(57)【要約】  レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高める。レンズ鏡筒（１００）は、鏡筒本体（４）と、第１レンズ移動枠（１）と、磁気スケール（７）と、磁気センサ（８）と、を備えている。第１レンズ移動枠（１）は、鏡筒本体（４）に対して光学系の光軸方向に移動可能に設けられている。磁気スケール（７）は第１レンズ移動枠（１）に設けられている。磁気センサ（８）は、鏡筒本体（４）の外側に設けられており、鏡筒本体（４）に対する磁気スケール（７）の位置を検出することで鏡筒本体（４）に対する第１レンズ移動枠（１）の位置を検出する。
2009028140.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系を支持するためのレンズ鏡筒であって、
鏡筒本体と、
前記鏡筒本体に対して前記光学系の光軸方向に移動可能に設けられたレンズ移動枠と、
前記レンズ移動枠に設けられた被検出部材と、
前記鏡筒本体の外側に設けられ、前記鏡筒本体に対する前記被検出部材の位置を検出することで前記鏡筒本体に対する前記レンズ移動枠の位置を検出するための検出部と、
を備えたレンズ鏡筒。
【請求項２】
前記鏡筒本体は、本体部材と、前記本体部材に外側から装着され前記検出部を保持する保持部材と、を有しており、
前記検出部は、前記保持部材の外側に配置されている、
請求項１に記載のレンズ鏡筒。
【請求項３】
前記保持部材の少なくとも一部は、前記本体部材の内側に配置されている、
請求項２に記載のレンズ鏡筒。
【請求項４】
前記レンズ移動枠を前記光軸方向に移動させるための部材であって、前記鏡筒本体の内側に配置され前記鏡筒本体に対して前記光軸回りに回転可能に設けられた回転枠をさらに備え、
前記被検出部材は、前記回転枠の内側に配置されている、
請求項３に記載のレンズ鏡筒。
【請求項５】
前記回転枠は、前記検出部に対応する位置に配置された孔を有しており、
前記保持部材の少なくとも一部は、前記孔内に配置されている、
請求項４に記載のレンズ鏡筒。
【請求項６】
前記孔は、回転方向に延びる長孔である、
請求項５に記載のレンズ鏡筒。
【請求項７】
前記検出部の少なくとも一部は、前記回転枠の内側に配置されている、
請求項４から６のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【請求項８】
前記孔は、前記鏡筒本体に対して前記回転枠が回転する際に前記回転枠が前記保持部材と干渉しないように形成されている、
請求項５または６に記載のレンズ鏡筒。
【請求項９】
前記レンズ移動枠を前記光軸方向に案内するための部材であって、前記鏡筒本体に固定され前記光軸方向に延びるガイド部材をさらに備え、
前記レンズ移動枠は、前記ガイド部材より前記光軸方向に案内される案内部を有しており、
前記被検出部材の前記光軸方向の位置は、前記案内部と概ね同じである、
請求項１から８のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【請求項１０】
前記鏡筒本体に対する前記検出部の位置を調整可能な位置調整機構をさらに備えた、
請求項１から９のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学系を支持するレンズ鏡筒に関する。
【背景技術】
【０００２】
テレビカメラやカメラレコーダなどの撮像装置には、変倍機能を有する光学系と、光学系を支持するレンズ鏡筒と、が搭載されている。光学系は複数のレンズ群を有している。レンズ鏡筒は、鏡筒本体と、レンズ群を保持するレンズ移動枠と、を有している。レンズ移動枠は鏡筒本体に対して移動可能に設けられている。鏡筒本体に対してレンズ移動枠を光軸方向に移動させることで、光学系の焦点距離を変化させることができる。
レンズ移動枠を光軸方向に移動させるために、カム筒が用いられている。カム筒は、鏡筒本体に対して回転可能に設けられており、レンズ移動枠を案内する螺旋ガイド溝を有している。レンズ移動枠はガイド溝に挿入された連結ピンを有している。鏡筒本体に対してカム筒を回転駆動することで、ガイド溝により連結ピンが案内され、ガイド溝の形状に応じてレンズ移動枠が鏡筒本体に対して光軸方向に移動する。【０００３】
このようなレンズ鏡筒において、レンズ移動枠の位置を検出するために、例えば、特許文献１および２に記載されている技術が知られている。
特許文献１に記載のレンズ鏡筒では、被検出部材としてのパターン板がカム筒の内周壁に設けられており、検出センサとしてのフォトリフレクタがシャッターユニットにパターン板と対向するように設けられている。パターン板およびフォトリフレクタを用いてカム筒の回転方向の位置を検出することにより、鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を算出することができる。
特許文献２に記載のレンズ鏡筒では、第１のレンズ移動枠と、第１のレンズ移動枠を案内するための溝を有するカム筒と、鏡筒本体に固定される第２のレンズ固定枠と、を有している。被検出部材としての櫛歯状部材は第１のレンズ移動枠に設けられている。検出センサとしてのフォトインタラプタは第２のレンズ固定枠に設けられている。パターン板およびフォトインタラプタを用いて、第２のレンズ固定枠に対する第１のレンズ移動枠の位置を算出することができる。
【特許文献１】特開２００４−１８４７３４号公報
【特許文献２】特開２００６−２４３６６８号公報
【発明の開示】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載のレンズ鏡筒では、カム筒のガイド溝とレンズ移動枠の連結ピンとの間には隙間が形成されているため、この隙間によりカム筒に対するレンズ移動枠の位置がずれやすい。このため、カム筒の回転方向の位置を正確に検出したとしても、その検出結果から算出されたレンズ移動枠の位置と実際のレンズ移動枠の位置との誤差が大きくなる。つまり、このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度が低下する。
また、特許文献２に記載のレンズ鏡筒では、カム筒の内側にフォトインタラプタが配置されているため、電源供給および信号伝達のための電気配線が複雑になり、組み付け性が低下する。
本発明の課題は、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることにある。
【０００５】
第１の発明に係るレンズ鏡筒は、光学系を支持するためのレンズ鏡筒であって、鏡筒本体と、レンズ移動枠と、被検出部材と、検出部と、を備えている。レンズ移動枠は、鏡筒本体に対して光学系の光軸方向に移動可能に設けられている。被検出部材はレンズ移動枠に設けられている。検出部は、鏡筒本体の外側に設けられており、鏡筒本体に対する被検出部材の位置を検出することで鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を検出する。
このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠に被検出部材が設けられており、かつ、鏡筒本体に検出部が設けられているため、鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を被検出部材および検出部により直接検出することができる。これにより、部材間に形成された隙間により検出精度が低下するのを抑制でき、レンズ移動枠の位置検出精度を確保することができる。
また、鏡筒本体の外側に検出部が設けられているため、検出部用の電気配線を設置するのが容易となり、組み付け性を高めることができる。
【０００６】
このように、このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができる。
ここで、検出部が鏡筒本体の外側に設けられている状態には、例えば、鏡筒本体の外側から検出部が装着されている状態や鏡筒本体の外側から検出部が見える状態が含まれる。したがって、鏡筒本体の内側に窪んだ部分に検出部が配置されている場合であっても、検出部が鏡筒本体に外側から装着されているか、あるいは、検出部が鏡筒本体の外側から見えていれば、これらの状態は検出部が鏡筒本体の外側に設けられている状態に含まれ得る。
