(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルの広域温度範囲の動作保証検査を正確に行うことができる検査方法を提供する。【解決手段】上記の課題を解決するために、本発明のプラズマディスプレイパネルの検査方法は、印加する駆動波形の画像表示に必要な電圧値を検査し、かつ電圧値の検査の内、走査電圧の画像表示に必要な電圧値の検査を、他の検査よりも先に行うことにより、ＰＤＰの電圧検査を製造されたそれぞれのＰＤＰ毎に正確に行うことができる。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラズマディスプレイパネルの検査方法において、
印加する駆動波形の画像表示に必要な電圧値を検査し、かつ前記電圧値の検査の内、走査電圧の画像表示に必要な電圧値の検査を、他の検査よりも、先に行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【請求項２】
プラズマディスプレイパネルを点灯表示させて検査を行う検査方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルは、複数の対となる走査電極および維持電極が配列された基板と、複数のデータ電極が配列された基板とを、前記走査電極および前記維持電極と前記データ電極が直交するように対向配置して複数の放電セルを形成するように構成され、
前記点灯表示に用いる駆動波形は、１フィールドを、少なくとも前記放電セルにて書込み放電を発生させる書込み期間と、前記書込み放電を発生させた放電セルにて維持放電を発生させる維持期間とを有する複数のサブフィールドで構成され、
前記書込み期間に前記走査電極に印加する電圧値の検査を、他の検査よりも先に行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【請求項３】
前記書込み期間に前記走査電極に印加する電圧値の検査は、予め前記プラズマディスプレイパネルの温度と前記電圧値との関係から得た基準値との比較を行うことを特徴とする請求項２記載のプラズマディスプレイパネルの検査方法。
【請求項４】
請求項１〜３記載のいずれかのプラズマディスプレイパネルの検査方法を有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルの製造工程におけるプラズマディスプレイパネルの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、薄くて大画面の平面型表示デバイスとしてプラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰと略記する）が注目されており、３電極を備えた面放電形式のＡＣ型ＰＤＰがその代表的な構造である。ＡＣ型ＰＤＰは、行方向に伸びた走査電極および維持電極を複数対配列された前面板と、列方向に伸びた複数のデータ電極を配列された背面板とが隔壁を介して対向配置され、その間に放電空間を形成するように構成されている。そして、１対の走査電極および維持電極と１つのデータ電極とが立体交差した部分に、隔壁で仕切られた放電セルが形成されている。
【０００３】
ＰＤＰを駆動する方法としてはサブフィールド法、すなわち、映像信号の１フィールド期間を輝度の重み付けを有する複数のサブフィールドに分割し、放電を起こすサブフィールドを組み合わせることで映像信号の階調を表示する方法が一般的である。ここで、サブフィールドは、放電セル内に所定の壁電荷を形成するための初期化放電を発生させる初期化期間、点灯させるべき放電セルを選択する書込み放電を発生させる書込み期間、および選択した放電セルにおいて維持放電を発生させる放電維持期間を有する。そして維持放電に伴う発光により画像を表示する。
【０００４】
一般にＰＤＰは駆動回路が実装され製品化される。製造工程では、実装工程への不良品の流出を防ぐため、駆動回路を実装する前にＰＤＰに点灯信号を入力し、点灯検査を行っている。
【０００５】
そして、ＰＤＰの検査においては通常の画像表示と同等の表示が可能である駆動波形を各電極に印加して、点灯表示をして検査する。検査項目には画像表示に必要な電圧値を測定する電圧検査、輝度・色度・色温度等を測定する画質検査、その他、色斑等の画像表示不具や放電セルの異常点灯・不灯合の存在を確認する表示不良検査等が行われる。そしてＰＤＰの点灯検査方法としては例えば特許文献１に記載された技術などが知られている。
