(57)【要約】【課題】回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することを可能にする。【解決手段】「ｔ＝０」の時点で測定された光出力変化値を基準光出力変化値ΔＷ０として記憶する。この記憶されている基準光出力変化値ΔＷ０と今回の電源投入時に測定した光出力変化値ΔＷとに差があるか否かを判断する。このとき、使用時間が経過が経過しても、第１〜第３半導体レーザが全て点灯している限りは、測定した今回の光出力変化値ΔＷは基準光出力変化値ΔＷ０と等しくなる。しかし、「ｔ＝ｔ１」の時点で第１〜第３半導体レーザのうちのいずれか一つでも不点灯になると、出力変化値ΔＷは、基準光出力変化値ΔＷ０よりも小さくなり、「ΔＷ０≠ΔＷ」となる。よって、「ΔＷ０−ΔＷ」の差分値から、直列接続された３個の半導体レーザにおける不点灯個数を算出する。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置であって、
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
を備えることを特徴とする光源装置。
【請求項２】
前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、これを報知する不点灯報知手段を備えることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
【請求項３】
前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、前記初期の出力差分値と、前記その後前記検出手段により検出された出力差分値との差分値に基づき、前記不点灯レーザの個数を算出する算出手段を備えることを特徴とする請求項１記載の光源装置。
【請求項４】
前記算出手段により算出された不点灯個数を報知する不点灯個数報知手段を備えることを特徴とする請求項３記載の光源装置。
【請求項５】
前記供給手段は、所定の電流値Ｉと、この電流値Ｉを微小電流変化量ΔＩだけ変化させた電流値Ｉ´を前記光源に供給することを特徴とする請求項１から４のいずれか記載の光源装置。
【請求項６】
前記初期の出力差分値は、前記複数の半導体レーザが全て点灯しているときに、前記検出手段によって検出された出力差分値であることを特徴とする請求項１から５のいずれか記載の光源装置。
【請求項７】
前記光源装置は、直列接続された青色光を射出する複数の半導体レーザを光源として有するとともに、前記光源の光射出方向に、前記青色光を拡散透過する拡散領域と前記青色光を励起光としてそれぞれ赤色、緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールが配置され、当該蛍光体ホイールが所定の速度で回転することによって青色光、赤色光、緑色光をそれぞれ時分割で射出することを特徴とする請求項１から６のいずれか記載の光源装置。
【請求項８】
直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置が有するコンピュータを、
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
して機能させることを特徴とする光源不良検出プログラム。
【請求項９】
直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置における光源不良検出方法であって、
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給ステップと、
この供給ステップによる前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出ステップと、
この検出ステップにより検出された初期の出力差分値を記憶する記憶ステップと、
この記憶ステップで記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較ステップと、
この比較ステップでの比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断ステップと
を含むことを特徴とする光源不良検出方法。
【請求項１０】
発光色の異なる複数の光源を時分割で点灯させて画像を投影する投影装置であって、前記複数の各光源は、直列接続された複数個の半導体レーザで構成され、
前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、
この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、
