(57)【要約】【課題】  パターン画像のぼやけや位置ばらつきを原因とするパターンの位置調整の精度低下を防止しつつ効率な位置決めを可能とする。【解決手段】  パターン群Ｇｒを形成する複数のパターンＰの基準パターンを設定する基準パターン設定手段１１と、パターンＰを撮像することによってパターンＰの画像データを取得するパターン画像撮像手段１２と、パターンＰの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段１３と、誤差にもとづき複数のパターンＰの中から一以上の有効パターンＰ＋又は無効パターンＰ−を特定する位置決めパターン特定手段１４と、一以上の有効パターンＰ＋又は無効パターンＰ−にもとづき、パターン群ＰＧｒに関する位置情報又は位置調整情報を算出する位置情報算出手段１５と、を備えた構成としてある。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段と、
前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段と、
前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段と、
前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段と、
特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出する位置情報算出手段と、
を備えることを特徴とする位置決め装置。
【請求項２】
前記基準パターン設定手段は、前記基準パターンとともにその基準パターンに関する位置情報を設定し、
前記パターン撮像手段は、前記パターンの画像データとともにそのパターンに関する位置情報を取得し、
前記誤差取得手段は、前記基準パターンに関する位置情報と前記パターンに関する位置情報とを対比することによってパターンごとの誤差を取得する請求項１記載の位置決め装置。
【請求項３】
前記位置情報算出手段が算出する前記パターン群に関する位置情報にはそのパターン群の位置調整情報を含む請求項１又は２記載の位置決め装置。
【請求項４】
前記基準パターン設定手段は、
前記パターンが本来配置されるべき位置に設定された設計パターン又は前記パターンが属するパターン群が有する当該パターン以外の他の実パターンを、前記基準パターンとして設定する請求項１乃至３のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項５】
前記誤差を所定の近似関数にもとづいて補正する補正手段を備え、
前記位置決めパターン特定手段は、
前記補正後の誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する請求項１乃至４のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項６】
前記位置決めパターン特定手段は、
前記誤差又は前記補正後の誤差にもとづき前記複数のパターンに対して位置決めに関する所定の有効性を判断し、当該有効性が認められた有効パターン又は前記有効性が認められなかった無効パターン以外のパターンを前記位置決め対象パターンとする請求項５記載の位置決め装置。
【請求項７】
前記位置情報算出手段は、
前記位置決め対象パターンの位置情報の平均値を前記パターン群に関する位置情報とするとともに、前記位置決め対象パターンに対応する基準パターンの位置情報の平均値を前記パターン群に対応する基準パターン群に関する位置情報とし、
前記パターン群に関する位置情報と前記基準パターン群に関する位置情報とを対比することによって前記パターン群の位置調整情報を算出する請求項３乃至６のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項８】
前記位置情報算出手段は、
前記位置決め対象パターンの位置とその基準パターンの位置との差分値にもとづく所定の演算処理により前記パターン群の位置調整情報を算出する請求項３乃至７のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記基準パターンの位置情報を多値化することによって基準パターンの多値化画像を取得する多値化手段を備え、
前記誤差取得手段は、
パターンの画像データと対応する基準パターンの多値化画像とを対比することによってパターンごとの誤差を取得する請求項１乃至８のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１０】
前記基準パターン設定手段は、位置決め対象となる上位パターン群を形成する複数の下位パターン群に対応する基準パターン群を設定し、
前記パターン撮像手段は、前記下位パターン群を撮像することによって下位パターン群の画像データを取得し、
前記誤差取得手段は、前記下位パターン群の画像データとその基準パターン群とを対比することによって下位パターン群ごとの誤差を取得し、
前記位置決めパターン特定手段は、前記誤差にもとづき前記複数の下位パターン群の中から一以上の位置決め対象パターン群を特定し、
前記位置情報算出手段は、特定された前記位置決め対象パターン群にもとづき、前記上位パターン群に関する位置情報を算出する請求項１乃至９のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１１】
前記基準パターン設定手段は、前記基準パターン群とともにその基準パターン群に関する位置情報を設定し、
前記パターン撮像手段は、前記下位パターン群の画像データとともにその下位パターン群に関する位置情報を取得し、
前記誤差取得手段は、前記基準パターン群に関する位置情報と前記下位パターン群に関する位置情報とを対比することによって下位パターン群ごとの誤差を取得する請求項１０記載の位置決め装置。
【請求項１２】
前記位置情報算出手段が算出する前記上位パターン群に関する位置情報にはその上位パターン群の位置調整情報を含む請求項１０又は１１記載の位置決め装置。
【請求項１３】
前記基準パターン設定手段は、前記下位パターン群が本来配置されるべき位置に設定されたパターン群又は前記下位パターン群が属する上位パターン群が有する当該下位パターン群以外の他の下位パターン群を、前記基準パターン群として設定する請求項１０乃至１２のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１４】
前記補正手段は、下位パターン群ごとの誤差を所定の近似関数にもとづいて補正し、
