Podtech/llm-jp-corpus-v4-ja_patent huggingface dataset:
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月15日(2005.3.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を実装ケース内に収納する実装ケース入り電気光学装置であって、
前記実装ケースは、
前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、
該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、
前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を、その冷却風の通り路を構成する面の少なくとも一部として含む冷却風導通部と、
前記冷却風を前記冷却風導通部に通す冷却風入口と、
前記冷却風導通部から前記冷却風を送り出す冷却風出口と
を備えたことを特徴とする実装ケース入り電気光学装置。
【請求項２】
前記通り路を構成する面のうち前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を含むものを除く他の面の少なくとも一部は、前記カバー及び前記プレートの少なくとも一方の内面の少なくとも一部を含むことを特徴とする請求項１に記載の実装ケース入り電気光学装置。
【請求項３】
前記冷却風導通部は、
前記カバーの一側面に形成された第１の孔を前記冷却風入口として含み、
前記カバーの前記一側面に対向する側面に形成された第２の孔を前記冷却風出口として含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記通り路は複数存在し、
そのうちの一の通り路を構成する面の少なくとも一部は、前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を含み、
別の通り路を構成する面の少なくとも一部は、前記電気光学装置の側面とは反対側の側面の少なくとも一部を含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記カバーは、
前記画像表示領域に対応する窓をもつカバー本体部と、
該カバー本体部に接続され又は該カバー本体部から延設されており、前記窓を介して露出する前記電気光学装置の表面に冷却風を送り出すための冷却風導入部とを備えてなり、
前記冷却風入口は、
前記カバー本体部における前記冷却風導入部が設けられていない部分に形成されていることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記カバーは表面積増大手段を備えていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記カバー及び前記プレートの少なくとも一方は、前記電気光学装置の少なくとも一部と相互に接触していることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載の電気光学装置。
【請求項８】
画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を実装ケース内に収納する実装ケース入り電気光学装置であって、
前記実装ケースは、前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、
該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、
該カバーの側面であって、且つ、当該実装ケース入り電気光学装置に向けて送り出されてくる冷却風の風上側に位置する側面に開口された冷却風導入口と、
前記冷却風の風下側に位置する側面に開口された冷却風導出口と、
を備えたことを特徴とする実装ケース入り電気光学装置。
【請求項９】
画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を収納する実装ケースであって、
前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、
該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、
前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を、その冷却風の通り路を構成する面の少なくとも一部として含む冷却風導通部と、
前記冷却風を前記冷却風導通部に通す冷却風入口と、
前記冷却風導通部から前記冷却風を送り出す冷却風出口と
を備えたことを特徴とする実装ケース。
【請求項１０】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の実装ケース入り電気光学装置と、
前記光源と、
前記投射光を前記電気光学装置に導く光学系と、
前記電気光学装置から出射される投射光を投射する投射光学系と、
前記実装ケース入り電気光学装置に対して冷却風を送出する冷却風送出手段と
を備えたことを特徴とする投射型表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の第１の実装ケース入り電気光学装置は、上記課題を解決するため、画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を実装ケース内に収納する実装ケース入り電気光学装置であって、前記実装ケースは、前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を、その冷却風の通り路を構成する面の少なくとも一部として含む冷却風導通部と、前記冷却風を前記冷却風導通部に通す冷却風入口と、前記冷却風導通部から前記冷却風を送り出す冷却風出口とを備えている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
本発明の第１の実装ケース入り電気光学装置によれば、画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置が、カバー及びプレートからなる実装ケース内に実装される。このような電気光学装置としては、例えば投射型表示装置におけるライトバルブとして実装される液晶装置或いは液晶パネルが挙げられる。なお、このような実装ケースには、電気光学装置の周辺領域を少なくとも部分的に覆うことにより、当該周辺領域における光抜けを防止したり或いは周辺領域から画像表示領域内に迷光が進入するのを防止する遮光機能を持たせてもよい。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
