(57)【要約】【課題】設計物の設計段階において、所要の設計物を得るための設計値及び公差を設定することを可能にする設計支援装置を提供する。【解決手段】設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援装置に、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付けて記憶するデータベースと、設計物の設計項目毎に設計項目特徴情報を受け付ける手段と、受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定手段とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援装置であって、
設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付けて記憶するデータベースと、
設計物の設計項目毎に設計項目特徴情報を受け付ける手段と、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定手段と
を備えることを特徴とする設計支援装置。
【請求項２】
前記データベースは、
設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付けて記憶しており、
更に、設計物の設計項目毎に測定方法情報を受け付ける手段を備え、
前記判定手段は、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する手段を備える
ことを特徴とする請求項１に記載の設計支援装置。
【請求項３】
前記データベースは、
設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて記憶しており、
更に、設計物を製造すべき製造者を示した製造者情報を受け付ける手段を備え、
前記判定手段は、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定する手段を備える
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の設計支援装置。
【請求項４】
前記設計項目特徴情報は、
設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報である
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一つに記載の設計支援装置。
【請求項５】
製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得する取得手段と、
該取得手段にて取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する公差充足確率算出手段と
を備えることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一つに記載の設計支援装置。
【請求項６】
設計項目夫々の測定値を記憶する測定値データベースと、
設計項目の公差及び測定値に基づいて、工程能力指数を算出する算出手段と、
該算出手段にて算出された工程能力指数及び所定値を比較する比較手段と
を備え、
前記公差充足確率算出手段は、
前記比較手段の比較結果に基づいて、設計物を複数製造した場合に工程能力指数が所定値以上となる公差充足確率を設計項目特徴情報及び公差毎に算出する手段を備え、
前記データベースは、
前記公差充足確率算出手段にて算出された公差充足確率を、設計項目特徴情報、設計値及び公差に対応付けて記憶するようにしてある
ことを特徴とする請求項５に記載の設計支援装置。
【請求項７】
請求項５又は請求項６に記載の設計支援装置と、通信網を介して該設計支援装置に接続された通信装置とを備え、
前記通信装置は、
設計物の設計項目夫々の測定値を受け付ける手段と、
受け付けた測定値を送信する測定値送信手段と
を備え、
前記取得手段は、
前記通信装置から送信された測定値を受信する手段を備える
ことを特徴とする設計支援システム。
【請求項８】
設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援方法であって、
設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付けてデータベースに記憶させるステップと、
設計物の設計項目毎に設計項目特徴情報を受け付けるステップと、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定ステップと
を有することを特徴とする設計支援方法。
【請求項９】
設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付けて前記データベースに記憶させるステップと、
設計物の設計項目毎に測定方法情報を受け付けるステップと
を有し、
前記判定ステップは、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する
ことを特徴とする請求項８に記載の設計支援方法。
【請求項１０】
設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて前記データベースに記憶させるステップと、
設計物を製造すべき製造者を示した製造者情報を受け付けるステップと
を有し、
前記判定ステップは、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定する
ことを特徴とする請求項８又は請求項９に記載の設計支援方法。
【請求項１１】
前記設計項目特徴情報は、
設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報である
ことを特徴とする請求項８乃至請求項１０のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【請求項１２】
製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得するステップと、
取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出するステップと
を有することを特徴とする請求項８乃至請求項１１のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【請求項１３】
設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差、並びに設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報を受け付けるコンピュータに、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差の妥当性を判定させるコンピュータプログラムであって、
前記コンピュータを、
設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付ける手段と、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定手段と
して機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【請求項１４】
前記コンピュータを、
更に、設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付ける手段と、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する手段と
して機能させることを特徴とする請求項１３に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１５】
前記コンピュータを、
更に、設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付ける手段と、
受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定する手段と
して機能させることを特徴とする請求項１３又は請求項１４に記載のコンピュータプログラム。
【請求項１６】
前記設計項目特徴情報は、
設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報である
ことを特徴とする請求項１３乃至請求項１５のいずれか一つに記載のコンピュータプログラム。
【請求項１７】
前記コンピュータを、
更に、製造された設計物の設計項目夫々の測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する手段と
して機能させることを特徴とする請求項１３乃至請求項１６のいずれか一つに記載のコンピュータプログラム。
【請求項１８】
