(57)【要約】      （修正有）【課題】学習処理を精度よく行うための記録媒体を提供する。【解決手段】少なくとも１つの記録領域１０２を含む記録媒体１０１が提供される。前記少なくとも１つの記録領域１０２は、少なくとも１つの学習領域１０９と少なくとも１つの位置情報記録領域１１１とを含むように構成されるようになっており、前記少なくとも１つの学習領域１０９は、前記記録媒体１０１にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域１１１には、前記少なくとも１つの学習領域１０９の位置を示す位置情報１１２が記録される。【選択図】図１
2010027198.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にサーボ学習を行うための位置情報を記録するアクセス装置であって、
前記記録媒体は、
データが記録再生されるデータ領域と、
前記データ領域よりも内周側に配置された内周領域と、
前記データ領域よりも外周側に配置された外周領域と、を有し、
前記内周領域は、
前記データ領域にデータを記録する際の記録パワーの調整を行うためのＯＰＣ領域と、
前記記録媒体の欠陥管理情報を記録するためのディスク管理領域と、
前記記録媒体への学習に関する情報を記録するための学習履歴情報領域と、を含み、
前記学習履歴情報領域は、前記記録媒体を用いてサーボを学習するための領域である学習領域の位置を示す位置情報を記録するための位置情報記録領域を含み、
前記アクセス装置は、
前記記録媒体にアクセスするアクセス手段と、
前記アクセスによって決まる前記位置情報を生成する生成手段と、
前記生成された位置情報を前記位置情報記録領域に記録する記録手段と、を備え、
前記生成手段は、前記データ領域のうち記録処理が完了した領域を、前記サーボを学習するための学習領域として選択する手段を有し、
前記記録手段は、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を、前記サーボ学習領域の位置情報として、前記位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録手段を有する、
アクセス装置。
【請求項２】
前記生成手段は、前記学習領域が使用可能か否かを示す使用可否情報を生成する可否情報生成手段を備え、
前記記録手段は、前記生成された使用可否情報を前記位置情報記録領域に記録する可否情報記録手段を備えた、請求項１に記載のアクセス装置。
【請求項３】
前記可否情報生成手段は、前記学習領域の使用可否を判定する判定手段を備え、
前記可否情報記録手段は、前記判定結果を示す結果情報を前記位置情報に対応付けて前記位置情報記録領域に記録する手段を備えた、請求項２に記載のアクセス装置。
【請求項４】
前記可否情報生成手段は、前記学習領域の使用可否を示すようにビット列を設定する手段を備え、
前記可否情報記録手段は、前記設定されたビット列を前記位置情報に対応付けて前記位置情報記録領域に記録する手段を備えた、請求項２に記載のアクセス装置。
【請求項５】
前記記録済み領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、
前記記録済み位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、
前記領域位置情報記録手段は、
前記複数の領域のうち前記記録済み領域が含まれる領域を判定する領域判定手段と、
前記判定された領域を示す領域情報を前記位置情報記録領域に記録する手段とを備えた、請求項１から４のいずれかに記載のアクセス装置。
【請求項６】
前記記録手段は、前記アクセス装置の識別情報を前記アクセス装置によって記録された位置情報に対応するように前記位置情報記録領域に記録する手段を備えた、請求項１から５のいずれかに記載のアクセス装置。
【請求項７】
記録媒体にサーボ学習を行うための位置情報を記録するアクセス方法であって、
前記記録媒体は、
データが記録再生されるデータ領域と、
前記データ領域よりも内周側に配置された内周領域と、
前記データ領域よりも外周側に配置された外周領域と、を有し、
前記内周領域は、
前記データ領域にデータを記録する際の記録パワーの調整を行うためのＯＰＣ領域と、
前記記録媒体の欠陥管理情報を記録するためのディスク管理領域と、
前記記録媒体への学習に関する情報を記録するための学習履歴情報領域と、を含み、
前記学習履歴情報領域は、前記記録媒体を用いてサーボを学習するための領域である学習領域の位置を示す位置情報を記録するための位置情報記録領域を含み、
前記アクセス方法は、
前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、
前記アクセスによって決まる前記位置情報を生成する生成ステップと、
前記生成された位置情報を前記位置情報記録領域に記録する記録ステップと、を含み、
前記生成ステップは、前記データ領域のうち記録処理が完了した領域を、前記サーボを学習するための学習領域として選択するステップを有し、
前記記録ステップは、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を、前記サーボ学習領域の位置情報として、前記位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録ステップを有する、
アクセス方法。
【請求項８】
記録媒体にアクセスするアクセス処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記記録媒体は、
データが記録再生されるデータ領域と、
前記データ領域よりも内周側に配置された内周領域と、
前記データ領域よりも外周側に配置された外周領域と、を有し、
前記内周領域は、
前記データ領域にデータを記録する際の記録パワーの調整を行うためのＯＰＣ領域と、
前記記録媒体の欠陥管理情報を記録するためのディスク管理領域と、
前記記録媒体への学習に関する情報を記録するための学習履歴情報領域と、を含み、
前記学習履歴情報領域は、前記記録媒体を用いてサーボを学習するための領域である学習領域の位置を示す位置情報を記録するための位置情報記録領域を含み、
前記アクセス処理は、
前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、
前記アクセスによって決まる前記位置情報を生成する生成ステップと、
前記生成された位置情報を前記位置情報記録領域に記録する記録ステップと、を含み、
前記生成ステップは、前記データ領域のうち記録処理が完了した領域を、前記サーボを学習するための学習領域として選択するステップを有し、
前記記録ステップは、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を、前記サーボ学習領域の位置情報として、前記位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録ステップを有する、
プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体、記録媒体にアクセスする装置、記録媒体にアクセスする方法およびそのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの高密度化、大容量化が進んでおり、光ディスクの信頼性を確保することが重要になっている。光ディスクの信頼性を確保するため、光ディスク装置によって、学習処理がなされる。学習処理によって、光ディスクに対して記録再生する際に利用する記録再生条件が求められる。記録再生条件は、データの記録時に光ディスクに照射する半導体レーザの最適なパワーを示す記録パワー条件を含む。記録パワー条件は、記録パワー学習によって求められる。
【０００３】
特許文献１は、記録パワー学習方法の一例を開示する。特許文献１で開示の方法では、使用しようとする光ディスクの評価トラックにレーザ光を徐々に変化させながら信号を記録し、記録された信号の良否を判定し、判定結果が良好な場合は、判定が良である範囲で最も低いパワーを決定することにより学習を行う。
【０００４】
図１１は、従来の記録パワー学習の手順を示す。以下、図１１を参照して、従来の記録パワー学習の手順をステップごとに説明する。
【０００５】
ステップ１１０１：学習領域Ａを選択する。学習領域Ａの選択は、光ディスクの評価トラックの中から、ランダムに学習に使用するトラックを選択することで行う（学習領域選択処理）。学習領域選択手順の詳細は、後述される。
【０００６】
ステップ１１０２：学習に用いる記録パワーの設定を行う。例えば、選択したトラックを対象として学習するために、少なくとも１つの記録パワーの設定を行う。
【０００７】
ステップ１１０３：学習領域Ａにデータを記録する。例えば、複数の記録パワーを設定した時には、選択された学習領域を複数の領域に分割して、それぞれの領域に対して異なった記録パワーでデータを記録する。
【０００８】
ステップ１１０４：記録された領域を対象として、再生信号の変調度を測定する。変調度は、再生信号の振幅を示す値である。
【０００９】
ステップ１１０５：測定された変調度に基づいて、最適なパワーを算出する。ステップ１１０６：算出されたパワーで選択された領域に対してテスト記録する。
【００１０】
ステップ１１０７：テスト記録された領域のエラーレートを測定する。
【００１１】
ステップ１１０８：測定されたエラーレートが規定範囲内か否かを判定する。
【００１２】
エラーレートが規定範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ１１０９に進む。エラーレートが規定範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ１１０２に進み、ステップ１１０２〜ステップ１１０８の動作を繰り返す。
【００１３】
ステップ１１０９：学習結果パワーが設定され、学習処理が終了する。
【００１４】
図１２は、学習領域選択処理の詳細な手順を示す。以下、図１２を参照して、学習領域選択処理手順（ステップ１１０１）をステップごとに説明する。
【００１５】
ステップ１２０１：学習領域をランダムに選択する。
【００１６】
ステップ１２０２：選択された学習領域に対してテスト記録を行う。
【００１７】
ステップ１２０３：テスト記録された学習領域のエラーレートを測定する。
【００１８】
ステップ１２０４：測定されたエラーレートが規定範囲内か否かを判定する。
【００１９】
エラーレートが規定範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、終了する。エラーレートが規定範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ１２０１に進み、学習領域選択処理が繰り返される。
【００２０】
記録パワー学習は、光ディスク装置に光ディスクを装着した後、光ディスク装置を起動するたびに、あるいは、温度変化などの要因により光ディスクの特性、または、光ディスク装置の特性が所定以上に変化するたびに行われる。
【００２１】
