Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成16年9月17日(2004.9.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
カムスライダー５７には前後に離隔してカム孔５８、５８が形成されている。カム孔５８は上側保持部５８ａと該上側保持部５８ａに連続するカム傾斜部５８ｂと該カム傾斜部５８ｂに連続する下側保持部５８ｃとから成る。カム傾斜部５８ｂはＬ２方向へ行くに従って下方へ変位され、下側保持部５８ｃは前後に長く形成されている。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
右側の受け面部５９ｃの後端部には検出センサー６０が配置されている（図１３参照）。検出センサー６０は基体６０ａと該基体６０ａに対して回動可能な検出アーム６０ｂとを有し、検出アーム６０ｂが基体６０ａに近づく方向へ押圧されて回動されると、ディスクカートリッジ１のディスクホルダー５９に対する挿入完了状態が検出される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７３】
ラック６２ａによって作用突部２２がアウターシェル２の内側へ押し込まれると、ロック部材２０が図１２に示すＳ１方向へ回動され、ロック片部２３ａがロック凹部１０ａから離隔されロック部材２０によるインナーシェル３に対するロックが解除される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７９】
引き続きカムスライダー５７、５７がＬ１方向へスライドされて被ガイドピン５９ｄ、５９ｄ、・・・が垂直部５５ｂ、５５ｂ、・・・の下端部及びカム孔５８、５８、・・・の下側保持部５８ｃ、５８ｃ、・・・に達することによりディスクホルダー５９は装着位置に至り（図２１参照）、駆動モーターの回転が停止される。ディスクホルダー５９が装着位置に至るときには、アウターシェル２の開口部２４のテーブル挿入部２４ａからディスクテーブル６６が挿入され（図２２参照）、ディスク状記録媒体５のコア５ａがディスクテーブル６６のマグネットに吸着されてディスク状記録媒体５がディスクテーブル６６に装着される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８４】
上記には、下方及び挿入方向に開口された第１の位置決め部１６及び第３の位置決め部１８を有するディスクカートリッジ１について説明したが、第１の位置決め部及び第３の位置決め部は少なくとも挿入方向に開口されていればよく、例えば、図２３に示すような挿入方向及び上下方向に開口された第１の位置決め部１６Ａ及び第３の位置決め部１８Ａであってもよく、図２４に示すような挿入方向及び上方に開口された第１の位置決め部１６Ｂ及び第３の位置決め部１８Ｂであってもよく、図２５に示すような挿入方向のみに開口された第１の位置決め部１６Ｃ及び第３の位置決め部１８Ｃであってもよい。第１の位置決め部１６Ａ、１６Ｂ、１６Ｃ及び第３の位置決め部１８Ａ、１８Ｂ、１８Ｃにあっても、第１の位置決め部１６及び第３の位置決め部１８と同様の位置決めピンを円滑に挿入するための導入部を形成することが望ましい。
【手続補正書】
【提出日】平成17年4月5日(2005.4.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気光学装置であって、
第１基板と、
当該第１基板の一部の領域を残してこの第１基板上に形成される保護層と、
当該保護層上に形成される第１電極と、
前記保護層上に形成されて、前記第１電極と電気的に接続される第１の基板間導通部と、
前記第１基板と対向配置され、且つ第２電極が形成される第２基板と、
当該第２基板上に形成されて、前記第２電極と電気的に接続される第２の基板間導通部と、
前記第１の基板間導通部と前記第２の基板間導通部との間に介在して両者を電気的に接続する導電部材と、
前記導電部材を包含し、且つ前記保護層が形成される領域と前記保護層の形成されない領域とにまたがって塗布されて、前記第１基板と前記第２基板とを貼り合わせる密封材と、
を有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
請求項１に記載の電気光学装置であって、
上記保護層は、上記第１基板の外縁から所定の領域を残して形成されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項３】
請求項１に記載の電気光学装置であって、
上記第１の基板間導通部の下部における上記保護層の形状を、上記第１の基板間導通部の形状に合わせたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項４】
請求項１に記載の電気光学装置であって、
上記第１基板に形成される上記保護層の下層にはカラーフィルタが形成されており、且つ上記第２基板の寸法よりも上記第１基板の寸法の方が大きく、両基板を貼り合わせたときに張り出した第１基板の領域に、上記第１の基板間導通部と接続される実装端子を形成することを特徴とする電気光学装置。
【請求項５】
電気光学装置であって、
第１基板と、
当該第１基板の一部の領域を残してこの第１基板上に形成される保護層と、
前記第１基板の前記保護層上に形成される第１電極と、
前記保護層上に形成されて、前記第１電極と電気的に接続される第１の基板間導通部と、
前記第１基板と対向配置され、且つ第２電極が形成される第２基板と、
当該第２基板上に形成されて、前記第２電極と電気的に接続される第２の基板間導通部と、
前記第１基板上に形成され、且つ前記第１の基板間導通部と電気的に接続される第１の配線パターンと、
前記保護層の下層に形成されて、前記第１の配線パターンと電気的に接続される金属配線パターンと、
前記第１の基板間導通部と前記第２の基板間導通部との間に介在して両者を電気的に接続する導電部材と、
前記導電部材を包含し、且つ前記保護層が形成される領域と前記保護層の形成されない領域とにまたがって塗布されて、前記第１基板と前記第２基板とを貼り合わせる密封材と、
を有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項６】
請求項５に記載の電気光学装置において、
上記第１の配線パターンは上記第１の基板間導通部と同じ材料であり、さらに、上記金属配線パターンの抵抗値は、上記第１の配線パターンの抵抗値よりも低いことを特徴とする電気光学装置。
