(57)【要約】【課題】干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行う光画像計測装置を提供する。【解決手段】ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きを変更しながら被検眼Ｅに対して信号光を走査させる制御部２１０と、干渉光を検出するＯＣＴユニット１５０と、被検眼Ｅの断層画像を形成する画像形成部２２０と、形成した断層画像の画像状態を基に該断層画像の異常を検出する異常検出部２５０と、を備え、異常検出部２５０は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に異常検出を行い、異常検出時に、制御部２１０はガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きの変更を停止し、ＯＣＴユニット１５０は停止した向きから干渉光の検出を再度開始する。【選択図】図３
2010249740.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査において得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置であって、
前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段をさらに備え、
前記断層画像形成手段は、前記干渉光検出手段による１フレーム分の前記干渉光の検出結果が得られる毎に順次断層画像を形成し、
前記異常検出手段は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に前記異常検出を行い、
前記異常が検出されたときに、前記干渉光検出手段は、前記ガルバノミラーの向きの変更を停止し、前記停止した前記向きから前記干渉光の検出を再度開始する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【請求項２】
前記異常検出手段は、前記断層画像に描出されている前記被測定物体の位置を基に異常検出を行うことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項３】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置であって、
前記干渉光検出手段は、順次前記ガルバノミラーの向きを変更させながら前記干渉光の検出を行い、
前記断層画像形成手段は、前記干渉光検出手段による前記干渉光の検出と並行して、１フレーム分の検出結果が得られる度毎に断層画像の形成を行う、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【請求項４】
前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段、をさらに備え、
前記干渉光検出手段は、前記異常が検出されたときに、前記干渉光の検出を停止する、
ことを特徴とする請求項３に記載の光画像計測装置。
【請求項５】
前記異常検出手段は、前記断層画像に描出されている前記被検眼の位置を基に異常検出を行うことを特徴とする請求項４に記載の光画像計測装置。
【請求項６】
前記異常検出手段は、所定フレーム数毎に前記異常検出を行うことを特徴とする請求項４又は請求項５に記載の光画像計測装置。
【請求項７】
前記異常検出手段は、前記異常が検出されたフレームの前及び後のそれぞれの前記所定枚数のフレームそれぞれについて前記異常検出を行い、
前記干渉光検出手段は、前記異常が検出された前記フレームが少なくとも前記所定枚数連続しているときに、前記干渉光の検出を停止する、
ことを特徴とする請求項６に記載の光画像計測装置。
【請求項８】
前記異常が検出された前記断層画像に対応する前記走査を行ったときの前記ガルバノミラーの向きを求める取得手段をさらに備え、
前記異常が検出されたときに、前記干渉光検出手段は、前記求められた向きに前記ガルバノミラーの向きを変更し、前記ガルバノミラーの向きから前記干渉光の検出を再度開始する、
ことを特徴とする請求項４乃至請求項７のいずれか一つに記載の光画像計測装置。
【請求項９】
前記取得手段は、前記異常が検出された前記断層画像から前記異常が検出された時点における前記断層画像までのフレーム数を取得し、前記異常が検出された時点におけるフレームから前記取得されたフレーム数前の前記断層画像における前記ガルバノミラーの向きを求める、
ことを特徴とする請求項８に記載の光画像計測装置。
【請求項１０】
前記被測定物体は眼底であり、
眼底画像を前記干渉光検出手段による干渉光の検出中に所定のフレームレートで取得している撮像手段をさらに備え、
前記取得手段は、前記異常が検出された前記断層画像の干渉光の検出を行った時点での前記眼底画像を基に、前記異常が検出された断層画像の前記眼底画像における位置を取得し、現在の前記眼底画像における前記取得された位置に対応する位置を特定し、前記特定された位置の走査を行うように前記ガルバノミラーの向きを求める、
ことを特徴とする請求項８に記載の光画像計測装置。
【請求項１１】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段と、を備えた光画像計測装置の制御方法であって、
前記干渉光の検出を行う検出段階と、
前記フレーム単位で前記断層画像の形成を行う断層画像形成段階と、
所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に前記異常の検出を行う異常検出段階と、
前記異常が検出された場合、
前記ガルバノミラーの駆動を停止するガルバノミラー停止段階と、
停止した前記ガルバノミラーの前記向きから前記検出段階を再開する段階と、
を有することを特徴とする光画像計測装置の制御方法。
【請求項１２】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置の制御方法であって、
順次前記ガルバノミラーの向きを変更させながら前記干渉光の検出を行う干渉光検出段階と、
前記干渉光検出段階において１フレーム分の検出結果が得られる毎に前記断層画像の形成を行う断層画像形成段階と、を有し、
前記干渉光検出段階は連続して前記検出を行い、
前記画像形成段階は前記干渉光検出段階と並行して実施される、
ことを特徴とする光画像計測装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被測定物体を光ビームで走査し、その反射光の干渉を用いて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザー光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。この光画像計測技術は、Ｘ線ＣＴ装置のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医用分野における応用の展開が期待されている。
【０００３】
特許文献１には、光画像計測技術を適用した装置が開示されている。この装置は、測定腕が回転式転向鏡（ガルバノミラー）により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、さらにその出口では、計測腕及び参照腕からの光束の干渉によって現れる光の強度が分光器で分析されるという干渉器が利用されていて、参照腕には参照光光束位相を不連続な値で段階的に変える装置が設けられた構成である。
【０００４】
特許文献１の光画像計測装置は、いわゆる「フーリエドメインＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光と参照光との干渉光のスペクトル強度分布を求め、それをフーリエ変換することにより、被測定物体の深度方向（ｚ方向）の形態を画像化するものである。
【０００５】
更に、特許文献１に記載の光画像計測装置は、光ビーム（信号光）を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成できるようになっている。なお、この光画像計測装置においては、深度方向（ｚ方向）に直交する１方向（ｘ方向）のみ光ビームを走査するようになっているので、形成される画像は、光ビームの走査方向（ｘ方向）に沿った深度方向の２次元断層画像となる。
【０００６】
特許文献２には、信号光を走査方向（ｘ方向）及び垂直方向（ｙ方向：ｘ方向及びｚ方向に直交する方向）に走査することにより走査方向（ｘ方向）の２次元断層画像を複数形成し、これら複数の断層画像に基づいて測定範囲の３次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この３次元画像化としては、例えば、複数の断層画像を垂直方向（ｙ方向）に並べて表示させる方法や（スタックデータなどと呼ばれる）、複数の断層画像にレンダリング処理を施して３次元画像を形成する方法などが考えられる。
【０００７】
特許文献３、４には、他のタイプの光画像計測装置が開示されている。特許文献３には、被測定物体に照射される光の波長を走査し、各波長の光の反射光と照射光とを重ね合わせて得られる干渉光に基づいてスペクトル強度分布を取得し、それに対してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の形態を画像化する光画像計測装置が記載されている。このような光画像計測装置は、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）タイプなどと呼ばれる。
【０００８】
また、特許文献４には、所定のビーム径を有する光を被測定物体に照射し、その反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光の成分を解析することにより、光の進行方向に直交する断面における形態を表す画像を形成する光画像計測装置が記載されている。このような光画像計測装置は、フルフィールド（ｆｕｌｌ−ｆｉｅｌｄ）タイプ、或いは円フェイス（ｅｎ−ｆａｃｅ）タイプなどと呼ばれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】特開２００２−１３９４２１号公報
【特許文献３】特開２００７−２４６７７号公報
