(57)【要約】【課題】蛍光像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。【解決手段】励起光を射出する励起光源２と、励起光源２からの励起光を標本Ａに照射する照明光学系３と、標本Ａから発せられた蛍光を検出する蛍光検出光学系４と、標本Ａを透過した励起光を検出する透過光検出光学系５と、励起光源２から射出される励起光の強度に基づいて透過光検出光学系５の感度を調節する制御装置６とを備える顕微鏡を採用する。【選択図】図１
2010102264.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
励起光を射出する励起光源と、
該励起光源からの励起光を標本に照射する照明光学系と、
前記標本から発せられた蛍光を検出する蛍光検出光学系と、
前記標本を透過した励起光を検出する透過光検出光学系と、
前記励起光源から射出される励起光の強度に基づいて前記透過光検出光学系の検出感度を調節する制御部とを備える顕微鏡。
【請求項２】
前記透過光検出光学系が、光電子増倍管を備え、
前記光電子増倍管に印加する電圧をＶ、前記光電子増倍管により検出される透過像の所望の明るさをＩ、前記励起光源から射出される励起光の強度をＰ、前記光電子増倍管の増倍係数をα、透過光検出感度係数をβとした場合に、
前記制御部が、（１）式に基づいて前記光電子増倍管に印加する電圧Ｖを制御する請求項１に記載の顕微鏡。
Ｖ＝（Ｉ／βＰ）１／α・・・（１）
【請求項３】
前記透過光検出光学系が、光電変換素子を備え、
前記光電変換素子の露光時間をτ、前記光電変換素子により検出される透過像の所望の明るさをＩ、前記励起光源から射出される励起光の強度をＰ、透過光検出感度係数をβとした場合に、
前記制御部が、（２）式に基づいて前記光電変換素子の露光時間τを制御する請求項１に記載の顕微鏡。
τ＝（Ｉ／βＰ）・・・（２）
【請求項４】
前記制御部は、前記照明光学系及び前記透過光検出光学系の透過率と、前記光電子増倍管または前記光電変換素子の感度特性とに基づいて、前記透過光検出感度係数を決定する請求項２または請求項３に記載の顕微鏡。
【請求項５】
前記制御部が、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率のテーブルを記憶する記憶部を備える請求項１から請求項４のいずれかに記載の顕微鏡。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光および透過光を用いて観察を行う顕微鏡に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、蛍光観察と微分干渉観察や位相差観察等の透過観察とを併用する方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。例えば、レーザ走査型顕微鏡（ＬＳＭ）では、蛍光観察用の検出器と透過観察用の検出器とを備え、１回のレーザ光の走査で蛍光と透過光の両方の画像を同時に取得することができる。
【特許文献１】特開平９−１３８３５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、ＬＳＭでの蛍光像の明るさは、レーザ光の強度や共焦点ピンホール、検出器の増倍率の設定によって変化し、標本によっても明るさが異なる。一般には、取得される画像を調整する作業が必要となるが、同一レーザ光源で蛍光像と透過像の両方を同時取得する場合には、蛍光像の明るさ調整をレーザ光の強度によって行うと、必然的に透過像の明るさも変わってしまう。したがって、蛍光像の明るさ調整に伴って、その都度透過用検出器の増倍率を変更して、透過像の明るさを調整しなければならず、画像の調整が煩雑になるという不都合がある。
【０００４】
本発明は上述した事情に鑑みてなされたものであって、蛍光画像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明は、励起光を射出する励起光源と、該励起光源からの励起光を標本に照射する照明光学系と、前記標本から発せられた蛍光を検出する蛍光検出光学系と、前記標本を透過した励起光を検出する透過光検出光学系と、前記励起光源から射出される励起光の強度に基づいて前記透過光検出光学系の感度を調節する制御部とを備える顕微鏡を採用する。
【０００６】