記録再生条件は、光ディスクの内周領域に設けられたドライブテスト領域で求められる。光ディスク装置は、装着された光ディスクに対し、求められた記録再生条件で記録再生処理を行う。
【００２２】
特許文献２は、所定の記録再生条件で情報を記録再生する方法の一例を開示する。この方法では、学習処理を高速に行うために、所定の光ディスクが用いられる。この光ディスクは、光ディスク装置の識別情報と装置毎の記録再生条件を格納する領域を含む。この方法では、記録または再生を行う装置（以下では光ディスク装置とする）の識別情報と格納されている識別情報が一致する場合には、記録再生条件を用いて情報の記録再生を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２３】
【特許文献１】特開平４−１４１８２７号公報
【特許文献２】特開２０００−２９３８５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２４】
学習処理を精度よく行うためには、記録条件のよい領域を学習領域として選択することが望ましい。
【００２５】
さらに、最近では、光ディスクの更なる大容量化、高密度化、記録再生の高速化が進んでいるため、記録再生条件を求めるための学習処理の実行時間を短縮する必要がある。
【００２６】
さらに、光ディスクのドライブテスト領域は有限であることに加え、学習処理は、上記記録パワー学習のみならず他の様々な記録再生条件に対しても行う必要があるため、ドライブテスト領域を効率的に使用する必要がある。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
本発明の記録媒体は、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体であって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含むように構成されるようになっており、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録され、これにより、上記目的が達成される。
【００２８】
前記少なくとも１つの学習領域には、前記アクセスパラメータの学習を行うためにデータが記録され、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報が記録されてもよい。
【００２９】
前記少なくとも１つの学習領域には、前記アクセスパラメータの学習を行うためにデータが記録され、前記位置情報は、既に前記アクセスパラメータを学習済みである学習済み領域の位置を示し、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報が記録されてもよい。
【００３０】
前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記使用可否情報は、前記学習領域で学習した回数を示す情報を含んでもよい。
【００３１】
前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記使用可否情報は、前記学習領域の使用可否の判定のための信号の測定値を含んでもよい。
【００３２】
前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記使用可否情報は、前記学習領域の使用可否を示すビット列を含んでもよい。
【００３３】
前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの記録済み領域を含み、前記位置情報は、前記少なくとも１つの記録済み領域の位置を示す記録済み領域情報を含んでもよい。
【００３４】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含んでもよい。
【００３５】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記位置情報を記録した装置の識別情報を記録する識別情報記録領域を更に含むように構成されるようになっていてもよい。
【００３６】
前記少なくとも１つの位置情報記録領域は、学習処理のための学習パラメータであって、前記位置情報に対応した学習パラメータを含んでもよい。
【００３７】
前記位置情報記録領域は、前記学習パラメータを使用可能か否かを示す学習パラメータ使用可否情報を含んでもよい。
【００３８】
前記学習パラメータ使用可否情報は、前記少なくとも１つの学習領域で学習処理を行った際の温度情報を含んでもよい。
【００３９】
前記学習パラメータ使用可否情報は、前記少なくとも１つの学習領域で学習処理を行った際の時間情報を含んでもよい。
【００４０】
本発明のアクセス装置は、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス装置であって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されており、前記アクセス装置は、前記記録媒体にアクセスするアクセス手段と、前記アクセス結果に従って、前記少なくとも１つの位置情報記録領域から前記位置情報を取得する取得手段と、前記取得された位置情報に従って、前記少なくとも１つの学習領域で前記アクセスパラメータを学習する学習手段とを備え、これにより、上記目的が達成される。
【００４１】
前記少なくとも１つの学習領域には、前記アクセスパラメータの学習を行うためにデータが記録され、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報が記録されており、前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記取得手段は、前記少なくとも１つの学習領域の中から、前記使用可否情報が使用可能と判定された学習領域を選択する選択手段と、前記選択された学習領域を設定する学習領域設定手段とを備えてもよい。
【００４２】
前記使用可否情報は、前記学習領域で学習した回数を示す情報を含み、前記選択手段は、学習した回数が最も少ない学習領域を選択してもよい。
【００４３】
前記使用可否情報は、前記学習領域の使用可否の判定のための信号の測定値を含み、前記選択手段は、前記測定値が所定の値より小さい学習領域を選択してもよい。
【００４４】
前記使用可否情報は、前記学習領域の使用可否を示すビット列を含み、前記選択手段は、前記学習領域の対応したビットが使用可能状態を示す学習領域を選択してもよい。
【００４５】
前記少なくとも１つの位置情報記録領域は、学習処理のための学習パラメータであって、前記位置情報に対応した学習パラメータを含み、前記学習領域設定手段は、前記学習パラメータを設定し、前記学習パラメータによって学習してもよい。
【００４６】
前記位置情報記録領域は、前記学習パラメータの使用可能か否かを示す学習パラメータ使用可否情報を含み、前記学習領域設定手段は、前記学習パラメータ使用可否情報に基づいて、前記学習パラメータの使用可否を判定する使用可否判定手段を備え、前記学習領域設定手段は、前記使用可否判定手段の判定結果に基づいて、使用可能である学習パラメータを設定してもよい。
【００４７】
前記学習パラメータ使用可否情報は、前記少なくとも１つの学習領域で学習処理した際の第１温度を示す第１温度情報を含み、前記アクセス装置は、前記アクセス装置の内部の第２温度を測定する温度測定手段を更に備え、前記学習領域設定手段は、前記第１温度と前記第２温度との差が所定値以下か否かの判定を行い、前記差が前記所定値以下ならば、前記学習パラメータを設定してもよい。
【００４８】
前記学習パラメータ使用可否情報は、前記少なくとも１つの学習領域で学習処理した際の第１時刻を示す第１時刻情報を含み、前記アクセス装置は、第２時刻を測定する時刻測定手段を更に備え、前記学習領域設定手段は、前記第１時刻と前記第２時刻との差が所定値以下か否かの判定を行い、前記差が所定値以下ならば、前記学習パラメータを設定してもよい。
【００４９】
前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの記録済み領域を含み、前記位置情報は、前記少なくとも１つの記録済み領域の位置を示す記録済み領域情報を含み、前記アクセス装置は、現在のヘッド位置を取得するヘッド位置取得手段を更に備え、前記選択手段は、前記現在のヘッド位置と前記記録済み領域との位置関係に基づいて、前記学習領域を選択してもよい。
【００５０】
前記選択手段は、前記現在ヘッド位置から半径距離が最も近い領域を選択してもよい。
【００５１】
前記学習領域選択手段は、前記現在ヘッド位置から最も短時間で到達できる領域を選択してもよい。
【００５２】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記選択手段は、前記複数の領域から前記現在ヘッド位置が属している領域を選択し、前記位置情報に記録されている記録済み領域の中から、前記現在ヘッド位置の属している領域に登録されている記録済み領域を選択してもよい。
【００５３】
前記記録媒体に対して半径方向にほぼ等間隔な参照位置を算出する参照位置算出手段を更に備え、前記選択手段は、前記現在ヘッド位置から最も近い近傍参照位置を取得し、前記近傍参照位置から最も近い記録済み領域を前記位置情報に含まれる前記記録済み領域から選択してもよい。
【００５４】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記位置情報を記録した装置の第１識別情報が記録された識別情報記録領域を更に含み、前記アクセス装置は、前記アクセス装置の第２識別情報を格納する手段と、前記第１識別情報と前記第２識別情報とが一致しているか否かを判定する識別情報判定手段とを更に備え、前記選択手段は、前記第１識別情報と前記第２識別情報とが一致している場合には、前記２識別情報に対応した前記位置情報に基づいて、学習を行う領域を選択してもよい。
【００５５】
本発明のアクセス方法は、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス方法であって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されており、前記アクセス方法は、前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、前記アクセス結果に従って、前記少なくとも１つの位置情報記録領域から前記位置情報を取得する取得ステップと、前記取得された位置情報に従って、前記少なくとも１つの学習領域で前記アクセスパラメータを学習する学習ステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００５６】
前記少なくとも１つの学習領域には、前記アクセスパラメータの学習を行うためにデータが記録され、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報が記録されており、前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記取得ステップは、前記少なくとも１つの学習領域の中から、前記使用可否情報が使用可能と判定された学習領域を選択する選択ステップと、前記選択された学習領域を設定する学習領域設定ステップとを包含してもよい。
