(57)【要約】  所定の電波信号を受信して反応するＲＦＩＤタグＴ１の幅以上の幅を有する、外部からその電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、その第１導体板に対向する第２導体板とを有し、その電気信号が有する電力に応じた出力で電波信号を発信する、上記第１導体板の、上記第２導体板に対向する対向面とは反対側にＲＦＩＤタグＴ１が配置されるストリップラインセル１００と、ストリップラインセル１００の第１導体板に電気信号を供給するリーダライタ２０と、ＲＦＩＤタグＴ１における反応の有無を確認するコンピュータ３０とを備えた。
2008065760.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルと、
前記ストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給部と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認部とを備えたことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記供給部によって前記ストリップラインセルに供給された電気信号が有する電力を、所定のアンテナが所定の出力で前記電波信号を発信して前記電子装置が受信する状況における該アンテナと該電子装置との距離に、既定の換算関係に従って換算する換算部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
前記供給部が、互いに異なる電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項４】
前記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の前記電子装置を搬送して前記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して前記各電気信号が順次に供給されている途中で該電子装置が反応した場合、および前記各電気信号が最後まで供給された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項５】
前記ストリップラインセルが、前記電気信号の周波数と同じ周波数の電波信号を発信するものであり、
前記供給部が、互いに異なる電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給する処理を、所定の周波数範囲に亘る各周波数について実行するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項６】
前記ストリップラインセルが、前記電気信号の周波数と同じ周波数の電波信号を発信するものであり、
前記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給する処理を、所定の周波数範囲に亘る各周波数について実行するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の前記電子装置を搬送して前記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して、前記各電気信号の供給が前記周波数範囲の最後の周波数まで実行された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項７】
この試験装置が、各々に前記電子装置が配置される複数のストリップラインセルを備えるものであり、
前記供給部が、前記複数のストリップラインセルそれぞれに向けて互いに異なるタイミングで前記電気信号を供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項８】
この試験装置が、各々に前記電子装置が配置される複数のストリップラインセルからなる組を複数備えるものであり、
前記供給部が、前記複数組それぞれに対応した複数の供給機を有し、各供給機によって各組をなす複数のストリップラインセルそれぞれに向けて互いに異なるタイミングで前記電気信号を供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項９】
前記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、前記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
前記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが、互いに所定間隔を空けて配備された、各々に前記電子装置が配置されるものであり、
前記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
前記２つのストリップラインセルの配列に沿って前記電子装置を前記所定間隔ずつ搬送することでそれら２つのストリップラインセルに対して該電子装置を順次に配置する搬送部とを備え、
前記供給部が、前記２つのストリップラインセルのうち先に前記電子装置が配置される第１ストリップラインセルに向けて前記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、該第１電波信号について前記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を、前記２つのストリップラインセルのうち後に前記電子装置が配置される第２ストリップラインセルに向けて、該識別情報で識別される電子装置がその第２ストリップラインセルに対して配置されるタイミングで供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１０】
前記搬送部が、前記所定間隔ずつの搬送に替えて、前記所定間隔の整数分の１に相当する間隔ずつ搬送することで前記２つのストリップラインセルに対して前記電子装置を順次に配置するものであり、
前記識別情報取得部が、前記搬送部によって前記２つのストリップラインセルの一方から他方へと前記電子装置が移動するための搬送回数と同じ数の情報を先入れ先出し方式で格納するＦＩＦＯメモリを有し、前記供給部が前記第１電気信号を前記第１ストリップラインセルに向けて供給する度に該ＦＩＦＯメモリに、前記電子装置から出力された識別情報を格納するものであり、
前記供給部は、前記第１電気信号の供給と、前記ＦＩＦＯメモリからの情報入手と、その入手した情報に基づいた前記第２電気信号の供給とを順次に繰り返すものであることを特徴とする請求項９記載の試験装置。
【請求項１１】
前記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、前記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
前記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが各々に前記電子装置が配置されるものであり、
前記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
前記２つのストリップラインセルそれぞれに対して該電子装置を配置する搬送部と、
前記２つのストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに供給される電気信号を所定程度に減衰させて、それら２つのストリップラインセルのうちの他方である第２ストリップラインセルに伝える減衰部とを備え、
前記供給部が、前記第１ストリップラインセルに向けて前記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、該第１ストリップラインセルと前記減衰部とを介して前記第２ストリップラインセルに、前記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１２】
前記供給部と前記ストリップラインセルとの間に介在し、該供給部が供給する前記電気信号の電力を、所定の操作に応じた電力に変換し、電力変換後の該電気信号を前記ストリップラインセルに伝える伝達部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１３】
前記伝達部が、所定のアンテナが所定の出力で前記電波信号を発信して前記電子装置が受信する状況における該アンテナと該電子装置との距離を表わす、互いに異なる距離を表わす複数の目盛を有し、所定の操作子が該複数の目盛のうちのいずれかの目盛に設定されると、前記供給部が供給する前記電気信号の電力を、前記状況において、その設定された目盛が表わす距離における電波信号の出力と同等の出力の電波信号を前記ストリップラインセルで発信するのに必要な電力に変換するものであることを特徴とする請求項１２記載の試験装置。
【請求項１４】
この試験装置が、前記ストリップラインセルを２つ備えるものであり、
前記伝達部が、２つの前記ストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに前記電気信号を伝えるものであり、
前記第１ストリップラインセルに伝えられた電気信号を所定の操作に応じた程度に減衰させ、２つの前記ストリップラインセルのうちの第２ストリップラインセルに伝える第２伝達部を備えたことを特徴とする請求項１２記載の試験装置。
【請求項１５】
前記ストリップラインセルが、前記第１導体板と前記第２導体板との間隔が、該第１導体板の幅の１／５以下の間隔のものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１６】
前記ストリップラインセルが、前記第１導体板として、前記電波信号の波長の半分以下の長さの導体板を有するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１７】
前記ストリップラインセルが、前記電波信号が透過する板状の、表裏面のうちの一方の面に前記電子装置が載置される、該一方の面に対する他方の面が前記第１導体板に接する載置板を有するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１８】
前記ストリップラインセルが、前記第１導体板の前記対向面とは反対側を所定範囲を除いて覆うことで、該第１導体板から発せられた電波の量と方向を、それぞれ所定量と所定方向に制限する遮蔽部を有するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１９】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給過程と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有したことを特徴とする試験方法。
【請求項２０】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置を作成する作成工程；および、
前記電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給過程と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有した試験工程を有することを特徴とする製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の性能試験を行う試験装置、そのような性能試験の試験方法、そのような試験方法を工程として含む電子装置の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、リーダライタに代表される外部機器との間で、電波によって非接触で情報のやり取りを行う種々のタイプのＲＦＩＤ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ：無線自動識別）タグが注目されている。このＲＦＩＤタグの一種として、プラスチックや紙からなるベースシート上に電波通信用のアンテナパターンとＩＣチップが搭載された構成のものが提案されている。このようなタイプのＲＦＩＤタグについては、物品などに貼り付けられ、その物品に関する情報を外部機器とやり取りすることで物品の識別などを行うという利用形態が考えられ、例えば、農業、漁業、製造業、物流、サービス、医療、福祉、公共、行政、交通、運輸など、あらゆる分野でＲＦＩＤタグを利用したシステムが実用化され、あるいは検討されている。【０００３】
このようなＲＦＩＤタグの開発時や製造時には、ＲＦＩＤタグの主要な性能の１つである、無線通信性能についての性能試験が行なわれる。従来、このような試験では、ＲＦＩＤタグの通信状態を模擬するために所定のアンテナからＲＦＩＤタグに向けて電波を照射する等といった作業が行われる。ここで、例えばＲＦＩＤタグの製造現場等でこのような作業が行われると、試験時にアンテナを発して試験エリアの周辺に伝播した電波が、製造現場等における周辺装置の動作に影響を与えたり、試験対象以外のＲＦＩＤタグに誤って照射されてしまったりするといった不具合が生じるおそれがある。また、伝播先で反射されて戻ってくる反射波が試験エリア内の電波と干渉して正確な試験が行なえなくなってしまう等といったおそれもある。これらのような事態を回避するために、従来、電波を扱う試験では、例えば電波暗室等といった特殊な試験環境が必要とされている。その結果、ＲＦＩＤタグの開発時や製造時に無線通信性能についての性能試験を行う際には、試験対象のＲＦＩＤタグを電波暗室等に移動させねばならず、このことがＲＦＩＤタグの開発や製造の効率化を妨げる一因になっている。【０００４】
また、製造の効率化を無理にでも図るために、製造ラインで製造中のＲＦＩＤタグを電波暗室等に移動させることなくライン上で性能試験を実行することも行われてはいるが、このよう場合や、あるいは電波暗室等をどうしても用意することができない場合等には、周辺への影響等を極力抑えるために、アンテナからの電波の出力をなるべく抑えた試験が行なわれており、性能試験としては十分とはいい難いのが実情である。【０００５】
ところで、ＲＦＩＤタグには、無線通信で外部とやり取りされる情報等が記憶されるメモリが搭載されており、ＲＦＩＤタグの製造時や、あるいはＲＦＩＤタグを利用したシステムの構築時等に、このメモリへの情報の書込みや、メモリ内の情報の確認等が行われる。このような情報の書込みや確認も無線通信で行われるが、複数のＲＦＩＤタグを所定の搬送ラインに沿って搬送しながら各ＲＦＩＤタグに対して情報の書込みや確認を順次に行うと共に、あるＲＦＩＤタグに対する情報の書込みや確認時の通信用の電波が、他のＲＦＩＤタグに影響を与えないように、情報の書込みや確認が行われるエリアを簡易的なシールドで覆うという技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。このような技術を、上記の性能試験に応用すれば、ある程度までは電波暗室等を使わずに通信性能の試験が可能となる。
【特許文献１】特開２００５−２２２２０６号公報
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示されている技術では、例えば製造ライン上に構築可能な簡易的なシールドであるとはいえそれなりの大きさのシールドで覆われた環境を必要とする。【０００７】
尚、ここまで、ＲＦＩＤタグの通信性能についての性能試験における問題点について説明したが、上述したような問題点は、例えば無線で信号のやりとりを行う回路基板等といった、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の性能試験について一般的に起こり得るものである。尚、このような電子装置の反応としては、電波信号や電気信号の出力、内部処理の開始や終了等が考えられる。【０００８】
本発明は、上記事情に鑑み、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の通信性能についての十分な性能試験を簡単に行うことができる試験装置と、そのような性能試験を行なうことができる試験方法と、そのような試験方法を工程として含む電子装置の製造方法を提供することを目的とする。
【発明の開示】
【０００９】
上記目的を達成する本発明の試験装置は、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部からその電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、その第１導体板に対向する第２導体板とを有し、その電気信号が有する電力に応じた出力でその電波信号を発信する、上記第１導体板の、上記第２導体板に対向する対向面とは反対側に上記電子装置が配置されるストリップラインセルと、
