(57)【要約】  ホスト装置と、ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイスとを備える通信システムであって、電子デバイスは、電子デバイスの実装時に動作する動作回路と、動作回路を試験する診断回路と、診断回路における試験結果を、ネットワークを介してホスト装置に送信する結果送信部とを有し、ホスト装置は、診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、電子デバイスから、試験情報を要求された場合に、試験情報を電子デバイスに送信する試験情報送信部とを有する通信システムを提供する。
2009011028.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイスであって、
前記電子デバイスの実装時に動作する動作回路と、
前記動作回路を試験する診断回路と、
前記診断回路における試験結果を、前記ネットワークを介して前記ホスト装置に送信する結果送信部と
を備える電子デバイス。
【請求項２】
前記結果送信部は、前記電子デバイスが、前記ネットワークを介した通信機能を有する機器に実装された場合に、前記機器の通信機能を用いて、前記ホスト装置に前記試験結果を送信する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項３】
前記動作回路に対して実行すべき試験内容を示す試験情報を、前記ホスト装置から前記ネットワークを介して受け取り、受け取った前記試験情報に応じた試験を、前記診断回路に実行させる診断制御部を更に備える
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項４】
前記ホスト装置に、前記ネットワークを介して前記試験情報の送信を要求する試験情報要求部を更に備える
請求項３に記載の電子デバイス。
【請求項５】
複数の前記試験内容に対応する、前記診断回路の複数の制御情報を予め格納する制御情報格納部を更に備え、
前記診断制御部は、受け取った前記試験情報に対応する前記制御情報を用いて、前記診断回路に試験を実行させる
請求項４に記載の電子デバイス。
【請求項６】
前記試験情報要求部は、いずれの前記制御情報を用いるべきかを示す前記試験情報の送信を、前記ホスト装置に要求する
請求項５に記載の電子デバイス。
【請求項７】
前記診断制御部は、前記試験情報要求部が前記試験情報の送信を要求する前に、予め定められた試験内容を、前記診断回路に実行させ、
前記試験情報要求部は、前記診断回路が前記予め定められた試験内容を実行した試験結果を前記ホスト装置に送信し、当該試験結果に応じて次に実行すべき前記試験内容を示す前記試験情報の送信を前記ホスト装置に要求する
請求項４に記載の電子デバイス。
【請求項８】
前記診断回路は、複数の試験内容について、予め前記動作回路を試験し、
前記電子デバイスは、
複数の前記試験内容についての試験結果を格納する結果格納部と、
前記ホスト装置に、いずれの前記試験結果を送信すべきかを示す試験情報の送信を要求する試験情報要求部と
を更に備え、
前記結果送信部は、前記ホスト装置から送信される前記試験情報に対応する前記試験結果を前記結果格納部から読出し、前記ホスト装置に送信する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項９】
前記電子デバイスはコンピュータに実装され、
前記診断回路は、前記コンピュータの起動時に前記動作回路を試験し、試験後に前記動作回路の初期化を行う
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項１０】
前記コンピュータの起動時に、前記動作回路に対して実行すべき試験内容を示す試験情報の送信を、前記ホスト装置に要求する試験情報要求部を更に備え、
前記診断回路は、前記ホスト装置から受け取った前記試験情報に応じた試験を実行する
請求項９に記載の電子デバイス。
【請求項１１】
前記電子デバイスはコンピュータに実装され、
前記診断回路は、前記コンピュータのシャットダウン時に前記動作回路を試験する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項１２】
前記診断回路における試験結果を格納する、不揮発性の結果格納部を更に備え、
前記結果送信部は、前記コンピュータの起動時に、前記結果格納部に格納されている前記試験結果を読み出して、前記ホスト装置に送信する
請求項１１に記載の電子デバイス。
【請求項１３】
前記電子デバイスの温度を検出する温度検出部を更に備え、
前記結果送信部は、前記診断回路における試験結果と、当該試験結果に対応する試験を実行したときの前記電子デバイスの温度とを、前記ホスト装置に送信する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項１４】
前記動作回路の総動作時間を計測する動作時間計測部を更に備え、
前記結果送信部は、前記診断回路における試験結果にあわせ、前記総動作時間を更に前記ホスト装置に送信する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項１５】
前記診断回路は、前記動作回路が正常に動作するか否かを、試験条件を変更して判定することにより、前記動作回路が正常に動作する前記試験条件の範囲を測定する
請求項１に記載の電子デバイス。
【請求項１６】
診断回路を内蔵した電子デバイスが実装される機器と、ネットワークを介して通信するホスト装置であって、
前記診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、
前記電子デバイスから、前記試験情報を要求された場合に、前記試験情報を前記電子デバイスに送信する試験情報送信部と
を備えるホスト装置。
【請求項１７】
前記診断回路における試験結果を前記ネットワークを介して受け取り、前記試験結果に基づいて、前記診断回路が次に実行すべき試験内容を示す前記試験情報を生成して、前記試験情報格納部に格納する試験情報生成部を更に備える
請求項１６に記載のホスト装置。
【請求項１８】
前記診断回路は、与えられる前記試験情報に応じた試験条件において、前記電子デバイスが正常に動作するか否かを判定する試験を行い、
前記試験情報生成部は、前記試験結果に応じて前記試験条件を変更した前記試験情報を、前記診断回路が次に実行すべき前記試験情報として順次生成することにより、前記電子デバイスが正常に動作する前記試験条件の範囲を測定するマージン試験を、前記診断回路に実行させる
請求項１７に記載のホスト装置。
【請求項１９】
前記電子デバイスから、前記診断回路が試験を実行したときの前記電子デバイスの温度を示す温度情報を受け取り、前記試験結果と、前記温度情報とを対応付けて格納する対応格納部を更に備える
請求項１８に記載のホスト装置。
【請求項２０】
前記試験情報生成部は、前記試験結果に対応する前記温度情報に更に基づいて、前記診断回路が次に実行すべき試験内容を示す前記試験情報を生成して、前記試験情報格納部に格納する
請求項１９に記載のホスト装置。
【請求項２１】
前記温度情報で示される温度が、予め定められた温度範囲でない場合に、その旨を前記電子デバイスに通知する使用環境通知部を更に備える
請求項１９に記載のホスト装置。
【請求項２２】
同種の複数の前記電子デバイスから、それぞれの試験結果と、それぞれの前記電子デバイスの総動作時間とを受け取り、前記総動作時間及び前記試験結果に基づいて、動作時間に対する当該種類の前記電子デバイスの平均劣化を算出する平均劣化算出部を更に備える
