(57)【要約】【課題】  検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減する。【解決手段】  ＣＴ装置において、第一ピン６ｂをＸ線に対して横移動させ、横移動の複数の所定の位置で第一ピン６ｂを透過したＸ線をＸ線検出器２で検出して第一透過データとして収集する較正走査部１５ｂと、この第一透過データを用いて複数の検出チャンネルのそれぞれの横方向の配置を求めて記憶する較正処理部１５ｃとを具備し、較正処理部１５ｃにより求められた複数の検出チャンネルのそれぞれの横方向の配置を用いて、スキャンにより検出された透過データに対し検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して被検体の断面像を再構成する。【選択図】図１
2010151775.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テーブル上に載置された被検体に向けて放射線焦点より放射線を放射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線を複数の検出チャンネルで検出して透過データとして出力する放射線検出手段と、前記放射線の中心である放射線光軸と直交する縦方向に平行な回転軸に対し前記放射線と前記テーブルとを相対的に回転させる回転手段と、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データから前記被検体の断面像を再構成する再構成手段を有するＣＴ装置において、
前記縦方向に延在する第一基準体と、
前記第一基準体を前記放射線光軸と前記縦方向の双方に直交する横方向に前記放射線に対して相対的に横移動させる横移動手段と、
前記横移動手段を制御し前記横移動の複数の所定の位置で前記第一基準体を透過した放射線を前記放射線検出手段で検出させ第一透過データを収集する較正走査手段と、
前記第一透過データを用いて前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を求めて記憶する較正処理手段とを具備し、
前記再構成手段は、前記較正処理手段により求められた前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を用いて、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データに対し前記検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して前記被検体の断面像を再構成することを特徴とするＣＴ装置。
【請求項２】
請求項１に記載のＣＴ装置において、
前記横方向に延在する第二基準体と、
前記第二基準体を前記縦方向に前記放射線に対して相対的に縦移動させる縦移動手段とを具備し、
前記較正走査手段は、前記縦移動手段を制御し前記縦移動の複数の所定の位置で前記第二基準体を透過した放射線を前記放射線検出手段で検出させ第二透過データを収集し、
前記較正処理手段は、前記第二透過データを用いて前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記縦方向の配置を求めて記憶し、
前記再構成手段は、前記較正処理手段により求められた前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記縦方向の配置を用いて、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データに対し前記検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して前記被検体の断面像を再構成することを、さらに有することを特徴とするＣＴ装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のＣＴ装置において、
前記再構成手段は、前記較正処理手段により求められた前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を用いて、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データを少なくとも前記横方向に等間隔の透過データに変換した後、前記等間隔に変換した透過データを用いて前記被検体の断面像を再構成することを特徴とするＣＴ装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載のＣＴ装置において、
前記横移動手段は、前記第一基準体を載置した前記テーブルを前記横移動させる手段であり、
前記較正走査手段は、前記第一基準体に対し、前記回転手段により基準回転位置に設定した状態で０°の第一透過データを収集し、前記基準回転位置から１８０°回転させた状態で１８０°の第一透過データを収集し、
前記較正処理手段は、前記０°の第一透過データおよび前記１８０°の第一透過データを用いて、前記回転軸の投影を基準とする前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を求めて記憶することを特徴とするＣＴ装置。
【請求項５】
入射する放射線を複数の検出チャンネルで検出して透過データとして出力するＣＴ装置用の放射線検出手段の較正装置であり、
前記放射線検出手段に対向して配置された放射線源と、
前記放射線源の放射線焦点より前記放射線検出手段に向けて放射される放射線の中心である放射線光軸に対し直交する１つの方向を縦方向とし、前記放射線光軸と前記縦方向の双方に直交する方向を横方向としたとき、
前記縦方向に延在する第一基準体と、
前記第一基準体を前記横方向に前記放射線に対して相対的に横移動させる横移動手段と、
横移動手段を制御し前記横移動の複数の所定の位置で前記第一基準体を透過した放射線を前記放射線検出手段で検出させ第一透過データを収集する較正走査手段と、
前記第一透過データを用いて前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を求めて記憶する較正処理手段とを具備することを特徴とするＣＴ装置用放射線検出手段の較正装置。
【請求項６】
請求項５に記載の較正装置において、
前記放射線検出手段は、平面状の検出基準面に前記複数の検出チャンネルを配した構成であり、
前記横移動手段は、前記第一基準体を前記放射線光軸上に固定した状態で、前記放射線検出手段を前記検出基準面が前記放射線光軸に対し直交する姿勢で前記横方向に移動させて前記横移動を行うことを特徴とする較正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、被検体の断面像を撮影するコンピュータ断層撮影装置（以下、ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置と記載する。）に関する。
【背景技術】
【０００２】  ＣＴ装置は、放射線源から発生する放射線（Ｘ線）を被検体に向けて照射し、被検体を放射線の光軸に対し直交する回転軸で放射線に対して相対的に回転させ、一回転中の所定回転位置ごとに被検体から透過してくる放射線を１次元あるいは２次元の複数検出チャンネルを有する放射線検出器で検出し、この検出器出力から被検体の断面像ないし３次元データを得る（断層撮影する）ものである。【０００３】  この断面像ないし３次元データを得るための再構成の方法は、フィルタ処理及び逆投影処理で行なう方法やフーリエ変換法や逐次近似法（ＡＲＴ：Ａｌｇｅｂｒａｉｃ  Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ  Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ法）などが使用されている。【０００４】  このＣＴ装置は、放射線検出器の複数検出チャンネルがそれぞれ定められた配置で整然と並んでいることを前提に再構成を行う。このため、検出チャンネルの配置に誤差があると得られた断面像にアーチファクトなどが発生し断面像が劣化するため、複数検出チャンネルは定められた配置と成るように製造する必要がある。【０００５】  例えば、特許文献１の技術では、検出器ユニットを円弧状に配置する際、円弧状のフレームにマークを付けておき、検出器ユニットに付けたマークをあわせるように検出器ユニットをフレームに固定することで検出チャンネルの配置の位置合わせを行っている。その結果、検出チャンネルを放射線焦点（放射線発生点）から見て等角度間隔に並べることができる。そして、各検出チャンネルが等角度間隔であることを前提に断面像を再構成する。
