【手続補正書】
【提出日】平成16年10月27日(2004.10.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】            明細書
【発明の名称】      マーク分布パターン検出方法，色ずれ検出方法，マーク分布パターン検出装置およびカラー画像形成装置
【特許請求の範囲】
【請求項１】
整列した複数のマークを、光学センサで、相対走査により読取り、読取り信号を所定ピッチでＡ／Ｄ変換して、読取り信号のレベル範囲の最低レベルより高く最高レベルより低い、異なった値の第１レベルおよび第２レベル、の間のＡ／Ｄ変換データを走査位置を特定してメモリに格納し、該メモリ上の、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群、の走査位置に基づいて各マークの分布情報を生成する、マーク分布パターン検出方法。
【請求項２】
前記特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群の少なくとも一方を含み、各一連のデータ群に基づいて各マークのエッジ位置情報を生成する、請求項１に記載のマーク分布パターン検出方法。
【請求項３】
前記特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群を含み、前記下降傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第１エッジ位置情報として生成し、前記上昇傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第２エッジ位置情報として生成する、請求項１に記載のマーク分布パターン検出方法。
【請求項４】
各マークの第１エッジ位置情報と第２エッジ位置情報が表わす第１エッジ位置と第２エッジ位置の中間位置を各マークの位置情報として生成する、請求項３に記載のマーク分布パターン検出方法。
【請求項５】
前記光学センサの読取り信号の所定ピッチのＡ／Ｄ変換の回数をカウントしカウントデータを前記走査位置に用いる、請求項１乃至４のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出方法。
【請求項６】
感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に各色のマークを、前記整列した複数のマークとして形成し、請求項１乃至４のいずれか１つによってマークの分布情報を生成し、該分布情報に基づいて前記カラー画像形成装置が形成する各色カラー顕像の間のずれを検出する、色ずれ検出方法。
【請求項７】
光センサ；
整列した複数のマークを担持する媒体と前記光センサを相対走査する手段；
光センサの検出信号を検出データにデジタル変換するＡ／Ｄ変換手段；
メモリ；
読取り信号のレベル範囲の最低レベルより高く最高レベルより低い、異なった値の第１レベルおよび第２レベル、の間の前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データを、走査位置を特定して前記メモリに格納する、データ格納制御手段；および、
前記メモリに格納された、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群の走査位置に基づいて各マーク位置を算出する演算手段；
を備えるマーク分布パターン検出装置。
【請求項８】
前記演算手段は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群の少なくとも一方の、各一連のデータ群に基づいて各マークのエッジ位置情報を生成する、請求項７に記載のマーク分布パターン検出装置。
【請求項９】
前記演算手段は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第１エッジ位置情報として生成し、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第２エッジ位置情報として生成する、請求項７に記載のマーク分布パターン検出装置。
【請求項１０】
前記演算手段は、各マークの第１エッジ位置情報と第２エッジ位置情報が表わす第１エッジ位置と第２エッジ位置の中間位置を各マークの位置情報として生成する、請求項９に記載のマーク分布パターン検出装置。
【請求項１１】
前記データ格納制御手段は、前記光学センサの読取り信号の所定ピッチのＡ／Ｄ変換の回数をカウントしカウントデータを前記走査位置に用いる、請求項７乃至１０のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出装置。
【請求項１２】
感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に前記整列した複数のマークとして形成した各色のマークの位置を検出する、請求項７乃至１１のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出装置であって、該マーク分布パターン検出装置の前記演算手段が、検出した前記各色のマークの位置に基づいて前記カラー画像形成装置が形成する各色カラー顕像の間のずれを検出する、色ずれ検出装置。
【請求項１３】
感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置において、
その感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、前記整列した複数のマークとして各色のマークを形成する手段；
請求項１２に記載の色ずれ検出装置；および、
該色ずれ検出手段が検出した各色カラー顕像の間のずれに対応して、前記各色カラー顕像形成の色間のずれを補正する手段；
を備えるカラー画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数のマークの配列でなるマークパターンのマーク分布の検出，それを実施するパターン検出装置およびこれを用いるカラー画像形成装置に関する。特に、これに限定する意図ではないが、感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置において、重ねずれ検出のためにその感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、その移動方向に並べて作像した、各色マーク、のそれぞれの位置を検出するマーク配列パターンの検出に関する。
【０００２】
【従来技術】
この種のパターン検出が、例えば、特許第２５７３８５５号明細書，特開平１１−６５２０８号公報，特開平１１−１０２０９８号公報，特開平１１−２４９３８０号公報および特開２０００−１１２２０５号公報に開示されている。これらは、転写紙を支持し各色感光体ドラムの配列に沿って搬送して、各色感光体ドラム上のトナー画像を転写紙に転写する転写ベルト上の、幅両端のそれぞれの近くに、各色トナーマークを所定の配列パターンで形成し、１対の光センサのそれぞれで各端のトナーマークを読取って、読取り信号に基づいてマーク配列（パターン）の各マークの位置を算出する。そして、各色作像の、副走査方向ｙ（転写ベルト移動方向）の基準位置からのずれ量ｄｙ，主走査方向ｘ（転写ベルトの幅方向）のずれ量ｄｘ，主走査ラインの有効ライン長のずれ量ｄＬｘおよび主走査ラインのスキューｄＳｑを算出する。
【０００３】
光センサは、転写ベルトの反射光又は透過光をスリットを通してフォトトランジスタなどの光電変換素子で受けて、受光量を示す電圧（アナログ検出信号）に変換し、増幅回路で所定レベル範囲に校正するので、該スリットの前方にマークが存在しないときには、例えば５Ｖ（高レベルＨ）、スリットの全面を覆うようにマークが存在すると例えば０Ｖ（低レベル）、の検出信号が得られるが、転写ベルトが定速度で移動するので、光センサのスリット内視野にマークの先端エッジが入ると検出信号のレベルが次第に低下し、マークがスリットの全面を覆っている間は０Ｖに留まり、マークの後端エッジがスリット内視野に入ると検出信号のレベルが次第に上昇し、マークがスリットを通過してしまうと５Ｖにもどる。これは理想的な場合であり、検出信号は例えば図１２にＳｄｒとして示すようなレベル変動を生ずる。
【０００４】
この場合には、例えば５Ｖと０Ｖとの中間値２．５Ｖを閾値として検出信号を２値化することにより、マーク分布対応の時系列の２値信号分布（Ｌがマークに対応）が得られる。したがって、検出信号を比較器で２値化し、クロックパルスあるいは転写ベルトの移動速度に比例した周波数のタイミングパルスをカウントして、比較器の出力がＨからＬに変化した時のカウント値およびＬからＨに変化した時のカウント値をメモリに記憶することにより、マークパターンを把握できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、マークパターン検出中の検出信号のレベルシフトや比較的に短い周期での高低変化が多くしかも大きく、マーク色（トナー種）によっても検出信号のレベルが異なる。検出信号を低域通過フィルタに通すことにより高周波ノイズは押さえられるが、この抑制を強くするために遮断周波数を低域側にシフトすると、２値信号のマーク幅対応のＬパルス幅の広狭変動が大きくなり、パターン認識、特に各マークの位置特定、が難しくなる。これらの問題は、転写ベルトの汚れや傷みが多くなるにつれてひどくなり、転写ベルトの、転写用途の寿命は長くても、色合わせ調整のためのマークパターン検出が早期に不可能になってしまう。