請求項１７に記載のホスト装置。
【請求項２３】
それぞれの前記電子デバイスの前記試験結果及び前記総動作時間から、それぞれの前記電子デバイスの劣化速度を算出する個別劣化算出部と、
前記個別劣化算出部が算出した劣化速度が、前記平均劣化算出部が算出した平均劣化速度に対して、所定の割合以上である場合に、その旨を通知する通知部と
を更に備える請求項２２に記載のホスト装置。
【請求項２４】
前記診断回路は、前記試験条件を順次変更して、前記電子デバイスが正常に動作できる前記試験条件の範囲を、動作マージンとして測定するマージン試験を行い、
前記ホスト装置は、前記電子デバイスから、前記動作マージンと、前記電子デバイスの総動作時間とを受け取り、前記総動作時間および前記動作マージンに基づいて、前記動作マージンの劣化速度を算出する個別劣化算出部を更に備える
請求項１６に記載のホスト装置。
【請求項２５】
前記個別劣化算出部は、算出した前記劣化速度に基づいて、前記電子デバイスの前記動作マージンが、予め定められた値より小さくなる時期を算出する
請求項２４に記載のホスト装置。
【請求項２６】
ホスト装置と、前記ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイスとを備える通信システムであって、
前記電子デバイスは、
前記電子デバイスの実装時に動作する動作回路と、
前記動作回路を試験する診断回路と、
前記診断回路における試験結果を、前記ネットワークを介して前記ホスト装置に送信する結果送信部と
を有し、
前記ホスト装置は、
前記診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、
前記電子デバイスから、前記試験情報を要求された場合に、前記試験情報を前記電子デバイスに送信する試験情報送信部と
を有する通信システム。
【請求項２７】
コンピュータを、診断回路を内蔵した電子デバイスを実装した機器とネットワークを介して通信するホスト装置として機能させるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、
前記電子デバイスから、前記試験情報を要求された場合に、前記試験情報を前記電子デバイスに送信する試験情報送信部と
して機能させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子デバイス、ホスト装置、通信システム、およびプログラムに関する。本発明は特に、ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイス、当該機器とネットワークを介して通信するホスト装置、当該機器および当該ホスト装置を含む通信システム、およびコンピュータを当該ホスト装置として機能させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体チップ等の電子デバイスの普及が著しい。例えば、コンピュータ、携帯電話等における演算装置、記憶装置等として、電子デバイスが用いられている。このため電子デバイスは、多様な環境で使用されている。【０００３】
半導体チップの特性は、使用に応じて劣化する。また、半導体チップの個体毎に特性がばらつく。このため、半導体チップ等の設計においては、係る特性の劣化、特性のばらつきを吸収できるように、特性に所定のマージンを持たせる場合がある。また、半導体チップの出荷試験等では、それぞれの半導体チップの特性が、所定のマージンを有しているか否かを試験する場合がある（例えば、特許文献１参照）。また、半導体チップの劣化速度を試験する場合もある。
【特許文献１】特開２００６−３２１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上述した試験では、一定の試験条件において、半導体チップがどの程度劣化するか、また、どの程度の特性のばらつきが生じるか等を測定しているに過ぎない。このため、多様な実使用環境において使用される半導体チップの特性がどの程度劣化するのか、または劣化の程度の分布等を精度よく知ることは困難である。また、今後に設計する半導体チップに、どの程度のマージンを持たせるべきかを精度よく決定することが困難である。【０００５】
このため本発明は、上述した課題を解決することのできる電子デバイス、ホスト装置、通信システム、およびプログラムを提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために本発明の第１の形態においては、ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイスであって、電子デバイスの実装時に動作する動作回路と、動作回路を試験する診断回路と、診断回路における試験結果を、ネットワークを介してホスト装置に送信する結果送信部とを備える電子デバイスを提供する。【０００７】
本発明の第２の形態においては、診断回路を内蔵した電子デバイスが実装される機器と、ネットワークを介して通信するホスト装置であって、診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、電子デバイスから、試験情報を要求された場合に、試験情報を電子デバイスに送信する試験情報送信部とを備えるホスト装置を提供する。【０００８】
本発明の第３の形態においては、ホスト装置と、ホスト装置とネットワークを介して通信する機器に実装される電子デバイスとを備える通信システムであって、電子デバイスは、電子デバイスの実装時に動作する動作回路と、動作回路を試験する診断回路と、診断回路における試験結果を、ネットワークを介してホスト装置に送信する結果送信部とを有し、ホスト装置は、診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、電子デバイスから、試験情報を要求された場合に、試験情報を電子デバイスに送信する試験情報送信部とを有する通信システムを提供する。【０００９】
本発明の第４の形態においては、コンピュータを、診断回路を内蔵した電子デバイスを実装した機器とネットワークを介して通信するホスト装置として機能させるプログラムであって、コンピュータを、診断回路が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する試験情報格納部と、電子デバイスから、試験情報を要求された場合に、試験情報を電子デバイスに送信する試験情報送信部として機能させるプログラムを提供する。【００１０】
なお上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションも又発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係る、通信システム１０の構成の一例を示す図である。
【図２】ユーザ機器１００の構成の一例を示す図である。
【図３】ホスト装置２００の構成の一例を示す図である。
【図４】電子デバイス３００およびホスト装置２００の動作の一例を示すチャートである。
【図５】電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。
【図６】電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。
【図７】電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。
