(57)【要約】【課題】当該対象物に正確に荷重を加えることができる試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置及び曲げ強さ試験方法等を提供することを目的とする。【解決手段】荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられ、前記試験試料の端部のうち対向する一対の端部に夫々装着される試験試料装着装置であって、
固定部と、前記固定部に対して近接又は離反する位置で前記固定部に取付可能とする取付部を、前記固定部に対向させて配置し、これらの対向面に挿入された前記試験試料の両端部をそれぞれ把持する一対の把持部と、
前記把持部に、前記試験試料が屈曲する方向に対して垂直方向に設けられ、前記屈曲に伴い、前記把持部を回動し、前記一対の把持部を近接又は離反するように移動可能とする軸部と、
を備えることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項２】
請求項１に記載の試験試料装着装置であって、
前記軸部には、前記把持部を介して対向する位置に一対の軸受けを備えることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項３】
請求項１に記載の試験試料装着装置であって、
前記軸部は、前記把持部に対して回動可能に備えられていることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、
前記把持部は、前記回動する回動中心軸を通り、前記把持部の前記移動方向に対して垂直方向の仮想平面を基準として対象形状に形成されることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、
前記軸部の両端部に設けられる可動部材と、
前記可動部材の底部に設けられる断面コの字型の開口部を有する一対のレール部材と、
を備え、
前記レール部材は、前記開口部が互いに背反するように設けられることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項６】
請求項１乃至５の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、
前記軸部は、前記可動部材に対して回動可能に備えられることを特徴とする試験試料装着装置。
【請求項７】
請求項１乃至６の何れか一項に記載の試験試料装着装置を用いた曲げ強さ試験装置であって、
前記試験試料に加えられる荷重を継続的に検出する押し込み荷重検出手段と、
前記荷重により前記試験試料が変形した量を継続的に検出する押し込み変位検出手段と、
を備えることを特徴とする曲げ強さ試験装置。
【請求項８】
請求項１乃至６の何れか一項に記載の試験試料装着装置を用いた曲げ強さ試験方法であって、
前記試験試料に加えられる荷重を継続的に検出する押し込み荷重検出工程と、
前記荷重により前記試験試料が変形した量を継続的に検出する押し込み変位検出工程と、
を有することを特徴とする曲げ強さ試験方法。
【請求項９】
請求項８に記載の曲げ強さ試験方法によって検査されたことを特徴とする試験試料。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、対象物（試験試料）の曲げに対する疲労や破壊限界を試験する曲げ強さ試験に関する装置及び方法等に関するものであり、より詳しくは、当該対象物に正確に荷重を加える曲げ強さ試験装置及び方法等に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＩＣカードを用いたシステムの高機能及び高性能化に伴い、故障に起因する損害の増大や社会的影響も大きくなっており、当該ＩＣカードに対して高い信頼性が要求されるようになっている。
【０００３】
一般的に、ＩＣカードの実使用（実際にユーザよって使用される段階）においては、当該ＩＣカードに様々な外力が加えられる。例えば、財布又はカードケース等から上記ＩＣカードを取り出す場合や、当該ＩＣカードがリーダライタ装置にセットされる場合には、当該ＩＣカードの両端面及び平面部を支点とした荷重が加えられる。
【０００４】
当該荷重が継続的に加えられると、上記ＩＣカードは破損し、当該破損による故障が発生することとなる。かかる故障を未然に防止すべく、当該ＩＣカードに対して種々の信頼性試験が行われている。
【０００５】
特許文献１では、識別カードの特性評価試験（日本工業規格JISX6305）を行うべく、カード両端を固定し、該固定した位置からカード中心方向に荷重（座屈荷重）をかけることにより曲げ疲労試験を行う曲げ試験装置に関する発明が開示されている。
【０００６】
特許文献２では、曲げ強さ試験（日本工業規格JISR1601）をＩＣカードの信頼性試験に適用すべく、ＩＣカードの両端をゴム材で把持し、ＩＣカードの表裏面を狭持する押圧具によって該ＩＣカードの中心部に荷重をかけるカード用曲げ試験装置に関する発明が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−３１５６９１号公報
【特許文献２】特開平０７−２１０６３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１に記載の発明を、識別カードの試験方法（日本工業規格JISX6305）に適用する場合には問題ない。
【０００９】
しかし、上記識別カードの特性評価試験におけるＩＣカードに加えられる荷重のかかり方よりも、曲げ強さ試験（日本工業規格JISR1601）におけるＩＣカードに加えられる荷重のかかり方のほうが、実使用におけるＩＣカードに加えられる荷重のかかり方に近いものとなっている。
【００１０】
よって、特許文献１に記載の発明では、上記実使用を考慮した信頼性試験を実施することができない。また、構造評価段階等での荷重−破壊データを取るには不向きである。
【００１１】
また、特許文献２に記載の発明は、ＩＣカードの端部をゴムで把持するため、ＩＣカードに荷重が加えられると位置ずれが起こりやすく、また、ＩＣカードの端部は、当該ゴムによる磨耗が生じてしまう。さらに、ＩＣカードに加えられる荷重が増加し、曲げ量（ＩＣカードが荷重により荷重方向に変形する量）が増加すると、対向する把持部間の距離よりもＩＣカードの対向する端部の直線距離が短くなり、ＩＣカードが把持部から脱落してしまう。従って、上記三点曲げ強さ試験を継続することができなくなり、曲げ限界（ＩＣカードが破断する際の荷重）の測定には不向きである。
