(57)【要約】【課題】高精度なサーボ制御を行い得る検出信号を生成できるようにする。【解決手段】光束分割部５１のタンジェンシャル方向に関する両端のラジアル方向に関し互いに反対側に領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２を設け、当該領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２を領域５１Ｆ３によりタンジェンシャル方向に繋ぐことにより、タンジェンシャル方向に関して、スポットＴ４の形成位置がずれ且つスポットＴ４Ｐ及びＴ４Ｍの大きさが相違しても、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量、検出信号ＵＬ１及びＵＫ２の変化量、検出信号ＵＭ１及びＵＮ２の変化量、並びに検出信号ＵＮ１及びＵＭ２の変化量をいずれもほぼ同等にできるため、信号処理部１３において検出信号Ｕを基に演算処理を行うことにより、光学部品の取付位置ずれ及び光ビームＬ１のデフォーカスの影響を排除した高精度なレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。【選択図】図６
2010146607.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、
タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクにより上記光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面における上記タンジェンシャル方向に関する両端側でなり上記光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、上記端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、上記２つの端部領域及び上記連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを上記残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、
上記タンジェンシャル方向に関して、上記連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上の領域に分割された複数の光検出器により上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを受光し、上記タンジェンシャル方向に関して、少なくとも上記２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により上記残余光ビームを受光すると共に、上記光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部と
を有する光集積素子。
【請求項２】
上記分割導光部は、
上記タンジェンシャル方向に関し上記連結領域に対応する連結範囲において、上記連結光ビームの光強度と上記残余光ビームの光強度とをほぼ同等に揃えるよう、上記反射光ビームを分割する
請求項１に記載の光集積素子。
【請求項３】
上記光源は、
光強度がガウシアン分布でなる上記光ビームを出射し、
上記分割導光部は、
上記連結範囲内における上記タンジェンシャル方向に関する任意区間において、上記連結光ビームの光強度と上記残余光ビームの光強度とをほぼ同等に揃えるよう、上記反射光ビームを分割する
請求項２に記載の光集積素子。
【請求項４】
上記分割導光部は、
上記タンジェンシャル方向に関し上記連結領域に対応する連結範囲において、上記反射光ビームの光束断面のうち上記連結領域の面積と上記残余領域の面積とをほぼ同等に揃えるよう、上記反射光ビームを分割する
請求項１に記載の光集積素子。
【請求項５】
上記分割導光部は、
上記反射光ビームにおいて上記光ビームの反射時に上記トラックにより生じた反射回折光が重畳される重畳領域が、上記連結領域にかからないよう上記反射光ビームを分割する
請求項１に記載の光集積素子。
【請求項６】
上記分割導光部は、
上記反射光ビームを上記端部領域、上記連結領域及び上記残余領域においてそれぞれ回折させることにより、上記２本の端部光ビーム、上記連結光ビーム及び上記残余光ビームをそれぞれ正負の回折光に分割すると共に、いずれか一方の回折光における発散角を狭め他方の回折光における発散角を広げ、
上記受光部は、正の上記回折光でなる上記２本の端部光ビーム、上記連結光ビーム及び上記残余光ビームをそれぞれ受光する正光検出器群と、負の上記回折光でなる上記２本の端部光ビーム、上記連結光ビーム及び上記残余光ビームをそれぞれ受光する負光検出器群とを有する
請求項１に記載の光集積素子。
【請求項７】
所定の光源から光ビームを出射させる出射ステップと、
タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクにより上記光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面における上記タンジェンシャル方向に関する両端側でなり上記光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、上記端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、上記２つの端部領域及び上記連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを上記残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光ステップと、
上記タンジェンシャル方向に関して、上記連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを受光し、上記タンジェンシャル方向に関して、少なくとも上記２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により上記残余光ビームを受光すると共に、上記光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光ステップと
を有する光検出方法。
【請求項８】
光ビームを出射する光源と、
タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクに対し、上記光ビームを集光して照射する対物レンズと、
上記光ディスクにより上記光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面における上記タンジェンシャル方向に関する両端側でなり上記光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、上記端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、上記２つの端部領域及び上記連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを上記残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、
上記タンジェンシャル方向に関して、上記連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを受光し、上記タンジェンシャル方向に関して、少なくとも上記２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により上記残余光ビームを受光すると共に、上記光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部と
を有する光ピックアップ。
【請求項９】
光ビームを出射する光源と、
タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクに対し、上記光ビームを集光して照射する対物レンズと、
上記光ディスクにより上記光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面における上記タンジェンシャル方向に関する両端側でなり上記光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、上記端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、上記２つの端部領域及び上記連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを上記残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、
上記タンジェンシャル方向に関して、上記連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により上記２本の端部光ビーム及び上記連結光ビームを受光し、上記タンジェンシャル方向に関して、少なくとも上記２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により上記残余光ビームを受光すると共に、上記光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部と、
上記検出信号を基に、上記光ビームの焦点と当該光ビームの焦点を合わせるべき目標位置とのずれ量を表すエラー信号を生成する信号処理部と、
上記エラー信号を基に上記対物レンズを駆動制御する駆動部と
を有する光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光集積素子、光検出方法、光ピックアップ及び光ディスク装置に関し、例えば
光ディスクに情報を記録し、また当該光ディスクから情報を再生する光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置においては、光ピックアップに搭載されたレーザダイオードから光ビームを出射し、対物レンズを介して当該光ビームを光ディスクに照射すると共に、その反射光を読み取ることにより情報を再生するようになされたものが広く普及している。
【０００３】
また光ディスク装置では、当該光ディスクに対して光ビームを照射し、当該光ディスクの局所的な反射率等を変化させることにより、情報の記録を行い得るようにもなされている。
【０００４】
一般に光ディスク装置は、対物レンズのサーボ制御を行うことにより、光ディスクにおける所望の目標位置に光ビームの焦点を合わせるようになされている。
【０００５】
実際上光ディスク装置は、反射光の受光結果を基に、フォーカス方向及びトラッキング方向に関する光ビームの焦点位置と目標位置とのずれ量をあらわすフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を生成する。因みに、フォーカス方向とは光ディスクに対し近接又は離隔する方向を表し、トラッキング方向とは光ディスクの半径方向を表す。
【０００６】
光ディスク装置は、このフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号を用いて対物レンズのサーボ制御を行う。すなわち光ディスク装置は、このフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等のエラー信号における品質がサーボ制御の精度を左右することになる。
【０００７】
特に光ディスク装置では、トラッキング方向へのサーボ制御により対物レンズがトラッキング方向へ移動する、いわゆるレンズシフトが生じた場合、反射光の受光位置も移動することから、エラー信号の品質が低下することが知られている。
【０００８】
そこで光ディスク装置のなかには、反射光の一部を意図的に遮断又は分離して複数の受光領域で受光することによりレンズシフト量を検出し、これを各エラー信号に反映させて品質を高めるものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００７−２６５５９５公報（第５図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで上述した光ディスク装置では、回折格子を用いることにより、反射光の一部を分離し得るようになされている。
【００１０】
しかしながら光ディスク装置では、組立精度等の問題により、回折格子の取付位置が適切な位置からずれてしまうことがある。
【００１１】
このような場合、光ディスク装置では、回折格子に対する反射光の入射位置がずれてしまうため、レンズシフト量を正しく検出することができなくなってしまう。この結果光ディスク装置は、エラー信号の品質を低下させてしまい、これに伴いサーボ制御の精度も低下させてしまう、という問題があった。
【００１２】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、高精度なサーボ制御を行い得る検出信号を生成することができる光集積素子、光検出方法及び光ピックアップ並びに高精度なサーボ制御を行い得る光ディスク装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
かかる課題を解決するため本発明の光集積素子においては、光ビームを出射する光源と、タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクにより光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面におけるタンジェンシャル方向に関する両端側でなり光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、２つの端部領域及び連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、２本の端部光ビーム及び連結光ビームを残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、タンジェンシャル方向に関して、連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上の領域に分割された複数の光検出器により２本の端部光ビーム及び連結光ビームを受光し、タンジェンシャル方向に関して、少なくとも２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により残余光ビームを受光すると共に、光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部とを設けるようにした。
【００１４】
これにより本発明の光集積素子は、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、所定の信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正させることができる。この結果本発明の光集積素子は、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めさせることができ、算出する各エラー信号の精度も高めさせることができる。
【００１５】
また本発明の光検出方法においては、所定の光源から光ビームを出射させる出射ステップと、タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクにより光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面におけるタンジェンシャル方向に関する両端側でなり光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、２つの端部領域及び連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、２本の端部光ビーム及び連結光ビームを残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光ステップと、タンジェンシャル方向に関して、連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により２本の端部光ビーム及び連結光ビームを受光し、タンジェンシャル方向に関して、少なくとも２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により残余光ビームを受光すると共に、光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光ステップとを設けるようにした。
【００１６】