上記ストリップラインセルの上記第１導体板に上記電気信号を供給する供給部と、
上記電子装置における反応の有無を確認する反応確認部とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
従来、計算上の取り扱いが容易な電波であるＴＥＭ（Ｔｒａｎｓｖｅｒｓｅ  Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ）波を得るための装置としてストリップラインセルが知られている。このストリップラインセルは外部から電気信号が供給される第１導体板と、その第１導体板に対向する第２導体板とを有し、両者で挟まれた空間内に、その電気信号が有する電力に応じた出力でＴＥＭ波を発信する。このＴＥＭ波を使って上記電子装置の通信性能の試験等を行なうこともできるが、そのためには、第１導体板と第２導体板との間に、その試験対象の電子装置を配置するための空間が必要となる。その結果、従来から知られているストリップラインセルは、試験対象の電子装置の周囲に簡易的なシールドを設けたのと大して変わらない大きなものとなってしまっている。ところで、ストリップラインセルを構成する第１導体板の、第２導体板に対向する対向面とは反対側、即ち、ＴＥＭ波が生じる空間とは反対側には、ＴＥＭ波とほぼ同等な準ＴＥＭ波と呼ばれる一種の漏れ電波が生じる。さらに、この準ＴＥＭ波は、第１導体板から離れるに従って急速に減衰し、第１導体板近傍のごく限られたエリア内にしか伝播しない。ここで、今回の発明に当たって、発明者は、この準ＴＥＭ波が、例えばＲＦＩＤタグ等といった電子装置の通信性能の試験等に適していることを見出し、準ＴＥＭ波の限られた伝播エリアが試験エリアとして使用できることを発見した。本発明は、この発見に基づいてなされたものである。本発明の試験装置によれば、この準ＴＥＭ波を使ってこの電子装置についての通信性能の試験を行うことができる。このため、本発明の試験装置における上記ストリップラインセルには、従来のストリップラインセルでは試験対象物を配置するために必要であった空間を上記第１導体板と上記第２導体板の間に設ける必要がなく、その空間の分だけそれらの第１導体板と第２導体板とを近づけて薄型化を図ることができる。さらに、上記ストリップラインセルは、上記第１導体板の幅を典型的には試験対象の電子装置の幅とほぼ同じ幅に構成することも可能であり、試験対象の電子装置とほぼ同サイズにまで小型化することが可能である。さらに、準ＴＥＭ波の伝播エリアが限られていることから上記電波信号が周囲に伝播する恐れがなく、周辺への影響等を回避するための電波暗室はもちろんのこと簡易的なシールド等さえも無しに、試験対象の電子装置をこの準ＴＥＭ波の伝播エリア内に単に配置するだけで試験が可能となる。また、上記電波信号が周囲に伝播する恐れがないので、試験の際に、この電波信号の出力を抑える必要もなく十分な性能試験が可能となる。以上説明したように、本発明の試験装置によれば、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の通信性能についての十分な性能試験を簡単に行うことができる。
【００１１】
ここで、本発明の試験装置において、「上記供給部によって上記ストリップラインセルに供給された電気信号が有する電力を、所定のアンテナが所定の出力で上記電波信号を発信して上記電子装置が受信する状況におけるそのアンテナとその電子装置との距離に、既定の換算関係に従って換算する換算部を備えた」という形態や、
「上記供給部が、互いに異なる電力を有する各電気信号を順次に上記ストリップラインセルに供給するものであり、
上記反応確認部が、上記各電気信号に対する上記電子装置の反応を確認するものである」という形態は好ましい形態である。
【００１２】
これらの好ましい形態の試験装置によれば、上記反応が確認される最小電力を上記アンテナからの距離に換算することでその電子装置の通信限界距離を求める等といった運用が可能となる。
【００１３】
尚、上記の換算関係に従った換算は、例えば上記電力と上記距離とを直接的に対応付ける１つの換算関係に従って上記電力を上記距離に換算するものであっても良い。あるいは、上記電力と上記ストリップラインセルが発信する上記電波信号の出力とを対応付ける換算関係、および上記アンテナからの距離とその距離における電波信号の出力とを対応付ける換算関係という２つの換算関係に従って、上記電力を一旦電波信号の出力に換算し、その換算した出力を上記距離に換算するという２段階の換算を行うものであっても良い。また、上記の１つの換算関係や２つの換算関係は、電磁気学の分野における公知の数式に基づいて求めたものであっても良く、あるいは、次のような一連の計測作業によって求めたものであっても良い。まず、電波暗室又はそれに準ずる環境（以下、電波暗室等と呼ぶ）において、上記アンテナが所定の出力で電波信号を発信したときの、このアンテナからの各距離での電波信号の出力を計測する。次に、上記ストリップラインセルに様々な電力を有する電気信号が供給され様々な出力の電波信号が発信されたときの、各電力に対する電波信号の出力を計測する。このような計測作業を経て、アンテナからの距離と電波信号の出力とを対応付ける換算関係、およびストリップラインセルに向けて供給される電気信号の電力と電波信号の出力とを対応付ける換算関係との２つの換算関係が得られる。さらに、これら２つの換算関係を、電波信号の出力が互いに同等な電力と距離とを結びつけるように結合することで、ストリップラインセルに供給される電気信号の電力を、アンテナからの距離に変換するための１つの換算関係が得られる。
【００１４】
また、本発明の試験装置において、「上記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に上記ストリップラインセルに供給するものであり、
上記反応確認部が、上記各電気信号に対する上記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の上記電子装置を搬送して上記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して上記各電気信号が順次に供給されている途中でその電子装置が反応した場合、および上記各電気信号が最後まで供給された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えた」という形態も好ましい形態である。
【００１５】
この好ましい形態の試験装置によれば、１つの電子装置について試験が終了する度に、次の電子装置が、自動的に試験位置に搬送されるので、複数個の電子装置を効率よく試験することができる。
【００１６】
また、本発明の試験装置において、「上記ストリップラインセルが、上記電気信号の周波数と同じ周波数の電波信号を発信するものであり、
上記供給部が、互いに異なる電力を有する各電気信号を順次に上記ストリップラインセルに供給する処理を、所定の周波数範囲に亘る各周波数について実行するものであり、
上記反応確認部が、上記各電気信号に対する上記電子装置の反応を確認するものである」という形態も好ましい形態である。
【００１７】
この好ましい形態の試験装置によれば、上記電子装置における、上記周波数範囲の各周波数と通信限界距離との対応関係という、その電子装置の周波数特性を簡単に得ることができる。
【００１８】
また、本発明の試験装置において、「上記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に上記ストリップラインセルに供給する処理を、所定の周波数範囲に亘る各周波数について実行するものであり、
上記反応確認部が、上記各電気信号に対する上記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の上記電子装置を搬送して上記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して、上記各電気信号の供給が上記周波数範囲の最後の周波数まで実行された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えた」という形態も好ましい形態である。
【００１９】
この好ましい形態の試験装置によれば、複数の電子装置の周波数特性を自動的に得ることができる。
【００２０】
また、本発明の試験装置において、「この試験装置が、各々に上記電子装置が配置される複数のストリップラインセルを備えるものであり、
上記供給部が、上記複数のストリップラインセルそれぞれに向けて互いに異なるタイミングで上記電気信号を供給するものである」という形態も好ましい。
【００２１】
この好ましい形態の試験装置によれば、上記複数のストリップラインセルそれぞれに対して配置された複数の電子装置について、微視的には互いにタイミングがずれた試験が行なわれるが、ユーザの見かけ上、即ち巨視的には同時並行に試験が行なわれるので効率的である。
【００２２】
また、本発明の試験装置において、「この試験装置が、各々に上記電子装置が配置される複数のストリップラインセルからなる組を複数備えるものであり、
上記供給部が、上記複数組それぞれに対応した複数の供給機を有し、各供給機によって各組をなす複数のストリップラインセルそれぞれに向けて互いに異なるタイミングで上記電気信号を供給するものである」という形態も好ましい形態である。
【００２３】
この好ましい形態の試験装置によれば、上記各供給機を互いに同時並行に動作させて、上記複数組からなる多量のストリップラインセルに対して効率的よく試験することができる。
【００２４】
また、本発明の試験装置において、「上記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、上記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
上記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが、互いに所定間隔を空けて配備された、各々に上記電子装置が配置されるものであり、
上記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
上記２つのストリップラインセルの配列に沿って上記電子装置を上記所定間隔ずつ搬送することでそれら２つのストリップラインセルに対してその電子装置を順次に配置する搬送部とを備え、
上記供給部が、上記２つのストリップラインセルのうち先に上記電子装置が配置される第１ストリップラインセルに向けて上記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、その第１電波信号について上記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を、上記２つのストリップラインセルのうち後に上記電子装置が配置される第２ストリップラインセルに向けて、その識別情報で識別される電子装置がその第２ストリップラインセルに対して配置されるタイミングで供給するものである」という形態も好ましい形態である。
【００２５】
この好ましい形態の試験装置によれば、ある電子装置についてまず識別情報を得て、その識別情報に基づいてその電子装置を指定した性能試験が可能となる。これにより、例えば、性能試験中の電子装置の近辺に存在する他の電子装置が誤って反応してしまう等といった不具合が回避され、より正確な試験を行うことができる。
【００２６】
また、この好ましい形態の試験装置において、「上記搬送部が、上記所定間隔ずつの搬送に替えて、上記所定間隔の整数分の１に相当する間隔ずつ搬送することで上記２つのストリップラインセルに対して上記電子装置を順次に配置するものであり、
上記識別情報取得部が、上記搬送部によって上記２つのストリップラインセルの一方から他方へと上記電子装置が移動するための搬送回数と同じ数の情報を先入れ先出し方式で格納するＦＩＦＯメモリを有し、上記供給部が上記第１電気信号を上記第１ストリップラインセルに向けて供給する度にそのＦＩＦＯメモリに、上記電子装置から出力された識別情報を格納するものであり、
上記供給部は、上記第１電気信号の供給と、上記ＦＩＦＯメモリからの情報入手と、その入手した情報に基づいた上記第２電気信号の供給とを順次に繰り返すものである」という形態はさらに好ましい形態である。
【００２７】
このさらに好ましい形態の試験装置によれば、２つのストリップラインセルの配置間隔の整数分の１となる上記電子装置の搬送間隔を、その配置間隔までの範囲で例えばその電子装置のサイズに応じて調整すること等が可能となるので、様々なサイズの電子装置について柔軟に対応することができる。
【００２８】
また、本発明の試験装置において、「上記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、上記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
上記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが各々に上記電子装置が配置されるものであり、
上記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
上記２つのストリップラインセルそれぞれに対してその電子装置を配置する搬送部と、
上記２つのストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに供給される電気信号を所定程度に減衰させて、それら２つのストリップラインセルのうちの他方である第２ストリップラインセルに伝える減衰部とを備え、
上記供給部が、上記第１ストリップラインセルに向けて上記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、その第１ストリップラインセルと上記減衰部とを介して上記第２ストリップラインセルに、上記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を供給するものである」という形態も好ましい形態である。
【００２９】
この好ましい形態によれば、上記第１ストリップラインセルに電気信号が供給されるときには、その電気信号は上記減衰部によって減衰されて上記第２ストリップラインセルにも伝達される。このため、上記第１電気信号は上記第２ストリップラインセルに配置された電子装置が反応しない程度の弱めで使い、上記第２電気信号は第２ストリップラインセルに配置された電子装置も反応する程度の強めで使うことで、これらの電気信号の供給先を切り替えることなくこれらの電気信号の使い分けができる。
【００３０】
また、本発明の試験装置において、「上記供給部と上記ストリップラインセルとの間に介在し、その供給部が供給する上記電気信号の電力を、所定の操作に応じた電力に変換し、電力変換後のその電気信号を上記ストリップラインセルに伝える伝達部を備えた」という形態も好ましい。
【００３１】
この好ましい形態の試験装置によれば、例えば、様々な出力の電波信号について上記電子装置の応答の有無を確認する等といった試験を、試験用のプログラム等を必要とせず上記伝達部に対するユーザの操作によって簡単に行うことができる。
【００３２】
また、このようなユーザ操作タイプの試験装置において、「上記伝達部が、所定のアンテナが所定の出力で上記電波信号を発信して上記電子装置が受信する状況におけるそのアンテナとその電子装置との距離を表わす、互いに異なる距離を表わす複数の目盛を有し、所定の操作子がその複数の目盛のうちのいずれかの目盛に設定されると、上記供給部が供給する上記電気信号の電力を、上記状況において、その設定された目盛が表わす距離における電波信号の出力と同等の出力の電波信号を上記ストリップラインセルで発信するのに必要な電力に変換するものである」という形態はさらに好ましい形態である。
【００３３】
このさらに好ましい形態の試験装置によれば、例えば上記電子装置の通信限界距離を求める試験等を、試験用のプログラム等を必要とせず上記伝達部に対するユーザの操作によって簡単に行うことができる。
【００３４】
また、ユーザ操作タイプの試験装置において、「この試験装置が、上記ストリップラインセルを２つ備えるものであり、
上記伝達部が、２つの上記ストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに上記電気信号を伝えるものであり、
