【手続補正書】
【提出日】平成16年11月30日(2004.11.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理装置において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート手段と、該ソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理装置において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート手段と、該第一のソート手段でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート手段と、該第二のソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出手段とを備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
前記統計量に基づき前記画像データの諧調変換処理を行う諧調変換手段とを備えることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
第一のソート処理をされた画像データにおいて低画素値側となった画像データの端から所定距離離れた領域を前記領域抽出手段での所定の画素領域をとすることを特徴とする請求項１又は２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記統計量は前記所定領域内の画素値をヒストグラム解析した値、前記所定領域内の画素値の平均値、中間値、最大値、最小値のいずれかであることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記画像データは、
放射線を発生する放射線発生手段と、
被写体を透過した前記放射線を前記画像データとして取得するための２次元Ｘ線センサを備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理方法において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート工程と、該ソート工程でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出工程と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出工程とを備えることを特徴とする画像処理方法。
【請求項８】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理方法において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート工程と、該第一のソート工程でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート工程と、該第二のソート工程でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出工程と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出工程とを備えることを特徴とする画像処理方法。
【請求項９】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施すためにコンピュータを、
前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート手段と、該ソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出手段として機能させるためのプログラム。
【請求項１０】
被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施すためにコンピュータを、
前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート手段と、該第一のソート手段でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート手段と、該第二のソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を計算する特徴抽出手段として機能させるためのプログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本出願に係る第１の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理装置において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート手段と、該ソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出手段とを有することを特徴とする。
本出願に係る第２の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理装置において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート手段と、該第一のソート手段でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート手段と、該第二のソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出手段とを備えることを特徴とする。
本出願に係る第３の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理方法において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート工程と、該ソート工程でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出工程と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出工程とを備えることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本出願に係る第４の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施す画像処理方法において、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート工程と、該第一のソート工程でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート工程と、該第二のソート工程でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出工程と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出工程とを備えることを特徴とする。
本出願に係る第５の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施すためにコンピュータを、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行うソート手段と、該ソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出手段として機能させるためのプログラムである。
本出願に係る第６の発明は、被検体に向けて照射され，少なくとも前記被検体を透過した放射線の強度分布を電気信号に変換して得られた画像データに対して画像処理を施すためにコンピュータを、前記画像データにおける同一行内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第一のソート手段と、該第一のソート手段でソート処理された画像データにおける同一列内の画素値列を画素値の高い画素から画素値の低い画素に並びかえる処理を行う第二のソート手段と、該第二のソート手段でソート処理された画像データの領域中から所定の画素領域を抽出する領域抽出手段と、該所定の画素領域の画素値から統計量を特徴量として計算する特徴抽出手段として機能させるためのプログラムである。