(57)【要約】【課題】電気光学装置の検査に必要な回路の規模を縮小する。【解決手段】複数の画素回路ＰXは、Ｍ本の走査線２２とＮ本の信号線２４との各交差に対応して配置され、走査線２２の選択時に信号線２４に供給される階調信号Ｘ[n]に応じた階調に制御される。走査線駆動回路３２は、各走査線２２の選択／非選択を指示する走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]を各走査線２２に出力する。検査回路４４は、信号線２４毎に配置されたＮ個のスイッチＱを含む。Ｎ個のスイッチＱは、Ｋ本の検査線５２[1]〜５２[K]に対応するＫ個毎に複数のブロックＢに区分される。ブロックＢ内の各スイッチＱ[k]は、検査線５２[k}と信号線２４との間に介在し、Ｎ個のスイッチＱは、ブロックＢ毎に相異なる走査信号Ｙ[m]に応じてオン状態またはオフ状態に制御される。【選択図】図１
2010271351.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、前記走査線の選択時に前記信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、
前記走査線の選択／非選択を指示する走査信号を前記各走査線に出力する走査線駆動回路と、
Ｋ本（Ｋは自然数）の検査線と、
前記信号線毎に配置された複数の第１スイッチとを具備し、
前記Ｋ本の検査線に対応するＫ個毎に前記複数の第１スイッチを区分した各ブロックの前記Ｋ個の第１スイッチの各々は、当該第１スイッチに対応する前記検査線と前記信号線との間に介在し、
前記複数の第１スイッチは、前記ブロック毎に相異なる前記走査信号に応じてオン状態またはオフ状態に制御される
電気光学装置。
【請求項２】
前記信号線毎に配置されるとともに共通の制御信号に応じてオン状態またはオフ状態に制御される複数の第２スイッチを具備し、
前記複数の第２スイッチの各々は、当該第２スイッチに対応する前記信号線と、前記第１スイッチを介して当該信号線に接続される検査線との間に介在する
請求項１の電気光学装置。
【請求項３】
前記複数の信号線の各々にプリチャージ電位を供給するプリチャージ回路を具備する
請求項１または請求項２の電気光学装置。
【請求項４】
前記各ブロックのＫ個の第１スイッチのゲートを前記走査線に接続する制御線に平面視で重なるように形成された遮光層
を具備する請求項１から請求項３の何れかの電気光学装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４の何れかの電気光学装置を具備する電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光装置や液晶装置などの電気光学装置を検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電気光学装置を検査する技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、階調信号を各画素回路に供給する複数の信号線の各々と検査線との間に検査用スイッチを介在させた電気光学装置が開示されている。各検査用スイッチは、シフトレジスタ回路を含む検査回路からの出力信号に応じて順番にオン状態に制御される。したがって、各信号線の電位が時分割で検査線に出力される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１４５２２４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の技術においては、各検査用スイッチを順次にオン状態に制御するための検査回路を、画素回路を駆動するための駆動回路（走査線駆動回路や信号線駆動回路）とは別個に配置する必要がある。したがって、額縁領域（表示領域の周辺の領域）の拡大や製造コストの増加といった問題が発生し得る。以上の事情を考慮して、本発明は、電気光学装置の検査に必要な回路の規模を縮小することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、走査線の選択時に信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、走査線の選択／非選択を指示する走査信号を各走査線に出力する走査線駆動回路と、Ｋ本（Ｋは自然数）の検査線と、信号線毎に配置された複数の第１スイッチ（例えば図１や図５のスイッチＱ）とを具備し、Ｋ本の検査線に対応するＫ個毎に複数の第１スイッチを区分した各ブロックのＫ個の第１スイッチの各々は、当該第１スイッチに対応する検査線と信号線との間に介在し、複数の第１スイッチは、ブロック毎に相異なる走査信号に応じてオン状態またはオフ状態に制御される。
