Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月8日(2005.3.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
平面方向の残留応力が、５ｋｇ／ｃｍ2以下であることを特徴とするフラットパネルディスプレイ用ガラス基板。
【請求項２】
縦寸法が４００ｍｍ以上、横寸法が５００ｍｍ以上であることを特徴とする請求項１記載のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板。
【請求項３】
平面方向の残留応力が、５ｋｇ／ｃｍ2以下であるガラス基板上に複数のパターンを形成した後、パターン毎にガラス基板を分割切断することを特徴とするディスプレイ基板の製造方法。
【請求項４】
ガラス基板の縦寸法が４００ｍｍ以上、横寸法が５００ｍｍ以上であることを特徴とする請求項３記載のディスプレイ基板の製造方法。
【請求項５】
板ガラスを成形した後の冷却工程で、その平面方向に発生する温度分布を小さくするような温度制御を行うことによって、平面方向の残留応力が、５ｋｇ／ｃｍ2以下のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板を製造することを特徴とするフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法。
【請求項６】
縦寸法が４００ｍｍ以上、横寸法が５００ｍｍ以上であることを特徴とする請求項５記載のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法。
【請求項７】
フロート法、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法のいずれか一つの方法で板ガラスを成形することを特徴とする請求項５又は６記載のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法。
【請求項８】
液晶ディスプレイに用いられることを特徴とする請求項５〜７のいずれかに記載のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
さらに本発明のガラス基板は、縦寸法が４００ｍｍ以上、横寸法が５００ｍｍ以上であることを特徴とする。
また本発明のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法は、ガラスを成形した後の冷却工程で、その平面方向に発生する温度分布を小さくするような温度制御を行うことによって、平面方向の残留応力が、５ｋｇ／ｃｍ2以下のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板を製造することを特徴とする。
また本発明のフラットパネルディスプレイ用ガラス基板の製造方法は、フロート法、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法のいずれか一つの方法で板ガラスを成形することを特徴とし、また液晶ディスプレイに用いられることを特徴とする。
【手続補正書】
【提出日】平成17年6月7日(2005.6.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】花粉症の症状緩和方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ヒノキチオールを含有する調合水を花粉症の患部に定期的に塗るのを繰り返すこと、及び／又は調合水の揮発を吸入することにより、疾患の症状を緩和することを特徴とする花粉症の症状緩和方法。
【請求項２】
前記調合水は、ヒノキチオールの粉末を水に溶解させたものであることを特徴とする請求項１記載の花粉症の症状緩和方法。
【請求項３】
前記調合水は、ヒノキチオールの粉末を水中にエマルジョン処理したものを、徐放するようにカプセルに内包したものであることを特徴とする請求項１記載の花粉症の症状緩和方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、花粉症の症状を緩和する方法に関する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００２】
【従来の技術】
花粉症は、スギやヒノキ等の花粉がアレルゲンとなって、目の痒み、鼻水、くしゃみ等の症状が起き、飲み薬や点眼・点鼻薬が使用される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
花粉症等のアレルギー疾患を持つ人は、環境汚染や各種食品添加物の摂取等の複合的要因といわれながらも年々増加しており、その症状に悩まされているのが実情である。例えば、花粉症は、毎年２月から５月頃に飛散する各種花粉が起因する症状そのものの他に、症状から由来する集中力の低下、倦怠感、微熱等に悩まされる。このようなアレルギー疾患の人にとっては、その症状を早く直したいと切実に願っているのが実情である。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
この発明は、そのような実情に鑑みなされたものであって、花粉症の症状を緩和する新規な方法を提供することを目的としている。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
即ち、本発明の請求項１記載の花粉症の症状緩和方法は、ヒノキチオールを含有する調合水を花粉症の患部に定期的に塗るのを繰り返すこと、及び／又は調合水の揮発を吸入することにより、疾患の症状を緩和することを特徴とする。
この症状緩和方法では、ヒノキチオールを含有する調合水を使用するが、具体的に調合水としては、ヒノキチオールを３〜１５％含有するもの、ヒノキチオールの粉末を水に溶解させたもの、又はヒノキチオールの粉末を水中にエマルジョン処理したものを、徐放するようにカプセルに内包したものである。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
被験者Ｅ，Ｆに顕著な効果がみられなかった。この場合、単純にヒノキチオールの成分量が少ないため効かないのか、或いは亢進して条件が変わったから効かないのかは不明である。
