【手続補正書】
【提出日】平成16年9月28日(2004.9.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的画像形成のための装置であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び非反射性参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な前記検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである装置。
【請求項２】
前記非反射性参照体は、透過性参照体である請求項１に記載の装置。
【請求項３】
更に、少なくとも１つの偏光制御装置を含む請求項１に記載の装置。
【請求項４】
請求項１に記載の装置であって、更に、前記第１電磁気放射及び前記第２電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器を含む装置。
【請求項５】
請求項１に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射及び前記第３電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器と、が含まれる装置。
【請求項６】
請求項１に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記参照体に導かれる第４電磁気放射と前記サンプルに導かれる第５電磁気放射とに前記第３電磁気放射を分離するように構成されたスプリッタと、が含まれる装置。
【請求項７】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項６に記載の装置。
【請求項８】
更に、前記第１及び第２電磁気放射を組み合わせるように構成されたスプリッタを含む請求項１に記載の装置。
【請求項９】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の装置であって、前記検出器は、
（ｉ）少なくとも１つの一次元検出器アレイ、及び
（ｉｉ）少なくとも１つの多次元検出器アレイ、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の装置であって、前記スペクトル分離ユニットは、
（ｉ）少なくとも１つの反射回折格子、
（ｉｉ）少なくとも１つの透過回折格子、及び
（ｉｉｉ）少なくとも１つのスペクトル分散性構成要素、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項１２】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの電荷結合装置を含む請求項１に記載の装置。
【請求項１３】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む請求項１に記載の装置。
【請求項１４】
前記帯域通過フィルタは、電子式帯域通過フィルタである請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つのアナログ・デジタル変換器を含む請求項１に記載の装置。
【請求項１６】
請求項１に記載の装置であって、更に、前記周波数成分の前記少なくとも１つに少なくとも部分的に基づく情報を受信する少なくとも１つの処理構成を含む装置。
【請求項１７】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの音響光学変調器を含む請求項１に記載の装置。
【請求項１８】
請求項１に記載の装置であって、
少なくとも２つの前記検出器が、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる装置。
【請求項１９】
前記検出器の前記第１及び第２番目が、ほぼ同時に前記周波数成分の前記共通の１つを検出する請求項１８に記載の装置。
【請求項２０】
請求項１８に記載の装置であって、前記第１及び第２位相差は、ほぼ１５、３０、４５、６０、７５、９０及び１８０度の少なくとも１つの周期で互いに異なる装置。
【請求項２１】
前記検出構成は、前記周波数成分に基づき少なくとも１つの信号を生成し、前記少なくとも１つの信号の雑音を低減する請求項１に記載の装置。
【請求項２２】
請求項１に記載の装置であって、前記検出構成は、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である装置。
【請求項２３】
請求項２２に記載の装置であって、前記受信された電磁気放射は、偏光感受性構成を用いて、前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせを分割することによって生成される装置。
【請求項２４】
請求項２２に記載の装置であって、
前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第１偏光を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第２偏光を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２偏光は互いに異なる装置。
【請求項２５】
請求項１に記載の装置であって、更に、
前記第１及び第２電磁気放射に関係する信号を検出し、また、前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める少なくとも１つの第１構成と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する少なくとも１つの第２構成と、を含む装置。
【請求項２６】
前記第２構成は、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの位相を制御する請求項２５に記載の装置。
【請求項２７】
前記第２構成は、前記少なくとも１つの画像に関連する信号の信号対雑音比を最大にする請求項２５に記載の装置。
【請求項２８】
光学的画像形成のための方法であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び非反射性参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する段階と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２光信号の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する段階と、
複数の検出器を用いて、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部の少なくとも１つの検出を可能にする段階と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである方法。
【請求項２９】
画像形成のための装置であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、前記検出器の少なくとも２つが、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる前記少なくとも１つの検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである装置。
【請求項３０】
前記検出器の前記第１及び第２番目が、ほぼ同時に前記周波数成分の前記共通の１つを検出する請求項２９に記載の装置。
【請求項３１】
請求項２９に記載の装置であって、前記第１及び第２位相差は、ほぼ１５、３０、４５、６０、７５、９０及び１８０度の少なくとも１つの周期で互いに異なる装置。
