(57)【要約】【課題】各種電気的特性ばらつきによって生じる残存ずれ成分を解消した状態の正確な信号を生成する。【解決手段】複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により複数光源の主走査方向の位置ずれを測定する光源位置ずれ測定部、複数光源の書き込みタイミングを位置ずれに応じて補正する補正値を算出する光源位置ずれ補正値算出部、補正値に応じて各光源の書き込みタイミングが調整された同期INDEX信号を生成する同期INDEX信号生成部、同期INDEX信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成する光源駆動用信号生成部、位置ずれに応じて調整された状態で同期INDEX信号生成部で生成された同期INDEX信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出するタイミングずれ測定部とを備え、複数光源の位置ずれに基づく補正値に応じて調整されて生成された同期INDEX信号に対してタイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向ずれ補正を行う。【選択図】図１
2010221456.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数光源を有する露光手段を備えた画像形成装置であって、
前記複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により前記複数光源の主走査方向の位置ずれを測定する光源位置ずれ測定部と、
前記位置ずれに応じて前記各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成する同期ＩＮＤＥＸ信号生成部と、
前記同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成する光源駆動用信号生成部と、
前記位置ずれに応じて調整された状態で前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出するタイミングずれ測定部と、を備え、
前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部は、
前記複数光源の前記位置ずれに応じて前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部にて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、前記タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行う、
ことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
複数光源を有する露光手段を備えた画像形成装置であって、
前記複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により前記複数光源の主走査方向の位置ずれを測定する光源位置ずれ測定部と、
前記位置ずれに応じて前記各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成する同期ＩＮＤＥＸ信号生成部と、
前記同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成する光源駆動用信号生成部と、
前記位置ずれに応じて調整された状態で前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出するタイミングずれ測定部と、を備え、
前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部は、
前記複数光源の前記位置ずれに応じて前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部にて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、前記タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行い、
