【手続補正書】
【提出日】平成17年8月30日(2005.8.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  所定の最大入出力周波数を有する複数の集積回路入出力ピンと、前記入出力ピンと電気的に導通し、所定の最大ラッチ周波数を有する複数のスキャンチェーンとを備えるとともに、利用可能な数の前記複数の集積回路入力／出力ピンを介して集積回路試験装置へ接続される集積回路を試験のために設定する方法であって、
（ａ）前記ラッチ周波数が前記所定の最大入出力周波数未満で、前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンが提示されたスキャンアーキテクチャに要求されるピン数未満であるときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｂ）前記ラッチ周波数が前記所定の最大入出力周波数を越え、前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンが提示されたスキャンアーキテクチャに要求されるピン数を越えるときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｃ）前記集積回路試験装置の試験周波数が前記所定の最大入出力周波数よりも低く、集積回路試験装置のピン数が前記利用可能な前記複数の集積回路の入出力ピン数未満であって、前記集積回路試験装置の試験周波数が前記所定の最大ラッチ周波数以下であるときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｄ）前記集積回路試験装置の周波数が前記所定の最大入出力周波数よりも低く、集積回路試験装置のピン数が前記利用可能な前記複数の集積回路の入出力ピン数未満であって、前記集積回路試験装置の周波数が前記所定の最大ラッチ周波数のある倍数以上であるときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｅ）前記集積回路試験装置の周波数が前記所定の最大入出力周波数よりも高く、集積回路試験装置のピン数が前記利用可能な前記複数の集積回路の入出力ピン数未満であって、前記所定の最大入出力周波数が集積回路試験装置の試験周波数と前記所定の最大ラッチ周波数よりも低いときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｆ）前記集積回路試験装置の試験周波数が前記所定の最大入出力周波数よりも高く、集積回路試験装置のピン数が前記利用可能な前記複数の集積回路の入出力ピン数未満であって、前記所定の最大入出力周波数と前記集積回路試験装置の試験周波数の両方が前記所定の最大ラッチ周波数のある倍数よりも高いときに集積回路試験時間を最小化するステップと、
（ｇ）前記集積回路試験装置の試験周波数が前記所定の最大入出力周波数および前記所定の最大ラッチ周波数よりも低く、集積回路試験装置のピン数が前記提示スキャンアーキテクチャに要求される前記ピン数を越えるときに、集積回路試験時間を最小化するステップと
の上記（ａ）乃至（ｇ）のステップのうちの少なくともいずれか一つを実行するものである方法。
【請求項２】  前記最小化ステップ（ａ）が、
少なくとも一つの高速チャンネルを用い、前記集積回路試験装置から前記集積回路へ試験データを搬送するステップと、
前記少なくとも一つの高速チャンネルを前記集積回路上で複数の低速チャンネルへ多重解除するステップと、
前記多重解除した試験データを前記複数の低速チャンネルを介して前記複数のスキャンチェーンへ供給するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項３】  第２の複数の低速チャンネルを介して前記複数のスキャンチェーンのそれぞれの出力端で応答を収集するステップと、
前記応答を前記集積回路試験装置へ送信するステップと
をさらに含む請求項２に記載の方法。
【請求項４】  前記最小化ステップ（ｂ）が、
複数の低速チャンネルを用いて前記集積回路試験装置から前記集積回路へ試験データを供給するステップと、
前記複数の低速チャンネル上の前記試験データを少なくとも一つの高速チャンネルへ多重化するステップと、
前記少なくとも一つの高速チャンネルを介して前記多重化試験データを前記複数のスキャンチェーンの少なくとも一つへ供給するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項５】  少なくとも一つの高速チャンネルを介して前記複数のスキャンチェーンの前記少なくとも一つの出力端で前記試験応答を収集するステップと、
前記少なくとも一つの高速チャンネル上で前記試験応答を第２の複数の低速チャンネルへ多重解除するステップと、
前記試験応答を前記集積回路試験装置へ供給するステップと
をさらに含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】  前記最小化ステップ（ｃ）が、
複数の低速チャンネルを用いて試験データを前記集積回路試験装置から前記集積回路へ送信するステップと、
試験データを第１組の前記複数のスキャンチェーンへ送信するステップと
