(57)【要約】【課題】  無接点電力伝送システムにおける送電装置と受電装置との間で行われる認証処理の確認試験を、確実かつ高精度に行い、また、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能についても確実に検査する。【解決手段】  電磁結合した１次コイルＬ１と２次コイルＬ２を経由して受電装置３００に電力を供給する送電装置２００または受電装置３００の検査方法では、送電装置２００および受電装置３００のいずれか一方である検査サンプルと、いずれか他方であるリファレンスとを対向させ、検査サンプルとリファレンスとの間で通信を行わせ、上位装置が、通信の結果として検査サンプル内の第１記憶部に蓄積された情報を、検査サンプル内のインターフェース部を経由して読み出し、これによって認証処理機能や異物検出機能等をテストする。【選択図】  図１
2010183705.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して受電装置に電力を供給する送電装置または前記受電装置のテスト方法であって、
前記送電装置および前記受電装置のいずれか一方である検査サンプルと、前記送電装置および前記受電装置のいずれか他方であるリファレンスとを対向させ、
前記検査サンプルと前記リファレンスとの間で通信を行わせ、
上位装置が、前記通信の結果として前記検査サンプル内の第１記憶部に蓄積された情報を、前記検査サンプル内のインターフェース部を経由して読み出すことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項２】
請求項１記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記通信には、前記送電装置が前記受電装置に対して通常送電を開始する前に実行される認証処理における認証情報の交換のための通信、
前記認証処理時に実行される、前記１次コイルと２次コイルとの間に存在する異物検出のための、異物検出しきい値情報の通信、
および、前記通常送電後に実行される、前記１次コイルと２次コイルとの間に存在する異物検出のための通信、のうちの少なくとも一つが含まれることを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項３】
請求項１記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記通信には、前記送電装置が前記受電装置に対して通常送電を開始する前に実行される認証処理における認証情報の交換のための通信が含まれ、
前記認証情報には、
前記送電装置と前記受電装置との間の規格／コイル／システムの少なくとも一つに関するＩＤ情報が含まれることを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項４】
請求項３記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記認証情報には、さらに、
異物検出のためのしきい値情報と、
前記送電装置と前記受電装置との間の、対応する機能についての情報と、
アプリケーション別の設定情報と、が含まれ、
前記認証処理には、
前記送電装置と前記受電装置との間の、規格／コイル／システムの少なくとも一つの適合を認証し、ならびに前記異物検出のためのしきい値情報を交換する第１認証処理と、
前記送電装置と前記受電装置との間の、対応する機能についての情報を交換し、ならびに前記アプリケーション別の設定情報を交換する第２認証処理と、
が含まれることを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項５】
請求項２〜請求項４のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている前記認証処理の通過履歴情報を読み出すことによって、前記認証処理の通過確認試験を行うことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項６】
請求項２〜請求項４のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている、前記リファレンスから送られてきた前記認証情報を、前記第１記憶部の所定のアドレスから読み出して期待値と照合することによって、前記認証処理の確認試験を行うことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項７】
請求項２〜請求項４のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記検査サンプルは、前記リファレンスに送信するための前記認証情報を蓄積している第２記憶部を有しており、
前記上位装置が、前記第２記憶部に蓄積されている、前記リファレンスに送信するための前記認証情報を、前記第２記憶部の所定アドレスから読み出して期待値と照合することによって、前記認証処理の確認試験を行うことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項８】
請求項１〜請求項５のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている通信エラー履歴情報を読み出すことによって、通信エラー確認試験を行うことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項９】
請求項１〜請求項５のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記リファレンスが受電装置であり、前記検査サンプルが送電装置である場合においては、前記リファレンスとしての受電装置は、前記２次コイルのコイル端から得られる信号に基づいて、前記１次コイルと前記２次コイルの位置関係に対応する位置レベル信号を取得し、取得した前記位置レベル信号を前記検査サンプルとしての送電装置に送信し、前記上位装置が、前記送電装置内の前記第１記憶部に蓄積されている前記位置レベル信号を読み出すことによって、前記検査サンプルとしての送電装置の位置検出機能の試験を実行し、
前記リファレンスが送電装置であり、前記検査サンプルが受電装置である場合においては、前記検査サンプルとしての受電装置は、前記２次コイルのコイル端から得られる信号に基づいて、前記１次コイルと前記２次コイルの位置関係に対応する位置レベル信号を取得し、取得した前記位置レベル信号を前記リファレンスとしての送電装置に送信し、前記上位装置が、前記送電装置内の前記第１記憶部に蓄積されている前記位置レベル信号を読み出すことによって、前記検査サンプルとしての受電装置の位置検出機能の試験を実行する、
ことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項１０】
請求項２または請求項４記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記受電装置がリファレンスであり、前記送電装置が検査サンプルである場合において、前記検査サンプルとしての前記送電装置は、前記認証処理が行われる期間および前記通常送電が行われる期間の少なくとも一方の期間において、前記１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、かつ、前記リファレンスとしての前記受電装置から送信された前記異物検出しきい値情報を検出基準として用いて、前記１次コイルと前記２次コイルとの間の異物の有無を検出し、前記上位装置は、前記第１記憶部に蓄積されている異物検出結果情報を読み出し、これによって、前記検査サンプルとしての送電装置の異物検出機能の試験を実行し、
前記送電装置がリファレンスであり、前記受電装置が検査サンプルである場合において、前記リファレンスとしての前記送電装置は、前記認証処理が行われる期間および前記通常送電が行われる期間の少なくとも一方の期間において、前記１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、かつ、前記リファレンスとしての前記受電装置から送信された前記異物検出しきい値情報を検出基準として用いて、前記１次コイルと前記２次コイルとの間の異物の有無を検出し、前記上位装置は、前記第１記憶部に蓄積されている異物検出結果情報を読み出し、これによって、前記検査サンプルとしての受電装置の異物検出機能の試験を実行する、
ことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項１１】
請求項１０記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
前記認証処理が行われる期間における異物検出は、リファレンスまたは検査サンプルとしての前記送電装置が、異物の有無に応じて変化する、前記１次コイルのコイル端信号の電圧レベル、および前記１次コイルのコイル端信号の、前記１次コイルの駆動信号を基準とした位相特性、の少なくとも一方を検出することによって行われ、
前記通常送電が行われる期間における異物検出は、リファレンスまたは検査サンプルとしての前記受電装置から間欠的に送信される信号を、検査サンプルまたはリファレンスとしての前記送電装置が、前記コイル端信号に基づいて受信することができるか否かを検出することによって行われることを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項１２】
請求項１０または請求項１１記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
リファレンスとしての受電装置を複数用意し、用意された受電装置毎に、前記受電装置の特性および前記異物検出しきい値情報の各々を異ならせ、
前記用意された複数の受電装置の各々を、検査サンプルとしての送電装置に対向させた状態において前記異物の有無の検出を実行し、
前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている、前記複数の受電装置の各々についての異物検出結果情報を読み出すことによって、異物検出機能確認試験を行うことを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項１３】
請求項１記載の送電装置または受電装置のテスト方法であって、
リファレンスとしての送電装置が、検査サンプルとしての受電装置に対して通常送電を実行し、前記通常送電の後の期間における前記受電装置の動作履歴情報を、前記受電装置内の前記第１記憶部に蓄積し、
前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている前記受電装置の動作履歴情報を読み出すことによって、通常送電後の動作確認試験を実行することを特徴とする送電装置または受電装置のテスト方法。
【請求項１４】
電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して、送電装置から受電装置に電力を供給する無接点電力伝送システムにおける前記送電装置であって、
請求項１〜請求項１３のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法を実行する際に使用される、前記第１記憶部および前記インターフェース部を含むことを特徴とする送電装置。
