(57)【要約】【課題】良質な乱数を安価かつ高速に発生させることができる物理乱数生成装置を提供することを可能にする。【解決手段】コヒーレントな光源であるレーザダイオード２と、レーザダイオード２を駆動発光させるレーザドライバ回路１と、レーザダイオード２からの光を乱反射させる指肌粗面１２と、肌粗面１２に投射後に乱反射して相互干渉を起こしたレーザ光を受光するイメージセンサアレイ４と、イメージセンサアレイ４の受光面に形成されたスペックルパターンに係る各ピクセルのアナログ電圧値をディジタル画素値に変換するイメージセンサモジュール５と、イメージセンサモジュール５で検出された画素値が蓄積されるメモリ部６と、メモリ部６から逐次蓄積データ列を読み出すためのメモリ読み書き部７と、メモリ読み書き部７で読み出されたディジタルデータの”１”，”０”出現率を均等化させる処理部８と、要求ビット長に達するまでデータの流れの一連の処理を制御するＭＣＵ９を備える。【選択図】  図２
2010271888.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号レベルが動的である信号の発生手段と、
前記発生手段に起因する信号レベルの偏りを低減させる処理手段と、
前記処理手段によって処理されることで生成される乱数のビット長を指示する指示手段とを備える物理乱数生成装置。
【請求項２】
前記信号は、粗面物体からの光信号である、請求項１記載の物理乱数生成装置。
【請求項３】
前記信号は、当該信号の伝送経路に対して外力を付加することによって得られる、請求項１記載の物理乱数生成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物理乱数生成装置に関し、特に、コヒーレントな信号を用いて物理乱数を生成する物理乱数生成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ｅコマースなどに代表されるネットワーク通信では、通信対象のデータの秘匿性が求められている。具体的には、たとえば、個人情報などのデータについては、暗号化された状態で通信される。そして、データの暗号化に際し、暗号鍵が用いられている。暗号鍵の生成には、予測不可能な乱数を用いることが必要とされている。
【０００３】
また、金融シミュレーション、科学シミュレーションの分野においては、シミュレーションの精度向上のために、一様性の高い高品質な乱数を用いることが望まれている。
【０００４】
ここで、アルゴリズム、すなわち、ある数学式に従った計算により生成する疑似乱数が知られている。疑似乱数は、計算アルゴリズムに従って生成されることから、出力である乱数列には不可避的に周期性や偏在性が生じてしまう。特に、使用目的が暗号であれば予測不可能性が、シミュレーションでは一様性が求められるので、周期性や偏在性が生じてしまうことは問題である。
【０００５】
この結果、セキュリティ用途においては、疑似乱数に基づく暗号鍵は、この周期性の予測結果に基づいて攻撃がなされることに対して脆弱なものとなる。また、シミュレーション用途においては、疑似乱数は、周期性があることから、データに偏在性が生じてしまう。このため、シミュレーション結果の精度向上も限定的なものしか望めない。
【０００６】
このような実情から、近年、自然界の物理現象に起因する乱雑性を利用して生成する物理乱数が注目されている。物理乱数の生成には、疑似乱数生成の場合には必要であった、初期値やアルゴリズムが不要となる。
【０００７】
物理乱数では、自然現象に起因する乱雑性には再現性がないため、これに基づいて生成される乱数列は、再現性が存在しない予測困難なランダム列になる。したがって、物理乱数は、セキュリティ用途でみれば、暗号鍵生成の必須要件である「再現不可能性」「予測不可能性」を満たしているし、シミュレーション用途でみても、ランダム性の高い乱数が提供できる。
【０００８】
特許文献１，２には、「物理乱数」の生成手法が開示されている。この種の従来技術は、「回路ノイズ方式」と称される方式を採用しており、雑音源と、高感度プリアンプと、フィルタと、微弱信号増幅回路と、Ａ／Ｄ変換器とから構成されている。
【０００９】
特許文献３には、電波星から発せられた電波を含む電波信号を用いて乱数を生成する技術が開示されている。
