(57)【要約】【課題】従来よりも搭載部品の寿命検出を正確に行い、搭載部品の経年劣化による故障を未然に防止することができる誘導加熱調理器を得る。【解決手段】誘導加熱コイル２１と、誘導加熱コイル２１に高周波電流を流し、誘導加熱コイル２１を駆動するための駆動回路と、誘導加熱コイル２１及び駆動回路に設けられたスイッチング素子３８，３９の温度を検知する温度センサ４２，４３，４５と、温度センサ４２，４３，４５の検知温度に基づいて、誘導加熱コイル２１及びスイッチング素子３８，３９の寿命を検出し、誘導加熱コイル２１の駆動を不能とする制御回路５０と、を備えた。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
誘導加熱コイルと、
該誘導加熱コイルに高周波電流を流し、前記誘導加熱コイルを駆動するための駆動回路と、
前記誘導加熱コイル及び前記駆動回路に設けられた電気部品のうち少なくとも１つの温度を検知する温度検知部と、
該温度検知部の検知温度に基づいて、前記誘導加熱コイル及び前記電気部品のうち少なくとも１つの寿命を検出し、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とする制御回路と、
を備えたことを特徴とする誘導加熱調理器。
【請求項２】
前記制御回路は、
前記誘導加熱コイルが駆動している状態における前記温度検知部の検知温度と前記誘導加熱コイルが駆動する前の状態における前記温度検知部の検知温度との温度差を算出し、
該温度差が第１の所定温度以上となる調理回数が第１の所定値以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項３】
前記制御回路は、
前記誘導加熱コイルが駆動している状態における前記温度検知部の検知温度と前記誘導加熱コイルが駆動する前の状態における前記温度検知部の検知温度との温度差を算出し、
該温度差が第１の所定温度以上となる時間が第１の所定時間以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項４】
前記制御回路は、
前記誘導加熱コイルが駆動している状態における前記温度検知部の検知温度と前記誘導加熱コイルが駆動する前の状態における前記温度検知部の検知温度との温度差を算出すると共に、該温度差を積算し、
該温度差の積算値が第１の所定積算値以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項５】
前記制御回路は、
前記温度検知部の検知温度が第２の所定温度以上となる調理回数が第２の所定値以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項６】
前記制御回路は、
前記温度検知部の検知温度が第２の所定温度以上となる時間が第２の所定時間以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項７】
前記制御回路は、
前記温度検知部の検知温度を積算し、
該積算値が第２の所定積算値以上になった場合、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とすることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項８】
前記温度検知部は、
前記誘導加熱コイル及び前記電気部品のうち少なくとも１つにおいて、入力電流と該電流が流れている状態の部品温度との関係を示すテーブルを備え、
該テーブルと前記入力電流とから、前記誘導加熱コイル及び前記電気部品のうち少なくとも１つの温度を算出することを特徴とする請求項１〜請求項７のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項９】
前記電気部品はスイッチング素子であることを特徴とする請求項１から請求項８のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【請求項１０】
前記誘導加熱コイルが駆動不能であることを報知する報知部を備えたことを特徴とする請求項１〜請求項９のいずれか一項に記載の誘導加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は誘導加熱調理器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
誘導加熱調理器には、誘導加熱コイルやこの誘導加熱コイルを駆動するための駆動回路を構成する電気部品等が搭載されている。これら誘導加熱調理器の搭載部品は、熱膨張係数の異なる各種材料（金属、セラミック、プラスチック等）で構成されている。このため、搭載部品に電流が流れて発熱する際の各材料の膨張量や、発熱後に冷却される際の各材料の収縮量が異なる。したがって、搭載部品が発熱及び冷却を繰り返すヒートサイクルによって、搭載部品を構成する各材料に繰り返し応力（ストレス）がかかり、各材料へのクラックの発生や、各材料間での剥離が発生する。
【０００３】
例えば、誘導加熱コイルでは、ヒートサイクルによる熱膨張と収縮の繰り返しによって、巻線の絶縁被膜へのクラックや絶縁被膜と巻線との間の剥離等が発生し、巻線間の絶縁が劣化して、絶縁破壊（故障）に至る場合がある。また、例えば、駆動回路を構成するスイッチング素子等の半導体部品やこれら半導体部品を組み込んだＩＰＭ（Ｉｎｔｅｌｌｉｇｅｎｔ  Ｐｏｗｅｒ  Ｍｏｄｕｌｅ）では、ヒートサイクルによる熱膨張と収縮の繰り返しによって、リード部やボンディング部等に、断線やクラックが発生し、故障に至る場合がある。
【０００４】
このような搭載部品の経年劣化による故障の防止を図った従来の誘導加熱調理器（加熱調理器）としては、例えば、「調理物を加熱するヒータと、ヒータの出力をオン・オフ制御する駆動手段と、駆動手段の駆動を開始させる駆動開始手段と、前記ヒータの使用時間を前記駆動開始手段の出力によって計時するタイマー手段と、駆動手段の駆動回数を前記駆動開始手段の出力によってカウントするカウント手段と、ヒータの使用時間を第一の記憶値、駆動手段の駆動回数を第二の記憶値として記憶する読み書き可能な不揮発性素子で構成した記憶手段と、この第一・第二の記憶値を読み出して、第一の記憶値にタイマー手段でカウントしたヒータの通電時間を加えた時間と、第二の記憶値にカウント手段でカウントした駆動手段の駆動回数を加えた回数とをそれぞれ加算し、それらの加算値を前記記憶手段に出力する加算手段と、加算手段の第一の出力が一定値になると動作する第一の比較手段と、加算手段の第二の出力が一定値になると動作する第二の比較手段と、前記第一・第二の比較手段の出力を受けて前記ヒータの通電時間または駆動手段の駆動回数が所定の値に達したことを表示する表示手段とを備え、前記ヒータの通電時間または駆動手段の駆動回数の少なくとも一方が所定の値に達した場合に、前記ヒータの駆動を停止する駆動停止手段を備えた電気調理器。」（例えば特許文献１参照）というものが提案されている。
【０００５】
【特許文献１】特開平８−３８３５２号公報（請求項４、図１，２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述のように、誘導加熱コイルの搭載部品はヒートサイクルによる熱膨張と収縮の繰り返しによって故障する。この故障は、ヒートサイクルの温度差が大きいほど生じやすい。また、搭載部品の多くは、所定温度での使用時間で寿命が定められており、使用温度によって寿命は異なってくる。この寿命は、使用温度が高くなるにつれて短くなってくる。
【０００７】
しかしながら、従来の誘導加熱調理器は、ヒータ（搭載部品）の経年劣化による故障を未然に防止するため、ヒータの累積通電時間及び累積駆動回数が所定の値に達したときに、ヒータを使用不能としている。つまり、搭載部品の寿命検出に温度のパラメータが用いられていない。このため、搭載部品の使用温度が低い場合等、搭載部品の寿命までまだ時間があるにもかかわらず、ヒータが使用不能になってしまうという問題点があった。
