(57)【要約】      （修正有）【課題】画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出手段を画像表示媒体の外面に取り付ける場合に比べて、長期間にわたって精度良く画像表示媒体の撓みの大きさを検出する、電子ペーパを提供する。【解決手段】入力された画像情報により示される画像が形成される画像形成領域を内部に有すると共に、可撓性を有し、かつ画像形成領域に形成された画像が視認可能な画像表示基板が、対向して配置された表示基板と背面基板１４とを有し、画像表示媒体の外部に露出しないように背面基板１４の表示基板との対向面に画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出部３４Ａを固定した。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された画像情報により示される画像が形成される画像形成領域を内部に有すると共に、可撓性を有し、かつ前記画像形成領域に形成された画像が視認可能な画像表示媒体と、
外部に露出しないように前記画像表示媒体の内部に固定され、前記画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出手段と、
を含む画像表示装置。
【請求項２】
前記画像表示媒体は、対向して配置されると共に、少なくとも一方の対向面に前記撓み検出手段が固定された一対の基板を有する請求項１記載の画像表示装置。
【請求項３】
前記一対の基板の一方の基板は、互いに交差して配列された複数のソース線及び複数のゲート線からなる配線、前記ソース線と前記ゲート線との交差部に形成されると共に、各々ソースが前記ソース線に接続され、かつゲートが前記ゲート線に接続された複数の薄膜トランジスタ、及び前記複数の薄膜トランジスタのドレインの各々に接続された複数の画素電極を有するアクティブマトリクス基板であり、
前記アクティブマトリクス基板は、前記薄膜トランジスタを形成する段階で形成された前記撓み検出手段として機能する薄膜トランジスタを更に有する請求項２記載の画像表示装置。
【請求項４】
前記アクティブマトリクス基板は、互いのキャリアの移動方向が交差するように配置された前記撓み検出手段として機能する一対の薄膜トランジスタを有する請求項３記載の画像表示装置。
【請求項５】
前記一対の基板の他方の基板に、前記撓み検出手段として機能する薄膜トランジスタに対向するように前記画像表示媒体の撓みの大きさを検出する薄膜トランジスタを固定した請求項３または請求項４に記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記撓み検出手段を、前記画像表示媒体に部分的に固定されている部材と、前記部材と隣り合う領域との境界部分に配置した請求項１から請求項５の何れか１項に記載の画像表示装置。
【請求項７】
前記撓み検出手段を前記画像表示媒体の周縁部に配置した請求項１から請求項５の何れか１項に記載の画像表示装置。
【請求項８】
前記画像形成領域に画像が形成されるとき、前記画像表示媒体の撓みの大きさに応じて画質を調整する調整手段を更に含む請求項１から請求項７の何れか１項に記載の画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
非特許文献１には、表示装置と関連付けられたインタフェース装置を曲げたり、重ねたりすることにより、あたかも、印刷された紙のように、ページがめくられたり、束ねられたりする表示装置が開示されている。
【０００３】
特許文献１には、フィルム状の半導体装置をロッドを用いて巻き取る技術が開示されている。
【０００４】
特許文献２には、表示部に加えられた曲がりの方向、曲がりの量および曲がりの継続時間の少なくともいずれか１つを検出する曲がり検出手段を有する情報機器であって、曲がり検出手段として圧電素子を用いた情報機器が開示されている。
【０００５】
特許文献３には、柔軟性を有する表示部と、前記柔軟性に起因した変位を電気的な特性の変化として検出可能な形状変化検出部と、を備えた表示入力装置であって、形状変化検出部が、一対の導電層と、それらの間に設けられた感知層と、を有し、前記変位が加えられたときに前記一対の導電層の間の変化する表示入力装置が開示されている。
【０００６】
特許文献４には、可撓性ディスプレイの撓み状態を検出する検出手段を備えた表示制御装置であって、検出手段として光学素子を利用した表示制御装置が開示されている。
