(57)【要約】【課題】光スイッチの接続パスに対する光学特性の測定作業の効率を向上させることができる光学特性測定装置を提供する。【解決手段】光学特性測定装置１は、光入力部１１と、入力側１×１００スイッチ１２と、出力側１００×１スイッチ１３と、モニタ部１４と、測定装置制御部１５と備えている。この構成を有することにより、人手を介さず、自動的に光スイッチ１００の光学特性の測定ができるので、結果として、従来よりも光学特性の測定作業の効率を向上させることができる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力光を入力する少なくとも１つの入力ポートと、出力光を出力する少なくとも１つの出力ポートと、前記入力ポートから入力された前記入力光を偏向して前記出力光として出力させる前記出力ポートを切り替える切替部と、制御信号に基づいて前記切替部を制御する制御部と、この制御部に外部から入力される前記制御信号を入力する外部Ｉ／Ｆ部とを備えた光スイッチの光学特性を測定する光学特性測定装置であって、
前記入力ポートに前記入力光を入力する光入力部と、
前記出力ポートから出力された前記出力光を受光して出力する光出力部と、
この光出力部から出力された前記出力光の光強度に関する光強度データおよび測定開始時刻からの前記光強度の時間的変化を示す時系列データを測定するモニタ部と、
このモニタ部により測定された前記光強度データおよび前記時系列データを記憶する第１の記憶部と、
この第１の記憶部に記憶された前記光強度データおよび前記時系列データに基づいて、挿入損失およびスイッチング時間を演算する演算部と、
この演算部による演算結果を記憶する第２の記憶部と、
前記入力ポートと前記出力ポートの組み合わせからなる接続パスを少なくとも１つ含む測定パターンを設定する測定パターン設定部と、
前記測定パターンに基づき、前記光入力部および前記光出力部に対して、測定を行う接続パスに対応する前記入力ポートに前記入力光を入力させ、かつ、測定を行う接続パスに対応する前記出力ポートからの前記出力光を受光して出力させる指示を送出するスイッチ制御部と、
前記測定パターンに基づき、前記外部Ｉ／Ｆ部に対して測定を行う接続パスに対応する前記入力ポートと前記出力ポートを接続させる旨の前記制御信号を送信するとともに、この制御信号を送信した時刻に関する前記測定開始時刻を前記モニタ部に送出する測定指示部と、
オペレータからの前記測定パターンに関する操作入力を検出して前記測定パターン設定部に送出し、かつ、前記第２の記憶部に記憶された前記演算結果を出力するユーザＩ／Ｆ部と
を備えたことを特徴とする光学特性測定装置。
【請求項２】
前記光入力部は、複数の前記入力ポートに前記入力光を入力する光カプラから構成されることを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項３】
前記光入力部は、前記入力ポートに選択的に前記入力光を入力する光スイッチから構成されることを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項４】
前記光出力部は、複数の前記出力ポートから出力される前記出力光を受光する光カプラから構成されることを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項５】
前記光出力部は、前記出力ポートから出力される前記出力光を選択的に受光する光スイッチから構成されることを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項６】
前記演算部は、前記光強度データに基づく前記出力光の光強度と、前記入力光の光強度とに基づいて前記挿入損失を演算することを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【請求項７】
前記演算部は、前記測定指示部より受け付けた前記測定開始時刻と、前記時系列データとに基づいて前記スイッチング時間を演算することを特徴とする請求項１記載の光学特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光スイッチの光学特性を測定する光学特性測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
インターネット通信網などにおける基盤となる光ネットワークの分野では、多チャンネル化、波長多重（WDM）化および低コスト化を実現するための技術として、光ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）技術が脚光を浴びており、この技術を用いて光スイッチなどの微小可動デバイスが開発されている（例えば、特許文献１参照。）。例えば、光スイッチでは、入力ポートから入力された光ビームを、光ＭＥＭＳ技術により作成されたミラーアレイ等の偏向素子を用いて空間的に偏向し、任意の出力ポートから出力させることによりスイッチング動作を実現させている。このような光スイッチの一例を図４，図５に示す。
