(57)【要約】【課題】書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録条件設定方法、光記録再生装置を提供する。【解決手段】最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ１〜Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択（Ｓ５）後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う（Ｓ１１〜１３）。【選択図】図１
2010027206.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、
最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、
マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴とする光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項２】
記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、
全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータを決定した後、
最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、
マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴とする光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項３】
前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する前に、光記録媒体上に試し書きに使用する前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを所定の範囲内で変化させ、前記所定範囲内で良好な再生信号品質が得られる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータが得られない場合は、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを所定の変化量により変化させることを特徴とする請求項１または２に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項４】
光記録媒体上に試し書きを行なった結果に基づいて最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを、対応する記録パワーパラメータが大きくなり過ぎそうな場合には低減するように、低下しすぎる場合には低下を防止するように変化させることを特徴とする請求項３に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項５】
試し書きに使用する前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータの変化量の範囲を、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて、設定することを特徴とする請求項３または４に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項６】
請求項１または２に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、
マーク長の短い方から変化させた、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを選択する前に、
光記録媒体上に試し書きに使用する前記マーク長に対する記録パワーパラメータを所定の範囲内で変化させ、前記所定範囲内で良好な再生信号品質が得られるマーク長に対する記録パワーパラメータが得られない場合は、前記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを所定の変化量により変化させることを特徴とする光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項７】
光記録媒体上に試し書きを行なった結果に基づいて上記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを、対応する記録パワーパラメータが大きくなり過ぎそうな場合には低減するように、低下しすぎる場合には低下を防止するように変化させることを特徴とする請求項６に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項８】
試し書きに使用する前記マーク長の短い方から変化させた、上記マーク長に対する記録パワーパラメータの変化量の範囲を、前記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて、設定することを特徴とする請求項６または７に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項９】
前記再生信号品質は、ジッタであることを特徴とする請求項１〜８のいずれか１項に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項１０】
前記再生信号品質は、エラーレートであることを特徴とする請求項１〜９のいずれか１項に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項１１】
前記光記録媒体には、記録パワーパラメータと記録パルスパラメータとを含む記録条件が予め記憶されており、
前記記録条件を読み出し、該記録条件に基づいて試し書きに用いる記録条件を設定することを特徴とする請求項１〜１０のいずれか１項に記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法。
【請求項１２】
記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、
最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、
個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、
再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う選択手段とを備えていることを特徴とする光記録再生装置。
【請求項１３】
記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、
全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、
記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータを決定する記録パワー決定手段と、
上記記録パワー決定手段にて決定した記録パワーパラメータのうち、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、
個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、
再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択後、
マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う選択手段とを備えていることを特徴とする光記録再生装置。
【請求項１４】
請求項１２または１３に記載の光記録再生装置を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させることを特徴とする制御プログラム。
【請求項１５】
請求項１４に記載の制御プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク等の光記録媒体の特定領域に記憶された記録条件を決定するための設定情報を読み出し、あるいは上記設定情報を装置内から出力することで、記録条件を設定し、記録条件を求める特定領域にて記録再生することにより記録条件を補正する光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータを記録する光ディスク装置として、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒといった記録型ＤＶＤが開発され、一般に販売されている。これらの光ディスク装置においては、記録情報に応じて変化するパルス列を、情報の最小単位よりも細かいパルス列に変換し、該細かいパルス列によってレーザビームを強度変調し、前記強度変調されたレーザビームを媒体上に集光させて加熱することにより媒体の物理特性を変化させて記録している。ここで、記録に必要なパルス幅や、各レーザビームのパワー等の記録補償を行う記録条件設定情報は、標準記録条件として予め光ディスクに記憶されている。
【０００３】
ところで、光ディスクの高密度化が進むにつれて、マーク長毎、或いは、マークとスペースとの組み合わせ毎に標準記録条件を設定するといった厳密な設定が必要となっている。
【０００４】
