(57)【要約】【課題】書換え型光ディスクに対して、再初期化処理でリアルタイム性の高いデータ記録に適した代替領域配置を行うこと。【解決手段】欠陥部位検出回路２０が光ディスク１０のユーザデータ領域から欠陥部位を検出すると、欠陥管理情報生成記憶回路３は欠陥部位のアドレスと、その代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する。欠陥領域サイズ計測回路４は光ディスク１０の再初期化時に、再初期化前の欠陥管理情報を検索し、ユーザデータ領域全体を複数のセグメントに分割して、各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測し、代替領域サイズ設定回路５は各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各ユーザデータ領域に割当てる代替領域サイズを決定する。領域再設定回路６は各ユーザデータ領域に割当られた各代替領域サイズに基づいて各ユーザデータ領域および各代替領域を再設定する。【選択図】図１
2010027147.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出する欠陥部位検出手段と、
前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する欠陥管理情報生成記憶手段と、
前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化前の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測する欠陥領域サイズ計測手段と、
前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメントに隣接して配置する代替領域サイズを決定する代替領域サイズ設定手段と、
前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定する領域再設定手段と、
を有するディスク記録装置。
【請求項２】
セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの再初期化時に、前記ユーザデータ領域に対し検証用データを書込み、前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出する欠陥部位検出手段と、
前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する欠陥管理情報生成記憶手段と、
前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化後の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測する欠陥領域サイズ計測手段と、
前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメントに隣接して配置する代替領域サイズを決定する代替領域サイズ設定手段と、
前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定する領域再設定手段と、
を有するディスク記録装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２記載のディスク記録装置において、
前記代替領域サイズ設定手段は、
再初期化時に設定されたディスク全体の代替領域サイズと各セグメントへの割当代替領域サイズの合計が一致するように、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに均等な量だけ増減して、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定する、ディスク記録装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２記載のディスク記録装置において、
前記代替領域サイズ設定手段は、
再初期化時に設定されたディスク全体の代替領域サイズと各セグメントへの割当代替領域サイズの合計が一致するように、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズおよび欠陥比率とに基づき、各セグメントに割当てる代替領域サイズの割当比率を求め、その割当比率に基づいて、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定する、ディスク記録装置。
【請求項５】
セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出するステップと、
前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶するステップと、
前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化前の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測するステップと、
前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定するステップと、
前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定するステップと、