【００５７】
前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの記録済み領域を含み、前記位置情報は、前記少なくとも１つの記録済み領域の位置を示す記録済み領域情報を含み、前記アクセス方法は、現在のヘッド位置を取得するヘッド位置取得ステップを更に包含し、前記選択ステップは、前記現在のヘッド位置と前記記録済み領域との位置関係に基づいて、前記学習領域を選択するステップを包含してもよい。
【００５８】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記選択ステップは、前記複数の領域から前記現在ヘッド位置が属している領域を選択し、前記位置情報に記録されている記録済み領域の中から、前記現在ヘッド位置の属している領域に登録されている記録済み領域を選択するステップを包含してもよい。
【００５９】
本発明のプログラムは、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されており、前記アクセス処理は、前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、前記アクセス結果に従って、前記少なくとも１つの位置情報記録領域から前記位置情報を取得する取得ステップと、前記取得された位置情報に従って、前記少なくとも１つの学習領域で前記アクセスパラメータを学習する学習ステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００６０】
前記少なくとも１つの学習領域には、前記アクセスパラメータの学習を行うためにデータが記録され、前記少なくとも１つの位置情報記録領域には、前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報が記録されており、前記位置情報と前記使用可否情報とは互いに対応しており、前記取得ステップは、前記少なくとも１つの学習領域の中から、前記使用可否情報が使用可能と判定された学習領域を選択する選択ステップと、前記選択された学習領域を設定する学習領域設定ステップとを包含してもよい。
【００６１】
前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの記録済み領域を含み、前記位置情報は、前記少なくとも１つの記録済み領域の位置を示す記録済み領域情報を含み、前記アクセス方法は、現在のヘッド位置を取得するヘッド位置取得ステップを更に包含し、前記選択ステップは、前記現在のヘッド位置と前記記録済み領域との位置関係に基づいて、前記学習領域を選択するステップを包含してもよい。
【００６２】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記選択ステップは、前記複数の領域から前記現在ヘッド位置が属している領域を選択し、前記位置情報に記録されている記録済み領域の中から、前記現在ヘッド位置の属している領域に登録されている記録済み領域を選択するステップを包含してもよい。
【００６３】
本発明のアクセス装置は、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス装置であって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域は、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されるように構成されており、前記アクセス装置は、前記記録媒体にアクセスするアクセス手段と、前記アクセス結果に従って、前記位置情報を生成する生成手段と、前記生成された位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する記録手段とを備え、これにより、上記目的が達成される。
【００６４】
前記生成手段は、前記少なくとも1つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報を生成する可否情報生成手段を備え、前記記録手段は、前記生成された使用可否情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する可否情報記録手段を備えてもよい。
【００６５】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも1つの学習領域で学習した回数を測定する回数測定手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記計測された回数を示す回数情報を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００６６】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも１つの学習領域の使用可否を判定する判定手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記判定結果を示す結果情報を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００６７】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも１つの学習領域の使用可否を示すようにビット列を設定する手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記設定されたビット列を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００６８】
前記可否情報生成手段は、学習処理のための学習パラメータであって、前記位置情報に対応した学習パラメータを生成するパラメータ生成手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記学習パラメータを前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００６９】
前記パラメータ生成手段は、前記位置情報によって示された少なくとも１つの学習領域で既に学習した結果を示すパラメータを選択する手段を備えてもよい。
【００７０】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記複数の領域のそれぞれには、前記複数の領域のそれぞれに対応する学習パラメータが記録されており、前記パラメータ生成手段は、前記複数の領域のそれぞれに対応する学習パラメータから少なくとも１つの学習パラメータを選択する手段を備えてもよい。
【００７１】
前記可否情報生成手段は、前記学習パラメータの使用可否を判定する手段と、前記判定結果を示す情報を前記学習パラメータに対応するように前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段をさらに備えてもよい。
【００７２】
前記アクセス装置は、前記少なくとも1つの学習領域で学習処理した際の温度を測定する温度測定手段をさらに備え、前記可否情報記録手段は、前記温度を示す温度情報を前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する温度情報記憶手段を備えてもよい。
【００７３】
前記アクセス装置は、前記少なくとも1つの学習領域で学習処理した際の時刻を測定する時刻測定手段をさらに備え、前記可否情報記録手段は、前記時刻を示す時刻情報を前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する温度情報記憶手段を備えてもよい。
【００７４】
前記生成手段は、前記少なくとも1つの学習領域のうち学習処理が完了した領域を選択する手段を備え、前記記録手段は、前記選択された学習済み領域の位置を示す学習済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段と、前記学習済み領域の使用可否を示す情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段とを備えてもよい。
【００７５】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも1つの学習領域で学習した回数を測定する回数測定手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記計測された回数を示す回数情報を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００７６】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも１つの学習領域の使用可否を判定する判定手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記判定結果を示す結果情報を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００７７】
前記可否情報生成手段は、前記少なくとも１つの学習領域の使用可否を示すようにビット列を設定する手段を備え、前記可否情報記録手段は、前記設定されたビット列を前記位置情報に対応付けて前記少なくとも1つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００７８】
前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれは、少なくとも1つの領域を含み、前記生成手段は、前記少なくとも1つの領域のうち記録処理が完了した領域を選択する手段を備え、前記記録手段は、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録手段を備えてもよい。
【００７９】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記領域位置情報記録手段は、前記複数の領域のうち前記記録済み領域が含まれる領域を判定する領域判定手段と、前記判定された領域を示す領域情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段とを備えてもよい。
【００８０】
前記記録手段は、前記アクセス装置の識別情報を前記アクセス装置によって記録された位置情報に対応するように前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する手段を備えてもよい。
【００８１】
本発明のアクセス方法は、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス方法であって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域は、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されるように構成されており、前記アクセス方法は、前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、前記アクセス結果に従って、前記位置情報を生成する生成ステップと、前記生成された位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する記録ステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００８２】