【図８】電子デバイス３００の他の構成例を示す図である。
【図９】ホスト装置２００の他の構成例を示す図である。
【図１０】ホスト装置２００の他の構成例を示す図である。
【図１１】平均劣化算出部２７０が算出する平均劣化速度の一例を説明する図である。
【図１２】本発明の一つの実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００１２】
１０・・・通信システム、２０・・・ネットワーク、１００・・・ユーザ機器、１１０・・・通信部、２００・・・ホスト装置、２１０・・・試験情報格納部、２２０・・・試験情報送信部、２３０・・・通信部、２４０・・・試験情報生成部、２５０・・・試験結果格納部、２６０・・・使用環境通知部、２７０・・・平均劣化算出部、２８０・・・個別劣化算出部、２９０・・・通知部、３００・・・電子デバイス、３１０・・・動作回路、３２０・・・診断回路、３３０・・・診断制御部、３４０・・・結果送信部、３５０・・・試験情報要求部、３６０・・・制御情報格納部、３７０・・・結果格納部、３８０・・・動作時間計測部、３９０・・・温度検出部、１９００・・・コンピュータ、２０００・・・ＣＰＵ、２０１０・・・ＲＯＭ、２０２０・・・ＲＡＭ、２０３０・・・通信Ｉ／Ｆ、２０４０・・・ハードディスクドライブ、２０５０・・・ＦＤドライブ、２０６０・・・ＣＤ−ＲＯＭドライブ、２０７０・・・Ｉ／Ｏチップ、２０７５・・・グラフィックコントローラ、２０８０・・・表示装置、２０８２・・・ホストコントローラ、２０８４・・・Ｉ／Ｏコントローラ、２０９０・・・フレキシブルディスク、２０９５・・・ＣＤ−ＲＯＭ
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明の実施形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。【００１４】
図１は、本発明の実施形態に係る、通信システム１０の構成の一例を示す図である。通信システム１０は、ホスト装置２００、ネットワーク２０、および複数のユーザ機器１００を備える。【００１５】
ユーザ機器１００は、ホスト装置２００とネットワークを介して通信可能な機器であってよい。ユーザ機器１００は、例えばコンピュータであり、インターネットまたは電話回線等のネットワーク２０を介して、ホスト装置２００と通信してよい。また、ユーザ機器１００は、例えば携帯電話であり、無線通信のネットワーク２０を介して、ホスト装置２００と通信してよい。また、ユーザ機器１００は、通信機能を有するその他の機器であってよい。【００１６】
ホスト装置２００は、ネットワーク２０を介して多数のユーザ機器１００と通信可能な装置であってよい。ホスト装置２００は、例えばネットワーク２０に接続されるサーバであってよい。ホスト装置２００は、ユーザ機器１００に設けられる電子デバイス内の動作回路を、電子デバイス内の診断回路を用いて試験させて、その試験結果を受け取ってよい。これにより、ホスト装置２００は、多数の電子デバイスについて、実使用環境における特性の劣化等を取得することができる。【００１７】
図２は、ユーザ機器１００の構成の一例を示す図である。ユーザ機器１００は、通信部１１０および電子デバイス３００を備える。またユーザ機器１００は、その機能および用途に応じた他の構成要素を更に備えてよい。例えば、ユーザ機器１００は表示部等を更に備えてよい。通信部１１０は、ネットワーク２０を介して、ホスト装置２００と通信する。また、通信部１１０は、ネットワーク２０を介して、他のユーザ機器１００と通信可能であってもよい。【００１８】
電子デバイス３００は、ユーザ機器１００の少なくとも一部の機能を実現する。例えば電子デバイス３００は、ユーザ機器１００における演算装置として機能してよく、ユーザ機器１００における記憶装置として機能してよく、その他の装置として機能してもよい。【００１９】
電子デバイス３００は、動作回路３１０、診断回路３２０、診断制御部３３０、結果送信部３４０、試験情報要求部３５０、制御情報格納部３６０、および結果格納部３７０を有する。動作回路３１０は、ユーザ機器１００に電子デバイス３００が実装された状態で動作して、ユーザ機器１００の少なくとも一部の機能を実現する。動作回路３１０は、ユーザ機器１００における他の回路とデータをやり取りしてよい。動作回路３１０は、演算装置、記憶装置等であってよい。【００２０】
診断回路３２０は、電子デバイス３００がユーザ機器１００に実装された状態において、動作回路３１０を試験する。診断回路３２０は、いわゆるＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ  Ｉｎ  Ｓｅｌｆ  Ｔｅｓｔ）であってよい。例えば診断回路３２０は、動作回路３１０が正常に動作するか否かを試験する回路であってよく、動作回路３１０の特性を測定する回路であってもよい。診断回路３２０は、動作回路３１０が、ユーザ機器１００の機能を実現すべく動作していないときに、動作回路３１０を試験してよい。例えば診断回路３２０は、ユーザ機器１００の起動時、シャットダウン時等において、動作回路３１０を試験してよい。【００２１】
より具体的には、診断回路３２０は、動作回路３１０に所定の試験信号を入力したときに動作回路３１０が出力する被測定信号と、試験信号に応じた期待値信号とを比較することにより、動作回路３１０が正常に動作するか否かを判定してよい。このとき、診断回路３２０は、試験条件を変更して動作回路３１０が正常に動作するか否かを判定することにより、動作回路３１０が正常に動作する試験条件の範囲（マージン）を測定してよい。【００２２】
診断回路３２０は、上述した試験条件として、例えば動作回路３１０に与える試験信号の周波数、試験信号のタイミング等の特性、動作回路３１０における主要な信号伝送経路の信号タイミング、電源電圧、あるいはクロック信号の周波数等を変更してよい。また、診断回路３２０は、ユーザ機器１００の電源電圧等を変更してもよい。これにより、診断回路３２０は、動作回路３１０が正常に動作できる試験信号の周波数、電源電圧等の範囲（マージン）を測定することができる。【００２３】
診断回路３２０は、ホスト装置２００からの指示を受けるごとに、当該指示に応じて試験条件を変更して、動作回路３１０が正常に動作するか否かを試験してよい。この場合、結果送信部３４０は、動作回路３１０が正常に動作するか否かの結果と試験条件とを対応付けた試験結果を、ホスト装置２００に送信してよい。ホスト装置２００は、受け取った試験結果に応じて、次に診断回路３２０が実行すべき試験の試験条件を示す試験情報を生成してよい。【００２４】
また、診断回路３２０は、ホスト装置２００からマージン試験を行う旨の指示を受けた場合に、試験条件を順次変更して、動作回路３１０が正常に動作するか否かを試験条件ごとに判定する一連のマージン試験を行ってよい。制御情報格納部３６０は、当該マージン試験を実行するためのプログラム等の制御情報を格納してよい。【００２５】
診断制御部３３０は、診断回路３２０にどのような試験を行わせるかを制御する。例えば診断制御部３３０は、診断回路３２０を制御する制御情報を、診断回路３２０に入力してよい。当該制御情報は、例えば診断回路３２０を機能させる試験プログラムであってよい。また、当該制御情報は、例えば診断回路３２０に設けられたレジスタに格納させるべき設定値を含んでよい。また、診断回路３２０が複数の試験を実行可能な場合において、当該制御情報は、いずれかの試験を指定する情報であってよい。【００２６】
