【手続補正書】
【提出日】平成16年10月22日(2004.10.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【書類名】      明細書 
【発明の名称】  検査装置及び検査方法 
【特許請求の範囲】 
【請求項１】  所定のパターンが形成された基板と該基板上に形成された薄膜とを有する被検物体に対して複数の波長領域を含む照明光を照射する照明系を配置し； 
前記被検物体からの反射光又は回折光を目視で観察することにより前記被検物体の外観を検査するように構成されたことを特徴とする； 
検査装置。 
【請求項２】  被検物体からの散乱光を目視で観察することにより被検物体の外観を検査する検査装置において； 
前記被検物体に対して照明光を斜め方向から照射する照明系を設け； 
前記照明系は、前記照明系側に前記目視による観察方向が位置するように設定されていることを特徴とする； 
検査装置。 
【請求項３】  前記照明系は、前記照明系の光軸が前記被検物体の表面と交差する交点における前記表面の法線と前記光軸とを含む平面に対して、垂直かつ前記法線を含む基準面を境として前記照明系側に前記目視による観察方向が位置するように設定されていることを特徴とする； 
請求項２に記載の検査装置。 
【請求項４】  所定のパターンが形成された基板と該基板上に形成された薄膜とを有する被検物体の外観を検査する検査装置において； 
前記被検物体に対して第１の照明光を斜め照射する第１の照明系と； 
前記被検物体に対して複数の波長領域を含む第２の照明光を照射する第２の照明系とを設け； 
前記第１及び第２の照明系は、前記第１の照明系側に前記目視による観察方向が位置するように設定されていることを特徴とする； 
検査装置。 
【請求項５】  所定のパターンが形成された基板と該基板上に形成された薄膜とを有する被検物体の外観を検査する検査方法において； 
前記被検物体に対して複数の波長領域を含む照明光を照射する照明工程と； 
前記照明工程によって前記被検物体から発生する反射光又は回折光を観察する観察工程とを備えることを特徴とする； 
検査方法。 
【請求項６】 前記複数の波長領域を含む光は、波長に関して少なくとも２つの離散的ピークを有する光であることを特徴とする；
請求項１に記載の検査装置。 
検査方法。 
【請求項７】 前記離散的ピークの幅は、１０ｎｍ程度であることを特徴とする；
請求項６に記載の検査装置。
【請求項８】  前記複数の波長領域を含む光は、互いに補色関係にある２つの波長領域を含むことを特徴とする；
請求項１に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】 
【０００１】 
【発明の属する技術分野】 
本発明は外観検査装置に関し、特に、ウェハまたは液晶基板などの表面に付着した異物や傷などの目視による外観検査装置に関するものである。 
【０００２】 
【従来の技術】 
半導体または液晶基板の製造工程においては、回路パターンや回路素子の形成された、基板であるシリコンなどのウェハやガラスプレートの表面を検査する必要がある。それは、パターンに異物が付着していたり傷がついていたり、ウェハやガラスプレートの裏面に異物をつけたまま露光をしたために局所的にフォーカスがずれてしまったり、レジストの表面の異物や傷などによりレジストのパターンを変形させてしまったり、露光装置の異常などにより露光が全面に行なわれなかったり、レジストを基板に塗布せずに露光をしてしまったりすると、形成される素子が正しい形状とならずに所望の性能が出なくなる可能性があるからである。 
【０００３】 
従来からこの種の検査装置として目視による外観検査装置が利用されてきた。従来の目視外観検査装置においては、図４に示されるように、光源２１からの照明光を光ファイバー２２で、回転およびチルト（傾斜）可能なチャック２３に取り付けられたウェハ２４をほぼ上方または前方から照射し異物または傷からの散乱光を観察するような構成をとっていた。 
