(57)【要約】【課題】被検査物の所定の部位における測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供する。【解決手段】光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、前記測定光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、  前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、  前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、  前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、  前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、を有する構成とする。【選択図】            図１
2010151704.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、
前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層画像撮像装置。
【請求項２】
前記予め取得された情報が、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像から算出された３次元平面の情報であり、
前記制御手段は、前記算出された３次元平面に沿って、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御し、前記被検査物の３次元断層画像による撮像が可能に構成されていることを特徴とする請求項１に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項３】
前記３次元平面が算出されたことを通知する、通知手段を有することを特徴とする請求項２に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項４】
前記被検査物が被検眼であり、前記３次元平面が該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項５】
前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層であることを特徴とする請求項４に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項６】
前記網膜の特定の層が、視神経繊維層であることを特徴とする請求項４に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項７】
前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、
を有することを特徴とする請求項４から６のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項８】
前記眼底カメラ本体部と、眼底の表面画像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする請求項７に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項９】
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像の撮像方法であって、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関する情報を予め取得するため、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像を撮像する第１の工程と、
前記撮像された２つ以上の断層画像を、画像処理する第２の工程と、
前記画像処理された２つ以上の断層画像を用いて、３次元平面を算出する第３の工程と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を制御する制御手段を用い、
前記位置調整手段を制御して前記測定光を前記３次元平面に集光させると共に、前記光路長調整手段を制御して前記参照ミラーを前記撮像面に対応する位置に移動させ、前記被検査物の３次元断層画像を撮像する第４の工程と、
を有することを特徴とする光断層画像の撮像方法。
【請求項１０】
前記第１の工程から前記第４の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うことを特徴とする請求項９に記載の光断層画像の撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いた眼科用機器として、様々なものが使用されている。
例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）、等様々な機器が使用されている。
中でも、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光断層画像撮像装置は、試料の断層像を高分解能に得ることができる装置である。
この装置は、眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。
以下、これをＯＣＴ装置と記す。
上記ＯＣＴ装置によると、低コヒーレント光である測定光を、サンプルに照射し、そのサンプルからの後方散乱光を、干渉系を用いることで高感度に測定することができる。
また、ＯＣＴ装置は該測定光を、該サンプル上にスキャンすることで、断層像を高分解能に得ることができる。
そのため、被検眼の眼底における網膜の断層像を高分解能に撮像することも可能であることから、網膜の眼科診断等において広く利用されている。
【０００３】
近年、眼科用ＯＣＴ装置は従来のタイムドメイン方式から、より高速な撮像が可能なフーリエドメイン方式に移行しつつある。
高速な撮像による場合には、固視微動に代表される眼球運動による画像のブレや欠落を防ぐことが可能となる。
被検眼における特定の奥行き毎に情報を取得するタイムドメイン方式に対して、フーリエドメイン方式は、奥行き方向の情報を一括して取得するため、高速な撮像が可能となる。
しかしながら、フーリエドメイン方式による場合、奥行き方向の情報の一括取得が、撮像において幾つかの制限になることが明らかとなっている。