上記第１ストリップラインセルに伝えられた電気信号を所定の操作に応じた程度に減衰させ、２つの上記ストリップラインセルのうちの第２ストリップラインセルに伝える第２伝達部を備えた」という形態もさらに好ましい形態である。
【００３５】
このさらに好ましい形態の試験装置によれば、例えば、次のような試験を効率的に行うことができる。上記電子装置に求められる性能が、ある出力範囲の電波信号に対して反応することである場合に、上記第１ストリップラインセルがその出力範囲における最大強度の電波信号を発信し、上記第２ストリップラインセルが最小強度の電波信号を発信するように上記伝達部および上記第２伝達部それぞれを操作しておき、各ストリップラインセルに対して上記電子装置を順次に配置することでその電子装置が上記のような性能を有しているか否かの簡易的な確認を行うことができる。
【００３６】
また、本発明の試験装置において、「上記ストリップラインセルが、上記第１導体板と上記第２導体板との間隔が、その第１導体板の幅の１／５以下の間隔のものである」という形態は好ましい形態である。
【００３７】
上記ストリップラインセルが有する特性インピーダンスは、上記第１導体板と上記第２導体板との間隔と、その第１導体板の幅との比によって決まる。ここで、上記供給部として使用できる市販の装置の多くは、出力インピーダンスとして５０オームを有している。このような装置と最も単純にインピーダンスを整合させるためには、上記ストリップラインセルの特性インピーダンスを５０オームにしなければならないが、この５０オームの特性インピーダンスを実現するためには第１導体板と上記第２導体板との間隔が第１導体板の幅の１／５という薄い構造にする必要がある。ＴＥＭ波を得ることを目的とした従来のストリップラインセルには、ＴＥＭ波を発生させる空間であると共にＴＥＭ波を受ける対象物が配置される空間が第１導体板と第２導体板との間に必要があり、このような薄い構造を実現することが無理である。これに対し、本発明の試験装置におけるストリップラインセルは、このような空間が不要であることから、第１導体板と上記第２導体板との間隔が第１導体板の幅の１／５という薄い構造を実現してインピーダンスの整合と省スペース化を図ることは無論のこと、一層の薄型化を図ることも可能である。
【００３８】
また、本発明の試験装置において、「上記ストリップラインセルが、上記第１導体板として、上記電波信号の波長の半分以下の長さの導体板を有するものである」という形態も好ましい形態である。
【００３９】
本発明の試験装置におけるストリップラインセルでは、上述したように限られた範囲に漏れる準ＴＥＭ波が利用される。この範囲は、上記第１導体板の長さ方向に進む電波の進行方向に対しては、その電波の半波長以下の範囲となる。そこで、この第１導体板の長さとして実質的に必要な長さもこの半波長以下で十分となり小型化が図られる。
【００４０】
また、本発明の試験装置において、「上記ストリップラインセルが、上記電波信号が透過する板状の、表裏面のうちの一方の面に上記電子装置が載置される、その一方の面に対する他方の面が上記第１導体板に接する載置板を有するものである」という形態も好ましい形態である。
【００４１】
この好ましい形態の試験装置によれば、上記第１導体板と上記電子装置との間隔が上記載置板によって一定の間隔に保たれるので安定的に試験を行うことができる。
【００４２】
また、本発明の試験装置において、「上記ストリップラインセルが、上記第１導体板の上記対向面とは反対側を所定範囲を除いて覆うことで、その第１導体板から発せられた電波の量と方向を、それぞれ所定量と所定方向に制限する遮蔽部を有するものである」という形態も好ましい形態である。
【００４３】
この好ましい形態の試験装置によれば、上記ストリップラインセルから準ＴＥＭ波が漏れる範囲や方向を厳密に設定することができる。
【００４４】
また、上記目的を達成する本発明の試験方法は、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部からその電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、その第１導体板に対向する第２導体板とを有し、その電気信号が有する電力に応じた出力でその電波信号を発信する、上記第１導体板の、上記第２導体板に対向する対向面とは反対側に上記電子装置が配置されるストリップラインセルの上記第１導体板に上記電気信号を供給する供給過程と、
上記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有したことを特徴とする。
【００４５】
この本発明の試験方法によれば、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の通信性能についての十分な性能試験を簡単に行うことができる。
【００４６】
また、上記目的を達成する本発明の製造方法は、所定の電波信号を受信して反応する電子装置を作成する作成工程；および、
上記電子装置の幅以上の幅を有する、外部からその電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、その第１導体板に対向する第２導体板とを有し、その電気信号が有する電力に応じた出力でその電波信号を発信する、上記第１導体板の、上記第２導体板に対向する対向面とは反対側に上記電子装置が配置されるストリップラインセルの上記第１導体板に上記電気信号を供給する供給過程と、
上記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有した試験工程を有することを特徴とする。
【００４７】
この本発明の製造方法によれば、所定の電波信号を受信して反応する電子装置を、通信性能についての十分な性能試験を簡単に行う試験方法が工程として組み込まれた製造方法で製造することができる。
【００４８】
尚、本発明の試験方法及び製造方法については、ここではそれぞれの基本形態のみを示すに止めるが、これは単に重複を避けるためであり、本発明の試験方法及び製造方法それぞれには、上記の基本形態のみではなく、前述した試験装置の各形態に対応する各種の形態が含まれる。
【００４９】
以上、説明したように、本発明によれば、所定の電波信号を受信して反応する電子装置の通信性能についての十分な性能試験を簡単に行うことができる試験装置と、そのような性能試験を行なうことができる試験方法と、そのような試験方法を工程として含む電子装置の製造方法を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の第１実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図２】ストリップラインセル１００を示す模式図である。
【図３】ストリップラインセル１００における第１導体板１０１と第２導体板１０２を示す図である。
【図４】終端抵抗１０３を接続するとともに、第１導体板１０１と第２導体板１０２を遮蔽版１０４で覆った状態を示す図である。
【図５】図４の状態に、ストリップラインセル１００のケースを固定するための金具１０５を取り付けた状態を示す図である。
【図６】ストリップラインセル１００の完成状態を示す図である。
【図７】載置板１０９の載置面１０９ａと第１導体板１０１との間の間隔を示す図である。
【図８】別例のストリップラインセル５００における第１導体板５０１と第２導体板５０２を示す図である。
【図９】第１導体板５０１と第２導体板５０２とを遮蔽版を兼ねたケース５０４に収納した状態を示す図である。
【図１０】図９の状態に載置板５０５が取り付けられた完成状態を示す図である。
【図１１】別例のストリップラインセルの断面を示す図である。
【図１２】準備作業における電波暗室内での作業を示す図である。
【図１３】準備作業によって取得された距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とを表形式で示した図である。
【図１４】図１３に表形式で示す距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とをグラフ形式で示した図である。
【図１５】補正後の距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とをグラフ形式で示した図である。
【図１６】ＲＦＩＤタグ試験装置１で実行される性能試験の流れを示すフローチャートである。
【図１７】本発明の第２実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図１８】図１７に示すＲＦＩＤタグ試験装置２を使ったＲＦＩＤタグの試験工程を含む、ＲＦＩＤタグ製造方法を示すフローチャートである。
【図１９】図１８の試験工程（ステップＳ２２０）の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図２０】本発明の第３実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図２１】図２０に示す各ストリップラインセル１００に互いに異なるタイミングで電気信号が供給される様子を示す模式図である。
【図２２】本発明の第４実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図２３】本発明の第５実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図２４】図２３に示すＲＦＩＤタグ試験装置５の詳細を、ストリップラインセルの２つの組のうち一方の組に注目して示す図である。
【図２５】図２３及び図２４に示すＲＦＩＤタグ試験装置５を使ったＲＦＩＤタグの試験工程を含む、ＲＦＩＤタグ製造方法を示すフローチャートである。
【図２６】図２５の試験工程（ステップＳ３００）の詳細な流れを示すフローチャートである。
【図２７】第１及び第２ストリップラインセル２２０，２３０におけるＲＦＩＤタグＴ１の配置と各ストリップラインセルが発信する電波信号の出力とを示す図である。
【図２８】本発明の第６実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図２９】可変減衰器３２０の距離の目盛を求める作業で使われるグラフである。
【図３０】本発明の第７実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図３１】本発明の第８実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図３２】ストリップラインセル１００の周波数特性を示すグラフである。
【図３３】ＲＦＩＤタグ試験装置８で実行される周波数特性取得処理の流れを示すフローチャートである。
【図３４】図３３のフローチャートが示す周波数特性取得処理によって取得された周波数特性の一例を示すグラフである。
【図３５】本発明の第９実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。
【図３６】ＲＦＩＤタグ試験装置９で実行される周波数特性取得処理の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５１】
以下図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。【００５２】
まず、本発明の第１実施形態について説明する。【００５３】
図１は、本発明の第１実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【００５４】
この図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１は、電波通信用のアンテナパターンとＩＣチップが搭載され所定の電波信号を受信すると応答信号を返信するＲＦＩＤタグＴ１の通信性能についての性能試験を行うものであり、ストリップラインセル１００と、リーダライタ２０と、コンピュータ３０とを備えている。また、リーダライタ２０はコンピュータ３０に第１ケーブル３１で接続され、ストリップラインセル１００は、リーダライタ２０に第２ケーブル２１で接続されている。ここで、ＲＦＩＤタグＴ１が、本発明にいう電子装置の一例に相当し、ストリップラインセル１００が本発明にいうストリップラインセルの一例に相当する。また、リーダライタ２０は、本発明にいう供給部の一例に相当し、コンピュータ３０は、本発明にいう反応確認部の一例に相当する。【００５５】
ストリップラインセル１００は、リーダライタ２０から、上記の電波信号に相当する電気信号が第２ケーブル２１を介して供給されると、その電気信号が有する電力に応じた出力で上記の電波信号を、所定の伝播エリアＡ１に発信する。本実施形態では、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１は、ストリップラインセル１００上におけるこの伝播エリアＡ１に載置される。また、このストリップラインセル１００は、ＲＦＩＤタグＴ１が、上記の電波信号を受信して応答信号を返信するとその応答信号を受信する。その受信された応答信号は第２ケーブル２１を介してリーダライタ２０に送られる。【００５６】
リーダライタ２０は、ある電力を有する電気信号をストリップラインセル１００に供給するようにという指示をコンピュータ３０から受けてストリップラインセル１００にその電気信号を供給し、ストリップラインセル１００から応答信号が送られてきたときには、その旨をコンピュータ３０に通知する。【００５７】
コンピュータ３０は、リーダライタ２０に対して、所定のプロセスに従って上記の電力を順次に変更しながら上記の指示を行う。このプロセスについては後述する。【００５８】
ＲＦＩＤタグ試験装置１は、概略このように構成されている。【００５９】
次に、図１では１つのブロックで示されているストリップラインセル１００の詳細について説明する。【００６０】
図２は、ストリップラインセル１００を示す模式図である。【００６１】
ストリップラインセル１００は、リーダライタ２０から電気信号が供給される第１導体板１０１と、この第１導体板１０１に対向しグラウンドとして作用する第２導体板１０２とを備えている。また、リーダライタ２０からの電気信号は第１導体板１０１の一端に供給され、第１導体板１０１の他端は終端抵抗１０３に接続されている。本実施形態では、この終端抵抗の抵抗は５０オームとなっているが、これは、後述するようにこのストリップラインセル１００の特性インピーダンスが５０オームに設計されているためである。【００６２】
第１導体板１０１に、上記電気信号として所定周波数の交流信号が供給されると、第１導体板１０１と第２導体板１０２との間の空間には、上記電気信号の供給側から終端抵抗１０３側に向かって進行し、その進行方向に直行する方向に電界成分および磁界成分を有するＴＥＭ波Ｗ１が発生する。このＴＥＭ波Ｗ１は、計算上の取り扱いが容易である等といった理由から、従来、通信性能の試験等に広く使われている。仮に、このストリップラインセル１００を使った試験においてこのＴＥＭ波Ｗ１を利用するとすると、第１導体板１０１と第２導体板１０２との間に、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１を電界成分および磁界成分に平行に、即ち、図２における縦向きに配置するための空間が必要となる。これに対し、本実施形態では、第１導体板１０１から、このＴＥＭ波Ｗ１が発生する空間とは反対側に漏れてくる、ＴＥＭ波とほぼ同等な準ＴＥＭ波Ｗ２が利用される。このため、本実施形態では、第１導体板１０１と第２導体板１０２との間に上記のような空間が不要であり、後述するように薄型化が図られている。また、この準ＴＥＭ波Ｗ２は第１導体板１０１に対してほぼ法線方向に進行するので、この準ＴＥＭ波Ｗ２を試験対象のＲＦＩＤタグＴ１で受けるためには、ＲＦＩＤタグＴ１の配置の向きは図２における横向きとなる。このため、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１を、薄型化が図られたストリップラインセル１００の上に載せるだけで試験が可能となるので運用が簡単である。さらに、本実施形態で試験時に使われるこの準ＴＥＭ波Ｗ２は、後述するように第１導体板１０１から離れるにつれて急速に減衰してしまうので、図２に示すようにその伝播エリアＡ１が限られている。本実施形態では、この伝播エリアＡ１が試験エリアとして利用され、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１は、この伝播エリアＡ１内に配置される。このため、試験時の電波が試験エリアの周辺部に影響を与えたり、伝播先で反射されて戻ってくる反射波が試験エリア内の電波と干渉する等といった事態が回避される。【００６３】
