(57)【要約】  記憶装置は、ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めする位置決めしてデータを記録又は再生する記録再生部と、パラメータ格納領域を割り当てた不揮発メモリを備える。調整部は位置決め制御部及び記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する。パラメータセーブ処理部は、調整部で得られた調整済みパラメータを、調整中は不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で記憶媒体のシステム領域のアクセスに必要な最小限の調整済みパラメータを残し、残りの調整済みパラメータは記憶媒体のシステム領域にセーブし、不揮発メモリのパラメータ格納領域に空き領域を形成する。空き領域処理部は、不揮発メモリの空き領域をファームウェアやログ等のパラメータ以外の格納領域に使用する。
2009008034.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記録再生部と、
パラメータ格納領域を割り当てた不揮発メモリと、
前記記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整部と、
前記調整部で得られた調整済みパラメータを、調整中は前記不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で前記不揮発メモリに格納している調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体にセーブし、前記パラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理部と、
前記不揮発メモリの前記空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理部と、
を備えたことを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
請求項１記載の記憶装置に於いて、前記パラメータセーブ処理部は、電源投入による装置起動時に前記記憶媒体のシステム領域からのデータ読み出しに必要な最小限のパラメータを前記不揮発メモリに残し、それ以外のパラメータを前記記憶媒体にセーブすることを特徴とする記憶装置。
【請求項３】
請求項２記載の記憶装置に於いて、
前記不揮発メモリは前記パラメータ格納領域に初期状態でリセット状態にあるフラグを設け、
前記パラメータセーブ処理部は、前記不揮発メモリにセーブしている調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体に書き込んでセーブする際に、前記フラグをセットすることを特徴とする記憶装置。
【請求項４】
請求項３記載の記憶装置に於いて、前記パラメータセーブ処理部は、前記調整済みパラメータのセーブコマンドを受領した際に、前記フラグがリセットされている場合は、前記調整済みパラメータの全てを前記不揮発メモリにセーブし、前記フラグがセットされている場合は、前記調整済みパラメータの内容に応じて前記不揮発メモリと記憶媒体に分けてセーブすることを特徴とする記憶装置。
【請求項５】
請求項３記載の記憶装置に於いて、更に、電源投入に伴う起動時に、前記フラグの状態に応じて前記不揮発メモリ及び記憶媒体から調整済みパラメータを読出して揮発メモリにロードするパラメータロード処理部を設けたことを特徴とする記憶装置。
【請求項６】
請求項５記載の記憶装置に於いて、前記パラメータロード処理部は、電源投入に伴う起動時に、前記フラグがリセットされている時は、全てのパラメータを前記不揮発メモリから揮発メモリにロードし、前記フラグがセットされている時は、前記不揮発メモリからパラメータの一部を前記揮発メモリにロードすると共に記憶媒体から残りのパラメータを前記揮発メモリにロードすることを特徴とする記憶装置。
【請求項７】
請求項１記載の記憶装置に於いて、前記空き領域処理部は、前記空き領域をファームウェアの格納領域又はログの記録領域に使用することを特徴とする記憶装置。
【請求項８】
請求項３記載の記憶装置に於いて、前記空き領域処理部は、前記不揮発メモリに対するファームウェアやログ等のパラメータ以外のセーブコマンドを受領した際に、前記フラグがセットされている場合にセーブを許容し、前記フラグがリセットされている場合はセーブを禁止してエラーとすることを特徴とする記憶装置。
【請求項９】
ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記録再生部と、
パラメータ格納領域を割り当てた不揮発メモリと、
を備えた記憶装置の制御方法に於いて、
前記記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整プロセスと、
前記調整プロセスで得られた調整済みパラメータを、調整中は前記不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で前記不揮発メモリに格納している調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体にセーブし、前記パラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理プロセスと、
前記不揮発メモリの前記空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理プロセスと、
を備えたことを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１０】
請求項９記載の記憶装置の制御方法に於いて、前記パラメータセーブ処理プロセスは、電源投入による装置起動時に前記記憶媒体のシステム領域からのデータ読み出しに必要な最小限のパラメータを前記不揮発メモリに残し、それ以外のパラメータを前記記憶媒体にセーブすることを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１１】
請求項９記載の記憶装置の制御方法に於いて、
前記不揮発メモリは前記パラメータ格納領域に初期状態でリセット状態にあるフラグを設け、
前記パラメータセーブ処理プロセスは、前記不揮発メモリにセーブしている調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体に書き込んでセーブする際に、前記フラグをセットすることを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の記憶装置の制御方法に於いて、前記パラメータセーブ処理プロセスは、前記調整済みパラメータのセーブコマンドを受領した際に、前記フラグがリセットされている場合は、前記調整済みパラメータの全てを前記不揮発メモリにセーブし、前記フラグがセットされている場合は、前記調整済みパラメータの内容に応じて前記不揮発メモリと記憶媒体に分けてセーブすることを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１３】