【０００４】 
【発明が解決しようとする課題】 
以上のような従来の外観検査装置によれば、散乱光の強度の小さい微小な異物や傷を発見するためには、光源の光量を大きくしなければならない。しかしながら、光源の光量を大きくすると反射光の光量も大きくなり、被検物体を傾斜する際などに、この正反射光が直接目に入る危険性がある。このような場合、観察者は眩惑されてしまうために、しばらく検査が行なえなくなるという問題があった。 
【０００５】 
また、パターンのある被検物体面上の薄膜の膜厚ムラを検査しようとすると、パターンによる回折光が生じてしまうために、膜厚ムラにパターンからの回折光が重なってしまい、膜厚ムラの判別がつかなくなるという問題があった。 
【０００６】 
そこで本発明は、観察者が反射光により眩惑されず、また、パターンによる回折光に拘わらず膜厚ムラを判別できる外観検査装置及び外観検査方法を提供することを目的とする。 
【０００７】 
【課題を解決するための手段】 
上記目的を達成するために、請求項１に係る発明による検査装置は、図２に示すように、所定のパターンが形成された基板Ｗｂと該基板Ｗｂ上に形成された薄膜Ｗａとを有する被検物体Ｗ２に対して複数の波長領域を含む照明光を照射する照明系１０を配置し；被検物体Ｗ２からの反射光又は回折光を目視で観察することにより前記被検物体Ｗ２の外観を検査するように構成されたことを特徴とする。ここでいう複数の波長は、典型的には、検査対象の膜厚に応じて適切な波長を２以上選択したものであり、例えば赤と緑等の補色関係にある波長が選択される。補色関係にある色は、人間の目で識別し易く、目視観察で区別が容易だからである。 
【０００８】 
このように構成すると、複数の波長領域を含む照明光を照射する照明系１０をを配置するので、薄膜の膜厚による干渉条件を変化させれば、膜厚ムラに対する感度の高い部分を設定できる。また、パターンによる回折と膜厚ムラによる干渉とを分離観察しやすい。 
【０００９】 
また、上記目的を達成するために、請求項２に係る発明による検査装置は、図１に示すように、被検物体Ｗ１からの散乱光を目視で観察することにより被検物体Ｗ１の外観を検査する検査装置において；被検物体Ｗ１に対して照明光を斜め方向から照射する照明系１を設け；照明系１は、照明系１側に前記目視による観察方向が位置するように設定されていることを特徴とする。 
【００１０】 
前記検査装置では、請求項３に記載のように、照明系１は、照明系１の光軸７が被検物体Ｗ１の表面と交差する交点における表面の法線８と光軸７とを含む平面Ｓ１に対して、垂直かつ法線８を含む基準面Ｓ２を境として照明系１の側に前記目視９による観察方向が位置するように設定されている。 
【００１１】 
このように構成すると、照明系１は、目視による観察方向が照明系１側に位置するように設定されているので、照明系１からの照明光の被検物体Ｗ１による正反射光が直接観察者の目に入射することがない。 
【００１２】 
上記目的を達成するために、請求項４に係る発明による検査装置は、図１及び図２に示すように、所定のパターンが形成された基板Ｗｂと基板Ｗｂ上に形成された薄膜Ｗａとを有する被検物体Ｗ２の外観を検査する検査装置において；被検物体Ｗ２に対して第１の照明光を斜め照射する第１の照明系１と；被検物体Ｗ２に対して複数の波長領域を含む第２の照明光を照射する第２の照明系１０とを設け；第１及び第２の照明系１、１０は、前記第１の照明系１の側に前記目視による観察方向が位置するように設定されている。 
【００１３】 
このように構成すると、第１の照明系１は、目視による観察方向がその照明系１の側に位置するように設定されているので、第１の照明系１からの照明光の被検物体による正反射光が直接観察者の目に入射することがなく、また複数の波長領域を含む第２の照明光を照射する第２の照明系１０を設けてあるので、薄膜の膜厚による干渉条件を変化させれば、膜厚ムラに対する感度の高い部分を設定できる。このようにして、パターンによる回折と膜厚ムラによる干渉とを分離観察しやすく、且つ散乱光により被検物体の表面の傷等も同時に観察できる。 