【０００６】
以上の構成においては、電気光学素子の駆動時に走査線を選択するための走査信号が各ブロックのＫ個の第１スイッチの制御に兼用されるから、複数の第１スイッチを制御する回路を電気光学素子の駆動回路（例えば走査線駆動回路）から独立して配置する必要はない。したがって、特許文献１の構成と比較して、電気光学装置の検査に必要な回路の規模が縮小されるという利点がある。
【０００７】
本発明の好適な態様に係る電気光学装置は、信号線毎に配置されるとともに共通の制御信号に応じてオン状態またはオフ状態に制御される複数の第２スイッチ（例えば図１や図５のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]）を具備し、複数の第２スイッチの各々は、当該第２スイッチに対応する信号線と、第１スイッチを介して当該信号線に接続される検査線との間に介在する。以上の態様においては、第２スイッチをオフ状態に制御することで信号線と検査線とが電気的に絶縁されるから、電気光学素子の駆動時の走査信号に応じて第１スイッチがオン状態に遷移した場合でも、信号線に付随する容量を低減することが可能である。したがって、階調信号の波形の歪みや遅延が抑制されるという利点がある。
【０００８】
本発明の好適な態様に係る電気光学装置は、複数の信号線の各々にプリチャージ電位を供給するプリチャージ回路を具備する。以上の態様においては、電気光学装置の検査時には第１スイッチや検査線を介して信号線のプリチャージ電位を検出することで信号線の不良（断線や短絡）を検査でき、電気光学素子の駆動時には画素回路に対する階調信号の供給前に信号線にプリチャージ電位を供給（プリチャージ）することで、電気光学素子の階調を高精度に制御できるという利点がある。
【０００９】
本発明の好適な態様に係る電気光学装置は、各ブロックのＫ個の第１スイッチのゲートを走査線に接続する制御線（例えば図１の制御線５４[1]〜５４[M]）に平面視で重なるように形成された遮光層（例えば図６の遮光層８０）を具備する。以上の態様においては、制御線の表面における光反射が抑制されるから、制御線に起因した表示品位の低下が抑制されるという利点がある。
【００１０】
本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。電子機器の典型例は、電気光学装置を表示装置として利用した機器である。本発明に係る電子機器としてはパーソナルコンピュータや携帯電話機が例示される。もっとも、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成するための露光装置（光ヘッド）としても本発明の電気光学装置が適用される。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係る電気光学装置のブロック図である。
【図２】画素回路の回路図である。
【図３】信号線の検査時における電気光学装置の動作のタイミングチャートである。
【図４】画像の表示時における電気光学装置の動作のタイミングチャートである。
【図５】変形例に係る電気光学装置のブロック図である。
【図６】変形例に係る電気光学装置の模式図である。
【図７】電子機器の形態（パーソナルコンピュータ）を示す斜視図である。
【図８】電子機器の形態（携帯電話機）を示す斜視図である。
【図９】電子機器の形態（携帯情報端末）を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図１は、本発明の実施形態に係る電気光学装置１００のブロック図である。図１に示すように、電気光学装置１００は、画像が表示される素子部（表示領域）１０を具備する。素子部１０は、基板２０の面上に形成された複数の画素回路ＰXを含んで構成される。基板２０の面上には、Ｘ方向に延在するＭ本の走査線２２と、Ｘ方向に交差するＹ方向に延在するＮ本の信号線２４とが形成される（Ｍ，Ｎは自然数）。複数の画素回路ＰXは、各走査線２２と各信号線２４との交差に対応して縦Ｍ行×横Ｎ列の行列状に配列される。
【００１３】
図２は、画素回路ＰXの回路図である。図２に示すように、画素回路ＰXは、発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRと選択スイッチＴSLと保持容量Ｃとを含んで構成される。発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRとは電源線間に直列に接続される。発光素子Ｅは、例えば、相対向する陽極と陰極との間に有機ＥＬ（Electroluminescence）材料の発光層を介在させた有機ＥＬ素子である。発光素子Ｅは、駆動電流ＩDRの電流値に応じた輝度で発光する。