請求項１３乃至請求項１７のいずれか一つに記載のコンピュータプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援装置、設計支援システム、設計支援方法、コンピュータプログラム及び記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
製造業者は、製品の品質を管理すべく、外注した部品の受入検査を行っている。製品によっては部品の外注先が１００社以上にのぼることもある。受入検査では、納入された部品が設計規格に適合したものであるかの現品確認を人手で行っている。
【０００３】
特許文献１には、外注先から部品の検査データを電子メールで受取り、検査データから工程能力指数を算出し、算出した工程能力指数により受入検査の合否判定を行い、その結果を電子メールで前記外注先へ通知することを狙いとした納入部品品質保証システムが開示されている。
【０００４】
特許文献２には、検査図面及び検査規格の内容をディスプレイ装置に表示させながら検査対象物に対する検査を行うことを狙いとした検査システムが開示されている。
【０００５】
特許文献３には、外注先のコンピュータと通信を行うことで、納入すべき部品の不良品個数を認識し、部品の品質を評価することを狙いとしたシステムが開示されている。
【０００６】
特許文献４には、製品の設計者と、製作者との間で、製品製作の管理を行うことを狙いとした管理方法が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−１４９７５７号公報
【特許文献２】特開２００３−２９５９３４号公報
【特許文献３】特開２００５−２５９０６３号公報
【特許文献４】特開２００８−９９５２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、部品の設計値及び公差の設定自体が不適当な場合、後工程で所要の品質を満足することが困難になることがあった。引用文献１〜４に係るシステムにおいては、設計段階で適切な設計値及び公差が設定されているか否かを確認することができず、部品の製造及び納入後の設計変更を余儀なくされていた。
【０００８】
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、設計物の設計段階において、所要の設計物を得るための設計値及び公差を設定することを可能にする設計支援装置、設計支援システム、設計支援方法、コンピュータプログラム及び記録媒体を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明の第一の態様は、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援装置であって、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付けて記憶するデータベースと、設計物の設計項目毎に設計項目特徴情報を受け付ける手段と、受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定手段とを備えることを特徴とする設計支援装置である。
【００１０】
上記第一の態様に係る設計支援装置は、例えば、前記データベースは、設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付けて記憶しており、更に、設計物の設計項目毎に測定方法情報を受け付ける手段を備え、前記判定手段は、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する手段を備えるようにしても良い。
【００１１】
上記第一の態様に係る設計支援装置は、例えば、前記データベースは、設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて記憶しており、更に、設計物を製造すべき製造者を示した製造者情報を受け付ける手段を備え、前記判定手段は、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定する手段を備えるようにしても良い。
【００１２】
上記第一の態様に係る設計支援装置は、例えば、前記設計項目特徴情報は、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報とするようにしても良い。
【００１３】
上記第一の態様に係る設計支援装置は、例えば、製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得する取得手段と、該取得手段にて取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する公差充足確率算出手段とを備えるようにしても良い。
【００１４】
上記第一の態様に係る設計支援装置は、例えば、設計項目夫々の測定値を記憶する測定値データベースと、設計項目の公差及び測定値に基づいて、工程能力指数を算出する算出手段と、該算出手段にて算出された工程能力指数及び所定値を比較する比較手段とを備え、前記公差充足確率算出手段は、前記比較手段の比較結果に基づいて、設計物を複数製造した場合に工程能力指数が所定値以上となる公差充足確率を設計項目特徴情報及び公差毎に算出する手段を備え、前記データベースは、前記公差充足確率算出手段にて算出された公差充足確率を、設計項目特徴情報、設計値及び公差に対応付けて記憶するようにしても良い。
【００１５】
上記目的を達成するための本発明の第二の態様は、上述のいずれか一つの設計支援装置と、通信網を介して該設計支援装置に接続された通信装置とを備え、前記通信装置は、設計物の設計項目夫々の測定値を受け付ける手段と、受け付けた測定値を送信する測定値送信手段とを備え、前記取得手段は、前記通信装置から送信された測定値を受信する手段を備えることを特徴とする本発明に係る設計支援システムである。
【００１６】
上記目的を達成するための本発明の第三の態様は、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することによって、設計物の設計を支援する設計支援方法であって、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付けてデータベースに記憶させるステップと、設計物の設計項目毎に設計項目特徴情報を受け付けるステップと、受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定ステップとを有することを特徴とする設計支援方法である。
【００１７】
上記第三の態様に係る設計支援方法は、例えば、設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付けて前記データベースに記憶させるステップと、設計物の設計項目毎に測定方法情報を受け付けるステップとを有し、前記判定ステップは、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定するようにしても良い。
【００１８】
上記第三の態様に係る設計支援方法は、例えば、設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて前記データベースに記憶させるステップと、設計物を製造すべき製造者を示した製造者情報を受け付けるステップとを有し、前記判定ステップは、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに前記データベースが記憶している設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定するようにしても良い。
【００１９】
上記第三の態様に係る設計支援方法は、例えば、前記設計項目特徴情報は、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報とするようにしても良い。
【００２０】
上記第三の態様に係る設計支援方法は、例えば、製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得するステップと、取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出するステップとを有するようにしても良い。
【００２１】
上記目的を達成するための本発明の第四の態様は、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差、並びに設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報を受け付けるコンピュータに、設計物の設計項目毎に設計値及び該設計値に係る公差の妥当性を判定させるコンピュータプログラムであって、前記コンピュータを、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差、及び設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる公差充足確率を対応付ける手段と、受け付けた設計項目特徴情報、設計値及び公差、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する判定手段として機能させることを特徴とするコンピュータプログラムである。