【０００８】
本発明は上述のような課題を解消するためになされたものであり、従来よりも搭載部品の寿命検出を正確に行い、寿命ぎりぎりまで搭載部品を使用でき、かつ搭載部品の経年劣化による故障を未然に防止することができる誘導加熱調理器を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る誘導加熱調理器は、誘導加熱コイルと、該誘導加熱コイルに高周波電流を流し、前記誘導加熱コイルを駆動するための駆動回路と、前記誘導加熱コイル及び前記駆動回路に設けられた電気部品のうち少なくとも１つの温度を検知する温度検知部と、該温度検知部の検知温度に基づいて、前記誘導加熱コイル及び前記電気部品のうち少なくとも１つの寿命を検出し、前記誘導加熱コイルの駆動を不能とする制御回路と、を備えたものである。
【発明の効果】
【００１０】
本発明においては、誘導加熱コイル及び駆動回路に設けられた電気部品（誘導加熱調理器の搭載部品）の寿命検出に搭載部品の温度が用いられているので、従来よりも搭載部品の寿命検出を正確に行うことができるため、搭載部品の使用できる期間を寿命ぎりぎりまで延ばすと同時に搭載部品の経年劣化による故障を未然に防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
実施の形態１．
（全体構成）
図１は、本発明の実施の形態１に係る誘導加熱調理器の組立斜視図である。図２は、この誘導加熱調理器の分解斜視図である。また、図３は、図１のＡ−Ａ断面模式図である。以下、図１〜図３を用いて本実施の形態１における誘導加熱調理器について説明する。なお、図３に示す矢印は、誘導加熱調理器内の空気流れを表している。
【００１２】
誘導加熱調理器１の筐体２は上面部前方が開口した略直方体形状をしており、上部には平板状のトッププレート３が設けられている。トッププレート３は、例えば耐熱ガラスのような非磁性材である。このトッププレート３の下面側には、略密着して渦巻状に巻かれた抵抗コイル４や、誘導加熱コイル２１（電磁誘導加熱コイル）等からなる複数のコイルユニット２０が配設されている。また、トッププレート３上面には、加熱部を表示する略円形のサークルライン５が抵抗コイル４及び各コイルユニット２０の位置に対応して印刷されており、鍋やフライパン等の調理器を正確に抵抗コイル４及びコイルユニット２０の上方に載置できるようになっている。
【００１３】
抵抗コイル４及びコイルユニット２０は、下方から例えばバネ６によってトッププレート３側に付勢されている。これにより、抵抗コイル４及びコイルユニット２０の略中央部に設けられた温度センサ（図示せず）がトッププレート３の下面に接触すると共に、抵抗コイル４及びコイルユニット２０とトッププレート３の下面との距離が一定に保たれている。なお、抵抗コイル４及びコイルユニット２０の略中央部に設けられた温度センサは、トッププレート３上に載置された鍋等の温度をトッププレート等を介して間接的に測定するものである。
【００１４】
トッププレート３には、抵抗コイル４及び誘導加熱コイル２１の加熱量等を操作する複数の操作ボタンを備えた操作表示部７が設けられている。この操作表示部７は抵抗コイル４及び誘導加熱コイル２１に対応して設けられている。また、操作表示部７の下方には操作基板８が設けられており、操作表示部７の操作ボタンを介して操作基板８に操作信号を入力する。筐体２は、仕切板２ａによって内部を上下に仕切られており、筐体２の下部空間右側には、制御基板９が設けられている。制御基板９は、操作基板８に入力された操作信号に従って、抵抗コイル４や誘導加熱コイル２１の加熱／停止等の出力制御を行う。この加熱出力の状況は、操作基板８の間に設けられた液晶部１０によって表示される。
【００１５】
制御基板９の後方には、制御基板９やコイルユニット２０等を冷却するためのファン装置１１が設けられている。また、ファン装置１１が吸気するための吸気口１２がトッププレート３の後方右側に形成されており、ファン装置１１によって筐体２内に供給された空気を排出する排気口１３が、トッププレート３の後方左側に設けられている。また、筐体２の前方には、前面操作部１４が設けられている。この前面操作部１４は、操作表示部７及び操作基板８と同様に、抵抗コイル４や誘導加熱コイル２１の加熱量等を操作できるようになっている。
【００１６】
また、筐体２の下部空間左側には、グリル部１５が設けられている。このグリル部１５には、前方側（使用者）から出し入れ自在の引き出し１６が設けられており、グリル部１５の前面開口を閉塞自在に閉塞するドアと、被加熱物を載置するトレー等から構成されている。
【００１７】
（回路構成）
図４は、本発明の実施の形態１に係る誘導加熱コイルを駆動させるための駆動回路の構成図である。誘導加熱調理器１は交流電源３０に接続されており、交流電源３０から供給される交流電力は直流電源回路３１で直流電力に変換される。この直流電源回路３１は、整流ダイオードブリッジ３２、平滑コンデンサ３３及びリアクトル３４から構成されている。また、交流電源３０と整流ダイオードブリッジ３２の間には入力電流検知回路３５及びコンデンサ３６が設けられている。入力電流検知回路３５は直流電源回路３１へ入力される電流値を検出するものであり、制御回路５０に接続されている。コンデンサ３６は、交流電源３０から供給される交流電力からノイズを除去する。
【００１８】
直流電源回路３１で直流電力に変換された電力はインバータ回路３７に供給される。このインバータ回路３７は直列に接続された２つのスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９と、これらスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のそれぞれと並列に接続されたダイオード４０及びダイオード４１とから構成されている。スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のそれぞれには、通電により発生する熱を放熱するための放熱フィン３８ａ及び放熱フィン３９ａが設けられている。また、これら放熱フィン３８ａ及び放熱フィン３９ａのそれぞれには、放熱フィン３８ａ及び放熱フィン３９ａのそれぞれの温度を検知する温度センサ４２及び温度センサ４３が設けられている。これら温度センサ４２及び温度センサ４３と後述する温度センサ４５が、本発明の温度検知部に相当する。
【００１９】
スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９は制御回路５０からの信号により駆動され、インバータ回路３７のインバータ出力点であるスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の接続点に高周波電流が発生する。このインバータ回路３７のインバータ出力点には、誘導加熱コイル２１が接続されている。この誘導加熱コイル２１には、誘導加熱コイル２１の温度を検知する温度センサ４５が設けられている。また、誘導加熱コイル２１とスイッチング素子３９との間には共振コンデンサ４４が設けられており、この共振コンデンサ４４と誘導加熱コイル２１とで共振回路を構成する。
【００２０】
上記の整流ダイオードブリッジ３２、平滑コンデンサ３３、リアクトル３４、入力電流検知回路３５、コンデンサ３６、スイッチング素子３８、放熱フィン３８ａ、スイッチング素子３９、放熱フィン３９ａ、ダイオード４０、ダイオード４１、温度センサ４２、温度センサ４３及び制御回路５０は、例えば制御基板９に設けられている。
【００２１】
（制御回路５０の構成）
図５は、本発明の実施の形態１に係る制御回路の構成を示すブロック図である。制御回路５０は、制御部５１、一時記憶部５２、及び累積記憶部５３から構成されている。また、制御部５１は、操作部である操作基板８及び前面操作部１４、入力電流検知回路３５、スイッチング素子３８、スイッチング素子３９、温度センサ４２、温度センサ４３並びに温度センサ４５と接続されている。
