(57)【要約】  眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正を三次元で実施できる眼鏡枠形状測定装置の校正治具を提供すること。  眼鏡枠等の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するために用いられる校正治具３０であって、眼鏡枠形状測定装置の測定子がトレースするトレース溝が、眼鏡枠のリム２Ａ、２Ｂの内周に形成されて眼鏡レンズのヤゲンを嵌合するための枠溝２０であり、前記リムが、当該リムよりも剛性の高い枠体３１に固定されて構成され、前記枠溝が半径方向の変位ｒ、回転方向の変位θ及び高さ方向の変位ｚを有して構成されたものである。
2008105096.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するために用いられる校正治具であって、
前記測定子がトレースするトレース溝を有し、このトレース溝が、半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成されたことを特徴とする眼鏡枠形状測定装置の校正治具。
【請求項２】
前記トレース溝は、一枚の板状体に設けられた孔の内周面に形成されたことを特徴とする請求項１に記載の眼鏡枠形状測定装置の校正治具。
【請求項３】
前記トレース溝は、リムの内周に形成されて、前記リムが、当該リムよりも剛性の高い枠体に固定されて構成されたことを特徴とする請求項１に記載の眼鏡枠形状測定装置の校正治具。
【請求項４】
前記枠体は、一対のリムに対応して設けられた開口を備える平面部と、この平面部の両側に立設する立設部とを有し、前記平面部の前記開口を臨む縁部に前記リムの上部及び下部が固着され、前記立設部に前記リムの智部分が固着されたことを特徴とする請求項３に記載の眼鏡枠形状測定装置の校正治具。
【請求項５】
前記トレース溝は、前記測定子の先端部における略反対側の両部分が接触することで当該先端部を規制する規制面を有することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の眼鏡枠形状測定装置の校正治具。
【請求項６】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を、校正治具を用いて校正するための校正方法であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正方法は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースして、そのトレース溝の３次元形状を測定する工程と、
前記測定により得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて前記高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する工程と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する工程と
を有する眼鏡枠形状測定装置の校正方法。
【請求項７】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有する校正データ作成装置。
【請求項８】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定部と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成部と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成部は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有する眼鏡枠形状測定装置。
【請求項９】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有する眼鏡枠形状測定校正システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するために用いられる校正治具、この校正治具を用いた眼鏡枠形状測定装置の校正方法、眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するための校正データ作成装置、校正データ作成機能を備えた眼鏡枠形状測定装置、及び、眼鏡枠形状測定機能と校正データ作成機能とを備えた眼鏡枠形状測定校正システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
眼鏡枠等の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置では、長年の使用等によって測定誤差が生じ、この測定誤差は、一般に校正治具を用いて校正される。
このような校正治具（基準フレーム）１００は特許文献１に記載され、図９に示すように、金属製の板１０１に、眼鏡枠におけるリムの平面視形状に相当する貫通孔である基準孔１０２が形成されている。この基準孔１０２は、その内周面１０３に、測定対象となる眼鏡枠形状測定装置の測定子１０４の先端部を接触させながらトレースさせるものである。測定対象の眼鏡枠形状測定装置の測定子１０４が前記校正治具１００における基準孔１０２の内周面１０３をトレースすることによって測定された内周面１０３の測定データと、当該校正治具１００の基準孔１０２における内周面１０３の予め正確に測定された基準データとを比較することにより、測定対象の眼鏡枠形状測定装置の測定誤差が算出される。【０００３】