しかし、光ディスクの記録再生装置を量産したとき、使用部品の特性ばらつきや環境変化等により、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。同様に、光ディスク自体も量産時に、特性ばらつきが発生し、同一の記録条件で記録しても個々の光ディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。したがって、標準的な特性を有する基準ディスクを用い、かつ標準的な特性を有する基準装置で決定された標準記録条件であったとしても、特性のばらついた量産した光ディスクと装置とをそのまま使用すると、組み合わせによっては適正な記録再生が行われず、品質不良が発生するという課題があった。
【０００５】
この解決方法として、特許文献１には、記録パルス標準条件を修正した記録パルス条件を求める方法が開示されている。この方法では、特定領域に記録パルス標準条件が予め記録されている光ディスクにおいて、上記記録パルス標準条件のうち、スペース長とマーク長との組み合わせの全て、又はいずれか一つの組み合わせに対する位置情報を所定量変化させて、記録再生信号のジッタが許容値以下となるように記録パルス標準条件から補正した値を記録再生装置の記録パルス条件として設定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報（平成１２年７月１８日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、上記従来の光記録パルス条件設定方法では、一手法として、記録パルス標準条件のうち、全てのスペース長とマーク長との組み合わせに対して、一律に所定量の変化を加えている。
【０００８】
しかしながら、記録マーク長毎に記録条件に対するマーク形成の特性が異なる場合は、一律に所定量の変化を加えても、全ての記録マーク長において良好な記録マークが形成されるとは限らないという問題点を有している。
【０００９】
また、特許文献１には、他の手法として、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法についても記載されているが、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有している。
【００１０】
さらに、パルス幅に対するパラメータ（記録パルスパラメータ）のみの最適化を行っているが、記録条件に含まれる記録パワーに対するパラメータ（記録パワーパラメータ）の最適化は行っていない。
【００１１】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴としている。
【００１３】
また、本発明の光記録再生装置は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う選択手段とを備えていることを特徴としている。
【００１４】
なお、記録パワーパラメータとは、図３に示す記録パワー、消去パワー、バイアスパワー等のパワーに関するパラメータをいうが、このうちの１つのパラメータであってよく、複数のパラメータでもよい。
【００１５】
上記発明によれば、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する場合に、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて求めている。
【００１６】
すなわち、マーク長が短い程、記録パワーパラメータにおいて変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パワーパラメータの設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。したがって、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パワーパラメータをより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【００１７】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【００１８】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータを決定した後、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うことを特徴としている。
【００１９】
また、本発明の光記録再生装置は、上記課題を解決するために、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータを決定する記録パワー決定手段と、上記記録パワー決定手段にて決定した記録パワーパラメータのうち、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から順次、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う選択手段とを備えていることを特徴としている。
【００２０】
上記の発明によれば、まず、マーク長毎の記録パワーパラメータを決定し、その後、再生信号品質の良くなる最短マーク長の記録パワーパラメータを選択する。この結果、全マーク長の記録パワーに対するパラメータの最適化も行うことができる。また、最短マーク以外の記録パワーパラメータを固定した状態で、再生信号品質の良くなる最短マークの記録パルスパラメータを選択することができる。
【００２１】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【００２２】
上記の発明によれば、最短マークの記録パワーパラメータを設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光ディスク上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う。したがって、最短の記録マークに対する再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータだけではなく、例えば、順次３Ｔマーク、４Ｔマーク、…等の最短の記録マークよりも長い記録マークについても再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する。なお、本発明において、記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うとは、例えば、２Ｔマークから８Ｔマークまで存在する場合に、８Ｔマークについての記録パワーパラメータの選択まで行かずに、７Ｔマークについての記録パワーパラメータの選択にて終了することがあることを示すものである。
【００２３】
また、本発明では、マーク長の短い方から、マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させる。したがって、必ずしもマーク長毎に逐一順番に記録パワーパラメータを変化させるだけでなく、例えば、３Ｔマークの次に４Ｔマークではなく５Ｔマークの記録パワーパラメータを変化させるというように、次に行うマーク長は、今のマーク長よりも大きければよい。
【００２４】
この結果、より精度良く、記録マークについて、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パワーパラメータを求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録条件設定を効率良く行うことができる。
【００２５】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【００２６】
なお、記録パルスパラメータとは、図４（ｂ）に示す始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部パルス幅Ｔｔｏｐ、終端部パルス終了位置ｄＴｅ、中間部パルス幅Ｔｍｐ等の記録パルスの幅に関するパラメータをいうが、このうちの１つのパラメータであってよく、複数のパラメータでもよい。
【００２７】
上記の発明によれば、まず、再生信号品質の良くなるマーク長毎の記録パルスパラメータを選択し、その後、最短マークの記録パワーパラメータを決定する。この結果、記録パルスに対するパラメータの最適化も行うことができる。また、再生信号品質の良くなる記録パルスパラメータを固定した状態で、最短マークの記録パワーパラメータを決定することができる。
【００２８】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【００２９】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する前に、光記録媒体上に試し書きに使用する前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを所定の範囲内で変化させ、前記所定範囲内で良好な再生信号品質が得られる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータが得られない場合は、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを所定の変化量により変化させることを特徴としている。
【００３０】
また、上記光記録再生装置の光記録条件設定方法において、光記録媒体上に試し書きを行なった結果に基づいて最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを、対応する記録パワーパラメータが大きくなり過ぎそうな場合には低減するように、低下しすぎる場合には低下を防止するように変化させることを特徴としている。
【００３１】
