(57)【要約】【課題】対地間電圧を上げることなく、端子間に大きな電圧を印加する。【解決手段】開閉機器６の内部に一対の端子を有するスイッチ７と、この端子と並列に接続したコンデンサ８を設ける。開閉機器６の２つの外部端子には、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２をそれぞれ接続する。一方の端子に接続された試験用交流電圧発生装置１の１次側には、発電機５から電圧調整器３を介して電圧を供給し、さらに補償リアクトル４を接続する。反対側の端子に接続した試験用交流電圧発生装置２の１次側に発電機５を直接接続する。発電機５は、一方の端子の試験用交流電圧発生装置１の出力電圧の位相と、反対側の端子の試験用交流電圧発生装置２の出力電圧の位相が、１８０度ずれるように接続する。発電機５の出力電圧は、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の１次側電圧として共通に供給する。【選択図】図１
2010008304.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガス絶縁開閉機器の端子間の交流耐電圧試験方法において、
２台の試験用交流電圧発生装置を用い、交流電圧発生装置の１次側の電源電圧を共通に
し、それぞれ逆位相になるように接続を変えて、ガス絶縁開閉機器の端子間に逆位相の交
流電圧を印加して耐電圧試験を行うことを特徴とする交流耐電圧試験方法。
【請求項２】
前記ガス絶縁開閉機器が、端子間と並列にコンデンサを接続したものであることを特徴
とする請求項１に記載の交流耐電圧試験方法。
【請求項３】
２台の試験用交流電圧発生装置から成る２つの試験回路のうち、一方は共通の１次側の
電源電圧に関係なく電圧調整器により２次側出力電圧を制御することができる試験回路と
し、他方は共通の１次側の電源電圧で直接２次側出力電圧を制御する試験回路としたこと
を特徴とする請求項１または請求項２に記載の交流耐電圧試験方法。
【請求項４】
２台の交流電圧発生装置に共通の１次側電圧源として、大電流を流すことができ、出力
電圧が可変できる大容量発電機を用いたことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれ
か１項に記載の交流耐電圧試験方法。
【請求項５】
２台の試験用交流電圧発生装置から成る２つの試験回路のうち、一方の試験用交流電圧
発生装置で構成される試験回路については、１次側電源電流が最小となるように補償する
補償リアクトルを設け、他方の発電機出力の電圧で直接２次側出力電圧を制御する試験回
路は、補償リアクトルを設けないことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項
に記載の交流耐電圧試験方法。
【請求項６】
２台の試験用交流電圧発生装置から成る２つの試験回路のうち、一方の誘導形電圧調整
器を用いて出力電圧値を制御する試験回路の交流電圧発生装置の１次側には電圧源を接続
せず、他方の発電機出力で交流電圧発生装置の２次側出力電圧を制御する側の試験回路に
のみ電圧源を接続したことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の交
流耐電圧試験方法。
【請求項７】
スイッチの内部端子と並列にコンデンサを接続したガス絶縁開閉機器の端子間の交流電
圧試験装置において、
前記スイッチの２つの端子に、各交流電圧発生装置の１次側の電源電圧を共通にし、そ
れぞれ逆位相になるように前記端子間に逆位相の交流電圧を印加する２台の試験用交流電
圧発生装置を接続し、
２台の試験用交流電圧発生装置のうち、一方は共通の１次側の電源電圧に関係なく電圧
調整器により２次側出力電圧を制御することができる試験回路とし、他方は共通の１次側
の電源電圧で直接２次側出力電圧を制御する試験回路としたことを特徴とする交流耐電圧
試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ガス絶縁開閉機器の内部端子間の交流耐電圧試験方法と装置に関するもので
あって、特に、対地間交流耐電圧試験時よりも高電圧の電圧を印加して耐電圧試験を行う
ことのできる試験方法と装置に係る。
【背景技術】
【０００２】
ガス絶縁開閉機器の基本的な構成は、絶縁ガスを封入して接地した金属容器を備え、こ
の金属容器内に高電圧が印加される通電用導体が挿入され、この通電用導体を開閉するス
