(57)【要約】  【課題】記録パワーや記録パルスのエッジ位置等の記録条件をテスト記録によって適切に決定することにより、精密な情報信号の記録が可能な光学的情報記録方法を提供する。  【解決手段】第１のテスト信号の極性を反転するか否かをランダムに決定し、第１のテスト信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方のみを光学的情報記録媒体の所定のトラックにテスト記録するステップ（ａ）と、光学的情報記録媒体からステップ（ａ）で記録された第１のテスト信号を再生した結果に基づき記録パルスのエッジ位置の適正値を決定するステップ（ｂ）と、光学的情報記録媒体に記録する情報信号の反転信号および非反転信号のいずれかを、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択し、記録パルスのエッジ位置をステップ（ｂ）で決定された適正値に設定して光学的情報記録媒体に記録するステップ（ｃ）とを備える。【選択図】図９
2010157352.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能な光学的情報記録媒体を用い、前記光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行う光学的情報記録方法において、
第１のテスト信号の極性を反転するか否かをランダムに決定し、前記第１のテスト信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方のみを前記光学的情報記録媒体の所定のトラックにテスト記録するステップ（ａ）と、
前記光学的情報記録媒体から前記ステップ（ａ）で記録された第１のテスト信号を再生した結果に基づき記録パルスのエッジ位置の適正値を決定するステップ（ｂ）と、
前記光学的情報記録媒体に記録する情報信号の反転信号および非反転信号のいずれかを、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択し、記録パルスのエッジ位置を前記ステップ（ｂ）で決定された適正値に設定して前記光学的情報記録媒体に記録するステップ（ｃ）とを備えることを特徴とする光学的情報記録方法。
【請求項２】
前記ステップ（ａ）において、前記光学的情報記録媒体における記録開始点を、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムにシフトさせる請求項１に記載の光学的情報記録方法。
【請求項３】
前記ステップ（ａ）の前に、前記所定のトラックに、テスト信号と相関のないデータパターンを記録するステップを含む請求項１に記載の光学的情報記録方法。
【請求項４】
前記ステップ（ｂ）の終了後、前記ステップ（ｃ）に先立って、
第２のテスト信号の反転信号および非反転信号のいずれかを、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択し、記録パルスのエッジ位置を前記ステップ（ｂ）で決定された適正値に設定して前記光学的情報記録媒体に記録するステップ（ｂ−１）と、
前記光学的情報記録媒体から前記ステップ（ｂ−１）で記録された第２のテスト信号を再生した結果に基づき記録パワーの適正値を決定するステップ（ｂ−２）とを含む請求項１に記載の光学的情報記録方法。
【請求項５】
前記ステップ（ｂ）が、前記第１のテスト信号のエッジ間隔と、前記光学的情報記録媒体から前記第１のテスト信号を再生して得た再生信号のエッジ間隔とを比較するステップを含む請求項１ないし４のいずれか一項に記載の光学的情報記録方法。
【請求項６】
前記ステップ（ｂ）が、前記光学的情報記録媒体から前記第１のテスト信号を再生して得た再生信号のビットエラーレートおよびジッタのいずれかを測定するステップを含み、測定した結果が最小となるような記録パルスのエッジ位置を適正値として決定する請求項１ないし４のいずれか一項に記載の光学的情報記録方法。
【請求項７】
前記ステップ（ｂ−２）が、前記光学的情報記録媒体から前記第２のテスト信号を再生して得た再生信号のビットエラーレートおよびジッタのいずれかを測定するステップを含み、測定した結果が所定の値以下となるような記録パワーの値に基づき記録パワーの適正値を決定する請求項４に記載の光学的情報記録方法。
【請求項８】
書き換え可能な光学的情報記録媒体を用い、前記光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体に対してテスト信号を用いたテスト記録を行う光学的情報記録装置において、
テスト信号を生成するテスト信号生成手段と、
テスト信号および情報信号を記録データ信号に変換し、前記記録データ信号に基づいて光源を駆動して前記光学的情報記録媒体に記録を行う記録手段と、
前記記録データ信号の極性を反転する極性反転手段と、
前記テスト記録を行うときには前記テスト信号から変換された記録データ信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方のみを前記記録手段に供給し、前記情報信号を記録するときには前記情報信号から変換された記録データ信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方を、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択して前記記録手段に供給する極性反転制御手段と、
前記記録データ信号のパルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整手段と、
前記光学的情報記録媒体から信号を再生する再生手段と、
前記光学的情報記録媒体から前記再生手段に前記テスト信号を再生させた結果に基づいて、記録パルスのエッジ位置の適正値を決定し、前記記録パルスエッジ調整手段に供給する記録条件決定手段とを備えることを特徴とする光学的情報記録装置。
【請求項９】
記録データ信号の記録開始点を、前記光学的情報記録媒体上で、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムにシフトする記録開始点シフト手段をさらに備えた請求項８に記載の光学的情報記録装置。
【請求項１０】
前記テスト信号と相関のないデータパターンを発生させるデータパターン発生手段をさらに備え、テスト記録を行う前に、テスト記録を行うトラックに前記データパターンを記録する請求項８または９に記載の光学的情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば光ディスク等の、光学的に情報を記録・再生する光学的情報記録媒体に対する記録条件を最適化するために、情報信号の記録に先立ってテスト記録を行う情報記録方法および情報記録再生装置とに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学的に情報を記録する媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案、開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度に情報を記録・再生できる媒体として注目されている。
【０００３】
書き換え型光ディスクの一つの方式に、相変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクに用いる記録膜は、レーザ光による加熱条件および冷却条件によって、アモルファス状態および結晶状態のいずれかの状態になる。なお、アモルファス状態と結晶状態とには可逆性がある。上記のアモルファス状態と結晶状態とでは、記録膜の光学定数（屈折率および消衰係数）が異なる。相変化型光ディスクでは、情報信号に応じて選択的に２つの状態を記録膜に形成し、この結果として生じる光学的変化（透過率または反射率の変化）を利用して、情報信号の記録・再生を行う。
【０００４】
上記の２つの状態を得るために、以下のような方法で情報信号を記録する。光ヘッドにより集束させたレーザ光（パワーレベルＰｐ）を光ディスクの記録膜にパルス状に照射して（これを記録パルスと呼ぶ）、記録膜の温度を融点を越えて上昇させると、溶融部分は、レーザ光の通過とともに急速に冷却されてアモルファス状態の記録マークになる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度の強度のレーザ光（パワーレベルＰｂ、なお、Ｐｂ＜Ｐｐ）を集束して照射すると、照射部の記録膜は結晶状態になる。なお、このパワーレベルＰｂを消去パワーと呼ぶ。
【０００５】
このようにして、光ディスクのトラック上に、記録データ信号に対応したアモルファス領域からなる記録マークと、結晶領域からなる非マーク部（これをスペースと呼ぶ）との記録パターンが形成される。そして、結晶領域とアモルファス領域との光学的特性の相違を利用することにより、情報信号を再生することができる。
【０００６】
また、最近では、マークポジション記録（ＰＰＭ記録ともいう）方式にかわって、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録ともいう）方式を用いることが多くなってきた。マークポジション記録では、記録マーク自身の位置のみに情報を持たせるのに対して、マークエッジ記録では記録マークの前端エッジおよび後端エッジの両方のエッジ位置に情報を持たせるので、記録線密度が向上するというメリットがある。
【０００７】
さらに、光ディスクの記録容量を大きくしつつ、記録再生装置のスピンドルモーターの回転制御を容易にする方法として、Ｚ−ＣＬＶ（Zoned Constant Line-ar Velocity）フォーマットが提案されている。Ｚ−ＣＬＶフォーマットの光ディスクは、記録領域を所定の数のトラックで構成されるゾーンに分割し、内周のゾーンから外周のゾーンにいくに従って、１周あたりのセクタ数を増加させたディスクである。
【０００８】
このようなＺ−ＣＬＶディスクを記録再生する装置は、ディスクの内周から外周にいくに従って、段階的にディスクの回転数を低下させ（ここで、各ゾーンでの回転数は一定とする）、ディスク全周にわたって線速度がほぼ一定になるようにして記録再生するものである。
【０００９】
Ｚ−ＣＬＶフォーマットについては、例えば、ラジオ技術社「光ディスク技術」（１９８８年）第２２３ページに、Ｍ−ＣＬＶ(Modified Constant Linear Velocity)フォーマットの呼称で記載されている。
【００１０】
ところで、光ディスクは交換可能な記録媒体であるので、光ディスクの記録再生装置は、異なる複数の光ディスクに対して安定に記録再生が可能であることが要求される。しかし、同一の条件で製造された光ディスクでも、製造時のばらつきや経時変化により、記録再生に最適なレーザ光のパワーレベルが互いに異なることがある。また、光ディスクの基板表面の汚れや、記録再生装置の光学系の伝送効率の低下や動作状態の変動により、光ディスクの記録膜に到達するレーザ光のパワーが変動することもあり得る。