【００１０】
【特許文献１】特開２００８−１６５５００号公報
【特許文献２】特開２００８−２９９５９５号公報
【特許文献３】特許第３８７６３２４号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかし、回路ノイズ方式の乱数生成装置は、電子回路の構成素子単体で発生する微弱レベルの熱雑音を乱数生成源として利用しているため、熱雑音源直後に高感度プリアンプを必ず配置する必要がある点で部品点数が相対的に多くなり、これに起因して乱数生成装置がコストアップする。
【００１２】
また、回路ノイズ方式の乱数生成装置は、雑音源の直近にて、周辺雑音（他の装置からの輻射雑音など）の混入した場合には、生成される乱数のランダム性の品質が低下する。これを回避するためには、雑音源を周辺雑音に対して強化しなければならないといった面倒な処理も必要となる。
【００１３】
加えて、回路ノイズ方式の乱数生成装置は、乱数生成効率の向上のために、高速でサンプリング可能なＡ／Ｄ変換器を備える必要がある。この点も、乱数生成装置のコストアップが避けられない一因である。
【００１４】
さらに、電波星から発せられた電波を含む電波信号を用いて乱数を生成する場合、大がかりなアンテナ設備を用意する必要がある。これも、装置のコストアップの一因である。
【００１５】
本発明は、このような問題点に鑑み、高品質の物理乱数を生成可能な乱数生成装置を、安価に提供することを課題としている。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記課題を解決するために、本発明の物理乱数生成装置は、
信号レベルが動的である信号の発生手段（図１の光学部１０など）と、
前記発生手段に起因する信号レベルの偏りを低減させる処理手段（図１の処理部８など）と、
前記処理手段によって処理されることで生成される乱数のビット長を指示する指示手段（図１のＭＣＵ（Micro Controller Unit）９など）とを備える。
【００１７】
上記処理手段は、たとえば、信号レベルが動的な信号を構成するｎビットのビットシーケンスに基づいてｍビット（ｎ≠ｍ）のデータ列を生成するといった一様化処理を行うことができる。一様化処理には、ノイマンコレクターを採用してもよい。
【００１８】
また、上記処理手段は、信号レベルの高低の明確化のためにフィルタ処理を行うことができる。たとえば、発生手段が光信号を発生させる場合には、ラプラシアンフィルタを用いることができ、発生手段が音信号を発生させる場合には、バンドパスフィルタを用いることができる。
【００１９】
さらに、上記処理手段は、信号レベルの高低の明確化のために差分処理を行うことができる。差分処理は、時間的又は空間的に信号の特定要素の差分処理を行う。具体的には、たとえば、発生手段が光信号を発生させる場合には、その光信号のレベルをメモリなどに格納し、隣接ピクセル間で差分をとるなどの手法を採用することができる。
【００２０】
前記信号は、コヒーレントな信号である。したがって、光信号、電波信号、音信号など、波動成分を含む信号であればよい。一例としては、レーザ光を用いることができる。この場合、レーザ光を粗面物体に照射したときに得られる反射光、或いは、レーザ光の伝送経路である光ファイバに対して外力を付加することによって得られる伝送光を、前記信号とすることができる。
【００２１】
本発明の物理乱数生成装置の具体的な構成としては、
コヒーレントな光源であるレーザダイオードと、
前記レーザダイオードを駆動発光させるレーザドライバ回路と、
前記レーザダイオードからの光を空間伝搬途上で乱反射させる粗面物体により構成された乱反射型光経路と、
前記粗面に投射後に乱反射し相互干渉を起こしたレーザ光を受光するイメージセンサアレイと、
前記イメージセンサアレイの受光面に形成されていてスペックルパターンを受像した各ピクセルのアナログ電圧値をディジタル画素値に変換するイメージセンサモジュールと、
前記イメージセンサにて検出された画素値を一時的に蓄積しておくメモリ部と、
前記メモリ部から逐次蓄積データ列を読み出し／書き込みを行うメモリ読み書き部と、