本発明の第２の実装ケース入り電気光学装置は、上記課題を解決するために、画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を実装ケース内に収納する実装ケース入り電気光学装置であって、前記実装ケースは、前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、該カバーの側面であって、且つ、当該実装ケース入り電気光学装置に向けて送り出されてくる冷却風の風上側に位置する側面に開口された冷却風導入口とを備えている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
本発明の実装ケースは、上記課題を解決するために、画像表示領域に光源から光が入射される電気光学装置を収納する実装ケースであって、前記電気光学装置の一面に対向するように配置されるプレートと、該プレート及び前記電気光学装置を覆うように配置されるカバーと、前記電気光学装置の側面の少なくとも一部を、その冷却風の通り路を構成する面の少なくとも一部として含む冷却風導通部とを備えている。
【手続補正書】
【提出日】平成17年1月7日(2005.1.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
目的の検体を含有することが推定される試料を用意すること、
ヌクレオチド及び非ヌクレオチド単位の両方を有し、少なくとも１つの前記非ヌクレオチド単位が、式、
【化１】
2004325457.tif 000001
［式中、Ｒ1、Ｒ2及びＲ3は、水素、ブロック基、キャッピング基（capping  groups）、標識、連結基、隣接単位に結合する結合ボンド及び式、
【化２】
2004325457.tif 000002
又は
【化３】
2004325457.tif 000003
（式中、Ｘ4はハロゲン又は置換されたアミノであり、Ｘ5はアルキル、アルコキシ、アリールオキシ又はそれらのシアノ誘導体であり、Ｘ6はハロゲン、アミノ又はＯであり、Ｘ7はアルキル、アルコキシもしくはアリールオキシであるか又は、Ｘ6がＯである場合に限ってＨであり得る）
の基からなる群から個々に選ばれ、Ｒ1、Ｒ2及びＲ3の少なくとも１つは、検出できる標識をさらに含み、
Ｘ1、Ｘ2及びＸ3の各々は、式、
-Ｘｒ-Ｙ4-
（式中、ｒは少なくとも１の整数、各Ｘは個々にＣ又はＯであり、各Ｃは個々に置換された又は非置換であり得て、飽和又は不飽和であり得て、Ｙ4は結合ボンド、Ｏ、Ｓ、ＮＨ及び- Ｎ＝Ｎ- からなる群から選ばれる）
の化合物から成る群から個々に選ばれ、
Ｙ1、Ｙ2及びＹ3の各々は個々にＯ又はＳである］
の化合物を含み、前記非ヌクレオチド単位が、Ｒ1、Ｒ2もしくはＲ3における結合ボンド又は連結基により、少なくとも１つのヌクレオチドモノマー単位に結合されており、前記検体とハイブリッド形成することができるように配列されている核酸オリゴマーを用意すること、
前記オリゴマーに前記試料中に存在する検体とハイブリッド形成させる時間及び条件下で前記試料を前記オリゴマーにさらすこと並びに
前記試料中の前記検体の存在又は量を検出すること
を含む、試料中の検体の存在又は量を検出する方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
本発明の試料中の検体の存在又は量を検出する方法において有効に用いられる化合物は、枝分れしたオリゴマーを生成させるためにモノマー単位を結合させることができる、式、
【化１】
2004325457.tif 000004
［式中、Ｒ１、Ｒ２及びＲ３は、水素、ブロック基、キャッピング基（capping  groups）、標識及び式、
【化２】
2004325457.tif 000005
又は
【化３】
2004325457.tif 000006
（式中、Ｘ４はハロゲン又は置換されたアミノであり、Ｘ５はアルキル、アルコキシ、アリールオキシ又はそれらのシアノ誘導体であり、Ｘ６はハロゲン、アミノ又はＯであり、Ｘ７はアルキル、アルコキシもしくはアリールオキシであるか又は、Ｘ６がＯである場合に限ってＨであり得る）
の基からなる群から個々に選ばれ、Ｒ１、Ｒ２及びＲ３の少なくとも１つは水素でなく、
Ｘ１、Ｘ２及びＸ３の各々は、式、
-Ｘｒ-Ｙ４-
（式中、ｒは少なくとも１の整数、各Ｘは個々にＣ又はＯであり、各Ｃは個々に置換された又は非置換であり得て、飽和又は不飽和であり得て、Ｙ4は結合ボンド、Ｏ、Ｓ、ＮＨ及び-  Ｎ＝Ｎ-  からなる群から選ばれる）
の化合物から成る群から個々に選ばれ、
Ｙ1、Ｙ2及びＹ3の各々は個々にＯ又はＳである］
である。
【手続補正書】
【提出日】平成16年10月1日(2004.10.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を検査して試料上の所望箇所の座標情報を取得し、
該取得した座標情報を基に、前記所望箇所を含む試料片を集束イオンビーム加工により作製し、
該作製された試料片を解析することを特徴とする試料解析方法。
【請求項２】
内部に試料を保持するための第１の試料室を備えた検査部で、前記試料を検査して試料上の所望箇所の座標情報を記憶する工程と、
内部に試料を保持するための第２の試料室を備えた試料作製部で、前記検査部で得られた座標情報を基に、前記所望箇所を含む試料片を集束イオンビーム加工により作製する工程と、
該作製された試料片を解析する工程とを備えることを特徴とする試料解析方法。
【請求項３】
請求項２に記載の試料解析方法において、
前記座標情報の取得後、前記検査部から前記試料作製部へ、前記試料を真空搬送する工程を備えたことを特徴とする試料解析方法。
【請求項４】
請求項２に記載の試料解析方法において、
前記座標情報の取得後、
前記試料を真空容器に封入する工程を備えたことを特徴とする試料解析方法。
【請求項５】
請求項１または２に記載の試料解析方法において、
試料を検査して該試料の解析の要否を判定し、解析が必要な場合に前記集束イオンビーム加工による試料作製を実行することを特徴とする試料解析方法。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の試料解析方法において、
前記集束イオンビーム加工により作製された試料片を、試料解析装置に導入可能な試料ホルダに固定する工程を含むことを特徴とする試料解析方法。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか１項に記載の試料解析方法において、
前記試料片の解析を、透過電子顕微鏡、インレンズ型走査電子顕微鏡、オージェ電子分光分析または二次イオン質量分析のいずれかにより行なうことを特徴とする試料解析方法。
【請求項８】
請求項１から６のいずれか１項に記載の試料解析方法において、
前記座標情報の取得を、光学式ウェハ検査装置、電子顕微鏡、ウェハ検査電子顕微鏡、レーザ走査顕微鏡、光学式顕微鏡のいずれかを用いて行なうことを特徴とする試料解析方法。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか１項に記載の試料解析方法において、
前記試料を検査する方法が、上記試料に電子ビームを照射して検査する方法であることを特徴とする試料解析方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