診断制御部３３０は、動作回路３１０に対して診断回路３２０が実行すべき試験内容を示す試験情報を、通信部１１０およびネットワーク２０を介して、ホスト装置２００から受け取る。診断制御部３３０は、当該試験情報に応じた制御情報を、診断回路３２０に入力することにより、当該試験情報に応じた試験を診断回路３２０に実行させてよい。【００２７】
当該試験情報は、制御情報そのものであってよく、また制御情報を指定する情報であってもよい。例えば、制御情報格納部３６０が、複数の試験内容に対応する複数の制御情報として複数の試験プログラム等を格納している場合において、診断制御部３３０は、受け取った試験情報により指定される試験プログラム等を、制御情報格納部３６０から抽出してよい。診断制御部３３０は、制御情報格納部３６０から抽出した試験プログラム等の制御情報を用いて、診断回路３２０に試験を実行させてよい。【００２８】
結果格納部３７０は、診断回路３２０における試験結果を格納する。診断制御部３３０は、診断回路３２０から試験結果を受け取り、結果格納部３７０に格納してよい。結果送信部３４０は、診断回路３２０における試験結果を、ネットワーク２０を介してホスト装置２００に送信する。また、結果送信部３４０は、当該試験結果を、電子デバイス３００の識別情報と共に送信してよい。電子デバイス３００の識別情報は、例えば電子デバイス３００のシリアルナンバー等のように、電子デバイス３００の個体を他の個体から識別する情報である。例えば、電子デバイス３００の内部に設けたフューズＲＯＭ、或いはＥＰＲＯＭ部に、その個体固有の情報を記録してもよい。【００２９】
また、電子デバイス３００の識別情報は、ユーザ機器１００のＩＰアドレスまたはＭＡＣアドレス等のネットワークアドレス等であってもよい。この場合、電子デバイス３００は、各ユーザ機器１００に搭載されている電子デバイス３００のシリアルナンバーと、ユーザ機器１００のＩＰアドレス等の固有番号との対応を別に記録しておき、その記録とユーザ機器１００の固有番号から電子デバイス３００のシリアルナンバーを導くことが出来る。あるいは、ユーザ機器１００を製造したときに、その機器に搭載されている電子デバイスのシリアル番号など個体固有の情報を、ユーザ機器１００に備えた記録媒体に記録してもよい。この場合、ユーザ機器１００に備えた記録媒体は、フラッシュメモリ、ハードディスクなどであってよい。結果送信部３４０は、ユーザ機器１００の通信機能（例えば通信部１１０）を用いて、ホスト装置２００に試験結果を送信してよい。【００３０】
電子デバイス３００は、固有の識別情報とともに、試験制御情報の要求先と試験結果の送信先（結果の戻し先）の情報（例えばサーバのＩＰアドレスなど）を保持していてもよい。電子デバイス３００を搭載したユーザ機器１００はこれらの情報を元に、必要な試験情報を取得し、試験を実行し、識別情報を伴った試験結果を必要な場所へ送信することが出来る。【００３１】
結果送信部３４０は、電子デバイス３００がユーザ機器に実装された場合に、通信部１１０を介した通信が可能となるように設けられることが好ましい。結果送信部３４０は、診断制御部３３０から受け取った試験結果のデータと、ホスト装置２００のアドレスデータとを、通信部１１０に入力可能に設けられてよい。ホスト装置２００のアドレスデータは、電子デバイス３００の出荷時等において、結果送信部３４０に予め書き込まれてよい。また、動作回路３１０が、通信部１１０を介して外部と通信する機能を有する場合には、診断制御部３３０は、動作回路３１０を結果送信部３４０として機能させてもよい。【００３２】
試験情報要求部３５０は、ホスト装置２００に対して、ネットワーク２０を介して試験情報の送信を要求する。試験情報要求部３５０には、電子デバイス３００の出荷時等において、ホスト装置２００のアドレスデータが書き込まれてよい。また、試験情報要求部３５０は、通信部１１０を用いて、ホスト装置２００に試験情報を要求してよい。例えば試験情報要求部３５０は、制御情報格納部３６０が格納した制御情報のうち、いずれの制御情報を用いて試験を実行すべきかを示す試験情報の送信を、ホスト装置２００に要求してよい。また、試験情報要求部３５０は、診断回路３２０が次に実行すべき試験内容を示す試験情報を、ホスト装置２００に予め要求してよい。また、試験情報要求部３５０は、電子デバイス３００の識別情報をホスト装置２００に通知して、当該電子デバイス３００に対する試験情報を要求してよい。【００３３】
このような構成により、電子デバイス３００は、それぞれの動作回路３１０の動作試験、マージン測定等を、それぞれの電子デバイス３００の実使用環境で行うことができる。また、ホスト装置２００のアドレスを、電子デバイス３００に予め書き込むことにより、それぞれの電子デバイス３００から、ホスト装置２００に対して通信の確立を要求することができる。【００３４】
図３は、ホスト装置２００の構成の一例を示す図である。ホスト装置２００は、試験情報格納部２１０、試験情報送信部２２０、通信部２３０、試験情報生成部２４０、および試験結果格納部２５０を備える。ホスト装置２００は、診断回路３２０を内蔵した電子デバイス３００が実装されるユーザ機器１００と、ネットワーク２０を介して通信する。【００３５】
通信部２３０は、ネットワーク２０を介してユーザ機器１００と通信する。通信部２３０は、複数のユーザ機器１００と同時に通信できることが好ましい。また、通信部２３０は、それぞれの電子デバイス３００から通信の確立を要求された場合に、それぞれの電子デバイス３００の識別情報およびアドレスデータを受け取ってよい。通信部２３０は、それぞれの識別情報およびアドレスデータを対応付けて格納してよい。また、通信部２３０は、格納した識別情報およびアドレスデータを用いて、それぞれの電子デバイス３００に対して通信の確立を要求してよい。【００３６】
試験情報格納部２１０は、ユーザ機器１００が実行すべき試験内容を示す試験情報を予め記憶する。試験情報格納部２１０は、例えば診断回路３２０を機能させる試験プログラムを試験情報として記憶してよく、制御情報格納部３６０が格納した制御情報を指定するデータを試験情報として記憶してもよい。【００３７】
試験情報送信部２２０は、電子デバイス３００から試験情報を要求された場合に、試験情報格納部２１０から試験情報を読み出して、電子デバイス３００に送信する。試験情報送信部２２０は、通信部２３０を介して電子デバイス３００と通信してよい。また、試験情報送信部２２０は、試験情報の要求と共に受け取った電子デバイス３００の識別情報に対応する試験情報を、試験情報格納部２１０から読み出してよい。このような動作により、それぞれの電子デバイス３００に試験を行わせることができる。【００３８】
試験結果格納部２５０は、電子デバイス３００から受け取った試験結果を格納する。試験結果格納部２５０は、通信部２３０を介して試験結果を受け取ってよい。試験結果格納部２５０は、電子デバイス３００の識別情報と、試験結果とを対応付けて格納してよい。【００３９】
試験情報生成部２４０は、受け取った試験結果に基づいて、電子デバイス３００の診断回路３２０が次に実行すべき試験情報を生成して、試験情報格納部２１０に格納する。例えば試験情報生成部２４０は、診断回路３２０に対して、図２に関連して説明したマージン試験を実行させるべく、試験情報を順次生成してよい。この場合、試験情報生成部２４０は、電子デバイス３００から、動作回路３１０が正常に動作したか否かを、試験条件とあわせて受け取ってよい。そして、試験情報生成部２４０は、受け取った試験結果に応じて試験条件を変更した試験情報を、診断回路３２０が次に実行すべき試験情報として順次生成してよい。【００４０】
