(57)【要約】【課題】  コストの上昇を抑制し、耐久性の向上をはかった液面検出装置を提供する。【解決手段】  導電体からなる固定電極３ａ、３ｂを備えた回路基板２と、液面の変動に伴い固定電極３ａ、３ｂ摺動する摺動接点６、７と、この摺動接点６、７が固定される摺動子５とを備えた液面検出装置１において、摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、４５°〜９０°の傾きを持った研磨痕１５を固定電極３ａ、３ｂに設けたものである。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電体を備えた回路基板と、液面の変動に伴い前記導電体を摺動する摺動接点と、この摺動接点が固定される摺動子とを備えた液面検出装置において、前記摺動接点の摺動方向に対して、４５°〜９０°の傾きを持った研磨痕を前記導電体に設けたことを特徴とする液面検出装置。
【請求項２】
前記研磨痕は、０．５〜１．０μｍの凹凸からなることを特徴とする請求項１に記載の液面検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液面検出装置に関するもので、特に、摺動接点が、液面の変動によって回路基板に設けた固定電極上を摺動する液面検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の液面検出装置は、回路基板上に抵抗材料からなる抵抗体が設けられ、この抵抗体に沿って銀、パラジウムなどの導電性材料とガラスとからなる導体路を有し、この導体路上を摺動する摺動接点を備えていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このような液面検出装置においては、前記摺動接点が、硬質な前記導体路上を摺動するために、前記摺動接点の摩耗が問題となっていた。
【０００４】
そこで、前記摺動接点の摩耗の原因は、前記導体路の表面の微小な凹凸による粗さであり、前記導体路の表面の微小な凹凸を除去するために、前記導体路の表面の研磨による艶出し仕上げを施し耐久性の向上をはかった液面検出装置があった（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】実開昭６２−４０５２８号公報
【特許文献２】特開平１１−２１１５４０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このような液面検出装置においては、研磨によって、前記導体路の表面の微小な凹凸も小さくなり、前記摺動接点の摩耗が大幅に減少して耐久性が向上したが、さらなる耐久性の向上が望まれていた。
【０００７】
そこで、前記導体路の表面の微小な凹凸をさらに除去するために、前記導体路の表面を研磨することが考えられるが、前記導電路の表面を平滑にする研磨作業を行うことは、作業工数の増加を招き、コストが上昇するという問題があった。
【０００８】
そこで、本発明は、コストの上昇を抑制し、耐久性の向上をはかった液面検出装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、前記目的を達成するため、導電体を備えた回路基板と、液面の変動に伴い前記導電体を摺動する摺動接点と、この摺動接点が固定される摺動子とを備えた液面検出装置において、前記摺動接点の摺動方向に対して、４５°〜９０°の傾きを持った研磨痕を前記導電体に設けたものである。
【００１０】
また、前記研磨痕は、０．５〜１．０μｍの凹凸からなるものである。
【発明の効果】
【００１１】
以上、本発明により、所期の目的を達成することができ、コストの上昇を抑制し、耐久性が向上した液面検出装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態の正面図。
【図２】同実施形態の要部拡大正面図。
【図３】図２中Ａ−Ａ線の固定電極の研磨前の断面図。
【図４】図２中Ａ−Ａ線の固定電極の研磨後の断面図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１から図４は、本発明の第１実施形態の正面図であり、本発明を自動車などの車両の燃料タンク内に設けられる液面検出装置を例にとって説明する。
【００１４】
この液面検出装置１は、セラミックなどの回路基板２と、この回路基板２上に形成された導電体からなる固定電極３ａ、３ｂと、固定電極３ａに接続する抵抗体４と、図示しない支点を中心に回動する摺動子５と、この摺動子５に設けられた第１の摺動接点６と第２の摺動接点７とを備えている。
【００１５】
９、１０は、接続ランド９ａ，１０ａと固定電極３ａ、３ｂとを電気的に接続する配線パターンであり、配線パターン９、１０と接続ランド９ａ、１０ａとは、固定電極３ａ、３ｂと同一の導電体で形成されている。接続ランド９ａ，１０ａには、それぞれリード線１２が半田１３により接続され、図示しない計器の駆動手段に接続されている。なお、１１は、調整用抵抗体１１である。
【００１６】