【００１１】
それに加えて、特にマークエッジ記録方式の場合には、光ディスクの熱的特性のばらつきが、記録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の程度に影響を及ぼす。従って、記録パルスの最適なエッジ位置が、光ディスクごとに異なる可能性が生ずる。
【００１２】
上記のようなレーザ光の最適パワーレベルの変動や記録パルスの最適なエッジ位置の変動に影響されずに、情報信号を安定に記録再生する方法の例が、特許文献１に開示されている。これは、情報信号を記録するのに先立って、特定のデータパターン（これをテスト信号という）によるテスト記録を行った後に、記録されたテスト信号を再生し、その再生信号を測定して記録マークのエッジ位置を求めることにより、記録パルスのエッジ位置が最適になるよう制御するものである。
【００１３】
また、別の例として、特許文献２には、記録マークのエッジ位置を求めてから、記録パルスのエッジ位置または記録パワーの少なくとも一方を制御する技術が開示されている。また、特許文献３には、ビットエラーレートのパワー依存性から最適な記録パワーを決定する方法が開示されている。さらに、特許文献４には、記録マークの長さおよびその前後のスペースの長さによって、記録パルスのエッジ位置を制御する方法が開示されている。
【００１４】
一方、光ディスクの書き換え可能回数を向上させる方法が、特許文献５に提案されている。これは、記録データ信号の極性（１または０）をランダムに反転することにより、記録膜へのダメージが特定位置に集中することを回避し、記録膜の劣化を抑制するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】特開平４−１３７２２４号公報
【特許文献２】特開平６−１９５７１３号公報
【特許文献３】特開平９−６３０５６号公報
【特許文献４】特開平７−１２９９５９号公報
【特許文献５】特開平９−２１９０２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
しかしながら、上述した従来の方法では、記録マークのエッジ位置の測定値に偏りが生じるため、記録パルスのエッジ位置の決定に誤差が生じる場合があるという問題点があった。以下、この問題点について図１１ないし図１４を参照しながら説明する。
【００１７】
図１１ないし図１４に、以前に記録されていた記録マークと、オーバーライトした記録マークとの位置関係によって生じるマーク歪みの例を示す。図１１ないし図１４の各図において、上段に記録マークをオーバーライトする前の光ディスクのトラックの状態、中段にオーバーライトするテスト信号の（記録データ信号としての）パターン、下段に上記記録マークがオーバーライトされた後の上記トラックの状態をそれぞれ示す。
【００１８】
通常、テスト記録用の記録マークを記録するトラックとして、所定のトラックが割り当てられることが多い。この場合、上記所定のトラックには、記録マークが繰り返しオーバーライトされる。そのため、テスト記録すべきトラックにすでに何らかのテスト信号（または情報信号）が記録されている場合、オーバーライトによって記録した記録マークの形状は、すでに記録されていた記録マークの影響を受けて歪みが生じる。
【００１９】
相変化型光ディスクの場合、アモルファス領域（すなわち記録マークの存在する領域）と結晶領域とでは光学的な吸収特性が異なる。そのため、同じエネルギーのレーザ光を照射しても、アモルファス領域と結晶領域とでは光ディスクの記録膜中の昇温速度が異なる。これにより、アモルファス領域での光学的吸収を結晶領域よりも大きくしたディスク構成の場合には、オーバーライトした記録マークがアモルファス領域上で大きくなりやすい。結果として、記録マークのエッジ位置は、図１１ないし図１４中にハッチングを付して示すように、記録マークが伸びる方向に移動する。これをマーク歪みと呼ぶ。なお、アモルファス領域での光学的吸収が結晶領域よりも小さいディスク構成の場合には、上記の逆になることもあり得る。
【００２０】
従って、テスト記録で記録すべき記録マークと以前の記録マークとの重なり具合によって、記録マークの形状が変化することになる。その結果、記録マークのエッジ位置が変動する。トラックにすでに記録されている信号とオーバーライトするテスト信号とが同じまたは類似している場合には、ディスクの回転変動が大きくない限り、以前の記録マークとオーバーライトした記録マークとの重なり具合が常に同じになる。したがって、以前のデータパターンとオーバーライトしたデータパターンとの位相関係によって、測定されたエッジ位置の測定値に偏りが生じていた。
【００２１】
例えば、図１１の上段に示すように、記録マーク１１３が既に存在するトラック１１１に、同図の中段に示すパターンのテスト信号を用いて記録マークのオーバーライトを行った場合、図の下段に示すように、オーバーライトした記録マーク１１２が以前の記録マーク１１３と重なると、マーク歪み１１４が生じる。
【００２２】
ここで、記録マーク１１２と記録マーク１１５との前端間隔ｘを測定して３Ｔ（Ｔは記録データ信号のクロック周期）の記録パルスの前端エッジ位置を決定する場合、図１１に示すように、オーバーライトした記録マーク１１２の後端部のみにマーク歪み１１４が生じている場合には、前端間隔ｘに対してマーク歪み１１４の影響は生じない。しかし、図１２に示すように、オーバーライトする３Ｔの記録パルスの記録マーク１１５の前端が以前の記録マーク１１３と重なったときには、記録マーク１１５の前端にマーク歪み１１６が生じ、測定される前端間隔はｘ−Δ１となる。
【００２３】
また、図１３に示すように、１０Ｔの記録パルスの記録マーク１１２の前端が以前の記録マーク１１３に重なったときには、記録マーク１１２の前端にマーク歪み１１４が生じ、測定される前端間隔はｘ＋Δ２となる。
【００２４】
また、図１４に示すように、３Ｔの記録パルスの記録マーク１１５の前端と１０Ｔの記録パルスの記録マーク１１２の前端との両方が、以前の記録マーク１１３・１１６と重なった時には、測定される前端間隔はｘ−Δ１＋Δ２となる。
【００２５】
また従来の方法では、記録パルスを最適なエッジ位置に制御した後で、記録パワーが必ずしも最適ではなくなるという問題点があった。以下、この問題点について図１５を用いて説明する。
【００２６】
図１５は、最短マーク（例えば、８−１６変調の場合は３Ｔの記録パルスによる記録マーク、以下、３Ｔマークのように称する）の周期信号を、記録パルス幅を変化させて記録したときの、記録ピークパワーＰｐとビットエラーレート（またはジッタでもよい）との関係を示す。
【００２７】
テスト記録により記録パルスのエッジ位置を調整すると、記録パルス（または記録パルス列）の長さが変化する。そのため、記録パルスが記録マークを形成するために与えるエネルギーが、エッジ位置の調整の影響を受ける。この影響は、最短マークのような短いマークを形成する場合に特に顕著となる。その結果、最適な記録パワーも変化する。
【００２８】
例えば、８−１６変調で最短マークである３Ｔマークを形成するための記録パルスの長さがエッジ位置の調整により小さくなった場合、３Ｔマークを形成するためのエネルギーが減少するので、ビットエラーレートのピークパワー依存性は、図１５に示すｇ１からｇ２へ変化する。その結果、最適な記録パワー（これはビットエラーレートが所定のしきい値ＢｔｈとなるときのパワーＰｔｈ１またはＰｔｈ２に一定の値を乗じて決定することが多い）が、エッジ位置の調整前より高くなることになる。
【００２９】
また上記の問題点とは逆に、従来の方法では、記録パワーを調整した後では記録パルスのエッジ位置が必ずしも最適ではなくなるという問題点が生じる場合もあった。この点について以下で説明する。
【００３０】
テスト記録により記録パワーを調整すると、レーザ光により光ディスクの記録膜に与えられるエネルギーは変化する。そのため、記録パルスまたは記録パルス列の長さが同じであっても、記録パワーが変化すると、光ディスク上のトラックに形成される記録マークの長さすなわちエッジ位置も変化する。この影響は短いマークを形成する場合に特に顕著になる。その結果、記録マークのエッジ位置を最適にするための、記録パルスの最適なエッジ位置が変化する。例えば、テスト記録により記録パワーが増大すると、３Ｔマークのエッジ位置の前端が前に伸びて、エッジ位置の後端が後ろに伸びるので、３Ｔマークを記録するための記録パルスのエッジ位置が最適ではなくなることになる。
【００３１】
また、Ｚ−ＣＬＶフォーマットは、各ゾーン内では一定の回転数で光ディスクを回転させるため、各ゾーン内の半径によって線速度および線密度が異なる。すなわち、各ゾーン内で外周にいくほど線速度と記録線密度が低下する。そのため、従来の方法では、Ｚ−ＣＬＶフォーマットの光ディスクに対してテスト記録する場合には、各ゾーン内の全域にわたって最適な記録パワーまたは記録パルスの最適なエッジ位置が必ずしも得られないという問題点があった。
【００３２】
また、例えば特許文献５に開示された方法では、テスト記録で記録パルスのエッジ位置を決定するときにもデータパターンの極性がランダムに反転するため、同じデータパターンを記録しても、極性によって記録マークとスペースとの関係（すなわち、記録マークの前端エッジと後端エッジとの関係）が逆になる場合がある。この場合、記録マークの前端エッジと後端エッジとの区別ができなくなるという問題点を有していた。
【００３３】
本発明は、これら従来の問題を解決するために、記録パワーや記録パルスのエッジ位置等の記録条件をテスト記録によって適切に決定することにより、精密な情報信号の記録が可能な光学的情報記録方法、および光学的情報記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
前記の目的を達成するために、本発明の光学的情報記録方法は、書き換え可能な光学的情報記録媒体を用い、前記光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテスト記録を行う、光学的情報記録方法において、第１のテスト信号の極性を反転するか否かをランダムに決定し、前記第１のテスト信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方のみを前記光学的情報記録媒体の所定のトラックにテスト記録するステップ（ａ）と、前記光学的情報記録媒体から前記ステップ（ａ）で記録された第１のテスト信号を再生した結果に基づき記録パルスのエッジ位置の適正値を決定するステップ（ｂ）と、前記光学的情報記録媒体に記録する情報信号の反転信号および非反転信号のいずれかを、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択し、記録パルスのエッジ位置を前記ステップ（ｂ）で決定された適正値に設定して前記光学的情報記録媒体に記録するステップ（ｃ）とを備えることを特徴とする。
