(57)【要約】  本発明は、回路の動作パラメータを求める場合の推定誤差の低減、信頼度を向上させる方法と装置並びにプログラムの提供することを目的とする。回路実現装置で実現可能な回路規模を示す実現可能面積１０６と、回路の面積情報１０４と、動作パラメータ測定回路の面積情報１０５から、回路１０１の動作パラメータを求めるために、回路に対する観測信号の情報を決定する観測信号数決定手段１０７を備えている。ディジタルＬＳＩやエミュレータで実装可能な面積と、実装する回路の面積を考慮して、抽出する信号の数を求める（図１参照）。
2008081669.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する装置であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
から、前記動作パラメータを求めるために、前記回路に対する観測信号の情報を決定する観測信号情報決定手段を含む、ことを特徴とする観測信号情報決定装置。
【請求項２】
前記観測信号情報決定手段は、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項１記載の観測信号情報決定装置。
【請求項３】
前記観測信号情報決定手段において、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模は、前記回路実現装置で実現可能な回路規模の情報から、前記回路の面積を差し引いた残りに対応し、前記余裕回路規模を、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項２に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項４】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段を備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項５】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する装置であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路とが、前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択手段を含む、ことを特徴とする信号選択装置。
【請求項６】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段をさらに備えたことを特徴とする請求項５に記載の信号選択装置。
【請求項７】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定手段は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項２に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項８】
前記観測信号情報決定手段が決定した各観測信号の数の和と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算手段をさらに備えたことを特徴とする請求項７に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項９】
請求項４又は８に記載の観測信号情報決定装置を備え、
複数の回路実現装置に対して、前記計算手段を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う回路実現装置選択支援装置。
【請求項１０】
請求項６に記載の信号選択装置を備え、
複数の回路実現装置に対して、前記計算手段を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う回路実現装置選択支援装置。
【請求項１１】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算手段は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項４又は８に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項１２】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算手段は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項６に記載の信号選択装置。
【請求項１３】
請求項１、２、７のいずれか一に記載の観測信号情報決定装置で決定された観測信号の数を、前記回路の信号から選択する観測信号選択手段を備えたことを特徴とする信号選択装置。
【請求項１４】
前記観測信号選択手段は、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項５又は１３に記載の信号選択装置。
【請求項１５】
前記観測信号選択手段は、さらに、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項５又は１３に記載の信号選択装置。
【請求項１６】
前記回路中の依存関係を解析する回路解析手段をさらに備え、
前記観測信号決定手段は、前記回路解析手段で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように、前記観測信号を選択する、ことを特徴とする請求項５、１３、１４、１５のいずれか一記載の信号選択装置。
【請求項１７】
請求項５、１３、１４、１５、１６のいずれか一記載の信号選択装置で選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を前記回路に挿入する回路挿入手段を備えたことを特徴とする回路修正システム。
【請求項１８】
前記変化検出回路は、さらに、前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項１７に記載の回路修正システム。
【請求項１９】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する手段を備えたことを特徴とする請求項１７又は１８に記載の回路修正システム。
【請求項２０】
請求項１７又は１９に記載の回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された変化した前記観測信号の数から回路全体のトグル率を推定する推定手段を備えたことを特徴とする回路エミュレータ。
【請求項２１】
請求項１８に記載の回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から回路全体の消費電力を推定する推定手段を備えたことを特徴とする回路エミュレータ。
【請求項２２】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する方法であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報から、前記動作パラメータを求めるために、前記回路に対する観測信号の情報を決定する観測信号情報決定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項２３】
前記観測信号情報決定工程は、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記観測信号情報決定工程において、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模は、前記回路実現装置で実現可能な回路規模の情報から前記回路の面積を差し引いた残りに対応し、前記余裕回路規模を、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算工程をさらに含む、ことを特徴とする請求項２２又は２３に記載の方法。
【請求項２６】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を選択する方法であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路と、が前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項２７】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算工程さらに含む、ことを特徴とする請求項２６に記載の方法。
【請求項２８】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定工程は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項２９】
前記観測信号情報決定工程が決定した各観測信号の数の和と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算工程をさらに含むことを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項３０】
回路実現装置の選択支援を行う方法であって、
複数の回路実現装置に対して、請求項２５、２７、２９のいずれか一に記載の方法における前記計算工程を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、前記回路実現装置の選択の支援を行う、ことを特徴とする方法。
【請求項３１】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算工程は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項２５、２７、２９のいずれか一に記載の方法。
【請求項３２】
決定された観測信号数を、前記回路の信号から選択する観測信号選択工程を含む、ことを特徴とする請求項２２、２３、２８のいずれか一に記載の方法。
【請求項３３】
前記観測信号選択工程は、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項２６又は３２に記載の方法。
【請求項３４】
前記観測信号選択工程は、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項２６又は３２に記載の方法。
【請求項３５】
各信号の依存関係を解析する回路解析工程をさらに有し、
前記観測信号選択工程は、前記回路解析工程で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように、前記観測信号を選択する、ことを特徴とする請求項２６、３２、３３、３４のいずれか一記載の方法。
【請求項３６】
回路を修正する方法であって、請求項２６、３２、３３、３４、３５のいずれか一記載の方法で選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を前記回路に挿入する回路挿入工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項３７】
前記変化検出回路は、さらに前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項３６に記載の方法。
【請求項３８】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する、ことを特徴とする請求項３６又は３７に記載の方法。
【請求項３９】
回路をエミュレーションする方法であって、請求項３６又は３８に記載の方法よって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された変化した前記観測信号の数から回路全体のトグル率を推定する推定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項４０】
