(57)【要約】【課題】非標準言語データから標準言語データへ変換されたデータがデータベースの規定の構成に合致しているかどうかを検査するデータベース検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】データベース検査装置１は、ＳＴＩＬデータベース１００のデータ構成規定を記述したテンプレート１２を備え、データ読み出し部１１が、非標準言語テストデータ４００からライトインターフェース５００により変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータをＳＴＩＬデータベース１００から読み出し、判定部１３が、データ読み出し部１１により読み出されたデータをテンプレート１２と照合し、そのデータの構成がデータ構成規定に合致しているかどうかを判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
非標準言語データから標準言語データに変換されてデータベースに格納されたデータを前記データベースから読み出すデータ読み出し手段と、
前記データベースのデータ構成規定を記述したテンプレートと、
前記データ読み出し手段により読み出されたデータを前記テンプレートと照合し、前記データの構成が前記データ構成規定に合致しているかどうかを判定する判定手段と
を備えることを特徴とするデータベース検査装置。
【請求項２】
前記テンプレートは、
前記データベースに格納されるデータの記述文法、および前記データに記述されるステートメントの組み合せに関する制約が記述されている
ことを特徴とする請求項１に記載のデータベース検査装置。
【請求項３】
前記テンプレートに記述されるデータ構成規定が、
前記記述文法および前記制約の範囲内で任意にカスタマイズされる
ことを特徴とする請求項２に記載のデータベース検査装置。
【請求項４】
前記テンプレートは、
前記標準言語の仕様の改訂に応じて、その記述内容が変更される
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のデータベース検査装置。
【請求項５】
非標準言語データから標準言語データに変換されてデータベースに格納されたデータを前記データベースから読み出して、
前記データベースのデータ構成規定を記述したテンプレートと照合し、
前記データの構成が前記データ構成規定に合致しているかどうかを判定する
ことを特徴とするデータベース検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データベース検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体集積回路のテストデータを記述する言語として、ＩＥＥＥ標準のテストインターフェース言語ＳＴＩＬ（Standard  Test  Interface  Language）がある。ＳＴＩＬで記述されたテストデータは、パーサーによって構文解析およびデータ構造の変換が行われ、ＳＴＩＬ言語のステートメントごとにレコード化された構造のデータベースに格納される。ここでは、このデータベースをＳＴＩＬデータベースと称す。
【０００３】
一方、半導体集積回路をテストするテスターやシミュレータは、メーカや機種の違いにより、それぞれ独特のテストデータ構造を有する。
【０００４】
そのため、使用するテスターやシミュレータなどのアプリケーションに応じて、ＳＴＩＬデータベースのデータをそのテスター用のテストデータに変換することが行われている。また、各アプリケーション専用の言語で記述されたテストデータを変換してＳＴＩＬデータベースに格納することも行われている。
【０００５】
従来、そのような変換を行うシステムとして、ＳＴＩＬなどの共通フォーマットのデータをアプリケーションごとのオリジナルフォーマットのデータへ変換するリードインターフェースと、オリジナルフォーマットのデータを共通フォーマットのデータへ変換するライトインターフェースと、から成るアクセスインターフェースを備えるテスト情報処理システムが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００６】
ところで、ＳＴＩＬ言語仕様は、ＩＥＥＥでの標準化の進展による仕様の拡張などにより、ＳＴＩＬデータベースも次第に複雑化し、様々な制約も多くなっている。ところが、上述のライトインターフェースなどは、ＳＴＩＬ言語仕様の改訂に追随しているとは必ずしも限らないため、上述のライトインターフェースなどを用いて、各アプリケーション専用のテストデータをＳＴＩＬデータベースのデータへ変換したとき、ＳＴＩＬデータベースの制約を満たさないデータが生成される、という問題が発生することがある。
【０００７】