【請求項３２】
前記参照体は、透過性参照体である請求項２９に記載の装置。
【請求項３３】
更に、少なくとも１つの偏光制御装置を含む請求項２９に記載の装置。
【請求項３４】
請求項２９に記載の装置であって、更に、前記第１電磁気放射及び前記第２電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器を含む装置。
【請求項３５】
請求項２９に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射及び前記第３電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器と、が含まれる装置。
【請求項３６】
請求項２９に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記参照体に導かれる第４電磁気放射と前記サンプルに導かれる第５電磁気放射とに前記第３電磁気放射を分離するように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタと、が含まれる装置。
【請求項３７】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項３６に記載の装置。
【請求項３８】
更に、前記第１及び第２電磁気放射を組み合わせるように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタを含む請求項２９に記載の装置。
【請求項３９】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項３８に記載の装置。
【請求項４０】
請求項２９に記載の装置であって、前記検出器は、
（ｉ）少なくとも１つの一次元検出器アレイ、及び
（ｉｉ）少なくとも１つの多次元検出器アレイ、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項４１】
請求項２９に記載の装置であって、前記スペクトル分離ユニットは、
（ｉ）少なくとも１つの反射回折格子、
（ｉｉ）少なくとも１つの透過回折格子、及び
（ｉｉｉ）少なくとも１つのスペクトル分散性構成要素、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項４２】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの電荷結合装置を含む請求項２９に記載の装置。
【請求項４３】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む請求項２９に記載の装置。
【請求項４４】
前記帯域通過フィルタは、電子式帯域通過フィルタである請求項４３に記載の装置。
【請求項４５】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つのアナログ・デジタル変換器を含む請求項２９に記載の装置。
【請求項４６】
請求項２９に記載の装置であって、更に、前記周波数成分の前記少なくとも１つに少なくとも部分的に基づく情報を受信する少なくとも１つの処理構成を含む装置。
【請求項４７】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの音響光学変調器を含む請求項２９に記載の装置。
【請求項４８】
前記参照体は、非反射性である請求項２９に記載の装置。
【請求項４９】
前記検出構成は、前記周波数成分に基づき少なくとも１つの信号を生成し、前記少なくとも１つの信号の雑音を低減する請求項２９に記載の装置。
【請求項５０】
請求項２９に記載の装置であって、前記検出構成は、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である装置。
【請求項５１】
請求項２９に記載の装置であって、前記受信された電磁気放射は、偏光感受性構成を用いて、前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせを分割することによって生成される装置。
【請求項５２】
請求項２９に記載の装置であって、
前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第１偏光を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第２偏光を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２偏光は互いに異なる装置。
【請求項５３】
請求項２９に記載の装置であって、更に、
前記第１及び第２電磁気放射に関係する信号を検出し、また、前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める少なくとも１つの第１構成と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する少なくとも１つの第２構成と、を含む装置。
【請求項５４】
前記第２構成は、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの位相を制御する請求項５３に記載の装置。
【請求項５５】
前記第２構成は、前記少なくとも１つの画像に関連する信号の信号対雑音比を最大にする請求項５３に記載の装置。
【請求項５６】
画像形成のための方法であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する段階と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する段階と、
複数の検出器を用いて、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部の少なくとも１つの検出を可能にする段階であって、前記検出器の少なくとも２つが、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる前記段階と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである方法。
【請求項５７】
画像形成のための装置であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、前記周波数成分に基づき少なくとも１つの信号を生成し、また、前記少なくとも１つの信号の雑音を低減する前記検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである装置。
【請求項５８】
前記検出器の前記第１及び第２番目が、ほぼ同時に前記周波数成分の前記共通の１つを検出する請求項５７に記載の装置。
【請求項５９】
請求項５７に記載の装置であって、前記第１及び第２位相差は、ほぼ１５、３０、４５、６０、７５、９０及び１８０度の少なくとも１つの周期で互いに異なる装置。
【請求項６０】
前記参照体は、透過性参照体である請求項５７に記載の装置。
【請求項６１】
更に、少なくとも１つの偏光制御装置を含む請求項５７に記載の装置。
【請求項６２】
請求項５７に記載の装置であって、更に、前記第１電磁気放射及び前記第２電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器を含む装置。
【請求項６３】
請求項５７に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射及び前記第３電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器と、が含まれる装置。
【請求項６４】