イッチを有する。また、ガス絶縁開閉機器の種類によっては、前記スイッチの端子間にコ
ンデンサを並列に配置したものがある。
【０００３】
前記のような構成を有するガス絶縁開閉機器に対する従来の規格による端子間の交流耐
電圧試験は、端子間を検証しなければならない試験電圧値と対地間を検証しなければなら
ない試験電圧値が同じであったため、試験用交流電圧発生装置一台で開閉機器の交流耐電
圧試験を実施することができた。特許文献１から特許文献４は、このような従来の交流耐
電圧試験方法と装置を示す公知技術である。
【０００４】
これらの公知技術の対地間交流耐電圧試験は、図３に示すように、一台の試験用交流電
圧発生装置１に開閉機器６のスイッチ７を閉じた状態で開閉機器６を接続する。電圧源５
から電圧調整器３を通し、試験用交流電圧発生装置の１次側に接続し、補償リアクトル４
を調整して、１次側電流値を最小にして、開閉機器６に交流電圧を印加することで対地間
の交流耐電圧試験を実施する。
【０００５】
端子間の交流電圧対電圧試験は、図４に示すように、一台の試験用交流電圧発生装置１
に開閉機器６のスイッチ７を開いた状態で一方を接続し、他方の端子は接地する。電圧源
５から電圧調整器３を通し、試験用交流電圧発生装置の１次側に接続し、補償リアクトル
４を調整して、１次側電流値を最小にして、開閉機器６に交流電圧を印加することで端子
間の交流耐電圧試験を実施する。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−２１３９７８号公報
【特許文献２】特開平６−２６９１０９号公報
【特許文献３】特開２０００−３５４５７号公報
【特許文献４】特開２００５−２４１２９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、上述した試験装置に対する従来の試験方法では、端子間試験電圧値が対地間
の試験電圧値よりも大きくなった場合、対地間にも同じ大きさの電圧が印加されるため、
対地間で絶縁破壊が発生する可能性が高くなるという問題点があった。しかし、最近では
、端子間試験電圧として対地間の試験電圧よりも高い電圧が要求されることが有り、その
ような場合に、従来技術では、対応できなかった。
【０００８】
この解決策として、本発明者等は、一方の端子に従来技術の試験装置を接続すると共に
、他方の端子にもう一台の同じ構成の試験装置を接続し、両端子に印加する電圧が逆位相
となるようにした試験装置を提案した。確かに、このような装置では、端子間に高電圧を
印加できるものの、開閉機器の種類によっては、次のような問題があることを見いだした
。
【０００９】
すなわち、大容量の開閉機器には、端子間にかかる電圧を均等にしたり、高い遮断性能
を得たりするために端子間と並列にコンデンサを接続したものがあるが、このようなコン
デンサ８を接続した装置にあっては、図４の回路をそれぞれの端子に接続した場合に、コ
ンデンサ８を介して電流が相互に流れてしまう。その結果、一方の試験回路から見た負荷
は、遮断器と他方の試験回路を含めた回路になってしまい、両端子間に逆位相の電圧を印
加することができなくなる。
【００１０】
また、試験回路において、補償リアクトル４を供試開閉機器の対地に対して有している
浮遊の静電容量（供試開閉機器の負荷容量）とＬＣ共振させると、電源の電流を小さくす
ることができる。すなわち、一般に、リアクトルとコンデンサの電流位相は、１８０°ず
れているので、両者を共振させることで電流が小さくなる。
【００１１】
そのため、従来の試験回路を、両端子にそれぞれ接続した場合には、耐電圧試験時にＬ
Ｃ共振が生じるように、両端子に接続した２つの回路の回路常数を設定して両回路のバラ
ンスを調整しておく必要がある。しかし、試験時に一方の回路の電圧調整が要求される場
合もあり、そのような場合には、一方の回路の回路常数に変化が生じ、反対側の回路との
バランスが崩れてＬＣ共振が損なわれる。
【００１２】
この一方の回路の回路常数の変化による影響を排除するには、共振点から外れて回路を
組むことが考えられるが、その場合はＬＣ共振が発生しないため、電流を多く流すことに
なる。しかし、高電圧試験装置では、大電流を流すことは好ましくない。そのため、従来
の回路を両端子にそれぞれ接続するだけでは、問題点の解決にはならない。
【００１３】
本発明は前記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであって、そ
