定位相差の差分を算出する。すなわち、位相差差分算出部１６は、上述のように予めマーカー部２２に関連する基準データを得たときのプローブ光とポンプ光の位相差（基準位相差）と、実際にマーカー部２２で発生した利得が反映されたＢＧＳの形状に関連するデータが測定されたときのプローブ光とポンプ光の位相差（測定時位相差）との差分を算出する。【００４１】
位置算出部１７は、時計１３により提供されたカウントに基づきブリルアン散乱による利得の発生位置を決定する。【００４２】
特性算出部１８は、測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから、温度、歪などの特性に関する情報を抽出する。【００４３】
特性分布算出部１９は、位置算出部１７で算出された発生位置に関する情報と特性算出部１８で算出された特性に関する情報とから光ファイバ部１２の長手方向に沿った特性分布を算出する。【００４４】
引き続いて、光ファイバ特性分布センサ１の動作について説明する。【００４５】
まず、プローブ光及びポンプ光が、光源システム１１から光ファイバ部１２に対向入射される。この光ファイバ部１２からは、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が出力される。そして、プローブ光がスペクトル測定部１５において受光され、ＢＧＳの形状に関連するデータが、時計１３により提供されたカウントごとに測定される。【００４６】
実際にマーカー部２２で発生した利得が反映されたＢＧＳの形状に関連するデータが測定されると、位相差差分算出部１６は、上述のように予めマーカー部２２に関連する基準データを得たときのプローブ光とポンプ光の基準位相差と、測定時位相差との差分を算出する。【００４７】
位相差調整部１４は、位相差差分算出部１６で算出された位相差の差分値だけ位相差の走査範囲をシフトさせることで、光源システム１１から出力されるプローブ光とポンプ光の位相差を調整する。プローブ光とポンプ光の位相差がこのように調整された状態で、光ファイバ部１２の測定対象領域における各位置で利得を発生させ、その利得が反映されたＢＧＳの形状に関連するデータが逐次測定される。そして、時計１３により提供されたカウントに基づき、ブリルアン散乱による利得の発生位置が位置算出部１７によって決定される。【００４８】
時計１３が提供するカウントごとにスペクトル測定部１５で測定されたＢＧＳの形状データから、特性（温度、歪など）に関する情報が特性算出部１８によって抽出される。また、位置算出部１７で算出された発生位置に関する情報と特性算出部１８で算出された特性に関する情報とから、特性分布が特性分布算出部１９によって算出される。【００４９】
ところで、波形発生器から出力される注入電流、及び、注入電流に対するＤＦＢ−ＬＤの光周波数応答特性は、経時的に変化する。また、遅延用光ファイバに与えられる引張張力の変化又は温度変化が起こると、プローブ光の光路長が変化する。プローブ光の光路長が変化すると、プローブ光とポンプ光の位相差が変化する。よって、プローブ光とポンプ光の位相差が設定されても、実際の位相差は変化し、利得発生位置が変化することになる。【００５０】
この第１実施例に係る光ファイバ特性分布センサ１では、光ファイバ部１２におけるマーカー部に関連する測定時情報と事前に測定された既知情報とを利用して、プローブ光とポンプ光の位相差が調整される。すなわち、実際にマーカー部２２で発生した利得が反映されたＢＧＳの形状に関連するデータが測定されると、位相差差分算出部１６は、上述のように予めマーカー部２２に関連する基準データを得たときのプローブ光とポンプ光の基準位相差と、測定時位相差との差分を算出する。位相調整部１４は、この位相差差分算出部１６により算出された位相差の差分だけ位相差の走査範囲をシフトさせることで、光源システム１１から出力されるプローブ光とポンプ光の位相差を調整する。よって、特性分布測定において、ブリルアン散乱による利得が発生する位置の測定誤差を効果的に低減させることが可能になる。【００５１】
すなわち、この第１実施例では、光源システム１１から出力されるプローブ光とポンプ光の位相差が変化した分だけ、位相差調整部１４が位相差の走査範囲をシフトさせるので、該シフト分だけ位置算出部１７が算出する利得発生位置を誤差補正することができる。測定時位相差をＡ１、既知の基準位相差をＡ２、位相差の差分をΔＡとすると、ΔＡ=Ａ１−Ａ２とし、位相差をスキャンする走査範囲をΔＡだけずらすことで、当初想定された範囲（測定対象領域）内における特性を測定することが可能になる。【００５２】
なお、マーカー部２２が複数あるときは、その必要とする対象マーカーのうちの最大となるΔＡを使用して、位相差走査範囲をシフトさせればよい。また、マーカー部２２の位置に対応する位相差が位相差をシフトさせる範囲の端にある場合、マーカー部２２の測定時位相差がシフト範囲の端になるように設定される。【００５３】
