(57)【要約】【課題】  効率的な不要輻射対策を可能とする電磁波発生源判定方法および装置を提供する。【解決手段】  被測定物（１）の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定装置において、電磁界強度測定部（４、５、６、７）は被測定物（１）の主面に対して概ね垂直な方向に距離が異なる複数の位置（Ｐ１、Ｐ２）で電磁界強度（ＥＭ）を測定し、電磁界強度減衰量検出手段（８）は複数の位置（Ｐ１、Ｐ２）で測定された電磁界強度（ＥＨ）に基づいて複数の位置（Ｐ１、Ｐ２）間での電磁界強度の減衰量（△ＥＨ）を求め、電磁波発生源判定手段（８）は電界強度の減衰量（△ＥＨ）に基づいて電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する。【選択図】図１
2010261756.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定装置であって、
前記被測定物の主面に対して概ね垂直な方向に距離が異なる複数の位置で電磁界強度を測定する電磁界強度測定手段と、
前記複数の位置で測定された電磁界強度に基づいて、当該複数の位置間での電磁界強度の減衰量を求める電磁界強度減衰量検出手段と、
前記電磁界強度の減衰量に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する電磁波発生源判定手段とを備える、電磁波発生源判定装置。
【請求項２】
前記判定結果に基づいて、任意の点での電界強度を推定する電界強度推定手段を更に備える、請求項１に記載の電磁発生源判定装置。
【請求項３】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定装置であって、
前記被測定物の主面に対して概ね平行で距離が異なる複数の測定面で電磁界分布を測定する電磁界分布測定手段と、
前記複数の測定面測定された電磁界分布に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する電磁波発生源判定手段とを備える、電磁波発生源判定装置。
【請求項４】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定装置であって、
前記被測定物の近傍の複数の点で電磁波分布を測定する電磁波分布測定手段と、
前記複数の点での電磁界減衰量を求める電磁界減衰量検出手段と
前記電磁界減衰量に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する電磁波発生源判定手段と、
前記判定結果に基づいて、任意の点での電界強度を推定する電界強度推定手段とを備える、電磁波発生源判定装置。
【請求項５】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定方法であって、
前記被測定物の主面に対して概ね垂直な方向に距離が異なる複数の位置で電磁界強度を測定する電磁界強度測定ステップと、
前記複数の位置で測定された電磁界強度に基づいて、当該複数の位置間での電磁界強度の減衰量を求める電磁界強度減衰量検出ステップと、
前記電界強度の減衰量に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する電磁波発生源判定ステップとを備える、電磁波発生源判定方法。
【請求項６】
前記判定結果に基づいて、任意の点での電界強度を推定する電界強度推定するステップを更に備える、請求項５に記載の電磁発生源判定方法。
【請求項７】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定方法であって、
前記被測定物の主面に対して概ね平行で距離が異なる複数の測定面で電磁界分布を測定する電磁界分布測定ステップと、
前記複数の測定面測定された電磁界分布に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるかを判定する電磁波発生源判定ステップとを備える、電磁波発生源判定方法。
【請求項８】
被測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定方法であって、
前記被測定物の近傍の複数の点で電磁波分布を測定する電磁波分布測定ステップと、
前記複数の点での電磁界減衰量を求める電磁界減衰量検出ステップと
前記電磁界減衰量に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れであるか