【０００６】
そこで、検出信号を短周期で繰り返しＡ／Ｄ変換してメモリに集積し、メモリ上のデータに基づいた検出信号の周波数分析或いは基準波形とのマッチングチェックにより、基準波形対応のデータ群位置を同定して、マークパターンを認識しようとする試みがあるが、採取するデータ量が膨大になって大きなメモリ容量が必要になり、加えて、パターン同定処理が複雑になり、長い処理時間がかかる。
【０００７】
本発明は、複数のマークでなるマーク列の、マーク配列を確実に検出することを第１の目的とし、簡略な処理によって検出することを第２の目的とし、メモリに格納を要する検出データ量を低減することを第３の目的とする。また、カラー画像形成における各色の重ね画像間のずれを比較的に簡易に検出することを第４の目的とし、検出の信頼性を向上することを第５の目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
（１）整列した複数のマーク(Akr,Ayr,Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を、光学センサ(20r/20f)で、相対走査により読取り、読取り信号(Sdr/Sdf)を所定ピッチ(Tsp)でＡ／Ｄ変換して、読取り信号のレベル範囲の最低レベル(0V)より高く最高レベル(5V)より低い、異なった値の第１レベル(2V)および第２レベル(3V)、の間のＡ／Ｄ変換データ(Ddr/Ddf)を走査位置(Nos)を特定してメモリに格納し、該メモリ上の、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域(図13の(b))に属する各一連のデータ群、の走査位置(a,b,c,d,・・・)に基づいて各マークの分布情報(Akrp,Ayrp,・・・)を生成する、マーク分布パターン検出方法。
【０００９】
なお、理解を容易にするためにカッコ内には、図面に示し後述する実施例の対応要素又は対応事項の記号を、参考までに付記した。以下も同様である。
【００１０】
これによれば、メモリに格納する読取りデータ(Ddr/Ddf)が、図１３の（ｂ）に示すように、第１レベル(2V)以上第２レベル(3V)以下の読取り信号(Sdr/Sdf)のデジタルデータ(Ddr/Ddf)のみで、メモリに格納するデータ量が大幅に低減する。これにより、小容量のメモリを用いることができ、また、データ処理が簡単かつ短時間になる。或いは、読取り信号(Sdr/Sdf)のサンプリングピッチ(Tsp)を小さくして高密度でデータ採取ができる。
【００１１】
読取り信号(Sdr/Sdf)が変化している領域のデータ群は、マークの先端エッジ領域又は後端エッジ領域の読取り信号であり、データ群の位置(a,b,c,d,・・・)がマークのエッジ位置に対応する。検出信号レベルがシフトしても、マークエッジでは必ず読取り信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、それに対応するデータ群が得られ、マークエッジを確実に検出できる。マークエッジの位置情報は、該データ群の中心位置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易にマーク列の各マークの位置データが得られる。このマーク位置データは、データ群の各データの位置の統計的処理であるので、信頼性が高い。
【００１２】
【発明の実施の形態】
（２）前記特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群の少なくとも一方を含み、各一連のデータ群に基づいて各マークのエッジ位置情報を生成する、上記（１）に記載のマーク分布パターン検出方法。下降傾向のデータ群と上昇傾向のデータ群の領域は、マークの先端エッジ領域と後端エッジ領域の一方（先端エッジ領域）と他方（後端エッジ領域）である。例えば下降傾向のデータ群にに基づいて各マークのエッジ位置情報を生成すると各マークの一方（先端エッジ領域）のエッジ（先端エッジ）をあらわす位置データが得られる。
【００１３】
（３）前記特定の読取り信号変化領域に属する各一連のデータ群は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群を含み、前記下降傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第１エッジ位置情報として生成し、前記上昇傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第２エッジ位置情報として生成する、上記（１）に記載のマーク分布パターン検出方法。下降傾向のデータ群と上昇傾向のデータ群の領域は、マークの先端エッジ領域と後端エッジ領域の一方（先端エッジ領域）と他方（後端エッジ領域）であるので、各マークの一方（先端エッジ領域）のエッジ（先端エッジ）をあらわす位置データと他方（後端エッジ領域）のエッジ（後端エッジ）をあらわす位置データが得られる。両エッジの位置差がマーク幅（ｗ）相当値かをチェックして、マークのエッジを検出しているか否を検証できる。
【００１４】
（４）各マークの第１エッジ位置情報と第２エッジ位置情報が表わす第１エッジ位置と第２エッジ位置の中間位置を各マークの位置情報として生成する、上記（３）に記載のマーク分布パターン検出方法。このようにマークの両エッジの中間位置を求める態様では、マーク位置データの信頼性と精度が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性が、大きく向上する。
【００１５】
（５）前記光学センサの読取り信号の所定ピッチのＡ／Ｄ変換の回数をカウントしカウントデータを前記走査位置に用いる、上記（１）乃至（４）のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出方法。
【００１６】
（６）感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に各色のマークを、前記整列した複数のマークとして形成し、上記（１）乃至（５）のいずれか１つによってマークの分布情報を生成し、該分布情報に基づいて前記カラー画像形成装置が形成する各色カラー顕像の間のずれを検出する、色ずれ検出方法。
【００１７】
この検出によって得た各色マークの位置データに基づいて、各色作像ユニットによる像形成のずれ量すなわち色ずれ量を算出することができる。色ずれ量がわかれば、各色作像ユニットの像形成タイミングおよび又は作像位置の調整により、色ずれをなくすことができる。
【００１８】
（７）光センサ(20r/20f)；
整列した複数のマーク(Akr,Ayr,Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を担持する媒体(10)と前記光センサを相対走査する手段(転写ベルト駆動)；
光センサの検出信号(Sdr/Sdf)を検出データ(Ddr/Ddf)にデジタル変換するＡ／Ｄ変換手段(36r/36f)；
メモリ(41内)；
読取り信号のレベル範囲の最低レベル(0V)より高く最高レベル(5V)より低い、異なった値の第１レベル(2V)および第２レベル(3V)、の間の前記Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データ(Ddr/Ddf)を、走査位置(Nos)を特定して前記メモリに格納する、データ格納制御手段(1)；および、
前記メモリに格納された、走査位置が隣接し特定の読取り信号変化領域(図13の(b))に属する各一連のデータ群の走査位置(Nos)に基づいて各マーク位置を算出する演算手段；
を備えるマーク分布パターン検出装置。
【００１９】
これによれば、読取り信号(Sdr/Sdf)が変化している領域のデータ群は、マークの先端エッジ領域又は後端エッジ領域の読取り信号であり、データ群の位置(a,b,c,d,・・・)がマークのエッジ位置に対応する。検出信号レベルがシフトしても、マークエッジでは必ず読取り信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、それに対応するデータ群が得られ、マークエッジを確実に検出できる。マークエッジの位置情報は、該データ群の中心位置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易にマーク列の各マークの位置データが得られる。このマーク位置データは、データ群の各データの統計的処理であるので、信頼性が高い。
【００２０】
（８）前記演算手段は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向のデータ群と、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向のデータ群の少なくとも一方の、各一連のデータ群に基づいて各マークのエッジ位置情報を生成する、上記（７）に記載のマーク分布パターン検出装置。下降傾向のデータ群と上昇傾向のデータ群の領域は、マークの先端エッジ領域と後端エッジ領域の一方（先端エッジ領域）と他方（後端エッジ領域）である。例えば下降傾向のデータ群にに基づいて各マークのエッジ位置情報を生成すると各マークの一方（先端エッジ領域）のエッジ（先端エッジ）をあらわす位置データが得られる。