【００１４】 
上記目的を達成するために、請求項５に係る発明による検査方法は、図２に示すように、所定のパターンが形成された基板Ｗｂと該基板Ｗｂ上に形成された薄膜Ｗａとを有する被検物体Ｗ２の外観を検査する検査方法において；被検物体Ｗ２に対して複数の波長領域を含む照明光を照射する照明工程と；前記照明工程によって被検物体Ｗ２から発生する反射光又は回折光を観察する観察工程とを備える。 
【００１５】 
このように構成すると、複数の波長領域を含む照明光を照射する照明工程を備えるので、薄膜の膜厚による干渉条件を変化させれば、膜厚ムラに対する感度の高い部分を設定できるし、またパターンによる回折と膜厚ムラによる干渉とを分離観察しやすい。 
【００１６】 
請求項６に係る発明による検査装置は、請求項１に係る発明による検査装置において、複数の波長領域を含む光は、波長に関して少なくとも２つの離散的ピークを有する光である。 
【００１７】 
このように構成すると、色が異なるので、人間の目で識別し易くなり、膜厚のムラが容易に識別できる。 
【００１８】 
さらに請求項７に係る発明による検査装置は、請求項６に係る発明による検査装置において、前記離散的ピークの幅は、１０ｎｍ程度である。
【００１９】 
請求項８に係る発明による検査装置は、請求項１に係る発明による検査装置において、  複数の波長領域を含む光は、互いに補色関係にある２つの波長領域を含む。
このように構成すると、補色関係にある２つの波長領域の光を使うので、人間の目で識別し易くなり、膜厚のムラが容易に識別できる。
【００２０】 
【発明の実施の形態】 
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、各図において互いに同一あるいは相当する部材には同一符号を付し、重複した説明は省略する。 
【００２１】 
半導体または液晶基板の製造工程においては、基板であるシリコンなどのウェハやガラスプレート上に回路パターンや回路素子を形成していく。その工程では、表面に感光性のレジストを塗布し、投影型露光装置などでパターンを投影し、現像工程で不要なレジストを取り除き、エッチングやＣＶＤ、蒸着などを行い素子の各部を形成するということを繰り返す。 
【００２２】 
このとき、露光工程や現像工程で生じ得る傷等による不良品の発生を最小限に抑えるために、基板上に形成されたパターンや基板の表面の外観を目視で検査する。 
【００２３】 
この検査で不具合が発見された場合、レジストで作られたパターンは一度レジストを除去して、再びレジストを塗布してパターンの露光をすることにより再生することができる。このようにもう一度修正の効く段階でやり直すのを「戻り工程」という。 
【００２４】 
図１は、本発明による第１の実施の形態である基板の表面の傷等の不具合を知るための目視による外観検査装置の斜視図である。図中、ハロゲンランプやメタルハライドランプなどの可視光線を発する光源２が集光系である楕円鏡３のほぼ第１焦点の位置に配置されている。 
【００２５】 
さらに楕円鏡３のほぼ第２焦点の位置に、ライトガイドファイバー４の入射端が配置されている。ライトガイドファイバー４の入射端においては、細い光ファイバー素線が、全体としてほぼ円形断面を形成するように束ねられている。ライトガイドファイバー４の出射端は、出射光の光路に対してほぼ直交する細長い矩形断面を形成するように束ねられている。この矩形断面は、非常に細長いのでむしろ直線状の形状をしているといってよい。 
【００２６】 
ライトガイドファイバー４の出射端の先、出射端からの光束の光路上に、直線状のライトガイドファイバー４の出射端と円筒面の母線がほぼ平行になるようにシリンドリカルレンズ５が配置されている。以上の光源２からシリンドリカルレンズ５までを含んで、本発明の照明系１が構成されている。 
【００２７】 