前記位置決めパターン特定手段は、前記補正後の誤差にもとづき前記複数の下位パターン群の中から一以上の位置決め対象パターン群を特定する請求項１０乃至１３のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１５】
前記位置決めパターン特定手段は、
前記誤差又は前記補正後の誤差にもとづき前記複数の下位パターン群に対して位置決めに関する所定の有効性を判断し、当該有効性が認められた有効パターン群又は前記有効性が認められなかった無効パターン群以外の下位パターン群を前記位置決め対象パターン群とする請求項１４記載の位置決め装置。
【請求項１６】
前記位置情報算出手段は、
前記位置決め対象パターン群の位置情報の平均値を前記上位パターン群に関する位置情報とするとともに、前記位置決め対象パターン群に対応する基準パターン群の位置情報の平均値を前記上位パターン群に対応する上位基準パターン群に関する位置情報とし、
前記上位パターン群に関する位置情報と前記上位基準パターン群に関する位置情報とを対比することによって前記上位パターン群の位置調整情報を算出する請求項１０乃至１５のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１７】
前記位置情報算出手段は、
前記位置決め対象パターン群の位置とその基準パターン群の位置との差分値にもとづく所定の演算処理により前記上位パターン群の位置調整情報を算出する請求項１２乃至１６のいずれか一項記載の画像形成装置。
【請求項１８】
前記多値化手段は、前記基準パターン群の位置情報を多値化することによって基準パターン群の多値化画像を取得し、
前記誤差取得手段は、パターン群の画像データと対応する基準パターン群の多値化画像とを対比することによってパターン群ごとの誤差を取得する請求項１０乃至１７のいずれか一項記載の位置決め装置。
【請求項１９】
位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定ステップと、
前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像ステップと、
前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得ステップと、
前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定ステップと、
特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出する位置情報算出ステップと、
を有することを特徴とする位置決め方法。
【請求項２０】
前記基準パターン設定ステップは、前記基準パターンとともにその基準パターンに関する位置情報を設定し、
前記パターン撮像ステップは、前記パターンの画像データとともにそのパターンに関する位置情報を取得し、
前記誤差取得ステップは、前記基準パターンに関する位置情報と前記パターンに関する位置情報とを対比することによってパターンごとの誤差を取得する請求項１９記載の位置決め方法。
【請求項２１】
所定のコンピュータを、
位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段、
前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段、
前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段、
前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段、
特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出する位置情報算出手段として機能させるための位置決めプログラム。
【請求項２２】
前記基準パターン設定手段を、前記基準パターンとともにその基準パターンに関する位置情報を設定する手段、
前記パターン撮像手段を、前記パターンの画像データとともにそのパターンに関する位置情報を取得する手段、
前記誤差取得手段を、前記基準パターンに関する位置情報と前記パターンに関する位置情報とを対比することによってパターンごとの誤差を取得する手段として機能させるための請求項２１記載の位置決めプログラム。
【請求項２３】
位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段と、
前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段と、
前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段と、
前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段と、
特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群の位置調整情報を算出する位置情報算出手段と、
前記位置調整情報にもとづき前記パターン群の断裁位置を決定し断裁処理を行う断裁手段と、を備えることを特徴とする断裁装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パターンの位置決め処理に関し、より詳しくは、規則的に配列されたパターンを光学的に読み取ることによって位置決めを行う位置決め装置、位置決め方法、位置決めプログラム及び断裁装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
製品の大量生産を行う一部の工程においては、搬送ライン上の素材を複数の形状に一括断裁して効率よく生産品を得る方法が多く用いられている。
例えば、紙幣や証券などは、用紙に印刷された紙幣のパターンを一定数のまとまりごとに自動断裁することによって大量の紙幣を効率よく生産することができる。
しかしながら、搬送時の素材のばたつきや温度・湿度といった周囲環境の変化によってパターンに微妙に位置ズレが生ずることがある。
このため、このように相当数のパターンについて機械的に一括断裁を行う場合、その前処理としてパターンやパターン群の正確な位置決めが不可欠である。
【０００３】
そこで、正確な位置決めを行うための関連技術として、特許文献１には、ラインセンサの撮像画像を用いて印刷用紙を正確に断裁するための断裁位置検出方法等が提案されている。