を判定する電磁波発生源判定ステップと、
前記判定結果に基づいて、任意の点での電界強度を推定する電界強度推定ステップとを備える、電磁波発生源判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器から電磁波を放射する電磁波発生源の判定方法および電磁波発生源判定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、各種の電子機器から発生する電磁波の不要輻射による妨害を最小限に抑えるために、多くの国で規制が設けられている。例えば海外では、ＦＣＣ（アメリカ連邦通信委員会）、ＣＩＳＰＲ（国際無線障害特別委員会）、およびＶＤＥ（ドイツ電気技術者協会）等の機関による規格が設けられている。
【０００３】
我国においても、ＶＣＣＩ（情報処理装置等電波障害自主規制協議会）による自主規制規格が決められており、電子機器製造メーカにおいて各種の電子機器から発生する不要輻射を抑える対策を行なうことが図られている。
【０００４】
それらの規格による不要輻射測定方法として、不要輻射の発生源である電子機器から所定の遠方距離（例えば、３ｍまたは１０ｍ）だけ隔てた位置での電界強度を測定するものがある。この方法における測定環境や測定器は特殊なものであり、測定にはかなりの専門技術を必要とする。この方法による不要輻射の測定は一般的に「遠方測定」と呼ばれており、その規格値は「遠方測定規格値」と呼ばれている。また、遠方で測定するため、電磁波の発生源が電子機器のどこであるのかを特定するのが困難である。
【０００５】
そのために、不要輻射対策を行うには、多大な時間と費用を要する。そこで、最近では、計測の時間とコストの低減を図るために、電子機器のプリント基板回路や回路装置等の電磁波を放射する手段の近傍で、電磁放射測定装置を用いて電磁界強度を計測している。このような計測機器としては、例えば、電子機器の近傍を電界あるいは磁界センサを用いて走査測定し、被測定物の近傍電磁界分布を測定することで、電磁波の発生源を推定する電磁発生源推定装置が広く活用されてきている。さらに、不要輻射対策の計測時間およびコストの低減を図るべく、前述の発生源推定結果を用いて遠方規格値を推定する手法に対する要求が高まっている。
【０００６】
近傍電磁界分布測定機としては、被測定物近傍を走査して電磁界分布を測定し、得られる電磁界分布画像に基づいて近傍電磁界の大きい部分を特定することで、被測定物から放射された電磁界の評価を行うもの (例えば、特許文献１参照)がある。また、近傍電磁界から遠方規格測定値を推定する手法としては、近傍電磁界に基づいて電磁波発生源の電流値を求め、遠方での規格測定値を推定する技術がある。(例えば、特許文献２参照)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０００−７４９６９号公報
【特許文献２】特開２００２−２７７５５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述の従来技術においては、電磁波発生源を正しく判別できず、そのために不要輻射に対して効果的に対策を講ずることができないという問題がある。つまり、近傍電磁界に基づいて遠方規格値を推定する手法では、電磁波発生源として電流源に限定して電流分布を求め、その電流値から遠方規格測定値を推定する。しかしながら、この方
法では、電磁波発生源が電流源ではなく、磁流源である場合には、精度良く遠方規格値を推定できない。また、電流分布から対策を施す方法では、その対策箇所が電流源としてノイズを放射しているのか、磁流源としてノイズを放射しているのかの判断がつかない為、効果的な対策を講ずることが困難である。
【０００９】
本発明は、このような問題を克服して、精度良く遠方規格値推定を行い、さらに近傍電磁界測定結果に基づいて電磁波発生源が電流源であるのか磁流源であるのかを正確に判定して、効率的な不要輻射対策を可能とする電磁波発生源判定方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決する為に、本発明の電磁波発生源判定装置は、
測定物の電磁波発生源を判定する電磁波発生源判定装置であって、
前記被測定物の主面に対して概ね垂直な方向に距離が異なる複数の位置で電磁界強度を測定する電磁界強度測定手段と、
前記複数の位置で測定された電磁界強度に基づいて、当該複数の位置間での電磁界強度の減衰量を求める電磁界強度減衰量検出手段と、
