(57)【要約】【課題】ＥＣＴセンサの全長を短くでき、Ｕ字管等の管内検査を容易に行える渦電流探傷装置を提供することにある。【解決手段】  渦電流探傷システムは、コイルを有する渦電流センサ１と、検査対象２の上に設置される渦電流センサ１のコイルに交流電圧を印加するとともに、検査対象の内部に流れる渦電流で誘起されるコイルのインピーダンスの変化を検出し、欠陥を検出する渦電流探傷装置８とを有する。渦電流センサ１は、等磁極を対向させた複数の磁石４Ａ，４Ｂと、複数の磁石４Ａ，４Ｂの間の隙間に設置されたコイル３とから構成される。【選択図】図２
2010266277.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、
前記渦電流センサは、等磁極を対向させた複数の磁石と、該複数の磁石の間の隙間に設置されたコイルとから構成されることを特徴とする渦電流探傷システム。
【請求項２】
コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、
前記渦電流センサは、ヨークを有する直流コイルと、センサ用の交流コイルとからなり、
前記ヨークの先端と、このヨーク先端の面に対向する検査対象の面のなす角度θが、
前記交流コイルの高さｈ、前記ヨークの先端の幅ｗとの間に、
θ＝ｓｉｎ−１（ｈ／ｗ）
の関係を有することを特徴とする渦電流探傷システム。
【請求項３】
コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、
前記渦電流センサは、ヨークを有する第１の直流コイルと、センサ用の交流コイルと、検査対象である配管の端部に設置された第２の直流コイルとから構成されることを特徴とする渦電流探傷システム。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の渦電流探傷システムにおいて、
センサ移動機構としての巻線器を備えることを特徴とする渦電流探傷システム。
【請求項５】
請求項４記載の渦電流探傷システムにおいて、
該巻線器の巻き線量を計測するエンコーダを備えることを特徴とする渦電流探傷システム。
【請求項６】
請求項５記載の渦電流探傷システムにおいて、
巻線器の巻き線量を計測するエンコーダによって検出された巻き線量と渦電流センサによって検出されたＥＣＴ信号を記録するパソコンを備えることを特徴とする渦電流探傷システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、渦電流探傷システムに係り、特に、異種金属接合面の渦電流探傷に用いるに好適な渦電流探傷システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
渦電流探傷（以下ＥCTと記す）とは検査対象上でコイルに交流電圧を印加したときの、コイルのインピーダンス変化から欠陥を検出するという検査手法である。検査対象内に欠陥が無い場合には渦電流はコイルに添って流れるが、欠陥がある場合には欠陥を迂回して流れる。この渦電流の変化をコイルのインピーダンス変化として検出することで、欠陥の有無を判断する。
【０００３】
ＥＣＴで異種金属接合面を検査しようとする場合、透磁率や導電率の変化で信号が発生し、ノイズとなる。このノイズを低減するため、磁気飽和法が用いられている。磁気飽和法とは、直流磁場を印加して検査対象内の磁束を飽和させ、透磁率変動で生じる信号を低減するものである。
【０００４】
直流磁場の印加方法としてはヨークに２つの直流コイルを巻きつけ、直流コイル間にＥＣＴコイルを設けたものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
また、他の直流磁場印加方法として、磁石にＥＣＴコイルを巻きつけ、コイルを巻きつけた磁石の磁極に対して他の磁石の等磁極を対向させたものが知られている（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平７−２４４０２１号公報
【特許文献２】特開平６−９４６８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１や特許文献２記載の構造を有する磁気飽和法を用いるＥＣＴセンサは、一般的なＥＣＴセンサに比べて全長が長くなる。そのため、細いＵ字管内にＥＣＴセンサを挿入して探傷する場合、曲管部を通過できず、探傷を行えない場合があるという問題があった。
