(57)【要約】【課題】  サイドイレーズ現象に対する過剰なリライトを低減させることができる磁気ディスク装置、制御装置、制御方法を提供する。【解決手段】  連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスク２４と、磁気ヘッド２３と、所定のトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込み、所定のエリアにおける所定のトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出し、読み出したデータにエラーがあるかどうかを判定し、エラーがある場合、所定のエリアと、所定のトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記録するＭＰＵ１７とを備える。【選択図】  図１
2010146674.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにデータを記録し、記録したデータを読み出す磁気ヘッドと、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、
前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、
前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、
前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部と
を備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気ディスク装置であって、
前記第１記録部は、前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数と、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを更に対応付けることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の磁気ディスク装置であって、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの外周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第２判定部と、
前記第２判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第２記録部と、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの内周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第３判定部と、
前記第３判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第３記録部と
を更に備える磁気ディスク装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記所定のエリアは、少なくとも、前記磁気ディスクの最内周位置、前記磁気ディスクの最外周位置、前記磁気ディスクにおけるトラックの進行方向に対して前記磁気ヘッドのアームが最も平行となる位置にそれぞれ設けられることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記読み出し部は、前記書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータの読み出しにおいて、誤り訂正符号による誤り訂正能力を、前記所定のエリア以外のトラックのデータの読み出しにおける誤り訂正能力よりも低減させることを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項６】
連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置の制御装置であって、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、
前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、
前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、
前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部と
を備える制御装置。
【請求項７】
連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置の制御方法であって、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込みステップと、
前記書き込みステップによりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出しステップと、
前記読み出しステップにより読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定ステップと、
前記第１判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込みステップによる前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録ステップと
を備える制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置におけるサイドイレーズ現象に対応する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁気ディスク装置において、磁気ディスク上の同一箇所に、繰り返しデータがライトされると、磁気ヘッドの漏洩磁界により、ライト箇所に隣接するトラックのデータが消失するサイドイレーズ現象が知られている。このサイドイレーズ現象に対する防止方法として、繰り返しライトされた箇所の両サイドのトラックにデータをリライトすることにより、磁気を強化する技術が知られている。（例えば、特許文献１参照）
