(57)【要約】【課題】実素子とモデルとの特性乖離情報を提供する回路設計支援装置を提供する。【解決手段】素子特性の測定データが、測定時の条件と対応付けられて格納されている特性データベース１１０と、設計対象回路の回路シミュレーションを行う回路シミュレーション部１２０と、前記特性データベースに格納されているデータ及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、指定された素子特性の推定値を算出する特性推定値算出部１３０と、前記特性推定値算出部１３０によって算出された推定値と、前記回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果に基づいて、前記指定された素子特性についての特性乖離情報を出力する特性乖離情報出力部１５０とを備える。【選択図】図１
2010272020.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
素子特性の測定データが、測定時の条件と対応付けられて格納されている特性データベースと、
設計対象回路の回路シミュレーションを行う回路シミュレーション部と、
前記特性データベースに格納されているデータ及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、指定された素子特性の推定値を算出する特性推定値算出部と、
前記特性推定値算出部によって算出された推定値と、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記指定された素子特性についての特性乖離情報を出力する特性乖離情報出力部と
を備えることを特徴とする回路設計支援装置。
【請求項２】
前記特性推定値算出部は、指定された条件に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の回路設計支援装置。
【請求項３】
前記特性推定値算出部は、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の回路設計支援装置。
【請求項４】
前記特性推定値算出部は、指定された条件及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件及び前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項１に記載の回路設計支援装置。
【請求項５】
前記特性乖離情報出力部は、前記推定値と前記シミュレーション結果との誤差を計算して、特性乖離情報として出力する
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の回路設計支援装置。
【請求項６】
前記特性乖離情報出力部は、前記推定値及び前記シミュレーション結果を、特性乖離情報として出力する
ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の回路設計支援装置。
【請求項７】
回路設計を支援するためのプログラムであって、素子特性の測定データが、測定時の条件と対応付けられて格納されている特性データベースを備えたコンピュータを、
設計対象回路の回路シミュレーションを行う回路シミュレーション部、
前記特性データベースに格納されている測定データ及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、指定された素子特性の推定値を算出する特性推定値算出部、及び、
前記特性推定値算出部によって算出された推定値と、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記指定された素子特性についての特性乖離情報を出力する特性乖離情報出力部
として機能させるためのプログラム。
【請求項８】
前記特性推定値算出部は、指定された条件に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項７に記載のプログラム。
【請求項９】
前記特性推定値算出部は、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項７に記載のプログラム。
【請求項１０】
前記特性推定値算出部は、指定された条件及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件及び前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出する
ことを特徴とする請求項７に記載のプログラム。
【請求項１１】
前記特性乖離情報出力部は、前記推定値と前記シミュレーション結果との誤差を計算して、特性乖離情報として出力する
ことを特徴とする請求項７〜１０のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１２】
前記特性乖離情報出力部は、前記推定値及び前記シミュレーション結果を、特性乖離情報として出力する
ことを特徴とする請求項７〜１０のいずれか一項に記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路の回路設計を支援する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、半導体集積回路の回路設計では、ＳＰＩＣＥ（Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis）系回路シミュレータが一般に利用されている。
【０００３】
ＳＰＩＣＥ系回路シミュレータを用いた回路設計においては、シミュレーションに使用する各素子のモデル精度が、回路の設計精度に大きく影響することになる。現状では、そのモデル精度が実素子の特性に追随しないことが原因となって、設計段階では仕様を満足していても、試作品では仕様を満足しなくなることが少なくない。その結果、試作を繰り返しながら製品化することにもなっている。
【０００４】
各素子のモデルの中でも、ＭＯＳＦＥＴは、回路中において様々なジオメトリ（寸法やマルチフィンガー等のレイアウト構造）やバイアスで使用されており、回路設計精度に大きな影響を与えることになる。そのため、ＭＯＳＦＥＴのモデル精度を向上させるため、新規モデルの開発等が活発に行われている。しかしながら、あらゆる回路条件と要求される素子特性に対して、実素子とモデルの乖離をゼロにすることは実際問題としては不可能である。そのため、ＳＰＩＣＥ系回路シミュレーションで得られた回路特性のシミュレーション結果と実回路での回路特性に乖離が生じることとなり、この点が、ＳＰＩＣＥ系回路シミュレーションに基づいた回路設計の障害となっている。