【００１４】
駆動トランジスタＴDRは、自身のゲートの電位に応じて駆動電流ＩDRの電流値を制御するトランジスタ（例えば薄膜トランジスタ）である。保持容量Ｃは、駆動トランジスタＴDRのゲートの電位を保持する。第ｎ列（ｎ＝１〜Ｎ）のＭ個の画素回路ＰXの各々の選択スイッチＴSLは、駆動トランジスタＴDRのゲートと第ｎ列の信号線２４との間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御する。第ｍ行（ｍ＝１〜Ｍ）のＮ個の画素回路ＰXの各々の選択スイッチＴSLは、第ｍ行の走査線２２に対して共通に接続される。
【００１５】
図１に示すように、素子部１０の周辺には、走査線駆動回路３２と信号線駆動回路３４とプリチャージ回路４２と検査回路４４とが設置される。以上の各回路は、制御回路７０による制御のもとに動作する。なお、基板２０に接合された配線基板に走査線駆動回路３２や信号線駆動回路３４を実装した構成も採用され得る。プリチャージ回路４２および検査回路４４は、各画素回路ＰXとともに基板２０の面上に形成された能動素子（例えば薄膜トランジスタ）で構成される。
【００１６】
走査線駆動回路３２は、制御回路７０による制御のもとに走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]を生成して各走査線２２に出力する。第ｍ行の走査線２２に出力される走査信号Ｙ[m]は、第ｍ行の走査線２２の選択／非選択を指示する電圧信号である。図３や図４に示すように、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]は所定の順番で順次にアクティブレベル（走査線２２の選択を意味するレベル）に設定される。走査線駆動回路３２は、例えば、クロック信号ＣLに同期して開始パルスＳPを順次にシフトするシフトレジスタ回路を含んで構成される。
【００１７】
図１の信号線駆動回路３４は、制御回路７０による制御のもとに、走査線駆動回路３２による走査線２２の選択に同期して各信号線２４に階調信号Ｘ[1]〜Ｘ[N]を出力する。走査線駆動回路３２による第ｍ行の選択中に第ｎ列（ｎ＝１〜Ｎ）の信号線２４に出力される階調信号Ｘ[n]は、第ｍ行の第ｎ列目に位置する画素回路ＰXに指定された階調に応じたレベル（電圧）に設定される。走査線２２の選択で選択スイッチＴSLはオン状態に遷移するから、信号線２４に供給されている階調信号Ｘ[n]が選択スイッチＴSLを経由して駆動トランジスタＴDRのゲートに供給される。したがって、発光素子Ｅは、走査線２２の選択時に信号線２４に供給されている階調信号Ｘ[n]に応じた階調（輝度）に制御される。
【００１８】
プリチャージ回路４２は、所定のプリチャージ電位ＶPREを各信号線２４に供給する。図１に示すように、プリチャージ回路４２は、各信号線２４に対応するＮ個のスイッチＰ[1]〜Ｐ[N]で構成される。第ｎ番目のスイッチＰ[n]は、プリチャージ電位ＶPREが供給される給電線４６と第ｎ列の信号線２４との間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御する。Ｎ個のスイッチＰ[1]〜Ｐ[N]のゲートには共通の制御信号ＧPREが制御回路７０から供給される。
【００１９】
図１の検査回路４４は、各信号線２４の断線や短絡の検査に利用される検査信号ＳCK[1]〜ＳCK[K]を基板２０の面上のＫ本の検査線５２[1]〜５２[K]に出力する。図１に示すように、検査回路４４は、各信号線２４に対応するＮ個のスイッチＱ（Ｑ[1]，Ｑ[2]，……）とＮ個のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]とを含んで構成される。Ｎ個のスイッチＱは、相隣接するＫ個（検査線５２[1]〜５２[K]の本数に相当する個数）を単位としてＭ個（Ｍ＝Ｎ／Ｋ）のブロックＢ[1]〜Ｂ[M]に区分される。第ｍ番目のブロックＢ[m]における第ｋ番目（ｋ＝１〜Ｋ）のスイッチＱ[k]は、当該スイッチＱ[k]に対応する信号線２４と第ｋ番目の検査線５２[k]との間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御する。
【００２０】
