(57)【要約】【課題】アシスト磁気記録において、記録磁化の必要な品質を確保しつつ磁化転移位置シフト現象に応じて所望位置に磁化転移点を形成する。【解決手段】本発明の一実施形態において、ＨＤＤ１は、記録層への磁気記録において、磁極からの記録磁界による磁気記録をアシストするためのエネルギーを記録領域に与える。このエネルギーは、磁極が生成する記録磁界による磁化方向変化をアシストする。記録補償部２１４は、記録電流反転タイミングを制御して、磁化転移位置シフトを補償する。さらに、記録アシスト信号制御部２１５は、記録アシスト範囲を記録パターンに応じて変化させる。記録アシスト範囲を記録パターン（記録データ列）に応じて制御することによって、記録磁化の必要な品質を確保しつつ、前歴磁化や記録電流周波数変化による磁化転移位置シフト現象に応じて所望位置に磁化転移点を形成することができる。【選択図】図３
2010123233.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクと、
回転している前記磁気ディスク上を浮上するスライダと、
前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析してその解析結果に応じて記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを決定し、決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも早い場合は決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも前方にシフトし、決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも遅い場合は決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも後方にシフトする、パターン解析部と、
前記磁気ディスク上に前記決定した記録アシスト範囲を形成する、前記スライダ上の記録アシスト素子と、
前記決定した記録電流反転タイミングに従って、記録電流により前記データを前記磁気ディスクに記録する記録素子と、
を有する磁気ディスク・ドライブ。
【請求項２】
前記記録アシスト素子は、前記記録アシスト範囲を縮小することによって前記後端を前方にシフトし、前記記録アシスト範囲を拡張することによって前記後端を後方にシフトする、
請求項１に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項３】
前記記録アシスト素子は、前記磁気ディスクへ与える記録アシストのパワーを変化させることで、前記記録アシスト範囲の拡張・縮小を行う、
請求項２に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項４】
前記パターン解析部は、記録電流周波数が高くなると前記記録アシスト範囲が拡張するように前記記録アシスト範囲を決定する、
請求項２に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項５】
記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録電流反転タイミングが予め設定されており、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録アシスト範囲が予め設定されている、制御テーブルをさらに有し、
前記パターン解析部は、前記解析の結果に応じて、前記予め定められている記録電流反転タイミングから一つを選択し、さらに、前記予め定められている記録アシスト範囲から一つを選択する、
請求項１に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項６】
前記制御テーブルには、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して、前記記録電流反転タイミングと前記記録アシスト範囲の双方が予め設定されている、
請求項５に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項７】
前記制御テーブルに登録されている記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とは、エラー・レートの測定結果に基づいて選択された値である、
請求項５に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項８】
前記記録電流反転タイミングと前記記録アシスト範囲の可能な全ての組み合わせの測定結果に基づいて選択された値である、
請求項７に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項９】
ヘッド・スライダ毎に前記記録アシスト範囲と前記記録電流反転タイミングとが設定登録されている制御テーブルを有する、
請求項５に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１０】
磁気ディスクと、
回転している前記磁気ディスク上を浮上するスライダと、
記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲が予め設定されている、制御テーブルと、
前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析し、前記制御テーブルを参照して前記解析結果に対応する記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを選択する、パターン解析部と、
前記磁気ディスク上に前記決定した記録アシスト範囲を形成する、前記スライダ上の記録アシスト素子と、
前記決定した記録電流反転タイミングに従って、記録電流により前記データを前記磁気ディスクに記録する記録素子と、
を有する磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１１】
前記記録アシスト素子は、前記記録アシスト範囲の縮小と拡張を行う、
請求項１０に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１２】
前記パターン解析部は、記録電流周波数が高くなると前記記録アシスト範囲が拡張するように前記記録アシスト範囲を決定する、
請求項１１に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１３】
前記制御テーブルに登録されている記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とは、エラー・レートの測定結果に基づいて選択された値である、
請求項１０に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１４】
前記記録電流反転タイミングと前記記録アシスト範囲の可能な全ての組み合わせの測定結果に基づいて選択された値である、
請求項１３に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１５】
