(57)【要約】【課題】垂直磁気記録媒体の磁気特性を適正に測定することができる磁気特性測定装置および磁気特性測定方法を提供する。【解決手段】磁気特性測定装置Ａは、磁気ディスクＢの測定部位に垂直磁界を作用させる電磁石１と、電磁石１に所定の可変範囲で直流駆動電流を供給する可変定電流供給手段２と、磁気ディスクＢからの漏洩磁界を読み取る磁気読み取り手段３と、測定部位を磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置から磁気読み取り手段３と対向する位置へと繰り返し移動させる測定部位移動手段６，７と、測定部位移動手段６，７によって所定の移動動作が行われるごとに可変定電流供給手段２を介して直流駆動電流を可変制御する電流可変制御手段８と、測定部位移動手段６，７によって所定の移動動作が行われるごとに磁気読み取り手段３から出力される信号を取得し、その信号波形を解析する信号波形解析手段１０とを備えている。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定するための磁気特性測定装置であって、
上記垂直磁気記録媒体の表面における所定の測定部位に磁極を介して垂直磁界を作用させる電磁石と、
上記電磁石に所定の可変範囲で直流駆動電流を供給する可変定電流供給手段と、
上記垂直磁気記録媒体の表面に対向配置させられ、その表面からの漏洩磁界を読み取る磁気読み取り手段と、
上記測定部位を上記磁極と対向する位置から上記磁気読み取り手段と対向する位置へと繰り返し移動させる測定部位移動手段と、
上記測定部位移動手段によって所定の移動動作が行われるごとに上記可変定電流供給手段を介して上記直流駆動電流を可変制御する電流可変制御手段と、
上記測定部位移動手段によって所定の移動動作が行われるごとに上記磁気読み取り手段から出力される信号を取得し、その信号波形を解析する信号波形解析手段と、
を備えていることを特徴とする、磁気特性測定装置。
【請求項２】
上記垂直磁気記録媒体としては、円盤状の磁気ディスクが適用され、上記測定部位移動手段には、上記磁気ディスクを回転させる回転モータが含まれる、請求項１に記載の磁気特性測定装置。
【請求項３】
上記磁気読み取り手段は、上記磁気ディスクの径方向に往復移動可能な磁気ヘッドに搭載されており、上記測定部位移動手段には、上記磁気ディスクの径方向に上記磁気ヘッドを往復移動させる磁気ヘッド移動機構が含まれる、請求項２に記載の磁気特性測定装置。
【請求項４】
上記磁気ヘッドには、上記磁気ディスクに対して記録磁界を作用させる磁気記録手段が搭載されており、上記信号波形解析手段は、上記電磁石の垂直磁界に応じて得られた信号波形と上記磁気記録手段の記録磁界に応じて得られた信号波形とを比較する機能を有する、請求項３に記載の磁気特性測定装置。
【請求項５】
垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定するための磁気特性測定方法であって、
上記垂直磁気記録媒体の表面における所定の測定部位に電磁石の磁極を介して垂直磁界を作用させるとともに、上記垂直磁気記録媒体の表面からの漏洩磁界を読み取るようにその表面に対して磁気読み取り手段を対向配置し、
上記測定部位を上記磁極と対向する位置から上記磁気読み取り手段と対向する位置へと繰り返し移動させ、その一連の移動動作が行われるごとに上記電磁石に供給する直流駆動電流を可変制御するとともに、上記磁気読み取り手段から出力される信号を取得し、その信号波形を解析することを特徴とする、磁気特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定するための磁気特性測定装置および磁気特性測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁性部材の磁気特性を測定する技術としては、特許文献１に開示されたものがある。同文献に開示された技術では、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：通称ＶＳＭ）を用いて磁性材料を含む圧延材の磁気特性を測定している。この振動試料型磁力計は、電磁石により発生させた磁界中に小型の試料を配置するとともに、その試料を一定の振幅および周波数で振動させ、その試料の磁化の大きさを検出コイルに誘起する磁気誘導電圧として取り込むことにより、比較的小さい試料の磁気特性を測定するものである。