【特許文献４】特開２００６−１５３８３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献１乃至特許文献４に記載されているような従来の光画像計測装置では、３次元画像を作成するために、必要とされる全てのフレーム数分の干渉光の検出を行った後｛例えば、Ｂ−スキャンの干渉スペクトルを全て（１２８フレームであれば１２８フレーム分の干渉スペクトル）撮り込んだ後｝、その検出結果に対しフーリエ変換などの画像処理を行うことで画像形成を行っていた。このように、必要とするフレーム数分の干渉光の検出及び画像形成を逐次的に行っていたため、前の処理段階（干渉光の検出）が終了するまで次の処理段階（画像形成）を実施することができず、３次元画像を生成するには長い処理時間が掛っていた。また、各段階を逐次的に行うため、装置のリソースの有効活用が困難であった。
【００１１】
また従来は、全てのフレームにおける干渉光の検出を行ってから、全てのフレームに対応する断層画像を形成し、その後、異常検出を行っていた。このため、断層画像に異常が発生している場合には、最初から被測定物体の測定をやり直さなければならなかった。
【００１２】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、全フレームにおける干渉光の検出の完了を待たずに画像形成を行うことにより、３Ｄ画像の形成処理時間の短縮を図ることが可能となる光画像計測装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の光画像計測装置は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査において得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置であって、前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段をさらに備え、前記断層画像形成手段は、前記干渉光検出手段による１フレーム分の前記干渉光の検出結果が得られる毎に順次断層画像を形成し、前記異常検出手段は、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に前記異常検出を行い、前記異常が検出されたときに、前記干渉光検出手段は、前記ガルバノミラーの向きの変更を停止し、前記停止した前記向きから前記干渉光の検出を再度開始する、ことを特徴とするものである。
【００１４】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記異常検出手段は、前記断層画像に描出されている前記被測定物体の位置を基に異常検出を行うことを特徴とするものである。
【００１５】
請求項３に記載の光画像計測装置は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置であって、前記干渉光検出手段は、順次前記ガルバノミラーの向きを変更させながら前記干渉光の検出を行い、前記断層画像形成手段は、前記干渉光検出手段による前記干渉光の検出と並行して、１フレーム分の検出結果が得られる度毎に断層画像の形成を行う、ことを特徴とするものである。
【００１６】
請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の光画像計測装置であって、前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段、をさらに備え、前記干渉光検出手段は、前記異常が検出されたときに、前記干渉光の検出を停止する、ことを特徴とするものである。
【００１７】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の光画像計測装置であって、前記異常検出手段は、前記断層画像に描出されている前記被検眼の位置を基に異常検出を行うことを特徴とするものである。
【００１８】
請求項６に記載の発明は、請求項４又は請求項５に記載の光画像計測装置であって、前記異常検出手段は、所定フレーム数毎に前記異常検出を行うことを特徴とするものである。
【００１９】
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載の光画像計測装置であって、前記異常検出手段は、前記異常が検出されたフレームの前及び後のそれぞれの前記所定枚数のフレームそれぞれについて前記異常検出を行い、前記干渉光検出手段は、前記異常が検出された前記フレームが少なくとも前記所定枚数連続しているときに、前記干渉光の検出を停止する、ことを特徴とするものである。
【００２０】
請求項８に記載の発明は、請求項４乃至請求項７のいずれか一つに記載の光画像計測装置であって、前記異常が検出された前記断層画像に対応する前記走査を行ったときの前記ガルバノミラーの向きを求める取得手段をさらに備え、前記異常が検出されたときに、前記干渉光検出手段は、前記求められた向きに前記ガルバノミラーの向きを変更し、前記ガルバノミラーの向きから前記干渉光の検出を再度開始する、ことを特徴とするものである。
【００２１】
請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の光画像計測装置であって、前記取得手段は、前記異常が検出された前記断層画像から前記異常が検出された時点における前記断層画像までのフレーム数を取得し、前記異常が検出された時点におけるフレームから前記取得されたフレーム数前の前記断層画像における前記ガルバノミラーの向きを求める、ことを特徴とするものである。
【００２２】
請求項１０に記載の発明は、請求項８に記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体は眼底であり、眼底画像を前記干渉光検出手段による干渉光の検出中に所定のフレームレートで取得している撮像手段をさらに備え、前記取得手段は、前記異常が検出された前記断層画像の干渉光の検出を行った時点での前記眼底画像を基に、前記異常が検出された断層画像の前記眼底画像における位置を取得し、現在の前記眼底画像における前記取得された位置に対応する位置を特定し、前記特定された位置の走査を行うように前記ガルバノミラーの向きを求める、ことを特徴とするものである。
【００２３】
請求項１１に記載の光画像計測装置の制御方法は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、前記形成された断層画像の画像状態を基に前記断層画像の異常を検出する異常検出手段と、を備えた光画像計測装置の制御方法であって、前記干渉光の検出を行う検出段階と、前記フレーム単位で前記断層画像の形成を行う断層画像形成段階と、所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎に前記異常の検出を行う異常検出段階と、前記異常が検出された場合、前記ガルバノミラーの駆動を停止するガルバノミラー停止段階と、停止した前記ガルバノミラーの前記向きから前記検出段階を再開する段階と、を有することを特徴とするものである。
【００２４】
請求項１２に記載の光画像計測装置の制御方法は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査しつつ前記被測定物体に前記信号光を照射し、前記被測定物体で反射した前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段による１フレーム分の走査によって得られた検出結果から前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、を備えた光画像計測装置の制御方法であって、順次前記ガルバノミラーの向きを変更させながら前記干渉光の検出を行う干渉光検出段階と、前記干渉光検出段階において１フレーム分の検出結果が得られる毎に前記断層画像の形成を行う断層画像形成段階と、を有し、前記干渉光検出段階は連続して前記検出を行い、前記画像形成段階は前記干渉光検出段階と並行して実施される、ことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２５】
この発明によれば、干渉光の検出中に画像の異常の検出を行うことができる。これにより、被測定物体の走査と平行して異常画像の発生の検出が可能となる。したがって、異常画像の発生を迅速に把握することができ、３次元画像の形成処理の処理時間を短縮できることが可能となる。また、装置のリソースの有効活用が可能となる。
【００２６】
また、この発明によれば、干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行うことができる。これにより、被検眼の全フレームの走査の完了を待たずに、断層画像の形成を行うことが可能となり、装置のリソースの有効活用及び３次元画像の形成処理に掛る時間の短縮が可能となる。したがって、被測定物体の検査の時間短縮に寄与することが可能となる。
【００２７】
また、この発明によれば、干渉光の検出と断層画像の形成とを並行して行うとともに、断層画像の異常を検出した場合に、異常画像が発生した場所に戻って、その場所から再度被測定物体の走査を再開することができる。これにより、装置のリソースの有効活用及び３次元画像の形成処理に掛る時間の短縮が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の全体構成の一例を表す概略構成図である。
【図２】この発明に係る光画像計測装置の実施形態におけるＯＣＴユニットの構成の一例を表す概略構成図である。
【図３】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図４】この発明に係る光画像計測装置の実施形態による信号光の走査態様の一例を表す概略図である。図４（Ａ）は、被検眼に対する信号光の入射側から眼底を見たときの信号光の走査態様の一例を表している。また、図４（Ｂ）は、各走査線上の走査点の配列態様の一例を表している。
【図５】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の使用形態の一例を表すフローチャートである。
【図６】この発明に係る光画像計測装置の時間経過に対応した各機能部のオン／オフ状態の一例を表すシーケンス図である。
【図７】各機能部のオン／オフ状態における動作の一例を表すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
〔第１の実施形態〕