以上、“ひばエキス”の花粉症に対する効果の総論としては、“ひばエキス”は特定の個人ではなく、不特定の多くの人にかなり顕著な効果があった。但し、花粉症には個人差の問題があり、また同じ人でも抗原の量の多少によって効き方及び回復に至る過程が異なることがうかがえた。つまり、抗原の量が多いと考えられる外出時、特にダスト等が多い場合には、症状を緩和させるのにより多くのヒノキチオールの絶対量が必要である。又、処置が遅れた場合には回復に１〜３日程度の日数を要する。更に、よりアレルギーが亢進した場合には、効き難いか又は効かない場合もあり、その原因としては単純にヒノキチオールの量が足りないのか、亢進して条件が変わったから効かないのか、はっきりしたことは不明である。いずれにしても、“ひばエキス”は、効く場合には眼や喉には直ぐに（５分程度）効き、鼻には少々時間を置いて効くようである。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明の花粉症の症状緩和方法によれば、ヒノキチオールを含有する調合水を花粉症の患部に定期的に塗るのを繰り返すこと、及び／又は調合水の揮発を吸入することにより、疾患の症状を緩和するので、花粉症の人にとっては副作用を気にすることなく安心して症状に対する処置を施すことができる。しかも、ヒノキチオールは天然に存在するものであり、人体だけでなく環境に対しても優しい。
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月4日(2005.10.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
以上の目的を達成するため、本発明では、複数のガラス部材をシール材を用いて封着部分が方形となるように封着し構成したガラス外囲器であって、
前記シール材とガラス部材との間にヒーターを具備し、前記ガラス部材は、方形形状のフェースプレートおよびリアプレートを含み、該フェースプレートおよびリアプレートの方形の角部が、丸められた形状あるいは切り落とされた形状を有することを特徴とする。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また、本発明では、複数のガラス部材をシール材を用いて封着部分が方形となるように封着し構成したガラス外囲器であって、
前記シール材とガラス部材との間にヒーターを具備し、前記ガラス部材は、方形形状のガラス外枠を含み、該ガラス外枠の方形の角部が、丸められた形状あるいは切り落とされた形状を有することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
このように、シール材とガラス部材との間にヒーターを具備し、更に前記ガラスフェースプレートおよびガラスリアプレートの方形の角部が、丸められた形状あるいは切り落とされた形状を有すること、又は該ガラス外枠の方形の角部が、丸められた形状あるいは切り落とされた形状を有することにより、ガラス外囲器を封着する際の熱エネルギーの損失が抑制でき、温度上昇、下降に要する時間を短縮できるだけでなく、ガラス外囲器の封着部分における温度分布のバラ付きを低減し、封着時のガラス部材の熱応力を低減できる。このため、ガラス部材相互に熱歪みが残らず、ガラス外囲器として、良品が得られる。
【手続補正書】
【提出日】平成17年4月26日(2005.4.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
本発明に係る磁気抵抗効果素子、磁気記憶セルおよび磁気メモリデバイスでは、一対の磁気ヨークが一対の開放端の各々からそれぞれ遠ざかる方向に延び、ギャップを挟んで互いに対向する一対の対向ヨークと、一対の対向ヨークの、開放端と反対側の一端とそれぞれ連結され互いに対向しつつ積層体の積層方向に延びる一対のピラーヨークと、一対のピラーヨークの、一対の対向ヨークと反対側の各一端どうしを連結するビームヨークとをそれぞれ有しており、一対の磁気抵抗効果素子が、少なくとも一対のピラーヨークのうちの一方を互いに共有するように構成することができる。さらに、この場合、感磁層が、一対の対向ヨークと同一階層に設けられるようにすることが望ましい。
【手続補正書】
【提出日】平成17年5月23日(2005.5.23)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アモルファス磁性薄帯からなる巻鉄心と該巻鉄心を挿入する一次コイル及び二次コイルとを組立ててなる鉄心コイル組立体を具備するアモルファス変圧器において、
前記一次コイルは、銅導体よりなり、
前記二次コイルは、アルミニウム導体よりなり、かつコイル径方向の外側に配置され、
前記一次コイルは、前記二次コイルより電気抵抗換算電流密度を高くし、
前記鉄心コイル組立体を収納する変圧器容器を有し、
該変圧器容器は外側に冷却フィンを有し、
該冷却フィンと変圧器容器との合計表面積は、１３０ｍ２以下であることを特徴とするアモルファス鉄心変圧器。
【請求項２】
請求項１記載のアモルファス鉄心変圧器において、
５脚鉄心を有する３相変圧器であることを特徴とするアモルファス鉄心変圧器。
【請求項３】
請求項１記載のアモルファス鉄心変圧器において、
容量が７５０ｋＶＡ以上であり、そして、結線方式がΔ−Δである３相変圧器であることを特徴とするアモルファス鉄心変圧器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明は、アモルファス磁性薄帯からなる巻鉄心と該巻鉄心を挿入する一次コイル及び二次コイルとを組立ててなる鉄心コイル組立体を具備するアモルファス変圧器において、前記一次コイルは、銅導体よりなり、前記二次コイルは、アルミニウム導体よりなり、かつコイル径方向の外側に配置され、前記一次コイルは、前記二次コイルより電気抵抗換算電流密度を高くし、前記鉄心コイル組立体を収納する変圧器容器を有し、該変圧器容器は外側に冷却フィンを有し、該冷却フィンと変圧器容器との合計表面積は、１３０ｍ２以下であるアモルファス鉄心変圧器である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
また、本発明は、５脚鉄心を有する３相変圧器であるアモルファス鉄心変圧器である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
更に、本発明は、容量が７５０ｋＶＡ以上であり、そして、結線方式がΔ−Δである３相変圧器であるアモルファス鉄心変圧器である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月10日(2005.3.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
次に、非磁性層２について説明する。非磁性層２は、非磁性粉末、結合剤、及び潤滑剤を主成分とする。
先ず、非磁性層２中に含有される非磁性粉末について説明する。