請求項５７に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記参照体に導かれる第４電磁気放射と前記サンプルに導かれる第５電磁気放射とに前記第３電磁気放射を分離するように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタと、が含まれる装置。
【請求項６５】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項６４に記載の装置。
【請求項６６】
更に、前記第１及び第２電磁気放射を組み合わせるように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタを含む請求項５７に記載の装置。
【請求項６７】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項６６に記載の装置。
【請求項６８】
請求項５７に記載の装置であって、前記検出器は、
（ｉ）少なくとも１つの一次元検出器アレイ、及び
（ｉｉ）少なくとも１つの多次元検出器アレイ、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項６９】
請求項５７に記載の装置であって、前記スペクトル分離ユニットは、
（ｉ）少なくとも１つの反射回折格子、
（ｉｉ）少なくとも１つの透過回折格子、及び
（ｉｉｉ）少なくとも１つのスペクトル分散性構成要素、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項７０】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの電荷結合装置を含む請求項５７に記載の装置。
【請求項７１】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む請求項５７に記載の装置。
【請求項７２】
前記帯域通過フィルタは、電子式帯域通過フィルタである請求項７１に記載の装置。
【請求項７３】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つのアナログ・デジタル変換器を含む請求項５７に記載の装置。
【請求項７４】
請求項５７に記載の装置であって、更に、前記周波数成分の前記少なくとも１つに少なくとも部分的に基づく情報を受信する少なくとも１つの処理構成を含む装置。
【請求項７５】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの音響光学変調器を含む請求項５７に記載の装置。
【請求項７６】
前記参照体は、非反射性である請求項５７に記載の装置。
【請求項７７】
請求項５７に記載の装置であって、前記検出構成は、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である装置。
【請求項７８】
請求項７７に記載の装置であって、前記受信された電磁気放射は、偏光感受性構成を用いて、前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせを分割することによって生成される装置。
【請求項７９】
請求項７７に記載の装置であって、
前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第１偏光を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第２偏光を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２偏光は互いに異なる装置。
【請求項８０】
請求項５７に記載の装置であって、更に、
前記第１及び第２電磁気放射に関係する信号を検出し、また、前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める少なくとも１つの第１構成と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する少なくとも１つの第２構成と、を含む装置。
【請求項８１】
前記第２構成は、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの位相を制御する請求項８０に記載の装置。
【請求項８２】
前記第２構成は、前記少なくとも１つの画像に関連する信号の信号対雑音比を最大にする請求項８０に記載の装置。
【請求項８３】
画像形成のための方法であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する段階と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２光信号の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する段階と、
複数の検出器を用いて、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部の少なくとも１つの検出を可能にする段階であって、前記検出器の少なくとも２つが、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる前記段階と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである方法。
【請求項８４】
画像形成のための装置であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である前記検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである装置。
【請求項８５】
前記検出器の前記第１及び第２番目が、ほぼ同時に前記周波数成分の前記共通の１つを検出する請求項８４に記載の装置。
【請求項８６】
請求項８４に記載の装置であって、前記第１及び第２位相差は、ほぼ１５、３０、４５、６０、７５、９０及び１８０度の少なくとも１つの周期で互いに異なる装置。
【請求項８７】
前記参照体は、透過性参照体である請求項８４に記載の装置。
【請求項８８】
更に、少なくとも１つの偏光制御装置を含む請求項８４に記載の装置。
【請求項８９】
請求項８４に記載の装置であって、更に、前記第１電磁気放射及び前記第２電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器を含む装置。
【請求項９０】
請求項８４に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射及び前記第３電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器と、が含まれる装置。
【請求項９１】
請求項８４に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記参照体に導かれる第４電磁気放射と前記サンプルに導かれる第５電磁気放射とに前記第３電磁気放射を分離するように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタと、が含まれる装置。
【請求項９２】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項９１に記載の装置。
【請求項９３】
更に、前記第１及び第２電磁気放射を組み合わせるように構成されたスプリッタであって、前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである前記スプリッタを含む請求項８４に記載の装置。
【請求項９４】
前記スプリッタは、光ファイバスプリッタ及びバルク光スプリッタの内少なくとも１つである請求項９３に記載の装置。
【請求項９５】
請求項８４に記載の装置であって、前記検出器は、
（ｉ）少なくとも１つの一次元検出器アレイ、及び