【０００３】
図４に示すように、光スイッチ１００は、入力ポート１１０ａと、出力ポート１１０ｂと、入力側マイクロミラー装置１３０ａを備えた入力側マイクロミラーアレイ１２０ａと、出力側マイクロミラー装置１３０ｂを備えた出力側マイクロミラーアレイ１２０ｂと、出力光測定装置１４０と、制御装置１５０とを備える。
【０００４】
入力ポート１１０ａと出力ポート１１０ｂは、図５に示すように、それぞれ２次元的に配列された複数の光ファイバからなる。
マイクロミラーアレイ１２０ａ，１２０ｂは、図５に示すように、それぞれ２次元的に配列された複数のマイクロミラー装置１３０ａ，１３０ｂから構成されている。このマイクロミラー装置１３０ａ，１３０ｂのミラーは、例えば２軸回りに回動可能に構成されており、対応する電極に駆動電圧が印加されることにより所定の角度に傾動する。
なお、図５における矢印は光ビームの進行方向を示している。
【０００５】
出力光測定装置１４０は、出力ポート１１０ｂから出射された光ビーム（以下、出力光という）の強度を検出し、電気信号に変換する。このような出力光測定装置１４０の構成例としては、ハーフミラーなどにより光ビームの一部を切り出して、フォトダイオードなどの受光素子で出力光の強度を測定すればよい。
【０００６】
制御装置１５０は、マイクロミラー装置１３０ａ，１３０ｂに駆動電圧を印加する駆動部１５１と、出力光測定装置１４０により測定された出力光の強度を検出する検出部１５２と、外部から入力され接続する光路に関する制御情報に基づいて駆動部１５１および検出部１５２の動作を制御する制御部１５３と、この制御部１５３による制御に用いる各種情報を記憶する記憶部１５４と、外部からの制御情報を受け付けて制御部１５３に入力する外部Ｉ／Ｆ部１５５とから構成される。
【０００７】
このような光スイッチ１００の動作について説明する。
まず、制御装置１５０の制御部１５３は、外部インターフェース部５５を介して外部から入力された制御信号に基づき、光路を接続する任意の入力ポート１１０ａと出力ポート１１０ｂのそれぞれのポートに対応するマイクロミラー装置１３０ａ，１３０ｂのミラーの傾動角に対応する操作量を記憶部１５４より読み出し、駆動部１５１に入力する。駆動部１５１は、入力された操作量に基づく駆動電圧を、それぞれのマイクロミラー装置１３０ａ，１３０ｂの対応する電極に印加する。
【０００８】
すると、入力ポート１１０ａから出射した光ビームは、この入力ポート１１０ａに対応する入力側マイクロミラーアレイ１２０ａのマイクロミラー装置１３０ａのミラーにより反射されて進行方向が変化（偏向）させられる。マイクロミラー装置１３０ａのミラーは、駆動部１５１から対応する電極に駆動電圧が印加されることにより所定の角度に傾動して、マイクロミラー装置１３０ａの反射光を出力側マイクロミラーアレイ１２０ｂの任意のマイクロミラー装置１３０ｂに向ける。同様に、マイクロミラー装置１３０ｂのミラーも、駆動部１５１から対応する電極に駆動電圧が印加されることにより所定の角度に傾動して、マイクロミラー装置１３０ｂの反射光を任意の出力ポート１１０ｂに向ける。このように、入力側マイクロミラーアレイ１２０ａと出力側マイクロミラーアレイ１２０ｂのミラーの傾斜角を制御することによって入出力ポート間の光路の切り替えを行い、２次元的に配列された任意の入力ポート１１０ａと出力ポート１１０ｂとの間を接続することができる。
【０００９】
このとき、検出部１５２は、出力光測定装置１４０により測定された出力ポート１１０ｂからの出力光の光強度を検出し、制御部１５３に入力する。光強度が入力されると、制御部１５３は、その光強度に基づいて駆動電圧を補正し、ミラーの傾動角を調整する。
【００１０】
このような光スイッチにおいて、挿入損失や切り替え時間などの光学特性の評価は、通常、入力ポートから出力ポートに至る光路（以下、接続パスという）の全てに対して行われる。例えば、入力ポートの数量をＭ、出力ポートの数量をＮとすると、Ｍ×Ｎ通りの接続パスについて光学特性の測定が行われることとなる。
【００１１】
従来の光スイッチでは、入力ポートおよび出力ポートが数チャンネルの小規模であったので、全ての接続パスについて測定を行っても、接続パスが高々１００通りであったので、光学特性評価は人手により実施されることが多かった。例えば、人手による測定を考慮して１接続パスあたり３分の測定時間を見積もっても、全パス測定に要する時間は５時間程度であるので、評価を人手で行うことも可能だった。
【００１２】
【特許文献１】特開２００３−０５７５７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、近年では、入力ポートおよび出力ポートが１００チャンネル程の大規模な装置が開発されてきており、このような装置では接続パスが１００００通りを越えるため、全ての接続パスの測定を人手によって行うと膨大な時間がかかってしまう。例えば、１接続パスあたり３分の測定時間を見積もっても、５００時間以上の作業時間がかかることとなる。
