(57)【要約】  本発明の情報記録媒体を評価する評価方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、デジタル再生信号の波形を整形するステップと、整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、整形されたデジタル再生信号と２値化信号とに基づいてデジタル再生信号の品質を計算するステップとを包含する。最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて再生信号品質を計算する場合には、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて再生信号品質を計算する。
2008081820.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算する、情報記録媒体を評価する評価方法。
【請求項２】
前記情報記録媒体に形成された最短マークの空間周波数は、ＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）カットオフ周波数よりも高い、請求項１に記載の評価方法。
【請求項３】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項４】
前記ＰＲＭＬ方式は、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項５】
前記計算した品質に基づいて再生信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項６】
前記計算した品質を表す値の分布の平均値から前記再生信号のエッジシフトの度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項７】
前記計算した品質を表す値の分布の標準偏差から前記再生信号のＳＮ比の度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項８】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項９】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体。
【請求項１０】
基板と、
保護層と、
前記基板と前記保護層との間に配置された記録層と
を備えた情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価される、情報記録媒体。
【請求項１１】
前記情報記録媒体は、前記記録層を１層以上備えており、
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１ＧＢ以上である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１２】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１．８ＧＢ以上である、請求項１１に記載の情報記録媒体。
【請求項１３】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである、請求項１２に記載の情報記録媒体。
【請求項１４】
前記情報記録媒体は、前記記録層を３層以上備えている、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１５】
３層の前記記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢである、請求項１４に記載の情報記録媒体。
【請求項１６】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられる対物レンズの開口数は０．７〜０．９である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１７】
前記対物レンズの開口数は０．８５である、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項１８】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられるレーザ光の波長は４１０ｎｍ以下である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１９】
前記レーザ光の波長は４０５ｎｍである、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項２０】
前記基板の厚さは１．１ｍｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２１】
前記保護層の厚さは１０μｍ〜２００μｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２２】
前記保護層の厚さは１００μｍ以下である、請求項２１に記載の情報記録媒体。
【請求項２３】
請求項１０に記載の情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項２４】
情報記録媒体の製造方法であって、
前記製造方法は、
情報記録媒体にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するためのスタンパを作製するステップと、
前記スタンパを用いて前記情報記録媒体の基板にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するステップと
を包含し、
前記製造方法により製造された情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価される、製造方法。
【請求項２５】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凹形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２６】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凸形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２７】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記山部よりも前記谷部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から遠い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記谷部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２８】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記谷部よりも前記山部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から近い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記山部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２９】
請求項２４に記載の製造方法により製造された情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３０】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算する、信号処理方法。
【請求項３１】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３２】
前記情報記録媒体に形成されたマークの長さとスペースの長さの組み合わせごとに再生信号を分類して前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３３】
前記マークの最短マーク長は２Ｔであり、前記スペースの最短スペース長は２Ｔである、請求項３２に記載の信号処理方法。
【請求項３４】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３５】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体。
【請求項３６】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形する整形部と、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する最尤復号部と、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算する計算部と、
前記計算した品質に基づいて、前記情報記録媒体へアクセスするためのアクセス条件を調整する調整部と、
前記整形部および前記最尤復号部は、第１の特性を有する第１のＰＲＭＬ方式の信号処理と、前記第１の特性とは異なる第２の特性を有する第２のＰＲＭＬ方式の信号処理とを、前記アクセスの種類に応じて切り替える、アクセス制御装置。
【請求項３７】
前記第１の特性と比べて、前記第２の特性は、非高域強調特性型である、請求項３６に記載のアクセス制御装置。
【請求項３８】
前記情報記録媒体へ情報を記録するとき、前記整形部および前記最尤復号部は、前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行する、請求項３６に記載のアクセス制御装置。
【請求項３９】
前記計算部および前記調整部の動作を制御する制御部をさらに備え、
前記整形部および前記最尤復号部が前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第１のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示し、
前記整形部および前記最尤復号部が前記第２のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第２のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示する、請求項３６に記載のアクセス制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号法を用いた信号処理方法および最尤復号法を用いて情報記録媒体を評価する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク媒体の高密度化により、記録マークの最短マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となり、信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を用いることが一般的になりつつある。【０００３】
ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が起こることを前提に再生波形から最も確からしい信号系列を選択する方式である。このため、従来のレベル判定方式よりも復号性能が向上することが知られている（例えば、非特許文献１）。【０００４】
一方、信号処理方式がレベル判定方式からＰＲＭＬ方式へ移行することで、再生信号の評価方法に課題が出てきた。従来から用いられてきた再生信号評価指標であるジッタは、レベル判定方式の信号処理を前提とするため、レベル判定とは信号処理のアルゴリズムが異なるＰＲＭＬ方式の復号性能との相関がない場合が出てきた。そこで、ＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のある新たな指標が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２）。【０００５】
また、光ディスク媒体の記録品質にとって非常に重要となるマークとスペースの位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる新たな指標も提案されている（例えば、特許文献３）。この指標も、ＰＲＭＬ方式を用いる場合は、ＰＲＭＬ方式の考え方に則しＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のあるものである必要があり、且つ、パターンごとのエッジのずれ方向と量を定量的に表現できなければならない。【０００６】
光ディスク媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮＲ劣化がさらに問題となる。システムマージンを維持するためには、ＰＲＭＬ方式を高次の方式にすることで対応可能と非特許文献１に記載されている。例えば、１２ｃｍの光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用することで、システムマージンを維持することができたが、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢの場合では、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが説明されている。このように、光ディスク媒体の高密度化に比例して、高次のＰＲＭＬ方式を採用する傾向は続くと予想される。【０００７】
最尤復号に適した再生信号が得られるように記録パラメータを調整する方法の一例は特許文献３に開示されている。
【特許文献１】日本国特開２００３−１４１８２３号公報
【特許文献２】日本国特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献３】日本国特開２００４−３３５０７９号公報
【非特許文献１】図解  ブルーレイディスク読本  オーム社
【非特許文献２】適応信号処理アルゴリズム  培風館
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、再生時の性能が高い高次のＰＲＭＬ方式を採用して、そのＰＲＭＬ方式を用いて記録調整（特に記録マークのエッジ位置調整）を行った場合、メディアの記録密度によっては、メディアの記録性能を十分に発揮できる記録を行うこと（ＳＮＲが最大となる記録条件で記録すること）が出来ず、システム全体のマージンを減少させていた。例えば、再生信号処理の方式としてＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、ＰＲ１２２２１ＭＬの再生系で最適となる記録調整を行った場合、短い記録マークである２Ｔ（Ｔはチャネル幅（チャネルクロックの周期））マークおよび３Ｔマークのサイズが非常に小さくなり、メディアの本来の最適記録条件から大きくずれてしまうため、繰り返し記録の特性や経年劣化特性が低くなる場合があった。【０００９】
また、２Ｔマークや３Ｔマークなどの短いマークの再生信号振幅が小さくなり、ＳＮＲの劣化による再生性能の低下や、再生信号から同期信号を検出するＰＬＬ回路の安定性の低下が起こる場合があった。すなわち、記録および再生マージンを減少させてしまう記録条件で記録してしまう場合があった。【００１０】
また、記録密度の向上に対応させて、その符号間干渉に適切な高次のＰＲＭＬ方式（例えば、ＰＲ１２２１ＭＬに対してＰＲ１２２２１ＭＬが高次）を採用することは、再生波形の振幅レベルの識別分解能を上げ、符号間干渉の影響から再生信号を識別するために、より長い区間の波形パターンを用いて、再生波形を認識する方式にすると言うことができる。そのため、ＰＲ１２２２１ＭＬにおける間違い易い再生パターンには、マークスペース間のエッジを複数含むパターンが含まれることになる。もちろん、これらのパターンは、ＰＲＭＬ方式の再生性能を評価する上では、非常に有用である。しかし、評価パターンに複数のエッジを含む場合は、光ディスク媒体の記録品質にとって非常に重要なマークおよびスペースの位置ずれを特定することが困難となる。そのため、光ディスク媒体を適切に評価することが困難な場合がある。【００１１】
本発明は、再生性能が高い高次のＰＲＭＬ方式を採用したシステムに適した信号処理方法および情報記録媒体を評価する方法を提供するとともに、システムのマージンが最大限発揮できるように記録条件を調整する方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の情報記録媒体を評価する評価方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップとを包含し、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算することを特徴とする。【００１３】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最短マークの空間周波数は、ＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）カットオフ周波数よりも高い。【００１４】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する。【００１５】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式は、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式である。【００１６】
ある実施形態によれば、前記計算した品質に基づいて再生信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する。【００１７】
ある実施形態によれば、前記計算した品質を表す値の分布の平均値から前記再生信号のエッジシフトの度合いを決定する。【００１８】
ある実施形態によれば、前記計算した品質を表す値の分布の標準偏差から前記再生信号のＳＮ比の度合いを決定する。【００１９】
ある実施形態によれば、上記の評価方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。【００２０】
ある実施形態によれば、上記の評価方法により評価される情報記録媒体が提供される。【００２１】
本発明の情報記録媒体は、基板と、保護層と、前記基板と前記保護層との間に配置された記録層とを備えた情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価されることを特徴とする。【００２２】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体は、前記記録層を１層以上備えており、前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１ＧＢ以上である。【００２３】
ある実施形態によれば、前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１．８ＧＢ以上である。【００２４】
ある実施形態によれば、前記記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである。【００２５】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体は、前記記録層を３層以上備えている。【００２６】
ある実施形態によれば、３層の前記記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢである。【００２７】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体を評価するときに用いられる対物レンズの開口数は０．７〜０．９である。【００２８】
ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数は０．８５である。【００２９】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体を評価するときに用いられるレーザ光の波長は４１０ｎｍ以下である。【００３０】
ある実施形態によれば、前記レーザ光の波長は４０５ｎｍである。【００３１】
ある実施形態によれば、前記基板の厚さは１．１ｍｍである。【００３２】
ある実施形態によれば、前記保護層の厚さは１０μｍ〜２００μｍである。【００３３】
ある実施形態によれば、前記保護層の厚さは１００μｍ以下である。【００３４】
ある実施形態によれば、上記の情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。【００３５】
本発明の製造方法は、情報記録媒体の製造方法であって、前記製造方法は、情報記録媒体にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するためのスタンパを作製するステップと、前記スタンパを用いて前記情報記録媒体の基板にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するステップとを包含し、前記製造方法により製造された情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価されることを特徴とする。【００３６】
ある実施形態によれば、前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凹形状である。【００３７】
ある実施形態によれば、前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凸形状である。【００３８】
ある実施形態によれば、前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、前記山部よりも前記谷部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から遠い位置にあり、前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記谷部に対応する位置にマークが形成される。【００３９】
ある実施形態によれば、前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、前記谷部よりも前記山部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から近い位置にあり、前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記山部に対応する位置にマークが形成される。【００４０】
ある実施形態によれば、上記の製造方法により製造された情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。【００４１】
本発明の信号処理方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、を包含し、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算することを特徴とする。【００４２】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する。【００４３】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成されたマークの長さとスペースの長さの組み合わせごとに再生信号を分類して前記品質を計算する。【００４４】
ある実施形態によれば、前記マークの最短マーク長は２Ｔであり、前記スペースの最短スペース長は２Ｔである。【００４５】
ある実施形態によれば、上記の信号処理方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。【００４６】
ある実施形態によれば、上記の信号処理方法により評価される情報記録媒体が提供される。【００４７】
本発明のアクセス制御装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形する整形部と、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する最尤復号部と、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算する計算部と、前記計算した品質に基づいて、前記情報記録媒体へアクセスするためのアクセス条件を調整する調整部と、前記整形部および前記最尤復号部は、第１の特性を有する第１のＰＲＭＬ方式の信号処理と、前記第１の特性とは異なる第２の特性を有する第２のＰＲＭＬ方式の信号処理とを、前記アクセスの種類に応じて切り替えることを特徴とする。【００４８】
ある実施形態によれば、前記第１の特性と比べて、前記第２の特性は、非高域強調特性型である。【００４９】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体へ情報を記録するとき、前記整形部および前記最尤復号部は、前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行する。【００５０】