次に、このストリップラインセル１００の具体的な構造について説明する。【００６４】
図３は、ストリップラインセル１００における第１導体板１０１と第２導体板１０２を示す図であり、図４は、終端抵抗１０３を接続するとともに、第１導体板１０１と第２導体板１０２を遮蔽版１０４で覆った状態を示す図であり、図５は、図４の状態に、ストリップラインセル１００のケースを固定するための金具１０５を取り付けた状態を示す図であり、図６は、ストリップラインセル１００の完成状態を示す図である。また、これら各図のパート（ａ）には上面図が示され、パート（ｂ）には側面図が示されている。【００６５】
上述したように、本実施形態では、第１導体板１０１と第２導体板１０２との間隔Ｈ２は、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１の幅とほぼ同じ幅である第１導体板１０１の幅Ｈ１の１／５となるように設計されている。この１／５という値は、ストリップラインセル１００の特性インピーダンスの設計値が５０オームとなるように算出されたものである。この算出方法については公知であるのでここでは説明を省略する。また、第１導体板１０１の長さは、ＲＦＩＤタグＴ１の通信周波数であって試験時に使用される９５３ＭＨｚという周波数の電波の約１／２波長の長さに設計されている。さらに、図３に示すように、第１導体板１０１の左側の端部には終端抵抗１０３が接続される終端コネクタ１０６が設けられ、右側の端部にはリーダライタ２０からの電気信号が入力される入力コネクタ１０７が設けられている。ここで、このストリップラインセル１００の特性インピーダンスの実測値は５７．３６オームであり、また、このストリップラインセル１００における、供給される電力に対して放出される電波の度合を表わすいわゆる定在波比（ＳＷＲ：Ｓｔａｎｄｉｎｇ  Ｗａｖｅ  Ｒａｔｉｏ）は１．２６となっている。【００６６】
図４に示す遮蔽版１０４には、第１導体板１０１を発した準ＴＥＭ波Ｗ２が通過するための開口部１０４ａが設けられており、この開口１０４ａのサイズが、準ＴＥＭ波Ｗ２の広がりが、ＲＦＩＤタグＴ１を対象とした試験に必要十分な範囲に止められるサイズに設計されている。この遮蔽版１０４は、本発明にいう遮蔽版の一例に相当する。【００６７】
図５に示す金具１０５を介して固定され、各導体板等を覆うケース１０８（図６）には、遮蔽版１０４の開口部１０４ａよりも広い開口部１０８ａが設けられており、さらに、この開口部１０８ａは、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が載置されるアクリル製の載置板１０９で塞がれている。この載置板１０９は、本発明にいう載置板の一例に相当する。【００６８】
図７は、載置板１０９の載置面１０９ａと第１導体板１０１との間の間隔を示す図である。【００６９】
本実施形態では、載置面１０９ａと第１導体板１０１との間の間隔Ｌ１が７．４ｍｍとなっており、載置板１０９の厚みは、この間隔が実現されるように設計されている。【００７０】
ここで、以上に説明したストリップラインセル１００において、上記の載置面１０９ａから離れるに従って、上記の準ＴＥＭ波Ｗ２が急速に減衰することについて実測値に基づいて説明する。この実測値は、リーダライタ２０から２５．５ｄＢｍの電力を有する電気信号がストリップラインセル１００に入力されたときに、標準ダイポールアンテナを第１導電板１０１からの距離が互いに異なる次のような３ヶ所に配置して各位置での電界強度を計測することで得られたものである。まず、第１導電板１０１からの距離が７．４ｍｍ、つまり上記の載置面１０９ａ上に標準ダイポールアンテナが配置された状態で計測が行われ、次に、この距離が１００ｍｍの位置で計測が行われ、さらに、１５０ｍｍの位置で計測が行われた。その結果を、７．４ｍｍの位置での計測結果を基準にした、上記の入力された電気信号の電力に相当する減衰量で示すと、７．４ｍｍの位置ではここが基準であるので０ｄＢとなり、１００ｍｍの位置では−１１．９ｄＢとなり、１５０ｍｍの位置では−２４．５ｄＢとなる。この結果から、１００ｍｍの位置では、入力量である２５．５ｄＢｍに対してｄＢ表示でほぼ半分にまで減衰し、１５０ｍｍの位置ではほとんど減衰してしまっていることが分かる。【００７１】
このように、ストリップラインセル１００を発した準ＴＥＭ波Ｗ２が届く範囲は限られており、図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１では、ストリップラインセル１００を発した電波信号が試験エリアを越えて周辺に伝播する懸念がないことになる。このＲＦＩＤタグ試験装置１では、試験時には、ＲＦＩＤタグＴ１は、上記の載置面１０９ａ上に載せられる。【００７２】
次に、ストリップラインセルの別例について説明する。【００７３】
図８は、別例のストリップラインセル５００における第１導体板５０１と第２導体板５０２を示す図であり、図９は、第１導体板５０１と第２導体板５０２とを遮蔽版を兼ねたケース５０４に収納した状態を示す図であり、図１０は、図９の状態に載置板５０５が取り付けられた完成状態を示す図であり、図１１は、別例のストリップラインセルの断面を示す図である。また、図８から図１０までの各図のパート（ａ）には上面図が示され、パート（ｂ）には側面図が示されている。【００７４】
この別例のストリップラインセル５００も、上述したストリップラインセル１００と同様に、特性インピーダンスが５０オームとなり、使用周波数が、９５３ＭＨｚとなるように設計されている。【００７５】
この別例のストリップラインセル５００は、第２導体板５０２が、収納ケースの底面等を兼ねることでさらなる薄型化が図られたものである。また、上述したストリップラインセル１００では終端抵抗１０３がケース１０８の底面側を向いて取り付けられていたが、この別例のストリップラインセル５００では、終端抵抗５０３は横向きに取り付けられている。さらに、この別例のストリップラインセル５００に設けられている終端コネクタ５０６および入力コネクタ５０７には、ストリップラインセル５００の内部側のコネクタ端子に、第１導体板５０１が直接に接続されている。また、第２導体板５０２が、若干広めの形状となっていることを受けて、準ＴＥＭ波を通すためにケース５０４に設けられた開口部５０４ａも、上述したストリップラインセル１００における開口１０４ａに比べて広めの長方形状のものとなっている。また、この別例のストリップラインセル５００では、図１１に示すように、ケース５０４の形状の制約から、第１導体板５０１と載置面５０５ａとの間隔Ｌ２は、上述したストリップラインセル１００におけるその距離に比べて若干遠い、９．７ｍｍとなっている。以上、説明した、別例のストリップラインセル５００でも、上述したストリップラインセル１００とほぼ同様の性能が得られることは言うまでも無い。【００７６】
次に、図３から図７に示すストリップラインセル１００を備えた、図１のＲＦＩＤタグ試験装置１で実施される試験内容について説明する。【００７７】
ＲＦＩＤタグは、リーダライタ等に接続されたアンテナが所定の出力で発信した電波信号を受信する。電波信号は、アンテナから離れるに従って減衰するため、ＲＦＩＤタグは、そのような出力で発信された電波信号の受信が可能な通信限界距離を有し、この通信限界距離は、ＲＦＩＤタグの通信性能を示す重要な指標の１つとなっている。従来、この通信限界距離は、例えば電波暗室等といった特殊な試験環境の中での次のような手順によって求められている。まず、リーダライタにアンテナが接続され、そのアンテナに対向して試験対象のＲＦＩＤタグが配置される。次に、アンテナからＲＦＩＤタグの使用時における出力と同等な出力で電波信号を発信し、試験対象のＲＦＩＤタグからの応答信号の有無を確認しながら、そのＲＦＩＤタグをそのアンテナから徐々に離す。そして、ＲＦＩＤタグからの応答信号が確認されなくなったときのアンテナからの距離が、そのＲＦＩＤタグの通信限界距離として採用される。このような一連の作業は、上記のような特殊環境を要すること、試験時には試験対象のＲＦＩＤタグをその特殊環境まで移動させる必要があること、さらに、その特殊環境の中でＲＦＩＤタグを移動させなければならない等といったこと等から、作業者にとっての大きな負担になるとともにＲＦＩＤタグの開発や製造の効率化を妨げる一因になっている。【００７８】
これに対し、図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１では、以下に説明する準備作業を１回実施しておけば、あとは試験対象のＲＦＩＤタグＴ１を上述したストリップラインセル１００の載置板１０９（図６参照）に置くだけで、コンピュータ３０において自動的に通信限界距離を得ることができる。ここで、このコンピュータ３０は、本発明にいう換算部の一例も兼ねている。【００７９】
まず、上記の準備作業について説明する。【００８０】
本実施形態では、この準備作業の際に電波暗室が使われる。【００８１】
図１２は、準備作業における電波暗室内での作業を示す図である。【００８２】
この準備作業では、図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１が有するコンピュータ３０およびリーダライタ２０と同等なコンピュータ４２およびリーダライタ４４が用意され、電波暗室４１内に配置される。両者は、第３ケーブル４３で接続され、リーダライタ４４には、第４ケーブル４５を介して、所定のアンテナ４６が接続される。さらに、このアンテナ４６に対向する所定の初期位置に標準ダイポールアンテナ４７が配置される。この標準ダイポールアンテナ４７には、第５ケーブル４８を介して、その標準ダイポールアンテナ４７が受信した電波信号における電界強度を測定する測定器４９が接続されている。【００８３】
この電波暗室４１内での作業は、次のように進められる。【００８４】
まず、コンピュータ４２が、ＲＦＩＤタグの使用時における出力と同等な出力で電波信号を発信する旨の指示をリーダライタ４４に対して行う。そして、その指示に応じてアンテナ４６から発信され標準ダイポールアンテナ４７で受信された電波信号における電界強度を測定器４９で測定しながら、標準ダイポールアンテナ４７がアンテナ４６から遠ざかる方向に初期位置から１０ｃｍ刻みで動かされる。この電波暗室４１内での作業によって、標準ダイポールアンテナ４７が受信した電波信号における電界強度と、アンテナ４６と標準ダイポールアンテナ４７との距離との対応関係が求められるが、この距離対電界強度の対応関係は、リーダライタ４４に接続されたアンテナ４６が所定の出力で電波信号を発信して試験対象のＲＦＩＤタグがその電波信号を受信すると仮定したときに、その試験対象のＲＦＩＤタグが受信するであろう電波信号における電界強度と、アンテナ４６とＲＦＩＤタグとの距離との対応関係に相当する。【００８５】
準備作業では、以上に説明した電波暗室４１内での作業に加えて、図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１を使った次のような作業も行われる。ただし、この作業では、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１に替えて、上記の標準ダイポールアンテナ４７がストリップラインセル１００の載置板１０９に載置され、その標準ダイポールアンテナ４７に上記の測定器４９が接続される。この作業では、電力を０ｄＢｍから２５．５ｄＢｍまで０．５ｄＢ刻みで増加しながらストリップラインセル１００に電気信号を供給する旨の指示が、コンピュータ３０からリーダライタ２０に対してなされる。そして、各電力の電気信号の供給時に標準ダイポールアンテナ４７が受信した電波信号における電界強度が測定される。このＲＦＩＤタグ試験装置１を使った作業によって、標準ダイポールアンテナ４７が受信した電波信号における電界強度と、ストリップラインセル１００に供給される電気信号の電力との対応関係が求められるが、この電力対電界強度の対応関係は、ＲＦＩＤタグ試験装置１を使った性能試験が行なわれるときに、試験対象のＲＦＩＤタグが受信するであろう電波信号における電界強度と、ストリップラインセル１００に供給される電気信号の電力との対応関係に相当する。【００８６】
図１３は、準備作業によって取得された距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とを表形式で示した図である。【００８７】
この図１３に示す表Ｔａｂは、左側に距離対電界強度の対応関係Ｔａ１が示され、右側に電力対電界強度の対応関係Ｔａ２が示されている。尚、電力対電界強度の対応関係Ｔａ２では、電界強度が、Ｖ／ｍ単位とｄＢμＶ／ｍ単位との２種類の単位で示されている。【００８８】
図１４は、図１３に表形式で示す距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とをグラフ形式で示した図である。【００８９】
この図１４のグラフＧ１では、縦軸に電界強度がとられ、横軸に電力と距離とがとられている。そして、このグラフＧ１には、電波暗室４１を使った作業で得られた距離対電界強度の対応関係が四角形の点でプロットされ、ＲＦＩＤタグ試験装置１を使った作業で得られた電力対電界強度の対応関係が菱形の点でプロットされている。さらに、このグラフＧ１には、距離対電界強度の対応関係を上記のような電波暗室４１を使った作業によらず所定の理論公式を使って算出したときの算出結果が参考のために三角形の点でプロットされている。【００９０】
ここで、電波暗室４１内でも、若干の電波の反射等が生じることから、実測に基づく距離対電界強度の対応関係は、距離が１００ｃｍから１６０ｃｍまでの範囲と、２２０ｃｍ以上の範囲等において、理論公式に基づく距離対電界強度の対応関係とずれてしまっている。本実施形態では、実測に基づく距離対電界強度の対応関係における電界強度の値から、このようなずれを除く補正が行われる。図１３の表Ｔａｂにおける電力対電界強度の対応関係Ｔａ１では、この補正後の電界強度が（）付きで示されている。【００９１】
図１５は、補正後の距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係とをグラフ形式で示した図である。【００９２】
この図１５に示すように、補正後の距離対電界強度の対応関係を表わす点線のラインと、電力対電界強度の対応関係を表わす実線のラインとは、０ｃｍから３００ｃｍまでの１０ｃｍ刻みの各距離と、２５．５ｄＢｍから０．０ｄＢｍまでの０．５ｄＢ刻みの各電力とを互いに一対一に対応させるとほぼ一致する。そこで、本実施形態では、準備作業において、電力対電界強度の対応関係Ｔａ２における各電力と、距離対電界強度の対応関係Ｔａ１における各距離とを、図１３に示す表Ｔａｂにおいて、互いに同じ行に記載されている値どうしを対応付ける電力対距離の対応関係が作成される。その作成された電力対距離の対応関係は、図１に示すＲＦＩＤタグ試験装置１のコンピュータ３０内の不図示のメモリに記憶される。以上で、準備作業が終了する。ここで、この電力対距離の対応関係が、本発明にいう換算関係の一例に相当する。【００９３】
次に、この準備作業で求められた電力対距離の対応関係を使って、図１のコンピュータ３０の制御の下、ＲＦＩＤタグ試験装置１で実行される性能試験について説明する。【００９４】
図１６は、ＲＦＩＤタグ試験装置１で実行される性能試験の流れを示すフローチャートである。【００９５】
ここで、この図１６のフローチャートが示す処理が、本発明の試験方法の一実施形態に相当する。【００９６】
この図１６のフローチャートが示す処理は、ユーザが、コンピュータ３０に対して所定の操作を介して性能試験のスタートを指示するとスタートする。処理がスタートすると、まず、コンピュータ３０は、リーダライタ２０に対して、ストリップラインセル１００に供給する電気信号の電力を０ｄＢｍに設定する処理を含む所定の初期化処理の実行が指示した後待機状態となる（ステップＳ１０１）。そして、ＲＦＩＤタグ試験装置１のストリップラインセル１００に試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が配置され、ユーザが、コンピュータ３０に対して所定の操作を介してこのＲＦＩＤタグＴ１に対する性能試験のスタートを指示すると次のステップ（ステップＳ１０２）に進む。【００９７】
ステップＳ１０２では、現在、リーダライタ２０において設定されている電気信号の電力が最大設定値（本実施形態では２５．５ｄＢｍ）となっているか否かが判定される。しかし、ステップＳ１０１の初期化処理の直後では、電力の設定値は最大設定値ではないので（ステップＳ１０２におけるＮｏ判定）、次のステップＳ１０３の処理に進む。【００９８】