【００２２】
制御部５１は、操作基板８又は前面操作部１４で設定された誘導加熱コイル２１の加熱量等と入力電流検知回路３５で検出される入力電流とに基づいて、スイッチング素子３８、スイッチング素子３９のＯＮ／ＯＦＦを制御する。これにより、誘導加熱コイル２１に高周波電流が流れ、トッププレート３上に載置された鍋等を所望の温度に加熱する。一時記憶部５２は、温度センサ４２、温度センサ４３及び温度センサ４５が検知した放熱フィン３８ａ、放熱フィン３９ａ及び誘導加熱コイル２１の温度等を記憶する。一時記憶部５２に記憶されたこれらの検知温度等は誘導加熱コイル２１が駆動開始（調理開始）時に削除され、誘導加熱コイル２１の駆動中に新たな検知温度等が一時記憶部５２に記憶される。累積記憶部５３は、一時記憶部５２に記憶されたデータを基に制御部５１が算出したデータを記憶する。このデータは、累積記憶部５３内で累積されていき、誘導加熱コイル２１が駆動開始（調理開始）時に削除されることはない。
【００２３】
（寿命検出方法）
続いて、本発明の実施の形態１に係る誘導加熱調理器の誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出方法について説明する。
図６は、本発明の実施の形態１に係るスイッチング素子３８の通電状態と温度との関係を示す特性図である。また、図７及び図８は、このスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。なお、図６ではスイッチング素子３８の通電状態−温度特性を示しているが、スイッチング素子３９及び誘導加熱コイル２１の通電状態−温度特性も同様の特性（温度曲線）を示す。このため、スイッチング素子３９及び誘導加熱コイル２１も、図７及び図８に示す寿命検出方法によって寿命検出が可能である。
したがって、以下では、代表してスイッチング素子３８の寿命検出方法を説明する。なお、本実施の形態１では、放熱フィン３８ａの温度を検知することにより、間接的にスイッチング素子３８の温度を検知している。
【００２４】
図６に示すように、操作基板８又は前面操作部１４から調理開始の信号が入力されると、スイッチング素子３８が通電状態（スイッチング素子３８のＯＮ／ＯＦＦが繰り返される状態）となる。これにより、誘導加熱コイル２１に高周波電流が流れ、調理が開始される。スイッチング素子３８への通電状態が維持されると、スイッチング素子３８の温度は上昇していく。そして、調理開始時に温度Ｔａだったスイッチング素子３８（放熱フィン３８ａ）の温度ＴはＴｂとなる。操作基板８又は前面操作部１４から調理終了の信号が入力されると、スイッチング素子３８への通電（スイッチング素子３８のＯＮ／ＯＦＦ）は終了する。スイッチング素子３８への通電が終了すると、スイッチング素子３８は冷却されていき、温度Ｔｂだったスイッチング素子３８（放熱フィン３８ａ）の温度ＴはやがてＴａとなる。
【００２５】
図７及び図８に示すように、調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ１）。次に、調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されているか否かを判断する（ステップＳ２）。そして、温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されていない場合はステップＳ３に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔａとして一時記憶部５２に記憶する。その後、ステップＳ４に進む。温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されている場合には、ステップＳ３を介さずにステップＳ４に進む。ステップＳ４では、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ１０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ５に進む。
【００２６】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ５では、放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きいか否かを判断する。放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きい場合にはステップＳ６に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂ以下の場合にはステップＳ２に戻る。ここで、温度Ｔｂは、調理中に検知される放熱フィン３８ａの温度Ｔのうち最も高温なものである。温度Ｔｂの初期値は、例えば予め所定の温度を設定しておいてもよいし、例えば調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａとしてもよい。
【００２７】
放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きい場合、ステップ６では、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔｂとして一時記憶部５２に記憶させる。その後、ステップＳ２に戻る。
上記のステップＳ１からステップＳ６までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、例えば１秒間隔で実行される。
【００２８】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ１０に進む（ステップＳ４）。ステップＳ１０では、一時記憶部５２に記憶されている温度Ｔａ及び温度Ｔｂを基に、Ｔｂ−Ｔａを計算する。次に、このＴｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きいか否かを判断する（ステップＳ１１）。ここで所定温度Ｔ１が、本発明の第１の所定温度に相当する。Ｔｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１以下の場合、ステップＳ１２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。Ｔｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きい場合、ステップＳ１３に進む。そして、累積記憶部５３に１を加算し、ステップＳ１４に進む。
【００２９】
ステップＳ１４では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ１より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔｂ−Ｔａ＞Ｔ１となった調理回数がＣ１回よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ１が、本発明の第１の所定値に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ１以下の場合、ステップＳ１５に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ１より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ１６に進む。ステップＳ１６では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。なお、ステップＳ１６では、誘導加熱調理器１自体を使用不能としてもよい。また、スイッチング素子３８の寿命の到達は、制御基板９の交換を報知する等により、間接的に報知してもよい。