【特許文献１】特開平４‐１３５３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、眼鏡枠のリム形状は、眼鏡装用者の顔の形状に応じて３次元形状に構成されているが、前記眼鏡枠形状測定装置で測定される前記校正治具１００の基準孔１０２における内周面１０３の測定データは二次元形状の測定データである。つまり、この内周面１０３の測定データは半径方向の変位ｒと、回転方向の変位θとであらわされるものである。従って、このような校正治具１００を用いた眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正では、上記二次元の校正は可能であるが、高さ方向の変位を含めた三次元の校正が不可能となる。【０００５】
本発明の目的は、上述の事情を考慮してなされたものであり、眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正を三次元で実施できる眼鏡枠形状測定装置の校正治具、校正方法、校正データ作成装置、眼鏡枠形状測定装置、及び、眼鏡枠形状測定校正システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第１の発明に係る校正治具は、測定子を使って眼鏡枠等の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するために用いられる校正治具であって、前記眼鏡枠形状測定装置の測定子がトレースするトレース溝を有し、このトレース溝が、半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成されたことを特徴とするものである。【０００７】
第２の発明に係る校正治具は、第１の発明に係る校正治具において、前記トレース溝は、一枚の板状体に設けられた孔の内周面に形成されたことを特徴とするものである。【０００８】
第３の発明に係る校正治具は、第１の発明に係る校正治具において、前記トレース溝は、リムの内周に形成されて、前記リムが、当該リムよりも剛性の高い枠体に固定されて構成されたことを特徴とするものである。【０００９】
第４の発明に係る校正治具は、第３の発明に係る校正治具において、前記枠体は、一対のリムに対応して設けられた開口を備える平面部と、この平面部の両側に立設する立設部とを有し、前記平面部の前記開口を臨む縁部に前記リムの上部及び下部が固着され、前記立設部に前記リムの智部分が固着されたことを特徴とするものである。【００１０】
第５の発明に係る校正治具は、第１〜第４のいずれかの発明に係る校正治具において、前記トレース溝は、前記測定子の先端部における略反対側の両部分が接触することで当該先端部を規制する規制面を有することを特徴とするものである。【００１１】
第６の発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正方法は、
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を、校正治具を用いて校正するための校正方法であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正方法は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースして、そのトレース溝の３次元形状を測定する工程と、
前記測定により得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて前記高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する工程と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する工程と
を有することを特徴とする。【００１２】
第７の発明に係る校正データ作成装置は、
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有することを特徴とする。【００１３】
第８の発明に係る眼鏡枠形状測定装置は、
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定部と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成部と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成部は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有することを特徴する。【００１４】
第９の発明に係る眼鏡枠形状測定校正システムは、
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
第１乃至第３の発明によれば、校正治具は、眼鏡枠形状測定装置の測定子がトレースするトレース溝が、半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成されている。このため、この校正治具を用いた眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正を三次元で実施でき、正確な校正を実現できる。【００１６】
第４の発明によれば、眼鏡枠のリムの上部及び下部を枠体の平面部における開口を臨む縁部に固着し、前記リムの智部分を前記枠体の立設部に固着したことから、リムを前記枠体によって、変形を生じさせることなく補強することができる。【００１７】