請求項１１記載の記憶装置の制御方法に於いて、更に、電源投入に伴う起動時に、前記フラグの状態に応じて前記不揮発メモリ及び又は記憶媒体から調整済みパラメータを読出して揮発メモリに配置するパラメータ読出処理プロセスを設けたことを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１４】
請求項１３記載の記憶装置の制御方法に於いて、前記パラメータロード処理プロセスは、
電源投入に伴う起動時に、前記フラグがリセットされている時は、全てのパラメータを前記不揮発メモリから揮発メモリにロードし、前記フラグがセットされている時は、前記不揮発メモリからパラメータの一部を揮発メモリにロードすると共に記憶媒体から残りのパラメータを前記揮発メモリにロードすることを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１５】
請求項９記載の記憶装置の制御方法に於いて、前記空き領域処理プロセスは、前記空き領域をファームウェアの格納領域又はログの記録領域に使用することを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１６】
請求項１１記載の記憶装置の制御方法に於いて、前記空き領域処理プロセスは、前記不揮発メモリに対するファームウェアやログ等のパラメータ以外のセーブコマンドを受領した際に、前記フラグがセットされている場合にセーブを許容し、前記フラグがリセットされている場合はセーブを禁止してエラーとすることを特徴とする記憶装置の制御方法。
【請求項１７】
ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記憶装置の制御を行う制御装置に於いて、
前記記録再生の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整部と、
前記調整プロセスで得られた調整済みパラメータを、調整中は不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で前記不揮発メモリに格納している調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体にセーブし、前記不揮発メモリに割り当てられたパラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理部と、
前記不揮発メモリの前記空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理部と、
を備えたことを特徴とする制御装置。
【請求項１８】
請求項１７記載の制御装置に於いて、前記パラメータセーブ処理部は、電源投入による装置起動時に前記記憶媒体のシステム領域からのデータ読み出しに必要な最小限のパラメータを前記不揮発メモリに残し、それ以外のパラメータを前記記憶媒体にセーブすることを特徴とする記憶制御装置。
【請求項１９】
請求項１８記載の制御装置に於いて、
前記不揮発メモリは前記パラメータ格納領域に初期状態でリセット状態にあるフラグを設け、
前記パラメータセーブ処理部は、前記前記不揮発メモリにセーブしている調整済みパラメータの一部を前記記憶媒体に書き込んでセーブする際に、前記フラグをセットすることを特徴とする制御装置。
【請求項２０】
請求項１９記載の制御装置に於いて、前記パラメータセーブ処理部は、前記調整済みパラメータのセーブコマンドを受領した際に、前記フラグがリセットされている場合は、前記調整済みパラメータの全てを前記不揮発メモリにセーブし、前記フラグがセットされている場合は、前記調整済みパラメータの内容に応じて前記不揮発メモリと記憶媒体に分けてセーブすることを特徴とする制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、装置制御に必要な各種のパラメータを調整してセーブする記憶装置、制御方法及び制御装置に関し、特に、不揮発メモリに対する調整済みパラメータのセーブを必要最小限に抑えるための記憶装置、制御方法及び制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁気ディスク装置は、同じ機種でも様々な記憶容量のモデルが用意されることが多く、記憶容量はヘッドの本数及び磁気ディスクの枚数を適宜組み合わせることで所望の記憶容量にすることができる。【０００３】
また磁気ディスク装置の記録密度の増加とアクセス時間の短縮に伴い、同じ機種であっても、様々な記憶容量のモデルが用意され、磁気ディスク装置を制御するファームウェアに求められる制御機能も機種毎に増加しており、これに伴いファームウェアが必要とする各種パラメータも増加する傾向にある。【０００４】
一方、ヘッドや磁気ディスクの特性には、夫々ばらつきがあり、例えばヘッド毎のリード信号レベルが異なるため、リードチャネルに設けた電圧利得制御アンプのゲインをヘッド毎に調整する必要がある。またヘッド毎にライト能力が異なれば、ヘッドドライバのライト電流や、実際のライト位置が目標位置からシフトして見える現象を予め補償しておくリードチャネルのライトプリコンペンセーション等をヘッド毎に調整する必要がある。【０００５】
更に、ヘッド毎にメカ共振特性が異なれば、ロータリアクチュエータのボイスコイルモータを制御してヘッドを目標トラックに位置決めするサーボ系のノッチフィルタ特性をヘッド毎に調整する必要がある。【０００６】
また、近年にあっては、ヘッドのコア幅やリードライト実力に因って、トック記録密度（ＴＰＩ）やデータ転送速度を可変させており、ヘッド毎にトラック記録密度やセクタフォーマット情報が異なるために、ヘッド毎に異なる最適なパラメータ に調整する必要がある。【０００７】
ヘッド毎に設定されるリード時の代表的なパラメータ としては、リード周波数、ＴＭＲヘッドのセンス電流、ＡＧＣゲイン、フィルタのカットオフ周波数、周波数体域の高域を強調するフィルタのブースト値、自動等化を行うＦＩＲフィルタのタップ係数、再生波形の上下非対称補正等が挙げられる。【０００８】
またヘッド毎に設定される代表的なライト時のパラメータ としては、ライト周波数、ライトプリコンペンセーション、ライト電流、ライト電流のオーバーシュート等がある。【０００９】
更に近年にあっては、ヘッドにヒータ素子を設け、ヒータを加熱制御することでヘッド浮上量を数ナノメートルオーダーの最適値に制御するヘッド浮上量制御が採用されており、ヘッド毎に最適な浮上量が得られるようにヒータ制御用ＤＡＣ値を調整する必要がある。【００１０】
一方、磁気ディスク装置の製造にあっては、組立が完了した後の調整工程において、調整設備から装置の制御プログラムであるファームウェアと共に各種のパラメータをダウンロードしている。しかし、試験設備からダウンロードしたデフォルトパラメータのままでは、所定の性能が得られないため、パラメータ調整用のファームウェアをダウンロードして実行することで、ヘッドや磁気ディスクのゾーン毎に最適なパラメータに調整している。【００１１】