前記補正値により調整されると共に前記タイミングずれ成分に基づいて補正された同期ＩＮＤＥＸ信号生成に対して、前記タイミングずれ測定部により更に検出されるタイミングずれ成分に基づいて主走査方向のずれ補正を繰り返す、
ことを特徴とする画像形成装置。
【請求項３】
前記露光手段は、複数光源が一体に形成されたアレイ光源であり、該アレイ光源が主走査方向と垂直な方向から傾けられて配置されており、該傾きにより前記複数光源の位置ずれが生じる、
ことを特徴とする請求項１または２に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数光源の物理的な位置ずれ補正だけでは対処できなかった各種のずれを補正して正確な露光を行える画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、画像形成装置の書き込み高速化や高密度化が要求されるため、マルチビームでの複数ライン同時書き込みが行われている。
この場合、図２（ａ）に示すような複数の発光部が一体に形成されたレーザダイオード（ＬＤ）アレイ１４０ＡＬが露光手段１４０として採用される。そして、この露光手段が主走査方向に対して垂直（副走査方向に沿った配置：図２（ａ））ではなく、図２（ｂ）のように副走査方向から傾けて斜めに配置して使用されることがある。
【０００３】
このような露光手段の斜め配置によって、主走査方向に形成される複数ラインの副走査方向間隔が狭くなり、副走査方向については高密度化が実現する。
この場合、図２（ｂ）に示すように主走査方向については物理的に位置ずれが生じるため、図３に示すように、ビーム毎に書き込み開始位置を調整し、斜め配置による位置ずれを補正して書き込みをする必要がある。
【０００４】
このようなＬＤアレイ１４０ＡＬの斜め配置でのずれ補正の方法として、測定対象のＬＤを発光させ、フォトセンサで主走査方向のずれの距離を測ることで、隣り合ったＬＤの主走査方向の間隔を測定し、測定結果から得られたずれ量を主走査方向基準信号（ＩＮＤＥＸ）発生タイミングや画素クロックの位相調整に反映し、マルチビームの書き込み開始位置を揃えることが挙げられる。
【０００５】
なお、ＬＤアレイを斜め配置した場合のマルチビームについてのずれ補正に関しては、以下の特許文献１に提案がなされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−３０５８７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
以上の特許文献１の先行技術例では、複数ＬＤ（のうちの２本のＬＤ）における主走査方向のずれを電気的に検出・補正する。ここで、測定対象はＬＤビームをＩＮＤＥＸセンサにて受光することで生成されるＩＮＤＥＸ信号を画素クロックで同期したＳＩＮＤ信号である。
【０００８】
そして、ＩＮＤＥＸセンサ受光に用いる基準ＬＤを切り替え、あるＬｉｎｅではＳＩＮＤ１，次のＬｉｎｅではＳＩＮＤ２、という様にＳＩＮＤ信号を生成する。また、ＳＩＮＤ１−ＳＩＮＤ２間（約１Ｌｉｎｅの長さ）をカウンタで測定する。これにより、測定により得られた補正値は、各ＬＤの書込ＣＬＫ補正部（ディレイライン），ＩＮＤＥＸ生成タイミングもしくはＨ−Ｖａｌｉｄ生成部に反映する。
【０００９】
しかしながら、上記補正方法では、遅延素子やＰＬＬを用いた画素クロック位相調整実施や、ＩＮＤＥＸ信号発生タイミング変更による調整実施にて書き込み開始位置を補正したにも関わらず、書き込み開始位置にばらつきが生じてしまうことが、本件出願の発明者により見いだされた。
【００１０】
これは、フォトセンサによりＬＤ位置測定を行って位置ずれ量を検出しても、ＬＤの物理的な位置ずれ量を把握したうえで、該位置ずれ量に基づいた補正を実行したに過ぎないからである。
また、実際のＬＤ位置ずれ補正が反映される範囲は画素クロック位相調整部の調整を行う処理回路の範囲での設定であり、位相調整がなされた後の画素クロック出力は補正範囲外となる。
【００１１】
画素クロック位相調整部に搭載されている遅延素子やＰＬＬに電気的特性ばらつき（電気的ずれ）が生じた場合、あるいは、電源電圧や、回路素子の温度に想定している値とのずれが生じた場合、その部分により新たに発生するずれ量を検出する手段がないため、実際の書き込み開始位置のばらつきが残り、主走査方向の画素ずれが発生する。
