(57)【要約】【課題】印字の位置ずれを正確に調整することが可能な記録装置を提供する。【解決手段】第１のテストパターン101と、第２のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群（A〜E）を形成する。次に、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する。そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群（A〜E）の中から調整用テストパターン群（C）を特定する。そして、調整用テストパターン群（C）の第2のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する。【選択図】図６
2010214807.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置であって、
往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録手段と、
復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録手段と、
前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知手段と、
各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析手段と、
各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定手段と、
前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定手段と、
を有することを特徴とする記録装置。
【請求項２】
前記特定手段は、
所定の閾値と前記各テストパターンの周波数特性とを比較し、前記基準周波数の出力値が該所定の閾値より高いテストパターン群を、前記調整用テストパターン群として特定することを特徴とする請求項１記載の記録装置。
【請求項３】
前記特定手段は、
周波数特性の出力値が所定の閾値よりも高いテストパターン群が複数存在する場合に、前記基準周波数の出力値が最も高い値のテストパターン群を前記調整用テストパターン群として特定することを特徴とする請求項２記載の記録装置。
【請求項４】
前記特定手段は、
各テストパターン群の周波数特性の出力値を平均化した値を前記所定の閾値として使用することを特徴とする請求項２または３記載の記録装置。
【請求項５】
前記複数のテストパターン群の形成、及び、前記復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号の決定を、前記記録ヘッドの移動方向である主走査方向の一定領域毎に分割して行い、前記復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を、前記一定領域毎に決定することを特徴とする請求項１から４の何れか１項に記載の記録装置。
【請求項６】
インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置の制御方法であって、
往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録工程と、
復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録工程と、
前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知工程と、
各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析工程と、
各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定工程と、
前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定工程と、
を有することを特徴とする制御方法。
【請求項７】
インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置のコンピュータに実行させるプログラムであって、
往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録処理と、
復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録処理と、
前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知処理と、
各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析処理と、
各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定処理と、
前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定処理と、
を、前記コンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、インクジェットプリンタ等の記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
インクジェット方式の記録装置は、主走査方向の往復移動時に記録ヘッドからインクを吐出し、記録媒体上にインキを付着させ、記録媒体上に像（ドット）を記録する。そして、搬送ローラ等を用いて記録媒体を副走査方向に搬送し、主走査方向の記録を繰り返し、記録媒体上に画像を形成する。
【０００３】
しかし、主走査方向の往復移動時に記録媒体上に像（ドット）を記録すると、往路移動時に記録した像（ドット）と、復路移動時に記録した像（ドット）と、がずれてしまうという問題（印字の位置ずれ）が生じ易い。
【０００４】
このため、従来では、往路移動時と復路移動時のインクの吐出タイミングを調整し、上述した印字の位置ずれを解消することにしている。なお、インクの吐出タイミングの調整は、所定のテストパターンを用いて行われている。
【０００５】