【００１４】
また、現在市販されている光学特性測定用装置を用いて上述したような大規模な装置の測定を行った場合、この装置は入出力ポートが数チャンネル〜十数チャンネル程度の光スイッチまでしか対応できないため、全ての接続パスｃｈを測定する際には、例えば光コネクタなど光スイッチの外部接続部の繋ぎ替えを多数行う必要がある。当然、繋ぎ替えの際には、清掃作業に時間を要するとともに、光コネクタの数多くの着脱作業において接続の再現性を確保しようとすると非常に高度な作業技術が必要になる。このため、非常に手間がかかっていた。
【００１５】
そこで、本願発明は、上述したような課題を解決するためになされたものであり、光スイッチの接続パスに対する光学特性の測定作業の効率を向上させることができる光学特性測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上述したような課題を解決するために、本発明に係る光学特性測定装置は、入力光を入力する少なくとも１つの入力ポートと、出力光を出力する少なくとも１つの出力ポートと、入力ポートから入力された入力光を偏向して出力光として出力させる出力ポートを切り替える切替部と、制御信号に基づいて切替部を制御する制御部と、この制御部に外部から入力される制御信号を入力する外部Ｉ／Ｆ部とを備えた光スイッチの光学特性を測定する光学特性測定装置であって、入力ポートに入力光を入力する光入力部と、出力ポートから出力された出力光を受光して出力する光出力部と、この光出力部から出力された出力光の光強度に関する光強度データおよび測定開始時刻からの光強度の時間的変化を示す時系列データを測定するモニタ部と、このモニタ部により測定された光強度データおよび時系列データを記憶する第１の記憶部と、この第１の記憶部に記憶された光強度データおよび時系列データに基づいて、挿入損失およびスイッチング時間を演算する演算部と、この演算部による演算結果を記憶する第２の記憶部と、入力ポートと出力ポートの組み合わせからなる接続パスを少なくとも１つ含む測定パターンを設定する測定パターン設定部と、測定パターンに基づき、光入力部および光出力部に対して、測定を行う接続パスに対応する入力ポートに入力光を入力させ、かつ、測定を行う接続パスに対応する出力ポートからの出力光を受光して出力させる指示を送出するスイッチ制御部と、測定パターンに基づき、外部Ｉ／Ｆ部に対して測定を行う接続パスに対応する入力ポートと出力ポートを接続させる旨の制御信号を送信するとともに、この制御信号を送信した時刻に関する測定開始時刻をモニタ部に送出する測定指示部と、オペレータからの測定パターンに関する操作入力を検出して測定パターン設定部に送出し、かつ、第２の記憶部に記憶された演算結果を出力するユーザＩ／Ｆ部とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
上記光学特性測定装置において、光入力部は、複数の入力ポートに入力光を入力する光カプラや入力ポートに選択的に入力光を入力する光スイッチから構成されるようにしてもよい。一方、光出力部は、複数の出力ポートから出力される出力光を受光する光カプラや出力ポートから出力される出力光を選択的に受光する光スイッチから構成されるようにしてもよい。
【００１８】
また、上記光学特性測定装置において、演算部は、光強度データに基づく出力光の光強度と、入力光の光強度とに基づいて挿入損失を演算したり、測定指示部より受け付けた測定開始時刻と、時系列データとに基づいてスイッチング時間を演算したりするようにしてもよい。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、入力ポートに入力光を入力する光入力部と、出力ポートから出力された出力光を受光して出力する光出力部と、この光出力部から出力された出力光の光強度に関する光強度データおよび測定開始時刻からの光強度の時間的変化を示す時系列データを測定するモニタ部と、このモニタ部により測定された光強度データおよび時系列データを記憶する第１の記憶部と、この第１の記憶部に記憶された光強度データおよび時系列データに基づいて、挿入損失およびスイッチング時間を演算する演算部と、この演算部による演算結果を記憶する第２の記憶部と、入力ポートと出力ポートの組み合わせからなる接続パスを少なくとも１つ含む測定パターンを設定する測定パターン設定部と、測定パターンに基づき、光入力部および光出力部に対して、測定を行う接続パスに対応する入力ポートに入力光を入力させ、かつ、測定を行う接続パスに対応する出力ポートからの出力光を受光して出力させる指示を送出するスイッチ制御部と、測定パターンに基づき、外部Ｉ／Ｆ部に対して測定を行う接続パスに対応する入力ポートと出力ポートを接続させる旨の制御信号を送信するとともに、この制御信号を送信した時刻に関する測定開始時刻をモニタ部に送出する測定指示部と、オペレータからの測定パターンに関する操作入力を検出して測定パターン設定部に送出し、かつ、第２の記憶部に記憶された演算結果を出力するユーザＩ／Ｆ部とを備えることにより、人手を介さず、自動的に光スイッチ１００の光学特性の測定ができるので、結果として、従来よりも光学特性の測定作業の効率を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