このような問題を避けるための手段として、各アプリケーションに制約違反を監視するチェック機能を組み込むことが考えられる。しかし、そのようなチェック機能を各アプリケーションへ組み込むには多大な工数を必要とするという問題が生じる。また、ＳＴＩＬ言語仕様が改訂されると、その改訂に合わせて、それぞれのアプリケーションごとに組み込んだチェック機能の修正を行なわなければならず、この修正にも多大な工数を必要とするという問題が生じる。
【特許文献１】特開２００６−９２４６６号公報  （第５ページ、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
そこで、本発明の目的は、非標準言語データから標準言語データへ変換されたデータがデータベースの規定の構成に合致しているかどうかを検査するデータベース検査装置および検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一態様によれば、非標準言語データから標準言語データに変換されてデータベースに格納されたデータを前記データベースから読み出すデータ読み出し手段と、前記データベースのデータ構成規定を記述したテンプレートと、前記データ読み出し手段により読み出されたデータを前記テンプレートと照合し、前記データの構成が前記データ構成規定に合致しているかどうかを判定する判定手段とを備えることを特徴とするデータベース検査装置が提供される。
【００１０】
また、本発明の一別の態様によれば、非標準言語データから標準言語データに変換されてデータベースに格納されたデータを前記データベースから読み出して、前記データベースのデータ構成規定を記述したテンプレートと照合し、前記データの構成が前記データ構成規定に合致しているかどうかを判定することを特徴とするデータベース検査方法が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、どのアプリケーションで生成されたデータであっても、標準言語データへ変換後のデータがデータベースの規定の構成に合致しているかどうかを検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施例について図面を参照して説明する。なお、図中、同一または相当部分には同一の符号を付して、その説明は繰り返さない。
【実施例】
【００１３】
本実施例では、標準言語をＳＴＩＬ、データベースをＳＴＩＬデータベースとした例を示す。
【００１４】
図１は、本発明の実施例に係るデータベース検査装置１の構成の例を示すブロック図である。
【００１５】
ここで、本実施例のデータベース検査装置１が検査の対象とするＳＴＩＬデータベース１００に格納されるデータは、ＳＴＩＬで記述されたＳＴＩＬテストデータ２００からＳＴＩＬパーサー３００により作成されるほかに、テスターやシミュレータなどのアプリケーション独自の言語で記述された非標準言語テストデータ４００からライトインターフェース５００により作成される。
【００１６】
ライトインターフェース５００により作成されたデータの場合、ＳＴＩＬデータベース１００の制約を満たさないデータが生成される可能性があるため、本実施例のデータベース検査装置１は、ライトインターフェース５００により作成されたデータを検査の対象とする。
【００１７】
本実施例のデータベース検査装置１は、非標準言語テストデータ４００からライトインターフェース５００により変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータをＳＴＩＬデータベース１００から読み出すデータ読み出し部１１と、ＳＴＩＬデータベース１００のデータ構成規定を記述したテンプレート１２と、データ読み出し部１１により読み出されたデータをテンプレート１２と照合し、そのデータの構成がデータ構成規定に合致しているかどうかを判定する判定部１３と、を備える。なお、判定部１３の判定結果は、外部へ出力される。
【００１８】
図２に、ＳＴＩＬデータベース１００の構成の例を示す。
【００１９】
ＳＴＩＬデータベース１００は、ディレクトリ構成をとり、データベースのレコードは各ディレクトリに分類されて格納されている。
【００２０】
図２に示す例では、ＳＴＩＬデータベース１００は、共通情報ディレクトリ１０１、ピン情報ディレクトリ１０２、タイミング情報ディレクトリ１０３、スキャン情報ディレクトリ１０４、実行情報ディレクトリ１０５、パターン情報ディレクトリ１０６、という６つのディレクトリから構成されている。
【００２１】
図３に、実行情報ディレクトリ１０５を例にとって、各ディレクトリに格納されるレコードの記述例を示す。
【００２２】
各ディレクトリは、ＳＴＩＬ言語の仕様にもとづくステートメント単位でレコードが設けられる。
【００２３】
図４は、ＳＴＩＬデータベース１００のデータ構成規定を記述したテンプレート１２の記述例である。
【００２４】
