(57)【要約】【課題】簡易な構成により光ビームＬのパルス波形を適切に補正し得るようにする。【解決手段】低周波クロックＣＫｍ生成時の光ビームＬの平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇとして設定し、記録用クロックＣＫｗ生成時の記録時平均光強度ＰＡｗと、目標平均光強度ＰＡｇとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整することにより、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整できるので光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができ、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができるので、簡易な構成により光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。【選択図】図６
2010272176.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
クロックを生成するクロック生成部と、
上記クロックに合わせたタイミングでパルス状の駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
上記駆動信号のパルス波形を補正する駆動信号補正部と、
上記駆動信号補正部により補正された上記駆動信号が与えられると、上記駆動信号に応じたパルス状の光ビームを光ディスクに対して発射する光源と、
上記光ビーム又は上記光ビームが上記光ディスクに反射されてなる反射光ビームを受光し、当該光ビーム又は当該反射光ビームの光量に応じた光量信号を生成する受光部と、
上記光量信号に基づいて、上記光ビーム又は上記反射光ビームの平均光強度を測定する平均光強度測定部と、
上記クロック生成部が上記光ディスクに記録されるべき情報に対応した周波数でなる基準クロックを生成したときの上記平均光強度と、上記クロック生成部が当該基準クロックとは異なる周波数のクロックを生成したときの上記平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、上記駆動信号補正部が上記駆動信号のパルス波形を補正するときの補正度合いを調整する補正度合い調整部と
を具える光ディスク装置。
【請求項２】
上記駆動信号補正部は、
上記駆動信号のパルス波形を補正するための補正信号を生成し、当該補正信号を上記駆動信号に重畳することにより、上記駆動信号のパルス波形を補正し、
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度と、上記クロック生成部が上記基準クロックとは異なる周波数のクロックを生成したときの上記平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、上記補正信号の波形を調整する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記基準クロックよりも周波数の低い低周波クロックを生成したときの上記平均光強度を目標平均光強度として設定し、上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度と当該目標平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度を当該目標平均光強度に近づけるよう上記補正信号の振幅又は上記補正信号の立ち上がり点から定常状態になるまでの時間を調整する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度が上記目標平均光強度よりも大きければ上記振幅又は上記時間を所定量減少させ、上記平均光強度が上記目標平均光強度よりも小さければ上記振幅又は上記時間を所定量増加させる
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記基準クロックよりも周波数の低い低周波クロックを生成したときの上記平均光強度を目標平均光強度として設定し、上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度と当該目標平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、上記補正信号の振幅又は上記補正信号の立ち上がり点から定常状態になるまでの時間を調整する第１の補正信号調整処理と、上記クロック生成部が上記基準クロックよりも周波数の高い高周波クロックを生成したときの上記平均光強度と当該目標平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、当該時間又は当該振幅を調整する第２の補正信号調整処理とを交互に繰り返す
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度と、上記クロック生成部が上記基準クロックよりも周波数の高い高周波クロックを生成したときの上記平均光強度との差分を検出し、当該差分を減らすよう上記補正信号の振幅又は上記補正信号の立ち上がり点から定常状態になるまでの時間を調整する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記補正度合い調整部は、
上記クロック生成部が上記高周波クロックを生成したときの上記平均光強度が上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度よりも大きければ上記振幅又は上記時間を所定量減少させ、上記クロック生成部が上記高周波クロックを生成したときの上記平均光強度が上記クロック生成部が上記基準クロックを生成したときの上記平均光強度よりも小さければ上記振幅又は上記時間を所定量増加させる
請求項６に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記駆動信号補正部は、
上記駆動信号を微分した微分信号に基づいて上記補正信号を生成し、上記補正信号を上記駆動信号に重畳することにより、上記駆動信号のパルス波形を補正する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
クロック生成部が生成するクロックに合わせたタイミングでなるパルス状の駆動信号に応じたパルス状の光ビームを光源により発射する発射ステップと、
上記光ビームの光量に応じた光量信号に基づいて、上記光ビームの平均光強度を平均光強度測定部により測定する測定ステップと、
上記光源により発射すべき光ビームに対応した基準の周波数でなる基準クロックを上記クロック生成部が生成したときにおける上記平均光強度と、当該基準クロックとは異なる周波数のクロックを上記クロック生成部が生成したときにおける上記平均光強度とを補正度合い調整部により比較する比較ステップと、
上記比較結果に応じて、上記基準クロックに合わせたタイミングでなる上記駆動信号のパルス波形を補正するときの補正度合いを補正度合い調整部により調整する調整ステップと、
上記調整ステップにより調整された上記補正度合いに応じて、上記駆動信号のパルス波形を駆動信号補正部により補正する補正ステップと
を具える光ビームの波形補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置及び光ビームの波形補正方法に関し、例えば光ビームを用いて光ディスクに情報を記録する光ディスク装置に適用して好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置では、レーザ駆動回路からレーザダイオードにレーザ駆動信号を供給し、レーザダイオードから追記型又は書換え型の光ディスクに対してパルス状の光ビームを照射することにより、当該光ディスクに情報を記録し得るようになされている。
【０００３】
レーザダイオードは、簡易的に図１に示すようなＬＣＲの等価回路で表すことができる。Ｌはパッケージのリードや金ワイヤのインダクタンス、Ｃはサブマウントやリード引き出し絶縁部の寄生容量、Ｒはレーザダイオードの閾値電流以上でのＩ−Ｖ特性（微分抵抗）を表している。
【０００４】
このＬＣＲの値はレーザダイオードの種類によって様々であり、これによりレーザダイオード単体の周波数特性が決定される。またレーザダイオードの周波数特性は、レーザ駆動回路の構成によっても制約される。
【０００５】
レーザ駆動信号は高周波信号であり、レーザダイオード単体の周波数特性及びレーザ駆動回路の周波数特性により高域の周波数成分が制限される。従ってレーザ駆動信号のパルス波形は、適切なパルス波形から変形した、パルスの立ち上がりが遅い、いわゆる「なまった」波形となる。
【０００６】
そうすると、レーザ駆動信号に基づいてレーザダイオードから出力される光ビームのパルス波形も同様になまった波形となり、光ディスクへの情報の記録精度が落ちてしまう。
【０００７】
そこで、レーザ駆動信号に当該レーザ駆動信号の微分信号を重畳してレーザ駆動信号の波形を補正することで、光ビームの波形を補正する光ディスク装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００８】
図２に、このような光ディスク装置１の全体構成を示す。光ディスク装置１の制御部２は、外部のホスト装置（図示せず）からデータの記録指示を受け付けると、外部のホスト装置から記録用のデータＤを取得し、データ生成回路３へ送出する。データ生成回路３は、データＤを基に光ディスク１００への記録に適した形式の記録データＤＷを生成し、クロック生成回路４から供給されるクロックＣＫに合わせて、記録データＤＷを出力段５へ送出する。
【０００９】
駆動電源６は、所定の記録用強度でなる電源信号ＳＥを出力段５へ送出する。出力段５の駆動信号生成部５Ａは、電源信号ＳＥを記録データＤＷに基づいて変調して、クロックＣＫに合ったパルス状の駆動信号ＳＷを生成し、出力段５の補正信号生成部５Ｂ及び駆動信号補正部５Ｃへ送出する。
【００１０】
補正信号生成部５Ｂは、駆動信号ＳＷを微分して補正信号ＳＣを生成し、駆動信号補正部５Ｃへ送出する。駆動信号補正部５Ｃは、補正信号ＳＣを駆動信号ＳＷに重畳することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形を補正する。そして駆動信号補正部５Ｃは、この結果得られた補正駆動信号ＳＬをレーザダイオード７へ送出する。
【００１１】
図３に、このときの駆動信号ＳＷ、補正信号ＳＣ、補正駆動信号ＳＬにおけるパルスの立ち上がり時の波形を模式的に示す。駆動信号ＳＷの波形は、レーザダイオードやレーザ駆動回路の周波数特性の影響により、対数的に立ち上がるなまった波形となっている。そして、このような駆動信号ＳＷを微分した補正信号ＳＣの波形は、急速に立ち上がり、指数的に立ち下がる波形となる。従って、このような駆動信号ＳＷ及び補正信号ＳＣを重畳することにより得られた補正駆動信号ＳＬの波形は、駆動信号ＳＷのパルス波形のなまりが補正された波形となる。
【００１２】
この結果、レーザダイオード７から、光ディスク１００に対して、パルス波形のなまりが補正された補正駆動信号ＳＬに基づいた光ビームＬが出力される。
【００１３】
このように光ディスク装置１では、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＣを重畳して駆動信号ＳＷのパルス波形を補正することにより、光ビームＬのパルス波形を補正するようになされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１４】
【特許文献１】特開２００３−２０９３１９公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
ところで上述したように、レーザダイオードの周波数特性は、ＬＣＲの値に影響されるため、レーザダイオード単体ごとにばらついてしまう。従って上述した光ディスク装置１では、光ビームＬのパルス波形における変形度合いが、レーザダイオード単体ごとにばらついてしまう。
【００１６】
ゆえに光ディスク装置１において、レーザダイオード単体ごとに、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて、補正信号ＳＣの波形、すなわち駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整し、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することが考えられる。
【００１７】
そこで、光ディスク装置１では、実際にレーザダイオード７から出力される光ビームＬのパルス波形を監視してパルスの立ち上がり時間やオーバーシュート量を測定し、当該測定結果に応じて、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整することが考えられる。
【００１８】
しかし、最近の光ディスクにおける情報記録の高密度化に伴い、光ビームＬにおけるパルス幅は数［ｎｓ］であり、さらにパルスの立ち上がり時間やオーバーシュート部分の時間は１［ｎｓ］以下と極めて短い。
【００１９】
従って、光ビームＬにおけるパルスの立ち上がり時間やオーバーシュート量を測定するためには、数［ＧＨｚ］以上の周波数に対応したフォトディテクタなどの高精度な装置を用いらなければならない。
【００２０】
このように上述した光ディスク装置１において、光ビームＬのパルス波形を適切に補正するためには、高精度な装置を用いらなければならず、構成が複雑化してしまうという問題があった。
【００２１】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、簡易な構成により光ビームのパルス波形を適切に補正し得る光ディスク装置及び光ビームの波形補正方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
かかる課題を解決するため本発明の光ディスク装置においては、クロックを生成するクロック生成部と、クロックに合わせたタイミングでパルス状の駆動信号を生成する駆動信号生成部と、駆動信号のパルス波形を補正する駆動信号補正部と、駆動信号補正部により補正された駆動信号が与えられると、駆動信号に応じたパルス状の光ビームを光ディスクに対して発射する光源と、光ビーム又は光ビームが光ディスクに反射されてなる反射光ビームを受光し、当該光ビーム又は当該反射光ビームの光量に応じた光量信号を生成する受光部と、光量信号に基づいて、光ビーム又は反射光ビームの平均光強度を測定する平均光強度測定部と、クロック生成部が上記光ディスクに記録されるべき情報に対応した周波数でなる基準クロックを生成したときの平均光強度と、クロック生成部が当該基準クロックとは異なる周波数のクロックを生成したときの平均光強度とを比較し、当該比較結果に応じて、駆動信号補正部が駆動信号のパルス波形を補正するときの補正度合いを調整する補正度合い調整部とを設けるようにした。
