(57)【要約】【課題】状況把握が容易に行えるＩＣテスタのデバック装置を実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。本装置は、表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージをレポートデータにするレポート手段を備えたことを特徴とする装置である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置において、
前記表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージをレポートデータにするレポート手段を備えたことを特徴とするＩＣテスタのデバック装置。
【請求項２】
レポート手段は、表示ツール手段の画面のシートごと、または、すべてのシートの表示データをレポートデータにすることを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタのデバック装置。
【請求項３】
表示ツール手段が操作された操作ログデータを作成する操作ログ手段を設け、レポート手段は、操作ログ手段の操作ログデータをレポートデータとすることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタのデバック装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象、例えばＩＣ、ＬＳＩ等の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に関し、状況把握が容易に行えるＩＣテスタのデバック装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、テストプログラム、テストパターンにより被試験対象を試験するものである。このテストプログラムが正常かどうか事前にデバック装置によりチェックが行われている。デバック装置は、テストプログラムを編集するエディタ手段、ＩＣテスタのモジュールの状態、値を表示するモニタモジュール手段、ＩＣテスタの電圧発生部または電圧測定部の入出力電圧の波形表示を行う波形表示手段、テストパターン、被試験対象に出力するデジタルパターンを表示するパターン表示手段等の複数の表示ツール手段を有する。このような装置は例えば下記特許文献１等に示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１２２２１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＩＣテスタのデバック装置は、複数の表示ツール手段を操作して、デバックが行われるので、各表示ツール手段の操作方法や内容について完全に把握することが大変であった。このため、操作者が、表示ツール手段の操作方法がわからない場合や、表示ツール手段の機能不良により誤動作した場合に問い合わせを行うが、一般的な装置ではないので、状況説明を的確に行うことができなかった。また、ＩＣテスタ等は、情報機密が要求されるため、ネットワークは独立に構築されるため、デバック装置を、ネットワークを介して監視することができず、状況把握ができなかった。このため、操作者以外の第三者がデバック装置の状況把握を容易に行うことができないという問題点があった。
【０００５】
そこで、本発明の目的は、状況把握が容易に行えるＩＣテスタのデバック装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置において、
前記表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージをレポートデータにするレポート手段を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
レポート手段は、表示ツール手段の画面のシートごと、または、すべてのシートの表示データをレポートデータにすることを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
表示ツール手段が操作された操作ログデータを作成する操作ログ手段を設け、レポート手段は、操作ログ手段の操作ログデータをレポートデータとすることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、レポート手段が、表示ツール手段の表示データ、画面イメージをレポートデータにするので、レポートデータを確認することにより、状況把握が容易にできる。
【０００８】
また、請求項３によれば、操作ログ手段が操作ログデータを、レポート手段がレポートデータとするので、どのように操作が行われたか、容易に把握することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。図２はレポート手段３７の選択画面を示した図である。
【００１０】
