(57)【要約】      （修正有）【課題】パワーエレクトロニクスシステムの状態を評価する方法を特定する。【解決手段】パワーエレクトロニックスシステム１の状態の評価方法が特定され、システム１は変換器回路４を有し、この方法では、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとの加算の和がサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になる方法で、各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０における出システム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）が変化され、その後、サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）が選択される。【選択図】図１
2010094013.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
（ａ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する出力可変ベクトルｙ（ｋ）を決定し、Ｎは予め規定可能なサンプリング水平であり、
（ｂ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する操作される可変ベクトルｕ（ｋ）を決定し、
（ｃ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存しており、
（ｄ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定するステップを含み、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存している、変換器回路（４）を有するパワーエレクトロニクスシステム（１）の状態の評価方法において、
システム状態ベクトルｘ（ｋ）は、さらに以下のステップでサンプリング時間ｋ＝０において評価され、そのステップにおいては、
（ｅ）各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対してシステム状態ベクトルｘ（ｋ）及びシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）を変化させ、その結果、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数の減算からのベクトルノルムとの加算の和がサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になり、
（ｆ）サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）を選択し、
（ｇ）第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））はそれぞれアフィン−線形であることを特徴とする状態の評価方法。
【請求項２】
（ａ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する出力可変ベクトルｙ（ｋ）を決定し、Ｎは予め規定可能なサンプリング水平であり、
（ｂ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する操作される可変ベクトルｕ（ｋ）を決定し、
（ｃ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存し、
（ｄ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定するステップを含み、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存している、変換器回路（４）を有するパワーエレクトロニクスシステム（１）の状態の評価方法において、
システム状態ベクトルｘ（ｋ）は、さらに以下のステップでサンプリング時間ｋ＝０において評価され、そのステップにおいては、
（ｅ）各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）及びシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）を変化し、その結果、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数の減算からのベクトルノルムとの加算の和はサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になり、
（ｆ）サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）を選択し、
（ｇ）第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））はそれぞれ区分的なアフィン−線形であることを特徴とする状態の評価方法。
【請求項３】
絶対値の和ノルムはそれぞれシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択されることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
【請求項４】
ユークリッドノルムはそれぞれシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択されることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
【請求項５】
最大ノルムはそれぞれシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の右側の減算からのベクトルノルムとして選択されることを特徴とする請求項１または２記載の方法。
【請求項６】
各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）の変化は割当てテーブルに記憶され、システム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）は各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する各出力可変ベクトルｙ（ｋ）および操作される可変ベクトルｕ（ｋ）に割当てられることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項記載の方法。
【請求項７】