ヘッド・スライダ毎に前記記録アシスト範囲と前記記録電流反転タイミングとが設定登録されている制御テーブルを有する、
請求項１０に記載の磁気ディスク・ドライブ。
【請求項１６】
回転する磁気ディスク上を浮上するヘッド・スライダによって、前記磁気ディスクにデータを記録する方法であって、
前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析し、
前記解析の結果に応じて記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを決定し、
前記決定した記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とにおいて、前記データを前記磁気ディスクに記録し、
決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも早い場合、決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも前方にシフトし、
決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも遅い場合、決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも後方にシフトする、
方法。
【請求項１７】
前記記録アシスト範囲を縮小することによって前記後端を前方にシフトし、
前記記録アシスト範囲を拡張することによって前記後端を後方にシフトする、
請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
記録電流周波数が高くなると前記記録アシスト範囲が拡張するように前記記録アシスト範囲を決定する、
請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録電流反転タイミングが予め設定されており、
記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録アシスト範囲が予め設定されており、
前記解析の結果に応じて、前記予め定められている記録電流反転タイミングから一つを選択し、さらに、前記予め定められている記録アシスト範囲から一つを選択する、
請求項１６に記載の方法。
【請求項２０】
前記登録されている記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とは、エラー・レートの測定結果に基づいて選択された値である、
請求項１９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は磁気ディスク・ドライブ及び磁気ディスクへのデータ記録方法に関し、特に、記録素子からの磁界による記録をアシストする機能を有する磁気ディスク・ドライブ及び磁気ディスクへのデータ記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報機器の記憶（記録）装置には、主に半導体メモリと磁性体メモリが用いられる。アクセス時間の観点から内部記憶装置に半導体メモリが用いられ、大容量かつ不揮発性の観点から外部記憶装置に磁気ディスクを使用するハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）が用いられる。記憶容量は磁気ディスク装置の性能を表す重要な指標であり、近年の情報社会の発展に伴い大容量かつ小型の磁気ディスク装置が市場から要求されている。
【０００３】
情報化社会における情報処理量の増加は急速である。特に、外部記憶装置のＨＤＤには限られた面積・体積に多くの情報を記憶することが要求されている。その要求に対する技術的対策は、高記録密度化による大容量化である。高記録密度化を推進するためには、記録ビットの微小化を進める必要がある。このため、媒体の記録単位になる粒子の粒径を細かくしてきた。
【０００４】
しかし、この微小化を進めると記録ビットの熱的な安定性が損なわれ、熱揺らぎによる経時的磁化情報の消失が発生し、磁気情報の不揮発性を満足できなくなる。このため、熱的な安定性を確保するため、媒体の保磁力を高めることが必要である。しかし、保磁力が高くなると、記録が困難となることが一般に知られている。磁気記録を行うためには記録ヘッドからの記録磁界は媒体保磁力以上の磁界を出し、かつ急峻に変化させなければならない。記録ヘッドの構造改良・材料開発を行っているが、極微細な領域に高記録意磁界を出力することは極めて難しくなっている。
【０００５】
そこで、媒体保磁力は熱を加えると等価的に低下する現象を利用して、記録する部分に熱を加える記録方式（熱アシスト記録）が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。また、ヘッド・スライダ内に記録アシスト素子を有するＨＤＤにおいてトラック幅の最適化を行う技術も検討されている（例えば、特許文献２を参照）。
【特許文献１】特表２００２−１３３６０２号公報
【特許文献２】特開２００６−２７２９８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、アシスト記録においては、トラック幅を考慮するだけでは十分ではない。一般に、ＨＤＤは、非線形転移シフト（ＮＬＴＳ）に対応するため、チャネル回路内に書き込み補償回路を有している。ＮＬＴＳは、前歴磁化からの反磁界が記録磁界強度を変化させ、トラック上の磁化転移位置が、円周方向における前後においてずれる現象である。よく知られているように、面内記録方式におけるＮＬＴＳにおいては、直前及びそれより前の前歴磁化（隣接ビットの磁化）により、磁化転移位置が記録素子からの記録磁界のみによる磁化転移位置よりも後方にシフトする。ここで、前後方向は、ヘッド・スライダの移動方向（飛行方向）により規定する。一方、垂直磁気記録方式におけるＮＬＴＳにおいては、前歴磁化により、磁化転移位置が記録素子からの記録磁界のみによる磁化転移位置よりも前方にシフトする。
【０００７】
ＮＬＴＳによる磁化転移位置のずれを補償するため、ＨＤＤは磁化転移を引き起こす記録電流反転のタイミングを調整する。ＨＤＤは、記録電流の反転位置（タイミング）を本来の位置からシフトすることで、所望の位置に記録層の磁化転移点を形成する。面内記録のＨＤＤは、前歴磁化に応じて、記録電流反転タイミングを遅らせ、垂直記録のＨＤＤは、記録電流反転タイミングを早める。図１０（ａ）〜図１０（ｄ）は、所望の磁化状態とその磁化状態を実現するための記録電流の反転タイミングとの例を模式的に示している。図１０（ｄ）は、実現する磁化状態を示している。図１０（ａ）は記録補償を行わない場合のタイミングチャート、図１０（ｂ）は反転タイミングを遅らせたタイミングチャート、そして、図１０（ｃ）は反転タイミングを早めたタイミングチャートを示している。
【０００８】
さらに、前歴磁化からの影響に加えて、記録素子からの記録磁界強度は、記録電流周波数に依存することが知られている。記録電流周波数は、記録電流の反転の周波数である。一般に、記録電流周波数が高くなると、記録素子の生成磁界強度が低下する。記録電流の伝送線路と記録電流を増幅するプリアンプ回路とは、一般に、高周波帯において記録電流振幅が低下する周波数特性を有している。このため、記録電流周波数が高くなると記録素子に供給される記録電流振幅が小さくなり、その結果、記録磁界強度が低下する。反対に、記録電流周波数が低くなると記録素子に供給される記録電流振幅が大きくなり、その結果、記録磁界強度が増加する。