例えば、本発明よりも先に出願された技術文献として、特許文献１では、往路パターンを基準とし、復路パターンを往路パターン上に重ね合わせる。往路パターンは、往路移動時に形成する基準の調整パターンであり、復路パターンは、復路移動時に形成する調整用の調整パターンである。次に、上記重ね合わせた調整パターンを検知し、該検知した調整パターンの濃度や色味の変化から、ユーザが目視により最適な調整用の調整パターンを決定し、その決定した調整パターンを用いて印字の位置ずれを調整することにしている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、目視による決定は、ユーザにとって余計な作業が必要になる。また、調整用の調整パターンの決定方法がユーザ毎に異なるため、最適な調整用の調整パターンを決定することができず、結果として印字の位置ずれを正確に調整することができない場合が考えられる。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、印字の位置ずれを正確に調整することが可能な記録装置、制御方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
かかる目的を達成するために、本発明は、以下の特徴を有することとする。
【０００９】
＜記録装置＞
本発明にかかる記録装置は、インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置であって、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録手段と、復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録手段と、前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知手段と、各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析手段と、各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定手段と、前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定手段と、を有することを特徴とする。
【００１０】
＜制御方法＞
本発明にかかる制御方法は、インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置の制御方法であって、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録工程と、復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録工程と、前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知工程と、各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析工程と、各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定工程と、前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定工程と、を有することを特徴とする。
【００１１】
＜プログラム＞
また、本発明にかかるプログラムは、インクを吐出する記録ヘッドを往復させ、記録ヘッドの往復移動時に記録媒体上に像を記録する記録装置のコンピュータに実行させるプログラムであって、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターンを印字する第１の記録処理と、復路移動時に、前記第１のテストパターンの印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして前記第１のテストパターンと重ならない第２のテストパターンを印字し、前記第１のテストパターンと、前記第２のテストパターンと、で構成された複数のテストパターン群を形成する第２の記録処理と、前記テストパターン群を構成する前記第１のテストパターンと前記第２のテストパターンとを検知し、各テストパターン群の検知信号を取得する検知処理と、各テストパターン群の検知信号を解析し、各テストパターン群の周波数特性を取得する解析処理と、各テストパターン群の周波数特性を比較し、予め定められた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群の中から調整用テストパターン群を特定する特定処理と、前記調整用テストパターン群の第２のテストパターンを印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する決定処理と、を、前記コンピュータに実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、印字の位置ずれを正確に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本実施形態の記録装置の機構部の概略構成例を示す図である。
【図２】本実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第１の図である。
【図３】本実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第２の図である。
【図４】読取センサ30の構成例を示す図である。
【図５】本実施形態の記録装置の制御機構の構成例を示す図である。
【図６】テストパターン101,102の構成例を示す第１の図である。
【図７】基準周波数を説明するための図である。
【図８】テストパターン101,102の構成例を示す第２の図である。
【図９】基準周波数を説明するための図である。
【図１０】基準周波数を説明するための図である。
【図１１】本実施形態の記録装置の処理動作例を示す図である。
【図１２】本実施形態の記録装置の処理動作例を説明するための図である。
【図１３】第３の実施形態を説明するための図である。
【図１４】読取センサ30の配置例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
（本実施形態の記録装置の概要）
まず、図５、図６、図１１を参照しながら、本実施形態の記録装置の概要について説明する。図５は、本実施形態の記録装置の制御機構の構成例を示し、図６は、テストパターン101,102の構成例を示し、図１１は、記録装置の処理動作例を示す。
【００１５】
本実施形態の記録装置は、インクを吐出する記録ヘッド6を往復させ、記録ヘッド6の往復移動時に記録媒体16上に像を記録する記録装置である。
【００１６】