回路をエミュレーションする方法であって、請求項３７に記載の方法によって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から回路全体の消費電力を推定する推定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項４１】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する処理を行うコンピュータに、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
から、前記動作パラメータを求めるために、前記回路に対する観測信号の情報を決定する観測信号情報決定処理を実行させるプログラム。
【請求項４２】
前記観測信号情報決定処理は、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項４１に記載のプログラム。
【請求項４３】
前記観測信号情報決定処理において、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模は、前記回路実現装置で実現可能な回路規模の情報から前記回路の面積を差し引いた残りに対応し、前記余裕回路規模を、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項４２に記載のプログラム。
【請求項４４】
請求項４１又は４２に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項４５】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する処理を行うコンピュータに、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路とが、前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択処理を実行させるプログラム。
【請求項４６】
請求項４５に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項４７】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定処理は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項４２に記載のプログラム。
【請求項４８】
請求項４７に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号情報決定処理で決定された各観測信号の数の和と前記回路の信号の数から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項４９】
回路実現装置選択支援を行うコンピュータに、複数の回路実現装置に対して、請求項４４、４６、４８のいずれか一に記載の前記計算処理を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う処理を実行させるプログラム。
【請求項５０】
請求項４４、４６、４８のいずれか一に記載のプログラムにおいて、
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算処理として、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を統計学的に求める処理を、前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項５１】
請求項４１、４２、４７のいずれか一に記載のプログラムにおいて、
決定された観測信号数を前記回路の信号から選択する観測信号選択処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項５２】
前記観測信号選択処理が、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項４５又は５１に記載のプログラム。
【請求項５３】
前記観測信号選択処理が、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項４５又は５１に記載のプログラム。
【請求項５４】
請求項４５、５１、５２、５３のいずれか一記載のプログラムであって、
各信号の依存関係を解析する回路解析処理を有し、
前記観測信号選択処理は、前記回路解析処理で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように観測信号を選択するプログラム。
【請求項５５】
請求項４５、５１、５２、５３、５４のいずれか一記載のプログラムで選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を、前記回路に挿入する回路挿入処理を、前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項５６】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項５５に記載のプログラム。
【請求項５７】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する、ことを特徴とする請求項５５又は５６に記載のプログラム。
【請求項５８】
請求項５５又は５７に記載のプログラムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化した信号の数から、回路全体のトグル率を推定する推定処理を、回路エミュレーション用のコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項５９】
請求項５６に記載のプログラムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から、回路全体の消費電力を推定する推定処理を、回路エミュレーション用のコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項６０】
被測定回路と、
前記被測定回路の観測信号に基づき、前記被測定回路の動作パラメータの測定を行うための測定回路と、
を含む半導体回路装置であって、
前記被測定回路を実装した場合の前記半導体回路装置における余裕面積を、観測信号一本あたりに必要とされる、前記測定回路の面積で除した値に基づき、前記被測定回路の観測信号数が決定され、
前記測定回路は、前記観測信号数に対応して配設され、それぞれが対応する観測信号に接続された検出回路と、
前記各検出回路での検出結果を読み出す回路と、
を備えている、ことを特徴とする半導体回路装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
［関連出願の記載］
本発明は、日本国特許出願：特願２００６−３５４９４９号（２００６年１２月２８日出願）の優先権主張に基づくものであり、同出願の全記載内容は引用をもって本書に組み込み記載されているものとする。
本発明は、論理回路の動作パラメータ、特にトグル率や消費電力を推定するときに誤差を少なくするための方法と装置及びコンピュータプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近時、ディジタルＬＳＩ（Large Scale Integrated circuit）等の半導体装置の高集積化、高機能化、大規模化は著しく、ＬＳＩの機能を設計段階で検証することが重要である。ＬＳＩの製造前の検証は、再製造等を避けるためにも、特に重要である。【０００３】
ＬＳＩの検証は、通常、ディジタルＬＳＩの機能を列挙し、各機能について検証が行われる。【０００４】
従来のＬＳＩの設計手法において、ＬＳＩの機能の列挙は、人手で行われている。このため、列挙に漏れの発生が生じる。【０００５】
また、従来のＬＳＩの設計では、すべての機能を列挙して検証する以外にも、別の指標を使って、検証の良さを測定しており、その指標の１つにトグル率がある（非特許文献１）。トグル率は、回路動作が終了したときの信号の変化度合いを示し、（Ｌ＋Ｈ）／２Ｎで求められる。Ｌは論理１から論理０に一度でも変化した信号の数であり、Ｈは論理０から論理１に一度でも変化した信号の数であり、Ｎは回路に存在するすべての信号の数である。トグル率は、ＬＳＩ内の全ての信号の情報（変化）が必要である。【０００６】
【特許文献１】特開平０１−０２６２４３号公報
【非特許文献１】Ｄ．  Ｄｒａｋｏ  ａｎｄ  Ｐ．Ｃｏｈｅｎ，  “ＨＤＬ  Ｖｅｒｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｃｏｖｅｒａｇｅ，”  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｓｙｓｔｅｍ  Ｄｅｓｉｇｎ  Ｍａｇａｚｉｎｅ，  ｐｐ．４６−５２，  Ｊｕｎｅ  １９９８．
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
以上の特許文献１及び非特許文献１の開示事項は、本書に引用をもって繰り込み記載されているものとする。以下に本発明による関連技術の分析を与える。【０００８】
しかしながら、ＬＳＩ内の信号を全て観測することは、大規模ディジタルＬＳＩでは困難になってきている（特許文献１参照）。すなわち、回路にあるすべての信号を観測してトグル率を求めることは、ディジタルＬＳＩやエミュレータで行うことはできない。【０００９】
したがって、本発明の目的は、回路の動作パラメータを求める場合の推定誤差の低減、信頼度を向上させる方法と装置並びにプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本願で開示される発明は、前記課題を解決するため、概略以下の構成とされる。【００１１】
本発明の一アスペクト（側面）に係る装置は、回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する装置（観測信号情報決定装置）であって、回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、前記回路の情報と、から、前記動作パラメータを求めるために、前記回路に対する観測信号の情報を決定する観測信号情報決定手段を含む。【００１２】
本発明の装置において、前記観測信号情報決定手段は、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模を求め、前記余裕回路規模と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模とから、最大の観測信号数を決定する。【００１３】
本発明の装置においては、前記観測信号情報決定手段において、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの余裕回路規模は、前記回路実現装置で実現可能な回路規模の情報から前記回路の面積を差し引いた残りに対応し、前記余裕回路規模を、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模で除した値に基づき、観測信号数を決定する。【００１４】
本発明の装置において、前記観測信号の数と、前記回路の信号の数とから、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段をさらに備えた構成としてもよい。【００１５】
本発明の他のアスペクトに係る装置は、回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する装置（信号選択装置）であって、回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、前記回路の情報と、前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、から、前記回路と、選択した観測信号を観測する回路とが、前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択手段を含む。【００１６】