【００２２】
上記第四の態様に係るコンピュータプログラムは、例えば、前記コンピュータを、更に、設計項目特徴情報に係る設計項目の測定方法を示す測定方法情報を、前記設計項目特徴情報に対応付ける手段と、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び測定方法情報、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差、測定方法情報及び公差充足確率に基づいて、設計物の設計値及び公差の妥当性を判定する手段として機能させるようにしても良い。
【００２３】
上記第四の態様に係るコンピュータプログラムは、例えば、前記コンピュータを、更に、設計物を製造した製造者を示す製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付ける手段と、受け付けた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報、並びに対応付けられた設計項目特徴情報、設計値、公差及び製造者情報に基づいて、設計物の設計値、公差及び製造者の妥当性を判定する手段として機能させるようにしても良い。
【００２４】
上記第四の態様に係るコンピュータプログラムは、例えば、前記設計項目特徴情報は、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって設計項目を分類するための情報とするようにしても良い。
【００２５】
上記第四の態様に係るコンピュータプログラムは、例えば、前記コンピュータを、更に、製造された設計物の設計項目夫々の測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する手段として機能させるようにしても良い。
【００２６】
上記目的を達成するための本発明の第五の態様は、上述のいずれか一つのコンピュータプログラムを記録したことを特徴とする記録媒体である。
【００２７】
上記第一の態様によれば、設計支援装置は、設計値及び公差の妥当性を判定するためのデータベースを備える。データベースは、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて記憶している。公差充足確率は、設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる確率を示した情報である。例えば、公差充足確率は、所定の製造工程指数を有する設計物が得られる確率を示した情報である。設計項目特徴情報は、異なる複数の設計物が有する設計項目に関する公差充足確率を蓄積することを可能にする新規の情報である。
設計支援装置は、設計物の設計項目毎に、設計値、公差及び設計項目特徴情報を受け付け、受け付けた設計値、公差及び設計項目特徴情報と、前記データベースが記憶している設計値、公差、設計項目特徴情報及び公差充足確率とに基づいて、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することができる。つまり、判定手段は、受け付けた設計値、公差及び設計項目特徴情報に対応する公差充足確率を参照することによって、設計値及び公差の妥当性を判定する。
【００２８】
また、上記第一の態様によれば、データベースは、測定方法情報に設計項目特徴情報、設計値、公差を対応付けて記憶している。設計支援装置は、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報を受け付ける。判定手段は、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報と、データベースが記憶している情報とに基づいて、測定項目の測定方法を加味した設計値及び公差の妥当性を判定することが可能になる。
【００２９】
更に、上記第一の態様によれば、データベースは、製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて記憶している。設計支援装置は、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報を受け付ける。判定手段は、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報と、データベースが記憶している情報とに基づいて、製造者を加味した設計値及び公差の妥当性を判定することが可能になる。
【００３０】
更にまた、上記第一の態様によれば、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって、異なる複数の設計物が有する設計項目に関する公差充足確率を蓄積することが可能になる。
【００３１】
更にまた、上記第一の態様によれば、製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得し、取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する。該公差充足確率は、データベースに蓄えられる。
【００３２】
更にまた、上記第一の態様によれば、設計支援装置は、設計項目の公差及び測定値に基づいて、工程能力指数を算出する。そして、工程能力指数と、所定値とを比較する。工程能力指数が所定値以上である場合、公差に基づく所定条件を充足すると判定される。公差充足確率算出手段は、比較結果に基づいて、公差充足確率を算出する。算出された公差充足確率は、データベースに蓄積される。
【００３３】
上記第二の態様によれば、設計支援装置と通信が可能な通信装置から測定値を取得し、公差充足確率を算出する。例えば、設計支援装置は設計物のバイヤ側、通信装置は設計物のサプライヤ側に設けられる。この場合、設計支援装置は、サプライヤ側の情報に基づく公差充足確率をデータベースに蓄積することができる。なお、言うまでもなく、設計支援装置が設けられたバイヤ側の情報に基づく公差充足確率を併せてデータベースに蓄積するようにしても良い。
【００３４】
上記第三の態様によれば、設計値及び公差の妥当性を判定するためのデータベースを用意する。データベースは、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けて記憶している。公差充足確率は、設計物を複数製造した場合に該公差に基づく所定条件を充足した設計物が得られる確率を示した情報である。
そして、設計物の設計項目毎に、設計値、公差及び設計項目特徴情報を受け付け、受け付けた設計値、公差及び設計項目特徴情報と、前記データベースが記憶している設計値、公差、設計項目特徴情報及び公差充足確率とに基づいて、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することができる。
【００３５】
また、上記第三の態様によれば、測定方法情報に設計項目特徴情報、設計値、公差を対応付けてデータベースに記憶させる。そして、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報を受け付ける。次いで、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報と、データベースが記憶している情報とに基づいて、測定項目の測定方法を加味した設計値及び公差の妥当性を判定する。
【００３６】
更に、上記第三の態様によれば、製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付けてデータベースに記憶させる。そして、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報を受け付ける。次いで、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報と、データベースが記憶している情報とに基づいて、製造者を加味した設計値及び公差の妥当性を判定することが可能になる。
【００３７】
更にまた、上記第三の態様によれば、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって、異なる複数の設計物が有する設計項目に関する公差充足確率を蓄積することが可能になる。
【００３８】
更にまた、上記第三の態様によれば、製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得し、取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する。該公差充足確率は、データベースに蓄えられる。
【００３９】
上記第四の態様によれば、コンピュータによって上記コンピュータプログラムが実行された場合、コンピュータは、コンピュータは、設計物の設計項目を異なる複数の設計物間で共通する特徴によって分類するための設計項目特徴情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付ける。対応付けられた情報は、例えばデータベースに登録される。
