(57)【要約】【課題】熱干渉歪みの影響を受けやすいＤＶＤディスク、またはＷＳＴの設定が行なわれていても設定が不完全なＤＶＤディスクに対しても、所望の記録品位を得ることができる光ディスク装置及びその記録方法を提供する。【解決手段】記録中断制御信号１０は、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点において、所定の記録速度における記録を一時中断し、パラメータ抽出演算手段６は、一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力し、記録条件選択・設定手段７は、出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、前記記録条件を選択・設定する。【選択図】      図１
2010027176.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置において、
所定の記録速度で開始された前記光ディスクへの情報の記録中に記録を一時中断する記録中断手段と、
前記記録中断手段で中断した直前に記録した情報を再生し、ライトストラテジを補正するパラメータを抽出して所定の演算を行うパラメータ抽出・演算手段と、
前記パラメータ抽出演算手段の出力を基に、前記光ディスクへの所望の記録品位を得るための最適な記録条件を選択する記録条件選択・設定手段とを有し、
前記記録中断手段は、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点、もしくは記録開始後所定のセクタ記録後、記録を一時中断し、
前記パラメータ抽出演算手段は、前記一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力し、
前記記録条件選択・設定手段は、前記出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、前記記録条件を選択・設定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるコンポーネントジッターまたはこの平均値であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるユニットデビエーションまたはこの平均値であることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記要素ジッターは、総エレメントデビエーションであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記要素ジッターが前記規定値Ｋ３を超えた場合、前記記録条件の選択・設定として、速度を落としてＣＬＶ記録に移行することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記要素ジッターが前記規定値Ｋ３を超えた場合、前記記録条件の選択・設定として、前記ターゲットβをマイナス側に変更して記録パワーを下げることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記要素ジッターが前記規定値Ｋ３を超えた場合、前記記録条件の選択・設定として、前記ライトストラテジの（ｎ−ｋ）Ｔのｋを大きくしたライトストラテジに変更することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記要素ジッターが、前記要素ジッターの一つ前の測定値の定数倍の値と比較されることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項９】
最終記録部分の前記Ｄ２Ｃジッターが、前記規定値Ｋ２より小さい場合は、前記ライトストラテジの補正を省略することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
光ディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置の記録方法において、
前記記録中断手段により、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点において、前記所定の記録速度における記録を一時中断するステップと、
前記パラメータ抽出演算手段により、前記一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力するステップと、
前記記録条件選択・設定手段により、前記出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、前記記録条件を選択・設定するステップとを有することを特徴とすることを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の記録方法において、前記要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるコンポーネントジッターまたはこの平均値、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるユニットデビエーションまたはこの平均値、または総エレメントデビエーションの内のいずれかであることを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【請求項１２】