基板２０の面上にはＭ本の制御線５４[1]〜５４[M]が形成される。第ｍ番目のブロックＢ[m]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]のゲートは、制御線５４[m]を介して第ｍ行の走査線２２に共通に接続される。したがって、各ブロックＢ[m]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]は、当該ブロックＢ[m]に対応する走査信号Ｙ[m]に応じて共通の状態（オン状態／オフ状態）に制御される。各ブロックＢ[m]内のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]のゲートが接続される走査線２２はブロックＢ[m]毎に相違する。例えば、図１に示すように、ブロックＢ[1]のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]のゲートは制御線５４[1]を介して第１行の走査線２２に接続され、ブロックＢ[2]のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]のゲートは制御線５４[2]を介して第２行の走査線２２に接続される。
【００２１】
検査回路４４のＮ個のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]のゲートには制御回路７０から共通の制御信号ＧCKが供給される。ブロックＢ[m]のスイッチＱ[k]に対応する第ｎ番目のスイッチＲ[n]は、第ｎ列の信号線２４と検査線５２[k]（スイッチＱ[k]を介して第ｎ列の信号線２４に接続される検査線５２[k]）との間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御する。なお、スイッチＱ[k]と検査線５２[k]との間にスイッチＲ[n]が介在する構成を図１では例示したが、第ｎ列の信号線２４とスイッチＱ[k]との間にスイッチＲ[n]が介在する構成も採用される。
【００２２】
図３は、信号線２４の検査時における電気光学装置１００の動作のタイミングチャートである。信号線２４の検査は、例えば、電気光学装置１００の完成後（発光素子Ｅの形成後）や発光素子Ｅの形成の直前に実行される。信号線２４の検査が指示されると、制御回路７０は、図３に示すように、制御信号ＧPREをアクティブレベル（ハイレベル）に設定することでプリチャージ回路４２のＮ個のスイッチＰ[1]〜Ｐ[N]をオン状態に制御する。したがって、Ｎ本の信号線２４の各々にはスイッチＰ[1]〜Ｐ[N]を介して給電線４６の共通のプリチャージ電位ＶPREが供給される。また、制御回路７０は、図３に示すように、制御信号ＧCKをアクティブレベル（ハイレベル）に設定することで検査回路４４のＮ個のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]をオン状態に制御する。
【００２３】
そして、制御回路７０は、走査線駆動回路３２に開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLを供給する。したがって、図３に示すように、走査線駆動回路３２から出力される走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]が順次にアクティブレベルに遷移する。第ｍ行の走査線２２を介して制御線５４[m]に供給される走査信号Ｙ[m]がアクティブレベルに遷移すると、ブロックＢ[m]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]が同時にオン状態に遷移する。したがって、ブロックＢ[m]のスイッチＱ[k]と当該スイッチＱ[k]に対応するスイッチＲ[n]とを介して、第ｎ列の信号線２４の電位が検査信号ＳCK[k]として検査線５２[k]に出力される。すなわち、図３に示すように、ブロックＢ[m]に対応するＫ本の信号線２４の各々の電位が検査信号ＳCK[1]〜ＳCK[K]としてＫ本の検査線５２[1]〜５２[K]に並列に出力される。走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]の各々がアクティブレベルに遷移するたびに以上の動作が実行されるから、検査線５２[k]に出力される検査信号ＳCK[k]は、図３に示すように、Ｍ個のブロックＢ[1]〜Ｂ[M]の各々における第ｋ番目のスイッチＱ[k]に対応する信号線２４の電位に時分割で設定される。
【００２４】
