(57)【要約】      （修正有）【課題】撮像面に照射される光量の増大に起因して漏光補正データの作成処理、ひいては有効画像の補正処理が過度に実行される事態を回避する。【解決手段】イメージセンサは、有効画素エリアと光学的黒エリアとが割り当てられた撮像面を有し、撮像面で生成された電荷に基づく画像を繰り返し出力する。補正データ作成回路５６ａは、イメージセンサから出力された画像のうち、光学的黒エリアに対応する黒画像に基づいて、漏光補正データを繰り返し作成する。加算器５６ｅは、イメージセンサから出力された画像のうち有効画素エリアに対応する有効画像を、補正データ作成回路５６ａによって作成された漏光補正データを参照して補正する。ＣＰＵは、撮像面に照射される光量が基準を上回った後に加算器５６ｅによって実行される補正処理を制限する。【選択図】図８
2010251871.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有効画素エリアと光学的黒エリアとが割り当てられた撮像面を有し、前記撮像面で生成された電荷に基づく画像を繰り返し出力する撮像手段、
前記撮像手段から出力された画像のうち前記光学的黒エリアに対応する第１部分画像に基づいて画像補正情報を繰り返し作成する作成手段、
前記撮像手段から出力された画像のうち前記有効画素エリアに対応する第２部分画像を前記作成手段によって作成された画像補正情報を参照して補正する補正手段、および
前記撮像面に照射される光量が基準を上回った後に前記補正手段によって実行される補正処理を制限する制限手段を備える、電子カメラ。
【請求項２】
前記画像補正情報は漏光によって前記光学的黒エリアで生成された電荷の水平方向における分布状態を表す情報に相当する、請求項１記載の電子カメラ。
【請求項３】
前記作成手段は注目画像のために参照される画像補正情報を前記注目画像に先行する先行画像に基づいて作成し、
前記制限手段は、前記光量が前記基準を上回るか否かを前記注目画像に基づいて判別する判別手段、および前記判別手段の判別結果が否定的な結果から肯定的な結果に更新されたとき前記注目画像に後続する後続画像に対応して前記補正処理の制限を開始する制限開始手段を含む、請求項１または２記載の電子カメラ。
【請求項４】
前記注目画像の出力時期と前記後続画像の出力時期との差分は前記先行画像の出力時期と前記注目画像の出力時期との差分に相当する、請求項３記載の電子カメラ。
【請求項５】
前記撮像手段はＮ個（Ｎ：２以上の整数）の画像を出力し、
前記制限手段はＮ番目の画像の出力が完了した後に前記補正処理の制限を終了する制限終了手段を含む、請求項１ないし４のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項６】
連写モードを選択する選択手段をさらに備え、
前記撮像手段は前記連写モードの下での撮像操作に応答して前記Ｎ個の画像を出力する、請求項５記載の電子カメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子カメラに関し、特に撮像装置から出力された画像データのスミアを補正する、電子カメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
この種のカメラの一例が、特許文献１に開示されている。この背景技術によれば、無信号画素データの出力期間のどのタイミングで電子シャッターが落ちるかが、スミア補正部に通知される。スミア補正部は、電子シャッターにかかる無信号画素データをスミア補正データとして取得しないようにする。これによって、無信号画素データが電子シャッターの影響を受け、実際に発生したスミア以上のスミアの補正に適するスミア補正データが作成される事態を回避することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−３３６３３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、背景技術の方法では、撮像面に照射される光量の増大に起因する過度な補正動作を回避することはできない。
【０００５】
それゆえに、この発明の主たる目的は、撮像面に照射される光量の増大に起因する過度な補正動作を回避することができる、電子カメラを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に従う電子カメラ(10：実施例で相当する参照符号。以下同じ)は、有効画素エリアと光学的黒エリアとが割り当てられた撮像面を有し、撮像面で生成された電荷に基づく画像を繰り返し出力する撮像手段(18)、撮像手段から出力された画像のうち光学的黒エリアに対応する第１部分画像に基づいて画像補正情報を繰り返し作成する作成手段(56a)、撮像手段から出力された画像のうち有効画素エリアに対応する第２部分画像を作成手段によって作成された画像補正情報を参照して補正する補正手段(56e)、および撮像面に照射される光量が基準を上回った後に補正手段によって実行される補正処理を制限する制限手段(S45~S53)を備える。
