(57)【要約】      （修正有）【課題】検査工程で端子ずれを検知して異常品の出荷を防止することができ、また端子ずれがあってもパターン端子が接続される回路の破損を防止することができる光ピックアップ装置、およびそれを搭載する情報処理装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ装置は、端部に雌側コネクタと接続される複数のパターン端子が形成されるフレキシブル基板１２を備え、パターン端子は、通常幅パターン端子１４１と太幅パターン端子１４２と細幅パターン端子１４３〜１４５とを含む。端子ずれを起こした場合に、太幅パターン端子１４２が隣接するパターン端子と短絡するので、検査工程で短絡を検知して異常品の出荷を防止することができる。細幅パターン端子１４３〜１４５は、短絡などの接続不良を起こしにくいので半導体レーザ部などの重要部を保護することができる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を用いて光記録媒体に対して、情報の再生、消去および記録のうちのいずれかが可能である光ピックアップ装置であって、
端部にコネクタと接続される複数のパターン端子が形成されるフレキシブル基板を備え、
前記パターン端子は、予め定める幅のパターン端子と、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子とを含むことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記予め定める幅とは異なる幅のパターン端子は、予め定める幅より細い幅のパターン端子、および予め定める幅より太い幅のパターン端子のうち、少なくともいずれか１つを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記フレキシブル基板端部に形成されるそれぞれのパターン端子は、コネクタ挿入方向の中心線の間隔が等間隔であることを特徴とする請求項１または２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記レーザ光を出射する半導体レーザ部を備え、
前記フレキシブル基板は、前記パターン端子からの信号が伝送される配線部が形成され、
前記フレキシブル基板端部に形成されるパターン端子のうち、少なくとも半導体レーザ部に配線部を介して電圧を供給するパターン端子と、前記電圧を供給するパターン端子の両隣に隣接するパターン端子とは、前記予め定める幅より細い幅のパターン端子で形成されていることを特徴とする請求項２または３に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１つに記載の光ピックアップ装置を搭載することを特徴とする情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの光記録媒体の情報を再生、消去、および記録のうちのいずれかが可能である光ピックアップ装置、およびそれを搭載する情報処理装置に関し、より詳細には、光ピックアップを構成するフレキシブル基板の端部に形成されるパターン端子の形状に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクまたは光磁気ディスクなどの光記録媒体の情報を再生、消去、および記録のうちのいずれかが可能である情報処理装置には、光ピックアップ装置が用いられている。光ピックアップ装置は、レーザ光を光記録媒体の記録面に出射して、情報を光記録媒体の記録面に書き込み、または記録面からの反射光を用いて、記録面に記録された情報を光学的に読み出すことができるものである。
【０００３】
図５は、従来の技術による光ピックアップ装置２を示す外観図である。光ピックアップ装置２は、光記録媒体に情報を記録し、またはすでに記録された情報を再生あるいは消去するための光ピックアップ本体１１と、光ピックアップ本体１１に電力の供給および信号の伝送などを行う可撓性のフレキシブル基板（以下、「ＦＰＣ」という）２２とから構成されている。ＦＰＣ２２の端部は、図示しない雌側コネクタと電気的かつ機械的に接続される雄側コネクタ部２３を備えている。コネクタ部２３には、図示しない雌側コネクタの接続端子（以下、「雌側端子」という）と電気的に接続される複数のパターン端子２４が形成されている。
【０００４】
