【手続補正書】
【提出日】平成17年8月18日(2005.8.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】ビット誤り率のテスト方法、及び、ビット誤り率のテストシステム
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ビット誤り率テストを実施する方法であって、
（ｄ）測定された誤りのあるビットの累積数に基づいてビット誤り率の事後累積分布関数を計算するステップと、
（ｅ）前記事後累積分布関数の計算値が、前記ビット誤り率がビット誤り率テスト限界未満である所望の確率以上であるか否かを判定するステップと、
（ｆ）前記事後累積分布関数の計算値が前記所望の確率以上であるという判定に応答して、テストが合格したことを明示し、テストを停止するステップと、
（ｇ）１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率以上か否かを判定するステップと、
（ｈ）１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率以上であるという判定に応答して、テストが不合格になったことを明示し、テストを停止するステップと、
（ｉ）テスト時間が最長テスト時間を超えたという判定に応答して、テストが不合格になったことを明示し、テストを停止するステップと、
（ｊ）前記事後累積分布関数の計算値が前記所望の確率未満で、１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率未満であるという判定に応答して、上記のステップ（ｄ）からステップ（ｉ）を反復するステップと、が含まれている方法。
【請求項２】
さらに、
（ａ）複数のビットを測定するステップと、
（ｂ）測定された誤りのあるビットの累積数を求めるステップと、
（ｃ）前記ステップ（ｂ）に応答して、前記ステップ（ａ）及び前記ステップ（ｂ）を反復するステップと、
を含み、
前記複数の測定ビット数が、前記ステップ（ａ）及び前記ステップ（ｂ）の実施時間量が前記ステップ（ｄ）から前記ステップ（ｉ）の最悪ケースの実施時間にほぼ等しくなるように設定され、
前記複数のビットを測定するステップが、テストビットレートを設定するステップと、前記テストビットレートに前記最悪ケースの実施時間を乗じることにより前記複数の測定ビット数を求めるステップとを含む、
ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
さらに、
（ａ）複数のビットを測定するステップと、
（ｂ）測定された誤りのあるビットの累積数を求めるステップと、
（ｃ）前記ステップ（ｂ）に応答して、前記ステップ（ａ）及び前記ステップ（ｂ）を反復するステップと、
（ｋ）前記テスト限界を設定するステップと、
（ｌ）前記所望の確率を設定するステップと、
（ｍ）前記ビット誤り率の事前平均を設定するステップと、
（ｎ）前記ビット誤り率の事前標準偏差を設定するステップと、
（ｏ）前記最長テスト時間を設定するステップと、
（ｐ）次式で表される値ａ及び値ｂを計算するステップと
【数１】
2003087226.tif 000001
を含み、
上記μが前記ビット誤り率の事前平均であり、
上記σが前記ビット誤り率の事前標準偏差であり、
前記ステップ（ｋ）から前記ステップ（ｏ）が前記ステップ（ａ）の実施前に実施されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項４】
ビット誤り率テストを実施するシステムであって、
被測定物にビット・シーケンスを入力するビット・シーケンス発生器と、
前記ビット・シーケンス発生器に接続された遅延発生器と、
前記被測定物及び前記遅延発生器に接続され、前記遅延発生器の出力と前記被測定物の出力を比較するコンパレータと、
前記コンパレータに接続されて、誤りのあるビットの累積数であるコンパレータの出力をカウントするカウンタと、
前記カウンタに接続された制御コンピュータと、
を備え、
前記コンピュータが、
（ｄ）誤りのあるビットの累積数に基づいてビット誤り率の事後累積分布関数を計算し、
（ｅ）前記事後累積分布関数の計算値が、ビット誤り率がビット誤り率テスト限界未満である、所望の確率以上であるか否かを判定し、
（ｆ）前記事後累積分布関数の計算値が前記所望の確率以上であるという判定に応答し、テストが合格したことを明示し、そのテストを停止し、
（ｇ）１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率以上か否かを判定し、
（ｈ）１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率以上であるという判定に応答し、テストが不合格になったことを明示して、そのテストを停止し、
（ｉ）テスト時間が最長テスト時間を超えたという判定に応答し、テストが不合格になったことを明示して、そのテストを停止し、
（ｊ）前記事後累積分布関数の計算値が前記所望の確率未満で、１から前記事後累積分布関数の計算値を引いた値が前記所望の確率以上であるという判定に応答して、上記のステップ（ｄ）からステップ（ｉ）を反復する、
ことを特徴とするシステム。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２７】
実行は、ステップ２０２からステップ２０４に進む。ステップ２０４では、係数ａ及びｂが計算されるが、ここで、ａ＝ｓμ、ｂ＝ｓ（１−μ）であり：
【数２】
2003087226.tif 000002
実行は、ステップ２０４からステップ２０６に進む。ステップ２０６において、最長テスト時間Ｔの経過時点を確認するために用いられるタイマが起動される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
【数３】