本実施形態の記録装置は、図１１に示すように、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターン101を印字する（ステップS1〜S4）。また、復路移動時に、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とし、所定の領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして第１のテストパターン101と重ならない第２のテストパターン102を印字し、第１のテストパターン101と、第２のテストパターン102と、で構成された複数のテストパターン群（図６に示すA〜E）を形成する（ステップS5〜S7）。
【００１７】
また、テストパターン群（A〜E）を構成する第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを検知し、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を取得する（ステップS10〜S13）。そして、その各テストパターン群（A〜E）の検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する（ステップS15）。
【００１８】
そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、予め定めた基準周波数の出力値に基づいて各テストパターン群（A〜E）の中から調整用テストパターン群（C）を特定する。そして、その調整用テストパターン群（C）の第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する（ステップS16）。
【００１９】
これにより、本実施形態の記録装置は、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を自動的に決定し、印字の位置ずれを正確に調整することができる。以下、添付図面を参照しながら、本実施形態の記録装置について詳細に説明する。
【００２０】
（第１の実施形態）
＜記録装置の機構部の概略構成例＞
まず、図１を参照しながら、本実施形態の記録装置の機構部の概略構成例について説明する。
【００２１】
本実施形態の記録装置は、両側の側板1，2間に主支持ガイドロッド3及び従支持ガイドロッド4を略水平な位置関係で横架し、主支持ガイドロッド3及び従支持ガイドロッド4でキャリッジ5を主走査方向に摺動自在に支持するように構成している。
【００２２】
キャリッジ5は、イエロー（Y）インク、マゼンタ（M）インク、シアン（C）インク、ブラック（Bk）インクを吐出する4個の記録ヘッド6y，6m，6c，6kを、その吐出面（ノズル面）を下方に向けて搭載している。また、キャリッジ5は、記録ヘッド6（符号「6」は、「6y，6m，6c，6k」の何れか又は総称を意味する）の上側に4個のインクカートリッジ7（符号「7」は、「7y，7m，7c，7k」の何れか又は総称を意味する）を交換可能に搭載している。インクカートリッジ7は、4個の記録ヘッド6にインクを供給するための各色のインク供給体である。キャリッジ5は、主走査モータ8で回転する駆動プーリ（駆動タイミングプーリ）9と、従動プーリ（アイドラプーリ）10と、の間に張装したタイミングベルト11に連結し、主走査モータ8を駆動制御することで、主走査方向に移動するように構成している。主走査方向への移動は、キャリッジ5にエンコーダセンサ41を設け、そのエンコーダセンサ41がエンコーダシート40のマークを検知して得られるエンコーダ値を基に制御する。
【００２３】
また、本実施形態の記録装置は、側板1，2を繋ぐ底板12上にサブフレーム13，14を立設し、このサブフレーム13，14間に搬送ローラ15を回転自在に保持して構成している。そして、サブフレーム14側に副走査モータ17を配設し、この副走査モータ17の回転を搬送ローラ15に伝達するために、副走査モータ17の回転軸に固定したギヤ18と搬送ローラ15の軸に固定したギヤ19とを有して構成している。
【００２４】
また、側板1とサブフレーム12との間には、記録ヘッド6の信頼性維持回復機構（以下、「サブシステム」と称する）21を配置している。サブシステム21は、記録ヘッド6の吐出面をキャッピングする4個のキャップ手段22をホルダ23で保持し、このホルダ23をリンク部材24で揺動可能に保持して構成している。そして、キャリッジ5が主走査方向に移動し、ホルダ23に設けた係合部25にキャリッジ5が当接した場合に、ホルダ23がリフトアップし、キャップ手段22で記録ヘッド6の吐出面をキャッピングするようにしている。また、キャリッジ5が印写領域側に移動した場合に、ホルダ23がリフトダウンし、キャップ手段22が記録ヘッド6の吐出面から離れるようにしている。
【００２５】
なお、キャップ手段22は、吸引チューブ26を介して吸引ポンプ27に接続すると共に、大気開放口を形成し、大気開放チューブ及び大気開放バルブを介して大気に連通するようにしている。また、吸引ポンプ27は、吸引した廃液（廃インク）を廃液貯留槽に排出するようにしている。
【００２６】
また、ホルダ23の側方には、記録ヘッド6の吐出面をワイピングするワイパブレード30をブレードアーム31に取り付け、このブレードアーム31は、揺動可能に軸支し、図示しない駆動手段で回動されるカムの回転によって揺動するようにしている。
【００２７】
上述した図１に示す本実施形態の記録装置は、主走査方向の往復移動時に記録ヘッド6からインクを吐出し、記録媒体16上にインクを付着させ、記録媒体16上に像（ドット）を記録する。そして、搬送ローラ15を回転させ、記録媒体16を副走査方向に搬送し、主走査方向の記録を繰り返し、記録媒体16上に画像を形成する。
【００２８】
＜記録装置の印字機構の構成例＞
次に、図２、図３を参照しながら、本実施形態の記録装置の印字機構の構成例について説明する。
【００２９】
本実施形態の記録装置の印字機構は、キャリッジ5と、主支持ガイドロッド3と、エンコーダシート40と、を有して構成する。キャリッジ5は、記録ヘッド6と、読取センサ30と、エンコーダセンサ41と、を有して構成する。
【００３０】
記録ヘッド6は、複数のノズル列を備えており記録媒体16にインクを吐出し、記録媒体16に像（ドット）を印字する。記録ヘッド6を装填したキャリッジ5は、主走査方向に移動する。本実施形態の印字機構は、キャリッジ5を主走査方向に移動し、所定の印字タイミング信号に従って記録ヘッド6のノズル列から記録媒体16にインクを吐出し、記録媒体16に像（ドット）を印字する。
【００３１】