また、この第１実施例において、光源システム１１、光ファイバ部１２、時計１３、位相差調整部１４、スペクトル測定部１５、位相差差分算出部１６、位置算出部１７、特性算出部１８、及び特性分布算出部１９は、筐体内に収容されるのが好ましい。【００５４】
この第１実施例において、マーカー部２２は、第1光ファイバ２０と第２光ファイバ２１との接続部分としたが、外力により歪みが与えられた部分であってもよい。マーカー部２２は、熱的、歪的影響を受ける可能性がある場所では、異種ファイバを接続した形態の方が好ましい。【００５５】
（第２実施例）
図３は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第２実施例の構成を示す図である。この第２実施例に係る光ファイバ特性分布センサ２は、光源システム１１、位相差調整部１４、光遅延器３１、光ファイバ部１２、スペクトル測定部１５、位置算出部１７ａ、特性算出部１８、特性分布算出部１９、及び遅延調整部３２を備える。光源システム１１、位相差調整部１４、光ファイバ部１２、スペクトル測定部１５、特性算出部１８、及び特性分布算出部１９は、上述の第１実施例と同様に機能する。【００５６】
位置算出部１７ａは、位相差調整部１４によって調整された位相差に基づいてブリルアン散乱による利得の発生位置を算出する。【００５７】
光遅延器３１は、光源システム１１に含まれる光源１１ａから出力されたプローブ光に遅延を与える。また、遅延調整部３２は、マーカー部２２におけるＢＧＳの形状に関連する測定データが上述の基準データに一致するよう、光遅延器３１を調整する。すなわち、遅延調整部３２は、スペクトル測定部１５で測定されたＢＧＳの形状に関連するデータが、事前に正常な状態で測定された既知の基準データに一致するように遅延量をシフトさせながら、最適遅延量を設定する。【００５８】
引き続いて、光ファイバ特性分布センサ２の動作について説明する。【００５９】
まず、プローブ光及びポンプ光が、光源システム１１から出力される。光源システム１１から出力されたプローブ光及びポンプ光は光ファイバ部１２に対向入射される。この光ファイバ部１２からは、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が出力される。スペクトル測定部１５は、光ファイバ部１２から出力されたプローブ光を受光し、ＢＧＳの形状に関連するデータを測定する。【００６０】
なお、マーカー部２２におけるＢＧＳの形状に関連する測定データが事前に測定された基準データに一致するよう、遅延調整部３２によって調整された光遅延器３１によってプローブ光に遅延が与えられる。このように、遅延が調整されることにより実質的に位相差が調整された状態で光ファイバ部１２の測定対象領域（測定対象物Ｍに接した状態で設置された光ファイバ部１２の一部）で利得を発生させ、そのＢＧＳの形状に関連するデータが測定される。【００６１】
そして、位相差調整部１４によって調整された位相差に基づいて、ブリルアン散乱による利得の発生位置が位置算出部１７ａによって算出される。また、測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから、特性（温度、歪など）に関する情報が特性算出部１８によって抽出される。位置算出部１７ａで算出された発生位置に関する情報と特性算出部１８で算出された特性に関する情報とから、特性分布が特性分布算出部１９によって算出される。【００６２】
ところで、遅延用光ファイバ（光遅延器３１に含まれる）に与えられる引張張力の変化又は温度変化が起こると、プローブ光の光路長が変化する。プローブ光の光路長が変化すると、プローブ光とポンプ光の位相差が変化する。例えば、光遅延器３１を構成する遅延用の光ファイバの温度が５℃変化すると、ブリルアン散乱による利得の発生位置は、３０ｃｍ程度移動する。よって、一旦プローブ光とポンプ光の位相差が設定しても、実際の位相差が変化し、利得発生位置が変化する。【００６３】
このように、この第２実施例に係る光ファイバ特性分布センサ２では、測定されたＢＧＳの形状に関連するデータが既知の基準データに一致するよう、光遅延器３１によって与えられた遅延が遅延調整部３２によって調整され、プローブ光とポンプ光の位相差が調整されることとなる。すなわち、間接的に位相差が調整された状態で光ファイバ部１２の測定対象領域において利得を発生させることで、利得発生位置と測定されるＢＧＳとが正確に対応付けられる。よって、この第２実施例によっても、特性分布測定において利得発生位置の測定誤差が効果的に低減される。【００６４】
なお、この第２実施例は、上述の第１実施例と同様に位相差差分算出部を備えてもよい。この場合、位相差差分算出部により算出されたプローブ光とポンプ光の位相差の差分に相当する遅延量が遅延調整部３２によって調整される。一方、第１実施例において、位相差差分算出部により算出されたプローブ光とポンプ光の位相差の差分は、位相差調整部１４によってプローブ光とポンプ光の位相差を（測定されたＢＧＳの形状に関連するデータが既知の基準データに一致するよう）シフトさせることで調整されてもよい。【００６５】