【特許文献１】特開２００５−１８３３６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、ＰＤＰは点灯状態では温度が上昇するため、画質検査などの検査を実施した後に電圧検査を実施するとＰＤＰの温度が上昇し、検査が正確に行われない。また画質検査はＰＤＰ毎に、そして検査員毎に異なることが多く、ＰＤＰの温度が毎回異なってしまうという課題が発生し得る。
【０００７】
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、ＰＤＰの電圧検査を正確に行うことができる検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の目的を達成するために、本発明のＰＤＰの検査方法は、印加する駆動波形の画像表示に必要な電圧値を検査し、かつ電圧値の検査の内、走査電圧の画像表示に必要な電圧値の検査を、他の検査よりも、先に行うことを特徴とする。
【０００９】
または本発明のＰＤＰの検査方法は、ＰＤＰを点灯表示させて検査を行う検査方法であって、このＰＤＰは複数の対となる走査電極および維持電極が配列された基板と、複数のデータ電極が配列された基板とを、走査電極および維持電極とデータ電極が直交するように対向配置して複数の放電セルを形成するように構成され、点灯表示に用いる駆動波形は、１フィールドを、少なくとも放電セルにて書込み放電を発生させる書込み期間と、書込み放電を発生させた放電セルにて維持放電を発生させる維持期間とを有する複数のサブフィールドで構成され、書込み期間に走査電極に印加する電圧値の検査を、他の検査よりも先に行うことを特徴とする。このとき、書込み期間に走査電極に印加する電圧値の検査は、予めＰＤＰの温度と電圧値との関係から得た基準値との比較を行ってもよい。また本発明のＰＤＰの製造方法は、上記のいずれかの検査方法を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、ＰＤＰの電圧検査を製造されたそれぞれのＰＤＰ毎に正確に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明のＰＤＰの検査方法について、図面を参照しながら説明する。
【００１２】
（実施の形態）
一般的なＰＤＰの構造、駆動方法およびその製造方法について図１〜４を用いて説明する。図１は本発明の一実施の形態に用いるＰＤＰの要部を示す分解斜視図である。ＰＤＰ１０は、前面板と背面板とを対向配置して、その間に放電空間を形成するように構成されている。ガラス製の前面基板２１上には走査電極２２と維持電極２３とが互いに平行に対をなして複数形成されている。そして、走査電極２２および維持電極２３を覆うように誘電体層２４が形成され、誘電体層２４上には保護層２５が形成されている。保護層２５は、放電に必要な電荷を放出する役割を担っており、現在のＰＤＰではＭｇＯ（酸化マグネシウム）薄膜層が一般的である。走査電極２２と維持電極２３とは表示電極対２６を構成し、走査電極２２および維持電極２３はそれぞれ、インジウムスズ酸化物（ＩＴＯ）等からなる透明電極と、その透明電極の上に形成された金属等からなるバス電極とにより構成されている。このように、前面基板２１上に走査電極２２、維持電極２３、誘電体層２４および保護層２５が形成されたものが前面板である。
【００１３】
また、ガラス製の背面基板３１上には複数のデータ電極３２が平行に形成されている。そしてデータ電極３２を覆うように誘電体層３３が形成され、誘電体層３３上に井桁状の隔壁３４が設けられている。また、誘電体層３３の表面および隔壁３４の側面には、赤色、緑色、青色に発光する蛍光体層３５Ｒ、３５Ｇ、３５Ｂが設けられている。このように、背面基板３１上にデータ電極３２、誘電体層３３、隔壁３４および蛍光体層３５Ｒ、３５Ｇ、３５Ｂが形成されたものが背面板である。
【００１４】
そして、走査電極２２および維持電極２３とデータ電極３２とが立体交差するように前面基板２１と背面基板３１とが対向配置され、隔壁３４で仕切られたそれぞれが放電セルとなる。そして複数の放電セルには、放電ガスとして、例えばネオンとキセノンの混合ガスが封入されている。なお、ＰＤＰの構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。
【００１５】