【０００８】
本発明の目的は、ＥＣＴセンサの全長を短くすることで、Ｕ字管等の曲管を容易に検査できる渦電流探傷システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
（１）上記目的を達成するために、本発明は、コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、前記渦電流センサは、等磁極を対向させた複数の磁石と、該複数の磁石の間の隙間に設置されたコイルとから構成されるものである。  
かかる構成により、ＥＣＴセンサの全長を短くでき、Ｕ字管等の曲管の検査を容易に行えるものとなる。
【００１０】
（２）上記目的を達成するために、本発明は、コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、前記渦電流センサは、ヨークを有する直流コイルと、センサ用の交流コイルとからなり、前記ヨークの先端と、このヨーク先端の面に対向する検査対象の面のなす角度θが、前記交流コイルの高さｈ、前記ヨークの先端の幅ｗとの間に、
θ＝ｓｉｎ−１（ｈ／ｗ）
の関係を有するものである。  
かかる構成により、ＥＣＴセンサの全長を短くでき、Ｕ字管等の曲管の検査を容易に行えるものとなる。
【００１１】
（３）上記目的を達成するために、本発明は、コイルを有する渦電流センサと、渦電流探傷装置とを有する渦電流探傷システムであって、
前記渦電流センサは、ヨークを有する第１の直流コイルと、センサ用の交流コイルと、検査対象である配管の端部に設置された第２の直流コイルとから構成されるものである。
【００１２】
かかる構成により、ＥＣＴセンサの全長を短くでき、Ｕ字管等の曲管の検査を容易に行えるものとなる。
【００１３】
（４）上記（１）〜（３）のいずれかにおいて、好ましくは、センサ移動機構としての巻線器を備えるようにしたものである。
【００１４】
（５）上記（４）において、好ましくは、該巻線器の巻き線量を計測するエンコーダを備えるようにしたものである。
【００１５】
（６）上記（５）において、好ましくは、巻線器の巻き線量を計測するエンコーダによって検出された巻き線量と渦電流センサによって検出されたＥＣＴ信号を記録するパソコンを備えるようにしたものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ＥＣＴセンサの全長を短くでき、Ｕ字管等の曲管の検査を容易に行えるものとなる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムの全体構成図である。
【図２】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサの構成図である。
【図３】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサにおける磁束密度の説明図である。
【図４】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムに用いる巻線器の構成を示す断面図である。
【図５】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムの詳細構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムの探傷動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサの構成図である。
【図８】本発明の第２の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサにおける磁束密度の説明図である。
【図９】本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムの全体構成図である。
【図１０】本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサの構成図である。