ある実施形態によれば、前記計算部および前記調整部の動作を制御する制御部をさらに備え、前記整形部および前記最尤復号部が前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第１のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示し、前記整形部および前記最尤復号部が前記第２のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第２のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示する。
【発明の効果】
【００５１】
本発明によれば、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて再生信号品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて再生信号品質を計算する。合流パス中にゼロクロス部分を１つのみ有する状態遷移パターンを用いることで、１つ１つのゼロクロス部分（ゼロクロス情報）の誤差を個別に分離して検出することができる。再生信号のゼロクロス部分を個別に評価することで、適切に再生信号品質評価を行うことができる。【００５２】
また本発明によれば、アクセスの目的に応じてＰＲＭＬ方式を切り替えることで、システムマージンを最大限拡大することができ、システムを安定化させることができる。例えば、再生時は、再生性能の高い高次のＰＲＭＬ方式で再生処理を行い、記録パラメータ調整時の再生では、光ディスク媒体の特性を考慮した記録パラメータ調整を実現するＰＲＭＬ方式に切り替えて再生処理することで、記録および再生のシステムマージンを最大限拡大することができ、記録再生装置システムの安定化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図３】図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図４】本発明の実施形態による表１に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による表２に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図６】本発明の実施形態による表３に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図７】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図８】図７に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図９】本発明の実施形態による表４に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態によるフォーカス調整時のフォーカスパラメータと各ＰＲＭＬ特性の指標Ｍとの関係を示す図である。
【図１１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図１２】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図１３】本発明の実施形態による光ディスク媒体のトラック上に記録されたマーク列と光ビーム径との相対的な関係を示す図である。
【図１４】本発明の実施形態による光ディスク媒体のＯＴＦ特性を示す図である。
【図１５】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による信号品質評価指標の値の分布を示す図である。
【図１６】本発明の実施形態による複数の記録層を有する光ディスク媒体を示す図である。
【図１７】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による情報記録媒体の製造方法を示す図である。
【図１８】（ａ）〜（ｄ）は、本発明の実施形態による情報記録媒体に形成されたピットおよびグルーブを示す図である。
【図１９】本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【図２０】本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【図２１】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【符号の説明】
【００５４】
１００、２００、３００  光ディスク装置
１  情報記録媒体
２  光ヘッド部
３  プリアンプ部
４  ＡＧＣ部
５  波形等化部
６  Ａ／Ｄ変換部
７  ＰＬＬ部
８  可変ＰＲ等化部
９  可変最尤復号部
１０  信号評価指標演算部
１１  エッジシフト検出部
１２  光ディスクコントローラ部
１３  パターン発生部
１４  記録補償部
１５  レーザ駆動部
１６  サーボ制御部
１７  選択部
【発明を実施するための最良の形態】
【００５５】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。【００５６】
まず、本発明の実施形態によるＰＲＭＬ方式を用いた記録パラメータ調整（特にマークおよびスペースのエッジ位置の調整）について説明する。記録パラメータ調整方法の一例が特許文献３に記載されているので、ここでは、本発明に関係するポイントのみを説明する。参考のために特許文献３（特開２００４−３３５０７９号公報）の開示内容を本明細書に援用する。【００５７】
記録再生装置において、再生系の信号処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いる。【００５８】
まず、図２および図３を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図２は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図３は、図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。【００５９】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。【００６０】
図２に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図３に示すトレリス図が得られる。【００６１】
図３に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。ある時刻範囲に限定し、且つ特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移パターンは、表１、表２および表３に示すようにまとめることができる。【００６２】
【表１】
2008081820.tif 000003
【００６３】
【表２】
2008081820.tif 000004
【００６４】
【表３】
2008081820.tif 000005
【００６５】
表１〜表３のそれぞれは、２つの状態遷移パターンのスタート状態から合流した状態までの軌跡を示す状態遷移（記録符号（ｂk-i，・・・，ｂk））、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの記録系列（ｋ−９，・・・，ｋ）、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）、２つの理想的な再生波形のユークリッド距離（パス間のユークリッド距離）を示す。【００６６】
表１は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、光ディスク媒体のマークとスペースの切り替わり部分（波形のエッジ部分）に該当する。言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。一例として、図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図４のＡパス波形として示す。【００６７】
図４は、表１に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図５は、表２で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図６は、表３で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図４、図５および図６において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。【００６８】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図４にＢパス波形として示す。【００６９】
表１に示すユークリッド距離が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれていることである。この特徴を利用して、ＰＲＭＬ方式に最適なエッジ調整を行うことができる。【００７０】
表２は、ユークリッド距離が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＡパス波形として示す。【００７１】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＢパス波形として示す。【００７２】
表２に示すユークリッド距離が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。【００７３】
表３は、ユークリッド距離が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＡパス波形として示す。【００７４】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＢパス波形として示す。【００７５】
表３に示すユークリッド距離が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。【００７６】
記録マークの始端エッジまたは終端エッジの位置を調整する場合、エッジずれ方向およびエッジずれ量を、マークとスペースの組み合わせごとに検出する必要がある。このため、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する場合は、表１に示すユークリッド距離が１４の状態遷移パターンを用いることができる。【００７７】
記録マークの始端エッジまたは終端エッジの最適位置は、ＰＲＭＬの特性によって異なってくる。ＰＲ１２２２１ＭＬの場合、５Ｔスペース以上の長さのスペースのあとの２Ｔマークの始端エッジ部分の理想的な波形は、図４に示すＢパス波形となる。図４において、再生信号レベル４は、全９レベルの中心レベルであり、これは、２Ｔマークの信号振幅が理想的には０となることを意味する。すなわち、このような２Ｔマークの信号振幅となるように２Ｔマークの始端エッジを調整すれば、記録マークは小さくなる。【００７８】
ＰＲＭＬ方式の特性を比較するために、別のＰＲＭＬ方式の一例として、ＰＲ１２２１ＭＬを説明する。ＰＲ１２２２１ＭＬと比べて、ＰＲ１２２１ＭＬ方式は、非高域強調特性型である。ＰＲ１２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は６に制限され、その状態遷移のパス数は１０になり、再生レベルは７レベルとなる。【００７９】
図７は、ＲＬＬ（１，７）とＰＲ１２２１ＭＬとの組み合わせから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図８は、図７に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。【００８０】
図７を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，０）をＳ４、状態Ｓ（１，０，０）をＳ５というように表記し、６状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図８に示すトレリス図が得られる。【００８１】
図８に示すＰＲ１２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。ある時刻範囲に限定し、且つ特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２１ＭＬの状態遷移パターンは、表４に示すユークリッド距離が１０のパターンにまとめることができる。【００８２】
【表４】
2008081820.tif 000006
【００８３】
表４は、２つの状態遷移パターンのスタート状態から合流した状態までの軌跡を示す状態遷移（記録符号（ｂk-i，・・・，ｂk））、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの記録系列（Ｋ−１０，・・・，Ｋ）、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）、２つの理想的な再生波形のユークリッド距離（パス間のユークリッド距離）を示す。【００８４】
ＰＲ１２２１ＭＬ方式において、エッジ情報が必ず１つ含まれているパターンは、表４に示すユークリッド距離が１０のパターンである。ＰＲ１２２１ＭＬ方式において、５Ｔスペース以上の長さのスペースのあとの２Ｔマークの始端エッジ部分の理想的な波形は、状態Ｓ０（Ｋ−４）から状態遷移Ｓ４（Ｋ）に遷移したときの２つの可能性のある波形のうち、図９に示すＢパス波形のようになる。【００８５】
図９は、表４に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。ＰＲ１２２１ＭＬの理想的な再生信号レベルは７であることから図７に示す再生信号レベルの中心はレベル３である。図７に示すＰＲ１２２１ＭＬの２Ｔマークの信号振幅はレベル４を示していることから、２Ｔマークの信号振幅がＰＲ１２２２１ＭＬの場合よりも大きくなるように２Ｔマークの始端エッジを調整することができる。２Ｔマークの始端エッジだけでなく、２Ｔマークの終端エッジや３Ｔ以上の長さのマークの始終端エッジも同様に調整できる。このように、ＰＲＭＬ方式の特性によって、調整後の記録マークの形状が異なってくることに注意することが必要である。【００８６】
ここで、再生信号を評価するための信号評価演算と、エッジずれ検出のための信号評価演算とを説明する。再生信号を評価するための信号評価指標Ｍは、（式１）、（式２）および（式３）から求めることができ、ジッターライクでかつ、ＰＲＭＬの再生性能と相関のある指標となる。この指標については特許文献１で説明されているので、ここでは詳細な説明は省略する。参考のために特許文献１（特開２００３−１４１８２３号公報）の開示内容を本明細書に援用する。
【数１】
2008081820.tif 000007
【数２】
2008081820.tif 000008
【数３】
2008081820.tif 000009
【００８７】
ＰＲ１２２１ＭＬ方式での（式１）の演算の具体例を表５に示す。ここで、ｙk-3〜ｙkは後述するＰＲ等化波形（最尤復号部入力波形）系列であり、Ｔ-3〜Ｔ3は表４に示すＰＲ等化理想値系列（０から６の範囲を取り得る）であり、ユークリッド距離は１０である（ｄ2＝１０）。【００８８】
【表５】
2008081820.tif 000010
【００８９】
表４および表５に示すパターンはエッジの始終端部分に該当するため、マーク長とスペース長の組み合わせごと再生デジタル信号を分類して（式１）の演算を行えば、組み合わせごとにエッジずれ方向およびエッジずれ量を求めることができる。また、表１に示すＰＲ１２２２１ＭＬ方式でも同様の考え方で演算することで、組み合わせごとのエッジずれ方向およびエッジずれ量を求めることができる。【００９０】
（実施形態１）
次に、本発明の実施形態による光ディスク装置を説明する。図１は、本発明の第１の実施形態による光ディスク装置１００を示す図である。【００９１】
情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生を行うための情報記録媒体であり、例えば光ディスク媒体である。光ディスク装置１００は、搭載された情報記録媒体１に対して情報の記録再生を行う記録再生装置である。【００９２】
光ディスク装置１００は、再生部１０１と、記録条件調整部１０２と、記録部１０３とを備える。【００９３】
再生部１０１は、光ヘッド部２と、プリアンプ部３と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）部４と、波形等化部５と、Ａ／Ｄ変換部６と、ＰＬＬ部７とを備える。再生部１０１は、情報記録媒体から再生された情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する。【００９４】
記録条件調整部１０２は、ＰＲＭＬ部１０４と、信号評価指標演算部１０と、調整部１０５とを備える。ＰＲＭＬ部１０４は、可変ＰＲ等化部８と、可変最尤復号部９とを備える。調整部１０５は、エッジシフト検出部１１と、光ディスクコントローラ部１２とを備える。記録条件調整部１０２は、例えば半導体チップとして製造される。【００９５】
記録部１０３は、パターン発生部１３と、記録補償部１４と、レーザ駆動部１５とを備える。【００９６】
光ヘッド部２は、対物レンズ２ｂを通過したレーザ光２ａを情報記録媒体１の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズ２ｂの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。レーザ光２ａの波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。【００９７】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ４へ出力する。ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。【００９８】
波形等化部５は、再生信号の高域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形の高域部分を増幅させてＡ／Ｄ変換部６へ出力する。【００９９】
ＰＬＬ回路７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。【０１００】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ回路７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、可変ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７およびＡＧＣ部４へ出力する。【０１０１】
可変ＰＲ等化部８は、複数のＰＲ方式の特性へフィルタ特性を可変できる機能を有する。可変ＰＲ等化部８は、記録再生系の周波数特性が可変最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化特性、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性など）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制および意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して可変最尤復号器部９へ出力する。【０１０２】
可変ＰＲ等化部８の特性を切り替える第１の方法を説明する。ＰＲ（ａ，ｂ，ｂ，ａ）等化特性を用いる場合において、ｂ／ａ＝Ａとし、ＡとしてＡ１とＡ２（Ａ２はＡ１より小さい）とを用いる。これにより、Ａ１を用いた高域強調型のクラスからＡ２を用いた高域を強調しないクラスに変更することができる。【０１０３】
第２の方法として、２Ｔを強調したＰＲ等化特性から２Ｔを強調しないＰＲ等化特性へ変更する。具体的には、可変ＰＲ等化部８は、ＰＲ（ａ，ｂ，ｂ，ａ）等化特性をＰＲ（ｘ，ｙ，ｚ，ｙ、ｘ）等化特性へ変更する。またその変更とともに、ｂ／ａ＝Ａ、（（ｙ＋ｚ）／２）／（（ｘ＋ｙ）／２）＝Ｂとし、Ａ＞Ｂとなるｘ，ｙ，ｚの係数を用い、高域を強調したクラスから高域を強調しないクラスに変更する。例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化からＰＲ（１，２，２，２，１）等化へ変更してフィルタの次数を増加させることにより、２Ｔを強調しないＰＲ等化特性へ変更することができる。【０１０４】
可変最尤復号部９は、可変ＰＲ等化部８のＰＲ特性に同期して、最尤復号処理を切り替えることができる。例えば、上記第１の方法においてＡ１からＡ２に変更した場合、復号処理に用いる閾値をＡ２に最適となるように変更する。また、上記第２の方法においては、復号処理に用いる閾値および復号則が最適となるように変更する。【０１０５】
可変最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、可変ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号して２値化データを出力する。この２値化データは、復調２値化信号として後段の回路（図示省略）へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報が再生される。【０１０６】
信号評価指標演算部１０には、可変ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、可変最尤復号部９から出力された２値化信号とが入力される。信号評価指標演算部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を示す（式１）の演算を実行する。本発明の信号評価指標は復号結果の信頼性を示している。さらに、信号評価指標演算部１０は、２値化信号に基づいて、マーク長とスペース長の組み合わせごとに上記演算結果を分類する。例えば、上記表１に示す１８パターンや表４に示す８パターンのパターンごとに（記録マークの始終端エッジのパターンごとに）パルス信号を生成してエッジシフト検出部１１に出力する。【０１０７】
エッジシフト検出部１１は、上記演算結果をパターンごとに累積加算し、記録マークのエッジ位置を調整するパラメータの最適値からのずれ（エッジシフトとも言う）を求める。【０１０８】
光ディスクコントローラ部１２は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された記録パラメータ（記録信号の波形）を変更する。さらに、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲＭＬ特性を変更するための制御信号を可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０へ出力する。可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０は、ＰＲＭＬの特性変更に応じて、処理および演算が異なってくる場合があるので、光ディスクコントローラ部１２によって同期して変更する。【０１０９】
パターン発生部１３は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部１４は、光ディスクコントローラ部１２から受け取った記録パラメータと、記録パターンとに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部１５は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。【０１１０】
次に、光ディスク装置１００の動作をより詳細に説明する。記録パラメータ調整を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、光ディスク媒体のコントロールデータ等に記載されている記録パラメータの初期値およびその初期値から数ステップずらした試し記録を実行するように記録補償部１４に指示する。光ディスクコントローラ部１２は、数パターンの記録パラメータを記録補償部１４に出力する。パターン発生部１３は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部１４は、光ディスクコントローラ部１２から受け取った記録パラメータと、記録パターンに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部１５は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。この一連の処理により、記録エッジ調整のための試し記録が完了する。次に、試し記録をした領域を再生する。【０１１１】