前記生成ステップは、前記少なくとも1つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報を生成する可否情報生成ステップを包含し、前記記録ステップは、前記生成された使用可否情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する可否情報記録ステップを包含してもよい。
【００８３】
前記生成ステップは、前記少なくとも1つの学習領域のうち学習処理が完了した領域を選択するステップを包含し、前記記録ステップは、前記選択された学習済み領域の位置を示す学習済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップと、前記学習済み領域の使用可否を示す情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップとを包含してもよい。
【００８４】
前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれは、少なくとも1つの領域を含み、前記生成ステップは、前記少なくとも1つの領域のうち記録処理が完了した領域を選択するステップを包含し、前記記録ステップは、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録ステップを包含してもよい。
【００８５】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記領域位置情報記録ステップは、前記複数の領域のうち前記記録済み領域が含まれる領域を判定する領域判定ステップと、前記判定された領域を示す領域情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップとを包含してもよい。
【００８６】
本発明のプログラムは、少なくとも１つの記録領域を含む記録媒体にアクセスするアクセス処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記少なくとも１つの記録領域は、少なくとも１つの学習領域と少なくとも１つの位置情報記録領域とを含み、前記少なくとも１つの学習領域は、前記記録媒体にアクセスするためのアクセスパラメータを学習するための領域であり、前記少なくとも１つの位置情報記録領域は、前記少なくとも１つの学習領域の位置を示す位置情報が記録されるように構成されており、前記アクセス処理は、前記記録媒体にアクセスするアクセスステップと、前記アクセス結果に従って、前記位置情報を生成する生成ステップと、前記生成された位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する記録ステップとを包含し、これにより、上記目的が達成される。
【００８７】
前記生成ステップは、前記少なくとも1つの学習領域のそれぞれが使用可能か否かを示す使用可否情報を生成する可否情報生成ステップを包含し、前記記録ステップは、前記生成された使用可否情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する可否情報記録ステップを包含してもよい。
【００８８】
前記生成ステップは、前記少なくとも1つの学習領域のうち学習処理が完了した領域を選択するステップを包含し、前記記録ステップは、前記選択された学習済み領域の位置を示す学習済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップと、前記学習済み領域の使用可否を示す情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップとを包含してもよい。
【００８９】
前記少なくとも１つの学習領域のそれぞれは、少なくとも1つの領域を含み、前記生成ステップは、前記少なくとも1つの領域のうち記録処理が完了した領域を選択するステップを包含し、前記記録ステップは、前記選択された記録済み領域の位置を示す記録済み領域位置情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録する領域位置情報記録ステップを包含してもよい。
【００９０】
前記少なくとも１つの記録領域は、前記記録媒体の半径方向に複数の領域に分割されており、前記位置情報は、前記複数の領域のそれぞれに含まれる記録済み領域の位置を示す情報を含み、前記領域位置情報記録ステップは、前記複数の領域のうち前記記録済み領域が含まれる領域を判定する領域判定ステップと、前記判定された領域を示す領域情報を前記少なくとも１つの位置情報記録領域に記録するステップとを包含してもよい。
【発明の効果】
【００９１】
本発明によれば、精度の高い学習を行うことが出来る、または、学習時間を短縮することが出来る、記録媒体、アクセス装置、アクセス方法、そのプログラムを提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】本発明の実施の形態１の記録媒体１０１の構造を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態２の記録媒体２０１の構造を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態３の光ディスク装置の構成を示す図である。
【図４】記録パワー学習を行う手順を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態４の光ディスク装置５００の構成を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態４の学習領域位置情報５１１の詳細なフォーマットを示す図である。
【図７】記録パワー学習を行う手順を示すフローチャートである。
【図８】学習領域選択処理１の詳細な手順を示すフローチャートである。
【図９】学習領域選択処理２の詳細な手順を示すフローチャートである。
【図１０】学習領域テーブルへの登録を行う手順を示すフローチャートである。
【図１１】従来の記録パワー学習の手順を示すフローチャートである。
【図１２】学習領域選択処理の詳細な手順を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の実施の形態５の記録媒体１３０１の構造を示す図である。
【図１４】情報記録媒体１３０１に対して記録済み領域を登録する手順を示すフローチャートである。
【図１５】光ディスク装置５００が所定の温度変化検出時に記録媒体１３０１に対して温度学習処理を実行する手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００９３】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。
【００９４】
（実施の形態１）  図１は、本発明の実施の形態１の記録媒体１０１の構造を示す。記録媒体１０１は、任意の光ディスク（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）である。
【００９５】
記録媒体１０１には、複数のトラック１１６が同心円状またはスパイラル状に形成されている。記録媒体１０１は、Ｌｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅ１０２と、Ｄａｔａ  Ｚｏｎｅ１０３と、Ｌｅａｄ−ｏｕｔ  Ｚｏｎｅ１０４とを含む。
【００９６】
Ｄａｔａ  Ｚｏｎｅ１０３に対してデータが記録再生される。Ｌｅａｄ−ｏｕｔ  Ｚｏｎｅ１０４には、ディスクの管理情報や欠陥管理に用いるデータが記録されている。
【００９７】
Ｌｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅ１０２は、ディスク情報領域１０５と、ＯＰＣ領域１０６と、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７と、ＤＭＡ領域１０８とを含む。
【００９８】
ディスク情報領域１０５には、ディスクメーカの定めた記録再生条件等のディスク固有の情報が記録される。
【００９９】
ＯＰＣ領域１０６には、複数のトラック１１６が形成されている。ＯＰＣ領域１０６は、学習処理を行う際にデータが記録される少なくとも１つの学習領域１０９を含む。学習処理によって、記録媒体１０１にアクセスするためのパラメータを決定する。少なくとも１つの学習領域１０９は、３本の連続したトラック１１６を含む。なお、＃につづく数字はトラック１１６、学習領域１０９のインデックス番号を示している。
【０１００】
なお、学習領域１０９がＯＰＣ領域１０６に含まれることに限定されない。学習領域１０９は、Ｌｅａｄ−ｉｎ  Ｚｏｎｅ１０２のうちのＯＰＣ領域１０６とは異なる領域に含まれえる。また、学習領域１０９は、Ｄａｔａ  Ｚｏｎｅ１０３、またはＬｅａｄ−ｏｕｔ  Ｚｏｎｅ１０４に含まれえる。
【０１０１】
ＤＭＡ領域１０８には、記録媒体１０１の欠陥管理情報が記録される。
【０１０２】
Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７には、装置識別情報１１０と学習領域位置情報１１１との組が少なくとも１つ記録される。装置識別情報１１０は、記録媒体１０１で学習処理を行った装置の固有情報を含む。学習領域位置情報１１１は、前記装置によって学習処理を行った学習領域１０９の位置と使用した際の条件とを示す。なお、１つの装置識別情報１１０に１つの学習領域位置情報１１１が対応付けられることに限らない。１つの装置識別情報１１０に複数の学習領域位置情報１１１が対応付けられえる。
【０１０３】
学習領域位置情報１１１は、学習領域インデックス１１２と学習領域使用回数１１３と学習温度１１４と記録パワー１１５とを含む。ここで、学習領域インデックス１１２、学習領域使用回数１１３、学習温度１１４および記録パワー１１５の“（）”内の値は、それぞれに格納されている値の例を示す。なお、“０ｘ”は“（）”内の値が１６進数であることを示す。
【０１０４】
学習領域インデックス１１２は、ＯＰＣ領域１０６における学習領域１０９の位置を示す。例えば、図１では、学習領域＃１である。なお、学習領域インデックス１１２は、学習領域の先頭アドレスでありえる。
【０１０５】
学習領域使用回数１１３は、学習領域インデックス１１２によって示される領域を学習に使用した回数である。学習領域使用回数１１３は、学習領域の使用の有無を判定するために用いる。例えば、図１では、学習領域使用回数１１３は、５回である。なお、学習領域１０９の使用の有無の判定に用いる領域には、学習領域１０９に記録再生を行った際のエラーレートを格納してもよい。
【０１０６】
