(57)【要約】【課題】  原稿流し読みガラスに付着したゴミの位置を検知するゴミ検知回路を縮小化してコスト削減を図る。【解決手段】  ＣＣＤラインセンサ１２６は、原稿搬送装置１００により搬送される原稿を読取位置上で読み取り、複数画素からなるライン単位で画像データを出力する。制御部６０３は、ＣＣＤラインセンサ１２６から出力された複数ラインの画像データを同一画素同士で加算した後、１ラインあたりの画像データの平均をもとめる。ゴミ判定回路５０５は、加算平均した画像データのうち、所定の値を有する画素を特定する。【選択図】  図３
2010034842.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を読取位置へ搬送する原稿搬送手段と、
前記読取位置に静止した状態で、前記原稿搬送手段により搬送される原稿を前記読取位置上で読み取り、複数画素からなるライン単位で画像データを出力する読取手段と、
前記読取位置の前記読取手段に対向する位置に設けられた原稿規制部材と、
前記読取手段から出力された複数ラインの画像データを同一画素同士で加算した後、１ラインあたりの画像データの平均をもとめる加算平均手段と、
前記読取手段が前記原稿規制部材を読み取ったときに、前記読取手段から出力されて前記加算平均手段により加算平均された画像データのうち、所定の値を有する画素を特定する画素特定手段と、
を有することを特徴とする原稿読取装置。
【請求項２】
前記加算平均手段は、前記読取手段から連続的に出力される複数ラインの画像データから所定数ラインの画像データが間欠的に間引かれた画像データを加算平均し、前記画素特定手段へ出力することを特徴とする請求項１記載の原稿読取装置。
【請求項３】
前記原稿規制部材は回転体であり、前記画素特定手段は、前記原稿規制部材を回転させた状態で前記原稿規制部材を読み取ったときの画像データに基づいて、前記所定の値を有する画素を特定することを特徴とする請求項１記載の原稿読取装置。
【請求項４】
前記画素特定手段が特定処理を行う際の前記原稿規制部材の回転速度は、前記読取手段が原稿を読み取る際の前記原稿規制部材の回転速度よりも速いことを特徴とする請求項３記載の原稿読取装置。
【請求項５】
前記画素特定手段は、所定の閾値以下の値を有する画素を特定することを特徴とする請求項１記載の原稿読取装置。
【請求項６】
前記画素特定手段は、前記読取手段が前記原稿規制部材を読み取ったときに前記読取手段が出力する主走査方向の複数画素の加算し、１画素あたりの平均値をもとめ、前記所定の閾値とすることを特徴とする請求項５記載の原稿読取装置。
【請求項７】
前記読取手段のシェーディング補正値を得るための白基準部材を有し、
前記加算平均手段は、前記読取手段が前記白基準部材を読み取ったときに出力する複数ラインの画像データの加算平均を行うことを特徴とする請求項１記載の原稿読取装置。
【請求項８】
前記画素特定手段により特定された画素の画像データを、隣接する画素の画像データに基づいて補正する補正手段を有することを特徴とする請求項１記載の原稿読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、搬送される原稿を読取位置上で読み取る原稿読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、原稿を読み取る原稿読取部を所定の原稿読取位置に停止させた状態で、原稿搬送装置（ＡＤＦ：オートドキュメントフィーダ）により原稿を移動させながら原稿を読み取る流し読み機能を備えた原稿読取装置が知られている。流し読みを行う際に、原稿読取部の光路上である流し読みガラス上に一部にゴミや汚れがあると、原稿は移動しても、ゴミ等は移動しないため、読み取り画像にスジが発生するという問題がある。
【０００３】
このスジに対する対策として、流し読みガラス上のゴミや汚れの位置を検知し、その位置の画像データを隣接する位置の画像データにより補正することが提案されている（例えば、特許文献１参照）。図１１は、特許文献１で提案されている、流し読みガラス上のゴミ位置検知を行うためのブロック図である。
