(57)【要約】【課題】ヘッド特性として相対的にＳＮ比の悪いヘッドが存在する場合でも、ディスク記憶装置を提供することにある。【解決手段】記録密度の調整を行う機能を有するディスクドライブ１において、ＣＰＵ１７は、ディスク１０から各ヘッド１２により読出されたデータに基づいて、各ヘッド１２のエラーレートを測定する。ＣＰＵ１７は、測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッド１２の線記録密度を予め設定された基準値より増大させる調整処理を行なう。【選択図】      図１
2010102774.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクの各記録面に対応して設けられる各ヘッドと、
前記ディスクから前記各ヘッドにより読出されたデータに基づいて、前記各ヘッドのエラーレートを測定する測定手段と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理を行なう制御手段と
を具備したことを特徴とするディスク記憶装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記測定手段により前記増大させた線記録密度に基づいて前記各ヘッドのエラーレートを測定させて、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲内になるまで、前記線記録密度を予め設定された設定値より段階的に増大させることを特徴とする請求項１に記載のディスク記憶装置。
【請求項３】
前記制御手段は、
前記最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定することを特徴とする請求項１または請求項２のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
線記録密度に応じた書込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリ手段を含み、
前記最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定することを特徴とする請求項３に記載のディスク記憶装置。
【請求項５】
データの記録媒体であるディスクと、
ディスクの各記録面に対応する各ヘッドと、
前記ディスクから前記各ヘッドにより読出されたデータに基づいて、前記各ヘッドのエラーレートを測定する手段と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの第１の線記録密度を予め設定された基準値より増大させて、当該エラーレートの最大値を示すヘッドの第２の線記録密度を予め設定された基準値より減少させる調整処理を行なう制御手段と
を具備したことを特徴とするディスク記憶装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
前記第１の線記録密度を増大させる範囲と前記第２の線記録密度を減少させる範囲とを同一にして、前記ディスク全体の記録容量を予め設定した基準値を維持することを特徴とする請求項５に記載のディスク記憶装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
前記増大させた第１の線記録密度及び前記減少させた第２の線記録密度に基づいて、前記測定手段により前記各ヘッドのエラーレートを測定させて、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲内になるまで、前記第１の線記録密度を段階的に増大させて、かつ前記第２の線記録密度を段階的に減少させることを特徴とする請求項５または請求項６のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項８】
前記制御手段は、
前記エラーレートの最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定し、
前記エラーレートの最大値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記減少させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定することを特徴とする請求項５から請求項７のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項９】
前記制御手段は、
線記録密度に応じた書き込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリ手段を含み、
前記エラーレートの最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定し、
前記エラーレートの最大値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記減少させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定することを特徴とする請求項８に記載のディスク記憶装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、
前記調整処理の実行後に、前記各ヘッドの線記録密度とトラック密度を含む記録密度を決定する処理を実行することを特徴とする請求項１又は請求項５のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項１１】