このように調整工程で得られた調整済みパラメータは、モバイル向けの磁気ディスク装置の場合は磁気ディスクのシステム領域に全ての調整済みパラメータをセーブしているが、記録密度が高く高性能を求められるサーバ等のエンタープライズ向けの磁気ディスク装置の場合には、ヘッドＩＣ、ハードディスクコントローラ、リードチャネル等に対し必要なパラメータのロードを高速化するため、フラッシュＲＯＭ等の不揮発メモリに全ての調整済みパラメータをファームウェアと共にセーブし、必要なパラメータを揮発メモリにロードした後にヘッドＩＣ、ハードディスクコントローラ、リードチャネル等に設定する処理を高速化している。【００１２】
即ち、不揮発メモリにセーブされた調整済みのパラメータは、磁気ディスク装置の電源投入時に不揮発メモリから読み出してＳＲＡＭなどの揮発メモリにロードし、まずスピンドルモータを起動して磁気ディスクを一定速度で回転してリードライト可能状態とし、その後、ホストからのリードコマンド又はライトコマンドを受領した際に、揮発メモリからヘッドＩＣ、ハードディスクコントローラ、リードチャネル等に対し必要なパラメータを読出して設定し、磁気ディスクの目標トラックにヘッドを位置決めした状態でデータをリード又はライトしている。【００１３】
なお、特許文献１，２は磁気ディスク装置で使用する各種のパラメータを磁気ディスクのシステム領域に格納している点を記載している。
【特許文献１】特開２００１−１９５１９６号公報
【特許文献２】特開２００７−０８７４８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、このような調整済みパラメータを全て不揮発メモリにセーブした磁気ディスク装置にあっては、磁気ディスク装置を制御するファームウェアに求められる機能は機種ごとに増加しているが、ファームウェア及び調整済みパラメータを格納する不揮発メモリについては、コストを抑えるためにメモリ容量の削減が求められており、不揮発メモリに調整済みパラメータを格納している限り、ファームウェアの機能増加に伴って調整済みパラメータのセーブが不揮発メモリを圧迫し、ファームウェアに新たな制御機能を持たせた場合には、不揮発メモリの容量を増加せざるを得ないという問題がある。【００１５】
この問題を解消するためには、調整済みパラメータを全て磁気ディスクのシステム領域に格納することが考えられる。しかし、調整済みパラメータを全て磁気ディスクのシステム領域にセーブすることは、記録密度が高く高性能を求められるサーバ等のエンタープライズ向けの磁気ディスク装置の場合にはできない。【００１６】
また、調整工程の途中であっても必要に応じて調整済みパラメータをセーブする必要がある。例えば、調整工程を途中で中断又は停止するような場合、調整済みパラメータを磁気ディスクのシステム領域にセーブし、再度、調整をし直す手間を回避する。【００１７】
しかし、調整途中での磁気ディスクのシステム領域に対する調整済みデータのセーブは、全てのパラメータの調整が済んでいない段階で一部にデフォルトパラメータを使用したままシステム領域に書き込むセーブ処理となり、ヘッドによっては、書込みエラーが発生してシステム領域に正常に書き込めない恐れもあり、調整中に調整済みパラメータのセーブに失敗し、パラメータ調整に手間と時間がかかる問題がある。【００１８】
本発明は、不揮発メモリにセーブする調整済みパラメータを必要最小限に抑えてパラメータ以外の格納を可能としてファームウェアの機能増加等に適切に対応できる記憶装置、制御方法及び制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
（記憶装置）
本発明は記憶装置を提供する。本発明の記憶装置は、
ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記録再生部と、
パラメータ格納領域を割り当てた不揮発メモリと、
記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整部と、
調整部で得られた調整済みパラメータを、調整中は不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で不揮発メモリに格納している調整済みパラメータの一部を記憶媒体にセーブし、パラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理部と、
不揮発メモリの空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理部と、
を備えたことを特徴とする。【００２０】
パラメータセーブ処理部は、電源投入による装置起動時に記憶媒体のシステム領域からのデータ読み出しに必要な最小限のパラメータを不揮発メモリに残し、それ以外のパラメータを記憶媒体にセーブする。【００２１】
不揮発メモリはパラメータ格納領域に初期状態でリセット状態にあるフラグを設け、パラメータセーブ処理部は、不揮発メモリにセーブしている調整済みパラメータの一部を記憶媒体に書き込んでセーブする際に、フラグをセットする。【００２２】
パラメータセーブ処理部は、調整済みパラメータのセーブコマンドを受領した際に、フラグがリセットされている場合は、調整済みパラメータの全てを不揮発メモリにセーブし、フラグがセットされている場合は、調整済みパラメータの内容に応じて不揮発メモリと記憶媒体に分けてセーブする。【００２３】
更に、電源投入に伴う起動時に、フラグの状態に応じて不揮発メモリ及び記憶媒体から調整済みパラメータを読出して揮発メモリにロードするパラメータロード処理部を設ける。【００２４】
パラメータロード処理部は、電源投入に伴う起動時に、フラグがリセットされている時は、全てのパラメータを不揮発メモリから揮発メモリにロードし、フラグがセットされている時は、不揮発メモリからパラメータの一部を揮発メモリにロードすると共に記憶媒体から残りのパラメータを揮発メモリにロードする。【００２５】
空き領域処理部は、空き領域をファームウェアの格納領域又はログの記録領域に使用する。空き領域処理部は、不揮発メモリに対するファームウェアやログ等のパラメータ以外のセーブコマンドを受領した際に、フラグがセットされている場合にセーブを許容し、フラグがリセットされている場合はセーブを禁止してエラーとする。【００２６】
（記憶装置の制御方法）
本発明は記憶装置の制御方法を提供する。本発明は、
ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記録再生部と、
パラメータ格納領域を割り当てた不揮発メモリと、
を備えた記憶装置の制御方法に於いて、
記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整プロセスと、
調整プロセスで得られた調整済みパラメータを、調整中は不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で不揮発メモリに格納している調整済みパラメータの一部を記憶媒体にセーブし、パラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理プロセスと、
不揮発メモリの空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理プロセスと、
を備えたことを特徴とする。【００２７】
（制御装置）
本発明は制御装置を提供する。本発明は、ヘッドを記憶媒体の任意の位置に位置決めしてデータを記録又は再生する記憶装置の制御を行う制御装置に於いて、