一前記メモリ部からメモリ読み書き部経由で読みだしたディジタルデータの“１”（マーク）、“０”（スペース）出現率を均等化させる一様化処理部と、
要求ビット長に達するまで前記各部間のデータの流れの一連の処理を制御する制御手段とを備えることができる。
【００２２】
或いは、本発明の物理乱数生成装置の具体的な構成としては、
コヒーレントな光源であるレーザダイオードと、
前記レーザダイオードを駆動発光させるレーザドライバ回路と、
前記レーザダイオードからの光を伝搬途上でさせる光ファイバを含む光導波路と、
前記光導波路に外乱を加えることにより干渉状態をランダムに変化させる圧電素子と、
前記圧電素子をランダムに電気駆動するための疑似雑音（Pseudo Noise：PN）パターン発生回路により構成される「外乱印加型光経路」と、
前記光ファイバの出射端出力光を受光するイメージセンサアレイと、
前記イメージセンサアレイの受光面に形成されていてスペックルパターンを受像した各ピクセル毎のアナログ電圧値をディジタル画素値に変換するイメージセンサモジュールと、
前記イメージセンサにて検出された画素値を一時的に蓄積しておくメモリ部と、
前記メモリ部から逐次蓄積データ列を読み出し／書き込みを行うメモリ読み書き部と、
一前記メモリ部からメモリ読み書き部経由で読みだしたディジタルデータの“１”（マーク）、“０”（スペース）出現率を均等化させる一様化処理部と、
要求ビット長に達するまで前記各部間のデータの流れの一連の処理を制御する制御手段とを備えることができる。
【００２３】
もっとも、実施例を用いて後述するように、「外乱印加型光経路」に代えて、指肌粗面とすることもできる。こうすると、ＰＮパターン発生回路を備えなくてもよいので、ＰＮパターンに依存しない物理乱数を得ることができるし、ＰＮパターン発生回路を備えない分、物理乱数生成装置を廉価とすることができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、高感度プリアンプ、Ａ／Ｄ変換器、アンテナ設備などのコストアップ要因となるものを用意する必要がないため、乱数生成装置がコストアップを抑止することができる。また、乱数のランダム性の品質を低下する要因がなくなるため、ランダム性に優れた物理乱数を得ることが可能な物理乱数生成装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。
【００２６】
図１は、本発明の実施形態の物理乱数生成装置の概要説明図である。本実施形態の物理乱数生成装置は、発光及び受光を行う光学部１０と、光学部１０からの信号を処理するデータ処理部２０とに大別される。以下、光学部１０及びデータ処理部２０の動作に従って、本実施形態の物理乱数生成装置について説明する。
【００２７】
まず、光学部１０では、レーザドライバ回路１は、ＭＣＵ９から命令に従って、コヒーレントな光源であるレーザダイオード２を駆動する。これにより、レーザダイオード２が発光すると、レーザダイオード２から光は、乱反射面３に投射される。この結果、乱反射面３からの投射光の乱反射による散乱光が得られる。
【００２８】
イメージセンサアレイ４は、乱反射面３からの散乱光を受けて、これに対応する電気信号をイメージセンサモジュール５に出力する。イメージセンサアレイ４で受けられる散乱光は、スペックルパターンと称される斑点状の模様となる。イメージセンサモジュール５は、イメージセンサアレイ４からのピクセル毎の出力を、アナログ信号からディジタル信号に変換する。
【００２９】
つぎに、データ処理部２０では、メモリ読み書き制御部７は、イメージセンサモジュール５によって変換された信号を、メモリ部６に順次書き込んでいく。この結果、メモリ部６には、イメージセンサアレイ４の各ピクセルに対応する多値のディジタル信号が蓄積されることになる。
【００３０】
また、メモリ読み書き制御部７は、すべてのピクセルからの信号がメモリ部６に蓄積された後に、メモリ部６に蓄積されたデータ列を読み出して、処理部８に出力する。処理部８は、たとえば、このデータ列に対して、フィルタリング処理、２値化処理などを施し、さらに、２値信号の“１”（マーク）、“０”（スペース）の出現率を均等化させるといった一様化処理を行う。ＭＣＵ９は、一様化処理後のデータ長が、所望のデータ長となるまで、各部に対して動作命令を行う。
