【手続補正書】
【提出日】平成16年4月16日(2004.4.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高周波で検査すべき回路板を、高周波検査信号を提供する検査分析装置に接続する伝達治具において、
上記検査すべき回路板と接続する頂部プレートと、
高周波検査信号のソースを提供する検査分析装置と接続する基部プレートと、
上記頂部プレートおよび上記基部プレートによって支持される複数の同軸型検査ピンとを具備し、各検査ピンは、第二円錐端部と反対側の第一円錐端部と、これら端部間の本体とを具備する中心中実ピンを具備し、各同軸型ピンは上記中央中実ピンの本体の長さであって該中央中実ピンを包囲するシールドと、前記中央中実ピンの本体を包囲すると共に上記中央中実ピンと上記シールドとの間に挟持される非導電性材料とをさらに具備し、該非道電性材料は上記シールドの長さに亘って延び、各中央ピンの第一円錐端部が上記シールドを越えて上記頂部プレートへと延びると共に各中央ピンの第二円錐端部が上記シールドを越えて上記基部プレートへと延びることで、上記検査分析装置から上記回路板上の検査点までの検査信号経路が提供され、上記同軸型検査ピンがほぼ同一のインピーダンスを有することで、高周波で上記回路板を効果的に検査するのに十分な程度のインピーダンスの整合が容易になる伝達治具。
【請求項２】
上記非導電性材料は上記シールドを越えて延びる請求項１に記載の伝達治具。
【請求項３】
上記頂部プレートおよび基部プレートは接地せしめられ、これら頂部プレートおよび基部プレートはその厚さに亘って延びる開口を有し、各同軸型ピンのシールドは上記頂部プレートの開口の周壁と接触すると共に上記基部プレートの開口の周壁と接触し、上記同軸型ピンの中心ピンは上記頂部プレートの上面よりも上方に突出すると共に上記基部プレートの底面よりも下方に突出する請求項１に記載の伝達治具。
【請求項４】
上記基部プレートと上記検査装置との間のインターフェイスを提供するとコンプライアント検査インターフェイスであって、上記基部プレートの開口にそれぞれ対応する複数の開口を具備するコンプライアント検査インターフェイスと、
各コンプライアント検査インターフェイスの開口内のバネ荷重プローブであって、上記同軸型ピンを上記検査すべき回路板上の検査点と能動的に接触させるように、対応の開口を通って延びる中心ピンに上記基部プレートの底面の下方で能動的に力を加えるバネ荷重プローブとをさらに具備する請求項３に記載の伝達治具。
【請求項５】
複数の接地ピンをさらに具備し、各接地ピンは上記検査すべき回路板の検査点と接触するように上記頂部プレートの開口を貫通する第一端部と、上記基部プレートの開口を貫通すると共に上記バネ荷重プローブと接触する第二端部とを有し、上記中心ピンと接触するバネ荷重プローブとこれと隣接すると共に上記接地ピンと接触するバネ荷重プローブとの間の間隔は、同軸ピンのインピーダンスに整合せしめられたインピーダンスを各プローブに与えるように配設される請求項４に記載の伝達治具。
【請求項６】
各同軸ピンのインピーダンスは約５０オームである請求項１に記載の伝達治具。
【請求項７】
上記検査装置と接続する下方回路板をさらに具備し、該下方回路板は上記基部プレートの底面と相互対面すると共に、上記同軸ピンへの電気経路を提供する接触点を有し、上記同軸ピンは下方回路板の接触点および上記検査すべき回路板の検査点に力を加えることで座屈せしめられる請求項１に記載の伝達治具。
【請求項８】
上記同軸ピンはオイラー座屈せしめられる請求項７に記載の伝達治具。
【請求項９】
上記基部プレートに対して上記頂部プレートを支持するポストをさらに具備し、各ポストは、上記プレートのうちの一方に連結される第一部材と、上記プレートのうちの他方に連結される第二部材とを具備し、上記第二部材は第一部材に摺動可能に係合し、これにより上記頂部プレートを上記基部プレートに対して移動させることができ、上記ポストは他方のプレートへ向かう一方のプレートの移動を制限する請求項７に記載の伝達治具。
【請求項１０】
複数の検査点を具備する第一回路板と、