検査線５２[1]〜５２[K]の各々（基板２０の周縁の各端子Ｔ）から検出される検査信号ＳCK[1]〜ＳCK[K]の電位とプリチャージ電位ＶPREとの比較に応じて各信号線２４における不良（短絡や断線）の有無が判定される。例えば、走査信号Ｙ[m]がアクティブレベルに設定される期間内の検査信号ＳCK[k]の電位とプリチャージ電位ＶPREとの差異が大きい場合には、ブロックＢ[m]のスイッチＱ[k]に対応する信号線２４に短絡や断線が発生していると判定され、検査信号ＳCK[k]の電位とプリチャージ電位ＶPREとの差異が小さい場合（例えば両者が一致する場合）には信号線２４に短絡や断線が発生していないと判定される。
【００２５】
次に、図４は、画像の表示時（通常の使用時）における電気光学装置１００の動作のタイミングチャートである。図４に示すように、制御回路７０は、制御信号ＧCKを非アクティブレベル（ローレベル）に設定することで検査回路４４のＮ個のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]をオフ状態に制御する。したがって、画像の表示時には各信号線２４が検査線５２[k]から電気的に絶縁される。
【００２６】
図４に示すように、制御回路７０は、各走査線２２の選択前の各期間にて制御信号ＧPREをアクティブレベル（ハイレベル）に設定する。したがって、Ｎ本の信号線２４の電位は給電線４６のプリチャージ電位ＶPREに初期化（プリチャージ）される。他方、制御回路７０は、走査信号Ｙ[m]がアクティブレベルに設定される期間内にて制御信号ＧPREを非アクティブレベル（ローレベル）に設定することで、プリチャージ回路４２のＮ個のスイッチＰ[1]〜Ｐ[N]をオフ状態に制御する。したがって、第ｍ行の第ｎ列の画素回路ＰXには、信号線駆動回路３４から信号線２４を介して階調信号Ｘ[n]が供給される。以上のように階調信号Ｘ[1]〜Ｘ[N]が各画素回路ＰXに供給されることで、素子部１０には所望の画像が表示される。階調信号Ｘ[n]の出力前にプリチャージ電位ＶPREが信号線２４に供給されるから、信号線２４に寄生する容量が大きい場合でも発光素子Ｅの階調を高精度に制御できるという利点がある。
【００２７】
以上の説明のように、図１の形態においては、画像の表示時に走査線２２を選択するための走査信号Ｙ[m]が各ブロックＢ[m]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]の制御に兼用されるから、スイッチＱを制御する回路（例えばＮ個のスイッチＱを順番にオン状態にするシフトレジスタ回路）を走査線駆動回路３２や信号線駆動回路３４から独立して設置する必要はない。したがって、特許文献１の技術と比較して、検査に必要な回路の規模が縮小される（さらには素子部１０の周辺の額縁領域が縮小され、製造コストが低減される）という利点がある。
【００２８】
なお、プリチャージ電位ＶPREは任意に選定され得る。例えば、駆動トランジスタＴDRのゲートに供給されたときに駆動トランジスタＴDRがオン状態に遷移するようにプリチャージ電位ＶPREを選定した構成では、電気光学装置１００の検査時に走査信号Ｙ[m]がアクティブレベルに設定されると、ゲートに対するプリチャージ電位ＶPREの供給で駆動トランジスタＴDRがオン状態に遷移し、発光素子Ｅが発光する。したがって、検査信号ＳCK[1]〜ＳCK[K]の検出に並行して、各発光素子Ｅの点灯の可否を判定する検査（点灯検査）を実施することが可能である。
【００２９】
＜変形例＞
以上の形態には様々な変形が加えられる。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された２以上の態様は併合され得る。
【００３０】
（１）変形例１  
以上の形態においては、制御線５４[m]が走査線２２の途中の箇所から分岐する場合を例示したが、図５に示すように、走査線２２のうち走査線駆動回路３２とは反対側の端部から、制御線５４[m]が、基板２０の周縁の領域Ａを通過してブロックＢ[m]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]のゲートに接続される構成も採用される。以上の構成によれば、制御線５４[1]〜５４[M]が素子部１０内に形成されないから、画素回路ＰXの高精細化が実現されるという利点がある。また、基板２０のうち制御線５４[1]〜５４[M]が延在する領域Ａを検査の終了後に切除することで、額縁領域を縮小することが可能である。
【００３１】
（２）変形例２  
以上の形態においては、各信号線２４に共通のプリチャージ電位ＶPREを供給したが、複数のプリチャージ電位ＶPREを利用した構成も採用される。例えば、表示色が共通するＭ個の画素回路ＰXがＹ方向に配列するように複数の表示色（例えば赤色，緑色，青色）の各々が各画素回路ＰXに割当てられた構成（ストライプ配列）においては、表示色毎に別個のプリチャージ電位ＶPREが使用される。
【００３２】
