【手続補正書】
【提出日】平成17年9月14日(2005.9.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と第１の電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電流源配線と前記第１のトランジスタのゲートとにそれぞれ接続され、前記第２のトランジスタがオン状態の間に、前記第２のトランジスタを介して前記データ保持用信号配線から供給される電圧信号を保持するための保持容量と、
前記電極と、前記表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線とにそのソースとドレインが接続され、前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流を、該別の表示素子用のゲート信号配線へと導くようにそのゲートが制御される第３のトランジスタと
を含んでなるアクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項２】
前記第３のトランジスタのゲートは、前記表示素子とは別の表示素子用の第２の電流源配線に接続され、それにより、該ゲートをオン状態またはオフ状態に制御する請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記第３のトランジスタのゲートは、前記別の表示素子用のゲート信号配線に接続され、それにより、該ゲートをオン状態またはオフ状態に制御する請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と第１の電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電流源配線と前記第１のトランジスタのゲートとにそれぞれ接続され、前記第２のトランジスタがオン状態の間に、前記第２のトランジスタを介して前記データ保持用信号配線から供給される電圧信号を保持するための保持容量と、
前記電極と前記ゲート信号配線とにそのソースとドレインが接続され、前記表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線の電位を変更してそのゲートをオン状態またはオフ状態にすることにより、前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流を前記ゲート信号配線へと導く第３のトランジスタと
を含んでなるアクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項５】
前記表示素子が、有機ＥＬ素子である請求項１から４のいずれかに記載の表示装置。
【請求項６】
前記第３のトランジスタのゲートが、別途設けた電源供給配線に接続されている請求項１から５のいずれかに記載の表示装置。
【請求項７】
前記第３のトランジスタのドレインがさらに別途設けた電流放出配線に接続されている請求項６に記載の表示装置。
【請求項８】
前記第３のトランジスタがｐ型のものである請求項１から７のいずれかに記載の表示装置。
【請求項９】
前記第３のトランジスタからの配線が、表示装置が稼動状態にあるときに、２つ以上の前記表示素子を同時に制御する周辺回路に接続されており、前記第３のトランジスタが該周辺回路を介して順次切り換えられる請求項１から８のいずれかに記載の表示装置。
【請求項１０】
前記請求項１から９のいずれかのアクティブマトリクス型の表示装置の各表示素子を検査する方法であって、
前記第２のトランジスタのゲート電圧を制御して前記保持容量へと電荷を貯めるステップと、
検査対象の表示素子とは別の表示素子用の第１の配線の電位を変えて、前記第３のトランジスタのゲートを制御するステップと、
検査対象の表示素子用の前記第１の電流源配線に接続されている測定器を用いて、前記第３のトランジスタを介して前記電極から流れる電流または電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項１１】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電流源配線と前記第１のトランジスタのゲートとにそれぞれ接続され、前記第２のトランジスタがオン状態の間に、前記第２のトランジスタを介して前記データ保持用信号配線から供給される信号を保持するための保持容量と、
前記電極と前記表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線とに接続されたダイオードと
を含んでなる表示装置。
【請求項１２】
前記表示素子が、有機ＥＬ素子である請求項１１に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記ダイオードが、別途設けた電流放出配線に接続されている請求項１１または１２に記載の表示装置。
【請求項１４】
前記請求項１１から１３のいずれかのアクティブマトリクス型の表示装置の各画素を検査する方法であって、
前記第２のトランジスタのゲートを制御して前記保持容量に電荷を貯めるステップと、
検査対象の表示素子とは別の表示素子用の第１配線の電位を変えて、該検査対象の表示素子とは別の表示素子用の第２配線に接続されている測定器を用いて、前記ダイオードを介して前記電極から流れる電流または電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項１５】
アクティブマトリクス型の表示装置であって、該表示装置を構成する画素のそれぞれが、
前記画素の表示素子へと接続される電極と、
該電極と前記画素用の第１の配線とにそれぞれ接続される第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートと電圧信号を与えるためのデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続される第２のトランジスタと、
前記第１のトランジスタのゲートと前記画素用の第２の配線とにそれぞれ接続される保持容量と、
前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流によって電荷の蓄積を受けるように、前記電極と前記第１のトランジスタのゲートとに接続される負荷容量と
を含んでなる表示装置。
【請求項１６】
前記表示素子が、有機ＥＬ素子である請求項１５に記載の表示装置。
【請求項１７】
前記請求項１５または１６のアクティブマトリクス型の表示装置の各画素を検査する方法であって、
第１の電圧を前記第１のトランジスタに供給するステップと、
記第２のトランジスタのゲートに接続されたゲート信号配線を制御し、前記
第２のトランジスタを一旦オンにしてオフにすることで、前記データ保持用信号配線の電圧を前記第１のトランジスタのゲートに与え、前記保持容量と前記負荷容量とに電荷を蓄積するステップと、
前記第１の電圧を所定の電圧まで減少させるステップと、
前記第２のトランジスタをオンにして、前記データ保持用信号配線に接続された電荷測定器を用いて、前記保持容量に蓄えられた電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項１８】
前記第１の電圧を減少させるステップにおいて、前記第１の電圧は、前記電荷を蓄積するステップでの前記電極の電圧よりも低い所定の電圧まで減少させる請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記第１の電圧を前記第１のトランジスタに供給するステップの前に、前記保持容量に蓄えられている電荷量を予めリセットしておくステップをさらに含む請求項１７または１８に記載の方法。