【００３１】
以下、この種の物理乱数生成装置について、いくつかの実施例を挙げて詳述する。
【実施例】
【００３２】
（第１の実施例）
図２は、本発明の第１の実施例の物理乱数生成装置の模式的な構成図である。図２に示すように、本実施例の物理乱数生成装置は、レーザダイオード２を駆動するレーザドライバ回路１と、コヒーレントな光源であるレーザダイオード２と、レーザダイオード２からの光を指肌粗面１２に集めるレンズ１１と、指肌粗面１２からの反射光をイメージセンサアレイ４に集めるレンズ１３と、レンズ１３からの光を受けるイメージセンサアレイ４と、イメージセンサアレイ４で受けられた反射光に基づく電気信号をアナログ信号からディジタル信号に変換するイメージセンサモジュール５とを備えている。
【００３３】
また、本実施例の物理乱数生成装置は、イメージセンサモジュール５からの信号が蓄積されるメモリ部６と、物理乱数生成装置全体の動作の制御を司るＭＣＵ９と、ＭＣＵ９から出力される物理乱数を入力するＰＣパーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」と称する）１５と、処理部８とＰＣ１５とを接続するＵＳＢインターフェース回路１４とを備えている。
【００３４】
さらに、ＭＣＵ９は、メモリ部６への信号の読み書きを制御するメモリ読み書き制御部７と、メモリ部６から読み出された信号に対して光学部１０に起因する信号レベルの偏りを低減させる処理部８とを備える。
【００３５】
図３は、図２に示す物理乱数生成装置の動作を示すフローチャートである。まず、ユーザによって、乱数生成装置の電源が投入される（ステップＳ１）。
【００３６】
この状態で、ＰＣ１５から乱数取得要求がなされると、ＭＣＵ９に当該要求が入力される。ＭＣＵ９は、この要求を入力すると、レーザドライバ回路１をＯＮする（ステップＳ２）。
【００３７】
この結果、レーザダイオード２は、レーザ光を照射することになる（ステップＳ３）。
【００３８】
なお、ＰＣ１５は、乱数取得要求の際に、取得対象の乱数のビット長も併せて要求することになる。
【００３９】
レーザダイオード２から照射されたレーザ光は、レンズ１１で絞られ、筐体の開口部に押し当てられた人間の指肌粗面１２に投射される。このレーザ光は、指肌粗面１２で乱反射する結果、二次元座標位置とその位置の光強度との間には、相関性が薄い、すなわち統計的にランダムな濃淡輝度パターンが生成される。このパターンは光学現象の一つであり、スペックルパターンと称されている。
【００４０】
ここで、人間の指肌自体は、あくまで生体の組織の一部であるため、マクロ的には静止しているように見えていても、ミクロ的には静止していない。つまり、人間の指肌自体は、光の波長サイズオーダのレベルから見れば、様々な不確定かつ不安定な要因により、肌の位置・形状・状態がランダムに微動しているため、時間方向にも、光の干渉状態が変化し、ある位置座標の輝度はランダムな分布になる。この結果、座標方向と時間方向に対して、ランダムな輝度分布が生成される。
【００４１】
なお、仮に、指肌粗面１２に投射しなくとも、大気中を進行する光は、大気又は空気中の微粒子の揺らぎを受けるため、ランダムな輝度分布が生成されるため、指肌粗面１２に投射することが必須ではない点に留意されたい。
【００４２】
指面粗面１２にて乱反射したレーザ光は、レンズ１３で集光されてイメージセンサアレイ１４で受光される（ステップＳ４）。
【００４３】
イメージセンサアレイ１４は、光信号を電気信号に変換して、イメージセンサモジュール５に出力する。イメージセンサモジュール５は、この電気信号の各ピクセルの電圧値を、アナログ信号からディジタル信号に変換する（ステップＳ５）。
【００４４】
ＭＣＵ９は、ＰＣ１５からの乱数生成要求があるか否かを判定する（ステップＳ６）。
【００４５】
判定の結果、ＰＣ１５からの乱数生成要求がない場合は、引き続きステップＳ６を実行する。一方、ＰＣ１５からの乱数生成要求がある場合には、メモリ読み書き制御部７は、イメージセンサモジュール５で得られるデータを、画像フルサイズまでメモリ部６に書き込む（ステップＳ７）。
【００４６】
画像フルサイズまでメモリ部６に書き込まれた後に、メモリ読み書き制御部７が、メモリ部６に書き込まれたデータを、処理部８へ読み出す。