光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２１特性となるように、波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２１ＭＬ用に変更し、状態数を６状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１０に制限する。【０１１２】
信号評価指標演算部１０は、ＰＲ１２２１ＭＬ用の再生信号評価指標Ｍが演算できるように、表４に示す状態遷移パスに基づいて、上記（式１）〜（式３）を演算し、演算結果をエッジシフト検出部１１に出力する。エッジシフト検出部１１は、マーク長とスペース長の組み合わせごとにエッジシフト量を集計演算し、光ディスクコントローラ部１２に出力する。光ディスクコントローラ部１２は、集計されたエッジシフト量から、記録マークのエッジを調整するパラメータの最適値を求め、記録補償部１４に最適パラメータを出力する。この一連の処理により、記録マークのエッジを調整するパラメータの最適値を求めることができる。【０１１３】
また、ユーザーデータ等の再生を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２２１特性となるように波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２２１ＭＬ用に変更し、状態数を１０状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１６に制限する。可変最尤復号部９は、再生信号を復号して２値化データを出力する。この２値化データは、復調２値化信号として後段の回路（図示せず）へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報（映像、音声、文字情報等）が再生される。【０１１４】
また、記録領域の記録品質を測定するための再生を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２２１特性となるように波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２２１ＭＬ用に変更し、状態数を１０状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１６に制限する。【０１１５】
信号評価指標演算部１０は、ＰＲ１２２２１ＭＬ用の再生信号評価指標Ｍを演算できるように、表１〜表３に示す遷移パスに基づいて、上記（式１）〜（式３）の演算し、演算結果をエッジシフト検出部１１に出力する。エッジシフト検出部１１は、表１〜表３で示す遷移パスごとに信号評価指標Ｍを集計演算し、光ディスクコントローラ部１２に出力する。光ディスクコントローラ部１２は、集計された信号評価指標Ｍから、記録領域の記録品質を判断することができる。この場合、エッジシフト検出部１１は、エッジシフトだけを集計するブロックではなく、信号評価指標Ｍを集計するブロックとしても用いることができる。【０１１６】
このように、記録パラメータを調整する場合（特に、マークとスペースの境界部分のエッジ位置に係わるパラメータを調整する場合）には、記録特性が最適となるＰＲＭＬ特性を選択して記録パラメータを調整し、メディアの記録品質を最適化する。これにより、システムの記録のマージン確保を容易に達成することができる。【０１１７】
ＰＲ１２２２１ＭＬを用いたエッジ位置調整を実行すると、２Ｔマークまたは３Ｔマーク等のマークの大きさが小さくなるように調整され、その結果、記録のマージンが減少（記録パワーずれ、ストラテジずれの許容範囲が狭くなること）し、再生信号から同期信号を生成するＰＬＬが不安定となる場合がある。また、特に、２Ｔマークまたは３Ｔマーク等の小さいマークを小さくする記録をすると、信号評価指標ジッタが極端に悪化し、再生系にＰＲＭＬ方式でない別の判別方式（例えばレベル判別方式）を用いた装置では再生が困難となり、光ディスク媒体の互換という意味で問題となる場合がある。そこで、エッジ調整時には、ＰＲ１２２１ＭＬを用いることで、適切な長さのマーク長となるように、２Ｔマークおよび３Ｔマーク等のマーク長（またはマーク位置）を調整することができ、記録のマージンを最大限にする記録の実現と、再生信号から同期信号を生成するＰＬＬの安定性の実現と、光ディスク媒体の安定した互換性維持とを実現することができる。【０１１８】
上述したように、再生する場合（ユーザー領域にアクセスして情報を再生する場合）には、再生性能が最高となるＰＲＭＬ特性を選択して再生することで、システムの再生のマージンを最大限拡大することができる。【０１１９】
上述したように、記録領域の記録品質を測定するための再生を実行する場合、再生時に用いるＰＲＭＬ特性の信号評価指標Ｍ等を演算することで、システムの再生性能を認識することができる。この指標Ｍを用いて、システムマージンを確認することで、光ディスク装置に挿入されたメディアの記録状態や記録性能が、装置側でサポートできるか等を判断できる。例えば、記録パワーを変化して試し記録した領域の信号評価指標Ｍの値の変化や、最適記録パラメータで記録した領域の信号評価指標Ｍの値から判断することができる。【０１２０】
また、信号評価指標Ｍを用いて、サーボパラメータ（フォーカス位置パラメータ、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等）の最適化を行ってもよい。パラメータ変化に指標Ｍの値が敏感に変化することが望ましい場合は、再生に用いるＰＲＭＬ特性ではなく、それよりも再生性能が悪いＰＲＭＬ特性に切り替えて調整することができる。例えば、パラメータを変化させて、評価指標Ｍの変化の谷を見つけてパラメータの最適値を抽出する方法では、少ないパラメータ変化で谷を見つけることができるので、パラメータを大きく変化させた場合に発生する可能性があるサーボ外れ等の状態を防ぐことができ、システムの安定化を実現することができる。【０１２１】
図１０に、各ＰＲＭＬ特性の指標Ｍとフォーカスパラメータとの関係を示す。ＰＲ１２２１ＭよりもＰＲ１２２２１ＭＬの方が再生性能が高い再生系の場合、ＰＲ１２２１ＭＬの指標Ｍでフォーカスパラメータを調整した方が、パラメータ変化が小さい範囲で指標Ｍの谷を精度よく検出できる。【０１２２】
このようなサーボパラメータの最適化を行う光ディスク装置２００を図１１に示す。光ディスク装置２００の構成要素は、光ディスク装置１００（図１）の構成要素とほぼ同等であるが、説明を簡単にするために一部の構成要素の図示を省略している。光ディスク装置２００は、サーボ制御部１６をさらに備える。【０１２３】
サーボ制御部１６は、光ヘッド部２の位置制御、フォーカス位置制御、球面収差位置制御およびトラッキング位置制御等、光ディスク媒体の特定位置にアクセスする場合に必要な制御を行う。光ディスクコントローラ部１２は、フォーカスパラメータの最適値（図１０）をサーボ制御部１６へ出力する。サーボ制御部１６は、そのパラメータを用いてフォーカス位置を制御する。フォーカス位置パラメータだけでなく、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等も同様に求めて、各サーボパラメータを最適にすることで、光ディスク装置の記録再生動作の安定化が実現できる。サーボパラメータの最適化は、再生時のサーボパラメータだけでなく、記録時のサーボパラメータに関しても行うことができる。【０１２４】
また、上述したように、ＰＲＭＬ特性によって信号評価指標の演算が異なってくるので、ＰＲＭＬ特性の切り替えと同時に、信号評価指標の演算も選択されたＰＲＭＬ特性に合った演算に切り替える。【０１２５】
このように、記録調整の場合と、再生の場合、および信号品質測定用の再生の場合等、用途別にＰＲＭＬ特性を切り替えることで、各種記録パラメータの最適化と、再生性能の最適化、および各種再生パラメータの最適化が容易に実現でき、それにより、記録品質および再生性能が高く、互換性が高い光ディスク装置を提供することができる。【０１２６】
上述の説明において、ＰＲＭＬ方式として、ＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を取り上げて説明したが、本発明はこれに限定されない。本発明の趣旨を実施できる別のＰＲＭＬ方式の組み合わせであっても本発明の効果は同様に得られる。【０１２７】
また、試し記録は必ずしも必要ではなく、初期値の記録パラメータで記録した情報から、エッジのずれを検出して、記録パラメータを補正してもよい。【０１２８】
また、可変ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ構成を備え、ＬＭＳ（Ｔｈｅ  Ｌｅａｓｔ−Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（非特許文献２参照）。【０１２９】
また、光ディスク媒体に情報を記録するときの記録密度に応じて、ＰＲＭＬ特性を切り替えてもよい。この場合は、結果として、すべての場合で、同じＰＲＭＬ特性を選択してもよい。【０１３０】
また、ＰＲＭＬ特性の切り替えに応じて、光ディスクコントローラ部１２が波形等化部５の等化特性を切り替えてもよい。波形等化部５の波形等化は、ＰＬＬ部７の前段で波形を整形することで、ＰＬＬの安定性を確保するという役割と、可変ＰＲ等化部８の出力特性を良好するという役割がある。ＰＲＭＬ特性を高域強調型または非高域強調型に切り替えるのと同期して、波形等化部５の波形等化の特性を切り替えることで、ＰＬＬの安定性を確保するとともに、可変ＰＲ等化部８の出力特性を良好にすることができる。この２つの特性が両立しない場合は、波形等化部をＰＬＬ用とＰＲＭＬ用に２つ設けてもよい。ＰＲ１２２１ＭＬからＰＲ１２２２１ＭＬ方式に切り替えた場合は、ＰＬＬ用の波形等化部の特性のゲインを上げ（例えば、高域周波数の振幅を上げる特性にする）、ＰＲ等化用の波形等化部の特性のゲインを下げればよい（例えば、高域周波数の振幅を下げる特性にする）。また、ＰＬＬ用の波形等化のみを行ってもよい。波形等化部５をＡ／Ｄ変換部６の後段に配置し、デジタル波形等化部として機能してもよい。【０１３１】
また、上述の説明では、エッジシフトと相関のある記録パラメータを調整したが、調整する記録パラメータは特に限定されない。調整する記録パラメータは、記録信号波形の始端位置や終端位置、記録波形の高さ（記録パワー）であってもよい。すなわち、マークのエッジ位置が調整できれば、どの記録パラメータでもよい。また、調整する記録パラメータは、記録パワーであってもよい。エッジのずれ方向およびずれ量からマーク長を算出することができ、このマーク長が所定の長さとなるように記録パワーを調整してもよい。【０１３２】
また、図１に示したプリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５は１つの、アナログ集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９、信号評価指標演算部１０、エッジシフト検出部１１、光ディスクコントローラ部１２、パターン発生部１３および記録補償部１４は、アナログデジタル混載の１つの集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。もちろん、このアナログデジタル混載の集積回路は、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５を含んでもよい。レーザ駆動部１５は１つのドライバーＬＳＩとして構成され、光ヘッド部２に組み込まれてもよい。【０１３３】
なお、上述した光ディスク装置１００および２００は記録再生装置であったが、再生専用装置であってもよく、この場合はパターン発生部１３と記録補償部１４が省略され得る。またこの場合、サーボ制御部１６は、上記アナログデジタル混載の集積回路の１ブロックとして含まれてもよい。光ディスク装置１００に、サーボ制御部１６が追加されてもよい。これら光ディスク装置の構成例は、本発明を限定するものではなく、他の構成であってもよい。【０１３４】
また、記録調整、再生および信号品質測定用の再生は、例えば、記録アクセスコマンド、再生アクセスコマンド、測定アクセスコマンド等の各アクセスコマンドによって識別される。【０１３５】
（実施形態２）
図１２は、本発明の第２の実施形態による光ディスク装置３００を示す図である。光ディスク装置３００は、記録条件調整部１０２が含む構成要素が異なること以外は、光ディスク装置１００（図１）と同じ構成要素を備える。【０１３６】
光ディスク装置３００の信号評価指標演算部１０は、表１に示すパターンについての評価指標の演算（検出）、表２に示すパターンについての評価指標の演算（検出）、表３に示すパターンについての評価指標の演算（検出）を行う。評価指標の演算により、評価指標の値を検出する。光ディスク装置３００は、選択部１７をさらに備える。選択部１７は、演算結果（検出結果）のうちのいずれを光ディスクコントローラ部１２へ出力するかを選択する。【０１３７】
選択部１７は、光ディスクコントローラ部１２からの制御信号を受けて、表１〜表３に示すパターンのうちのどのパターンの信号評価指標の検出結果を出力するか選択する。表１〜表３に示すパターンのうちのすべてを選択することも、一部を選択することも可能である。【０１３８】
次に、３３．３ＧＢ／層の記録線密度のＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）に対して記録パラメータを調整する時の再生処理、および通常のユーザー領域の再生処理を説明する。【０１３９】
光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲＭＬ検出部１０４の可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９に対して、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を選択するように指示する。また、光ディスクコントローラ部１２は、信号評価指標演算部１０における表１パターン評価指標検出結果のみを出力するように、選択部１７に指示する。【０１４０】
光ディスクコントローラ部１２は、その検出結果を信号の評価値として認識し、記録領域の再生で得られた再生デジタル信号の信号品質を認識する。【０１４１】
ＰＲ１２２２１ＭＬ方式のような高次のＰＲＭＬ方式は、符号間干渉の影響下で再生信号を識別するために、より長い区間の波形のパターンを用いて、再生信号波形を認識する方式である。ここで、ＰＲ１２２２１ＭＬで最も間違い易いパターンを示す表２および表３と、ＰＲ１２２１ＭＬで最も間違い易いパターンを示す表４と比較すると、より長い区間とは、最小の波形距離で合流するパス距離が長い区間（時間Ｋの推移が長い）のことである。波形距離とは、ここでは、ビタビ復号する際の基準となる波形の可能性のある２つの波形の離れ具合を示す表現である。なお、最も間違い易いパターンとは、最小の波形距離で合流するパスのパターンである。【０１４２】
表２に示す評価パターンは、２Ｔマーク（または２Ｔスペース）に対応する２Ｔ信号が孤立するパターンであるため、２Ｔ信号の始端と終端の２つのエッジ（ゼロクロス情報）を持つ。ゼロクロス情報は、信号のゼロクロス部分を示している。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できないため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することは困難である。【０１４３】
表３に示す評価パターンは、２Ｔ信号が連続するパターンと２Ｔ信号の前または後が２Ｔ信号でないパターンを含み、複数のゼロクロス情報を持つ。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できないため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することは困難である。【０１４４】
表１に示す評価パターンは、ＰＲ１２２２１ＭＬで最も間違い易いパターンではないものの、ゼロクロス情報を１つのみ有するパターンである。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できるため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することができる。【０１４５】
ＰＲ１２２２１ＭＬ方式は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス情報（ゼロクロス部分）が含まれるＰＲＭＬ方式であり、本実施形態では、このＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いて再生デジタル信号の信号品質を計算する。このとき、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス情報が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価指標を計算して信号品質を検出する。この非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス情報が１つのみ含まれる状態遷移パターンは、表１に示す状態遷移パターンである。特に、信号のゼロクロス部分に情報を持たせるマークエッジ記録方式を採用する光ディスク媒体では、このゼロクロス部分の検出および評価が、記録された領域の品質の評価および調整に非常に重要な要素となる。【０１４６】
なお、図１２に示す可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９は、ＰＲＭＬ方式の切り替えが可能な構成でなくともよい。例えば、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式に固定された構成でもよい。【０１４７】
メディア評価を行うとき、信号評価指標として、エラーレートと最も相関のある指標（最も間違い易いパターンに対応する指標）を用いていた。しかし、表２および表３に示すように、最短マークに関するパターンということが予め分かっている点で、信号処理である程度対応は可能である。重要なのは、信号処理で対処できないＳＮ、消去特性、アーカイバル特性（記録品質の維持、経年に伴う消え難さ）等に関する対処である。これらの特性が良好か否かの判定は、ゼロクロスに関する情報を用いて行う。このため、どのような高次のＰＲＭＬ方式であっても、記録の状態を評価するに当たっては、光ディスク媒体の記録方式に適合したパターンを選択して評価するのが望ましい。【０１４８】
記録線密度の向上に伴い発生し得る符号間干渉およびＳＮＲの悪化等を考慮して、最適なＰＲＭＬ方式を選択する必要がある。本実施形態では、所定の記録線密度まではＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用し、それ以上の記録線密度の記録情報を再生する場合、ＰＲ１２２２１ＭＬの方式を用いる。【０１４９】
図１３および図１４を参照して、ＢＤの記録線密度について説明する。ＢＤにおいても、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）と同様に、データは記録層の物理変化により生じるマーク列としてトラック１３１上に記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものが最短マーク１３２であり、２５ＧＢ記録容量のＢＤの場合、その物理的長さは０．１４９μｍとなっている。これは、ＤＶＤの最短マーク長の約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ（０．８５）を変えて、レーザの分解能を上げても、記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。なお、マークの最短マーク長は２Ｔであり、スペースの最短スペース長も２Ｔである。【０１５０】
図１３は、トラック１３１上に記録されたマーク列に光ビームスポット１３３が形成されている状態を示している。ＢＤでは、光学系パラメータにより光スポット１３３の直径は約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度を向上させる場合、スポット径に対する記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。【０１５１】
光ビームを照射して記録マークを再生した際の再生信号振幅は、記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下し、振幅ゼロとなる再生の限界をＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。図１４は、２５ＧＢ記録容量のＢＤのＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数（ＯＴＦカットオフとなる空間周波数）に対して８０％と、ＯＴＦカットオフ周波数に近づいている。また、最短マークの再生信号振幅も、約１０％と非常に小さくなっている。ＢＤの最短マークの再生がＯＴＦカットオフになる、すなわち再生振幅がほとんど出ない記録線密度は、ＢＤでは約３１ＧＢ相当になる。【０１５２】
最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近になる、または、それを超える周波数になると、光学的分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮＲが急激に劣化する。【０１５３】
例えば、ＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を切り替える記録密度を、ＢＤであれば３１ＧＢ相当の記録線密度とする。最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数になる記録線密度は、計算上は３１．８ＧＢであり、３１．８ＧＢよりも小さい線密度の段階でＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を切り替えるのが望ましい。【０１５４】
なお、切り替える記録線密度は、レーザ分解能だけでなく、メディアの持つ記録特性に関わるＳＮＲ等もよく考慮し、３１ＧＢより低密度であってもよいし高密度であってもよい。【０１５５】
情報記録媒体１の記録層の１層当たりの記録線密度は例えば３１ＧＢ以上であり、３１．８ＧＢ以上であってもよい。例えば、記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである。情報記録媒体１は、記録層を３層以上備えていてもよく、３層の記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢとなる。【０１５６】
また、上述したＰＲＭＬ方式は一例であって、これに限定されない。記録線密度に応じたＰＲＭＬ方式を選択すればよい。【０１５７】
上述したように、信号のゼロクロス部分に情報を持たせるマークエッジ記録方式を採用する光ディスク媒体では、このゼロクロス部分の検出および評価が、記録された領域の品質の評価および調整に非常に重要な要素となる。そのゼロクロス部分を用いた信号評価方法の一例を説明する。【０１５８】
光ディスク装置３００（図１２）の信号評価指標演算部１０は、表１パターン評価指標（表１に示すパターンについての信号評価指標）を演算して検出し、検出結果は、マーク長とスペース長の組み合わせごとに分離される。その分離により、パターンごとのエッジズレやＳＮＲが分かる。計算例として、本発明の実施形態１の説明で示した（式１）の演算を行い、演算結果をジッターライクな分布の指標として用いてもよい。【０１５９】
図１５は、表１に示すパターンに対する信号評価指標の演算（式１）の結果の分布（指標Ｄの値の分布）を示している。横軸は（式１）で求めたＤの値、縦軸はその頻度である。ＰＲ１２２２１ＭＬ方式の場合、（式１）におけるｄの２乗は１４である。【０１６０】
図１５（ａ）は、分布の平均値がほぼ０であり、標準偏差σも比較的小さい値となる分布を示しており、再生信号品質は良好であることを示す例である。図１５（ｂ）は、標準偏差σは比較的小さい値を示しているが、分布の平均値がずれている分布を示しており、該当パターンがエッジズレを起こしている例である。図１５（ｃ）は、分布の平均値がほぼ０であるが、標準偏差σが比較的大きい値を示す分布を示しており、該当パターンのエッジのＳＮＲが悪いことを示す例である。これらの評価方法を用いて、マーク長とスペース長の組み合わせごとに分離して信号品質を解析すれば、光ディスク媒体に形成された記録マークの品質を精度よく評価することができる。信号品質評価処理では、計算した信号品質に基づいて再生デジタル信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する。計算した品質評価指標値の分布の平均値から再生デジタル信号のエッジシフトの度合いを決定することができる。また、計算した品質評価指標値の分布の標準偏差から再生デジタル信号のＳＮ比の度合いを決定することができる。【０１６１】
