(57)【要約】【課題】  Ｘ線ビームが被検体等により遮られた場合にも、Ｘ線ビーム位置の変動の補正が可能なＸ線ＣＴ装置を提供する。【解決手段】  Ｘ線源２０１とコリメータ２０３との間にＸ線ビームの照射位置のずれ（シフト）を検出するためのシフト検出器２０４ａ，２０４ｂを備えるとともに、Ｘ線検出器２０５の一部のチャネルをシフト検出チャネル２０５ａとして利用する。そして、Ｘ線透過データの計測が開始されると、制御装置２０２は、シフト検出チャネル２０５ａの出力データ、またはシフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力データ、のいずれか一方を選択し、選択した出力データに基づいて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出し、算出したシフト位置に基づいて、コリメータ２０３等の位置を制御することによりＸ線ビームの照射位置を補正する。【選択図】図３
2010115354.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線源とコリメータとの間に設けられ、Ｘ線源から照射されるＸ線ビームの照射中心からのシフトを検出するシフト検出器と、
被検体を透過したＸ線ビームを検出するためのＸ線検出器の一部の検出素子群に割り当てられた、前記シフトを検出するＸ線検出器側シフト検出部と、を備えたＸ線ＣＴ装置であって、
前記シフト検出器の出力データ、または、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データの、いずれか一方を選択する選択手段と、
前記選択手段により選択された、いずれか一方の出力データに基づいて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出するシフト位置算出手段と、
前記シフト位置算出手段により算出されたシフト位置に基づいて、Ｘ線ビームの照射位置を補正するシフト位置補正手段と、
を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記選択手段は、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データが所定の閾値以上である場合は、Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データを選択し、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データが所定の閾値より小さい場合は、前記シフト検出器の出力データを選択することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記シフト検出器は、Ｘ線ビームのチャネル方向の広がり角度の両端部にそれぞれ設けられ、かつ、スライス方向の少なくとも２分割された各領域においてＸ線照射量を検出して出力データとし、
前記シフト位置算出手段は、前記選択手段によって、前記シフト検出器の出力データが選択された場合は、前記両端部に設けられた各シフト検出器の各領域における各出力データを用いて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ビーム中心の位置ずれ（シフト）を補正するＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線ＣＴ装置のＸ線源は、電子ビームを陰極側からターゲットとなる陽極面へ照射することによりＸ線を放出させる。電子ビームは、陰極と陽極との間に印加される高電圧により加速されるが、加速された電子ビームのエネルギーのほとんどは熱に変換されるため、陽極が加熱される。その結果、陽極表面は熱膨張し、Ｘ線発生点の位置が変動し、その結果、Ｘ線検出器の適正な位置からずれてしまう。また、近年ではガントリの回転が高速化し、高速回転に伴う遠心力等の外力によりＸ線ビームの照射先（Ｘ線検出器）の位置が変動し、Ｘ線ビーム位置の変動の原因となっている。これらのようなＸ線ビーム位置の変動は、Ｘ線検出器で取得する透過Ｘ線データの計測誤差となり、再構成後に得られる断層像上にアーチファクトを生じさせる原因となる。以下、Ｘ線ビーム位置の変動をＸ線ビームのシフトという。
【０００３】
そこで、被検体を透過したＸ線を検出するためのＸ線検出器の一部の検出器列を用いて、体軸方向のビーム照射位置を検出し、Ｘ線検出器とＸ線ビームとの位置が最適な位置となるように、コリメータを体軸方向に移動させるものが開発されている（特許文献１）。
