(57)【要約】【課題】光ディスクがセットされた後直ちに記録又は再生操作が選択された場合においても、待ち時間なく記録又は再生動作を開始する。【解決手段】レーザ光のスポット位置を検出するアナログ信号処理部１６と、スポット位置が、光ディスクｄｄの半径方向に分割された複数の領域それぞれに初めて入った場合に、フォーカス駆動信号に基づいてレンズ高さを算出するレンズ高さ算出部５０ａと、レンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に近似式の次数を決定し、この次数とスポット位置とレンズ高さとに基づいて近似式を決定する近似式決定部５０ｂと、近似式が決定され、かつスポット位置がレンズ高さが算出された領域に含まれる場合に、スポット位置と近似式とに基づいてレンズチルト角を算出して対物レンズ１５ｅの角度を補正するチルト補正部５０ｃとを備える。【選択図】図１
2010244604.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光素子から射出され、光学系により光ディスク上にフォーカスされたレーザ光のスポット位置を検出する位置検出手段と、
前記光ディスクが当該光ディスク装置に装着された後、前記位置検出手段により検出されたスポット位置が、前記光ディスクの半径方向に分割された複数の領域それぞれに初めて入ったか否かを判定する領域判定手段と、
前記領域判定手段により、前記スポット位置が前記領域に初めて入ったと判定された場合に、前記光学系をフォーカス制御するためのフォーカス駆動信号に基づいて、前記光学系のレンズ高さを算出するレンズ高さ算出手段と、
前記複数の領域毎に、前記レンズ高さ算出手段によりレンズ高さが算出されたか否かを示す算出判定情報を記憶する算出判定情報記憶手段と、
前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数と前記スポット位置と前記レンズ高さとに基づいて、前記近似式を決定する近似式決定手段と、
前記近似式決定手段により近似式が決定された場合に、前記決定された近似式と前記位置検出手段により検出されたスポット位置とに基づいてレンズチルト角を算出し、この算出されたレンズチルト角に基づいて、前記光学系から射出する前記レーザ光の前記光ディスクに対する入射角度が略直角になるように、前記光学系の角度を補正するチルト補正手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記近似式決定手段は、
前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が４以上である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を２と決定し、前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上４未満である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を１と決定し、この決定された次数と前記スポット位置と前記レンズ高さとに基づいて、前記近似式を決定する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記レンズ高さ算出手段は、
前記光ディスクが当該光ディスク装置に装着されたときに、前記光ディスクの最内周及び最外周における前記レンズ高さを算出する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、モータにより光ディスクを回転させ、この回転された光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光を受光することにより、光ディスクに記録されたデータを読み出す光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的な光ディスクは、その製造工程において反りが生じる場合がある。ここで、光ディスクの反りとは、光ディスクの表面が理想的なフラット面ではなく、内周から外周へ向かって傾きを有することをいう。
【０００３】
光ディスク装置は、このような反りが生じた光ディスクから、記録されたデータを読み出し又は光ディスクにデータを記録するためにレーザ光を照射する際、収差が発生し適切に光スポットが形成できない場合がある。
【０００４】
そこで、光ディスク装置は、このような反りが生じた光ディスクに記録されたデータを正確に読み出し、又は光ディスクに正確にデータを記録するために、この光ディスクの反り、即ち光ディスクの半径方向の傾きに応じてレーザ光が射出される対物レンズの角度を制御するチルト制御を行う必要がある。
【０００５】
例えば、特許文献１には、対物レンズのフォーカスアクチュエータから取り出したフォーカス駆動値を走査中の光ディスクの変位量に換算し、この変位量の微分から光ディスクの信号面の傾き（反り）分布を算出してメモリに一旦記憶し、次に、光ピックアップの走査位置に応じた傾きの値をメモリから読み出して、光ピックアップのチルト制御信号を生成し、このチルト制御信号を用いてチルト機構の駆動用モータを駆動して、チルト補正（チルト制御）を行う光ヘッドチルト装置が提案されている。
【０００６】
また、特許文献２には、媒体をマウント処理する時に、媒体の半径位置におけるチルト値を取得しておき、この媒体を使用するときに、このチルト値に基づいて、光ピックアップがシークした媒体の半径位置で実際に検出されたチルト値との誤差分だけ補正して、チルト補正（チルト制御）を行う光ディスク装置が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平１０−１７７７２９号公報
【特許文献２】特開２００４−５５１０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１に記載の光ヘッドチルト装置及び特許文献２記載の光ディスク装置は、いずれも光ディスクが当該装置に装着され、ローディングした光ディスクの各値をその半径方向に亘り測定した後でなければ、記録又は再生操作を選択しても、記録又は再生動作が開始できないという課題があった。
