(57)【要約】【課題】  テーブル上に定置する基準体の向きの精度に依存せず、更に斜めアタッチメントに対しても容易に対応できる。【解決手段】  テーブル上に球状タッチセンサ４ａを備えたタッチプローブ４を定置し、基準とする主軸に、径が既知の円筒形状の基準工具２を装着し、次の３工程の計測を実施して基準値を求め、次に補正しようとするアタッチメント主軸に基準工具２を装着して、同様に次の３工程の計測を実施して現在値を求め、求めた基準値と現在値との差分からアタッチメント主軸の補正値を求める。第１工程では基準工具２を軸線Ｍの方向に移動し、タッチプローブ４に当接させた座標を求め、第２工程では基準工具２を軸線Ｍ方向に直交する水平方向に移動し、タッチプローブ４の両側に当接させた座標を求め、第３工程では軸線Ｍ方向及び水平方向の両方向に直交する方向に移動して、タッチプローブ４に当接させた座標を求める。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
１或いは複数の主軸を持つ工作機械において、工作物を載置するためのテーブル上に球形状の接触子を先端に設けたタッチプローブを定置し、
基準とする主軸又はアタッチメント主軸に、径が既知の円筒形状又は先端球形状を成す基準工具を装着し、
前記基準工具を、自身の軸線方向に移動して前記接触子に当接させた時の座標値を求める軸線方向計測工程と、
前記基準工具を、自身の軸線方向に対して直交する第１方向に移動して前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める直交方向第１計測工程と、
前記基準工具を、前記軸線方向及び前記第１方向の両方向に直交する第２方向に移動して、前記接触子に当接させた時の座標値を求める直交方向第２計測工程と、
による３工程の計測を実施して互いに直交するＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準値を計測し、
次に、補正しようとする主軸又はアタッチメント主軸に前記基準工具を装着して、同様に上記３工程の計測を実施して前記Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の現在値を計測し、
前記基準値の値と補正しようとする前記主軸又はアタッチメント主軸の前記現在値との差分を求めて、前記主軸またはアタッチメント主軸の補正値とすることを特徴とする主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法。
【請求項２】
１或いは複数の主軸を持つ工作機械において、工作物を載置するためのテーブル上に球形状の接触子を先端に設けたタッチプローブを定置し、
基準とする主軸又はアタッチメント主軸に、先端に径が既知の球を有する基準工具を装着し、
前記基準工具を、水平方向に移動して前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める水平方向第１計測工程と、
前記基準工具を、前記水平方向に直交する他の水平方向に移動して、前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める水平方向第２計測工程と、
前記基準工具を、垂直方向に移動して前記接触子に当接させた時の座標値を求める垂直方向計測工程と、
による３工程の計測を実施してＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準値を計測し、
次に、補正しようとする主軸又はアタッチメント主軸に前記基準工具を装着して、同様に上記３工程の計測を実施してＸ・Ｙ・Ｚ軸の現在値とし、
前記基準値の値と補正しようとする前記主軸又はアタッチメント主軸の前記現在値との差分を求めて、前記主軸またはアタッチメント主軸の補正値とすることを特徴とする主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、 アタッチメントを有する多面加工マシニングセンタ等の工作機械において、基準主軸の原点に対するアタッチメント主軸等の偏差分を自動計測し、偏差分をアタッチメント補正値としてＮＣ装置に入力する主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数種類のアタッチメントを有し、１或いは複数の主軸を有する多面加工マシニングセンタでは、基準となるアタッチメントと付加され得る多種のアタッチメントとの主軸中心や主軸先端の差分或いは旋回中心との偏差分を、アタッチメント補正値としてアタッチメント毎に求めてＮＣ装置内に記憶し、この値で補正して実際の加工を行っている。