本発明によれば、励起光源から射出される励起光が照明光学系により標本に照射され、標本から発せられた蛍光が蛍光検出光学系により検出される一方、標本を透過した励起光が透過光検出光学系により検出される。ここで、蛍光検出光学系により検出される蛍光像の明るさ調整を行う場合には、励起光源から射出される励起光の強度が変更される。この場合において、制御部により、励起光源から射出される励起光の強度に基づいて透過光検出光学系の感度が調節される。
【０００７】
これにより、蛍光像の明るさ調整を行った場合にも、励起光源から射出される励起光の強度に応じて透過光検出光学系の感度が調節されるので、透過光検出光学系により検出される透過像の明るさの変動を防止することができる。
【０００８】
上記発明において、前記透過光検出光学系が、光電子増倍管を備え、前記光電子増倍管に印加する電圧をＶ、前記光電子増倍管により検出される透過像の所望の明るさをＩ、前記励起光源から射出される励起光の強度をＰ、前記光電子増倍管の増倍係数をα、前記光電子増倍管の感度係数をβとした場合に、前記制御部が、（１）式に基づいて前記光電子増倍管に印加する電圧Ｖを制御することとしてもよい。
Ｖ＝（Ｉ／βＰ）１／α・・・（１）
【０００９】
（１）式に基づいて光電子増倍管に印加する電圧を制御することで、光電子増倍管の感度を容易に調節することができ、光電子増倍管により検出される透過像の明るさの変動を効果的に防止することができる。
【００１０】
上記発明において、前記透過光検出光学系が、光電変換素子を備え、前記光電変換素子の露光時間をτ、前記光電変換素子により検出される透過像の所望の明るさをＩ、前記励起光源から射出される励起光の強度をＰ、前記光電変換素子の感度係数をβとした場合に、前記制御部が、（２）式に基づいて前記光電変換素子の露光時間τを制御することとしてもよい。
τ＝（Ｉ／βＰ）・・・（２）
【００１１】
（２）式に基づいて光電変換素子の露光時間を制御することで、光電変換素子の感度を容易に調節することができ、光電変換素子により検出される透過像の明るさの変動を効果的に防止することができる。
【００１２】
また、上記発明において、前記制御部は、前記照明光学系及び前記透過光検出光学系の透過率と、前記光電子増倍管または前記光電変換素子の感度特性とに基づいて、前記透過光検出感度係数を決定することとしてもよい。
【００１３】
上記発明において、前記制御部が、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率のテーブルを記憶する記憶部を備えることとしてもよい。
このようにすることで、挿入される光学素子が複数ある場合にも、制御部が、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率を記憶部から読み出して透過光検出光学系の感度係数を求めることができる。これにより、各光学素子に応じた透過光検出光学系の感度調節を容易に行うことができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、蛍光像の明るさ調整を行った場合にも透過像の明るさの変動を防止することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
〔第１の実施形態〕
本発明の第１の実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１について、図面を参照して以下に説明する。
本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１は、図１に示されるように、励起光を射出する励起光源２と、励起光源２からの励起光を標本Ａに照射する照明光学系３と、標本Ａから発せられた蛍光を検出する蛍光検出光学系４と、標本Ａを透過した励起光を検出する透過光検出光学系５と、各部を制御する制御装置６とを備えている。
【００１６】
励起光源２は、励起光として波長λ１のレーザ光を射出する第１のレーザ光源１１と、波長λ２のレーザ光を射出する第２のレーザ光源１２と、第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２から射出されたレーザ光を偏向するミラー２７，２８とを備えている。
【００１７】
照明光学系３は、標本Ａを載置するステージ１９と、励起光源２からのレーザ光を反射するダイクロイックミラー１３と、ダイクロイックミラー１３により反射されたレーザ光を標本Ａ上で２次元走査するスキャナ１４と、スキャナ１４により走査されたレーザ光をリレーするレンズ１５，１６と、レンズ１５，１６を透過したレーザ光を偏向するミラー１７と、ミラー１７により偏向されたレーザ光を標本Ａに照射する一方、標本Ａにおいて発生した蛍光を集光する対物レンズ等の対物系１８とを備えている。