以下、この発明の第１の実施形態に係る光画像計測装置について説明する。以下の実施形態では、フーリエドメインタイプの手法を適用する構成について詳しく説明する。なお、他の構成を適用する場合においても、この実施形態と同様の構成を適用することにより同様の作用及び効果が得られる。たとえば、スウェプトソースタイプのように信号光を走査（スキャン）する任意のタイプのＯＣＴ技術に対して、この実施形態に係る構成を適用することが可能である。また、フルフィールドタイプのように信号光を横方向にスキャンしないタイプのＯＣＴ技術に対して、この実施形態に係る構成を適用することも可能である。
【００３０】
［装置構成］
光画像計測装置１は、図１に示すように、眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成される。これら各部は、複数の筐体内に分散して設けられていてもよいし、単一の筐体内にまとめて設けられていてもよい。眼底カメラユニット１Ａは、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。眼底カメラは、眼底を撮影する装置である。また、眼底カメラは、眼底血管の形態の撮影に利用される。ＯＣＴユニット１５０は、被検眼のＯＣＴ画像を取得するための光学系を格納している。演算制御装置２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００３１】
ＯＣＴユニット１５０には、接続線１５２の一端が取り付けられている。接続線１５２の他端には、接続線１５２を眼底カメラユニット１Ａに接続するコネクタ部１５１が取り付けられている。接続線１５２の内部には光ファイバ１５２ａが導通されている（図２を参照）。ＯＣＴユニット１５０と眼底カメラユニット１Ａは、接続線１５２を介して光学的に接続されている。演算制御装置２００は、眼底カメラユニット１Ａ及びＯＣＴユニット１５０のそれぞれと、電気信号を伝達する通信線を介して接続されている。
【００３２】
〔眼底カメラユニット〕
眼底カメラユニット１Ａは、眼底表面の形態を表す２次元画像を形成するための光学系を有する。ここで、眼底表面の２次元画像には、眼底表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像（フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等）などが含まれる。
【００３３】
眼底カメラユニット１Ａには、従来の眼底カメラと同様に、各種のユーザインターフェイスが設けられている。このユーザインターフェイスの例として、操作パネル、コントロールレバー（ジョイスティック）、撮影スイッチ、合焦ハンドル、ディスプレイなどがある。操作パネルには、各種のスイッチやボタンが設けられている。コントロールレバーは、操作パネル等が設けられた架台や、光学系が内蔵された装置本体を、装置ベースに対して３次元的に移動させるために操作される。コントロールレバーは、特に、手動でのアライメント操作時に使用される。撮影スイッチは、コントロールレバーの上端に設けられ、眼底像やＯＣＴ画像の取得を指示するために使用される。また、撮影スイッチは、他の機能を実行する際にも使用される。操作パネルやコントロールレバーは、眼底カメラユニット１Ａの検者側の位置（後面）に設けられている。合焦ハンドルは、たとえば装置本体の側面に設けられ、フォーカス調整（ピント合わせ）を行うために使用される。なお、合焦ハンドルを操作すると、後述の合焦レンズが移動されてフォーカス状態が変更される。ディスプレイは、眼底カメラユニット１Ａの検者側の位置に設けられ、光画像計測装置１により取得された断層画像、患者情報、撮影条件等の各種情報を表示する。眼底カメラユニット１Ａの被検者側の位置（前面）には、被検者の顔を保持するための顎受けや額当てが設けられている。
【００３４】
眼底カメラユニット１Ａには、従来の眼底カメラと同様に、照明光学系１００と撮影光学系１２０が設けられている。照明光学系１００は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系１２０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置１０、１２に導く。また、撮影光学系１２０は、ＯＣＴユニット１５０からの信号光を眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光をＯＣＴユニット１５０に導く。
【００３５】
照明光学系１００は、従来の眼底カメラと同様に、観察光源１０１、コンデンサレンズ１０２、撮影光源１０３、コンデンサレンズ１０４、エキサイタフィルタ１０５及び１０６、リング透光板１０７、ミラー１０８、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）１０９、照明絞り１１０、リレーレンズ１１１、孔開きミラー１１２、対物レンズ１１３を含んで構成される。
【００３６】
観察光源１０１は、たとえば約７００ｎｍ〜８００ｎｍの範囲の近赤外領域の波長を含む照明光を出力する。この近赤外光は、ＯＣＴユニット１５０で使用する光の波長よりも短く設定されている（後述）。撮影光源１０３は、たとえば約４００ｎｍ〜７００ｎｍの範囲の可視領域の波長を含む照明光を出力する。
【００３７】
観察光源１０１から出力された照明光は、コンデンサレンズ１０２、１０４、（エキサイタフィルタ１０５又は１０６、）リング透光板１０７、ミラー１０８、照明絞り１１０、リレーレンズ１１１を介して孔開きミラー１１２に到達する。更に、この照明光は、孔開きミラー１１２により反射され、対物レンズ１１３を介して被検眼Ｅに入射して眼底Ｅｆを照明する。一方、撮影光源１０３から出力された照明光は、同様にコンデンサレンズ１０４から対物レンズ１１３までを経由して被検眼Ｅに入射して眼底Ｅｆを照明する。
【００３８】
撮影光学系１２０は、対物レンズ１１３、孔開きミラー１１２（の孔部１１２ａ）、撮影絞り１２１、バリアフィルタ１２２及び１２３、合焦レンズ１２４、リレーレンズ１２５、撮影レンズ１２６、ダイクロイックミラー１３４、フィールドレンズ（視野レンズ）１２８、ハーフミラー１３５、リレーレンズ１３１、ダイクロイックミラー１３６、撮影レンズ１３３、撮像装置１０、反射ミラー１３７、撮影レンズ１３８、撮像装置１２、レンズ１３９及びＬＣＤ１４０を含んで構成される。撮影光学系１２０は、従来の眼底カメラとほぼ同様の構成を有する。合焦レンズ１２４は、撮影光学系１２０の光軸方向に移動可能とされている。
【００３９】
ダイクロイックミラー１３４は、照明光学系１００からの照明光の眼底反射光（約４００ｎｍ〜８００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する）を反射する。また、ダイクロイックミラー１３４は、ＯＣＴユニット１５０からの信号光ＬＳ（たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する；図２を参照）を透過させる。
【００４０】
ダイクロイックミラー１３６は、観察光源１０１からの照明光の眼底反射光を反射し、撮影光源１０３からの照明光の眼底反射光を透過させる。
【００４１】
ＬＣＤ１４０は、被検眼Ｅを固視させるための固視標（内部固視標）を表示する。ＬＣＤ１４０からの光は、レンズ１３９により集光され、ハーフミラー１３５により反射され、フィールドレンズ１２８を経由してダイクロイックミラー１３６に反射される。更に、この光は、撮影レンズ１２６、リレーレンズ１２５、合焦レンズ１２４、孔開きミラー１１２（の孔部１１２ａ）、対物レンズ１１３等を経由して被検眼Ｅに入射する。それにより、眼底Ｅｆに内部固視標が投影される。
【００４２】
ＬＣＤ１４０による内部固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視方向を変更することができる。被検眼Ｅの固視方向としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする断層画像を取得するための固視方向や、視神経乳頭を中心とする断層画像を取得するための固視方向や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする断層画像を取得するための固視方向などがある。固視位置の変更は、たとえば操作パネルを操作することで行う。
【００４３】
撮像装置１０には、撮像素子１０ａが内蔵されている。撮像装置１０は、特に近赤外領域の波長の光を検出可能である。つまり、撮像装置１０は、近赤外光を検出する赤外線テレビカメラとして機能する。撮像装置１０は、近赤外光を検出して映像信号を出力する。撮像素子１０ａは、たとえば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅｓ）やＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）等の任意の撮像素子（エリアセンサ）である。
【００４４】
撮像装置１２には、撮像素子１２ａが内蔵されている。撮像装置１２は、特に可視領域の波長の光を検出可能である。つまり、撮像装置１２は、可視光を検出するテレビカメラとして機能する。撮像装置１２は、可視光を検出して映像信号を出力する。撮像素子１２ａは、撮像素子１０ａと同様に、任意の撮像素子（エリアセンサ）により構成される。
【００４５】
タッチパネルモニタ１１は、各撮像素子１０ａ、１２ａからの映像信号に基づいて眼底像Ｅｆ′を表示する。また、この映像信号は演算制御装置２００に送られる。このタッチパネルモニタ１１は、前述のディスプレイの一例である。
【００４６】
眼底カメラユニット１Ａには、走査ユニット１４１とレンズ１４２とが設けられている。走査ユニット１４１は、ＯＣＴユニット１５０から出力される信号光ＬＳの眼底Ｅｆに対する照射位置を走査する。
【００４７】
走査ユニット１４１は、図１に示すｘｙ平面上において信号光ＬＳを走査する。そのために、走査ユニット１４１には、たとえば、ｘ方向への走査用のガルバノミラー１４１Ａと、ｙ方向への走査用のガルバノミラー１４１Ｂとが設けられている（図３参照）。
【００４８】
〔ＯＣＴユニットの構成〕
次に、ＯＣＴユニット１５０の構成について図２を参照しつつ説明する。ＯＣＴユニット１５０は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様の光学系を備えている。すなわち、ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼の眼底を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光を検出して検出信号を生成する光学系を備えている。この検出信号は演算制御装置２００に送られる。