請求項１０に記載の記録方法において、前記要素ジッターが前記規定値Ｋ３を超えた場合、前記記録条件の選択・設定として、速度を落として線速度固定記録に移行すること、前記ターゲットβをマイナス側に変更して記録パワーを下げること、または前記ライトストラテジの（ｎ−ｋ）Ｔのｋを大きくしたライトストラテジに変更することの内のいずれかであることを特徴とする光ディスク装置の記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録するための記録品位に係り、詳しくは、ジッター値を基に、所望の記録品位を得るための最適な記録条件を選択・設定する光ディスク装置、およびその記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図９は、ディスクの半径と線速度の関係を示す線速度図である。このように、ディスクの線速度は、回転速度が一定のとき、中心部から円周部に向かって増加する。このため、例えばライトストラテジ（ＷＳＴ）の設定が行なわれていないＤＶＤディスクに対し、ＣＡＶ方式（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）により記録速度（Ｘ６〜Ｘ１６）において記録書き込みを行う場合、内周のテスト領域でＸ６についてＷＳＴの設定を行い、このＷＳＴで全面を記録すると、高速記録時に記録品位が大幅に悪化してしまう。
【０００３】
図１０は、βに対するＤ２ＣジッターおよびＰＩエラーの関係を示す図である。図１０ａにおいて、内周のテスト領域でＸ６についてＷＳＴの設定を行い、このＷＳＴで全面を記録した場合の、Ｘ６、Ｘ８、Ｘ１２、Ｘ１６をパラメータとしたβとＤ２Ｃジッターとの関係を示している。図１０ｂは、同じ条件でのβとＰＩエラーとの関係を示している。内周のテスト領域でＸ６についてＷＳＴの設定を行い、このＷＳＴで全面を記録しているため、外周に近い領域でのＸ１６においては、Ｄ２Ｃジッター、ＰＩエラー共に著しく悪化している。
【０００４】
図１１は、ＷＳＴの初期設定後、所定の書き込み速度毎にＷＳＴを補正して書き込みの最適化を図る手法を示す最適化プロセス図である。図１１において、最適化プロセスは、初期書き込み速度Ｎ（ｓｔａｒｔ）、書き込み速度Ｎ２、Ｎ３と、順次所定の書き込み速度に達する毎にＡＷＳ（Ａｕｔｏ  Ｗｒｉｔｅ  Ｓｔｒａｔｅｇｙ）によりＷＳＴの補正を行い、引き続き最終速度Ｎ（ｅｎｄ）までＷＳＴの更新を行いながら書き込みを行うことを示している。
【０００５】
図１２は、この最適化プロセスによるβに対するＤ２ＣジッターおよびＰＩエラーの関係を示す図である。図１２ａにおいて、内周のテスト領域でＸ６についてＷＳＴの設定を行い書き込みを開始し、Ｘ６、Ｘ８、Ｘ１２、Ｘ１６と所定の書き込み速度に達する毎にＡＷＳによりＷＳＴの補正を行って書き込みをしたときの、βとＤ２Ｃジッターとの関係を示している。図１２ｂは、同じ条件でのβとＰＩエラーとの関係を示している。これによると、内周から外周にかけて全ての領域で良好な書き込みが行なわれている。特許文献１には、データを記録しながらＷＳＴを補正することによって、記録速度が変化して好適なＷＳＴからずれても補正することができ、テスト記録を行わずに良好な記録品位を得る旨の記載がある。
【特許文献１】特開２００７−２００３８９号公報
【０００６】
ところが図１２ａの実線の矢印で示されたターゲットβを破線で示されるターゲットβで記録を行う場合、同様にＷＳＴの補正を行っても、高速記録部分である外周で記録品位が悪化してしまう。これは熱干渉歪みの影響を受けやすいＤＶＤディスクに対しては、従来値を基に初期設定をし、ＡＷＳにより所定の書き込み速度に対して順次ＷＳＴの補正を行っただけでは良好な結果が得られない場合が生じることを示している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、ＷＳＴの設定が行なわれていても設定が不完全な場合と、熱干渉歪みの影響により記録品位が悪化する場合とを区別することにより、所望の記録品位を得ることができる光ディスク装置及びその記録方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置において、所定の記録速度で開始された光ディスクへの情報の記録中に記録を一時中断する記録中断手段と、記録中断手段で中断した直前に記録した情報を再生し、ライトストラテジを補正するパラメータを抽出して所定の演算を行うパラメータ抽出・演算手段と、パラメータ抽出演算手段の出力を基に、光ディスクへの所望の記録品位を得るための最適な記録条件を選択する記録条件選択・設定手段とを有し、記録中断手段は、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点もしくは記録開始後所定のセクタ記録時点において、所定の記録速度における記録を一時中断し、パラメータ抽出演算手段は、一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力し、記録条件選択・設定手段は、出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、記録条件を選択・設定することを特徴とする。これにより、記録を一時中断して抽出したジッターを基に、記録速度の変更等の記録条件選択・設定が可能となる。