これにより本発明の光検出方法では、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、所定の信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正させることができる。この結果本発明の光検出方法では、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めさせることができ、算出する各エラー信号の精度も高めさせることができる。
【００１７】
さらに本発明の光ピックアップにおいては、光ビームを出射する光源と、タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクに対し、光ビームを集光して照射する対物レンズと、光ディスクにより光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面におけるタンジェンシャル方向に関する両端側でなり光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、２つの端部領域及び連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、２本の端部光ビーム及び連結光ビームを残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、タンジェンシャル方向に関して、連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により２本の端部光ビーム及び連結光ビームを受光し、タンジェンシャル方向に関して、少なくとも２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により残余光ビームを受光すると共に、光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部とを設けるようにした。
【００１８】
これにより本発明の光ピックアップは、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、所定の信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正させることができる。この結果本発明の光ピックアップは、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めさせることができ、算出する各エラー信号の精度も高めさせることができる。
【００１９】
さらに本発明の光ディスク装置においては、光ビームを出射する光源と、タンジェンシャル方向に沿ってトラックが形成された光ディスクに対し、光ビームを集光して照射する対物レンズと、光ディスクにより光ビームが反射されてなる反射光ビームを、当該反射光ビームの光束断面におけるタンジェンシャル方向に関する両端側でなり光ディスクのラジアル方向に関し互いに反対側となる２つの端部領域をそれぞれ通過する２本の端部光ビームと、端部領域同士を結ぶ連結領域を通過する連結光ビームと、２つの端部領域及び連結領域を除いた残余領域を通過する残余光ビームとに分割すると共に、２本の端部光ビーム及び連結光ビームを残余光ビームと異なる方向へ導く分割導光部と、タンジェンシャル方向に関して、連結光ビームが照射される範囲で少なくとも２以上に分割された複数の光検出器により２本の端部光ビーム及び連結光ビームを受光し、タンジェンシャル方向に関して、少なくとも２本の端部光ビームが照射される部分と対応する分割幅で複数の領域に分割された複数の光検出器により残余光ビームを受光すると共に、光検出器ごとに受光量に応じた検出信号を出力する受光部と、検出信号を基に、光ビームの焦点と当該光ビームの焦点を合わせるべき目標位置とのずれ量を表すエラー信号を生成する信号処理部と、エラー信号を基に対物レンズを駆動制御する駆動部とを設けるようにした。
【００２０】
これにより本発明の光ディスク装置は、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正することができる。この結果本発明の光ディスク装置は、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めることができ、算出する各エラー信号の精度も高めることができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、所定の信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正させることができる。この結果、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めさせることができ、算出する各エラー信号の精度も高めさせることができる。かくして本発明は、高精度なサーボ制御を行い得る検出信号を生成することができる光集積素子、光検出方法及び光ピックアップ
を実現できる。
【００２２】
また本発明によれば、反射光ビームの光軸がタンジェンシャル方向にずれていたとしても、信号処理部において、連結光ビームのうち端部光ビームと同一の光検出器で検出される光強度の信号成分によって、残余光ビームのうち端部光ビームと対応する光検出器で検出される光強度の信号成分を補正することができる。この結果、２本の端部光ビームの検出結果を基に算出するレンズシフト量の検出精度を高めることができ、算出する各エラー信号の精度も高めることができる。かくして本発明は、高精度なサーボ制御を行い得る光ディスク装置を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（光ディスク装置・光集積素子を用いた例）
２．第２の実施の形態（光ディスク装置・複数の光学素子を組み合わせた例）
３．他の実施の形態
【００２４】
＜１．第１の実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置の構成］
図１に示す光ディスク装置１は、光ディスク１００に情報を記録し、また当該光ディスク１００から情報を再生し得るようになされている。
【００２５】
実際上光ディスク装置１は、ＣＤ（Compact Disc）方式の光ディスク１００Ｃ、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）方式の光ディスク１００Ｄ又はＢＤ（Blu-ray Disc、登録商標）方式の光ディスク１００Ｂのいずれにも対応し得るようになされている。
【００２６】
この光ディスク装置１は、全体として薄型に構成されており、外周を覆う筐体部２の内部に、図示しないスライド機構を介してトレイ部３が組み込まれている。
【００２７】
因みに光ディスク装置１は、例えば薄型のノート型コンピュータ装置等に搭載されることが想定されている。この場合、筐体部２が当該ノート型コンピュータ装置の筐体等に固定される。
【００２８】
トレイ部３は、光ディスク１００の記録又は再生を行う際には筐体部２内に格納され、当該光ディスク１００の着脱時には図１に示したように筐体部２の外部へスライドして露出されるようになされている。
【００２９】
またトレイ部３には、ターンテーブル４Ｔを介して光ディスク１００を回転駆動するスピンドルモータ４Ｍと、送りモータ５Ｍ及びリードスクリュー５Ｓ等により当該光ディスク１００の径方向に移動される光ピックアップ６とが設けられている。
【００３０】
さらにトレイ部３の内部には、各種電子部品が実装された電子回路基板７が組み込まれている。この電子回路基板７は、図２に示すように、全体を統括制御する制御部１１、スピンドルモータ４Ｍ等を駆動させる駆動制御部１２及び各種信号処理を行う信号処理部１３等として機能するようになされている。
【００３１】
制御部１１は、光ディスク装置１を統括制御するようになされている。この制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されている。
【００３２】
実際上制御部１１は、各種プログラムを実行することにより、駆動制御部１２を介してスピンドルモータ４Ｍを回転駆動させ、ターンテーブル４Ｔに装着された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。また制御部１１は、駆動制御部１２を介して送りモータ５Ｍを駆動させることにより、リードスクリュー５Ｓ及びスライドレール５Ｌ等に沿って光ピックアップ６を光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向であるトラッキング方向に大きく移動させる。
【００３３】
さらに制御部１１は、駆動制御部１２を介して光ピックアップ６のアクチュエータ８を駆動制御する。これにより制御部１１は、対物レンズ９が搭載されたレンズホルダ１０を光ディスク１００に近接させ又は離隔させる方向であるフォーカス方向に移動させると共にトラッキング方向に細かく移動させ、当該対物レンズ９の位置調整を行う。
【００３４】
因みにレンズホルダ１０には、ＢＤ方式の光ディスク１００Ｂに対応する対物レンズ９Ｂと、ＤＶＤ方式の光ディスク１００Ｄ及びＣＤ方式の光ディスク１００Ｃの双方に対応する対物レンズ９Ｄとが設けられている。説明の都合上、以下では対物レンズ９Ｂ及び対物レンズ９Ｄをまとめて対物レンズ９と呼ぶ。
【００３５】
制御部１１は、例えば光ディスク１００に情報を記録する場合、当該情報を信号処理部１３へ供給して所定の符号化処理及び変調処理等を施すことにより、当該情報に応じたレーザ制御信号ＣＬを生成し、これを光ピックアップ６へ供給する。
【００３６】
光ピックアップ６は、信号処理部１３から供給されるレーザ制御信号ＣＬに基づき、光強度が比較的大きい情報記録用の光ビームＬ１を出射する。続いて光ピックアップ６は、位置調整された対物レンズ９を介して当該光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射する。これにより光ピックアップ６は、当該光ディスク１００に情報を記録することができる。
【００３７】
また制御部１１は、光ディスク１００から情報を再生する場合、信号処理部１３から光ピックアップ６へレーザ制御信号ＣＬを供給することにより、当該光ピックアップ６から光ディスク１００に対して光強度が比較的小さい情報再生用の光ビームＬ１を照射させる。これと共に光ピックアップ６は、当該光ビームＬ１が反射されてなる反射光ビームＬ２を検出し、その検出結果に応じた検出信号Ｕを生成し信号処理部１３へ供給する。
【００３８】
信号処理部１３は、検出信号Ｕを基に再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成し、これに所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、光ディスク１００に記録されている情報を再生し得るようになされている。
【００３９】
さらに信号処理部１３は、検出信号Ｕを基にフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成し、これらを駆動制御部１２へ供給することにより、対物レンズ９のフォーカス制御及びトラッキング制御を行うようになされている（詳しくは後述する）。
【００４０】
このように光ディスク装置１は、光ピックアップ６における対物レンズ９の位置調整を行った上で、当該対物レンズ９を介して光ビームＬ１を光ディスク１００へ照射することにより、情報の記録又は再生を行い得るようになされている。
【００４１】
［１−２．光ピックアップの構成］
図３に示すように、光ピックアップ６は、ピックアップベース２０を中心に構成されている。このピックアップベース２０は、全体として扁平な板状に構成されると共に、扁平な円柱状でなるスピンドルモータ４Ｍ及びターンテーブル４Ｔ（図１）に対応して、内周側が円弧状に切り落とされたような形状となっている。またピックアップベース２０は、その内部に各種光学部品が設けられている。
【００４２】
実際上光ピックアップ６は、２系統の光学系、すなわちＢＤ方式の光ディスク１００Ｂに対応するＢＤ光学系６Ｂと、ＤＶＤ方式の光ディスク１００Ｄ及びＣＤ方式の光ディスク１００Ｃの双方に対応するＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄとにより構成されている。
【００４３】
ＢＤ光学系６Ｂは、図３と対応する図４に模式的に示すように、光集積素子２１、１／４波長板２２、コリメータレンズ２３及び上述した対物レンズ９Ｂにより構成されている。
【００４４】
光集積素子２１は、複数の光学素子等が一体に構成されており、光ディスク１００へ照射するための光ビームＬ１を出射すると共に、当該光ディスク１００により反射された反射光ビームＬ２を受光し、その受光結果に応じた検出信号Ｕを出力するようになされている。
【００４５】
光集積素子２１は、略平板状に構成された保持基板４１を中心に構成されている。保持基板４１は、セラミック等の材料によって構成されており、その下面４１Ａ（図４における下側の面）に略直方体状のレーザホルダ４２を介して、いわゆるＣＡＮパッケージでなるレーザダイオード４３が取り付けられるようになされている。
【００４６】
レーザダイオード４３は、その内部にレーザチップを有しており、当該レーザチップの端面から波長約４０５［ｎｍ］の発散光でなるレーザ光として光ビームＬ１を出射し得るようになされている。因みに第１の実施の形態では、光ビームＬ１における光強度が一様であるものとして、以下説明する。
【００４７】
また保持基板４１は、当該光ビームＬ１を下面４１Ａ側からその反対面である上面４１Ｂ側へ通過させる孔部４１Ｈが設けられている。
【００４８】
一方、ピックアップベース２０（図３）には、レーザドライバ２４が設けられている。このレーザドライバ２４は、信号処理部１３から供給されるレーザ制御信号ＣＬを基に、レーザダイオード４３へ供給すべきレーザ駆動信号ＤＬを生成するようになされている。
【００４９】
実際上レーザダイオード４３は、レーザドライバ２４からレーザ駆動信号ＤＬの供給を受けると、当該レーザ駆動信号ＤＬの電圧や電流に応じた光強度でなる波長約４０５［ｎｍ］の光ビームＬ１を出射する。因みにレーザダイオード４３は、例えば光ビームＬ１におけるＰ偏光成分が約９０％となりＳ偏光成分が約１０％となるよう、取付角度が調整されている。
【００５０】
光ビームＬ１は、保持基板４１の孔部４１Ｈを通過することにより、当該保持基板４１の上面４１Ｂ側へ向かって進行する。
【００５１】
保持基板４１の上面４１Ｂ側には、スペーサ４５、複合レンズ４６及び積層プリズム４７が順次積層して取り付けられている。
【００５２】
スペーサ４５は、所定の樹脂材料が射出成形されることにより全体として略直方体状に成形されると共に、図の上下方向に貫通する孔部４５Ｈ１及び４５Ｈ２が設けられている。因みにスペーサ４５は、保持基板４１の上面４１Ｂに対し所定の接着剤により接着固定されている。
【００５３】
複合レンズ４６は、透明な樹脂材料が射出成形されることにより全体として略直方体状に成形されると共に、図の上下方向に貫通する孔部４６Ｈが設けられている。
【００５４】
孔部４６Ｈは、光ビームＬ１の通過部分に合わせて略円錐台状の空間として形成されており、発散光でなる光ビームＬ１が上方向へ進行するに連れてそのビーム径を拡大させていくことに合わせて、その上底面が下底面よりも大きくなるようになされている。
【００５５】
因みに複合レンズ４６は、スペーサ４５の場合と同様に、当該スペーサ４５の上面に対して所定の接着剤により接着固定されている。
【００５６】
実際上光ビームＬ１は、スペーサ４５の孔部４５Ｈ１及び複合レンズ４６の孔部４６Ｈを順次通過し、積層プリズム４７へ入射される。
【００５７】
積層プリズム４７は、透明な樹脂材料が複数の接合面を介してそれぞれ接合されており、全体として略直方体状に形成されている。因みに積層プリズム４７は、複合レンズ４６及びスペーサ４５の場合と同様に、当該複合レンズ４６の上面に対して所定の接着剤により接着固定されている。
【００５８】
積層プリズム４７の各接合面には、光ビームをそれぞれ所定の透過率及び反射率で透過及び反射させる反射膜４７Ａ、４７Ｂ及び４７Ｃが形成されている。
【００５９】
反射膜４７Ａは、光の偏光方向に応じて反射率及び透過率が相違する、いわゆる偏光ビームスプリッタとなっており、例えば光ビームのＰ偏光成分をほぼ全て透過する一方、Ｓ偏光成分をほぼ全て反射するようになされている。
【００６０】
実際上積層プリズム４７は、反射膜４７Ａにおいて光ビームＬ１のＰ偏光成分を透過させて１／４波長板２２へ入射させると共に、Ｓ偏光成分を反射して光強度調整用光検出部（図示せず）へ入射させる。
【００６１】