そして、その評価結果から、マーク長とスペース長の組み合わせごとのエッジずれやＳＮＲが良化するように記録パラメータを変更して記録すればよい。ここで、エッジずれの良化とは分布の平均値ができるだけ０に近付くようにすることであり、ＳＮＲの良化とは標準偏差σが小さくなるようにすることである。例えば、光ディスクコントローラ部１２が、信号評価指標演算部１０から評価結果を受けて、どの記録パラメータを変更すればよいかを判断し、記録補償部１４にその変更後のパラメータを出力してもよい。記録パラメータは、記録パワーパラメータ、記録パルス位置パラメータ等を含む。また、これらの評価結果を用いて、上述したサーボパラメータ（フォーカス位置パラメータ、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等）の最適化を行ってもよい。【０１６２】
評価方法として、エッジずれとＳＮＲを分離して別々に評価してもよいし、両方含めて評価してもよいし、演算結果をパターンごとに分離して評価してもよい。【０１６３】
これらの評価値の目標としては、十分システムマージンを確保できる範囲に設定すべきで、（式１）で求まるＤの分散値をＴＷで正規化すれば、エラーレートと相関ある評価値として用いることができる。ここで、ＴＷは、２×ｄの２乗である。例えば、トータルの指標の目標値を１０％として、要素ごとに目標をおいて評価してもよい。例えば、エッジずれの目標値を４．３％にして評価を行ってもよい。また、ＳＮＲの目標値を９％として評価を行ってもよい。【０１６４】
（実施形態３）
次に、本発明の第３の実施形態による情報記録媒体を説明する。図１６は、本実施形態の情報記録媒体１を示す図である。情報記録媒体１は、上述した光ディスク装置１００〜３００に搭載される。【０１６５】
図１６では、情報記録媒体１の一例として、多層の相変化薄膜ディスク媒体を示しているが、記録層を１層のみ備える単層構造のディスク媒体であってもよい。図１６に示す情報記録媒体１は、ｎ層（ｎは２以上の整数）の記録層を備える。情報記録媒体１は、レーザ光２ａ（図１）の照射側から、カバー層（保護層）１６２と、記録層Ｌｎ〜Ｌ０と、ポリカーボネート基板１６１とを備える。また、記録層Ｌｎ〜Ｌ０の間には、光学的緩衝材として機能する中間層１６３が挿入されている。基板１６１の厚さは例えば１．１ｍｍである。カバー層（保護層）１６２の厚さは例えば１０μｍ〜２００μｍであり、より好ましくは１００μｍ以下である。【０１６６】
レーザ光２ａ（図１）の照射方向１６４は光ヘッド部２から情報記録媒体１のカバー層１６２に向かう方向であり、レーザ光２ａは情報記録媒体１のカバー層１６２側から情報記録媒体１内へ入射する。【０１６７】
このように、１層当たりの記録容量を維持しつつ、多層構造にすることで、情報記録媒体１枚当たりの記録容量を増やすことが提案されている。しかし、記録層の多層化は、再生動作にいろいろな影響を及ぼす場合がある。例えば、多層化により透化率バランスを最適化できないために起因する反射率の低下、中間層幅を小さくすることによる層間クロストークに起因するＳＮＲの低下、光ヘッド部の構成に起因する迷光によるＳＮＲの低下等が発生する。これらのＳＮＲを適切に定量的に測定する方法が望まれている。【０１６８】
上記表２および表３に示すパターンを用いた評価方法では、確かに、エラーレートとの相関を持つ評価値を得ることができる。しかし、記録条件によっては、適切にＳＮＲ成分を評価することができなかった。上述したように、表２および表３に示すパターンは、２Ｔ信号の孤立パターンあるいは２Ｔ信号の繰り返しパターンを含む。ＰＲ１２２２１ＭＬ方式は、２Ｔ振幅が０（波形の中心レベル）として再生されることを期待して再生する方式である。そのため、エッジずれがなく、ＳＮＲも良好な記録状態においても、２Ｔ信号のＤＣレベルが大きくずれるような再生信号波形、すなわちアシンメトリ波形を評価する場合、評価指標はＤＣレベルのずれの影響を大きく受ける。このため、表２および表３に示すパターンを採用すると、アシンメトリ性のある波形を評価する場合に、適切にＳＮＲの影響を精度よく評価することができない場合がある。そこで、本発明では、上述したように、表１に示すパターンを用いて評価をすることで、メディアの特性や光ヘッド部の特性を適切に評価することができる。【０１６９】
なお、上述の説明では、多層構造のメディアの課題を挙げ、それに対する本発明の効果について説明したが、記録層を１層のみ備える単層構造のメディアの評価にも本発明は有用である。また、記録型情報記録媒体についてだけでなく、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）型情報記録媒体の評価にも本発明は有用である。【０１７０】
次に、図１７〜図１８を参照して、本発明の実施形態による情報記録媒体の製造方法を説明する。【０１７１】
図１７は、情報記録媒体１の製造方法を示す図である。情報記録媒体１の製造においては、基板成型用のスタンパ（押し型）を形成するためのマスタリングプロセスと、スタンパを用いて基板を成型するレプリケーションプロセスとが行われる。【０１７２】
図１７（ａ）は、レジスト１７２が形成されたガラス原盤１７１を示している。スピンコーティングにより液状のフォトレジストをガラス原盤１７１の表面に成膜し、露光および現像を行うことで、凹部１７３が形成されたレジスト１７２が得られる。【０１７３】
ＲＯＭ型情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はピットを形成している。また、追記型や書換え型の情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はグルーブを形成している。なお、ピットとグルーブの両方を有する情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はピットとグルーブの両方を形成している。情報記録媒体にはピットとグルーブの少なくとも一方が形成される。なお、凹部１７３は凸部であってもよい。このような凸凹形状の配列によって同心円状またはスパイラル状のトラックが情報記録媒体に形成される。【０１７４】
次に、図１７（ｂ）を参照して、レジスト１７２が形成されたガラス原盤１７１にＮｉ等の金属のめっきを行って、金属めっき層１７５を形成し、形成した金属めっき層１７５をガラス原盤１７１から剥離する。剥離された金属めっき層１７５はスタンパとして用いられる。スタンパ１７５には、ピット（グルーブ）１７３が転写されている。【０１７５】
次に、図１７（ｃ）を参照して、射出成型法等により、スタンパ１７５のピット（グルーブ）１７３を溶融したプラスチック材料に転写することで、ピット（グルーブ）１７３が形成された基板１６１が得られる。【０１７６】
このようにして得られた基板１６１に、記録層、中間層、カバー層等を形成することで情報記録媒体１が得られる。【０１７７】
製造された情報記録媒体１は、表１に示すパターンを用いた評価方法により評価される。ＲＯＭ型情報記録媒体の評価を行った場合は、必要に応じて、より良好な再生信号が得られるようにスタンパ１７５に形成するピット１７３の形状を調整する。ピット１７３の形状の調整は、フォトレジストのうちの露光させる部分の形状を調整することで行うことができる。【０１７８】
図１８は、情報記録媒体１に形成されたピットおよびグルーブを示す図である。説明を簡単にするために、図１８では情報記録媒体１の基板１６１のみを示している。【０１７９】
図１８（ａ）に示すピット１７３は、Ｉｎ−Ｐｉｔ再生方式用のピットである。図１８（ａ）に示すピット１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凹形状である。矢印１６４はレーザ光の照射方向を示している。凹形状のピット１７３に対する凸形状部分１８１はランドである。【０１８０】
図１８（ｂ）に示すピット１７３は、Ｏｎ−Ｐｉｔ再生方式用のピットである。図１８（ｂ）に示すピット１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凸形状である。凸形状のピット１７３に対する凹形状部分１８１はランドである。【０１８１】
図１８（ｃ）に示すグルーブ１７３は、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ記録再生方式用のグルーブである。図１８（ｃ）に示すグルーブ１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凹形状である。凹形状のグルーブ１７３に対する凸形状部分１８１はランドである。グルーブ１７３により基板１６１には山部（ランド）と谷部（グルーブ）とが形成されている。山部（ランド）よりも谷部（グルーブ）は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から遠い位置にある。情報記録媒体１に情報を記録するときには、記録層の谷部（グルーブ）に対応する位置にマークが形成される。【０１８２】
図１８（ｄ）に示すグルーブ１７３は、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ記録再生方式用のグルーブである。図１８（ｄ）に示すグルーブ１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凸形状である。凸形状のグルーブ１７３に対する凹形状部分１８１はランドである。グルーブ１７３により基板１６１には山部（グルーブ）と谷部（ランド）とが形成されている。谷部（ランド）よりも山部（グルーブ）は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から近い位置にある。情報記録媒体１に情報を記録するときには、記録層の山部（グルーブ）に対応する位置にマークが形成される。【０１８３】
上述したように製造されたＲＯＭ型情報記録媒体または記録型情報記録媒体に対して、所定の再生信号が良好なＳＮＲを保持しているか否かを、上記表１に示すパターンを用いて評価をすることで、メディアの特性を適切に評価することができる。上記の評価方法を用いて評価しながら情報記録媒体を製造することで、所定以上の品質を常に保つことができ、情報記録媒体出荷後の市場において、記録再生品質を良好に維持することができる。【０１８４】
（実施形態４）
情報記録媒体の記録品質を評価する方法をさらに説明する。【０１８５】
情報記録媒体に記録されたデータの記録品質を測定する評価指標として、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式における特定のパターンを用いた評価指標を説明した。この方法に加えて、記録線密度を向上した場合に有用な記録品質評価方法を説明する。【０１８６】
記録の品質を規定する指標として、アシンメトリ評価指標とβ評価指標がある。図１９は、最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であって、アシンメトリ評価指標値を計算するためのパラメータの定義を示す図である。未記録領域に比べて記録領域の反射率が小さくなる情報記録媒体の場合、８Ｔスペースの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ８Ｈ、８Ｔマークの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ８Ｌ、２Ｔスペースの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ２Ｈ、２Ｔマークの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ２Ｌと定義し、アシンメトリ評価指標（ＡＳＹＭ）の値は、以下の（式４）で求められる。
【数４】
2008081820.tif 000011
この指標ＡＳＹＭによって、最短マーク／スペース（２Ｔ）の振幅中心や、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の振幅中心が、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅に対してどれだけＤＣずれを起こしているかを検出することができる。記録品質を所定以上に保つために、アシンメトリ評価指標ＡＳＹＭの値が所定以内となるような記録が行われるような制限が設けられる。例えば、−０．１＜＝ＡＳＹＭ＜＝０．１としていた。【０１８７】
しかし、上述したように、記録線密度が向上し、最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となると、光学的な分解能を超え、再生信号振幅が小さくなったり、再生信号振幅が符号間干渉の影響により基準レベルを超えないレベルとなったりする。【０１８８】
図２０は、図１９で示した最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であり、特に、ＢＤに３３ＧＢの記録密度で記録した領域を再生したときの再生振幅レベルを示している。ｘ領域の最短マーク／スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルは、ＯＴＦカットオフによりほとんどない状態である。例えば、２Ｔマークと２Ｔスペースの連続領域を再生したときの再生振幅レベルである。ｙ領域およびｚ領域は、符号間干渉により再生振幅がほとんどない状態を示している。例えば、８Ｔスペース２Ｔマーク８Ｔスペースまたは、８Ｔマーク２Ｔスペース８Ｔマークの領域を再生したときの再生振幅レベルである。このように記録線密度を向上させると、図１９の２Ｔ信号の振幅レベルＡ２Ｈに相当する再生振幅レベルは、Ａ２−２およびＡ２−４と複数存在し、図１９の２Ｔ信号の振幅レベルＡ２Ｌに相当する再生振幅レベルは、Ａ２−１およびＡ２−３と複数存在するため、アシンメトリ評価指標値を求めることができない。【０１８９】
図２１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であり、β評価指標値を計算するためのパラメータの定義を示す図である。未記録領域に比べて記録領域の反射率が小さくなる情報記録媒体の場合、８Ｔスペースの振幅レベルは、基準レベル０からの振幅Ａ１、８Ｔマークの振幅レベルは、基準レベル０からの振幅Ａ２と定義する。基準レベル０は再生波形のエネルギーの中心である。例えば、再生波形のエネルギーの中心は、所定の帯域のＨＰＦ（Ｈｉｇｔｈ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）を通過させることで求められる。β評価指標（β）の値は、以下の（式５）で求められる。
【数５】
2008081820.tif 000012
このβ指標の値によって、エネルギー中心レベルが、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅に対してどれだけＤＣずれを起こしているかを検出することができる。【０１９０】
図２１（ａ）は、基準レベルに対して、マーク信号振幅とスペース信号振幅がほぼ等しい状態を示し、（式５）からβ指標値は０と算出される。【０１９１】
図２１（ｂ）は、図２１（ａ）の条件よりも記録パワーを低下させて記録した領域を再生したときの波形の状態を示している。この場合、基準レベルに対して、マーク信号振幅がスペース信号振幅より大きくなり、（式５）から負の符号を持つβ指標値が算出される。【０１９２】
図２１（ｃ）は、図２１（ａ）の条件よりも記録パワーを上げて記録した領域を再生したときの波形の状態を示している。この場合、基準レベルに対して、マーク信号振幅がスペース信号振幅より小さくなり、（式５）から正の符号を持つβ指標値が算出される。【０１９３】
このように、β指標は、記録パワーを変化させて記録した領域を再生したときの信号振幅と相関があるため、記録パワー調整の目標値として用いられる（日本国特開９−１６１２７２号公報を参照）。【０１９４】
β指標は、情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる。β指標値は、再生信号波形全エネルギー中心を基準に、最長マークと最長スペースの振幅比を測定する評価指標であるため、高密度化に伴う最短マークの振幅劣化に影響されない指標であり、このβ指標を用いて信号品質評価を行うことができる。【０１９５】
記録データを再生する処理においては、最短マークの振幅中心が最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅の所定範囲内に入っていないとデータ信号を復調できず、光ディスク装置の互換性を安定に保つことが出来ない場合がある。特に、ジッタ指標によって記録品質が規定されたシステムでは、２Ｔ信号の振幅が所定以上出るような記録状態および再生状態でなければならない。例えば、記録線密度２５ＧＢのＢＤでは、リミットイコライザ（Ｌｉｍｉｔ  Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ）を用いて得たジッタ値を用いてメディアの特性を規定しており、２Ｔマーク／スペースの記録品質を規定するために、２Ｔ信号のＤＣを基準としたアシンメトリ評価値を所定以内とする規定が必要となる。リミットイコライザを用いたジッタ測定指標に関する説明は、非特許文献１（図解  ブルーレイディスク読本  オーム社）に記載されているので、ここでは詳細な説明を省略する。【０１９６】
最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度においては、上述のリミットイコライザを用いたジッタ測定指標は使うことができない。ジッタ測定指標は、所定以上の２Ｔ信号振幅があることを条件に成立する指標であるためである。このため、２Ｔ信号振幅を基準としたアシンメトリ指標値を使うことは意味を成さない。【０１９７】
最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度で記録された記録マークを再生する方法では、上述したが、高次のＰＲＭＬ方式の採用が有用である。例えば、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式が有用である。この方式は、予め符号間干渉の影響を考慮して、２Ｔ信号振幅がでないことを前提とした再生方式であるため、２Ｔ信号振幅は重要ではない。しかし、ＰＲＭＬ方式では、マークとスペースの振幅比が大きく異なった波形を再生する場合は、再生性能が劣化することがある。これは、ＰＲＭＬ方式がマークとスペースの対称性を前提として再生波形を復号する方式であるためである。そこで、２Ｔ振幅基準でその対称性を規定する必要はないが、全波形のエネルギー中心に、マークとスペース比（β）を所定以内に制限することで、ＰＲＭＬ方式に適した記録品質を保つことができる。例えば、βを、−０．２＜＝β＜＝０．２の範囲にすると規定すれば、記録品質を保持するができる。【０１９８】
ジッタ評価指標が有用な領域（最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数より十分低い記録線密度の領域）では、２Ｔ信号の振幅を基準としたアシンメトリ指標値を記録品質の評価に使うことで、安定した記録品質の情報記録媒体を提供することができる。【０１９９】
また、ジッタ評価指標が成立しない領域（ＰＲ１２２２１ＭＬの評価指標が有用な、最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度の領域）では、全波形のエネルギー中心を基準としたβ指標値を記録品質の評価に使うことで、安定した記録品質の情報記録媒体を提供することができる。【０２００】
なお、記録品質は、アシンメトリ指標またはβ指標に関わる記録パワーだけでなく、記録パルス波形の形状にも大きく依存する。記録パルス波形の形状に関わる記録品質は、ジッタ指標またはＰＲ１２２２１ＭＬの評価指標で評価することができる。このように、情報記録媒体の記録品質を数値で規定し、記録線密度に応じた適切な手法を用いて信号品質評価を行うことで、光ディスク装置の互換性を安定に保つことができる。
【産業上の利用可能性】
【０２０１】
本発明は、最尤復号法を用いて信号処理を行う技術分野において特に有用である。
【図１】
2008081820.tif 000013
【図２】
2008081820.tif 000014
【図３】
2008081820.tif 000015
【図４】
2008081820.tif 000016
【図５】
2008081820.tif 000017
【図６】
2008081820.tif 000018
【図７】
2008081820.tif 000019
【図８】
2008081820.tif 000020
【図９】
2008081820.tif 000021
【図１０】
2008081820.tif 000022
【図１１】
2008081820.tif 000023
【図１２】
2008081820.tif 000024
【図１３】
2008081820.tif 000025
【図１４】
2008081820.tif 000026
【図１５】
2008081820.tif 000027
【図１６】
2008081820.tif 000028
【図１７】
2008081820.tif 000029
【図１８】
2008081820.tif 000030
【図１９】
2008081820.tif 000031
【図２０】
2008081820.tif 000032
【図２１】
2008081820.tif 000033
【手続補正書】
【提出日】平成20年4月24日(2008.4.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて前記品質を計算する、情報記録媒体を評価する評価方法。
【請求項２】
前記情報記録媒体に形成された最短マークの空間周波数は、ＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）カットオフ周波数よりも高い、請求項１に記載の評価方法。
【請求項３】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項４】
前記ＰＲＭＬ方式は、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項５】
前記計算した品質に基づいて再生信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項６】
前記計算した品質を表す値の分布の平均値から前記再生信号のエッジシフトの度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項７】
前記計算した品質を表す値の分布の標準偏差から前記再生信号のＳＮ比の度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項８】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項９】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体。
【請求項１０】
基板と、
保護層と、
前記基板と前記保護層との間に配置された記録層と
を備えた情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて評価される、情報記録媒体。
【請求項１１】
前記情報記録媒体は、前記記録層を１層以上備えており、
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１ＧＢ以上である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１２】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１．８ＧＢ以上である、請求項１１に記載の情報記録媒体。
【請求項１３】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである、請求項１２に記載の情報記録媒体。
【請求項１４】
前記情報記録媒体は、前記記録層を３層以上備えている、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１５】
３層の前記記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢである、請求項１４に記載の情報記録媒体。
【請求項１６】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられる対物レンズの開口数は０．７〜０．９である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１７】
前記対物レンズの開口数は０．８５である、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項１８】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられるレーザ光の波長は４１０ｎｍ以下である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１９】