【請求項１５】
電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して、送電装置から受電装置に電力を供給する無接点電力伝送システムにおける前記受電装置であって、
請求項１〜請求項１３のいずれかに記載の送電装置または受電装置のテスト方法を実行する際に使用される、前記第１記憶部および前記インターフェース部を含むことを特徴とする受電装置。
【請求項１６】
請求項１４記載の送電装置と、請求項１５記載の受電装置と、含むことを特徴とする無接点電力伝送システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、送電装置または受電装置のテスト方法、送電装置、受電装置および無接点電力伝送システム等に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電磁誘導を利用し、金属部分の接点がなくても電力伝送を可能にする無接点電力伝送（非接触電力伝送）が脚光を浴びている、この無接点電力伝送の適用例として、携帯電話機や家庭用機器（例えば電話機の子機）の充電などが提案されている。このような無接点電力伝送の従来技術は、例えば、特許文献１に記載されている。
【０００３】
特許文献１の無接点電力伝送システムは、送電装置（１次側モジュール）と、受電装置（２次側モジュール）とで構成されている。また、特許文献１に記載される無接点電力伝送システムでは、送電装置と受電装置との間で認証コードを送受信することによってＩＤ認証処理を実行し、ＩＤ認証をパスした後、送電装置は、１次コイルを連続的に駆動して、受電装置に対して通常送電を開始する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−６０９０９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
送電装置を市販するためには、メーカは、各種の試験を実施して、製品としての送電装置の性能や品質、信頼性や安全性等を保証する必要がある。しかし、従来技術では、無接点電力伝送システムを構成する送電装置（１次側モジュール）および受電装置（２次側モジュール）の出荷検査については、何らその量産性が考慮されておらず、送電装置および受電装置についての効率的な試験を実行することができない。
【０００６】
例えば、送電装置は、受電側機器が所定エリアに着地すると仮送電を実行し、受電装置との間で認証処理を実行し、認証処理をパスした後に、通常送電（連続送電）を実行する。認証処理は、送電装置と受電装置との間の適合性を判定する処理であり、安全性に深く関与する。よって、製品の出荷前に、認証処理機能の適否を確認することは重要である。
【０００７】
特に、一台の送電装置（１次側モジュール）によって、種類の異なる複数の受電装置（２次側モジュール；例えば、携帯端末用モジュール，コンピューター端末用モジュール等）に送電することができるマルチ送電システムを実現する場合には、送電装置と受電装置との間における、送電規格／コイル（定格電力）／システムパラメーター（例えば、異物検出しきい値等の安全上のパラメーター等）の整合性等を正確に判定する必要があり、認証処理の重要性はきわめて高い。しかし、認証処理が複雑化するため、認証処理機能の試験は、従来技術では困難である。
【０００８】
例えば、認証処理をパスできたか否かいう事実は、送電装置が、仮送電状態から通常送電状態に移行できたか否かによって、一応は判定することができる。
【０００９】
しかし、単に認証にパスできたか否かという事実を知るだけでは不十分であり、例えば、認証処理に複数の処理が含まれる場合、どの段階の処理までパスできたのかを、正確に把握できることが望ましい。
【００１０】
また、マルチ送電システムの場合、送電装置と受電装置との間で、例えば、認証用ＩＤのグループ番号が一致していれば、個々の具体的なＩＤ認証コードが厳密に一致していない場合でも、認証処理をパスする場合もあり得る。例えば、１台の送電装置が、所定規格のバージョン１の受電装置、バージョン２の受電装置、バージョン３の受電装置に対応している場合、受電装置が、バージョン１〜バージョン３のいずれかであれば、仮にコイルのＩＤコードが一致していなくても認証処理をパスさせる場合もあり得る。しかし、システムの信頼性や安全性を厳格に確保するという観点からは、出荷前の製品の検査において、個々の具体的なＩＤ認証コード（上記のコイルＩＤ等）が不一致となる製品は、不良品として確実に選別できるのが望ましい。
【００１１】
すなわち、認証処理にパスできたか否かという認証処理の正確なステータスや、認証処理によって相互に交換される認証情報そのものの正確性を、明確にテストする技術が必要となる。
【００１２】
また、無接点電力伝送システムでは安全性が極めて重要であり、特に、異物対策が重要であることから、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能の検査は、製品の出荷前に入念に行う必要がある。
【００１３】
例えば、仮送電期間（認証処理を行う期間）において、１次コイルと２次コイルとの間に異物が存在する場合、その異物の存在を確実に検出できることを、検査段階で確認する必要がある。また、通常送電が開始された後、１次コイルと２次コイルとの間に、例えば悪意で異物が挿入されるような場合も想定され得るため、その異物の挿入を確実に検出できるか否かを、検査段階で確認することも重要である。
【００１４】
本発明のいくつかの態様によれば、例えば、送電装置と受電装置との間で行われる認証処理の確認試験を確実かつ高精度に行うことができ、また、例えば、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能についても確実に検査することができ、したがって、例えば、マルチ送電に対応した無接点電力伝送システムに対する、実用的なテスト技術を確立することができる。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
（１）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の一態様は、電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して受電装置に電力を供給する送電装置または前記受電装置の検査方法であって、前記送電装置および前記受電装置のいずれか一方である検査サンプルと、前記送電装置および前記受電装置のいずれか他方であるリファレンスとを対向させ、前記検査サンプルとリファレンスとの間で通信を行わせ、上位装置が、前記通信の結果として前記検査サンプル内の第１記憶部に蓄積された情報を、前記検査サンプル内のインターフェース部を経由して読み出し、これによって、前記検査サンプルのテストを行う。
【００１６】
本態様では、送電装置と受電装置を対向配置させた状態での試験（対向試験）を実行する。送電装置および受電装置のうちのいずれか一方が「検査サンプル」であり、いずれか他方がリファレンスである。「検査サンプル」は、「テストの対象となる装置」であり、「リファレンス」とは、例えば、「装置の特性や機能が保障され、かつ、その特性や機能が、検査システムを構成する上位装置（ホストコンピューター等）によって把握されている、検査の基準を提供する装置」である。
【００１７】
検査サンプルとリファレンスとを対向配置した状態で、両者間で、実際に通信を行わせ、その通信の結果として、検査サンプルの第１記憶部に蓄積されたデータ（パラメーター、コード、ステータス情報、動作履歴情報等）を、テストに関係する上位装置（外部装置）が読み出す。
【００１８】
これによって、例えば、通信により得られたデータと期待値との照合によって、そのデータの正確性を判定することができ、また、動作履歴（例えば、複数段階の処理のうちのどの処理まで終了できたか、所望の動作が実行されたか否か、あるいは通信エラーが生じたか否か等）を、網羅的に確認することができる。
【００１９】
（２）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記通信には、前記送電装置が前記受電装置に対して通常送電を開始する前に実行される認証処理における認証情報の交換のための通信、前記認証処理時に実行される、前記１次コイルと２次コイルとの間に存在する異物検出のための、異物検出しきい値情報の通信、および、前記通常送電後に実行される、前記１次コイルと２次コイルとの間に存在する異物検出のための通信のうちの少なくとも一つが含まれる。
【００２０】
これによって、認証処理が的確に実行されているかの確認、認証処理時における、リファレンス側から送られてきた異物検出しきい値を用いた異物検出機能の確認、通常送電期間における、受電側から送電側への間欠通信を利用した異物検出機能（いわゆる定期認証の機能）の確認が可能である。なお、「認証処理」は、送電装置の特性と受電装置の特性との整合性を確認するための処理である。
【００２１】
（３）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記通信には、前記送電装置が前記受電装置に対して通常送電を開始する前に実行される認証処理における認証情報の交換のための通信が含まれ、前記認証情報には、前記送電装置と前記受電装置との間の規格／コイル／システムの少なくとも一つに関するＩＤ情報が含まれる。
【００２２】
例えば、マルチ送電に対応した無接点電力伝送システムでは、一台の送電装置が、複数の、電力定格が異なる受電側機器に対応する必要があるため、通常送電開始前に、規格／コイル／システム等の一致を、ＩＤ情報を用いて確認することが必要となる。本態様は、この点を明らかとしたものである。
【００２３】
（４）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記認証情報には、さらに、異物検出のためのしきい値情報と、前記送電装置と前記受電装置との間の、対応する機能についての情報と、アプリケーション別の設定情報と、が含まれ、前記認証処理には、前記送電装置と前記受電装置との間の、規格／コイル／システムの少なくとも一つの適合を認証し、ならびに前記異物検出のためのしきい値情報を交換する第１認証処理と、前記送電装置と前記受電装置との間の、対応する機能についての情報を交換し、ならびに前記アプリケーション別の設定情報を交換する第２認証処理と、が含まれる。
【００２４】
本態様では、認証処理に、複数の認証処理（第１認証処理および第２認証処理）が含まれる。認証処理が、多段階の処理により構成され、その処理内容が複雑化した場合であっても、上述のとおり、実際に通信を行った結果の情報を読み出し、その読み出した情報に基づいて的確な判断を下すことができるため、信頼性が高く、かつ高精度のテストを実行することができる。
【００２５】
（５）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている前記認証処理の通過履歴情報を読み出すことによって、前記認証処理の通過確認試験を行う。
【００２６】
第１記憶部に蓄積されている通過履歴情報を読み出すことによって、例えば、認証処理が複数の処理から構成されている場合でも、各処理毎に通過／不通過を判定することができる。
【００２７】