【特許文献１】特開２００２−７１８１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】  従来のＣＴ装置では、検出器のフレームに付けたマークにより検出ユニットの位置合わせを行っているのでマークを付ける際の機械的誤差、マーク合せする際の機械的誤差等によるユニット配置誤差は避けられない。また、検出ユニット内のチャンネル配置にも誤差がある。さらに、ユニット間に機械的クリアランスを持たせるため、ユニット同士の継ぎ目で検出チャンネル間隔は継ぎ目以外での間隔とくらべて大きめにする必要があり、基本的に等角度配置からのずれが生じる。【０００７】  このため、各検出チャンネルが等角度間隔であることを前提に断面像を再構成するので、配置誤差が大きい場合、生じた誤差の分だけ再構成処理された断面像にアーチファクトの発生や分解能低下等による劣化が生じる。【０００８】  本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】  上記目的を達成するために、本発明のＣＴ装置は、テーブル上に載置された被検体に向けて放射線焦点より放射線を放射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線を複数の検出チャンネルで検出して透過データとして出力する放射線検出手段と、前記放射線の中心である放射線光軸と直交する縦方向に平行な回転軸に対し前記放射線と前記テーブルとを相対的に回転させる回転手段と、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データから前記被検体の断面像を再構成する再構成手段を有するＣＴ装置において、前記縦方向に延在する第一基準体と、前記第一基準体を前記放射線光軸と前記縦方向の双方に直交する横方向に前記放射線に対して相対的に横移動させる横移動手段と、前記横移動手段を制御し前記横移動の複数の所定の位置で前記第一基準体を透過した放射線を前記放射線検出手段で検出させ第一透過データを収集する較正走査手段と、前記第一透過データを用いて前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を求めて記憶する較正処理手段とを具備し、前記再構成手段は、前記較正処理手段により求められた前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を用いて、前記回転によるスキャンにより複数の前記回転の位置で検出された透過データに対し前記検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して前記被検体の断面像を再構成することを特徴とする。【００１０】  この構成により、検出チャンネルの配置が所定の位置から誤差をもって配置されている場合でも、較正走査で第一基準体を横移動させながら第一基準体の第一透過データを収集し、この第一透過データを較正処理して検出チャンネルそれぞれの横方向の配置を正確に求めることができ、検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して再構成するので、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。【００１１】  また、本発明の較正装置は、入射する放射線を複数の検出チャンネルで検出して透過データとして出力するＣＴ装置用の放射線検出手段の較正装置であり、前記放射線検出手段に対向して配置された放射線源と、前記放射線源の放射線焦点より前記放射線検出手段に向けて放射される放射線の中心である放射線光軸に対し直交する１つの方向を縦方向とし、前記放射線光軸と前記縦方向の双方に直交する方向を横方向としたとき、前記縦方向に延在する第一基準体と、前記第一基準体を前記横方向に前記放射線に対して相対的に横移動させる横移動手段と、横移動手段を制御し前記横移動の複数の所定の位置で前記第一基準体を透過した放射線を前記放射線検出手段で検出させ第一透過データを収集する較正走査手段と、前記第一透過データを用いて前記複数の検出チャンネルのそれぞれの前記横方向の配置を求めて記憶する較正処理手段とを具備することを特徴とする。【００１２】  この構成により、検出チャンネルの配置が所定の位置から誤差をもって配置されている場合でも、較正走査で第一基準体を横移動させながら第一基準体の第一透過データを収集し、この第一透過データを較正処理して検出チャンネルそれぞれの横方向の配置を正確に求めることができる。
【発明の効果】
【００１３】  本発明によれば、検出チャンネルの配置が所定の位置から誤差をもって配置されている場合でも、較正処理により検出チャンネルそれぞれの配置を正確に求めることができ、検出チャンネルの所定位置からのずれを補正して再構成することにより、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】  以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。【００１５】  （本発明の第一の実施の形態の構成）
以下、本発明の第一実施形態の構成について図１、図２、図３を参照して説明する。【００１６】  図１は本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（平面図）であり、図２は本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）である。図３は本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（正面図）である。【００１７】  第一実施形態のＣＴ装置は、断層撮影として、回転のみを行う所謂ＲＲ（Ｒｏｔａｔｅ  Ｒｏｔａｔｅ）方式（第三世代方式）を採用したＣＴ装置である。【００１８】  ＣＴ装置のＸ線管（放射線源）１とＸ線検出器（放射線検出手段）２は対向して配置され、Ｘ線管１のＸ線焦点（放射線焦点）Ｆより放射されスリット３によりファン状に絞られたＸ線ビーム（放射線）４が１次元の複数検出チャンネルを持つＸ線検出器２により検出され透過データとして出力される。Ｘ線検出器２は検出素子をＸ線ビーム４のファン面に沿って並べたものであり、チャンネルｎで１次元の透過データＩ（ｎ）を得る。【００１９】  被検体（図示せず）はテーブル５上に載置されるが、図１では被検体の代わりに較正治具６が載置されている。較正治具６（あるいは被検体）を載置したテーブル５は機構部（回転手段、横移動手段）７によりＸ線ビーム４のファン面に垂直な回転軸ＲＡに対して回転されるとともに、回転軸ＲＡと一緒に回転軸ＲＡと直交しＸ線ビーム４を横切る（Ｘ線光軸Ｌと直交する）方向である横方向ｔに横移動される。【００２０】  機構部７は、さらに、テーブル５を回転軸ＲＡの方向に昇降させることができ、被検体の撮影部位をＸ線光軸（Ｘ線ビーム４の中央）Ｌに合せることができる。【００２１】  図３を参照して、較正治具６は、基台６ａの上部に回転軸ＲＡ方向に延在するＸ線吸収の大きい円筒状の第一ピン（第一基準体）６ｂを配置したもので、下部には第一ピン６ｂと同軸となる円筒状の突起６ｃを配している。突起６ｃをテーブル５中央の円筒溝（図示せず）にはめ込んで載置することで第一ピン６ｂの軸が回転軸ＲＡに合うようにできる構造である。【００２２】  構成要素として、他に、機構部７を制御し、また、Ｘ線検出器２からの透過データを処理する制御処理部１５、処理結果等を表示する表示部１５ａ、Ｘ線管１を制御するＸ線制御部（図示せず）等がある。【００２３】  制御処理部１５は通常のコンピュータで、ＣＰＵ、メモリ、ディスク、表示部１５ａ、入力部（キーボードやマウス等）、機構制御ボード、インターフェース、等より成っている。【００２４】  制御処理部１５は、機構制御ボードにより、機構部７の動作位置の信号（エンコーダパルス等）を受けて機構部７を制御して較正走査やスキャン（断層撮影走査）等を行わせる他、透過データの収集指令パルス等をＸ線検出器２に送る。なお、機構部７には図示してないエンコーダが取付けられており、テーブル５の横移動位置ｔと高さと回転角度とが読み取られ、それぞれ制御処理部１５に送られる。【００２５】  また、制御処理部１５は、断層撮影時にＸ線検出器２からの透過データを収集し、記憶し、再構成処理して被検体の断面像を作成し、表示部１５ａに表示する。【００２６】  また、制御処理部１５は、Ｘ線制御部（図示せず）に指令を出し、Ｘ線管１の管電圧、管電流を指定すると共に、Ｘ線の放射、停止の指示を行なう。管電圧、管電流は被検体にあわせて変えることができる。【００２７】  図１に示すように、制御処理部１５はソフトウエアを読み込んでＣＰＵが機能する機能ブロックとして、検出チャンネルの配置を求めるための較正走査部（較正走査手段）１５ｂと較正処理部（較正処理手段）１５ｃ、断層撮影をするためのスキャン制御部１５ｄと再構成部（再構成手段）１５ｅ、等を備えている。【００２８】  （第一の実施の形態の作用）
図４、図５を参照して作用を説明する。【００２９】  ＜チャンネル配置の較正＞