前記レーザ光の波長は４０５ｎｍである、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項２０】
前記基板の厚さは１．１ｍｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２１】
前記保護層の厚さは１０μｍ〜２００μｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２２】
前記保護層の厚さは１００μｍ以下である、請求項２１に記載の情報記録媒体。
【請求項２３】
請求項１０に記載の情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項２４】
情報記録媒体の製造方法であって、
前記製造方法は、
情報記録媒体にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するためのスタンパを作製するステップと、
前記スタンパを用いて前記情報記録媒体の基板にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するステップと
を包含し、
前記製造方法により製造された情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて評価される、製造方法。
【請求項２５】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凹形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２６】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凸形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２７】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記山部よりも前記谷部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から遠い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記谷部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２８】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記谷部よりも前記山部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から近い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記山部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２９】
請求項２４に記載の製造方法により製造された情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３０】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて前記品質を計算する、信号処理方法。
【請求項３１】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３２】
前記情報記録媒体に形成されたマークの長さとスペースの長さの組み合わせごとに再生信号を分類して前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３３】
前記マークの最短マーク長は２Ｔであり、前記スペースの最短スペース長は２Ｔである、請求項３２に記載の信号処理方法。
【請求項３４】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３５】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体。
【請求項３６】
（削除）
【請求項３７】
（削除）
【請求項３８】
（削除）
【請求項３９】
（削除）
【手続補正書】
【提出日】平成21年2月17日(2009.2.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて前記品質を計算する、情報記録媒体を評価する評価方法。
【請求項２】
前記情報記録媒体に形成された最短マークの空間周波数は、ＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）カットオフ周波数よりも高い、請求項１に記載の評価方法。
【請求項３】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項４】
前記ＰＲＭＬ方式は、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式である、請求項１に記載の評価方法。
【請求項５】
前記計算した品質に基づいて再生信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する、請求項１に記載の評価方法。
【請求項６】
前記計算した品質を表す値の分布の平均値から前記再生信号のエッジシフトの度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項７】
前記計算した品質を表す値の分布の標準偏差から前記再生信号のＳＮ比の度合いを決定する、請求項５に記載の評価方法。
【請求項８】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項９】
請求項１に記載の評価方法により評価される情報記録媒体。
【請求項１０】
基板と、
保護層と、
前記基板と前記保護層との間に配置された記録層と
を備えた情報記録媒体であって、
前記情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて評価される、情報記録媒体。
【請求項１１】
前記情報記録媒体は、前記記録層を１層以上備えており、
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１ＧＢ以上である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１２】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１．８ＧＢ以上である、請求項１１に記載の情報記録媒体。
【請求項１３】
前記記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである、請求項１２に記載の情報記録媒体。
【請求項１４】
前記情報記録媒体は、前記記録層を３層以上備えている、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１５】
３層の前記記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢである、請求項１４に記載の情報記録媒体。
【請求項１６】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられる対物レンズの開口数は０．７〜０．９である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１７】
前記対物レンズの開口数は０．８５である、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項１８】
前記情報記録媒体を評価するときに用いられるレーザ光の波長は４１０ｎｍ以下である、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項１９】
前記レーザ光の波長は４０５ｎｍである、請求項１６に記載の情報記録媒体。
【請求項２０】
前記基板の厚さは１．１ｍｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２１】
前記保護層の厚さは１０μｍ〜２００μｍである、請求項１０に記載の情報記録媒体。
【請求項２２】
前記保護層の厚さは１００μｍ以下である、請求項２１に記載の情報記録媒体。
【請求項２３】
請求項１０に記載の情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項２４】
情報記録媒体の製造方法であって、
前記製造方法は、
情報記録媒体にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するためのスタンパを作製するステップと、
前記スタンパを用いて前記情報記録媒体の基板にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するステップと
を包含し、
前記製造方法により製造された情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて評価される、製造方法。
【請求項２５】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凹形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２６】
前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凸形状である、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２７】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記山部よりも前記谷部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から遠い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記谷部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２８】
前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、
前記谷部よりも前記山部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から近い位置にあり、
前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記山部に対応する位置にマークが形成される、請求項２４に記載の製造方法。
【請求項２９】
請求項２４に記載の製造方法により製造された情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３０】
情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、
前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、
を包含し、
最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、
非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の孤立パターンが１つのみ含まれる状態遷移パターンと、
最小差分メトリックの合流パス中に最短マーク長の連続パターンが２つ以上含まれる状態遷移パターンと
を用いて前記品質を計算する、信号処理方法。
【請求項３１】
前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３２】
前記情報記録媒体に形成されたマークの長さとスペースの長さの組み合わせごとに再生信号を分類して前記品質を計算する、請求項３０に記載の信号処理方法。
【請求項３３】
前記マークの最短マーク長は２Ｔであり、前記スペースの最短スペース長は２Ｔである、請求項３２に記載の信号処理方法。
【請求項３４】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置。
【請求項３５】
請求項３０に記載の信号処理方法により評価される情報記録媒体。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号法を用いた信号処理方法および最尤復号法を用いて情報記録媒体を評価する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク媒体の高密度化により、記録マークの最短マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ  Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ）の劣化がより顕著となり、信号処理方法として、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式等を用いることが一般的になりつつある。
【０００３】
ＰＲＭＬ方式は、パーシャルレスポンス（ＰＲ）と最尤復号（ＭＬ）とを組み合わせた技術であり、既知の符号間干渉が起こることを前提に再生波形から最も確からしい信号系列を選択する方式である。このため、従来のレベル判定方式よりも復号性能が向上することが知られている（例えば、非特許文献１）。
【０００４】
一方、信号処理方式がレベル判定方式からＰＲＭＬ方式へ移行することで、再生信号の評価方法に課題が出てきた。従来から用いられてきた再生信号評価指標であるジッタは、レベル判定方式の信号処理を前提とするため、レベル判定とは信号処理のアルゴリズムが異なるＰＲＭＬ方式の復号性能との相関がない場合が出てきた。そこで、ＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のある新たな指標が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２）。
【０００５】
また、光ディスク媒体の記録品質にとって非常に重要となるマークとスペースの位置ずれ（エッジずれ）を検出することができる新たな指標も提案されている（例えば、特許文献３）。この指標も、ＰＲＭＬ方式を用いる場合は、ＰＲＭＬ方式の考え方に則しＰＲＭＬ方式の復号性能と相関のあるものである必要があり、且つ、パターンごとのエッジのずれ方向と量を定量的に表現できなければならない。
【０００６】
光ディスク媒体の高密度化がさらに進むと、符号間干渉およびＳＮＲ劣化がさらに問題となる。システムマージンを維持するためには、ＰＲＭＬ方式を高次の方式にすることで対応可能と非特許文献１に記載されている。例えば、１２ｃｍの光ディスク媒体の記録層１層当たりの記録容量が２５ＧＢの場合では、ＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用することで、システムマージンを維持することができたが、１層当たりの記録容量が３３．３ＧＢの場合では、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する必要があることが説明されている。このように、光ディスク媒体の高密度化に比例して、高次のＰＲＭＬ方式を採用する傾向は続くと予想される。
【０００７】
最尤復号に適した再生信号が得られるように記録パラメータを調整する方法の一例は特許文献３に開示されている。
【特許文献１】特開２００３−１４１８２３号公報
【特許文献２】特開２００４−２１３８６２号公報
【特許文献３】特開２００４−３３５０７９号公報
【非特許文献１】図解  ブルーレイディスク読本  オーム社
【非特許文献２】適応信号処理アルゴリズム  培風館
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、再生時の性能が高い高次のＰＲＭＬ方式を採用して、そのＰＲＭＬ方式を用いて記録調整（特に記録マークのエッジ位置調整）を行った場合、メディアの記録密度によっては、メディアの記録性能を十分に発揮できる記録を行うこと（ＳＮＲが最大となる記録条件で記録すること）が出来ず、システム全体のマージンを減少させていた。例えば、再生信号処理の方式としてＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、ＰＲ１２２２１ＭＬの再生系で最適となる記録調整を行った場合、短い記録マークである２Ｔ（Ｔはチャネル幅（チャネルクロックの周期））マークおよび３Ｔマークのサイズが非常に小さくなり、メディアの本来の最適記録条件から大きくずれてしまうため、繰り返し記録の特性や経年劣化特性が低くなる場合があった。
【０００９】
また、２Ｔマークや３Ｔマークなどの短いマークの再生信号振幅が小さくなり、ＳＮＲの劣化による再生性能の低下や、再生信号から同期信号を検出するＰＬＬ回路の安定性の低下が起こる場合があった。すなわち、記録および再生マージンを減少させてしまう記録条件で記録してしまう場合があった。
【００１０】
また、記録密度の向上に対応させて、その符号間干渉に適切な高次のＰＲＭＬ方式（例えば、ＰＲ１２２１ＭＬに対してＰＲ１２２２１ＭＬが高次）を採用することは、再生波形の振幅レベルの識別分解能を上げ、符号間干渉の影響から再生信号を識別するために、より長い区間の波形パターンを用いて、再生波形を認識する方式にすると言うことができる。そのため、ＰＲ１２２２１ＭＬにおける間違い易い再生パターンには、マークスペース間のエッジを複数含むパターンが含まれることになる。もちろん、これらのパターンは、ＰＲＭＬ方式の再生性能を評価する上では、非常に有用である。しかし、評価パターンに複数のエッジを含む場合は、光ディスク媒体の記録品質にとって非常に重要なマークおよびスペースの位置ずれを特定することが困難となる。そのため、光ディスク媒体を適切に評価することが困難な場合がある。
【００１１】
本発明は、再生性能が高い高次のＰＲＭＬ方式を採用したシステムに適した信号処理方法および情報記録媒体を評価する方法を提供するとともに、システムのマージンが最大限発揮できるように記録条件を調整する方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の情報記録媒体を評価する評価方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップとを包含し、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算することを特徴とする。
【００１３】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最短マークの空間周波数は、ＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）カットオフ周波数よりも高い。
【００１４】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する。
【００１５】
ある実施形態によれば、前記ＰＲＭＬ方式は、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式である。
【００１６】
ある実施形態によれば、前記計算した品質に基づいて再生信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する。
【００１７】
ある実施形態によれば、前記計算した品質を表す値の分布の平均値から前記再生信号のエッジシフトの度合いを決定する。
【００１８】
ある実施形態によれば、前記計算した品質を表す値の分布の標準偏差から前記再生信号のＳＮ比の度合いを決定する。
【００１９】
ある実施形態によれば、上記の評価方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。
【００２０】
ある実施形態によれば、上記の評価方法により評価される情報記録媒体が提供される。
【００２１】
本発明の情報記録媒体は、基板と、保護層と、前記基板と前記保護層との間に配置された記録層とを備えた情報記録媒体であって、前記情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価されることを特徴とする。
【００２２】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体は、前記記録層を１層以上備えており、前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１ＧＢ以上である。
【００２３】
ある実施形態によれば、前記記録層の１層当たりの記録線密度は３１．８ＧＢ以上である。
【００２４】
ある実施形態によれば、前記記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである。
【００２５】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体は、前記記録層を３層以上備えている。
【００２６】
ある実施形態によれば、３層の前記記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢである。
【００２７】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体を評価するときに用いられる対物レンズの開口数は０．７〜０．９である。
【００２８】
ある実施形態によれば、前記対物レンズの開口数は０．８５である。
【００２９】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体を評価するときに用いられるレーザ光の波長は４１０ｎｍ以下である。
【００３０】
ある実施形態によれば、前記レーザ光の波長は４０５ｎｍである。
【００３１】
ある実施形態によれば、前記基板の厚さは１．１ｍｍである。
【００３２】
ある実施形態によれば、前記保護層の厚さは１０μｍ〜２００μｍである。
【００３３】
ある実施形態によれば、前記保護層の厚さは１００μｍ以下である。
【００３４】
ある実施形態によれば、上記の情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。
【００３５】
本発明の製造方法は、情報記録媒体の製造方法であって、前記製造方法は、情報記録媒体にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するためのスタンパを作製するステップと、前記スタンパを用いて前記情報記録媒体の基板にピットおよびグルーブの少なくとも一方を形成するステップとを包含し、前記製造方法により製造された情報記録媒体は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて評価される場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価されることを特徴とする。
【００３６】
ある実施形態によれば、前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凹形状である。
【００３７】
ある実施形態によれば、前記ピットは、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から見て凸形状である。
【００３８】
ある実施形態によれば、前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、前記山部よりも前記谷部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から遠い位置にあり、前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記谷部に対応する位置にマークが形成される。
【００３９】
ある実施形態によれば、前記グルーブにより前記基板には山部と谷部とが形成されており、前記谷部よりも前記山部は、前記情報記録媒体のレーザ光照射側から近い位置にあり、前記情報記録媒体に情報を記録するときには前記情報記録媒体の前記山部に対応する位置にマークが形成される。
【００４０】
ある実施形態によれば、上記の製造方法により製造された情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。
【００４１】
本発明の信号処理方法は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形するステップと、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成するステップと、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算するステップと、を包含し、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて前記品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて前記品質を計算することを特徴とする。