光ピックアップ本体１１は、ＦＰＣ２２の配線部、およびコネクタ部２３に形成されるパターン端子２４をそれぞれ介して、図示しない外部機器と信号の入出力などを行い制御されるものである。
【０００５】
光ピックアップ装置２では、コネクタ部２３に形成されるそれぞれのパターン端子２４が、同一の端子幅、かつ同一間隔で形成され、雌側端子のそれぞれと電気的に接続するようになっている（たとえば特許文献１参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−１３５１１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、コネクタ部２３に形成されるパターン端子２４が、コネクタ部２３の全体の形状に対してずれが生じた端子ずれの状態で製造されることがある。光ピックアップ装置２に対して信号確認などを行う検査工程において、製品に端子ずれが起きているか否かを確認しているが、パターン端子２４が少しずれていても雌側端子と接続されて正常に信号確認が行われてしまい、出荷されてしまう可能性がある。
【０００８】
出荷後、光ピックアップ装置２のコネクタ部２３と外部機器の雌側コネクタとが接続される。しかし外部機器の雌側コネクタは、様々なメーカの製品であるので品質が一定していない。そのため電気的接続が上手くいかず、機器が正常に動作しない、または電気的接続が不安定になり電流が急に流れて重要部である半導体レーザ部が破損を起こすという問題がある。
【０００９】
これは、従来の技術による一般的なコネクタ部の構成が、パターン端子が同一端子幅、かつ同一間隔で形成されているので、端子ずれが起こった場合に、パターン端子が本来接続するべきではない雌側端子と接続して導通してしまうからである。従来の技術による光ピックアップ装置のコネクタ部のパターン端子の形状は、端子ずれが起こったときに重要部である半導体レーザ部を保護することに関して考慮されていない。
【００１０】
本発明の目的は、検査工程で端子ずれを検知して異常品の出荷を防止することができ、また端子ずれがあってもパターン端子が接続される回路の破損を防止することができる光ピックアップ装置、およびそれを搭載する情報処理装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、レーザ光を用いて光記録媒体に対して、情報の再生、消去および記録のうちのいずれかが可能である光ピックアップ装置であって、
端部にコネクタと接続される複数のパターン端子が形成されるフレキシブル基板を備え、
前記パターン端子は、予め定める幅のパターン端子と、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子とを含むことを特徴とする光ピックアップ装置である。
【００１２】
また本発明は、前記光ピックアップ装置を搭載することを特徴とする情報処理装置である。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、レーザ光を用いて光記録媒体に対して、情報の再生、消去および記録のうちのいずれかを行うにあたって、フレキシブル基板の端部にコネクタと接続される複数のパターン端子が形成される。前記パターン端子は、予め定める幅のパターン端子と、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子とを含んでいる。
【００１４】
したがって、たとえば予め定める幅とは異なる幅のパターン端子が、予め定める幅より太い幅のパターン端子の場合は、端子ずれが起こると隣接するパターン端子と短絡しやすいので、検査工程で短絡を検知して端子ずれを起こした異常品の出荷を防止することができる。たとえば予め定める幅とは異なる幅のパターン端子が、予め定める幅より細い幅のパターン端子の場合は、端子ずれが起きても隣接するパターン端子と短絡しにくいので、半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【００１５】