【請求項７】
請求項６に記載の電気光学装置において、
上記金属配線パターンは、銀、銀合金、アルミニウム又はアルミニウム合金のいずれかで構成されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項８】
請求項５に記載の電気光学装置において、
上記保護層は、上記第１基板の外縁から所定の領域を残して形成されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項９】
請求項５に記載の電気光学装置において、
上記第１基板間導通部の下部における上記保護層の形状を、上記第１基板間導通部の形状に合わせたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項１０】
電気光学装置であって、
第１基板と、
当該第１基板の一部の領域を残してこの第１基板上に形成される保護層と、
当該保護層上に形成される第１電極と、
前記保護層上に形成されて、前記第１電極と電気的に接続される第１の基板間導通部と、
前記第１基板と対向配置され、且つ第２電極が形成される第２基板と、
当該第２基板上に形成されて、前記第２電極と電気的に接続される第２の基板間導通部と、
前記第１の基板間導通部と前記第２の基板間導通部との間に介在して両者を電気的に接続する導電部材と、
前記導電部材を包含する領域と、前記導電部材を包含する領域の層厚より厚い領域とを有し、前記第１基板と前記第２基板とを貼り合わせる密封材と、
を有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれか１項に記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項１２】
第１基板の一部の領域を残して保護層を形成してから第１の基板間導通部を形成するとともに、第２基板上へ第２の基板間導通部を形成する工程と、
前記保護層が形成される領域と前記保護層の形成されない領域とにまたがって密封材を塗布し、且つ前記第１の基板間導通部と前記第２の基板間導通部との間に配置した両者を電気的に接続する導電部材を包含しながら前記第１基板と前記第２基板とを貼り合わせる工程と、
を含むことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
【請求項１３】
第１基板上に金属配線パターンを形成する工程と、
前記第１基板の一部の領域を残して前記金属配線パターン上へ保護層を形成する工程と、
前記保護層上であって前記金属配線パターンの上に第１の配線パターンを形成して両者を接続するとともに、前記保護層上へ第１の基板間導通部を形成してこれを前記第１の配線パターンと電気的に接続する工程と、
前記保護層が形成される領域と前記保護層の形成されない領域とにまたがって密封材を塗布し、且つ前記第１の基板間導通部と、前記第１基板と対向配置される第２基板に形成された第２の基板間導通部との間に配置された両者を電気的に接続する導電部材を包含しながら前記第１基板と前記第２基板とを貼り合わせる工程と、
を含むことを特徴とする電気光学装置の製造方法。
【手続補正書】
【提出日】平成17年1月11日(2005.1.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像の投写光が入射する入射面に、半球状或いは略円錐状の微細凹凸をランダムに形成し、この微細凹凸の高低差が５μｍ以上１５μｍ以下、最大直径が３５μｍ以上６５μｍ以下であることを特徴とする背面投写型プロジェクタに用いる光透過性シート。
【請求項２】
前記微細凹凸のランダムなパターンを生成し、そのパターンに従って前記微細凹凸をインクジェット法により形成したことを特徴とする請求項１に記載の光透過性シート。
【請求項３】
上記請求項１または２に記載の光透過性シートを有し、前記光透過性シートの射出面が、透過型スクリーンのフレネルレンズとなっていることを特徴とする背面投写型プロジェクタ。
【請求項４】
上記請求項１または２に記載の光透過性シートを有し、前記光透過性シートが、透過型スクリーンを構成するフレネルレンズシートとミラーとの間に設置され、且つ前記光透過性シートの入射面および／または射出面に前記微細凹凸が形成されていることを特徴とする背面投写型プロジェクタ。
【請求項５】
微細凹凸を印刷対象である光透過性シート上にランダムに配置するための微細凹凸パターンを生成するパターン生成手段と、
生成したパターンに従い、インクジェットにより前記光透過性シート上に微細凹凸を形成する微細凹凸パターン印刷手段と、
を備え、
請求項１に記載の光透過性シートを製造することを特徴とする光透過性シート製造装置。
【請求項６】
更に、前記光透過性シート上に形成する微細凹凸の形状を複数のサンプル中から選択する微細凹凸形状選択手段を備えたことを特徴とする請求項５に記載の光透過性シート製造装置。
【請求項７】
コンピューターを、
微細凹凸を印刷対象である光透過性シート上にランダムに配置するための微細凹凸パターンを生成するパターン生成手段と、
生成したパターンに従い、インクジェットにより前記光透過性シート上に微細凹凸を形成する微細凹凸パターン印刷手段と、
して機能させ、
請求項１に記載の光透過性シートを製造するためのプログラム。
【請求項８】
コンピューターを、
微細凹凸を印刷対象である光透過性シート上にランダムに配置するための微細凹凸パターンを生成するパターン生成手段と、
生成したパターンに従い、インクジェットにより前記光透過性シート上に微細凹凸を形成する微細凹凸パターン印刷手段と、
して機能させ、
請求項１に記載の光透過性シートを製造するためのプログラムを記録したコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
微細凹凸５の形状は、例えば図３に示す略円錐状の場合、高低差１０μｍ程度、最大直径５０μｍ程度とし、隙間無く密に配置することが望ましい。この場合において、最も効率よく効果を得ることができる。更に、このような微細凹凸５を形成したフレネルレンズシート２は、光沢度（Gs６０°）が３５％以下、ヘイズ値が３３％以下となるように、微細凹凸の形状、或いは配置を調整することが望ましく、本出願人による試験から、この数値程度において高解像度で且つゴーストが殆ど視認されないことが確認されている。表１に、本出願人による試験結果を示す。
表１  各種拡散板の曇価（Haze）とボケ量の主観評価
2004318174.tif 000001
