(57)【要約】【課題】フォーカスバイアス調整及び収差調整を良好に行うことができるとともに、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も低減できる記録再生装置を提供する。【解決手段】システムコントローラ５は、フォーカスバイアス値をプラスマイナスに変化させ、その際得られる再生信号の品質を数値化した評価値をもとに新たなフォーカスバイアス値を第１の周期毎に計算する。またシステムコントローラ５は、フォーカスバイアス調整と並行して、収差補正値をプラスマイナスに変化させ、前記評価値をもとに新たな収差設定値を第１の周期の長さよりも長い第２の周期毎に計算する。【選択図】図２３
2010244669.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発射する光源と、
前記光源から発射された前記レーザ光を光ディスクのデータ記録面に集光させる対物レンズの位置をフォーカスバイアス値をもとに得られるフォーカスバイアス設定値に基づいて補正する第１の補正手段と、
前記レーザ光の収差を収差補正値をもとに得られる収差補正設定値に基づいて補正する第２の補正手段と、
再生信号の品質を数値化した評価値を生成する評価値生成手段と、
前記フォーカスバイアス値をプラスマイナスに変化させ、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たなフォーカスバイアス値を第１の周期毎に計算するフォーカスバイアス調整手段と、
前記第１の補正手段に設定されるフォーカスバイアス値の更新と並行して、前記収差補正値をプラスマイナスに変化させ、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たな収差補正値を、前記第１の周期の長さ以上の第２の周期毎に計算する収差調整を行う収差調整手段と
を具備する記録再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記フォーカスバイアス調整手段は、前記第１の補正手段に設定されたフォーカスバイアス値をプラスに変化させた第１の区間の第１の評価値と、前記第１の区間直後の当該フォーカスバイアス値をマイナスに変化させた第２の区間の第２の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第１の補正手段に設定されたフォーカスバイアス値を用いて前記新たなフォーカスバイアス値を計算し、
前記収差調整手段は、前記第２の補正手段に設定された収差補正値をプラスに変化させた第３の区間の第３の評価値と、前記第３の区間直後の前記収差補正値をマイナスに変化させた第４の区間の第４の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第２の補正手段に設定された収差補正値とを用いて前記新たな収差補正値を計算する
記録再生装置。
【請求項３】
請求項２に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、シークのタイミングで前記収差補正値をプラスマイナスに変化させる
記録再生装置。
【請求項４】
請求項３に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、前記収差補正値をプラスからマイナスに変化させたときのシークによるディスク半径方向の移動量がある値以下である場合に前記収差調整を行う
記録再生装置。
【請求項５】
請求項４に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、立ち上げ時から第１の時間内は前記シークのタイミングで前記収差補正値をプラスマイナスに変化させ、前記第１の時間が経過後は、前記収差補正値をプラスマイナスに変化させる平均周期が一定時間以上になるように制限される
記録再生装置。
【請求項６】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、立ち上げ時から所定の時間が経過するまでの間、前記収差調整を行う
記録再生装置。
【請求項７】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段にて前記収差補正値をプラスマイナスに変化させる平均周期が一定時間以上に制限される
記録再生装置。
【請求項８】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値に応じて前記収差調整の実行のオン／オフを決定する
記録再生装置。
【請求項９】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
温度を検出する温度検出手段をさらに具備し、
前記収差調整手段は、前記検出された温度の変化を監視し、この温度変化の度合いに応じて前記収差調整の実行のオン／オフを決定する
記録再生装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、前記第３の評価値と前記第４の評価値との差分に応じて、前記収差調整の周期を可変させる
記録再生装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記フォーカスバイアス調整手段及び前記収差調整手段の少なくとも１つの手段は、計算結果から前記光ディスクの記録面のディフェクト成分を除去するための周波数フィルタリングを行う
記録再生装置。
【請求項１２】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記光ディスクが複数の記録層を有する場合、前記収差調整手段は、前記収差補正値をプラスからマイナスに変化させたときのシークが同一の前記記録層内でのシークである場合に限り前記収差調整を行う
記録再生装置。
【請求項１３】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記評価値生成手段は、再生ＲＦ信号のジッタ値、再生ＲＦ信号の振幅値、ウォブル信号の振幅値、及びＤＭｊのうち、少なくとも１つを用いて前記評価値を生成する
記録再生装置。
【請求項１４】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
当該記録再生装置の立ち上げ時にフォーカスバイアス設定値として設定する値をフォーカスバイアス初期値とし、当該記録再生装置の立ち上げ時に収差補正設定値として設定する値を収差調整初期値とし、前記光ディスクに設けられた複数の記録層それぞれについての前記フォーカスバイアス初期値および収差調整初期値を記憶する記憶部と、
前記光ディスクが複数の記録層を有する場合、当該記録再生装置の立ち上げ時に前記記録層毎のフォーカスバイアス初期値および収差調整初期値を求めて前記記憶部に記録する初期値調整手段とをさらに具備し、
前記第１の補正手段は、立ち上げ以後に前記記録層間のリード位置の移動が発生した場合に、前記フォーカスバイアス調整手段によって前記移動前に最後に求められたフォーカスバイアス値と、前記記憶部に記憶された前記移動先の記録層の前記フォーカスバイアス初期値との和を前記フォーカスバイアス設定値として設定し、
前記第２の補正手段は、立ち上げ以後に前記記録層間のリード位置の移動が発生した場合に、前記収差調整手段によって前記移動前に最後に求められた収差補正値と、前記記憶部に記憶された前記移動先の前記収差調整初期値との和を前記収差補正設定値として設定する
記録再生装置。
【請求項１５】
光源から発射されたレーザ光を光ディスクのデータ記録面に集光させる対物レンズの位置をフォーカスバイアス値をもとに得られるフォーカスバイアス設定値に基づいて補正する第１の補正部と、前記レーザ光の収差を収差補正値をもとに得られる収差補正設定値に基づいて補正する第２の補正部とを具備する記録再生装置のフォーカスバイアス及び収差調整方法であって、
再生信号の品質を数値化した評価値を生成し、
前記フォーカスバイアス値をプラスマイナスに変化させ、前記生成された評価値をもとに新たなフォーカスバイアス値を第１の周期毎に計算し、
前記第１の補正部に設定される前記フォーカスバイアス値の更新と並行して、前記収差補正値をプラスマイナスに変化させ、前記生成された評価値をもとに新たな収差補正値を、前記第１の周期の長さ以上の第２の周期毎に計算する
記録再生装置のフォーカスバイアス及び収差調整方法。
【請求項１６】
請求項１に記載の記録再生装置であって、
前記光ディスクのラジアル方向のチルト調整をチルト調整値に基づいて補正する第３の補正手段と、
前記第２の補正手段に設定される収差補正値の更新と並行して、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たなチルト調整値を、前記第２の周期の長さ以上の第３の周期毎に計算するチルト調整を行うチルト調整手段とを
さらに具備する記録再生装置。
【請求項１７】
請求項１６に記載の記録再生装置であって、
前記チルト調整手段は、前記第３の補正手段に設定されたチルト調整値をプラスに変化させた第５の区間の第５の評価値と、前記第５の区間直後の当該チルト調整値をマイナスに変化させた第６の区間の第６の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第３の補正手段に設定されたチルト調整値を用いて前記新たなチルト調整値を計算する
記録再生装置。
【請求項１８】
請求項１７に記載の記録再生装置であって、
前記チルト調整手段は、前記収差調整手段により１以上の所定回数の収差調整計算が終了した後の最初のシークのタイミングで、前記チルト調整値をプラスマイナスに変化させる
記録再生装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の記録再生装置であって、
前記チルト調整手段は、前記シークによるディスク半径方向の移動量がある値以下である場合に前記チルト調整を行う
記録再生装置。
【請求項２０】
請求項１７に記載の記録再生装置であって、
前記収差調整手段は、前記第２の補正手段に設定された収差補正値をプラスに変化させた第３の区間の第３の評価値と、前記第３の区間直後の前記収差補正値をマイナスに変化させた第４の区間の第４の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第２の補正手段に設定された収差補正値とを用いて前記新たな収差補正値を計算し、前記収差補正値をプラスに変化させる前記第３の区間と前記収差補正値をマイナスに変化させる前記第４の区間の順番を交互に切り替える
記録再生装置。
【請求項２１】
請求項２０に記載の記録再生装置であって、
前記チルト調整手段は、前記チルト調整値をプラスに変化させる前記第５の区間と前記チルト調整値をマイナスに変化させる前記第６の区間の順番を交互に切り替える
記録再生装置。
【請求項２２】
請求項１７に記載の記録再生装置であって、
温度を検出する温度検出手段をさらに具備し、
前記チルト調整手段は、前記検出された温度に応じて前記チルト調整値に対するプラスおよびマイナスの変位量を補正する
記録再生装置。    
【請求項２３】
請求項１７に記載の記録再生装置であって、
温度を検出する温度検出手段と、
前記チルト調整手段による前記チルト調整時の前記温度の情報を前記温度検出手段より取得し記憶する温度情報記憶部とをさらに具備し、
前記チルト調整手段は、新たなチルト調整を行う時、前記温度情報記憶部に記憶された前記温度と現在の温度との変動分を加味してチルト調整値を計算する
記録再生装置。
【請求項２４】
請求項２３に記載の記録再生装置であって、
前記温度情報記憶部は、前記光ディスクの半径上の位置によって分割されたエリア毎に、前記温度の情報を記憶し、
前記チルト調整手段は、新たなチルト調整を行う時、前記光ディスクの半径上の現在の位置が属する前記エリアに対応する温度の情報を前記温度情報記憶部から読み出して現在の温度との変動分を加味したチルト調整値の計算を行う
記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクを記録媒体として用いた記録再生装置に係り、特にフォーカスバイアス調整及び収差補正を行うことの可能な記録再生装置、その調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクを記録媒体として用いた記録再生装置は、データ記録時やデータ再生時に光ディスクのデータ記録面にレーザ光を照射しているとき、そのデータ記録面にレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すフォーカスエラー信号を生成している。記録再生装置は、そのフォーカスエラー信号に基づき、光ピックアップの対物レンズをレーザ光の光軸に沿ってデータ記録面に近づける方向及びこれとは逆の方向へ適宜移動させることによって、光ディスクのデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにしている。
【０００３】
記録再生装置では、光ピックアップの組立精度（例えば、光学部品の配置位置の調整誤差）や当該光ピックアップを構成する各種部品の成形精度等に起因して、フォーカスエラー信号に誤差が生じている場合がある。このため記録再生装置は、例えば立ち上げ時、対物レンズの位置を補正するためのレンズ位置補正信号（以下「フォーカスバイアス」と呼ぶ）の値（一定値）を設定する。そして記録再生装置は、データ記録時及びデータ再生時には、そのフォーカスバイアスをフォーカスエラー信号に加算し、その加算結果に基づいて対物レンズの位置を調整している。これにより記録再生装置は、フォーカスエラー信号に誤差が生じていても、フォーカスバイアスにより当該フォーカスエラー信号の誤差を相殺するようにして対物レンズの位置を補正し、かくして光ディスクのデータ記録面にレーザ光の焦点を合せていた。
【０００４】