光強度調整用光検出部は、入射された光ビームＬ１の光強度に応じて光強度検出信号を生成し、これをレーザドライバ２４へ供給する。レーザドライバ２４は、光強度検出信号を基にレーザダイオード４３から実際に出射された光ビームＬ１の出射強度を認識し、当該出射強度を所望の光強度に合わせるべく、レーザ駆動信号ＤＬをフィードバック制御するようになされている。
【００６２】
１／４波長板２２は、光ビームを直線偏光と円偏光との間で相互変換するようになされており、例えばＰ偏光と左円偏光とを相互変換し、またＳ偏光と右円偏光とを相互変換するようになされている。
【００６３】
実際上１／４波長板２２は、Ｐ偏光でなる光ビームＬ１を左円偏光に変換し、コリメータレンズ２３へ入射させる。コリメータレンズ２３は、発散光でなる光ビームＬ１を平行光に変換し、対物レンズ９Ｂへ入射させる。
【００６４】
ところでピックアップベース２０（図３）では、光集積素子２１から出射され１／４波長板２２及びコリメータレンズ２３を順次透過する光ビームＬ１を、水平方向（すなわち光ディスク１００の記録面とほぼ平行な方向）へ進行させている。
【００６５】
コリメータレンズ２３から出射された光ビームＬ１は、立上ミラー２５で反射されることにより、垂直方向（すなわち光ディスク１００の記録面にほぼ垂直な方向）へ進行し、対物レンズ９Ｂ（図４）へ入射されるようになされている。
【００６６】
対物レンズ９Ｂは、光ビームＬ１を集光し、光ディスク１００へ向けて照射する。このとき光ビームＬ１は、当該光ディスク１００の記録面において反射され、光ビームＬ１と反対方向へ向かう反射光ビームＬ２となる。
【００６７】
また反射光ビームＬ２は、光ディスク１００の記録面において反射された際、円偏光における回転方向が反転されることにより、右円偏光となる。
【００６８】
反射光ビームＬ２は、対物レンズ９Ｂにより平行光に変換された後、立上ミラー２５（図３）に反射されることにより水平方向へ進行する。さらに反射光ビームＬ２は、図４に示すように、コリメータレンズ２３により収束光に変換され、１／４波長板２２により右円偏光からＳ偏光（すなわち直線偏光）に変換された上で、光集積素子２１へ入射される。
【００６９】
光集積素子２１の積層プリズム４７は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬ２を反射膜４７Ａにおいて反射し、反射膜４７Ｂへ照射する。反射膜４７Ｂは、いわゆるハーフミラーと同様に光の透過率が約５０％となされており、反射光ビームＬ２を約５０％の割合で反射して反射光ビームＬ３とする。
【００７０】
反射光ビームＬ３は、積層プリズム４７の反射膜４７Ｂにおいて反射されることにより下方向へ進行し、複合レンズ４６へ入射される。複合レンズ４６の上面には、反射光ビームＬ３が入射される箇所に、回折格子でなる光束分割部５１が形成されている。
【００７１】
光束分割部５１は、反射光ビームＬ３を回折させることにより、複数の光ビームに分割する（詳しくは後述する）。以下、光束分割部５１により分割された複数の光ビームをまとめて反射光ビームＬ４と呼ぶ。
【００７２】
反射光ビームＬ４は、複合レンズ４６の下面からほぼ下方向へ向けて出射され、スペーサ４５の孔部４５Ｈ２を通過してフォトディテクタ４４へ照射される。
【００７３】
フォトディテクタ４４は、全体として薄板状に構成され、保持基板４１の上面４１Ｂに取り付けられている。フォトディテクタ４４の上面には、反射光ビームＬ４が照射される箇所に、複数の光検出器が組み合わされてなる光検出部５２が設けられている。
【００７４】
また積層プリズム４７の反射膜４７Ｂは、反射光ビームＬ２の約５０％を透過させることにより反射光ビームＬ５とする。反射光ビームＬ５は、反射膜４７Ｃにおいて反射されることにより下方向へ進行し、複合レンズ４６へ入射される。
【００７５】
複合レンズ４６の上面には、反射光ビームＬ５が入射される箇所に、すなわち光束分割部５１からやや離れた箇所に、回折格子でなる光束分割部５３が形成されている。光束分割部５３は、反射光ビームＬ５を回折させることにより、複数の光ビームに分割する（詳しくは後述する）。以下、光束分割部５３により分割された複数の光ビームをまとめて反射光ビームＬ６と呼ぶ。
【００７６】
反射光ビームＬ６は、複合レンズ４６の下面からほぼ下方向へ向けて出射され、スペーサ４５の孔部４５Ｈ２を通過してフォトディテクタ４４へ照射される。
【００７７】
フォトディテクタ４４の上面には、反射光ビームＬ６が照射される箇所に、すなわち光検出部５２からやや離れた箇所に、複数の光検出器が組み合わされてなる光検出部５４が設けられている。
【００７８】
フォトディテクタ４４は、光検出部５２及び５４の各光検出器において、それぞれ受光した光の強度に応じた検出信号Ｕを生成する。さらにフォトディテクタ４４は、図示しない増幅回路により検出信号Ｕをそれぞれ増幅し、保持基板４１の下面４１Ａに設けられた端子群４１Ｔを介して、当該検出信号Ｕを信号処理部１３（図２）へ供給するようになされている。
【００７９】
これに応じて信号処理部１３は、複数の検出信号Ｕに対し所定の演算処理を施すことにより、上述したフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びトラッキングエラー信号ＳＴＥをそれぞれ生成するようになされている。
【００８０】
このようにＢＤ光学系６Ｂは、光集積素子２１に組み込まれたレーザダイオード４３から光ビームＬ１を出射させ、各種光学部品を介して、ＢＤ方式の光ディスク１００へ照射するようになされている。
【００８１】
またＢＤ光学系６Ｂは、光ビームＬ１が光ディスク１００の記録面において反射されてなる反射光ビームＬ２を、各種光学部品を介して光集積素子２１のフォトディテクタ４４により受光し、その受光結果に応じた検出信号Ｕを生成するようになされている。
【００８２】
因みにＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄ（図３）は、全体としてＢＤ光学系６Ｂと類似した構成となっており、光集積素子２１、１／４波長板２２及びコリメータレンズ２３とそれぞれ対応する光集積素子３１、１／４波長板３２及びコリメータレンズ３３を有している。またＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄは、ＢＤ光学系６Ｂにおける対物レンズ９Ｂに代えて、対物レンズ９Ｄを用いるようになされている。
【００８３】
ＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄは、ＢＤ光学系６Ｂと同様に、光集積素子３１に組み込まれたレーザダイオードから光ビームを出射させ、各種光学部品を介して、ＤＶＤ方式又はＣＤ方式の光ディスク１００へ照射するようになされている。
【００８４】
またＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄは、ＢＤ光学系６Ｂと同様に、光ビームが光ディスク１００の記録面において反射されてなる反射光ビームを、各種光学部品を介して光集積素子３１のフォトディテクタにより受光し、その受光結果に応じた検出信号Ｕを生成するようになされている。
【００８５】
［１−３．反射光ビームの光束］
ところで上述した反射光ビームＬ２における光束の断面は、図５に示すように、全体として略円形になっている。さらに当該光束のラジアル方向に関する両端近傍、すなわち図の左右両側部分には、重畳領域としてのプッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２が形成されている。
【００８６】
このプッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２は、光ビームＬ１が光ディスク１００の記録面において反射される際、当該光ビームＬ１が単純に反射されてなる反射光に加えて、当該記録面に形成されているトラックの溝構造により回折された反射回折光が重畳されることにより形成される。
【００８７】
またプッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２は、光ディスク１００における目標とするトラックに対する光ビームＬ１の照射位置がトラッキング方向へずれると、トラックの溝構造と回折の原理に基づき、それぞれの光強度が変化する。
【００８８】
そこで光ディスク装置１では、プッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２における光強度をそれぞれ検出し（詳しくは後述する）、その検出結果を基に上述したトラッキング制御を行うようになされている。
【００８９】
［１−４．第１光学系による検出信号の生成］
ところで光集積素子２１は、上述したように、反射光ビームＬ２の一部を積層プリズム４７の反射膜４７Ｂにより反射して反射光ビームＬ３とする。さらに光集積素子２１は、反射光ビームＬ３を光束分割部５１により複数に分割して反射光ビームＬ４とし、フォトディテクタ４４の光検出部５２により検出する。以下では、反射膜４７Ｂ、光束分割部５１及び光検出部５２により構成される光学系を第１光学系２１Ａと呼ぶ。
【００９０】
［１−４−１．光束分割部の構成］
第１光学系２１Ａの光束分割部５１は、図６（Ａ）に示すように、上面から見て全体が略正方形状に形成されており、複数の領域５１Ｅ１、５１Ｅ２、５１Ｆ１、５１Ｆ２及び５１Ｆ３に分割されている。
【００９１】
領域５１Ｆ１は、光束分割部５１を仮想的な中心線５１Ｘによりラジアル方向に二分したときの片側（図の左側）における、タンジェンシャル方向に関する一端側（図の上側）の範囲を囲む矩形状になっている。また領域５１Ｆ２は、光束分割部５１における仮想的な中心点５１Ｑを中心に領域５１Ｆ１を１８０度回転させたような範囲となっている。
【００９２】
実際上領域５１Ｆ１は、理想的な反射光ビームＬ３が光束分割部５１に照射された際、当該反射光ビームＬ２のタンジェンシャル方向に関する一端部分における、ラジアル方向に関する一方側がかかるように設計されている。
【００９３】
また領域５１Ｆ２は、理想的な反射光ビームＬ３のタンジェンシャル方向に関する、領域５１Ｆ１と反対側の端部分における、ラジアル方向に関する反対側がかかるように設計されている。
【００９４】
連結領域としての領域５１Ｆ３は、領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２をタンジェンシャル方向に結ぶと共にラジアル方向に所定幅を有する長方形状に形成されている。
【００９５】
ここで、説明の都合上、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｆ１、５１Ｆ２及び５１Ｆ３を通過する部分をそれぞれ反射光ビームＬ３Ｆ１、Ｌ３Ｆ２及びＬ３Ｆ３と呼ぶ。また、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｅ１を通過する部分を仮想延長線５１Ｙ１により分割して反射光ビームＬ３Ｅ１及びＬ３Ｅ３と呼び、領域５１Ｅ２を通過する部分を仮想延長線５１Ｙ２により分割して反射光ビームＬ３Ｅ２及びＬ３Ｅ４と呼ぶ。因みに仮想延長線５１Ｙ１及び５１Ｙ２は、領域５１Ｆ３のタンジェンシャル方向に関する両端の境界線をそれぞれ延長した仮想的な線である。
【００９６】
領域５１Ｆ３は、その面積が、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２における反射光ビームＬ３の照射面積の合計、すなわち反射光ビームＬ３Ｅ１及びＬ３Ｅ２における投影面積の合計とほぼ同等になるよう設計されている。
【００９７】
領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２は、光束分割部５１から領域５１Ｆ１、５１Ｆ２及び５１Ｆ３を除いた残りの領域でなり、それぞれ略Ｌ字状に形成されている。
【００９８】
領域５１Ｆ１、５１Ｆ２及び５１Ｆ３（以下これらをまとめて領域５１Ｆと呼ぶ）並びに領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２（以下これらをまとめて領域５１Ｅと呼ぶ）には、それぞれ回折格子が刻まれている。
【００９９】
実際上光束分割部５１は、反射光ビームＬ３をラジアル方向にそれぞれ回折させることにより、図７に模式的に示すように、＋１次光でなる反射光ビームＬ４Ｐ及び−１次光でなる反射光ビームＬ４Ｍに大きく分ける。
【０１００】
また領域５１Ｆ（領域５１Ｆ１、５１Ｆ２及び５１Ｆ３）には、比較的細かい格子ピッチでなる回折格子が形成されており、領域５１Ｅ（領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２）には、比較的粗い格子ピッチでなる回折格子が形成されている。すなわち光束分割部５１は、反射光ビームＬ３を回折する際の回折角度が、領域５１Ｆと領域５１Ｅとで相違している。
【０１０１】
このため領域５１Ｆは、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｆに照射された部分、すなわち反射光ビームＬ３Ｆ１、Ｌ３Ｆ２及びＬ３Ｆ３を比較的大きな回折角度で回折させる。これにより領域５１Ｆは、＋１次光でなる反射光ビームＬ４ＰＦ及び−１次光でなる反射光ビームＬ４ＭＦを生成する（図７）。
【０１０２】
因みに反射光ビームＬ４ＰＦは、領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２をそれぞれ通過した２本の端部光ビームとしての反射光ビームＬ４ＰＦ１、Ｌ４ＰＦ２と、領域５１Ｆ３を通過した連結光ビームとしての反射光ビームＬ４ＰＦ３とにより構成されている。
【０１０３】
これに対して領域５１Ｅは、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｅに照射された部分、すなわち反射光ビームＬ３Ｅ１、Ｌ３Ｅ２、Ｌ３Ｅ３及びＬ３Ｅ４を比較的小さな回折角度で回折させる。これにより領域５１Ｅは、＋１次光でなる反射光ビームＬ４ＰＥ及び−１次光でなる反射光ビームＬ４ＭＥを生成する（図７）。
【０１０４】
因みに残余光ビームとしての反射光ビームＬ４ＰＥは、領域５１Ｅ１、５１Ｅ２、５１Ｅ３及び５１Ｅ４をそれぞれ通過した４本の反射光ビームＬ４ＰＥ１、Ｌ４ＰＥ２、Ｌ４ＰＥ３及びＬ４ＰＥ４により構成されている。
【０１０５】
［１−４−２．光検出部の構成］
一方、光検出部５２は、図６（Ｂ）に示すように、＋１次光でなる反射光ビームＬ４Ｐに対応する光検出器群５２Ａと、−１次光でなる反射光ビームＬ４Ｍに対応する光検出器群５２Ｂとにより構成されている。
【０１０６】
正光検出器群としての光検出器群５２Ａは、上面から見て全体が略長方形状に形成されると共に、当該長方形がタンジェンシャル方向に関して３分割され、その中央部分が光検出器５２Ｗとなっている。
【０１０７】
さらに光検出器群５２Ａのタンジェンシャル方向に関する両端の領域は、それぞれラジアル方向に関して２分割されることにより、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｌ２並びに光検出器５２Ｌ１及び５２Ｋ２となっている。
【０１０８】
また負光検出器群としての光検出器群５２Ｂは、光検出器群５２Ａと同様、全体が略長方形状に構成されると共に、タンジェンシャル方向に関して３分割され、その中央部分が光検出器５２Ｚとなっている。
【０１０９】
さらに光検出器群５２Ａのタンジェンシャル方向に関する両端の領域も、光検出器群５２Ａと同様、それぞれラジアル方向に関して２分割されることにより、光検出器５２Ｍ２及び５２Ｎ１並びに光検出器５２Ｍ１及び５２Ｎ２となっている。
【０１１０】
また光束分割部５１の領域５１Ｆ及び５１Ｅにそれぞれ形成された回折格子は、シリンドリカルレンズと同様の光学的作用を持っており、反射光ビームＬ４ＰＦ、Ｌ４ＰＥ、Ｌ４ＭＦ及びＬ４ＭＥをそれぞれラジアル方向に関して集光するようになされている。
【０１１１】
かかる構成のため、光検出器群５２Ａの光検出器５２Ｋ１、５２Ｗ及び５２Ｌ１には、図６（Ｂ）に示すように、残余光ビームとしての反射光ビームＬ４ＰＥが照射されることにより、全体としてラジアル方向に圧縮されタンジェンシャル方向に細長いスポットＴ４ＰＥが形成される。
【０１１２】
ここでスポットＴ４ＰＥは、反射光ビームＬ４ＰＥ１、Ｌ４ＰＥ２、Ｌ４ＰＥ３及びＬ４ＰＥ４によりそれぞれ形成されるスポットＴ４ＰＥ１、Ｔ４ＰＥ２、Ｔ４ＰＥ３及びＴ４ＰＥ４により構成されている。
【０１１３】
スポットＴ４ＰＥ３及びＴ４ＰＥ４は、扇形状に形成されており、それぞれ光検出器５２Ｌ１及び５２Ｋ１内に形成されている。またスポットＴ４ＰＥ１及びＴ４ＰＥ２は、いずれもタンジェンシャル方向に延長された略半楕円状に形成されており、いずれも光検出器５２Ｌ１、５２Ｗ及び５２Ｋ１に渡って位置すると共に、それぞれスポットＴ４ＰＥ３及びＴ４ＰＥ４と連結している。
【０１１４】