【手続補正書】
【提出日】平成17年8月3日(2005.8.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ファイバがファイバ固定部に配置されるとともに前記光ファイバ内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光ファイバアレイにおいて、
前記ファイバ固定部の端面に、前記光ファイバの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が互いに重ならないように取り付けられていることを特徴とする光ファイバアレイ。
【請求項２】
前記スペーサの線膨張係数と前記光フィルタの線膨張係数とは、略等しいことを特徴とする請求項１記載の光ファイバアレイ。
【請求項３】
前記光フィルタは、前記光ファイバの延在方向に対して斜めに取り付けられていることを特徴とする請求項１または請求項２の光ファイバアレイ。
【請求項４】
複数のコアが導波路基板に形成されるとともに前記コア内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光導波路において、
前記導波路基板の端面に、前記コアの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が互いに重ならないように取り付けられていることを特徴とする光導波路。
【請求項５】
前記スペーサの線膨張係数と前記光フィルタの線膨張係数とは、略等しいことを特徴とする請求項４記載の光導波路。
【請求項６】
前記光フィルタは、前記コアの延在方向に対して斜めに取り付けられていることを特徴とする請求項４または請求項５の光導波路。
【請求項７】
複数の光ファイバがファイバ固定部に配置されるとともに前記光ファイバ内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光ファイバアレイにおいて、
前記ファイバ固定部の端面に、前記光ファイバの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が取り付けられており、
前記光フィルタの前記ファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面と、前記スペーサの前記ファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面とは、互いに略同じ厚さの接着層を形成することができる接着面として形成されることを特徴とする光ファイバアレイ。
【請求項８】
複数のコアが導波路基板に形成されるとともに前記コア内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光導波路において、
前記導波路基板の端面に、前記コアの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が取り付けられており、
前記光フィルタの前記導波路基板に取り付けられた側の反対の面と、前記スペーサの前記導波路基板に取り付けられた側の反対の面とは、互いに略同じ厚さの接着層を形成することができる接着面として形成されることを特徴とする光導波路。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の光ファイバアレイは、複数の光ファイバがファイバ固定部に配置されるとともに光ファイバ内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光ファイバアレイにおいて、ファイバ固定部の端面に、光ファイバの端面を覆う光フィルタと、光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が互いに重ならないように取り付けられていることを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
また、本発明の光導波路は、複数のコアが導波路基板に形成されるとともにコア内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光導波路において、導波路基板の端面に、コアの端面を覆う光フィルタと、光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が互いに重ならないように取り付けられていることを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２２】
このような構成を採用した場合、光ファイバ内を通過して光フィルタに到達して当該光フィルタによって反射された光が、光ファイバ内を戻るという事態が抑制される。
また、本発明の光ファイバアレイは、複数の光ファイバがファイバ固定部に配置されるとともに前記光ファイバ内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光ファイバアレイにおいて、前記ファイバ固定部の端面に、前記光ファイバの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が取り付けられており、前記光フィルタの前記ファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面と、前記スペーサの前記ファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面とは、互いに略同じ厚さの接着層を形成することができる接着面として形成されていることを特徴とする。
また、本発明の光導波路は、複数のコアが導波路基板に形成されるとともに前記コア内を通過する光の所定の波長成分を透過または反射させる光フィルタを備えた光導波路において、前記導波路基板の端面に、前記コアの端面を覆う光フィルタと、前記光フィルタと略同程度の厚さのスペーサと、が取り付けられており、前記光フィルタの前記導波路基板に取り付けられた側の反対の面と、前記スペーサの前記導波路基板に取り付けられた側の反対の面とは、互いに略同じ厚さの接着層を形成することができる接着面として形成されていることを特徴とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２３】