キャリッジ5の往復移動時に双方向で印字処理を行う場合は、往路移動時と復路移動時において印字する像（ドット）の印字位置がずれることがある。このため、本実施形態の記録装置は、像（ドット）の印字位置のずれを調整するためのテストパターン101,102を記録媒体16に形成する。本実施形態のテストパターン101,102は、往路移動時に所定の印字タイミング信号に従って形成する第１のテストパターン101と、復路移動時に所定の印字タイミング信号を所定の領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って形成する第２のテストパターン102と、で構成する。テストパターン101,102はそれぞれ複数の線分で構成されている。そして、その記録媒体16に形成したテストパターン101,102を読取センサ30で検知し、検知信号を取得する。そして、その検知信号を基に、復路移動時の印字タイミング信号を調整する。
【００３２】
読取センサ30は、記録媒体16に印字されたテストパターン101,102を検知し、検知信号を出力するものである。本実施形態の印字機構は、キャリッジ5を主走査方向に低速で移動させながら、記録媒体16に形成されたテストパターン101,102を読取センサ30で検知し、図示しないCPUが検知信号を取得する。検知信号とは、記録媒体16上のテストパターン内の線分のある部分とない部分に応じて変化する信号である。
【００３３】
読取センサ30は、例えば、反射型光学センサで構成し、図４に示すように、発光部301と受光部302とを含んで構成する。
【００３４】
発光部301は、光を発光し、その発光部301から発光された光は記録媒体16の表面で反射する。受光部302は、記録媒体16の表面で反射した反射光量（反射光強度）を検出する。反射光量（反射光強度）は、印字がある部分とない部分で変化するため、読取センサ30は、受光部302が検出した反射光量（反射光強度）を基に、記録媒体16に印字されたテストパターン101,102の線分のある部分とない部分を検知する。
【００３５】
なお、読取センサ30の構成やその検知方法は、記録媒体16に印字されたテストパターン101,102を検知することが可能であれば特に限定するものではなく、あらゆる構成や検知方法が適用可能である。また、読取センサ30の配置位置についても同様に、記録媒体16に印字したテストパターン101,102を検知することが可能であれば特に限定するものではなく、任意の位置に配置することが可能である。例えば、図２、図３に示すように記録ヘッド6と一体型にして配置しても良く、記録ヘッド6と別に配置することも可能である。なお、読取センサ30をキャリッジ5に搭載する場合は、テストパターン101,102が印字される印字位置と同一位置に搭載することが好ましい。
【００３６】
＜記録装置の制御機構の構成例＞
次に、図５を参照しながら、本実施形態の記録装置の制御機構の構成例について説明する。
【００３７】
本実施形態の記録装置の制御機構は、CPU107、ROM118、RAM119、記憶部120、キャリッジ5、主走査ドライバ109、記録ヘッド6、記録ヘッドドライバ111、エンコーダセンサ41、読取センサ30、紙搬送部112、副走査ドライバ113、を含んで構成している。
【００３８】
CPU107は、記録データや駆動制御信号（パルス信号）を、記憶部120および各ドライバに供給し、記録装置全体の制御を司る。CPU107は、主走査ドライバ109を介して、キャリッジ5の主走査方向の駆動を制御する。また、記録ヘッドドライバ111を介して、記録ヘッド6によるインクの吐出タイミングを制御する。また、副走査ドライバ113を介して、紙搬送部112（搬送ベルトなど）の副走査方向の駆動を制御する。
【００３９】
エンコーダセンサ41は、エンコーダシート40のマークを検知して得られるエンコーダ値をCPU107に出力する。CPU107は、そのエンコーダ値を基に、主走査ドライバ109を介して、キャリッジ5の主走査方向の駆動を制御する。
【００４０】
読取センサ30は、記録媒体16に形成されたテストパターン101を検知し、その検知信号をCPU107に出力する。CPU107は、読取センサ30が検知した検知信号と、その検知信号が得られた時にエンコーダセンサ41が検知したエンコーダ値と、を対応付けて記憶部120に記憶する。
【００４１】
ROM118は、所要の情報を保存しておくものである。例えば、CPU107で実行する処理手順等のプログラムが格納される。RAM119は、ワーキングメモリ等として使用するものである。
【００４２】
＜テストパターンの構成例＞
次に、図６を参照しながら、テストパターン101,102の構成例について説明する。
【００４３】
往路移動時に形成する第１のテストパターン101は、等間隔の線分で構成される。第１のテストパターン101は、印字の位置ずれを調整するための基準となるパターンであり、記憶部102に記憶された所定の印字タイミング信号に従って記録媒体16に印字される。
【００４４】
復路移動時に形成する第２のテストパターン102は、一定領域毎に印字位置をずらした線分で構成される。第２のテストパターン102は、印字の位置ずれを調整するための調整用のパターンであり、第１のテストパターン101を構成する線分の中心位置に、第２のテストパターン102を構成する線分が来る位置を基準とする。この基準位置から、一定領域毎に段階的に印字タイミング信号をずらして記録媒体16に印字されたものが第２のテストパターン102となる。以降、第１のテストパターン101を構成する線分の中心位置に第２のテストパターン102を構成する線分が来る位置を基準とすることを、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とする、と表現する。
【００４５】
本実施形態の記録装置は、往路移動時に、記憶部120に記憶した所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターン101を記録媒体16に印字する。そして、復路移動時に、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とし、一定領域毎に印字タイミング信号を段階的にずらして第２のテストパターン102を記録媒体16に印字する。
【００４６】