【００３５】
この方法によれば、光学的情報記録媒体の書き換え可能回数が向上し、なおかつテスト記録を行うことによって最適化された記録条件で情報信号の精密な記録が可能となる。
【００３６】
前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ）において、前記光学的情報記録媒体における記録開始点を、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムにシフトさせることが好ましい。
【００３７】
この方法によれば、光学的情報記録媒体においてテスト記録を行おうとする領域に既に記録されている記録マークにテスト信号の記録マークがオーバーライトされることによって生じるテスト信号のエッジ間隔のずれを平均化することができ、記録データ信号のエッジ位置をより精密に最適化することができる。
【００３８】
前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ａ）の前に、前記所定のトラックに、テスト信号と相関のないデータパターンを記録するステップを含むことが好ましい。
【００３９】
この方法によれば、テスト記録を行おうとする領域にオーバーライトされるテスト信号の記録マークと、既に記録されている記録マークとの重なり具合がランダムになるので、テスト信号のエッジ間隔のずれが平均化することができ、記録データ信号のエッジ位置をより精密に最適化することができる。
【００４０】
前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｂ）の終了後、前記ステップ（ｃ）に先立って、第２のテスト信号の反転信号および非反転信号のいずれかを、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択し、記録パルスのエッジ位置を前記ステップ（ｂ）で決定された適正値に設定して前記光学的情報記録媒体に記録するステップ（ｂ−１）と、前記光学的情報記録媒体から前記ステップ（ｂ−１）で記録された第２のテスト信号を再生した結果に基づき記録パワーの適正値を決定するステップ（ｂ−２）とを含むことが好ましい。
【００４１】
記録パワーを決定するテスト記録では、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト記録や通常の情報信号の記録を行う場合よりも高い記録パワーで記録を行う可能性が高い。この方法によれば、記録パワーを決定するためのテスト記録を行うステップ（ｂ−１）において、第２のテスト信号の極性をランダムに反転させてテスト記録を行うので、光学的情報記録媒体においてテスト記録がなされる領域の記録膜の劣化を防止することができる。
【００４２】
前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｂ）が、前記第１のテスト信号のエッジ間隔と、前記光学的情報記録媒体から前記第１のテスト信号を再生して得た再生信号のエッジ間隔とを比較するステップを含むことが好ましい。
【００４３】
また、前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｂ）が、前記光学的情報記録媒体から前記第１のテスト信号を再生して得た再生信号のビットエラーレートおよびジッタのいずれかを測定するステップを含み、測定した結果が最小となるような記録パルスのエッジ位置を適正値として決定することが好ましい。
【００４４】
前記光学的情報記録方法において、前記ステップ（ｂ−２）が、前記光学的情報記録媒体から前記第２のテスト信号を再生して得た再生信号のビットエラーレートおよびジッタのいずれかを測定するステップを含み、測定した結果が所定の値以下となるような記録パワーの値に基づいて記録パワーの適正値を決定することが好ましい。
【００４５】
前記の目的を達成するために、本発明の光学的情報記録装置は、書き換え可能な光学的情報記録媒体を用い、前記光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前に、前記光学的情報記録媒体に対してテスト信号を用いたテスト記録を行う光学的情報記録装置において、テスト信号を生成するテスト信号生成手段と、テスト信号および情報信号を記録データ信号に変換し、前記記録データ信号に基づいて光源を駆動して前記光学的情報記録媒体に記録を行う記録手段と、前記記録データ信号の極性を反転する極性反転手段と、前記テスト記録を行うときには前記テスト信号から変換された記録データ信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方のみを前記記録手段に供給し、前記情報信号を記録するときには前記情報信号から変換された記録データ信号の反転信号および非反転信号のいずれか一方を、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムに選択して前記記録手段に供給する極性反転制御手段と、前記記録データ信号のパルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整手段と、前記光学的情報記録媒体から信号を再生する再生手段と、前記光学的情報記録媒体から前記再生手段に前記テスト信号を再生させた結果に基づいて、記録パルスのエッジ位置の適正値を決定し、前記記録パルスエッジ調整手段に供給する記録条件決定手段とを備えることを特徴とする。
【００４６】
この構成により、光学的情報記録媒体の書き換え可能回数が向上し、なおかつテスト記録によって最適化された記録条件で情報信号の精密な記録が可能なこう学的情報記録再生装置を提供できる。
【００４７】
前記光学的情報記録装置は、記録データ信号の記録開始点を、前記光学的情報記録媒体上で、セクタごとおよびオーバーライトごとの少なくとも一方のタイミングにおいてランダムにシフトする記録開始点シフト手段をさらに備えることが好ましい。
【００４８】
この構成によれば、光学的情報記録媒体においてテスト記録を行おうとする領域に既に記録されている記録マークにテスト信号の記録マークがオーバーライトされることによって生じるテスト信号のエッジ間隔のずれを平均化することができ、記録データ信号のエッジ位置をより精密に最適化することができる。
【００４９】
前記光学的情報記録装置は、前記テスト信号と相関のないデータパターンを発生させるデータパターン発生手段をさらに備え、テスト記録を行う前に、テスト記録を行うトラックに前記データパターンを記録する構成とすることが好ましい。
【００５０】
この構成によれば、テスト記録を行おうとする領域にオーバーライトされるテスト信号の記録マークと、既に記録されている記録マークとの重なり具合がランダムになるので、テスト信号のエッジ間隔のずれが平均化することができ、記録データ信号のエッジ位置をより精密に最適化することができる。
【発明の効果】
【００５１】
上記構成によれば、光学的情報記録媒体の書き換え可能回数が向上し、なおかつテスト記録を行うことによって最適化された記録条件で情報信号の精密な記録が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の第１および第６の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図２】前記第１の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図３】本発明の第２の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図４】前記第２の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図５】本発明の第３・第４の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図６】前記第３の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図７】本発明の第４の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図８】本発明の第５の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブロック図
【図９】前記第５の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図１０】本発明の第６の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するフローチャート
【図１１】従来の光ディスクにおいて、テスト記録を行う前のトラックの状態と、テスト記録用のテスト信号と、このテスト信号に基づいてテスト記録を行った場合の前記トラックの状態との一例を示す説明図
【図１２】従来の光ディスクにおいて、テスト記録を行う前のトラックの状態と、テスト記録用のテスト信号と、このテスト信号に基づいてテスト記録を行った場合の前記トラックの状態との他の例を示す説明図
【図１３】従来の光ディスクにおいて、テスト記録を行う前のトラックの状態と、テスト記録用のテスト信号と、このテスト信号に基づいてテスト記録を行った場合の前記トラックの状態とのさらに他の例を示す説明図
【図１４】従来の光ディスクにおいて、テスト記録を行う前のトラックの状態と、テスト記録用のテスト信号と、このテスト信号に基づいてテスト記録を行った場合の前記トラックの状態とのさらに他の例を示す説明図
【図１５】従来の光ディスクにおいて、最短マークの周期信号を記録パルス幅を変化させて記録したときの、記録ピークパワーＰｐとビットエラーレートとの関係を示すグラフ
【発明を実施するための形態】
【００５３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００５４】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態における記録再生装置（光学的情報記録装置）の概略構成を示すブロック図である。
【００５５】
本記録再生装置は、光ディスク１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１０と、レーザ光源(図示せず)を備えて光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド９とを備えている。この記録再生装置全体の動作は、システム制御回路２（記録条件決定手段）によって制御される。光ディスク１としては、記録膜が相変化材料からなる相変化型ディスクを用いることが好ましい。