【００３０】
このように構成された誘導加熱調理器１においては、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。
【００３１】
特に、本実施の形態１では、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理開始時の温度Ｔａと調理中の温度Ｔｂとの温度差を用いて誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出を行っている。このため、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のヒートサイクルに起因する寿命検出をより正確に行うことができる。
【００３２】
なお、本実施の形態１では誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出について説明したが、誘導加熱調理器に搭載されたヒータ４や平滑コンデンサ３３，３６，４４等の他の搭載部品の温度を検知することにより、これらの寿命を検出することも可能である。
【００３３】
また、Ｔ−Ｔａ＞Ｔ１となった時間が所定時間よりも大きくなったか否かにより誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命を検出してもよい。
【００３４】
図９及び図１０は、本発明の実施の形態１に係るスイッチング素子３８の別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ２１）。次に調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されているか否かを判断する（ステップＳ２２）。そして、温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されていない場合はステップＳ２３に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔａとして一時記憶部５２に記憶する。その後、ステップＳ２４に進む。温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されている場合には、ステップＳ２３を介さずにステップＳ２４に進む。ステップＳ２４では、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ３０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ２５に進む。
【００３５】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ２５では、Ｔ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きいか否かを判断する。Ｔ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きい場合にはステップＳ２６に進み、Ｔ−Ｔａが所定温度Ｔ１以下の場合にはステップＳ２２に戻る。Ｔ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きい場合、ステップ２６では、累積記憶部５３に１を加算する。その後、ステップＳ２２に戻る。上記のステップＳ２１からステップＳ２６までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、１秒間隔で実行される。
【００３６】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ３０に進む（ステップＳ２４）。そして、ステップＳ３１以降のフローを一回実行する。ステップＳ３１では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ２より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔ−Ｔａ＞Ｔ１となった調理時間がＣ２秒よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ２が、本発明の第１の所定時間に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ２以下の場合、ステップＳ３２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ２より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ３３に進む。ステップＳ３３では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００３７】
このように構成された誘導加熱調理器１においても、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。また、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理開始時の温度Ｔａと調理中の温度Ｔとの温度差を用いて寿命検出を行っているので、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のヒートサイクルに起因する寿命検出をより正確に行うことができる。
【００３８】
また、Ｔ−Ｔａを積算し、この積算値が所定積算値よりも大きくなったか否かにより誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命を検出してもよい。
【００３９】
図１１及び図１２は、本発明の実施の形態１に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ４１）。次に調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されているか否かを判断する（ステップＳ４２）。そして、温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されていない場合はステップＳ４３に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔａとして一時記憶部５２に記憶する。その後、ステップＳ４４に進む。温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されている場合には、ステップＳ４３を介さずにステップＳ４４に進む。ステップＳ４４では、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ５０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ４５に進む。
【００４０】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ４５では、累積記憶部５３にＴ−Ｔａを加算する。その後、ステップＳ４２に戻る。上記のステップＳ４１からステップＳ４５までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、１秒間隔で実行される。つまり、ステップＳ４１からステップＳ４５までのフローにより、図１３の斜線部に示すＴ−Ｔａの積算値を算出している。