【０００３】
この従来の測定手順としては、まず立アタッチメント主軸を基準主軸として主軸頭に装着し、基準工具をこの立アタッチメントに装着する。また、ダイヤルゲージやミリメスを複数個テーブルに配置し、手動で基準主軸を計測の初期位置からダイヤルゲージ等に当接する位置まで移動させて位置の計測をし、その後アタッチメントを交換してその主軸に前述の基準工具を装着し、同様に計測の初期位置からダイヤルゲージ等に当接する位置まで移動させて位置の計測を行い、両者の測定値から差分を求めて補正値としている。そのため、この手順を手動で行おうとすると時間を要するため、本出願人は特許文献１に示す補正値の自動計測方法を提案した。
【０００４】
特許文献１では、工作物を載置するテーブル上にブロック形状のタッチセンサを定置すると共に、基準主軸に基準工具を装着し、タッチセンサの上面及び周囲４側面に基準工具を当接させてＸ・Ｙ・Ｚ各軸の現在値を計測して原点とし、次にアタッチメント主軸に対しても基準工具を装着して同様にＸ・Ｙ・Ｚ各軸の現在値を計測し、両者の計測値の差から基準主軸とアタッチメント主軸の３軸の偏差分を求め、補正値を自動決定した。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第３６４８０５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上記特許文献１の補正値の自動計測方法は、テーブル上に定置するタッチセンサ等の基準体を、その先端に設けたブロック面が、Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の各軸に対して平行になるように正確に取り付ける必要があり、作業に時間を要し面倒であった。また、斜め角度の主軸を備えたアンギュラアタッチメント（斜めアタッチメント）には対応できなかった。
そこで、本発明はこのような問題点に鑑み、テーブル上に定置する基準体の向きに精度が要求されず、更に斜めアタッチメントに対しても対応でき、簡易な操作で測定できる主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決する為に、請求項１の主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法は、１或いは複数の主軸を持つ工作機械において、工作物を載置するためのテーブル上に球形状の接触子を先端に設けたタッチプローブを定置し、基準とする主軸又はアタッチメント主軸に、径が既知の円筒形状又は先端球形状を成す基準工具を装着し、前記基準工具を、自身の軸線方向に移動して前記接触子に当接させた時の座標値を求める軸線方向計測工程と、前記基準工具を、自身の軸線方向に対して直交する第１方向に移動して前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める直交方向第１計測工程と、前記基準工具を、前記軸線方向及び前記第１方向の両方向に直交する第２方向に移動して、前記接触子に当接させた時の座標値を求める直交方向第２計測工程と、による３工程の計測を実施して互いに直交するＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準値を計測し、次に、補正しようとする主軸又はアタッチメント主軸に前記基準工具を装着して、同様に上記３工程の計測を実施して前記Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の現在値を計測し、前記基準値の値と補正しようとする前記主軸又はアタッチメント主軸の前記現在値との差分を求めて、前記主軸またはアタッチメント主軸の補正値とすることを特徴とする。
この方法によれば、テーブル上には球形状の接触子を有するタッチプローブが基準体として配置されるので、基準体の配置にＸ・Ｙ・Ｚ軸等の方向性がなく、基準体の設置に時間を要さない。また、球形状であるため任意の方向からの座標測定に対して対応でき、斜め方向からの測定であっても誤差無く測定することが可能であり、斜めアタッチメントに対しても対応できる。従って、簡易な操作で補正値を求めることができ、主軸又はアタッチメント主軸の補正値を短時間に測定できる。
【０００８】