【００１２】
そして、以上のような高密度化によるＬＤアレイの斜め配置によって、画像形成装置としては画質の低下が生じてしまうことが大きな問題となる。
なお、現時点では、ＬＤアレイの斜め配置を用いた画像形成装置などの装置において、以上の課題に配慮された技術や、以上の課題を解決する有効な手法は存在していなかった。
【００１３】
本発明は以上の問題点を解決するものであり、複数光源の物理的な位置ずれに応じた同期信号を生成する信号生成部などに存在する各種電気的特性ばらつきによって生じる残存ずれ成分を解消した状態の正確な信号を生成することが可能な画像形成装置を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上述した課題を解決する本願発明は、以下に述べる通りである。
（１）請求項１記載の発明は、複数光源を有する露光手段を備えた画像形成装置であって、前記複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により前記複数光源の主走査方向の位置ずれを測定する光源位置ずれ測定部と、前記位置ずれに応じて前記各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成する同期ＩＮＤＥＸ信号生成部と、前記同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成する光源駆動用信号生成部と、前記位置ずれに応じて調整された状態で前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出するタイミングずれ測定部と、を備え、前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部は、前記複数光源の前記位置ずれに応じて前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部にて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、前記タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行う、ことを特徴とする画像形成装置である。
【００１５】
（２）請求項２記載の発明は、複数光源を有する露光手段を備えた画像形成装置であって、前記複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により前記複数光源の主走査方向の位置ずれを測定する光源位置ずれ測定部と、前記位置ずれに応じて前記各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成する同期ＩＮＤＥＸ信号生成部と、前記同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成する光源駆動用信号生成部と、前記位置ずれに応じて調整された状態で前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出するタイミングずれ測定部と、を備え、前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部は、前記複数光源の前記位置ずれに応じて前記同期ＩＮＤＥＸ信号生成部にて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、前記タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行い、前記補正値により調整されると共に前記タイミングずれ成分に基づいて補正された同期ＩＮＤＥＸ信号生成に対して、前記タイミングずれ測定部により更に検出されるタイミングずれ成分に基づいて主走査方向のずれ補正を繰り返す、ことを特徴とする画像形成装置である。
【００１６】
（３）請求項３記載の発明は、前記露光手段は、複数光源が一体に形成されたアレイ光源であり、該アレイ光源が主走査方向と垂直な方向から傾けられて配置されており、該傾きにより前記複数光源の位置ずれが生じる、ことを特徴とする請求項１または２に記載の画像形成装置である。
【発明の効果】
【００１７】