【００５６】
この記録再生装置は、光ディスク１へ情報の記録を行うために、セクタごとに記録開始点をランダムにシフトする記録開始点シフト回路３（記録開始点シフト手段）と、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を生成するエッジテスト信号生成回路４（テスト信号生成手段）とを備えている。
【００５７】
上記記録再生装置は、記録手段として、記録する情報信号に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路５と、記録データ信号に応じてレーザを駆動するための記録パルスを発生させる記録信号生成回路６と、この記録信号生成回路６が出力する記録パルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整回路７とを備えている。さらに、記録パルスエッジ調整回路７が出力する記録パルスに応じて、光ヘッド９内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路８が設けられている。
【００５８】
また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行う再生手段として、光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路１１と、再生信号のエッジのタイミングを検出するエッジタイミング検出回路１２と、再生情報を得るための復調回路１３とを備えている。
【００５９】
次に、図２のフローチャートを用いて、本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【００６０】
テスト記録時には、まず、光ヘッド９が光ディスク１上の所定のトラックにシークし（ステップ１、以下、Ｓ１のように略記する）、システム制御回路２がレーザ駆動回路８における記録パワーの設定値を決定する（Ｓ２）。そしてエッジテスト信号生成回路４がテスト信号を生成し、記録信号生成回路６へ記録データ信号として送出する（Ｓ３）。
【００６１】
記録信号生成回路６は、記録データ信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期Ｔの何倍に相当するかを検出する。そして、記録マークの長さに応じて、所定個数および所定幅の記録パルスを所定のタイミングで発生する。
【００６２】
ここで、記録開始点シフト回路３が、記録ゲート信号の開始位置をセクタごとにランダムにシフトさせて記録信号生成回路６へ送出する。この記録ゲート信号とは、「１」または「０」のディジタル信号で、光ディスク１に情報の記録を行うときのみ「１」となり、それ以外のときは「０」となるような信号である。なお、これとは逆に、記録を行うときに「０」となり、それ以外のときに「１」となるような信号であってもよい。
【００６３】
このように記録ゲート信号の開始位置をランダムにシフトさせることにより、光ディスク１のセクタに記録される一連の記録データ信号の記録開始点が、セクタごとにランダムにシフトする（Ｓ４）。その後、記録パルスエッジ調整回路７が、レーザ光源を駆動するための記録パルスをレーザ駆動回路８に入力する。
【００６４】
レーザ駆動回路８は、記録パルスに応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、該当セクタへの記録を行う（Ｓ５）。上記のＳ３ないしＳ５の記録動作を、所定のセクタ数の記録が終了する（Ｓ６にてＹｅｓ）まで、繰り返し行う。
【００６５】
この結果、たとえ同じパターンのテスト信号を同じトラックにオーバーライトする場合でも、新しい記録マークと古い記録マークとの位相関係は、セクタごとにランダムに変化する。よって、図１１ないし図１４に示す各種の状態のマーク歪みが、同等の確率で存在することになる。
【００６６】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９が該当のセクタを再生し（Ｓ７）、再生信号処理回路１１が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。そして、エッジタイミング検出回路１２が、２値化された再生信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ８）ことにより、記録マークのエッジ間隔を測定する。測定されたエッジ間隔は、システム制御回路２内のメモリ（図示せず）に蓄積される（Ｓ９）。上記のＳ７からＳ９の処理を、テスト記録を行ったすべてのセクタに対して（Ｓ１０にてＹｅｓになるまで）、繰り返し行う。
【００６７】
その後、システム制御回路２が、メモリに蓄積されているエッジ間隔の測定値の平均を算出する（Ｓ１１）。前述したとおり、Ｓ４において、テスト信号の記録開始点をセクタごとにランダムにシフトして記録したので、図１１ないし図１４に示したような各種のマーク歪みの影響によるエッジ間隔のずれ（すなわち、図１１ないし図１４のΔ１とΔ２の影響）は平均化されている。そのため、Ｓ１１で算出されるエッジ間隔の平均値には、以前のデータパターンとの位相関係に起因する偏りは生じない。その結果、実際の情報信号をオーバーライトしたときと同じ状態の、理想的なエッジ間隔を求めることが可能となる。
【００６８】
次に、テスト記録の結果を再生した再生信号から算出したエッジ間隔と、テスト信号のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ１２）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ１３）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定し（Ｓ１４）、テスト記録を終了する。以降、実際に情報信号を記録するときには記録パルスエッジ調整回路７で設定した記録パルスのエッジ位置に従って記録を行うので、理想的なエッジ位置に記録マークを形成できる。
【００６９】
以上に述べたように本実施形態では、テスト信号の記録開始点をセクタごとにランダムにシフトして複数のセクタにテスト記録を行い、その再生信号から得た記録マークのエッジ間隔の平均値を求めることにより、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となり、より精密な情報信号の記録が可能になる。
【００７０】
なお、上記では、テスト信号の記録開始点のランダムなシフトをセクタごとに行う例を説明したが、オーバーライトを行うごとに記録開始点をランダムにシフトするようにしてもよい。または、セクタが変わるごとおよびオーバーライトを行うごとに記録開始点をランダムにシフトさせてもよい。
【００７１】
（第２の実施形態）
図３は、本発明の第２の実施形態における記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【００７２】
この記録再生装置は、光ディスク１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１０と、レーザ光源(図示せず)を備えて光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド９とを備えている。この記録再生装置全体の動作は、システム制御回路２２によって制御される。
【００７３】
この記録再生装置は、記録手段（または記録・消去手段）として、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を生成するエッジテスト信号生成回路４と、記録する情報信号に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路５と、記録データ信号に応じてレーザを駆動するための記録パルスを発生させる記録信号生成回路６と、この記録信号生成回路６が出力する記録パルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整回路７とを備えている。さらに、記録パルスエッジ調整回路７が出力する記録パルスに応じて、光ヘッド９内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路８が設けられている。
【００７４】
また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行うために、光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路１１と、再生信号のエッジのタイミングを検出するエッジタイミング検出回路１２と、再生情報を得るための復調回路１３とを備えている。
【００７５】
本実施形態の記録再生装置は、第１の実施形態における記録開始点シフト回路３の代わりに、テスト信号を記録しようとするトラックにテスト信号の記録に先立って記録するデータパターンを生成するデータパターン生成回路２１が設けられている。なお、このデータパターンとしては、テスト信号とは相関のないデータを用いる。
【００７６】
次に、図４のフローチャートを用いて、システム制御回路２２によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【００７７】
テスト記録時には、まず、光ヘッド９が、光ディスク１上の所定のトラックをシークし（Ｓ２１）、システム制御回路２２が、レーザ駆動回路８における記録パワーの設定値を決定する（Ｓ２２）。そして、データパターン生成回路２１が、テスト信号のパターンとは相関のないデータパターンを生成し、記録データ信号として記録信号生成回路６へ送出する（Ｓ２３）。この記録データ信号を記録信号生成回路６で記録パルスに変換し、レーザ駆動回路８でレーザの駆動電流を変調し、後にテスト記録を行う該当セクタへ記録する（Ｓ２４）。
【００７８】
その後、エッジテスト信号生成回路４から記録信号生成回路６へ、テスト信号を記録データ信号として送出する（Ｓ２５）。この記録データ信号を、同様にして記録信号生成回路６で記録パルスに変換し、レーザ駆動回路８でレーザの駆動電流を変調し、上記Ｓ２４にてデータパターン生成回路２１からのデータパターンの記録を行ったセクタへオーバーライトする（Ｓ２６）。
【００７９】
ここで、Ｓ２６でオーバーライトする以前にＳ２４にて記録されたデータパターンは、テスト信号のパターンと相関のないパターンであるので、テスト信号による記録マークと、以前の記録マークとの重なり具合はランダムとなり、図１１ないし図１４に示す各種のマーク歪みの状態が同等の確率で存在することになる。