また、試験情報生成部２４０は、受け取った試験結果において、動作回路３１０が正常に動作していないと判定されている場合に、動作回路３１０の故障箇所を特定する試験を行わせる次の試験情報を生成してよい。例えば、試験情報生成部２４０は、次の試験情報として、動作回路３１０のスキャン試験を行わせる情報を生成してよい。動作回路３１０のスキャン試験とは、動作回路３１０に含まれるフリップフロップを実動作時の接続経路とは異なる経路で接続したスキャンチェーンを用いて、パターンデータを各フリップフロップに入力する試験であってよい。試験情報生成部２４０は、生成した試験情報に、試験結果に対応する電子デバイス３００の識別情報を付して、試験情報格納部２１０に格納してよい。【００４１】
また、試験情報生成部２４０は、各電子デバイス３００に対して共通に実行すべき複数の試験情報の順序を予め記憶してよい。この場合、試験情報生成部２４０は、受け取った試験結果に基づいて、それぞれの電子デバイス３００において、複数の試験情報のいずれまでが実行されたかを管理してよい。そして、試験情報生成部２４０は、試験結果を受け取る毎に、それぞれの電子デバイス３００に対して次に実行すべき試験情報を生成して、試験情報格納部２１０に格納してよい。また、試験情報生成部２４０は、当該複数の試験情報を、予め定められた期間ごとにそれぞれの電子デバイス３００において実行させるべく生成してもよい。また、試験情報生成部２４０は、使用者等により指示された試験内容を示す試験情報を、各電子デバイス３００に対して次に実行すべき試験情報として、割り込ませてもよい。【００４２】
このような構成により、多数の電子デバイス３００において実行すべき試験を、ホスト装置２００が管理することができる。また、各電子デバイス３００において次に実行すべき試験情報を格納して、要求があった場合に試験情報をユーザ機器１００に送信するので、各ユーザ機器が試験情報の通信に適した状態となったときに、試験情報を送信することができる。このため、多数の電子デバイス３００に対して適切に試験情報を送信することができる。また、多数の電子デバイス３００で実行された試験結果を、ホスト装置２００が集計することができる。このため、電子デバイス３００の実使用環境におけるマージンのばらつき等を、精度よく解析することができる。【００４３】
図４は、電子デバイス３００およびホスト装置２００の動作の一例を示すチャートである。まず、電子デバイス３００の試験情報要求部３５０が、試験情報をホスト装置２００に要求する（Ｓ５００）。ホスト装置２００の試験情報送信部２２０は、試験情報の要求に応じて試験情報格納部２１０から試験情報を読み出して、当該電子デバイス３００に試験情報を送信する（Ｓ５０２）。試験情報格納部２１０には、予め試験情報が格納される。【００４４】
電子デバイス３００の診断制御部３３０は、受け取った試験情報に基づいて、試験パターン等の制御情報を生成する（Ｓ５０４）。診断回路３２０は、制御情報に基づいて試験を実行する（Ｓ５０６）。そして、結果送信部３４０は、試験結果をホスト装置２００に送信する（Ｓ５０８）。【００４５】
ホスト装置２００の試験結果格納部２５０は、受け取った試験結果を格納する。また、試験情報生成部２４０は、受け取った試験結果に基づいて、次の試験情報を生成する（Ｓ５１０）。試験情報格納部２１０は，次の試験情報を格納する（Ｓ５１２）。このような処理を繰り返すことにより、それぞれの電子デバイス３００における試験を、ホスト装置２００が管理することができる。【００４６】
また、試験情報要求部３５０は、結果送信部３４０が試験結果をホスト装置２００に送信する場合に、次に実行すべき試験情報を要求してもよい。また、診断制御部３３０は、試験情報要求部３５０が試験情報を要求する前に、すでに与えられている試験情報に応じた試験を診断回路３２０に実行させてよい。【００４７】
試験情報要求部３５０は、当該試験結果と、試験情報の要求とをあわせて、ホスト装置２００に送信してよい。上述したようにホスト装置２００は、試験結果に応じて、次の試験情報を生成してよい。このような処理により、ホスト装置２００は、それぞれの電子デバイス３００に対して試験を行わせ、その試験結果を集計することができる。【００４８】
図５は、電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。本例における診断回路３２０は、動作回路３１０の試験が可能なタイミングで予め試験を行う（Ｓ５１０）。例えば診断回路３２０は、ユーザ機器１００の起動時、シャットダウン時等のように、動作回路３１０が実動作していないタイミングで試験を行ってよい。また、診断回路３２０は、複数の試験内容について、予め動作回路３１０を試験する。例えば診断回路３２０は、試験可能な全ての試験内容について予め動作回路３１０を試験してよく、予め指定された複数の試験内容について動作回路３１０を試験してもよい。結果格納部３７０は、これらの試験結果を、試験内容（例えば試験情報、制御情報等）と対応付けて格納する（Ｓ５１２）。【００４９】
また、ホスト装置２００は、それぞれの電子デバイス３００において実行すべき試験情報を生成して（Ｓ５１４）、格納する（Ｓ５１６）。ここで試験情報は、制御情報格納部３６０が格納したいずれかの制御情報を指定する情報であってよい。【００５０】
結果格納部３７０が試験結果を格納した後に、試験情報要求部３５０は、結果格納部３７０に格納した試験結果のうち、いずれの試験結果をホスト装置２００に送信すべきかを示す試験情報の送信を、ホスト装置２００に要求する（Ｓ５１８）。例えば試験情報要求部３５０は、試験情報の送受信、試験結果の送受信に適したタイミングで、試験情報の送信を要求してよい。より具体的には、試験情報要求部３５０は、ユーザ機器１００の起動時、シャットダウン時等のように、電子デバイス３００およびホスト装置２００の間で他の情報の送受信が行われていないタイミングで、試験情報の送信を要求してよい。【００５１】
ホスト装置２００の試験情報送信部２２０は、試験情報の送信の要求に応じて、試験情報を電子デバイス３００に送信する（Ｓ５２０）。結果送信部３４０は、当該試験情報に対応する試験結果を結果格納部３７０から読み出す（Ｓ５２２）。結果送信部３４０は、読み出した試験結果をホスト装置２００に送信する（Ｓ５２４）。このような処理により、ホスト装置２００は、それぞれのユーザ機器１００の動作に影響を与えずに、それぞれの電子デバイス３００において試験を行わせ、その試験結果を集計することができる。【００５２】
図６は、電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。本例における電子デバイス３００は、ユーザ機器１００としてのコンピュータに実装され、ユーザ機器１００の起動時に動作回路３１０を試験する。【００５３】
ホスト装置２００は、それぞれの電子デバイス３００において実行すべき試験内容を示す試験情報を予め生成して（Ｓ６００）、格納する（Ｓ６０２）。電子デバイス３００の試験情報要求部３５０は、ホスト装置２００に試験情報の送信を要求する（Ｓ６０４）。ホスト装置２００の試験情報送信部２２０は、試験情報の送信の要求に応じて、試験情報を電子デバイス３００に送信する（Ｓ６０６）。電子デバイス３００およびホスト装置２００は、ユーザ機器１００の前回のシャットダウン時において、電子デバイス３００およびホスト装置２００の間の通信を解除する前に、試験情報の送信の要求、および試験情報の送信を行ってよい。電子デバイス３００は、受け取った試験情報を不揮発性のメモリに格納してよい。【００５４】