以上の発明によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）請求項１記載の発明では、複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により複数光源の主走査方向の位置ずれを測定し、複数光源の書き込みタイミングを位置ずれに応じて補正する補正値を算出し、補正値に応じて各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成し、同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成して書き込みを実行する際に、位置ずれに応じて調整された状態で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出し、複数光源の位置ずれに基づく補正値に応じて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行う。
【００１８】
これにより、複数光源の物理的な位置ずれに応じた同期信号を生成する信号生成部などに存在する各種電気的特性ばらつきによって生じる残存ずれ成分を解消した状態の正確な信号を生成することが可能になる。
【００１９】
（２）請求項２記載の発明では、複数光源を所定のタイミングで発光させた際の受光信号により複数光源の主走査方向の位置ずれを測定し、複数光源の書き込みタイミングを位置ずれに応じて補正する補正値を算出し、補正値に応じて各光源の書き込みタイミングが調整された同期ＩＮＤＥＸ信号を生成し、同期ＩＮＤＥＸ信号と画像データとに基づいて光源駆動用信号を生成して書き込みを実行する際に、位置ずれに応じて調整された状態で生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に含まれる主走査方向のタイミングずれ成分を検出し、複数光源の位置ずれに基づく補正値に応じて調整されて生成された同期ＩＮＤＥＸ信号に対して、タイミングずれ成分に基づいて更に主走査方向のずれ補正を行い、補正値により調整されると共にタイミングずれ成分に基づいて補正された同期ＩＮＤＥＸ信号生成に対して、更に検出されるタイミングずれ成分に基づいて主走査方向のずれ補正を繰り返して行う。
【００２０】
これにより、複数光源の物理的な位置ずれに応じた同期信号を生成する信号生成部などに存在する各種電気的特性ばらつきによって生じる残存ずれ成分を解消した状態の正確な信号を生成することが可能になる。
【００２１】
（３）なお、上記（１）または（２）において、複数光源が一体に形成されたアレイ光源が使用され、該アレイ光源が主走査方向と垂直な方向から傾けられて配置されて、主走査方向と垂直な方向（副走査方向）の高密度化が実現されている。そして、該傾きにより生じる複数光源間の位置ずれが、以上の（１）または（２）の手法によって解消される。さらに、この位置ずれの解消によっても解消されないタイミングずれ成分に関しても、以上の（１）または（２）の手法によって解消される。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の実施形態の概略構成を示す構成図である
【図２】本発明の実施形態を説明する説明図である。
【図３】本発明の実施形態を説明する説明図である。
【図４】本発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施形態の動作を示すタイムチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、図面を参照して本発明の画像形成装置を実施するための形態（実施形態）を詳細に説明する。
〔画像形成装置１００の構成〕
ここで、第一実施形態の画像形成装置１００の構成を、図１（ブロック図）に基づいて詳細に説明する。
【００２４】
ここでは、実施形態の一例として、８ビーム／１チップのレーザダイオード（ＬＤ）アレイ１４０ＡＬを露光手段１４０として採用し、主走査方向に対して垂直（副走査方向）ではなく、副走査方向から所定角度だけ傾けた斜めに配置してマルチビームでの８ライン同時書き込みを行なっている場合について説明する。なお、露光手段１４０からのマルチビームを主走査方向に走査するポリゴンミラーや、書き込みがなされる感光体などの機械的部分については、各種の装置が既知であるため、説明を省略する。
【００２５】