これにより、図６に示すように第１のテストパターン101と第２のテストパターン102との間隔が各々異なるテストパターン群（図６のA〜E）を記録媒体16に形成することができる。図６の例では、テストパターン群Cは、第１のテストパターン101の印字間の中心位置に第２のテストパターン102が印字されており、このテストパターン群Cが基準パターンとなる。本実施形態では、テストパターン群Cを構成する第２のテストパターン102を印字する際に使用した印字タイミング信号が、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号となる。本実施形態の記録装置は、各テストパターン群（A〜E）を読取センサ30で検知し、各テストパターン群（A〜E）の検知信号を取得する。そして、各テストパターン群（A〜E）の検知信号の周波数特性を解析し、その解析結果を基に、複数のテストパターン群（A〜E）の中から基準パターンに相当するテストパターン群Cを決定する。本実施形態の記録装置は、基準パターンに相当するテストパターン群Cの第２のテストパターン102を印字する際に使用した印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する。この決定した復路移動時の印字タイミング信号は、第１のテストパターン101の印字間の中心位置に第２のテストパターン102を印字するための基準の印字タイミング信号となる。このため、記録装置は、この基準の印字タイミング信号を所定の値だけ調整することで、第２のテストパターン102を第１のテストパターン101と同じ位置に印字することができる。
【００４７】
＜周波数特性の解析手法＞
次に、検知信号の周波数特性の解析手法について説明する。
【００４８】
本実施形態の記録装置は、図２、図３に示すキャリッジ5を主走査方向に低速で移動させながら、読取センサ30でテストパターン101,102を検知し、テストパターン101,102の検知信号を取得する。そして、読取センサ30で検知した検知信号と、その検知信号を検知した時にエンコーダセンサ41が取得したエンコーダ値と、を対応付けて記憶部120に記憶する。記録装置は、記憶部120に記憶したエンコーダ値を基に、検知信号を所定の領域毎に分割し、検知信号を複数のテストパターン群に分割する。そして、記録装置は、各テストパターン群の検知信号に対し、フーリエ変換を行い、各テストパターン群の周波数特性を算出する。
【００４９】
図６に示すテストパターン群C（最適テストパターン群）のように、第２のテストパターン102が第１のテストパターン101の中心位置になると、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが、重複せずにhの幅で等間隔に配置されることになる。基準周波数Hとは、このように第２のテストパターン102が第１のテストパターン101の中心位置になり、間隔がhになった場合に出力される検知信号の周波数である。CPU107は、第２のテストパターン102が第１のテストパターン101の中心位置になったときの線分の幅hを予め知っているため、基準周波数Hは予め分かっている。図６に示すテストパターン群Cの検知信号をフーリエ変換し、周波数特性を算出すると、図７（a）のように、基準周波数Hの出力値が高くなる。
【００５０】
一方、最適テストパターン群C以外のその他のテストパターン群A、B、D、Eは、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが等間隔ではない位置に配置されている。つまり、第１のテストパターン101内の線分と第２のテストパターン102内の線分の間隔が等間隔ではなく、２つの間隔が出現している。このため、読取センサ30で検知した検知信号は、一定の周期の信号にならない。また、第１のテストパターン101内の線分と第２のテストパターン102内の線分の間隔はhの幅ではないため、このテストパターン群A、B、D、Eの周波数Hの波形をフーリエ変換し、周波数特性を算出すると、周波数特性の出力値である基準周波数Hは、図７（b）に示すように、低下もしくは消失する。
【００５１】
このため、本実施形態の記録装置は、各テストパターン群の周波数特性の基準周波数Hの出力値を比較し、基準周波数Hの出力値の最も高いテストパターン群Cを決定する。これにより、第１のテストパターン101の印字間の中心位置に第２のテストパターン102が印字された調整用テストパターン101,102を特定することができる。記録装置は、その基準となるテストパターン群Cの第２のテストパターン102を印字した時に使用した印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する。この決定した復路移動時の印字タイミング信号は、第１のテストパターン101の印字間の中心位置に第２のテストパターン102を印字するための基準の印字タイミング信号となるため、記録装置は、この基準の印字タイミング信号を所定の値だけ調整することで、第２のテストパターン102を第１のテストパターン101と同じ位置に印字することができる。
【００５２】
次に、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを重ね合わせたテストパターン101,102を基準パターンとした場合の不具合について説明する。
【００５３】
図８は、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを重ね合わせたテストパターン101,102を基準パターンとした場合を示す。
【００５４】
往路移動時に形成する第１のテストパターン101は、所定の印字タイミング信号に従って等間隔に印字して構成する。これに対し、復路移動時に形成する第２のテストパターン102は、印字タイミング信号を一定領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って印字して構成する。このため、図８に示すように第１のテストパターン101と第２のテストパターン102との間隔が各々異なるテストパターン群（図８のa〜e）が構成される。図８の例では、テストパターン群cが第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが同一位置に重なって印字される。このため、テストパターン群cが基準パターンに相当する。
【００５５】
図９（a）は、最適な印字タイミング信号に従って印字されたテストパターン101,102で構成するテストパターン群cの拡大図である。図９（a）に示すテストパターン群cは、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが重なっているため、そのテストパターン群cから得られる検知信号は、図９（a）のように一定周周期（周波数F）の波形になり、フーリエ変換の出力値は、図９（c）に示すように基準周波数Fの出力値が高くなる。
【００５６】
図９（b）は、最適な印字タイミング信号から半ドットずれて印字されたテストパターン101,102で構成するテストパターン群を示す。半ドットずれた場合は、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102との印字位置がずれるため、結果的に線（パターン）が太るという現象が発生する。このため、検知信号は、図９（b）のように波形幅が広くなる。波形幅の広い検知信号を周波数解析した場合は、例えば、検知信号の中央値、または、検知信号のエッジ（開始位置など）に基づいて基準周波数を算出することになる。このような手法をとると、結果的に波形の周期は、最適な印字タイミング（テストパターン群c）のときと同じ（周波数F）になるため、周波数特性の出力値は、図９（c）に示すように基準周波数Fの出力が最も高くなる。