を有する書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法。
【請求項６】
セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの再初期化時に、前記ユーザデータ領域に対し検証用データを書込み、前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出するステップと、
前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶するステップと、
前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化後の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測するステップと、
前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定するステップと、
前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定するステップと、
を有する書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、書換え型光ディスクの再初期化時における代替領域を設定するディスク記録装置、書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクにデータを記録する際、ディスク面の傷やゴミ、振動などが原因で記録エラーとなる場合がある。かかる場合、ユーザデータ領域に記録すべきデータを、ユーザデータ領域の内周または外周等の代替領域（スペア領域ともいう。）に記録する方法がある。ここで、記録時において、かかる代替領域のサイズを変更する技術がある（例えば、特許文献１，２参照。）。
【特許文献１】特開２０００−２９３９５４号公報
【特許文献２】特表２００６−５２３９１０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、上記特許文献１，２の背景技術では、サイズを変更する代替領域は、ディスク上の特定の位置（例えば、物理アドレス終端位置）に限定されており、欠陥検出位置によってはディスクの内周から外周までをロングシークで往復するような状況も起きる場合がある。特に、複数の記録層にユーザーデータ領域及び代替領域を持つディスクでは、ある層のユーザーデータ領域から別の層の代替領域に記録するため記録レーザの記録学習が必要になる、という状況も起こり得る。
【０００４】
また、このような代替処理が頻発すると、記録レートが一時的に低下し、テレビ放送などのリアルタイム性の高いデータの場合には記録が正しく行われず、再生できなくなるなどの事態が考えられる。よって、リアルタイムデータの記録においては、エラー検出や代替処理を行わないストリーム記録によって、小さいエラーは容認する代わりに大きな映像の乱れを避ける仕様も存在するが、高精度な記録再生を達成することができない。そのため、比較的処理時間の短い短距離シークにより代替記録を確実に行えれば良いのだが、そのためには潜在的なものも含めた欠陥部位の多く存在する領域の近接に多くの代替領域が必要になる。
【０００５】
そこで、本発明は、書換え型光ディスクの再初期化時に、リアルタイム性の高い映像データ等のデータ記録に効果的な代替領域の配置を行うことができるディスク記録装置、および書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明のディスク記録装置は、セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出する欠陥部位検出手段と、前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する欠陥管理情報生成記憶手段と、前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化前の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測する欠陥領域サイズ計測手段と、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメントに隣接して配置する代替領域サイズを決定する代替領域サイズ設定手段と、前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定する領域再設定手段と、を有する。
また、本発明のディスク記録装置は、セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクの再初期化時に、前記ユーザデータ領域に対し検証用データを書込み、前記ユーザデータ領域から前記欠陥部位を検出する欠陥部位検出手段と、前記欠陥部位のアドレスと、前記欠陥部位に記録すべきデータを代替記録する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して記憶する欠陥管理情報生成記憶手段と、前記書換え型光ディスクの再初期化時に、再初期化後の前記欠陥管理情報を検索し、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測する欠陥領域サイズ計測手段と、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各セグメントに隣接して配置する代替領域サイズを決定する代替領域サイズ設定手段と、前記各セグメント毎の代替領域サイズに基づいて再初期化後の前記各セグメントおよび各代替領域を再設定する領域再設定手段と、を有するようにしても良い。