ディスクの各記録面に対応する各ヘッドを有するディスク記憶装置に適用する記録密度調整方法であって、
前記ディスクから前記各ヘッドにより読出されたデータに基づいて、前記各ヘッドのエラーレートを測定する処理と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理と
を有することを特徴とする記録密度調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク記憶装置に関し、特にディスクの記録密度を調整する記録密度調整技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、ハードディスクドライブを代表とするディスク記憶装置（以下、ディスクドライブと表記する場合がある）では、データ記録媒体であるディスクの記録面（ディスク面）のそれぞれに対応する複数の磁気ヘッド（以下、単にヘッドと表記する）が設けられている。例えば２枚のディスクであれば、４ディスク面に対応する４個のヘッドが設けられている。
【０００３】
ディスクドライブの製造工程では、予め設定される製品仕様におけるヘッドの記録密度を調整する処理が行なわれている。各ヘッドの記録密度により、ドライブ全体のディスク記録容量が決定されることになる。ここで、ヘッドの記録密度とは、ヘッドによりディスク上にデータを書き込むときの記録密度であり、円周方向の記録密度である線記録密度（ＢＰＩ：bit per inch）と半径方向の単位トラック数であるトラック密度（ＴＰＩ：tracks per inch）により定義される。
【０００４】
トラック密度（ＴＰＩ）の調整は、ヘッド特性の中でヘッドのトラック幅に依存する。ここで、ヘッドは、データを書き込むライトヘッド素子とデータを読出すリードヘッド素子とが分離して、スライダ上に実装された構造である。通常では、ライトヘッド素子のトラック幅は、リードヘッド素子のそれより大きい。
【０００５】
また、線記録密度（ＢＰＩ）の調整は、ヘッド特性の中でエラーレートの測定に基づいたＳＮ比に依存する。ＢＰＩは、ヘッドによりディスク面にデータを書き込むための書き込み周波数により決定される。ＢＰＩの調整では、ヘッドにより書き込み周波数を変更しながらデータを書込み、当該データを読出したときのエラーレート（再生エラーレート）を測定する処理が実行される（例えば、特許文献１を参照）。
【特許文献１】特開平６−２７４８０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来のディスクドライブの製造工程では、製品仕様の記録密度を維持するための調整処理として、各ヘッドのエラーレートを測定し、当該エラーレートが規格を満足する場合の書き込み周波数を決定することで、ＢＰＩの調整が行なわれている。しかしながら、例えば４個のヘッドの中で、ヘッド特性で相対的にＳＮ比の悪いヘッドが１個でも存在する場合、他のヘッドの特性に係わらず、当該ディスクドライブの製品化は断念される。このため、特に高記録密度化が推進されているディスクドライブでは、ヘッド特性の影響により製造歩留まりが低下する場合がある。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、ヘッド特性として相対的にＳＮ比の悪いヘッドが存在する場合でも、製品化で設定仕様の記録密度を確保できると共に、製造歩留まりの向上を図ることができるディスク記憶装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の観点に従ったディスク記憶装置は、ディスクの各記録面に対応する各ヘッドと、前記ディスクから前記各ヘッドにより読出されたデータに基づいて、前記各ヘッドのエラーレートを測定する測定手段と、前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理を行なう制御手段とを備えた構成である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、ヘッド特性として相対的にＳＮ比の悪いヘッドが存在する場合でも、製品化での設定仕様の記録密度を確保すると共に、製造歩留まりの向上を図ることができるディスク記憶装置を提供することにある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。
【００１１】
（ディスクドライブの構成）
図１は、第１及び第２の実施形態に関するディスクドライブの構成を説明するためのブロック図である。
【００１２】
本実施形態のディスクドライブ１は、図１に示すように、磁気記録媒体であるディスク１０と、当該ディスク１０を回転させるスピンドルモータ（ＳＰＭ）１１と、ヘッド１２と、アクチュエータ１３と、ヘッドアンプユニット（ヘッドＩＣ）１４とを有する。
【００１３】
ヘッド１２は、リードヘッド素子１２Ｒとライトヘッド素子１２Ｗとが、１つのスライダ上に分離して実装されている構造である。リードヘッド１２Ｒは、ディスク１０から記録されているデータを読出す。ライトヘッド素子１２Ｗは、ディスク１０上にデータを書き込む。アクチュエータ１３は、ヘッド１２を搭載しているサスペンション、アーム及びボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を有し、ヘッド１２をディスク１０上の半径方向に移動させる。
【００１４】
ヘッドアンプユニット１４は、ヘッド１２のリードヘッド素子１２Ｒにより読出されたリード信号を増幅してリード／ライトチャネル１５に出力するリードアンプを含む。また、ヘッドアンプユニット１４は、リード／ライトチャネル１５から出力されるライトデータをライト信号（ライト電流）に変換して、ヘッド１２のライトヘッド素子１２Ｗに供給するライトドライバを含む。