前記電磁界強度の減衰量に基づいて、前記電磁波発生源が電流源および磁流源の何れかあるかを判定する電磁波発生源判定手段とを備える。
【発明の効果】
【００１１】
本発明は、被測定物の各電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるかを判定でき、判定結果に基づき遠方規格値を推定するので、判定精度が高い。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施の形態１に係る電磁波発生源判定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】微小ダイポールおよび微小ループからの放射電磁界の説明図である。
【図３】微小ダイポールからの放射電界の減衰特性を表す図である。
【図４】電磁界強度減衰量に基づく、電磁波発生源の判定方法の説明図である。
【図５】遠方距離、電界強度、磁界強度、電界強度減衰量、および磁界強度減衰量と電磁波発生源判定との関係を示す表である。
【図６】図１に示す電磁波発生源判定装置の動作を表すフローチャートである。
【図７】図６に示す電磁界強度減衰量算出ステップの詳細動作を表すフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態２に係る電磁波発生源判定装置による電磁波発生源判定方法を示す説明図である。
【図９】被測定物からの異なる距離での近傍磁界強度を表す図である。
【図１０】被測定物からの一定距離での磁界分布を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。以下、本発明の電磁波測定方法について、図面を参照しながら具体的に説明する。なお、以下の説明は、本発明の具体例であって特許請求の範囲を限定するものではない。
【００１４】
（実施の形態１）
以下に、図１、図２、図３、図４、および図５を参照して、実施の形態１に係る電磁発生源判定装置およびその動作について説明する。図１に示すように、電磁発生源判定装置Ａｐ１は、受信アンテナ４、受信部５、ＸＹＺ駆動部６、計測制御部７、演算処理部８、および表示部９を含む。受信アンテナ４は、被測定物から放射される電磁波成分を測定す
る電磁界センサである。なお、受信アンテナ４としては、ループアンテナ、および微小ダイポールアンテナなどを用いることができるが、これらに限られることはない。
【００１５】
受信部５は、受信アンテナ４が受信した電磁波成分を受けて広帯域な測定周波数受信処理を行う。ＸＹＺ駆動部６は、受信アンテナ４と被測定物１とをＸＹＺの各座標軸方向に相対移動させる走査手段である。計測制御部７は、広帯域受信部５により受信処理された受信電磁波成分をデータ処理して計測格納する。
【００１６】
演算処理部８は、計測制御部７に計測格納された電磁波成分データに基づいて電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるかを判別すると共に遠方の規格電界値を推定する。具体的には、演算処理部８は、被測定物１から距離の異なる複数測定点の電磁界強度について、距離が離れたことによる電磁界強度減衰量を演算し、演算された減衰量に基づいて電磁波発生源が電流源なのか磁流源なのかを判別し、遠方の規格測定電界値を推定する。表示部９は、判別結果および遠方測定規格値を表示する。
【００１７】
電磁波発生源判定装置Ａｐ１は、電磁波発生源を有する被測定物１から電磁界センサである受信アンテナ４を移動させながら、異なる距離での電磁界強度を測定する。なお、被測定物１上の電磁波発生点２から同一直線状で距離が異なる複数の測定点３で行う。本例においては、被測定物１の主平面に対して概ね垂直な方向に、受信アンテナ４を動かしながら、被測定物１からの距離がｒ１およびｒ２（ｒ１＜ｒ２）である位置Ｐ１およびＰ２における電磁強度が測定される。そして、２つの測定点Ｐ１およびＰ２における電磁強度に基づいて、その電磁界強度の減衰量がもとめられる。
【００１８】
図２を参照して、電流源および磁流源からの放射電界Ｅおよび放射磁界Ｈについて説明する。図２の左側に示すような電流源は、微小ダイポールからの放射として数式１および数式２によって表現される。
【００１９】
【数１】
2010261756.tif 000003
【００２０】
【数２】
2010261756.tif 000004
【００２１】
図２の右側に示すような磁流源は、微小ループからの放射として数式３および数式４によって表されることが知られている。