【０００４】
ゴミ位置検知を行う場合、白色のプラテンローラを回転させながらＣＣＤラインセンサ１２６により読み取る。ＣＣＤラインセンサ１２６で光電変換され、Ａ／Ｄ変換器１３３でＡ／Ｄ変換された画像データは、シェーディング補正回路５０１でシェーディング補正され、ゴミ検知補正ブロック５０８に入力される。ゴミ検知補正ブロック５０８に入力された画像データは、２値化回路５０２にてゴミ検知閾値と比較されることにより２値化される。
【０００５】
加算回路５０３及びラインメモリ５０４は、２値化回路５０２からのデータを多値データとして画素毎に累積加算する。この累積加算は所定のライン数分（連続したラインまたは所定ライン間隔の間欠ライン）行われる。２値化回路５０５は、この画素毎の累積加算値をゴミ判定閾値と比較し、ゴミ判定閾値を超えた画素はゴミあり画素と判定する。流し読みガラス上にゴミが付着していれば、ゴミが付着している位置の画素は同じ値が継続的に累積加算されるため、累積加算された値をゴミ判定閾値と比較することによりゴミの位置を判定することができる。
【０００６】
ゴミカウント回路５０６は、２値化回路５０５の出力に基づき、ゴミ個数とゴミ幅を検出する。ゴミ補正回路５０７は、２値化回路５０５でゴミありと判定された画素について補正を行う。ゴミありと判定された画素の左右に隣接する画素の値を用いて線形補間し、ゴミありと判定された画素の値を線形補間によりもとめた値に置換する。
【特許文献１】特開２００４−２６６７２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述の構成は、ゴミ検知のために、２値化回路５０２で閾値と比較することによりライン単位のゴミ検知を行った後、２値化回路５０５で閾値と比較することにより連続して現れるゴミの判定を行っている。このように、ゴミ検知専用の２値化回路を複数設けているため、回路規模が大きくなっており、コスト上昇の要因となり得る。コスト削減のためには、これらの回路の縮小化がもとめられる。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述の課題を解決するため、本発明は、原稿を読取位置へ搬送する原稿搬送手段と、前記読取位置に静止した状態で、前記原稿搬送手段により搬送される原稿を前記読取位置上で読み取り、複数画素からなるライン単位で画像データを出力する読取手段と、前記読取位置の前記読取手段に対向する位置に設けられた原稿規制部材と、前記読取手段から出力された複数ラインの画像データを同一画素同士で加算した後、１ラインあたりの画像データの平均をもとめる加算平均手段と、前記読取手段が前記原稿規制部材を読み取ったときに、前記読取手段から出力されて前記加算平均手段により加算平均された画像データのうち、所定の値を有する画素を特定する画素特定手段と、を有することを特徴とする原稿読取装置を提供するものである。
【発明の効果】
【０００９】
請求項１記載の発明によれば、簡易な構成で読取位置におけるゴミを検知することができる。
【００１０】
また、請求項２記載の発明によれば、読取位置におけるゴミ検知の誤検知を軽減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図１は、本発明の実施の形態に係る原稿読取装置の断面図である。原稿読取装置は、原稿搬送装置１００と読取装置本体１１７で構成される。原稿搬送装置１００において、原稿トレイ１０１には原稿１０２が積載される。原稿トレイ１０１の上方には、給紙ローラ１０３が設けられている。給紙ローラ１０３は、分離ローラ１０４と同一駆動源に接続され、その回転に連れて回転し、原稿１０２を給紙する。
【００１２】
給紙ローラ１０３は、通常、ホームポジションである上方の位置に退避しており、原稿１０２の原稿トレイ１０１へのセット作業を阻害しないようになっている。給紙動作が開始されると、給紙ローラ１０３は下降して原稿１０２の上面に当接する。給紙ローラ１０３は、図示しないアームに軸支されており、アームが揺動することにより上下に移動する。
【００１３】
