(57)【要約】【課題】本発明は、ディスクドライブ装置の検査する場合にディスクドライブ装置を解体したり、検査用冶具ＰＣＢを設けたりせずに、ディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事を目的とするものである。【解決手段】そしてこの目的を達成するために、本発明は、電子回路基板５と、前記電子回路基板５上には、検査用ポイント孔部３と、前記検査用ポイント孔部３と同じ前記電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタ６と、前記検査用ポイント孔部３の横に切欠部２と、を備えたものである。【選択図】図２
2010086592.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体内に組み込まれた電子回路基板と、
前記電子回路基板上には、外部検査用端子部が接触する検査用ポイント孔部と、
前記検査用ポイント孔部と同じ前記電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタと、
前記検査用ポイント孔部の横に切欠部と、
前記筐体には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部と、
を備えた、
前記筐体孔部の外部から前記電子回路基板を検査する事が出来る事を特徴とするディスクドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスクドライブ装置の外部から検査が容易に出来るディスクドライブ装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のディスクドライブ装置を検査するための構成は次のような構成となっていた。すなわち、ディスクドライブ装置を解体し検査用ポイントへ半田付け等をしてから検査を行ったり、新たに検査用の冶具ＰＣＢを設けた構成となっていた。また、図６から図８は従来の電子回路基板を検査するための一例の構成図である。図６は、従来のディスクドライブ装置全体斜視図、図７は、従来の電子回路基板斜視図、図８は、従来の検査状態図である。特に図８について説明すると、ディスクドライブ装置の状態を検査する場合は、検査用の冶具ＰＣＢ９をディスクドライブ装置４へ接続し、冶具ＰＣＢ９には評価用ＰＣ１０からＲＳ２３２Ｃ１１、ＤＣ５Ｖ１２、ＡＴＡＰＩ１３がそれぞれ接続され、検査する事になっていた。
【特許文献１】特開平９−１２７１７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上記従来の技術における課題は、ディスクドライブ装置の検査を実施する場合、ディスクドライブ装置を一度解体し、必要な箇所へ検査用の端子を半田付けする必要があったり、検査用の冶具ＰＣＢを設けたりして、検査するために大変な手間および時間がかかるという事であった。
【０００４】
すなわち、検査を実施する場合に検査前の準備が必要となっていたのである。
【０００５】
そこで本発明は、ディスクドライブ装置の検査する場合に、ディスクドライブ装置の解体や冶具ＰＣＢを設けたりせずにディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事を目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
そしてこの目的を達成するために、本発明は、筐体内に組み込まれた電子回路基板と、前記電子回路基板上には、外部検査用端子部が接触する検査用ポイント孔部と、前記検査用ポイント孔部と同じ前記電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタと、前記検査用ポイント孔部の横に切欠部と、前記筐体には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部とを備え、これにより初期の目的を達成するものである。
【発明の効果】
【０００７】
以上のように本発明は、筐体内に組み込まれた電子回路基板と、前記電子回路基板上には、外部検査用端子部が接触する検査用ポイント孔部と、前記検査用ポイント孔部と同じ前記電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタと、前記検査用ポイント孔部の横に切欠部と、前記筐体には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部とを備えたものであるので、ディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事が出来る。さらに、ディスクドライブ装置および電子回路基板上に複数の孔部、切欠部を設けたものであるので、ディスクドライブ装置全体の軽量化も図る事が出来るものでもある。