また、Ｘ線検出器とは別に、Ｘ線ビームの変動を検出するための専用のシフト検出器をＸ線源近傍に設け、シフト検出器の出力値からＸ線ビームがシフト（変動）しているかを判定し、許容値以上シフトした場合にＸ線源の位置制御を行うものも開発されている（特許文献２）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００２―１４３１４４号公報
【特許文献２】特開２００５−１４３８１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に開示される手法では、Ｘ線検出器の一部のチャネルをシフト位置検出用に使用しているため、そのチャネルに入射するＸ線が、被検体や寝台等で遮られた場合は、シフト位置の検出そのものができなくなってしまうという問題があった。
また、特許文献２に開示される手法では、シフト検出器に問題が生じ、Ｘ線検出器にＸ線ビームが適正に照射されなくなった場合に、そのことを検出する手立てがなく、検査そのものが無効となってしまうという問題があった。
【０００６】
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、Ｘ線ビームが被検体等により遮られた場合にも、Ｘ線ビーム位置の変動（シフト）の補正が可能なＸ線ＣＴ装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した目的を達成するために本発明は、Ｘ線源とコリメータとの間に設けられ、Ｘ線源から照射されるＸ線ビームの照射中心からのシフトを検出するシフト検出器と、被検体を透過したＸ線ビームを検出するためのＸ線検出器の一部の検出素子群に割り当てられた、前記シフトを検出するＸ線検出器側シフト検出部と、を備えたＸ線ＣＴ装置であって、前記シフト検出器の出力データ、または、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データの、いずれか一方を選択する選択手段と、前記選択手段により選択された、いずれか一方の出力データに基づいて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出するシフト位置算出手段と、前記シフト位置算出手段により算出されたシフト位置に基づいて、Ｘ線ビームの照射位置を補正するシフト位置補正手段と、を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【０００８】
また、前記選択手段は、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データが所定の閾値以上である場合は、Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データを選択し、前記Ｘ線検出器側シフト検出部の出力データが所定の閾値より小さい場合は、前記シフト検出器の出力データを選択することが望ましい。
【０００９】
前記シフト検出器は、Ｘ線ビームのチャネル方向の広がり角度の両端部にそれぞれ設けられ、かつ、スライス方向の少なくとも２分割された各領域においてＸ線照射量を検出して出力データとし、前記シフト位置算出手段は、前記選択手段によって、前記シフト検出器の出力データが選択された場合は、前記両端部に設けられた各シフト検出器の各領域における各出力データを用いて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出することが望ましい。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、Ｘ線ビームが被検体等により遮られた場合にも、Ｘ線ビームの位置変動の補正が可能なＸ線ＣＴ装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
【００１２】
まず、本実施の形態のＸ線ＣＴ装置１の構成について説明する。
図１は、Ｘ線ＣＴ装置１の全体構成を示すハードウエア構成図である。
図２は、Ｘ線源２０１、コリメータ２０３、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂ、及びＸ線検出器２０５の配置について説明する図である。
【００１３】
図１に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１は、スキャナ２、寝台３、及び操作コンソール４を備えて構成される。Ｘ線ＣＴ装置１は、寝台３上に固定された被検体６をスキャナ２の開口部に搬入してスキャンすることにより、被検体６透過後の透過Ｘ線データを取得する。
【００１４】