以上説明したように、本発明に係る光ファイバアレイにおいては、ファイバ固定部の端面に、光ファイバの端面を覆う光フィルタと、光フィルタと同程度の厚さのスペーサとが互いに重ならないように取り付けられている。そして、かかる光ファイバアレイを光導波路等と接続して光学デバイスを組み立てる場合、光フィルタのファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面と、スペーサのファイバ固定部に取り付けられた側の反対の面とに塗布された光学接着剤等によって両者の接続が行われる。
【手続補正書】
【提出日】平成16年12月1日(2004.12.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
底部にトナー排出部を有する、トナー収納容器を装着するための装着部が設けられている画像形成装置において、
前記装着部には、前記トナー収納容器を上方から装着するための開口部と、この装着されたトナー収納容器を確認するための切り欠き部と、視認可能な位置に前記トナー収納容器を係止して保持する手段と、が設けられていることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記装着部がトナー収納容器の形状に合わせた壁部を有することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記装着部に装着され、前記保持する手段に係止されたトナー収納容器は、その保持する手段の係止を解除することにより装着部から取り出し可能であることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
上記の目的を達成するため、本発明は、底部にトナー排出部を有する、トナー収納容器を装着するための装着部が設けられている画像形成装置において、前記装着部には、前記トナー収納容器を上方から装着するための開口部と、この装着されたトナー収納容器を確認するための切り欠き部と、視認可能な位置に前記トナー収納容器を係止して保持する手段と、が設けられていることを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
なお、本発明は、前記装着部がトナー収納容器の形状に合わせた壁部を有すると、効果的である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
さらに、本発明は、前記装着部に装着され、前記保持する手段に係止されたトナー収納容器は、その保持する手段の係止を解除することにより装着部から取り出し可能であると、効果的である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２１】
本発明によれば、装着部にはトナー収納容器を上方から装着するための開口部と、この装着されたトナー収納容器を確認するための切り欠き部と、視認可能な位置にトナー収納容器を係止して保持する手段と、が設けられているので、トナー収納容器の脱着時における操作性が大幅に向上し、しかも確認性も高いので誤装着の発生も大幅に抑制することができる。
【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２３
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正１９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２５
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正２４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２９
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正書】
【提出日】平成16年10月13日(2004.10.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
事故に伴う交通災害を低減化させるために法規を遵守すると宣言した宣言者を増加させるに当たり、保険会社又は安全推進組織の端末機からの自動車保険契約を行おうとする車両の主たる運転者であり法規遵守を宣言した宣言者の免許証番号による違反チェック申請と警察庁のサーバからのその免許証番号に対する無違反開始日の違反チェック回答との連絡手段に通信回線を通じて送受信し、審査の対象期間内に違反と事故がない宣言者に自動車保険の保険料の割引などの特典を与えるとともに車両の後方に貼り付けるシールないしステッカーを交付することを特徴とする交通災害低減化システム。
【請求項２】
自動車安全運転センターの端末機には通信回線を通じて警察庁のサーバに接続して無違反または運転記録データの受信を可能とし、宣言者およびその代理人が自動車安全運転センターから無違反開始日が分る無違反証明書または運転記録証明書による無違反証明を得ることを特徴とした請求項１記載の交通災害低減化システム。
【請求項３】
請求項１での宣言者の免許証番号を車両の登録番号に置き換え、第三者の運転であろうとも該当車両における違反チェックを審査対象とすることを特徴とした請求項１記載の交通災害低減化システム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
【発明の実施の形態】  本発明の宣言者１とは法規遵守を宣言した者で自動車保険を契約しようとする車両の主たる運転者である。審査の対象期間内（例えばゴールド色運転免許は１ヵ年・ブルー色運転免許は３ヵ年）に違反と事故（例えば自責３０％以上）がない宣言者１に対して、自動車保険の保険料を割引いた（例えば５０％引き）割引保険などの特典制度を設ける。その特典が呼び水となって、宣言者１を増やすことができる。
なお、主たる運転者が宣言した車両は、宣言車両と見なし第三者の運転にも法規遵守の宣言したものと同一視する。万一、第三者の運転中に違反が発生した場合、本車両に対する本発明の特典を失うものとする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】  その▲２▼違反チェック申請と▲３▼違反チェック回答の連絡手段は、インターネットや専用回線などの通信回線４を用いた電子化による送受信で処理時間を短縮する。すなわち、警察庁３に設置されかつ管理されている違反データベース用サーバに対する端末機を保険会社又は安全推進組織２に設置し、両者を通信回線で接続する。その端末機には、ＩＤコードを割り当て、部外者のアクセスを除外したり通信経歴の管理を可能とする。▲２▼違反チェック申請には宣言者１の免許証番号や車両の登録番号を用い、▲３▼違反チェック回答には最新違反の翌日すなわち無違反開始日とすることで、部外者がアクセスできたとしても氏名・住所・性別など人物を特定できるデータを含んでいないため該当者のプライバシーを守れる。▲３▼違反チェック回答に免許証取得日を追加すれば、保険会社又は安全推進組織２で該当者との照合がより正確となり、申請のミスをチェックできる。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】  宣言者１は、交付された▲５▼シールないしステッカーを乗車する車両５の少なくとも後方には貼り付ける。