（６）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている、前記リファレンスから送られてきた前記認証情報を、前記第１記憶部の所定のアドレスから読み出して期待値と照合することによって、前記認証処理の確認試験を行う。
【００２８】
第１記憶部に蓄積されているデータを読み出し、読み出したデータと期待値との照合によって、相手側から送られてきたデータが、第１記憶部の正確なアドレスに蓄積されているか否か、ならびに、そのデータが正確であるか否かを判定することができる。
【００２９】
（７）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記検査サンプルは、前記リファレンスに送信するための前記認証情報を蓄積している第２記憶部を有しており、前記上位装置が、前記第２記憶部に蓄積されている、前記リファレンスに送信するための前記認証情報を、前記第２記憶部の所定アドレスから読み出して期待値と照合することによって、前記認証処理の確認試験を行う。
【００３０】
第２記憶部に蓄積されているデータを読み出し、読み出したデータと期待値との照合によって、相手側に送るべきデータが、第２記憶部の正確なアドレスに蓄積されているか否か、ならびに、そのデータが正確であるか否かを判定することができる。
【００３１】
（８）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている通信エラー履歴情報を読み出すことによって、通信エラー確認試験を行う。
【００３２】
これによって、通信エラーの発生を確認することができる。
【００３３】
（９）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記リファレンスが受電装置であり、前記検査サンプルが送電装置である場合においては、前記リファレンスとしての受電装置は、前記２次コイルのコイル端から得られる信号に基づいて、前記１次コイルと前記２次コイルの位置関係に対応する位置レベル信号を取得し、取得した前記位置レベル信号を前記検査サンプルとしての送電装置に送信し、前記上位装置が、前記送電装置内の前記第１記憶部に蓄積されている前記位置レベル信号を読み出すことによって、前記検査サンプルとしての送電装置の位置検出機能の試験を実行し、前記リファレンスが送電装置であり、前記検査サンプルが受電装置である場合においては、前記検査サンプルとしての受電装置は、前記２次コイルのコイル端から得られる信号に基づいて、前記１次コイルと前記２次コイルの位置関係に対応する位置レベル信号を取得し、取得した前記位置レベル信号を前記リファレンスとしての送電装置に送信し、前記上位装置が、前記送電装置内の前記第１記憶部に蓄積されている前記位置レベル信号を読み出すことによって、前記検査サンプルとしての受電装置の位置検出機能の試験を実行する。
【００３４】
１次コイルと２次コイルとの距離（相対的な位置関係）が許容範囲に収まっていれば、送電装置から受電装置への送電は可能であるが、許容範囲外であるときは、適正な送電ができない。したがって、受電装置を含む機器の着地（セッティング）が検出されると、受電装置および送電装置は、例えば、２次コイルのコイル端から得られる信号に基づいて位置レベルの確認を行い、１次コイルと２次コイルとの距離（相対的な位置関係）が許容範囲にないと判断されるときは、送電装置は仮送電（通常送電前の連続送電）を停止し、待機状態に戻るという動作を実行する。したがって、送電装置および受電装置の双方が、位置レベルを適切に検出できるか否か等を、出荷前にテストすることは重要である。
【００３５】
位置検出機能の試験は、例えば、以下のように行うことができる。すなわち、１次コイルと２次コイルとの間の位置ずれ量を許容範囲（あるいは許容外の範囲）に設定しておき、送電装置と受電装置とを対向させた状態で、送電装置と受電装置との間で通信を行わせ、その後、上位装置（テスタやホスト等）が、送電装置の第１記憶部から位置レベル情報等を読み出して、位置検出機能が正確に機能しているかを判定する。例えば、１次コイルと２次コイルとの間の位置ずれ量が許容範囲に設定されているにもかかわらず、第１記憶部から読み出された位置レベルが許容レベル未満となっている場合には、送電装置の位置検出機能および受電装置の位置検出機能の少なくとも一方が適正に機能していない（つまり、いずれかの装置に何らかの異常がある）と判定することができる。
【００３６】
ここで、「送電装置の位置検出機能」は、例えば、受電装置から送られてきた位置レベル信号を適正に受信し、受信した位置レベル信号を適正にデジタル信号に変換し、（必要に応じて、位置レベルが適正であるか否かを判定し）、そして、位置レベル信号（ならびに位置レベルの判定結果を示す信号）をメモリ（第１記憶部等）の適正なアドレスに格納する、というような、送電装置に備わる、位置検出に関係する機能である。また、「受電装置の位置検出機能」は、例えば、２次コイルのコイル端信号（例えばコイル端電圧）のレベルを適正に検出し、そのコイル端信号のレベルを示す信号を、位置レベル信号として送電装置に負荷変調等を用いて送信する、というような、受電装置に備わる、位置検出に関係する機能である。
【００３７】
（１０）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様は、前記受電装置がリファレンスであり、前記送電装置が検査サンプルである場合において、前記検査サンプルとしての前記送電装置は、前記認証処理が行われる期間および前記通常送電が行われる期間の少なくとも一方の期間において、前記１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、かつ、前記リファレンスとしての前記受電装置から送信された前記異物検出しきい値情報を検出基準として用いて、前記１次コイルと前記２次コイルとの間の異物の有無を検出し、前記上位装置は、前記第１記憶部に蓄積されている異物検出結果情報を読み出し、これによって、前記検査サンプルとしての送電装置の異物検出機能の試験を実行し、前記送電装置がリファレンスであり、前記受電装置が検査サンプルである場合において、前記リファレンスとしての前記送電装置は、前記認証処理が行われる期間および前記通常送電が行われる期間の少なくとも一方の期間において、前記１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、かつ、前記リファレンスとしての前記受電装置から送信された前記異物検出しきい値情報を検出基準として用いて、前記１次コイルと前記２次コイルとの間の異物の有無を検出し、前記上位装置は、前記第１記憶部に蓄積されている異物検出結果情報を読み出し、これによって、前記検査サンプルとしての受電装置の異物検出機能の試験を実行する。
【００３８】
送電装置や受電装置に備わる異物検出機能は、無接点電力伝送システムの安全性、信頼性に直接的に関係するため、出荷前に、送電装置および受電装置の異物検出機能のテストを行うことは重要である。異物検出は、例えば、通常送電期間（バッテリー充電等の本来の目的に沿った電力伝送を行う期間）および通常送電開始前の認証期間の双方において行われるのが望ましい。
【００３９】
異物検出は、例えば、送電装置のコイル端信号の電圧レベル等に基づいて行うことができる。例えば、１次コイルと２次コイルが異物無しに電磁結合している状態と、１次コイルと２次コイルとの間に異物が存在する場合とでは、１次コイルのコイル端から得られる信号（コイル端信号）の電圧レベルや、１次コイルの駆動クロック（１次コイル駆動電圧）のタイミングに対する電流の位相状態などが異なる。よって、１次コイルのコイル端信号に基づいて異物の存在を検出することができる。
【００４０】
また、異物が存在すると、送電装置から送信される電力の少なくとも一部の電力が受電装置に到達せず、これによって、受電装置における受電レベルが許容範囲を超えて低下するため、受電装置側で、異物検出を実行することもできる。例えば、受電装置が異物を検出した場合、受電装置は、それ以降、本来なら行うべき送電装置側への負荷変調による送信を一切、止める。送電装置は、コイル端信号に基づいて、受電装置側の負荷状態を監視しており（つまり、受電装置側から負荷変調によって信号が送られてくれば、直ちに受信して検出することができ）、したがって、本来、送られてくるべき信号が許容時間内に送られてこないことによって、異物が検出されたと認識することができる。
【００４１】
また、通常送電が開始された後は、例えば、受電装置が、間欠的（例えば周期的あるいは定期的）に所定パターンの異物検出用信号を送電装置に送信し、送電装置は、１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、その異物検出用信号を受信できるか否かによって、異物の有無を検出することができる。
【００４２】
また、異物の有無の検出は、使用している無接点電力伝送システムに対応した、適正な異物検出しきい値（例えば、送電電力や求められる信頼性の程度等を考慮して定められるのが好ましい）を用いて行うのが望ましい。したがって、例えば、認証期間において、受電装置から送られてきた異物検出のためのしきい値情報を用いて異物検出を行うことによって、所望の異物検出精度等を確保することができる。
【００４３】
送電装置および受電装置の異物検出機能のテストは、例えば、以下のように行うことができる。例えば、送電装置と受電装置とを対向して配置し、所定の金属異物（大きさや電気特性等は既知）を１次コイルと２次コイルとの間に設置し（あるいは、設置せず）、この状態で送電装置が仮送電や通常送電を実行し、送電装置および受電装置は、異物検出に関係する動作を実行する。例えば、受電装置は、適正な異物検出しきい値情報を送電装置に送信し、また、送電装置は、受電装置から送られてきた異物検出しきい値を用いて、１次コイルのコイル端から得られるコイル端信号に基づいて、異物検出（認証処理時の異物検出や通常送電後の異物検出等）を実行する。その後、上位装置（テスタやホスト等）が、送電装置の第１記憶部から、異物検出結果情報（例えば、異物検出フラグ）を読み出し、異物を的確に検出できているか（あるいは、異物が存在しないにもかかわらず、異物有りと誤検出していないか）を確認する。
【００４４】
これによって、送電装置の異物検出機能が適正であるか否か（異物を確実に検出できるか否か、誤検出の有無等）を出荷前に確認することができ、また、受電装置の異物検出機能が適正であるか（送電装置の異物検出に関係する回路等を適正に動作させることができる受電装置であるか否か、あるいは受電装置自体が異物を的確に検出できるか否か等）を出荷前に確認することができる。
【００４５】
（１１）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様では、前記認証処理が行われる期間における異物検出は、リファレンスまたは検査サンプルとしての前記送電装置が、異物の有無に応じて変化する、前記１次コイルのコイル端信号の電圧レベル、および前記１次コイルのコイル端信号の、前記１次コイルの駆動信号を基準とした位相特性、の少なくとも一方を検出することによって行われ、記通常送電が行われる期間における異物検出は、リファレンスまたは検査サンプルとしての前記受電装置から間欠的に送信される信号を、検査サンプルまたはリファレンスとしての前記送電装置が、前記コイル端信号に基づいて受信することができるか否かを検出することによって行われる。
【００４６】