記録再生部の制御に必要な各種のパラメータを調整する調整部と、
調整部で得られた調整済みパラメータの全てを、調整中は不揮発メモリにセーブし、パラメータ調整を終了した時点で調整済みパラメータの一部を記憶媒体にセーブし、パラメータ格納領域に空き領域を形成するパラメータセーブ処理部と、
不揮発メモリの空き領域をパラメータ以外の格納領域に使用する空き領域処理部と、
を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、パラメータ調整工程の終了時に、装置起動時に必要な記憶媒体のシステム領域をリードするための最小限の調整済みパラメータを不揮発メモリにセーブし、それ以外の調整済みパラメータを記憶媒体の記憶領域にセーブするようにしたため、調整中に調整済みパラメータのセーブに使用していた不揮発メモリのパラメータ格納領域の一部を空き領域とし、この空き領域にファームウェアの機能増加に伴うコードの格納やログの格納といったパラメータ以外の格納に使用することができ、例えば、ファームウェアの機能増加に伴う格納領域を不揮発メモリの容量を増加させることなく確保し、不揮発メモリの容量増加によるコストアップを招くことなく、ファームウェアの機能増加に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明による記憶装置の実施形態となる磁気ディスク装置を示したブロック図
【図２】本実施形態による磁気ディスク装置の内部構造を示した説明図
【図３】本実施形態における磁気ディスクの記憶エリアを示した説明図
【図４】本実施形態で揮発メモリに不揮発メモリ及び磁気ディスクからロードされるパラメータテーブルを示した説明図
【図５】図４のパラメータテーブルにおけるリードパラメータ、ライトパラメータ及びサーボパラメータの詳細一覧を示した説明図
【図６】本実施形態の調整中における揮発メモリ、不揮発メモリ及び磁気ディスクの格納状態を示したメモリマップ説明図
【図７】本実施形態による調整終了時に調整済みパラメータの一部を不揮発メモリにセーブする状態を示したメモリマップ説明図
【図８】本実施形態による調整終了時に調整済みパラメータの一部を磁気ディスクのシステム領域にセーブする状態を示したメモリマップ説明図
【図９】本実施形態による不揮発メモリの空き領域に対する復旧コードをセーブを示した説明図
【図１０】本実施形態の調整工程で調整済みパラメータをセーブして装置電源を切った際のメモリマップ説明図
【図１１】図１０の状態から装置電源を投入した際の不揮発メモリからの調整済みパラメータのロード処理を示したメモリマップ説明図
【図１２】図１１に続いて磁気ディスクからの調整済みパラメータのロード処理を示した説明図
【図１３】不揮発メモリのファームウェアのエラーに対し空き領域にセーブした復旧コードを使用したリカバリー処理を示したメモリマップ説明図
【図１４】本実施形態の磁気ディスク装置におけるパラメータ調整処理を示したフローチャート
【図１５】図１４に続くパラメータ調整処理を示したフローチャート
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
図１は製造時の調整工程でパラメータ調整処理が行われる本発明による記憶装置の実施形態となる磁気ディスク装置を示したブロック図である。【００３１】
図１において、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）として知られた磁気ディスク装置１０は、ディスクエンクロージャ１２と制御ボード１４で構成される。ディスクエンクロージャ１２にはスピンドルモータ１６が設けられ、スピンドルモータ１６の回転軸に磁気ディスク（ディスク媒体）２２−１，２２−２を装着し、一定速度例えば１００００ｒｐｍで回転させる。【００３２】
またディスクエンクロージャ１２にはボイスコイルモータ１８が設けられ、ボイスコイルモータ１８はロータリアクチュエータ２０のアーム先端にヘッド２４−１〜２４−４を搭載しており、磁気ディスク２２−１，２２−２の記録面に対するヘッドの位置決めを行う。【００３３】
ヘッド２４−１〜２４−４は記録素子と読出素子が一体化された複合型のヘッドである。記録素子には長手(面内)磁気記録型の記録素子または垂直磁気記録型の記録素子が使用される。垂直磁気記録型の記録素子の場合、磁気ディスク２２−１，２２−２には記録層と軟磁性体裏打層を備えた垂直記録媒体を使用する。読出素子にはＧＭＲ素子やＴＭＲ素子などの磁気抵抗素子を使用する。【００３４】
ヘッド２４−１〜２４−４はヘッドＩＣ２６に対し信号線接続されており、ヘッドＩＣ２６は上位装置となるホストからのライトコマンドまたはリードコマンドに基づくヘッドセレクト信号で１つのヘッドを選択し、書込みまたは読出しを行う。またヘッドＩＣ２６には、ライト系についてはライトドライバが設けられ、リード系についてはプリアンプが設けられている。【００３５】
制御ボード１４にはＭＰＵ２８が設けられ、ＭＰＵ２８のバス３０に対し、制御プログラム及び制御データを備えたファームウェア及びパラメータテーブル５６をロードするＲＡＭを用いた揮発メモリ３２、ファームウェア、パラメータなどを格納するフラッシュＲＡＭなどを用いた不揮発メモリ３４が設けられている。【００３６】
またＭＰＵ２８のバス３０には、スピンドルモータ１６及びボイスコイルモータ１８を制御するモータ駆動制御部３６、ホストインタフェース制御部３８、バッファメモリ４２を制御するバッファメモリ制御部４０、フォーマッタとして機能するハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４４、ライト変調部、リード変調部及びサーボ復調部として機能するリードチャネル（ＲＤＣ）４６が設けられている。【００３７】
更に、制御ボード１４に設けたＭＰＵ２８、揮発メモリ３２、不揮発メモリ３４、ホストインタフェース制御部３８、バッファメモリ制御部４０、ハードディスクコントローラ４４及びリードチャネル４６は、制御回路４８を構成しており、制御回路４８は１つのＬＳＩ回路として実現されている。【００３８】
なお、制御ボード１２の実装面積に応じて、各種制御回路である、ＭＰＵ２８、ホストインタフェース制御部３８、バッファメモリ制御部４０、ハードディスクコントローラ４４及びリードチャネル４６は、個々のＬＳＩ回路に構成することもできるし、例えばＭＰＵ２８、ハードディスクコントローラ４４及びリードチャネル４６のように複数を選択して１つのＬＳＩ回路として構成することもできる。【００３９】
磁気ディスク装置１０の製造工程でディスクエンクロージャ１２及び制御ボード１４を含む装置の組立が完成すると、調整工程に入り、図１のように調整設備ホスト１１に対し組立の済んだ磁気ディスク装置１０を接続して調整処理を行う。【００４０】
調整工程で調整設備ホスト１１は、磁気ディスク装置１０に対し、磁気ディスク装置１０の制御プログラムであるファームウェアと磁気ディスク装置１０の制御に必要なデフォルトパラメータテーブルを、ホストインタフェース制御部３８及びバッファメモリ４２を経由して揮発メモリ３２にダウンロードし、調整ファームウェアの実行によりデフォルトパラメータを磁気ディスク装置１０に最適なパラメータに調整するパラメータ調整処理を実行する。【００４１】