検出部としては、例えばＭＲ（Magnetic Resistance）センサ、フォトインタラプタ、フォトリフレクタが考えられる。検出部がＭＲセンサの場合、被検出部材としては磁気スケールが考えられる。検出部がフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタの場合、被検出部材としては櫛歯状部材が考えられる。
【０００７】
第２の発明に係るレンズ鏡筒は、第１の発明に係るレンズ鏡筒において、鏡筒本体は、本体部材と、本体部材に外側から装着され検出部を保持する保持部材と、を有している。検出部は保持部材の外側に配置されている。
ここで、検出部が保持部材の外側に配置されている状態には、例えば、保持部材の外側から検出部が装着されている状態や保持部材の外側から検出部が見える状態が含まれる。したがって、保持部材の内側に窪んだ部分に検出部が配置されている場合、あるいは、保持部材が本体部材の内側に入り込んでいる場合であっても、検出部が鏡筒本体に外側から装着されているか、あるいは、検出部が鏡筒本体の外側から見えていれば、これらの状態は検出部が保持部材の外側に設けられている状態に含まれ得る。
第３の発明に係るレンズ鏡筒は、第２の発明に係るレンズ鏡筒において、保持部材の少なくとも一部が本体部材の内側に配置されている。
【０００８】
第４の発明に係るレンズ鏡筒は、第３の発明に係るレンズ鏡筒において、レンズ移動枠を光軸方向に移動させるための回転枠をさらに備えている。回転枠は、鏡筒本体の内側に配置されており、鏡筒本体に対して光軸回りに回転可能に設けられている。被検出部材は回転枠の内側に配置されている。
第５の発明に係るレンズ鏡筒は、第４の発明に係るレンズ鏡筒において、回転枠は、検出部に対応する位置に配置された孔を有しており。保持部材の少なくとも一部は孔内に配置されている。
第６の発明に係るレンズ鏡筒は、第５の発明に係るレンズ鏡筒において、孔は回転方向に延びる長孔である。
第７の発明に係るレンズ鏡筒は、第４から第６のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、検出部の少なくとも一部が回転枠の内側に配置されている。
【０００９】
第８の発明に係るレンズ鏡筒は、第５または第６の発明に係るレンズ鏡筒において、孔は、鏡筒本体に対して回転枠が回転する際に回転枠が保持部材と干渉しないように形成されている。
第９の発明に係るレンズ鏡筒は、第１から第８のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、レンズ移動枠を光軸方向に案内するためのガイド部材をさらに備えている。ガイド部材は、鏡筒本体に固定されており、光軸方向に延びている。レンズ移動枠はガイド部材より光軸方向に案内される案内部を有している。被検出部材の光軸方向の位置は案内部と概ね同じである。
ここで、「被検出部材の光軸方向の位置が案内部と概ね同じである」とは、被検出部材の光軸方向の位置が案内部と完全に同じである場合の他に、位置検出精度を確保できる範囲内で被検出部材の光軸方向の位置が案内部とずれている場合も含んでいる。
【００１０】
第１０の発明に係るレンズ鏡筒は、第１から第９のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、鏡筒本体に対する検出部の位置を調整可能な位置調整機構をさらに備えている。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の分解斜視図
【図２】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の概略斜視図
【図３】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の概略断面図
【図４】図３の部分拡大図
【符号の説明】
【００１２】
１  第１レンズ移動枠（レンズ移動枠の一例）
２  第２レンズ移動枠
３  カム筒（回転枠の一例）
４  鏡筒本体
４ａ  本体部材
５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄ  ガイドポール（ガイド部材の一例）
６ａ，６ｂ  連結ピン
７  磁気スケール（被検出部材の一例）
８  磁気センサ（検出部の一例）
９  センサホルダ（保持部材の一例）
１０  調整ネジ
１３  位置調整機構
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
＜レンズ鏡筒の全体構成＞
図１は本発明の実施の形態におけるレンズ鏡筒１００の分解斜視図である。図２はレンズ鏡筒１００の概略斜視図である。図１および図２に示す矢印Ａは光学系の光軸Ｂに平行な方向を示している。以下、光軸Ｂに平行な方向を光軸方向という。被写体を撮影する際、矢印Ａが向いている方向が被写体側である。以下、光軸方向の被写体側を前方、光軸方向の被写体と反対側を後方とする。図３はレンズ鏡筒１００の概略断面図である。図４は図３の部分拡大図である。
図１から図３に示すように、レンズ鏡筒１００は、鏡筒本体４と、カム筒３（回転枠の一例）と、第１レンズ移動枠１と、第２レンズ移動枠２と、４本のガイドポール５ａ〜５ｄ（ガイド部材の一例）と、を備えている。【００１４】
鏡筒本体４は、他の部材を内側に収容しており、カム筒３を光軸Ｂ回りに回転可能に支持している。具体的には、鏡筒本体４は、本体部材４ａと、本体部材４ａに装着されたセンサホルダ９（保持部材の一例）と、を有している。
本体部材４ａはセンサホルダ９が嵌め込まれる開口４ｃを有している。本体部材４ａには光軸方向に平行になるように配置されたガイドポール５ａ〜５ｄが固定されている。ガイドポール５ａ〜５ｄの第１端部（光軸方向の前方側の端部）はそれぞれ本体部材４ａに固定されており、ガイドポール５ａ〜５ｄの第２端部（光軸方向の後方側の端部）はそれぞれ鏡筒フランジ（図示せず）に固定されている。
センサホルダ９は、磁気センサ８（後述）を保持するための部材であり、開口４ｃに嵌め込まれた状態で本体部材４ａに外側から装着されている。センサホルダ９の詳細については後述する。【００１５】
カム筒３は、第１レンズ移動枠１および第２レンズ移動枠２を光軸方向に案内するための部材であり、鏡筒本体４により有効回転角度である約９０°の範囲で回転可能に支持されている。本実施形態では、カム筒３は鏡筒本体４に対して光軸方向に移動しない。カム筒３は、ギヤ部３ｄと、第１カム溝３ａと、第２カム溝３ｂと、回転方向に延びる長孔３ｃ（孔の一例）と、を有している。
ギヤ部３ｄは駆動モータのギヤ（図示せず）と噛み合っており、ギヤ部３ｄを介してカム筒３には駆動モータ（図示せず）の駆動力が伝達される。第１カム溝３ａは第１レンズ移動枠１を案内するための溝である。第２カム溝３ｂは第２レンズ移動枠２を案内するための溝である。
長孔３ｃは、磁気センサ８（後述）を磁気スケール７（後述）に近接して配置するために設けられた開口であり、磁気センサ８に対応する位置に配置されている。長孔３ｃの光軸方向の幅は、センサホルダ９の光軸方向の幅よりも若干大きい。カム筒３が９０°（有効回転角度）の範囲内で回転してもセンサホルダ９がカム筒３に干渉しないように、長孔３ｃの回転方向の寸法は設定されている。【００１６】
第１レンズ移動枠１は、フォーカスレンズとしての第１バリエータレンズ群Ｌ１を保持するための枠であり、鏡筒本体４に対して光軸方向に移動可能に設けられている。具体的には、第１レンズ移動枠１は、ガイドポール５ａ，５ｂによって光軸方向に移動可能に支持されている。第１レンズ移動枠１は、第１本体枠１ａと、第１本体枠１ａから光軸方向に延びる第１案内部１ｃと、第１本体枠１ａに固定された第１連結ピン６ａと、を有している。第１案内部１ｃにはガイドポール５ａが光軸方向に貫通している。第１連結ピン６ａは、第１案内部１ｃ周辺に配置されており、カム筒３の第１カム溝３ａに挿入されている。第１本体枠１ａには、センサホルダ９との干渉を防止するために切欠き１ｂが形成されている（図４）。
第２レンズ移動枠２は、ズームレンズとしての第２バリエータレンズ群Ｌ２を保持するための枠であり、鏡筒本体４に対して光軸方向に移動可能に設けられている。具体的には、第２レンズ移動枠２はガイドポール５ｃ，５ｄによって光軸方向に移動可能に支持されている。第２レンズ移動枠２は、第２本体枠２ａと、第２本体枠２ａから光軸方向に延びる第２案内部２ｃと、第２本体枠２ａに固定された第２連結ピン６ｂと、を有している。第２連結ピン６ｂは、第２案内部２ｃ周辺に配置されており、第２カム溝３ｂに挿入されている。【００１７】