【００２３】
これにより本発明の光ディスク装置は、光ビームのパルス波形における変形度合いに応じて、駆動信号のパルス波形の補正度合いを調整することができるので、光源から発射する光ビームのパルス波形の変形量を減らすことができる。この結果、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームのパルス波形を適切に補正することができる。
【００２４】
また本発明の光ビームの波形補正方法においては、クロック生成部が生成するクロックに合わせたタイミングでなるパルス状の駆動信号に応じたパルス状の光ビームを光源により発射する発射ステップと、光ビームの光量に応じた光量信号に基づいて、光ビームの平均光強度を平均光強度測定部により測定する測定ステップと、光源により発射すべき光ビームに対応した基準の周波数でなる基準クロックをクロック生成部が生成したときにおける平均光強度と、当該基準クロックとは異なる周波数のクロックをクロック生成部が生成したときにおける平均光強度とを補正度合い調整部により比較する比較ステップと、比較結果に応じて、駆動信号のパルス波形を補正するときの補正度合いを補正度合い調整部により調整する調整ステップと、調整ステップにより調整された補正度合いに応じて、駆動信号のパルス波形を駆動信号補正部により補正する補正ステップとを設けるようにした。
【００２５】
これにより本発明の光ビームの波形補正方法は、光ビームのパルス波形における変形度合いに応じて、駆動信号のパルス波形の補正度合いを調整することができるので、光源から発射する光ビームのパルス波形の変形量を減らすことができる。この結果、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームのパルス波形を適切に補正することができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、光ビームのパルス波形における変形度合いに応じて、駆動信号のパルス波形の補正度合いを調整することができるので、光源から発射する光ビームのパルス波形の変形量を減らすことができる。この結果、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームのパルス波形を適切に補正することができる。かくして、簡易な構成により光ビームのパルス波形を適切に補正し得る光ディスク装置及び光ビームの波形補正方法を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】レーザダイオードの等価回路図を示す略線図である。
【図２】従来の光ディスク装置の構成を示す略線図である。
【図３】駆動信号のパルス波形補正の説明に供する略線図である。
【図４】本発明における光ディスク装置の構成を示す略線図である。
【図５】補正信号の振幅と駆動信号の波形補正との関係の説明に供する略線図である。
【図６】補正信号の振幅と光ビームの平均光強度との関係の説明に供する略線図である。
【図７】第１の実施の形態における補正信号調整処理手順を示すフローチャートである。
【図８】補正信号をパルス信号とした場合における駆動信号の波形補正の説明に供する略線図である。
【図９】補正信号をパルス信号とした場合における補正信号の振幅と駆動信号の波形補正との関係の説明に供する略線図である。
【図１０】補正信号の時定数と駆動信号の波形補正との関係の説明に供する略線図である。
【図１１】補正信号の時定数と光ビームの平均光強度との関係の説明に供する略線図である。
【図１２】第２の実施の形態における補正信号調整処理手順を示すフローチャートである。
【図１３】補正信号をパルス信号とした場合の補正信号の時定数と駆動信号の波形補正との関係の説明に供する略線図である。
【図１４】第３の実施の形態における補正信号調整処理手順を示すフローチャートである。
【図１５】第３の実施の形態における光ビームの波形（１）を示す略線図である。
【図１６】第３の実施の形態における光ビームの波形（２）を示す略線図である。
【図１７】第３の実施の形態における光ビームの波形（３）を示す略線図である。
【図１８】第３の実施の形態における光ビームの波形（４）を示す略線図である。
【図１９】第３の実施の形態における光ビームの波形（５）を示す略線図である。
【図２０】第３の実施の形態における光ビームの波形（６）を示す略線図である。
【図２１】第３の実施の形態における光ビームの波形（７）を示す略線図である。
【図２２】第３の実施の形態における光ビームの波形（８）を示す略線図である。
【図２３】第３の実施の形態における光ビームの波形（９）を示す略線図である。
【図２４】第３の実施の形態における光ビームの波形（１０）を示す略線図である。
【図２５】第３の実施の形態における光ビームの波形（１１）を示す略線図である。
【図２６】本発明の他の実施の形態における光ディスク装置の構成（１）を示す略線図である。
【図２７】本発明の他の実施の形態における光ディスク装置の構成（２）を示す略線図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について、図面を用いて説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（補正信号の振幅を調整する例）
２．第２の実施の形態（補正信号の時定数を調整する例）
３．第３の実施の形態（補正信号の振幅及び時定数を調整する例）
４．他の実施の形態
【００２９】
＜１．第１の実施の形態＞
［１−１．光ディスク装置の構成］
図４において光ディスク装置１０は、全体として外部のホスト装置（図示せず）からの指示に基づき、光ディスク１００に対して情報を記録し、また光ディスク１００に記録されている情報を読み出して再生するようになされている。
【００３０】
光ディスク装置１０は、制御部１１により全体を統括制御するようになされている。この制御部１１は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）や当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられる図示しないメモリなどによって構成されている。
【００３１】
制御部１１は、外部のホスト装置からデータの記録指示を受け付けると、外部のホスト装置から記録用のデータＤを取得してデータ生成回路１２へ送出する。
【００３２】
可変クロック生成回路１３は、様々な周波数のクロックを生成するようになされている。このとき可変クロック生成回路１３は、光ディスク１００に対してデータを記録するための周波数でなる記録用クロックＣＫｗを生成し、データ生成回路１２へ送出する。
【００３３】
データ生成回路１２は、データＤを基に光ディスク１００への記録に適した形式の記録データＤＷを生成し、可変クロック生成回路１３から供給される記録用クロックＣＫｗに合わせて出力段１４へ送出する。
【００３４】
駆動電源１５は、所定の記録用強度でなる電源信号ＳＥを出力段１４へ送出する。出力段１４の駆動信号生成部１４Ａは、電源信号ＳＥを記録データＤＷに基づいて変調して、記録用クロックＣＫｗに合ったパルス状の駆動信号ＳＷを生成し、出力段１４の補正信号生成部１４Ｂ及び駆動信号補正部１４Ｃへ送出する。
【００３５】
補正信号生成部１４Ｂは、駆動信号ＳＷを微分し、後述する調整信号ＳＢに基づいて振幅Ｃａを調整して、補正信号ＳＣを生成する。駆動信号補正部１４Ｃは、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＣを重畳することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形を補正し、得られた補正駆動信号ＳＬをレーザダイオード１６へ送出する。レーザダイオード１６は、補正駆動信号ＳＬに基づいてパルス状の光ビームＬを出力する。
【００３６】
そして光ディスク装置１０は、レーザダイオード１６から出力された光ビームＬをビームスプリッタ１７へ入射させる。ビームスプリッタ１７は、光ビームＬを照射用光ビームＬ１と制御用光ビームＬ２とに分光し、照射用光ビームＬ１を対物レンズ１８へ入射し、制御用光ビームＬ２をフロントフォトディテクタ１９へ入射させる。
【００３７】
対物レンズ１８は、照射用光ビームＬ１を光ディスク１００の記録面に照射し、当該光ディスク１００内に形成されている記録層に集光させる。この結果、光ディスク装置１０は、外部のホスト装置から取得した記録用のデータＤに応じた記録マークを記録層に形成する。
【００３８】
このように光ディスク装置１０は、レーザダイオード１６から光ディスク１００に対して光ビームＬを照射することにより、当該光ディスク１００に対して情報を記録するようになされている。
【００３９】
また、フロントフォトディテクタ１９は、制御用光ビームＬ２を受光すると、制御用光ビームＬ２の光量に応じた電流値でなるフロントモニタ信号ＳＦＭを生成する。そして、フロントフォトディテクタ１９は、電流電圧変換回路２０を介して、フロントモニタ信号ＳＦＭをＡＰＣ（Automatic Power Control）回路２１と平均光強度測定部２２とへ送出する。
【００４０】
ＡＰＣ回路２１は、フロントモニタ信号ＳＦＭに基づいて、光ビームＬが所定の目標光強度となるよう駆動電源１５を制御する光強度制御信号ＳＰＣを、駆動電源１５へ送出する。駆動電源１５は、光強度制御信号ＳＰＣに基づいて、出力段１４へ送出する電源信号ＳＥの強度を制御する。
【００４１】
このように光ディスク装置１０は、フロントフォトディテクタ１９で受光した制御用光ビームＬ２の光量に応じてフィードバック制御を行い、レーザダイオード１６から出力させる光ビームＬの光強度を適切に調整するようになされている。
【００４２】
また、平均光強度測定部２２は、フロントモニタ信号ＳＦＭに基づいて、光ビームＬの所定の単位時間における平均光強度ＰＡを測定して、補正度合い調整部２３に送出する。
【００４３】
補正度合い調整部２３は、平均光強度ＰＡに応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ（図５）を適切に調整するよう補正信号生成部１４Ｂを制御する調整信号ＳＢを出力段１４に送出する。尚、この補正信号ＳＣの振幅Ｃａを適切に調整する処理については、後述する。
【００４４】
因みに、補正信号ＳＣの振幅Ｃａは、補正信号生成部１４Ｂにおける回路内の抵抗などの値によって決定される。このため、補正信号生成部１４Ｂは、調整信号ＳＢに基づいてこれらを調整することにより、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する。
【００４５】
また制御部１１は、外部のホスト装置からデータの再生指示を受け付けると、レーザダイオード１６から光ビームＬを出力し、ビームスプリッタ１７によって分光された照射用光ビームＬ１を、対物レンズ１８を介して光ディスク１００へ照射する。
【００４６】
そして、光ディスク装置１０は、照射用光ビームＬ１が光ディスク１００の記録層において反射されてなる反射光ビームＬＲをフォトディテクタ２４へ入射させる。
【００４７】
フォトディテクタ２４は、反射光ビームＬＲを受光すると、当該反射光ビームＬＲの光量に応じた再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成し、電流電圧変換回路２５を介して、制御部１１へ送出する。
【００４８】
制御部１１は、再生ＲＦ信号ＳＲＦに対して所定の復調化処理などを施して再生データＤＲを生成し、これを外部のホスト装置へ出力する。
【００４９】
このように光ディスク装置１０は、光ディスク１００に対して光ビームＬ１を照射し、その反射光ＬＲを受光することにより、当該光ディスク１００に記録されている情報を読み出して再生するようになされている。
【００５０】
［１−２．補正信号の調整］
ところで、上述したように、駆動信号ＳＷのパルスの立ち上がり時の波形は、図５（Ａ）に示すように、立ち上がりが遅い、いわゆるなまった波形となる。この駆動信号ＳＷの振幅を例えば１とする。
【００５１】
補正信号生成部１４Ｂは、駆動信号ＳＷを微分し、補正度合い調整部２３により供給される調整信号ＳＢに基づいて振幅Ｃａを調整して、補正信号ＳＣを生成する。
【００５２】
図５（Ｂ）に、振幅Ｃａが不足している場合の補正信号ＳＣ１、振幅Ｃａの過不足がない場合の補正信号ＳＣ２、振幅Ｃａが過剰である場合の補正信号ＳＣ３の波形の例をそれぞれ示す。例えば、補正信号ＳＣ１の振幅Ｃａは０．４であり、補正信号ＳＣ２の振幅Ｃａは１であり、補正信号ＳＣ３の振幅Ｃａは１．２であるとする。
【００５３】
駆動信号補正部１４Ｃは、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＣを重畳することにより駆動信号ＳＷを補正した補正駆動信号ＳＬを生成する。図５（Ｃ）に、補正信号ＳＣ１を重畳した補正駆動信号ＳＬ１、補正信号ＳＣ２を重畳した補正駆動信号ＳＬ２、補正信号ＳＣ３を重畳した補正駆動信号ＳＬ３の波形をそれぞれ示す。
【００５４】
このとき補正駆動信号ＳＬ１のパルス波形は、補正信号ＳＣ１の振幅Ｃａが不足していることより、立ち上がり時間の遅い、なまった波形となる。また補正駆動信号ＳＬ２のパルス波形は、補正信号ＳＣ２の振幅Ｃａの過不足がないことより、適正レベルに素早く立ち上がる適切なパルス波形となる。また補正駆動信号ＳＬ３のパルス波形は、補正信号ＳＣ３の振幅Ｃａが過剰であることより、適正レベルよりも立ち上がり過ぎるオーバーシュートした波形となる。
【００５５】
ここで、図６（Ａ）に、可変クロック生成回路１３が記録用クロックＣＫｗを生成しているときの光ビームＬのパルス波形を示す。このとき光ビームＬは、記録用クロックＣＫｗに応じたパルス幅となっている。
【００５６】
補正駆動信号ＳＬ１に基づいて出力された光ビームＬｗ１のパルス波形は、補正信号ＳＣ１の振幅Ｃａが不足していることより、なまった波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ２に基づいて出力された光ビームＬｗ２のパルス波形は、補正信号ＳＣ２の振幅Ｃａの過不足がないことより、適切なパルス波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ３に基づいて出力された光ビームＬｗ３のパルス波形は、補正信号ＳＣ３の振幅Ｃａが過剰であることより、オーバーシュートした波形となる。
