(57)【要約】【課題】従来のＯＰＣによるサーボ系パラメータなどの最適化処理においては様々な設定パラメータでのテスト記録を複数回行うためＰＣＡ（校正用エリア）の使用領域が多くなってしまう、という課題がある。また実記録までに時間がかかるという課題や、本来記録すべき溝の隣の記録溝にデータを記録して次回のテスト記録に弊害が出てしまう、などの課題もある。【解決手段】以上の課題を解決するために、本発明は以下のような機能を備える光記録装置を提供する。すなわち本発明の光記録装置は、ＰＣＡへのテスト記録において１回の記録のみを行い、そのテスト記録データの読み込み（リード）に際して、光ヘッドの設定パラメータを複数変更し読み込む。そして設定パラメータごとの読み込みエラーレートを取得し、それを利用してサーボ系パラメータなどの最適調整値を演算する。【選択図】図２
2010102773.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する試験記録部と、
前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る試験ライン読取部と、
試験ライン読取部での読取結果に基づいて、試験ラインのトラック幅方向の中心位置である試験中心位置を演算する試験中心演算部と、
演算された試験中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算するズレ演算部と、
演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する初期位置演算部と、
を有する光記録装置。
【請求項２】
試験中心演算部は、
試験ライン読取部での読取結果に基づいて、トラック幅方向のそれぞれの位置でのエラーレートを収集し、収集したエラーレートのトラック幅方向分布に基づいて、前記試験中心位置を演算するエラー収集演算手段を有する請求項１に記載の光記録装置。
【請求項３】
光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する試験記録ステップと、
前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る試験ライン読取ステップと、
試験ライン読取ステップでの読取結果に基づいて、試験ラインのトラック幅方向の中心位置である試験中心位置を演算する試験中心演算ステップと、
演算された試験中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算するズレ演算ステップと、
演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する初期位置演算ステップと、
を計算機に実行させる光記録装置の制御方法。
【請求項４】
試験中心演算ステップは、
試験ライン読取ステップでの読取結果に基づいて、トラック幅方向のそれぞれの位置でのエラーレートを収集し、収集したエラーレートのトラック幅方向分布に基づいて、前記試験中心位置を演算するエラー収集演算ステップを含む請求項３に記載の光記録装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、次世代ＤＶＤなどの光記録ディスクへのデータ記録に必要な各種パラメータを効率的に調整するための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
次世代ＤＶＤ（デジタル・ヴァーサタイル・ディスク）などの光記録ディスクにデータを記録する場合、光記録ディスクを回転させながらディスクの記録面に光ヘッドからレーザを照射している。しかし、光記録ディスクの回転には微細な振動が伴うことは避けられない。また、光記録ディスクごとに記録感度の違いや温度条件などによる記録レベルの変動などもある。そのため通常は、光記録ディスクの振動や記録感度の違いなどに追従して記録できるよう、ディスクへのデータ記録を開始する前にＯＰＣ（オプティマム・パワー・コントロール）と呼ばれるキャリブレーション処理を行い、光ヘッドなどのサーボ系パラメータ（例えばディスク半径方向へズレを調整するためのいわゆるトラッキングパラメータなど）の調整を行っている。
【０００３】
このＯＰＣでは、まずディスク最内周部に予め設けられたＰＣＡ（パワー・キャリブレーション・エリア：校正用エリア）に複数の設定パラメータでのテスト記録を複数回行う。そして、設定パラメータごとのエラーレートを取得し、その書き込みエラーレートから光ヘッドなどのサーボ系パラメータなどの最適値を算出する処理を行っている。