各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）の変化は連続的に計算される請求項１乃至５のいずれか１項記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は制御工学の評価方法の分野に関する。これは独立請求項の特徴節によるパワーエレクトロニクスシステムの状態の評価方法に基づいている。
【背景技術】
【０００２】
パワーエレクトロニクスシステムは今日、多くの応用で使用されている。このようなパワーエレクトロニクスシステムは典型的に多数の駆動可能な電力半導体スイッチおよび駆動可能な電力半導体回路のための関連される駆動回路を有する変換器回路を具備している。しかしながら例えば故障の結果として、時間にわたり非常に変化する可能性がある１以上の負荷が通常変換器回路に接続されている。このような負荷は例えば１以上のモータであってもよいが任意の電気的負荷が一般的に、考えられる。パワーエレクトロニクスシステムの状態、例えば誘導負荷電流および容量負荷電圧は特にこのような変化により影響され、例えば測定手段による検出が困難な可能性があり、即ち検出に相当の労力を要し、または検出できない。したがって、パワーエレクトロニクスシステムの状態を評価することが必要であり、評価された状態はその後、さらに制御装置で処理されることができる。パワーエレクトロニクスシステムの状態を評価する通常の方法は、例えば“Braided extended Kalman filters for sensorless estimation in induction motors at high-low/zero speed”、IET Control Theory, Appl., 2007で開示されているような時間ディスクリートなカルマンフィルタの使用である。例えば時間ディスクリートなカルマンフィルタを使用して状態を評価できるように、まず、以下の方法ステップが行われなければならない。  
（ａ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０における出力可変ベクトルｙ（ｋ）を決定し、ここでＮは予め規定可能なサンプリング水平であり、ｙは出力変数、例えば測定手段により決定されることができる変換器出力電圧であり、
（ｂ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する操作されている可変ベクトルｕ（ｋ）を決定し、操作される変数は例えば変換器回路の制御係数であり、
（ｃ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためにサンプリング時間ｋにおける第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存し、
（ｄ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存する。
【０００３】
パワーエレクトロニクスシステムの状態ｘを評価するための時間ディスクリートなカルマンフィルタの使用についての問題は、状態の二次的条件、例えば誘導負荷電流および／または容量負荷電圧が限定されるかまたは負ではないという事実が多大な労力をかけなければ考慮されることができず、或いは全く考慮されることができないことである。区分的アフィン−線形であり所定のパワーエレクトロニクスシステムを記述するシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））、ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））は、これらが同様に時間ディスクリートなカルマンフィルタ手段による評価期間中に考慮されることができないか非常に多額の費用をかけて考慮されることができるので、カルマンフィルタの別の問題を与える。
【発明の概要】
【０００４】
それ故、本発明の目的はパワーエレクトロニクスシステムの状態を評価する方法を特定することであり、この方法は状態が広範囲のパワーエレクトロニクスシステムに対して評価されることを可能にし、簡単な方法で実行されることができる。この目的は請求項１の特徴により達成される。本発明の有効な開発形態が従属請求項で特定されている。
【０００５】
パワーエレクトロニクスシステムの状態を評価する本発明の方法では、システムは変換器回路を有する。本発明の方法は以下のステップを有している。  
（ａ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する出力可変ベクトルｙ（ｋ）を決定し、ここでＮは予め規定可能なサンプリング水平であり、
（ｂ）サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対する操作される可変ベクトルｕ（ｋ）を決定し、
（ｃ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存し、
（ｄ）パワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおける第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））を決定し、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存する。
【０００６】
本発明によれば、システム状態ベクトルｘ（ｋ）はさらに以下のステップでサンプリング時間ｋ＝０で評価される。  
（ｅ）各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）及びシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）を変化し、その結果、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとの加算の和はサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になり、
（ｆ）サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）を選択し、
（ｇ）第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））はそれぞれアフィン−線形であるか代わりに区分的アフィン−線形である。
【０００７】