2003087226.tif 000003
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３９】
【数４】
2003087226.tif 000004
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４０】
方程式（３）のライブラリの実施が利用可能であれば、ｐｃｄｆ（すなわち、方程式２）は、次のように計算することが可能である
【数５】
2003087226.tif 000005
不完全なベータ関数ルーチンの例が、Ｃライブラリｃｅｐｈｅｓからのルーチンｉｎｃｂｅｔであり、これらについては、ｗｗｗ．ｎｅｔｌｉｂ．ｏｒｇ．で知ることが可能である。実験データが示すように、不完全なベータ関数を利用したｐｃｄｆの計算は、直交符号を利用したｐｃｄｆの計算よりも大幅に速くなる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４６】
（実施態様１）ビット誤り率テストを実施する方法であって、
（ｄ）測定された誤りのあるビットの累積数に基づいてビット誤り率の事後累積分布関数（ｐｃｄｆ）を計算するステップと、
（ｅ）ｐｃｄｆが、ビット誤り率がビット誤り率テスト限界（Ｌ）未満である所望の確率（Ｃ）以上であるか否かを判定するステップと、
（ｆ）ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答して、合格したテストを明示し、そのテストを停止するステップと、
（ｇ）１−ｐｃｄｆがＣ以上か否かを判定するステップと、
（ｈ）１−ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答して、不合格になったテストを明示し、そのテストを停止するステップと、
（ｉ）テスト時間が最長テスト時間（Ｔ）を超えたという判定に応答して、不合格になったテストを明示し、そのテストを停止するステップと、
（ｊ）ｐｃｄｆがＣ未満で、１−ｐｃｄｆがＣ未満であるという判定に応答して、ステップ（ｄ）から（ｉ）を反復するステップが含まれている、
方法。
（実施態様２）さらに、
（ａ）複数のビットを測定するステップと、
（ｂ）測定された誤りのあるビットの累積数を求めるステップと、
（ｃ）ステップ（ｂ）に応答して、ステップ（ａ）及び（ｂ）を反復するステップが含まれている、
実施態様１に記載の方法。
（実施態様３）複数の測定ビット数が、ステップ（ａ）及び（ｂ）の実施時間量がステップ（ｄ）から（ｉ）の最悪のケースの実施時間にほぼ等しくなるように設定されることを特徴とする、実施態様２に記載の方法。
（実施態様４）さらに、
Ｌを設定するステップと、
Ｃを設定するステップと、
前記ビット誤り率の事前平均（μ）を設定するステップと、
前記ビット誤り率の事前標準偏差（σ）を設定するステップと、
Ｔを設定するステップが含まれており、前記設定ステップが、ステップ（ａ）の実施前に実施されることを特徴とする、
実施態様２に記載の方法。
（実施態様５）さらに、
テスト・ビット・レートを設定するステップと、
前記テスト・ビット・レートに前記最悪のケースの時間を掛けて、前記複数の測定ビット数を求めるステップが含まれることを特徴とする、
実施態様３に記載の方法。
（実施態様６）ステップ（ａ）及び（ｂ）の最初の実施後に、ステップ（ａ）及び（ｂ）が、ステップ（ｄ）から（ｉ）と並行して実施されることを特徴とする、実施態様３に記載の方法。
（実施態様７）事前平均及び事前標準偏差が、履歴データまたは推定に基づくことを特徴とする、実施態様２に記載の方法。
（実施態様８）事前平均及び事前標準偏差が、それぞれ、０．５及び０．１に設定されることを特徴とする、実施態様２に記載の方法。
（実施態様９）さらに、値ａ及びｂを計算するステップが含まれることと、ここで：
【数６】
2003087226.tif 000006
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、実施態様１に記載の方法。
（実施態様１０）
【数７】
2003087226.tif 000007
であることを特徴とする、実施態様９に記載の方法。
（実施態様１１）さらに、値ａ及びｂを計算するステップが含まれることと、ここで：
【数８】
2003087226.tif 000008
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、実施態様４に記載の方法。
（実施態様１２）
【数９】
2003087226.tif 000009
であることを特徴とする、実施態様１に記載の方法。
（実施態様１３）β（ａ、ｂ）がガウスのベータ関数であることを特徴とする、実施態様１０に記載の方法。
（実施態様１４）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様１に記載の方法。
（実施態様１５）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様１０に記載の方法。
（実施態様１６）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様１１に記載の方法。
（実施態様１７）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様１４に記載の方法。
（実施態様１８）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様１５に記載の方法。
（実施態様１９）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様１６に記載の方法。
（実施態様２０）ビット誤り率テストを実施するための製品であって、
少なくとも１つのコンピュータ可読媒体と、
前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