図１において、ＩＣテスタ１は、図示しない被試験対象（以下ＤＵＴ）の試験を行う。記憶部２は、テストプログラム２１、テストパターン２２、操作ログデータ２３、レポートデータ２４を記憶する。制御部３は、記憶部２のテストプログラム２１によりＩＣテスタ１を実行手段３１により制御し、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５等の複数のツール表示手段、操作ログ手段３６、レポート手段３７等を有し、表示部４に表示する。エディタ手段３２は、記憶部２のテストプログラム２１の編集画面を表示部４に表示する。モジュールモニタ手段３３は、ＩＣテスタ１のモジュールの状態、値を表示部４に複数のシートを重ね合わせて画面表示する。波形表示手段３４は、ＩＣテスタ１の電圧発生部または電圧測定部の入出力電圧の波形を表示部４に複数のシート４１を重ね合わせて画面表示を行う。パターン表示手段３５は、記憶部２のテストパターン２２、ＤＵＴの出力であるデジタルパターンを表示部４に画面表示する。操作ログ手段３６は、表示ツール手段の操作ログデータ２３を作成し、記憶部２に格納する。レポート手段３７は、各表示ツール手段から起動され、図２の選択画面４２を表示させ、選択画面４２の選択に従って、表示ツール手段の画面に用いる表示データ、画面イメージ、記憶部２の操作ログデータ２３をレポートデータ２４にし、記憶部２に格納する。操作部５はキーボード、マウス等で、制御部３を操作する。
【００１１】
このような装置の動作を以下に説明する。操作者が操作部５により制御部３に対して指示を与え、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５を動作させる。このとき、操作ログ手段３６は、操作部５により操作されたログを操作ログデータ２３として、順次、記憶部２に記憶させる。エディタ手段３２は、記憶部２からテストプログラム２１を読み出し、表示部４に画面表示させると共に、実行手段３１にテストプログラム２１を一文ずつ送る。実行手段３１は、エディタ手段３２からのテストプログラム文により、ＩＣテスタ１を制御する。ここで、実行手段３１は、テストプログラム文の内容により、記憶部２のテストパターン２２を読み出し、ＩＣテスタ１に送る。ＩＣテスタ１は、図示しない、正常なＤＵＴを試験する。
【００１２】
そして、モジュールモニタ手段３３は、ＩＣテスタ１からモジュールの値、例えば、多数のドライバのハイレベル、ロウレベル電圧値、多数のコンパレータのハイレベル、ロウレベル比較値等を取得し、表示部４のシートに画面表示する。そして、モジュールモニタ手段３３は、操作部５のシート選択により、重ね合わされているシートを切り替えて画面表示する。また、波形表示手段３４は、ＩＣテスタ１の電圧発生部が出力する波形データを表示部４の画面のシート４１に波形表示させる。そして、波形表示手段３４は、操作部５のシート４１の選択により、重ね合わされているシート４１を切り替えて、ＩＣテスタ１の電圧測定部が測定した測定値を表示部４の画面のシート４１に波形表示させる。そして、パターン表示手段３５は、記憶部２からテストパターン２２を読み出し、ＩＣテスタ１からＤＵＴ１の出力であるデジタルパターンを受取り、表示部４に画面表示、波形パターン表示や”０”，”１”表示を行う。
【００１３】
表示ツール手段のどれかの表示にトラブルが起きた場合、例えば、波形表示手段３４がトラブルが起きた場合、操作者が、操作部５により、波形表示手段３４に対して指示を行い、レポート手段３７を起動させる。レポート手段３７は、表示部４に選択画面４２を表示させる。操作者が、操作部５により、例えば、”シートの表示データ”、”操作ログ”、”画面イメージ”のチェックボックスをチェックし、”ＯＫ”ボタンを押す。これにより、レポート手段３７は、波形表示手段３４からシート４１の表示データ、画面イメージを受け取り、記憶部２から波形表示手段３４の操作に関する操作ログデータを受け取り、レポートデータ２４として記憶部２に格納する。
【００１４】
このように、レポート手段３７が、表示ツール手段の表示データ、画面イメージをレポートデータ２４にして、記憶部２に格納するので、レポートデータ２４を確認することにより、状況把握が容易にできる。
【００１５】
また、操作ログ手段３６が操作ログデータ２３を記憶部２に格納し、レポート手段３７がレポートデータ２４とするので、どのように操作が行われたか、容易に把握することができる。
【００１６】
なお、本発明はＩＣテスタ１の実機によりデバックを行う構成を示したが、被試験対象のモデルとＩＣテスタのモデルとによりシミュレーションを行うシミュレーション装置としてもよい。
【００１７】
また、表示ツール手段として、エディタ手段３２、モジュールモニタ手段３３、波形表示手段３４、パターン表示手段３５を示したが、シュムーを表示部に画面表示させるシュムー表示手段でもよい。要するに、表示ツール手段は、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックに用いられ、表示部にデータを画面表示させるものであればよい。
【００１８】
また、テストプログラム２１とテストパターン２２とにより、デバックを行う構成を示したが、テストプログラム２１のみのデバックでもよい。
【００１９】
また、操作ログ手段３６を設けた構成を示したが、操作ログ手段３６がない構成でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】レポート手段３７の選択画面を示した図である。
【符号の説明】
【００２１】
１  ＩＣテスタ
２１  テストプログラム
２２  テストパターン
２３  操作ログデータ
２４  レポートデータ
３２  エディタ手段
３３  モジュールモニタ手段
３４  波形表示手段
３５  パターン表示手段
３６  オペレーションログ手段
３７  レポート手段
４  表示部
４１  シート
【図１】
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【図２】
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