ここで、前記代替領域サイズ設定手段は、再初期化時に設定されたディスク全体の代替領域サイズと各セグメントへの割当代替領域サイズの合計が一致するように、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズに均等な量だけ増減して、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定するようにしても良いし、再初期化時に設定されたディスク全体の代替領域サイズと各セグメントへの割当代替領域サイズの合計が一致するように、前記各セグメント毎の欠陥領域サイズおよび欠陥比率とに基づき、各セグメントに割当てる代替領域サイズの割当比率を求め、その割当比率に基づいて、再初期化後の前記各セグメント毎の代替領域サイズを決定するようにしても良い。
また、以上の発明における手段を、ステップに置き換えた書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法の発明により課題を解決するようにしても良い。なお、以上のディスク記録装置、および書換え型光ディスク記録媒体における代替領域設定方法は、ＣＰＵないしはコンピュータ等がプログラムの実行により達成するようにしても良い。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、書換え型光ディスクの再初期化時に、各セグメントの隣接位置に割り当てる代替領域サイズを、再初期化前または再初期化時の欠陥領域サイズに基づいて決定することで、予測される欠陥に対して同層、近距離の代替記録で対応でき、記録再生レートの低下を防げるので、リアルタイム性の高い映像データなどの記録再生もより高精度で行える記録再生システムの実現が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
実施の形態１．
以下、本発明のディスク記録装置の実施の形態１として、ディスク記録再生装置について説明する。
【０００９】
図１は、本発明の実施の形態１におけるディスク記録再生装置を示す図である。
【００１０】
ディスク記録再生装置は、セグメント毎に分けられたユーザデータ領域と、各セグメントに隣接して設けられ、各セグメントの欠陥部位に記録するユーザデータを代替記録する代替領域とを有する書換え型光ディスクである光ディスク１０にデータを記録したり再生するものである。なお、本実施形態は、リアルタイム記録が要求される、リアルタイム性の高い映像データ等のデータ記録を対象にした発明であるが、リアルタイム性のあまり要求されない通常のデータ記録を対象にしても勿論よい。
【００１１】
ここで、図１に示すディスク記録再生装置は、光ディスク１０へのデータ書込み時や再生時に各ユーザデータ領域から欠陥部位を検出する欠陥部位検出回路２と、欠陥部位のアドレスと、欠陥部位に対応する代替領域のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して内部メモリ等に記憶する欠陥管理情報生成記憶回路３と、欠陥管理情報生成記憶回路３に保持されている欠陥管理情報のリストを検索し、各層のユーザデータ領域の中点および層の切り替わりのアドレスで区切られた領域毎に欠陥領域のサイズを計測する欠陥領域サイズ計測回路４と、欠陥計測回路４によって得られた所定のユーザデータ領域毎の欠陥領域のサイズを元に、各代替領域に割当てるサイズを決定する代替領域サイズ設定回路５と、割当てられた各代替領域サイズから再初期化後の新規のユーザデータ領域アドレスおよび代替領域アドレスを決定し、新規の欠陥管理リストとして登録する領域再設定回路６と、を有している。また、このディスク記録再生装置は、欠陥管理情報をフォーマットデータとして変調する記録系回路７と、そのデータに基づいてレーザ光を出射させるレーザ駆動回路８、光ディスク１０にデータを読書きする光ピックアップユニット（図では、略してＰ.Ｕ.で示す。）９とを有している。なお、図１は、再初期化処理に関連する部位の構成例であり、記録パルス生成回路など記録系回路の詳細や再生系処理回路についての記載は省略する。
【００１２】
図２は、光ディスク１０の一例として、２層の書換え型光ディスクの場合の代替領域の設定例を示す図である。勿論、光ディスク１０は、単層ディスクでも構わない。
【００１３】
つまり、図２に示すように、この２層の光ディスク１０は、１層目（Layer０）と２層目（Layer1）のそれぞれの記録層において、ユーザがデータを記録可能なユーザデータ領域１０Ａの内周側と外周側とにそれぞれ代替領域１０Ｂ，１０Ｃを設けている。なお、記録再生方向は、図２に矢印により図示している通りである。
【００１４】
図３は、図２に示す２層の光ディスク１０の各層のユーザデータ領域１０Ａそれぞれに２つずつ、計４つのセグメント１〜４（segment１〜４）を設けた場合の代替領域の設定例を示している。
【００１５】