（ｉｉ）少なくとも１つの多次元検出器アレイ、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項９６】
請求項８４に記載の装置であって、前記スペクトル分離ユニットは、
（ｉ）少なくとも１つの反射回折格子、
（ｉｉ）少なくとも１つの透過回折格子、及び
（ｉｉｉ）少なくとも１つのスペクトル分散性構成要素、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項９７】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの電荷結合装置を含む請求項８４に記載の装置。
【請求項９８】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む請求項８４に記載の装置。
【請求項９９】
前記帯域通過フィルタは、電子式帯域通過フィルタである請求項９８に記載の装置。
【請求項１００】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つのアナログ・デジタル変換器を含む請求項８４に記載の装置。
【請求項１０１】
請求項８４に記載の装置であって、更に、前記周波数成分の前記少なくとも１つに少なくとも部分的に基づく情報を受信する少なくとも１つの処理構成を含む装置。
【請求項１０２】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの音響光学変調器を含む請求項８４に記載の装置。
【請求項１０３】
前記参照体は、非反射性である請求項８４に記載の装置。
【請求項１０４】
請求項８４に記載の装置であって、前記受信された電磁気放射は、偏光感受性構成を用いて、前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせを分割することによって生成される装置。
【請求項１０５】
請求項８４に記載の装置であって、
前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第１偏光を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第２偏光を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２偏光は互いに異なる装置。
【請求項１０６】
請求項８４に記載の装置であって、更に、
前記第１及び第２電磁気放射に関係する信号を検出し、また、前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める少なくとも１つの第１構成と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する少なくとも１つの第２構成と、を含む装置。
【請求項１０７】
前記第２構成は、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの位相を制御する請求項１０６に記載の装置。
【請求項１０８】
前記第２構成は、前記少なくとも１つの画像に関連する信号の信号対雑音比を最大にする請求項１０６に記載の装置。
【請求項１０９】
前記検出器は、単一の検出アレイとして提供される請求項８４に記載の装置。
【請求項１１０】
請求項８４に記載の装置であって、前記第１電磁気放射の前記偏光状態は、前記検出器によって受信された電磁気放射から求められる装置。
【請求項１１１】
請求項８４に記載の装置であって、前記第１電磁気放射の前記偏光状態は、前記検出器によって受信された電磁気放射の振幅及び位相差の少なくとも１つから求められる装置。
【請求項１１２】
請求項１０６に記載の装置であって、前記位相差は、前記検出器によって受信された電磁気放射の振幅から求められる装置。
【請求項１１３】
画像形成のための方法であって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する段階と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する段階と、
少なくとも１つの検出構成を用いて、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部の少なくとも１つの検出を可能にする段階であって、前記検出構成は、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である前記段階と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである方法。
【請求項１１４】
画像形成のための装置であって、
第１アームからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び第２アームからの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する装置と、
前記第１及び第２電磁気放射に関連する信号を検出し、また、前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める少なくとも１つの第１構成と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する少なくとも１つの第２構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである装置。
【請求項１１５】
更に、ほぼ同時に周波数成分の共通の１つを検出する複数の検出器を含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１１６】
請求項１１４に記載の装置であって、前記第位相差は、ほぼ１５、３０、４５、６０、７５、９０及び１８０度の少なくとも１つの周期で互いに異なる装置。
【請求項１１７】
前記第１アームは、透過性参照体である請求項１１４に記載の装置。
【請求項１１８】
更に、少なくとも１つの偏光制御装置を含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１１９】
請求項１１４に記載の装置であって、更に、前記第１電磁気放射及び前記第２電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器を含む装置。
【請求項１２０】
請求項１１４に記載の装置であって、更に、
第３電磁気放射を生成する光源と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射及び前記第３電磁気放射の少なくとも１つの経路に配置される少なくとも１つの偏光変調器と、が含まれる装置。
【請求項１２１】
請求項１１４に記載の装置であって、前記第１及び第２構成の少なくとも１つは、
（ｉ）少なくとも１つの一次元検出器アレイ、及び
（ｉｉ）少なくとも１つの多次元検出器アレイ、の少なくとも１つを含む装置。
【請求項１２２】
請求項１１４に記載の装置であって、更に、スペクトル分離ユニットを含み、前記スペクトル分離ユニットは、
（ｉ）少なくとも１つの反射回折格子、
（ｉｉ）少なくとも１つの透過回折格子、及び
（ｉｉｉ）少なくとも１つのスペクトル分散性構成要素、の内少なくとも１つである装置。
【請求項１２３】
更に、前記第１及び第２構成の少なくとも１つに接続された少なくとも１つの電荷結合装置を含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１２４】
更に、前記第１及び第２構成の少なくとも１つに接続された少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１２５】
前記帯域通過フィルタは、電子式帯域通過フィルタである請求項１２４に記載の装置。