［第１の実施の形態］
以下、図面を参照して本発明に係る第１の実施の形態について説明する。なお、以下の説明において、図４，図５を参照して背景技術の欄で説明した光スイッチ１００のような光スイッチの光学特性を測定する場合を例に説明する。したがって、図４，図５を参照して背景技術の欄で説明した光スイッチ１００およびこの光スイッチ１００の各構成要素に関する説明は適宜省略する。また、光スイッチ１００の入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂは、それぞれ１００チャンネルずつ設けられており、各チャンネルには識別番号が１番から〜１００番まで付されているものとする。
【００２１】
＜光学特性測定装置の構成＞
図１に示すように、本実施の形態に係る光学特性測定装置１は、ＬＤ（Laser Diode）等の光出力装置からなる光源１１と、公知のファイバセレクター等からなり光源１１からの入力光を光スイッチ１００の所定の入力ポート１１０ａに選択的に出力する入力側１×１００スイッチ１２と、公知のファイバセレクター等からなり、光スイッチ１００の出力ポート１１０ｂからの出力光が入力される出力側１００×１スイッチ１３と、この出力側１００×１スイッチ１３から出力された出力光の光強度に関する光強度データおよび光強度の時間的変化に関する時系列データを測定するモニタ部１４と、光学特性測定装置１全体の動作を制御する測定装置制御部１５とを備えている。このような光学特性測定装置１は、入力側１×１００スイッチ１２と光スイッチ１００の入力ポート１１０ａとが光コネクタ１６を介して光ファイバコード１７により光接続されている。同様に、出力側１００×１スイッチ１３と光スイッチ１００の出力側ポート１１０ｂとが、光コネクタ１８を介して光ファイバコード１９により光接続されている。
【００２２】
測定装置制御部１５は、光強度データ記憶部１５１と、演算処理部１５２と、演算結果記憶部１５３と、ユーザインターフェース部１５４と、測定パターン設定部１５５と、測定指示部１５６と、スイッチ制御部１５７とを備えている。
【００２３】
光強度データ記憶部１５１は、モニタ部１４により測定された光強度データおよび時系列データを記憶する。また、光強度データ記憶部１５１は、予め測定された、光源１１から出力される入力光の光強度に関する入力光データ、入力側１×１００スイッチ１２により発生する光損失に関する入力側損失データおよび出力側１００×１スイッチ１３により発生する光損失に関する出力側損失データも記憶する。
【００２４】
演算処理部１５２は、光強度データ記憶部１５１に記憶された光強度データ、時系列データ、入力側損失データ、出力側損失データに基づいて、挿入損失とスイッチング時間を演算する。ここで、挿入損失とは、光が光スイッチ１００を通過する際に生じる光強度の損失を意味している。また、スイッチング時間とは、光スイッチ１００の接続パスの切替が行われてから、光スイッチ１００から出力される光の光強度が最大となるまでに要する時間を意味している。
【００２５】
演算結果記憶部１５３は、演算処理部１５２により演算された挿入損失とスイッチング時間を記憶する。
【００２６】
ユーザインターフェース部１５４は、測定を行う接続パスや測定の開始などのオペレータの操作入力を検出したり、オペレータに対して光学特性測定装置１の測定結果を出力したりする機能部である。検出された操作入力は、測定パターン設定部１５５に送出される。
【００２７】
測定パターン設定部１５５は、ユーザインターフェース部１５４から光学特性測定装置１により光学特性の測定を行う接続パスに関するオペレータの操作入力の情報を受け付けると、この情報に基づいて測定パターンを図示しない記憶部に記憶させる。また、測定パターン設定部１５５は、記憶させた測定パターンに基づいて測定を行わせる旨の指示を測定指示部１５６およびスイッチ制御部１５７に対して送出する。ここで、測定パターンには、測定を行う各接続パスを構成する入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂの識別情報、測定を行う接続パスの順番などに関する情報が含まれている。したがって、光学特性測定装置１は、測定パターンにより特定される順番で各接続パスの光学特性を測定することとなる。
【００２８】
測定指示部１５６は、測定パターン設定部１５５により測定を行う接続パスが設定されると、光スイッチ１００に対して、その設定された接続パスを実現させる制御信号を送出する。
【００２９】
スイッチ制御部１５７は、測定パターン設定部１５５により測定を行う接続パスが設定されると、入力側１×１００スイッチ１２によりその接続パスに対応する入力ポート１１０ａに入力光を入力させ、かつ、出力側１００×１スイッチ１３にその接続パスに対応する出力ポート１１０ｂからの出力光をモニタ部１４に出力させる。