【００１５】
ディスクドライブ１は、プリント回路基板上に実装されたリード／ライトチャネル１５、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）１６、マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）１７、メモリ１８及びモータドライバ１９を有する。なお、ＨＤＣ１６、ＣＰＵ１７、及びメモリ１８は、ワンチップの集積回路２０に実装されている。
【００１６】
リード／ライトチャネル１５は、リード／ライトデータ信号を処理する信号処理ユニットである。ＨＤＣ１６は、ディスクドライブ１とホストシステム（パーソナルコンピュータやディジタル機器）とのインターフェースを構成し、データ転送制御やリード／ライト動作を制御する。ＣＰＵ１７は、ディスクドライブ１のメインコントローラであり、ヘッド位置決め制御（サーボ制御）や、本実施形態の記録密度調整を実行する。メモリ１８は、フラッシュＥＥＰＲＯＭであり、後述するＢＰＩに応じた書き込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶している。
【００１７】
モータドライバ１９は、ＳＰＭ１１に駆動電流を供給するＳＰＭドライバ及びアクチュエータ１３のＶＣＭに駆動電流を供給するＶＣＭドライバを有する。ＶＣＭドライバは、ＣＰＵ１７のヘッド位置決め制御（サーボ制御）に応じてアクチュエータ１３のＶＣＭに駆動電流を供給して、ヘッド１２をディスク１０上の半径方向に移動制御する。
【００１８】
（第１の実施形態に関する記録密度の調整処理）
本実施形態では、ディスクドライブの製造工程において、図１に示すように、組み立て工程が完了しているディスクドライブ１において、ドライブ自体により記録密度の調整処理を実行するセルフ方式を想定する。以下、図２のフローチャートを参照して、具体的に記録密度の調整処理を説明する。
【００１９】
ここで、ディスクドライブ１には、２枚のディスク１０と、ディスク１０の各ディスク面（記録面）に対応する４個のヘッド１２が設けられている構成とする。アクチュエータ１３は、ＣＰＵ１７の制御により、４個のヘッド１２を同時に各ディスク面の半径方向に移動させる。まず、ＣＰＵ１７は、各ディスク面の指定の同一トラック上に、各ヘッド１２を移動させてオントラックさせる。
【００２０】
次に、ＣＰＵ１７は、予め設定された基準記録密度（基準値と表記する）で、全ヘッド１２のエラーレートを測定する（ブロック１００）。基準値とは、ディスクドライブ１の製品化での設定仕様に応じた記録密度であり、基準の線記録密度（ＢＰＩ０とする）及びトラック密度（ＴＰＩ０とする）である。ＣＰＵ１７は、オントラックしている全ヘッド１２により、基準値での書き込み周波数によりデータを書込み、当該データを読出したときのエラーレート（再生エラーレート）を測定する。基準値のトラック密度ＴＰＩ０は、全ヘッド１２のヘッド特性に含まれるトラック幅に依存している。
【００２１】
次に、ＣＰＵ１７は、オントラックでの全ヘッド１２のエラーレートの中で、最悪のエラーレート（エラーレートが最大値）と、最良のエラーレート（エラーレートが最小値）を示すヘッドを特定する。ここで、エラーレートは、読出しデータ数（ビット数）に対するエラーデータ数（ビット数）の割合を示す情報である。ＣＰＵ１７は、エラーレートの最大値と最小値との差を計算する（ブロック１０１）。ＣＰＵ１７は、当該差が基準範囲（設定した閾値）内であれば、線記録密度（ＢＰＩ）の調整処理を終了し、後述する記録密度（ＢＰＩとＴＰＩの）決定処理に移行する（ブロック１０２のＹＥＳ）。
【００２２】
ＣＰＵ１７は、エラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、エラーレートが最小値（相対的に最良のＳＮ比）を示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を段階的に１ステップ分だけ上げる（ブロック１０３）。即ち、エラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、測定された最良のエラーレートは、エラーレートの規格に対して十分な余裕があると推定できる。従って、十分なエラーレートを確保しながら、当該ヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を基準値（ＢＰＩ０）より増大させることが可能となる。
【００２３】
ＣＰＵ１７は、線記録密度（ＢＰＩ）を基準値（ＢＰＩ０）より増大させる調整処理を実行した後に、再度、全ヘッド１２のエラーレートを測定する（ブロック１０４）。なお、線記録密度の調整処理とは、ヘッド１２によりディスク面にデータを書き込む場合の書込み周波数を変更して設定する処理である。
【００２４】
具体的には、ＣＰＵ１７は、メモリ１８に記憶されている書き込み周波数を設定するためのテーブル情報から、基準値（ＢＰＩ０）より１ステップ分だけ増大させた書き込み周波数を選択し、データを書き込むライト動作時にリード／ライトチャネル１５に設定する。テーブル情報は、基準値（ＢＰＩ０）に対応する書き込み周波数を基準として、段階的に増大及び減少させた書き込み周波数のデータから構成されている。
【００２５】
ＣＰＵ１７は、エラーレートの測定結果から、エラーレートが最大値と、エラーレートが最小値を示す各ヘッドを特定し、エラーレートの最大値と最小値との差を計算する（ブロック１０１）。ＣＰＵ１７は、当該差が基準範囲（設定した閾値）内になるまで、当該記録密度の調整処理を繰り返す（ブロック１０２のＮＯ）。
