【手続補正書】
【提出日】平成17年3月30日(2005.3.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積回路装置であって、
測定対象の本体回路と、
前記本体回路と同一チップ上に配置されており、前記本体回路の実動時に前記本体回路の物理量を測定する測定回路と
を有することを特徴とする半導体集積回路装置。
【請求項２】
前記本体回路は、前記測定回路が測定動作している時は、常に動作していることを特徴とする請求項１に記載の半導体集積回路装置。
【請求項３】
前記測定回路は、前記本体回路のジッタ情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項４】
前記測定回路は、前記本体回路のノイズ情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項５】
前記測定回路は、前記本体回路の温度情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項６】
前記測定回路は、前記本体回路の電源情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項７】
前記測定回路は、前記本体回路の電力情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項８】
前記測定回路は、前記本体回路の応力情報を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項９】
前記測定回路は、前記本体回路のデバイス性能を測定する測定回路であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項１０】
前記測定回路が測定する物理量が、前記本体回路の実動時の、ジッタ情報、ノイズ情報、温度情報、電源情報、電力情報、応力情報又はデバイス性能の情報の少なくとも一以上であることを特徴とする請求項１から請求項９のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項１１】
前記測定回路を、同一チップ上に複数設けることを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項１２】
前記測定回路が測定した物理量に基づいて、前記本体回路の動作に影響を与える物理量を解析する解析手段を有することを特徴とする請求項１から請求項１１のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項１３】
前記解析手段を、前記本体回路及び前記測定回路と同一チップ上に設けることを特徴とする請求項１２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項１４】
前記解析手段を、前記本体回路及び前記測定回路が設けられたチップの外部に設けることを特徴とする請求項１２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項１５】
前記解析手段に、前記測定回路の測定結果を伝送する伝送手段を、前記本体回路及び前記測定回路と同一チップ上に設けることを特徴とする請求項１３に記載の半導体集積回路装置。
【請求項１６】
前記外部に設けられた解析手段に、前記測定回路の測定結果を伝送する伝送手段を、前記本体回路及び前記測定回路と同一チップ上に設けることを特徴とする請求項１４に記載の半導体集積回路装置。
【請求項１７】
前記チップ上に本体回路が少なくとも１つ設けられ、更に測定回路が複数設けられている場合、前記解析手段は、複数の測定回路から測定結果を受信し、本体回路の実動作に影響を与える物理量を解析するように構成されていることを特徴とする請求項１２から請求項１６のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項１８】
前記測定回路の測定結果を蓄積する蓄積手段を有することを特徴とする請求項１から請求項１７のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項１９】
前記蓄積手段を、前記本体回路及び前記測定回路と同一チップ上に設けることを特徴とする請求項１８に記載の半導体集積回路装置。
【請求項２０】
前記蓄積手段を、前記本体回路及び前記測定回路が設けられたチップの外部に設けることを特徴とする請求項１８に記載の半導体集積回路装置。
【請求項２１】
前記蓄積手段は、前記測定回路の測定結果と、前記測定回路の測定結果の測定時間、測定位置又は、測定状態を特定する測定情報とが関連付けられて蓄積されることを特徴とする請求項１８から請求項２０のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項２２】
前記測定情報は、前記測定回路以外の測定回路が測定した測定結果であることを特徴とする請求項２１に記載の半導体集積回路装置。
【請求項２３】
前記測定情報に基づいて、前記本体回路の実動作に影響を与える物理量を解析する解析手段を有することを特徴とする請求項２１又は請求項２２に記載の半導体集積回路装置。
【請求項２４】
前記解析手段の解析に基づいて、前記本体回路の故障警告を行う監視手段を有することを特徴とする請求項１２から請求項２３のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項２５】
前記解析手段の解析結果に基づいて、前記本体回路に影響を与える物理量を改善する改善手段を有することを特徴とする請求項１２から請求項２４のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項２６】
前記測定回路の測定結果の情報量を減量する減量手段を有することを特徴とする請求項１から請求項２５のいずれかに記載の半導体集積回路装置。
【請求項２７】
測定結果管理システムであって、
測定対象の本体回路と、
前記本体回路と同一チップ上に配置されており、前記本体回路の実動時に前記本体回路の物理量を測定する測定回路と、
前記測定回路の測定結果と前記本体回路を一意に識別する識別情報とを送信する送信手段と
を有する半導体集積回路装置と、
前記送信された測定結果と識別情報とを受信する受信手段と、
前記受信した測定結果を識別情報毎に管理する管理手段と
を有する管理サーバと
を有することを特徴とする測定結果管理システム。
【請求項２８】
前記送信手段は測定結果と前記本体回路を一意に識別する識別情報とを暗号化する暗号化手段を有することを特徴とする請求項２７に記載の測定結果管理システム。
【請求項２９】
前記受信手段は、送信された測定結果と識別情報とを復号する復号化手段を有することを特徴とする請求項２８に記載の測定結果管理システム。
【請求項３０】
前記管理サーバは、
前記管理手段が管理している測定結果に基づいて、前記本体回路の故障警告を行う監視手段を有することを特徴とする請求項２７から請求項２９のいずれかに記載の測定結果管理システム。
【請求項３１】
測定対象の本体回路と同一チップ上に配置されており、前記本体回路の実動時に前記本体回路の物理量を測定する測定回路を有する半導体集積回路装置から送信される前記測定回路の測定結果を管理する管理サーバであって、
送信されて来た測定結果と、前記本体回路を一意に識別する識別情報とを受信する受信手段と、
前記受信した測定結果を識別情報毎に管理する管理手段と
