(57)【要約】【課題】光学系に付着したゴミや粉塵等の異物に起因する出力画像の品質低下を抑制することができる画像読取装置を提供する。【解決手段】異物位置検出部１０２は、画像読取機構部１４０が白基準板を読み取って取得した第１の白基準データに基づいて、光学系に付着した異物の主走査方向における位置を検出し、異物移動量検出部１０３は、画像読取機構部１４０の光源および光学系を搭載したキャリッジを副走査方向に移動しながら画像読取機構部１４０が白い原稿圧板を読み取って取得したラインごとの画像データと、異物位置検出部１０２で第１の白基準データから検出した異物の位置とに基づいて、キャリッジを副走査方向に移動する際の主走査方向における異物の位置の移動量をラインごとに検出してこれを記憶部１３０に記憶する。シェーディング補正処理部１０４は、記憶部１３０に記憶された移動量を用いて、原稿画像データに対してシェーディング補正を行う。【選択図】図２
2010183410.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
読取対象物に光源から光を照射し、前記読取対象物からの反射光を、ミラーを含む光学系を介して、主走査方向１ラインに配列された複数の光電変換素子を有するイメージセンサに入射させ、前記イメージセンサにより前記読取対象物の画像に応じた画像データを取得する画像読取機構部と、
前記画像読取機構部が白基準板を読み取って取得した第１の白基準データに基づいて、前記光学系に付着した異物の前記主走査方向における位置を検出する異物位置検出部と、
前記光源および前記光学系を搭載したキャリッジを前記主走査方向に直交する副走査方向に移動しながら前記画像読取機構部が白い原稿圧板を読み取って取得したラインごとの画像データと、前記異物位置検出部で前記第１の白基準データから検出した前記異物の位置とに基づいて、前記キャリッジを前記副走査方向に移動する際の前記主走査方向における前記異物の位置の移動量をラインごとに検出する異物移動量検出部と、
前記異物移動量検出部で検出したラインごとの前記移動量を記憶する記憶部と、
原稿読み取り時において、前記画像読取機構部が原稿読み取り開始に先立って前記白基準板を読み取って取得した第２の白基準データと、前記記憶部に記憶された前記移動量とを用いて、前記キャリッジを前記副走査方向に移動しながら前記画像読取機構部が原稿を読み取って取得した原稿画像データに対してシェーディング補正を行うシェーディング補正処理部と
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記異物位置検出部は、前記第２の白基準データにおける前記異物の前記主走査方向における位置、およびその位置における前記異物による前記第２の白基準データの落ち込み量を示す異物データを算出し、
前記シェーディング補正処理部は、前記第２の白基準データに対して前記異物データを前記移動量の分だけ移動させたデータを用いて、前記原稿画像データに対してシェーディング補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記異物移動量検出部は、所定数のラインごとに、前記異物の位置の移動量の平均値を算出し、この平均値を各ラインの前記移動量として前記記憶部に記憶させることを特徴とする請求項１または２に記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記画像読取機構部は、前記副走査方向における複数の読み取り位置において前記白基準板を読み取り、それぞれの読み取り位置に応じた複数の前記第１の白基準データを取得し、
前記異物位置検出部は、いずれの読み取り位置で取得した前記第１の白基準データにおいても前記主走査方向における同じ位置にデータの落ち込みが検出された場合に、その位置を前記光学系に付着した異物の位置として検出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿の画像を読み取る画像読取装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
複写装置等に備えられ、原稿の画像を光学的に読み取る画像読取装置では、原稿に光を照射し、原稿からの反射光をミラー等からなる光学系を介して、複数のＣＣＤ（Charge Coupled Device）素子等の光電変換素子が主走査方向に配列されたイメージセンサに入射させ、原稿の画像を読み取っている。
【０００３】
このような画像読取装置においては、光源の光量不均一や光電変換素子の感度バラツキ等による読取画像のムラを防止するために、原稿を読み取って得られる原稿画像データに対してシェーディング補正を行っている。シェーディング補正では、画像読取装置に設けられた白基準板を読み取り、これにより取得した白基準データを用いて、光電変換素子間の出力値のバラツキを抑えるような補正式を各光電変換素子に対応して作成する。