【００５７】
また図６（Ｂ）に、補正信号ＳＣの振幅Ｃａと平均光強度測定部２２で測定される光ビームＬの平均光強度ＰＡとの関係を示す。
【００５８】
光ビームＬｗ１の平均光強度ＰＡｗ１は、光ビームＬｗ１のパルス波形がなまっており、適切なパルス波形のときよりも所定時間内における光量の総和が少ないため、適切なパルス波形である光ビームＬｗ２の平均光強度ＰＡｗ２よりも小さくなる。
【００５９】
一方、光ビームＬｗ３の平均光強度ＰＡｗ３は、光ビームＬｗ３のパルス波形がオーバーシュートしており、適切なパルス波形のときよりも所定時間内における光量の総和が多いため、適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２よりも大きくなる。
【００６０】
従って、光ディスク装置１０において、適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２よりも平均光強度ＰＡが小さいときは、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが不足していると考えられる。一方、光ディスク装置１０において、適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２よりも平均光強度ＰＡが大きいときは、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であると考えられる。
【００６１】
このことを利用して、補正度合い調整部２３は、平均光強度ＰＡが、適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２に近づくよう、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ、すなわち、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整するようになされている。
【００６２】
具体的に、補正度合い調整部２３は、平均光強度測定部２２で測定した平均光強度ＰＡを、適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２と比較する。
【００６３】
そして、平均光強度ＰＡが適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２よりも小さい場合、補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが不足しており、光ビームＬのパルス波形がなまった状態であると認識する。
【００６４】
従って、補正度合い調整部２３は、補正信号生成部１４Ｂを制御して、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量大きくする。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形のなまりを減らすことができる。
【００６５】
一方、平均光強度ＰＡが適切なパルス波形であるときの平均光強度ＰＡｗ２よりも大きい場合、補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートした状態であると認識する。
【００６６】
従って、補正度合い調整部２３は、補正信号生成部１４Ｂを制御して、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量小さくする。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形のオーバーシュートを減らすことができる。
【００６７】
また、図６（Ａ）に、可変クロック生成回路１３が記録用クロックＣＫｗよりも周波数の低い低周波クロックＣＫｍを生成している時の光ビームＬのパルス波形を示す。このとき光ビームＬは、低周波クロックＣＫｍに応じたパルス幅となっており、このパルス幅は、記録用クロックＣＫｗに応じたパルス幅よりも大きいものである。
【００６８】
低周波クロックＣＫｍの場合、補正駆動信号ＳＬ１に基づいて出力された光ビームＬｍ１は、光ビームＬｗ１と同様、なまったパルス波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ２に基づいて出力された光ビームＬｍ２は、光ビームＬｗ２と同様、適切なパルス波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ３に基づいて出力された光ビームＬｍ３は、光ビームＬｗ３と同様、オーバーシュートしたパルス波形となる。
【００６９】
しかし、記録用クロックＣＫｗの場合と低周波クロックＣＫｍの場合とでは、光ビームＬの各パルスにおけるパルス波形の変形部分（なまり部分やオーバーシュート部分など）の波形は変化しない。このパルス波形の変形部分は、クロックの周波数によって決定されるのではなく、レーザダイオード１６や各回路の周波数特性によって決定されるためである。
【００７０】
また、光ビームＬにおいて、低周波クロックＣＫｍの場合、記録用クロックＣＫｗの場合と比べて、単位時間内におけるパルス数が減少するため、パルス波形の変形部分の出現回数が減少する。
【００７１】
ゆえに、低周波クロックＣＫｍの場合、記録用クロックＣＫｗの場合と比べて、単位時間に対してパルス波形の変形部分の時間の割合が小さくなる。これと共に、平均光強度ＰＡに対してパルス波形の変形部分の影響が小さくなる。
【００７２】
ゆえに、図６（Ｂ）に示すように、十分に周波数の低い低周波クロックＣＫｍの場合、光ビームＬｍ１の平均光強度ＰＡｍ１と、光ビームＬｍ２の平均光強度ＰＡｍ２と、光ビームＬｍ３の平均光強度ＰＡｍ３とは、ほぼ一致する。
【００７３】
すなわち、光ディスク装置１０において、十分に周波数の低い低周波クロックＣＫｍの場合は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａの過不足があり光ビームＬのパルス波形が変形していても、平均光強度ＰＡは、パルス波形が適切な時の平均光強度ＰＡとほぼ一致する。
【００７４】
このことを利用して、光ディスク装置１０は、十分に周波数の低い低周波クロックＣＫｍを生成し、その時の光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定することで、パルス波形が適切な時の平均光強度ＰＡを求め、これを目標平均光強度ＰＡｇとして設定する。
【００７５】
そして補正度合い調整部２３は、平均光強度測定部２２により測定された平均光強度ＰＡと目標平均光強度ＰＡｇとを比較して、平均光強度ＰＡが目標平均光強度ＰＡｇに近づくように、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようになされている。
【００７６】
［１−３．補正信号調整処理手順］
次に、光ディスク装置１０が補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する補正信号調整処理手順ＲＴ１について図７のフローチャートを用いて説明する。因みに制御部１１は、例えば光ディスク装置１０に光ディスク１００が装填された時に、補正信号調整処理手順ＲＴ１を実行するようになされている。
【００７７】
制御部１１は、補正信号調整処理手順ＲＴ１を開始すると、ステップＳＰ１へ移り、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを低周波クロックＣＫｍに切り替えて、次のステップＳＰ２へ移る。
【００７８】
ステップＳＰ２において制御部１１は、平均光強度測定部２２により低周波クロックＣＫｍ生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ３へ移る。
【００７９】
ステップＳＰ３において制御部１１は、補正度合い調整部２３により、平均光強度測定部２２から送出された低周波クロックＣＫｍ生成時における平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇとして設定させ、ステップＳＰ４へ移る。
【００８０】
ステップＳＰ４において制御部１１は、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに切り替えて、次のステップＳＰ５へ移る。
【００８１】
ステップＳＰ５において制御部１１は、平均光強度測定部２２により記録用クロックＣＫｗ生成時における平均光強度ＰＡを測定させ、これを記録時平均光強度ＰＡｗとして補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ６へ移る。
【００８２】
ステップＳＰ６において制御部１１は、補正度合い調整部２３により、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較させ、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するか否かを判定させる。因みに、補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの差分値が所定の閾値以下であれば、完全な一致ではないものの、実質的に一致と判定する。
【００８３】
このステップＳＰ６において肯定結果が得られると、このことは、光ビームＬのパルス波形が適切であることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ１０へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００８４】
一方ステップＳＰ６において否定結果が得られると、このことは光ビームＬのパルス波形が適切なパルス波形から変形しており、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整するべきであることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ７へ移る。
【００８５】
ステップＳＰ７において制御部１１は、補正度合い調整部２３により記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較させ、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいか否かを判定させる。
【００８６】
ステップＳＰ７において肯定結果が得られると、このことは、光ビームＬのパルスがオーバーシュートしており、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ８へ移る。
【００８７】
ステップＳＰ８において制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量小さくし、ステップＳＰ１０へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００８８】
一方ステップＳＰ７において否定結果が得られると、このことは、光ビームＬのパルスの立ち上がり時間が遅く、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが不足していることを意味し、このとき制御部１１はステップＳＰ９へ移る。
【００８９】
ステップＳＰ９において制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量大きくし、ステップＳＰ１０へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ１を終了する。
【００９０】
［１−４．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを低周波クロックＣＫｍに切り替え、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して、これを目標平均光強度ＰＡｇとして設定する。
【００９１】
このように光ディスク装置１０においてクロックの周波数を下げると、光ビームＬにおける単位時間当たりのパルス波形の変形部分の出現回数が減少し、当該変形部分が平均光強度ＰＡに及ぼす影響が低くなる。ゆえに、クロック周波数を下げることにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形が適切な時の平均光強度ＰＡを求めることができる。
【００９２】
その後、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに戻し、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して記録時平均光強度ＰＡｗとする。
【００９３】
そして、光ディスク装置１０は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較して、当該比較結果に応じて、記録時平均光強度ＰＡｗを目標平均光強度ＰＡｇに近づけるよう、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する。
【００９４】
これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整できるので、光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができる。
【００９５】
この結果、光ディスク装置１０は、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができるので、簡易な構成により光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【００９６】
また光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整できることより、振幅Ｃａを固定していた従来の光ディスク装置１よりも、光ビームＬのパルス波形の変形量を適切に減らすことができる。
【００９７】
ところで光ディスク装置１０では、経時劣化や温度変動などにより、各回路部やレーザダイオード１６の周波数特性が変化するため、光ビームＬのパルス波形における変形度合いが一定ではない可能性がある。
