(57)【要約】  この発明は、熱電対１０から入力されたアナログ信号を絶縁する第１の絶縁トランスＴ１を含むスキャナ回路３と、熱電対１０の断線検査に使用するための試験電圧の充電を行う電源部２と、スキャナ回路３と電源部２とが互いに並列に接続されている第２の絶縁トランスＴ２と、第２の絶縁トランスＴ２に入力するパルス信号を出力する制御回路８とを備えている。第２の絶縁トランスＴ２は、スキャナ回路３のスイッチングを行うためのドライブパルス４１を絶縁伝送するとともに、電源部２への給電を行うための電源パルス４２を絶縁伝送する。制御回路８は、ドライブパルス４１と電源パルス４２とを同時に出力しないようにタイミングの制御を行う。これにより、試験電圧印加のための絶縁トランスを不要とし、それによって、部品の個数を全体として大幅に減らし、低コスト化且つ小型化が図れる。
2008072329.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部装置から出力されるアナログ信号が入力されて、それを収集するアナログ入力装置であって、
入力されたアナログ信号を絶縁する第１の絶縁トランスを含むスキャナ回路と、
前記外部装置の断線検査に使用するための試験電圧の充電を行う電源部と、
前記スキャナ回路と前記電源部とが互いに並列に接続されている第２の絶縁トランスと、
前記第２の絶縁トランスに入力するパルス信号を出力する制御手段と
を備え、
前記第２の絶縁トランスは、前記スキャナ回路のスイッチングを行うためのドライブパルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記スキャナ回路に伝送するとともに、前記電源部への給電を行うための電源パルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記電源部に伝送し、
前記制御手段は、前記ドライブパルスと前記電源パルスとを同時に出力しないようにタイミングの制御を行って、それらを出力する
ことを特徴とするアナログ入力装置。
【請求項２】
前記電源部は、
前記外部装置の断線検査に使用する前記試験電圧を充電するためのキャパシタと、
前記電源パルスが前記制御手段から出力されている期間のみ導通状態となって、前記キャパシタに前記電源パルスを供給する整流素子と
を備えたことを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力装置。
【請求項３】
前記電源部の前記整流素子は、ダイオードから構成されており、
当該ダイオードのアノード端子が、前記電源部の前記キャパシタの高電位端子に接続されていることを特徴とする請求項２に記載のアナログ入力装置。
【請求項４】
前記スキャナ回路は、前記スイッチングを行うための少なくとも１つのスイッチング素子を含み、
前記スイッチング素子はトランジスタから構成されている
ことを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載のアナログ入力装置。
【請求項５】
前記スイッチング素子を構成している前記トランジスタは、電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項４に記載のアナログ入力装置。
【請求項６】
前記スキャナ回路は、前記ドライブパルスが前記制御手段から出力されている期間のみ導通状態となる整流素子を備えていることを特徴とする請求項１ないし５のいずれかに記載のアナログ入力装置。
【請求項７】
前記スキャナ回路の前記整流素子はダイオードから構成されており、
当該ダイオードのカソード端子が、前記スキャナ回路の前記スイッチング素子の高電位端子に接続されていることを特徴とする請求項６に記載のアナログ入力装置。
【請求項８】
前記第２の絶縁トランスの２次側が、
前記スキャナ回路の前記スイッチングを行う前記ドライブパルスの絶縁伝送を行う第１の巻き線と、
前記電源部への給電を行う前記電源パルスの絶縁伝送を行う第２の巻き線と、
の直列に接続された２つの巻き線にて構成されている
ことを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はアナログ入力装置に関し、特に、センサ等の外部装置から出力されるアナログ信号を絶縁手段を介して収集するアナログ入力装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