本発明の装置において、前記観測信号の数と、前記回路の信号の数とから、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段をさらに備えた構成としてもよい。【００１７】
本発明の装置において、前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、前記観測信号情報決定手段は、前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する構成としてもよい。【００１８】
本発明の装置において、前記観測信号情報決定手段が決定した各観測信号の数の和と前記回路の信号の数から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算手段をさらに備えた構成としてもよい。【００１９】
本発明のさらに他のアスペクト（側面）に係る装置（回路実現装置選択支援装置）において、複数の回路実現装置に対して、前記計算手段を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う。【００２０】
本発明の装置において、前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、前記計算手段は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める。【００２１】
本発明の装置において、決定された観測信号数を、前記回路の信号から選択する観測信号選択手段を備えた構成としてもよい。【００２２】
本発明の装置において、前記観測信号選択手段は、無変化の信号であることが予め分かっている信号以外の信号を選択する。【００２３】
本発明の装置において、前記観測信号選択手段は、さらに、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を選択する。【００２４】
本発明の装置において、各信号の依存関係を解析する回路解析手段を備え、前記観測信号選択手段は、前記回路解析手段で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように観測する信号を選択する。【００２５】
本発明のさらに他のアスペクト（側面）に係る回路修正システムは、前記本発明の装置で選択された観測信号に対して、前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、前記検出した変化を読み出す読出回路と、を前記回路に挿入する回路挿入手段を備えている。【００２６】
本発明の回路修正システムにおいて、前記変化検出回路は、さらに、前記観測信号の変化の回数を検出し、前記読出回路は変化の回数を読み出す。【００２７】
本発明の回路修正システムにおいて、前記変化検出回路は、変化を検出するか否かを決定する手段を備えた構成としてもよい。【００２８】
本発明のさらに他のアスペクト（側面）に係る回路エミュレータは、前記回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、前記読出回路によって読み出された変化した信号の数から回路全体のトグル率を推定する推定手段を備えている。【００２９】
本発明の回路エミュレータは、前記回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、前記読出回路によって読み出された変化の回数から回路全体の消費電力を推定する推定手段を備えた構成としてもよい。【００３０】
本発明に係る回路装置は、動作パラメータの測定対象の被測定回路と、前記被測定回路の観測信号に基づき、動作パラメータの測定を行うための測定回路と、を含む半導体回路装置であって、前記被測定回路を実装した場合に前記半導体回路装置に残されている余裕面積を、観測信号一本あたりに必要とされる前記測定回路の面積で除した値に基づき、前記被測定回路の観測信号数が決定され、前記測定回路は、前記被測定回路の前記観測信号数に対応して配設され、それぞれが対応する観測信号に接続された検出回路を備えるとともに、前記各検出回路での検出結果を読み出す回路を備えている。【００３１】
本発明によれば、上記した各アスペクトの装置、システムの発明に対応した方法、コンピュータプログラムの発明が提供される。
【発明の効果】
【００３２】
本発明は、観測する信号の数を、ディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能な面積と、測定対象となる回路の面積と、一つの信号の変化の有無を検出する変化検出回路の面積から求めているため、測定対象となる回路は、必ずディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能となり、測定したトグル率の推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができる。【００３３】
本発明は、実装可能な回路規模が異なる複数のディジタルＬＳＩやエミュレータが存在する場合、各ディジタルＬＳＩやエミュレータで測定できるトグル率の推定誤差の幅や信頼度がどのくらいかを事前に知ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の第１の実施の形態の構成を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明の第２の実施の形態の構成を示す図である。
【図４】本発明の第２の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】本発明の第３の実施の形態の構成を示す図である。
【図６】本発明の第３の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図７】本発明の第４の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】本発明の第５の実施の形態の構成を示す図である。
【図９】本発明の第５の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１０】本発明の第１１の実施の形態の構成を示す図である。
【図１１】本発明の第１１の実施の形態における回路挿入手段が作成する修正された回路１００１の回路図の概略である。
【図１２】本発明の第１１の実施の形態における変化検出回路の構成の一例を示す図である。
【図１３】本発明の第１１の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明の第１２の実施の形態における変化検出回路の構成の一例を示す図である。
【図１５】本発明の第１３の実施の形態の構成を示す図である。
【図１６】本発明の第１３の実施の形態の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１７】本発明の第１４の実施の形態の構成を示す図である。
【図１８】本発明の第１４の実施の形態における観測信号選択手段の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１９】本発明の一具体例を説明するための回路の記述例である。
【符号の説明】
【００３５】
１０１  回路
１０２  回路解析手段
１０３  信号情報
１０４  面積情報
１０５  動作パラメータ測定回路の面積情報
１０６  実現可能面積
１０７  観測信号数決定手段
１０８  観測信号数
３００  計算手段
３０１  推定誤差の幅
３０２  信頼度
５０１  分割情報
５０２  回路解析手段
５０３  面積情報
５０４  各回路実現装置の実現可能面積
５０５  観測信号数決定手段
５０６  観測信号数
８００  観測信号選択装置
８０１  観測信号情報
８０２  観測信号選択手段
１０００  回路修正手段
１００１  修正された回路
１００２  回路挿入手段
１１０１、１１０１．１、…、１１０１．ｘ  観測信号
１１０２、１１０２．１、…、１１０２．ｘ  変化検出回路
１１０３  読出回路（読出手段）
１２０１、１２０４、１２０５  Ｄ型フリップフロップ（ＤＦＦ）
１２０２、１２０３  ＡＮＤゲート
１２０６、１２０７  信号線
１４０１、１４０２  カウンタ
１５０１  実装手段
１５０２  ハードウェアエミュレータ
１５０３  表示手段
１７０１  観測信号候補
１７０２  観測信号選択手段
１７０３  観測信号
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
上記した本発明についてさらに詳細に説述すべく添付図面を参照して以下に説明する。本発明は、回路のトグル率や消費電力をディジタルＬＳＩやエミュレータ等で求めるための信号選択装置であって、トグル率や消費電力の測定対象となる回路の信号を列挙する信号列挙手段と、ディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能な回路規模と、回路面積解析手段が解析した前記回路の面積と、一つの信号の変化の有無を検出する変化検出回路の面積と、から、前記ディジタルＬＳＩやエミュレータで実装可能な範囲で観測する信号の数を最大とする観測信号数決定手段とを備えている。以下、いくつかの実施の形態に即して説明する。【００３７】
＜実施の形態１＞
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るシステムの構成を説明するための図である。図１を参照すると、本発明の第１の実施形態に係るシステムは、Ｖｅｒｉｌｏｇ−ＨＤＬ（hardware description language）やＶＨＤＬなどで記述された回路であって、動作パラメータの計測対象である、回路１０１を入力して解析し、動作パラメータの測定対象となっている回路１０１に存在する信号（信号情報）１０３と、該回路１０１の面積情報１０４を出力する回路解析手段１０２と、回路１０１の面積情報１０４と、動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、回路１０１の動作を実現する回路実現装置に実現可能な実現可能面積１０６とから、回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する観測信号数決定手段１０７と、を備えている。【００３８】
動作パラメータ測定回路の面積情報１０５は、動作パラメータの計測対象である回路１０１の信号を観測するために必要とされる、観測信号の検出回路等の回路面積情報である。本実施形態において、動作パラメータ測定回路の面積情報１０５は事前に与えられている。【００３９】
実現可能面積１０６は、動作パラメータの計測対象である回路１０１と、動作パラメータ測定回路が実装される半導体装置の面積である。本実施形態において、実現可能面積１０６は、事前に与えられている。【００４０】
なお、回路１０１は、Ｖｅｒｉｌｏｇ−ＨＤＬやＶＨＤＬ等のハードウェア記述言語で記述された回路（回路記述のソーステキスト）であるが、Ｖｅｒｉｌｏｇ−ＨＤＬやＶＨＤＬに限らず、回路図によって記述された回路であってもよい。あるいは、別のハードウェア記述言語であってもよい。【００４１】
回路解析手段１０２は、回路１０１に存在するすべての信号（例えば回路記述等で規定される信号）を列挙し、その情報を信号情報１０３に格納する。回路解析手段１０２は、信号の特性に限らず、すべて列挙する。【００４２】
回路解析手段１０２は、回路実現装置における回路１０１の面積を解析し、面積情報１０４を作成する。回路実現装置とは、実際のチップの場合もあるし、ＦＰＧＡ（field programmable gate array）等で構成されたハードウェアエミュレータの場合もある。【００４３】
観測信号数決定手段１０７は、面積情報１０４と、動作パラメータを測定する回路の面積（動作パラメータ測定回路の面積情報）１０５と、回路実現装置に実装可能な面積（実現可能面積）１０６と、から、回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数１０８を決定する。【００４４】
