(57)【要約】【課題】被試験器の故障部位の特定を効率的に実施可能な試験装置を提供する。【解決手段】故障確率算出部２２０は、被試験器１１０を構成する複数のモジュールそれぞれの対応する試験項目に関する故障率割合を取得し、取得した各モジュールの故障率割合と、判定結果情報とに基づいて、複数のモジュールの故障確率を算出する。故障モジュール特定部２３０は、判断基準格納部２３２から判断基準情報を取得し、判断基準情報と判定結果情報とに基づいて、各モジュールの中から故障したモジュールを特定する。【選択図】図２
2010271269.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のモジュールを有する被試験器に対して、複数の試験項目に基づく試験を行う試験装置であって、
前記複数の試験項目それぞれについて、前記複数のモジュールの故障率の合計に対する前記複数のモジュールそれぞれの故障率の割合を格納する故障率割合格納手段と、
前記複数の試験項目に基づいて前記被試験器に対して試験を行う試験実行手段と、
前記試験実行手段による試験結果の良否を判定する判定手段と、
前記故障率の割合と、前記判定手段による判定結果とに基づいて、前記複数のモジュールそれぞれの故障している確率を示す故障確率を算出する故障確率算出手段と
を有する試験装置。
【請求項２】
各試験項目の試験結果の良否の組み合わせに基づいて故障したモジュールを判断するための判断基準情報を格納する判断基準情報格納手段と、
前記判断基準情報と前記判定結果とに基づいて、前記複数のモジュールの中から故障したモジュールを特定する故障モジュール特定手段と
をさらに有する請求項１に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験器に対して試験を行う試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１は、故障装置とそれに対応する計測装置とを自動的に接続して性能試験を行い、試験結果に基づいて故障部位を特定する試験装置を開示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−３０４１２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上述した背景からなされたものであり、被試験器の故障部位の特定を効率的に行うことができる試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る試験装置（２）は、複数のモジュールを有する被試験器（１１０）に対して、複数の試験項目に基づく試験を行う試験装置であって、前記複数の試験項目それぞれについて、前記複数のモジュールの故障率の合計に対する前記複数のモジュールそれぞれの故障率の割合を格納する故障率割合格納手段（２２２）と、前記複数の試験項目に基づいて前記被試験器に対して試験を行う試験実行手段（２０６）と、前記試験実行手段による試験結果の良否を判定する判定手段（２１６）と、前記故障率の割合と、前記判定手段による判定結果とに基づいて、前記複数のモジュールそれぞれの故障している確率を示す故障確率を算出する故障確率算出手段（２２０）とを有する。
【０００６】
好適には、各試験項目の試験結果の良否の組み合わせに基づいて故障したモジュールを判断するための判断基準情報を格納する判断基準情報格納手段（２３２）と、前記判断基準情報と前記判定結果とに基づいて、前記複数のモジュールの中から故障したモジュールを特定する故障モジュール特定手段（２３０）とをさらに有する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、被試験器の故障部位の特定を効率的に実施可能な試験装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態にかかる試験システムおよび試験装置の構成を示す図である。
【図２】試験装置において動作する試験プログラム、および、試験プログラムの試験情報格納部に格納される試験情報の構成を示す図である。
【図３】モジュールの故障率を説明するための概念図である。
【図４】各試験項目それぞれに関する各モジュールの故障率割合を例示する図である。
【図５】故障確率の具体的な算出方法を例示する図である。
【図６】判断基準情報を例示する図である。
【図７】試験結果表示部によって表示される表示画面を例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［本発明の背景］
