【手続補正書】
【提出日】平成17年4月7日(2005.4.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】撮像装置およびその制御方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、
前記撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
半導体の深さ方向に複数の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、
欠陥画素の補正をする場合に、同一画素内の深さ方向の前記複数の光電変換部からの信号の各々の補正を行う第２の補正手段と、
を有する撮像装置。
【請求項３】
請求項２において、前記撮像領域内の欠陥画素の位置を記憶した記憶手段を有し、前記第２の補正手段は、前記記憶手段に記憶されたデ−タに基づいて補正を行うことを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項２において、前記撮像領域内の欠陥画素を検出する検出手段を有し、前記検出手段は、同一画素内の一つの光電変換部からの信号が補正が必要と検出された場合に、前記同一画素内の他の光電変換部からの信号も補正を行うように、前期第２の補正手段を制御することを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、
前記撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正手段と、
前記第１の補正手段の後段に設けられた、欠陥画素の補正をする場合に、同一画素内の深さ方向の前記第１及び第２の光電変換部からの信号の各々の補正を行う第２の補正手段と、
前記撮像領域内の欠陥画素を検出する検出手段とを有し、
前記検出手段は、同一画素内の一つの光電変換部からの信号が補正が必要と検出された場合に、前記同一画素内の他の光電変換部からの信号も補正を行うように、前記第２の補正手段を制御するとともに、前記第１の補正手段に入力される前の信号に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正工程を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項７】
半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正工程と、
前記第１の補正工程に続けて実施され、欠陥画素の補正をする場合に、同一画素内の深さ方向の前記第１及び第２の光電変換部からの信号の各々の補正を行う第２の補正工程と、
前記撮像領域内の欠陥画素を検出する検出工程とを有し、
前記検出工程は、同一画素内の一つの光電変換部からの信号が補正が必要と検出された場合に、前記同一画素内の他の光電変換部からの信号も補正を行うように、前記第２の補正工程を制御するとともに、前記第１の補正工程に入力される前の信号に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の目的は、半導体の深さ方向で色分解行う固体撮像素子の暗電流ノイズや白キズ等による画質劣化を低減出来る固体撮像装置およびその制御方法を提供する事である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また、半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正手段と、前記第１の補正手段の後段に設けられた、欠陥画素の補正をする場合に、同一画素内の深さ方向の前記第１及び第２の光電変換部からの信号の各々の補正を行う第２の補正手段と、前記撮像領域内の欠陥画素を検出する検出手段とを有し、前記検出手段は、同一画素内の一つの光電変換部からの信号が補正が必要と検出された場合に、前記同一画素内の他の光電変換部からの信号も補正を行うように、前記第２の補正手段を制御するとともに、前記第１の補正手段に入力される前の信号に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置を提供する。
また、半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正工程を有することを特徴とする撮像装置の制御方法を提供する。
また、半導体の深さ方向に少なくとも第１、第２の光電変換部を有する画素を複数配列した撮像領域を遮光した状態で前記第１の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像することにより前記第１の光電変換部で得られる信号との差分処理と、前記撮像領域を遮光した状態で前記第２の光電変換部で得られる信号と、前記撮像領域で被写体像を撮像し、前記第２の光電変換部で得られる信号との差分処理とを行う第１の補正工程と、前記第１の補正工程に続けて実施され、欠陥画素の補正をする場合に、同一画素内の深さ方向の前記第１及び第２の光電変換部からの信号の各々の補正を行う第２の補正工程と、前記撮像領域内の欠陥画素を検出する検出工程とを有し、前記検出工程は、同一画素内の一つの光電変換部からの信号が補正が必要と検出された場合に、前記同一画素内の他の光電変換部からの信号も補正を行うように、前記第２の補正工程を制御するとともに、前記第１の補正工程に入力される前の信号に基づいて欠陥画素を検出することを特徴とする撮像装置の制御方法を提供する。