【請求項２０】
前記第１の電圧を減少させるステップにおいて、前記第１の電圧は、前記第１のトランジスタの閾値電圧によって前記第１のトランジスタがオフになるまで減少させる請求項１７に記載の方法。
【請求項２１】
基板と、該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、該電極と電流源配線とにそれぞれ接続される第１のトランジスタと、該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、そのゲートにゲート信号配線が接続されている第２のトランジスタと、前記第１のトランジスタのゲートと前記電流源用配線とにそれぞれ接続される保持容量と、前記第１のトランジスタがオンのときに流れる電流によって電荷の蓄積を受けるように、前記電極とは別の表示素子の第２のトランジスタのゲートに接続されている配線とに接続される負荷容量とを含んでなるアクティブマトリクス型の表示装置の各表示素子を検査する方法であって、
前記第２のトランジスタのゲートを制御して、前記保持容量に電荷を貯めるステップと、
検査対象の表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線の電位を変えて、該検査対象の表示素子の電流源配線に接続されている測定器を用いて、前記電極から流れる電流または電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項２２】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と電流源配線とにそれぞれ接続される第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、そのゲートにゲート信号配線が接続されている第２のトランジスタと、
前記第１のトランジスタのゲートと前記電流源配線とにそれぞれ接続される保持容量と、
前記第１のトランジスタがオンのときに流れる電流によって電荷の蓄積を受けるように、前記電極と、同じ表示素子の第２のトランジスタのゲートとに接続されて、前記ゲート信号配線に接続される負荷容量と
を含んでなるアクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項２３】
前記表示素子が、有機ＥＬ素子である請求項２２に記載の表示装置。
【請求項２４】
前記請求項２２から２３のいずれかのアクティブマトリクス型の表示装置の各表示素子を検査する方法であって、
前記第２のトランジスタのゲートを制御して、前記保持容量に電荷を貯めるステップと、
検査対象の表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線の電位を変えて、該検査対象の表示素子の電流源配線に接続されている測定器を用いて、前記電極から流れる電流または電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項２５】
請求項１から請求項９、請求項１１から請求項１３、請求項１５から請求項１６、または請求項２２から請求項２３のいずれかに記載のアクティブマトリクス型の表示装置であって、前記別の表示素子が、前記検査対象の表示素子に隣接するものである、アクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項２６】
請求項１０、１４、１７、１８、１９、２０、２１、２４のいずれかに記載のアクティブマトリクス型の表示装置の検査方法であって、前記別の表示素子が、前記検査対象の表示素子に隣接するものである、アクティブマトリクス型の表示装置の検査方法。
【請求項２７】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と第１の電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
そのドレインが前記電極に接続され、そのソースおよびそのゲートが前記表示素子用のゲート信号配線に接続され、前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流を、前記表示素子用のゲート信号配線へと導く第３のトランジスタとを含んでなるアクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項２８】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電極と、前記表示素子用のゲート信号配線とに接続されたダイオードと
を含んでなる、アクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項２９】
上記の請求項２７または２８に記載の表示装置の各表示素子を検査する方法であって、
検査対象の表示素子用のゲート信号配線の電位を変えて、前記第２のトランジスタのゲート電圧を制御して、前記第１のトランジスタのゲートに前記データ保持用信号配線で規定される電圧を供給するとともに、前記第３のトランジスタのゲートまたは前記ダイオードを制御するステップと、
該ゲート信号配線または前記第１の電流源配線に接続されている測定器を用いて、前記第３のトランジスタまたは前記ダイオードを介して前記電極から流れる電流または電荷量を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。
【請求項３０】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と第１の電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電極と、前記表示素子とは別の表示素子用のゲート配線とにそのゲートとドレインとが接続され、前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流を、該別の表示素子用のゲート信号配線へと導くようにそのゲートが制御される第３のトランジスタと
を含んでなる、アクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項３１】
基板と、
該基板上に設けられる複数の画素の各々を構成する表示素子を設けるための電極と、
該電極と第１の電流源配線とにそれぞれ接続され、該表示素子のオン状態またはオフ状態をそのゲートに加えられる電圧で規定している第１のトランジスタと、
該第１のトランジスタのゲートとデータ保持用信号配線とにそれぞれ接続され、該第１のトランジスタのゲート電圧を、そのゲートに接続されるゲート信号配線の電圧で規定している第２のトランジスタと、
前記電極と接続され、さらに前記表示素子とは別の表示素子用のゲート配線と前記表示素子用のゲート配線とにそのゲートとドレインとが接続され、前記第１のトランジスタから前記電極に流れる電流を、該別の表示素子用のゲート信号配線へと導くようにそのゲートが制御される第３のトランジスタと
を含んでなる、アクティブマトリクス型の表示装置。
【請求項３２】
上記の請求項３０または３１に記載の表示装置の各表示素子を検査する方法であって、
検査対象の表示素子用のゲート信号配線の電位を変えて、前記第２のトランジスタのゲート電圧を制御して、前記第１のトランジスタのゲートに前記データ保持用信号配線で規定される電圧を供給するとともに、前記第３のトランジスタのゲートを制御するステップと、
検査対象の表示画素用の前記第１の電流源配線または前記検査対象の表示素子とは別の表示素子用のゲート信号配線に接続されている測定器を用いて、前記第３のトランジスタを介して前記電極から流れる電流を測定するステップと
を含んでなる表示装置の検査方法。