また本発明によれば、情報処理装置が前記光ピックアップ装置を搭載することによって、端子ずれによる接続不良が発生しにくい安定した動作が担保され、また接続不良が起こっても半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図１は、本発明の実施の一形態の光ピックアップ装置１を示す外観図である。光ピックアップ装置１は、レーザ光を用いて光記録媒体に情報を記録し、またはすでに記録された情報を再生あるいは消去するための光ピックアップ本体１１と、光ピックアップ本体１１に電力の供給および信号の伝送などを行う可撓性のフレキシブル基板（以下、「ＦＰＣ」という）１２とから構成されている。ＦＰＣ１２は、図示しない雌側コネクタと電気的かつ機械的に接続される雄側コネクタ部１３と、コネクタ部１３から入出力される信号および電力を光ピックアップ本体１１に伝える図示しない配線部とを含んで構成される。コネクタ部１３は、ＦＰＣ１２の端部に形成され、図示しない雌側コネクタの接続端子（以下、「雌側端子」という）と一対一で電気的に接続されるパターン端子１４が形成されている。
【００１７】
光ピックアップ本体１１は、コネクタ部１３に形成されるパターン端子１４およびＦＰＣ１２の配線部をそれぞれ介して、外部機器と電気的に接続される。外部機器は、光ピックアップ本体１１への電力の供給、および信号の入出力を行うことで、光ピックアップ装置１を制御する。
【００１８】
図２は、ＦＰＣ１２端部に形成されるコネクタ部１３を拡大して示す詳細図である。コネクタ部１３には、予め定める幅のパターン端子である通常幅パターン端子１４１と、予め定める幅より太い幅のパターン端子である太幅パターン端子１４２と、予め定める幅より細い幅のパターン端子である細幅パターン端子１４３〜１４５とが形成されている。通常幅パターン端子１４１、太幅パターン端子１４２および細幅パターン端子１４３〜１４５を総称してパターン端子１４という。太幅パターン端子１４２と細幅パターン端子１４３〜１４５とは、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子である。
【００１９】
コネクタ部１３の挿入方向をＹ方向として、図２に矢印Ｙで示す。Ｙ方向に垂直に交わり、かつパターン端子１４が配列される方向をＸ方向として、図２に矢印Ｘで示す。通常幅パターン端子１４１はＸ方向の端子幅がＬ１で形成され、太幅パターン端子１４２はＸ方向の端子幅がＬ２で形成され、細幅パターン端子１４３〜１４５はＸ方向の端子幅がＬ３で形成されている。端子幅Ｌ１、Ｌ２およびＬ３は、「Ｌ３ ＜ Ｌ１ ＜ Ｌ２」の関係を満たす範囲で定めることができる。細幅パターン端子１４３〜１４５の端子幅Ｌ３は、少なくとも雌側端子と電気的に接続されて信号および電力の伝送が確実に行える幅であればよい。太幅パターン端子１４２の端子幅Ｌ２は、隣接するパターン端子と接触しない範囲で定めることができる。パターン端子１４は、Ｙ方向の中心線の間隔がすべて等しく形成されており、パターン端子１４の中心線の間隔はＬ４である。
【００２０】
コネクタ部１３と外部機器の雌側コネクタとが接続される状態での雌側端子の位置を、二点鎖線で示す範囲１５ａ中に斜線入りの矩形で模式的に示す。パターン端子１４１〜１４５と、雌側端子１４１ａ〜１４５ａとは、それぞれ一対一で電気的に接続される。雌側コネクタは、一般的なコネクタ、たとえば全ての雌側端子はＸ方向の端子幅が同一幅で形成され、かつＹ方向の中心線の間隔が等間隔で形成されるものである。パターン端子１４と雌側端子とがそれぞれ一対一で電気的に接続されることで、外部機器は光ピックアップ本体１１に信号の入出力などを行って光ピックアップ装置１を制御する。
【００２１】
コネクタ部１３に形成されるパターン端子１４が、コネクタ部１３の全体の形状に対してずれが生じた端子ずれの状態で製造されることがある。端子ずれを起こしたＦＰＣ１２では、光ピックアップ装置１がコネクタ部１３を介して外部機器と接続されるときに、電気的接続が上手くいかず、機器が正常に動作しないことがある。
【００２２】
図３は、端子ずれを起こしている状態のＦＰＣ１２端部に形成されるコネクタ部１３を拡大して示す詳細図である。コネクタ部１３全体の形状に対して、パターン端子１４がＸ方向下向きにずれて形成されているので、ＦＰＣ１２は端子ずれが起こっている状態である。
【００２３】
コネクタ部１３と外部機器の雌側コネクタとが接続された状態での雌側端子の位置を、二点鎖線で示す範囲１５ｂ中に斜線入りの矩形で模式的に示す。パターン端子１４１〜１４５と、それぞれ一対一で電気的に接続されるべき雌側端子は、雌側端子１４１ｂ〜１４５ｂである。
【００２４】