【０００８】
すなわち、本発明においては、ディスクドライブ装置には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部とを備えたものであるので、ディスクドライブ装置の検査を実施する場合に、外部検査用の端子を接続するためのディスクドライブ装置の解体や半田付けを前準備する必要はなく、その結果として、ディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事が出来るのである。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
請求項１記載の発明は、筐体内に組み込まれた電子回路基板と、電子回路基板上には、外部検査用端子部が接触する検査用ポイント孔部と、検査用ポイント孔部と同じ電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタと、検査用ポイント孔部の横に切欠部と、筐体には、検査用ポイント孔部と切欠部と平行した箇所に孔部とを備え、筐体孔部の外部から電子回路基板を検査する事が出来る事を特徴とするものである。この事により、ディスクドライブ装置を分解する事なくまた検査用の半田付け等をする事なく、さらに検査用ＰＣＢを接続するような事もなく、ディスクドライブ装置の外部から基板の検査が出来る。さらに、ディスクドライブ装置および電子回路基板上に複数の孔部、切欠部を設けたものであるので、ディスクドライブ装置全体の軽量化も図る事が出来るものでもある。
【００１０】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。
【００１１】
図１は、本発明のディスクドライブ装置全体斜視図である。ここではディスクドライブ装置４は、シリアル通信可能なディスクドライブ装置とする。例えば外部検査装置からディスクドライブ装置を検査する場合に、外部検査装置からみてデータを送信するためのデータ（ディスクドライブ装置にしてみれば、外部検査装置から受信するデータ）をＴＸＤデータ、受信するためのデータをＲＸＤデータと称し、ディスクドライブ装置と外部検査装置間でシリアルデータを送受信する事が出来る。また、ＴＸＤ接続口１ａ、ＲＸＤ接続口１ｂを合わせて、筐体孔部１と取決める。これは、ＴＸＤ接続口１ａおよびＲＸＤ接続口１ｂの接続口は、互いに入れ替わった場所でも問題ないからである。ディスクドライブ装置４には、シリアルインターフェイスコネクタ６および検査用の孔部が２つ設けられている。検査用の孔部は、それぞれＴＸＤ接続口１ａ、ＲＸＤ接続口１ｂである。ディスクドライブ装置４を検査する場合に、ＴＸＤ接続口１ａは外部検査装置（図示せず：例えば検査用ＰＣ）からのデータを受信するための接続口であり、ＲＸＤ接続口１ｂは外部検査装置（図示せず）へデータを送信するための接続口である。
【００１２】
図２は、本発明の電子回路基板上面図および要部拡大図である。図３は、本発明の電子回路基板斜視図である。電子回路基板５は、ディスクドライブ装置４に内蔵されている。電子回路基板５上のシリアルインターフェイスコネクタ６と同じ端面には、図１におけるＴＸＤ接続口１ａおよびＲＸＤ接続口１ｂに平行した場所にそれぞれ切欠部２、検査用ポイント孔部３が設けられている。切欠部２の大きさは検査用ポイント孔部３に対して、大きく開口されている。また、電子回路基板５上面からみると、検査用ポイント孔部３の形状は楕円形状、切欠部２は凹部形状になっているが、他の形状でも問題ない。
【００１３】
図４は、本発明の外部検査用端子部付き図（ディスクドライブ装置斜視図）であり、図５は、本発明の外部検査用端子部付き図（電子回路基板斜視図）である。ディスクドライブ装置４を検査する場合は、ＴＸＤ接続口１ａおよびＲＸＤ接続口１ｂから外部検査用端子部７および外部検査用端子把持部８をディスクドライブ装置４の側面に対して、ほぼ垂直に挿入する。外部検査用端子部７は、検査用ポイント孔部３にしっかり固定されるよう保持される。その際、外部検査用端子把持部８の先端部は切欠側方部２ｃに接し、外部検査用端子把持部８の側面部はＴＸＤ接続口１ａおよびＲＸＤ接続口１ｂにより位置を保持される事になる。
【００１４】
すなわち、電子回路基板５上には、外部検査用端子部７が接触する検査用ポイント孔部３と、検査用ポイント孔部３の横に切欠部２と、筐体には、検査用ポイント孔部３と切欠部２と平行した箇所に孔部１とを備える事により、ディスクドライブ装置４の外部からディスクドライブ装置４の検査容易化を図る事が出来る。
【００１５】