また光検出器群５２Ａの光検出器５２Ｋ２、５２Ｗ及び５２Ｌ２には、反射光ビームＬ４ＰＦが照射されることにより、やはり全体としてラジアル方向に圧縮されタンジェンシャル方向に細長いスポットＴ４ＰＦが形成される。
【０１１５】
ここでスポットＴ４ＰＦは、反射光ビームＬ４ＰＦ１、Ｌ４ＰＦ２及びＬ４ＰＦ３によりそれぞれ形成されるスポットＴ４ＰＦ１、Ｔ４ＰＦ２及びＴ４ＰＦ３により構成されている。
【０１１６】
スポットＴ４ＰＦ１及びＴ４ＰＦ２は、扇形状に形成されており、それぞれ光検出器５２Ｌ２及び５２Ｋ２内に形成されている。またスポットＴ４ＰＦ３は、長方形状に形成されており、スポットＴ４ＰＦ１及びＴ４ＰＦ２をタンジェンシャル方向に繋ぐように、光検出器５２Ｌ２、５２Ｗ及び５２Ｋ２に渡って位置している。
【０１１７】
さらに光検出器群５２Ｂの光検出器５２Ｍ１、５２Ｚ及び５２Ｎ１には、反射光ビームＬ４ＭＥが照射されることにより、同様にラジアル方向に圧縮されタンジェンシャル方向に細長いスポットＴ４ＭＥが形成される。
【０１１８】
また光検出器群５２Ｂの光検出器５２Ｍ２、５２Ｚ及び５２Ｎ２には、反射光ビームＬ４ＭＦが照射されることにより、やはりラジアル方向に圧縮されタンジェンシャル方向に細長いスポットＴ４ＭＦが形成される。
【０１１９】
因みに第１光学系２１Ａでは、光束分割部５１の領域５１Ｆ及び５１Ｅにそれぞれ形成された回折格子による回折角度と、光検出器群５２Ａ及び５２Ｂの大きさ及び配置とが適切に設計されている。
【０１２０】
このためスポットＴ４ＰＦ及びスポットＴ４ＰＥ（以下これらをまとめてスポットＴ４Ｐと呼ぶ）は光検出器群５２Ａ内に形成され、スポットＴ４ＭＦ及びスポットＴ４ＭＥ（以下これらをまとめてスポットＴ４Ｍと呼ぶ）は光検出器群５２Ｂ内に形成される。
【０１２１】
また反射光ビームＬ３の仮想的な中心である中心点Ｌ３Ｑ（図６（Ａ））と対応した中心点Ｌ４ＰＱ及びＬ４ＭＱは、それぞれ光検出器群５２Ａ及び５２Ｂのタンジェンシャル方向に関する仮想的な中心線５２Ｙ上に位置することになる。
【０１２２】
光検出器群５２Ａの光検出器５２Ｋ１、５２Ｌ１、５２Ｋ２、５２Ｌ２及び５２Ｗは、反射光ビームＬ４Ｐにより形成されるスポットＴ４Ｐの一部をそれぞれ受光し、受光量に応じた検出信号ＵＫ１、ＵＬ１、ＵＫ２、ＵＬ２及びＵＷをそれぞれ生成する。
【０１２３】
また光検出器群５２Ｂの光検出器５２Ｍ１、５２Ｎ１、５２Ｍ２、５２Ｎ２及び５２Ｚは、反射光ビームＬ４Ｍにより形成されるスポットＴ４Ｍの一部をそれぞれ受光し、それぞれの受光量に応じた検出信号ＵＭ１、ＵＮ１、ＵＭ２、ＵＮ２及びＵＺを生成する。
【０１２４】
以下では、スポットＴ４ＰＦ、Ｔ４ＰＥ、Ｔ４ＭＦ及びＴ４ＭＥをまとめてスポットＴ４と呼び、検出信号ＵＫ１、ＵＬ１、ＵＫ２、ＵＬ２及びＵＷ並びに検出信号ＵＭ１、ＵＮ１、ＵＭ２、ＵＮ２及びＵＺをまとめて検出信号Ｕと呼ぶ。
【０１２５】
フォトディテクタ４４（図４）は、上述したように、図示しない増幅回路により各検出信号Ｕをそれぞれ増幅した上で、保持基板４１の下面に設けられた端子群４１Ｔを介して、当該検出信号Ｕを信号処理部１３（図２）へ送出するようになされている。
【０１２６】
［１−４−３．フォーカスエラー信号の生成］
ところで光ディスク装置１は、光ビームＬ１の合焦状態に応じてスポットＴ４Ｐ及びＴ４Ｍのタンジェンシャル方向に関する長さを変化させ、ＳＳＤ（Spot Size Detecting）法に従ったフォーカス制御を行うようになされている。
【０１２７】
実際上、領域５１Ｆ及び５１Ｅにそれぞれ形成された回折格子は、図８（Ａ）に示すように、シリンドリカルレンズとしての作用により、＋１次光でなる反射光ビームＬ４Ｐのタンジェンシャル方向に関する焦点ＦＰを光検出器群５２Ａの手前側（図の上方）に形成する。
【０１２８】
これと共に領域５１Ｆ及び５１Ｅにそれぞれ形成された回折格子は、図８（Ｂ）に示すように、シリンドリカルレンズとしての作用により、−１次光でなる反射光ビームＬ４Ｍのタンジェンシャル方向に関する焦点ＦＭを光検出器群５２Ｂの奥側（図の下方）に形成する。
【０１２９】
ここで、まず光ビームＬ１の焦点Ｆ１（図４）が光ディスク１００の記録面に合焦しており焦点ずれ量が０の場合、すなわちオンフォーカスの場合を想定する。このとき光検出部５２では、図９（Ａ）に示すように、光検出器群５２Ａに形成されるスポットＴ４Ｐと、光検出器群５２Ｂに形成されるスポットＴ４Ｍとにおいて、タンジェンシャル方向の長さがほぼ同等となる。
【０１３０】
次に、光ビームＬ１の焦点Ｆ１（図４）が光ディスク１００の記録面よりも遠方に合焦している場合、すなわちデフォーカスしている場合を想定する。この場合、焦点ＦＰ及びＦＭは、いずれも光束分割部５１から離隔する方向（すなわち図８における下方向）へ移動することになる。
【０１３１】
このとき光検出部５２では、図９（Ａ）と対応する図９（Ｂ）に示すように、スポットＴ４Ｐがタンジェンシャル方向に短縮される一方、スポットＴ４Ｍがタンジェンシャル方向に延長される。
【０１３２】
さらに、光ビームＬ１の焦点Ｆ１（図４）が光ディスク１００の記録面の手前に合焦している場合、すなわちデフォーカスしている場合を想定する。この場合、焦点ＦＰ及びＦＭは、いずれも光束分割部５１に近接する方向（すなわち図８における上方向）へ移動することになる。
【０１３３】
このとき光検出部５２では、図９（Ａ）と対応する図９（Ｃ）に示すように、図９（Ｂ）の場合と反対に、スポットＴ４Ｐがタンジェンシャル方向に延長される一方、スポットＴ４Ｍがタンジェンシャル方向に短縮される。
【０１３４】
ここで、図９（Ｂ）及び（Ｃ）におけるスポットＴ４Ｐ及びスポットＴ４Ｍの延長幅及び短縮幅は、それぞれ光ビームＬ１におけるデフォーカス量にほぼ比例することが知られている。
【０１３５】
そこで信号処理部１３は、ＳＳＤ法に従い、次に示す（１）式によりフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出する。
【０１３６】
【数１】
2010146607.tif 000003
【０１３７】
ここで中間値ＵＫ、ＵＬ、ＵＭ及びＵＮは、それぞれ次に示す（２）式により検出信号Ｕを基に算出される値である。
【０１３８】
【数２】
2010146607.tif 000004
【０１３９】
かくして信号処理部１３は、光ビームＬ１の焦点ずれ量に応じたフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出することができる。
【０１４０】
［１−４−４．レンズシフト信号の生成］
また光ディスク装置１は、特許文献１に記載された手法に従い、対物レンズ９Ｂのトラッキング方向に関する移動量、すなわちレンズシフト量を算出するようになされている。
【０１４１】
まず、図６（Ａ）及び（Ｂ）とそれぞれ対応する図１０（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、反射光ビームＬ３の仮想的な中心点Ｌ３Ｑが光束分割部５１の仮想的な中心線５１Ｘ上にある場合、すなわちレンズシフト量が０である場合を想定する。
【０１４２】
因みに図１０（Ｂ）では、説明の都合上、光検出器群５２Ａ並びにスポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＰＥをラジアル方向に拡大して示している。また光検出器群５２Ｂについては、光検出器群５２Ａと同様であるため、図示及び説明を省略する。
【０１４３】
対物レンズ９Ｂ（図４）におけるレンズシフト量が０である場合、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２に照射される面積、すなわち反射光ビームＬ３Ｆ１及びＬ３Ｆ２の面積は、ほぼ同等となる。このため、スポットＴ４ＰＦのうち領域５２Ｋ２及び５２Ｌ２に照射される部分の面積は、互いにほぼ同等となる。従って検出信号ＵＬ２及びＵＫ２もほぼ同等となる。
【０１４４】
また、スポットＴ４ＰＥのうち光検出器群５２Ａの領域５２Ｋ１及び５２Ｌ１に照射される部分の面積及び光量も、互いにほぼ同等となる。従って検出信号ＵＬ１及びＵＫ１もほぼ同等となる。
【０１４５】
次に、図１０（Ａ）及び（Ｂ）とそれぞれ対応する図１１（Ａ）及び（Ｂ）のように、レンズシフトにより、反射光ビームＬ３が＋ｒａｄ方向にずれた位置に照射された場合を想定する。因みに反射光ビームＬ３の仮想的な中心点Ｌ３Ｑは、光束分割部５１の仮想的な中心線５１Ｘから＋ｒａｄ方向へ移動している。
【０１４６】
この場合、（図１０（Ａ））と比較して、反射光ビームＬ３のうち領域５１Ｆ２に照射される面積、すなわち反射光ビームＬ３Ｆ２の面積は増加し、領域５１Ｆ１に照射される面積、すなわち反射光ビームＬ３Ｆ１の面積は減少する。
【０１４７】
このため、スポットＴ４ＰＦのうちスポットＴ４ＰＦ２の面積は増加し、スポットＴ４ＰＦ１の面積は減少する。従って光検出器５２Ｋ２が生成する検出信号ＵＫ２の値は増加し、光検出器５２Ｌ２が生成する検出信号ＵＬ２の値は減少する。
【０１４８】
またこの場合、反射光ビームＬ３のうち反射光ビームＬ３Ｅ４の面積は増加し、反射光ビームＬ３Ｅ３の面積は減少する。このため、スポットＴ４ＰＥのうちスポットＴ４ＰＥ４の面積は増加し、スポットＴ４ＰＥ３の面積は減少する。従って光検出器５２Ｋ１が生成する検出信号ＵＫ１の値は増加し、光検出器５２Ｌ１が生成する検出信号ＵＬ１の値は減少する。
【０１４９】
さらに、図１０（Ａ）及び（Ｂ）並びに図１１（Ａ）及び（Ｂ）とそれぞれ対応する図１２（Ａ）及び（Ｂ）のように、レンズシフトにより、反射光ビームＬ３が−ｒａｄ方向にずれた位置に照射された場合を想定する。因みに反射光ビームＬ３の仮想的な中心点Ｌ３Ｑは、光束分割部５１の仮想的な中心線５１Ｘから−ｒａｄ方向へ移動している。
【０１５０】
この場合、（図１０（Ａ））と比較して、図１１（Ａ）の場合と反対に、反射光ビームＬ３Ｆ２の面積は減少し、反射光ビームＬ３Ｆ１の面積は増加する。このため、スポットＴ４ＰＦのうちスポットＴ４ＰＦ２の面積は減少し、スポットＴ４ＰＦ１の面積は増加する。従って検出信号ＵＫ２の値は減少し、光検出器５２Ｌ２が生成する検出信号ＵＬ２の値は増加する。
【０１５１】
またこの場合、反射光ビームＬ３のうち反射光ビームＬ３Ｅ４の面積は減少し、反射光ビームＬ３Ｅ３の面積は増加する。このため、スポットＴ４ＰＥのうちスポットＴ４ＰＥ４の面積は減少し、スポットＴ４ＰＥ３の面積は増加する。従って光検出器５２Ｋ１が生成する検出信号ＵＫ１の値は減少し、光検出器５２Ｌ１が生成する検出信号ＵＬ１の値は増加する。
【０１５２】
このように光検出器群５２Ａは、レンズシフト量に応じて検出信号ＵＫ１、ＵＫ２、ＵＬ１及びＵＬ２の値を変化させることになる。これと同様に光検出器群５２Ｂは、レンズシフト量に応じて検出信号ＵＭ１、ＵＭ２、ＵＮ１及びＵＮ２の値を変化させる。
【０１５３】
そこで信号処理部１３は、次に示す（３）式及び（４）式に従い、検出信号Ｕを基にレンズシフト信号ＳＬＳ１及びＳＬＳ２を算出する。
【０１５４】
【数３】
2010146607.tif 000005
【０１５５】
【数４】
2010146607.tif 000006
【０１５６】
因みにレンズシフト信号ＳＬＳ１は、光束分割部５１の領域５１Ｅに起因した、すなわち反射光ビームＬ４ＰＥ及びＬ４ＭＥを基に得られるレンズシフト量を表しており、実質的にスポットＴ４ＰＥ４とスポットＴ４ＰＥ３との面積の差分に相当する。
【０１５７】
またレンズシフト信号ＳＬＳ２は、光束分割部５１の領域５１Ｆに起因した、すなわち反射光ビームＬ４ＰＦ及びＬ４ＭＦを基に得られるレンズシフト量を表しており、実質的にスポットＴ４ＰＦ２とスポットＴ４ＰＦ１との面積の差分に相当する。
【０１５８】
さらに信号処理部１３は、次に示す（５）式に従い、レンズシフト信号ＳＬＳ１及びＳＬＳ２を加算することによりレンズシフト信号ＳＬＳを算出する。
【０１５９】
【数５】
2010146607.tif 000007
【０１６０】
かくして信号処理部１３は、対物レンズ９Ｂのレンズシフト量に応じたレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０１６１】
また、上述した（５）式に（２）式〜（４）式を代入して整理すると、次に示す（６）式が得られる。
【０１６２】
【数６】
2010146607.tif 000008
【０１６３】
すなわち信号処理部１３は、（２）式に従い中間値ＵＫ、ＵＬ、ＵＭ及びＵＭを予め算出しておけば、フォーカスエラー信号ＳＦＥ及びレンズシフト信号ＳＬＳ双方の算出処理においてこれらを用いることができる。
【０１６４】
［１−４−５．光学部品の取付位置ずれによる影響］
ところで図６（Ｂ）は、レンズシフト量が０であり、光ビームＬ１の焦点ずれ量も０であると共に、各種光学部品等が位置ずれ等なく正常に取り付けられた、いわば理想的な光集積素子２１におけるスポットＴ４の形成状態を表している。
【０１６５】
ここで、光集積素子２１（図４）におけるフォトディテクタ４４が正常な取付位置からずれた場合として、例えば図６（Ｂ）と対応する図１３に示すように、光検出部５２においてスポットＴ４が＋ｔａｎ方向へずれて照射される場合を想定する。
【０１６６】
このとき仮想的な中心点Ｔ４ＰＱ及びＴ４ＭＱは、光検出器群５２Ａ及び５２Ｂのタンジェンシャル方向に関する仮想的な中心線５２Ｙから＋ｔａｎ方向へずれている。
【０１６７】
因みにこの図１３は、対物レンズ９Ｂのレンズシフト量が０であり、また光ビームＬ１の焦点ずれ量も０である（すなわちオンフォーカスした）状態を表している。
【０１６８】
この場合、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１は、図６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較してスポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＭＥの照射面積がそれぞれ増加するため、検出する光量もそれぞれ増加し、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の値を増加させることになる。
【０１６９】
因みに、このときの光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１における照射面積の変化分は、例えば増加部分ΔＰＥ１、ΔＰＥ２、ΔＭＥ１及びΔＭＥ２（図１３）のように表すことができる。
【０１７０】
ここで、スポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＭＥがほぼ同等の大きさであり、増加部分ΔＰＥ１及びΔＰＥ２における面積の和と増加部分ΔＭＥ１及びΔＭＥ２における面積の和とがほぼ等しいことから、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の増加分もほぼ同等となる。
【０１７１】
一方、光検出器５２Ｌ１及び５２Ｍ１は、スポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＭＥの照射面積が減少するため、検出する光量も減少し、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の値を減少させることになる。このとき、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の減少分もほぼ同等となる。
【０１７２】
このため、信号処理部１３により（３）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ１を算出した場合、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の増加分同士が相殺され、また検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の減少分同士も相殺される。
【０１７３】
また、光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２は、図６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較して、スポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦの照射面積が増加するため、検出する光量もそれぞれ増加し、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値を増加させることになる。
【０１７４】
因みに、このときの光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２における照射面積の変化分については、例えば増加部分ΔＰＦ及びΔＭＦ（図１３）のように表すことができる。
【０１７５】