【０００９】
記録磁界強度の低下は、記録層の磁化転移を引き起こすことができる有効磁界範囲を縮小させる。これにより、トラック幅が縮小し磁化転移位置は前方にシフトする。反対に、記録磁界強度の増加は、記録層の磁化転移を引き起こすことができる有効磁界範囲を拡張させる。これにより、トラック幅が伸長し磁化転移位置は後方にシフトする。
【００１０】
記録電流周波数変化による磁化転移位置のずれは、上記前歴磁化によるＮＬＴＳと同様に、記録電流反転タイミングを制御することで補償することができる。記録補償回路は、前歴磁化と記録電流周波数の双方に起因する磁化転移位置のずれを補償する。あるいは、プリアンプ回路や伝送線路の周波数特性を補償するように記録電流振幅値を制御することで、記録電流周波数に依存する記録磁界変化を小さくすることができる。
【００１１】
このように、磁気記録においては、磁化転移位置のシフトを補償することが要求される。これは、記録アシストを行う磁気記録方式においても同様である。しかし、磁化転移位置シフトを補償するために、記録素子への記録電流反転位置（反転タイミング）を制御すると、新たな問題が発生する。
【００１２】
図１１（ａ）〜（ｃ）は、記録アシスト素子による記録アシスト範囲と、所望の磁化転移位置との関係を模式的に示している。記録素子からの記録磁界は、所望の磁化転移位置が得られるように制御される。図１１（ａ）〜（ｃ）のそれぞれにおいて、ヘッド・スライダは、図の上側から下側へと移動する。
【００１３】
図１１（ａ）は、所望の磁化転移位置と記録アシスト範囲との適切な位置関係を示している。所望の磁化転移位置は、ハッチされた矩形で示されている。また、記録アシスト範囲は、実線の円で囲まれている範囲である。実際の磁化転移位置は所望の磁化転移位置と一致し、また、記録アシスト範囲による前歴磁化への影響もない。
【００１４】
これに対して、図１１（ｂ）は、記録補償回路が記録電流反転タイミングを遅延させた場合に起こる、所望の磁化転移位置と記録アシスト範囲との関係を示している。記録電流反転タイミングを遅らせているため、記録アシスト範囲のディスク上の位置は、図（ａ）の場合よりも前に進んでいる。そのため、ハッチされた矩形で示されている所望の磁化転移位置は、実線の円で示す記録アシスト範囲の外側にある。所望の磁化転移位置が記録アシスト範囲の外側にありその位置には記録できないため、記録素子からの記録磁界は、所望の磁化転移位置が得られるように制御されるが、実際の磁化転移位置は上記所望の磁化転移位置とは異なる位置となる。
【００１５】
図１１（ｃ）は、記録補償回路が記録電流反転タイミングを早めた場合に起こりうる、所望の磁化転移位置と記録アシスト範囲との関係を示している。記録電流反転タイミングを早めたため、記録アシスト範囲のディスク上の位置は、図（ａ）の場合よりも後方にある。そのため、ハッチされた矩形で示す所望の磁化転移位置は実線の円で示す記録アシスト範囲の中心に近い位置にある。このような場合、破線の楕円で示す記録アシスト範囲の一部が直前のビット（前歴磁化）に重なり、直前ビットの磁化を劣化させる可能性がある。つまり、記録ヘッド通過後も記録アシストされている領域では、記録した磁化の品質が劣化する可能性がある。
【００１６】
従って、前歴磁化や記録電流周波数変化による磁化転移位置シフト現象に応じて、所望位置に磁化転移点を形成し、記録磁化の所望品質を確保することができる、アシスト磁気記録の手法が望まれる。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明一態様の磁気ディスク・ドライブは、磁気ディスクと、回転している前記磁気ディスク上を浮上するスライダと、前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析してその解析結果に応じて記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを決定し、決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも早い場合は決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも前方にシフトし、決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも遅い場合は決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも後方にシフトする、パターン解析部と、前記磁気ディスク上に前記決定した記録アシスト範囲を形成する、前記スライダ上の記録アシスト素子と、前記決定した記録電流反転タイミングに従って、記録電流により前記データを前記磁気ディスクに記録する記録素子とを有する。このように、電流反転タイミングに応じて記録アシスト範囲を制御することで、記録磁化の品質を維持しつつデータ・パターンに応じた適切な位置で磁化反転させることができる。
【００１８】
前記記録アシスト素子は、前記記録アシスト範囲を縮小することによって前記後端を前方にシフトし、前記記録アシスト範囲を拡張することによって前記後端を後方にシフトすることが好ましい。さらに、前記記録アシスト素子は、前記磁気ディスクへ与える記録アシストのパワーを変化させることで、前記記録アシスト範囲の拡張・縮小を行うことが好ましい。これらにより、よりシンプルな構成で記録アシスト範囲を調整することができる。好ましくは、前記パターン解析部は、記録電流周波数が高くなると前記記録アシスト範囲が拡張するように前記記録アシスト範囲を決定するこれによる、トラック幅の変化を抑制することができる。
【００１９】
記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録電流反転タイミングが予め設定されており、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して前記記録アシスト範囲が予め設定されている、制御テーブルをさらに有し、前記パターン解析部は、前記解析の結果に応じて、前記予め定められている記録電流反転タイミングから一つを選択し、さらに、前記予め定められている記録アシスト範囲から一つを選択することが好ましい。これにより、効率的な処理で好ましい設定を行うことができる。
【００２０】
前記制御テーブルには、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して、前記記録電流反転タイミングと前記記録アシスト範囲の双方が予め設定されていることが好ましい。これにより、範囲とタイミングの双方を関連付けて制御することでより好ましい設定が可能となる。
【００２１】
好ましい構成において、前記制御テーブルに登録されている記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とは、エラー・レートの測定結果に基づいて選択された値である。これにより、適切な値を容易に選択することができる。さらに、前記記録電流反転タイミングと前記記録アシスト範囲の可能な全ての組み合わせの測定結果に基づいて選択された値である。これにより、より適切な値を選択することができる。ヘッド・スライダ毎に前記記録アシスト範囲と前記記録電流反転タイミングとが設定登録されている制御テーブルを有することが好ましい。これによりヘッド・スライダ毎に適切な制御を行うことができる。