以下、本発明の実施の形態における最も大きな特徴部分である筐体孔部１、検査用ポイント孔部３および切欠部２について説明する。上述のごとく、筐体孔部１、検査用ポイント孔部３および切欠部２の位置関係は、筐体孔部１からディスクドライブ装置４内部をみた場合、一直線上に、互いに近接する位置に配置されている。また、検査用ポイント孔部３よりも切欠部２の形状の方が大きく形成されている。これは通常検査用として使用される外部検査用端子部７をディスクドライブ装置４外部から検査用ポイント孔部３へ接触させる場合に、外部検査用端子部７は検査用ポイント孔部３が小さいため接触位置が適当に固定され、切欠部２が検査用ポイント孔部３よりも広いためある程度斜めの角度からでも正確に検査用ポイント孔部３へ外部検査用端子部７を接触させる事が出来る。さらに、検査用ポイント孔部３に外部検査用端子部７を接触させた場合でも、外部検査用端子把持部８は切欠部２の切欠側方部２ａ、切欠側方部２ｂとそれぞれ接触しない程度に広いため、少し斜めの角度での検査用ポイント孔部３への接触でも外部検査用端子部７および外部検査用端子把持部８は、電子回路基板５に対してほぼ垂直になるよう挿入されるので、問題なく接触し検査出来る。
【００１６】
さらにまた、筐体孔部１からディスクドライブ装置４内部をみた場合の筐体孔部１の断面積は、検査用ポイント孔部３、切欠部２よりも小さくなっている。この事により、外部検査用端子把持部８が挿入される程度に筐体孔部１が大きく、さらに粉塵等がディスクドライブ装置４内部に入らないため、また安全規格の面も考慮されているという事が出来る。
【００１７】
つまり、電子回路基板５上には、外部検査用端子部７が接触する検査用ポイント孔部３と、検査用ポイント孔部３の横に切欠部２と、筐体には、検査用ポイント孔部３と切欠部２と平行した箇所に孔部１とを備える事により、ディスクドライブ装置４の外部からディスクドライブ装置４の検査容易化を図る事が出来るとともに、ディスクドライブ装置全体の軽量化を図る事も出来るのである。
【産業上の利用可能性】
【００１８】
以上のように本発明は、筐体内に組み込まれた回路基板と、前記回路基板上には、外部検査用端子部が接触する検査用ポイント孔部と、前記検査用ポイント孔部と同じ前記電子回路基板端面にシリアルインターフェイスコネクタと、前記検査用ポイント孔部の横に切欠部と、前記ディスクドライブ装置には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部とを備えたものであるので、ディスクドライブ装置の検査する際に解体せずにディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事が出来る。
【００１９】
すなわち、本発明においては、ディスクドライブ装置には、前記検査用ポイント孔部と前記切欠部と平行した箇所に孔部とを備えたものであるので、ディスクドライブ装置の検査を実施する場合に、外部検査用の端子を接続するためのディスクドライブ装置の解体や半田付けを前準備する必要や、さらに新たに検査用の冶具ＰＣＢを設ける必要がない。その結果として、ディスクドライブ装置外部からの検査容易化を図る事が出来るのである。さらに合わせて、ディスクドライブ装置全体の軽量化も図る事が出来る。
【００２０】
また、本発明では、筐体はディスクドライブ装置として説明したが、電子回路基板を有する他の電子機器でも同様な利用および効果を図る事が出来る。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明のディスクドライブ装置全体斜視図
【図２】本発明の電子回路基板上面図および要部拡大図
【図３】本発明の電子回路基板斜視図
【図４】本発明の外部検査用端子部付き図（ディスクドライブ装置斜視図）
【図５】本発明の外部検査用端子部付き図（電子回路基板斜視図）
【図６】従来のディスクドライブ装置全体斜視図
【図７】従来の電子回路基板斜視図
【図８】従来の検査状態図
【符号の説明】
【００２２】
１    筐体孔部
１ａ    ＴＸＤ接続口
１ｂ    ＲＸＤ接続口
２    切欠部
２ａ    切欠側方部
２ｂ    切欠側方部
２ｃ    切欠側方部
３    検査用ポイント孔部
４    ディスクドライブ装置
５    電子回路基板
６    シリアルインターフェイスコネクタ
７    外部検査用端子部
８    外部検査用端子把持部
９    冶具ＰＣＢ
１０    評価用ＰＣ
１１    ＲＳ２３２Ｃ
１２    ＤＣ５Ｖ
１３    ＡＴＡＰＩ
【図１】
2010086592.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2010086592.tif 000008
【図７】
2010086592.tif 000009
【図８】
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