【０００４】
ところで、原稿からの反射光をイメージセンサに導くための光学系のミラーにゴミや粉塵等の異物が付着することがある。また、ミラーを搭載したキャリッジは、フラットベッド方式による原稿読み取り時において副走査方向に移動される際に、キャリッジの取付精度等の問題により主走査方向にずれることがある。この場合、ミラーを搭載したキャリッジの副走査方向への移動にともない、ミラーに付着した異物の主走査方向における位置が移動することになる。
【０００５】
この場合、異物の主走査方向における位置が、白基準板の読み取り時とフラットベッド方式による原稿読み取り時とで整合しなくなり、シェーディング補正異常が発生する。その結果、読み取った原稿の画像データに基づく出力画像において、白基準板の読み取り時における異物の主走査方向の位置に対応する位置に、副走査方向に沿った白スジが発生し、原稿読み取り時における異物の主走査方向の位置に対応する位置に、副走査方向に沿った黒スジが発生する。
【０００６】
ミラーに付着した異物を考慮したシェーディング補正を行う技術としては、特許文献１に開示されたものがある。特許文献１では、白基準板に係る白基準データの値に局部的な落ち込みが検出された場合に、その白基準データの値の局部的な落ち込みを平滑化し、この平滑化した後の白基準データを用いてシェーディング補正を行うことで、ミラーに付着した異物の移動にかかわらず出力画像の質の低下を抑えている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００６−２７０６０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１の技術では、白基準データの極小値を中心とする主走査方向の所定範囲の値を平滑化するので、シェーディング補正において、必要な範囲以外が過剰に補正され、出力画像に白スジが発生することがあった。また、異物が所定範囲を超えて移動した場合、適正なシェーディング補正が行えず、出力画像に白スジ、黒スジが発生することがあった。
【０００９】
本発明は上記に鑑みてなされたもので、光学系に付着したゴミや粉塵等の異物に起因する出力画像の品質低下を抑制することができる画像読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明の画像読取装置は、読取対象物に光源から光を照射し、前記読取対象物からの反射光を、ミラーを含む光学系を介して、主走査方向１ラインに配列された複数の光電変換素子を有するイメージセンサに入射させ、前記イメージセンサにより前記読取対象物の画像に応じた画像データを取得する画像読取機構部と、前記画像読取機構部が白基準板を読み取って取得した第１の白基準データに基づいて、前記光学系に付着した異物の前記主走査方向における位置を検出する異物位置検出部と、前記光源および前記光学系を搭載したキャリッジを前記主走査方向に直交する副走査方向に移動しながら前記画像読取機構部が白い原稿圧板を読み取って取得したラインごとの画像データと、前記異物位置検出部で前記第１の白基準データから検出した前記異物の位置とに基づいて、前記キャリッジを前記副走査方向に移動する際の前記主走査方向における前記異物の位置の移動量をラインごとに検出する異物移動量検出部と、前記異物移動量検出部で検出したラインごとの前記移動量を記憶する記憶部と、原稿読み取り時において、前記画像読取機構部が原稿読み取り開始に先立って前記白基準板を読み取って取得した第２の白基準データと、前記記憶部に記憶された前記移動量とを用いて、前記キャリッジを前記副走査方向に移動しながら前記画像読取機構部が原稿を読み取って取得した原稿画像データに対してシェーディング補正を行うシェーディング補正処理部とを備えることを特徴とする。
【００１１】
本発明の画像読取装置における前記異物位置検出部は、前記第２の白基準データにおける前記異物の前記主走査方向における位置、およびその位置における前記異物による前記第２の白基準データの落ち込み量を示す異物データを算出し、前記シェーディング補正処理部は、前記第２の白基準データに対して前記異物データを前記移動量の分だけ移動させたデータを用いて、前記原稿画像データに対してシェーディング補正を行うことを特徴とする。
【００１２】
本発明の画像読取装置における前記異物移動量検出部は、所定数のラインごとに、前記異物の位置の移動量の平均値を算出し、この平均値を各ラインの前記移動量として前記記憶部に記憶させることを特徴とする。
【００１３】