図２はＰＤＰ１０の電極配列図である。行方向にｎ本の走査電極２２およびｎ本の維持電極２３が配列され、列方向にｍ本のデータ電極３２が配列されている。そして、１対の走査電極２２および維持電極２３と１つのデータ電極３２とが立体交差した部分に放電セル１１が形成され、放電セル１１は放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。
【００１６】
次に、ＰＤＰ１０の駆動方法について説明する。ＰＤＰ１０を駆動する方法としてはサブフィールド法が用いられている。これは、１フィールド期間を複数のサブフィールド（例えば第１ＳＦ、第２ＳＦ、・・・、第１０ＳＦ）に分割し、それぞれのサブフィールドで各放電セルの発光、非発光を制御することにより輝度表示を行う方法である。そして、サブフィールドのそれぞれは、初期化期間、書込み期間および維持期間を有する。図３はＰＤＰ１０の各電極に印加する駆動波形の一例を示す図である。なお、走査電極については１行目とｎ行目の走査電極に印加する駆動波形を示している。
【００１７】
第１ＳＦの初期化期間では、まずその前半部において、データ電極３２および維持電極２３を０（Ｖ）に保持し、走査電極２２に対して放電開始電圧以下となる電圧Ｖｉ１から放電開始電圧を超える電圧Ｖｉ２に向かって緩やかに上昇するランプ電圧を印加する。すると、すべての放電セルにおいて微弱な初期化放電を起こし、走査電極２２、維持電極２３およびデータ電極３２上に壁電圧が蓄積される。ここで、電極上の壁電圧とは電極を覆う誘電体層上や蛍光体層上等に蓄積した壁電荷により生じる電圧を指す。
【００１８】
続いて初期化期間の後半部において、維持電極２３を正の電圧Ｖｅ１に保ち、走査電極２２に電圧Ｖｉ３から電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加する。すると、すべての放電セルにおいて再び微弱な初期化放電を起こし、走査電極２２、維持電極２３およびデータ電極３２上の壁電圧が書込み動作に適した値に調整される。
【００１９】
なお、１フィールド期間を構成するサブフィールドのうちいくつかのサブフィールドでは初期化期間の前半部を省略してもよく、その場合には、直前のサブフィールドで維持放電を行った放電セルのみに対して初期化動作が行われる。図３には、第１ＳＦの初期化期間では前半部および後半部を有する初期化動作を行い、第２ＳＦの初期化期間では後半部のみ有する初期化動作を行う駆動波形図を示している。第３ＳＦ以降のサブフィールドの初期化期間では第２ＳＦの初期化期間と同じ駆動波形を各電極に印加する。
【００２０】
書込み期間では、まずすべての維持電極２３に電圧Ｖｅ２を印加し、すべての走査電極２２に電圧Ｖｃを印加する。そして、１行目に発光すべき放電セルのデータ電極３２に電圧Ｖｄの書込みパルスを印加するとともに、１行目の走査電極２２に電圧Ｖａの走査パルスを印加する。すると、１行目に発光すべき放電セルで書込み放電が起こり、この放電セルの走査電極２２上に正の壁電圧、維持電極２３上に負の壁電圧が蓄積される。一方、書込みパルスを印加しなかったデータ電極３２と走査電極２２との交差部では書込み放電は発生しない。以上の書込み動作をｎ行目の放電セルに至るまで順次行い、書込み期間が終了する。また、電圧Ｖｃは走査バイアス電圧であり、書込み放電により蓄積された壁電荷を保持する役割を担う。
【００２１】
続く維持期間では、維持電極２３を０（Ｖ）に戻し、走査電極２２に電圧Ｖｓの維持パルスを印加する。すると書込み放電を起こした放電セルにおいては、走査電極２２上と維持電極２３上との間の電圧は電圧Ｖｓに走査電極２２上および維持電極２３上の壁電圧の大きさが加算されたものとなり放電開始電圧を超え、走査電極２２と維持電極２３との間に維持放電が起こり発光する。このとき走査電極２２上に負の壁電圧が蓄積され、維持電極２３上に正の壁電圧が蓄積される。続いて走査電極２２を０（Ｖ）に戻し、維持電極２３に電圧Ｖｓの維持パルスを印加する。すると、維持放電を起こした放電セルでは、維持電極２３上と走査電極２２上との間の電圧が放電開始電圧を超えるので再び維持電極２３と走査電極２２との間に維持放電が起こり、維持電極２３上に負の壁電圧が蓄積され走査電極２２上に正の壁電圧が蓄積される。以降同様に、走査電極２２と維持電極２３とに交互に必要な数の維持パルスを印加することにより、書込み放電を起こした放電セルで維持放電が継続して行われる。なお、書込み放電が起きなかった放電セルでは維持放電は発生せず、初期化期間の終了時における壁電圧が保持される。こうして維持期間における維持動作が終了する。