もっとも、信号線２４のプリチャージは本発明において必須ではない。例えば、信号線２４の寄生容量に起因した発光素子Ｅの階調の誤差が特段の問題とならない場合（例えば、信号線２４の寄生容量が充分に小さい小型の電気光学装置１００）においてはプリチャージ回路４２が省略され得る。プリチャージ回路４２を省略した構成では、検査時に各信号線２４に所定の電位を供給する回路が設置される。
【００３３】
（３）変形例３  
検査回路４４のＮ個のスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]は省略され得る。すなわち、信号線２４と検査線５２[k]との間にスイッチＱ[k]のみが介在する構成も採用される。なお、スイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を省略した構成では、画像の表示時に走査信号Ｙ[m]がアクティブレベルに設定される（走査線２２が選択される）ことでスイッチＱ[k]がオン状態に遷移するから、信号線２４が検査線５２[k]に導通する。以上のように信号線２４に付随する容量（検査線５２[k]の容量）が増加すると、信号線２４に供給される階調信号Ｘ[n]に波形の歪みや遅延が発生する可能性がある。
【００３４】
他方、図１のように検査回路４４にスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を設置した構成では、画像の表示時にスイッチＱ[k]がオン状態に遷移しても信号線２４と検査線５２[k]との電気的な絶縁はスイッチＲ[k]で維持される。すなわち、信号線２４に付随する容量の増加が防止される。したがって、スイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を省略した構成と比較して階調信号Ｘ[n]の波形の歪みや遅延が抑制され、発光素子Ｅの輝度を高精度に制御できるという格別の効果が実現される。なお、スイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を省略した構成であっても、基板２０のうち検査回路４４や検査線５２[1]〜５２[K]が配置された領域を検査の完了後に切除すれば、画像の表示時における信号線２４の容量を低減することが可能である。しかし、検査の完了後に基板２０を切除する工程が必要となるから、製造コストが増加するという問題がある。スイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を設置した図１の構成では、検査後の基板２０の切除を必要とせずに、表示時の信号線２４の容量を低減できるという利点がある。ただし、検査回路４４がスイッチＲ[1]〜Ｒ[N]を含む構成について、基板２０のうち検査回路４４や検査線５２[1]〜５２[K]が配置された領域を検査後に切除することを本発明の範囲から排除する趣旨ではない。
【００３５】
（４）変形例４  
図１の構成においては、制御線５４[1]〜５４[M]が画素回路ＰXとともに素子部１０内に位置するから、制御線５４[1]〜５４[M]の表面における反射光が観察者に視認される可能性がある。そこで、図６に示すように、素子部１０のうち平面視で制御線５４[1]〜５４[M]に重なるように遮光層８０を形成した構成が好適である。遮光層８０は、制御線５４[1]〜５４[M]に対して観察側に位置する遮光性の膜体である。図６の構成によれば、制御線５４[1]〜５４[M]の表面における光反射が防止されるから、制御線５４[1]〜５４[M]に起因した表示品位の低下が抑制されるという利点がある。
【００３６】
（５）変形例５  
以上の形態においてはＮ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[N]を走査線２２と同数のＭ個のブロックＢ[1]〜Ｂ[M]に区分した場合を便宜的に例示したが、ブロックＢ[1]〜Ｂ[M]が走査線２２と同数である必要はない。例えば、検査回路４４のブロックＢの総数Ｍb（Ｍbは自然数）が走査線２２の本数Ｍを下回る構成も採用される。Ｍ本から適宜に選択されたＭb本の走査線２２（例えば、第１行から第Ｍb行までのＭb本の走査線２２や、奇数行または偶数行のＭb本の走査線２２）が各ブロックＢのスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]の制御に利用される。また、以上の形態においては第ｍ行の走査線２２を第ｍ番目のブロックＢ[m]に接続したが、走査線２２とブロックＢ[m]との組合せは任意に変更される。例えば、第Ｍ行の走査線２２をブロックＢ[1]のＫ個のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]に接続した構成も採用される。以上の例示から把握されるように、本発明の好適な態様は、ブロックＢ[m]毎に相異なる走査信号Ｙ[m]に応じてＮ個のスイッチＱがオン状態またはオフ状態に制御される構成として包括される。