また、上記光記録再生装置の光記録条件設定方法において、マーク長の短い方から変化させた、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを選択する前に、光記録媒体上に試し書きに使用する前記マーク長に対する記録パワーパラメータを所定の範囲内で変化させ、前記所定範囲内で良好な再生信号品質が得られるマーク長に対する記録パワーパラメータが得られない場合は、前記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを所定の変化量により変化させることを特徴としている。
【００３２】
また、上記光記録再生装置の光記録条件設定方法において、光記録媒体上に試し書きを行なった結果に基づいて上記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを、対応する記録パワーパラメータが大きくなり過ぎそうな場合には低減するように、低下しすぎる場合には低下を防止するように変化させることを特徴としている。
【００３３】
上記の発明によれば、記録パワーパラメータを選択する前に、記録パルスパラメータを変化させることにより、記録パルスパラメータを最適化した後、その記録パルスパラメータを固定した状態で、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択することができる。
【００３４】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、試し書きに使用する前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータの変化量の範囲を、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて、設定することを特徴としている。
【００３５】
また、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、試し書きに使用する前記マーク長の短い方から変化させた、上記マーク長に対する記録パワーパラメータの変化量の範囲を、前記マーク長に対する記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて、設定することを特徴としている。
【００３６】
上記の発明によれば、試し書きに使用する記録パワーパラメータの変化量の範囲を、上記記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて設定するので、記録パワーパラメータの過大な増大又は減少を防止し、さらに精度の良好な記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータの設定を行うことができる。
【００３７】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、前記再生信号品質は、ジッタであることを特徴としている。
【００３８】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、前記再生信号品質は、エラーレートであることを特徴としている。
【００３９】
すなわち、ジッタ及びエラーレートは、光ディスクのパワーマージンを規定する指標になっていることが多く、記録状態をその光ディスクのマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００４０】
この点、本発明によれば、再生信号品質はジッタであるので、ジッタつまりパルスの歪の観点から再生信号品質を高めることができる。
【００４１】
また、本発明によれば、再生信号品質はエラーレートであるので、エラーレートの観点から再生信号品質を高めることができる。
【００４２】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、前記光記録媒体には、記録パワーパラメータと記録パルスパラメータとを含む記録条件が予め記憶されており、前記記録条件を読み出し、該記録条件に基づいて試し書きに用いる記録条件を設定することを特徴としている。
【００４３】
上記の発明によれば、光記録媒体には、記録パワーパラメータと記録パルスパラメータとを含む記録条件が予め記憶されており、記録条件を読み出し、該記録条件に基づいて試し書きに用いる記録条件を設定するので、試し書きに使用する記録条件を該光記録媒体上に記録された記録条件に基づき設定することができる。
【００４４】
また、本発明の制御プログラムは、上記課題を解決するために、上記記載の光記録再生装置を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させることを特徴としている。
【００４５】
上記の発明によれば、コンピュータを前記の各手段として機能させる制御プログラムを提供することができる。
【００４６】
また、本発明のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、上記課題を解決するために、上記記載の制御プログラムを記録したことを特徴としている。
【００４７】
上記の発明によれば、制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することができる。
【発明の効果】
【００４８】
本発明の光条記録条件設定方法及び光記録再生装置は、以上のように、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得るという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明における光ディスク装置の光記録パルス条件設定方法の実施の一形態を示すものであり、光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】上記光ディスク装置により情報が記録される光ディスクを示す斜視図である。
【図３】記録情報に対応するパルス列の設定を説明するタイミングチャートである。
【図４】（ａ）〜（ｃ）は、各記録マークを形成するためのパルス列及び記録パルス条件を設定するためのパラメータを説明するタイミングチャートである。
【図５】上記光記録条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図６】上記光記録条件設定方法を示すフローチャートである。
【図７】本発明における光記録条件設定方法の他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図８】本発明における光記録条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図９】本発明における光記録条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１０】本発明における光記録条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１１】本発明における光記録条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【図１２】上記光記録条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図１３】上記光記録条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図１４】上記光記録条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図１５】上記光記録条件設定方法におけるジッタ測定結果を示すグラフである。
【図１６】本発明における光記録条件設定方法のさらに他の実施の形態を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００５０】
〔実施の形態１〕
本発明の実施の一形態について図１ないし図６に基づいて説明すれば、以下の通りである。
【００５１】
本実施の形態の光記録条件設定方法が適用される光記録再生装置としての光ディスク装置１では、図１に示すように、回転する光ディスク１０の図示しないトラックへ、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を移動させる。
【００５２】
上記ピックアップ１２には、光ヘッド１１が設けられている。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して記録条件を設定し、光ヘッド１１から記録用のレーザビームを光ディスク１０の記録部位に照射することによって、光ディスク１０のトラックに情報が記録される。
【００５３】
また、上記光ディスク装置１は、制御部２０がピックアップ駆動回路１３を介してピックアップ１２を光ディスク１０の記録部位へ移動させる。そして、制御部２０がレーザ駆動回路１４を介して光ヘッド１１から再生用のレーザビームを光ディスク１０に照射する。
【００５４】
光ヘッド１１が検出した反射光は、再生回路１５にて再生信号に変換され、制御部２０に入力される。これにより、上記光ディスク装置１は、光ディスク１０のトラックに記録された情報を再生する。
【００５５】
ここで、上記光ディスク装置１には、特に、センサ３０が設けられている。上記センサ３０は、光ディスク１０の装填を検出するため、及び／又は光ディスク１０への記録環境の変化を検出するためのものであり、例えば、光ディスク１０の記録部位の温度を検出するための温度センサからなっている。そして、センサ３０は、検出した結果を検出信号として制御部２０へ出力する。
【００５６】
上記制御部２０は、光ディスク１０が光ディスク装置１に装填されたときに加えて、情報の記録動作中にもセンサ３０の検出信号から記録環境に所定の変化が検出されたときや、前回の試し書きから所定時間が経過したとき等に、記録条件設定の動作を適宜起動する。
【００５７】