【特許文献１】特開２００４−２７３０６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述した技術によれば、繰り返しデータがライトされた箇所の両サイドのトラックにデータをリライトするには、データをリードしてから再びライトする必要がある。また、サイドイレーズ現象が起きる条件は、ヘッドの個体、磁気ディスクの個体により異なる。これらのことから、上述した技術によれば、サイドイレーズ現象が起こらないトラックまでデータがリライトされてしまう可能性がある。つまり、過剰なリライトにより磁気ディスク装置のパフォーマンスを低下させてしまうという問題がある。
【０００４】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、サイドイレーズ現象に対する過剰なリライトを低減させることができる磁気ディスク装置、制御装置、制御方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上述した課題を解決するため、磁気ディスク装置は、連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクと、前記磁気ディスクにデータを記録し、記録したデータを読み出す磁気ヘッドと、前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部とを備える。
【０００６】
また、制御装置は、連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置を制御する装置であって、前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部とを備える。
【０００７】
また、制御方法は、連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置を制御する方法であって、前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込みステップと、前記書き込みステップによりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出しステップと、前記読み出しステップにより読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定ステップと、前記第１判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込みステップによる前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録ステップとを備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、サイドイレーズ現象に対する過剰なリライトを低減させることができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態について図を用いて説明する。
【００１０】
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のハードウェア構成について説明する。図１は、上位装置２に接続された磁気ディスク装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。
【００１１】
図１に示すように、ホストとしての上位装置２と磁気ディスク装置１はホストＩＦ（インターフェイス）３を介して接続されている。上位装置２は記憶装置として磁気ディスク装置１を備えるコンピュータであり、データの読み書きにおいて、磁気ディスク装置１に対してコマンドを発行するものである。
【００１２】
磁気ディスク装置１は、ホストＩＦ（インターフェイス）制御部１１、バッファ制御部１２、バッファメモリ１３、フォーマット制御部１４、リードチャネル１５、ヘッドＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）１６、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏｐｒｏｃｅｓｓｏｒ  Ｕｎｉｔ）１７、メモリ１８、不揮発性メモリ１９、サーボ制御部２０、ＶＣＭ（ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ）２１、ＳＰＭ（ｓｐｉｎｄｌｅ  Ｍｏｔｏｒ）２２、リードライトヘッド２３（磁気ヘッド）、磁気ディスク２４、バス２５、および、ホストＩＦ３を備えるものである。
【００１３】
ホストＩＦ３は、磁気ディスク装置１と上位装置２との間でデータやコマンドを送受するための通信を行うものである。また、ホストＩＦ制御部１１はホストＩＦ３を介して送られる上位装置２へのデータやコマンドを制御するものである。また、ホストＩＦ制御部１１は上位装置２から送られてホストＩＦ３で受け取られたデータやコマンドを制御するものである。また、バッファ制御部１２は、バッファメモリ１３に記憶されるデータの書き込みや読み出しを制御するものである。また、バッファメモリ１３は、磁気ディスク２４に書き込まれるデータや、磁気ディスク２４から読み出されたデータを一時的に記憶するものである。また、フォーマット制御部１４は磁気ディスク２４に書き込まれるデータの書き込みフォーマットを生成するものである。また、リードチャネル１５は、磁気ディスク２４に書き込まれるデータから信号への変換、磁気ディスク２４から読み出された信号からデータへの変換を行うものである。