【手続補正書】
【提出日】平成16年10月6日(2004.10.6)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストを受ける実装済み基板装置上の１つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲット、及び１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットを、テスタのインターフェイス・プローブと電気的に接続するためのハイブリッド試験用取付具において、
ａ）１つ以上の長いテスト・プローブと、
ｂ）少なくとも上部ガイド・プレート及び下部ガイド・プレートを備え、所定の位置にスルー・ホールを備え、前記長いテスト・プローブが、それぞれ、前記スルー・ホールを通って延び、前記１つ以上のテスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、複数の略平行なガイド・プレートと、
ｃ）前記上部ガイド・プレートに取り付けられて、それぞれが、前記１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、１つ以上のバネ・プローブと、
ｄ）前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる場合、前記複数のガイド・プレートと前記テスタの前記インターフェイス・プローブの間に位置する、プローブ取付プレートと、
ｅ）該プローブ取付プレートに取り付けられたワイヤラップ・ポストを有し、前記１つ以上の長いテスト・プローブのうちの少なくとも１つ、及び前記１つ以上のバネ・プローブのうちの少なくとも１つに各々が電気的に接続されている、複数のパーソナリティ・ピンと、
ｆ）アライメント・プレートとからなり、
前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる際に、前記ワイヤラップ・ポストの各々が前記テスタの対応するインターフェイス・ピンと一列に並ぶように、前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストが前記アライメント・プレートを通って延びることを特徴とする、ハイブリッド試験用取付具。
【請求項２】
前記長いテスト・プローブが、長い中実のテスト・プローブであり、該長い中実のテスト・プローブが、前記プローブ取付プレートに取り付けられ該プローブ取付プレートを通って延びるバネ・プローブによって前記パーソナリティ・ピンに電気的に接続され、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記バネ・プローブが、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストのうちの少なくとも１つにワイヤ・ラッピングされ、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記バネ・プローブが、前記テストを受ける装置上の対応するテスト・ターゲットと接触した状態で、前記長い中実のテスト・プローブを作動させることを特徴とする、請求項１に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項３】
前記長いテスト・プローブが、プローブ・プランジャと、バレルまたはソケットを備えたバネ・プローブ・アセンブリとを含み、前記プローブ・プランジャが、前記複数のガイド・プレートのホールを通って延び、及び対応するテスト・ターゲットに接触し、前記バネ・プローブ・アセンブリが、前記プローブ取付プレートに取り付けられ該プローブ取付プレートを通って延びるパーソナリティ・ペグによって前記パーソナリティ・ピンに電気的に接続され、前記パーソナリティ・ペグが、前記前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記パーソナリティ・ピンの少なくとも１つのワイヤラップ・ポストにワイヤ・ラッピングされ、前記バネ・プローブ・アセンブリが、前記パーソナリティ・ペグと接触状態にあり、前記プローブ・プランジャが、一方の端部において、前記バネ・プローブ・アセンブリと接触状態にあり、他方の端部において、対応するテスト・ターゲットと接触状態にあることを特徴とする、請求項１に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項４】
前記長いテスト・プローブが、プローブ・プランジャ及びワッフル端付きバネ・プローブ・アセンブリを含み、前記プローブ・プランジャが、前記複数のガイド・プレートのホールを通って延び、及び対応するテスト・ターゲットと接触し、前記ワッフル端付きバネ・プローブ・アセンブリが、パーソナリティ・ポストによって前記パーソナリティ・ピンに電気的に接続され、前記パーソナリティ・ポストが、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストの少なくとも１つにワイヤ・ラッピングされ、前記ワッフル端付きバネ・プローブ・アセンブリが前記パーソナリティ・ポストと接触状態にあり、前記プローブ・プランジャが、一方の端部において、前記ワッフル端付きバネ・プローブ・アセンブリと接触状態にあり、他方の端部において、対応するテスト・ターゲットと接触状態にあることを特徴とする、請求項１に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項５】
前記上部ガイド・プレートに取り付けられた前記バネ・プローブが、前記上部ガイド・プレートに取り付けられた前記バネ・プローブから前記ガイド・プレートを通って延びる長いワイヤラップ・テールによって前記パーソナリティ・ピンに電気的に接続され、該長いワイヤラップ・テールが、前記プローブ取付プレートを通って延び、及び前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストにワイヤ・ラッピングされることを特徴とする、請求項１に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項６】