ここで、調整設備ホスト１１からダウンロードされたファームウェアをＭＰＵ２８により実行することで、ＭＰＵ２８に示す記録再生部５０、パラメータ調整部５２、パラメータセーブ処理部５４及びパラメータロード処理部５５の機能が実現される。【００４２】
このうちパラメータ調整用のファームウェアにより実現される機能は、記録再生部５０を除くパラメータ調整部５２、パラメータセーブ処理部５４及びパラメータロード処理部５５の機能であり、パラメータ調整処理が済むと、パラメータ調整用のファームウェアは必要がないことから削除され、削除後は記録再生部５０の機能を実現する本来のファームウェアの機能が残ることになる。【００４３】
記録再生部５０は、ホストからのリードコマンドまたはライトコマンドの受信に伴うコマンドパラメータの解析に基づきヘッドを選択して磁気ディスクの目標トラックに位置決めし、データを記録または再生する。このとき記録再生部５０は、揮発メモリ３２にロードされているパラメータテーブル５６から、記録時はライトパラメータを読み出してハードディスクコントローラ４４、リードチャネル４６、更にはヘッドＩＣ２６に設定し、また再生時にはリードパラメータを読み出してハードディスクコントローラ４４、リードチャネル４６及びヘッドＩＣ２６に設定し、これらのパラメータは調整工程で最適値に調整されており、したがってヘッド及び磁気ディスクのゾーンに応じた最適なパラメータを使用したデータの記録または再生が行われる。【００４４】
パラメータ調整部５２は、記録再生部５０の制御に必要な各種のパラメータを、調整設備ホスト１１からダウンロードされた調整用ファームウェアの実行により調整する。【００４５】
具体的には、調整設備ホスト１１からダウンロードされたデフォルトのパラメータテーブル５６に格納されているデフォルトパラメータのそれぞれにつき、例えば実際に磁気ディスクにテストデータを記録再生しながら最適値が得られるようにパラメータを調整する。【００４６】
パラメータセーブ処理部５４は、パラメータ調整部５２で得られた調整済みパラメータについて、調整中は調整済みパラメータの全てを不揮発メモリ３４にセーブし、パラメータ調整を終了した時点で不揮発メモリ３４にセーブしている調整済みパラメータの一部を、例えば磁気ディスク２２−１におけるヘッド２４−１に対応した記録面のシステム領域にセーブし、不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域の一部を空き領域とする。【００４７】
パラメータロード処理部５５は、磁気ディスクシステム領域に対するパラメータのセーブが済んだ後の不揮発メモリ３４の空き領域を、パラメータ以外の格納領域、例えばファームウェアのコードやログのデータの格納領域に使用する。【００４８】
ここで、パラメータの調整が終了して工場出荷となり、ユーザに磁気ディスク装置１０を引き渡した後のホストからのコマンドに対する通常の動作を説明すると次のようになる。【００４９】
磁気ディスク装置１０はホストからのライトコマンドとライトデータをホストインタフェース制御部３８で受けると、ライトコマンドをＭＰＵ２８で解読し、目標トラックに対応したヘッド番号と磁気ディスクのゾーン番号を認識し、モータ駆動制御部３６によりＶＣＭ１８を駆動し、例えば磁気ディスク２２−１のヘッド２４−１を選択していたとすると、ヘッド２４−１をコマンドで指定された目標トラックにシークし、目標トラックにヘッド２４−１をオントラック制御する。【００５０】
ヘッド２４−１の目標トラックに対するシークが完了すると、ハードディスクコントローラ４４がバッファメモリ４２に格納しているライトデータを所定のデータ形式に変換すると共に、ＥＣＣ符号化処理によりＥＣＣ符号を付加し、リードチャネル４６におけるライト変調系で、スクランブルＲＬＬ符号変換、更にライトコンペセーション（書込補償）を行った後、ライトアンプからヘッドＩＣ２６のライトドライバを介して、選択した例えばヘッド２２−１に設けている記録素子にライト電流を流し、磁気ディスク２２−１にデータを書き込む。【００５１】
一方、ホストからリードコマンドをホストインタフェース制御部３８で受けると、リードコマンドをＭＰＵ２８で解読し、目標トラックのアドレスからヘッド番号とゾーン番号を認識し、モータ駆動制御部３６によりＶＣＭ１８を駆動し、例えば磁気ディスク２２−１のヘッド２４−１を選択していたとすると、ヘッド２４−１をコマンドで指定された目標トラックにシークし、目標トラックにヘッド２４−１をオントラック制御する。【００５２】
オントラック制御中にヘッドＩＣ２６により選択しているヘッド２４−１の読取素子から出力された読出信号は、プリアンプで増幅した後、リードチャネル４６のリード復調系に入力する。【００５３】
リードチャネル４６のリード復調系は、可変利得増幅器でヘッドＩＣ２６のプリアンプを介して得られたヘッド読取信号を自動利得制御により増幅した後、ローパスフィルタを介してＡＤ変換器でデジタルデータにサンプリングし、ＦＩＲフィルタと最尤検出器で構成される自動等化ビタビ検出により、パーシャルレスポンス最尤検出（ＰＲＭＬ）などによりリードデータを復調し、更にＲＬＬ逆符号変換、デスクランブルを経て、ハードディスクコントローラ４４でＥＣＣ復号処理を行ってエラーを訂正した後、バッファメモリ４２にバッファリングし、ホストインタフェース制御部３８からリードデータをホストに転送する。【００５４】
図２は本実施形態における磁気ディスク装置の内部構造の説明図である。図２において、本実施形態の磁気ディスク装置は、ベース５８上にスピンドルモータ１６により一定速度で回転する磁気ディスク２２−１，２２−２を配置している。【００５５】
磁気ディスク２２−１，２２−２に対しては、軸部６０により回転自在に支持されたロータリアクチュエータ２０が配置されている。ロータリアクチュエータ２０はアーム先端にヘッド２４−１を配置し、アームの反対側に設けたコイルを、ベース５８に固定している永久磁石を装着している上下に配置したヨーク６２の間に回動自在に配置し、ボイスコイルモータを構成している。【００５６】
図３は本実施形態における磁気ディスクの記憶領域を示した説明図である。図３において、磁気ディスク２２−１は図示の表側の記録面とその裏側の記録面との２つの記録面を持っている。図示の表側の記録面は、外周側にシステム領域６４を設定し、その内側にユーザ領域６８を設定している。システム領域６４には診断用シリンダ６６が設定されている。【００５７】
システム領域６４には磁気ディスク装置の制御を行うための制御プログラム及び制御データを含むファームウェアが格納されているが、本実施形態にあっては、電源投入時における磁気ディスク装置の立ち上げに必要なファームウェアを図１の不揮発メモリ３４に格納し、残りのファームウェアを図３の磁気ディスク２２−１のシステム領域６４に格納している。【００５８】
更に本実施形態にあっては、製造時の調整工程で処理された調整済みのパラメータについて、調整が終了した段階で不揮発メモリ３４にセーブしている調整済みパラメータにつき、電源投入時のシステム領域６４のリードに必要なリードパラメータについてのみ不揮発メモリ３４に格納し、それ以外の残りの調整済みパラメータはシステム領域６４に格納している。【００５９】