【００２２】
【数３】
2010261756.tif 000005
【００２３】
【数４】
2010261756.tif 000006
【００２４】
なお、Ｉは微小ダイポールを流れる電流値、Ｌは微小ダイポールの長さ、ｍは微小ループの磁流値、ｒは微小ダイポール或いは微小ループからの距離である。Ｚ０は波動インピーダンスで１２０πである。ｋ０は波数で２π／λ。λは測定周波数ｆの波長である。
これらの式から、電界Ｅを測定した場合、電流源から発生する電界は電磁波源からの距離ｒに対して、１／ｒ、１／ｒ2、１／ｒ3に比例する３成分の和（数式１）、磁流源から発生する電界は１／ｒ、１／ｒ2に比例する２成分の和（数式３）として表現できる。磁界Ｈを測定した場合はその逆で、電流源から発生する磁界は１／ｒ、１／ｒ2に比例する２成分の和（数式２）、磁流源から発生する磁界は１／ｒ、１／ｒ2、１／ｒ3に比例する３成分の和（数式４）として表現できる。従って、被測定物の近傍では電流源から発生する電磁界と、磁流源から発生する電磁界とでは減衰量が異なることが分かる。
【００２５】
次に、図３を参照して、電流源から発生する電界Ｅθの減衰特性について説明する。同図に示すようにｋ０・ｒ＝１、つまり測定距離ｒ＝λ／２πを境界に減衰傾向が変わる。被測定物の近傍、ｒ＜λ／２πの距離では、電流源から発生する電界は１／ｒ3が支配的で、磁流源から発生する電界は、１／ｒ2が支配的となり、電界は電流源の方が磁流源より減衰しやすい。磁界を測定した場合は、電流源から発生する磁界は１／ｒ2が支配的で、磁流源から発生する磁界は１／ｒ3で支配的となり、磁界は磁流源の方が電流源より減衰しやすい。従って、ｒ＜λ／２πの距離における電磁界の減衰量により、電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるか判定できる。
【００２６】
一方、被測定物から十分な距離だけ離れた位置ｒ＞λ／２πでは、電流源から放射される電磁界も、磁流源から放射される電磁界も、１／ｒが支配的となる。そのために、この領域では、電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるか判別できない。従って、電磁波発生源が電流源か磁流源かを判別する為には、減衰率を計算する全ての測定点、もしくは、いずれかがλ／２πよりも近い距離でなければならない。
【００２７】
次に、電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるかの判別方法について詳細に説明する。図１に示すように、被測定物１において電磁波発生源が存在する点を電磁波発生点Ｐ０とし、ここから発生する電磁波を第１測定点Ｐ１および第２測定点Ｐ２のそれぞれで測定する。なお、第１測定点Ｐ１は被測定物１の電磁波発生点Ｐ０から距離ｒ１だけ離れた測定点であり、第２測定点Ｐ２は電磁波発生点Ｐ０から距離ｒ２離れた測定点である。電磁波発生点Ｐ０と第１測定点Ｐ１とを結ぶ直線距離はｒ１であり、電磁波発生点Ｐ０と第２測定点Ｐ２とを結ぶ直線距離はｒ２である。
【００２８】
図１に示すように、ｒ１＜ｒ２とすると、電磁波発生点Ｐ０で発生した電磁波は距離ｒ１を伝播する間に減衰して、第１測定点Ｐ１における第１電磁界強度ＥＨ（Ｐ１）が測定され、第２測定点Ｐ２ではさらに減衰した第２電磁界強度ＥＨ（Ｐ２）が測定される。この第１電磁界強度ＥＨ（Ｐ１）と第２電磁界強度ＥＨ（Ｐ２）との比、つまり第１測定点Ｐ１と第２測定点Ｐ２とでの電磁界強度減衰量△ＥＨ＝ＥＨ（Ｐ２）／ＥＨ（Ｐ１）を用いて、電磁波発生源Ｐ０が電流源であるか磁流源であるかを判別する。なお、電磁界強度ＥＨは、電界強度Ｅおよび磁界強度Ｈで表現される。
【００２９】
次に、図４を参照して、ｒ１、ｒ２＜λ／２πの距離で電界強度Ｅおよび磁界強度Ｈを測定した場合の電磁波発生源の判定について説明する。第１測定点Ｐ１で第１電界強度Ｅ
（Ｐ１）および第１磁界強度Ｈ（Ｐ１）がそれぞれ測定され、第２測定点Ｐ２で第２電界強度Ｅ（Ｐ２）および第２磁界強度Ｈ（Ｐ２）が測定される。この場合、電界強度減衰量△Ｅ＝Ｅ（Ｐ２）／Ｅ（Ｐ１）および磁界強度減衰量△Ｈ＝Ｈ（Ｐ２）／Ｈ（Ｐ１）が下記の数式５で表現できれば、電磁波発生点Ｐ０での電磁波発生源は電流源Ｉと判別できる。そして、電界強度減衰量△Ｅおよび磁界強度減衰量△Ｈが下記の数式６で表現できれば、電磁波発生点Ｐ０での電磁波発生源は磁流源Ｍであると判定できる。
【００３０】
【数５】
2010261756.tif 000007
【００３１】