【０００９】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、光ディスクが装着された後直ちに記録又は再生操作が選択された場合においても、待ち時間なく記録又は再生動作を開始することができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明に係る光ディスク装置の第１の特徴は、発光素子から射出され、光学系により光ディスク上にフォーカスされたレーザ光のスポット位置を検出する位置検出手段と、前記光ディスクが当該光ディスク装置に装着された後、前記位置検出手段により検出されたスポット位置が、前記光ディスクの半径方向に分割された複数の領域それぞれに初めて入ったか否かを判定する領域判定手段と、前記領域判定手段により、前記スポット位置が前記領域に初めて入ったと判定された場合に、前記光学系をフォーカス制御するためのフォーカス駆動信号に基づいて、前記光学系のレンズ高さを算出するレンズ高さ算出手段と、前記複数の領域毎に、前記レンズ高さ算出手段によりレンズ高さが算出されたか否かを示す算出判定情報を記憶する算出判定情報記憶手段と、前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数と前記スポット位置と前記レンズ高さとに基づいて、前記近似式を決定する近似式決定手段と、前記近似式決定手段により近似式が決定された場合に、前記決定された近似式と前記位置検出手段により検出されたスポット位置とに基づいてレンズチルト角を算出し、この算出されたレンズチルト角に基づいて、前記光学系から射出する前記レーザ光の前記光ディスクに対する入射角度が略直角になるように、前記光学系の角度を補正するチルト補正手段とを備えたことにある。
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明に係る光ディスク装置の第２の特徴は、前記近似式決定手段は、前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が４以上である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を２と決定し、前記算出判定情報記憶手段に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上４未満である場合に、前記光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を１と決定し、この決定された次数と前記スポット位置と前記レンズ高さとに基づいて、前記近似式を決定することにある。
【００１２】
上記目的を達成するため、本発明に係る光ディスク装置の第３の特徴は、前記レンズ高さ算出手段は、前記光ディスクが当該光ディスク装置に装着されたときに、前記光ディスクの最内周及び最外周における前記レンズ高さを算出することにある。
【発明の効果】
【００１３】
本発明に係る光ディスク装置によれば、光ディスクが装着された後直ちに記録又は再生操作が選択された場合においても、待ち時間なく記録又は再生動作を開始することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施例１である光ディスク装置の構成を示した構成図である。
【図２】本発明の実施例１である光ディスク装置が備える駆動部を駆動させる各方向を説明した図である。
【図３】本発明の実施例１である光ディスク装置が備えるピックアップ部のフォトダイオードとアナログ信号処理部とによるＴＥ信号、ＦＥ信号、及びＲＦ信号の生成を模式的に示した図である。
【図４】本発明の実施例１である光ディスク装置に装着された光ディスクの半径方向に分割された複数の領域を説明した図である。
【図５】（ａ）は、本発明の実施例１である光ディスク装置に装着された光ディスクにおける回転位相を示した図であり、（ｂ）は、本発明の実施例１である光ディスク装置に装着された光ディスクにおける各回転位相におけるレンズ高さを示した図である。
【図６】本発明の実施例１である光ディスク装置が備えるＲＡＭが記憶する算出判定情報の一例を示した図である。
【図７】本発明の実施例１である光ディスク装置におけるメインフローの処理手順を示したフローチャートである。
【図８】本発明の実施例１である光ディスク装置におけるチルト制御処理の割込みを説明した図である。
【図９】本発明の実施例１である光ディスク装置におけるチルト制御処理の処理手順を示したフローチャートである。
【図１０】本発明の実施例１である光ディスク装置におけるレンズ高さ測定処理の処理手順を示したフローチャートである。
【図１１】本発明の実施例１である光ディスク装置における近似式決定処理の処理手順を示したフローチャートである。
【図１２】本発明の実施例１である光ディスク装置が備える近似式決定部による近似式決定処理を説明した図である。
【図１３】本発明の実施例２である光ディスク装置における処理手順を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１６】
図１は、本発明の実施例１である光ディスク装置の構成を示した構成図である。
【００１７】
なお、本発明の実施例１である光ディスク装置は、複数種類の光ディスクに情報を記録し、複数種類の光ディスクに記録された情報を再生することができる。ただし、この光ディスク装置は記録機能及び再生機能の両方を備えたもののみでなく、例えば、光ディスクに記録された情報の再生のみが可能なものであってもよい。
【００１８】
