(57)【要約】  システム構成図１０について，各部品間の接続関係の正当性，設定の正当性をチェックするための各種の情報を，接続関係をたどりながら統一的に収集できるようにするため，探査目的ごとに，部品の種類に対して部品内のインタフェース間で探査を進めるべきかどうかを示す探査制御用情報を定義し，探査制御用情報記憶手段６０に登録する。設定情報収集手段７０は，システム構成図１０の設計情報と，部品やインタフェースのライブラリデータベースの登録情報とから，探査目的ごとに探査制御用情報に従って部品の探査すべきインタフェースを決定し，そのインタフェースの接続関係をたどり，探査された部品およびインタフェースの設定情報を，システム構成図１０の設計情報および部品等のライブラリデータベースから収集する。
2008093400.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品の情報と，部品間のインタフェース接続情報と，それらに設定されたプロパティ情報とを有する，システム構成図の電子情報をもとに，それらの設定情報のチェックに必要な情報を，計算機が探査目的に応じて前記システム構成図を探査して収集する設定チェック用情報収集方法であって，
前記計算機は，
前記システム構成図を入力し，前記探査目的ごとに，収集すべきデータを示す情報と，各部品またはその分類情報に対して部品内部のインタフェース間で探査を進めるか否かまたは探査方向を示すトポロジ情報とを記憶する探査制御用情報記憶手段に記憶された各探査目的，または外部から指定された探査目的に応じて，前記システム構成図における一つの部品を探査開始部品として決定する工程と，
該探査開始部品から順に，前記システム構成図に用いられる部品の情報と，それらの各部品が持つインタフェースの情報と，それらの各インタフェースに対して探査目的との関係を示す情報とがあらかじめ登録された部品／インタフェース情報記憶手段を参照して探査対象の部品に属するインタフェースを求め，前記探査制御用情報記憶手段を参照して該インタフェースの中で前記探査目的に応じて探査を進めるべきインタフェースを決定する工程と，
前記探査を進めるべきインタフェースに接続される部品を新たな探査対象として同様に探査を繰り返し，前記探査制御用情報記憶手段において収集すべきデータとして定義された，各探査された部品の情報またはインタフェースの情報またはそれらに設定されたプロパティ情報の設定情報を，前記システム構成図の電子情報から抽出する工程と，
前記抽出された設定情報をファイル化して出力する工程とを実行する
ことを特徴とする設定チェック用情報収集方法。
【請求項２】
請求項１記載の設定チェック用情報収集方法において，
前記収集された設定情報をもとに，設定情報の過不足または整合性を検査し，検査結果を出力する構成検査工程を実行する
ことを特徴とする設定チェック用情報収集方法。
【請求項３】
部品の情報と，部品間のインタフェース接続情報と，それらに設定されたプロパティ情報とを有するシステム構成図の電子情報をもとに，それらの設定情報のチェックに必要な情報を，探査目的に応じて前記システム構成図を探査して収集する設定チェック用情報収集装置であって，
前記探査目的ごとに，収集すべきデータを示す情報と，各部品またはその分類情報に対して部品内部のインタフェース間で探査を進めるか否かまたは探査方向を示すトポロジ情報とを記憶する探査制御用情報記憶手段と，
前記システム構成図に用いられる部品の情報と，それらの各部品が持つインタフェースの情報と，それらの各インタフェースに対して探査目的との関係を示す情報とがあらかじめ登録された部品／インタフェース情報記憶手段と，
前記システム構成図を入力し，外部から指定された探査目的または前記探査制御用情報記憶手段に記憶された各探査目的に応じて，前記システム構成図における一つの部品を探査開始部品として決定する手段と，
該探査開始部品から順に前記部品／インタフェース情報記憶手段を参照して探査対象の部品に属するインタフェースを求め，前記探査制御用情報記憶手段を参照して該インタフェースの中で前記探査目的に応じて探査を進めるべきインタフェースを決定する手段と，
前記探査を進めるべきインタフェースに接続される部品を新たな探査対象として同様に探査を繰り返し，前記探査制御用情報記憶手段において収集すべきデータとして定義された，各探査された部品の情報またはインタフェースの情報またはそれらに設定されたプロパティ情報の設定情報を，前記システム構成図の電子情報から抽出する設定情報収集手段と，
前記抽出された設定情報をファイル化して出力する設定情報出力手段とを備える
ことを特徴とする設定チェック用情報収集装置。
【請求項４】
請求項３記載の設定チェック用情報収集装置において，
前記収集された設定情報をもとに，設定情報の過不足または整合性を検査する処理を実行し，検査結果を出力する構成検査手段を備える
ことを特徴とする設定チェック用情報収集装置。
【請求項５】
部品の情報と，部品間のインタフェース接続情報と，それらに設定されたプロパティ情報とを有するシステム構成図の電子情報をもとに，それらの設定情報のチェックに必要な情報を，探査目的に応じて前記システム構成図を探査して収集する処理を計算機に実行させるための設定チェック用情報収集プログラムであって，
前記計算機に，
前記システム構成図を入力し，前記探査目的ごとに，収集すべきデータを示す情報と，各部品またはその分類情報に対して部品内部のインタフェース間で探査を進めるか否かまたは探査方向を示すトポロジ情報とを記憶する探査制御用情報記憶手段に記憶された各探査目的，または外部から指定された探査目的に応じて，前記システム構成図における一つの部品を探査開始部品として決定する工程と，
該探査開始部品から順に，前記システム構成図に用いられる部品の情報と，それらの各部品が持つインタフェースの情報と，それらの各インタフェースに対して探査目的との関係を示す情報とがあらかじめ登録された部品／インタフェース情報記憶手段を参照して探査対象の部品に属するインタフェースを求め，前記探査制御用情報記憶手段を参照して該インタフェースの中で前記探査目的に応じて探査を進めるべきインタフェースを決定する工程と，
前記探査を進めるべきインタフェースに接続される部品を新たな探査対象として同様に探査を繰り返し，前記探査制御用情報記憶手段において収集すべきデータとして定義された，各探査された部品の情報またはインタフェースの情報またはそれらに設定されたプロパティ情報の設定情報を，前記システム構成図の電子情報から抽出する工程と，
前記抽出された設定情報をファイル化して出力する工程とを，
実行させるための設定チェック用情報収集プログラム。
【請求項６】
請求項５記載の設定チェック用情報収集プログラムにおいて，
前記計算機に，
前記収集された設定情報をもとに，設定情報の過不足または整合性を検査し，検査結果を出力する構成検査工程を実行させる                                                ためのプログラムを含む設定チェック用情報収集プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，コンピュータシステムの設計をＣＡＤ化し，電子図面として表現する場合において，コンピュータシステムの構成図に関する設定情報を収集する技術，またコンピュータシステムの構成図における各部品間の接続関係の正当性，設定の正当性を検査する技術に関するものであり，特に，設定情報の収集目的ごとに，接続関係をたどりながらコンピュータシステムの構成図に関する設定情報を自動的に収集することが可能な設定チェック用情報収集方法，設定チェック用情報収集装置および設定チェック用情報収集プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータシステムのシステム構成図を表現する場合に，電気的なインタフェースの接続関係に注目したシステム構成図で表現することが一般的である。このようなシステム構成図を電子化し，設計ミスを設計段階でチェックすることにより，システムの設計品質は大幅に向上する。【０００３】
システム構成図の設計ミスをチェックするためには，機器間の接続関係と接続インタフェースや機器に設定された情報を収集し，検査する必要がある。電子回路とは違って，コンピュータシステムには，電気インタフェースに多くの規格が混在している。そのため，検査内容によって，必要となる情報，見るべき接続関係，無視してよいインタフェースなどが異なる。【０００４】
例えば，電源の供給能力をチェックする場合には，機器の持つインタフェースのうち，電源の系統だけを経路探査して，電圧，周波数，相数やブレーカの容量などの電源に関する情報を取得し，チェックする必要がある。また，ＩＰアドレスの設定をチェックする場合には，ＬＡＮの口だけでなく，ＰＣＩスロット経由やＵＳＢ経由などの様々なルートを探査して情報を収集し，これらの設定が正しいかをチェックする必要がある。【０００５】
なお，システム構成図の検査に関連する技術が記載された先行技術文献として，例えば特許文献１がある。特許文献１には，ネットワーク構成設計において，各装置に設定した属性情報の組み合わせに基づいて，装置組み合わせの妥当性を検証する技術が記載されている。
【特許文献１】特開平６−１８７３９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
コンピュータのシステム構成図の検査では，検査内容によって必要となる情報，見るべき接続関係，無視してよいインタフェースなどが異なる。しかし，従来は，多種多様な検査内容に合わせて，統一的にシステム構成図の設定情報を収集する仕組み，および検査を実行できる仕組みは考えられていなかった。したがって，種々の検査内容の大部分については，人間が例えばＣＡＤなどを用いたシステム設計において設定した情報を，個々に画面上に表示させるなどして，目視で確認して検査するのが一般的であった。そのため，検査に非常に時間がかかり，また検査漏れなどが多く発生するという問題があった。【０００７】
検査に必要な設定チェック用情報が，検査内容に応じた目的別に一覧情報として出力されたものがあれば，人間が検査する場合でも，検査を比較的短時間で行うことができるようになり，また，検査漏れが発生することも少なくなると考えられる。さらに，検査内容に応じてまとめられた設定チェック用情報のファイルがあれば，検査の自動化も可能になると考えられる。ここで，検査対象としては，例えば電源二重化結線のチェック，電源容量のチェック，ＩＰレベルの通信範囲の特定，ループの検出，ＩＰの不正設定の検出，ＰＶＬＡＮによる分離のミス検出，コンソール切替器の切替えチェックなど，多種多様なものが存在するが，以下，これらの検査のための情報の収集目的を探査目的という。【０００８】
このような各種の検査に必要な設定チェック用情報の一覧情報を得るためには，設計されたシステム構成図における設定情報を自動収集するためのプログラムを検査内容ごとに用意する必要がある。しかし，複数の検査内容に合わせたプログラムを用意しようとすると，プログラムが複雑になり，プログラム規模が莫大なものとなるという問題があった。また，新たに別の検査を追加する必要がある場合には，そのたびにプログラムを作り変えなくてはならなかった。なお，上記の特許文献１には，ある特定の設定チェック用情報を出力する技術の記載があるが，多種多様な検査内容ごとに情報収集を行うための仕組みに関する技術は記載されていない。【０００９】