上記光ディスク装置１は、図２に示すように、光ディスク１０の設定用領域４１への試し書きに基づいて記録条件を設定する。そして、その記録条件によって、各トラックに情報を記録する。なお、光ディスク装置１の記録条件設定後のユーザ領域４２への記録動作は、一般に知られた動作と同様である。また、設定用領域４１内には、記録パワーパラメータと記録パルスパラメータとを含む標準記録条件が予め記録されているものとする。
【００５８】
上記光ディスク装置１は、設定用領域４１内の標準記録条件を読み出し、この標準記録条件を記録条件設定のために使用する。また、読み出した標準記録条件を上記制御部２０内に設けられた記憶手段であるメモリに保存し、それを読み出して使用してもよい。あるいは、設定用領域４１内の標準記録条件を読み出すのではなく、上記制御部２０内に設けられた記憶手段に予め標準記録条件が記憶されており、それを読み出して使用してもよい。なお、設定用領域４１の位置は、図２に示した位置に限らず、光ディスク１０の任意の半径位置に存在していても構わないし、設定用領域４１は複数存在していても構わない。
【００５９】
次に、本実施の形態における具体的な光記録条件設定方法を、図３〜図６に基づいて説明する。なお、以下においては、変調方式として（１，７）ＲＬＬ(Run Length Limited code)を例に挙げて説明する。ただし、本発明においては、（１，７）ＲＬＬの変調方式
に限るものではない。なお、（１，７）ＲＬＬコードとは、磁気的、光学的ディジタル記録において、反転間隔の最小値と最大値とを制限したコードである。また、この（１，７）ＲＬＬの変調方式では、後で詳述するが、記録パルスのパルス列は、最短の記録マークが始端部と終端部とから構成される一方、最短の記録マークよりも長い記録マークではこの始端部と終端部との間に該マーク長に応じた中間部を加えて構成される。なお、他の変調方式においては、例えば、最短の記録マーク長が３Ｔから始まるものもあり、このときは最短の記録マーク長が始端部、中間部、終端部にて構成されている（例えば、ＤＶＤ−ＲＷ等）。また、最短マーク長が２Ｔであったとしても、始端部のみで構成されているものもある（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等）。
【００６０】
図３に示すように、上記光ディスク１０に記録を行うための媒体温度分布を考慮し、記録情報に対応するパルス列が設定されている。なお、図３は４Ｔマークに対応するためのパルス列を示す。
【００６１】
上記パルス列は、上述したように、始端部と終端部、及び３Ｔマーク以上では中間部とを合わせて構成されている。ここで、Ｔは、クロック１周期分の時間を表す。したがって、例えば４Ｔマークとは、クロック４周期分の時間に「１」が記録されるマークつまり記録領域をいう。
【００６２】
また、パルス列は、同図に示すように、記録パワー（Ｐｗ）、消去パワー（Ｐｅ）及びバイアスパワー（Ｐｃ）にて構成され、これらを記録パワーパラメータと呼ぶことにする。なお、同図では、始端部、中間部のパルスの記録パワーパラメータは同一であるが、必ずしもこれに限らず、パルス毎で別個の記録パワーであってもよい。
【００６３】
次に、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に、２Ｔマークから４Ｔマークまでのそれぞれを形成するためのパルス列、及び各記録パルスパラメータを示す。すなわち、同図において、ｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、ｄＴｅ及びＴｍｐは、記録パルスパラメータである。上記ｄＴｔｏｐは始端部のパルス開始位置、Ｔｔｏｐは始端部のパルス幅、ｄＴｅは終端部のパルス終了位置、及びＴｍｐは中間部のパルス幅を示しており、これらの値の変化により、形成される記録マークの形状が変化する。これらのパラメータの標準値は、上記光ディスク１０の設定用領域４１に標準記録条件として予め記録されている。
【００６４】
なお、各記録パワーパラメータは、マーク長毎に設定されており、その設定は独立している。つまり、最短の記録マークの記録パルスパラメータ（始端部と終端部）の設定を、他のマーク長の始端部及び終端部の設定に用いるものではない。また、図４では、マーク長毎の記録パワーパラメータ設定として、２ＴマークにはパラメータＰｗ（２−１）が、３ＴマークにはパラメータＰｗ（３−１）・Ｐｗ（３−２）が、４ＴマークにはパラメータＰｗ（４−１）・Ｐｗ（４−２）・Ｐｗ（４−３）、・・・、というように、各マーク長のパルス毎に対して記録パワーパラメータが存在する。
【００６５】
ここで、各パラメータと形成される記録マークとの関係を示す。
【００６６】
まず、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐが大きくなると、記録マークの始端位置が前方に移動する。逆に、始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐが小さくなると、記録マークの始端位置は後方に移動する。
【００６７】
始端部パルス幅Ｔｔｏｐが大きくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の長さが増大する一方、逆に、始端部パルス幅Ｔｔｏｐが小さくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の長さは減少する。また、各マーク長の始端部パルスの記録パワーパラメータ、すなわち２ＴマークではパラメータＰｗ（２−１）、３ＴマークではパラメータＰｗ（３−１）、４ＴマークではパラメータＰｗ（４−１）、・・・が大きくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の幅が増大する一方、逆に、小さくなると、記録マークにおける先頭部分のトラック方向の幅は減少する。
【００６８】
また、終端部パルス終了位置ｄＴｅが大きくなると、記録マークの終端位置が後方に移動する。逆に、終端部パルス終了位置ｄＴｅが小さくなると、記録マークの終端位置は前方に移動する。
【００６９】
さらに、中間部パルス幅Ｔｍｐが大きくなると、記録マークのトラック方向の長さが増大する。逆に、中間部パルス幅Ｔｍｐが小さくなると、トラック方向の長さが減少する。また、各マーク長の中間部パルスの記録パワーパラメータ、すなわち３ＴマークではパラメータＰｗ（３−２）、４ＴマークではパラメータＰｗ（４−２）・Ｐｗ（４−３）、・・・が大きくなると、記録マークのトラック方向の幅が増大する。逆に、中間部パルス幅Ｔｍｐが小さくなると、トラック方向の幅が減少する。
【００７０】
次に、２Ｔマークから８Ｔマークまでが含まれたテストパターンを用いて、試し書きを行ったときのジッタの値を測定した。図５は、２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）のみを変化させて記録し、再生信号品質の検出量として、ジッタを測定した結果を示している。なお、ジッタは、パルス列における、振幅、パルス幅、パルス位置、繰り返し周波数、パルス間隔等の乱れをいう。この結果より、ジッタ最良となる条件を選択し、２Ｔマークの記録パワーパラメータとして設定する。
【００７１】
次に、上記光ディスク装置１における記録条件設定の具体的動作を、図６に示すフロー
チャートに基づいて説明する。
【００７２】
まず、光ディスク装置１は、制御部２０の制御により、標準記録条件を光ディスク１０から読み出して設定する（Ｓ１）。続いて、マーク長を表すＮを最短マーク長の値に設定する（Ｓ２）。ここで、変調方式として（１，７）ＲＬＬを例として挙げると、Ｎの値は２に設定される。
【００７３】
次いで、２Ｔマークについての記録パワーパラメータのみを変化させて、設定用領域４１にテストパターンを試し書きする（Ｓ３）。さらに、記録したテストパターンを再生する（Ｓ４）。そして、Ｓ４で得られた再生信号品質に基づいて、試し書きに使用した記録パルス条件の中から、再生信号品質が良好となる記録パワーパラメータを決定する。（Ｓ５）。
【００７４】
なお、上記再生信号品質の検出量としては、必ずしもジッタだけでなく、エラーレートを用いることができる。
【００７５】
上記エラーレート及びジッタは、いずれも光ディスク１０のパワーマージンの規定になっていることが多く、記録状態をその光ディスクのマージン規定の閾値と合致する値で示すことができる。
【００７６】
ところで、従来では、記録マーク長毎に、記録条件に対するマーク形成の特性が異なる場合は、一律に所定量の変化を加えても、マーク長において良好な記録マークが形成されるとは限らないという問題点を有していた。
【００７７】
しかし、本実施の形態では、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する場合に、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて求めている。
【００７８】
すなわち、マーク長が短い程、記録パワーパラメータにおいて変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パワーパラメータの設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。したがって、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パワーパラメータをより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。
【００７９】
この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク１０及び光ディスク装置１の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【００８０】