異物検出機能の確認試験の一例を明らかとしたものである。通常送電が行われる前の期間（広義の認証処理が行われる期間（認証期間））においては、１次コイルから得られるコイル端信号の電圧レベルや位相特性等に基づく異物検出が、確実に行われるかを確認する。また、通常送電期間においては、受電側から送電側への間欠通信等を利用した異物検出（いわゆる定期認証）による異物検出が、確実に行われるかを確認する。但し、本態様の例は一例であり、異物検出方法は、本態様の例に限定されない。
【００４７】
（１２）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様では、リファレンスとしての受電装置を複数用意し、用意された受電装置毎に、前記受電装置の特性および前記異物検出しきい値情報の各々を異ならせ、前記用意された複数の受電装置の各々を、検査サンプルとしての送電装置に対向させた状態において前記異物の有無の検出を実行し、前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている、前記複数の受電装置の各々についての異物検出結果情報を読み出すことによって、異物検出機能確認試験を行う。
【００４８】
本態様では、特性（電力定格等）および、適用される異物検出しきい値が異なる複数のリファレンスを用意し、各リファレンス毎に、適正な異物検出が可能であるか否かを確認する。これによって、特性等が異なるリファレンスに対する異物検出機能の有効性を確認することができる。
【００４９】
（１３）本発明の送電装置または受電装置のテスト方法の他の態様では、リファレンスとしての送電装置が、検査サンプルとしての受電装置に対して通常送電を実行し、前記通常送電の後の期間における前記受電装置の動作履歴情報を、前記受電装置内の前記第１記憶部に蓄積し、前記上位装置が、前記第１記憶部に蓄積されている前記受電装置の動作履歴情報を読み出すことによって、通常送電後の動作確認試験を実行する。
【００５０】
通常送電後の受電装置の動作履歴情報を第１記憶部に蓄積しておき、その動作履歴情報を外部に読み出すことによって、通常送電後の受電装置の動作確認試験を実現することができる。
【００５１】
（１４）本発明の送電装置の一態様は、電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して、送電装置から受電装置に電力を供給する無接点電力伝送システムにおける前記送電装置であって、上記いずれかの送電装置または受電装置のテスト方法を実行する際に使用される、前記第１記憶部および前記インターフェース部を含む。
【００５２】
これによって、出荷前の試験を可能とする回路構成を備える、信頼性が高い送電装置（１次側モジュール）と受電装置（２次側モジュール）を実現することができる。
【００５３】
（１５）本発明の受電装置の一態様は、電磁結合した１次コイルと２次コイルを経由して、送電装置から受電装置に電力を供給する無接点電力伝送システムにおける前記受電装置であって、上記いずれかの送電装置または受電装置のテスト方法を実行する際に使用される、前記第１記憶部および前記インターフェース部を含む。
【００５４】
これによって、出荷前の試験を可能とする回路構成を備える、信頼性が高い送電装置（１次側モジュール）と受電装置（２次側モジュール）を実現することができる。
【００５５】
（１６）本発明の無接点電力伝送システムの一態様は、上記の送電装置と、上記の受電装置と含む。
【００５６】
これによって、信頼性が高く、実用価値の高い無接点電力伝送システムを実現することができる。
【００５７】
このように、本発明のいくつかの態様によれば、例えば、送電装置と受電装置との間で行われる認証処理の確認試験を高精度に行うことができ、また、例えば、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能についても確実に検査することができ、したがって、例えば、マルチ送電に対応した無接点電力伝送システムに対する、実用的なテスト技術を確立することができる。また、例えば、出荷前の試験を可能とする回路構成を備える、信頼性が高い送電装置（１次側モジュール）および受電装置（２次側モジュール）を実現することができる。また、例えば、信頼性が高く、実用価値の高い無接点電力伝送システムを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】送電装置に関する試験の例およびテストシステムの構成例を示す図
【図２】無接点電力伝送システムの通常の動作例を示す図
【図３】図２に示される送電装置の動作（内部状態）の概要を示す図
【図４】本発明の送電装置または受電装置のテスト方法（対向試験方法）の手順の概要を示す図
【図５】ネゴシエーション確認試験の内容を説明するための図
【図６】セットアップ確認試験の内容を説明するための図
【図７】ネゴ＆セットアップ通過確認試験の内容を説明するための図
【図８】ネゴ＆セットアップ用のＲＯＭデータの読み出し確認試験の内容を説明するための図
【図９】ネゴ＆セットアップ時の位置許容範囲確認試験の内容を説明するための図
【図１０】ネゴ＆セットアップ時の異物検出機能確認試験の内容を説明するための図
【図１１】通常送電時の異物検出機能試験の内容を説明するための図
【図１２】送電装置および受電装置の内部構成例を示す図
【図１３】テストレジスターの構成例を示す図
【図１４】テストモードの設定について説明するための図
【図１５】送電装置および受電装置の具体的な動作を説明するためのフロー図
【図１６】送電装置および受電装置の具体的な動作を説明するためのフロー図
【発明を実施するための形態】
【００５９】
次に、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下に説明する本実施形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成のすべてが、本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
【００６０】
（第１の実施形態）
本実施形態では、送電装置の試験の例、ならびに、第１強制送電モードおよび第２強制送電モードを有する送電装置の構成例と動作例等について説明する。
【００６１】
（送電装置等の試験の例）
図１は、送電装置に関する試験の例およびテストシステムの構成例を示す図である。図１
に示されるテストシステムは、送電装置と受電装置を対向配置させた状態での試験（対向試験）を実行する。
【００６２】
送電装置２００および受電装置３００のうちのいずれか一方が「検査サンプル」であり、いずれか他方がリファレンスである。「検査サンプル」は、「テストの対象となる装置」であり、「リファレンス」とは、「装置の特性や機能が保障され、かつ、その特性や機能が、検査システムを構成する上位装置（ホストコンピューター等）によって把握されている、検査の基準を提供する装置」である。
【００６３】
図１に示すように、受電装置側の試験装置は、例えば、ホストコンピューター（受電側）４００と、計測器４１０と、を有する。受電装置（２次側モジュール）３００は、例えば、計測器４１０に設けられる治具（不図示）上に載置される。受電装置３００は、ホストインターフェース（ホストＩ／Ｆ）３１２と、受電制御装置３０８と、２次コイルＬ２（図１（Ｂ）では不図示）と、を有している。ホストコンピューター（受電側）４００は、計測器４１０との間で、制御情報や測定データ等の送受信を行うことができる。また、ホストコンピューター（受電側）４００は、ホストインターフェース３１２を介して、受電装置３００との間で情報の送受信を行うことができる。
【００６４】
送電装置（１次側モジュール）２００と受電装置（２次側モジュール）３００とを対向させて行う試験（対向試験）としては、認証処理（ネゴ＆セットアップ処理）の確認試験（１次側，２次側の双方）、認証処理（ネゴ＆セットアップ処理）用のＲＯＭデータの読み出し確認試験（１次側と２次側の双方）、認証処理（ネゴ＆セットアップ処理）時における位置許容範囲確認試験、認証処理時（例えばネゴシエーションフェーズ）における異物検出機能確認試験、通常送電後の期間における異物検出機能確認試験、通常送電後の期間における２次側の動作確認試験等が挙げられる。各試験の内容は後述する。
【００６５】
（無接点電力伝送システムの通常の動作例）
送電装置または受電装置の対向試験について説明する前に、無接点電力伝送システムの通常の動作例について説明する。図２は、無接点電力伝送システムの通常の動作例を示す図である。
【００６６】
図２に示される無接点電力伝送システムは、一台の送電装置２００が、種類（電力定格等）の異なる複数の受電装置３００に送電することができるマルチ送電方式に対応したシステムである。
【００６７】
待機状態において、送電側機器（クレードル）５００に内蔵される送電制御装置（図２では不図示）は、受電側機器（例えば携帯電話機）５１０の着地（セッティング）を、例えば、０．３秒に１回、検出し（ステップＳ１）、これによって、受電側機器の着地（セッティング）が検出される（ステップＳ２）。なお、待機時の送電装置２００は、受電装置３００の着地検出のために、１次コイルＬ１を間欠的に駆動する。１次コイルＬ１は、例えば、０．３秒毎に５ｍ秒だけ駆動される。
【００６８】
次に、送電装置２００と受電装置３００との間で、種々の情報の交換（ネゴシエーションならびにセットアップ：認証処理）が実行される（ステップＳ３）。
【００６９】
ネゴシエーションフェーズ（第１認証処理）では、認証情報（ＩＤ情報を含む）の交換が実行され、例えば、受信したＩＤ情報等に基づいて、規格／コイル／システムの適合確認処理が実行される。また、ネゴシエーションフェーズでは、安全上の情報（例えば、異物検知用の検知パラメーター等の交換も実行される。
【００７０】
具体的には、送電側と受電側は、ＩＤ情報等の認証情報を交換し、受信した認証情報（ＩＤ情報等）に基づいて、規格／コイル／システム等がお互いに適合するか否かを確認する。また、例えば受電側が送電側に、異物検出等のためのしきい値情報等（安全情報）を送信し、安全上の情報交換を行う。このネゴシエーション処理では、送電側と受電側の間で情報の通信が可能か否かの確認や、通信した情報が妥当か否かの確認や、受電側の負荷状態の適否（異物の非検出）の確認等も行われる。ネゴシエーション処理において、認証情報（ＩＤ情報等）の交換の結果として、規格／コイル／システム等が不一致であると判定されたり、異物が検出されたり、あるいは、タイムアウトエラーになったりすると、送電装置２００は、例えば、待機フェーズに移行する（ステップＳ８）。
【００７１】
送電側や受電側は、ネゴシエーションフェーズの後、セットアップフェーズ（第２認証処理）に移行する。このセットアップフェーズでは、対応機能の情報やアプリケーション別の設定情報などのセットアップ情報が転送されるセットアップ処理が実行される。例えばネゴシエーション処理の結果に基づいて伝送条件が特定される。具体的には、受電側が、コイルの駆動電圧や駆動周波数等の伝送条件情報を送電側に送信すると、送電側は、受信した伝送条件情報に基づいてコイルの駆動電圧や駆動周波数等の通常送電のための伝送条件を設定する。また、対応機能についての情報交換や、上位のアプリケーション毎に異なる設定情報の交換も、このセットアップ処理で行われる。具体的には、通常送電開始後の受電側の負荷状態検出用のしきい値情報（例えばデータ通信用・異物検出用のしきい値情報）や、通常送電後のコマンドフェーズにおいて、送電側、受電側が発行・実行可能なコマンドの種類や、通信機能、定期認証機能等の付加的な対応機能についての情報交換は、このセットアップ処理において実行される。これにより、電子機器の種類（携帯電話機、オーディオ機器等）や機種などのアプリケーションに応じて異なる設定情報の交換が可能になる。