この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、
この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、
この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段と
を備えることを特徴とする投影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体レーザを用いる光源装置、光源不良検出プログラム、光源不良検出方法及び前記光源装置を用いた投影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、投影装置等の光源を要する装置においては、光源として半導体レーザを用いることが行われており、さらに複数の半導体レーザを用いることにより、当該装置において必要な光量を確保することも行われている。このように、複数の半導体レーザを用いる場合、並列接続するとレーザ毎に点灯制御部を設けなければならず、並列接続する半導体レーザの数に応じた複数の点灯制御部が必要となる。そこで、できるだけ点灯制御部の数を減らして点灯制御を可能にすべく、複数の半導体レーザを直列接続して用いた投影装置も提案されるに至っている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１２３８１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前記背景技術に示したように、複数の半導体レーザを直列接続して用いた場合、その中に点灯しないレーザがあると、当該レーザは発光することなく発熱する。したがって、発光することなく発熱することにより、光量及び電力ロスが生ずるのみならず、他のレーザへの温度影響も生ずるという問題が生ずる。よって、これらの問題の発生を未然に防止するためには、直列接続された複数の半導体レーザにおいて不点灯となったレーザの有無を検知することが必要である。
【０００５】
しかしながら、半導体レーザはＬＥＤなどと異なり、直列接続された複数個のうち、いずれかが消灯しても回路として機能することから、回路として機能しているか否かにより不点灯レーザの有無を判断することはできない。
【０００６】
また、半導体レーザは使用時間の経過とともに発光量が減少するという特性を有し、さらに発光量が減少しても入力電圧は変化しないという特性も有する。したがって、発光量の減少に基づいて、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することはできないし、入力電圧に基づいて、前記不点灯レーザの存在を検出することもできない。
【０００７】
無論、直列接続されたレーザを個別に点灯させる別回路を設けて点灯チェックを行ったり、各レーザに照度センサを配置すれば、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することはできる。しかし、このように別回路を設けることは回路の複雑化を招くデメリットがあり、また各レーザに照度センサを設けることはレーザを多数用いる場合もあることを考慮すると現実的ではない。
【０００８】
このため、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することなく放置し、これにより前述した光量及び電力ロスが生じたり、他のレーザへの温度影響が生じてしまっているのが実情であった。
【０００９】
本発明は、かかる従来の課題に鑑みてなされたものであり、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することのできる光源装置、光源不良検出プログラム、光源不良検出方法及び投影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記課題を解決するために請求項１記載の発明に係る光源装置にあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置であって、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項２記載の発明に係る光源装置にあっては、前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、これを報知する不点灯報知手段を備えることを特徴とする。
【００１２】
また、請求項３記載の発明に係る光源装置にあっては、前記判断手段により前記不点灯レーザが存在すると判断された場合に、前記初期の出力差分値と、前記その後前記検出手段により検出された出力差分値との差分値に基づき、前記不点灯レーザの個数を算出する算出手段を備えることを特徴とする。