【特許文献１】特開２００２−０４２３３９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記従来のＯＰＣによるサーボ系パラメータなどの最適化処理においては、前述のように様々な設定パラメータでのテスト記録を複数回行うため、ＰＣＡの使用領域が多くなってしまう、という課題がある。また、テスト記録に時間をとられていまい、実記録までに時間がかかってしまう、という課題もある。さらに、テスト記録時のある設定パラメータが不適切である場合、例えば本来記録すべき溝の隣の記録溝にデータを記録してしまうことがある。すると、次回のテスト記録に弊害が出てしまう（エラーとなってしまう）、という課題もある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明は以下のような機能を備える光記録装置を提供する。すなわち本発明の光記録装置は、ＰＣＡ（校正用エリア）へのテスト記録において１回の記録のみを行い、そのテスト記録データの読み込み（リード）に際して、光ヘッドの設定パラメータを複数変更し読み込む。そして設定パラメータごとの読み込みエラーレートを取得し、それを利用してサーボ系パラメータなどの最適調整値を演算する、という具合である。
【０００６】
さらに具体的に、本発明の光記録装置は、光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する試験記録部と、前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る試験ライン読取部と、試験ライン読取部での読取結果に基づいて、試験ラインのトラック幅方向の中心位置である試験中心位置を演算する試験中心演算部と、演算された試験中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算するズレ演算部と、演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する初期位置演算部と、を有することを特徴とする。
【０００７】
また、上記構成に加えて、さらにその試験中心演算部が、試験ライン読取部での読取結果に基づいて、トラック幅方向のそれぞれの位置でのエラーレートを収集し、収集したエラーレートのトラック幅方向分布に基づいて、前記試験中心位置を演算するエラー収集演算手段を有する光記録装置も提供する。また、以上のような構成を有する光記録装置の制御方法も提供する。
【発明の効果】
【０００８】
以上のような構成をとる本発明によって、ＰＣＡ（校正用エリア）への記録は１回ですむので、ＰＣＡの使用領域を減らすことができる。また光記録ディスクの場合、通常記録よりも読出の方が数倍高速であるので、処理時間を短縮することもできる。さらにテスト記録において書き込み溝がずれているなどした場合でも、次のテスト記録を行う必要が無いのでエラー終了とならずに処理を続行できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に、図を用いて本発明の実施の形態を説明する。なお、本発明はこれら実施の形態に何ら限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々なる態様で実施しうる。なお、実施例１は、主に請求項１，２，３，４について説明する。
【００１０】
≪実施例１≫
<概要>
図１は、本実施例の光記録装置における光ヘッドの初期位置の調整処理を説明するための図である。この図にあるように、まず例えばデフォルトの設定値などを利用してピックアップのサーボ系のパラメータやパワー値を設定し、光記録ディスクのＰＣＡに試験ラインを１回書き込む処理を行う。その後、＋１、＋２、あるいはー１、−２といった具合に光ヘッドのトラッキング位置を段階的に変化させて当該試験ラインのデータを読み取り、それぞれの読取エラー値を取得していく。そして、トラッキング位置ごとのエラーレートを参照することで、その試験ラインを読出す際の最適なトラッキング位置を特定する。
【００１１】
ここでトラックのセンター位置（図１中の±０位置）は、ＴＥＳ（トラッキング誤差信号）を利用して取得することができる。そして、このトラックセンター位置に対して前記特定されたトラッキング位置が記録時の光ピックアップのズレ量を示すことになる。そこでトラックセンター位置から逆方向にズレ量分ずらして記録時における最適なトラッキングパラメータ値を算出する、という具合である。
【００１２】
<機能的構成>