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−２８６１１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来の振動試料型磁力計を用いた磁気特性測定方法では、磁性材料が全体にわたって均一に含有する試料には対応するものの、非磁性領域内に磁性部分が離散状に形成されたような垂直磁気記録媒体には対応することができない難点があった。たとえば垂直磁気記録媒体には、いわゆるパターンドメディアと称される磁気ディスクのように、最小記録単位となる磁性ドットが数十ｎｍ程度の大きさで非磁性領域内に多数形成されたものがある。このような磁気ディスクについては、極めて小さい磁性ドットに正確に目標を定めてその磁気特性を測定することができない。そのため、パターンドメディアといった磁気ディスクの開発に伴い、振動試料型磁力計に代わる磁気特性測定装置の実現が重要とされていた。
【０００５】
本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、垂直磁気記録媒体の磁気特性を適正に測定することができる磁気特性測定装置および磁気特性測定方法を提供することをその課題としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本発明では、次の技術的手段を講じている。
【０００７】
本発明の第１の側面によれば、垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定するための磁気特性測定装置であって、上記垂直磁気記録媒体の表面における所定の測定部位に磁極を介して垂直磁界を作用させる電磁石と、上記電磁石に所定の可変範囲で直流駆動電流を供給する可変定電流供給手段と、上記垂直磁気記録媒体の表面に対向配置させられ、その表面からの漏洩磁界を読み取る磁気読み取り手段と、上記測定部位を上記磁極と対向する位置から上記磁気読み取り手段と対向する位置へと繰り返し移動させる測定部位移動手段と、上記測定部位移動手段によって所定の移動動作が行われるごとに上記可変定電流供給手段を介して上記直流駆動電流を可変制御する電流可変制御手段と、上記測定部位移動手段によって所定の移動動作が行われるごとに上記磁気読み取り手段から出力される信号を取得し、その信号波形を解析する信号波形解析手段と、を備えた磁気特性測定装置が提供される。
【０００８】
本発明の第２の側面によれば、垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定するための磁気特性測定方法であって、上記垂直磁気記録媒体の表面における所定の測定部位に電磁石の磁極を介して垂直磁界を作用させるとともに、上記垂直磁気記録媒体の表面からの漏洩磁界を読み取るようにその表面に対して磁気読み取り手段を対向配置し、上記測定部位を上記磁極と対向する位置から上記磁気読み取り手段と対向する位置へと繰り返し移動させ、その一連の移動動作が行われるごとに上記電磁石に供給する直流駆動電流を可変制御するとともに、上記磁気読み取り手段から出力される信号を取得し、その信号波形を解析するといった磁気特性測定方法が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により開示された技術によれば、たとえばパターンドメディアといった垂直磁気記録媒体の磁気特性を測定する場合、所定の測定部位に電磁石によって垂直磁界を作用させた後、その測定部位からの漏洩磁界として残留磁気を読み取る。このような一連の動作が行われるごとに電磁石は、垂直磁気記録媒体に対する垂直磁界の大きさを変化させられ、それに伴い残留磁気を読み取って得られる信号波形も変化する。これにより、垂直磁界の大きさに応じて複数の信号波形が得られ、色々なパターンの信号波形を解析して磁気特性を求めることができるので、垂直磁気記録媒体の磁気特性を適正に測定することができる。
【００１０】
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の好ましい実施の形態を、図面を参照して具体的に説明する。