【００２６】
ＣＰＵ１７は、線記録密度（ＢＰＩ）の調整処理を終了すると、記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の決定処理に移行する（ブロック１０２のＹＥＳ）。即ち、ＣＰＵ１７は、調整された線記録密度（ＢＰＩ）と基準のトラック密度（ＴＰＩ０）において、いわゆるフリンジ（ｆｒｉｎｇｅ）を測定する（ブロック１０５）。
【００２７】
ここで、調整された線記録密度（ＢＰＩ）とは、最良（最小値）のエラーレートを示すヘッドに対する線記録密度と、他のヘッドに対応する基準の線記録密度（ＢＰＩ０）とを含む。また、フリンジの測定とは、隣接トラック間での磁気漏洩によるデータ干渉の測定である。
【００２８】
ＣＰＵ１７は、フリンジの測定結果が規格を満足するまで、記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を調整し、フリンジを測定する（ブロック１０６）。記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の調整は、ＢＰＩとＴＰＩをそれぞれ段階的に増大又は減少させる。この場合、増大させる上げ幅と、減少させる下げ幅を同一にする。ＣＰＵ１７は、記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の調整段階の上限に相当する上限回数まで繰り返す（ブロック１０７）。そして、ＣＰＵ１７は、フリンジの状態が最良となる最適な各ヘッドの記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を決定する（ブロック１０８）。
【００２９】
以上のように第１の実施形態によれば、ディスクドライブの製造工程において、ヘッドの記録密度を調整する場合に、各ヘッドのエラーレートを測定し、エラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、エラーレートの最小値（相対的に最良のエラーレート）は、エラーレートの規格に対して十分な余裕があると推定できる。従って、十分なエラーレートを確保しながら、当該ヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を基準値（ＢＰＩ０）より増大させることが可能となる。換言すれば、線記録密度（ＢＰＩ）を増大させることにより、相対的にエラーレートは低下するが、エラーレートの規格に対して十分なエラーレートを確保することが可能である。
【００３０】
これにより、当初の基準の記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）に対して、線記録密度（ＢＰＩ）を増大させることにより、結果的に全ヘッドの記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を上げることができる。また、エラーレートの最大値を示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を下げることにより、当該ヘッドのエラーレートを改善することができる。この場合、最良のエラーレートを示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を上げるため、全体の記録密度として、当初の基準の記録密度、即ち製品化の設定仕様での記録密度を確保することが可能である。ヘッド特性で相対的にＳＮ比の悪いヘッドが１個でも存在する場合でも、ディスクドライブの製品化を実現することが可能となるため、ディスクドライブの製造歩留まりの向上を図ることができる。
【００３１】
（第２の実施形態）
図３は、第２の実施形態に関する記録密度の調整処理を説明するためのフローチャートである。
【００３２】
本実施形態においても、ディスクドライブ１の構成は第１の実施形態と同様であり、ドライブ自体により記録密度の調整処理を実行するセルフ方式である。まず、ＣＰＵ１７は、各ディスク面の指定の同一トラック上に、各ヘッド１２を移動させてオントラックさせて、基準記録密度（基準値）で、全ヘッド１２のエラーレートを測定する（ブロック２００）。
【００３３】
次に、ＣＰＵ１７は、オントラックでの全ヘッド１２のエラーレートの中で、最悪のエラーレート（エラーレートが最大値）と、最良のエラーレート（エラーレートが最小値）を示すヘッドを特定し、エラーレートの最大値と最小値との差を計算する（ブロック２０１）。ＣＰＵ１７は、当該差が基準範囲（設定した閾値）内であれば、線記録密度（ＢＰＩ）の調整処理を終了し、後述する記録密度（ＢＰＩとＴＰＩの）決定処理に移行する（ブロック２０２のＹＥＳ）。
【００３４】
ＣＰＵ１７は、エラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、エラーレートが最小値（相対的に最良のＳＮ比）を示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を段階的に１ステップ分だけ上げる。また、エラーレートが最大値（相対的に最悪のＳＮ比）を示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を段階的に１ステップ分だけ下げる（ブロック２０３）。この場合、上げ幅と下げ幅を同一にして、全ヘッドの記録密度を維持する。即ち、ＣＰＵ１７は、最良のエラーレートを示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を増大させ、最悪のエラーレートを示すヘッドの線記録密度（ＢＰＩ）を減少させる。この場合、増大及び減少の範囲を同一にして、製品化の設定仕様での全体記録密度を維持する。