本発明の理解を助けるために、まず、本発明がなされるに至った背景を説明する。
【００１０】
航空機等に搭載される電子機器などの動作に不具合が生じた際、この不具合を解消するために、電子機器の故障部位（モジュール等）を特定し、特定した故障部位を調整、修理および交換するといった手順がとられる。
この場合、速やかに故障部位を特定するために、以下のような作業が行われる。
まず、予め、機能確認試験を行うための試験項目が列挙される。
次に、その電子機器の原理等を熟知した技術者が、自身の経験知に基づいて、試験項目ごとに、故障発生の原因となる部位（故障部位）を予測して、故障部位特定のための手順書、および、各試験項目と故障していると予測される部位との対照表を作成する。
そして、電子機器等の機能・性能試験を実施して試験結果が不良であると判定されたとき、技術者は、これらの手順書および対照表に基づいて故障部位を推定することによって、故障調査を行う。
【００１１】
上述した作業は、試験を行う技術者が手順書および対照表を熟知する必要があり、これら手順書および対照表に基づいて作業を実施することにより、時間および手間を要する。
以下に説明する試験装置は、上述した時間および手間を要するといった不具合を解決し、短時間にかつ容易に試験を実施し得るように改良されている。
【００１２】
［本発明の実施形態］
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
図１は、本実施形態にかかる試験システム１および試験装置２の構成を示す図であり、（Ａ）は、本発明の実施形態にかかる試験システム１の構成を示し、（Ｂ）は、試験システム１の試験装置２のハードウェア構成を示す。
図１（Ａ）に示すように、試験システム１は、試験装置２、測定器１２０−１〜１２０−ｎ、（ｎは１以上の整数。但し、ｎがそれぞれ常に同じ数とは限らない）が、ネットワーク１００を介して接続されて構成されている。
また、測定器１２０−１〜１２０−ｎには、切替器１０２を介して、被試験器１１０が接続されている。
【００１３】
なお、以下の各図において、図示の具体化および明確化のために、本発明の説明に必要ない構成部分が、適宜、省略される。
さらに、以下、測定器１２０−１〜１２０−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを特定せずに示す場合には、単に測定器１２０などと略記することがある。
【００１４】
また、図１に示した試験システム１を構成する装置のうち、任意の２つ以上は、適宜、一体に構成されうる。
また、ある１つの装置において実現される複数の機能が、それぞれ別々の装置において実現されるようにしてもよいし、図１に示されていない装置において実現されるようにしてもよい。
【００１５】
ネットワーク１００は、たとえば、ＬＡＮ（Local Area Network）などであり、信号を伝送するための伝送路である。
試験装置２は、たとえばコンピュータであって、測定器１２０を用いて、被試験器１１０に対して所定の試験を実行する。
また、試験装置２は、ネットワーク１００を介して、測定器１２０、切替器１０２および被試験器１１０と通信を行うように構成されている。
【００１６】
被試験器１１０は、たとえば航空機等に搭載される電子機器であって、試験装置２によって実行される試験の対象となる。
また、図３を用いて後述するように、被試験器１１０は複数のモジュールから構成されており、各モジュールは複数の部品から構成されている。
測定器１２０は、汎用の測定機器であって、試験装置２が実行する試験で使用され、試験装置２からの制御信号に応じて、試験信号を発信する。
切替器１０２は、各測定器１２０から試験信号を受け入れ、試験装置２からの切替信号に応じて、どの測定器１２０から発信された試験信号を被試験器１１０に対して送信するかを選択し、選択された試験信号を被試験器１１０に送信する。
なお、被試験器１１０は、図１では１つとしたが、複数の被試験器１１０が切替器１０２に接続されるようにしてもよく、切替器１０２を用いた制御によって、試験対象となる被試験器１１０を選択するようにしてもよい。
【００１７】
図１（Ｂ）に示すように、試験装置２は、ＣＰＵ１５２およびメモリ１５４などを含む本体１５０、キーボードおよび表示装置などを含む入出力装置１５６、他の器材との通信を行う通信装置１５８、および、ＣＤ装置およびＨＤＤ装置など、記録媒体１６２に対するデータの記録および再生を行う記録装置１６０から構成される。