【００１２】
図１〜９は、本発明に係る磁気特性測定装置の一実施形態を示している。本実施形態の磁気特性測定装置Ａは、垂直磁気記録媒体として円盤状の磁気ディスクＢの磁気特性を測定するためのものである。この種の磁気ディスクＢの代表例としては、図２の（Ａ）に示すようなディスクリートトラックメディアＢ１と、同図の（Ｂ）に示すようなパターンドメディアＢ２がある。ディスクリートトラックメディアＢ１は、基板１００上に裏打ち軟磁性層１１０を形成するとともに、さらに裏打ち軟磁性層１１０上に非磁性領域１２０Ａと磁気記録部となる磁性領域１２０Ｂとを形成し、この磁性領域１２０Ｂをディスク周方向に沿って細長い帯状としたものである。パターンドメディアＢ２は、裏打ち軟磁性層１１０上の非磁性領域１２０Ａ内に磁気記録部が点在するように磁性領域１２０Ｂをドット状に配置したものである。
【００１３】
図１に示すように、磁気特性測定装置Ａは、電磁石１、可変定電流供給回路２、磁気ヘッド３、スイングアーム４、スイング用モータ５、回転モータ６、測定部位移動制御部７、電流可変制御部８、記録制御部９、および信号波形解析部１０を備えている。電磁石１、可変定電流供給回路２、磁気ヘッド３、スイングアーム４、スイング用モータ５、および回転モータ６は、磁気ディスクＢを収容する本体ユニット（図示略）に内蔵されており、測定部位移動制御部７、電流可変制御部８、記録制御部９、および信号波形解析部１０は、たとえば本体ユニットに接続されるコンピュータによって実現される。
【００１４】
電磁石１は、Ｕ字型の磁性体１０にコイル１１を巻き、一対の磁極１Ａ，１Ｂを互いに対峙させたものである。コイル１１の両端部は、可変定電流供給回路２に接続されている。一対の磁極１Ａ，１Ｂの間には、測定対象となる磁気ディスクＢが配置される。この磁気ディスクＢの表面と磁極１Ａ，１Ｂとの隙間は、たとえば０．１ｍｍ以下に設定されている。コイル１１に電流が供給されると、磁極１Ａ，１Ｂ間には、その電流の大きさに応じた磁界が生じ、この磁界が垂直磁界として磁気ディスクＢに作用する。コイルに流れる電流の向きを変化させると、磁気ディスクＢに対する垂直磁界の向きも変化する。
【００１５】
たとえば図３に示すようなパターンドメディアＢ２を測定対象とした場合、電磁石１の垂直磁界は、ディスク周方向およびディスク径方向にドット状の磁性領域１２０Ｂが所定個数並ぶ一定の測定区画Ｃに作用する。同図には、磁性領域１２０Ｂの磁化方向を白抜きおよび黒塗りで示している。各磁性領域１２０Ｂの磁化方向が全て同一方向に揃えられた測定区画Ｃに電磁石１の垂直磁界を作用させ、この垂直磁界の大きさを次第に大きくしていくと、それに応じて磁化方向が反転した磁性領域１２０Ｂの個数も次第に多くなる。垂直磁界の大きさが所定のレベルを超えると、測定区画Ｃに含まれる全ての磁性領域１２０Ｂにおける磁化方向が反転する。
【００１６】
可変定電流供給回路２は、電磁石１のコイル１１に対して所定の可変範囲で直流駆動電流を供給するものである。この可変定電流供給回路２は、磁気ディスクＢの所定の測定部位に対して電磁石１により垂直磁界を作用させる際には、直流駆動電流を所定の電流値に保った状態で供給する。その一方、可変定電流供給回路２は、一連の測定動作ごとに直流駆動電流の電流値を変化させたり、その電流の向きを変化させることができる。
【００１７】
磁気ヘッド３は、スイングアーム４の先端に図示しないスライダを介して設けられており、磁気ディスクＢの表面に対向配置させられている。スライダは、微小な浮上量で磁気ヘッド３を高速回転する磁気ディスクＢの表面上に浮上させるためのものである。磁気ヘッド３は、スイングアーム４の揺動動作に応じて磁気ディスクＢの略径方向に往復移動させられる。この磁気ヘッド３には、図示しない読み取り素子と記録素子が搭載されている。読み取り素子は、磁気ディスクＢの表面からの漏洩磁界を読み取る磁気読み取り手段として設けられている。記録素子は、磁気ディスクＢに対して記録磁界を作用させる磁気記録手段として設けられている。読み取り素子は、信号波形解析部１０に接続されており、記録素子は、記録制御部９に接続されている。
【００１８】