第５の発明によれば、トレース溝は、測定子の先端部における略反対側の両部分が接触することで当該先端部を規制する規制面を有することから、測定子は、このトレース溝から離脱することなく、規制面に常に接触した状態で当該トレース溝に沿って移動することができ、校正治具による校正を正確に実施できる。【００１８】
第６乃至第９の発明によれば、校正治具の測定データに基づく周長及び高さ変位幅が基準周長及び基準高さ変位幅に一致するように眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正をしているので、校正を三次元で実施でき、正確な校正を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明を実施するための最良の形態を、図面に基づき説明する。
［Ａ］第１の実施の形態（図１〜図６）
図１は、本発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正治具における第１の実施の形態を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図１（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図１（Ａ）のＣ矢視図である。図４は、眼鏡枠形状測定装置を正面側から目視して示す斜視図である。図５は、図４の眼鏡枠形状測定装置を後面側から目視して示す斜視図である。【００２０】
図４及び図５に示す眼鏡枠形状測定装置１０は、眼鏡枠１（図６）の左右のリム２Ａ、２Ｂの形状、図示しないフレーム型板の形状、または図示しない眼鏡レンズの外周形状をそれぞれ測定するものであり、前方側にコントロールパネル１１が設置されたアッパカバー１２の中央に、開口部１３が形成される。この開口部１３内に、測定対象の眼鏡枠１、フレーム型板または眼鏡レンズが搬入される。【００２１】
この開口部１３内には、眼鏡枠形状測定装置１０の前方側に前側押え台１４が、後方側に後側押え台１５が、それぞれ接近または離反する方向に移動可能に配置される。各押え台１４、１５には測定対象物（眼鏡枠や校正治具等）を保持、位置決めするための一対のクランプピン１６が複数対（例えば２対）設置されている。【００２２】
前側押え台１４と後側押え台１５は、眼鏡枠１が操作者により開口部１３内に搬入されたときに、同じく操作者により接近移動される。そして、この眼鏡枠１のリム２Ａ及び２Ｂが下側のクランプピン１６上に載置される（図６）。その後、操作者がコントロールパネル１１のスタートボタン（不図示）を操作することにより、前側押え台１４及び後側押え台１５の上下のクランプピン１６がリム２Ａ及び２Ｂを把持し、押え台１４及び１５の位置がロックされて、眼鏡枠１が眼鏡枠形状測定装置１０に装着される。
尚、この眼鏡枠１は、リム２Ａ及び２Ｂを下方に、リム２Ａ及び２Ｂの智３に枢支されるテンプル４を上方に位置付けて、眼鏡枠形状測定装置１０に装着される。【００２３】
更に、図４に示すように、開口部１３内には回転駆動される回転テーブル１７が
備えられている。この回転テーブル１７には、長溝１８が、回転テーブル１７の直径方向に延在して形成され、この長溝１８内に、測定子としてのスタイラス１９が設置される。このスタイラス１９は、図示しない水平駆動機構により長溝１８内で水平方向に移動可能に構成され、且つ図示しない昇降機構により長溝１８内で昇降可能に構成されている。また、スタイラス１９は、回転テーブル１７の回転駆動により水平面内において回転されることになる。【００２４】
上述のように眼鏡枠１が前側押え台１４、後側押え台１５及びクランプピン１６を用いて眼鏡枠形状測定装置１０に装着された後（図６）、前記回転テーブル１７の回転駆動機構、前記水平駆動機構及び前記昇降機構の作用で、スタイラス１９は、その先端部を眼鏡枠１のリム２Ａ、２Ｂの内周面に形成された枠溝２０に押し付けるように接触させながら３６０度回転し、この枠溝２０をトレースする。この枠溝２０は、図示しない眼鏡レンズのヤゲンと嵌合するための溝である。【００２５】
眼鏡枠１のリム２Ａ、２Ｂは、一般に眼鏡装用者の顔の形状に対応して湾曲した３次元形状に形成されている。そのため、リム２Ａ、２Ｂの枠溝２０をトレースするスタイラス１９は、回転しながら長溝１８内を水平移動及び昇降するので、その回転角、水平移動量、昇降移動量を検出することで３次元形状の測定となる。その測定データは、スタイラス１９の半径方向（水平方向）の変位ｒ、スタイラス１９の水平面内における回転方向の変位θ、スタイラス１９の高さ方向（昇降方向）の変位ｚで表される円筒座標系のデータとなる。これらの変位ｒ、θ、ｚの測定データから、眼鏡枠１のリム２Ａ、２Ｂの形状が測定される。
なお、これら円筒座標をなす値ｒ、θ、ｚは、回転方向変位ｒの所定増加量毎に測定されるため、３次元形状測定データは（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）で表される。なお、ここでＮは１回転での測定回数である。【００２６】
図示しないフレーム型板の形状、眼鏡レンズの外周形状についても、スタイラス１９を用いて測定データｒ、θが測定され、これらの測定データｒ、θからフレーム型板の形状、眼鏡レンズの外周形状が測定される。【００２７】
さて、上述のような眼鏡枠形状測定装置１０では、長年の使用等によって測定誤差が生じるため、図１に示す校正治具３０を用いてその測定誤差を校正する必要がある。この校正治具３０は、眼鏡枠におけるブリッジに相当する部分５（本明細書においては単にブリッジ５とも記す）にて結合された眼鏡枠におけるリムに相当する部分２Ａ及び２Ｂ（本明細書においては単にリム２Ａ及び２Ｂとも記す）と、このリム２Ａ及び２Ｂを固定して支持する枠体３１とを有して構成される。この枠体３１は、リム２Ａ及び２Ｂよりも剛性が高い金属板にて構成される。また枠体３１の正面視外形状は長方形に形成されている。【００２８】