（ｄ）測定された誤りのあるビットの累積数に基づいてビット誤り率の事後累積分布関数（ｐｃｄｆ）を計算し、
（ｅ）ｐｃｄｆが、ビット誤り率がビット誤り率テスト限界（Ｌ）未満である、所望の確率（Ｃ）以上であるか否かを判定し、
（ｆ）ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答し、合格したテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｇ）１−ｐｃｄｆがＣ以上か否かを判定し、
（ｈ）１−ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答し、不合格になったテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｉ）テスト時間が最長テスト時間（Ｔ）を超えたという判定に応答し、不合格になったテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｊ）ｐｃｄｆがＣ未満で、１−ｐｃｄｆがＣ未満であるという判定に応答して、ステップ（ｄ）から（ｉ）を反復するといった、
働きをさせるようになっていることを特徴とする、
製品。
（実施態様２１）さらに、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
（ａ）複数のビットを測定し、
（ｂ）測定された誤りのあるビットの累積数を求め、
（ｃ）ステップ（ｂ）に応答して、ステップ（ａ）及び（ｂ）を反復するといった、
働きをさせるようになっていることを特徴とする、
実施態様２０に記載の製品。
（実施態様２２）前記複数の測定ビット数が、ステップ（ａ）及び（ｂ）の実施時間量がステップ（ｄ）から（ｉ）の最悪のケースの実施時間にほぼ等しくなるように設定されることを特徴とする、実施態様２１に記載の製品。
（実施態様２３）さらに、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
Ｌを設定し、
Ｃを設定し、
前記ビット誤り率の事前平均を設定し、
前記ビット誤り率の事前標準偏差を設定し、
Ｔを設定するといった、
働きをさせるようになっていることと、ここで、Ｌ、Ｃ、事前平均、事前標準偏差、及び、Ｔが、（ａ）の実施前に設定されることを特徴とする、
実施態様２１に記載の製品。
（実施態様２４）さらに、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
テスト・ビット・レートを設定し、
前記テスト・ビット・レートに前記最悪のケースの時間を掛けて、前記複数の測定ビット数を求めるといった、
働きをさせるようになっていることを特徴とする、
実施態様２２に記載の製品。
（実施態様２５）ステップ（ａ）及び（ｂ）の最初の実施後に、ステップ（ａ）及び（ｂ）が、ステップ（ｄ）から（ｉ）と並行して実施されることを特徴とする、実施態様２２に記載の製品。
（実施態様２６）事前平均及び事前標準偏差が、履歴データまたは推定に基づくことを特徴とする、実施態様２１に記載の製品。
（実施態様２７）事前平均及び事前標準偏差が、それぞれ、０．５及び０．１に設定されることを特徴とする、実施態様２１に記載の製品。
（実施態様２８）さらに、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
値ａ及びｂを計算するといった、
働きをさせるようになっていることと、ここで：
【数１０】
2003087226.tif 000010
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、    実施態様２０に記載の製品。
（実施態様２９）
【数１１】
2003087226.tif 000011
であることを特徴とする、実施態様２８に記載の製品。
（実施態様３０）さらに、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体に納められたプロセッサ命令が含まれていて、前記プロセッサ命令が、少なくとも１つのプロセッサによって、前記少なくとも１つのコンピュータ可読媒体から読み取ることができるように構成されており、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサに、
値ａ及びｂを計算するといった、
働きをさせるようになっていることと、ここで：
【数１２】
2003087226.tif 000012
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、実施態様２３に記載の製品。
（実施態様３１）
【数１３】
2003087226.tif 000013
であることを特徴とする、実施態様２０に記載の製品。
（実施態様３２）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様２０に記載の製品。
（実施態様３３）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様２９に記載の製品。
（実施態様３４）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様３０に記載の製品。
（実施態様３５）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様３２に記載の製品。
（実施態様３６）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様３３に記載の製品。
（実施態様３７）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様３４に記載の製品。
（実施態様３８）ビット誤り率テストを実施するようになっているシステム（１００）であって、
