【手続補正書】
【提出日】平成16年3月15日(2004.3.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
フラッシュＲＯＭと周辺回路が搭載された半導体集積回路装置を試験する半導体集積回路装置の試験方法において、
テストモード信号に基づいて前記フラッシュＲＯＭに対してイレース動作を開始させた後、そのイレース動作中に前記周辺回路に対する機能試験を実行するようにした半導体集積回路装置の試験方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項３】
フラッシュＲＯＭと周辺回路が内部バスで接続された半導体集積回路装置を試験する半導体集積回路装置の試験方法において、
テストモード信号に基づいて前記フラッシュＲＯＭを前記内部バスから切り離した後に前記周辺回路に対する機能試験を実行するようにした半導体集積回路装置の試験方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項４】
前記機能試験中に、リセット信号が前記周辺回路に入力されるとともに前記フラッシュＲＯＭへのリセット信号を無効化するようにした請求項１乃至３のうちの何れか１項に記載の半導体集積回路装置の試験方法。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項５】
内部バスと、
前記内部バスに接続されたフラッシュＲＯＭと、
前記内部バスに接続された周辺回路と、
テストモード信号に基づいて、前記フラッシュＲＯＭにイレース動作を開始させた後に該フラッシュＲＯＭを前記内部バスから切り離すバス制御回路と、を備えた半導体集積回路装置。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項６】
前記イレース動作中には、前記フラッシュＲＯＭへ入力されるリセット信号を無効化する試験回路を備えた請求項５に記載の半導体集積回路装置。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項７】
前記フラッシュＲＯＭのイレース動作中に該イレースが正常か否かを判断し判定信号を出力するイレース判定回路を備えた請求項５又は６に記載の半導体集積回路装置。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、フラッシュＲＯＭと周辺回路が搭載された半導体集積回路装置を試験する半導体集積回路装置の試験方法において、テストモード信号に基づいて前記フラッシュＲＯＭに対してイレース動作を開始させた後、そのイレース動作中に前記周辺回路に対する機能試験を実行するようにした。


【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２に記載の半導体集積回路装置の試験方法において、フラッシュＲＯＭと周辺回路が内部バスで接続された半導体集積回路装置を試験する半導体集積回路装置の試験方法において、テストモード信号に基づいて前記フラッシュＲＯＭを前記内部バスから切り離した後に前記周辺回路に対する機能試験を実行するようにした。


【手続補正９】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３のうちの何れか１項に記載の半導体集積回路装置の試験方法において、前記機能試験中に、リセット信号が前記周辺回路に入力されるとともに前記フラッシュＲＯＭへのリセット信号を無効化するようにした。


【手続補正１０】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
請求項５に記載の発明は、内部バスと、前記内部バスに接続されたフラッシュＲＯＭと、前記内部バスに接続された周辺回路と、テストモード信号に基づいて、前記フラッシュＲＯＭにイレース動作を開始させた後に該フラッシュＲＯＭを前記内部バスから切り離すバス制御回路と、を備えた。


【手続補正１１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の半導体集積回路装置において、前記イレース動作中には、前記フラッシュＲＯＭへ入力されるリセット信号を無効化する試験回路を備えた。


【手続補正１２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
請求項７に記載の発明は、請求項５又は６に記載の半導体集積回路装置において、前記フラッシュＲＯＭのイレース動作中に該イレースが正常か否かを判断し判定信号を出力するイレース判定回路を備えた。


【手続補正１３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
（作用）
従って、請求項１に記載の発明によれば、テストモード信号に基づいてフラッシュＲＯＭに対してイレース動作が開始された後、試験装置はそのイレース動作中に周辺回路に対する機能試験を実行する。従って、イレース動作と周辺回路の機能試験とが同時に行われ、試験時間が短くなる。


【手続補正１４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
請求項３に記載の発明によれば、テストモード信号に基づいてフラッシュＲＯＭが内部バスから切り離された後に周辺回路に対する機能試験が実行されるため、周辺回路の機能試験はフラッシュＲＯＭに影響しない。


【手続補正１５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１６】
請求項４に記載の発明によれば、機能試験中に、周辺回路にはリセット信号が入力され、フラッシュＲＯＭへのリセット信号が無効化されるため、フラッシュＲＯＭはリセット動作を実行しないので、試験時間は長くならない。
【手続補正１６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
請求項５に記載の発明によれば、フラッシュＲＯＭはテストモード時にイレース動作を開始する。そして、バス制御回路は、テストモード信号に基づいて、イレース動作を開始させた後にフラッシュＲＯＭを内部バスから切り離すため、フラッシュＲＯＭのイレース動作と周辺回路の機能試験とが同時に行われて試験時間が短くなる。


【手続補正１７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１８】
請求項６に記載の発明によれば、試験回路によりフラッシュＲＯＭへ入力されるリセット信号が無効化されるため、フラッシュＲＯＭはイレース動作を繰り返さないのでイレース時間は長くならない。


【手続補正１８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
請求項７に記載の発明によれば、フラッシュＲＯＭのイレース動作中に該イレースが正常か否かを判断し判定信号を出力するイレース判定回路が備えられる。従って、試験装置は、イレース判定回路から出力される判定信号に基づいてフラッシュＲＯＭのイレースが正常か否かを判断し、その判断結果に基づいてイレースが正常に終了していないときに試験を中断することができる。