本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡは、スピンドルモータ１１と、シャフト１２と、フランジ１３と、内周スイッチ１４と、ピックアップ部１５と、アナログ信号処理部１６と、ＴＥ信号ＡＤ変換部１７と、ＦＥ信号ＡＤ変換部１８と、再生信号イコライザ１９と、ジッタ測定部２０と、スレッドモータ駆動部２１と、スピンドルモータ駆動部２２と、トラッキング制御ＤＡ変換部２３と、フォーカス制御ＤＡ変換部２４と、チルト制御ＤＡ変換部２５と、トラッキング駆動ドライバ２６と、フォーカス駆動ドライバ２７と、チルト駆動ドライバ２８と、スレッドモータ２９と、リードスクリュー３０と、フラッシュＲＯＭ４１と、ＲＡＭ４２と、ＲＯＭ４３と、ＦＧカウンタ４４と、マイクロコンピュータ５０とを備える。なお、図１では、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡに光ディスクｄｄが装着された状態を示している。
【００１９】
スピンドルモータ１１は、後述するスピンドルモータ駆動部２２からの制御信号に基づいて、シャフト１２の回転軸を中心に回転させる。これにより、このシャフト１２に固定されたフランジ１３と、このフランジ１３に着脱可能な状態で保持された光ディスクｄｄとが回転軸を中心に回転する。また、スピンドルモータ１１は、光ディスクｄｄが回転する間に光ディスクｄｄの回転に応じて所定の間隔で、パルス信号であるＦＧ信号を出力する。
【００２０】
ピックアップ部１５は、可動部１５ｄをトラッキング方向へ駆動させるトラッキングコイル１５ａと、可動部１５ｄをフォーカス方向へ駆動させるフォーカスコイル１５ｂと、可動部１５ｄをチルト方向へ駆動させるチルトコイル１５ｃとを備えている。
【００２１】
図２は、可動部１５ｄを駆動させる各方向を説明した図である。
【００２２】
図２に示すように、トラッキング方向とは、光ディスクｄｄの半径方向であり、フォーカス方向とは、光ディスクｄｄに対して略垂直方向であり、チルト方向とは、フォーカス方向とトラッキング方向により定まる平面におけるフォーカス方向に対する傾き方向を示す。
【００２３】
また、ピックアップ部１５は、可動部１５ｄに固定された対物レンズ１５ｅと、レーザ光を射出するレーザダイオード１５ｆと、このレーザダイオード１５ｆから射出されたレーザ光を透過させると共に、光ディスクｄｄにより反射された戻りのレーザ光（反射光）を反射させるビームスプリッタ１５ｇと、このビームスプリッタ１５ｇにより反射された反射光を受光し、受光した反射光を光電変換して電気信号を生成するフォトダイオード１５ｈとを備える。
【００２４】
アナログ信号処理部１６は、ピックアップ部１５のフォトダイオード１５ｈで光電変換された電気信号よりトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と示す）と、フォーカスエラー信号（以下、ＦＥ信号と示す）と、再生信号（以下、ＲＦ信号と示す）とを生成する。
【００２５】
図３は、ピックアップ部１５のフォトダイオード１５ｈとアナログ信号処理部１６とによるＴＥ信号、ＦＥ信号、及びＲＦ信号の生成を模式的に示した図である。
【００２６】
図３に示すように、フォトダイオード１５ｈの受光面は、回折格子（図示しない）により分けられた主ビームを受光する主ビーム受光部１５ｊと、副ビームのそれぞれを受光する副ビーム受光部１５ｉ，１５ｋと備えている。さらに、主ビーム受光部１５ｊは、受光領域Ａ〜Ｄに分割されており、同様に、副ビーム受光部１５ｉは、受光領域Ｅ，Ｆに分割され、副ビーム受光部１５ｋは、受光領域Ｇ，Ｈに分割されている。
【００２７】
フォトダイオード１５ｈは、それぞれの受光領域Ａ〜Ｈにおいて受光したレーザ光をそれぞれ光電変換し、この受光領域Ａ〜Ｈにおけるレーザ光のスポット位置を電気信号ａ〜ｈとして生成し、アナログ信号処理部１６へ供給する。
【００２８】
アナログ信号処理部１６は、フォトダイオード１５ｈから供給された電気信号ａ〜ｈに基づいて、ＴＥ信号、ＦＥ信号、及びＲＦ信号を生成する。具体的には、ＴＥ信号の出力値（ＴＥ）と、ＦＥ信号の出力値（ＦＥ）と、ＲＦ信号の出力値（ＲＦ）を、下記（数式１）〜（数式３）を用いて算出する。
【００２９】
ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）                                  （数式１）
ＴＥ＝（（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ））＋（（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ））      （数式２）
ＲＦ＝（Ａ＋Ｃ）＋（Ｃ＋Ｄ）                                  （数式３）
図１に示した内周スイッチ１４は、ピックアップ部１５が光ディスクｄｄの最内周側に位置したか否かを検出し、検出した検出信号をマイクロコンピュータ５０へ供給する。
【００３０】
ＴＥ信号ＡＤ変換部１７は、アナログ信号処理部１６により生成されたＴＥ信号をアナログ信号からデジタル信号へ変換する。
【００３１】
ＦＥ信号ＡＤ変換部１８は、アナログ信号処理部１６により生成されたＦＥ信号をアナログ信号からデジタル信号へ変換する。
【００３２】
再生信号イコライザ１９は、アナログ信号処理部１６から供給されたＲＦ信号を波形等化する。
【００３３】
ジッタ測定部２０は、再生信号イコライザ１９により波形等化されたＲＦ信号のジッタ値を測定すると共に、ＲＦ信号をアナログ信号からデジタル信号へ変換する。
【００３４】
トラッキング制御ＤＡ変換部２３は、後述するマイクロコンピュータ５０から供給された、対物レンズ１５ｅを備える可動部１５ｄをトラッキング制御するためのトラッキング制御信号をデジタル信号からアナログ信号へ変換する。
【００３５】
フォーカス制御ＤＡ変換部２４は、後述するマイクロコンピュータ５０から供給された、対物レンズ１５ｅを備える可動部１５ｄをフォーカス制御するためのフォーカス制御信号をデジタル信号からアナログ信号へ変換する。
【００３６】
チルト制御ＤＡ変換部２５は、後述するマイクロコンピュータ５０から供給された、対物レンズ１５ｅを備える可動部１５ｄをチルト制御するためのチルト制御信号をデジタル信号からアナログ信号へ変換する。
【００３７】
トラッキング駆動ドライバ２６は、トラッキング制御ＤＡ変換部２３から供給されたトラッキング制御信号に基づいて、トラッキングコイル１５ａを駆動する。
【００３８】