本発明の画像読取装置における前記画像読取機構部は、前記副走査方向における複数の読み取り位置において前記白基準板を読み取り、それぞれの読み取り位置に応じた複数の前記第１の白基準データを取得し、前記異物位置検出部は、いずれの読み取り位置で取得した前記第１の白基準データにおいても前記主走査方向における同じ位置にデータの落ち込みが検出された場合に、その位置を前記光学系に付着した異物の位置として検出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明の画像読取装置によれば、光学系に付着したゴミや粉塵等の異物に起因する出力画像の品質低下を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像読取装置の概略構成図である。
【図２】図１に示す画像読取装置の制御系の構成を示すブロック図である。
【図３】プロファイル取得動作の手順を示すフローチャートである。
【図４】異物検出処理の手順の説明図である。
【図５】白基準データの一例を示す波形図である。
【図６】異物移動量検出部で検出される移動量の一例を示す図である。
【図７】原稿読み取り時の動作を示すフローチャートである。
【図８】分離データの説明図である。
【図９】白基準データから分離した分離データおよび異物データの一例を示す波形図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施の形態に係る画像読取装置の概略構成図である。図１に示すように、本実施の形態に係る画像読取装置１は、筐体２の上部に設けられたコンタクトガラス３と、コンタクトガラス３下方の筐体２内部に設けられた第１のキャリッジ４と、第２のキャリッジ５と、レンズ６と、ＣＣＤイメージセンサ７とを備える。
【００１８】
コンタクトガラス３には読取対象物となる原稿が載置される。コンタクトガラス３の一端側には、原稿を位置決めするための原稿突き当て板８が配設されている。コンタクトガラス３の原稿突き当て板８付近には、シェーディング補正用の基準画像データを提供する白色に施された白基準板９が設けられている。
【００１９】
コンタクトガラス３上に載置された原稿は、原稿圧板１０によりコンタクトガラス３に圧接されるようになっている。原稿圧板１０は、コンタクトガラス３に対して開閉可能に設けられ、コンタクトガラス３に対向する面が白色に施されている。
【００２０】
第１のキャリッジ４は、コンタクトガラス３に載置された原稿を照射するための光を発する光源４１と、光源４１からの光を原稿に向けて反射するリフレクタ４２と、原稿からの反射光を第２のキャリッジ５に導く第１のミラー４３とを搭載している。
【００２１】
第２のキャリッジ５は、第２のミラー５１と、第３のミラー５２とを搭載し、第１のキャリッジ４からの光を、第２のミラー５１および第３のミラー５２により順次反射してレンズ６方向に出射する。
【００２２】
レンズ６は、第２のキャリッジ５からの光を集光してＣＣＤイメージセンサ７に入射させる。
【００２３】
ＣＣＤイメージセンサ７は、主走査方向（図１において紙面に垂直な方向）に１ラインに配列された複数の光電変換素子であるＣＣＤ素子（図示せず）を有し、レンズ６を介して入射される原稿からの反射光を光電変換して画像データを出力する。以下、ＣＣＤイメージセンサ７のＣＣＤ素子を適宜に「画素」という。
【００２４】
原稿を読み取る際に原稿の全域を走査するため、第１のキャリッジ４はコンタクトガラス３の全域にわたって、主走査方向に直交する副走査方向に、図示しない移動機構により移動可能に構成されている。この第１のキャリッジ４の移動によっても、原稿からＣＣＤイメージセンサ７に至る光路長は一定である必要があるため、第２のキャリッジ５は、第１のキャリッジ４の半分の移動量で、第１のキャリッジ４に同期して移動機構により副走査方向に移動可能に構成されている。
【００２５】
図２は、画像読取装置１の制御系の構成を示すブロック図である。画像読取装置１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等からなる制御部１００と、制御部１００が画像読取装置１を制御するためのプログラム等を格納するＲＯＭ（Read Only Memory）１１０と、一時的なデータの保存や演算時における制御部１００のワーク領域として使用されるＲＡＭ（Random Access Memory）１２０と、記憶部１３０とを備える。制御部１００がＲＯＭ１１０に格納されたプログラムにしたがって動作すること等で、読取制御部１０１、異物位置検出部１０２、異物移動量検出部１０３、シェーディング補正処理部１０４が構成される。
【００２６】
読取制御部１０１は、第１のキャリッジ４、第２のキャリッジ５、レンズ６、ＣＣＤイメージセンサ７等からなる画像読取機構部１４０を制御して画像の読み取り処理を行う。
【００２７】