また、高密度ディスクの場合、カバー層の厚み誤差や、多層構造の記録層に対応するためには球面収差補正を行うことが必要とされている。特にブルーレイディスクのような高ＮＡのレンズを備える記録再生装置においては、フォーカスバイアス／球面収差のマージンが狭いため、フォーカスバイアスの調整と併せて球面収差の調整を行うことが必須とされる。
【０００５】
フォーカスバイアス調整及び球面収差調整に関する公知の技術には、立ち上げ時にフォーカスバイアス調整と球面収差調整を行う方法（例えば、特許文献１、２参照）、データリード中にフォーカスバイアス及び収差補正の感度学習を行い、多次元探索を行うことでフォーカスバイアスと収差を調整する方法（例えば、特許文献３参照）などがある。
【０００６】
さらに、記録再生装置では、光ピックアップより出力される光の光軸がディスクの信号記録面に対して垂直に対向させる必要がある。そのために光ピックアップより出力される光の光軸とディスクの信号記録面との関係を調整するチルト調整が必要となる。チルト調整に関する公知の技術には、立ち上げ時にフォーカスバイアス及び球面収差とともにチルト調整を行う方法、データリード中にフォーカスバイアスおよび収差とともにチルトを調整する方法（例えば、特許文献３参照）などがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−９５１０６公報
【特許文献２】特開２００４−２４１０８１公報
【特許文献３】特開２００２−３４２９５２公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
光ディスクを再生する装置では、立ち上げ後から各種回路ブロックやスピンドルモータなどの動作により熱を発し内部温度が時々刻々と上昇する。内部温度が上昇すると、その熱により光ピックアップのベース部材が伸びて変形し、光ピックアップにおいてベース部材に保持しているレンズやレーザダイオード等の光学部品間の距離が変化する場合がある。これにより、フォーカススエラー信号に生じる誤差が変化してフォーカスバイアスの最適な値が変化し、さらには収差発生量が変化して収差補正の最適な値も変化する。特に、光ピックアップの光学系にプラスティックレンズを用いた場合、ガラスレンズを用いた場合に比べて温度変化による球面収差発生量が大きくなる。
【０００９】
したがって、特許文献１、２などに示されるように、立ち上げ時にのみフォーカスバイアス調整と球面収差調整を行う方法では、立ち上げ後の内部温度の変化に追従した、フォーカスバイアス調整及び収差調整が行われない。
【００１０】
また、立ち上げ時にチルト調整を行う方法では、チルト調整にかかる時間だけ立ち上げ時間が余分にかかる。すなわち、ディスク半径方向全域でのチルト変動を吸収するためには、立ち上げ時にディスク半径方向の複数の位置でチルト調整を実行し、その結果からディスク半径方向全域でのチルト設定値を内挿法により算出することが行われる。このためチルト調整に比較的長い時間を要する。また、対物レンズに安価なプラスティックレンズを使用した場合、レンズチルト変動に対するコマ収差発生感度（レンズチルト感度）が変動することがある。この場合、温度によってレンズチルト感度変動分を補正して立ち上げ時の調整結果を用いる方法が考えられるが、温度に対するレンズチルト感度変動量自体に個体差がある場合、調整が不十分になる可能性がある。
【００１１】
また、特許文献３に示される、データリード中にフォーカスバイアス調整、収差補正、チルト補正の感度学習を行い、多次元探索を行うことで、フォーカスバイアス、収差、チルトを調整する方法では、調整精度を上げるために感度学習時の調整値ふり幅を大きくする必要がある。しかし、ふり幅を大きくすると、リード性能が悪化してしまう場合がある。
【００１２】
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、フォーカスバイアス調整及び収差調整を良好に行うことができるとともに、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も低減することのできる記録再生装置、及びその調整方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
かかる課題を解決するため本発明の記録再生装置は、レーザ光を発射する光源と、前記光源から発射された前記レーザ光を光ディスクのデータ記録面に集光させる対物レンズの位置をフォーカスバイアス値をもとに得られるフォーカスバイアス設定値に基づいて補正する第１の補正手段と、前記レーザ光の収差を収差補正値をもとに得られる収差補正設定値に基づいて補正する第２の補正手段と、再生信号の品質を数値化した評価値を生成する評価値生成手段と、前記フォーカスバイアス値をプラスマイナスに変化させ、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たなフォーカスバイアス値を第１の周期毎に計算するフォーカスバイアス調整手段と、前記第１の補正手段に設定されるフォーカスバイアス値の更新と並行して、前記収差補正値をプラスマイナスに変化させ、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たな収差補正値を、前記第１の周期の長さ以上の第２の周期毎に計算する収差調整を行う収差調整手段とを具備して構成される。
【００１４】
本発明においては、立ち上げ以後にフォーカスバイアス調整及び収差調整を行うことで、立ち上げ後の内部温度の変化に追従して、フォーカスバイアス値及び収差補正値としてより最適な値が得られ、フォーカスバイアス調整及び収差調整を良好に行うことができる。
【００１５】
また、本発明の記録再生装置において、前記フォーカスバイアス調整手段は、前記第１の補正手段に設定されたフォーカスバイアス値をプラスに変化させた第１の区間の第１の評価値と、前記第１の区間直後の当該フォーカスバイアス値をマイナスに変化させた第２の区間の第２の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第１の補正手段に設定されたフォーカスバイアス値を用いて前記新たなフォーカスバイアス値を計算し、前記収差調整手段は、前記第２の補正手段に設定された収差補正値をプラスに変化させた第３の区間の第３の評価値と、前記第３の区間直後の前記収差補正値をマイナスに変化させた第４の区間の第４の評価値との差分を求め、今回求めた差分値と、前回求めた差分値と、前記第２の補正手段に設定された収差補正値とを用いて前記新たな収差補正値を計算する。
【００１６】
本発明によれば、フォーカスバイアス調整及び収差調整のそれぞれの計算に評価値の積分効果を持たせて、ジッタ値の測定誤差の影響を極力低減しているため、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も小さくできる。
【００１７】
さらに、本発明の記録再生装置は、前記光ディスクのラジアル方向のチルト調整をチルト調整値に基づいて補正する第３の補正手段と、前記第２の補正手段に設定される収差補正値の更新と並行して、前記評価値生成手段にて生成された前記評価値をもとに新たなチルト調整値を、前記第２の周期の長さ以上の第３の周期毎に計算するチルト調整を行うチルト調整手段とをさらに具備するものとしてもよい。
【００１８】
本発明によれば、立ち上げ後にフォーカスバイアス調整および収差調整を行いながら、リアルタイムチルト調整を良好に行うことができる。加えて、リアルタイムチルト調整の計算に評価値の積分効果を持たせて、ジッタ値の測定誤差の影響を極力低減しているため、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も小さくできる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、フォーカスバイアス調整及び収差調整を良好に行うことができるとともに、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る再生装置のハードウェアに関するブロックである。
【図２】図１の光ピックアップの構成を示すブロック図である。
【図３】図１のサーボ回路の構成を示すブロック図である。
【図４】図１のリーダ回路の構成を示す図である。
【図５】リード中での収差調整のフローチャートである。
【図６】リード中のフォーカスバイアス調整のフローチャート
【図７】フォーカスバイアス調整の説明図である。
【図８】リード中の収差調整の説明図である。
【図９】評価値としてジッタ値を採用した場合のフォーカスバイアス調整と評価値との関係を示す図である。
【図１０】評価値としてジッタ値を採用した場合の収差調整と評価値との関係を示す図である。
【図１１】シーク前後のディスク半径方向の距離を説明する図である。
【図１２】長距離シーク時の収差調整処理の説明図である。
【図１３】フォーカスバイアス調整中の収差補正値の変更を説明する図である。
【図１４】フォーカスバイアス調整が収差調整精度に与える影響を説明する図である。
【図１５】収差補正値駆動の平均周期の設定を説明する図である。
【図１６】本発明の第２の実施形態に係る再生装置のハードウェアに関するブロックである。
【図１７】図１６の光ピックアップの構成を示す図である。
【図１８】図１６のサーボ回路の構成を示す図である。
【図１９】光ディスクの半径位置によって分割されたエリアとエリア毎のチルトエリア調整値およびチルトエリア調整値更新時温度との関係を示す図である。
【図２０】リアルタイムチルト調整時のチルトエリア調整値の更新の様子を示す図である。
【図２１】リアルタイムチルト調整のフローチャートである。
【図２２】図２１に対する変形例としてのリアルタイムチルト調整のフローチャートである。
【図２３】リード中のチルト調整、収差調整、フォーカスバイアス調整の関係を示す図である。
【図２４】評価値としてジッタ値を採用した場合の評価用チルト調整値と評価値との関係を示す図である。
【図２５】収差補正値に対する評価用収差補正値のプラスとマイナスの切り替えの変形例を示す図である。
【図２６】チルト調整値に対する評価用チルト調整値のプラスとマイナスの切り替えの変形例を示す図である。
【図２７】チルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その１のフローチャートである。
【図２８】チルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その２のフローチャートである。
【図２９】リアルタイムチルト調整時のチルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の更新のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態を説明する。
【００２２】
＜第１の実施の形態＞
図１は本発明の第１の実施形態に係る再生装置のハードウェアに関するブロックである。
【００２３】
［全体の構成］
同図において、この再生装置１は、内部に光ディスク２を装填し得るようになされている。そして再生装置１には、内部に装填された光ディスク２のデータ記録面と対向するように光ピックアップ３が設けられている。また光ピックアップ３は、スレッド機構部４により光ディスク２の半径方向（以下「ディスク半径方向」と呼ぶ）へ移動可能に保持されている。
【００２４】
再生装置１においてデータの再生に用いられる光ディスク２は、データ記録面に例えば予め一定の線速度で一定の周波数となるようにウォブリング（すなわち、蛇行）されたグルーブ（すなわち、案内溝）が形成され、そのグルーブ（及びグルーブ間のランド）がデータの記録されたトラックになる。また光ディスク２は、グルーブのウォブリングに対しＡＤＩＰ（Address In Pre Groove ）と呼ばれるデータ記録面内のアドレス情報（以下「ディスクアドレス情報」と呼ぶ）が埋め込まれている。さらに、光ディスク２は複数の記録層（レイヤー）を有している。
【００２５】
かかる再生装置１において例えばマイクロコンピュータでなるシステムコントローラ５は、外部のＡＶ（Audio Visual）システムＡＶＳ１から与えられる読出命令（すなわち、リードコマンド）等の各種命令に応じて装置全体を統括制御すると共に、各種処理を実行する。これによりシステムコントローラ５は、再生装置１に光ディスク２が装填された状態で電源オン命令が入力され起動したときや、起動完了後の動作可能な状態（すなわち、電源オン状態）で再生装置１に対し光ディスク２が装填（又は、交換）されると、立ち上げモードとなる。
【００２６】
この際、サーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、スレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３を光ディスク２の例えば最内周と対向する位置まで移動させる。またスピンドル駆動回路７は、システムコントローラ５の制御のもと、スピンドルモータ８を駆動することにより光ディスク２を一定速度で回転させる。さらにレーザドライバ９は、光ディスク２が回転すると、システムコントローラ５の制御のもと、レーザ光を連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００２７】
光ピックアップ３は、レーザドライバ９からレーザ制御信号が与えられると、そのレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を例えば複数の受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、これら複数の受光素子によりそれぞれ受光した反射光の光量に応じた電流値の信号（以下「光電信号」と呼ぶ）を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００２８】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の受光素子によって生成された光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すフォーカスエラー信号を生成する。