【００４１】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ５０に進む（ステップＳ４４）。そして、ステップＳ５１以降のフローを一回実行する。ステップＳ５１では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ３より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔ−Ｔａの積算温度がＣ３℃よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ３が、本発明の第１の所定積算時間に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ３以下の場合、ステップＳ５２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ３より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ５３に進む。ステップＳ５３では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００４２】
このように構成された誘導加熱調理器１においても、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。また、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理開始時の温度Ｔａと調理中の温度Ｔとの温度差を用いて寿命検出を行っているので、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のヒートサイクルに起因する寿命検出をより正確に行うことができる。
【００４３】
実施の形態２．
実施の形態１では誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理開始時の温度Ｔａと調理中の温度Ｔとの温度差を用いて寿命検出を行ったが、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理中の温度Ｔのみを用いて寿命検出を行ってもよい。なお、本実施の形態２において、特に記述しない項目については実施の形態１と同様とし、同一の機能や構成については同一の符号を用いて述べることとする。
【００４４】
図１４及び図１５は、本発明の実施の形態２に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ１０１）。次に、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する（ステップＳ１０２）。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ１１０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ１０３に進む。
【００４５】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ１０３では、放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きいか否かを判断する。放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きい場合にはステップＳ１０４に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂ以下の場合にはステップＳ１０２に戻る。ここで、温度Ｔｂは、調理中に検知される放熱フィン３８ａの温度Ｔのうち最も高温なものである。温度Ｔｂの初期値は、例えば予め所定の温度を設定しておいてもよいし、例えば調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａとしてもよい。
【００４６】
放熱フィン３８ａの温度Ｔが温度Ｔｂより大きい場合、ステップ１０４では、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔｂとして一時記憶部５２に記憶させる。その後、ステップＳ１０２に戻る。
上記のステップＳ１０１からステップＳ１０４までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、例えば１秒間隔で実行される。
【００４７】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ１１０に進む（ステップＳ１０２）。ステップＳ１１０では、一時記憶部５２に記憶されている温度Ｔｂが所定温度Ｔ２より大きいか否かを判断する（ステップＳ１１１）。ここで所定温度Ｔ２が、本発明の第２の所定温度に相当する。Ｔｂが所定温度Ｔ２以下の場合、ステップＳ１１２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。Ｔｂが所定温度Ｔ２より大きい場合、ステップＳ１１３に進む。そして、累積記憶部５３に１を加算し、ステップＳ１１４に進む。
【００４８】
ステップＳ１１４では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ４より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔｂ＞Ｔ２となった調理回数がＣ４回よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ４が、本発明の第２の所定値に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ４以下の場合、ステップＳ１１５に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ４より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ１１６に進む。ステップＳ１１６では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００４９】
このように構成された誘導加熱調理器１においては、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。
【００５０】
特に、本実施の形態２では、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理中の温度Ｔｂを用いて誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出を行っている。このため、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の使用温度と使用時間により定められる寿命の検出をより正確に行うことができる。
【００５１】
なお、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命は、Ｔ＞Ｔ２となった時間が所定時間よりも大きくなったか否かにより検出してもよい。
【００５２】
図１６及び図１７は、本発明の実施の形態２に係るスイッチング素子３８の別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ１２１）。次に、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する（ステップＳ１２２）。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ１３０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ１２３に進む。
【００５３】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ１２３では、放熱フィン３８ａの温度Ｔが所定温度Ｔ２より大きいか否かを判断する。Ｔが所定温度Ｔ２より大きい場合にはステップＳ１２４に進み、Ｔが所定温度Ｔ２以下の場合にはステップＳ１２２に戻る。Ｔが所定温度Ｔ２より大きい場合、ステップＳ１２４では、累積記憶部５３に１を加算する。その後、ステップＳ１２２に戻る。上記のステップＳ１２１からステップＳ１２４までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、１秒間隔で実行される。