【００９８】
これに対して光ディスク装置１０では、光ディスク１００が装填される度に、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整することができるので、周波数特性の変化により当該変形度合いが変化しても対応することができる。
【００９９】
また光ディスク装置１０では、経時劣化や温度変動などにより、各回路部等でノイズが発生し、平均光強度測定部２２により測定される光ビームＬの平均光強度ＰＡにノイズが加算されてしまう場合がある。この場合、記録時平均光強度ＰＡｗと予め固定された目標平均光強度ＰＡｇとを比較する手法では、正確な比較結果が得られず、光ビームＬのパルス波形の変形量を適切に減らすことができない。
【０１００】
これに対して光ディスク装置１０では、光ディスク１００が装填される度に目標平均光強度ＰＡｇと記録時平均光強度ＰＡｗを測定するため、ノイズが発生した場合、目標平均光強度ＰＡｇ及び記録時平均光強度ＰＡｗの双方に同様にノイズが加算される。従って、光ディスク装置１０は、ノイズの影響なく目標平均光強度ＰＡｇと記録時平均光強度ＰＡｗとを比較できるので、ノイズが発生しても、光ビームＬのパルス波形の変形量を適切に減らすことができる。
【０１０１】
ところで、光ディスク装置１０において、図８に示すように、駆動信号ＳＷを補正するための補正信号をパルス信号ＳＰとし、これを駆動信号ＳＷの立ち上がり時に重畳することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形を補正する手法が考えられる。
【０１０２】
しかしながら、駆動信号ＳＷの立ち上がり時において、適切なパルス波形に対する強度の不足量は一定ではない。ゆえにこの手法では、駆動信号ＳＷにパルス信号ＳＰを重畳しても、その結果得られる補正駆動信号ＳＬｐはゆがんだ波形となり、理想的なパルス波形ＳＧとはならない。
【０１０３】
またこの手法において、パルス信号ＳＰの振幅Ｃａｐを調整することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整することも考えられる。
【０１０４】
例えば、図９（Ａ）に振幅が１である駆動信号ＳＷの波形を示す。そして、図９（Ｂ）に振幅Ｃａｐが０．２であるパルス信号ＳＰ１、振幅Ｃａｐが０．５でなるパルス信号ＳＰ２、振幅Ｃａｐが０．６であるパルス信号ＳＰ３の波形をそれぞれ示す。
【０１０５】
そして図９（Ｃ）に、駆動信号ＳＷにパルス信号ＳＰ１を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ１、駆動信号ＳＷにパルス信号ＳＰ２を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ２、駆動信号ＳＷにパルス信号ＳＰ３を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ３の波形をそれぞれ示す。
【０１０６】
しかしながら、駆動信号ＳＷの立ち上がり時において、適切なパルス波形に対する強度の不足量が一定ではないために、補正駆動信号ＳＬｐ１及びＳＬｐ２及びＳＬｐ３はどれもゆがんだ波形となってしまう。
【０１０７】
このように、この手法では、パルス信号ＳＰの振幅Ｃａｐを調整しても、駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけることはできない。
【０１０８】
これに対して、光ディスク装置１０のように、駆動信号ＳＷを微分した微分信号を補正信号ＳＣとして用いる場合、駆動信号ＳＷの強度の不足量の変化度合いと微分信号の強度の変化度合いとが近いために、駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけやすい。
【０１０９】
そして、光ディスク装置１０では、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整でき、一段と駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけることができる。
【０１１０】
これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形を一段と適切に補正することができる。
【０１１１】
以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、低周波クロックＣＫｍ生成時の平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇとして設定し、記録用クロックＣＫｗ生成時の記録時平均光強度ＰＡｗと、目標平均光強度ＰＡｇとを比較する。そして光ディスク装置１０は、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整できるので、光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができ、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０１１２】
＜２．第２の実施の形態＞
第２の実施の形態においては、第１の実施の形態とは異なり、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようになされている。なお、光ディスク装置１０（図４）の構成については、第１の実施の形態と同様であるためその説明は省略する。
【０１１３】
［２−１．補正信号の調整］
図１０（Ａ）に示すように、駆動信号ＳＷのパルスの立ち上がり時の波形は、なまった波形となる。この駆動信号ＳＷの時定数を例えば１とする。
【０１１４】
補正信号生成部１４Ｂは、駆動信号ＳＷを微分し、補正度合い調整部２３により供給される調整信号ＳＢに基づいて時定数Ｃｔ（図示せず）を調整して、補正信号ＳＣを生成する。このように時定数Ｃｔを調整すると、補正信号ＳＣの立ち上がり点から定常状態（すなわちレベルが０に収束する状態）になるまでの時間を変化させることになる。
【０１１５】
因みに、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔは補正信号生成部１４Ｂにおける回路内の抵抗や容量などの値によって決定される。この補正信号生成部１４Ｂは、調整信号ＳＢに基づいてこれらを調整することにより、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する。
【０１１６】
図１０（Ｂ）に、時定数Ｃｔが不足している場合の補正信号ＳＣ４、時定数Ｃｔの過不足がない場合の補正信号ＳＣ５、時定数Ｃｔが過剰である場合の補正信号ＳＣ６の波形の例をそれぞれ示す。例えば、補正信号ＳＣ４の時定数Ｃｔは０．４であり、補正信号ＳＣ５の時定数Ｃｔは１であり、補正信号ＳＣ６の時定数Ｃｔは２であるとする。
【０１１７】
駆動信号補正部１４Ｃは、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＣを重畳することにより駆動信号ＳＷを補正した補正駆動信号ＳＬを生成する。図１０（Ｃ）に、補正信号ＳＣ４を重畳した補正駆動信号ＳＬ４、補正信号ＳＣ５を重畳した補正駆動信号ＳＬ５、補正信号ＳＣ６を重畳した補正駆動信号ＳＬ６の波形をそれぞれ示す。
【０１１８】
このとき補正駆動信号ＳＬ４のパルス波形は、補正信号ＳＣ４の時定数Ｃｔが不足していることより、立ち上がり後に落ち込むようなゆがんだ波形となる。また補正駆動信号ＳＬ５のパルス波形は、補正信号ＳＣ５の時定数Ｃｔの過不足がないことより、立ち上がり後適正レベルを維持する適切なパルス波形となる。また補正駆動信号ＳＬ６のパルス波形は、補正信号ＳＣ６の時定数Ｃｔが過剰であることより、適正レベルよりも立ち上がり過ぎるオーバーシュートした波形となる。
【０１１９】
ここで、図１１（Ａ）に、可変クロック生成回路１３が記録用クロックＣＫｗを生成している時の光ビームＬのパルス波形を示す。このとき光ビームＬは、記録用クロックＣＫｗに応じたパルス幅となっている。
【０１２０】
補正駆動信号ＳＬ４に基づいて出力された光ビームＬｗ４のパルス波形は、補正信号ＳＣ４の時定数Ｃｔが不足していることより、立ち上がり後に落ち込むようなゆがんだ波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ５に基づいて出力された光ビームＬｗ５のパルス波形は、補正信号ＳＣ５の時定数Ｃｔの過不足がないことより、適切なパルス波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ６に基づいて出力された光ビームＬｗ６のパルス波形は、補正信号ＳＣ６の時定数Ｃｔが過剰であることより、オーバーシュートした波形となる。
【０１２１】
また、図１１（Ａ）に、可変クロック生成回路１３が記録用クロックＣＫｗよりも周波数の高い高周波クロックＣＫｈを生成している時の光ビームＬのパルス波形を示す。このとき光ビームＬは、高周波クロックＣＫｈに応じたパルス幅となっており、このパルス幅は、記録用クロックＣＫｗに応じたパルス幅よりも小さいものである。
【０１２２】
高周波クロックＣＫｈの場合、補正駆動信号ＳＬ４に基づいて出力された光ビームＬｈ４のパルス波形は、光ビームＬｗ４と同様、立ち上がり後に落ち込むようなゆがんだ波形となる。また、補正駆動信号ＳＬ５に基づいて出力された光ビームＬｈ５のパルス波形は、光ビームＬｗ５と同様、適切なパルス波形となる。さらに、補正駆動信号ＳＬ６に基づいて出力された光ビームＬｈ６のパルス波形は、光ビームＬｗ６と同様、オーバーシュートした波形となる。
【０１２３】
しかし、記録用クロックＣＫｗの場合と高周波クロックＣＫｈの場合とでは、光ビームＬの各パルスにおけるパルス波形の変形部分（立ち上がり後に落ち込むようなゆがんだ部分やオーバーシュート部分など）の波形は変化しない。このパルス波形の変形部分は、クロックの周波数によって決定されるのではなく、レーザダイオード１６や各回路の周波数特性によって決定されるためである。
【０１２４】
また、光ビームＬにおいて、高周波クロックＣＫｈの場合、記録用クロックＣＫｗの場合と比べて、単位時間内におけるパルス数が増加するため、パルス波形の変形部分の出現回数が増加する。
【０１２５】
従って、高周波クロックＣＫｈの場合、記録用クロックＣＫｗの場合と比べて、単位時間に対してパルス波形の変形部分の時間の割合が大きくなる。これと共に、平均光強度ＰＡに対してパルス波形の変形部分の影響が大きくなる。
【０１２６】
ゆえに、図１１（Ｂ）に示すように、クロックを記録用クロックＣＫｗから高周波クロックＣＫｈに変化させた場合、補正信号ＳＣ４の時定数Ｃｔが不足した光ビームＬでは、所定時間内における光量の総和が一段と少なくなるため、平均光強度ＰＡが減少する。
【０１２７】
また、クロックを記録用クロックＣＫｗから高周波クロックＣＫｈに変化させても、補正信号ＳＣ５の時定数Ｃｔの過不足がない光ビームＬでは、所定時間内における光量の総和が変わらないため、平均光強度ＰＡは変化しない。
【０１２８】
一方、クロックを記録用クロックＣＫｗから高周波クロックＣＫｈに変化させた場合、補正信号ＳＣ６の時定数Ｃｔが過剰である光ビームＬでは、所定時間内における光量の総和が一段と多くなるため、平均光強度ＰＡが増加する。
【０１２９】
すなわち、光ディスク装置１０において、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔに過不足があり、光ビームＬのパルス波形が変形している場合、クロックを記録用クロックＣＫｗから高周波クロックＣＫｈに変化させると、平均光強度ＰＡは、増加又は減少する。
【０１３０】
このことを利用して、補正度合い調整部２３は、記録用クロックＣＫｗ生成時に測定される光ビームＬの記録時平均光強度ＰＡｗと、高周波クロックＣＫｈ生成時に測定される高周波平均光強度ＰＡｈとを比較する。
【０１３１】
そして、記録時平均光強度ＰＡｗよりも高周波平均光強度ＰＡｈが小さい場合、補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが不足しており、光ビームＬのパルス波形がゆがんだ状態であると認識する。
【０１３２】
従ってこのとき補正度合い調整部２３は、補正信号生成部１４Ｂを制御して、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量大きくする。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形のゆがみを減らすことができる。
【０１３３】
一方、記録時平均光強度ＰＡｗよりも高周波平均光強度ＰＡｈが大きい場合、補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが過剰であり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュート状態であると認識する。
【０１３４】
従ってこのとき補正度合い調整部２３は、補正信号生成部１４Ｂを制御して、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量小さくする。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形のオーバーシュートを減らすことができる。
【０１３５】
［２−２．補正信号調整処理手順］
次に、光ディスク装置１０が補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する補正信号調整処理手順ＲＴ２について図１２のフローチャートを用いて説明する。因みに制御部１１は、例えば光ディスク装置１０に光ディスク１００が装填された時に、補正信号調整処理手順ＲＴ２を実行するようになされている。
【０１３６】
制御部１１は、補正信号調整処理手順ＲＴ２を開始すると、ステップＳＰ１０１へ移り、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに切り替えて、次のステップＳＰ１０２へ移る。
【０１３７】
ステップＳＰ１０２において制御部１１は、平均光強度測定部２２により記録用クロックＣＫｗ生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、これを記録時平均光強度ＰＡｗとして補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ１０３へ移る。
【０１３８】