このような従来技術に対して、各種検査方法によって得られた不良箇所に対して、ウエハ形状を維持したまま、ウエハ上の所望の箇所のみを機械的や化学的な損傷を重畳することなく、各種分析装置に導入できる試料片に加工して解析できる試料解析方法ならびに試料解析装置が望まれていた。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３１】
光学顕微鏡９には従来の光学式顕微鏡より高分解能が期待できるレーザ走査顕微鏡を用いた。レーザ走査顕微鏡は発振器２８を出たレーザ光を対物レンズによって集束して試料に照射して、微小レーザスポットで励起された焦点からの蛍光は、ダイクロイックミラーを通過して、試料の焦点と共焦点の位置に設置したアパチャを通ってCCD２９に届いて試料の焦点からの蛍光のみによって像が形成される。視野を一様に励起する方法に比較して迷光は極めて少なく、焦点以外のからの蛍光が仮に発生しても、上記アパチャに妨げられてCCD２９には到達せずクリヤな像が得られる。試料基板１２とダイクロイックミラーの間に２枚のミラーを設置して、X,Y方向に走査することで、試料表面像を得ることができ表示手段１３に表示する。この光学顕微鏡９は、試料基板１２に予め設置していたマーク（図示せず）座標と、検査部１０１で得られた座標情報とを利用する。
なお、集束イオンビーム装置にレーザー顕微鏡を備えた装置については、特開平９-１３４６９９号公報『集束イオンビーム装置』（公知例３）に示されているが、試料基板１２の特定領域部分を摘出する移送手段８の存在については一切記載されていない。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４１】
(f)摘出試料摘出工程：
摘出試料を試料基板から摘出するために、支持部８４にFIB照射してスパッタ加工することで、支持状態から開放される。支持部８４は試料面上から見て２ミクロン平方、深さ約１０ミクロンであるため２〜３分のFIB走査で除去できる。（図９e, f）
(g)摘出試料搬送（試料ステージ移動）工程：
プローブ８７の先端に接続されて摘出した摘出試料８９は試料ホルダに移動させるが、実際には試料ステージを移動させ、FIB走査領域内に試料ホルダ９０を移動させる。このとき、不意の事故を避けるために、プローブを＋Z方向に退避させておくとよい。（図９g）
(h)摘出試料固定工程：
FIB走査領域内に試料ホルダ９０が入ってくると試料ステージ移動を停止し、プローブをーZ方向に移動させ、試料ホルダ９０に接近させる。摘出試料８９が試料ホルダ９０に接触した時、デポガスを導入しつつ摘出試料８９と試料ホルダ９０と接触部にFIBを照射する。この操作によって摘出試料は試料ホルダに接続できる。本実施例では摘出試料８９の長手方向の端面にデポ膜９２を形成した。FIB照射領域は３ミクロン平方程度で、デポ膜９２の一部は試料ホルダ９０に、一部は摘出試料側面に付着し、両者が接続される。（図９h ）
(i)プローブ切断工程：
次に、デポ用のガスを導入を停止した後、プローブ８７と摘出試料８９を接続しているデポ膜にFIB８１を照射してスパッタ除去することで、プローブ８７を摘出試料８９から分離でき、摘出試料８９は試料ホルダ９０に自立する。（図９i）
(j)試料片加工工程（ウオール加工）：
最後に、FIB照射して、最終的に観察領域を厚さが１００nm以下程度のウォール９３になるように薄く仕上げ加工を施してTEM試料とする。このとき、摘出試料の長手方向の側面の一方が垂直面であるため、ウォール加工のためにFIB照射領域を決定する際、この垂直面を基準にすることで試料基板８９表面にほぼ垂直なウォール９３を形成することができる。また、FIB照射に先立ち、ウォール面をより平面的に加工するために、ウォール形成領域を含む上面にFIBデポ膜を形成しておくとよい。この方法は既によく知られている。上述の加工の結果、横幅約１５ミクロン、深さ約１０ミクロンのウォールが形成でき、TEM観察領域ができあがる。以上、マーキングからウォール加工完成まで、約１時間３０分で、従来のTEM試料作製方法に比べて数分の１に時間短縮できた。（図j）
（３）解析工程（TEM観察）：
ウォール加工後、試料ホルダを、TEMの試料室に導入する。このとき、電子線経路と、ウォール面が垂直に交わるようにTEMステージを回転させて挿入する。その後のTEM観察技術についてはよく知られているので、ここでは省略する。
【手続補正書】
【提出日】平成17年9月1日(2005.9.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
具体的には、本実施形態では、結像レンズ系１０２は、図１に示すように、第１ないし第４レンズ１１１〜１１４を組み合わせて構成されている。第４レンズ１１４と撮像素子（ここでは、ＣＣＤ素子）との間には、赤外カットフィルタ、光学ローパスフィルタ及び撮像素子用のカバーガラスからなる複合部材１１５が備えられている。第２レンズ１１２と第３レンズ１１３との間には絞り１１６が介装されている。第１レンズ１１１は、物体側のレンズ面（３）が凸面で像側のレンズ面（４）が凹面となっている。第２レンズ１１２は、２つのレンズ１２１，１２２を貼り合わせて構成されており、物体側のレンズ面（５）が凹面で像側のレンズ面（７）が凸面となっており、レンズ１２１，１２２の境界面によって構成されるレンズ面（６）が像側から見て凹面となっている。第３レンズ１１３は、２つのレンズ１２３，１２４を貼り合わせて構成されており、物体側及び像側のレンズ面（９，１１）が凸面となっており、レンズ１２３，１２４の境界面によって構成されるレンズ面（１０）が像側から見て凹面となっている。第４レンズ１１４は、物体側及び像側のレンズ面（１２，１３）が凸面となっている。コンバータレンズ１０３は、物体側のレンズ面（１）が凸面で像側のレンズ面（２）が凹面となっている。複合部材１１５の物体側及び像側の表面（１４，１５）は平面となっている。なお、図１及び下記の表１において、絞り１１６に符号８を付与している。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
【数１】
2004325498.tif 000001
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
2004325498.tif 000002
【手続補正書】
【提出日】平成17年7月26日(2005.7.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
照明手段から出射された光を、ライトバルブ手段により変調し形成した光学像を投射手段で拡大投射する投射型映像表示装置であって、
前記ライトバルブ手段に振動を与える振動付加手段と、
前記ライトバルブ手段の入射面と出射面の少なくとも一方に風を送る送風手段と、
前記振動付加手段を駆動させる場合に、前記送風手段の回転数を異ならせる制御手段とを有することを特徴とする投射型映像表示装置。
【請求項２】