【０００７】
好ましくは、画像補正情報は漏光によって光学的黒エリアで生成された電荷の水平方向における分布状態を表す情報に相当する。
【０００８】
好ましくは、作成手段は注目画像のために参照される画像補正情報を注目画像に先行する先行画像に基づいて作成し、制限手段は、光量が基準を上回るか否かを注目画像に基づいて判別する判別手段(S49)、および判別手段の判別結果が否定的な結果から肯定的な結果に更新されたとき注目画像に後続する後続画像に対応して補正処理の制限を開始する制限開始手段(S45, S47, S51)を含む。
【０００９】
さらに好ましくは、注目画像の出力時期と後続画像の出力時期との差分は先行画像の出力時期と注目画像の出力時期との差分に相当する。
【００１０】
好ましくは、撮像手段はＮ個（Ｎ：２以上の整数）の画像を出力し、制限手段はＮ番目の画像の出力が完了した後に補正処理の制限を終了する制限終了手段(S3)を含む。
【００１１】
さらに好ましくは、連写モードを選択する選択手段(28m)がさらに備えられ、撮像手段は連写モードの下での撮像操作に応答してＮ個の画像を出力する。
【発明の効果】
【００１２】
この発明によれば、画像補正情報は光学的黒エリアに対応する第１部分画像に基づいて作成され、有効画素エリアに対応する第２部分画像はこうして作成された画像補正情報を参照して補正される。ただし、撮像面に照射される光量が基準を上回ると、その後の補正処理が制限される。これによって、撮像面に照射される光量の増大に起因して画像補正情報の作成処理ひいては第２部分画像の補正処理が過度に実行される事態を回避することができる。
【００１３】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】この発明の基本的構成を示すブロック図である。
【図２】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図３】図２実施例に適用される色フィルタの構成の一例を示す図解図である。
【図４】図２実施例に適用されるＣＣＤイメージャの構成の一例を示す図解図である。
【図５】撮像面における有効画素エリア，光学的黒エリアおよび評価エリアの割り当て状態の一例を示す図解図である。
【図６】（Ａ）は間引き読み出し動作の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は全画素読み出し動作の一例を示す図解図である。
【図７】図２実施例に適用される前処理回路の構成の一例を示すブロック図である。
【図８】図７実施例に適用される漏光補正回路の構成の一例を示すブロック図である。
【図９】（Ａ）は撮像面における有効画素エリアおよび光学的黒エリアの割り当て状態の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は漏光補正データの一例を示す波形図である。
【図１０】図８実施例に適用されるレベル調整回路の調整特性の一例を示すグラフである。
【図１１】（Ａ）は漏光補正データ作成動作の一部を示すタイミング図であり、（Ｂ）は漏光補正動作の一部を示すタイミング図である。
【図１２】（Ａ）は漏光補正データ作成動作の他の一部を示すタイミング図であり、（Ｂ）は漏光補正動作の他の一部を示すタイミング図であり、（Ｃ）は輝度評価動作の一部を示すタイミング図であり、（Ｄ）は漏光補正制御動作の一部を示すタイミング図である。
【図１３】連写モードで捉えられる被写界の一例を示す図解図である。
【図１４】（Ａ）は撮像面における有効画素エリアおよび光学的黒エリアの割り当て状態の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は漏光補正データの他の一例を示す波形図である。
【図１５】（Ａ）は漏光補正動作がオン状態にあるときに取得される被写界像の一例を示す図解図であり、（Ｂ）は漏光補正動作がオフ状態にあるときに取得される被写界像の一例を示す図解図である。
【図１６】図２実施例に適用されるＣＰＵの動作の一部を示すフロー図である。
【図１７】図２実施例に適用されるＣＰＵの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図１８】図２実施例に適用されるＣＰＵの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、この発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