熱電対などのセンサ等の外部装置から出力されるアナログ信号を収集するにあたり、絶縁トランス等を絶縁手段とした低コストな回路方式を採用したアナログ信号入力装置が従来から用いられている。また、熱電対等の設置環境は一般に劣悪であるため、熱電対等の外部装置の断線や接触不良を検出するための試験電圧を生成する断線検出手段がこれらのアナログ入力装置に搭載される。【０００３】
例えば、従来のアナログ入力装置として、試験電圧を生成する電源部を備え、制御回路から絶縁トランスを介して信号が入力され、それにより生成した試験電圧を熱電対に印加して断線状態を検出する方法が示されている（例えば、特許文献１および２）。【０００４】
この種の従来のアナログ入力装置の構成例を図５及び図６に示す。図５は、従来のアナログ絶縁マルチプレクサ１１１を複数個実装したアナログ入力装置１０１の構成図である。アナログ入力装置１０１には、図５に示すように、アナログ信号１０９を絶縁して収集するための複数のアナログ絶縁マルチプレクサ１１１と、各アナログ絶縁マルチプレクサ１１１に接続された複数の増幅器１０５と、これらの増幅器１０５に接続されて入力チャンネルを選択するチャンネル選択器１０６と、チャンネル選択器１０６に接続されたＡ／Ｄ変換器１０７と、Ａ／Ｄ変換器１０７に接続された制御回路１０８とが設けられている。さらに、各アナログ絶縁マルチプレクサ１１１には、ゲート素子１４１１および１４２１が各１個ずつ接続されている。なお、各ゲート素子１４１１および１４２１は制御回路１０８とアナログ絶縁マルチプレクサ１１１との間に接続されている。【０００５】
また、図６は、図５に示した従来のアナログ絶縁マルチプレクサ１１１の内部回路を併せて示した構成図である。図の簡略化のため、図６においては、アナログ絶縁マルチプレクサ１１１、増幅器１０５、ゲート素子１４１１および１４２１は、各１個ずつのみ記載している。アナログ絶縁マルチプレクサ１１１内には、電源部１０２と、スキャナ回路１０３とが設けられている。さらに、アナログ絶縁マルチプレクサ１１１内には、制御回路１０８とスキャナ回路１０３との間に接続された第２の絶縁トランスＴ１０２と、制御回路１０８と電源部１０２との間に接続された第３の絶縁トランスＴ１０３とが設けられている。【０００６】
スキャナ回路１０３は、熱電対などのセンサから出力されるアナログ信号１０９を絶縁して収集するためのもので、第１の絶縁トランスＴ１０１およびスイッチング素子Ｓ１０１を備える。アナログ信号１０９は、第１の絶縁トランスＴ１０１にて絶縁されて、アナログ信号入力装置１０１の内部回路に入力される。また、スイッチング素子Ｓ１０１のＯＮ／ＯＦＦ制御を行うドライブパルス１４１は、制御回路１０８からゲート素子１４１１を介して第２の絶縁トランスＴ１０２に入力され、第２の絶縁トランスＴ１０２によって絶縁され、スイッチング素子Ｓ１０１に伝送される。【０００７】
一方、電源部１０２は、熱電対などのセンサの断線や接触不良を検出するためのものであり、第３の絶縁トランスＴ１０３の２次側に接続される。制御回路１０８からゲート素子１４２１を介して入力される電源パルス１４２は、第３の絶縁トランスＴ１０３の１次側に印加され、これにより、電源部１０２内に設けられている平滑回路１２０に、断線等を検出するために用いられる試験電圧が充電される。試験電圧は、電源部１０２内に設けられている高抵抗１２１を介して、熱電対などのセンサのインターフェースに印加される。なお、図５及び図６においては省略しているが、試験電圧を印加したときに、その試験電圧によって熱電対などのセンサの出力端子に導出される電圧を検出し、この電圧と予め設定した基準電圧とを比較する等して、断線等の異常を検出するための電圧測定手段が設けられている。【０００８】
【特許文献１】特開昭６３−１１３６２２号公報
【特許文献２】特開平７−２４４５６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、上述した従来のアナログ入力装置には次のような問題点がある。電源部１０２に対して試験電圧を絶縁印加するためには第３の絶縁トランスＴ１０３が別途必要である。特に、多チャンネルのアナログ絶縁マルチプレクサ１１１が実装されるアナログ入力装置においては、この第３の絶縁トランスＴ１０３は、部品点数の増大を招く。即ち、コストの増大や、部品搭載面積が増えて、その結果、全ての部品を１つのプリント基板に実装できないといった問題点が生じる。【００１０】