【００２１】
（９）前記演算手段は、前記走査位置の変化に対して低く変化する下降傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第１エッジ位置情報として生成し、前記走査位置の変化に対して高く変化する上昇傾向の各一連のデータ群の走査位置の中央位置を各マークの第２エッジ位置情報として生成する、上記（７）に記載のマーク分布パターン検出装置。下降傾向のデータ群と上昇傾向のデータ群の領域は、マークの先端エッジ領域と後端エッジ領域の一方（先端エッジ領域）と他方（後端エッジ領域）であるので、各マークの一方（先端エッジ領域）のエッジ（先端エッジ）をあらわす位置データと他方（後端エッジ領域）のエッジ（後端エッジ）をあらわす位置データが得られる。両エッジの位置差がマーク幅（ｗ）相当値かをチェックして、マークのエッジを検出しているか否を検証できる。
【００２２】
（１０）前記演算手段は、各マークの第１エッジ位置情報と第２エッジ位置情報が表わす第１エッジ位置と第２エッジ位置の中間位置を各マークの位置情報として生成する、上記（９）に記載のマーク分布パターン検出装置。このようにマークの両エッジの中間位置を求める態様では、マーク位置データの信頼性と精度が、一層高くなり、マーク列検出の信頼性が、大きく向上する。
【００２３】
（１１）前記データ格納制御手段は、前記光学センサの読取り信号の所定ピッチのＡ／Ｄ変換の回数をカウントしカウントデータを前記走査位置に用いる、上記（７）乃至（１０）のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出装置。
【００２４】
（１２）感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置によって、感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に前記整列した複数のマークとして形成した各色のマークの位置を検出する、上記（７）乃至（１０）のいずれか１つに記載のマーク分布パターン検出装置であって、該マーク分布パターン検出装置の前記演算手段が、検出した前記各色のマークの位置に基づいて前記カラー画像形成装置が形成する各色カラー顕像の間のずれを検出する、色ずれ検出装置。
【００２５】
この色ずれ検出装置によって得た各色マークの位置データに基づいて、各色作像ユニットによる像形成のずれ量すなわち色ずれ量を算出することができる。色ずれ量がわかれば、各色作像ユニットの像形成タイミングおよび又は作像位置の調整により、色ずれをなくすことができる。
【００２６】
（１３）感光体に各色カラー顕像を形成し転写紙上に重ね転写するカラー画像形成装置において、
その感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、前記整列した複数のマークとして各色のマークを形成する手段；
上記（１２）に記載の色ずれ検出装置；および、
該色ずれ検出手段が検出した各色カラー顕像の間のずれに対応して、前記各色カラー顕像形成の色間のずれを補正する手段；
を備えるカラー画像形成装置。
【００２７】
これによれば、各色作像ユニットの作像ずれによる色ずれをなくすことができる。
【００２８】
（１４）前記各色のマークを形成する手段は、カラー画像形成装置の感光体，転写ドラム，転写ベルト又は転写紙上に、その移動方向(y)と直交する方向(x)の画像露光ラインの中間点の両側(r,f)に、該移動方向に並べて各色のマーク(Akr,Ayr, Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を所定順に、所定距離をおいて対で形成し；
前記センサは、対のマークのそれぞれを検出する一対であり；
これに対応して前記Ａ／Ｄ変換手段も一対であり；
前記データ格納制御手段は、各Ａ／Ｄ変換手段のＡ／Ｄ変換データを前記メモリに格納し；
前記演算手段は、前記一対のマーク位置を算出し；そして、
前記色間のずれを補正する手段は、各色に付き算出した対のマーク位置の差に基づいて、スキュー(dSqy,・・・)を算出し、これをなくすように、各色の露光ラインの姿勢を調整する；
上記（１３）に記載のカラー画像形成装置。
【００２９】
これによれば、色間の作像ずれ量(dyy,dxy,dLxy/・・・)に加えて、各色画像のスキューもなくすことができる。
【００３０】
（１５）前記データ格納制御手段は、前記光センサの読取り信号が第１レベル以上第２レベル以下の範囲内に有ると、これをあらわす情報を生成する範囲検出手段(39r/39f)；および、該情報がある間所定周期(Tsp)でＡ／Ｄ変換データを、検出信号読込み位置(Nos)を特定して前記メモリに書込む制御手段(41)；を含む、上記（７）乃至（１４）のいずれか１つに記載の装置。
【００３１】
これによれば、制御手段(41)は、範囲検出手段(39r/39f)の前記情報に応答して、それがあるときのみ、Ａ／Ｄ変換データをメモリに書込めば良く、制御手段(41)の仕事が少なく、制御手段(41)は、前記周期(Tsp)を短くした高密度の検出信号読み込みに適応できる。
【００３２】
（１６）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換された、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)でＡ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパターンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの下降傾向の領域のＡ／Ｄ変換データ群を検索し、その位置を算出することを特徴とする、色ずれ検出方法。
【００３３】
これによれば、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの下降傾向の領域は、パターン上の像の先端エッジ領域又は後端エッジ領域であり、データ群の位置(a,b,c,d,・・・)がエッジ位置に対応する。パターン信号(Sdr/Sdf)のレベルがシフトしても、像エッジでは必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が低下又は上昇するので、それに対応するデータ群が得られ、像エッジを確実に検出できる。像エッジの位置は、該データ群の中心位置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易にパターン上の各像の位置データが得られる。この位置データは、データ群の各データの位置の統計的処理であるので、信頼性が高い。
【００３４】
（１７）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換された、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)でＡ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパターンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの上昇傾向の領域のＡ／Ｄ変換データ群を検索し、その位置を算出することを特徴とする、色ずれ検出方法。
【００３５】
これによれば、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの上昇傾向の領域は、パターン上の像の後端エッジ領域又は先端エッジ領域であり、データ群の位置(a,b,c,d,・・・)がエッジ位置に対応する。パターン信号(Sdr/Sdf)のレベルのレベルがシフトしても、像エッジでは必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が上昇又は低下するので、それに対応するデータ群が得られ、像エッジを確実に検出できる。像エッジの位置は、該データ群の中心位置を算出することにより得ることができ、比較的に簡易にパターン上の各像の位置データが得られる。この位置データは、データ群の各データの位置の統計的処理であるので、信頼性が高い。
【００３６】
（１８）色あわせパターン(Akr,Ayr, Acr,Amr,・・・/ Akf,Ayf,Acf,Amf,・・・)を転写ベルト(10)上に作像し、光学センサ(20r/20f)で電気信号に変換された、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)を一定間隔(Tsp)でＡ／Ｄ変換し、変換したデータに基づいて色あわせパターンの、基準パターンに対するずれ量を算出する色ずれ検出において、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの、隣接する下降と上昇の間の中間点位置を算出することを特徴とする、色ずれ検出方法。