図２は、本実施例の光記録装置における機能ブロックの一例を表す図である。この図にあるように、本実施例の「光記録装置」（０２００）は、「試験記録部」（０２０１）と、「試験ライン読取部」（０２０２）と、「試験中心演算部」（０２０３）と、「ズレ演算部」（０２０４）と、「初期位置演算部」（０２０５）と、を有する。
【００１３】
なお、以下に記載する本光記録装置の機能ブロックは、ハードウェア、ソフトウェア、又はハードウェア及びソフトウェアの両方として実現され得る。具体的には、コンピュータを利用するものであれば、ＣＰＵや主メモリ、バス、あるいは二次記憶装置（ハードディスクや不揮発性メモリ、ＣＤやＤＶＤなどの記憶メディアとそれらメディアの読取ドライブなど）、情報入力に利用される入力デバイス、印刷機器や表示装置、その他の外部周辺装置などのハードウェア構成部、またその外部周辺装置用のインターフェース、通信用インターフェース、それらハードウェアを制御するためのドライバプログラムやその他アプリケーションプログラム、ユーザーインターフェース用アプリケーションなどが挙げられる。
【００１４】
そして主メモリ上に展開したプログラムに従ったＣＰＵの演算処理によって、入力デバイスやその他インターフェースなどから入力され、メモリやハードディスク上に保持されているデータなどが加工、蓄積されたり、上記各ハードウェアやソフトウェアを制御するための命令が生成されたりする。また、この発明は光記録装置として実現できるのみでなく、方法としても実現可能である。また、このような発明の一部をソフトウェアとして構成することができる。さらに、そのようなソフトウェアをコンピュータに実行させるために用いるソフトウェア製品、及び同製品を記録媒体に固定した記録媒体も、当然にこの発明の技術的な範囲に含まれる（本明細書の全体を通じて同様である）。
【００１５】
「試験記録部」（０２０１）は、光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する機能を有し、光ピックアップ（レーザーダイオード）やトラッキングアクチュエータ、その他駆動機構、制御回路をはじめとする各種ハードウェア装置や試験記録プログラムなどで実現できる。具体的には、例えばデフォルト値にて光ピックアップのトラッキングサーボパラメータやフォーカスサーボパラメータ、記録パワー値などを設定し、当該パラメータでの記録を光記録ディスクのＰＣＡに対して１回行う、という具合である。
【００１６】
そして本実施例では、この１回のみ記録された試験ラインを用いることで、トラッキングサーボ用のパラメータ値を以下の構成により演算することができることを特徴とする。なお、この試験記録部では、例えば最初に記録された試験ラインの最小エラーレートが閾値よりも高い場合などには、オフセットの幅が大きすぎるとしてパラメータを替えて再度試験ラインの記録を行うよう構成しても良い。また試験記録部による最初の試験ラインの記録は一本に限定されなくても良い。例えば一本の試験ラインが大きくオフセットしている可能性を考慮し、予め記録時のパラメータを変えて２，３本程度の試験ラインの記録を行っても良い。
【００１７】
「試験ライン読取部」（０２０２）は、前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る機能を有し、例えば、光ピックアップ（フォトダイオード）やトラッキングアクチュエータなどの各種駆動機構、制御回路、をはじめとする各種ハードウェア装置や試験記録プログラムなどで実現できる。具体的には、図３に示すように、前述のＴＥＳによりトラックセンター位置を取得する。そしてそのトラックセンター位置を０として光ピックアップにてデータを読み取る。つづいて所定幅で右に＋１、＋２、・・・と光ピックアップのトラッキング位置をステッピングモータなどで刻みながら変化させ、各トラッキング位置でのデータ読取を行う。また、０位置から今度は左方向に所定幅で−１、−２、・・・と刻みながらトラッキング位置を変化させ、同様に各トラッキング位置でのデータの読取を行う、という具合である。
【００１８】
そして本実施例の光記録装置では、このデータの読取結果を用いて、例えばCRIC（Cross Interleave Reed-Solomon Code）方式などにより各トラッキング位置でのデータの読出しエラーレートを算出する。そして以下の構成によって記録時のトラッキング位置のずれ量を演算することを特徴とする。
【００１９】