この断裁位置検出方法等によると、用紙上のトンボマークを撮像することによってその位置寸法を測定し、前記位置寸法と基準寸法との比較によって得た寸法誤差にもとづいて用紙の位置を最適化したうえでその用紙を断裁するようにしている。
加えて、この方法によると、断裁後の用紙のトンボマークを撮像することによって断裁の合否判定を行い、合格品はラインに流し、不合格品はリジェクトするようにしている。
したがって、特許文献１に記載の断裁位置検出方法等によれば、高精度で量産性に優れた断裁システムを実現することが可能である。
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−３４６９８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した断裁位置検出方法等を含め、これまで利用されてきた一般的な位置決め方法は、対象素材の画像をＣＣＤ（Charge  Coupled  Device）カメラ等によって撮像を行ったうえでパターン認識を実施することとしていた。
すなわち、透過光や反射光により対象素材を撮像することによってパターン認識を行っていた。
ところが、透過光で対象素材を撮像した場合、対象物を透過する際に発生する散乱光によってパターン画像がぼやけ、正確な位置合わせができない不具合が発生していた。
また、反射光で対象素材を撮像した場合でも、対象素材のエッジラフネス具合によっては、パターンのエッジ部分がぼやけて正確な位置合わせができないケースが発生していた。
【０００６】
以下、関連する位置決め方法について、図１４を参照しながら説明を行う。
図１４は、関連する一般的なパターン位置決め方法を説明するための説明図である。
図１４（ａ）は、位置合わせの基準となる設計パターン画像Ｐｘと位置合わせの対象となるパターン画像Ｐｙをそれぞれ示しており、さらにＰｘ及びＰｙのエッジ部分がぼやけている様子を示している。
ここで、パターンＰｙをパターンＰｘに一致させるようにシフトさせ（図１４（ｂ）参照）、最も多く重複領域が検出されたところで位置決めを行うようにしている。
しかしながら、上述の位置決め方法によると、図１４（ｃ）に示すように微妙なズレが生じていた。
これは、これまでの位置決め方法では、通常、２値画像を用いて位置合わせを行うため、１画素未満のパターン位置調整ができなかったからである。
【０００７】
したがって、上述の位置決め方法では、正確な位置判定や位置調整ができず、生産効率を低下させることとなっていた。
特に、紙幣などは、いわゆる抄き入れにより用紙の内層に模様を形成しているため、パターンの一部にぼやけや滲みが発生し易く、上記の問題が顕著化していた。
また、このような問題に対処すべく、パターン毎にサブピクセル処理を施して位置合わせを行う方法も考えられたが、パターン単位の位置ばらつきが大きい場合もありパターン単位のみの位置合わせでは生産性と精度のバランスがとれず、生産効率に課題があった。
さらに、ＴＤＩ（Time  Delay  Integration）センサや複数の撮像デバイスを利用して解像度を高める方法も考えられたが、コスト性や保守性の面から実現性に乏しいものとなっていた。
【０００８】
本発明の目的は、上述した課題、すなわち、パターン画像のぼやけやパターン単体の位置のばらつき等を主な原因とする位置決めの精度低下を防止しつつ効率よくパターン位置調整を行うための位置決め装置、位置決め方法、位置決めプログラム及び断裁装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本発明の位置決め装置は、位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段と、前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段と、前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段と、前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段と、特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出し、その位置情報にもとづき当該パターン群の位置調整情報を算出する位置情報算出手段と、を備えた構成としてある。
【００１０】
また、本発明の位置決め方法は、位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定ステップと、前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像ステップと、前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得ステップと、前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定ステップと、特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出し、その位置情報にもとづき当該パターン群の位置調整情報を算出する位置情報算出ステップと、を有する方法としてある。
【００１１】
さらに、本発明の位置決めプログラムは、所定のコンピュータを、位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段、前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段、前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段、前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段、特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群に関する位置情報を算出し、その位置情報にもとづき当該パターン群の位置調整情報を算出する位置情報算出手段、として機能させるためのプログラムとしてある。
【００１２】