【０００５】
なお、特開２００４−８６５４６号公報には、従来の回路シミュレーションでは考慮されていなかった電子素子に加わる応力の影響をパラメータに加味することにより、精度の向上を図った回路シミュレーション方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−８６５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は、実素子とモデルとの特性乖離情報を提供する回路設計支援装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る回路設計支援装置は、素子特性の測定データが、測定時の条件と対応付けられて格納されている特性データベースと、設計対象回路の回路シミュレーションを行う回路シミュレーション部と、前記特性データベースに格納されているデータ及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、指定された素子特性の推定値を算出する特性推定値算出部と、前記特性推定値算出部によって算出された推定値と、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記指定された素子特性についての特性乖離情報を出力する特性乖離情報出力部とを備えることを特徴とする。
【０００９】
この場合において、前記特性推定値算出部は、指定された条件に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよいし、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよいし、指定された条件及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件及び前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよい。
【００１０】
以上の場合において、前記特性乖離情報出力部は、前記推定値と前記シミュレーション結果との誤差を計算して、特性乖離情報として出力するようにしてもよいし、前記推定値及び前記シミュレーション結果を、特性乖離情報として出力するようにしてもよい。
【００１１】
本発明に係るプログラムは、回路設計を支援するためのプログラムであって、素子特性の測定データが、測定時の条件と対応付けられて格納されている特性データベースを備えたコンピュータを、設計対象回路の回路シミュレーションを行う回路シミュレーション部、前記特性データベースに格納されている測定データ及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、指定された素子特性の推定値を算出する特性推定値算出部、及び、前記特性推定値算出部によって算出された推定値と、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記指定された素子特性についての特性乖離情報を出力する特性乖離情報出力部として機能させるためのプログラムである。
【００１２】
この場合において、前記特性推定値算出部は、指定された条件に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよいし、前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよいし、指定された条件及び前記回路シミュレーション部によるシミュレーション結果に基づいて、前記特性データベースから、前記指定された条件及び前記シミュレーション結果近傍の複数の条件における複数の測定データを取得し、当該複数の測定データについて内挿法又は外挿法を用いることにより、指定された素子特性の推定値を算出するようにしてもよい。
【００１３】
また、上記プログラムにおいて、前記特性乖離情報出力部は、前記推定値と前記シミュレーション結果との誤差を計算して、特性乖離情報として出力するようにしてもよいし、前記推定値及び前記シミュレーション結果を、特性乖離情報として出力するようにしてもよい。
【００１４】
なお、上記プログラムは、光ディスク（例えば、ＣＤ−ＲＯＭやＤＶＤ−ＲＯＭ）等の可搬記録媒体や、各種ネットワークを介して頒布することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、実素子とモデルとの特性乖離情報が提供されるので、回路設計者等は、当該特性乖離情報に基づいて、設計対象となる回路の回路定数やジオメオリやトポロジ等の変更を行うことが可能となり、実動作において仕様を満足する回路の設計が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明による回路設計支援装置の機能構成を示す図である。
【図２】本発明による回路設計支援装置における処理の流れを説明するためのフローチャートである。
【図３】設計対象回路の例を示す図である。
【図４】ＴＥＧ（Test Element Group）として用意されている寸法（チャネル幅Ｗ及びチャネル長Ｌ）の例を示す図である。
【図５】寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）における電流電圧データの例を示すグラフである。
【図６】寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）における電流電圧データの例を示すグラフである。
【図７】寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）及び（Ｗｙ／Ｌｙ）について求められた電流値から、寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求める方法を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明による回路設計支援装置の機能構成を示す図である。本発明による回路設計支援装置は、ハードウェアとしてのワークステーションその他のコンピュータと、当該コンピュータ上で動作するソフトウェアとしてのプログラムによって構成される。ハードウェアとしてのコンピュータは、ＣＰＵ（中央処理装置）、メインメモリ（主記憶装置）、ハードディスク装置（補助記憶装置）、入力装置、出力装置等を備える。入力装置は、例えば、キーボードや、マウスその他のポインティングデバイス等によって構成され、出力装置は、例えば、ＣＲＴ表示装置やＬＣＤ表示装置等の表示装置、レーザプリンタやインクジェットプリンタ等の印刷装置等によって構成される。