【００３５】
ＣＰＵ１７は、線記録密度（ＢＰＩ）を基準値（ＢＰＩ０）より増大及び減少させる調整処理を実行した後に、再度、全ヘッド１２のエラーレートを測定する（ブロック２０４）。次に、ＣＰＵ１７は、エラーレートの測定結果から、エラーレートが最大値と、エラーレートが最小値を示す各ヘッドを特定し、エラーレートの最大値と最小値との差を計算する（ブロック２０１）。ＣＰＵ１７は、当該差が基準範囲（設定した閾値）内になるまで、当該記録密度の調整処理を繰り返す（ブロック２０２のＮＯ）。ＣＰＵ１７は、線記録密度（ＢＰＩ）の調整処理を終了すると、前述と同様の記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の決定処理に移行する（ブロック２０２のＹＥＳ）。
【００３６】
即ち、ＣＰＵ１７は、調整された線記録密度（ＢＰＩ）と基準のトラック密度（ＴＰＩ０）において、フリンジを測定する（ブロック２０５）。ＣＰＵ１７は、フリンジの測定結果が規格を満足するまで、記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を調整し、フリンジを測定する（ブロック２０６）。記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の調整は、ＢＰＩとＴＰＩをそれぞれ段階的に増大又は減少させる。この場合、増大させる上げ幅と、減少させる下げ幅を同一にする。ＣＰＵ１７は、記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）の調整段階の上限に相当する上限回数まで繰り返す（ブロック２０７）。そして、ＣＰＵ１７は、フリンジの状態が最良となる最適な記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を決定する（ブロック２０８）。
【００３７】
以上のように第２の実施形態によれば、ディスクドライブの製造工程において、ヘッドの記録密度を調整する場合に、各ヘッドのエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、相対的に最良のエラーレートを示すヘッドの線記録密度を増大させて、最悪のエラーレートを示すヘッドの線記録密度を減少させる。
【００３８】
この場合、線記録密度の変化量を同一にすることにより、製品化の設定仕様での全体記録密度を維持しながら、各ヘッドの線記録密度を配分調整することができる。このような方式であれば、全組み合わせでオントラックの全ヘッドのエラーレートを測定する必要がないため、調整処理に要する時間の短縮化を図ることができる。次に、調整された全ヘッドの記録密度を維持したまま、フリンジ測定に基づいて記録密度（ＢＰＩとＴＰＩ）を同時に調整することにより、最適な各ヘッドの記録密度を決定することができる。従って、ヘッド特性で相対的にＳＮ比の悪いヘッドが１個でも存在する場合でも、ディスクドライブの製品化を実現することが可能となるため、ディスクドライブの製造歩留まりの向上を図ることができる。
【００３９】
図４は、本実施形態の作用効果を説明するための図である。図４において、基準値とは、ディスクドライブ１の全記録容量を全ヘッド１２の本数で割った値に相当する基準記録密度を示す。従来では、ＢＰＩとＴＰＩを同時に調整する処理（矢印４１０で示す方向の調整）により最適な記録密度を決定する処理が行なわれている。本実施形態は、ＢＰＩを調整する処理（矢印４００で示す方向の調整）を追加して、この調整処理後に最適な記録密度を決定する処理を実行する方式である。換言すれば、本実施形態は、各ヘッドのＢＰＩを可変調整にして、各ヘッドのエラーレートの差を少なくなるように各ヘッドのＢＰＩを配分して、全ヘッドの設定仕様での記録容量を維持することである。
【００４０】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の各実施形態に関するディスクドライブの構成を説明するためのブロック図。
【図２】第１の実施形態に関する記録密度の調整処理を説明するためのフローチャート。
【図３】第２の実施形態に関する記録密度の調整処理を説明するためのフローチャート。
【図４】第２の実施形態に関する作用効果を説明するための図。
【符号の説明】
【００４２】
１…ディスクドライブ、１０…ディスク、１１…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、
１２…磁気ヘッド、１２Ｒ…リードヘッド、１２Ｗ…ライトヘッド、
１３…アクチュエータ、１４…ヘッドアンプユニット、
１５…リード／ライトチャネル、１６…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、
１７…マイクロプロセッサ（ＣＰＵ）、１８…メモリ、１９…モータドライバ。
【図１】
2010102774.tif 000003
【図２】
2010102774.tif 000004
【図３】
2010102774.tif 000005
【図４】
2010102774.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成21年4月10日(2009.4.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを測定する測定手段と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理を行なう制御手段と