記録パワー１１５は、学習領域インデックス１１２によって示される領域に対して行った学習で用いる記録パワーのパラメータである。例えば、記録パワーはμＷ単位である。図１では、“０ｘ１７７０”つまり、６．０ｍＷを示している。なお、記録パワー１１５は、記録パワーに加えて、または記録パワーに替えて、他の学習に関するパラメータである。例えば、記録パルス幅や、サーボパラメータでありえる。
【０１０７】
学習温度１１４は、学習領域インデックス１１２によって示される領域で学習を行った際の温度である。学習パラメータの使用の有無を判定するために用いる。例えば、温度を１００倍した値が格納されていて、図１では、“０ｘ９Ｃ４”つまり、２５℃である。
【０１０８】
なお、学習パラメータの使用の有無の判定に用いる領域には、学習領域１０９で前回学習を行った時の時間情報を格納しておき、前回学習からの経過時間によって学習パラメータの使用有無判定を行ってもよい。
【０１０９】
以上のような学習領域位置情報を持った情報記録媒体によれば、２回目以降の学習処理を行う際に学習領域位置情報１１１に格納されている学習領域インデックス１１２の領域を用いて学習を行うことで、学習時の学習領域選択処理を省略することが出来、学習時間を短縮することが出来る。さらに、学習領域の使用可能条件を満たしている限りは、同一の領域を使用して学習を行うことも出来るため、学習に使用済みの学習領域の数を減らすことが出来、学習領域をランダムに選択する場合、選択した領域が使用不可能となる可能性を低減することが出来るとともに、他の記録再生条件を求める学習処理に使用することが出来る領域を増やすことが出来る。
【０１１０】
（実施の形態２）  図２は、本発明の実施の形態２の記録媒体２０１の構造を示す。記録媒体２０１は、任意の光ディスク（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）である。図２において、図１に示される記録媒体１０１と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その説明を省略する。
【０１１１】
学習領域位置情報２１１は、学習領域テーブル２１３と、学習領域テーブル２１３を更新した回数であるテーブル更新回数２１２とを含む。
【０１１２】
学習領域テーブル２１３は、領域インデックス２１４とデータ２１５とを含む。領域インデックス２１４は、学習領域１０９のインデックス情報を示していて、本実施の形態では＃０〜＃３４０のいずれかの学習領域１０９を示している。なお、領域インデックス２１４は、学習領域１０９の先頭アドレスであってもよい。データ２１５は、領域インデックス毎の学習領域１０９の使用可否条件が格納されている。本実施の形態では、学習領域１０９の使用可否条件として、“ＯＫ”と“ＮＧ”といった文字列が格納されている。
【０１１３】
なお、データ２１５は、学習領域１０９の使用可否条件として、“ＯＫ”と“ＮＧ”という文字列を用いたが、学習領域の使用可否条件を示すほかの条件であってもよい。例えば、“ＯＫ”を“０”、“ＮＧ”を“１”といったように特定の数値を用いてもよい。図２では、テーブル更新回数２１２として、“０ｘ０００１”つまり、１回が格納されている。
【０１１４】
以上のように、本発明の記録媒体によれば、学習処理を行う際に学習領域位置情報２１１に格納されている学習領域テーブル２１３を用いて学習領域選択を行うことで、記録を行った回数が少ない領域で学習実行処理を行うことが可能となり、過去に行われた記録による媒体の劣化の影響を受けにくい、精度の高い記録学習処理を行うことが出来る。
【０１１５】
なお、実施の形態１で述べた学習領域の使用の有無を判定する条件や、前回学習を行った領域の情報、学習パラメータ、学習パラメータを使用する条件を格納する領域を具備していてもよい。
【０１１６】
（実施の形態３）
図３は、本発明の実施の形態３の光ディスク装置の構成を示す。光ディスク装置３００は、光ディスク１０１（図１参照）を挿入可能に構成されている。
【０１１７】
光ディスク装置３００は、光ディスク１０１を回転させるモータ３０２と、光ディスク３０１にレーザを照射するヘッド３０３と、ヘッド３０３から読み取られた信号の２値化やクロックの生成を行う信号処理手段３０４と、ヘッド３０３から出力されるレーザのパワーやパルス幅の設定を行うレーザ制御手段３０５と、モータ３０２の回転数やヘッド３０３の動作の制御を行うサーボ手段３０６と、システム制御手段３０７と、学習領域位置情報解釈手段３０８と、光ディスク装置３００固有のＩＤである装置識別情報１１０ｂを格納する装置識別情報格納手段３０９と、温度取得手段３１０とから構成されている。
【０１１８】
システム制御手段３０７は、レーザ制御手段３０５へのレーザパワーの設定やサーボ手段３０６への制御コマンドの発行を行い、光ディスク装置３００全体の動作の制御や、信号処理手段３０４から読み取った信号を解釈し光ディスク３０１上のデータの取得を行う。学習領域位置情報解釈手段３０８は、光ディスク３０１上の装置識別情報１１０ａと学習領域位置情報１１１を解釈しＯＰＣ領域１０６内の学習を行う領域や学習パラメータをシステム制御手段３０７に設定する。
【０１１９】
なお、装置識別情報格納手段３０９は、システム制御手段３０７上のメモリに存在してもよい。さらに、図３には図示していないが、光ディスク装置３００は、ホストブロック（例えばホストＰＣ）と通信手段を通して接続され、データの送受信やコマンドの受信を行っている。
【０１２０】
なお、本実施の形態では、記録領域位置情報解釈手段３０８はシステム制御手段３０７に内蔵されて光ディスク装置３００内に存在しているが、独立した手段として光ディスク装置３００内に存在しても良いし、他の手段の中に内蔵されていても良い。さらに、それぞれの手段を構成しているプログラムのステップとして存在していても良い。
【０１２１】
図４は、記録パワー学習を行う手順を示す。以下、図１、図３および図４を参照して、記録パワー学習手順をステップごとに説明する。記録パワー学習手順は、光ディスク装置３００によって記録媒体１０１に対して実行される。
【０１２２】
ステップ４０１：温度取得手段３１０から、現在の温度を取得する。
【０１２３】
ステップ４０２：Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ（ドライブエリア）１０７に格納されている装置識別情報１１０ａと学習領域位置情報１１１との組を取得する。装置識別情報１１０ａと学習領域位置情報１１１の組の取得は、ヘッド３０３から読み取った信号を信号処理手段３０４によって２値化を行い、システム制御手段３０７で解釈することで行う。
【０１２４】
ステップ４０３：装置識別情報格納手段３０９に格納されている装置識別情報１１０ｂを取得する。
【０１２５】
ステップ４０４：ドライブ識別情報１１０ａと装置識別情報１１０ｂとを比較し、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７の情報が有効か否かを判定する。装置識別情報１１０ａと装置識別情報１１０ｂとが一致すれば、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７のデータが有効であるとみなし、一致しなければ、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７のデータは無効であるとみなす。
【０１２６】
Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７のデータが有効である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ４１３に進む。Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７のデータが有効でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ４０５に進む。
【０１２７】
ステップ４０５：学習領域の選択を行う。学習領域の選択は、従来の技術で述べたように、ランダムに選択した領域にテスト記録を行い、その領域のエラーレートを測定することで行う。
【０１２８】
ステップ４０６：学習領域使用回数を０へと初期化する。初期化後、処理は、ステップ４０７に進む。
【０１２９】
ステップ４０７：学習パラメータ初期値をディスク情報領域１０５から取得する。
【０１３０】
ステップ４１３：学習領域使用回数を学習領域位置情報１１１から取得する。
【０１３１】
ステップ４１４：学習領域使用回数が所定値以下であるか否かを判定する。学習領域使用回数が所定値以下でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ４０５に進む。学習領域使用回数が所定値以下である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ４１５に進む。
【０１３２】
ステップ４１５：学習領域位置情報１１１から学習インデックスの取得を行う。
【０１３３】
ステップ４１６：学習温度の取得を行う。
【０１３４】
ステップ４１７：学習温度が範囲内であるか否かを判定する。学習温度が範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ４０７に進む。学習温度が範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ４１８に進む。
【０１３５】
ステップ４１８：学習パラメータが学習領域位置情報から取得される。取得後、処理は、ステップ４０８に進む。
【０１３６】
ステップ４０８：学習の実行を行う。学習実行は、学習領域として、ステップ４１５で選択された領域またはステップ４０５で取得した領域で、学習の初期値として、ステップ４１８またはステップ４０７で取得した学習パラメータを用いて、従来の技術で述べた手順で行う。つまり、学習パラメータの初期値を用いて学習領域に記録を行い、その領域から測定した変調度を用いて、最適なパワーを算出するという方法である。
【０１３７】
学習完了後、処理は、ステップ４０９に進む。
【０１３８】
ステップ４０９：学習領域使用回数を“＋１”する。
【０１３９】
ステップ４１０：学習結果が規定範囲内か否かを判定する。規定範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、学習結果パワーを採用し、処理はステップ４１１に進む。規定範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ４０４に進み、学習領域の選択と学習実行を繰り返す。
【０１４０】
ステップ４１１：学習結果をレーザ制御手段３０４に設定する。
【０１４１】
ステップ４１２：学習領域位置情報と装置識別情報をＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に格納して、処理は終了する。
【０１４２】
なお、ステップ４０８の学習実行の中で、図１１のステップ１１０６のテスト記録を行う際に特定のデータの記録を行い、次回以降の学習処理を行う際に、前記特定データが再生できるかどうかを確認することで、前回の学習から今回の学習までの間に、選択した学習領域に他社のドライブによって記録が行われたかを判定することが出来るようにしてもよい。