また、従来では、スペース長とマーク長との組み合わせのうちいずれか一つの組み合わせに対して所定量の変化を与える方法について、同じマーク長であっても一部の記録マークしか改善されないため、全体の記録マーク及びスペースにおける再生信号品質には大幅な改善は期待できないという問題点を有していたが、本実施の形態では、全ての記録マークについて再生信号品質を考慮しているので、この点についても問題はない。
【００８１】
〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態について図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００８２】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、記録マーク長が増加する毎に、記録パルスの条件設定の数を増加するようになっている。
【００８３】
すなわち、前述したように、マーク長が短い程、記録パワーパラメータにおいて変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パルス条件の設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。そこで、本実施の形態では、マーク長の短い方から順にマーク長の長いものまでの各記録パワーパラメータの設定を行うことにより、良好な再生信号品質を得るための記録パワーパラメータを効率よく行うことができるものとなっている。
【００８４】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録パルス条件設定方法について、図７のフローチャートに基づいて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１のＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【００８５】
本実施の形態では、前記実施の形態１のＳ５に続いて、まず、試し書きの再生信号品質を検出する（Ｓ１１）。Ｓ１１にて所定の再生信号品質よりも良好な結果が得られた場合は、記録パワーパラメータ設定を終了する。一方、良好な結果が得られていない場合は、マーク長Ｎ（Ｎは２以上の整数）が最大であるかどうかの判定を行う（Ｓ１２）。
【００８６】
Ｓ１２にてマーク長Ｎが最大である場合は、全てのマーク長に対して、記録条件設定を行っても良好な再生信号品質が得られていないため、記録条件設定動作を終了する。この後、試し書きに用いるトラックを変更して、再度記録条件設定動作を行ってもよいし、ディスク不良を示すエラー表示を行ってもよい。
【００８７】
一方、Ｓ１２にてマーク長Ｎが最大でない場合は、マーク長をＮ＋１に設定する（Ｓ１３）。そして、実施の形態１の図６に示すフローチャートのＳ３へ戻る。
【００８８】
これにより、良好な再生信号品質を得るための記録パワーパラメータ設定を効率よく行うことができる。
【００８９】
なお、上記の説明では、Ｓ１３において、マーク長をＮ＋１に設定しているが、必ずしもこれに限らず、加える数を２以上等の１よりも大きい数字とするように割り込みをかけることも可能である。
【００９０】
このように、本実施の形態の光記録条件設定方法では、記録パワーパラメータを設定後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光ディスク１０上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行う。
【００９１】
したがって、最短の記録マークに対する再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータだけではなく、順次例えば３Ｔマーク、４Ｔマーク、…等の最短の記録マークよりも長い記録マークについても再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する。
【００９２】
なお、記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行うとは、例えば、２Ｔマークから８Ｔマークまで存在する場合に、８Ｔマークについての記録パルス条件の選択まで行かずに、７Ｔマークについての記録パルス条件の選択にて終了することがあることを示すものである。また、マーク長の短い方から、マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させる。したがって、必ずしもマーク長毎に逐一順番に記録パワーパラメータを変化させるだけでなく、例えば、３Ｔマークの次に４Ｔマークではなく５Ｔマークの記録パワーパラメータを変化させるというように、次に行うマーク長は、今のマーク長よりも大きければよいことを示す。
【００９３】
この結果、より精度良く、全ての記録マークについて、書き込み可能な光ディスク及び光ディスク装置１の特性ばらつきの影響を低減し、最適な記録パルス条件を求めることができ、かつ、良好な再生信号品質を得るための記録パワーパラメータ設定を効率良く行うことができる。
【００９４】
〔実施の形態３〕
本発明の他の実施の形態について図８に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１及び実施の形態２と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１及び実施の形態２の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００９５】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、マーク長毎の記録パワーパラメータの設定を行う前に、試し書きにより良好な全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを設定しておく。これによって、さらに精度の良好な記録パワーパラメータの設定を行うことができる。
【００９６】
また、本実施の形態では、良好な記録パワーパラメータを求めるために、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを一律に変化させて試し書きを行う。なお、一律に変化させる場合、記録パワーパラメータつまり前記実施の形態１における図３に示す記録パワー、消去パワー、バイアスパワーのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定パワーを増減させてもよい。
【００９７】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録条件設定方法について、図８のフローチャートに基づいて説明する。
【００９８】
まず、前記光ディスク装置１は、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ２１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ２２）。次いで、Ｓ２２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パワーパラメータの中から、最適な記録パワーパラメータを決定する（Ｓ２３）。この後、実施の形態１における図６のＳ１以下を実施する。
【００９９】
したがって、本実施の形態では、まず、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを決定し、その後、再生信号品質の良くなるマーク長毎の記録パワーパラメータを選択する。
【０１００】
この結果、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータの最適化も行うことができる。また、記録パワーパラメータを固定した状態で、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択することができる。
【０１０１】
なお、本実施の形態では、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを一律に変化させて試し書きを行う場合を例にとって説明を行ったが、これに限定されるものではない。任意のマーク長に対する記録パワーパラメータを変化させてよいし、変化量も一律でなく任意でもよい。
【０１０２】
〔実施の形態４〕
本発明の他の実施の形態について図９に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１ないし実施の形態３と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態３の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１０３】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、マーク長毎の記録パワーパラメータの設定を行う前に、試し書きにより良好な全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを設定しておく。これによって、さらに精度の良好な記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータの設定を行うことができる。
【０１０４】
また、本実施の形態では、良好な記録パワーパラメータを求めるために、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを変化させて試し書きを行う。なお、一律に変化させる場合、記録パルスパラメータ、つまり前記実施の形態１における図４に示す始端部のパルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部のパルス幅Ｔｔｏｐ、終端部のパルス終了位置ｄＴｅ、及び中間部のパルス幅Ｔｍｐのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定量を増減させてもよい。