ここで、スポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦがほぼ同等の大きさであり、増加部分ΔＰＦ及びΔＭＦにおける面積がほぼ等しいことから、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の増加分もほぼ同等となる。
【０１７６】
一方、光検出器５２Ｋ２及び５２Ｎ２は、スポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦの照射面積が減少するため、検出する光量も減少し、検出信号ＵＫ２及びＵＮ２を減少させることになる。このとき、検出信号ＵＫ２及びＵＮ２の減少分もほぼ同等となる。
【０１７７】
このため、信号処理部１３により（４）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ２を算出した場合、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の増加分同士が相殺され、また検出信号ＵＫ２及びＵＮ２の減少分同士も相殺される。
【０１７８】
従って信号処理部１３は、（５）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳを算出した場合、（３）式及び（４）式のいずれにおいても増減分が相殺されることから、図６（Ｂ）に示した理想的な状態と同等のレンズシフト信号ＳＬＳを生成することができる。
【０１７９】
すなわち光ディスク装置１は、第１光学系２１ＡにおいてスポットＴ４の形成位置が理想的な状態からタンジェンシャル方向にずれていたとしても、各検出信号Ｕの増減分を相殺することができるので、レンズシフト信号ＳＬＳを正しく算出することができる。
【０１８０】
次に、図１３と対応する図１４に示すように、光検出部５２においてスポットＴ４が＋ｔａｎ方向へずれて照射され、さらに光ビームＬ１がデフォーカスした場合を想定する。因みにこの図１４は、対物レンズ９Ｂのレンズシフト量が０である状態を表している。
【０１８１】
このとき仮想的な中心点Ｔ４ＰＱ及びＴ４ＭＱは、図１３の場合と同様、光検出器群５２Ａ及び５２Ｂのタンジェンシャル方向に関する仮想的な中心線５２Ｙから＋ｔａｎ方向へずれている。
【０１８２】
この場合、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１は、図６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較して、光ビームＬ１のデフォーカスによりスポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＭＥの照射面積が変化するため、検出する光量も変化し、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の値を変化させる。
【０１８３】
因みに、このときの光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１における照射面積の変化分は、例えば増加部分ΔＰＥ１、ΔＰＥ２、ΔＭＥ１及びΔＭＥ２（図１４）のように表すことができる。
【０１８４】
また光検出器５２Ｌ１及び５２Ｍ１は、同様の要因により検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の値を変化させる。
【０１８５】
このときスポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＭＥの大きさが互いに相違するため、増加部分ΔＰＥ１及びΔＰＥ２における面積の和と増加部分ΔＭＥ１及びΔＭＥ２における面積の和とが相違する。
【０１８６】
このため、光ビームＬ１がオンフォーカスした状態（図１３）からの検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の変化量は互いに相違し、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の変化量も互いに相違する。従って信号処理部１３は、図１３に示した場合とは異なり、（３）式に従った演算では検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の変化量並びに検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の変化量を相殺することはできない。
【０１８７】
また光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２は、光ビームＬ１のデフォーカスによりスポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦの照射面積が変化するため、検出する光量も変化し、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値を変化させる。
【０１８８】
因みに、このときの光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２における照射面積の変化分については、例えば増加部分ΔＰＦ及びΔＭＦ（図１４）のように表すことができる。
【０１８９】
また光検出器５２Ｋ２及び５２Ｎ２は、同様の要因により検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値を変化させる。
【０１９０】
このとき、スポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦの大きさが互いに相違するため、増加部分ΔＰＦ及びΔＭＦにおける面積も相違する。
【０１９１】
このため、光ビームＬ１がオンフォーカスした状態（図１３）からの検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の変化量は互いに相違し、検出信号ＵＫ２及びＵＮ２の変化量も互いに相違する。従って信号処理部１３は、（４）式に従った演算では検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の変化量並びに検出信号ＵＫ２及びＵＮ２の変化量を相殺することはできない。
【０１９２】
ここで光束分割部５１は、上述したように、領域５１Ｆ３の面積を、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２における反射光ビームＬ３の照射面積の合計とほぼ同等とするように設計されている。
【０１９３】
このことは、図１４において、増加部分ΔＰＥ１及びΔＰＥ２における面積の和と増加部分ΔＰＦの面積とがほぼ等しく、増加部分ΔＭＥ１及びΔＭＥ２における面積の和と増加部分ΔＭＦの面積とがほぼ等しいことを意味する。
【０１９４】
このため光検出器５２Ｋ１により生成される検出信号ＵＫ１の変化量は、光検出器５２Ｌ２により生成される検出信号ＵＬ２の変化量とほぼ同等となる。また光検出器５２Ｌ１により生成される検出信号ＵＬ１の変化量は、光検出器５２Ｋ２により生成される検出信号ＵＫ２の変化量とほぼ同等となる。
【０１９５】
これと同様に、光検出器５２Ｍ１により生成される検出信号ＵＭ１の変化量は、光検出器５２Ｎ２により生成される検出信号ＵＮ２の変化量とほぼ同等となる。また光検出器５２Ｎ１により生成される検出信号ＵＮ１の変化量は、光検出器５２Ｍ２により生成される検出信号ＵＭ２の変化量とほぼ同等となる。
【０１９６】
一方、上述した（５）式に（３）式及び（４）式を代入して整理すると、レンズシフト信号ＳＬＳは、次に示す（７）式のように表すことができる。
【０１９７】
【数７】
2010146607.tif 000009
【０１９８】
この（７）式の前半部分から分かるように、レンズシフト信号ＳＬＳの算出過程では、検出信号ＵＫ１の変化量と検出信号ＵＬ２の変化量とが相殺され、検出信号ＵＫ２の変化量と検出信号ＵＬ１の変化量とが相殺される。
【０１９９】
また（７）式の後半部分から分かるように、レンズシフト信号ＳＬＳの算出過程では、検出信号ＵＭ１の変化量と検出信号ＵＮ２の変化量とが相殺され、検出信号ＵＭ２の変化量と検出信号ＵＮ１の変化量とが相殺される。
【０２００】
このため信号処理部１３は、（７）式又はこれと等価な（５）式若しくは（６）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳを算出することにより、図６（Ｂ）に示した理想的な状態と同等のレンズシフト信号ＳＬＳを生成することができる。
【０２０１】
すなわち光ディスク装置１は、第１光学系２１Ａにおいて、タンジェンシャル方向に関してスポットＴ４がずれた位置に形成されスポットＴ４ＰとＴ４Ｍとの大きさが相違していても、信号処理部１３において各検出信号Ｕの増減分を相殺することができる。
【０２０２】
従って光ディスク装置１は、第１光学系２１Ａにおける各光学部品の取付位置がタンジェンシャル方向にずれ、且つ光ビームＬ１がデフォーカスしていても、レンズシフト信号ＳＬＳを精度良く算出することができる。
【０２０３】
このように第１光学系２１Ａは、光検出部５２の各光検出器によってスポットＴ４をそれぞれ部分的に検出することにより、タンジェンシャル方向に関する位置ずれ量を互いに相殺し得るような複数の検出信号Ｕを生成することができる。これに応じて信号処理部１３は、当該検出信号Ｕを基に、光学部品の取付位置ずれ等に起因する影響を排除した高精度なフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０２０４】
［１−５．第２光学系による検出信号の生成］
ところで光集積素子２１は、上述したように、反射光ビームＬ２の一部を積層プリズム４７の反射膜４７Ｂにより透過して反射光ビームＬ５とし、これを反射膜４７Ｃにより反射させる。さらに光集積素子２１は、反射光ビームＬ５を光束分割部５３により複数に分割して反射光ビームＬ６とし、フォトディテクタ４４の光検出部５４により検出する。以下、反射膜４７Ｂ、４７Ｃ、光束分割部５３及び光検出部５４により構成される光学系を第２光学系２１Ｂと呼ぶ。
【０２０５】
第２光学系２１Ｂの光束分割部５３は、図１５に示すように、上面から見て全体が略正方形状に形成されており、格子状に４つの領域５３Ａ、５３Ｂ、５３Ｃ及び５３Ｄに４分割されている。因みに第２光学系２１Ｂは、反射光ビームＬ５の仮想的な中心点Ｌ５Ｑが光束分割部５３における分割中心５３Ｑに重なるよう設計されている。
【０２０６】
領域５３Ａ〜５３Ｄは、それぞれブレーズ状の回折格子が形成されており、反射光ビームＬ５の一部を、分割中心５３Ｑから離隔する方向へそれぞれ回折させることにより、４本の光ビームＬ６Ａ、Ｌ６Ｂ、Ｌ６Ｃ及びＬ６Ｄに分割する。
【０２０７】
一方、フォトディテクタ４４の光検出部５４は、略正方形状の光検出器５４Ａ、５４Ｂ、５４Ｃ及び５４Ｄが格子状に配置されており、光検出器５４Ａ〜５４Ｄと光束分割部５３の領域５３Ａ〜５３Ｄとをそれぞれ対応させている。
【０２０８】
光ビームＬ６Ａ、Ｌ６Ｂ、Ｌ６Ｃ及びＬ６Ｄは、光束分割部５３から進行するに連れて互いに離隔していき、光検出部５４の光検出器５４Ａ、５４Ｂ、５４Ｃ及び５４Ｄにそれぞれ照射されることにより、スポットＴ６Ａ、Ｔ６Ｂ、Ｔ６Ｃ及びＴ６Ｄを形成する。
【０２０９】
光検出器５４Ａ、５４Ｂ、５４Ｃ及び５４Ｄは、それぞれ反射光ビームＬ６Ａ、Ｌ６Ｂ、Ｌ６Ｃ及びＬ６Ｄの一部を受光し、それぞれの受光量に応じた検出信号ＵＡ、ＵＢ、ＵＣ及びＵＤを生成する。
【０２１０】
フォトディテクタ４４（図４）は、第１光学系２１Ａの場合と同様、図示しない増幅回路により各検出信号Ｕをそれぞれ増幅した上で、保持基板４１の下面に設けられた端子群４１Ｔを介して、当該検出信号Ｕを信号処理部１３（図２）へ送出する。
【０２１１】
信号処理部１３は、いわゆるプッシュプル法に基づき、次に示す（８）式に従いトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出する。
【０２１２】
【数８】
2010146607.tif 000010
【０２１３】
ここで中間値ＵＫ、ＵＬ、ＵＭ及びＵＮは、それぞれ上述した（２）式に従い検出信号Ｕを基に算出される値である。また係数ｋは所定の係数である。
【０２１４】
この（８）式の後半部分は、上述した（６）式と対比すれば分かるように、レンズシフト信号ＳＬＳに係数ｋを乗じた値となる。また（８）式の前半部分は、光検出器５４Ａ〜５４Ｄによる検出結果を用いた演算であり、対物レンズ９Ｂのレンズシフトによる影響がそのまま含まれている。
【０２１５】
すなわち（８）式では、レンズシフト成分を含むプッシュプル信号から当該レンズシフト成分を減算することにより、レンズシフトによる影響を排除したトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出するようになされている。
【０２１６】
また信号処理部１３は、次に示す（９）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出する。
【０２１７】
【数９】
2010146607.tif 000011
【０２１８】
かくして信号処理部１３は、検出信号ＵＡ〜ＵＤ及びレンズシフト信号ＳＬＳを用いてトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成すると共に、当該検出信号ＵＡ〜ＵＤを基に再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成するようになされている。
【０２１９】
因みに第２光学系では、反射光ビームＬ５のうち光束分割部５３の領域５３Ａ、５３Ｂ、５３Ｃ及び５３Ｄをそれぞれ通過する部分の光量をそれぞれ独立して検出できれば、検出信号ＵＡ〜ＵＤをそれぞれ生成することができる。従って第２光学系としては、光束分割部５３を省略し、反射光ビームＬ５を光検出部５４の光検出器５４Ａ〜５４Ｄに直接照射する構成も考えられる。
【０２２０】
しかしながら反射光ビームＬ５の光軸は、各光学部品の取付位置ずれ等により、光検出部５４の分割中心からずれる可能性がある。このような場合、光検出部５４では、反射光ビームＬ５のうち光検出器５４Ａ〜５４Ｄにそれぞれ照射される割合が変化してしまうため、検出信号ＵＡ〜ＵＤの精度を低下させることになってしまう。
【０２２１】
特に光集積素子２１では、光検出部５４が光検出部５２と共にフォトディテクタ４４に形成されており、さらにフォトディテクタ４４が他の部品と共に保持基板４１に対し固定されているため、光検出部５４単体での取付位置の調整ができない。このため光集積素子２１における他の光学部品の取付位置精度を優先させた場合、第２光学系では、検出信号ＵＡ〜ＵＤの精度が低下したままとなるおそれがある。
【０２２２】
そこで光集積素子２１では、光束分割部５３により反射光ビームＬ５を予め適切な分割位置で分割することにより、分割後の反射光ビームＬ６Ａ〜Ｌ６Ｄにおける分割比率を最適化すると共に互いに離れるよう進行させている。これにより光集積素子２１は、フォトディテクタ４４の取付位置ずれ等が生じたとしても、分割後の反射光ビームＬ６Ａ〜Ｌ６Ｄの光量を光検出器５４Ａ〜５４Ｄにより互いに独立して検出でき、高精度な検出信号ＵＡ〜ＵＤを生成することができる。
【０２２３】
このように第２光学系２１Ｂは、トラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦを適切に算出し得るような検出信号ＵＡ〜ＵＤをそれぞれ生成し得るようになされている。
【０２２４】
［１−６．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１の光ピックアップ６は、光集積素子２１の第１光学系２１Ａにおいて、光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２に加えて、当該領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２をタンジェンシャル方向に結ぶ領域５１Ｆ３を設けた。
【０２２５】
また光束分割部５１は、領域５１Ｆと領域５１Ｅとで反射光ビームＬ３の回折角度を相違させることにより、反射光ビームＬ４ＰＦ、Ｌ４ＰＥ、Ｌ４ＭＦ及びＬ４ＭＥを生成し、これらを互いに相違する方向へ進行させる。
【０２２６】
その後反射光ビームＬ４ＰＦ、Ｌ４ＰＥ、Ｌ４ＭＦ及びＬ４ＭＥは、光検出部５２の光検出器群５２Ａ及び５２ＢにスポットＴ４ＰＦ、Ｔ４ＰＥ、Ｔ４ＭＦ及びＴ４ＭＥをそれぞれ形成する。光検出器群５２Ａ及び５２Ｂの各光検出器は、それぞれの受光量に応じた検出信号Ｕをそれぞれ生成して信号処理部１３へ送出する。
【０２２７】