分離従動ローラ１０５は、分離ローラ１０４の対向側に配置されており、分離ローラ１０４側に押圧されている。分離従動ローラ１０５は、分離ローラ１０４より僅かに摩擦が少ないゴム材等から形成されており、分離ローラ１０４と協働して、給紙ローラ１０３によって給紙される原稿１０２を１枚ずつ捌いて給紙する。
【００１４】
レジストローラ１０６及びレジスト従動ローラ１０７（レジストローラ対）は、分離ローラ１０４により給紙された原稿１０２の先端の姿勢を矯正する。静止したレジストローラ対のニップ部に原稿１０２の先端が突き当てられることにより、原稿１０２の先端の姿勢が矯正される（斜行が矯正される）。
【００１５】
そして、リードローラ１０８及びリード従動ローラ１０９は、原稿１０２を流し読みガラス１１６に向けて搬送する。流し読みガラス１１６の対向側には、一様な濃度（白色度）を有するプラテンローラ１１０（原稿を流し読みガラス１１６に押し当て規制する原稿規制部材としての白色の回転体）が配置されている。
【００１６】
この際、流し読みガラス１１６上（第一の原稿読取部）を搬送される原稿１０２の表面の画像がＣＣＤラインセンサ１２６により読み取られる。流し読みガラス１１６を通過した原稿は、ジャンプ台１１５によりすくい上げられ、リード排出ローラ１１１及びリード排出従動ローラ１１２によりＣＩＳ（コンタクトイメージセンサ）１２８へ向けて搬送される。後述する原稿台ガラス１１８には、ＣＣＤラインセンサ１２６のシェーディング補正のために一様な濃度（白色度）を有する白基準板３０１（白基準部材）が備えられている。
【００１７】
ＣＩＳ１２８の対向側には、プラテンローラ１２７が配置されている。流し読みガラス１１６上（第二の原稿読取部）を搬送される原稿１０２の裏面の画像がＣＩＳ１２８により読み取られる。ＣＩＳ１２８を通過した原稿は、排紙ローラ１１３により排紙トレイ１１４上に排出される。
【００１８】
ランプ１１９は流し読みガラス１１６を通過する原稿に対して光を照射し、ミラー１２０、１２１、１２２及びレンズ１２５は、原稿１０２からの反射光をＣＣＤラインセンサ１２６に導く。ランプ１１９及びミラー１２０は、ミラー台１２３に取り付けられている。また、ミラー１２１、１２２は、ミラー台１２４に取り付けられている。
【００１９】
ミラー台１２３、１２４は、ワイヤを介してモータにより駆動され、流し読みガラス１１６及び原稿台ガラス１１８と平行に移動する。原稿１０２からの反射光は、ミラー１２０、１２１、１２２を介してレンズ１２５に導かれ、レンズ１２５によってＣＣＤラインセンサ１２６の受光部に結像される。
【００２０】
ＣＣＤラインセンサ１２６は、結像した反射光を光電変換し、入射光量に応じた電気信号を出力する。ＣＩＳ１２８も同様に原稿１０２からの反射光を受光素子で光電変換し、入射光量に応じた電気信号を出力する。
【００２１】
読取装置本体１１７は、原稿台ガラス１１８上に載置された原稿を、ミラー台１２３及び１２４を副走査方向（図中右方向）に移動させることにより読み取る原稿固定読みモードを有する。また、読取装置本体１１７は、ミラー台１２３を流し読みガラス１１６の読取位置に静止させた状態で、原稿搬送装置１００によって原稿１０２を搬送させながら、流し読みガラス１１６を通過する原稿を読み取る原稿流し読みモードを有する。原稿流し読みモードでは、ＣＩＳ１２８により原稿１０２の裏面の画像を読み取ることもできる。
【００２２】
図２は本実施形態の原稿読取装置における制御ブロック図である。ＣＣＤラインセンサ１２６から出力された画像信号はＡ／Ｄ変換器１３３でＡ／Ｄ変換され、スキャナコントローラ４０１へ入力される。ＣＩＳ１２８から出力された画像信号はＡ／Ｄ変換器１３５でＡ／Ｄ変換され、スキャナコントローラ４０１へ入力される。ＣＣＤラインセンサ１２６及びＣＩＳ１２８は、所定の時間間隔で原稿画像の読み取りを行い、複数画素からなるライン単位で画像データを出力する。スキャナコントローラ４０１は、ＣＰＵ１３４を有し、ミラー台１２３、１２４を駆動するモータ１３０、ローラ１０３、１０４、１０６、１０８、１１１、１１３を駆動するモータ１３６、原稿に光を照射するランプ１１９を制御する。また、スキャナコントローラ４０１には、ミラー台１２３及び１２４をホームポジションに位置決めするための位置センサ１３２からの信号が入力される。また、スキャナコントローラ４０１は、ＣＣＤラインセンサ１２６やモータ１３０などの制御対象の調整値をＲＡＭ１３１に記憶させる。スキャナコントローラ４０１は、ＣＣＤラインセンサ１２６及びＣＩＳ１２８からの画像データに対して後述する画像処理を行った後、画像データをプリンタコントローラ４５１へ出力する。