【０００９】
本発明の光ディスク装置の要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるコンポーネントジッターまたはこの平均値、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるユニットデビエーションまたはこの平均値、または総エレメントデビエーションの内のいずれかであることを特徴とする。これにより、要素ジッターとしてこれらを使い分けることにより、より高い記録品位を得ることが可能となる。
【００１０】
本発明の光ディスク装置の要素ジッターが規定値Ｋ３を超えた場合、記録条件の選択・設定として、速度を落としてＣＬＶ記録に移行すること、ターゲットβをマイナス側に変更して記録パワーを下げること、またはライトストラテジの（ｎ−ｋ）Ｔのｋを大きくしたライトストラテジに変更することの内のいずれかであることを特徴とする。これにより、要素ジッターが規定値Ｋ３を超えた場合の記録条件の選択・設定としてこれらを使い分けることで、より高い記録品位を得ることが可能となる。
【００１１】
本発明の光ディスク装置の要素ジッターが、一つ前に測定された要素ジッターの定数倍の値と比較されることを特徴とする。これにより、光ディスク媒体によるＫ３のバラツキが大きい場合に対して有効となる。
【００１２】
本発明の光ディスク装置の最終記録部分のＤ２Ｃジッターが、規定値Ｋ２より小さい場合は、ライトストラテジの補正を省略することを特徴とする。これにより、補正の処理時間が短縮される。
【００１３】
本発明の光ディスク装置の記録方法は、光ディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置の記録方法において、記録中断手段により、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点記おいて、所定の記録速度における記録を一時中断するステップと、パラメータ抽出演算手段により、一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力するステップと、記録条件選択・設定手段により、出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、記録条件を選択・設定するステップとを有することを特徴とすることを特徴とする。これにより、記録を一時中断して抽出したジッターを基に、記録速度の変更等の記録条件選択・設定が可能となる。
【００１４】
本発明の光ディスク装置の記録方法の要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるコンポーネントジッターまたはこの平均値、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるユニットデビエーションまたはこの平均値、または総エレメントデビエーションの内のいずれかであることを特徴とする。これにより、要素ジッターとしてこれらを使い分けることにより、より高い記録品位を得ることが可能となる。
【００１５】
本発明の光ディスク装置の記録方法の要素ジッターが規定値Ｋ３を超えた場合、記録条件の選択・設定として、速度を落として線速度固定記録に移行すること、ターゲットβをマイナス側に変更して記録パワーを下げること、またはライトストラテジの（ｎ−ｋ）Ｔのｋを大きくしたライトストラテジに変更することの内のいずれかであることを特徴とする。これにより、要素ジッターが規定値Ｋ３を超えた場合の記録条件の選択・設定としてこれらを使い分けることで、より高い記録品位を得ることが可能となる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、記録を一時中断して抽出したジッターを基に、記録速度の変更等の記録条件選択・設定が可能となるため、ＷＳＴの設定が行なわれていても設定が不完全である場合と熱干渉歪みの影響により記録品位が悪化した場合とを区別することで、所望の記録品位を得ることができる光ディスク装置及びその記録方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１は、本発明の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。図１において、光ディスク装置１００は、光ディスク１と、スピンドルモータ２と、光ピックアップ３と、ヘッドアンプ４と、データデコーダ５と、パラメータ抽出・演算手段であるパラメータ抽出・演算部６と、記録条件選択・設定手段である記録条件選択・設定部７と、制御部８と、記憶部９と、記録中断手段である記録中断部１０と、データエンコーダ１１と、記録パルス列補正部１２と、レーザ駆動部１３と、スピンドルドライバ１４と、入出力部１５とから構成されている。