【図１１】本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサにおける磁束密度の説明図である。
【図１２】本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムの詳細構成を示すブロック図である。
【図１３】本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムの探傷動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、図１〜図６を用いて、本発明の第１の実施形態による渦電流探傷システムの構成について説明する。  
図１は、渦電流探傷システムの全体構成図である。
【００１９】
図１（Ａ）に示すように、本実施形態の渦電流探傷システムは、ＥＣＴセンサ１と、渦電流探傷（ＥＣＴ）装置８と、パソコン９と、巻線器１０と、エンコーダ１１と、ＥＣＴセンサ１とＥＣＴ装置８間の配線１６とから構成される。
【００２０】
ＥＣＴセンサ１は、検査対象である配管１２の管内に設置され、管内を移動する。ＥＣＴセンサ１の構成については、図２を用いて後述する。
【００２１】
ＥＣＴセンサ１は、配管１２の一方の端部に押し込まれ、図示していないコンプレッサで圧縮空気を吹き込むことにより、矢印Ａ１方向に管内を移動し、図１（Ｂ）に示すように、配管１２の他方の端部に到達する。その後、巻線器１０により、配線１６を巻き取ることで、ＥＣＴセンサ１は、図１（Ｂ）の矢印Ａ２方向に管内を移動する。巻線器１０の構成については、図４を用いて後述する。配線の引抜量，すなわち、配管１２に対するＥＣＴセンサ１の位置は、エンコーダ１１により検出され、パソコン９に取り込まれる。エンコーダ１１は、ロータリーエンコーダ等からなり、ＥＣＴセンサ１の位置を測定する。
【００２２】
ＥＣＴ装置８は、ＥＣＴセンサ１のコイルに交流電圧を印加して欠陥を検出する。
【００２３】
次に、図２及び図３を用いて、本実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサ１の構成について説明する。  
図２（Ａ）は側面図であり、図２（Ｂ）は正面図であり、図２（Ｃ）は斜視図である。
【００２４】
ＥＣＴセンサ１は、２個の永久磁石４Ａ、４Ｂと、４個のＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄから構成される。
【００２５】
永久磁石４Ａ、４Ｂは、図２（Ｃ）に示すように、円盤状である。そして、図２（Ａ）に示すように、一方の円形面がＮ極に着磁され、他方の円形面がＳ極に着磁されている。さらに、永久磁石４Ａ、４Ｂの等磁極面（図示の例では、Ｎ極）を対向させ、隙間ができるように配置している。磁石４Ａ、４Ｂとしては、サマリウム−コバルト磁石、ネオジム磁石、フェライト磁石等の強磁性材を用いる。
【００２６】
２個の対向配置された永久磁石４Ａ、４Ｂの間の隙間に、４個のＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄが配置されている。ＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄとしては、フェライトコアに銅線を巻いたものを用いる。ＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄに、図１に示したＥＣＴ装置８から交流電圧が印加される。
【００２７】
図３は、本実施形態によるＥＣＴセンサ１における、２個の永久磁石４Ａ、４Ｂの間隙の磁束密度の説明図である。
【００２８】
図３において、横軸は位置（ｍｍ）を示し、縦軸は磁束密度（任意単位）を示している。横軸の位置は、０〜５ｍｍとしており、永久磁石４Ａ、４Ｂの間の隙間長を５ｍｍとした場合の評価例である。図２（Ａ）では、４個のＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄは、２個の永久磁石４Ａ、４Ｂの隙間の中間位置に配置されるため、位置２．５ｍｍ付近が、ＥＣＴコイル３Ａ、３Ｂ、３Ｃ、３Ｄの配置位置である。
【００２９】