【０００７】
特許文献５には、多結晶シリコンを用いた半導体圧力センサが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−７２０８７号公報
【特許文献２】特開２００４−３１８１２３号公報
【特許文献３】特開２００４−４６７９２号公報
【特許文献４】特開２００７−１０８４４１号公報
【特許文献５】特開２００５−１９５５３７号公報
【非特許文献】
【０００９】
【非特許文献１】Communications of the ACM,vol.51(2008)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明の課題は、画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出手段を画像表示媒体の外面に取り付ける場合に比べて、長期間にわたって精度良く画像表示媒体の撓みの大きさを検出する、画像表示装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の画像表示装置は、入力された画像情報により示される画像が形成される画像形成領域を内部に有すると共に、可撓性を有し、かつ前記画像形成領域に形成された画像が視認可能な画像表示媒体と、外部に露出しないように前記画像表示媒体の内部に固定され、前記画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出手段と、を含んで構成されている。
【００１２】
また、請求項２に記載の画像表示装置は、請求項１に記載の発明において、前記画像表示媒体が、対向して配置されると共に、少なくとも一方の対向面に前記撓み検出手段が固定された一対の基板を有するものである。
【００１３】
また、請求項３に記載の画像表示装置は、請求項２に記載の発明において、前記一対の基板の一方の基板が、互いに交差して配列された複数のソース線及び複数のゲート線からなる配線、前記ソース線と前記ゲート線との交差部に形成されると共に、各々ソースが前記ソース線に接続され、かつゲートが前記ゲート線に接続された複数の薄膜トランジスタ、及び前記複数の薄膜トランジスタのドレインの各々に接続された複数の画素電極を有するアクティブマトリクス基板であり、前記アクティブマトリクス基板が、前記薄膜トランジスタを形成する段階で形成された前記撓み検出手段として機能する薄膜トランジスタを更に有するものである。
【００１４】
また、請求項４に記載の画像表示装置は、請求項３に記載の発明において、前記アクティブマトリクス基板が、互いのキャリアの移動方向が交差するように配置された前記撓み検出手段として機能する一対の薄膜トランジスタを有するものである。
【００１５】
また、請求項５に記載の画像表示装置は、請求項３または請求項４に記載の発明において、前記一対の基板の他方の基板に、前記撓み検出手段として機能する薄膜トランジスタに対向するように前記画像表示媒体の撓みの大きさを検出する薄膜トランジスタを固定したものである。
【００１６】
また、請求項６に記載の画像表示装置は、請求項１から請求項５の何れか１項に記載の発明において、前記撓み検出手段を、前記画像表示媒体に部分的に固定されている部材と、前記部材と隣り合う領域との境界部分に配置したものである。
【００１７】
また、請求項７に記載の画像表示装置は、請求項１から請求項５の何れか１項に記載の発明において、前記撓み検出手段を前記画像表示媒体の周縁部に配置したものである。
【００１８】
また、請求項８に記載の画像表示装置は、請求項１から請求項７の何れか１項に記載の発明において、前記画像形成領域に画像が形成されるとき、前記画像表示媒体の撓みの大きさに応じて画質を調整する調整手段を更に含んで構成されている。
【発明の効果】
【００１９】
請求項１に係る発明によれば、画像表示媒体の撓みの大きさを検出する撓み検出手段を画像表示媒体の外面に取り付ける場合に比べて、長期間にわたって精度良く画像表示媒体の撓みの大きさを検出する、という効果が得られる。
【００２０】
請求項２に係る発明によれば、本構成を有さない場合に比べ、容易に撓み検出手段を画像表示媒体の内部に固定する、という効果が得られる。
【００２１】
請求項３に係る発明によれば、画像を形成する際に駆動される薄膜トランジスタを画像表示媒体に形成する工程とは別工程で撓み検出手段を画像表示媒体の内部に固定する場合に比べ、容易に撓み検出手段を画像表示媒体の内部に固定する、という効果が得られる。