フォーカス駆動ドライバ２７は、フォーカス制御ＤＡ変換部２４から供給されたフォーカス制御信号に基づいて、フォーカスコイル１５ｂを駆動する。
【００３９】
チルト駆動ドライバ２８は、チルト制御ＤＡ変換部２５から供給されたチルト制御信号に基づいて、チルトコイル１５ｃを駆動する。
【００４０】
スレッドモータ２９は、後述するスレッドモータ駆動部２１からの制御信号に基づいて、リードスクリュー３０を回転軸中心に回転させる。これにより、このシャフト１２に螺合されたピックアップ部１５が、光ディスクｄｄに対して略水平方向に移動する。
【００４１】
スレッドモータ駆動部２１は、後述するマイクロコンピュータ５０から供給された制御信号に基づいて、スレッドモータ２９を制御する。
【００４２】
スピンドルモータ駆動部２２は、後述するマイクロコンピュータ５０から供給された制御信号に基づいて、スピンドルモータ１１を制御する。
【００４３】
ＦＧカウンタ４４は、スピンドルモータ１１から光ディスクｄｄの回転に応じて所定の間隔で出力されるパルス信号（以下、ＦＧ信号という）に基づいて、光ディスクｄｄが１回転する間に、Ｐ０〜Ｐ１５までの値をＦＧ番号として、マイクロコンピュータ５０へ供給する。
【００４４】
マイクロコンピュータ５０は、トラッキング制御及びフォーカス制御を含む一般制御や、チルト制御等の光ディスク装置ＡＡの中枢的な制御を行う。さらに、マイクロコンピュータ５０は、後述するＲＯＭ４３に記憶された制御プログラムを実行することによって、その機能上、領域判定部５０ｄと、レンズ高さ算出部５０ａと、近似式決定部５０ｂと、チルト補正部５０ｃとを実装する。
【００４５】
領域判定部５０ｄは、光ディスクｄｄが光ディスク装置ＡＡに装着された後、フォトダイオード１５ｈ及びアナログ信号処理部１６により検出されたレーザ光のスポット位置が、光ディスクｄｄの半径方向に分割された複数の領域それぞれに初めて入ったか否かを判定する。
【００４６】
図４は、光ディスクｄｄの半径方向に分割された複数の領域を説明した図である。なお、図４では、光ディスクｄｄの１／４を示している。
【００４７】
図４に示すように、光ディスクｄｄは、内周から外周に向かって、領域１０１〜１０５に分割されている。そして、領域１０１は、有効領域１０１ａと緩衝領域１０１ｂとに分割されており、領域１０２〜領域１０４も同様に、有効領域１０２ａ〜１０４ａと緩衝領域１０２ｂ〜１０４ｂとに分割されている。領域１０５には、有効領域１０５ａのみが存在する。
【００４８】
領域判定部５０ｄは、光ディスクｄｄが光ディスク装置ＡＡに装着された後、スポット位置が光ディスクｄｄの領域１０１〜１０５の有効領域１０１ａ〜１０５ａに、初めて入ったか否かを判定する。
【００４９】
レンズ高さ算出部５０ａは、領域判定部５０ｄにより、スポット位置が光ディスクｄｄの領域１０１〜１０５の有効領域１０１ａ〜１０５ａに、初めて入ったと判定された場合、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス制御信号に基づいて、光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さを算出し、この算出された回転位相毎のレンズ高さを平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出する。ここで、レンズ高さとは、理想的なフラットなディスク面上にフォーカスされたスポット位置から対物レンズ１５ｅの中心までの距離のことをいう。
【００５０】
図５は、レンズ高さ算出部５０ａによるレンズ高さの算出を説明した図である。図５（ａ）は、光ディスクｄｄにおける回転位相を示した図である。
【００５１】
図５（ａ）に示すように、光ディスクｄｄの中心部から放射上に描いた実線は、回転位相を示すＦＧ番号に対応しており、この実線により光ディスクｄｄを円周方向にＦＧ番号“Ｐ０”〜“Ｐ１５”で区切られる１６区間に分割している。
【００５２】
図５（ｂ）は、光ディスクｄｄにおける各回転位相におけるレンズ高さを示した図である。
【００５３】
ｘ軸は、ＦＧ番号“Ｐ０”〜“Ｐ１５”を示しており、ｙ軸は、図５（ａ）に示した光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、算出された光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さの平均値を示している。
【００５４】
図５（ｂ）に示すように、ＦＧ番号“Ｐ０”から“Ｐ１５”までの光ディスクｄｄ回転１周の間、ＦＧ番号毎のレンズ高さ２０１の平均値は変動する。そこで、レンズ高さ算出部５０ａは、この算出されたＦＧ番号毎のレンズ高さの平均値を、光ディスクｄｄの１周で平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出する。
【００５５】
そして、レンズ高さ算出部５０ａは、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出すると、後述するＲＡＭ４２に、レンズ高さが算出されたことを示す算出判定情報を記憶する。
【００５６】
図１に示す近似式決定部５０ｂは、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、光ディスクｄｄの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数とスポット位置とレンズ高さとに基づいて、近似式を決定する。
【００５７】
チルト補正部５０ｃは、近似式決定部５０ｂにより近似式が決定された場合に、決定された近似式と、フォトダイオード１５ｈ及びアナログ信号処理部１６により検出されたスポット位置とに基づいてレンズチルト角を算出し、この算出されたレンズチルト角に基づいて、対物レンズ１５ｅから射出するレーザ光の光ディスクｄｄに対する入射角度が略直角になるように、対物レンズ１５ｅの角度を補正する。ここで、レンズチルト角とは、対物レンズ１５ｅから射出されるレーザ光のチルト方向への傾き角である。
【００５８】
フラッシュＲＯＭ４１は、チルト制御値等の各種初期設定値が予め記憶されている。