【００１３】
また、請求項４記載の発明に係る光源装置にあっては、前記算出手段により算出された不点灯個数を報知する不点灯個数報知手段を備えることを特徴とする。
【００１４】
また、請求項５記載の発明に係る光源装置にあっては、前記供給手段は、所定の電流値Ｉと、この電流値Ｉを微小電流変化量ΔＩだけ変化させた電流値Ｉ´を前記光源に供給することを特徴とする。
【００１５】
また、請求項６記載の発明に係る光源装置にあっては、前記初期の出力差分値は、前記複数の半導体レーザが全て点灯しているときに、前記検出手段によって検出された出力差分値であることを特徴とする。
【００１６】
また、請求項７記載の発明に係る光源装置にあっては、前記光源装置は、直列接続された青色光を射出する複数の半導体レーザを光源として有するとともに、前記光源の光射出方向に、前記青色光を拡散透過する拡散領域と前記青色光を励起光としてそれぞれ赤色、緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールが配置され、当該蛍光体ホイールが所定の速度で回転することによって青色光、赤色光、緑色光をそれぞれ時分割で射出することを特徴とする。
【００１７】
また、請求項８記載の発明に係る光源不良検出プログラムにあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置が有するコンピュータを、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段として機能させることを特徴とする。
【００１８】
また、請求項９記載の発明に係る光源不良検出方法にあっては、直列接続された複数個の半導体レーザを光源として有する光源装置における光源不良検出方法であって、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給ステップと、この供給ステップによる前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出ステップと、この検出ステップにより検出された初期の出力差分値を記憶する記憶ステップと、この記憶ステップで記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較ステップと、この比較ステップでの比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断ステップとを含むことを特徴とする。
【００１９】
また、請求項１０記載の発明に係る投影装置にあっては、発光色の異なる複数の光源を時分割で点灯させて画像を投影する投影装置であって、前記複数の各光源は、直列接続された複数個の半導体レーザで構成され、前記光源に異なる値の電流をそれぞれ供給する供給手段と、この供給手段による前記異なる値の電流の供給に伴ってそれぞれ発光した前記光源の出力差分値を検出する検出手段と、この検出手段により検出された初期の出力差分値を記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶された前記初期の出力差分値と、その後前記検出手段により検出された出力差分値とを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づき、前記直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの有無を判断する判断手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザにおける不点灯レーザの存在を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施の形態に係る投影装置の回路構成を示すブロック図である。
【図２】各レーザの構成を示す回路図である。
【図３】第１〜第３各半導体レーザの電流−光出力特性を示すグラフである。
【図４】本発明の一実施の形態における処理手順を示すフローチャートである。
【図５】ｔ＝０時点における各レーザの電流−光出力特性を示すグラフである。
【図６】ステップＳ２の詳細を示すサブルーチンである。
【図７】ｔ＝０とｔ＝ｔ１時点等における各レーザの電流−光出力特性を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の一実施の形態を図に従って説明する。