観測信号数決定手段１０７における、３つの面積情報を用いた回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数の決定の仕方の一例を説明する。例えば回路実現装置がＦＰＧＡで実現されており、ＦＰＧＡに実装可能な面積が１００００であるものとする。回路１０１のうちＦＰＧＡで実装される回路の面積が６０００とする（余裕回路面積＝１００００−６０００＝４０００）。動作パラメータ測定回路の面積情報１０５が１信号あたり１０のとき、観測信号数決定手段１０７は、（１００００−６０００）÷１０を計算し、観測信号数１０８を４００本とする。動作パラメータ測定回路の面積情報１０５として、観測信号の１信号あたりの面積を格納しておくようにしてもよい。あるいは、動作パラメータ測定回路の面積情報１０５として面積と観測信号を測定するための信号本数の情報を備えている構成としてもよい。回路１０１の面積情報をＡ、動作パラメータを測定する回路の面積が１信号あたりＢ、回路実現装置の実現可能面積がＳのとき、観測信号数＝（Ｓ−Ａ）／Ｂで求められる。【００４５】
次に、図２を参照して、本実施の形態の全体の動作について説明する。【００４６】
ステップＳ２０１では、回路解析手段１０２が入力された回路１０１にある動作パラメータの測定対象となっている信号を解析し、その信号情報１０３を作成する。【００４７】
回路解析手段１０２は、回路１０１が使用する面積を解析し、その情報を面積情報１０４に格納する。【００４８】
ステップＳ２０２では、ステップＳ２０１で作成した面積情報１０４と、動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、回路実現装置に実現可能な面積１０６から、回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数１０８を決定する。【００４９】
本実施の形態は、測定対象となる回路が必ずディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能となり、さらに測定した動作パラメータの推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができる。これは、観測信号数１０８を求める際に、ディジタルＬＳＩやエミュレータに実現可能な面積をパラメータとして利用しているからである。本実施の形態において、回路解析手段１０２と、観測信号数決定手段１０７はコンピュータ上で動作するプログラムによってその処理・機能を実現してもよい。【００５０】
＜実施の形態２＞
次に、図３を参照して本発明の第２の実施の形態を説明する。回路１０１に存在する信号の数と観測信号数１０８から、推定誤差の幅３０１または信頼度３０２を統計学的（statistically）に求める計算手段３００を追加したものである。【００５１】
計算手段３００は、回路１０１に存在する信号の数をＮとし、観測信号数１０８をｍ、推定誤差の幅３０１をｅ、信頼度３０２をｑとすると、推定誤差の幅ｅは式（１）、信頼度ｑは式（２）によって統計学的に求めることが可能である。【００５２】
2008081669.tif 000003
【００５３】
2008081669.tif 000004
【００５４】
ただし、関数Ｑ（・）は標準正規分布の上側確率関数であり、Ｑ−１（・）はその逆関数である。なお、上式（１）、式（２）は、動作パラメータの確率分布を正規分布と仮定した式である。【００５５】
例えばＮ＝１００００、ｍ＝１０００、ｑ＝０．９５とすると、式（１）から、推定誤差の幅は、ｅ≒０．０５８８となる。Ｎ＝１００００、ｍ＝１０００、ｅ＝０．０５とすると、式（２）から、信頼度ｑ≒０．９０５０８となる。【００５６】
次に、図４を参照して第２の実施の形態の全体の動作について説明する。図４を参照すると、本実施の形態の全体の動作は、図２の第１の実施の形態の動作に、ステップＳ４０１を追加したものである。ステップＳ４０１では、計算手段３００によって、回路１０１に存在する信号の数と観測信号数１０８から、推定誤差の幅３０１または信頼度３０２を統計学的に求める。計算の内容は本発明の第２の実施の形態の計算手段３００の動作で説明しているため省略する。【００５７】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態は、測定対象となる回路が必ずディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能となり、さらに測定した動作パラメータの推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができる。さらに得られた動作パラメータの値が統計学的にどの程度保証されているかを知ることが可能となる。本実施の形態において、回路解析手段１０２と、観測信号数決定手段１０７、計算手段３００はコンピュータ上で動作するプログラムによってその処理・機能を実現してもよい。【００５８】
＜実施の形態３＞
次に、図５を参照して、本発明の第３の実施形態について説明する。本発明の第３の施の形態では、回路１０１の動作を実現する回路実現装置が複数の回路実現装置から構成されている。第３の実施の形態では、回路１０１の各ブロックがどの回路実現装置で実現されるかは事前に分かっており、その内容が、分割情報５０１として与えられている。例えば回路実現装置が複数のＦＰＧＡから構成されているハードウェアエミュレータであれば、回路１０１の各ブロックがどのＦＰＧＡで実現されるのかが分割情報５０１に格納されている。【００５９】
本発明の第３の実施の形態においては、前記第１の実施の形態から、分割情報５０１が追加され、回路解析手段５０２と、面積情報５０３と、各回路実現装置の実現可能面積５０４と、観測信号数決定手段５０５と、観測信号数５０６が異なる。その他の手段は第１の実施の形態と同じである。これらの手段の詳細について説明する。【００６０】
分割情報５０１は、回路１０１の各ブロックがどの回路実現装置で実現されているかを示す情報を格納している。これらは事前に与えられている。【００６１】
回路解析手段５０２は、分割情報５０１から各回路実現装置で実現される回路１０１のブロックの面積の和を解析し、その面積を回路実現装置ごとに面積情報５０３に格納する。【００６２】
観測信号数決定手段５０５は、回路実現装置ごとに、その面積情報５０３と、前記動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、その回路実現装置に実装可能な実現可能面積５０４から、その回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数５０６を決定する。計算する方法は第１の実施の形態と同じである。例えば、回路実現装置が２つのＦＰＧＡ（以下ＦＰＧＡ１とＦＰＧＡ２）で実現されていて、ＦＰＧＡ１に実装可能な面積が１００００で、ＦＰＧＡ２に実装可能な面積が２００００とする。【００６３】
回路１０１のうちＦＰＧＡ１で実装される回路の面積の和が６０００、ＦＰＧＡ２で実装される回路の面積の和が８０００で、前記動作パラメータを測定する回路の面積が１信号あたり１０のとき、観測信号数決定手段５０５は、
ＦＰＧＡ１に対しては、（１００００−６０００）÷１０を計算し、
ＦＰＧＡ２に対しては、（２００００−８０００）÷１０を計算して、それぞれ観測信号数を４００本と１２００本とする。【００６４】
次に、図６のフローチャートを参照して、本実施の形態の全体の動作について説明する。本実施の形態の全体の動作は、第１の実施の形態にステップＳ６００を追加したものである。【００６５】
ステップＳ６００は、回路実現装置ごとに、ステップＳ２０２によって、面積情報５０３と、前記動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、その回路実現装置に実装可能な実現可能面積５０４から、その回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数５０６を決定するための分岐ステップである。【００６６】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態では、回路実現装置が複数の回路実現装置から構成されている場合でも、測定対象となる回路が必ずディジタルＬＳＩやエミュレータにすべて実装可能となり、さらに測定した動作パラメータの推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができるという効果がある。本実施の形態において、回路解析手段５０２、観測信号数決定手段５０５はコンピュータ上で動作するプログラムによってその処理・機能を実現してもよい。【００６７】
＜実施の形態４＞
次に、本発明の第４の実施の形態を説明する。本発明の第４の実施の形態は、前記第２の実施の形態と異なり、複数の異なる実現可能面積を持つディジタルＬＳＩもしくはエミュレータに対して、同時に、推定誤差の幅または信頼度を求める、ようにしたものである。前記第３の実施の形態と異なり、複数の回路実現装置は、それぞれ一つの回路実現装置から構成されているが、実現可能な回路面積が異なる形態である。【００６８】
本実施の形態は、前記第２の実施の形態の構成と同じであるが、ディジタルＬＳＩもしくはエミュレータの実現可能面積１０６が一つではなく、複数の実現可能面積から構成されている。図７のフローチャートを参照して、第４の実施の形態の全体の動作について説明する。【００６９】
第４の実施の形態においては、各実現可能面積１０６に対して、推定誤差の幅３０１または信頼度３０２を求めるために、前記第２の実施の形態にステップＳ７００を追加したものである。【００７０】
ステップＳ７００は、すべての実現可能面積１０６の各々に対して、ステップＳ２０２とステップＳ４０１を実行し、推定誤差の幅３０１または信頼度３０２を求めるようにする分岐ステップである。つまり、すべての回路実現装置に対する推定誤差の幅３０１または信頼度３０２を求めると終了させるステップである。【００７１】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態は、複数の異なる実現可能面積を持つディジタルＬＳＩもしくはエミュレータに対して、同時に推定誤差の幅または信頼度を求めることができるため、ユーザは、期待する推定誤差の幅または信頼度を得るためにはどのくらいの実現可能面積をもつディジタルＬＳＩもしくはエミュレータを利用すればよいのかを知ることが可能となる。さらにその求めた推定誤差の幅または信頼度は必ず実現することが可能となる。【００７２】
＜実施の形態５＞
次に、図８、図９を参照して、本発明の第５の実施の形態を説明する。第５の実施の形態は、第１の実施の形態にさらに、観測信号選択手段８０２を追加したものである。観測信号選択手段８０２は、回路解析手段１０２が列挙した信号情報１０３から、観測信号数決定手段１０７が決定した観測信号数１０８を、無作為に選択して、観測信号情報８０１を作成する。【００７３】
本発明の第５の実施の形態の全体の動作について説明する。本発明の第５の実施の形態の全体の動作は、図９に示すように、前記第１の実施の形態の処理手順（図２参照）に、ステップＳ９００を追加したものである。【００７４】
ステップＳ９００では、観測信号選択手段８０２により、回路解析手段１０２が列挙した信号情報１０３から、観測信号数決定手段１０７が決定した観測信号数１０８を、無作為に選択して観測信号情報８０１を作成する。【００７５】
本実施の形態の作用効果は、前記第１の実施の形態と同じである。本実施の形態において、回路解析手段１０２、観測信号数決定手段１０７、観測信号選択手段８０２はコンピュータ上で動作するプログラムによってその処理・機能を実現してもよい。【００７６】
＜実施の形態６＞
次に、本発明の第６の実施の形態を説明する。本発明の第６の実施の形態の構成要素および全体の動作は、前記第５の実施の形態と同じである。本実施の形態が、前記第５の実施の形態と異なる部分は、回路解析手段１０２の動作である。【００７７】
本実施の形態では、回路解析手段１０２は、変化しないと予め分かる信号を、回路解析手段１０２の出力である信号情報１０３に出力しない。【００７８】