断層撮影に先立ち、検出チャンネルの配置を求めるための較正を以下に記載するように行なう。【００３０】  操作者は、第一ピン６ｂの軸が回転軸ＲＡに合うように較正治具６をテーブル５に載置してから、制御処理部１５に較正開始の指令を入力する。【００３１】  制御処理部１５は操作者から較正開始の指令を受けると、較正走査部１５ｂがＸ線制御部（図示せず）と機構部７とＸ線検出器２に指令を出して制御し、以下のように較正走査を行なう。【００３２】  図４は第一実施形態に係る較正走査の幾何図（平面図）である。【００３３】  まず、テーブル５を昇降させて第一ピン６ｂを図２に示すようにＸ線ビーム４の回転軸ＲＡ方向の広がりを覆う高さに設定すると共に横移動の始点に移動させる。【００３４】  次に、較正走査部１５ｂは、Ｘ線を放射開始させ、図４に示すように、第一ピン６ｂを横方向ｔに横移動させながら第一ピン６ｂがＸ線ビーム４を横切る間、Δｘ［ｍｍ］の間隔ごとにＸ線検出器２で第一ピン６ｂの透過データ（第一透過データ）を収集する。【００３５】  ここで△ｘは、１チャンネルが検出するＸ線ビームの幅より小さく（１／５以下が望ましい）決める。【００３６】  図４で、ｔは横移動したときの透過データの収集番号（整数）でｔ＝０からｔ＝Ｔ−１まで収集される。透過データは検出チャンネルｎ毎にＩｎ（ｔ）、（ｔ＝０，１，…，Ｔ−１）の形で収集され、適宣な記憶部（図示せず）に記憶される。記憶すると、Ｘ線を放射停止させ較正走査を終える。【００３７】  次に、較正処理部１５ｃは較正走査部１５ｂにより得られた第一ピン６ｂの透過データ（第一透過データ）Ｉｎ（ｔ）から、以下のように検出チャンネルｎごとに横方向の配置を求める。【００３８】  まず、透過データＩｎ（ｔ）に対し対数変換、
Ｐｎ（ｔ）＝ＬＯＧ（Ｉ０ｎ／Ｉｎ（ｔ））                            …（１）
を施した透過データＰｎ（ｔ）を得る。ここでＩ０ｎはピンの無いときの透過データである。図５は第一実施形態に係る較正走査で得た第一ピンの透過データＰｎ（ｔ）のプロファイルを示す模式図である。Ｐｎ（ｔ）はピンが検出される位置以外ではほぼ０で、ピンが検出される位置で＋の値となる。このＰｎ（ｔ）のプロファイルより、ｎごとに第一ピン６ｂの中央の位置ｔｃ（ｎ）を求める。これは、例えばプロファイルの重心を求めればよい。ｔｃ（ｎ）は、正確には、第一ピン６ｂの投影がチャンネルｎを横切る横移動位置である。なお、ｔｃ（ｎ）は整数でなく実数として収集ピッチより細かく求める。【００３９】  各検出チャンネルでｔｃ（ｎ）が求まると、図４を参照して、Ｘ線焦点Ｆに対する各検出チャンネルｎの横方向の配置角θ（ｎ）［ｄｅｇ］を、中央チャンネルｎｃを基準として、式、
θ（ｎ）＝ＡＴＡＮ｛（ｔｃ（ｎ）−ｔｃ（ｎｃ））・△ｘ／ＦＣＤ｝    …（２）
で求める。ここでＦＣＤはＸ線焦点Ｆと回転軸ＲＡ間の最短距離である。あるいは、Ｘ線検出器２位置でのＸ線光軸Ｌと直交する検出基準面２ａ上のチャンネルｎの横方向の直線配置ｘｄ（ｎ）［ｍｍ］を、中央チャンネルｎｃを基準として、式、
ｘｄ（ｎ）＝｛ｔｃ（ｎ）−ｔｃ（ｎｃ）｝・Δｘ・ＦＤＤ／ＦＣＤ      …（３）
で求める。ここでＦＤＤはＸ線焦点Ｆと検出基準面２ａとの距離である。求めた配置角θ（ｎ）または直線配置ｘｄ（ｎ）を適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の較正が終了する。【００４０】  なお、チャンネル配置の較正は頻繁に行なう必要は無く、例えば、装置の製造時や、Ｘ線検出器の交換や修理をした後、また、メンテナンス時等に行えばよい。＜＞終了。【００４１】  ＜断層撮影＞
次に、チャンネル配置が記憶された状態で断層撮影を行なう。【００４２】  操作者はテーブル５に被検体を載置し、テーブル５を昇降させて被検体の撮影部位をＸ線光軸Ｌの高さに合せる。【００４３】  制御処理部１５のスキャン制御部１５ｄは操作者から断層撮影開始の指令を受けると、Ｘ線制御部（図示せず）、機構部７とＸ線検出器２を制御して、以下のようにスキャン（断層撮影走査）を行う。【００４４】  まず、横移動位置ｔをｔｃ（ｎｃ）に合わせる。この状態で回転軸ＲＡがＸ線光軸Ｌ上、すなわちＦとｎｃを結ぶ直線上に位置決めされる。【００４５】  次に、Ｘ線を放射開始し、テーブル５を回転させながら、一定角度おきに１回転に亘りＸ線検出器２で被検体の透過データを収集し、適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、Ｘ線を放射停止してスキャンが終了する。収集した透過データは回転角をφとして、Ｉ（ｎ，φ）で表される。【００４６】  次に、再構成部１５ｅは得られた透過データＩ（ｎ，φ）に対し以下のように処理を加える。【００４７】  まず、この透過データＩ（ｎ，φ）に対し、対数変換等の前処理を加え透過データＰ（ｎ，φ）を求める。【００４８】  次に、前処理後の透過データＰ（ｎ，φ）に対し、較正で求めた検出チャンネルの配置θ（ｎ）またはｘｄ（ｎ）を用いて、チャンネル配置の誤差補正を加える。この誤差補正は透過データＰ（ｎ，φ）が配置角θまたは直線位置ｘｄについて等間隔になっていないものを補間計算により等間隔のデータに変換する補正である。この補正により、横方向の配置角θについて等間隔の透過データＰ（θ，φ）、あるいは横方向の直線位置ｘｄについて等間隔の透過データＰ（ｘｄ，φ）を得る。【００４９】  さらに、再構成部１５ｅは、この等間隔に補正された透過データＰ（θ，φ）あるいはＰ（ｘｄ，φ）を用いて、以下のように、フィルタ補正逆投影を行なって断面像を得る。【００５０】  図６は第一実施形態に係る断面像再構成の逆投影を説明する幾何図（平面図）である。【００５１】  フィルタ補正逆投影は、透過データＰに対しθ方向あるいはｘｄ方向に周波数ωに比例した周波数フィルタ（いわゆる｜ω｜フィルタ）を掛けた後、透過データＰを補正された等間隔の検出チャンネルの位置すべてからＸ線焦点Ｆに向けて断面位置に仮想設定した格子２０上に逆投影ＢＰして足し込むことで行なわれ、１回転分の足し込みで断面像が再構成される。＜＞終了。【００５２】  （第一の実施の形態の効果）
第一の実施形態によれば、検出チャンネルの配置が所定の位置から誤差をもって配置されている場合でも、較正走査で第一ピンを横移動させながら第一ピンの透過データを収集し、この透過データを較正処理して検出チャンネルそれぞれの横方向の配置を求めて記憶し、その後断層撮影で得た被検体の透過データに対し、記憶した検出チャンネルの配置を用いて、横方向の配置角θあるいは横方向の直線位置ｘｄについて等間隔の透過データに変換してから、断面像を再構成するので、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。【００５３】  （第一の実施の形態の変形）
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。【００５４】  （変形例１）
第一実施形態では、断層撮影で得られた透過データＰ（ｎ，φ）を、配置角θまたは直線位置ｘｄについての等間隔データに変換してからフィルタ補正逆投影を行なって断面像を得ているが、等間隔に変換することなくフィルタ掛けを行った後、透過データＰ（ｎ，φ）を較正で求めた検出チャンネルの位置からＸ線焦点Ｆに向けて断面位置に逆投影するようにしてもよい。【００５５】  また、再構成はフィルタ補正逆投影法には限られず、例えばフーリエ変換法や逐次近似法でも、較正で求めたチャンネル配置を反映して再構成でき、同様の効果をあげることができる。【００５６】  （変形例２）
第一実施形態では、１次元の検出チャンネルの１列を持つＸ線検出器２を用いているが、回転軸方向に多数列の配置とし、一度に多数枚の断面像を撮影するようにしてもよい。この場合、各列それぞれに第一実施形態と同じ較正を行なえばよい。【００５７】  また、第一実施形態で、具体的な検出チャンネルの配置はどのような配置でもよく、例えば円弧配置でも直線配置でもよい。【００５８】  （変形例３）
第一実施形態で、第一ピン６ｂを回転軸ＲＡに合うように載置したが、合っていなくてもよい。ただし、合っていない場合は横移動位置をｔｃ（ｎｃ）に設定した状態で、回転軸ＲＡの投影が中央チャンネルｎｃからずれることになり、回転軸の投影を基準とした配置較正でなくなる。【００５９】  そこで、変形例３として、次のようにすることで第一ピン６ｂがずれていても回転軸の投影を基準とした検出チャンネル配置の較正ができる。【００６０】  較正治具６をテーブル５に載置した後、較正を開始させると、較正走査部１５ｂは、まず、テーブル５を基準回転位置０°として第一実施形態と同じ較正走査を行なって、ｎ毎に透過データ（０°の第一透過データ）Ｉｎ（ｔ）０を得る。【００６１】  較正走査部１５ｂは、次に、テーブル５を基準回転位置から１８０°回転させた状態で第一実施形態と同じ較正走査を行なって、ｎ毎に透過データ（１８０°の第一透過データ）Ｉｎ（ｔ）１８０を収集する。このときの較正走査は第一実施形態同様ｔ＝０から順に収集するが、逆にｔ＝Ｔ−１から逆向きに収集してもよい。【００６２】  較正処理部１５ｃは、得られた透過データＩｎ（ｔ）０，Ｉｎ（ｔ）１８０に対し対数変換（式（１））を加え、透過データＰｎ（ｔ）０，Ｐｎ（ｔ）１８０を得る。【００６３】  図７（ａ）は変形例３に係る較正走査で得た第一ピン６ｂの透過データのプロファイルを示す。較正処理部１５ｃは、検出チャンネルｎ毎に、０°のプロファイルと１８０°のプロファイルの対称中心ｔｃ（ｎ）を求める。求め方は重心計算、相関計算等が使用できる。このｔｃ（ｎ）は回転中心の投影がチャンネルｎを横切る横移動位置と言える。【００６４】  次に、較正処理部１５ｃは、第一実施形態と同様に、このｔｃ（ｎ）から配置角θ（ｎ）または直線配置ｘｄ（ｎ）を求め、適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の較正が終わる。【００６５】  断層撮影については第一実施形態と全く同じである。【００６６】  変形例３によれば、第一ピン６ｂが回転軸ＲＡに合っていなくても、横移動位置を求めたｔｃ（ｎｃ）に設定すると回転軸ＲＡの投影が中央チャンネルｎｃと正確に合致するので、回転軸の投影を基準とした検出チャンネル配置θ（ｎ）またはｘｄ（ｎ）を求められる。【００６７】  なお、この変形例３においては、第一ピンは回転軸ＲＡからずれてもよいのみならず、傾いてもよく、また、形状として円筒でなく不定形であってもよい。【００６８】  図７（ｂ）は第一ピンが不定形であった場合のプロファイルであるが、０°のプロファイルと１８０°のプロファイルはそれぞれ左右非対称の不定形となるが、互いに左右反転した形となり、その対称中心ｔｃ（ｎ）が回転軸ＲＡの位置、正確には回転軸ＲＡの投影がチャンネルｎを横切る横移動位置となる。【００６９】  従って、第一ピンは回転軸ＲＡからずれても傾いても、形状として円筒でなく不定形であっても、回転軸の投影を基準とした検出チャンネル配置θ（ｎ）またはｘｄ（ｎ）を求められる。【００７０】  （変形例４）