光ディスク１０では、ユーザデータ領域のセグメント１〜４（segment１〜４）毎に、一の代替領域（replace１〜４）を設ける。つまり、セグメント１（segment１）には代替領域（replace１）が対応し、セグメント２（segment２）には代替領域２（replace２）、セグメント３（segment３）には代替領域３（replace３）、セグメント４（segment４）には代替領域４（replace４）が対応する。このように、本実施形態一のデータ記録再生装置では、光ディスク１０のユーザデータ領域１０Ａを任意のセグメントに分割し、各セグメントに対応して一の代替領域を割当て、欠陥部位に対して同層で、かつ、内外周で距離の近い方の代替領域を優先的に選択することで、代替処理による時間のロス、データ転送レート低下を軽減することができる。
【００１６】
次に動作について説明する。
【００１７】
欠陥部位検出回路２は、初期化（フォーマット）後の光ディスク１０へのデータ書込み時や再生時に、各ユーザデータ領域１０Ａから欠陥部位を検出して陥管理情報生成記憶回路３へ出力する。欠陥管理情報生成記憶回路３は、欠陥部位検出回路２が各ユーザデータ領域１０Ａから検出した欠陥部位のアドレスと、欠陥部位に対応する代替領域（replace１〜４）のアドレスとを少なくとも含む欠陥管理情報を生成して内部メモリ等に記憶する。
【００１８】
このような状況において、欠陥計測回路４は、光ディスク１０の再初期化（リフォーマット）要求を受けると、その再初期化（リフォーマット）要求前の現在の欠陥管理情報を、欠陥管理情報生成記憶回路３から読み込み、光ディスク１０の各層の内周側および外周側のセグメントの合計４つのセグメント（segment１〜４）毎に欠陥領域のサイズを計測する。
【００１９】
代替領域サイズ設定回路５は、再初期化要求コマンドのパラメータから取得した新規割当代替領域サイズの合計と、欠陥計測回路４によって得られたセグメント（segment１〜４）毎の欠陥領域のサイズとを元に、各代替領域に割当てるサイズを決定する。決定方法は以下の通りである。
【００２０】
図４は、実施の形態１における計測した欠陥領域サイズから各代替領域の新規割当サイズを決定する第一の例を示す図である。
【００２１】
まず、図４は、新規割当代替領域の合計サイズが、欠陥計測回路４が各セグメント毎に計測した欠陥領域の合計サイズよりも大きい場合である。この場合、代替領域サイズ設定回路５は、（新規割当代替領域の合計サイズ）から（計測した欠陥領域の合計サイズ）を減算した値を、セグメント数の４で除算し、除算した値を、各セグメントの代替領域サイズ（＝元の欠陥領域サイズ）に加えるようにする。つまり、代替領域サイズ設定回路５は、再初期化前の各欠陥領域サイズに、今回のフォーマットで増えた代替サイズをセグメントで均等に割った分を上乗せする。
【００２２】
図５は、実施の形態１における計測した欠陥領域サイズから各代替領域の新規割当サイズを決定する第２の例を示す図である
【００２３】
図５は、図４とは逆に、欠陥計測回路４で計測した計測した欠陥領域の合計サイズが、新規割当代替領域の合計サイズよりも大きい場合である。かかる場合、代替領域サイズ設定回路５は、（計測した欠陥領域の合計サイズ）から（新規割当代替領域の合計サイズ）を減算した値を、セグメント数の４で除算し、除算した値を、各セグメントの再初期化前の欠陥領域サイズから引いた数の代替領域を割当てる。
【００２４】
ここで、代替領域サイズ設定回路５は、各セグメントに割当てる代替サイズの下限値を設定しておき、再初期化後のある代替領域のサイズがその下限値を下回る結果になりそうな場合は、そのセグメントの代替サイズは下限値に設定し、残りのセグメントについて同様の計算を行うようにしても良い。
【００２５】
代替領域サイズ設定回路５が各代替領域のサイズの再割当てを確定すると、領域再設定回路６は、代替領域サイズ設定回路５によって新たに割当てられた各代替領域サイズと、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶された欠陥管理情報とから新規のユーザデータ領域アドレスおよび代替領域アドレスを決定して新たな欠陥管理情報を作成し、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶すると共に、記録系回路７へ出力する。なお、領域再設定回路６自身が欠陥管理情報を記憶するようにしても勿論よい。
【００２６】
記録系回路７は、領域再設定回路６または欠陥管理情報生成記憶回路３からの新規欠陥管理情報を取り出し、他の管理情報を含めたフォーマットデータを作成して、データ変調等を行なってレーザ駆動回路８に出力する。レーザ駆動回路８は、光ピックアップユニット（Ｐ．Ｕ.）９を介して光ディスク１０にレーザ光を出射して、フォーマットデータをディスク９に記録する。これにより再初期化が完了する。
【００２７】
以上のように、実施の形態１のディスク記録再生装置では、例えば、２層の記録層を持つ光ディスク１０の再初期化時に、各層内でユーザデータ領域を内周側と外周側の２つのセグメントの合計４つのセグメント（segment１〜４）に区切り、一のセグメントに一の代替領域を割当て、最初期化前の各セグメント毎の欠陥領域サイズに対して均等な量だけ増減して、再初期化後の各セグメントに割当てる代替領域サイズを決定するようにしたので、再初期化前と同位置で欠陥が多く発生しても、同じセグメント内に代替領域を確保できるため、セグメントや層を越えて代替を行うケースを減らすことができ、記録時にロングシークや層毎の記録調整処理などに時間を費やすことなく、高データ転送レートを維持した記録再生を行うことができる。
【００２８】
実施の形態２.
上記実施の形態１では、各セグメントのサイズに限らず、再初期化前の各セグメント毎の欠陥領域サイズから均等な量だけ増減して新規に代替領域を割当てたが、本実施の形態２では、再初期化前の各セグメントのサイズや欠陥比率等に応じて代替領域を割当てるようにしたものである。なお、構成自体は、図１に示す実施形態一のものと同じなので、構成の説明は省略し、特徴ある動作のみを図１を参照して説明する。