【００１９】
同図に示すように、本発明による回路設計支援装置１００は、特性データベース１１０と、回路シミュレーション部１２０と、特性推定値算出部１３０と、入力部１４０と、特性乖離情報出力部１５０とを備える。各部１２０〜１５０の機能は、基本的に、回路設計支援装置１００を構成するコンピュータにおいて、ＣＰＵが、メインメモリにロードされたプログラムを実行することによって実現される。
【００２０】
特性データベース１１０は、半導体メーカ等によって測定されたＴＥＧ（Test Element Group）の素子特性の測定値から構築されるものであり、回路設計支援装置１００を構成するコンピュータが備えるハードディスク装置に格納される。
【００２１】
半導体を開発・製造する企業では、ＳＰＩＣＥ系回路シミュレータ用に、ＭＯＳＦＥＴ等の素子のＳＰＩＣＥモデルを作成して提供しているが、そのＳＰＩＣＥモデルを作成するため、対象となる半導体プロセスについて、所定のＴＥＧを用意して、その素子特性（電流電圧特性、容量特性、周波数特性、温度特性等）を測定している。なお、ＴＥＧは、通常、いくつかの代表的な寸法で構成されており、実際に回路に使用される全ての寸法及び構造について用意されることはない。また、バイアスや温度等の条件についても、代表的な値で測定がされており、回路が使用されるすべての条件で測定されることはない。
【００２２】
特性データベース１１０では、ＴＥＧの素子特性（電流電圧特性、容量特性、周波数特性、温度特性等）を測定した際の条件（素子の寸法、フィンガー数、素子並列数、バイアス、温度等）と、ＴＥＧの素子特性の測定値とが、適宜対応付けられて格納されている。
【００２３】
回路シミュレーション部１２０は、通常のＳＰＩＣＥ系回路シミュレータと同様の機能を有するものであり、その内部に、シミュレーション用のモデルライブラリを有している。また、回路シミュレーション部１２０に対しては、入力部１４０を介して、回路設計者が指定した回路条件（回路ネットリスト、寸法、フィンガー構造、素子並列数、バイアス条件など）が予め与えられている。
【００２４】
特性推定値算出部１３０は、特性データベース１１０に格納されたデータ及び回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果に基づいて、素子特性の推定値（特性推定値）を算出するものである。特性推定値算出部１３０は、回路設計者が指定した回路条件（回路ネットリスト、寸法、フィンガー構造、素子並列数、バイアス条件など）に応じた素子特性（電流、相互コンダクタンス、オン抵抗、出力抵抗、出力コンダクタンス、歪み、容量、遅延時間、周波数特性、雑音特性など）を、特性データベース１１０に格納されたデータ及び回路シミュレーション部１２０のシミュレーション結果から、内挿法と外挿法により計算する。特性推定値算出部１３０によって算出される特性推定値は、一般に、ＳＰＩＣＥ系シミュレータの計算結果よりも更に実物の素子特性に近いものとなる。
【００２５】
入力部１４０は、回路設計支援装置１００を構成するコンピュータが備える入力装置を介して、回路設計支援装置１００に対するユーザの指示や必要なデータ等を入力するためのものである。
【００２６】
特性乖離情報出力部１５０は、特性推定値算出部１３０による算出結果及び回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果から特性乖離情報を求めて、当該特性乖離情報を回路設計支援装置１００を構成するコンピュータが備える出力装置を介して外部に出力するものである。例えば、回路設計支援装置１００を構成するコンピュータにおいて、表示装置の画面に特性乖離情報を表示させたり、印刷装置を介して、特性乖離情報を用紙に印刷したりする。特性乖離情報の出力形式としては、例えば、特性推定値算出部１３０による算出結果（推定値）と、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果（シミュレーション値）との誤差を、推定値及びシミュレーション値の両方あるいはいずれか一方と共に表示等することや、（誤差を表示等することなく）推定値とシミュレーション値とを並べて表示等することが考えられる。また、特性乖離情報を出力する際、推定値とシミュレーション値との乖離が予め定められた値より大きいものについては、目立つように、他のものと区別が付くような態様で（例えば、色を変えて）表示等することも考えられる。
【００２７】
図２は、回路設計支援装置１００における処理の流れを説明するためのフローチャートである。
【００２８】
同図に示すように、まず、ユーザ（回路設計者等）によって、入力部１４０を介して、特性乖離情報の出力対象とする素子特性が指定される（Ｓ２０１）。例えば、ユーザは、電流、相互コンダクタンス、オン抵抗、出力抵抗、出力コンダクタンス、歪み、容量、遅延時間、周波数特性、雑音特性などの中から、実素子とモデルとの誤差を確認したい特性を指定する。
【００２９】
次に、ユーザによって、入力部１４０を介して、特性乖離情報の出力対象とする素子（対象素子）が指定される（Ｓ２０２）。この時、ユーザは、必要に応じて、設計対象回路を構成するすべての素子を指定することもできるし、設計対象回路を構成する一部（例えば、一つ）の素子を指定することもできる。
【００３０】
次に、回路シミュレーション部１２０によって、予めユーザによって指定された回路条件（回路ネットリスト、寸法、フィンガー数、素子並列数、バイアス条件等）において、ユーザによって指定された対象素子について、ユーザによって指定された素子特性のシミュレーションが実行される（Ｓ２０３）。
【００３１】