たとえば図４に示すようなパターンドメディアＢ２を測定対象として磁気ヘッド３のディスク径方向位置を固定した場合、記録素子による記録磁界は、たとえばディスク周方向に沿ってドット状の磁性領域１２０Ｂが列状に並ぶ複数列のうち、磁気ヘッド３に対向する所定の測定列Ｄに作用する。磁気ヘッド３をディスク径方向に移動させることにより、複数の測定列Ｄに記録磁界を作用させることができる。同図には、磁性領域１２０Ｂの磁化方向を白抜きおよび黒塗りで示している。磁性領域１２０Ｂの磁化方向が全て同一方向に揃えられた所定の測定列Ｄに記録磁界を作用させ、この記録磁界の大きさを次第に大きくしていくと、その測定列Ｄにおいて磁化方向が反転した磁性領域１２０Ｂの個数も次第に多くなる。記録磁界の大きさが所定のレベルを超えると、測定列に含まれる全ての磁性領域１２０Ｂにおける磁化方向が反転する。ただし、図３および図４に示すように電磁石１による垂直磁界と同じ大きさの記録磁界を所定の測定列Ｄに作用させても、隣接する磁性領域１２０Ｂの磁気的な影響から磁化方向が反転しない磁性領域１２０Ｂもあり、測定結果としては異なることもある。
【００１９】
スイングアーム４は、その先端部にスライダや磁気ヘッド３を有し、基端部を中心として先端部を磁気ディスクＢの略径方向に往復移動させるように揺動する。
【００２０】
スイング用モータ５は、たとえばボイスコイルモータからなり、測定部位移動制御部７からの指令に応じて磁気ディスクＢの径方向所定位置に磁気ヘッド３を移動させるようにスイングアーム４を揺動させる。
【００２１】
回転モータ６は、たとえばスピンドルモータからなり、測定部位移動制御部７からの指令に応じて磁気ディスクＢの測定部位を磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置や磁気ヘッド３と対向する位置へと移動させるように磁気ディスクＢを高速回転させる。
【００２２】
測定部位移動制御部７は、スイング用モータ５を介して磁気ディスクＢの径方向所定位置に磁気ヘッド３を移動させる一方、回転モータ６を介して磁気ディスクＢを高速回転させることにより、その磁気ディスクＢの測定部位を磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置から磁気ヘッド３と対向する位置へと繰り返し移動させる。このような測定部位移動制御部７の制御動作は、図示しないクロック生成回路から一定の周波数で出力されるクロック信号や、磁気ディスクＢに形成されたプリアンブル部や位相サーボ部から磁気ヘッド３の読み取り素子を介して得られる磁気読み取り信号に基づき、磁気ディスクＢの径方向および周方向における各磁性領域１２０Ｂの位置を認識することで行われる。
【００２３】
電流可変制御部８は、測定部位移動制御部７によって所定の移動動作が行われるごとに可変定電流供給回路２を介して電磁石１のコイル１１に供給される直流駆動電流の電流値や電流の向きを可変制御する。
【００２４】
記録制御部９は、磁気ヘッド３の記録素子に所定の大きさの記録磁界を発生させるよう制御する。この記録制御部９には、磁気ディスクＢに対する記録磁界が変化させられるように記録素子に対する駆動電流を変化させる機能が設けられている。この駆動電流は、記録制御部９により直流として可変制御されるほか、交流としても可変制御される。
【００２５】
信号波形解析部１０は、磁気ディスクＢの表面からの残留磁界に応じて磁気ヘッド３の読み取り素子から出力される磁気読み取り信号を高速フーリエ変換して取得し、その信号波形を解析する。
【００２６】
たとえば図５に示すように、測定対象としてパターンドメディアＢ２を用い、電磁石１による垂直磁界の強さを−２０ｋＯｅとしてパターンドメディアＢ２を初期化する。その後、パターンドメディアＢ２のプリアンブル部や位相サーボ部を測定部位とし、これらの測定部位が磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置にくるごとに、垂直磁界を所定の変化割合で０ｋＯｅから＋１５ｋＯｅ、＋１５ｋＯｅから０ｋＯｅ、０ｋＯｅから−１５ｋＯｅ、−１５ｋＯｅから０ｋＯｅへと順次変化させる。こうして垂直磁界が作用したプリアンブル部や位相サーボ部については、磁気ヘッド３の読み取り素子によって残留磁界が読み取られる。これにより、同図に一例として示すような磁気読み取り信号が得られる。信号波形解析部１０は、磁気読み取り信号から残留磁界の強さを正規化することにより、垂直磁界（Ｈ）の強さに応じて飽和磁化（Ｍｓ）の変化傾向を示す磁化曲線を生成する。このような磁化曲線は、プリアンブル部や位相サーボ部の磁気特性を示す解析結果として得られ、図示しないコンピュータの表示装置あるいは印刷装置から出力される。