【００２３】
図３は、スキャナコントローラ４０１に設けられた画像処理回路を示すブロック図である。図３には、ＣＣＤラインセンサ１２６からの画像信号に対する処理回路のみ示しているが、ＣＩＳ１２８からの画像信号に対する処理回路も同様であるので省略する。
【００２４】
Ａ／Ｄ変換器１３３から出力された画像データは、シェーディング補正部６０８によりシェーディング補正処理される。シェーディング補正処理は、ランプ１１９の照度ムラ、レンズ１２５の主走査方向（ＣＣＤラインセンサ１２６の長手方向）の端部付近の光量低下、ＣＣＤラインセンサ１２６の画素感度ばらつきを補正するものである。シェーディング補正部６０８における処理は、図４のフローチャートに沿って具体的に説明する。
【００２５】
シェーディング補正部６０８にてシェーディング補正が施された画像データは、ゴミ補正部６１０によりゴミ補正処理される。このゴミ補正処理は、前述したように、流し読みガラス１１６上に付着したゴミや汚れを読み取った画素データを、周囲の画素データに基づいて補正するものである。ゴミ補正部６１０における処理は、図４のフローチャートに沿って具体的に説明する。
【００２６】
図４は、原稿読取装置が原稿流し読みモードを開始する前に行う処理についてのフローチャートである。この処理はＣＰＵ１３４及び制御部６０３によって行われる。まず、シェーディング補正部６０８におけるシェーディング補正値の取得時の処理が行われる（Ｓ１２０１）。白基準板３０１を読み取るべく、ＣＰＵ１３４は、ミラー台１２３を白基準板３０１の下へ移動させ、ランプ１１９を点灯させて白基準板３０１を照射する。そして、ＣＰＵ１３４は、白基準板３０１の副走査方向の範囲内でミラー台１２３を移動させながら、ＣＣＤラインセンサ１２６による白基準板３０１の読み取りを行わせる。
【００２７】
制御部６０３は、黒オフセット補正部６０１及び白シェーディング補正部６０２を介して入力した１ライン目の各画素の多値データを画像用ＲＡＭ６０７に記憶させる。２ライン目の各画素のデータを入力すると、制御部６０３は、２ライン目のデータと画像用ＲＡＭ６０７に記憶しておいたデータを加算部６０４へ送り、画素毎に加算処理（１ライン目と２ライン目の同じ位置の画素同士（同一画素同士）を加算処理）させる。制御部６０３は、加算部６０４が加算処理したデータを画像用ＲＡＭ６０７に記憶させる。
【００２８】
制御部６０３は、この処理を６４ライン分繰り返し、各画素における６４ライン分の加算データを得る。次に、制御部６０３は、この６４ライン分のデータを乗除算部６０９へ送り、各画素のデータを６４で除算させる。つまり、制御部６０３は、１ラインあたりの平均値を各画素についてもとめる。
【００２９】
制御部６０３は、この加算平均された値が任意の目標値（例えば、輝度値で２４５）になるようなゲイン値を画素毎にもとめ、これをシェーディング補正値（ゲイン調整値）として白シェーディング補正ＲＡＭ６０６に記憶しておく。白基準板３０１に沿ってミラー台１２３を移動させながら読み取った６４ライン分のデータを加算平均しているので、白基準板３０１にゴミが付着していても、ゴミの影響を抑制することができる。
【００３０】
また、ＣＰＵ１３４は、ランプ１１９を消灯させ、ＣＣＤラインセンサ１２６による白基準板３０１の読み取りを行わせる。制御部６０３は、黒オフセット補正部６０１及び白シェーディング補正部６０２を介して入力した６４ライン分のデータを上述した方法により加算平均する。そして、加算平均されたデータの各画素値（黒オフセット値）が任意の目標値（例えば、輝度値で５）になるようにオフセット補正値を画素毎にもとめ、これをオフセット補正値として黒オフセット補正ＲＡＭ６０５に記憶しておく。ミラー台１２３を移動させずに６４ライン分のデータを加算平均しているので、ＣＣＤラインセンサ１２６の暗電流に乗るノイズの影響を抑制することができる。