「試験中心演算部」（０２０３）は、試験ライン読取部での読取結果に基づいて試験中心位置を演算する機能を有し、例えばＣＰＵや主メモリ、試験中心演算プログラムなどによって実現できる。また、「試験中心位置」とは、試験ラインのトラック幅方向の中心位置をいう。なお、この読取結果に基づく試験中心位置の演算は、前述のように例えば各トラッキング位置での読取結果のエラーレートを利用して実行する方法が挙げられる。図４に示すのは、そのような機能をさらに有する光記録装置における機能ブロックの一例を表す図である。この図にあるように、本実施例のその他の「光記録装置」（０４００）は、上記の通り、「試験記録部」（０４０１）と、「試験ライン読取部」（０４０２）と、「試験中心演算部」（０４０３）と、「ズレ演算部」（０４０４）と、「初期位置演算部」（０４０５）と、を有する。そしてさらに、試験中心演算部が「エラー収集演算手段」（０４０６）を有する点を特徴とする。
【００２０】
「エラー収集演算手段」（０４０６）は、試験ライン読取部での読取結果に基づいて、トラック幅方向のそれぞれの位置でのエラーレートを収集し、収集したエラーレートのトラック幅方向分布に基づいて、前記試験中心位置を演算する機能を有し、例えばＣＰＵや主メモリ、エラー収集演算プログラムなどによって実現できる。具体的に、読取結果のエラーレートは、例えば前述のようにCRIC方式によって付加されたRS（リードソロモン）符号データなどを利用して取得する方法が挙げられる。もちろんそれ以外の取得方法として、例えばパリティビットを利用したエラーレートの取得や巡回冗長検査処理を利用したエラーレートの取得なども挙げられる。あるいは試験データをフラッシュメモリなどに保持しておき、当該試験データと読出した試験データを比較することでエラーレートを算出する方法なども挙げられる。
【００２１】
ところで読出し時の光ピックアップの位置が試験ラインの中心に位置する場合、データを正確に読出すことができる。したがって試験中心演算部では読出しエラーレートが最小となる光ピックアップの位置を演算し、その位置を試験ラインの中心位置として特定することができる。
【００２２】
図５は、エラーレートを収集することで試験中心を演算する処理の流れの一例を表すフローチャートである。この図にあるように、まず、ＴＥＳなどを利用して取得したトラックのセンター位置を０とする（ステップＳ０５０１）。なお、０位置を中心として右方向をプラス側のトラッキング位置、左方向をマイナス側のトラッキング位置とする。そして、当該０位置に光ピックアップのトラッキング位置を制御し、１回記録された試験データを読出す。つづいて読出した試験データに関し、例えばリードソロモン符号などを利用して読出したデータに誤りがあるか否かを検出する。そして検出した誤りデータが読出したデータの何割に当たるかを演算し、当該トラッキング位置での読出しエラーレートを算出する（ステップＳ０５０２）。
【００２３】
次に、光ピックアップのトラッキング位置が０またはプラスであるか、マイナスであるかを判断し（ステップＳ０５０３）、つづいて、算出されたエラーレートが所定の閾値以下であるかを判断する（ステップＳ０５０４）。そして、０またはプラス側かつ所定の閾値以下であれば、このときのトラッキング位置を０またはプラス側の暫定的な最大位置としてメモリに格納する（ステップＳ０５０５）。そしてこのようにエラーレートが所定の閾値以下であれば、本実施例の光記録装置は０またはプラス側方向での処理を続行する。すなわちトラッキング位置を例えばステッピングモータの１ステップ角度分右方向に移動させ、「トラッキング位置＝現在トラッキング位置＋α」とする（ステップＳ０５０６）。そして移動後のトラッキング位置が所定の閾値（例えばトラッキング幅で定められる閾値など）以内であれば上記処理を繰返し、暫定的なプラス側最大トラッキング位置を更新保持する。
【００２４】
また上記処理を繰り返すことでエラーレートがプラス側でのエラー検出処理を打ち切るための所定の閾値以上となる（ステップＳ０５０４）か、あるいはトラッキング位置が例えばプラス側にトラック幅を超えるなどを示す所定の閾値以上となった（ステップＳ０５０７）場合に、「トラッキング位置＝−α」とし、当該位置に光ピックアップを移動させる（ステップＳ０５０８）。そして、マイナス側での処理を、同様に行い、エラーレートがマイナス側でのエラー検出処理を打ち切るための所定の閾値以上となる（ステップＳ０５０９）か、あるいはトラッキング位置がマイナス側のトラック幅を示す所定の閾値以上となる（ステップＳ０５１２）まで暫定的なマイナス側最大トラッキング位置の更新保持処理を繰り返す（ステップＳ０５１０）。そして最後に、以上のようにして保持されているプラス側の最大トラッキング位置と、マイナス側の最大トラッキング位置の中間点を、試験データの中心位置として算出する（ステップＳ０５１３）、という具合である。