そして、本発明の断裁装置は、位置決め対象となるパターン群を形成する複数のパターンに対応する基準パターンを設定する基準パターン設定手段と、前記パターンを撮像することによってパターンの画像データを取得するパターン撮像手段と、前記パターンの画像データとその基準パターンとを対比することによってパターンごとの誤差を取得する誤差取得手段と、前記誤差にもとづき前記複数のパターンの中から一以上の位置決め対象パターンを特定する位置決めパターン特定手段と、特定された前記位置決め対象パターンにもとづき前記パターン群の位置調整情報を算出する位置情報算出手段と、前記位置調整情報にもとづき前記パターン群の断裁位置を決定し断裁処理を行う断裁手段と、を備えた構成としている。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の位置決め装置、位置決め方法、位置決めプログラム又は断裁装置によれば、パターン画像がぼやけている場合やパターン単体の位置ばらつきが大きい場合であっても、高精度な位置決めを効果的に実施することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の好ましい実施形態について図１〜図１３を参照して説明する。
【００１５】
［第一実施形態］
まず、本発明の第一実施形態に係る位置決め装置について図１〜図１０を参照しながら説明を行う。
図１及び図２は、本発明の第一実施形態に係る位置決め装置の構成を示すブロック図である。
これらの図に示すように、本実施形態の位置決め装置１は、ラインセンサ２及び断裁装置３に接続されており、素材４上に形成されるパターンＰの実際の位置を、ラインセンサ２を通して認識したうえで、調整すべき位置情報（位置調整情報）を断裁装置３に通知するようにしている。
【００１６】
具体的には、ＣＣＤカメラなどの一次元カメラによって構成されるラインセンサ２から得たパターンＰの撮像データにもとづいて調整すべきパターン群ＰＧｒの位置調整情報を算出し、断裁装置３に対してその位置調整情報を出力するようにしている。
そして、断裁装置３は、位置決め装置１から出力されたパターン群ＰＧｒの位置情報にもとづきパターン群ごとに断裁位置を調整したうえで各パターンＰを効率よく、かつ、高精度に断裁するようにしている。
同図に示すように、パターンＰは、一定方向に搬送されるシート状の素材４上に規則的に配列されてパターン群ＰＧｒを形成している。例えば、プリント基板上に配設されたチップ回路や紙面に印刷された紙幣画のひとつひとつがパターンＰに相当する。
【００１７】
図３は、本実施形態における撮像光源の具体的態様を示した図である。
図３（ａ）は、素材４の下方に照明６ａを配置しており、ラインセンサ２がパターンＰを撮像するために透過光（バックライト）を利用する態様を示したものである。
また、図３（ｂ）は、素材４の上方に照明６ｂをライン状に配置しており、ラインセンサ２がパターンＰを撮像するために反射光を利用する態様を示したものである。
ただし、撮像光源は、必ずしも図３（ａ）又は（ｂ）のような態様に限らず、ラインセンサ２によるパターンＰの撮像に十分な照度（光量）があれば照明の位置、数に特に制限はない。
【００１８】
図１に戻り、本実施形態に係る位置決め装置１は、基準パターン設定手段１１、パターン画像取得手段１２、誤差取得手段１３、位置決めパターン特定手段１４及び位置情報算出手段１５を備えている。
また、図２に示すように、上記手段に加え、多値化手段１６及び補正手段を備えた構成であっても良い。
【００１９】
基準パターン設定手段１１は、パターンＰの基準となる基準パターンやその位置情報を予め設定しておくものである。
具体的には、図５に示すように、パターンＰの元となる設計パターン（図４参照）を配列したものを撮像してパターンＰが本来配置されるべき設計位置情報（絶対位置）を位置情報として予め設定する。
また、図６に示すように、撮像したパターンＰが属するパターン群ＰGRに存在する他のパターンを基準パターンとして設定し、その他のパターンとの相対的な位置情報（相対位置）を設定する。例えば、Ｐａを対象とする場合、Ｐｂ〜Ｐｉが基準パターンとなる。
【００２０】
位置情報は、パターンＰの特徴的な部分（例えば、パターンＰの図形或いはパターンＰに内在する図形の重心やエッジ部分等。以下、特徴点という。）の座標値や階調値を採用し、これらのデータは図示しないＲＡＭ（Random  Access  Memory）やハードディスク等の記憶領域に記憶させておきパターンを対比させる際など必要に応じて取り出す。
また、位置情報の抽出方法として、パターンＰの理想形状を転写し、ピーク点を抽出する（一般化）Ｈｏｕｇｈ（ハフ）変換によって同一又は相似する形状を抽出してその座標や階調値を算出しても良い。
なお、基準パターンの精度を確保するため、基準パターンの画像を所定回数撮像して平均化したものを用いることが好ましい。
【００２１】
パターン撮像手段１２は、パターン群ＰＧｒを形成する各パターンＰの画像データを所定の撮像方法によって取得するものである。
具体的には、搬送されてくる素材４のパターンＰをラインセンサ２によって撮像することによってこれらのパターンＰの実際の画像データを取得するものである。
また、取得した画像データからそのパターンＰの位置情報も取得する。
なお、本実施形態においては、前述した通り、撮像光源による散乱光が発生する可能性が高いため、取得した画像データには、ぼやけや滲みが発生していることを前提としている。
【００２２】
誤差取得手段１３は、パターンＰと基準パターンとを対比することによって各パターンにおける誤差を取得するものである。
具体的には、パターンマッチングによりその誤差を算出したり、位置情報を対比することによって位置誤差を算出する。
【００２３】
位置決めパターン特定手段１４は、取得した誤差にもとづき各パターンＰの中から一以上の位置決め対象パターンを特定するものである。
具体的には、搬送ライン上を流れる各パターンＰの中から所定の位置決め対象パターンを抽出するものであり、本実施形態においては、位置決め対象パターンとして有効パターンＰ＋を抽出する。
以下、本実施形態に係る有効パターンＰ＋（無効パターンＰ−）の抽出のアルゴリズムの一例について詳細に説明する。
【００２４】
図６は、本実施形態に係る位置決め装置において対象となるパターン及びパターン群を図示したものである。
同図に示すように、パターン群ＰＧｒは、パターンＰが３×３に整列されて構成されている。
ここでは、副搬送方向をＸ、搬送方向をＹとした場合の各パターンＰ（Ｐａ〜Ｐｉ）の特徴点の座標値を各々求め、各座標値の関連性にもとづいて各パターンＰの有効性を判断するようにする。
なお、本実施形態においては、便宜上、パターンＰａとパターンＰｅを用いて説明を行う。
【００２５】
まず、パターンＰａについては、そのＸ座標値（Ｘａ）がパターンＰｄのＸ座標値（Ｘｄ）やパターンＰｇのＸ座標値（Ｘｇ）と同値あるいは近似する値（所定の閾値）であり、かつ、そのＹ座標値Ｙａが、パターンＰｂのＹ座標値（Ｙｂ）やパターンＰｃのＹ座標値（Ｙｃ）と同値あるいは近似する値（所定の閾値）であるものとする。