【００４２】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる指標をさらに用いて、前記品質を計算する。
【００４３】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体に形成されたマークの長さとスペースの長さの組み合わせごとに再生信号を分類して前記品質を計算する。
【００４４】
ある実施形態によれば、前記マークの最短マーク長は２Ｔであり、前記スペースの最短スペース長は２Ｔである。
【００４５】
ある実施形態によれば、上記の信号処理方法により評価される情報記録媒体に対して情報の再生および記録の少なくとも一方を行う装置が提供される。
【００４６】
ある実施形態によれば、上記の信号処理方法により評価される情報記録媒体が提供される。
【００４７】
本発明のアクセス制御装置は、情報記録媒体から再生した情報を示すアナログ再生信号から生成されたデジタル再生信号を受け取り、前記デジタル再生信号の波形を整形する整形部と、前記整形されたデジタル再生信号を最尤復号し、前記最尤復号の結果を示す２値化信号を生成する最尤復号部と、前記整形されたデジタル再生信号と前記２値化信号とに基づいて前記デジタル再生信号の品質を計算する計算部と、前記計算した品質に基づいて、前記情報記録媒体へアクセスするためのアクセス条件を調整する調整部と、前記整形部および前記最尤復号部は、第１の特性を有する第１のＰＲＭＬ方式の信号処理と、前記第１の特性とは異なる第２の特性を有する第２のＰＲＭＬ方式の信号処理とを、前記アクセスの種類に応じて切り替えることを特徴とする。
【００４８】
ある実施形態によれば、前記第１の特性と比べて、前記第２の特性は、非高域強調特性型である。
【００４９】
ある実施形態によれば、前記情報記録媒体へ情報を記録するとき、前記整形部および前記最尤復号部は、前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行する。
【００５０】
ある実施形態によれば、前記計算部および前記調整部の動作を制御する制御部をさらに備え、前記整形部および前記最尤復号部が前記第１のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第１のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示し、前記整形部および前記最尤復号部が前記第２のＰＲＭＬ方式の信号処理を実行するときは、前記制御部は、前記第２のＰＲＭＬ方式に適合した処理を行うよう前記計算部および前記調整部へ指示する。
【発明の効果】
【００５１】
本発明によれば、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス部分が含まれるＰＲＭＬ方式を用いて再生信号品質を計算する場合に、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス部分が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて再生信号品質を計算する。合流パス中にゼロクロス部分を１つのみ有する状態遷移パターンを用いることで、１つ１つのゼロクロス部分（ゼロクロス情報）の誤差を個別に分離して検出することができる。再生信号のゼロクロス部分を個別に評価することで、適切に再生信号品質評価を行うことができる。
【００５２】
また本発明によれば、アクセスの目的に応じてＰＲＭＬ方式を切り替えることで、システムマージンを最大限拡大することができ、システムを安定化させることができる。例えば、再生時は、再生性能の高い高次のＰＲＭＬ方式で再生処理を行い、記録パラメータ調整時の再生では、光ディスク媒体の特性を考慮した記録パラメータ調整を実現するＰＲＭＬ方式に切り替えて再生処理することで、記録および再生のシステムマージンを最大限拡大することができ、記録再生装置システムの安定化を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５３】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。同様の構成要素には同様の参照符号を付し、同様の説明の繰り返しは省略する。
【００５４】
まず、本発明の実施形態によるＰＲＭＬ方式を用いた記録パラメータ調整（特にマークおよびスペースのエッジ位置の調整）について説明する。記録パラメータ調整方法の一例が特許文献３に記載されているので、ここでは、本発明に関係するポイントのみを説明する。参考のために特許文献３（特開２００４−３３５０７９号公報）の開示内容を本明細書に援用する。
【００５５】
記録再生装置において、再生系の信号処理にＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用し、記録符号にＲＬＬ（１，７）符号等のＲＬＬ（Ｒｕｎ  Ｌｅｎｇｔｈ  Ｌｉｍｉｔｅｄ）符号を用いる。
【００５６】
まず、図２および図３を参照して、ＰＲ１２２２１ＭＬを簡単に説明する。図２は、ＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図３は、図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００５７】
ＰＲ１２２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は１０に制限され、その状態遷移のパス数は１６になり、再生レベルは９レベルとなる。
【００５８】
図２に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移則を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（０，１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，１，１）をＳ４、状態Ｓ（１，１，１，０）をＳ５、状態Ｓ（１，１，０，０）をＳ６、状態Ｓ（１，０，０，０）をＳ７、状態Ｓ（１，０，０，１）をＳ８、状態Ｓ（０，１，１，０）をＳ９というように表記し、１０状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図３に示すトレリス図が得られる。
【００５９】
図３に示すＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。ある時刻範囲に限定し、且つ特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２２１ＭＬの状態遷移パターンは、表１、表２および表３に示すようにまとめることができる。
【００６０】
【表１】
2008081820.tif 000034
【００６１】
【表２】
2008081820.tif 000035
【００６２】
【表３】
2008081820.tif 000036
【００６３】
表１〜表３のそれぞれは、２つの状態遷移パターンのスタート状態から合流した状態までの軌跡を示す状態遷移（記録符号（ｂk-i，・・・，ｂk））、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの記録系列（ｋ−９，・・・，ｋ）、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）、２つの理想的な再生波形のユークリッド距離（パス間のユークリッド距離）を示す。
【００６４】
表１は、２つの状態遷移を取り得る状態遷移パターンのユークリッド距離が１４となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、光ディスク媒体のマークとスペースの切り替わり部分（波形のエッジ部分）に該当する。言い換えると、エッジの１ビットシフトエラーのパターンである。一例として、図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図４のＡパス波形として示す。
【００６５】
図４は、表１に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図５は、表２で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図６は、表３で示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。図４、図５および図６において、横軸はサンプル時間（記録系列の１時刻ごとにサンプリング）を示し、縦軸は再生信号レベルを示している。
【００６６】
上述したように、ＰＲ１２２２１ＭＬでは、理想的な再生信号レベルは９レベル（０レベルから８レベル）ある。図３に示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−５）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスのうちのもう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図４にＢパス波形として示す。
【００６７】
表１に示すユークリッド距離が１４のパターンの特徴は、エッジ情報が必ず１つ含まれていることである。この特徴を利用して、ＰＲＭＬ方式に最適なエッジ調整を行うことができる。
【００６８】
表２は、ユークリッド距離が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークまたは２Ｔスペースのシフトエラーに該当し、２ビットエラーのパターンである。一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−７）からＳ０（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，０，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、５Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＡパス波形として示す。
【００６９】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、４Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図５にＢパス波形として示す。
【００７０】
表２に示すユークリッド距離が１２パターンの特徴は、２Ｔの立ち上がりおよび立ち下りのエッジ情報が必ず２つ含まれていることである。
【００７１】
表３は、ユークリッド距離が１２となる状態遷移パターンを示し、１８種類ある。これらのパターンは、２Ｔマークと２Ｔスペースとが連続する箇所に該当し、３ビットエラーのパターンである。一例として、図３で示す状態遷移則におけるＳ０（ｋ−９）からＳ６（ｋ）に到る状態遷移パスを説明する。この場合、記録系列が“０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，１，０，０”と遷移する１つのパスが検出され、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、４Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、３Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＡパス波形として示す。
【００７２】
もう１つのパスの記録系列の遷移“０，０，０，０，０，１，１，０，０，１，１，０，０”は、再生データの“０”をスペース部分、“１”をマーク部分に置き換えて考えると、５Ｔスペース以上の長さのスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース以上の長さのスペースに該当する。そのパスのＰＲ等価理想波形を図６にＢパス波形として示す。
【００７３】
表３に示すユークリッド距離が１２のパターンの特徴は、エッジ情報が少なくとも３つ含まれていることである。
【００７４】
記録マークの始端エッジまたは終端エッジの位置を調整する場合、エッジずれ方向およびエッジずれ量を、マークとスペースの組み合わせごとに検出する必要がある。このため、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を採用する場合は、表１に示すユークリッド距離が１４の状態遷移パターンを用いることができる。
【００７５】
記録マークの始端エッジまたは終端エッジの最適位置は、ＰＲＭＬの特性によって異なってくる。ＰＲ１２２２１ＭＬの場合、５Ｔスペース以上の長さのスペースのあとの２Ｔマークの始端エッジ部分の理想的な波形は、図４に示すＢパス波形となる。図４において、再生信号レベル４は、全９レベルの中心レベルであり、これは、２Ｔマークの信号振幅が理想的には０となることを意味する。すなわち、このような２Ｔマークの信号振幅となるように２Ｔマークの始端エッジを調整すれば、記録マークは小さくなる。
【００７６】
ＰＲＭＬ方式の特性を比較するために、別のＰＲＭＬ方式の一例として、ＰＲ１２２１ＭＬを説明する。ＰＲ１２２２１ＭＬと比べて、ＰＲ１２２１ＭＬ方式は、非高域強調特性型である。ＰＲ１２２１ＭＬとＲＬＬ（１，７）との組み合わせにより、復号部の状態数は６に制限され、その状態遷移のパス数は１０になり、再生レベルは７レベルとなる。
【００７７】
図７は、ＲＬＬ（１，７）とＰＲ１２２１ＭＬとの組み合わせから定まる状態遷移則を示す状態遷移図である。図８は、図７に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【００７８】
図７を参照して、ある時刻での状態Ｓ（０，０，０）をＳ０、状態Ｓ（０，０，１）をＳ１、状態Ｓ（０，１，１）をＳ２、状態Ｓ（１，１，１）をＳ３、状態Ｓ（１，１，０）をＳ４、状態Ｓ（１，０，０）をＳ５というように表記し、６状態を表現する。ここで、括弧の中に記載されている“０”または“１”は、時間軸上の信号系列を示し、ある状態から次の時刻の状態遷移でどの状態になる可能性があるのかを示している。また、この状態遷移図を時間軸に沿って展開すると図８に示すトレリス図が得られる。
【００７９】
図８に示すＰＲ１２２１ＭＬの状態遷移において、ある時刻の所定の状態から別の時刻の所定の状態へ遷移するときに２つの状態遷移を取り得るような状態遷移パターン（状態の組み合わせ）が無数にある。ある時刻範囲に限定し、且つ特にエラーの発生しやすいパターンに着目すると、ＰＲ１２２１ＭＬの状態遷移パターンは、表４に示すユークリッド距離が１０のパターンにまとめることができる。
【００８０】
【表４】
2008081820.tif 000037
【００８１】
表４は、２つの状態遷移パターンのスタート状態から合流した状態までの軌跡を示す状態遷移（記録符号（ｂk-i，・・・，ｂk））、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの記録系列（Ｋ−１０，・・・，Ｋ）、その状態遷移を経由した場合の可能性のある２つの理想的な再生波形（ＰＲ等価理想値）、２つの理想的な再生波形のユークリッド距離（パス間のユークリッド距離）を示す。
【００８２】
ＰＲ１２２１ＭＬ方式において、エッジ情報が必ず１つ含まれているパターンは、表４に示すユークリッド距離が１０のパターンである。ＰＲ１２２１ＭＬ方式において、５Ｔスペース以上の長さのスペースのあとの２Ｔマークの始端エッジ部分の理想的な波形は、状態Ｓ０（Ｋ−４）から状態遷移Ｓ４（Ｋ）に遷移したときの２つの可能性のある波形のうち、図９に示すＢパス波形のようになる。
【００８３】
図９は、表４に示すＰＲ等化理想波形の一例を示す図である。ＰＲ１２２１ＭＬの理想的な再生信号レベルは７であることから図７に示す再生信号レベルの中心はレベル３である。図７に示すＰＲ１２２１ＭＬの２Ｔマークの信号振幅はレベル４を示していることから、２Ｔマークの信号振幅がＰＲ１２２２１ＭＬの場合よりも大きくなるように２Ｔマークの始端エッジを調整することができる。２Ｔマークの始端エッジだけでなく、２Ｔマークの終端エッジや３Ｔ以上の長さのマークの始終端エッジも同様に調整できる。このように、ＰＲＭＬ方式の特性によって、調整後の記録マークの形状が異なってくることに注意することが必要である。
【００８４】
ここで、再生信号を評価するための信号評価演算と、エッジずれ検出のための信号評価演算とを説明する。再生信号を評価するための信号評価指標Ｍは、（式１）、（式２）および（式３）から求めることができ、ジッターライクでかつ、ＰＲＭＬの再生性能と相関のある指標となる。この指標については特許文献１で説明されているので、ここでは詳細な説明は省略する。参考のために特許文献１（特開２００３−１４１８２３号公報）の開示内容を本明細書に援用する。
【数１】
2008081820.tif 000038
【数２】
2008081820.tif 000039
【数３】
2008081820.tif 000040
【００８５】
ＰＲ１２２１ＭＬ方式での（式１）の演算の具体例を表５に示す。ここで、ｙk-3〜ｙkは後述するＰＲ等化波形（最尤復号部入力波形）系列であり、Ｔ-3〜Ｔ3は表４に示すＰＲ等化理想値系列（０から６の範囲を取り得る）であり、ユークリッド距離は１０である（ｄ2＝１０）。
【００８６】
【表５】
2008081820.tif 000041
【００８７】
表４および表５に示すパターンはエッジの始終端部分に該当するため、マーク長とスペース長の組み合わせごと再生デジタル信号を分類して（式１）の演算を行えば、組み合わせごとにエッジずれ方向およびエッジずれ量を求めることができる。また、表１に示すＰＲ１２２２１ＭＬ方式でも同様の考え方で演算することで、組み合わせごとのエッジずれ方向およびエッジずれ量を求めることができる。
【００８８】
（実施形態１）
次に、本発明の実施形態による光ディスク装置を説明する。図１は、本発明の第１の実施形態による光ディスク装置１００を示す図である。
【００８９】
情報記録媒体１は、光学的に情報の記録再生を行うための情報記録媒体であり、例えば光ディスク媒体である。光ディスク装置１００は、搭載された情報記録媒体１に対して情報の記録再生を行う記録再生装置である。
【００９０】
光ディスク装置１００は、再生部１０１と、記録条件調整部１０２と、記録部１０３とを備える。
【００９１】
再生部１０１は、光ヘッド部２と、プリアンプ部３と、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）部４と、波形等化部５と、Ａ／Ｄ変換部６と、ＰＬＬ部７とを備える。再生部１０１は、情報記録媒体から再生された情報を示すアナログ信号からデジタル信号を生成する。
【００９２】
記録条件調整部１０２は、ＰＲＭＬ部１０４と、信号評価指標演算部１０と、調整部１０５とを備える。ＰＲＭＬ部１０４は、可変ＰＲ等化部８と、可変最尤復号部９とを備える。調整部１０５は、エッジシフト検出部１１と、光ディスクコントローラ部１２とを備える。記録条件調整部１０２は、例えば半導体チップとして製造される。
【００９３】
記録部１０３は、パターン発生部１３と、記録補償部１４と、レーザ駆動部１５とを備える。
【００９４】
光ヘッド部２は、対物レンズ２ｂを通過したレーザ光２ａを情報記録媒体１の記録層に収束させ、その反射光を受光して、情報記録媒体１に記録された情報を示すアナログ再生信号を生成する。対物レンズ２ｂの開口数は０．７〜０．９であり、より好ましくは０．８５である。レーザ光２ａの波長は４１０ｎｍ以下であり、より好ましくは４０５ｎｍである。
【００９５】
プリアンプ部３は、アナログ再生信号を所定のゲインで増幅してＡＧＣ４へ出力する。ＡＧＣ部４は、予め設定されたターゲットゲインを用いて、Ａ／Ｄ変換部６から出力される再生信号のレベルが一定のレベルとなるように再生信号を増幅して波形等化部５へ出力する。
【００９６】
波形等化部５は、再生信号の高域を増幅するフィルタ特性を有しており、再生波形の高域部分を増幅させてＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【００９７】
ＰＬＬ回路７は、波形等化後の再生信号に同期する再生クロックを生成してＡ／Ｄ変換部６へ出力する。
【００９８】
Ａ／Ｄ変換部６は、ＰＬＬ回路７から出力される再生クロックに同期して再生信号をサンプリングしてアナログ再生信号をデジタル再生信号へ変換し、可変ＰＲ等化部８、ＰＬＬ部７およびＡＧＣ部４へ出力する。
【００９９】
可変ＰＲ等化部８は、複数のＰＲ方式の特性へフィルタ特性を可変できる機能を有する。可変ＰＲ等化部８は、記録再生系の周波数特性が可変最尤復号部９の想定する特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化特性、ＰＲ（１，２，２，２，１）等化特性など）となるように設定された周波数特性を有し、再生信号に対して高域雑音の抑制および意図的な符号間干渉の付加を行うＰＲ等化処理を実行して可変最尤復号器部９へ出力する。
【０１００】
可変ＰＲ等化部８の特性を切り替える第１の方法を説明する。ＰＲ（ａ，ｂ，ｂ，ａ）等化特性を用いる場合において、ｂ／ａ＝Ａとし、ＡとしてＡ１とＡ２（Ａ２はＡ１より小さい）とを用いる。これにより、Ａ１を用いた高域強調型のクラスからＡ２を用いた高域を強調しないクラスに変更することができる。
【０１０１】
第２の方法として、２Ｔを強調したＰＲ等化特性から２Ｔを強調しないＰＲ等化特性へ変更する。具体的には、可変ＰＲ等化部８は、ＰＲ（ａ，ｂ，ｂ，ａ）等化特性をＰＲ（ｘ，ｙ，ｚ，ｙ、ｘ）等化特性へ変更する。またその変更とともに、ｂ／ａ＝Ａ、（（ｙ＋ｚ）／２）／（（ｘ＋ｙ）／２）＝Ｂとし、Ａ＞Ｂとなるｘ，ｙ，ｚの係数を用い、高域を強調したクラスから高域を強調しないクラスに変更する。例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化からＰＲ（１，２，２，２，１）等化へ変更してフィルタの次数を増加させることにより、２Ｔを強調しないＰＲ等化特性へ変更することができる。
【０１０２】
可変最尤復号部９は、可変ＰＲ等化部８のＰＲ特性に同期して、最尤復号処理を切り替えることができる。例えば、上記第１の方法においてＡ１からＡ２に変更した場合、復号処理に用いる閾値をＡ２に最適となるように変更する。また、上記第２の方法においては、復号処理に用いる閾値および復号則が最適となるように変更する。
【０１０３】
可変最尤復号部９は、例えばビタビ復号器であり、パーシャルレスポンスの型に応じて意図的に付加された符号的規則に基づいて尤も確からしい系列を推定する最尤復号方式を用い、可変ＰＲ等化部８でＰＲ等化された再生信号を復号して２値化データを出力する。この２値化データは、復調２値化信号として後段の回路（図示省略）へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報が再生される。
【０１０４】
信号評価指標演算部１０には、可変ＰＲ等化部８から出力された波形整形されたデジタル再生信号と、可変最尤復号部９から出力された２値化信号とが入力される。信号評価指標演算部１０は、２値化信号から状態遷移を判別し、判別結果とブランチメトリックから復号結果の信頼性を示す（式１）の演算を実行する。本発明の信号評価指標は復号結果の信頼性を示している。さらに、信号評価指標演算部１０は、２値化信号に基づいて、マーク長とスペース長の組み合わせごとに上記演算結果を分類する。例えば、上記表１に示す１８パターンや表４に示す８パターンのパターンごとに（記録マークの始終端エッジのパターンごとに）パルス信号を生成してエッジシフト検出部１１に出力する。
【０１０５】
エッジシフト検出部１１は、上記演算結果をパターンごとに累積加算し、記録マークのエッジ位置を調整するパラメータの最適値からのずれ（エッジシフトとも言う）を求める。
【０１０６】
光ディスクコントローラ部１２は、パターンごとのエッジシフト量から変更が必要と判断された記録パラメータ（記録信号の波形）を変更する。さらに、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲＭＬ特性を変更するための制御信号を可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０へ出力する。可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０は、ＰＲＭＬの特性変更に応じて、処理および演算が異なってくる場合があるので、光ディスクコントローラ部１２によって同期して変更する。
【０１０７】
パターン発生部１３は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部１４は、光ディスクコントローラ部１２から受け取った記録パラメータと、記録パターンとに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部１５は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。