【００３０】
このような測定装置制御部１５は、ＣＰＵなどの演算装置、メモリ、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの記憶装置、キーボード、マウス、ポインティングデバイス、ボタン、タッチパネルなどの外部からの情報入力を検知する入力装置、インターネット、ＬＡＮ（Local Area Network）、ＷＡＮ（Wide Area Network）などの通信回線を介して各種情報の送受信を行うＩ／Ｆ装置、およびＣＲＴ（Cathode Ray Tube）、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＦＥＤ（Field Emission Display）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）等の表示装置等を備えたコンピュータと、このコンピュータにインストールされたプログラムとから構成される。これらのハードウエア資源とソフトウエアが協働することによって、上記のハードウエア資源がプログラムによって制御され、上述した光強度データ記憶部１５１、演算処理部１５２、演算結果記憶部１５３、ユーザインターフェース部１５４、測定パターン設定部１５５、測定指示部１５６およびスイッチ制御部１５７が実現される。なお、上記プログラムは、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、メモリーカードなどの記録媒体に記録された状態で提供されるようにしてもよい。
【００３１】
＜光学特性の測定動作＞
次に、図２を参照して、本実施の形態に係る光学特性測定装置１による光学特性の測定動作について説明する。
【００３２】
光学特性測定装置１により光スイッチ１００の光学特性の測定を行う場合、まず、光学特性測定装置１のオペレータは、外部Ｉ／Ｆ部１５５を介して測定パターンを入力することにより、測定パターンの設定登録を行う。測定パターンの入力を検出すると（ステップＳ１：ＹＥＳ）、外部Ｉ／Ｆ部１５５は、その測定パターンを測定パターン設定部１５５に送出する。測定パターン設定部１５５は、入力された測定パターンを設定登録する（ステップＳ２）。
【００３３】
なお、以下の説明においては、下記の（１）〜（４）の接続パスが測定パターン設定部１５５に設定登録された場合を例に説明する。すなわち、（１）２番の入力ポート１１０ａと２番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（２）２６番の入力ポート１１０ａと２６番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（３）５１番の入力ポート１１０ａと５１番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（４）７６番の入力ポート１１０ａと７６番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路であり、（１）〜（４）の順に接続パスを形成するものとする。
【００３４】
測定パターンの設定登録を終了すると、オペレータは、外部Ｉ／Ｆ部１５５を介して測定を開始する旨の操作入力を行う。測定を開始する旨の操作入力を検出すると（ステップＳ３：ＹＥＳ）、外部Ｉ／Ｆ部１５５は、その操作入力に関する測定開始データを測定パターン設定部１５５に送出する。測定開始データを受け付けると、測定パターン設定部１５５は、スイッチ制御部１５７に対して、設定登録された測定パターンに基づいて入力側１×１００スイッチ１２および出力側１００×１スイッチ１３の切替を行わせる旨の指示を送出する（ステップＳ４）。指示を受け付けると、スイッチ制御部１５７は、指示された測定パターンが指定する入力ポート１１０ａに入力光が入力されるように入力側１×１００スイッチ１２を切り替えるとともに、その測定パターンが指定する出力ポート１１０ｂからの出力光がモニタ部１４に入力されるように出力側１００×１スイッチ１３を切り替える。例えば、（１）の接続パスへの切替が指示された場合、スイッチ制御部１５７は、２番の入力ポート１１０ａに入力光が入力されるように入力側１×１００スイッチ１２を切り替えるとともに、２番の出力ポート１１０ｂからの出力光がモニタ部１４に入力されるように出力側１００×１スイッチ１３を切り替える。
【００３５】
また、測定パターン設定部１５５は、測定指示部１５６に対して、設定登録された測定パターンに基づいて光スイッチ１００の接続パスの切替を行わせる旨の指示を送出する（ステップＳ５）。指示を受け付けると、測定指示部１５６は、光スイッチ１００の外部Ｉ／Ｆ部１５５に対して、指示された測定パターンが指定する入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂの接続パスを形成させる旨の指示を送出する。これと同時に、測定指示部１５６は、光スイッチ１００に対して指示を送出した時点に関する送信タイミングデータをモニタ部１４に送出する。