ステップＳ１０３の処理では、リーダライタ２０における電力の設定値として、現在の設定値に所定刻み分の増加分（本実施形態では０．５ｄＢ）だけ増した値が算出され、その算出結果を、ストリップラインセル１００に供給する電気信号の電力に設定するように指示するコマンドＣ１がリーダライタ２０に送られる。【００９９】
ここで、本実施形態において試験対象となるＲＦＩＤタグＴ１には、そのＲＦＩＤタグＴ１を他のＲＦＩＤタグと区別するために使われる識別情報（ＵＩＤ：Ｕｎｉｑｕｅ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｅｒ）が記憶されている。【０１００】
上記のステップＳ１０３の処理で電力の設定が指示されると、次に、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１にＵＩＤを要求する要求信号をストリップラインセル１００に供給する旨を指示するコマンドＣ２がリーダライタ２０に送られる（ステップＳ１０４）。【０１０１】
このステップＳ１０４の処理と、その前のステップＳ１０３の処理とを合わせた処理は、本発明にいう供給過程の一例に相当する。【０１０２】
リーダライタ２０は、上記の設定された電力を有する要求信号をストリップラインセル１００に供給する。そして、この要求信号に対してＵＩＤを表わす応答信号Ｓ１の出力がＲＦＩＤタグＴ１からあった場合には、リーダライタ２０は、その応答信号Ｓ１をストリップラインセル１００を介して受信してコンピュータ３０に送る。【０１０３】
一方、コンピュータ３０の方は、ステップＳ１０４の後、所定時間の待機状態に移行する（ステップＳ１０５）。そして、その所定時間の経過後、リーダライタ２０から応答信号Ｓ１が送られてきたか否かが判定される（ステップＳ１０６）。このステップＳ１０６の処理と、その前のステップＳ１０５の処理とを合わせた処理が、本発明にいう反応確認過程の一例に相当する。リーダライタ２０から応答信号Ｓ１が送られてきていない場合（ステップＳ１０６におけるＮｏ判定）、ステップＳ１０２まで戻って、このステップＳ１０２からステップＳ１０６までの処理が繰り返される。この繰り返しは、電力の設定値が最大設定値に達するか（ステップＳ１０２におけるＹｅｓ判定）、リーダライタ２０から応答信号Ｓ１が送られてくるまで（ステップＳ１０６におけるＹｅｓ判定）続けられる。【０１０４】
リーダライタ２０から応答信号Ｓ１が送られてくると、コンピュータ３０は、その時点での電力の設定値を、上述した電力対距離の対応関係を使って、図１２に示す電波暗室４１におけるアンテナ４６からの距離に換算する（ステップＳ１０７）。【０１０５】
この換算結果は、例えばアンテナ４６が所定の出力で上記の要求信号に応じた電波信号を発信して試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が受信するという状況において、ＲＦＩＤタグＴ１を十分に離れた位置から徐々にアンテナ４６に近づけたときに、最初にＲＦＩＤタグＴ１が応答信号Ｓ１を返信する距離、つまり、このＲＦＩＤタグＴ１がアンテナ４６を発した電波信号を受信可能な通信限界距離に相当する。ステップＳ１０７の処理において、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１についてこのような通信限界距離が求められると、コンピュータ３０は、その通信限界距離を、ＲＦＩＤタグＴ１からの応答信号Ｓ１が表わすＵＩＤと対応付けて所定のメモリに保存する（ステップＳ１０８）。そして、ステップＳ１０１まで処理が戻ってリーダライタ２０に対して初期化処理の実行を指示した後、次のＲＦＩＤタグに対する性能試験の待機状態になる。【０１０６】
また、リーダライタ２０から応答信号Ｓ１が送られてくることなく電力の設定値が最大設定値に達した場合には、所定の表示画面に試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が不良品であることが表示された後に、処理がステップＳ１０１まで戻って初期化処理の実行を指示した後、次の性能試験の待機状態になる。【０１０７】
以上、図１から図１６までを参照して説明したように、本実施形態によれば、予め所定の準備作業を１回実行しておけば、試験対象のＲＦＩＤタグの通信限界距離を求めるという性能試験については、電波暗室等といった特殊環境を使うことなく十分な性能試験を簡単に行うことができる。【０１０８】
次に、本発明の第２実施形態について説明する。【０１０９】
図１７は、本発明の第２実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１１０】
この図１７に示すＲＦＩＤタグ試験装置２は、複数のＲＦＩＤタグを試験対象としている点を除けば、図１に示す第１実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置１と同等である。このため、図１７では、図１と同等な構成要素については図１と同じ符号を付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０１１１】
ＲＦＩＤタグ試験装置２では、ロール状のベースに形成された複数のアンテナパターンそれぞれにＩＣチップが搭載されてなる複数のＲＦＩＤタグＴ１が、未だ、個々のＲＦＩＤタグとして切り離されていない状態のタグロールＲが取り扱われる。そして、このタグロールＲにおける個々のＲＦＩＤタグＴ１が、このＲＦＩＤタグ試験装置２における試験対象物となる。【０１１２】
ＲＦＩＤタグ試験装置２には、このタグロールＲにおける個々のＲＦＩＤタグＴ１を順次にストリップラインセル１００まで搬送する搬送装置５０が備えられており、第６ケーブル５１を介してコンピュータ６０に接続されている。このＲＦＩＤタグ試験装置２におけるコンピュータ６０は、リーダライタ２０に加えて搬送装置５０も制御する。コンピュータ６０がこの搬送装置５０に後述のコマンドを送ると、搬送装置５０は、タグロールＲのＲＦＩＤタグＴ１を配置間隔分だけ矢印Ｄ１方向に送るように、その送りの分だけタグロールＲの中心軸を矢印Ｄ２方向に回転させる。これにより、タグロールＲの各ＲＦＩＤタグＴ１が順次にストリップラインセル１００まで搬送され、そのストリップラインセル１００の位置において上述した性能試験を施されることとなる。ここで、この搬送装置５０は、本発明にいう搬送部の一例に相当する。【０１１３】
図１８は、図１７に示すＲＦＩＤタグ試験装置２を使ったＲＦＩＤタグの試験工程を含む、ＲＦＩＤタグ製造方法を示すフローチャートである。【０１１４】
この図１８に示すＲＦＩＤタグ製造方法は、上記のタグロールＲを作成する作成工程（ステップＳ２１０）と、タグロールＲの各ＲＦＩＤタグＴ１について通信限界距離を求める上記の性能試験を行う試験工程（ステップＳ２２０）とを備えている。この図１８に示すＲＦＩＤタグ製造方法が、本発明の製造方法の一実施形態に相当し、作成工程（ステップＳ２１０）および試験工程（ステップＳ２２０）は、それぞれ本発明にいう作成工程および試験工程の一例に相当する。また、試験工程（ステップＳ２２０）は、本発明の試験方法の一実施形態も兼ねている。ここで、タグロールＲを作成する作成工程については公知であるので、この作成工程の詳細については説明を省略する。【０１１５】
図１９は、図１８の試験工程（ステップＳ２２０）の詳細な流れを示すフローチャートである。尚、この図１９のフローチャートが示す試験工程は、上記の搬送装置５０に搬送を指示するコマンドを送る処理（ステップＳ２２１）を有している点を除いて、図１６のフローチャートが示す処理とほぼ同等である。このため、この図１９では、この図１６のフローチャートにおける処理過程と同等な処理過程については図１６と同じ符号が付されており、以下では、これらの処理過程についての重複説明を省略する。【０１１６】
この図１９に示す初期化処理（ステップＳ１０１’）は、図１６に示す初期化処理（ステップＳ１０１）が、リーダライタに初期化の指示を与えた後待機状態になる処理であるのに対し、そのような待機状態を省略して次の処理に進む処理である。また、そのステップＳ１０１’に続くステップＳ１０２’の処理は、図１６に示すステップＳ１０２の処理が、電力が最大設定値に達した場合には初期化処理（ステップＳ１０１）に戻る処理であるのに対し、初期化処理（ステップＳ１０１’）には戻らず以下に説明するステップＳ２２１の処理に進む処理である。【０１１７】
ステップＳ２２１の処理は、現在、ストリップラインセル１００の位置にあるＲＦＩＤタグＴ１について通信限界距離が求められ、ステップＳ１０８の処理を経てその通信限界距離が保存されたか、あるいは、ステップＳ１０２’の処理において、電力が最大設定値に達したと判定された場合（ステップＳ１０２’におけるＹｅｓ判定）に実行される。このステップＳ２２１の処理では、コンピュータ６０は、搬送装置５０に、タグロールＲの中心軸を、配置間隔分の搬送に相当する角度だけ回転するように指示するコマンドＣ３を送る。搬送装置５０が、このコマンドＣ３に従って動作すると、試験済みのＲＦＩＤタグＴ１に替わって未試験のＲＦＩＤタグＴ１がストリップラインセル１００の位置に配置されることとなる。【０１１８】
以上に、図１から図１７までを参照して説明した第２実施形態によれば、複数のＲＦＩＤタグＴ１について効率的に試験することができ、延いては、そのような複数のＲＦＩＤタグＴ１を効率的に製造することができる。【０１１９】
次に、本発明の第３実施形態について説明する。【０１２０】
図２０は、本発明の第３実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１２１】
この図２０に示すＲＦＩＤタグ試験装置３は、複数のストリップラインセルを備えている点を除けば、図１に示す第１実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置１と同等である。このため、図２０では、図１と同等な構成要素については図１と同じ符号を付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０１２２】
この図２０に示すように、第３実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置３は、互いに同等な２つのストリップラインセル１００を備えており、各ストリップラインセル１００は、１つのリーダライタ８０に備えられた２つの給電部（以下、ポートと呼ぶ）８０ａ，８０ｂの各々に第７および第８ケーブル８１，８２で接続されている。ここで、各ストリップラインセル１００には、リーダライタ８０の各ポートから、次のように互いに異なるタイミングで電気信号が供給される。【０１２３】
図２１は、図２０に示す各ストリップラインセル１００に互いに異なるタイミングで電気信号が供給される様子を示す模式図である。【０１２４】
本実施形態では、２つのストリップラインセル１００を使った試験が、複数のタイムスロットに時分割されて実行される。１つのタイムスロットでは、一方のストリップラインセル１００に対して、ある設定電力に対応した電気信号の供給と応答信号の受信とが行われる。この図２１には、上下２段それぞれに、各ストリップラインセル１００に対応するタイムスロットが示されており、各タイムスロットには、電気信号の供給タイミングｔ１と応答信号の受信タイミングｔ２とが示されている。例えばタイムスロットｎで、一方のストリップラインセル１００について、ある設定電力に対応した電気信号の供給と応答信号の受信が行われると、次のタイムスロットｎ＋１では、他方のストリップラインセル１００について、タイムスロットｎにおける設定電力と同じ設定電力に対応した電気信号の供給と応答信号の受信が行われる。さらに、次のタイムスロットｎ＋２では、タイムスロットｎでの対象のストリップラインセル１００と同じストリップラインセル１００について、別の設定電力での電気信号の供給と応答信号の受信が行われ、続くタイムスロットｎ＋３でもう一方のストリップラインセル１００について、その別の設定電力での電気信号の供給と応答信号の受信が行われる。このように、本実施形態では、２つのストリップラインセル１００について、電気信号の供給と応答信号の受信との組が、交互に実行される。このような交互の実行は、微視的には互いにタイミングがずれた実行であるが、ユーザの見かけ上、即ち巨視的には同時並行の実行であるといえる。つまり、本実施形態では、２つのストリップラインセル１００を使って、２つのＲＦＩＤタグＴ１に対する性能試験が見かけ上同時並行に行なわれることとなるので効率的である。【０１２５】
次に、本発明の第４実施形態について説明する。【０１２６】
図２２は、本発明の第４実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１２７】
この図２２に示すＲＦＩＤタグ試験装置４は、図２０に示す第３実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置３における２つのストリップラインセル１００とそれらのストリップラインセル１００に電気信号を供給するリーダライタ８０との組を２組備えたものである。このため、この図２２では、図２０と同等な構成要素については図２０と同じ符号を付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０１２８】
ここで、上記の２組それぞれにおけるリーダライタ８０が、本発明にいう供給機の一例に相当する。これら２つのリーダライタ８０それぞれは、コンピュータ９０に、各々第９および第１０ケーブル９１，９２で接続されている。ここで、コンピュータ９０は、各リーダライタ８０の間では、図２１を参照して説明した電気信号の供給と応答信号の受信が、互いに同時並行で行われるように２つのリーダライタ８０を制御する。このため、本実施形態では、４つのストリップラインセル１００を使って、４つのＲＦＩＤタグＴ１に対する性能試験を同時並行に行うことができるのでさらに効率的である。ここで、これら４つのストリップラインセル１００のうちの２つのストリップラインセル１００については、互いに同じタイミングで電気信号の供給と応答信号の受信が行われることとなるが、各ストリップラインセル１００における準ＴＥＭ波の届く範囲が限られていることから各ストリップラインセル１００相互間での干渉等が避けられる。【０１２９】
次に、本発明の第５実施形態について説明する。【０１３０】
図２３は、本発明の第５実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１３１】
この第５実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置５は、図２０に示す第３実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置３が備えるリーダライタ８０と同等なリーダライタを備えている。そこで、この図２３ではリーダライタについて図２０と同じ符号が付され、以下ではこのリーダライタ８０についての重複説明を省略する。【０１３２】
本実施形態では、リーダライタ８０の２つのポート８０ａ，８０ｂそれぞれには、互いにほぼ同等な第１および第２ストリップラインセル２２０，２３０が後述の減衰器２４０を介して直列接続されている。ここで、これら第１および第２ストリップラインセル２２０，２３０のうち第２ストリップラインセル２３０は、上述の第１から第４実施形態において使われているストリップラインセル１００と同じものであるが、第１ストリップラインセル２２０は、上記の図４等に示されている終端抵抗１０３が接続されておらず、終端コネクタが入力コネクタと同様にケース外に出た構造となっている。そして、第１ストリップラインセル２２０の終端コネクタと第２ストリップラインセル２３０の入力コネクタとの間に減衰器２４０が接続されている。減衰器２４０は、リーダライタ８０が第１ストリップラインセル２２０に供給した電気信号を所定程度に減衰させて第２ストリップラインセル２３０に伝えるもので、本発明にいう減衰部の一例に相当する。【０１３３】
また、この第５実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置５は、図１７に示す第２実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置２と同様に、タグロールＲに含まれる複数のＲＦＩＤタグを試験対象としている。ただし、この第５実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置５では、１つのタグロールＲについての試験が、リーダライタ８０における１つのポートに接続されているストリップラインセルの組を使って行われる。つまり、このＲＦＩＤタグ試験装置５は、２つのタグロールＲについての試験を同時並行に行うという機能を有している。ここで、各ポートに接続されているストリップラインセルの組は互いに同等であり、各組を使って行われる試験も同等であるので、以下では、ストリップラインセルの２つの組のうち一方の組に注目して説明を行う。【０１３４】