【００２２】
請求項４に係る発明によれば、本構成を有さない場合に比べ、画像表示媒体の撓み方向が異なる撓みの大きさを容易に検出する、という効果が得られる。
【００２３】
請求項５に係る発明によれば、一対の基板のうちの一方の基板にのみ画像表示媒体の撓みの大きさを検出する薄膜トランジスタが固定されている場合に比べ、精度良く画像表示媒体の撓みの大きさを検出する、という効果が得られる。
【００２４】
請求項６に係る発明によれば、本構成を有さない場合に比べ、画像表示媒体に部分的に固定されている部材と、部材と隣り合う領域との境界部分の撓みの大きさを精度良く検出する、という効果が得られる。
【００２５】
請求項７に係る発明によれば、本構成を有さない場合に比べ、画像表示媒体の周縁部の撓みの大きさを精度良く検出する、という効果が得られる。
【００２６】
請求項８に係る発明によれば、画像表示媒体の撓みの大きさに応じて画質を調整しない場合に比べ、画像表示媒体が撓んでいるときの画質不良を抑制する、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】実施形態に係る画像表示装置の構成を示す概略断面図である。
【図２】実施形態に係る背面基板の要部構成を示す概略構成図である。
【図３】実施形態に係る画像表示装置に用いられるＴＦＴの基本的な構成を示す概略断面図である。
【図４】実施形態に係る画像表示装置に用いられ、画像を形成する際に駆動されるＴＦＴの基本的な構成を示す概略平面図である。
【図５】実施形態に係る画質不良抑制処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】実施形態に係る撓み検出部の変形例を示す図である。
【図７】実施形態に係る画像表示媒体の撓みの大きさを検出するＴＦＴの他の配置例を示す図である。
【図８】実施形態に係る画像表示装置の変形例を示す図である。
【図９】実施形態に係る撓み検出部の他の配置例を示す図である。
【図１０】実施形態に係る撓み検出部の他の配置例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態について詳細に説明する。
【００２９】
図１は、本実施形態に係る画像表示装置１０の構成を示す概略断面図である。
【００３０】
同図に示されるように、画像表示装置１０は、画像表示面として機能する無色透明な可撓性を有するフィルム基板であり、例えば、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリスチレン、ポリカーボネート、ポリエーテルスルホン、ポリアリレート、ポリイミド、ポリシクロオレフィン、ノルボルネン樹脂、ポリ等の樹脂などの材料で構成された表示基板１２と、可撓性を有するフィルム基板（本実施形態では、表示基板１２と同じ材料で構成された基板）であり、表示基板１２との間に電気的作用によって画像が形成される画像形成領域１３を隔てて対向する背面基板１４と、表示基板１２と背面基板１４との基板間を予め定められた間隔に保持すると共に、基板間を複数のセルに区画する間隙部材１６と、を有する画像表示媒体１７を含んで構成されている。なお、本実施形態に係る画像表示媒体１７の平面視外形は略矩形であるが、これに限らず、他の形状であってもよい。また、本実施形態に係る画像表示媒体１７では、表示基板１２が無色透明な材料で構成されているが、画像形成領域１３に形成された画像が視認可能な透光性を有する材料で構成されていればよい。また、背面基板１４も画像形成領域１３に形成された画像が視認可能な透光性を有する材料で構成されていてもよい。
【００３１】
上記のセルとは、表示基板１２、背面基板１４、及び間隙部材１６とによって囲まれた領域を示しており、このセル内には分散媒１８が封入されている。分散媒１８中には、粒子群２０Ｙ，２０Ｍ，２０Ｃ，２０Ｗ（以下、区別しない場合は、粒子群２０とよぶ）が分散され、粒子群２０は、セル内に形成された電界の強度に応じて表示基板１２と背面基板１４との間を移動する。すなわち、粒子群２０は、表示基板１２と背面基板１４との間に形成された電界に応じて移動することによって、各画素に対応するセル毎に、画像情報の各画素に応じた色を表示する。
【００３２】