非磁性粉末としては、例えば、α−Ｆｅ2Ｏ3、ＴｉＯ2、カーボンブラック、グラファイト、硫酸バリウム、ＺｎＳ、ＭｇＣＯ3、ＣａＣＯ3、ＺｎＯ、ＣａＯ、二硫化タングステン、二硫化モリブデン、窒化ホウ素、ＭｇＯ、ＳｎＯ2、Ｃｒ2Ｏ3、α−Ａｌ2Ｏ3、α−ＦｅＯＯＨ、ＳｉＣ、酸化セリウム、コランダム、人造ダイヤモンド、α−酸化鉄、ザクロ石、ガーネット、ケイ石、窒化ケイ素、窒化ホウ素、炭化ケイ素、炭化モリブデン、炭化ホウ素、炭化タングステン、チタンカーバイド、トリポリ、ケイソウ土、ドロマイト等を挙げることができる。それらの中で好ましいのはα−Ｆｅ2Ｏ3、ＴｉＯ2、カーボンブラック、ＣａＣＯ3、硫酸バリウム、α−Ａｌ2Ｏ3、α−ＦｅＯＯＨ、Ｃｒ2Ｏ3等の無機粉末やポリエチレン等のポリマー粉末等が適用できる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
磁性層３中の結合剤としては、従来公知の塗布型磁性層に適用される各種熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、又は電子線等による放射線架橋型樹脂、及びこれらの混合物を適宜使用可能である。
上記熱可塑性樹脂としては、軟化点温度が１５０℃以下、平均分子量が５０００〜５００００、重合度が約５０〜５００程度のものが好ましい。例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル−エチレン共重合体、ポリ弗化ビニル、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム、及びこれらの混合物等が挙げられる。
また、熱硬化性樹脂の例としては、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。
また、上記結合剤として使用される樹脂の分子中には、−ＳＯ3Ｈ、−ＯＳＯ3Ｈ、−ＰＯ3Ｈ、−ＯＰＯ3Ｈ2、−ＣＯＯＨ等の酸性基又はそれらの塩、或いはヒドロキシル基、エポキシ基、アミノ基、等の極性基を持つようにすれば、より優れた分散性と塗膜耐久性が得られる。この中でも−ＳＯ3Ｎａ、−ＣＯＯＨ、−ＯＰＯ3Ｎａ2、−ＮＨ2基を持つものが好ましい。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７１】
〔再生出力〕
ＡＲＣ社製ＡＴＳ２ドライブにＱｕａｎｔａｍ社製ＶＳ１６０ドライブの磁気ヘッドを取り付け、協同電子システム社製ＰｒｅＡＭ-Ｐ２０１０を用いて信号を記録した。
磁気テープスピードは３．１ｍ／ｓとし、最短記録波長が０．２７５μｍ、０．５５０μｍ、０．８２５μｍとなるような記録周波数で記録し、再生出力を得た。
これらの磁気テープを、上記走行耐久性試験後の磁気ヘッドを用いて、同様のシステムで再生し、再生出力の減少率を測定した
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
2005129142.tif 000001
【手続補正書】
【提出日】平成17年8月25日(2005.8.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
カードの主面に形成されたエンボス加工、ホログラム及びマイクロ文字の少なくとも一つを検出する検出手段と、
前記カードの主面及び裏面の少なくとも一つに設けられた磁気コードを読み取る磁気コード読取手段と、
前記検出手段及び前記磁気コード読取手段により検出されたデータに基づき前記カードが偽造か否かを判定する偽造判定手段と、
前記偽造判定手段による判定結果を出力する出力手段と、
端末自身の電源のオンオフを検知する電源検知センサと、
前記電源検知センサが電源のオフを検知した場合に、前記検出手段、前記磁気コード読取手段、前記偽造判定手段としての機能の少なくとも一つを停止させる機能停止制御手段と
を備えた端末を備えた偽造カード判別システム。
【請求項２】
カードの主面に形成されたエンボス加工、ホログラム及びマイクロ文字の少なくとも一つを検出する検出手段と、
前記カードの主面及び裏面の少なくとも一つに設けられた磁気コードを読み取る磁気コード読取手段と、
前記検出手段及び前記磁気コード読取手段により検出されたデータに基づき前記カードが偽造か否かを判定する偽造判定手段と、
前記偽造判定手段による判定結果を出力する出力手段と、
端末本体を覆う本体カバーと、
前記本体カバーの開閉を検知するカバー検知センサと、
前記カバー検知センサが、前記本体カバーが前記端末本体から取り外されたことを検知した場合に、前記検出手段、前記磁気コード読取手段、前記偽造判定手段としての機能の少なくとも一つを停止させる機能停止制御手段と
を備えた端末を備えた偽造カード判別システム。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の偽造カード判別システムにおいて、
前記出力手段から出力された判定結果が偽造であることを特定する情報である場合に、該判定結果を出力して出力先に前記端末の警備を促す偽造通知手段を備えたサーバを更に備えた偽造カード判別システム。
【請求項４】
請求項１乃至３のうち何れか１項に記載の偽造カード判別システムにおいて、
前記端末は、偽造判定プログラム、出力プログラム、及び機能停止制御プログラムを格納した記憶手段と、プログラム消去手段と、プロセッサとを更に備え、前記記憶手段に格納された偽造判定プログラム、出力プログラム、及び機能停止制御プログラムが前記プロセッサによって読み出されることにより前記偽造判定手段、前記出力手段、及び前記機能停止制御手段として機能し、前記機能停止制御手段が、異常が発生したことを検知した場合、又は機能停止要求データを受信した場合には、前記プログラム消去手段が、前記記憶手段に格納された偽造判定プログラム、出力プログラム、及び機能停止制御プログラムを消去する偽造カード判別システム。
【請求項５】
請求項４に記載の偽造カード判別システムにおいて、
前記偽造判定手段は、前記偽造判定プログラムを、前記サーバから取得するようにした偽造カード判別システム。
【請求項６】
請求項１乃至５のうち何れか１項に記載の偽造カード判別システムにおいて、
前記サーバは、
前記判定結果を受信する毎に前記判定結果に応じて判定回数及び偽造カード検出回数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段のカウント値を前記端末を識別する情報に関連付けて格納する記憶手段と
を更に備えた偽造カード判別システム。
【請求項７】
請求項１乃至５のうち何れか１項に記載の偽造カード判別システムにおいて、
前記サーバは、
前記判定結果を受信する毎に判定回数をカウントするカウント手段と、
前記カウント手段のカウント値を前記偽造判定の対象となったカードのカード発行者を識別する情報に関連付けて格納する記憶手段と
を更に備えた偽造カード判別システム。
【請求項８】