【００２５】
そして本実施例の光記録装置では、このようにエラーレートを利用して算出された試験データの中心位置と、データが本来正しく書き込まれるべき位置とのズレ量を利用して、以下の構成によって記録時のトラッキング位置を補正する、という具合である。
【００２６】
「ズレ演算部」（０２０４）は、演算された試験中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算する機能を有し、例えばＣＰＵや主メモリ、ズレ演算プログラムなどによって実現できる。具体的には、前述のように、ＴＥＳによって試験記録データに依存せずに取得されるトラックセンター位置と、前述の試験データの中心位置とのズレ量を算出する、という具合である。
【００２７】
「初期位置演算部」（０２０５）は、演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する機能を有し、例えばＣＰＵや主メモリ、初期位置演算プログラムによって実現することができる。具体的には、試験データを記録する際のトラッキング位置に対して、前記算出されたズレ量の分反対方向にトラッキング位置をずらすことで、記録時の最適なトラッキング位置を決定する、という具合である。
【００２８】
<ハードウェア構成>
図６は、上記機能的な各構成要件をハードウェアとして実現した際の、光記録装置における構成の一例を表す概略図である。この図を利用して光ピックアップの記録時のトラッキング位置決定処理におけるそれぞれのハードウェア構成部の働きについて説明する。この図にあるように、光記録装置は、各種プログラムに応じて演算処理を実行するための「制御用マイコン」（０６０１）と、「バッファメモリ」（０６０２）と、を備えている。またその他ドライブ部を制御するための「ＣＩＲＣデコーダ」（０６０３）、「同期検出復調回路」（０６０４）、「ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路」（０６０５）などを備え、これらハードウェア構成によって次にドライブ部を制御している。また、ドライブ部はフォトダイオードとレーザーダイオードからなる「光ピックアップ」（０６０６）と、「フォーカスサーボ」（０６０７）、「トラッキングサーボ」（０６０８）、各サーボの制御にしたがい光ピックアップを駆動する「駆動機構」（０６０９）などを備えている。また、ユーザーからの操作入力を受け付ける図示しない「ＵＩ（ユーザーインターフェース）」なども備えている。また、「制御マイコン」にはプログラムが読み出され、制御マイコンは読み出された当該プログラムを参照し、プログラムで示される手順に従い各種制御のための演算処理を実行する。
【００２９】
ここで、「ＵＩ」を介してユーザーが次世代ＤＶＤドライブ内の記録メディアへのデータ記録の操作入力を行う。すると本実施例の光記録装置は、制御マイコンにプログラムを読出し順番に解釈することで以下のような処理を行う。まず、「制御マイコン」は試験プログラムを解釈し、それに所定のトラッキング位置での試験データの記録を１回行うよう制御命令を送出する。すると「トラッキングサーボ」によって「光ピックアップ」のトラッキング位置が所定位置に制御され、所定の試験記録データを記録ディスクのＰＣＡに１回記録する。
【００３０】
つづいて「制御マイコン」は試験ライン読取プログラムを解釈し、それに従ってＴＥＳによりトラックのセンター位置（トラッキング位置０）を演算する。そして、その演算したトラックセンター位置に光ピックアップを配置し試験データを読取るよう制御命令を出力する。すると「トラッキングサーボ」によって「光ピックアップ」をトラックセンター位置に制御し、その位置での試験データの読取りを行う。また読取ったデータはバッファメモリを介して図示しない二次メモリなどに保持する。そして「制御マイコン」はつづけてトラッキング位置を例えばステッピングモータを１ステップ角度分回転させる制御命令を出力し、トラッキング位置を順次変えて試験データの読取りと二次メモリへの保持を行う。
【００３１】
次に「制御マイコン」はエラー収集演算プログラムを解釈し、それに従って二次メモリに保持されているトラッキング位置ごとのエラーレートを例えばリードソロモン符号データなどを参照し演算装置の演算処理によって算出する。つづいて、「制御マイコン」は試験中心演算プログラムを解釈し、それに従って例えば図５を用いて説明したように、トラッキング位置のプラス側とマイナス側のそれぞれでエラーレートが所定の閾値以上となるか、あるいはトラッキング位置が所定の閾値以上となるプラス側およびマイナス側の最大トラッキング位置を決定する。そして両最大トラッキング位置の中間位置を演算装置にて演算し、その演算結果を試験データの中心位置として二次メモリなどに保持する。