本発明はかかる問題点を解決するためになされたものであり、試験電圧印加のための絶縁トランスを不要とし、それによって、部品の個数を全体として大幅に減らし、低コスト化且つ小型化を可能にしたアナログ入力装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この発明は、外部装置から出力されるアナログ信号が入力されて、それを収集するアナログ入力装置であって、入力されたアナログ信号を絶縁する第１の絶縁トランスを含むスキャナ回路と、前記外部装置の断線検査に使用するための試験電圧の充電を行う電源部と、前記スキャナ回路と前記電源部とが互いに並列に接続されている第２の絶縁トランスと、前記第２の絶縁トランスに入力するパルス信号を出力する制御手段とを備え、前記第２の絶縁トランスは、前記スキャナ回路のスイッチングを行うためのドライブパルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記スキャナ回路に伝送するとともに、前記電源部への給電を行うための電源パルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記電源部に伝送し、前記制御手段は、前記ドライブパルスと前記電源パルスとを同時に出力しないようにタイミングの制御を行って、それらを出力することを特徴とするアナログ入力装置である。
【発明の効果】
【００１２】
この発明は、外部装置から出力されるアナログ信号が入力されて、それを収集するアナログ入力装置であって、入力されたアナログ信号を絶縁する第１の絶縁トランスを含むスキャナ回路と、前記外部装置の断線検査に使用するための試験電圧の充電を行う電源部と、前記スキャナ回路と前記電源部とが互いに並列に接続されている第２の絶縁トランスと、前記第２の絶縁トランスに入力するパルス信号を出力する制御手段とを備え、前記第２の絶縁トランスは、前記スキャナ回路のスイッチングを行うためのドライブパルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記スキャナ回路に伝送するとともに、前記電源部への給電を行うための電源パルスが前記制御手段から入力されて、それを絶縁して前記電源部に伝送し、前記制御手段は、前記ドライブパルスと前記電源パルスとを同時に出力しないようにタイミングの制御を行って、それらを出力することを特徴とするアナログ入力装置であるので、試験電圧印加のための絶縁トランスを不要とし、それによって、部品の個数を全体として大幅に減らし、低コスト化且つ小型化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施の形態１におけるアナログ入力装置の構成を示した構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１における第２の絶縁トランスの時間波形を示した図である。
【図３】本発明の実施の形態１における整流素子の接続例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態２におけるアナログ入力装置の構成を示した構成図である。
【図５】従来のアナログ入力装置の構成図である。
【図６】従来のアナログ絶縁マルチプレクサの回路構成図である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明のアナロ入力装置の好適な実施の形態につき、図面を用いて説明する。【００１５】