前記端末はＰＯＳ端末との通信手段を有する請求項１乃至７のうち何れか１項に記載の偽造カード判別システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、クレジットカードなどのカードの偽造判定を防止するための偽造カード判別システムに関する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
すなわち、本発明の第１の局面の偽造カード判別システムは、端末を備えてなる。この端末は、カードの主面に形成されたエンボス加工、ホログラム及びマイクロ文字の少なくとも一つを検出する検出手段と、カードの主面及び裏面の少なくとも一つに設けられた磁気コードを読み取る磁気コード読取手段と、検出手段及び磁気コード読取手段により検出されたデータに基づきカードが偽造か否かを判定する偽造判定手段と、偽造判定手段による判定結果を出力する出力手段と、端末自身の電源のオンオフを検知する電源検知センサと、電源検知センサが電源のオフを検知した場合に、検出手段、磁気コード読取手段、偽造判定手段としての機能の少なくとも一つを停止させる機能停止制御手段とを備えてなる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
また、本発明の第２の局面の偽造カード判別システムは、端末を備えてなる。この端末もまた、カードの主面に形成されたエンボス加工、ホログラム及びマイクロ文字の少なくとも一つを検出する検出手段と、カードの主面及び裏面の少なくとも一つに設けられた磁気コードを読み取る磁気コード読取手段と、検出手段及び前記磁気コード読取手段により検出されたデータに基づきカードが偽造か否かを判定する偽造判定手段と、偽造判定手段による判定結果を出力する出力手段と、端末本体を覆う本体カバーと、本体カバーの開閉を検知するカバー検知センサと、カバー検知センサが、本体カバーが前記端末本体から取り外されたことを検知した場合に、検出手段、磁気コード読取手段、偽造判定手段としての機能の少なくとも一つを停止させる機能停止制御手段とを備えてなる。
【手続補正書】
【提出日】平成16年3月25日(2004.3.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（Ａ）活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物、（Ｂ）多環型の脂環式基とヒドロキシ基を有する樹脂、及び（Ｃ）環状イミド化合物を含有することを特徴とするネガ型レジスト組成物。
【請求項２】
（Ｃ）成分が、下記一般式（Ｉ）、（II）、及び(III）で表される化合物からなる群から選択される少なくとも１種の環状イミド化合物であることを特徴とする請求項１に記載のネガ型レジスト組成物。
【化１】
1999258801.tif 000001
一般式（Ｉ）、（II）、及び（III）中；
Ａは、ヘテロ原子を含んでいてもよく、また置換基を有していてもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基、シクロアルキレン基又はシクロアルケニレン基を表す。
Ｂは、ヘテロ原子を含んでいてもよく、また置換基を有していてもよい、３価のアルキレン基、アルケニレン基、シクロアルキレン基又はシクロアルケニレン基を表す。
Ｚ1は、水素原子、−ＯＨ、−Ｏ−Ｒ1、−Ｏ−ＳＯ2−Ｒ2、−Ｏ−ＣＯ−Ｒ3、−Ｏ−ＣＯ−Ｏ−Ｒ4、又は−Ｏ−ＣＯ−ＮＨ−Ｒ5を表す。ここで、Ｒ1〜Ｒ5は、各々独立に置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基を表す。
Ｚ2は、置換基を有していてもよい、（ｍ＋１）価のアルキレン基、アルケニレン基あるいはシクロアルキレン基、−Ｏ−Ｒ6（−Ｏ−）ｍ、
−Ｏ−ＳＯ2−Ｒ7（−ＳＯ2−Ｏ−）ｍ、
−Ｏ−ＣＯ−Ｒ8（−ＣＯ−Ｏ−）ｍ、
−Ｏ−ＣＯ−Ｏ−Ｒ9（−Ｏ−ＣＯ−Ｏ−）ｍ、又は
−Ｏ−ＣＯ−ＮＨ−Ｒ10（−ＮＨ−ＣＯ−Ｏ−）ｍを表す。
ここで、Ｒ6〜Ｒ10は、各々独立に置換基を有していてもよい、（ｍ＋１）価のアルキレン基又はシクロアルキレン基を表す。
Ｚ3は、置換基を有していてもよい、ｎ価のアルキレン基、アルケニレン基又はシクロアルキレン基を表す。
ｍは１以上の整数を表す。ｎは２以上の整数を表す。
また一般式(III）の複数のＢとＺ3が２箇所以上で結合して３〜１０個の炭素原子、ヘテロ原子から成る環構造を形成してもよい。
【請求項３】
（Ｂ）成分の樹脂が、更にカルボキシ基を有する樹脂であることを特徴とする請求項１又は２に記載のネガ型レジスト組成物。
【請求項４】
（Ｂ）成分の樹脂が、一般式（IV）、（Ｖ）、及び（VI）で表される多環型の脂環式基を有する繰り返し構造単位からなる群から選択される少なくとも１種の構造単位と、ヒドロキシ基を有することを特徴とする請求項１〜３のいずかに記載のネガ型レジスト組成物。
【化２】
1999258801.tif 000002
一般式（IV）〜（VI）中；
Ｒ11、Ｒ12、Ｒ14〜Ｒ16は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、アルキル基又はハロアルキル基を表す。
Ｒ13は、シアノ基、−ＣＯ−ＯＲ17又は−ＣＯ−ＮＲ18Ｒ19を表す。
Ｘ1〜Ｘ3は、各々独立に、単結合、もしくは−Ｏ−、−ＳＯ2−、−Ｏ−ＣＯ−Ｒ20−、−ＣＯ−Ｏ−Ｒ21−、−ＣＯ−ＮＲ22−Ｒ23−、置換基を有していてもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基、シクロアルキレン基の単独もしくはこれを２つ以上組み合わせた２価の基を表す。
Ｙは、多環型の脂環式基を表す。
Ｒ17は、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。Ｒ18〜Ｒ19、Ｒ22は、各々独立に、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。Ｒ18とＲ19が結合して環を形成してもよい。Ｒ20、Ｒ21、Ｒ23は、各々独立に、単結合、又はエーテル基、エステル基、アミド基、ウレタン基、ウレイド基を有してもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基あるいはシクロアルキレン基を表す。
【請求項５】
（Ｂ）成分の樹脂が、下記一般式（VII）、（VIII）及び（IX）で表されるヒドロキシ基を有する繰り返し構造単位からなる群の少なくとも１種の構造単位を含有する樹脂であることを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物。
【化３】
1999258801.tif 000003
一般式（VII ）〜（IX）中；