本発明は，上記の問題点の解決を図り，汎用性がある仕組みによって，システム構成図に関連する設定チェック用情報の収集を，探査目的別に容易に実行することが可能となる技術を提供することを目的とする。また，本発明は，検査内容ごとに取得されたシステム構成図の設定チェック用情報によって，適切なシステム構成図の各種の自動チェックを実現できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は，上記の課題を解決し，部品の情報と，部品間のインタフェース接続情報と，それらに設定されたプロパティ情報とを有する，システム構成図の電子情報をもとに，それらの設定情報のチェックに必要な情報を，計算機が探査目的に応じて前記システム構成図を探査して収集する設定チェック用情報収集方法であって，前記計算機は，前記システム構成図を入力し，前記探査目的ごとに，収集すべきデータを示す情報と，各部品またはその分類情報に対して部品内部のインタフェース間で探査を進めるか否かまたは探査方向を示すトポロジ情報とを記憶する探査制御用情報記憶手段に記憶された各探査目的，または外部から指定された探査目的に応じて，前記システム構成図における一つの部品を探査開始部品として決定する工程と，該探査開始部品から順に，前記システム構成図に用いられる部品の情報と，それらの各部品が持つインタフェースの情報と，それらの各インタフェースに対して探査目的との関係を示す情報とがあらかじめ登録された部品／インタフェース情報記憶手段を参照して探査対象の部品に属するインタフェースを求め，前記探査制御用情報記憶手段を参照して該インタフェースの中で前記探査目的に応じて探査を進めるべきインタフェースを決定する工程と，前記探査を進めるべきインタフェースに接続される部品を新たな探査対象として同様に探査を繰り返し，前記探査制御用情報記憶手段において収集すべきデータとして定義された，各探査された部品の情報またはインタフェースの情報またはそれらに設定されたプロパティ情報の設定情報を，前記システム構成図の電子情報から抽出する工程と，前記抽出された設定情報をファイル化して出力する工程とを実行することを特徴とする。【００１１】
また，本発明の設定チェック用情報収集方法において，前記収集された設定情報をもとに，設定情報の過不足または整合性を検査し，検査結果を出力する構成検査工程を実行することを特徴とする。【００１２】
本発明によれば，各部品または部品の分類情報（種別）に対して，探査目的に応じて探査すべきインタフェースを決定するための情報がトポロジ情報としてあらかじめ定義されているので，汎用的なプログラムで，設計されたシステム構成図に関連する設定情報を，検査内容ごとに収集することができるようになる。また，新たな検査項目を追加したい場合には，新たな探査目的を定義し，その探査目的で収集する設定情報を指定する情報を定義し，探査目的と部品またはその種別との対応ごとにトポロジを設定するだけで対応可能である。新たなトポロジの定義が必要な場合には，それを定義するだけでよい。すなわち，本発明では，探査目的の拡張が容易であり，新たな探査目的のためのプログラムの作成が簡易化される。または，探査制御用情報を定義するだけで，新たな探査目的に応じた情報収集のためのプログラムの作成は不要となる。【００１３】
なお，本発明による設定情報の収集は，システム構成図の検査のためだけではなく，実際のシステムの運用者やシステム構築の作業者のための図表を作成する場合にも，応用可能である。この場合には，その作業目的に沿った設定情報を収集するように探査目的を定義すればよい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によって，探査目的ごとに収集する設定情報の指定や，探査目的と部品の分類との組合せごとのトポロジの設定を行うだけで，設計されたシステム構成図に関連する設定情報を探査目的ごとに収集することができるので，複雑なプログラムを用意しなくても，多くのインタフェースが混在するコンピュータのシステム構成図の検査を効率的に行うための設定情報の収集を容易に行うことができるようになる。【００１５】
また，新たにシステム構成図の検査項目を増やす場合にも，収集する設定情報の指定や，探査目的と部品の分類との組合せごとのトポロジの設定を行うだけでよいので，拡張が容易である。【００１６】
また，実際のシステムの運用者やシステム構築の作業者のための図表を作成する場合でも，その作業目的に沿った設定情報を収集することが容易に可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の概要を説明するための図である。
【図２】本発明の実施の形態によるシステム設計の全体像を説明する図である。
【図３】設計確認処理装置の構成例を示す図である。
【図４】本実施の形態における設定情報収集部およびライブラリＤＢの構成例を示す図である。
【図５】探査マトリクスの例を示す図である。
【図６】トポロジの例を説明する図である。
【図７】部品プロパティテーブルの例を示す図である。
【図８】インタフェースプロパティテーブルの例を示す図である。
【図９】システム構成図の例を示す図である。
【図１０】部品プロパティ情報の例を示す図である。
【図１１】インタフェースプロパティ情報の例を示す図である。
【図１２】ネットリスト情報の例を示す図である。
【図１３】探査管理テーブルの例を示す図である。
【図１４】探査結果情報の例を示す図である。
【図１５】探査結果情報の例を示す図である。
【図１６】本実施の形態による探査の進め方を説明する図である。
【図１７】設定情報収集部による探査管理処理フローチャートである。
【図１８】設定情報収集部による設定情報収集処理フローチャートである。
【図１９】設定情報収集部による部品設定情報収集処理フローチャートである。
【図２０】設定情報収集部によるインタフェース設定情報収集処理フローチャートである。
【図２１】設定情報収集部によるトポロジ処理フローチャートである。
【図２２】構成検査部による構成検査処理フローチャートである。
【図２３】探査過程における探査管理テーブルの例を示す図である。
【図２４】探査過程における探査管理テーブルの例を示す図である。
【図２５】探査過程における探査管理テーブルの例を示す図である。
【図２６】ＩＰアドレス一覧表の例を示す図である。
【符号の説明】
【００１８】
１０  システム構成図
１１〜１３  部品
２０〜３１  インタフェース
４０，５０  探査例
６０  探査制御用情報記憶手段
７０  設定情報収集手段
１００  設計確認処理装置
１０１  部品情報／接続情報解析部
１０２  内部データ構造構築部
１０３  設定情報収集部
１０４  ケーブル選択部
１０５  機器単位部品情報収集部
１０６  設定情報文書作成部
１０７  ケーブル候補文書作成部
１０８  機器構成文書作成部
１０９  構成検査部
１１０  設計関連文書マージ部
１１１  各種文書を生成するための処理の前段部分
１１２  各種文書を生成するための処理の後段部分
１２０  設計情報
１２１  部品プロパティ情報
１２２  インタフェースプロパティ情報
１２３  ネットリスト情報
１３０  探査管理処理部
１３１  設定情報収集処理部
１３２  部品設定情報収集処理部
１３３  インタフェース設定情報収集処理部
１３４  トポロジ処理部
１３５  探査管理テーブル
１４０  探査結果情報
１５０  ＩＰアドレス一覧表
２００  ライブラリＤＢ
２０１  探査マトリクス
２０２  部品プロパティテーブル
２０３  インタフェースプロパティテーブル
３００  ＣＡＤ装置
３１０  ＣＡＤ内部情報
３２０  システム構成図
４００  データ登録装置
５００  ＣＡＤ用ライブラリＤＢ
６００  設計関連文書
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の概要を図１を用いて説明する。【００２０】
図１において，システム構成図１０は，ＣＡＤシステムによって作成された図面である。システム構成図１０における１１〜１３は設計されたシステムを構成する部品を表し，２０〜３１は各部品のインタフェースを表している。ＣＡＤシステムによる設計は，ＧＵＩ（Graphical User Interface）を用いて，システム構成図１０中に部品１１〜１３を配置し，それらの部品間の接続関係があるインタフェースを線で結ぶことなどによって行われる。また，各部品およびインタフェースには，各種の属性を設定することができる。この属性をプロパティ情報という。すなわち，ＣＡＤシステムによって作成されたシステム構成図１０は，各部品の情報と，部品間のインタフェース接続情報と，それらに設定されたプロパティ情報とを有する。なお，本実施例ではＣＡＤシステムを用いて作成されたシステム構成図を例として説明しているが，本発明はこれに限るものではなく，同様の情報が含まれたシステム構成図データであれば，ＣＡＤシステム以外の手段により作成されたデータであっても構わない。【００２１】
このシステム構成図１０から，システム設計者が設計ミスをチェックするための情報や，システム設置者，システム管理者等に有用な情報を収集するためには，情報を収集する目的，すなわち探査目的ごとに各部品間の接続関係をたどる必要がある。【００２２】
例えば，電源の供給能力をチェックする場合には，機器の持つインタフェースのうち，電源の系統だけを経路探査して，電圧，周波数，相数やブレーカの容量などの電源に関する情報を取得する必要がある。また，例えばＩＰネットワーク系をチェックするための情報を収集する場合には，システム構成図１０の各部品がＩＰのプロトコルを通過させるかどうかによって，探査対象となる部品およびインタフェースの経路が異なってくる。【００２３】
図１における４０は，探査目的１の場合の部品およびインタフェースの探査例を示しており，５０は，探査目的２の場合の部品およびインタフェースの探査例を示している。このように，探査目的に応じて探査すべき部品およびインタフェースの経路が異なることになるが，従来，このような探査は，人間がシステム構成図１０の表示画面または印刷用紙上で目視で行うか，または探査目的ごとに情報収集用のプログラムを作成し，そのプログラムの出力を利用する方法しか考えられていなかった。【００２４】
本発明は，探査目的に応じてシステム構成図１０から統一的に必要な設定チェック用情報を収集する手段を提供する。この統一的に情報を収集する手段の中で，もっとも重要なものは，探査制御用情報記憶手段６０である。これには予め次のような情報がデータベースとして登録され記憶される。【００２５】
各探査目的ごとに，ＣＡＤシステムの設計情報（システム構成図１０）から収集すべき情報を示す収集データ情報が登録される。また，各部品または部品の分類情報（図１では部品種別として示している）に対して，各探査目的ごとに部品内部のインタフェース間で探査を進めるか否かまたは探査方向を示す情報（これをトポロジという）が登録され記憶される。すなわち，ここでトポロジとは，部品に属するインタフェース同士で部品の内部を通過して接続関係をたどるべきかどうかをモデル化した情報であり，いわば探査目的の電気的信号が部品の内部を通過するかどうか，またはその電気的信号の通過方向を示す情報である。トポロジの中には，通過方向だけでなく，電気的信号の終点が定義されるものもある。この電気的信号の通過可能プロトコルを複数組み合わせてトポロジモデルを定義することにより，トポロジモデルの煩雑さを解消することもできる。【００２６】