この枠体３１は、開口３２を備えた平面部３３と、この平面部３３の左右両端側から一体に立設された立設部３４とを有してなる。開口３２は、ブリッジ５にて結合された一対のリム２Ａ及び２Ｂに対応し、これらのリム２Ａ及び２Ｂを内接する例えば四角形状に形成される。【００２９】
平面部３３の開口３２を臨む上側縁部３５、下側縁部３６にリム２Ａ及び２Ｂの上部、下部がそれぞれ接着剤３７等を用いて固着される。また、リム２Ａ及び２Ｂの両外側に位置する眼鏡枠における智に相当する部分３（本明細書においては単に智３とも記す）がブラケット３８を介して立設部３４に溶接等により固着される。このようにして、ブリッジ５にて結合されたリム２Ａ及び２Ｂが、当該リム２Ａ及び２Ｂよりも剛性の高い金属製の枠体３１に強固に固定されて補強される。尚、図１中の符号４１は溶接箇所を示し、符号４２は脚部を示す。また、前記ブリッジ５、リム２Ａ、２Ｂ、智３とからなる部分を眼鏡枠相当部あるいは単に眼鏡枠部と言うこととする。【００３０】
このように構成された校正治具３０におけるリム２Ａ及び２Ｂの枠溝２０は、眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９がトレースするトレース溝として機能する。この枠溝２０は、回転方向において半径と高さが連続的に変化するように構成されることにより、リム２０Ａ及び２０Ｂが前述の如く３次元形状を有することから、半径方向の変位ｒ（図１（Ａ））、回転方向の変位θ（図１（Ａ））、高さ方向の変位ｚ（図１（Ｂ））を有している。これらの変位ｒ、θ及びｚは、正確な眼鏡枠形状測定装置１０等によって予め一周にわたって一定の角度間隔で所定回数（Ｎ）測定されて、その３次元形状測定データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）が基準値とされ、この基準値から算出された枠溝２０（トレース溝）の周長が基準周長として、校正治具３０の例えば枠体３１における平面部３３に表示される。【００３１】
本実施の形態では、リム２Ａ、２Ｂにおける枠溝２０のそれぞれの基準周長が「Ｌ周長」、「Ｒ周長」として前記平面部３３に表示されている。なお、この実施の形態では、平面部３３におけるリム２Ａ、２Ｂのそれぞれの上側に位置する部分をＬ周長及びＲ周長の表示部４３としている。また、前記校正治具３０の基準値は、校正対象の眼鏡枠形状測定装置で採用されているスタイラスと同じスタイラスあるいは同じ先端形状を有するスタイラスで測定された値であるとより好ましい。【００３２】
ここで、トレース溝として機能する枠溝２０は、図２に示すように、外側に凹んだ溝であり、所定の角度αをもって略対向する傾斜面３９Ａ及び３９Ｂから構成される。これらの傾斜面３９Ａ、３９Ｂのそれぞれに、スタイラス１９の先端部における略反対側の部分４０Ａ、４０Ｂが接触するので、これらの傾斜面３９Ａ、３９Ｂは、スタイラス１９の先端部を規制する規制面として機能する。つまり、枠溝２０が前述の３次元方向の変位ｒ、θ、ｚを有していても、この枠溝２０をトレースするスタイラス１９は、枠溝２０の少なくとも一つの傾斜面３９Ａ、３９Ｂに接触して規制され、枠溝２０からの離脱が防止される。【００３３】
測定対象となる眼鏡枠形状測定装置１０の測定誤差を校正するために、上述のように構成された校正治具３０を用いる。この際、校正治具３０は、図３に示すようにして測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０に装着される。つまり、眼鏡枠１を装着する場合と同様にして、測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０の開口部１３の前側押え台１４と後側押え台１５との間に校正治具３０が搬入されると、前側押え台１４と後側押え台１５を接近移動させて、校正治具３０の平面部３３の上下両外側部分がそれぞれの下側のクランプピン１６上に載置される。その後、操作者がコントロールパネル１１のスタートボタン（不図示）を操作することにより、前側押え台１４及び後側押え台１５の上下のクランプピン１６が平面部３３の上下外側部分を把持し、押え台１４及び１５の位置がロックされて、校正治具３０が眼鏡枠形状測定装置１０に装着される。なお、この実施の形態では、この校正治具３０は、リム２Ａ及び２Ｂを下方に、立設部３４を上方に位置付けて、眼鏡枠形状測定装置１０に装着されている。【００３４】
この状態で、測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０はスタイラス１９に、校正治具３０のリム２Ａ及び２Ｂにおける枠溝２０をトレースさせ、この枠溝２０の３次元変位（ｒ、θ、ｚ）を一周にわたって一定の角度間隔で所定回数（Ｎ）測定し、この３次元変位データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）から枠溝２０の周長を算出して測定する。この測定された枠溝２０の周長と校正治具３０に表示された基準周長との誤差が解消されるように、測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０が操作者により調整されて、この測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０の校正が実施される。【００３５】
以上のように構成されたことから、上記実施の形態によれば、次の効果（１）〜（３）を奏する。