図２４は、図２３に示すＲＦＩＤタグ試験装置５の詳細を、ストリップラインセルの２つの組のうち一方の組に注目して示す図である。【０１３５】
この図２４では、試験対象のタグロールＲが、図を見やすくするために２つのストリップラインセル２２０，２３０から離れた位置に記載されているが、実際には、図中に点線で示すように、タグロールＲは２つのストリップラインセル２２０，２３０に接するように配置される。また、この図２４には、タグロールＲの回転軸を矢印Ｄ３方向に回転させることでタグロールＲの各ＲＦＩＤタグＴ１を矢印Ｄ４が示す搬送方向に搬送し、各ＲＦＩＤタグＴ１を、２つのストリップラインセル２２０，２３０それぞれに対して順次に配置する、図２３では図示が省略されている搬送装置２５０も示されている。【０１３６】
この図２４に示すように、このＲＦＩＤタグ試験装置５では、２つのストリップラインセル２２０，２３０が、矢印Ｄ４が示す搬送方向の上流側から、第１ストリップラインセル２２０、第２ストリップラインセル２３０の順で、この搬送方向に沿って配置されている。さらに、２つのストリップラインセル２２０，２３０の間隔Ｌ４は、タグロールＲにおけるＲＦＩＤタグＴ１の配置間隔Ｌ３の３倍となっている。【０１３７】
図２５は、図２３及び図２４に示すＲＦＩＤタグ試験装置５を使ったＲＦＩＤタグの試験工程を含む、ＲＦＩＤタグ製造方法を示すフローチャートである。【０１３８】
この図２５に示すＲＦＩＤタグ製造方法は、図１８に示す作成工程と同等な作成工程（ステップＳ２１０）と、タグロールＲの各ＲＦＩＤタグＴ１について通信限界距離をＲＦＩＤタグ試験装置５を使って求める性能試験を行う試験工程（ステップＳ３００）とを備えている。この図２５に示すＲＦＩＤタグ製造方法は、本発明の製造方法の一実施形態に相当し、上記の試験工程（ステップＳ３００）は、本発明にいう試験工程の一例に相当するとともに、本発明の試験方法の一実施形態も兼ねている。【０１３９】
図２６は、図２５の試験工程（ステップＳ３００）の詳細な流れを示すフローチャートである。【０１４０】
この図２６のフローチャートが示す処理は、図２３及び図２４に示すＲＦＩＤタグ試験装置５にタグロールＲがセットされ、ユーザが、コンピュータ２１０に対して所定の操作を介して性能試験のスタートを指示するとスタートする。処理がスタートすると、まず、コンピュータ２１０が、リーダライタ８０に対して上記の初期化処理の実行を指示する（ステップＳ３０１）。【０１４１】
次に、リーダライタ８０に対して、電力の設定値を、第１ストリップラインセル２２０ではＲＦＩＤタグＴ１が受信可能な出力で電波信号が発信され、減衰器２４０を介して電気信号が伝えられる第２ストリップラインセル２３０ではＲＦＩＤタグＴ１が受信不可能な低い出力で電波信号が発信されるような設定値とするように指示するコマンドＣ４が送られる（ステップＳ３０１）。続いて、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１にＵＩＤを要求する第１要求信号を第１ストリップラインセル２２０に供給する旨を指示するコマンドＣ５がリーダライタ８０に送られる（ステップＳ３０２）。このステップＳ３０２の処理と、その前のステップＳ３０１の処理とを合わせた処理は、本発明にいう供給過程の一例に相当する。また、本実施形態におけるＵＩＤが、本発明にいう識別情報の一例に相当し、このＵＩＤを表わす応答信号Ｓ２を取得するコンピュータ２１０が、本発明にいう識別情報取得部の一例に相当する。【０１４２】
リーダライタ８０は、上記の設定された電力を有する第１要求信号を第１ストリップラインセル２２０に供給する。また、この第１要求信号は、減衰器２４０を介して第２ストリップラインセル２３０にも供給される。このとき、第１要求信号の電力が上記のような設定値に設定されているため、第１ストリップラインセル２２０に対して配置されているＲＦＩＤタグＴ１のみがこの第１要求信号に応じた電波信号を受信可能となる。そして、このＲＦＩＤタグＴ１から応答信号Ｓ２の返信があった場合には、リーダライタ８０は、その応答信号Ｓ２を第１ストリップラインセル２２０を介して受信してコンピュータ２１０に送る。【０１４３】
一方、コンピュータ２１０は、ステップＳ３０３の後、待機状態に移行し（ステップＳ３０４）、その後、リーダライタ８０から応答信号Ｓ２が送られてきたか否かが判定される（ステップＳ３０５）。そして、リーダライタ２０から応答信号Ｓ２が送られてきた場合（ステップＳ３０５におけるＹｅｓ判定）には、その応答信号Ｓ２が示すＵＩＤが所定のメモリに一時的に記憶され（ステップＳ３０６）、リーダライタ２０から応答信号Ｓ２が送られてこなかった場合（ステップＳ３０５におけるＮｏ判定）には、その旨を示すＢＡＤフラグが一時的に記憶される（ステップＳ３０７）。【０１４４】
ＵＩＤの一時記憶（ステップＳ３０６）あるいはＢＡＤフラグの一時記憶（ステップＳ３０７）が終了すると、コンピュータ２１０は、タグロールＲの中心軸を、配置間隔Ｌ３分の搬送に相当する角度だけ回転するように指示するコマンドＣ６を搬送装置２５０に送る（ステップＳ３０８）。そして、このコマンドＣ６の送信の後、コンピュータ２１０は、一時記憶されていた上記のＵＩＤあるいはＢＡＤフラグを、自分が備えている、先入れ先だし方式で情報を格納するＦＩＦＯメモリに格納する（ステップＳ３０９）。ここで、このＦＩＦＯメモリが、本発明にいうＦＩＦＯメモリの一例に相当する。【０１４５】
ここで、上記のＦＩＦＯメモリのバッファ段数、即ち、このＦＩＦＯメモリが記憶できる情報の数は、第１ストリップラインセル２２０から第２ストリップラインセル２３０までＲＦＩＤタグＴ１が移動するための搬送回数である。本実施形態では、図２４から分かるようにこの搬送回数が３回となっているので、ＦＩＦＯメモリのバッファ段数は３段に設定されている。【０１４６】
ステップＳ３０９におけるＦＩＦＯメモリへの情報の格納が終了すると、現在、ＦＩＦＯメモリのバッファが満たされているか否かが判定される（ステップＳ３１０）。バッファの空きがある場合（ステップＳ３１０におけるＮｏ判定）、ステップＳ３０２まで処理が戻り、ステップＳ３０２からステップＳ３１０までの処理が繰り返される。この処理は、ＦＩＦＯメモリのバッファが満たされるまで（ステップＳ３１０におけるＹｅｓ判定）続けられる。【０１４７】
ＦＩＦＯメモリのバッファが満たされていた場合には、ＦＩＦＯメモリから情報が読み出され、その情報がＢＡＤフラグか否かが判定される（ステップＳ３１１）。その情報がＢＡＤフラグであった場合（ステップＳ３１１におけるＹｅｓ判定）、ステップＳ３０２まで処理が戻り、ステップＳ３０２からステップＳ３１１までの処理が繰り返される。【０１４８】
一方、その情報がＢＡＤフラグではなくＵＩＤであった場合（ステップＳ３１１におけるＮｏ判定）、現在、リーダライタ８０において設定されている電気信号の電力が最大設定値となっているか否かが判定される（ステップＳ３１２）。ステップ３１１による判定の直後では、電力の設定値は最大設定値ではないので（ステップＳ３１２におけるＮｏ判定）、次のステップＳ３１３の処理に進む。【０１４９】
ステップＳ３１３の処理では、リーダライタ８０における電力の設定値として、現在の設定値に所定刻み分の増加分だけ増した値が算出され、その算出結果を、第１ストリップラインセル２２０に供給する電気信号の電力に設定するように指示するコマンドＣ７がリーダライタ８０に送られる。次に、ＦＩＦＯメモリから読み出されたＵＩＤが識別するＲＦＩＤタグＴ１に対して所定の反応を要求する第２要求信号を第１ストリップラインセル２２０に供給する旨を指示するコマンドＣ８がリーダライタ８０に送られる（ステップＳ３１４）。このステップＳ３１４の処理と、その前のステップＳ３１３の処理とを合わせた処理も、本発明にいう供給過程の一例に相当する。【０１５０】
リーダライタ８０は、上記の設定された電力を有する第２要求信号を第１ストリップラインセル２２０に供給する。また、この第２要求信号は、減衰器２４０を介して第２ストリップラインセル２３０にも供給される。ここで、この第２要求信号が反応を要求しているＲＦＩＤタグＴ１は、第１ストリップラインセル２２０の位置でＵＩＤを示す応答信号Ｓ２を返信した後、ステップＳ３０８による搬送が３回繰り返されたことで、第２要求信号が第１ストリップラインセル２２０に供給された時点では、第２ストリップラインセル２３０の位置に配置されている。また、このとき第１ストリップラインセル２２０の位置にはこのＲＦＩＤタグＴ１とはＵＩＤが異なる別のＲＦＩＤタグＴ１が配置されている。このため、第２要求信号は第１及び第２ストリップラインセル２２０，２３０の両方から発信されるが、その第２要求信号に対して反応する可能性があるのは第２ストリップラインセル２３０の位置のＲＦＩＤタグＴ１のみとなる。【０１５１】
コンピュータ２１０は、ステップＳ３１４の後は待機状態に移行し（ステップＳ３１５）、その後、リーダライタ８０からＲＦＩＤタグＴ１の反応に基づく応答信号Ｓ３が送られてきたか否かが判定される（ステップＳ３１６）。このステップＳ３１６の処理と、その前のステップＳ３１５の処理とを合わせた処理は、本発明にいう反応確認過程の一例に相当する。【０１５２】
リーダライタ８０から応答信号Ｓ３が送られてきていない場合（ステップＳ３１６におけるＮｏ判定）、ステップＳ３１２まで戻って、このステップＳ３１２からステップＳ３１６までの処理が繰り返される。この繰り返しは、電力の設定値が最大設定値に達するか（ステップＳ３１２におけるＹｅｓ判定）、リーダライタ８０から応答信号Ｓ３が送られてくるまで（ステップＳ３１６におけるＹｅｓ判定）続けられる。【０１５３】
リーダライタ８０から応答信号Ｓ３が送られてくると、コンピュータ２１０は、その応答信号が送られてきたときの電力の設定値を、上述した電力対距離の対応関係を使って通信限界距離に換算し（ステップＳ３１７）、その通信限界距離を第２要求信号の基となったＵＩＤと対応付けて所定のメモリに保存する（ステップＳ３１８）。このステップＳ３１８を経て通信限界距離の保存が終了するか、応答信号Ｓ３が送られてくることなく電力の設定値が最大設定値に達した場合（ステップＳ３１２におけるＹｅｓ判定）には、処理がステップＳ３０２まで戻って試験が続けられる。【０１５４】
以上、図２６のフローチャートを参照して説明した試験工程について、若干繰り返しにはなるが、上記の図２４と、次の図２７とを参照してさらに説明する。【０１５５】
図２７は、第１及び第２ストリップラインセル２２０，２３０におけるＲＦＩＤタグＴ１の配置と各ストリップラインセルが発信する電波信号の出力とを示す図である。【０１５６】
上記の図２４に示すようにタグロールＲのＲＦＩＤタグＴ１を、搬送方向（矢印Ｄ４）下流側からタグＡ，タグＢ，タグＸ，タグＤ，タグＸと呼ぶ。ここで、２つのタグＸは、いずれも故障品であるとする。そして、上記の試験工程は、タグロールＲが、第１ストリップラインセル２２０の位置にタグＡが配置されるようにＲＦＩＤタグ試験装置５にセットされるとスタートするものとする。この場合、図２７に示すように試験工程のスタート時点Ｔ０では、第２ストリップラインセル２３０の位置は空き状態となっている。【０１５７】
ここで、リーダライタ８０から供給されるＵＩＤを要求する第１要求信号に基づいて第１ストリップラインセル２２０が発信する電波信号における電界強度を例えば１３０ｄＢμＶ／ｍとし、減衰器２４０による減衰量を１０ｄＢとすると、減衰後の第１要求信号に基づいて第２ストリップラインセル２３０が発信する電波信号における電界強度は１２０ｄＢμＶ／ｍとなる。このとき、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が受信可能な最小の電界強度が１２５ｄＢμＶ／ｍであったとすると、Ｔ０の時点では、第１ストリップラインセル２２０の位置に配置されたタグＡが応答信号を返信することとなる。このような処理が、タグＡが第２ストリップラインセル２３０の位置に配置される時点Ｔ３まで実行され、その間、第１ストリップラインセル２２０からは１３０ｄＢμＶ／ｍの電界強度を有する電波信号が発信され続け、第２ストリップラインセル２３０からは１２０ｄＢμＶ／ｍの電界強度を有する電波信号が発信され続ける。また、この時点Ｔ３では、第２ストリップラインセル２３０の位置に配置されたタグＡに対して１２０ｄＢμＶ／ｍの電界強度を有する電波信号が発信されるが、この電波信号の電界強度はタグＡが受信可能な最小の電界強度を下回っているのでタグＡは無反応となる。この時点Ｔ３以降、２つのストリップラインセル２２０，２３０の両方の位置にＲＦＩＤタグＴ１が配置され、これら２つのＲＦＩＤタグの双方に対して電波信号が発信されることになるが、ＵＩＤを要求する第１要求信号に基づく電波信号は第１ストリップラインセル２２０の位置に配置されたＲＦＩＤタグＴ１のみで受信されることとなる。【０１５８】
次に、上記の時点Ｔ３以降、第１要求信号に基づく処理に続いて、そのＵＩＤを指定した第２要求信号に基づく処理が、電力を徐々に増しながら、即ち、各ストリップラインセルが発信する電波信号の電界強度を増しながら実行される。この処理のスタート時点では、第１ストリップラインセル２２０は１３０ｄＢμＶ／ｍの電界強度を有する電波信号を発信し、第２ストリップラインセル２３０は１２０ｄＢμＶ／ｍの電界強度を有する電波信号を発信する。上述したように、ここでの例では、ＲＦＩＤタグＴ１が受信可能な最小の電界強度は１２５ｄＢμＶ／ｍであるので、第１ストリップラインセル２２０の位置のＲＦＩＤタグＴ１は処理中は常に受信可能である。しかし、このＵＩＤを指定した処理は、ＵＩＤを取得されたＲＦＩＤタグＴ１が第２ストリップラインセル２３０の位置に配置された時点で、その取得されたＵＩＤを使って行なわれる。従って、第１ストリップラインセル２２０の位置のＲＦＩＤタグＴ１はＵＩＤが不一致であるので無反応となる。ここで、電界強度の増加分を最大で１０ｄＢとすると、処理中は第２ストリップラインセル２３０が発信する電波信号の電界強度は、最大で１２０ｄＢμＶ／ｍから１３０ｄＢμＶ／ｍまで変化する。そして、電波信号の電界強度が、ＲＦＩＤタグＴ１の受信可能な強度である１２５ｄＢμＶ／ｍに達すると、その時に第２ストリップラインセル２３０の位置に配置されているＲＦＩＤタグＴ１が正常なタグ（ここでの例では、タグＡ、タグＢ、タグＣ、タグＤ）であれば反応し、それらのＲＦＩＤタグＴ１について通信限界距離が求められることとなる。【０１５９】
以上、図２３から図２７を参照して説明した第５実施形態によれば、通信限界距離を求める性能試験が、ＵＩＤを指定して行なわれるので、性能試験中のＲＦＩＤタグＴ１の近辺に存在する他のＲＦＩＤタグＴ１が誤って反応してしまう等といった不具合が回避され、より正確な試験を行うことができる。【０１６０】
次に、本発明の第６実施形態について説明する。【０１６１】
図２８は、本発明の第６実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１６２】
この図２８に示すＲＦＩＤタグ試験装置６は、図１に示す第１実施形態のリーダライタ２０及びストリップラインセル１００と同等なリーダライタ及びストリップラインセルを備えており、図２８では、これらのリーダライタ及びストリップラインセルに図１と同じ符号が付されており、以下では、これらについての重複説明を省略する。【０１６３】
リーダライタ２０は、コンピュータ３１０に、第１１ケーブル３１１で接続されており、さらに、このリーダライタ２０は、減衰量を所定の操作子３２０ａに対する手動操作で変更可能な可変減衰器３２０を介してストリップラインセル１００に接続されている。ここで、この可変減衰器３２０が、本発明にいう伝達部の一例に相当する。【０１６４】
コンピュータ３１０は、リーダライタ２０に対し、所定の反応を要求する要求信号をストリップラインセル１００に例えば２７ｄＢｍといった所定の設定電力で供給するように指示するコマンドを送信する。そして、そのコマンドに応じて、リーダライタ２０が供給する電気信号は、可変減衰器３２０での減衰を経てストリップラインセル１００に伝えられる。そして、その減衰後の電気信号に基づいてストリップラインセル１００が発信する電波信号に試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が反応したか否かが、リーダライタ２０からコンピュータ３１０に通知される。通知された結果は、コンピュータ３１０が有する不図示の表示画面に表示される。【０１６５】