実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１におけるアナログ入力装置１の構成図である。図１に示すように、アナログ入力装置１は、熱電対１０等のセンサから出力されるアナログ信号９を収集するためのスキャナ回路３と、スキャナ回路３に接続された増幅器５と、増幅器５に接続されたチャンネル選択器６と、チャネル選択器６に接続されたＡ／Ｄ変換器７と、Ａ／Ｄ変換器７に接続された制御回路８とを備える。スキャナ回路３は、熱電対１０から出力されるアナログ信号９を絶縁するための第１の絶縁トランスＴ１と、アナログ信号のスキャンのタイミングを制御するスイッチング素子Ｓ１と、ドライブパルス４１が出力されている期間のみ導通状態になる整流素子３１とを含んでいる。さらに、アナログ入力装置１は、ゲート素子４１１，４２１と、第２の絶縁トランスＴ２とが設けられている。第２の絶縁トランスＴ２は、制御回路８からゲート素子４１１，４２１を介してドライブパルス４１及び電源パルス４２が入力されて、それらを絶縁して伝送するものである。さらに、アナログ入力装置１は、熱電対１０の断線あるいは接触不良等の異常を検出するための試験電圧を生成する電源部２が設けられている。なお、電源部２は、試験電圧を充電するための平滑回路２０と、試験電圧を熱電対１０のインターフェース（図示省略）に印加するための抵抗２１とを備えている。なお、平滑回路２０は、電源パルス４２が出力されている期間のみ導通状態となる整流素子２０１と、熱電対１０の断線検出に使用する試験電圧を充電するためのキャパシタ２０２とを備えている。本実施の形態においては、第２の絶縁トランスＴ２は、スキャナ回路３と電源部２との両方に接続されている。【００１６】
本実施の形態においては、スキャナ回路３と、第２の絶縁トランスＴ２と、電源部２とが、アナログ絶縁マルチプレクサ１１を構成している。なお、実際には、上述した図５に示す如く、アナログ絶縁マルチプレクサ１１、増幅器５、ゲート素子４１１および４２１は、チャンネルの個数分だけ複数個設けられているが、図１においては、図の簡略化のため、これらは、各１個ずつ記載している。【００１７】
次に、本実施の形態１におけるアナログ入力装置１の動作について説明する。熱電対１０から出力されるアナログ信号９は、第１の絶縁トランスＴ１の１次側に入力される。第１の絶縁トランスＴ１の２次側には、増幅器５が接続され、増幅されたアナログ信号９は、チャンネル選択器６へ入力される。チャンネル選択器６は、複数のアナログ絶縁マルチプレクサ１１のうちのひとつを選択する機能を有する。チャンネル選択器６から出力されたアナログ信号９は、Ａ／Ｄ変換器７へ入力され、Ａ／Ｄ変換器７にてアナログ信号９をデジタル信号へ変換した後、制御回路８へ入力される。このように、本実施の形態１におけるアナログ入力装置１は、熱電対１０から得られるアナログ信号９をフィルタ処理して取り込み、それをデジタル化したデータに変換する。【００１８】
第１の絶縁トランスＴ１の１次側（アナログ入力部）には、ＦＥＴ（電界効果トランジスタ）から構成されたスイッチング素子Ｓ１が接続されている。スイッチング素子Ｓ１は、制御回路８からのドライブパルス４１により、アナログ信号９をスキャンすべきタイミングでＯＮとなるので、そのタイミングでアナログ信号が収集される。スイッチング素子Ｓ１のゲート端子及びソース端子には、第２の絶縁トランスＴ２の２次側が接続されている。更に、第２の絶縁トランスＴ２の２次側には、電源部２がスイッチング素子Ｓ１と並列に接続される。第２の絶縁トランスＴ２の１次側の第１端子には、制御回路８よりゲート素子４１１を介してドライブパルス４１が入力される。また、同じく第２の絶縁トランスＴ２の１次側の第２端子には、制御回路８よりゲート素子４２１を介して電源パルス４２が入力される。ドライブパルス４１は、整流素子３１を介してスイッチング素子Ｓ１に入力され、スイッチング素子Ｓ１のＯＮ／ＯＦＦ制御のために使用される。電源パルス４２は、整流素子２０１を介して電源部２に入力され、電源部２が断線検出に使用する試験電圧をキャパシタ２０２に充電するために使用される。尚、制御回路８は、ドライブパルス４１と電源パルス４２を同時のタイミングで出力しない様にタイミング制御を行っている。尚、本実施の形態では、スイッチング素子Ｓ１をＦＥＴ（電界効果トランジスタ）で構成する例を示したが、その場合に限らず、スイッチング素子Ｓ１は、その他のタイプのトランジスタで構成してもよいし、その他のスイッチ機能を有する素子で構成してもよい。また、図１の例では、スイッチング素子Ｓ１が１つ設けられている例が示されているが、この場合に限らず、スイッチング素子は少なくとも１つあれば、よく、従って、複数個設けるようにしてもよい。【００１９】