第一実施形態では、断層撮影としては、回転のみを行うＲＲ方式を採用しているが、所謂ＴＲ（Ｔｒａｎｓｌａｔｅ  Ｒｏｔａｔｅ）方式（第二世代方式）で断層撮影してもよい。この場合は横移動ｔをトランスレート動作として、Ｘ線ビーム４の横方向の広がり角度をファン角として、トランスレート中に一定間隔で検出チャンネルｎごとに透過データＩｎ（ｔ）を収集し、トランスレートとファン角分のステップ回転を交互に繰り返して１８０°方向からの透過データを収集する。【００７１】  次に、再構成部は得られた透過データＩｎ（ｔ）に対し以下のように処理を加える。【００７２】  まず、この透過データＩｎ（ｔ）に対し、対数変換等の前処理を加え透過データＰｎ（ｔ）を求める。さらに、再構成部は、この透過データＰｎ（ｔ）を用いて、以下のように、フィルタ補正逆投影を行なって断面像を得る。【００７３】  図８は変形例４に係る逆投影を説明する幾何図（平面図）である。【００７４】  フィルタ補正逆投影は、透過データＰｎ（ｔ）に対しｔ方向に周波数ωに比例した周波数フィルタ（いわゆる｜ω｜フィルタ）を掛けた後、透過データＰｎ（ｔ）に対し、較正で得られた横方向の配置角θ（ｎ）を用いて、透過データＰｎ（ｔ）を、（ｔｃ（ｎ）位置が回転軸ＲＡに合うようにｔ方向にずらした後、）角度θ（ｎ）方向から断面位置に仮想設定した格子２０上に（全ｔ，ｎについて）逆投影ＢＰして足し込むことで行なわれ、全トランスレート分の足し込みで断面像が再構成される。【００７５】  較正で得られた検出チャンネルの配置θ（ｎ）を用いて、θ（ｎ）方向から逆投影することで、検出チャンネル配置誤差を補正して断面像を再構成することができ、断面像の劣化を低減することができる。【００７６】  また、変形例４によればスキャンで用いるトランスレート動作を用いて第一ピンを横移動できる。【００７７】  （変形例５）
第一実施形態では、断層撮影としては、回転のみで行うＲＲ方式を採用しているが、ＲＲ方式とＴＲ方式を切換えて断層撮影することもできる。すなわち、被検体がＸ線ビーム４の横方向に収まる大きさのときＲＲ方式で短時間スキャンで断層撮影し、収まらない大きさのときはＴＲ方式に切換えて被検体全体の断層撮影をすることが可能である。【００７８】  この場合、ＲＲ方式でもＴＲ方式でも検出チャンネル配置誤差を補正して断面像を再構成することができ、断面像の劣化を低減することができる。【００７９】  また、変形例５によればスキャンで用いるトランスレート動作を用いて第一ピンを横移動できる。【００８０】  （変形例６）
第一実施形態では、第一ピン６ｂを横移動させるとき、被検体を載置するテーブル５に第一ピン６ｂを有する治具６を載置してこのテーブル５を機構部７により横移動させているが、テーブル５を横移動させる機構を廃止し、代わりに、第一ピン６ｂを保持して横移動させる別の機構を設けてもよい。【００８１】  （変形例７）
第一実施形態では１本の第一ピン６ｂの透過データで較正処理しているが、複数本のピンとしてもよい。この場合、各ピンの透過データのプロファイルを平均してｔｃ（ｎ）を求めることで統計精度を上げて検出チャンネル配置を求めることができる。また、プロファイルを平均する代わりに、各ピンごとにｔｃ（ｎ）を求めてから平均するか、各ピンごとに検出チャンネル配置を求めてから平均しても同様である。【００８２】  （変形例８）
第一実施形態で、第一ピン６ｂのＸ線ビーム４に対する横方向の動きは相対的でよい。【００８３】  例えば、テーブル５を横移動する機構を廃止し、代わりに、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管１）とＸ線検出器２を一緒に横移動させるか、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管１）とＸ線検出器２のどちらか一方を横移動させる機構を設けてもよい。【００８４】  （変形例９）
第一実施形態およびその変形で、スキャン制御部１５ｄと再構成部１５ｅを廃止してもよい。この場合、第一実施形態の装置はＣＴ装置でなくＸ線検出器２の専用較正装置となる。すなわち、Ｘ線検出器２の検出チャンネルの配置の較正は必ずしも、ＣＴ装置に搭載した後にＣＴ装置を用いて行う必要は無く、搭載する前に上記の専用較正装置で行なってもよい。【００８５】  （変形例１０）
以上の変形例を合わせた変形が可能である。【００８６】  （本発明の第二の実施の形態の構成）
以下、本発明の第二の実施形態の構成について図９、図１０、図１１を参照して説明する。【００８７】  図９は本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（平面図）であり、図１０は本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）である。図１１は本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（（ａ）正面図、（ｂ）側面図）である。【００８８】  第二実施形態のＣＴ装置は、断層撮影として、回転のみを行う所謂ＲＲ（Ｒｏｔａｔｅ  Ｒｏｔａｔｅ）方式（第三世代方式）を採用したＣＴ装置である。【００８９】  ＣＴ装置のＸ線管（放射線源）３１とＸ線検出器（放射線検出手段）３２は対向して配置され、Ｘ線管３１のＸ線焦点（放射線焦点）Ｆより放射されたＸ線の一部であるコーン状のＸ線ビーム（放射線）３３が２次元の複数検出チャンネルを持つＸ線検出器３２により検出され、透過データとして出力される。Ｘ線検出器３２は検出素子をＸ線ビーム３３と交差する面に沿って２次元で並べたものであり、チャンネルｎ，ｍで２次元の透過データＩ（ｎ，ｍ）を得る。【００９０】  被検体（図示せず）はテーブル３４上に載置されるが、図９では被検体の代わりに較正治具３５が載置されている。較正治具３５（あるいは被検体）を載置したテーブル３４は機構部（回転手段、横移動手段）３６によりＸ線光軸（Ｘ線ビーム３３の中心線）Ｌの方向に垂直な回転軸ＲＡに対して回転されるとともに、回転軸ＲＡと一緒に回転軸ＲＡと直交しＸ線ビーム３３を横切る（Ｘ線光軸Ｌと直交する）方向である横方向ｔに横移動される。【００９１】  テーブル３４はさらに、機構部（縦移動手段）３６により、回転軸ＲＡの方向である縦方向ｑに縦移動（昇降）される。【００９２】  図１１を参照して、較正治具３５は、基台３５ａの上部には、第一ピン（第一基準体）３５ｂと第二ピン（第二基準体）３５ｃを埋め込んだ基板３５ｄを配置している。第一ピン３５ｂは回転軸ＲＡ方向に延在する円筒状のＸ線吸収の大きいピンで、第二ピン３５ｃは横方向に延在する円筒状のＸ線吸収の大きいピンであり、これに対し、基板３５ｄはＸ線の吸収の少ない板である。第一ピン３５ｂと第二ピン３５ｃは基板３５ｄ内で直交配置されている。基台３５ａの下部には第一ピン３５ｂと同軸となる円筒状の突起３５ｅを配している。突起３５ｅをテーブル３４中央の円筒溝（図示せず）にはめ込んで載置することで第一ピン３５ｂの軸が回転軸ＲＡに合うようにできる構造である。また、載置したとき第二ピン３５ｃの軸を回転軸ＲＡと交差しかつ横方向にあわせるように載置できる構造である。【００９３】  構成要素として、他に、機構部３６を制御し、また、Ｘ線検出器３２からの透過データを処理する制御処理部４５、処理結果等を表示する表示部４５ａ、Ｘ線管３１を制御するＸ線制御部（図示せず）等がある。【００９４】  制御処理部４５は通常のコンピュータで、ＣＰＵ、メモリ、ディスク、表示部４５ａ、入力部（キーボードやマウス等）、機構制御ボード、インターフェース、等より成っている。【００９５】  制御処理部４５は、機構制御ボードにより、機構部３６の動作位置の信号（エンコーダパルス等）を受けて機構部３６を制御して較���走査やスキャン（断層撮影走査）等を行わせる他、透過データの収集指令パルス等をＸ線検出器３２に送る。なお、機構部３６には図示してないエンコーダが取付けられており、テーブル３４の横移動位置ｔ、縦移動位置ｑと回転角度が読み取られ、それぞれ制御処理部４５に送られる。【００９６】  また、制御処理部４５は、断層撮影時にＸ線検出器３２からの透過データを収集し、記憶し、再構成処理して被検体の断面像を作成し、表示部４５ａに表示する。【００９７】  また、制御処理部４５は、Ｘ線制御部（図示せず）に指令を出し、Ｘ線管３１の管電圧、管電流を指定すると共に、Ｘ線の放射、停止の指示を行なう。管電圧、管電流は被検体にあわせて変えることができる。【００９８】  図９に示すように、制御処理部４５はソフトウエアを読み込んでＣＰＵが機能する機能ブロックとして、検出チャンネルの配置を求めるための較正走査部（較正走査手段）４５ｂと較正処理部（較正処理手段）４５ｃ、断層撮影をするためのスキャン制御部４５ｄと再構成部（再構成手段）４５ｅ、等を備えている。【００９９】  （第二の実施の形態の作用）