【００８０】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９でＳ２６でオーバーライトしたセクタを再生し（Ｓ２７）、再生信号処理回路１１が再生信号のイコライズと２値化とを行う。そして、エッジタイミング検出回路１２が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ２８）ことにより、記録マークのエッジ間隔が測定される。測定されたエッジ間隔は、システム制御回路２２内のメモリに蓄積される（Ｓ２９）。
【００８１】
次に、システム制御回路２２が、エッジ間隔の測定値の平均を算出する（Ｓ３０）。前述のようにオーバーライトする以前に記録されたデータパターンは、テスト信号のパターンと相関のないパターンであるので、図１１ないし図１４に示す各種のマーク歪みの影響によるエッジ間隔のずれ（すなわち、図１１ないし図１４のΔ１とΔ２の影響）は平均化される。そのため、算出したエッジ間隔の値には、以前のデータパターンとの位相関係に起因する偏りは生じない。その結果、精密な記録マークのエッジ間隔を求めることが可能となる。
【００８２】
そして、テスト記録したテスト信号の再生信号から算出したエッジ間隔と、テスト信号本来のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ３１）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ３２）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定し（Ｓ３３）、テスト記録を終了する。以降、実際に情報信号を記録するときには記録パルスエッジ調整回路７で設定した記録パルスのエッジ位置で記録するので、理想的なエッジ位置に記録マークを形成できる。
【００８３】
以上述べたように、本実施形態では、テスト記録に先立って、テスト信号を記録しようとするトラックにテスト信号のパターンと相関のないデータパターンを記録することにより、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となり、より精密な情報信号の記録が可能になる。
【００８４】
なお、本実施形態において、さらに第１の実施形態で述べたような、記録開始点をランダムにシフトする記録開始点シフト回路３を設け、複数のセクタについてテスト信号を記録再生する方法を併用すれば、テスト記録前のデータパターンとテスト信号のデータパターンとの相関性が一層低下するので、より精密に記録パルスのエッジ位置を決定することができるという点でさらに好ましい。
【００８５】
また、本実施形態においては、テスト信号を記録するに先立って記録するデータパターンをテスト信号のパターンと相関のないパターンとしたが、このデータパターンとしてランダムパターンを用いる構成としてもよい。この場合、システム制御回路２２にあらかじめランダムな記録情報を持たせ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成とすれば、データパターン生成回路２１を省略することができ、記録再生装置の構成を簡略化できるという点でより好ましい。あるいは、本記録再生装置に接続された外部装置（例えばコンピュータなど）からランダムな記録情報をシステム制御回路２２に送出させ、その記録情報を変調回路５で変調するような構成としても、同様の効果が得られる。
【００８６】
また、テスト信号を記録するに先立って記録する相関のないデータパターンは、パターンの周期が異なる他のテスト信号のデータパターンであってもよい。この場合も、データパターン生成回路２１を省略することができ、記録再生装置の構成が簡略化されるので、より好ましい。
【００８７】
また、テスト信号の記録に先立ってテスト信号に相関のないデータパターンを記録する代わりに、光ディスク１に一定レベルの消去パワー（Ｐｂ）でレーザ光を照射することにより、テスト信号を記録しようとするトラックに記録されているすべての信号を消去するようにしてもよい。光ディスク１が相変化型光ディスクの場合には、消去パワーＰｂのレーザ光が連続的に照射された部分の記録膜が結晶状態となることにより、記録されている情報が消去される。この場合も、データパターン生成回路２１を省略でき、記録再生装置の簡略化が図れるという点でより好ましい。
【００８８】
（第３の実施形態）
図５は、本発明の第３の実施形態における記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【００８９】
この記録再生装置は、光ディスク１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１０と、レーザ光源(図示せず)を備えて光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド９とを備えている。記録再生装置全体の動作は、システム制御回路３２により制御される。
【００９０】
この記録再生装置は、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を生成するエッジテスト信号生成回路４と、記録する情報信号に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路５と、記録データ信号に応じてレーザを駆動するための記録パルスを発生させる記録信号生成回路６と、この記録信号生成回路６が出力する記録パルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整回路７とを備えている。さらに、記録パルスエッジ調整回路７が出力する記録パルスに応じて、光ヘッド９内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路８が設けられている。
【００９１】
また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行うために、光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路１１と、再生信号のエッジのタイミングを検出するエッジタイミング検出回路１２と、再生情報を得るための復調回路１３とを備えている。
【００９２】
以上は、第１の実施形態で図１に示した構成とほぼ同様である。本実施形態の記録再生装置が第１の実施形態と特に異なるのは、記録開始点シフト回路３を備えず、記録パワーを決定するビットエラーレート（図中、ＢＥＲと略記する）測定回路３１と、記録パワーを決定するためのテスト信号を生成するパワーテスト信号生成回路３３とを備えていることである。
【００９３】
次に、図６のフローチャートを用いて、システム制御回路３２によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【００９４】
テスト記録時には、まず、光ヘッド９が光ディスク１上の所定のトラックにシークし（Ｓ４１）、システム制御回路３２がレーザ駆動回路８における記録パワーの設定値を決定する（Ｓ４２）。そしてエッジテスト信号生成回路４から記録信号生成回路６へ、記録パルスのエッジ位置決定用のテスト信号（第１のテスト信号）を、記録データ信号として送出する（Ｓ４３）。記録信号生成回路６は、この記録データ信号を記録パルスに変換し、レーザ駆動回路８がこの記録パルスに基づいてレーザの駆動電流を変調し、テスト記録を行う該当セクタへ記録する（Ｓ４４）。
【００９５】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９によってＳ４４で記録を行ったセクタを再生し（Ｓ４５）、再生信号処理回路１１が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。そして、エッジタイミング検出回路１２が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ４６）ことにより、記録マークのエッジ間隔を測定し、システム制御回路３２内のメモリに測定値を蓄積する（Ｓ４７）。
【００９６】
その後、システム制御回路３２が、エッジ間隔の測定値の平均を算出する（Ｓ４８）。そして、テスト記録したテスト信号の再生信号から算出したエッジ間隔と、テスト信号本来のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ４９）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ５０）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定する（Ｓ５１）。
【００９７】
次に、記録パワーをパワー調整範囲の最小値に設定し（Ｓ５２）、パワーテスト信号生成回路３３が、記録信号生成回路６へ、パワー決定用のテスト信号（第２のテスト信号）を送出する（Ｓ５３）。そして、このテスト信号から生成された記録パルスに基づいて、テスト記録を行う該当セクタに記録を行う（Ｓ５４）。その後、記録したテスト信号を再生して（Ｓ５５）、再生信号処理回路１１でイコライズや２値化等を行う。
【００９８】
それから、ビットエラーレート測定回路３１が、テスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較してビットエラーレートを測定し（Ｓ５６）、測定値をシステム制御回路３２に蓄積する。記録パワーが調整範囲内の最大値になるまで（Ｓ５７にてＹｅｓ）、記録パワーを段階的に増加させて（Ｓ５８）、上記Ｓ５３〜Ｓ５６までのステップを繰り返す。
【００９９】
そして、システム制御回路３２が、メモリに蓄積された測定値を参照し、ビットエラーレートが一定のしきい値（図１５ではＢｔｈ）となるときの記録パワーの値を算出する（Ｓ５９）。その値に基づいて、例えばこの値に一定の係数を乗じる等の処理を行って、記録パワーの適性値を決定し（Ｓ６０）、レーザ駆動回路８にて記録パワーを適正値に設定して（Ｓ６１）、テスト記録を終了する。この方法によれば、記録パルスのエッジ位置を調整してパルス幅が変化した場合でも、最適な記録パワーで情報信号を記録することができる。
【０１００】
以上に述べたように、本実施形態では、記録パルスのエッジ位置の最適値を決定するテスト記録を行った後に、記録パルスのエッジ位置を上記最適値に設定した状態で、記録パワーの最適値を決定するテスト記録を行う。従って、記録パルスのエッジ位置を調整してパルス幅が変化した場合でも、記録パワーを最適化することができるので、最適なエッジ位置および記録パワーで情報信号を記録することができ、より精密な情報信号の記録が可能になるという点で優れた効果が得られる。
【０１０１】
なお、本実施形態では、エッジ位置を決定する時の記録パワーをＳ４２において所定の値に設定したが、この記録パワーの値を決定するためのテスト記録を行うステップをＳ４２の前に追加すれば、より精密に記録パルスの最適なエッジ位置および記録パワーを決定することができるのでより好ましい。
【０１０２】