＜レンズ鏡筒の詳細構成＞
鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の光軸方向の位置を検出するために、このレンズ鏡筒１００は、磁気スケール７（被検出部材の一例）と、磁気センサ８（検出部の一例）と、位置調整機構１３と、リニアポジションセンサ（図示せず）と、をさらに備えている。
磁気スケール７は、光軸方向に延びる細長い部材であり、第１レンズ移動枠１に接着固定されている。磁気スケール７は第１レンズ移動枠１と一体となってカム筒３の内側を光軸方向に移動する。磁気スケール７の磁気センサ８と対向する着磁面７ａ（図４）には、例えば約０．２ｍｍのピッチでＳ極とＮ極とが交互に着磁されている。
磁気センサ８は、鏡筒本体４に対する磁気スケール７の相対的な位置を検出するためのＭＲ（Magnetic Resistance）センサであり、検出素子８ａと、電気配線（図示せず）が接続される端子１５と、を有している。鏡筒本体４の外側から磁気センサ８を装着できるように、磁気センサ８は鏡筒本体４の外側に配置されている。より詳細には、磁気センサ８は、鏡筒本体４のセンサホルダ９に装着されており、センサホルダ９の外側に配置されている。【００１８】
図３および図４に示すように、センサホルダ９は、窪んだ形状を有しており、開口４ｃから本体部材４ａの内側に入り込んでいる。センサホルダ９の窪んだ部分に磁気センサ８が配置されている。センサホルダ９がカム筒３に干渉しないように、センサホルダ９はカム筒３の長孔３ｃ（後述）内に配置されており、センサホルダ９の一部は長孔３ｃを通ってカム筒３の内側に入り込んでいる。このため、図３および図４に示すように、光軸方向から見た場合、センサホルダ９に装着されている磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されている。これにより、カム筒３の内側に配置された磁気スケール７に対して磁気センサ８を近接して配置することができる。
磁気センサ８（後述）を磁気スケール７にさらに近づけるために、センサホルダ９には開口９ａが形成されている。図１および図４に示すように、センサホルダ９を光軸方向から見た場合、センサホルダ９の側壁９ｂは開口９ａにより切り欠かれた状態となっている。図４に示すように、この開口９ａに磁気スケール７が入り込んでいるため、磁気スケール７が磁気センサ８近傍を光軸方向に移動することができる。【００１９】
位置調整機構１３は、鏡筒本体４に対する位置が調整可能なように磁気センサ８を保持するための機構であり、１対のピン１３ａと、１対の板バネ１３ｂと、調整ネジ１０と、を有している。ピン１３ａは、磁気センサ８から光軸方向に突出しており、センサホルダ９の孔（図示せず）に挿入されている。ピン１３ａにより磁気センサ８はセンサホルダ９に対して回転可能となっている。板バネ１３ｂは、ピン１３ａと反対側の磁気センサ８の端部に設けられており、磁気センサ８から光軸方向に突出している。調整ネジ１０は、鏡筒本体４に対する磁気センサ８の位置を調節するための部材であり、磁気センサ８の板バネ１３ｂ側の端部に設けられた孔を貫通している。調整ネジ１０はセンサホルダ９に螺合している。
ピン１３ａを中心としたセンサホルダ９に対する磁気センサ８の回転は、板バネ１３ｂおよび調整ネジ１０により規制されている。具体的には、調整ネジ１０を締め付けると磁気センサ８とセンサホルダ９との間で板バネ１３ｂがたわむ。板バネ１３ｂがたわんでいる状態では、板バネ１３ｂの弾性力により磁気センサ８は調整ネジ１０の頭１０ａに押し付けられているため、鏡筒本体４に対する磁気センサ８の姿勢が安定する。また、調整ネジ１０を締め付けたり緩めたりすることで、磁気センサ８のセンサホルダ９に対する位置（つまり、磁気センサ８の磁気スケール７に対する位置）を調整することができる。【００２０】
リニアポジションセンサ（図示せず）は、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の絶対的な位置を検出するためのセンサであり、第１レンズ移動枠１と一体となって光軸方向に移動するスライダ（図示せず）を有している。リニアポジションセンサにより鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の光軸方向の絶対位置を検出することができる。
磁気センサ８は磁気スケール７から発生する磁界に応じて電気信号を出力する。磁気センサ８に対する磁気スケール７の位置が変化すると、磁気センサ８周辺の磁界が変化し、その磁界の変化に応じた正弦波状の電気信号が磁気センサ８から出力される。この電気信号に基づいて、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の位置を高精度で求めることができる。特に、電源ＯＮ時に鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の大まかな位置をリニアポジションセンサにより検出することができる。つまり、リニアポジションセンサおよび磁気センサ８の検出結果を用いて、第１レンズ移動枠１の位置を高精度かつ効率良く求めることができる。【００２１】
磁気センサ８での検出精度を高いレベルに保つためには、磁気スケール７と磁気センサ８との距離を例えば０．１ｍｍ程度に保つ必要がある。この構成を実現するために、図３および図４に示すように、センサホルダ９の一部が長孔３ｃを通ってカム筒３の内部に入り込んでいる。この結果、センサホルダ９に装着された磁気センサ８はカム筒３の内部に配置される。さらに、センサホルダ９には開口９ａが形成されており、磁気スケール７が開口９ａに入り込んでいるため、磁気スケール７が磁気センサ８の付近を光軸方向に移動することができる。これにより、磁気センサ８を鏡筒本体４およびセンサホルダ９の外部に露出させた状態で、磁気センサ８を磁気スケール７に対して近接して配置することが可能となる。
さらに、第１レンズ移動枠１の可動範囲内で磁気センサ８と磁気スケール７との間の寸法精度を実現するために、第１レンズ移動枠１には磁気スケール７が光軸方向に平行となるように固定されている。それに加えて、組み付け後において、調整ネジ１０を回転させて磁気センサ８と磁気スケール７との間の距離が約０．１ｍｍになるように磁気センサ８の位置が調整される。この結果、磁気スケール７が第１レンズ移動枠１と一体となって移動する際に、磁気センサ８が磁気スケール７の着磁面７ａと近接して対向した状態を保つことができる。【００２２】
＜レンズ鏡筒の特徴＞
以上に説明したレンズ鏡筒１００の特徴を以下にまとめる。
（１）
このレンズ鏡筒１００では、第１レンズ移動枠１に磁気スケール７が設けられており、かつ、鏡筒本体４に磁気センサ８が設けられているため、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の位置を磁気スケール７および磁気センサ８により直接検出することができる。これにより、部材間に形成された隙間により第１レンズ移動枠１の位置検出精度が低下するのを抑制でき、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保することができる。
また、鏡筒本体４の外側に磁気センサ８が設けられているため、磁気センサ８用の電気配線を設置するのが容易となり、組み付け性を高めることができる。例えば、磁気センサ８の端子１５が外側に露出しているため、電気配線を端子１５に接続するのが容易となる。【００２３】
このように、このレンズ鏡筒１００では、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができる。
ここで、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に設けられている状態には、例えば、鏡筒本体４の外側から磁気センサ８が装着されている状態や鏡筒本体４の外側から磁気センサ８が見える状態が含まれる。したがって、図１〜図４に示すように、鏡筒本体４の内側に窪んだ部分（より詳細には、センサホルダ９の窪んだ部分）に磁気センサ８が配置されている場合であっても、磁気センサ８が鏡筒本体４に外側から装着されているか、あるいは、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側から見えていれば、これらの状態は磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に設けられている状態に含まれ得る。