照明手段から出射された光を、反射型ライトバルブ手段により変調し形成した光学像を投射手段で拡大投射する投射型映像表示装置であって、
前記反射型ライトバルブ手段の光入出射面の反対側に、前記反射型ライトバルブ手段に振動を与える振動付加手段と、
前記反射型ライトバルブ手段の入出射面に風を送る送風手段と、
前記振動付加手段を駆動させる場合に、前記送風手段の回転数を異ならせる制御手段とを有することを特徴とする投射型映像表示装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記振動付加手段を駆動させる場合に、前記送風手段の回転数を多くすることを特徴とする請求項１乃至請求項２の何れか１項に記載の投射型映像表示装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記振動付加手段の駆動に応答して、前記送風手段の回転数を制御することを特徴とする請求項１乃至請求項２の何れか１項に記載の投射型映像表示装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記投射型映像表示装置の表示動作終了を検出して、前記振動付加手段を動作させることを特徴とする請求項１乃至請求項２の何れか１項に記載の投射型映像表示装置。
【請求項６】
前記投射型映像表示装置は、前記振動付加手段を動作させるスイッチ手段を有することを特徴とする請求項１乃至請求項２の何れか１項に記載の投射型映像表示装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【課題を解決するための手段】
前記課題達成のために、本発明では、照明手段から出射された光を、ライトバルブ手段により変調し形成した光学像を投射手段で拡大投射する投射型映像表示装置であって、前記ライトバルブ手段に振動を与える振動付加手段と、前記ライトバルブ手段の入射面と出射面の少なくとも一方に風を送る送風手段と、前記振動付加手段を駆動させる場合に、前記送風手段の回転数を異ならせる制御手段とを有するように構成する。
【手続補正書】
【提出日】平成17年8月19日(2005.8.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
図８は、ＳＩ板３２を下方から見たときのＳＩ板３２の中央付近を拡大して示し、図４の中央部分の拡大図でもある。すなわち図８における左側は、撮影者がファインダ画面の左側に対応する。
【手続補正書】
【提出日】平成17年8月19日(2005.8.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
内部の設定により送信周波数信号と、ローカル信号を出力する局部発振部と、この送信周波数信号を増幅し送信信号を出力する送信部と、この送信信号と受信信号を切り換える送受切換部と、送信信号を空間へ送信し、目標からの反射信号を受信するアンテナ部と、目標からの反射信号を前記局部発振部から出力されるローカル信号で周波数変換、増幅してビデオ信号を出力する受信部と、このビデオ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル信号を周波数演算するＦＦＴ処理部と、この周波数演算された結果から追尾する目標を検出する目標検出部と、前記目標検出部にて検出された目標との角度情報を検出する角度検出部と、飛しょう体をこの目標に向けて誘導するための誘導信号を出力する誘導信号計算部と、先にＡ／Ｄ変換部にて変換されたディジタル信号を逆周波数演算し、距離方向に高分解されたレンジプロファイルを演算する合成帯域部と、距離方向に高分解されたレンジプロファイルから追尾する目標を検出する目標検出部と、上述のようにＦＦＴ処理を行ない周波数軸上で目標を追尾するドップラ追尾方式と合成帯域処理を行ない距離軸上で目標を追尾する距離追尾方式を切り替えるモード切替部を備えたことを特徴とした誘導装置。
【請求項２】
内部の設定により送信周波数信号と、ローカル信号を出力する局部発振部と、この送信周波数信号を増幅し送信信号を出力する送信部と、この送信信号と受信信号を切り換える送受切換部と、送信信号を空間へ送信し、目標からの反射信号を受信するアンテナ部と、目標からの反射信号を前記局部発振部から出力されるローカル信号で周波数変換、増幅してビデオ信号を出力する受信部と、このビデオ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル信号を周波数演算するＦＦＴ処理部と、この周波数演算された結果から追尾する目標を検出する目標検出部と、前記目標検出部にて検出された目標との角度情報を検出する角度検出部と、飛しょう体をこの目標に向けて誘導するための誘導信号を出力する誘導信号計算部と、先にＡ／Ｄ変換部にて変換されたディジタル信号を逆周波数演算し、距離方向に高分解されたレンジプロファイルを演算する合成帯域部と、距離方向に高分解されたレンジプロファイルから追尾する目標を検出する目標検出部と、上述のようにＦＦＴ処理を行ない周波数軸上で目標を追尾するドップラ追尾方式と合成帯域処理を行ない距離軸上で目標を追尾する距離追尾方式を切り替えるモード切替部と、追尾する目標との相対距離を検出する距離検出部と、目標との相対距離情報からドップラ追尾方式と距離追尾方式を選択する判定部を備えたことを特徴とした誘導装置。
【請求項３】
内部の設定により送信周波数信号と、ローカル信号を出力する局部発振部と、この送信周波数信号を増幅し送信信号を出力する送信部と、この送信信号と受信信号を切り換える送受切換部と、送信信号を空間へ送信し、目標からの反射信号を受信するアンテナ部と、目標からの反射信号を前記局部発振部から出力されるローカル信号で周波数変換、増幅してビデオ信号を出力する受信部と、このビデオ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル信号を周波数演算するＦＦＴ処理部と、この周波数演算された結果から追尾する目標を検出する目標検出部と、前記目標検出部にて検出された目標との角度情報を検出する角度検出部と、飛しょう体をこの目標に向けて誘導するための誘導信号を出力する誘導信号計算部と、先にＡ／Ｄ変換部にて変換されたディジタル信号を逆周波数演算し、距離方向に高分解されたレンジプロファイルを演算する合成帯域部と、距離方向に高分解されたレンジプロファイルから追尾する目標を検出する目標検出部と、上述のようにＦＦＴ処理を行ない周波数軸上で目標を追尾するドップラ追尾方式と合成帯域処理を行ない距離軸上で目標を追尾する距離追尾方式を切り替えるモード切替部と、目標からの反射信号レベルを検出するレベル検出部と、目標からの反射信号レベルからドップラ追尾方式と距離追尾処理方式を選択する判定部を備えたことを特徴とした誘導装置。
【請求項４】