コンピュータは、設計物の設計項目毎に、設計値、公差及び設計項目特徴情報を受け付け、受け付けた設計値、公差及び設計項目特徴情報と、前記対応付けられた設計値、公差、設計項目特徴情報及び公差充足確率とに基づいて、受け付けた設計値及び公差の妥当性を判定することができる。
【００４０】
また、上記第四の態様によれば、データベースは、測定方法情報に設計項目特徴情報、設計値、公差を対応付けて記憶している。コンピュータは、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報を受け付ける。判定手段は、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び測定方法情報と、データベースが記憶している情報とに基づいて、測定項目の測定方法を加味した設計値及び公差の妥当性を判定することが可能になる。
【００４１】
更に、上記第四の態様によれば、コンピュータは、製造者情報毎に、設計値、公差及び公差充足確率を対応付け。コンピュータは、設計物の設計項目の設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報を受け付ける。そして、コンピュータは、受け付けた設計値、公差、設計項目特徴情報及び製造者情報と、前記対応付けられた各種情報とに基づいて、製造者を加味した設計値及び公差の妥当性を判定することが可能になる。
【００４２】
更にまた、上記第四の態様によれば、設計物の設計項目に対応する部分の形状によって、異なる複数の設計物が有する設計項目に関する公差充足確率を蓄積することが可能になる。
【００４３】
更にまた、上記第四の態様によれば、製造された設計物の設計項目夫々の測定値を取得し、取得した測定値及び公差に基づいて、公差充足確率を算出する。該公差充足確率は、データベースに蓄えられる。
【００４４】
上記第五の態様に係るコンピュータ読み取り可能な記録媒体によれば、コンピュータは、上記記録媒体から上記コンピュータプログラムを読み出し、実行することによって、上記第四の態様と同様の処理を実行する。
【発明の効果】
【００４５】
本発明によれば、設計物の設計段階において、所要の設計物を得るための設計値及び公差を設定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４６】
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。
図１は、本発明の実施の形態に係る設計支援システムの構成を示す模式図である。本実施の形態に係る設計支援システムは、部品（設計物）を購入するバイヤ側の設計支援装置１と、部品を供給するサプライヤ側の複数の通信装置２とを備え、設計支援装置１及び通信装置２は通信網Ｎを介して接続されている。また、設計支援装置１及び通信装置２には夫々、端末装置３，４が接続されている。
【００４７】
図２は、設計支援装置１及び通信装置２の構成を模式的に示すブロック図である。設計支援装置１は、設計支援装置１全体を制御する制御部１０、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）を備えたコンピュータである。制御部１０には、制御部１０の動作に必要な制御プログラムを記憶したＲＯＭ（Read Only Memory）１１と、演算に伴って発生する一時的な情報を記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）１２とが接続されている。また、制御部１０には、本発明の実施の形態に係るコンピュータプログラム１９ａを記録した記録媒体１９、例えばＣＤ（Compact Disc）−ＲＯＭ（Read Only Memory）からコンピュータプログラム１９ａを読み取る外部記憶装置１３と、外部記憶装置１３により読み取ったコンピュータプログラム１９ａを記録するハードディスク等の内部記憶装置１４とが接続されている。制御部１０は、内部記憶装置１４からコンピュータプログラム１９ａをＲＡＭ１２に読み出して各種演算処理を実行することによって、本発明に係る設計支援方法を実施する。また、設計支援装置１は、キーボード、マウス等の入力装置１５、液晶ディスプレイ又はＣＲＴディスプレイ等の出力装置１６、及び通信部１８を備えており、通信部１８には、通信網Ｎを介して複数の通信装置２が接続されている。また、通信部１８には、端末装置３が接続され、端末装置３の入力装置及び出力装置を介して、設計物の設計支援に係る情報を所定プロトコル、例えばＨＴＴＰ（Hypertext Transfer Protocol）にて入出力するように構成されている（作図の便宜上、図２では不図示）。また、設計支援装置１は、設計支援に必要な各種情報を記憶したデータベース１７を備える。データベース１７は、後述の形状特徴マスタＤＢ（DB:DataBase）１７ａ、製造工法マスタＤＢ１７ｂ、測定方法マスタＤＢ１７ｃ、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄ、部品情報ＤＢ１７ｅ、サプライヤ測定値ＤＢ１７ｆ、バイヤ測定値ＤＢ１７ｇ、精度保証判定マスタＤＢ１７ｈ、精度保証管理ＤＢ１７ｉ、サプライヤ能力分類ＤＢ１７ｊを含んで構成される。
【００４８】
通信装置２は、通信装置２全体を制御する制御部２０を備えたコンピュータであり、基本的な構成は設計支援装置１と同様である。即ち、制御部２０には、ＲＯＭ２１、ＲＡＭ２２、外部記憶装置２３、内部記憶装置２４、入力装置２５、出力装置２６、及び通信部２８が接続されている。通信部２８には、通信網Ｎを介して設計支援装置１が接続されている。また、通信部２８には、端末装置４が接続され、端末装置４の入力装置及び出力装置を介して、設計物の設計支援に係る情報を所定プロトコルにて入出力するように構成されている（作図の便宜上、図２では不図示）。また、通信装置２は、サプライヤ側で行った設計物の寸法測定等の測定結果が登録されるサプライヤ測定値ＤＢ２７を備える。
【００４９】
図３乃至図５は、設計支援に必要な各種データの蓄積に係る制御部１０、２０の処理手順を示すフローチャートである。まず、制御部１０は、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録すべき情報を入力装置１５にて受け付け、受け付けた各種情報を形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録する（ステップＳ１１）。
【００５０】
図６は、形状特徴マスタＤＢ１７ａのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。形状特徴マスタＤＢ１７ａの表（ファイル）は、複数の列（フィールド）、例えば「製造工法」列、「形状特徴」列、「測定方法」列、「設計範囲上限」列、「設計範囲下限」列、「公差レンジ」列、「Ｃｐ警告値」列、「Ｃｐｋ警告値」列、「ΔＣｐ警告値」列、及び「ΔＣｐｋ警告値」列から構成されており、各行（レコード）には対応する情報が格納されている。
【００５１】
「製造工法」列は、部品の製造工法の種類を示した情報を格納する。製造工法は、例えばプレス、鋳造である。
「形状特徴」列は、部品を構成する部分、特に部品の品質を担保するために測定が必要な箇所の形状を示した情報（設計項目特徴情報）を格納する。該情報は、言い換えると、部品の設計項目を異なる複数の部品間で共通する特徴によって分類するための情報である。形状特徴は、例えば、内円、架空２点、幅等である。
「設計範囲上限」列は、部品の形状特徴部分に設定されるべき設計値の上限を格納する。
「設計範囲下限」列は、部品の形状特徴部分に設定されるべき設計値の下限を格納する。
「公差レンジ」列は、公差レンジを格納する。公差レンジとは、部品の設計値に与えられるべき公差の幅、即ち公差上限と、公差下限との差分をいう。
「Ｃｐ警告値」列は、部品の品質を工程能力指数Ｃｐによって管理するためのＣｐ警告値を格納する。
「Ｃｐｋ警告値」列は、部品の品質を工程能力指数Ｃｐｋによって管理するためのＣｐｋ警告値を格納する。
「ΔＣｐ警告値」列は、サプライヤ側の測定方法と、バイヤ側の測定方法とが適合しているか否かを工程能力指数Ｃｐによって判定するためのΔＣｐ警告値を格納する。
「ΔＣｐｋ警告値」列は、サプライヤ側の測定方法と、バイヤ側の測定方法とが適合しているか否かを工程能力指数Ｃｐｋによって判定するためのΔＣｐｋ警告値を格納する。
【００５２】
ステップＳ１１の処理を終えた制御部１０は、製造工法マスタＤＢ１７ｂに登録すべき情報を入力装置１５にて受け付け、受け付けた各種情報を製造工法マスタＤＢ１７ｂに登録する（ステップＳ１２）。
【００５３】
図７は、製造工法マスタＤＢ１７ｂのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。製造工法マスタＤＢ１７ｂの表は、複数の列、例えば、「Ｎｏ．」列、「製造工法」列から構成されている。