（２）
このレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４が、本体部材４ａと、本体部材４ａに外側から装着されたセンサホルダ９と、を有している。磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に配置されているため、例えば、本体部材４ａに対してセンサホルダ９を取り付けた後に磁気センサ８を外側からセンサホルダ９に取り付けることができる。また、センサホルダ９に磁気センサ８を取り付けた後にセンサホルダ９および磁気センサ８を一体で外側から本体部材４ａに取り付けることができる。つまり、このレンズ鏡筒１００では、組み付け時の自由度を高めることができる。【００２４】
ここで、磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に配置されている状態には、例えば、センサホルダ９の外側から磁気センサ８が装着されている状態やセンサホルダ９の外側から磁気センサ８が見える状態が含まれる。したがって、図１〜図４に示すように、センサホルダ９の内側に窪んだ部分に磁気センサ８が配置されている場合、あるいは、センサホルダ９が本体部材４ａの内側に入り込んでいる場合であっても、磁気センサ８が鏡筒本体４に外側から装着されているか、あるいは、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側から見えていれば、これらの状態は磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に設けられている状態に含まれ得る。
（３）
このレンズ鏡筒１００では、センサホルダ９の一部が本体部材４ａの内側に配置されているため、センサホルダ９を磁気スケール７に近接して配置することができる。この結果、センサホルダ９に取り付けられた磁気センサ８を磁気スケール７に近接して配置することができ、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しやすくなる。【００２５】
（４）
このレンズ鏡筒１００では、センサホルダ９の一部が長孔３ｃ内に配置されているため、磁気センサ８を磁気スケール７に近接して配置しやすくなり、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しやすくなる。
（５）
このレンズ鏡筒１００では、磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されているため、磁気スケール７がカム筒３の内側に配置されていても、磁気スケール７に磁気センサ８を近接して配置しやすくなる。
（６）
このレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４に対してカム筒３が回転する際にカム筒３がセンサホルダ９と干渉しないように長孔３ｃが形成されているため、センサホルダ９の一部が長孔３ｃ内に配置されていても、カム筒３の回転に影響を及ぼさない。【００２６】
（７）
このレンズ鏡筒１００では、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと概ね同じであるため、ガイドポール５ａと案内部１ｃとの間に形成された隙間によりガイドポール５ａに対して第１レンズ移動枠１が傾いても、磁気センサ８に対する磁気スケール７の傾きを抑制することができる。これにより、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと大きくずれている場合に比べて、部材間に形成された隙間により磁気センサ８での位置検出の精度を確保することができる。
ここで、「磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと概ね同じである」とは、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと完全に同じである場合の他に、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保できる範囲内で磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃとずれている場合も含んでいる。【００２７】
（８）
このレンズ鏡筒１００では、位置調整機構１３により鏡筒本体４に対する磁気センサ８の位置を調整することができるため、磁気スケール７に対する磁気センサ８の位置を微調整することができ、磁気スケール７と磁気センサ８との間の距離の精度を確保できる。
特に、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に配置されているため、位置調整機構１３による位置調整をレンズ鏡筒１００の組み付け完了後に行うことができる。
（９）
磁気センサの配置の一例として、鏡筒本体およびカム筒の光軸方向の後方（図１の右側）に磁気センサを配置する場合が考えられる。この場合、磁気スケールは鏡筒本体およびカム筒から光軸方向の後方に突出するように配置される。後方に突出した磁気スケールの位置を磁気センサで検出する。【００２８】
この構成では、第１レンズ移動枠からの磁気スケールの位置が遠くなるため、磁気スケールと光軸との平行度を精度良く保持することが困難であり、位置検出精度が低下するおそれがある。さらに、第１レンズ移動枠が光軸方向の後方に移動した場合には、磁気スケールが突出することになり、レンズ鏡筒の小型化が妨げられる。
しかし、前述のレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４の半径方向外側に磁気センサ８が配置されているため、磁気センサ８を鏡筒本体４の後方に配置する場合に比べて、磁気スケール７を第１レンズ移動枠１の近くに配置することができる。このため、位置検出精度を確保することができる。さらに、磁気スケール７が後方に突出しないため、磁気センサ８を鏡筒本体４の後方に配置する場合に比べて、レンズ鏡筒１００の光軸方向の小型化を図ることができる。【００２９】
＜他の実施形態＞
なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。
（Ａ）
前述の実施形態では、被検出部材の位置を検出するための検出部として磁気センサ８（ＭＲセンサ）、被検出部材として磁気スケール７を例に説明しているが、検出部および被検出部材はこれらに限られない。例えば、検出部はフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタであってもよい。検出部がフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタの場合は、被検出部材としては櫛歯状部材が考えられる。
（Ｂ）
前述の実施形態では、磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されているが、磁気センサ８の少なくとも一部（より詳細には、検出素子８ａ）がカム筒３の内側に配置されていればよい。【００３０】
また、センサホルダ９の一部がカム筒３の内側に配置されているが、センサホルダ９全体がカム筒３の内側に配置されていてもよい。
（Ｃ）
前述の実施形態では、磁気スケール７を磁気センサ８に近接して配置するために、カム筒３に長孔３ｃが形成されているが、長孔３ｃは回転方向に延びていなくてもよく、孔が形成されていればよい。
また、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分が磁気を通す素材でできている場合は、カム筒３に孔が形成されていなくても、磁気センサ８により磁気スケール７の位置を検出することは可能である。例えば、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分の厚みが薄い場合は、磁気センサ８による位置検出精度を所望のレベルで確保しやすくなる。【００３１】
なお、磁気スケール７の着磁ピッチ（Ｓ極とＮ極との間の距離）を大きくとることで、磁気スケール７と磁気センサ８とを離して配置することができる。このため、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分の厚みが厚い場合であっても、第１レンズ移動枠１の位置検出を行うことは可能である。