【手続補正書】
【提出日】平成17年9月14日(2005.9.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データベースを複数の分割データベースに分割し、そのおのおのに対してＤＢサーバを関連付けてデータ処理を行うデータベース管理システムにおけるデータベース処理方法であって、
あらかじめダウン状態の他のＤＢサーバの処理を代行する関係を示す情報を登録しておくステップと、
あるＤＢサーバに処理を要求する際に、そのＤＢサーバがダウンしている場合、該代行する関係を示す情報から代行するサーバを取得し、処理の要求先を変更するステップと、
その要求に代行するための指示を付加するステップと、
その要求を受け取った際に、代行するための指示を判定し、指示が存在する場合、前記ダウンしているサーバの替わりにデータ処理を行うステップと
を有することを特徴とするデータベース処理方法。
【請求項２】
請求項１に記載のデータベース処理方法において、
ダウンしているサーバの替わりにデータ処理を行う際に、実行環境をダウンして
いるサーバの実行環境に切り換えること
を特徴とするデータベース処理方法。
【請求項３】
請求項１に記載のデータベース処理方法において、
ダウンしているサーバの替わりにデータ処理を行う際に、本来のＤＢサーバと関
連付けられたＤＢ格納領域、テーブルあるいはインデクスをアクセスするための
データベースバッファを利用すること
を特徴とするデータベース処理方法。
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月28日(2005.3.28)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を複数の画素で表現した画像データを取得する画像データ取得手段と、
同取得した画像データが示す画像から人工的に作成された画像に特徴的な画像データとなっている部位を抽出する人工画像抽出手段と、
上記取得した画像データから同人工画像抽出手段によって抽出された部位の画像データを除外して所定の画像処理を行う画像処理手段とを具備することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
上記人工画像抽出手段は、予め決められた特定色の画素が複数個連続する部位を抽出することを特徴とする上記請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
上記人工画像抽出手段は、同色の画素が複数個連続する部位を抽出することを特徴とする上記請求項１または請求項２のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項４】
上記人工画像抽出手段は、予め決められた特定色の画素が複数個連続する部位を候補として複数個抽出し各候補の境界の水平座標あるいは垂直座標が一致しているときにその候補を上記人工的に作成された画像に特徴的な画像データとなっている部位として抽出することを特徴とする上記請求項１〜請求項２のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項５】
上記画像処理手段は、上記画像データから画像の階調の傾向を把握し、予め決められた所望の階調傾向に合致していないときに各画素の階調値を補正することによって画像の階調の傾向を補正する画像処理を行うことを特徴とする上記請求項１〜請求項４のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項６】
上記画像処理手段は、画像の低輝度の部位を明るくする逆光補正処理を行うことを特徴とする上記請求項１〜請求項５のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項７】
上記画像データ取得手段で取得した画像データについて所定のアルゴリズムによって逆光画像であるか否かを判定する逆光画像判定手段を備え、当該逆光画像判定手段にて逆光画像であると判定された画像データに対して上記人工画像抽出手段および画像処理手段を適用することを特徴とする上記請求項１〜請求項６のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項８】
上記画像データ取得手段で取得した画像データが示す画像が自然画であるか否かを判別する自然画像判定手段を備え、当該自然画像判定手段にて自然画であると判定された画像データに対して上記人工画像抽出手段および画像処理手段を適用することを特徴とする上記請求項１〜請求項７のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項９】
上記人工画像抽出手段は、上記取得した画像データにおいて人工的に作成された画像に特徴的な画像データからその特徴を示す特徴量を算出し、予め所定の記憶媒体に記憶された基準特徴量と類似しているときに当該画像データが示す画像を人工的に作成された画像として抽出することを特徴とする上記請求項１〜請求項８のいずれかに記載の画像処理装置。
【請求項１０】
画像を複数の画素で表現した画像データを取得する画像データ取得工程と、
同取得した画像データが示す画像から人工的に作成された画像に特徴的な画像データとなっている部位を抽出する人工画像抽出工程と、
上記取得した画像データから同人工画像抽出工程によって抽出された部位の画像データを除外して所定の画像処理を行う画像処理工程とを具備することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１１】
画像を複数の画素で表現した画像データを所定の記憶媒体から取得し、当該画像データに対して画像処理を行う画像処理プログラムであって、
画像を複数の画素で表現した画像データを取得する画像データ取得機能と、