【００１２】
一方、対向する把持部間の距離が短すぎると、上記荷重によってＩＣカードは屈曲しないため、実使用の曲げ状態とは異なってしまう。
【００１３】
また、近年、ＩＣカードには様々な電子部品（例えば、ＩＣチップ等）が実装されている。上記信頼性試験では、ＩＣカードの機材自体の強度を測定することはできるが、かかる実装された電子部品の信頼性（例えば、ＩＣカードにどの程度の荷重がかかるまで当該部品の機能が発揮された状態にあるか等）を測定することはできなかった。
【００１４】
そこで、本願発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的の一例は、試験試料の曲げに対する疲労や破壊限界を試験する曲げ強さ試験において、当該試験試料に荷重を確実に加え、かつ、加えられた荷重を正確に測定することができる試験試料装着装置及び曲げ疲労試験装置等を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の試験試料装着装置は、荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられ、前記試験試料の端部のうち対向する一対の端部に夫々装着される試験試料装着装置であって、固定部と、前記固定部に対して近接又は離反する位置で前記固定部に取付可能とする取付部を対向させて配置し、これらの対向面に挿入された前記試験試料の両端部をそれぞれ把持する一対の把持部と、前記把持部に、前記試験試料が屈曲する方向に対して垂直方向に設けられ、前記屈曲に伴い、前記把持部を回動し、前記一対の把持部を近接又は離反するように移動可能とする軸部と、を備える。
【００１６】
この発明によれば、曲げ強さ試験装置によって試験試料装着装置に装着された試験試料に荷重が加えられ、前記試験試料が屈曲されると、前記一対の把持部は前記試験試料が屈曲する方向に対して垂直方向に移動する。
【００１７】
従って、上記試験試料は両端が把持された状態で屈曲されるため、当該試験試料の実使用時の曲げが再現され、より再現性の高い信頼性試験を実行することができる。また、前記試験試料に加えられる荷重が増加し、曲げ量（試験試料が荷重により荷重方向に変形する量）が増加しても、前記試験試料は上記把持部から脱落することなく、確実に荷重が加えられる。また、上記把持部が回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【００１８】
請求項２に記載の試験試料装着装置は、請求項１に記載の試験試料装着装置であって、前記軸部には、前記把持部を介して対向する位置に一対の軸受けを備える。
【００１９】
従って、上記試験試料は両端が把持された状態で屈曲されるため、当該試験試料の実使用時の曲げが再現され、より再現性の高い信頼性試験を実行することができる。また、前記試験試料に加えられる荷重が増加し、曲げ量が増加しても、前記試験試料は上記把持部から脱落することなく、確実に荷重が加えられる。また、上記把持部が滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【００２０】
請求項３に記載の試験試料装着装置は、請求項１に記載の試験試料装着装置であって、前記軸部は、前記把持部に対して回動可能に備えられている。
【００２１】
従って、上記試験試料は両端が把持された状態で屈曲されるため、当該試験試料の実使用時の曲げが再現され、より再現性の高い信頼性試験を実行することができる。また、前記試験試料に加えられる荷重が増加し、曲げ量が増加しても、前記試験試料は上記把持部から脱落することなく、確実に荷重が加えられる。また、上記把持部がより滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【００２２】
請求項４に記載の試験試料装着装置は、請求項１乃至３の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、前記把持部は、前記回動中心軸を通り、前記把持部の前記移動方向に対して垂直方向の仮想平面を基準として対象形状に形成される。
【００２３】
従って、一対の把持部に対して、同一形状又は機能等を有する把持部（共通部品）を適用することができ、試験試料把持装置及び曲げ強さ試験装置にかかる製造コストを安価に抑えることができる。また、簡便な構成で試験試料把持装置及び曲げ強さ試験装置を製造することができるため、当該装置の故障率を低下させることができる。
【００２４】
請求項５に記載の試験試料装着装置は、請求項１乃至４の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、前記軸部の両端部に設けられる可動部材と、前記可動部材の底部に設けられる断面コの字型の開口部を有する一対のレール部材と、を備え、前記レール部材は、前記開口部が互いに背反するように設けられる。
【００２５】
従って、上記把持部がより滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【００２６】
請求項６に記載の試験試料装着装置は、請求項１乃至５の何れか一項に記載の試験試料装着装置であって、前記軸部は、前記可動部材に対して回動可能に備えられる。
【００２７】
従って、上記把持部がさらに滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【００２８】
請求項７に記載の曲げ強さ試験装置は、請求項１乃至６の何れか一項に記載の試験試料装着装置を用いた曲げ強さ試験装置であって、前記試験試料に加えられる荷重を継続的に検出する押し込み荷重検出手段と、前記荷重により前記試験試料が変形した量を継続的に検出する押し込み変位検出手段と、を備える。
【００２９】
従って、前記試験試料が破壊されるまでに必要な荷重（限界荷重）をリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。また、前記試験試料が破壊されるまでに必要なカードの変形量（限界変位）をリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。
【００３０】
併せて、前記試験試料に実装された電子部品等が破壊された場合の上記荷重及び上記変位もリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。
【００３１】