ＦＰＣ１２に端子ずれが起こっているので、パターン端子１４と雌側端子とはそれぞれ一対一で電気的に接続されているわけではない。通常幅パターン端子１４１は、雌側端子１４１ｂと接続しているが、端子の両端がわずかに接触しているだけなので、振動などによって接触および非接触を繰り返すなどの接続不良を起こす可能性がある。太幅パターン端子１４２は、雌側端子１４２ｂと接続しているが、雌側端子１４２ｂは、太幅パターン端子１４２に隣接するパターン端子１４とも接続しているので、太幅パターン端子１４２は隣接するパターン端子１４と短絡している。細幅パターン端子１４３〜１４５は、雌側端子１４３ｂ〜１４５ｂと接続していないので接続不良である。
【００２５】
光ピックアップ装置１の細幅パターン端子１４３〜１４５と外部機器の雌側端子１４３ｂ〜１４５ｂとが接続していない状態、および太幅パターン端子１４２が隣接するパターン端子１４と短絡している状態では、光ピックアップ装置１と外部機器との間で信号の入出力などが正常に行われない。したがって、光ピックアップ装置１はレーザ光を光記録媒体の記録面に出射できないなどの動作不良を起こす可能性がある。
【００２６】
通常幅パターン端子１４１は、雌側端子１４１ｂと端子の両端でわずかに接触しているが、振動などによって接触および非接触を繰り返す接続不良を起こすことがある。レーザ光を出射する半導体レーザ部に含まれる半導体素子は、電流を急に流すと破損する可能性があるので、通常は半導体素子に緩やかに電流を流すような制御を行っている。したがって、パターン端子１４１と雌側端子１４１ｂとが非接触で、かつ電圧が印加されている状態から、接触してに電流が急に流れた場合には、レーザ光を出射する半導体レーザ部に含まれる半導体素子が破損してしまうことがある。
【００２７】
このように、端子ずれを起こしたＦＰＣ１２を含む光ピックアップ装置１は、製品出荷後に光ピックアップ装置１の動作不良、および重要部である半導体レーザ部の破損などの不具合を起こすことがある。したがって、光ピックアップ装置１を製造するときの検査工程において、光ピックアップ装置１の信号確認を行う検査などによって、製品に端子ずれが起きているか否かを確認をして、異常品の出荷を防ぐことが必要である。
【００２８】
図４は、光ピックアップ装置１を検査する処理を示すフローチャートである。検査工程において、端子ずれを起こしたＦＰＣ１２があるか否かを確認するとき、ステップＳ１に移る。ステップＳ１では、検査機器の雌側コネクタと光ピックアップ装置１のコネクタ部１３とを接続する。検査機器の雌側端子と、光ピックアップ装置１のパターン端子１４とはそれぞれ電気的に接続される。
【００２９】
ステップＳ２では、検査機器がそれぞれの雌側端子とパターン端子１４とを導通させて、短絡しているパターン端子１４があるか否かを確認する。図２に示した端子ずれを起こしていないＦＰＣ１２では、パターン端子１４と雌側端子とが一対一で電気的に接続されているので、短絡は確認されない。図３に示した端子ずれを起こしているＦＰＣ１２では、前述のように、通常幅パターン端子１４１と雌側端子１４１ｂとは振動などによって接続不良を起こす可能性のある状態、細幅パターン端子１４３〜１４５と雌側端子１４３ｂ〜１４５ｂとは接続していない状態、太幅パターン端子１４２は雌側端子１４２ｂを介して隣接するパターン端子１４と短絡している状態である。したがって、太幅パターン端子１４２と隣接するパターン端子１４との間の短絡が確認される。このように、それぞれのパターン端子１４の短絡の有無を確認して、短絡しているパターン端子１４がない場合はステップＳ３に進み、短絡しているパターン端子１４がある場合はステップＳ４に進む。
【００３０】
ステップＳ３では、短絡しているパターン端子が確認されない場合であるので、ＦＰＣ１２に端子ずれが起こっていないと判定して、光ピックアップ装置１は正常品であると判断されて処理は終了する。ステップＳ４では、短絡しているパターン端子１４３が確認される場合であるので、ＦＰＣ１２に端子ずれが起こっていると判定して、光ピックアップ装置１は異常品であると判断されて処理は終了する。
【００３１】
このように、異なる端子幅のパターン端子１４によってコネクタ部１３を形成したので、太幅パターン端子１４２では、通常幅パターン端子１４１および細幅パターン端子１４３〜１４５に比べて、Ｘ方向の端子ずれがわずかに起こっただけで隣接するパターン端子と短絡を起こす。検査工程で各パターン端子を導通させて短絡しているか否かを確認することで、端子ずれを起こしているＦＰＣ１２を容易に判定でき、異常品の光ピックアップ装置１の出荷を確実に防ぐことができる。
【００３２】