【００４９】
低コヒーレンス光源１６０は、広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する広帯域光源である。この広帯域光源としては、たとえば、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、発光ダイオード（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ：ＬＥＤ）などを用いることができる。
【００５０】
低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。低コヒーレンス光Ｌ０は、眼底カメラユニット１Ａの照明光（波長約４００ｎｍ〜８００ｎｍ）よりも長い波長、たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲の波長を含んでいる。
【００５１】
低コヒーレンス光源１６０から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１６１を通じて光カプラ１６２に導かれる。光ファイバ１６１は、たとえばシングルモードファイバやＰＭファイバ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ  ｍａｉｎｔａｉｎｉｎｇ  ｆｉｂｅｒ；偏波面保持ファイバ）等により構成される。光カプラ１６２は、低コヒーレンス光Ｌ０を参照光ＬＲと信号光ＬＳとに分割する。
【００５２】
なお、光カプラ１６２は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を重畳する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称する。
【００５３】
光カプラ１６２により生成された参照光ＬＲは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６３により導光されてそのファイバ端面から出射される。更に、参照光ＬＲは、コリメータレンズ１７１により平行光束とされ、ガラスブロック１７２、及び濃度フィルタ１７３を経由し、参照ミラー１７４により反射される。
【００５４】
参照ミラー１７４により反射された参照光ＬＲは、再び濃度フィルタ１７３、及びガラスブロック１７２を経由し、コリメータレンズ１７１によって光ファイバ１６３のファイバ端面に集光され、光ファイバ１６３を通じて光カプラ１６２に導かれる。
【００５５】
なお、ガラスブロック１７２と濃度フィルタ１７３は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの光路長（光学距離）を合わせるための遅延手段として作用する。また、ガラスブロック１７２と濃度フィルタ１７３は、参照光ＬＲと信号光ＬＳの分散特性を合わせるための分散補償手段として作用する。
【００５６】
濃度フィルタ１７３は、参照光ＬＲの光量を減少させる減光フィルタとして作用する。濃度フィルタ１７３は、たとえば、回転型のＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタにより構成される。濃度フィルタ１７３は、図示しない駆動機構によって回転駆動されて、干渉光ＬＣの生成に寄与する参照光ＬＲの光量を変更する。
【００５７】
参照ミラー１７４は、所定の駆動機構により、参照光ＬＲの進行方向（図２に示す両側矢印方向）に移動される。それにより、被検眼Ｅの眼軸長やワーキングディスタンス（対物レンズ１１３と被検眼Ｅとの間の距離）などに応じて、参照光ＬＲの光路長を確保できる。
【００５８】
他方、光カプラ１６２により生成された信号光ＬＳは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６４により接続線１５２の端部まで導光される。ここで、光ファイバ１６４と光ファイバ１５２ａは、単一の光ファイバから形成されていてもよいし、各々の端面同士を接合するなどして一体的に形成されていてもよい。
【００５９】
信号光ＬＳは、光ファイバ１５２ａにより導光されて眼底カメラユニット１Ａに案内される。更に、信号光ＬＳは、レンズ１４２、走査ユニット１４１、ダイクロイックミラー１３４、撮影レンズ１２６、リレーレンズ１２５、ハーフミラー１９０、合焦レンズ１２４、撮影絞り１２１、孔開きミラー１１２の孔部１１２ａ、対物レンズ１１３を経由して被検眼Ｅに照射されて眼底Ｅｆに照射される。なお、信号光ＬＳを眼底Ｅｆに照射させるときには、バリアフィルタ１２２、１２３は事前に光路から退避される。
【００６０】
被検眼Ｅに入射した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆ上にて結像し反射される。このとき、信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面で反射されるだけでなく、眼底Ｅｆの深部領域にも到達して屈折率境界において散乱される。したがって、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面形態を反映する情報と、眼底Ｅｆの深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでいる。この光を単に「信号光ＬＳの眼底反射光」と呼ぶことがある。
【００６１】
信号光ＬＳの眼底反射光は、被検眼Ｅに向かう信号光ＬＳと同じ経路を逆方向に案内されて光ファイバ１５２ａの端面に集光される。更に、信号光ＬＳの眼底反射光は、光ファイバ１５２ａを通じてＯＣＴユニット１５０に入射し、光ファイバ１６４を通じて光カプラ１６２に戻ってくる。
【００６２】
光カプラ１６２は、眼底Ｅｆを経由して戻ってきた信号光ＬＳと、参照ミラー１７４にて反射された参照光ＬＲとを重ね合わせて干渉光ＬＣを生成する。干渉光ＬＣは、シングルモードファイバ等からなる光ファイバ１６５を通じてスペクトロメータ１８０に導かれる。
【００６３】
スペクトロメータ（分光計）１８０は、干渉光ＬＣのスペクトル成分を検出する。スペクトロメータ１８０は、コリメータレンズ１８１、回折格子１８２、結像レンズ１８３、ＣＣＤ１８４を含んで構成される。回折格子１８２は、透過型でも反射型でもよい。また、ＣＣＤ１８４に代えて、ＣＭＯＳ等の他の光検出素子（ラインセンサ又はエリアセンサ）を用いることも可能である。
【００６４】
スペクトロメータ１８０に入射した干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１８１により平行光束とされ、回折格子１８２によって分光（スペクトル分解）される。分光された干渉光ＬＣは、結像レンズ１８３によってＣＣＤ１８４の撮像面上に結像される。ＣＣＤ１８４は、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤ１８４は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤ１８４は、この検出信号を演算制御装置２００に送る。
【００６５】
なお、この発明に係る「干渉光検出手段」は、たとえば、走査ユニット１４１と、光カプラ１６２と、信号光ＬＳの光路上の光学部材（つまり光カプラ１６２と眼底Ｅｆとの間に配置された光学部材）と、参照光ＬＲの光路上の光学部材（つまり光カプラ１６２と参照ミラー１７４との間に配置された光学部材）とを含んで構成され、特に、走査ユニット１４１、光カプラ１６２、光ファイバ１６３、１６４及び参照ミラー１７４を具備する干渉計を含み、さらにＣＣＤ１８４を有するものである。
【００６６】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。
【００６７】
〔演算制御装置〕
演算制御装置２００の構成について説明する。演算制御装置２００は、ＣＣＤ１８４から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様である。
【００６８】
また、演算制御装置２００は、眼底カメラユニット１Ａ及びＯＣＴユニット１５０の各部を制御する。
【００６９】
眼底カメラユニット１Ａの制御として、演算制御装置２００は、観察光源１０１や撮影光源１０３による照明光の出力制御、エキサイタフィルタ１０５、１０６やバリアフィルタ１２２、１２３の光路上への挿入／退避動作の制御、ＬＣＤ１４０等の表示装置の動作制御、照明絞り１１０の移動制御（絞り値の制御）、撮影絞り１２１の絞り値の制御、合焦レンズ１２４の移動制御（フォーカス調整、倍率調整）の制御などを行う。また、演算制御装置２００は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂ（図３参照）の動作制御を行い、走査ユニット１４１を制御して信号光ＬＳを走査させる。
【００７０】
また、ＯＣＴユニット１５０の制御として、演算制御装置２００は、低コヒーレンス光源１６０による低コヒーレンス光Ｌ０の出力制御、参照ミラー１７４の移動制御、濃度フィルタ１７３の回転動作（参照光ＬＲの光量の減少量の変更動作）の制御、ＣＣＤ１８４による電荷蓄積時間や電荷蓄積タイミングや信号送信タイミングの制御などを行う。
【００７１】
演算制御装置２００は、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、キーボード、マウス、ディスプレイ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブには、光画像計測装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。また、演算制御装置２００は、ＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいてＯＣＴ画像を形成する専用の回路基板を備えていてもよい。
【００７２】
〔制御系〕
光画像計測装置１の制御系の構成について図３を参照しつつ説明する。なお、図３において、撮像装置１０、１２は眼底カメラユニット１Ａと別途に記載され、ＣＣＤ１８４はＯＣＴユニット１５０と別途に記載されているが、上記の説明のように、撮像装置１０、１２は眼底カメラユニット１Ａに搭載され、ＣＣＤ１８４はＯＣＴユニット１５０に搭載されている。