請求項８に記載の曲げ強さ試験方法は、請求項１乃至６の何れか一項に記載の試験試料装着装置を用いた曲げ強さ試験方法であって、前記試験試料に加えられる荷重を継続的に検出する押し込み荷重検出工程と、前記荷重により前記試験試料が変形した量を継続的に検出する押し込み変位検出工程と、を有することを特徴とする。
【００３２】
請求項９に記載の試験試料は、請求項８に記載の曲げ強さ試験方法によって検査されたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００３３】
以上のように、本発明によれば、曲げ強さ試験装置によって試験試料装着装置に装着された試験試料に荷重が加えられ、当該試験試料が屈曲されると、前記一対の把持部は前記試験試料が屈曲する方向に対して垂直方向に移動するため、当該試験試料に荷重を確実に加え、かつ、加えられた荷重を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】曲げ強さ試験装置の構成及び機能概要について示す概観図である。
【図２】試験試料装着部の構成を示す斜視図である。
【図３】試験試料装着装置１３ａの構成の詳細を示す詳細図である。
【図４】本実施形態にかかる試験試料装着装置の動作の概要を示す概要図であり、図５は測定結果の概要を示すグラフである。
【図５】表示部８へ表示される測定結果の一例を示すグラフである。
【図６】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第２の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【図７】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第３の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【図８】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第４の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【図９】試験試料装着装置７０における把持部７１の形状を示す概念図である。
【図１０】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第５の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【図１１】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第６の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【図１２】本実施形態にかかる試験試料装着装置の第７の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
以下、本願の最良の実施形態を添付図面に基づいて説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、曲げ強さ試験装置に対して本願を適用した場合の実施形態である。なお、以下の各実施形態は、各請求項にかかる発明を限定するものではなく、また、各実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００３６】
先ず、本実施形態にかかる曲げ強さ試験装置の構成及び機能概要について図１を用いて説明する。
【００３７】
図１は、曲げ強さ試験装置の構成及び機能概要について示す概観図である。
【００３８】
図１に示すように、曲げ強さ試験装置Ｓは、ベース１と、ベース１に対して鉛直方向に立設されるシャフト２ａ及び２ｂと、アクチュエータ３の動力によってシャフト２ａ及び２ｂに沿って鉛直方向に移動自在に渡設されるヘッド４と、ヘッド４に取付けられ試験試料に加えられる荷重を測定するロードセル５と、ロードセル５に取付けられ試験試料に荷重を加える圧接部６と、後述するベース１に設置され試験試料が設置される試験試料装着部Ｔと、本願の押し込み荷重検出手段及び押し込み変位検出手段としての制御部７と、液晶ディスプレイ等であり文字や画像等の情報を表示する表示部８と、キーボード、マウス等であり、オペレータ等からの操作指示を受け付け、その指示内容を指示信号として制御部７に出力する操作部９及び、ハードディスクドライブ等であり各種プログラム及びデータ等を記録する記憶部１０等とから構成される。
【００３９】
上記構成の各部についてより詳細に説明すると、曲げ強さ試験装置Ｓは、試験対象である試験試料に曲げが生ずるように荷重を加え、当該試験試料の曲げに対する疲労等を測定するための試験装置である。曲げ強さ試験装置Ｓには、公知の曲げ試験機又は材料試験機等を適用することができるがこれに限定されるものではない。
【００４０】
アクチュエータ３は、制御部７の制御によって、ヘッド４をシャフト２ａ及び２ｂに沿って鉛直方向に移動自在とするための機械的あるいは油空圧的装置のことでであり、その一例として空気圧アクチュエータ、油圧アクチュエータ又は電気モータ等が適用される。
【００４１】
ロードセル５は、荷重を検出するセンサーであり、荷重が加えられると電気信号に変換し外部へ出力するようになっている。本実施形態では、制御部７の制御によって、圧接部６によって試験試料に加えられる荷重を計測し、計測結果を例えば表示部８等へ出力する。
【００４２】
圧接部６は、アクチュエータ３によるヘッド４の移動によって、試験試料に接触又は離反し、当該試験試料に荷重を加えるようになっている。前記試験試料は、かかる荷重の増加に伴って屈曲され破壊される。
【００４３】
制御部７は、ＣＰＵ(Central Processing Unit)、ＲＯＭ(Read Only Memory)及び、ＲＡＭ(Random Access Memory)等とを備え、例えばＣＰＵが、ＲＯＭや記憶部に記憶された各種プログラムを読み出し実行することにより曲げ強さ試験装置Ｓの各部を制御するとともに、上述した各手段等として機能するようになっている。
【００４４】
詳しくは、制御部７は、前記試験試料に加えられる荷重を、ロードセル５を介して継続的に検出し、当該検出結果を表示部８へ表示させ、又は記憶部１０へ記憶するようになっている。
【００４５】
また、制御部８は、前記試験試料に加えられる荷重により前記試験試料が屈曲した量を、図示しない赤外線センサー又は、ヘッド４の移動量によって継続的に検出し、当該検出結果を表示部８へ表示させ、又は記憶部１０へ記憶するようになっている。