【００４７】
ここで、メモリ部６から読み出された信号は、光学部１０に起因する信号レベルの偏りが存在する。典型的には、レーザダイオード２は、点光源であるため、イメージセンサモジュール５で受光された光は、その中央領域がその周辺領域よりも受光レベルが高くなるといった偏りが生じる。つまり、光学部１０内の各ハードウェア部分の性質などに起因して、信号レベルには、不可避的な偏りが存在する。このため、本実施形態では、この偏りを低減させて、乱数のランダム性を向上させるようにしている。
【００４８】
処理部８は、たとえば、２連のビット列に基づいて１ビットを取得或いは０ビットを取得するといった一様化処理を行う（ステップＳ８）。
【００４９】
具体的には、この場合、“０１”という２連のビット列に基づいて“０”という１ビットを取得し、“０１”という２連のビット列に基づいて“０”という１ビットを取得し、“１０”という２連のビット列に基づいて“１”という１ビットを取得し、“００”という２連のビット列及び“１１”という２連のビット列に基づいて０ビットを取得する（破棄する）。これにより、処理部８からの出力のビット列は、“０”、“１”の発生確率が均等化される。
【００５０】
なお、一様化処理前のデータは、統計確率分布に従ったランダムな物理現象であるビット列から構成されているため、その統計分布に似た偏在性を帯びている。これに対して、一様化処理後のデータは、この偏在性が解消されることになる。加えて、一様化処理後のデータは、セキュリティ技術で適用されるべき乱数の仕様のデファクトスタンダードとなっている米国標準技術局（ＮＩＳＴ）ＳＰ８００−２２に“０”、“１”の生起確率が極力均等であること（mono bit test）との要件にも沿ったものとなる。
【００５１】
もっとも、２連のビット列に基づいて１ビットを取得するといった処理は単なる例示であり、たとえば３連のビット列に基づいて１ビットを取得する、或いは、１ビットから例えば２連のビット列を取得するといった処理を行ってもよい。
【００５２】
また、処理部８は、一様化処理に代えて、又は、一様化処理とともに、フィルタ処理を行うことができる。本実施形態のように、処理対象が光信号の場合には、ラプラシアンフィルタを用いることができる。なお、処理対象が音信号の場合には、バンドパスフィルタを用いることができる。
【００５３】
さらに、一様化処理或いはフィルタ処理に代えて、又は、一様化処理或いはフィルタ処理とともに、差分処理を行うことができる。差分処理は、時間的又は空間的に信号の特定要素の差分処理を行う。具体的には、イメージセンサモジュール５の隣接ピクセル間の信号レベルの差分をとる、或いは、たとえば１行１列目のピクセルを基準ピクセルとし、当該ピクセルとの間で順次な他のピクセルの信号レベルの差分をとるなどの手法を採用することができる。
【００５４】
ＭＣＵ９は、処理部８に対して、一様化処理などをした後のデータの出力命令を行う。処理部８、出力命令に従って、一様化処理などをした後のデータを、ＵＳＢインターフェース回路１４へ出力する（ステップＳ９）。
【００５５】
その後、ＭＣＵ９は、ＵＳＢインターフェース回路１４へ出力された一様化処理などをした後のデータのビット長が、ＰＣ１５からの乱数要求ビット長に到達したか否かを判定する（ステップＳ１０）。
【００５６】
判定の結果、一様化処理などをした後のデータのビット長が乱数要求ビット長に到達していなければ、ステップＳ８に移行する。一方、一様化処理などをした後のデータのビット長が乱数要求ビット長に到達していれば、ＵＳＢインターフェース回路１４からＰＣ１５に対して、乱数列を出力する（ステップＳ１１）。
【００５７】
（第２の実施例）
図４は、本発明の第２の実施例の物理乱数生成装置の模式的な構成図である。図４には、レンズ１１によって集められた光を伝送する光ファイバ１６と、光ファイバ１６に対して外力を印加するための圧電素子１７と、圧電素子１７に対して供給するＰＮパターンの電気信号を発生させるＰＮパターン発生回路１８とを示している。なお、図４において、図２に示した部分と同様の部分には同一符号を付している。
【００５８】