［基本的構成］
【００１６】
図１を参照して、この発明の電子カメラは、基本的に次のように構成される。撮像手段１は、有効画素エリアと光学的黒エリアとが割り当てられた撮像面を有し、撮像面で生成された電荷に基づく画像を繰り返し出力する。作成手段２は、撮像手段１から出力された画像のうち、光学的黒エリアに対応する第１部分画像に基づいて、画像補正情報を繰り返し作成する。補正手段３は、撮像手段１から出力された画像のうち、有効画素エリアに対応する第２部分画像を、作成手段２によって作成された画像補正情報を参照して補正する。制限手段４は、撮像面に照射される光量が基準を上回った後に補正手段３によって実行される補正処理を制限する。
【００１７】
このように、画像補正情報は光学的黒エリアに対応する第１部分画像に基づいて作成され、有効画素エリアに対応する第２部分画像はこうして作成された画像補正情報を参照して補正される。ただし、撮像面に照射される光量が基準を上回ると、その後の補正処理が制限される。これによって、撮像面に照射される光量の増大に起因して画像補正情報の作成処理ひいては第２部分画像の補正処理が過度に実行される事態を回避することができる。
［実施例］
【００１８】
図２を参照して、この実施例のディジタルカメラ１０は、ドライバ２０ａおよび２０ｂによってそれぞれ駆動されるフォーカスレンズ１２および絞りユニット１４を含む。これらの部材を経た被写界の光学像は、ＣＣＤ型のイメージセンサ１８の撮像面に照射される。
【００１９】
撮像面は、ベイヤ配列を有する原色フィルタ１６（図３参照）によって覆われる。ベイヤ配列であるため、奇数番目の水平列にはＲ(Red)の色要素およびＧ(Green)の色要素が交互に配置され、偶数番目の水平列にはＧの色要素およびＢ(Blue)の色要素が交互に配置される。
【００２０】
図４を参照して、撮像面には複数の受光素子（画素）１８ｐ，１８ｐ，…が平面状に配列される。図３に示す複数の色要素は、このような複数の受光素子１８ｐ，１８ｐ，…に１対１で割り当てられる。したがって、各受光素子１８ｐで生成される電荷は、Ｒ，ＧおよびＢのいずれか１つの色情報を有する。
【００２１】
また、図５に示すように、撮像面は、ほぼ中央に割り当てられた有効画素エリアと周辺に割り当てられた光学的黒エリアとに区分される。有効画素エリアは露出する一方、光学的黒エリアは樹脂によって封止される。したがって、有効画素エリア上の複数の受光素子１８ｐ，１８ｐ，…では、被写界の光学像が電荷に変換される。これに対して、光学的黒エリア上の複数の受光素子１８ｐ，１８ｐ，…では、樹脂の隙間から漏れ込んだ光が電荷に変換される。
【００２２】
イメージセンサ１８はまた、複数の垂直転送レジスタ１８ｖ，１８ｖ，…と１つの水平転送レジスタ１８ｈとを有する（図４参照）。垂直方向に並ぶ複数の受光素子１８ｐ，１８ｐ，…で生成された電荷は共通の垂直転送レジスタ１８ｖに読み出され、垂直方向に転送される。水平転送レジスタ１８ｈに到達した電荷は、水平方向に転送され、ディフュージョンアンプ１８ｄを経て出力される。
【００２３】
図２に戻って、キー入力装置２８上の電源キー２８ｐが操作されると、ＣＰＵ３０は、撮像タスクの下でスルー画像処理を開始するべく、ドライバ２０ｃに間引き読み出しモードを設定する。ドライバ２０ｃは、図示しないＳＧ(Signal Generator)から周期的に発生する垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して、撮像面を露光し、かつ撮像面で生成された電荷の一部を間引き態様で読み出す。
【００２４】
図６（Ａ）を参照して、間引き読み出し時は、偶数個の水平ラインを隔てて間欠的に存在する水平ラインが読み出し先として指定される。電荷は、指定された水平ラインを形成する受光素子２０ｐ，２０ｐ，…の一部から読み出され、垂直転送レジスタ１８ｖおよび水平転送レジスタ１８ｈを転送され、そして低解像度の生画像信号としてディフュージョンアンプ１８ｄから出力される。出力された生画像信号において、奇数番目の水平ラインはＲの色情報およびＧの色情報を有し、偶数番目の水平ラインはＧの色情報およびＢの色情報を有する。
【００２５】
前処理回路２２は、こうしてイメージセンサ２０から出力された生画像信号に後述する前処理を施し、ディジタル信号である生画像データを出力する。出力された生画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４の生画像エリア３４ａに書き込まれる。
【００２６】