【０００４】
従来において、特許文献１では、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置において、断層画像の横分解能が、被検査物の奥行きに制限されるという課題に対処するようにした光断層画像化方法が提案されている。
ここでは、ＯＣＴ装置の測定光の合焦範囲における情報のみを抽出し、横分解能の劣化を防ぐように構成されている。
非特許文献１においては、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置において、断層画像撮像時の測定感度が、参照ミラーの位置に依存することが説明されている。
すなわち、測定感度が被検査物の奥行きに制限されていることについて説明されている。
【特許文献１】特開２００７−１０１２５０号公報
【非特許文献１】¨Ｉｍｐｒｏｖｅｄ  ｓｐｅｃｔｒａｌ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ  ｕｓｉｎｇ  ｏｐｔｉｃａｌ  ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  ｃｏｍｂ，¨  Ｏｐｔ．  Ｅｘｐｒｅｓｓ  １６，  ４１６３−４１７６  （２００８）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記したとおり、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置は、断層画像の横分解能及び測定感度が、被検査物の奥行きに制限されるという課題を有している。
上記した従来例の特許文献１では、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置を用いて、高横分解能の断層画像を取得するに際し、該断層画像から高横分解能の部分を抽出することにより達成する方法が開示されている。
しかしながら、ここでは、眼底に代表される被検査物が動きを伴う場合や、特定の層に注目する場合に関しては言及されていない。
また、上記した非特許文献１では、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置において、測定感度が被検査物の奥行きに制限されにくい構成が実現されているが、光周波数コムと呼ばれる特殊な光源を利用しているため、構成が煩雑である。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑み、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置を構成するにあたって、被検査物の所定の部位における測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、被検査物が眼底である場合には網膜の特定の層について測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、つぎのように構成した光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供するものである。
本発明の光断層画像撮像装置は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置であって、
前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記予め取得された情報が、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像から算出された３次元平面の情報であり、
前記制御手段は、前記算出された３次元平面に沿って、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御し、前記被検査物の３次元断層画像による撮像が可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記３次元平面が算出されたことを通知する、通知手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記被検査物が被検眼であり、前記３次元平面が該被検眼における網膜の特定の層であることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層が、網膜色素上皮層であることを特徴とする。
本発明の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層が、視神経繊維層であることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記眼底カメラ本体部と、眼底の表面画像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像の撮像方法であって、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関する情報を予め取得するため、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像を撮像する第１の工程と、
前記撮像された２つ以上の断層画像を、画像処理する第２の工程と、
前記画像処理された２つ以上の断層画像を用いて、３次元平面を算出する第３の工程と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を制御する制御手段を用い、
前記位置調整手段を制御して前記測定光を前記３次元平面に集光させると共に、前記光路長調整手段を制御して前記参照ミラーを前記撮像面に対応する位置に移動させ、前記被検査物の３次元断層画像を撮像する第４の工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、前記第１の工程から前記第４の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、フーリエドメイン方式の光断層画像撮像装置を構成するにあたって、被検査物の所望の部位における測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供することが可能になる。
また、被検査物が眼底である場合には網膜の特定の層について測定感度及び横分解能が高く、簡単な構成の光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に、本発明の実施形態について説明する。