間隙部材１６は、無色透明な材料で構成されており、画像を形成したときの各画素に対応するように設けられている。これにより、各画素に対応するようにセルが形成される。なお、各画素に対応するセルの大きさは、画像表示装置１０の解像度と密接な関係にあり、セルが小さいほど高解像度な表示媒体が作製される。本実施の形態では、１０μｍ〜１ｍｍ程度とする。
【００３３】
表示基板１２には、無色透明な材料で構成されており、画像表示媒体１７の全体に共通して用いられるコモン電極２２が設けられている。また、背面基板１４は、各画素に対応する画素電極２４が設けられている。
【００３４】
なお、表示基板１２及び背面基板１４の固定には、ボルトとナットの組み合わせ、クランプ、クリップ、基板固定用の枠等の固定手段を使用する。また、接着剤、熱溶融、超音波接合等の固定手段を使用してもよい。
【００３５】
このように構成された画像表示装置１０は、画像の保存及び書換えが可能な電子ペーパの他、掲示板、回覧版、電子黒板、広告、看板、点滅標識、電子新聞、電子書籍、及び複写機・プリンタと共用可能なドキュメントシート等に使用される。
【００３６】
本実施形態に係る画像表示媒体１０では、表示速度を速くするために、薄膜トランジスタ（以下、「ＴＦＴ」とも言う。）を用いたアクティブマトリクス駆動により画像の書換えを行うアクティブマトリクス基板を背面基板１４として用いている。アクティブマトリクス駆動は、画素毎に、基板上にスイッチとなるＴＦＴを備え、ＴＦＴを制御することにより画像を表示する方式である。
【００３７】
図２には、本実施形態に係る背面基板１４の要部構成を示す概略構成図である。
【００３８】
同図に示されるように、背面基板１４には、アクティブマトリクス駆動を行うために、ソース線２８Ｌ１，２８Ｌ２，２８Ｌ３，・・・，２８ｍ（以下、区別しない場合は添え字を削除した符号を用いてソース線２８Ｌと記載する）及びＴＦＴ２６のゲート入力となるゲート線３０Ｌ１，３０Ｌ２，３０Ｌ３，・・・，３０ｎ（以下、区別しない場合は添え字を削除した符号を用いてゲート線３０Ｌと記載する）からなる配線が形成されている。ソース線２８Ｌとゲート線３０Ｌとの交差部近傍には、交差部に対応して画素電極２４１１，２４１２，２４１３，・・・，２４ｎｍ（以下、区別しない場合は添え字を削除した符号を用いて画素電極２４と記載する）が設けられている。また、各画素電極２４に対応して薄膜トランジスタ２６が設けられ、ソース線２８ＬがＴＦＴ２６のソース入力となり、ゲート線３０ＬがＴＦＴ２６のゲート入力となるように接続されている。
【００３９】
各ＴＦＴ２６のドレイン２６Ｄは、各ＴＦＴ２６を含んだ各画素に対応する各画素電極２４と接続されている。また、各ＴＦＴ２６のソース２６Ｓは、ソース線２８Ｌを介してソース線駆動回路２８と接続されている。同じ列の画素の各ＴＦＴ２６は同じソース線２８Ｌを介してソース線駆動回路２８と接続される。更に、各ＴＦＴ２６のゲート２６Ｇは、ゲート線３０Ｌを介してゲート線駆動回路３０と接続されている。同じ行の画素の各ＴＦＴ２６は同じゲート線３０Ｌを介してゲート線駆動回路３０と接続されている。
【００４０】
この構造により、コモン電極２２と画素電極２４との電極間に挟まれた画素の領域のみが電極間の電界の影響を受ける。ＴＦＴ２６は、画素に対応するＴＦＴ２６のソース２６Ｓとゲート２６Ｇとの両方に有効な入力があるときにオン状態となる。また、画素電極２４は、ＴＦＴ２６がオン状態のときにソース２６Ｓの電位になり、ＴＦＴ２６がオフ状態のときはオフ状態前のオン状態の電位を維持する。
【００４１】
画像表示装置１０は、コントローラ３２を含んで構成されている。コントローラ３２は、背面基板１４の表示基板１２との対向面１４Ａに固定されている。コントローラ３２は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等を含んで構成され、画像表示装置１０全体を制御するものであり、画像形成領域１３に表示させる画像を表す画像情報に応じた電位が各ＴＦＴ２６のソース２６Ｓ及びゲート２６Ｇに印加されるようにソース線駆動回路２８及びゲート線駆動回路３０を制御する。
【００４２】
ソース線駆動回路２８は、同図の矢印ＡＳに示されるように画像情報に応じた電位を各ＴＦＴ２６のソース２６Ｓに印加する。また、ゲート線駆動回路３０は、同図の矢印ＡＧに示されるように画像情報に応じた電位を各ＴＦＴ２６のゲート２６Ｇに印加する。
【００４３】
なお、配線の積層化及び部品実装が容易であることから、本実施形態では背面基板１４にＴＦＴを形成する構成としたが、表示基板１２にＴＦＴを形成し、背面基板１４にコモン電極を形成する構成としてもよい。