【００７２】
セットアップ処理において、機器の取り去りが検出されたり、タイムアウトエラーになったりすると、例えば、待機フェーズに移行する（ステップＳ８）。
【００７３】
このように、ネゴシエーション処理ならびにセットアップ処理（これらの処理は、交換した情報に基づいて相手側の適応性の有無を確認する（つまり認証する）処理という意味をもち、したがって、これらの処理をまとめて、広義の認証処理ということができる）によって、受電装置が適切な送電対象であることが確認され、必要な情報が設定された後に、通常送電（ここでは、バッテリー等の負荷への給電のための連続送電等）が開始される（ステップＳ４）。通常送電が開始されると、受電側機器（携帯電話機）５１０に設けられているＬＥＤが点灯する。
【００７４】
次に、通常送電中において、バッテリー等の満充電が検出されると、満充電通知が受電装置から送電装置に送信され、これを受信した送電装置２００は、通常送電を停止する(ステップＳ４)。通常送電が停止されると、受電側機器（携帯電話機）５１０に設けられているＬＥＤが消灯する。そして、満充電検出後の待機フェーズに移行する（ステップＳ５）。
【００７５】
満充電検出後の待機状態では、例えば、５秒に１回の取り去り検出が実行され、また、１０分に１回、再充電の要否の確認が実行される。満充電後に受電側機器（携帯電話機）５１０が取り去られると、初期の待機フェーズに戻る（ステップＳ６）。また、満充電後に再充電が必要と判定されると、ステップＳ３に復帰する(ステップＳ７)。また、先に説明したように、ステップ３の状態において、受電側機器（携帯電話機）５１０の取り去りや異物が検出された場合には、初期の待機状態に復帰する（ステップＳ８）。
【００７６】
図３は、図２に示される送電装置の動作（内部状態）の概要を示す図である。図３において、本実施形態の送電装置または受電装置のテスト方法に、特に関係する動作は、太い実線で囲んで示されている。
【００７７】
送電装置２００は、電源の立ち上がりと共にリセット状態Ｑ１となり、所定期間後に待機フェーズＱ２に移行する。送電装置２００は、受電側機器の着地を検出すると仮送電（通常送電前の、認証処理等を可能とするための連続送電）を開始し、ネゴシエーションフェーズ（第１認証処理）Ｑ３に移行し、先に説明したようにＩＤ情報の交換等を実行する。ネゴシエーション処理に成功すると、送電装置２００は、セットアップフェーズ（第２認証処理）Ｑ４に移行する。先に説明したように、セットアップフェーズでは、対応機能の情報交換等が実行される。
【００７８】
認証処理（ネゴシエーションフェーズＱ３およびセットアップフェーズＱ４）にパスすると、送電装置２００は、コマンドフェーズＱ８に移行する。コマンドフェーズＱ８では、セットアップフェーズＱ４で得た情報に基づく対応コマンドの発行処理等が行われる。
【００７９】
また、ネゴシエーションフェーズＱ３において、規格／コイル／システム等の不一致が検出された場合、異物が検出された場合、取り去りが検出された場合、タイムアウトエラーになった場合には（状態Ｑ５）、送電装置２００はリセット状態Ｑ１に復帰する。また、ネゴシエーションフェーズＱ３において、通信エラーが生じた場合には（状態Ｑ７）には、送電装置２００は、待機フェーズＱ２に復帰する。
【００８０】
また、セットアップフェーズＱ４において、取り去りやタイムアウトエラーが検出された場合には（状態Ｑ６）、送電装置２００は、リセット状態Ｑ１に復帰する。また、コマンドフェーズＱ８において、異物検出や取り去りが検出された場合には（状態Ｑ１０）、送電装置２００はリセット状態Ｑ１に復帰する。また、また、コマンドフェーズＱ８において、バッテリー（給電対象の負荷）の満充電等が検出された場合には（状態Ｑ１１）、送電装置２００は待機フェーズ状態Ｑ２に復帰する。
【００８１】
（対向試験の概要）
図４は、本発明の送電装置または受電装置のテスト方法（対向試験方法）の手順の概要を示す図である。まず、検査サンプル（１次側および２次側のうちのいずれか一方）と、リファレンス（いずれか他方）とを、対向させて配置する（ステップＳ１００）。
【００８２】
次に、送電装置２００および受電装置３００との間で、相互通信（双方向の通信）を実行する（ステップＳ２００）。この通信には、特に、認証処理（ネゴシエーション処理およびセットアップ処理）のための通信、異物検出のための情報（異物検出しきい値等）の通信、および異物検出のための通信（例えば、定期認証用の通信：すなわち、通常送電後において、受電装置３００が定期的な負荷変調を行って“０”，“１”の組み合わせからなるパターンを通信すること）のうちの少なくとも一つが含まれる。
【００８３】
続いて、検査サンプルに設けられているテストレジスター（第１記憶部）に格納（蓄積）されている情報を、インターフェース部を経由して上位装置（ホストコンピューター等）が読み出して、送電装置（１次側モジュール）または受電装置（２次側モジュール）の機能試験を実行する（ステップＳ３００）。以下、対向試験の具体例について、図面を参照して、個別に説明する。
【００８４】
（ネゴシエーション確認試験）
図５は、ネゴシエーション確認試験の内容を説明するための図である。ネゴシエーション処理（第１認証処理）では、上述のとおり、送電装置２００と受電装置３００との間において、規格／コイル／システムの一致を確認するためのＩＤコードの交換ならびに異物検出しき値等の安全上の情報の交換が実行される。以下、ＩＤコードや安全上の情報をまとめて、ネゴデータという。
【００８５】
図５に示されるように、送電装置２００内のＲＯＭ（第２記憶部に相当する）２０５には、例えば、第１のネゴシエーション処理用データ（ネゴデータ（１））が初期値として格納されている。同様に、受電装置３００内のＲＯＭ３１１には、例えば、第２のネゴシエーション処理用データ（ネゴデータ（２））が初期値として格納されている。
【００８６】
ネゴシエーション処理（第１認証処理）では、送電装置２００と受電装置３００との間で、ネゴデータ（１）およびネゴデータ（２）の各々が交換される。この結果、ネゴデータ（１）は、受電装置３００内のレジスター部（第１記憶部に相当する）３１４に蓄積され、ネゴデータ（２）は、送電装置２００内のレジスター部２０７に蓄積される。
【００８７】
ネゴシエーション処理（第１認証処理）が終了した後、ホスト（送電側）１００は、例えば、送電装置２００内の送電制御装置２３０（図１参照）からの割り込み信号などによりそれを知り、ホストＩ／Ｆ２０４を介して、受電装置側から送られてきたネゴデータ（２）をレジスター部２０７から読み出し、例えば、読み出したデータを期待値と照合する。これによって、ネゴデータ（２）が、レジスター部２０７の正しいアドレスに蓄積されていたか否かが確認され、また、ネゴデータ（２）が正しいデータであるか否かが確認される。
【００８８】
また、同様に、ネゴシエーション処理（第１認証処理）が終了した後、ホスト（受電側）４００は、例えば、受電装置３００内の受電制御装置３０８（図１参照）からの割り込み信号などによりそれを知り、ホストＩ／Ｆ２０４を介して、送電装置側から送られてきたネゴデータ（１）をレジスター部（第１記憶部）３１４から読み出し、例えば、読み出したデータを期待値と照合する。これによって、ネゴデータ（１）が、レジスター部３１４の正しいアドレスに蓄積されていたか否かが確認され、また、ネゴデータ（１）が正しいデータであるか否かが確認される。
【００８９】
（セットアップ確認試験）
図６は、セットアップ確認試験の内容を説明するための図である。セットアップ処理（第２認証処理）では、上述のとおり、送電装置２００と受電装置３００との間において、対応機能の情報やアプリケーション別の設定情報（各種パラメーターやコード等）が交換される。以下、対応機能の情報やアプリケーション別の設定情報をまとめてセットアップデータという。
【００９０】
図６に示されるように、送電装置２００内のＲＯＭ２０５には、例えば、第１のセットアップ処理用データ（セットアップデータ（１））が初期値として格納されている。同様に、受電装置３００内のＲＯＭ３１１には、例えば、第２のセットアップ処理用データ（セットアップデータ（２））が初期値として格納されている。
【００９１】
セットアップ処理（第２認証処理）では、送電装置２００と受電装置３００との間で、セットアップデータ（１）およびセットアップデータ（２）の各々が交換される。この結果、セットアップデータ（１）は、受電装置３００内のレジスター部３１４に蓄積され、セットアップデータ（２）は、送電装置２００内のレジスター部２０７に蓄積される。
【００９２】
セットアップ処理（第２認証処理）が終了した後、ホスト（送電側）１００は、例えば、送電装置２００内の送電制御装置２３０からの割り込み信号などによりそれを知り、ホストＩ／Ｆ３１２を介して、受電装置側から送られてきたセットアップデータ（２）をレジスター部２０７から読み出し、例えば、読み出したデータを期待値と照合する。これによって、セットアップデータ（２）が、レジスター部２０７の正しいアドレスに蓄積されていたか否かが確認され、また、セットアップデータ（２）が正しいデータであるか否かが確認される。
【００９３】
また、同様に、セットアップ処理（第２認証処理）が終了した後、ホスト（受電側）４００は、例えば、受電装置３００内の受電制御装置３０８からの割り込み信号などによりそれを知り、ホストＩ／Ｆ３１２を介して、送電装置側から送られてきたセットアップデータ（１）をレジスター部３１４から読み出し、例えば、読み出したデータを期待値と照合する。これによって、セットアップデータ（１）が、レジスター部３１４の正しいアドレスに蓄積されていたか否かが確認され、また、セットアップデータ（１）が正しいデータであるか否かが確認される。
【００９４】
（ネゴ＆セットアップ通過確認試験）
図７は、ネゴ＆セットアップ通過確認試験の内容を説明するための図である。ネゴ＆セットアップ通過確認試験では、例えば、認証処理がどの段階までパスしたかが確認される。すなわち、ホスト（送電側）１００は、セットアップ処理（第２認証処理）が終了した後、例えば、送電装置２００内の送電制御装置２３０に割り込みコマンドを送信し、ステータス情報（例えば、ネゴシエーションやセットアップをパスしたことを示すフラグ情報等）を、レジスター部２０７から読み出し、ネゴ＆セットアップ処理（認証処理）における通過確認試験を実行する。
【００９５】
これによって、ネゴシエーション処理およびセットアップ処理の双方に失敗したか、ネゴシエーション処理に成功し、かつセットアップ処理に失敗したか、ネゴシエーション処理およびセットアップ処理の双方に成功したかが、確認される。また、例えば、ネゴシエーション中に通信エラー（図３の状態Ｑ７を参照）が発生したか否かについても確認が可能である。
【００９６】
（ネゴ＆セットアップ用のＲＯＭデータの読み出し確認試験）
図８は、ネゴ＆セットアップ用のＲＯＭデータの読み出し確認試験の内容を説明するための図である。
【００９７】
ネゴ＆セットアップ用のＲＯＭデータの読み出し確認試験では、ホスト（送電側）１００が、送電装置２００内のＲＯＭ２０５から、ネゴデータ（１）やセットアップデータ（１）（つまり、受電装置に送信されるデータ）を読み出し、これらのデータが正しいアドレスに蓄積されているか否か、これらのデータが正しいデータであるか否かを確認する。