同取得した画像データが示す画像から人工的に作成された画像に特徴的な画像データとなっている部位を抽出する人工画像抽出機能と、
上記取得した画像データから同人工画像抽出機能によって抽出された部位の画像データを除外して所定の画像処理を行う画像処理機能とをコンピュータに実現させることを特徴とする画像処理プログラム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、上記特定色の画素が連続する個数としては種々の個数を採用することができるが、複数の画素からなる画像において文字等を構成する画像が２個や３個の画素から構成されることはまれである。従って、文字や線として認識可能な大きさに相当する画素数が連続しているときにこれを抽出できればよい。また、画像全体の大きさ、すなわち、画素数と画像を表示する際の解像度との兼ね合いで文字や線として認識可能な大きさに相当する画素数が変動するので、画素数と解像度との組み合わせにより、抽出すべき画素の最低限の連続数を変動させてもよい。さらに、画素の連続は縦方向あるいは横方向のみでなく縦横双方に連続するとしてもよい。
【手続補正書】
【提出日】平成17年7月29日(2005.7.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２８】
ターゲットコストに基づいて音声素片候補を予備選択し、その中からターゲットコスト及び接続コストが最小のものを選択する。候補が絞られているので、最終的な音声素片の選択に要する計算量が少なくて済む。また、予備選択にはターゲットコストを用いるので、ここでも計算量は少なくて済む。その結果、音声素片ＤＢが大きくても音声素片の選択に要する計算量は少なくて済む。音声素片ＤＢを大きくとれるので、最終的な合成音声の品質は高くなる。
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月3日(2005.10.3)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
インピーダンスを有するテスト・プローブと共に用いる校正装置であって、
上記プローブのインピーダンスに関連した伝送パラメータを蓄積するメモリと、
上記蓄積された伝送パラメータに応じて、上記テスト・プローブの実効入力インピーダンスを適応させる制御可能なインピーダンス・デバイスと
を具えた校正装置。
【請求項２】
制御信号に応じて、上記蓄積された伝送パラメータを適応させる制御器を更に具えた請求項１の校正装置。
【請求項３】
上記テスト・プローブから受信した信号を表し、上記伝送パラメータに応じて適応された波形を表示する表示器を更に具えた請求項１の校正装置。
【請求項４】
被試験装置からの信号を上記テスト・プローブのチップに供給するテスト・フィクスチャを具えた請求項１の校正装置。
【請求項５】
複数の選択可能なインピーダンス負荷を含む信号経路を介して、被試験装置からの複数のサンプルを取込み、
スペクトラム領域にて、上記被試験装置の伝送パラメータを特徴付けるように、上記選択可能なインピーダンス負荷を適応させ、
上記被試験装置の測定により生じる上記被試験装置の負荷を補償するように適応された等化フィルタを計算し、
上記選択可能なインピーダンス負荷を含まない信号経路を介して、上記被試験装置からのサンプルを取込み、
上記等化フィルタを用いて上記取込みサンプルを処理し、上記被試験装置の測定負荷に起因する信号エラーを減らす
ことを特徴とする校正方法。
【請求項６】
上記選択可能なインピーダンス負荷を適応させるステップは、複数の負荷の選択の各々に対して、
【数１】
2005241645.tif 000001
の形式の２ポート・ネットワーク表現に関連したパラメータを計算することを特徴とする請求項５の校正方法。
【請求項７】
メモリに蓄積された命令を処理して、
複数の選択可能なインピーダンス負荷を含む信号経路を介して、被試験装置からの複数のサンプルを取込むステップと、
スペクトラム領域にて、上記被試験装置の伝送パラメータを特徴付けるように、上記選択可能なインピーダンス負荷を適応させるステップと、
上記被試験装置の測定により生じる上記被試験装置の負荷を補償するように適応された等化フィルタを計算するステップと、
上記選択可能なインピーダンス負荷を含まない信号経路を介して、上記被試験装置からのサンプルを取込むステップと、
上記等化フィルタを用いて上記取込みサンプルを処理し、上記被試験装置の測定負荷に起因する信号エラーを減らすステップと
を実行するプロセッサを含んだ測定機器。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本発明は、インピーダンスを有するテスト・プローブ（１１０）と共に用いる校正装置（３００）であって；プローブのインピーダンスに関連した伝送パラメータを蓄積するメモリ（３２０）と；蓄積された伝送パラメータに応じて、テスト・プローブの実効入力インピーダンスを適応させる制御可能なインピーダンス・デバイス（３３０）とを具えている。
また、本発明は、複数の選択可能なインピーダンス負荷（Ｚ11〜Ｚmn）を含む信号経路を介して、被試験装置（１２０）からの複数のサンプルを取込み；スペクトラム領域にて、被試験装置の伝送パラメータを特徴付けるように、選択可能なインピーダンス負荷を適応させ；被試験装置の測定により生じる被試験装置の負荷を補償するように適応された等化フィルタを計算し；選択可能なインピーダンス負荷を含まない信号経路を介して、被試験装置からのサンプルを取込み；等化フィルタを用いて取込みサンプルを処理し、被試験装置の測定負荷に起因する信号エラーを減らすことを特徴としている。
さらに、本発明は、メモリ（２５８）に蓄積された命令を処理して；複数の選択可能なインピーダンス負荷（Ｚ11〜Ｚmn）を含む信号経路を介して、被試験装置（１２０）からの複数のサンプルを取込むステップと、スペクトラム領域にて、被試験装置の伝送パラメータを特徴付けるように、選択可能なインピーダンス負荷を適応させるステップと、被試験装置の測定により生じる被試験装置の負荷を補償するように適応された等化フィルタを計算するステップと、選択可能なインピーダンス負荷を含まない信号経路を介して、被試験装置からのサンプルを取込むステップと、等化フィルタを用いて取込みサンプルを処理し、被試験装置の測定負荷に起因する信号エラーを減らすステップとを実行するプロセッサを含んだ測定機器である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３５】