【００７３】
（制御部）
光画像計測装置１の制御系は、演算制御装置２００の制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
【００７４】
制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。主制御部２１１は、眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００の各部を制御する。
【００７５】
（主制御部）
主制御部２１１は、ミラー駆動機構２４１、２４２を制御してガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向き（角度）を制御し、それにより、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を走査させる。また、主制御部２１１は、ＬＣＤ１４０を制御して内部固視標を表示させる。特に、主制御部２１１は、ミラー駆動機構２４１、２４２とＬＣＤ１４０とを同時に制御して、被検眼Ｅに内部固視標を呈示させるとともに信号光ＬＳを走査させる。
【００７６】
（記憶部）
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像Ｅｆ′の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、たとえば、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報や、被検眼の診断結果・検査結果など、被検眼に関する各種の情報を含む。主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。
【００７７】
更に、記憶部２１２には、後述の動作（フローチャート）を実行するためのコンピュータプログラムが記憶される。主制御部２１１は、当該コンピュータプログラムに基づいて動作する。
【００７８】
（画像形成部）
画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成する。この画像データ形成処理には、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ技術と同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。
【００７９】
画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板や通信インターフェイス等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて表示される「画像」とを同一視することがある。
【００８０】
（画像処理部）
画像処理部２３０は、眼底カメラユニット１Ａにより取得された眼底像（眼底表面の撮影画像）や、画像形成部２２０により形成された断層画像に対して、各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、断層画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
【００８１】
また、画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された断層画像の間の画素を補間する補間処理等を実行することにより、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。
【００８２】
なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０Ａ等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。
【００８３】
また、３次元画像の画像データとして、複数の断層画像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層画像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層画像を、一つの３次元座標系により表現する（つまり一つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。画像処理部２３０は、３次元画像に対して各種の画像処理や解析処理を行うことも可能である。
【００８４】
以上のような構成を有する画像処理部２３０は、たとえば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。また、所定の画像処理や解析処理を専門に行う回路基板などを含んでいてもよい。
【００８５】
なお、画像形成部２２０（及び画像処理部２３０）は、この発明に係る「断層画像形成手段」の一例として機能するものである。
【００８６】
（異常検出部）
異常検出部２５０は、画像形成部２２０により形成された断層画像の画像データに対してその断層画像に異常が発生しているか否かを検出する。本実施形態では、断層画像の異常とは、たとえば、検査対象である被検眼の動きにより、撮像したい部分（具体的には、眼底Ｅｆ）が断層画像の中央付近から動いてしまい断層画像に向かって断層画像の上端もしくは下端の方に撮像されてしまうことを指す。ここで、断層画像の上端とは深さ方向（ｚ方向）に向かって浅い位置を指し、断層画像の下端とは深さ方向（ｚ方向）に向かって深い位置を指す。断層画像の上端もしくは下端では解像度が低下するなどの理由から、撮像したい部分が端に位置してしまうと正確な診断を行うことができなくなるおそれがある。例えば、異常検出部２５０は、断層画像に含まれる各ピクセルの輝度値などを基に検査対象となっている画像の位置を把握し、画像の中央からのずれを求め、そのずれと予め決まっている閾値とを比較し、ずれが予め決まっている閾値より大きいと判断されたときに断層画像の異常を検出する。ただし、この画像の位置の求め方は特に制限はなく他の方法を用いてもよい。また、本実施形態では画像の位置で異常を検出したが、他の画像状態を基に異常を検出してもよく、例えばノイズによる画像の乱れを基に異常を検出してもよい。この異常検出部２５０が本発明における「異常検出手段」にあたる。
【００８７】
（表示部、操作部）
ユーザインターフェイス２４０は、表示部２４０Ａ及び操作部２４０Ｂで構成される。表示部２４０Ａは、タッチパネルモニタ１１を含んで構成される。更に、演算制御装置２００のディスプレイなどが表示部２４０Ａに含まれていてもよい。操作部２４０Ｂは、たとえばキーボードやマウスのような、入力デバイスや操作デバイスを含んで構成される。また、操作部２４０Ｂには、光画像計測装置１の筐体表面や外部に設けられた各種の入力デバイスや操作デバイスが含まれている。
【００８８】
なお、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネル方式のＬＣＤのように、表示部２４０Ａと操作部２４０Ｂとが一体化されたデバイスを用いることも可能である。
【００８９】
〔信号光の走査及びＯＣＴ画像について〕
ここで、信号光ＬＳの走査、ＯＣＴ画像、及び異常検出について説明しておく。
【００９０】
図４は、眼底Ｅｆの断層画像を形成するための信号光ＬＳの走査態様の一例を表している。図４（Ａ）は、信号光ＬＳが被検眼Ｅに入射する方向から眼底Ｅｆを見た（つまり図１の−ｚ方向から＋ｚ方向を見た）ときの、信号光ＬＳの走査態様の一例を表す。また、図４（Ｂ）は、眼底Ｅｆ上の各走査線における走査点（画像計測を行う位置）の配列態様の一例を表す。
【００９１】
図４（Ａ）に示すように、信号光ＬＳは、あらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内を走査される。走査領域Ｒ内には、ｘ方向に延びる複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されている。各走査線Ｒｉ（ｉ＝１〜ｍ）に沿って信号光ＬＳが走査されるときに、干渉光ＬＣの検出信号が生成されるようになっている。
【００９２】
各走査線Ｒｉの方向を「主走査方向」と呼び、それに直交する方向を「副走査方向」と呼ぶ。したがって、信号光ＬＳの主走査方向への走査は、ガルバノミラー１４１Ａの反射面の向きを変更することにより実行される。この各走査線Ｒｉに対応する断面が１つのフレームにあたる。また、副走査方向への走査は、ガルバノミラー１４１Ｂの反射面の向きを変更することによって実行される。
【００９３】
各走査線Ｒｉ上には、図４（Ｂ）に示すように、複数（ｎ個）の走査点Ｒｉ１〜Ｒｉｎがあらかじめ設定されている。
【００９４】
図４に示す走査を実行するために、制御部２１０は、まず、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを制御し、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの入射目標を第１の走査線Ｒ１上の走査開始位置ＲＳ（走査点Ｒ１１）に設定する。続いて、制御部２１０は、低コヒーレンス光源１６０を制御し、低コヒーレンス光Ｌ０をフラッシュ発光させて、走査開始位置ＲＳに信号光ＬＳを入射させる。ＣＣＤ１８４は、この信号光ＬＳの走査開始位置ＲＳにおける眼底反射光に基づく干渉光ＬＣを受光し、検出信号を制御部２１０に出力する。
【００９５】
次に、制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ａを制御して、信号光ＬＳを主走査方向に走査して、その入射目標を走査点Ｒ１２に設定し、低コヒーレンス光Ｌ０をフラッシュ発光させて走査点Ｒ１２に信号光ＬＳを入射させる。ＣＣＤ１８４は、この信号光ＬＳの走査点Ｒ１２における眼底反射光に基づく干渉光ＬＣを受光し、検出信号を制御部２１０に出力する。
【００９６】
制御部２１０は、同様にして、信号光ＬＳの入射目標を走査点Ｒ１３、Ｒ１４、・・・、Ｒ１（ｎ−１）、Ｒ１ｎと順次移動させつつ、各走査点において低コヒーレンス光Ｌ０をフラッシュ発光させることにより、各走査点の干渉光ＬＣに対応してＣＣＤ１８４から出力される検出信号を取得する。これにより、最初のフレームに対応する走査及び検出が終了する。
【００９７】