【請求項１２６】
更に、前記第１及び第２構成の少なくとも１つに接続された少なくとも１つのアナログ・デジタル変換器を含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１２７】
請求項１２６に記載の装置であって、更に、前記周波数成分の少なくとも１つに少なくとも部分的に基づく情報を受信する少なくとも１つの処理構成を含む装置。
【請求項１２８】
更に、前記少なくとも１つの検出構成に接続された少なくとも１つの音響光学変調器を含む請求項１１４に記載の装置。
【請求項１２９】
前記第１アームは、非反射性参照体である請求項１１４に記載の装置。
【請求項１３０】
請求項１１４に記載の装置であって、前記第１及び第２構成の少なくとも１つは、少なくとも２つの電磁気放射を受信可能であり、また、少なくとも１つの前記電磁気放射の偏光状態を検出可能である装置。
【請求項１３１】
請求項１３０に記載の装置であって、前記受信された電磁気放射は、偏光感受性構成を用いて、前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせを分割することによって生成される装置。
【請求項１３２】
請求項１３０に記載の装置であって、
前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第１偏光を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの第２偏光を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２偏光は互いに異なる装置。
【請求項１３３】
前記第２構成は、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つの位相を制御する請求項１１４に記載の装置。
【請求項１３４】
前記第２構成は、前記少なくとも１つの画像に関連する信号の信号対雑音比を最大にする請求項１１４に記載の装置。
【請求項１３５】
画像形成のための方法であって、
第１アームからの少なくとも１つの第１電磁気放射及び第２アームからの少なくとも１つの第２電磁気放射を受信する段階と、
前記第１及び第２電磁気放射に関連する信号を検出する段階と、
前記第１と第２電磁気放射との間の相対的位相差を求める段階と、
前記第１及び第２アームの少なくとも１つに関連する少なくとも１つの画像の生成を容易にするように、前記相対的位相差に基づき、前記第１及び第２電磁気放射の少なくとも１つを制御する段階と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つである方法。
【請求項１３６】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有し、また、それに付随する少なくとも１つのトランスインピーダンス増幅器を含む前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１３７】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有し、また、それに付随する少なくとも１つの帯域通過フィルタを含む前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１３８】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）時間的なコヒーレンスが約１０μｍより小さい少なくとも１つの電磁放射光源と、
が含まれる装置。
【請求項１３９】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有し、また、雑音を低減するように平衡状態になっている前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１４０】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記検出器から受信された信号を処理するように、また、前記干渉計の少なくとも１つのアーム内から縦方向の情報を再構築するように構成された信号処理ユニットであって、更に、少なくとも１つのアナログ帯域通過フィルタ及びデジタル帯域通過フィルタを含む前記信号処理ユニットと、
が含まれる装置。
【請求項１４１】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記部分に関連する情報を受信するユニットであって、
（ｉ）前記干渉計と通信可能に接続された位相変調器、及び
（ｉｉ）前記検出器と通信可能に接続された復調器、の少なくとも１つを含む前記ユニットと、
が含まれる装置。
【請求項１４２】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記干渉計に通信可能に接続された自動測距構成と、
が含まれる装置。
【請求項１４３】
請求項１４２に記載の装置であって、前記自動測距構成は、
ｉ）サンプルの第１深度プロファイルを取得し、
ｉｉ）前記サンプルの表面位置を特定し、
ｉｉｉ）前記干渉計の経路長差を修正する、ように構成されている装置。
【請求項１４４】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）経路長差を導入し得る不動の非機械的構成と、
が含まれる装置。
【請求項１４５】
請求項１４４に記載の装置であって、前記非機械的構成は、周波数依存の位相変化を導入するように構成されている装置。
【請求項１４６】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）二次元アレイである複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１４７】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記スペクトル分離ユニットと協働して光を別個の偏光状態に分離する偏光分離ユニットと、
が含まれる装置。
【請求項１４８】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットであって、
（ｉ）アドレス指定可能なミラーアレイ、
（ｉｉ）光学フィルタの線形アレイ、
（ｉｉｉ）導波管フィルタ、
（ｉｖ）導波管回折格子、の少なくとも１つを含む前記スペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１４９】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットであって、前記スペクトル分離ユニットは、前記信号を複数の帯域に分割し、これによって、少なくとも１つの前記帯域が櫛状構造を有するスペクトルを含む前記スペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１５０】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記検出器から得られた複数の各信号を数学的に処理することによって、前記検出器からの前記信号を再構築するようになっている処理ユニットと、
が含まれる装置。
【請求項１５１】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
ｄ）前記干渉計の前記信号の位相を追跡するように構成された構成と、
が含まれる装置。
【請求項１５２】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計の測距深度の一部である経路長差を生成する構成と、