【００３６】
測定指示部１５６からの指示を受け付けると、光スイッチ１００は、測定パターンが指定する入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂの接続パスを形成させる。例えば、（１）の接続パスへの切替が指示された場合、光スイッチ１００は、２番の入力ポート１１０ａと２番の出力ポート１１０ｂの接続パスが形成されるよう、２番の入力ポート１１０ａに対応する入力側マイクロミラー装置１３０ａおよび出力側マイクロミラー装置１３０ｂの傾動角を制御する。
【００３７】
測定指示部１５６により光スイッチ１００に対して測定パターンに対応する接続パスを形成させる旨の指示が送出された後、モニタ部１４は、出力側１００×１スイッチ１３から検出された出力光に関する光強度データおよび時系列データを生成する（ステップＳ６）。ここで、時系列データは、送信タイミングデータにより特定された時刻を測定開始時刻として生成される。生成された光強度データおよび時系列データは、データ記憶部１５１に送出される。
【００３８】
光強度データおよび時系列データを受け付けると、データ記憶部１５１は、それらを記憶する（ステップＳ７）。
【００３９】
光強度データおよび時系列データがデータ記憶部１５１に記憶されると、演算処理部１５２は、光強度データ、入力光データ、入力側損失データ、出力側損失データおよび時系列データに基づいて、挿入損失およびスイッチング時間を演算する（ステップＳ８）。具体的には、挿入損失は、光強度データ、入力光データ、入力側損失データおよび出力側損失データに基づいて、入力光の光強度から、出力光の光強度、入力側１×１００スイッチ１２により発生する光損失および出力側１００×１スイッチ１３により発生する光損失の差分をとることにより算出される。また、スイッチング時間は、時系列データに基づいて、測定開始時刻から出力光の光強度が最大値となるまでの時間を検出することにより算出される。算出された挿入損失およびスイッチング時間は、演算結果記憶部１５３に記憶される（ステップＳ９）。
【００４０】
挿入損失およびスイッチング時間が演算結果記憶部１５３に記憶されると、測定パターン設定部１５５は、測定パターンにより指定された接続パスの全てについて出力光の測定が行われ、挿入損失およびスイッチング時間が演算されたか否か確認する（ステップＳ１０）。これは、例えば、演算結果記憶部１５３に記憶された挿入損失およびスイッチング時間を確認することにより行われる。
【００４１】
全ての接続パスの測定が終了していない場合（ステップＳ１０：ＮＯ）、測定パターン設定部１５５は、ステップＳ４の処理に戻る。例えば、測定パターンとして（１）〜（４）の接続パスが設定され、（１）の接続パスの測定のみを終了した場合、光学特性測定装置１は、（２）〜（４）の接続パスについてステップＳ４〜ステップＳ９の処理を順次行い、それぞれの接続パスについて挿入損失およびスイッチング時間を算出する。
【００４２】
一方、全ての接続パスの測定が終了した場合（ステップＳ１０：ＹＥＳ）、ユーザインターフェース部１５４は、演算結果記憶部１５３に記憶された挿入損失およびスイッチング時間を、表示装置等に出力する（ステップＳ１１）。出力すると、光学特性測定装置１の動作を終了する。
【００４３】
以上説明したように、本実施の形態によれば、人手を介さず、自動的に光スイッチ１００の光学特性の測定ができるので、結果として、従来よりも光学特性の測定作業の効率を向上させることができる。また、最初に光スイッチの全入出力光ポートと光学特性測定装置とを予め光接続した後は、測定終了まで光コネクタ等の着脱を行わなくてよいので、従来よりも作業性を大幅に向上させることができる。
【００４４】
なお、本実施の形態では、光スイッチ１００の出力側に出力側１００×１スイッチ１３を設けた場合を例に説明したが、その出力側１００×１スイッチ１３の替わりに光カプラを用いるようにしてもよい。
【００４５】
［第２の実施の形態］
次に、本発明に係る第２の実施の形態について説明する。なお、本実施の形態は、上述した第１の実施の形態における入力側１×１００スイッチ１２を光カプラ２１に、出力側１００×１スイッチ１を２５×１スイッチ２２〜２５に置き換えたものである。したがって、本実施の形態において、第１の実施の形態と同等の構成要素については、同じ名称および符号を付し、適宜説明を省略する。
【００４６】
＜光学特性測定装置の構成＞