また、ヘッドＩＣ１６は、リードライトヘッド２３により磁気ディスク２４に書き込まれる信号や磁気ディスク２４から読み出された信号を増幅するものである。また、ＭＰＵ１７は磁気ディスク装置１全体の動作を制御するものである。また、メモリ１８は揮発性のメモリである。また、不揮発性メモリ１９は、磁気ディスク装置を制御するためのプログラムを記憶するものである。また、サーボ制御部２０は、ＶＣＭ２１およびＳＰＭ２２の動作を制御するものである。また、ＶＣＭ２１はリードライトヘッド２３を駆動するものである。また、ＳＰＭ２２は、磁気ディスク２４を回転駆動するものである。また、リードライトヘッド２３は磁気ディスク２４に対して、データとしての信号の書き込み、記録されているデータとしての信号の読み出しを行うものである。また、磁気ディスク２４はデータを記録するための記憶媒体である。また、バス２５は、ホストＩＦ制御部１１、バッファ制御部１２、フォーマット制御部１４、リードチャネル１５、ヘッドＩＣ１６、ＭＰＵ１７、メモリ１８、不揮発性メモリ１９、および、サーボ制御部２０間におけるデータやコマンドなどの伝送経路である。
【００１４】
次に、本実施の形態におけるテストエリアについて説明する。このテストエリアは、磁気ディスクの複数位置に用意されたエリアであり、サイドイレーズ現象に対するテストを実施するためのエリアである。このテストエリアは、連続した複数のトラックを有する。図２は、本実施の形態における複数のテストエリアを示す図である。図３は、テストエリアにおける複数のトラックを示す図である。
【００１５】
図２に示すように、本実施の形態において、磁気ディスク２４はディスク０、ディスク１の２つのディスクを備えるものとし、これらのディスクそれぞれにテストエリアが設けられているものとする。また、リードライトヘッド２３も同様に、ディスク０に対するヘッド０、ディスク１に対するヘッド１の２つのヘッドを備えるものとする。また、テストエリアは、１つのディスクにつき、内周テストエリア、中周テストエリア、外周テストエリアの３つが設けられる。内周テストエリアは、ディスクの最も内側（最内周位置）に設けられたテストエリアである。また、中周テストエリアは、テストトラックの進行方向に対して、それぞれのヘッドのアームが最も平行となるテストエリアである。また、外周テストエリアは、ディスクの最も外側（最外周位置）に設けられたテストエリアである。少なくともこれらのテストエリアをディスク上に設けることで、サイドイレーズ現象による影響を精度良く調べることができる。また、なお、上述したテストエリア数、ディスク数、ヘッド数は一例であり、これに限定するものではない。
【００１６】
また、図３に示すように、それぞれのテストエリアは、テストのために信号が書き込まれるトラックであるテストトラックｎ、テストトラックｎから内周方向の１０トラック、外周方向の１０トラックを含む。また、本実施の形態において、テストトラックｎを基準とし、内周方向の１０トラックを正の数、外周方向の１０トラックを負の数により表現する。例えば、テストトラックｎから外周方向１０番目に位置するトラックは、トラックｎ−１０となる。なお、テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックは、内周方向、外周方向ともに、少なくともテストトラックｎに隣接するトラックを含む連続した複数のトラックであれば良い。また、テストエリア内のテストトラックｎの内周方向及び外周方向のトラック数は、最悪値に基づいて決定される。ここで最悪値とは、同種のリードライトヘッド２３、磁気ディスク２４の組み合わせによる最悪値を指す。例えば、同種の組み合わせにおいて、１つのトラックへの書き込みに対してサイドイレーズ現象が起きるトラック数の最大数が１２である場合、テストエリアにおける外周方向、内周方向それぞれのトラック数は１２となる。
【００１７】
テストトラックｎには、複数回データが書き込まれ、その後、テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックが読み出される。テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックには、予め所定のデータがテストデータとして書き込まれ、テストトラックｎへのデータ書き込み後に読み出される。この読み出されたデータのエラーに基づいて、サイドイレーズ現象が起きるテストトラックｎへの書き込み回数と、データが消失するトラック数が決定される。
【００１８】
次に、しきい値テーブルについて説明する。図４は、初期状態のしきい値テーブルを示す図である。
【００１９】
図４に示すように、しきい値テーブルは、ヘッド番号、エリア、しきい値、内周方向書き直しトラック、外周方向書き直しトラックが対応付けられて管理されるテーブルである。ヘッド番号は、ヘッド０またはヘッド１を示す。また、エリアは、ヘッド番号により示されるヘッドにより信号が読み書きされるディスクの内周、中周、外周いずれかのテストエリアを示す。また、しきい値は、隣接するトラックにサイドイレーズ現象が起きるテストトラックｎへ書き込みの回数である。また、内周方向書き直しトラックは、テストトラックｎへの信号書き込みによって発生するサイドイレーズ現象に対して書き直しが必要な内周方向に連続したトラック数である。また、外周方向書き直しトラックは、テストトラックｎへの信号書き込みによって発生するサイドイレーズ現象に対して書き直しが必要な外周方向に連続したトラック数である。つまり、内周方向書き直しトラック、及び外周方向書き直しトラックは、テストトラックｎへの書き込みに対して起こるサイドイレーズ現象の影響範囲を示す。また、図４は、しきい値、内周方向書き直しトラック、外周方向書き直しトラックに初期値が書き込まれた初期状態のしきい値テーブルを示している。これらの初期値は、それぞれ予め測定された最悪値に基づく値である。なお、本実施の形態において、このしきい値テーブルは、磁気ディスク２４のシステム領域に保存されるものとするが、不揮発性メモリ１９に保存されても良い。