診断回路３２０は、ユーザ機器１００の起動時において、動作回路３１０に対して、予め受け取っている試験情報に応じた試験を行う（Ｓ６０８）。例えば診断回路３２０は、動作回路３１０が、ユーザ機器１００の一部として実動作を開始する前に、動作回路３１０を試験してよい。また、診断回路３２０は、ユーザ機器１００とホスト装置２００とが通信を確立している間に、動作回路３１０を試験してもよい。【００５５】
結果送信部３４０は、試験結果をホスト装置２００に送信する（Ｓ６１０）。また、診断回路３２０は、動作回路３１０の試験が終了した後に、動作回路３１０を初期化する（Ｓ６１２）。例えば診断回路３２０は、動作回路３１０を試験することにより動作回路３１０の各レジスタに設定された値を、初期化してよい。これにより、試験時に動作回路３１０に設定された情報により、実動作時に動作回路３１０が誤動作することを防ぐことができる。【００５６】
また、ホスト装置２００の試験結果格納部２５０は、受け取った試験結果を格納する（Ｓ６１４）。このような処理により、それぞれのユーザ機器１００の動作に影響を与えずに、それぞれの電子デバイス３００において試験を行わせ、その試験結果を集計することができる。【００５７】
図７は、電子デバイス３００およびホスト装置２００の他の動作例を示すチャートである。本例における電子デバイス３００は、ユーザ機器１００としてのコンピュータに実装され、ユーザ機器１００のシャットダウン時に動作回路３１０を試験する。【００５８】
ホスト装置２００は、それぞれの電子デバイス３００において実行すべき試験内容を示す試験情報を予め生成して（Ｓ７００）、格納する（Ｓ７０２）。電子デバイス３００の試験情報要求部３５０は、ホスト装置２００に試験情報の送信を要求する（Ｓ７０４）。ホスト装置２００の試験情報送信部２２０は、試験情報の送信の要求に応じて、試験情報を電子デバイス３００に送信する（Ｓ７０６）。電子デバイス３００は、受け取った試験情報を格納する（Ｓ７０８）。電子デバイス３００およびホスト装置２００は、ユーザ機器１００の起動時において、電子デバイス３００およびホスト装置２００の間の通信を確立した後に、試験情報の送信の要求、および試験情報の送信を行ってよい。また、これらの試験、試験情報の取得、送信は、必要に応じて機器の使用者、あるいは保守の為の点検・整備を行う者が任意に実行することもできる。【００５９】
診断回路３２０は、ユーザ機器１００のシャットダウン時に、動作回路３１０を試験する（Ｓ７１０）。診断回路３２０は、動作回路３１０に対して、予め受け取っている試験情報に応じた試験を行う。例えば診断回路３２０は、動作回路３１０が、ユーザ機器１００の一部としての実動作を終了した後に、動作回路３１０を試験してよい。結果格納部３７０は、試験結果を格納する（Ｓ７１２）。結果格納部３７０は、ユーザ機器１００に電源電力が供給されていない場合にも、格納した情報を保持できる不揮発性のメモリであることが好ましい。【００６０】
そして、結果送信部３４０は、ユーザ機器１００の起動時に、結果格納部３７０に格納されている試験結果を読み出して、ホスト装置２００に送信する（Ｓ７１４）。このとき、試験情報要求部３５０は、次の試験情報の送信を要求してもよい。このような処理により、それぞれのユーザ機器１００の動作に影響を与えずに、それぞれの電子デバイス３００において試験を行わせ、その試験結果を集計することができる。【００６１】
図８は、電子デバイス３００の他の構成例を示す図である。本例の電子デバイス３００は、図２に関連して説明した電子デバイス３００の構成に加え、動作時間計測部３８０および温度検出部３９０を更に備える。他の構成は、図２に関連して説明した電子デバイス３００と同一であってよい。【００６２】
温度検出部３９０は、電子デバイス３００の温度を検出する。例えば温度検出部３９０は、電子デバイス３００に設けられたサーミスタ等の測温用抵抗素子の抵抗値、あるいは半導体の温度による特性変化を利用した温度測定手段に基づいて、電子デバイス３００の温度を検出してよい。また、温度検出部３９０は、診断回路３２０がそれぞれの試験を行ったときの、電子デバイス３００の温度を検出してよい。また、電子デバイスが実動作状態にあるときの温度変化を一定周期ごとに検出、保持してもよい。あるいは最高温度、最低温度などを記録してもよい。【００６３】
結果送信部３４０は、診断回路３２０における試験結果と、その試験時に温度検出部３９０が検出した電子デバイス３００の温度とを、対応付けてホスト装置２００に送信してよい。これにより、ホスト装置２００は、電子デバイス３００の温度ごとに、試験結果を集計することができる。このため、動作回路３１０の実使用環境ごとに、試験結果を集計して、要求されるマージン等を解析することができる。更に、必要に応じて、電子デバイス３００の動作状態における温度変化の履歴を取得し、解析に用いることも出来る。【００６４】
また、動作時間計測部３８０は、動作回路３１０の総動作時間を計測する。動作回路３１０の総動作時間とは、例えば動作回路３１０に電源電力が投入されている時間の累計であってよい。また、動作回路３１０の総動作時間とは、例えばユーザ機器１００から動作回路３１０に信号が入力されてから、動作回路３１０からユーザ機器１００に信号が出力されるまでの時間の累計であってもよい。また、動作時間計測部３８０は、動作回路３１０の総動作時間として、ユーザ機器１００が起動してから、シャットダウンされるまでの時間の累計を計測してもよい。【００６５】
結果送信部３４０は、診断回路３２０における試験結果と、その試験を開始するまでの動作回路３１０の総動作時間とを、対応付けてホスト装置２００に送信してよい。これにより、ホスト装置２００は、電子デバイス３００の温度ごとに、試験結果を集計することができる。このため、動作回路３１０の実使用環境ごとに、試験結果を集計して、動作回路３１０の劣化速度等を解析することができる。【００６６】
また、ユーザ機器１００は、例えばＧＰＳ機能のように、ユーザ機器１００が設けられている位置を検出する機能を有してよい。この場合、結果送信部３４０は、診断回路３２０における試験結果と、ユーザ機器１００の位置とを対応付けて、ホスト装置２００に送信してもよい。また、以上に説明した温度、稼働時間、場所などの情報は、使用環境を評価するための情報の一例であり、これら以外にも、湿度センサ、結露センサ、放射線センサ、加速度センサ、電界センサなどを併用して使用環境に関する情報を取得してもよい。【００６７】
図９は、ホスト装置２００の他の構成例を示す図である。本例のホスト装置２００は、図３に関連して説明したホスト装置２００の構成に加え、使用環境通知部２６０を更に備える。他の構成は、図３に関連して説明したホスト装置２００と同一であってよい。【００６８】
また、試験結果格納部２５０は、それぞれの電子デバイスにおける試験結果と、当該試験結果とあわせて受信した温度、総動作時間等の情報とを受け取る。試験結果格納部２５０は、温度または総動作時間のすくなくとも一方の情報と、試験結果とを対応付けて格納する対応格納部として機能してよい。【００６９】