【００４４】
背面基板１４は、画像表示媒体１７の外部に露出しないように表示基板１２との対向面１４Ａに固定され、画像表示媒体１７の撓みの大きさを示す電気信号を出力する撓み検出部３４Ａ，３４Ｂ，３４Ｃ，３４Ｄ（以下、区別しない場合は、撓み検出部３４とよぶ）を備えている。撓み検出部３４Ａは、背面基板１４の上縁部の中央付近に、撓み検出部３４Ｂは、背面基板１４の下縁部の中央付近に、撓み検出部３４Ｃは、背面基板１４の左側縁部の中央付近に、撓み検出部３４Ｄは、背面基板１４の右側縁部の中央付近に各々配置されている。
【００４５】
ところで、ＴＦＴを曲げる方向に外力を加えると、電子移動度が変化し、当該ＴＦＴに流れる電流の大きさが変化すること、及びＴＦＴの曲げ方向とＴＦＴのキャリアが移動する方向とを一致させる場合と、略９０度ずらす場合とで、電流の変化量が異なることが知られている（Journal of Applied Physics Vol.92,pp6224(2002)を参照。）。
【００４６】
そこで、本実施形態に係る画像表示装置１０では、撓み検出部３４としてＴＦＴを適用しており、当該ＴＦＴに流れる電流の大きさにより画像表示装置１０の撓みの大きさを検出するようにしている。また、撓み検出部３４として用いられるＴＦＴは、背面基板１４にＴＦＴ２６を形成する段階で形成される。従って、背面基板１４にＴＦＴ２６を形成する段階で撓み検出部３４を背面基板１４に形成しない場合に比べ、容易に撓み検出部３４が画像表示装置１０の内部に固定される。
【００４７】
また、背面基板１４は、撓み検出部３４から出力された電気信号の信号レベルと予め定められた信号レベルとを比較する比較器３６Ａ，３６Ｂ，３６Ｃ，３６Ｄ（以下、区別しない場合は、比較器３６とよぶ）を備えている。比較器３６Ａは、コントローラ３２及び撓み検出部３４Ａに、比較器３６Ｂは、コントローラ３２及び撓み検出部３４Ｂに、比較器３６Ｃは、コントローラ３２及び撓み検出部３４Ｃに、比較器３６Ｄは、コントローラ３２及び撓み検出部３４Ｄに各々接続されている。
【００４８】
比較器３６は、撓み検出部３４から出力された電気信号の信号レベルと、予め定められた信号レベルとを比較し、撓み検出部３４から出力された電気信号の信号レベルが予め定められた信号レベルを超えた場合、ハイ（High；Ｈ）レベルの信号（以下、Ｈ信号と表現する）をコントローラ３２に出力し、撓み検出部３４から出力された電気信号の信号レベルが予め定められた信号レベル以下の場合、ロー（low；Ｌ）レベルの信号（以下、Ｌ信号と表現する）をコントローラ３２に出力する。
【００４９】
コントローラ３２は、比較器３６から入力された信号に応じて、撓み検出部３４により検出された画像表示媒体１７の撓みの大きさが予め定められた大きさを超えたか否かを判定する。すなわち、コントローラ３２は、比較器３６からＨ信号が入力された場合、撓み検出部３４により検出された画像表示媒体１７の撓みの大きさが予め定められた大きさを超えたと判定し、比較器３６からＬ信号が入力された場合、撓み検出部３４により検出された画像表示媒体１７の撓みの大きさが予め定められた大きさ以下であると判定する。
【００５０】
なお、本実施形態では、上記予め定められた大きさとして、画像形成領域１３の表示内容を書き換える際に画質不良を生じさせない撓みの大きさの上限値として、画像表示装置１０の実機による実験や画像表示装置１０の設計仕様に基づくコンピュータ・シミュレーション等によって予め得られた値を適用している。
【００５１】
次に、本実施形態に係る画像表示装置１０で用いられるＴＦＴの構成を説明する。
【００５２】
図３には、ＴＦＴ２６及び撓み検出部３４として用いられるＴＦＴの基本的な構成を示す概略断面図が示されている。また、図４には、ＴＦＴ２６の基本的な構成を示す概略平面図が示されている。
【００５３】
図３に示されるように、ＴＦＴ２６及び撓み検出部３４として用いられるＴＦＴは共に、背面基板１４上にゲート７４、絶縁膜８４、アモルファスシリコン又はポリシリコンの半導体層７６が順次積層され、さらにシリコン半導体層７６上にはソース８０とドレイン８２が予め定められた間隔Ｌを開けて形成されている。
【００５４】
図４に示されるように、ＴＦＴ２６は、ドレイン２６Ｄ（図３のドレイン８２に相当。）は画素電極２４とも接続しており、ゲート２６Ｇ（図３のゲート７４に相当。）に予め定められた電圧を印加することでシリコン半導体層７６を介してソース２６Ｓ（図３のソース８０に相当。）−ドレイン２６Ｄ間に電流が流れ、画素電極２４に電流を供給する。