制御部１０１はＣＰＵなどで構成されており、各部を制御プログラムに従って制御する。
画素クロック生成部は、同期信号などの各種信号の基本となる画素クロック（ＰＸＬＣＬＫ）を生成している。
【００２６】
測定クロック生成部１０３は、同期信号のずれ成分を測定するため、画素クロックよりも高い周波数の測定クロックを生成している。
画素クロック位相調整部１１０は、画素クロックの入力を受け、内蔵するディレイラインなどを用いて、ＬＤアレイの斜め配置の位置ずれに応じて各光源の書き込みタイミングが調整された状態の画素クロックを生成する。
【００２７】
同期ＩＮＤＥＸ信号生成部１２０は、ＩＮＤＥＸセンサ１５０で生成されたＩＮＤＥＸ信号を受け、該ＩＮＤＥＸ信号に同期した状態の画素クロックである同期ＩＮＤＥＸ信号ＳＹＮＣＩＮＤを生成する。
【００２８】
ＬＤ駆動部１３０は、後述する光源駆動用信号によって露光手段１４０のＬＤアレイの各発光部に所定の発光を行わしめる。
露光手段１４０は複数光源のＬＤアレイで構成されており、主走査方向に対して垂直ではなく斜めに配置され、マルチビームでの同時書き込みを実行する。
【００２９】
ＩＮＤＥＸセンサ１５０は、ＩＮＤＥＸセンサ１５１とＩＮＤＥＸセンサ１５２との複数のセンサで構成されており、露光手段１４０の光源の位置ずれを検知する。
画像書き込み制御部１８０は、露光手段の複数光源の位置ずれの検知と、位置ずれに基づいて調整されても解消されないタイミングずれの検知と、これらのずれに応じたずれ補正とを行うため、ＬＤ制御部１８１と、ずれ測定部１８３と、同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部１８５と、周波数変換ＦＩＦＯ１８７と、を備えて構成されている。
【００３０】
なお、ずれ測定部１８３内には、ＲＡＭ１８３１、ＬＤ位置ずれ測定部１８３２、タイミングずれ測定部１８３３が配置されている。
ＰＷＭ部１９０は、位置ずれとタイミングずれとの補正がなされ、画像データに応じて周波数変換された周波数変換信号をＰＷＭ信号に変換する変換部である。
【００３１】
なお、ＩＮＤＥＸセンサ１５０とＬＤ位置ずれ測定部１８３２とが、請求項の光源位置ずれ測定部を構成している。また、画素クロック位相調整部１１０と同期ＩＮＤＥＸ信号生成部１２０と同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部１８５とで、請求項の同期ＩＮＤＥＸ信号生成部を構成している。また、周波数変換ＦＩＦＯ１８７とＰＷＭ部１９０とで、請求項の光源駆動用信号生成部を構成している。また、タイミングズレ測定部１８３３が、請求項のタイミングずれ測定部を構成している。
【００３２】
ここで、露光手段１４０のＬＤアレイのＬＤ１〜ＬＤ８について、８本のＬＤのうち何れか１本（たとえば、ＬＤ８）を基準とし、基準ＬＤで発光した光ビームをＩＮＤＥＸセンサ１５１で受光し、主走査方向基準信号となるＩＮＤＥＸ信号を生成する。
【００３３】
このとき生成されたＩＮＤＥＸ信号は画像データ書き込み用クロックである画素クロック（ＰＸＬＣＬＫ）に対して非同期であるため、ＰＸＬＣＬＫに同期した同期ＩＮＤＥＸ信号ＳＹＮＣＩＮＤを生成する必要がある。
【００３４】
画素クロックＰＸＬＣＬＫ、同期ＩＮＤＥＸ信号ＳＹＮＣＩＮＤについては、ＬＤアレイの発光数と同じ本数分用意する。たとえば、この実施形態では、ＰＸＬＣＬＫ１〜８，ＳＹＮＣＩＮＤ１〜８とする。なお、ＰＸＬＣＬＫ１〜８はＣＬＫ位相の調整が入るため異なるＣＬＫではあるが、同一周波数である。
【００３５】
画像データを実際に書き込む際の制御をおこなう書き込み制御部１８０には、画像処理部⇔書き込み制御部の周波数変換用ＦＩＦＯ１８７を搭載する。
同期ＩＮＤＥＸ信号ＳＹＮＣＩＮＤについてタイミングを調整することで、画素クロックＰＸＬＣＬＫ単位（＝１画素単位）での位置調整を実施してＳＹＮＣＩＮＤＯを生成し、ＳＹＮＣＩＮＤＯを基準信号として周波数変換ＦＩＦＯ１８７を用いてＦＩＦＯ読み出しを開始する。
【００３６】
なお、１画素未満の位置調整については、画素クロック位相調整部１１０にて、画素クロックの位相を１画素未満で細かく調整することで対応する。ＰＸＬＣＬＫ位相調整部では遅延素子によるディレイラインにてＣＬＫ位相を調整する。
【００３７】
〔画像形成装置１００の動作〕