また，図１では図示を省略しているが，本発明では，さらにシステム構成図１０に用いられる部品の情報と，それらの各部品が持つインタフェースの情報と，それらの各インタフェースに対して探査目的との関係を示す情報とがあらかじめ登録された部品／インタフェース情報記憶手段を持つ。各インタフェースに対して，探査目的との関係を示す情報の他に，必要ならばトポロジモデル上での役割を定義する情報についても部品／インタフェース情報記憶手段に記憶させるようにしてもよい。【００２７】
設定情報収集手段７０は，指定または選択された探査目的に従って，探査制御用情報記憶手段６０と部品／インタフェース情報記憶手段とを参照し，システム構成図１０における探査目的に応じた部品とインタフェースの探査を行い，それらに設定されている情報を抽出する処理を実行する。【００２８】
設定情報収集手段７０による情報抽出のための探査の方法は，以下のとおりである。設定情報収集手段７０は，まずＣＡＤシステムの出力であるシステム構成図１０の情報を入力する。次に，探査目的を決定する。探査目的は，入力装置からの指定情報の入力によって決定してもよく，探査制御用情報記憶手段６０に登録されている全ての探査目的について，順次選択するようにして決定してもよい。次に，設定情報収集手段７０は，決定された探査目的に対応する収集データ情報，すなわち，どのような設定情報を抽出するかを示す情報を，探査制御用情報記憶手段６０から取得する。【００２９】
入力されたシステム構成図１０に配置された部品に属するインタフェースのうち，探査目的との関連を示す情報が，決定された探査目的と一致するインタフェースが，探査の対象となるインタフェースとなる。また，入力されたシステム構成図１０に配置された部品のうち，探査の対象となるインタフェースが属する部品が，探査の対象となる部品となる。探査の対象となるインタフェースから接続関係をたどって探査を進め，その過程における探査の対象となる部品，探査の対象となるインタフェースの設定情報を，入力されたシステム構成図の情報と，必要に応じて部品ライブラリ等の登録情報とから収集する。【００３０】
収集する設定情報は，前記探査制御用情報記憶手段６０から取得された収集データ情報によって指定された情報である。探査の過程で部品に行き当たった場合には，その部品に設定された部品種別を取得し，探査目的と部品種別との組合せに対応するトポロジを，探査制御用情報記憶手段６０から取得する。また，取得されたトポロジの情報と，必要に応じて探査の過程で行き当たった部品に属するインタフェースの役割の情報とから，その部品の内部で探査を進めるべきインタフェースを抽出する。抽出された探査を進めるべきインタフェースの接続関係をたどって探査を進める。【００３１】
接続関係が途切れた場合に，まだ設定情報を収集していない探査の対象となる部品，探査の対象となるインタフェースが残っていれば，あらためてその残った探査の対象となる部品，探査の対象となるインタフェースからの接続関係をたどって探査を進める。【００３２】
すべての探査の対象となる部品，探査の対象となるインタフェースの設定情報の収集が完了すると，処理は終了となり，その探査結果を出力する。探査結果は，例えばＸＭＬ文書のような可視化が可能で，かつ計算機が解読可能な形式で出力すると，それをもとに見易い形式での設定情報の出力が可能であり，また，設定情報のチェックを自動的に行うための構造検査プログラムを作成する場合にも，プログラムの作成が容易になる。【００３３】
以下，本発明の具体的な実施の形態について，図を用いて説明する。【００３４】
図２は，本発明の実施の形態によるシステム設計の全体像を説明する図である。本実施の形態によるシステム設計は，主に，設計確認処理装置１００，ライブラリデータベース（ＤＢ）２００，ＣＡＤ装置３００によって実現される。【００３５】
設計者は，ＣＡＤ装置３００を用いてシステム設計を行う。設計確認処理装置１００は，ＣＡＤ装置３００で設計されたシステム構成図のＣＡＤ内部情報３１０から，設計関連文書６００を生成する。ライブラリＤＢ２００は，ＣＡＤ装置３００や設計確認処理装置１００で必要となるすべてのデータを保持する。【００３６】
システム設計および設計の確認に利用するために，あらかじめデータ登録装置４００を用いて，ライブラリＤＢ２００に必要な情報を入力し，登録しておく。入力される情報は，例えば，製品／部品の型名や名称，大きさや消費電力等の諸元，作図用のビットマップデータ，またそれぞれの部品の持つインタフェースやそれらの機能などの情報である。【００３７】
次に，ライブラリＤＢ２００から作図に必要な情報を抜き出し，ＣＡＤ用ライブラリＤＢ５００を生成する。ＣＡＤ装置３００は，このＣＡＤ用ライブラリＤＢ５００の情報を取り込んで動作する。設計者は，ＣＡＤ装置３００を用いてシステム構成図を作図する。このＣＡＤ装置３００を用いたシステム構成図の作図処理は，一般に用いられているＣＡＤによるシステム設計の周知技術と同様であるため，ここでの詳しい説明は省略する。【００３８】
次に，ＣＡＤ装置３００は，設計されたシステム構成図のＣＡＤ内部情報３１０を，例えばファイルなどを介して設計確認処理装置１００に引き渡す。このときのＣＡＤ内部情報３１０には，例えば，一意の内部ＩＤやＤＢアクセスコード，型名などの情報を含む各部品やインタフェースのリスト，インタフェース同士の接続リスト，各部品やインタフェースに設計者が設定したＩＰアドレスやＳＣＳＩ情報等のプロパティ情報などが含まれる。【００３９】
設計確認処理装置１００は，ＣＡＤ装置３００から渡されたＣＡＤ内部情報３１０を解析し，不足情報をライブラリＤＢ２００にアクセスすることにより補完し，その他必要な処理を施して設計関連文書６００を生成する。不足情報としては，例えば，接続判定スクリプトや，設計図面上の接続関係を追いかけるためのネット探査コード，プロトコル情報，ＣＡＤ装置３００での設計には不要な固定的なプロパティや，出力情報の種類ごとに異なるインタフェース名などがある。【００４０】
ライブラリＤＢ２００には，ＣＡＤで用いる部品やインタフェースの基本情報の他に，図１に示す探査制御用情報記憶手段６０に対応する探査マトリクス２０１が予め格納される。なお，本発明は，主に設計確認処理装置１００において必要な設定情報を収集する設定情報収集部１０３に関する。設定情報収集部１０３は，図１に示す設定情報収集手段７０に相当するものである。【００４１】
図３は，設計確認処理装置の構成例を示す図である。設計確認処理装置１００は，ライブラリＤＢ２００を参照し，ＣＡＤ装置３００で作成されたシステム構成図のＣＡＤ内部情報３１０から設計関連文書６００を生成する。設計確認処理装置１００は，部品情報／接続情報解析部１０１，内部データ構造構築部１０２，設定情報収集部１０３，ケーブル選択部１０４，機器単位部品情報収集部１０５，設定情報文書作成部１０６，ケーブル候補文書作成部１０７，機器構成文書作成部１０８，構成検査部１０９，設計関連文書マージ部１１０を備える。【００４２】
なお，以下では，設定情報収集部１０３，ケーブル選択部１０４，機器単位部品情報収集部１０５を含む部分を，各種文書を生成するための処理の前段部分１１１と呼ぶ。また，設定情報文書作成部１０６，ケーブル候補文書作成部１０７，機器構成文書作成部１０８を含む部分を，各種文書を生成するための処理の後段部分１１２と呼ぶ。【００４３】
設計確認処理装置１００は，ＣＡＤ装置３００からシステム構成図のＣＡＤ内部情報３１０を受け取る。受け取ったＣＡＤ内部情報３１０は，まず，部品情報／接続情報解析部１０１に送られる。【００４４】
ＣＡＤ内部情報３１０には，システム構成図に使用された部品の情報や，接続の情報だけではなく，システム構成図上の部品の位置情報など，設計関連文書６００の生成に無関係の情報も含まれる。ＣＡＤ内部情報３１０は，例えばＣＳＶフォーマットのファイルとして，ＣＡＤ装置３００から出力される。部品情報／接続情報解析部１０１では，まずそのフォーマット（ＣＳＶ）を解析し，次に部品や接続に関する情報のみを抽出する処理を行う。部品情報／接続情報解析部１０１で抽出された情報は，内部データ構造構築部１０２に送られる。【００４５】
内部データ構造構築部１０２は，ＣＡＤ装置３００から送られてきた部品や接続の識別子とそれらの接続関係とを，後段の処理が扱いやすいようにオブジェクト化するとともに，不足している共通情報をライブラリＤＢ２００から取得する。不足している共通情報とは，例えば“システム構成図上では使用が設定されていないためにケーブルが接続されていないＬＡＮインタフェース”の情報などである。内部データ構造構築部１０２で構築された内部データオブジェクトは，各種文書を生成するための処理の前段部分１１１，すなわち設定情報収集部１０３，ケーブル選択部１０４，機器単位部品情報収集部１０５等の各処理部に送られる。【００４６】
各種文書を生成するための処理の前段部分１１１では，それぞれの目的に従って，内部データオブジェクトの必要な部品や接続関係を参照しつつ，情報を収集する処理や選択する処理などを行う。【００４７】
設定情報収集部１０３は，ある部品からの接続関係をたどりながら，その接続関係のパスの収集や，それぞれの部品オブジェクトに設定されているプロパティ情報の収集を行う。このとき，設定情報の収集目的により，接続関係のたどり方が異なる場合がある。ここでは，設定情報の収集目的に応じた接続関係のたどり方を指示する情報があらかじめライブラリＤＢ２００に登録されており，ライブラリＤＢ２００を参照することにより，設定情報の収集目的に応じた接続関係のたどり方を取得できるようになっている。【００４８】
ケーブル選択部１０４は，接続関係の両端のインタフェース情報を取り出し，それらのインタフェースが直接相互に接続可能かどうか，またケーブルを介して接続可能かどうかの判定を行い，接続可能なもののみを保持することにより，ケーブルの選択を行う。なお，ケーブルの選択にはケーブルなしの直接接続も含まれる。このとき，インタフェースの性質やケーブルの性質を表すスクリプトの取得を，ライブラリＤＢ２００の参照により解決する。【００４９】
機器単位部品情報収集部１０５は，部品の接続関係を機器内の接続と機器間の接続とに区別し，機器間の接続は無視して機器内の接続のみを追うことにより，機器単位の構成情報を収集する。このとき，機器間の接続であるか機器内の接続であるかを区別するための情報等を，ライブラリＤＢ２００から取得する。【００５０】
各種文書を生成するための処理の前段部分１１１で収集された情報は，内部形式の情報であるため，それを人が読める形式に変換する必要がある。そのために，各種文書を生成するための処理の前段部分１１１にそれぞれ対応する各種文書を生成するための処理の後段部分１１２，すなわち設定情報文書作成部１０６，ケーブル候補文書作成部１０７，機器構成文書作成部１０８等の各処理部を設ける。各種文書を生成するための処理の前段部分１１１は，それぞれ対応する各種文書を生成するための処理の後段部分１１２に，収集した情報を送る。【００５１】
各種文書を生成するための処理の後段部分１１２は，各種収集情報を出力するためのフォーマット化や，内部形式の情報から人が読める形式の情報への変換を主に行う。人が読める形式の情報とは，例えば，内部形式では単なる記号である部品の識別情報を，その部品に付けられた名称に変換したものなどである。各種文書を生成するための処理の後段部分１１２では，このような変換を行うために，ライブラリＤＢ２００を参照する。【００５２】