この様に、制御部２１０は、上述したＯＣＴユニット１５０の制御やガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの制御を行い、ＯＣＴユニット１５０に干渉光の検出を行わせる。そして、第１の走査線Ｒ１の最後の走査点Ｒ１ｎにおける計測が終了すると、画像形成部２２０は、走査線Ｒ１（主走査方向）に沿った眼底Ｅｆの断層画像を形成する（詳細は後述）。
【００９８】
そして、異常検出部２５０は、画像形成部２２０が形成した断層画像に描出されている被検眼Ｅの位置（より詳しくは眼底Ｅｆの位置）を基にその画像形成部２２０が形成した断層画像の異常の検出を行う。すなわち、異常検出部２５０は、眼底Ｅｆが断層画像の上端付近もしくは下端付近に位置しているときに断層画像が異常と判断する。
【００９９】
そして、制御部２１０は、異常検出部２５０が断層画像の異常を検出した場合、再度走査線Ｒ１に沿った眼底Ｅｆの断層画像の形成を行うようＯＣＴユニット１５０やガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの制御を行う。
【０１００】
また、制御部２１０は、異常検出部２５０が断層画像の異常を検出しなかった場合、次の走査線に沿った走査を行わせる。すなわち、制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを同時に制御して、信号光ＬＳの入射目標を、第２の走査線Ｒ２の最初の走査点Ｒ２１まで移動させる。そして、この第２の走査線Ｒ２の各走査点Ｒ２ｊ（ｊ＝１〜ｎ）について前述の計測を行うことで、各走査点Ｒ２ｊに対応する検出信号をそれぞれ取得する。さらに、走査線Ｒ２における断層画像の生成、その生成された断層画像における異常の検出及び再度の干渉光検出／断層画像の形成といった動作を、演算制御装置２００は各部に行わせる。
【０１０１】
同様に、第３の走査線Ｒ３、・・・・、第ｍ−１の走査線Ｒ（ｍ−１）、第ｍの走査線Ｒｍのそれぞれについて計測を行い、各走査点に対応する検出信号を取得し、その走査線Ｒｍにおける断層画像の生成、その生成された断層画像における異常の検出及び再度の干渉光の検出／断層画像の形成といった動作を行う。この各走査線Ｒｉにおける動作が「所定フレーム分の前記断層画像が得られる度毎」にあたる。ここでは、「所定フレーム数」は「１フレーム」だが、２フレーム以上の任意の枚数（例えば「１０フレーム」）でもよい。なお、走査線Ｒｍ上の符号ＲＥは、走査点Ｒｍｎに対応する走査終了位置である。
【０１０２】
それにより、制御部２１０は、走査領域Ｒ内のｍ×ｎ個の走査点Ｒｉｊ（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ）に対応するｍ×ｎ個の検出信号を取得するとともに断層画像の形成、異常の検出、及び再度の断層画像の形成を行うことができる。以下、走査点Ｒｉｊに対応する検出信号をＤｉｊと表すことがある。
【０１０３】
制御部２１０は、上述のように各ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを動作させるときに、その動作内容を示す情報として走査線Ｒｉの位置や走査点Ｒｉｊの位置（ｘｙ座標系における座標）を記憶するようになっている。この記憶内容（走査位置情報）は、従来と同様に画像形成処理などにおいて用いられる。
【０１０４】
次に、異常検出部２５０による断層画像の異常の検出の例を説明する。異常検出部２５０は、画像形成部２２０によって形成された各走査線Ｒｉにおける断層画像の入力を受ける。そして、異常検出部２５０は、断層画像を構成している走査点Ｒｉ１〜走査点Ｒｉｎの走査点に沿った深度方向の画像のうち９つ走査点に沿った深度方向の画像を抽出する。異常検出部２５０は、この取得する９つの走査点の位置（すなわち、何番目の走査点を抽出するか。）を予め記憶している。この取得する走査点の位置は断層画像の中で平均的に分布していることが、断層画像の異常の発生を検出するためには好ましい。例えば、２５、５０、７５、・・・、２００、２２５というように、２５×ｋ番目（ｋ＝１、２、・・・、９）の走査点、すなわち走査点Ｒｉ２５ｋを取得する。そして、異常検出部２５０は、取得した９つの走査点に沿った深度方向の画像に含まれる各ピクセルの輝度値を求め、輝度値が高い部分が断層画像の上部や下部に存在するときにその走査点に沿った深度方向の画像を異常と判定する。そして、異常検出部２５０は、９つの走査点に沿った深度方向の画像のうち所定数以上において異常が検出された場合には、制御部２１０に断層画像に異常が検出された旨の通知を行う。また異常検出部２５０は、９つの走査点に沿った画像のうちの所定数以上で異常が検出されなかった場合には制御部２１０に断層画像が正常である旨の通知を行う。ここで、所定数とは１〜９のうちのいずれかであればよい。断層画像の異常の発生の検出を精度良く行うためには所定数の数を小さくすることが好ましい。
【０１０５】
ここで、本実施形態では、断層画像の異常の検出の精度を一定にするとともに、異常検出の処理の負荷の軽減及び処理速度の向上のために、画面上に平均的に分散した９つの走査点に沿った深度方向の画像を用いて画像の異常を検出したが、この異常検出し使用する走査点の数は、求められる異常検出の確度や処理速度などに基づいて決定されることが好ましい。例えば、より処理速度を向上させたければ、より少ない数の走査点を用いて異常検出を行えばよい。また、すべての走査点を用いて異常検出を行えば、より確度の高い異常検出を行うことができる。
【０１０６】
[動作]
光画像計測装置１の動作について説明する。図５に示すフローチャートは、本実施形態に係る光画像計測装置の使用形態の一例を表している。
【０１０７】
まず、被検眼Ｅを所定の計測位置（対物レンズ１１３に対峙する位置）に配置させ、被検眼Ｅと装置とのアライメントを行う（Ｓ１）。アライメントが完了すると、次に、主制御部２１１は、被検眼Ｅに対するピント合わせを行う（Ｓ２）。
【０１０８】
アライメント調整及びピント調整が完了すると、オペレータは、操作部２４０Ｂを操作して検査の開始を要求する（Ｓ３）。このとき、主制御部２１１は、必要に応じてＬＣＤ１４０を制御し、被検眼Ｅに対して内部固視標を呈示させる。
【０１０９】
検査開始の要求を受けた主制御部２１１は、まずｉ＝１と設定する（Ｓ４）。
【０１１０】
そして、主制御部２１１は、低コヒーレンス光源１６０、ＣＣＤ１８４等を制御するとともに、ミラー駆動機構２４１及び２４２を制御して、ガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの向きを走査点Ｒｉ１の向きに調整（Ｓ５）する。そして、主制御部２１１は、走査点Ｒｉ１の向きから各走査点Ｒｉｊ（ｊ＝２〜ｍ）の方向に順次ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きを変更して、走査線Ｒｉに沿った走査を行い干渉光を検出する（Ｓ６）。
【０１１１】
続いて、画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４から出力される眼底成分の検出信号を収集し、この検出信号に基づいてスペクトルの強度分布を求め、フーリエドメインＯＣＴの手法を用いて干渉光のスペクトル強度分布をフーリエ変換することで眼底Ｅｆの深度方向（ｚ方向）の形態を画像化し断層画像を形成する（Ｓ７）。
【０１１２】
異常検出部２５０は、画像形成部２２０で形成された断層画像の画像データから９つの走査点に沿った深度方向の画像を取得し、その取得した深度方向の画像に含まれるピクセルの輝度値を求めることで断層画像の異常が発生しているか否かを検出する（Ｓ８）。
【０１１３】
異常が検出されない場合（Ｓ８のＮｏの場合）には、主制御部２１１は、ｉ＝ｉ＋１としてインクリメントを行いｉの値を１増やす（Ｓ９）。すなわち、走査線Ｒｉに沿った走査から走査線Ｒ（ｉ＋１）に沿った走査に移る。断層画像の９つの走査点に沿った深度方向の画像のピクセルを基にその断層画像の異常が検出された場合（Ｓ８のＹｅｓの場合）には、主制御部２１１は、ｉの値をそのままに保持し、ガルバノミラー１４１Ａ，１４１Ｂの駆動を停止させステップ６に戻る（Ｓ１０）。
【０１１４】
ここで、ステップ６、７、８、及び１０の繰り返しが始まりループに入った場合、図示していないが、操作者からの入力を受けてステップ８をスキップしステップ９に進むことが可能である。また、このほかにも、ステップ７とステップ８との間に繰り返しの数を数えるステップを設け、繰り返しの数が所定回数に達した場合にはステップ８をスキップしステップ９に進む構成にしてもよい。
【０１１５】
さらに、主制御部２１１は、ｉ＞ｍ（ここで、ｍは全走査線の本数である。）か否かを判断する（Ｓ１１）。ｉ＞ｍであれば（Ｓ１１のＹｅｓ）ステップ１２に進む。また、ｉ≦ｍであれば（Ｓ１１のＮｏ）、ステップ５に戻る。
【０１１６】
そして、画像処理部２３０は、形成されたｍ枚の断層画像を基に３次元画像を生成し、制御部２１０は画像処理部２３０により生成された３次元画像を表示部２４０Ａに表示させる（Ｓ１２）。
【０１１７】
［作用・効果］
以上のような光画像計測装置１の作用及び効果について説明する。
【０１１８】
光画像計測装置１は、１つのフレームにおいて、ガルバノミラーの向きを変更しながらの被検眼Ｅの走査及び干渉光の検出に続いて、断層画像の形成を行い、その形成された断層画像で異常が発生しているか否かの検出を順次行う構成を有する。また、光画像計測装置１は、断層画像の異常の発生を検出すると、その状態でガルバノミラー１４１Ａ，１４１Ｂの向きの変更を停止させ、その断層画像に対応する走査位置から再度走査を行うことができる構成を有する。
【０１１９】
このような光画像計測装置１によれば、１フレーム毎に断層画像の異常が確認できるので、迅速に異常の検出を行うことができる。また、異常が発生したときにガルバノミラーの向きの変更を停止させ、その位置から再度走査を行うので、被検眼Ｅの走査や画像形成がすべて完了したのちに、異常が発生した場所と同じ場所の断層画像を再度形成するために異常が発生した位置を探す必要がなく、迅速に断層画像の異常に対処することが可能となる。
【０１２０】
［変形例１］
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０１２１】
上記の実施形態では、異常が検出されたときに、その異常が発生している断層画像に対応する走査位置から自動的に再度走査を開始するようにしているが、オペレータが手作業で走査を開始するようにしてもよい。
【０１２２】