本実施例のテンプレート１２は、“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックおよび“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックから構成されている。
【００２５】
“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックは、ステートメントを記述する際の制約を規定したものである。
【００２６】
例えば、信号名の記述に使用できる文字列や、ＳＴＩＬデータベース１００に登録可能な情報などについての制約が、“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックに規定されている。
【００２７】
“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックは、ステートメントの組み合わせに関する基準を規定したものである。
【００２８】
例えば、タイミング定義の組み合わせや、テストパターンの記述スタイルの組み合わせについての基準が、“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックに規定されている。
【００２９】
なお、“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックおよび“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックにおいては、正規表現を用いた記述も可能としている。
【００３０】
次に、図５〜図６を用いて、本実施例のデータベース検査装置１の動作について説明する。
【００３１】
図５は、テンプレート１２の“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックと照合することにより、ライトインターフェース５００で変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータの記述が正常かどうかを検査するときの処理フローを示している。
【００３２】
この検査を行うときは、まず、データ読み出し部１１が、ＳＴＩＬデータベース１００から１つのステートメントのデータの読み出しを行う（ステップＳ０１）。
【００３３】
続いて、判定部１３が、データ読み出し部１１により読み出されたデータをテンプレート１２の“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックと照合し（ステップＳ０２）、そのデータの記述が、“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックの規定に合致した正常なものであるかどうかの判定を行う（ステップＳ０３）。
【００３４】
判定部１３は、データ記述が“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックの規定に合致していれば（ＹＥＳ）、判定結果として“正常”表示を出力し、データ記述が“Ｓｔａｔｅｍｅｎｔ”ブロックの規定に合致していなければ（ＮＯ）、判定結果として“エラー”表示を出力する（ステップＳ０４）。
【００３５】
次に、１つのステートメントについての照合が終了するごとに、検査対象のテストデータの全ステートメントの照合が済んだかどうかを確認し（ステップＳ０５）、済んでいなければ（ＮＯ）、ステップＳ０１へ戻って以降の処理を繰り返し、全ステートメントの照合が済んでいれば（ＹＥＳ）、本フローの処理を終了する。
【００３６】
図６は、テンプレート１２の“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックと照合することにより、ライトインターフェース５００で変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータのステートメントの組み合わせが正常かどうかを検査するときの処理フローを示している。
【００３７】
この検査を行うときも、まず、データ読み出し部１１が、ＳＴＩＬデータベース１００から１つのステートメントのデータの読み出しを行う（ステップＳ１１）。
【００３８】
読み出されたデータは、他のステートメントとの関係を調べる必要があるため、データベース検査装置１内のメモリ（非図示）に保存される（ステップＳ１２）。
【００３９】
このステップＳ１１とステップＳ１２の処理は、検査対象のテストデータの全ステートメントの読み出しが済むまで繰り返し実行される（ステップＳ１３）。
【００４０】
全ステートメントの読み出しが済むと（ＹＥＳ）、判定部１３が、メモリに保存されたデータをテンプレート１２の“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックと照合し（ステップＳ１４）、ステートメントの組み合わせが、“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックの規定に合致した正常なものであるかどうかの判定を行う（ステップＳ１５）。