後処理回路３６は、生画像エリア３４ａに格納された生画像データをメモリ制御回路３２を通して読み出し、読み出された生画像データに白バランス調整，色分離，ＹＵＶ変換などの処理を施す。これによって生成されたＹＵＶ形式の画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４のＹＵＶ画像エリア３４ｂに書き込まれる。
【００２７】
ＬＣＤドライバ３８は、ＹＵＶ画像エリア３４ｂに格納された画像データをメモリ制御回路３２を通して繰り返し読み出し、読み出されたＹＵＶ画像データに基づいてＬＣＤモニタ４０を駆動する。この結果、被写界のリアルタイム動画像（スルー画像）がモニタ画面に表示される。
【００２８】
図５を参照して、有効画素エリアの中央には評価エリアＥＶＡが割り当てられる。評価エリアＥＶＡは水平方向および垂直方向の各々において１６分割され、２５６個の分割エリアが評価エリアＥＶＡを形成する。
【００２９】
ＡＥ評価回路２４は、前処理回路２２によって生成された生画像データのうち評価エリアＥＶＡに属する生画像データの輝度成分を、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して分割エリア毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＥ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＥ評価回路２４から出力される。
【００３０】
また、ＡＦ評価回路２６は、前処理回路２２から出力された生画像データのうち同じ評価エリアＥＶＡに属する生画像データの高周波成分を、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して分割エリア毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＦ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＦ評価回路２６から出力される。
【００３１】
ＣＰＵ３０は、ＡＥ評価回路２４からの出力に基づくスルー画像用ＡＥ処理をスルー画像処理と並列して実行し、適正ＥＶ値を算出する。算出された適正ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間は、ドライバ２０ｂおよび２０ｃにそれぞれ設定される。この結果、スルー画像の明るさが適度に調整される。
【００３２】
ＣＰＵ３０はまた、スルー画像処理と並列するコンティニュアスＡＦタスクの下で、ＡＦ評価回路２６からの出力に基づくスルー画像用ＡＦ処理を実行する。フォーカスレンズ１２は、ＡＦ評価回路２６の出力がＡＦ起動条件を満足するとき、ドライバ２０ａによって合焦点に設定される。これによって、スルー画像のフォーカスが適度に調整される。
【００３３】
シャッタボタン２８ｓが半押しされると、ＣＰＵ３０は、ＡＥ評価回路２４の出力に基づいて記録用ＡＥ処理を実行し、最適ＥＶ値を算出する。算出された最適ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間は、上述と同様、ドライバ２０ｂおよび２０ｃにそれぞれ設定される。この結果、スルー画像の明るさが厳格に調整される。
【００３４】
ＣＰＵ３０は続いて、コンティニュアスＡＦタスクを中断し、記録用ＡＦ処理を撮像タスクの下で実行する。記録用ＡＦ処理もまたＡＦ評価回路２６の出力に基づいて実行される。これによって、フォーカスが厳格に調整される。
【００３５】
シャッタボタン２８ｓが全押しされると、ＣＰＵ３０は、静止画取り込み処理のためにドライバ２０ｃの動作モードを間引き読み出しモードから全画素読み出しモードに変更する。ドライバ２０ｃは、撮像面で生成された電荷の全てを垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して垂直転送レジスタ１８ｖに読み出し（図６（Ｂ）参照）、読み出された電荷を垂直転送レジスタ１８ｖおよび水平転送レジスタ１８ｈを介して転送し、そして転送された電荷を高解像度の生画像信号としてディフュージョンアンプ１８ｄから出力する。
【００３６】
出力された生画像信号は、上述と同様の前処理および後処理を施される。これによって生成されたＹＵＶ形式の画像データは、メモリ制御回路３２によってＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに書き込まれる。
【００３７】