本変形例においても上記実施形態と同様に、異常検出部２５０が、断層画像の異常を検出し、その情報を制御部２１０が受けたときに、制御部２１０がミラー駆動機構２４１及び２４２を制御してガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの駆動を停止させ、その状態でＯＣＴユニット１５０、画像形成部２２０、及び異常検出部２５０も動作を停止させることで検査を停止する。
【０１２３】
そして本変形例では例えば、制御部２１０は、オペレータによる操作部２４０Ｂからの入力を待つ。そして、オペレータが操作部２４０Ｂを用いて検査再開の命令をした時に、停止しているガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの位置から検査を再開する構成にしてもよい。
【０１２４】
以上のように本変形例に係る光画像計測装置は、断層画像の異常が検出されたときに、ガルバノミラーの向きの変更を停止し、そのままの状態でオペレータの指示を待つ構成である。
【０１２５】
このような構成にすることで、オペレータの要求に応じた検査の再開及び検査再開時の走査位置の位置調整を行うことが可能となり、よりオペレータの要求に合った検査を行うことが可能となる。
【０１２６】
［変形例２］
また、上記の実施形態では、１フレーム毎（すなわち、断層画像１枚毎）に異常検出を行っているが、この異常検出を複数フレーム毎、例えば１０フレーム毎（すなわち、断層画像１０枚毎）といった割合で行ってもよい。
【０１２７】
この構成の一例を説明する。制御部２１０は、カウンタを有しており、そのカウンタにより断層画像の形成枚数をカウントしていく。そして、制御部２１０は、そのカウントした枚数が１０枚に達した時点で、その１０枚目の断層画像に対して異常検出部２５０が異常検出を行うように制御命令を送信する。制御部２１０は、異常検出を行う命令を送信すると、カウンタを０に戻し再度１０枚カウントする。このようにして、異常検出部２５０は、制御命令を受けて、１０枚毎の断層画像に対して異常検出を実施する。
【０１２８】
ここで、異常検出を何フレーム毎に行うかというフレーム数の決定は、予め決められた数を用いてもよいし、操作者の要求するフレーム数の入力を受けてそのフレーム数を用いて異常検出を行ってもよい。
【０１２９】
このような構成にすることで、異常検出を複数フレーム毎に行うことになり、１フレーム毎に異常検出を行う場合に比較し、処理時間を短縮することが可能となる。
【０１３０】
〔第２の実施形態〕
この発明に係る光画像計測装置の第２の実施形態について説明する。この実施形態は、被測定物体の走査及び干渉光の検出と画像の形成とを並列して行うものである。この実施形態では、被測定物体の走査及び干渉光の検出と画像の形成の制御及び動作ついて説明する。
【０１３１】
制御部２１０は、ミラー駆動機構２４１及び２４２を制御することでガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの向きを変更させながら、ＯＣＴユニット１５０に走査線Ｒｉ（ｉ＝１、２、・・・ｍ）に沿った眼底Ｅｆの走査及び干渉光の検出を順次行わせる。これは、第１の実施形態と異なり、Ｒ１からＲｍまでの各フレームにおける走査及び検出を、画像形成や異常検出と並行して行う。
【０１３２】
より詳しくは、制御部２１０は、ＯＣＴユニット１５０に走査線Ｒ１〜走査線Ｒｍのそれぞれに沿った走査に基づく干渉光の検出を順次行わせていく。また、制御部２１０は、画像形成部２２０に、走査線Ｒ１〜走査線Ｒｍに対応するそれぞれの検出結果に基づくスペクトルの強度分布の取得及びフーリエ変換などによる断層画像の形成を順次行わせる。ここで、制御部２１０は、上述したＯＣＴユニット１５０による干渉光の検出と画像形成部２２０による断層画像の形成をそれぞれ独立して実行させる。
【０１３３】
以上のような構成を有する光画像計測装置１を用いて眼底Ｅｆを計測する動作について説明する。図６に示すシーケンス図は、時間経過に対応した本実施形態に係る光画像計測装置の各機能部のオン／オフ状態（その機能部が動作しているか否かの状態）の一例を表している。図７に示すフローチャートは、各機能部のオン／オフ状態における動作の一例を表している。
【０１３４】
図６は、図面に向かって上から下に時間が経過している。制御部２１０は、オペレータからの検査開始の入力を受けて、ガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂを駆動させて順次向きを変更させながら順次走査線Ｒｉに沿って眼底Ｅｆを走査させ、ＯＣＴユニット１５０により干渉光を検出させる（Ｓ００１）。そして、ＯＣＴユニット１５０での検出結果は制御部２１０を介して画像形成部２２０へ順次送信される。
【０１３５】
画像形成部２２０は、ＯＣＴユニット１５０から順次送信される検出結果を受けて、順次走査線Ｒｉに沿った断層画像を形成する。そして、画像形成部２２０は、順次形成される断層画像を、制御部２１０を介して画像処理部２３０へ順次送信する。
【０１３６】
画像処理部２３０は、各走査線Ｒｉに沿った断層画像の画像データを受信して、これらｍ個の画像データを基に３次元画像を生成する。
【０１３７】
図６で表わされるように、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの調整及びＯＣＴユニット１５０による干渉光の検出（Ｓ００１）と、画像形成部２２０による断層画像の形成（Ｓ００２）は並列的に行われる。そして、すべての断層画像の形成が終わった後に３次元画像の生成が行われる（Ｓ００３）。ここで、本実施形態の変形例として、異常が検出されなかった断層画像を用いて部分的な３Ｄ画像を順次生成する構成にしてもよい。
【０１３８】
ここで、画像形成部２２０による断層画像の形成の方がガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの調整及びＯＣＴユニットによる干渉光の検出よりも時間がかかる処理なため、図６に示すように、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの調整及びＯＣＴユニット１５０によるすべてのフレームに対応する干渉光の検出にかかる全体の時間は、画像形成部２２０による全てのフレームに対応する断層画像の形成にかかる全体の時間よりも短い時間となる。
【０１３９】
次に、図７を参照してＳ００１とＳ００２における各機能部の動作を説明する。
【０１４０】
まず、前提として、被検眼Ｅを所定の計測位置（対物レンズ１１３に対峙する位置）に配置させ、被検眼Ｅと装置とのアライメントを行う動作。アライメントが完了すると、次に、主制御部２１１は、被検眼Ｅに対するピント合わせを行う動作。アライメント調整及びピント調整が完了した後の、オペレータによる、操作部２４０Ｂを操作して検査の開始を要求するが行われているものとする。
【０１４１】
（走査及び干渉光の検出の動作）
検査開始の要求を受けた主制御部２１１は、まずｉ＝１と設定する（Ｓ１０１）。
【０１４２】
そして、主制御部２１１は、低コヒーレンス光源１６０、ＣＣＤ１８４等を制御するとともに、ミラー駆動機構２４１及び２４２を制御して、ガルバノミラー１４１Ａ及び１４１Ｂの向きを走査点Ｒｉ１の位置に調整する（Ｓ１０２）。
【０１４３】
ＯＣＴユニット１５０及び眼底カメラユニット１Ａは、走査点Ｒｉ１の向きから各走査点Ｒｉｊ（ｊ＝２〜ｍ）の方向に順次ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きを変更して干渉光を検出する（Ｓ１０３）。
【０１４４】
そして、主制御部２１１は、ｉ＝ｉ＋１としてインクリメントを行いｉの値を１増やす（Ｓ１０４）。
【０１４５】
さらに、主制御部２１１は、ｉ＞ｍ（ここで、ｍは全走査線の本数である。）か否かを判断する（Ｓ１０５）。ｉ＞ｍであれば（Ｓ１０５のＹｅｓ）ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きの変更、及び干渉光の検出を終了する。また、ｉ≦ｍであれば、ステップ１０２に戻る（Ｓ１０５のＮｏ）。これにより、すべての走査線（フレーム）に対応する干渉光の検出が行える。
【０１４６】
（画像形成及び表示の動作）
検査開始の要求を受けた主制御部２１１は、まずｈ＝１と設定する（Ｓ２０１）。
【０１４７】
続いて、画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４から出力される走査線Ｒｈに沿った眼底成分の検出信号を収集し（Ｓ２０２）、この検出信号に対しスペクトルの強度分布を求め、フーリエドメインＯＣＴの手法を用いて干渉光のスペクトル強度分布をフーリエ変換することで被検眼Ｅの深度方向（ｚ方向）の形態を画像化し走査線Ｒｈに沿った断層画像を形成する（Ｓ２０３）。
【０１４８】
そして、主制御部２１１は、ｈ＝ｈ＋１としてインクリメントを行いｈの値を１増やす（Ｓ２０４）。
【０１４９】
さらに、主制御部２１１は、ｈ＞ｍか否かを判断する。ｈ＞ｍであれば（Ｓ２０５のＹｅｓ）検査を終了する。また、ｈ≦ｍであれば（Ｓ２０５のＮｏ）ステップ２０２に戻る。これにより、すべての走査線（フレーム）に対応する断層画像が取得される。
【０１５０】
［作用・効果］
以上のような光画像計測装置の作用及び効果について説明する。
【０１５１】
光画像計測装置１は、順次ガルバノミラーの向きを変更させながらの眼底Ｅｆの走査及び干渉光の検出に並行して、１フレーム分の検出結果が得られる毎にその検出結果に基づく画像形成を行う構成を有する光画像計測装置である。
【０１５２】
このような光画像計測装置１によれば、装置が演算処理を行うための処理能力をそれほど必要としない被検眼Ｅの走査及び干渉光の検出の実施と共に高い処理能力を必要とするスペクトル解析及び画像形成を実施するため、演算制御装置２００の処理能力を十分に活用することができるので、検査を迅速に行うことができ、検査時間を短縮することが可能となる。
【０１５３】
［変形例１］
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０１５４】
上記の実施形態では、第１の実施形態で説明した異常の検出がなされていないが、断層画像の形成の後に異常の検出を行う構成にしてもよい。
【０１５５】
例えば、異常検出部２５０が、画像形成部２２０により形成された走査線Ｒｉに沿った断層画像を順次受けて、受けた順に断層画像の異常を検出していく構成にしてもよい。
【０１５６】
以上で説明したように、本変形例に係る光画像計測装置１は、順次ガルバノミラーの向きを変更させながらの眼底Ｅｆの走査及び干渉光の検出に並行して、１フレーム分の検出結果が得られる毎にその検出結果に基づく画像形成、及び異常の検出を行う構成である。