つまり、試験装置２は、情報処理および他の装置との通信が可能なコンピュータとしてのハードウェア構成部分を有している。
【００１８】
図２（Ａ）は、試験装置２において動作する試験プログラム２０を示す図であり、図２（Ｂ）は、試験プログラム２０の試験情報格納部２１８に格納される試験情報の構成を示す図である。
図２（Ａ）に示すように、試験プログラム２０は、操作部２０２、試験項目判断部２０４、試験実行制御部２０６、試験情報格納部２０８、切替器インタフェース（ＩＦ）２１０、測定器ＩＦ２１２、被試験器ＩＦ２１４、試験結果判定部２１６、故障確率算出部２２０、故障率割合格納部２２２、故障モジュール特定部２３０、判断基準格納部２３２および試験結果表示部２４０から構成される。
【００１９】
試験プログラム２０は、たとえば、記憶媒体１６２を介して試験装置２に供給され、メモリ１５４にロードされ、試験装置２にインストールされたＯＳ上で、試験装置２のハードウェア資源を具体的に利用して実行される。
この場合、操作部２０２および試験結果表示部２４０は入出力装置１５６によって実現されるようにしてもよいし、切替器ＩＦ２１０、測定器ＩＦ２１２および被試験器ＩＦ２１４は通信装置１５８によって実現されるようにしてもよい。
なお、本実施形態においては、コンピュータである試験装置２が試験プログラム２０を実行するとしたが、試験プログラム２０の機能をハードウェアで構成することによって実現してもよい。
【００２０】
操作部２０２は、作業者が試験項目等を選択するための機能であって、キーボードなどの入出力装置１５６に対する作業者の操作を受け入れ、その操作を示す信号を試験項目判断部２０４に対して出力する。
操作部２０２は、例えば、試験項目を選択する画面を表示するＧＵＩ（Graphical User Interface）機能によって実現されてもよい。
試験項目判断部２０４は、操作部２０２からの信号に基づいて、選択された試験項目を判断し、判断された試験項目に関する情報（試験項目情報）を試験実行制御部２０６に対して出力する。
試験実行制御部２０６は、試験項目判断部２０４から受け入れた試験項目情報に対応する試験情報を、試験情報格納部２０８から取得する。
ここで、試験情報格納部２０８は、図２（Ｂ）に例示した試験情報を格納し、試験実行制御部２０６および試験結果判定部２１６の制御に応じて試験情報を出力する。
【００２１】
図２（Ｂ）に示すように、試験情報は、試験識別子、使用測定器識別子、試験信号値および要求基準を含む。
試験識別子は、試験項目を識別するための識別子である。
使用測定器識別子は、試験に使用される測定器を識別するための識別子であり、各試験項目において複数の測定器が使用される場合、使用測定器識別子は、それに応じて複数存在する。
試験信号値は、測定器に送信される試験信号の値を示す数値である。
要求基準は、試験結果が「良」と判定されるための基準であり、例えば、要求基準が「２Ｖ〜６Ｖ」である場合に被試験器１１０からの計測信号が５Ｖであるときには、試験結果は「良」と判定される。
【００２２】
試験実行制御部２０６は、取得した試験情報の使用測定器識別子に基づいて、切替器１０２がその使用測定器識別子に対応する測定器１２０からの試験信号を被試験器１１０に送信するように、切替信号を切替器ＩＦ２１０およびネットワーク１００を介して、切替器１０２に対して送信する。
切替器１０２は、この切替信号に応じて、被試験器１１０に送信する試験信号を選択するように構成されている。
例えば、切替信号が測定器１２０−１からの試験信号を被試験器１１０に入力することを示す場合、切替器１０２は、測定器１２０−１からの試験信号を被試験器１１０に対して送信する。
【００２３】
試験実行制御部２０６は、取得した試験情報の使用測定器識別子および試験信号値に基づいて、使用測定器識別子に対応する測定器１２０に対して、試験信号値が示す試験信号を出力するように制御する制御信号を、測定器ＩＦ２１２およびネットワーク１００を介して、対応する測定器１２０に対して送信する。
例えば、使用測定器識別子が測定器１２０−１に対応し、試験信号値が「１０Ｖ」を示す場合、試験実行制御部２０６は測定器１２０−１に対して制御信号を送信し、測定器１２０−１は、被試験器１１０に対して「１０Ｖ」の試験信号を送信する。
試験実行制御部２０６の制御信号の送信によって、被試験器１１０に対する試験が実行され、被試験器１１０が測定器１２０から試験信号を入力されると、被試験器１１０内の各モジュールに試験信号が通電され、その結果、各モジュールの状態（故障があるか否か、故障の程度等）に応じて、計測信号が出力される。