異物位置検出部１０２は、画像読取機構部１４０が白基準板９を読み取って取得した白基準データに基づいて、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置を検出する。
【００２８】
異物移動量検出部１０３は、プロファイル取得動作時において、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動しながら画像読取機構部１４０が１ラインずつ原稿圧板１０を読み取って取得したラインごとの画像データと、異物位置検出部１０２で白基準データから検出した異物の位置とに基づいて、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動する際の、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置の移動量をラインごとに検出する。
【００２９】
プロファイル取得動作は、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動する際に第１のキャリッジ４が主走査方向にずれることにより生じる、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置の移動量を取得するために行うものである。この移動量は第１のキャリッジ４の取付精度等に基づいて生じるもので、装置に固有のものである。
【００３０】
シェーディング補正処理部１０４は、原稿読み取り時において、画像読取機構部１４０が原稿読み取り開始に先立って白基準板９を読み取って取得した白基準データと、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動しながら画像読取機構部１４０が原稿を読み取って取得した原稿画像データと、異物移動量検出部１０３で検出した移動量とを用いて、原稿画像データに対してシェーディング補正を行う。
【００３１】
記憶部１３０は、フラッシュメモリ等の不揮発性のメモリからなり、プロファイル取得動作時において異物位置検出部１０２で検出した異物の主走査方向における位置（画素番号）を記憶する。また、記憶部１３０は、異物移動量検出部１０３で検出したラインごとの異物の移動量を記憶する。
【００３２】
次に、画像読取装置１の動作について説明する。
【００３３】
画像読取装置１では、プロファイル取得動作により、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動する際の、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置の移動量をプロファイルデータとして予め記憶する。そして、原稿読み取り動作時には、プロファイルデータを用いて原稿画像データに対してシェーディング補正を行う。なお、３つのミラーのうち画像データに影響を与えるのは第１のミラー４３に異物が付着した場合であり、第２および第３のミラー５１，５２に異物が付着しても画像データにはほとんど影響しない。
【００３４】
まず、プロファイル取得動作について、図３に示すフローチャートを参照して説明する。プロファイル取得動作は、例えばユーザの指示に応じた所定のタイミングで行われる。
【００３５】
まず、ステップＳ１０において、読取制御部１０１は、第１のキャリッジ４を白基準板９の下方に移動させ、光源４１を点灯させて白基準板９の反射光を読み取るよう画像読取機構部１４０を制御する。そして、読取制御部１０１は、画像読取機構部１４０から白基準板９を読み取って得られた主走査方向１ライン分の画像データである白基準データ（第１の白基準データ）を取得する。
【００３６】
なお、画像読取機構部１４０で取得する画像データは、８ビットの階調で表され、暗い方から明るい方に向かって、０〜２５５の値（濃度）で示されるものとする。
【００３７】
次いで、ステップＳ２０において、異物位置検出部１０２は、画像読取機構部１４０が白基準板９を読み取って取得した第１の白基準データに基づいて、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置を検出する。
【００３８】
この異物検出処理において、異物位置検出部１０２は、ステップＳ１０で取得した白基準データにおける各画素について、図４（ａ），（ｂ）に示すように、主走査方向の一方側（図４では右側）に隣接する画素との濃度の差分値を算出し、当該画素とその両側２画素ずつとの合計５画素についての差分値の平均値を算出する。そして、異物位置検出部１０２は、この平均値が所定の閾値（図４の例では５）以上である画素を異物の位置の画素として、異物フラグ「１」を設定する。
【００３９】