図３において、実線は、図２にて説明したように、永久磁石４Ａ、４Ｂの等磁極面（図示の例では、Ｎ極）を対向した配置した場合の、磁束密度分布を示している。それに対して、破線は、比較のため、２個の永久磁石の異磁極面（一方の磁石のＮ極に対して、他方の磁石のＳ極）が対向して配置した場合の、磁束密度分布を示している。
【００３０】
等磁極対向の場合の中央位置（位置＝２．５ｍｍ）における磁束密度は約０．００１（a.u.）、異磁極対向の場合の中央位置（位置＝２．５ｍｍ）における磁束密度は約０．０００３（a.u.)となる。
【００３１】
したがって、図２にて説明したように、２個の磁石を等磁極対向配置とすることで、異磁極対向の場合に比べて、磁石間隙の中央位置における磁束密度を約３倍にすることができる。すなわち、同じ大きさの磁石を用いた場合、磁石間隙の磁束密度が３倍になるということは、磁石間隙の磁束密度が異磁極対向配置の場合と同じでよければ、磁石の発生する磁束密度を１／３にでき、その分、磁石を小型化でき、結果として、ＥＴＣセンサ１を小型化でき、その全長を短くできる。その結果、ＥＴＣセンサ１を短尺化でき、より曲率半径の小さなＵ字状の配管に対しても、曲管部を通過でき、探傷を行えるようになる。
【００３２】
次に、図４の巻線器の構成を示す断面図を用いて、その構成について説明する。  
図１に示した巻線器１０は、２個のモータ１３Ａ、１３Ｂと、２個の回転体１４Ａ、１４Ｂと、格納容器１５とから構成されている。回転体１４Ａはモータ１３Ａにより回転され、回転体１４Ｂはモータ１３Ｂにより回転される。
【００３３】
配線１６は、２個の回転体１４Ａ、１４Ｂの間に挟まれて保持されている。従って、モータ１３Ａ、１３Ｂにより、回転体１４Ａ、１４Ｂを回転させることで、配線１６を巻き取ることができ、図１に示したＥＣＴセンサ１を配管の内部で移動させることができる。
【００３４】
次に、図５のブロック図を用いて、渦電流探傷システムの詳細構成について説明する。なお、図１と同一符号は、同一部分を示している。
【００３５】
パソコン９は、キーボード２６からなる入力装置を備えている。また、パソコン９は、表示装置となるモニタ２８を備えている。また、パソコン９は、Ｉ／Ｏポート２５と、ＣＰＵ２１と、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）２２と、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）２３と、リードオンリーメモリ（ＲＯＭ）２４とを備えている。
【００３６】
ＥＣＴ装置８は、Ｉ／Ｏポート３１と、Ｄ／Ａコンバータ３０と、Ａ／Ｄコンバータ２９とを備えている。
【００３７】
また、エンコーダ１１の出力は、Ａ／Ｄコンバータ２９‘を介して、Ｉ／Ｏポート２５に入力する。
【００３８】
次に、図６のフローチャートを用いて、渦電流探傷システムの探傷動作について説明する。
【００３９】
図６のステップ１０１は、センサ設置ステップである。このステップにおいて、図示していないコンプレッサーを用いて、図１に示したＥＣＴセンサ１を配管１２の内部に圧送する。
【００４０】
ステップ１０２は、センサ引抜ＥＣＴ実施ステップである。このステップにおいて、パソコン９のキーボード２６よりＥＣＴ開始の信号を入力し、Ｉ／Ｏポート２５を介してＣＰＵ２１に伝達する。ＥＣＴ開始信号は、ＣＰＵ２１からＩ／Ｏポート２５を介してＥＣＴ装置８のＩ／Ｏポート３１に伝達され、Ｄ／Ａコンバータ３０を介してＥＣＴセンサ１に電力が供給される。
【００４１】
ＥＣＴセンサ１で取得した信号は、Ａ／Ｄコンバータ２９、ＥＣＴ装置８のＩ／Ｏポート３１、パソコン９のＩ／Ｏポート２５の経路でＣＰＵ２１に伝達される。
【００４２】
ＥＣＴ信号測定開始とともに巻線器１０でＥＣＴセンサ１の配線１６を引っ張り、センサ１を配管１２の中で移動させる。移動量はエンコーダ１１で計測し、Ａ／Ｄコンバータ２９‘、パソコン９のＩ／Ｏポート２５を介してＣＰＵ２１に伝達する。
【００４３】
ステップ１０３は、ＥＣＴ測定結果処理ステップである。このステップにおいて、ＣＰＵ２１は、ＥＣＴ測定信号とセンサ１の位置信号をＨＤＤ２２、ＲＡＭ２３等の記憶装置に記憶するとともに、Ｉ／Ｏポート２５を介してモニタ２８に表示する。
【００４４】
以上説明したように、本実施形態によれば、従来のＥＣＴセンサと較べてＥＣＴセンサの短尺化が可能であるため、曲管の探傷可能範囲を拡大できる。
【００４５】
