【手続補正書】
【提出日】平成15年9月11日(2003.9.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプルの可能形態を検索する方法であって、以下の工程：
サンプルを１又はそれより多い容器上に配置する工程、その際、該容器の少なくとも１つは毛管空間を画定していて、該サンプルは該毛管空間内に配置される；
該サンプルを前記容器中で又は前記容器上で凝固させて、少なくとも１種類の形態を生成させる工程、その際、前記少なくとも１種類の形態は固体又は半固体である；
該分析結果が該生成された形態を示唆する仕方で前記少なくとも１種類の形態を分析する工程；及び
前記少なくとも１種類の形態を分類する工程
を含んでなる方法。
【請求項２】
該サンプルが１種類の化合物の溶液から本質的になる、請求項１記載の方法。
【請求項３】
該サンプルが化合物の混合物を含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項４】
少なくとも２個の異なるタイプの容器を含む複数の容器上に該サンプルを配置する、請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記少なくとも１個の容器が毛管空間を画定していない容器を含む、請求項４記載の方法。
【請求項６】
該サンプルを毛管空間を画定している少なくとも５個の容器中に配置する、請求項１記載の方法。
【請求項７】
該化合物を毛管空間を画定している少なくとも１００個の容器中に配置する、請求項１記載の方法。
【請求項８】
該凝固工程が該サンプルを結晶化させることを含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項９】
該凝固工程が、溶媒蒸発、冷却、加熱、貧溶媒添加、ゲル拡散、及び薄層析出からなる群より選択される、請求項１記載の方法。
【請求項１０】
該サンプルの過飽和溶液を生成させる工程を更に含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項１１】
該配置工程が、該サンプルを少なくとも１個の毛管中に配置することを含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項１２】
該配置工程が、該サンプルを、ウェルプレート、穴又は細孔を有するブロック、及び穴又は細孔を有するシートからなる群より選択される容器中に配置することを含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項１３】
該分析工程が、視覚分析、顕微鏡分析、熱分析、回折分析、及び分光分析からなる群より選択される方法を含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項１４】
該回折分析がＸ線回折分析である、請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
該分析工程が、前記分析のための放射線源としてシンクロトロン放射光を用いるＸ線回折分析によって前記形態を分析することを含んでなる、請求項１３記載の方法。
【請求項１６】
前記形態を分析する工程がラマン分光分析を含んでなる、請求項１３記載の方法。
【請求項１７】
前記形態を分析する工程が、前記形態を前記容器から取り出さずに分析することを含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項１８】
該形態を分析する工程が、前記形態を前記容器から取り出さずに分析することを含んでなる、請求項１１記載の方法。
【請求項１９】
該分析工程が、前記分析のための放射線源としてシンクロトロン放射光を用いるＸ線回折分析によって前記形態を分析することを含んでなる、請求項１８記載の方法。
【請求項２０】
該生成された形態を既知の形態と比較する工程を更に含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項２１】
前記生成工程が該サンプルの少なくとも１種類の異なる形態を生成させる、請求項１記載の方法。
【請求項２２】
前記容器が前記生成工程の間に実質的に一定の動きをする、請求項１記載の方法。
【請求項２３】
前記容器を前記生成工程の間にその縦軸に沿って回転させる、請求項１記載の方法。
【請求項２４】
前記容器を前記生成工程の間に遠心分離にかける、請求項１記載の方法。
【請求項２５】
前記遠心分離が、該固体又は半固体を毛管の一端において濃縮するのに充分である、請
求項２４記載の方法。
【請求項２６】
前記遠心分離がin-situ分析を容易にするのに充分である、請求項２４記載の方法。
【請求項２７】
前記遠心分離が環境変化を提供するのに充分である、請求項２４記載の方法。
【請求項２８】