【００２９】
またマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面のトラックに対しレーザ光の照射位置がどの程度合っているかを示すトラッキングエラー信号を生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出する。
【００３０】
ところでサーボ回路６は、このときシステムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるような対物レンズの所望位置を探索するためのフォーカス探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてフォーカス探索信号により対物レンズを光軸に沿って、例えば光ディスク２のデータ記録面に徐々に近づけるように移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づき、当該データ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにフォーカス引込動作を行う。
【００３１】
そしてサーボ回路６は、このようなフォーカス引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づきフォーカス制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカス制御信号により光ピックアップ３において対物レンズを光軸に沿って光ディスク２のデータ記録面に接近させる方向（以下「接近方向」と呼ぶ）及びこれとは逆のデータ記録面から離間させる方向（以下、「離間方向」と呼ぶ）へ適宜移動させて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにする。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にフォーカスサーボループを形成し、かくして光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点を追従させる。
【００３２】
またサーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面においてトラックにレーザ光の照射位置を合せるためのトラック探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてトラック探索信号により例えば対物レンズをディスク半径方向へ徐々に移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づき、当該データ記録面のトラックにレーザ光の照射位置を合せるようにレーザ光のトラック引込動作を行う。
【００３３】
そしてサーボ回路６は、このようなレーザ光のトラック引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、トラッキング制御信号により光ピックアップ３において対物レンズをディスク半径方向に適宜移動させて光ディスク２のトラックにレーザ光を照射させる。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にトラッキングサーボループも形成し、かくして光ディスク２のトラックに対しレーザ光の照射位置を追従させる。
【００３４】
さらにマトリクス回路１０は、フォーカス引込動作及びトラック引込動作が完了すると、光ピックアップ３から与えられる複数の光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号と共に、光ディスク２に形成されたグルーブのウォブリングの振幅（以下「ウォブル振幅」と呼ぶ）を示すウォブル信号も生成する。
【００３５】
マトリクス回路１０は、生成したウォブル信号を復調して、ディスクアドレス情報を検出するためのストリームデータを生成し、これをアドレス生成回路１２に送出する。そしてアドレス生成回路１２は、そのストリームデータをデコード処理し、その結果得られたディスクアドレス情報をシステムコントローラ５に送出する。
【００３６】
これによりシステムコントローラ５は、アドレス生成回路１２から与えられるディスクアドレス情報に従い、光ディスク２のデータ記録面においてレーザ光の照射位置を検出することができる。ところでシステムコントローラ５は、例えば、光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し得る状態となり、引き続きＡＶシステムＡＶＳ１から読出命令が与えられると、立ち上げモードから再生モードへ移行する。
【００３７】
この際、システムコントローラ５は、ＡＶシステムＡＶＳ１によりデータの読出開始位置を示すアドレス情報が指定されると、このときアドレス生成回路１２から与えられたディスクアドレス情報（すなわち、その時点における光ディスク２のデータ記録面へのレーザ光の照射位置）を当該読出開始位置を示すアドレス情報と比較するようにして、適宜シーク指示信号を生成する。そしてシステムコントローラ５は、かかるシーク指示信号をサーボ回路６に送出する。
【００３８】
サーボ回路６は、システムコントローラ５からシーク指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを一時的に解除する。そしてサーボ回路６は、シーク指示信号に基づきシーク制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、シーク制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ複数のトラックを飛び越すようにシークさせる。
【００３９】
システムコントローラ５は、レーザドライバ９に対し、レーザ光に対する読出用出力の値を指示する。よってレーザドライバ９は、システムコントローラ５の指示に応じて、レーザ光を読出用出力で連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００４０】
これにより光ピックアップ３は、レーザドライバ９から与えられたレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を読出用出力で連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を複数の受光素子によって受光して光電変換し、これにより光電信号を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００４１】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及びウォブル信号と共に、再生対象のデータに相当する高周波信号（以下、「ＲＦ信号」と呼ぶ）も生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出すると共に、ＲＦ信号をリーダ回路１３に送出する。
【００４２】
リーダ回路１３は、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し２値化処理、ＰＬＬ（Phased Lock Loop）処理、再生データの生成処理等を順に行い、その結果得られた変調データを復調回路１４に送出するとともに、ＰＬＬ処理により生成された動作クロックを各部に供給する。
【００４３】
復調回路１４は、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そして復調回路１４は、リーダ回路１３から与えられた変調データに対し、ランレングスリミテッド復号処理のような復調処理を施し、その結果得られたエンコードデータをデコーダ１５に送出する。
【００４４】
デコーダ１５は、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そしてデコーダ１５は、復調回路１４から与えられたエンコードデータについて例えば、誤り訂正符号（Error Correcting Code ）が付加されている単位ブロック毎に、誤り検出訂正処理やデインタリーブ等のデコード処理を施して再生対象のデータを生成し、当該生成したデータを内部のバッファに格納する。
【００４５】
またデコーダ１５は、ＡＶシステムＡＶＳ１の指示に応じて、バッファに対し例えば４つの単位ブロック分のような所定単位ブロック分のデータを格納する毎に、当該バッファから所定単位ブロック分のデータを読み出してＡＶシステムＡＶＳ１に転送する。このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面に記録されていたデータを再生してＡＶシステムＡＶＳ１に転送することができる。
【００４６】
ところでシステムコントローラ５は、立ち上げモードにおいて、光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し得る状態になっても、ＡＶシステムＡＶＳ１から読出命令が与えられないときには、その立ち上げモードから待機モードに移行する。この際、システムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し続ける。これによりシステムコントローラ５は、待機モード時にＡＶシステムＡＶＳ１から読出命令が与えられると、再生モードに移行するものの、そのとき、光ディスク２のデータ記録面に対するレーザ光の照射位置を容易に検出して当該光ディスク２から速やかにデータの読み出しを開始し得るようにしている。
【００４７】
［光ピックアップ３の構成］
図２は光ピックアップ３の構成を示す図である。光ピックアップ３は、光源としてレーザダイオード２０を有し、レーザドライバ９から与えられるレーザ制御信号をレーザダイオード２０に取り込んでいる。光ピックアップ３は、レーザダイオード２０からレーザ制御信号に応じて発射したレーザ光Ｌ１を、コリメータレンズ２１に通して平行光にした後、ビームスプリッタ２２及び球面収差補正レンズ群２３に順次通し、さらに対物レンズ２４で集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射させる。
【００４８】
また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光Ｌ１が反射して得られる反射光Ｌ２を、対物レンズ２４及び球面収差補正レンズ群２３に順次通してビームスプリッタ２２で反射させた後、コリメータレンズ２５で集光して受光部２６に設けられた複数の受光素子で受光する。そして光ピックアップ３は、受光部２６の複数の受光素子で反射光Ｌ２を光電変換し、その結果得られる光電信号をマトリクス回路１０に送出している。
【００４９】
ここで球面収差補正レンズ群２３は、可動レンズ２３Ａ及び固定レンズ２３Ｂを有している。そして可動レンズ２３Ａは、アクチュエータ２７により光軸に沿って接近方向及び離間方向（以下、これら接近方向及び離間方向をまとめて「光軸方向」とも呼ぶ）へ移動可能に保持されている。そして球面収差補正レンズ群２３は、アクチュエータ２７により可動レンズ２３Ａが光軸方向へ適宜移動すると、これに応じてレーザ光Ｌ１の波面をデフォーカスして対物レンズ２４の物点を調整することができ、その結果、レーザ光Ｌ１に生じる球面収差を補正し得るようになされている。
【００５０】
また対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８により光軸方向及びディスク半径方向へ移動可能に保持されている。そして対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８により光軸に沿って接近方向及び離間方向へ適宜移動すると、これに応じて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を合せることができる。さらに対物レンズ２４は、２軸アクチュエータ２８によりディスク半径方向へ適宜移動すると、これに応じて光ディスク２のデータ記録面においてトラックへレーザ光Ｌ１の照射位置を合せることができる。
【００５１】
［サーボ回路６の構成］
図３はサーボ回路６の構成を示す図である。かかるサーボ回路６は、内部にＤＳＰ（Digital Signal Processor）３０を有する。サーボ回路６は、マトリクス回路１０からアナログのフォーカスエラー信号が与えられると、ＤＳＰ３０の前段で、そのフォーカスエラー信号を、アナログ／デジタル変換器３１を介してデジタルのフォーカスエラーデータとして当該ＤＳＰ３０に送出する。
【００５２】
ＤＳＰ３０は、システムコントローラ５の制御のもとに動作し、フォーカスエラーデータを、加算器３２を介してフォーカスサーボ演算部３５に取り込む。これによりＤＳＰ３０は、フォーカスサーボ演算部３５においてフォーカスエラーデータを用い位相補償等のフィルタリングやループゲイン処理等の所定の演算を行ってフォーカス制御データを生成する。
【００５３】
サーボ回路６は、ＤＳＰ３０においてデジタルのフォーカス制御データが生成されると、当該ＤＳＰ３０の後段で、そのフォーカス制御データを、デジタル／アナログ変換器３８を介してアナログのフォーカス制御信号としてフォーカスドライバ３９に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカスドライバ３９からフォーカス制御信号を光ピックアップ３の２軸アクチュエータ２８（すなわち、フォーカスコイル）に送出して駆動する。このようにしてサーボ回路６は、対物レンズ２４（図２）を光軸に沿って接近方向及び離間方向へ移動させ、かくして光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を追従させる。