また、本実施形態において、さらに、第１の実施形態で述べたように、記録開始点をランダムにシフトして複数のセクタからテスト信号を記録再生し記録パルスの最適なエッジ位置を決定する方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点でより好ましい。
【０１０３】
また、本実施形態において、さらに、第２の実施形態で述べたように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を記録するトラックに、あらかじめテスト信号のパターンと相関のないデータパターンを記録しておく方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となる点でより好ましい。
【０１０４】
また、本実施形態において、さらに、後述する第５の実施形態のように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号の記録のときのみ、記録データ信号のランダムな極性反転を禁止して記録する方法を併用すれば、光ディスクの書き換え可能回数を向上させ、なおかつ精密な情報信号の記録が可能になる点でより好ましい。
【０１０５】
（第４の実施形態）
本発明の第４の実施形態における記録再生装置の構成は、第３の実施形態において図５に示した構成と同様であるが、システム制御回路３２による制御が異なっている。
【０１０６】
ここで、図７のフローチャートおよび図５を用いて、システム制御回路３２によって制御される本実施形態に係る記録再生装置の動作について説明する。
【０１０７】
テスト記録時には、まず、光ヘッド９が、光ディスク１上の所定のトラックにシークし（Ｓ７１）、システム制御回路３２が、記録パルスエッジ調整回路７における記録パルスのエッジ位置を所定の位置に設定する（Ｓ７２）。
【０１０８】
次に、記録パワーをパワー調整範囲の最小値に設定し（Ｓ７３）、パワーテスト信号生成回路３３から記録信号生成回路６へ、パワー決定用のテスト信号（第１のテスト信号）を送出し（Ｓ７４）、テスト記録を行う該当セクタに記録を行う（Ｓ７５）。
【０１０９】
次に、記録したテスト信号を再生して（Ｓ７６）、再生信号処理回路１１でイコライズや２値化等を行う。ビットエラーレート測定回路３１が、テスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較してビットエラーレートを測定し（Ｓ７７）、測定値をシステム制御回路３２に蓄積する。記録パワーが調整範囲内の最大値になるまで（Ｓ７８にてＹｅｓ）、記録パワーを段階的に増加させて（Ｓ７９）、上記Ｓ７４〜Ｓ７７までの処理を繰り返す。
【０１１０】
そして、システム制御回路３２が、蓄積された測定値に基づいて、ビットエラーレートが一定のしきい値（図１５ではＢｔｈ）となるパワーを算出する（Ｓ８０）。そのパワーから記録パワーを決定し（Ｓ８１）、レーザ駆動回路８にて記録パワーを設定する（Ｓ８２）。
【０１１１】
次に、エッジテスト信号生成回路４から記録信号生成回路６へ、記録パルスのエッジ位置決定用のテスト信号（第２のテスト信号）を記録データ信号として送出する（Ｓ８３）。記録信号生成回路６は、この記録データ信号を記録パルスに変換する。レーザ駆動回路８は、記録信号生成回路６からの記録パルスに基づいてレーザの駆動電流を変調することにより、テスト記録を行う該当セクタへ記録を行う（Ｓ８４）。
【０１１２】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９で該当のセクタを再生し（Ｓ８５）、再生信号処理回路１１が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。そして、エッジタイミング検出回路１２が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ８６）ことにより、記録マークのエッジ間隔を測定し、システム制御回路３２内のメモリに測定値を蓄積する（Ｓ８７）。
【０１１３】
その後、システム制御回路３２が、メモリに蓄積されたエッジ間隔の測定値の平均を算出する（Ｓ８８）。そして、テスト記録したテスト信号の再生信号から算出したエッジ間隔と、テスト信号本来のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ８９）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ９０）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定し（Ｓ９１）、テスト記録を終了する。この方法により、記録パワーを調整した場合でも、最適な記録パルスのエッジ位置で情報信号を記録することができる。
【０１１４】
以上に述べたように、本実施形態では、記録パワーを適正値に決定するためのテスト記録を行った後に、記録パワーを上記適性値に設定した状態で、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト記録を行う。これにより、記録パワーを調整してレーザ光の照射エネルギーが変化した場合でも、最適な記録パルスのエッジ位置で情報信号を記録することができる。この結果、さらに精密な情報信号の記録が可能になるという点で優れた効果が得られる。
【０１１５】
なお、本実施形態では、記録パワーを決定する時のエッジ位置をＳ７２において所定の値に設定したが、このエッジ位置を決定するためのテスト記録を行うステップをＳ７２の前に追加すれば、記録パルスの最適なエッジ位置および記録パワーをさらに精密に決定することができるのでより好ましい。
【０１１６】
また、本実施形態において、さらに、第１の実施形態で述べたように記録開始点をランダムにシフトして複数のセクタからテスト信号を記録再生し記録パルスの最適なエッジ位置を決定する方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点でより好ましい。
【０１１７】
また、本実施形態において、さらに、第２の実施形態で述べたように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を記録するトラックに、あらかじめテスト信号のパターンと相関のないデータパターンを記録しておく方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となる点でより好ましい。
【０１１８】
また、本実施形態において、さらに、後述する第５の実施形態のように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号の記録のときのみ、記録データ信号のランダムな極性反転を禁止して記録する方法を併用すれば、光ディスクの書き換え可能回数を向上させ、なおかつ精密な情報信号の記録が可能になる点でより好ましい。
【０１１９】
なお、最適な記録パワー及び記録パルスの最適なエッジ位置を決定するテスト記録を行うときに本実施形態の方法を用いるか、前述した第３の実施形態の方法を用いるかは、記録する光ディスクの構造や記録密度、変調方式等に応じて選択すればよい。例えば、エッジ位置の変動に対してジッタまたはビットエラーレートの変動が敏感な光ディスクの場合、本実施形態の方法が好ましく、記録パワーの変動に対してジッタまたはビットエラーレートの変動が敏感な光ディスクでは第３の実施形態の方法が好ましい。
【０１２０】
また、一般的に、記録マークのエッジ位置を決定するためのテスト記録の方が、記録パワーを決定するためのテスト記録の方が、記録再生装置に必要とされる構成が複雑となる。従って、例えば、記録再生装置の調整時（出荷時）に、例えばタイムインターバルアナライザ等の外部の測定器を用いてエッジ位置を決定するテスト記録を行い、その後は記録
パワーを決定するテスト記録のみを行う場合には、記録再生装置の構成を簡略化できるという点で、第３の実施形態の方法が好ましい。
【０１２１】
（第５の実施形態）
図８は、本発明の第５の実施形態に係る記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。
【０１２２】
本記録再生装置は、光ディスク１を用いて情報の記録再生を行う装置であり、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ１０と、レーザ光源(図示せず)を備えて光ディスク１の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド９とを備えている。記録再生装置全体の動作は、システム制御回路５２によって制御される。
【０１２３】
本記録再生装置は、テスト記録用のテスト信号を生成するエッジテスト信号生成回路４と、記録する情報信号に応じて２値化された記録データ信号を発生させる変調回路５と、記録データ信号に応じてレーザを駆動するための記録パルスを発生させる記録信号生成回路６と、記録信号生成回路６が出力する記録パルスのエッジ位置を調整する記録パルスエッジ調整回路７とを備えている。さらに、記録パルスエッジ調整回路７が出力する記録パルスに応じて、光ヘッド９内のレーザ光源（図示せず）を駆動させる電流を変調するためのレーザ駆動回路８が設けられている。
【０１２４】
また、上記記録再生装置は、光ディスク１から情報の再生を行うために、光ディスク１からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行なう再生信号処理回路１１と、再生信号のエッジのタイミングを検出するエッジタイミング検出回路１２と、再生情報を得るための復調回路１３とを備えている。
【０１２５】
上記記録再生装置は、さらに、記録データ信号の極性を反転させる極性反転回路５４と、変調回路５またはエッジテスト信号生成回路４から送出された信号の出力先を、記録信号生成回路６と極性反転回路５４との間で切り替えるスイッチを内蔵した選択回路５５と、ランダムな極性反転の禁止および解除を行う極性反転制御回路５３とを備えている。
【０１２６】
次に、図９のフローチャートを用いて、本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。
【０１２７】
テスト記録時には、まず、極性反転制御回路５３が、選択回路５５の出力を記録信号生成回路６側へ固定する制御を行い、エッジテスト信号生成回路４からのすべてのデータが極性反転回路５４を通らないようにする（Ｓ１０１）。これにより、記録データ信号の極性反転が禁止される。
【０１２８】
次に、光ヘッド９が、光ディスク１上の所定のトラックにシークし（Ｓ１０２）、システム制御回路５２が、レーザ駆動回路８における記録パワーを所定の値に設定する（Ｓ１０３）。そして、エッジテスト信号生成回路４が、記録データ信号として、選択回路５５へテスト信号を送出する（Ｓ１０４）。ここでは、Ｓ１０１において、選択回路５５が、記録信号生成回路６側へ切り替えられているので、エッジテスト信号生成回路４から送出されるすべてのテスト信号が、極性反転回路５４を通らずに記録信号生成回路６へ入力される。