図２および図３に示すように、重要部である半導体レーザ部にＦＰＣ１２の配線部を介して電圧を供給する重要部接続細幅パターン端子１４４と、重要部接続細幅パターン端子１４４の両隣に隣接する細幅パターン端子１４５とを、端子幅Ｌ３の細幅パターン端子で形成する。重要部接続細幅パターン端子１４４と、重要部接続細幅パターン端子１４４の両隣に隣接する細幅パターン端子１４５とを総称して細幅パターン端子ともいう。図３に示す端子ずれが起こったＦＰＣ１２は、重要部接続細幅パターン端子１４４および隣接する細幅パターン端子１４５と雌側端子１４４ｂ，１４５ｂとは接続していない。したがって、Ｘ方向に端子ずれが起こった場合でも、重要部接続細幅パターン端子１４４と隣接する細幅パターン端子１４５とは短絡を起こす可能性が少なく、半導体レーザ部に不用意な信号が印加されることを防止して、検査工程および出荷後の半導体レーザ部などの重要部の破損を防ぐことができる。特に、半導体レーザ部に接続されるパターン端子と電源を供給するパターン端子とが隣接する配置である場合に、両パターン端子間の短絡を防ぐことができる。
【００３３】
半導体レーザ部に電気的に接続される重要部接続細幅パターン端子１４４のみならず、短絡などの接続不良によって破損する可能性のある光ピックアップ装置１の構成部品に接続するパターン端子、およびその構成部品に接続するパターン端子の両隣に隣接するパターン端子も、端子幅Ｌ３の細幅パターン端子で構成することができる。端子ずれが起こっても、細幅パターン端子間は短絡する可能性が少ないので、不用意な信号が印加されることによる部品の破損を防ぐことができる。
【００３４】
隣接するパターン端子１４が電源電圧であるパターン端子１４では、両端子間が短絡を起こしたときに、想定外の高電圧が印加されることによって、光ピックアップ本体１１に含まれる部品、たとえば半導体レーザ部などが破損することがある。端子ずれによる接続不良を起こしても部品の破損を起こさないパターン端子を太幅パターン端子１４２にして、検査工程での短絡の確認に使用することが好ましい。
【００３５】
コネクタ部１３を、通常幅パターン端子１４１と太幅パターン端子１４２との２種類のパターン端子で構成してもよく、また通常幅パターン端子１４１と細幅パターン端子１４３〜１４５との２種類のパターン端子で構成することもできる。
【００３６】
パターン端子１４の端子幅はＬ１、Ｌ２およびＬ３の３種類で構成されているが、さらに異なる端子幅のパターン端子を追加して、４種類以上のパターン端子でコネクタ部１３を構成してもよい。
【００３７】
本発明の実施の他の形態として、図示しない情報処理装置はＦＰＣ１２を含む光ピックアップ装置１を搭載する。情報処理装置の図示しない雌側コネクタと、光ピックアップ装置１のコネクタ部１３とが機械的かつ電気的に接続されることで、図示しない雌側端子と雄側パターン端子１４とが一対一で電気的に接続される。情報処理装置は、パターン端子１４および配線部を含むＦＰＣ１２を介して、光ピックアップ本体１１に電力の供給および信号の入出力を行うことで、光ピックアップ装置１を制御する。したがって、情報処理装置が光ピックアップ装置１を搭載するので、端子ずれによる接続不良が発生しにくい安定した動作が担保され、また接続不良が起こっても半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【００３８】
このように、レーザ光を用いて光記録媒体に対して、情報の再生、消去および記録のうちのいずれかを行うにあたって、ＦＰＣ１２の端部に雌側コネクタと接続される複数のパターン端子１４が形成される。パターン端子１４は、予め定める幅の通常幅パターン端子１４１と、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子１４２〜１４５とを含んでいる。したがって、たとえば予め定める幅とは異なる幅のパターン端子１４２〜１４５が、予め定める幅より太い幅のパターン端子１４２の場合は、端子ずれが起こると隣接するパターン端子１４と短絡しやすいので、検査工程で短絡を検知して端子ずれを起こした異常品の出荷を防止することができる。たとえば予め定める幅とは異なる幅のパターン端子１４２〜１４５が、予め定める幅より細い幅のパターン端子１４３〜１４５の場合は、端子ずれが起きても隣接するパターン端子１４と短絡しにくいので、半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【００３９】