【００２４】
試験結果判定部２１６は、被試験器１１０から、ネットワーク１００および被試験器ＩＦ２１４を介して、計測信号を受け入れる。
また、試験結果判定部２１６は、試験情報格納部２０８から、実施された試験に対応する試験情報を取得し、取得した試験情報の要求基準に基づいて、試験結果が「良」であるか「否」（不良）であるかを判定する。
さらに、試験結果判定部２１６は、判定結果を示す情報（判定結果情報）を、故障確率算出部２２０、故障モジュール特定部２３０および試験結果表示部２４０に対して出力する。
【００２５】
故障確率算出部２２０は、故障率割合格納部２２２から、被試験器１１０を構成する複数のモジュールそれぞれの対応する試験項目に関する故障率割合を取得し、取得した各モジュールの故障率割合と、判定結果情報とに基づいて、これら複数のモジュールの故障確率（後述する）を算出する。
故障率割合格納部２２２は、複数の試験項目それぞれに関する、被試験器１１０の複数のモジュールそれぞれの故障率割合を格納する。
ここで、故障率割合とは、図４を用いて後述するように、各試験項目についての、全モジュールの故障率の合計に対する各モジュールの故障率の割合であって、［モジュールの故障率］／［全モジュールの故障率の合計］×１００で計算される。
また、故障率とは、平均故障間隔（ＭＴＢＦ：Mean Time Between Failures）の逆数であって、ある部品またはモジュールが単位時間内に故障する回数を示す数値であり、数値が大きいほど故障し易いことを示す。
部品の故障率は、ＭＩＬ−ＨＤＢＫ−２１７「電子機器の信頼度予測」等に基づいて求められる。
【００２６】
以下、図３および図４を用いて、各試験項目に関する各モジュールの故障率および故障率割合について、さらに説明する。
図３は、モジュールの故障率を説明するための概念図であり、（Ａ）は各モジュールを構成する部品の故障率を例示し、（Ｂ）は各モジュールの故障率を例示する。
図３（Ａ）の例示において、被試験器１１０はモジュールＡおよびＢから構成され、モジュールＡは部品Ａ１〜Ａ５から構成され、モジュールＢは部品Ｂ１〜Ｂ５から構成されている。
【００２７】
ここで、ある試験（試験＃１とする）が被試験器１１０に対して実施される場合、図３（Ａ）に示すように、この試験＃１においては、部品Ａ１〜Ａ５および部品Ｂ４，Ｂ５が試験の対象となる。
一方、試験＃１では部品Ｂ１〜Ｂ３に試験信号は通電されないので、部品Ｂ１〜Ｂ３は試験対象とならない。
したがって、試験＃１に関するモジュールＢの故障率については、部品Ｂ１〜Ｂ３は考慮されない。
【００２８】
図３（Ａ）の各部品の括弧内には、それぞれの部品の故障率が示されている。
例えば、部品Ａ１の故障率は７．７５（回数／106hour)である。
また、図３（Ｂ）には、各モジュールの試験＃１に関する故障率が示されている。
ある試験項目に関するモジュールの故障率は、その試験で試験対象となった部品の故障率の合計であり、例えば、モジュールＡの故障率は、図３（Ａ）に示した部品Ａ１〜Ａ５の故障率の合計３１．０５（回数／106hour)である。
同様に、モジュールＢの試験＃１に関する故障率は、試験＃１の対象となった部品Ｂ４，Ｂ５の故障率の合計３．４０（回数／106hour)である。
また、他の試験項目に関する試験（例えば試験＃２〜試験＃４）についても、同様に、モジュールＡおよびＢの故障率が求められる。
【００２９】
図４は、各試験項目それぞれに関する各モジュールの故障率割合を例示する図である。
上記の例の試験＃１において、モジュールＡの故障率は３１．０５であり、モジュールＢの故障率は３．４０であるので、全モジュールの故障率の合計は３４．４５である。
したがって、モジュールＡの故障率割合は、３１．０５／３４．４５×１００＝９１．０１（％）であり、モジュールＢの故障率割合は、３．４０／３４．４５×１００＝９．９（％）である。
同様に、試験＃２〜＃４についても、図４に示すように、各モジュールの故障率割合が計算される。
故障率割合格納部２２２には、図４に示した各試験項目に関する各モジュールの故障率割合が、予め、格納されている。
【００３０】
上述のように、故障確率算出部２２０（図２）は、故障率割合格納部２２２から、対応する試験項目に関する各モジュールの故障率割合を取得し、取得した各モジュールの故障率割合と、判定結果情報とに基づいて、各モジュールの故障確率を算出する。
ここで、故障確率とは、図５を用いて例示するように、１つ以上の試験項目の良否判定が「否」であった場合に、そのモジュールが故障している可能性（確率）を示す数値である。