（１）校正治具３０は、リム２Ａ及び２Ｂが枠体３１に固定されて構成され、リム２Ａ及び２Ｂの枠溝２０は、眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９がトレースするトレース溝とされ、半径方向の変位ｒ、回転方向の変位θ及び高さ方向の変位ｚを有して構成される。このため、この校正治具３０を用いた眼鏡枠形状測定装置１０の測定誤差の校正を３次元で実施でき、正確な校正を実現できる。【００３６】
（２）前記校正治具３０では、リム２Ａ及び２Ｂの上部及び下部を、枠体３１の平面部３３における開口３２を臨む上側縁部３５、下側縁部３６にそれぞれ固着し、リム２Ａ及び２Ｂの智３の部分を前記枠体３１の立設部３４に固着したことから、リム２Ａ及び２Ｂを枠体３１によって、変形を生じさせることなく補強することができる。【００３７】
（３）校正治具３０のリム２Ａ及び２Ｂにおける枠溝２０は、眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９の先端部における略反対側の両部分４０Ａ及び４０Ｂが接触することで、当該先端部を規制する傾斜面３９Ａ及び３９Ｂを有する。このため、スタイラス１９は、前記枠溝２０から離脱することなく、傾斜面３９Ａと３９Ｂの両方に常に接触した状態で当該枠溝２０に沿って移動することができ、校正治具３０による校正を正確に実施できる。【００３８】
（４）校正治具３０のリム２Ａ及び２Ｂを、眼鏡枠と同様の方法で製造されたもの、あるいは眼鏡枠の一部分を用いることができるため、製造が容易である。【００３９】
［Ｂ］第２の実施の形態（図７、図８）
図７は、本発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正治具における第２の実施の形態を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図７（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図７（Ａ）のＣ矢視図である。この第２の実施の形態において、前記第１の実施の形態と同様な部分は、同一の符号を付すことにより説明を省略する。【００４０】
図７に示す校正治具５０は、合成樹脂または金属製の一枚の板状体５１に、２個の孔５２及び５３を並設し、これらの孔５２及び５３の内周面にトレース溝５４を形成したものである。板状体５１の外径は長方形に形成されている。【００４１】
前記孔５２及び５３は円形状に、または眼鏡枠１のリム２Ａ、２Ｂの平面視形状に形成されている。また、トレース溝５４は、半径方向の変位ｒ（図７（Ａ））、回転方向の変位θ（図７（Ａ））及び高さ方向の変位ｚ（図７（Ｂ））を有して構成される。これらの変位ｒ、θ、ｚは、正確な眼鏡枠形状測定装置１０等によって予め一周にわたって一定の角度間隔で所定回数（Ｎ）測定されて、その３次元形状測定データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）が基準値とされ、この基準値から算出されたトレース溝５４の周長が基準周長として、校正治具５０の板状体５１に表示される。本実施の形態では、孔５２、５３のトレース溝５４の周長が、それぞれ「Ｌ周長」、「Ｒ周長」として表示されている。
なお、この実施の形態では、板状体における孔５２及び５３のそれぞれの上側に位置する部分をＬ周長及びＲ周長の表示部４３としている。【００４２】
また、トレース溝５４も、図８に示すように、外側に凹んだ溝であり、所定の角度βをもって略対向する傾斜面５５Ａ及び５５Ｂから構成される。これらの傾斜面５５Ａ、５５Ｂに、眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９における先端部の略反対側の両部分４０Ａ、４０Ｂがそれぞれ接触する。従って、スタイラス１９がトレース溝５４をトレースする際に、スタイラス１９の先端部は、トレース溝５４の傾斜面５５Ａ、５５Ｂの両方に接触して規制されて、スタイラス１９のトレース溝５４からの離脱が防止される。【００４３】
以上のように構成された校正治具５０を測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０に、校正治具３０の場合と同様に装着する。なお、この校正治具５０の場合は、前記クランプピン１６で保持させる部分は、板状体５１の上下外側部分である。
そして、この測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９が校正治具５０の孔５２及び５３におけるトレース溝５４をトレースすることにより、トレース溝５４の３次元形状の変位ｒ、θ及びｚを一周にわたって一定の角度間隔で所定回数（Ｎ）測定し、この測定された３次元変位データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）から孔５２及び５３におけるトレース溝５４の周長を演算して測定する。この測定されたトレース溝５４の周長と基準周長との誤差が解消されるように測定対象の眼鏡枠形状測定装置１０が調整されて、当該眼鏡枠形状測定装置１０の校正が実施される。
従って、この第２の実施の形態の校正治具５０よれば、次の効果（５）を奏する他、前記校正治具３０の効果（３）と同様な効果を奏する。【００４４】
（５）校正治具５０では、眼鏡枠形状測定装置１０のスタイラス１９がトレースするトレース溝５４が、半径方向の変位ｒ、回転方向の変位θ、高さ方向の変位ｚを有して構成されたことから、この校正治具５０を用いた眼鏡形状測定装置１０の測定誤差の校正を３次元で実施でき、正確な校正を実現できる。【００４５】
［Ｃ］第３の実施の形態（図１０〜図１２）
次に、本発明に係る校正治具を用いた眼鏡枠形状測定装置の測定誤差の校正方法及びその校正方法を用いた校正システムの例である第３の実施の形態を示す。