内部の設定により送信周波数信号と、ローカル信号を出力する局部発振部と、この送信周波数信号を増幅し送信信号を出力する送信部と、この送信信号と受信信号を切り換える送受切換部と、送信信号を空間へ送信し、目標からの反射信号を受信するアンテナ部と、目標からの反射信号を前記局部発振部から出力されるローカル信号で周波数変換、増幅してビデオ信号を出力する受信部と、このビデオ信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換部と、前記ディジタル信号を周波数演算するＦＦＴ処理部と、この周波数演算された結果から追尾する目標を検出する目標検出部と、前記目標検出部にて検出された目標との角度情報を検出する角度検出部と、飛しょう体をこの目標に向けて誘導するための誘導信号を出力する誘導信号計算部と、先にＡ／Ｄ変換部にて変換されたディジタル信号を逆周波数演算し、距離方向に高分解されたレンジプロファイルを演算する合成帯域部と、距離方向に高分解されたレンジプロファイルから追尾する目標を検出する目標検出部と、上述のようにＦＦＴ処理を行ない周波数軸上で目標を追尾するドップラ追尾方式と合成帯域処理を行ない距離軸上で目標を追尾する距離追尾方式を切り替えるモード切替部と、自機速度と自機姿勢角を検出する慣性情報検出部と、慣性情報検出部の情報と誘導装置のアンテナ首振り角からメインローブクラッタの周波数を計算するクラッタ計算部と、追尾している目標のドップラ周波数とメインローブクラッタ周波数の関係からドップラ追尾方式と距離追尾方式を選択する判定部を備えたことを特徴とした誘導装置。
ができる効果がある。
【手続補正書】
【提出日】平成17年3月16日(2005.3.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体およびその測定に必要な乾式分析素子を搭載するサンプルトレイを備え、該サンプルトレイに搭載した検体を乾式分析素子に点着し成分濃度を測定するとともに、既知濃度のキャリブレータ液を収容した容器を前記サンプルトレイにセットして同様に測定し、その測定結果に基づき検量線のキャリブレーションを行う自動分析装置において、
前記サンプルトレイは、検体搭載部とは異なる位置に、前記キャリブレータ液を収容した複数の容器を搭載するキャリブレータラックを専用に搭載するラック搭載部を備えてなることを特徴とする自動分析装置。
【請求項２】
前記キャリブレータラックは、前記容器より外した蓋の載置部を有することを特徴とする請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記サンプルトレイのラック搭載部は、突起または溝による係合部を有し、前記キャリブレータラックは該係合部と係合する溝または突起による被係合部を有し、位置決めすることを特徴とする請求項１または２に記載の自動分析装置。
【請求項４】
キャリブレーションに必要な前記乾式分析素子は、前記ラック搭載部の近傍の１カ所の素子搭載部に複数セットされることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記キャリブレータラックの容器載置部は、該ラックをサンプルトレイにセットした状態で、該サンプルトレイの回転中心より等距離に円弧状に配置されていることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記サンプルトレイのラック搭載部は、検体搭載部の内周側に配置されていることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の自動分析装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
【課題を解決するための手段】
本発明の自動分析装置は、検体およびその測定に必要な乾式分析素子を搭載するサンプルトレイを備え、該サンプルトレイに搭載した検体を乾式分析素子に点着し成分濃度を測定するとともに、既知濃度のキャリブレータ液を収容した容器を前記サンプルトレイにセットして同様に測定し、その測定結果に基づき検量線のキャリブレーションを行う自動分析装置において、
前記サンプルトレイは、検体搭載部とは異なる位置に、前記キャリブレータ液を収容した複数の容器を搭載するキャリブレータラックを専用に搭載するラック搭載部を備えてなることを特徴とするものである。
【手続補正書】
【提出日】平成16年10月29日(2004.10.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
一軸延伸は、ヨウ素染色の前に行ってもよいし、ヨウ素染色と同時に行ってもよいし、ヨウ素染色の後に行ってもよい。一軸延伸をヨウ素染色の後で行う場合には、この一軸延伸は、ホウ酸処理の前に行ってもよいし、ホウ酸処理中に行ってもよい。もちろん、これらの複数の段階で一軸延伸を行うことも可能である。一軸延伸するには、周速の異なるロール間で一軸に延伸してもよく、また一軸延伸は、熱ロールを用いて一軸に延伸する方法や大気中で延伸を行う方法などの乾式延伸であってもよいし、溶剤で膨潤した状態にて延伸を行う湿式延伸であってもよい。延伸倍率は、通常４〜８倍程度である。
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月7日(2005.10.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５２】
また、上層金属層２８Ａには、複数の貫通孔２９Ａ，２９Ａ…が形成されており、下層金属層２８Ｂには、複数の貫通孔２９Ｂ，２９Ｂ…が形成されており、いずれも絶縁層１７によって被覆されている。また、上層金属層２８Ａに形成された貫通孔２９Ａ，２９Ａ…と、下層金属層２８Ｂに形成された貫通孔２９Ｂ，２９Ｂ…は、それぞれその位置がずれるようにして形成されている。さらに、ＩＣチップ１２は、上層金属層２８Ａに形成された貫通孔２９Ａ，２９Ａ…および下層金属層２８Ｂに形成された貫通孔２９Ｂ，２９Ｂ…を避けた位置に形成されている。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
放射線遮蔽金属層３０Ａには、複数の貫通孔３１Ａ，３１Ａ…が形成されており、高熱伝導性金属層３０Ｂには、複数の貫通孔３１Ｂ，３１Ｂ…が形成されており、いずれも絶縁層１７によって被覆されている。また、放射線遮蔽金属層３０Ａに形成された貫通孔３１Ａ，３１Ａ…と、高熱伝導性金属層３０Ｂに形成された貫通孔３１Ｂ，３１Ｂ…は、それぞれ対応する位置に形成されている。そのため、絶縁層１７を容易に被覆させることができるとともに、導体ビアを容易に貫通させることができるようになっている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５７】
以上の構成を有する本実施形態に係る放射線検出器８においては、金属コア層が２層の金属層を備えており、ＰＤアレイチップ１３側に放射線遮蔽金属層３０Ａが形成されている。このため、シンチレータ１４を通り抜けてしまい、ＰＤアレイチップ１３側からくる放射線を、ＩＣチップ１２から遠い位置で遮蔽することができる。したがって、ＩＣチップ１２に対する曝射を効果的に防止することができる。また、ＩＣチップ１２側には、高熱伝導性金属層３０Ｂが形成されている。このため、ＩＣチップ１２からの発熱を良好に逃がすことができ、冷却効果を高めることができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図５】