ステップＳＰ１０３において制御部１１は、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを高周波クロックＣＫｈに切り替えて、次のステップＳＰ１０４へ移る。
【０１３９】
ステップＳＰ１０４において制御部１１は、平均光強度測定部２２により高周波クロックＣＫｈ生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、これを高周波平均光強度ＰＡｈとして補正度合い調整部２３へ送出させる。そして、制御部１１は、次のステップＳＰ１０５へ移る。
【０１４０】
ステップＳＰ１０５において制御部１１は、補正度合い調整部２３により記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較させ、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとが一致するか否かを判定させる。因みに、補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとの差分値が所定の閾値以下であれば、完全な一致ではないものの、実質的に一致と判定する。
【０１４１】
ステップＳＰ１０５において肯定結果が得られると、このことは光ビームＬのパルス波形が適切であることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ１０９へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ２を終了する。
【０１４２】
一方ステップＳＰ１０５において否定結果が得られると、このことは光ビームＬのパルス波形が変形しており、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整するべきであることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ１０６へ移る。
【０１４３】
ステップＳＰ１０６において制御部１１は、補正度合い調整部２３により記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較させ、高周波平均光強度ＰＡｈが記録時平均光強度ＰＡｗよりも大きいか否かを判定させる。
【０１４４】
ステップＳＰ１０６において肯定結果が得られると、このことは光ビームＬのパルスがオーバーシュートしており、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが過剰であることを意味し、このとき制御部１１はステップＳＰ１０７へ移る。
【０１４５】
ステップＳＰ１０７において制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量小さくし、ステップＳＰ１０９へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ２を終了する。
【０１４６】
一方ステップＳＰ１０６において否定結果が得られると、このことは、光ビームＬのパルス波形がゆがんでおり、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが不足していることを意味し、このとき制御部１１はステップＳＰ１０８へ移る。
【０１４７】
ステップＳＰ１０８において制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量大きくし、ステップＳＰ１０９へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ２を終了する。
【０１４８】
［２−３．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに切り替え、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して、これを記録時平均光強度ＰＡｗとする。
【０１４９】
その後、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを高周波クロックＣＫｈに切り替え、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して、これを高周波平均光強度ＰＡｈとする。
【０１５０】
このように、光ディスク装置１０においてクロック周波数を上げると、光ビームＬにおける単位時間当たりのパルス波形の変形部分の出現回数が増加し、当該変形部分が平均光強度ＰＡに及ぼす影響は高くなる。ゆえに、クロック周波数を上げることにより、光ビームＬのパルス波形における変形部分の有無及び補正信号ＳＣの時定数Ｃｔの過不足の別が、平均光強度ＰＡの変化として現れる。
【０１５１】
このことを利用して、光ディスク装置１０は、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較し、当該比較結果に応じて、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとの差分を減らすよう補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する。
【０１５２】
これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整できるので、光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができる。
【０１５３】
この結果、光ディスク装置１０は、光ビームのパルス波形を短時間単位で監視しなくても、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができるので、簡易な構成により光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０１５４】
ところで光ディスク装置１０では、経時劣化や温度変動などにより、各回路部やレーザダイオード１６の周波数特性が変化するため、光ビームＬのパルス波形における変形度合いが一定ではない可能性がある。
【０１５５】
これに対して光ディスク装置１０では、光ディスク１００が装填される度に光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整することができるので、周波数特性の変化により当該変形度合いが変化しても対応することができる。
【０１５６】
また光ディスク装置１０では、経時劣化や温度変動などにより、各回路部等でノイズが発生し、平均光強度測定部２２により測定される光ビームＬの平均光強度ＰＡにノイズが加算されてしまう場合がある。
【０１５７】
これに対して光ディスク装置１０では、ノイズが発生した場合、記録時平均光強度ＰＡｗ及び高周波平均光強度ＰＡｈの双方に同様にノイズが加算される。従って、光ディスク装置１０は、ノイズの影響なく記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較できるので、ノイズが発生しても、光ビームＬのパルス波形の変形量を適切に減らすことができる。
【０１５８】
ところで、光ディスク装置１０において、駆動信号ＳＷを補正するための補正信号をパルス信号ＳＰとし、これを駆動信号ＳＷの立ち上がり時に重畳することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形を補正する手法も考えられる。そして、この手法において、補正信号ＳＣのパルス幅Ｃｔｐを調整することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整することも考えられる。
【０１５９】
例えば、図１３（Ａ）に、時定数が１である駆動信号ＳＷの波形を示す。そして、図１３（Ｂ）に、例えばパルス幅Ｃｔｐが０．４である補正信号ＳＰ４、パルス幅Ｃｔｐが１である補正信号ＳＰ５、パルス幅Ｃｔｐが２である補正信号ＳＰ６の波形をそれぞれ示す。
【０１６０】
そして図１３（Ｃ）に、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＰ４を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ４、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＰ５を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ５、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＰ６を重畳した補正駆動信号ＳＬｐ６の波形をそれぞれ示す。
【０１６１】
しかしながら、駆動信号ＳＷの立ち上がり時において、適切なパルス波形に対する強度の不足量が一定ではないために、補正駆動信号ＳＬｐ４及びＳＬｐ５及びＳＬｐ６はどれもゆがんだ波形となってしまう。
【０１６２】
このように、この手法では、パルス信号ＳＰのパルス幅Ｃｔｐを調整しても、駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけることはできない。
【０１６３】
これに対して、光ディスク装置１０のように、駆動信号ＳＷを微分した微分信号を補正信号ＳＣとして用いる場合、駆動信号ＳＷの強度の不足量の変化度合いと微分信号の強度の変化度合いとが近いために、駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけやすい。
【０１６４】
そして、光ディスク装置１０では、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整でき、一段と駆動信号ＳＷのパルス波形を理想的なパルス波形ＳＧに近づけることができる。
【０１６５】
これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形を一段と適切に補正することができる。
【０１６６】
以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、記録用クロックＣＫｗ生成時の記録時平均光強度ＰＡｗと、高周波クロックＣＫｈ生成時の高周波平均光強度ＰＡｈとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する。これにより、光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整できるので、光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができ、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０１６７】
＜３．第３の実施の形態＞
第３の実施の形態においては、第１及び第２の実施の形態とは異なり、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔの双方を調整するようになされている。なお、光ディスク装置１０（図４）の構成については、第１及び第２の実施の形態と同様であるためその説明は省略する。
【０１６８】
［３−１．補正信号調整処理手順］
光ディスク装置１０が補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔを調整する補正信号調整処理手順ＲＴ３について図１４のフローチャートを用いて説明する。因みに制御部１１は、例えば光ディスク装置１０に光ディスク１００が装填された時に、補正信号調整処理手順ＲＴ３を実行するようになされている。
【０１６９】
制御部１１は、補正信号調整処理手順ＲＴ３を開始すると、ステップＳＰ２０１へ移り、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを低周波クロックＣＫｍに切り替えて、次のステップＳＰ２０２へ移る。
【０１７０】
ステップＳＰ２０２において制御部１１は、平均光強度測定部２２により低周波クロックＣＫｍ生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ２０３へ移る。
【０１７１】
ステップＳＰ２０３において制御部１１は、補正度合い調整部２３により平均光強度測定部２２より送出された低周波クロックＣＫｍ生成時における平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇとして設定させて、ステップＳＰ２０４へ移る。
【０１７２】
ステップＳＰ２０４において制御部１１は、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに切り替えて、次のステップＳＰ２０５へ移る。
【０１７３】
ステップＳＰ２０５において制御部１１は、平均光強度測定部２２により記録用クロックＣＫｗ生成時における平均光強度ＰＡを測定させ、これを記録時平均光強度ＰＡｗとして補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ２０６へ移る。
【０１７４】
ステップＳＰ２０６において制御部１１は、補正度合い調整部２３により記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較させて、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するか否かを判定させる。因みに、補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの差分値が所定の閾値以下であれば、完全な一致ではないものの、実質的に一致と判定する。
【０１７５】
このステップＳＰ２０６において否定結果が得られると、このことは光ビームＬのパルス波形が変形しており、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整すべきであることを意味し、このとき制御部１１は、ステップＳＰ２０７へ移る。
【０１７６】
ステップＳＰ２０７において制御部１１は、補正度合い調整部２３により、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて、補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する。尚、ステップＳＰ２０６及びＳＰ２０７において、光ディスク装置１０が、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較し、当該比較結果に応じて、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを近づけるよう補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する処理を第１の補正信号調整処理とも呼ぶ。