Ｒ24、Ｒ25、Ｒ27〜Ｒ29は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、アルキル基又はハロアルキル基を表す。
Ｒ26は、シアノ基、−ＣＯ−ＯＲ30、−ＣＯ−ＮＲ31Ｒ32を表す。
Ｘ4〜Ｘ6は、各々独立に、単結合、あるいは−ＣＯ−Ｒ33−、−ＣＯ−Ｏ−Ｒ34−、−ＣＯ−ＮＲ35−Ｒ36−、置換基を有していてもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基、シクロアルキレン基の単独もしくはこれを２つ以上組み合わせた２価の基を表す。
ここで、Ｒ30は、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。Ｒ31、Ｒ32、Ｒ35は、各々独立に、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。またＲ31とＲ32が結合して環を形成してもよい。Ｒ33、Ｒ34、Ｒ36は、単結合、あるいはエーテル基、エステル基、アミド基、ウレタン基、ウレイド基を有してもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基又はシクロアルキレン基を表す。
【請求項６】
（Ｂ）成分の樹脂が、一般式（Ｘ）、（XI）、及び（XII）で表されるカルボキシ基を有する繰り返し構造単位からなる群から選択される少なくとも１種の構造単位を含有する樹脂であることを特徴とする請求項１〜５のネガ型レジスト組成物。
【化４】
1999258801.tif 000004
一般式（Ｘ）〜（XII）中；
Ｒ37、Ｒ38、Ｒ40〜Ｒ42は、各々独立に、水素原子、ハロゲン原子、シアノ基、アルキル基又はハロアルキル基を表す。
Ｒ39は、シアノ基、−ＣＯ−ＯＲ43、−ＣＯ−ＮＲ44Ｒ45を表す。
Ｘ7〜Ｘ9は、各々独立に、単結合、あるいは−ＣＯ−Ｒ46−、−ＣＯ−Ｏ−Ｒ47−、−ＣＯ−ＮＲ48−Ｒ49−、置換基を有していてもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基、シクロアルキレン基の単独もしくはこれを２つ以上組み合わせた２価の基を表す。
ここで、Ｒ43は、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。Ｒ44、Ｒ45、Ｒ48は、各々独立に、水素原子、置換基を有していてもよい、アルキル基、シクロアルキル基又はアルケニル基を表す。またＲ44とＲ45が結合して環を形成してもよい。Ｒ46、Ｒ47、Ｒ49は、各々独立に、単結合、あるいはエーテル基、エステル基、アミド基、ウレタン基、ウレイド基を有してもよい、２価のアルキレン基、アルケニレン基又はシクロアルキレン基を表す。
【請求項７】
露光光源として、２２０ｎｍ以下の波長の遠紫外光が使用されることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれかに記載のネガ型レジスト組成物によりレジスト膜を形成し、当該レジスト膜を露光、現像することを特徴とするパターン形成方法。
【手続補正書】
【提出日】平成16年8月25日(2004.8.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（ａ）所定箇所にトナー補給口が形成された外側体と、
（ｂ）該外側体内において、外側体と摺動自在に、かつ、相対的に移動自在に配設され、前記トナー補給口に対応させてトナー補給口が形成された内側体と、
（ｃ）前記外側体内に配設され、前記内側体の移動に伴って移動させられ、回収されたトナーを収容する回収トナー収容室を形成する区画体とを有することを特徴とするトナーカートリッジ。
【請求項２】
前記区画体は前記各トナー補給口の位相が一致させられる直前に移動させられる請求項１に記載のトナーカートリッジ。
【請求項３】
（ａ）トナーカートリッジ本体と、
（ｂ）該トナーカートリッジ本体の一端の周縁を密封する蓋とを有するとともに、
（ｃ）該蓋に、回収されたトナーを収容する回収トナー収容室が形成されることを特徴とするトナーカートリッジ。
【請求項４】
（ａ）所定箇所にトナー補給口が形成された外側体と、
（ｂ）該外側体内において、外側体と摺動自在に、かつ、相対的に移動自在に配設され、前記トナー補給口に対応させてトナー補給口が形成された内側体と、
（ｃ）該内側体内において回転自在に配設された攪拌部材とを有するとともに、
（ｄ）該攪拌部材内に、回収されたトナーを収容する回収トナー収容室が形成されることを特徴とするトナーカートリッジ。
【請求項５】
（ａ）所定箇所にトナー補給口が形成された外側体と、
（ｂ）該外側体内において、外側体と摺動自在に、かつ、相対的に移動自在に配設され、前記トナー補給口に対応させてトナー補給口が形成された内側体と、
（ｃ）前記外側体内に配設され、回収されたトナーを収容する回収トナー回収室を形成する区画体とを有するとともに、
（ｄ）該区画体は、前記トナー補給口からのトナー補給方向とは異なる方向に移動可能に配設されることを特徴とするトナーカートリッジ。
【請求項６】
（ａ）感光体に沿って形成され、除去されたトナーを収容するトナー収容部と、
（ｂ）該トナー収容部内に配設され、除去されたトナーを印刷プロセスカートリッジの側部に向けて搬送する第１の搬送手段と、
（ｃ）トナーカートリッジに隣接させて配設され、除去されたトナーを回収するためのトナー回収部と、
（ｄ）前記トナー回収部内の除去されたトナーをトナー回収部に送る第２の搬送手段とを有することを特徴とするトナー回収装置。
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月8日(2005.3.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズの像面側に設けたフィールドレンズと、２次結像系と、複数の素子より成る画素列を複数有する光電変換素子とを有し、該フィールドレンズと該２次結像系とにより該対物レンズの瞳の異なる領域を通過した光束を用いて被写体像に関する複数の光量分布を該光電変換素子上に形成し、該光電変換素子からの信号を用いて、撮影視野内の該対物レンズの光軸付近の第１領域と、それより該対物レンズの光軸から離れた第２領域とを含む複数の領域で該対物レンズの合焦状態を求めることが可能な焦点検出装置であって、該フィールドレンズは、該第１領域に対応し、かつ該対物レンズの光軸と略一致した光軸を有する第１フィールドレンズ部と、該第２領域に対応した第２フィールドレンズ部とを有し、該第１，第２フィールドレンズ部の焦点距離を各々ｆ１，ｆ２としたとき、
ｆ１＜ｆ２
なる条件を満足することを特徴とする焦点検出装置。
【請求項２】