【数６】
2010261756.tif 000008
【００３２】
ｒ１＜λ／２π、ｒ２＞λ／２πで測定した場合は、電界強度減衰量△Ｅおよび磁界強度減衰量△Ｈが下記の数式７で表現できれば、電磁波発生点Ｐ０での電磁波発生源は電流源Ｉと判定される。そして、減衰量△Ｅが下記の数式８で表現できれば、電磁波発生点Ｐ０での電磁波発生源は磁流源Ｍと判定される。図５に、上述の距離ｒ、第１電界強度Ｅ（Ｐ１）、第２電界強度Ｅ（Ｐ２）、第１磁界強度Ｈ（Ｐ１）、第２磁界強度Ｈ（Ｐ２）、電界強度減衰量△Ｅ、および磁界強度減衰量△Ｈと電磁波発生源の判定結果との関係を示す。
【００３３】
また、測定した電界および磁界の方向に基づいて、電流源および磁流源の方向も判別出来る。例えば、ｒ１＝０．０３ｍおよびｒ２＝０．０９ｍの状態で磁界を測定した場合について説明する。測定周波数が３００ＭＨｚの場合、λ／２π＝０．１５９となり、ｒ１、ｒ２＜λ／２πを満たす。従って、数式５および数式６を用いて、電流源および磁流源の判別を行える。
【００３４】
実際に計算すると、電磁波発生源が電流源である場合の磁界強度減衰量△Ｈの計算値は１８．０３ｄＢで、数式５を用いた推定値は１９．０８ｄＢである。磁流源である場合の磁界強度減衰量△Ｈの計算値は２９．５４ｄＢで、数式６を用いた推定値は２８．６３ｄＢである。
【００３５】
また、測定周波数が１ＧＨｚの場合、λ／２π＝０．０４７７となり、ｒ１＜λ／２π、ｒ２＞λ／２πを満たす。従ってこの場合は、下記の数式７および数式８を用いて、電流源および磁流源の判別ができる。
【００３６】
【数７】
2010261756.tif 000009
【００３７】
【数８】
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【００３８】
実際に計算すると、電磁波発生源が電流源であった場合の磁界強度減衰量△Ｈの計算値は１３．９５ｄＢであり、数式７を用いた推定値は１３．５８ｄＢである。磁流源であった場合の磁界強度減衰量△Ｈは１７．４１ｄＢで、数式８を用いた推定値は１７．６１ｄＢである。いずれの場合も計算値と推定値が近い値を示すことが分かる。従って、測定した電界もしくは磁界の減衰率（△Ｅ或いは△Ｈ）が、電流源あるいは磁流源から放射された電磁波の減衰率の推定値のどちらと近いかを判断することで、電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるかが判別できる。
【００３９】
図６に示すフローチャートを参照して、磁界を測定した場合の電磁波発生源の判別方法を説明する。電磁発生源判定装置Ａｐの動作が始まると、先ずステップＳ２において、第１測定点Ｐ１での第１磁界強度Ｈ（Ｐ１）と第２測定点Ｐ２での第２磁界強度Ｈ（Ｐ２）に基づいて、磁界強度減衰量△Ｈが算出される。なお、後ほど図７を参照して本ステップにおける詳細な動作について説明する。
【００４０】
そして、ステップＳ６において、ｒ１＜λ／２πおよびｒ２＜λ／２πであるか否かが判断される。Ｙｅｓの場合、制御はステップＳ８に進む。
【００４１】
ステップＳ８において、電流源であるか否かが判定される。Ｙｅｓの場合は、ステップＳ１０において、表示部９にて電磁波発生点Ｐ０は電流源であることが表示されて処理が終了する。一方、Ｎｏの場合は、ステップＳ１２において、表示部９にて電磁波発生点Ｐ０は磁流源であることが表示されて処理が終了する。
【００４２】
上述のステップＳ６でＮｏと判断される際には、ステップＳ１４においてｒ１＜λ／２πであるか否かが判断される。Ｙｅｓの場合、制御はステップＳ１６に進む。
【００４３】
ステップＳ１６において、電流源であるか否かが判断される。Ｙｅｓの場合、ステップＳ１８において、表示部９にて電磁波発生点Ｐ０は電流源であることが表示されて処理が終了する。一方、Ｎｏの場合は、ステップＳ１２において、表示部９にて電磁波発生点Ｐ０は磁流源であることが表示されて処理が終了する。
【００４４】
ステップＳ１４でＮｏと判断される場合、ステップＳ２０において、表示部９に電磁波発生点Ｐ０が電流源であるのか磁流源であるのか判定不能であることが表示されて処理が終了する。
【００４５】
次に、図７を参照して、上述のステップＳ２における磁界強度減衰量△Ｈの算出動作について詳しく説明する。ステップＳ２の動作が開始すると、先ずステップＳ２ａにおいて、ＸＹＺ駆動部６を制御して、受信アンテナ４を第１測定点Ｐ１に移動させる。
【００４６】