【０１０５】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録条件設定方法について、図９のフローチャートに基づいて説明する。
【０１０６】
まず、前記光ディスク装置１は、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ３１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ３２）。次いで、Ｓ３２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パルスパラメータの中から、最適な記録パルスパラメータを決定する（３３）。この後、実施の形態１における図６のフローチャートのＳ１以下を実施する。
【０１０７】
したがって、本実施の形態では、まず、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを決定し、その後、再生信号品質の良くなるマーク長毎の記録パワーパラメータを選択する。
【０１０８】
この結果、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータの最適化も行うことができる。また、記録パルスパラメータを固定した状態で、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択することができる。また、その選択は、少なくとも１回行えばよい。
【０１０９】
なお、本実施の形態では、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを一律に変化させて試し書きを行う場合を例にとって説明を行ったが、これに限定されるものではない。任意のマーク長に対する記録パルスパラメータを変化させてよいし、変化量も一律でなく任意でもよい。
【０１１０】
〔実施の形態５〕
本発明のさらに他の実施の形態について図１０に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１ないし実施の形態４と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態４の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１１１】
前記実施の形態３では、先に全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを設定した後、マーク長毎の記録パワーパラメータの設定を行った。
【０１１２】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、これとは逆に、マーク長毎の記録パワーパラメータの設定をした後に、試し書きにより良好な全マーク長に対する記録パワーパラメータを設定する。つまり、全マーク長に対する記録パワーパラメータに一律に変化を加えて試し書きを行うことによって、より良好な再生信号品質の得られる記録パワーパラメータを設定する。これによっても、同様に、さらに精度の良好な記録パワーパラメータの設定を行うことができる。
【０１１３】
なお、本実施の形態においても、前記実施の形態３と同様に、良好な記録パワーパラメータを求めるために、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを一律に変化させて試し書きを行う。ただし、一律に変化させる場合、記録パワーパラメータつまり前記図４における記録パワー、消去パワー、バイアスパワーのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定パワーを増減させてもよいのは、前記実施の形態３と同様である。
【０１１４】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録条件設定方法について、図１０のフローチャートに基づいて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１のＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１１５】
同図に示すように、光ディスク装置１は、最初に、前記実施の形態１における図６のフローチャートに示すＳ５までを実行し、その後、記録パワーパラメータを変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ４１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ４２）。そして、Ｓ４２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パワーパラメータの中から、最適な記録パワーパラメータを決定する（Ｓ４３）。
【０１１６】
このように、記録パルスパラメータの設定をした後に、試し書きにより良好な記録パワーパラメータを設定することにより、さらに精度の良好な記録条件の設定を行うことができる。
【０１１７】
なお、本実施の形態では、全てのマーク長に対する記録パワーパラメータを一律に変化させて試し書きを行う場合を例にとって説明を行ったが、これに限定されるものではない。任意のマーク長に対する記録パワーパラメータを変化させてよいし、変化量も一律でなく任意でもよい。
【０１１８】
〔実施の形態６〕
本発明のさらに他の実施の形態について図１１に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１ないし実施の形態５と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態５の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１１９】
前記実施の形態４では、先に全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを設定した後、記録パワーパラメータの設定を行った。
【０１２０】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、これとは逆に、記録パワーパラメータの設定をした後に、試し書きにより良好な記録パルスパラメータを設定する。これによっても、同様に、さらに精度の良好な記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータの設定を行うことができる。
【０１２１】
なお、本実施の形態においても、前記実施の形態４と同様に、良好な記録パワーパラメータを求めるために、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを変化させて試し書きを行う。なお、一律に変化させる場合、記録パルスパラメータ、つまり前記実施の形態１の図４に示す始端部のパルス開始位置ｄＴｔｏｐ、始端部のパルス幅Ｔｔｏｐ、終端部のパルス終了位置ｄＴｅ、及び中間部のパルス幅Ｔｍｐのうち少なくとも１つに対して、係数倍して変化させてもよいし、所定量を増減させてもよい。
【０１２２】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録条件設定方法について、図１１のフローチャートに基づいて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１の図６に示すフローチャートのＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１２３】
同図に示すように、光ディスク装置１は、最初に、実施の形態１のＳ５までを実行し、その後、記録パルスパラメータを変化させて、テストパターンを試し書きする（Ｓ５１）。続いて、記録したテストパターンを再生する（Ｓ５２）。そして、Ｓ５２で得られた再生信号の検出結果に基づいて、試し書きに使用した記録パルスパラメータの中から、最適な記録パルスパラメータを決定する（Ｓ５３）。
【０１２４】
このように、記録パワーパラメータの設定をした後に、試し書きにより良好な記録パルスパラメータを設定することにより、さらに精度の良好な記録条件の設定を行うことができる。
【０１２５】
なお、本実施の形態では、全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを一律に変化させて試し書きを行う場合を例にとって説明を行ったが、これに限定されるものではない。任意のマーク長に対する記録パルスパラメータを変化させてよいし、変化量も一律でなく任意でもよい。
【０１２６】
〔実施の形態７〕
本発明のさらに他の実施の形態について図１２ないし１６に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１ないし実施の形態６と同じである。したがって、説明の便宜上、前記の実施の形態１ないし実施の形態６の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１２７】
前記実施の形態４では、先に全てのマーク長に対する記録パルスパラメータを設定した後、記録パワーパラメータの設定を行った。
【０１２８】
本実施の形態の光記録条件設定方法では、記録パワーパラメータの設定をして試し書きを行った結果を基に、変化させる記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを変化させることにより、さらに精度の良好な記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータの設定を行うことができる。