【００５４】
サーボ回路６のＤＳＰ３０には、レーザ光Ｌ１（図２）の球面収差を補正するための補正データ（以下「収差補正設定値」と呼ぶ）を保持する収差補正設定値設定部３４が設けられている。ＤＳＰ３０は、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１が照射されるとき、収差補正設定値設定部３４から収差補正設定値を読み出す。サーボ回路６は、ＤＳＰ３０において収差補正設定値設定部３４から収差補正設定値が読み出されると、当該ＤＳＰ３０の後段において、その収差補正設定値を、デジタル／アナログ変換器３６を介してアナログの収差補正信号として球面収差補正ドライバ３７に送出する。これによりサーボ回路６は、球面収差補正ドライバ３７から収差補正信号を光ピックアップ３のアクチュエータ２７に送出して駆動する。このようにしてサーボ回路６は、球面収差補正レンズ群２３の可動レンズ２３Ａを光軸方向へ移動させ、かくしてレーザ光Ｌ１に生じる球面収差を補正する。
【００５５】
またサーボ回路６のＤＳＰ３０には、対物レンズ２４の位置を所望位置に補正するための補正データ（以下「フォーカスバイアス設定値」と呼ぶ）を保持するフォーカスバイアス設定部３３が設けられている。ＤＳＰ３０は、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１が照射されるとき、フォーカスバイアス設定部３３からフォーカスバイアス設定値を読み出す。ＤＳＰ３０は、そのフォーカスバイアス値を加算器３２に送出することにより、当該加算器３２においてフォーカスエラーデータにフォーカスバイアス設定値を加算し、その結果をフォーカスサーボ演算部３５に送出する。
【００５６】
すなわち、ＤＳＰ３０は、フォーカスサーボ演算部３５において、フォーカスバイアス設定値を加算したフォーカスエラーデータを用いてフォーカス制御データを演算している。そしてサーボ回路６は、そのフォーカス制御データを、フォーカス制御信号として光ピックアップ３の２軸アクチュエータ２８に供給している。
【００５７】
このようにサーボ回路６は、フォーカスエラー信号の誤差をフォーカスバイアス設定値によって相殺した状態でフォーカスサーボループを形成することができる。よってサーボ回路６は、かかるフォーカスサーボループの循環的な処理に応じて、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を追従させることができる。
【００５８】
また、サーボ回路６のＤＳＰ３０には設定制御部４０が設けられている。設定制御部４０は、立ち上げ時にシステムコントローラ５によって決定された初期の収差発生量に対応する収差調整初期値を保持し、この保持された収差調整初期値に、システムコントローラ５から与えられた収差補正値あるいは評価用収差補正値を加えた値を収差補正設定値として収差補正設定値設定部３４に送出して保持させる。また、設定制御部４０は、立ち上げ時にシステムコントローラ５によって決定された初期のフォーカスバイアス量調整結果に対応するフォーカスバイアス初期値を保持し、この保持されたフォーカスバイアス初期値に、システムコントローラ５から与えられたフォーカスバイアス値あるいは評価用フォーカスバイアス値を加えた値をフォーカスバイアス設定値としてフォーカスバイアス設定部３３に送出して保持させる。なお、立ち上げ時にシステムコントローラ５は、光ディスク２の各レイヤーそれぞれのフォーカスバイアス初期値及び収差調整初期値を本発明に係る調整方法によらず周知の方法により順次決定し、ＤＳＰ３０内の図示しない記憶部に記憶する。
【００５９】
図４はリーダ回路１３の構成を示す図である。リーダ回路１３は、２値化回路５２と、ＰＬＬ回路５３と、ＲＦ再生処理回路５４と、評価値生成回路５１とを備えている。２値化回路５２は、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し２値化処理を施し、その結果得られた変調データを復調回路１４に送出する。ＰＬＬ回路５３は、ＲＦ信号を用いてＰＬＬ処理を実行することにより再生処理用の動作クロックを生成する。ＲＦ再生処理回路５４は、２値化回路５２により得られた２値化信号からＰＬＬ回路５３により生成された再生処理用の動作クロックを用いてデータを生成する。評価値生成回路５１は、例えば、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し時間軸に沿って生じている変動成分（以下、これをジッタと呼ぶ）を測定し、測定したジッタ測定信号を評価値としてシステムコントローラ５に送出する。ＲＦ信号に生じるジッタは、そのＲＦ信号が表現する情報の遷移の時間的なずれを表す物理量である。またＲＦ信号が表現する情報は、光ディスク２のデータ記録面に例えばピットとして形成された情報である。
【００６０】
光ピックアップ３では、対物レンズ２４が所望位置に近づいて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点が合うほど、そのレーザ光Ｌ１によりピットをより的確に捉えることができる。よってデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点が合うほど、ＲＦ信号に生じるジッタの値は小さくなる。これとは逆に光ピックアップ３では、対物レンズ２４が所望位置から離れて光ディスク２のデータ記録面からレーザ光Ｌ１の焦点がずれるほど（すなわち、データ記録面から焦点が離れるほど）、そのレーザ光Ｌ１によりピットを捉え難くなる。よってデータ記録面からレーザ光Ｌ１の焦点がずれるほど、ＲＦ信号に生じるジッタの値は大きくなる。
【００６１】
ところで再生装置１では、立ち上げ後より各種回路ブロックやスピンドルモータ８などが動作すると熱を発することにより内部温度が上昇する。内部温度が上昇すると、その熱により光ピックアップ３のベース部材が伸びて変形し、光ピックアップ３においてベース部材に保持しているレンズやレーザダイオード等の光学部品間の距離が変化する場合がある。これにより、フォーカススエラー信号に生じる誤差が変化してフォーカスバイアスの最適な値が変化する。さらには収差発生量が変化して収差補正の最適な値も変化する。特に、光ピックアップ３の光学系にプラスティックレンズを用いた場合、ガラスレンズを用いた場合に比べて温度変化による球面収差発生量が大きくなる。
【００６２】
そこで再生装置１では、リード中にフォーカスバイアス調整及び収差調整を行うことで、立ち上げ後の内部温度の変化に追従して、フォーカスバイアス値及び収差補正値としてより最適な値が得られるようにしている。
【００６３】
［全体の動作］
次に、そのフォーカスバイアス調整及び収差調整の全体の動作を説明する。
【００６４】
再生装置１の立ち上げ時の光ディスク２におけるレイヤーｘの収差発生量調整結果に対応する収差調整初期値をＡ０ｘ、同じく立ち上げ時のフォーカスバイアス量調整結果に対応するフォーカスバイアス初期値をＢ０ｘとした場合、レイヤーｘでの収差補正設定値はＡ０ｘ＋収差補正値、レイヤーｘでのフォーカスバイアス設定値はＢ０ｘ＋フォーカスバイアス値となる。したがって、再生装置１の立ち上げ後に調整対象となるのは、上記の収差補正値とフォーカスバイアス値となる。ここで、レイヤーｘとは光ディスク２における複数の記録層における調整対象の記録層のことである。システムコントローラ５は、再生装置１の立ち上げ時に、各記録層それぞれについて、フォーカスバイアス初期値と収差調整初期値をそれぞれ求め、これらをサーボ回路６の設定制御部４０に送ってＤＳＰ３０内の図示しない記憶部に保持させる。
【００６５】
以下に上記の収差補正値とフォーカスバイアス値を調整する場合の動作を説明する。
【００６６】
収差補正値としてＡで表し、フォーカスバイアス値をＢで表すものとする。これらの値の調整開始時の初期値はともにゼロとする。
【００６７】
図５はリード中での収差調整のフローチャートである。
１．再生装置１のシステムコントローラ５は、外部のＡＶシステムＡＶＳ１からリード命令を受けると、光ディスク２上の目的のリード開始位置の手前に光ピックアップ３を移動させるためにシーク動作を行うシーク実行タイミングを判定する（ステップＳ１０１）。システムコントローラ５は、このシーク実行タイミングを判定すると、Ａ＋ΔＡを評価用収差補正値として設定制御部４０に与える（ステップＳ１０２）。ここで、ΔＡは収差調整の評価のために予め与えられた変更量である。続いて、システムコントローラ５はシーク指示信号をサーボ回路６に送出することによって、実際のシーク動作を実行する（ステップＳ１０３）。
【００６８】
なお、ここでは、収差補正設定値設定部３４の収差補正値を変更するタイミングをシーク実行直前としたが、例えば、シーク動作中に収差補正設定値設定部３４の収差補正値を変更するようにしても構わない。
【００６９】
２．光ピックアップ３による光ディスク２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ５は、フォーカスバイアス調整を実行しながらリード動作を実行する（ステップＳ１０４）。フォーカスバイアス調整の詳細は後で説明する。
【００７０】
３．光ディスク２からリードされ、リーダ回路１３での２値化処理、復調回路１４での復調処理、デコーダ１５でのデコード処理を経て得られたデータは、デコーダ１５内のバッファへと転送され、蓄積されていく。バッファがフル状態になると、一旦再生モードから待機モードへと移行した後、バッファからデータが読み出されてバッファに溜まったデータ量がある値を下回るとリード動作が再開される。これによりシステムコントローラ５は、再びシーク実行タイミングの発生を判定する（ステップＳ１０５）。
【００７１】
４．システムコントローラ５は、再びシーク実行タイミングを判定すると、評価用収差補正値をＡ−ΔＡに変更した後（ステップＳ１０６）、シークを実行する（ステップＳ１０７）。光ピックアップ３による光ディスク２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ５は、フォーカスバイアス調整を実行しながらリード動作を実行する（ステップＳ１０８）。
【００７２】
５．この後、システムコントローラ５は収差補正値の計算を行い、この計算結果を新たな収差補正値としてＡにセットする（ステップＳ１０９）。
【００７３】
６．システムコントローラ５は、リード動作を行いながらフォーカスバイアス調整処理を実行する。システムコントローラ５は、次にシーク実行タイミングを判定したら、ステップＳ１０２に戻り、評価用収差補正値をＡ＋ΔＡに変更する処理から以後、同じ動作を繰り返すように制御を行う。
【００７４】
［リード中のフォーカスバイアス調整方法］
次に、上記のフォーカスバイアス調整方法を説明する。
【００７５】
図６はリード中のフォーカスバイアス調整のフローチャート、図７はフォーカスバイアス調整の説明図である。なお、図７において、ＦＢはフォーカスバイアスを意味する。また、図７の縦軸はフォーカスバイアス設定値からフォーカスバイアス初期値を差し引いた値を示し、横軸は時間を示す。
q回目のフォーカスバイアス調整の開始時、現在のフォーカスバイアス値をＢ（ｑ）とする。
【００７６】
図７に示すように、システムコントローラ５は、設定制御部４０に与えるフォーカスバイアス値に関する情報をＢＰ（ｑ）とＢＭ（ｑ）とに交互に変化させながらリード動作を実行するように制御を行う。ここで、ＢＰ（ｑ）とＢＭ（ｑ）を「評価用フォーカスバイアス値」と呼ぶ。ＢＰ（ｑ）はＢ（ｑ）＋ΔＢ、ＢＭ（ｑ）はＢ（ｑ）−ΔＢである。ΔＢはフォーカスバイアス調整の評価のために予め与えられた変更量である。システムコントローラ５は、評価用フォーカスバイアス値をＢ（ｑ）±ΔＢに設定したそれぞれの区間で、評価値生成回路５１より評価値ＹＰ１（ｑ），ＹＭ１（ｑ），ＹＰ２（ｑ），ＹＭ２（ｑ），…，ＹＰｎ（ｑ），ＹＭｎ（ｑ）を取得する。
【００７７】
このようにシステムコントローラ５は、評価用フォーカスバイアス値をフォーカスバイアス値を基準にプラスマイナスに交互に一定の周期で変化させながらそれぞれの評価用フォーカスバイアス設定区間での各評価値を収集する処理を所定の区間実行する（ステップＳ２０１）。ここで、所定の区間は、例えば、ＥＣＣブロック単位であってもよいし、ディスク回転周期であってもよい。あるいは、その他適宜決められた区間であってもよい。
【００７８】
システムコントローラ５は、所定の区間の各評価値を収集したところで、設定制御部４０に与える情報を評価用フォーカスバイアス値からフォーカスバイアス値に一旦戻し（ステップＳ２０２）、各評価値をもとにフォーカスバイアス調整の計算を行う（ステップＳ２０３）。フォーカスバイアス調整の計算は、例えば次の手順により行われる。
【００７９】
１．評価用フォーカスバイアス値がフォーカスバイアス値よりプラス側に設定された区間で得られた評価値の平均値をｙｐ、評価用フォーカスバイアス値がフォーカスバイアス値よりマイナス側に設定された区間で得られた評価値の平均値をｙｍとする。
いま、フォーカスバイアス調整ｑ回目の測定でｎセットの評価値を取得できたとすると、
ｙｐ（ｑ）＝（ＹＰ１（ｑ）＋ＹＰ２（ｑ）＋Ａ＋ＹＰｎ（ｑ））／ｎ
ｙｍ（ｑ）＝（ＹＭ１（ｑ）＋ＹＭ２（ｑ）＋Ａ＋ＹＭｎ（ｑ））／ｎ
となる。さらにｙｐ（ｑ）とｙｍ（ｑ）の差分を、
ｙｐ（ｑ）＝ｙｐ（ｑ）−ｙｍ（ｑ）
とする。
【００８０】
２．システムコントローラ５は、新たなフォーカスバイアス値を次式により計算する。
【００８１】
【数１】
2010244669.tif 000003
ここで、
ｕ（ｑ）は、フォーカスバイアス調整ｑ回目で算出するフォーカスバイアス値であり、ｕ（ｑ）＝Ｂ（ｑ＋１）、
ｕ（ｑ−１）は、フォーカスバイアス調整ｑ−１回目で算出されたフォーカスバイアス値であり、ｕ（ｑ−１）＝Ｂ（ｑ）、