図１０は、この第３の実施の形態で用いる校正治具を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図１０（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図１０（Ａ）のＣ矢視図である。
図１０に示す校正治具６０は、平面部３３に基準値に基づく高さ変位幅の値が表示されている以外は、第１の実施の形態と同じであるので、第１の実施の形態と同じ部分について同一の符号を付すことにより説明を省略する。【００４６】
ここで基準高さ変位幅とは、正確な眼鏡枠形状測定装置１０等によって予め測定された校正治具６０の基準値（半径方向の変位ｒ、回転方向の変位θ、高さ方向の変位ｚで表される３次元形状データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ））における、高さ方向の変位ｚの最高位置と最低位置の差（図１０Ｚｒ、Ｚｌ）である。本実施の形態では、リム２Ａ、２Ｂにおける枠溝２０のそれぞれの基準高さ変位幅が「Ｌ高さ変位幅」、「Ｒ高さ変位幅」として、平面部３３に表示されている。なおこの実施の形態では、平面部３３におけるリム２Ａ、２Ｂのそれぞれの下側に位置する部分をＬ高さ変位幅及びＲ高さ変位幅の表示部６１としている。【００４７】
図１１は、本発明に係る校正治具を用いて眼鏡枠形状測定装置の校正を自動的に行なうようにした校正システムのブロック図である。【００４８】
この校正システムは、眼鏡枠形状測定装置１０と、この眼鏡枠形状測定装置１０の測定誤差の校正を制御するための校正データを作成する校正データ作成装置７０とを有する。眼鏡枠形状測定装置１０と校正データ作成装置７０とは、データ送受信が可能に接続されている。【００４９】
眼鏡枠形状測定装置１０は、第１の実施の形態で説明した構成の他に、校正治具３０の枠形状を測定することによって得られた３次元形状データを作成して校正データ作成装置７０へ送信する３次元形状データ作成処理機能８１と、校正データ作成装置７０によって作成された校正データを受信し、その校正データに基づいて装置の校正を行なう形状測定装置校正処理機能とを備えている。【００５０】
校正データ作成装置７０は、ＣＰＵ等の演算処理部と、メモリーやハードディスク等の記憶部７２を備えたコンピュータからなり、キーボード、マウス、バーコードリーダ等の入力手段や、ＣＲＴ、液晶ディスプレイ等の画面表示手段が接続されている。【００５１】
前記記憶部７２には、校正データ作成のためのプログラムが格納されているとともに、校正データ作成に必要なデータが記憶されている。校正データ作成に必要なデータとしては、例えば校正対象となる眼鏡枠形状測定装置に関する情報７２１（識別情報、製品名、型番、スタイラス種類、測定条件等）と、校正に用いる校正治具に関する情報７２２（識別情報、形式、材質、基準データ７２５、基準値測定条件等）とがあり、それら識別情報等をキーに読み出し可能に記憶されている。前記基準データ７２５としては、予め正確な眼鏡枠形状測定装置で測定した基準値としての３次元形状測定データ、基準周長、基準高さ変位幅等のデータが含まれる。また、前記記憶部７２には眼鏡枠形状測定装置１０から送られてきた校正治具３０の３次元形状測定データ７２３と、校正データ作成装置７０によって作成された校正データ７２４も記憶されている。【００５２】
また、校正データ作成装置７０は、前記校正データ作成のプログラムを実行することにより校正データ作成処理機能７１を有する。
なお、校正対象の眼鏡枠形状測定装置や校正に用いる校正治具が複数ある場合は、それぞれの眼鏡枠形状測定装置や校正治具毎に形状測定装置情報、校正治具情報を記憶するとよい。【００５３】
校正データ作成処理機能７１は、眼鏡枠形状測定装置１０から送られてくる校正治具の測定データと、前記記憶部に保存されているその校正治具の基準データとに基づいて校正データを作成する機能と、この作成された校正データを眼鏡枠形状測定装置に送信する機能とを有している。【００５４】
次に、上記校正データ作成装置７０を用いて眼鏡枠形状装置１０を校正する方法について、図１２のフローチャートに基づいて説明する。
なお、図１２中の左側のフローチャートは、眼鏡枠形状測定装置１０で行なわれる処理や操作（ステップＳ１−１〜Ｓ１−５）を示し、右側のフローチャートは校正データ作成装置７０で行なわれる処理や操作（ステップＳ２−１〜Ｓ２−９）を示す。【００５５】
（ステップＳ２−１）
はじめに、校正データ作成装置７０において、校正処理を行なうプログラムを起動し、表示される操作画面に従って、入力手段により、校正する眼鏡枠形状測定装置を特定するための識別情報を入力する。なお、校正する眼鏡枠形状測定装置が予め特定されているような場合は省略しても良い。【００５６】
（ステップＳ２−２）
また、校正に使用する校正治具を特定するための識別情報も、操作画面に従って、入力手段７３により入力する。なお、識別情報を入力する代わりに、基準周長や基準高さ変位幅等の基準データを直接入力して、記憶部７２に記憶してもよい。【００５７】
（ステップＳ２−３）
次に校正データ作成装置７０は、前記ステップＳ２−１で特定された眼鏡枠形状測定装置１０からの測定データを受け取れるようにスタンバイする。また、前記ステップＳ２−２で入力された校正治具識別情報に基づいて、予め記憶部７２に記憶されているその校正治具の基準データ７２５を読み込む。なお、ここで読み込む基準データ７２５としては、基準周長と基準高さ変位幅を含むデータである。また、校正治具の基準データ７２５の読み込みにあたって、例えば眼鏡枠形状測定装置によって使用する基準データ７２５が異なる場合には校正治具識別情報と前記Ｓ２−１で入力された眼鏡枠形状測定装置識別情報とに基づいて使用する基準データを読み込むようにしてもよい。【００５８】