図１２、図１３、図１４、図１５を参照して作用を説明する。【０１００】  ＜チャンネル配置の較正＞
断層撮影に先立ち検出チャンネルの配置を求めるための横方向の較正と縦方向の較正を順次以下に記載するように行なう。【０１０１】  操作者は、第一ピン３５ｂの軸が回転軸ＲＡに合うように、また第二ピン３５ｃの軸が回転軸ＲＡと交差しかつ横方向に合うように較正治具３５をテーブル３４に載置してから、制御処理部４５に較正開始の指令を入力する。【０１０２】  制御処理部４５は操作者から較正開始の指令を受けると、較正走査部４５ｂがＸ線制御部（図示せず）と機構部３６とＸ線検出器３２に指令を出して制御し、以下のように横方向の較正走査を行なう。【０１０３】  図１２は第二実施形態に係る横方向の較正走査の幾何図（平面図）である。【０１０４】  まず、テーブル３４を縦移動させて第一ピン３５ｂを図１０に示すようにＸ線ビーム３３の回転軸ＲＡ方向の広がりを覆う高さに設定すると共に横移動の始点に移動させる。【０１０５】  次に、較正走査部４５ｂは、Ｘ線を放射開始させ、図１２に示すように、第一ピン３５ｂを横方向ｔに横移動させながら第一ピン３５ｂがＸ線ビーム３３を横切る間、Δｘ［ｍｍ］の間隔ごとにＸ線検出器３２で第一ピン３５ｂの透過データ（第一透過データ）を収集する。【０１０６】  ここで△ｘは１チャンネルが検出するＸ線ビームの幅より小さく（１／５以下が望ましい）決める。【０１０７】  図１２で、ｔは横移動したときの透過データの収集番号（整数）でｔ＝０からｔ＝Ｔ−１まで収集される。透過データは検出チャンネルｎ，ｍ毎にＩｎｍ（ｔ）、（ｔ＝０，１，…，Ｔ−１）の形で収集され、適宣な記憶部（図示せず）に記憶される。記憶すると、Ｘ線を放射停止させ横方向の較正走査を終える。【０１０８】  次に、較正処理部４５ｃは較正走査部４５ｂにより得られた第一ピン３５ｂの透過データ（第一透過データ）Ｉｎｍ（ｔ）から、以下のように検出チャンネルｎ，ｍごとに横方向の配置を求める。【０１０９】  まず、透過データＩｎｍ（ｔ）に対し対数変換、
Ｐｎｍ（ｔ）＝ＬＯＧ（Ｉ０ｎｍ／Ｉｎｍ（ｔ））                      …（４）
を施した透過データＰｎｍ（ｔ）を得る。ここでＩ０ｎｍはピンの無いときの透過データである。図１３は第二実施形態に係る横方向の較正走査で得た第一ピンの透過データＰｎｍ（ｔ）のプロファイルを示す模式図である。Ｐｎｍ（ｔ）はピンが検出される位置以外ではほぼ０で、ピンが検出される位置で＋の値となる。このＰｎｍ（ｔ）のプロファイルより、ｎ，ｍごとに第一ピン３５ｂの中央の位置ｔｃ（ｎ，ｍ）を求める。これは、例えばプロファイルの重心を求めればよい。ｔｃ（ｎ，ｍ）は、正確には、第一ピン３５ｂの投影がチャンネルｎ，ｍを横切る横移動位置である。なお、ｔｃ（ｎ，ｍ）は整数でなく実数として収集ピッチより細かく求める。【０１１０】  各検出チャンネルでｔｃ（ｎ，ｍ）が求まると、図１２を参照して、Ｘ線焦点Ｆに対する各検出チャンネルｎ，ｍの横方向の配置角θ（ｎ，ｍ）［ｄｅｇ］を、中央チャンネルｎｃ，ｍｃを基準として、式、
θ（ｎ，ｍ）＝ＡＴＡＮ｛（ｔｃ（ｎ，ｍ）−ｔｃ（ｎｃ，ｍｃ））・△ｘ／ＦＣＤ｝                                                                      …（５）
で求める。ここでＦＣＤはＸ線焦点Ｆと回転軸ＲＡ間の最短距離である。あるいは、Ｘ線検出器３２位置でのＸ線光軸Ｌと直交する検出基準面３２ａ上のチャンネルｎ，ｍの横方向の直線配置ｘｄ（ｎ，ｍ）［ｍｍ］を、中央チャンネルｎｃ，ｍｃを基準として、式、
ｘｄ（ｎ，ｍ）＝｛ｔｃ（ｎ，ｍ）−ｔｃ（ｎｃ，ｍｃ）｝・Δｘ・ＦＤＤ／ＦＣＤ                                                                        …（６）
で求める。ここでＦＤＤはＸ線焦点Ｆと検出基準面３２ａとの距離である。求めた配置角θ（ｎ，ｍ）または直線配置ｘｄ（ｎ，ｍ）を適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の横方向の較正が終了する。【０１１１】  制御処理部４５は横方向の較正が終了すると引き続き、較正走査部４５ｂがＸ線制御部（図示せず）と機構部３６とＸ線検出器３２に指令を出して制御し、以下のように縦方向の較正走査を行なう。【０１１２】  図１４は第二実施形態に係る縦方向の較正走査の幾何図（正面図）である。【０１１３】  まず、テーブル３４を横移動させて第二ピン３５ｃがＸ線ビーム３３の横方向の広がりを覆う横移動位置に設定すると共に縦移動の始点に移動させる。【０１１４】  次に、較正走査部４５ｂは、Ｘ線を放射開始させ、図１４に示すように、第二ピン３５ｃを縦方向ｑに縦移動させながら第二ピン３５ｃがＸ線ビーム３３を縦断する間、Δｚ［ｍｍ］の間隔ごとにＸ線検出器３２で第二ピン３５ｃの透過データ（第二透過データ）を収集する。【０１１５】  ここで△ｚは１チャンネルが検出するＸ線ビームの幅より小さく（１／５以下が望ましい）決める。【０１１６】  図１４で、ｑは縦移動したときの透過データの収集番号（整数）でｑ＝０からｑ＝Ｑ−１まで収集される。透過データは検出チャンネルｎ，ｍ毎にＩｎｍ（ｑ）、（ｑ＝０，１，…，Ｑ−１）の形で収集され、適宣な記憶部（図示せず）に記憶される。記憶すると、Ｘ線を放射停止させ縦方向の較正走査を終える。【０１１７】  次に、較正処理部４５ｃは較正走査部４５ｂにより得られた第二ピン３５ｃの透過データ（第二透過データ）Ｉｎｍ（ｑ）から、以下のように検出チャンネルｎ，ｍごとに縦方向の配置を求める。【０１１８】  まず、透過データＩｎｍ（ｑ）に対し対数変換、
Ｐｎｍ（ｑ）＝ＬＯＧ（Ｉ０ｎｍ／Ｉｎｍ（ｑ））                      …（７）
を施した透過データＰｎｍ（ｑ）を得る。ここでＩ０ｎｍはピンの無いときの透過データである。図１５は第二実施形態に係る縦方向の較正走査で得た第二ピンの透過データＰｎｍ（ｑ）のプロファイルを示す模式図である。Ｐｎｍ（ｑ）はピンが検出される位置以外ではほぼ０で、ピンが検出される位置で＋の値となる。このＰｎｍ（ｑ）のプロファイルより、ｎ，ｍごとに第二ピンの中央の位置ｑｃ（ｎ，ｍ）を求める。これは、例えばプロファイルの重心を求めればよい。ｑｃ（ｎ，ｍ）は、正確には、第二ピンの投影がチャンネルｎ，ｍを縦断する縦移動位置である。なお、ｑｃ（ｎ，ｍ）は整数でなく実数として収集ピッチより細かく求める。【０１１９】  各検出チャンネルでｑｃ（ｎ，ｍ）が求まると、図１４を参照して、Ｘ線焦点Ｆに対する各検出チャンネルｎ，ｍの縦方向の配置角γ（ｎ，ｍ）［ｄｅｇ］を、中央チャンネルｎｃ，ｍｃを基準として、式、
γ（ｎ，ｍ）＝ＡＴＡＮ｛（ｑｃ（ｎ，ｍ）−ｑｃ（ｎｃ，ｍｃ））・△ｚ／ＦＣＤ｝                                                                      …（８）
で求める。あるいは、検出基準面３２ａ上のチャンネルｎ，ｍの縦方向の直線配置ｚｄ（ｎ，ｍ）［ｍｍ］を、中央チャンネルｎｃ，ｍｃを基準として、式、
ｚｄ（ｎ，ｍ）＝｛ｑｃ（ｎ，ｍ）−ｑｃ（ｎｃ，ｍｃ）｝・Δｚ・ＦＤＤ／ＦＣＤ                                                                        …（９）
で求める。求めた配置角γ（ｎ，ｍ）または直線配置ｚｄ（ｎ，ｍ）を適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の縦方向の較正が終了する。【０１２０】  なお、チャンネル配置の較正は頻繁に行なう必要は無く、例えば、装置の製造時や、Ｘ線検出器の交換や修理をした後、また、メンテナンス時等に行えばよい。＜＞終了。【０１２１】  ＜断層撮影＞