を有することを特徴とする管理サーバ。
【請求項３２】
前記受信手段は、送信された測定結果と識別情報とが暗号化されている場合、暗号化された測定結果と識別情報とを復号する復号化手段を有することを特徴とする請求項３１に記載の管理サーバ。
【請求項３３】
前記管理サーバは、
前記管理手段が管理している測定結果に基づいて、前記本体回路の故障警告を行う監視手段を有することを特徴とする請求項３２に記載の管理サーバ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、測定対象の半導体集積回路と、ノイズを測定する手段を有する測定回路とが同一チップ上に構成されており、前記測定対象の半導体集積回路の制御信号が前記測定回路にも入力されている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、測定対象の半導体集積回路と、ジッタを測定する手段を有する測定回路とが同一チップ上に構成されており、前記測定対象の半導体集積回路の動作開始を制御する信号が前記測定回路にも入力されている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５７】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路が測定したノイズ、またはジッタのピーク値を保持する手段を有する回路ブロックを備えている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５８】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、一定期間のノイズ、またはジッタをリアルタイムで測定する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路によって得られた時系列の測定結果を、周波数領域に変換し、周波数領域で解析する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６０】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路によって得られた測定結果の高周波成分を削除するフィルタを有する回路ブロックを備えている。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６１】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路により得られた測定結果をシリアル化して出力する手段を有する回路ブロックを備えている。
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６２】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路により得られた測定結果を保存するためのメモリ回路を備えている。
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６３】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、前記測定対象である半導体集積回路と同一の電源から電源供給を行っている。
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６４】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路と、前記測定対象である半導体集積回路との間に電源ノイズを遮断するフィルタを挿入している。
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６５】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、入力信号と出力信号との両方がデジタル信号である。
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６６】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、遅延線と位相比較回路とを備えている。
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６７】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、遅延の異なる２つ以上の遅延線を備えている。
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６８】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、遅延線の遅延ばらつきを補正する回路を備えている。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６９】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、位相検出回路とチャージポンプ回路とを備えている。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７０】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、電圧比較器を備えている。
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７１】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、ハイパスフィルタを備えている。
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７２】
上記課題を解決するために、前記測定回路は、電圧比較器に入力する参照電圧を発生する回路を備えている。
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７３】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記測定回路により得られた測定結果を、第２の半導体集積回路へ入力する。
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７４】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記第２の半導体集積回路がノイズまたはジッタを調整する調整回路である。
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７５】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記調整回路が位相同期ループ（ＰＬＬ）である。
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７６】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、前記調整回路が電源ノイズ低減回路である。
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７７】
上記課題を解決するために、本発明の集積回路は、上記いずれかに記載の半導体集積回路を搭載した半導体集積回路装置である。