設定情報文書作成部１０６は，設定情報収集部１０３によって収集された設定情報から，設定情報文書を作成する。さらに，構成検査部１０９を設け，設定情報収集部１０３により収集された設定情報に対して構成検査を実施するようにしてもよい。構成検査とは，収集された設定情報をもとに，システム構成図の構成や設定に問題がないかを検査することをいう。この構成検査では，例えば設定情報の過不足または設定情報に矛盾がないかの整合性の検査を行う。設定情報収集部１０３が収集する情報は，探査目的に応じてまとめられたものであるので，探査目的に応じたプログラムによって簡単に設定情報の過不足または整合性の検査を行うことができる。【００５３】
この構成検査部１０９は，設定情報文書作成部１０６が作成した設定文書を入力して検査を実施してもよいし，また，構成検査部１０９を，設定情報収集部１０３と設定情報文書作成部１０６との間に設ける構成にしてもよい。収集された設定情報と構成検査の結果とをあわせて設定情報文書を作成するようにしてもよいし，それぞれ別の文書を作成するようにしてもよい。【００５４】
ケーブル候補文書作成部１０７は，ケーブル選択部１０４で収集されたケーブルの情報やケーブル選択の結果をもとに，ケーブル候補文書を作成する。機器構成文書作成部１０８は，機器単位部品情報収集部１０５で収集された機器単位の構成情報から，機器構成文書を作成する。【００５５】
このように，各種文書を生成するための処理の前段部分１１１と，それに対応する各種文書を生成するための処理の後段部分１１２とを目的ごとに設けることにより，様々な目的に対応する各種文書を作成することができる。【００５６】
各種文書を生成するための処理の後段部分１１２は，それぞれの目的に応じた各種文書の情報を出力する。設計関連文書マージ部１１０は，各種文書を生成するための処理の後段部分１１２から出力された各種文書の情報を，それぞれの利用者の目的に沿って取捨選択し，それぞれの利用者の目的にあわせた設計関連文書６００を生成する。【００５７】
例えば，システム構築関連の作業を行うＣＥ（Customer Engineer ）には，機器内の接続情報，機器間の接続情報等，主にハード関連の情報が必要となるので，機器単位部品情報収集部１０５，機器構成文書作成部１０８によって生成された機器構成文書や，ケーブル選択部１０４，ケーブル候補文書作成部１０７によって生成されたケーブル候補文書などが必要となる。【００５８】
また，同じようにシステム構築関連の作業を行う人でも，ＳＥ（System Engineer ）には，主にソフトウェア関連の情報が必要となるので，設定情報収集部１０３，設定情報文書作成部１０６によって生成された設定情報文書が必須となり，その他の文書は参考程度に必要となる。【００５９】
また，ケーブル選択部１０４，ケーブル候補文書作成部１０７で生成された情報は，ケーブル絞込み作業が必要となる設計関係者には，必須となる。また，構成検査部１０９による検査結果は，システム構成図へのフィードバック情報ともなるため，設計関係者にとって必要な情報となる。【００６０】
各種文書を生成するための処理の後段部分１１２は，他のシステムと連携するために，文書情報を，例えばＸＭＬ形式などの機械可読の形式で生成することもできる。これにより，例えば，ケーブル候補文書作成部１０７で作成されたケーブル候補文書の情報を，システム構成図の機器情報や接続情報などとともに，ラックへの実装設計を行う実装解決装置に送り，実装解決装置では，ケーブル候補文書の情報をもとに，絞り込まれたケーブル候補の中から最適な長さのケーブルを選択する，といったことも実現可能となる。【００６１】
これらのために，各種文書を生成するための処理の後段部分１１２では，１つの各種文書を生成するための処理の前段部分１１１の処理部に対して，複数の処理部が配置される場合もある。【００６２】
このようなシステム設計の環境のもとで，本発明は，特に設定情報収集部１０３と，ライブラリＤＢ２００の登録データとに関連する。【００６３】
図４は，本実施の形態における設定情報収集部およびライブラリＤＢの構成例を示す図である。図４において，設計情報１２０は，図３に示す部品情報／接続情報解析部１０１，内部データ構造構築部１０２によってシステム構成図のＣＡＤ内部情報３１０から作成された内部データオブジェクトである。探査結果情報１４０は，設定情報収集部１０３によって，設計情報１２０とライブラリＤＢ２００の登録データとから，探査マトリクス２０１の定義情報に従って収集された設定情報である。【００６４】
探査結果情報１４０は，図３に示す設定情報文書作成部１０６に送られて設定情報文書に変換される。また，探査結果情報１４０を構成検査部１０９に送り，そのまま構成検査を行うようにしてもよい。【００６５】
設定情報収集部１０３は，探査管理処理部１３０，設定情報収集処理部１３１，部品設定情報収集処理部１３２，インタフェース設定情報収集処理部１３３，トポロジ処理部１３４を備える。また，ライブラリＤＢ２００には，探査マトリクス２０１，部品プロパティテーブル２０２，インタフェースプロパティテーブル２０３が登録されている。【００６６】
探査管理処理部１３０は，設計情報１２０をもとに探査管理テーブル１３５を作成する，探査目的を決定する，探査開始部品を決定するなど，探査全体の管理を行う。探査管理テーブル１３５は，探査の進捗状況を管理するテーブルであり，探査目的ごとに初期化される。なお，ここでは，設定情報の収集を探査とも呼んでいる。【００６７】
設定情報収集処理部１３１は，設定情報を収集するための中心的な処理を行う。部品設定情報収集処理部１３２は，探査対象部品について，設計情報１２０やライブラリＤＢ２００の部品プロパティテーブル２０２から，探査目的に応じた必要な設定情報を収集する処理を行う。インタフェース設定情報収集処理部１３３は，探査対象インタフェースについて，設計情報１２０やライブラリＤＢ２００のインタフェースプロパティテーブル２０３から，探査目的に応じた必要な設定情報を収集する処理を行う。トポロジ処理部１３４は，ライブラリＤＢ２００の各登録データを参照して探査で行き当たった部品のトポロジを取得し，探査可能なインタフェースを得る。【００６８】
構成検査部１０９は，探査結果情報１４０を入力し，構成検査を行う。構成検査には，ユニーク性検査，必須条件検査，値制限検査，整合性検査，ブラックリスト検査，ネット間の関係検査など，様々な検査がある。【００６９】
ユニーク性検査は，同一ネットで同じ値を設定してはいけないものについて，同じ値が設定されていないかを検査する。ＩＰアドレス，ホスト名，ＳＣＳＩ−ＩＤなどは，同一ネットで同じ値を設定してはいけない。【００７０】
必須条件検査は，必要な設定が行われているかを検査する。一般に，ネットは２点間以上の通信で成り立つので，２つ以上の要素が揃わなければならない。具体例としては，電源系には，電源の供給源と消費源が必ず必要となる。中間にブレーカを必須とすることもできる。また，ＩＰネット上にＩＰアドレスが設定されていないインタフェースがあれば，設定忘れの可能性が高い。また，ＳＣＳＩネット上にＳＣＳＩ−ＩＤが設定されていない機器があれば，設定忘れの可能性が高い。【００７１】
値制限検査は，設定された数値が正しいかどうかを検査する。例えば，電源系のブレーカの容量を，消費電流が超えてはならない。【００７２】
整合性検査は，設定の整合性を検査する。例えば，ＩＰネットにおいて，同一ネット上でネットアドレスが一致していなければ，設定ミスの可能性が高い。【００７３】
ブラックリスト検査は，ネットで接続された部品同士の相性を検査する。特定の型名の部品同士の組合せで異常を起こすことが経験的にわかっている場合に，その組合せでネットが設定されていれば警告する。【００７４】
ネット間の関係検査は，冗長化されたネット同士の関係を検査する。例えば，２つの機器の間に同一目的の独立したネットが２つあれば，冗長化は完全と判断できる。サーバなどに，電源冗長用に２系統の電源を持っている機器があるが，サーバと電源供給源との間に独立した２系統のネットがなければ，設定が不十分である。また，中間のブレーカが共有されていると，ブレーカの遮断で両系統が同時に切れ，冗長化の意味がなくなる。【００７５】
図５から図８を用いて，ライブラリＤＢ２００に登録された探査マトリクス２０１，部品プロパティテーブル２０２，インタフェースプロパティテーブル２０３の例について説明する。【００７６】
図５は，探査マトリクスの例を示す図である。探査マトリクス２０１は，探査プロトコルコードと探査コードとから，その探査目的の探査によって収集するデータや各部品に対応するトポロジを得るためのテーブルである。ここでは，探査目的を探査プロトコルとも呼ぶ。探査プロトコルコードとは，探査目的ごとに設定された識別コードである。探査コードとは，ライブラリＤＢ２００の登録部品ごとに設定された分類コードである。【００７７】
図５の探査マトリクスにおいて，例えば，探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査では，ＩＰレベルの通信範囲を特定することや，ＩＰの不正設定の検出を行うことなどを探査目的とする。そのため，この探査プロトコルでは，ＩＰＶ４に関する設定データ（ＩＰアドレス，サブネット名など）や，ＩＰフォワードの設定データなどが収集データとなる。ＩＰフォワードは，その部品がＩＰ通信の中継を行うか否かを示す設定情報であり，システムの設計時にサーバなどの部品に設定される。ＯＮの場合にはその部品がＩＰパケットの中継を行い，ＯＦＦの場合にはその部品がＩＰパケットの中継を行わない。【００７８】
また，例えば，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査では，電源容量の計算を行うことなどを探査目的とする。そのため，この探査プロトコルでは，部品の機能（電源，ブレーカなど）の設定データや，電源仕様（消費電力，電圧，相数，周波数，遮断電流など）の設定データなどが収集データとなる。【００７９】
また，例えば，探査プロトコルコード“ＳＡＮ”の探査では，ストレージネットワークエリアの接続関係のチェックなどを探査目的とする。そのため，この探査プロトコルでは，ＷＷＮ（World Wide Name ），ＷＷＰＮ（World Wide Port Name），ゾーン名（Zone Name ），ＬＵＮ（Logical Unit Number ）などの設定データが収集データとなる。【００８０】
図５の探査マトリクス２０１において，探査コード“ＣＯＭＰ”は，コンピュータやコンピュータから派生した部品に設定される探査コードである。サーバ，パソコン，ストレージなどの部品に設定される探査コードが“ＣＯＭＰ”である。探査コード“ＨＵＢ”は，Ｌ２レベルのルーティングを行う部品に設定される探査コードである。ハブなどの部品に設定される探査コードが“ＨＵＢ”である。探査コード“ＰＣＩ”は，Ｌ１レイヤにおけるプロトコル変換を行う部品に設定される探査コードである。ＰＣＩカードなどの部品に設定される探査コードが“ＰＣＩ”である。探査コード“ＴＥＲＭ”は，機能の端，一般に論理的に親機器の一部となる部品などに設定される探査コードである。電源などの部品に設定される探査コードが“ＴＥＲＭ”である。探査コード“ＮＦＢ”は，電源を通過させる部品に設定される探査コードである。ブレーカなどの部品に設定される探査コードが“ＮＦＢ”である。【００８１】
トポロジ処理部１３４は，探査マトリクス２０１における探査プロトコルコードと探査コードとの対応から，その部品のその探査プロトコルにおけるトポロジを取得する。例えば，図５の探査マトリクス２０１において，探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査を行っているときに，探査コードが“ＣＯＭＰ”である部品のトポロジは，トポロジコード“ＭＡＴＲＩＸ”（ＩＰフォワード＝ＯＮの場合）か，トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”（ＩＰフォワード＝ＯＦＦの場合）で示されるトポロジである。また，例えば，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査を行っているときに，探査コードが“ＮＦＢ”である部品のトポロジは，トポロジコード“ＲＥＰＥＡＴＥＲ”で示されるトポロジである。【００８２】