前記第２フィールドレンズ部の光軸と前記第１フィールドレンズの光軸部は一致していないことを特徴とする請求項１の焦点検出装置。
【請求項３】
前記第２フィールドレンズ部の光軸を前記第１フィールドレンズ部の光軸に対して前記第２領域の反対側に設定していることを特徴とする請求項２の焦点検出装置。
【請求項４】
対物レンズと、該対物レンズの合焦状態を検出可能な請求項１〜３の何れか１項記載の焦点検出装置とを有することを特徴とする光学機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明の焦点検出装置は、対物レンズの像面側に設けたフィールドレンズと、２次結像系と、複数の素子より成る画素列を複数有する光電変換素子とを有し、該フィールドレンズと該２次結像系とにより該対物レンズの瞳の異なる領域を通過した光束を用いて被写体像に関する複数の光量分布を該光電変換素子上に形成し、該光電変換素子からの信号を用いて、撮影視野内の該対物レンズの光軸付近の第１領域と、それより該対物レンズの光軸から離れた第２領域とを含む複数の領域で該対物レンズの合焦状態を求めることが可能な焦点検出装置であって、該フィールドレンズは、該第１領域に対応し、かつ該対物レンズの光軸と略一致した光軸を有する第１フィールドレンズ部と、該第２領域に対応した第２フィールドレンズ部とを有し、該第１，第２フィールドレンズ部の焦点距離を各々ｆ１，ｆ２としたとき、
ｆ１＜ｆ２
なる条件を満足することを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記第２フィールドレンズ部の光軸と前記第１フィールドレンズの光軸部は一致していないことを特徴としている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
請求項３の発明は、請求項２の発明において、前記第２フィールドレンズ部の光軸を前記第１フィールドレンズ部の光軸に対して前記第２領域の反対側に設定していることを特徴としている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
請求項４の発明の光学機器は、対物レンズと、該対物レンズの合焦状態を検出可能な請求項１〜３の何れか１項記載の焦点検出装置とを有することを特徴としている。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月10日(2005.3.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導光板の光出射面から面状に光を出射させるバックライト光源と、
バックライト光源から出射された光を、波長の異なる光束毎に異なる光軸方向の光となるように色分離させる色分離手段と、
開口を有する画素を２次元的に配列させた液晶表示パネルと、
レンズを２次元的に配列させた２枚のレンズアレイとを備え、
光出射側のレンズアレイの焦点距離だけ離間させ、かつ、それぞれのレンズを１対１に対応させて、前記２枚のレンズアレイを液晶表示パネルの両側に配置し、
光入射側のレンズアレイの各レンズによって、入射光を画像表示装置の画素部分に集光させ、入射光の光軸方向にかかわらず出射光の光軸方向が平行となるよう、光出射側のレンズアレイの各レンズによって光軸を変換するようにしたことを特徴とする画像表示装置。
【請求項２】
導光板の光出射面から面状に光を出射させるバックライト光源と、
バックライト光源から出射された光を、波長の異なる光束毎に異なる光軸方向の光となるように色分離させる色分離手段と、
開口を有する画素を２次元的に配列させた液晶表示パネルと、
レンズを２次元的に配列させた２枚のレンズアレイとを備え、
液晶表示パネルに近い側のレンズアレイの焦点距離だけ離間させ、かつ、それぞれのレンズを１対１に対応させて、前記２枚のレンズアレイを液晶表示パネルよりも光入射側に配置し、
両レンズアレイの各レンズによって、入射光を画像表示装置の画素部分に集光させ、入射光の光軸方向にかかわらず出射光の光軸方向が平行となるよう、液晶表示パネルに近い側のレンズアレイの各レンズによって光軸を変換するようにしたことを特徴とする画像表示装置。
【請求項３】
光源と、
開口を有する画素を２次元的に配列させた液晶表示パネルと、
第１マイクロレンズを複数個有する第１マイクロレンズアレイと、
前記第１マイクロレンズと１対１に対応する第２マイクロレンズを複数個有する第２マイクロレンズアレイとを備え、
前記第２マイクロレンズアレイは前記液晶表示パネルに対向して配置され、
前記第１マイクロレンズアレイの主平面と前記第２マイクロレンズアレイの主平面の距離は、前記第２マイクロレンズアレイの焦点距離と等しくなるように定められ、
前記光源からの出射光が前記第１マイクロレンズアレイ及び前記第２マイクロレンズアレイを介して前記画素を通過するように、前記第１マイクロレンズアレイ及び前記第２マイクロレンズアレイの焦点距離を定めたことを特徴とする画像表示装置。
【請求項４】
前記第２マイクロレンズは、それぞれ前記液晶表示パネルの赤色、緑色、青色の３画素を含む領域に対応して配置されていることを特徴とする、請求項３に記載の画像表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
請求項１及び請求項２の画像表示装置にあっては、色分離手段によって分離された光をマイクロレンズアレイで液晶表示パネルの異なる画素に集光させることによって画像表示装置をカラー表示可能にしている。また、一方のマイクロレンズアレイによって、出射される各色の光の光軸方向が平行となるようにしているので、見る方向によって画像の色が異なって見えることがなくなり、画像の色再現性が良好となって画像表示装置の画質を向上させることができる。
また、請求項３に記載の画像表示装置は、光源と、開口を有する画素を２次元的に配列させた液晶表示パネルと、第１マイクロレンズを複数個有する第１マイクロレンズアレイと、前記第１マイクロレンズと１対１に対応する第２マイクロレンズを複数個有する第２マイクロレンズアレイとを備え、前記第２マイクロレンズアレイは前記液晶表示パネルに対向して配置され、前記第１マイクロレンズアレイの主平面と前記第２マイクロレンズアレイの主平面の距離は、前記第２マイクロレンズアレイの焦点距離と等しくなるように定められ、前記光源からの出射光が前記第１マイクロレンズアレイ及び前記第２マイクロレンズアレイを介して前記画素を通過するように、前記第１マイクロレンズアレイ及び前記第２マイクロレンズアレイの焦点距離を定めたことを特徴としている。
請求項４に記載の実施態様は、請求項３に記載の画像表示装置における前記第２マイクロレンズが、それぞれ前記液晶表示パネルの赤色、緑色、青色の３画素を含む領域に対応して配置されていることを特徴としている。