現在時間ｋ＝０における所望の評価された状態はその後サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）、即ちシステム状態ベクトルｘ（ｋ）のベクトルエレメントとして含まれる。本発明による方法は有効に、状態と入力との間の区分的なアフィン−線形関係である二次的条件が状態を評価するときに何等問題もなく考慮されることを可能にする。パワーエレクトロニクスシステムが区分的なアフィン−線形システムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））、ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））により説明されることができるならば、このようなシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））、ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））は同様に状態を評価するとき非常に簡単な方法で有効に考慮されることができる。全体として、本発明による方法はしたがって状態が非常に広範囲のパワーエレクトロニクスシステムで評価されることを可能にし、さらに非常に簡単な方法で実行されることができる。
【０００８】
本発明のこれら及び他の目的、利点、特性は図面を伴った本発明の好ましい実施形態の以下の詳細な説明から明白になるであろう。  
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の方法による制御装置と、パワーエレクトロニクスシステムの状態を評価する評価装置を有するパワーエレクトロニクスシステムの構造の１実施形態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
図面及びその意味で使用されている参照符合は符合の説明のリストで要約されている。原理的に、図面において同一部分には同一の参照符合が設けられている。説明されている実施形態は本発明の主題の例であり、説明を限定するものではない。  
図１は本発明の方法により、制御装置３と、パワーエレクトロニクスシステム１の状態ｘを評価する評価装置２とを有するパワーエレクトロニクスシステム１の構造の１実施形態を示している。明白にするためにパワーエレクトロニクスシステム１に接続された１以上の負荷は図１には示されていない。パワーエレクトロニクスシステム１は多数の駆動可能な電力半導体スイッチと、駆動信号Ｓを使用して駆動可能な電力半導体を駆動するための関連される駆動回路５とを有する変換器回路４を具備している。このような駆動回路５は例えば変換器回路の制御係数である操作される変数ｕから駆動信号Ｓを発生するために例えばパルス幅変調を使用する。図１によるパワーエレクトロニクスシステム１の出力変数ｙは例えば測定手段により決定されることができる例えば変換器出力電圧である。図１に示されている構造はまた最初に既に述べた評価装置２を有し、本発明の方法によりパワーエレクトロニクスシステム１の状態ｘを評価する。評価される必要のあるパワーエレクトロニクスシステムのこのような状態ｘは例えば誘導負荷電流および容量負荷電圧である。本発明によるこの方法を以下詳細に説明する。ステップ（ａ）では、出力可変ベクトルｙ（ｋ）はサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対して決定され、Ｎは予め規定可能なサンプリング水平である。出力可変ベクトルｙ（ｋ）のエレメントはその後、出力変数ｙ、例えばサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０において測定手段により決定される変換器出力電圧である。ステップ（ｂ）では、操作される可変ベクトルｕ（ｋ）はサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対して決定され、操作される可変ベクトルｕ（ｋ）のエレメントは、サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０における操作される変数ｕ、例えば制御係数である。ステップ（ｃ）では、第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））はパワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおいて決定され、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存する、さらに、ステップ（ｄ）では、第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））はパワーエレクトロニクスシステムを記述するためサンプリング時間ｋにおいて決定され、この関数はサンプリング時間ｋにおける操作される可変ベクトルｕ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ）に依存する。
【００１１】
パワーエレクトロニクスシステム１を記述するためサンプリング時間ｋにおける第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））は通常次式のように決定されることができる。  
【数１】
2010094013.tif 000003
【００１２】
ここで、Ａ１…ＡＭ、Ｂ１…ＢＭ、Ｆ１…ＦＭ、Ｅ１…ＥＭはマトリックスであり、Ｖ１…ＶＭはベクトルであり、ベクトルＧ１とＧ２は第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））をアフィン−線形または区分的なアフィン−線形として規定する限界値である。パワーエレクトロニクスシステムがこのような方法で説明されることができるならば、連続的なアフィン−線形関数はベクトルＧ１…ＧＭとＶ１…ＶＭおよびマトリックスＡ１…ＡＭ、Ｂ１…ＢＭ、Ｆ１…ＦＭ、Ｅ１…ＥＭを適切に選択することによっても実現されることもできることを述べておく。
【００１３】
パワーエレクトロニクスシステム１を記述するためサンプリング時間ｋにおける第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））は通常次式のように決定されることができる。  
【数２】
2010094013.tif 000004
【００１４】
ここで、Ｃ１…ＣＭ、Ｄ１…ＤＭ、Ｆ１…ＦＭ、Ｅ１…ＥＭはマトリックスであり、ｗ１…ｗＭはベクトルであり、ベクトルＧ１とＧ２は第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））をアフィン−線形または区分的なアフィン−線形として規定する限度である。パワーエレクトロニクスシステムがこのような方法で記述されることができるならば、連続的なアフィン−線形関数はベクトルＧ１…ＧＭとｗ１…ｗＭおよびマトリックスＣ１…ＣＭ、Ｄ１…ＤＭ、Ｆ１…ＦＭ、Ｅ１…ＥＭを適切に選択することによって実現されることもできることを述べておく。
【００１５】
本発明によれば、システム状態ベクトルｘ（ｋ）は以下説明するさらに別のステップで、サンプリング時間ｋ＝０、即ち現在時間で評価される。  
（ｅ）各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）及びシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）を変化し、その結果、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとの加算の和はサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になり、