本実施形態においては、上記した本発明の構成を適用して、例えば、次のような光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法を構成することができる。
（１）本実施形態の光断層画像撮像装置は、図１に示されるように、光源（１０１）からの光を測定光（１０６）と参照光１０５とに分割し、前記測定光を被検査物（被検眼１０７）に導くと共に前記参照光を参照ミラー（１１４）に導き、  前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像撮像装置が構成される。
その際、本発明は、上記説明した課題を解決するために、つぎのように構成される。
すなわち、前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段（１１７−１）と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段（１１７−２）と、
前記被検査物の撮像を予定する部位に関し予め取得された情報に基づいて、前記光路長調整手段と前記位置調整手段とを制御する制御手段（１２５）と、を有する構成とされる。
このような構成により、被検査物の所望の部位における測定感度を最適に制御することが可能になる。その結果、前記所望の部位においてコントラストが高い断層画像を得ることが可能になる。
また、被検査物の所望の部位における測定光のビーム径を最適に制御することが可能になる。その結果、前記所望の部位において横分解能が高い断層画像を得ることが可能になる。結果として、前記所望の部位において高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（２）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記予め取得された情報が、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像（図３の１４４、１４５）から算出された３次元平面の情報であり、
前記制御手段は、前記算出された３次元平面（図３の１５０）に沿って、前記光路長調整手段と前記集光手段の位置調整手段とを制御し、前記被検査物の３次元断層画像による撮像が可能に構成されている。
このような構成により、前記３次元平面を、互いに略直交する少なくとも２つ以上の前記断層画像を用いて算出することで、１つ以上の前記３次元平面を予測して算出することが可能になる。
そして、算出した３次元平面を用いて、各制御を行い、所望の撮像面において、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（３）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記３次元平面が算出されたことを通知する、通知手段を有する構成とすることができる。
このような構成により、算出した３次元平面（図３の１５０）を確認することができる。
また、断層画像の撮像の前に、算出した３次元平面を確認することで、より確度の高い断層画像を得ることが可能になる。
（４）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記被検査物を被検眼とし、前記３次元平面が該被検眼における網膜の特定の層を検査の対象とすることができる。
これにより、網膜組織の所定の部位に対して、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（５）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層として、網膜色素上皮層を検査の対象とすることができる。
このように、前記網膜の特定の層に網膜色素上皮層を選択すると、網膜色素上皮層における測定光の反射率が高いという理由から、前記網膜の特定の層を認識しやすい。
結果として、前記撮像面を正確に算出することが可能となり、結果として、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（６）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記網膜の特定の層として、視神経繊維層を検査の対象とすることができる。
このように、前記網膜の特定の層に視神経繊維層を選択すると、視神経繊維層における測定光の反射率が高いという理由から、前記網膜の特定の層を認識しやすい。
結果として、前記撮像面を正確に算出することが可能となり、結果として、高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（７）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、前記被検眼における眼底の表面画像を撮像するカメラ部と、を有する構成とすることができる。
これにより、眼底カメラとＯＣＴ装置との両方の機能を１つの装置で実現することが可能になる。そのため、スペースの利用効率が高く、採算性の高いＯＣＴ装置を実現することが可能になる。
（８）また、本実施形態の光断層画像撮像装置は、前記眼底カメラ本体部と、眼底の表面画像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成することができる。
これにより、既存の眼底カメラを利用して、ＯＣＴ装置の機能を実現することが可能になる。
（９）また、本実施形態においては、光源からの光を測定光と参照光とに分割し、前記測定光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光による戻り光と、
前記参照ミラーによって反射された参照光とを用い、
前記被検査物の断層画像を撮像するフーリエドメイン方式による光断層画像の撮像方法を構成することができる。
具体的には、前記被検査物の撮像を予定する部位に関する情報を予め取得するため、前記撮像を予定する部位について互いに略直交する少なくとも２つ以上の断層画像を撮像する第１の工程と、
前記撮像された２つ以上の断層画像を、画像処理する第２の工程と、
前記画像処理された２つ以上の断層画像を用いて、３次元平面を算出する第３の工程と、
前記被検査物に前記測定光を集光させる集光手段の位置を調整する位置調整手段と、前記参照光の光路長を調整する光路長調整手段と、を制御する制御手段を用い、