そして、ステップＳ２ｂにおいて、受信部５によって、第１測定点Ｐ１における電磁界強度ＥＨとして、第１電界強度Ｅ（Ｐ１）および第１磁界強度Ｈ（Ｐ１）を受信する。次に、ステップＳ２ｃにおいて、計測制御部７により、第１電界強度Ｅ（Ｐ１）および第１磁界強度Ｈ（Ｐ１）が格納される。そして、ステップＳ２ｄにおいて、電磁界強度ＥＭの測定が終了したか否かが判断される。
【００４７】
この場合、第２測定点Ｐ２での電界磁強度ＥＭの測定が未だ行われていないので、Ｎｏと判断される。そして、ステップＳ２ｅにおいて、ＸＹＺ駆動部６を制御して、受信アンテナ４を第２測定点Ｐ２に移動させる。そして、上述のステップＳ２ｂにおいて。第２測定点Ｐ２における電磁界強度ＥＨとして、第２電磁界強度Ｅ（Ｐ２）および第２磁界強度Ｈ（Ｐ２）を受信し、ステップＳ２ｃで計測制御部７により格納された後に、ステップＳ２ｄにおいてＹｅｓと判断されて、制御はステップＳ２ｆに進む。
【００４８】
ステップＳ２ｆにおいて、電界強度減衰量△Ｅおよび磁界強度減衰量△Ｈが算出されて、ステップＳ２による処理が終了する。なお、後続の処理に応じて、電界強度減衰量△Ｅおよび磁界強度減衰量△Ｈの何れか一方だけを算出してもよい。
【００４９】
（実施の形態２）
次に、図８、図９、および図１０を参照して、実施の形態２にかかる電磁波発生源判定装置による異なる電磁波発生源判定方法について説明する。なお、図６に示すように、本実施の形態にかかる電磁波発生源判定装置Ａｐ２は、図１に示した実施の形態１に係る電磁発生源判定装置Ａｐ１と基本的に同様に構成されている。但し、電磁発生源判定装置Ａｐ２による電磁波測定方法は、被測定物１から一定距離はなれた測定面を受信アンテナ４（電磁界センサ）を移動させながら複数の測定面１４上で電磁界分布を測定する点が、上述の実施例１に係る電磁発生源判定装置Ａｐ１と異なる。
【００５０】
複数の測定面１４は、被測定物１の主面に対して概ね平行な２つ以上の平面である。また、測定面１４の各測定点において、実施例１におけるのと同様に、電磁界強度減衰量△ＥＨに基づいて、電磁波発生源が電流源であるか磁流源であるかの判定を行い、判定結果を表示する。
【００５１】
測定された電磁界測定分布と分布上の各測定点における電流源および磁流源の判定結果に基づき、各測定点に関して、数式１および数式２により電流値Ｉを計算し、数式３および数式４より磁流値ｍを計算して、任意の遠方規格測定点における電磁界強度を推定する。この各測定点における推定値を全ての測定点について合算することで任意の遠方規格測定点の電界値を推定する。
【００５２】
また、遠方磁界強度を推定する場合には、減衰量がバビネの定理により、電流源と磁流源が双対（逆）の関係にある。そのために、減衰量は電界強度推定の場合において電流源と磁流源を入れ替えることで推定可能である。
【００５３】
図９および図１０に、実際に電流源と磁流源との分離を行った例を示す。電磁波発生源である被測定物から一定距離１５ｍｍでの近傍磁界分布と距離３０ｍｍでの近傍磁界分布を測定する。図９は、５ｍｍの距離で測定した磁界分布を示す。この分布上の点線で示した直線状の磁界強度を図１０に示す。このとき、被測定物からの距離が１／２となってい
るため、上記の判別方法では、電磁波発生源が電流源の場合は（１／２）2＝１／４で、受信電力量としては６ｄＢの減衰量となる。一方、磁流源のときは、（１／２）3＝１／８で、受信電力量としては９ｄＢの減衰量となる。実際の測定値を見てみると、分布中央付近の領域（１）では１０ｄＢの減衰、左右の領域（２）では５ｄＢの減衰量となっており、この結果から、被測定物の中央付近の領域（１）に磁流源、左右の領域（２）に電流源が存在していると判断できる。
【産業上の利用可能性】
【００５４】
本発明は、電子機器から放射される電磁波不要輻射の測定に用いることができる。
【符号の説明】
【００５５】
１  被測定物
２  電磁波発生点
３  複数測定点
４  受信アンテナ
５  広帯域受信部
６  ＸＹＺ駆動部
７  計測制御部
８  演算処理部
９  表示部
１４  複数測定面
【図１】
2010261756.tif 000011
【図２】
2010261756.tif 000012
【図３】
2010261756.tif 000013
【図４】
2010261756.tif 000014
【図５】
2010261756.tif 000015
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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