【０１２９】
記録信号生成回路６は、前述の実施形態と同様にして、入力されたテスト信号を、レーザを駆動するための記録パルスに変換する。レーザ駆動回路８は、この記録パルスに基づいてレーザの駆動電流を変調し、テスト記録を行う該当セクタへ記録する（Ｓ１０５）。
【０１３０】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９が、テスト記録を行ったセクタを再生し（Ｓ１０６）、再生信号処理回路１１が、再生信号のイコライズと２値化とを行う。さらに、エッジタイミング検出回路１２が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ１０７）。検出された反転間隔に基づいて、システム制御回路５２が、記録マークのエッジ間隔を測定し、システム制御回路５２内のメモリに測定値を蓄積する（Ｓ１０８）。
【０１３１】
次に、システム制御回路５２は、メモリに蓄積したエッジ間隔の測定値の平均を算出する（Ｓ１０９）。システム制御回路５２は、Ｓ１０９において算出したエッジ間隔と、テスト信号本来のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ１１０）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ１１１）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定する（Ｓ１１２）。
【０１３２】
最後に、極性反転制御回路５３が、選択回路５５におけるスイッチの切り替えをセクタごとにランダムに行えるように、Ｓ１０１で設定した極性反転禁止を解除して（Ｓ１１３）、テスト記録を終了する。
【０１３３】
このテスト記録の後に、実際に情報信号を記録するときには、選択回路５５におけるスイッチがセクタごとにランダムに切り替えられる。これにより、情報信号は、変調回路５から極性反転回路５４を経由して反転された状態で記録信号再生回路６へ送出される反転状態と、変調回路５から極性反転回路５４を経由せずに直接に記録信号再生回路６へ送出される非反転状態とのいずれかが、セクタごとにランダムに選択される。この結果、類似した情報信号を同一のセクタに繰り返し記録した場合でも、光ディスク１の記録膜の特定位置へのダメージが回避されることになる。なお、情報信号の記録時の選択回路５５のスイッチの切り替えは、セクタごとに限らず、オーバーライトごとに行ってもよい。
【０１３４】
以上に述べたように、本実施形態では、テスト記録を行うときのみ記録データ信号のランダムな極性反転を禁止する制御を行うことにより、記録マークのエッジ位置を決定するときに、記録マークの前端エッジと後端エッジとを区別することでき、精密な情報信号の記録が可能になる。なおかつ、実際に情報信号を記録するときには、記録データ信号の極性をセクタごとまたはオーバーライトごとにランダムに反転する制御をすることにより、光ディスクの書き換え可能回数を向上させることが可能になるという点で優れた効果が得られる。
【０１３５】
なお、Ｓ１０１において、上記とは逆に、エッジテスト信号生成回路４から送出されるすべてのテスト信号が極性反転回路５４に送られて極性反転されるように、極性反転制御回路５３が選択回路５５のスイッチの切り替え制御を行うようにしてもよい。要は、一連のテスト記録中において、記録データ信号の極性が常に同一であればよい。
【０１３６】
なお、本実施形態では、エッジテスト信号生成回路４を備え、テスト記録により記録パルスの最適なエッジ位置を決定する構成および方法について説明したが、第３の実施形態と同様に、パワーテスト信号生成回路３３をさらに備えた構成とし、記録パワーを決定する方法を併用しても良い。この場合、記録パワーを決定する過程では、極性反転の禁止を解除するように制御することが好ましい。これは、記録パワーを決定するためのテスト記録では、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト記録や通常の情報信号の記録よりも高い記録パワーで記録を行う可能性が高いので、極性反転を行うことによって、テストトラックに繰り返し記録を行ったときの記録膜の劣化を抑制できるからである。
【０１３７】
また、本実施形態において、さらに、第１の実施形態で述べたように、記録開始点をランダムにシフトして複数のセクタからテスト信号を記録再生し記録パルスの最適なエッジ位置を決定する方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点でより好ましい。
【０１３８】
また、本実施形態において、さらに、第２の実施形態で述べたように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を記録するトラックに、あらかじめテスト信号のパターンと相関のないデータパターンを記録しておく方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点においてより好ましい。
【０１３９】
（第６の実施形態）
本発明の第６の実施形態は、前記した第１の実施形態で図１に示した構成の記録再生装置を用いるが、光ディスク１として、Ｚ−ＣＬＶフォーマットの光ディスクを用いる。以下、図１０のフローチャートおよび図１を用いて、本実施形態における記録再生装置の動作について説明する。
【０１４０】
テスト記録時には、まず光ヘッド９が、光ディスク１上の記録領域のいずれかのゾーンの最内周付近のトラックにシークし（Ｓ１２１）、システム制御回路２が、レーザ駆動回路８における記録パワーを、所定の値に設定値する（Ｓ１２２）。そして、エッジテスト信号生成回路４が、テスト信号を記録データ信号として記録信号生成回路６へ送出する（Ｓ１２３）。記録信号生成回路６は、この記録データ信号を記録パルスに変換し、レーザ駆動回路８が、光ヘッド９のレーザ光源（図示せず）の駆動電流を変調することにより、該当セクタへテスト記録を行う（Ｓ１２４）。
【０１４１】
テスト信号の記録後は、光ヘッド９が、テスト記録を行ったセクタを再生し（Ｓ１２５）、再生信号処理回路１１が、再生信号のイコライズおよび２値化を行う。そして、エッジタイミング検出回路１２が、２値化信号をスライスし、信号反転間隔を検出する（Ｓ１２６）ことにより、記録マークのエッジ間隔を測定して、システム制御回路２内のメモリ（図示せず）に測定値を蓄積する（Ｓ１２７）。さらに、システム制御回路５２が、メモリに蓄積された測定値から、エッジ間隔の平均値を算出する（Ｓ１２８）。
【０１４２】
そして、システム制御回路２が、Ｓ１２８において算出したエッジ間隔と、テスト信号本来のエッジ間隔との差分（例えば、図１１ないし図１４に示したようなテスト信号の場合は、算出したエッジ間隔に相当する時間と１５Ｔとの差）を求める（Ｓ１２９）。そして、記録パルスのエッジ位置（例えば、図１１ないし図１４に示したような例では、３Ｔマークを記録するための記録パルスの前端エッジ）を上記の差分だけ補正した位置に決定し（Ｓ１３０）、そのエッジ補正量を記録パルスエッジ調整回路７に設定する（Ｓ１３１）。
【０１４３】
次に、本実施形態の効果を確かめるために行った比較実験について説明する。本実験では、ビットエラーレートを測定する代わりに、タイムインターバルアナライザにより再生信号のジッタを測定した。また、再生信号のエッジのタイミング検出にもタイムインターバルアナライザを使用した。
【０１４４】
本実験で用いた光ディスク１の基板のゾーンフォーマットを表１に示す。このフォーマットでは、半径２５．０ｍｍ〜５０ｍｍまでの記録領域（すなわち、実際に情報信号を記録する領域）を１０ゾーンに分割し、各ゾーンで回転数が一定なＺ−ＣＬＶフォーマットとした。全記録領域にわたってクロック周期は同じである。本実施形態では、各ゾーンの最内周で線速度が同じになるようなフォーマットとしたが、線速度は必ずしも各ゾーンの最内周で同じでなくともよい。
【０１４５】
【表１】
2010157352.tif 000003
【０１４６】
光ディスク１の基板には、直径１２０ｍｍ、厚さ０.６ｍｍのポリカーボネート樹脂を用いた。この樹脂基板には、凸凹形状の位相ピットをアドレス情報としてプリフォーマットし、セクタ領域には記録用トラックを形成した。トラックピッチは１．２μｍである。基板上に保護膜、相変化記録膜、保護膜、および反射膜をスパッタリング法により成膜し、その上に保護基板を接着した。
【０１４７】
保護膜としてＺｎＳ−ＳｉＯ２、相変化記録膜としてＴｅ−Ｓｂ−Ｇｅ、反射膜としてＡｌを用いた。そして、スピンドルモーター１０により、この光ディスク１を表１に記載の回転数で回転させ、波長６６０ｎｍのレーザ光を開口数（ＮＡ）０．６の対物レンズで集束させて、記録再生を行なった。スポットサイズの半値全幅は０．６２μｍである。
【０１４８】
テスト記録時のレーザ光のパワーは、Ｐｐ＝１１ｍＷ、Ｐｂ＝５ｍＷ、Ｐｒ＝１ｍＷとした。記録情報の変調方式は、ＤＶＤで用いられている（８−１６）パルス幅変調を用いた。最短である３Ｔのマーク長は０．４２μｍとした。
【０１４９】
情報信号の記録に先立って、第０ゾーンの最内周付近のトラックでテスト記録を行い、記録パルスのエッジ位置を決定した。決定方法は、第１の実施形態で図２のフローチャートに示した手順に従った。
【０１５０】
ただし、記録パルスのエッジ位置の前端は、記録するマークの長さ（３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上のマーク）と、マークの直前のスペースの長さ（３Ｔスペース、４Ｔスペース、５Ｔ以上のスペース）との９通りの組み合わせについてそれぞれ決定した。また、記録パルスのエッジ位置の後端は、記録するマークの長さ（３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上のマーク）と直後のスペースの長さ（３Ｔスペース、４Ｔスペース、５Ｔ以上のスペース）との９通りの組み合わせについて決定した。エッジ位置の調整精度は０．５ｎｓである。
【０１５１】
３Ｔマーク、４Ｔマークおよび５Ｔ以上のマークでエッジ位置の調整値をそれぞれ別々にしたのは、３Ｔマークおよび４Ｔマークでは、いわゆる筆先記録の状態になることからスポットサイズに対してマーク長が小さくなるので、エッジ位置を５Ｔ以上のマーク長の場合とは異ならせる必要があるからである。３Ｔスペース、４Ｔスペースおよび５Ｔ以上のスペースでエッジ位置の調整値を変化させたのは、３Ｔスペース、４Ｔスペースではマーク間の熱干渉の影響が無視できなくなるためである。
【０１５２】