【００４６】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着部及び試験試料装置の構成及び機能概要について、図２及び図３を用いて説明する。
【００４７】
図２は、試験試料装着部の構成を示す斜視図である。
【００４８】
図２に示すように、試験試料装着部Ｔは、ベース１に対して鉛直方向に立設される４本の支柱１１ａ〜１１ｄと、２本の前記支柱に渡設されるレール１２ａ及び１２ｂと、レール１２ａ及び１２ｂに移動可能に架設される試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂと、一対の端部が把持され試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂに装着される試験試料１４等とから構成される。
【００４９】
上記構成の各部についてより詳細に説明すると、試験試料装着部Ｔは、試験試料１４に上記曲げ強さ試験を実施すべく、試験試料１４を曲げ強さ試験装置Ｓに装着するための装置である。
【００５０】
レール１２ａ及び１２ｂは、詳しくは後述するが、上記荷重に伴って試験試料装着部１３ａ及び１３ｂを近接又は離反するように移動可能とするために設けられたレールである。本実施形態では、断面コの字の開口部を有し直線状に延在するレール１２ａ及び１２ｂが用いられているがこれに限定されるものではなく、断面Ｌ字形上等の直線状に延在するレールを用いることもできる。
【００５１】
また、レール１２ａ及び１２ｂに用いられる材質は任意に選択可能であり、鉄、アルミニウム又はステンレス等を用いることができる。
【００５２】
試験試料１４は、上記曲げ強さ試験の試験対象であり、本実施形態では例えば、ＩＣカード等が適用されるがこれに限定されるものではない。例えば、液晶等の表示部が実装されるＩＣカード、ＰＤＡ、ミニノート又は、携帯型音楽再生装置等に代表される携帯型情報端末装置等を適用することもできる。
【００５３】
次に、試験試料装着装置１３ａの構成について図３を用いて説明する。
【００５４】
図３は、試験試料装着装置１３ａの構成の詳細を示す詳細図である。
【００５５】
図３に示すように、試験試料装着装置１３ａは、本願の把持部としての把持部２１ａと、把持部２１ａに設けられる本願の軸部としての軸部２２ａ等とから構成される。
【００５６】
把持部２１ａは、本願の固定部としての固定部２３ａと、図示しない固定部に穿孔された穴部に貫通し、例えば国際標準化機構（ISO）で規格化された汎用のメートル三角ネジ等に対応するネジ山が形成されているビス２４ａ及び２４ｂと、ビス２４ａ及び２４ｂに螺合されるナット２５ａ及び２５ｂと、ビス２４ａ及び２４ｂとナット２５ａ及び２５ｂによって固定部２３ａに取付可能とする取付部２６ａ等とから構成される。
【００５７】
また、図示しない試験試料装着装置１３ｂは、試験試料装着装置１３ａと対となって、曲げ強さ試験装置Ｓに用いられる。ここで、試験試料装着装置１３ｂの構成は、試験試料装着装置１３ａと同一であり、図示しない各部分を、把持部２１ｂ、軸部２２ｂ、固定部２３ｂ及び取付部２６ｂとする。
【００５８】
上記構成の各部についてより詳細に説明すると、取付部２６ａは、固定部２３ａと対向させて配置されており、当該対向する面に背反する位置にナット２５ａ及び２５ｂが固着されている。そして、ビス２４ａ及び２４ｂを回動させることにより、ナット２５ａ及び２５ｂがビス２４ａ及び２４ｂの頭部へ近接又は離反する結果、取付部２６ａも固定部２３ａに対して近接又は離反するようになっている。
【００５９】
そして、固定部２３ａと取付部２６ａとの近接又は離反に伴い、固定部２３ａと取付部２６ａの対向面の距離（図３のＡ部）が近接又は離反するようになっている。
【００６０】
本実施形態における把持部２１ａは、上記固定部２３ａと取付部２６ａの対向面の距離を減少により、上記対抗面に挿入された試験試料１４の端部を把持するようになっている。そして、上記把持された試験試料１４の対向する端部には試験試料装着装置１３ｂが装着されるため、試験試料１４の両端部が把持されることとなる。
【００６１】
軸部２２ａは、把持部２１ａに、試験試料が屈曲する方向に対して垂直方向に設けられており、軸部２２ａによって、試験試料装着装置１３ａは、レール１２ａ及び１２ｂに架設されている。
【００６２】
そして、上記屈曲が生ずると、軸部２２ａによって、把持部２１ａに回動を生じさせる。かかる回動によって、試験試料１４の両端に装着された一対の試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、近接又は離反するように移動可能となっている。
【００６３】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の動作及び測定結果の概要について、図４及び図５を用いて説明する。
【００６４】
図４は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の動作の概要を示す概要図であり、図５は測定結果の概要を示すグラフである。
【００６５】
図４に示すように、試験試料１４を装着した試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、レール１２ａ及び図示しないレール１２ｂに移動可能に架設されている。そして、図４（ａ）〜（ｃ）では、曲げ強さ試験を実施すべく、圧接部６が試験試料１４に荷重を加え試験試料１４が屈曲される様子が示されている。
【００６６】
また、図４において、圧接部６によって試験試料１４に荷重が加えられる方向、即ち、試験試料１４が屈曲する方向をＹ軸、当該屈曲する方向に対して垂直方向をＸ軸と定義する（図４の３０参照）。
【００６７】
また、前記荷重によって試験試料１４がＹ軸方向に変形する量を説明するため、軸３２を通り、圧接部６と試験試料１４が接する点をＹ軸原点３３と定義する。
【００６８】
ここで、試験試料１４におけるＸ軸方向の変形は、上記荷重による試験試料１４の屈曲に伴って、試験試料１４の端部のうち対向する一対の端部が近接又は離反する量、換言すれば、試験試料１４の両端に装着された一対の試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂが、近接又は離反する変位によって求めることができる。
【００６９】
従って、上記屈曲によって試験試料１４がＸ軸方向に変形する量を説明するため、軸３１を通り試験試料装着装置１３ａにおける軸部２２ａの中心点をＸ軸原点３４ａとし、同様に、軸３１を通り試験試料装着装置１３ｂにおける軸部２２ｂの中心点をＸ軸原点３４ｂとする。