図４は本実施形態で電源投入時に揮発メモリに不揮発メモリ及び磁気ディスクからロードされるパラメータテーブルを示した説明図である。図４において、パラメータテーブル５６はヘッド番号により分けられており、本実施形態にあっては４つのヘッド２４−１〜２４−４を使用していることから、ヘッド番号ＨＨ１〜ＨＨ４に分けられている。【００６０】
ヘッド番号ＨＨ１〜ＨＨ４のそれぞれについては、ゾーン番号としてシステム領域及びゾーンＺ１〜Ｚｎに分けられている。このように、ヘッド番号及びゾーン番号で決まる各領域に対応してパラメータが格納されており、パラメータにはリードパラメータ、ライトパラメータ及びサーボパラメータの３種類がある。【００６１】
図５は図４のパラメータテーブル５６におけるリードパラメータ、ライトパラメータ及びサーボパラメータの詳細一覧を示した説明図である。【００６２】
図５において、リードパラメータ（ＲＰ）の代表的なものとして、リード周波数、ヘッドセンス電流、ＡＧＣゲイン、フィルタカットオフ周波数、フィルタブート値、自動等化フィルタタップ係数（ＦＩＲフィルタタップ係数）、浮上量制御用ヒータＤＡＣ値などがある。これらのリードパラメータについては、右側に示す設定先として、ＨＤＣ（ハードディスクコントローラ）、ヘッドＩＣまたはＲＤＣ（リードチャネル）が示されている。【００６３】
ライトパラメータ（ＷＰ）としては、ライト周波数、ライトプリコンペンセーション（書込補償）、ライト電流、ライト電流オーバーシュート及び浮上量制御用ヒータＤＡＣ値などがある。更に、サーボパラメータ（ＳＰ）としてノッチフィルタカットオフ周波数やノッチフィルタブート値などがある。【００６４】
このような図５に示すリードパラメータ、ライトパラメータ、サーボパラメータのそれぞれにつき、図１で調整設備ホスト１１からファームウェアと共にパラメータテーブル５６をダウンロードした際には、パラメータテーブル５６には設計データや統計データに基づいて予め準備されたデフォルトパラメータが格納されている。しかし、デフォルトパラメータでは必ずしも装置のヘッドや媒体のばらつきに対応できないことから、調整工程による調整処理を行うことになる。【００６５】
この調整処理は、初期値としてデフォルトのライトパラメータ及びリードパラメータを使用してテストデータを所定のテストトラックに書き込んだ後に読み出して、例えばリードチャネル４６の品質モニタ部から得られる信号品質モニタ値であるビタビトレリスマージン（ＶＴＭ）が最大となるようにパラメータを調整し、最適パラメータを調整済みパラメータとして取得する。【００６６】
再び図４を参照するに、調整の済んだパラメータテーブル５６につき、本実施形態にあっては、調整中はパラメータテーブル５６全体を不揮発メモリ３４にセーブしているが、調整が終了すると、不揮発メモリ３４にシステム領域のリードに必要な調整済みパラメータのみを残し、他の調整済みパラメータは図３に示す磁気ディスク２２−１のシステム領域６４にセーブし、システム領域６４にセーブしたパラメータについては不揮発メモリ３４から削除して空き領域を形成する。【００６７】
具体的には、図４におけるパラメータテーブル５６のうち、ヘッド番号ＨＨ１でゾーン番号がシステム領域となるテーブル領域５６−１のリードパラメータＰＲ１０、ライトパラメータＷＰ１０、及びサーボパラメータＳＰ１０が、磁気ディスク２２−１のシステム領域６４のリードに必要なパラメータであることから、テーブル領域５６−１のパラメータを不揮発メモリ３４に残し、それ以外のテーブル領域５６−２のパラメータは図３のシステム領域６４にセーブする。【００６８】
なお、全ヘッドに対応するシステムエリアのパラメータだけ、処理効率を高める為に残しておくこともできる。
(発明者注: 実機では、システムアリアのパラメータは全ヘッド分を不揮発メモリに残してあります。)
次に本実施形態のパラメータ調整処理における揮発メモリ３２、不揮発メモリ３４及び磁気ディスク２２−１に対する格納状態を、メモリマップを使用して詳細に説明すると次のようになる。【００６９】
図６は本実施形態におけるパラメータ調整中の揮発メモリ３２、不揮発メモリ３４及び磁気ディスク２２−１に対するファームウェア及びパラメータの格納状態を示したメモリマップ説明図である。【００７０】
図６の揮発メモリ３２にはパラメータ格納領域７０とファームウェア格納領域７２が割り当てられている。調整工程に先立ち、調整設備ホスト１１からダウンロードされた調整用ファームウェアＦＷ０及びデフォルトのパラメータＰ１，Ｐ２は、バッファメモリ４２を経由して不揮発メモリにロードされた後、不揮発メモリ３４にセーブされている。【００７１】
具体的には、不揮発メモリ３４のブートコード７４にダウンロードコマンドが実装されており、組み上げ後の電源投入による立上げ時にダウンロードコマンドを実行して調整用ファームウェアＦＷ０及びデフォルトのパラメータＰ１，Ｐ２をダウンロードして不揮発メモリ３４にセーブしている。【００７２】
ここで、パラメータＰ１は図４に示した斜線部で示すテーブル領域５６−１のシステム領域のリードに必要な最小限のパラメータである。またパラメータＰ２は図４のテーブル領域５６−２に対応したパラメータである。【００７３】
不揮発メモリ３４は例えばフラッシュＲＯＭであり、不揮発メモリ３４のロードストアは例えば８Ｋバイト単位で行われることになる。不揮発メモリ３４には、その先頭位置に予めブートコード７４が格納されており、電源投入時に不揮発メモリ３４からブートコード７４を読み出して揮発メモリ３２にロードしてＭＰＵ２８により実行することで初期化診断処理を実行する。【００７４】
一方、磁気ディスク２２−１にあっては、そのシステム領域にパラメータ格納領域８０とファームウェア格納領域８２が確保されている。【００７５】
図７は本実施形態によるパラメータ調整中のメモリマップ説明図である。図７において、パラメータ調整中にあっては、揮発メモリ３２のパラメータ格納領域７０に格納しているデフォルトのパラメータＰ１，Ｐ２を対象に、調整用ファームウェアＦＷ０により順次パラメータ調整処理を実行し、調整の済んだパラメータＰ１，Ｐ２について、その全てを不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６に調整済みパラメータＰ１，Ｐ２としてセーブする。【００７６】
揮発メモリ３２の調整済みパラメータＰ１，Ｐ２の不揮発メモリ３４に対するセーブは、例えば図４に示すようなヘッド番号及びゾーン番号で決まるパラメータの調整ごとに自動的にセーブコマンドを生成してセーブするか、あるいは調整設備ホスト１１から必要に応じて発行されたセーブコマンドを受信して不揮発メモリ３４にセーブする。【００７７】
ここで不揮発メモリ３４にセーブする調整済みパラメータＰ１については、その中にフラグ８４を設けている。フラグ８４は図６及び図７の初期状態でＦ＝０とリセット状態になっている。【００７８】
図８は本実施形態による調整終了時に調整済みパラメータの一部を不揮発メモリから磁気ディスクのシステム領域にセーブする状態を示したメモリマップ説明図である。【００７９】
図８において、パラメータ調整処理が終了したならば、揮発メモリ３２のパラメータ格納領域７０に設けている図４のテーブル領域５６−２に対応した調整済みパラメータＰ２を読み出し、磁気ディスク２２−１のシステム領域に設けたパラメータ格納領域８０にセーブする。【００８０】