ここで、上記の可変減衰器３２０には、互いに異なる減衰量を表わす複数の目盛が記されているが、その減衰量の目盛に隣接して、上述した第１実施形態における準備作業で使われた、図１２に示す電波暗室４１内におけるアンテナ４６からの距離を表わす、互いに異なる距離を表わす複数の距離の目盛が記されている。そして、ユーザが、操作子３２０ａをいずれかの距離の目盛に設定すると、リーダライタ２０が供給する電気信号の電力を、その設定された目盛が表わす距離における電波信号の出力と同等の出力の電波信号をストリップラインセル１００で発信するのに必要な電力に変換してそのストリップラインセル１００に伝える。【０１６６】
ここで、可変減衰器３２０における距離の目盛は、次のような手順を経て可変減衰器３２０に記されたものである。まず、第１実施形態における準備作業と同様に、図１２に示す電波暗室４１内での計測作業により、アンテナ４６からの距離と、その距離における電界強度との対応関係が求められる。【０１６７】
図２９は、可変減衰器３２０の距離の目盛を求める作業で使われるグラフである。【０１６８】
この図２９に示すグラフＧ３は、縦軸に電界強度がとられ、横軸に距離とがとられている。【０１６９】
距離の目盛を求める作業では、上記の電波暗室４１内での計測作業により、アンテナ４６からの距離と、その距離における電界強度との対応関係が求められると、まず、その対応関係が、グラフＧ３にプロットされる。この図２９の例では、この対応関係が四角形でプロットされている。次に、可変減衰器３２０に距離の目盛が記されていない状態のＲＦＩＤタグ試験装置６において、上記のようにリーダライタ２０から例えば２７ｄＢｍといった所定の設定電力で電気信号をストリップラインセル１００に供給する。そして、そのときにストリップラインセル１００が発信する電波信号における電界強度を標準ダイポールアンテナを使って計測しながら可変減衰器３２０の操作子３２０ａを操作して、グラフＧ３における四角形の各プロット点について、そのプロット点の電界強度とほぼ同等な電界強度が得られる減衰量の目盛が求められる。この図２９の例では、グラフＧ３の横軸における各距離の上側に、その距離に対応するプロット点について求められた減衰量の目盛が記されている。さらに、このグラフＧ３には、可変減衰器３２０の操作によって得られた減衰量の目盛と電界強度との対応関係が菱形でプロットされている。ここで、このグラフＧ３では、２種類のプロット点が余り一致していない部分が見られるが、これは、四角形でプロットされている距離と電界強度の対応関係が、電波暗室４１内での反射等に起因する誤差を含んでいるためである。実際には、計測で求めた距離と電界強度の対応関係からこのような影響を除く補正が行われて、例えば図１５に示すグラフＧ２において四角形でプロットされているような補正後の対応関係が使われる。【０１７０】
以上、説明したような作業を経てアンテナ４６からの距離に対応する減衰量の目盛が求められると、可変減衰器３２０における減衰量の目盛の隣にその目盛に対応する距離を記載する。これにより、距離の目盛が記載された可変減衰器３２０が得られ、図２８のＲＦＩＤタグ試験装置６が完成する。【０１７１】
そして、ユーザは、その完成したＲＦＩＤタグ試験装置６のストリップラインセル１００に試験対象のＲＦＩＤタグＴ１を搭載し、コンピュータ３１０の表示画面における応答の有無についての表示を目視確認しながら、操作子３２０ａを操作して、電界強度を増加させたときに最初に反応が現れたときの距離の目盛、あるいは、電界強度を減少させたときに最初に反応が無くなったときの距離の目盛を、そのＲＦＩＤタグＴ１の通信限界距離として採用する。【０１７２】
以上、説明したように第６実施形態によれば、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１の通信限界距離を、簡単な手動操作によって求めることができる。【０１７３】
次に、本発明の第７実施形態について説明する。【０１７４】
図３０は、本発明の第７実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１７５】
この図３０に示すＲＦＩＤタグ試験装置７は、図２８に示す第６実施形態のストリップラインセル１００と同等な第１および第２ストリップラインセル３３０，３４０と、その第６実施形態の可変減衰器３２０と同等だが減衰量の目盛のみが記載された第１および第２可変減衰器３５０，３６０が備えられている点を除けば、この第６実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置６と同等である。そこで、この図３０では、図２８の構成要素と同等な構成要素には図２８と同じ符号が付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０１７６】
図３０に示すＲＦＩＤタグ試験装置７では、第１可変減衰器３５０がリーダライタ２０と第１ストリップラインセル３３０の間に接続され、第２可変減衰器３６０が２つのストリップラインセル３３０，３４０の間に接続されている。ここで、第１ストリップラインセル３３０および第２ストリップラインセル３４０は、それぞれ本発明にいう第１ストリップラインセルおよび第２ストリップラインセルの各一例に相当し、第１可変減衰器３５０および第２可変減衰器３６０は、それぞれ本発明にいう伝達部および第２伝達部の各一例に相当する。【０１７７】
図３０に示すＲＦＩＤタグ試験装置７は、例えば、以下のように運用される。【０１７８】
例えば、ＲＦＩＤタグは、一般的に、所定の下限電界強度以上の電界強度を有する電波信号を受信でき、さらに所定の上限電界強度までなら破損することなく電波信号を受信できるという、受信可能な電界強度の許容範囲を有している。そこで、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が、このような電界強度についての許容範囲を確かに有しているか否かを確認するという性能試験が行なわれている。【０１７９】
図３０に示すＲＦＩＤタグ試験装置７は、まず、コンピュータ３１０において、第１ストリップラインセル３３０が上限電界強度の電波信号を発信するのに要する設定値を超える設定値に電力を設定するようにリーダライタ２０に対して指示がなされる。そして、第１可変減衰器３５０の減衰量が、第１ストリップラインセル３３０で上限電界強度の電波信号が発信される減衰量に設定され、第２可変減衰器３６０の減衰量が、第２ストリップラインセル３３０で下限電界強度の電波信号が発信される減衰量に設定される。そして、ユーザは、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１を、第１ストリップラインセル３３０と第２ストリップラインセル３４０とに交互に配置して各ストリップラインセルからの電波信号に曝しながら、コンピュータ３１０の不図示の表示画面で、ＲＦＩＤタグＴ１の反応の有無を確認する。【０１８０】
以上、説明した第７実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置７によれば、上記のような一連の作業により、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が、上記の許容範囲を確かに有しているか否かを簡単に確認することができる。【０１８１】
次に、本発明の第８実施形態について説明する。【０１８２】
図３１は、本発明の第８実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０１８３】
この図３１に示すＲＦＩＤタグ試験装置８は、ＲＦＩＤタグにおける、電波信号の周波数と通信限界距離との対応関係と定義される周波数特性を得るための装置であるという点を除けば、図１に示す第１実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置１と同等である。このため、図３１では、図１と同等な構成要素については図１と同じ符号を付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０１８４】
ここで、ＲＦＩＤタグについて周波数特性を取得することの必要性について説明する。【０１８５】
上述したように、ＲＦＩＤタグは様々な物品に取り付けられて使用されることが多い。その結果、ＲＦＩＤタグが受信する電波信号は、そのような物品越しにＲＦＩＤタグに到達することがある。また、ＲＦＩＤタグが物品に取り付けられる際には、ＲＦＩＤタグ自体の保護のためにＲＦＩＤタグ全体を覆う被覆が設けられることもある。ここで、電波信号の周波数は、伝播経路上にある物体の比誘電率等の影響を受けて変化することが知られている。そこで、このように電波信号に対して影響がある環境下での使用が想定されるＲＦＩＤタグの設計は、使用環境による影響を見込んで、想定される通信周波数において最大のアンテナ利得が得られるように行われる。従って、このようなＲＦＩＤタグの製造時には、製造されたＲＦＩＤタグが、設計時の見込みどおりの周波数特性を有しているか否かを検証する必要があり、周波数特性の取得が必須となっている。【０１８６】
図３１に示すＲＦＩＤタグ試験装置８は、この周波数特性を得るための装置であり、図１６を参照して説明した性能試験が、ＲＦＩＤタグＴ１の通信周波数である９５３ＭＨｚを含む、８００ＭＨｚから１０４０ＭＨｚまでの周波数範囲に亘る各周波数について実行される。本実施形態では、コンピュータ４１０が、後述する処理の流れに沿ってリーダライタ２０を制御することによって実現されている。このコンピュータ４１０も、本発明にいう反応確認部の一例に相当する。【０１８７】
ところで、このような試験が可能となるためには、ＲＦＩＤタグに向けて電波信号を発するストリップラインセルの出力が、上記の周波数範囲に亘って安定していることが望ましい。ここで、本実施形態や他の実施形態にも使用されているストリップラインセル１００の周波数に対する出力特性が安定したものであることが実験により確認されている。【０１８８】
図３２は、ストリップラインセル１００の周波数に対する出力特性を示すグラフである。【０１８９】
この図３２に示すグラフＧ４は、縦軸に挿入損失がとられ、横軸に周波数とがとられている。挿入損失は、入力に対する出力の減衰量を示すものであり、このストリップラインセル１００の出力と読み替えることができる。グラフＧ４には、８００ＭＨｚから１０４０ＭＨｚまでの周波数範囲に亘る挿入損失の変動が記載されている。この図３２から分かるように、ストリップラインセル１００における挿入損失は、この周波数範囲に亘っておよそ「１．０」の前後で安定しているので、このストリップラインセル１００の出力が、上記の周波数範囲に亘って安定しているといえる。【０１９０】
本実施形態では、このように周波数に対して安定した出力特性を有するストリップラインセル１００を使って、ＲＦＩＤタグＴ１の周波数特性が次のように取得される。【０１９１】
図３３は、ＲＦＩＤタグ試験装置８で実行される周波数特性取得処理の流れを示すフローチャートである。【０１９２】
ここで、この図３３のフローチャートが示す処理も、本発明の試験方法の一実施形態に相当する。【０１９３】
この図３３のフローチャートが示す処理は、ユーザが、コンピュータ４１０に対して所定の操作を介して性能試験のスタートを指示するとスタートする。処理がスタートすると、まず、コンピュータ４１０は、リーダライタ２０に対して、ストリップラインセル１００に供給する電気信号の電力を０ｄＢｍに設定し、周波数を７７０ＭＨｚに設定する。さらに、初期化処理の実行を指示した後待機状態となる（ステップＳ４０１）。そして、ＲＦＩＤタグ試験装置８のストリップラインセル１００に試験対象のＲＦＩＤタグＴ１が配置され、ユーザが、コンピュータ４１０に対して所定の操作を介してこのＲＦＩＤタグＴ１に対する性能試験のスタートを指示すると次のステップ（ステップＳ４０２）に進む。【０１９４】
ステップＳ４０２では、現在、リーダライタ２０において設定されている電気信号の周波数が最大設定値（本実施形態では１０４０ＭＨｚ）となっているか否かが判定される。しかし、ステップＳ４０１の初期化処理の直後では、周波数の設定値は最大設定値ではないので（ステップＳ４０２におけるＮｏ判定）、次のステップＳ４０３の処理に進む。【０１９５】
ステップＳ４０３の処理では、リーダライタ２０における周波数の設定値として、現在の設定値に所定刻み分の増加分（本実施形態では３０ＭＨｚ）だけ増した値が算出され、その算出結果を、ストリップラインセル１００に供給する電気信号の周波数に設定するコマンドＣ１１がリーダライタ２０に送られる。【０１９６】
続いて、現在、リーダライタ２０において設定されている電気信号の電力が最大設定値（本実施形態では２５．５ｄＢｍ）となっているか否かが判定される（ステップＳ４０４）。しかし、ステップＳ４０１の初期化処理の直後では、電力の設定値は最大設定値ではないので（ステップＳ４０４におけるＮｏ判定）、次のステップＳ４０５の処理に進む。【０１９７】
ステップＳ４０５の処理では、リーダライタ２０における電力の設定値として、現在の設定値に所定刻み分の増加分（本実施形態では０．５ｄＢ）だけ増した値が算出され、その算出結果を、ストリップラインセル１００に供給する電気信号の電力に設定するコマンドＣ１２がリーダライタ２０に送られる。【０１９８】
ステップＳ４０３及びステップＳ４０５の処理で電力および周波数が設定されると、次に、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１にＵＩＤを要求する要求信号をストリップラインセル１００に供給する旨を指示するコマンドＣ１３がリーダライタ２０に送られる（ステップＳ４０６）。【０１９９】
このステップＳ４０４の処理、その前のステップＳ４０３、及びステップＳ４０５の処理を合わせた処理は、本発明にいう供給過程の一例に相当する。【０２００】
リーダライタ２０は、上記の設定された周波数と電力を有する要求信号をストリップラインセル１００に供給する。そして、この要求信号に対してＵＩＤを表わす応答信号Ｓ１１の出力がＲＦＩＤタグＴ１からあった場合には、リーダライタ２０は、その応答信号Ｓ１１をストリップラインセル１００を介して受信してコンピュータ４１０に送る。【０２０１】
一方、コンピュータ４１０の方は、ステップＳ４０４の後、所定時間の待機状態に移行する（ステップＳ４０７）。そして、その所定時間の経過後、リーダライタ２０から応答信号Ｓ１１が送られてきたか否かが判定される（ステップＳ４０８）。このステップＳ４０８の処理と、その前のステップＳ４０７の処理とを合わせた処理が、本発明にいう反応確認過程の一例に相当する。リーダライタ２０から応答信号Ｓ１１が送られてきていない場合（ステップＳ４０８におけるＮｏ判定）、ステップＳ４０４まで戻って、このステップＳ４０４からステップＳ４０８までの処理が繰り返される。この繰り返しは、電力の設定値が最大設定値に達するか（ステップＳ４０４におけるＹｅｓ判定）、リーダライタ２０から応答信号Ｓ１１が送られてくるまで（ステップＳ４０７におけるＹｅｓ判定）続けられる。【０２０２】
リーダライタ２０から応答信号Ｓ１１が送られてくると、コンピュータ４１０は、その時点での電力の設定値を、上述した電力対距離の対応関係を使って通信限界距離に換算する（ステップＳ４０９）。【０２０３】
ステップＳ４０７の処理において、試験対象のＲＦＩＤタグＴ１についてこのような通信限界距離が求められると、コンピュータ４１０は、その通信限界距離を、その時点での周波数、および、ＲＦＩＤタグＴ１からの応答信号Ｓ１１が表わすＵＩＤと対応付けて所定のメモリに保存する（ステップＳ４１０）。続いて、電力の設定値が初期化されて（ステップＳ４１１）、処理がステップＳ４０２まで戻る。【０２０４】
ステップＳ４０２まで処理が戻ると、その後、このステップＳ４０２からステップＳ４１０までの処理が繰り返されて、先に通信限界距離が求められたときの周波数に、上記の刻み（３０ＭＨｚ）だけ加えた周波数について通信限界距離が求められる。このような処理が、周波数の設定値が最大設定値（１０４０ＭＨｚ）に達するまで（ステップＳ４０２におけるＹｅｓ判定）続けられる。【０２０５】
そして、周波数の設定値が最大設定値（１０４０ＭＨｚ）に達すると、ステップＳ４０１まで処理が戻ってリーダライタ２０に対して電力および周波数の双方について初期化処理の実行を指示した後、次のＲＦＩＤタグに対する性能試験の待機状態になる。【０２０６】