【００２０】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置における機能構成について説明する。図５は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置における機能構成を示すブロック図である。
【００２１】
図５に示すように、本実施の形態に係る磁気ディスク装置１は、判断部１０１（第１判定部、第２判定部、第３判定部）、制御部１０２（書き込み部、読み出し部）、設定部１０３（第１記録部、第２記録部、第３記録部）を機能として備える。判断部１０１は、後述する処理における判断を実行するものである。また、制御部１０２は、リードライトヘッド２３によるテストトラックｎへの書き込み、テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックの読み出しを制御するものである。また、設定部１０３は、しきい値テーブルにおける値を変更するものである。なお、これら各部は、実質的にはＭＰＵ１７により実現される機能である。
【００２２】
次に、設定処理の動作について説明する。この設定処理は、テストを実施するヘッドとテストエリアを決定する処理である。図６は、設定処理の動作を示すフローチャートである。
【００２３】
まず、設定部１０３は、ヘッド番号を示す変数ｍに０をセットする（Ｓ１０１）。次に、判断部１０１は、しきい値テーブルを参照し、ヘッドｍに対応するディスクにおける内周テストエリアのしきい値が初期値であるかどうかを判断する（Ｓ１０２）。
【００２４】
内周テストエリアのしきい値が初期値ではない場合（Ｓ１０２，ＮＯ）、判断部１０１は、しきい値テーブルを参照し、ヘッドｍに対応するディスクにおける中周テストエリアのしきい値が初期値であるかどうかを判断する（Ｓ１０３）。
【００２５】
中周テストエリアのしきい値が初期値ではない場合（Ｓ１０３，ＮＯ）、判断部１０１は、しきい値テーブルを参照し、ヘッドｍに対応するディスクにおける外周テストエリアのしきい値が初期値であるかどうかを判断する（Ｓ１０４）。
【００２６】
外周テストエリアのしきい値が初期値ではない場合（Ｓ１０４，ＮＯ）、設定部１０３は、ｍに１を加算した値をセットする（Ｓ１０５）。次に、判断部１０１は、ｍが１より大きいかどうかを判断する（Ｓ１０６）。
【００２７】
ｍが１より大きい場合（Ｓ１０６）、判断部１０１は、設定処理を終了する。
【００２８】
一方、ｍが１以下である場合（Ｓ１０６，ＮＯ）、判断部１０１は、ヘッドｍに対応するディスクにおける内周テストエリアのしきい値が初期値であるかどうかを判断する（Ｓ１０２）。
【００２９】
また、ステップＳ１０４において、外周テストエリアのしきい値が初期値である場合（Ｓ１０４，ＹＥＳ）、設定部１０３は、テストエリアを外周に設定する（Ｓ１０７）。次に、ヘッドｍに対応するディスクにおける外周テストエリアにおいて、後述するテスト処理が実行される（Ｓ１０８）。
【００３０】
また、ステップＳ１０３において、中周テストエリアのしきい値が初期値である場合（Ｓ１０３，ＹＥＳ）、設定部１０３は、テストエリアを中周に設定する（Ｓ１０９）。次に、ヘッドｍに対応するディスクにおける中周テストエリアにおいて、テスト処理が実行される（Ｓ１１０）。
【００３１】
また、ステップＳ１０２において、内周テストエリアのしきい値が初期値である場合（Ｓ１０２，ＹＥＳ）、設定部１０３は、テストエリアを内周に設定する（Ｓ１１１）。次に、ヘッドｍに対応するディスクにおける内周テストエリアにおいて、テスト処理が実行される（Ｓ１１２）。
【００３２】
次に、テスト処理の動作について説明する。図７及び図８は、テスト処理の動作を示すフローチャートである。なお、このフローチャートにおいて、ヘッド番号及びテストエリアはすでに設定されているものとする。また、このフローチャートにおいて、書き込み回数を示す変数Ａは、初期値が０に設定されているものとする。
【００３３】
まず、判断部１０１は、上位装置２からコマンド要求があるかどうかを判断する（Ｓ２０１）。
【００３４】
上位装置２からコマンド要求がない場合（Ｓ２０１，ＮＯ）、制御部１０２は、ヘッドｍに対し、テストエリアのテストトラックｎに、所定のデータを１００回書き込むように指示し、書き込み回数を示す変数Ａに１００を加算する（Ｓ２０２、書き込みステップ）。次に、判断部１０１は、しきい値テーブルにおけるヘッドｍ、テストトラックｎのしきい値が初期値かどうかを判断する（Ｓ２０３）。
【００３５】
しきい値が初期値ではない場合（Ｓ２０３，ＮＯ）、判断部１０１は、書き込み回数Ａが１０００００より大きいかどうかを判断する（Ｓ２０４）。
【００３６】
書き込み回数Ａが１０００００より大きい場合（Ｓ２０４，ＹＥＳ）、制御部１０２は、ＥＣＣ訂正能力を切り、トラックｎ−Ｂ（Ｂは１〜１０）のリードを指示する（Ｓ２０５、読み出しステップ）。これにより、テストエリア内のテストトラックｎに対して外周方向に位置する全てのトラックに書き込まれたデータがリードされる。次に、判断部１０１は、リードされたトラックｎ−１からトラックｎ−１０までのデータにエラーがあるかどうかを判断する（Ｓ２０６、第２判定ステップ）。
【００３７】
リードされたトラックｎ−１からトラックｎ−１０までのデータにエラーがない場合（Ｓ２０６，ＮＯ）、設定部１０３は、しきい値テーブルにおいて、ヘッドｍ、テストトラックｎに対応するテストエリアの外周方向書き直しトラックを０に変更する（Ｓ２０７）。次に、制御部１０２は、ＥＣＣ訂正能力を切り、トラックｎ＋Ｃ（Ｃは１〜１０）のリードを指示する（Ｓ２０８、読み出しステップ）。これにより、テストエリア内のテストトラックｎに対して内周方向に位置する全てのトラックに書き込まれたデータがリードされる。次に、判断部１０１は、リードされたトラックｎ＋１からトラックｎ＋１０データにエラーがあるかどうかを判断する（Ｓ２０９、第３判定ステップ）。
【００３８】