この調整済みパラメータＰ２の磁気ディスク２２−１に対するセーブを行ったならば、不揮発メモリ３４の調整済みパラメータＰ１の領域に設けているフラグ８４をＦ＝１にセットする。また調整済みパラメータＰ２が磁気ディスク２２−１にセーブされたことで、不揮発メモリ３４にそれまで調整済みパラメータＰ２を格納していた領域は空き領域７７となる。【００８１】
このような調整済みパラメータの磁気ディスク２２−１に対するセーブと同時に、揮発メモリ３２のファームウェア格納領域７２に格納しているファームウェアＦＷ２を磁気ディスク２２−１のファームウェア格納領域８２にセーブする。【００８２】
パラメータ調整処理が終了したならば、調整用ファームウェアＦＷ０に実装されているダウンロードコマンドの実行により、調整設備ホスト１１からファームウェアＦＷ１，ＦＷ２を図１のバッファメモリ４２を経由して不揮発メモリにロードした後、ファームウェアＦＷ１は不揮発メモリ３４のファームウェア格納領域７８にセーブし、ファームウェアＦＷ２は磁気ディスク２２−１のファームウェア格納領域８２にセーブする。【００８３】
このうちファームウェアＦＷ１は、磁気ディスク装置１０の電源投入に伴う起動時に必要なファームウェアであり、一方、ファームウェアＦＷ２は電源投入後にスピンドルモータが起動して磁気ディスクに対するリード及びライトが可能となった後に必要となるファームウェアである。【００８４】
図９は本実施形態による不揮発メモリの空き領域に対する復旧コードのセーブを示した説明図である。【００８５】
本実施形態にあっては、図８のように、調整済みパラメータＰ２を揮発メモリ３２から磁気ディスク２２−１にセーブすることで、不揮発メモリ３４に空き領域７７ができる。空き領域７７については、パラメータ格納領域以外として本実施形態にあっては、例えばファームウェアの機能増加で新たに設けた復旧コードの格納領域に使用する。【００８６】
即ち、揮発メモリ３２にファームウェアの機能増加に伴う復旧コード８６−１をダウンロードし、復旧コード８６−１を不揮発メモリ３４の空き領域に復旧コード８６としてセーブする。【００８７】
また不揮発メモリ３４の空き領域に対する復旧コード８６のセーブに伴い、磁気ディスク２２−１のシステム領域に新たにファームウェア格納領域８８を設け、揮発メモリ３２より不揮発メモリ３４にセーブしたと同じファームウェアＦＷ１をセーブする。【００８８】
本実施形態の磁気ディスク装置にあっては、ユーザのコンピュータのサブシステムにＲＡＩＤを構成するたデバイスとして組み込んで使用しており、必要に応じて新ファームウェアへの更新処理を行う。【００８９】
しかし、フラッシュＲＯＭ等の不揮発メモリ３４に対するファームウェアの更新中にエラーが発生してデータが破壊された場合、次に電源を再投入した際に不揮発メモリ３４の診断エラーが発生し、ファームウェアが起動できず、装置が使用不能となる。【００９０】
不揮発メモリ３４の空き領域にセーブした復旧コード８６は、磁気ディスク装置１０の電源投入時に不揮発メモリ３４からファームウェアＦＷ１を揮発メモリ３２にロードする際の診断処理で診断エラーが発生した際に、実行される。【００９１】
復旧コード８６を実行すると、後の説明で明らかにするように、磁気ディスク２２−１のファームウェア格納領域８８にセーブしているファームウェアＦＷ１が揮発メモリ３２にロードされ、不揮発メモリ３４のエラーをリカバリすることができる。【００９２】
図１０は本実施形態の調整工程で調整済みパラメータをセーブした後に装置電源を切った際のメモリマップ説明図である。図１０の調整工程が完了した段階での電源を切った後のメモリマップにあっては、不揮発メモリ３４にブートコード７８、磁気ディスクシステム領域のリードパラメータのみからなる調整済みパラメータＰ１、空き領域を利用した復旧コード８６及びファームウェアＦＷ１が格納されている。【００９３】
また磁気ディスク２２−１のパラメータ格納領域８０には、不揮発メモリ３４の調整済みパラメータＰ１を除く調整済みパラメータＰ２が格納され、ファームウェア格納領域８２にはファームウェアＦＷ２が格納されている。更に不揮発メモリ３４に格納した復旧コード８６に伴い、ファームウェア格納領域８８にファームウェアＦＷ１をリカバリ用として格納している。【００９４】
図１１は図１０の状態から磁気ディスク装置の装置電源を投入した際の不揮発メモリからの調整済みパラメータのロード処理を示したメモリマップ説明図である。【００９５】
図１１において、パラメータ調整処理が済んだ磁気ディスク装置１０の電源を投入すると、不揮発メモリ３４のブートコード７４の実行により自己診断及び初期化処理が行われた後、パラメータ格納領域７６から調整済みパラメータＰ１を揮発メモリ３２にロードする。また、不揮発メモリ３４のファームウェア格納領域７８のファームウェアＦＷ１を揮発メモリ３２のファームウェア格納領域７２にロードする。【００９６】
続いて、揮発メモリ３２にロードした調整済みパラメータＰ１について、その中に設けているフラグ８４をチェックする。フラグ８４がＦ＝１にセットされている場合には、図１２に示すように、磁気ディスク２２−１のシステム領域のパラメータ格納領域８０にセーブしている調整済みパラメータＰ２を揮発メモリ３２のパラメータ格納領域７０にロードする。このとき同時に、磁気ディスク２２のファームウェア格納領域８２のファームウェアＦＷ２を揮発メモリ３２のファームウェア格納領域７２にロードする。【００９７】
一方、図１１において、揮発メモリ３２にロードした調整済みパラメータＰ１に設けているフラグ８４がＦ＝０とリセット状態にある場合には、これは図７に示したように、調整済みパラメータＰ２が磁気ディスク２２−１のパラメータ格納領域８０にセーブされていない状態にあることから、残りの調整済みパラメータＰ２を不揮発メモリ３４から揮発メモリ３２にロードすることになる。【００９８】
即ち、フラグ８４がＦ＝０とリセット状態にある場合には、全ての調整済みパラメータＰ１、Ｐ２を不揮発メモリ３４から揮発メモリ３２にロードする
図１３は不揮発メモリのファームウェアのエラーに対し、空き領域にセーブした復旧コードの実行によるリカバリ処理を示したメモリマップ説明図である。【００９９】
図１３において、磁気ディスク装置の電源投入に伴いブートコード７４を実行し、続いて調整済みパラメータＰ１が揮発メモリ３２にロードされる。次に、ファームウェア格納領域７８のファームウェアＦＷ１につき自己診断を行ったところ、診断エラーが発生した場合には、復旧コード８６を実行する。【０１００】
復旧コード８６を実行すると、磁気ディスク２２−１のファームウェア格納領域８８にセーブしているファームウェアＦＷ１が揮発メモリ３２にロードされ、不揮発メモリ３４におけるファームウェアＦＷ１のエラーをリカバリすることができる。【０１０１】
続いて、揮発メモリ３２にロードした調整済みパラメータＰ１のフラグ８４−１をチェックし、Ｆ＝１とセット状態にあることから、図１２に示したと同様、磁気ディスク２２−１から調整済みパラメータＰ２とファームウェアＦＷ２を揮発メモリ３２にロードすることになる。【０１０２】
一方、図１の調整設備ホスト１１に磁気ディスク装置１０を接続した調整工程にあっては、パラメータ調整中であっても必要に応じて調整設備ホスト１１から調整済みパラメータのセーブコマンドを受信する場合がある。【０１０３】