次に、チャンネル配置が記憶された状態で断層撮影を行なう。【０１２２】  操作者はテーブル３４に被検体を載置し、テーブル３４を昇降させて被検体の撮影部位をＸ線光軸Ｌの高さに合せる。【０１２３】  制御処理部４５のスキャン制御部４５ｄは操作者から断層撮影開始の指令を受けると、Ｘ線制御部（図示せず）、機構部３６とＸ線検出器３２を制御して、以下のようにスキャン（断層撮影走査）を行う。【０１２４】  まず、横移動位置ｔをｔｃ（ｎｃ，ｍｃ）に合わせる。この状態で回転軸ＲＡがＸ線光軸Ｌ上、すなわちＦとｎｃ，ｍｃを結ぶ直線上に位置決めされる。【０１２５】  次に、Ｘ線を放射開始し、テーブル３４を回転させながら、一定角度おきに１回転に亘りＸ線検出器３２で被検体の透過データを収集し、適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、Ｘ線を放射停止してスキャンが終了する。収集した透過データは回転角をφとして、Ｉ（ｎ，ｍ，φ）で表される。【０１２６】  次に、再構成部４５ｅは得られた透過データＩ（ｎ，ｍ，φ）に対し以下のように処理を加える。【０１２７】  まず、この透過データＩ（ｎ，ｍ，φ）に対し、対数変換等の前処理を加え透過データＰ（ｎ，ｍ，φ）を求める。【０１２８】  次に、前処理後の透過データＰ（ｎ，ｍ，φ）に対し、較正で求めた検出チャンネルの配置θ（ｎ，ｍ），γ（ｎ，ｍ）またはｘｄ（ｎ，ｍ），ｚｄ（ｎ，ｍ）を用いて、チャンネル配置の誤差補正を加える。この誤差補正は透過データＰ（ｎ，ｍ，φ）が配置角θ，γまたは直線位置ｘｄ，ｚｄについて等間隔になっていないものを補間計算により等間隔のデータに変換する補正である。変換により、横方向は配置角θあるいは直線位置ｘｄについて等間隔で、また、縦方向は配置角γあるいは直線位置ｚｄについて等間隔の透過データとする。この補正により、例えば、θとｚｄについて等間隔の透過データＰ（θ，ｚｄ，φ）、あるいはｘｄとｚｄについて等間隔の透過データＰ（ｘｄ，ｚｄ，φ）を得る。【０１２９】  さらに、再構成部４５ｅは、この等間隔に補正された透過データＰ（θ，ｚｄ，φ）あるいはＰ（ｘｄ，ｚｄ，φ）を用いて、以下のように、フィルタ補正逆投影を行なって断面像を得る。【０１３０】  図１６は第二実施形態に係る断面像再構成の逆投影を説明する幾何図（平面図）である。【０１３１】  フィルタ補正逆投影は、透過データＰに対しθ方向あるいはｘｄ方向に周波数ωに比例した周波数フィルタ（いわゆる｜ω｜フィルタ）を掛けた後、透過データＰを補正された等間隔の検出チャンネルの位置すべてからＸ線焦点Ｆに向けて被検体位置に仮想設定した３次元格子５０上に逆投影ＢＰして足し込むことで行なわれ、１回転分の足し込みで３次元画像（多数の断面像）が再構成される。＜＞終了。【０１３２】  （第二の実施の形態の効果）
第二の実施形態によれば、検出チャンネルの配置が所定の位置から誤差をもって配置されている場合でも、較正走査で第一ピンを横移動させながら第一ピンの透過データを収集し、この第一透過データを較正処理して検出チャンネルそれぞれの横方向の配置を求めて記憶し、さらに、較正走査で第二ピンを縦移動させながら第二ピンの透過データを収集し、この第二透過データを較正処理して検出チャンネルそれぞれの縦方向の配置を求めて記憶し、その後断層撮影で得た被検体の透過データに対し、記憶した検出チャンネルの配置を用いて、横方向は配置角θあるいは直線位置ｘｄについて等間隔で、また、縦方向は配置角γあるいは直線位置ｚｄについて等間隔の透過データに変換してから、断面像を再構成するので、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。【０１３３】  （第二の実施の形態の変形）
その他、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。【０１３４】  （変形例１）
第二実施形態では、断層撮影で得られた透過データＰ（ｎ，ｍ，φ）を、縦方向と横方向それぞれについて等間隔データに変換してからフィルタ補正逆投影を行なって断面像を得ているが、等間隔に変換することなくフィルタ掛けを行った後、透過データＰ（ｎ，ｍ，φ）を較正で求めた検出チャンネルの位置からＸ線焦点Ｆに向けて断面位置に逆投影するようにしてもよい。【０１３５】  また、再構成はフィルタ補正逆投影法には限られず、例えばフーリエ変換法や逐次近似法でも、較正で求めたチャンネル配置を反映して再構成でき、同様の効果をあげることができる。【０１３６】  （変形例２）
第二実施形態で、具体的な検出チャンネルの配置は平面配置でも円弧配置でもどのような配置でもよく、Ｘ線検出器の種類としてもどのようなものでもよい。【０１３７】  例えば、Ｘ線検出器としてＦＰＤ（フラットパネル検出器）を用いた場合、検出チャンネルの配置は平面状の検出基準面３２ａ上で縦横等間隔の格子状である。ＦＰＤは１つの半導体チップから製造する場合はチャンネル配置は極めて正確であるが、通常、検出面の寸法を大きくするため、検出チャンネルを形成したチップを繋ぎ合わせて製造する。このためチップの継ぎ目でチャンネル配置の誤差が生じる。また、ＦＰＤの全体配置としてチャンネルの縦方向ｍを正確に回転軸ＲＡの投影の方向に合わせることは困難で、常に若干の傾斜を含む。第二実施形態によれば、このようなＦＰＤの継ぎ目や全体配置の傾斜を自動的に補正して、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。【０１３８】  また、例えば、Ｘ線検出器としてＸ線ＩＩ（Ｉｍａｇｅ  Ｉｎｔｅｎｓｉｆｉｅｒ）とテレビカメラを組み合わせたものを用いた場合、検出チャンネルの配置はＸ線焦点Ｆの側に凸の球面で、しかも電子レンズによる収差もあり、かなりの歪を持っている。また、全体配置としても画像の縦方向を回転軸ＲＡの投影の方向に正確にあわせることは難しい。第二実施形態によれば、このようなＸ線ＩＩの歪や全体配置の傾斜を自動的に補正して、検出チャンネルの配置誤差による断面像の劣化を低減することができる。【０１３９】  （変形例３）
第二実施形態で、第一ピン３５ｂを回転軸ＲＡに合うように載置したが、合っていなくてもよい。ただし、合っていない場合は横移動位置をｔｃ（ｎｃ，ｍｃ）に設定した状態で、回転軸ＲＡの投影が中央チャンネルｎｃ，ｍｃからずれることになり、回転軸の投影を基準とした配置較正でなくなる。【０１４０】  そこで、変形例３として、横方向の較正を次のように変更することで第一ピン３５ｂがずれていても回転軸の投影を基準とした検出チャンネル配置の較正ができる。【０１４１】  横方向の較正として、較正走査部４５ｂは、まず、テーブル３４を基準回転位置０°として第二実施形態と同じ横方向の較正走査を行なって、ｎ，ｍ毎に透過データ（０°の第一透過データ）Ｉｎｍ（ｔ）０を得る。【０１４２】  較正走査部４５ｂは、次に、テーブル３４を基準回転位置から１８０°回転させた状態で第二実施形態と同じ横方向の較正走査を行なって、ｎ，ｍ毎に透過データ（１８０°の第一透過データ）Ｉｎｍ（ｔ）１８０を収集する。このときの較正走査は第二実施形態同様ｔ＝０から順に収集するが、逆にｔ＝Ｔ−１から逆向きに収集してもよい。【０１４３】  較正処理部４５ｃは、得られた透過データＩｎｍ（ｔ）０，Ｉｎｍ（ｔ）１８０に対し対数変換（式（４））を加え、透過データＰｎｍ（ｔ）０，Ｐｎｍ（ｔ）１８０を得る。【０１４４】  図１７（ａ）は変形例３に係る横方向の較正走査で得た第一ピン３５ｂの透過データのブロファイルを示す。較正処理部４５ｃは、検出チャンネルｎ，ｍ毎に、０°のプロファイルと１８０°のプロファイルの対称中心ｔｃ（ｎ，ｍ）を求める。求め方は重心計算、相関計算等が使用できる。このｔｃ（ｎ，ｍ）は回転中心の投影がチャンネルｎ，ｍを横切る横移動位置と言える。【０１４５】  次に、較正処理部４５ｃは、第二実施形態と同様に、このｔｃ（ｎ，ｍ）から配置角θ（ｎ，ｍ）または直線配置ｘｄ（ｎ，ｍ）を求め、適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の横方向の較正が終わる。【０１４６】  変形例３によれば、第一ピン３５ｂが回転軸ＲＡに合っていなくても、横移動位置を、求めたｔｃ（ｎｃ，ｍｃ）に設定すると回転軸ＲＡの投影が中央チャンネルｎｃ，ｍｃと正確に合致するので、回転軸の投影を基準とした横方向の検出チャンネル配置θ（ｎ，ｍ）またはｘｄ（ｎ，ｍ）を求められる。【０１４７】  なお、この変形例３においては、第一ピンは回転軸ＲＡからずれてもよいのみならず、傾いてもよく、また、形状として円筒でなく不定形であってもよい。【０１４８】  図１７（ｂ）は第一ピンが不定形であった場合のプロファイルであるが、０°のプロファイルと１８０°のプロファイルはそれぞれ左右非対称の不定形となるが、互いに左右反転した形となり、その対称中心ｔｃ（ｎ，ｍ）が回転軸ＲＡの位置、正確には回転軸ＲＡの投影がチャンネルｎ，ｍを横切る横移動位置となる。【０１４９】  従って、第一ピンは回転軸ＲＡからずれても傾いても、形状として円筒でなく不定形であっても、回転軸の投影を基準とした横方向の検出チャンネル配置θ（ｎ，ｍ）またはｘｄ（ｎ，ｍ）を求められる。【０１５０】  （変形例４）