前記位置調整手段を制御して前記測定光を前記３次元平面に集光させると共に、前記光路長調整手段を制御して前記参照ミラーを前記撮像面に対応する位置に移動させ、前記被検査物の３次元断層画像を撮像する第４の工程と、
を備えた構成とすることができる。
これにより、効率的に高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
（１０）また、本実施形態の光断層画像の撮像方法は、前記第１の工程から前記第４の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うようにすることができる。
これにより、効率的に高測定感度・高横分解能の断層画像を得ることが可能になる。
【実施例】
【００１０】
つぎに、本発明の実施例について説明する。
［実施例１］
実施例１においては、本発明を適用した、光断層画像撮像装置（ＯＣＴ装置）について説明する。
ここでは特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する装置について説明する。
ここで説明するＯＣＴ装置は、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）である。
【００１１】
まず、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系の全体の概略構成について説明する。
図１に、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系全体の概略構成について説明する図を示す。
図１において、１００はＯＣＴ装置、１０１は光源、１０３はビームスプリッタ、１０５は参照光、１０６は測定光、１４２は合波された光、１０７は被検眼、１０８は戻り光、１１０はシングルモードファイバーである。
１１１、１２０、１３５はレンズ、１１４はミラー、１１５は分散補償用ガラス、１１７は電動ステージ、１１９はＸＹスキャナ、１２５はパソコンである。
１２６は角膜、１２７は網膜、１３９はラインカメラ、１４０はフレームグラバー、１４１は透過型グレーティングである。
【００１２】
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
図中、光源１０１から出射した光がビームスプリッタ１０３によって参照光１０５と測定光１０６とに分割される。
測定光１０６は、観察対象である被検眼１０７によって反射あるいは散乱された戻り光１０８となって戻され、ビームスプリッタ１０３によって、参照光１０５と合波される。
参照光１０５と戻り光１０８とは合波された後、透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、ラインカメラ１３９に入射される。
ラインカメラ１３９は各位置（波長）毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼１０７の断層像が構成される。
【００１３】
つぎに、光源１０１の周辺について説明する。
光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。
波長は８３０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。ここでは８３０ｎｍとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
光源１０１から出射された光はシングルモードファイバー１１０を通して、レンズ１１１に導かれ、ビーム径１ｍｍの平行光になるよう、調整される。
【００１４】
つぎに、参照光１０５の光路について説明する。
ビームスプリッタ１０３によって分割された参照光１０５はミラー１１４−２に入射されて方向を変え、レンズ１３５−１によりミラー１１４−１に集光され、反射されることで、再びビームスプリッタ１０３に向かう。
次に、参照光１０５はビームスプリッタ１０３を通過し、ラインカメラ１３９に導かれる。ここで、１１５は分散補償用ガラスである。
分散補償用ガラス１１５は被検眼１０７に測定光１０６が往復した時の分散を、参照光１０５に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、Ｌ１＝２３ｍｍとする。
さらに、１１７−１は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光１０５の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ１１７−１はパソコン１２５により高速に制御することができ、本発明の特徴としている。
【００１５】
次に、測定光１０６の光路について説明する。
ビームスプリッタ１０３によって分割された測定光１０６は、ＸＹスキャナ１１９のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、ＸＹスキャナ１１９は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置され、網膜１２７上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光１０６の中心はＸＹスキャナ１１９のミラーの回転中心と一致するように調整されている。
レンズ１２０−１、１２０−２は網膜１２７を走査するための光学系であり、測定光１０６を角膜１２６の付近を支点として、網膜１２７をスキャンする役割がある。
ここでは、レンズ１２０−１、１２０−２の焦点距離はそれぞれ５０ｍｍ、５０ｍｍである。
また、１１７−２は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ１２０−２の位置を、調整・制御することができる。レンズ１２０−２の位置を調整することで、被検眼１０７の網膜１２７の所望の層に測定光１０６を集光し、観察することが可能になる。
また、被検眼１０７が屈折異常を有してい場合にも対応できる。測定光１０６は被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８となり、ビームスプリッタ１０３で反射され、ラインカメラ１３９に導かれる。
ここで、電動ステージ１１７−２は、パソコン１２５により高速に制御することができるように構成されており、これは本実施例のＯＣＴ装置において特徴的構成と言えるものである。
【００１６】
つぎに、本実施例のＯＣＴ装置における測定系の構成について説明する。