ｃ）前記構成から受信された信号を利用する前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｄ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有する前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１５３】
前記構成は、ファイバ拡張構成を含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５４】
前記構成は、自由空間並進走査を行なうように構成された圧電トランスデューサを含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５５】
前記構成は、位相制御光遅延線を含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５６】
前記構成は、少なくとも検出器数分の１に等しい測距深度の一部を走査する請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５７】
前記構成は、搬送波周波数発生器を含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５８】
前記構成は、音響光学変調器を含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１５９】
前記構成は、電気光学変調器を含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１６０】
前記構成は、位相制御ＲＳＯＤを含む請求項１５２に記載の装置。
【請求項１６１】
前記構成は、サンプルアームの範囲より小さい距離を有する遅延を生成する請求項１５２に記載の装置。
【請求項１６２】
信号の位相を制御するための装置であって、
（ａ）サンプルからの第１信号及び参照体からの第２信号に基づく少なくとも１つの干渉信号を取得し、
（ｂ）（ａ）の間、前記少なくとも１つの干渉信号の前記位相を変調して、第１情報を生成し、
（ｃ）前記第１情報に基づき、前記第１信号と前記第２信号との間のオフセット情報を求め、
（ｄ）前記オフセット情報を用いて、前記干渉信号の前記位相を制御して、第２情報を生成し、
（ｅ）前記第２情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部の複数の深度プロファイルを含む画像を生成する、ように構成されたシステムを含む装置。
【請求項１６３】
前記第１情報は、変調された干渉信号を含む請求項１６２に記載の装置。
【請求項１６４】
請求項１６２に記載の装置であって、前記システムは、更に、少なくとも１つの周期的な信号を用いて、前記第１情報を復調するように構成されており、前記オフセット情報は、前記復調された第１情報に基づき求められる装置。
【請求項１６５】
前記オフセット情報は、前記第１信号と前記第２信号との間の経路長差を含む請求項１６２に記載の装置。
【請求項１６６】
前記システムは、更に、前記経路長差の初期範囲を制御するように構成されている請求項１６５に記載の装置。
【請求項１６７】
前記範囲は、前記経路長差の波長のモジュロである請求項１６６に記載の装置。
【請求項１６８】
前記経路長差は、光学的経路長差である請求項１６５に記載の装置。
【請求項１６９】
前記位相は、前記第１信号と前記第２信号との間の経路長差を修正することによって制御される請求項１６２に記載の装置。
【請求項１７０】
前記経路長差は、光学的経路長差である請求項１６９に記載の装置。
【請求項１７１】
前記第２情報は、前記干渉信号に関連する位相安定化信号を含む請求項１６２に記載の装置。
【請求項１７２】
請求項１６２に記載の装置であって、
前記第２情報は、前記位相が制御される前に得られた前記干渉信号の信号対雑音比より大きい信号対雑音比を有する信号を含む装置。
【請求項１７３】
請求項１６８に記載の装置であって、更に、前記オフセット情報を受信し、また、前記初期範囲より長い更なる範囲に渡って前記経路長差を制御するように構成されている構成を含む装置。
【請求項１７４】
請求項１６２に記載の装置であって、前記システムは、前記少なくとも１つの干渉信号を検出する少なくとも１つの検出器アレイを含む装置。
【請求項１７５】
信号の位相を制御するための方法であって、
（ａ）サンプルからの第１信号及び参照体からの第２信号に基づく少なくとも１つの干渉信号を取得する段階と、
（ｂ）段階（ａ）の間、前記少なくとも１つの干渉信号の前記位相を変調して、第１情報を生成する段階と、
（ｃ）前記第１情報に基づき、前記第１信号と前記第２信号との間のオフセット情報を求める段階と、
（ｄ）前記オフセット情報を用いて、前記干渉信号の前記位相を制御して、第２情報を生成する段階と、
（ｅ）前記第２情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部の複数の深度プロファイルを含む画像を生成する段階と、が含まれる方法。
【請求項１７６】
前記第１情報は、変調された干渉信号を含む請求項１７５に記載の方法。
【請求項１７７】
請求項１７５に記載の方法であって、更に、少なくとも１つの周期的な信号を用いて、前記第１情報を復調する段階であって、前記オフセット情報は、前記復調された第１情報に基づき求められる前記段階が含まれる方法。
【請求項１７８】
前記オフセット情報は、前記第１信号と前記第２信号との間の経路長差を含む請求項１７５に記載の方法。
【請求項１７９】
更に、前記経路長差の初期範囲を制御する段階が含まれる請求項１７５に記載の方法。
【請求項１８０】
前記範囲は、前記経路長差の波長のモジュロである請求項１７５に記載の方法。
【請求項１８１】
前記経路長差は、光学的経路長差である請求項１７８に記載の方法。
【請求項１８２】
段階（ｃ）は、前記第１信号と前記第２信号との間の経路長差を修正することによって行なわれる請求項１７５に記載の方法。
【請求項１８３】
前記経路長差は、光学的経路長差である請求項１８２に記載の方法。
【請求項１８４】
前記第２情報は、前記干渉信号に関連する位相安定化信号を含む請求項１７５に記載の方法。
【請求項１８５】
請求項１７５に記載の方法であって、
前記第２情報は、前記位相が制御される前に得られた前記干渉信号の信号対雑音比より大きい信号対雑音比を有する信号を含む方法。
【請求項１８６】
請求項１８１に記載の方法であって、更に、前記オフセット情報を受信し、また、前記初期範囲より長い更なる範囲に渡って前記経路長差を制御するように構成されている構成を含む方法。
【請求項１８７】
光学的画像形成のための装置であって、
ａ）干渉計と、
ｂ）前記干渉計から受信された信号を複数の光周波数に分割するスペクトル分離ユニットと、
ｃ）複数の検出器であって、各検出器が、前記スペクトル分離ユニットから受信された前記光周波数の少なくとも一部を検出する能力を有し、前記サンプルは、前記サンプルのほぼ全領域の一連の同時照射で走査される前記複数の検出器と、
が含まれる装置。
【請求項１８８】
サンプルの少なくとも１つの部分の光学的画像形成を行なうための装置であって、
ａ）干渉計から複数の電磁気信号を受信するように、また、前記電磁気信号を複数のスペクトル帯域に分離するように構成されたスペクトル分離構成であって、前記電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分の特性に関連し、前記サンプルの２つ以上の部分が同時に照射される前記スペクトル分離構成と、
ｂ）前記スペクトル分離構成から受信された前記スペクトル帯域の少なくとも１つを検出するように構成され、また、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分の少なくとも１つの部分を画像形成するために用いる合成信号を生成するように構成された検出構成と、が含まれる装置。
【請求項１８９】