【００１８】
次に図１を基に、記録中断制御信号１０が発せられると、図１１において説明した初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点において、記録を一時中断し、パラメータ抽出演算手段６が、一時中断した直前に記録した情報を基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力し、次に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、さらに、要素ジッターを算出して出力し、記録条件選択・設定手段７が、出力されたΔβ、Ｄ２Ｃジッターおよび要素ジッターと規定値Ｋ１、Ｋ２およびＫ３とをそれぞれ比較し、その比較した結果を基に、記録条件を選択・設定する動作を説明する。
【００１９】
図１において、制御部８が外部のコンピュータ等（図示せず）から記録命令を受信し、入出力部１５に書き込みデータが入力されると、制御部８は、記録条件選択・設定手段７およびスピンドルドライバ１４を介して、スピンドルモータ４を初期記録速度Ｎ（ｓｔａｒｔ）に設定する。また制御部８は、外部のコンピュータ等から入力されたデータを、データエンコーダ１１へ出力させ、データエンコーダ１１はこのデータを記録用の信号にエンコードし、記録パルス列補正部１２へ出力する。制御部６は、さらに記憶部９から所定のＷＳＴを読み出し、記録条件選択・設定部７へ出力する。記録条件選択・設定部７は、所定のＷＳＴのパラメータを記録パルス列補正部１２へ出力する。
【００２０】
記録パルス列補正部１２は、入力された記録用の信号の前後端位置等を所定のＷＳＴのパラメータに基づき補正し、レーザ駆動部１３へ出力する。レーザ駆動部１３は、入力された記録パルス列に応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成し、光ピックアップ３内の図示されていない半導体レーザに供給することにより記録パルス光を発生させる。光ピックアップ３は、光ディスク１の内周テスト領域、または書き込みエリア内の記録トラックに移動して、マークとスペースから成るデータの記録を行う。
【００２１】
次に制御部８は、記録中断制御信号１０を介して書き込みを一時中断し、光ピックアップ３を一時中断直前に記録された箇所から記録データの読み出しを行わせる。光ピックアップ３により読み出された信号は、ヘッドアンプ４を介してデータデコーダ５に入力される。データデコーダ５は、この入力信号を元の入力データにデコードし、パラメータ抽出・演算部６へ出力する。
【００２２】
パラメータ抽出・演算部６は、このデコードされたデータを基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力する。記録条件選択・設定手段７は、出力されたΔβと規定値Ｋ１とを比較し、Δβが規定値Ｋ１より大きいと、記録パルス列補正部１２およびレーザ駆動部１３を介し、光ピックアップ３の半導体レーザのパワーを大幅に補正し、ＷＳＴの補正は行わず、書き込み再開に移行する。Δβが規定値Ｋ１より小さいと、半導体レーザのパワーを僅かに補正し、Ｄ２Ｃジッターの判定に移行する。
【００２３】
次にパラメータ抽出・演算部６は、デコードされたデータを基に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、記録条件選択・設定手段７は、出力されたＤ２Ｃジッターと規定値Ｋ２とを比較し、Ｄ２Ｃジッターが規定値Ｋ２より小さいと、ＷＳＴおよび記録速度の補正は行わず、書き込み再開に移行する。Ｄ２Ｃジッターが規定値Ｋ２より大きいと、要素ジッターの判定に移行する。
【００２４】
パラメータ抽出・演算部６が、要素ジッターを算出して出力すると、記録条件選択・設定手段７は、出力された要素ジッターと規定値Ｋ３とを比較し、要素ジッターが規定値Ｋ３より大きいと、ＷＳＴの補正は行わず、スピンドルドライバ１４を介してスピンモータ２を制御し、ＣＡＶ方式をＣＬＶ方式（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）に変更して、書き込み再開に移行する。要素ジッターが規定値Ｋ３より小さいと、ＡＷＳによりＷＳＴの補正を行い、引き続きＣＡＶ記録で書き込み再開に移行する。
【００２５】
以上説明した一連の選択・設定操作が、初期記録速度および最終記録速度を含む複数の所定の記録速度時点において各所定の記録速度における記録を一時中断して行われ、記録が再開されるため、ＷＳＴの設定が行なわれていても設定が不完全であるか、熱干渉歪みの影響により記録品位が悪化したのかを区別することで、どんなディスクに対しても所望の記録品位を得ることができる。
【００２６】