現時点の撮像モードが単写モードであれば、静止画取り込み処理は、１フレームの画像データが記録画像エリア３４ｃに確保された時点で完了する。これに対して、現時点の撮像モードが連写モードであれば、静止画取り込み処理は、６フレームの画像データが記録画像エリア３４ｃに確保された時点で完了する。なお、単写モードおよび連写モードの間での撮像モードの切り換えは、キー入力装置２８に設けられたモードキー２８ｍの操作に応答して実行される。
【００３８】
静止画像取り込み処理が完了すると、ＣＰＵ３０は、記録処理を実行するべく、対応する命令をＩ／Ｆ４２に与える。Ｉ／Ｆ４４は、記録画像エリア３４ｃに確保された１フレームまたは６フレームの画像データをメモリ制御回路３２を通して読み出し、読み出された画像データをファイル形式で記録媒体４６に記録する。
【００３９】
前処理回路２２は、図７に示すように構成される。イメージセンサ１８から出力された生画像信号は、ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路５０によって、相関二重サンプリング，自動ゲイン調整およびＡ／Ｄ変換を施される。ＣＤＳ／ＡＧＣ／ＡＤ回路５０からは、ディジタル信号である生画像データが出力される。出力された生画像データは、ディジタルクランプ回路５２におけるディジタルクランプ処理，画素欠陥補正回路５４における画素欠陥補正処理，漏光補正回路５６における漏光補正処理，ゲイン制御回路５８におけるゲイン制御処理およびＫｎｅｅ処理回路６０におけるＫｎｅｅ処理を施される。Ｋｎｅｅ処理が完了した生画像データは、メモリ制御回路３２に向けて出力される。
【００４０】
漏光補正回路５６は、図８に示すように構成される。補正データ作成回路５６ａは、画素欠陥補正処理を施された生画像データから上述した光学的黒エリアに対応する一部の生画像データを抽出し、抽出された生画像データに基づいて漏光補正データを作成する。
【００４１】
図９（Ａ）および図９（Ｂ）を参照して、光学的黒エリアで生成される電荷は、光学的黒エリアを封止する樹脂と撮像面との隙間から漏れ込んだ光を反映する。漏光補正データは、光学的黒エリアのうち有効画素エリアの水平幅に対応する部分黒エリアＢＬＫで生成された電荷の分布状態を表すデータに相当し、データ値は各ラインに分布する電荷量の平均を示す。したがって、漏光補正データは、図９（Ａ）に示す撮像面に対応してたとえば図９（Ｂ）に示す特性を示す。このような漏光補正データはまた、有効画素エリアを形成する各ラインで余剰に生成された電荷の量を表すデータでもある。
【００４２】
図８に戻って、補正データ作成回路５６ａによって作成された漏光補正データは、ラインメモリ５６ｂに書き込まれる。漏光補正データは垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して作成され、ラインメモリ５６ｂに格納された漏光補正データは１フレーム毎に更新される。セレクタ５６ｃは、こうしてラインメモリ５６ｂに格納された漏光補正データおよびｎｕｌｌデータ（データ値＝０）のいずれか一方を選択し、選択されたデータをゲイン調整回路５６ｄに与える。なお、セレクタ５６ｃは、漏光補正機能がオン状態のときに漏光補正データを選択し、漏光補正機能がオフ状態のときにｎｕｌｌデータを選択する。
【００４３】
ゲイン調整回路５６ｄは、図１０に示すゲイン特性を有する。つまり、ゲインは、入力データ値が閾値ＴＨを下回る範囲において“１．０”を示し、入力データ値が閾値ＴＨ以上の範囲において“１．０”から“０．０”に線形に減少する。セレクタ５６ｃによって選択されたデータは、このようなゲイン特性に従うゲイン調整を施された後、加算器５６ｅのマイナス端子に与えられる。
【００４４】
加算器５６ｅのプラス端子には、画素欠陥補正処理を施された生画像データが与えられる。加算器５６ｅは、プラス端子に与えられたデータ値からマイナス端子に与えられたデータ値を減算し、減算されたデータ値を有する生画像データを出力する。このような減算処理は、生画像データを形成する複数ラインの各々に対して実行される。
【００４５】
この結果、漏光補正機能がオン状態にあるときは、有効画素エリアで生成された余剰電荷に相当する成分がプラス端子に与えられた生画像データから除去される。これに対して、漏光補正機能がオフ状態にあるときは、プラス端子に与えられた生画像データがそのまま出力される。
【００４６】
上述のように、現フレームの生画像データに基づく漏光補正データは、ラインメモリ５６ｂに格納された後、次フレームの生画像データの漏光補正のために参照される。したがって、各フレームの漏光補正データが図１１（Ａ）に示す要領で作成されるとき、各フレームの漏光補正動作は図１１（Ｂ）に示す要領で実行される。
【００４７】