【００３７】
これによれば、色あわせパターン信号(Sdr/Sdf)のレベルの、下降と上昇の各領域は、一方がパターン上の像の先端エッジ領域、他方が後端エッジ領域であり、それらの中間点が像の中心点である。パターン信号(Sdr/Sdf)のレベルのレベルがシフトしても、像エッジでは必ずパターン信号(Sdr/Sdf)が上昇又は低下するので、それに対応するデータ群が得られ、像の先端および後端エッジを確実に検出できる。比較的に簡易にパターン上の各像の中心点位置データが得られる。
【００３８】
（１９）複数の色マークの配列でなる色合わせパターンの各マークの中間点位置を算出する上記（１８）の色ずれ検出方法。これによれば、各色の、基準位置に対する作像の位置ずれを算出できる。
【００３９】
（２０）異なる色マーク間の位置差を算出する上記（１９）記載の色ずれ検出方法。これによれば、異なる色間の相対的なずれ量を算出できる。
【００４０】
（２１）パターン信号(Sdr/Sdf)の一定間隔(Tsp)でのＡ／Ｄ変換を開始してからその回数(Nos)をカウントして、カウント値より前記位置を定める、上記（１）乃至（２０）のいずれか１つに記載の方法又は装置。
【００４１】
本発明の他の目的および特徴は、図面を参照した以下の実施例の説明より明らかになろう。
【００４２】
【実施例】
図１に、本発明を一態様で実施する画像形成装置の機構概要を示す。この画像形成装置は、カラープリンタＰＴＲに画像スキャナＳＣＲ，自動原稿供給装置ＡＤＦ，ソータＳＯＲ及びその他を組付けた、複合機能があるデジタルカラー複写機であり、それ自身で、原稿のコピ−を生成することができ、また、パ−ソナルコンピュ−タ（以下ＰＣと表現）等のホストＰＣから、通信インターフエイスを通じて、画像情報である印刷デ−タが与えられるとそれをプリントアウト（画像出力）できるシステム構成である。
【００４３】
図２に、カラ−プリンタＰＴＲの機構を示す。スキャナＳＣＲが発生する各色の画像データは、画像処理４０（図３）で、Ｂｋ（ブラック），Ｙ（イエロ−），Ｃ（シアン）およびＭ（マゼンタ）各々の、カラ−記録用の画像データ（以下、記録画像データ又は単に画像データ）に変換された後、各々、プリンタＰＴＲの書込みユニット（露光装置）５へと送られる。書込みユニット５は、記録画像データに従い、Ｍ，Ｃ，ＹおよびＢｋ記録用の各感光体ドラム６ａ，６ｂ，６ｃおよび６ｄ上に、Ｍ，Ｃ，ＹおよびＢｋ記録用の画像データで変調したレーザービーム光を走査投射し、静電潜像を形成する。各静電潜像は各現像器７ａ，７ｂ，７ｃおよび７ｄにより、Ｍ，Ｃ，ＹおよびＢｋトナ−のそれぞれで現像され、各色のトナー像（顕像）を形成する。
【００４４】
一方、転写紙は、給紙カセット８より転写ベルトユニットの転写ベルト１０上に搬送され、各感光体ドラム上に現像形成された各色画像（顕像）が、転写器１１ａ，１１ｂ，１１ｃおよび１１ｄにて転写紙上に順に転写され、重ね合わさった後に、定着装置１２によって定着される。定着を終えた転写紙は機外に排出される。
【００４５】
転写ベルト１０は、駆動ロ−ラ９，テンションロ−ラ１３ａおよび従動ロ−ラ１３ｂで支持された透光性のエンドレスベルトであり、テンションロ−ラ１３ａが図示しないばねでベルト１０を押し下げるので、ベルト１０の張力は略一定である。
【００４６】
プリンタＰＴＲは、上述の重ね合せ転写の色ずれを防止するために、露光装置５によって各感光体ドラム６ａ，６ｂ，６ｃおよび６ｄ上の手前（図２において表面側：以下、フロントと表現）と奥（図２において裏面側：以下、リアと表現）に位置検出用のテストパターン（図４）を書き込み現像し、転写ベルト１０上に転写し、転写ベルト１０に転写したテストパタ−ンを、反射型光センサ２０ｆ（フロント側），２０ｒ（リア側）で読みとることによって、各感光体ドラム６ａ，６ｂ，６ｃ，６ｄに対する露光装置５の書き込み位置ずれ，傾き，倍率等を検知し、これらによる色ずれをなくすように、各感光体ドラムに対する露光装置５の書き込みのタイミング等を補正するように構成されている。
【００４７】
図３に、図１に示す複写機の電気系システムを示す。原稿を光学的に読み取る原稿スキャナＳＣＲは、読み取りユニット２４にて、原稿に対するランプ照射の反射光をミラー及びレンズにより受光素子に集光する。受光素子（本実施例ではＣＣＤ）は、センサー・ボード・ユニットＳＢＵ（以下単にＳＢＵと称す）にあり、ＣＣＤに於いて電気信号に変換された画像信号は、ＳＢＵ上でディジタル信号すなわち読取った画像デ−タに変換された後、ＳＢＵから、画像処理４０に出力される。
【００４８】
システムコントローラ２６とプロセスコントローラ１は、パラレルバスＰｂ及びシリアルバスＳｂを介して相互に通信を行う。画像処理４０は、その内部に於いてパラレルバスＰｂとシリアルバスＳｂとのデータインターフェースのためのデータフォーマット変換を行う。
【００４９】
ＳＢＵからの読取り画像デ−タは、画像処理４０に転送され、画像処理が、光学系及びデジタル信号への量子化に伴う信号劣化（スキャナ系の信号劣化：スキャナ特性による読取り画像デ−タの歪）を補正し、該画像デ−タを複写機能コントロ−ラＭＦＣに転送してメモリＭＥＭに書込む。又は、プリンタ出力のための処理を施してプリンタＰＴＲに与える。
【００５０】
すなわち、画像処理４０には、読取り画像デ−タをメモリＭＥＭに蓄積して再利用するジョブと、メモリＭＥＭに蓄積しないでビデオ・データ制御ＶＤＣ（以下、単にＶＤＣと称す）に出力してレ−ザプリンタＰＴＲで作像出力するジョブとがある。メモリＭＥＭに蓄積する例としては、１枚の原稿を複数枚複写する場合、読み取りユニット４を１回だけ動作させ、読取り画像デ−タをメモリＭＥＭに蓄積し、蓄積データを複数回読み出す使い方がある。メモリＭＥＭを使わない例としては、１枚の原稿を１枚だけ複写する場合、読取り画像デ−タをそのままプリンタ出力用に処理すれば良いので、メモリＭＥＭへの書込みを行う必要はない。
【００５１】
まず、メモリＭＥＭを使わない場合、画像処理４０は、読取り画像データに画像読取り補正を施してから、面積階調に変換するための画質処理を行う。画質処理後の画像データはＶＤＣに転送する。面積階調に変化された信号に対し、ドット配置に関する後処理及びドットを再現するためのパルス制御をＶＤＣで行い、レ−ザプリンタＰＴＲの作像ユニット５に於いて転写紙上に再生画像を形成する。
【００５２】
メモリＭＥＭに蓄積し、それからの読み出し時に付加的な処理、例えば画像方向の回転，画像の合成等を行う場合は、画像読取り補正を施した画像データは、パラレルバスＰｂを経由して画像メモリアクセス制御ＩＭＡＣ（以下単にＩＭＡＣと称す）に送られる。ここではシステムコントローラ２６の制御に基づき画像データとメモリモジュ−ルＭＥＭ（以下単にＭＥＭと称す）のアクセス制御，外部パソコンＰＣ（以下単にＰＣと称す）のプリント用データの展開（文字コ−ド／キャラクタビット変換），メモリー有効活用のための画像データの圧縮／伸張を行う。ＩＭＡＣへ送られたデータは、データ圧縮後ＭＥＭへ蓄積し、蓄積データを必要に応じて読み出す。読み出しデータは伸張し、本来の画像データに戻しＩＭＡＣからパラレルバスＰｂ経由で画像処理４０へ戻される。
【００５３】
画像処理４０へ戻されると、そこで画質処理を、そしてＶＤＣでのパルス制御を行い、作像ユニット５に於いて転写紙上に顕像（トナ−像）を形成する。
【００５４】
複合機能の１つであるＦＡＸ送信機能は、原稿スキャナＳＣＲの読取り画像データを画像処理４０にて画像読取り補正を施し、パラレルバスＰｂを経由してＦＡＸ制御ユニットＦＣＵ（以下単にＦＣＵと称す）へ転送する。ＦＣＵにて公衆回線通信網ＰＮ（以下単にＰＮと称す）へのデータ変換を行い、ＰＮへＦＡＸデータとして送信する。ＦＡＸ受信は、ＰＮからの回線データをＦＣＵにて画像データへ変換し、パラレルバスＰｂ及びＣＤＩＣを経由して画像処理４０へ転送される。この場合特別な画質処理は行わず、ＶＤＣにおいてドット再配置及びパルス制御を行い、作像ユニット５に於いて転写紙上に顕像を形成する。
【００５５】
複数ジョブ、例えばコピー機能，ＦＡＸ送受信機能およびプリンタ出力機能、が並行に動作する状況に於いて、読み取りユニット２４、作像ユニット５及びパラレルバスＰｂ使用権のジョブへの割り振りを、システムコントロ−ラ２６及びプロセスコントローラ１にて制御する。
【００５６】
プロセスコントローラ１は、画像データの流れを制御し、システムコントローラ６はシステム全体を制御し、各リソースの起動を管理する。このデジタル複合機能複写機の機能選択は、操作ボ−ドＯＰＢにて選択入力し、コピー機能，ＦＡＸ機能等の処理内容を設定する。
【００５７】
図３に示すプリンタエンジン４が、図２に示すプリント機構すなわち画像形成機構に組み込まれた、モータ，ソレノイド，チャージャ，ヒータ，ランプなどの電気機器および電気的センサならびにそれらを駆動する電気回路（ドライバ）および検出回路（信号処理回路）を含む機構駆動電気系であり、これらの電気回路の動作がプロセスコントローラ１で制御され、電気的センサの検出信号（動作状態）がプロセスコントローラ１で読み込まれる。
【００５８】
「色合わせ」を実施する時に、プリンタＰＴＲの転写ベルト１０上には、図４に示すようにテストパタ−ンが形成される。すなわち、リアには、ブラックＢｋのスタートマークＭsrを先頭に、マークピッチｄの４ピッチ４ｄの空きの後に、８セットのマークセットが、セットピッチ（定ピッチ）７ｄ＋Ａ＋ｃで順次形成される。