シリンドリカルレンズ５は、ライトガイドファイバー４の出射端から広がる光束のうち、ライトガイドファイバー４の矩形形状をした出射端面の法線即ち本発明でいう照明系の光軸７と、その光軸７が本発明の被検査物であるウエハＷ１の面と交差する点におけるウエハＷ１の面の法線８とを含む面Ｓ１に広がる光束を、ほぼ平行光束となるようにしている。 
【００２８】 
この時の光束のウエハＷ１の面への入射角は、７０°以上、好ましくは８０°以上、さらにはできるだけ９０°に近くすることが望ましい。ただし、９０°にすると真横から光が当たることになり、ウェハＷ１の表面に照明光が当たらなくなるので、例えば８８°のように９０°よりわずかに小さい値の入射角で照射するのが望ましい。 
【００２９】 
目視観察をする検査員の目９は、被検物体であるウェハＷ１の表面を照射するのと同じ側に位置するように装置を構成する。照射するのと同じ側に位置するとは、図１の実施の形態で説明すれば、前記の平面Ｓ１に対して垂直であって法線８を含む基準面Ｓ２を境として照明系１の側に目視による観察方向が位置するということである。 
【００３０】 
そのような側に目視観察の検査員の目９が来るように構成するとは、例えば光軸７と法線８とが挟む角度内に、細長い矩形断面を形成するライトガイドファイバー４の出射端の長手方向と長手方向が平行なスリット状の邪魔物がない開放空間が存在するように装置要素を配列することである。そのようなスリット状の開放空間を通して、検査員はウエハＷ１の表面のうち、法線８の立つ位置近傍を目視することができる。 
【００３１】 
さらに、ウエハＷ１の表面上の法線８の立つ位置に関して、光軸７と対称な光路の延長上に、シリンドリカルレンズ５を通過してウエハＷ１の表面で反射された光束の進路を遮断する範囲をカバーする、遮光板６を設ける。 
【００３２】 
図１を参照して、本発明の第一の実施の形態である外観検査装置の作用を説明する。光源２からの光束は、楕円鏡３によりライトガイドファイバー４の入射端に集光され、ライトガイドファイバー４により、その出射端に導かれる。ライトガイドファイバー４の入射端と出射端との間は、可撓性のライトガイドを形成しているので、光源部２、３の位置決定の自由度が高く、検査員の目９とウエハＷ１上の法線８の立つ位置近傍（被検査位置）とを結ぶ直線上に、光源部２、３が介在しないように装置を構成することができる。 
【００３３】 
ライトガイドファイバー４の出射端から出射される光束は、シリンドリカルレンズ５を介して、検査員の手前側からウェハＷ１の表面に照射される。その照射される照明光は、ウェハＷ１の被検査位置に向けられたほぼ平行な照明光として、９０°に近い入射角で入射する。 
【００３４】 
検査員の目視の方向が照明光の入射方向と同じ側であるので、入射光の直接反射光を目に入れる危険性なしに検査を行なうことができる。さらに、異物を検査する際には入射光の進行方向に対して９０°以上の方向に散乱される、いわゆる後方散乱光を検出することになる。一般的に後方散乱光で検出する場合には、ウェハＷ１面上に形成されたパターンの影響を受けることが少なく、より小さい異物も検出できる。このため、従来よりも小さい異物の検出が可能となる。また遮光板６により、入射光の直接反射光が装置の外に出るのを防ぐことができる。 
【００３５】 
図２は本発明による第２の実施の形態である、被検物体の表面の不具合、特に基板表面上の膜厚ムラを検査するのに適した目視外観検査装置の斜視図である。図中、例えば水銀灯などの複数の輝線スペクトルを含む光を放出する光源１１が発する照明光の光路中に、被検物体Ｗ２に変化を与えたり、人体に有害な、紫外光などの波長の短い光の成分を取り除き、かつ観察のしやすい光量にするフィルター１２が配置されており、さらに照明光の光路中のフィルター１２の先には、照明光をほぼ平行な光束とするコンデンサレンズ１３が配置されている。被検物体Ｗ２が、その平行光束の照射領域内に置かれるように、本外観検査装置は構成されている。 