請求項２の主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法は、１或いは複数の主軸を持つ工作機械において、工作物を載置するためのテーブル上に球形状の接触子を先端に設けたタッチプローブを定置し、基準とする主軸又はアタッチメント主軸に、先端に径が既知の球を有する基準工具を装着し、前記基準工具を、水平方向に移動して前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める水平方向第１計測工程と、前記基準工具を、前記水平方向に直交する他の水平方向に移動して、前記接触子の両側に当接させた時の座標値を求める水平方向第２計測工程と、前記基準工具を、垂直方向に移動して前記接触子に当接させた時の座標値を求める垂直方向計測工程と、による３工程の計測を実施してＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準値を計測し、次に、補正しようとする主軸又はアタッチメント主軸に前記基準工具を装着して、同様に上記３工程の計測を実施してＸ・Ｙ・Ｚ軸の現在値とし、前記基準値の値と補正しようとする前記主軸又はアタッチメント主軸の前記現在値との差分を求めて、前記主軸またはアタッチメント主軸の補正値とすることを特徴とする。
この方法によれば、テーブル上には球形状の接触子を有するタッチプローブが基準体として配置されるので、基準体の配置にＸ・Ｙ・Ｚ軸等の方向性がなく、設置に時間を要さない。また、球形状であるため任意の方向からの座標測定に対して対応でき、斜め方向からの測定であっても誤差無く測定でき、斜めアタッチメントに対しても容易に対応できる。従って、簡易な操作で補正値を求めることができ、主軸或いはアタッチメント主軸の補正値を短時間に測定できる。
また、基準工具も球形状であるため、斜めアタッチメント主軸の座標も誤差が発生することなく測定でき、基準工具の軸線方向を基準としてＸ・Ｙ・Ｚの３軸を決定する必要がない。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、テーブル上には球形状の接触子を有するタッチプローブが基準体として配置されるので、基準体の配置にＸ・Ｙ・Ｚ軸等の方向性がなく、設置に時間を要さない。また、球形状であるため任意の方向からの座標測定に対して対応でき、斜め方向からの測定であっても誤差無く測定でき、斜めアタッチメントに対しても対応できる。従って、簡易な操作で補正値を求めることができ、主軸或いはアタッチメント主軸の補正値を短時間に自動測定できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法を実施する説明図であり、アタッチメント主軸に基準工具を取り付け、テーブルにタッチプローブを配置した様子を示している。
【図２】基準工具が円筒形状で、立アタッチメントに基準工具を装着した場合の説明図であり、（ａ）は軸線方向であるＺ軸方向の計測工程、（ｂ）はＸ方向の計測工程、（ｃ）はＹ方向の計測工程を示している。
【図３】基準工具が円筒形状で、横形アタッチメントに基準工具を装着した場合の説明図であり、（ａ）は軸線方向であるＹ軸方向の計測工程、（ｂ）はＸ軸の計測工程、（ｃ）はＺ軸の計測工程を示している。
【図４】基準工具が円筒形状で、斜めアタッチメントに基準工具を装着した場合の説明図であり、（ａ）はＸ軸の計測工程、（ｂ）は基準工具の軸線に直交する方向の計測工程、（ｃ）は軸線方向の計測工程を示している。
【図５】基準工具が球形状の場合の説明図であり、（ａ）はＸ軸方向の計測工程、（ｂ）はＹ軸方向の計測工程、（ｃ）はＺ軸方向の計測工程を示している。
【図６】補正値計測手順の流れを示すフローチャートであり、（ａ）は横形アタッチメント主軸補正の場合、（ｂ）は基準工具が球形状の場合のアタッチメント主軸補正を示している。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明を具体化した実施の形態を、図面に基づいて詳細に説明する。図１は、本発明に係る主軸又はアタッチメント主軸の補正値自動計測方法の一例を示す説明図であり、マシニングセンタの主軸頭（図示せず）に立アタッチメント１を装着し、基準工具２をこの立アタッチメント１の主軸（アタッチメント主軸）に取り付け、工作物を載置するテーブル３にタッチプローブ４を配置した状態を示している。立アタッチメント１の主軸を基準となる主軸とし、基準工具２を径が既知の円筒形としている。また、タッチプローブ４は、テーブル３の所定位置にねじ止め固定され、先端に球形状のタッチセンサ４ａを備えている。