固定電極３ａは、導電体からなり、その形状は、線状であり、複数設けられている。そして、この固定電極３ａは、それぞれ抵抗体４と接続している。固定電極３ａを構成する導電体は、銀、パラジウムの金属と、ガラスなどで構成され、回路基板２上に焼付形成される。
【００１７】
固定電極３ｂは、固定電極３ａと同一の導電体からなり、その主要部の形状は、扇形をしている。なお、この固定電極３ｂは、その扇形の内部に、回路基板２が露出する溝部１４を備えている。
【００１８】
抵抗体４は、複数の固定電極３を跨ぐように設けられている。なお、本実施形態では、抵抗体４は、調整用抵抗体１１と同一材料で、かつ同一工程で形成されている。
【００１９】
摺動子５は、洋白などの金属からなる板形状であり、パラジウムとルテニウムの合金からなる第１の摺動接点６と第２の摺動接点７とを備えている。
【００２０】
第１の摺動接点６と第２の摺動接点７とは、それぞれ弾性を有する第１の腕片５１と第２の腕片５２とに溶接などの手段によって固定されている。また、本実施形態では、各摺動接点６、７は、２つずつ設けられている。
【００２１】
本実施形態では、第１の摺動接点６と第２の摺動接点７との摺動方向Ｓの軌跡は、円弧である。これは、摺動子５が、図示しない支点を中心に回動するためである。
【００２２】
図３で示すように、研磨前の各固定電極３ａ、３ｂは、５〜７μｍの凹凸を備えている。そこで、各固定電極３ａ、３ｂの上方を２〜３μｍ研磨すると、図２、４で示すように、各固定電極３ａ、３ｂに研磨痕１５が形成される。この研磨痕１５は、凹凸から構成されており、この凹凸の山１５ａや溝１５ｂは、図１中の回路基板２の縦方向に延びるように形成されており、各固定電極３ａ、３ｂの中央部では、各摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、直角であり、各固定電極３ａ、３ｂの両端部では、各摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、約６３°の傾きを持っている。研磨痕１５の凹凸は、０．５〜１．０μｍであり、これは、凹凸の山１５ａと溝１５ｂとの差である。
【００２３】
なお、各摺動接点６、７は、各固定電極３ａ、３ｂに対して大きいために研磨前に形成された凹み１６部分に接することはなく、各摺動接点６、７は、研磨痕１５部分にのみ接することとなる。
【００２４】
本実施形態と比較例と比較する。比較例は、研磨痕１５を図１の回路基板２の横方向に延びるように形成したもの、すなわち、各摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、０°〜２７°の傾きを持ったものである。
【００２５】
【表１】
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【００２６】
本実施形態と比較例ともに、サンプル数は、５であり、表は、その平均値を表している。なお、各摺動接点６、７の厚みは、およそ１．０ｍｍである。摺動接点６の摩耗量を比較したところ、摺動回数が１００万回の場合、比較例は、０．４２１ｍｍの摩耗に対して、本実施形態は、０．１１６ｍｍであり、摩耗量がおよそ４分の１に減少している。また、摺動回数が２００万回の場合、本実施形態は、０．１８９ｍｍであり、比較例の摺動回数１００万回の摩耗量より少ない。
【００２７】
以上のように、各摺動接点６、７の摺動方向Ｓが、研磨痕１５に対して、４５°〜９０°の傾きを持つために、各摺動接点６、７が、研磨痕１５の凹凸に対して、点接触となり、各摺動接点６、７の摩耗が、減少して耐久性が向上する。
【００２８】
また、研磨痕１５の凹凸を、０．５〜１．０μｍとしたことによって、研磨痕１５の凹凸をより少なくする研磨作業を抑制することで、コストの上昇を抑制することができる。
【００２９】
なお、研磨痕１５の摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対する傾きは、本実施形態に限定されるものではなく、摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、４５°〜９０°の傾きであればよい。
【００３０】
また、すべての固定電極３ａ、３ｂの研磨痕１５が、摺動接点６、７の摺動方向Ｓに対して、直角となるように、研磨痕１５が摺動子５の図示しない回転中心に向かうように、固定電極３ａ、３ｂを研磨しても良い。
【産業上の利用可能性】
【００３１】
本発明は、摺動接点が回路基板上の固定電極上を摺動する液面検出装置に利用可能である。
【符号の説明】
【００３２】
１    液面検出装置
２    回路基板
３ａ、３ｂ  固定電極
５    摺動子
６    第１の摺動接点
７    第２の摺動接点
１５    研磨痕
１５ａ  山
１５ｂ  溝
Ｓ    摺動方向
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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