【００９８】
また、同様に、ホスト（受電側）４００が、受電装置３００内のＲＯＭ３１１から、ネゴデータ（２）やセットアップデータ（２）（つまり、受電装置に送信されるデータ）を読み出し、これらのデータが正しいアドレスに蓄積されているか否か、これらのデータが正しいデータであるか否かを確認する。
【００９９】
（ネゴ＆セットアップ時の位置許容範囲確認試験）
図９は、ネゴ＆セットアップ処理時の位置許容範囲確認試験の内容の一例を説明するための図である。本試験では、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２を意図的に所定間隔ｄ１だけずらして対向配置する。ネゴ＆セットアップ処理が開始されると、送電装置２００は、受電装置３００に対して仮送電（通常送電前の連続送電）を開始する。受電装置３００には、受電部３０２，検出部３１０が設けられており、検出部３１０は、受電電力レベルを測定する。受電電力レベルは、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間のずれ量ｄ１に応じて変化するため、この受電電力レベルの測定データは、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間のずれ量ｄ１に対応する位置レベルデータとして利用することができる。この位置レベルデータは、受電装置３００から送電装置２００に送られ、送電装置２００内のレジスター部２０７に格納される。
【０１００】
ホスト（送電側）１００は、送電装置２００内のレジスター部２０７から位置レベルデータを読み出し、その位置レベルデータが、許容範囲内のレベルに収まっているか否かを調べる。例えば、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間のずれ量ｄ１が許容範囲に設定されているにもかかわらず、位置レベルが許容レベル未満となった場合には、なんらかの異常があると判断される。
【０１０１】
（ネゴ＆セットアップ時の異物検出機能確認試験）
図１０は、ネゴ＆セットアップ時（認証処理期間）の異物検出機能確認試験の内容を説明するための図である。本試験では、ネゴ＆セットアップ時において、送電装置２００および受電装置３００に備わる異物検出機能が適正に動作するか否かを検査する。例えば、図１０に示されるように、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間に、導電性異物ＭＥ（例えば、薄い板状の金属）を挿入する。このとき、例えば、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２とが完全に遮断されないような位置に導電性異物ＭＥを配置し、最小限の電力が、１次コイルＬ１から２次コイルＬ２に伝達されるようにしておく。
【０１０２】
１次コイルＬ１と２次コイルＬ２とが完全に結合している状態と、導電性異物ＭＥを介して結合している状態とでは、１次コイルＬ１を構成要素として含む共振回路の共振特性が異なることから、１次コイルＬ１のコイル端信号の電圧レベル（ピーク電圧レベル）が変化し、また、１次コイルＬ１の駆動クロックをタイミングの基準とした場合のコイル端信号の位相特性（電圧と電流の位相関係）が変化する。
【０１０３】
このピーク電圧の変化や位相の変化を、送電装置２００内に設けられている検知判定部２４４が検出する。すなわち、検知判定部２４４は、ＡＦＥ（１次コイルＬ１からのコイル端電圧を検知するアナログフロントエンド）２４２から出力されるコイル端信号に基づいて、上記のピーク電圧の変化や位相の変化を検出する。これによって、異物の存在が検出される。異物の存在が検出された場合には、例えば、異物検出を示すステータスフラグがアクティブとなり、そのステータスフラグがレジスター部２０７に格納される。
【０１０４】
ホスト（送電側）１００は、レジスター部２０７からステータスフラグを読み出し、金属異物ＭＥの存在を検出できたか否かを確認する。これによって、ネゴ＆セットアップ時の異物検出機能の有効性（例えば、異物検出が可能な限界条件下における異物検出の可否）を、的確に確認することができる。
【０１０５】
なお、上記の異物検出方法は一例であり、他の異物検出方法が採用されてもよい。例えば、異物を、２次側で検出することも可能である。すなわち、例えば、通常送電前の送電電力レベルを、認証処理等に必要な最低限度の電力を確保できる限界付近のレベルまで低下させておく。１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間に異物が存在すると、送電装置から送信される電力（弱い電力）の少なくとも一部の電力が金属異物で消費されて受電装置３００に到達しないことから、受電装置３００における受電レベルは、許容範囲を超えて（極端に）低下する。したがって、受電装置３００は、認証処理期間において極端な電力低下（コイル端電圧の低下等）が生じたことによって、異物検出を検出することができる。受電装置３００が異物を検出した場合、受電装置３００は、それ以降、本来なら行うべき送電装置２００側への負荷変調による送信（例えば認証処理のためのパラメーターやデータの送信）を一切、止める。送電装置２００は、１次コイルＬ１のコイル端信号に基づいて、受電装置３００側の負荷状態を監視しており（つまり、受電装置３００側から負荷変調によって信号が送られてくれば、直ちに受信して検出することができ）、したがって、本来、送られてくるべき信号が許容時間内に送られてこないことによって、異物が検出されたと認識することができる。この場合、タイムアウトエラーが生じたことになり、送電装置２００は、待機状態に移行する。
【０１０６】
（通常送電時の異物検出機能試験）
図１１は、通常送電時の異物検出機能試験の内容を説明するための図である。本試験では、通常送電期間における異物検出機能（乗っ取り状態の検出機能）の有効性を確認する。通常送電期間中に金属異物が挿入された場合、送電装置２００が、その金属異物を受電装置側の負荷と認識した場合には、取り去り検出機能が有効に働かず、通常送電が継続され、金属異物が発熱するという問題が生じる。この状態を「乗っ取り状態」と称する。この乗っ取り状態を確実に検出することは、無接点電力伝送システムの安全性を確保する上できわめて重要である。
【０１０７】
そこで、通常送電期間においては、受電装置３００の受電制御装置３０８は、負荷変調部３０４を制御して、所定の“１”，“０”の組み合わせのパターン（異物検出用信号）を、間欠的（好ましくは定期的（周期的））に送電装置２００に送信する。送電装置２００は、この負荷変調により送られてくる所定パターンの信号を受信し、検出する。この検出は、検知判定部２４４が、ネゴ＆セットアップ処理（認証処理）によって取得された異物検出しきい値を用いて行われるのが好ましい。
【０１０８】
そして、その所定パターンの検出に、例えば、所定回だけ繰り返し失敗した場合に、送電装置２００内の送電制御装置２３０は、異物が挿入されたと判定して通常送電を停止する。そして、異物が検出されたことを示すステータス情報が、レジスター部２０７に設定される。
【０１０９】
ホスト（送電側）１００は、レジスター部２０７からステータス情報を読み出し、通常送電期間中に挿入された金属異物ＭＥの存在を検出できたか否かを確認する。これによって、通常送電期間における異物検出機能（乗っ取り状態の検出機能）の有効性を確認することができる。
【０１１０】
（第２の実施形態）
本実施形態では、送電装置および受電装置の具体的な内部構成の例について説明する。
【０１１１】
（送電装置および受電装置の内部構成例）
図１２は、送電装置および受電装置の内部構成例を示す図である。送電装置２００は、例えば、回路基板上に、複数の回路要素が搭載されて構成される１次側モジュール（無接点電力伝送システムの構成部品）である。送電装置２００は、１次コイルＬ１と、システムクロックＳＣＫを生成するシステムクロック生成回路（８ＭＨｚ発振回路）２０２と、ホストインターフェース２０４と、テストモード設定回路２０６と、ネゴシエーション処理用データ（ネゴデータ）やセットアップ処理用データ（セットアップデータ）等を記憶しているＲＯＭ（第１記憶部，ＲＡＭを用いることもできる）２０５と、レジスター部２０７と、温度判定部（温度異常検知部）２１８と、送電制御装置２３０と、１次コイルＬ１のコイル端の信号波形をモニタするためのＡＦＥ（アナログフロントエンド）２４２と、２次側の負荷変動や２次側の取り去り、あるいは異物検出等を行う検知判定部２４４と、送電部２５０と、システムバスＢＵＳ１と、を有する。また、回路基板には、複数の信号端子（Ｐ１〜Ｐ１０）が設けられている。また、回路基板上の所定箇所には、温度をモニタするための少なくとも１個のサーミスタ（温度測定器）２２０が配置されている。なお、サーミスタ２２０から出力される温度情報は、信号端子Ｐ７を介して温度判定部２１８に供給される。
【０１１２】
送電部２５０は、１次コイルＬ１の駆動を制御する駆動制御回路２５２と、コイル駆動回路（ドライバ）２５４と、を有する。駆動制御回路２５２は、システムクロックＳＣＫを分周して駆動クロック（ドライバクロック）ＤＲＣＫを生成し、コイル駆動回路（ドライバ）２５４に供給する。本実施形態では、テストレジスター２１６への情報設定によって、テスト時に、コイル駆動回路（ドライバ）２５４への駆動クロックＤＲＣＫの供給を強制的に停止することができる。
【０１１３】
また、送電制御装置２３０は、送電シーケンス制御部２３２と、周波数変調回路２３４と、送電装置２００の全体動作を制御するメインシーケンサー２３６と、受信制御・負荷復調回路２３８と、定期認証判定回路２４０と、を有する。なお、「定期認証」とは、上述のとおり、例えば、通常送電中において、１次コイルＬ１と２次コイルＬ２との間に異物が挿入されたことを検出するために、２次側が定期的に負荷変調を実行して、所定パターンの信号を１次側に送信し、１次側が、その所定パターンを検出できるか否かを定期的に確認する動作である。
【０１１４】
レジスター部２０７は、１次側の動作パラメーターであるパラメーター１を格納するパラメーター１レジスター２０９と、情報交換によって２次側から送られてくる２次側の動作パラメーターであるパラメーター２を格納するパラメーターレジスター２１０と、通信や充電等に関するステータスを格納するステータスレジスター２１１と、通信コマンド等を格納するコマンドレジスター２１２と、通信データ等を格納するデータレジスター２１３と、通信や充電等に関する割り込み要求を格納する割り込みレジスター２１４と、テストのための情報（テストモードやテスト条件を決定するビット情報等）が設定される、テスト用メモリ（テスト情報設定部）としてのテストレジスター２１６と、を有する。
【０１１５】
テストレジスター２１６は、テスト情報設定部として機能する。テスト情報設定部としてのテストレジスター２１６は、第１強制送電モード（フォースモード）設定部を有しており、この第１強制送電モード設定部に、第１強制送電モードをイネーブルにする切り換え情報を設定することによって、送電装置２００を強制連続送電状態とすることができる。なお、第１強制送電モードがディスエーブルのときは、送電装置２００は待機状態を維持し、待機状態では、送電装置２００は、受電側機器の着地を検出するための間欠送電（例えば、０．３秒に１回の送電）を実行する。