を具備したことを特徴とするディスク記憶装置。
【請求項２】
前記制御手段は、
前記測定手段により前記増大させた線記録密度に基づいて前記ヘッドのエラーレートを測定させて、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲内になるまで、前記線記録密度を予め設定された設定値より段階的に増大させることを特徴とする請求項１に記載のディスク記憶装置。
【請求項３】
前記制御手段は、
前記最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定することを特徴とする請求項１または請求項２のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
線記録密度に応じた書込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリ手段を含み、
前記最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定することを特徴とする請求項３に記載のディスク記憶装置。
【請求項５】
ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを測定する手段と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの第１の線記録密度を予め設定された基準値より増大させて、当該エラーレートの最大値を示すヘッドの第２の線記録密度を予め設定された基準値より減少させる調整処理を行なう制御手段と
を具備したことを特徴とするディスク記憶装置。
【請求項６】
前記制御手段は、
前記第１の線記録密度を増大させる範囲と前記第２の線記録密度を減少させる範囲とを同一にして、前記ディスク全体の記録容量を予め設定した基準値を維持することを特徴とする請求項５に記載のディスク記憶装置。
【請求項７】
前記制御手段は、
前記増大させた第１の線記録密度及び前記減少させた第２の線記録密度に基づいて、前記測定手段により前記複数のヘッドのエラーレートを測定させて、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲内になるまで、前記第１の線記録密度を段階的に増大させて、かつ前記第２の線記録密度を段階的に減少させることを特徴とする請求項５または請求項６のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項８】
前記制御手段は、
前記エラーレートの最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定し、
前記エラーレートの最大値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記減少させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定することを特徴とする請求項５から請求項７のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項９】
前記制御手段は、
線記録密度に応じた書き込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリ手段を含み、
前記エラーレートの最小値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定し、
前記エラーレートの最大値を示すヘッドにより前記ディスク上にデータを書き込むライト動作時に、前記テーブル情報から前記減少させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定することを特徴とする請求項８に記載のディスク記憶装置。
【請求項１０】
前記制御手段は、
前記調整処理の実行後に、前記ヘッドの線記録密度とトラック密度を含む記録密度を決定する処理を実行することを特徴とする請求項１又は請求項５のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項１１】
ディスク及びヘッドを有するディスク記憶装置に適用する記録密度調整方法であって、
前記ディスクから前記ヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを測定する処理と、
前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理と
を有することを特徴とする記録密度調整方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の観点に従ったディスク記憶装置は、ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを測定する測定手段と、前記測定されたエラーレートの最大値と最小値との差が基準範囲を超える場合に、当該エラーレートの最小値を示すヘッドの線記録密度を、予め設定された基準値より増大させる調整処理を行なう制御手段とを備えた構成である。
【手続補正書】
【提出日】平成21年8月12日(2009.8.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを算出する算出手段と、
前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドの線記録密度を予め設定された設定値より増大させるコントローラと
を具備したディスク記憶装置。
【請求項２】