信号処理部１３は、検出信号Ｕを用いることにより、（１）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを生成し、また（３）〜（５）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳを生成する。
【０２２８】
ここで、光集積素子２１の第１光学系２１Ａと対比するべく、仮想的な光学系６０Ａを想定する。この光学系６０Ａは、第１光学系２１Ａにおける光束分割部５１に代えて、図１６（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、特許文献１に記載された回折格子と同様の光束分割部６１を有している。
【０２２９】
光束分割部６１は、光束分割部５１と比較して、領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２と同様の領域６１Ｆ１及び６１Ｆ２を有している。しかしながら光束分割部６１は、領域５１Ｆ３に相当する領域が区切られておらず、これに伴い領域５１Ｅ１、５１Ｅ２及び５１Ｆ３を一体化したような領域６１Ｅが設けられている。
【０２３０】
領域６１Ｆ１及び６１Ｆ２は、領域５１Ｆ１〜５１Ｆ３と同様の格子ピッチでなる回折格子が形成されており、反射光ビームＬ３の一部をラジアル方向に比較的大きな回折角度で回折させる。これにより＋１次光でなる反射光ビームＬ７ＰＦ及び−１次光でなる反射光ビームＬ７ＭＦが生成される。
【０２３１】
また領域６１Ｅは、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２と同様の格子ピッチでなる回折格子が形成されており、反射光ビームＬ３の一部をラジアル方向に比較的小さな回折角度で回折させる。これにより＋１次光でなる反射光ビームＬ７ＰＥ及び−１次光でなる反射光ビームＬ７ＭＥが生成される。
【０２３２】
これに応じて光検出部５２の光検出器群５２Ａは、図１６（Ｂ）に示すように、反射光ビームＬ７ＰＦ及びＬ７ＰＥが照射されることによりスポットＴ７ＰＦ及びＴ７ＰＥ（以下これらをまとめてスポットＴ７Ｐと呼ぶ）が形成される。また光検出器群５２Ｂは、反射光ビームＬ７ＭＦ及びＬ７ＭＥが照射されることによりスポットＴ７ＭＦ及びＴ７ＭＥ（以下これらをまとめてスポットＴ７Ｍと呼ぶ）が形成される。
【０２３３】
因みに図１６（Ｂ）は、対物レンズ９Ｂのレンズシフト量が０であり、光ビームＬ１がオンフォーカスしており、さらに光学部品の取付位置ずれ等も生じていない、理想的な状態を表している。
【０２３４】
ここで図１６（Ｂ）を図６（Ｂ）と比較すると、スポットＴ７ＰＦ及びＴ７ＭＦは、光束分割部５１の領域５１Ｆ３に相当する部分が形成されていない。一方、スポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥは、当該領域５１Ｆ３に相当する部分を含むことにより一体的な形状となっている。
【０２３５】
光検出部５２の各光検出器は、スポットＴ７ＰＦ、Ｔ７ＰＥ、Ｔ７ＭＦ及びＴ７ＭＥ（以下これらをまとめてスポットＴ７と呼ぶ）の一部を受光し、第１光学系２１Ａの場合と同様に、それぞれの受光量に応じた検出信号Ｕを生成して信号処理部１３へ送出する。
【０２３６】
この仮想的な光学系６０Ａの場合、第１光学系２１Ａの場合と同様、信号処理部１３において検出信号Ｕに基づき、（１）式によりフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出することができ、（３）〜（５）式によりレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０２３７】
次に、光学系６０Ａにおいて光学部品の取付位置ずれ等が生じることにより、図１３と対応する図１７に示すように、光検出部５２においてスポットＴ７が＋ｔａｎ方向へずれて照射される場合を想定する。
【０２３８】
この場合、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１は、図１６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較して、スポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥの照射面積が増加するため、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の値を増加させる。このとき、スポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥがほぼ同等の大きさであることから、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の増加分はほぼ同等となる。
【０２３９】
一方、光検出器５２Ｌ１及び５２Ｍ１は、スポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥの照射面積が減少するため、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の値を減少させる。このとき検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の減少分もほぼ同等となる。
【０２４０】
このため信号処理部１３により（３）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ１を算出した場合、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の増加分並びに検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の減少分はいずれも相殺される。
【０２４１】
また光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２は、図１６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較して、スポットＴ７ＰＦ及びＴ７ＭＦの照射面積が変化しないため、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値を変化させない。同様に光検出器５２Ｋ２及び５２Ｎ２は、スポットＴ７ＰＦ及びＴ７ＭＦの照射面積が変化しないため、検出信号ＵＫ２及びＵＮ２を変化させない。
【０２４２】
このため信号処理部１３は、（４）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ２を正しく算出できる。
【０２４３】
すなわち信号処理部１３は、光学系６０Ａから供給される検出信号Ｕを用いることにより、光ビームＬ１がオンフォーカスしていれば、光学部品の取付位置ずれ等が生じたとしても、（５）式に従い適切なレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０２４４】
次に、図１４と対応する図１８に示すように、仮想的な光学系６０Ａにおいて、光検出部５２に対しスポットＴ７が＋ｔａｎ方向へずれて照射され、さらに光ビームＬ１の焦点がずれている場合を想定する。因みにこの図１８は、対物レンズ９Ｂのレンズシフト量が０の状態を表している。
【０２４５】
このとき仮想的な中心点Ｔ７ＰＱ及びＴ７ＭＱは、図１７の場合と同様、光検出器群５２Ａ及び５２Ｂのタンジェンシャル方向に関する仮想的な中心線５２Ｙから＋ｔａｎ方向へずれている。
【０２４６】
この場合、光検出器５２Ｌ２及び５２Ｍ２は、スポットＴ４ＰＦ及びＴ４ＭＦの照射面積が僅かに変化するものの、その光量は殆ど変化しないため、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値も殆ど変化させない。同様に光検出器５２Ｋ２及び５２Ｎ２は、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の値を殆ど変化させない。
【０２４７】
従って信号処理部１３は、レンズシフト信号ＳＬＳ２については、（４）式に従って正しく算出できる。
【０２４８】
一方、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｎ１は、図１６（Ｂ）に示した理想的な状態と比較して、スポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥの照射面積が変化するため、検出する光量も変化し、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の値を変化させる。同様に光検出器５２Ｌ１及び５２Ｍ１は、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の値を変化させる。
【０２４９】
このときスポットＴ７ＰＥ及びＴ７ＭＥの大きさが互いに相違していることから、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の変化量は互いに相違し、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の変化量も互いに相違する。従って信号処理部１３は、（３）式では検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の変化量並びに検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の変化量を相殺することはできない。
【０２５０】
このため信号処理部１３は、（３）式及び（４）式を組み合わせたとしても、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の変化量並びに検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の変化量を相殺することはできず、レンズシフト信号ＳＬＳを正しく算出することはできない。
【０２５１】
すなわち光学系６０Ａは、光学部品等の取付位置ずれ等がある状態で光ビームＬ１がデフォーカスした場合、信号処理部１３においてレンズシフト信号ＳＬＳを正しく算出し得るような検出信号Ｕを生成することができない。
【０２５２】
これに対し、第１光学系２１Ａ（図４）では、光束分割部５１において領域５１Ｆ３を設けており、スポットＴ４ＰＦ（図６）においてスポットＴ４ＰＦ１及びスポットＴ４ＰＦ２の間をスポットＴ４ＰＦ３によりタンジェンシャル方向に繋いでいる。このスポットＴ４ＰＦは、図１６に示したスポットＴ７ＰＦにスポットＴ４ＰＦ３を追加した形状ということもできる。
【０２５３】
この第１光学系２１Ａでは、光検出部５２においてスポットＴ４が＋ｔａｎ方向へずれて照射される場合（図１３）、検出信号ＵＫ１及びＵＮ１の増加分がほぼ同等となり、検出信号ＵＬ１及びＵＭ１の減少分もほぼ同等となる。このため信号処理部１３は、（３）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ１を算出すると、当該増加分及び減少分をいずれも相殺することができる。
【０２５４】
またこの場合、検出信号ＵＬ２及びＵＭ２の増加分がほぼ同等となり、検出信号ＵＫ２及びＵＮ２の減少分もほぼ同等となる。このため信号処理部１３は、（４）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳ２を算出すると、当該増加分及び減少分をいずれも相殺することができる。
【０２５５】
このため信号処理部１３は、第１光学系２１Ａにより生成された検出信号Ｕを基に、（５）式に従った演算をすることにより、光学部品の取付位置ずれ等による影響を排除した適切なレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０２５６】
さらに第１光学系２１Ａでは、光束分割部５１における領域５１Ｆ３の面積を、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２における反射光ビームＬ３の照射面積の合計とほぼ同等とするように設計されている（図６（Ａ））。
【０２５７】
このため第１光学系２１Ａでは、光検出部５２においてスポットＴ４が＋ｔａｎ方向へずれて照射される場合に、さらに光ビームＬ１がデフォーカスしたとしても（図１４）、増加部分ΔＰＥ１及びΔＰＥ２における面積の和と増加部分ΔＰＦの面積とがほぼ等しくなる。このため第１光学系２１Ａは、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量をほぼ同等とすることができる。これにより信号処理部１３は、レンズシフト信号ＳＬＳを算出する際、（７）式の演算処理により当該変化量を相殺することができる。
【０２５８】
これと同様に第１光学系２１Ａは、検出信号ＵＬ１及びＵＫ２の変化量、検出信号ＵＭ１及びＵＮ２の変化量、並びに検出信号ＵＮ１及びＵＭ２の変化量についても、それぞれほぼ同等とすることができる。これにより信号処理部１３は、レンズシフト信号ＳＬＳを算出する際、（７）式の演算処理により各変化量をいずれも相殺することができる。
【０２５９】
すなわち信号処理部１３は、第１光学系２１Ａから供給される検出信号Ｕを基に（７）式の演算処理を行うことにより、光学部品の取付位置ずれ等に加えて光ビームＬ１のデフォーカスによる影響をも排除したレンズシフト信号ＳＬＳを適切に算出することができる。
【０２６０】
これを換言すれば、光集積素子２１の第１光学系２１Ａは、光学部品等の取付位置ずれ等があり光ビームＬ１がデフォーカスした場合であっても、信号処理部１３においてレンズシフト信号ＳＬＳを正しく算出し得るような検出信号Ｕを生成することができる。
【０２６１】
ここで第１光学系２１Ａでは、光学部品の取付位置ずれ等が生じる要因としては、フォトディテクタ４４や複合レンズ４６等、種々の光学部品が理想的な位置からずれる場合が想定される。
【０２６２】
またスポットＴ４ＰとＴ４Ｍとで、タンジェンシャル方向の大きさが相違する要因としては、光ビームＬ１のデフォーカス以外にも、光ビームＬ１の球面収差等が想定される。
【０２６３】
しかしながら第１光学系２１Ａは、その要因に拘わらず、タンジェンシャル方向に関して、光検出部５２におけるスポットＴ４の形成位置がずれ、且つスポットＴ４Ｐ及びＴ４Ｍの大きさが相違し得るような場合に、レンズシフト信号ＳＬＳを精度良く算出し得るような検出信号Ｕを生成することができる。
【０２６４】
また信号処理部１３は、第１光学系２１Ａにより生成された検出信号Ｕを基に、（１）式に従いフォーカスエラー信号ＳＦＥについても適切に算出することができる（図８及び図９）。
【０２６５】
このとき信号処理部１３は、光束分割部５１に領域５１Ｆ３が設けられていることに起因した特別な演算処理を行う必要はなく、当該領域５１Ｆ３が設けられていない場合と同様の演算処理によりフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出することができる。
【０２６６】
以上の構成によれば、光集積素子２１の第１光学系２１Ａは、光束分割部５１において、タンジェンシャル方向に関する両端であってラジアル方向に関し互いに反対側に領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２を設け、当該領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２を領域５１Ｆ３によりタンジェンシャル方向に繋ぐようにした。これにより第１光学系２１Ａは、タンジェンシャル方向に関して、スポットＴ４の形成位置がずれ且つスポットＴ４Ｐ及びＴ４Ｍの大きさが相違しても、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量、検出信号ＵＬ１及びＵＫ２の変化量、検出信号ＵＭ１及びＵＮ２の変化量、並びに検出信号ＵＮ１及びＵＭ２の変化量をいずれもほぼ同等とすることができる。このため信号処理部１３は、第１光学系２１Ａにより生成された各検出信号Ｕを基に（７）式に従った演算処理を行うことにより、光学部品の取付位置ずれ及び光ビームＬ１のデフォーカスの影響を排除した高精度なレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０２６７】
＜２．第２の実施の形態＞
［２−１．光ディスク装置及び光ピックアップの構成］
第２の実施の形態による光ディスク装置１０１（図１）は、第１の実施の形態による光ディスク装置１と比較して光ピックアップ６に代わる光ピックアップ１０６が設けられている点が相違している。しかしながら光ディスク装置１０１は、他の点については光ディスク１と同様に構成されているため、その説明を省略する。
【０２６８】