試験情報生成部２４０は、試験結果格納部２５０が、それぞれの電子デバイス３００の試験結果に対応して格納した温度情報に基づいて、その電子デバイス３００の診断回路３２０が次に実行すべき試験内容を示す試験情報を生成して、試験情報格納部２１０に格納する。例えば、電子デバイス３００の温度が所定の温度範囲外である場合、試験情報生成部２４０は、動作回路３１０のうち、より温度依存性の高い箇所を動作させる試験情報を生成してよい。また、電子デバイス３００の温度が所定の温度以上である場合、試験情報生成部２４０は、動作回路３１０が消費する電力が比較的に小さい試験を、診断回路３２０に実行させる試験情報を優先して生成してよい。このような構成により、それぞれの電子デバイス３００の実動作環境に適した試験を行わせることができる。【００７０】
使用環境通知部２６０は、温度情報で示される電子デバイス３００の温度が、仕様等により予め定められた温度範囲内でない場合に、その旨を電子デバイス３００またはユーザ機器１００に通知する。ユーザ機器１００は、その旨を表示等することにより、使用者にその旨を通知する。これにより、ユーザ機器１００の使用者は、電子デバイス３００の温度が異常であることを知ることができる。また、ユーザ機器１００は、電子デバイス３００の温度が所定の温度範囲内でない旨の通知を受けた場合に、電子デバイス３００への電源電力の供給を停止してもよい。これにより、電子デバイス３００からの加熱・発火等を防ぐことができる。【００７１】
図１０は、ホスト装置２００の他の構成例を示す図である。本例のホスト装置２００は、図３に関連して説明したホスト装置２００の構成に加え、平均劣化算出部２７０、個別劣化算出部２８０、および通知部２９０を更に備える。他の構成は、図３に関連して説明したホスト装置２００と同一であってよい。【００７２】
平均劣化算出部２７０は、同種の複数の電子デバイス３００から通信部２３０を介して、それぞれの電子デバイス３００の試験結果および総動作時間を受け取る。平均劣化算出部２７０は、それぞれの電子デバイス３００の試験結果および総動作時間に基づいて、動作時間に対する、当該種類の電子デバイス３００の平均劣化を算出する。【００７３】
例えば、ホスト装置２００が、それぞれの電子デバイス３００の診断回路３２０に、動作回路３１０のビット誤り率を測定する試験を行わせてよい。ビット誤り率を測定する試験とは、動作回路３１０に所定の試験パターンを入力したときに、動作回路３１０が出力するデータパターンが、期待値パターンと一致しないビット割合を測定する試験であってよい。この測定中は、電子デバイス３００に設けた誤り訂正回路の機能は無効にしてよい。【００７４】
平均劣化算出部２７０は、例えば横軸を総動作時間、縦軸をビット誤り率としてそれぞれの電子デバイス３００の試験結果をプロットしたものを、最小二乗法等により近似した直線を算出してよい。当該直線の傾きが、当該種類の電子デバイス３００の、ビット誤り率の平均劣化速度に対応する。【００７５】
図１１は、平均劣化算出部２７０が算出する平均劣化速度の一例を説明する図である。図１１は、横軸を総動作時間、縦軸をビット誤り率として、それぞれの電子デバイス３００の試験結果をプロットしたものを示す。上述したように、平均劣化算出部２７０は、これらのプロット点を直線で近似した直線の傾きを算出してよい。【００７６】
また、個別劣化算出部２８０は、それぞれの電子デバイス３００の試験結果および総動作時間から、それぞれの電子デバイス３００の劣化速度を算出する。例えば個別劣化算出部２８０は、当該種類の電子デバイス３００の平均劣化を示す直線の切片と、図１１のプロット点Ａとを通る直線の傾きから、プロット点Ａに対応する電子デバイス３００の劣化速度を算出してよい。【００７７】
通知部２９０は、個別劣化算出部２８０が算出した劣化速度が、平均劣化算出部２７０が算出した平均劣化速度に対して、所定の割合以上の値である場合に、当該電子デバイス３００またはユーザ機器１００に、その旨を通知する。ここで、所定の割合とは、個別の劣化速度を、平均劣化速度で除算したときの値が１より大きくなる場合を含む。つまり、通知部２９０は、平均劣化速度より所定の倍率以上はやい速度で劣化している電子デバイス３００に、その旨を通知してよい。ユーザ機器１００は、当該通知を受けた場合に、その旨を表示等することにより、使用者に通知してよい。【００７８】
また、個別劣化算出部２８０は、プロット点Ａに対応する電子デバイス３００の劣化速度として、平均劣化速度を示す直線と、プロット点Ａとの距離Ｄを算出してもよい。通知部２９０は、距離Ｄが所定の値以上である場合に、当該電子デバイス３００またはユーザ機器１００に、その旨を通知してよい。【００７９】
なお、診断回路３２０が行う試験は、動作回路３１０のビット誤り率を測定する試験に限定されない。診断回路３２０は、動作回路３１０の所定の特性を測定する試験を行ってよい。この場合、平均劣化算出部２７０は、当該特性についての劣化速度を算出してよい。【００８０】
例えば診断回路３２０は、動作回路３１０に含まれるフリップフロップに入力するデータ信号およびクロック信号の相対位相を順次変更して、フリップフロップが出力するデータが期待値と一致するか否かを相対位相ごとに判定することにより、動作回路３１０のタイミングマージン試験を行ってよい。この場合、診断回路３２０は、フリップフロップが出力するデータが期待値と一致する相対位相の範囲に基づいて、動作回路３１０のタイミングマージンを算出してよい。【００８１】
また診断回路３２０は、動作回路３１０に入力するクロック信号の周波数を順次変更して、動作回路３１０が正常に動作するか否かをクロック信号の周波数ごとに判定することにより、クロック周波数のマージン試験を行ってよい。この場合、診断回路３２０は、動作回路３１０が正常に動作できるクロック信号の周波数範囲に基づいて、クロック信号の周波数マージンを算出してよい。【００８２】
また診断回路３２０は、動作回路３１０に供給する電源電圧を順次変更して、動作回路３１０が正常に動作するか否かを電源電圧ごとに判定することにより、電源電圧のマージン試験を行ってよい。この場合、診断回路３２０は、動作回路３１０が正常に動作できる電源電圧の範囲に基づいて、電源電圧マージンを算出してよい。また、ホスト装置２００は、これらの動作マージンの劣化を解析してよい。【００８３】
例えば個別劣化算出部２８０は、電子デバイス３００から、動作マージンと、電子デバイスの総動作時間とを受け取り、総動作時間および動作マージンに基づいて、動作マージンの劣化速度を算出してよい。個別劣化算出部２８０は、当該電子デバイス３００から、前回に受け取った動作マージンおよび総動作時間と、今回受け取った動作マージンおよび総動作時間の差分から、当該電子デバイス３００における動作マージンの劣化速度を算出してよい。【００８４】
また、個別劣化算出部２８０は、算出した劣化速度と、現在の動作マージンとに基づいて、当該電子デバイス３００の動作マージンが、予め定められた値より小さくなる動作不良発生時期を算出する。予め定められた値とは、例えば当該電子デバイス３００に対して予め定められた仕様値であってよい。個別劣化算出部２８０は、算出した動作不良発生時期を、ホスト装置２００の使用者またはユーザ機器１００の使用者等に通知してよい。このような処理により、メンテナンス等を行うべき時期をユーザに通知することができ、または、適切な時期にユーザ機器１００のメンテナンス等を行うことができる。【００８５】
図１２は、本発明の一つの実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。コンピュータ１９００は、与えられるプログラムに基づいて、図１から図１１において説明したホスト装置２００として機能してよい。更に、コンピュータ１９００がホスト装置２００として制御・収集した測定結果は、コンピュータ１９００が接続されるネットワークを通じて上位のホスト装置によって収集・管理・制御されてよい。つまり、複数の電子デバイス３００における試験結果は、階層的な構造を有するホスト装置群によって管理されてもよい。【００８６】