【００５４】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ１３０に進む（ステップＳ１２２）。そして、ステップＳ１３１以降のフローを一回実行する。ステップＳ１３１では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ５より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔ＞Ｔ２となった調理時間がＣ５秒よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ５が、本発明の第２の所定時間に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ５以下の場合、ステップＳ１３２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ５より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ１３３に進む。ステップＳ１３３では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００５５】
このように構成された誘導加熱調理器１においても、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。また、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理中の温度Ｔを用いて寿命検出を行っているので、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の使用温度と使用時間により定められる寿命の検出をより正確に行うことができる。
【００５６】
また、Ｔを積算し、この積算値が所定積算値よりも大きくなったか否かにより誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命を検出してもよい。
【００５７】
図１８及び図１９は、本発明の実施の形態２に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、制御部５１は、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ１４１）。次に、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する（ステップＳ１４２）。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ１５０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ１４３に進む。
【００５８】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ１４３では、累積記憶部５３にＴを加算する。その後、ステップＳ１４２に戻る。上記のステップＳ１４１からステップＳ１４３までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、１秒間隔で実行される。
【００５９】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ１５０に進む（ステップＳ１４２）。そして、ステップＳ１５１以降のフローを一回実行する。ステップＳ１５１では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ６より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔの積算温度がＣ６℃よりも大きくなったか否かを判断する。ここで所定値Ｃ６が、本発明の第２の所定積算時間に相当する。累積記憶値が所定値Ｃ６以下の場合、ステップＳ１５２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ６より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ１５３に進む。ステップＳ１５３では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００６０】
このように構成された誘導加熱調理器１においても、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命検出にこれらの温度が用いられているので、従来よりも寿命検出を正確に行うことができ、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の経年劣化による故障を未然に防止することができる。また、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の調理中の温度Ｔを用いて寿命検出を行っているので、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の使用温度と使用時間により定められる寿命の検出をより正確に行うことができる。
【００６１】
実施の形態３．
実施の形態１及び実施の形態２では、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の温度を温度センサで検知し、これらの寿命を検出した。これに限らず、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９に流れる電流値からこれらの温度を算出し、この温度に基づいて誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命を検出することも可能である。なお、本実施の形態３において、特に記述しない項目については実施の形態１又は実施の形態２と同様とし、同一の機能や構成については同一の符号を用いて述べることとする。
【００６２】
図２０は、本発明の実施の形態３に係る誘導加熱コイル２１の入力電流と温度との関係を示す特性図である。この図２０は、横軸が入力電流検知回路３５が検知した入力電流を示し、縦軸が誘導加熱コイル２１の温度を示している。
誘導加熱コイル２１の損失（発熱量）は、巻線抵抗によるジュール熱が支配的である。このため、図２０に示すように、誘導加熱コイル２１の温度はおおよそ入力電流の２乗に比例している。この図が、本発明における誘導加熱コイル２１のテーブルに相当する。このテーブル（図２０）と入力電流検知回路３５が検知した入力電流とから、誘導加熱コイル２１の温度を算出することができる。例えば、入力電流検知回路３５が検知した入力電流値がＩｄのとき、誘導加熱コイル２１の温度はＴｄと算出できる。
【００６３】
また、図２１は、本発明の実施の形態３に係るスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の入力電流と温度との関係を示す特性図である。この図２１は、横軸が入力電流検知回路３５が検知した入力電流を示し、縦軸がスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の温度を示している。
スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の損失（発熱量）は、スイッチング損失と導通損失が支配的である。このため、図２１に示すように、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の温度はおおよそ入力電流に比例している。この図が、本発明におけるスイッチング素子３８及びスイッチング素子３９のテーブルに相当する。このテーブル（図２１）と入力電流検知回路３５が検知した入力電流とから、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の温度を算出することができる。例えば、入力電流検知回路３５が検知した入力電流値がＩｅのとき、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の温度はＴｅと算出できる。
【００６４】
これらのテーブル（図２０及び図２１）と入力電流検知回路３５とが、本発明の温度検知部に相当する。これらのテーブルは、例えば制御回路５０の累積記憶部に記憶されている。なお、これらのテーブルは実験や計算により求められる。
【００６５】
例えば、スイッチング素子３８の調理開始時の温度Ｔａと調理中の温度Ｔｂとの温度差を用い、Ｔｂ−Ｔａ＞Ｔ１となった調理回数がＣ１回よりも大きくなったか否かによりスイッチング素子３８の寿命を検出する場合（実施の形態１における図７及び図８）は、以下のように行う。
【００６６】
図２２及び図２３は、本発明の実施の形態３に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、入力電流値Ｉの検知を開始する。また、温度センサ４２を介して放熱フィン３８ａの温度Ｔの検知を開始する（ステップＳ２０１）。なお、放熱フィン３８ａの温度Ｔは直接検知する必要はなく、例えば、筐体２内の温度を放熱フィン３８ａの温度Ｔとしてもよい。次に、調理開始時の放熱フィン３８ａの温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されているか否かを判断する（ステップＳ２０２）。そして、温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されていない場合はステップＳ２０３に進み、放熱フィン３８ａの温度Ｔを温度Ｔａとして一時記憶部５２に記憶する。その後、ステップＳ２０４に進む。温度Ｔａが一時記憶部５２に記憶されている場合には、ステップＳ２０３を介さずにステップＳ２０４に進む。ステップＳ２０４では、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ２１０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ２０５に進む。
【００６７】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ２０５では、入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きいか否かを判断する。入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きい場合にはステップＳ２０６に進み、入力電流値Ｉが電流値Ｉｂ以下の場合にはステップＳ２０２に戻る。入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きい場合、ステップＳ２０６では、入力電流値Ｉを電流値Ｉｂとして一時記憶部５２に記憶させる。その後、ステップＳ２０２に戻る。
上記のステップＳ２０１からステップＳ２０６までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、例えば１秒間隔で実行される。
【００６８】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ２１０に進む（ステップＳ２０４）。そして、ステップＳ２１１以降のフローを一回実行する。ステップＳ２１１では、図２１に示すテーブルから電流値Ｉｂに相当する温度Ｔｂを算出する。次に、このＴｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きいか否かを判断する（ステップＳ２１２）。Ｔｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１以下の場合、ステップＳ２１３に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。Ｔｂ−Ｔａが所定温度Ｔ１より大きい場合、ステップＳ２１４に進む。そして、累積記憶部５３に１を加算し、ステップＳ２１５に進む。
【００６９】
ステップＳ２１５では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ１より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔｂ−Ｔａ＞Ｔ１となった調理回数がＣ１回よりも大きくなったか否かを判断する。累積記憶値が所定値Ｃ１以下の場合、ステップＳ２１６に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ１より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ２１７に進む。ステップＳ２１７では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００７０】
なお、本実施の形態３では、調理終了後に図２１に示すテーブルからスイッチング素子３８の温度を算出した。しかしながら、調理中、入力電流を検知するごとにスイッチング素子３８の温度を算出してもよい。
【００７１】
また、例えば、スイッチング素子３８の調理中の温度Ｔｂを用い、Ｔｂ＞Ｔ２となった調理回数がＣ４回よりも大きくなったか否かによりスイッチング素子３８の寿命を検出する場合（実施の形態２における図１４及び図１５）は、以下のように行う。
【００７２】
図２４及び図２５は、本発明の実施の形態３に係るスイッチング素子３８の別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、入力電流値Ｉの検知を開始する（ステップＳ２２１）。次に、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する（ステップＳ２２２）。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ２３０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ２２３に進む。
【００７３】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ２２３では、入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きいか否かを判断する。入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きい場合にはステップＳ２２４に進み、入力電流値Ｉが電流値Ｉｂ以下の場合にはステップＳ２２２に戻る。入力電流値Ｉが電流値Ｉｂより大きい場合、ステップＳ２２４では、入力電流値Ｉを電流値Ｉｂとして一時記憶部５２に記憶させる。その後、ステップＳ２２２に戻る。
上記のステップＳ２２１からステップＳ２２４までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、例えば１秒間隔で実行される。
【００７４】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ２３０に進む（ステップＳ２２２）。そして、ステップＳ２３１以降のフローを一回実行する。ステップＳ２３１では、図２１に示すテーブルから電流値Ｉｂに相当する温度Ｔｂを算出する。次に、このＴｂが所定温度Ｔ２より大きいか否かを判断する（ステップＳ２３２）。Ｔｂが所定温度Ｔ２以下の場合、ステップＳ２３３に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。Ｔｂが所定温度Ｔ２より大きい場合、ステップＳ２３４に進む。そして、累積記憶部５３に１を加算し、ステップＳ２３５に進む。