ｙ（ｑ）は、フォーカスバイアス調整ｑ回目で測定された評価値差分、
ｙ（ｑ−１）は、フォーカスバイアス調整ｑ−１回目で測定された評価値差分、
ｙtargetは、評価値差分の目標値、
Ｔ１  は、調整間隔［ｓ］、
Ｋ１ｐは、比例ゲイン、
Ｋ１ｉは、積分ゲインである。
【００８２】
これは次のＰＩ制御式
【００８３】
【数２】
2010244669.tif 000004
を離散化したものに相当する。
ここで、Ｋ１ｐ、Ｋ１ｉは調整ゲインで、所望の性能を満たすように決定される。
【００８４】
以上の手順で計算を終えたら、システムコントローラ５は、その計算結果である新たなフォーカスバイアス値を次のＢ（ｑ＋１）に設定し（ステップＳ２０４）、ステップＳ２０１に戻ってｑ＋１回目のフォーカスバイアス調整用の測定を開始し、以後同様にフォーカスバイアス調整を行う。
【００８５】
図９は評価値としてジッタ値を採用した場合のフォーカスバイアス調整と評価値との関係を示す図である。評価用フォーカスバイアス値がフォーカスバイアス値に対してプラス側に設定された各区間それぞれでの評価値の平均値ｙｐ（ｑ）と、評価用フォーカスバイアス値がフォーカスバイアス値に対してマイナス側に設定された各区間それぞれでの評価値の平均値ｙｍ（ｑ）は、同図では黒丸で示したジッタ値に相当する。したがって、ｙtarget＝０とすれば、ジッタのボトムを目標に調整することができる。
【００８６】
［リード中の収差調整方法］
次に、リード中の収差調整方法を説明する。
【００８７】
リード中の球面収差調整は、上記［全体の動作］で示したとおり、設定制御部４０に与えるフォーカスバイアス値に関する情報をＢＰ（ｑ）とＢＭ（ｑ）とに交互に変化させながら行われる。図８はこの収差調整の説明図である。
【００８８】
１．収差調整ｒ回目の開始時の収差補正値をＡ（ｒ）とする。システムコントローラ５は、収差調整ｒ回目の開始時のシーク実行タイミングを判定したところで評価用収差補正値をＡＰ（ｒ）＝Ａ（ｒ）＋ΔＡに設定するようにサーボ回路６のＤＳＰ３０に対して制御指令を出す。
【００８９】
２．システムコントローラ５は、    収差補正値をＡＰ（ｒ）にしたまま、先述したリード中のフォーカスバイアス調整を実行する。
【００９０】
３．システムコントローラ５は、シーク実行タイミングを判定したところで、評価用収差補正値をＡＭ（ｒ）＝Ａ（ｒ）−ΔＡに変更するようにサーボ回路６のＤＳＰ３０に制御指令を出す。説明のため、このシーク実行タイミングが発生する直前に行っていたフォーカスバイアス調整の測定をＰｒ回目の測定とする。
【００９１】
４．システムコントローラ５は、評価用収差補正値をＡＭ（ｒ）としたまま、先述したリード中のフォーカスバイアス調整を実行する。説明のため、評価用収差補正値をＡＭ（ｒ）としてから１回目に行ったフォーカスバイアス調整の測定をＭｒ回目の測定とする。
【００９２】
５．Ｍｒ回目の測定が完了したところで、システムコントローラ５は、以下の手順で収差調整を実行する。
（ア）フォーカスバイアス調整Ｐｒ回目の測定で取得した評価値の平均値をｚｐ（ｒ），フォーカスバイアス調整Ｍｒ回目の測定で取得した評価値の平均値をｚｍ（ｒ）とする。
すなわち、
ｚｐ（ｒ）＝（ｙｐ（Ｐｒ）＋ｙｍ（Ｐｒ））／２
ｚｍ（ｒ）＝（ｙｐ（Ｍｒ）＋ｙｍ（Ｍｒ））／２
となる。さらにｚｐ（ｒ）とｚｍ（ｒ）の差分を、
ｚ（ｒ）＝ｚｐ（ｒ）−ｚｍ（ｒ）
とする。
【００９３】
（イ）システムコントローラ５は、    新たな収差補正値を次式により計算する。
【００９４】
【数３】
2010244669.tif 000005
ここで、
ｖ（ｒ）は、収差調整ｒ回目で算出する収差補正値であり、ｖ（ｒ）＝Ａ（ｒ＋１）、
ｖ（ｒ−１）は、収差調整ｒ−１回目で算出された収差補正値であり、ｖ（ｒ−１）＝Ａ（ｒ）、
ｚ（ｒ）は、収差調整ｒ回目で測定された評価値差分、
ｚ（ｒ−１）は、収差調整ｒ−１回目で測定された評価値差分、
ｚtargetは、評価値差分の目標値、
Ｔ２  は、調整間隔［ｓ]、
Ｋ２ｐは、比例ゲイン、
Ｋ２ｉは、積分ゲインである。
【００９５】
これは次のＰＩ制御式
【００９６】
【数４】
2010244669.tif 000006
を離散化したものに相当する。
ここで、Ｋ２ｐ、Ｋ２ｉは調整ゲインで、所望の性能を満たすように決定される。
【００９７】
６．以上の手順で計算を終えたら、システムコントローラ５は、評価用収差補正値をＡＭ（ｒ）としたまま、先述したフォーカスバイアス調整を実行する。
【００９８】
７．シーク実行タイミングが発生したら、システムコントローラ５は、評価用収差補正値をＡＰ（ｒ＋１）＝Ａ（ｒ＋１）＋ΔＡに設定し、以後同様に調整を行う。
【００９９】
図１０は評価値としてジッタ値を採用した場合の収差調整と評価値との関係を示す図である。評価用収差補正値が収差補正値に対してプラス側に設定された各区間それぞれでの評価値の平均値ｚｐ（ｒ）と、評価用収差補正値が収差補正値に対してマイナス側に設定された各区間それぞれでの評価値の平均値ｚｍ（ｒ）は、同図では黒丸で示したジッタ値に相当する。したがって、ｚtarget＝０とすれば、ジッタのボトムを目標に調整することができる。
【０１００】
本実施形態によれば、リード中にフォーカスバイアス調整及び収差調整を行うことで、立ち上げ後の内部温度の変化に追従して、フォーカスバイアス値及び収差補正値としてより最適な値が得られ、フォーカスバイアス調整及び収差調整を良好に行うことができる。これに加え、本実施形態によれば、フォーカスバイアス調整及び収差調整のそれぞれの計算に評価値の積分効果を持たせて、ジッタ値の測定誤差の影響を極力低減しているため、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も小さくできる。
【０１０１】
次に、上述した実施形態の変形例を説明する。
［変形例１］調整精度を向上させるための調整計算の処理
収差補正の最適値は光ディスク面内の位置によっても異なる。例えば、調整項目として球面収差を選択した場合、収差補正の最適値は光ディスクの保護層の厚みによって変化する。シーク前後の位置での光ディスクの保護層の厚みの差異は、通常、図１１に示すように、近距離シーク時には比較的小さいと考えられるが、長距離シーク時は物理的位置が遠いために光ディスクの保護層の厚みの差異も大きくなる場合がある。つまり、収差補正の最適値の差異が大きくなることがある。
【０１０２】
そこで、図１２に示すように、評価用収差補正値がＡＰ（ｒ）からＡＭ（ｒ）に切り替えるときのシークが長距離シークである場合、システムコントローラ５は、収差調整の初期の所定回は計算を行わずに収差補正値をホールドしておく。例えば、図１２では、収差調整のｒ回目とｒ＋１回目の計算は行われずに収差補正値がホールドされた例を示している。すなわち、Ａ（ｒ＋１）＝Ａ（ｒ＋２）＝Ａ（ｒ）とする。
【０１０３】
因みに、長距離シークと近距離シークとの判定は、例えば、シークでのディスク半径方向の移動量がある値以上である場合には長距離シークと判定され、ある値未満の場合には近距離シークと判定されるようにすればよい。
【０１０４】
［変形例２］評価用収差補正値をプラスからマイナスに変えたときのシークがレイヤーをまたぐ場合の処理
評価用収差補正値がＡＰ（ｒ）からＡＭ（ｒ）に切り替えるときのシークがレイヤーをまたぐ場合、温度変化による収差補正の最適値がシーク前後で異なることがある。この場合にも、変形例１と同様の処理を行うことが望ましい。具体的には、システムコントローラ５は、評価用収差補正値がＡＰ（ｒ）からＡＭ（ｒ）に切り替えるときのシークがレイヤーをまたぐシークである場合、収差調整の初期の所定回は計算を行わずに収差補正値をホールドしておく。
【０１０５】
［変形例３］評価用収差補正値を変更した直後のフォーカスバイアス調整計算の処理
フォーカスバイアス調整の評価値ｙ（ｑ−１）とｙ（ｑ）を同じ収差条件で測定するため、（１）式で示したフォーカスバイアス調整の計算は、収差設定を変更した直後の１回目は行わずにフォーカスバイアス値をホールドするのが好ましい。
【０１０６】
例えば、図１３に示すように、フォーカスバイアス調整ｑ−１回目とフォーカスバイアス調整ｑ回目の間に評価用収差補正値を変更した場合、評価値（ｑ−１）とｙ（ｑ）の収差条件が異なる。そこで、システムコントローラ５は、この場合に、フォーカスバイアス調整ｑ回目の計算は行わずにフォーカスバイアス値をホールドし、Ｂ（ｑ＋１）＝Ｂ（ｑ）とする。
【０１０７】
［変形例４］フォーカスバイアス調整が収差調整精度に与える影響
図１４に示すように、収差調整の評価値ｚｐ（ｒ）とｚｍ（ｒ）を取得する際、フォーカスバイアス調整Ｐｒ回目でのフォーカスバイアス調整量が大きい場合は、フォーカスバイアス条件の違いによる収差最適値の変動が大きくなり、収差調整精度に影響を与えてしまう。この影響を除去するために、システムコントローラ５は、Ｐｒ回目のフォーカスバイアス調整については計算を行わず、その前のフォーカスバイアス値をホールドする。つまり、Ｂ（Ｍｒ）＝Ｂ（Ｐｒ）とする。但し、収差調整周期に比べてフォーカスバイアス調整周期が十分に短く、フォーカスバイアス調整計算1回でのフォーカスバイアス調整量が小さい場合は、収差調整精度への影響が無視できると考えられるためこの処理を省略してもよい。
【０１０８】
［変形例５］評価値と、評価値差分の目標値
上記の実施形態では、上述した実施の形態においては、評価値としてジッタ値を利用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば、ＲＦ信号の振幅値やウォブル信号の振幅値を評価値として利用するようにしても良い。また再生装置１では、ＲＦ信号をアナログデジタル変換した後、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood ）と呼ばれるパーシャルレスポンス等化処理とビタビ復号のような最尤復号処理とを組み合せた信号処理により再生対象のデータを得るようにし、当該ＰＲＭＬの誤差指標であるＭＬＳＡ（Maximum Likelihood Sequence Amplitude ）や、ＰＲＭＬの品質評価指標としてのＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）を評価値として利用するようにしても良い。これに加えて再生装置１では、ＰＲＭＬの信号処理に含まれる最尤復号においてユークリッド距離が最小であるパスの尤度の差を求め、当該尤度の差を統計処理して決定した調整条件により生成される再生エラーレート（ＤＭｊ）を、評価値として利用するようにしても良い。
【０１０９】
上述の評価値を用いる場合は、評価値差分の目標値をいずれも、ｙtarget＝０，ｚtarget＝０とすれば、フォーカスバイアス値および収差補正値を最適値に調整することができる。
【０１１０】
リード中（再生モード）、アイドル中（待機モード）の調整では、上述の評価値はいずれも使うことができる。ライト中に調整を行う場合は、ウォブル振幅値を評価値として用いることができる。
【０１１１】
［変形例６］収差補正機構の耐久性を考慮した調整方法
収差補正機構としては、収差補正用の液晶素子を使用する方法や、収差補正用レンズを駆動して補正する方法などがある。特に収差補正用レンズを駆動する場合は、メカの駆動耐久性の観点から、収差調整頻度を制限した方が良い場合がある。この場合の制限方法としては、以下の方法が考えられる。
【０１１２】
１．スタートアップ後一定の時間が経過したら、収差調整動作を停止する。
この方法によると、動作開始直後の再生装置１内の温度上昇による収差変化に追従することができる。一般に動作開始直後は再生装置１内の各種回路ブロックやスピンドルモータ８などの発熱によって再生装置１内の温度が上昇する。しかし、暫く時間が経過すると温度の上昇カーブは緩やかになり、温度変化による収差発生量も少なくなるから、収差調整を行わなくても性能を保つことができる。但し、収差調整動作を停止後に再生装置１の外気の温度変化によって再生装置１内の温度が変動した場合には、発生した収差を調整できない。
【０１１３】
２．収差補正値の変更の平均周期を一定値以上になるように制限する。
これまでの説明では、リード中にシーク実行タイミングが発生するごとに評価用収差補正値を変更する方法を説明してきた。これに対して、図１５に示すように、「一定時間内に、評価用収差補正値の変更を複数回行わない」という処理を入れて評価用収差補正値の変更の平均周期を一定値以上に制限するようにしてもよい。この方法をとることで、収差調整を常に動作させながら、同時に収差補正機構の耐久性を考慮することができる。
【０１１４】
図１５はこの方法の説明図である。ここで（ａ）は本処理を採用しない場合の評価用収差補正値の変化、（ｂ）は本処理を採用した場合の評価用収差補正値の変化である。ここで、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，…は評価用収差補正値の変更周期を制限するために設定された、それぞれ共通の時間幅である。今、シーク実行タイミングがｓｔ１，ｓｔ２，ｓｔ３，…，ｓｔ１１のタイミングで発生したとする。この場合、（ａ）に示すように本処理を採用しない場合、全てのシーク実行タイミングｓｔ１，ｓｔ２，ｓｔ３，…，ｓｔ１１で評価用収差補正値の変更が行われる。これに対し、（ｂ）に示すように本処理を採用した場合には、ｓｔ３，ｓｔ５，ｓｔ６，ｓｔ９，ｓｔ１１のシーク実行タイミングでは評価用収差補正値の変更が行われない。このように、本処理を採用することによって、評価用収差補正値の変更周期を制限することができ、収差調整を常に動作させながら、同時に収差補正機構の耐久性を考慮することができる。
【０１１５】
３．立ち上げ後の所定時間内はシーク実行タイミング毎に評価用収差補正値を変更し、所定時間が経過後は、評価用収差補正値の変更の平均周期が一定時間以上になるように設定する。すなわち、この方法は、上記１．の方法と２．の方法とを組み合わせたものである。この方法によれば、立ち上げ直後の再生装置１内の温度上昇による収差変化には、頻繁な調整動作により速やかに追従し、温度変化が落ち着いて収差変化が緩やかになってきたら、耐久性を考慮した頻度で収差調整を実行することができる。