そして、異物位置検出部１０２は、異物フラグ「１」の画素の濃度と基準値との差分を、第１のミラー４３に付着した異物による白基準データの落ち込み量を示す異物データとして算出する。ここで、上記基準値は、異物データとして安定した濃度からの差分を求めるために設定されるもので、図４の例では、連続する異物フラグ「１」の画素のうちの左端の画素から３画素離れた画素の濃度１６４を基準値としている。基準値としては、これに限らず、連続する異物フラグ「１」の画素のうちの右端の画素から３画素離れた画素の濃度を用いてもよいし、異物フラグ「１」の画素の周囲の異物フラグ「１」でない連続する複数画素の濃度の平均値を用いてもよい。
【００４０】
異物位置検出部１０２は、検出した異物の位置の画素（異物フラグ「１」の画素）の主走査方向における位置（画素番号）を記憶部１３０に記憶する。
【００４１】
図５は、ＣＣＤイメージセンサ７で３６００画素の読み取りを行った場合の白基準データの一例である。上記の異物検出処理により、図５に示すような白基準データの波形においては、楕円で囲んだ５箇所の局部的な濃度の落ち込みを示す部分が異物の位置として検出される。
【００４２】
なお、異物検出処理において、白基準板９を副走査方向における複数の位置において読み取り、それぞれの読み取り位置に応じた複数の白基準データ（第１の白基準データ）を取得し、異物位置検出部１０２において、いずれの読み取り位置で取得した白基準データにおいても主走査方向における同じ位置にデータの落ち込み（異物フラグ「１」の画素）が検出された場合に、その位置を第１のミラー４３に付着した異物の位置として検出し、記憶部１３０に記憶させるようにしてもよい。これにより、白基準板９に付着した異物を誤って検出することを回避し、第１のミラー４３に付着した異物を確実に検出することができる。
【００４３】
次いで、ステップＳ３０において、読取制御部１０１は、第１および第２のキャリッジ４，５の副走査方向への移動を開始させる。この際、コンタクトガラス３上には、原稿がない状態で原稿圧板１０が載置されている。
【００４４】
そして、読取制御部１０１は、ステップＳ４０において、副走査方向におけるライン番号を示す変数Ｌを１に設定し、ステップＳ５０において、画像読取機構部１４０により原稿圧板１０を読み取らせ、１ライン分の画像データを取得する。
【００４５】
次いで、ステップＳ６０において、異物移動量検出部１０３は、ステップＳ５０で取得した画像データに対して上述のステップＳ２０と同様の処理を行い、主走査方向における異物の位置（画素番号）を検出する。そして、異物移動量検出部１０３は、ここで検出した異物の位置と、それに対応する、ステップＳ２０で白基準データから検出して記憶部１３０に記憶した異物の位置との差分の画素数を、このラインにおける異物の主走査方向における位置の移動量として検出する。
【００４６】
ステップＳ７０では、異物移動量検出部１０３は、ステップＳ６０で検出した移動量をライン番号と対応させて記憶部１３０に記憶する。
【００４７】
そして、ステップＳ８０において、読取制御部１０１は、変数Ｌが最終ラインであることを示すＭであるか否かを判断する。Ｌ＝Ｍである場合（ステップＳ８０：ＹＥＳ）、プロファイル取得動作を終了する。Ｌ＝Ｍでない場合（ステップＳ８０：ＮＯ）、ステップＳ９０において、読取制御部１０１は、変数Ｌを１つインクリメントし、ステップＳ５０に戻る。
【００４８】
図６は、プロファイルデータとして記憶部１３０に記憶されるラインごとの移動量の一例を示す図である。ここでは、画像読取装置１を使用するユーザにとっての手前側であるフロント側をプラスの移動量としている。
【００４９】
なお、異物移動量検出部１０３は、所定の複数ラインごとに、異物の位置の移動量の平均値を算出し、この平均値を各ラインの移動量として記憶部１３０に記憶させるようにしてもよい。これにより、記憶部１３０の容量を節約することができる。
【００５０】
次に、原稿読み取り時の動作について、図７に示すフローチャートを参照して説明する。
【００５１】
まず、ステップＳ１１０において、読取制御部１０１は、光源４１を消灯した状態で白基準板９を読み取るよう画像読取機構部１４０を制御し、この状態で白基準板９を読み取って得られる主走査方向１ライン分の画像データである黒基準データを取得する。
【００５２】
次いで、ステップＳ１２０において、読取制御部１０１は、光源４１を点灯させて白基準板９の反射光を読み取るよう画像読取機構部１４０を制御し、この状態で白基準板９を読み取って得られた主走査方向１ライン分の画像データである白基準データ（第２の白基準データ）を取得する。
【００５３】
次いで、ステップＳ１３０において、異物位置検出部１０２は、ステップＳ１２０で取得した白基準データに対して、上述した図３のフローチャートのステップＳ２０と同様の処理を行い、主走査方向における異物の位置（画素番号）を検出する。