【００３２】
そして「制御マイコン」はズレ演算プログラムを解釈し、それに従って前述のＴＥＳにより特定されるトラックセンター位置（トラッキング位置０）を正しく書き込まれるべきトラッキング位置として、試験データの中心位置とのズレ量を例えばステッピングモータのステップ角度を単位として算出する。そして続けて解釈する初期位置演算プログラムに従い、試験データを記録する際のトラッキング位置に対して、前記算出されたズレ量の分反対方向にトラッキング位置をずらすことで、記録時の最適なトラッキング位置を決定する。
【００３３】
<処理の流れ>
図７は、本実施例の光記録装置における処理の流れの一例を表すフローチャートである。なお、以下に示すステップは、上記のような計算機の各ハードウェア構成によって実行されるステップであっても良いし、媒体に記録され計算機を制御するためのプログラムを構成する処理ステップであっても構わない。この図にあるように、まず、光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する（ステップＳ７０１）。つづいて、前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る（ステップＳ０７０２）。そしてその読取結果に基づいて、試験データの中心位置を演算する（ステップＳ７０３）。つづいて、演算された試験データの中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算し（ステップＳ７０４）、演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する（ステップＳ７０５）。
【００３４】
また、本実施例は上記処理の流れに加えてさらに以下のようなエラーレートを利用して試験ラインの中心位置を演算するステップを含み処理を行っても良い。図８は、本実施例の光記録装置における処理の流れの、別の一例を表すフローチャートである。この図にあるように、まず、光ディスクの校正用エリアに試験ラインを一本記録する（ステップＳ８０１）。つづいて、前記一本の試験ラインを光ヘッドのトラック幅方向位置を複数変化させて読み取る（ステップＳ０８０２）。そしてその読取結果に基づいてトラック幅方向のそれぞれの位置でのエラーレートを収集し（ステップＳ８０３）、収集したエラーレートのトラック幅方向分布に基づいて試験データの中心位置を演算する（ステップＳ８０４）。つづいて、演算された試験データの中心位置と正しく書き込まれるべきトラックの幅方向位置とのズレ量を演算し（ステップＳ８０５）、演算されたズレ量に基づき光ヘッドの記録時の初期トラック位置を演算する（ステップＳ８０６）。
【００３５】
<効果の簡単な説明>
以上のように本実施例の光記録装置によって、ＰＣＡへの１回の試験データの記録で記録時の光ピックアップのトラッキング位置を決定することができる。したがってＰＣＡの使用領域を減らすことができる。また処理時間を短縮することもできる。さらにテスト記録において書き込み溝がずれているなどした場合でも、次のテスト記録を行う必要が無いのでエラー終了とならずに処理を続行できる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】実施例１の光記録装置における光ヘッドの初期位置の調整処理を説明するための図
【図２】実施例１の光記録装置における機能ブロックの一例を表す図
【図３】実施例１の光記録装置の試験ライン読取部での試験ライン読取処理の一例を説明するための図
【図４】実施例１の光記録装置における機能ブロックの、別の一例を表す図
【図５】実施例１の光記録装置のエラー収集演算手段での試験中心演算処理の流れの一例を表すフローチャート
【図６】実施例１の光記録装置におけるハードウェア構成の一例を表す図
【図７】実施例１の光記録装置における処理の流れの一例を表すフローチャート
【図８】実施例１の光記録装置における処理の流れの、別の一例を表すフローチャート
【符号の説明】
【００３７】
０２００  光記録装置
０２０１  試験記録部
０２０２  試験ライン読取部
０２０３  試験中心演算部
０２０４  ズレ演算部
０２０５  初期位置演算部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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