2004219318.tif 000001
【手続補正書】
【提出日】平成17年9月9日(2005.9.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流測定器と電流制限すなわちコンプライアンス機能を備えた電圧源とにより電流検出用の抵抗を共用し、該抵抗を介して該電圧源からの出力される電流の値を前記電流測定器により測定し、測定された電流の値に基づいて前記電流測定器の電流レンジと該コンプライアンスとを自動的に変更する方法であって、
前記電流レンジと真コンプライアンスとをユーザの指定した値に設定するステップと、
前記電圧源から出力される電流に対するコンプライアンスを所定の値に設定するステップと、
前記電圧源から出力された電流の値を前記電流測定器により測定するステップと、
測定された該電流の値と前記電流レンジとを比較して、前記電流レンジが最適であるか判断するステップと、
前記電流レンジが最適でないと判断した場合には、前記電流レンジを変更し、それに応じて前記コンプライアンスを前記ユーザの指定した値以下で、該変更された電流レンジにおける上限値に変更し、前記電圧源から出力された電流の値を再び測定するステップと、
前記電流レンジが最適であると判断した場合には、測定された前記電流の値の結果を前記電流測定器が出力した後に、前記電流レンジをアップし、それに応じて前記コンプライアンスも変更するステップと
を含んでなる方法。
【請求項２】
前記電流レンジが最適であると判断した場合には、前記ユーザの指定した値か、または該アップされた電流レンジにおける上限値のいずれか低い方に前記コンプライアンスを変更することを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記電流レンジが最適でないと判断した場合には、前記の再び測定するステップに続いて、前記電流レンジをアップし、それに応じて前記コンプライアンスも変更するステップを含む請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記電圧源の最小の出力電流値に対して、前記電流レンジの下限が予め設定されている請求項１から３のいずれかに記載の方法。
【請求項５】
前記電流レンジが最適であるか判断するステップが、
前記電圧源から出力された電流の測定値と前記電流レンジとの比率を計算するステップと、
前記比率と所定の比率とを比較して、前記電流レンジの変更の必要性の有無を判断するステップと
を含む請求項１から４のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記比率と所定の比率とを比較して、前記電流レンジの変更の必要性の有無を判断するステップが、前記電圧源から出力された電流の測定値と、現在の電流レンジよりも小さい電流レンジとの比率を計算して、所定の比率と比較することを含む請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記電流レンジの変更の必要性の有無を判断するステップは、維持または変更された前記電流レンジの上限値を真コンプライアンスとして設定することを含む請求項６に記載の方法。
【手続補正書】
【提出日】平成17年5月26日(2005.5.26)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、前記基板上に配置された光反射膜と、前記光反射膜に重なり、前記光反射膜の面積よりも小さい面積を有する着色層とを備える電気光学装置用基板において、前記着色層が、電気光学物質の配向性を制御する配向制御突起形状を有することを特徴とする電気光学装置用基板。
【請求項２】
前記配向制御突起形状は、垂直モードの配向制御機能を有することを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置用基板。
【請求項３】
前記配向制御突起形状が、四角錐の立体形状を有することを特徴とする請求項１または２に記載の電気光学装置用基板。
【請求項４】
前記配向制御突起形状が、所定間隔ごとに配置されたジグザグ線の形状により構成され、各ジグザグ線を構成する線は隣接するジグザグ線の対応する線と互いに平行なストライプ状に形成され、前記ジグザグ線の形状が、２方向の面を有する立体形状であることを特徴とする請求項１または２に記載の電気光学装置用基板。
【請求項５】
前記配向制御突起形状を有する前記着色層の材料が、アクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、ウレタン系樹脂、ポリオレフィン系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂及びポリビニル系樹脂からなる群より選ばれる樹脂に、有機顔料を分散した着色感光性樹脂層または着色非感光性樹脂層であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか一項に記載の電気光学装置用基板。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれかに記載の電気光学装置用基板と、前記電気光学装置用基板と対向配置される他の基板と、前記電気光学装置用基板と前記他の基板との間にシール材を介して挟持される電気光学物質と、を備えることを特徴とする電気光学装置。
【請求項７】
請求項６に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。
【請求項８】
基板上に光反射膜を形成する工程と、
前記光反射膜に重なり、前記光反射膜の面積よりも小さい面積を有し、かつ、電気光学物質の配向性を制御する配向制御突起形状を有する着色層を形成する着色層形成工程と、を有することを特徴とする電気光学装置用基板の製造方法。
【請求項９】
前記着色層形成工程は、全透過領域、複数の中間透過率領域及び遮光領域を有するフォトマスクを使用することを特徴とする請求項８に記載の電気光学装置用基板の製造方法。
【請求項１０】
前記着色層形成工程は、全透過領域及び遮光領域を有するフォトマスクを使用し、前記着色層を複数回にわたり露光してパターニングを実施することを特徴とする請求項８に記載の電気光学装置用基板の製造方法。
【請求項１１】
前記着色層形成工程は、回折露光用のフォトマスクを使用し、前記着色層を回折露光してパターニングを実施することを特徴とする請求項８に記載の電気光学装置用基板の製造方法。
【請求項１２】
前記フォトマスクのパターンは、複数の平面的な四角形状を有することを特徴する請求項８乃至１１のいずれかに記載の電気光学装置用基板の製造方法。
【請求項１３】
前記フォトマスクのパターンは、複数の平面的なジグザグ線の形状を有することを特徴とする請求項８乃至１１のいずれかに記載の電気光学装置用基板の製造方法。
【手続補正書】