以下、図２，図３の説明図、図４のフローチャート、図５のタイムチャートを参照して、本実施形態の画像形成装置１００のタイミング調整の動作を説明する。
【００３８】
まず、斜め配置された露光手段１４０のＬＤ１〜ＬＤ８の物理的な位置ずれ補正について説明する。
副走査方向の高密度化実現のため露光手段１４０のＬＤアレイを斜めに配置するとＬＤ１−ＬＤ８の主走査方向の位置にずれが生じる（図２（ｂ））。
【００３９】
ここで、ＬＤアレイは８本のＬＤが等間隔に配置されているため、ＬＤ１〜ＬＤ８間の距離（位置ずれ）を、ＬＤ位置ずれ測定部１８３２にて測定し（図４中のステップＳ４０１）、均等割することで隣り合う各ＬＤ間の位置ずれ量を求めることができる（図４中のステップＳ４０２）。
【００４０】
ここでは、ＬＤ１−ＬＤ８間の距離（位置ずれ）測定では、２つのＩＮＤＥＸセンサ１５１，１５２（ＰＩＮＤ１，ＰＩＮＤ２）を用いる。
最初に基準ＬＤとして定めたＬＤ８にて２つのＩＮＤＥＸセンサ１５１，１５２を検知し、ＰＩＮＤ１−ＰＩＮＤ２間の距離を測定し、ＰＩＮＤ１−ＰＩＮＤ２間の基準値とする。
【００４１】
次にＬＤ８にてＰＩＮＤ１を、ＬＤ１にてＰＩＮＤ２を検知し、異なるＬＤのＰＩＮＤ１−ＰＩＮＤ２間の距離を測定する。測定に使用するＣＬＫはＰＸＬＣＬＫよりも高速な測定クロック生成部１０３が生成した測定ＣＬＫとする。
【００４２】
異なるＬＤのＰＩＮＤ１−ＰＩＮＤ２間距離と同一ＬＤでのＰＩＮＤ１−ＰＩＮＤ２間距離の差分がＬＤ１−ＬＤ８間の距離となる。
測定にて得られたＬＤ１−ＬＤ８間の距離を均等割（１ｃｈｉｐ８ｂｅａｍＬＤで隣り合うＬＤ間隔は７→７分割）して、ずれ測定部１８３が、各ＬＤの位置ずれについての補正量（図３参照）を算出する（図４中のステップＳ４０３ａ）。
【００４３】
ここで、ずれ測定部１８３は、補正量を画素クロックＰＸＬＣＬＫで換算して補正値を算出し、基準ＬＤのＬＤ８以外のＬＤは算出した補正値のうち整数部分（＝１画素単位）を同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部１８５でのＳＹＮＣＩＮＤＯタイミング調整に反映し、小数部分（＝１画素未満）を画素クロック位相調整部１１０の画素クロックＰＸＬＣＬＫ位相調整に反映する（図４中のステップＳ４０４）。
【００４４】
すなわち、画素クロック位相調整部１１０では、ディレイラインで生成する細かな遅延時間の差により、１画素未満の所望の位相調整を実行する。また、同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部１８５では、１画素単位の所望の位相調整を実行する。
【００４５】
以上にて、ＬＤの位置ずれ補正は完了する。これにより、露光手段１４０のＬＤの物理的な位置ずれによる書き込み開始位置ずれは解消される。
そして、ＬＤの物理的な位置ずれが解消した後に、画素クロック位相調整部１１０の電気的特性ばらつき（電気的ずれ）などによるタイミング補正をおこなう。
なお、以上の説明で、電源電圧、回路素子のばらつき、温度変動など各種の要因により発生する「タイミングずれ」の原因を、総称して、「電気ずれ」あるいは「電気特性ばらつき」などと呼ぶ。
【００４６】
ＬＤ位置ずれ補正量が反映された、位相調整後のＰＸＬＣＬＫ同期の画像書込部ＦＩＦＯ読み出し基準信号（ＳＹＮＣＩＮＤＯ）を測定対象とし、ＳＹＮＣＩＮＤＯ１〜８それぞれの間隔を測定するＳＹＮＣＩＮＤＯ測定回路としてのタイミングずれ測定部１８３３を設ける。
【００４７】
ＳＹＮＣＩＮＤＯ測定回路としてのタイミングずれ測定部１８３３は、物理的ずれ量測定と同様に画素クロックＰＸＬＣＬＫよりも高速な、測定クロック同期の回路とすることで、画素クロックＰＸＬＣＬＫの１ＣＬＫ単位未満（＝１画素未満）の測定をおこない、誤差検出の精度向上を図る。
【００４８】
ここで、ＳＹＮＣＩＮＤＯ測定および電気的特性ばらつき補正について説明する。
ＳＹＮＣＩＮＤＯ１〜８それぞれの間隔について（図５（ａ）〜（ｈ））、タイミングずれ測定部１８３３内の測定回路内のカウンタ回路にて測定する（図５（ｉ））。
【００４９】
タイミングずれ測定部１８３３内の測定回路には測定用ＣＬＫ（ＰＸＬＣＬＫよりも高速なＣＬＫ）同期のカウンタを１つ設け、ＳＹＮＣＩＮＤＯ入力を受けカウントスタートする。
【００５０】