この場合、パターンＰａの配置は、他のパターンＰとの相対的誤差が総合的に小さいため、パターンＰａは有効パターンＰ＋とみなし、本発明の位置決め対象パターンとすることができる。
【００２６】
一方、パターンＰｅについては、そのＸ座標値（Ｘｅ）が、パターンＰｂのＸ座標値（Ｘｂ）やパターンＰｈのＸ座標値（Ｘｈ）と大きく異なり、誤差の許容値を超過するものとする。
また、パターンＰｅのＹ座標値（Ｙｅ）は、パターンＰｄのＹ座標値（Ｙｄ）やパターンＰｆのＹ座標値（Ｙｆ）とも大きく異なり、これについても誤差の許容値を超過するものとする。
このような場合、パターンＰｅの配置は、他のパターンＰとの相対的誤差が総合的に大きいためパターンＰｅは有効パターンＰ＋とはみなさず、本発明の位置決め対象パターンから除外するようにする。（すなわち、無効パターンＰ−と見なす。）
【００２７】
なお、図５に示すように、パターンＰの基準パターンとして理想の設計パターンを予め設定しておき、その絶対的誤差にもとづいてパターンＰの有効性を判断しても良い。
この方法によっても、明らかにＰｅは無効パターンＰ−であり、Ｐｅ以外は有効パターンＰ＋であることを導き出すことができる。
さらに、位置決め対象パターン特定手段１４は、取得した誤差をそのまま用いずに、所定の補正処理を行った上で実行することが好ましい場合もある（後述する補正手段１７参照）。
【００２８】
位置情報算出手段１５は、有効パターンＰ＋やその有効パターンＰ＋に関する位置情報やその差分情報にもとづき、パターン群ＰＧｒやその基準パターン群に関する位置情報及びパターン群ＰＧｒの位置調整情報を算出するものであり、典型的には、以下に示す演算方法によってもとめることができる。
【００２９】
（１）パターン位置の平均値による方法
パターン群ＰＧｒを形成する各パターンＰのうち、有効パターンＰ＋の特徴点の座標値その他の位置識別情報又はこれらを補正手段１７によって補正した後の平均値をこのパターン群ＰＧｒに関する位置情報として求める。
また、同様に、有効パターンＰ＋の基準パターンの座標値等の平均値をこのパターン群ＰＧｒの基準パターン群に関する位置情報とする。
そして、パターン群ＰＧｒの位置情報とパターン群ＰＧｒの基準パターン群の位置情報を対比することで、パターン群ＰＧｒの位置調整情報（つまりズレ量）を算出する。
【００３０】
（２）パターン位置の差分の中央値による方法
パターン群ＰＧｒを形成する各パターンＰのうち、有効パターンＰ＋の特徴点の座標値その他の位置識別情報又はこれらを補正手段１７によって補正した値について、その基準パターンとの差分値を算出し、その差分値を昇順（降順）に並べ、その中央の値をパターン群ＰＧｒの位置調整情報として算出する。
【００３１】
（３）パターン位置の差分の一部を除いた平均値による方法
パターン群ＰＧｒを形成する各パターンＰのうち、有効パターンＰ＋の特徴点の座標値その他の位置識別情報又はこれらを補正手段１７によって補正した値について、その基準パターンとの差分値を算出し、その差分値を昇順（降順）に並べ、先頭のＮ個と後尾Ｍ個を除いた値の平均値をパターン群ＰＧｒの位置調整情報として算出する。
【００３２】
（４）パターン位置の差分にもとづく最小二乗法による方法
パターン群ＰＧｒを形成する各パターンＰのうち、有効パターンＰ＋の特徴点の座標値その他の位置識別情報又はこれらを補正手段１７によって補正した値について、その基準パターンとの差分値を算出し、これらを二乗して足し合わせたものが最小となる位置をパターン群ＰＧｒの位置調整情報として算出する。
【００３３】
なお、上述した方法においては有効パターンＰ＋に限らず、無効パターンＰ−を除く他のパターンＰ（実質、有効パターン）に関する位置情報からパターン群ＰＧｒの位置情報や位置調整情報を算出することも可能である。
そして、算出されたパターン群ＰＧｒの位置調整情報は、断裁装置３に出力され、その位置調整情報に基づき断裁装置３が自ら断裁位置の制御を行い断裁処理が行われることとなる（本発明の断裁手段）。
【００３４】
多値化手段１６は、基準パターンに関する位置情報を多値化して多値化画像を取得するものである。
具体的には、図７に示すように、基準パターンの座標データ（設計データ）にもとづいて画像を形成させ、撮像パターンに近づける処理を行った後、パターン撮像手段１２で取得したパターンＰの撮像画像とのパターンマッチングを行うために用いる。
したがって、上述した位置情報算出手段１５においては、パターンＰと基準パターンとの位置情報（特徴点など）によってパターン群ＰＧｒに関する位置情報や位置調整情報を算出するようにしているが、多値化手段１６を用いることにより、パターン相互の誤差としての階調値を幾何学的に求めることができ、パターン群ＰＧｒに関する位置情報や位置調整情報を算出することができる。
また、多値化手段１６によれば、サブピクセル単位でパターンマッチングができるため、従来の二値化パターンマッチングに比べ細密な位置調整を実現することができる。
例えば、１６階調、６４階調、２５６階調等、２ｎに多値化することが可能であり、階調数が多いほど細密な画像を形成し、より正確な位置調整ができる。
【００３５】
図８は、パターンのエッジ部分を二値化画像及び多値化画像によって表した模式図である。
図８（ａ）に示すとおり、二値化されたパターン画像を用いる場合、エッジの位置を白色か黒色かによってしか表現できない。このため実際には、画素の中間にエッジが存在する場合であっても正確にその境界を表すことは不可能であった。
一方、本実施形態の多値化手段１６によれば、パターン画像を多値化することによって、図８（ｂ）に示すように、エッジの位置が画素の半分の位置（中間値）にあるような場合でも階調値を半分にすることによってグレーのエッジ部分を正確に認識することができる。
なお、パターンマッチングを行わず、位置情報の対比によってパターン群ＰＧｒの位置情報を算出する場合には多値化手段１６の実行は省略しても構わない。
【００３６】
補正手段１７は、各パターンＰの誤差を所定の二次関数にもとづいて補正するものである。
すなわち、誤差を補正することによって有効パターンＰ＋の判定精度やパターン群ＰＧｒの位置情報の算出精度の向上を目的としている。
ここで、補正手段の具体的内容について、図９を参照しながら説明を行う。
図９は、各パターンＰと有効パターンＰ＋とのＹ座標ベースでの差を表したグラフである。
同図に示すように、横軸にはＹ座標、縦軸にはパターンＰと有効パターンＰ＋とのＹ座標値の差（図中△）を表している。
例えば、Ｙ座標値１０に位置するパターンＰにおいては有効パターンＰ＋との差は殆ど無いが、Ｙ座標値３０に位置するパターンＰにおいては有効パターンＰ＋と差は１．０と大きくなっていることを読み取ることができる。