このような探査マトリクス２０１を用いることにより，探査目的の拡張や，部品の分類の拡張などが容易になる。新たに探査目的を増やしたい場合には，探査マトリクス２０１に新たに探査プロトコルコードを設定し，収集する必要がある設定情報を収集データ情報で設定し，探査コードごとにトポロジコードを設定すればよい。また，探査のための新たな部品の分類が必要となった場合には，探査マトリクス２０１に新たな探査コードを設定し，各探査プロトコルコードに対応するトポロジコードを設定すればよい。【００８３】
図６は，トポロジの例を説明する図である。探査マトリクス２０１で取得されたトポロジコードで示されるトポロジにより，部品のあるインタフェースから探査を進めることが可能な他のインタフェースを抽出することができる。ここでは，図５に示す探査マトリクス２０１に示されたトポロジコード“ＢＬＯＣＫ”，“ＭＡＴＲＩＸ”，“ＲＥＰＥＡＴＥＲ”の３つのトポロジの例を説明する。【００８４】
図６に示すモデル２１０，２１１，２１２は，それぞれ部品を表す。ａ〜ｄの小さい図形は，その部品のインタフェースを表す。図６では部品ごとに４つのインタフェースが示されているが，これは説明上のものであって，そのトポロジが必ずしも４つのインタフェースからなることを意味するものではない。矢印は，インタフェースからインタフェースへ探査を進めることが可能な方向を示す。【００８５】
ａ〜ｄのインタフェースの図形の形状は，そのインタフェースに設定された役割を表しており，塗りつぶしがない丸は“複合”または“双方向”を表し，四角は“被制御”または“入力”を表し，三角は“制御”または“出力”を表し，塗りつぶされた丸はすべての種類の役割を表す。各インタフェースに設定される役割は，そのインタフェースが部品上でどのような機能を果たしているかを示す。【００８６】
“被制御”は，そのインタフェースを介して，外部からの制御を受けることを意味する。“制御”は，そのインタフェースを介して，外部への制御を行うことを意味する。“複合”は，そのインタフェースを介して，外部からの制御を受けたり，外部への制御を行ったりすることを意味する。“入力”は，そのインタフェースを介して，外部からの電気的な入力があることを意味する。“出力”は，そのインタフェースを介して，外部への電気的な出力があることを意味する。“双方向”は，そのインタフェースを介して，外部からの電気的な入力や，外部への電気的な出力があることを意味する。【００８７】
図６のモデル２１０は，トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”で示されるトポロジの例である。トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”で示されるトポロジは，インタフェースの役割に関係なく，部品の内部を探査プロトコルが通過できないことを表し，すべてインタフェース間で探査を進めることができないことを意味する。例えば，商用電源やＩＯ機器などの部品のトポロジが，この“ＢＬＯＣＫ”となる。【００８８】
図６のモデル２１１は，トポロジコード“ＭＡＴＲＩＸ”で示されるトポロジの例である。トポロジコード“ＭＡＴＲＩＸ”で示されるトポロジは，インタフェースの役割に関係なく，部品の内部を探査プロトコルが通過できることを表し，すべてのインタフェース間で探査を進めるべきことを意味する。例えば，探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査時における単純なＨＵＢやルータなどの部品のトポロジが，この“ＭＡＴＲＩＸ”である。【００８９】
図６のモデル２１２は，トポロジコード“ＲＥＰＥＡＴＥＲ”で示されるトポロジの例である。トポロジコード“ＲＥＰＥＡＴＥＲ”で示されるトポロジでは，“被制御”または“入力”のインタフェースと，“制御”または“出力”のインタフェースあるいは“複合”または“双方向”のインタフェースとの間で，探査を進めるべきことを意味する。それ以外の役割の組合せでは，探査を進めることができない。例えば，電源の中継器などの部品のトポロジが，この“ＲＥＰＥＡＴＥＲ”である。トポロジの定義によって，探査方向を一方向に定めてもよい。以下の実施例では，説明を簡単にするため，探査方向は双方向であるものとする。【００９０】
図６では単純なトポロジ例だけをあげたが，さらに条件を加えることで，様々な構造のトポロジを定義することが可能である。例えば，部品にａ〜ｄの４つのインタフェースがある場合に，ａ−ｂ，ｃ−ｄの関係でのみ探査を進めることが可能というトポロジを定義すれば，ＶＬＡＮのような通信のグループを扱うことができる。また，ａ−ｄ，ｂ−ｄ，ｃ−ｄの関係でのみ探査を進めることが可能というトポロジを定義すれば，マルチプレクサやデマルチプレクサの定義ができる。【００９１】
トポロジの定義は，データ形式で保持してもよいし，トポロジごとの処理モジュールを用意するようにしてもよい。探査マトリクス２０１に新たな探査目的や新たな部品の分類を設定したときに新たなトポロジが必要となる場合には，新たなトポロジの定義データや，処理モジュールを追加するだけで容易に拡張可能である。【００９２】
図７は，部品プロパティテーブルの例を示す図である。部品プロパティテーブル２０２は，設計に使用する部品の登録情報である。部品プロパティテーブル２０２は，部品型名，探査コード，機能，プロパティ等の情報を持つ。【００９３】
部品型名は，部品の型ごとに設定された識別情報である。探査コードは，部品に設定された探査コードである。機能は，部品が持つ機能を示す情報である。プロパティ（１，２，３，... ）は，部品に設定された各種設定情報である。【００９４】
図７の部品プロパティテーブル２０２において，プロパティとして設定された情報に“？”とあるのは，システム設計時に設計者が設定する情報であることを示す。例えば，部品型名“ＰＮ−ＨＵＢ−１”の部品をシステム構成図に配置したときに，設計者は，その配置部品のプロパティにＩＰアドレスとサブネット名とを設定する。【００９５】
図８は，インタフェースプロパティテーブルの例を示す図である。インタフェースプロパティテーブル２０３は，設計に使用する部品に属する各インタフェースの登録情報である。インタフェースプロパティテーブル２０３は，部品型名，インタフェースＩＤ，関連プロトコル，役割，プロパティ等の情報を持つ。【００９６】
部品型名は，インタフェースが属する部品の部品型名である。インタフェースＩＤは，インタフェースの識別情報である。関連プロトコルは，インタフェースと関連がある探査プロトコルの探査プロトコルコードである。役割は，インタフェースに設定された役割である。プロパティ（１，２，３，... ）は，インタフェースに設定された各種設定情報である。【００９７】
図８のインタフェースプロパティテーブル２０３において，プロパティとして設定された情報に“？”とあるのは，システム設計時に設計者が設定する情報であることを示す。例えば，部品型名“ＰＮ−ＳＶＲ−１”の部品をシステム構成図に配置したときに，設計者は，その配置部品のインタフェースＩＤ“ｌａｎ０”のインタフェースのプロパティに，ＩＰアドレスとサブネット名とを設定する。【００９８】
図９から図１５を用いて，ＣＡＤ装置３００で設計されたシステム構成図，システム構成図から作成される設計情報１２０，設計情報１２０から作成される探査管理テーブル１３５，探査によって得られる探査結果情報１４０の例について説明する。【００９９】
図９は，システム構成図の例を示す図である。図９に示すシステム構成図３２０では，サーバ（２つ），ハブ，ＮＩＣカード，ブレーカ，電源の部品が配置されており，接続関係がある部品のインタフェース同士の接続を表すネット（Ｎ１〜Ｎ６）で結ばれている。各部品，インタフェース，ネットには，それぞれ必要なプロパティが設定されている。【０１００】
設計情報１２０は，システム構成図３２０から作成される。設計情報１２０は，部品プロパティ情報１２１，インタフェースプロパティ情報１２２，ネットリスト情報１２３等から構成される。以下の図１０から図１２に示す設計情報１２０の例は，図９に示すシステム構成図３２０をもとに作成された設計情報１２０の例である。【０１０１】
図１０は，部品プロパティ情報の例を示す図である。部品プロパティ情報１２１は，システム構成図３２０に配置された部品のプロパティ情報である。部品プロパティ情報１２１は，部品ＩＤ，部品型名，プロパティ（１，２，３，... ）等の情報を持つ。部品ＩＤは，設計時に部品ごとに設定された識別情報である。部品型名は，ライブラリＤＢ２００への登録段階で設定された部品型名である。プロパティ（１，２，３，... ）は，部品に設定された各種設定情報である。【０１０２】
図１１は，インタフェースプロパティ情報の例を示す図である。インタフェースプロパティ情報１２２は，システム構成図３２０に配置された部品に属するインタフェースのプロパティ情報である。インタフェースプロパティ情報１２２は，部品ＩＤ，インタフェースＩＤ，プロパティ（１，２，３，... ）等の情報を持つ。部品ＩＤは，インタフェースが属する部品の部品ＩＤである。インタフェースＩＤは，ライブラリＤＢ２００への登録段階で設定されたインタフェースＩＤである。プロパティ（１，２，３，... ）は，インタフェースに設定された各種情報である。【０１０３】
図１２は，ネットリスト情報の例を示す図である。ネットリスト情報１２３は，システム構成図３２０に配置された部品のインタフェース同士を接続するネットの情報である。ネットリスト情報１２３は，ネット名，始点部品ＩＤ，始点インタフェースＩＤ，終点部品ＩＤ，終点インタフェースＩＤ等の情報を持つ。ネット名は，設計時に設定されたネットの識別情報である。始点部品ＩＤは，ネットが設定されたときに始点となったインタフェースが属する部品の部品ＩＤである。始点インタフェースＩＤは，ネットが設定されたときに始点となったインタフェースのインタフェースＩＤである。終点部品ＩＤは，ネットが設定されたときに終点となったインタフェースが属する部品の部品ＩＤである。終点インタフェースＩＤは，ネットが設定されたときに終点となったインタフェースのインタフェースＩＤである。【０１０４】
図１３は，探査管理テーブルの例を示す図である。図１３に示す探査管理テーブル１３５は，図１０に示す設計情報１２０（部品プロパティ情報１２１）等をもとに作成された探査管理テーブル１３５である。なお，図１３の探査管理テーブル１３５は，初期化状態である。【０１０５】
探査管理テーブル１３５は，部品ＩＤ，部品型名，インタフェースＩＤ，探査対象フラグ，探査完了フラグ等の情報から構成される。図１３に示すように，探査管理テーブル１３５では，システム構成図３２０に配置された部品のインタフェースごとのレコードが用意される。部品ＩＤ，部品型名，インタフェースＩＤは，設計情報１２０から抽出された情報である。【０１０６】
探査対象フラグは，そのインタフェースが探査の対象となるか否かを示す情報である。初期化状態では，すべて“不明”となっている。探査プロトコルが決定されると，その探査プロトコルで探査対象となるインタフェースには“対象”が，探査対象とならないインタフェースには“対象外”が設定される。【０１０７】