このような漏光補正動作は、スルー画像処理および静止画取り込み処理に共通して実行される。連写モードの下での静止画取り込み処理では、６フレームの漏光補正データは図１２（Ａ）に示す要領で作成され、高解像度を有する６フレームの生画像データに対する漏光補正動作は図１２（Ｂ）に示す要領で実行される。なお、１フレーム目の生画像データに対する漏光補正動作は、その直前に生成された低解像度の生画像データに基づく漏光補正データを参照して実行される。
【００４８】
ただし、パン／チルト動作によって撮像面が太陽などの高輝度の光源を一時的に捉えると、漏光補正データのデータ値が極端に増大し、これによって漏光補正が過度に実行されるおそれがある。たとえば、図１３に示す被写界に対するパン／チルト動作によってフレームＦ１〜Ｆ６が指定された場合、フレームＦ３において太陽が捉えられる。すると、フレームＦ３の生画像データに基づく漏光補正データは、図１４（Ａ）に示す撮像面に対応して図１４（Ｂ）に示すような特性を示す。つまり、漏光補正データは、太陽の位置で生じるスミアによってパルス状に増大するだけでなく、他の位置においても全般的に増大する。このような漏光補正データに基づいて漏光補正を施されたフレームＦ４の画像は、図１５（Ａ）に示すように黒く沈んだ画像となる。
【００４９】
そこで、この実施例では、撮像面に照射される光量が極端に増大したか否かをＡＥ評価回路２４の出力に基づいて判別し、光量の極端な増大が検出されたフレームの次のフレームから漏光補正機能をオフするようにしている。したがって、図１３に示す要領でパン／チルト動作が行われた場合、漏光補正機能のオン／オフ動作は、図１２（Ｃ）に示すＡＥ評価動作に対応して図１２（Ｄ）に示す要領で実行される。漏光補正動作はフレームＦ４以降でオフされ、フレームＦ４では図１５（Ｂ）に示すような黒沈みのない画像が得られる。
【００５０】
ＣＰＵ３０は、図１６〜図１８に示す撮像タスクおよび図示しないコンティニュアスＡＦタスクを含む複数のタスクを並列的に実行する。なお、これらのタスクに対応する制御プログラムは、フラッシュメモリ４６に記憶される。
【００５１】
図１６を参照して、ステップＳ１ではスルー画像処理を開始する。この結果、被写界を表すスルー画像がＬＣＤモニタ４０に表示される。ステップＳ３では漏光補正機能をオンし、ステップＳ５ではコンティニュアスＡＦタスクを起動する。ステップＳ３の処理によって余剰電荷に起因する画質の劣化が解消され、ステップＳ５の処理によってスルー画像のフォーカスが適度に調整される。
【００５２】
ステップＳ７ではシャッタボタン２８ｓが半押しされたか否かを判別し、判別結果がＮＯである限りステップＳ９のスルー画像用ＡＥ処理を繰り返す。これによって、スルー画像の明るさが適度に調整される。
【００５３】
ステップＳ７の判別結果がＮＯからＹＥＳに更新されると、ステップＳ１１で漏光補正機能をオフし、ステップＳ１３でコンティニュアスＡＦタスクを停止し、そしてステップＳ１５およびＳ１７で記録用ＡＥ処理および記録用ＡＦ処理をそれぞれ実行する。記録用ＡＥ処理によってスルー画像の明るさが厳格に調整され、記録用ＡＦ処理によってスルー画像のフォーカスが厳格に調整される。記録用ＡＦ処理が完了すると、ステップＳ１９で漏光補正機能を再度オンする。
【００５４】
ステップＳ２１ではシャッタボタン２８ｓが全押しされたか否かを判別し、ステップＳ２３ではシャッタボタン２８ｓの操作が解除されたか否かを判別する。ステップＳ１７でＹＥＳであればステップＳ２５に進み、ステップＳ２３でＹＥＳであればステップＳ３に戻る。
【００５５】
ステップＳ２５では現時点の撮像モードが単写モードおよび連写モードのいずれであるかを判別する。現時点の撮像モードが単写モードであればステップＳ２７に進み、変数Ｎｍａｘを“１”に設定する。これに対して、現時点の撮像モードが連写モードであればステップＳ２９に進み、変数Ｎｍａｘを“６”に設定する。
【００５６】
ステップＳ２７またはＳ２９の処理が完了すると、変数Ｎｍａｘを参照した静止画取り込み処理をステップＳ３１で実行する。これによって、単写モードでは高解像度を有する１フレームの生画像データがＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに確保され、連写モードでは高解像度を有する６フレームの生画像データがＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに確保される。
【００５７】
ステップＳ３３では、記録処理を実行する。ＳＤＲＡＭ３４に確保された１フレームまたは６フレームの画像データは、ファイル形式で記録媒体４４に記録される。記録処理が完了すると、ステップＳ３５でスルー画像処理を再開し、その後にステップＳ３に戻る。
【００５８】