【０１５７】
このような構成にすることで、すべての断層画像の形成を終了する前に異常の検出を行うことができ、迅速ない異常の検出が可能となる。また、異常検出がなされたときに、オペレータの判断により検査を中止し、再度検査を開始することもできる。
【０１５８】
［変形例２］
また、異常検出部２５０が、画像形成部２２０が形成した断層画像に対する異常の検出を所定フレーム数毎、例えば１０枚ごとに行う構成でもよい。
【０１５９】
この場合、制御部２１０が、予め１０枚ごとという数を記憶しておき、画像形成部２２０が形成した断層画像に対応するフレーム数をカウントしていき、１０フレームのカウントをしたときに、異常検出部２５０にその断層画像に対して異常検出を行わせる構成にすればよい。
【０１６０】
以上で説明したように、本変形例に係る光画像計測装置１は、順次ガルバノミラーの向きを変更させながらの眼底Ｅｆの走査及び干渉光の検出に並行して、１フレーム分の検出結果が得られる毎にその検出結果に基づく画像形成、及び所定フレーム毎の異常の検出を行う構成である。
【０１６１】
このような構成にすることで、すべての断層画像に対する異常の検出を行わなくても例えば少なくとも１０枚以上連続して断層画像に異常が発生している場合には検出できるため、３次元画像形成が不可能となるような異常は検出することができるとともに、処理の時間を短縮することが可能となる。
【０１６２】
［変形例３］
また、異常検出部２５０が、画像形成部２２０が形成した断層画像に対する異常の検出を数枚ごと、例えば１０枚ごとに行い、異常が検出された場合にはその前及び後の１０枚の断層画像に対する異常の検出を実施する構成でもよい。
【０１６３】
この場合、変形例２と同様に、制御部２１０は、画像形成部２２０が形成した断層画像の枚数をカウントしていき、１０枚カウントしたときに、異常検出部２５０にその断層画像に対して異常検出を行わせ、異常が検出された場合に、異常検出部２５０にその異常が検出された断層画像の前にカウントした１０枚分の異常検出を行わせ、さらに異常が検出された断層画像の後の１０枚分の断層画像の異常検出を行わせる構成にすればよい。
【０１６４】
以上で説明したように、本変形例に係る光画像計測装置１は、順次ガルバノミラーの向きを変更させながらの眼底Ｅｆの走査及び干渉光の検出に並行して、１フレーム分の検出結果が得られる毎にその検出結果に基づく画像形成、及び所定フレーム毎の断層画像の異常の検出を行い、異常が検出された場合に、その異常が検出された断層画像の前及び後のその所定フレーム数の断層画像の異常検出を行う構成である。
【０１６５】
このような構成にすることで、確実に１０枚以上連続した断層画像において異常が発生していることを検出することが可能となる。これにより、全てのフレームにおける干渉光の検出及び画像の形成を完了せずとも、３次元画像の生成の障害となる異常の検出を行うことが可能となり、検査の全体的な時間の短縮が可能となる。
【０１６６】
［変形例４］
また、異常が検出された場合、その異常が検出された断層画像に対応する走査線の走査を行った時のガルバノミラーの向きをフレーム数により取得し、その取得した向きにあたる実際の眼底上における位置の走査を行うように、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを駆動させ向きを変更して、その位置の走査を再度行う構成にしてもよい。
【０１６７】
この場合の動作を説明する。制御部２１０は、異常が検出された時点で行っている走査のフレームからさかのぼって、異常が検出された断層画像のフレームまでのフレームの数を取得する。このフレーム数は、制御部２１０は、異常が検出された断層画像までに何枚のフレームの画像形成が終了しており、走査は何フレーム終わっているかを把握しているので、走査が終了しているフレーム数から異常が検出され他断層画像までのフレーム数を減算することで求められる。そして、制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きの変更を停止し、さらに、停止した向きから求められたフレーム数分だけ前の向きにガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを戻す。制御部２１０は、ガルバノミラー１４１Ｂを所定角度ずつ動かしていくことで、各走査線に直交する方向にガルバノミラーの向きを変更し、各走査線に沿った走査を行うように向きを合わせる。そして、走査した走査線の数、すなわちフレームの数がガルバノミラー１４１Ｂの向きを変更した回数にあたり、その回数に前述した所定角度をかけることで、ガルバノミラー１４１Ｂが移動した角度がわかる。したがって、異常が検出された時点で行っている走査のフレームからさかのぼって、異常が検出された断層画像のフレームまでのフレームの数によって、ガルバノミラー１４１Ｂを停止させた向きから取得したフレーム数分前のガルバノミラー１４１Ｂの向きを求めることができる。そして、制御部２１０は、その求めた向きにガルバノミラー１４１Ｂを戻し、その向きの走査線に沿った走査から走査を再開させる。
【０１６８】
本変形例に係る光画像計測装置は、異常が検出された断層画像に対応する前記走査を行ったときのガルバノミラーの位置を求め、ガルバノミラーの駆動を停止して、その求めた位置にガルバノミラーの向きを変更し、その変更したガルバノミラーの向きから干渉光の検出を再開する構成である。
【０１６９】
このような構成にすることで、途中で異常が検出された場合に、すぐにその異常が発生した断層画像に対応する実際の眼底上の位置から検査を再開することができる。これにより、すべての断層画像の形成の完了まで待つことなく、迅速に異常に対応することが可能となり、検査効率を向上させるとともに検査の全体的な時間短縮が可能となる。
【０１７０】
［変形例５］
また、異常が検出された場合、その異常が検出された断層画像に対応する走査を行っているときに撮像された眼底画像を基に、その走査の位置を求め、その求めた位置を走査するように、現在の眼底画像を基に、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを駆動させ向きを変更して、そのガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きにあたる位置の走査を再度行う構成にしてもよい。
【０１７１】
この場合、走査を行っている最中に眼底画像をリアルタイムでモニタリング（動画観察）する眼底モニタを要する。眼底モニタは、干渉光の検出が行われている間、撮像装置１０から出力される観察光源１０１からの近赤外領域の波長を含む照明光に基づく眼底Ｅｆの眼底画像をリアルタイムで所定のフレームレートで取得している。
【０１７２】
このようにリアルタイムで眼底画像をモニタすることで、断層画像を形成するために被検眼を走査しているときにリアルタイムで生成される眼底画像を用いて、その生成された眼底画像に対する現在行っている走査の位置を取得することができる。
【０１７３】
この場合の動作を具体的に説明する。制御部２１０は、眼底における主走査方向（ｘ方向）と直交する方向（すなわち、各断層画像と直交する方向であるｙ方向）への２Ｄ座標を有している。この座標は、眼底の特徴点（具体的には、中心窩、黄班、血管の分岐点、疾患部など）を基に決定されるため、形成される眼底画像の枠内で眼底が移動しても眼底に対しての座標は変わらない。
【０１７４】
そして、制御部２１０は、任意の走査線の位置に対応する断層画像を形成するにあたって、その断層画像を形成するための眼底Ｅｆに対する走査位置が、その走査を行った時点での眼底画像における座標上のどの位置かという座標情報を生成する。そして、制御部２１０は、断層画像の識別情報に対して、その断層画像に対応する走査を行った時点での眼底画像と座標情報とを関連づけて記憶部２１２に逐次記憶していく。
【０１７５】
制御部２１０は、異常検出部２５０から異常の検出の通知を受けたときに異常が発生した断層画像の識別情報を取得する。そして、制御部２１０は、取得した識別情報を基に記憶部２１２を検索して、異常が発生した断層画像の走査を行った時点での眼底画像を取得する。そして、制御部２１０は、その眼底画像の座標情報から眼底上における走査位置の座標を取得する。そして、制御部２１０は、生成されている現在の眼底画像の上での取得した座標にあたる位置を求める。次に、制御部２１０は、その位置を基に、ガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂを駆動させ現在の眼底画像における取得した座標にあたる向きに向きを変更する。そして、そのガルバノミラー１４１Ａ、１４１Ｂの向きから再度検査を開始する。
【０１７６】
以上で説明したように、本変形例に係る光画像計測装置１は、眼底Ｅｆの眼底画像を干渉光の検出中に所定のフレームレートでモニタし、異常が検出された断層画像の干渉光の検出を行った時点での眼底画像を基に、異常が検出された断層画像の眼底画像における位置を取得し、その取得された位置に対応する現在の眼底画像における位置を特定し、その特定された位置の走査を行うようにガルバノミラーの向きを求める構成である。
【０１７７】
このような構成にすることで、検査の途中で異常が検出された場合に、現在の眼底の位置におけるその異常が発生した断層画像に対応する走査位置から検査を再開することができる。これにより、より正確な３次元画像の生成を行うことが可能となる。
【符号の説明】
【０１７８】
１ 光画像計測装置
１Ａ 眼底カメラユニット
１４０ ＬＣＤ
１４１ 走査ユニット
１４１Ａ、１４１Ｂ  ガルバノミラー
１５０ ＯＣＴユニット
１６０ 低コヒーレンス光源
１６２ 光カプラ
１７４ 参照ミラー
１８０ スペクトロメータ
１８４ ＣＣＤ
２００ 演算制御装置
２１０ 制御部
２２０ 画像形成部
２３０ 画像処理部
２４０ ユーザインターフェイス
２４０Ａ 表示部
２４０Ｂ 操作部
２４１、２４２ ミラー駆動機構
２５０  異常検出部
【図１】
2010249740.tif 000003
【図２】
2010249740.tif 000004
【図３】
2010249740.tif 000005
【図４】
2010249740.tif 000006
【図５】
2010249740.tif 000007
【図６】
2010249740.tif 000008
【図７】
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