【００１８】
ダイクロイックミラー１３は、対物系１８により集光されレンズ１５，１６およびスキャナ１４を通過した蛍光を透過させるようになっている。これにより、ダイクロイックミラー１３は、レーザ光の光路から標本Ａからの蛍光の光路を分岐するようになっている。
【００１９】
スキャナ１４は、例えばアルミコートされた一対のガルバノミラー（図示略）を有しており、これらガルバノミラーの角度を変化させることで、ラスタスキャン方式で駆動されるようになっている。これにより、励起光源２からのレーザ光を標本Ａ上において２次元的に走査させることができるようになっている。
【００２０】
蛍光検出光学系４は、標本Ａ上において発生しダイクロイックミラー１３を透過した蛍光を集光するレンズ２４と、標本Ａの焦点面において発生した蛍光のみを通過させるピンホール２５と、ピンホール２５を通過した蛍光を分光するダイクロックミラー２６と、ダイクロックミラー２６により分光された蛍光を検出する第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２とを備えている。
【００２１】
第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２は、例えば、光電子増倍管（ＰＭＴ：Photo Multiplier Tube）であり、ダイクロックミラー２６により分光された蛍光を光電変換し、得られた光強度信号を制御装置６に出力するようになっている。
【００２２】
透過光検出光学系５は、励起光源２により射出され標本Ａを透過したレーザ光を集光するコンデンサ２０と、コンデンサ２０により集光されたレーザ光（透過光）を検出する第３のＰＭＴ２３とを備えている。
第３のＰＭＴ２３は、例えば、光電子増倍管（ＰＭＴ：Photo Multiplier Tube）であり、コンデンサ２０により集光された透過光を光電変換し、得られた光強度信号を制御装置６に出力するようになっている。
【００２３】
制御装置６は、例えば、励起光源２により射出されるレーザ光の強度変更等の操作を行う入出力装置３８と、各部を制御する制御部３０とを備えている。
制御部３０は、第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２を制御するレーザー制御部３１と、第３のＰＭＴ２３を制御する透過像用ＰＭＴ制御部３２と、第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２を制御する蛍光像用ＰＭＴ制御部３３と、後述する各種演算を行う演算部３４と、演算部３４により用いられるパラメータを格納する記憶部３５とを備えている。
【００２４】
演算部３４は、励起光源２から射出されるレーザ光の強度に基づいて、第３のＰＭＴ２３の感度を調節するようになっている。
具体的には、演算部３４は、第３のＰＭＴ２３に印加する電圧Ｖを、以下の（１）式に基づいて算出する。
Ｖ＝（Ｉ／βＰ）１／α・・・（１）
ここで、Ｖは第３のＰＭＴ２３に印加する電圧、Ｉは第３のＰＭＴ２３により検出されるレーザ光を用いて生成される透過像の所望の明るさ、Ｐは励起光源２から射出されるレーザ光の強度、αは第３のＰＭＴ２３の増倍係数、βは透過光検出の感度係数を表している。
【００２５】
ここで、本実施形態のように、レーザ光を射出するレーザ光源が複数備えられ（第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２）、同時にこれらレーザ光源からレーザ光を射出する場合には、（１）式を以下の（１−１）式のように変形し、この（１−１）式に基づいて第３のＰＭＴ２３に印加する電圧Ｖを算出する。
【００２６】
【数１】
2010102264.tif 000003
【００２７】
（１−１）式において、Ｖは第３のＰＭＴ２３に印加する電圧、Ｉは第３のＰＭＴ２３により検出されるレーザ光を用いて生成される透過像の所望の明るさ、Ｐ（λ１）は第１のレーザ光源１１から射出されるレーザ光の強度、Ｐ（λ２）は第２のレーザ光源１２から射出されるレーザ光の強度、αは第３のＰＭＴ２３の増倍係数、β（λ１）は第１のレーザ光源１１の波長λ１に対応する透過光検出感度係数、β（λ２）は第２のレーザ光源１２の波長λ２に対応する透過光検出感度係数を表している。
透過光検出感度係数は、レーザ光源１１，１２からＰＭＴ２３までの光学系（照明光学系３、透過光検出光学系５、励起光源２内の光学系を含む）の透過率と、ＰＭＴ２３の感度特性に基づいて決定される。