【００５４】
次いで、ステップＳ１４０において、異物位置検出部１０２は、上記プロファイル取得動作により記憶部１３０に記憶された異物の位置と、上記ステップＳ１３０で検出された異物の位置とがすべて一致するか否かを判断する。一致する場合（ステップＳ１４０：ＹＥＳ）、ステップＳ１６０に進み、すべては一致しない場合（ステップＳ１４０：ＮＯ）、ステップＳ１５０に進む。
【００５５】
ステップＳ１５０では、読取制御部１０１は、画像読取機構部１４０により第１および第２のキャリッジ４，５を副走査方向へ移動させながら、コンタクトガラス３上に載置された原稿を１ラインずつ読み取らせ、シェーディング補正処理部１０４は、通常のシェーディング補正処理を行う。
【００５６】
この通常のシェーディング補正処理において、シェーディング補正処理部１０４は、画像読取機構部１４０で原稿を読み取って得たラインごとの画像データDn.in［n］と、上記ステップＳ１１０で取得した黒基準データB［n］と、上記ステップＳ１２０で取得した白基準データW［n］とを用いて、以下の（数式１）で表される通常のシェーディング補正式により、各ラインについて、画素ごとにシェーディング補正された画像データDn.out［n］を算出する。
【００５７】
Dn.out［n］=(Dn.in［n］-B［n］)×255/(W［n］-B［n］)  …（数式１）
ここで、Dn.out［n］,B［n］,W［n］,Dn.in［n］は、それぞれ１ラインにおける画素番号nについてのデータである。なお、（数式１）は、画像データが８ビットの階調（２５６階調）である場合のシェーディング補正式である。
【００５８】
ステップＳ１６０では、読取制御部１０１は、画像読取機構部１４０により原稿を１ラインずつ読み取らせ、シェーディング補正処理部１０４は、プロファイルデータを用いたシェーディング補正処理を行う。このプロファイルデータを用いたシェーディング補正処理において、シェーディング補正処理部１０４は、以下の（数式２）により、各ラインについて、画素ごとにシェーディング補正された画像データDn.out［n］を算出する。
【００５９】
Dn.out［n］=(Dn.in［n］-B［n］)×255/(W1［n］-X［n-Y］-B［n］)  …（数式２）
ここで、W1［n］は、上記ステップＳ１２０で取得した白基準データから異物データを分離した分離データ、X［n-Y］は、画素番号nから移動量Yだけ移動させた異物データである。
【００６０】
分離データW1［n］は、図８（ａ），（ｂ）に示すように、ステップＳ１２０で取得した白基準データ（第２の白基準データ）の濃度に対して、異物データの値を加算した値である。異物データは、第２の白基準データに対して、上述した図３のフローチャートのステップＳ２０と同様の処理を行うことにより得られるものである。図５に示すような白基準データW［n］から異物データを分離して得られる分離データW1［n］を図９（ａ）に示し、白基準データから分離された異物データX［n］を図９（ｂ）に示す。
【００６１】
上記（数式２）では、（数式１）におけるW［n］にかえて、W1［n］-X［n-Y］を用いている。このW1［n］-X［n-Y］は、白基準データW［n］に対して異物データX［n］を移動量Yの分だけ移動させたデータとなる。このデータを用いることにより、移動量Yに応じた適切なシェーディング補正を行うことができる。
【００６２】
上記説明のように本実施の形態によれば、第１のキャリッジ４を副走査方向に移動させる際に生じる、第１のミラー４３に付着した異物の主走査方向における位置の移動量をプロファイルデータとして予め記憶し、原稿を読み取って取得した画像データに対して、プロファイルデータに応じたシェーディング補正を行うので、第１のミラー４３に付着した異物に起因する出力画像の品質低下を抑制することができる。
【符号の説明】
【００６３】
１  画像読取装置
２  筐体
３  コンタクトガラス
４  第１のキャリッジ
５  第２のキャリッジ
６  レンズ
７  ＣＣＤイメージセンサ
８  原稿突き当て板
９  白基準板
１０  原稿圧板
４１  光源
４２  リフレクタ
４３  第１のミラー
５１  第２のミラー
５２  第３のミラー
１００  制御部
１０１  読取制御部
１０２  異物位置検出部
１０３  異物移動量検出部
１０４  シェーディング補正処理部
１１０  ＲＯＭ
１２０  ＲＡＭ
１３０  記憶部
１４０  画像読取機構部
【図１】
2010183410.tif 000003
【図２】
2010183410.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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