サンプルの少なくとも１つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する論理構成において、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階は、
ａ）検出構成からの２つ以上の電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記電磁気信号を受信し、前記電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分の特性に関連し、前記サンプルの２つ以上の部分が同時に照射される前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる論理構成。
【請求項１９０】
サンプルの少なくとも１つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する方法であって、
ａ）検出構成からの前記少なくとも１つの電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも１つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記電磁気信号を受信し、前記少なくとも１つの電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分の特性に関連し、前記サンプルの２つ以上の部分が同時に照射される前記段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる方法。
【請求項１９１】
サンプルの少なくとも１つの部分の光学的画像形成に関連するデータを提供する実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
ａ）検出構成から複数の電磁気信号のスペクトル帯域に対応する信号を受信する段階であって、前記検出構成は、スペクトル分離構成によって前記電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域を検出し、前記スペクトル分離構成は、干渉計から前記電磁気信号を受信し、前記電磁気信号は、前記サンプルの前記少なくとも１つの部分の特性に関連し、前記サンプルの２つ以上の部分が同時に照射される段階と、
前記受信信号に対応する情報に基づき前記データを生成する段階と、
が含まれる記憶媒体。
【請求項１９２】
その干渉縞の不安定性による少なくとも１つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも１つの信号の位相を追跡するための装置において、
処理構成であって、
ａ）前記少なくとも１つの信号に関連する情報を受信し、
ｂ）前記少なくとも１つの信号の前記位相を調整し、
ｃ）前記少なくとも１つの信号の信号部の位置を取得し、
ｄ）前記信号部の前記位置が、前記少なくとも１つの信号のピークから所定の距離を越えて提供される場合、前記少なくとも１つの信号の少なくとも１つの特性を修正し、
ｅ）前記少なくとも１つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階（ｃ）及び（ｄ）を繰り返す、ように構成された前記処理構成が含まれる装置。
【請求項１９３】
請求項１９２に記載の装置であって、前記情報は、スペクトル分離構成によって前記少なくとも１つの電磁気信号から分離される前記スペクトル帯域の少なくとも１つの組み合わせに対応する装置。
【請求項１９４】
その干渉縞の不安定性による少なくとも１つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも１つの信号の位相を追跡するための論理構成において、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
ａ）前記少なくとも１つの信号に関連する情報を受信する段階と、
ｂ）前記少なくとも１つの信号の前記位相を調整する段階と、
ｃ）前記少なくとも１つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
ｄ）前記信号部の前記位置が、前記少なくとも１つの信号のピークから所定の距離より離れている場合、前記少なくとも１つの信号の少なくとも１つの特性を修正する段階と、
ｅ）前記少なくとも１つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階（ｃ）及び（ｄ）を繰り返す段階と、
が含まれる論理構成。
【請求項１９５】
その干渉縞の不安定性による少なくとも１つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも１つの信号の位相を追跡するための方法であって、
ａ）前記少なくとも１つの信号に関連する情報を受信する段階と、
ｂ）前記少なくとも１つの信号の前記位相を調整する段階と、
ｃ）前記少なくとも１つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
ｄ）前記信号部の前記位置が、前記少なくとも１つの信号のピークから所定の距離より離れている場合、前記少なくとも１つの信号の少なくとも１つの特性を修正する段階と、
ｅ）前記少なくとも１つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内にある位置より遠い位置に到達するまで段階（ｃ）及び（ｄ）を繰り返す段階と、
が含まれる方法。
【請求項１９６】
その干渉縞の不安定性による少なくとも１つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも１つの信号の位相を追跡するための実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
ａ）前記少なくとも１つの信号に関連する情報を受信する段階と、
ｂ）前記少なくとも１つの信号の前記位相を調整する段階と、
ｃ）前記少なくとも１つの信号の信号部の位置を取得する段階と、
ｄ）前記信号部の前記位置が、前記少なくとも１つの信号のピークから所定の距離だけ離れている場合、前記少なくとも１つの信号の少なくとも１つの特性を修正する段階と、
ｅ）前記少なくとも１つの信号が、前記ピークからの前記所定の距離内になるまで段階（ｃ）及び（ｄ）を繰り返す段階と、
が含まれる記憶媒体。
【請求項１９７】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連する少なくとも１つの電磁気信号の位相を追跡するための装置であって、
ａ）前記少なくとも１つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも１つの第１干渉計信号を取得する検出構成と、
ｂ）変調周波数を有する位相変調器ドライバであって、少なくとも１つの第２信号を生成するように前記変調周波数に基づき、前記少なくとも１つの第１信号を変調するように構成された前記位相変調器ドライバと、
ｃ）合成信号を生成するように前記少なくとも１つの第１信号と前記少なくとも１つの第２信号とをミキシングするように構成されたミキサと、
ｄ）処理構成であって、（ｉ）前記合成信号に基づきオフセット電圧を生成するように、（ｉｉ）前記オフセットに基づき前記少なくとも１つの第１信号の位相を制御して、更なる情報を生成するように、（ｉｉｉ）前記更なる情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部分に基づき画像を生成するように構成された前記処理構成と、が含まれる装置。