【００７０】
以下、曲げ強さ試験装置Ｓの動作に対応させて、試験試料装着装置の動作の概要を説明する。
【００７１】
曲げ強さ試験が開始されると、制御部７は、試験試料１４に継続的に荷重を加えるべく、圧接部６を試験試料１４へ接触させる（図４（ａ））。
【００７２】
そして、制御部７は、試験試料１４に継続的に荷重を加える。そして、荷重を加えられた試験試料１４は、屈曲される（図４（ｂ））。
【００７３】
試験試料１４に荷重が加えられると、試験試料１４の屈曲に伴って、一対の試験試料装着装置は、軸部を中心に回動する。
【００７４】
具体的には、試験試料装着装置１３ａは、軸部２２ａの中心３４ａを中心に、仮想円３５ａに沿って、回動方向３６ａの方向へ回動する。また、試験試料把持装置１３ｂは、軸部２２ｂの中心３４ｂを中心に、仮想円３５ｂに沿って、回動方向３６ａの方向へ、レール１２ａ上を回動する。
【００７５】
その結果、試験試料装着装置１２ａは矢印３７ａの方向へ、試験試料装着装置１２ｂは矢印３７ｂの方向へ、レール１２ａ上をそれぞれ移動する、即ち、一対の試験試料装着装置は近接するように移動する。
【００７６】
さらに、制御部７によって、継続的に荷重が加えられると、試験試料１４は弾性限界をこえ、永久歪みが生じ、その後、破壊される（図４（ｃ））。
【００７７】
制御部７は、ロードセル５によって、上記荷重を加えた時から上記破壊されるまでに試験試料１４に加えた荷重を継続的に検出し、記憶するようになっている。
【００７８】
また、制御部７は、上記荷重を加えた時から上記破壊されるまでの試験試料１４の変形量を継続的に検出し、記憶するようになっている。
【００７９】
具体的には、試験試料１４は、上記荷重によって、Ｙ軸方向及びＸ軸方向に変形する。従って、制御部７は、Ｙ軸方向の変形量として変位３８を、Ｘ軸方向の変形量として変位３９a及び３９ｂを夫々検出するようになっている。
【００８０】
これらの変形量の検出方法として、例えば、変位３８は、上記荷重を加えた時から上記破壊されるまでのヘッド４の変位を、制御部７が記録することによって、検出するようにしてもよい。
【００８１】
また、変位３９a及び３９ｂは、例えば、図示しない赤外線センサーによって、検出するようにしてもよいし、レール１２aに記されたメモリによって目視で測定するようにしてもよい。
【００８２】
そして、制御部７はこれら測定結果を記録し、表示部８へ表示するようになっている。
【００８３】
図５は、表示部８へ表示される測定結果の一例を示すグラフである。
【００８４】
図５に示すように、測定結果の一例を示すグラフは、横軸４１を（Ｙ軸方向の変形量としての）変位３８、縦軸４２を上記荷重とし、試験結果が曲線４３で示されている。
【００８５】
また、図５では、試験試料１４の一例としてＩＣチップが実装されたＩＣカードが適用されている。
【００８６】
曲線４３では、上記荷重の増加に伴って、変位３８も増加する様子が示されている。
【００８７】
一般的に、荷重を加える対象物において何らかの変化（例えば、対象物がＩＣカードであって、当該ＩＣカードに実装された電子部品が破壊された場合）が生ずると、当該対象物に加えられる荷重にも何らかの変化（例えば、当該荷重が比例的に増加していた場合に、急激に当該荷重の減少が生ずる等）が生ずる。
【００８８】
曲線４３では、上記荷重が点４４から点４５まで急激に減少したことが示されているが、これは、試験対象たるＩＣカードに実装された電子部品が破壊された様子が示されている。
【００８９】
そして、さらに継続的に上記荷重が加えられ、ＩＣカードが破壊されると（点４６）、上記荷重は０となることが示されている。
【００９０】
以上のように、測定結果から、ＩＣカードに実装されたＩＣチップが破壊される場合の荷重及び変位を測定することもできる。
【００９１】
また、上記ＩＣチップが破壊される場合の荷重及び変位は、かかる試験中にＩＣチップに対して継続的に通信試験を行うことにより、更に正確に検出することもできる。
【００９２】
かかる通信試験は、ＩＣチップに対して何らかの信号を送信し、当該ＩＣチップから当該信号を受信することを示す信号が送信されることにより行われる。上記継続的に荷重を加えている最中に、ＩＣチップが破壊された場合には、ＩＣチップから信号が送信されず、その結果、当該信号を受信することができなくなる。
【００９３】
従って、上記ＩＣチップから信号を受信できなくなった時の上記荷重及び変位を検出することにより、更に正確にＩＣチップが破壊される場合の荷重及び変位を検出することができる。
【００９４】
また、上記変位及び荷重の値を参考にして、より信頼性の高い試験試料を提供することができる。
【００９５】
具体的には、例えば、実使用における試験試料１４に加えられる上記変位及び荷重は、荷重３０（Ｎ）以下及び変位３０（ｍｍ）以下であると仮定できるとする。
【００９６】
そして、上記試験結果によって、試験試料１４に加えられる上記変位及び荷重の値が、荷重３０（Ｎ）以上及び変位３０（ｍｍ）までの間に、上記破壊が生じなかった場合には、試験試料１４は実使用に十分耐えうるもの（合格）と擬制することができる。
【００９７】
そして、当該試験を行った試験試料１４の条件を、実際の製品の条件として採用することができる（例えば、試験試料１４に加えられる上記変位及び荷重の値が、荷重３０（Ｎ）以上及び変位３０（ｍｍ）までの間に、上記破壊が生じなかった場合の、所定の厚さ及び材質の試験試料１４を適用する等）。
【００９８】
このようにして、上記変位及び荷重の値を参考にして、実際の製品の条件とすることにより、より信頼性の高い試験試料を提供することができる。
【００９９】
また、その他の評価基準として、試験試料１４の内部に上記電子部品が実装されていない場合には、多少やわらかくても（変位が大きくても）、破壊されない場合には、試験試料１４は実使用に十分耐えうるもの（合格）と擬制するようにしてもよい。
【０１００】
また、その他の評価基準として、試験試料１４の内部に上記電子部品が実装されている場合には、試験試料１４には硬さが必要であるため、上記変位が極力少ないものを選択するようにしてもよい。
【０１０１】
また、その他の評価基準として、例えば、上記図４のグラフにおいて、荷重の急激な変化点が存在した場合（内部のチップが破壊された場合）は、上記変位及び荷重の値にかかわらず、実使用に耐えられないもの（不合格）と判断するようにしてもよい。
【０１０２】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第２の実施形態について、図６を用いて説明する。