操作コンソール４は、表示装置７、操作装置８、システム制御装置４０１、画像演算装置４０２、記憶装置４０４、及び通信インタフェースから構成される。操作コンソール４は、スキャナ２に接続され、スキャナ２の設定や撮影、或いは画像の再構成及び表示に関する各種操作及び処理を実行する。また操作コンソール４は、通信インタフェース４０６を介して、ネットワーク９に通信接続され、ネットワーク９に接続されたＤＩＣＯＭサーバ１０等の他の機器との通信を行う。
【００１５】
表示装置７は、液晶パネル、ＣＲＴモニタ等のディスプレイ装置と、ディスプレイ装置と連携して表示処理を実行するための論理回路で構成される。表示装置７は、画像演算装置４０２から出力される再構成画像やスキャノグラム画像、並びにシステム制御装置４０１が取り扱う種々の情報を表示する。
操作装置８は、例えば、キーボード、マウス、テンキー等の入力装置、及び各種スイッチボタン等により構成され、操作者によって入力される各種の指示や情報をシステム制御装置４０１に出力する。操作者は、表示装置７及び操作装置８を使用して対話的にＸ線ＣＴ装置１を操作する。
【００１６】
システム制御装置４０１は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等により構成されるものであり、Ｘ線ＣＴ装置１の全体を制御する。
【００１７】
画像演算装置４０２は、システム制御装置４０１の制御によってスキャナ２内のデータ収集装置２０６が収集した透過Ｘ線データを取得し、スキャノグラム画像や、断層像を再構成する。
記憶装置４０４は、ハードディスク等により構成されるものであり、システム制御装置４０１の制御により、画像演算装置４０２によって作成された画像や、操作装置８から入力された撮影条件、その他のデータや、各種処理を実行するためのプログラム等を記憶している。
【００１８】
スキャナ２は、Ｘ線源２０１、制御装置２０２、コリメータ２０３、Ｘ線検出器２０５、データ収集装置２０６、回転板２０７、シフト検出器２０４から構成される。
【００１９】
Ｘ線源２０１は、制御装置２０２により制御され、被検体６に対してＸ線ビームを連続的または断続的に照射する。Ｘ線源２０１から照射されるＸ線ビームはチャネル方向（ガントリ回転方向）及びスライス方向（体軸方向）に所定角度の広がりを持つファンビームである。
【００２０】
制御装置２０２は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等により構成され、スキャナ２のＸ線源２０１、コリメータ２０３、Ｘ線検出器２０５、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂ、回転板２０７等を制御する。制御装置２０２は、スキャナ２によって被検体６を撮影（計測）する際に、後述するＸ線ビームのシフト位置の検出及び補正処理を行う（図３、図５参照）。
【００２１】
コリメータ２０３は、Ｘ線源２０１から放射されたＸ線ファンビームを、所定のスライス厚に成形するものであり、図２に示すように、複数の羽根２０３ａ，２０３ｂにより構成される。複数の羽根２０３ａ，２０３ｂは、Ｘ線照射経路の一部または全部を遮断するように設けられるものであり、コリメータ２０３の羽根２０３ａ、２０３ｂの位置は、制御装置２０２により制御される。
【００２２】
本実施の形態では、コリメータ２０３は、シフト位置の補正機構として機能する。すなわち、制御装置２０２から入力される、Ｘ線ビームのシフト位置の補正信号に基づいて、コリメータ２０３の羽根２０３ａ、２０３ｂの位置がスライス方向（体軸方向）に移動され、Ｘ線ビームの照射位置が最適な位置に移動される。
【００２３】
Ｘ線検出器２０５は、図１及び図２に示すように、被検体６を介してＸ線源２０１に対向するように配置される。Ｘ線検出器２０５には、例えばシンチレータとフォトダイオードとにより構成される複数の検出素子が、チャネル方向及びスライス方向の２次元に配置されている。具体的には、検出素子は、チャネル方向に例えば１〜１０００個程度、列方向に例えば１〜１０００個程度配列されており、これらの複数の検出素子は全体として円筒面状もしくはチャネル方向に折れ線状に湾曲したＸ線入射面を形成している。各検出素子は被検体６を透過したＸ線量（透過Ｘ線データ）を検出し、検出した透過Ｘ線データをデータ収集装置２０６に出力する。
【００２４】
また、Ｘ線検出器２０５の検出素子のうち、一端側または両端側の、それぞれひとつまたは複数のチャネルが、Ｘ線ビーム位置のシフト検出用に割り当てられる。本実施の形態では、一端側のチャネルをシフト検出チャネルとし、２０５ａの符号を付すこととする。なお、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａは、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂによってＸ線照射経路が遮断されない位置に割り当てられることが望ましい（図３、図４参照）。