【０１４３】
次に、具体的な学習領域位置情報の例を用いて、図４の記録パワー学習手順を詳細に説明する。
【０１４４】
以下では、実施の形態１の図１の学習領域位置情報１１１（＃１）が記録された光ディスクに対して、光ディスク装置３００で記録パワー学習を行う場合の手順について説明する。なお、現在温度は３０℃、ドライブ識別情報１１０（＃１）を“１２３４”とし、光ディスク装置３００のドライブ識別情報１１０ｂを“１２３４”とする。そして、学習領域使用回数の所定値を１０回、学習温度の範囲を±１０℃とし、学習結果の範囲を４．０ｍＷ〜６．５ｍＷとする。
【０１４５】
ステップ４０１で温度取得手段３１０から現在温度を取得する。ここでは、３０℃を取得する。
【０１４６】
ステップ４０２で、ディスク上の装置識別情報１１０（＃１）と学習領域位置情報１１１（＃１）を取得する。装置識別情報１１０（＃１）は、“１２３４”である。
【０１４７】
次に、ステップ４０３でシステム制御手段３０７によって装置識別情報格納手段３０９から装置識別情報１１０ｂを取得する。取得した装置識別情報１１０ｂは“１２３４”である。
【０１４８】
ステップ４０４で、学習領域位置情報解釈手段３０８によって装置識別情報１１０（＃１）と装置識別情報１１０ｂを比較すると、どちらも“１２３４”のため、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７のデータを有効とし、ステップ４１３に進む。ステップ４１３では、学習領域使用回数１１３を取得する。ここでは、学習領域使用回数１１３は５回である。
【０１４９】
次に、ステップ４１４で学習領域使用回数が所定値以下かどうか判定する。学習領域使用回数１１３は１０回以下のため、学習領域は有効とみなし、ステップ４１５に進む。
【０１５０】
ステップ４１５では、学習領域インデックス１１２を取得する。学習領域インデックス１１２は“１”である。
【０１５１】
ステップ４１６では、学習温度１１４を取得する。学習温度１１４は２５℃である。
【０１５２】
そして、ステップ４１７で学習温度が範囲内かどうか判定し、学習温度１１４が３０℃±１０℃の範囲に収まっているため、学習パラメータを有効とし、ステップ４１８に進む。
【０１５３】
ステップ４１８では、記録パワー１１５を取得する。記録パワー１１５は、６．０ｍＷである。
【０１５４】
次に、ステップ４０８で、学習領域１０９（＃１）を用いて、記録パワーの初期値を６．０ｍＷに設定して、記録パワー学習を実行する。記録パワー学習は、従来の技術のステップ１００２〜１００７の手順で行う。ここで、学習結果として、５．４ｍＷが得られたとする。
【０１５５】
次に、ステップ４０９で、学習領域使用回数を“＋１”し、６回とする。そして、学習結果が範囲内かどうか判定し、学習結果が４．０ｍＷ〜６．５ｍＷの間に収まっているため、ステップ４１１に進む。
【０１５６】
ステップ４１１では、学習結果をレーザ制御手段３０５に設定する。
【０１５７】
最後に、ステップ４１２で、学習領域位置情報として、学習領域インデックスの値“＋１”、学習温度３０℃、記録パワー５．４ｍＷ、さらに、前記学習結果を用いて学習を行った装置の装置識別情報の組をＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に格納して終了する。
【０１５８】
以上のように、本発明の光ディスク装置によれば、学習時の学習領域選択処理を省略することが出来、学習時間を短縮することが出来る。さらに、学習領域の使用可能条件を満たしている限りは、同一の領域を使用して学習を行うため、学習に使用する学習領域のサイズを削減することが出来、他の記録再生条件を求める学習処理に使用することが出来る領域を増やすことが出来る。
【０１５９】
なお、本発明は、本実施の形態の光ディスク装置の機能を実行させるためのプログラムであってもよい。
【０１６０】
（実施の形態４）  図５は、本発明の実施の形態４の光ディスク装置５００の構成を示す。光ディスク装置５００は、光ディスク２０１（図２参照）を挿入可能に構成されている。
【０１６１】
図５において、図３に示される光ディスク装置３００と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その説明を省略する。
【０１６２】
光ディスク装置５００は、学習領域位置情報解釈手段５０８を備える。学習領域位置情報解釈手段５０８は、光ディスク５０１上の装置識別情報１１０ａと学習領域位置情報５１１を解釈しＯＰＣ領域１０６内の学習を行う領域や学習パラメータのシステム制御手段５０７への設定を行う。
【０１６３】
図６は、本発明の実施の形態４の学習領域位置情報５１１の詳細なフォーマットを示す。
【０１６４】
学習領域位置情報５１１は、テーブル更新回数６０１、学習領域テーブル６０２を含む。学習領域テーブル６０２は、４３バイトのデータ６０５で構成されている。それぞれのバイトデータには、ＢＹＴＥ  Ｎｏ．（６０３）が付与されている。１バイトのデータは、８ビットのデータで構成され、ｂｉｔ  Ｎｏ．（６０４）の０〜７が付与されている。それぞれのビットデータは、図２の学習領域１０９の＃０〜＃４３０に対応していて、本実施の形態では、ＢＹＴＥ  Ｎｏ．（６０３）とｂｉｔ  Ｎｏ．（６０４）の小さい値のビットから順に、学習領域インデックス６０６も、０から順に３４０までの領域に対応付けられている。
【０１６５】
例えば、データ６０５の所定のビットが‘１’である場合には、‘１’である所定のビットに対応する学習領域インデックス６０６によって対応付けられた領域の使用許可条件がＯＫであることを示す。例えば、データ６０５の所定のビットが‘０’である場合には、‘０’である所定のビットに対応する学習領域インデックス６０６によって対応付けられた領域の使用許可条件がＮＧであることを示す。
【０１６６】
図７は、記録パワー学習を行う手順を示す。以下、図２、図５〜図７を参照して、記録パワー学習手順をステップごとに説明する。記録パワー学習手順は、光ディスク装置５００によって記録媒体２０１に対して実行される。
【０１６７】
ステップ７０１：ディスク上の装置識別情報１１０ａと学習領域位置情報５１１を取得する。
【０１６８】
ステップ７０２：装置識別情報格納手段３０９から、装置識別情報１１０ｂを取得する。
【０１６９】
ステップ７０３：装置識別情報１１０ａと装置識別情報１１０ｂとを比較して、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７が有効か否かを判定する。装置識別情報１１０ａと装置識別情報１１０ｂとが一致して、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７が有効である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ７０４に進む。装置識別情報１１０ａと装置識別情報１１０ｂとが一致せず、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７が有効でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ７１０に進む。
【０１７０】
ステップ７０４：学習領域選択処理１を実行する。その後、処理は、ステップ７０５に進む。
【０１７１】
ステップ７１０：学習領域選択処理２の実行する。その後、ステップ７０５に進む。
【０１７２】
学習領域選択処理１と学習領域選択処理２との詳細は、後述される。
【０１７３】
ステップ７０５：学習領域テーブルの更新を行う。学習領域テーブルの更新は、ステップ７０４またはステップ７１０で設定された学習領域テーブルを新しい学習領域テーブルとすることで行う。
【０１７４】
ステップ７０６：学習処理の実行を行う。学習処理の実行は、実施の形態３の図４のステップ４０８と同様の処理を行うため、詳細説明は省略する。
【０１７５】
ステップ７０７：ステップ７０４またはステップ７１０で選択した領域を学習領域テーブルに登録する。ステップ７０７の詳細な説明は、後述される。
【０１７６】
ステップ７０８：学習結果がＯＫか否かが判定される。学習結果がＯＫである（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ７０９に進む。学習結果がＯＫでない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ７０３に進んで学習領域の選択、学習の実行を繰り返す。
【０１７７】
ステップ７０９：学習結果の設定を行う。
【０１７８】
ステップ７１０：学習領域位置情報と装置識別情報をＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に格納して、処理は終了する。
【０１７９】
図８は、学習領域選択処理１の詳細な手順を示す。以下、図８を参照して、学習領域選択処理１の詳細な手順をステップごとに説明する。
【０１８０】
ステップ８０１：学習領域位置情報から、学習領域テーブルを取得する。
【０１８１】
ステップ８０２：学習領域をランダムに選択する。なお、学習領域の選択方法は、ランダムではなく、一定の規則に従って選択してもよい。
【０１８２】
ステップ８０３：取得された学習領域テーブルによって選択された学習領域に対応したデータ（データが‘０’か‘１’か）に基づいて、選択された学習領域がＯＫか否かを判定する。なお、学習領域テーブルに“ＮＧ”として登録されている領域を除いた領域に対して、ランダムまたはある規則性を持って学習領域を選択してもよい。
【０１８３】
選択された学習領域がＯＫである（ＹＥＳ）と判定された場合（選択された学習領域が学習領域テーブルに登録されている場合）には、処理は、ステップ８０４に進む。選択された学習領域がＯＫでない（ＮＯ）と判定された場合（学習領域が学習領域テーブルに登録されていない場合）には、処理は、ステップ８０２に進み、学習領域をランダムに選択しなおす。
【０１８４】
ステップ８０４：選択された学習領域に、テスト記録を行う。
【０１８５】
ステップ８０５：テスト記録された領域のエラーレートを測定する。
【０１８６】
ステップ８０６：測定されたエラーレートが規定範囲内か否かが判定される。エラーレートが規定範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は終了する。エラーレートが規定範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ８０７に進む。
【０１８７】
ステップ８０７：選択された領域を取得された学習領域テーブルに登録し、ステップ８０２に進んで学習領域選択処理を繰り返す。ステップ８０７の詳細な手順は後述する。
【０１８８】
図９は、学習領域選択処理２の詳細な手順を示す。以下、図９を参照して、学習領域選択処理２の詳細な手順をステップごとに説明する。
【０１８９】
ステップ９０１：学習領域位置情報から、学習領域テーブルを取得する。
【０１９０】
ステップ９０２：学習領域をランダムに選択する。なお、学習領域の選択方法は、ランダムではなく、一定の規則に従って選択してもよい。
【０１９１】
