(57)【要約】【課題】外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる磁気ディスク装置を提供すること。【解決手段】本発明の一態様に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスク装置１に加わる第１物理量を測定し、第１測定データを生成する第１測定回路と、第２物理量を測定し、第２測定データを生成する第２測定回路と、所定の間隔で周期的にタイミング信号を供給する時計回路３００と、第１測定データとこれが測定された時間とを対応付けて記憶し、第２測定データとこれが測定された時間とを対応付けて記憶する不揮発性メモリ２２０と、タイミング信号に応じて第１測定データ、第２測定データの取り込みタイミングを制御するコントロール回路２００とが基板上に集積された半導体集積回路２と、半導体集積回路２に電源を供給するバッテリ３とを備える。【選択図】図１
2010123216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク装置に加わる第１物理量を測定し、第１測定データを生成する第１測定回路と、
前記磁気ディスク装置に加わる第２物理量を測定し、第２測定データを生成する第２測定回路と、
時間を計時し、所定の間隔で周期的にタイミング信号を供給する時計回路と、
前記第１測定データと前記第１測定データが測定された時間とを対応付けて記憶し、前記第２測定データと前記第２測定データが測定された時間とを対応付けて記憶する記憶回路と、
前記タイミング信号に応じて前記第１測定データ又は前記第２測定データの取り込みタイミングを制御するコントロール回路と、
が基板上に集積された半導体集積回路と、
前記半導体集積回路に電源を供給するバッテリとを備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記コントロール回路は、前記タイミング信号が供給されたときに、前記第１測定データを前記記憶回路に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記コントロール回路は、前記タイミング信号が供給されなかったときに、前記第２物理量が所定の閾値以上であると判断した場合、前記第２測定データを前記記憶回路に記憶させることを特徴とする請求項１又は２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記測定回路は、温度センサ、湿度センサのうち少なくとも１つであることを特徴とする請求項１、２、又は３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記測定回路は、衝撃センサ、応力センサのうち少なくとも１つであることを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置に関し、特に環境（温度・湿度・衝撃等）の変化による物理量を測定する磁気ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の磁気ディスク装置には、温度や衝撃等を検出する機能を有するものがある（特許文献１〜３）。特許文献１には、電源がＯＮしている稼働時間と、稼働中の温度を測定してディスクの寿命を監視する磁気ディスク装置が記載されている。
【０００３】
また、特許文献２には、ディスク内部の温度を測定する温度センサやディスクに加わった衝撃を測定する衝撃センサを備える磁気ディスク装置が記載されている。特許文献３には、温度センサ、気圧センサ、加速度センサ等を備え、ディスク装置と不揮発性半導体メモリとの切り替えを環境条件に従って行う情報処理装置が記載されている。
【０００４】
磁気ディスク装置の不具合原因の追究を行うためには、磁気ディスク装置の電源のＯＮ／ＯＦＦに係わらず、磁気ディスク装置に加わる環境（温度・湿度・衝撃等）の変化を記録することが重要である。
【０００５】
しかしながら、従来の磁気ディスク装置は、ディスク装置に電源が供給されていない状態での環境変化を監視することはできない。特許文献１、２では、ディスク装置に電源のバックアップ機能がなく、電源が供給されていない状態での環境変化を記録することはできない。
【０００６】
また、特許文献３では、ディスク装置と半導体メモリの切替え時に、データの一貫性と処理の継続を保証する制御を行うことが目的である。従って、磁気ディスク装置の電源ＯＮ時の制御であり、ＯＦＦ時の環境条件の変化を記録することはできない。
【特許文献１】特開２００３−０６８００８号公報
【特許文献２】特開２００５−７１０６８号公報
【特許文献３】特開２００６−３３８６９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このように、従来、磁気ディスク装置において、特に電源がＯＦＦの時に磁気ディスク装置に加わる環境（温度・湿度・衝撃等）の変化が、磁気ディスク装置の品質にどのように影響しているか不明であった。
【０００８】
また、本発明者は、外部から電源の供給を受けなくても、環境の変化を測定・記録する機能を備えるディスクアレイ装置を発明した。しかし、１台のディスクアレイ装置に加わった環境の変化であっても、個々の磁気ディスク装置が搭載された場所によりそれぞれの磁気ディスク装置に加わる環境の変化は異なる。例えば、地震災害時に加わったディスクアレイ装置への衝撃は磁気ディスク装置ごとに違う。このため、個々の磁気ディスク装置への環境の変化を測定、記録できないという問題がある。