図１は、本実施の形態に係る投影装置１の電気的構成を示すブロック図である。この投影装置１は、制御部１１、入出力インターフェイス１２、画像変換部１３、表示エンコーダ１４、表示駆動部１５等を有するものであって、入出力コネクタ部１６から入力された各種規格の画像信号（画像データ）は、入出力インターフェイス１２、システムバス１７を介して、画像変換部１３で表示に適した所定フォーマットの画像信号に統一するように変換された後、表示エンコーダ１４に送られる。
【００２３】
表示エンコーダ１４は、送られてきた画像信号をビデオＲＡＭ１８に展開記憶させた上で、このビデオＲＡＭ１８の記憶内容からビデオ信号を生成して表示駆動部１５に出力するものである。
【００２４】
表示エンコーダ１４からビデオ信号が入力される表示駆動部１５は、送られてきたビデオ信号に対応して適宜フレームレートで表示素子としてのＤＭＤ１９（デジタル・マイクロミラー・デバイス）を駆動する。そして、光源装置２０から射出された光線束を、光源側光学系を介してＤＭＤ１９に入射することにより、ＤＭＤ１９の反射光で光像を形成し、投影側光学系とする可動レンズ群２１を介して図示しないスクリーンに画像を投影表示する。この投影側光学系の可動レンズ群２１は、レンズモータ２２によりズーム調整やフォーカス調整のための駆動が行われる。
【００２５】
画像圧縮／伸張部２３は、画像信号における輝度信号及び色差信号をＡＤＴＣ及びハフマン符号化等の処理により、データ圧縮して着脱自在な記録媒体であるメモリカード２４に書き込む記録処理や、メモリカード２４に記録された画像データを読み出し、一連の動画を構成する個々の画像データを１フレーム単位で伸張して画像変換部１３を介して表示エンコーダ１４に送り、メモリカード２４に記憶された画像データに基づいて動画等の表示を可能にするものである。
【００２６】
制御部１１は、投影装置１内における各回路の動作を制御するものであって、ＣＰＵ及びその周辺回路、ＲＯＭ１１１、ＲＡＭ１１２等で構成されている。ＲＯＭ１１１には、各種セッティング等のプログラム、後述するフローチャートにより示すプログラムやデータ等が予め記憶されており、ＲＡＭ１１２は、ワークメモリ等として使用される。
【００２７】
キー／インジケータ部２５は、本体ケース等に設けられているメインキー及びインジケータ等により構成され、その操作信号は制御部１１に送出される。また、リモートコントローラからのキー操作信号は、Ｉｒ受信部２６で受信され、Ｉｒ処理部２７で復調されてコード信号が制御部１１に送られる。
【００２８】
制御部１１には、システムバス１７を介して音声処理部３０が接続されており、音声処理部３０はＰＣＭ音源等の音源回路を備え、投影モード及び再生モード時には、音声データをアナログ化し、スピーカ３１を駆動して拡声放音させることができる。
【００２９】
前記光源装置２０は、Ｒ（赤）色を発光する赤色レーザ２０Ｒ、Ｇ（緑）色を発光する緑色レーザ２０Ｇ、及びＢ（青）色を発光する青色レーザ２０Ｂで構成されている。制御部１１は、光源制御回路３２を制御することにより、画像信号に応じて各レーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂを時分割制御する。
【００３０】
また、これら赤色レーザ２０Ｒ、緑色レーザ２０Ｇ、青色レーザ２０Ｂの近傍には、対応する照度センサ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂが設けられている。これら照度センサ３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂは、対応する各レーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂの照度を検出し、図示しない回路を介して光出力（Ｗ）として前記制御部１１に供給するものである。また、各レーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂは、図２に示すように、第１半導体レーザ２０１、第２半導体レーザ２０２、及び第３半導体レーザ２０３を直列接続して構成されている。
【００３１】
なお、半導体レーザは、前述のように使用時間の経過とともに発光量が減少する（経年劣化）という特性を有し、また、この発光量が減少する特性も個々の半導体レーザ毎に異なる。したがって、例えば図３に示すように、使用時間ｔ＝０のとき第１〜第３半導体レーザ２０１〜２０３が図示した特性であったとしても、使用時間ｔ＝ｔ１のときには、発光量（光出力）が減少し、しかも第１及び第２半導体レーザ２０１、２０２に比べて、第３半導体レーザ２０３の発光量が大幅に減少する場合も発生し得る。また、この図示した第３半導体レーザ２０３のように、発光量の減少に伴って発光動作を開始可能な電流値が所定の動作電流値Ｉ０を下回ったとき、当該半導体レーザ（第３半導体レーザ２０３）は不点灯となる。但し、電流−光出力特性（変化率）、つまり図３における各特性線の傾きは同一である。