検査信号提供装置と相互対面すると共に複数の検査点を具備する第二回路板と、
伝達治具であって、
上記第一回路板に接続された上面を有すると共に複数の開口を具備する頂部プレートであって、各開口が上記第一回路板の検査点と通じる頂部プレートと、
上記第二回路板に接続された底面を有すると共に上記頂部プレートよりも下方に該頂部プレートから離間されて配置される基部プレートであって、複数の開口を具備し、各開口が第二回路板の信号点と通じる基部プレートと、
ほぼ円筒状のシールドジャケットと同軸の中心ピンを有する複数の同軸型ピンであって、該ジャケットが非導電性材料によって上記中心ピンから離間され、各同軸ピンの各端部において上記中心ピンが上記ジャケットを越えて突出し、各中心ピンの第一端部が上記頂部プレートの開口を貫通し且つ各中心ピンの第二端部は基部プレートの開口を貫通し、各同軸型ピンの上記外側ジャケットが頂部プレートおよび基部プレートと接触する、同軸ピンとを具備する伝達治具と、
一方の回路板を他方の回路板に向かって移動させる手段であって、上記同軸型ピンを座屈させて各中心ピンの端部が能動的に上記第一回路板の検査点および上記第二回路板の信号点と接触し、信号点から検査点までの信号経路を提供する移動手段とを具備し、
上記同軸型ピンが座屈すると、該同軸型ピンのジャケットおよび中央ピンは座屈し且つ各同軸型ピンの非導電性材料は上記同軸型ピンの中央ピンとジャケットとの間の間隔を保ち、これにより同軸型ピンのインピーダンスが維持される回路板検査システム。
【請求項１１】
上記ピンはオイラー座屈に従う請求項１０に記載の回路板検査システム。
【請求項１２】
上記第一回路板、第二回路板およびピンは整合されたインピーダンスを有する請求項１０に記載の回路板検査システム。
【請求項１３】
接触点の第一の列を有する検査すべき電子ユニットであって、該第一の列の接触点が第一パターンを形成する電子ユニットと、
第二の列の接触点を有する信号提供回路板であって、該第二の列の接触点は上記第一の列の接触点に対応すると共に上記第一の列の接触点と異なる第二のパターンを形成する信号提供回路板と、
シールドによって包囲された内側中実部材と、これらの間に配置された非導電性部材とを有する複数の同軸型チルトピンであって、各中実部材が、シールドの両端から延びると共に、上記回路板上の接触点から上記ユニット上の対応の接触点まで延びる、同軸型チルトピンとを具備する回路板検査システム。
【請求項１４】
上記非導電性材料は各同軸型ピンの中実部材とシールドとの間に間隔を提供し、上記同軸型ピンはオイラー座屈せしめられ、上記各同軸型ピンの中実部材とシールドとは座屈せしめられ、上記非導電性材料は各同軸型ピンの中心部材とシールドとの間の間隔を保つ請求項１３に記載の回路板検査システム。
【請求項１５】
上記回路板は上記第二の列の接触点を介して高周波信号を提供し、信号の周波数は１００ＭＨｚ以上である請求項１３に記載の回路板検査システム。
【請求項１６】
１００ＭＨｚよりも高い周波数である高周波信号を伝送するための接触点を有する検査すべき高周波電子ユニットであって、第一接触点の中心が第二接触点の中心から１．７８ｍｍ未満だけ離間される高周波電子ユニットと、
高周波検査信号を提供する回路板であって高周波信号を伝送するための接触点を有する回路板と、
上記第一接触点に接続される第一端部と上記回路板の接触点に接続される第二端部とを有する第一接触ピンと、
上記第二接触点に接続される第一端部と上記回路板の接触点に接続される第二端部とを有する第二接触ピンとを具備する回路板検査システム。
【請求項１７】
上記電子ユニットの第一接触点の中心と第二接触点の中心との間隔は０．６４ｍｍ以下である請求項１６に記載の回路板検査システム。
【請求項１８】
上記信号の周波数は１ＧＨｚ以上である請求項１６に記載の回路板検査システム。
【請求項１９】
上記接触ピンはオイラー座屈に従う請求項１６に記載の回路板検査システム。
【請求項２０】
上記電子ユニットの第一接触点と第二接触点との間の距離は、上記回路板の第一接触点と第二接触点との間の距離と異なる請求項１９に記載の回路板検査システム。