【００１２】
このように基準工具２及びタッチプローブ４が取り付けられたら、図示しないＮＣ装置を操作して測定プログラムを読み込み、アタッチメント主軸の補正値自動測定が開始される。尚、ここでは、主軸頭に立アタッチメント１を装着した状態を基準とし、この主軸頭に他のアタッチメントを装着した場合の補正値を決定する方法を説明するが、主軸頭に直接基準工具を装着して測定座標を基準値としても良い。また、タッチプローブ４としては、レニショー社製の型番「ＴＳ２７Ｒ」など、市販のものを使用することができる。
【００１３】
図２〜図４は、主軸頭にアタッチメントを取り付け、このアタッチメント主軸に円筒形状の基準工具２を装着して座標測定を行う具体的形態を説明する模式図を示し、この図を基に各種アタッチメントにおける測定形態を説明する。
図２は主軸頭に基準となる立アタッチメント１を装着し、移動させて基準値を求める場合を示している。図２（ａ）は、基準工具２の軸線Ｍの方向に基準工具２を移動して計測する軸線方向計測工程を示している。図２（ａ）に示すように、最初にタッチプローブ４のタッチセンサ４ａに、基準工具２の軸線Ｍ方向であるＺ軸方向に立アタッチメント１を移動させ、基準工具２をタッチセンサ４ａに当接させる。基準工具２の先端がタッチセンサ４ａに当接すると、タッチプローブ４より当接を示す信号が出力されるので、その時点でＺ軸移動を停止すると共に、当接時のマシニングセンタのＺ軸座標を得る。
【００１４】
次に、図２（ｂ）に示すようにＸ軸方向に移動させる。この図２（ｂ）は、直交方向第１計測工程を示し、Ｘ軸方向の測定では両側から基準工具２をタッチセンサ４ａに当接させる。これは、この段階ではＹ軸の位置関係が正確にわかっていないためで、基準工具２の中心とタッチプローブ４とがＸ軸軸線方向に一直線に成っているとは限らないことによる。両側から測定することで、基準工具２の径、タッチセンサ４ａの径により発生するＹ軸方向の位置ズレ誤差を防ぐことができる。
最後に、図２（ｃ）に示すようにＹ軸方向に移動させる。この図２（ｃ）では、直交方向第２計測工程を示し、このときは既に基準工具２のＸ軸中心がわかっているので、片方のみからの測定で良い。こうして、基準工具２の中心のＸ・Ｙ軸とＺ軸先端の位置座標が求まる。
【００１５】
尚、軸線Ｍの方向であるＺ軸方向の測定とＸ軸方向の測定は順序を逆にしても良いし、Ｘ軸とＹ軸を入れ替えて測定しても良い。先にＹ軸方向を測定する場合は、このときにタッチセンサの両方向から座標を測定することになる。即ち、基準工具の軸線方向と、その軸に直交する２方向の測定を実施することで、Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の位置座標を求めることができる。
【００１６】
図３は、縦方向の主軸頭に対して横方向の主軸を備え、横向きに工具が装着される横形アタッチメントを主軸頭に取り付け、基準工具２により座標測定を行う場合を示している。上記立アタッチメント１の後に測定する場合は、基準工具２を立アタッチメント１から取り外し、図示しない工具マガジンに一旦返却し、アタッチメントの交換が行われる。
まず、図３（ａ）に示すように基準工具２の軸線Ｍ方向であるＹ軸方向から移動させる。この図３（ａ）は軸線方向計測工程を示し、上記立アタッチメント１の場合と同様に、基準工具２の先端がタッチプローブ４のタッチセンサ４ａに当接すると、タッチプローブ４より当接を示す信号が出されるので、Ｙ軸移動を停止すると共に、当接時のマシニングセンタのＹ軸座標を得る。
【００１７】
次に、図３（ｂ）に示すようにＸ軸方向の測定を行う。この図３（ｂ）は、直交方向第１計測工程を示し、Ｘ軸方向の測定では、両側から基準工具２を当接させる。これは、この段階では基準工具２のＺ軸中心の位置関係が正確にわかっていないためで、基準工具２とタッチプローブ４とがＸ軸軸線方向に一直線に成っているとは限らないことによる。両側から測定することで、基準工具の径、タッチセンサ４ａの径により発生するＺ軸方向の位置ズレ誤差を防ぐことができる。
【００１８】
最後に、図３（ｃ）に示すように、Ｚ軸方向の測定を行う。この図３（ｃ）は直交方向第２計測工程を示し、Ｚ軸方向の測定は既にＸ軸中心がわかっているので、片方のみからの測定で良い。こうして、基準工具２の中心先端のＸ・Ｙ・Ｚ軸の位置座標が求まる。
尚、軸線Ｍの方向であるＹ軸方向の測定とＸ軸方向の測定は順序を逆にしても良い。但し、Ｚ軸方向の測定は両方向からの測定を実施できないため、Ｘ軸とＺ軸の順番は変更できない。