【００３２】
以上の構成に係る本実施の形態において、投影装置１の制御部１１は、ＲＯＭ１１１に記憶されたプログラムに基づき、キー／インジケータ部２５に設けられているメインキーが操作されて電源が投入される都度、図４に示すフローチャートに従って処理を実行する。すなわち、本実施の形態においては、赤色レーザ２０Ｒ、緑色レーザ２０Ｇ及び青色レーザ２０Ｂが用いられているが、先ず赤色レーザ２０Ｒに対する処理を実行すべく、赤色レーザ２０Ｒを選択する（ステップＳ１）。
【００３３】
次に、光源制御回路３２を動作させて、赤色レーザ２０Ｒ（直列接続された第１〜第３半導体レーザ２０１〜２０３）の電流値を図５に示すように所定幅ΔＩ変化させ、かつ照度センサ３３Ｒを動作させて、このときの光出力変化値ΔＷを照度センサ３３Ｒにより測定する（ステップＳ２）。より具体的には、図６のサブルーチンに示すように、先ず図５の電流値Ｉ１における赤色レーザ２０Ｒの光出力Ｗ１を測定する（ステップＳ２０１）。次に、Ｉ２＝Ｉ１＋ΔＩである電流値Ｉ２において、光出力Ｗ２を測定し（ステップＳ２０２）、しかる後に光出力Ｗ１とＷ２の差（Ｗ１−Ｗ２）により、光出力変化値ΔＷを算出する（ステップＳ２０３）。なお、電流値Ｉ２は、動作電流値Ｉ０と等しく、Ｉ２＝Ｉ０である。
【００３４】
そして、図４のフローチャートにおいてステップＳ３では、基準光出力変化値ΔＷ０がＲＡＭ１１２に記憶されているか否かを判断する。この基準光出力変化値ΔＷ０は、当該投影装置１の最初の使用開始時、あるいは後述するように不点灯の半導体レーザが発生したレーザを修繕し、リセットした後の使用開始時における前記光出力変化値ΔＷの実測値である。したがって、この投影装置１において初めて電源投入がなされた場合や、修繕後リセットされた場合には、基準光出力変化値ΔＷ０が記憶されていない状態にある。この場合にはステップＳ３の判断がＮＯとなり、ステップＳ４に進んでステップＳ２で算出した光出力変化値ΔＷを基準光出力変化値ΔＷ０として記憶する（ステップＳ４）。
【００３５】
よって、図７に示すように、この投影装置１における初回の電源投入、あるいはリセット後初回の電源投入が「ｔ＝０」の時点で行われたとすると、この「ｔ＝０」の時点で測定された光出力変化値が基準光出力変化値ΔＷ０として記憶されることとなる。
【００３６】
また、この投影装置１において既に基準光出力変化値ΔＷ０が記憶されている場合には、この記憶されている基準光出力変化値ΔＷ０と今回の電源投入時に測定した光出力変化値ΔＷとに差があるか否かを判断する（ステップＳ５）。このとき、図３において説明したように、半導体レーザは経年劣化により発光量は減少し、光出力値Ｗが立ち上がるのに必要な電流値Ｉが大きくなるが、電流−光出力特性（変化率）、つまり図３における各特性線の傾きは同一である。したがって、使用時間が経過しても、第１〜第３半導体レーザ２０１〜２０３が全て点灯している限りは、図７に一点鎖線Ｌで示すように、電流−光出力特性（変化率）は「ｔ＝０」の時点と同一であり、一点鎖線Ｌは「ｔ＝０」の時点の特性線Ｌ０と平行である。よって、使用時間が経過が経過しても、第１〜第３半導体レーザ２０１〜２０３が全て点灯している限りは、測定した今回の光出力変化値ΔＷは基準光出力変化値ΔＷ０と等しく、「ΔＷ０＝ΔＷ」となり、ステップＳ５の判断はＮＯとなる。
【００３７】
しかし、第１〜第３半導体レーザ２０１〜２０３のうちのいずれか一つでも、例えば図３に示したように第３半導体レーザ２０３が不点灯になり、図７に示すように「ｔ＝ｔ１」の時点で、不点灯の第３半導体レーザ２０３が存在する赤色レーザ２０Ｒの光出力変化値ΔＷを測定したとする。すると、３個中１個の半導体レーザが不点灯となることにより、同図に示すように、電流−光出力特性（変化率）は「ｔ＝０」の時点の特性線Ｌ０よりも勾配の少ない特性線Ｌｔ１となる。したがって、「ｔ＝ｔ１」の時点でステップＳ２で測定された出力変化値ΔＷは、図７に示すように、基準光出力変化値ΔＷ０よりも小さくなり、「ΔＷ０≠ΔＷ」となってステップＳ５の判断はＹＥＳとなる。
【００３８】
つまり、このステップＳ５の判断がＹＥＳとなることにより、回路の複雑化等を招くことなく、直列接続された複数個の半導体レーザ２０１〜２０３における不点灯レーザの存在を検出することができる。
【００３９】
そして、このように半導体レーザ２０１〜２０３における不点灯レーザの存在を検出したならば、ステップＳ５からステップＳ６に進み、「ΔＷ０−ΔＷ」の差分値から、直列接続された３個の半導体レーザにおける不点灯個数を算出する（ステップＳ６）。
つまり、
ΔＷ０−ΔＷ＝１／３ΔＷ０であれば、不点灯個数＝１