【００３６】 
検査員が観察するのは、この照射された光の被検物体Ｗ２からの反射光である。ここで、図３を参照して、被検物体Ｗ２の表面上での薄膜による干渉を説明する。図３に示されるように、被検物体Ｗ２は基板であるシリコン等のウエハＷｂの表面に屈折率ｎで厚さｔの薄膜Ｗａが形成されている。図３では、ウエハＷｂ、薄膜Ｗａは説明に必要な一部のみを抽出して示しており、その他の部分は破断線により破断し図示を省略してある。 
【００３７】 
図２と図３を参照して、本実施の形態の作用を説明する。複数の輝線スペクトルを含む光を放出する光源１１からの光は、フィルター１２を通され、紫外光などの波長の短い光の成分を取り除き、かつ観察のしやすい光量にして、コンデンサレンズ１３を介して被検物体Ｗ２に照射される。検査員はこの照射された光の反射光を観察する。 
【００３８】 
図３に示されるように、被検物体面Ｗ２上での薄膜Ｗａによる光の干渉は、薄膜Ｗａの表面上の点Ａに波長λの光が入射角度θで入射した場合、薄膜Ｗａ内での屈折角をφとすると、スネルの法則よりｓｉｎθ＝ｎ・ｓｉｎφとなる。このとき、薄膜表面で反射される光ＡＤと薄膜の内部に入って薄膜の底面の点Ｂで反射された光（ＡＢ＋ＢＣ）とが干渉する。ここで、点Ｃは前記光線の点Ｂでの反射光と薄膜Ｗａの表面との交点である。また、点Ｄは前記のように入射角θで入射した光線の反射光線に、点Ｃから降ろした垂線の足とする。以上のような光線を含む光束の光路長差Δは、次のような式で表せる。 
【００３９】 
【数１】 
1999142345.tif 000001
【００４０】 
このとき光の干渉により、Δ／λが整数の場合には光は強め合い、Δ／λが半整数の場合には光は弱め合う。人間の目には強め合った光が観察されるので、薄膜の厚さが以上の条件を満たす部分に、その強め合った波長の色がついてみえる。例えば、θが５５°で入射した場合を考え、薄膜の屈折率が１．６４であるとすると、水銀灯の５４６ｎｍの光では膜厚が０．９６１μｍのとき強め合う状態となり、５７６ｎｍの光では膜厚が１．０１４μｍのとき強め合う条件となる。したがって、膜厚が０．９６１μｍの部分が５４６ｎｍの緑色で見え、膜厚が１．０１４μｍの部分が５７６ｎｍのオレンジ色で見える。このように人間の目で識別できる色の輝線スペクトルを用いれば、膜厚のムラが容易に判別できる。 
【００４１】 
上式より入射角度θを変化させることにより干渉の条件を変化させることができるので、薄膜の膜厚ｔに応じてムラに対する感度の高い部分を設定できる。また、水銀灯ではなく、ハロゲンランプのような白色光源に干渉フィルターを入れ、任意の波長の光を組み合わせるようにしてもよく、その場合にはムラに対する感度を自由に設定することができる。ここで組み合わせる光は、人間の目に識別し易くするために、赤と緑などの補色の関係にある波長を選択するのが望ましい。 
【００４２】 
このように本実施の形態によれば、パターンのある被検物体面でパターンが回折格子として作用して回折光が生じても、その回折光の進行方向と薄膜により強め合った光の方向とは一致することはほとんどないので、薄膜の膜厚ムラによる光とパターンからの回折光が重ならず、膜厚ムラの判別を容易につけることができる。 
【００４３】 
また、第一の実施の形態と第二の実施の形態とを組み合わせてもよい。このような検査は、被検査物である生産されるウェハの全数について行なう必要があり、検査の時間を極力短くすることが要求される。異物や傷の検出には強い照明光が必要なのでほぼ白色光を用い、膜厚ムラの検査には水銀灯の２つの波長（５４６ｎｍと５７６ｎｍ）の照明光を用いて検査すると、ムラがあると緑とオレンジ色の干渉縞が観察できるし、異物や傷があると白く光ってみえる。このように検査項目に応じて異なった色で検査できるので、異常の弁別が容易であり同時に異なる種類の不具合（例えば、膜厚ムラと傷のように）を検査をすることができる。 
【００４４】 