【００１９】
図４は、傾斜方向に主軸を備え、傾斜方向に工具が装着される斜めアタッチメントを主軸頭に取り付け、基準工具２により座標測定を行う場合を示している。ここでは、基準工具２の主軸はＹ−Ｚ平面内に配置されている。上記立アタッチメント１、或いは横形アタッチメントの後に測定する場合は、基準工具を立アタッチメント１から取り外して、図示しない工具マガジンに一旦返却し、アタッチメントが交換される。
【００２０】
最初に図４（ａ）に示すように基準工具２の軸線方向に直交する水平なＸ軸方向の測定を行っている。この図４（ａ）は、直交方向第１計測工程を示し、両側から基準工具２を当接させる。これは図２，図３のように最初に工具Ｍ方向の測定をしても、Ｙ方向、Ｚ方向に対して、Ｍ方向が傾斜している状態では基準工具先端面のどの位置に当接しているか判らず、正確な位置が判別できないためである。
次に、図４（ｂ）のように、Ｙ−Ｚ面内で移動させて測定する。この図４（ｂ）は、直交方向第２計測工程を示し、基準工具の軸線Ｍ方向に直交する合成方向Ｐ１に移動して当接させる。
【００２１】
最後に、図４（ｃ）に示すように、軸線Ｍ方向に移動させる。図４（ｃ）は、軸線方向計測工程を示し、これら３方向の測定により基準工具２の中心先端のＸ・Ｙ・Ｚ軸の位置座標が求まる。尚、この斜めアタッチメントの場合、測定順序は任意であり、Ｐ１方向の測定から行っても良いし、軸線方向から行っても良い。
【００２２】
図６は、上記アタッチメントにおける誤差を補正する制御の流れを示すフローチャートであり、（ａ）は横形アタッチメントの補正手順、（ｂ）は後述する球形状の基準工具を使用した場合のアタッチメントの補正手順を示している。以下、順に説明する。
測定プログラムを読み込み（Ｓ１）、アタッチメント１に基準工具２を装着したら（Ｓ２）、アタッチメント主軸の測定、即ちＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準値の測定を開始する。まず、基準工具２の軸線方向であるＺ軸方向に主軸を移動して、Ｚ軸方向の座標測定から開始する（Ｓ３）。その後Ｘ軸方向にアタッチメント主軸を移動して座標測定を行い（Ｓ４）、Ｙ軸方向にアタッチメント主軸を移動して、Ｙ軸方向の座標測定を行う（Ｓ５）。これらの測定は、上記図２（ａ）〜図２（ｃ）に示す手順で実施され、この一連の測定により、Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の基準値の原点が設定される（Ｓ６）。
【００２３】
原点となる基準値を設定したら、この値はＮＣ装置内の記憶部に一旦記憶され、次に横形アタッチメントの測定に入る。まず、基準工具２を返却し（Ｓ７）、アタッチメントを立アタッチメントから横形アタッチメントに交換する（Ｓ８）。アタッチメントを交換したら、再び基準工具２を装着して測定を開始する（Ｓ９）。先ず、アタッチメント主軸をＹ軸方向に移動してタッチプローブ４のタッチセンサ４ａに当接させてＹ軸方向の座標を測定し（Ｓ１０）、その後、Ｘ軸方向の両側からタッチプローブ４に当接させて座標測定を行い（Ｓ１１）、最後にＺ軸方向に１方向から当接させてＺ軸方向の座標測定を行う（Ｓ１２）。
これらの測定は、上記図３（ａ）〜図３（ｃ）に示す手順で実施され、この測定により横形アタッチメントの現在のＸ・Ｙ・Ｚ軸の座標を得る。
【００２４】
こうして求めた横形アタッチメントの現在の座標を求めたら、先に求めた立アタッチメント１の主軸に基準工具２を装着したＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準座標を読み込み（Ｓ１３）、両者の座標値の差を求めて、横形アタッチメント用補正値を算出する（Ｓ１４）。この補正値は、ＮＣ装置内の記憶部に記憶される（Ｓ１５）。
【００２５】
このように、テーブル上には球形状の接触子を有するタッチプローブが基準体として配置されるので、基準体の配置にＸ・Ｙ・Ｚ軸等の方向性がなく、設置に時間を要さない。また、球形状であるため任意の方向からの座標測定に対して対応でき、Ｘ・Ｙ・Ｚ軸の測定を精度良く実施できる。よって、基準体の設置に精度が要求されず、簡易な操作で補正値を求めることができ、アタッチメント主軸の補正値を短時間に自動測定できる。
【００２６】
斜めアタッチメントの測定は、上記Ｓ１０〜Ｓ１４の工程が異なる。Ｓ８において、アタッチメントを斜めアタッチメントに交換したら、再び基準工具２を装着して測定を開始する（Ｓ９）。
