【手続補正書】
【提出日】平成16年4月19日(2004.4.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  検出されるべき金属物体の近傍中に磁界（３；１６）を発生させることによって金属物体内に電流（６２）を誘導させ、この誘導電流（６２）によって二次磁界（５；１８）を発生させる送信機手段（２１；３０）と；
二次磁界（５；１８）を検出する検出手段（５０）と；
を具備する装置であって、
前記検出手段（５０）が二次磁界（５；１８）の少なくとも第１オーダーの少なくとも三つの磁界勾配を測定する手段を備えており、
前記装置は、測定された第１オーダーの磁界勾配要素から金属物体の位置または電磁断面または形状の推定の少なくとも一つを決定するための処理手段を備えており、
前記装置は、測定された磁界勾配要素中のオフセットを適応的に補正するための適応信号処理手段から成ることを特徴とする形状、電磁断面および位置を有する金属物体を検出する装置。
【請求項２】  パルス状磁界を発生するための手段からなる請求項１に記載の装置。
【請求項３】  交番磁界を発生するための手段からなる請求項１に記載の装置。
【請求項４】  少なくとも第１オーダーの少なくとも五つの磁界勾配要素を測定するための手段（７０−７４）からなり、さらに二次磁界の一つまたはそれ以上の要素を測定するための検知手段からなる請求項１に記載の装置。
【請求項５】  前記検知手段がコイル、ＳＱＵＩＤ、フラックスゲート、ホール・プローブ、磁気抵抗デバイスまたは磁気インピーダンス・デバイスのいずれの一つからなる請求項４に記載の装置。
【請求項６】  前記処理手段が一つまたはそれ以上の標準的ダイポール源にフィットするための最小２乗手段を含んでいる請求項１に記載の装置。
【請求項７】  前記処理手段が多極磁気源にフィットするための最小２乗手段を含んでいる請求項１に記載の装置。
【請求項８】  前記処理手段が拡張源モジュールにフィットするための最小２乗手段を含んでいる請求項１に記載の装置。
【請求項９】  第２オーダーの少なくとも三つの磁界勾配要素を測定するための手段からなる請求項１に記載の装置。
【請求項１０】  少なくとも３対の勾配測定用受信機コイル（７０−７４）からなり、各対が異なる第１オーダーの磁界勾配要素を検出し、勾配測定用コイル対の各々がベースラインｄを有している請求項１に記載の装置。
【請求項１１】  ＳＱＵＩＤ、フラックスゲート、ホール・プローブ、磁気抵抗デバイスまたは磁気インピーダンス・デバイスのいずれか一つの少なくとも三つの対からなり、各対が異なる第１オーダーの磁界勾配要素を検出し、対の各々がベースラインｄを有している請求項１に記載の装置。
【請求項１２】  地表の下に埋没した金属物体を位置付けするための請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１３】  地表の下に埋没した金属物体の形状および組成の推定を特徴付けるか、または推定するための請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１４】  人または動物上またはその体内にある金属物体を位置付けする請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１５】  人または動物上またはその体内にある金属物体の形状および組成の推定を特徴付けるか、または推定するための請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１６】  壁、床または天井の内部または背後にある金属物体を位置付けするための請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１７】  壁、床または天井の内部または背後にある金属物体の形状の推定を特徴付けるか、または推定するための請求項１０または１１に記載の装置。
【請求項１８】  ホスト・システムをさらに含み、このホスト・システムが超音波スキャニング装置またはＸ線イメージング装置のいずれか一つである請求項１４または１５に記載の装置。
【請求項１９】  前記送信機手段（２１;３０）が、パルス電流源（１）または交流源（１５；２２）からなり、また少なくとも一つの送信機コイルをさらに含む請求項１に記載の装置。
【請求項２０】  少なくとも二つの送信機コイル（２１）からなり、二つのまたはそれ以上の送信機コイル（２１）が実質上直交する方向に磁界を発生する請求項１９に記載の装置。
【請求項２１】  前記送信機手段が少なくとも二つの周波数を発生するように構成されている請求項１９に記載の装置。
【請求項２２】  前記処理手段が、所定の判断規準を導入して、関心のない金属物体の検出を防ぐ弁別手段を提供する手段（２８）を含む請求項１に記載の装置。
【請求項２３】  前記処理手段が所定の判断規準を導入して、関心のある金属物体の選択的検出をする弁別手段を提供する手段（２８）を含む請求項１または請求項２２に記載の装置。