カウント中に再度ＳＹＮＣＩＮＤＯ入力を受けた時点でカウント保持部にカウント値を保持し、カウンタ自体はリセット→再カウントスタートとなる。
保持されたカウント値は、ずれ測定部内のＲＡＭ１８３１に格納しておく（図４中のステップＳ４０６）。
【００５１】
ＳＹＮＣＩＮＤＯ入力タイミングはＬＤアレイの斜め配置補正を反映しているため基準ＬＤとしたＬＤ８のＳＹＮＩＮＤＯから順番にＳＹＮＣＩＮＤＯ８→ＳＹＮＣＩＮＤＯ７→ＳＹＮＣＩＮＤＯ６……ＳＹＮＣＩＮＤＯ２→ＳＹＮＣＩＮＤＯ１、とずれ測定部１８３３内の測定回路に入力する。
【００５２】
測定によって得られた隣り合うＬＤ間のＳＹＮＣＩＮＤＯ間隔をもとに電気的特性ばらつき量を算出する（図４中のステップＳ４０７）。
ここで、ＬＤの物理的な位置ずれ補正にて得られたＬＤ１−ＬＤ８間の距離を均等割（７分割）することで隣り合うＬＤ間の主走査方向における物理的距離が得られる。
【００５３】
この距離を隣り合うＬＤ間のＳＹＮＣＩＮＤＯ間隔の期待値とする（物理的ずれ測定と同一ＣＬＫ（ＰＸＬＣＬＫよりも高速のＣＬＫ）を使用することでＣＬＫ換算にて発生する誤差を防ぐことが可能になる）。もし物理的な位置ずれ成分のみであれば、期待値と一致することになる。
【００５４】
しかし、実際はＬＤの物理的ずれ補正（図４中のステップＳ４０３ａ，ステップＳ４０４）では測定・補正の範囲外となってしまうＰＸＬＣＬＫ位相調整部１１０の遅延素子に電気的特性ばらつき等の各種タイミングずれが存在するため、期待値との差分が発生する。この差分が測定により得られた電気的特性ばらつき量（図４中のステップＳ４０３ｂ）によるタイミングずれである。
【００５５】
電気的特性ばらつき量を画素クロックＰＸＬＣＬＫで換算することにより補正値を算出する（図４中のステップＳ４０８）。
物理的ずれ補正と同様に、補正値の整数部分（＝１画素単位）を同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部１８５でのＳＹＮＣＩＮＤＯタイミング調整に反映し、小数部分（＝１画素未満）を画素クロック位相調整部１１０での調整に反映する。物理的ずれ補正値が既に反映されているため、実際に設定する値は物理的ずれ補正値＋電気的特性ばらつき補正値となる（図４中のステップＳ４０９）。
【００５６】
以上により、従来技術では測定・補正が出来ていなかった画素クロック位相調整部１１０の電気的特性ばらつきなど各種要因によるタイミングずれを測定・補正することが可能となり、書き込み開始位置のずれ補正精度が向上する。
【００５７】
すなわち、ＬＤアレイの斜め配置による物理的なずれ補正ではカバー出来なかった、ずれ補正部自体のずれを測定・補正するのが本実施形態の特徴である。ＬＤ位置ずれ補正量が反映された位相調整後の画素クロック同期の画像書込部ＦＩＦＯ読み出し基準信号を測定対象とした。ずれ補正部のジッタ成分が含まれていること、また、ＬＤ位置ずれ量補正値が反映されていることで物理的ずれ量はジッタ成分とならずに電気的ずれの測定が可能となる。
【００５８】
なお、以上のタイミングずれに関する補正は、画像形成装置が動作している間は順次繰り返すことが望ましい。すなわち、物理的なずれ補正に加え、電気的なタイミング補正を行っているが、この電気的なタイミング補正を更に繰り返すことで、残存するずれ（新たに発生する電気的なタイミングずれ）を解消することが可能になる。
【００５９】
ただし、補正量に変更が生じたとしても実際に補正量の変更を適用するのは、ジョブ間の画像形成を実行していないタイミングなどが、画像への影響が小さいため望ましい。
【符号の説明】
【００６０】
１００  画像形成装置
１０１  制御部
１０２  画素クロック生成部
１０３  測定クロック生成部
１１０  画素クロック位相調整部
１２０  同期ＩＮＤＥＸ信号生成部
１３０  ＬＤ駆動部
１４０  露光手段（ＬＤアレイ）
１５０  ＩＮＤＥＸセンサ
１８０  画像書き込み制御部
１８１  ＬＤ制御部
１８３  ずれ測定部
１８５  同期ＩＮＤＥＸタイミング制御部
１８７  周波数変換ＦＩＦＯ
１９０  ＰＷＭ処理部
【図１】
2010221456.tif 000003
【図２】
2010221456.tif 000004
【図３】
2010221456.tif 000005
【図４】
2010221456.tif 000006
【図５】
2010221456.tif 000007