【手続補正書】
【提出日】平成16年4月26日(2004.4.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、前記信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類する第１のテストパターン選択部と、
前記論理回路に生じうる故障モデルを前記選択パターン及び前記非選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションする故障シミュレーション部と、
前記選択パターンで検出不可能である第１の未検出故障モデルに前記論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとする重み付け部と、
前記第１の重み付き未検出故障モデルの集合から第２の未検出故障モデルを抽出する故障抽出部と、
前記重みを基準に、前記非選択テストパターンから、複数の前記第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出する第２のテストパターン選択部
とを有することを特徴とするテストパターン選択装置。
【請求項２】
前記第２のテストパターン選択部は、
前記非選択テストパターンの集合から、検出可能な前記第２の未検出故障モデルに付された前記重みの総和及びパターン長を反映した評価値が第１の評価基準以上の候補テストパターンを分割する候補テストパターン選択部と、
前記候補テストパターンの集合から、前記評価値が第２の評価基準以下の候補テストパターンを処理対象から除外し、前記候補テストパターンの集合から、前記評価値が最大である追加選択テストパターンを抽出し、前記追加選択テストパターンが検出可能な前記第２の未検出故障モデルを処理対象から除外し、前記候補テストパターンの前記評価値を再計算する追加選択テストパターン選択部
とを有することを特徴とする請求項１記載のテストパターン選択装置。
【請求項３】
半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、前記信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類し、
前記論理回路に生じうる故障モデルを前記選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションし、
前記選択テストパターンが検出不可能である第１の未検出故障モデルに前記論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとし、
前記第１の重み付き未検出故障モデルの集合から抽出条件のもと第２の未検出故障モデルを抽出し、
前記第２の未検出故障モデルを前記非選択テストパターンが検出可能か否かシミュレーションし、
前記重みを基準に、前記非選択テストパターンの集合から、複数の前記第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出する
ことを特徴とするテストパターン選択方法。
【請求項４】
前記追加選択パターンを抽出することには、
前記非選択テストパターンの集合から、検出可能な前記第２の未検出故障モデルに付された前記重みの総和及びパターン長を反映した評価値が第１の評価基準以上の候補テストパターンを分割し、
前記候補テストパターンの集合から、前記評価値が第２の評価基準以下の候補テストパターンを処理対象から除外し、
前記候補テストパターンの集合から、前記評価値が最大である追加選択テストパターンを抽出し、
前記追加選択テストパターンが検出可能な前記第２の未検出故障モデルを処理対象から除外し、前記候補テストパターンの前記評価値を再計算する
ことが含まれることを特徴とする請求項３記載のテストパターン選択方法。
【請求項５】
コンピュータシステムに、
半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、前記信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類する段階と、
前記論理回路に生じうる故障モデルを前記選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションする段階と、
前記選択テストパターンが検出不可能である第１の未検出故障モデルに前記論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとする段階と、
前記第１の重み付き未検出故障モデルの集合から抽出条件のもと第２の未検出故障モデルを抽出する段階と、
前記第２の未検出故障モデルを前記非選択テストパターンが検出可能か否かシミュレーションする段階と、
前記重みを基準に、前記非選択テストパターンの集合から、複数の前記第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出する段階
とを実行させることを特徴とするテストパターン選択プログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、本発明の第１の特徴は、半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類する第１のテストパターン選択部と、論理回路に生じうる故障モデルを選択パターン及び非選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションする故障シミュレーション部と、選択パターンで検出不可能である第１の未検出故障モデルに論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとする重み付け部と、第１の重み付き未検出故障モデルの集合から第２の未検出故障モデルを抽出する故障抽出部と、重みを基準に、非選択テストパターンから、複数の第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出する第２のテストパターン選択部とを有するテストパターン選択装置であることを要旨とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明の第２の特徴は、半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類し、論理回路に生じうる故障モデルを選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションし、選択テストパターンが検出不可能である第１の未検出故障モデルに論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとし、第１の重み付き未検出故障モデルの集合から抽出条件のもと第２の未検出故障モデルを抽出し、第２の未検出故障モデルを非選択テストパターンが検出可能か否かシミュレーションし、重みを基準に、非選択テストパターンの集合から、複数の第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出するテストパターン選択方法であることを要旨とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
本発明の第３の特徴は、コンピュータシステムに、半導体集積回路の論理回路の複数の検証パターンのそれぞれを、信頼性基準を満たす選択テストパターンと、信頼性基準を満たさない非選択テストパターンとに分類する段階と、論理回路に生じうる故障モデルを選択テストパターンが検出可能か否かをシミュレーションする段階と、選択テストパターンが検出不可能である第１の未検出故障モデルに論理回路のレイアウト要素を反映する重みを付し、第１の重み付き未検出故障モデルとする段階と、第１の重み付き未検出故障モデルの集合から抽出条件のもと第２の未検出故障モデルを抽出する段階と、第２の未検出故障モデルを非選択テストパターンが検出可能か否かシミュレーションする段階と、重みを基準に、非選択テストパターンの集合から、複数の第２の未検出故障モデルのそれぞれを相補的に検出可能な複数の追加選択テストパターンを抽出する段階とを実行させるテストパターン選択プログラムであることを要旨とする。