【０００９】
本発明は、このような事情を背景としてなされたものであり、本発明の目的は、外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる磁気ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一態様に係る磁気ディスク装置は、磁気ディスク装置に加わる第１物理量を測定し、第１測定データを生成する第１測定回路と、前記磁気ディスク装置に加わる第２物理量を測定し、第２測定データを生成する第２測定回路と、時間を計時し、所定の間隔で周期的にタイミング信号を供給する時計回路と、前記第１測定データと前記第１測定データが測定された時間とを対応付けて記憶し、前記第２測定データと前記第２測定データが測定された時間とを対応付けて記憶する記憶回路と、前記タイミング信号に応じて前記第１測定データ、前記第２測定データの取り込みタイミングを制御するコントロール回路とが基板上に集積された半導体集積回路と、前記半導体集積回路に電源を供給するバッテリとを備えるものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、外部から電源の供給を受けることなく、磁気ディスク装置ごとに環境の変化を測定、記録することができる磁気ディスク装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
本発明の実施の形態に係る磁気ディスク装置について、図１を参照して説明する。図１は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示す図である。図１に示すように、磁気ディスク装置１は、半導体集積回路２、バッテリ３を備えている。
【００１３】
半導体集積回路２は、磁気ディスク装置１に加わる環境（温度・湿度・衝撃等）の変化による物理量を検出・測定する。バッテリ３は、導体集積回路２の各部に電源を供給する。すなわち、半導体集積回路２は、外部から電源が供給されない場合でも、動作することができる。図１において、実線の矢印は信号伝送路を示しており、破線の矢印は電源供給路を示している。
【００１４】
ここで、半導体集積回路２について詳細に説明する。半導体集積回路２には、温度センサ１１０、温度測定回路１１１、湿度センサ１２０、湿度測定回路１２１、衝撃センサ１３０、衝撃測定回路１３１、コントロール回路２００、時計回路３００が設けられている。これらの回路は、１つのプリント基板上に集積されている。
【００１５】
温度センサ１１０は、磁気ディスク装置１が使用される環境の温度を検出する。温度センサ１１０で検出された温度信号１１０ａは、温度測定回路１１１に入力される。温度測定回路１１１は、温度信号１１０ａに基づいて環境温度を測定し、温度データ１１１ａを生成する。温度測定回路１１１は、コントロール回路２００からの温度データ取り込み信号２００ａに応じて、温度データ１１１ａをコントロール回路２００へ送出する。
【００１６】
湿度センサ１２０は、磁気ディスク装置１が使用される環境の湿度を検出する。湿度センサ１２０で検出された湿度振動１２０ａは、湿度測定回路１２１に入力される。湿度測定回路１２１は、湿度信号１２０ａに基づいて環境湿度を測定し、湿度データ１２１ａを生成する。湿度測定回路１２１は、コントロール回路２００からの湿度データ取り込み信号２００ｂに応じて、湿度データ１２１ａをコントロール回路２００に送出する。
【００１７】
衝撃センサ１３０は、磁気ディスク装置１に受ける衝撃を検出する。基準を超える衝撃があった場合、衝撃センサ１３０は衝撃信号１３０ａを衝撃測定回路１３１に入力する。衝撃測定回路１３１は、衝撃信号１３０ａに基づいて衝撃の大きさを測定し、衝撃データ１３１ａを生成し、コントロール回路２００に送出する。温度データ１１１ａ、湿度データ１２１ａ、衝撃データ１３１ａを測定データとする。
【００１８】
コントロール回路２００は、ＣＰＵ２１０、不揮発性メモリ２２０を含む。ＣＰＵ２１０は、測定データの記録処理を行う。時計回路３００は、時間を計時し、計時した時間を示す日時データ３００ａを生成して、コントロール回路２００に供給する。また、時計回路３００は、所定の間隔でタイミング信号を生成し、コントロール回路２００に供給する。ＣＰＵ２１０は、このタイミング信号に基づいて、温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂを生成する。
【００１９】
次に、図１に示す磁気ディスク装置１の動作について、図２を参照して説明する。図２は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置１の動作を説明するためのフローチャートである。図２に示すように、まず、温度測定回路１１１と湿度測定回路１２１に対して、温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂが入力されたか否かが判断される（ステップＳ１０）。温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂが入力された場合（ステップＳ１０ＹＥＳ）、温度測定回路１１１は温度を、湿度測定回路１２１は湿度をそれぞれ測定する（ステップＳ２０）。測定した温度データ１１１ａ、１２１ａは、コントロール回路２００の不揮発性メモリ２２０に、時計回路３００から入力される日時データ３００ａとともに記録される（ステップＳ３０）。