【請求項２４】  前記検出手段（５０）が、三つまたはそれ以上の磁界勾配要素に対応する少なくとも三つの出力を発生し、さらに三つまたはそれ以上の勾配出力と、送信機手段によって発生された磁界との間の相対位相を検出する位相検出手段（２５）からなり、この相対位相が、異なるタイプの金属物体間の弁別手段または付加的弁別手段を提供する請求項１に記載の装置。
【請求項２５】  複数の検知手段を組み込んだホスト機器を含む、人又は動物上又は体内の金属物体を検出するのに好適な検出システムであり、少なくとも一つの前記センサ手段が、形状、電磁断面又は位置を有する金属物体を検出するための装置を含み、前記装置が、
検出されるべき金属物体の近傍中に磁界（３；１６）を発生させることによって金属物体内に電流（６２）を誘導させ、この誘導電流（６２）によって二次磁界（５；１８）を発生させる送信機手段（２１；３０）と；
磁界勾配測定用受信機コイル（７０−７４）、ＳＱＵＩＤ、フラックスゲート、ホール・プローブ、磁気抵抗デバイスまたは磁気インピーダンス・デバイスのいずれか一つの少なくとも３対からなり、各対が、二次磁界の少なくとも１次オーダの異なる磁界勾配要素を測定し、対の各々がベースラインｄを有する、二次磁界（５；１８）を検出する検出手段（５０）と；
測定された少なくとも第１オーダの磁界勾配要素から金属物体の位置、電磁断面又は形状の推定の少なくとも一つを決定するための処理手段であって、金属物体を検出するための装置からのデータが、ホスト機器内に組み込まれた他の検知手段からのデータと組み合わされる処理手段と、
測定された磁界勾配要素におけるオフセットを適応的に補正するための適応信号処理手段と
を具備することを特徴とするシステム。
【請求項２６】  ホスト機器に組み込まれた検知手段が、超音波スキャニングまたはＸ線イメージング装置のいずれか一つを含む請求項２５記載のシステム。
【請求項２７】  (i)検出されるべき金属物体の近傍中に磁界（３；１６）を発生させる工程において、磁界（３；１６）がパルス磁界または交番磁界のいずれか一方であり、これによって金属物体内に電流（６２）を誘導させ、この誘導電流（６２）が二次磁界（５；１８）を発生させる工程と；
(ii)二次磁界（５；１８）を検出する検出工程と；
を含む形状、電磁断面および位置を有する金属物体を検出する方法であって、この方法がさらに；
(iii)二次磁界の少なくとも第１オーダーの少なくとも三つの磁界勾配要素を測定する工程と；
(iv)処理手段を使用して測定された磁界勾配要素から金属物体の位置、電磁断面または形状の推定の少なくとも一つを決定する工程と；
(v)  適応信号処理手段を使用して、測定された磁界勾配要素のオフセットを適応的に補正する工程とを含んでいることを特徴とする形状、電磁断面および位置を有する金属物体を検出する方法。
【請求項２８】  前記処理手段内で一つまたはそれ以上の標準的ダイポール源にフィットするための最小２乗法を適用する工程をさらに含んでいる請求項２７に記載の方法。
【請求項２９】  前記処理手段内でマルチポール源にフィットするための最小２乗法を適用する工程をさらに含んでいる請求項２７に記載の方法。
【請求項３０】  前記処理手段内で拡張源モジュールにフィットするための最小２乗法を適用する工程をさらに含んでいる請求項２７に記載の方法。
【請求項３１】  所定の判断規準を処理手段に導入して、関心のない金属物体の検出を防ぐ弁別手段を提供する工程を含む請求項２７に記載の方法。
【請求項３２】  所定の判断規準を処理手段に導入して、関心のある金属物体の選択的検出をする弁別手段を提供する工程を含む請求項２７または請求項３１に記載の方法。
【請求項３３】  (i)検出されるべき金属物体の近傍中に磁界（３；１６）を発生させる工程において、磁界（３；１６）がパルス磁界または交番磁界のいずれか一方であり、これによって金属物体内に電流（６２）を誘導させ、この誘導電流（６２）が二次磁界（５；１８）を発生させる工程と；
(ii)二次磁界（５；１８）を検出する検出工程と；
(iii)二次磁界の少なくとも第１オーダーの少なくとも三つの磁界勾配要素を測定する工程と；
(iv)  処理手段を使用して測定された磁界勾配要素から金属物体の位置、電磁断面または形状の推定の少なくとも一つを決定する工程と；
(v)  少なくとも一つの追加の検知手段を使用して、人又は動物の体をモニターする工程と；
(vi)  処理手段によって発生されたデータを少なくとも一つの追加の検知手段からのデータと統合する工程と；
(vii)  適応信号処理手段を使用して、測定された磁界勾配成分要素のオフセットを適応的に補正する工程と；
を含むことを特徴とする形状、電磁断面および位置を有する金属物体を検出する方法。
【請求項３４】  前記少なくとも一つの追加の検知手段が超音波スキャニング装置又はＸ線イメージング装置の何れか一方を含む請求項３３記載の方法。