【００２９】
本実施形態２では、欠陥領域サイズ計測回路４は、光ディスク１０の再初期化要求コマンドを受けると、再初期化要求前の欠陥管理情報を欠陥管理情報生成記憶回路３等から読み込み、光ディスク１０の各層の内周側および外周側で分けられたセグメント（Seg１〜４）毎に欠陥領域のサイズを計測し、各セグメントにおける欠陥比率、すなわち（欠陥領域サイズ）／（セグメントサイズ）を求める。
【００３０】
図６は、実施の形態２における代替領域サイズの決定方法を示す図である。
【００３１】
図６では、実施形態２の代替領域サイズ設定回路５は、まず、２層で４つのセグメント（Seg１〜Seg4）を有する光ディスク１０の各セグメントにおいて、各セグメントのサイズと、各セグメントにおける欠陥数または各セグメントに対応した代替領域サイズとから各セグメントにおける欠陥比率を求め、各セグメントのサイズと、欠陥比率とから欠陥領域サイズの割当比率を求め、その割当比率に応じて代替領域のサイズを割り当てる例を示している。なお、各セグメントのサイズと、それぞれの欠陥比率とを乗算すると、再初期化前の各セグメント毎の代替領域のサイズとなる。
【００３２】
図６では、例えば、４つのセグメントそれぞれの指定代替領域サイズが0x100000セクタ、0x200000セクタ、0x200000セクタ、0x100000セクタの１；２；２；１であり、４つのセグメントにおける欠陥比率が１％、０．１％、０．４％、０．５％の１０；１；４；５とする。すると、割当比率は、各セグメントのサイズと欠陥比率とを乗算して、それぞれ１０；２；８；５の４０％、８％、３２％、２０％となる。その結果、４つのセグメントそれぞれの新たな割当代替領域サイズは、全体の代替領域サイズを、例えば、0x10000セクタとした場合、割当比率の４０％、８％、３２％、２０％に応じて、0x6600セクタ、0x1500セクタ、0x5200セクタ、0x3300セクタとなる。
【００３３】
このようにして、実施形態２の代替領域サイズ設定回路５は、欠陥領域サイズ計測回路４が計測した欠陥数または欠陥領域サイズと、各セグメント（Seg１〜Seg4）のサイズとから、各セグメント（Seg１〜Seg4）における代替領域の割当比率を求め、割当比率に応じて再初期化要求におけるディスク全体での指定代替領域サイズを、その割当比率に従って分割する。
【００３４】
そして、領域再設定回路６は、代替領域サイズ設定回路５が代替領域サイズの設定を確定すると、代替領域サイズ設定回路５によって割当てられた各代替領域サイズと、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶された欠陥管理情報とから新規のユーザデータ領域アドレスおよび代替領域アドレスを決定して新たな欠陥管理情報を作成し、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶する。なお、領域再設定回路６自身が欠陥管理情報を記憶するようにしても勿論よい。
【００３５】
記録系回路７は、領域再設定回路６または欠陥管理情報生成記憶回路３から新規の欠陥管理情報を読み出し、他の管理情報を含めたフォーマットデータを作成して、データ変調等を行なってレーザ駆動回路８に出力する。レーザ駆動回路８は、光ピックアップユニット（Ｐ．Ｕ.）９を介して光ディスク１０にレーザ光を出射して、フォーマットの情報をディスク９に記録する。これにより再初期化が完了する。
【００３６】
以上のように、本施の形態２のディスク記録再生装置は、例えば、２層の記録層を持つ光ディスク１０のユーザデータ領域を４つのセグメントに区切り、再初期化時には、再初期化前の欠陥管理情報から、欠陥部位の多いセグメントに対してその欠陥比率に合わせて代替領域のサイズを分配し、そのセグメントで欠陥が検出された際の優先的代替領域として隣接位置に設定する。これにより、再初期化前の潜在的な欠陥に対しても配慮が成され、再初期化前と同位置で欠陥が多く発生しても、シーク距離の短い位置に代替領域を確保できるため、例えば、最内周のセグメントから最外周の代替領域にシークして代替記録処理を行うことや、さらには、例えば一層目のセグメントから二層目の代替領域にシークするという層を越えての代替記録処理を行うケースを減らすことができる。その結果、記録時にロングシークや層毎の記録調整処理などに時間を費やすことなく、高データ転送レートを維持した記録再生を行うことができる。
【００３７】
実施形態３．
上記実施形態１，２では、欠陥部位検出回路２が再初期化前のユーザデータ書込み時等に検出した光ディスク１０の欠陥部位検出結果に応じて、再初期化後の代替領域を設定するように説明したが、本実施形態３では、再初期化後に、例えば、欠陥部位検出回路２がサーティファイ（検査用）データを記録再生し、欠陥部位を検出して代替領域を設定するものである。
【００３８】
図７は、実施の形態３におけるディスク記録再生装置を示す図である。
【００３９】
図７に示すように、実施の形態３のディスク記録再生装置では、欠陥部位検出回路２０が再初期化要求コマンドに基づいてサーティファイを実行して欠陥部位を検出するので、図１に示す実施の形態１等とは異なり、再初期化要求コマンドが欠陥部位検出回路２０に入力し、欠陥領域サイズ計測回路４には入力しない。なお、その他の構成は、図１に示す実施形態一のものと同じなので、その説明は省略する。なお、ここでは、欠陥部位検出回路２０がサーティファイを実行することにより欠陥部位を検出するが、本発明では、これに限らず、サーティファイを実行するサーティファイ専用回路を設けるようにしても勿論よい。