【００５７】
第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを重ね合わせたテストパターン101,102を基準パターンとした場合に、1ドット未満の印字の位置ずれが生じた場合は、図９（b）に示すように、テストパターン101,102の線が太ることになる。しかし、テストパターン101,102の線が太っても、テストパターン101,102の周期自体が変わらないため、結果的に波形の周期は、最適な印字タイミング（テストパターン群c）のときと同じ（周波数F）になる。このため、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを重ね合わせたテストパターン101,102を基準パターンとした場合は、印字の位置ずれを正確に調整できなくなってしまう場合がある。
【００５８】
なお、上記では、テストパターン101,102を1ドットラインで形成した場合を例に説明した。しかし、テストパターン101,102を複数ドットラインで形成した場合も上記と同様のことがいえる。
【００５９】
図１０は、テストパターン101,102を2ドットラインで形成した場合の例である。この場合も、図１０（b）に示すように基準から1ドットずれている場合に、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが重複しているため、テストパターン101,102の線が太ることになる。
【００６０】
このため、検知信号の周期は、印字の位置ずれがない場合と同じになり、周波数特性も基準周波数Fが最も高くなる。このため、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とを重ね合わせたテストパターン101,102を基準パターンとした場合は、印字の位置ずれを正確に調整できなくなってしまう場合がある。
【００６１】
これに対し、本実施形態では、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とした所定の印字タイミング信号を所定の領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って第２のテストパターン102を印字し、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが重ならないようにしている。このため、テストパターン101,102の線が太るという現象が発生することがない。その結果、上記の問題が発生せず、印字の位置ずれを容易かつ正確に調整することができる。
【００６２】
＜記録装置の処理動作＞
次に、図１１を参照しながら、本実施形態の記録装置の処理動作について説明する。図１１は、印字の位置ずれを調整するための処理動作を示す図である。
【００６３】
CPU107は、キャリッジ5を初期位置に移動させる（ステップS1）。初期位置とは、キャリッジ5の移動方向（主走査方向）で、記録媒体16に像（ドット）を印字する開始位置（往路走査開始位置）を示す。この時、記録媒体16は、画像形成可能な位置に搬送されている。
【００６４】
次に、CPU107は、キャリッジ5を往路方向に移動させる（ステップS2）。
【００６５】
この時、CPU107は、記憶部120に記憶された所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターン101を記録媒体16に印字する（ステップS3）。これにより、記録媒体16の主走査方向に図６に示す第１のテストパターン101が印字されることになる。
【００６６】
CPU107は、往路方向へのキャリッジ5の移動が完了した場合に（ステップS4）、キャリッジ5を復路方向に移動させる（ステップS5）。
【００６７】
CPU107は、所定の印字タイミング信号を一定領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って第２のテストパターン102を記録媒体16に印字する（ステップS6）。これにより、記録媒体16の主走査方向に図６に示す第２のテストパターン102が印字されることになる。その結果、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とで構成した複数のテストパターン群（A〜E）を記録媒体16上に形成することになる。
【００６８】
CPU107は、復路方向へのキャリッジ5の移動が完了した場合に（ステップS7）、キャリッジ5を初期位置に移動する（ステップS8）。
【００６９】
CPU107は、読取センサ30の真下にテストパターン101,102が位置するように、記録媒体16を搬送する（ステップS9）。
【００７０】
CPU107は、キャリッジ5を往路方向に低速で移動し（ステップS10）、読取センサ30でテストパターン101,102を検知し、検知信号を取得する（ステップS11）。
【００７１】
CPU107は、読取センサ30が検知したテストパターン101,102の検知信号と、そのテストパターン101,102の検知信号の取得時にエンコーダセンサ41が取得したエンコーダ値と、を対応付けて記憶部120に記憶する（ステップS12）。
【００７２】
CPU107は、テストパターン101,102の検知動作が終了した場合に（ステップS13）、キャリッジ5を初期位置に移動する（ステップS14）。
【００７３】
CPU107は、記憶部120に記憶したエンコーダ値を基に、検知信号を所定の領域毎に分割し、検知信号を複数のテストパターン群（A〜E）に分割する。これにより、検知信号を複数のテストパターン群（A〜E）に分割することができる。CPU107は、各テストパターン群（A〜E）の検知信号に対し、フーリエ変換を行い、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を算出する（ステップS15）。
【００７４】
CPU107は、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性の基準周波数Hを比較し、基準周波数Hの出力値が最も高いテストパターン群を選択する。そして、そのテストパターン群の第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の位置ずれを調整するための基準の印字タイミング信号として決定する（ステップS16）。