光ピックアップ１０６は、光ピックアップ６のＢＤ光学系６Ｂ（図４）と対応するＢＤ光学系１０６Ｂ（図１９）と、ＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄに対応するＤＶＤ／ＣＤ光学系１０６Ｄ（図示せず）とにより構成されている。
【０２６９】
ＢＤ光学系１０６Ｂ（図１９）は、ＢＤ光学系６Ｂ（図４）と比較して、光集積素子２１に代えて複数の光学部品が設けられている点が大きく相違するものの、対物レンズ９Ｂ等の他の光学部品については同様に構成されている。
【０２７０】
すなわちＢＤ光学系１０６Ｂは、ＢＤ光学系６Ｂと同様のレーザダイオード４３から波長約４０５［ｎｍ］の発散光でなるレーザ光として光ビームＬ１１を出射し、これをビームスプリッタ１４７へ入射させる。
【０２７１】
ビームスプリッタ１４７の反射膜１４７Ａは、積層プリズム４７（図４）の反射膜４７Ａと同様の光学特性を有しており、光ビームＬ１１のＰ偏光成分を透過させて１／４波長板２２へ入射させる。
【０２７２】
またビームスプリッタ１４７の反射膜１４７Ａは、光ビームＬ１１のＳ偏光成分を反射して光強度調整用光検出部（図示せず）へ入射させる。光ディスク装置１０１は、光ディスク装置１と同様に、光強度調整用光検出部による検出結果を基に、光ビームＬ１１の出射強度をフィードバック制御するようになされている。
【０２７３】
光ビームＬ１１は、１／４波長板２２により左円偏光に変換され、コリメータレンズ２３により発散光から平行光に変換され、対物レンズ９Ｂにより集光されて、光ディスク１００に照射される。このとき光ビームＬ１１は、当該光ディスク１００の記録面において反射され、光ビームＬ１１と反対方向へ向かう右円偏光の反射光ビームＬ１２となる。
【０２７４】
反射光ビームＬ１２は、対物レンズ９Ｂにより平行光に変換された後、コリメータレンズ２３により収束光に変換され、１／４波長板２２により右円偏光からＳ偏光（すなわち直線偏光）に変換された上で、ビームスプリッタ１４７へ入射される。
【０２７５】
ビームスプリッタ１４７は、Ｓ偏光でなる反射光ビームＬ１２を反射膜１４７Ａにおいて反射し、ビームスプリッタ１４８へ入射させる。ビームスプリッタ１４８の反射膜１４８Ａは、積層プリズム４７（図４）の反射膜４７Ｂと同様に光の透過率が約５０％となされており、反射光ビームＬ１２を約５０％の割合で反射して反射光ビームＬ１３とし、これを光束分割部１５１へ入射させる。
【０２７６】
光束分割部１５１は、全体として薄板状に構成されており、光ビームＬ１３が照射される面に光束分割部５１（図４）と対応する複数の回折格子が形成されている（詳しくは後述する）。光束分割部１５１の各回折格子は、それぞれ反射光ビームＬ１３を回折させることにより、複数の反射光ビームＬ１４に分割してフォトディテクタ１４４へ照射する。
【０２７７】
フォトディテクタ１４４は、反射光ビームＬ１４が照射される面に、第１の実施の形態と同様に複数の光検出器が組み合わされた光検出部５２（図６）が形成されている。
【０２７８】
フォトディテクタ１４４は、光検出部５２の各光検出器において、それぞれ受光した光強度に応じた検出信号Ｕを生成し、図示しない増幅回路により当該検出信号Ｕをそれぞれ増幅して信号処理部１３（図２）へ供給するようになされている。
【０２７９】
またビームスプリッタ１４８の反射膜１４８Ａは、反射光ビームＬ１２の約５０％を透過させることにより反射光ビームＬ１５とする。収束光である反射光ビームＬ１５は、一度焦点を結んだ後に発散光となり、フォトディテクタ１４９へ照射される。
【０２８０】
フォトディテクタ１４９は、反射光ビームＬ１５が照射される面に、複数の光検出器の組み合わせでなり光検出部５４と対応する光検出部１５４が形成されている。
【０２８１】
このフォトディテクタ１４９は、光検出部１５４の各光検出器において、それぞれ受光した光強度に応じた検出信号Ｕを生成し、図示しない増幅回路により当該検出信号Ｕをそれぞれ増幅して信号処理部１３（図２）へ供給するようになされている。
【０２８２】
すなわちＢＤ光学系１０６Ｂは、光集積素子２１に代えて、レーザダイオード４３、ビームスプリッタ１４７及び１４８、光束分割部１５１並びにフォトディテクタ１４４及び１４９を有している。
【０２８３】
このように光ピックアップ１０６のＢＤ光学系１０６Ｂは、レーザダイオード４３から光ビームＬ１１を出射させ、各種光学部品を介してＢＤ方式の光ディスク１００へ照射するようになされている。
【０２８４】
またＢＤ光学系１０６Ｂは、光ビームＬ１１が光ディスク１００の記録面において反射されてなる反射光ビームＬ１２を、各種光学部品を介してフォトディテクタ１４４及び１４９により受光し、その受光結果に応じた検出信号Ｕを生成するようになされている。
【０２８５】
［２−２．第１光学系による検出信号の生成］
第２の実施の形態では、ビームスプリッタ１４８、光束分割部１５１及び光検出部５２により構成される光学系を第１光学系１２１Ａと呼ぶ。
【０２８６】
第１光学系１２１Ａの光束分割部１５１は、図６（Ａ）と対応する図２０（Ａ）に示すように、複数の領域１５１Ｆ１、１５１Ｆ２及び１５１Ｆ３並びに１５１Ｅ１及び１５１Ｅ２により構成されている。
【０２８７】
領域１５１Ｆ１及び１５１Ｆ２は、それぞれ光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２と同様に構成されている。
【０２８８】
領域１５１Ｆ３は、領域５３Ｆ（図６（Ａ））のような長方形状ではなく、樽型状に構成されている。すなわち領域１５１Ｆ３は、タンジェンシャル方向に関する両端の境界線が直線状に形成され、ラジアル方向に関する両端の境界線が、タンジェンシャル方向に関する中央部分が最も外方へ膨らんだ曲線状に形成されている。
【０２８９】
領域１５１Ｅ１及び１５１Ｅ２は、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２（図６（Ａ））と同様に全体として略Ｌ字状に形成されているものの、領域１５１Ｆ３の形状に対応して、当該領域１５１Ｆ３との間の境界線が湾曲している。
【０２９０】
一方、光検出部５２には、図６（Ｂ）と対応する図２０（Ｂ）に示すように、スポットＴ４ＰＦ、Ｔ４ＰＥ、Ｔ４ＭＦ及びＴ４ＭＥとそれぞれ一部形状が異なるスポットＴ１４ＰＦ、Ｔ１４ＰＥ、Ｔ１４ＭＦ及びＴ１４ＭＥが形成される。
【０２９１】
以下では、スポットＴ１４ＰＦ及びＴ１４ＰＥをまとめてスポットＴ１４Ｐと呼び、スポットＴ１４ＭＦ及びＴ１４ＭＥをまとめてスポットＴ１４Ｍと呼ぶ。さらに、スポットＴ１４ＰＦ、Ｔ１４ＰＥ、Ｔ１４ＭＦ及びＴ１４ＭＥをまとめてスポットＴ１４と呼ぶ。
【０２９２】
光検出部５２の各光検出器は、スポットＴ１４の一部をそれぞれ受光し、その受光量に応じた検出信号Ｕを生成する。
【０２９３】
ところで上述した第１の実施の形態において、信号処理部１３は、（７）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳを算出する際、例えば検出信号ＵＫ１からＵＬ２を減算している。これにより信号処理部１３は、タンジェンシャル方向に関する位置ずれ及びデフォーカスに起因したスポットＴ４の大きさの相違に拘わらず、レンズシフト信号ＳＬＳを精度良く算出することができる。
【０２９４】
このようにレンズシフト信号ＳＬＳを精度良く算出できるのは、光ビームＬ１のデフォーカスによるスポットＴ４Ｐ及びＴ４Ｍのタンジェンシャル方向に関する大きさの相違に起因した検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量が、互いに等しいことによる。
【０２９５】
ところで実際の光ビームＬ１１の光強度は、レーザダイオード４３の特性により一様とはならず、図２１（Ａ）に示すように、中心部分が最も高くその周囲が徐々に低くなる、いわゆるガウシアン分布となる。このため反射光ビームＬ１３の光強度も、同様のガウシアン分布となる。
【０２９６】
ここで、光束分割部１５１（図２０（Ａ））において、タンジェンシャル方向に関して微少な幅を有する任意の区間に注目し、当該区間を注目区間Ａと設定する。注目区間Ａにおける光強度の特性は、図２１（Ａ）と対応する図２１（Ｂ）のように、部分的なガウシアン分布となる。
【０２９７】
この図２１（Ｂ）において、光ビームＬ１３が形成される範囲内で領域１５１Ｅ１、１５１Ｆ３及び１５１Ｅ２にそれぞれ対応する部分を、それぞれ区間ＡＥ１、ＡＦ３及びＡＥ２とする。
【０２９８】
また図２０（Ｂ）において、スポットＴ１４ＰＥ、Ｔ１４ＰＦ、Ｔ１４ＭＥ及びＴ１４ＭＦにおける当該注目区間Ａに対応する部分は、それぞれスポット領域ＴＡＰＥ、ＴＡＰＦ、ＴＡＭＥ及びＴＡＭＦとなる。
【０２９９】
スポット領域ＴＡＰＥ及びＴＡＰＦは、注目区間Ａを適切に設定することにより、例えばスポットＴ１４ＰＥ及びＴ１４ＰＦのうち光検出器５２Ｋ１及び５２Ｌ２に照射される範囲が光ビームＬ１１のデフォーカスにより変化する際の変化分と見なすことができる。
【０３００】
すなわち、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量を互いに等しくするには、注目区間Ａを任意に設定したときのスポット領域ＴＡＰＥ及びＴＡＰＦにおける光量を互いに等しくすれば良い。
【０３０１】
そこで光束分割部１５１は、任意に設定した注目区間Ａについて、区間ＡＦ３における光強度の積算値と、区間ＡＥ１及び区間ＡＥ２における光強度の積算値とを等しくするよう、領域１５１Ｆ３と領域１５１Ｅ１及び領域１５１Ｅ２との境界線が形成されている。
【０３０２】
この境界線は、反射光ビームＬ１３の光強度がガウシアン分布となっていることから、図２０（Ｂ）に示したように、タンジェンシャル方向に関する中央部分が最も外方へ膨むよう湾曲した曲線となっている。
【０３０３】
これにより光検出器５２Ｋ１及び５２Ｌ２は、図１４に示した場合と同様に、タンジェンシャル方向に関しスポットＴ１４がずれた位置に形成され且つスポットＴ１４ＰとＴ１４Ｍとの大きさが相違したとしても、検出信号ＵＫ１の変化量と検出信号ＵＬ２の変化量とをほぼ同等とすることができる。
【０３０４】
これと同様に、このとき検出信号ＵＬ１の変化量は検出信号ＵＫ２の変化量とほぼ同等となり、検出信号ＵＭ１の変化量は検出信号ＵＮ２の変化量とほぼ同等となり、検出信号ＵＮ１の変化量は検出信号ＵＭ２の変化量とほぼ同等となる。
【０３０５】
このため信号処理部１３は、上述した（７）式又はこれと等価な（５）式若しくは（６）式に従った演算を行うことにより、ガウシアン分布を考慮して各検出信号Ｕの増減分を相殺した高精度なレンズシフト信号ＳＬＳを生成することができる。
【０３０６】
［２−３．第２光学系による検出信号の生成］
第２の実施の形態では、第１の実施の形態における光束分割部５３に相当する光学部品は設けられておらず、ビームスプリッタ１４８を透過した反射光ビームＬ１５はそのまま光検出部１５４へ照射される。以下、ビームスプリッタ１４８及び光検出部１５４により構成される光学系を第２光学系１２１Ｂと呼ぶ。
【０３０７】
第２光学系１２１Ｂの光検出部１５４は、図２２に示すように、光検出部５４とほぼ同様に構成されており、全体が略正方形状に形成され、格子状に４つの領域１５４Ａ、１５４Ｂ、１５４Ｃ及び１５４Ｄに４分割されている。
【０３０８】
因みに第２光学系１２１Ｂは、反射光ビームＬ５の仮想的な中心点Ｌ５Ｑが光束分割部１５４における分割中心１５４Ｑに重なるよう設計されている。
【０３０９】
ここで第２の実施の形態によるＢＤ光学系１０６Ｂでは、各光学部品が独立しているため、各光学部品の取付位置を比較的自由に調整することができる。すなわちＢＤ光学系１０６Ｂでは、フォトディテクタ１４９の取付位置を調整することにより、反射光ビームＬ５の仮想的な中心点Ｌ５Ｑを分割中心５３Ｑに精度良く合わせることが可能となる。
【０３１０】
これにより領域１５４Ａ、１５４Ｂ、１５４Ｃ及び１５４Ｄは、第１の実施の形態における領域５４Ａ、５４Ｂ、５４Ｃ及び５４Ｄと同様に検出信号ＵＡ、ＵＢ、ＵＣ及びＵＤをそれぞれ生成することができる。
【０３１１】
この結果、信号処理部１３は、（８）式に従いトラッキングエラー信号ＳＴＥを算出し得ると共に、（９）式に従って再生ＲＦ信号ＳＲＦを算出することができる。
【０３１２】
このように第２光学系１２１Ｂは、第１の実施の形態と同様にトラッキングエラー信号ＳＴＥ及び再生ＲＦ信号ＳＲＦを適切に算出し得るような検出信号ＵＡ〜ＵＤをそれぞれ生成し得るようになされている。
【０３１３】
［２−４．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０１の光ピックアップ１０６は、光集積素子１２１の第１光学系１２１Ａにおいて、光束分割部１５１の領域１５１Ｆ１、１５１Ｆ２を領域１５１Ｆ３によりタンジェンシャル方向に連結した。
【０３１４】
また光束分割部１５１は、領域１５１Ｆと領域１５１Ｅとで反射光ビームＬ１３の回折角度を相違させることにより、反射光ビームＬ１４ＰＦ、Ｌ１４ＰＥ、Ｌ１４ＭＦ及びＬ１４ＭＥを生成し、これらを互いに相違する方向へ進行させる。
【０３１５】
その後反射光ビームＬ１４ＰＦ、Ｌ１４ＰＥ、Ｌ１４ＭＦ及びＬ１４ＭＥは、光検出部５２の光検出器群５２Ａ及び５２ＢにスポットＴ１４ＰＦ、Ｔ１４ＰＥ、Ｔ１４ＭＦ及びＴ１４ＭＥをそれぞれ形成する。光検出器群５２Ａ及び５２Ｂの各光検出器は、それぞれの受光量に応じた検出信号Ｕをそれぞれ生成して信号処理部１３へ送出する。
【０３１６】
信号処理部１３は、第１の実施の形態と同様に、検出信号Ｕを用いることにより、（１）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥを生成し、また（３）〜（５）式に従ってレンズシフト信号ＳＬＳを生成する。
【０３１７】
特に光束分割部１５１では、反射光ビームＬ１３における光強度のガウシアン分布に応じて、任意の注目区間Ａについて、区間ＡＦ３（図２１（Ｂ））における光強度の積算値と区間ＡＥ１及び区間ＡＥ２における光強度の積算値とを等しくするよう、領域１５１Ｆ３と領域１５１Ｅ１及び領域１５１Ｅ２との境界線を湾曲させた。
【０３１８】
このため光集積素子１２１では、光検出部５２においてタンジェンシャル方向に関しスポットＴ１４がずれて照射され、さらに光ビームＬ１１がデフォーカスしたとしても、第１の実施の形態と同様に、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量をほぼ同等にすることができる。
【０３１９】
また光集積素子１２１では、これと同様に、このとき検出信号ＵＬ１の変化量を検出信号ＵＫ２の変化量とほぼ同等に、検出信号ＵＭ１の変化量を検出信号ＵＮ２の変化量とほぼ同等に、検出信号ＵＮ１の変化量を検出信号ＵＭ２の変化量とほぼ同等にすることができる。
【０３２０】
このため信号処理部１３は、光集積素子１２１から供給される検出信号Ｕを基に（７）式に従った演算を行うことにより、光学部品の取付位置ずれ等による影響及び光ビームＬ１１のデフォーカスによる影響をガウシアン分布も考慮して排除した高精度なレンズシフト信号ＳＬＳを生成することができる。
【０３２１】
その他、光集積素子１２１は、第１の実施の形態における光集積素子２１と同様の作用効果を奏し得る。
【０３２２】
以上の構成によれば、光集積素子１２１の第１光学系１２１Ａは、光束分割部１５１において、タンジェンシャル方向に関する両端のラジアル方向に関し互いに反対側に領域１５１Ｆ１及び１５１Ｆ２を設け、当該領域１５１Ｆ１及び１５１Ｆ２を領域１５１Ｆ３によりタンジェンシャル方向に繋ぐようにした。これにより第１光学系１２１Ａは、タンジェンシャル方向に関して、スポットＴ１４の形成位置がずれ且つスポットＴ１４Ｐ及びＴ１４Ｍの大きさが相違しても、検出信号ＵＫ１及びＵＬ２の変化量、検出信号ＵＬ１及びＵＫ２の変化量、検出信号ＵＭ１及びＵＮ２の変化量、並びに検出信号ＵＮ１及びＵＭ２の変化量をいずれもほぼ同等とすることができる。このため信号処理部１３は、（７）式に従った演算処理を行うことにより、光学部品の取付位置ずれ及び光ビームＬ１１のデフォーカスの影響をガウシアン分布も考慮して排除した高精度なレンズシフト信号ＳＬＳを算出することができる。
【０３２３】
＜３．他の実施の形態＞
なお上述した第１の実施の形態においては、領域５１Ｅ１及び５１Ｅ２における反射光ビームＬ３の照射面積の合計と領域５１Ｆ３の面積とをほぼ同等とする場合について述べた。さらに第２の実施の形態では、任意に設定した注目区間Ａ（図２０）について、区間ＡＦ３における光強度の積算値と、区間ＡＥ１及び区間ＡＥ２における光強度の積算値とを等しくするよう領域１５１Ｆ３を形成する場合について述べた。
【０３２４】
本発明はこれに限らず、要はタンジェンシャル方向に関しスポットＴ４がずれた位置に形成され且つスポットＴ４ＰとＴ４Ｍとの大きさが相違したときに、（７）式に従った演算において、例えば検出信号ＵＫ１の変化量と検出信号ＵＬ２の変化量とをある程度相殺できれば良い。
【０３２５】