【００５５】
ところで、画像表示装置１０は、画像表示媒体１７が撓んだ状態で画像形成領域１３に形成される画像の書き換えを行う場合、画像表示媒体１７が撓んでいないときに比べ、画質が悪くなる。これは、画像表示媒体１７が撓んだ状態のとき、ＴＦＴ２６に流れる電流が変動してしまうからである。
【００５６】
そこで、本実施形態に係る画像表示装置１０では、画像の書き換えを行うときに、画質不良を抑制する画質不良抑制処理を実行している。
【００５７】
次に、図５を参照して、画質不良抑制処理を実行する際の画像表示装置１０の作用を説明する。なお、図５は、当該画質不良抑制処理を実行する際に画像表示装置１０のコントローラ３２のＣＰＵにより実行される画質不良抑制処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムはコントローラ３２に含まれるＲＯＭの予め定められた記憶領域に予め記憶されている。
【００５８】
同図のステップ１００では、画像表示媒体１７の撓みの大きさが予め定められた大きさを超えているか否かを判定し、肯定判定となった場合にはステップ１０２へ移行する一方、否定判定となった場合には本画質不良抑制処理プログラムを終了する。
【００５９】
ステップ１０２では、ＴＦＴ２６に流れる電流値を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値になるように調整した後、本画質不良抑制処理プログラムを終了する。
【００６０】
なお、本実施形態に係る画像表示装置１０では、背面基板１４におけるソース線２８Ｌとゲート線３０Ｌとの交差領域を仮想的な矩形枠（図２の破線矩形枠を参照。）で囲み、当該矩形枠を２本の対角線で４つの領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄに４分割している（図２を参照。）。上記ステップ１０２では、比較器３６Ａから出力される信号がＬ信号からＨ信号になった場合、領域Ａに含まれるＴＦＴ２６に流れる電流値を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値となるように調整する。また、比較器３６Ｂから出力される信号がＬ信号からＨ信号になった場合、領域Ｂに含まれるＴＦＴ２６に流れる電流値を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値となるように調整する。また、比較器３６Ｃから出力される信号がＬ信号からＨ信号になった場合、領域Ｃに含まれるＴＦＴ２６に流れる電流値を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値となるように調整する。また、比較器３６Ｄから出力される信号がＬ信号からＨ信号になった場合、領域Ｄに含まれるＴＦＴ２６に流れる電流値を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値となるように調整する。これにより、画像の書き換えを行うときの画質不良が抑制される。
【００６１】
以上、本発明を上記実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。発明の主旨を逸脱しない範囲で上記実施形態に多様な変更または改良を加えてもよく、当該変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
【００６２】
また、上記実施形態は、特許請求の範囲に記載された発明を限定するものではなく、また、上記実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における状況に応じた組み合わせにより種々の発明が抽出される。上記実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、効果が得られる限りにおいて、この幾つかの構成要件が削除された構成が発明として抽出される。
【００６３】
