【手続補正書】
【提出日】令和3年6月11日(2021.6.11)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の波長範囲内の光を発するように構成される１つ以上の発光体と；
１つ以上の第１の光検出器であって、各第１の光検出器は、第１の波長付近の第２の波長範囲に感応する第１の光検出器と；
１つ以上の第２の光検出器であって、各第２の光検出器は、前記第１の波長とは異なる第２の波長付近の第３の波長範囲に感応する第２の光検出器と；
前記第１および第２の光検出器からの信号を受信し、前記第１および第２の光検出器からの前記信号の重み付き差に基づいて補正信号を生成するように構成される補正モジュールと；
を備える分析試験デバイスであって、前記発光体からの光が試料受容部分を含む光路を介して前記第１および第２の光検出器に到達するように構成され        ,
前記光路は、いかなるビームスプリッターも含まない、分析試験デバイス。
【請求項２】
複数の第１の光検出器および複数の第２の光検出器が、交互パターンで配置されている、請求項１に記載の分析試験デバイス。
【請求項３】
各第１の光検出器または各第１の光検出器の一部が、第１の方向に伸び、各第２の光検出器または各第２の光検出器の一部が、前記第１の方向に伸び、
前記第１および第２の光検出器、またはそれらの一部は、前記第１の方向に実質的に垂直な第２の方向に互いにかみ合っている、請求項１または２に記載の分析試験デバイス。
【請求項４】
複数の第１の光検出器が、第１の格子内に配置され、複数の第２の光検出器が、第２の格子内に配置され、前記第１および第２の格子は、相互貫入するように配設される、請求項１または２に記載の分析試験デバイス。
【請求項５】
前記光路が、前記試料受容部分と前記光検出器との間に配設された光学ディフューザーをさらに備える、請求項１〜４のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項６】
前記光路が、前記第１および第２の光検出器が前記試料受容部分を透過した光を受容するように構成される、請求項１〜５のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項７】
前記光路が、前記第１および第２の光検出器が、前記試料受容部分から反射された光を受容するように構成される、請求項１〜５のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項８】
各第１の光検出器が、前記第２の波長範囲に感応する第１の感光性材料を含み、各第２の光検出器が、前記第３の波長範囲に感応する第２の感光性材料を含む、請求項１〜７のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項９】
各第１の光検出器が、感光性材料および第１のフィルタを備え、前記第１のフィルタは、前記光路を介して到達する光をフィルタリングし、前記第２の波長範囲を透過し、前記第３の波長範囲を減衰させるように配設され、
各第２の光検出器は、前記感光性材料および第２のフィルタを備え、前記第２のフィルタは、前記光路を介して到達する光をフィルタリングし、前記第３の波長範囲を透過し、前記第２の波長範囲を減衰させるように配設される、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１０】
各第１の光検出器が、感光性材料を含み、各第２の光検出器が、前記感光性材料を含む、請求項１〜７のいずれか一項に記載の分析試験デバイスであって、
各第１の光検出器に対応する第１のフィルタであって、前記光路を介して到達する光をフィルタリングし、前記第２の波長範囲を透過し、前記第３の波長範囲を減衰させるように配設される第１のフィルタと；
各第２の光検出器に対応する第２のフィルタであって、前記光路を介して到達する光をフィルタリングし、前記第３の波長範囲を透過し、前記第２の波長範囲を減衰させるように配設される第２のフィルタと
をさらに備える分析試験デバイス。
【請求項１１】
各第１の光検出器は、感光性材料と、前記第２の波長範囲内の共振波長を有するように構成される第１の共振空洞とを含み、
各第２の光検出器は、前記感光性材料と、前記第３の波長範囲内の共振波長を有するように構成される第２の共振空洞とを含む、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１２】
各発光体が、有機発光ダイオードを含む、請求項１〜１１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１３】
前記有機発光ダイオードが、１つ以上のガラス基板上に配置される、請求項１２に記載の分析試験デバイス。
【請求項１４】
前記第１および第２の光検出器が、有機光検出器である、請求項１〜１３のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１５】
前記第１および第２の光検出器が、上部吸収有機光検出器である、請求項１４に記載の分析試験デバイス。
【請求項１６】
前記第１および第２の光検出器が、底部吸収有機光検出器である、請求項１４に記載の分析試験デバイス。
【請求項１７】
前記補正信号が、
【数１】
2020523592.tif 000001
に従って生成され、式中、ＩＣは前記補正信号であり、Ｉ１ｎは、Ｎ個の第１のフォトダイオードのｎ番目からの信号であり、Ｉ２ｎは、Ｎ個の第２のフォトダイオードのｎ番目からの信号であり、αは、所定の重み付け係数であり、Ｎは、Ｎ≧１を満たす正の実整数である、請求項１〜１６のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１８】
前記補正モジュールが、マイクロプロセッサまたはマイクロコントローラを含む、請求項１〜１７のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項１９】
前記補正モジュールが、前記第１および第２の光検出器から受信した入力に基づいて前記補正信号を生成するように構成される加算増幅器回路を含む、請求項１〜１８のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２０】
前記第１の波長が、前記第１の波長範囲内にあり、前記第２の波長が、前記第１の波長範囲内にあり、前記分析試験デバイスが、試料の吸光度を測定するように構成される、請求項１〜１９のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２１】
前記第１の波長が、前記第１の波長範囲外にあり、前記第２の波長が、前記第１の波長範囲外にあり、前記分析試験デバイスが、試料の蛍光を測定するように構成される、請求項１〜１９のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２２】
前記光路の前記試料受容部分が、側方流動試験ストリップを受容するように構成される、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２３】
前記光路の前記試料受容部分が、キュベットを受容するように構成される、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２４】
前記光路の前記試料受容部分が、アッセイウェルプレートを受容するように構成される、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２５】
前記光路の前記試料受容部分が、マイクロ流体デバイスの全体、一部、またはチャネルを受容するように構成される、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２６】
前記光路の前記試料受容部分を通して、液体輸送経路の端部に近接して受容された液体試料を輸送するための前記液体輸送経路
をさらに備える、請求項１〜２１のいずれか一項に記載の分析試験デバイス。
【請求項２７】
請求項１〜２２のいずれか一項に記載の分析試験デバイスと；
試験領域が前記試料受容部分内に配置されるように配設された側方流動試験ストリップと
を備える側方流動試験デバイス。
【請求項２８】
前記側方流動試験ストリップが、標識粒子を含み、前記標識粒子の吸光度は、前記第３の波長範囲内よりも前記第２の波長範囲内で大きい、請求項２７に記載の側方流動試験デバイス。
【請求項２９】
請求項１〜２６のいずれか一項に記載の分析試験デバイスまたは請求項２７もしくは２８に記載の側方流動試験デバイスを使用して試料を分析する方法であって、
前記第１および第２の光検出器から信号を受信するステップと；
前記第１および第２の光検出器からの前記信号の重み付き差に基づいて補正信号を生成するステップと
を含む方法。
【請求項３０】
請求項１〜２６のいずれか一項に記載の分析試験デバイスまたは請求項２７もしくは２８に記載の側方試験デバイスにおいて補正信号を決定するために使用される１つ以上の重み付け係数を決定する方法であって、
既知の時間依存信号に従って、１つ以上の発光体の発光強度を変調するステップと；
前記補正信号から前記時間依存信号を最小化または除去するために、前記１つ以上の重み付け係数を繰り返し変更するステップと
を含む方法。