一般に、本発明は、フィクスチャの各校正負荷用の測定入力信号ｂｓのＦＦＴ変換を用いて、周波数領域の結果を得ている。最終ｖopenを計算した後、ＩＦＦＴを用いて、この結果を時間領域に逆変換する。一実施例において、フィルタを用いて、ＦＦＴ及び／又はＩＦＦＴ動作を実現している。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４６】
負荷の各々に対する異なる１組のＴｆをＤＵＴに切り替えたことに留意されたい。Ｔｆ及びＴｐの値を製造時に測定し、プローブ及びフィクスチャの夫々に蓄積する。Ｔｆの負荷の各々によりｂｓの測定を行い、適当な１組の式を解いて、Ｔｄの値を計算する。テスト設定には、テスト・フィクスチャをＤＵＴに接続し、プローブをテスト・フィクスチャに接続する必要がある。
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月19日(2005.10.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
壁によって画成された内部容積、特に、車両の車室（３）の内部湿度又は内部露点、及び前記壁の、特に前記車の車室（３）の窓（５）の内側面の曇り発生傾向を判別するセンサ手段であって、
-  湿度センサ素子（１）と温度センサ（２）とを備える露点センサ（１０）、及び、
-  表面温度センサ（４）、
を備えるセンサ手段において、前記露点センサ（１０）は前記内部容積の空気湿度と室温を測定するようにされており、前記表面温度センサ（４）は前記内側面の温度を測定するようにされていることを特徴とするセンサ手段。
【請求項２】
前記表面温度センサは接触センサであることを特徴とする請求項１に記載のセンサ手段。
【請求項３】
前記表面温度センサと前記壁の間に高い熱伝導性を有する材料が導入されていることを特徴とする請求項２に記載のセンサ手段。
【請求項４】
前記表面温度センサ（４）が前記露点センサ（１０）から熱的に分離されていることを特徴とする請求項２又は３に記載のセンサ手段。
【請求項５】
前記センサ手段は印刷基板（９）を備え、前記露点センサ（１０）が該印刷基板（９）に取付けられていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のセンサ手段。
【請求項６】
前記接触センサはＮＴＣ及びＰＴＣセンサ素子の一方であることを特徴とする請求項２乃至５のいずれか１項に記載のセンサ手段。
【請求項７】
評価ユニット（６）を備え、前記評価ユニット（６）が前記表面温度センサ（４）の測定信号から表面温度を求めるようにされていると共に、前記決定された表面温度を日照センサ、雨センサ、外部温度センサ、及び速度センサの少なくとも１つの信号に応じて補正するようにされていることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載のセンサ手段。
【請求項８】
前記評価ユニット（６）が、前記求めた表面温度を、前記表面温度センサ（４）及び前記温度センサ（２）の測定信号の関数を用いて補正するようにされていることを特徴とする請求項７に記載のセンサ手段。
【請求項９】
前記評価ユニット（６）が、前記求めた表面温度を、前記関数の加算によって補正するようにされていることを特徴とする請求項８に記載のセンサ手段。
【請求項１０】
前記関数は、前記表面温度センサ（４）及び前記温度センサ（２）の測定信号間の差を定数で重み付けをしたものであることを特徴とする請求項８又は９に記載のセンサ手段。
【請求項１１】
請求項１乃至１０のいずれか１項に記載のセンサ手段を備える固定装置（１６）であって、該固定装置は、車両のバックミラー（１４）のバックミラー・フット（１３）として設計されており、前記露点センサ（１０）が前記固定装置の内部に取付けられていることを特徴とする固定装置（１６）。
【請求項１２】
少なくとも請求項１乃至６に記載のセンサ手段を備えるセンサ装置、及びホルダを有するハウジングの固定装置であって、可撓性の熱伝導性の材料（２６）が前記印刷基板（９）の前記突出端部（２７）の前面（１８）上に、前記表面温度センサ（４）の取付け点にて配置されており、前記ホルダを有するハウジングは、前記材料（２６）を有する前記印刷基板（９）を内側面に押しつけるようにされていることを特徴とする固定装置。
【請求項１３】
前記可撓性の熱伝導性の材料が、前記印刷基板の端に、前記表面温度センサの取付け点にて押し被せることができるキャップとして設計されていることを特徴とする請求項１２に記載の固定装置。
【請求項１４】
前記可撓性の熱伝導性の材料（２６）は熱伝導性のシリコン接着剤であることを特徴とする請求項１２又は１３に記載の固定装置。
【請求項１５】
前記ホルダを有するハウジングは、前記材料（２６）を有する前記印刷基板（９）をフロントガラス（５）に押しつけるようにされていることを特徴とする請求項１２乃至１４のいずれか１項に記載の固定装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
センサ手段に関するこの目的は、請求項１に係る装置によって達成される。固定装置に関しては、この目的は、請求項１１乃至１５に係る装置によって達成される。従属する請求項は本発明の好ましい実施の形態を示す。
【手続補正書】
【提出日】平成17年9月15日(2005.9.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】 非磁性支持体上に非磁性粉末を結合剤中に分散してなる下層と強磁性粉末を結合剤中に分散してなる磁性層をこの順に設けた磁気記録媒体において、前記強磁性粉末が平均長軸長０．１μｍ以下の金属強磁性粉末であり、前記磁性層の平均厚さが０．０１μ〜０．１μｍであり、前記磁性層表面に存在する５〜１０ｎｍの高さを有する研磨剤突起数が１５〜３０個／２２５μｍ2であることを特徴とする磁気記録媒体。
【請求項２】前記強磁性粉末は、針状比５以上の金属強磁性粉末である請求項１に記載の磁気記録媒体。
【請求項３】前記磁性層のＨｃが１５９２００〜２３８８００Ａ／ｍ（２０００〜３０００Ｏｅ）である請求項１または２に記載の磁気記録媒体。
【請求項４】前記磁気記録媒体は、ＭＲ再生ヘッド搭載のデジタル信号記録用テープである請求項１〜３のいずれか１項に記載の磁気記録媒体。
【手続補正書】