図１７に示すステップＳ３１の静止画取り込み処理は、図１８に示すサブルーチンに従って実行される。まずステップＳ４１でフラグＦＬＧおよび変数Ｎの各々を“０”に設定し、ステップＳ４３でドライバ２０ｃの動作モードを間引き読み出しモードから全画素読み出しモードに変更する。垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生すると、ステップＳ４５でＹＥＳと判断し、フラグＦＬＧの状態をステップＳ４７で判別する。
【００５９】
フラグＦＬＧが“０”であればステップＳ４７からステップＳ４９に進み、撮像面に照射された光量が基準ＲＥＦを上回るか否かをＡＥ評価回路２４の出力に基づいて判別する。照射光量が基準ＲＥＦ以下であればそのままステップＳ５５に進む一方、照射光量が基準ＲＥＦを上回ればステップＳ５３でフラグＦＬＧを“１”に更新してからステップＳ５５に進む。
【００６０】
ステップＳ５５では変数Ｎをインクリメントし、ステップＳ５７ではインクリメントされた変数Ｎが変数Ｎｍａｘを上回るかを判別する。判別結果がＮＯであればステップＳ４５〜Ｓ４７の処理を再度実行する。ステップＳ５３でフラグＦＬＧが“１”に更新されたとき、ステップＳ４７の判別結果はＹＥＳを示す。このときは、ステップＳ５１で漏光補正機能をオフしてからステップＳ５５に進む。したがって、漏光補正機能は、フラグＦＬＧが“１”に更新されたフレームの次のフレームでオフされる。ステップＳ５５のインクリメント処理によって変数Ｎが変数Ｎｍａｘを上回ると、ステップＳ５７でＹＥＳと判断して上階層のルーチンに復帰する。
【００６１】
以上の説明から分かるように、イメージセンサ１８は、有効画素エリアと光学的黒エリアとが割り当てられた撮像面を有し、撮像面で生成された電荷に基づく画像を繰り返し出力する。補正データ作成回路５６ａは、イメージセンサ１８から出力された画像のうち、光学的黒エリアに対応する黒画像に基づいて、漏光補正データ（画像補正情報）を繰り返し作成する。加算器５６ｅは、イメージセンサ１８から出力された画像のうち有効画素エリアに対応する有効画像を、補正データ作成回路５６ａによって作成された漏光補正データを参照して補正する。ＣＰＵ３０は、撮像面に照射される光量が基準ＲＥＦを上回った後に加算器５６ｅによって実行される補正処理(S45~S53)を制限する。
【００６２】
このように、漏光補正データは光学的黒エリアに対応する黒画像に基づいて作成され、有効画素エリアに対応する有効画像はこうして作成された漏光補正データを参照して補正される。ただし、撮像面に照射される光量が基準ＲＥＦを上回ると、その後の補正処理が制限される。これによって、撮像面に照射される光量の増大に起因して漏光補正データの作成処理ひいては有効画像の補正処理が過度に実行される事態を回避することができる。
【００６３】
また、補正データ作成回路５６ａは、現フレームの画像（注目画像）のために参照される漏光補正データを前フレームの画像（先行画像）に基づいて作成する。さらに、ＣＰＵ３０は、撮像面に照射される光量が基準を上回るか否かを現フレームの画像に基づいて判別し(S49)、判別結果が否定的な結果から肯定的な結果に更新されたとき次フレームの画像（後続画像）に対応して補正処理の制限を開始する(S45, S47, S51)。
【００６４】
ここで、注目画像がイメージセンサ１８から出力される時期と後続画像がイメージセンサ１８から出力される時期との差分は、先行画像がイメージセンサ１８から出力される時期と注目画像がイメージセンサ１８から出力される時期との差分に相当する。これによって、有効画像の補正処理の許可／制限を的確なタイミングで制御することができる。
【００６５】
なお、この実施例では、撮像面に照射される光量が基準ＲＥＦを上回ると、次のフレーム以降において補正処理が継続的にオフされる。しかし、光量が基準ＲＥＦを上回ったフレームの次のフレームにおいてのみ漏光補正機能をオフするようにしてもよい。
【００６６】
また、この実施例では、静止画取り込み処理を実行するときだけ漏光補正機能のオン／オフを制御するようにしているが、スルー画像処理の実行時に漏光補正機能のオン／オフを制御するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００６７】
１０  …ディジタルカメラ
１８  …イメージセンサ
２４  …ＡＥ評価回路
２６  …ＡＦ評価回路
３０  …ＣＰＵ
３４  …ＳＤＲＡＭ
４６  …フラッシュメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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