リードされたトラックｎ＋１からトラックｎ＋１０までのデータにエラーがない場合（Ｓ２０９，ＮＯ）、設定部１０３は、しきい値テーブルにおいて、ヘッドｍ、テストトラックｎに対応するテストエリアの内周方向書き直しトラックを０に変更し（Ｓ２１０）、処理を終了する。
【００３９】
一方、リードされたトラックｎ＋１からトラックｎ＋１０までのデータにエラーがある場合（Ｓ２０９，ＹＥＳ）、設定部１０３は、しきい値テーブルにおいて、ヘッドｍ、テストトラックｎに対応するテストエリアの内周方向書き直しトラックをエラー発生トラックの最大幅に変更する（Ｓ２１１、第３記録ステップ）。具体的には、内周方向書き直しトラックは、エラーが発生するデータが読み出された内周方向に位置するトラックにおけるＢの最大値に設定される。つまり、テストトラックｎから内周方向に最も遠距離であるエラー発生トラックが記録される。
【００４０】
また、ステップＳ２０６において、リードされたトラックｎ−１からトラックｎ−１０までのデータにエラーがある場合（Ｓ２０６，ＹＥＳ）、設定部１０３は、しきい値テーブルにおいて、ヘッドｍ、テストトラックｎに対応するテストエリアの外周方向書き直しトラックをエラー発生トラックの最大幅に変更する（Ｓ２１２、第２記録ステップ）。具体的には、外周方向書き直しトラックは、エラーが発生するデータが読み出された外周方向に位置するトラックにおけるＣの最大値に設定される。つまり、テストトラックｎから外周方向に最も遠距離であるエラー発生トラックが記録される。
【００４１】
また、ステップＳ２０４において、書き込み回数Ａが１０００００以下である場合（Ｓ２０４，ＮＯ）、判断部１０１は、再度、上位装置２からコマンド要求があるかどうかを判断する（Ｓ２０１）。
【００４２】
また、ステップＳ２０３において、しきい値が初期値である場合（Ｓ２０３，ＹＥＳ）、制御部１０２は、ＥＣＣ訂正能力を切り、テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックをリードする（Ｓ２１３、読み出しステップ）。次に、判断部１０１は、テストエリア内のテストトラックｎ以外のトラックからリードされたテストデータにエラーがあるかどうかを判断する（Ｓ２１４、第１判定ステップ）。
【００４３】
テストデータにエラーがある場合（Ｓ２１４，ＹＥＳ）、設定部１０３は、しきい値テーブルにおけるヘッドｍ、テストトラックｎが属するテストエリアのしきい値をＡに変更する（Ｓ２１５、第１記録部）。次に、判断部１０１は、書き込み回数Ａが１０００００より大きいかどうかを判断する（Ｓ２０４）。
【００４４】
一方、テストデータにエラーがない場合（Ｓ２１４，ＮＯ）、判断部１０１は、書き込み回数Ａが１０００００より大きいかどうかを判断する（Ｓ２０４）。
【００４５】
また、ステップＳ２０１において、上位装置２からコマンド要求がある場合（Ｓ２０１，ＹＥＳ）、制御部１０２は、コマンド要求に基づくコマンド処理を実行する（Ｓ２１６）。
【００４６】
なお、上述した処理において、ＥＣＣ（誤り訂正符号）によるＥＣＣ訂正能力を切り、テストエリアにおけるテストトラックｎ以外のトラックを読み出しているが、ＥＣＣ訂正能力が通常時より低減されていれば良い。ここで通常時とは、テストエリア以外のトラックの読み出しを指す。これによって、サイドイレーズ現象によるデータが消失するトラックを発見することが容易となる。以下、上述した処理により値が変更されたしきい値テーブルについて説明する。図９は、テスト処理後のしきい値テーブルを示す図である。
【００４７】
図９に示すように、テスト処理によって、しきい値テーブルは、それぞれのヘッドに対応するディスクのテストエリアごとに値が設定される。また、このしきい値テーブルに基づいて、サイドイレーズ現象に対するリライトがなされる。例えば、ヘッド１に対応するディスクの内周テストエリアが最も近いトラックに５００００回以上データが書き込まれたとする。この場合、データがしきい値以上書き込まれたトラックから内周方向の１トラック、外周方向の２トラックの計３トラックに対してリライトがなされる。また、それぞれのテストエリアを基準にディスク上の領域を、例えば、内周エリア、中周エリア、外周エリアに分割し、それぞれのテストエリアと対応させても良い。この場合、例えば、内周エリアのトラックに対してリライトするか否かの判断は、対応する内周テストエリアのしきい値のパラメータに基づいてなされる。
【００４８】
上述したように、ヘッド、テストエリア別に、サイドイレーズ現象が発生する書き込み回数（しきい値）、サイドイレーズ現象によってデータが消失する範囲（書き直しトラック）を調べることにより、本来必要のないリライトによるパフォーマンスの低下を低減することができる。また、上述した処理によれば、エンドユーザ環境であっても、アイドル時間にテストが可能であるため、磁気ディスク装置１の生産時における出荷前試験の時間を短縮することができ、結果として生産効率を向上させることも可能である。
【００４９】
本発明は、その要旨または主要な特徴から逸脱することなく、他の様々な形で実施することができる。そのため、前述の実施の形態は、あらゆる点で単なる例示に過ぎず、限定的に解釈してはならない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示すものであって、明細書本文には、何ら拘束されない。更に、特許請求の範囲の均等範囲に属する全ての変形、様々な改良、代替および改質は、全て本発明の範囲内のものである。
【００５０】
以上、本実施の形態によれば、以下の付記で示す技術的思想が開示されている。
（付記１）  連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクと、
前記磁気ディスクにデータを記録し、記録したデータを読み出す磁気ヘッドと、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、
前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、
前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、