【００２０】
温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂが入力されていない場合（ステップＳ１０ＮＯ）、衝撃信号があるか否かが判断される（ステップＳ４０）。衝撃センサ１３０から基準値を超える衝撃信号１３０ａが入力された場合（ステップＳ４０ＹＥＳ）、衝撃データ１３１ａはコントロール回路２００の不揮発性メモリ２２０に日時データ３００ａとともに記憶される（ステップＳ５０）。
【００２１】
また、衝撃センサ１３０から基準値を超える衝撃信号１３０ａが入力されていない場合（ステップＳ４０ＮＯ）、磁気ディスク装置１もしくはその上位コントローラから環境データ取り込み信号２００ｄが入力されているか否かが判断される（ステップＳ６０）。コントロール回路２００は、環境データ取り込み信号２００ｄが入力された場合（ステップＳ６０ＹＥＳ）、不揮発性メモリに格納された環境データ２００ｃを送出する（ステップＳ７０）。本実施の形態においては、環境データ２００ｃには、温度データ、湿度データ、衝撃データ、日時データが含まれる。
【００２２】
ここで、本発明に係る磁気ディスク装置１の具体的な動作について、図３を参照して説明する。図３は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置１の具体的な動作を説明するためのタイミングチャートである。ここでは、タイミング信号が３０分間隔で生成されているものとし、温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂは、３０分間隔で生成されるものとする。
【００２３】
図３に示すように、Ｔ０〜Ｔ１において、３０分間隔の温度データ取り込み信号２００ａ、湿度データ取り込み信号２００ｂに応じて、コントロール回路２００は、温度測定回路１１１からの温度信号１１１ａ及び湿度測定回路１２１からの湿度信号１２１ａを不揮発性メモリ２２０に取り込む。
【００２４】
また、任意の時間Ｔ３及びＴ４で発生した衝撃センサ１３０の衝撃信号１３０ａは、衝撃基準を超えている。このため、衝撃測定回路１３１は、時間Ｔ３のときの衝撃信号１３０ａのピーク値Ｐ１、時間Ｔ４のときの衝撃信号１３０ａのピーク値Ｐ２を衝撃データ１３１ａとしてコントロール回路２００の不揮発性メモリ２２０に取り込む。
【００２５】
なお、時間Ｔ５に発生した衝撃信号１３０ａは、衝撃基準に達しない。このため、時間Ｔ５のときの衝撃信号１３０ａのピーク値Ｐ３は、衝撃データとして、不揮発性メモリ２２０に取り込まれることはない。
【００２６】
そして、時間Ｔ６で発生した環境データ取り込み信号２００ｄによりコントロール回路２００は記録していた不揮発性メモリ２２０に格納された環境データ２００ｃを送出する。
【００２７】
このように、本発明においては、磁気ディスク装置１の電源ＯＮ／ＯＦＦに係わらず、磁気ディスク装置１に加わる物理量（温度・湿度・衝撃等）（環境変化）を自動的に記録することができる。これにより、時間の経過とともに環境変化の履歴を残すことができる。例えば、磁気ディスク装置の流通過程や、ユーザ先稼働中もしくは停止中、あるいは地震災害時等、常に磁気ディスク装置に対する環境の変化を測定、記録することができる。このため、磁気ディスク装置１の不具合原因の追究が可能となり、品質の確保を容易に行うことができる。
【００２８】
また、本発明では、環境（温度・湿度・衝撃等）の変化を時間とともに自動的に記録する回路を１つのプリント基板上に集積している。このように小型化することにより、磁気ディスク装置１に搭載することが可能となる。
【００２９】
なお、本実施の形態においては、磁気ディスク装置１に加わる物理量を検出する手段の例として、温度センサ、湿度センサ、衝撃センサの３つのセンサを設けたが、これに限定されるものではない。例えば、気圧を測定する気圧センサや、振動センサ、加速度センサ等を設けることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】実施の形態に係る磁気ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】実施の形態に係る磁気ディスク装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】実施の形態に係る磁気ディスク装置の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００３１】
１  磁気ディスク装置
２  半導体集積回路
３  バッテリ
１１０  温度センサ
１１１  温度測定回路
１２０  湿度センサ
１２１  湿度測定回路
１３０  衝撃センサ
１３１  衝撃測定回路
２００  コントロール回路
２１０  ＣＰＵ
２２０  不揮発性メモリ
３００  時計回路
【図１】
2010123216.tif 000003
【図２】
2010123216.tif 000004
【図３】
2010123216.tif 000005