この場合の要素ジッターは、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるコンポーネントジッターまたはこの平均値であっても良く、３ＴＭ−３ＴＳおよび３ＴＳ−３ＴＭにおけるユニットデビエーションまたはこの平均値であっても良く、または総エレメントデビエーションであっても良い。また、要素ジッターが規定値Ｋ３を超えた場合、記録条件の選択・設定として、速度を落として線速度固定記録に移行することのほかに、ターゲットβをマイナス側に変更して記録パワーを下げても良く、ライトストラテジの（ｎ−ｋ）Ｔのｋを大きくしたライトストラテジに変更しても良い。さらに、要素ジッターは、一つ前に測定した要素ジッター値の定数倍の値と比較されても良い。
【００２７】
次に段落［００２７］において説明した速度方式とその変更について説明する。図２は、記録速度がＣＡＶ方式からＣＬＶ方式に切り替えられたときの記録速度を示す速度方式変更図である。図２において、ＣＡＶ方式により記録速度Ｘ６で書き込み速度が開始され、記録速度Ｘ１０のときＣＡＶ方式からＣＬＶ方式に切り替えられ、記録速度は線形増加から一定の速度に変化している。
【００２８】
読み出し動作の場合、制御部６は、光ピックアップ３を書き込みエリア内の記録トラックに移動して、情報の再生を行う。光ピックアップ３により読み出された信号は、ヘッドアンプ４を介してデータデコーダ５に入力される。データデコーダ５は、この入力信号を元の入力データにデコードし、入出力部１５へ出力する。入出力部１５は、制御部８に制御されて、この入力されたデータを外部のコンピュータ等へ出力する。
【００２９】
次にジッターについて説明する。図３は、各ジッターについて示したジッター構成図である。一般にジッターは、データとクロックとのＤ２Ｃジッター（Ｄａｔａ  ｔｏ  Ｃｌｏｃｋ  Ｊｉｔｔｅｒ）を示し、各マークの前後のエッジとクロックエッジとの差を集め、その分布の標準偏差（１σ）で示される。図３ａにおいて、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔマーク・・・とクロックとの間で発生する時間差Ｄｅｖ１〜Ｄｅｖ７・・・が示されている。図３ｂにおいて、Ｄ２Ｃジッターは、３Ｔマークの前エッジのジッター、後エッジのジッター、４Ｔマークの前エッジのジッター、後エッジのジッター、５Ｔマークの前エッジのジッター、後エッジのジッター・・・のような要素ジッターの合成として表されている。
【００３０】
Ｄ２Ｃジッターが悪化する場合は、要素ジッターの大きさが変化しない状態でその中心値がバラツク場合、中心値は変化せずに要素ジッター自体が悪化する場合、およびこの両方が合わさる場合がある。図４は、要素ジッターによるＤ２Ｃジッターの悪化を示すジッター特性図である。図４ａは、要素ジッターの大きさが変化しない状態でその中心値がバラツク場合を示し、図４ｂは、中心値は変化せずに要素ジッター自体が悪化する場合を示している。
【００３１】
一般に図４ａの場合は、マーク前後のエッジ位置を調整するような通常のＷＳＴの補正によりジッターの改善が可能であるが、図４ｂの場合は困難である。特に記録速度が大きくなってジッターが悪化する場合には、図４ｂの場合が多く、記録速度を落とすか、またはターゲットβを変更するなどの対応が必要となる。このため、段落［００２７］における記録条件選択・設定手段７は、パラメータ抽出・演算部６が算出した要素ジッターと規定値Ｋ３とを比較し、要素ジッターが規定値Ｋ３より大きいと、ＷＳＴの補正は行わず、ＣＡＶをＣＬＶに変更している。
【００３２】
次に、要素ジッターを具体的に示すコンポーネントジッター、ユニットデビエーション、および総エレメントデビエーションについて説明する。段落［００２７］において説明した要素ジッターとしてこれらを使い分けることにより、より高い記録品位を得ることが可能となる。図５は、コンポーネントジッターを示すジッター構成図である。図５ａに示される３３ＳＭコンポーネントジッターは、図５ｂにおいて、着目する３Ｔスペースと３Ｔマークとに挟まれたエッジと、クロックエッジとの偏差Ｘ３３のジッターを示している。コンポーネントジッターの計算式は図５ｃで表され、各パターンのエッジについて計算し、それぞれのコンポーネントジッターを求めることができる。
【００３３】
図６は、ユニットデビエーションを示すジッター構成図である。図６ａに示される３３ＳＭユニットデビエーションは、図６ｂにおいて、着目するエッジの両側を３Ｔスペースと３Ｔマークに固定して、更にその先の前後４種類のマーク、スペースの組み合わせによる分布の平均値が、着目するジッターに寄与する成分となっている。ユニットデビエーションの計算式は図６ｃで表され、各パターンについて計算し、それぞれのユニットデビエーションを求めることができる。
【００３４】
図７は、総エレメントデビエーションを示すジッター構成図である。図７ａに示される総エレメントデビエーションは、図７ｂにおいて、全てのエッジについて、その前後４種類のマーク、スペースの組み合わせにおける要素成分の平均値のバラツキを示す成分となっている。総エレメントデビエーションの計算式は図７ｃで表される。
【００３５】