【００５９】
ＲＡＭ４２は、マイクロコンピュータ５０が制御プログラムを実行する上で必要な各種データを記憶する。
【００６０】
また、ＲＡＭ４２は、光ディスクｄｄの半径方向に分割された領域毎に、マイクロコンピュータ５０のレンズ高さ算出部５０ａによりレンズ高さが算出されたか否かを示す算出判定情報を記憶する。
【００６１】
図６は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡが備えるＲＡＭ４２が記憶する算出判定情報の一例を示した図である。
【００６２】
図６に示すように、算出判定情報は、カラム名“領域”（符号３０１）毎に測定フラグが記憶され、さらに、この測定フラグの合計値がカラム名“既測定合計値”（符号３０２）として記憶されている。なお、領域３０１は、図４に示した有効領域１０２ａ〜１０５ａのことを示しており、後述するレンズ高さ測定処理が実行された有効領域１０２ａ〜１０５ａに、測定フラグが“１”として記憶される。
【００６３】
ＲＯＭ４３は、制御プログラムなどの各種プログラムや固定データなどが、予め記憶されている。
【００６４】
＜光ディスク装置ＡＡの作用＞
以下に、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡの作用について説明する。
【００６５】
≪メインフロー≫
図７は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡにおけるメインフローの処理手順を示したフローチャートである。
【００６６】
図７に示すように、マイクロコンピュータ５０は、内蔵するタイマの値をクリアした後（ステップＳ３１）、タイマをスタートさせる（ステップＳ３２）。
【００６７】
次に、マイクロコンピュータ５０は、タイマの値に基づいて所定時間経過したか否かを判定する（ステップＳ３３）。なお、この所定時間は０．１秒〜１秒程度に予め設定される。
【００６８】
ステップＳ３３において、所定時間経過していないと判定された場合（ＮＯの場合）、マイクロコンピュータ５０は、一般制御処理を実行する（ステップＳ３５）。ここで、一般制御処理とは、チルト制御以外のトラッキング制御及びフォーカス制御を含む光ディスク装置ＡＡの全体制御のことをいう。
【００６９】
一方、ステップＳ３３において、所定時間経過したと判定された場合（ＹＥＳの場合）、マイクロコンピュータ５０は、割り込みを発生させてチルト制御処理を実行する（ステップＳ３４）。
【００７０】
図８は、チルト制御処理の割込みを説明した図である。
【００７１】
図８に示すように、マイクロコンピュータ５０は、内蔵するタイマをスタートさせ、所定時間経過したか否かを判定し、所定時間経過したと判定した場合、割り込み（タイマ割込み）を発生させてチルト制御処理を実行する。そして、マイクロコンピュータ５０は、所定期間のチルト制御を実行後に一般制御処理を復帰させる。
【００７２】
このように、時分割によりチルト制御処理と一般制御処理とが並列的に実行されるので、光ディスク装置ＡＡは、一般制御処理による光ディスクｄｄの連続再生中・連続記録中においても、光ディスクｄｄに対する対物レンズ１５ｅを備える可動部１５ｄを適切な角度になるように、チルト制御処理を実行することができる。
【００７３】
≪チルト制御処理≫
図９は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡにおけるチルト制御処理の処理手順を示したフローチャートである。
【００７４】
図９に示すように、マイクロコンピュータ５０は、再生中である光ディスクｄｄの信号トラックのアドレスを取得する（ステップＳ１１）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、アナログ信号処理部１６から、対物レンズ１５ｅから光ディスクｄｄへ照射されたレーザ光のスポット位置を示すアドレスを取得する。
【００７５】
次に、マイクロコンピュータ５０は、アドレスの取得が成功したか否かを判定する（ステップＳ１２）。
【００７６】
ステップＳ１２において、アドレスの取得に失敗したと判定された場合（ＮＯの場合）、マイクロコンピュータ５０のチルト補正部５０ｃは、フラッシュＲＯＭ４１に記憶されたチルト駆動制御値を読み出す（ステップＳ１３）。
【００７７】
一方、ステップＳ１２において、アドレスの取得に成功したと判定された場合（ＹＥＳの場合）、マイクロコンピュータ５０は、ステップＳ１１において取得したアドレスに基づいて、光ディスクｄｄの半径方向におけるスポット位置を算出する（ステップＳ１４）。
【００７８】
次に、マイクロコンピュータ５０の領域判定部５０ｄは、ステップＳ１４において算出された半径方向におけるスポット位置が含まれる領域を決定する（ステップＳ１５）。具体的には、領域判定部５０ｄは、図４に示した領域１０１〜１０５のうち、スポット位置が含まれる領域を決定する。
【００７９】
次に、領域判定部５０ｄは、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報に基づいて、ステップＳ１５において判定された領域が、既にレンズ高さが算出された領域であるか否かを判定する（ステップＳ１６）。具体的には、領域判定部５０ｄは、ステップＳ１５において判定された領域の測定フラグの値が“１”である場合、既にレンズ高さが算出された領域であると判定する。
【００８０】
ステップＳ１６において、レンズ高さが測定されていないと判定された場合（ＹＥＳの場合）、マイクロコンピュータ５０のレンズ高さ算出部５０ａは、レンズ高さ測定処理を実行することにより、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス制御信号に基づいて、光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さを算出し、この算出された回転位相毎のレンズ高さを平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出する（ステップＳ１８）。なお、このレンズ高さ測定処理については、後述する。