【００２５】
データ収集装置２０６は、Ｘ線検出器２０５の個々の検出素子により検出される透過Ｘ線データを収集し、操作コンソール４の画像演算装置４０２に出力する。
【００２６】
シフト検出器２０４ａ，２０４ｂは、Ｘ線源２０１から照射されるＸ線ビームの照射中心からのシフトを検出するものである。
本実施の形態では、図２に示すように、Ｘ線源２０１から照射されるＸ線ファンビームのチャネル方向の広がり角度の両端部をそれぞれ検出するように、２つのシフト検出器２０４ａ，２０４ｂが設けられている。なお、従来のものと同様に一端側にのみシフト検出器２０４ａ（または２０４ｂ）を設けるようにしてもよい。
【００２７】
また、図３に示すように、各シフト検出器２０４ａ，２０４ｂは、Ｘ線源２０１のＸ線ビーム照射口とコリメータ２０３との間に固定されたシフト検出器支持機構２０４ｃによって、Ｘ線ファンビームのチャネル方向の広がり端部に差し掛かるように取り付けられている。そして、Ｘ線ファンビームに差し掛かる位置が、スライス方向に２等分され、２等分された各領域にそれぞれ検出素子が設けられている。各シフト検出器２０４ａ，２０４ｂは、各領域におけるＸ線量の検出値を出力データとして、制御装置２０２に出力する。本実施の形態では、一例として、シフト検出器２０４ａをスライス方向にＡ，Ｂの領域に分割し、各領域Ａ，Ｂでの出力データをそれぞれＶａ，Ｖｂとする。同様に、シフト検出器２０４ｂをスライス方向にＣ，Ｄの領域に分割し、各領域Ｃ，Ｄでの出力データをそれぞれＶｃ，Ｖｄとする（図４（Ｂ）参照）。
【００２８】
次に、図３及び図４を参照して、制御装置２０２のＸ線照射位置のシフトの検出及び補正に関する機能を説明する。
図３は、Ｘ線ＣＴ装置１におけるＸ線ビームのシフト位置の検出及び補正制御に関する機能ブロック図である。
図４は、Ｘ線ビームのシフト位置の検出及び補正について説明する図であり、（Ａ）は、シフト検出器２０４ａが片側に設けられている場合、（Ｂ）はシフト検出器２０４ａ，２０４ｂが両側に設けられている場合を示す。
【００２９】
図３に示すように、制御装置２０２は、Ｘ線検出器出力処理部１１、シフト検出器出力処理部１２、出力選択制御部１３、シフト位置算出部１４、及びシフト位置補正部１５を備えている。
【００３０】
Ｘ線検出器出力処理部１１は、Ｘ線検出器２０５に設けられたシフト検出チャネル２０５ａからの出力データを処理する。具体的には、図３、図４に示す例では、Ｘ線検出器２０５のチャネル１ｃｈ側の一部のチャネルをシフト検出チャネル２０５ａとしている。Ｘ線検出器出力処理部１１は、シフト検出チャネル２０５ａの１スライス〜Ｍ／２スライスの領域Ｓの各検出素子の検出値の和Ｖｓと、Ｍ／２スライス〜Ｍスライスの領域Ｔの各検出素子の検出値の和Ｖｔと、を算出し、出力選択制御部１３へ出力する。
【００３１】
シフト検出器出力処理部１２は、シフト検出器２０４ａ、及びシフト検出器２０４ｂからの出力データを処理する。具体的には、図４（Ａ）に示すように片側にシフト検出器２０４ａが設けられている場合は、スライス方向に分割された各領域Ａ，Ｂにおける各出力データ（Ｖａ，Ｖｂ）が制御装置２０２のシフト検出器出力処理部１２に入力される。シフト検出器出力処理部１２は、各領域Ａ，Ｂにおける各出力データ（Ｖａ，Ｖｂ）の差の絶対値Ｖｄ１を算出し、各出力データＶａ，Ｖｂとともに出力選択制御部１３へ送出する。Ｖｄ１は、以下の式（１）で表される。
【００３２】
Ｖｄ１  ＝  ｜Ｖａ−Ｖｂ｜      ・・・（１）
【００３３】
また、図４（Ｂ）に示すように、両側にシフト検出器２０４ａ，２０４ｂが設けられている場合は、領域Ａの出力データＶａ、領域Ｂの出力データＶｂ、領域Ｃの出力データＶｃ、及び領域Ｄの出力データＶｄが、制御装置２０２のシフト検出処理部１２に入力される。シフト検出器出力処理部１２は、入力された出力データから、領域Ａの出力データＶａと領域Ｂの出力データＶｂとの和（Ｖａ＋Ｖｂ）、及び、領域Ｃの出力データＶｃと領域Ｄの出力データＶｄとの和（Ｖｃ＋Ｖｄ）を算出し、出力選択制御部１３へ送出する。
【００３４】
出力選択制御部１３は、Ｘ線検出器シフト検出チャネル２０５ａの出力データ、またはシフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力データのいずれか一方を、シフト位置の検出に利用するかを判別する。具体的には、出力選択制御部１３は、Ｘ線検出器出力処理部１１の出力データが、所定の閾値より大きい場合は、Ｘ線検出器シフト検出チャネル２０５ａの出力を選択し、Ｘ線検出器出力処理部１１の出力データが所定の閾値以下である場合は、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力を選択する。