前記遠心分離が、前記容器の一端が閉鎖されているときに、該サンプルを前記容器の該底部に移動させるのに充分である、請求項２４記載の方法。
【請求項２９】
前記容器を前記生成工程の間に遠心蒸発にかける、請求項１記載の方法。
【請求項３０】
前記遠心蒸発が、該固体又は半固体を毛管の一端において濃縮するのに充分である、請求項２９記載の方法。
【請求項３１】
前記遠心蒸発がin-situ分析を容易にするのに充分である、請求項２９記載の方法。
【請求項３２】
前記遠心蒸発が環境変化を提供するのに充分である、請求項２９記載の方法。
【請求項３３】
前記遠心蒸発が、前記容器の一端が閉鎖されているときに、該サンプルを前記容器の該底部に移動させるのに充分である、請求項２９記載の方法。
【請求項３４】
その形態にしたがってサンプルをスクリーニングする方法であって、以下の工程：
サンプルを複数の容器上に配置する工程、その際、該容器の少なくとも１つは毛管空間を画定し、該サンプルは該毛管空間内に配置される； 
該サンプルを前記容器中で又は前記容器上で凝固させて、少なくとも１種類の形態を生成させる工程、その際、前記少なくとも１種類の形態は固体又は半固体である；
分析結果が該生成された形態を示唆する仕方で前記少なくとも１種類の形態を分析する工程；及び
前記少なくとも１種類の形態を分類する工程
を含んでなる方法。
【請求項３５】
前記サンプルから１種類より多い形態が生成されたか否かを測定する工程を更に含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項３６】
前記サンプルが、化合物又は混合物の少なくとも１種類の形態において生物活性を有する該化合物又は混合物を含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項３７】
該方法が、該化合物又は混合物の少なくとも１種類の他の形態を生成させることを含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項３８】
該サンプルが既知の多形材料を含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項３９】
該サンプルが、多形であると認められない少なくとも１種類の材料を含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項４０】
複数のサンプルをスクリーニングする、請求項３４記載の方法。
【請求項４１】
第二の分析工程を前記生成された形態に関して行い、生物活性又は生物学的利用能に関するデータを提供する、請求項３４記載の方法。
【請求項４２】
該分析工程が、視覚分析、顕微鏡分析、熱分析、回折分析、及び分光分析からなる群より選択される方法を含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項４３】
該回折分析がＸ線回折分析である、請求項４２記載の方法。
【請求項４４】
該分析工程が、前記分析のための放射線源としてシンクロトロン放射光を用いるＸ線回折分析によって前記形態を分析することを含んでなる、請求項４２記載の方法。
【請求項４５】
該配置工程が、該サンプルを少なくとも１個の毛管中に配置することを含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項４６】
該分析工程が、前記分析のための放射線源としてシンクロトロン放射光を用いるＸ線回折分析によって前記形態を分析することを含んでなる、請求項４５記載の方法。
【請求項４７】
前記形態を分析する工程がラマン分光分析を含んでなる、請求項４５記載の方法。
【請求項４８】
前記形態を分析する工程が、前記形態を前記毛管から取り出さずに分析することを含んでなる、請求項４５記載の方法。
【請求項４９】
前記形態を分析する工程が、前記形態を前記容器から取り出さずに分析することを含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項５０】
前記分類工程が、各々の前記生成された形態をそのＸ線回折パターンにしたがって分類することを含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項５１】
少なくとも２種類の異なるサンプルを異なる条件に曝し、その際、複数のサンプルを該凝固工程の間に該スクリーニング法にかけることを更に含んでなる、請求項３４記載の方法。
【請求項５２】
該サンプルを複数のサンプル部分に分割して、前記複数のサンプル部分を該スクリーニング法にかける工程を含んでなり、その際、該凝固工程の間に、少なくとも２種類の異なる部分を異なる条件に曝す、請求項３４記載の方法。
【請求項５３】
サンプルをスクリーニングする方法であって、以下の工程：
該サンプルを複数の毛管上に配置する工程； 
該複数の毛管を遠心分離する工程；