【００５９】
第１マークセットは、主走査方向ｘ（転写ベルト１０の幅方向）に平行な次の直交マーク群、
ブラックＢｋの第１直交マークＡkr，
イエローＹの第２直交マークＡyr，
シアンＣの第３直交マークＡcr、および、
マゼンタＭの第４直交マークＡmr、
ならびに、主走査方向ｘに対して４５゜の角度をなす次の斜交マーク群、
Ｂｋの第１斜交マークＢkr，
Ｙの第２斜交マークＢyr，
Ｃの第３斜交マークＢcr、および、
Ｍの第４斜交マークＢmr、
を含んでいる。第２〜８マークセットの内容は、第１マークセットと同じである。フロントにも、上述のリアのテストパターンと同じテストパターンが同時に同じく形成される。これらのテストパターンに含まれる各マークに付した記号の、末尾のｒはリア側のものであることを、ｆはフロント側のものであることを、示す。
【００６０】
図５に、光センサ２０ｒ，２０ｆとその検出信号を読み込む電気回路を示す。マーク検出ステージで、ＲＯＭ，ＲＡＭ，ＣＰＵおよび検出データ格納用ＦＩＦＯメモリ等を主体とするマイクロコンピュータ（以下ＭＰＵと言う）４１（のＣＰＵ）が、Ｄ／Ａコンバータ３７ｒ，３７ｆに、光センサ２０ｒ，２０ｆの発光ダイオード（ＬＥＤ）３１ｒ，３１ｆの通電電流値を指定する通電データを与え、Ｄ／Ａコンバータ３７ｒ，３７ｆがそれをアナログ電圧に変換してＬＥＤドライバ３２ｒ，３２ｆに与える。これらのドライバ３２ｒ，３２ｆは、アナログ電圧に比例する電流をＬＥＤ３１ｒ，３１ｆに通電する。
【００６１】
ＬＥＤ３１ｒ，３１ｆが発生した光は、図示しないスリットを通って転写ベルト１０にあたり、大部分がそれを透過して、転写ベルト１０の裏面に摺接してベルト１０の鉛直方向の振動を抑止する背面反射板２１で反射し、そして転写ベルト１０を透過して、更に図示しないスリットを通ってフォトトランジスタ３３ｒ，３３ｆに当たる。これによりトランジスタ３３ｒ，３３ｆのコレクタ／エミッタ間が低インピーダンスになって、エミッタ電位が上昇する。前述のマークＭsr等がＬＥＤ３１ｒ，３１ｆに対向する位置に到来すると、マークが光を遮断するので、トランジスタ３３ｒ，３３ｆのコレクタ／エミッタ間が高インピーダンスになって、エミッタ電圧すなわち光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号のレベルが低下する。したがつて、前述のように、移動する転写ベルト１０上にテストパターンを形成すると、光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号が高低に変動する。この電圧の高はマークなしを、低はマークありを意味する。
【００６２】
光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号は、高周波ノイズ除去用の低域通過フィルタ３４ｒ，３４ｆを通して、更にレベル校正用の増幅器３５ｒ，３５ｆでレベルを０〜５Ｖに校正されて、Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆに印加される。
【００６３】
図１２に、校正された検出信号Ｓdrを示す。この検出信号ＳdrおよひＳdfは、再度図５を参照すると、Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆに与えられ、しかも、増幅器３８ｒ，３８ｆを通してウィンドゥコンパレータ３９ｒ，３９ｆに与えられる。
【００６４】
Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆは、それらの内部の入力側にサンプルホールド回路を、出力側にデータラッチ（出力ラッチ）を備え、ＭＰＵ４１がＡ／Ｄ変換指示信号Ｓcr，Ｓcfを与えると、その時の検出信号Ｓdr，Ｓdfの電圧をホールドしてデジタルデータに変換してデータラッチに保持する。したがってＭＰＵ４１は、検出信号Ｓdr，Ｓdfの読取りが必要な時には、指示信号Ｓcr，Ｓcfを与えて検出信号Ｓdr，Ｓdfのレベルをあらわすデジタルデータすなわち検出データＤdr，Ｓdfを読み込むことができる。
【００６５】
ウィンドゥコンパレータ３９ｒ，３９ｆは、検出信号Ｓdr，Ｓdfが２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内にある時に低レベルＬ、該範囲を外れているときは高レベルＨのレベル判定信号Ｓwr，Ｓwfを発生する。ＭＰＵ４１は、これらのレベル判定信号Ｓwr，Ｓwfを参照することによって、検出信号Ｓdr，Ｓdfが該範囲内か否かを直ちに認識することができる。
【００６６】
図６に、ＭＰＵ４１の、プリンタエンジン制御すなわちプリント制御の概要を示す。それ自身に動作電圧が印加されると、ＭＰＵ４１は、入出力ポートの信号レベルを待機状態のものに設定し、内部のレジスタ，タイマなども待機状態に設定する（ステップｍ１）。なお、ここ以降においては、カッコ内にステップＮｏ．又はステップ記号を示す時には、「ステップ」という語は省略して、Ｎｏ．数字又は記号のみを記す。初期化（ｍ１）を完了するとＭＰＵ４１は、機構各部および電気回路の状態を読取って、画像形成に支障がある異常があるかをチェックして（ｍ２，ｍ３）、異常があるとそれを操作表示ボードＯＰＢに表示して（ｍ４）、異常が無くなるまで、状態読取り（ｍ２）を繰返す。
【００６７】
この異常報知２（ｍ４）において、４色それぞれの作像ユニット（感光体ドラム保持ユニット）の装着を検知する４個のスイッチＳｗＰｉ、ｉ＝ｋ，ｙ，ｃ，ｍ、のいずれかたとえばＳｗＰｋが開（Ｈ）あると、感光体ドラム駆動系の電気モータに通電して、所定時間内に該スイッチＳｗＰｋが閉になったかをチェックする。
【００６８】
なお、各作像ユニットには、新品のときにはユニットケースの雌ねじ穴にねじ結合してケースより外部への突出が小さいが、ユニットが複写機に装着されて感光体ドラムが回転駆動されると、これに連動して回転してユニットケースから突出してスイッチＳｗＰｉを開から閉に切換えると共に、雌ねじ穴とのねじ結合がはずれて突出したままとなる雄ねじピンがあるので、上述のように、感光体ドラム駆動系の電気モータに通電があって感光体ドラムが回転駆動されると、新規に装着された作像ユニットの着脱を検出するスイッチたとえばＳｗＰｋが、開（Ｈ）から閉（Ｌ）に切換る。
【００６９】
ＭＰＵ４１はこの切換りを監視して、Ｂｋ作像ユニットの交換があつたことを知り、たとえばＳｗＰｋが開（Ｈ）から閉（Ｌ）に切換ると、Ｂｋ作像ユニットに宛てたプリント積算数レジスタ（不揮発メモリ上の一領域）をクリア（Ｂｋプリント積算数を０に初期化）し、スイッチＳｗＰｉに開／閉変化があったことを表す情報を生成し、レジスタにセーブする。この情報は、後述のステップｍ１０で参照する。この場合には、スイッチＳｗＰｉがすべて閉（Ｌ）すなわち正常になるので、ステップｍ４からｍ２に、そしてステップｍ３を経てｍ５に進む。
【００７０】
４個のスイッチＳｗＰｉ、ｉ＝ｋ，ｙ，ｃ，ｍ、が閉（Ｌ）であるかをチェックし、開（Ｈ）のスイッチたとえばＳｗＰｋがあって、感光体ドラムの駆動を行ったにもかかわらず、スイッチＳｗＰｋが閉に切換わらなかったときには、Ｂｋ作像ユニットが無いと見なして、それをあらわす異常報知を継続する。
【００７１】
異常がないと、定着器への通電を開始し、定着温度が、定着可温度であるかをチェックして、定着可温度でないと、待機表示を、定着可温度であるとプリント可表示を、する（ｍ５）。
【００７２】
また、定着温度が６０゜Ｃ以上であるかをチェックして（ｍ６）、定着温度が６０゜Ｃ未満であると、長時間休止（不使用）後の複写機電源オン（例えば朝一番の電源オン：休止中の機内環境の変化が大きい）と一応見なして、色合わせ実行を操作表示ボードＯＰＢに表示し（ｍ７）、ＭＰＵ４１のレジスタ（メモリの一領域）ＲＣｎに、その時不揮発メモリに保持しているカラープリント枚数積算数ＰＣｎを書込み（ｍ８）、ＭＰＵ４１のレジスタＲＴｒにその時の機内温度を書込んで（ｍ９）、「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。この「色合わせ」（ＣＰＡ）の内容は、図７以下を参照して後述する。
【００７３】
定着温度が６０゜Ｃ以上であったときには、前回の複写機の電源オフからの経過時間が短いと見なすことができる。この場合には、前回の電源オフ直前から現在までの機内環境の変化は小さいと推察できる。しかし、いずれかの色の作像ユニットの交換があったか、すなわち、上述のステップｍ４で、スイッチＳｗＰｉに開／閉変化があったことを表す情報が生成されているか、をチェックする（ｍ１０）。該情報があると、すなわち作像ユニットの交換があった場合は、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。
【００７４】
作像ユニットの交換が無かったときにはＭＰＵ４１は、操作表示ボードＯＰＢを介したオペレータの入力およびパソコンＰＣのコマンドを待つ（ｍ１１）。ここで、操作表示ボードＯＰＢを介して「色合わせ」指示がオペレータから与えられると（ｍ１２）、ＭＰＵ４１は、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。