【００７５】
CPU107は、上記決定した基準の印字タイミング信号を所定の値だけ調整することで、第２のテストパターン102を第１のテストパターン101と同じ位置に印字することができる。このため、CPU107は、上記決定した基準の印字タイミング信号を用いて印字の位置ずれを調整し、画像の印字処理を行うことが可能となる（ステップS17）。
【００７６】
＜本実施形態の記録装置の作用・効果＞
このように、本実施形態の記録装置は、往路移動時に、所定の印字タイミング信号に従って第１のテストパターン101を印字する。また、復路移動時に、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とした所定の印字タイミング信号を所定の領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って第２のテストパターン102を印字し、複数のテストパターン群（A〜E）を形成する。次に、そのテストパターン群（A〜E）を検知して得られる検知信号を解析し、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を取得する。そして、各テストパターン群（A〜E）の周波数特性を比較し、基準周波数の出力値が最も高いテストパターン群（C）を調整用テストパターン群として特定し、その特定したテストパターン群（C）の第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定する。
【００７７】
これにより、本実施形態の記録装置は、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を自動的に決定することができるため、ユーザによる調整作業の負担をなくすことができる。また、印字の位置ずれを正確に調整することができる。
【００７８】
例えば、記録装置は、図１２に示すように、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とした所定の印字タイミング信号（±0）に従って第２のテストパターン102を印字して形成したテストパターン群をCとする。そして、その所定の印字タイミング信号（±0）を所定の領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号（-2,-1,+1,+2）に従って第２のテストパターン102を印字して形成したテストパターン群をA、B、D、Eとする。
【００７９】
記録装置は、図１２に示す各テストパターン群（A〜E）の検知信号の周波数特性を比較し、周波数特性の出力値が最も高いテストパターン群がBとなった。このため、記録装置は、現在の復路移動時の印字タイミング信号を-1だけずらすことになる。このように、本実施形態の記録装置は、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を自動的に決定することができる。
【００８０】
また、本実施形態の記録装置は、第１のテストパターン101の印字間の中心位置を基準とした所定の印字タイミング信号を所定の領域毎に段階的にずらした印字タイミング信号に従って第２のテストパターン102を印字し、第１のテストパターン101と第２のテストパターン102とが重ならないようにしている。このため、テストパターン101,102の線が太るという現象が発生することがない。その結果、印字の位置ずれを容易かつ正確に行うことができる。
【００８１】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。
【００８２】
第１の実施形態では、各テストパターン群の周波数特性を比較し、基準周波数の出力値が最も高いテストパターン群を調整用テストパターン群として特定する。そして、その特定したテストパターン群の第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定した。
【００８３】
第２の実施形態では、各テストパターン群の周波数特性を比較し、基準周波数の出力値が所定の閾値よりも高いテストパターン群を調整用テストパターン群として特定する。そして、その特定したテストパターン群の第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号を、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号として決定することも可能である。
【００８４】
例えば、
テストパターン群Aの基準周波数の出力値が0とする。
テストパターン群Bの基準周波数の出力値が3とする。
テストパターン群Cの基準周波数の出力値が20とする。
テストパターン群Dの基準周波数の出力値が10とする。
テストパターン群Eの基準周波数の出力値が4とする。
【００８５】
この場合、所定の閾値を8とした場合は、所定の閾値8よりも基準周波数の出力値が高いテストパターン群は、C、Dとなる。この場合、上記特定したテストパターン群C、Dの第２のテストパターン102を印字した時の印字タイミング信号の中から、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を決定する。これにより、複数の印字タイミング信号の中から復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を決定することが可能となる。
【００８６】
なお、所定の閾値よりも基準周波数の出力値が高いテストパターン群が複数存在する場合に、１つのテストパターン群を決定する方法としては、例えば、第１の実施形態と同様に、基準周波数の出力値が最も高いテストパターン群Cを選択する方法がある。また、所定の閾値よりも高い基準周波数となったテストパターン群の統計情報をテストパターン群毎に管理する。そして、上記のように、所定の閾値よりも基準周波数の出力値が高いテストパターン群が複数存在する場合に（テストパターン群C、D）、その管理した統計情報を基に、所定の閾値よりも高い基準周波数となる確率の最も高いテストパターン群（例えば、テストパターン群D）を選択する方法がある。
【００８７】
なお、上記の閾値の設定方法としては、ユーザが任意に設定したり、自動的に設定したりする方法が挙げられる。自動的に設定する方法としては、例えば、周波数解析を行って算出した各テストパターン群（A〜E）の基準周波数の出力値の平均値を算出する『（0＋3＋20＋10＋4）÷5＝7.4』。この算出して得られた平均値7.4を上記の閾値として設定する。これにより、周波数解析を行って算出した各テストパターン群（A〜E）の基準周波数の出力値に応じて上記の閾値を任意に設定変更することが可能となる。