【００２７】
一方、図６に示す例では、パターンドメディアＢ２の磁気記録部を測定部位とし、垂直磁界の強さを＋２０ｋＯｅで初期化した後、上記と同様のパターンで垂直磁界を変化させることにより、同図に示すような磁気読み取り信号を得ている。この磁気読み取り信号については、その信号波形の極大値をとる箇所および極小値をとる箇所のそれぞれが黒いドットマークと白いドットマークによって示される。これらのドットマークの位置は、磁気記録部における各磁性領域１２０Ｂの位置として認識される。信号波形解析部１０は、たとえば黒いドットマークから白いドットマークに変化することで磁化方向が反転したとされる磁性領域１２０Ｂの数を計数する。これにより、垂直磁界（Ｈ）の強さに応じて磁化方向反転数の変化傾向を示す曲線が生成され、この曲線が磁化曲線と等価なものとして得られる。このような磁化曲線と等価な曲線も磁気記録部の磁気特性を示す解析結果となり、図示しないコンピュータの表示装置あるいは印刷装置から出力される。
【００２８】
次に、図７および図８を参照して磁気特性測定装置Ａの動作手順について説明する。なお、以下の説明における測定対象としては、一例としてパターンドメディアＢ２を適用する。
【００２９】
まず図７に示すように、測定部位移動制御部７は、パターンドメディアＢ２を回転させるとともに磁気ヘッド３をディスク径方向に移動させ、その際、信号波形解析部１０を介して得られる磁気読み取り信号をクロック信号に基づいて所定の信号処理を行うことにより、プリアンブル部および位相サーボ部ならびに磁気記録部を測定部位として認識する。その後、測定部位移動制御部７は、測定部位の移動と垂直磁界の変化のさせ方とを関連づけた第１測定ルーチンを作成する（Ｓ１）。この第１測定ルーチンによれば、たとえばディスク径方向の所定位置に磁気ヘッド３を位置させ、その位置に対応するディスク周方向の１または複数の測定部位に対し、垂直磁界の作用、漏洩磁界の読み取り、垂直磁界を変化させて作用、再び漏洩磁界の読み取り、といった一連の測定動作が繰り返し実行される。このような第１測定ルーチンには、ディスク径方向の異なる位置へと磁気ヘッド３を位置させてから同様に一連の測定動作を繰り返し実行するための制御手順も規定されている。このような第１測定ルーチンに基づき、パターンドメディアＢ２における微細な磁性領域１２０Ｂであっても、効率よくかつ高精度に磁気特性が測定される。
【００３０】
次に、測定部位移動制御部７は、第１測定ルーチンに基づいて認識した所定の測定部位を磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置へと移動させる（Ｓ２）。
【００３１】
所定の測定部位が電磁石１の磁極１Ａ，１Ｂと対向する位置にくると、電流可変制御部８は、第１測定ルーチンにより定められた所定の電流値を可変定電流供給回路２に指示する。これにより、磁極１Ａ，１Ｂ間には、第１測定ルーチンで定められた所定の大きさの垂直磁界が生じ、この垂直磁界が所定の測定部位に作用する（Ｓ３）。
【００３２】
垂直磁界が所定の測定部位に作用した後、測定部位移動制御部７は、その測定部位を第１測定ルーチンに基づいて磁気ヘッド３と対向する位置へと移動させる（Ｓ４）。
【００３３】
測定部位が磁気ヘッド３と対向する位置にくると、読み取り素子は、その測定部位からの漏洩磁界として残留磁気を読み取り、信号波形解析部１０は、読み取り素子から出力される磁気読み取り信号を取得する（Ｓ５）。
【００３４】
上記Ｓ２〜Ｓ５の一連の測定動作については、垂直磁界の大きさを一定レベルに保った状態で行われ、このような測定動作を同じ測定部位に対して垂直磁界を変化させることで所定回数実行するとともに、ディスク径方向に異なる位置の測定部位についても同様の測定動作を所定回数実行することにより、第１測定ルーチンが終了する。このような第１測定ルーチンが終了すると（Ｓ６：ＹＥＳ）、信号波形解析部１０は、所定の可変範囲で変化させられた垂直磁界に基づいて異なる測定部位ごとに取得された信号波形を解析する（Ｓ７）。信号波形としては、先述したように図５および図６に示すようなものが得られる。