【００７５】
定着温度が定着可温度で、しかも各部がレデイである時に、操作表示ボードＯＰＢからコピースタート指示があると、或いは、システムコントローラ２６から、パソコンＰＣからの印刷コマンドに対応したプリントスタート指示があると、ＭＰＵ４１は、指定枚数の画像形成をする（ｍ１３，ｍ１４）。この画像形成において、１枚の画像形成を終えて排出するたびに、ＭＰＵ４１は、それがカラー記録であるときには、不揮発メモリに割り当てているプリント総枚数レジスタ，カラープリント積算数レジスタＰＣｎ，ならびに、Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭプリント積算数レジスタのそれぞれのデータを１インクレメントする。モノクロ記録であった時には、プリント総枚数レジスタ，モノクロプリント積算数レジスタおよびＢｋプリント積算数レジスタのそれぞれのデータを１インクレメントする。
【００７６】
なお、Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭプリント積算数レジスタのデータはそれぞれ、Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭ作像ユニットが新品に交換された時に、０をあらわすデータに初期化（クリア）される。
【００７７】
ＭＰＵ４１は、１枚の画像形成を行うたびに、ペーパトラブル等の異常の有無をチエックすると共に、指定枚数のプリントアウトを終えると、現像濃度，定着温度，機内温度、その他各部の状態を読み込む（ｍ１５）。異常があるとそれを操作表示ボードＯＰＢに表示して（ｍ１７）、異常が無くなるまで、状態読取り（ｍ１５）を繰返す。
【００７８】
画像形成を再開できる状態すなわち正常であると、ＭＰＵ４１は、そのときの機内温度が、前回の色合わせのときの機内温度（レジスタＲＴｒのデータＲＴｒ）から５゜Ｃを超える温度変化があったかをチェックする（ｍ１８）。５゜Ｃを超える温度変化があると、ＭＰＵ４１は、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。５゜Ｃを超える温度変化がないときには、カラープリント積算数レジスタＰＣｎの値ＰＣｎが、前回の色合わせのときのカラープリント積算数レジスタＰＣｎの値ＲＣｎ（レジスタＲＣｎのデータ）よりも２００枚以上多いかをチェックして（ｍ１９）、２００枚以上多いと、上述のステップｍ７〜ｍ９を実行し、そして後述の「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。２００枚未満であると、定着温度が定着可温度であるかをチェックして、定着可温度でないと、待機表示を、定着可温度であるとプリント可表示をする（ｍ２０）。そして「入力読取り」（ｍ１１）に進む。
【００７９】
上述の、図６に示す制御フローにより、ＭＰＵ４１は、（１）定着温度が６０゜Ｃ未満で電源オンになったとき、（２）Ｂｋ，Ｙ，ＣおよびＭ作像ユニットのいずれかが新品に交換された時、（３）操作表示ボードＯＰＢより色合わせ指示があったとき、（４）指定枚数のプリントアウトを完了し、しかも機内温度が前回の色合わせのときの機内温度から５゜Ｃを超える変化をしているとき、および、（５）指定枚数のプリントアウトを完了し、しかもカラープリント積算数ＰＣｎが、前回の色合わせのときの値ＲＣｎよりも２００以上多くなっているときに、次に説明する「色合わせ」（ＣＰＡ）を実行する。
【００８０】
図７に、「色合わせ」（ＣＰＡ）の内容を示す。この「色合わせ」（ＣＰＡ）に進むとＭＰＵ４１は、先ず、「テストパターンの形成と計測」（ＰＦＭ）にて、帯電，露光，現像および転写等、作像条件をすべて基準値に設定して、転写ベルト１０上に、図４に示すように、リアｒ，フロントｆのそれぞれに、スタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆならびに８セットのテストパターンを形成して、光センサ２０ｒ，２０ｆでマークを検出して、マーク検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆをＡ／Ｄコンパータ３６ｒ，３６ｆでデジタルデータすなわちマーク検出データＤｄｒ，Ｄｄｆに変換して読みこむ。そして、各マークの中心点の、転写ベルト１０上の位置（分布）を算出する。更に、リア側８セットの平均パターン（マーク位置の平均値群）と、同様なフロント側８セットの平均パターンを算出する。この「テストパターンの形成と計測」（ＰＦＭ）の内容は、図８以下を参照して後述する。
【００８１】
平均パターンを算出すると、平均パターンにもとづいてＢｋ，Ｙ，ＣおよびＭ作像ユニットのそれぞれによる作像のずれ量を算出し（ＤＡＣ）、算出したずれ量に基づいてずれをなくするための調整を行う（ＤＡＤ）。
【００８２】
図８に、「テストパターンの形成と計測」（ＰＦＭ）の内容を示す。これに進むとＭＰＵ４１は、図４に示すように、例えば１２５ｍｍ／ｓｅｃで定速駆動している転写ベルト１０のリア側ｒおよびフロント側ｆの表面のそれぞれに同時に、例えばマークのｙ方向の幅ｗが１ｍｍ、ｘ方向の長さＡが例えば２０ｍｍ、ピッチｄが例えば６ｍｍ、セット間の間隔ｃが例えば９ｍｍの、スタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆならびに８セットのテストパターンの形成を開始し、スタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆが光センサ２０ｒ，２０ｆの直下に到来する直前のタイミングを図るための、時限値がＴｗ１のタイマＴｗ１をスタートして（１）、該タイミングになるのを待つ。すなわちタイマＴｗ１がタイムオーバするのを待つ（２）。タイマＴｗ１がタイムオーバすると、今度は、リアおよびフロントそれぞれで８セットのテストパターンの最後のものが、光センサ２０ｒ，２０ｆを通過し終わるタイミングを図るための、時限値がＴｗ２のタイマＴｗ２をスタートする（３）。
【００８３】
すでに述べたが、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野にＢｋ，Ｙ，Ｃ又はＭのマークが存在しないときには、光センサ２０ｒ，２０ｆの検出信号Ｓｄｒ，Ｓｄｆは高レベルＨ（５Ｖ）、マークが存在すると低レベルＬ（０Ｖ）であり、転写ベルト１０の定速移動により、検出信号Ｓｄｒが図１２に示すようなレベル変動を生ずる。変動の一部分を拡大して図１３の（ａ）に示す。これにおいて、マーク検出信号のレベルが低下している下降域は、マークの先端エッジ領域に対応し、上昇している上昇域は、マークの後端エッジ領域に対応し、下降域と上昇域との間が、マーク幅ｗの領域である。
【００８４】
図８のステップ４では、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野にスタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆが到来して検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆがＨからＬに変化する過程で、図５のウィンドゥコンパレータ３９ｒ又は３９ｆが、検出信号Ｓｄｒ又はＳｄｆが、２〜３Ｖにあることを表す検出信号Ｓｗｒ＝Ｌ又はＳｗｆ＝Ｌになるのを待つ。すなわち、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野にスタートマークＭｓｒ，Ｍｓｆのすくなくとも一方のエッジ領域が到来したかを監視する。
【００８５】
到来すると、時限値がＴｓｐ（たとえば５０μｓｅｃ）のタイマＴｓｐをスタートしてそれがタイムオーバすると図９に示す「タイマＴｓｐの割込み」（ＴＩＰ）を実行する、タイマ割り込みを許可する（５）。そして、サンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリング回数値Ｎｏｓを０に初期化し、ＭＰＵ４１内のＦＩＦＯメモリに割り当てたｒメモリ（リア側マーク読取りデータ記憶領域）およびｆメモリ（フロント側マーク読取りデータ記憶領域）の書込みアドレスＮｏａｒおよびＮｏａｆをスタートアドレスに初期化する（６）。そして、タイマＴｗ２がタイムオーバするのを待つ。すなわち、８セットのテストパターンのすべてが、光センサ２０ｒ，２０ｆの視野を通過し終わるのを待つ（７）。
【００８６】
ここで、図９を参照して、上記の、「タイマＴｓｐの割込み」（ＴＩＰ）の内容を説明する。この処理は、時限値がＴｓｐのタイマＴｓｐがタイムオーバする度に実行する点に注目されたい。ＭＰＵ４１は、この処理の最初には、タイマＴｓｐを再スタートして（１１）、Ａ／Ｄコンバータ３６ｒ，３６ｆにＡ／Ｄ変換を指示する（１２）。すなわち、指示信号Ｓｃｒ，Ｓｃｆを、一時的に、Ａ／Ｄ変換指示レベルＬとする。そして、指示回数である、サンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリング回数値Ｎｏｓを、１インクレメントする（１３）。
【００８７】
これにより、Ｎｏｓ×Ｔｓｐが、スタートマークＭｓｒ又はＭｓｆの先端エッジを検出してからの経過時間（＝スタートマークＭｓｒ又はＭｓｆを基点とする、転写ベルト１０の表面に沿うベルト移動方向ｙの、光センサ２０ｒ，２０ｆによる現在の転写ベルト１０上の検出位置）を表す。