【００７５】
ステップＳ２３５では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ４より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔｂ＞Ｔ２となった調理回数がＣ４回よりも大きくなったか否かを判断する。累積記憶値が所定値Ｃ４以下の場合、ステップＳ２３６に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ４より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ２３７に進む。ステップＳ２３７では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００７６】
また、例えば、スイッチング素子３８の調理中の温度Ｔを用い、Ｔの積算温度がＣ６℃よりも大きくなったか否かによりスイッチング素子３８の寿命を検出する場合（実施の形態２における図１８及び図１９）は、以下のように行う。
【００７７】
図２６及び図２７は、本発明の実施の形態３に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。調理が開始されると、入力電流値Ｉの検知を開始する（ステップＳ２４１）。次に、誘導加熱調理器１が調理中であるか否かを判断する（ステップＳ２４２）。そして、誘導加熱調理器１が調理中でない場合（調理終了後の場合）にはステップＳ２５０に進み、誘導加熱調理器１が調理中の場合にはステップＳ２４３に進む。
【００７８】
誘導加熱調理器１が調理中の場合、ステップＳ２４３では、図２１に示すテーブルから入力電流値Ｉに相当する温度Ｔを算出する。次に、累積記憶部５３にＴを加算する（ステップＳ２４４）。その後、ステップＳ２４２に戻る。上記のステップＳ２４１からステップＳ２４４までのフローは、誘導加熱調理器１が調理中の間、１秒間隔で実行される。
【００７９】
誘導加熱調理器１の調理が終了するとステップＳ２５０に進む（ステップＳ２４２）。そして、ステップＳ２５１以降のフローを一回実行する。ステップＳ２５１では、累積記憶部５３に記憶された累積記憶値が所定値Ｃ６より大きくなったか否かを判断する。つまり、Ｔの積算温度がＣ６℃よりも大きくなったか否かを判断する。累積記憶値が所定値Ｃ６以下の場合、ステップＳ２５２に進み、スイッチング素子３８の寿命検出を終了する。累積記憶値が所定値Ｃ６より大きい場合、スイッチング素子３８が寿命に到達したと判断し、ステップＳ２５３に進む。ステップＳ２５３では、誘導加熱コイル２１の駆動、つまり誘導加熱コイル２１への通電を不能とする。また、液晶部１０への表示や音声等によって、スイッチング素子３８が寿命に到達したことを報知する。
【００８０】
入力電流検知回路３５は、消費電力の算出等のため、従来の誘導加熱調理器にも設けられている。このため、従来の誘導加熱調理器に若干の設計変更を行うだけで、誘導加熱コイル２１、スイッチング素子３８及びスイッチング素子３９の寿命を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】実施の形態１に係る誘導加熱調理器の組立斜視図である。
【図２】実施の形態１に係る誘導加熱調理器の分解斜視図である。
【図３】図１のＡ−Ａ断面模式図である。
【図４】実施の形態１に係る誘導加熱コイルの駆動回路の構成図である。
【図５】実施の形態１に係る制御回路の構成を示すブロック図である。
【図６】実施の形態１に係るスイッチング素子３８の通電状態と温度との関係を示す特性図である。
【図７】実施の形態１に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図８】図７に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図９】実施の形態１に係るスイッチング素子３８の別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１０】図９に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図１１】実施の形態１に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１１に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図１３】Ｔｂ−Ｔａの積算値を示す特性図である。
【図１４】実施の形態２に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１５】図１４に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図１６】実施の形態２に係るスイッチング素子３８の別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１７】図１６に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図１８】実施の形態２に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１９】図１８に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図２０】実施の形態３に係る誘導加熱コイルの入力電流と温度との関係を示す特性図である。
【図２１】本発明の実施の形態３に係るスイッチング素子の入力電流と温度との関係を示す特性図である。
【図２２】実施の形態３に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図２３】図２２に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図２４】実施の形態３に係るスイッチング素子３８の寿命検出方法の別の一例を示すフローチャートである。
【図２５】図２４に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【図２６】実施の形態３に係るスイッチング素子３８のさらに別の寿命検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図２７】図２６に続くスイッチング素子３８の寿命検出方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８２】
１  誘導加熱調理器、２  筐体、２ａ  仕切板、３  トッププレート、４  抵抗コイル、５  サークルライン、６  バネ、７  操作表示部、８  操作基板、９  制御基板、１０  液晶部、１１  ファン装置、１２  吸気口、１３  排気口、１４  前面操作部、１５  グリル部、１６  引き出し、２０  コイルユニット、２１  誘導加熱コイル、３０  交流電源、３１  直流電源回路、３２  整流ダイオードブリッジ、３３  平滑コンデンサ、３４  リアクトル、３５  入力電流検知回路、３６  コンデンサ、３７  インバータ回路、３８  スイッチング素子、３８ａ  放熱フィン、３９  スイッチング素子、３９ａ  放熱フィン、４０  ダイオード、４１  ダイオード、４２  温度センサ、４３  温度センサ、４４  共振コンデンサ、４５  温度センサ、５０  制御回路、５１  制御部、５２  一時記憶部、５３  累積記憶部。
【図１】
2010135224.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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