ＯＣＴ装置１００は、マイケルソン干渉系による干渉信号の強度から構成される断層像（ＯＣＴ像）を取得することができる。
その測定系について説明すると、網膜１２７にて反射や散乱された光である戻り光１０８は、ビームスプリッタ１０３で反射される。
ここで、参照光１０５と戻り光１０８とはビームスプリッタ１０３の後方で合波されるように調整される。
そして、合波された光１４２は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−２で集光され、ラインカメラ１３９にて光の強度が各位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ１３９上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー１４０にてデジタル値に変換されて、パソコン１２５にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ１３９は１０２４画素を有し、合波された光１４２の波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。
【００１７】
つぎに、ＯＣＴ装置を用いた断層像の取得方法について説明する。
ＯＣＴ装置１００は、ＸＹスキャナ１１９を制御し、ラインカメラ１３９で干渉縞を取得することで、網膜１２７の断層像を取得することができる（図１）。
ここでは、図２を用いて網膜１２７の断層像（光軸に平行な面）の取得方法について説明する。
図２（ａ）は被検眼１０７の模式図であり、ＯＣＴ装置１００によって観察されている様子を示している。
図２（ａ）に示すように、測定光１０６は角膜１２６を通して、網膜１２７に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光１０８となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ１３９に到達する。
【００１８】
ここでは、光源１０１のバンド幅が広く、空間コヒーレンス長が短いために、参照光路の光路長と測定光路の光路長とが略等しい場合に、ラインカメラ１３９にて、干渉縞が検出できる。
上述のように、ラインカメラ１３９で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ１３９と透過型グレーティング１４１との特性を考慮して、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報が得られる。
【００１９】
さらに、図２（ｂ）に示すように、ＸＹスキャナ１１９のＸ軸を駆動しながら、該干渉縞を検知すれば、各Ｘ軸の位置毎に干渉縞が得られ、つまり、各Ｘ軸の位置毎の深さ方向の情報を得ることができる。
結果として、ＸＺ面での戻り光１０８の強度の２次元分布が得られ、それはすなわち断層像１３２である（図２（ｃ））。
本来は、断層像１３２は上記説明したように、該戻り光１０８の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。ここでは、得られた断層像の境界のみ強調して表示している。
【００２０】
つぎに、本実施例における第１の構成例によるＯＣＴ装置を用いた３次元画像の取得方法について説明する。
ここでは、網膜色素上皮層に注目する場合について説明する。
電動ステージ１１７−１で参照ミラーであるミラー１１４−１の位置を、電動ステージ１１７−２でレンズ１２０−２の位置を、それぞれ制御することで、網膜１２７の断層像及び複数の断層画像からなる３次元画像を取得することができる（図１）。
図３に、本実施例における上記第１の構成例によるＯＣＴ装置を用いた３次元画像の取得方法について説明する図を示す。
図３（ａ）から図３（ｄ）は、上記第１の構成例におけるＯＣＴ装置１００の３次元画像の取得の手順について説明する図である。
ここでは、図３を用いて被検眼１０７の網膜１２７の３次元画像を取得する手段を説明する。
中でも、網膜１２７の組織の一つである網膜色素上皮層（ＲＰＥ層）の付近を高測定感度・高横分解能に測定する場合について説明する。
ここでは、網膜色素上皮層に注目する場合について説明するが、その他の組織に注目して撮像を行うことも可能である。
【００２１】
この第１の構成例による３次元画像の取得方法は、以下のステツプ１〜４の工程を、例えば連続して行うものである。或いは、適宜工程を戻って行うこともできる。
また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。これらのステツプ１〜４による工程のフローを図４に示す。
（１）ステツプ１において、網膜１２７の所望の部位（ここでは網膜色素上皮）を想定し、断層像Ｘ１４５と断層像Ｙ１４４とを撮像する（図３（ａ））。
（２）ステツプ２において、取得した断層像Ｘ１４５と断層像Ｙ１４４とから網膜色素上皮層Ｘ１４７と網膜色素上皮層Ｙ１４６をそれぞれ画像処理により、抽出する（図３（ｂ））。
（３）ステツプ３においては、ステツプ２で抽出した網膜色素上皮層Ｘ１４７と網膜色素上皮層Ｙ１４６とを略含むように３次元平面１５０を予測して算出する（図３（ｃ））。
（４）ステツプ４においては、ステツプ３で算出した３次元平面１５０に沿って、電動ステージ１１７−１、１１７−２を用い、ミラー１１４−１とレンズ１２０−２との位置（図１）を制御しながら複数の断層像Ｘ１４５を撮像し、網膜１２７の３次元画像を得る。
【００２２】
ステツプ４の具体的な制御方法について、更に説明する。
ステツプ４における具体的な断層像の撮像方法は、つぎのの通りである。
図３（ｄ）は制御方法について説明する図であり、想定されるＸＺ平面の撮像範囲１５１に対して、測定光１０６が入射されている様子を概念的に示している。
ここで、１４３は網膜色素上皮層、１４８は測定光１０６が最も細くなる位置である焦点位置、１４９は焦点深度、１５１は撮像範囲、１５２は参照光路の光路長に対応する位置を表すコヒーレンスゲートである。
ここで、コヒーレンスゲート１５２は、焦点深度１４９の範囲で、焦点位置１４８より−Ｚ側であり、撮像範囲１５１の外側になるように制御する。
コヒーレンスゲート１５２を撮像範囲の外側にすることで、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置に特有の現象である鏡像が出ないようにしている。
また、焦点位置１４８を網膜色素上皮１４３の近傍になるように制御し、網膜色素上皮層１４３の付近の横分解能を最適にしている。