【０１１６】
なお、テスト情報設定部は、書き込み可能なメモリによって構成することができる。例えば、メモリのメモリ空間が複数のメモリ領域に区分され、区分された各メモリ領域が、テストのための動作モードや動作条件等を決定（選択）するための設定部として機能する。具体的には、例えば、メモリの所定アドレスの所定ビットに“１”，“０”のどちらの切り換え情報を設定するかによって、上記の第１強制送電モード（フォースモード）のイネーブル／ディスエーブルを決定することができる。
【０１１７】
より具体的には、テストレジスター２１６における所定アドレスの所定ビットに情報ビットが書き込まれることによって、テストのための情報（テストモードやテスト条件等を指定する情報）の設定が実現される。テスト情報設定部をテストレジスター２１６によって構成することによって、テスト条件の設定が容易化される。
【０１１８】
なお、テストレジスター２１６は、例えば、テストのための情報を書き込むことができ、その書き込まれた情報を保持することができる、比較的構成が簡単な記憶装置である。また、テストレジスター２１６へのライトアクセスは、誤った条件設定等を防止するために、テストモード設定回路２０６によって、テストモードが選択されたときにのみ許可されるのが望ましい。なお、テストモード設定回路２０６には、信号端子Ｐ５，Ｐ６を介して、テストモード信号（ＴＥＳＴ）およびテストモードクロック（ＴＭＣＫ）が供給される。
テストレジスター２１６の採用は、送電装置２００の構成の簡素化や小型化に寄与し、また、コストの抑制にも寄与する。
【０１１９】
上述のとおり、送電装置２００は、送電側ホスト１００と通信を行うためのホストインターフェース２０４を有しており、送電側ホスト１００は、ホストインターフェース２０４を介してテスト情報設定部としてのテストレジスター２１６にアクセスすることができる。ホストインターフェース２０４を設けることによって、送電側ホスト（例えば、試験装置のホストコンピューター、あるいは、無接点電力伝送システムを利用する上位装置等）１００が、テストレジスター２１６にアクセスして、試験モードや試験条件を指定することが可能となる。これによって、送電側ホスト１００が、送電装置２００の試験を主導することが可能となる。
【０１２０】
なお、送電側ホスト１００とホストインターフェース２０４とは、２線式のシリアル通信によって、双方向通信が可能なＩ２Ｃインターフェースなどがある。Ｉ２Ｃインターフェースでは、割り込み信号（ＸＩＮＴ）の供給ラインと、シリアルクロック（ＳＣＬ）の供給ラインと、シリアルデータ（ＳＤＡ）の供給ラインとが使用される。なお、各ラインは、プルアップ抵抗を介して電源電圧ＶＤ１にプルアップされる。
【０１２１】
なお、本実施形態では、送電側ホスト１００がテストレジスター２１６にアクセスする構成としているが、これに限定されるものではなく、送電側ホスト以外の他の外部の装置（上位装置）が、テストレジスター２１６にアクセスできるようにしてもよい。「外部の装置（上位装置）」は、例えば、無接点電力伝送システムのための試験装置（テスタ）であり、あるいは、送電装置の試験専用の試験条件発生器等である。外部の装置がテストレジスター２１６にアクセス可能とするために、送電装置２００にインターフェース部を設けることが可能である。また、例えば、送電装置２００にテスト専用端子（テストピン）を設けて、その専用端子を経由して、動作モードの設定情報等をテストレジスター２１６に直接に書き込むことができるようにすることも可能である。これによって、例えば、試験装置等が主体的に条件を定め、送電装置の動作試験を主導的に遂行できるようになる。
【０１２２】
また、図１２の送電装置２００には、送電制御装置２３０のリセットを行うためのリセット信号（ピンリセット信号）ＰＮＲＳを入力するための、リセット信号入力端子Ｐ４が設けられている。リセット信号（ピンリセット信号）ＰＮＲＳがアクティブとなると、図１２中の一点鎖線の右側に位置する回路がリセット状態となる。
【０１２３】
送電装置２００のパワーオンリセット後、リセット信号（ピンリセット信号）ＰＮＲＳによる送電制御装置２３０のリセット解除前の期間において、テスト情報設定部としてのテストレジスター２１６にテストのための情報が書き込まれ、そして、テストのための情報の書き込み完了後に、リセット信号（ピンリセット信号）ＰＮＲＳによる送電制御装置２３０のリセットが解除される。
【０１２４】
すなわち、テストレジスター２１６へのライトアクセスは、例えば、テストモードが選択されたときのみ許可され、かつ、そのライトアクセスは、例えば、パワーオンリセット解除後であって、送電制御装置のリセットが解除される前の期間において行うことが可能である。パワーオンリセットは、電源投入直後においては、フリップフロップの動作が安定しないことから、パワーオンリセット回路によって、フリップフロップの初期設定を実行する動作である。
【０１２５】
パワーオンリセットによって、テストレジスター２１６の動作が安定する。また、テストレジスター２１６に情報を書き込むと同時に、その書き込み情報にしたがって送電装置２００が動作を開始することを防止するために、テストレジスター２１６への、テストのための情報の書き込みは、送電制御装置２３０をリセットした状態で行う。そして、すべての情報設定が完了した後に、送電制御装置２３０のリセットを解除する。送電制御装置は、リセットが解除されると、所定期間経過後に、テストレジスター２１６に設定された情報に従って送電装置２００を制御し、これによって、所望の条件によるテストのための送電が実行される。
【０１２６】
送電装置２００が、送電制御装置２３０をリセットするためのリセット信号入力端子Ｐ４を有することによって、送電制御装置２３０のリセットを所望のタイミングで行うことができる。よって、所望のタイミングで、テスト情報設定部としてのテストレジスター２１６に必要な情報を設定することが可能となる。
【０１２７】
また、図１２に示される受電装置（２次側モジュール）３００は、２次コイルＬ２と、受電部３０２と、負荷変調部３０４と、バッテリー（負荷）３１６への給電を制御する給電制御部３０６と、受電制御装置３０８と、システムバスＢＵＳ２と、位置や周波数の検出回路３１０と、ホストインターフェース３１２と、ＲＯＭ３１１と、レジスター部３１４と、を有する。受電側ホスト４００は、ホストインターフェース３１２を介して、受電装置３００との間で双方向通信を行うことができる。ＲＯＭ３１１は、送電装置２００におけるＲＯＭ２０５に対応し、レジスター部３１４は、送電装置２００におけるレジスター部２０７に対応する。
【０１２８】
なお、図１２に示される送電装置２００は、例えば、送電部２５０に含まれるコイル駆動回路２５４を除いて、一つのＩＣ（集積回路装置）で構成することができる。また、図１２に示される受電装置３００は、例えば、受電部３０２，負荷変調部３０４ならびに給電制御部３０６を除いて、一つのＩＣ（集積回路装置）で構成することができる。但し、この構成は一例であり、この構成に限定されるものではない。
【０１２９】
（テストレジスターの構成例）
図１３は、テストレジスターの構成例を示す図である。テストレジスター２１６のメモリ領域は、アドレスＡ〜Ｄに区分される。各アドレスのメモリ領域は８ビットで構成される。アドレスＡの名称はデフォルト設定１であり、アドレスＢの名称はデフォルト設定２であり、アドレスＣの名称はテストコマンド設定１であり、アドレスＤの名称はテストコマンド設定２である。
【０１３０】
図１３において、アドレスＡのビット７は、第１強制送電モード（フォースモード）のイネーブル／ディスエーブルの切り換え情報（“１”または“０”）が設定される。したがって、アドレスＡのビット７は、第１強制送電モード（フォースモード）設定部として機能する。フォースモードビットが“１”のとき、第１強制送電モードがイネーブルとなる。
【０１３１】
アドレスＡのビット３〜ビット６は、１次コイルＬ１の駆動周波数Ｆ１の周波数値を設定する設定部である。アドレスＢのビット４〜ビット６は、１次コイルＬ１の駆動周波数Ｆ２の周波数値を設定する設定部である。アドレスＢのビット０〜ビット２は、１次コイルＬ１の駆動周波数Ｆ３の周波数値を設定する設定部である。
【０１３２】
なお、駆動周波数Ｆ１，Ｆ２は、通常送電中において、周波数変調による通信に使用される周波数である。また、周波数Ｆ３の周波数値は、通信に用いられる周波数Ｆ１，Ｆ２よりも、１次コイルＬ１の共振周波数に近い周波数値に設定されている。周波数Ｆ３は、例えば、異物検知用の周波数（例えば、異物挿入時において、１次コイルから得られる信号の位相変化を顕在化することができる周波数）であるが、温度検知機能試験（送電装置を連続発振させることによって温度上昇を生じさせ、送電装置に備わる温度検知部の温度検知特性を評価する試験）のために利用することもできる。温度機能試験時において、１次コイルを共振周波数に近い周波数Ｆ３で連続駆動することによって、駆動振幅が増大し、周囲温度を効率的に上昇させることができる。
【０１３３】
アドレスＣのビット５は、第２強制送電モードの設定情報の一つであるネゴオン情報の設定部である。アドレスＣのビットアドレスＣのビット６は、第２強制送電モードの設定情報の一つであるセットアップ情報の設定部である。フォースモードビットが“０”であり、ネゴオンビットが“０”かつセットアップオンビットが“０”のとき、第２強制送電モードがイネーブルとなる。
【０１３４】
また、アドレスＣのビット４は、１次コイルＬ１の駆動の有無（オン／オフ）を強制的に設定するためのドライバオン情報（コイル駆動イネーブル情報）を設定するためのコイルイネーブル設定部である。
【０１３５】
また、アドレスＤのビット１〜ビット７は、１次コイルＬ１の駆動パターンを指定する情報の設定部である。例えば、駆動周波数Ｆ１による連続駆動、駆動周波数Ｆ２による連続駆動、駆動周波数Ｆ３による連続駆動、内部生成したランダム符号に基づくＦ１Ｆ２間の周波数切り換え（ＦＳＫ）による駆動、外部から入力されるランダム符号に基づくＦ１Ｆ２間の周波数切り換え（ＦＳＫ）による駆動、内部生成したランダム符号に基づくＦ１Ｆ３間の周波数切り換え（ＦＳＫ）による駆動、外部から入力されるランダム符号に基づくＦ１Ｆ３間の周波数切り換え（ＦＳＫ）による駆動等を選択（指定）することが可能である。
【０１３６】
図１４は、テストモードの設定について説明するための図である。上述のとおり、フォースモードビットが“１”のとき、第１強制送電モードがイネーブルとなる。また、フォースモードビットが“０”であり、ネゴオンビットが“０”かつセットアップオンビットが“０”のとき、第２強制送電モードがイネーブルとなる。
【０１３７】
また、フォースモードビットが“０”であり、ネゴオンビットが“１”かつセットアップオンビットが“１”のとき、通常送電モードに切り換わる。本実施形態では、認証処理（ネゴシエーション処理およびセットアップ処理）が的確に実行されているかの確認、あるいは、認証処理時における異物検出機能の確認、通常送電時における異物検出機能の確認、あるいは、通常送電後の受電装置の動作の適否の確認等を行うため、テストモードでは、この通常動作モードが選択される。
【０１３８】
テストモード時において、メインシーケンサー２３６は、テストレジスター２１６に設定されたビット情報を読み取って、設定されたビット情報に対応したテスト動作を実行する。
【０１３９】