「Ｎｏ．」列は、製造工法に固有のＩＤを格納する。
「製造工法」列には、サプライヤ側の
製造部門で行われている全ての製造工法の種類を示す情報を格納する。例えば、「製造工法」列は、「プレス」、「鋳造」、「ダイキャスト」、「樹脂」等を格納する。
【００５４】
ステップＳ１２の処理を終えた制御部１０は、測定方法マスタＤＢ１７ｃに登録すべき情報を入力装置１５にて受け付け、受け付けた各種情報を測定方法マスタＤＢ１７ｃに登録する（ステップＳ１３）。
【００５５】
図８は、測定方法マスタＤＢ１７ｃのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。測定方法マスタＤＢ１７ｃの表は、複数の列、例えば「サプライヤ」列、「Ｎｏ．」列、「測定方法」列、「測定結果登録方法」列から構成されている。
「サプライヤ」列は、部品の製造者の名称を格納する。
「Ｎｏ．」列は、サプライヤに固有のＩＤを格納する。
「測定方法」列は、バイヤ側及びサプライヤ側の品質管理部門で行われている全ての測定方法を格納する。例えば、「測定方法」列は、「ピンゲージ」、「３次元接触」、「マイクロメーター」、「ノギス」、「目視」等の測定方法を示した情報を格納する。
「測定結果登録」列は、該当する測定方法で得られた測定値を登録する方法を格納する。例えば、「測定結果登録方法」列は、測定結果を数値入力すべき旨を示す「数値入力」、測定結果として可又は不可のいずれかを入力すべき旨を示す「ＯＫ／ＮＧ」等を格納する。
【００５６】
ステップＳ１３の処理を終えた制御部１０は、形状特徴マスタＤＢ１７ａ及び製造工法マスタＤＢ１７ｂに登録された情報に基づいて、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄを作成する（ステップＳ１４）。
【００５７】
図９は、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。精度保証管理マスタＤＢ１７ｄの表は、「製造工法」列、「設計範囲上限」列、「設計範囲下限」列、「公差レンジ」列、「測定方法」列、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録された形状特徴に対応するように設けられた「内円」列、「外円」列等から構成される。
なお、製造工法、設計範囲上限、設計範囲下限、公差レンジ、測定方法は、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録された対応する情報が反映される。また、形状特徴に対応する「内円」列、「外円」列等の項目は、形状特徴に登録された全ての形状特徴が反映される。形状特徴に対応する項目のチェックボックスは、該当する製造工法、設計範囲上限、設計範囲下限、公差レンジ、測定方法が存在するか否かを示している。該当する製造工法等が存在する場合、チェックボックスにチェックが入り、該当する製造工法等が存在しない場合、チェックボックスは空白になる。より具体的には、チェックの有無は少なくとも１ビットの１，０のデータで管理される。
制御部１０は、形状特徴マスタＤＢ１７ａにデータが登録される都度、形状特徴マスタＤＢ１７ａの情報に基づいて、該当項目を検索し、チェックを入れる。
【００５８】
ステップＳ１４の処理を終えた制御部１０は、設計対象である部品の登録を入力装置１５にて受け付け、受け付けた部品を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ１５）。例えば、部品を特定するための図番、サプライヤ等を受け付けて、登録する。
【００５９】
そして、制御部１０は、ステップＳ１５で登録された部品の設計モデルを、入力装置１５の操作に応じて作成する（ステップＳ１６）。設計モデルは、例えば３次元ＣＡＤシステムによって作成すると良い。
次いで、制御部１０は、入力装置１５にて部品の設計値及び公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差を設計モデルに登録する（ステップＳ１７）。設計値及び公差は、設計モデルに紐付けられる。そして、制御部１０は、ステップＳ１７で受け付けた設計値及び公差の一覧を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ１８）。なお、言うまでもなく、設計値及び公差の情報を設計モデルに紐付けず、部品情報ＤＢ１７ｅにのみ、設計値及び公差を登録するように構成しても良い。
【００６０】
図１０は、部品選択画面及び部品情報入力画面の一例を示す模式図である。ステップＳ１８の処理を終えた制御部１０は、ステップＳ１５〜１８で登録された部品の一覧を、図１０（ａ）に示すように表示して部品の選択を受け付け、図１０（ｂ）に示すように、選択された部品に関連する測定箇所（設計項目）の一覧を出力装置１６にて表示する（ステップＳ１９）。測定箇所は、寸法ＩＤによって特定される。部品情報入力画面には、選択された部品の図番、部品名が表示される。また、部品情報入力画面には、選択された部品の製造工法、登録された測定箇所毎に、対応する設計値、公差上限、公差下限が一覧表示される。更に、部品情報入力画面には、形状特徴及び設計方法を選択するためのメニューが表示される。メニューには、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録された形状特徴及び測定方法が含まれる。なお、製造工法も、メニューから選択できるように構成しても良い。また、ステップＳ１７の処理で設計値及び公差と共に製造工法を受け付けて部品情報ＤＢ１７ｅに登録するように構成しても良い。
【００６１】
次いで、制御部１０は、各測定箇所の形状特徴を入力装置１５にて受け付け、受け付けた形状特徴を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ２０）。
【００６２】
次いで、制御部１０は、入力装置１５にて部品の各設計項目の測定方法情報を受け付け、受け付けた測定方法情報を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ２１）。
【００６３】
図１１は、部品情報ＤＢ１７ｅのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。部品情報ＤＢ１７ｅの表は、複数の列、例えば「図番」列、「製造工法」列、「寸法ＩＤ」列、「設計値」列、「公差上限」列、「公差下限」列、「形状特徴」列、「測定方法」列から構成されている。
「図番」列は、ステップＳ１５で登録された部品の図番を格納する。
「製造工法」列は、ステップＳ１５で登録された部品の製造工法を示した情報を格納する。
「寸法ＩＤ」列は、部品が有する一又は複数の測定箇所に固有のＩＤを格納する。
「設計値」列は、部品が有する各測定箇所に設定された設計値を格納する。
「公差上限」列は、部品が有する各測定箇所に設定された設計値の公差の上限を格納する。
「公差下限」列は、部品が有する各測定箇所に設定された設計値の公差の下限を格納する。
「形状特徴」列は、部品が有する各測定箇所の形状特徴を格納する。
「測定方法」列は、部品が有する各測定箇所の寸法等の測定方法を格納する。
【００６４】
ステップＳ２１の処理を終え、バイヤ側の設計支援装置１の使用者から部品の発注指示を受けた場合、制御部１０は、部品情報ＤＢ１７ｅに登録された部品情報等を通信部１８を介して通信装置２へ送信する（ステップＳ２２）。なお、初回の部品の発注指示は、設計値及び公差を見直す可能性があるため、部品の試作品を発注すると良い。
【００６５】
通信装置２の制御部２０は、設計支援装置１から送信された部品情報等を通信部２８を介して受信する（ステップＳ２３）。サプライヤは、通信装置２にてバイヤから発注された部品情報等を受信し、受信した部品情報等に基づいて、部品を製造する。以下、ステップＳ２４〜３３の処理は、部品製造後、サプライヤ側で行われる品質管理のための測定値の入力に関する処理である。
【００６６】
図１２は、部品選択画面及びサプライヤデータ入力画面の一例を示す模式図である。ステップＳ２３の処理を終えた場合、制御部２０は、図１２（ａ）に示す部品選択画面を表示し、入力装置２５にて、製造対象の部品の選択を受け付ける（ステップＳ２４）。
【００６７】
次いで、制御部２０は、図１２（ｂ）に示すサプライヤデータ入力画面を表示し、選択された部品の製造ロット番号、ＣＡＶＩ番号、金型番号、サプライヤ側で測定された各測定箇所の測定値及び品質が変化する可能性があるか否かを示した変化点情報を、入力装置２５にて受け付け、受け付けた情報をサプライヤ測定値ＤＢ１７ｆに登録する（ステップＳ２５）。以下、サプライヤ側で測定された測定値をサプライヤ測定値という。変化点情報は、金型変更、金型メンテナンス、材料ロット変更、成型機段取り変更時等に起因して、部品の品質に変化が生ずる可能性があることを示す情報であり、サプライヤが入力装置２５を用いて通信装置２に入力する。
なお、サプライヤ測定値が入力された場合、制御部２０は、サプライヤ測定値と、対応する公差とを比較することによって、品質の合否を判定し、判定結果を即時にサプライヤデータ入力画面に表示する。