【００２２】
本発明の他の態様のディスク・ドライブは、磁気ディスクと、回転している前記磁気ディスク上を浮上するスライダと、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の複数の異なるパターンのそれぞれに対応して記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲が予め設定されている、制御テーブルと、前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析し、前記制御テーブルを参照して前記解析結果に対応する記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを選択する、パターン解析部と、前記磁気ディスク上に前記決定した記録アシスト範囲を形成する、前記スライダ上の記録アシスト素子と、前記決定した記録電流反転タイミングに従って、記録電流により前記データを前記磁気ディスクに記録する記録素子とを有する。アシスト範囲と電流反転タイミングを同じパターン解析で制御することで、二つの要素の相関をもって制御することで、好ましい制御が可能となる。
【００２３】
本発明の他の態様は、回転する磁気ディスク上を浮上するヘッド・スライダによって、前記磁気ディスクにデータを記録する方法である。この方法は、前記磁気ディスクに記録するデータのデータ・パターンを解析する。前記解析の結果に応じて記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを決定する。前記決定した記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とにおいて、前記データを前記磁気ディスクに記録する。決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも早い場合、決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも前方にシフトする。決定した前記記録電流反転タイミングが基準よりも遅い場合、決定した前記記録アシスト範囲の後端を基準よりも後方にシフトする。このように、電流反転タイミングに応じて記録アシスト範囲を制御することで、記録磁化の品質を維持しつつデータ・パターンに応じた適切な位置で磁化反転させることができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、熱や電磁波のアシストを使用する磁気記録において、記録磁化の必要な品質を確保しつつ、前歴磁化や記録電流周波数変化による磁化転移位置シフト現象に応じて所望位置に磁化転移点を形成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下に、本発明を適用した実施の形態を説明する。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、磁気ディスク・ドライブの一例であるハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）に本発明を適用した実施形態について説明する。
【００２６】
本形態のＨＤＤは、記録層への磁気記録において、磁極からの記録磁界による磁気記録をアシストするためのエネルギーを記録領域に与える。このエネルギーは、磁極が生成する記録磁界による磁化方向変化をアシストする。ＨＤＤは、記録アシストのためのエネルギーを、熱や電磁波により与える。
【００２７】
このため、本形態のＨＤＤに実装されるヘッド・スライダは、磁気記憶媒体の記録層の磁化方向を変化させる記録磁界を生成する磁極の他に、記録アシストのためのエネルギーを磁気記録層に与える素子（記録アシスト素子）を有している。記録アシスト素子としては、光を記録層に照射するための素子や、マイクロ波を照射する電極対などがある。本発明は、いずれの記録アシスト素子を有するＨＤＤにも適用することができる。
【００２８】
さらに、本形態のＨＤＤは、記録電流反転タイミングを制御して、磁化転移位置シフトを補償する。本形態の特徴として、ＨＤＤは、記録電流反転タイミングと共に、記録アシスト範囲を記録パターンに応じて変化させる。記録アシスト範囲を記録パターン（記録データ列）に応じて制御することによって、記録磁化の必要な品質を確保しつつ、前歴磁化や記録電流周波数変化による磁化転移位置シフト現象に応じて所望位置に磁化転移点を形成することができる。
【００２９】
本形態のアシスト記録における記録アシスト範囲制御について詳細に説明する前に、ＨＤＤの全体構成について説明する。ＨＤＤの全体構成を模式的に示すブロック図である。ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０内に、データを記憶するディスクである磁気ディスク１１を有している。スピンドル・モータ（ＳＰＭ）１４は、磁気ディスク１１を所定の角速度で回転する。磁気ディスク１１の各記録面に対応して、磁気ディスク１１にアクセスするヘッド・スライダ１２が設けられている。アクセスは、リード及びライトの上位の概念である。
【００３０】
各ヘッド・スライダ１２はアクチュエータ１６の先端部に固定されている。アクチュエータ１６はボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）１５に連結され、回動軸を中心に回動することによって、ヘッド・スライダ１２を回転する磁気ディスク１１上においてその半径方向に移動する。各ヘッド・スライダ１２は、磁気ディスク上を飛行するスライダと、スライダに固定され磁気信号と電気信号との間の変換を行うヘッド素子部とを備えている。本形態のヘッド・スライダ１２は、さらに、記録素子からの記録磁界による磁気記録をアシストするエネルギーを磁気記録層に照射する記録アシスト素子を有している。ヘッド素子部の構造については、図２を参照して後に説明する。
【００３１】
エンクロージャ１０の外側に固定された回路基板２０上には、回路素子が実装されている。モータ・ドライバ・ユニット２２は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従って、ＳＰＭ１４及びＶＣＭ１５を駆動する。ＲＡＭ２４は、リード・データ及びライト・データを一時的に格納するバッファとして機能する。エンクロージャ１０内のアーム電子回路（ＡＥ）１３は、複数のヘッド・スライダ１２の中から磁気ディスク１１へのアクセスを行うヘッド・スライダ１２を選択し、その再生信号を増幅してリード・ライト・チャネル（ＲＷチャネル）２１に送る。また、ＲＷチャネル２１からの記録信号と記録アシスト素子への信号（パワーを含む）とを選択したヘッド・スライダ１２に送る。なお、本発明は一つのヘッド・スライダ１２のみを有するＨＤＤに適用することができる。また、記録アシスト素子へ信号は、ＡＥ１３と異なる回路が与えてもよい。
【００３２】