前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部と
を備える磁気ディスク装置。
（付記２）  付記１に記載の磁気ディスク装置であって、
前記第１記録部は、前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数と、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを更に対応付けることを特徴とする磁気ディスク装置。
（付記３）  付記１または付記２に記載の磁気ディスク装置であって、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの外周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第２判定部と、
前記第２判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第２記録部と、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの内周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第３判定部と、
前記第３判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第３記録部と
を更に備える磁気ディスク装置。
（付記４）  付記１乃至付記３のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記所定のエリアは、少なくとも、前記磁気ディスクの最内周位置、前記磁気ディスクの最外周位置、前記磁気ディスクにおけるトラックの進行方向に対して前記磁気ヘッドのアームが最も平行となる位置にそれぞれ設けられることを特徴とする磁気ディスク装置。
（付記５）  付記１乃至付記４のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記読み出し部は、前記書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータの読み出しにおいて、誤り訂正符号による誤り訂正能力を、前記所定のエリア以外のトラックのデータの読み出しにおける誤り訂正能力よりも低減させることを特徴とする磁気ディスク装置。
（付記６）  付記１乃至付記５のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記書き込み部は、前記磁気ディスク装置のホストである上位装置からのコマンドがない場合、前記書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込むことを特徴とする磁気ディスク装置。
（付記７）  付記１乃至付記６のいずれかに記載の磁気ディスク装置であって、
前記記憶部は、前記磁気ディスクにおけるシステム領域であることを特徴とする磁気ディスク装置。
（付記８）  連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置の制御装置であって、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込み部と、
前記書き込み部によりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出し部と、
前記読み出し部により読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定部と、
前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録部と
を備える制御装置。
（付記９）  付記８に記載の制御装置であって、
前記第１記録部は、前記第１判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込み部による前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数と、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを更に対応付けることを特徴とする制御装置。
（付記１０）  付記８または付記９に記載の制御装置であって、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの外周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第２判定部と、
前記第２判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第２記録部と、
前記読み出し部により読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの内周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第３判定部と、
前記第３判定部によりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第３記録部と
を更に備える制御装置。
（付記１１）  付記８乃至付記１０のいずれかに記載の制御装置であって、
前記所定のエリアは、少なくとも、前記磁気ディスクの最内周位置、前記磁気ディスクの最外周位置、前記磁気ディスクにおけるトラックの進行方向に対して前記磁気ヘッドのアームが最も平行となる位置にそれぞれ設けられることを特徴とする制御装置。
（付記１２）  付記８乃至付記１１のいずれかに記載の制御装置であって、
前記読み出し部は、前記書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータの読み出しにおいて、誤り訂正符号による誤り訂正能力を、前記所定のエリア以外のトラックのデータの読み出しにおける誤り訂正能力よりも低減させることを特徴とする制御装置。