図８は、本発明の光ディスク装置の記録方法示すフローチャートである。図８において、光ディスク装置１００の制御部８は、初期記録速度時点において記録中断制御信号１０を介して書き込みを一時中断し、ＷＳＴの補正を開始する（ステップ１００）。制御部８は、光ピックアップ３を一時中断直前に記録された箇所から記録データの読み出しを行わせ、読み出された信号は、ヘッドアンプ４を介してデータデコーダ５に入力され、データデコーダ５は、これを元の入力データにデコードし、パラメータ抽出・演算部６へ出力し、パラメータ抽出・演算部６は、このデータを基に、ターゲットβに対する差分Δβを算出して出力する（ステップ１１０）。
【００３６】
記録条件選択・設定手段７は、出力されたΔβと規定値Ｋ１とを比較し、Δβが規定値Ｋ１より大きいと、記録パルス列補正部１２およびレーザ駆動部１３を介し、光ピックアップ３の半導体レーザのパワーを大幅に補正し、ＷＳＴの補正は行わず、書き込み再開に移行する（ステップ１３０、ステップ１４０）。Δβが規定値Ｋ１より小さいと、半導体レーザのパワーを僅かに補正し、Ｄ２Ｃジッターの判定に移行する（ステップ１５０）。
【００３７】
パラメータ抽出・演算部６は、デコードされたデータを基に、Ｄ２Ｃジッターを算出して出力し、記録条件選択・設定手段７は、出力されたＤ２Ｃジッターと規定値Ｋ２とを比較し、Ｄ２Ｃジッターが規定値Ｋ２より小さいと、ＷＳＴおよび記録速度の補正は行わず、書き込み再開に移行する（ステップ１６０、ステップ２１０）。Ｄ２Ｃジッターが規定値Ｋ２より大きいと、要素ジッターの判定に移行する（ステップ１６０、ステップ１７０）。
【００３８】
パラメータ抽出・演算部６が、要素ジッターを算出して出力すると、記録条件選択・設定手段７は、出力された要素ジッターと規定値Ｋ３とを比較し、要素ジッターが規定値Ｋ３より大きいと、ＷＳＴの補正は行わず、スピンドルドライバ１４を介してスピンモータ２を制御し、ＣＡＶをＣＬＶに変更して、書き込み再開に移行する（ステップ１７０、ステップ１８０、ステップ１９０）。要素ジッターが規定値Ｋ３より小さいと、ＡＷＳによりＷＳＴの補正を行い、引き続き記録速度ＣＡＶで書き込み再開に移行する（ステップ１７０、ステップ２００、ステップ２１０、ステップ２２０）。以上の各ステップを、ステップ１４０、ステップ１９０およびステップ２２０において、初期乃至最終記録速度内の複数の所定の記録速度時点および最終記録速度時点もしくは記録開始後所定のセクタ記録後時点において繰り返すことにより、熱干渉歪みの影響を受けやすいＤＶＤディスク等に対しても、所望の記録品位を得ることができる。
【００３９】
以上説明したように、記録を一時中断して抽出したジッターを基に、記録速度の変更等の記録条件選択・設定が可能となるため、ＷＳＴの設定が行なわれていても設定が不完全な場合と、熱干渉歪みの影響により記録品位が悪化した場合とを区別することにより、どんなＤＶＤディスク等に対しても、所望の記録品位を得ることができる光ディスク装置及びその記録方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明による光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】ＣＡＶからＣＬＶに切り替えられたときの記録速度を示す速度方式変更図。
【図３】各ジッターについて示したジッター構成図。
【図４】要素ジッターによるＤ２Ｃジッターの悪化を示すジッター特性図。
【図５】コンポーネントジッターを示すジッター構成図。
【図６】ユニットデビエーションを示すジッター構成図。
【図７】総エレメントデビエーションを示すジッター構成図。
【図８】本発明の光ディスク装置の記録方法示すフローチャート。
【図９】ディスクの半径と線速度の関係を示す線速度図。
【図１０】ターゲットβに対するＤ２ＣジッターおよびＰＩエラーの関係を示す図。
【図１１】ＷＳＴを補正して書き込みの最適化を図る手法を示す最適化プロセス図。
【図１２】ターゲットβに対するＤ２ＣジッターおよびＰＩエラーの関係を示す図。
【符号の説明】
【００４１】
１    光ディスク
２    スピンドルモータ
３    光ピックアップ
４    ヘッドアンプ
５    データデコーダ
６    パラメータ抽出・演算部
７    記録条件選択・設定部
８    制御部
９    記憶部
１０    記録中断制御信号
１１    データエンコーダ
１２    記録パルス列補正部
１３    レーザ駆動部
１４    スピンドルドライバ
１５    入出力部
【図１】
2010027176.tif 000003
【図２】
2010027176.tif 000004
【図３】
2010027176.tif 000005
【図４】
2010027176.tif 000006
【図５】
2010027176.tif 000007
【図６】
2010027176.tif 000008
【図７】
2010027176.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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