【０１０８】
次に、光ディスク装置１００の動作をより詳細に説明する。記録パラメータ調整を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、光ディスク媒体のコントロールデータ等に記載されている記録パラメータの初期値およびその初期値から数ステップずらした試し記録を実行するように記録補償部１４に指示する。光ディスクコントローラ部１２は、数パターンの記録パラメータを記録補償部１４に出力する。パターン発生部１３は、記録マークのエッジを調整するための記録パターンを出力する。記録補償部１４は、光ディスクコントローラ部１２から受け取った記録パラメータと、記録パターンに従ってレーザ発光波形パターンを生成する。レーザ駆動部１５は、生成されたレーザ発光波形パターンに従って、光ヘッド部２のレーザ発光動作を制御する。この一連の処理により、記録エッジ調整のための試し記録が完了する。次に、試し記録をした領域を再生する。
【０１０９】
光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２１特性となるように、波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２１ＭＬ用に変更し、状態数を６状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１０に制限する。
【０１１０】
信号評価指標演算部１０は、ＰＲ１２２１ＭＬ用の再生信号評価指標Ｍが演算できるように、表４に示す状態遷移パスに基づいて、上記（式１）〜（式３）を演算し、演算結果をエッジシフト検出部１１に出力する。エッジシフト検出部１１は、マーク長とスペース長の組み合わせごとにエッジシフト量を集計演算し、光ディスクコントローラ部１２に出力する。光ディスクコントローラ部１２は、集計されたエッジシフト量から、記録マークのエッジを調整するパラメータの最適値を求め、記録補償部１４に最適パラメータを出力する。この一連の処理により、記録マークのエッジを調整するパラメータの最適値を求めることができる。
【０１１１】
また、ユーザーデータ等の再生を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２２１特性となるように波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２２１ＭＬ用に変更し、状態数を１０状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１６に制限する。可変最尤復号部９は、再生信号を復号して２値化データを出力する。この２値化データは、復調２値化信号として後段の回路（図示せず）へ出力され、所定の処理が実行されて情報記録媒体１に記録されている情報（映像、音声、文字情報等）が再生される。
【０１１２】
また、記録領域の記録品質を測定するための再生を実行する場合、光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲ１２２１ＭＬの特性となるように、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９および信号評価指標演算部１０に指示する。可変ＰＲ等化部８は、出力波形がＰＲ１２２２１特性となるように波形整形する。可変最尤復号部９は、ブランチメトリック計算時に用いるしきい値をＰＲ１２２２１ＭＬ用に変更し、状態数を１０状態に、ブランチメトリックの遷移パスを１６に制限する。
【０１１３】
信号評価指標演算部１０は、ＰＲ１２２２１ＭＬ用の再生信号評価指標Ｍを演算できるように、表１〜表３に示す遷移パスに基づいて、上記（式１）〜（式３）の演算し、演算結果をエッジシフト検出部１１に出力する。エッジシフト検出部１１は、表１〜表３で示す遷移パスごとに信号評価指標Ｍを集計演算し、光ディスクコントローラ部１２に出力する。光ディスクコントローラ部１２は、集計された信号評価指標Ｍから、記録領域の記録品質を判断することができる。この場合、エッジシフト検出部１１は、エッジシフトだけを集計するブロックではなく、信号評価指標Ｍを集計するブロックとしても用いることができる。
【０１１４】
このように、記録パラメータを調整する場合（特に、マークとスペースの境界部分のエッジ位置に係わるパラメータを調整する場合）には、記録特性が最適となるＰＲＭＬ特性を選択して記録パラメータを調整し、メディアの記録品質を最適化する。これにより、システムの記録のマージン確保を容易に達成することができる。
【０１１５】
ＰＲ１２２２１ＭＬを用いたエッジ位置調整を実行すると、２Ｔマークまたは３Ｔマーク等のマークの大きさが小さくなるように調整され、その結果、記録のマージンが減少（記録パワーずれ、ストラテジずれの許容範囲が狭くなること）し、再生信号から同期信号を生成するＰＬＬが不安定となる場合がある。また、特に、２Ｔマークまたは３Ｔマーク等の小さいマークを小さくする記録をすると、信号評価指標ジッタが極端に悪化し、再生系にＰＲＭＬ方式でない別の判別方式（例えばレベル判別方式）を用いた装置では再生が困難となり、光ディスク媒体の互換という意味で問題となる場合がある。そこで、エッジ調整時には、ＰＲ１２２１ＭＬを用いることで、適切な長さのマーク長となるように、２Ｔマークおよび３Ｔマーク等のマーク長（またはマーク位置）を調整することができ、記録のマージンを最大限にする記録の実現と、再生信号から同期信号を生成するＰＬＬの安定性の実現と、光ディスク媒体の安定した互換性維持とを実現することができる。
【０１１６】
上述したように、再生する場合（ユーザー領域にアクセスして情報を再生する場合）には、再生性能が最高となるＰＲＭＬ特性を選択して再生することで、システムの再生のマージンを最大限拡大することができる。
【０１１７】
上述したように、記録領域の記録品質を測定するための再生を実行する場合、再生時に用いるＰＲＭＬ特性の信号評価指標Ｍ等を演算することで、システムの再生性能を認識することができる。この指標Ｍを用いて、システムマージンを確認することで、光ディスク装置に挿入されたメディアの記録状態や記録性能が、装置側でサポートできるか等を判断できる。例えば、記録パワーを変化して試し記録した領域の信号評価指標Ｍの値の変化や、最適記録パラメータで記録した領域の信号評価指標Ｍの値から判断することができる。
【０１１８】
また、信号評価指標Ｍを用いて、サーボパラメータ（フォーカス位置パラメータ、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等）の最適化を行ってもよい。パラメータ変化に指標Ｍの値が敏感に変化することが望ましい場合は、再生に用いるＰＲＭＬ特性ではなく、それよりも再生性能が悪いＰＲＭＬ特性に切り替えて調整することができる。例えば、パラメータを変化させて、評価指標Ｍの変化の谷を見つけてパラメータの最適値を抽出する方法では、少ないパラメータ変化で谷を見つけることができるので、パラメータを大きく変化させた場合に発生する可能性があるサーボ外れ等の状態を防ぐことができ、システムの安定化を実現することができる。
【０１１９】
図１０に、各ＰＲＭＬ特性の指標Ｍとフォーカスパラメータとの関係を示す。ＰＲ１２２１ＭよりもＰＲ１２２２１ＭＬの方が再生性能が高い再生系の場合、ＰＲ１２２１ＭＬの指標Ｍでフォーカスパラメータを調整した方が、パラメータ変化が小さい範囲で指標Ｍの谷を精度よく検出できる。
【０１２０】
このようなサーボパラメータの最適化を行う光ディスク装置２００を図１１に示す。光ディスク装置２００の構成要素は、光ディスク装置１００（図１）の構成要素とほぼ同等であるが、説明を簡単にするために一部の構成要素の図示を省略している。光ディスク装置２００は、サーボ制御部１６をさらに備える。
【０１２１】
サーボ制御部１６は、光ヘッド部２の位置制御、フォーカス位置制御、球面収差位置制御およびトラッキング位置制御等、光ディスク媒体の特定位置にアクセスする場合に必要な制御を行う。光ディスクコントローラ部１２は、フォーカスパラメータの最適値（図１０）をサーボ制御部１６へ出力する。サーボ制御部１６は、そのパラメータを用いてフォーカス位置を制御する。フォーカス位置パラメータだけでなく、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等も同様に求めて、各サーボパラメータを最適にすることで、光ディスク装置の記録再生動作の安定化が実現できる。サーボパラメータの最適化は、再生時のサーボパラメータだけでなく、記録時のサーボパラメータに関しても行うことができる。
【０１２２】
また、上述したように、ＰＲＭＬ特性によって信号評価指標の演算が異なってくるので、ＰＲＭＬ特性の切り替えと同時に、信号評価指標の演算も選択されたＰＲＭＬ特性に合った演算に切り替える。
【０１２３】
このように、記録調整の場合と、再生の場合、および信号品質測定用の再生の場合等、用途別にＰＲＭＬ特性を切り替えることで、各種記録パラメータの最適化と、再生性能の最適化、および各種再生パラメータの最適化が容易に実現でき、それにより、記録品質および再生性能が高く、互換性が高い光ディスク装置を提供することができる。
【０１２４】
上述の説明において、ＰＲＭＬ方式として、ＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を取り上げて説明したが、本発明はこれに限定されない。本発明の趣旨を実施できる別のＰＲＭＬ方式の組み合わせであっても本発明の効果は同様に得られる。
【０１２５】
また、試し記録は必ずしも必要ではなく、初期値の記録パラメータで記録した情報から、エッジのずれを検出して、記録パラメータを補正してもよい。
【０１２６】
また、可変ＰＲ等化部８は、ＦＩＲ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｉｍｐｕｌｓｅ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ）フィルタ構成を備え、ＬＭＳ（Ｔｈｅ  Ｌｅａｓｔ−Ｍｅａｎ  Ｓｑｕａｒｅ）アルゴリズムを用いて、適応的にタップ係数を制御してもよい（非特許文献２参照）。
【０１２７】
また、光ディスク媒体に情報を記録するときの記録密度に応じて、ＰＲＭＬ特性を切り替えてもよい。この場合は、結果として、すべての場合で、同じＰＲＭＬ特性を選択してもよい。
【０１２８】
また、ＰＲＭＬ特性の切り替えに応じて、光ディスクコントローラ部１２が波形等化部５の等化特性を切り替えてもよい。波形等化部５の波形等化は、ＰＬＬ部７の前段で波形を整形することで、ＰＬＬの安定性を確保するという役割と、可変ＰＲ等化部８の出力特性を良好するという役割がある。ＰＲＭＬ特性を高域強調型または非高域強調型に切り替えるのと同期して、波形等化部５の波形等化の特性を切り替えることで、ＰＬＬの安定性を確保するとともに、可変ＰＲ等化部８の出力特性を良好にすることができる。この２つの特性が両立しない場合は、波形等化部をＰＬＬ用とＰＲＭＬ用に２つ設けてもよい。ＰＲ１２２１ＭＬからＰＲ１２２２１ＭＬ方式に切り替えた場合は、ＰＬＬ用の波形等化部の特性のゲインを上げ（例えば、高域周波数の振幅を上げる特性にする）、ＰＲ等化用の波形等化部の特性のゲインを下げればよい（例えば、高域周波数の振幅を下げる特性にする）。また、ＰＬＬ用の波形等化のみを行ってもよい。波形等化部５をＡ／Ｄ変換部６の後段に配置し、デジタル波形等化部として機能してもよい。
【０１２９】
また、上述の説明では、エッジシフトと相関のある記録パラメータを調整したが、調整する記録パラメータは特に限定されない。調整する記録パラメータは、記録信号波形の始端位置や終端位置、記録波形の高さ（記録パワー）であってもよい。すなわち、マークのエッジ位置が調整できれば、どの記録パラメータでもよい。また、調整する記録パラメータは、記録パワーであってもよい。エッジのずれ方向およびずれ量からマーク長を算出することができ、このマーク長が所定の長さとなるように記録パワーを調整してもよい。
【０１３０】
また、図１に示したプリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５は１つの、アナログ集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。Ａ／Ｄ変換部６、ＰＬＬ部７、可変ＰＲ等化部８、可変最尤復号部９、信号評価指標演算部１０、エッジシフト検出部１１、光ディスクコントローラ部１２、パターン発生部１３および記録補償部１４は、アナログデジタル混載の１つの集積回路（ＬＳＩ）として構成されてもよい。もちろん、このアナログデジタル混載の集積回路は、プリアンプ部３、ＡＧＣ部４および波形等化部５を含んでもよい。レーザ駆動部１５は１つのドライバーＬＳＩとして構成され、光ヘッド部２に組み込まれてもよい。
【０１３１】
なお、上述した光ディスク装置１００および２００は記録再生装置であったが、再生専用装置であってもよく、この場合はパターン発生部１３と記録補償部１４が省略され得る。またこの場合、サーボ制御部１６は、上記アナログデジタル混載の集積回路の１ブロックとして含まれてもよい。光ディスク装置１００に、サーボ制御部１６が追加されてもよい。これら光ディスク装置の構成例は、本発明を限定するものではなく、他の構成であってもよい。
【０１３２】
また、記録調整、再生および信号品質測定用の再生は、例えば、記録アクセスコマンド、再生アクセスコマンド、測定アクセスコマンド等の各アクセスコマンドによって識別される。
【０１３３】
（実施形態２）
図１２は、本発明の第２の実施形態による光ディスク装置３００を示す図である。光ディスク装置３００は、記録条件調整部１０２が含む構成要素が異なること以外は、光ディスク装置１００（図１）と同じ構成要素を備える。
【０１３４】
光ディスク装置３００の信号評価指標演算部１０は、表１に示すパターンについての評価指標の演算（検出）、表２に示すパターンについての評価指標の演算（検出）、表３に示すパターンについての評価指標の演算（検出）を行う。評価指標の演算により、評価指標の値を検出する。光ディスク装置３００は、選択部１７をさらに備える。選択部１７は、演算結果（検出結果）のうちのいずれを光ディスクコントローラ部１２へ出力するかを選択する。
【０１３５】
選択部１７は、光ディスクコントローラ部１２からの制御信号を受けて、表１〜表３に示すパターンのうちのどのパターンの信号評価指標の検出結果を出力するか選択する。表１〜表３に示すパターンのうちのすべてを選択することも、一部を選択することも可能である。
【０１３６】
次に、３３．３ＧＢ／層の記録線密度のＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）に対して記録パラメータを調整する時の再生処理、および通常のユーザー領域の再生処理を説明する。
【０１３７】
光ディスクコントローラ部１２は、ＰＲＭＬ検出部１０４の可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９に対して、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式を選択するように指示する。また、光ディスクコントローラ部１２は、信号評価指標演算部１０における表１パターン評価指標検出結果のみを出力するように、選択部１７に指示する。
【０１３８】
光ディスクコントローラ部１２は、その検出結果を信号の評価値として認識し、記録領域の再生で得られた再生デジタル信号の信号品質を認識する。
【０１３９】
ＰＲ１２２２１ＭＬ方式のような高次のＰＲＭＬ方式は、符号間干渉の影響下で再生信号を識別するために、より長い区間の波形のパターンを用いて、再生信号波形を認識する方式である。ここで、ＰＲ１２２２１ＭＬで最も間違い易いパターンを示す表２および表３と、ＰＲ１２２１ＭＬで最も間違い易いパターンを示す表４と比較すると、より長い区間とは、最小の波形距離で合流するパス距離が長い区間（時間Ｋの推移が長い）のことである。波形距離とは、ここでは、ビタビ復号する際の基準となる波形の可能性のある２つの波形の離れ具合を示す表現である。なお、最も間違い易いパターンとは、最小の波形距離で合流するパスのパターンである。
【０１４０】
表２に示す評価パターンは、２Ｔマーク（または２Ｔスペース）に対応する２Ｔ信号が孤立するパターンであるため、２Ｔ信号の始端と終端の２つのエッジ（ゼロクロス情報）を持つ。ゼロクロス情報は、信号のゼロクロス部分を示している。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できないため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することは困難である。
【０１４１】
表３に示す評価パターンは、２Ｔ信号が連続するパターンと２Ｔ信号の前または後が２Ｔ信号でないパターンを含み、複数のゼロクロス情報を持つ。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できないため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することは困難である。
【０１４２】
表１に示す評価パターンは、ＰＲ１２２２１ＭＬで最も間違い易いパターンではないものの、ゼロクロス情報を１つのみ有するパターンである。１つのパターンから１つのゼロクロス情報の誤差を分離して検出できるため、ゼロクロス情報に着目してマーク長ごとに記録パラメータを調整するときに、ゼロクロス部分を個別に調整することができる。
【０１４３】
ＰＲ１２２２１ＭＬ方式は、最小差分メトリックの合流パス中に複数のゼロクロス情報（ゼロクロス部分）が含まれるＰＲＭＬ方式であり、本実施形態では、このＰＲ１２２２１ＭＬ方式を用いて再生デジタル信号の信号品質を計算する。このとき、非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス情報が１つのみ含まれる状態遷移パターンのみを用いて評価指標を計算して信号品質を検出する。この非最小差分メトリックの合流パス中にゼロクロス情報が１つのみ含まれる状態遷移パターンは、表１に示す状態遷移パターンである。特に、信号のゼロクロス部分に情報を持たせるマークエッジ記録方式を採用する光ディスク媒体では、このゼロクロス部分の検出および評価が、記録された領域の品質の評価および調整に非常に重要な要素となる。
【０１４４】
なお、図１２に示す可変ＰＲ等化部８および可変最尤復号部９は、ＰＲＭＬ方式の切り替えが可能な構成でなくともよい。例えば、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式に固定された構成でもよい。
【０１４５】
メディア評価を行うとき、信号評価指標として、エラーレートと最も相関のある指標（最も間違い易いパターンに対応する指標）を用いていた。しかし、表２および表３に示すように、最短マークに関するパターンということが予め分かっている点で、信号処理である程度対応は可能である。重要なのは、信号処理で対処できないＳＮ、消去特性、アーカイバル特性（記録品質の維持、経年に伴う消え難さ）等に関する対処である。これらの特性が良好か否かの判定は、ゼロクロスに関する情報を用いて行う。このため、どのような高次のＰＲＭＬ方式であっても、記録の状態を評価するに当たっては、光ディスク媒体の記録方式に適合したパターンを選択して評価するのが望ましい。
【０１４６】
記録線密度の向上に伴い発生し得る符号間干渉およびＳＮＲの悪化等を考慮して、最適なＰＲＭＬ方式を選択する必要がある。本実施形態では、所定の記録線密度まではＰＲ１２２１ＭＬ方式を採用し、それ以上の記録線密度の記録情報を再生する場合、ＰＲ１２２２１ＭＬの方式を用いる。
【０１４７】
図１３および図１４を参照して、ＢＤの記録線密度について説明する。ＢＤにおいても、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）と同様に、データは記録層の物理変化により生じるマーク列としてトラック１３１上に記録される。このマーク列の中で最も長さの短いものが最短マーク１３２であり、２５ＧＢ記録容量のＢＤの場合、その物理的長さは０．１４９μｍとなっている。これは、ＤＶＤの最短マーク長の約１／２．７に相当し、光学系の波長パラメータ（４０５ｎｍ）とＮＡパラメータ（０．８５）を変えて、レーザの分解能を上げても、記録マークを識別できる限界である光学的な分解能の限界に近づいている。なお、マークの最短マーク長は２Ｔであり、スペースの最短スペース長も２Ｔである。
【０１４８】
図１３は、トラック１３１上に記録されたマーク列に光ビームスポット１３３が形成されている状態を示している。ＢＤでは、光学系パラメータにより光スポット１３３の直径は約０．３９μｍ程度となる。光学系の構造は変えないで記録線密度を向上させる場合、スポット径に対する記録マークが相対的に小さくなるため、再生の分解能は悪くなる。
【０１４９】
光ビームを照射して記録マークを再生した際の再生信号振幅は、記録マークが短くなるに従って低下し、光学的な分解能の限界でゼロとなる。この記録マークの周期の逆数を空間周波数といい、空間周波数と信号振幅の関係をＯＴＦ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）という。信号振幅は、空間周波数が高くになるに従ってほぼ直線的に低下し、振幅ゼロとなる再生の限界をＯＴＦカットオフ（ｃｕｔｏｆｆ）という。図１４は、２５ＧＢ記録容量のＢＤのＯＴＦと最短記録マークとの関係を示す。ＢＤの最短マークの空間周波数は、ＯＴＦカットオフ周波数（ＯＴＦカットオフとなる空間周波数）に対して８０％と、ＯＴＦカットオフ周波数に近づいている。また、最短マークの再生信号振幅も、約１０％と非常に小さくなっている。ＢＤの最短マークの再生がＯＴＦカットオフになる、すなわち再生振幅がほとんど出ない記録線密度は、ＢＤでは約３１ＧＢ相当になる。
【０１５０】
最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数付近になる、または、それを超える周波数になると、光学的分解能の限界、もしくは超えていることもあり、再生信号の再生振幅が小さくなり、ＳＮＲが急激に劣化する。
【０１５１】
例えば、ＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を切り替える記録密度を、ＢＤであれば３１ＧＢ相当の記録線密度とする。最短マークの空間周波数がＯＴＦカットオフ周波数になる記録線密度は、計算上は３１．８ＧＢであり、３１．８ＧＢよりも小さい線密度の段階でＰＲ１２２１ＭＬ方式とＰＲ１２２２１ＭＬ方式を切り替えるのが望ましい。
【０１５２】
なお、切り替える記録線密度は、レーザ分解能だけでなく、メディアの持つ記録特性に関わるＳＮＲ等もよく考慮し、３１ＧＢより低密度であってもよいし高密度であってもよい。
【０１５３】
情報記録媒体１の記録層の１層当たりの記録線密度は例えば３１ＧＢ以上であり、３１．８ＧＢ以上であってもよい。例えば、記録層の１層当たりの記録線密度は約３３．３ＧＢである。情報記録媒体１は、記録層を３層以上備えていてもよく、３層の記録層の合計の記録線密度は約１００ＧＢとなる。
【０１５４】
また、上述したＰＲＭＬ方式は一例であって、これに限定されない。記録線密度に応じたＰＲＭＬ方式を選択すればよい。
【０１５５】
上述したように、信号のゼロクロス部分に情報を持たせるマークエッジ記録方式を採用する光ディスク媒体では、このゼロクロス部分の検出および評価が、記録された領域の品質の評価および調整に非常に重要な要素となる。そのゼロクロス部分を用いた信号評価方法の一例を説明する。
【０１５６】
光ディスク装置３００（図１２）の信号評価指標演算部１０は、表１パターン評価指標（表１に示すパターンについての信号評価指標）を演算して検出し、検出結果は、マーク長とスペース長の組み合わせごとに分離される。その分離により、パターンごとのエッジズレやＳＮＲが分かる。計算例として、本発明の実施形態１の説明で示した（式１）の演算を行い、演算結果をジッターライクな分布の指標として用いてもよい。
【０１５７】
図１５は、表１に示すパターンに対する信号評価指標の演算（式１）の結果の分布（指標Ｄの値の分布）を示している。横軸は（式１）で求めたＤの値、縦軸はその頻度である。ＰＲ１２２２１ＭＬ方式の場合、（式１）におけるｄの２乗は１４である。
【０１５８】
図１５（ａ）は、分布の平均値がほぼ０であり、標準偏差σも比較的小さい値となる分布を示しており、再生信号品質は良好であることを示す例である。図１５（ｂ）は、標準偏差σは比較的小さい値を示しているが、分布の平均値がずれている分布を示しており、該当パターンがエッジズレを起こしている例である。図１５（ｃ）は、分布の平均値がほぼ０であるが、標準偏差σが比較的大きい値を示す分布を示しており、該当パターンのエッジのＳＮＲが悪いことを示す例である。これらの評価方法を用いて、マーク長とスペース長の組み合わせごとに分離して信号品質を解析すれば、光ディスク媒体に形成された記録マークの品質を精度よく評価することができる。信号品質評価処理では、計算した信号品質に基づいて再生デジタル信号のＳＮ比の度合いとエッジシフトの度合いとの少なくとも一方を決定する。計算した品質評価指標値の分布の平均値から再生デジタル信号のエッジシフトの度合いを決定することができる。また、計算した品質評価指標値の分布の標準偏差から再生デジタル信号のＳＮ比の度合いを決定することができる。
