【手続補正書】
【提出日】平成16年12月27日(2004.12.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転形ガントリ（１２）上に放射線源（１４）及びマルチスライス型検出器アレイ（１８）を含み、前記放射線源が扇形放射線ビーム（１６）を撮影対象物を通して検出器アレイへ向けて投射するように構成され、前記検出器アレイが対象物を通過した放射線ビームの減弱度を表す電気信号を発生するように構成された複数の検出器素子（２０）を有しており、ガントリの回転軸（２４）によって定義されるｚ軸を持っている形式のコンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム（１０）を利用して、対象物（２２）の画像を作成するための方法であって、ＣＴイメージング・システムにより所与の選択されたヘリカル・ピッチで対象物を走査して、対象物についての減弱度測定値の集合を収集するステップと、検出器アレイの一検出器素子に対応する扇形放射線ビームの各々の角度に対して、減弱度測定値の直接集合と減弱度測定値の共役集合とを特定するステップであって、該減弱度測定値のそれぞれの集合は再構成平面（６２）に最も近い少なくとも２つの測定値を有しており、減弱度測定値の直接集合は線源角度β及びファン角度γで収集された測定値であり、減弱度測定値の共役集合はβ＋π＋２γ又はβ−π＋２γのいずれかの線源角度及びファン角度−γで収集された測定値である、該ステップと、前記特定された測定値集合の測定値を対にして配列するステップであって、該対は、再構成平面の互いに反対側にあって再構成平面に最も近い直接測定値及び共役測定値より成る少なくとも１つのショート・ペア、並びに再構成平面の互いに反対側にある２つの直接測定値より成る１つのロング・ペアを含んでいる、該ステップと、直接測定値に再構成平面からのそれらの距離にしたがって重み付けするステップであって、ショート・ペア及びロング・ペアの重みは各々正規化されている、ステップと、ブレンド関数にしたがってショート・ペア及びロング・ペアの直接測定値をブレンドして、選択された直接対及び選択された共役対が同じｚ軸位置を持つ点において、ブレンドに対するショート・ペアの寄与分がゼロに重み付けされ、且つ該寄与分がｚ軸から離れた距離で増大するようにするステップと、前記の重み付けされブレンドされたデータをフィルタ処理し逆投影して、対象物の画像を再構成するステップと、を含む前記方法。
【請求項２】
ショート・ペア及びロング・ペアの直接測定値をブレンドする前記ステップは、ショート・ペアに保持されている共役測定値とショート・ペアに保持されている共役測定値に最も近い直接測定値との間の距離に依存するブレンド関数を利用するステップを有する、請求項１記載の方法。
【請求項３】
回転形ガントリ（１２）上に放射線源（１４）及びマルチスライス型検出器アレイ（１８）を含み、前記放射線源が扇形放射線ビーム（１６）を撮影対象物を通して検出器アレイへ向けて投射するように構成され、前記検出器アレイが対象物を通過した放射線ビームの減弱度を表す電気信号を発生するように構成された複数の検出器素子（２０）を有しており、ガントリの回転軸（２４）によって定義されるｚ軸を持っている形式のコンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム（１０）を利用して、対象物（２２）の画像を作成するための方法であって、ＣＴイメージング・システムにより所与の選択されたヘリカル・ピッチで対象物を走査して、対象物についての減弱度測定値の集合を収集するステップと、検出器アレイの一検出器素子に対応する扇形放射線ビームの各々の角度に対して、減弱度測定値の直接集合と減弱度測定値の共役集合とを特定するステップであって、該減弱度測定値のそれぞれの集合は再構成平面（６２）に最も近い少なくとも２つの測定値を有しており、減弱度測定値の直接集合は線源角度β及びファン角度γで収集された測定値であり、減弱度測定値の共役集合はβ＋π＋２γ又はβ−π＋２γのいずれかの線源角度及びファン角度−γで収集された測定値である、該ステップと、前記特定された測定値集合の測定値を対にして配列するステップであって、該対は、再構成平面の互いに反対側にあって再構成平面に最も近い直接測定値及び共役測定値より成る少なくとも１つのショート・ペア、並びに再構成平面の互いに反対側にある２つの直接測定値より成る１つのロング・ペアを含んでいると共に、ショート・ペアに保持されている共役測定値以外の共役測定値とショート・ペアに保持されていない直接測定値とより成る第３の対を含んでいる、該ステップと、直接測定値に再構成平面からのそれらの距離にたがって重み付けするステップであって、ショート・ペア、ロング・ペア及び第３の対の重みは各々正規化されている、該ステップと、ブレンド関数にしたがってショート・ペア、ロング・ペア及び第３の対の直接測定値をブレンドして、選択された直接対及び選択された共役対が同じｚ軸位置を持つ点において、ブレンドに対するショート・ペアの寄与分がゼロに重み付けされ、且つ該寄与分がｚ軸から離れた距離で増大するようにするステップと、前記の重み付けされブレンドされたデータをフィルタ処理し逆投影して、対象物の画像を再構成するステップと、を含む前記方法。
【請求項４】
前記マルチスライス型検出器アレイ（１８）がＮ列を持ち、前記選択されたヘリカル・ピッチがＮ−１又はＮ−３のいずれかである、請求項１又は３記載の方法。
【請求項５】
直接測定値に重み付けする前記ステップは、直接測定値と再構成平面（６２）との間の距離、及び各対の２つの測定値の間の距離の関数としてヘリカル重みを決定することを含む、請求項１又は３記載の方法。
【請求項６】
ヘリカル重みを決定する前記ステップは、直線補間／補外の式を利用してヘリカル重みを決定するステップを含む、請求項５記載の方法。
【請求項７】