【００３１】
このようにして、シェーディング補正値の取得を終えた後、制御部６０３は、白シェーディング補正ＲＡＭ６０６に記憶されたシェーディング補正値を白シェーディング補正部６０２にセットする。また、制御部６０３は、黒オフセット補正ＲＡＭ６０５に記憶されたオフセット補正値を黒オフセット補正部６０１にセットする。黒オフセット補正部６０１は、Ａ／Ｄ変換器１３３からのデータに対してオフセット補正値に基づくオフセット補正を画素毎に行う。また、白シェーディング補正部６０２は、黒オフセット補正部６０１からのデータに対してシェーディング補正値に基づくシェーディング補正を行う。
【００３２】
ステップＳ１２０１のシェーディング補正値の取得処理が終わると、原稿流し読みモード時におけるゴミ補正を行うべき画素位置の検出処理が行われる。ＣＰＵ１３４は、白基準板３０１の下にあるミラー台１２３を、流し読みガラス１１６の下の読取位置に移動させる（Ｓ１２０２）。ＣＰＵ１３４は、ランプ１１９を点灯させ、プラテンローラ１１０を回転させながら、ミラー台１２３を静止した状態で、プラテンローラ１１０からの反射光をＣＣＤラインセンサ１２６に読み取らせる。ＣＣＤラインセンサ１２６からＡ／Ｄ変換器１３３を介して入力したデータは、黒オフセット補正部６０１にてオフセット補正され、白シェーディング補正部６０２にてシェーディング補正される。
【００３３】
そして、制御部６０３は、ミラー台１２３が静止した状態でＣＣＤラインセンサ１２６から連続的に出力される６４ライン分のシェーディング補正後のデータを、加算部６０４及び乗除算部６０９により加算平均する。更に、制御部６０３は、この６４ライン分のデータが加算平均されたデータについて、主走査方向の全画素の加算平均値をもとめる。すなわち、制御部６０３は、主走査方向の全画素（７５００画素）を加算部６０４で加算させた後、乗除算部６０９に７５００で除算させる。つまり、制御部６０３は、主走査方向の複数画素に関し、１画素あたりの平均値をもとめる。そして、制御部６０３は、主走査方向の全画素の加算平均値に対して乗除算部６０９に所定の係数（例えば８０％）を乗じさせることにより、ゴミ検知用の閾値をもとめる（Ｓ１２０３）。
【００３４】
続いて、読取位置におけるゴミ画素位置の特定処理を行う（Ｓ１２０４）。ＣＰＵ１３４は、ランプ１１９を点灯させ、プラテンローラ１１０を回転させながら、ミラー台１２３を静止した状態で、プラテンローラ１１０からの反射光をＣＣＤラインセンサ１２６に読み取らせる。ＣＣＤラインセンサ１２６からＡ／Ｄ変換器１３３を介して入力したデータは、黒オフセット補正部６０１にてオフセット補正され、白シェーディング補正部６０２にてシェーディング補正される。
【００３５】
制御部６０３は、黒オフセット補正部６０１及び白シェーディング補正部６０２を介して入力した６４ライン分のデータの加算平均値をもとめる。この際、プラテンローラ１１０に付着した大き目のゴミの影響を低減するため、制御部６０３は、図５に示すような間欠ライン読み取りにより得た６４ライン分のデータの加算平均値をもとめる。制御部６０３は、最初の８ライン分のデータは加算平均の対象とし、それに続く３２ライン分のデータは加算平均の対象としない。すなわち、制御部６０３は、ＣＣＤラインセンサ１２６から連続的に出力される複数ラインの画像データから所定数ラインの画像データを間欠的に間引いて得た画像データを加算平均の対象とする。このようにして、制御部６０３は、８ライン×８セット＝６４ライン分のデータを加算部６０４へ送り、画素毎に加算処理させる。制御部６０３は、加算部６０４が加算処理したデータを画像用ＲＡＭ６０７に記憶させる。次に、制御部６０３は、この６４ライン分の加算データを乗除算部６０９へ送り、各画素のデータを６４で除算させる。
【００３６】