【００２８】
上記のように構成された本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１の作用について以下に説明する。
まず、蛍光色素で染色された標本Ａをステージ１９にのせ、入出力装置３８を操作することにより、蛍光を励起するのに適切な第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２の出力を、それぞれＰ（λ１）およびＰ（λ２）として設定する。
また、同様に入出力装置３８を操作することにより、第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２の感度（電圧）を適当な値に設定するとともに、取得したい透過像の所望の明るさＩを入力する。
【００２９】
そして、第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２を作動して、レーザ光を射出させる。第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２からのレーザ光は、ミラー２７，２８およびダイクロイックミラー１３により反射されてスキャナ１４に導光される。スキャナ１４では、レーザ光を標本Ａ上において２次元的に走査させる。このように走査されたレーザ光は、レンズ１５，１６を透過してミラー１７により偏向され、対物系１８により標本Ａ上に照射される。
【００３０】
標本Ａ上の対物系１８の焦点面においては、標本Ａ内の蛍光物質が励起され、蛍光が発生する。発生した蛍光は、対物系１８により集光され、ミラー１７により偏向される。偏向された蛍光は、レンズ１５，１６およびスキャナ１４を通過してダイクロイックミラー１３を透過し、蛍光検出光学系４に導光される。導光された蛍光は、レンズ２４により集光され、標本Ａの焦点面において発生した蛍光のみがピンホール２５を通過する。ピンホール２５を通過した蛍光は、ダイクロックミラー２６により、第１のレーザ光源１１からのレーザ光による蛍光（蛍光像１）と第２のレーザ光源１２による蛍光（蛍光像２）とに分光され、それぞれ第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２により検出される。
【００３１】
このように第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２により検出された蛍光の強度情報とスキャナ１４によるレーザ光の照射位置とを対応づけて記憶することにより、２次元的な蛍光像１および蛍光像２を構築することが可能となる。
【００３２】
一方、対物系１８により標本Ａ上に照射され標本Ａを透過したレーザ光は、コンデンサ２０により集光され、第３のＰＭＴ２３により検出される。そして、第３のＰＭＴ２３により検出された透過光の強度情報とスキャナ１４によるレーザ光の照射位置とを対応づけて記憶することにより、２次元的な透過像を構築することが可能となる。
このように、蛍光像１、蛍光像２、および透過像は１回のスキャンで同時に取得されることとなる。
【００３３】
この際、取得される画像を見ながら、第１のレーザ光源１１および第２のレーザ光源１２の出力と、第１のＰＭＴ２１および第２のＰＭＴ２２の感度を変更することを繰り返して、蛍光像１および蛍光像２が適切な画像となるように調整を行う。
【００３４】
ここで、蛍光像１は、第１のレーザ光源１１の強度Ｐ（λ１）と第１のＰＭＴ２１の感度によって画像の明るさが決定される。同様に、蛍光像２は、第２のレーザ光源１２の強度Ｐ（λ２）と第２のＰＭＴ２２の感度によって画像の明るさ決定される。これに対して、透過像は第１のレーザ光源１１の強度Ｐ（λ１）と、第２のレーザ光源１２の強度Ｐ（λ１）と、照明光学系３および透過光検出光学系５の透過率T（λ１）、T（λ２）と、第３のＰＭＴ２３の感度によって決定される。
【００３５】
したがって、例えば蛍光像１の明るさを調整するために第１のレーザ光源１１の強度を変更すると、第３のＰＭＴ２３の受光する光量も変わってしまう。
そこで、演算部３４は、記憶部３５に記憶されているパラメータα、β（λ１）、β（λ２）と、入出力装置３８により入力されたレーザ光の強度の指示値Ｐ（λ１）、Ｐ（λ２）および透過像の所望の明るさＩとを読み出し、前述の（１−１）式によって必要な第３のＰＭＴ２３の感度を計算する。透過像用ＰＭＴ制御部３２は、計算された印加電圧（感度）Ｖを演算部３４から受け取り、第３のＰＭＴ２３の感度を変更する。