【産業上の利用可能性】
【００３２】
本発明に係るレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができるため、本発明は、光学系を支持するためのレンズ鏡筒の分野において有用である。
【図１】
2009028140.tif 000003
【図２】
2009028140.tif 000004
【図３】
2009028140.tif 000005
【図４】
2009028140.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成22年2月12日(2010.2.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学系を支持するためのレンズ鏡筒であって、
鏡筒本体と、
前記鏡筒本体に対して前記光学系の光軸方向に移動可能に設けられたレンズ移動枠と、
前記レンズ移動枠に設けられた被検出部材と、
前記鏡筒本体の外側に設けられ、前記鏡筒本体に対する前記被検出部材の位置を検出することで前記鏡筒本体に対する前記レンズ移動枠の位置を検出するための検出部と、
を備えたレンズ鏡筒。
【請求項２】
前記鏡筒本体は、本体部材と、前記本体部材に外側から装着され前記検出部を保持する保持部材と、を有しており、
前記検出部は、前記保持部材の外側に配置されている、
請求項１に記載のレンズ鏡筒。
【請求項３】
前記保持部材の少なくとも一部は、前記本体部材の内側に配置されている、
請求項２に記載のレンズ鏡筒。
【請求項４】
前記レンズ移動枠を前記光軸方向に移動させるための部材であって、前記鏡筒本体の内側に配置され前記鏡筒本体に対して前記光軸回りに回転可能に設けられた回転枠をさらに備え、
前記被検出部材は、前記回転枠の内側に配置されている、
請求項１に記載のレンズ鏡筒。
【請求項５】
前記回転枠は、前記検出部に対応する位置に配置された孔を有しており、
前記保持部材の少なくとも一部は、前記孔内に配置されている、
請求項４に記載のレンズ鏡筒。
【請求項６】
前記孔は、回転方向に延びる長孔である、
請求項５に記載のレンズ鏡筒。
【請求項７】
前記検出部の少なくとも一部は、前記回転枠の内側に配置されている、
請求項４から６のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【請求項８】
前記孔は、前記鏡筒本体に対して前記回転枠が回転する際に前記回転枠が前記保持部材と干渉しないように形成されている、
請求項５または６に記載のレンズ鏡筒。
【請求項９】
前記レンズ移動枠を前記光軸方向に案内するための部材であって、前記鏡筒本体に固定され前記光軸方向に延びるガイド部材をさらに備え、
前記レンズ移動枠は、前記ガイド部材より前記光軸方向に案内される案内部を有しており、
前記被検出部材の前記光軸方向の位置は、前記案内部と概ね同じである、
請求項１から８のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【請求項１０】
前記鏡筒本体に対する前記検出部の位置を調整可能な位置調整機構をさらに備えた、
請求項１から９のいずれかに記載のレンズ鏡筒。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学系を支持するレンズ鏡筒に関する。
【背景技術】
【０００２】
テレビカメラやカメラレコーダなどの撮像装置には、変倍機能を有する光学系と、光学系を支持するレンズ鏡筒と、が搭載されている。光学系は複数のレンズ群を有している。レンズ鏡筒は、鏡筒本体と、レンズ群を保持するレンズ移動枠と、を有している。レンズ移動枠は鏡筒本体に対して移動可能に設けられている。鏡筒本体に対してレンズ移動枠を光軸方向に移動させることで、光学系の焦点距離を変化させることができる。
レンズ移動枠を光軸方向に移動させるために、カム筒が用いられている。カム筒は、鏡筒本体に対して回転可能に設けられており、レンズ移動枠を案内する螺旋ガイド溝を有している。レンズ移動枠はガイド溝に挿入された連結ピンを有している。鏡筒本体に対してカム筒を回転駆動することで、ガイド溝により連結ピンが案内され、ガイド溝の形状に応じてレンズ移動枠が鏡筒本体に対して光軸方向に移動する。
【０００３】
このようなレンズ鏡筒において、レンズ移動枠の位置を検出するために、例えば、特許文献１および２に記載されている技術が知られている。
特許文献１に記載のレンズ鏡筒では、被検出部材としてのパターン板がカム筒の内周壁に設けられており、検出センサとしてのフォトリフレクタがシャッターユニットにパターン板と対向するように設けられている。パターン板およびフォトリフレクタを用いてカム筒の回転方向の位置を検出することにより、鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を算出することができる。
特許文献２に記載のレンズ鏡筒では、第１のレンズ移動枠と、第１のレンズ移動枠を案内するための溝を有するカム筒と、鏡筒本体に固定される第２のレンズ固定枠と、を有している。被検出部材としての櫛歯状部材は第１のレンズ移動枠に設けられている。検出センサとしてのフォトインタラプタは第２のレンズ固定枠に設けられている。パターン板およびフォトインタラプタを用いて、第２のレンズ固定枠に対する第１のレンズ移動枠の位置を算出することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１８４７３４号公報
【特許文献２】特開２００６−２４３６６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載のレンズ鏡筒では、カム筒のガイド溝とレンズ移動枠の連結ピンとの間には隙間が形成されているため、この隙間によりカム筒に対するレンズ移動枠の位置がずれやすい。このため、カム筒の回転方向の位置を正確に検出したとしても、その検出結果から算出されたレンズ移動枠の位置と実際のレンズ移動枠の位置との誤差が大きくなる。つまり、このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度が低下する。
また、特許文献２に記載のレンズ鏡筒では、カム筒の内側にフォトインタラプタが配置されているため、電源供給および信号伝達のための電気配線が複雑になり、組み付け性が低下する。
本発明の課題は、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第１の発明に係るレンズ鏡筒は、光学系を支持するためのレンズ鏡筒であって、鏡筒本体と、レンズ移動枠と、被検出部材と、検出部と、を備えている。レンズ移動枠は、鏡筒本体に対して光学系の光軸方向に移動可能に設けられている。被検出部材はレンズ移動枠に設けられている。検出部は、鏡筒本体の外側に設けられており、鏡筒本体に対する被検出部材の位置を検出することで鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を検出する。
このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠に被検出部材が設けられており、かつ、鏡筒本体に検出部が設けられているため、鏡筒本体に対するレンズ移動枠の位置を被検出部材および検出部により直接検出することができる。これにより、部材間に形成された隙間により検出精度が低下するのを抑制でき、レンズ移動枠の位置検出精度を確保することができる。
また、鏡筒本体の外側に検出部が設けられているため、検出部用の電気配線を設置するのが容易となり、組み付け性を高めることができる。
【０００７】
このように、このレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができる。
ここで、検出部が鏡筒本体の外側に設けられている状態には、例えば、鏡筒本体の外側から検出部が装着されている状態や鏡筒本体の外側から検出部が見える状態が含まれる。したがって、鏡筒本体の内側に窪んだ部分に検出部が配置されている場合であっても、検出部が鏡筒本体に外側から装着されているか、あるいは、検出部が鏡筒本体の外側から見えていれば、これらの状態は検出部が鏡筒本体の外側に設けられている状態に含まれ得る。
