【手続補正書】
【提出日】平成16年7月22日(2004.7.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射ビームによって光学記録キャリアの情報レイヤを走査するための光学走査デバイスであって、
当該放射ビームを供給するための放射源と、
当該放射ビームを収束放射ビームに変換して、前記情報レイヤの位置内に走査箇所を形成するための、光軸を有する第一対物レンズを含むレンズシステムと、
当該収束ビーム内に変形W1を導入するために、当該光軸と直角を成す平面内で相互に移動可能な、第一非球面表面を有する第一要素と、第二非球面表面を有する第二要素と、を含む、当該放射源と当該走査箇所の位置との間に配置された波面変形装置と、
を含む光学走査デバイスにおいて、
当該光軸に平行な回転軸周りの回転角に渡って当該第一要素と当該第二要素とが相互に回転変位することにより当該波面変形W1が生成されるように、当該第一非球面表面と当該第二非球面表面が成形され、
当該第一非球面表面の形状が、関数 Sa(r, θ) により定義され、かつ、
当該第二非球面表面の形状が、関数 Sb(r, θ) により定義され
前記関数 Sa(r, θ) と前記関数 Sb(r, θ) が、
2005513693.tif 000001
により決定され、式中、
「(r,  θ)」が、前記交軸12と直角を成す参照平面XAYA内の極座標であり、
これらの座標の中心が、前記回転軸ZAと前記参照平面XAYAとの第一交点Aであり、
「W1(r, θ)」が、前記極座標 (r, θ) で表された前記波面変形であり、
「na」が、前記第一要素の屈折率であり、かつ「nb」が、前記第二要素の屈折率であり、
2005513693.tif 000002
が、前記第一要素の当該回転角であり、かつ
2005513693.tif 000003
が前記第二要素の当該回転角であり、
2005513693.tif 000004
が、
2005513693.tif 000005
と
2005513693.tif 000006
との間の差であり、かつ、
「Sa(r, θ)」が、前記第一非球面表面の形状を表し、かつ「Sb(r, θ)」が、前記第二非球面表面の形状を表す、
ことを特徴とする、光学走査デバイス。
【請求項２】
前記関数Saにより定義される当該第一非球面表面の前記形状と、前記関数Sbにより定義される第二非球面表面の前記形状と、が実質的に同一であり、かつ、
当該第一表面の前記形状が、
2005513693.tif 000007
により決定される関数 S(r, θ) によって定義され、
式中、
「(r, θ)」が、当該光軸と直角を成す参照平面内の極座標であり、
これらの座標の中心が、当該回転軸と当該参照平面との前記第一交点上にあり、
「Wi(r, θ)」が、前記極座標( r, θ)で表された当該波面変形であり、
「n」が、当該第一要素と第二要素の前記屈折率であり、
2005513693.tif 000008
が、当該回転角であり、かつ、
「S(r, θ)」が、当該第一非球面表面の前記形状を表す、
請求項1に記載の光学走査装置。
【請求項３】
当該関数 Sa(r, θ) および Sb(r, θ) および／または S(r, θ) が、
当該波面変形W1をＸ軸に沿ったコマの形態で導入するための項
2005513693.tif 000009
当該波面変形W1をＹ軸に沿ったコマの形態で導入するための項
2005513693.tif 000010
当該波面変形W1をＸ軸に沿った傾斜の形態で導入するための項「y+R」、
当該波面変形W1をＹ軸に沿った傾斜の形態で導入するための項「x」、
当該波面変形W1を焦点ずれの形態で導入するための項
2005513693.tif 000011
当該波面変形W1をＸ軸に沿った非点収差の形態で導入するための項
2005513693.tif 000012
当該波面変形W1をＹ軸に沿った非点収差の形態で導入するための項
2005513693.tif 000013
当該波面変形W1を球面収差の形態で導入するための項
2005513693.tif 000014
当該波面変形W1をＹ軸に沿ったラインコマの形態で導入するための項
2005513693.tif 000015
または、