【０１２９】
まず、本実施の形態では、２Ｔマークから８Ｔマークまでが含まれたテストパターンを用いて、試し書きを行ったときのジッタの値を測定した。その結果を、図１２〜図１５に示す。
【０１３０】
図１２は、２Ｔマークの終端部パルス終了位置ｄＴｅを前後に変化させたとき、２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）のみを変化させて記録し、最良の再生信号品質が得られた記録パワーの値の変化を示している。２Ｔマークの終端部パルス終了位置ｄＴｅが前方（グラフではプラス方向）に変化するにつれて、最良の再生信号品質が得られる２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）の値は小さくなっていることが分かる。
【０１３１】
図１３は、２Ｔマークの始端部パルス幅Ｔｔｏｐを変化させたとき、２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）のみを変化させて記録し、最良の再生信号品質が得られた記録パワーの値の変化を示している。２Ｔマークの始端部パルス幅Ｔｔｏｐが大きくなるにつれて、最良の再生信号品質が得られる２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）の値は小さくなっていることが分かる。
【０１３２】
図１４は、２Ｔマークの始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐを前後に変化させたとき、２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）のみを変化させて記録し、最良の再生信号品質が得られた記録パワーの値の変化を示している。２Ｔマークの始端部パルス開始位置ｄＴｔｏｐが前方（グラフではプラス方向）に変化するにつれて、最良の再生信号品質が得られる２Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（２−１）の値は小さくなっていることが分かる。
【０１３３】
図１５は、３Ｔマークの中間部パルス幅Ｔｍｐを前後に変化させたとき、３Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（３−２）のみを変化させて記録し、最良の再生信号品質が得られた記録パワーの値の変化を示している。３Ｔマークの中間部パルス幅Ｔｍｐが大きくにつれて、最良の再生信号品質が得られる３Ｔマークの記録パワーパラメータＰｗ（３−２）の値は小さくなっていることが分かる。
【０１３４】
これらの結果より、各記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを変化させることにより、最良の再生信号品質を得ることのできる記録パワーパラメータの値が変化することがわかる。つまり、記録パワーパラメータを変化させて試し書きを行って、記録パワーパラメータの値が大きくなり過ぎそうな場合、対応する記録パルスパラメータの値を変化させることによって、記録パワーパラメータの増大を低減することができる。
【０１３５】
例えば、図１２を用いて説明すると、２Ｔマークの終端部パルス終了位置ｄＴｅが２ｎｓのときに、最良の再生信号品質を得ることのできる記録パワーパラメータＰｗ（２−１）の値は、５．６ｍＷとなる。しかし、終端部パルス終了位置ｄＴｅを±０ｎｓとすれば、記録パワーパラメータＰｗ（２−１）は５．２ｍＷで済むことになる。逆に、対応する記録パルスパラメータの値を変化させることによって、記録パワーパラメータが低下しすぎるのを防ぐこともできる。例えば、図１２を用いて説明すると、２Ｔマークの終端部パルス終了位置ｄＴｅが−２ｎｓのときに、最良の再生信号品質を得ることのできる記録パワーパラメータＰｗ（２−１）の値は、４．８ｍＷと小さくなる。しかし、終端部パルス終了位置ｄＴｅを±０ｎｓとすれば、記録パワーパラメータＰｗ（２−１）は５．２ｍＷにすることができる。
【０１３６】
つまり、試し書きに使用する前記記録パワーパラメータの変化量の範囲を予め設定しておき、その範囲内で良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータが得られない場合は、前記記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えて、記録パワーパラメータの値を変化させて試し書きを行えばよい。このとき、試し書きに使用する前記記録パワーパラメータの変化量の範囲は、前記記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータに所定の変化量を与えたときに良好な再生信号品質が得られる記録パワーパラメータの値に基づいて、設定すればよい。
【０１３７】
図１２に基づき説明すれば、終端部パルス終了位置ｄＴｅを−２ｎｓ変化させた場合の最適な記録パワーパラメータは４．８ｍＷ、＋２ｎｓ変化させた場合の最適な記録パワーパラメータは５．６ｍＷであるため、例えば、記録パルスパラメータである終端部パルス終了位置ｄＴｅが±０ｎｓと設定されている場合、記録パワーパラメータを変化させる範囲は、４．８ｍＷから５．６ｍＷに設定すればよい。
【０１３８】
本実施の形態の光ディスク装置１における光記録条件設定方法について、図１６のフローチャートに基づいて説明する。なお、このフローチャートは、前記実施の形態１の図６に示すフローチャートのＳ５に続くものであり、Ｓ５までの説明は前述したとおりであるので省略する。
【０１３９】
同図に示すように、光ディスク装置１は、前記実施の形態１の図６に示すフローチャートのＳ５に続いて、まず、試し書きの再生信号品質を検出する（Ｓ６１）。このとき、Ｓ３において、記録パワーパラメータは所定の範囲内で変化させるものとする。Ｓ６１にて所定の再生信号品質よりも良好な結果が得られた場合は、記録パワーパラメータ設定を終了する。一方、良好な結果が得られていない場合は、記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを変化させて設定する（Ｓ６２）。そして、実施の形態１の図６に示すフローチャートのＳ３へ戻る。
【０１４０】
このように、記録パワーパラメータの設定をして試し書きを行った結果をもとに、変化させる記録パワーパラメータに対応する記録パルスパラメータを変化させることにより、さらに精度の良好な記録パワーパラメータ、記録パルスパラメータの設定を行うことができる。
【０１４１】
なお、本実施の形態は本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の範囲内で種々の変更が可能である。例えば、記録条件の設定は、各トラックにおいて少なくとも１回行うことが望ましいが、必ずしも全てのトラックで行う必要はなく、複数トラックごとであってもよい。
【０１４２】
また、上記光ディスク装置１は、制御部２０の各機能を実現するプログラム（制御プログラム、記録条件設定プログラム）の命令を実行する演算手段であるＣＰＵ（Central Processing Unit）、上記プログラムを格納した記憶手段であるＲＯＭ（Lead Only Memory
）、上記プログラムを展開する記憶手段であるＲＡＭ（Random Access Memory）、上記プログラム及び各種データを格納する記憶手段であるメモリ等の図示しない記憶装置（記憶媒体）等を備えている。
【０１４３】
そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウエアである制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能にした記録媒体を、上記光ディスク装置１に供給し、そのコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。この場合、記録媒体から読み出されたプログラムコード自体が上述した機能を実現することにより、そのプログラムコードを記録した記録媒体は本発明を構成することになる。
【０１４４】
また、本実施の形態の制御プログラムは、上記記載の光ディスク装置１を動作させる制御プログラムであって、コンピュータを前記の各手段として機能させる。
【０１４５】
したがって、コンピュータを前記の各手段として機能させる制御プログラムを提供することができる。
【０１４６】
また、本実施の形態のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、上記記載の制御プログラムを記録したものである。
【０１４７】
したがって、制御プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することができる。
【０１４８】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲
で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的手段に含まれる。
【０１４９】
なお、本発明の光記録再生装置の光記録条件設定方法は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択することが好ましい。
【０１５０】
また、本発明の光記録再生装置は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する選択手段とを備えていることが好ましい。
【０１５１】
なお、記録パワーパラメータとは、図３に示す記録パワー、消去パワー、バイアスパワー等のパワーに関するパラメータをいうが、このうちの１つのパラメータであってよく、複数のパラメータでもよい。
【０１５２】