【００８８】
そして、ウィンドウコンパレータ３９ｒの検出信号ＳｗｒがＬ（光センサ２０ｒがマークのエッジ部を検出中で、２Ｖ≦Ｓｄｒ≦３Ｖ）であるかをチェックして（１４）、そうであると、ｒメモリのアドレスＮｏａｒに、書込みデータとして、サンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリング回数値ＮｏｓおよびＡ／Ｄ変換データＤｄｒ（光センサ２０ｒのマーク検出信号Ｓｄｒの値）を書込む（１５）。そして、ｒメモリの書込みアドレスＮｏａｒを１インクレメントする（１６）。ウィンドウコンパレータ３９ｒ，３９ｆの検出信号ＳｗｒがＨ（Ｓｄｒ＜２Ｖ又は３Ｖ＜Ｓｄｒ）であるときには、ｒメモリへのデータの書込みはしない。これは、メモリへの書込みデータ量を低減し、しかも、後のデータ処理を簡易にするためである。
【００８９】
次に同様に、ウィンドウコンパレータ３９ｆの検出信号ＳｗｆがＬ（光センサ２０ｆがマークのエッジ部を検出中で、２Ｖ≦Ｓｄｆ≦３Ｖ）であるかをチェックして（１７）、そうであると、ｆメモリのアドレスＮｏａｆに、書込みデータとして、サンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリング回数値ＮｏｓおよびＡ／Ｄ変換データＤｄｆ（光センサ２０ｆのマーク検出信号Ｓｄｆの値）を書込む（１５）。そして、ｆメモリの書込みアドレスＮｏａｆを１インクレメントする（１９）。
【００９０】
このような割込み処理がＴｓｐ周期で繰返し実行されるので、光センサ２０ｒ，２０ｆのマーク検出信号Ｓｄｒ，Ｓｄｆが図１３の（ａ）に示すように高，低に変化するとき、ＭＰＵ４１内のＦＩＦＯメモリに割り当てたｒメモリおよびｆメモリには、図１３の（ｂ）に示す、２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内の、検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆのデジタルデータＤｄｒ，Ｄｄｆのみが、サンプリング回数値Ｎｏｓと共に、格納される。Ｔｓｐ周期でサンプリング回数レジスタＮｏｓのサンプリング回数値Ｎｏｓが１インクレメントされるので、また、転写ベルト１０が定速移動するので、回数値Ｎｏｓは、検出したスタートマークを基点とする転写ベルト１０上の表面に沿う、ｙ位置を示すものである。
【００９１】
なお、図１３の（ｂ）に示す、２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内の、マーク検出信号のレベルが低下している下降域の中心位置ａと、その次の上昇している上昇域の中心位置ｂの中間点Ａｋｒｐが、１つのマークＡｋｒのｙ方向の中心位置であり、同様に、それらの次に現われるマーク検出信号のレベルが低下している下降域の中心位置ｃと、その次の上昇している上昇域の中心位置ｄの中間点Ａｙｒｐが、もう１つのマークＡｙｒのｙ方向の中心位置である。後述のマーク中心点位置の算出ＣＰＡ（図１０，図１１）で、これらの、マーク中心位置Ａｋｒｐ，Ａｙｒｐ，・・・を算出する。
【００９２】
図８を、再度参照する。テストパターン中の最後の第８セットの最後のマークが光センサ２０ｒ，２０ｆを通過した後に、タイマＴｗ２がタイムオーバする。するとＭＰＵ４１は、タイマＴｓｐの割り込みを禁止する（７，８）。これにより、図９に示すＴｓｐ周期の、検出信号Ｓｄｒ，ＳｄｆのＡ／Ｄ変換が停止する。ＭＰＵ４１は、その内部のＦＩＦＯメモリのｒメモリおよびｆメモリの、検出データＤｄｒ，Ｄｄｆに基づいて、マークの中心位置を算出し（ＣＰＡ）、リアｒおよびフロントｆそれぞれの、８セットのパターンのそれぞれの検出したマーク中心点位置の分布の適否を検証して、不適な検出パターン（セット）は削除して（ＳＰＣ）、適正な検出パターンの、平均パターンを求める（ＭＰＡ）。
【００９３】
図１０および図１１に、「マーク中心点位置の算出」（ＣＰＡ）の内容を示す。ここでは「リアｒのマーク中心点位置の算出」（ＣＰＡｒ）および「フロントｆのマーク中心点位置の算出」（ＣＰＡｆ）を実行する。
【００９４】
「リアｒのマーク中心点位置の算出」（ＣＰＡｒ）ではＭＰＵ４１は先ず、その内部のＦＩＦＯメモリに割り当てたｒメモリの読出しアドレスＲＮｏａｒを初期化して、中心点番号レジスタＮｏｃのデータを、第１エッジを意味する１に初期化する（２１）。そして１エッジ領域内サンプル数レジスタＣｔのデータＣｔを１に初期化し、下降回数レジスタＣｄおよび上昇回数レジスタＣｕのデータＣｄおよびＣｕを０に初期化する（２２）。そして、エッジ域データ群先頭アドレスレジスタＳａｄに、読出しアドレスＲＮｏａｒを書込む（２３）。以上が、第１エッジ領域のデータ処理のための準備処理である。
【００９５】
ＭＰＵ４１は次に、ｒメモリのアドレスＲＮｏａｒから、データ（ｙ位置Ｎｏｓ：Ｎ・ＲＮｏａｒ，検出レベルＤｄｒ：Ｄ・ＲＮｏａｒ）を、またその次のアドレスＲＮｏａｒ＋１からもデータ（ｙ位置Ｎｏｓ：Ｎ・（ＲＮｏａｒ＋１），検出レベルＤｄｒ：Ｄ・（ＲＮｏａｒ＋１））を読出して、先ず、両データのｙ位置差がＥ（例えばＥ＝ｗ／２＝例えば１／２ｍｍ相当値）以下（同一エッジ領域上）かをチェックし（２４）、そうであると、マーク検出データＤｄｒが下降傾向か、上昇傾向かをチェックして（２５）、下降傾向であると下降回数レジスタＣｄのデータＣｄを１インクレメントし（２７）、上昇傾向であると上昇回数レジスタＣｕのデータＣｕを１インクレメントする（２６）。そして１エッジ内サンプル数レジスタＣｔのデータＣｔを１インクレメントする（２８）。そしてｒメモリ読出しアドレスＲＮｏａｒがｒメモリのエンドアドレスかをチェックして（２９）、エンドアドレスになっていないと、メモリ読出しアドレスＲＮｏａｒを１インクレメントして（３０）、上述の処理（２４〜３０）を繰返す。
【００９６】
読出しデータのｙ位置（Ｎｏｓ）が、次のエッジ領域のものに変わると、ステップ２４でチエックする、前後メモリアドレスの各位置データの位置差がＥより大きく、ＭＰＵ４１は、ステップ２４から、図１１のステップ３１に進む。ここでは、１つのマークエッジ（先端エッジ又は後端エッジ）領域のサンプリングデータのすべての、下降，上昇傾向のチエックを終えたことになる。そこで、このときの１エッジ内サンプル数レジスタＣｔのサンプル数データＣｔが、１エッジ領域内（２Ｖ以上３Ｖ以下の範囲内）の相当値であるかをチェックする。すなわち、Ｆ≦Ｃｔ≦Ｇであるかをチェックする（３１）。Ｆは、正常に形成されたマークの先端エッジ又は後端エッジを検出した場合の、検出信号Ｓｄｒが２Ｖ以上３Ｖ以下にある間の、ｒメモリへのサンプル値Ｄｄｒの書込み回数の下限値（設定値）、Ｇは上限値（設定値）である。
【００９７】
ＣｔがＦ≦Ｃｔ≦Ｇであると、読取りとデータ格納が正常に行われた１つのマークエッジのデータの正誤チェックを完了し、その結果が「適正」ということになるので、このマークエッジに関して得た検出データ群が、エッジ領域（２Ｖ以上３Ｖ以下）の全体として、下降傾向か上昇傾向かをチェックする（３２，３４）。この実施例では、下降回数レジスタＣｄのデータＣｄが、それと上昇回数レジスタＣｕのデータＣｕの和Ｃｄ＋Ｃｕの７０％以上であると、メモリのエッジＮｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに、下降を意味する情報Ｄｏｗｎを書込み（３３）、上昇回数レジスタＣｕのデータＣｕが、Ｃｄ＋Ｃｕの７０％以上であると、メモリのエッジＮｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに、上昇を意味する情報Ｕｐを書込む（３５）。更に、当該エッジ領域のｙ位置データの平均値すなわちエッジ領域の中心点位置（図１３の（ｂ）のａ，ｂ，ｃ，ｄ，・・・）を算出して、メモリのエッジＮｏ．Ｎｏｃ宛てのアドレスに書込む（３６）。
【００９８】
次にエッジＮｏ．Ｎｏｓが１３０以上になったか、すなわち、スタートマークＭｓｒおよび８セットのマークパターンのすべての、先端エッジ領域および後端エッジ領域の、中心位置算出を完了したかをチエックする。これを完了していると、或いは、ｒメモリから格納データの読出しをすべて完了していると、エッジ中心点位置データ（ステップ３６で算出したｙ位置）に基づいて、マーク中心点位置を算出する（３９）。すなわち、メモリのエッジＮｏ．アドレスのデータ（下降／上昇データ＆エッジ中心点位置データ）を読出して、先行の下降エッジ領域の中心点位置とその直後の上昇エッジ領域の中心点位置との位置差が、マークのｙ方向幅ｗ相当の範囲内であるかをチエックして、外れているとこれらのデータを削除する。範囲内であると、これらのデータの平均値を、１つのマークの中心点位置として、先頭からのマークＮｏ．宛てに、メモリに書込む。マーク形成，マーク検出および検出データ処理のすべてが適正であると、リアｒに関して、スタートマークＭｓｒおよび８セットのマーク（１セット８マーク×８セット＝６４マーク）、合わせて６５個のマーク中心点位置データが得られ、メモリに格納される。
【００９９】