の第１の目的は、開閉機器の対地間に過電圧を印加することなく、端子間に対地間試験電
圧以上の交流電圧を印加して試験を行う交流耐電圧試験方法と装置を提供することにある。
【００１４】
本発明の第２の目的は、コンデンサを並列に接続した両端子間に逆位相の交流を印加す
るにあたり、ＬＣ共振を確保して電源の電流を小さくすることができると共に、このＬＣ
共振を崩すことなく、一方の端子に印加する電圧の制御を容易に実施できる交流耐電圧試
験方法と装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
前記の目的を達成するために、本発明は、２台の試験用交流電圧発生装置を用い、交流
電圧発生装置の１次側の電源電圧を共通にし、それぞれ逆位相になるように接続を変えて
、ガス絶縁開閉機器の端子間に逆位相の交流電圧を印加して耐電圧試験を行うことを特徴
とする。
【００１６】
２つの試験回路のうち、一方は共通の１次側の電源電圧に関係なく電圧調整器により２
次側出力電圧を制御することができる試験回路とし、他方は共通の１次側の電源電圧で直
接２次側出力電圧を制御する試験回路とすることもできる。
【００１７】
２台の交流電圧発生装置に共通の１次側電圧源として、大電流を流すことができ、しか
も、出力電圧を可変とした大容量発電機を用いることもできる。
【００１８】
２台の試験用交流電圧発生装置から成る２つの試験回路のうち、一方の試験用交流電圧
発生装置で構成される試験回路については、１次側電源電流が最小となるように補償リア
クトルで補償を行った回路構成とし、他方の発電機出力の電圧で直接２次側出力電圧を制
御する耐電圧試験回路は、補償リアクトルを用いない試験回路構成とすることもできる。
【００１９】
前記２台の試験用交流電圧発生装置で構成される試験回路のうち、一方の誘導形電圧調
整器を用いて出力電圧値を制御する試験回路の交流電圧発生装置の１次側には電圧源を接
続せずに、他方の発電機出力で交流電圧発生装置の２次側出力電圧を制御する側の試験回
路側にのみ電圧源を接続して、端子間に逆位相の電圧を発生させることもできる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、端子間に逆位相の交流電圧を印加することで、対地間電圧を上げるこ
となく、端子間に大きな電圧を印加することが可能になる。特に、端子間と並列にコンデ
ンサを接続し、しかも、一方の端子に接続する試験用交流電圧発生装置には補償リアクト
ルを用いない試験回路構成とした場合には、ＬＣ共振の発生を確保した状態で、片側の端
子に印加する電圧の制御を行い、端子間に任意の差電圧を印加することができる。
【００２１】
また、端子間と並列にコンデンサを接続した場合には、一方の端子には電圧源を接続せ
ず、コンデンサを介して電圧源から反対側の端子の回路に電流を流すことで、反対側の回
路に逆位相の電圧を発生させることができる。その場合は、電圧源が一方の端子側だけで
よいので、装置の単純化が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明に係る交流耐電圧試験方法と装置の実施形態について、図面を参照して説
明する。なお、図３及び図４に示した従来技術と同一の部分については、同一の符号を付
し、説明は省略する。
【００２３】
（１．第１実施形態）
（１−１．構成）
本発明の第１実施形態を、図１を参照して説明する。図１において、開閉機器６は内部
にスイッチ７を備え、このスイッチ７の内部端子間にはコンデンサ８が並列に接続されて
いる。開閉機器６の２つの外部端子には、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電
圧発生装置２がそれぞれ接続されている。一方の外部端子に接続された試験用交流電圧発
生装置１の１次側には、発電機５から電圧調整器３を介して電圧が供給され、さらに補償
リアクトル４が接続されている。
【００２４】
反対側の外部端子に接続された試験用交流電圧発生装置２の１次側には、発電機５が直
接接続されている。また、発電機５は、一方の外部端子の試験用交流電圧発生装置１の出
力電圧の位相と、反対側の外部端子の試験用交流電圧発生装置２の出力電圧の位相が、１
８０度ずれるように接続されている。
【００２５】
（１−２．作用）
このような構成を有する第１実施形態によれば、発電機５の出力電圧は、試験用交流電
圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の１次側電圧として共通に供給され、試験