次に、制御部６０３は、この加算平均したデータをゴミ判定回路５０５へ送るとともに、ステップＳ１２０３でもとめたゴミ検知用閾値をゴミ判定回路５０５へ供給する。ゴミ判定回路５０５は、ゴミ検知用閾値以下の値の画素を特定し、ゴミのある画素と判定する。つまり、ゴミ判定回路５０５は、加算平均されたデータのうち、所定の値を有する画素を特定する画素特定部として機能する。例えば、ゴミ検知用閾値が２００（輝度値）の場合、加算平均した画像データの輝度値が２００以下であれば、ゴミのある画素としてゴミ補正の対象とする。
【００３７】
このように、読取位置におけるゴミ画素位置の特定処理を、既存のシェーディング補正部６０８の加算部６０４、乗除算部６０９、及び画像用ＲＡＭ６０７を活用して行っている。但し、単にシェーディング補正部の兼用を図っただけではない。すなわち、図１１の２値化回路５０２で行っていた各ラインのゴミ検知は行わずに、複数ラインのデータを加算平均し、この加算平均値からゴミ検知を行うようにしている。これにより、シェーディング補正部６０８によってゴミ（スジ）画像を判定するためのデータを生成でき、図１１に示した２値化回路５０２、加算回路５０３、ラインメモリ５０４が不要になり、回路規模の縮小化を図ることができる。
【００３８】
そして、ゴミ補正回路５０７は、ゴミ判定回路５０５によりゴミありと判定された画素について補正を行う（Ｓ１２０５）。ゴミありと判定された画素の左右に隣接する画素の値を用いて線形補間し、ゴミありと判定された画素の値を線形補間によりもとめた値に置換する。なお、ゴミカウント回路５０６は、ゴミ判定回路５０５の出力に基づき、ゴミ個数とゴミ幅を検出し、ＣＰＵ１３４はこの検出結果に基づいて読取位置を変更すべきか否か判断する。ＣＰＵ１３４は、ゴミ個数又はゴミ幅が所定値を超える場合、ミラー台１２３を移動させることにより読取位置を変更する。
【００３９】
ここで、ゴミ画素位置の特定処理において、プラテンローラ１１０を読み取る際に間欠ライン読み取りを行う理由について説明する。プラテンローラ１１０に付着したゴミを、流し読みガラス１１６に付着したゴミと誤検知しないようにする必要がある。これは、実際の原稿の読み取り時には、プラテンローラ１１０上のゴミは原稿に隠れて読み取られることがないからであり、ゴミのない位置までゴミ補正を行うと、不必要に画像を劣化させることになるからである。
【００４０】
そのため、流し読みガラス１１６を読み取る際に、プラテンローラ１１０を回転させている。プラテンローラ１１０を回転させていれば、間欠ライン読み取りではなく連続ライン読み取りでも、プラテンローラ１１０に付着したゴミの影響を抑制できる。しかし、プラテンローラ１１０に大きめのゴミが付着している場合に、連続ライン読み取りに基づいてゴミ検知を行うと、誤検知をする場合がある。
【００４１】
図６は、プラテンローラ１１０とプラテンローラ１１０に付着した大きめのゴミ８０１を表す図である。流し読みゴミ検知時には、回転しているプラテンローラ１１０の画像を流し読みガラス１１６を介して読み取る。図７は、プラテンローラ１１０を読み取った際に得られる画像データを模式的に示しており、横方向が主走査方向の各画素、縦方向が各読み取りラインを示している。
【００４２】
プラテンローラ１１０に付着したゴミ８０１は、プラテンローラ１１０の回転に従い、副走査方向のある区間から出現し、所定区間出現した後に出現しなくなる。一方、流し読みガラス１１６に付着しているゴミによるスジ９０１は、読取位置で流し読みガラス１１６に付着しているために、読み取りセンサ側から見ると、常にゴミが移動せずにあるため、副走査方向にみると、最初から最後まで出現する連続スジとして現れる。
【００４３】
図８に、連続ライン読み取りを行って、読み取ったデータを加算平均した画素毎の値を示す。プラテンローラ１１０に付着したゴミ８０１の加算平均輝度１１０１、流し読みガラス１１６上に付着したゴミのスジ９０１の加算平均輝度１１０２は、ゴミ検知用閾値１１０３以下であり、ゴミとして判定される。このように、６４ラインというライン数では、プラテンローラ１１０に付着した大きめのゴミと、流し読みガラス１１６に付着したゴミによるスジ画像との違いがつかないために誤検知してしまう。