このとき、照明の光量に応じて検査感度が相対的に変化するので、照明光の強度を相対的に変えることにより検査感度を相対的に変えることができる。即ち、本発明の第１と第２の照明系の少なくとも一方に、照明光の光量を調節する光量調整手段が設けられてもよい。照明の光量を変えるには、光源の輝度を変化させる方法やＮＤ（ニュートラルデンシティフィルター）や絞りなどにより光学系で光量を変化させる方法などあるが、そのいずれを用いてもよい。ただし、光源のスペクトルを変化させたり、照明の開口数を変化させたりしない点で、 ＮＤフィルターを用いるのが望ましい。 
【００４５】 
図５に、第２の実施の形態で用いた、水銀灯を含む照明系１０に代えて用いることのできる照明系３０を示す。図中、白色光を発する光源３１と光源４１とが、お互いの光路が平行になるように並列に配置されている。それぞれの光源の光路中にはそれぞれからの光束を平行光束にするコンデンサーレンズ３３、４３がそれぞれ配置されており、その先には、各光路に対して反射面が約４５°の角度をもってダイクロイックミラー３２、４２がそれぞれ配置されている。ダイクロイックミラー３２で反射された光は、ダイクロイックミラー４２の、光源４１からの光の入射面とは反対側の面に入射するように、両ダイクロイックミラー３２、４２は、合成光路上に直列に配置されている。 
【００４６】 
ここで、ダイクロイックミラー３２は波長６３０ｎｍ近傍の赤色光を選択的に反射し、ダイクロイックミラー４２は波長５５０ｎｍ近傍の緑色光を選択的に反射し、それぞれその他の光は透過させるものとする。 
【００４７】 
以上のような構成において、光源３１からの白色光はコンデンサーレンズ３３により平行光束にされてダイクロイックミラー３２に入射する。ここでは、波長６３０ｎｍ近傍の赤色光だけが反射され、その他の波長の光は透過してこの照明系の外に逃げる。ダイクロイックミラー３２で反射された光はダイクロイックミラー４２に入射し、これを透過する。 
【００４８】 
一方、光源４１からの白色光はコンデンサーレンズ４３により平行光束にされてダイクロイックミラー４２に、ダイクロイックミラー３２の反射光とは反対の側から入射する。ここでは、波長５５０ｎｍ近傍の緑色光だけが反射され、その他の波長の光は透過してこの照明系の外に逃げる。 
【００４９】 
したがって、ダイクロイックミラー４２では、波長６３０ｎｍ近傍の赤色光と波長５５０ｎｍ近傍の緑色光の２種類の波長の光のみを含む合成光束となる。このような照明系３０を、図２の照明系１０に置き換えて用いることができる。 
【００５０】 
以上説明したように、本発明の実施の形態では複数の波長領域とは、選択された、特に人間の目で識別し易い程度に色の異なる、できれば補色関係にある波長領域同士である。波長領域は第２の実施の形態で説明したように、２つの波長領域であってもよいし、３から７程度の領域であってもよい。但し無数の領域が連続した白色光は好ましくない。第２の実施の形態は、可視光の一部の光に対して人間の目が波長に関して高い分解能があることを利用してムラを色で判別するようにしたものであり、膜厚ムラの検査に特に適する。さらに言えば、複数の波長領域は離散的ピークを有することが望ましく、その領域の幅は狭く、例えば１０ｎｍ程度とするのが望ましい。 
【００５１】 
このようにして、生産のスループットを落とすことなく高い検出率で、基板上にパターンの形成された被検物体上の傷や膜厚ムラの検査を行なうことができる。 
【００５２】 
また、本発明の他の実施の形態の外観検査装置においては、図２に示されるように、被検面Ｗａ、Ｗｂからの回折光により目視で前記被検面Ｗａ、Ｗｂを検査する外観検査装置において、各波長領域を相互に人間の目が色として識別できる複数の波長領域を含む照明光を照射する照明系１０と、前記照明系１０からの照明光の前記被検面に対する入射角θ（図３）を変更できるように、前記被検面と前記照明系とを相対的に保持する不図示の保持装置とを備えるようにしてもよい。 
【００５３】 