また、図３（ｄ）では測定光１０６の位置は代表的な３点のみ示したが、上記制御は各Ｘ軸上の各位置に対して行われる。
上記説明したように撮像することで、所望の部位（ここでは網膜色素上皮層１４３）を高測定感度・高横分解能に測定することが可能になる。
ここでは、ステツプ３において３次元平面１５０を算出し、ステツプ４での制御に用いたが、３次元平面１５０は他のＯＣＴ装置あるいは他の眼科機器で取得したものを用いてもよい。
【００２３】
つぎに、本実施例における第２の構成例によるＯＣＴ装置を用いた３次元画像の取得方法について説明する。
ここでは、視神経乳頭に注目する場合について説明する。前述の第１の構成例と同様に、電動ステージ１１７−１で参照ミラーであるミラー１１４−１の位置を、電動ステージ１１７−２でレンズ１２０−２の位置を、それぞれ制御する。これにより、網膜１２７の断層像及び複数の断層画像からなる３次元画像を取得することができる（図１）。
図５に、上記第２の構成例によるＯＣＴ装置を用いた３次元画像の取得方法について説明する図を示す。
図５（ａ）から図５（ｄ）は、上記第２の構成例におけるＯＣＴ装置１００の３次元画像の取得の手順について説明する図である。
ここでは、図５を用いて被検眼１０７の網膜１２７の３次元画像を取得する手段を説明する。
中でも、網膜１２７の組織の一つである視神経乳頭の付近を高測定感度・高横分解能に測定する場合について説明する。
特に、該部位の視神経乳頭の神経繊維層の厚さに注目している。
ここでは、視神経乳頭に注目する場合について説明するが、その他の組織に注目して撮像を行うことも可能である。
この第２の構成例による３次元画像の取得方法は以下の（１）〜（４）の工程を、例えば連続して行うものである。或いは、適宜工程を戻って行うこともできる。
また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。これらのステツプ１〜４による工程のフローを図６に示す。
（１）ステツプ１において、網膜１２７の所望の部位（ここでは視神経乳頭）を想定し、該部位を横切るように断層像Ｘ１４５と断層像Ｙ１４４とを撮像する（図５（ａ））。
（２）ステツプ２において、取得した断層像Ｘ１４５と断層像Ｙ１４４とから、視神経繊維層Ｘ１５６と視神経繊維層Ｙ１５５とを、それぞれ画像処理により抽出する（図５（ｂ））。
（３）ステツプ３においては、ステツプ２で抽出した視神経繊維層Ｘ１５６と視神経繊維層Ｙ１５５とを略含むように３次元平面１５０を予測して算出する（図５（ｃ））。
（４）ステツプ４において、ステツプ３で算出した３次元平面１５０に沿って、電動ステージ１１７−１、１１７−２を用いて、ミラー１１４−１とレンズ１２０−２との位置（図１）を制御しながら、複数の断層像Ｘ１４５を撮像し、網膜１２７の３次元画像を得る。
【００２４】
ステツプ４の具体的な制御方法について、更に説明する。
ステツプ４における具体的な断層像の撮像方法は、つぎの通りである。
図５（ｄ）は制御方法について説明する図であり、想定されるＸＺ平面の撮像範囲１５１に対して、測定光１０６が入射されている様子を概念的に示している。ここで、１５７は視神経繊維層、１４８は測定光１０６が最も細くなる位置である焦点位置、１４９は焦点深度、１５１は撮像範囲、１５２は参照光路の光路長に対応する位置を表すコヒーレンスゲートである。
ここで、コヒーレンスゲート１５２は、焦点深度１４９の範囲で、焦点位置１４８より＋Ｚ側であり、撮像範囲１５１の外側になるように制御する。
コヒーレンスゲート１５２を撮像範囲の外側にすることで、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置に特有の現象である鏡像が出ないようにしている。
また、焦点位置１４８を視神経繊維層１５７の近傍になるように制御し、視神経繊維層１５７の付近の横分解能を最適にしている。
また、図５（ｄ）では測定光１０６の位置は代表的な４点のみ示したが、上記制御は各Ｘ軸上の各位置に対して行われる。
上記説明したように撮像することで、所望の部位（ここでは視神経繊維層１５７）を高測定感度・高横分解能に測定することが可能になる。
ここでは、ステツプ３において３次元平面１５０を算出し、ステツプ４での制御に用いたが、３次元平面１５０は他のＯＣＴ装置あるいは他の眼科機器で取得したものを用いてもよい。
【００２５】
［実施例２］
実施例２においては、本発明を適用した、ＯＣＴ装置について説明する。
ここでは特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）及び眼底画像（平面像）を撮像する装置について説明する。本実施例においては、眼底カメラにアダプターを介してＯＣＴ撮像部を接続してなるＯＣＴ装置について説明する。本実施例は、スペースの利用効率が高く、採算性の高いＯＣＴ装置となっている。
【００２６】
まず、本実施例におけるアダプターを含んだＯＣＴ装置の全体の構成について説明する。
図７に、本実施例の上記全体の構成について説明する図を示す。
図７において、２００はＯＣＴ装置、１００は断層画像を撮像するＯＣＴ撮像部、３００は眼底カメラ本体部、４００はアダプター、５００は眼底の表面画像を撮像するカメラ部である。
ここで、眼底カメラ本体部３００とアダプター４００とカメラ部５００とは光学的に接続されている。ここで、眼底カメラ本体部３００とアダプター４００とは相対的に移動可能に保持されている。
そのため、大まかな光学的調整を行うことができる。また、アダプター４００とＯＣＴ撮像部１００とはシングルモードファイバー１３３を介して光学的に接続されている。
アダプター４００とＯＣＴ撮像部１００とはコネクター４１０とコネクター１５４とをそれぞれ有している。そのため、簡単に取り付け及び取り外しが可能である。
また、３２３はあご台であり、被検者のあごと額とを固定することで、被検眼の固定を促し、撮像を行う。１２５はパソコンであり、断層画像の構成や表示等を行う。
【００２７】
ここで、カメラ部５００として、例えば汎用のデジタル一眼レフカメラを用いることができる。
カメラ部５００とアダプター４００あるいは眼底カメラ本体部３００とは汎用のカメラマウントで接続される。
【００２８】
つぎに、本実施例におけるアダプターを含んだＯＣＴ装置の光学系の構成について説明する。
図８に、ＯＣＴ装置の光学系の構成について説明する図を示す。
図８において、２００はＯＣＴ装置、１０７は被検眼、３００は眼底カメラ本体部、４００はアダプター、５００はカメラ部、１００はＯＣＴ撮像部である。
ＯＣＴ装置２００は、ＯＣＴ撮像部１００とカメラ部５００とを用いて被検眼１０７の網膜１２７の断層画像（ＯＣＴ像）及び眼底画像（平面像）を取得するように構成されている。