蛍光像２を調整するために第２のレーザ光源１２の強度を変更した場合にも、同様の処理が行われ、第３のＰＭＴ２３の感度が変更される。
【００３６】
以上のように、本実施形態に係るレーザ顕微鏡装置１によれば、蛍光像１および／または蛍光像２の明るさ調整を行った場合にも、励起光源２から射出されるレーザ光の強度に応じて第３のＰＭＴ２３の感度が調節されるので、第３のＰＭＴ２３により検出される透過光を用いて生成される透過像の明るさの変動を防止することができる。
また、前述の（１−１）式に基づいて第３のＰＭＴ２３に印加する電圧を制御することで、第３のＰＭＴ２３の感度を容易に調節することができる。
【００３７】
なお、記憶部３５に、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率のテーブルを格納しておくこととしてもよい。
このようにすることで、挿入される光学素子が複数ある場合にも、演算部３４が、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率を記憶部３４から読み出して透過光検出感度係数を求めることができる。これにより、各光学素子の使用状態に応じた第３のＰＭＴ２３の感度調節を容易に行うことができる。
【００３８】
〔第２の実施形態〕
次に、本発明の第２の実施形態に係る顕微鏡装置について図面を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡装置５０が第１の実施形態と異なる点は、蛍光および透過光を検出する手段としてＣＣＤ（光電変換素子）を備えた点である。以下、本実施形態の顕微鏡装置５０について、第１の実施形態と共通する点については説明を省略し、異なる点について主に説明する。
【００３９】
本実施形態に係る顕微鏡装置５０は、図２に示されるように、励起光を射出する励起光源４２と、励起光源４２からの励起光を標本Ａに照射する照明光学系４３と、標本Ａから発せられた蛍光を検出する蛍光検出光学系４４と、標本Ａを透過した励起光を検出する透過光検出光学系４５と、各部を制御する制御装置４６とを備えている。
【００４０】
励起光源４２は、光源５１と、光源５１からの光から標本Ａの励起に必要な励起光を抽出する励起フィルタ５２とを備えている。
照明光学系４３は、標本Ａを載置するステージ１９と、励起光源４２からの励起光を標本Ａに照射するコンデンサ２０とを備えている。
【００４１】
蛍光検出光学系４４および透過光検出光学系４５は、共通部分として、標本Ａを透過した蛍光および励起光を集光する対物系１８と、標本Ａを透過した蛍光および励起光を偏向するミラー１７と、レンズ５３と、標本Ａから発生した蛍光を透過させる一方で標本Ａを透過した励起光を反射するダイクロイックミラー１３とを備えている。
【００４２】
透過光検出光学系４５は、標本Ａを透過し、ダイクロイックミラー１３により反射された励起光を検出する第１のＣＣＤ６１を備えている。
蛍光検出光学系４４は、標本Ａにおいて発生した蛍光のみを透過させるバリアフィルタ５４と、バリアフィルタ５４を透過した蛍光を検出する第２のＣＣＤ６２とを備えている。
第１のＣＣＤ６１および第２のＣＣＤ６２は、検出した励起光および蛍光を光電変換し、得られた光強度信号を制御装置４６に出力するようになっている。
【００４３】
制御装置４６は、入出力装置７８と、各部を制御する制御部７０とを備えている。
制御部７０は、励起フィルタ５２およびバリアフィルタ５４の透過率を制御するフィルタ制御部７１と、光源５１を制御する光源制御部７２と、第１のＣＣＤ６１を制御する透過像用ＣＣＤ制御部７３と、第２のＣＣＤ６２を制御する蛍光像用ＣＣＤ制御部７４と、後述する各種演算を行う演算部７５と、演算部７５により用いられるパラメータを格納する記憶部７６とを備えている。
【００４４】
演算部７５は、光源５１から射出される光の強度に基づいて、第１のＣＣＤ６１の感度を調節するようになっている。
具体的には、演算部７５は、第１のＣＣＤ６１の露光時間τを、以下の（２）式に基づいて算出する。
τ＝（Ｉ／βＰ）・・・（２）
ここで、τは第１のＣＣＤ６１の露光時間、Ｉは第１のＣＣＤ６１により検出される透過像の所望の明るさ、Ｐは光源５１から射出される光の強度、βは透過光検出感度係数を表している。
【００４５】
上記のように構成された本実施形態に係る顕微鏡装置５０の作用について以下に説明する。
まず、蛍光色素で染色された標本Ａをステージ１９にのせ、入出力装置７８を操作することにより、蛍光を励起および透過させるために適切な励起フィルタ５２およびバリアフィルタ５４の透過率を設定する。