次に、特性推定値算出部１３０によって、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果、及び、特性データベース１１０に格納されたデータに基づいて、ユーザが指定した素子特性の推定値が算出される（Ｓ２０４）。例えば、まず、ユーザによって指定された条件（例えば、特定の設計寸法）近傍の条件の測定値を、複数（少なくとも２つ）の条件（例えば、２つのＴＥＧ寸法）について、特性データベース１１０から取得し、取得された複数の条件（例えば、２つのＴＥＧ寸法）における測定値に関して内挿法及び外挿法を用いることにより、ユーザによって指定された条件（例えば、特定の設計寸法）における素子特性（特性推定値）を算出する。
【００３２】
次に、特性乖離情報出力部１５０によって、特性乖離情報が出力される（Ｓ２０５）。例えば、ユーザが指定した素子特性について、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果（シミュレーション値）と、特性推定値算出部１３０による算出結果（推定値）との差（誤差値）が求められ、ユーザが指定した素子の素子特性についてのシミュレーション値と推定値と誤差値とが並んで、表示装置の画面に表示される。
【００３３】
次に、回路設計支援装置１００の動作について具体例に基づいて説明する。
【００３４】
図３は、設計対象となる回路の例を示す図である。ここでは、同図に示した回路を構成する素子３０１のドレイン電流の特性乖離情報を出力する場合について説明する。
【００３５】
図４は、ＴＥＧとして用意されている寸法（チャネル幅Ｗ及びチャネル長Ｌ）の例を示す図である。同図において黒丸で示されている寸法（Ｗ／Ｌ）がＴＥＧとして用意されている寸法であって、これらの寸法について各種素子特性が測定されている。また、同図において星印で示されている寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）が回路設計者が指定した寸法である。寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）は、例えば、回路ネットリスト中で指定されている。
【００３６】
図３に示した回路の回路設計者が、回路設計支援装置１００を利用して、素子３０１のドレイン電流について特性乖離情報を確認しようとする場合、まず、回路設計者は、入力部１４０を介して、特性乖離情報の出力対象とする素子特性として、ドレイン電流を指定すると共に（Ｓ２０１）、特性乖離情報の出力対象とする素子として、素子３０１を指定する（Ｓ２０２）。
【００３７】
以上のようにして、特性乖離情報の出力対象が特定されると、次に、回路シミュレーション部１２０が、図３に示した回路について回路シミュレーションを実行する（Ｓ２０３）。その結果、素子３０１の電圧（Ｖｄ，Ｖｇ，Ｖｓ）とドレイン電流（Id_SPICE）のシミュレーション結果が得られ、ノード電位差（Ｖｇｓ＝Ｖｇ−Ｖｓ，Ｖｄｓ＝Ｖｄ−Ｖｓ）が計算される。
【００３８】
次に、特性推定値算出部１３０が、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果、及び、特性データベース１１０に格納されたデータに基づいて、素子３０１のドレイン電流の推定値を算出する（Ｓ２０４）。そのため、まず、特性推定値算出部１３０は、特性データベース１１０を検索して、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）に近いＴＥＧ寸法を見つけ出す。例えば、図４に示した例では、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）４０１は、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）４０２と寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）４０３の中間に位置しているので、この２つの寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）が、特性推定値算出部１３０によって、ユーザが指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）に近いＴＥＧ寸法として見つけ出される。
【００３９】
次に、特性推定値算出部１３０は、見つかった２つの寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）のそれぞれについての電流電圧データを、特性データベース１１０から取得する。この時、特性推定値算出部１３０は、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓ近傍の電流電圧データを、特性データベース１１０から取得する。例えば、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓが１．８Ｖであり、特性データベース１１０には、各寸法について、Ｖｇｓ＝０〜５Ｖまで１Ｖ刻みに電流電圧データが格納されているとすると、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓ（＝１．８Ｖ）近傍の電流電圧データとして、Ｖｇｓ＝１Ｖの時の電流電圧データとＶｇｓ＝２Ｖの時の電流電圧データとが、特性データベース１１０から取得される。
【００４０】
図５及び図６は、特性データベース１１０から取得される電流電圧データの例を示すグラフである。図５は、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）における電流電圧データの例を示しており、点列５０１がＶｇｓ＝１Ｖの時の電流電圧データを示し、点列５０２がＶｇｓ＝２Ｖの時の電流電圧データを示している。同様に、図６は、寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）における電流電圧データの例を示しており、点列６０１がＶｇｓ＝１Ｖの時の電流電圧データを示し、点列６０２がＶｇｓ＝２Ｖの時の電流電圧データを示している。なお、図５及び図６において実線で示したグラフは、ＳＰＩＣＥ系シミュレータのシミュレーション結果を示している。図５及び図６に示されているように、シミュレーション結果と実測値との間には乖離が生じている。
【００４１】