まず、眼底カメラ本体部３００について説明する。被検眼１０７に対向して、対物レンズ３０２が設置され、その光軸上で孔あきミラー３０３によって光路３５１と光路３５２とに分岐される。
光路３５２は被検眼１０７の眼底を照明する照明光学系を形成している。眼底カメラ本体部３００の下部には、被検眼１０７の位置合わせに用いられるハロゲンランプ３１６、被検眼１０７の眼底の撮像に用いるストロボ管３１４が設置されている。
ここで、３１３、３１５はコンデンサレンズ、３１７はミラーである。ハロゲンランプ３１６とストロボ管３１４とからの照明光はリングスリット３１２によってリング状の光束となり、孔あきミラー３０３によって反射され、被検眼１０７の眼底を照明する。
ここで、３０９、３１１はレンズ、３１０は光学フィルターである。
【００２９】
光路３５１は被検眼１０７の眼底の断層画像及び眼底画像を撮像する撮像光学系を形成している。
孔あきミラー３０３の右方にはフォーカスレンズ３０４と結像レンズ３０５が設置されている。
ここで、フォーカスレンズ３０４は光軸方向に移動可能に支持され、パソコン１２５によってその位置を制御でき、本発明の特徴としている。
次に、クイックリターンミラー３１８を介して、光路３５１は固視灯３２０及びエリアセンサ３２１に導かれている。
ここで、クイックリターンミラー３１８は赤外光の一部を反射及び透過し、可視光を反射するように設計されている。
赤外光の一部を反射及び透過するよう設計しているため、固視灯３２０とエリアセンサ３２１とＯＣＴ撮像部１００とを同時に使用することが可能になっている。
また、３１９はダイクロイックミラーであり、固視灯３２０方向に可視光が、エリアセンサ３２１方向に赤外光がそれぞれ分岐されるよう設計されている。
次に、光路３５１はミラー３０６、フィールドレンズ３２２、ミラー３０７、リレーレンズ３０８を介して、アダプター４００に導かれる。
【００３０】
つぎに、光学系の構成（アダプター、カメラ部）について説明する。
アダプター４００は光路３５１をダイクロイックミラー４０５を介して、断層画像撮像用の光路３５１−１と眼底画像撮像用の光路３５１−２とに分割することを最大の機能としている。
ここで、４０６、４０７はリレーレンズ、４０８はＸＹスキャナ、４０９はコリメートレンズである。
ここでは、リレーレンズ４０６、４０７は移動可能に保持され、細かな位置調整を行うことで、光路３５１−１と３５１−２との光軸を調整することができる。また、ここでは、簡単のため、ＸＹスキャナ４０８は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置され、網膜１２７上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。
また、ＸＹスキャナ４０８はパソコン１２５によって制御される。また、光路３５１−１の光軸はＸＹスキャナ４０８の２つのミラーの回転中心と一致するように調整されている。
また、４１０は光ファイバーを取り付けるためのコネクターである。
カメラ部５００は眼底画像を撮像するためのデジタル一眼レフカメラである。アダプター４００とカメラ部５００とは汎用のカメラマウントを介して接続される。そのため、容易に着脱が可能である。
５０１はエリアセンサであり、その表面に眼底像が形成される。
【００３１】
本実施例においては、ＯＣＴ撮像部１００は、光学系の一部を光ファイバーを用いて、構成することにより、装置の小型化が図られている。
光路に光ファイバーを用いていることを除けば、実施例１と基本的に差異のない構成を備えている。
つぎに、ＯＣＴ撮像部１００の構成について説明する。
図９に、ＯＣＴ撮像部１００の構成について説明する図を示す。
図９において、１０１は光源、１０５は参照光、１０６は測定光、１０８は戻り光、１１４はミラーである。
１１５は分散補償用ガラス、１１７は電動ステージ、１２５はパソコンである。１３１は光カプラー、１３５はレンズ、１３９はラインカメラ、１４０はフレームグラバーである。１３０、１３３はシングルモードファイバー、１５４はコネクター、１５３は偏光コントローラである。
【００３２】
つぎに、ＯＣＴ撮像部１００の光学系の構成について説明する。
ＯＣＴ撮像部１００は、図９に示されるように、全体として、マイケルソン干渉系を構成している。
図９において、光源１０１から出射された光は参照光１０５と測定光１０６とに光カプラー１３１を介して、１０：９０に分割される。測定光１０６は光ファイバー１３０−４を介して、コネクター１５４に導かれる。その後、アダプター４００と眼底カメラ本体部３００とを介して、観察対象である被検眼１０７に到達する（図８）。
さらに、被検眼１０７にて、測定光１０６は反射や散乱により戻り光１０８となって戻され、光カプラー１３１によって、参照光１０５と合波される。参照光１０５と戻り光１０８とは合波された後、ラインカメラ１３９に入射され、得られた光強度を用いて、被検眼１０７の断層像が構成される。
【００３３】
つぎに、光源１０１の周辺について説明する。
光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）であり、実施例１の光源１０１と同様であるため説明を省略する。光源１０１から出射された光はシングルモードファイバー１３０−１を通して、光カプラー１３１に導かれ、強度比９０：１０で分割され、それぞれ測定光１０６、参照光１０５となる。
【００３４】
つぎに、参照光１０５の光路について説明する。
光カプラー１３１にて分割された参照光１０５はシングルモードファイバー１３０−２を通して、レンズ１３５−３に導かれ、ビーム径１ｍｍの平行光になるよう、調整される。
次に、参照光１０５は、レンズ１３５−４にて集光され、ミラー１１４にて反射されることで、再び光カプラー１３１に導かれる。
ここで、参照光１０５が通過した分散補償ガラス１１５は被検眼１０７に測定光１０６が往復した時の分散を、参照光１０５に対して補償するものである。
分散補償用ガラス１１５の長さはＬ１であり、ここでは日本人の平均的な眼球の直径と想定されるＬ１＝２３ｍｍとする。
さらに、１１７は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光１０５の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ１１７はパソコン１２５によって制御され、本発明の特徴としている。
【００３５】
つぎに、測定光１０６の光路について説明する。
