【手続補正書】
【提出日】平成17年2月1日(2005.2.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体（Ａ）に付随した光学的コード（Ｋ）を読み取るステップと、前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出するステップとを備えた、物体（Ａ）に関する情報を得るための光学的方法において、
前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出するステップが、距離を測定することが可能な少なくとも１つのレーザーユニット（１００，１０１，２００，２０１，４００，５００，５０１，６００，６０１）から照射される少なくとも１つのレーザー光線により物体（Ａ）を少なくとも一度走査するサブステップを備えたことを特徴とする光学的方法。
【請求項２】
請求項１において、前記少なくとも１つのレーザーユニットが少なくとも１つの変調光レーザー放射器を備えている方法。
【請求項３】
請求項１または２において、光学的コード（Ｋ）を読み取るステップが前記少なくとも１つのレーザーユニットにより行われる方法。
【請求項４】
請求項１または２において、光学的コード（Ｋ）を読み取るステップがＣＣＤリーダにより行なわれる方法。
【請求項５】
請求項４において、さらに、ＣＣＤリーダが前記光学的コードを読み取ることができるように、前記物体（Ａ）を照らすステップを備えた方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一項において、前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出するステップが、
前記物体（Ａ）を支持面に置き、
前記支持面上方に位置するレーザーユニットからのレーザー光線により、前記物体（Ａ）に交差する少なくとも１つの走査面を決定し、
前記物体（Ａ）に対して少なくとも一度の走査を行い、
前記物体（Ａ）の面に含まれるｎ個からなる複数の測定点の前記支持面からの高さを、そのような測定点までの距離を測定することが可能なレーザー光線により測定する、
各サブステップを備えた方法。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一項において、前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出するステップが、前記物体（Ａ）の体積を測定するステップである方法。
【請求項８】
請求項７において、測定体積値は、
ａ）前記物体（Ａ）を支持面に置き、
ｂ）前記支持面上の前記物体（Ａ）の送り方向を決定し、
ｃ）前記送り方向を横切る走査ベースラインに沿って支持面に交差する走査面を決定するとともに、前記支持面上方に位置するレーザーユニットからのレーザー光線を前記走査面内で作用するように配置し、
ｄ）前記送り方向に沿って前記支持面上を前記走査面が前記物体に交差するまで前記物体を前記走査面に相対的に移動させ、
ｅ）前記物体の頂面と前記走査面に含まれるｎ個の測定点の前記支持面からの高さを求め、
ｆ）２つの連続する測定点の測定された高さの関数として、規定高さを決定し、
ｇ）ｎ個の測定点の前記支持面上の平面位置を取得し、
ｈ）隣り合う一対の測定点を前記支持面上における平面位置の関数として、規定底辺を決定し、
ｉ）隣り合う一対の測定点に対し、前記支持面に垂直な規定面積要素を規定底辺に規定高さを乗じることにより計算し、
ｊ）計算された前記規定面積要素の組み合わされた合計として、規定面積を計算し、
ｋ）前記物体を前記支持面上で送り方向に沿って所定の送り距離だけ前記走査面に相対的に動かし、
ｌ）送り距離の関数として規定厚みを決定し、
ｍ）前記規定面積に前記規定厚みを乗じることにより体積要素を計算し、
ｎ）ｅ）からｍ）のステップを物体全体が走査されるまで反復し、
ｏ）すべての体積要素を組み合わせた合計として、物体の体積を計算する、
各ステップにより得られる方法。
【請求項９】
請求項７において、測定体積値は、
前記物体を支持面に置き、
前記支持面上の前記物体の送り方向を決定し、
前記送り方向を横切る走査ベースラインに沿って支持面に交差する走査面を決定するとともに、前記支持面上方に位置するレーザーユニットからのレーザー光線を前記走査面内で作用するように配置し、
前記送り方向に沿った長手方向軸（Ｙ）と、この長手方向軸（Ｙ）に直交する横軸（Ｘ）と、前記支持面に直交する垂直軸（Ｚ）とを有するデカルト（Cartesian）基準座標系を決定し、