すなわち本発明では、少なくとも任意の形状でなる領域５１Ｆ３又は領域１５１Ｆ３により、領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２の間又は領域１５１Ｆ１及び１５１Ｆ２の間を結ぶようにすれば良い。この場合、第１の実施の形態又は第２の実施の形態のように、検出信号ＵＫ１の変化量と検出信号ＵＬ２の変化量とをほぼ完全に相殺することはできないものの、スポットＴ４がずれた位置に形成されることによる影響をある程度補正することが可能となる。
【０３２６】
因みに反射光ビームＬ１３における光強度の分布幅が比較的小さい場合には、第１の実施の形態のように領域５１Ｆ３を略長方形状に形成しても、スポットＴ４がずれた位置に形成されることによる影響を良好に補正することが可能となる。
【０３２７】
また上述した第１の実施の形態においては、領域５１Ｆ３を略長方形状とし、第２の実施の形態においては領域１５１Ｆ３を略樽型状とするようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば図２３に示すように、光束分割部５１と対応する光束分割部２５１において、領域２５１Ｆ３を略糸巻き型状としても良い。
【０３２８】
この光束分割部２５１の場合、反射光ビームＬ３（図５）におけるプッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２の形状と対応するように、領域２５１Ｆ３と領域２５１Ｅ１及び領域２５１Ｅ２との境界線における中央部分が中心点Ｌ３Ｑに近接するよう湾曲している。
【０３２９】
このため光束分割部２５１は、図２３（Ｂ）に示すように、レンズシフト等により反射光ビームＬ３がラジアル方向に移動した場合にも、プッシュプル領域ＰＰ１及びＰＰ２が領域２５１Ｆ３にかからないようにすることができる。これにより、光検出部５２（図６（Ｂ））の光検出器５２Ｋ２及び５２Ｌ２等により検出する検出信号ＵＫ２及びＵＬ２等を、プッシュプル成分の変動による影響を受けることなく安定化することができる。
【０３３０】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２（図６（Ａ））におけるラジアル方向に関する長さを、光束分割部５１全体の約半分とする場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば図２４に示すように、光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２とそれぞれ対応する領域３５１Ｆ１及び３５１Ｆ２が形成された光束分割部３５１を用いても良い。
【０３３１】
領域３５１Ｆ１及び３５１Ｆ２は、ラジアル方向に関する長さが領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２よりも延長され、いずれも光束分割部３５１の仮想的な中心線３５１Ｘに跨るように形成されている。
【０３３２】
これにより光束分割部５１の場合と比較して、光検出部５２（図６（Ｂ））の光検出器５２Ｋ２及び５２Ｌ２等により検出する検出信号ＵＬ２及びＬＫ２等と、光検出器５２Ｋ１及び５２Ｌ１等により検出する検出信号ＵＫ１及びＵＬ１等との差分を拡大することができる。この結果、信号処理部１３において（７）式等に従い算出されるレンズシフト信号ＳＬＳの振幅を拡大することができる。第２の実施の形態についても同様である。
【０３３３】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２（図６（Ａ））をいずれも略長方形状とした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば図２５に示すように、他の形状でなる領域４５１Ｆ１及び４５１Ｆ２が設けられた光束分割部４５１を用いても良い。
【０３３４】
領域４５１Ｆ１は、領域５１Ｆ１と比較して、領域４５１Ｅ１との境界線がラジアル方向と略平行ではなく、当該境界線における中心線４５１Ｘ側が中心点４５１Ｑに近接するよう、ラジアル方向に対し傾斜している。これと同様に領域４５１Ｆ２は、中心点４５１Ｑを中心として領域４５１Ｆ１と回転対称となっており、領域４５１Ｅ２との境界線が同様に傾斜している。この場合にも、信号処理部１３において（７）式等に従いレンズシフト信号ＳＬＳを適切に算出することができる。第２の実施の形態についても同様である。
【０３３５】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光束分割部５１の領域５１Ｆ１及び５１Ｆ２（図６（Ａ））をいずれもタンジェンシャル方向に関し両端側に設けた場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば図２６に示すように、タンジェンシャル方向に関し両端からやや中央に寄った位置に領域５５１Ｆ１及び５５１Ｆ２が設けられた光束分割部５５１を用いても良い。この場合にも、信号処理部１３において（７）式等に従いレンズシフト信号ＳＬＳを適切に算出することができる。第２の実施の形態についても同様である。
【０３３６】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光束分割部５１の各領域に回折格子を設けることにより、反射光ビームＬ３を複数の反射光ビームＬ４に分割するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、光束分割部５１の各領域にホログラム等の光学素子を設けることにより、同様に反射光ビームＬ３を複数の反射光ビームＬ４に分割するようにしても良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０３３７】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光束分割部５１の各領域に形成した回折格子にシリンドリカルレンズと同様の機能を持たせ、スポットＴ４をラジアル方向に収束させるようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、各領域に形成した回折格子にシリンドリカルレンズと同様の機能を持たせないようにしても良い。この場合、別途シリンドリカルレンズを設け、或いは光検出部５２をタンジェンシャル方向に拡張すれば良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０３３８】
さらに上述した第１の実施の形態では、例えば光検出部５２の光検出群５２Ａ（図６（Ｂ））をタンジェンシャル方向に大きく３分割し、且つその両端部分をさらにラジアル方向に２分割したように各光検出器を構成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えばタンジェンシャル方向に４以上に分割するなど、分割数を任意に設定しても良い。この場合、タンジェンシャル方向に２以上に分割され、且つその両端部分がラジアル方向に２分割されていれば良い。実際上、光検出部５２の光検出群５２Ａ及び５２Ｂは、レンズシフト信号ＳＬＳを算出する観点から、少なくともスポットＴ４ＰＦ１、Ｔ４ＰＦ２、Ｔ４ＰＥ３及びＴ４ＰＥ４の光量をそれぞれ独立して検出できれば良い。
【０３３９】
また光検出器群５２Ａ及び５２Ｂは、タンジェンシャル方向に関し、スポットＴ４ＰＥ及びＴ４ＰＦ等が照射される範囲で３以上に分割されていれば、生成する検出信号Ｕを基にＳＳＤ法に従ったフォーカスエラー信号ＳＦＥを算出することも可能となる。第２の実施の形態についても同様である。
【０３４０】
さらに上述した第１の実施の形態においては、フォトディテクタ４４において、光検出部５２及び５４の各光検出器により生成した検出信号Ｕを所定の増幅回路によりそれぞれ増幅した上で信号処理部１３へ供給する場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えばフォトディテクタ４４内で上述した（２）式に相当する加算処理を行って中間値ＵＫ、ＵＬ、ＵＭ及びＵＮを生成した上で、当該中間値ＵＫ、ＵＬ、ＵＭ及びＵＮをそれぞれ増幅した上で信号処理部１３へ供給するようにしても良い。
【０３４１】
これによりフォトディテクタ４４は、各検出信号を増幅するための増幅回路の数を削減することができ、いわゆるアンプノイズの加算による信号精度の低下を抑えることができる。他の実施の形態についても同様である。
【０３４２】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光集積素子２１内に光束分割部５１を形成することによりＢＤ光学系６Ｂを構成し、第２の実施の形態においては単体の光束分割部１５１を組み合わせることによりＢＤ光学系１０６Ｂを構成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、単体若しくは他の任意の部品と一体化された光束分割部５１を用いて種々の光学系又は光ピックアップを構成するようにしても良い。
【０３４３】
さらに上述した第１実施の形態においては、第２光学系２１Ｂにより生成した検出信号ＵＡ〜ＵＤを基に、プッシュプル法に基づいてトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成し、また再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、任意の手法に基づいてトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成するようにしても良く、また第１光学系２１Ａ及び第２光学系２１Ｂのいずれにより生成した検出信号Ｕを基にトラッキングエラー信号ＳＴＥを生成しても良い。要は、第１光学系２１Ａにより生成した検出信号Ｕを基に少なくともフォーカスエラー信号ＳＦＥ及びレンズシフト信号ＳＬＳを生成するようにすれば良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０３４４】
さらに上述した第１の実施の形態においては、ＢＤ方式の光ディスク１００Ｂに対応するＢＤ光学系６Ｂにおいて、光束分割部５１に領域５１Ｆ３を設けるようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、各種方式の光ディスクに対応した光ピックアップ等に適用することができ、例えばＤＶＤ／ＣＤ光学系６Ｄにおいて光束分割部５１と同様の光束分割部を設けるようにしても良い。或いは、ＤＶＤ方式の光ディスク１００Ｄに対応する光ピックアップやＣＤ方式の光ディスク１００Ｃに対応する光ピックアップにおいて光束分割部５１と同様の光束分割部を設けるようにしても良い。さらには、光ピックアップ６にＢＤ光学系６Ｂのみを設けるようにしても良い。第２の実施の形態についても同様である。
【０３４５】
さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク装置１が光ディスク１００に対する情報の記録と当該光ディスク１００からの情報の再生とを行い得るようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば光ディスク１００からの情報の再生のみを行い得る、いわゆる再生専用型の光ディスク装置に適用するようにしても良い。
【０３４６】
さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード４３と、分割導光部としての分割導光部５１と、受光部としての光受光部５２とによって光集積素子としての光集積素子２１を構成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、分割導光部と、受光部とによって光集積素子を構成するようにしても良い。
【０３４７】
さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード４３と、対物レンズとしての対物レンズ９Ｂと、分割導光部としての分割導光部５１と、受光部としての光受光部５２とによって光ピックアップとしての光ピックアップ６を構成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、対物レンズと、分割導光部と、受光部とによって光ピックアップを構成するようにしても良い。
【０３４８】
さらに上述した実施の形態においては、光源としてのレーザダイオード４３と、対物レンズとしての対物レンズ９Ｂと、分割導光部としての分割導光部５１と、受光部としての光受光部５２と、信号処理部としての信号処理部１３と、駆動部としての駆動制御部１２及びアクチュエータ８とによって光ディスク装置としての光ディスク装置１を構成する場合について述べた。本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる光源と、対物レンズと、分割導光部と、受光部と、信号処理部と、駆動部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。
【産業上の利用可能性】
【０３４９】
本発明は、種々の情報を記録し、また再生する種々の方式に対応する光ディスク装置でも利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０３５０】
【図１】光ディスク装置の構成（１）を示す略線的斜視図である。
【図２】光ディスク装置の構成（２）を示す略線図である。
【図３】光ピックアップの構成（１）を示す略線的斜視図である。
【図４】光ピックアップの構成（２）を示す略線図である。
【図５】反射光ビームにおける光束の断面形状を示す略線図である。
【図６】第１の実施の形態における光束分割部及び光検出部の構成（１）を示す略線図である。
【図７】第１光学系による光ビームの分割の説明に供する略線図である。
【図８】光束分割部による焦点位置の移動の説明に供する略線図である。
【図９】ＳＳＤ法におけるスポット形状の変化の説明に供する略線図である。
【図１０】レンズシフトとスポット形状との関係（１）を示す略線図である。
【図１１】レンズシフトとスポット形状との関係（２）を示す略線図である。
【図１２】レンズシフトとスポット形状との関係（３）を示す略線図である。
【図１３】光検出部に形成されるスポットの形状（１）を示す略線図である。
【図１４】光検出部に形成されるスポットの形状（２）を示す略線図である。
【図１５】第１の実施の形態における光束分割部及び光検出部の構成（２）を示す略線図である。
【図１６】仮想的な光学系における光束分割部及び光検出部の構成を示す略線図である。
【図１７】仮想的な光学系の光検出部に形成されるスポットの形状（１）を示す略線図である。
【図１８】仮想的な光学系の光検出部に形成されるスポットの形状（２）を示す略線図である。
【図１９】第２の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。
【図２０】第２の実施の形態による光束分割部及び光検出部の構成を示す略線図である。
【図２１】光ビームにおける光強度特性を示す略線図である。
【図２２】第２の実施の形態による光検出部の構成を示す略線図である。
【図２３】他の実施の形態による光束分割部の構成（１）を示す略線図である。
【図２４】他の実施の形態による光束分割部の構成（２）を示す略線図である。
【図２５】他の実施の形態による光束分割部の構成（３）を示す略線図である。
【図２６】他の実施の形態による光束分割部の構成（４）を示す略線図である。
【符号の説明】
【０３５１】
１、１０１……光ディスク装置、６、１０６……光ピックアップ、６Ｂ、１０６Ｂ……ＢＤ光学系、８……アクチュエータ、９、９Ｂ……対物レンズ、１１……制御部、１２……駆動制御部、１３……信号処理部、２１、１２１……光集積素子、４３……レーザダイオード、４４……フォトディテクタ、５１、１５１……光束分割部、５１Ｆ１、５１Ｆ２、５１Ｆ３、５１Ｅ１、５１Ｅ２、１５１Ｆ１、１５１Ｆ２、１５１Ｆ３、１５１Ｅ１、１５１Ｅ２……領域、５２……光検出部、５２Ａ、５２Ｂ……光検出器群、５２Ｋ１、５２Ｋ２、５２Ｌ１、５２Ｌ２、５２Ｍ１、５２Ｍ２、５２Ｎ１、５２Ｎ２、５２Ｗ、５２Ｚ……光検出器、１００……光ディスク、Ｌ１、Ｌ２……光ビーム、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５、Ｌ６……反射光ビーム、Ｔ４、Ｔ４Ｐ、Ｔ４Ｍ、Ｔ４ＰＦ、Ｔ４ＰＥ、Ｔ４ＭＦ、Ｔ４ＭＥ、Ｔ１４、Ｔ１４Ｐ、Ｔ１４Ｍ、Ｔ１４ＰＦ、Ｔ１４ＰＥ、Ｔ１４ＭＦ、Ｔ１４ＭＥ……スポット。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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