【提出日】平成16年2月27日(2004.2.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アドレス信号の入力によりデータの読み出しおよび書き込みが可能な記憶回路と、
前記記憶回路から読み出されたデータに応じた信号を前記アドレス信号の入力端子側に帰還させる帰還経路と、
前記アドレス信号の入力端子への入力信号と前記記憶回路から読み出され前記帰還経路を介して帰還された信号を切り替えて前記記憶回路に供給可能なスイッチマトリックスと、を備え、
論理回路の入力信号が前記記憶回路へアドレス信号として入力され、前記記憶回路の読み出しデータが前記入力信号に対して期待される論理出力信号となるように前記記憶回路にデータが書き込まれることにより当該記憶回路が所望の論理機能を有する論理回路として動作可能に構成されていることを特徴とする半導体集積回路装置。
【請求項２】
前記スイッチマトリックス内の各スイッチの制御情報を記憶する記憶手段を、さらに備えていることを特徴とする請求項１に記載の半導体集積回路装置。
【請求項３】
アドレス信号の入力によりデータの読み出しおよび書き込みが可能な複数の記憶回路を備え、
前記複数の記憶回路のうち一部の記憶回路は、アドレス信号により指定されるメモリセルからのデータの読み出しおよび書き込みが可能なメモリアレイと、
アドレス信号をデコードしてメモリセルを選択する信号を生成するアドレスデコーダと、
前記メモリアレイに書き込まれたデータと前記メモリアレイから読み出されたデータとを比較する比較手段と、
前記アドレスデコーダに供給されるアドレス信号を前記比較手段における比較結果に基づいて変換する可変アドレス変換手段とを、備え、
前記記憶回路の読み出しデータが前記入力信号に対して期待される論理出力信号となるように前記記憶回路にデータが書き込まれることにより当該記憶回路が所望の論理機能を有する論理回路として動作可能に構成されていることを特徴とする半導体集積回路装置。
【請求項４】
前記メモリアレイから読み出されたデータを保持可能なデータ保持手段と、
前記データ保持手段に保持されているデータを前記アドレスデコーダの入力側に帰還させる帰還経路と、
入力アドレス信号または前記帰還経路を介して供給される前記データ保持手段の出力信号を切り替えて前記可変アドレス変換手段に供給可能なスイッチマトリックスと、
前記スイッチマトリックス内の各スイッチの制御情報を記憶する記憶手段と、をさらに備えていることを特徴とする請求項３に記載の半導体集積回路装置。
【請求項５】
前記可変アドレス変換手段は、
複数のメモリセルを含むメモリアレイと、
入力アドレス信号に基づいて前記メモリアレイ内のメモリセルを選択するアドレスデコーダと、
前記メモリアレイから読み出された信号を増幅する読出し手段と、
制御信号に基づいて前記入力アドレス信号を更新する手段と、
により構成されていることを特徴とする請求項３または４に記載の半導体集積回路装置。
【請求項６】
複数の記憶回路とこれらの記憶回路にアドレス信号を供給する第１の信号線群と、これらの記憶回路の書込みデータ信号および読出しデータ信号を伝達する第２の信号線群とを備え、
前記複数の記憶回路は、
アドレス信号により指定されるメモリセルからのデータの読み出しおよび書き込みが可能なメモリアレイと、
アドレス信号をデコードして前記メモリアレイ内のメモリセルを選択する信号を生成するアドレスデコーダと、
前記メモリアレイから読み出されたデータを前記アドレスデコーダの入力側に帰還させる帰還経路と、
入力アドレス信号または前記帰還経路を介して帰還された信号を切り替えて前記アドレスデコーダに供給可能なスイッチマトリックスと、
該スイッチマトリックス内の各スイッチの制御情報を記憶する記憶手段とを備え、
前記第１の信号線群の信号線と第２の信号線群の信号線との間を任意に接続可能なスイッチマトリックスおよび前記スイッチマトリックス内の各スイッチの制御情報を記憶する記憶手段が設けられていることを特徴とする半導体集積回路装置。
【請求項７】
テスト用のインタフェース回路としてテスト・アクセス・ポートをさらに備え、
前記テスト回路が構成される記憶回路は前記テスト・アクセス・ポートを介して外部の装置と信号の入出力が可能にされることを特徴とする請求項１、２、３、４、５または６に記載の半導体集積回路装置。
【請求項８】
前記記憶回路は揮発性メモリであることを特徴とする請求項１、２、３、４、５、６または７に記載の半導体集積回路装置。
【請求項９】
ロジック回路と、複数の記憶回路を含み、
前記複数の記憶装置のうち一部の記憶回路は、
アドレス信号により指定されるメモリセルからのデータの読み出しおよび書き込みが可能なメモリアレイと、
アドレス信号をデコードして前記メモリアレイ内のメモリセルを選択する信号を生成するアドレスデコーダと、
前記メモリアレイから読み出されたデータを前記アドレスデコーダの入力側に帰還させる帰還経路と、
入力アドレス信号または前記帰還経路を介して帰還された信号を切り替えて前記アドレスデコーダに供給可能なスイッチマトリックスと、
該スイッチマトリックス内の各スイッチの制御情報を記憶する記憶手段とを備え、
前記メモリアレイへの書込みデータにより任意の論理を構成可能な記憶回路である半導体集積回路装置の製造方法であって、
前記任意の論理を構成可能な記憶回路に他の記憶回路もしくはロジック回路を検査するテスト回路を構成する工程と、
前記テスト回路により前記他の記憶回路や前記ロジック回路をテストする工程と、
前記他の記憶回路や前記ロジック回路のテスト終了後に、前記記憶回路を通常の記憶回路として動作するように再構成する工程と、
を含むことを特徴とする半導体集積回路装置の製造方法。
【請求項１０】
前記テスト回路によるテスト工程は、当該テスト回路が構成された記憶回路以外の記憶回路に前記テスト回路によるテスト結果を格納することを特徴とする請求項９に記載の半導体集積回路装置の製造方法。
【請求項１１】
前記他の記憶回路が不良メモリセルを予備のメモリセルに置き換える冗長回路を備える場合に、前記記憶回路のテスト終了後にテスト工程により検出された不良メモリセルを予備のメモリセルに置き換える救済処理工程をさらに含むことを特徴とする請求項９に記載の半導体集積回路装置の製造方法。
【請求項１２】
前記任意の論理を構成可能な記憶回路にテスト回路を構成する工程は、ハードウェア記述言語で記述された機能レベルの設計データを制御手段で解読して、前記記憶回路の論理構成を決定する信号を前記制御手段から前記記憶回路に与えることにより所望の論理機能を有する論理回路を構成することを特徴とする請求項９、１０または１１に記載の半導体集積回路装置の製造方法。