ＲＷチャネル２１は、リード処理において、ＡＥ１３から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データとを含む。デコード処理されたリード・ユーザ・データ及びサーボ・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に供給される。また、ＲＷチャネル２１は、ライト処理において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３から供給されたライト・データを符号化し、更に符号化されたライト・データをライト信号（アナログ信号）に変換してＡＥ１３に供給する。本形態のＲＷチャネル２１は、さらに、記録電流反転タイミングを制御する機能と、記録パターンに応じて記録アシスト範囲を制御する機能とを有している。ＲＷチャネル２１の構成については、図３を参照して後により具体的に説明する。
【００３３】
コントローラであるＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード／ライト処理制御、コマンド実行順序の管理、サーボ信号を使用したヘッド・スライダ１２のポジショニング制御（サーボ制御）、ホスト５１との間のインターフェース制御、ディフェクト管理、エラーが発生した場合のエラー対応処理など、データ処理に関する必要な処理及びＨＤＤ１の全体制御を実行する。
【００３４】
図２は、記録アシスト素子を有するヘッド素子部の構造例を模式的に示す断面図である。このヘッド素子部は、記録アシスト・エネルギーとして近接場光を記録層に照射する。ヘッド素子部はスライダ１２０上に形成されている。再生素子はスライダ１２０上に設けた絶縁層１２１、下部シールド１２２、上部シールド１２３、磁気情報を検出する素子２１４から構成されている。記録素子は、再生素子の上に形成されている。ヘッド素子部は、記録アシスト素子である近接場光発生素子１２７を有している。
【００３５】
主磁極１２５の上部には軟磁性膜１２８が配置されている。軟磁性膜１２８は軟磁性膜１２９と磁気的に接続されて閉磁路を形成する。軟磁性膜１２９は下部磁性層１３０と接近し、磁気的に接続状態を構成する。下部磁性層２２０と主磁極２１５は磁気的に接続される。これらから構成される閉磁路内に、コイル１３１ｂが配置されている。軟磁性膜１３２と下部磁性層１３０との間にコイル１３１ａが存在する。
【００３６】
コイル１３１ｂに電流が流れることにより、磁束は軟磁性膜１２９から下部磁性層１３０を通って主磁極１２５に導かれる。同時に、コイル１３１ａに電流が流れることにより、下部の磁束は軟磁性膜１３２から記録媒体を通り主磁極１２５に導かれる。アクチュエータ１６上あるいはヘッド・スライダ１２上の半導体レーザからの光が近接場光発生素子１２７に導かれる。近接場光発生素子１２７はアンテナ型の素子であり、プラズモン共鳴により微小な領域に近接場光を与える。この近接場光により主磁極１２５からの記録磁界による磁気記録がアシストされる。
【００３７】
図３は、ＲＷチャネル２１における、記録系の回路構成を模式的に示すブロック図である。ＲＷチャネル２１は、スクランブラ２１１、符号化部（変調部）２１２、記録パターン解析部２１３、記録補償部２１４、記録アシスト信号制御部２１５を有している。さらに、ＲＷチャネル２１は揮発性もしくは不揮発性メモリを有し、そのメモリに制御テーブル２１６が格納されている。好ましくは、ヘッド・スライダ１２毎に制御テーブル２１６が用意されている。
【００３８】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３によってＥＣＣが付されたユーザ・データは、ＲＷチャネル２１に転送される。スクランブラ２１１は、ユーザ・データをランダマイズして符号化部２１２に転送する。符号化部２１２は、ユーザ・データを再生時のエラー・レートが小さくなるようにデータ列（記録パターン）に符号化する（例えば、ＲＬＬ符号化）。記録パターン解析部２１３は記録されるビット・パターンを解析し、その解析結果に応じて、記録補償部２１４及び記録アシスト信号制御部２１５の動作制御パラメータを設定する。
【００３９】
記録パターン解析部２１３は、動作制御パラメータの決定において、制御テーブル２１６を参照する。制御テーブル２１６は、解析結果に応じた動作制御パラメータが登録されている。記録補償部２１４は、設定されたパラメータに従って、記録電流の反転タイミングを制御する。記録アシスト信号制御部２１５は、設定されたパラメータに従って、ヘッド・スライダ１２の記録アシスト素子への信号を制御する。
【００４０】
記録補償部２１４は、記録パターンに従って、基準タイミング、基準タイミングよりも早いタイミング、あるいは基準タイミングよりも遅いタイミングにおいて、記録電流を反転する（図１０の説明を参照）。記録パターン解析部２１３は、基準タイミングに対するシフト値（基準タイミングの前後を示す符号を含む）を記録補償部２１４にセットする。記録補償部２１４は、セットされたシフト値だけ、記録電流を反転するタイミングを基準タイミングからシフトさせる（早めるもしくは遅らせる）。
【００４１】
記録アシスト信号制御部２１５は、記録パターン解析部２１３からの指示に応じて、ヘッド・スライダ上の記録アシスト素子による記録アシスト範囲を制御する。記録アシスト範囲は、所定の基準強度以上のエネルギーが与えられている範囲であり、その範囲内に記録磁化の反転をアシストするために必要な強度のエネルギーが与えられている。記録アシスト範囲内では、磁化反転のために必要な記録素子からの磁界強度が小さい。記録素子からの記録磁界（所定以上の磁界）がその記録アシスト範囲と重なると、磁気記録層の磁化が反転する。
【００４２】
好ましい態様において、記録アシスト信号制御部２１５は、記録アシスト素子から記録層に与えられるエネルギーのパワーを制御することにより記録アシスト範囲を制御する。パワーの増加・縮小により、記録アシスト範囲は拡張・収縮する。また、一般に、記録アシスト素子へ供給するパワーにより、その記録アシスト素子が記録層に与えるパワーを制御することができる。
【００４３】
記録アシスト範囲の制御は、記録アシスト素子の特性に応じて、適切な方法により行う。例えば、記録アシスト素子の機能として可能であれば、記録アシスト範囲の形状を維持しつつそれを移動する、あるいは上述のように、記録層へ与えるエネルギー・パワーを変化させることなく記録アシスト範囲を拡張・収縮させてもよい。以下においては、好ましい例として、記録アシスト素子が磁気記録層に与えるパワーを変化させることで記録アシスト範囲の面積を変化させる手法について説明を行う。
【００４４】
それぞれ変化する記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲と、それらにより形成される磁化転移点との間の関係について説明する。図４（ａ）〜（ｃ）は、記録層の磁化転移位置と、記録補償部２１４により調整される記録電流反転タイミングと、記録アシスト信号制御部２１５により調整される記録アシスト範囲と、の関係を模式的に示す概念図である。記録アシスト範囲は、実線の円で囲まれている範囲である。磁化転移位置（磁化転移点）はハッチされた矩形で示されている。全ての例において、磁化転移位点は所望の定位置に形成されている。図４（ｂ）、（ｃ）においては、図４（ａ）における記録アシスト範囲が破線の円で示されている。
【００４５】