次にＭＰＵ４１は、「フロントｆのマーク中心点位置の算出」ＣＰＡｆを実行して、上述の「リアｒのマーク中心点位置の算出」ＣＰＡｒのデータ処理を、fメモリ上の測定データに同様に実施する。フロントｆに関して、マーク形成，測定および測定データ処理のすべてが適正であると、スタートマークＭｓｆおよび８セットのマーク（６４マーク）、合わせて６５個のマーク中心点位置データが得られ、メモリに格納される。
【０１００】
図８を再度参照する。上述のようにマーク中心点位置を算出すると（ＣＰＡ）、ＭＰＵ４１は、つぎの「各セットのパターンの検証」（ＳＰＣ）で、メモリに書きこんだマーク中心点位置データ群が、図４に示すマーク分布相当の中心点分布であるかを検証する。ここで、図４に示すマーク分布相当から外れるデータは、セット単位で削除して、図４に示すマーク分布相当の、分布パターンとなるデータセット（１セットは８個の位置データ群）のみを残す。すべて適正な場合は、リアｒ側に８セット、フロントｆ側にも８セットのデータが残る。
【０１０１】
次にＭＰＵ４１は、リアｒ側のデータセットの、先頭のセット（第１セット）の第１中心点位置に、第２セット以降の各セットの中の第１マークの中心点位置データを変更し、第２〜８マークの中心点位置データも、変更した差分値分変更する。すなわち、第２セット以降の各セットの中心点位置データ群を、各セットの先頭を第１セットの先頭に合わせるようにｙ方向にシフトした値に変更する。フロントｆ側の第２セット以降の各セットの中の中心点位置データも同様に変更する。
【０１０２】
次にＭＰＵ４１は、「平均パターンの算出」（ＭＰＡ）で、リアｒ側の全セットの、各マークの中心点位置データの平均値Ｍａｒ〜Ｍｈｒ（図１４）を算出し、また、フロントｆ側の全セットの、各マークの中心点位置データの平均値Ｍａｆ〜Ｍｈｆ（図１４）を算出する。これらの平均値は、図１４に示すように分布する仮想の、平均位置マーク
ＭＡｋｒ（Ｂｋのリア直交マークの代表），
ＭＡｙｒ（Ｙのリア直交マークの代表），
ＭＡｃｒ（Ｃのリア直交マークの代表），
ＭＡｍｒ（Ｍのリア直交マークの代表），
ＭＢｋｒ（Ｂｋのリア斜交マークの代表），
ＭＢｙｒ（Ｙのリア斜交マークの代表），
ＭＢｃｒ（Ｃのリア斜交マークの代表）、および、
ＭＢｍｒ（Ｍのリア斜交マークの代表）、ならびに、
ＭＡｋｆ（Ｂｋのフロント直交マークの代表），
ＭＡｙｆ（Ｙのフロント直交マークの代表），
ＭＡｃｆ（Ｃのフロント直交マークの代表），
ＭＡｍｆ（Ｍのフロント直交マークの代表），
ＭＢｋｆ（Ｂｋのフロント斜交マークの代表），
ＭＢｙｆ（Ｙのフロント斜交マークの代表），
ＭＢｃｆ（Ｃのフロント斜交マークの代表）、および、
ＭＢｍｒ（Ｍのフロント斜交マークの代表）
の中心点位置を示す。
【０１０３】
以上が、図８以降に示す「テストパターンの形成と計測」（ＰＦＭ）の内容である。
【０１０４】
図７を、再度参照する。図１４も参照されたい。図７に示すずれ量算出（ＤＡＣ）では、ＭＰＵ４１は、次のように、作像ずれ量を算出する。Ｙの作像ずれ量の算出（Ａｃｙ）を、具体的に次に示す。
【０１０５】
副走査ずれ量ｄｙｙ：
リアｒ側のＢｋ直交マークＭＡｋｒとＹ直交マークＭＡｙｒの中心点位置の差（Ｍｂｒ−Ｍａｒ）の、基準値ｄ（図４）に対するずれ量
ｄｙｙ＝（Ｍｂｒ−Ｍａｒ）−ｄ。
【０１０６】
主走査ずれ量ｄｘｙ：
リアｒ側の直交マークＭＡｙｒと斜交マークＭＢｙｒの中心点位置の差（Ｍｆｒ−Ｍｂｒ）の、基準値４ｄ（図４）に対するずれ量
ｄｘｙｒ＝（Ｍｆｒ−Ｍｂｒ）−４ｄ
と、フロントｆ側の直交マークＭＡｙｆと斜交マークＭＢｙｆの中心点位置の差（Ｍｆｆ−Ｍｂｆ）の、基準値４ｄ（図４）に対するずれ量
ｄｘｙｆ＝（Ｍｆｆ−Ｍｂｆ）−４ｄ
との平均値
ｄｘｙ＝（ｄｘｙｒ＋ｄｘｙｆ）／２
＝（Ｍｆｒ−Ｍｂｒ＋Ｍｆｆ−Ｍｂｆ−８ｄ）／２。
【０１０７】
スキューｄＳｑｙ：
リアｒ側の直交マークＭＡｙｒとフロントｆ側の直交マークＭＡｙｆの中心点位置の差
ｄＳｑｙ＝（Ｍｂｆ−Ｍｂｒ）。
【０１０８】
主走査線長のずれ量ｄＬｘｙ：
リアｒ側の斜交マークＭＢｙｒとフロントｆ側の斜交マークＭＢｙｆの中心点位置の差（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）から、スキューｄＳｑｙ＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）を減算した値
ｄＬｘｙ＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）−ｄＳｑｙ
＝（Ｍｆｆ−Ｍｆｒ）−（Ｍｂｆ−Ｍｂｒ）。
【０１０９】
他の、ＣおよびＭの作像ずれ量は、上記Ｙに関する算出と同様にして算出する（Ａｃｃ，Ａｃｍ）。Ｂｋも大略では同様であるが、この実施例では、副走査方向ｙの色あわせはＢｋを基準にしているので、Ｂｋに関しては、副走査方向の位置ずれ量ｄｙｋの算出は行わない（Ａｃｋ）。
【０１１０】
図７に示すずれの調整（ＤＡＤ）では、ＭＰＵ４１は、次のように、各色の作像ずれ量を調整する。Ｙのずれ量調整（Ａｄｙ）を、具体的に次に示す。
【０１１１】
副走査ずれ量ｄｙｙの調整：
Ｙトナー像形成のための画像露光（潜像形成）の開始タイミングを、基準のタイミング（ｙ方向）から、算出したずれ量ｄｙｙずらして設定する。
【０１１２】
主走査ずれ量ｄｘｙの調整：
Ｙトナー像形成のための画像露光（潜像形成）の、ライン先頭をあらわすライン同期信号に対する、書込みユニット５の露光レーザ変調器への、ライン先頭の画像データの送出タイミング（ｘ方向）を、基準のタイミングから、算出したずれ量ｄｘｙ分ずらして設定する。
【０１１３】
スキューｄＳｑｙの調整：
書込みユニット５の、感光体ドラム６ｂに対向してＹ画像データで変調したレーザビームを反射して感光体ドラム６ｂに投射する、ｘ方向に延びるミラーのリアｒ側は支点支持され、フロントｆ側が、ｙ方向に摺動可のブロックで支持されている。このブロックをパルスモータとスクリューを主体とするｙ駆動機構で、ｙ方向に往，復駆動してスキューｄＳｑｙを調整できる。「スキューｄＳｑｙの調整」では、このｙ駆動機構のパルスモータを駆動して、ブロックを基準のｙ位置から、算出したスキューｄＳｑｙに相当する分駆動する。
【０１１４】
主走査線長のずれ量ｄＬｘｙの調整：
ライン上に画素単位で画像データを割りつける画素同期クロックの周波数を、基準周波数×Ｌｓ／（Ｌｓ＋ｄＬｘｙ）に設定する。Ｌｓは基準ライン長である。
【０１１５】
他の、ＣおよびＭの作像ずれ量の調整は、上記Ｙに関する調整と同様にして調整する（Ａｄｃ，Ａｄｍ）。Ｂｋも大略では同様であるが、この実施例では、副走査方向ｙの色あわせはＢｋを基準にしているので、Ｂｋに関しては、副走査方向の位置ずれ量ｄｙｋの調整は行わない（Ａｄｋ）。次回の「色合わせ」まで、このように調整した条件でカラー画像形成を行う。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明を一態様で実施するカラー複写機の外観を示す斜視図である。
【図２】  図１に示すプリントＰＴＲの内部機構の概要を示すブロック図である。
【図３】  図１に示すカラー複写機の電気系統のシステム構成の概要を示すブロック図である。
【図４】  図２に示す転写ベルト１０の平面図であり、その表面に形成される各色マークを模式的に示す。
【図５】  図３に示すプロセスコントローラ１の一部分の構成を示すブロック図である。
【図６】  図５に示すマイクロコンピュータ（ＭＰＵ）４１のプリント制御の概要を示すフローチャートである。
【図７】  図６に示す「色合わせ」ＣＰＡの概要を示すフローチャートである。
【図８】  図７に示す「テストパターンの形成と計測」ＰＦＭの内容を示すフローチャートである。
【図９】  図８に示すステップ５で許可する割り込み処理の内容を示すフローチャートである。
【図１０】  図８に示す「マーク中心点位置の算出」ＣＰＡの内容の一部を示すフローチャートである。
【図１１】  図８に示す「マーク中心点位置の算出」ＣＰＡの内容の残部を示すフローチャートである。
【図１２】  図２に示す転写ベルト１０に形成されるカラーマークの分布を示す平面図、および、光センサ２０ｒの、カラーマークを読取った検出信号Ｓｄｒのレベル変化を示すタイムチャートである。
【図１３】  （ａ）は、図１２に示す検出信号Ｓｄｒのタイムチャートの一部を拡大して示すタイムチャート、（ｂ）は、（ａ）に示す検出信号の内、そのＡ／Ｄ変換データが図５に示すＭＰＵ４１の内部のＦＩＦＯメモリに書込まれる範囲のみを摘出して示すタイムチャートである。
【図１４】  図８に示す「平均パターンの算出」ＭＰＡによって算出される平均値データＭａｒ，・・・と、それらが中心点位置となる仮想マークＭＡｋｒ，・・・、すなわち平均値データ群で表されるマーク列、を示す平面図である。
【符号の説明】
ＰＴＲ：カラープリンタ  ＳＣＲ：スキャナ
ＡＤＦ：自動原稿供給装置
ＳＯＲ：ソータ
ＰＣ：パーソナルコンピュータ
５：書込みユニット      ６ａ〜６ｄ：感光体ドラム
７ａ〜７ｄ：現像器      ８：給紙カセット
９：駆動ローラ          １０：転写ベルト
１１ａ〜１１ｄ：転写器  １２：定着装置
１３ａ：テンションローラ
１３ｂ：従動ローラ      ２０ｒ，２０ｆ：光センサ
２４：読取りユニット    ＳＢＵ：センサボードユニット
Ｐｂ：パラレルバス      Ｓｂ：シリアルバス
４１：ＭＰＵ（マイクロコンピュータ）