【００３５】
Ｓ６において、第１測定ルーチンが終了していない場合（Ｓ６：ＮＯ）、電流可変制御部８は、第１測定ルーチンで定められた所定の電流値に変更する旨を可変定電流供給回路２に指示し、磁極１Ａ，１Ｂ間に生じる垂直磁界の大きさを第１測定ルーチンで定められた所定のレベルに変更する（Ｓ９）。その後、再びＳ２の処理に移行する。
【００３６】
全ての信号波形の解析が終わると、信号波形解析部１０は、電磁石１による垂直磁界に応じて得られた解析結果を図５および図６に示すような磁化曲線として求め、この磁化曲線を表示装置あるいは印刷装置に出力させる（Ｓ８）。これにより、電磁石１を用いた磁気特性測定処理が終わる。
【００３７】
その後、図８に示すように、磁気ヘッド３の記録素子を用いた磁気特性測定処理が行われる。すなわち、測定部位移動制御部７は、測定部位の移動と記録素子の記録磁界の変化のさせ方とを関連づけた第２測定ルーチンを作成する（Ｓ１１）。この第２測定ルーチンは、たとえば記録素子に対する駆動電流の可変範囲が異なる他は、上記第１測定ルーチンと同様の内容である。
【００３８】
次に、測定部位移動制御部７は、第２測定ルーチンに基づいて認識した所定の測定部位を磁気ヘッド３と対向する位置へと移動させる（Ｓ１２）。
【００３９】
所定の測定部位が磁気ヘッド３と対向する位置にくると、記録制御部９は、第２測定ルーチンにより定められた所定の大きさの駆動電流を磁気ヘッド３の記録素子に供給する。これにより、測定部位には、第２測定ルーチンで定められた所定の大きさの記録磁界が作用する（Ｓ１３）。
【００４０】
記録磁界が所定の測定部位に作用した後、その測定部位が第２測定ルーチンに基づいて磁気ヘッド３の読み取り素子と対向する位置へと移動させられる。その後、読み取り素子は、測定部位から記録された磁気を読み取り、信号波形解析部１０は、読み取り素子から出力される磁気読み取り信号を取得する（Ｓ１４）。
【００４１】
上記Ｓ１２〜Ｓ１４の一連の測定動作についても、記録磁界の大きさを一定レベルに保った状態で行われ、このような測定動作を同じ測定部位に対して記録磁界を変化させることで所定回数実行するとともに、ディスク径方向に異なる位置の測定部位についても同様の測定動作を所定回数実行することにより、第２測定ルーチンが終了する。このような第２測定ルーチンが終了すると（Ｓ１５：ＹＥＳ）、信号波形解析部１０は、所定の可変範囲で変化させられた記録磁界に基づいて異なる測定部位ごとに取得された信号波形を解析する（Ｓ１６）。
【００４２】
Ｓ１５において、第２測定ルーチンが終了していない場合（Ｓ１５：ＮＯ）、記録制御部９は、第２測定ルーチンで定められた所定の電流値に記録素子に対する駆動電流を変更し、この記録素子による記録磁界の大きさを第２測定ルーチンで定められた所定のレベルに変更する（Ｓ２０）。その後、再びＳ１２の処理に移行する。
【００４３】
全ての信号波形の解析が終わると、信号波形解析部１０は、記録素子による記録磁界に応じて得られた解析結果を先述した手順と同様の手順で磁化曲線として求め、この磁化曲線を表示装置あるいは印刷装置に出力させる（Ｓ１７）。
【００４４】
さらに信号波形解析部１０は、電磁石１による解析結果として得られた磁化曲線と記録素子による解析結果として得られた磁化曲線とを比較する（Ｓ１８）。なお、解析結果としては、たとえば図３および図４に示すような測定区画Ｃおよび測定列Ｄに対応した測定情報が得られるため、磁化曲線としても異なる傾向で比較される。信号波形解析部１０は、図９に示すように、記録素子に直流駆動電流を供給することでこの記録素子のＤＣ記録磁界に応じて得られた測定結果と、記録素子に交流駆動電流を供給することで記録素子のＡＣ記録磁界に応じて得られた測定結果とを比較し、ＤＣ記録磁界とＡＣ記録磁界との比較結果を測定情報として得ることができる。
【００４５】
その後、信号波形解析部１０は、比較結果としての各種の測定情報を表示装置あるいは印刷装置に出力させる（Ｓ１９）。これにより、電磁石１を用いた磁気特性測定処理に続いて記録素子を用いた磁気特性測定処理が終わる。