用交流電圧発生装置１及び試験用交流電圧発生装置２の２次側に交流高電圧を発生させる
ように作用する。
【００２６】
発電機５の出力電圧は、試験用交流電圧発生装置１の１次側へは、電圧調整器３を通し
て接続されているので、発電機５の出力電圧が変化しても試験用交流電圧発生装置１の１
次側に任意の電圧を印加することができる。また試験用交流電圧発生装置１の１次側には
、補償リアクトル４が接続されており、リアクトル容量を調整することでＬＣ共振を発生
させ、１次側電流を小さくするように作用する。
【００２７】
試験用交流電圧発生装置２の１次側には直接発電機５が接続されているので、発電機５
の出力電圧で試験用交流電圧発生装置２の２次側出力電圧を制御することができる。試験
用交流電圧発生装置２が補償リアクトル４を接続しない回路構成をとるため、１次側電流
は大きくなるが、回路が低インピーダンス構成となるため、発電機出力の変動や試験用交
流電圧発生装置１を含む他方の試験回路の影響を非常に受けにくく、また他方の回路に影
響を与えにくくなるので、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の
電圧制御を容易に行うことができる。
【００２８】
（１−３．効果）
以上の通り、第１実施形態では、試験用交流電圧発生装置１と試験用交流電圧発生装置
２の１次側電源が共通なため、接続を替えることで、出力側の電圧位相を約１８０度ずら
すことが可能になる。したがって、開閉機器６の外部端子間には逆位相の交流電圧を印加
することが可能になる。
【００２９】
試験用交流電圧発生装置１には電圧調整器が設置されているので、試験用交流電圧発生
装置１の出力電圧値と試験用交流電圧発生装置２の出力電圧値を別々に制御することが可
能となる。開閉機器６の端子間に印加される電圧を、逆位相の交流電圧の差電圧として評
価できるので、対地電圧よりも端子間電圧が大きい交流電圧の耐電圧試験を実施すること
が可能になる。
【００３０】
（２．第２実施形態）
（２−１．構成）
次に、本発明に係る交流耐電圧試験装置の第２実施形態を、図２を用いて説明する。図
２において、発電機５は試験用交流電圧発生装置２にのみ接続し、試験用交流電圧発生装
置１の１次側に接続された電圧調整器３には電圧源を接続しない回路構成とする。
【００３１】
（２−２．作用）
第２実施形態によれば、試験用交流電圧発生装置１の回路を、１次側電流が最小値にな
るような共振状態の回路構成をとり、試験用交流電圧発生装置２から開閉機器６のコンデ
ンサ８を通して試験用交流電圧発生装置１の２次側回路に電流を流すと、試験用交流電圧
発生装置１の１次側に逆励磁された電流が流れる。この１次側に発生した電流が誘導形電
圧調整器３に流れ、電圧調整器３に逆位相の電圧が発生する。電圧調整器３に電圧が発生
したことで試験用電圧調整器１の２次側に逆位相の電圧が発生し、開閉機器６の端子間に
は逆位相の交流高電圧が印加される。
【００３２】
（２−３．効果）
以上の通り、第２実施形態によれば、開閉機器６の端子間に逆位相の交流電圧を印加す
る耐電圧試験を、２台の試験用交流電圧発生装置のうち１台に発電機５を接続した回路構
成をとることで、簡単に交流耐電圧試験ができる。回路構成がシンプルになるため、通常
１台の試験用交流電圧発生装置しか所有していないところでも、大規模な電源工事をしな
くても２台目の試験用交流電圧発生装置の設置が可能になる。また、電圧源を接続しなく
ても誘導電圧調整器３により電圧制御が可能なため、端子間には任意の差電圧を印加する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の第１実施形態の交流耐電圧試験方法の回路構成を示す図。
【図２】本発明の第２実施形態の交流耐電圧試験方法の回路構成を示す図。
【図３】従来の対地間交流耐電圧試験回路構成を示す図。
【図４】従来の端子間交流耐電圧試験回路構成を示す図。
【符号の説明】
【００３４】
１…試験用交流電圧発生装置
２…試験用交流電圧発生装置
３…電圧調整器
４…補償リアクトル
５…発電機
６…開閉機器
７…スイッチ
８…コンデンサ
【図１】
2010008304.tif 000003
【図２】
2010008304.tif 000004
【図３】
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【図４】
2010008304.tif 000006