【００４４】
誤検知を防止するためには、プラテンローラ１１０を読み取る長さを、大きめのゴミの副走査方向の長さに比べて長くなるように、ライン数を増やせばよいが、加算したときのデータが大きくなり、より大きなメモリを必要としてしまう。そこで、ゴミ画素位置の特定処理において、プラテンローラ１１０を読み取る際に間欠ライン読み取りを行う。これにより、メモリを大きくすることなく、プラテンローラ１１０に付着した大きめのゴミを、流し読みガラス１１６に付着したゴミと誤検知することがなくなる。
【００４５】
図９は、プラテンローラ１１０を間欠ライン読み取りした場合の読み取り画像の模式図である。間欠ライン読み取りしているため、プラテンローラ１１０に付着したゴミ８０１の画像はつぶれている。一方、流し読みガラス１１６上のゴミによるスジ９０１の画像は間欠ライン読み取りしても変化しないため、図のようなスジ画像となる。
【００４６】
このように間欠ライン読み取りを行うことで、プラテンローラ１１０に付着したゴミ８０１の読み取りラインを減らすことができるため、誤検知を減らすことができる。一方、流し読みガラス１１６上のゴミについては、全てのラインで読み取られるため、検出すべきゴミについては正確に検知することができる。
【００４７】
図１０は、間欠ライン読み取りを行って、読み取ったデータを加算平均した画素毎の値を示す。プラテンローラ１１０に付着したゴミ８０１の加算平均輝度１１０１はゴミ検知用閾値１１０３よりも高い値であるので、ゴミとして判定されない。一方、流し読みガラス１１６上に付着したゴミのスジ９０１の加算平均輝度１１０２は、ゴミ検知用閾値１１０３以下であり、ゴミとして判定される。このように、プラテンローラ１１０に大きめのゴミが付着していても誤検知することなく、流し読みガラス１１６に付着したゴミを検知することができる。
【００４８】
以上では間欠ライン読み取りによって誤検知を防止したが、プラテンローラ１１０の回転速度を、プラテンローラ１１０上の大きめのゴミが誤検知されない程度の速度（誤検知してしまう速度よりも高速）に設定することで、誤検知を防止できる。ゴミ検知を行う際のプラテンローラ１１０の回転速度は、原稿読み取りを行う際のプラテンローラ１１０の回転速度よりも速くなるよう制御することにより、誤検知を防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の実施の形態に係る原稿読取装置の断面図である。
【図２】原稿読取装置における制御ブロック図である。
【図３】スキャナコントローラに設けられた画像処理回路を示すブロック図である。
【図４】原稿読取装置が原稿流し読みモードを開始する前に行う処理についてのフローチャートである。
【図５】間欠ライン読み取りを示す図である。
【図６】プラテンローラに付着したゴミを示す図である。
【図７】プラテンローラを読み取った際に得られる画像データを示す図である。
【図８】連続ライン読み取りを行って、読み取ったデータを加算平均した画素毎の値を示す図である。
【図９】プラテンローラを間欠ライン読み取りした場合に得られる画像データを示す図である。
【図１０】間欠ライン読み取りを行って、読み取ったデータを加算平均した画素毎の値を示す図である。
【図１１】従来の原稿読取装置における制御ブロック図である。
【符号の説明】
【００５０】
１１０  プラテンローラ
１１６  流し読みガラス
１２６  ＣＣＤラインセンサ
１２８  コンタクトイメージセンサ（ＣＩＳ）
５０５  ゴミ判定回路
５０７  ゴミ補正回路
６０１  黒オフセット補正部
６０２  白シェーディング補正部
６０３  制御部
６０４  加算部
６０８  シェーディング補正部
６０９  乗除算部
６１０  ゴミ補正部
８０１  プラテンローラに付着した大き目のゴミ及びそれによる画像
９０１  流し読みガラスに付着したゴミによる画像
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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