【提出日】平成17年2月15日(2005.2.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ使用に係る時間を表示するための計数手段を備え、
前記計数手段が、円盤状蓋部材の上面に付された計数用数字と、前記計数用数字を特定するための指示手段とを有する一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ収納器具。
【請求項２】
前記計数手段が、一方の円盤状蓋部材に付された計数用数字が月を表し、他方の円盤状蓋部材に付された計数用数字が日を表すように構成されている請求項１に記載の一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ収納器具。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】  この目的を達成するための本発明に係る一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ収納器具の第一特徴構成は、一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ使用に係る時間を表示するための計数手段を備え、前記計数手段が、円盤状蓋部材の上面に付された計数用数字と、前記計数用数字を特定するための指示手段とを有する点にある。


【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】  ここで、一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズ収納器具とは、一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズの収納や洗浄等に係る一般的コンタクトケース及び使い捨てコンタクトケース、煮沸器等、日常の一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズの使用において必要とされる収納器具一般を指す。即ち、本構成の如く、日常の一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズの使用に於いて使用される収納器具上に、一般的コンタクトレンズ及び使い捨てコンタクトレンズの使用に係る時間、例えば、保存時間、保存開始時間、最低保存終了時間、使用開始日時、使用終了予定日時、実際に使用した日数、使用可能日数、予定使用期限数等を記録する計数手段を備えることにより、記録し忘れを効果的に防止でき、記録に係る手間を省いて、容易に使用に係る時間管理が行えるのである。更に、使用者の健康上の安全性を向上させることが可能である。
ここで、一般的コンタクトケース及び使い捨てコンタクトケースの形状は、一般的に円柱状であり、例えば、２つの円柱状収納部が一枚のプレートに配置されている（図１）。従って、本構成の如く、円柱状部材の蓋部材を利用することにより、前記計数手段を容易に実現する事ができるのである。また、蓋部材を利用することにより、取り付ける必要のある部材を少なくすることができ、設置場所等を考慮する必要もなくなるのである。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】  同第二特徴構成は、前記計数手段が、一方の円盤状蓋部材に付された計数用数字が月を表し、他方の円盤状蓋部材に付された計数用数字が日を表すように構成されている点にある。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】上記特徴構成の如く構成することにより、一般的コンタクトレンズを装着する時に、一般的コンタクトケースの円盤状蓋部材に取り付けられた計数手段でどれだけの時間、保存したかが容易に分かる事ができる。使い捨てコンタクトレンズ使用者について、新しい使い捨てコンタクトレンズ装着の最初の日が、円盤状蓋部材に取り付けられた計数手段から一目で分かるため、使用者は使い捨てコンタクトレンズ使用期限を容易に知る事ができる。
【手続補正書】
【提出日】平成16年9月30日(2004.9.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像情報を入力し、
前記入力した画像情報を文字認識し、
前記文字認識した結果に応じて項目種別を判別し、
前記判別された項目種別と、該項目に属する領域とを対応付けて表示することを特徴とする文字処理方法。
【請求項２】
前記項目種別は、第１行目の文字画像の認識結果に応じて判別することを特徴とする請求項１に記載の文字処理方法。
【請求項３】
前記項目に属する領域は、該項目を判別した文字画像に続く位置に存在する文字画像の領域とすることを特徴とする請求項１に記載の文字処理方法。
【請求項４】
前記画像情報に含まれる文字列の書式を判別し、
前記判別された書式に応じて前記文字認識の結果表示画面を切り替えることを特徴とする請求項１に記載の文字処理方法。
【請求項５】
前記文字認識の結果表示画面において、画像情報と認識結果のテキスト情報とを共に表示し、
前記画像情報と認識結果のテキスト情報の表示レイアウトを前記書式に応じて切り替えることを特徴とする請求項１に記載の文字処理方法。
【請求項６】
前記判別する書式は、文字列が縦書きであるか横書きであるかとすることを特徴とする請求項４に記載の文字処理方法。
【請求項７】
入力画像に、該入力画像を文字認識して得た項目種別と、該項目種別に属すると判断された領域を示す情報とを重ねて表示し、
移動指示ボタンの入力に応じて前記領域における選択領域を切り替え、
選択可能な項目種別を表わすボタンを表示し、
前記項目種別を表わすボタンの入力に応じて、当該項目種別を前記選択領域に対応付けて記憶することを特徴とする文字処理方法。
【請求項８】
前記入力画像から複数の領域を抽出し、
前記移動指示ボタンの入力毎に前記領域における選択領域を順次一つずつ切り替えて表示することを特徴とする請求項７に記載の文字処理方法。
【請求項９】
前記項目種別の入力に応じて、該項目種別が入力された領域の項目種別情報を変更することを特徴とする請求項７に記載の文字処理方法。
【請求項１０】
前記入力された項目種別が対応付けられている他の領域を検出し、
該検出した領域の記憶されている項目種別情報を解除することを特徴とする請求項７に記載の文字処理方法。
【請求項１１】
前記選択領域を他の領域と識別可能な表示にすることを特徴とする請求項７に記載の文字処理方法。
【請求項１２】
表画像データから複数のブロックを検出し、
表画像データに含まれる文字を認識して項目種別を判別し、
前記判別された項目種別と前記検出されたブロックとを対応付けて記憶することを特徴とする文字処理方法。
【請求項１３】
前記検出するブロックは、縦に繋がる複数のセルとすることを特徴とする請求項１２に記載の文字処理方法。
【請求項１４】
前記検出するブロックは、横に繋がる複数のセルとすることを特徴とする請求項１２に記載の文字処理方法。
【請求項１５】