また、同様に入出力装置７８を操作することにより、光源５１の出力を適当な値に設定するとともに、第２のＣＣＤ６２の露光時間を適当な値に設定する。また、取得したい透過像の所望の明るさＩを入力する。
【００４６】
そして、光源５１を作動して光を射出させる。光源５１からの光は、励起フィルタ５２を透過してコンデンサ２０により標本Ａ上に照射される。
標本Ａ上において発生した蛍光および標本Ａを透過した励起光は、対物系１８により集光され、ミラー１７およびレンズ５３を経てダイクロイックミラー１３により分光される。
【００４７】
ダイクロイックミラー１３により反射された励起光は、第１のＣＣＤ６１により検出され、透過像が生成される。一方、ダイクロイックミラー１３を透過した蛍光は、第２のＣＣＤ６２により検出され、蛍光像が生成される。
【００４８】
この際、取得される画像を見ながら、光源５１の出力と、第２のＣＣＤ６２の露光時間のそれぞれを変更することを繰り返して、蛍光像が適切な画像となるように調整を行う。
ここで、蛍光像、透過像ともに、光源５１の出力と各ＣＣＤの露光時間によって画像の明るさが決定される。したがって、蛍光像を調整するために光源５１の強度を変更すると、第２のＣＣＤ６２の受光する光量も変わってしまう。
【００４９】
そこで、演算部７５は、記憶部７６に記憶されている透過光検出感度係数βと、入出力装置７８により入力された光源５１から射出される光の強度Ｐおよび透過像の所望の明るさＩとを読み出し、前述の（２）式によって必要な第１のＣＣＤ６１の露光時間を計算する。透過像用ＣＣＤ制御部７３は、計算された露光時間τを演算部７５から受け取り、第１のＣＣＤ６１の露光時間を変更する。
【００５０】
以上のように、本実施形態に係る顕微鏡装置５０によれば、蛍光像の明るさ調整を行った場合にも、光源５１から射出される光の強度に応じて第１のＣＣＤ６１の露光時間が調節されるので、第１のＣＣＤ６１により生成される透過像の明るさの変動を防止することができる。
また、（２）式に基づいて第１のＣＣＤ６１の露光時間を制御することで、第１のＣＣＤ６１により生成される透過像の明るさを容易に調節することができる。
【００５１】
なお、記憶部７６に、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率のテーブルを格納しておくこととしてもよい。
このようにすることで、挿入される光学素子が複数ある場合にも、演算部７５が、挿入される光学素子毎に対応付けられた透過率を記憶部７６から読み出して透過光検出感度係数を求めることができる。これにより、各光学素子に応じた第１のＣＣＤ６１の露光時間の調節を容易に行うことができる。
【００５２】
以上、本発明の各実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
例えば、各実施形態において、蛍光標本はほとんど透明であることが多いため、標本Ａの透過率を考慮しないこととして説明したが、標本Ａの透過率が問題になる場合には、所望の明るさＩを高めに設定すればよい。
励起光強度Pは、入力部から入力された強度指示値を用いても良いし、励起光の強度を実測する手段を設けて、そこからの測定値を用いても良い。また、透過光検出においては、微分干渉検鏡法や位相差検鏡法を使用できる。この場合、透過光検出感度係数βは、各検鏡法で使用される光学素子の透過率も反映されたものとする。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るレーザ顕微鏡装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施形態に係る顕微鏡装置の全体構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００５４】
Ａ  標本
１  レーザ顕微鏡装置
２，４２  励起光源
３，４３  照明光学系
４，４４  蛍光検出光学系
５，４５  透過光検出光学系
６，４６  制御装置
１１  第１のレーザ光源
１２  第２のレーザ光源
１３  ダイクロイックミラー
１８  対物系
１９  ステージ
２０  コンデンサ
２１  第１のＰＭＴ
２２  第２のＰＭＴ
２３  第３のＰＭＴ
３０，７０  制御部
３４，７５  演算部
３５，７６  記憶部
３８，７８  入出力装置
５０  顕微鏡装置
６１  第１のＣＣＤ
６２  第２のＣＣＤ
【図１】
2010102264.tif 000004
【図２】
2010102264.tif 000005