前記コントローラは、
前記エラーレートの最大値と最小値との差が基準値を超えるときに、前記ヘッドの線記録密度を増大させるように構成されている請求項１に記載のディスク記憶装置。
【請求項３】
前記コントローラは、
前記増大させた線記録密度に基づいて前記算出手段により前記エラーレートを算出させて、
前記エラーレートの最大値と最小値との差が前記基準値以下になるまで、前記線記録密度を前記設定値より段階的に増大させるように構成されている請求項２に記載のディスク記憶装置。
【請求項４】
前記コントローラは、
前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドが前記ディスク上にデータを書き込むときに、前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を設定するように構成されている請求項１または請求項３のいずれか１項に記載のディスク記憶装置。
【請求項５】
前記コントローラは、
線記録密度に対応する書込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリを有し、
前記テーブル情報から前記増大させた線記録密度に応じた書き込み周波数を選択して設定するように構成されている請求項４に記載のディスク記憶装置。
【請求項６】
ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを算出する算出手段と、
前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドの第１の線記録密度を予め設定された設定値より増大させて、前記エラーレートの最大値に対応する前記ヘッドの第２の線記録密度を前記設定値より減少させるコントローラと
を具備したディスク記憶装置。
【請求項７】
前記コントローラは、
前記エラーレートの最大値と最小値との差が基準値を超えるときに、前記第１の線記録密度を増大させて、前記第２の線記録密度を減少させるように構成されている請求項６に記載のディスク記憶装置。
【請求項８】
前記コントローラは、
それぞれが同一の値になるまで前記第１の線記録密度を増大させ、かつ前記第２の線記録密度を減少させて、前記ディスク全体の記録容量を予め設定した設定値で維持するように構成されている請求項６に記載のディスク記憶装置。
【請求項９】
前記コントローラは、
前記増大させた第１の線記録密度及び前記減少させた第２の線記録密度に基づいて、前記算出手段により前記複数のヘッドのエラーレートを算出させて、
前記エラーレートの最大値と最小値との差が前記基準値以下になるまで、前記第１の線記録密度を段階的に増大させて、かつ前記第２の線記録密度を段階的に減少させるように構成されている請求項７に記載のディスク記憶装置。
【請求項１０】
前記コントローラは、
前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドが前記ディスク上にデータを書き込むときに、前記増大させた前記第１の線記録密度に応じた書き込み周波数を設定し、
前記エラーレートの最大値に対応する前記ヘッドが前記ディスク上にデータを書き込むときに、前記減少させた前記第２の線記録密度に応じた書き込み周波数を設定するように構成されている請求項６に記載のディスク記憶装置。
【請求項１１】
前記コントローラは、
線記録密度に対応する書込み周波数を設定するためのテーブル情報を記憶したメモリを有するように構成されている請求項１０に記載のディスク記憶装置。
【請求項１２】
前記コントローラは、
前記テーブル情報から前記増大させた第１の線記録密度に応じた書き込み周波数を選択し、前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドにより前記ディスク上にデータが書き込まれている間に前記選択された書き込み周波数を設定し、
前記テーブル情報から前記減少させた第２の線記録密度に応じた書き込み周波数を選択し、前記エラーレートの最大値に対応する前記ヘッドにより前記ディスク上にデータが書き込まれている間に前記選択された書き込み周波数を設定するように構成されている請求項１１に記載のディスク記憶装置。
【請求項１３】
前記コントローラは、
前記線記録密度の調整後に、前記ヘッドの線記録密度とトラック密度を有する記録密度を決定するように構成されている請求項１に記載のディスク記憶装置。
【請求項１４】
前記コントローラは、
前記ヘッドの線記録密度の増大後に、前記ヘッドの線記録密度とトラック密度を有する記録密度の決定プロセスを実行する請求項６に記載のディスク記憶装置。
【請求項１５】
ディスク、及びそれぞれが前記ディスクの記録面に対応して設けられた複数のヘッドを有するディスク記憶装置の記録密度調整方法であって、
前記ディスクから前記ヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを算出する処理と、
前記エラーレートの最大値と最小値との差が基準値を超えるときに、前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドの線記録密度を、予め設定された設定値より増大させる処理と
を有する記録密度調整方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の観点に従ったディスク記憶装置は、ディスクからヘッドにより読出されたデータに基づいて、複数のヘッドのエラーレートを算出する算出手段と、前記エラーレートの最小値に対応する前記ヘッドの線記録密度を予め設定された設定値より増大させるコントローラとを備えた構成である。