【００２２】
続く第２ＳＦ以降のサブフィールドの書込み期間および維持期間では、第１ＳＦの書込み期間および維持期間における動作とほぼ同様の動作を行う。このようにして、放電セルのそれぞれをサブフィールド毎に発光、非発光を制御して、各サブフィールドの維持期間の発光を組み合わせて画像表示を行う。
【００２３】
次に、本発明の一実施の形態におけるＰＤＰの製造方法および検査方法について、図面を用いて説明する。
【００２４】
図４はＰＤＰのプロセスフローを簡略的に説明するための図である。前面板はステップＡ．１〜Ａ．３により製造される。ステップＡ．１では、ガラス基板である前面基板２１上に透明電極、バス電極を形成することにより走査電極２２および維持電極２３を形成する。ステップＡ．２では、走査電極２２および維持電極２３を覆うように前面基板２１上に誘電体層２４を形成する。ステップＡ．３では、誘電体層２４上に保護層２５を形成する。背面板はステップＢ．１〜Ｂ．４により製造される。ステップＢ．１では、ガラス基板である背面基板３１上にデータ電極３２を形成する。ステップＢ．２では、データ電極３２を覆うように背面基板３１上に誘電体層３３を形成する。ステップＢ．３では、誘電体層３３上に隔壁３４を形成する。ステップＢ．４では、誘電体層３３上および隔壁３４の側面に蛍光体層３５Ｒ、３５Ｇ，３５Ｂを形成する。
【００２５】
そして、上記のように作製された前面板および背面板をフリットガラスにより封着し、前面板と背面板との間の放電空間を排気した後、放電空間に放電ガスを封入することで、ＰＤＰが作製される（ステップＣ．１）。その後、ステップＣ．２において、ＰＤＰ全面を強制的に放電させるエージングを実施し、エージング終了後、ステップＣ．３においてＰＤＰ点灯検査を実施する。
【００２６】
ここで、ステップＣ．３のＰＤＰ点灯検査においては、上述したように通常の画像表示と同等の表示が可能である駆動波形を各電極に印加して、点灯表示をさせて検査する。検査項目には画像表示に必要な電圧値（上記のＶｃ、Ｖｓ、Ｖａ等の電圧）を測定する電圧検査、輝度・色度・色温度等を測定する画質検査、その他色ムラ等の画像表示不具や放電セルの異常点灯・不灯の存在を確認する表示不良検査等が行われる。本発明の実施例では、広域温度範囲での動作保証検査を上記検査項目の最初に実施する。
【００２７】
次に、本発明の実施の形態における動作保証検査について述べる。一般にＰＤＰは、放電現象を利用した画像表示であるため、点灯状態によってパネル自体の温度が変化し、またＰＤＰを点灯させるために必要な電圧値など（ＰＤＰの特性値）がＰＤＰの温度によって変化する。
【００２８】
これに対して、発明者等が複数のＰＤＰを用いてＰＤＰの温度とＰＤＰの特性値との相関関係を測定したところ、上記Ｖｃ（書込み期間に走査電極２２に印加する電圧であって、以下走査電圧Ｖｃとする）の画像表示に必要な電圧値が、他の設定電圧よりも極めてＰＤＰの温度依存性が強いことが判明した。
【００２９】
この現象について、発明者等は次のように推察する。ＰＤＰの動作は、放電動作の書込み期間において点灯させるべき放電セルに壁電荷を蓄積し、この蓄積された壁電荷を利用して、続く維持期間における維持放電を発生させる。しかしながら、ＰＤＰの温度が上昇すると書込み動作後に蓄積された壁電荷が消失しやすくなる傾向があると考えられる。このため、ＰＤＰが高温状態になると、蓄積された壁電荷が消失され、点灯させるべき放電セルが点灯できず、所望の点灯状態を確保できないことになる。
【００３０】
ところで、ＰＤＰにおいては、この書込み動作後に蓄積された壁電荷を保持させるために、走査電極２２にバイアス的に走査電圧Ｖｃ（図３参照）を印加している。つまり、この走査電圧Ｖｃを高くするほど、壁電荷は保持されやすくなる。一方、前述したように、ＰＤＰの温度が上昇すると壁電荷が消失しやすくなることから、ＰＤＰの温度上昇に伴う壁電荷の消失を防ぐためには、温度上昇につれて走査電圧Ｖｃを大きくする必要が生じる。これが、走査電圧ＶｃとＰＤＰの温度との相関関係が生じる理由と考えられる。そして、この温度に依存した壁電荷の変化が、他の設定電圧よりも走査電圧Ｖｃの温度依存性が強くなる原因であると推察する。
【００３１】
発明者等が調べた結果、ＰＤＰの温度と正常な動作に必要な走査電圧Ｖｃとの間に、図５に示すような相関関係が存在した。そこで本発明の実施の形態では、ＰＤＰの温度と特性値（ここでは、正常な動作に必要な走査電圧Ｖｃ）との相関関係を利用して、高温での動作保証検査を実施している。図５の例では、動作保証温度の最大値のときのＶｃがＶ２以下となるためには常温でＶ１以下とならなければいけないので、常温においてＶｃがＶ１以下ならば、高温での動作保証検査は適合と判定される。