【００３７】
（６）変形例６  
検査線５２[1]〜５２[K]の本数（ブロックＢ[m]内のスイッチＱ[1]〜Ｑ[K]の個数）Ｋは任意である。例えば、１本の検査線５２[K]のみを形成した構成（Ｋ＝１）も採用される。すなわち、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]に応じてＮ個のスイッチＱが１個ずつ順次にオン状態に制御され、Ｎ本の信号線２４の各々の電位が時分割で順次に検査信号ＳCK[K]として１本の検査線５２[K]に出力される。
【００３８】
（７）変形例７  
有機ＥＬ素子は発光素子Ｅの例示に過ぎない。例えば、無機ＥＬ素子やＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子も発光素子Ｅとして利用され得る。また、発光素子Ｅ以外の電気光学素子を利用した構成にも本発明は適用される。本発明に適用される電気光学素子について、自身が発光する自発光型と外光の透過率や反射率を変化させる非発光型（例えば液晶素子）との区別や、電流の供給によって駆動される電流駆動型と電界（電圧）の印加によって駆動される電圧駆動型との区別は不問である。例えば、液晶素子，電界電子放出素子（ＦＥ（Field-Emission）素子），表面伝導型電子放出素子（ＳＥ（Surface conduction Electron emitter）素子），弾道電子放出素子（ＢＳ（Ballistic electron Emitting）素子），電気泳動素子、エレクトロクロミック素子など様々な電気光学素子を利用した電気光学装置に本発明は適用される。すなわち、電気光学素子とは、電流の供給や電圧（電界）の印加といった電気的な作用に応じて階調（透過率や輝度などの光学的な特性）が変化する素子である。
【００３９】
＜応用例＞
次に、以上の態様に係る電気光学装置１００を利用した電子機器について説明する。図７ないし図９には、電気光学装置１００を表示装置として採用した電子機器の形態が図示されている。
【００４０】
図７は、電気光学装置１００を採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、各種の画像を表示する電気光学装置１００と、電源スイッチ２００１やキーボード２００２が設置された本体部２０１０とを具備する。
【００４１】
図８は、電気光学装置１００を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２と、各種の画像を表示する電気光学装置１００とを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置１００に表示される画面がスクロールされる。
【００４２】
図９は、電気光学装置１００を適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す斜視図である。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２と、各種の画像を表示する電気光学装置１００とを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった様々な情報が電気光学装置１００に表示される。
【００４３】
なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図７から図９に例示した機器のほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、電子写真方式の画像形成装置において露光により感光体ドラムに潜像を形成する露光装置としても本発明の電気光学装置は利用される。
【符号の説明】
【００４４】
１００……電気光学装置、ＰX……画素回路、１０……素子部、２０……基板、２２……走査線、２４……信号線、３２……走査線駆動回路、３４……信号線駆動回路、４２……プリチャージ回路、４４……検査回路、５２[1]〜５２[K]……検査線、５４[1]〜５４[M]……制御線、７０……制御回路、８０……遮光層。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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