【００３１】
故障確率の算出式は、以下の通りである。
（１）「否」と判定された試験項目のうち、故障率割合が１００％の試験項目がある場合：
［故障確率（％）］＝１００
（２）「否」と判定された試験項目のうち、故障率割合が１００％の試験項目がない場合：
［故障確率（％）］＝［「否」と判定された試験項目の故障率割合の合計］／［「否」と判定された試験項目の数］
【００３２】
図５は、故障確率の具体的な算出方法を例示する図である。
図５の例においては、「否」と判定された試験項目は、試験＃１および試験＃２の２つである。
モジュールＡについては、試験＃２の故障率割合が１００％となっているので、モジュールＡの故障割合は１００％である。
一方、モジュールＢについては、試験＃１および試験＃２の故障率割合がそれぞれ９．９％，０．０％であるので、故障割合は、（９．９＋０．０）／２≒５．０（％）である。
なお、ある試験において、あるモジュールの故障率割合が１００％、他のモジュールの故障率割合が０％であるケースは、例えば故障率割合０％であるモジュールが当該試験では動作しない（故障率割合１００％のモジュールのみ動作する）ケースなどである。
即ち、良否判定で「否」と判定された試験において、故障率割合１００％は当該モジュールが不良であることを保証するが、故障率割合０％は当該モジュールが良好であることを保証するものではない。
【００３３】
上記例では、モジュールＡの故障割合が１００％であり、モジュールＢの故障割合が５．０％であるので、故障している可能性が最も高いモジュールは、モジュールＡであると推定できる。
ここで、試験＃２においてモジュールＢの故障率割合が０％であるにも関わらず、故障確率が０％と断定しないのは、前述のように、故障率割合
０％が当該モジュールの良好性を必ずしも保証しないためである。
また、故障確率算出部２２０は、算出した故障確率を、試験結果表示部２４０に対して出力する。
【００３４】
故障モジュール特定部２３０（図２）は、判断基準格納部２３２から判断基準情報を取得し、判断基準情報と判定結果情報とに基づいて、各モジュールの中から故障したモジュール（つまり交換すべきモジュール）を特定する。
判断基準格納部２３２は、判断基準情報を格納する。
ここで、判断基準情報とは、図６を用いて後述するように、試験結果の良否の組み合わせに基づいて、故障したモジュールを特定するための情報であって、試験結果良否組み合わせテーブルと故障モジュール順位テーブルとを含む。
【００３５】
図６は、判断基準情報を例示する図であって、（Ａ）は試験結果良否組み合わせテーブルを示し、（Ｂ）は故障モジュール順位テーブルを示す。
試験結果良否組み合わせテーブルは、各試験の良否の結果の組み合わせを示すテーブルである。
例えば、図６（Ａ）の例では、「良否組み合わせ１」は、試験＃１の結果が「否」で試験＃２〜＃５の結果が「良」である組み合わせであり、「良否組み合わせ６」は、試験＃２，＃３の結果が「否」であり、試験＃１，＃４，＃５の結果が「良」である組み合わせである。
【００３６】
故障モジュール順位テーブルは、図６（Ａ）の試験結果良否組み合わせテーブルに示された良否組み合わせと、故障していると予測されるモジュールの順位（故障モジュール順位）との関係を示すテーブルである。
例えば、図６（Ｂ）の例では、試験結果が「良否組み合わせ１」に該当する場合（つまり試験＃１の結果が「否」で試験＃２〜＃５の結果が「良」である場合）は、モジュールＡの故障モジュール順位が１位である。
また、試験結果が「良否組み合わせ６」に該当する場合（つまり試験＃２，＃３の結果が「否」であり、試験＃１，＃４，＃５の結果が「良」である場合）は、モジュールＢの故障モジュール順位が１位であり、モジュールＣの故障モジュール順位が２位である。
なお、試験結果良否組み合わせテーブルおよび故障モジュール順位テーブルは、被試験器１１０の製造業者の技術者の経験知等に基づいて、被試験器１１０ごとに、予め、作成され、記憶される。
【００３７】
故障モジュール特定部２３０（図２）は、判定結果情報から試験結果の良否組み合わせを抽出し、試験結果良否組み合わせテーブルから、組み合わせが一致する組み合わせを照合する。
さらに、故障モジュール特定部２３０は、良否の組が一致する組み合わせを特定し、その組み合わせに対応するモジュールの故障モジュール順位を照合することによって、故障したモジュール（交換すべきモジュール）を特定する。
【００３８】
