【手続補正書】
【提出日】平成16年4月8日(2004.4.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】光変調装置の光漏れ評価装置、および光漏れ評価方法
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対向する一対の基板およびこれらの基板間に封入された液晶を備えた光変調装置の光漏れを評価する光変調装置の光漏れ評価装置であって、
前記一対の基板のうち、一方の基板は、マトリクス状に形成された複数の走査線および複数のデータ線と、前記走査線およびデータ線に接続されたスイッチング素子と、このスイッチング素子に接続された画素電極とを備え、
前記画素電極に照射するための光を射出する光源装置と、
前記画素電極に照射される光の照射量を調節する絞り機構と、
前記光源装置を、前記光変調装置を中心に、かつ、前記光の光軸を含んだ平面上で回転させるための光源回転調整機構と、
前記光変調装置を所定の位置に取り付けるための光変調装置保持部材と、
この光変調装置保持部材を、前記光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転させるための光変調装置保持部材回転機構と、
前記スイッチング素子への光の漏れを測定する光漏れ測定手段とを備えていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光変調装置の光漏れ評価装置において、
前記光源装置は、複数の光源と、これら複数の光源から射出された光を合成する合成光学系とを備えて構成されていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光変調装置の光漏れ評価装置において、
前記絞り機構は、絞り量の異なるものが複数設けられていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項４】
請求項１〜請求項３のいずれかに記載の光変調装置の光漏れ評価装置において、
前記絞り機構によって照射量が調節された光を偏光させる偏光板を、所定の位置に取り付けるための偏光板保持部材を有し、
この偏光板保持部材は、前記光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転可能とされていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項５】
請求項１〜請求項４のいずれかに記載の光変調装置の光漏れ評価装置において、
前記画素電極に重なる位置に配置され、当該画素電極に色光を入射させるためのカラーフィルタが設けられていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項６】
請求項１〜請求項５のいずれかに記載の光変調装置の光漏れ評価装置において、
前記光源装置は、前記光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転可能とされていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価装置。
【請求項７】
対向する一対の基板およびこれらの基板間に封入された液晶を備えた光変調装置の光漏れを評価する光変調装置の光漏れ評価方法であって、
前記一対の基板のうち、一方の基板は、マトリクス状に形成された複数の走査線および複数のデータ線と、前記走査線およびデータ線に接続されたスイッチング素子と、このスイッチング素子に接続された画素電極とを備え、
前記画素電極に光源装置から射出された光を照射する照射工程と、
前記画素電極に照射される光の照射量を調節する絞り調整工程と、
前記光源装置を、前記光変調装置を中心に、かつ、前記光の光軸を含んだ平面上で回転させる光源回転調整工程と、
前記光変調装置を、前記光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転させる光変調装置回転調整工程と、
前記光変調装置の出射側への光の漏れを測定する光漏れ測定工程とを備えていることを特徴とする光変調装置の光漏れ評価方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、対向する一対の基板およびこれらの基板間に封入された液晶を備えた光変調装置の光漏れを評価する光変調装置の光漏れ評価装置、および光漏れ評価方法に関するものである。


【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本発明の目的は、光変調装置に入射する光の入射角度と、スイッチング素子等への光の漏れとの関係を明確にすることが可能な光変調装置の光漏れ評価装置、および光漏れ評価方法を提供することにある。


【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、対向する一対の基板およびこれらの基板間に封入された液晶を備えた光変調装置の光漏れを評価する光変調装置の光漏れ評価装置であって、一対の基板のうち、一方の基板は、マトリクス状に形成された複数の走査線および複数のデータ線と、走査線およびデータ線に接続されたスイッチング素子と、このスイッチング素子に接続された画素電極とを備え、画素電極に照射するための光を射出する光源装置と、画素電極に照射される光の照射量を調節する絞り機構と、光源装置を、光変調装置を中心に、かつ、光の光軸を含んだ平面上で回転させるための光源回転調整機構と、光変調装置を所定の位置に取り付けるための光変調装置保持部材と、この光変調装置保持部材を、光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転させるための光変調装置保持部材回転機構と、スイッチング素子への光の漏れを測定する光漏れ測定手段とを備えていることを特徴とする。
ここで、光源回転調整機構の回転角度としては、例えば、光軸から左右に２０°ずつ程度が採用できる。これは、光の入射角度が２０°以上傾くと、確実に光が漏れ、評価の対象とならないためである。
また、光変調装置としては、入射した光を外部からの画像情報に基づいて光変調し、入射側とは反対側から変調光束を射出する透過型のものが採用できる。


【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
さらに、前述の光源装置は、光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転可能とされていることが好ましい。
このようにすれば、水平方向の角度だけでなく、上下方向の角度を変更することが可能となるので、光変調装置の画素電極面に入射する光の角度と、スイッチング素子への光の漏れとの関係をより一層詳細に解析することが可能となり、光変調装置に入射する光の入射角度と、スイッチング素子等への光の漏れとの関係をより一層明確にすることが可能となる。
また、本発明は、対向する一対の基板およびこれらの基板間に封入された液晶を備えた光変調装置の光漏れを評価する光変調装置の光漏れ評価方法であって、前記一対の基板のうち、一方の基板は、マトリクス状に形成された複数の走査線および複数のデータ線と、前記走査線およびデータ線に接続されたスイッチング素子と、このスイッチング素子に接続された画素電極とを備え、前記画素電極に光源装置から射出された光を照射する照射工程と、前記画素電極に照射される光の照射量を調節する絞り調整工程と、前記光源装置を、前記光変調装置を中心に、かつ、前記光の光軸を含んだ平面上で回転させる光源回転調整工程と、前記光変調装置を、前記光軸を中心に、当該光軸の周囲を回転させる光変調装置回転調整工程と、前記光変調装置の出射側への光の漏れを測定する光漏れ測定工程とを備えていることを特徴とする。
このような本発明によれば、光漏れ評価方法は、照射工程と、絞り調整工程と、光源回転調整工程と、光変調装置回転調整工程と、光漏れ測定工程とを備えているので、上述した光漏れ評価装置と同様の作用・効果を享受できる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
【発明の効果】
以上に述べたように、本発明の光変調装置の光漏れ評価装置、および光漏れ評価方法によれば、光変調装置に入射する光の入射角度と、スイッチング素子等への光の漏れとの関係を明確にすることができるという効果がある。