前記項目種別は、前記検出されたブロックの先頭文字画像から検出することを特徴とする請求項１２に記載の文字処理方法。
【請求項１６】
前記記憶した項目種別とブロックとの対応関係を表示することを特徴とする請求項１２に記載の文字処理方法。
【請求項１７】
画像情報を入力する画像入力手段と、
前記入力した画像情報を文字認識する文字認識手段と、
前記文字認識した結果に応じて項目種別を判別する項目種別判別手段と、
前記判別された項目種別と、該項目に属する領域とを対応付けて表示するよう制御する表示制御手段とを有することを特徴とする文字処理装置。
【請求項１８】
入力画像に、該入力画像を文字認識して得た項目種別と、該項目種別に属すると判断された領域を示す情報とを重ねて表示する表示制御手段と、
移動指示ボタンの入力に応じて前記領域における選択領域を切り替える選択領域移動手段と、
選択可能な項目種別を指示可能にする項目種別指示手段と、
前記項目種別を表わすボタンの入力に応じて、当該項目種別を前記選択領域に対応付けて記憶する記憶手段とを有することを特徴とする文字処理装置。
【請求項１９】
表画像データから複数のブロックを検出するブロック検出手段と、
表画像データに含まれる文字を認識して項目種別を判別する項目種別判別手段と、
前記判別された項目種別と前記検出されたブロックとを対応付けて記憶する記憶手段とを有することを特徴とする文字処理装置。
【請求項２０】
画像情報を入力する工程のプログラムと、
前記入力した画像情報を文字認識する工程のプログラムと、
前記文字認識した結果に応じて項目種別を判別する工程のプログラムと、
前記判別された項目種別と、該項目に属する領域とを対応付けて表示する工程のプログラムとを記憶した、コンピュータにより読取可能な記憶媒体。
【請求項２１】
入力画像に、該入力画像を文字認識して得た項目種別と、該項目種別に属すると判断された領域を示す情報とを重ねて表示する工程のプログラムと、
移動指示ボタンの入力に応じて前記領域における選択領域を切り替える工程のプログラムと、
選択可能な項目種別を表わすボタンを表示する工程のプログラムと、
前記項目種別を表わすボタンの入力に応じて、当該項目種別を前記選択領域に対応付けて記憶する工程のプログラムとを記憶した、コンピュータにより読取可能な記憶媒体。
【請求項２２】
表画像データから複数のブロックを検出する工程のプログラムと、
表画像データに含まれる文字を認識して項目種別を判別する工程のプログラムと、
前記判別された項目種別と前記検出されたブロックとを対応付けて記憶する工程のプログラムとを記憶した、コンピュータにより読取可能な記憶媒体。
【手続補正書】
【提出日】平成16年9月30日(2004.9.30)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１の処理手段と、
上記第１の処理手段により上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２の処理手段とを具備したことを特徴とする磁気カード処理装置。
【請求項２】
最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、Ｆ２Ｆ変調方式による信号記録密度の周波数よりも高い周波数の上記磁気カードに対して、Ｆ２Ｆ変調方式による磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１の処理手段と、
上記第１の処理手段により上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２の処理手段とを具備したことを特徴とする磁気カード処理装置。
【請求項３】
記録内容を高保持記録する第１の磁性体と、最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する第２の磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１の処理手段と、上記第１の処理手段により上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２の処理手段とを具備したことを特徴とする磁気カード処理装置。
【請求項４】
記録内容を高保持記録する第１の磁性体と、最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する第２の磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、Ｆ２Ｆ変調方式による磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１の処理手段と、
上記第１の処理手段により上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２の処理手段とを具備したことを特徴とする磁気カード処理装置。
【請求項５】
最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１のステップと、
上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２のステップとを具備したことを特徴とする磁気カード処理方法。
【請求項６】
最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、Ｆ２Ｆ変調方式による磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１のステップと、上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２のステップとを具備したことを特徴とする磁気カード処理方法。
【請求項７】
記録内容を高保持記録する第１の磁性体と、最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する第２の磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１のステップと、
上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２のステップとを具備したことを特徴とする磁気カード処理方法。
【請求項８】
記録内容を高保持記録する第１の磁性体と、最初は保持力が低く設定されており一度磁界に暴露されると著しく保持力が高くなる特性を有する第２の磁性体とからなる磁気層を備える磁気カードを処理する磁気カード処理装置において、
上記磁気カードに対して、Ｆ２Ｆ変調方式による磁気カードの信号記録密度よりも高い信号記録密度に対応する周波信号による磁気書き込みを行う第１のステップと、
上記磁気カードに対して上記周波信号により記録された書き込み情報に対してノイズ除去フィルタを用いて読取り信号処理を行う第２のステップとを具備したことを特徴とする磁気カード処理方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】削除
【補正の内容】