【０１０３】
図６は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第２の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１０４】
図６に示すように、第２の実施形態における試験試料装着装置は、図３に記載の試験試料把持装置１３ａに対して、把持部２１ａを介して対向する位置に、一対の軸受けの一例としてベアリングがそれぞれ備えられたものである。
【０１０５】
上記ベアリングによって、把持部２１ａは、滑らかに回動しながらレール１２ａ上を移動するため、例えば、試験試料１４に余分な荷重がかからず、曲げ強さ試験において試験試料１４の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１０６】
本実施形態では、軸受けの一例としてベアリングを用いたが、これに限定されるものではなく、例えば、摺動性のよい材料（例えば、ＰＯＭ（polyacetal、 polyoxymethylene）等が適用）で作成されたスペーサ等を用いてもよい。
【０１０７】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第３の実施形態について、図７を用いて説明する。
【０１０８】
図７は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第３の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１０９】
図７に示すように、第３の実施形態における試験試料装着装置は、図３に記載の試験試料把持装置１３ａに対して、把持部２１ａに穿孔部６１を設けたものである。穿孔部６１は、把持部２１を貫通する穴であり、当該穴部に軸部２２ａが軸通されている。
【０１１０】
穿孔部６１によって、軸部２２ａは、滑らかに回動しながらレール１２ａ上を移動するため、例えば、試験試料１４に余分な荷重がかからず、曲げ強さ試験において試験試料１４の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１１１】
さらに、把持部２１ａを介して対向する位置に、一対の軸受けの一例としてベアリングを備えるようにしてもよい。
【０１１２】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第４の実施形態について、図８を用いて説明する。
【０１１３】
図８は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第４の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１１４】
図８に示すように、第４の実施形態における試験試料装着装置７０は、把持部７１と、把持部７１に設けられる軸部７２等とから構成される。
【０１１５】
把持部７１は、取付部７３と、取付部７３に穿孔された穴部に貫通する１１本のビス７４ａ〜７４ｋと、ビス７４ａ〜７４ｋに螺合されるネジ穴部７６ａ〜７６ｋ（Ｘ−Ｘ`断面部参照）によって取付部７３を取付可能とする固定部７５等とから構成される。
【０１１６】
上記構成の各部についてより詳細に説明すると、取付部７３は、固定部７５と対向させて配置されている。そして、ビス７４ａ〜７４ｋを回動させることにより、ビス７４ａ〜７４ｋがネジ穴部７６ａ〜７６ｋへ螺合される結果、取付部７３が固定部７５に対して近接又は離反するようになっている。
【０１１７】
試験試料装着装置１３ａと同様に、上記固定部７５と取付部７３との近接又は離反に伴い、固定部７５と取付部７３の対向面の距離（図８のＢ部）が近接又は離反するようになっている。そして、上記対抗面に挿入された試験試料１４の端部を把持するようになっている。
【０１１８】
さらに、試験試料装着装置７０における把持部７１は、（把持部７０の）回動中心軸を通り、把持部７１の移動方向に対して垂直方向の仮想平面を基準として対象形状に形成される。
【０１１９】
図９は、試験試料装着装置７０における把持部７１の形状を示す概念図である。
【０１２０】
図９（Ａ）は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第３の実施形態の把持部７１の形状として把持部７１ａ及び７１ｂ等を示す概念図である。
【０１２１】
図９（Ａ）に示すように、把持部７１は、回動中心軸７３を通り、把持部７１の移動方向である矢印部７４に対して垂直方向の仮想平面７５を基準として、対象形状に形成されている。即ち、仮想平面７５を基準として、把持部７１ａ及び７１ｂは対象形状を示している。
【０１２２】
図９（Ｂ）は、把持部７１ａ及び７１ｂの形状を更に具体的に示したものであり、仮想平面７５を基準として、把持部７１ａ及び７１ｂが対象形状を示すことが表されている。
【０１２３】
把持部７１が、上述した対象形状に形成されることによって、試験試料１４に対して、試験試料装着装置の自重に起因する荷重を考慮する必要がなくなる。
【０１２４】
具体的に説明すると、
上述したように仮想平面７５を基準として把持部７１ａ及び７１ｂが対象形状を示す試験試料装着装置７０では、回動中心軸たる軸７２の断面中心を基準に、対象形状を示している。換言すれば、試験試料装着装置７０の重量バランスは、上記断面中心を基準として、等しく形成されている。
【０１２５】
従って、試験試料装着装置７０をレール１２ａ及び１２ｂに架設した場合には、上記重量バランスによって、試験試料装着装置７０は、試験試料１４が屈曲される方向に回動することはなく、試験試料１４には、試験試料装着装置の自重に起因する荷重が加えられないこととなるため、より精度の高い試験を実施することが可能となる。
【０１２６】
本実施形態における試験試料装着装置７０は、試験試料装着装置７０の重量バランスを上記断面中心を基準として等しくするために、仮想平面７５を基準として把持部７１ａ及び７１ｂが対象形状を示すように形成するようになっているが、これに限定されるものではない。
【０１２７】
即ち、試験試料装着装置７０の重心と当該装置の回転中心が同一となるように、当該装置の形状又は質量等を設定するようにすればよい。
【０１２８】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第５の実施形態について、図１０を用いて説明する。
【０１２９】