【０１１６】
４．評価値の品質から収差調整の必要性を判断し、必要なときのみ収差調整動作を実行する。具体的には、フォーカスバイアス調整で取得した評価値、例えばジッタ値が、ある程度以上に悪化したときのみ収差調整動作を実行する。この方法により、余分な調整動作を控えることができる。
【０１１７】
５．温度計測結果より、温度変化が大きいときのみ収差調整動作を実行する。サーミスタなどを用いて再生装置１内の温度を計測し、前回の調整時から予め決められた値以上の温度変化を検知したら収差調整動作を実行する。再生装置１内の温度にあまり変化が無いときには、収差調整を行わない。この方法により、温度変化によって発生した収差を補正しつつ、余分な調整動作を控えることができる。
【０１１８】
６．評価値差分の大きさに応じて収差調整の周期を可変にする。評価値差分の大きさ（ｚ（ｒ）の絶対値）が予め決められた第１の値以下になったら、収差調整周期を長くし、評価値差分の大きさ（ｚ（ｒ）の絶対値）が予め決められた第２の値より大きくなってきたら収差調整周期を短くする。その際、収差調整周期は、上記２．の方法で変更する。
【０１１９】
［変形例７］ディフェクト耐性向上について
これまでに示したフォーカスバイアス調整及び収差調整は、再生中に光ディスク２のデータ記録領域に存在するディフェクトの影響により調整精度が低下する場合がある。ディフェクト耐性を向上させるには、（１）式および（３）式で算出した各値の出力に対してＬＰＦ（Low Pass Filter）計算を行うことにより各調整値のディフェクト成分を除去するようにすればよい。
【０１２０】
［変形例８］立ち上げ以後のレイヤー間の移動後のフォーカスバイアス設定値及び収差補正設定値の設定
立ち上げ以後、例えばリード中等にレイヤー間のリード位置の移動が発生した場合、システムコントローラ５は、レイヤー間のリード位置の移動前に最後に求めたフォーカスバイアス値と、再生装置１の立ち上げ時に求めてＤＳＰ３０内の図示しない記憶部に記憶しておいた移動先のレイヤーのフォーカスバイアス初期値との和をフォーカスバイアス設定部３３に設定する。同様に、システムコントローラ５は、レイヤー間のリード位置の移動前に最後に求めた収差補正値と、再生装置１の立ち上げ時に求めてＤＳＰ３０内の図示しない記憶部に記憶しておいた移動先のレイヤーの収差調整初期値との和を収差補正設定値設定部３４に設定する。その後、移動先のレイヤーでフォーカスバイアス値及び収差補正値の調整が開始される。これにより、レイヤー間のリード位置の移動が発生した直後から良好にフォーカスバイアス調整及び収差調整を行うことができる。
【０１２１】
［その他の変形例］
また上述した実施の形態においては、上述した（１）式に基づきフォーカスバイアスの値を調整するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らない。例えば、ジッタ値の測定精度が格段的に高ければ、ｑ回目とｑ−１回目の評価値を用いるのではなく、最新の評価値が得られる都度、この評価値を用いてフォーカスバイアスの値を調整するようにしてもよい。同様に、収差調整に関しても、ｒ回目とｒ−１回目の評価値を用いるのではなく、最新の評価値が得られる都度、この評価値を用いて収差調整をするようにしてもよい。
【０１２２】
さらに上述した実施の形態においては、システムコントローラ５が計算されたフォーカスバイアス値および収差補正値を内部の記憶部に記憶し、これを用いて次の調整計算を行うこととしている。この部分の変形例として、サーボ回路６のＤＳＰ３０内にシステムコントローラ５によって計算されたフォーカスバイアス値および収差補正値を記憶する記憶部を設け、システムコントローラ５がフォーカスバイアスおよび収差の調整計算を実行する毎に、サーボ回路６のＤＳＰ３０からフォーカスバイアス値および収差補正値を読み出すようにしてもよい。
【０１２３】
さらに上述した実施の形態においては、リード中にフォーカスバイアス調整及び収差調整を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、アイドル中に同様にフォーカスバイアス調整及び収差調整を実行するようにしてもよい。
【０１２４】
さらに上述した実施の形態においては、本発明を再生装置１に適用した場合について述べたが、記録再生装置において、リード中、アイドル中、ライト中の少なくとも１つの動作中に、フォーカスバイアス調整及び収差調整を実行するようにしてもよい。
【０１２５】
上記の実施形態では、レーザ光の球面収差を調整する場合を説明したが、本発明は球面収差に限らず、レーザ光に生じるその他様々な収差の調整にも適用することができる。
【０１２６】
＜第２の実施の形態＞
本実施形態は、上記のフォーカスバイアス調整及び収差調整とともに、光ディスクのラジアル方向のチルト調整をリアルタイムで行う再生装置に関するものである。
【０１２７】
図１６は本発明の第２の実施形態に係る再生装置のハードウェアに関するブロックである。なお、同図において、図１と対応する部分には、１００番台の対応する符号が付してあり、重複する部分の説明を適宜省略する。本実施形態の再生装置１０１において、少なくとも光ピックアップ１０３、サーボ回路１０６、およびシステムコントローラ１０５は、図１の対応する部分と相違している。
【０１２８】
［光ピックアップ１０３の構成］
図１７は、図１６の光ピックアップ１０３の構成を示す図である。ここで、対物レンズ１２４は、３軸アクチュエータ１２８により光軸方向（フォーカス方向）、ディスク半径方向（トラッキング方向）、およびチルト方向へ移動可能に保持されている。ここで、チルト方向とは、光ディスクのラジアル方向のチルト方向であり、換言すれば、フォーカス方向及びトラッキング方向に直交するタンジェンシャル方向を軸とする軸回り方向である。
【０１２９】
３軸アクチュエータ１２８は、例えば、複数のトラッキングコイルと４つのフォーカスコイルなどで構成される。フォーカスコイルは、対物レンズ１２４の光軸の位置からトラッキングの＋方向と−方向にそれぞれ均等な距離だけずれた２つの位置で、対物レンズ１２４をタンジェンシャル方向で挟んで互いに対向するように配置されている。ここで、対物レンズ１２４をタンジェンシャル方向で挟んで互いに対向する関係にある２つのフォーカスコイルどうしを「駆動フォーカスコイルペア」と呼ぶ。すなわち、光ピックアップ１０３には、駆動フォーカスコイルペアが２つ設けられている。これら２つの駆動フォーカスコイルペアによって発生される２つのフォーカス方向の駆動力により、対物レンズ１２４はフォーカス方向に駆動される。そして、これら２つの駆動フォーカスコイルペアによって発生される２つのフォーカス方向の駆動力に差分を設けることによって、対物レンズ１２４に対してチルト方向への駆動力が付与される。
【０１３０】
なお、上記の説明では、チルト方向を、フォーカス方向及びトラッキング方向に直交するタンジェンシャル方向を軸とした軸回り方向としたが、これに限られるものではなく、フォーカス方向に直交する平面に対して対物レンズ１２４の光軸を傾斜させる方向であればよい。
【０１３１】
また、２つの駆動フォーカスコイルペアによって発生される駆動力の差分によりチルト調整のための駆動力を発生させることとしたが、チルト方向の駆動力を発生させる専用のコイルを用いるようにしてもよい。
【０１３２】
図１７に示す光ピックアップ１０３において３軸アクチュエータ１２８以外の部分は図２と同じである。さらに、光ピックアップ１０３には温度センサ１５０が設けられていてもよい。この温度センサ１５０による温度検出の結果はシステムコントローラ１０５に供給される。
【０１３３】
［サーボ回路１０６の構成］
図１８はサーボ回路１０６の構成を示す図である。このサーボ回路１０６において、フォーカスサーボ演算部１３５により生成されたデジタルのフォーカス制御データは、２つの加算器１４２ａ，１４２ｂに共通に与えられる。それぞれの加算器１４２ａ，１４２ｂの出力は、デジタル／アナログ変換器１３６ａ，１３６ｂを介してアナログのフォーカス制御信号となって２つのフォーカスドライバ１３９ａ，１３９ｂにそれぞれ送出される。それぞれのフォーカスドライバ１３９ａ，１３９ｂは、アナログのフォーカス制御信号を増幅して光ピックアップ１０３内の３軸アクチュエータ１２８における上記の駆動フォーカスコイルペアに送出する。これにより、対物レンズ１２４が光軸に沿って駆動され、かくして光ディスク１０２のデータ記録面にレーザ光Ｌ１の焦点を追従させる。
【０１３４】
また、このサーボ回路１０６にはチルト補正演算部１４１が設けられている。設定制御部１４０は、システムコントローラ１０５から与えられたチルト調整値をチルト設定値としてチルト補正演算部１４１に送出する。チルト補正演算部１４１は、設定制御部１４０により与えられたチルト設定値をもとに、２つのデジタルフォーカス制御データに対して付与するべき差分データをそれぞれ演算し、加算器１４２ａ，１４２ｂに出力する。それぞれの加算器１４２ａ，１４２ｂでは、フォーカスサーボ演算部１３５により生成されたデジタルのフォーカス制御データに対して、チルト補正演算部１４１より与えられたそれぞれの差分データが加算される。これによりチルト設定値に相当する差分が付与された２つのフォーカス制御信号が各フォーカスドライバ１３９ａ，１３９ｂよりそれぞれ出力されて３軸アクチュエータ１２８内の２つの駆動フォーカスコイルペアに供給される。かくして対物レンズ１２４がチルト方向に駆動されてチルト補正が行われる。
【０１３５】
なお、このサーボ回路１０６においては、球面収差補正レンズ群１２３（図１７）の可動レンズ１２３Ａを光軸方向へ移動させることによって、レーザ光Ｌ１に生じる球面収差の補正を行うことも可能である。この球面収差補正のための構成は第１の実施形態と同様であるため、説明を省略する。
【０１３６】
この実施形態の再生装置１０１では、第１の実施形態で述べたフォーカスバイアス調整及び収差調整とともにリアルタイムでチルト調整（以下「リアルタイムチルト調整」と呼ぶ）が行われるようになっている。
【０１３７】
リアルタイムチルト調整の説明で用いられる変数の意味を定義しておく。
「チルトエリア調整値」は、図１９に示すように、光ディスクの半径位置によって分割されたエリアａ１，ａ２，ａ３，・・・，ａｎ毎のチルト調整値である。これらチルトエリア調整値は再生装置１０１のシステムコントローラ１０５内の不揮発性メモリ（図示せず）に保存され、リアルタイムチルト調整によって得られた最新のチルト調整値で更新される。
【０１３８】
「チルト調整値」は、リアルタイムチルト調整時に、後述する「評価用チルト調整値」の基準値として用いられるチルト設定値である。
【０１３９】
「評価用チルト調整値」はリアルタイムチルト調整時に評価値を得るために用いられるチルト設定値である。この「評価用チルト調整値」は「チルト調整値」をＣとして、Ｃ＋ΔＣ、Ｃ−ΔＣの値である。ΔＣは予め与えられる変位量である。
【０１４０】
「チルト設定値」はリアルタイムチルト調整時にシステムコントローラ１０５からサーボ回路１０６内のチルト補正演算部１４１に与えられる値である。チルト補正演算部１４１は、このチルト設定値をもとに２つのフォーカス制御データに付加する差分データを生成する。リアルタイムチルト調整時は「評価用チルト調整値」が「チルト設定値」となる。
【０１４１】
図２０はリアルタイムチルト調整時のチルトエリア調整値の更新の様子を示す図である。リアルタイムチルト調整が始まる前の初期状態においては、各エリアのチルトエリア調整値として共通の初期値が設定される。この初期値の計算は、例えば、次のように行われる。
【０１４２】
工場出荷時の調整データが不揮発性メモリに予め保存されている場合、システムコントローラ１０５は、立ち上げ時に不揮発性メモリからその調整データを読み出し、各エリアのチルトエリア調整の初期値として設定する。また、工場出荷時の調整データが不揮発性メモリに保存されていない場合、システムコントローラ１０５は、立ち上げ時に光ディスクの予め決められた一部領域に対してチルト調整を行い、そのチルト調整値を全エリアのチルトエリア調整値の初期値として設定する。リアルタイムチルト調整中は、チルト調整値が計算によって得られる都度、そのチルト調整値で、対応するエリアのチルトエリア調整値を更新する。この処理が各エリアについて繰り返されることで、再生中の光ディスクに対する各エリアのチルトエリア調整値が得られる。
【０１４３】
長距離シーク後を含む、リアルタイムチルト調整の開始時は、（シーク先のディスク半径に対応した）チルトエリア調整値をリアルタイムチルト調整の初期値としてチルト調整値にコピーしてから調整を再開する。このようにすることで、長距離シーク直後からリアルタイム調整を良好に実行することができる。
【０１４４】
次に、リアルタイムチルト調整の動作を説明する。
図２１はリード中でのリアルタイムチルト調整のフローチャートである。
【０１４５】
１．再生装置１０１のシステムコントローラ１０５は、外部のＡＶシステムＡＶＳ１からリード命令を受けると、光ディスク１０２上の目的のリード開始位置の手前に光ピックアップ１０３を移動させるためにシーク動作を行うシーク実行タイミングを判定する（ステップＳ３０１）。システムコントローラ１０５は、シーク実行タイミングを判定すると、評価用チルト調整値としてＣ＋ΔＣを設定し（ステップＳ３０２）、評価用収差補正値としてＡ＋ΔＡを設定する（ステップＳ３０３）。続いて、システムコントローラ１０５はシーク指示信号をサーボ回路１０６に送出することによって実際のシーク動作を実行するように制御を行う（ステップＳ３０４）。
【０１４６】
なお、ここでは評価用チルト調整値および評価用収差補正値を設定するタイミングをシーク実行の直前としたが、シーク動作中に設定するようにしてもよい。