探査完了フラグは，そのインタフェースの探査がすでに終了しているか，すなわちそのインタフェースの設定情報がすでに収集されたかを示す情報である。“未探査”はそのインタフェースがまだ探査されていないことを示し，“完了”はそのインタフェースがすでに探査されているか，または探査する必要がないことを示す。初期化状態では，すべて“未探査”となっている。【０１０８】
図１４，図１５は，探査結果情報の例を示す図である。図１４，図１５の探査結果情報１４０は，図９に示すシステム構成図３２０の探査結果の例である。図１４は，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”で探査を行った場合の探査結果情報１４０ａであり，図１５は，探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”で探査を行った場合の探査結果情報１４０ｂである。【０１０９】
探査結果情報１４０は，探査ネット番号，部品ＩＤ，インタフェースＩＤ，機能，プロパティ（１，２，３，... ）等の情報から構成される。探査ネット番号は，ある部品からたどれる接続関係の固まりごとに付けられる番号である。探査を開始する部品からたどることが可能なすべての部品，インタフェースの探査ネット番号は同じ番号となる。部品内部で関係をたどることが可能か否かは，探査プロトコルコードと探査コードとから探査マトリクス２０１によって得られるトポロジで判断される。【０１１０】
部品ＩＤ，インタフェースＩＤは，探査によって設定情報が収集された部品，インタフェースのＩＤである。インタフェースＩＤがないレコードは，部品の設定情報のレコードであり，インタフェースＩＤがあるレコードは，インタフェースの設定情報のレコードである。機能，プロパティ（１，２，３，... ）は，探査によって，設計情報１２０，部品プロパティテーブル２０２，インタフェースプロパティテーブル２０３などから収集された設定情報である。【０１１１】
次に，図１６から図２２を用いて，本実施の形態の設定情報収集部１０３による設定情報収集処理と，構成検査部１０９による構成検査処理の例を説明する。【０１１２】
図１６は，本実施の形態による探査の進め方を説明する図である。まず，本実施の形態の設定情報収集部１０３による設定情報収集処理の流れを説明する前に，本実施の形態による探査の進め方を説明する。探査の進め方には多くの方法が考えられるが，ここではその簡単な一例を説明する。図１６において，四角の箱は部品を示す。丸はインタフェースを示し，丸の中に書かれたアルファベットはそのインタフェースに設定された探査プロトコルを示す。線で結ばれたインタフェース同士は接続関係があるものとする。【０１１３】
最初に，探査プロトコルを決定する。ここでは，探査プロトコルａで探査を行うものとする。次に，探査を開始する部品を選択する。最終的には，すべての部品について探査を行うので，どの部品から探査を開始しても構わない。ここでは，部品７００から探査を行うものとする。部品７００から開始する探査の探査ネット番号を１とする。【０１１４】
探査を開始する部品についてはトポロジの取得を行わないものとする。すなわち，部品７００のトポロジは取得しない。部品７００は探査対象インタフェースすなわち探査プロトコルａが設定されたインタフェース７０１，インタフェース７０２を持つので，部品７００の設定情報を収集する。【０１１５】
部品７００に属するインタフェース７０１，インタフェース７０２には，どちらにも探査プロトコルａが設定されている。そのため，インタフェース７０１，インタフェース７０２の設定情報を収集する必要がある。ここでは，インタフェース７０１の設定情報の収集から行う。【０１１６】
設定情報を収集したインタフェース７０１の接続関係をたどると，部品７０３に属するインタフェース７０４にたどりつく。インタフェース７０４の探査プロトコルはａであるので，インタフェース７０４の設定情報を収集する。また，部品７０３は探査プロトコルａが設定されたインタフェースを持つので，部品７０３の設定情報を収集する。【０１１７】
次に，部品７０３のトポロジを取得する。ここでは，トポロジコード“ＭＡＴＲＩＸ”のトポロジが取得されたものとする。取得されたトポロジが“ＭＡＴＲＩＸ”であるので，インタフェース７０４から部品７０３の内部を通過していずれのインタフェースに探査を進めてもよい。【０１１８】
部品７０３に属するインタフェースは，インタフェース７０４，インタフェース７０５，インタフェース７０６，インタフェース７０７の４つである。このうち，インタフェース７０４はすでに探査が完了している。また，インタフェース７０７に設定された探査プロトコルはｂであるので，インタフェース７０７は今回の探査の対象外である。インタフェース７０５，インタフェース７０６に設定された探査プロトコルはａである。そのため，インタフェース７０５，インタフェース７０６の設定情報を収集する必要がある。まず，インタフェース７０５の設定情報を収集する。インタフェース７０５には接続関係が設定されていないので，その先をたどる必要はない。【０１１９】
残ったインタフェース７０６の設定情報を収集する。インタフェース７０６の接続関係をたどると，部品７０８のインタフェース７０９にたどりつく。インタフェース７０９の探査プロトコルがａであるので，インタフェース７０９の設定情報を収集する。また，部品７０８は探査プロトコルａが設定されたインタフェース７０９を持つので，部品７０８の設定情報を収集する。【０１２０】
次に，部品７０８のトポロジを取得する。ここでは，トポロジコード“ＭＡＴＲＩＸ”のトポロジが取得されたものとする。取得されたトポロジが“ＭＡＴＲＩＸ”であるので，インタフェース７０９から部品７０８の内部を通過していずれのインタフェースに探査を進めてもよい。しかし，部品７０８にはすでに探査が完了したインタフェース７０９以外にインタフェースがないので，この系の探査はここで終了する。【０１２１】
インタフェース７０９から接続関係を逆にたどって，部品７０３に戻る。部品７０３に戻ったら，部品７０３に属する未探査のインタフェースを探す。しかし，部品７０３に属するインタフェース７０４，インタフェース７０５，インタフェース７０６の探査はすでに完了しており，インタフェース７０７は探査プロトコルがａではないので，この系の探査はここで終了する。【０１２２】
インタフェース７０４から接続関係を逆にたどって，部品７００に戻る。部品７００に戻ったら，部品７００に属する未探査のインタフェースを探す。探査プロトコルａのインタフェース７０２が未探査なので，インタフェース７０２の設定情報を収集する。インタフェース７０２の接続関係をたどると，部品７１０のインタフェース７１１にたどりつく。インタフェース７１１の探査プロトコルがａであるので，インタフェース７１１の設定情報を収集する。また，探査プロトコルａが設定されたインタフェース７１１を持つので，部品７１０の設定情報を収集する。【０１２３】
次に，部品７１０のトポロジを取得する。ここでは，トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”のトポロジが取得されたものとする。取得されたトポロジが“ＢＬＯＣＫ”であるので，インタフェース７１１から部品７１０の内部を通過する探査を行うことはできない。部品７１０に属するインタフェース７１２に設定された探査プロトコルはａであるが，部品７１０の内部を通過する探査ができないので，ここではインタフェース７１２の設定情報を収集しない。部品７１０のトポロジが“ＢＬＯＣＫ”であるので，この系の探査はここで終了する。【０１２４】
インタフェース７１１から接続関係を逆にたどって，部品７００に戻る。探査を開始した部品である部品７００に属するインタフェース７０１，インタフェース７０２の探査はすでに完了したので，探査ネット番号１の探査を終了する。【０１２５】
次の探査を開始する部品を選択する。図１６の例において，まだ探査を行っていないインタフェースは，部品７１０のインタフェース７１２，部品７１３のインタフェース７１４，部品７１５のインタフェース７１６の３つである。このうちインタフェース７１４は，探査プロトコルｂが設定されているので，今回の探査の対象外である。探査対象外であるインタフェース７１４だけを有する部品７１３は，探査対象外の部品となる。よって，探索の開始となる部品は，部品７１０か部品７１５のいずれかとなる。ここでは，部品７１５から探査を行うものとする。部品７１５から開始する探査の探査ネット番号を２とする。【０１２６】
探査を開始する部品についてはトポロジの取得を行わないものとする。すなわち，部品７１５のトポロジは取得しない。部品７１５は探査対象インタフェースすなわち探査プロトコルａが設定されたインタフェース７１６を持つので，部品７１５の設定情報を収集する。部品７１５に属するインタフェース７１６には探査プロトコルａが設定されているので，インタフェース７１６の設定情報を収集する。【０１２７】
インタフェース７１６の接続関係をたどると，部品７１０のインタフェース７１２にたどりつく。インタフェース７１２の探査プロトコルがａであるので，インタフェース７１２の設定情報を収集する。部品７１０は探査プロトコルａが設定されたインタフェース７１２を持つが，すでに設定情報が収集されているので，ここでは部品７１０の設定情報の収集を行わない。【０１２８】
次に，部品７１０のトポロジを取得する。ここでは，トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”のトポロジが取得される。取得されたトポロジが“ＢＬＯＣＫ”であるので，インタフェース７１２から部品７１０の内部を通過する探査を行うことはできない。この系の探査はここで終了する。【０１２９】
インタフェース７１２から接続関係を逆にたどって，部品７１５に戻る。探査を開始した部品である部品７１５に属するインタフェース７１６の探査はすでに完了したので，探査ネット番号２の探査を終了する。この時点で，探査を行っていないインタフェースが残っていないので，探査プロトコルａの探査はすべて終了となる。【０１３０】
図１７は，設定情報収集部による探査管理処理フローチャートである。設定情報収集部１０３に設計情報１２０が入力されると（ステップＳ１０），探査管理処理部１３０は，設計情報１２０から探査管理テーブル１３５を作成する（ステップＳ１１）。【０１３１】
探査プロトコルを選択する（ステップＳ１２）。探査プロトコルの選択は，例えば，探査マトリクス２０１に定義された探査プロトコルを，レコードの順に自動的に１つ選択する。ユーザに探査が必要な探査プロトコルを指定させ，指定された探査プロトコルについて，１つずつ順に探索を行うようにしてもよい。【０１３２】
選択された探査プロトコルについて，探査プロトコルコードで探査マトリクス２０１を参照し，その探査プロトコルにおける収集データ情報を取得する（ステップＳ１３）。探査ネット番号を０に初期化する（ステップＳ１４）。【０１３３】
探査管理テーブル１３５を初期化する（ステップＳ１５）。具体的には，探査管理テーブル１３５のすべてのレコードの探査対象フラグを“不明”にし，すべてのレコードの探査完了フラグを“未探査”にする。【０１３４】
探査管理テーブル１３５の各レコードについて，探査対象フラグを設定する（ステップＳ１６）。具体的には，探査管理テーブル１３５のレコードごとに，部品型名，インタフェースＩＤでライブラリＤＢ２００のインタフェースプロパティテーブル２０３を参照し，そのインタフェースに設定された関連プロトコルを取得する。取得された関連プロトコルが，現在の探査プロトコルの探査プロトコルコードであれば，探査対象フラグは“対象”となり，現在の探査プロトコルの探査プロトコルコードでなければ，探査対象フラグは“対象外”となる。【０１３５】