【００６８】
図１３は、サプライヤ測定値ＤＢ１７ｆのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。サプライヤからバイヤへ納入される部品は、「製造ロット番号」、「ＣＡＶＩ番号」、及び「金型番号」によって特定され、管理される。サプライヤ測定値ＤＢ１７ｆは、「製造ロット番号」、「ＣＡＶＩ番号」、及び「金型番号」で定まる製造単位毎に、複数の測定箇所（寸法ＩＤ００１〜００７）夫々について、サプライヤ測定値を「ｎ数」個、例えば３個格納している。
【００６９】
ステップＳ２５の処理を終えた場合、制御部２０は、ステップＳ１７で受け付けた各測定箇所の公差と、ステップＳ２５で受け付けたサプライヤ測定値とに基づいて、サプライヤ測定値が公差内であるか否かを判定する（ステップＳ２６）。つまり、サプライヤ測定値と、設計値との差分が公差の範囲内であるか否かを、全ての測定箇所について測定箇所毎に判定する。
【００７０】
ステップＳ２６でサプライヤ測定値が公差内でないと判定された場合（ステップＳ２６：ＮＯ）、制御部２０は、入力装置１５にて特別採用を要求するか否かを受け付け、特別採用の要否を判定する（ステップＳ２７）。特別採用の要求とは、公差から外れている部品ではあるが、許容して該部品を受け入れてもらえないかどうかを要求することをいう。特別採用を要求すると判定した場合（ステップＳ２７：ＹＥＳ）、制御部２０は、製造ロット番号、ＣＡＶＩ番号、金型番号、サプライヤ測定値及び変化点情報、並びに特別採用を要求するための特別採用要求情報を通信部２８にて設計支援装置１へ送信する（ステップＳ２８）。
なお、公差は、理論上のものが設定されるため、測定結果が公差を外れていても、作り直す工数・コストを考えると現実的には許容可能という範囲の公差外もあり得る。ある部品のある要素について、公差がどの程度の厳密さで要求されるかはサプライヤの経験から判断される。
【００７１】
設計支援装置１の制御部１０は、通信装置２から送信された製造ロット番号、ＣＡＶＩ番号、金型番号、サプライヤ測定値及び変化点情報、並びに特別採用要求情報を通信部１８にて受信する（ステップＳ２９）。そして、制御部１０は、受信した情報に基づいて特別採用を行うか否かを判定する（ステップＳ３０）。特別採用を行わないと判定した場合（ステップＳ３０：ＮＯ）、制御部１０は、特別採用されなかった旨の情報を通信部１８を介して通信装置２へ送信し、特別採用されなかった旨の情報を通信部２８にて受信した制御部２０は、出力装置２６にて製造修正指示を出力し（ステップＳ３１）、処理を終える。また、ステップＳ２７で特別採用を要求しないと判定した場合（ステップＳ２７：ＮＯ）、同様に、通信装置２の制御部２０は、出力装置２６にて製造修正指示を出力し（ステップＳ３１）、処理を終える。
【００７２】
ステップＳ３０で特別採用を行うと判定された場合（ステップＳ３０：ＹＥＳ）、又はサプライヤ測定値が公差内であると判定した場合（ステップＳ２６：ＹＥＳ）、通信装置２の制御部２０は、サプライヤ測定値をサプライヤ測定値ＤＢ２７に登録する（ステップＳ３２）。そして、制御部２０は、通信部２８を介してサプライヤ測定値を設計支援装置１へ送信する（ステップＳ３３）。
ステップＳ３３の処理を終えた後、製造された部品は、サプライヤ側からバイヤへ納入される。
以下、ステップＳ３４〜４３の処理は、部品納品時にバイヤ側で行われる品質管理のための測定値の入力に関する処理である。
【００７３】
設計支援装置１の制御部１０は、通信部１８を介してサプライヤ測定値を受信し（ステップＳ３４）、受信したサプライヤ測定値を設計支援装置１側のサプライヤ測定値ＤＢ１７ｆに登録する（ステップＳ３５）。
【００７４】
図１４は、部品選択画面及びバイヤデータ入力画面の一例を示す模式図である。ステップＳ３５の処理を終えた場合、制御部１０は、図１４（ａ）に示す部品選択画面、及び図１４（ｂ）に示す製造部品選択画面を表示し、入力装置１５にて納入される部品の選択を受け付ける（ステップＳ３６）。
【００７５】
そして、制御部１０は、図１４（ｃ）に示すバイヤデータ入力画面を表示し、バイヤ側で測定された各測定箇所の測定値を、入力装置１５にて受け付ける（ステップＳ３７）。以下、バイヤ側で測定された測定値をバイヤ測定値という。そして、制御部１０は、ステップＳ３６で受け付けたバイヤ測定値が公差内であるか否かを判定する（ステップＳ３８）。つまり、バイヤ測定値と、規格値との差分が公差の範囲内であるか否かを、全ての測定箇所について測定箇所毎に判定する。ステップＳ３８でバイヤ測定値が公差内でないと判定された場合（ステップＳ３８：ＮＯ）、制御部１０は、入力装置１５にて特別採用を要求するか否かを受け付けて判定する（ステップＳ３９）。特別採用を要求すると判定した場合（ステップＳ３９：ＹＥＳ）、制御部１０、入力装置１５にて特別採用の可否を受け付け、特別採用を行うか否かを判定する（ステップＳ４０）。ステップＳ３９で特別採用を要求しないと判定した場合（ステップＳ３９：ＮＯ）、又はステップＳ４０で特別採用を行わないと判定した場合（ステップＳ４０：ＮＯ）、通信装置２の制御部２０は、出力装置２６にて製造修正指示を出力し（ステップＳ４１）、処理を終える。
【００７６】
ステップＳ３８でサプライヤ測定値が公差内であると判定した場合（ステップＳ３８：ＹＥＳ）、又は特別採用を行うと判定した場合（ステップＳ４０：ＹＥＳ）、制御部１０は、バイヤ測定値をバイヤ測定値ＤＢ１７ｇに登録する（ステップＳ４２）。
【００７７】
図１５は、バイヤ測定値ＤＢ１７ｇのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。バイヤ測定値ＤＢ１７ｇのレコードレイアウトは、サプライヤ測定値ＤＢ１７ｆと同様である。バイヤ測定値ＤＢ１７ｇは、「製造ロット番号」、「ＣＡＶＩ番号」、及び「金型番号」で定まる製造単位毎に、複数の測定箇所（寸法ＩＤ００１〜００５）夫々について、バイヤ測定値を「ｎ数」個、例えば３個格納している。なお、１部品を検査する場合に複数の測定箇所が存在し、サプライヤでの検査時にはすべての測定をしないとその部品での検査工程を終了できないように構成されている。また、バイヤでの検査時には、すべての寸法を測定しなくても重点的に管理したい寸法以外に省略のチェックを入れることで、重点管理寸法のみで部品を管理し検査工程を終了できる。更に、バイヤにより測定箇所の省略が測定箇所ＤＢに設定されると、測定が行われずに部品の検査が終了されるように構成されている。更にまた、変化点は、サプライヤが入力されたものが反映されるように構成されている。
以下、ステップＳ４４〜４８の処理では、部品の設計支援に必要なデータ加工及び蓄積に係る処理が実行される。
【００７８】
図１６は、判定基準入力画面の一例を示す模式図である。ステップＳ４２の処理を終えた制御部１０は、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄに基づいて判定基準入力画面を表示し、入力装置１５にて公差レンジの適否を受け付け、精度保証判定マスタＤＢ１７ｈに登録する（ステップＳ４３）。
形状特徴を示した「内円」、「外縁」、「幅（凸面−凹面）」の升目には、該当する製造工法、設計値上限、設計値下限及び測定方法における公差レンジの適宜が入力される。入力装置１５にて、公差レンジが適当である旨が入力された場合、「ＯＫ」文字が表示される。逆に、入力装置１５にて、公差レンジが不適当である旨が入力された場合、「ＮＧ」文字が表示される。公差レンジの適否は、各製造工法において、ある設計値範囲と公差レンジとの関係で製造上問題がなく、測定上も問題ないかどうかによって定まる。例えば、部品が所要の機能を満たさない場合、正確な測定ができない場合、公差は不適と判断される。部品が所要の機能を満たさない場合とは、例えば公差内ではあるが、実際に部品を組み付けてみると、部品の組み付けに支障が生じたような状態である。また、正確な測定ができない場合とは、例えば特別採用が頻発したような状況である。
なお、制御部１０は、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄでチェックが付されていない項目に対応する升目にはハッチング矩形画像、単色矩形画像等を付し、公差レンジの適否を受け付けないようにしている。
【００７９】
図１７は、精度保証管理マスタＤＢ１７ｈのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。精度保証管理マスタＤＢ１７ｈの表は、「製造工法」列、「設計範囲上限」列、「設計範囲下限」列、「公差レンジ」列、「測定方法」列、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録された形状特徴に対応する「内円」列、「外円」列等から構成される。形状特徴に対応する各列には、ステップＳ４３で入力された設計公差の適宜が登録される。なお、図１７に示すように、精度保証管理マスタＤＢ１７ｈは、公差の適否をサプライヤ側における公差レンジの適否と、バイヤ側における公差レンジの適否とを各別に格納する。なお、図１７にはバイヤのレコードレイアウトの詳細が省略されているが、サプライヤ側のレコードレイアウトと同様のレコードレイアウトである。また、複数のバイヤ毎に公差レンジの適否を格納するように構成しても良い。