請求項３及び請求項４の画像表示装置にあっては、光源から出射され第１のマイクロレンズアレイに異なる方向から入射する光を第１及び第２マイクロレンズアレイで液晶表示パネルの異なる画素に集光させることによって画像表示装置をカラー表示可能にする。また、第２マイクロレンズアレイによって、出射される各色の光の光軸方向が平行となるようにしているので、見る方向によって画像の色が異なって見えることがなくなり、画像の色再現性が良好となって画像表示装置の画質を向上させることができる。
【手続補正書】
【提出日】平成16年9月17日(2004.9.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
手振れ補正機能を有する変倍光学系と、前記変倍光学系の通過光束を制限する絞り手段と、を備え、前記絞り手段の開放径を焦点距離に応じて調整することを特徴とする光学装置。
【請求項２】
前記絞り手段は、望遠端側で、軸上光束を制限することを特徴とする請求項１に記載の光学装置。
【請求項３】
前記絞り手段は、主絞り、および、前記主絞りに近接して設けられた副絞りを有し、前記副絞りが軸上光束を制限することを特徴とする請求項１または２に記載の光学装置。
【請求項４】
光軸に対して垂直にシフト可能なレンズ群を有し、前記レンズ群のシフト量を前記変倍光学系の位置情報に基づいて補正して、前記変倍光学系の傾きによる像の動きを前記レンズ群をシフトさせることでキャンセルすることを特徴とする請求項１〜３にいずれか１つに記載の光学装置。
【請求項５】
手振れ補正を行わない時には、前記絞り手段による光束制限を中止することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１つに記載の光学装置。
【請求項６】
望遠端側での前記絞り手段の開放径は、広角端側での前記絞り手段の開放径より小さいことを特徴とする請求項１〜５のいずれか１つに記載の光学装置。
【請求項７】
レンズ系において、手振れ補正手段と、光路上に配置された絞り手段と、前記手振れ補正手段により手振れを補正した際に生じる像面での明るさ変動を小さくするように、前記絞り手段の開放径を調整する手段と、を備えることを特徴とするレンズ系。
【請求項８】
請求項７に記載のレンズ系を備えることを特徴とする光学装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明の光学装置は、手振れ補正機能を有する変倍光学系と、前記変倍光学系の通過光束を制限する絞り手段と、を備え、前記絞り手段の開放径を焦点距離に応じて調整することを特徴としている。
請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記絞り手段は、望遠端側で、軸上光束を制限することを特徴としている。
請求項３の発明は、請求項１又は２の発明において、前記絞り手段は、主絞り、および、前記主絞りに近接して設けられた副絞りを有し、前記副絞りが軸上光束を制限することを特徴としている。
請求項４の発明は、請求項１〜３のいずれか１項の発明において、光軸に対して垂直にシフト可能なレンズ群を有し、前記レンズ群のシフト量を前記変倍光学系の位置情報に基づいて補正して、前記変倍光学系の傾きによる像の動きを前記レンズ群をシフトさせることでキャンセルすることを特徴としている。
請求項５の発明は、請求項１〜４のいずれか1項の発明において、手振れ補正を行わない時には、前記絞り手段による光束制限を中止することを特徴としている。
請求項６の発明は、請求項１〜５のいずれか１項の発明において、望遠端側での前記絞り手段の開放径は、広角端側での前記絞り手段の開放径より小さいことを特徴としている。
請求項７の発明のレンズ系は、レンズ系において、手振れ補正手段と、光路上に配置された絞り手段と、前記手振れ補正手段により手振れを補正した際に生じる像面での明るさ変動を小さくするように、前記絞り手段の開放径を調整する手段と、を備えることを特徴としている。
請求項８の発明の光学装置は、請求項７に記載のレンズ系を備えることを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
これについて図３で更に説明する。図３で横軸は結像位置、縦軸は明るさを表している、実線ｃは図１のピント面６上の光量分布、２点鎖線ｄは絞り５を、軸上光束ａを遮らない位置まで開いたときの光量分布である。また、破線ｅは図１での絞り５の開放径を通過する分だけの軸上光束だけを通す大きさにレンズ群１の直径を小さくした場合の光量分布である。すなわち、レンズ群１の直径を大きくして、軸上および軸外の光束をたくさん入れておいて、少なくとも軸上光束を絞り５によって制限することで、画面中央部と周辺部との明るさの差が軽減されている。  図４は実際に手振れ補正を行なったときの光量分布の変動を示しており、ｃ’とｃ”およびｄ’とｄ”は図３のｃおよびｄの絞り５の状態での光量分布変動であり、特に画面周辺での明るさの変動は、明るさ変動１および明るさ変動２で示すように絞り５の開放径を制限（調整）することにより大きく改善されているのがわかる。このように本実施例では、手振れ補正手段で手振れを補正したときに生ずる像面の明るさの変動が小さくなるように絞り５の開放径を調整している。
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月10日(2005.3.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
集束イオンビームを試料片に照射する照射光学系と、
上記集束イオンビームの照射によって発生する二次粒子を検出する二次粒子検出手段と、
上記集束イオンビームの照射領域にデポジション膜を形成する原料ガスを供給するデポガス源と、
上記試料片の一部を分離した摘出試料を移送する移送手段と、
上記試料片と上記摘出試料とを載置するサイドエントリ型の試料ステージとを備えることを特徴とする試料作製装置。
【請求項２】
請求項１に記載の試料作製装置において、
上記試料ステージは、
上記試料片を載置する試料片設置部と、
上記摘出試料を固定する試料ホルダを設置する試料ホルダ設置部とを有することを特徴とする試料作製装置。
【請求項３】
請求項１または２記載の試料作製装置において、
上記試料ステージを設置する試料室を備え、
該試料室は真空環境下にあることを特徴とする試料作製装置。
【請求項４】
請求項２に記載の試料作製装置において、
上記試料片設置部は上記試料片を載置する少なくとも１つの試料カセットを有し、
該試料カセットは上記試料片設置部より着脱可能であることを特徴とする試料作製装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載の試料作製装置において、