図１０は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第５の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１３０】
図１０（Ａ）に示すように、第５の実施形態における試験試料装着装置は、図３に記載の試験試料把持装置１３ａに対して、把持部２１ａと、把持部２１ａに設けられる軸部２２ａと、軸部２２ａの両端にベアリング５１ａ及び５１ｂを介して設けられる可動部材８１ａ及び８１ｂと、可動部材８１ａ及び８１ｂの底部に設けられる一対のレール部材８２ａ及び８３ａと８２ｂ及び８３ｂと、一対のレール部材８２ａ及び８３ａが設置されるレール部材８４ａと、一対のレール部材８２ｂ及び８３ｂが設置されるレール部材８４ｂ等と、を備えたものである。
【０１３１】
上記構成の各部についてより詳細に説明すると、一対のレール部材８２ａ及び８３ａは、断面コの字型の開口部を有するレールであり、当該開口部が互いに背反するように、可動部材８１ａの底部に設けられる。
【０１３２】
また、レール部材８４ａの断面形状は、断面コの字型の開口部と、当該開口部の対向する面の端部が夫々近接する方向に直角に屈曲された辺とから形成されており、換言すれば、当該断面形状は、断面略Ｃ字型形状を有している。
【０１３３】
そして、一対のレール部材８２ａ及び８３ａの開口部には、上記辺がそれぞれ噛合するように設置されている。
【０１３４】
同様にして、一対のレール部材８２ｂ及び８３ｂの開口部にも、レール部材８４ａの上記辺がそれぞれ噛合するように設置されている。
【０１３５】
また、上記実施形態において、把持部２１に、把持部２１を貫通する穿孔部を設け、当該穴部に軸部２２を軸通するようにしてもよい。
【０１３６】
また、軸２２と可動部材８１ａ及び８１ｂは、可動できないように固着するようにしてもよい。
【０１３７】
さらに、一対のレール部材８２ａ及び８３ａと８２ｂ及び８３ｂに、それぞれ、公知のスライダを適用し、一対のレール部材８４ａ及び８４ｂに、上記スライダに対応するレールを設けるようにしてもよい。
【０１３８】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第６の実施形態について、図１１を用いて説明する。
【０１３９】
図１１は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第６の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１４０】
図１１（Ａ）には、試験試料装着装置の第６の実施形態として、図３に記載の試験試料装着装置１３ａの固定部２３ａと取付部２６ａの対向面に対して、表面処理を施したものが示されている。
【０１４１】
図１１（Ａ）において、試験試料装着装置１３ａの固定部２３ａと取付部２６ａの対向面である対向面９０ａ及び９０ｂには、表面処理の一例としてシボ又はエッチング処理等が施され、表面粗さが荒くなっている。
【０１４２】
試験試料１４が把持される際には、固定部２３ａと取付部２６ａが近接し、対向面９０ａ及び９０ｂが試験試料１４に接することとなる。
【０１４３】
かかる表面処理によって、対向面９０ａ及び９０ｂと試験試料１４の間の摩擦係数は、表面処理が施されていない対向面と試験試料１４の間の摩擦係数よりも、上昇することとなる。従って、上記表面処理が施された対向面９０ａ及び９０ｂを適用することにより、より強固に試験試料１４を把持することが可能となる。
【０１４４】
上記表面処理は、把持部２１ａの材質等によって任意に選択することができる。例えば、把持部２１ａの材質が、樹脂材料（例えば、ABS又はPC等）であった場合には、表面処理としてシボ加工等が選択される。また、把持部２１ａの材質が、金属材料（例えば、ステンレス又はアルミ等）であった場合には、表面処理としてブラスト加工等が選択される。
【０１４５】
図１１（Ｂ）には、試験試料装着装置の第６の実施形態として、試験試料装着装置１３ａの固定部２３ａと取付部２６ａの対向面に、凸凹形状のゴム９１ａ及び９１ｂを設置したものが示されている。
【０１４６】
図１１（Ａ）と同様に、ゴム９１ａ及び９１ｂと試験試料１４の間の摩擦係数は、表面処理が施されていない対向面と試験試料１４の間の摩擦係数よりも、上昇される。従って、上記表面処理が施された対向面９０ａ及び９０ｂを適用することにより、より強固に試験試料１４を把持することが可能となる。
【０１４７】
次に、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第７の実施形態について、図１２を用いて説明する。
【０１４８】
図１２は、本実施形態にかかる試験試料装着装置の第７の実施形態の詳細を示す詳細図である。
【０１４９】
上記のように、制御部７は、ロードセル５によって、上記荷重を加えた時から上記破壊されるまでに試験試料１４に加えた荷重を継続的に検出し記憶するようになっている。この際、検出される荷重（測定結果）には、試験試料把持装置１３ａ（及び１３ｂ）とレール１２ａ（及び１２ｂ）との運動摩擦力等のいわゆる抵抗力が含まれている。
【０１５０】
本実施形態では、上記抵抗力を事前に測定し上記曲げ試験の測定結果から減算する、キャリブレーション(Calibration)を事前に行うようになっている。かかるキャリブレーションの実施により、更に正確な測定結果が得られるようになっている。
【０１５１】
図１２には、上記キャリブレーションを実施すべく、レール１２ａと図示しないレール１２ｂに渡設された軸１００に、試験試料把持装置１３ａと圧接部６を緊結するワイヤー１００が掛けられている。
【０１５２】
そして、ヘッド４が上昇（図１２の矢印１０２方向への移動）すると、ワイヤー１００に張力が働く結果、試験試料把持装置１３ａは、レール１２ａと図示しないレール１２ｂに沿って、図１２の矢印１０３方向へ移動する。
【０１５３】
上記張力は、試験試料把持装置１３ａを移動させる力、即ち、上記抵抗力と擬制することができる。
【０１５４】
そして、ロードセル５によって上記張力を測定することにより、上記抵抗力を測定することができる。測定された張力を上記曲げ試験の測定結果から減算することにより、更に正確な測定結果が得られるようになっている。
【０１５５】