図３に示すように、本実施の形態に係る光学特性測定装置２は、光源１１と、この光源１１からの入力光を光スイッチ１００の各入力ポート１１０ａに出力する光カプラ２１と、公知のファイバセレクター等からなり、光スイッチ１００の出力ポート１１０ｂからの出力光が入力される２５×１スイッチ２２〜２５と、この２５×１スイッチ２２〜２５から出力された出力光の光強度に関する光強度データおよび光強度の時間的変化に関する時系列データを測定するモニタ部１４と、光学特性測定装置２全体の動作を制御する測定装置制御部１５とを備えている。このような光学特性測定装置２は、光カプラ２１と光スイッチ１００の入力ポート１１０ａとが光コネクタ２６を介して光ファイバコード２７により光接続されている。同様に、２５×１スイッチ２２〜２５と光スイッチ１００の出力側ポート１１０ｂとが、光コネクタ２８〜３１を介して光ファイバコード３２〜３５により光接続されている。
【００４７】
ここで、光カプラ２１としては、一般的な１×８カプラの後段に１×１６カプラを接続することにより、入力光を１００ｃｈに分岐する構成を実現するようにしてもよい。
【００４８】
２５×１スイッチ２２は、光スイッチ１００の１〜２５番の出力ポート１１０ｂと接続され、２５×１スイッチ２３は、光スイッチ１００の２６〜５０番の出力ポート１１０ｂと接続され、２５×１スイッチ２４は、光スイッチ１００の５１〜７５番の出力ポート１１０ｂと接続され、２５×１スイッチ２５は、光スイッチ１００の７６〜１００番の出力ポート１１０ｂと接続されている。
【００４９】
＜光学特性の測定動作＞
次に、図２を参照して、本実施の形態に係る光学特性測定装置２による光学特性の測定動作について説明する。
【００５０】
光学特性測定装置２により光スイッチ１００の光学特性の測定を行う場合、まず、光学特性測定装置２のオペレータは、外部Ｉ／Ｆ部１５５を介して測定パターンを入力することにより、測定パターンの設定登録を行う。測定パターンの入力を検出すると（ステップＳ１：ＹＥＳ）、外部Ｉ／Ｆ部１５５は、その測定パターンを測定パターン設定部１５５に送出する。測定パターン設定部１５５は、入力された測定パターンを設定登録する（ステップＳ２）。
【００５１】
なお、以下の説明においては、下記の（１）〜（４）の接続パスが測定パターン設定部１５５に設定登録された場合を例に説明する。すなわち、（１）２番の入力ポート１１０ａと２番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（２）２６番の入力ポート１１０ａと２６番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（３）５１番の入力ポート１１０ａと５１番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路、（４）７６番の入力ポート１１０ａと７６番の出力ポート１１０ｂを結ぶ光路であり、（１）〜（４）の順に接続パスを形成するものとする。
【００５２】
このとき、（１）〜（４）の接続パスが、２５×１スイッチ２２〜２５に１対１に対応するように設定しておくことにより、光スイッチ１００において複数の接続パスを同時に接続できる場合に、４つの接続パスに関する挿入損失およびスイッチング時間の算出を同時に行うことが可能となる。例えば、上述した測定パターンでは、（１）の接続パスは出力ポート１１０ｂが２番で２５×１スイッチ２２に接続されており、（２）の接続パスは出力ポート１１０ｂが２６番で２５×１スイッチ２３に接続されており、（３）は出力ポートが５１番で２５×１スイッチ２４に接続されており、（４）は出力ポートが７６番で２５×１スイッチ２５に接続されているので、４つの接続パスについて同時に測定することができる。そこで、以下においては、（１）〜（４）の接続パスを同時に測定する場合を例に説明する。
【００５３】
測定パターンの設定登録を終了すると、オペレータは、外部Ｉ／Ｆ部１５５を介して測定を開始する旨の操作入力を行う。測定を開始する旨の操作入力を検出すると（ステップＳ３：ＹＥＳ）、外部Ｉ／Ｆ部１５５は、その操作入力に関する測定開始データを測定パターン設定部１５５に送出する。測定開始データを受け付けると、測定パターン設定部１５５は、スイッチ制御部１５７に対して、設定登録された測定パターンに基づいて２５×１スイッチ２２〜２５の切替を行わせる旨の指示を送出する（ステップＳ４）。指示を受け付けると、スイッチ制御部１５７は、測定パターンが指定する出力ポート１１０ｂからの出力光がモニタ部１４に入力されるように２５×１スイッチ２２〜２５を切り替える。例えば、（１）〜（４）の接続パスへの切替が指示された場合、スイッチ制御部１５７は、２番、２６番、５１番、７６番の出力ポート１１０ｂからの出力光がモニタ部１４に入力されるように２５×１スイッチ２２〜２５を切り替える。
【００５４】
また、測定パターン設定部１５５は、測定指示部１５６に対して、設定登録された測定パターンに基づいて光スイッチ１００の接続パスの切替を行わせる旨の指示を送出する（ステップＳ５）。指示を受け付けると、測定指示部１５６は、光スイッチ１００の外部Ｉ／Ｆ部１５５に対して、指示された測定パターンが指定する入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂの接続パスを形成させる旨の指示を送出する。これと同時に、測定指示部１５６は、光スイッチ１００に対して指示を送出した時点に関する送信タイミングデータをモニタ部１４に送出する。