ここで、出力選択の判断に参照される出力データは、Ｘ線検出器シフト検出チャネル２０５ａの出力データＶｓ，Ｖｔの和、平均値、或いは最小値等のいずれを用いるようにしてもよい。
【００３５】
シフト位置算出部１４は、出力選択制御部１３によって選択された、いずれかの出力データ（Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル器の出力データ（Ｖｓ，Ｖｔ）、またはシフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力データ（Ｖａ＋Ｖｂ，Ｖｃ＋Ｖｄ）を用いて、Ｘ線照射位置のシフト位置を算出し、シフト位置に応じた補正方向を示す補正信号をシフト位置補正部１５へ送出する。
【００３６】
具体的には、出力選択制御部１３によって、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａの出力が選択されている場合は、シフト検出チャネル２０５ａの各領域Ｓ，Ｔの出力データ（Ｖｓ，Ｖｔ）の差分が、中心からのシフト量に対応している。Ｘ線の照射量は、中心部で最大となり、外側に向かって減衰するものであるので、照射中心が、Ｘ線検出器２０５のいずれの領域にシフトしているかが、出力データ（Ｖｓ，Ｖｔ）の値から算出できる。例えば、Ｘ線ビームの中心が、Ｘ線検出器２０５の領域Ｓ側にシフトしている場合には（Ｖｓ＞Ｖｔ）、Ｖｓ＝Ｖｔとなるように、シフト位置補正部１５に補正信号を送出する。この場合、シフト位置補正部１５は、Ｖｓ＝Ｖｔとなるまで、コリメータを領域Ｔ側にシフトさせる。
【００３７】
また、出力選択制御部１３によって、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂが選択されている場合は、シフト位置算出部１４は、各シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力データに基づいて、シフト検出器出力処理部１２によって算出した各領域の出力データの和（Ｖａ＋Ｖｃ）、（Ｖｂ＋Ｖｄ）のうち、どちらの値が大きいかを比較し、比較結果に基づいて、いずれの領域にシフトしているかを算出する。そして、Ｖａ＋Ｖｃ＝Ｖｂ＋Ｖｄとなるように、補正方向、及び補正量を決定し、シフト位置補正部１５に補正信号を送出する。
【００３８】
例えば、図４(Ｂ)の一点鎖線で示す位置に、Ｘ線ビームがシフトしている場合は、各シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの各領域の出力データは、（Ｖａ＋Ｖｃ）＞（Ｖｂ＋Ｖｄ）である。この場合、シフト位置算出部１４は、出力データの和の値が小さい領域Ｂ，Ｄの方向を補正方向とし、シフト位置補正部１５に補正信号を送出する。
【００３９】
シフト位置補正部１５は、Ｘ線ビームの中心がＸ線検出器２０５の中心に一致するまで、シフト位置の補正を行う。
【００４０】
シフト位置補正部１５は、シフト位置算出部１４から入力される補正信号に従って、コリメータ２０３の位置を制御し、Ｘ線検出器２０５の中心とＸ線ビームの中心とが一致するまで、Ｘ線照射位置を補正する。
【００４１】
以下、図５、図６を参照して、Ｘ線ＣＴ装置１におけるＸ線ビームのシフト検出及び補正に関する動作を説明する。
【００４２】
図５は、Ｘ線ビームのシフト検出及び補正処理の流れを説明するフローチャートである。
図６は、１回転中のシフト位置検出動作を説明する図である。
【００４３】
図５に示すように、Ｘ線ＣＴ装置１において、撮影（計測）が開始されると、Ｘ線ビームのシフト検出及び補正処理が開始される（ステップＳ１）。ステップＳ１において、制御装置２０２は、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの各領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄからの出力データ（Ｖａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄ）及びＸ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａの出力データ（Ｍスライス分の各検出素子からの出力データ）を取得する。
【００４４】
制御装置２０２は、Ｘ線検出器出力処理部１１及びシフト検出器出力処理部１２によって、取得した各出力データを処理する。すなわち、Ｘ線検出器出力処理部１１は、取得した各検出素子からの出力データから、各領域Ｓ，Ｔにおける出力データＶｓ，Ｖｔを算出する。また、シフト検出器出力処理部１２は、各シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの各領域の出力データに基づき、和（Ｖａ＋Ｖｃ）、及び（Ｖｂ＋Ｖｄ）を算出する。