上記発明によれば、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する場合に、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて求めている。
【０１５３】
すなわち、マーク長が短い程、記録パワーパラメータにおいて変化させるパラメータの数が少なく、再生信号品質が良好となる記録マークを形成するための記録パワーパラメータの設定が難しくなる。また、マーク長が短い程、データ内において出現頻度が多くなる。したがって、マーク長が短い程、全体のマークに占める影響度が高く、設定が厳密であるため、最短マーク長の記録パワーパラメータをより良く設定することにより、全体の再生信号品質を向上させる効果が大きい。この結果、最短の記録マークについて再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択しておけば、全体の再生信号品質について、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減することができる。
【０１５４】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【０１５５】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記記録マークに対する記録パワーパラメータを決定した後、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択することが好ましい。
【０１５６】
また、本発明の光記録再生装置は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録マークに対する記録パワーパラメータを決定する記録パワー決定手段と、上記記録パワー決定手段にて決定した記録パワーパラメータのうち、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する選択手段とを備えていることが好ましい。
【０１５７】
上記の発明によれば、まず、マーク長毎の記録パワーパラメータを決定し、その後、再生信号品質の良くなる最短マーク長の記録パワーパラメータを選択する。この結果、全マーク長の記録パワーに対するパラメータの最適化も行うことができる。また、最短マーク以外の記録パワーパラメータを固定した状態で、再生信号品質の良くなる最短マークの記録パルスパラメータを選択することができる。
【０１５８】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【０１５９】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択した後、記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記記録マークに対する記録パワーパワーパラメータを決定することを特徴としている。
【０１６０】
また、本発明の光記録再生装置は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する選択手段と、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択した後に、記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パワー試し書き手段と、記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、記録パワーパラメータを決定する記録パワー決定手段とを備えていることを特徴としている。
【０１６１】
上記の発明によれば、まず、最短マークの記録パワーパラメータを選択し、その後、再生信号品質の良くなるマーク長毎の記録パワーパラメータを決定する。この結果、全マーク長の記録パワーに対するパラメータの最適化も行うことができる。
【０１６２】
例えば、最短マークの記録パワーパラメータを選択したときに、最短マークの記録パワーパラメータとしては最適であるが、全体から見るとレベルが低いというような場合に効果がある。
【０１６３】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【０１６４】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択した後、記録マークに対する記録パルスパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記記録マークに対する記録パルスパワーパラメータを決定することが好ましい。
【０１６５】
また、本発明の光記録再生装置は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する選択手段と、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択した後に、記録マークに対する記録パルスパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、記録パルスパラメータを決定する記録パルス決定手段とを備えていることが好ましい。
【０１６６】
上記の発明によれば、まず、最短マークの記録パワーパラメータを選択し、その後、再生信号品質の良くなるマーク長毎の記録パルスパラメータを決定する。この結果、全マーク長の記録パルスに対するパラメータの最適化も行うことができる。
【０１６７】
したがって、書き込み可能な光ディスク及び光記録再生装置の特性ばらつきの影響を低減し得る光記録再生装置の光記録条件設定方法及び光記録再生装置を提供することができる。
【０１６８】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置の光記録条件設定方法において、全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータに変化を加えて試し書きを行い、良好な再生信号品質が得られる前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パワーパラメータを決定した後、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択しても良い。
【０１６９】
また、光記録再生装置の光記録条件設定方法は、上記記載の光記録再生装置の光記録条件設定方法において、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行っても良い。
【０１７０】
また、本発明の光記録再生装置は、記録情報に応じた記録条件に基づいて光変調記録を行うとともに記録された情報の再生を行う光記録再生装置において、全マーク長に対する記録マークに対する記録パルスパラメータに変化を加えて試し書きを行う記録パルス試し書き手段と、記録パルス試し書き手段による試し書きを再生し、前記全マーク長に対する記録マークに対する記録パルスパラメータを決定する記録パルス決定手段と、上記記録パルス決定手段にて決定した記録パルスパラメータのうち、最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行う個別記録パワー試し書き手段と、個別記録パワー試し書き手段による試し書きを再生し、再生信号品質を検出する再生信号品質検出手段と、再生信号品質の良くなる最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択する選択手段とを備えていても良い。
【０１７１】
また、本発明の光記録再生装置は、上記記載の光記録再生装置において、前記選択手段は、前記最短の記録マークに対する記録パワーパラメータを選択後、マーク長の短い方から、上記マーク長に対する記録パワーパラメータを変化させて、光記録媒体上に試し書きを行い、試し書きを再生し、再生信号品質の良くなる記録パワーパラメータを選択する処理を少なくとも１回行っても良い。
【産業上の利用可能性】
【０１７２】
本発明は、光ディスク等の光記録媒体の特定領域に記憶された記録条件を決定するための設定情報を読み出し、あるいは上記設定情報を装置内から出力することで、記録条件を設定し、記録条件を求める特定領域にて記録再生することにより記録条件を補正する光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体に適用できる。
【符号の説明】
【０１７３】
１  光ディスク装置（光記録再生装置）
１０  光ディスク（光記録媒体）
１２  ピックアップ
１６  記録再生回路群
２０  制御部（個別記録パワー試し書き手段、再生信号品質検出手段、選択手段、
記録パワー試し書き手段、記録パワー決定手段、記録パルス決定手段）
３０  センサ
４１  設定用領域
【図１】
2010027206.tif 000003
【図２】
2010027206.tif 000004
【図３】
2010027206.tif 000005
【図４】
2010027206.tif 000006
【図５】
2010027206.tif 000007
【図６】
2010027206.tif 000008
【図７】
2010027206.tif 000009
【図８】
2010027206.tif 000010
【図９】
2010027206.tif 000011
【図１０】
2010027206.tif 000012
【図１１】
2010027206.tif 000013
【図１２】
2010027206.tif 000014
【図１３】
2010027206.tif 000015
【図１４】
2010027206.tif 000016
【図１５】
2010027206.tif 000017
【図１６】
2010027206.tif 000018