【００８８】
（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態について説明する。
【００８９】
第１の実施形態では、図６に示すように、主走査方向に複数のテストパターン群（A〜E）を形成し、その形成したテストパターン群（A〜E）の検知信号を基に、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号を決定することにした。
【００９０】
第３の実施形態では、図１３に示すように、主走査方向を複数の領域（例えば、左領域、中央領域、右領域）に分割し、各領域毎に複数のテストパターン群（A〜E）を形成する。そして、各領域毎に複数のテストパターン群（A〜E）を検知し、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号（α、α'、α"）を各領域毎に決定する。
【００９１】
印字位置のずれ量が主走査方向全域において同一量であれば、α＝α'＝α"となる。しかし、広幅機のように主走査方向の走査移動距離が長い機器では、各領域毎にずれ量が異なり、α≠α'≠α"となる可能性が高い。
【００９２】
このため、本実施形態の記録装置は、複数のテストパターン群（A〜E）の形成、及び、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号の決定を、主走査方向の一定領域（例えば、左領域、中央領域、右領域）毎に分割して行い、復路移動時の印字の位置ずれを調整するための印字タイミング信号（α、α'、α"）を、一定領域毎に決定する。これにより、印字の位置ずれをより正確に行うことができる。
【００９３】
なお、上述する実施形態は、本発明の好適な実施形態であり、上記実施形態のみに本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更を施した形態での実施が可能である。
【００９４】
例えば、上記実施形態では、図６に示すように、読取センサ30の真下にテストパターン101,102が位置するように、記録媒体16を搬送することにした（ステップS9）。しかし、読取センサ30がテストパターン101,102の印字位置と同一位置となるようにキャリッジ5に搭載されている場合には、ステップS9の処理を行わないようにすることが可能である。
【００９５】
また、上記実施形態では、読取センサ30をキャリッジ5に搭載することにした。しかし、図１４に示すように、読取センサ30専用のキャリッジ38を設け、そのキャリッジ38を主走査方向に移動させてテストパターン101,102の検知処理を行うように構築することも可能である。
【００９６】
また、上記実施形態では、テストパターン101,102の検知処理を往路移動時に行うことにした。しかし、復路移動時にも検知処理を行うように構築することも可能である。この場合は、往路移動時に検知した検知信号と、復路移動時に検知した検知信号と、を平均化することになる。これにより、検知信号の誤差を低減することが可能となる。
【００９７】
また、上述した本実施形態の記録装置を構成する各部の制御動作は、ハードウェア、または、ソフトウェア、あるいは、両者の複合構成を用いて実行することも可能である。
【００９８】
なお、ソフトウェアを用いて処理を実行する場合には、処理シーケンスを記録したプログラムを、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ内のメモリにインストールして実行させることが可能である。あるいは、各種処理が実行可能な汎用コンピュータにプログラムをインストールして実行させることが可能である。
【００９９】
例えば、プログラムは、記録媒体としてのハードディスクやROM（Read Only Memory）に予め記録しておくことが可能である。あるいは、プログラムは、リムーバブル記録媒体に、一時的、あるいは、永続的に格納（記録）しておくことが可能である。このようなリムーバブル記録媒体は、いわゆるパッケージソフトウエアとして提供することが可能である。なお、リムーバブル記録媒体としては、フロッピー（登録商標）ディスク、CD-ROM（Compact Disc Read Only Memory）、MO（Magneto optical）ディスク、DVD（Digital Versatile Disc）、磁気ディスク、半導体メモリなどが挙げられる。
【０１００】
なお、プログラムは、上述したようなリムーバブル記録媒体からコンピュータにインストールすることになる。また、ダウンロードサイトから、コンピュータに無線転送することになる。また、ネットワークを介して、コンピュータに有線で転送することになる。
【０１０１】
また、本実施形態における記録装置は、上記実施形態で説明した処理動作に従って時系列的に実行されるのみならず、処理を実行する装置の処理能力、あるいは、必要に応じて並列的にあるいは個別に実行するように構築することも可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１０２】
本発明は、インクジェット方式の記録装置に好適である。
【符号の説明】
【０１０３】
５    キャリッジ
６    記録ヘッド
１６    記録媒体
３０    読取センサ
４１    エンコーダセンサ
４０    エンコーダシート
１０１    第１のテストパターン
１０２    第２のテストパターン
Ａ〜Ｅ    テストパターン群
１０７    CPU
１０９    主走査ドライバ
１１１    記録ヘッドドライバ
１１２    紙搬送部
１１３    副走査ドライバ
１１８    ROM
１１９    RAM
１２０    記憶部
【先行技術文献】
【特許文献】
【０１０４】
【特許文献１】特開２００４−３５８７５９号公報
【図１】
2010214807.tif 000003
【図２】
2010214807.tif 000004
【図３】
2010214807.tif 000005
【図４】
2010214807.tif 000006
【図５】
2010214807.tif 000007
【図６】
2010214807.tif 000008
【図７】
2010214807.tif 000009
【図８】
2010214807.tif 000010
【図９】
2010214807.tif 000011
【図１０】
2010214807.tif 000012
【図１１】
2010214807.tif 000013
【図１２】
2010214807.tif 000014
【図１３】
2010214807.tif 000015
【図１４】
2010214807.tif 000016