【００３７】
このような誤差に関する所定の特性は、一定の条件のもと発生することが多く、例えば、図９に示す特性の場合、素材４（又はパターンＰ）の搬送ムラによる影響を受けている場合が多く、実質上大きなズレが生じているわけではない。
具体的には、パターンと基準パターンとの位置の誤差をプロットし、その近似曲線を描いた結果、図９に示すような所定の二次曲線が再現された場合にこのような現象が発生することが統計的又は経験的に判明している。
【００３８】
そこで、本実施形態にかかる補正手段１７は、図９に示す各▲点の二次曲線を近似関数を用いて導出し、次いで、この近似関数における各対応値を▲点の座標値から減算し、減算後の値を誤差としてその後の手段（位置決めパターン特定手段及び位置情報算出手段）を実行するようにしている。
この結果、Ｙ座標に示す差は×に示す値になり誤差を一定の範囲で無効化することができるようになる。
すなわち、このような補正を実施することによって搬送ムラによる誤差判定の誤りを排除し、有効パターンの判定精度を効果的に向上させることが可能となる。
【００３９】
次に、以上のような構成からなる位置決め装置による位置決め方法について図１０を参照しながら説明する。
図１０は、本発明の第一実施形態に係る位置決め方法の手順を示したフローチャートである。
【００４０】
ここで、まず、位置決め装置１の基準パターン設定手段１１は、パターン群ＰGrを形成する各パターンＰの基準パターンを設定する（Ｓ１１）。
次いで、パターン撮像手段１２は、各パターンＰの実際の画像データを取得する（Ｓ１２）。
具体的には、搬送される素材４上に形成された複数のパターンＰをラインセンサ２により撮像してその画像データを取得するとともに、その位置情報等も取得する。
【００４１】
次に、誤差取得手段１３は、パターン群ＰGrを形成する各パターンＰの誤差を取得する（Ｓ１３）。
具体的には、基準パターン設定手段１１が設定した設計パターンの特徴点の座標値と、パターン撮像手段１２によって取得したパターンＰの特徴点の座標値との誤差を算出する。
【００４２】
ここで、位置決めパターン特定手段１４は、パターン群ＰGrを形成する各パターンＰの中から位置決め対象パターン（有効パターンＰ＋）を抽出する（Ｓ１４）。
具体的には、前述した有効パターンＰ＋の抽出アルゴリズムが実行される。
すなわち、パターン群ＰGrを形成する各パターンＰと基準パターンとを、相対的又は絶対的な方法にもとづき対比することによって有効パターンＰ＋を特定する。
図５や図６に示す本実施形態の例においては、本ステップにより、Ｐａ、Ｐｂ、Ｐｃ、Ｐｄ、Ｐｆ、Ｐｇ、Ｐｈ、Ｐｉが有効パターンＰ＋として抽出されることとなる。
【００４３】
そして、位置情報算出手段１５が、パターン群ＰGrに関する位置情報と位置調整情報とを求める（Ｓ１５）。
例えば、パターン群ＰGrに属する有効パターンＰ＋に関する位置情報の平均値をそのパターン群ＰGrに関する位置情報とするとともに、パターン群ＰGrに属する有効パターンＰ＋に対応する基準パターンに関する位置情報の平均値をその基準パターン群に関する位置情報とし、パターン群ＰGrに関する位置情報と基準パターン群に関する位置情報とを対比することによってパターン群ＰGrの位置調整情報を算出することができる。
また、上述したように、有効パターンＰ＋の位置の差分値にもとづく中央値、一部を除いた平均値、最小二乗法その他の演算により位置調整情報を算出しても良い。
【００４４】
最後に、位置決め装置１は、求めたパターン群ＰGrの位置調整情報を断裁装置３に出力する（Ｓ１７）。
これにより、断裁装置３は、位置調整情報にもとづきパターン群ＰGrについて正確な断裁位置を認識することができる。
つまり、パターン群ＰGrの全体について一括りに位置調整が実施され、結果、Ｐｅを除くすべてのパターンＰがロバストに位置決めされることとなる。
このため、断裁装置３では、パターンＰの適確な断裁処理が可能となり、パターンＰを効率よく生産することが可能となる。
【００４５】
以上説明したように、本実施形態の位置決め装置１によれば、まず、基準パターンを設定し、次いで、対象となる各パターンＰを撮像し基準パターンと対比するようにしている。
また、この対比に関しては、位置決めに有用な有効パターンＰ＋（又は無効パターンＰ−）を絶対的方法又は相対的方法にもとづき特定するようにしている。
そして、有効パターンＰ＋や無効パターンＰ−にもとづいてパターン群ＰGrに関する位置情報や位置調整情報を算出するようにしている。
【００４６】
したがって、本実施形態に係る位置決め装置１によれば、パターンの位置調整を正確にかつ合理的に行うことが可能である。
特に、紙幣など、内層に模様を形成するパターンの生産現場や搬送ムラ等によるばらつきが発生しやすいパターンの生産現場において、効果的に位置調整ができるようになっている。
具体的には、群単位での処理を行うことによってパターン単位では処理が煩雑になる問題を解消している。
例えば、Ｍ×Ｎパターンのパターン群を形成する各パターンの位置やパターンそのものの変動が正規分布に従うと推定されるため、本実施形態に係る位置決めにおける精度は理論的には（Ｍ×Ｎ−１−無効パターンの数）１／２倍となり、本来的に高精度な位置調整を実現することができる。
また、パターン単位での処理と群単位での処理を組み合わせることによって、従来、パターン単位のみでは検出が困難な位置ズレを合理的に検出し、排除することが可能となり高精度の位置調整を実現できるようにしている。
【００４７】
しかも、本実施形態に係る位置決め装置１によれば、高解像度や高速走査を必要としないため、高感度の撮像デバイスや複数の撮像デバイスが不要である。
このため、装置費用や消費電力を抑制できるため、経済性、保守性及び環境面に優れた位置決め装置１を実現することができる。
また、位置決めのプロセスが簡易で円滑に本発明を実行できるため、位置決めに必要とされる装置停止時間も抑えることが可能となり、稼働率を高めることも可能である。
さらに、従来の位置決め装置及び関連装置の構成をそのまま利用することができるため、導入が容易であり、汎用性のある位置決め装置１を実現することができる。
【００４８】
［第二実施形態］
次に、本発明の第二実施形態に係る位置決め装置について図面を参照しながら説明する。
なお、本実施形態に係る位置決め装置の構成は第一実施形態とほぼ同じであるため、その詳細な説明は割愛する。
【００４９】
図１１は、本発明の第二実施形態に係る位置決め方法の手順を示したフローチャートである。