【０１５９】
そして、その評価結果から、マーク長とスペース長の組み合わせごとのエッジずれやＳＮＲが良化するように記録パラメータを変更して記録すればよい。ここで、エッジずれの良化とは分布の平均値ができるだけ０に近付くようにすることであり、ＳＮＲの良化とは標準偏差σが小さくなるようにすることである。例えば、光ディスクコントローラ部１２が、信号評価指標演算部１０から評価結果を受けて、どの記録パラメータを変更すればよいかを判断し、記録補償部１４にその変更後のパラメータを出力してもよい。記録パラメータは、記録パワーパラメータ、記録パルス位置パラメータ等を含む。また、これらの評価結果を用いて、上述したサーボパラメータ（フォーカス位置パラメータ、球面収差位置パラメータ、トラッキング位置パラメータ等）の最適化を行ってもよい。
【０１６０】
評価方法として、エッジずれとＳＮＲを分離して別々に評価してもよいし、両方含めて評価してもよいし、演算結果をパターンごとに分離して評価してもよい。
【０１６１】
これらの評価値の目標としては、十分システムマージンを確保できる範囲に設定すべきで、（式１）で求まるＤの分散値をＴＷで正規化すれば、エラーレートと相関ある評価値として用いることができる。ここで、ＴＷは、２×ｄの２乗である。例えば、トータルの指標の目標値を１０％として、要素ごとに目標をおいて評価してもよい。例えば、エッジずれの目標値を４．３％にして評価を行ってもよい。また、ＳＮＲの目標値を９％として評価を行ってもよい。
【０１６２】
（実施形態３）
次に、本発明の第３の実施形態による情報記録媒体を説明する。図１６は、本実施形態の情報記録媒体１を示す図である。情報記録媒体１は、上述した光ディスク装置１００〜３００に搭載される。
【０１６３】
図１６では、情報記録媒体１の一例として、多層の相変化薄膜ディスク媒体を示しているが、記録層を１層のみ備える単層構造のディスク媒体であってもよい。図１６に示す情報記録媒体１は、ｎ層（ｎは２以上の整数）の記録層を備える。情報記録媒体１は、レーザ光２ａ（図１）の照射側から、カバー層（保護層）１６２と、記録層Ｌｎ〜Ｌ０と、ポリカーボネート基板１６１とを備える。また、記録層Ｌｎ〜Ｌ０の間には、光学的緩衝材として機能する中間層１６３が挿入されている。基板１６１の厚さは例えば１．１ｍｍである。カバー層（保護層）１６２の厚さは例えば１０μｍ〜２００μｍであり、より好ましくは１００μｍ以下である。
【０１６４】
レーザ光２ａ（図１）の照射方向１６４は光ヘッド部２から情報記録媒体１のカバー層１６２に向かう方向であり、レーザ光２ａは情報記録媒体１のカバー層１６２側から情報記録媒体１内へ入射する。
【０１６５】
このように、１層当たりの記録容量を維持しつつ、多層構造にすることで、情報記録媒体１枚当たりの記録容量を増やすことが提案されている。しかし、記録層の多層化は、再生動作にいろいろな影響を及ぼす場合がある。例えば、多層化により透化率バランスを最適化できないために起因する反射率の低下、中間層幅を小さくすることによる層間クロストークに起因するＳＮＲの低下、光ヘッド部の構成に起因する迷光によるＳＮＲの低下等が発生する。これらのＳＮＲを適切に定量的に測定する方法が望まれている。
【０１６６】
上記表２および表３に示すパターンを用いた評価方法では、確かに、エラーレートとの相関を持つ評価値を得ることができる。しかし、記録条件によっては、適切にＳＮＲ成分を評価することができなかった。上述したように、表２および表３に示すパターンは、２Ｔ信号の孤立パターンあるいは２Ｔ信号の繰り返しパターンを含む。ＰＲ１２２２１ＭＬ方式は、２Ｔ振幅が０（波形の中心レベル）として再生されることを期待して再生する方式である。そのため、エッジずれがなく、ＳＮＲも良好な記録状態においても、２Ｔ信号のＤＣレベルが大きくずれるような再生信号波形、すなわちアシンメトリ波形を評価する場合、評価指標はＤＣレベルのずれの影響を大きく受ける。このため、表２および表３に示すパターンを採用すると、アシンメトリ性のある波形を評価する場合に、適切にＳＮＲの影響を精度よく評価することができない場合がある。そこで、本発明では、上述したように、表１に示すパターンを用いて評価をすることで、メディアの特性や光ヘッド部の特性を適切に評価することができる。
【０１６７】
なお、上述の説明では、多層構造のメディアの課題を挙げ、それに対する本発明の効果について説明したが、記録層を１層のみ備える単層構造のメディアの評価にも本発明は有用である。また、記録型情報記録媒体についてだけでなく、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）型情報記録媒体の評価にも本発明は有用である。
【０１６８】
次に、図１７〜図１８を参照して、本発明の実施形態による情報記録媒体の製造方法を説明する。
【０１６９】
図１７は、情報記録媒体１の製造方法を示す図である。情報記録媒体１の製造においては、基板成型用のスタンパ（押し型）を形成するためのマスタリングプロセスと、スタンパを用いて基板を成型するレプリケーションプロセスとが行われる。
【０１７０】
図１７（ａ）は、レジスト１７２が形成されたガラス原盤１７１を示している。スピンコーティングにより液状のフォトレジストをガラス原盤１７１の表面に成膜し、露光および現像を行うことで、凹部１７３が形成されたレジスト１７２が得られる。
【０１７１】
ＲＯＭ型情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はピットを形成している。また、追記型や書換え型の情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はグルーブを形成している。なお、ピットとグルーブの両方を有する情報記録媒体を製造するためのスタンパを作製する場合は、凹部１７３はピットとグルーブの両方を形成している。情報記録媒体にはピットとグルーブの少なくとも一方が形成される。なお、凹部１７３は凸部であってもよい。このような凸凹形状の配列によって同心円状またはスパイラル状のトラックが情報記録媒体に形成される。
【０１７２】
次に、図１７（ｂ）を参照して、レジスト１７２が形成されたガラス原盤１７１にＮｉ等の金属のめっきを行って、金属めっき層１７５を形成し、形成した金属めっき層１７５をガラス原盤１７１から剥離する。剥離された金属めっき層１７５はスタンパとして用いられる。スタンパ１７５には、ピット（グルーブ）１７３が転写されている。
【０１７３】
次に、図１７（ｃ）を参照して、射出成型法等により、スタンパ１７５のピット（グルーブ）１７３を溶融したプラスチック材料に転写することで、ピット（グルーブ）１７３が形成された基板１６１が得られる。
【０１７４】
このようにして得られた基板１６１に、記録層、中間層、カバー層等を形成することで情報記録媒体１が得られる。
【０１７５】
製造された情報記録媒体１は、表１に示すパターンを用いた評価方法により評価される。ＲＯＭ型情報記録媒体の評価を行った場合は、必要に応じて、より良好な再生信号が得られるようにスタンパ１７５に形成するピット１７３の形状を調整する。ピット１７３の形状の調整は、フォトレジストのうちの露光させる部分の形状を調整することで行うことができる。
【０１７６】
図１８は、情報記録媒体１に形成されたピットおよびグルーブを示す図である。説明を簡単にするために、図１８では情報記録媒体１の基板１６１のみを示している。
【０１７７】
図１８（ａ）に示すピット１７３は、Ｉｎ−Ｐｉｔ再生方式用のピットである。図１８（ａ）に示すピット１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凹形状である。矢印１６４はレーザ光の照射方向を示している。凹形状のピット１７３に対する凸形状部分１８１はランドである。
【０１７８】
図１８（ｂ）に示すピット１７３は、Ｏｎ−Ｐｉｔ再生方式用のピットである。図１８（ｂ）に示すピット１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凸形状である。凸形状のピット１７３に対する凹形状部分１８１はランドである。
【０１７９】
図１８（ｃ）に示すグルーブ１７３は、Ｉｎ−Ｇｒｏｏｖｅ記録再生方式用のグルーブである。図１８（ｃ）に示すグルーブ１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凹形状である。凹形状のグルーブ１７３に対する凸形状部分１８１はランドである。グルーブ１７３により基板１６１には山部（ランド）と谷部（グルーブ）とが形成されている。山部（ランド）よりも谷部（グルーブ）は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から遠い位置にある。情報記録媒体１に情報を記録するときには、記録層の谷部（グルーブ）に対応する位置にマークが形成される。
【０１８０】
図１８（ｄ）に示すグルーブ１７３は、Ｏｎ−Ｇｒｏｏｖｅ記録再生方式用のグルーブである。図１８（ｄ）に示すグルーブ１７３は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から見て凸形状である。凸形状のグルーブ１７３に対する凹形状部分１８１はランドである。グルーブ１７３により基板１６１には山部（グルーブ）と谷部（ランド）とが形成されている。谷部（ランド）よりも山部（グルーブ）は、情報記録媒体１のレーザ光照射側から近い位置にある。情報記録媒体１に情報を記録するときには、記録層の山部（グルーブ）に対応する位置にマークが形成される。
【０１８１】
上述したように製造されたＲＯＭ型情報記録媒体または記録型情報記録媒体に対して、所定の再生信号が良好なＳＮＲを保持しているか否かを、上記表１に示すパターンを用いて評価をすることで、メディアの特性を適切に評価することができる。上記の評価方法を用いて評価しながら情報記録媒体を製造することで、所定以上の品質を常に保つことができ、情報記録媒体出荷後の市場において、記録再生品質を良好に維持することができる。
【０１８２】
（実施形態４）
情報記録媒体の記録品質を評価する方法をさらに説明する。
【０１８３】
情報記録媒体に記録されたデータの記録品質を測定する評価指標として、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式における特定のパターンを用いた評価指標を説明した。この方法に加えて、記録線密度を向上した場合に有用な記録品質評価方法を説明する。
【０１８４】
記録の品質を規定する指標として、アシンメトリ評価指標とβ評価指標がある。図１９は、最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であって、アシンメトリ評価指標値を計算するためのパラメータの定義を示す図である。未記録領域に比べて記録領域の反射率が小さくなる情報記録媒体の場合、８Ｔスペースの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ８Ｈ、８Ｔマークの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ８Ｌ、２Ｔスペースの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ２Ｈ、２Ｔマークの振幅レベルは基準レベル０からの振幅Ａ２Ｌと定義し、アシンメトリ評価指標（ＡＳＹＭ）の値は、以下の（式４）で求められる。
【数４】
2008081820.tif 000042
この指標ＡＳＹＭによって、最短マーク／スペース（２Ｔ）の振幅中心や、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の振幅中心が、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅に対してどれだけＤＣずれを起こしているかを検出することができる。記録品質を所定以上に保つために、アシンメトリ評価指標ＡＳＹＭの値が所定以内となるような記録が行われるような制限が設けられる。例えば、−０．１＜＝ＡＳＹＭ＜＝０．１としていた。
【０１８５】
しかし、上述したように、記録線密度が向上し、最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となると、光学的な分解能を超え、再生信号振幅が小さくなったり、再生信号振幅が符号間干渉の影響により基準レベルを超えないレベルとなったりする。
【０１８６】
図２０は、図１９で示した最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であり、特に、ＢＤに３３ＧＢの記録密度で記録した領域を再生したときの再生振幅レベルを示している。ｘ領域の最短マーク／スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルは、ＯＴＦカットオフによりほとんどない状態である。例えば、２Ｔマークと２Ｔスペースの連続領域を再生したときの再生振幅レベルである。ｙ領域およびｚ領域は、符号間干渉により再生振幅がほとんどない状態を示している。例えば、８Ｔスペース２Ｔマーク８Ｔスペースまたは、８Ｔマーク２Ｔスペース８Ｔマークの領域を再生したときの再生振幅レベルである。このように記録線密度を向上させると、図１９の２Ｔ信号の振幅レベルＡ２Ｈに相当する再生振幅レベルは、Ａ２−２およびＡ２−４と複数存在し、図１９の２Ｔ信号の振幅レベルＡ２Ｌに相当する再生振幅レベルは、Ａ２−１およびＡ２−３と複数存在するため、アシンメトリ評価指標値を求めることができない。
【０１８７】
図２１（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示した図であり、β評価指標値を計算するためのパラメータの定義を示す図である。未記録領域に比べて記録領域の反射率が小さくなる情報記録媒体の場合、８Ｔスペースの振幅レベルは、基準レベル０からの振幅Ａ１、８Ｔマークの振幅レベルは、基準レベル０からの振幅Ａ２と定義する。基準レベル０は再生波形のエネルギーの中心である。例えば、再生波形のエネルギーの中心は、所定の帯域のＨＰＦ（Ｈｉｇｔｈ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）を通過させることで求められる。β評価指標（β）の値は、以下の（式５）で求められる。
【数５】
2008081820.tif 000043
このβ指標の値によって、エネルギー中心レベルが、最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅に対してどれだけＤＣずれを起こしているかを検出することができる。
【０１８８】
図２１（ａ）は、基準レベルに対して、マーク信号振幅とスペース信号振幅がほぼ等しい状態を示し、（式５）からβ指標値は０と算出される。
【０１８９】
図２１（ｂ）は、図２１（ａ）の条件よりも記録パワーを低下させて記録した領域を再生したときの波形の状態を示している。この場合、基準レベルに対して、マーク信号振幅がスペース信号振幅より大きくなり、（式５）から負の符号を持つβ指標値が算出される。
【０１９０】
図２１（ｃ）は、図２１（ａ）の条件よりも記録パワーを上げて記録した領域を再生したときの波形の状態を示している。この場合、基準レベルに対して、マーク信号振幅がスペース信号振幅より小さくなり、（式５）から正の符号を持つβ指標値が算出される。
【０１９１】
このように、β指標は、記録パワーを変化させて記録した領域を再生したときの信号振幅と相関があるため、記録パワー調整の目標値として用いられる（特開平９−１６１２７２号公報を参照）。
【０１９２】
β指標は、情報記録媒体に形成された最長マークと最長スペースとの組み合わせに対応する信号振幅の中心と、再生信号波形のエネルギー中心との比で求まる。β指標値は、再生信号波形全エネルギー中心を基準に、最長マークと最長スペースの振幅比を測定する評価指標であるため、高密度化に伴う最短マークの振幅劣化に影響されない指標であり、このβ指標を用いて信号品質評価を行うことができる。
【０１９３】
記録データを再生する処理においては、最短マークの振幅中心が最長マーク／スペースの（８Ｔ）の全振幅の所定範囲内に入っていないとデータ信号を復調できず、光ディスク装置の互換性を安定に保つことが出来ない場合がある。特に、ジッタ指標によって記録品質が規定されたシステムでは、２Ｔ信号の振幅が所定以上出るような記録状態および再生状態でなければならない。例えば、記録線密度２５ＧＢのＢＤでは、リミットイコライザ（Ｌｉｍｉｔ  Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ）を用いて得たジッタ値を用いてメディアの特性を規定しており、２Ｔマーク／スペースの記録品質を規定するために、２Ｔ信号のＤＣを基準としたアシンメトリ評価値を所定以内とする規定が必要となる。リミットイコライザを用いたジッタ測定指標に関する説明は、非特許文献１（図解  ブルーレイディスク読本  オーム社）に記載されているので、ここでは詳細な説明を省略する。
【０１９４】
最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度においては、上述のリミットイコライザを用いたジッタ測定指標は使うことができない。ジッタ測定指標は、所定以上の２Ｔ信号振幅があることを条件に成立する指標であるためである。このため、２Ｔ信号振幅を基準としたアシンメトリ指標値を使うことは意味を成さない。
【０１９５】
最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度で記録された記録マークを再生する方法では、上述したが、高次のＰＲＭＬ方式の採用が有用である。例えば、ＰＲ１２２２１ＭＬ方式が有用である。この方式は、予め符号間干渉の影響を考慮して、２Ｔ信号振幅がでないことを前提とした再生方式であるため、２Ｔ信号振幅は重要ではない。しかし、ＰＲＭＬ方式では、マークとスペースの振幅比が大きく異なった波形を再生する場合は、再生性能が劣化することがある。これは、ＰＲＭＬ方式がマークとスペースの対称性を前提として再生波形を復号する方式であるためである。そこで、２Ｔ振幅基準でその対称性を規定する必要はないが、全波形のエネルギー中心に、マークとスペース比（β）を所定以内に制限することで、ＰＲＭＬ方式に適した記録品質を保つことができる。例えば、βを、−０．２＜＝β＜＝０．２の範囲にすると規定すれば、記録品質を保持するができる。
【０１９６】
ジッタ評価指標が有用な領域（最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数より十分低い記録線密度の領域）では、２Ｔ信号の振幅を基準としたアシンメトリ指標値を記録品質の評価に使うことで、安定した記録品質の情報記録媒体を提供することができる。
【０１９７】
また、ジッタ評価指標が成立しない領域（ＰＲ１２２２１ＭＬの評価指標が有用な、最短マークの空間周波数が、ＯＴＦカットオフ周波数付近になる、またはそれを超える周波数となる記録線密度の領域）では、全波形のエネルギー中心を基準としたβ指標値を記録品質の評価に使うことで、安定した記録品質の情報記録媒体を提供することができる。
【０１９８】
なお、記録品質は、アシンメトリ指標またはβ指標に関わる記録パワーだけでなく、記録パルス波形の形状にも大きく依存する。記録パルス波形の形状に関わる記録品質は、ジッタ指標またはＰＲ１２２２１ＭＬの評価指標で評価することができる。このように、情報記録媒体の記録品質を数値で規定し、記録線密度に応じた適切な手法を用いて信号品質評価を行うことで、光ディスク装置の互換性を安定に保つことができる。
【産業上の利用可能性】
【０１９９】
本発明は、最尤復号法を用いて信号処理を行う技術分野において特に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０２００】
【図１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図２】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図３】図２に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図４】本発明の実施形態による表１に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図５】本発明の実施形態による表２に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図６】本発明の実施形態による表３に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図７】本発明の実施形態によるＲＬＬ（１，７）記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を示す図である。
【図８】図７に示す状態遷移則に対応するトレリス図である。
【図９】本発明の実施形態による表４に示すＰＲ等化理想波形を示す図である。
【図１０】本発明の実施形態によるフォーカス調整時のフォーカスパラメータと各ＰＲＭＬ特性の指標Ｍとの関係を示す図である。
【図１１】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図１２】本発明の実施形態による光ディスク装置を示す図である。
【図１３】本発明の実施形態による光ディスク媒体のトラック上に記録されたマーク列と光ビーム径との相対的な関係を示す図である。
【図１４】本発明の実施形態による光ディスク媒体のＯＴＦ特性を示す図である。
【図１５】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による信号品質評価指標の値の分布を示す図である。
【図１６】本発明の実施形態による複数の記録層を有する光ディスク媒体を示す図である。
【図１７】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による情報記録媒体の製造方法を示す図である。
【図１８】（ａ）〜（ｄ）は、本発明の実施形態による情報記録媒体に形成されたピットおよびグルーブを示す図である。
【図１９】本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【図２０】本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【図２１】（ａ）〜（ｃ）は、本発明の実施形態による最長マーク／最長スペース（８Ｔ）と、最短マーク／最短スペース（２Ｔ）の再生振幅レベルを示す図である。
【符号の説明】
【０２０１】
１００、２００、３００  光ディスク装置
１  情報記録媒体
２  光ヘッド部
３  プリアンプ部
４  ＡＧＣ部
５  波形等化部
６  Ａ／Ｄ変換部
７  ＰＬＬ部
８  可変ＰＲ等化部
９  可変最尤復号部
１０  信号評価指標演算部
１１  エッジシフト検出部
１２  光ディスクコントローラ部
１３  パターン発生部
１４  記録補償部
１５  レーザ駆動部
１６  サーボ制御部
１７  選択部
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2008081820.tif 000044
【図２】
2008081820.tif 000045
【図３】
2008081820.tif 000046
【図４】
2008081820.tif 000047
【図５】
2008081820.tif 000048
【図６】
2008081820.tif 000049
【図７】
2008081820.tif 000050
【図８】
2008081820.tif 000051
【図９】
2008081820.tif 000052
【図１０】
2008081820.tif 000053
【図１１】
2008081820.tif 000054
【図１２】
2008081820.tif 000055
【図１３】
2008081820.tif 000056
【図１４】
2008081820.tif 000057
【図１５】
2008081820.tif 000058
【図１６】
2008081820.tif 000059
【図１７】
2008081820.tif 000060
【図１８】
2008081820.tif 000061
【図１９】
2008081820.tif 000062
【図２０】
2008081820.tif 000063
【図２１】
2008081820.tif 000064
【国際調査報告】
2008081820.tif 000065
2008081820.tif 000066
2008081820.tif 000067
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