このように構成すると、入射角θ（図３）が可変であるので、膜厚ｔに応じて入射角θを設定することができるので、照明光の波長を特定の値に固定的に設定しても、種々の膜厚を検査することが可能となる。 
【００５４】 
また、前記保持装置は、前記入射角を所定の角度に維持しながら、目視の角度を変化させることができるように構成してもよい。この外観検査装置は目視により観察する装置であるので、図２において目視の方向はほぼ入射角θと同一の角度方向になってしまい、一時に観察できる範囲は目視観察方向が角度θになる被検物体上の点近傍のみとなってしまう。ここで上記のように構成すると、特定の点についてみて目視の角度を変化させることができるように構成されているので、目視角度がθである点は被検物体上を移動する。したがって被検物体上を全面にわたって目視観察することができる。 
【００５５】 
前記照明系は、複数の波長領域を含む照明光を提供するＮＤフィルタを備えるようにしてもよい。 
【００５６】 
さらには図１に示されるように、別の実施の形態の外観検査装置では、被検面Ｗ１からの散乱光により目視で前記被検面Ｗ１を検査する外観検査装置において、前記被検面Ｗ１を照明光で照射する照明系１と、前記照明光１の前記被検面Ｗ１に対する入射角が９０°に近くなるように、且つ目視による観察方向が前記被検面の法線８より前記照明光の入射側になるように、前記被検面Ｗ１と前記照明系１とを保持する不図示の保持装置とを備える。 
【００５７】 
また、図１と図２を組み合わせた外観検査装置として、被検面からの回折光及び散乱光により目視で前記被検面を検査する外観検査装置において、各波長領域を相互に人間の目が色として識別できる複数の波長領域を含む照明光を照射する第１の照明系と、前記被検面を入射角が９０°に近くなるような角度で入射する照明光で照射する第２の照明系と、前記第１の照明系からの照明光の前記被検面に対する入射角を変更できるように、且つ前記被検面を、目視による観察方向が前記被検面の法線より前記第２の照明系からの照明光の入射側になるように保持する不図示の保持装置とを備えてもよい。 
【００５８】 
さらに、前記保持装置は、前記第１の照明系からの照明光の入射角と前記第２の照明系からの照明光の入射角とをそれぞれ所定の角度に維持しながら、目視の角度を変化させることができるように構成されていてもよい。 
【００５９】 
【発明の効果】 
以上のように本発明によれば、複数の波長領域を含む照明光を照射するので、薄膜の形成された被検物体の外観を目視で検査することが容易になる。また、斜め方向から照射する照明系を備え、その照明系は目視観察方向に位置するので、目視する目に正反射光が入射せず、目の眩惑を防止できる。 
【図面の簡単な説明】 
【図１】 
本発明の第１の実施の形態を示す概略斜視図である。 
【図２】 
本発明の第２の実施の形態を示す概略斜視図である。 
【図３】 
被検物体面上の薄膜干渉を説明する部分断面図である。 
【図４】 
従来の目視観察用照明装置を示す概略図である。 
【図５】 
照明系の一例を示す概略図である。 
【符号の説明】 
１  照明系 
２  可視光光源 
３  楕円鏡 
４  ライトガイドファイバー 
５  シリンドリカルレンズ 
６  遮光板 
７  光軸 
８  法線 
９  目視位置 
１０  照明系 
１１  水銀灯 
１２  短波長カットフィルター 
１３  コンデンサレンズ 
３０  照明系 
３１  光源 
３２  ダイクロイックミラー 
３３  コンデンサーレンズ 
４１  光源 
４２  ダイクロイックミラー 
４３  コンデンサーレンズ 
Ｓ１、Ｓ２  平面 
Ｗ１  ウェハ 
Ｗ２  被検物体 
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
1999142345.tif 000002
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図３】
1999142345.tif 000003