検出部としては、例えばＭＲ（Magnetic Resistance）センサ、フォトインタラプタ、フォトリフレクタが考えられる。検出部がＭＲセンサの場合、被検出部材としては磁気スケールが考えられる。検出部がフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタの場合、被検出部材としては櫛歯状部材が考えられる。
【０００８】
第２の発明に係るレンズ鏡筒は、第１の発明に係るレンズ鏡筒において、鏡筒本体は、本体部材と、本体部材に外側から装着され検出部を保持する保持部材と、を有している。検出部は保持部材の外側に配置されている。
ここで、検出部が保持部材の外側に配置されている状態には、例えば、保持部材の外側から検出部が装着されている状態や保持部材の外側から検出部が見える状態が含まれる。したがって、保持部材の内側に窪んだ部分に検出部が配置されている場合、あるいは、保持部材が本体部材の内側に入り込んでいる場合であっても、検出部が鏡筒本体に外側から装着されているか、あるいは、検出部が鏡筒本体の外側から見えていれば、これらの状態は検出部が保持部材の外側に設けられている状態に含まれ得る。
第３の発明に係るレンズ鏡筒は、第２の発明に係るレンズ鏡筒において、保持部材の少なくとも一部が本体部材の内側に配置されている。
【０００９】
第４の発明に係るレンズ鏡筒は、第１の発明に係るレンズ鏡筒において、レンズ移動枠を光軸方向に移動させるための回転枠をさらに備えている。回転枠は、鏡筒本体の内側に配置されており、鏡筒本体に対して光軸回りに回転可能に設けられている。被検出部材は回転枠の内側に配置されている。
第５の発明に係るレンズ鏡筒は、第４の発明に係るレンズ鏡筒において、回転枠は、検出部に対応する位置に配置された孔を有しており。保持部材の少なくとも一部は孔内に配置されている。
第６の発明に係るレンズ鏡筒は、第５の発明に係るレンズ鏡筒において、孔は回転方向に延びる長孔である。
第７の発明に係るレンズ鏡筒は、第４から第６のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、検出部の少なくとも一部が回転枠の内側に配置されている。
【００１０】
第８の発明に係るレンズ鏡筒は、第５または第６の発明に係るレンズ鏡筒において、孔は、鏡筒本体に対して回転枠が回転する際に回転枠が保持部材と干渉しないように形成されている。
第９の発明に係るレンズ鏡筒は、第１から第８のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、レンズ移動枠を光軸方向に案内するためのガイド部材をさらに備えている。ガイド部材は、鏡筒本体に固定されており、光軸方向に延びている。レンズ移動枠はガイド部材より光軸方向に案内される案内部を有している。被検出部材の光軸方向の位置は案内部と概ね同じである。
ここで、「被検出部材の光軸方向の位置が案内部と概ね同じである」とは、被検出部材の光軸方向の位置が案内部と完全に同じである場合の他に、位置検出精度を確保できる範囲内で被検出部材の光軸方向の位置が案内部とずれている場合も含んでいる。
【００１１】
第１０の発明に係るレンズ鏡筒は、第１から第９のいずれかの発明に係るレンズ鏡筒において、鏡筒本体に対する検出部の位置を調整可能な位置調整機構をさらに備えている。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係るレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の分解斜視図
【図２】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の概略斜視図
【図３】本発明の実施形態に係るレンズ鏡筒の概略断面図
【図４】図３の部分拡大図
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
＜レンズ鏡筒の全体構成＞
図１は本発明の実施の形態におけるレンズ鏡筒１００の分解斜視図である。図２はレンズ鏡筒１００の概略斜視図である。図１および図２に示す矢印Ａは光学系の光軸Ｂに平行な方向を示している。以下、光軸Ｂに平行な方向を光軸方向という。被写体を撮影する際、矢印Ａが向いている方向が被写体側である。以下、光軸方向の被写体側を前方、光軸方向の被写体と反対側を後方とする。図３はレンズ鏡筒１００の概略断面図である。図４は図３の部分拡大図である。
図１から図３に示すように、レンズ鏡筒１００は、鏡筒本体４と、カム筒３（回転枠の一例）と、第１レンズ移動枠１と、第２レンズ移動枠２と、４本のガイドポール５ａ〜５ｄ（ガイド部材の一例）と、を備えている。
【００１５】
鏡筒本体４は、他の部材を内側に収容しており、カム筒３を光軸Ｂ回りに回転可能に支持している。具体的には、鏡筒本体４は、本体部材４ａと、本体部材４ａに装着されたセンサホルダ９（保持部材の一例）と、を有している。
本体部材４ａはセンサホルダ９が嵌め込まれる開口４ｃを有している。本体部材４ａには光軸方向に平行になるように配置されたガイドポール５ａ〜５ｄが固定されている。ガイドポール５ａ〜５ｄの第１端部（光軸方向の前方側の端部）はそれぞれ本体部材４ａに固定されており、ガイドポール５ａ〜５ｄの第２端部（光軸方向の後方側の端部）はそれぞれ鏡筒フランジ（図示せず）に固定されている。
センサホルダ９は、磁気センサ８（後述）を保持するための部材であり、開口４ｃに嵌め込まれた状態で本体部材４ａに外側から装着されている。センサホルダ９の詳細については後述する。
【００１６】
カム筒３は、第１レンズ移動枠１および第２レンズ移動枠２を光軸方向に案内するための部材であり、鏡筒本体４により有効回転角度である約９０°の範囲で回転可能に支持されている。本実施形態では、カム筒３は鏡筒本体４に対して光軸方向に移動しない。カム筒３は、ギヤ部３ｄと、第１カム溝３ａと、第２カム溝３ｂと、回転方向に延びる長孔３ｃ（孔の一例）と、を有している。
ギヤ部３ｄは駆動モータのギヤ（図示せず）と噛み合っており、ギヤ部３ｄを介してカム筒３には駆動モータ（図示せず）の駆動力が伝達される。第１カム溝３ａは第１レンズ移動枠１を案内するための溝である。第２カム溝３ｂは第２レンズ移動枠２を案内するための溝である。
長孔３ｃは、磁気センサ８（後述）を磁気スケール７（後述）に近接して配置するために設けられた開口であり、磁気センサ８に対応する位置に配置されている。長孔３ｃの光軸方向の幅は、センサホルダ９の光軸方向の幅よりも若干大きい。カム筒３が９０°（有効回転角度）の範囲内で回転してもセンサホルダ９がカム筒３に干渉しないように、長孔３ｃの回転方向の寸法は設定されている。
【００１７】
第１レンズ移動枠１は、フォーカスレンズとしての第１バリエータレンズ群Ｌ１を保持するための枠であり、鏡筒本体４に対して光軸方向に移動可能に設けられている。具体的には、第１レンズ移動枠１は、ガイドポール５ａ，５ｂによって光軸方向に移動可能に支持されている。第１レンズ移動枠１は、第１本体枠１ａと、第１本体枠１ａから光軸方向に延びる第１案内部１ｃと、第１本体枠１ａに固定された第１連結ピン６ａと、を有している。第１案内部１ｃにはガイドポール５ａが光軸方向に貫通している。第１連結ピン６ａは、第１案内部１ｃ周辺に配置されており、カム筒３の第１カム溝３ａに挿入されている。第１本体枠１ａには、センサホルダ９との干渉を防止するために切欠き１ｂが形成されている（図４）。
第２レンズ移動枠２は、ズームレンズとしての第２バリエータレンズ群Ｌ２を保持するための枠であり、鏡筒本体４に対して光軸方向に移動可能に設けられている。具体的には、第２レンズ移動枠２はガイドポール５ｃ，５ｄによって光軸方向に移動可能に支持されている。第２レンズ移動枠２は、第２本体枠２ａと、第２本体枠２ａから光軸方向に延びる第２案内部２ｃと、第２本体枠２ａに固定された第２連結ピン６ｂと、を有している。第２連結ピン６ｂは、第２案内部２ｃ周辺に配置されており、第２カム溝３ｂに挿入されている。
【００１８】
＜レンズ鏡筒の詳細構成＞
鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の光軸方向の位置を検出するために、このレンズ鏡筒１００は、磁気スケール７（被検出部材の一例）と、磁気センサ８（検出部の一例）と、位置調整機構１３と、リニアポジションセンサ（図示せず）と、をさらに備えている。