次に、このテスト記録で決定した記録パルスのエッジ位置に基づいて、第０ゾーンの最内周（すなわち半径２５．０ｍｍ）付近のトラックと最外周付近のトラックで（８−１６）パルス幅変調のランダム情報信号を１０回オーバーライト記録し、再生信号のジッタを測定した。
【０１５３】
次に、上記と同様にして、第０ゾーンの最外周（すなわち半径２７．５ｍｍ）付近のトラックでテスト記録し、記録パルスのエッジ位置を決定した。そして、このテスト記録で記録した記録パルスのエッジ位置に基づいて、第０ゾーンの最内周付近のトラックと最外周付近のトラックで（８−１６）パルス幅変調のランダムな情報信号を１０回オーバーライト記録し、再生信号のジッタを測定した。以上のジッタの測定結果を表２に示す。
【０１５４】
【表２】
2010157352.tif 000004
【０１５５】
表２に示すように、ゾーン最内周付近およびゾーン最外周付近いずれのトラックでテスト記録を行っても、ランダム情報信号のジッタはゾーン最外周付近の方が良くなることがわかった。これはゾーン最外周の方が記録線密度が低いためである。例えば、表１に示されるように、第０ゾーンでは最外周の最短マーク長は最内周の１．１倍である。
【０１５６】
また、ゾーン最内周でテスト記録を行い、最外周でランダム情報信号を記録したときのジッタは、ゾーン最外周でテスト記録を行い、最外周でランダム情報信号を記録したときのジッタとほぼ同等である。一方、ゾーン最外周でテスト記録を行い、最内周でランダム情報信号を記録したときのジッタは、ゾーン最内周でテスト記録を行い、最内周でランダム情報信号を記録したときのジッタよりも約１％増加した。
【０１５７】
この理由は、以下のように考えられる。ゾーン最外周では記録線密度が低いために、テスト記録したときに、記録パルスのエッジ位置のずれに対するジッタ値の変化度が小さい。そのため、テスト記録によるエッジ位置の調整時に調整誤差が生じやすく、その影響が最内周に記録したときのジッタ値の増加として現れたと推測できる。
【０１５８】
以上に述べたように本実施形態では、Ｚ−ＣＬＶディスクの各ゾーンの最内周のトラックにおける情報信号の記録線密度と略等しい記録線密度でテスト信号を記録して、記録パルスのエッジ位置を決定することにより、各ゾーンの最内周から最外周にわたって良好なジッタ（またはビットエラーレート）を得ることができ、精密な情報信号の記録が可能になるという点で優れた効果が得られる。
【０１５９】
なお、本実施形態では、光ディスクの記録領域、すなわち情報信号を記録する領域、のゾーン内における最内周付近でテスト記録を行ったが、光ディスクの少なくとも一つのゾーンの最内周付近の領域をテスト記録用の領域として設け、その領域にテスト記録をしてもよい。
【０１６０】
また、表３に示すように、光ディスク上での記録領域よりも内周側および外周側にテスト記録用の領域を設け、その領域の記録線密度を各ゾーンの最内周における記録線密度と略等しい記録線密度としても同様の効果が得られる。
【０１６１】
【表３】
2010157352.tif 000005
【０１６２】
また、本実施形態では、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト記録について説明したが、記録パワーを決定するためのテスト記録についても、記録領域の各ゾーンの最内周のトラックにおける情報信号の記録線密度と略等しい記録線密度でテスト記録を行えば、各ゾーンの最内周から最外周にわたって最適な記録パワーを設定することができ、精密な情報信号の記録が可能になるという効果が得られる。
【０１６３】
また本実施形態において、さらに第１の実施形態で述べたように記録開始点をランダムにシフトして複数のセクタからテスト信号を記録再生し記録パルスの最適なエッジ位置を決定する方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点でより好ましい。
【０１６４】
また、本実施形態において、さらに第２の実施形態で述べたように記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号を記録するトラックに、あらかじめテスト信号のパターンと相関のないデータパターンを記録しておく方法を併用すれば、記録マークのエッジ位置を偏りなく精密に決定するテスト記録が可能となるという点でより好ましい。
【０１６５】
また、本実施形態において、さらに第５の実施形態のように、記録パルスのエッジ位置を決定するためのテスト信号の記録のときのみ、記録データ信号のランダムな極性反転を禁止して記録する方法を併用すれば、光ディスクの書き換え可能回数を向上させ、なおかつ精密な情報信号の記録が可能になる点でより好ましい。
【０１６６】
なお、上記の第１ないし第６の実施形態において、テスト記録を行うのが望ましいタイミングは、少なくとも、記録再生装置の調整時、記録再生装置の起動時、前記起動時から一定時間経過した時、光ディスクの交換時、光ディスクのビットエラーレートが所定の値を越えた時、使用環境の温度が変化した時である。
【０１６７】
記録再生装置の調整時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置間の変動要素を補償できる。また、記録再生装置の起動時、および前記起動時から一定時間経過した時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置自身の変動要素を補償できる。また、光ディスクの交換時にテスト記録を行うことにより、光ディスク間の変動要素を補償できる。また、光ディスクのビットエラーレートが所定の値を越えた時にテスト記録を行うことにより、光ディスク自身の変動要素を補償できる。また、使用環境の温度が変化した時にテスト記録を行うことにより、記録再生装置および光ディスクの温度依存性に起因する変動要素を補償できる。
【０１６８】
また、上記の第１〜第６の実施形態においては、記録パルスのエッジ位置の決定には特定のテスト信号を記録して再生信号のエッジ間隔を測定する方法を用いたが、エッジ位置を変化させた複数種類のテスト信号（例えば複数種類のランダム信号）を記録してビットエラーレート（またはジッタ）を測定し、ビットエラーレート（またはジッタ）が最小となったテスト信号で設定した記録パルスのエッジ位置を最適値として決定する方法でも同様の効果が得られる。
【０１６９】
また、上記の第１〜第６の実施形態においては、記録パルスのエッジ位置を決定するために、ある特定のテスト信号を記録して測定した記録マークのエッジ間隔と最適なエッジ間隔との差分をエッジ位置調整回路で補正する方法とした。しかし、記録パルスのエッジ位置を段階的に変化させた複数種類のテスト信号を記録してそれぞれのテスト信号について記録マークのエッジ間隔を測定し、最も最適なエッジ間隔が得られたテスト信号における記録パルスのエッジ位置を、最適値としてエッジ位置調整回路に設定する方法でも同様の効果が得られる。
【０１７０】
また、上記の第１〜第６の実施形態においては、記録マークのエッジ間隔の測定をエッジタイミング検出回路で行い、測定したエッジ間隔の蓄積および平均値の算出をシステム制御回路にて行ったが、これらの処理を、例えばタイムインターバルアナライザ等の、本記録再生装置の外部の測定器にて行ってもよい。
【０１７１】
また、上記の第１〜第６の実施形態においてはテスト信号を発生させるためにテスト信号生成回路を設けたが、システム制御回路から特定の情報信号を発生させて変調した信号をテスト信号としても良い。これにより、テスト信号生成回路を別途設ける必要がなくなるので、装置の小型化を図れる。さらに、このテスト信号にエラー訂正符号の付加やインターリーブ処理が行われたものでもよく、ビットエラーレートは、復調およびエラー訂正後に測定されるものであってもよい。
【０１７２】
また、上記の光ディスクの層数、構成や材料は上記に限るものではなく、光磁気材料や色素材料等、記録マークと非マーク部で光学的特性の異なる媒体であればいずれも上記の方法を適用することができる。しかし、記録膜として相変化材料を用いた光ディスクであれば、結晶−アモルファス間で光学的な吸収が異なるので、上記のテスト記録方法で特に大きな効果を得ることができる。
【０１７３】
また、上記の記録パワー、線速度、変調方式、記録密度、各パルスの長さ・位置、テスト信号のパターン等は本実施形態で示したものに限るわけではなく、記録条件や媒体に応じて適切なものを設定することが可能なことは言うまでもない。さらに、ビットエラーレートの測定はジッタの測定に置き換えてもよく、ジッタの測定はビットエラーレートの測定に置き換えてもよい。
【０１７４】
以上に述べたように、本発明の光学的情報記録装置によれば、テスト記録の際に、記録マークのエッジ間隔に対するマーク歪みの影響が平均化されるので、テスト記録によって記録マークのエッジ位置を精密に決定することができる。この結果、より精密な情報信号の記録が可能な光学的情報記録装置を提供できる。
【０１７５】
また、本発明の光学的情報記録方法によれば、テスト記録によって、記録パワーと記録パルスのエッジ位置との両方を最適化することができるので、より精密な情報信号の記録が可能になる。
【０１７６】
また、本発明の光学的情報記録媒体によれば、各ゾーンの最内周から最外周にわたって良好なジッタまたはビットエラーレートを得ることができ、精密な情報信号の記録が可能になる。
【符号の説明】
【０１７７】
１  光ディスク
２・２２・３２・５２  システム制御回路
３  記録開始点シフト回路
４  エッジテスト信号生成回路
５  変調回路
６  記録信号生成回路
７  記録パルスエッジ調整回路
８  レーザ駆動回路
９  光ヘッド
１０  スピンドルモーター
１１  再生信号処理回路
１２  エッジタイミング検出回路
１３  復調回路
２１  データパターン生成回路
３１  ビットエラーレート測定回路
３３  パワーテスト信号生成回路
５４  極性反転回路
５５  選択回路
５３  極性反転制御回路
１１１  トラック
１１２・１１５  記録マーク
１１４・１１６  マーク歪み
【図１】
2010157352.tif 000006
【図２】
2010157352.tif 000007
【図３】
2010157352.tif 000008
【図４】
2010157352.tif 000009
【図５】
2010157352.tif 000010
【図６】
2010157352.tif 000011
【図７】
2010157352.tif 000012
【図８】
2010157352.tif 000013
【図９】
2010157352.tif 000014
【図１０】
2010157352.tif 000015
【図１１】
2010157352.tif 000016
【図１２】
2010157352.tif 000017
【図１３】
2010157352.tif 000018
【図１４】
2010157352.tif 000019
【図１５】
2010157352.tif 000020