図５は、図４に示す物理乱数生成装置の動作を示すフローチャートである。まず、ステップＳ１と同様に、乱数生成装置の電源が投入された状態で（ステップＳ２１）、ＰＣ１５から乱数取得要求がなされると、ＭＣＵ９に当該要求が入力される。ＭＣＵ９は、この要求を入力すると、レーザドライバ回路１をＯＮし、かつ、ＰＮパターン発生回路１８をＯＮする（ステップＳ２２）。
【００５９】
この結果、レーザダイオード２は、レーザ光を照射することになり、かつ、圧電素子１７は、ＰＮパターンに従って駆動する（ステップＳ２３）。
【００６０】
このため、レーザダイオード２からのレーザ光は、レンズ１１で絞られ、光ファイバ１６内に入射される。
【００６１】
ここで、光ファイバ１６の入射光は、理想的には、コアとクラッドの境界面で様々な反射角度で全反射しながら進行していく。この際、圧電素子１７が光ファイバ６に対してランダムな外力を印加するため、光経路自体が変化することになる。
【００６２】
したがって、光ファイバ６の入射光は、光ファイバ６内を進行する過程で、乱反射角度が時間軸に対して変化するため、時間的にランダム性を有する輝度分布のスペックルパターンが生じることになる。
【００６３】
もっとも、光ファイバ６に対して圧電素子１７を用いて外力を印加しなくても、光ファイバ６を構成するコア又はクラッドの構造上の不均一性、コア又はクラッドに混入した不純物による屈折率の不均一性から、全反射面は、ミクロ的には不均等でランダムな粗面となる。
【００６４】
このように、光ファイバ６の入射光は、光ファイバ６内を進行するだけでも、イメージセンサアレイ１４に入射する光には、空間的にランダム性を有する輝度分布のスペックルパターンが生じることになる。
【００６５】
したがって、本実施例の物理乱数生成装置は、光ファイバ６に対して圧電素子１７を用いて外力を印加した場合には、空間的にも時間的にもランダム性を有する輝度分布のスペックルパターンが生成されることになる。
【００６６】
なお、本実施例の物理乱数生成装置における、その後の処理は、ステップＳ６〜Ｓ１１と同様である（ステップＳ２６〜Ｓ３１）。
【００６７】
（第３の実施例）
図６は、本発明の実施例３の物理乱数生成装置の模式的な一部拡大図である。この物理乱数生成装置は、図２に示す物理乱数生成装置の変形例の説明図である。図６には、指肌粗面１２付近の拡大図を示している。
【００６８】
ここでは、既述のレーザダイオード（ＬＤ）２とイメージセンサアレイ４との他に、ＬＤ２から出射された光を分ける複数のビームスプリッター２１と、各ビームスプリッター２１からの光を指肌粗面１２の側面に照射するように反射する複数の反射プリズム２２と、反射プリズム２２と指肌粗面１２との間に設けられていて例えば５０％の光減衰が可能な光アッテネータ２３と、指肌粗面１２が載置されるガラス板２５と、ガラス板２５とビームスプリッター２１との間に選択的に設けられる電子式シャッター２４とを示している。
【００６９】
本実施例では、乱数生成時には、ＬＤ２から指肌粗面１２に対する照射光の反射光を用いるのみならず、反射プリズム２２等を用いて指肌粗面１２に照射した際に得られる透過光をも用いている。
【００７０】
なお、指肌粗面１２からの透過光は、いわゆる静脈認証にも用いることができる。この際、反射光と透過光とが同時にイメージセンサアレイ４に入射しないように、具体的には、静脈認証時には電子式シャッター２４を閉じて、イメージセンサアレイ４に対して反射光が入射しないようにするとよい。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の乱数生成装置の原理を説明する図である。
【図２】本発明の実施例１の構成を説明する図である。
【図３】本発明の実施例１の原理を説明する図である。
【図４】本発明の実施例２の構成を説明する図である。
【図５】本発明の実施例２の原理を説明する図である。
【図６】本発明の実施例３の物理乱数生成装置の模式的な一部拡大図である。
【図１】
2010271888.tif 000003
【図２】
2010271888.tif 000004
【図３】
2010271888.tif 000005
【図４】
2010271888.tif 000006
【図５】
2010271888.tif 000007
【図６】
2010271888.tif 000008