図４（ａ）は、記録補償部２１４が通常の基準タイミングで磁気記録電流を反転する場合の磁化転移位置と、記録アシスト範囲とを示している。また、記録アシスト範囲の中心位置も示している。ヘッド・スライダ１２は、データ記録において、図の上側から下側に移動する。ヘッド・スライダ１２の移動方向によって前側と後側を定義する。つまり、図４において、上側が後側であり、下側が前側である。図４（ｂ）は、記録補償部２１４が基準タイミングよりも遅いタイミングで磁気記録電流を反転する場合の磁化転移位置と、遅延した記録電流反転タイミングに対応した記録アシスト範囲とを示している。図４（ｃ）は、磁気記録電流反転タイミングが基準タイミングよりも早い場合の、磁化転移位置と早められた記録電流反転タイミングに対応した記録アシスト範囲とを示している。なお、記録アシスト範囲の形状は、記録アシスト素子により変化しうる。
【００４６】
図４（ｂ）において、実線の円が実際の記録アシスト範囲を示している。破線の円は基準タイミングにおける基準の記録アシスト範囲（図４（ａ））を示している。二点鎖線の円は、基準タイミングに対応する大きさの記録アシスト範囲を遅延タイミング（位置）で形成した場合の仮想記録アシスト範囲を示している。
【００４７】
図４（ｂ）に示すように、磁気記録電流反転タイミングが基準タイミングよりも遅い場合、記録アシスト範囲の中心位置は前方にずれている。また、スポット径のより大きい（広い範囲の）記録アシスト範囲が記録面上に形成される。つまり、より大きいパワーが記録層に与えられる。これにより、記録アシスト範囲（実線円）の後端４１の位置は、同一のタイミング（位置）で基準のサイズの記録アシスト範囲（二点鎖線で示した円）を形成するよりも、後方にシフトする。
【００４８】
図４（ｃ）において、実線の円が実際の記録アシスト範囲を示している。破線の円は基準タイミングにおける基準記録アシスト範囲（図４（ａ））を示している。二点鎖線の円は、早めたタイミング（位置）で基準の大きさの記録アシスト範囲を形成した場合の仮想記録アシスト範囲を示している。図４（ｃ）のように、記録補償部２１４が基準タイミングよりも早いタイミングで磁気記録電流を反転する場合、記録アシスト範囲の中心位置は後方にずれる。また、スポット系のより小さい（狭い範囲の）記録アシスト範囲が記録面上に形成される。つまり、より小さいパワーが記録層に与えられる。これにより、記録アシスト範囲（実線円）の後端４１の位置は、同一のタイミング（位置）で基準のサイズの記録アシスト範囲（二点鎖線で示した円）を形成するよりも、前方にシフトする。
【００４９】
このように、磁気記録電流の反転タイミングに応じて記録アシスト範囲を変化させることで、トラック上の所望の位置に磁化転移点を形成することができる。また、図４（ｂ）、（ｃ）に示すように、記録アシスト範囲が前歴磁化（ビット）と重なる領域が略変化しない、あるいは、略重なることがないため、記録アシストのためのエネルギーによって前歴磁化状態が悪化することを避けることができる。
【００５０】
次に、同一の記録電流反転タイミングにおいて、変化する記録アシスト範囲と磁化転移位置との間の関係を概念的に説明する。図５（ａ）、（ｂ）は、記録層の磁化転移位置（ハッチされた矩形）と、記録アシスト信号制御部２１５により調整される記録アシスト範囲（実線の円）と、の関係を模式的に示す概念図である。記録電流反転タイミングは一定であるとする。各図形の意味は、図４におけるものと同様である。
【００５１】
磁化転移位置は、記録アシスト素子からエネルギーと記録素子からの磁気エネルギーとの和が、閾値を超える位置に形成される。図５（ａ）の概念図が示すように、記録アシスト範囲を広くすると、磁化転移位置を後方にシフトすることができる。一方、図５（ｂ）の概念図が示すように、記録アシスト範囲を狭くすると、磁化転移位置を前方にシフトすることができる。
【００５２】
本形態のＨＤＤ１は、記録補償部２１４による記録電流反転タイミング制御と、記録アシスト信号制御部２１５による記録アシスト範囲制御とを合わせて使用することで、所望位置に磁化転移点を形成する。制御手法としては、記録電流反転タイミングにより磁化転移位置の調整を行い、それに合わせて記録アシスト範囲を調整するアプローチが存在する。あるいは、記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲の双方により、磁化転移位置の調整を行うアプローチが存在する。
【００５３】
前者のアプローチにおいては、記録電流周波数が増加（減少）すると、記録アシスト範囲が縮小（拡張）する傾向となる。上述のように、記録電流周波数が増加すると記録素子からの磁界強度が減少し、磁化転移点が後方にシフトする。そのシフトを補償するため、記録補償部２１４は記録電流反転タイミングを早める。これは、図４（ｃ）を参照して説明したケースであり、記録アシスト信号制御部２１５は記録アシスト範囲を小さくする。なお、磁化転移位置は、前歴磁化と記録電流周波数とに影響されるため、磁化転移点のシフト方向は記録電流周波数のみで決まるものではない。
【００５４】
記録電流周波数と記録アシスト範囲との関係を考える場合、磁化転移点のみならず、記録幅（ライト幅）を考慮することが重要である。図６（ａ）、（ｂ）は、記録電流周波数と記録幅（トラック幅）との関係を模式的に示す概念図である。図６（ａ）は記録電流周波数、図６（ｂ）は記録幅を模式的に示している。図示するように、記録電流周波数の増加は記録幅（トラック幅）の減少につながり、記録電流周波数の減少は記録幅（トラック幅）の伸長につながる。
【００５５】
一方、記録アシスト範囲を広げることで、記録幅を増加させることができる。記録幅は、記録アシスト範囲と記録素子からの磁界の重なりにより決まるからである。従って、記録電流周波数の変化による記録幅の変化を小さくするためには、図６（ｃ）に模式的に示すように、記録電流周波数の増加（減少）に応じて記録アシスト範囲を拡張（縮小）することが好ましい。
【００５６】
図５（ａ）、（ｂ）を参照して説明したように、記録アシスト範囲を拡張・縮小することで、磁化転移位置を前後にシフトさせることができる。記録電流周波数の増加により磁化転移位置は後方にシフトする。従って、記録電流周波数の増加（減少）に応じて記録アシスト範囲を拡張（縮小）すれば、記録電流周波数による磁化転移位置の変化を記録アシスト範囲により補償することができる。
【００５７】
そこで、好ましい制御アプローチは、記録電流周波数変化による磁化転移位置のシフトを主に記録アシスト範囲により補償し、前歴磁化による磁化転移位置のシフトを主に記録電流タイミングにより補償する。記録アシスト信号制御部２１５は、記録アシスト範囲を記録電流タイミングの変化にも応じて変化させるが、少なくとも記録電流タイミングが一定である場合には、記録電流周波数の増加・減少により記録アシスト範囲が拡張・縮小する関係が成立する。
【００５８】
次に、記録パターン解析部２１３の処理の好ましい例を説明する。記録パターン解析部２１３は、記録データ列を解析し、その解析結果と制御テーブル２１６のデータに応じて、記録補償部２１４と記録アシスト制御部２１５の動作パラメータを決定する。記録補償部２１４と記録アシスト制御部２１５とは、記録パターン解析部２１３が設定した動作パラメータに従って処理を行う。
【００５９】