前記送り方向に沿って前記支持面上を前記走査面が前記物体に交差するまで前記物体を前記走査面に相対的に移動させ、
前記レーザーユニットにより前記走査面内で前記物体上を掃引する形で走査し、
前記走査面内でレーザー光線により掃引された物体のｎ個の測定点の各座標値（ｘ、ｙ、ｚ）を読み取って記憶し、
前記物体を前記走査面に相対的に所定の長手方向の解像度（Ｌ）に等しい前記送り方向における送り距離を移動させ、
前記物体全体が走査されるまで、上記の、走査するステップ、読み取って記憶するステップおよび移動させるステップの３つのステップを反復し、
所定の横方向の解像度（Ｔ）に等しい値により分割される横方向座標についての標準値（ｘ”）のセットを定め、
各走査掃引毎に、等価点をあらわす等価座標値（ｘ”、ｙ”、ｚ”）のセットを作成し、（ここで、等価座標とは、横方向の座標値（ｘ”）が上記標準セットの値に等しく、長手方向の座標（ｙ”）、および垂直方向の座標（ｚ”）の値は、それぞれ読み取られた長手方向および垂直方向の座標（ｙ、ｚ）の読み取られた値の関数である。）
前記支持面（ｘ、ｙ）と前記等価座標値（ｘ”、ｙ”、ｚ”）を持つ点により決定される表面との間に含まれる体積を計算する、
各ステップにより得られる方法。
【請求項１０】
請求項７において、測定体積値は、
前記物体を支持面に置き、
前記支持面上の前記物体の送り方向を決定し、
前記送り方向を横切る走査ベースラインに沿って前記支持面に交差する走査面を決定するとともに、前記支持面上方に位置するレーザーユニットからの少なくとも１つのレーザー光線を前記走査面内で作用するように配置し、
前記送り方向を横切る読み取りベースラインに沿って前記支持面に交差する読み取り平面を決定し、光ビームが読み取り平面内で動作し、その光ビームが前記支持面上方のＣＣＤリーダにより拾われ、
前記支持面上を前記送り方向に沿って前記走査平面および前記読み取り平面に相対的に前記物体がこれらの平面を横切るように前記物体を移動させ、
レーザー光線により前記走査面内の物体を横切る一連の走査掃引を行い、これにより、各掃引時にレーザー光線により規定物体の輪郭を決定するｎ個の測定点の位置が読み取られ、
ＣＣＤリーダにより物体の該当の一連の読み取りを行うことにより、各読み取り毎に前記ＣＣＤリーダにより位置を定めされた前記物体の輪郭の最大幅を読み取り、この各読み取りは走査掃引が行われた前記物体上の同一位置で読み取りを行うことを可能にするのに必要な時間周期だけ該当のレーザー走査掃引に関して時間をずらされ、
前記物体の規定輪郭セットを決定する為に各走査掃引からの情報ならびに該当の読み取りからの情報を処理し、
各規定輪郭の面積を計算し、
２つの連続する走査掃引又は２つの連続する読み取りの間に物体の移動した送り距離を計算し、
各規定輪郭に対して、規定輪郭の面積と送り距離の積としての体積要素を計算し、
上記の体積要素の組み合わせ合計としての物体の体積を計算する、
各ステップにより得られる方法。
【請求項１１】
物体（Ａ）に付随した光学的コード（Ｋ）を読み取る読み取り手段と、前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出する検出手段とを備えた、物体（Ａ）に関する情報を得るための光学装置において、
前記物体（Ａ）の輪郭および／または体積を検出する検出手段が、距離を測定することが可能な少なくとも１つのレーザーユニット（１００，１０１，２００，２０１，４００，５００，５０１，６００，６０１）を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項１２】
請求項１１において、前記少なくとも１つのレーザーユニットが少なくとも１つの変調光レーザー放射器を備えた光学装置。
【請求項１３】
請求項１１または１２において、少なくとも２つのレーザー光線放射器を備えた光学装置。
【請求項１４】
請求項１１から１３のいずれか一項において、前記少なくとも１つのレーザーユニットが読み取り手段および検出手段の両方の一部を形成する光学装置。
【請求項１５】
請求項１１から１４のいずれか一項において、前記検出手段が前記物体の体積を測定する手段である装置。
【請求項１６】
請求項１１から１５のいずれか一項において、
レーザー光線放射器、およびそのレーザー光線放射器を制御し、照準を定める手段を含む少なくとも１つのレーザーユニットと、
前記レーザーユニットからの信号を受信する少なくとも１つのアナログ信号処理ユニットと、
レーザーにより照射される点の距離に関する信号を前記アナログ処理ユニットから受信するＡ／Ｄ変換器と、