（第３実施例）
図４は、この発明に係る光ファイバ特性分布センサの第３実施例の構成を示す図である。この第３実施例に係る光ファイバ特性分布センサ２は、光源システム１１、位相差調整部１４、光ファイバ部１２、スペクトル測定部１５、位相差差分算出部１６、位置算出部１７ｂ、特性算出部１８、及び特性分布算出部１９を備える。光源システム１１、位相差調整部１４、光ファイバ部１２、スペクトル測定部１５、位相差差分算出部１６、特性算出部１８、及び特性分布算出部１９は、上述の第１及び第２実施例と同様に機能する。【００６６】
位置算出部１７ｂは、位相差調整部１４で調整されたプローブ光とポンプ光の位相差と位相差差分算出部で算出された位相差の差分に基づいて、ブリルアン散乱による利得の発生位置を算出する。【００６７】
引き続いて、光ファイバ特性分布センサ３の動作について説明する。【００６８】
まず、プローブ光及びポンプ光が光源システム１１から出力される。光源システム１１から出力されたプローブ光及びポンプ光が光ファイバ部１２に対向入射される。この光ファイバ部１２からは、プローブ光及びポンプ光の伝搬に伴い発生するブリルアン散乱により利得を得たプローブ光が出力される。スペクトル測定部１５では、光ファイバ部１２から出力されたプローブ光が受光し、ＢＧＳの形状に関連するデータが測定される。【００６９】
実際にマーカー部２２で発生した利得が反映されたＢＧＳの形状に関連するデータが測定されると、位相差差分算出部１６は、上述のように予めマーカー部２２に関連する基準データを得たときのプローブ光とポンプ光の基準位相差と、測定時位相差との差分を算出する。【００７０】
その後、光ファイバ部１２の測定対象領域（測定対象物Ｍに接した状態で設置された光ファイバ部１２の一部）で利得を発生させ、その利得発生位置でのＢＧＳの形状に関連するデータが測定される。そして、位相差調整部１４で調整されたプローブ光とポンプ光の位相差と位相差差分算出部１６で算出された位相差の差分に基づき、利得発生位置が位置算出部１７ｂによって決定される。【００７１】
また、特性算出部１８は、測定されたＢＧＳの形状に関連するデータから特性（温度、歪など）に関する情報を抽出する。このように位置算出部１７ｂで算出された利得発生位置に関する情報と特性算出部１８で算出された特性に関する情報とから、特性分布が特性分布算出部１９によって算出される。【００７２】
このように、位相差調整部１４で調整された位相差と位相差差分算出部１６で算出された位相差の差分に基づき、位置が位置算出部１７ｂによって決定されるので、特性分布測定において利得発生位置の測定誤差が効果的に低減される。【００７３】
上述の第１〜第３実施例では、光源システム１１として、２個の光源１１ａ、１１ｂを使用しているが、光源は１個でもよく、その場合、時間軸上で、ポンプ光とする期間とプローブ光とする期間を設定し、期間ごとに光周波数が調整される。【００７４】
なお、上述の第１〜第３実施例では、複数の第１光ファイバと複数の第２光ファイバとを交互に接続することにより、複数のマーカー部が光ファイバ部１２の長手方向に沿って設けられてもよい。この場合、各マーカー部ごとに位相差の差分が算出される。補正の仕方としては、例えば、各マーカー部に位置補正を行う区間を設定し、各区間に各マーカー部を基点として位置補正をする。また、例えば、各マーカー部に相当する位相差の差分の平均値に基づいて、位置補正が行われてもよい。また、例えば、各マーカー部に相当する位相差の差分の最大値分だけ位相差の走査範囲をシフトさせ、各マーカー部に位置補正を行う区間を設定し、各区間に各マーカー部を基点として位置補正が行われてもよい。補正は、必要に応じて任意に行われればよい。【００７５】
また、上述の第１〜第３実施例では、温度、歪などの特性分布の測定について説明したが、光ファイバ特性分布センサ１〜３を用いて、その他の特性分布を測定することも可能である。【００７６】
以上の本発明の説明から、本発明を様々に変形しうることは明らかである。そのような変形は、本発明の思想および範囲から逸脱するものとは認めることはできず、すべての当業者にとって自明である改良は、以下の請求の範囲に含まれるものである。
【産業上の利用可能性】
【００７７】
この発明に係る光ファイバ特性分布センサは、歪みや温度など対象物の特性を、該対象物に接した状態で配置された光ファイバを用いて検知するセンシング技術に利用することができ、ブリルアン散乱光を利用した対象物の特性検知システムへ適用することができる。具体的に、この発明に係るセンサは、各種建造物等の変形や環境温度の測定／検知システムへの適用が可能である。
【図１】
2008023699.tif 000004
【図２】
2008023699.tif 000005
【図３】
2008023699.tif 000006
【図４】
2008023699.tif 000007
【国際調査報告】
2008023699.tif 000008
2008023699.tif 000009