また、図１２は、本実施形態に係る位置決め方法の対象となる下位パターン群及び上位パターン群を模式的に示した説明図であり、３×３のパターンＰからなる下位パターン群をさらに３×３に配列させて２つの上位パターン群（ＰＧ１、ＰＧ２）を構成したものである。
【００５０】
図１１に示すように、まず、位置決め装置１の基準パターン設定手段１１は、パターン群を形成する各パターンＰの基準パターンを設定する（Ｓ２１）。
次いで、パターン撮像手段１２は、各下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｉｉ）を形成する各パターンＰの画像データを取得する（Ｓ２２）。
具体的には、搬送される素材４上に形成された複数のパターンＰをラインセンサ２により撮像してその画像データを取得する。
【００５１】
次に、誤差取得手段１３は、下位パターン群ＰGr（Ｐａａ〜Ｐｉｉ）を形成する各パターンＰの誤差を取得する（Ｓ２３）。
そして、位置決めパターン特定手段１３は、下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｉｉ）を形成する各パターンＰの中から位置決めの基準とする一以上の有効パターンＰ＋を抽出する（Ｓ２４）。
なお、有効パターンＰ＋の抽出アルゴリズムは、第一実施形態と同様であるため詳細な説明は割愛する。
【００５２】
次に、位置情報算出手段１５が、各下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｉｉ）に関する位置情報を算出する（Ｓ２５）。
例えば、下位パターン群に属する有効パターンＰ＋に関する位置情報の平均値をその下位パターン群の位置情報とするとともに、下位パターン群に属する有効パターンＰ＋に対応する基準パターンに関する位置情報の平均値をその下位パターン群に対応する基準パターン群に関する位置情報とし、下位パターン群の位置情報と基準パターン群の位置情報とを対比することによって下位パターン群の位置調整情報を算出する。
また、第一実施形態と同様、有効パターンＰ＋の位置の差分値にもとづく中央値、一部を除いた平均値、最小二乗法その他の演算により下位パターン群の位置調整情報を算出しても良い。
【００５３】
続いて、位置決めパターン特定手段１４は、上位パターン群（ＰＧ１、ＰＧ２）を形成する下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｆｆ、Ｐｄｄ〜Ｐｉｉ）の中から位置決め対象パターン群を抽出する。
本実施形態においては、対象外となる無効パターン群ＰGr−を抽出する（Ｓ２６）。
具体的には、各下位パターン群に関する位置情報を絶対的方法又は相対的方法にもとづいて対比することによって無効パターン群ＰGr−を抽出する。
【００５４】
ここで、無効パターン群ＰGr−の抽出アルゴリズムについて図１２を用いて詳細に説明する。
本実施形態においては、無効パターンＰGr−を相対的方法にもとづいて抽出する方法を用いる。
図１２に示すように、上位パターン群ＰＧ１は、下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｆｆ）によって形成され、上位パターン群ＰＧ２は、下位パターン群（Ｐｄｄ〜Ｐｆｆ）によって形成されており、便宜上、下位パターン群Ｐｅｅのみが他の下位パターン群の配列から大きくずれているものとする。
【００５５】
まず、上位パターン群ＰＧ１に着目し、ＰＧ１を形成する下位パターン群（Ｐａａ〜Ｐｆｆ）の位置情報を相互に比較する。
この結果、下位パターン群ＰｅｅのＸ座標値は、下位パターン群ＰｂｂのＸ座標値と異なり、また、そのＹ座標値は、下位パターン群Ｐｄｄ、ＰｆｆのＹ座標値と異なる。ただし、本実施形態においては、より正確性を確保するため、この時点においてＰｅｅを無効パターン群ＰＧｒと判定しない。
【００５６】
次に、上位パターン群ＰＧ２に着目し、ＰＧ２を形成する下位パターン群（Ｐｄｄ〜Ｐｉｉ）の位置情報を相互に比較する。
結果、下位パターン群ＰｅｅのＸ座標値は、下位パターン群ＰｈｈのＸ座標値と異なり、また、そのＹ座標値は、下位パターン群Ｐｄｄ、ＰｆｆのＹ座標値と異なる。
このように、上記２つの上位パターン群ごとの比較を介して、下位パターン群Ｐｅｅに関する誤差は総合的に大きく、結果、Ｐｅｅを無効パターン群ＰGr−と見なすこととする。
【００５７】
つまり、本実施形態においては、無効なパターン群ＰGr−を抽出し、排除することによってより一層位置決めの精度を高めることを目的としている。
なお、上述のように実際のパターン群を利用して対比を行う方法（相対的方法）ではなく、予め設定された設計データを用いて対比を行う方法（絶対的方法）を用いても良い。
例えば、図１３に示すように、パターン群の基準となる設計パターン群を予め設定しておき、実パターン群との誤差にもとづいてパターン群の有効性を判断しても良い。
この方法によっても、明らかにＰｅｅは無効パターン群ＰGr−であり、Ｐｅｅ以外は有効パターン群ＰGr＋であることを導き出すことができる。
【００５８】
そして、位置情報算出手段１４は、無効な下位パターン群ＰGr−を除く他の下位パターン群に関する位置情報にもとづき、上位パターン群（ＰＧ１、ＰＧ２）に関する位置情報を求め、その位置情報にもとづき上位パターン群（ＰＧ１、ＰＧ２）の位置調整情報を算出する（Ｓ２７）。
具体的には、Ｐｅｅを除く下位パターン群（Ｐａａ、Ｐｂｂ、Ｐｃｃ、Ｐｄｄ、Ｐｆｆ）に関する位置情報の平均値を上位パターン群ＰＧ１に関する位置情報とし、対応する基準パターン群との対比により上位パターン群ＰＧ１の位置調整情報を算出する。
また、上述した下位パターン群ＰGrの位置調整情報を算出した同様の方法にもとづき、有効パターン群ＰGr＋の位置の差分値にもとづく中央値、一部を除いた平均値、最小二乗法その他の演算により上位パターン群ＰＧ１の位置調整情報を算出しても良い。
なお、Ｐｅｅを除く下位パターン群（Ｐｄｄ、Ｐｆｆ、Ｐｇｇ、Ｐｈｈ、Ｐｉｉ）に関する位置情報をもちいて上位パターン群ＰＧ２に関する位置情報や上位パターン群ＰＧ１の位置調整情報を算出してもよい。
【００５９】
そして、位置決め装置１は、求めた上位パターン群（ＰＧ１、ＰＧ２）の位置調整情報を断裁装置３に出力する（Ｓ２９）。
これにより、断裁装置３は、その位置調整情報にもとづきパターン全体について正確な断裁位置を認識することができる。
図９の例では、これにより上位パターン群ＰＧ１又は上位パターン群ＰＧ２について位置調整が実施され、結果、パターン群単位でロバストに位置決めが可能となり、適確な断裁処理を経て、所望のパターンＰを効率よく生産することが可能となる。