【０１４７】
２．光ディスク１０２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ１０５は、リード動作を実行しながら収差調整およびフォーカスバイアス調整を実行する（ステップＳ３０５）。
【０１４８】
３．光ディスク１０２からリードされ、リーダ回路１１３での２値化処理、復調回路１１４での復調処理、デコーダ１１５でのデコード処理を経て得られたデータは、デコーダ１１５内のバッファへと転送され、蓄積されていく。バッファがフル状態になると、一旦再生モードから待機モードへと移行した後、バッファからデータが読み出されてバッファに溜まったデータ量がある値を下回るとリード動作が再開される。ここで再びシーク実行タイミングが発生する（ステップＳ３０６）。
【０１４９】
４．システムコントローラ１０５は、１以上の所定回数の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングを判定すると、評価用チルト調整値をＣ−ΔＣに変更し（ステップＳ３０７）、その後に評価用収差補正値をＡ＋ΔＡに変更する（ステップＳ３０８）。続いて、システムコントローラ１０５はシーク指示信号をサーボ回路１０６に送出することによって、実際のシーク動作を実行するように制御を行う（ステップＳ３０９）。
【０１５０】
５．光ピックアップ１０３による光ディスク１０２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ１０５は、再びリード動作を実行しながら収差調整およびフォーカスバイアス調整を実行する（スップＳ３１０）。
【０１５１】
６．システムコントローラ１０５は、評価用チルト調整値をＣ−ΔＣに設定した状態である区間の再生が完了したところでチルト調整値Ｃを計算する（ステップＳ３１１）。また、このときシステムコントローラ１０５は、ディスク半径上の現在位置が属するエリアのチルトエリア調整値を新たなチルト調整値Ｃで更新する。
【０１５２】
７．システムコントローラ１０５は、その後もリード動作を行いながら収差調整およびフォーカスバイアス調整を実行する（ステップＳ３１２）。そしてシステムコントローラ１０５は、１以上の所定回数の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングを判定すると（ステップＳ３０１）、再び評価用チルト調整値をＣ＋ΔＣに設定し、以後同じ動作を繰り返すように制御を行う。
【０１５３】
なお、以上のリアルタイムチルト調整において、もしディスク半径方向の移動量がある値以上である長距離シークが行われた場合、システムコントローラ１０５は、リアルタイムチルト調整動作を中断し、ステップＳ３０１からの処理をやり直す。
【０１５４】
以上は１以上の所定回数の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングを判定する都度、評価用チルト調整値を変更してリアルタイムチルト調整を行う場合の動作の説明である。ここで、上記の所定回数を１とした場合のリアルタイムチルト調整の動作は次のようになる。図２２は、この場合のリアルタイムチルト調整のフローチャートである。
【０１５５】
１．再生装置１０１のシステムコントローラ１０５は、外部のＡＶシステムＡＶＳ１からリード命令を受けると、光ディスク１０２上の目的のリード開始位置の手前に光ピックアップ１０３を移動させるためにシーク動作を行うシーク実行タイミングを判定する（ステップＳ４０１）。システムコントローラ１０５は、このシーク実行タイミングを判定すると、評価用チルト調整値の設定を次のように行う。
【０１５６】
システムコントローラ１０５は、現在（設定変更前）の評価用チルト調整値がＣ−ΔＣである場合は新たな評価用チルト調整値としてＣ＋ΔＣを設定し（ステップＳ４０３）、逆に現在の評価用チルト調整値がＣ＋ΔＣである場合は新たな評価用チルト調整値としてＣ−ΔＣを設定する（ステップＳ４０４）。続いてシステムコントローラ１０５は、評価用収差補正値をＡ＋ΔＡに設定する（ステップＳ４０５）。次に、システムコントローラ１０５はシーク指示信号をサーボ回路１０６に送出することによって、実際のシーク動作を実行する（ステップＳ４０６）。
【０１５７】
２．光ピックアップ１０３による光ディスク１０２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ１０５は、リード動作を実行しながらフォーカスバイアス調整処理を実行する（ステップＳ４０７）。
【０１５８】
３．光ディスク１０２からリードされ、リーダ回路１１３での２値化処理、復調回路１１４での復調処理、デコーダ１１５でのデコード処理を経て得られたデータは、デコーダ１１５内のバッファへと転送され、蓄積されていく。バッファがフル状態になると、一旦再生モードから待機モードへと移行した後、バッファからデータが読み出されてバッファに溜まったデータ量がある値を下回るとリード動作が再開される。ここで再びシーク実行タイミングが発生する（ステップＳ４０８）。
【０１５９】
４．システムコントローラ１０５は、評価用収差補正値をＡ−ΔＡに変更する（ステップＳ４０９）。その後、システムコントローラ１０５はシーク指示信号をサーボ回路１０６に送出することによって、実際のシーク動作を実行するように制御を行う（ステップＳ４１０）。
【０１６０】
５．光ディスク１０２上の目的のリード開始位置からのリード動作が可能になったところで、システムコントローラ１０５はリード動作を実行しながらフォーカスバイアス調整処理を実行するように制御を行う（ステップＳ４１１）。この後、システムコントローラ１０５は、評価用収差補正値をＡ＋ΔＡに設定したときに得られた評価値とＡ−ΔＡに設定したときに得られた評価値をもとに収差補正値Ａを計算する（ステップＳ４１２）。
【０１６１】
６．その後、システムコントローラ１０５は、評価用チルト調整値をＣ＋ΔＣとした状態での評価値とＣ−ΔＣとした状態での評価値が得られたところで（ステップＳ４１３のＹＥＳ）、チルト調整値Ｃの計算を行う（ステップＳ４１４）。そしてシステムコントローラ１０５は、ディスク半径上の現在位置に対応するエリアのチルトエリア調整値を計算結果であるチルト調整値Ｃで更新する。
【０１６２】
７．システムコントローラ１０５は、その後もリード動作を行いながらフォーカスバイアス調整を実行する（ステップＳ４１５）。そしてシステムコントローラ１０５は、次のシーク実行タイミングを判定すると（ステップＳ４０１）、評価用チルト調整値を変更する処理から以後の動作を同様に繰り返すように制御を行う。
【０１６３】
［リアルタイムチルト調整中のチルト調整値の計算方法］
次に、リアルタイムチルト調整中のチルト調整値の計算方法を説明する。
【０１６４】
図２３は、１回の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングを判定する都度、評価用チルト調整値を変更してリアルタイムチルト調整が行われる場合のチルト調整、収差調整、フォーカスバイアス調整の関係を示す図である。図２３の縦軸はチルト、収差、フォーカスバイアスそれぞれの設定値を示し、横軸は時間を示す。
【０１６５】
１．ｓ回目のリアルタイムチルト調整を開始した時のチルト調整値をＣ（ｓ）とする。システムコントローラ１０５は、ｓ回目のリアルタイムチルト調整を開始したシーク実行タイミングで評価用チルト調整値をＣＰ（ｓ）＝Ｃ（ｓ）＋ΔＣに設定する。
【０１６６】
２．システムコントローラ１０５は、評価用チルト調整値をＣＰ（ｓ）としたままで収差調整およびフォーカスバイアス調整を実行する。
【０１６７】
３．システムコントローラ１０５は、１回の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングで、評価用チルト調整値をＣＭ（ｓ）＝Ｃ（ｓ）−ΔＣに変更する。説明のため、この直前に評価用収差補正値をプラスからマイナスに切り替えたタイミングをＴＰｓと呼び、この直後に評価用収差補正値をプラスからマイナスに切り替えたタイミングをＴＭｓと呼ぶことにする。
【０１６８】
４．説明のため、フォーカスバイアス調整に以下の名前を付ける。
ＴＰｓ直前のフォーカスバイアス調整：ＰＰｓ回目測定
ＴＰｓ直後のフォーカスバイアス調整：ＰＭｓ回目測定
ＴＭｓ直前のフォーカスバイアス調整：ＭＰｓ回目測定
ＴＭｓ直後のフォーカスバイアス調整：ＭＭｓ回目測定
【０１６９】
５．システムコントローラ１０５は、ＭＭｓ回目測定が完了したら、以下の手順でチルト調整値の計算を実行する。
（ア）フォーカスバイアス調整ＰＰｓ回目とＰＭｓ回目の各測定で取得した評価値の平均値をｘｐ（ｓ）、フォーカスバイアス調整ＭＰｓ回目とＭＭｓ回目の各測定で取得した評価値の平均値をｘｍ（ｓ）とする。
このとき、ｘｐ（ｓ）、ｘｍ（ｓ）は
【０１７０】
【数５】
2010244669.tif 000007
となる。
【０１７１】
ここで、ｘｐ（ｓ）は評価用チルト調整値をプラス側にして測定した評価値の平均値、ｘｍ（ｓ）は評価用チルト調整値をマイナス側にして測定した評価値の平均値である。
更にｘｐ（ｓ）とｘｍ（ｓ）の差分を
ｘ（ｓ）＝ｘｐ（ｓ）−ｘｍ（ｓ）
とする。
【０１７２】
（イ）次に、システムコントローラ１０５は、チルト調整値を以下のように計算する。
【０１７３】
【数６】
2010244669.tif 000008
【０１７４】
ここで、ｇ（ｓ）は、ｓ回目のチルト調整で算出されたチルト調整値であり、ｇ（ｓ）＝Ｃ（ｓ＋１）、
ｇ（ｓ−１）は、チルト調整ｓ−１回目に算出したチルト調整値であり、ｇ（ｓ−１）＝Ｃ（ｓ）、
ｘ（ｓ）は、チルト調整ｓ回目の測定での評価値差分、
ｘ（ｓ−１）は、チルト調整ｓ−１回目の測定での評価値差分、
ｘtargetは、評価値差分の目標値、
Ｔ３  は、調整間隔［ｓ]、
Ｋ３ｐは、比例ゲイン、
Ｋ３ｉは、積分ゲインである。
【０１７５】
これは次のＰＩ制御式
【０１７６】
【数７】
2010244669.tif 000009
を離散化したものに相当する。
ここで、Ｋ３ｐ、Ｋ３ｉは調整ゲインで、所望の性能を満たすように決定される。
【０１７７】
６．以上の手順で計算を終えたら、システムコントローラ１０５は、評価用チルト調整値をＣＭ（ｓ）としたまま、収差調整とフォーカスバイアス調整を実行する。そしてシステムコントローラ１０５は、１回の収差調整計算が終了した後の最初のシーク実行タイミングで評価用チルト調整値をＣＰ（ｓ＋１）＝Ｃ （ｓ＋１）＋ΔＣに変更し、以後同様に調整を行う。
【０１７８】
図２４は評価値としてジッタ値を採用した場合の評価用チルト調整値と評価値との関係を示す図である。評価用チルト調整値がチルト調整値に対してプラス側に設定され各区間それぞれの評価値の平均値ｘｐ（ｓ）と、評価用チルト調整値がチルト調整値に対してマイナス側に設定された各区間それぞれの評価値の平均値ｘｍ（ｓ）は、同図では黒丸で示したジッタ値に相当する。したがって、ｘtarget＝０とすれば、ジッタのボトムを目標に調整することができる。
【０１７９】
以上説明した本実施形態によれば、立ち上げ後にフォーカスバイアス調整および収差調整を行いながら、リアルタイムチルト調整を良好に行うことができる。加えて、本実施形態によれば、リアルタイムチルト調整の計算に評価値の積分効果を持たせて、ジッタ値の測定誤差の影響を極力低減しているため、調整動作中のふり幅を小さくでき、調整動作によるリード性能への影響も小さくできる。
【０１８０】
上述した実施の形態においては、リード中にフォーカスバイアス調整、収差調整、およびチルト調整を実行するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、アイドル中に同様に各調整を実行するようにしてもよい。
【０１８１】
さらに上述した実施の形態においては、本発明を再生装置１０１に適用した場合について述べたが、記録再生装置において、リード中、アイドル中、ライト中の少なくとも１つの動作中に、フォーカスバイアス調整、収差調整、チルト調整を実行するようにしてもよい。
【０１８２】
上記の実施形態では、レーザ光の球面収差を調整する場合を説明したが、本発明は球面収差に限らず、レーザ光に生じるその他様々な収差の調整にも適用することができる。
【０１８３】
以下に、上述した第２の実施形態の変形例を説明する。
［変形例９］評価値の精度向上によるチルト調整精度の向上
平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）の相互の取得タイミングが近い方が、平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）の相互の取得位置のディスク半径方向での距離が小さいことから、評価値の精度を向上させることができる。
【０１８４】
平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）の相互の取得タイミングを第２の実施形態に比較して近くするには以下の方法がある。
【０１８５】
図２５は、平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）の相互の取得タイミングを近くするために、収差調整値に対してプラス側の評価用収差補正値とマイナス側の評価用収差補正値とを切り替える順を第２の実施形態に対して変更した変形例を示す図である。第２の実施形態では、収差補正値に対して評価用収差補正値のプラスの区間とマイナスの区間が、プラス→マイナス→プラス→マイナス→プラス→マイナス→…のように交互に切り替えられる。これに対し、本変形例では、例えば、プラス→マイナス→マイナス→プラス→プラス→マイナス→…のように、プラスの区間とマイナスの区間の順番を交互に切り替えることとする。
【０１８６】