（ステップＳ１−１）
一方、眼鏡枠形状測定装置１０において、操作者は校正治具６０を第１の実施の形態で説明したように眼鏡枠形状測定装置１０に装着する。【００５９】
（ステップＳ１−２）
そして、操作者が眼鏡枠形状測定装置１０のコントロールパネル１１を操作することにより、装着された校正治具６０の枠形状の３次元測定を開始する。【００６０】
（ステップＳ１−３）
校正治具６０の左右の枠形状の測定結果は３次元形状データ作成処理機能８１により、円筒座標値である３次元形状測定データ（ｒｎ、θｎ、ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、…、Ｎ）として作成される。【００６１】
（ステップＳ１−４）
作成された３次元形状測定データは、３次元形状データ作成処理機能８１により校正データ作成装置７０へ送信される。【００６２】
（ステップＳ２−４）
校正データ作成装置７０が眼鏡枠形状測定装置１０から３次元形状測定データを受け取ると、校正データ作成装置７０の校正データ作成処理機能７１は、記憶部７２に記憶するとともに、前記測定データの高さ変位ｚｎの最大値（最高値）と最小値（最低値）との差である高さ変位幅Ｚｒ、Ｚｌ（以下測定高さ変位幅ともいう）を算出し、ステップＳ２−３で読み込んだ基準値の基準高さ変位幅の値と比較する。【００６３】
（ステップＳ２−５）
測定高さ変位幅と基準高さ変位幅とが一致しない場合は、測定高さ変位幅が基準高さ変位幅と一致するように補正するための補正値を作成し記憶部７２に記憶する。この補正値としては例えば測定高さ範囲幅と基準高さ変位幅との比率を用いることができる。そして、この作成した校正値をつかって、測定データの高さ変位ｚｎ（ｎ＝１、２、３、…、Ｎ）の値を補正する。【００６４】
具体的には、例えば基準高さ変位幅が３．６ｍｍに対して、測定高さ変位幅が３．５ｍｍであった場合は、測定高さ変位幅に対する基準高さ変位幅の比である１．０３を補正値とする。そして、高さ変位の最小値からの各高さ変位ｚｎの距離に前記補正値を掛けて各高さ変位ｚｎを補正し記憶部７２に記憶する。【００６５】
（ステップＳ２−６）
次にステップＳ２−５で高さ変位ｚｎが補正された測定データを基に周長を算出する。【００６６】
（ステップＳ２−７）
ステップＳ２−６で算出した周長と、基準データの基準周長とを比較しその差を求める。【００６７】
（ステップＳ２−８）
差がある場合には、その差が無くなるように半径方向変位ｒを補正するための補正値を作成し記憶部７２に記憶する。この補正値としては例えば、周長が基準周長と一致するように半径方向の変位ｒｎ（ｎ＝１、２、３、…、Ｎ）を全て同じ比率で補正したときのその比率を用いることができる。【００６８】
（ステップＳ２−９）
ステップＳ２−５で作成した高さ変位幅補正値及びステップＳ２−８で作成した半径方向変位補正値を基に眼鏡枠形状測定装置を校正するための校正データを作成し記憶部７２に記憶するとともに、眼鏡枠形状測定装置１０へ送信する。【００６９】
（ステップＳ１−５）
校正データ作成装置７０から校正データを受信した眼鏡枠形状測定装置１０は、形状測定装置校正処理機能８２により、前記校正データにしたがって形状測定装置を校正する。【００７０】
上述した方法及び装置により校正することにより、本発明係る校正治具を用いての眼鏡枠形状測定装置１０の測定誤差の３次元での校正を容易に行なうことができる。【００７１】
なお、上記第３の実施の形態は、眼鏡枠形状測定装置１０と校正データ作成装置７０とが別装置からなる校正システムの場合で説明したが、眼鏡枠形状測定装置１０に校正データ作成装置７０の機能を組み込んで、眼鏡枠形状測定装置上で校正できるようにしても良い。【００７２】
また、複数の眼鏡枠形状測定装置を校正データ作成装置７０に接続して、１つの校正データ作成装置で複数の眼鏡枠形状測定装置の校正データを作成するようにしてもよい。この場合は、記憶部に記憶する形状測定装置情報７２１はそれぞれの測定装置ごとに記憶しておき、校正する測定装置を選択して必要な情報を読み取るようにするとよい。また、この場合は、眼鏡枠形状測定装置と校正データ作成装置とをＬＡＮなどのネットワークで接続してもよい。【００７３】
また、校正データ作成装置が有する機能は、複数の接続された機器に分散させてもよい。【００７４】
以上、本発明を上記第１から第３実施の形態に基づいて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正治具における第１の実施の形態を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図１（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図１（Ａ）のＣ矢視図である。
【図２】図１のＩＩ‐ＩＩ線に沿う断面図である。
【図３】図１の校正治具を眼鏡枠形状測定装置に装着した状態を示す斜視図である。
【図４】眼鏡枠形状測定装置を正面側から目視して示す斜視図である。
【図５】図４の眼鏡枠形状測定装置を後面側から目視して示す斜視図である。
【図６】図４及び図５の眼鏡枠形状測定装置に眼鏡枠を装着した状態を示す斜視図である。
【図７】本発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正治具における第２の実施の形態を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図７（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図７（Ａ）のＣ矢視図である。