【００４５】
ステップＳ２において、制御装置２０２は、出力選択制御部１３によって、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａからの出力データが所定の閾値以上であるか否かを判別し、閾値以上である場合は（ステップＳ２；ｔｒｕｅ）、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａを選択する（ステップＳ３）。
また、シフト検出チャネル２０５ａからの出力データが所定の閾値より小さい場合は（ステップＳ２；ｆａｌｓｅ）、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂを選択する（ステップＳ４）。
【００４６】
Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａが選択されている場合（ステップＳ３）、制御装置２０２は、シフト位置算出部１４によって、シフト検出チャネル２０５ａの出力データ（Ｖｓ，Ｖｔ）のうち、いずれか大きい方を示す領域にＸ線ビーム位置がシフトしていることを検出する。そして、制御装置２０２は、Ｖｓ＝Ｖｔとなるように、補正方向を決定し、補正信号をシフト位置補正部１５へ送出する（ステップＳ５）。
【００４７】
一方、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂが選択されている場合（ステップＳ４）、制御装置２０２は、シフト検出器出力処理部１２によって算出された和のデータ（Ｖａ＋Ｖｃ，Ｖｂ＋Ｖｄ）を用いて、いずれのスライス方向にシフトしているかを検出する。すなわち、出力データの和（Ｖａ＋Ｖｃ，Ｖｂ＋Ｖｄ）のうち、大きい値を示す方向にＸ線ビームがシフトしていることを検出する。そして、（Ｖａ＋Ｖｃ）＝（Ｖｂ＋Ｖｄ）となるように、補正信号をシフト位置補正部１５へ送出する（ステップＳ５）。
【００４８】
制御装置２０２は、ステップＳ５において送出される補正信号に従って、コリメータ２０３等を制御し、Ｘ線ビームの位置を補正する（ステップＳ６）。なお、コリメータ２０３の移動量は、予め設定された所定幅刻みとし、制御装置２０２がＸ線ビームのシフトを検出しなくなるまで繰り返されるものとする。
すなわち、制御装置２０２はステップＳ１〜ステップＳ６の処理を繰り返し、Ｘ線の照射中心が常にＸ線検出器２０５の中心に一致するように制御する。
【００４９】
図５に示すシフト位置の検出及び補正処理において、ガントリ１回転中に、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂまたはＸ線検出器２０５のいずれが選択されるかを、図６を用いて説明する。
図６（Ａ）に示すように、被検体６を介して対向する位置に、Ｘ線源２０１及びシフト検出器２０４ａ，２０４ｂと、Ｘ線検出器２０５と、が配置されている。また、Ｘ線検出器２０５の一端のチャネルがシフト検出チャネル２０５ａに割り当てられている。
【００５０】
計測が開始されると、Ｘ線源２０１及びシフト検出器２０４ａ，２０４ｂと、Ｘ線検出器２０５と、は回転軌道上を回転する。図６（Ｂ）に示す位置では、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａに入射するＸ線は、被検体６等によって遮られないため、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａの出力が選択され（動作ＯＮ）、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの動作はＯＦＦとなる。
【００５１】
図６（Ｃ）、（Ｄ）に示す位置では、Ｘ線検出器のシフト検出チャネル２０５ａに入射するＸ線が被検体６等によって遮られるため、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力が選択され（動作ＯＮ）、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａ動作はＯＦＦとなる。
このように、計測中に、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａ、またはシフト検出器２０４ａ，２０４ｂのいずれの出力を選択するかが、制御装置２０２によって切り替えられる。
【００５２】