【００４０】
次に、動作について説明する。
【００４１】
実施の形態３の欠陥部位検出回路２０は、再初期化要求コマンドを受けると、欠陥管理情報生成記憶回路３より再初期化前の欠陥管理情報を読み込み、登録されているすべての欠陥部位に対してサーティファイ（検査用）データを記録再生して正常な領域かどうかを判定する。欠陥と判定されたアドレスは、欠陥管理情報生成記憶回路３の新規の欠陥管理情報としてリストに加えていく。
【００４２】
ここで、欠陥部位検出回路２０は、前述のように再初期化前の欠陥部位のみをサーティファイする方法の他に、光ディスク１０のユーザデータ領域の全面や、ユーザデータ領域および代替領域の全面等をサーティファイするようにしても勿論よい。ただし、全領域のチェックを行うと、欠陥部位をより正確に把握することが可能だが、サーティファイにかなりの時間を要するので、どちらの処理を行うかはユーザが選択できるようにしておくと良い。例えば、再初期化要求コマンドのパラメータで区別できるようにする。
【００４３】
欠陥領域サイズ計測回路４は、欠陥部位検出回路２０によるサーティファイが完了すると、欠陥管理情報生成記憶回路３から再初期化要求によりサーティファイを行った新規の欠陥管理情報を読み込み、その欠陥管理情報からサーティファイにより欠陥部位検出回路２０が検出した欠陥部位のアドレスを読み込み、セグメント毎の欠陥領域のサイズを計測する。
【００４４】
代替領域サイズ設定回路５は、再初期化要求コマンドのパラメータから新規割付代替領域サイズの合計を取得し、欠陥領域サイズ計測回路４が計測したセグメント毎の欠陥領域サイズに合わせて、代替領域サイズを各セグメントに割り振って、各セグメントの隣接位置に代替領域を設定する。
【００４５】
領域再設定回路６は、代替領域サイズ設定回路５が代替領域の設定を確定すると、代替領域サイズ設定回路５によって割当てられた各代替領域サイズと、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶された欠陥管理情報とから新規のユーザデータ領域アドレスおよび代替領域アドレスを決定して新たな欠陥管理情報を作成し、欠陥管理情報生成記憶回路３に記憶する。なお、領域再設定回路６自身が欠陥管理情報を記憶するようにしても勿論よい。
【００４６】
記録系回路７は、領域再設定回路６または欠陥管理情報生成記憶回路３から欠陥管理情報を取り出し、他の管理情報を含めたフォーマットデータを作成して、データ変調等を行なって、レーザ駆動回路８により光ピックアップユニット（Ｐ．Ｕ.）９を介して光ディスク１０にレーザ光を出射して、フォーマットの情報をディスク１０に記録する。これにより再初期化を完了する。
【００４７】
以上のように、実施の形態３のディスク記録再生装置は、再初期化時に、ユーザデータ領域全面、或いはユーザデータ領域および欠陥領域前面、あるいは再初期化前の欠陥部位に対してサーティファイ（検査用）データを書き込んでサーティファイを行い、欠陥検出結果に基づいて、欠陥検出数の多いセグメントに対してより大きなサイズの代替領域を、そのセグメントで欠陥が検出された際の隣接位置に設定するようにしたので、再初期化前と同じ範囲で欠陥が多く発生しても、シーク距離の短い位置に代替領域を確保できる。そのため、ユーザデータ領域と離れた代替領域に代替記録処理を行うようなケースを減らすことができ、さらには層を越えて代替記録処理を行うケースを減らすことができるため、記録時にロングシークや層毎の記録調整処理などに時間を費やすことなく、高データ転送レートを維持した記録再生を行うことができる。
【００４８】
なお、上記実施形態１〜３では、本発明のディスク記録装置を、データの記録および再生を行うディスク記録再生装置を一例に説明したが、本発明は、再生をしないデータ記録装置にも適用可能であるし、また、上記装置により実行される動作を示すデータ記録方法およびデータ記録再生方法、およびプログラムにも勿論適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の実施の形態１に係るディスク記録再生装置の一例を示す図である。
【図２】２層ディスクにおけるユーザデータ領域と代替領域の設定の例を示す図である。
【図３】２層ディスクにユーザデータ領域と代替領域とを設定する一例を示す図である。
【図４】実施の形態１における代替領域の新規割当サイズを決定する第一の例を示す図である。
【図５】実施の形態１における代替領域の新規割当サイズを決定する第２の例を示す図である。
【図６】実施の形態２における代替領域の新規割当サイズを決定する例を示す図である。
【図７】実施の形態３に係るディスク記録再生装置の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５０】
２,２０  欠陥部位検出回路
３  欠陥管理情報生成記憶回路
４  欠陥領域サイズ計測回路
５  代替領域サイズ設定回路
６  領域再設定回路
７  記録系回路
８  レーザ駆動回路
９  光ピックアップユニット（Ｐ．Ｕ．）
１０  光ディスク（書換え型光ディスク）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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