上記試料ステージは上記試料片設置部を複数個有することを特徴とする試料作製装置。
【請求項６】
請求項１から５のいずれかに記載の試料作製装置において、
上記試料ステージの移動を制御するステージ制御手段を備えることを特徴とする試料作製装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれかに記載の試料作製装置において、
上記試料ステージは、他の分析手段、観察手段または加工手段と兼用可能であることを特徴とする試料作製装置。
【請求項８】
請求項７記載の試料作製装置において、
上記分析手段、観察手段または加工手段が、集束イオンビーム装置，透過型電子顕微鏡，走査型電子顕微鏡，走査プローブ顕微鏡，オージェ電子分光分析装置，電子プローブＸ線微小分析装置，電子エネルギ欠損分析装置，二次イオン質量分析装置，二次中性粒子イオン化質量分析装置，Ｘ線光電子分光分析装置、または、プローブを用いた電気計測のうちのいずれかであることを特徴とする試料作製装置。
【請求項９】
請求項２に記載の試料作製装置において、
上記試料ホルダに識別記号を備えることを特徴とする試料作製装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の試料作製装置において、
上記識別記号はFIBもしくはレーザによって作製したことを特徴とする試料作製装置。
【請求項１１】
集束イオンビームを試料片に照射する照射光学系と、
上記集束イオンビームの照射によって発生する二次粒子を検出する二次粒子検出手段と、
上記集束イオンビームの照射領域にデポジション膜を形成するガスを供給するデポガス源と、
試料片を載置する試料ステージと、
上記集束イオンビームを上記試料片に照射して加工された上記試料片の一部を分離した摘出試料を摘出して移送する手段とを有し、
上記試料ステージは、
上記摘出試料を固定する少なくとも１つの試料ホルダを備え、
該試料ホルダは、上記摘出試料を識別する識別記号を備えることを特徴とする試料作製装置。
【請求項１２】
サイドエントリ方式の試料ステージに搭載した試料片を真空試料室内における集束イオンビームの照射によって加工する工程と、
上記集束イオンビームの照射によって上記試料片の一部を分離した試料を摘出する工程と、
上記摘出された試料を上記試料ステージに固定して所望の分析手段、観察手段または計測手段に好適な形状に加工する工程と、
上記加工された試料を上記試料ステージに固定した状態で、所望の分析、観察または計測による解析を行う工程とを有することを特徴とする試料解析方法。
【請求項１３】
請求項１２に記載の試料解析方法において、
上記真空試料室内における、上記試料片より分離した上記試料の摘出及び移送は、移送手段によって行われることを特徴とする試料解析方法。
【請求項１４】
サイドエントリ方式の試料ステージを試料作製装置に挿入する工程と、
上記試料ステージに搭載した試料片を集束イオンビームによって加工する工程と、
上記加工された試料片の一部の摘出試料を移送手段によって摘出する工程と、
上記摘出試料を上記移送手段によって上記試料ステージ上の試料ホルダに移設する工程と、
上記摘出試料を集束イオンビームによって所望の分析手段，観察手段または計測手段に好適な試料形状に加工を施す工程と、
上記試料ステージを上記試料作製装置から引き抜いて、上記試料ステージを上記分析手段，観察手段または計測手段に挿入する工程とを有することを特徴とする試料解析方法。
【請求項１５】
請求項１４に記載の試料解析方法において、
上記分析手段，観察手段または計測手段は、
透過型電子顕微鏡，走査型電子顕微鏡，走査プローブ顕微鏡，オージェ電子分光分析装置，電子プローブＸ線微小分析装置，電子エネルギ欠損分析装置，二次イオン質量分析装置，二次中性粒子イオン化質量分析装置，Ｘ線光電子分光分析装置、または、プローブを用いた電気計測のうちのいずれかであることを特徴とする試料解析方法。
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月8日(2005.3.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８４】
図２２において、光源１から発した発散光束は発光素子１ａの発光中心と曲面２Ａの曲率中心とを結んだ線（第１の軸、以下法線Ｌｎという）を回転対称軸とする（曲面が非球面等の場合は第１の軸はそれの回転対称軸であり、この場合この軸上に発生中心がある）第１曲面２Ａにより理想的な平行光束に変換され光学素子２部材内を進行し、光学素子２の第２曲面２Ｂへ到達し、集束波面変換され光学スケール３の第１領域３ａへ入射し、複数の光束（ここでは３つの光束）に回折し、偏向されて凹面ミラー４面上もしくはその近傍で集光する。その後凹面ミラー４にて反射した光束は発散光束にて再び光学スケール３の第２領域３ｂに入射し、光学素子２の第３曲面２Ｃへ到達する。ここで発散光束は第３曲面２Ｃにより略平行光束となって光学素子２部材内を進行し、受光素子５ｃの受光部の中心位置と第４曲面２Ｄの曲率中心とを結んだ線（第２の軸、以下法線Ｐｎという）を、回転対称軸とする（曲面が非球面等の場合は第２の軸はそれの回転対称軸であり、この場合この軸上に発生中心がある）第４曲面２Ｄへ入射し、この曲面にて集束光束へ変換されて３つの光束のうち１つの光束は受光素子５ｃへ入射する。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８９】
図１３は本発明の実施形態２の要部概略図である。本実施形態は図１〜図１２に示した実施形態１に比べて、
・光源１からの光束をレンズ系２によって平行光束として光学スケール３の第１領域３ａに入射させていること。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９３】
図１４は本発明の実施形態３の要部概略図である。本実施形態は図１〜図１２に示した実施形態１に比べて、
・光源１からの光束をレンズ系２によって集光させて光学スケール３の第１領域３ａに入射させるとき凹面ミラー４の焦点位置４ｃに集光するようにしていること。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９７】
図１５は本発明の実施形態４の要部概略図、図１６は図１５の一部分の拡大斜視図である。本実施形態は図１〜図１２に示した実施形態１に比べて、
・光源１からの光束をレンズ系２によって平行光束として光学スケール３の第１領域３ａに入射させていること。
・第１領域３ａの格子部で回折された０次光と±ｎ次回折光の平行光を各々平面ミラー４１，４２，４３で反射させて、光学スケール３の第２領域３に入射させて、その面上に干渉縞を形成していること。
の点が異なっているだけであり、その他の構成は同じである。