【００３２】
なお、本発明の実施の形態においてＰＤＰの温度とは、ＰＤＰの画像表示領域の前面基板２１表面にＫタイプの熱電対を配置してモニターした温度を利用した。しかしながら画像表示によるＰＤＰの温度上昇はＰＤＰ全体に及ぶため、例えばＰＤＰの裏面（背面基板３１）の温度を計測して用いても、相対的に同様の関係が得られる。
【００３３】
しかしながら、この広域温度範囲の動作保証検査の前に、画質検査などの他の検査を実施すると、その間にＰＤＰの温度が上昇してしまう。また、画質検査に要する時間はＰＤＰにより異なるために、動作保証検査時のＰＤＰの温度にバラツキが生じ、適切な検査をするのが困難となる。そこで、本発明の実施の形態では広域温度範囲の動作保証検査を、ＰＤＰ検査工程の最初に実施することで、ＰＤＰ点灯によるＰＤＰの温度上昇の影響を被らないＰＤＰ検査を実施することができる。
【００３４】
この広域温度範囲の動作保証検査について以下に説明する。まず、予め同様に製造された複数のＰＤＰに対して、ＰＤＰの温度と走査電圧Ｖｃとの関係を測定しておく。本発明の実施の形態では、この結果が上述の図５に相当する。
【００３５】
そして被検査物であるＰＤＰを検査装置にて点灯表示させ、走査電圧ＶｃをＰＤＰに非点灯領域が発生するまで降下させる。次に、ＰＤＰに非点灯領域が発生している状態から徐々に走査電圧Ｖｃを上昇させていく。これにより、ＰＤＰの非点灯領域が点灯していき、やがてＰＤＰが全面点灯する。そして、ＰＤＰが全面点灯した時点で走査電圧Ｖｃの上昇を止める。
【００３６】
このときの走査電圧Ｖｃの値と、前述のＰＤＰの温度と走査電圧Ｖｃとの関係から得た基準値と比較する。具体的には走査電圧Ｖｃが、温度と走査電圧Ｖｃの相関関係から求められた常温での閾値電圧（図５の例ではＶ１）よりも大きいか小さいかによって、高温での動作保証検査が適合か不適合かを判断する。
【００３７】
例えば、走査電圧Ｖｃが閾値電圧よりも低い場合には、動作保証温度の最大値においてもＰＤＰが正常に点灯することになり、高温での動作保証検査結果は適合となる。一方、走査電圧Ｖｃが閾値電圧よりも高い場合には、動作保証温度の最大値においては、ＰＤＰが正常に点灯しない（非点灯領域が発生したり、点滅セルが発生したりする）ことになり、高温での動作保証検査結果は非適合となる。
【００３８】
以上のように広域温度範囲の動作保証検査を、検査工程の最初に実施することによって、動作保証検査以外の検査によるＰＤＰの温度上昇の影響を被らない動作保証検査を容易に実現することができる。これにより、検査毎の動作保証検査時の温度は、ほぼ一定になるために、より精度の高い検査を実施することができる。
【００３９】
そして、ＰＤＰの検査工程における生産効率の低下を抑制することができ、コストの上昇を抑制することができる。
【００４０】
以上のように、高温での動作保証検査をＰＤＰ点灯検査の最初に実施することによって、高精度に、低コストで実施することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
以上の発明によれば、ＰＤＰの高温での動作保証検査を高精度に行うことができ、ＰＤＰ検査方法として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の実施の形態のプラズマディスプレイパネルの要部を示す分解斜視図
【図２】同パネルの電極配列図
【図３】同パネルの各電極に印加する駆動波形の例を示す図
【図４】本発明の実施の形態におけるプロセスフロー図
【図５】温度と正常点灯に必要な走査電圧との相関関係を示す図
【符号の説明】
【００４３】
１０  プラズマディスプレイパネル
１１  放電セル
２１  前面基板
２２  走査電極
２３  維持電極
２４  誘電体層
２５  保護層
２６  表示電極対
３１  背面基板
３２  データ電極
３３  誘電体層
３４  隔壁
３５Ｒ、３５Ｇ、３５Ｂ  蛍光体層
【図１】
2010102915.tif 000003
【図２】
2010102915.tif 000004
【図３】
2010102915.tif 000005
【図４】
2010102915.tif 000006
【図５】
2010102915.tif 000007