変化しないと予め分かる信号は、電源やグラウンドに接続された固定値の信号や、スペアの出力信号などがある。これらの信号は、ユーザが指定してもよいし、回路解析手段１０２が自動的に判断するようにしてもよい。また、実行するテストベクタによっては、絶対に動作しない回路ブロックも存在するため、それらを解析して、信号情報１０３に出力しないようにする。【００７９】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態は、第５の実施の形態と比較して、トグル率を意図せず下げてしまう要因を事前に削減することが可能となる。【００８０】
＜実施の形態７＞
次に、本発明の第７の実施の形態を説明する。前記第６の実施の形態では、回路解析手段１０２が変化しないと予め分かる信号を信号情報１０３に出力しない構成とされていたが、本実施の形態では、回路解析手段１０２が変化しないと予め分かる信号を信号情報１０３に出力しないように構成するかわりに、観測信号選択手段８０２が、変化しないと予め分かる信号を選択しないように構成している。【００８１】
本発明の第７の実施の形態の全体の動作は第６の実施の形態と同じである。同様に本実施の形態の作用効果は第６の実施の形態と同じである。【００８２】
＜実施の形態８＞
次に、本発明の第８の実施の形態を説明する。ただし、本発明の第８の実施の形態の全体の動作は、前記第５の実施の形態と同じである。本発明の第８の実施の形態が、前記第５の実施の形態と異なる部分は、回路解析手段１０２は、変化すると予め分かる信号を、回路解析手段１０２の出力である信号情報１０３に出力しないようにしている。【００８３】
変化すると予め分かる信号は、クロック信号やリセット信号、回路の入出力端子などがある。これらの信号はユーザが指定してもよいし、回路解析手段１０２が自動的に判断することもできる。【００８４】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態は、前記第５の実施の形態と比較して、トグル率を意図せず上げてしまう要因を事前に削減することが可能となる。【００８５】
＜実施の形態９＞
次に、本発明の第９の実施の形態を説明する。本実施の形態は、前記第８の実施の形態と異なり、回路解析手段１０２が変化すると予め分かる信号を信号情報１０３に出力しないのではなく、観測信号選択手段８０２が変化すると予め分かる信号を選択しないようにしている。【００８６】
本発明の第９の実施の形態の全体の動作は第８の形態と同じである。同様に本実施の形態の作用効果は第８の実施の形態と同じである。【００８７】
＜実施の形態１０＞
次に、本発明の第１０の実施の形態を説明する。本発明の第１０の実施の形態の全体の動作は、第５の実施の形態と同じである。本実施の形態が、前記第５の実施の形態と異なる部分は回路解析手段１０２と観測信号選択手段８０２の制御動作である。【００８８】
本実施の形態において、回路解析手段１０２は、前記第５の実施の形態と異なり、さらに、信号間の依存関係を解析し、依存関係を出力する。【００８９】
本実施の形態において、観測信号選択手段８０２はさらに、選択した信号に依存がないように、信号を選択する。【００９０】
依存関係とは、例えば、トグル率の対象となっている回路に信号Ａと信号Ｂがあり、それがインバータで接続されている場合などである。この場合、信号Ａが変化すれば必ず信号Ｂが変化するため、トグル率が低い場合には、より低くなり、高い場合には、より高くなる原因になる。【００９１】
他の依存関係の例としては、例えば、信号Ａの値が変化したときに、その変化によって値が変わり得る信号は依存関係があるとし、その他の信号は依存関係がないとする例もある。【００９２】
また、さらに他の依存関係の例としては、回路の階層が同じ場合は依存関係があるとし、その他の階層では依存関係がないとする例もある。【００９３】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。この操作は、統計学的に許されないが、トグル率を低くする（機能検証漏れが少なくなる）ように働く。したがって、実際のトグル率の値よりも、本発明のトグル率の値が低い確率を減らすことができる。【００９４】
＜実施の形態１１＞
次に、本発明の第１１の実施の形態を説明する。図１０と図１１を参照すると、本発明の第１１の実施の形態は、トグル率の計測対象である回路１０１と、回路１０１を入力して観測信号情報８０１を出力する観測信号選択装置（「信号選択装置」ともいう）８００と、観測信号情報８０１にある各観測信号１１０１．１、…、１１０１．ｘに対して、信号の変化を検出する変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘと変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘが検出した変化の有無を読み出す読出回路１１０３とを、回路１０１に挿入し、修正された回路１００１を出力する回路挿入手段１００２と、を備えている。【００９５】
本発明の第１１の実施の形態は、前記第５の実施の形態に、回路挿入手段１００２を加えたものであり、図１０の観測信号選択装置８００、回路１０１、観測信号情報８０１は、前記第５の実施の形態と同じであるため、詳細を省略する。【００９６】
回路挿入手段１００２について説明する。回路挿入手段１００２は、図１１に示すように、回路１０１に対して、観測信号情報８０１にあるｘ個の観測信号１１０１．１、…、１１０１．ｘに対して、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘと、読出回路１１０３を挿入した構成の回路を作成する。【００９７】
図１１では、回路１０１の機能的動作を変更しない意味で、回路１０１の外に変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘと、読出回路１１０３が追加されているが、実際には、観測信号付近に、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘを挿入しても構わない。つまり、回路挿入手段１００２は、回路１０１の機能的な動作を変更せず、観測信号１１０１．１、…、１１０１．ｘを、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘにそれぞれ接続し、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘを読出回路１１０３に接続すればよい。【００９８】
ｘ個の変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘは機能的に同じである。図１２は、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘのより具体的な回路構成の一例を示す図である。【００９９】
図１２を参照すると、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘは、観測信号１１０１の一サイクル前の値を出力するＤＦＦ（Ｄ型フリップフロップ）１２０１と、観測信号１１０１の値が１で一サイクル前の値が０の場合、出力が１になるＡＮＤゲート１２０２と、観測信号１１０１の値が０で一サイクル前の値が１の場合、出力が１になるＡＮＤゲート１２０３と、観測信号１１０１が一度でも０から１に変化した場合、値１を記憶するＤＦＦ１２０４と、観測信号１１０１が一度でも１から０に変化した場合、値１を記憶するＤＦＦ１２０５とを備えている。このとき、論理伝播中に信号がばたつくジッタ以外の観測信号１１０１の変化を検出可能にするため、ＤＦＦ１２０１やＤＦＦ１２０４、ＤＦＦ１２０５のクロック信号には、観測信号１１０１やその信号に論理的に依存するデータ信号をラッチするすべてのフリップフロップのクロック信号のうち、もっとも高速なクロック信号を利用する。図１２の構成例では、値を記憶する手段として、Ｄ型フリップフロップを利用しているが、値を記憶できる手段であれば、他の任意の構成が用いられる。【０１００】
さらに、必要なテスト期間中だけトグル率を測定できるように、ＤＦＦ１２０４やＤＦＦ１２０５に、リセット信号やクロックイネーブル信号を用意しておいてもよい。【０１０１】
読出手段（読出回路）１１０３は、ｘ個ある変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘ内部のＤＦＦ１２０４とＤＦＦ１２０５の値を読み出す手段である。本発明では、すべてのＤＦＦ１２０４とＤＦＦ１２０５の値が読み出し出来さえすれば、任意の回路構成とされる。例えば、回路規模を押さえるためにシリアル接続してもよいし、読出時間を短縮するために、複数の値を平行して読み出せるようにパラレル接続してもよい。【０１０２】
次に、図１３のフローチャートを参照して、本実施の形態の全体の動作について説明する。本実施の形態の動作は、前記第５の実施の形態の処理手順（図９参照）にステップＳ１３０１が追加されている。【０１０３】
ステップＳ１３０１では、回路挿入手段１００２により、回路１０１に変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘと読出手段１１０３を挿入し、回路１０１を修正する。【０１０４】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態の作用効果は、推定誤差の幅や信頼度によっては数万となる観測信号の各々に、変化検出回路を付加し、それを読出手段に接続するという、工数（煩雑さ）を削減できる点である。また、自動で行うことにより人手で発生する修正ミスを防ぐことができる。【０１０５】
さらに、測定対象となる回路が必ずディジタルＬＳＩやエミュレータに実装可能となり、さらに測定した動作パラメータの推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができる。【０１０６】
また、ＤＦＦ１２０４やＤＦＦ１２０５に、リセット信号やクロックイネーブル信号を追加することで、必要なテスト期間中だけトグル率を測定できるようにすることが可能となる。【０１０７】
さらにまた、ＤＦＦ１２０４やＤＦＦ１２０５に対して、さらに書き込み手段を設けることで、複数のテストベンチを実行させたときの結果をマージしやすくする、という利点もある。観測信号選択装置８００、回路挿入手段１００２は、回路修正手段１０００を構成するコンピュータのプログラムで実現してもよい。【０１０８】
＜実施の形態１２＞
次に、本発明の第１２の実施の形態を説明する。本発明の第１２の実施の形態では、さらに、前記第１１の実施の形態における変化検出回路１１０２が、変化の有無を検出するだけでなく、その回数も記憶できるようにしたものである。読出手段１１０３も、変化検出回路１１０２から変化の回数を読み出せる構成とされている。【０１０９】
本実施の形態の全体の動作は、前記第１１の実施の形態と同じである。本実施の形態におけるｘ個の変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘは機能的に同じである。【０１１０】
図１４は、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘのより具体的な構成例を示す図である。【０１１１】
図１４を参照すると、変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘは、前記第１１の実施の形態のＤＦＦ１２０４とＤＦＦ１２０５（図１２参照）を、信号線１２０６、１２０７が１になった回数を数えるカウンタ１４０１、１４０２に置き換えた構成とされている。論理伝播中に信号がばたつくジッタ以外の観測信号１１０１の変化を検出可能にするため、カウンタ１４０１、１４０２のクロック信号には、観測信号１１０１やその信号に論理的に依存するデータ信号をラッチするすべてのフリップフロップのクロック信号のうち、最も高速なクロック信号を利用する。【０１１２】
さらに、必要なテスト期間中だけトグル率や消費電力を測定できるように、カウンタ１４０１、１４０２に、リセット信号やクロックイネーブル信号を用意しておいてもよい。【０１１３】