次に、図７及び図８を用いて、本発明の第２の実施形態による渦電流探傷システムの構成について説明する。本実施形態による渦電流探傷システムの全体構成は、図１に示したものと同様で、ＥＣＴセンサ１をＥＣＴセンサ１Ａに置換したものである。  
図７（Ａ）はＥＣＴセンサ１Ａの側面断面図、図７（Ｂ）は正面図を示す。このＥＣＴセンサ１Ａは、ＥＣＴコイル３と、ヨーク５と、電磁石コイル６Ａ、６Ｂとから構成されている。また、このＥＣＴセンサ１Ａは、図１に示した配管１２の中に配置されることになる。
【００４６】
ヨーク５は、図７（Ａ）に示すように、断面形状が、上下対称の馬蹄形状となっている。馬蹄形状の両端部は、互いに接近しており、その間に、ＥＣＴコイル３が配置される。ＥＣＴコイル３は、図７（Ｂ）に示すように、リング状になっている。ヨーク５の馬蹄形状の２カ所の基部には、それぞれ電磁石コイル６Ａ、６Ｂが巻回され、電磁石を構成している。
【００４７】
ヨーク５としては、鉄、コバルト、パーマロイ等の強磁性金属を用いる。電磁石コイル６Ａ、６Ｂとしては、銀線、銅線等の導電材を巻いた直流コイルを用いる。ＥＣＴコイル３としては、銅線を巻いたものを用いる。
【００４８】
図８（Ａ）は、このセンサ１Ａの磁束密度のヨーク５と検査対象２間の角度θに対する依存性を示す。図８（Ｂ）は、ヨーク５と検査対象２が接触する部分の拡大図である。角度θの減少に伴い、磁束密度が大きくなる。ＥＣＴコイル３の高さをｈ、ヨーク５先端の幅をｗとした場合、ヨーク５と検査対象２間の角度θは、以下の式（１）で記述される。  
θ＝ｓｉｎ−１（ｈ／ｗ）  …（１）
このθでヨーク５を製作することによりヨーク５長が最小となるため、センサ１Ａの短尺化が可能となる。
【００４９】
以上説明したように、本実施形態によれば、従来のＥＣＴセンサと較べてＥＣＴセンサの短尺化が可能であるため、曲管の探傷可能範囲を拡大できる。
【００５０】
次に、図９〜図１３を用いて、本発明の第３の実施形態による渦電流探傷システムの構成について説明する。  
最初に、図９を用いて、本実施形態による渦電流探傷システムの全体構成について説明する。なお、図１と同一符号は同一構成物を示している。
【００５１】
本実施形態の渦電流探傷システムは、ＥＣＴセンサ１Ｂと、渦電流探傷（ＥＣＴ）装置８と、パソコン９と、巻線器１０と、エンコーダ１１と、配線１６と、外部電磁石６ｂとから構成される。
【００５２】
ＥＣＴセンサ１Ｂは、検査対象である配管１２の管内に設置され、管内を移動する。ＥＣＴセンサ１Ｂの構成については、図１０を用いて後述する。ＥＣＴセンサ１Ｂは、配線１６により、ＥＣＴ装置８に接続されている。
【００５３】
ここで、配管１２の両端部には、平板４０が溶接金属ＷＭにより溶接されている。また、この配管１２の両端部には、外部磁石６ｂが設置されている。外部磁石６ｂは、ＥＣＴセンサ１Ｂの一部を構成する。
【００５４】
配管１２が図示のようにＵ字管である場合、ＥＣＴセンサ１Ｂは、配管１２の端部から図示していないコンプレッサで圧縮空気を吹き込むことで外部磁石６ｂが設置してある他方の端部に送り込まれ、巻線器１０により配線１６を巻き取ることで矢印Ａ２方向に管内を移動する。巻線器１０の構成は、図４に示したものと同様である。
【００５５】
ＥＣＴ装置８は、ＥＣＴセンサ１ＢのＥＣＴコイル３に交流電圧を印加するとともに、欠陥で生じるコイルのインピーダンス変化を検出する。
【００５６】
次に、図１０及び図１１を用いて、本実施形態による渦電流探傷システムに用いるＥＣＴセンサ１Ｂについて説明する。  
図１０（Ａ）はＥＣＴセンサ１Ｂの側面断面図、図１０（Ｂ）は正面図である。
【００５７】
ＥＣＴセンサ１Ｂは、リング状のＥＣＴコイル３と、円筒状の内部電磁石６ａと、リング状の外部電磁石６ｂと、円筒状のヨーク９から構成される。
【００５８】
ヨーク９の外周に、内部電磁石６ａが設置される。ＥＣＴコイル３は、内部電磁石６ａの端部に設置される。外部電磁石６ｂは、配管２の端部に設置される。ＥＣＴコイル３としては、フェライトコアに銅線を巻いたものを用いる。電磁石６ａと６ｂとしては銅線を巻線したものを用いる。
【００５９】
図１１はＥＣＴセンサ１Ｂにおける、ＥＣＴコイル３の近傍の磁束密度分布で、横軸は位置（ｍｍ）を示し、縦軸は磁束密度（任意単位）を示している。横軸は、外部電磁石６ｂと内部電磁石６ａの間の長さを１ｍｍとしており、１ｍｍの位置が管端に対応する。