先ず、アタッチメント主軸をＸ軸方向に移動し、Ｘ軸方向の両側からタッチセンサ４ａに基準工具２を当接させてＸ軸方向の座標を測定する。その後、基準工具２の軸線Ｍ方向に直交する１方向からタッチセンサ４ａに当接させ、最後に基準工具２の軸線Ｍ方向の１方向から当接させて測定を行う。
これらの測定は、上記図４（ａ）〜図４（ｃ）に示す手順で実施され、この測定と予め判っている斜めアタッチメントの主軸の軸線方向、即ち基準工具２の軸線Ｍ方向により斜めアタッチメントの現在のＸ・Ｙ・Ｚ軸の座標を得る。
【００２７】
こうして斜めアタッチメントの現在の座標を求めたら、先に求めた立アタッチメント１に基準工具２を装着したＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準座標を読み込み、両者の座標値の差を求め、斜めアタッチメント用補正値を算出する。この補正値は、ＮＣ装置の記憶部に記憶される（Ｓ１５）。
【００２８】
このように、テーブルに設置される基準体は球形状であるため、斜め方向からの測定であっても誤差無く座標測定を行うことができる。よって、斜めアタッチメントに対しても容易に対応でき、アタッチメント主軸の補正値を容易に自動測定できる。
【００２９】
尚、上記実施形態では、斜めアタッチメントの場合でも、円筒形状の基準工具２を使用して座標測定を行っているが、斜めアタッチメントの場合は角度により大きな測定誤差を生じる場合があるため、図５に示すような球形状の基準工具２ａを使用することで、誤差の発生を防ぐことができる。
図５は、球形状の基準工具２ａを使用した説明図であり、（ａ）はＸ軸方向の計測工程、（ｂ）はＹ軸方向の計測工程、（ｃ）はＺ軸方向の計測工程を示している。この場合、Ｘ軸方向（水平方向第１計測工程）、Ｙ軸方向（水平方向第２計測工程）の両方で両側から測定し、最後にＺ軸方向（垂直方向計測工程）からタッチセンサ４ａに当接させれば、球形状の基準工具２ａの中心先端の位置座標を良好に求めることができる。
【００３０】
この場合、斜めアタッチメントの測定は、上記横形アタッチメントの測定に対し、上記Ｓ１０〜Ｓ１４の工程が異なり、図６（ｂ）に示すように、Ｓ１１０〜Ｓ１１４に置き換えられて実施される。Ｓ８において、アタッチメントを斜めアタッチメントに交換したら、再び基準工具２を装着して測定を開始する（Ｓ９）。
先ず、アタッチメント主軸をＸ軸方向に移動し、Ｘ軸方向の両側からタッチセンサ４ａに基準工具２を当接させてＸ軸方向の座標を測定する（Ｓ１１０）。その後、Ｙ軸方向の両側からタッチセンサ４ａに当接させ（Ｓ１１１）、最後にＺ軸方向の１方向から当接させてＺ軸方向の座標の測定を行う（Ｓ１１２）。
これらの測定は、上記図５（ａ）〜図５（ｃ）に示す手順で実施され、この測定と予め判っている斜めアタッチメントの主軸の軸線方向、即ち基準工具２の軸線Ｍ方向により斜めアタッチメントの現在のＸ・Ｙ・Ｚ軸の座標を得る。
【００３１】
こうして斜めアタッチメントの現在の座標を求めたら、先に求めた立アタッチメント１に基準工具２を装着したＸ・Ｙ・Ｚ軸の基準座標を読み込み（Ｓ１１３）、両者の座標値の差を求め、斜めアタッチメント用補正値を算出する（Ｓ１１４）。この補正値は、ＮＣ装置の記憶部に記憶される（Ｓ１５）。
【００３２】
尚、上記実施形態では、基準工具径、プローブ径が共に既知の場合について説明したが、基準工具径が予め判っていれば、プローブ径は未知であっても測定を行うことができる。この場合、立てアタッチメントの測定時に、Ｘ軸の両側から当接した際の座標と基準工具径とからプローブ径を求めるようにすれば良い。
また、立アタッチメント１に基準工具２を装着した測定を基準主軸の測定とし、横形アタッチメントに基準工具２を装着した測定、及び斜めアタッチメントに基準工具２を装着した測定をアタッチメント主軸の測定としているが、複数の主軸を備えたマシニングセンタのアタッチメント主軸に対しても同様の手順で自動補正を実施することができる。
更に、補正するアタッチメント主軸は、Ｂ／Ｃ軸ユニバーサルアタッチメント、立エクステンションアタッチメントを使用した主軸であっても容易に実施できる。
【符号の説明】
【００３３】
１・・立アタッチメント、２・・基準工具、３・・テーブル、４・・タッチプローブ（基準体）、４ａ・・タッチセンサ（接触子）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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