例えば、図６の例において、試験＃２，＃３の結果のみが「否」となった場合、図６（Ａ）の試験結果良否組み合わせテーブルから、故障モジュール特定部２３０は、対応する組み合わせを「良否組み合わせ６」と特定する。
さらに、図６（Ｂ）の故障モジュール順位テーブルから、故障モジュール特定部２３０は、モジュールＢの故障モジュール順位を１位と特定し、モジュールＢの故障モジュール順位を２位と特定する。
また、故障モジュール特定部２３０は、特定した故障モジュール順位を、試験結果表示部２４０に対して出力する。
【００３９】
試験結果表示部２４０（図２）は、図７に例示するように、試験結果と、各モジュールの故障確率および故障モジュール順位とを、ディスプレイ等の入出力装置１５６に表示する。
図７は、試験結果表示部２４０によって表示される表示画面を例示する図である。
図７の例では、試験＃１〜＃３が実施された場合のモジュールＡ〜Ｄについての情報が表示されている。
試験結果表示部２４０は、各試験項目とその試験結果を対応付けて表示し、さらに、これらの試験結果から、各モジュールとその故障確率および故障モジュール順位とを対応付けて表示する。
【００４０】
例えば、図７に示すように、表示画面の上段において、試験＃１の結果が「良」であり、試験＃２，＃３の結果が「否」であることが表示される。
また、表示画面の下段において、モジュールＢの故障確率が５０％、モジュールＣの故障確率が５０％と表示される。
さらに、このとき、試験結果の良否の組み合わせは、図６（Ａ）の試験結果良否組み合わせテーブルを参照すると「良否組み合わせ６」に対応するので、表示画面の下段において、モジュールＢの故障モジュール順位が１、モジュールＣの故障モジュール順位が２と表示される。
なお、モジュールの故障確率および故障順位は、各試験項目の実施が完了するごとに表示を逐一更新してもよいし、予め設定された数の試験項目の実施が完了したときに表示するようにしてもよい。
また、モジュールの故障確率および故障順位は、作業者の指示（入力）により、両方あるいはいずれか一方を表示するように選択することができる。また、通常は一方のみを表示し、故障確率の大小関係と故障順位とが相違したときに、両方を表示するようにしてもよい。
【００４１】
以上のように、本実施形態においては、１つ以上の試験の結果から各モジュールの故障確率を算出できるので、故障診断作業者は、算出された故障確率に基づいて故障していると予測されるモジュールを判断できる。
さらに、２つ以上のモジュールの故障確率の差が小さい場合等であっても、故障モジュール順位が表示されるので、この故障モジュール順位に基づいて、交換すべきモジュールを判断できる。
この場合、例えばモジュールＡの故障確率がモジュールＢの故障確率よりも低いときであっても、モジュールＡの故障モジュール順位がモジュールＢの故障モジュール順位よりも上位である場合もある。即ち、理論値に基づく故障モジュールの推定（故障確率）と経験知に基づく故障モジュールの推定（故障モジュール順位）とでは、いずれの精度が高いかは、必ずしも一義的には定まらない。
本実施形態においては、上述のように、各モジュールの故障確率および故障モジュール順位が表示されるので、故障診断作業者の経験度に依存されることなく、多面的な視点で故障モジュールの探求を行うことが可能となり、交換すべきモジュールを容易に特定できる。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
本発明は、被試験器に対して試験を行う試験装置に利用可能である。
【符号の説明】
【００４３】
１・・・試験システム、１００・・・ネットワーク、１０２・・・切替器、１１０・・・被試験器、１２０・・・測定器、２・・・試験装置、２０・・・試験プログラム、２０２・・・操作部、２０４・・・試験項目判断部、２０６・・・試験実行制御部、２０８・・・試験情報格納部、２１０・・・切替器ＩＦ、２１２・・・測定器ＩＦ、２１４・・・被試験器ＩＦ、２１６・・・試験結果判定部、２２０・・・故障確率算出部、２２２・・・故障率割合格納部、２３０・・・故障モジュール特定部、２３２・・・判断基準格納部、２４０・・・試験結果表示部
【図１】
2010271269.tif 000003
【図２】
2010271269.tif 000004
【図３】
2010271269.tif 000005
【図４】
2010271269.tif 000006
【図５】
2010271269.tif 000007
【図６】
2010271269.tif 000008
【図７】
2010271269.tif 000009