このようなパラメータ調整中におけるセーブコマンドの受信に対しては、不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６に設けているフラグ８４をチェックし、フラグ８４のセット状態及びリセット状態に応じた調整済みパラメータのセーブを行う。【０１０４】
例えば図７に示したように、不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６に設けているフラグ８４がＦ＝０とリセット状態にある場合には、調整済みパラメータのセーブコマンドに対し調整済みパラメータのすべてを不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６にセーブする。【０１０５】
一方、図８のように、不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６に設けているフラグ８４がＦ＝１とセット状態にある場合には、調整済みパラメータのセーブコマンドに対し、図４に示したように、パラメータテーブル５６におけるテーブル領域５６−１の調整済みパラメータＰ１については不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６にセーブし、一方、図４のパラメータテーブル５６におけるテーブル領域５６−２の調整済みパラメータＰ２については磁気ディスク２２−１のシステム領域のパラメータ格納領域８０にセーブする。【０１０６】
更に図９に示したように、不揮発メモリ３４の空き領域にパラメータ以外のデータ、例えばファームウェアの機能増加に伴う復旧コード８６をセーブする際にも、パラメータ格納領域７６に設けているフラグ８４をチェックし、フラグ８４がＦ＝１とセット状態の場合には、パラメータ格納領域７６に空き領域が形成されていると判断し、復旧コード８６をセーブする。【０１０７】
これに対しフラグ８４がＦ＝０とリセット状態にある場合には、パラメータ格納領域７６は調整パラメータの格納にすべて使用されており、空き領域がないことから、復旧コードのセーブコマンドをエラー終了させる。【０１０８】
これによって、不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６に全ての調整済みパラメータが格納されている状態で誤ってパラメータ以外の復旧コードなどの他の情報を書き込んで調整済みパラメータを喪失してしまうことを確実に防止できる。【０１０９】
図１４及び図１５は本実施形態の磁気ディスク装置におけるパラメータ調整処理を示したフローチャートであり、図１を参照して説明すると次のようになる。【０１１０】
図１４において、本実施形態のパラメータ調整処理は、まずステップＳ１で調整設備ホスト１１から調整用ファームウェアとデフォルトのパラメータを揮発メモリ３２にダウンロードし、更に、不揮発メモリ３４にセーブする。続いてステップＳ２でダウンロードした調整ファームウェアを起動し、ステップＳ３でパラメータ調整処理を実行する。【０１１１】
続いてステップＳ４でパラメータ調整終了の有無をチェックしており、パラメータ調整を終了するとステップＳ５に進み、図７に示したように、フラグ８４をＦ＝０にリセットした状態で調整済みパラメータの全てを不揮発メモリ３４にセーブする。【０１１２】
続いてステップＳ６で磁気ディスクのリード又はライトが可能か否かチェックし、可能であれば、ステップＳ７で不揮発メモリ３４にセーブしているシステム領域のリードに最小限必要なパラメータＰ１以外の調整済みパラメータＰ２を磁気ディスクのシステム領域に書き込んでセーブする。続いてステップＳ８で不揮発メモリ３４のフラグ８４をＦ＝１にセットする。【０１１３】
続いてステップＳ９で調整設備ホスト１１から調整パラメータのセーブコマンドを受領したか否かチェックする。このセーブコマンドの受領チェックは、ステップＳ４でパラメータ調整が未終了の場合にもチェックされる。【０１１４】
調整パラメータのセーブコマンドの受領を判別すると、ステップＳ１０に進み、このとき不揮発メモリ３４のフラグ８４がセットか否かチェックする。フラグ８４がＦ＝１にセットされていれば、ステップＳ１１でシステム領域受領の調整済みパラメータＰ１については不揮発メモリ３４にセーブし、ステップＳ１２でそれ以外の調整済みパラメータＰ２については磁気ディスク２２−１のシステム領域にセーブする。【０１１５】
一方、ステップＳ１０でフラグ８４がＦ＝０とリセットであった場合には、ステップＳ１３に進み、調整済みパラメータはすべて不揮発メモリ３４にセーブする。【０１１６】
続いて図１５のステップＳ１４に進み、調整パラメータ以外のセーブコマンドの受領の有無をチェックし、調整パラメータ以外のセーブコマンド例えばファームウェアの機能増加に伴う復旧コードのセーブコマンドを受領した場合には、ステップＳ１５に進み、不揮発メモリ３４のフラグ８４がセットか否かチェックする。【０１１７】
フラグ８４がＦ＝１とセット状態にあればステップＳ１６に進み、図９に示したように不揮発メモリ３４のパラメータ格納領域７６における空き領域に、例えば復旧コード８６をセーブする。【０１１８】
一方、ステップＳ１５でフラグ８４がＦ＝０とリセット状態の場合には、ステップＳ１７に進み、ステップＳ１４で受信したセーブコマンドに対しエラー終了を返すエラー処理を行う。このようなステップＳ３〜Ｓ１７の処理を、ログオフなどによる停止指示があるまで繰り返す。【０１１９】
ここで、ステップＳ１８で停止指示があった場合には、ステップＳ１でダウンロードしたファームウェアのうち調整用ファームウェアについては、調整工程が終了した後は必要ないことから、削除する。【０１２０】
もちろん調整用ファームウェアをそのまま残し、磁気ディスク装置の出荷後もセーブしておくことで、ユーザの使用中必要に応じてパラメータの再調整を行えるようにしてもよい。【０１２１】
また本発明は磁気ディスク装置１０の調整工程で使用するパラメータ調整プログラムを提供するものであり、このプログラムは図１４及び図１５のフローチャートに示した内容となる。【０１２２】
なお、上記の実施形態で図４に示したパラメータテーブル５６に格納しているパラメータについては、例えば図５のパラメータ一覧に示す内容を持っているが、これらのパラメータのすべてが調整対象とするものではないが、パラメータテーブル５６のパラメータにはデフォルトパラメータのまま使用するパラメータと、実際に磁気ディスク装置自体で調整を必要とするパラメータの２種類があり、両者を含めて調整済みパラメータと表現している。【０１２３】
例えば磁気ディスク装置について固定的なパラメータとしては、リード変調部に対するデコード方式を設定するパラメータ、ライト変調部に対しエンコード方式を設定するパラメータなどがある。【０１２４】
また、本発明は、磁気ディスク装置や光ディスク装置などの記憶媒体(駆動)装置に応用可能である。【０１２５】
また本発明は、その目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【国際調査報告】
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