探査対象フラグが“対象外”のインタフェースについて，探査完了フラグに“完了”を設定する（ステップＳ１７）。探査の対象外であるインタフェースについては，設定情報を収集する必要がないので，最初から探査済みの状態に設定しておく。【０１３６】
開始となる探査対象部品を選択する（ステップＳ１８）。開始となる探査対象部品の選択は，例えば，探査管理テーブル１３５のレコード順に，探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるインタフェースを持つ部品を１つ選択する。探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるインタフェースを，ユーザに１つ選択させるようにしてもよい。最終的にはすべての部品について探査を行うので，いずれの部品から探査を開始しても問題はない。探査ネット番号をインクリメントする（ステップＳ１９）。【０１３７】
設定情報収集処理部１３１による設定情報収集処理を行う（ステップＳ２０）。設定情報収集処理については，後述する。【０１３８】
探査管理テーブル１３５で未探査インタフェース（探査完了フラグが“未探査”であるインタフェース）があるかを確認し（ステップＳ２１），未探査インタフェースがあれば，ステップＳ１８の処理に戻る。【０１３９】
必要なすべての探査プロトコルについて探査が終了したかを確認し（ステップＳ２２），まだ探査を行っていない探査プロトコルがあれば，ステップＳ１２の処理に戻る。必要なすべての探査プロトコルについて探査が終了していれば，探査管理処理を終了する。【０１４０】
図１８は，設定情報収集部による設定情報収集処理フローチャートである。設定情報収集処理部１３１は，現在の探査プロトコルの探査結果情報１４０を参照し，現在の探査対象部品の設定情報が収集済みでなければ（ステップＳ３０），部品設定情報収集処理部１３２による部品設定情報収集処理を行う（ステップＳ３１）。部品設定情報収集処理については，後述する。また，現在の探査対象部品が開始となる部品でなければ（ステップＳ３２），トポロジ処理部１３４によるトポロジ処理を行う（ステップＳ３３）。トポロジ処理については，後述する。【０１４１】
探査管理テーブル１３５を参照し，探査対象部品に未探査の探査可能インタフェースがなければ（ステップＳ３４），処理を終了する。【０１４２】
探査対象部品に未探査の探査可能インタフェースがあれば（ステップＳ３４），未探査の探査可能インタフェースを１つ選択し（ステップＳ３５），選択されたインタフェースを探査対象インタフェースとして，インタフェース設定情報収集処理部１３３によるインタフェース設定情報収集処理を行う（ステップＳ３６）。インタフェース設定情報収集処理については，後述する。なお，現在の探査対象部品が探査の開始となる部品である場合には，現在の探査対象部品に属し，探査管理テーブル１３５の探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるインタフェースが，探査可能インタフェースとなる。【０１４３】
現在の探査対象部品の部品ＩＤ，探査対象インタフェースのインタフェースＩＤで設計情報１２０のネットリスト情報１２３を参照し，現在の探査対象インタフェースに接続関係がなければ（ステップＳ３７），ステップＳ３４の処理に戻る。【０１４４】
現在の探査対象インタフェースに接続関係があれば（ステップＳ３７），設計情報１２０のネットリスト情報１２３から，現在の探査対象インタフェースの接続相手のインタフェースの情報（部品ＩＤ，インタフェースＩＤ）を取得する（ステップＳ３８）。取得された接続相手のインタフェースを新たに探査対象インタフェースとし，インタフェース設定情報収集処理部１３３によるインタフェース設定情報収集処理を行う（ステップＳ３９）。インタフェース設定情報収集処理については，後述する。【０１４５】
新たに探査対象インタフェースとなったインタフェースが属する部品を探査対象部品とした設定情報収集処理を，再帰的に実行する（ステップＳ４０）。ステップＳ３４の処理に戻る。【０１４６】
図１９は，設定情報収集部による部品設定情報収集処理フローチャートである。部品設定情報収集処理部１３２は，ライブラリＤＢ２００の部品プロパティテーブル２０２を，現在の探査対象部品の部品型名で参照し，収集データ情報で指定された設定情報を収集する（ステップＳ５０）。また，設計情報１２０の部品プロパティ情報１２１を，現在の探査対象部品の部品ＩＤで参照し，収集データ情報で指定された設定情報を収集する（ステップＳ５１）。【０１４７】
現在の探査プロトコルの探査結果情報１４０に，現在の探査対象部品のレコードを作成する（ステップＳ５２）。具体的には，現在の探査ネット番号，探査対象部品の部品ＩＤ，収集された設定情報等からなるレコードを作成し，現在の探査プロトコルの探査結果情報１４０に追加する。【０１４８】
図２０は，設定情報収集部によるインタフェース設定情報収集処理フローチャートである。インタフェース設定情報収集処理部１３３は，ライブラリＤＢ２００のインタフェースプロパティテーブル２０３を，現在の探査対象インタフェースの部品型名，インタフェースＩＤで参照し，収集データ情報で指定された設定情報を収集する（ステップＳ６０）。また，設計情報１２０のインタフェースプロパティ情報１２２を，現在の探査対象インタフェースの部品ＩＤ，インタフェースＩＤで参照し，収集データ情報で指定された設定情報を収集する（ステップＳ６１）。なお，部品ＩＤと部品型名との対応は，探査管理テーブル１３５から得ることができる。【０１４９】
現在の探査プロトコルの探査結果情報１４０に，現在の探査対象インタフェースのレコードを作成する（ステップＳ６２）。具体的には，現在の探査ネット番号，探査対象インタフェースの部品ＩＤ，インタフェースＩＤ，収集された設定情報等からなるレコードを作成し，現在の探査プロトコルの探査結果情報１４０に追加する。探査管理テーブル１３５の該当インタフェースの探査完了フラグを，“完了”にする（ステップＳ６３）。【０１５０】
図２１は，設定情報収集部によるトポロジ処理フローチャートである。トポロジ処理部１３４は，ライブラリＤＢ２００の部品プロパティテーブル２０２を，現在の探査対象部品の部品型名で参照し，探査コードを取得する（ステップＳ７０）。ライブラリＤＢ２００の探査マトリクス２０１を，取得された探査コードと現在の探査プロトコルコードで参照し，トポロジコードを取得する（ステップＳ７１）。【０１５１】
現在の探査対象部品に属するインタフェースから，探査可能インタフェースを抽出する（ステップＳ７２）。具体的には，現在の探査対象部品に属するインタフェースのうち，探査管理テーブル１３５の探査対象フラグが“対象”であり，かつ探査管理テーブル１３５の探査完了フラグが“未探査”であり，かつ取得されたトポロジコードのトポロジによる判定で探査を進めることが可能となるインタフェースを抽出する。【０１５２】
図２２は，構成検査部による構成検査処理フローチャートである。ここでは，前述のユニーク性検査，必須条件検査，値制限検査，整合性検査を行う場合の例を説明する。まず，構成検査部１０９は，設定情報収集部１０３から探査目的ごとの探査結果情報１４０を入力する（ステップＳ８０）。なお，設定情報文書作成部１０６が作成した設定情報文書を入力するようにしてもよい。【０１５３】
ユニーク性検査が必要な場合には，ユニーク性検査を行う（ステップＳ８１）。例えば，図１５に示す探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ｂで，同じ探査ネット番号に属する部品またはインタフェースで，同じＩＰアドレスが設定されたものがあるかを検査する。ユニーク性検査の対象として種々存在するが，収集した設定情報について，必要とされるユニーク性を検査するための処理手順は設計的事項であり容易に実施可能であるので，処理手順についての詳しい説明は省略する。【０１５４】
必須条件検査が必要な場合には，必須条件検査を行う（ステップＳ８２）。例えば，図１４に示す探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ａで，探査ネット番号ごとに電源が存在するかを検査する。また，例えば，図１５に示す探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ｂで，同じ探査ネット番号に属する部品またはインタフェースで，ＩＰアドレスが設定されたものが２つ以上あるかを検査する。このような必須条件検査についても，上記収集した設定情報から容易に行うことができるので，具体的な処理手順についての詳しい説明は省略する。【０１５５】
値制限検査が必要な場合には，値制限検査を行う（ステップＳ８３）。例えば，図１４に示す探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ａで，Σ消費電力／電圧＜遮断電流であるかを検査する。探査結果情報１４０ａから，このような値制限検査を自動的に行うことは容易である。【０１５６】
整合性検査が必要な場合には，整合性検査を行う（ステップＳ８４）。例えば，図１４に示す探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ａで，各機器の部品に設定された電圧，周波数，相数等の条件と，電源が供給する条件の包含関係を検査する。また，例えば，図１５に示す探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査プロトコルによる探査結果情報１４０ｂで，ＩＰアドレスのネットマスクが同一探査ネット番号内で一致するかを検査する。このような整合性検査のためのプログラムは，整合性の検査内容ごとに作成する必要があるが，探査結果情報１４０または設定情報文書または設計関連文書６００を参照することにより整合性検査を行うプログラムを作成することは容易である。【０１５７】
次に，図９に示すシステム構成図３２０から，図１４に示す探査結果情報１４０ａ，図１５に示す探査結果情報１４０ｂを得るまでの処理の流れを，具体的な例を用いて説明する。なお，図２３から図２５は，探査過程における探査管理テーブルの例を示す図である。【０１５８】
まず，図９に示すシステム構成図３２０をもとに，図１０から図１２に示す設計情報１２０を生成する。生成された設計情報１２０から，図１３に示す探査管理テーブル１３５を生成する。【０１５９】
探査プロトコルを選択する。ここでは，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査と，探査プロトコル“ＩＰＶ４”の探査とを行う必要があるが，まず，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査プロトコルが選択されたものとする。図５に示す探査マトリクス２０１を探査プロトコル“ＰＯＷＥＲ”で参照し，機能，電源仕様が指定された収集データ情報を取得する。探査ネット番号を０に初期化する。【０１６０】
探査管理テーブル１３５を初期化する。なお，探査管理テーブル１３５が生成されたばかりの段階では初期化状態であるので，あえて探査管理テーブル１３５を初期化しなくてもよい。この段階では，探査管理テーブル１３５は，図１３に示す初期化状態である。【０１６１】