【００６０】
図１１中の実線は内部電磁石６ａと管端に設置した外部電磁石６ｂの合成磁場の磁束密度分布、破線は内部電磁石６ａのみで励磁した場合の磁束密度分布を示す。
【００６１】
外部電磁石６ｂを設置することにより、管内の内部電磁石６ａを特許文献１の１／２の長さとしても管端の励磁が可能である。溶接部が管端部のみの場合、このように電磁石を管端と管内に分離することによりセンサの短尺化が可能となる。
【００６２】
次に、図１２のブロック図を用いて、渦電流探傷システムの詳細構成について説明する。なお、図１と同一符号は、同一装置を示している。
【００６３】
パソコン９は、キーボード２６からなる入力装置、表示装置となるモニタ２８、Ｉ／Ｏポート２５、ＣＰＵ２１、ＨＤＤ２２、ＲＡＭ２３、ＲＯＭ２４を備えている。
【００６４】
ＥＣＴ装置８は、Ｉ／Ｏポート３１、Ｄ／Ａコンバータ３０、Ａ／Ｄコンバータ２９を備えている。
【００６５】
次に、図１３のフローチャートを用いて、本実施形態による渦電流探傷システムの探傷動作について説明する。  
図１３のステップ２０１は、センサ設置ステップである。このステップにおいて、図示していないコンプレッサーを用いて、図１に示したＥＣＴセンサ１Ｂを配管１２の１端から他端に圧送する。
【００６６】
ステップ２０２は、管端溶接部ＥＣＴ実施ステップである。このステップにおいて、パソコン９のキーボード２６よりＥＣＴ開始の信号を入力し、Ｉ／Ｏポート２５を介してＣＰＵ２１に伝達する。ＥＣＴ開始信号は、ＣＰＵ２１からＩ／Ｏポート２５を介してＥＣＴ装置８のＩ／Ｏポート３１に伝達され、Ｄ／Ａコンバータ３０を介してＥＣＴセンサ１Ｂに電力が供給される。
【００６７】
ＥＣＴセンサ１Ｂで取得した信号は、Ａ／Ｄコンバータ２９、ＥＣＴ装置８のＩ／Ｏポート３１、パソコン９のＩ／Ｏポート２５を経由してＣＰＵ２１に伝達する。
【００６８】
ステップ２０３は、通常ＥＣＴ実施ステップである。このステップでは、管端探傷後、電磁石の電力供給を停止するとともに、ＥＣＴ信号測定開始とともに巻線器１０でＥＣＴセンサ１Ｂの配線１６を引っ張り、センサ１Ｂを配管１２の中で移動させながらＥＣＴ信号を取得し、Ａ／Ｄコンバータ２９、ＥＣＴ装置８のＩ／Ｏポート３１を介してパソコン９のＩ／Ｏポート２５、ＣＰＵ２１に伝達する。
【００６９】
ステップ２０４は、ＥＣＴ信号測定結果処理ステップである。このステップにおいて、ＣＰＵ２１は、ＥＣＴ信号測定結果をＨＤＤ２２、ＲＡＭ２３等の記憶装置に記憶するとともに、Ｉ／Ｏポート２５を介してモニタ２８に表示する。
【００７０】
以上説明したように、本実施形態によれば、従来のＥＣＴセンサと較べてＥＣＴセンサの短尺化が可能であるため、管端溶接部を有する曲管を単一のセンサで探傷する場合の、探傷可能範囲を拡大することができる。
【符号の説明】
【００７１】
１、１Ａ、１Ｂ…ＥＣＴセンサ
２…検査対象
３、３A、３B、３C、３D…ＥＣＴコイル
４…磁石
５…ヨーク
６、６A、６B…電磁石コイル
６ａ…内部電磁石
６ｂ…外部電磁石
８…ＥＣＴ装置
９…パソコン
１０…巻線器
１１…エンコーダ
１２…配管
１３…モータ
１４…回転体
１５…格納容器
１６…配線
２１…ＣＰＵ
２２…ＨＤＤ
２３…ＲＡＭ
２４…ＲＯＭ
２５、３１…Ｉ／Ｏポート
２６…キーボード
２８…モニタ
２９、２９‘…Ａ／Ｄコンバータ
３０…Ｄ／Ａコンバータ
４０…板
【図１】
2010266277.tif 000003
【図２】
2010266277.tif 000004
【図３】
2010266277.tif 000005
【図４】
2010266277.tif 000006
【図５】
2010266277.tif 000007
【図６】
2010266277.tif 000008
【図７】
2010266277.tif 000009
【図８】
2010266277.tif 000010
【図９】
2010266277.tif 000011
【図１０】
2010266277.tif 000012
【図１１】
2010266277.tif 000013
【図１２】
2010266277.tif 000014
【図１３】
2010266277.tif 000015