ステップ９０３：選択された学習領域に、テスト記録を行う。
【０１９２】
ステップ９０４：テスト記録された領域のエラーレートを測定する。
【０１９３】
ステップ９０５：測定されたエラーレートが規定範囲内か否かが判定される。エラーレートが規定範囲内である（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は終了する。エラーレートが規定範囲内でない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ９０６に進む。
【０１９４】
ステップ９０６：選択された領域を取得された学習領域テーブルに登録し、ステップ９０２に進んで学習領域選択処理を繰り返す。ステップ９０６の詳細な手順は後述する。
【０１９５】
図１０は、学習領域テーブルへの登録を行う手順を示す。この手順によって、図７のステップ７０７で選択した領域を学習に使用した場合や、図８のステップ８０７、図９のステップ９０６の選択した領域がＮＧだった場合の学習領域テーブルへの登録を行う。
【０１９６】
以下、図１０を参照して、学習領域テーブルへの登録を行う手順をステップごとに説明する。
【０１９７】
ステップ１００１：ＮＧと判定された学習領域を学習領域テーブルに登録する。
【０１９８】
ステップ１００２：学習領域テーブルの全領域が、使用済みかどうかを判定する。全領域が使用済みでなければ終了し、全領域が使用済みならば、処理はステップ１００３に進む。
【０１９９】
ステップ１００３：学習領域テーブルの全領域を“０”クリアする。
【０２００】
ステップ１００４：テーブル更新回数を“＋１”し、処理は、終了する。
【０２０１】
なお、テーブル更新回数が規定値以上ならば、学習領域更新処理を終了し、選択する学習領域がなくなったと判定して以降の学習処理を行うことを止めるステップをステップ１００４と終了ステップとの間で行うようにしてもよい。
【０２０２】
以下、図５の光ディスク装置５００で図６の学習領域位置情報を用いて、学習処理を行う例について図５〜図８および図１０を参照して説明する。
【０２０３】
ここで、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に格納されている装置識別情報１１０ａと、装置識別情報格納手段３０９に格納されている装置識別情報１１０ｂは一致していて、図７のステップ７０３のＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａが有効かどうかの判定で有効と判定された後の処理について説明する。
【０２０４】
ステップ７０４で学習領域選択処理を行う。
【０２０５】
図８のステップ８０１で、学習領域位置情報５１１から、図６の学習領域テーブル６０２を取得する。
【０２０６】
次に、ステップ８０２で、学習領域をランダムに選択する。ここで、ランダムに選択した学習領域が“２”であったとする。
【０２０７】
次にステップ８０３で学習領域テーブル６０２の学習領域インデックス６０６が“２”のデータ６０５（ＢＹＴＥ  Ｎｏ．（６０３）が“０”で、ｂｉｔ  Ｎｏ．（６０４）が“２”）の値を調べ、“１”であったため、ステップ８０２で選択した領域をＮＧと判定し、ステップ８０２に進んで学習領域の選択をやり直す。ステップ８０２で学習領域をランダムに選択しなおした結果、“１０”であったとすると、ステップ８０３の判定で学習領域テーブル６０２の学習インデックス６０６が“１０”のデータ６０５（ＢＹＴＥ  Ｎｏ．（６０３）が“１”で、ｂｉｔ  Ｎｏ．（６０４）が“３”）が“０”のため、ステップ８０２で選択した領域をＯＫと判定し、ステップ８０４に進む。
【０２０８】
ステップ８０４では、ステップ８０２で選択した領域にテスト記録を行う。
【０２０９】
ステップ８０５では、ステップ８０４でテスト記録を行った領域のエラーレートを測定する。
【０２１０】
次に、ステップ８０６で、ステップ８０５で測定したエラーレートが範囲内であるかを判定する。ここでは、ステップ８０５で測定したエラーレートが範囲内に収まっているとする。エラーレートが範囲内に収まっていると判定されたため、図７のステップ７０４の学習領域選択処理１を終了する。
【０２１１】
次に、ステップ７０５で学習領域テーブルの更新を行う。学習領域テーブルの更新は、ステップ７０４で設定した学習領域テーブルを、新しい学習領域テーブルとすることで行う。
【０２１２】
次に、ステップ７０６で学習の実行を行う。学習の実行処理は、実施の形態３で説明した処理と同じ処理を行うため、詳細な説明は省略する。
【０２１３】
次に、ステップ７０７で学習領域テーブルの更新を行う。学習領域テーブルの更新は、図１０を用いて説明する。ステップ１００１で、学習領域をテーブルに登録する。ここでは、ステップ８０２で選択された学習領域は、“１０”のため、学習領域テーブル６０２のデータ６０５を“０”から“１”に変更する。次に、ステップ１００２で、全学習領域が使用済みかどうか判定する。学習領域テーブル６０２の全てのデータ６０５が“１”であるかどうか判定し、全ての領域が“１”ではないため、全領域が使用済みではないと判定して、学習テーブルの更新処理を終了する。次に、ステップ７０８で学習結果がＯＫかどうかの判定を行う。ここでは、判定はＯＫであったとする。ステップ７０９では、学習結果をレーザ制御手段３０５へと設定する。そして、ステップ７１０で学習領域位置情報５１１と、装置識別情報１１０ｂをＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に記録して、学習処理を終了する。
【０２１４】
以上のように、本発明の光ディスク装置５００によれば、学習に用いる領域を全学習領域の中から使用回数の最も少ない領域から選択することが可能となり、過去に行われた記録による媒体の劣化の影響を受けにくい、精度の高い記録学習処理を行うことが出来る。なお、実行する学習が記録動作を伴う学習かどうかの判定を行い、記録動作を伴わない再生系の学習の時には、実施の形態３で述べた方法である、前回の学習に用いた領域を用いて学習を行うことにより学習の高速化を行い、記録を伴った学習ならば、実施の形態４で述べた方法である、学習領域テーブルを用いて選択を行い、学習を行った回数が少なく媒体の劣化の影響を受けにくい領域を学習領域として、精度の高い学習を行ってもよい。
【０２１５】
なお、本発明は、本実施の形態の光ディスク装置の機能を実行させるためのプログラムであってもよい。
【０２１６】
なお、実施の形態１〜４では、学習処理として記録パワー学習に関する説明を行ったが、本発明の学習処理は、他の学習処理であってもよい。例えば、記録済みの領域（データ領域でもよい）を学習領域位置情報として設定し、以前に記録が行われた記録済み領域を用いるサーボ学習であるフォーカスバランス学習などの学習の領域選択を省略し、学習の高速化と試し書き領域の節約を行ってもよい。また、以前に消去が行われた未記録領域（データ領域でもよい）を学習領域位置情報として設定し、未記録領域を用いるサーボ学習であるトラッキングゲイン学習などの学習の領域選択を省略し、学習の高速化と試し書き領域の節約を行ってもよい。さらに、前記記録領域や未記録領域として、ディスク上で記録状態や未記録状態であることが既知の領域である、ＤＭＡ領域や、ディスク情報領域、Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａを用いてもよい。
【０２１７】
（実施の形態５）  本実施の形態では、本発明の情報記録媒体を用いてサーボ／信号の学習を実行する方法に関して述べる。
【０２１８】
サーボ／信号学習の中には、記録された領域の再生信号を基準に光ビームスポットの収束状態を調整するフォーカスバランス学習のように、学習を行う領域が記録済みの領域である必要がある学習が存在する。さらに、フォーカスバランス学習では、温度変化によってフォーカス誤差信号の特性と学習の最適状態との関係がずれるため、温度変化が発生した際には再度学習を実行する必要がある。
【０２１９】
この学習は温度学習と呼ばれている。温度学習は、ＡＶ記録や再生中にも実行されるため、学習時間が長くなると、ＡＶデータ再生が乱れたり、録画が途切れたり、ユーザデータ記録の実行時間が長くなってしまうため、学習時間を短くする必要がある。
【０２２０】
ところが、情報記録媒体が光ディスク装置に挿入された時には、光ディスク装置では情報記録媒体のユーザ領域内の記録済みの領域がどこにあるのかを判定することは出来ないため、従来は起動時の学習で記録済み領域を作成した領域や、記録済みであることがわかっているＤＭＡ領域等を用いて学習を行っていた。そのため、温度学習を実行する際に、前記記録済み領域に移動する時間が、学習時間を短縮する上で大きな障害となっていた。
【０２２１】
そこで、本実施の形態では、サーボ／信号の温度学習における学習領域への移動時間の短縮する方法に関して述べる。
【０２２２】
図１３は、本発明の実施の形態５の記録媒体１３０１の構造を示す。記録媒体１３０１は、任意の光ディスク（例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）である。図１３において、図１に示される記録媒体１０１と同一の構成要素には同一の参照符号を付し、その説明を省略する。
【０２２３】
Ｄｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７には、学習領域位置情報１３０２が格納されている。Ｄａｔａ  Ｚｏｎｅ１０３は５つの領域に分割され、それぞれの領域１３０７にはインデックス番号（図１３では＃０〜＃４）が対応付けられている。
【０２２４】
学習領域位置情報１３０２は、領域１３０７の＃０〜＃４を示すインデックス情報１３０３と、領域１３０７で既に記録が行われた第１、第２の領域のアドレス情報１３０４と、第１、第２の領域の記録長１３０５と、領域１３０７内の記録済み領域の登録数１３０６とを含む。ここで本実施の形態では、未登録の領域には、アドレス情報１３０４に“ＦＦＦＦＦＦｈ”、記録長１３０５に“００ｈ”が登録されている。
【０２２５】
以上のような学習領域位置情報を持った情報記録媒体によれば、温度変化によるドライブやディスクの影響を吸収するための温度学習の中の、例えば記録を伴わないフォーカスバランス学習を行う際に、学習領域位置情報１３０２に登録されている記録済み領域の中で、現在位置と同じ領域に属する最も現在位置に近い領域で学習を実行することで、シーク時間を短縮し、温度学習の実行時間を短縮することが可能となる。さらに、現在位置と同じ領域に属する最も現在位置に近い領域で学習を実行することは、光ディスクの特性が近い領域で学習を実行することにもなり、より望ましい学習結果を得ることができる。
【０２２６】
なお、温度学習に使用する領域には、最も移動に時間のかからない領域を選択してもよいし、学習領域位置情報１３０２に登録されているどこの領域を用いて学習を行ってもよい。さらに、本実施の形態では、最大の登録数が２である場合を述べているが、最大の登録数は任意の数であってもよい。
【０２２７】
図１４は、情報記録媒体１３０１に対して記録済み領域を登録する手順を示す。以下、図５および図１４を参照して、情報記録媒体１３０１に対して記録済み領域を登録する手順をステップごとに説明する。この手順は、光ディスク装置５００によって実行される。