以上に説明した処理により、８００ＭＨｚから１０４０ＭＨｚまでの周波数範囲に亘る３０ＭＨｚ刻みの各周波数についての通信限界距離が求められ、ＲＦＩＤタグの周波数特性が得られることとなる。【０２０７】
図３４は、図３３のフローチャートが示す周波数特性取得処理によって取得された周波数特性の一例を示すグラフである。【０２０８】
この図３４のグラフＧ５では、縦軸に周波数がとられ、横軸に電力と通信限界距離とがとられている。そして、このグラフＧ１には、上記の周波数特性取得処理によって、ＲＦＩＤタグの２つのサンプルそれぞれについて取得された周波数特性が、サンプル１については菱形の点でプロットされ、サンプル２については四角形の点でプロットされている。【０２０９】
この図３４のグラフＧ５によると、サンプル１では１０２０ＭＨｚの周波数に対する通信限界距離が最も長く利得が最大となっている。また、サンプル２では９８０ＭＨｚの周波数に対する通信限界距離が最も長く利得が最大となっている。【０２１０】
ここで、本実施形態では、ＲＦＩＤタグに対して想定されている通信周波数は双方共に９５３ＭＨｚである。しかしながら、上述したように、ＲＦＩＤタグで送受信される電波信号の周波数は、ＲＦＩＤタグが取り付けられる物品やＲＦＩＤタグの被覆等といった、伝播経路上にある物体の比誘電率等といった使用環境の影響を受けて変化することがある。そこで、このような使用環境の影響が予想されるＲＦＩＤタグについては、そのような使用環境下に置かれたときに９５３ＭＨｚの通信周波数に対して最大の利得が得られるように、最大の利得が得られる周波数が９５３ＭＨｚからズラされて設計される。【０２１１】
上記の２つのサンプルは、電波信号に対して影響がある環境下での使用が想定されており、双方とも、最大の利得が得られる周波数が９５３ＭＨｚからズラされて設計されている。また、サンプル１とサンプル２とでは想定される使用環境が互いに異なっているので、これらのサンプル間では、設計時における、最大の利得が得られる周波数の９５３ＭＨｚからのズレが互いに異なっている。【０２１２】
図３４のグラフＧ５に示されている、各サンプルについて実測された周波数特性において、最大の利得が得られる周波数が、想定されている通信周波数９５３ＭＨｚからズレており、さらに、両者間で、最大の利得が得られる周波数が互いに異なっているのは、各サンプルが使用環境を考慮に入れて上記のように設計されているためである。【０２１３】
実際のＲＦＩＤタグの製造時には、各ＲＦＩＤタグの周波数特性から読み取れる、最大の利得が得られている周波数やその周波数での通信限界距離等が、使用環境を考慮に入れた設計に基づく判定基準を満たしているか否かが判定され、良品と不良品との選別等が行われる。【０２１４】
本実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置８によれば、多岐に亘る使用環境それぞれに対応して設計された様々な種類のＲＦＩＤタグそれぞれについて周波数特性を取得することができる。そして、取得された各周波数特性から読み取れる上記のような特性値が、各使用環境に対応した判定基準を満たしているか否かがユーザによって判定されることで良否選別が行われる。【０２１５】
以上、図３１から図３４までを参照して説明したように、本実施形態によれば、様々な使用環境それぞれに対応したＲＦＩＤタグの周波数特性を、電波暗室等といった特殊環境を使うことなく簡単かつ十分に得ることができ、各使用環境に対応した良否選別を行うことができる。【０２１６】
次に、本発明の第９実施形態について説明する。【０２１７】
図３５は、本発明の第９実施形態であるＲＦＩＤタグ試験装置を示す図である。【０２１８】
この図３５に示すＲＦＩＤタグ試験装置９は、電波信号の周波数と通信限界距離との対応関係と定義される周波数特性を得るための装置であるという点を除けば、図１７に示す第２実施形態のＲＦＩＤタグ試験装置２と同等である。このため、図３５では、図１７と同等な構成要素については図１７と同じ符号を付されており、以下では、これらの構成要素についての重複説明を省略する。【０２１９】
このＲＦＩＤタグ試験装置９では、搬送装置５０によってストリップラインセル１００まで順次に搬送される、タグロールＲの複数のＲＦＩＤタグＴ１それぞれについて順次に周波数特性が取得される。このＲＦＩＤタグ試験装置９における周波数特性取得処理は、コンピュータ４２０が、以下に説明する処理の流れに沿ってリーダライタ２０を制御することによって実現されている。このコンピュータ４２０も、本発明にいう反応確認部の一例に相当する。【０２２０】
図３６は、ＲＦＩＤタグ試験装置９で実行される周波数特性取得処理の流れを示すフローチャートである。尚、この図３６のフローチャートが示す周波数特性取得処理は、搬送装置５０に搬送を指示するコマンドを送る処理（ステップＳ５０１）を有している点を除いて、図３３のフローチャートが示す処理とほぼ同等である。このため、この図３６では、この図３３のフローチャートにおける処理過程と同等な処理過程については図３３と同じ符号が付されており、以下では、これらの処理過程についての重複説明を省略する。【０２２１】
この図３６に示す初期化処理（ステップＳ４０１’）は、図３３に示す初期化処理（ステップＳ４０１）が、リーダライタに初期化の指示を与えた後待機状態になる処理であるのに対し、そのような待機状態を省略して次の処理に進む処理である。また、そのステップＳ４０１’に続くステップＳ４０２’の処理は、図３３に示すステップＳ４０２の処理が、周波数が最大設定値に達した場合には初期化処理（ステップＳ４０１）に戻る処理であるのに対し、初期化処理（ステップＳ４０１’）には戻らず以下に説明するステップＳ５０１の処理に進む処理である。【０２２２】
ステップＳ５０１の処理は、現在、ストリップラインセル１００の位置にあるＲＦＩＤタグＴ１についての周波数の設定値が最大設定値に達した場合（ステップＳ４０２’におけるＹｅｓ判定）、即ち、そのＲＦＩＤタグＴ１についての周波数特性の取得が終了したときに実行される。このステップＳ５０１の処理では、コンピュータ４２０は、搬送装置５０に、タグロールＲの中心軸を、配置間隔分の搬送に相当する角度だけ回転するように指示するコマンドＣ１４を送る。搬送装置５０が、このコマンドＣ１４に従って動作すると、周波数特性取得済みのＲＦＩＤタグＴ１に替わって未取得のＲＦＩＤタグＴ１がストリップラインセル１００の位置に配置されることとなる。【０２２３】
以上に、図３５と図３６を参照して説明した第９実施形態によれば、複数のＲＦＩＤタグＴ１について効率的に周波数特性を取得することができ、延いては、そのような複数のＲＦＩＤタグＴ１を効率的に製造することができる。【０２２４】
尚、上記では、本発明にいう換算関係の一例として、電力対距離の対応関係を例示したが本発明はこれに限るものではない。本発明にいう換算関係は、例えば、その電力対距離の対応関係の作成に使われた、距離対電界強度の対応関係と電力対電界強度の対応関係との組であっても良い。この場合には、これら２つの対応関係を互いに照らし合わせることによって電力が距離に換算される。また、本発明にいう換算関係は、例えば、このような実測に基づく対応関係ではなく、電力から距離を求める計算式であってもよく、あるいは、距離から電界強度を求める計算式と電力から電界強度を求める計算式との組等であっても良い。【０２２５】
また、上記では本発明にいうストリップラインセルの一例として、２枚の導体板の間隔が１枚の導体板の幅の１／５であり、長さが９５３ＭＨｚの電波の約１／２波長の長さであるストリップラインセルが例示したが、本発明はこれに限るものではなく、本発明のストリップラインセルは、２枚の導体板の間隔が１枚の導体板の幅の１／５以外の間隔であってもよく、長さが９５３ＭＨｚの電波の約１／２波長以外の長さであっても良い。【０２２６】
また、上記では本発明にいう載置板の一例として、アクリル製の載置板１０９を例示したが、本発明はこれに限るものではなく、本発明の載置板は、例えば発泡スチロール製のもの等であっても良い。【０２２７】
また、上記では、１つのリーダライタが２つのストリップラインセル１００を備えた実施形態を示したが、本発明はこれに限るものではなく、例えば、１つのリーダライタが３つ以上のストリップラインセル１００を備えた形態等であっても良い。【０２２８】
また、上記では、２つのリーダライタを備えた形態を示したが、本発明はこれに限るものではなく、３つ以上のリーダライタを備えた形態等であっても良い。【０２２９】
また、上記では本発明にいうＦＩＦＯメモリの一例として、バッファ段数が３段のＦＩＦＯメモリを例示したが、本発明はこれ限るものではなく、本発明のＦＩＦＯメモリは、３段以外の段数のＦＩＦＯメモリであっても良い。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【手続補正書】
【提出日】平成21年5月20日(2009.5.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルと、
前記ストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給部と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認部とを備えたことを特徴とする試験装置。
【請求項２】
前記供給部によって前記ストリップラインセルに供給された電気信号が有する電力を、所定のアンテナが所定の出力で前記電波信号を発信して前記電子装置が受信する状況における該アンテナと該電子装置との距離に、既定の換算関係に従って換算する換算部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
前記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の前記電子装置を搬送して前記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して前記各電気信号が順次に供給されている途中で該電子装置が反応した場合、および前記各電気信号が最後まで供給された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項４】
前記ストリップラインセルが、前記電気信号の周波数と同じ周波数の電波信号を発信するものであり、
前記供給部が、所定の電力範囲に亘る各電力を有する各電気信号を順次に前記ストリップラインセルに供給する処理を、所定の周波数範囲に亘る各周波数について実行するものであり、
前記反応確認部が、前記各電気信号に対する前記電子装置の反応を確認するものであり、
複数の前記電子装置を搬送して前記ストリップラインセルに対して順次に配置する、配置された電子装置に対して、前記各電気信号の供給が前記周波数範囲の最後の周波数まで実行された場合に、次の電子装置を配置する搬送部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項５】
前記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、前記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
前記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが、互いに所定間隔を空けて配備された、各々に前記電子装置が配置されるものであり、
前記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
前記２つのストリップラインセルの配列に沿って前記電子装置を前記所定間隔ずつ搬送することでそれら２つのストリップラインセルに対して該電子装置を順次に配置する搬送部とを備え、
前記供給部が、前記２つのストリップラインセルのうち先に前記電子装置が配置される第１ストリップラインセルに向けて前記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、該第１電波信号について前記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を、前記２つのストリップラインセルのうち後に前記電子装置が配置される第２ストリップラインセルに向けて、該識別情報で識別される電子装置がその第２ストリップラインセルに対して配置されるタイミングで供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項６】
前記搬送部が、前記所定間隔ずつの搬送に替えて、前記所定間隔の整数分の１に相当する間隔ずつ搬送することで前記２つのストリップラインセルに対して前記電子装置を順次に配置するものであり、
前記識別情報取得部が、前記搬送部によって前記２つのストリップラインセルの一方から他方へと前記電子装置が移動するための搬送回数と同じ数の情報を先入れ先出し方式で格納するＦＩＦＯメモリを有し、前記供給部が前記第１電気信号を前記第１ストリップラインセルに向けて供給する度に該ＦＩＦＯメモリに、前記電子装置から出力された識別情報を格納するものであり、
前記供給部は、前記第１電気信号の供給と、前記ＦＩＦＯメモリからの情報入手と、その入手した情報に基づいた前記第２電気信号の供給とを順次に繰り返すものであることを特徴とする請求項５記載の試験装置。
【請求項７】
前記電子装置が、第１電波信号を受信すると、自分を他の電子装置と区別する識別情報を出力し、自分の識別情報を含んだ第２電波信号を受信すると、前記反応確認部によって確認される反応を行うものであり、
前記ストリップラインセルを２つ備え、それら２つのストリップラインセルが各々に前記電子装置が配置されるものであり、
前記電子装置が出力した識別情報を取得する識別情報取得部と、
前記２つのストリップラインセルそれぞれに対して該電子装置を配置する搬送部と、
前記２つのストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに供給される電気信号を所定程度に減衰させて、それら２つのストリップラインセルのうちの他方である第２ストリップラインセルに伝える減衰部とを備え、
前記供給部が、前記第１ストリップラインセルに向けて前記第１電波信号に相当する第１電気信号を供給し、該第１ストリップラインセルと前記減衰部とを介して前記第２ストリップラインセルに、前記識別情報取得部で取得された識別情報を含んだ第２電波信号に相当する第２電気信号を供給するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項８】
前記供給部と前記ストリップラインセルとの間に介在し、該供給部が供給する前記電気信号の電力を、所定の操作に応じた電力に変換し、電力変換後の該電気信号を前記ストリップラインセルに伝える伝達部を備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項９】
この試験装置が、前記ストリップラインセルを２つ備えるものであり、
前記伝達部が、２つの前記ストリップラインセルのうちの一方である第１ストリップラインセルに前記電気信号を伝えるものであり、
前記第１ストリップラインセルに伝えられた電気信号を所定の操作に応じた程度に減衰させ、２つの前記ストリップラインセルのうちの第２ストリップラインセルに伝える第２伝達部を備えたことを特徴とする請求項８記載の試験装置。
【請求項１０】
前記ストリップラインセルが、前記第１導体板として、前記電波信号の波長の半分以下の長さの導体板を有するものであることを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項１１】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給過程と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有したことを特徴とする試験方法。
【請求項１２】
所定の電波信号を受信して反応する電子装置を作成する作成工程；および、
前記電子装置の幅以上の幅を有する、外部から該電波信号に相当する電気信号が供給される第１導体板と、該第１導体板に対向する第２導体板とを有し、該電気信号が有する電力に応じた出力で該電波信号を発信する、前記第１導体板の、前記第２導体板に対向する対向面とは反対側に前記電子装置が配置されるストリップラインセルの前記第１導体板に前記電気信号を供給する供給過程と、
前記電子装置における反応の有無を確認する反応確認過程とを有した試験工程を有することを特徴とする製造方法。
【国際調査報告】
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