制御回路８は、アナログ信号の入力タイミングに、ゲート素子４１１を介してドライブパルス４１を発行する。ドライブパルス４１は、第２の絶縁トランスＴ２を介して伝送され、スイッチング素子Ｓ１のゲート電位を高電位にしてスイッチング素子Ｓ１をＯＮ状態とする。この時、電源部２における平滑回路２０は整流素子２０１を備えているため、ドライブパルス４１の発行時には、平滑回路２０のキャパシタ２０２への充放電電流は生じない。なお、本実施の形態１では、整流素子２０１は、ダイオードから構成されており、当該ダイオードのアノード端子がキャパシタ２０２の＋端子に接続されている。これにより、不要な漏れ電流を生じる事なく、断線検出の機能を動作させる事が可能となる。【００２０】
また、制御回路８は、アナログ信号の入力タイミング以外の任意または所定の時間にゲート素子４２１を介して電源パルス４２を発行する。電源パルス４２は第２の絶縁トランスＴ２を介して伝送され、平滑回路２０のキャパシタ２０２に試験電圧を充電する。平滑回路２０が有する整流素子２０１は、電源パルス４２の発行タイミングでのみＯＮ状態となるスイッチング機能を有する。なお、本実施の形態では、整流素子２０１として、ダイオードを使用した場合を記載したが、その場合に限らず、電源パルス４２が出力されている期間のみ導通状態となる素子であれば、いずれのものでもよい。この整流素子２０１により、電源パルス４２の発行タイミングにてキャパシタ２０２への充電が行われるが、逆に、ドライブパルス４１の出力タイミングでは放電電流が流れる事はない。これにより、平滑回路２０のキャパシタ２０２を適切な容量値に設定しておけば、電源パルス４２により印加された試験電圧を保持できる。これにより、熱電対１０に対して抵抗２１を介して断線検出用の試験電圧が供給される事が可能となる。ここで、抵抗２１は数ＭΩ以上の大きな抵抗値を備え、通常状態でのアナログ信号の誤差とならない様にする。尚、スイッチング素子Ｓ１には、整流素子３１が接続されているので、電源パルス４２の発行時に、スイッチング素子Ｓ１のゲートに対して逆電位がかかる事は無い。なお、本実施の形態１では、整流素子３２は、ダイオードから構成されており、当該ダイオードのアノード端子がスイッチング素子Ｓ１のゲート端子に接続されている。これにより、不要な漏れ電流を生じる事なく、断線検出の機能を動作させる事が可能となる。【００２１】
以上により、電源部２のキャパシタ２０２に充電された試験電圧により熱電対１０の断線や接触不良等の異常を検出する事が可能となる。熱電対１０が正常に接続されている場合には、熱電対１０から出力されるアナログ信号９がアナログ入力装置１に正常に入力される。一方、熱電対１０が断線状態となると、試験電圧がそのままＡ／Ｄ変換されて制御装置８に入力される。試験電圧（例えば−５Ｖ）は、熱電対１０の出力レベル（例えば１００ｍＶ程度）より十分大きな電位であり、Ａ／Ｄ変換のフルスケール以上となるので、制御装置８はオーバーフローを検知することで、誤検出することなく、熱電対１０の断線状態等の異常を容易にかつ確実に判定できる。【００２２】
図２に本実施の形態における波形の一例を示す。図２は、ドライブパルス４１と、電源パルス４２と、「Ｔ２  ２次側」と、「キャパシタ２０２の端子間電圧」との４つの波形を示している。なお、「Ｔ２  ２次側」とは、即ち、第２の絶縁トランスＴ２の２次側端子間に現れる電圧波形を示している。「キャパシタ２０２の端子間電圧」は、平滑回路２０が保持する断線検出用の試験電圧であり、キャパシタ２０２の低電位端子から見た高電位端子の電圧波形の変化を示している。【００２３】
図２において、ドライブパルス４１が出力されるタイミングにて、スイッチング素子Ｓ１のゲート電圧が閾値Ｖｔｈを超えて、それにより、スイッチング素子Ｓ１がＯＮ状態となり、アナログ信号９がスキャンされる。この時、平滑回路２０には整流素子２０１が接続されているため、キャパシタ２０２の端子間電圧には影響がでない。【００２４】
一方、図２において、電源パルス４２の出力タイミングにて、第２の絶縁トランスＴ２の２次側に負電位が現れ、これにより、平滑回路２０のキャパシタ２０２に試験電圧が充電される。平滑回路２０には、整流素子２０１が設けられているため、電源パルス４２の出力タイミングでのみキャパシタ２０２に充電され、ドライブパルス４１の出力タイミングでは、キャパシタ２０２への充放電は発生しない。【００２５】