【００４６】
したがって、本実施形態の磁気特性測定装置Ａによれば、たとえばパターンドメディアＢ２といった磁気ディスクＢの磁気特性を測定する場合、所定の測定部位に電磁石１によって垂直磁界を作用させた後、その測定部位からの漏洩磁界として残留磁気を読み取る。さらに、磁気ヘッド３の記録素子を介して記録磁界を作用させ、測定部位から記録磁界による残留磁気も読み取ることができる。その結果、垂直磁界の大きさや記録磁界の大きさに応じて各種の信号波形が得られ、色々なパターンの信号波形を解析することで磁気特性として測定部位に応じた磁化曲線を求めることができるので、磁気ディスクＢの磁気特性を適正に測定することができる。
【００４７】
なお、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではない。
【００４８】
上記実施形態で示した構成は、あくまでも一例にすぎず、仕様に応じて適宜設計変更することが可能である。
【００４９】
たとえば磁気ヘッドには、読み取り素子のみを設け、電磁石を用いた磁気特性測定処理のみを行うようにしてもよい。
【００５０】
測定部位については、少なくとも一箇所を特定して測定することができればよいので、ディスク周方向およびディスク径方向のいずれか一方に沿う特定の位置を測定部位としてもよい。
【００５１】
測定対象となる媒体がディスク状のものではなく回転に適さない場合、電磁石や磁気ヘッドを測定部位に対して交互に移動させるようにしてもよい。
【００５２】
磁気ヘッドに設けられた記録素子によって磁気特性を測定する場合、所定の周波数で磁界の向きが反転するような交番磁界を記録素子に発生させ、それに応じて得られる信号波形を解析するようにしてもよい。磁気ヘッドを磁気ディスクの表面に接触させた状態で磁気特性を測定するようにしてもよい。
【００５３】
磁気特性測定処理としては、記録素子を用いた処理を先に実行し、その次に電磁石を用いた処理を実行するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明に係る磁気特性測定装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２】図１の磁気特性測定装置に適用可能な磁気ディスクを示す切り欠き斜視図である。
【図３】パターンメディアに対する電磁石の磁気的作用を説明するための説明図である。
【図４】パターンメディアに対する磁気ヘッドの磁気的作用を説明するための説明図である。
【図５】図１の磁気特性測定装置による測定結果の一例を説明するための説明図である。
【図６】図１の磁気特性測定装置による測定結果の一例を説明するための説明図である。
【図７】電磁石を主として用いた磁気特性測定処理を示すフローチャートである。
【図８】磁気ヘッドを用いた磁気特性測定処理を示すフローチャートである。
【図９】パターンメディアに対する磁気ヘッドの磁気的作用を説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００５５】
Ａ                磁気特性測定装置
Ｂ，Ｂ１，Ｂ２    磁気ディスク（垂直磁気記録媒体）
１                電磁石
１Ａ，１Ｂ        磁極
２                可変定電流供給回路（可変定電流供給手段）
３                磁気ヘッド（磁気読み取り手段、磁気記録手段）
４                スイングアーム（測定部位移動手段、磁気ヘッド移動機構）
５                スイング用モータ（測定部位移動手段、磁気ヘッド移動機構）
６                回転モータ（測定部位移動手段）
７                測定部位移動制御部（測定部位移動手段）
８                電流可変制御部（電流可変制御手段）
９                記録制御部
１０              信号波形解析部（信号波形解析手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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