以下、図１５および図１６を用いて、送電装置２００および受電装置３００の動作について具体的に説明する。図１５および図１６は、送電装置および受電装置の具体的な動作を説明するためのフロー図である。図１５および図１６において、左側に１次側の処理フローが示され、右側に２次側の処理フローが示されている。
【０１４０】
まず、図１５の処理フローについて説明する。送電制御装置２３０は、ｋ１秒のウェイト（ステップＳ３０）の後、送電装置２００を制御して、周波数Ｆ１による仮送電を開始させ（ステップＳ３１）、続いて、フォースモードビット（第１強制送電モードビット）が“１”であるか否かを判定する(ステップＳ３２)。フォースモードビット（第１強制送電モードビット）が“１”ならば、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、アドレスＤのビット３〜ビット１で選択された周波数Ｆ１による強制的な連続送電を実行させる（第１強制送電モードの処理）。
【０１４１】
２次側機器の着地検知（ステップＳ３４）の後、送電装置２００は、ネゴフレームを受信する(ステップＳ３５)。送電制御装置２３０は、第２強制送電モードビットであるネゴオンビットが“１”であるか否かを判定する(ステップＳ３６)。ネゴオンビットが“１”のときは、ネゴシエーション処理によって取得されたＩＤ情報（ネゴ情報）の一致確認が実行され（ステップＳ３７）、ネゴオンビットが“０”のときは、ネゴシエーション処理によって取得されたＩＤ情報（ネゴ情報）の一致確認は省略される。
【０１４２】
続いて、送電制御装置２３０は、１次側機器と２次側機器の位置情報を確認し（ステップＳ３８）、続いて、異物の有無を確認する（ステップＳ３９）。異物が検出されないときは、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、ネゴフレーム（規格／コイル／システム情報を含む）を、２次側に向けて送信させる（ステップＳ４０）。
【０１４３】
ステップＳ４０において送信されるネゴフレームに含まれるＩＤ情報は、受電装置３００を強制的に受電モードにするための認証情報である。
【０１４４】
また、図１５の右側に示されるように、受電装置３００では、ステップＳ６０〜ステップＳ６５の各処理が実行される。ｋ２秒のウェイト（ステップＳ６０）の後、電力の受電によって受電装置３００がパワーオン状態となる(ステップＳ６１)。受電制御装置３０８は、負荷変調トランジスターをオフ状態とした後（ステップＳ６２）、位置確認を実行し（ステップＳ６３）、受電装置３００を制御して、ネゴフレームを送電装置２００に向けて送信させる（ステップＳ６４）。その後、受電装置３００は、送電装置２００から送られてくるネゴフレームを受信する(ステップＳ６５)。
【０１４５】
続いて、図１６の処理フローについて説明する。送電装置２００は、セットアップフレームを受信する（ステップＳ４１）。送電制御装置２３０は、セットアップオンビットが“１”であるか否かを判定し（ステップＳ４２）、セットアップオンビットが“１”であるときは、セットアップが適正に終了したか否かの確認を行う（ステップＳ４３）が、セットアップオンビットが“０”であるときは、ステップＳ４３の確認処理を省略する。
【０１４６】
続いて、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、セットアップフレームを２次側に向けて送信させる（ステップＳ４４）。続いて、送電制御装置２３０は、位置確認を行う（ステップＳ４５）。次に、送電装置２００は、２次側から送られてくるスタートフレームを受信する（ステップＳ４６）。
【０１４７】
次に、送電制御装置２３０は、ネゴオンビットが“１”かつセットオンビットが“１”であるか否か（すなわち、第２強制送電モードがディスエーブルであるかイネーブルであるか）を検出する（ステップＳ４７）。ネゴオンビットが“１”かつセットオンビットが“１”であるとき（すなわち、第２強制送電モードがディスエーブルのとき）は、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、通常送電用（充電用）の条件に切り換えさせ（ステップＳ４８）、定期認証をオンさせ（ステップＳ４９）、通常送電（すなわち、２次側から受信したパラメーター２に基づく連続送電：例えば、周波数Ｆ１）を開始させる（ステップＳ５０）。
【０１４８】
一方、ステップＳ４７において、ネゴオンビットが“０”かつセットオンビットが“０”であるとき（すなわち、第２強制送電モードがイネーブルのとき）は、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、１次側設定条件による連続送電（周波数Ｆ１）を、期限を設けることなく継続させる（ステップＳ５１）。続いて、送電制御装置２３０は、送電装置２００を制御して、定期認証をオンさせる（ステップＳ５２）。通常送電期間においては、送電装置２００は、定期認証に基づく異物検出を定期的に実行するステップＳ５３）。また、受電装置３００から満充電検出コマンドを受信すると（ステップＳ５４）、送電装置２００は、定期認証をオフして送電を停止する（ステップＳ５５）。
【０１４９】
また、図１６において、受電装置３００は、ネゴシエーションフレームの確認（ステップＳ６６）、位置確認（ステップＳ６７）、セットアップフレームの送信（ステップＳ６８）、セットアップフレームの受信（ステップＳ６９）、セットアップＯＫの確認（ステップＳ７０）、スタートフレーム送信（ステップＳ７１）等を実行する。また、通常送電が開始された後は、受電装置３００は、定期認証をオンし（ステップＳ７２）、満充電を検出すると（ステップＳ７３）、満充電検出コマンドを、送電装置２００に送信する（ステップＳ７４）。
【０１５０】
以上説明した動作によって、送電装置２００に設けられるレジスター部２０７および受電装置３００に設けられるレジスター部３１４に、情報交換によって取得した相手側のパラメーターやデータ等が蓄積され、また、各動作の履歴情報（例えば、認証処理の通過状況を示すステータス情報等）が蓄積される。
【０１５１】
上位装置（外部の装置）であるホストコンピューター１００，４００等は、例えば、テスト対象となる動作が終了した後、例えば、インターフェース部２０４，３１２等を経由して、送電制御装置２３０や受電制御装置３０８に対して割込要求を送信し、そして、レジスター部２０７，３１４から、テストに必要なパラメーター、コード、データ、ステータス情報や各種フラグ等の動作履歴情報等を、読み出す。そして、所望の動作が現実に実行されたか否かを確認する。例えば、上述のように、認証処理（第１認証処理としてのネゴシエーション処理および第２認証処理としてのセットアップ処理）が的確に実行されているかの確認、認証処理時における異物検出機能の確認、通常送電時における異物検出機能の確認、あるいは、通常送電後の受電装置の動作の適否の確認等が実行される。
【０１５２】
以上説明したように、本発明の少なくとも一つの実施形態によれば、複雑な認証処理が実行される場合であっても、送電装置または受電装置の認証処理機能の試験を確実、かつ高精度に実行することができる。例えば、認証処理に複数の処理が含まれる場合であっても、どの段階の処理までパスできたのかを、正確に検出することができる。
【０１５３】
また、マルチ送電システムにおいて、例えば、認証用ＩＤのグループ番号が一致しているか否かだけの確認にとどまらず、具体的なコイルのＩＤコードが一致しているか否かも確認することができる。よって、製品の出荷前のテストによって、個々の具体的なＩＤ認証コード（上記のコイルＩＤ等）が不一致となる製品は、不良品として確実に選別することができる。よって、製品の信頼性や安全性を厳格に確保することが可能である。
【０１５４】
すなわち、本発明の少なくとも一つの実施形態によれば、認証処理にパスできたか否かという認証処理の正確なステータスや、認証処理によって相互に交換される認証情報そのものの正確性を、明確にテストすることができる。
【０１５５】
また、無接点電力伝送システムでは安全性が極めて重要であり、特に、異物対策が重要であることから、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能の検査は、製品の出荷前に入念に行う必要がある。
【０１５６】
本発明の少なくとも一つの実施形態によれば、仮送電期間（認証処理を行う期間）において、１次コイルと２次コイルとの間に異物が存在する場合、その異物の存在を確実に検出できるか否かを検査段階で確認することができる。
【０１５７】
また、通常送電が開始された後、１次コイルと２次コイルとの間への異物の挿入を、確実に検出できるか否かを、検査段階で確認することもできる。
【０１５８】
したがって、本発明のいくつかの実施形態によれば、例えば、送電装置と受電装置との間で行われる認証処理の確認試験を確実かつ高精度に行うことができ、また、例えば、送電装置および受電装置の異物検出に関係する機能についても確実に検査することができ、したがって、例えば、マルチ送電に対応した無接点電力伝送システムに対する、実用的なテスト技術を確立することができる。
【０１５９】
また、出荷前の試験を可能とする回路構成を備える、信頼性が高い送電装置（１次側モジュール）および受電装置（２次側モジュール）を実現することができる。また、信頼性が高く、実用価値の高い無接点電力伝送システムを実現することができる。
【０１６０】
なお、本実施形態について詳述したが、本発明の新規事項および効果から逸脱しない範囲で、多くの変形が可能であることは、当業者には容易に理解できるであろう。したがって、このような変形例は、すべて本発明に含まれるものとする。
【０１６１】
本発明は、送電装置または受電装置の、認証処理機能や異物検出機能等の検査、あるいは、通常送電後における受電装置の動作の検査等を確実、高精度かつ効率的に実行できるという効果を奏し、したがって、送電装置および受電装置のテスト方法、送電装置、受電装置および無接点電力伝送システム等として有用である。
【符号の説明】
【０１６２】
１００  送電側ホスト、１１０  計測器、２００  送電装置（１次側モジュール）、
Ｌ１  １次コイル、２０２  システムクロック生成回路（８ＭＨｚ発振回路）、
２０４  ホストインターフェース、２０５  ＲＯＭ、２０６  テストモード設定回路、
２０７  レジスター部（送電側）、２１６  テストレジスター、
２１８  温度判定部（温度異常検知部）、２２０  サーミスタ（温度検知部）、
２３０  送電制御装置（ＩＣ）、２３２  送電シーケンス制御部、
２３４  周波数変調回路、２３６  メインシーケンサー、
２３８  受信制御・負荷復調回路、２４０  定期認証判定回路、
２４２  ＡＦＥ（アナログフロントエンド）、２４４  検知判定部、２５０  送電部、
ＢＵＳ１  システムバス、２５２  駆動制御回路、
２５４  コイル駆動回路（ドライバ）、３００  受電装置、３０２  受電部、
３０４  負荷変調部、３０６  給電制御部、３０８  受電制御装置、
３１０  検出部（検出回路）、３１１  ＲＯＭ、３１２  ホストインターフェース、
３１４  レジスター部（受電側）、４００  受電側ホスト、４１０  計測器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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