ΔＷ０−ΔＷ＝２／３ΔＷ０であれば、不点灯個数＝２
ΔＷ０−ΔＷ＝３／３ΔＷ０＝ΔＷ０であれば、不点灯個数＝３
である。
【００４０】
そして、この不点灯個数を算出したならば、この算出した不点灯個数が許容範囲内であるか否かを判断する（ステップＳ７）。不点灯個数が許容範囲内（例えば１個）である場合には、ステップＳ１１に進む。また、不点灯個数が許容範囲を超える場合には、キー／インジケータ部２５のインジケータを動作させて不点灯の警告報知を行う（ステップＳ８）。したがって、ユーザはこの警告報知により、不点灯レーザの発生を知って、早期に対処することができる。
【００４１】
しかも、ステップＳ６では、不点灯個数を算出していることから、不点灯の警告報知に際しては、不点灯個数も報知することができ、これによりユーザはレーザの不点灯個数を知ることもでき、適切な対応が可能となる。引き続き、ユーザによるキー／インジケータ部２５にての警告確認動作があったか否かを判断し（ステップＳ９）、警告確認動作があったならば警告報知を終了する（ステップＳ１０）。
【００４２】
しかる後に、以上に説明したステップＳ１〜Ｓ１０の処理を、赤色レーザ２０Ｒ、緑色レーザ２０Ｇ、青色レーザ２０Ｂの全てに対して実行終了したか否かを判断する（ステップＳ１１）。実行終了していない場合には、他のレーザを選択して（ステップＳ１２）、ステップＳ１からの処理を繰り返す。これにより、全てのレーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０に対して、直列接続された半導体レーザ２０１〜２０３における不点灯の検出、及び不点灯個数の検出を行うことができる。そして、全てのレーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０に対してステップＳ１〜Ｓ１０の処理の実行を終了したならば、レーザ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂを時分割制御するとともに、各部を制御して投影を開始する。
【００４３】
なお、本実施の形態においては、直列接続された半導体レーザの不点灯個数まで算出するようにしたが、不点灯個数を算出することなく、直列接続された半導体レーザ中における不点灯レーザを単に検出して、これを報知するのみであってもよい。また、本発明を投影装置に適用した場合を示したが、投影装置に限ることなく半導体レーザを光源として用いる各種装置に適用することができる。
【００４４】
また、本実施の形態においては、光源装置２０は赤色レーザ２０Ｒ、青色レーザ２０Ｂ、緑色レーザ２０Ｇを有し、それぞれ時分割で射出することによって赤色、青色、緑色の光を得る構成としたが、光源装置の構成はこの構成に限るものではない。例えば、レーザとして青色レーザ２０Ｂのみを有し、この青色レーザ２０Ｂの前面に、射出される青色光を拡散透過する拡散領域と、その青色光を励起光としてそれぞれ赤色、緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールを配置するとともに、この蛍光体ホイールを所定の速度で回転させることによって時分割で青色光、赤色光、緑色光をそれぞれ得る構成としてもよい。
【００４５】
さらに前記光源装置２０は、青色レーザ２０Ｂと赤色レーザ２０Ｒを有し、青色レーザ２０Ｂの前面に、射出される青色光を拡散透過する拡散領域と、青色光を励起光として緑色を発光する蛍光体が塗布された蛍光体領域とが円周上に配置されてなる蛍光体ホイールを配置するとともに、赤色レーザ２０Ｒの前面に、射出される赤色光を拡散透過する拡散領域を配置して構成することとしてもよい。いずれにしても、複数の半導体レーザを直列接続して光を射出する光源を、少なくとも１色以上有していればよく、その具体的な構成までは特に限定しないものである。
【符号の説明】
【００４６】
１１    制御部
１２    入出力インターフェイス
１３    画像変換部
１４    表示エンコーダ
１５    表示駆動部
１８    ビデオＲＡＭ
１９    ＤＭＤ
２０    光源装置
２０Ｒ    赤色レーザ
２０Ｂ    青色レーザ
２０Ｇ    緑色レーザ
２５    キー／インジケータ部
３２    光源制御回路
３３Ｒ、３３Ｇ、３３Ｂ    照度センサ
１１１    ＲＯＭ
１１２    ＲＡＭ
２０１    第１半導体レーザ
２０２    第２半導体レーザ
２０３    第３半導体レーザ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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