当該波面変形W1をＸ軸に沿ったラインコマの形態で導入するための項
2005513693.tif 000016
を含み、
式中、
「(x, y)」が、
当該参照平面 (XAYA) 内にあり、かつ、
当該光軸と当該参照平面との第二交点上にその基点を有し、
YO軸が当該第一交点(A)を通過する、直交系XOYO、
におけるデカルト座標であり、かつ、
「R」が、当該第一交点(A)と当該第二交点との間の距離である、
請求項1または請求項2に記載の光学走査デバイス。
【請求項４】
当該関数 Sa(r, θ) および当該関数 Sb(r, θ) および／または当該関数 S(r, θ) が、
前記対応する非球面表面の部分に対しては、実質的に mλ/(n-1)（「λ」は、当該波面変形装置がその一部として配置されている前記光路内の前記放射ビームの波長であり、「m」は整数値であり、かつ「n」は、前記対応する要素の前記屈折率である）に等しいゼロ以外の一定のパラメータに等しくなり、かつ、
この表面の残り部分に対してはゼロに等しくなる、少なくとも1つの階段関数 Q(r, θ)、
を含む、請求項1、請求項2、または請求項3に記載の光学走査デバイス。
【請求項５】
当該回転軸が、当該光軸とは中心が異なる、請求項1に記載の光学走査デバイス。
【請求項６】
当該回転軸が、当該第一要素と当該第二要素上に入射する前記放射ビームの断面の外側にある、請求項5に記載の光学走査デバイス。
【請求項７】
当該検出システムが、焦点エラー信号および／または放射トラッキングエラー信号を供給するように配置されており、かつ、
当該検出システムが、
当該情報レイヤの位置および／または走査される当該情報レイヤのトラックの位置に対する当該走査箇所の位置を制御するための、当該焦点エラー信号および／または当該放射トラッキングエラー信号に応答する、サーボ回路とアクチュエータ、
をさらに含む、請求項1に記載の光学走査デバイス。
【請求項８】
エラー補正用の情報処理ユニットをさらに含む、請求項1に記載の光学走査デバイス。
【請求項９】
当該収束放射ビーム内に存在する波面歪みW2を表す検出信号を供給するための収差検出器と、
当該検出信号に応答して、W2 + W1 = 0となるように当該波面変形W1 を導入するように配置されている、当該波面変形装置と、
を含む波面補償装置、をさらに含む、請求項1に記載の光学走査デバイス。
【請求項１０】
光軸を有し、かつ
当該第二放射ビーム内に波面変形W1 を導入するために、当該光軸と直角を成す平面内で相互に移動可能な、第一非球面表面を有する第一要素と、第二非球面表面を有する第二要素と、を含む、
第一放射ビームを第二放射ビームに変換するための波面変形装置であって、
当該光軸に平行な回転軸周りに当該第一要素と当該第二要素が相互に回転変位することにより当該波面変形W1 が生成されるように、当該第一非球面表面と当該第二非球面表面が成形されることを特徴とする、第一放射ビームを第二放射ビームに変換するための波面変形装置であって、
当該第一非球面表面の形状が、関数 Sa(r, θ) により定義され、かつ、
当該第二非球面表面の形状が、関数 Sb(r, θ) により定義され
前記関数 Sa(r, θ) と前記関数 Sb(r, θ) が、
2005513693.tif 000017
により決定され、式中、
「(r,  θ)」が、前記交軸と直角を成す参照平面XAYA内の極座標であり、
これらの座標の中心が、前記回転軸ZAと前記参照平面XAYAとの第一交点Aであり、
「W1(r, θ)」が、前記極座標 (r, θ) で表された前記波面変形であり、
「na」が、前記第一要素の屈折率であり、かつ「nb」が、前記第二要素の屈折率であり、
2005513693.tif 000018
が、前記第一要素の当該回転角であり、かつ
2005513693.tif 000019
が前記第二要素の当該回転角であり、
2005513693.tif 000020
が、
2005513693.tif 000021
と
2005513693.tif 000022
との間の相違であり、かつ、
「Sa(r, θ)」が、前記第一非球面表面の形状を表し、かつ「Sb(r, θ)」が、前記第二非球面表面の形状を表す、
ことを特徴とする、波面変形装置。