磁気スケール７は、光軸方向に延びる細長い部材であり、第１レンズ移動枠１に接着固定されている。磁気スケール７は第１レンズ移動枠１と一体となってカム筒３の内側を光軸方向に移動する。磁気スケール７の磁気センサ８と対向する着磁面７ａ（図４）には、例えば約０．２ｍｍのピッチでＳ極とＮ極とが交互に着磁されている。
磁気センサ８は、鏡筒本体４に対する磁気スケール７の相対的な位置を検出するためのＭＲ（Magnetic Resistance）センサであり、検出素子８ａと、電気配線（図示せず）が接続される端子１５と、を有している。鏡筒本体４の外側から磁気センサ８を装着できるように、磁気センサ８は鏡筒本体４の外側に配置されている。より詳細には、磁気センサ８は、鏡筒本体４のセンサホルダ９に装着されており、センサホルダ９の外側に配置されている。
【００１９】
図３および図４に示すように、センサホルダ９は、窪んだ形状を有しており、開口４ｃから本体部材４ａの内側に入り込んでいる。センサホルダ９の窪んだ部分に磁気センサ８が配置されている。センサホルダ９がカム筒３に干渉しないように、センサホルダ９はカム筒３の長孔３ｃ（後述）内に配置されており、センサホルダ９の一部は長孔３ｃを通ってカム筒３の内側に入り込んでいる。このため、図３および図４に示すように、光軸方向から見た場合、センサホルダ９に装着されている磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されている。これにより、カム筒３の内側に配置された磁気スケール７に対して磁気センサ８を近接して配置することができる。
磁気センサ８（後述）を磁気スケール７にさらに近づけるために、センサホルダ９には開口９ａが形成されている。図１および図４に示すように、センサホルダ９を光軸方向から見た場合、センサホルダ９の側壁９ｂは開口９ａにより切り欠かれた状態となっている。図４に示すように、この開口９ａに磁気スケール７が入り込んでいるため、磁気スケール７が磁気センサ８近傍を光軸方向に移動することができる。
【００２０】
位置調整機構１３は、鏡筒本体４に対する位置が調整可能なように磁気センサ８を保持するための機構であり、１対のピン１３ａと、１対の板バネ１３ｂと、調整ネジ１０と、を有している。ピン１３ａは、磁気センサ８から光軸方向に突出しており、センサホルダ９の孔（図示せず）に挿入されている。ピン１３ａにより磁気センサ８はセンサホルダ９に対して回転可能となっている。板バネ１３ｂは、ピン１３ａと反対側の磁気センサ８の端部に設けられており、磁気センサ８から光軸方向に突出している。調整ネジ１０は、鏡筒本体４に対する磁気センサ８の位置を調節するための部材であり、磁気センサ８の板バネ１３ｂ側の端部に設けられた孔を貫通している。調整ネジ１０はセンサホルダ９に螺合している。
ピン１３ａを中心としたセンサホルダ９に対する磁気センサ８の回転は、板バネ１３ｂおよび調整ネジ１０により規制されている。具体的には、調整ネジ１０を締め付けると磁気センサ８とセンサホルダ９との間で板バネ１３ｂがたわむ。板バネ１３ｂがたわんでいる状態では、板バネ１３ｂの弾性力により磁気センサ８は調整ネジ１０の頭１０ａに押し付けられているため、鏡筒本体４に対する磁気センサ８の姿勢が安定する。また、調整ネジ１０を締め付けたり緩めたりすることで、磁気センサ８のセンサホルダ９に対する位置（つまり、磁気センサ８の磁気スケール７に対する位置）を調整することができる。
【００２１】
リニアポジションセンサ（図示せず）は、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の絶対的な位置を検出するためのセンサであり、第１レンズ移動枠１と一体となって光軸方向に移動するスライダ（図示せず）を有している。リニアポジションセンサにより鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の光軸方向の絶対位置を検出することができる。
磁気センサ８は磁気スケール７から発生する磁界に応じて電気信号を出力する。磁気センサ８に対する磁気スケール７の位置が変化すると、磁気センサ８周辺の磁界が変化し、その磁界の変化に応じた正弦波状の電気信号が磁気センサ８から出力される。この電気信号に基づいて、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の位置を高精度で求めることができる。特に、電源ＯＮ時に鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の大まかな位置をリニアポジションセンサにより検出することができる。つまり、リニアポジションセンサおよび磁気センサ８の検出結果を用いて、第１レンズ移動枠１の位置を高精度かつ効率良く求めることができる。
【００２２】
磁気センサ８での検出精度を高いレベルに保つためには、磁気スケール７と磁気センサ８との距離を例えば０．１ｍｍ程度に保つ必要がある。この構成を実現するために、図３および図４に示すように、センサホルダ９の一部が長孔３ｃを通ってカム筒３の内部に入り込んでいる。この結果、センサホルダ９に装着された磁気センサ８はカム筒３の内部に配置される。さらに、センサホルダ９には開口９ａが形成されており、磁気スケール７が開口９ａに入り込んでいるため、磁気スケール７が磁気センサ８の付近を光軸方向に移動することができる。これにより、磁気センサ８を鏡筒本体４およびセンサホルダ９の外部に露出させた状態で、磁気センサ８を磁気スケール７に対して近接して配置することが可能となる。
さらに、第１レンズ移動枠１の可動範囲内で磁気センサ８と磁気スケール７との間の寸法精度を実現するために、第１レンズ移動枠１には磁気スケール７が光軸方向に平行となるように固定されている。それに加えて、組み付け後において、調整ネジ１０を回転させて磁気センサ８と磁気スケール７との間の距離が約０．１ｍｍになるように磁気センサ８の位置が調整される。この結果、磁気スケール７が第１レンズ移動枠１と一体となって移動する際に、磁気センサ８が磁気スケール７の着磁面７ａと近接して対向した状態を保つことができる。
【００２３】
＜レンズ鏡筒の特徴＞
以上に説明したレンズ鏡筒１００の特徴を以下にまとめる。
（１）
このレンズ鏡筒１００では、第１レンズ移動枠１に磁気スケール７が設けられており、かつ、鏡筒本体４に磁気センサ８が設けられているため、鏡筒本体４に対する第１レンズ移動枠１の位置を磁気スケール７および磁気センサ８により直接検出することができる。これにより、部材間に形成された隙間により第１レンズ移動枠１の位置検出精度が低下するのを抑制でき、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保することができる。
また、鏡筒本体４の外側に磁気センサ８が設けられているため、磁気センサ８用の電気配線を設置するのが容易となり、組み付け性を高めることができる。例えば、磁気センサ８の端子１５が外側に露出しているため、電気配線を端子１５に接続するのが容易となる。
【００２４】
このように、このレンズ鏡筒１００では、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができる。
ここで、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に設けられている状態には、例えば、鏡筒本体４の外側から磁気センサ８が装着されている状態や鏡筒本体４の外側から磁気センサ８が見える状態が含まれる。したがって、図１〜図４に示すように、鏡筒本体４の内側に窪んだ部分（より詳細には、センサホルダ９の窪んだ部分）に磁気センサ８が配置されている場合であっても、磁気センサ８が鏡筒本体４に外側から装着されているか、あるいは、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側から見えていれば、これらの状態は磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に設けられている状態に含まれ得る。
（２）
このレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４が、本体部材４ａと、本体部材４ａに外側から装着されたセンサホルダ９と、を有している。磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に配置されているため、例えば、本体部材４ａに対してセンサホルダ９を取り付けた後に磁気センサ８を外側からセンサホルダ９に取り付けることができる。また、センサホルダ９に磁気センサ８を取り付けた後にセンサホルダ９および磁気センサ８を一体で外側から本体部材４ａに取り付けることができる。つまり、このレンズ鏡筒１００では、組み付け時の自由度を高めることができる。