該サンプルを該毛管中で凝固させる工程；
分析結果が該生成された形態を示唆する仕方で前記少なくとも１種類の形態を分析する工程；及び
該少なくとも１種類の形態を分類する工程
を含んでなる方法。
【請求項５４】
前記遠心分離工程を該凝固工程の間に少なくとも部分的に行なう、請求項５３記載の方法。
【請求項５５】
前記遠心分離工程を周囲圧力より低い圧力で行なう、請求項５３記載の方法。
【請求項５６】
前記遠心分離工程を真空下で行なう、請求項５３記載の方法。
【請求項５７】
サンプルをその固体形態にしたがってスクリーニングする方法であって、以下の工程：
該サンプルを複数の容器上に配置する工程、その際、該容器の少なくとも１つは毛管空間を画定し、該サンプルは該毛管空間内に配置される； 
前記容器中で又は前記容器上で該サンプルから少なくとも１種類の半固体を生成させる工程；
該生成された半固体を分析する工程、その際、該分析結果が該半固体の形態を示唆する；及び
該生成された半固体を該示唆された形態に従って分類する工程
を含んでなる方法。
【請求項５８】
サンプルをスクリーニングする方法であって、以下の工程：
該サンプルをウェルプレート上に配置する工程、その際、前記ウェルプレートは複数の毛管空間を画定し、該サンプルは該毛管空間中に配置される； 
前記毛管空間中の該サンプルを凝固させて、固体を生成させる工程；
該生成された固体を分析する工程、その際、該分析結果が該生成された固体の固体形態を示唆する；及び
該生成された固体を該示唆された固体形態に従って分類する工程
を含んでなる方法。
【請求項５９】
該生成された固体を分析する工程が、該固体が生成された容器から該生成された固体を取り出さずに分析することを含んでなる、請求項５８記載の方法。
【請求項６０】
該分析工程がＸ線回折分析を含んでなる、請求項５９記載の方法。
【請求項６１】
該分析工程が、前記分析のための放射線源としてシンクロトロン放射光を用いるＸ線回折分析によって前記生成された固体を分析することを含んでなる、請求項６０記載の方法。
【請求項６２】
前記毛管の少なくとも一部が約０．１ｍｍ〜約３０ｍｍである、請求項５８記載の方法。
【請求項６３】
前記毛管の少なくとも一部が約０．５ｍｍ〜約１７ｍｍである、請求項５８記載の方法。
【請求項６４】
前記毛管の少なくとも一部が約０．５ｍｍ〜約７ｍｍである、請求項５８記載の方法。
【請求項６５】
前記毛管の少なくとも一部が約０．５ｍｍ〜約５ｍｍである、請求項５８記載の方法。
【請求項６６】
前記毛管の少なくとも一部が約０．５ｍｍ〜約２．５ｍｍである、請求項５８記載の方法。
【請求項６７】
可能固体形態を生成させ検出する方法であって、以下の工程：
毛管を画定している１又はそれより多い容器において化合物、元素、又は混合物から融解物を生成させ、該融解物を該毛管中に配置する工程；
該融解物を凝固させて、前記容器中で又は前記容器上で少なくとも１種類の固体を精製させる工程；及び
前記少なくとも１種類の生成された固体を、該分析結果が該生成された固体の固体形態を示唆するやり方で分析する工程
を含んでなる方法。
【請求項６８】
該化合物、元素、又はそれらの混合物が溶媒を含まない、請求項６７記載の方法。
【請求項６９】
可能固体形態を生成させ検出する方法であって、以下の工程：
サンプルを融解して毛管空間を画定している１又はそれより多い容器中で融解物を形成させる工程、その際、該融解物は該毛管中に配置される；
前記容器中で又は前記容器上で該融解物から結晶質材料を形成させる工程；及び
前記結晶質材料を分析結果が該結晶質材料の固体形態を示唆するようなやり方で分析する工程
を含んでなる方法。
【請求項７０】
該融解物が溶媒を含まない、請求項６９記載の方法。
【請求項７１】
該分析工程が透過Ｘ線回折分析法を含んでなる、請求項６０記載の方法。
【請求項７２】
該分析工程が透過Ｘ線回折分析法を含んでなる、請求項１４記載の方法。
【請求項７３】
前記毛管を画定している前記少なくとも１種類の容器がポリマー又はガラスでできている、請求項１記載の方法。
【請求項７４】
前記毛管を画定している前記少なくとも１種類の容器がポリマー又はガラスでできている、請求項５７記載の方法。
【請求項７５】
前記毛管を画定している前記１又はそれより多い容器がポリマー又はガラスでできている、請求項６７記載の方法。
【請求項７６】
前記毛管を画定している前記１又はそれより多い容器がポリマー又はガラスでできている、請求項６９記載の方法。
【請求項７７】
前記１又はそれより多い容器がウェルプレートを含んでなる、請求項１記載の方法。
【請求項７８】
前記複数の容器がウェルプレートを含んでなる、請求項５７記載の方法。
【請求項７９】
前記１又はそれより多い容器がウェルプレートを含んでなる、請求項６７記載の方法。
【請求項８０】
前記１又はそれより多い容器がウェルプレートを含んでなる、請求項６９記載の方法。