以上説明したように、本実施形態においては、試験試料１４の端部のうち対向する一対の端部に夫々装着される試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、固定部２３ａ及び固定部２３ｂと、固定部２３ａ及び固定部２３ｂに対して近接又は離反する位置で固定部２３ａ及び固定部２３ｂに取付可能とする取付部２６ａ及び２６ｂを対向させて配置し、これらの対向面に挿入された試験試料１４の両端部をそれぞれ把持する一対の把持部２１ａ及び２１ｂと、把持部２１ａ及び２１ｂに、試験試料１４が屈曲する方向に対して垂直方向に設けられ、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備えるようになっている。
【０１５６】
従って、曲げ強さ試験装置Ｓによって試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂに装着された試験試料１４に荷重が加えられ、試験試料１４が屈曲されると、前記一対の把持部は試験試料１４が屈曲する方向に対して垂直方向に移動するため、試験試料１４の実使用時の曲げが再現され、より再現性の高い信頼性試験を実行することができる。また、試験試料１４に加えられる荷重が増加し、曲げ量が増加しても、前記試験試料は上記把持部から脱落することなく、確実に荷重が加えられる。また、上記把持部が回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１５７】
また、試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂの軸部２２ａ及び２２ｂは、把持部２１ａ及び２１ｂを介して対向する位置に一対の軸受けを備えるようにすることもできる。
【０１５８】
従って、把持部２１ａ及び２１ｂが滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１５９】
また、試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂの軸部２２ａ及び２２ｂは、把持部２１ａ及び２１ｂに対して回動可能に備えられるようにすることもできる。
【０１６０】
従って、把持部２１ａ及び２１ｂがより滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１６１】
また、試験試料装着装置７０の把持部７１は、前記回動中心軸を通り、把持部７１の前記移動方向に対して垂直方向の仮想平面７５を基準として対象形状に形成されるようになっている。
【０１６２】
従って、一対の把持部に対して、同一形状又は機能等を有する把持部を適用することができ、試験試料把持装置及び曲げ強さ試験装置にかかる製造コストを安価に抑えることができる。また、簡便な構成で試験試料把持装置及び曲げ強さ試験装置を製造することができるため、当該装置の故障率を低下させることができる。
【０１６３】
また、試験試料装着装置１３ａは、軸部２２ａの両端部に設けられる可動部材８１ａ及び８１ｂと、可動部材８１ａ及び８１ｂの底部に設けられる断面コの字型の開口部を有する一対のレール部材８２ａ、８２ｂ、８３ａ及び８３ｂと、を備え、レール部材８２ａ及び８３ａと、８２ｂ及び８３ｂは、前記開口部が互いに背反するように設けられるようにしてもよい。
【０１６４】
従って、上記把持部がより滑らかに回動しながら移動するため、上記試験試料に余分な荷重がかからず、信頼性試験において上記試験試料の自然な曲げ状態を再現することができる。
【０１６５】
また、制御部７は、試験試料１４に加えられる荷重を継続的に検出し、前記荷重により前記試験試料が変形した量を継続的に検出するようになっている。
【０１６６】
従って、前記試験試料が破壊されるまでに必要な荷重をリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。また、前記試験試料が破壊されるまでに必要なカードの変形量（限界変位）をリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。
【０１６７】
併せて、前記試験試料に実装された電子部品等が破壊された場合の上記荷重及び上記変位もリアルタイムで測定することができるため、実使用に耐え得る高い信頼性を有する試験試料を提供することができる。
【０１６８】
なお、上記施形態においては、試験試料１４の一例としてＩＣカードを適用して説明したがこれに限定されるものではない。例えば、電磁部品が実装された基板、携帯型端末装置、ＰＤＡその他の電子機器等を試験試料とすることもできる。
【０１６９】
また、試験試料装着部Ｔを構成する各部品（把持部２１a等）の材質も任意に選択することができ、使用用途（例えば、耐久性等）等に応じて、鉄、アルミニウム又はステンレス等を適用することもできる。
【符号の説明】
【０１７０】
１      ベース
２ａ    シャフト
２ｂ    シャフト
３      アクチュエータ
４      ヘッド
５      ロードセル
６      圧接部
７      制御部
８      表示部
９      操作部
１０    記憶部
１１ａ  支柱
１１ｂ  支柱
１１ｃ  支柱
１１ｄ  支柱
１２ａ  レール
１２ｂ  レール
１３ａ  試験試料把持装置
１３ｂ  試験試料把持装置
２１ａ、２１ｂ、７１  把持部
２２ａ、２２ｂ、７２  軸部  
２３ａ、２３ｂ、７５  固定部
２４ａ、２４ｂ、７４ａ、７４ｂ、７４ｃ、７４ｄ、７４ｅ、７４ｆ、７４ｇ、７４ｈ、    
７４ｉ、７４ｊ、７４ｋ  ビス
２５ａ、２５ｂ  ナット
２６ａ、２６ｂ、７６  取付部
５１ａ、５１ｂ  ベアリング
７４ａ、７４ｂ、７４ｃ、７４ｄ、７４ｅ、７４ｆ、７４ｇ、７４ｈ、７４ｉ、７４ｊ、
７４ｋ          ネジ部
８１ａ、８１ｂ  可動部材
８２ａ、８２ｂ、８３ａ、８３ｂ、８４ａ、８４ｂ  レール部材
９０ａ、９０ｂ、９１ａ、９１ｂ  対向面
Ｓ      曲げ強さ試験装置
Ｔ      試験試料装着部
【図１】
2010237179.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2010237179.tif 000007
【図６】
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【図７】
2010237179.tif 000009
【図８】
2010237179.tif 000010
【図９】
2010237179.tif 000011
【図１０】
2010237179.tif 000012
【図１１】
2010237179.tif 000013
【図１２】
2010237179.tif 000014