記録パターン解析部２１３が設定する動作パラメータは、記録電流反転タイミングと、記録アシスト範囲とを、それぞれ特定する動作パラメータである。具体的には、記録電流反転タイミングの基準タイミングからシフト量（シフト方向を含む）と、記録アシスト範囲を規定するパワーである。本例においては、記録アシスト制御部２１５からの供給パワーが記録アシスト素子の供給エネルギーを規定する。
【００６０】
図７に示すように、制御テーブル２１６は、記録データ・パターンに関連付けられたタイミングとパワーとを格納している。タイミングは記録電流反転タイミングのシフト量を示し、パワーは記録アシスト制御部２１５が与えるパワーを示している。記録データ・パターンは、所定ビットのデータ・パターン（データ列）である。例えば、５ビット・データ列は３２のパターンを有しており、制御テーブル２１６のエントリ・パターン数は、３２未満である。パターンのエントリ数は、解析対象である記録パターンのビット長により変化する。典型的には、制御テーブル２１６は、記録電流反転ビットを含む規定ビット数の全てのパターンを有するが、異なるパターンを一つのエントリに含めてもよい。
【００６１】
図８のフローチャートに示すように、記録パターン解析部２１３は、符号化された磁気ディスク１１に記録される記録データのパターンを解析し、記録電流反転を起こすビット（記録電流反転ビット）を検出する（Ｓ１２）。さらに、記録パターン解析部２１３は、記録データ列において、記録電流反転ビットを含み、規定のビット長を有するデータ・パターンを特定する（Ｓ１２）。記録パターン解析部２１３は、記録電流反転ビットは、データ・パターン内の規定のビット位置にあるように、データ・パターンを抽出する。例えば、規定のビット位置は、データ・パターンの最後尾のビット、あるいは、中央のビットである。
【００６２】
続いて、記録パターン解析部２１３は、制御テーブル２１６を参照し、抽出したデータ・パターンと一致するエントリを選択し、そのエントリに対応付けられたタイミングとパワーとを同定する（Ｓ１３）。記録パターン解析部２１３は、抽出したパターンに対応して制御テーブル２１６に登録されているタイミングとパワーとを、それぞれ、記録補償部２１４と記録アシスト制御部２１５とに設定する（Ｓ１４）。記録補償部２１４は設定されたパラメータに従って記録電流反転タイミングをシフトさせ、記録アシスト制御部２１５は設定されたパラメータに従ったパワーを記録アシスト素子に供給する。
【００６３】
好ましくは、図７に示すように、記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とを規定するパターンのエントリ（図７におけるパターンの欄の各要素）は、同一であることが好ましい。つまり、図７の例のように、制御テーブル２１６に設定登録されている各パターンに対して、記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲を規定するパラメータがそれぞれ登録されていることが好ましい。これにより、上記二つのパラメータの相関性が高まり、より適切な制御を行うことができる。しかし、設計によって、二つのパラメータを、個別に決定してもよい。例えば、異なるビット長のデータ・パターンを使用する、あるいは、データ・パターン内の記録電流反転ビット位置が異なる例などが考えられる。
【００６４】
磁気記録層に所望の磁化状態を形成するためには、記録データ・パターンに応じた適切な動作パラメータ、つまり、記録電流反転タイミング（シフト量）と記録アシスト範囲（パワー）とを設定することが重要である。以下において、制御テーブル２１６にエントリとして設定登録される記録データ・パターンのそれぞれに対応する動作パラメータの好ましい決定方法を説明する。
【００６５】
好ましい態様において、ＨＤＤ１は、その製造におけるテスト工程において、動作パラメータを制御テーブル２１６に設定登録する。適切な動作パラメータを決定する基準は、記録したデータの品質（磁化状態）が好ましい。データ品質を端的に示す値の一つは、エラー・レートである。ＲＷチャネル２１は、ヘッド・スライダ１２が読み出したアナログ信号をＡＥ１３から取得し、ＡＤ変換した後に波形等化と復号化（ビタビ復号）を行う。ＲＷチャネル２１は、さらに、復号化したデータを復調して後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に転送する。
【００６６】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はエラー訂正回路を有しており、ＲＷチャネル２１から転送されたデータに付されている冗長データであるエラー訂正コード（ＥＣＣ）を使用して、エラー訂正を行う。エラー・レートは、このエラー訂正処理において訂正されるエラーで決まる。ＨＤＤ１は、異なる動作パラメータにおいて所定のパターンを有するデータの記録を行い、記録したデータを再生することでエラー・レートを測定する。
【００６７】
例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、記録するデータ・パターンをＲＡＭ２４に格納しておき、ＲＷチャネル２１から転送されたデータとＲＡＭ２４の格納データとを比較することで、エラー・レートを算出することができる。ＨＤＤ１は、その測定結果から、各記録パターンに対して適切な動作パラメータを選択する。
【００６８】
以下に、図９のフローチャートを参照して、動作パラメータの決定処理の流れを説明する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、各ヘッド・スライダ１２に対応する制御テーブル２１６に初期値を設定登録する（Ｓ２１）。ＲＷチャネル２１は、初期値が登録されている制御テーブル２１６を、メモリに格納する。次に、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、一つのヘッド・スライダ１２を選択し、所定のタイミング及びパワーにおいて、所定パターンのデータを記録する。（Ｓ２２）。記録するパターンは、制御テーブル２１６にエントリとして登録されるパターンに対応して変化しうる。さらに、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、上記ヘッド・スライダ１２により記録したデータを読み出し、その再生データのエラー・レートを測定してＲＡＭ２４に格納する（Ｓ２３）。
【００６９】
制御テーブル２１６のパターン、タイミング、そしてパワーの全ての可能な設定組み合わせ（マトリックス）について測定を終了していない場合（Ｓ２４におけるＮ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は選択したヘッド・スライダ１２の上記三つの要素のいずれかを変更し（Ｓ２５）、異なる他のマトリックス要素（パターン・エントリ、タイミング、パワーのキミ合わせでなるマトリックス）において、ステップＳ２２、Ｓ２３の処理を繰り返す。
【００７０】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、タイミングとパワーの全てのマトリックス要素（組み合わせ）についてエラー・レートの測定を終了すると（Ｓ２４におけるＹ）、ＲＡＭ２４に格納している測定結果から、各エントリ・パターンに対するタイミングとパターンの最適な組み合わせを選択する（Ｓ２６）。具体的には、エラー・レートが最も小さい組み合わせ（マトリックス要素）を選択する。