例えば、上記実施形態では、撓み検出部３４として１つのＴＦＴを適用した場合の形態例を挙げたが、これに限らず、撓み検出部３４として２つのＴＦＴを適用してもよい。この場合、一例として図６に示すように、一方のＴＦＴのチャネル方向（キャリアの移動方向）が撓み方向Ａに対応し、他方のＴＦＴのチャネル方向が撓み方向Ｂに対応するように配置することが好ましく、より好ましくは、各ＴＦＴを一方のＴＦＴのチャネル方向と他方のＴＦＴのチャネル方向が略９０度となるように配置することである。このように、２つのＴＦＴをチャネル方向が交差するように配置することにより、本構成を有さない場合に比べ、２方向の撓みが容易に検出される。
【００６４】
また、上記実施形態では、撓み検出部３４として機能するＴＦＴを背面基板１４の表示基板１２との対向面１４Ａに固定した場合の形態例を挙げたが、これに限らず、一例として図７に示すように、背面基板１４に固定された撓み検出部３４として機能するＴＦＴに対向するように表示基板１２の背面基板１４との対向面に画像表示媒体１７の撓みの大きさを検出するＴＦＴを固定してもよい。この場合、表示基板１２の背面基板１４との対向面に、背面基板１４に固定された撓み検出部３４として機能するＴＦＴのチャネル方向と略一致するようにＴＦＴを固定することが好ましい。これにより、一方の基板のＴＦＴの出力レベルの増減に相反して他方の基板のＴＦＴの出力レベルが増減する。従って、一方の基板のＴＦＴの出力レベルが小さくても、他方の基板のＴＦＴの出力レベルで補われるので、一方の基板にのみ画像表示媒体１７の撓みの大きさを検出するＴＦＴを設けた場合に比べ、検出精度が高くなる。
【００６５】
また、上記実施形態では、画像表示媒体１７の上縁部の中央付近、下縁部の中央付近、左側縁部の中央付近、及び右側縁部の中央付近に撓み検出部３４を配置したが、これに限らず、一例として図８に示すように、画像表示媒体１７の隅に配置してもよい。また、画像表示媒体１７の周縁部に画像表示媒体１７を複数配置してもよい。このように、把持される可能性が高い画像表示媒体１７の周縁部に撓み検出部３４を配置することにより、本構成を有さない場合に比べ、画像表示媒体１７の周縁部の撓みの大きさが精度良く検出される。
【００６６】
また、画像表示媒体１７に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界部分に撓み検出部３４を配置してもよい。この場合、一例として図９に示すように、背面基板１４において、ソース線駆動回路２８の一端側でソース線駆動回路２８とソース線２８Ｌとの接続部分近傍、及びゲート線駆動回路３０の一端側でゲート線駆動回路３０とゲート線３０Ｌとの接続部分近傍の各々に撓み検出部３４を配置する形態が挙げられる。これにより、本構成を有さない場合に比べ、画像表示媒体に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界部分の撓みの大きさが精度良く検出される。
【００６７】
また、一例として図１０に示すように、背面基板１４において、ソース線駆動回路２８の一端側、ソース線２８Ｌ及びゲート線３０Ｌの交差領域とソース線駆動回路２８との境界部分、及びソース線２８Ｌ及びゲート線３０Ｌの交差領域を挟んでゲート線駆動回路３０と対向する位置の各々に撓み検出部３４を近接して隣り合うように配置すると共に、ゲート線駆動回路３０の一端側、ソース線２８Ｌ及びゲート線３０Ｌの交差領域とゲート線駆動回路３０との境界部分、及びソース線２８Ｌ及びゲート線３０Ｌの交差領域を挟んでソース線駆動回路２８と対向する位置の各々に撓み検出部３４を近接して隣り合うように配置してもよい。
【００６８】
なお、画像表示媒体１７に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界部分に撓み検出部３４として機能するＴＦＴを配置する場合、画像表示媒体１７に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界にＴＦＴのチャネル方向が交差するように配置することが好ましく、画像表示媒体１７に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界にＴＦＴのチャネル方向が略９０度で交差するように配置するとより好ましい。これにより、画像表示媒体１７に部分的に固定されている部材と、当該部材と隣り合う領域との境界にＴＦＴのチャネル方向が交差しないように配置する場合に比べ、検出精度が高くなる。
【００６９】
また、上記実施形態では、背面基板１４の表示基板１２との対向面１４Ａに撓み検出部３４を固定した場合の形態例を挙げて説明しているが、これに限らず、背面基板１４と表示基板１２との両方の対向面に撓み検出部３４を固定してもよいし、表示基板１２の背面基板１４との対向面に撓み検出部３４を固定してもよい。