読出手段１１０３は、ｘ個ある変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘ内部のカウンタ１４０１、１４０２の値を読み出す。読出手段１１０３は、すべてのカウンタ１４０１と１４０２の値が読み出し出来さえすれば、任意の回路構成であってよい。例えば、回路規模を押さえるためにシリアル接続してもよいし、読出時間を短縮するために、複数の値を平行して読み出せるようにパラレル接続してもよい。【０１１４】
次に、本実施の形態の作用効果について説明する。本実施の形態の作用効果は、変化の回数から消費電力をトグル率と同様に推定することができるという利点がある。【０１１５】
＜実施の形態１３＞
次に、図１５を参照して、本発明の第１３の実施の形態について説明する。図１５を参照すると、本発明の第１３の実施の形態に係る装置は、トグル率や消費電力をハードウェアエミュレータによって測定する。本発明の第１３の実施形態は、回路１０１と、回路修正手段１０００と、修正された回路１００１と、修正された回路１００１をハードウェアエミュレータ１５０２に実装する実装手段１５０１と、修正された回路の動作をエミュレートするハードウェアエミュレータ１５０２と、エミュレータの動作後、トグル率や消費電力を表示する表示手段１５０３と、を備えている。【０１１６】
次に、図１６のフローチャートを参照して、本実施の形態の全体の動作について説明する。修正された回路１００１（図１６のステップＳ１３０１）のステップまでは、本発明の第１１の実施の形態（図１３参照）で説明した修正された回路１００１の生成までのステップと同じである。【０１１７】
ステップＳ１６０１では、実装手段１５０１によって、修正された回路１００１をハードウェアエミュレータ１５０２に実装する。ハードウェアエミュレータ１５０２がＦＰＧＡの場合、実装手段１５０１は、Ｖｅｒｉｌｏｇ−ＨＤＬやＶＨＤＬで記述されている修正された回路１００１からネットリストを生成する合成ツールと、作成されたネットリストをＦＰＧＡに実装するためのツールから構成される。【０１１８】
次にステップＳ１６０２では、ハードウェアエミュレータ１５０２を動作させる。ハードウェアエミュレータ１５０２が動作中、ハードウェアエミュレータに実装された回路の変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘは、それぞれの観測信号１１０１の値が変化したかを検出する（図１１を参照）。ハードウェアエミュレータ１５０２の動作が終了すると、ステップＳ１６０３へ移動する。【０１１９】
ステップＳ１６０３では、読出手段１１０３を通じて、ｘ個の変化検出回路１１０２．１、…、１１０２．ｘが検出した変化を読み出し、トグル率を計算して、表示する。例えば１００個の信号のうち、ハードウェアエミュレータ１５０２の動作中、０から１へ一度でも変化した信号が４０個、１から０へ一度でも変化した信号が６０個の場合、トグル率は、（４０＋６０）／（２＊１００）＝０．５となり、表示手段１５０３に５０％と表示する。【０１２０】
本実施の形態の作用効果は、トグル率や消費電力をハードウェアエミュレータによって測定すること以外、前記第１１の実施の形態と同じである。【０１２１】
＜実施の形態１４＞
次に、図１７を参照して、本発明の第１４の実施の形態について説明する。図１７を参照すると、本発明の第１４の実施の形態は、予め与えられた優先度つき観測信号候補から、回路実現装置に実装できる範囲で観測信号を選択する。【０１２２】
これらの手段の詳細について説明する。観測信号候補１７０１は、動作パラメータを求める際に、どの信号から順に観測するかを示すものである。例えば、回路のＡという信号を最優先に選択し、次に信号Ｂ、次に信号Ｃというような情報を格納している。【０１２３】
観測信号選択手段１７０２は、観測信号候補１７０１の最も優先度が高い観測信号から観測信号を選択し、その観測信号を測定するために必要な動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、回路実現装置が実現可能な面積１０６とから、動作パラメータ測定対象となっている回路と動作パラメータ測定回路が回路実現装置に実装可能かを調査する。もし実装可能であれば、次の優先度の観測信号を追加して、さらに調査を行う。実装が不可能になった時点で、現時点で選択した信号を除いた信号の一覧を観測信号１７０３として出力する。【０１２４】
次に、図１８のフローチャートを参照して、観測信号選択手段１７０２の動作について説明する。【０１２５】
ステップＳ１８０１では、観測信号候補１７０１の中で、まだ観測信号選択手段１７０２に選択されていない信号のうち、最も優先度が高い信号を１つ選択する。【０１２６】
ステップＳ１８０２では、以前に選択された観測信号と、今回選択された信号をあわせて、回路実現手段に実装可能であるか否かを計算する。実装可能であれば、再び、ステップＳ１８０１に戻り、実装不可能であれば、以前に選択した観測信号の一覧を観測信号１７０３として出力する。【０１２７】
次に、本実施の形態の作用効果を説明する。本実施の形態では、回路実現装置が複数の回路実現装置から構成されている場合でも、測定対象となる回路が必ずディジタルＬＳＩやエミュレータにすべて実装可能となり、さらに測定した動作パラメータの推定誤差の幅は最小に、もしくは、信頼度を最大にすることができる。【０１２８】
さらに観測信号の優先度を利用者が任意に設定できるため、利用者が重点的に観測したい部分を優先的に選択できるようになるという効果がある。本実施の形態において、観測信号選択手段１７０２は、コンピュータ上で動作するプログラムで実現してもよい。
【実施例】
【０１２９】
次に、一具体例として、Ｖｅｒｉｌｏｇ−ＨＤＬで記述された図１９を用いて、前記第１の実施の形態を説明する。【０１３０】
図２のステップＳ２０１は、回路解析手段１０２によって、入力された回路（図１９）を解析する。この場合、ｃｌｋ、ｃｏｕｎｔ［９９９９：０］、ｈｉｔ、ｅｎａｂｌｅという信号があると解析する。さらに、この回路が占める面積を計算し、面積情報１０４に格納する。この場合は、例えば６０００とする。この面積の値は回路実現装置によって大きく異なる。例えば回路実現装置がディジタルＬＳＩの場合は、回路１０１を実装するプロセスに用意されたセルライブラリにマッピングしたときのロジックや記憶素子の数から求められる。また、回路実現装置がＦＰＧＡの場合は、回路１０１をそのＦＰＧＡにマッピングしたときのロジックや記憶素子の利用数から求められる。【０１３１】
次のステップＳ２０２では、観測信号数決定手段１０７は、面積情報１０４と、前記動作パラメータ測定回路の面積情報１０５と、回路実現装置に実現可能な面積（実現可能面積）１０６から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数１０８を決定する。例えば、回路実現装置に実装可能な面積が１００００で、回路１０１の面積が６０００、前記動作パラメータを測定する回路の面積が１信号あたり１０のとき、観測信号数決定手段１０７は（１００００−６０００）÷１０を計算し、観測信号数は４００本となる。【０１３２】
本発明は、回路の機能検証といった用途に適用できる。また、本発明は電力推定等にも利用可能である。【０１３３】
以上、本発明を上記実施例に即して説明したが、本発明は上記実施例の構成にのみ制限されるものでなく、本発明の範囲内で当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。【０１３４】
以上、本発明を上記実施例に即して説明したが、本発明は上記実施例の構成にのみ制限されるものでなく、本発明の範囲内で当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
【図１】
2008081669.tif 000005
【図２】
2008081669.tif 000006
【図３】
2008081669.tif 000007
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2008081669.tif 000012
【図９】
2008081669.tif 000013
【図１０】
2008081669.tif 000014
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2008081669.tif 000017
【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
2008081669.tif 000021
【図１８】
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【図１９】
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【手続補正書】
【提出日】平成20年4月21日(2008.4.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
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【請求項２】
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【請求項３】
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【請求項４】
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【請求項５】
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【請求項６】
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【請求項７】
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【請求項８】
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【請求項９】
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【請求項１０】
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【請求項１１】
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【請求項１２】
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【請求項１３】
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【請求項１４】
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【請求項１５】
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【請求項１６】
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【請求項１７】
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【請求項１８】
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【請求項１９】
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【請求項２０】
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【請求項２１】
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【請求項２２】
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【請求項２３】
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【請求項２４】
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【請求項２５】