【０２２８】
ここで、学習領域位置情報１３０２のデータは、起動時もしくは記録済み領域を登録する際に、光ディスク装置５００上の図示されていないメモリに展開されており、情報記録媒体１３０１に対して再生処理を実行しなくとも、データの参照、変更（後でＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａへの記録を行い、情報を反映することが必要）を行うことが可能であるとする。
【０２２９】
ステップ１４０１：システム制御手段５０７で図示されていないホスト装置からの記録要求を受信する。記録要求は、記録開始アドレスと記録長を引数として含んでいる。
【０２３０】
ステップ１４０２：システム制御手段５０７でホスト装置からのデータを受領し、記録動作を実行する。記録動作は、システム制御手段５０７から、サーボ手段３０６に対して記録対象領域へのシーク処理を指示し、記録対象領域へのシークが完了すると、レーザ制御手段３０５に対して記録データの転送と前記記録データに対応したレーザ発光指示を行うことで行われる。
【０２３１】
ステップ１４０３：記録動作の正常終了確認と記録を行った領域が光ディスク１３０１のＤａｔａ  Ｚｏｎｅ１０３内のどの領域に属しているかの判定を行う。記録動作の正常終了確認は、記録を行った領域に対してベリファイ処理を実行することで行う。
【０２３２】
ステップ１４０４：学習領域位置情報１３０２の確認を行い、得られた記録完了済み領域の属しているインデックス情報１３０３の登録数１３０６を確認する。
【０２３３】
ステップ１４０５：確認された登録数１３０６が最大登録可能数（本実施の形態では２つ）になっているか否かを判定する。最大登録可能数になっている（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は終了する。最大登録可能数になっていない（ＮＯ）と判定された場合には、処理はステップ１４０６に進む。
【０２３４】
ステップ１４０６：学習領域位置情報１３０２の中の、ステップ１４０３で得られたインデックス情報１３０３に対応した領域の未登録のエリアに記録済み領域のアドレス、記録長を登録する。
【０２３５】
ステップ１４０７：学習領域位置情報１３０２の中の登録数１３０６をインクリメントし、処理を終了する。
【０２３６】
更新された学習領域位置情報１３０２は、一定時間処理が実行されない場合や、スピンダウン処理が要求された時にディスク上に反映されていない場合に、情報記録媒体１３０１のＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７に記録される。
【０２３７】
なお、ステップ１４０２の記録動作の実行は、ステップ１４０１で記録要求を受信した直後に行うのではなく、図示していない記録データバッファ状況や光ディスク装置の動作状況によって記録動作実行タイミングを決定してもよい。
【０２３８】
さらに、記録動作正常終了確認は、記録を行った領域に対してＲＦ振幅信号や、エラーレート等を測定することで行ってもよいし、記録コマンドの正常終了をもって正しく記録動作が完了したと判定してもよい。
【０２３９】
さらに、記録済領域の学習領域位置情報１３０２への登録時に、今回登録する領域と連続した領域が既に登録済みの場合は、前記登録済領域と今回登録する領域を結合した領域を、学習領域位置情報１３０２の前記登録済領域が登録されている場所に上書きして登録してもよい。
【０２４０】
さらに、ステップ１４０６の学習領域位置情報１３０２への記録済領域の登録時に、学習実行に必要な記録長等の規定値を設けておき、登録時に記録長が規定値以上かどうかの判定を行い、規定値以下の場合は登録を行わないことにしてもよい。
【０２４１】
さらに、学習領域位置情報１３０２のＤｒｉｖｅ  Ａｒｅａ１０７への記録タイミングは、前述したタイミングに限らず、情報記録媒体１３０１に記録可能な任意のタイミングであってもよい。
【０２４２】
図１５は、光ディスク装置５００が所定の温度変化検出時に記録媒体１３０１に対して温度学習処理を実行する手順を示す。
【０２４３】
以下、図１５を参照して、記録媒体１３０１に対して温度学習を実行する手順をステップごとに説明する。
【０２４４】
ステップ１５０１：現在位置のアドレス情報を取得する。アドレス情報は、記録済みデータのデータＩＤや、トラックのウォブル情報から取得する。
【０２４５】
ステップ１５０２：現在位置のアドレスが属している領域インデックス１３０３の決定を行う。
【０２４６】
ステップ１５０３：学習領域位置情報１３０２の検索を行い、判定された領域インデックス１３０３の領域に属する記録済み領域の登録数を確認する。
【０２４７】
ステップ１５０４：記録済み領域が登録されているか否かを判定する。記録済み領域が登録されている（ＹＥＳ）と判定された場合には、処理は、ステップ１５０５に進む。記録済み領域が登録されてない（ＮＯ）と判定された場合には、処理は、ステップ１５１１に進む。
【０２４８】
ステップ１５０５：学習領域位置情報１３０２から、記録済み領域のアドレスを取得する。
【０２４９】
ステップ１５０６：取得されたアドレスによって示された領域へのシークを行う。
【０２５０】
ステップ１５０７：取得されたアドレスによって示された領域の確認処理を行う。領域の確認処理は、対象の領域のＲＦ信号やエラーレートを測定することで行う。
【０２５１】
ステップ１５０８：確認結果がＯＫか否かが判定される。確認結果がＯＫである（ＹＥＳ）と判定された場合には処理は、ステップ１５０９に進む。確認結果がＯＫでない（ＮＯ）と判定された場合には、処理はステップ１５１０に進む。ステップ１５０９：取得された領域で温度学習処理を実行し、処理は終了する。
【０２５２】
ステップ１５１０：取得された記録済み領域を学習領域位置情報１３０２から削除する。記録済み領域の削除は、図１３を参照して学習領域位置情報１３０２の説明で述べた、アドレス情報１３０４に“ＦＦＦＦＦＦｈ”、記録長１３０５に“００ｈ”を登録することで行う。記録済み領域の削除後、ステップ１５０３に進んで処理を繰り返す。
【０２５３】
ステップ１５１１：ＯＰＣ領域１０６から学習に使用する領域を選択し、選択された領域にシーク(移動)する。その後、ステップ１５０８、ステップ１５０９を実行する。
【０２５４】
なお、ステップ１５０７の領域確認処理を前述した学習処理の中で行われる信号測定と同時または学習処理の前後に、前記測定処理を行うことで行ってもよいし、学習処理の実行結果が良好と判定することをもって領域の確認もＯＫと判定してもよい。
【０２５５】
さらに、ステップ１５０４で現在のヘッド位置の属している領域に記録済み領域が存在しない場合には、現在のヘッド位置から最も半径位置の近い領域を選択してもよいし、現在のヘッド位置からトラバースモータの移動時間やスピンドルモータの静定時間などを考慮して、最も短時間で到達できる領域を選択してもよい。
【０２５６】
さらに、ステップ１５０９の温度学習処理としては、記録済み領域で行うフォーカスバランス学習などが考えられるが、記録済み領域を用いて行う、他の学習処理を行ってもよい。さらに、本発明の方式を、温度学習だけでなく、起動時のチルト学習など、ディスク径方向依存性があってディスク内周で実行することが出来ない学習の精度向上にも用いてもよい。
【０２５７】
さらに、光ディスク装置５００が再起動されたときには、光ディスク装置５００は、記録済み領域のアドレスを取得しておく。光ディスク装置５００がＤａｔａ  Ｚｏｎｅ  １０３に対してデータを記録再生しているときに、学習の必要性が生じた際には、既に取得されたアドレスを参照して、学習を行う。その結果、シーク時間の更なる短縮が実現され得る。
【０２５８】
なお、本実施の形態では、ユーザー領域を複数の領域に分割して、記録済み領域の登録を行う例を示したが、ユーザー領域に半径方向に出来る限り等間隔となるように少なくとも２つの参照位置を設定し、現在のヘッド位置に最も近い参照位置から最も近い記録済み領域を用いて学習処理を行うことで、半径位置に依存した特性を持つチルト学習などの精度向上に用いてもよい。  
【０２５９】
以上のように、本発明の光ディスク装置によれば、記録済みであることが既知な領域を学習領域位置情報に登録し、温度学習を行う際にＯＰＣ領域へ移動することなく、前記学習領域位置情報に登録した領域で学習を実行することが可能となるため、学習時間の短縮を図ることが可能となり、リアルタイム記録やユーザデータ記録の高速化を行うことが可能となる。
【０２６０】
以上、図を参照して本発明の実施の形態を説明した。
【０２６１】
なお、実施の形態で説明した光ディスク装置の各手段は、ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとによって実現されてもよい。ハードウェアによって実現される場合でも、ソフトウェアによって実現される場合でも、ハードウェアとソフトウェアとによって実現される場合でも、本発明の処理手順が実行され得る。
【０２６２】
本発明の処理手順は、上述した各ステップを実行し得る限り、任意の手順を有し得る。
【０２６３】
本発明の光ディスク装置には、光ディスク装置の機能を実行させるための処理プログラムが格納されていてもよい。
【０２６４】
処理プログラムは、光ディスク装置の出荷時に、光ディスク装置に含まれる格納手段に予め格納されていてもよい。あるいは、光ディスク装置の出荷後に、処理プログラムを格納手段に格納するようにしてもよい。例えば、ユーザがインターネット上の特定のウェブサイトから処理プログラムを有料または無料でダウンロードし、そのダウンロードされたプログラムを光ディスク装置にインストールするようにしてもよい。処理プログラムがフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどのコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されている場合には、入力装置を用いて処理プログラムを光ディスク装置にインストールするようにしてもよい。インストールされた処理プログラムは、格納手段に格納される。
【０２６５】
以上のように、本発明の好ましい実施形態を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０２６６】
本発明にかかる記録媒体、アクセス装置、アクセス方法、およびプログラムは、アクセス条件（記録再生条件）の高速な調整や高精度の調整が必要な、アクセス装置（例えば、光ディスクレコーダー）等の用途に適用できる。
【符号の説明】
【０２６７】
１０１  光ディスク
３００  光ディスク装置
３０２  モータ
３０３  ヘッド
３０４  信号処理手段
３０５  レーザ制御手段
３０６  サーボ手段
３０７  システム制御手段
３０８  学習領域位置情報解釈手段
３０９  装置識別情報格納手段
３１０  温度取得手段
【図１】
2010027198.tif 000003
【図２】
2010027198.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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