【００７０】
また、上記実施形態では、背面基板１４におけるソース線２８Ｌとゲート線３０Ｌとの交差領域を仮想的な矩形枠で囲み、当該矩形枠を２本の対角線で４分割し、各分割領域に最も近い撓み検出部３４を対応させ、当該撓み検出部３４に対応する分割領域に含まれるＴＦＴ２６に流れる電流値を当該撓み検出部３４での検出結果に基づいて調整するようにしているが、撓み検出部３４の位置に応じて当該撓み検出部３４に対応させる領域を決定すればよい。
【００７１】
また、上記実施形態では、撓み検出部３４としてＴＦＴを用い、当該ＴＦＴを外部に露出しないように画像表示媒体１７の内部に固定する場合の形態例を挙げて説明したが、これに限らず、撓みの大きさを検出する他のセンサ（例えば、圧電素子や光学素子を利用したもの）を外部に露出しないように画像表示媒体１７の内部に固定するようにしてもよい。
【００７２】
また、上記実施形態では、画像表示媒体１７の撓みの大きさが予め定められた大きさを超えた場合にＴＦＴ２６に流れる電流値を調整することにより画質を調整する場合の形態例を挙げて説明したが、これに限らず、画像表示媒体１７の撓みの大きさが上記予め定められた大きさを超えた場合、当該撓みの大きさと上記予め定められた大きさとの差分に応じてＴＦＴ２６に流れる電流値を調整することにより画質を調整してもよい。この場合、例えば、画像表示媒体１７の撓みの大きさと上記予め定められた大きさとの差分と、当該差分に対応する各ＴＦＴ２６に印加する電圧値とを対応付けたテーブルをＲＯＭなどの記憶手段に予め記憶させておき、更に、１つの撓み検出部３４から出力された電気信号の信号レベルの大きさが段階的に検出されるように当該信号レベルとの比較対象となる上記予め定められた信号レベルが異なる複数の比較器３６を当該撓み検出部３４に対応して設ける。そして、コントローラ３２により、実際に撓み検出部３４で検出した画像表示媒体１７の撓みの大きさと上記予め定められた大きさとの差分に対応した電圧値を記憶手段から読み出し、当該電圧値が各ＴＦＴ２６に印加されるように制御することにより各ＴＦＴ２６に流れる電流を画像表示媒体１７の撓みがないときに流れる電流値になるように調整する形態例が挙げられる。これにより、より高精度に画質が調整される。
【００７３】
また、上記実施形態では、比較器３６がコントローラ３２にＨ信号またはＬ信号を出力する場合の形態例を挙げて説明したが、これに限らず、比較器３６から連続的に変化する撓み量を出力するようにしてもよい。
【００７４】
また、上記実施形態では、画像表示装置１０として、電気泳動表示方式の電子ペーパを例に挙げて説明したが、これに限らず、反射型液晶表示方式の電子ペーパ、エレクトロクロミック表示方式の電子ペーパ、磁気泳動表示方式の画像表示装置、ロイコサーマル表示方式の画像表示装置などであってもよく、可撓性を有する画像表示装置であればよい。
【００７５】
また、上記実施形態では、画像表示媒体１７の内部に固定されたコントローラ３２により画像表示装置１０全体を制御する場合の形態例を挙げて説明したが、コントローラ３２の代わりにコントローラ３２と同様の機能を有するパーソナル・コンピュータなどの外部機器により画像表示装置１０全体を制御してもよい。
【００７６】
その他、上記実施形態で説明した画像表示装置１０の構成（図１及び図２参照。）の構成は一例であり、主旨を逸脱しない範囲内において状況に応じて変更してもよいことは言うまでもない。
【００７７】
また、上記実施形態で説明した画質不良抑制処理プログラムの処理の流れ（図５参照。）も一例であり、主旨を逸脱しない範囲内において不要なステップを削除したり、新たなステップを追加したり、処理順序を入れ替えたりしてもよいことは言うまでもない。
【符号の説明】
【００７８】
１０  画像表示装置
１２  表示基板
１３  画像形成領域
１４  背面基板
１４Ａ  対向面
１７  画像表示媒体
２４  画素電極
２６  ＴＦＴ
２６Ｄ  ドレイン
２６Ｇ  ゲート
２６Ｓ  ソース
２８Ｌ  ソース線
３０Ｌ  ゲート線
３２  コントローラ（調整手段）
３４  撓み検出部（撓み検出手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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