図２５において、評価用チルト調整値をＣＰ（ｓ）からＣＭ（ｓ）に設定したタイミングの直前・直後のフォーカスバイアス調整のうち、評価用チルト調整値をチルト調整値のプラス側に設定したＣＰ（ｓ）区間のフォーカスバイアス調整をＰｓ回目測定、評価用チルト調整値をチルト調整値のマイナス側に設定したＣＭ（ｓ）区間のフォーカスバイアス調整をＭｓ回目測定とする。すると、Ｐｓ回目測定で得られた評価値の平均値ｘｐ（ｓ）とＭｓ回目測定で得られた評価値の平均値ｘｍ（ｓ）は次のように計算することができる。
【０１８７】
【数８】
2010244669.tif 000010
以後は、第２の実施形態で示した方法と同様にチルト調整値の計算が行われる。
【０１８８】
この変形例によれば、平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）の計算が第２の実施形態での計算に比較して単純になった分だけ、平均値ｘｐ（ｓ）と平均値ｘｍ（ｓ）との相互の取得タイミングを近くすることができ、チルト調整の評価値の精度を向上させることができる。
【０１８９】
［変形例１０］収差調整がチルト調整に与える影響の低減方法
平均値ｘｐ（ｓ）および平均値ｘｍ（ｓ）の計算は収差調整が動き続けている状況下で行われるため、収差調整による一度の調整量が大きくなる程、チルト調整のための評価値の精度が低下する傾向がある。このような問題を低減する方法としては次の２つがある。
【０１９０】
１．収差調整による一度の調整量が予め決められた値より大きい場合に、チルト調整値の計算および更新をスキップする方法。
２．図２６に示すように、チルト調整値に対してプラス側の評価用チルト調整値とマイナス側の評価用チルト調整値との切り替えの順番を、例えば、プラス→マイナス→マイナス→プラス→プラス→マイナス→…のように、評価用チルト調整値のプラスの区間とマイナスの区間の順番を交互に更新する方法。
【０１９１】
［変形例１１］チルト設定値、収差補正設定値の更新タイミング
チルト設定値、収差補正設定値を更新するタイミングは、シーク実行タイミングに限定されない。例えば、予め設定された時間周期で、チルト設定値、収差補正設定値を更新してもよい。
【０１９２】
［変形例１２］温度によるレンズチルト感度変動への対応
対物レンズに安価なプラスティック製レンズを使用した場合、レンズチルト変動に対するコマ収差発生感度（レンズチルト感度）が変動することがある。そこで、評価用チルト調整値の変位量ΔＣを、温度センサ１５０（図１６）により検出された温度によって補正するようにすれば、レンズチルト感度が変動した場合でもチルト調整を精度よく行うことができる。具体的な方法としては、次の３つがある。
【０１９３】
１．温度範囲毎の評価用チルト調整値の変位量ΔＣをシステムコントローラ１０５内のメモリに保持しておき、検出された温度範囲に応じた変位量ΔＣをメモリから読み出して用いる方法。
【０１９４】
２．レンズチルト感度の計算式を用いて評価用チルト調整値の変位量ΔＣを求める方法。 
例えば、システムコントローラ１０５は、温度により補正が加えられたチルトエリア調整値を以下のように計算する。
Ｔｅｍｐ＿ｎｏｗ［ｄｅｇ］を現在温度、
Ｔｅｍｐ＿０［ｄｅｇ］を基準温度［ｄｅｇ］、
温度Ｔでのレンズチルト感度計算式をｆ（Ｔ）［ディスクチルトｄｅｇ／レンズチルトｄｅｇ］
ＣＴｅｍｐ０を基準温度での変位量設定値として、
温度がＴｅｍｐ＿ｎｏｗであるときの変位量ΔＣＴｅｍｐ＿ｎｏｗは、
【０１９５】
【数９】
2010244669.tif 000011
と計算できる。
【０１９６】
３．図１９に示すように、チルトエリア調整値の更新時にチルトエリア調整時温度の情報もエリア毎に保存しておき、チルトエリア調整値をリアルタイムチルト調整の初期値として参照する際に、対応するエリアのチルトエリア調整時温度と現在温度との差によるレンズチルト感度の変動分を見込んでチルトエリア調整値を補正する方法。この方法によれば、レンズチルト感度が温度により変動する状況においても、長距離シークの実行直後からリアルタイムチルト調整を良好に行うことができる。
【０１９７】
例えば、チルトエリア調整値をＴＡＣｎ［ｓｔｅｐ］、
チルトエリア調整時温度をＴｅｍｐ＿ＴＡＣｎ ［ｄｅｇ］、
現在温度をＴｅｍｐ＿ｎｏｗ［ｄｅｇ］、
温度Ｔでのレンズチルト感度をｆ（Ｔ）［ディスクチルトｄｅｇ／レンズチルトｄｅｇ］とした場合、補正後のチルトエリア調整値は
（補正後のチルトエリア調整値）＝ＴＡＣｎ×ｆ（Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｎ）／ｆ（Ｔｅｍｐ＿ｎｏｗ）…（１２）
と計算できる。
【０１９８】
次に、上記３の方法によりチルトエリア調整値を更新する場合の動作を詳細に説明する。
【０１９９】
（１）チルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その１
図２７はチルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その１のフローチャートである。
ここで、光ディスク上の任意のエリアをａｉ、そのエリアａｉに対するチルトエリア調整値ＴＡＣｉ、そのエリアａｉに対するチルトエリア調整時温度をＴｅｍｐ＿ＴＡＣｉとする。
【０２００】
システムコントローラ１０５は、立ち上げ時に、不揮発性メモリから工場出荷時の調整データであるドライブチルト補正値Ｔｉｌｔ＿ｄ０とドライブチルト補正時温度Ｔｅｍｐ＿ｄ０をそれぞれ読み出す（ステップＳ５０１）。システムコントローラ１０５は、これらの情報を、全エリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉおよびチルトエリア調整時温度Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉそれぞれの初期値として設定する（ステップＳ５０２−Ｓ５０４）。なお、ドライブチルト補正値とは、再生装置自身がもつ固定的なチルト方向の傾きを補正するための値である。
【０２０１】
（２）チルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その２
例えば、工場出荷時の調整データが不揮発性メモリに保存されていない場合等において、システムコントローラ１０５は、立ち上げ時に光ディスクの一部エリアでのチルト調整を行い、そのチルト調整結果を全エリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉの初期値として設定するとともに、そのチルト調整時に温度センサ１５０で検出された温度の情報を全エリアのチルトエリア調整時温度Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉとして保存する。
【０２０２】
図２８は、かかるチルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の初期設定その２のフローチャートである。
システムコントローラ１０５は、立ち上げ時に、例えばディスク内周部などの一部エリアのみでチルト調整を実行し、このチルト調整値としてＴｉｌｔＡｄｊ＿ｉｎを得るとともに、チルトエリア調整時温度としてＴｅｍｐ＿ＴｉｌｔＡｄｊ＿ｉｎを得る（ステップＳ６０１）。続いてシステムコントローラ１０５は、ＴｉｌｔＡｄｊ＿ｉｎを全エリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉとして設定するとともに、Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉを全エリアのチルト調整時温度Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉとして設定する（ステップＳ６０２−Ｓ６０４）。なお、ここでは、立ち上げ時にディスク内周部のみでチルト調整を実行することとしたが、これに限定されない。例えば、ディスク外周部など、その他の特定部位のみでチルト調整を実行して全エリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉとチルト調整時温度情報Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉを設定するようにしてもよい。
【０２０３】
（３）チルトエリア調整値の更新
リアルタイムチルト調整時は、計算されたチルト調整値Ｃで、対応するエリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉを更新するとともに、チルト調整値の計算時に温度センサ１５０により検出された温度の情報で同エリアのチルトエリア調整時温度Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉを更新する。
【０２０４】
図２９は、かかるリアルタイムチルト調整時のチルトエリア調整値およびチルトエリア調整時温度の更新のフローチャートである。
【０２０５】
システムコントローラ１０５は、リアルタイムチルト調整によってチルト調整値Ｃを計算したら、計算時の現在温度Ｔｅｍｐ＿ｎｏｗを温度センサ１５０より取得する（ステップＳ７０１）。次に、システムコントローラ１０５は、現在位置のアドレス情報からディスク半径上の現在位置を算出し（ステップＳ７０２）、このディスク半径上の現在位置が属するエリアの番号iを算出する（ステップＳ７０３）。その後、システムコントローラ１０５は、該当エリアのチルトエリア調整値ＴＡＣｉをチルト調整値Ｃで更新し、チルトエリア調整時温度Ｔｅｍｐ＿ＴＡＣｉを計算時の現在温度Ｔｅｍｐ＿ｎｏｗで更新する（ステップＳ７０４）。
【０２０６】
［変形例１３］評価値と、評価値差分の目標値
第２の実施形態で用いることができる評価値としては、ＲＦ再生信号のジッタ値、ＲＦ信号の振幅値、ウォブル信号の振幅値を利用することができる。また、ＭＬＳＡ（Maximum Likelihood Sequence Amplitude ）、ＰＲＭＬの品質評価指標としてのＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）、ＤＭｊを利用することが可能である。これらの評価値を用いる場合は、評価値差分の目標値をいずれも、ｘtarget＝０とすれば、チルト調整値を最適位置に調整することができる。
【０２０７】
リード中（再生モード）、アイドル中（待機モード）の調整では、上述の評価値はいずれも使うことができる。ライト中に調整する場合は、ウォブル振幅値を評価値として用いることができる。
【０２０８】
［変形例１４］ディフェクト耐性向上について
これまでに示したリアルタイムチルト調整は、再生中に光ディスクのデータ記録領域に存在するディフェクトの影響により調整精度が低下する場合がある。ディフェクト耐性を向上させるには、計算されたチルト調整値に対してＬＰＦ（Low Pass Filter）計算を行うことによりチルト調整値のディフェクト成分を除去するようにすればよい。
【０２０９】
以上、本発明を再生装置、記録再生装置に適用するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、光ディスクに対してデータの記録又は再生が可能なその他の様々な機器に本発明は適用可能である。例えば、パーソナルコンピュータやゲーム機器、カーナビゲーション装置、録画装置等の情報処理装置に本発明は適用できる。
【０２１０】
また、システムコントローラのプログラムは、再生装置に設けられたＲＯＭ等の記憶部に予め記憶されていてもよいし、プログラムが格納された着脱自在な記憶媒体やインターネット等の伝送媒体を通じてインストールにより内部の記憶部に導入されたものであってもよい。
【符号の説明】
【０２１１】
１  再生装置
２  光ディスク
３  光ピックアップ
５  システムコントローラ
６  サーボ回路
１０  マトリクス回路
１３  リーダ回路
１４  復調回路
１５  デコーダ
２０  レーザダイオード
２３  球面収差補正レンズ群
２４  対物レンズ
３０  ＤＳＰ
３２  加算器
３３  フォーカスバイアス設定部
３４  収差補正設定値設定部
３５  フォーカスサーボ演算部
３７  球面収差補正ドライバ
３９  フォーカスドライバ
４０  設定制御部
５１  評価値生成回路
【図１】
2010244669.tif 000012
【図２】
2010244669.tif 000013
【図３】
2010244669.tif 000014
【図４】
2010244669.tif 000015
【図５】
2010244669.tif 000016
【図６】
2010244669.tif 000017
【図７】
2010244669.tif 000018
【図８】
2010244669.tif 000019
【図９】
2010244669.tif 000020
【図１０】
2010244669.tif 000021
【図１１】
2010244669.tif 000022
【図１２】
2010244669.tif 000023
【図１３】
2010244669.tif 000024
【図１４】
2010244669.tif 000025
【図１５】
2010244669.tif 000026
【図１６】
2010244669.tif 000027
【図１７】
2010244669.tif 000028
【図１８】
2010244669.tif 000029
【図１９】
2010244669.tif 000030
【図２０】
2010244669.tif 000031
【図２１】
2010244669.tif 000032
【図２２】
2010244669.tif 000033
【図２３】
2010244669.tif 000034
【図２４】
2010244669.tif 000035
【図２５】
2010244669.tif 000036
【図２６】
2010244669.tif 000037
【図２７】
2010244669.tif 000038
【図２８】
2010244669.tif 000039
【図２９】
2010244669.tif 000040