第二実施形態で、第二ピン３５ｃを横方向に合うように載置した。第二ピン３５ｃが横方向から傾斜している場合は、縦移動の較正で求めた縦方向のチャンネル配置γ（ｎ，ｍ）、ｚｄ（ｎ，ｍ）が、回転軸の投影（と直交する方向）を基準とした配置較正でなくなる。【０１５１】  そこで、変形例４として、縦方向の較正を次のように変更することで第二ピン３５ｃが傾斜していても回転軸の投影を基準とした検出チャンネル配置の較正ができる。【０１５２】  縦方向の較正として、較正走査部４５ｂは、まず、テーブル３４を基準回転位置０°として第二実施形態と同じ縦方向の較正走査を行なって、ｎ，ｍ毎に透過データ（０°の第二透過データ）Ｉｎｍ（ｑ）０を得る。【０１５３】  較正走査部４５ｂは、次に、テーブル３４を基準回転位置から１８０°回転させた状態で第二実施形態と同じ縦方向の較正走査を行なって、ｎ，ｍ毎に透過データ（１８０°の第二透過データ）Ｉｎｍ（ｑ）１８０を収集する。このときの較正走査は第二実施形態同様ｑ＝０から順に収集するが、逆にｑ＝Ｑ−１から逆向きに収集してもよい。【０１５４】  較正処理部４５ｃは、得られた透過データＩｎｍ（ｑ）０，Ｉｎｍ（ｑ）１８０に対し対数変換（式（７））を加え、透過データＰｎｍ（ｑ）０，Ｐｎｍ（ｑ）１８０を得る。【０１５５】  図１８は変形例４に係る縦方向の較正走査で得た第二ピン３５ｃの透過データのプロファイルを示す。較正処理部４５ｃは、検出チャンネルｎ，ｍ毎に、０°のプロファイルと１８０°のプロファイルの位置を平均した中央位置ｑｃ（ｎ，ｍ）を求める。求め方は重心計算、相関計算等が使用できる。このｑｃ（ｎ，ｍ）は傾斜していない第二ピン３５ｃの投影がチャンネルｎ，ｍを縦断する縦移動位置と言える。【０１５６】  次に、較正処理部４５ｃは、第二実施形態と同様に、このｑｃ（ｎ，ｍ）から配置角γ（ｎ，ｍ）または直線配置ｚｄ（ｎ，ｍ）を求め、適宣な記憶部（図示せず）に記憶し、チャンネル配置の縦方向の較正が終わる。【０１５７】  変形例４によれば、第二ピン３５ｃが横方向から傾斜していても、０°の第二透過データと１８０°の第二透過データの第二ピン３５ｃ投影位置を平均することで、傾斜していない場合の第二ピン３５ｃ投影位置、すなわち傾斜していない第二ピン３５ｃが検出チャンネルｎ，ｍに投影される横移動位置を求めることができ、回転軸の投影（と直交する方向）を基準とした縦方向の検出チャンネル配置γ（ｎ，ｍ）またはｚｄ（ｎ，ｍ）を求められる。【０１５８】  （変形例５）
上述した第二実施形態の変形例４では、第二ピン３５ｃを回転軸ＲＡに対して回転させて０°位置と１８０°位置それぞれで縦方向の較正走査を行なっているが、回転軸ＲＡに対して回転させる代わりに、回転軸ＲＡに直交する方向（横方向）の横軸ＲＡｔに対して回転させるようにしてもよい。【０１５９】  この場合は、新たにテーブル３４上に横軸ＲＡｔに対する横軸回転機構を設け、この横軸回転機構で較正治具３５を回転させるようにする。【０１６０】  変形例５によれば、変形例３で記載したのと同様に、第二ピンは横方向からずれても傾いても、形状として円筒でなく不定形であっても、回転軸ＲＡの投影（と直交する方向）を基準とした縦方向の検出チャンネル配置γ（ｎ，ｍ）またはｚｄ（ｎ，ｍ）を求められる。【０１６１】  （変形例６）
第二実施形態では、断層撮影としては、回転のみを行うＲＲ方式を採用しているが、所謂ＴＲ（Ｔｒａｎｓｌａｔｅ  Ｒｏｔａｔｅ）方式（第二世代方式）で断層撮影してもよい。この場合は横移動ｔをトランスレート動作として、Ｘ線ビーム３３の横方向の広がり角度をファン角として、トランスレート中に一定間隔で検出チャンネルｎ，ｍごとに透過データＩｎｍ（ｔ）を収集し、トランスレートとファン角分のステップ回転を交互に繰り返して１８０°方向からの透過データを収集する。【０１６２】  次に、再構成部は得られた透過データＩｎｍ（ｔ）に対し以下のように処理を加える。【０１６３】  まず、この透過データＩｎｍ（ｔ）に対し、対数変換等の前処理を加え透過データＰｎｍ（ｔ）を求める。さらに、再構成部は、この透過データＰｎｍ（ｔ）を用いて、以下のように、フィルタ補正逆投影を行なって断面像を得る。【０１６４】  図１９は変形例６に係る逆投影を説明する幾何図（平面図）である。【０１６５】フィルタ補正逆投影は、透過データＰｎｍ（ｔ）に対しｔ方向に周波数ωに比例した周波数フィルタ（いわゆる｜ω｜フィルタ）を掛けた後、例えば、透過データＰｎｍ（ｔ）に対し、較正で得られた横方向の配置角θ（ｎ，ｍ）と縦方向の直線配置ｚｄ（ｎ，ｍ）を用いて、透過データＰｎｍ（ｔ）を、（ｔｃ（ｎ，ｍ）位置が回転軸ＲＡに合うようにｔ方向にずらした後、）角度θ（ｎ，ｍ）方向からＸ線焦点Ｆに向けて被検体位置に仮想設定した３次元格子５０上に（全ｔ，ｍ，ｎについて）逆投影ＢＰして足し込むことで行なわれ、全トランスレート分の足し込みで３次元画像（多数の断面像）が再構成される。【０１６６】  較正で得られた検出チャンネルの配置θ（ｎ，ｍ）、ｚｄ（ｎ，ｍ）を用いて、θ（ｎ，ｍ）方向から逆投影することで、またｚｄ（ｎ，ｍ）位置から逆投影することで、検出チャンネル配置誤差を補正して断面像を再構成することができ、断面像の劣化を低減することができる。【０１６７】  また、変形例６によればスキャンで用いるトランスレート動作を用いて第一ピンを横移動できる。【０１６８】  （変形例７）
第二実施形態では、断層撮影としては、回転のみで行うＲＲ方式を採用しているが、ＲＲ方式とＴＲ方式を切換えて断層撮影することもできる。すなわち、被検体がＸ線ビーム３３の横方向に収まる大きさのときＲＲ方式で短時間スキャンで断層撮影し、収まらない大きさのときはＴＲ方式に切換えて被検体全体の断層撮影をすることが可能である。【０１６９】  この場合、ＲＲ方式でもＴＲ方式でも検出チャンネル配置誤差を補正して断面像を再構成することができ、断面像の劣化を低減することができる。【０１７０】  また、変形例７によればスキャンで用いるトランスレート動作を用いて第一ピンを横移動できる。【０１７１】  （変形例８）
第二実施形態では、第一ピン３５ｂを横移動させるとき、被検体を載置するテーブル３４に第一ピン３５ｂを有する治具３５を載置してこのテーブル３４を機構部３６により横移動させているが、テーブル３４を横移動させる機構を廃止し、代わりに、第一ピン３５ｂを保持して横移動させる別の機構を設けてもよい。【０１７２】  また、第二実施形態では、第二ピン３５ｃを縦移動（昇降）させるとき、被検体を載置するテーブル３４に第二ピン３５ｃを有する治具３５を載置してこのテーブル３４を機構部３６により縦移動させているが、テーブル３４を縦移動させる機構を廃止し、代わりに、第二ピン３５ｃを保持して縦移動させる別の機構を設けてもよい。【０１７３】  （変形例９）
第二実施形態では１本の第一ピン３５ｂおよび１本の第二ピン３５ｃの透過データで較正処理しているが、それぞれを複数本のピンとしてもよい。この場合、各ピンの透過データのプロファイルを平均してｔｃ（ｎ，ｍ），ｑｃ（ｎ，ｍ）を求めることで統計精度を上げて検出チャンネル配置を求めることができる。また、プロファイルを平均する代わりに、各ピンごとにｔｃ（ｎ，ｍ），ｑｃ（ｎ，ｍ）を求めてから平均するか、各ピンごとに検出チャンネル配置を求めてから平均しても同様である。【０１７４】  （変形例１０）
第二実施形態で、第一ピン３５ｂのＸ線ビーム３３に対する横方向の動きは相対的でよい。例えば、テーブル３４を横移動する機構を廃止し、代わりに、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管３１）とＸ線検出器３２を一緒に横移動させるか、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管３１）とＸ線検出器３２のどちらか一方を横移動させる機構を設けてもよい。【０１７５】  また、第二実施形態で、第二ピン３５ｃのＸ線ビーム３３に対する縦方向の動きは相対的でよい。例えば、テーブル３４を縦移動する機構を廃止し、代わりに、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管３１）とＸ線検出器３２を一緒に縦移動させるか、Ｘ線焦点Ｆ（Ｘ線管３１）とＸ線検出器３２のどちらか一方を縦移動させる機構を設けてもよい。【０１７６】  一例として、Ｘ検出器を横移動させる場合を図２０を参照して説明する。【０１７７】  図２０は変形例１０に係る横方向の較正走査の幾何図（平面図）である。【０１７８】  第二実施形態で第一ピン３５ｂを横移動させた代わりに、ここでは第一ピン３５ｂをＸ線光軸Ｌ上に固定した状態でＸ線検出器３２を横移動させることで横方向の較正走査を行なう。横移動ｔ＝０乃至Ｔ−１の透過データを得た後、第二実施形態と同様に透過データからｔｃ（ｎ，ｍ）を得る。次に、このｔｃ（ｎ，ｍ）から、検出基準面３２ａ上のチャンネルｎ，ｍの横方向の直線配置ｘｄ（ｎ，ｍ）を、式、
ｘｄ（ｎ，ｍ）＝｛ｔｃ（ｎｃ，ｍｃ）−ｔｃ（ｎ，ｍ）｝・Δｘ      …（１０）
で求める。また、このｘｄ（ｎ，ｍ）を用いて配置角θ（ｎ，ｍ）を、式、
θ（ｎ，ｍ）＝ＡＴＡＮ｛ｘｄ（ｎ，ｍ）／ＦＤＤ｝                  …（１１）
で求め、横方向の検出チャンネルの配置が求まる。【０１７９】  更に、同様にＸ線検出器３２を縦移動させ第二ピン３５ｃを用いて縦方向の検出チャンネルの配置が求まるが、ここで、縦移動させる代わりにＸ線検出器３２をＸ線光軸Ｌ方向の軸に対し９０°回転させ、ｍ方向をｔ方向に合わせた状態で、上述した横方向の較正走査を行なうことで、同様に縦方向の検出チャンネルの配置ｚｄ（ｎ，ｍ），γ（ｎ，ｍ）を求めることもできる。【０１８０】  また、以上のＸ線検出器３２を移動させる較正は、検出チャンネルを平面状の検出基準面３２ａに沿って並べたＸ線検出器、例えばＦＰＤ等の場合、ピンの投影が常に検出基準面に垂直になるようにできるので、直線配置ｘｄ（ｎ，ｍ），ｚｄ（ｎ，ｍ）を精度よく求めることができる。【０１８１】  （変形例１１）
第二実施形態およびその変形で、スキャン制御部４５ｄと再構成部４５ｅを廃止してもよい。この場合、第二実施形態の装置はＣＴ装置でなくＸ線検出器３２の専用較正装置となる。すなわち、Ｘ線検出器３２の検出チャンネルの配置の較正は必ずしも、ＣＴ装置に搭載した後にＣＴ装置を用いて行う必要は無く、搭載する前に上記の専用較正装置で行なってもよい。【０１８２】  （変形例１２）
以上の変形例を合わせた変形が可能である。【０１８３】  （本発明の第三の実施の形態の構成）