前記上部ガイド・プレートに取り付けられた前記バネ・プローブが、前記ガイド・プレートを通って延びるワイヤによって前記パーソナリティ・ピンに電気的に接続され、前記ワイヤラップが、前記プローブ取付プレートを通って延び、及び前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストに接続されることを特徴とする、請求項１に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項７】
テストを受ける実装済み基板装置上の１つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲット及び１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットを、テスタのインターフェイス・プローブと電気的に接続するためのハイブリッド試験用取付具において、
ａ）１つ以上の長いテスト・プローブと、
ｂ）少なくとも上部ガイド・プレート及び下部ガイド・プレートを備え、所定の位置にスルー・ホールを備え、前記長いテスト・プローブが、それぞれ、前記スルー・ホールを通って延び、前記１つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、複数の略平行なガイド・プレートと、
ｃ）前記上部ガイド・プレートに取り付けられて、それぞれが、前記１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、１つ以上のバネ・プローブと、
ｄ）前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる場合に、前記複数のガイド・プレートと前記テスタの前記インターフェイス・プローブとの間に位置する、プローブ取付プレートと、
ｅ）該プローブ取付プレートに取り付けられ、該プローブ取付プレートを通って延びる、１つ以上のパーソナリティ・ポストであって、その各々が、前記１つ以上の長いテスト・プローブ及び前記１つ以上のバネ・プローブの少なくとも１つに電気的に接続される、１つ以上のパーソナリティ・ポストと、
ｆ）アライメント・プレートとからなり、
前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる際に、前記１つ以上のパーソナリティ・ポストの各々が前記テスタの対応するインターフェイス・ピンと一列に並ぶように、該１つ以上のパーソナリティ・ポストが前記アライメント・プレートを通って延びることを特徴とする、ハイブリッド試験用取付具。
【請求項８】
前記上部ガイド・プレートに取り付けられた前記バネ・プローブが、前記ガイド・プレートを通って延びるワイヤによって前記パーソナリティ・ポストに電気的に接続され、前記ワイヤラップが、前記パーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストに接続されることを特徴とする、請求項７に記載のハイブリッド試験用取付具。
【請求項９】
テストを受ける実装済み基板装置上の１つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲット及び１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットを、テスタのインターフェイス・プローブと電気的に接続するためのハイブリッド試験用取付具において、
ａ）１つ以上の長いテスト・プローブと、
ｂ）少なくとも上部ガイド・プレート及び下部ガイド・プレートを備え、所定の位置にスルー・ホールを備え、前記長いテスト・プローブが、それぞれ、前記スルー・ホールを通って延び、前記１つ以上の制限アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、複数の略平行なガイド・プレートと、
ｃ）前記上部ガイド・プレートに取り付けられて、それぞれが、前記１つ以上の標準アクセス・テスト・ターゲットのうちの対応する１つと一列に並ぶようになっている、１つ以上のバネ・プローブと、
ｄ）前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる際に、前記複数のガイド・プレートと前記テスタの前記インターフェイス・プローブとの間に位置する、プローブ取付プレートと、
ｅ）該プローブ取付プレートに取り付けられたワイヤラップ・ポスト及びパーソナリティ・ポストを有する１つ以上のパーソナリティ・ピンであって、該パーソナリティ・ピン及び前記パーソナリティ・ポストの各々が、前記１つ以上の長いテスト・プローブ及び前記１つ以上のバネ・プローブのうちの少なくとも１つに電気的に接続されている、１つ以上のパーソナリティ・ピンと、
ｆ）アライメント・プレートとからなり、
前記ハイブリッド試験用取付具が前記テスタに取り付けられる際に、前記１つ以上のワイヤラップ・ポストの各々、及び前記１つ以上のパーソナリティ・ポストの各々が、前記テスタの対応するインターフェイス・ピンと一列に並ぶように、前記１つ以上のパーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポスト及び前記１つ以上のパーソナリティ・ポストの１つ以上が、前記アライメント・プレートを通って延びることを特徴とする、ハイブリッド試験用取付具。
【請求項１０】
前記１つ以上の長いテスト・プローブが、１つ以上の長い中実のテスト・プローブであり、該１つ以上の長い中実のテスト・プローブが、前記プローブ取付プレートに取り付けられ該プローブ取付プレートを通って延びる１つ以上のバネ・プローブによって、前記１つ以上のパーソナリティ・ピンに電気的に接続され、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記１つ以上のバネ・プローブが、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記１つ以上のパーソナリティ・ピンの前記ワイヤラップ・ポストのうちの少なくとも１つにワイヤ・ラッピングされ、前記プローブ取付プレートに取り付けられた前記１つ以上のバネ・プローブが、前記テストを受ける装置上の対応するテスト・ターゲットと接触した状態で、前記１つ以上の長い中実のテスト・プローブを作動させることを特徴とする、請求項９に記載のハイブリッド試験用取付具。