（ｆ）サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）を選択する。
【００１６】
現在時間ｋ＝０における所望の評価される状態ｘはその後サンプリング時間ｋ＝０におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ）、即ちシステム状態ベクトルｘ（ｋ）のベクトルエレメントとして含まれる。これらのベクトルエレメントはその後、例示によりサンプリング時間ｋ＝０における誘導負荷電流及び容量負荷電圧である。本発明による方法は有効に、状態ｘを評価するときに状態ｘの二次的条件が何等問題もなく考慮されることを可能にする。パワーエレクトロニクスシステムが区分的なアフィン−線形システムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））、ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））により説明されることができるならば、このようなシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））、ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））は同様に状態ｘを評価するとき非常に簡単な方法で有効に考慮されることができる。本発明による方法はしたがって状態ｘが非常に広範囲のパワーエレクトロニクスシステム１で評価されることを可能にし、さらに非常に簡単な方法で実行されることもできる。
【００１７】
本発明の方法により評価された状態ｘはその後さらに制御装置３で処理されることができ、即ち例えば関連される所望の状態ｘｒｅｆに調節される。制御装置３は好ましくは例えばEP 1 670 135 A1に開示されているようにモデル予測制御原理にしたがって動作する。しかしながら任意の他の制御原理又は任意の制御特性も考慮されることができる。
【００１８】
前述の和は以下の式により和Ｊとして説明されることができる。  
【数３】
2010094013.tif 000005
【００１９】
ここで、ＷｘとＷｙはそれぞれ状態ベクトルｘ（ｋ）とｘ（ｋ＋１）および出力可変ベクトルｙ（ｋ）の加重マトリックスである。インデックスｑは選択可能なベクトルノルムを特定する。絶対値の和ノルムは好ましくは次式におけるシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択される。  
【数４】
2010094013.tif 000006
【００２０】
さらに、絶対値の和ノルムは同様に好ましくは次式における出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択される。  
【数５】
2010094013.tif 000007
【００２１】
絶対値の和ノルム、即ちｑ＝１は非常に簡単な方法で実現されることができる利点がある。
【００２２】
代わりに、ユークリッドノルム、即ちｑ＝２はそれぞれシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択されることも考えられる。
【００２３】
さらに別の代りの方法として、最大ノルム、即ちｑ＝∞がそれぞれシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムと、出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択されることも考えられる。
【００２４】
他のノルムもまた考えられることができることを述べておく。さらに、個々の減算のノルムも別々に選択されることが考えられ、即ち例えばｑ＝１の場合、システム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）と第１のシステムモデル関数ｆ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして絶対値の和ノルムを選択することも可能であり、一方、ユークリッドノルム、即ちｑ＝２は出力可変ベクトルｙ（ｋ）と第２のシステムモデル関数ｇ（ｘ（ｋ），ｕ（ｋ））の減算からのベクトルノルムとして選択される。全ての組合せは通常この場合に考えられる。
【００２５】
既に前述したように、システム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）は、和Ｊがサンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０にわたって最小になるような方法で、各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０において変化される。各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０における状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）における変化はテーブル（ルックアップテーブル）に記憶され、システム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）はその後、各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０における各出力可変ベクトルｙ（ｋ）および操作される可変ベクトルｕ（ｋ）に割当てられている。サンプリング時間ｋ＝０における所望のシステム状態ベクトルｘ（ｋ）、即ちシステム状態ベクトルｘ（０）だけがテーブルから読取られなければならず、システム状態ベクトルｘ（０）のベクトルエレメントは現在時間ｋ＝０における所望の評価された状態ｘである。このテーブルは前もって、即ちオフラインで作成されることができ、その結果、和Ｊが最小になるという規準で、変化期間中に計算集約算出が有効にオンラインで実行されなければならない。前述のテーブルは評価装置２内に記憶されるかまたはその後評価装置２によりアクセスされる別の記憶媒体に記憶されることができる。
【００２６】
それと対照的に、例えばプロセッサ、特にデジタル信号プロセッサの結果として十分な計算電力リソースが存在するならば、各サンプリング時間ｋ＝−Ｎ＋１乃至ｋ＝０に対するシステム状態ベクトルｘ（ｋ）とシステム状態ベクトルｘ（ｋ＋１）の変化は連続して、即ちオンラインで計算されることができる。
【符合の説明】
【００２７】
１…パワーエレクトロニクスシステム、２…評価装置、３…制御装置、４…変換器回路、５…駆動回路。
【図１】
2010094013.tif 000008
【外国語明細書】
2010094013000001.pdf