【００５５】
測定指示部１５６からの指示を受け付けると、光スイッチ１００は、測定パターンが指定する入力ポート１１０ａおよび出力ポート１１０ｂの接続パスを形成させる。例えば、（１）〜（４）の接続パスへの切替が指示された場合、光スイッチ１００は、入力ポート１１０ａと出力ポート１１０ｂがそれぞれ２番、２６番、５１番および７６番となる接続パスが形成されるよう、対応する入力側マイクロミラー装置１３０ａおよび出力側マイクロミラー装置１３０ｂの傾動角を制御する。
【００５６】
測定指示部１５６により光スイッチ１００に対して測定パターンに対応する接続パスを形成させる旨の指示が送出された後、モニタ部１４は、２５×１スイッチ２２〜２５から検出された出力光に関する光強度データおよび時系列データを生成する（ステップＳ６）。生成された光強度データおよび時系列データは、データ記憶部１５１に送出される。
【００５７】
光強度データおよび時系列データを受け付けると、データ記憶部１５１は、それらを記憶する（ステップＳ７）。
【００５８】
光強度データおよび時系列データがデータ記憶部１５１に記憶されると、演算処理部１５２は、光強度データ、入力光データ、入力側損失データ、出力側損失データおよび時系列データに基づいて、挿入損失およびスイッチング時間を演算する（ステップＳ８）。算出された挿入損失およびスイッチング時間は、演算結果記憶部１５３に記憶される（ステップＳ９）。
【００５９】
挿入損失およびスイッチング時間が演算結果記憶部１５３に記憶されると、測定パターン設定部１５５は、測定パターンにより指定された接続パスの全てについて出力光の測定が行われ、挿入損失およびスイッチング時間が演算されたか否か確認する（ステップＳ１０）。これは、例えば、演算結果記憶部１５３に記憶された挿入損失およびスイッチング時間を確認することにより行われる。
【００６０】
全ての接続パスの測定が終了していない場合（ステップＳ１０：ＮＯ）、測定パターン設定部１５５は、ステップＳ４の処理に戻る。
【００６１】
一方、全ての接続パスの測定が終了した場合（ステップＳ１０：ＹＥＳ）、ユーザインターフェース部１５４は、演算結果記憶部１５３に記憶された挿入損失およびスイッチング時間を、表示装置等に出力する（ステップＳ１１）。出力すると、光学特性測定装置２の動作を終了する。
【００６２】
以上説明したように、本実施の形態によれば、人手を介さず自動的に光スイッチ１００の光学特性の測定ができるので、結果として、その測定の効率を向上させることができる。また、最初に光スイッチ１００の全入出力光ポートと光学特性測定装置２を予め光接続した後は、測定を終了するまで光コネクタ等を着脱しなくてよいので、従来よりも作業性を向上させることができる。
【００６３】
また、本実施の形態では、４つの接続パスについて同時に挿入損失およびスイッチング時間の測定ができるので、結果として、測定時間の大幅な短縮を実現することができる。
【００６４】
なお、本実施の形態において、光スイッチ１００からの出力光を２５×１スイッチ２２〜２５により出力するようにしたが、２５×１スイッチ２２〜２５の替わりに、例えば、５０×１スイッチを用いて２並列処理化したり、１０×１スイッチを用いて１０並列処理化したりするようにしてもよい。
【００６５】
また、上述した第１および第２の実施の形態では、挿入損失とスイッチング時間を測定する場合を例に説明したが、光特性に関する測定であれば、例えば反射減衰量やクロストークなど各種測定に適用できる。
【産業上の利用可能性】
【００６６】
本発明は、光スイッチなど光路の切替を行う装置における光学特性の測定に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明に係る光学特性測定装置の構成を模式的に示す図である。
【図２】本発明に係る光学特性測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図３】本発明に係る光学特性測定装置の構成を模式的に示す図である。
【図４】光スイッチの構成を模式的に示すブロック図である。
【図５】光スイッチの空間的な構成を模式的に示す斜視図である。
【符号の説明】
【００６８】
１，２…光学特性測定装置、１１…光源、１２…入力側１×１００スイッチ、１３…出力側１００×１スイッチ、１４…モニタ部、１５…測定装置制御部、１６，１８，２６，２８〜３１…光コネクタ、１７，１９，２７，３２〜３５…光ファイバコード、２１…光カプラ、２２〜２５…２５×１スイッチ、１５１…光強度データ記憶部、１５２…演算処理部、１５３…演算結果記憶部、１５４…ユーザインターフェース部、１５５…測定パターン設定部、１５６…測定指示部、１５７…スイッチ制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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