【０１７７】
具体的に第１の補正信号調整処理において、補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きい場合、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量小さくする。一方、補正度合い調整部２３は記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも小さい場合、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量大きくする。
【０１７８】
そして制御部１１はステップＳＰ２０４へ戻り、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０６において、再度記録用クロックＣＫｗの生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するか否かを判定させる。
【０１７９】
一方、ステップＳＰ２０６において、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致することにより肯定結果が得られると、このとき制御部１１は、ステップＳＰ２０８へ移る。
【０１８０】
このように、光ディスク装置１０は、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するまで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７を繰り返し、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようになされている。これにより、光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを過不足のない値に近づけることができる。
【０１８１】
ステップＳＰ２０８において制御部１１は、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを高周波クロックＣＫｈに切り替えて、次のステップＳＰ２０９へ移る。
【０１８２】
ステップＳＰ２０９において制御部１１は、平均光強度測定部２２により高周波クロックＣＫｈ生成時における光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定させ、これを高周波平均光強度ＰＡｈとして補正度合い調整部２３へ送出させて、次のステップＳＰ２１０へ移る。
【０１８３】
ステップＳＰ２１０において制御部１１は、補正度合い調整部２３により目標平均光強度ＰＡｇと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較させ、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇと一致するか否かを判定させる。因みに、補正度合い調整部２３は、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとの差分値が所定の閾値以下であれば、完全な一致ではないものの、実質的に一致と判定する。
【０１８４】
ステップＳＰ２１０において否定結果が得られると、このことは記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとは一致しているものの、光ビームＬのパルス波形が変形しており、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整すべきであることを意味する。このとき制御部１１は、ステップＳＰ２１１へ移る。
【０１８５】
ステップＳＰ２１１において制御部１１は、補正度合い調整部２３により、目標平均光強度ＰＡｇと高周波平均光強度ＰＡｈとの比較結果に応じて、補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する。尚、ステップＳＰ２１０及びＳＰ２１１において、光ディスク装置１０が、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する処理を第２の補正信号調整処理とも呼ぶ。
【０１８６】
具体的に第２の補正信号調整処理において、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きい場合、このことは、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートしており、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であることを意味する。ここで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７において記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを一致させるよう振幅Ｃａを調整したにもかかわらず、振幅Ｃａが過剰であることは、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが不足していることを意味する。
【０１８７】
従って、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいことは、時定数Ｃｔが不足していることを意味する。ゆえに、このとき補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量大きくする。これにより補正度合い調整部２３は、時定数Ｃｔを過不足のない値に近づけることができる。
【０１８８】
一方、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも小さい場合、このことは、光ビームＬのパルス波形がなまっており、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが不足していることを意味する。ここで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７において記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを一致させるよう振幅Ｃａを調整したにもかかわらず振幅Ｃａが不足していることは、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが過剰であることを意味する。
【０１８９】
従って、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも小さいことは、時定数Ｃｔが過剰であることを意味する。ゆえに、このとき補正度合い調整部２３は、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量小さくする。これにより補正度合い調整部２３は、時定数Ｃｔを過不足のない値に近づけることができる。
【０１９０】
そして制御部１１はステップＳＰ２０４へ戻り、再度、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７において、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するよう補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する。このように制御部１１は、時定数Ｃｔが過不足のない値に近づいた状態で振幅Ｃａを調整することより、振幅Ｃａをさらに過不足のない値に近づけることができる。
【０１９１】
そして制御部１１は、ステップＳＰ２０８〜ステップＳＰ２１０において、再度平均光強度測定部２２により高周波平均光強度ＰＡｈを測定させ、補正度合い調整部２３により当該高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとが一致するか否かを判定させる。
【０１９２】
このステップＳＰ２１０において、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇと一致することにより肯定結果が得られると、このことは、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔが過不足なく調整され、光ビームＬのパルス波形が適切となったことを意味する。このとき制御部１１は、ステップＳＰ２１２へ移って補正信号調整処理手順ＲＴ３を終了する。
【０１９３】
このように、光ディスク装置１０は、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇと一致するまで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２１１を繰り返し、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔを調整するようになされている。
【０１９４】
［３−２．補正信号調整処理の具体例］
次に、上述した補正信号調整処理の具体例を図１５〜図２５に示す模式図を用いて説明する。
【０１９５】
例えば、補正信号調整処理手順ＲＴ３（図１４）を開始する前、図１５に示すように、駆動信号ＳＷはなまった波形となっており、そのパルス幅は５で、その振幅及び時定数は１であるとする。そして補正信号ＳＣの振幅Ｃａは０．８で、その時定数は０．５であるとする。
【０１９６】
また、このような駆動信号ＳＷと補正信号ＳＣを重畳した補正駆動信号ＳＬに基づく光ビームＬは、振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔの双方が不足しているために、立ち上がり後落ち込むようなゆがんだ波形となっており、適切なパルス波形から変形した状態であるとする。
【０１９７】
このとき、制御部１１は、補正信号調整処理手順ＲＴ３を開始し、上述したステップＳＰ２０１において、図１６に示すように、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを、パルス幅を５０に切り替えるような低周波クロックＣＫｍに切り替える。
【０１９８】
そして上述したステップＳＰ２０２及びＳＰ２０３において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により、このとき平均光強度測定部２２により測定した光ビームＬの平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇとして設定させる。このとき目標平均光強度ＰＡは、例えば０．５となる。
【０１９９】
そして上述したステップＳＰ２０４において、制御部１１は、図１７に示すように、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに戻し、光ビームＬのパルス幅を５に戻す。
【０２００】
そして上述したステップＳＰ２０５において、制御部１１は、このとき平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを記録時平均光強度ＰＡｗとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔの双方が不足しているため、光ビームＬのパルス波形は、立ち上がりが不足するうえ、立ち上がり後落ち込むようなゆがんだ波形となっている。従って記録時平均光強度ＰＡｗは、例えば０．４となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５よりも小さくなる。
【０２０１】
ここで、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも小さいことより、上述したステップＳＰ２０６及びＳＰ２０７において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量大きくする。そして制御部１１は、再びステップＳＰ２０４に戻る。
【０２０２】
そして、光ディスク装置１０において、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するまで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７を繰り返した結果、図１８に示すように、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが１．６となったとする。このとき、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔが不足している状態で記録時平均光強度ＰＡｗを目標平均光強度ＰＡｇと一致させたために振幅Ｃａが過剰となり、光ビームＬのパルス波形はオーバーシュートした波形となる。
【０２０３】
そして上述したステップＳＰ２０８において、制御部１１は、図１９に示すように、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを、光ビームＬのパルス幅を１に切り替えるような高周波クロックＣＫｈに切り替える。
【０２０４】
そして上述したステップＳＰ２０９において、制御部１１は、このとき平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを高周波平均光強度ＰＡｈとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートした波形であるために、高周波平均光強度ＰＡｈは、例えば０．７となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５よりも大きくなる。
【０２０５】
ここで、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいことより、上述したステップＳＰ２１０及びＳＰ２１１において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量大きくする。このとき補正度合い調整部２３は、図２０に示すように、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを０．２５大きくして、０．７５とする。