探査管理テーブル１３５の各レコードについて，その部品型名とインタフェースＩＤとで，図８に示すインタフェースプロパティテーブル２０３を参照し，設定されている関連プロトコルを確認する。関連プロトコルに現在の探査プロトコルの探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”が設定されているインタフェースの探査対象フラグを“対象”とし，関連プロトコルに現在の探査プロトコルの探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”が設定されていないインタフェースの探査対象フラグを“対象外”とする。また，探査対象フラグが“対象外”であるレコードの探査完了フラグを“完了”とする。この段階で，探査管理テーブル１３５は，図２３に示す状態となる。【０１６２】
開始となる探査対象部品を選択する。ここでは，図２３に示す探査管理テーブル１３５において，探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるレコードのうち，一番上のレコードの部品すなわち部品ＩＤ“サーバ１”の部品を開始となる探査対象部品とする。探査ネット番号がインクリメントされ，１となる。【０１６３】
部品ＩＤ“サーバ１”の部品の設定情報を収集し，探査結果情報１４０のレコードを生成する。すなわち，部品ＩＤ“サーバ１”，部品型名“ＰＮ−ＳＶＲ−１”を用いて図７に示す部品プロパティテーブル２０２，図１０に示す部品プロパティ情報１２１を参照し，収集データ情報で指定された機能，電源仕様に該当する設定情報があればそれを収集し，探査結果情報１４０のレコードに記録する。【０１６４】
開始となる探査対象部品についてはトポロジ処理を行わないので，探査管理テーブル１３５において，部品ＩＤ“サーバ１”の部品に属するインタフェースであり，探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるインタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”のインタフェースが，探査可能インタフェースとなる。【０１６５】
部品ＩＤ“サーバ１”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”のインタフェースを探査対象インタフェースとして設定情報を収集し，探査結果情報１４０のレコードを生成する。すなわち，部品ＩＤ“サーバ１”，部品型名“ＰＮ−ＳＶＲ−１”，インタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”を用いて図８に示すインタフェースプロパティテーブル２０３，図１１に示すインタフェースプロパティ情報１２２を参照し，収集データ情報で指定された機能，電源仕様に該当する設定情報があればそれを収集し，探査結果情報１４０のレコードに記録する。探査管理テーブル１３５において，部品ＩＤが“サーバ１”でインタフェースＩＤが“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”であるレコードの探査完了フラグを“完了”とする。【０１６６】
部品ＩＤ“サーバ１”，インタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”で図１２に示すネットリスト情報１２３を参照し，接続相手のインタフェースの部品ＩＤ“サーバ２”，インタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”を取得する。部品ＩＤ“サーバ２”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”のインタフェースを探査対象インタフェースとして設定情報を収集し，探査結果情報１４０のレコードを生成する。探査管理テーブル１３５において，部品ＩＤが“サーバ２”でインタフェースＩＤが“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”であるレコードの探査完了フラグを“完了”とする。部品ＩＤ“サーバ２”の部品の処理に移る。【０１６７】
部品ＩＤ“サーバ２”の部品の設定情報を収集し，探査結果情報１４０のレコードを生成する。部品ＩＤ“サーバ２”の部品の部品型名“ＰＮ−ＳＶＲ−１”で図７に示す部品プロパティテーブル２０２を参照し，探査コード“ＣＯＭＰ”を取得する。また，現在の探査プロトコルの探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”，取得された探査コード“ＣＯＭＰ”で図５に示す探査マトリクス２０１を参照し，トポロジコード“ＢＬＯＣＫ”を取得する。【０１６８】
取得されたトポロジコードが“ＢＬＯＣＫ”であるので，図６のモデル２１０に示すように部品ＩＤ“サーバ２”の部品の内部で探査を進めることができない。すなわち，部品ＩＤ“サーバ２”の部品の探査はここで終了する。部品ＩＤ“サーバ１”の部品の処理に戻る。【０１６９】
探査管理テーブル１３５において，開始となる探査対象部品である部品ＩＤ“サーバ１”の部品の探査可能インタフェースの探査完了フラグは，すべて“完了”となっているので，探査ネット番号１の系の探査は終了となる。この時点で，探査管理テーブル１３５は，図２４に示す状態となっている。【０１７０】
次の開始となる探査対象インタフェースを選択する。ここでは，図２４に示す探査管理テーブル１３５において，探査対象フラグが“対象”であり，探査完了フラグが“未探査”であるレコードのうち，一番上のレコードの部品すなわち部品ＩＤ“ハブ１”の部品を開始となる探査対象部品とする。探査ネット番号がインクリメントされ，２となる。【０１７１】
探査ネット番号２の系でも探査ネット番号１の系と同様の処理を行い，部品ＩＤ“ハブ１”の部品，部品ＩＤ“ハブ１”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｉｎ”のインタフェース，部品ＩＤ“ブレーカ１”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ＿ｏｕｔ”のインタフェース，部品ＩＤ“ブレーカ１”の部品，部品ＩＤ“ブレーカ１”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ＿ｉｎ”のインタフェース，部品ＩＤ“電源１”の部品のインタフェースＩＤ“ＡＣ１００Ｖ＿ｏｕｔ”のインタフェース，部品ＩＤ“電源１”の部品の設定情報を収集し，それぞれ探査結果情報１４０のレコードを生成する。ここで，探査ネット番号２の系の探査が終了する。【０１７２】
この時点で，探査管理テーブル１３５の探査完了フラグは，すべて“完了”となっているので，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査は，終了となる。探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査による探査結果情報１４０は，図１４に示す探査結果情報１４０ａのようになる。【０１７３】
まだ，必要な探査がすべて終わっていないので，次の探査プロトコルを選択する。ここでは，残った探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”の探査プロトコルが選択されたものとする。図５に示す探査マトリクス２０１を探査プロトコル“ＩＰＶ４”で参照し，ＩＰＶ４設定，ＩＰフォワードが指定された収集データ情報を取得する。探査ネット番号を０に初期化する。【０１７４】
探査管理テーブル１３５を初期化する。探査管理テーブル１３５は，図１３に示す初期化状態となる。探査管理テーブル１３５の各レコードについて，その部品型名とインタフェースＩＤとで，図８に示すインタフェースプロパティテーブル２０３を参照し，設定されている関連プロトコルを確認する。関連プロトコルに現在の探査プロトコルの探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”が設定されているインタフェースの探査対象フラグを“対象”とし，関連プロトコルに現在の探査プロトコルの探査プロトコルコード“ＩＰＶ４”が設定されていないインタフェースの探査対象フラグを“対象外”とする。また，探査対象フラグが“対象外”であるレコードの探査完了フラグを“完了”とする。この段階で，探査管理テーブル１３５は，図２５に示す状態となる。【０１７５】
以下，探査プロトコルコード“ＰＯＷＥＲ”の探査と同様の処理を行い，図１５に示す探査結果情報１４０ｂを得る。他に必要な探査がないので処理を終了する。【０１７６】
得られた探査結果情報１４０をもとに構成検査を行う。まず，図１４に示す探査結果情報１４０ａについて，構成検査を行う。探査結果情報１４０ａに対して必須条件検査を行うと，探査ネット番号１の系には電源が設定されていないので，その旨を示すエラー情報を出力する。探査結果情報１４０ａに対して値制限検査を行うと，ハブ１の消費電力１００Ｗ／電圧１００Ｖ＝１Ａとなり，ブレーカ１の遮断電流３０Ａより小さいので，探査ネット番号２の系は問題はないと判断する。探査結果情報１４０ａに対して整合性検査を行うと，ハブ１が要求する電圧，周波数，相数の条件と，電源１が供給する電圧，周波数，相数の条件は包含関係を満たしているので，探査ネット番号２の系は問題がないと判断する。図１４に示す探査結果情報１４０ａについては，以上のような構成検査結果を出力する。【０１７７】
次に，図１５に示す探査結果情報１４０ｂについて，構成検査を行う。探査結果情報１４０ｂに対してユニーク性検査を行うと，探査ネット番号１の系に同じＩＰアドレスは存在しないので，探査ネット番号１の系は問題はないと判断する。探査結果情報１４０ｂに対して必須条件検査を行うと，探査ネット番号１の系には３つのＩＰアドレスが設定されているので，探査ネット番号１の系は問題はないと判断する。探査結果情報１４０ｂに対して整合性検査を行うと，探査ネット番号１の系でＩＰアドレスのネットマスクが一致しているので，探査ネット番号１の系は問題がないと判断する。図１５に示す探査結果情報１４０ｂについては，以上のような構成検査結果を出力する。【０１７８】
探査結果情報１４０や構成検査結果を図３に示す設定情報文書作成部１０６に渡すと，設定情報文書作成部１０６は，必要な情報を人が読める形式にまとめた設定情報文書を作成する。【０１７９】
図２６は，ＩＰアドレス一覧表の例を示す図である。例えば，設定情報文書作成部１０６は，図１５に示す探査結果情報１４０ｂのＩＰアドレスに関する情報をまとめ，図２６に示すようなＩＰアドレス一覧表１５０を作成する。ＳＥなどの作業者は，現場でこのようなＩＰアドレス一覧表１５０を見ることにより，簡単にＩＰアドレスの設定作業を行うことができる。【０１８０】
以上，本発明の実施の形態について説明したが，本発明はこれに限るものではない。例えば，探査の進め方のロジックは，本実施の形態で例示したロジックに限るものではない。
【産業上の利用可能性】
【０１８１】
本発明は，ＣＡＤなどで設計されたシステム構成図の設定の検証，設定ミスの検出や，現場での様々なシステム設置作業ごとにまとめられた情報の作成などに有効な技術である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【国際調査報告】
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