【００８１】
次に、マイクロコンピュータ５０は、ＴＥ信号ＡＤ変換部１７から供給されるＴＥ信号に基づいて、トラッキングが外れているか否かを判定する（ステップＳ２０）。
【００８２】
ステップＳ２０において、トラッキングが外れていないと判定された場合（ＮＯの場合）、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に、レンズ高さが算出されたことを示す算出判定情報を記憶する（ステップＳ２１）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報において、レンズ高さ測定処理を行ったスポット位置を含む有効領域の測定フラグの値を“０”から“１”に書き換える。
【００８３】
次に、マイクロコンピュータ５０の近似式決定部５０ｂは、近似式決定処理を実行することにより、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、光ディスクｄｄの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数とスポット位置とレンズ高さとに基づいて、近似式を決定する（ステップＳ２２）。なお、この近似式決定処理は、後述する。
【００８４】
次に、マイクロコンピュータ５０のチルト補正部５０ｃは、スポット位置とステップＳ２２において決定された近似式とに基づいて、光ディスクｄｄの傾き角度を算出する（ステップＳ１７）。
【００８５】
そして、チルト補正部５０ｃは、ステップＳ２３において算出された光ディスクｄｄの傾き角度により定められる平面と対物レンズ１５ｅから射出されるレーザ光とが略直角となるようなレンズチルト角を算出し、このレンズチルト角で制御するためのチルト駆動制御値を算出する（ステップＳ２３）。
【００８６】
次に、チルト補正部５０ｃは、ステップＳ１３により読み出されたチルト駆動制御値、又はステップＳ２３により算出されたチルト駆動制御値に、工程調整で設定された機械的取り付けチルト誤差を補正する値を加算する（ステップＳ２４）。
【００８７】
そして、チルト補正部５０ｃは、ステップＳ２４において補正されたチルト駆動制御値に基づいて、対物レンズ１５ｅを備える可動部１５ｄをチルト制御するためのチルト制御信号を生成し、この生成されたチルト制御信号を、チルト制御ＤＡ変換部２５へ供給する（ステップＳ２５）。
【００８８】
なお、ステップＳ１４において、光ディスクｄｄから読み出したアドレス値を半径値に変換計算して半径を算出したが、これに限らず、ピックアップ部１５を移送するスレッドモータ２９が回転時に発生するパルス数に基づいて半径を算出してもよい。
【００８９】
≪レンズ高さ測定処理≫
図１０は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡにおけるレンズ高さ測定処理の処理手順を示したフローチャートである。
【００９０】
図１０に示すように、マイクロコンピュータ５０のレンズ高さ算出部５０ａは、レンズ高さ測定に先立ち、ＲＡＭ４２に記憶されている各種のパラメータの値をクリアする（ステップＳ１）。
【００９１】
次に、レンズ高さ算出部５０ａは、ＦＧカウンタ４４から供給されるＦＧ番号を読み込む（ステップＳ２）と共に、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス制御信号に含まれるフォーカス駆動制御値を読み込み、この読み込んだフォーカス駆動制御値をレンズ高さに変換する（ステップＳ３）。
【００９２】
次に、レンズ高さ算出部５０ａは、ステップＳ２において読み込んだＦＧ番号毎に、レンズ高さを積算することによりレンズ高さ積算値ＬＨａｄ（ｆｇ）を算出する（ステップＳ４）と共に、ＦＧ番号毎に積算したレンズ高さの数Ｎ１（ｆｇ）を算出する（ステップＳ５）。例えば、ＦＧカウンタ４４から供給されたＦＧ番号が“Ｐ５”である期間中に、“１００”個のフォーカス駆動制御値がレンズ高さに変換されたとすると、ＦＧ番号毎に積算したレンズ高さの数Ｎ１（Ｐ５）は、“１００”となる。
【００９３】
次に、レンズ高さ算出部５０ａは、ＦＧカウンタ４４から供給されるＦＧ番号に基づいて、光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さを算出したか否かを判定する（ステップＳ６）。
【００９４】
ステップＳ６において、光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さを算出したと判定された場合（ＹＥＳの場合）、レンズ高さ算出部５０ａは、ステップＳ５において算出したレンズ高さ積算値ＬＨａｄ（ｆｇ）（ｆｇ＝Ｐ０〜Ｐ１５）と、ステップＳ５において算出したレンズ高さの数Ｎ１とに基づいて、ＦＧ番号毎のレンズ高さの平均値ＬＨ１を、下記の（数式４）を用いて算出する（ステップＳ７）。
【００９５】
ＬＨ１（ｆｇ）＝ＬＨａｄ（ｆｇ）／Ｎ１（ｆｇ）  （ｆｇ＝Ｐ０〜Ｐ１５） ・・・（数式４）
次に、レンズ高さ算出部５０ａは、ＦＧ番号毎のＬＨ（ｆｇ）の和を１回転におけるＦＧ分割数で除算することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さ平均値ＬＨ２を算出する（ステップＳ８）。具体的には、レンズ高さ算出部５０ａは、下記の（数式５）を用いて、レンズ高さ平均値ＬＨ２を算出する。なお、Ｎ２は、１回転におけるＦＧ分割数であり、ここでは、Ｐ０〜Ｐ１５までの１回転におけるＦＧ分割数としてＮ２が、“１６”に設定される。
【００９６】
ＬＨ２＝Σ ＬＨ１（ｆｇ）／Ｎ２    （ｆｇ＝Ｐ０〜Ｐ１５）・・・（数式５）
以上により、レンズ高さ算出部５０ａは、レンズ高さ測定処理を実行することにより、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス駆動制御値に基づいて、光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、光ディスクｄｄにおける１周分のレンズ高さを算出し、この算出された回転位相毎のレンズ高さを平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均ＬＨ２を算出することができる。