を含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項７】  前記第１組の前記複数のスキャンチェーンから少なくとも一つのマルチプレクサへ第１の応答を送信するステップと、
前記少なくとも一つのマルチプレクサから前記第２組の前記複数のスキャンチェーンへ第１の応答を送信するステップと、
第２の複数の低速チャンネルを介して前記第２組の前記複数のスキャンチェーンのそれぞれの出力端で第２の応答を収集するステップと、
集積回路試験装置へ第２の応答を送信するステップと
をさらに含む請求項６に記載の方法。
【請求項８】  前記最小化ステップ（ｄ）が、
複数の高速チャンネル上の試験データを前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンを介して前記集積回路試験装置から前記集積回路へ送信するステップと、
試験データを複数の低速チャンネルへ多重解除するステップと、
前記複数の低速チャンネルを介して前記少なくとも一つのデマルチプレクサから前記複数のスキャンチェーンへ前記多重解除された試験データを送信するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項９】  第２の複数の低速チャンネルを介して前記複数のスキャンチェーンそれぞれの出力端で応答を収集するステップと、
少なくとも一つのマルチプレクサにより前記応答を第２組の高速チャンネルへ多重化するステップと、
前記応答を前記集積回路試験装置へ送信するステップと
をさらに含む請求項８に記載の方法。
【請求項１０】  前記最小化ステップ（ｅ）が、
複数の高速チャンネルを用いて前記集積回路試験装置から複数のデマルチプレクサへ試験データを供給するステップと、
前記多重解除された試験データを前記複数のデマルチプレクサから前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンへ送信するステップと、
前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンから前記複数のスキャンチェーンへ試験データを送信するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】  前記複数のスキャンチェーンそれぞれの出力端で試験応答データをラッチするステップと、
試験応答データを複数のマルチプレクサへ供給するステップと、
前記試験応答データを多重化するステップと、
前記多重化試験応答データ応答を前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンのうちの少なくとも２つへ送信するステップと、
前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンのうちの少なくとも２つからの前記多重化試験応答データを単一のデータチャンネルへ多重化し、該単一のデータチャンネルを前記集積回路試験装置へ送信するステップと
をさらに含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】  前記最小化ステップ（ｆ）が、
前記集積回路試験装置から前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンのうちの少なくとも１つへ試験データを供給するステップと、
前記試験データを操作し、前記試験データを多重解除し前記複数のスキャンチェーンで利用可能とするステップと、
前記多重解除された試験データを前記複数のスキャンチェーンへ供給するステップと、
前記複数のスキャンチェーンから試験結果データを読み出すステップと、
前記試験結果データを操作し、前記試験結果データを多重化し、前記利用可能な数の前記複数の集積回路入出力ピンのうちの１つだけに利用可能とするステップと、
前記多重化した試験結果データを前記集積回路試験装置へ供給するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】  前記最小化ステップ（ｇ）が、
複数の低速チャンネルを用い、前記集積回路試験装置と前記集積回路との間の複数の信号路上で試験データを複数のマルチプレクサへ供給するステップと、
前記複数の低速チャンネルを複数の高速チャンネルへ多重化するステップと、
前記複数の高速チャンネルを介して前記複数のマルチプレクサから前記複数のスキャンチェーンへ試験データを送信するステップと
をさらに含むものである、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】  第２の複数の高速チャンネルを介して前記複数のスキャンチェーンそれぞれの出力端で応答を収集するステップと、
前記集積回路試験装置と前記集積回路との間の前記複数の信号路上で前記応答を複数のデマルチプレクサへ送信するステップと、
前記第２の複数の高速チャンネルを第２の複数の低速チャンネルへ多重解除するステップと、
前記第２の複数の低速チャンネルを介して前記複数のデマルチプレクサから前記集積回路試験装置へ前記各応答を送信するステップと
をさらに含む請求項１に記載の方法。
【請求項１５】  前記複数の集積回路入出力ピンは、スキャンチェーン入出力ピンとして利用可能な集積回路ピンである、
請求項１に記載の方法。