光カプラー１３１によって分割された測定光１０６はシングルモードファイバー１３０−４を介して、コネクター１５４に導かれる。
その後、光ファイバー１３３、コネクター４１０、アダプター４００、眼底カメラ本体部３００を介して、測定光１０６は被検眼１０７の網膜に導かれる（図８）。
測定光１０６が被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８となる。
戻り光１０８は、再び、眼底カメラ本体部３００、アダプター４００、コネクター４１０、シングルモードファイバー１３３、コネクター１５４を順に介して、光カプラー１３１に導かれる。
【００３６】
前述の参照光１０５と戻り光１０８とは、光カプラー１３１にて合波され、さらに９０：１０に分割される。
そして、合波された光１４２は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−５で集光され、ラインカメラ１３９にて光の強度が各位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ１３９上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー１４０にてデジタル値に変換されて、パソコン１２５にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ１３９は１０２４画素を有し、合波された光１４２の波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。
【００３７】
本実施例のＯＣＴ装置における測定系の構成については実施例１と略同一であるため、説明を省略する。
また、ＯＣＴ装置を用いた断層像の取得方法についても、実施例１と略同一であるため、詳細な説明を省略する。
ＯＣＴ装置２００は、ＸＹスキャナ４０８を制御し、ラインカメラ１３９で干渉縞を取得することで、網膜１２７の断層像を取得することができる（図８）。
また、本発明の特徴であるＯＣＴ装置を用いた３次元画像の取得方法についても、実施例１と略同一であるため詳細な説明を省略する。
ここでは、参照ミラーであるミラー１１４と焦点位置を調整するフォーカスレンズ３０４とを、それぞれ制御することで、網膜１２７の断層像及び複数の断層画像からなる３次元画像を取得することができる（図８、図９）。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の光学系の構成について説明する図である。
【図２】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の断層像の取得方法を説明する図である。
【図３】本発明の実施例１における第１の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得方法について説明する図である。図３（ａ）から図３（ｄ）は上記第１の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得の手順について説明する図である。
【図４】本発明の実施例１の第１の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得方法のステツプ１〜４による工程のフローを示す図である。
【図５】本発明の実施例１における第２の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得方法について説明する図である。図５（ａ）から図５（ｄ）は上記第２の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得の手順について説明する図である。
【図６】本発明の実施例１の第２の構成例によるＯＣＴ装置の３次元画像の取得方法のステツプ１〜４による工程のフローを示す図である。
【図７】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【図８】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置の光学系の構成について説明する図である。
【図９】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置のＯＣＴ撮像部の構成について説明する図である。
【符号の説明】
【００３９】
１０１：光源
１０３：ビームスプリッタ
１０５：参照光
１０６：測定光
１０７：被検眼
１０８：戻り光
１１０、１３０、１３３：シングルモードファイバー
１１１、１２０、１３５、３０９、３１１：レンズ
１１４、３０６、３０７、３１７：ミラー
１１５：分散補償用ガラス
１１７：電動ステージ
１１９、４０８：ＸＹスキャナ
１２５：パソコン
１２６：角膜
１２７：網膜
１３１：光カプラー
１３２：断層像
１３９：ラインカメラ
１４０：フレームグラバー
１４１：透過型グレーティング
１４２：合波された光
１４３：網膜色素上皮層
１４４：断層像Ｙ
１４５：断層像Ｘ
１４６：網膜色素上皮層Ｙ
１４７：網膜色素上皮層Ｘ
１４８：焦点位置
１４９：焦点深度
１５０：３次元平面
１５１：撮像範囲
１５２：コヒーレンスゲート
１５３：偏光コントローラ
１５４、４１０：コネクター
１５５：視神経繊維層Ｙ
１５６：視神経繊維層Ｘ
１５７：視神経繊維層
２００：ＯＣＴ装置
３００：眼底カメラ本体部
３０２：対物レンズ
３０３：孔あきミラー
３０４：フォーカスレンズ
３０５：結像レンズ
３０８、４０６、４０７：リレーレンズ
３１０：光学フィルター
３１２：リングスリット
３１３、３１５：コンデンサレンズ
３１４：ストロボ管
３１６：ハロゲンランプ
３１８：クイックリターンミラー
３１９、４０５：ダイクロイックミラー
３２０：固視灯
３２１：エリアセンサ
３２２：フィールドレンズ
３５１、３５２：光路
４００：アダプター
４０９：コリメートレンズ
５００：カメラ部
【図１】
2010151704.tif 000003
【図２】
2010151704.tif 000004
【図３】
2010151704.tif 000005
【図４】
2010151704.tif 000006
【図５】
2010151704.tif 000007
【図６】
2010151704.tif 000008
【図７】
2010151704.tif 000009
【図８】
2010151704.tif 000010
【図９】
2010151704.tif 000011