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【請求項２６】
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【請求項２７】
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【請求項２８】
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【請求項２９】
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【請求項３０】
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【請求項３１】
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【請求項３２】
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【請求項３３】
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【請求項３４】
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【請求項３５】
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【請求項３６】
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【請求項３７】
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【請求項３８】
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【請求項３９】
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【請求項４０】
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【請求項４１】
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【請求項４２】
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【請求項４３】
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【請求項４４】
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【請求項４５】
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【請求項４６】
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【請求項４７】
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【請求項４８】
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【請求項４９】
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【請求項５０】
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【請求項５１】
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【請求項５２】
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【請求項５３】
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【請求項５４】
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【請求項５５】
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【請求項５６】
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【請求項５７】
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【請求項５８】
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【請求項５９】
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【請求項６０】
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【請求項６１】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号の数を決定する装置であって、
回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報と、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報と、
前記観測信号の１信号あたり必要な回路の面積に関する情報と、
に基づいて、前記観測信号の数を決定する観測信号決定手段を備える
ことを特徴とする観測信号情報決定装置。
【請求項６２】
前記観測信号決定手段は、
前記回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報から、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報を差し引いた値を余裕回路規模の情報として求めると共に、前記余裕回路規模の情報を、前記動作パラメータを測定する動作パラメータ測定回路の１観測信号あたりの面積に関する情報で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項６１記載の観測信号情報決定装置。
【請求項６３】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段を備えたことを特徴とする請求項６１又は６２に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項６４】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する装置であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路とが、前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択手段を含む、ことを特徴とする信号選択装置。
【請求項６５】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算手段をさらに備えたことを特徴とする請求項６４に記載の信号選択装置。
【請求項６６】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定手段は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号の１信号あたり必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項６１に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項６７】
前記観測信号情報決定手段が決定した各観測信号の数の和と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算手段をさらに備えたことを特徴とする請求項６６に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項６８】
請求項６３又は６７に記載の観測信号情報決定装置を備え、
複数の回路実現装置に対して、前記計算手段を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う回路実現装置選択支援装置。
【請求項６９】
請求項６５に記載の信号選択装置を備え、
複数の回路実現装置に対して、前記計算手段を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う回路実現装置選択支援装置。
【請求項７０】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算手段は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項６３又は６７に記載の観測信号情報決定装置。
【請求項７１】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算手段は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項６５に記載の信号選択装置。
【請求項７２】
請求項６１又は６６に記載の観測信号情報決定装置で決定された観測信号の数を、前記回路の信号から選択する観測信号選択手段を備えたことを特徴とする信号選択装置。
【請求項７３】
前記観測信号選択手段は、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項６４又は７２に記載の信号選択装置。
【請求項７４】
前記観測信号選択手段は、さらに、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項６４又は７２に記載の信号選択装置。
【請求項７５】
前記回路中の依存関係を解析する回路解析手段をさらに備え、
前記観測信号決定手段は、前記回路解析手段で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように、前記観測信号を選択する、ことを特徴とする請求項６４、７２、７３、７４のいずれか一記載の信号選択装置。
【請求項７６】
請求項６４、７２、７３、７４、７５のいずれか一記載の信号選択装置で選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を前記回路に挿入する回路挿入手段を備えたことを特徴とする回路修正システム。
【請求項７７】
前記変化検出回路は、さらに、前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項７６に記載の回路修正システム。
【請求項７８】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する手段を備えたことを特徴とする請求項７６又は７７に記載の回路修正システム。
【請求項７９】
請求項７６又は７８に記載の回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された変化した前記観測信号の数から回路全体のトグル率を推定する推定手段を備えたことを特徴とする回路エミュレータ。
【請求項８０】
請求項７７に記載の回路修正システムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から回路全体の消費電力を推定する推定手段を備えたことを特徴とする回路エミュレータ。
【請求項８１】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号の数を決定する方法であって、
回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報と、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報と、
前記観測信号の１信号あたり必要な回路の面積に関する情報と、
に基づいて、前記観測信号の数を決定する観測信号情報決定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項８２】