回転形ガントリ（１２）上に放射線源（１４）及びマルチスライス型検出器アレイ（１８）を含み、前記放射線源が扇形放射線ビーム（１６）を撮影対象物を通して検出器アレイへ向けて投射するように構成され、前記検出器アレイが対象物を通過した放射線ビームの減弱度を表す電気信号を発生するように構成された複数の検出器素子（２０）を有しており、ガントリの回転軸（２４）によって定義されるｚ軸を持っている形式の、対象物（２２）の画像を作成するためのコンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム（１０）であって、ＣＴイメージング・システムにより所与の選択されたヘリカル・ピッチで対象物を走査して、対象物についての減弱度測定値の集合を収集し、検出器アレイの一検出器素子に対応する扇形放射線ビームの各々の角度に対して、減弱度測定値の直接集合と減弱度測定値の共役集合とを特定し、該減弱度測定値のそれぞれの集合が再構成平面（６２）に最も近い少なくとも２つの測定値を有し、減弱度測定値の直接集合が線源角度β及びファン角度γで収集された測定値であり、減弱度測定値の共役集合がβ＋π＋２γ又はβ−π＋２γのいずれかの線源角度及びファン角度−γで収集された測定値であるようにし、前記特定された測定値集合の測定値を対にして配列し、該対は、再構成平面の互いに反対側にあって再構成平面に最も近い直接測定値及び共役測定値より成る少なくとも１つのショート・ペア、並びに再構成平面の互いに反対側にある２つの直接測定値より成る１つのロング・ペアを含むようにし、直接測定値に再構成平面からのそれらの距離にしたがって重み付けし、その際、ショート・ペア及びロング・ペアの重みは各々正規化されており、ブレンド関数にしたがってショート・ペア及びロング・ペアの直接測定値をブレンドして、選択された直接対及び選択された共役対が同じｚ軸位置を持つ点において、ブレンドに対するショート・ペアの寄与分がゼロに重み付けされ、且つ該寄与分がｚ軸から離れた距離で増大するようにし、前記の重み付けされブレンドされたデータをフィルタ処理し逆投影して、対象物の画像を再構成するように構成されている、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム。
【請求項８】
ショート・ペア及びロング・ペアの直接測定値をブレンドするため、前記ＣＴイメージング・システムは、ショート・ペアに保持されている共役測定値とショート・ペアに保持されている共役測定値に最も近い直接測定値との間の距離に依存するブレンド関数を利用するように構成されている、請求項７記載のＣＴイメージング・システム。
【請求項９】
回転形ガントリ（１２）上に放射線源（１４）及びマルチスライス型検出器アレイ（１８）を含み、前記放射線源が扇形放射線ビーム（１６）を撮影対象物を通して検出器アレイへ向けて投射するように構成され、前記検出器アレイが対象物を通過した放射線ビームの減弱度を表す電気信号を発生するように構成された複数の検出器素子（２０）を有しており、ガントリの回転軸（２４）によって定義されるｚ軸を持っている形式の、対象物（２２）の画像を作成するためのコンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム（１０）であって、ＣＴイメージング・システムにより所与の選択されたヘリカル・ピッチで対象物を走査して、対象物についての減弱度測定値の集合を収集し、検出器アレイの一検出器素子に対応する扇形放射線ビームの各々の角度に対して、減弱度測定値の直接集合と減弱度測定値の共役集合とを特定し、該減弱度測定値のそれぞれの集合は再構成平面（６２）に最も近い少なくとも２つの測定値を有し、減弱度測定値の直接集合が線源角度β及びファン角度γで収集された測定値であり、減弱度測定値の共役集合がβ＋π＋２γ又はβ−π＋２γのいずれかの線源角度及びファン角度−γで収集された測定値であるようにし、前記特定された測定値集合の測定値を対にして配列し、該対は、再構成平面の互いに反対側にあって再構成平面に最も近い直接測定値及び共役測定値より成る少なくとも１つのショート・ペア、並びに再構成平面の互いに反対側にある２つの直接測定値より成る１つのロング・ペアを含んでいると共に、ショート・ペアに保持されている共役測定値以外の共役測定値とショート・ペアに保持されていない直接測定値とより成る第３の対を含んいるようにし、直接測定値に再構成平面からのそれらの距離にたがって重み付けし、その際、ショート・ペア、ロング・ペア及び第３の対の重みは各々正規化されており、ブレンド関数にしたがってショート・ペア、ロング・ペア及び第３の対の直接測定値をブレンドして、選択された直接対及び選択された共役対が同じｚ軸位置を持つ点において、ブレンドに対するショート・ペアの寄与分がゼロに重み付けされ、且つ該寄与分がｚ軸から離れた距離で増大するようにし、前記の重み付けされブレンドされたデータをフィルタ処理し逆投影して、対象物の画像を再構成するように構成されている、コンピュータ断層撮影（ＣＴ）イメージング・システム。
【請求項１０】
前記マルチスライス型検出器アレイ（１８）がＮ列を持ち、前記ＣＴイメージング・システムは、Ｎ−１及びＮ−３から選択されたヘリカル・ピッチを含む選択されたヘリカル・ピッチで走査するように構成されている、請求項７又は９記載のＣＴイメージング・システム。
【請求項１１】
前記直接測定値に重み付けするため、前記ＣＴイメージング・システムは、直接測定値と再構成平面（６２）との間の距離、及び各対の２つの測定値の間の距離の関数としてヘリカル重みを決定するように構成されている、請求項７又は９記載のＣＴイメージング・システム。
【請求項１２】
ヘリカル重みを決定するため、前記ＣＴイメージング・システムは、直線補間／補外の式を利用し、高品質画像再構成のためにコンピュータ断層撮影（ＣＴ）重み付けするように構成されている、請求項１１記載のＣＴイメージング・システム。