【０２０６】
そして上述したステップＳＰ２０４に戻り、制御部１１は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに戻し、光ビームＬのパルス幅を５に戻す。
【０２０７】
そして上述したステップＳＰ２０５において、制御部１１は、平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを記録時平均光強度ＰＡｗとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａは過剰なままであり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートした波形であるために、記録時平均光強度ＰＡｗは、例えば０．６となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５よりも大きくなる。
【０２０８】
ここで、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいことより、上述したステップＳＰ２０６及びＳＰ２０７において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量小さくする。そして制御部１１は、再びステップＳＰ２０４に戻る。
【０２０９】
そして、光ディスク装置１０において、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するまで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７を繰り返した結果、図２１に示すように、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが１．２となったとする。このとき、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔがまだ不足している状態であり、この状態で記録時平均光強度ＰＡｗを目標平均光強度ＰＡｇと一致させたために振幅Ｃａが過剰となっている。従って、光ビームＬのパルス波形は、オーバーシュートした波形となっている。
【０２１０】
そして上述したステップＳＰ２０８において、制御部１１は、図２２に示すように、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを光ビームＬのパルス幅を１に切り替えるような高周波クロックＣＫｈに切り替える。
【０２１１】
そして上述したステップＳＰ２０９において、制御部１１は、このとき平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを高周波平均光強度ＰＡｈとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰であり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートした波形であるために、高周波平均光強度ＰＡｈは、例えば０．６となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５よりも大きくなる。
【０２１２】
ここで、高周波平均光強度ＰＡｈが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいことより、上述したステップＳＰ２１０及びＳＰ２１１において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量大きくする。このとき補正度合い調整部２３は、図２３に示すように補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを０．２５大きくして、１とする。
【０２１３】
そして上述したステップＳＰ２０４に戻り、制御部１１は、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに戻し、光ビームＬのパルス幅を５に戻す。
【０２１４】
そして上述したステップＳＰ２０５において、制御部１１は、このとき平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを記録時平均光強度ＰＡｗとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが過剰なままであり、光ビームＬのパルス波形がオーバーシュートした波形であるために、記録時平均光強度ＰＡｗは、例えば０．５５となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５よりも大きくなる。
【０２１５】
ここで、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇよりも大きいことより、上述したステップＳＰ２０６及びＳＰ２０７において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により補正信号生成部１４Ｂを制御させ、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量小さくする。そして制御部１１は、再びステップＳＰ２０４に戻る。
【０２１６】
そして、光ディスク装置１０において、記録時平均光強度ＰＡｗが目標平均光強度ＰＡｇと一致するまで、ステップＳＰ２０４〜ＳＰ２０７を繰り返した結果、図２４に示すように、補正信号ＳＣの振幅Ｃａが１となったとする。このとき補正信号ＳＣの時定数Ｃｔの過不足がない状態で、記録時平均光強度ＰＡｗを目標平均光強度ＰＡｇと一致させたために、振幅Ｃａの過不足がなくなり、光ビームＬのパルス波形は適切となる。
【０２１７】
そして上述したステップＳＰ２０８において、制御部１１は、図２５に示すように、可変クロック生成回路１３により生成するクロックを光ビームＬのパルス幅を１に切り替えるような高周波クロックＣＫｈに切り替える。
【０２１８】
そして上述したステップＳＰ２０９において、制御部１１は、平均光強度測定部２２により光ビームＬの平均光強度ＰＡを高周波平均光強度ＰＡｈとして測定させる。このとき、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔの過不足がなく、光ビームＬのパルス波形が適切であるため、高周波平均光強度ＰＡｈは、０．５となり、目標平均光強度ＰＡｇの０．５と一致する。
【０２１９】
従って上述したステップＳＰ２１０において、制御部１１は、補正度合い調整部２３により高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡとが一致することを判定されると、パルス波形が適切となったことを認識する。そして、制御部１１は、ステップＳＰ２１２に移り、補正信号調整処理手順ＲＴ３を終了する。
【０２２０】
［３−３．動作及び効果］
以上の構成において、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを低周波クロックＣＫｍに切り替え、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して、これを目標平均光強度ＰＡｇとして設定する。
【０２２１】
その後、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを記録用クロックＣＫｗに戻し、そのときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して記録時平均光強度ＰＡｗとする。
【０２２２】
そして、光ディスク装置１０は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較して、当該比較結果に応じて、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを近づけるよう補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する第１の補正信号調整処理を行う。
【０２２３】
これにより、光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを過不足のない値に近づけることができる。
【０２２４】
しかし、このように記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとが一致するよう振幅Ｃａを調整しても、時定数Ｃｔの過不足があれば、まだ光ビームＬのパルス波形は変形した状態となる。具体的に、時定数Ｃｔが不足している場合は振幅Ｃａが過剰である状態となり、時定数Ｃｔが過剰である場合は振幅Ｃａが不足した状態となる。
【０２２５】
この状態で、光ディスク装置１０は、可変クロック生成回路１３で生成するクロックを高周波クロックに切り替え、このときの光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して高周波平均光強度ＰＡｈとする。
【０２２６】
このようにクロック周波数を上げると、振幅Ｃａの過不足の別が平均光強度ＰＡの変化として現れる。この振幅Ｃａの過不足の別より、光ディスク装置１０は時定数Ｃｔの過不足を認識することができる。
【０２２７】
このことを利用して、光ディスク装置１０は、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する第２の補正信号調整処理を行う。これにより光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを過不足のない値に近づけることができる。
【０２２８】
このように光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する第１の補正信号調整処理と補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する第２の補正信号調整処理とを交互に繰り返すようにした。
【０２２９】
これにより、光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａと時定数Ｃｔとを交互に過不足のない値に近づけていくことができ、補正信号ＳＣの振幅Ｃａと時定数Ｃｔの双方を過不足のない値に近づけることができる。
【０２３０】
この結果、光ディスク装置１０は、補正信号ＳＣの振幅Ｃａ又は時定数Ｃｔの一方を調整した第１及び第２の実施の形態と比較して、光ビームＬのパルス波形の変形量を大幅に減らすことができ、光ビームのパルス波形を一段と適切に補正することができる。
【０２３１】
以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整する第１の補正信号調整処理と、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整する第２の補正信号調整処理とを交互に繰り返すようにした。これにより光ディスク装置１０は、光ビームＬのパルス波形における変形度合いに応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａ及び時定数Ｃｔを調整できるので、光ビームＬのパルス波形の変形量を減らすことができ、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０２３２】
＜４．他の実施の形態＞
なお上述した実施の形態においては、フロントフォトディテクタ１９で受光した制御用光ビームＬ２の光量に基づいて、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば、フォトディテクタ２４で受光した反射光ビームＬＲの光量に基づいて、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定するようにしてもよい。
【０２３３】
この場合、図４と対応する部分に同一符号を付した図２６に示すように、光ディスク装置５０のフォトディテクタ２４は、反射光ビームＬＲを受光すると、当該反射光ビームＬＲの光量に応じた再生ＲＦ信号ＳＲＦを生成する。そしてフォトディテクタ２４は、この再生ＲＦ信号ＳＲＦを、電流電圧変換回路２５を介して、平均光強度測定部２２へ送出する。平均光強度測定部２２は、再生ＲＦ信号ＳＲＦに基づいて、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定して、補正度合い調整部２３に送出する。
【０２３４】
また上述した実施の形態においては、レーザダイオード１６の前面から出力された光ビームＬをビームスプリッタ１７により分光させた制御用光ビームＬ２の光量に基づいて、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば、レーザダイオード１６の背面から出力された光ビームＬの光量に基づいて光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定するようにしてもよい。この場合、レーザダイオード１６の背面光を受光するフォトディテクタを設けるようにすればよい。
【０２３５】
さらに上述した実施の形態においては、可変クロック生成回路１３、平均光強度測定部２２、補正度合い調整部２３を光ディスク装置１０内に設け、これらを用いて補正信号生成部１４Ｂで生成される補正信号ＳＣの波形を調整するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば、可変クロック生成回路１３、平均光強度測定部２２、補正度合い調整部２３を持たない従来の光ディスク装置１が工場等で製造される際に、所定の装置を接続して、予め補正信号ＳＣの波形を調整しておくようにしてもよい。
【０２３６】
この場合、図２と対応する部分に同一符号を付した図２７に示すように、従来の光ディスク装置１は、工場等で製造される過程において組み立て処理が一通り完了した後、所定の補正信号調整装置６０に接続される。
【０２３７】
このとき、補正信号調整装置６０の可変クロック生成回路６１は、光ディスク装置１のデータ生成回路３に、クロック生成回路４が生成するクロックとは周波数が異なるクロック（例えば低周波クロックＣＫｍ）を供給する。
【０２３８】