さらに、予め定める幅とは異なる幅のパターン端子１４２〜１４５は、予め定める幅より細い幅のパターン端子１４３〜１４５、および予め定める幅より太い幅のパターン端子１４２のうち、少なくともいずれか１つを含んでいる。したがって、予め定める幅より太い幅のパターン端子１４２とすることで、端子ずれが起こった際に短絡しやすいので、検査工程で短絡の有無を確認して端子ずれを検知することができる。予め定める幅より細い幅のパターン端子１４３〜１４５とすることで、端子ずれを起こして接続が不安定なときにも不用意な信号が印加されないので、半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【００４０】
さらに、ＦＰＣ１２端部に形成されるそれぞれのパターン端子１４は、雌側コネクタ挿入方向であるＹ方向の中心線の間隔が等間隔で形成されることによって、ＦＰＣ１２に端子ずれが発生した際に、パターン端子１４がずれた状態を容易に想定できるので、その想定範囲内でパターン端子１４の設計をすることで、予期せぬ接続状態を回避することができる。
【００４１】
さらに、光ピックアップ装置１は、レーザ光を出射する半導体レーザ部を備えている。ＦＰＣ１２は、パターン端子１４からの信号が伝送される配線部が形成されている。ＦＰＣ１２端部に形成されるパターン端子１４のうち、少なくとも半導体レーザ部に配線部を介して電圧を供給する重要部接続細幅パターン端子１４４と、重要部接続細幅パターン端子１４４の両隣に隣接するパターン端子１４５とは、予め定める幅より細い幅のパターン端子で形成されている。したがって、端子ずれが起きているＦＰＣ１２のコネクタ部１３を雌側コネクタに挿入した際に、半導体レーザ部に不用意な信号が印加されないので、重要部である半導体レーザ部の破損を防ぐことができる。
【００４２】
さらに、フレキシブル基板は、パターン端子１４からの信号が伝送される配線部が形成されている。光ピックアップ装置１は、パターン端子１４から配線部を介して接続される部品を含んでいる。フレキシブル基板１２端部に形成されるそれぞれのパターン端子１４は、雌側コネクタのそれぞれの雌側端子と一対一で電気的に接続される。フレキシブル基板１２端部に形成されるパターン端子１４のうち、接続されるべき雌側端子以外の雌側端子と電気的に接触したときに、破損する部品に接続するパターン端子以外の少なくとも１つのパターン端子は、予め定める幅より太い幅のパターン端子１４２で形成されている。したがって、ＦＰＣ１２に端子ずれが起きているか否かを検査工程でチェックする際、それぞれのパターン端子１４に導通を行っても、光ピックアップ装置１を構成する部品を破損することなく端子ずれを検知して異常品の出荷を防ぐことができる。
【００４３】
さらに、情報処理装置が光ピックアップ装置１を搭載することによって、端子ずれによる接続不良が発生しにくい安定した動作が担保され、また接続不良が起こっても半導体レーザ部などの重要部の破損を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施の一形態の光ピックアップ装置１を示す外観図である。
【図２】ＦＰＣ１２端部に形成されるコネクタ部１３を拡大して示す詳細図である。
【図３】端子ずれを起こしている状態のＦＰＣ１２端部に形成されるコネクタ部１３を拡大して示す詳細図である。
【図４】光ピックアップ装置１を検査する処理を示すフローチャートである。
【図５】従来の技術による光ピックアップ装置２を示す外観図である。
【符号の説明】
【００４５】
１，２  光ピックアップ装置
１１  光ピックアップ本体
１２，２２  ＦＰＣ
１３，２３  コネクタ部
１４，２４  パターン端子
１４１  通常幅パターン端子
１４１ａ〜１４５ａ，１４１ｂ〜１４５ｂ  雌側端子
１４２  太幅パターン端子
１４３  細幅パターン端子
１４４  重要部接続細幅パターン端子
１４５  隣接する細幅パターン端子
Ｌ１  通常幅パターン端子の幅
Ｌ２  太幅パターン端子の幅
Ｌ３  細幅パターン端子の幅
Ｌ４  パターン端子の中心線の間隔
【図１】
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【図２】
2010102797.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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