（付記１３）  付記８乃至付記１２のいずれかに記載の制御装置であって、
前記書き込み部は、前記磁気ディスク装置のホストである上位装置からのコマンドがない場合、前記書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込むことを特徴とする制御装置。
（付記１４）  付記８乃至付記１３のいずれかに記載の制御装置であって、
前記記憶部は、前記磁気ディスクにおけるシステム領域であることを特徴とする制御装置。
（付記１５）  連続した複数トラックを有する所定のエリアが複数位置に設けられた磁気ディスクに磁気ヘッドによりデータを記録する磁気ディスク装置の制御方法であって、
前記所定のエリアにおける所定のトラックである書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込む書き込みステップと、
前記書き込みステップによりデータが書き込まれた書き込みトラックが含まれる所定のエリアである書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータを、前記磁気ヘッドにより読み出す読み出しステップと、
前記読み出しステップにより読み出されたデータにエラーがあるかどうかを判定する第１判定ステップと、
前記第１判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込みステップによる前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数とを対応付けて記憶部へ記録する第１記録ステップと
を備える制御方法。
（付記１６）  付記１５に記載の制御方法であって、
前記第１記録ステップは、前記第１判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、前記書き込みエリアと、前記書き込みステップによる前記書き込みトラックへのデータの書き込み回数と、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを更に対応付けることを特徴とする制御方法。
（付記１７）  付記１５または付記１６に記載の制御方法であって、
前記読み出しステップにより読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの外周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第２判定ステップと、
前記第２判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第２記録ステップと、
前記読み出しステップにより読み出された書き込みエリアにおいて、前記書き込みトラックに対して前記磁気ディスクの内周方向のトラックのデータにエラーがあるかどうかを判定する第３判定ステップと、
前記第３判定ステップによりデータにエラーがあると判定された場合、該エラーがあると判定されたデータが読み出されたトラックのうち前記書き込みトラックから最も遠距離にあるトラック位置と、前記書き込みエリアと、前記書き込みトラックにデータを書き込んだ磁気ヘッドとを対応付けて前記記憶部へ記録する第３記録ステップと
を更に備える制御方法。
（付記１８）  付記１５乃至付記１７のいずれかに記載の制御方法であって、
前記所定のエリアは、少なくとも、前記磁気ディスクの最内周位置、前記磁気ディスクの最外周位置、前記磁気ディスクにおけるトラックの進行方向に対して前記磁気ヘッドのアームが最も平行となる位置にそれぞれ設けられることを特徴とする制御方法。
（付記１９）  付記１５乃至付記１８のいずれかに記載の制御方法であって、
前記読み出しステップは、前記書き込みエリアにおける前記書き込みトラック以外のトラックのデータの読み出しにおいて、誤り訂正符号による誤り訂正能力を、前記所定のエリア以外のトラックのデータの読み出しにおける誤り訂正能力よりも低減させることを特徴とする制御方法。
（付記２０）  付記１５乃至付記１９のいずれかに記載の制御方法であって、
前記書き込みステップは、前記磁気ディスク装置のホストである上位装置からのコマンドがない場合、前記書き込みトラックにデータを前記磁気ヘッドにより書き込むことを特徴とする制御方法。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】上位装置２に接続された磁気ディスク装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図２】本実施の形態における複数のテストエリアを示す図である。
【図３】テストエリアにおける複数のトラックを示す図である。
【図４】初期状態のしきい値テーブルを示す図である。
【図５】本実施の形態に係る磁気ディスク装置における機能構成を示すブロック図である。
【図６】設定処理の動作を示すフローチャートである。
【図７】テスト処理の動作を示すフローチャートである。
【図８】テスト処理の動作を示すフローチャートである。
【図９】テスト処理後のしきい値テーブルを示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１  磁気ディスク装置、２  上位装置、３  ホストＩＦ、１１  ホストＩＦ制御部、１２  バッファ制御部、１３  バッファメモリ、１４  フォーマット制御部、１５  リードチャネル、１６  ヘッドＩＣ、１７  ＭＰＵ、１８  メモリ、１９  不揮発性メモリ、２０  サーボ制御部、２１  ＶＣＭ、２２  ＳＰＭ、２３  リードライトヘッド、２４  磁気ディスク、１０１  判断部、１０３  設定部、１０２  制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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