【請求項１９８】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連する少なくとも１つの電磁気信号の位相を追跡するための論理構成であって、前記論理構成は、処理構成によって実行された時、前記処理構成が以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
ａ）前記少なくとも１つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも１つの第１信号を取得する段階と、
ｂ）少なくとも１つの第２信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも１つの第１信号を変調する段階と、
ｃ）合成信号を生成するように前記少なくとも１つの第１信号と前記少なくとも１つの第２信号とをミキシングする段階と、
ｄ）前記合成信号に基づき、オフセットを生成する段階と、
ｅ）前記オフセットに基づき前記少なくとも１つの第１信号の位相を制御して、更なる情報を生成する段階と、
ｆ）前記更なる情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部分に基づき画像を生成する段階と、が含まれる論理構成。
【請求項１９９】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連する少なくとも１つの電磁気信号の位相を追跡するための方法であって、
ａ）前記少なくとも１つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも１つの第１信号を取得する段階と、
ｂ）少なくとも１つの第２信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも１つの第１信号を変調する段階と、
ｃ）合成信号を生成するように前記少なくとも１つの第１信号と前記少なくとも１つの第２信号とをミキシングする段階と、
ｄ）前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成する段階と、
ｅ）前記オフセットに基づき前記少なくとも１つの第１信号の位相を制御して、更なる情報を生成する段階と、
ｆ）前記更なる情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部分に基づき画像を生成する段階と、が含まれる方法。
【請求項２００】
その干渉縞の不安定性による少なくとも１つの電磁気信号の減衰を低減するように前記少なくとも１つの信号の位相を追跡するための実行可能な命令をそれ上に含む記憶媒体であって、前記実行可能な命令が処理システムによって実行された時、前記実行可能な命令は、前記処理システムが以下の段階を実行するように構成し、前記段階には、
前記少なくとも１つの電磁気信号から分離された複数のスペクトル帯域を含む少なくとも１つの第１信号を取得する段階と、
ｂ）少なくとも１つの第２信号を生成するように変調構成の変調周波数に基づき、前記少なくとも１つの第１信号を変調する段階と、
ｃ）合成信号を生成するように前記少なくとも１つの第１信号と前記少なくとも１つの第２信号とをミキシングする段階と、
ｄ）前記合成信号に基づき、オフセット電圧を生成する段階と、
ｅ）前記オフセットに基づき前記少なくとも１つの第１信号の位相を制御して、更なる情報を生成する段階と、
ｆ）前記更なる情報を用いて、前記サンプルの少なくとも一部分に基づき画像を生成する段階と、が含まれる記憶媒体。
【請求項２０１】
血管中のアテローム硬化症斑点を特定するためのプローブであって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射と、非反射性参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射とを受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な前記検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つであるプローブ。
【請求項２０２】
血管中のアテローム硬化症斑点を特定するためのプローブであって、
サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射と、参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射とを受信する装置と、
前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、前記検出器の少なくとも２つが、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる前記少なくとも１つの検出構成と、を含み、
ａ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｂ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、
の内少なくとも１つであるプローブ。
【請求項２０３】
治療薬を投与するための装置であって、
ａ）ハウジングに配置されたプローブであって、
ｉ）サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射と、非反射性参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射とを受信する装置と、
ｉｉ）前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
ｉｉｉ）各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成と、を含み、
ｌ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｌｌ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、の内少なくとも１つである前記プローブと、
ｂ）前記プローブと協働する導管であって、前記治療薬を受け入れるための基端部と、所定の位置において前記治療薬を投与するための遠端部とを有し、前記位置は、前記プローブを用いて前記遠端部に近接する環境を画像化することによって決定される前記導管と、
が含まれる装置。
【請求項２０４】
治療薬を投与するための装置であって、
ａ）ハウジングに配置されたプローブであって、
ｉ）サンプルからの少なくとも１つの第１電磁気放射と、参照体からの少なくとも１つの第２電磁気放射とを受信する装置と、
ｉｉ）前記第１電磁気放射、前記第２電磁気放射、並びに前記第１及び第２電磁気放射の組み合わせの少なくとも１つのスペクトラムを周波数成分に分離する少なくとも１つのスペクトル分離ユニットと、
ｉｉｉ）各検出器が、前記周波数成分の少なくとも１つの少なくとも一部を検出可能な複数の検出器を含む少なくとも１つの検出構成であって、前記検出器の少なくとも２つが、前記周波数成分の共通の１つを検出し、前記少なくとも２つの前記検出器の第１番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第１位相差を有する第１信号を受信し、少なくとも２つの前記検出器の第２番目が、前記第１と第２電磁気放射との間の第２位相差を有する第２信号を受信し、前記第１及び第２位相差は互いに異なる前記少なくとも１つの検出構成と、を含み、
ｌ）前記第１及び第２電磁気放射が互いに干渉する、及び
ｌｌ）前記第１及び第２電磁気放射の前記周波数成分が互いに干渉する、の内少なくとも１つである前記プローブと、
ｂ）前記プローブと協働する導管であって、前記治療薬を受け入れるための基端部と、所定の位置において前記治療薬を投与するための遠端部とを有し、前記位置は、前記プローブを用いて前記遠端部に近接する環境を画像化することによって決定される前記導管と、
が含まれる装置。