以下、本発明の第三の実施形態の構成について図２１、図２２、図２３を参照して説明する。【０１８４】  図２１は本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）、図２２は本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（側面図）である。図２３は本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（（ａ）正面図、（ｂ）側面図）である。【０１８５】  第三実施形態のＣＴ装置は、断層撮影として、回転のみを行う所謂ＲＲ（Ｒｏｔａｔｅ  Ｒｏｔａｔｅ）方式（第三世代方式）を採用したＣＴ装置である。【０１８６】  ＣＴ装置のＸ線管（放射線源）６１およびＸ線検出器（放射線検出手段）６２は対向して配置され、Ｘ線管６１のＸ線焦点（放射線焦点）Ｆより放射されコリメータ６３によりコーン状に絞られたＸ線ビーム（放射線）６４が２次元の複数検出チャンネルを持つＸ線検出器６２により検出され、透過データとして出力される。Ｘ線検出器６２は検出素子をＸ線ビーム６４と交差する面に沿って２次元で並べたものであり、チャンネルｎ，ｍで２次元の透過データＩ（ｎ，ｍ）を得る。【０１８７】  被検体（図示せず）はテーブル６５上に載置されるが、図２１では被検体の代わりに較正治具６６が載置されている。テーブル６５はＸ線の吸収の少ない材料で作られている。Ｘ線管６１とＸ線検出器６２は一体で機構部（回転手段）６７によりＸ線光軸（Ｘ線ビーム６４の中心線）Ｌの方向に垂直な回転軸ＲＡに対して回転される。較正治具６６（あるいは被検体）を載置したテーブル６５は機構部（横移動手段、縦移動手段）６７により、回転軸ＲＡと直交しＸ線ビーム６４を横切る（Ｘ線光軸Ｌと直交する）方向である横方向ｔに横移動されるとともに、回転軸ＲＡの方向である縦方向ｑに縦移動される。【０１８８】  図２３を参照して、較正治具６６は、基板６６ａの内部には，第一ピン（第一基準体）６６ｂと第二ピン（第二基準体）６６ｃを埋め込んだ配置としている。第一ピン６６ｂは回転軸ＲＡ方向に延在する円筒状のＸ線吸収の大きいピンで、第二ピン６６ｃは横方向に延在する円筒状のＸ線吸収の大きいピンであり、これに対し、基板６６ａはＸ線の吸収の少ない板である。第一ピン６６ｂと第二ピン６６ｃは基板６６ａ内で直交配置されている。基板６６ａの下部には突起６６ｄを配している。突起６６ｄをテーブル６５の溝（図示せず）にはめ込んで載置することで第一ピン６６ｂの軸が回転軸ＲＡに合うようにできる構造である。また、載置したとき第二ピン６６ｃの軸を回転軸ＲＡと交差しかつ横方向にあわせるように載置できる構造である。【０１８９】  構成要素として、他に、機構部６７を制御し、また、Ｘ線検出器６２からの透過データを処理する制御処理部７５、処理結果等を表示する表示部７５ａ、Ｘ線管６１を制御するＸ線制御部（図示せず）等がある。【０１９０】  制御処理部７５は通常のコンピュータで、ＣＰＵ、メモリ、ディスク、表示部７５ａ、入力部（キーボードやマウス等）、機構制御ボード、インターフェース、等より成っている。【０１９１】  制御処理部７５は、機構制御ボードにより、機構部６７の動作位置の信号（エンコーダパルス等）を受けて機構部６７を制御して較正走査やスキャン（断層撮影走査）等を行わせる他、透過データの収集指令パルス等をＸ線検出器６２に送る。なお、機構部６７には図示してないエンコーダが取付けられており、回転角度及び、テーブル６５の横移動位置ｔ、縦移動位置ｑとが読み取られ、それぞれ制御処理部７５に送られる。【０１９２】  また、制御処理部７５は、断層撮影時にＸ線検出器６２からの透過データを収集し、記憶し、再構成処理して被検体の断面像を作成し、表示部７５ａに表示する。【０１９３】  また、制御処理部７５は、Ｘ線制御部（図示せず）に指令を出し、Ｘ線管６１の管電圧、管電流を指定すると共に、Ｘ線の放射、停止の指示を行なう。管電圧、管電流は被検体にあわせて変えることができる。【０１９４】  図２１に示すように、制御処理部７５はソフトウエアを読み込んでＣＰＵが機能する機能ブロックとして、検出チャンネルの配置を求めるための較正走査部（較正走査手段）７５ｂと較正処理部（較正処理手段）７５ｃ、断層撮影をするためのスキャン制御部７５ｄと再構成部（再構成手段）７５ｅ、等を備えている。【０１９５】  （第三の実施の形態の作用）
第三実施形態の作用は第二実施形態の作用と同様であるので記載は省略する。【０１９６】  すなわち、第三実施形態の作用は、第二実施形態に対しテーブルを回転させる代わりにＸ線管とＸ線検出器を回転させる変更のみを加えたものである。【０１９７】  （第三の実施の形態の変形）
第三実施形態で、第二実施形態の変形例１ないし変形例１２に記載したすべての変形が可能で、同様の効果をあげることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１９８】
【図１】本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（平面図）。
【図２】本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）。
【図３】本発明の第一実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（正面図）。
【図４】第一実施形態に係る較正走査の幾何図（平面図）。
【図５】第一実施形態に係る較正走査で得た第一ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図６】第一実施形態に係る断面像再構成の逆投影を説明する幾何図（平面図）。
【図７】第一実施形態の変形例３に係る較正走査で得た第一ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図８】第一実施形態の変形例４に係る逆投影を説明する幾何図（平面図）。
【図９】本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（平面図）。
【図１０】本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）。
【図１１】本発明の第二実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（（ａ）正面図、（ｂ）側面図）。
【図１２】第二実施形態に係る横方向の較正走査の幾何図（平面図）。
【図１３】第二実施形態に係る横方向の較正走査で得た第一ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図１４】第二実施形態に係る縦方向の較正走査の幾何図（正面図）。
【図１５】第二実施形態に係る縦方向の較正走査で得た第二ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図１６】第二実施形態に係る断面像再構成の逆投影を説明する幾何図（平面図）。
【図１７】第二実施形態の変形例３に係る横方向の較正走査で得た第一ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図１８】第二実施形態の変形例４に係る縦方向の較正走査で得た第二ピンの透過データのプロファイルを示す模式図。
【図１９】第二実施形態の変形例６に係る断面像再構成の逆投影を説明する幾何図（平面図）。
【図２０】第二実施形態の変形例１０に係る横方向の較正走査の幾何図（平面図）。
【図２１】本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（正面図）。
【図２２】本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の構成を示した模式図（側面図）。
【図２３】本発明の第三実施形態に係るＣＴ装置の較正治具を示した模式図（（ａ）正面図、（ｂ）側面図）。
【符号の説明】
【０１９９】  １…Ｘ線管、２…Ｘ線検出器、２ａ…検出基準面、３…スリット、４…Ｘ線ビーム、５…テーブル、６…較正治具、６ａ…基台、６ｂ…第一ピン、６ｃ…突起、７…機構部、１５…制御処理部、１５ａ…表示部、１５ｂ…較正走査部、１５ｃ…較正処理部、１５ｄ…スキャン制御部、１５ｅ…再構成部、２０…格子、
３１…Ｘ線管、３２…Ｘ線検出器、３２ａ…検出基準面、３３…Ｘ線ビーム、３４…テーブル、３５…較正治具、３５ａ…基台、３５ｂ…第一ピン、３５ｃ…第二ピン、３５ｄ…基板、３５ｅ…突起、３６…機構部、４５…制御処理部、４５ａ…表示部、４５ｂ…較正走査部、４５ｃ…較正処理部、４５ｄ…スキャン制御部、４５ｅ…再構成部、５０…格子、
６１…Ｘ線管、６２…Ｘ線検出器、６３…コリメータ、６４…Ｘ線ビーム、６５…テーブル、６６…較正治具、６６ａ…基板、６６ｂ…第一ピン、６６ｃ…第二ピン、６６ｄ…突起、６７…機構部、７５…制御処理部、７５ａ…表示部、７５ｂ…較正走査部、７５ｃ…較正処理部、７５ｄ…スキャン制御部、７５ｅ…再構成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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