【００８０】
ステップＳ４３の処理を終えた制御部１０は、バイヤ測定値ＤＢ１７ｇ、サプライヤ測定値ＤＢ１７ｆ及び形状特徴マスタＤＢ１７ａ夫々に登録された情報に基づいて、工程能力指数Ｃｐ及びＣｐｋを算出する（ステップＳ４４）。工程能力指数Ｃｐ及びＣｐｋの算出は、製造工法、設計範囲、公差レンジ及び測定方法、並びにサプライヤ及びバイヤ毎、各別に算出される。なお、工程能力指数Ｃｐ、Ｃｐｋの計算は、最新の変化点以降の測定結果をもとに算出すると良い。
【００８１】
次いで、制御部１０は、ステップＳ４４で算出した工程能力指数Ｃｐ及びＣｐｋと、Ｃｐ警告値及びＣｐｋ警告値とを夫々比較する（ステップＳ４５）。
【００８２】
そして、制御部１０は、ステップＳ４５の比較結果に基づいて、公差充足確率を算出する（ステップＳ４６）。具体的には、製造工法、設計範囲、公差レンジ及び測定方法、並びにサプライヤ及びバイヤ毎に、工程能力指数Ｃｐ及びＣｐｋの双方が、夫々Ｃｐ警告値及びＣｐｋ警告値以上となる確率を算出する。
【００８３】
次いで、制御部１０は、ステップＳ４６で算出された公差充足確率を、精度保証管理ＤＢ１７ｉに登録する（ステップＳ４７）。
【００８４】
図１８は、精度保証管理ＤＢ１７ｉのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。精度保証管理ＤＢ１７ｉの表は、「製造工法」列、「設計範囲上限」列、「設計範囲下限」列、「公差レンジ」列、「測定方法」列、形状特徴マスタＤＢ１７ａに登録された形状特徴に対応する「内円」列、「外円」列等が登録される。
形状特徴に対応する各列には、該当する形状特徴、製造工法、設計範囲上限、設計範囲下限、公差レンジ、測定方法について、公差充足確率が格納される。なお、精度保証管理マスタＤＢ１７ｄで公差レンジが不適とされた項目に関しては、公差充足確率は格納されない。また、図１８にはバイヤのレコードレイアウトの詳細が省略されているが、サプライヤ側のレコードレイアウトと同様のレコードレイアウトである。また、複数のバイヤ毎に公差充足確率を格納している。
【００８５】
そして、制御部１０は、精度保証管理ＤＢ１７ｉに登録された情報に基づいて、サプライヤの工程能力を評価し（ステップＳ４８）、評価結果をサプライヤ能力分類ＤＢに登録し（ステップＳ４９）、処理を終える。
【００８６】
図１９は、サプライヤ能力分類ＤＢ１７ｊのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。サプライヤ能力分類ＤＢ１７ｊの表は、「サプライヤ」列、「製造工法」列、「製造キャパ」列、「製造納期」列、「コスト」列、「設計範囲上限」列、「設計範囲下限」列、「公差レンジ」列、「測定方法」列、「判定」列から構成されている。サプライヤ能力分類ＤＢによれば、サプライヤの能力は、サプライヤと、製造工法とを１つの対として管理され、サプライヤ及び製造工法毎に、製造キャパシティ、製造納期、コスト等の情報を管理する。また、サプライヤ及び製造工法が同じで、かつ設計範囲上限と設計範囲下限との間にある設計値、公差レンジに収まる公差、測定方法が同じものを１つの集合として管理し、当該集合毎に公差充足確率を評価した情報が格納される。
【００８７】
「サプライヤ」列は、サプライヤを示す情報を格納する。
「製造キャパ」列は、該当するサプライヤの製造キャパシティを示す情報を格納する。製造キャパシティは、バイヤによって評価され、登録される。
「製造納期」列は、該当するサプライヤの納期を評価した情報を格納する。製造納期は、バイヤによって評価され、登録される。
「コスト」列は、該当するサプライヤのコストを評価した情報を格納する。コストは、バイヤによって評価され、登録される。
「判定」列は、該当するサプライヤの公差をどの程度充足するか否かを評価した判定結果を、設計範囲上限、設計範囲下限、公差レンジ及び測定方法毎に格納する。例えば、公差充足確率が１００％である場合、Ａ評価と判定される。公差充足確率が７０％以上、１００％未満である場合、Ｂ評価と判定される。公差充足確率が３０％以上、７０％未満である場合、Ｃ評価と判定される。公差充足確率が３０未満である場合、Ｄ評価と判定される。なお、上記評価方法は、一例である。
【００８８】
図２０は、サプライヤ情報登録画面の一例を示す模式図である。制御部１０は、入力装置１５にて、サプライヤ情報登録を受け付けた場合、サプライヤ情報登録画面を出力装置１６にて出力する。そして、制御部１０は、サプライヤ情報登録画面から、サプライヤの選択を受け付けた場合、受け付けたサプライヤの製造キャパシティ、製造納期、コストを入力装置１５にて受け付け、受け付けた各情報をサプライヤ能力分類ＤＢに登録する。
【００８９】
図２１は、設計支援及びサプライヤの選択支援に係る制御部１０、２０の処理手順を示すフローチャートである。
【００９０】
制御部１０は、ステップＳ１５〜ステップＳ２１と同様の処理をステップＳ７１〜ステップＳ７７で実行する。即ち、制御部１０は、設計対象である部品の登録を入力装置１５にて受け付け、受け付けた部品を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ７１）。そして、制御部１０は、ステップＳ１７で登録された部品の設計モデルを、入力装置１５の操作に応じて作成する（ステップＳ７２）。次いで、制御部１０は、入力装置１５にて部品の設計値及び公差を受け付け、受け付けた設計値及び公差を設計モデルに登録する（ステップＳ７３）。そして、制御部１０は、ステップＳ７３で受け付けた設計値及び公差の一覧を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ７４）。次いで、制御部１０は、ステップＳ７１〜７４で登録された部品の一覧を出力装置１６にて表示する（ステップＳ７５）。そして、制御部１０は、各測定箇所の形状特徴を入力装置１５にて受け付け、受け付けた形状特徴を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ７６）。次いで、制御部１０は、入力装置１５にて部品の各設計項目の測定方法情報を受け付け、受け付けた測定方法情報を部品情報ＤＢ１７ｅに登録する（ステップＳ７７）。
【００９１】
次いで、制御部１０は、精度保証管理ＤＢ１７ｉの情報を読み出し（ステップＳ７８）、読み出した情報と、ステップＳ７４〜７７の処理で受け付けた設計値、公差、測定方法、形状特徴とに基づいて、各測定箇所に設定された設計値、公差、測定方法の妥当性を判定する（ステップＳ７９）。設計値、公差、測定方法の妥当性判断は、サプライヤの能力評価と同様の方法で実行される。例えば、ステップＳ７４〜７７で受け付けた設計値、公差、測定方法、形状特徴に対応する公差充足確率が１００％である場合、Ａ評価と判定される。公差充足確率が７０％以上、１００％未満である場合、Ｂ評価と判定される。公差充足確率が３０％以上、７０％未満である場合、Ｃ評価と判定される。公差充足確率が３０未満である場合、Ｄ評価と判定される。なお、上記評価方法は、一例である。
【００９２】
そして、ステップＳ７９の判定結果を含む最適公差検討画面を出力装置１６にて出力する（ステップＳ８０）。
【００９３】
図２２は、最適公差検討画面の一例を示す模式図である。最適公差検討画面には、製造工法と、部品の測定箇所一覧が表示される。複数の測定箇所毎に、設計値、上限公差、下限公差、測定方法、形状特徴及びステップＳ７９の判定結果が表示される。また、最適公差検討画面には、複数の測定箇所夫々の判定結果に基づいて得られる総合判定結果が表示される。
更に、最適公差検討画面の編集ボタンを操作することによって、検討結果が表示されている部品の設計値、公差、測定方法等を編集及び再登録する編集画面に遷移し、編集及び再登録後の設計値、公差及び測定方法に基づいて、公差を再評価することもできる。
なお、最適公差検討画面に部品の図番、部品名を入力することによって、検討対象の部品を抽出し、抽出された部品について公差の検討結果を表示することもできる。
【００９４】
ステップＳ８０の処理を終えた制御部１０は、入力装置１５にて最適公差の有無を受け付ける（ステップＳ８１）。最適公差が無いと判定した場合（ステップＳ８１：ＮＯ）、制御部１０は、処理をステップＳ７３へ戻し、設計値及び公差の設定処理を繰り返し実行する。
【００９５】
図２３は、最適サプライヤ検討画面の一例を示す模式図である。最適公差があると判定した場合（ステップＳ８１：ＹＥＳ）、制御部１０は、最適サプライヤ検討画面を表示し、入力装置１５にて部品情報である図番、部品名及びサプライヤの選択を受け付ける（ステップＳ８２）。
【００９６】
次いで、制御部１０は、サプライヤ能力分類ＤＢから、ステップＳ８２で受け付けたサプライヤにおける、部品の各測定箇所に対する判定結果を読み出し（ステップＳ８３）、判定結果を表示する（ステップＳ８４）。また、制御部１０は、選択されたサプライヤで、選択された部品を製造・測定する場合の総合評価を表示する。