【００４１】
判定部１３は、データ記述が“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックの規定に合致していれば（ＹＥＳ）、判定結果として“正常”表示を出力し、データ記述が“Ｉｎｔｅｒａｃｔｉｖｅ”ブロックの規定に合致していなければ（ＮＯ）、判定結果として“エラー”表示を出力し（ステップＳ１６）、本フローの処理を終了する。
【００４２】
このように本実施例では、テンプレート１２と照合することにより、ライトインターフェース５００で変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータが、ＳＴＩＬ言語仕様に合致しているかどうかが判定される。
【００４３】
通常、テンプレート１２には、ＳＴＩＬ言語仕様の全般を網羅したデータ構成を規定するが、テンプレート１２をカスタマイズすることにより、検査に使用する規定を限定することができる。
【００４４】
図７に、カスタマイズされたテンプレートの例を示す。
【００４５】
図７に示すテンプレート１２１は、信号名の記述に使用可能な文字をアルファベットと数字に限るようにカスタマイズしたものである。
【００４６】
このように、オリジナルのテンプレート１２に規定されている範囲内で任意にカスタマイズすることにより、ユーザ独自の検査基準を設定することができる。
【００４７】
また、ＳＴＩＬは、ＩＥＥＥ１４５０−１９９９として１９９９年に標準化されたものであるが、その後も仕様拡張のための標準化活動が継続しており、随時、仕様拡張版が発行されている。
【００４８】
そのような仕様改訂が行われた場合、本実施例では、その仕様の改訂に応じてテンプレートの記述内容を変更する。
【００４９】
図８に、ＳＴＩＬの仕様改訂に応じて、改訂版ＳＴＩＬ用テンプレート１２Ａを用いるようにしたときのデータベース検査装置１の構成を示す。
【００５０】
この場合、データベースも、ＳＴＩＬの仕様改訂に応じたデータ構成の改訂版ＳＴＩＬデータベース１００Ａとなっている。
【００５１】
これに対して、本実施例のデータベース検査装置１は、データ読み出し部１１および判定部１３は従来と同じままで、テンプレートを改訂版ＳＴＩＬ用テンプレート１２Ａに差し替えるだけで、改訂版ＳＴＩＬデータベース１００Ａに格納されたデータの検査を行うことができる。
【００５２】
これにより、ＳＴＩＬの仕様改訂が行われて改訂版ＳＴＩＬデータベース１００Ａが新たに作成されても、そのデータの検査に速やかに対応することができ、改訂版ＳＴＩＬデータベース１００Ａに格納されたデータに対して、仕様改訂に応じた検査を遅滞なく行うことができる。
【００５３】
このような本実施例によれば、共通のテンプレート１２を用いることにより、どのようなアプリケーションのどのような言語で生成されたかに関らず、非標準言語テストデータ４００からライトインターフェース５００で変換されてＳＴＩＬデータベース１００に格納されたデータが、ＳＴＩＬ言語仕様に合致しているかどうかを検査することができる。
【００５４】
また、テンプレート１２をカスタマイズしたテンプレート１２１を用いることにより、ユーザ独自の検査基準を設定することができる。
【００５５】
また、ＳＴＩＬの仕様が改訂されたときも、テンプレートを改訂版ＳＴＩＬ用テンプレート１２Ａに差し替えるだけで、仕様の改訂に速やかに対応して、改訂版ＳＴＩＬデータベース１００Ａに格納されたデータの検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の実施例に係るデータベース検査装置の構成の例を示すブロック図。
【図２】ＳＴＩＬデータベースの構成の例を示す図。
【図３】ＳＴＩＬデータベース内の実行フロー情報ディレクトリの構成の例を示す図。
【図４】本発明の実施例に係るデータベース検査装置におけるテンプレートの記述例を示す図。
【図５】本発明の実施例のデータベース検査装置による検査フローの例を示す図。
【図６】本発明の実施例のデータベース検査装置による検査フローの例を示す図。
【図７】本発明の実施例のテンプレートのカスタマイズの例を示す図。
【図８】本発明の実施例に係るデータベース検査装置のＳＴＩＬ仕様改訂時の対応を説明するための図。
【符号の説明】
【００５７】
１  データベース検査装置
１１  データ読み出し部
１２、１２１  テンプレート
１２Ａ  改訂版ＳＴＩＬ用テンプレート
１３  判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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