【００９７】
≪近似式決定処理≫
図１１は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡにおける近似式決定処理の処理手順を示したフローチャートである。
【００９８】
図１１に示すように、マイクロコンピュータ５０の近似式決定部５０ｂは、ＲＡＭ４２から算出判定情報を読み出す（ステップＳ４１）。
【００９９】
次に、近似式決定部５０ｂは、ステップＳ４１において読み出した算出判定情報の既測定合計値が“２”以上であるか否かを判定する（ステップＳ４２）。
【０１００】
ステップＳ４２において既測定合計値が“２”以上であると判定された場合（ＹＥＳの場合）、近似式決定部５０ｂは、更に既測定合計値が“４”以上であるか否かを判定する（ステップＳ４３）。
【０１０１】
ステップＳ４３において既測定合計値が“４”未満であると判定された場合（ＮＯの場合）、近似式決定部５０ｂは、光ディスクｄｄの反りを近似するための近似式の次数を“１”と設定する（ステップＳ４４）。
【０１０２】
そして、近似式決定部５０ｂは、決定された次数“１”と、光ディスクｄｄのスポット位置とレンズ高さとに基づいて、１次関数の近似式を決定する（ステップＳ４４）。
【０１０３】
図１２は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡが備える近似式決定部５０ｂによる近似式決定処理を説明した図である。
【０１０４】
図１２に示すように、光ディスクｄｄの最内周から最外周に向かって、順次、リードイン領域ＬＩ、有効領域１０１ａ、緩衝領域１０１ｂ、有効領域１０２ａ、緩衝領域１０２ｂ、有効領域１０３ａ、緩衝領域１０３ｂ、有効領域１０４ａ、緩衝領域１０４ｂ、有効領域１０５ａ、緩衝領域１０５ｂに領域分割されている。
【０１０５】
なお、各領域１０１〜１０５に、緩衝領域１０１ｂ，緩衝領域１０２ｂ，緩衝領域１０３ｂ，緩衝領域１０４ｂ，緩衝領域１０５ｂを設けているのは、後述する近似式を適切に決定するためである。具体的には、光ディスクｄｄの内側からレンズ高さ測定処理が実行されるとは限らないので、有効領域の境界付近で２点測定した場合、有効領域間の距離が近すぎると、測定誤差が大きくなる。そのため、２点のレンズ高さの測定点が近接しないように、緩衝領域１０１ｂ，緩衝領域１０２ｂ，緩衝領域１０３ｂ，緩衝領域１０４ｂ，緩衝領域１０５ｂを設けている。
【０１０６】
近似式決定部５０ｂは、有効領域１０１ａ、有効領域１０２ａ、有効領域１０３ａ、有効領域１０４ａ、及び有効領域１０５ａのうち、いずれか２つ以上かつ４つ未満の領域のレンズ高さが算出されている場合、即ち既測定合計値が“２”以上であり、かつ“４”未満である場合に、光ディスクｄｄのスポット位置とレンズ高さとに基づいて、１次関数の近似式を決定する。
【０１０７】
図１２に示したａ１及びａ２におけるレンズ高さが既測定である場合、ａ１及びａ２におけるレンズ高さとスポット位置とに基づいて、この２点を通過する直線を１次関数の近似式４０１として決定する。
【０１０８】
また、図１２に示したａ１，ａ２，ａ３におけるレンズ高さが既測定である場合、ａ１，ａ２，ａ３におけるレンズ高さとスポット位置とに基づいて、最小二乗法により１次関数の近似式４０２を算出する。
【０１０９】
このようにして、近似式決定部５０ｂは、光ディスクｄｄのスポット位置とレンズ高さとに基づいて、１次関数の近似式を決定することができる。
【０１１０】
一方、図１１に示したステップＳ４３において、既測定合計値が“４”以上であると判定された場合（ＹＥＳの場合）、近似式決定部５０ｂは、近似式の次数を“２”と設定する（ステップＳ４６）。
【０１１１】
そして、近似式決定部５０ｂは、決定された次数“２”と、光ディスクｄｄのスポット位置とレンズ高さとに基づいて、２次関数の近似式を決定する（ステップＳ４７）。
【０１１２】
図１２に示したａ１，ａ２，ａ３，ａ４におけるレンズ高さが既測定である場合、ａ１，ａ２，ａ３，ａ４におけるレンズ高さとスポット位置とに基づいて、最小二乗法により２次関数の近似式４０３を算出する。
【０１１３】
同様に、図１２に示したａ１，ａ２，ａ３，ａ４，ａ５におけるレンズ高さが既測定である場合、ａ１，ａ２，ａ３，ａ４，ａ５におけるレンズ高さとスポット位置とに基づいて、最小二乗法により２次関数の近似式４０４を算出する。
【０１１４】
このようにして、近似式決定部５０ｂは、光ディスクｄｄのスポット位置とレンズ高さとに基づいて、２次関数の近似式を決定することができる。
【０１１５】
以上のように、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡによれば、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、光ディスクの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数とスポット位置とレンズ高さとに基づいて、近似式を決定する近似式決定部５０ｂと、近似式決定部５０ｂにより近似式が決定され、かつフォトダイオード１５ｈ及びアナログ信号処理部１６により検出されたスポット位置が、算出判定情報に示されるレンズ高さが算出された領域に含まれる場合に、スポット位置と近似式とに基づいてレンズチルト角を算出し、この算出されたレンズチルト角に基づいて、対物レンズ１５ｅから射出するレーザ光の光ディスクに対する入射角度が略直角になるように、対物レンズ１５ｅの角度を補正するチルト補正部５０ｃとを備えているので、光ディスク装置ＡＡは、光ディスクｄｄが装着された直後に、チルト制御のためにチルト角度を算出する必要がなく、光ディスクが装着された直後に記録又は再生操作を選択された場合においても、待ち時間なく直ちに記録又は再生動作が開始することができる。
【実施例２】
【０１１６】