【００６０】
なお、本実施形態に係るパターン抽出手段１３は、無効な下位パターン群ＰGr−を抽出して、ＰGr−以外の下位パターン群にもとづいて上位パターン群の位置決めを行うようにしているが、第一実施形態のように、有効な下位パターン群ＰGr＋を抽出してこの下位パターン群ＰGr＋にもとづいて上位パターン群の位置決めを行うようにしてもよい。
【００６１】
以上説明したように、本実施形態の位置決め装置１によれば、第一実施形態と同様に位置決め対象パターンを抽出し、その位置決め対象パターンに関する位置情報にもとづいてパターン群ＰＧｒに関する位置情報を求めるようにしている。
そして、さらに、複数のパターン群ＰＧｒに関する位置情報にもとづいて位置決め対象パターン群を抽出し、その位置決め対象パターン群に関する位置情報にもとづいて上位パターン群の位置関連情報を求めるようにしている。
【００６２】
したがって、第一実施形態と同様の作用・効果が発揮されるだけでなく、パターンＰの位置決めをより正確にかつ合理的に実施することができるようになる。
特に、位置決め対象パターンとする有効パターン（又は無効パターン）や有効パターン群（又は無効パターン群）の特定を「パターン毎」→「下位パターン毎」→「上位パターン毎」と段階的に実施することにより、従来、パターン単位では検出できなかったグループ単位での微細な誤差を検出することができ、より、合理的かつ正確に位置調整を実施することができる。
【００６３】
ここで、上述した実施形態の位置決め装置１及び位置決め方法は、プログラム（ソフトウェア）の命令によりコンピュータで実行される処理，手段，機能によって実現される。位置決めプログラムは、コンピュータの各構成要素に指令を送り、以下に示すような所定の処理・機能を行わせる。すなわち、本実施形態の位置決め装置又は位置決め方法における各処理・手段（基準パターン設定、パターン撮像、誤差取得、位置決めパターン特定、位置情報算出、多値化、補正）は、プログラムとコンピュータとが協働した具体的手段によって実現される。
なお、プログラムの全部又は一部は、例えば、磁気ディスク，光ディスク，半導体メモリ，その他任意のコンピュータで読取り可能な記録媒体により提供され、記録媒体から読み出されたプログラムがコンピュータにインストールされて実行される。また、プログラムは、記録媒体を介さず、通信回線を通じて直接にコンピュータにロードし実行することもできる。
【００６４】
以上、本発明の位置決め装置１について、好ましい実施形態を示して説明したが、本発明にかかる位置決め装置１は、上述した実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の範囲で種々の変更実施が可能であることは言うまでもない。
例えば、本実施形態の素材としてフィルムや用紙を挙げているが、これらに限らず、箔、フェルト、電波シート材（ＲＦＩＤ用など）、その他、中間層を形成する素材、すなわちパターン画像に滲みやぼやけが発生しやすい素材に好適に使用することができる。
また、断裁装置３が、位置決め処理に係るすべての手段（基準パターン設定手段１１、パターン撮像手段１２、誤差取得手段１３、位置決めパターン特定手段１４、位置情報算出手段１５、多値化手段１６、補正手段１７）を備え、単独で本発明を実施しうる構成であっても良い。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明は、ぼやけ、ばらつき等が発生しやすいパターンの位置決め処理に好適に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】本発明の第一実施形態に係る位置決め装置の構成を示す第一のブロック図である。
【図２】本発明の第一実施形態に係る位置決め装置の構成を示す第二のブロック図である。
【図３】本実施形態におけるにおける撮像光源の具体的態様を示した図である。
【図４】本実施形態においてパターンの元となる設計パターンを示した説明図である。
【図５】本発明の第一実施形態において使用される基準パターン（設計パターン）のパターン群を示した模式図である。
【図６】本発明の第一実施形態において使用される基準パターン（実データ）のパターン群を示した模式図である。
【図７】本発明の第一実施形態における多値化手段を説明するための第一の説明図である。
【図８】本発明の第一実施形態における多値化手段を説明するための第二の説明図である。
【図９】本発明の第一実施形態における補正手段を説明するための説明図である。
【図１０】本発明の第一実施形態に係る位置決め方法の手順を示したフローチャートである。
【図１１】本発明の第二実施形態に係るおける位置決め方法の手順を示したフローチャートである。
【図１２】本発明の第二実施形態において使用される下位パターン群の基準パターン群（実パターン群）を示した模式図である。
【図１３】本発明の第二実施形態において使用される下位パターン群の基準パターン群（設計パターン群）を示した模式図である。
【図１４】関連する一般的なパターン位置決め方法を説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００６７】
１  位置決め装置                                                       
１１  基準パターン設定手段
１２  パターン撮像手段
１３  誤差取得手段
１４  位置決め対象パターン特定手段
１５  位置情報算出手段
１６  多値化手段
１７  補正手段
Ｐ  パターン
Ｐ＋  有効パターン
Ｐ−  無効パターン
ＰＧｒ  パターン群
ＰＧｒ＋  有効パターン群
ＰＧｒ−  無効パターン群
【図１】
2010146438.tif 000003
【図２】
2010146438.tif 000004
【図３】
2010146438.tif 000005
【図４】
2010146438.tif 000006
【図５】
2010146438.tif 000007
【図６】
2010146438.tif 000008
【図８】
2010146438.tif 000009
【図９】
2010146438.tif 000010
【図１０】
2010146438.tif 000011
【図１１】
2010146438.tif 000012
【図１２】
2010146438.tif 000013
【図１３】
2010146438.tif 000014
【図７】
2010146438.tif 000015
【図１４】
2010146438.tif 000016