図６（Ｅ）は、１回転中にいずれの検出器が選択されるかを示す図である。Ｘ線源２０１が、図中白色領域の回転起動上にあるときに、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力が選択され、Ｘ線源２０１が図中斜線領域の回転軌道上にあるときに、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａの出力が選択される。
【００５３】
以上説明したように、本実施の形態のＸ線ＣＴ装置１は、Ｘ線源２０１とコリメータ２０３との間にＸ線ビームの照射位置のずれ（シフト）を検出するためのシフト検出器２０４ａ，２０４ｂを備えるとともに、Ｘ線検出器２０５の一部のチャネルをシフト検出チャネル２０５ａとして利用する。そして、制御装置２０２によって、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力データ、またはシフト検出チャネル２０５ａの出力データ、のいずれか一方を選択し、選択した出力データに基づいて、Ｘ線ビームのシフト位置を算出し、算出したシフト位置に基づいて、コリメータ２０３等の位置を制御することによりＸ線ビームの照射位置を補正する。
【００５４】
その結果、被検体６や寝台３等に遮られて、Ｘ線検出器２０５に設けられるシフト検出チャネル２０５ａへＸ線が入射しない場合にも、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂによってＸ線のシフトを検出でき、計測中常時シフト位置の補正を行うことが可能となる。
【００５５】
また、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａにＸ線が入射している場合には、シフト検出チャネル２０５ａからの出力データを優先的に選択して、シフト位置の補正を行うので、実際の透過Ｘ線データの収集位置であるＸ線検出器２０５側で、Ｘ線の位置ずれを把握でき、より正確に補正できる。
【００５６】
また、複数のシフト検出器２０４ａ，２０４ｂによって、Ｘ線ビームのチャネル方向の広がりの両端部を検出するので、Ｘ線がＸ線検出器２０５に対して、チャネル方向の一方の端部側で大きく位置がずれるようなシフトについても、より正確にシフト位置を検出でき、補正精度が向上する。
【００５７】
なお、上述の実施の形態では、制御装置２０２の出力選択制御部１３は、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａの出力データが所定の閾値より大きい場合にシフト検出チャネル２０５ａの出力を選択するものとしたが、これに限定されるものではない。例えば、予め定められた位置にＸ線源２０１が到達したときに、Ｘ線検出器２０５のシフト検出チャネル２０５ａを選択し、その他の位置ではシフト検出器２０４ａ，２０４ｂの出力を選択するようにしてもよい。
【００５８】
また、シフト位置を補正する手段としては、コリメータ２０３を用いる例を説明したが、これに限定されるものではなく、Ｘ線検出器２０５を移動させたり、Ｘ線源２０１(Ｘ線管球)の位置を移動させたり、或いは磁場を発生させてＸ線ビームを所定方向へ屈曲させたりする手法を用いてもよい。
【００５９】
また、スライス方向のシフトを検出する例を示したが、チャネル方向（回転方向）へのシフトを検出するようにしてもよい。この場合も、複数のシフト検出器２０４ａ，２０４ｂの各領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの出力データＶａ，Ｖｂ，Ｖｃ，Ｖｄの値の違いから、チャネル方向へのシフトを検出できる。
【００６０】
その他、当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】Ｘ線ＣＴ装置１の全体構成を示すハードウエア構成図
【図２】Ｘ線源２０１、コリメータ２０３、シフト検出器２０４ａ，２０４ｂ、及びＸ線検出器２０５の配置について説明する図
【図３】Ｘ線ＣＴ装置１におけるＸ線ビームのシフト位置の検出及び補正の制御に関する機能ブロック図
【図４】Ｘ線ビームのシフト位置の検出及び補正について説明する図
【図５】Ｘ線ビームのシフト位置の検出及び補正処理の流れを説明するフローチャート
【図６】１回転中のシフト位置検出動作を説明する図
【符号の説明】
【００６２】
１・・・・・Ｘ線ＣＴ装置
２・・・・・スキャナ
３・・・・・寝台
４・・・・・操作コンソール
２０１・・・Ｘ線源
２０２・・・制御装置
２０３・・・コリメータ
２０４ａ，２０４ｂ・・・シフト検出器
２０５・・・Ｘ線検出器
２０５ａ・・・シフト検出チャネル（Ｘ線検出器側シフト検出部）
６・・・・・被検体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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