被測定物（ＤＵＴ）（１０４）にビット・シーケンス（１１６（１））を入力するようになっているビット・シーケンス発生器（１０２）と、
前記ビット・シーケンス発生器（１０２）に相互運用できるように接続された遅延発生器（１０８）と、
前記ＤＵＴ（１０４）及び前記遅延発生器（１０８）に相互運用できるように接続されて、前記遅延発生器（１０８）の出力（１２６）と前記ＤＵＴ（１０４）の出力（１２４）を比較するようになっている、コンパレータ（１１０）と、
前記コンパレータ（１１０）に相互運用できるように接続されて、誤りのあるビットの累積数であるコンパレータ（１１０）の出力（１２８）をカウントするようになっているカウンタ（１１２）と、
前記カウンタ（１１２）に相互運用できるように接続された制御コンピュータ（１１４）が含まれており、前記コンピュータ（１１４）が、
（ｄ）誤りのあるビットの累積数に基づいてビット誤り率の事後累積分布関数（ｐｃｄｆ）を計算し、
（ｅ）ｐｃｄｆが、ビット誤り率がビット誤り率テスト限界（Ｌ）未満である、所望の確率（Ｃ）以上であるか否かを判定し、
（ｆ）ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答し、合格したテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｇ）１−ｐｃｄｆがＣ以上か否かを判定し、
（ｈ）１−ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答し、不合格になったテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｉ）テスト時間が最長テスト時間（Ｔ）を超えたという判定に応答し、不合格になったテストを明示して、そのテストを停止し、
（ｊ）ｐｃｄｆがＣ未満で、１−ｐｃｄｆがＣ以上であるという判定に応答して、ステップ（ｄ）から（ｉ）を反復するようになっていることを特徴とする、
システム。
（実施態様３９）前記コンピュータ（１１４）が、さらに、
（ａ）複数のビットを測定し、
（ｂ）測定された誤りのあるビットの累積数を求め、
（ｃ）ステップ（ｂ）に応答して、ステップ（ａ）及び（ｂ）を反復するようになっていることを特徴とする、
実施態様３８に記載のシステム（１００）。
（実施態様４０）前記複数の測定ビット数が、（ａ）及び（ｂ）の実施時間量が（ｄ）から（ｉ）の最悪のケースの実施時間にほぼ等しくなるように設定されることを特徴とする、実施態様３９に記載のシステム（１００）。
（実施態様４１）前記コンピュータ（１１４）が、さらに、
Ｌを設定し、
Ｃを設定し、
前記ビット誤り率の事前平均を設定し、
前記ビット誤り率の事前標準偏差を設定し、
Ｔを設定するようになっていることと、ここで、Ｌ、Ｃ、事前平均、事前標準偏差、及び、Ｔが、（ａ）の実施前に設定されることを特徴とする、
実施態様３９に記載のシステム（１００）。
（実施態様４２）前記コンピュータ（１１４）が、さらに、
テスト・ビット・レートを設定し、
前記テスト・ビット・レートに前記最悪のケースの時間を掛けて、前記複数の測定ビット数を求めるようになっていることを特徴とする、
実施態様４０に記載のシステム（１００）。
（実施態様４３）（ａ）及び（ｂ）の最初の実施後に、（ａ）及び（ｂ）が、（ｄ）から（ｉ）と並行して実施されることを特徴とする、実施態様４０に記載のシステム（１００）。
（実施態様４４）事前平均及び事前標準偏差が、履歴データまたは推定に基づくことを特徴とする、実施態様３９に記載のシステム（１００）。
（実施態様４５）事前平均及び事前標準偏差が、それぞれ、０．５及び０．１に設定されることを特徴とする、実施態様３９に記載のシステム（１００）。
（実施態様４６）前記コンピュータ（１１４）が、さらに、値ａ及びｂを計算するようになっていることと、ここで：
【数１４】
2003087226.tif 000014
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、  実施態様３８に記載のシステム（１００）。
（実施態様４７）
【数１５】
2003087226.tif 000015
であることを特徴とする、実施態様４６に記載のシステム（１００）。
（実施態様４８）
β（ａ、ｂ）がガウスのベータ関数であることを特徴とする、実施態様４７に記載のシステム（１００）。
（実施態様４９）前記コンピュータ（１１４）が、さらに、値ａ及びｂを計算するようになっていることと、ここで：
【数１６】
2003087226.tif 000016
であることと；
μが事前平均であり、σがビット誤り率の事前標準偏差であることを特徴とする、実施態様４１に記載のシステム（１００）。
（実施態様５０）
【数１７】
2003087226.tif 000017
であることを特徴とする、実施態様３８に記載のシステム（１００）。
（実施態様５１）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様３８に記載のシステム（１００）。
（実施態様５２）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様４７に記載のシステム（１００）。
（実施態様５３）前記ｐｃｄｆの計算ステップが、目的書き込みコードを利用して実施されることを特徴とする、実施態様４９に記載のシステム（１００）。
（実施態様５４）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様５１に記載のシステム（１００）。
（実施態様５５）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様５２に記載のシステム（１００）。
（実施態様５６）前記目的書き込みコードが、不完全なベータ関数であることを特徴とする、実施態様５３に記載のシステム（１００）。