【００９７】
そして、制御部１０は、入力装置１５にて最適サプライヤの有無を受け付ける（ステップＳ８５）。最適サプライヤが無いと判定した場合（ステップＳ８５：ＮＯ）、制御部１０は、処理をステップＳ７３へ戻す。最適サプライヤがあると判定した場合（ステップＳ８５：ＹＥＳ）、制御部１０は、通信部１８を介して部品情報等を通信装置２へ送信する（ステップＳ８６）。
【００９８】
以下、通信装置２の制御部２０及び設計支援装置１の制御部１０は、図３〜図５に示したステップＳ２３〜４７と同様の処理を実行し、サプライヤ測定値、バイヤ測定値及び公差充足確率を蓄積する。
【００９９】
以上のように構成された設計支援システム、設計支援装置１、設計支援方法、コンピュータプログラム及び記録媒体によれば、部品の設計値及び公差の妥当性を判断するための情報を、部品の測定箇所における形状特徴と、部品の製造工法と、測定箇所の測定方法とを用いて分類し管理する。具体的には、部品の形状特徴、製造工法、測定方法が共通するサプライヤ測定値及びバイヤ測定値を用いて、公差充足確率を算出し、算出して得た公差充足確率を、当該形状特徴、製造工法及び測定方法に対応付けて精度保証管理ＤＢ１７ｉに登録する。特に、形状特徴によって公差充足確率を分類することによって、種類が異なる複数の部品から得られたバイヤ測定値及びサプライヤ測定値の情報を、他の新規の部品の設計値及び公差を検討する際に利用することが可能になる。
【０１００】
本実施の形態によれば、設計対象部品の設計値、公差、製造工法、測定方法を受け付け、受け付けた設計値、公差、製造工法、測定方法に対応する公差充足確率を精度保証管理ＤＢ１７ｉから読み出し、読み出した公差充足確率を所定の閾値と比較することによって、設定された設計値、公差等の妥当性を設計段階で検討することができる。従って、部品の発注及び納品後に設計値及び公差の検討をやり直すという手戻りを激減させることができる。設計値及び公差の見直しが不要になることによって、部品、該部品を用いた製品の製造コストを大幅に削減することが可能になる。更に、上述のように、種類が異なる多数の部品から得られた公差充足情報に基づいて、設計値及び公差の妥当性を判断するように構成されているため、設計値及び公差の妥当性の判断を高精度で行うことができる。
【０１０１】
また、上述の公差充足情報を用いて、各サプライヤの工程能力を評価し、サプライヤ能力分類ＤＢ１７ｊに蓄積し、サプライヤ能力分類ＤＢ１７ｊに蓄積された情報を参照することによって、部品の発注段階において、設計した設計値及び公差を充足した部品を製造できるサプライヤのユーザ選択を支援することができる。部品の設計値、公差、製造工法、測定方法自体は妥当であっても、サプライヤ側の能力によっては、所要の設計値及び部品を製造できない、又は測定精度が不十分なために品質を担保できない場合がある。工程能力が不十分なサプライヤへ部品を発注した場合、上述の手戻りが発生する。ところが、本実施の形態によれば、予め所要の部品を製造し、所要の品質を担保できる測定技術を有するサプライヤであるか否かを、部品発注前に検討することができる。従って、サプライヤの選択し直し、又は部品の修正を激減させることができる。
また、サプライヤの工程能力を判定することができるため、高度な製造技術及び測定技術が必要な部品は、相応の工程能力を有するサプライヤへ発注し、平均的な製造技術及び測定技術で足りる部品については、平均的な工程能力を有するサプライヤへ発注することができる。このため、サプライヤの工程能力を最大限発揮できるような部品の発注が可能になる。
【０１０２】
更に、本実施の形態によれば、部品の品質管理のためにバイヤ側及びサプライヤ側で得られた部品の測定値を用いて、自動で精度保証管理ＤＢ１７ｉに反映させることができる。設計値及び公差の妥当性を検討するためのデータを、別途収集し、蓄積する手間を省くことができる。
なお、実施の形態ではサプライヤ測定値及びバイヤ測定値の双方を用いて設計値及び公差の妥当性を検討するように構成してあるが、いずれか一方を用いて設計値及び公差の妥当性を検討するように構成しても良い。例えば、サプライヤ側の測定技術及び信信頼性が十分に高い場合、バイヤ側での部品測定が不要になるが、このような場合、サプライヤ測定値のみを用いて、公差充足確率を算出及び蓄積し、設計値及び公差の妥当性を検討するようにすれば良い。また、サプライヤ側の測定値を通信網を介して入手できる環境が整っていない場合、バイヤ測定値のみを用いて、公差充足確率を算出及び蓄積し、設計値及び公差の妥当性を検討するようにすれば良い。
【０１０３】
なお、今回開示された実施の形態は全ての点で例示であって、制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した意味ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【０１０４】
【図１】本発明の実施の形態に係る設計支援システムの構成を示す模式図である。
【図２】設計支援装置及び通信装置の構成を模式的に示すブロック図である。
【図３】設計支援に必要な各種データの蓄積に係る制御部の処理手順を示すフローチャートである。
【図４】設計支援に必要な各種データの蓄積に係る制御部の処理手順を示すフローチャートである。
【図５】設計支援に必要な各種データの蓄積に係る制御部の処理手順を示すフローチャートである。
【図６】形状特徴マスタＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図７】製造工法マスタＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図８】測定方法マスタＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図９】精度保証管理マスタＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１０】部品選択画面及び部品情報入力画面の一例を示す模式図である。
【図１１】部品情報ＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１２】部品選択画面及びサプライヤデータ入力画面の一例を示す模式図である。
【図１３】サプライヤ測定値ＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１４】部品選択画面及びバイヤデータ入力画面の一例を示す模式図である。
【図１５】バイヤ測定値ＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１６】判定基準入力画面の一例を示す模式図である。
【図１７】精度保証判定マスタＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１８】精度保証管理ＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図１９】サプライヤ能力分類ＤＢのレコードレイアウトを概念的に示す説明図である。
【図２０】サプライヤ情報登録画面の一例を示す模式図である。
【図２１】設計支援及びサプライヤの選択支援に係る制御部の処理手順を示すフローチャートである。
【図２２】最適公差検討画面の一例を示す模式図である。
【図２３】最適サプライヤ検討画面の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【０１０５】
１  設計支援装置
２  通信装置
１０、２０  制御部
１５，２５  入力装置
１６，２６  出力装置
１７ａ  形状特徴マスタＤＢ
１７ｂ  製造工法マスタＤＢ
１７ｃ  測定方法マスタＤＢ
１７ｄ  精度保証管理マスタＤＢ
１７ｅ  部品情報ＤＢ
１７ｆ  サプライヤ測定値ＤＢ
１７ｇ  バイヤ測定値ＤＢ
１７ｈ  精度保証判定マスタＤＢ
１７ｉ  精度保証管理ＤＢ
１７ｊ  サプライヤ能力分類ＤＢ
１８，２８  通信部
１９  記録媒体
１９ａ  コンピュータプログラム
２７  サプライヤ測定値ＤＢ
Ｎ  通信網
【図１】
2010157132.tif 000003
【図２】
2010157132.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
2010157132.tif 000015
【図１４】
2010157132.tif 000016
【図１５】
2010157132.tif 000017
【図１６】
2010157132.tif 000018
【図１７】
2010157132.tif 000019
【図１８】
2010157132.tif 000020
【図１９】
2010157132.tif 000021
【図２０】
2010157132.tif 000022
【図２１】
2010157132.tif 000023
【図２２】
2010157132.tif 000024
【図２３】
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