以上のように、本実施の形態によれば、第２の絶縁トランスＴ２は、制御回路８、整流素子３１および２０１の働きにより、ドライブパルス４１の絶縁伝送と電源パルス４２の絶縁伝送の両機能を有しつつ、両パルス４１，４２の機能的な分離が可能であるため、熱電対１０の断線検出のための新たな絶縁トランスを追加する必要がない。これにより、絶縁トランスの個数を減らすことができるため、全体として、部品点数を大幅に低減することができ、その結果、回路の小型が図れ、且つ、低コスト化を実現することができる。【００２６】
ここで、第２の絶縁トランスＴ２にて、ドライブパルス４１と電源パルス４２の絶縁伝送を共有するためには、当然の事ながら、スイッチング素子Ｓ１の制御と電源部２の給電機能との機能的な分離が前提となる。【００２７】
図１に示すアナログ絶縁マルチプレクサ１１の例では、電源部２が具備する整流素子２０１（ダイオード）は、アノード端子がキャパシタ２０２の＋端子（高電位端子）に接続される接続例を示している。これにより、不要な漏れ電流を生じる事なく、断線検出の機能を動作させる事が可能となる。【００２８】
或いは、図３に示す、別の整流回路の変形例として、スキャナ回路３が具備する整流素子３２（ダイオード）はカソード端子がスイッチング素子Ｓ１のソース端子（高電位端子）に接続される接続例を示した。これにより、不要な漏れ電流を生じる事なく、断線検出の機能を動作させる事が可能となる。【００２９】
以上のように、本実施の形態によれば、第２の絶縁トランスＴ２がドライブパルス４１の絶縁伝送と電源パルス４２の絶縁伝送の両機能を兼ね備えるため、断線検出機能を備えるにあたり、新たな絶縁トランスを追加する必要がなくなる。これにより、部品の実装面積が小さくなり、また、低コストなアナログ入力装置を得ることができる。【００３０】
また、整流素子２０１または３２としてのダイオードのアノードを平滑回路２０のキャパシタ２０２の高電位端子に接続する事により、不要な漏れ電流を防止し、適切な断線検出機能を得ることができる。【００３１】
実施の形態２．
図４に、本発明の実施の形態２におけるアナログ入力装置１の構成図を示す。図４において、第２の絶縁トランスＴ２の２次側は、直列に接続された、２つの巻き線Ｔ２１、Ｔ２２で構成されている。第１の巻き線Ｔ２１は、スキャナ回路３のスイッチングを行うドライブパルス４１の絶縁伝送を行う。また、第２の巻き線Ｔ２２は、電源部２への給電を行う電源パルス４２の絶縁伝送を行う。他の構成および動作については、実施の形態１と同様であるため、ここでは、その説明を省略する。【００３２】
上記の様に、第２の絶縁トランスＴ２の２次側を２つの巻き線の構成とし、ドライブパルス４１用の回路と電源パルス４２用の回路を分離したため、整流機能の障害や、不要な漏れ電流が生じる事が無い。これにより１つの絶縁トランス部品で２系統のパルスの絶縁伝送が可能となり、小型な回路構成であり、且つ、低コストなアナログ入力装置を得る事ができる。【００３３】
以上のように、本実施の形態によれば、上記の実施の形態１と同様の効果が得られるとともに、さらに、本実施の形態においては、第２の絶縁トランスの２次側を、ドライブパルス４１の絶縁伝送を行う第１の巻き線Ｔ２１と、電源パルス４２の絶縁伝送を行う第２の巻き線Ｔ２２と、の２つの巻き線で構成したため、回路の機能的分離が容易にでき、整流機能の障害や、不要な漏れ電流が発生する事が無くなるという効果が得られる。【００３４】
なお、上述の実施の形態１および２においては、アナログ信号を出力するセンサとして、熱電対１０を例に挙げて説明したが、その場合に限らず、アナログ信号を出力するセンサであれば、いずれのものにも、本発明のアナログ入力装置は適用できることは言うまでもない。また、センサに限らず、アナログ信号を出力する装置であれば、いずれのものにも、本発明のアナログ入力装置は適用できることは言うまでもない。
【図１】
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【図２】
2008072329.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
2008072329.tif 000009
2008072329.tif 000010
2008072329.tif 000011
2008072329.tif 000012