そして、補正信号調整装置６０のパワーメータ６２は、レーザダイオード７から出力される光ビームＬを受光して、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定し、これを補正度合い調整部６３へ送出する。
【０２３９】
また、補正信号調整装置６０の可変クロック生成回路６１は、光ディスク装置１のデータ生成回路３に、クロック生成回路４が生成するクロックと周波数が同じクロック（記録用クロックＣＫｗ）を供給する。
【０２４０】
そして、補正信号調整装置６０のパワーメータ６２は、レーザダイオード７から出力される光ビームＬを受光して、光ビームＬの平均光強度ＰＡを測定し、これを補正度合い調整部６３に送出する。
【０２４１】
補正度合い調整部６３は、記録用クロックＣＫｗ生成時の平均光強度ＰＡと、記録用クロックＣＫｗとは周波数が異なるクロック生成時の平均光強度ＰＡとを比較する。そして、補正度合い調整部６３は、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの波形が適切になるよう補正信号生成部５Ｂを調整する。
【０２４２】
これにより、従来の光ディスク装置１においても、補正信号ＳＣの波形を適切に調整でき、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０２４３】
さらに上述した実施の形態においては、低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロック生成時の光ビームＬの平均光強度ＰＡを目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈとし、記録用クロックＣＫｗ生成時の平均光強度ＰＡと比較するようにした。
【０２４４】
本発明はこれに限らず、低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロック生成時の光ビームＬの平均光強度ＰＡに所定の係数をかけたものを目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈとするようにしてもよい。
【０２４５】
例えば光ビームＬのパルス波形を少しなまらせる方が光ディスクに対する記録性能がよい場合がある。この場合、補正度合い調整部２３は、低周波クロックＣＫｍ生成時の光ビームＬの平均光強度ＰＡに１以下となる所定の係数をかけたものを目標平均光強度ＰＡｇとするようにすればよい。そして補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整すれば、光ビームＬのパルス波形を目的とする少しなまった波形に補正することができる。
【０２４６】
一方光ビームＬのパルス波形を少しオーバーシュートさせた方が、光ディスクに対する記録性能がよい場合は、低周波クロックＣＫｍ生成時の光ビームＬの平均光強度ＰＡに１以上となる所定の係数をかけたものを目標平均光強度ＰＡｇとするようにすればよい。
【０２４７】
さらに上述した実施の形態においては、記録用クロックＣＫｗ生成時の光ビームＬと周波数のみが異なる光ビームＬ（低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロックＣＫｈ生成時の光ビームＬ）を用いて、目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈを測定するようにした。
【０２４８】
しかし、低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロックＣＫｈ生成時の光ビームＬのパルス波形を、記録用のデータＤに応じて変わりうる記録用クロックＣＫｗ生成時の光ビームＬのパルス波形に合わせて変えるのではなく、一定にしたい場合なども考えられる。
【０２４９】
この場合、記録用クロックＣＫｗ生成時の光ビームＬと低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロックＣＫｈ生成時の光ビームＬとでは、デューティー比（パルス幅／周期）が異なってしまう。ゆえに、低周波クロックＣＫｍ生成時又は高周波クロックＣＫｈ生成時の平均光強度ＰＡをそのまま目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈとしてしまうと、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈとの適切な比較結果が得られない。
【０２５０】
そこで本発明では、補正度合い調整部２３は、記録用クロックＣＫｗ生成時の光ビームＬと低周波クロックＣＫｍ生成時の光ビームＬとのデューティー比の違いに基づいた係数を平均光強度ＰＡにかけて目標平均光強度ＰＡｇとするようにしてもよい。また補正度合い調整部２３は、記録用クロックＣＫｗ生成時の光ビームＬと高周波クロックＣＫｈ生成時の光ビームＬとのデューティー比の違いに基づいた係数を平均光強度ＰＡにかけて高周波平均光強度ＰＡｈとするようにしてもよい。
【０２５１】
こうすることで補正度合い調整部２３は、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇ又は高周波平均光強度ＰＡｈとの適切な比較結果を得ることができ、光ビームＬのパルス波形を適切に補正することができる。
【０２５２】
さらに上述した第１の実施の形態においては、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようにしてもよい。
【０２５３】
さらに上述した第２の実施の形態においては、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとを比較し、当該比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとの比較結果に応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようにしてもよい。
【０２５４】
さらに上述した第３の実施の形態においては、第１の補正信号調整処理として、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようにした場合について述べた。また第２の補正信号調整処理として、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようにした場合について述べた。
【０２５５】
本発明はこれに限らず、第１の補正信号調整処理として、記録時平均光強度ＰＡｗと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようにしてもよい。この場合、第２の補正信号調整処理として、高周波平均光強度ＰＡｈと目標平均光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整するようにすればよい。
【０２５６】
さらに上述した第１の実施の形態においては、記録時平均光強度ＰＡｗと目標光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを所定量調整し、補正信号調整処理手順ＲＴ１を終了するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、補正信号ＳＣの振幅Ｃａを調整した後、補正信号調整処理手順ＲＴ１のステップＳＰ４に戻り、記録時平均光強度ＰＡｗと目標光強度ＰＡｇとの比較結果に応じて行う振幅Ｃａの調整を繰り返すようにしてもよい。
【０２５７】
さらに上述した第２の実施の形態においては、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとの比較結果に応じて、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを所定量調整し、補正信号調整処理手順ＲＴ２を終了するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整した後、補正信号調整処理手順ＲＴ２のステップＳＰ１０１に戻り、記録時平均光強度ＰＡｗと高周波平均光強度ＰＡｈとの比較結果に応じて行う時定数Ｃｔの調整を繰り返すようにしてもよい。
【０２５８】
さらに上述した実施の形態においては、駆動信号ＳＷを補正するための補正信号ＳＣとして、駆動信号ＳＷを微分した微分信号を用いるようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、補正信号ＳＣとして例えばパルス信号を用いるなど、この他種々の信号を補正信号ＳＣとして用いるようにしてもよい。
【０２５９】
さらに上述した実施の形態においては、補正信号ＳＣの時定数Ｃｔを調整するようにした場合について述べた。本発明はこれの限らず、補正信号ＳＣとして例えばパルス信号を用いた場合はパルス幅を調整するなど、補正信号ＳＣの立ち上がり点から定常状態になるまでの時間を調整するのであれば、この他種々のパラメータを調整するようにしてもよい。
【０２６０】
さらに上述した実施の形態においては、駆動信号ＳＷに補正信号ＳＣを重畳することにより、駆動信号ＳＷのパルス波形を補正するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えばスナバ回路を用いる方法のように、駆動信号ＳＷのパルス波形を変形させることで駆動信号ＳＷのパルス波形を補正するなど、この他種々の波形補正方法を用いるようにしてもよい。
【０２６１】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００の装填時に補正信号調整処理を行うようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば、工場出荷時、温度変動時、所定の時間経過時、レーザダイオード１６の劣化により駆動信号ＳＷの強度が増大した時など、この他種々のタイミングで、補正信号調整処理を行うようにしてもよい。
【０２６２】
さらに上述した実施の形態においては、レーザダイオード１６を１つのみ有する光ディスク装置１０に本発明を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、レーザダイオードを複数有する光ディスク装置に本発明を適用してもよい。この場合、レーザダイオード単体ごとに、駆動信号ＳＷのパルス波形の補正度合いを調整するようにすればよい。
【０２６３】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク１００に情報を記録するための周波数でなる記録用クロックＣＫを用いるようにした。本発明はこれに限らず、光ディスク１００の情報を再生するための周波数でなるクロックなど、光ディスク１００に記録されるべき情報に対応した周波数でなる基準クロックであればこの他種々のクロックを用いるようにしてもよい。
【０２６４】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０に、クロック生成部としての可変クロック生成回路１３と、駆動信号生成部としての駆動信号生成部１４Ａ及び駆動電源１５と、駆動信号補正部としての補正信号生成部１４Ｂ及び駆動信号補正部１４Ｃを設けるようにした。また、光ディスク装置１０に、光源としてのレーザダイオード１６と、受光部としてのフロントフォトディテクタ１９と、平均光強度測定部としての平均光強度測定部２２と、補正度合い調整部としての補正度合い調整部２３とを設けるようにした。本発明はこれに限らず、同様の機能を有するのであれば、上述した光ディスク装置１０の各機能部をその他種々のハードウェア又はソフトウェアにより構成するようにしてもよい。
【０２６５】
さらに上述した実施の形態においては、光ディスク装置１０に本発明を適用するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば、レーザプリンタ装置など、光ビームを用いる種々の装置に本発明を適用するようにしてもよい。
【０２６６】
この場合、例えばレーザプリンタ装置は、発射すべき光ビームに対応した基準の周波数でなる基準クロックのときの光ビームの平均光強度と、当該基準クロックとは異なる周波数のクロックのときの光ビームの平均光強度とを比較する。そして、レーザプリンタ装置は、当該比較結果に応じて、駆動信号のパルス波形の補正度合いを調整すればよい。
【産業上の利用可能性】
【０２６７】
本発明は、光ビームを用いて光ディスクに情報を記録する種々の光ディスク装置でも利用できる。
【符号の説明】
【０２６８】
１０……光ディスク装置、１１……制御部、１３……可変クロック生成回路、１４Ａ……駆動信号生成部、１４Ｂ……補正信号生成部、１４Ｃ……駆動信号補正部、１５……駆動電源、１６……レーザダイオード、１９……フロントフォトディテクタ、２２……平均光強度測定部、２３……補正度合い調整部、２４……フォトディテクタ。
【図１】
2010272176.tif 000003
【図２】
2010272176.tif 000004
【図３】
2010272176.tif 000005
【図４】
2010272176.tif 000006
【図５】
2010272176.tif 000007
【図６】
2010272176.tif 000008
【図７】
2010272176.tif 000009
【図８】
2010272176.tif 000010
【図９】
2010272176.tif 000011
【図１０】
2010272176.tif 000012
【図１１】
2010272176.tif 000013
【図１２】
2010272176.tif 000014
【図１３】
2010272176.tif 000015
【図１４】
2010272176.tif 000016
【図１５】
2010272176.tif 000017
【図１６】
2010272176.tif 000018
【図１７】
2010272176.tif 000019
【図１８】
2010272176.tif 000020
【図１９】
2010272176.tif 000021
【図２０】
2010272176.tif 000022
【図２１】
2010272176.tif 000023
【図２２】
2010272176.tif 000024
【図２３】
2010272176.tif 000025
【図２４】
2010272176.tif 000026
【図２５】
2010272176.tif 000027
【図２６】
2010272176.tif 000028
【図２７】
2010272176.tif 000029