次に、特性推定値算出部１３０は、２つの寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）のそれぞれについて、特性データベース１１０から取得された電流電圧データから、回路シミュレーション部１２０によるシミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｄｓにおける電流値を生成する。例えば、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｄｓが２．５Ｖであるとすると、特性データベース１１０から取得されたＶｇｓ＝１Ｖの時の電流電圧データ及びＶｇｓ＝２Ｖの時の電流電圧データのそれぞれから、Ｖｄｓ＝２．５Ｖの時の電流値を、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について、内挿法等により求める。
【００４２】
次に、特性推定値算出部１３０は、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について生成された電流値から、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求める。
【００４３】
図７は、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について生成された電流値から、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求める方法を説明するための図である。同図における丸印７０１及び７０２はそれぞれ、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）におけるＶｇｓ＝１Ｖ及びＶｇｓ＝２Ｖの時の電流値を示し、丸印７０３及び７０４はそれぞれ、寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）におけるＶｇｓ＝１Ｖ及びＶｇｓ＝２Ｖの時の電流値を示している。
【００４４】
特性推定値算出部１３０は、まず、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について生成された電流値７０１〜７０４から、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓ＝１．８Ｖにおける電流値を求める。すなわち、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）について生成された電流値７０１及び７０２を線形補間することにより、Ｖｇｓ＝１．８Ｖにおける電流値７１１を求め、寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）について生成された電流値７０３及び７０４を線形補間することにより、Ｖｇｓ＝１．８Ｖにおける電流値７１２を求める。
【００４５】
次に、特性推定値算出部１３０は、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）について求められた電流値７１１と、寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）について求められた電流値７１２とから、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求める。例えば、図４に示した例では、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）４０１は、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）４０２と寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）４０３との中間に位置していることから、寸法（Ｗｘ／Ｌｘ）について求められた電流値７１１と、寸法（Ｗｙ／Ｌｙ）について求められた電流値７１２との中間値を、寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値７１３として求める。
【００４６】
なお、ここでは、まず、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓ＝１．８Ｖにおける電流値を求め、各寸法（Ｗｘ／Ｌｘ），（Ｗｙ／Ｌｙ）について求められた電流値から、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求めるようにしていたが、まず、Ｖｇｓ＝１Ｖの時及びＶｇｓ＝２Ｖの時のそれぞれについて、回路設計者が指定した寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を求め、Ｖｇｓ＝１Ｖの時及びＶｇｓ＝２Ｖの時のそれぞれについて求められた寸法（Ｗｚ／Ｌｚ）における電流値を線形補間することにより、シミュレーション結果から得られたノード電位差Ｖｇｓ＝１．８Ｖにおける電流値を求めるようにしてもよい。
【００４７】
以上のようにして、特性推定値算出部１３０によってドレイン電流の推定値が算出されると、次に、特性乖離情報出力部１５０によって、算出された推定値と、シミュレーション値との差が計算され、特性乖離情報として、シミュレーション値及び推定値と共に、回路設計支援装置１００が備える表示装置の画面に表示等される（Ｓ２０５）。
【００４８】
以上述べたように、本発明による回路設計支援装置１００によれば、表示装置の画面等に、ユーザが指定した素子について、実素子の特性とシミュレーション結果との乖離（誤差）を示す特性乖離情報が提示されるので、回路設計者は、提示された特性乖離情報を参考に、設計対象となる回路の回路定数や、ジオメトリや、トポロジ等を変更することが可能となり、試作を無駄に繰り返すことなく、所望の特性を有する回路を設計することが可能となる。
【符号の説明】
【００４９】
１００    回路設計支援装置
１１０    特性データベース
１２０    回路シミュレーション部
１３０    特性推定値算出部
１４０    入力部
１５０    特性乖離情報出力部
３０１    特性乖離情報の出力対象素子
４０１    回路設計者が指定した寸法（設計寸法）
４０２，４０３    ＴＥＧ寸法
５０１，５０２，６０１，６０２    電流電圧データ
７０１〜７０４，７１１〜７１３    電流値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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