光学的コードに関する信号を前記アナログ処理ユニットから受信するデコーダユニットと、
前記Ａ／Ｄ変換器および前記デコーダユニットからの信号を受信する処理／記憶ユニットと、
を備えた光学装置。
【請求項１７】
請求項１６において、
前記光学的コード読み取り手段および前記体積測定手段が前記レーザーユニット、前記処理ユニットおよび前記処理／記憶ユニットを共有し、
前記光学的コード読み取り手段が更に前記デコーダユニットを含み、
前記体積測定手段が更に前記Ａ／Ｄ変換器を含む光学装置。
【請求項１８】
請求項１６において、
前記光学的コード読み取り手段および前記体積測定手段が前記処理／記憶ユニットを共有し、
前記光学的コード読み取り手段が更に第１レーザーユニット、第１処理ユニットおよび前記デコーダユニットを含み、
前記体積測定手段が更に第２レーザーユニット、第２処理ユニットおよび前記Ａ／Ｄ変換器を含む光学装置。
【請求項１９】
請求項１８において、
前記処理／記憶ユニット、前記第１レーザーユニット、前記第１処理ユニット、前記デコーダユニット、および前記Ａ／Ｄ変換器が走査／処理ユニットに収められ、
前記第２レーザーユニットおよび前記第２処理ユニットが走査ユニットに収められた光学装置。
【請求項２０】
請求項１８において、
前記処理／記憶ユニット、前記第２レーザーユニット、前記第２処理ユニット、前記デコーダユニット、および前記Ａ／Ｄ変換器が走査／処理ユニットに収められ、
前記第１レーザーユニットおよび前記第１処理ユニットが走査ユニットに収められた光学装置。
【請求項２１】
請求項１８において、
前記処理／記憶ユニット、前記デコーダユニット、および前記Ａ／Ｄ変換器が処理ユニットに収められ、
前記第１レーザーユニットおよび前記第１処理ユニットが第１走査ユニットに収められ、
前記第２レーザーユニットおよび前記第２処理ユニットが第２走査ユニットに収められた光学装置。
【請求項２２】
請求項１１から２１のいずれか一項において、輪郭および／または体積を検出する前記検出手段がさらにＣＣＤリーダを備えた光学装置。
【請求項２３】
請求項１１から１３のいずれか一項において、前記読み取り手段がＣＣＤリーダを備えた光学装置。
【請求項２４】
請求項２３において、さらに、前記ＣＣＤリーダが前記光学的コードを読み取ることができるように、前記物体を照らす手段を備えた光学装置。
【請求項２５】
請求項１１から１７、２３および２４のいずれか一項において、前記読み取り手段および前記検出手段が共通の走査／処理ユニットに収められた光学装置。
【請求項２６】
請求項２５において、前記光学的コード読み取り手段および前記体積測定手段が前記レーザーユニット、前記処理ユニットおよび前記処理／記憶ユニットを共有し、前記光学的コード読み取り手段が更に前記デコーダユニットを含み、前記体積測定手段が更に前記Ａ／Ｄ変換器を含む場合、
前記レーザーユニットは２つのレーザー放射器および１つの可動ミラー反射器を備え、前記反射器は前記２つのレーザー放射器に対して互いに一定の角度を為す２つの個別の鏡面セットを有する光学装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明の第１の構成は、物体に付随した光学的コードを読み取るステップと、前記物体の輪郭および／または体積を検出するステップとを備えた、物体に関する情報を得るための光学的方法において、
前記物体の輪郭および／または体積を検出するステップが、距離を測定することが可能な少なくとも１つのレーザーユニットから照射される少なくとも１つのレーザー光線により物体を少なくとも一度走査するサブステップを備えたことを特徴とする光学的方法に関するものである。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
本発明の第２の構成は、物体に関する情報を得る為の光学装置に関するものであり、この装置は物体に付随した光学的コードを読み取る手段と、物体の輪郭および／または体積を検出する検出手段とを含むことをその特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
この装置は、上記に概要を示されたプロセスを実施することが出来る。
適切な例では、前記検出手段が、距離を測定することが可能な少なくとも１つのレーザーユニットを含み、好ましくは、レーザーユニットは、光線の照射された点の範囲又は距離測定に用いられる変調光レーザー放射器である。さらに、好ましくは、前記検出手段は物体の体積を測定するための手段である。