コンピュータ１９００がホスト装置２００として機能する場合、プログラムは、コンピュータ１９００を、図１から図１１において説明した試験情報格納部２１０、試験情報送信部２２０、通信部２３０、試験情報生成部２４０、試験結果格納部２５０、使用環境通知部２６０、平均劣化算出部２７０、個別劣化算出部２８０、および通知部２９０のすくなくともいずれかとして機能させてよい。例えばプログラムは、ハードディスクドライブ２０４０を、試験情報格納部２１０および試験結果格納部２５０として機能させてよい。また、プログラムは、ＣＰＵ２０００を、試験情報生成部２４０、平均劣化算出部２７０、および個別劣化算出部２８０として機能させてよい。また、プログラムは、Ｉ／Ｏコントローラ２０８４を、試験情報送信部２２０、使用環境通知部２６０、および通知部２９０として機能させてよい。またプログラムは、通信Ｉ／Ｆ２０３０を、通信部２３０として機能させてよい。【００８７】
コンピュータ１９００は、ＣＰＵ周辺部、入出力部、及びレガシー入出力部を備える。ＣＰＵ周辺部は、ホストコントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィックコントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有する。入出力部は、入出力コントローラ２０８４によりホストコントローラ２０８２に接続される通信インターフェース２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する。レガシー入出力部は、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有する。【００８８】
ホストコントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィックコントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作して、各部の制御を行う。グラフィックコントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得して、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィックコントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。【００８９】
入出力コントローラ２０８４は、ホストコントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェース２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェース２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。【００９０】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラム、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、パラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。【００９１】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。【００９２】
当該プログラムは、コンピュータ１９００にインストールされる。当該プログラムは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、前述したホスト装置２００の各構成要素として機能させる。【００９３】
以上に示したプログラムは、外部の記録媒体に格納されてもよい。記録媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤおよびＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークまたはインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用して、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。【００９４】
以上、実施形態を用いて本発明を説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載から明らかである。【００９５】
以上説明したように、本例におけるホスト装置２００および電子デバイス３００によれば、それぞれの電子デバイス３００の実使用環境における試験を行い、その結果を集計することができる。また、それぞれの電子デバイス３００において、実使用環境に応じた試験を行わせることができる。【００９６】
また、ホスト装置２００および電子デバイス３００によれば、複数の電子デバイス３００の動作マージン、動作環境による動作マージンの変化等を測定して、測定結果を集計することができる。このため、例えば電子デバイス３００に誤動作等が生じる前に、動作マージンの減少等を検出することができる。また、動作マージンの減少速度を検出することができるので、電子デバイス３００に誤動作等が生じる時期を予測することができる。このため、適切な時期にユーザ機器１００のメンテナンス等を行うことができ、または、メンテナンス等を行うべき時期をユーザに通知することができる。【００９７】
このようにして、電子デバイス３００の新たな劣化モード、あるいは劣化モードと環境の相関性を検出することができる。また、新たな劣化モード、あるいは劣化モードと環境の相関性についてより詳細な測定を行うべく、ホスト装置２００から各電子デバイス３００に対して、試験内容を指示することができる。このため、動作不良が生じる可能性が比較的に高い電子デバイス３００の個体以外にも、各電子デバイス３００の劣化に応じた対策を講じることができる。更に、このようにして得られたデータは、より正確な信頼性設計のために用いることができる。
【図１】
2009011028.tif 000003
【図２】
2009011028.tif 000004
【図３】
2009011028.tif 000005
【図４】
2009011028.tif 000006
【図５】
2009011028.tif 000007
【図６】
2009011028.tif 000008
【図７】
2009011028.tif 000009
【図８】
2009011028.tif 000010
【図９】
2009011028.tif 000011
【図１０】
2009011028.tif 000012
【図１１】
2009011028.tif 000013
【図１２】
2009011028.tif 000014
【国際調査報告】
2009011028.tif 000015
2009011028.tif 000016
2009011028.tif 000017
2009011028.tif 000018
2009011028.tif 000019
2009011028.tif 000020
2009011028.tif 000021
2009011028.tif 000022