前記観測信号情報決定工程は、
前記回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報から、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報を差し引いた値を余裕回路規模の情報として求めると共に、前記余裕回路規模の情報を、前記動作パラメータを測定する動作パラメータ測定回路の１観測信号あたりの面積に関する情報で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項８１に記載の方法。
【請求項８３】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算工程をさらに含む、ことを特徴とする請求項８１又は８２に記載の方法。
【請求項８４】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を選択する方法であって、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路と、が前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項８５】
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算工程さらに含む、ことを特徴とする請求項８４に記載の方法。
【請求項８６】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定工程は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項８１に記載の方法。
【請求項８７】
前記観測信号情報決定工程が決定した各観測信号の数の和と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算工程をさらに含むことを特徴とする請求項８１に記載の方法。
【請求項８８】
回路実現装置の選択支援を行う方法であって、
複数の回路実現装置に対して、請求項８３、８５、８７のいずれか一に記載の方法における前記計算工程を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、前記回路実現装置の選択の支援を行う、ことを特徴とする方法。
【請求項８９】
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算工程は、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を、統計学的に求める、ことを特徴とする請求項８３、８５、８７のいずれか一に記載の方法。
【請求項９０】
決定された観測信号数を、前記回路の信号から選択する観測信号選択工程を含む、ことを特徴とする請求項８１又は８６に記載の方法。
【請求項９１】
前記観測信号選択工程は、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項８４又は９０に記載の方法。
【請求項９２】
前記観測信号選択工程は、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項８４又は９０に記載の方法。
【請求項９３】
各信号の依存関係を解析する回路解析工程をさらに有し、
前記観測信号選択工程は、前記回路解析工程で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように、前記観測信号を選択する、ことを特徴とする請求項８４、９０、９１、９２のいずれか一記載の方法。
【請求項９４】
回路を修正する方法であって、請求項８４、９０、９１、９２、９３のいずれか一記載の方法で選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を前記回路に押入する回路挿入工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項９５】
前記変化検出回路は、さらに前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項９４に記載の方法。
【請求項９６】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する、ことを特徴とする請求項９４又は９５に記載の方法。
【請求項９７】
回路をエミュレーションする方法であって、請求項９４又は９６に記載の方法よって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された変化した前記観測信号の数から回路全体のトグル率を推定する推定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項９８】
回路をエミュレーションする方法であって、請求項９５に記載の方法によって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から回路全体の消費電力を推定する推定工程を含む、ことを特徴とする方法。
【請求項９９】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号の数を決定する処理を行うコンピュータに、
回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報と、
前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報と、
前記観測信号の１信号あたり必要な回路の面積に関する情報と、
に基づいて、前記観測信号の数を決定する観測信号情報決定処理を実行させるプログラム。
【請求項１００】
前記観測信号情報決定処理は、
前記回路実現装置で実現可能な実現可能面積に関する情報から、前記回路実現装置で前記回路を実現するときの面積に関する情報を差し引いた値を余裕回路規模の情報として求めると共に、前記余裕回路規模の情報を、前記動作パラメータを測定する動作パラメータ測定回路の１観測信号あたりの面積に関する情報で除した値に基づき、前記観測信号の数を決定する、ことを特徴とする請求項９９に記載のプログラム。
【請求項１０１】
請求項９９又は１００に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１０２】
回路の動作パラメータを求めるための観測信号情報を決定する処理を行うコンピュータに、
回路実現装置で実現可能な回路規模の情報と、
前記回路の情報と、
前記回路の信号で観測すべき信号の候補と、
から、
前記回路と、選択した観測信号を観測する回路とが、前記回路実現装置で実現可能なように、観測信号を選択する観測信号選択処理を実行させるプログラム。
【請求項１０３】
請求項１０２に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号の数と、前記回路の信号の数と、から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を、統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１０４】
前記回路実現装置は、複数の回路実現装置によって実現され、
前記観測信号情報決定処理は、
前記複数の回路実現装置の各々で、予め決定された前記回路の一部分を実現するときの余裕回路規模を求め、
前記余裕回路規模の各々と、観測信号を一つ追加した時に必要な回路規模と、から、前記回路実現装置で実現可能な最大の観測信号数を決定する、ことを特徴とする請求項１０２に記載のプログラム。
【請求項１０５】
請求項１０４に記載のプログラムにおいて、
前記観測信号情報決定処理で決定された各観測信号の数の和と前記回路の信号の数から、推定誤差の幅及び／又は信頼度を統計学的に決定する計算処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１０６】
回路実現装置選択支援を行うコンピュータに、複数の回路実現装置に対して、請求項１０１、１０３、１０５のいずれか一に記載の前記計算処理を用いて、前記動作パラメータに対する推定誤差の幅及び／又は信頼度の情報を利用者に提示し、回路実現装置の選択の支援を行う処理を実行させるプログラム。
【請求項１０７】
請求項１０１、１０３、１０５のいずれか一に記載のプログラムにおいて、
前記動作パラメータが、トグル率又は消費電力であり、
前記計算処理として、前記動作パラメータの確率分布を正規分布であると仮定して、推定誤差の幅と信頼度を統計学的に求める処理を、前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１０８】
請求項９９又は１０４に記載のプログラムにおいて、
決定された観測信号数を前記回路の信号から選択する観測信号選択処理を、さらに前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１０９】
前記観測信号選択処理が、変化しない信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項１０２又は１０８に記載のプログラム。
【請求項１１０】
前記観測信号選択処理が、変化する信号であることが予め分かっている信号以外の信号を前記観測信号として選択する、ことを特徴とする請求項１０２又は１０８に記載のプログラム。
【請求項１１１】
請求項１０２、１０８、１０９、１１０のいずれか一記載のプログラムであって、
各信号の依存関係を解析する回路解析処理を有し、
前記観測信号選択処理は、前記回路解析処理で解析された前記依存関係から選択された信号間で依存がないように観測信号を選択するプログラム。
【請求項１１２】
請求項１０２、１０８、１０９、１１０、１１１のいずれか一記載のプログラムで選択された観測信号に対して、
前記観測信号の変化を検出する変化検出回路と、
前記検出した前記観測信号の変化を読み出す読出回路と、
を、前記回路に挿入する回路挿入処理を、前記コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１１３】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化の回数を検出し、
前記読出回路は、前記観測信号の変化の回数を読み出す、ことを特徴とする請求項１１２に記載のプログラム。
【請求項１１４】
前記変化検出回路は、前記観測信号の変化を検出するか否かを決定する、ことを特徴とする請求項１１２又は１１３に記載のプログラム。
【請求項１１５】
請求項１１２又は１１４に記載のプログラムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化した信号の数から、回路全体のトグル率を推定する推定処理を、回路エミュレーション用のコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１１６】
請求項１１３に記載のプログラムによって修正された回路をエミュレートし、
前記読出回路によって読み出された前記観測信号の変化の回数から、回路全体の消費電力を推定する推定処理を、回路エミュレーション用のコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１１７】
被測定回路と、
前記被測定回路の観測信号に基づき、前記被測定回路の動作パラメータの測定を行うための測定回路と、
を含む半導体回路装置であって、
前記被測定回路を実装した場合の前記半導体回路装置における余裕面積を、観測信号一本あたりに必要とされる、前記測定回路の面積で除した値に基づき、前記被測定回路の観測信号数が決定され、
前記測定回路は、前記観測信号数に対応して配設され、それぞれが対応する観測信号に接続された検出回路と、
前記各検出回路での検出結果を読み出す回路と、
を備えている、ことを特徴とする半導体回路装置。
【国際調査報告】
2008081669.tif 000024
2008081669.tif 000025