【図８】図７（Ａ）のＶＩＩＩ‐ＶＩＩＩ線に沿う断面図である。
【図９】従来の校正治具を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図９（Ａ）のＩＸ‐ＩＸ線に沿う断面図である。
【図１０】本発明に係る眼鏡枠形状測定装置の校正治具における第３の実施の形態を示し、（Ａ）が正面図、（Ｂ）が図１０（Ａ）のＢ矢視図、（Ｃ）が図１０（Ａ）のＣ矢視図である。
【図１１】本発明に係る校正治具を用いて眼鏡枠形状測定装置を校正するための装置のブロック図である。
【図１２】本発明に係る校正治具を用いて眼鏡枠形状測定装置を校正する方法の流れ図である。
【符号の説明】
【００７６】
１  眼鏡枠
２Ａ、２Ｂ  リム
３  智
１０  眼鏡枠形状測定装置
１９  スタイラス（測定子）
２０  枠溝（トレース溝）
３９  校正治具
３１  枠体
３２  開口
３３  平面部
３４  立設部
３５  上側縁部
３６  下側縁部
３９Ａ、３９Ｂ  傾斜面（規制面）
５０  校正治具
５１  板状体
５２、５３  孔
５４  トレース溝
ｒ  半径方向の変位
θ  回転方向の変位
ｚ  高さ方向の変位
【図１】
2008105096.tif 000003
【図２】
2008105096.tif 000004
【図３】
2008105096.tif 000005
【図４】
2008105096.tif 000006
【図５】
2008105096.tif 000007
【図６】
2008105096.tif 000008
【図７】
2008105096.tif 000009
【図８】
2008105096.tif 000010
【図９】
2008105096.tif 000011
【図１０】
2008105096.tif 000012
【図１１】
2008105096.tif 000013
【図１２】
2008105096.tif 000014
【手続補正書】
【提出日】平成21年8月20日(2009.8.20)
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を、校正治具を用いて校正するための校正方法であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正方法は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースして、そのトレース溝の３次元形状を測定する工程と、
前記測定により得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて前記高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する工程と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する工程と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装遣の測定誤差を校正する工程と
を有する眼鏡枠形状測定装置の校正方法。
【請求項２】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正するため
の校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置であって、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校証データ作成部と
を有する校正データ作成装置。
【請求項３】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する限鏡枠形状測定部と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成部と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成部は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有する眼鏡枠形状測定装置。
【請求項４】
測定子を使って眼鏡枠の形状を測定する眼鏡枠形状測定装置と、
この眼鏡枠形状測定部の測定誤差を校正するための校正データを、校正治具を用いて作成する校正データ作成装置と
を有し、
前記校正治具は、
半径方向、回転方向及び高さ方向に変位して形成された、前記測定子によってトレースされるトレース溝を有し、
前記校正データ作成装置は、
前記校正治具のトレース溝に前記測定子を接触させながらトレースしてそのトレース溝
の３次元形状を測定して得られた３次元形状データに基づいて算出された高さ変位幅が前記トレース溝を予め測定して得られた基準３次元形状データに基づいて定められた基準高さ変位幅と一致するように、前記３次元形状データの高さ変位を補正する補正値を算出する第１の補正値算出部と、
前記算出された高さ変位補正値を用いて高さ変位を補正した３次元形状データに基づいて前記トレース溝の周長を算出する周長算出部と、
前記算出された周長が前記基準３次元形状データに基づいて定められた基準周長と一致するように、前記高さ変位が補正された３次元形状データの半径方向変位を補正する補正値を算出する第２の補正値算出部と、
前記高さ変位の補正値及び前記半径方向変位の補正値に基づいて前記眼鏡枠形状測定装置の測定誤差を校正する校正データを作成する校正データ作成部と
を有する眼鏡枠形状測定校正システム。
【国際調査報告】
2008105096.tif 000015
2008105096.tif 000016