【００７１】
一つのヘッド・スライダ１２に対する制御テーブル２１６の設定登録が終了すると、全てのヘッド・スライダ１２については制御テーブル２１６の登録が終了してない場合（Ｓ２７におけるＮ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は他のヘッド・スライダを選択して（Ｓ２８）上記処理（Ｓ２２〜２６）を繰り返す。全てのヘッド・スライダの制御テーブル設定が終了すると（Ｓ２６におけるＹ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、全ての制御テーブルを磁気ディスク１１の管理領域あるいは不揮発性半導体メモリなどの不揮発性メモリ領域に保存する（Ｓ２９）。ＲＷチャネル２１は、この保存された制御テーブル２１６を参照してデータ記録を行う。
【００７２】
上述の説明において、測定による制御テーブルの設定登録は、ＨＤＤ１のコントローラであるＨＤＣ／ＭＰＵ２３が実行する。しかし、ＨＤＤ１のテスト工程においては、同様の処理を外部のテスト装置（外部コンピュータ）が行ってもよい。また、テスト工程に限らず、ＨＤＤ１の起動時に、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、制御テーブル２１６更新処理を行ってもよい。起動時の遅延を避けるため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、一部のヘッド・スライダ１２について測定及び更新処理を行うことが好ましい。
【００７３】
上記制御テーブル設定登録処理は、全ての動作パラメータ・マトリックス（全てのエントリ・パターンに対するタイミングとパワーの全ての組み合わせ）における測定を行い、その中から最適なマトリックスを選択する。記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲とは相互に影響する関係にあるため、これにより、より適切な動作パラメータを選択することができる。また、この設定登録方法により、図４及び図６を参照して説明したように、記録電流反転タイミングのシフトと記録電流周波数とに応じた記録アシスト範囲を形成することができる。
【００７４】
これに対して、一方の動作パラメータの設定登録を行い、その後、もう一方の動作パラメータの設定登録を行うようにしてもよい。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、記録アシスト範囲（パワー）一定において、異なる記録電流反転タイミング（タイミング）のそれぞれにおいてデータ記録を行い、エラー・レートに従って適切なタイミングを決定する。その後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、上記の適切なタイミングにおいて、異なるパワーにおけるデータ記録とエラー・レートの測定を行い、適切なパワーを決定する。
【００７５】
このような設定登録処理は、一方の動作パラメータによる制御をメインとして使用し、もう一方の動作パラメータによる制御をサブとして使用する制御処理に対応する。例えば、記録補償部２１４の機能を主な補償機能として使用し、記録アシスト範囲制御部２１５の機能を従の補償機能として使用する。この設定登録処理により、制御テーブルの設定登録に必要な処理時間を短縮することができる。あるいは、ＨＤＤ１は、記録電流反転タイミングに対しては、異なる方法により適切なタイミングを決定し、その後、その適切なタイミングに対して適切な記録アシスト範囲をエラー・レート測定により決定してもよい。
【００７６】
以上、本発明を好ましい実施形態を例として説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。当業者であれば、上記の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。例えば、本発明は、いずれの手法の記録アシストを採用する磁気ディスク・ドライブにも適用することができる。記録ビット・パターンに応じた記録電流反転タイミング及び記録アシスト範囲の制御は、ＨＤＤのいずれの機能ブロックが行ってもよい。上記説明においては、ＲＷチャネルがその機能を有するが、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３がそれらを制御してもよい。また、ＲＷチャネルがインテリジェンス機能を有し、制御テーブルの設定登録処理を行うようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本実施形態に係る磁気ディスク・ドライブの構造を模式的に示す図である。
【図２】本実施形態に係るヘッド・スライダにおけるヘッド素子部を模式的に示す断面図である。
【図３】本実施形態に係るＲＷチャネルにおける記録系の論理構成を模式的に示すブロック図である。
【図４】本実施形態において、記録層の磁化転移位置と、記録補償部により調整される記録電流反転タイミングと、記録アシスト信号制御部により調整される記録アシスト範囲と、の関係を模式的に示す概念図である。
【図５】本実施形態において、同一の記録電流反転タイミングにおいて、変化する記録アシスト範囲と磁化転移位置との間の関係を模式的に示す概念図である。
【図６】本実施形態において、記録電流周波数、記録幅（トラック幅）、記録アシスト範囲の関係を模式的に示す概念図である。
【図７】本実施形態において、記録電流反転タイミングと記録アシスト範囲との制御に使用する制御テーブルの構造を模式的に示す図である。
【図８】本実施形態において、記録パターン解析部の処理の流れを示すフローチャートである。
【図９】本実施形態において、制御テーブルに設定登録する動作パラメータの決定処理の流れを説明するフローチャートである。
【図１０】従来の技術において、前歴磁化と記録電流周波数に応じた記録電流反転タイミングの制御方法を模式的に示す図である。
【図１１】従来の技術において、記録アシスト範囲と所望の磁化転移位置とがずれている状態を模式的に示している。
【符号の説明】
【００７８】
１０  エンクロージャ、１１  磁気ディスク、１２  ヘッド・スライダ
１６  アクチュエータ、２０  回路基板、２１  リード・ライト・チャネル
２２  モータ・ドライバ・ユニット、２３  ＨＤＣ／ＭＰＵ、５１  ホスト
１２０  スライダ、１２１  絶縁層、１２２  下部シールド、１２３  上部シールド
１２４  素子、１２５  主磁極、１２７  近接場光発生素子、１２８、１２９  軟磁性膜
１３０  下部磁性層、１３１ａ、１３１ｂ  コイル、１３２  軟磁性膜
２１１  スクランブラ、２１２  符号化部、２１３  記録パターン解析部
２１４  記録補償部、２１５  記録アシスト制御部、２１６  制御テーブル
【図１】
2010123233.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2010123233.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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