【００２５】
ここで、磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に配置されている状態には、例えば、センサホルダ９の外側から磁気センサ８が装着されている状態やセンサホルダ９の外側から磁気センサ８が見える状態が含まれる。したがって、図１〜図４に示すように、センサホルダ９の内側に窪んだ部分に磁気センサ８が配置されている場合、あるいは、センサホルダ９が本体部材４ａの内側に入り込んでいる場合であっても、磁気センサ８が鏡筒本体４に外側から装着されているか、あるいは、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側から見えていれば、これらの状態は磁気センサ８がセンサホルダ９の外側に設けられている状態に含まれ得る。
（３）
このレンズ鏡筒１００では、センサホルダ９の一部が本体部材４ａの内側に配置されているため、センサホルダ９を磁気スケール７に近接して配置することができる。この結果、センサホルダ９に取り付けられた磁気センサ８を磁気スケール７に近接して配置することができ、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しやすくなる。
【００２６】
（４）
このレンズ鏡筒１００では、センサホルダ９の一部が長孔３ｃ内に配置されているため、磁気センサ８を磁気スケール７に近接して配置しやすくなり、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保しやすくなる。
（５）
このレンズ鏡筒１００では、磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されているため、磁気スケール７がカム筒３の内側に配置されていても、磁気スケール７に磁気センサ８を近接して配置しやすくなる。
（６）
このレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４に対してカム筒３が回転する際にカム筒３がセンサホルダ９と干渉しないように長孔３ｃが形成されているため、センサホルダ９の一部が長孔３ｃ内に配置されていても、カム筒３の回転に影響を及ぼさない。
【００２７】
（７）
このレンズ鏡筒１００では、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと概ね同じであるため、ガイドポール５ａと案内部１ｃとの間に形成された隙間によりガイドポール５ａに対して第１レンズ移動枠１が傾いても、磁気センサ８に対する磁気スケール７の傾きを抑制することができる。これにより、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃの位置と大きくずれている場合に比べて、磁気センサ８の位置検出精度が部材間に形成された隙間により低下するのを抑制することができる。
ここで、「磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと概ね同じである」とは、磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃと完全に同じである場合の他に、第１レンズ移動枠１の位置検出精度を確保できる範囲内で磁気スケール７の光軸方向の位置が案内部１ｃとずれている場合も含んでいる。
【００２８】
（８）
このレンズ鏡筒１００では、位置調整機構１３により鏡筒本体４に対する磁気センサ８の位置を調整することができるため、磁気スケール７に対する磁気センサ８の位置を微調整することができ、磁気スケール７と磁気センサ８との間の距離の精度を確保できる。
特に、磁気センサ８が鏡筒本体４の外側に配置されているため、位置調整機構１３による位置調整をレンズ鏡筒１００の組み付け完了後に行うことができる。
（９）
磁気センサの配置の一例として、鏡筒本体およびカム筒の光軸方向の後方（図１の右側）に磁気センサを配置する場合が考えられる。この場合、磁気スケールは鏡筒本体およびカム筒から光軸方向の後方に突出するように配置される。後方に突出した磁気スケールの位置を磁気センサで検出する。
【００２９】
この構成では、第１レンズ移動枠からの磁気スケールの位置が遠くなるため、磁気スケールと光軸との平行度を精度良く保持することが困難であり、位置検出精度が低下するおそれがある。さらに、第１レンズ移動枠が光軸方向の後方に移動した場合には、磁気スケールが突出することになり、レンズ鏡筒の小型化が妨げられる。
しかし、前述のレンズ鏡筒１００では、鏡筒本体４の半径方向外側に磁気センサ８が配置されているため、磁気センサ８を鏡筒本体４の後方に配置する場合に比べて、磁気スケール７を第１レンズ移動枠１の近くに配置することができる。このため、位置検出精度を確保することができる。さらに、磁気スケール７が後方に突出しないため、磁気センサ８を鏡筒本体４の後方に配置する場合に比べて、レンズ鏡筒１００の光軸方向の小型化を図ることができる。
【００３０】
＜他の実施形態＞
なお、本発明の具体的な構成は、前述の実施形態に限られるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更および修正が可能である。
（Ａ）
前述の実施形態では、被検出部材の位置を検出するための検出部として磁気センサ８（ＭＲセンサ）、被検出部材として磁気スケール７を例に説明しているが、検出部および被検出部材はこれらに限られない。例えば、検出部はフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタであってもよい。検出部がフォトインタラプタあるいはフォトリフレクタの場合は、被検出部材としては櫛歯状部材が考えられる。
（Ｂ）
前述の実施形態では、磁気センサ８がカム筒３の内側に配置されているが、磁気センサ８の少なくとも一部（より詳細には、検出素子８ａ）がカム筒３の内側に配置されていればよい。
【００３１】
また、センサホルダ９の一部がカム筒３の内側に配置されているが、センサホルダ９全体がカム筒３の内側に配置されていてもよい。
（Ｃ）
前述の実施形態では、磁気スケール７を磁気センサ８に近接して配置するために、カム筒３に長孔３ｃが形成されているが、長孔３ｃは回転方向に延びていなくてもよく、孔が形成されていればよい。
また、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分が磁気を通す素材でできている場合は、カム筒３に孔が形成されていなくても、磁気センサ８により磁気スケール７の位置を検出することは可能である。例えば、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分の厚みが薄い場合は、磁気センサ８による位置検出精度を所望のレベルで確保しやすくなる。
【００３２】
なお、磁気スケール７の着磁ピッチ（Ｓ極とＮ極との間の距離）を大きくとることで、磁気スケール７と磁気センサ８とを離して配置することができる。このため、カム筒３の磁気スケール７および磁気センサ８の間に位置する部分の厚みが厚い場合であっても、第１レンズ移動枠１の位置検出を行うことは可能である。
【産業上の利用可能性】
【００３３】
本発明に係るレンズ鏡筒では、レンズ移動枠の位置検出精度を確保しつつ組み付け性を高めることができるため、本発明は、光学系を支持するためのレンズ鏡筒の分野において有用である。
【符号の説明】
【００３４】
１  第１レンズ移動枠（レンズ移動枠の一例）
２  第２レンズ移動枠
３  カム筒（回転枠の一例）
４  鏡筒本体
４ａ  本体部材
５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄ  ガイドポール（ガイド部材の一例）
６ａ，６ｂ  連結ピン
７  磁気スケール（被検出部材の一例）
８  磁気センサ（検出部の一例）
９  センサホルダ（保持部材の一例）
１０  調整ネジ
１３  位置調整機構
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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