本発明の実施例１では、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報に含まれるレンズ高さが算出された領域の数が２以上である場合に、光ディスクｄｄの反りを近似するための近似式の次数を決定し、この決定された次数とスポット位置とレンズ高さとに基づいて、近似式を決定する光ディスク装置ＡＡを例に挙げて説明した。
【０１１７】
本発明の実施例２では、さらに近似式の近似誤差を低減するために、光ディスクｄｄがセットされた際に、光ディスクｄｄの最内周及び最外周におけるレンズ高さを算出する光ディスク装置ＡＢを例に挙げて説明する。
【０１１８】
図１３は、本発明の実施例２である光ディスク装置ＡＢにおける処理手順を示したフローチャートである。
【０１１９】
光ディスク装置ＡＢが備えるマイクロコンピュータ５０は、ディスク起動処理を行った後（ステップＳ５１）、スレッドモータ２９を駆動させて、スポット位置が光ディスクｄｄの最外周となるように、ピックアップ１５を移動させる（ステップＳ５２）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、スポット位置が図１２に示した有効領域１０５ａに入るように、ピックアップ１５を移動させる。
【０１２０】
次に、マイクロコンピュータ５０のレンズ高さ算出部５０ａは、レンズ高さ測定処理を実行することにより、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス制御信号に基づいて、光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、光ディスクｄｄにおける最外周１周分のレンズ高さを算出し、この算出された回転位相毎のレンズ高さを平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出する（ステップＳ５３）。
【０１２１】
そして、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に、レンズ高さが算出されたことを示す算出判定情報を記憶する（ステップＳ５４）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報において、有効領域１０５ａの測定フラグを“０”から“１”に書き換える。
【０１２２】
次に、マイクロコンピュータ５０は、スレッドモータ２９を駆動させて、スポット位置が光ディスクｄｄの最内周となるように、ピックアップ１５を移動させる（ステップＳ５５）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、スポット位置が図１２に示した有効領域１０１ａに入るように、ピックアップ１５を移動させる。
【０１２３】
次に、マイクロコンピュータ５０のレンズ高さ算出部５０ａは、レンズ高さ測定処理を実行することにより、マイクロコンピュータ５０が生成したフォーカス制御信号に基づいて、光ディスクｄｄの回転位相を示すＦＧ番号毎に、光ディスクｄｄにおける最内周１周分のレンズ高さを算出し、この算出された回転位相毎のレンズ高さを平均することにより、スポット位置を含む１周分のレンズ高さの平均を算出する（ステップＳ５６）。
【０１２４】
そして、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に、レンズ高さが算出されたことを示す算出判定情報を記憶する（ステップＳ５４）。具体的には、マイクロコンピュータ５０は、ＲＡＭ４２に記憶された算出判定情報において、有効領域１０１ａの測定フラグを“０”から“１”に書き換える。
【０１２５】
次に、マイクロコンピュータ５０は、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡと同様に、図７に示したメインルーチンの処理を通常処理として実行する（ステップＳ５８）。
【０１２６】
以上のように、本発明の実施例２である光ディスク装置ＡＢによれば、光ディスクｄｄをローディングした直後に、最内周及び最外周におけるレンズ高さを算出するので、本発明の実施例１である光ディスク装置ＡＡの効果に加え、近似式の近似誤差を低減することができる。
【符号の説明】
【０１２７】
ＡＡ，ＡＢ…光ディスク装置
１１…スピンドルモータ
１２…シャフト
１３…フランジ
１４…内周スイッチ
１５…ピックアップ部
１５ａ…トラッキングコイル
１５ｂ…フォーカスコイル
１５ｃ…チルトコイル
１５ｄ…駆動部
１５ｅ…対物レンズ（光学系）
１５ｆ…レーザダイオード
１５ｇ…ビームスプリッタ
１５ｈ…フォトダイオード（位置検出手段）
１５ｉ…副ビーム受光部
１５ｉ，１５ｋ…副ビーム受光部
１５ｊ…主ビーム受光部
１５ｋ…副ビーム受光部
１６…アナログ信号処理部（位置検出手段）
１７…ＴＥ信号ＡＤ変換部
１８…ＦＥ信号ＡＤ変換部
１９…再生信号イコライザ
２０…ジッタ測定部
２１…スレッドモータ駆動部
２２…スピンドルモータ駆動部
２３…トラッキング制御ＤＡ変換部
２４…フォーカス制御ＤＡ変換部
２５…チルト制御ＤＡ変換部
２６…トラッキング駆動ドライバ
２７…フォーカス駆動ドライバ
２８…チルト駆動ドライバ
２９…スレッドモータ
３０…リードスクリュー
４１…フラッシュＲＯＭ
４２…ＲＡＭ
４３…ＲＯＭ
４４…ＦＧカウンタ
５０…マイクロコンピュータ
５０ａ…レンズ高さ算出部
５０ｂ…近似式決定部
５０ｃ…チルト補正部
５０ｄ…領域判定部
【図１】
2010244604.tif 000003
【図２】
2010244604.tif 000004
【図３】
2010244604.tif 000005
【図４】
2010244604.tif 000006
【図５】
2010244604.tif 000007
【図６】
2010244604.tif 000008
【図７】
2010244604.tif 000009
【図８】
2010244604.tif 000010
【図９】
2010244604.tif 000011
【図１０】
2010244604.tif 000012
【図１１】
2010244604.tif 000013
【図１２】
2010244604.tif 000014
【図１３】
2010244604.tif 000015