(57)【要約】【課題】より実情に近い環境で電子チューナの検査を行うことができる技術を提供する。【解決手段】チューナ検査装置１０は、電子チューナ２２が実装される予定の回路基板を模した模擬基板２０と、電子チューナ２２を模擬基板２０に対して押し付けた状態で保持する押し付け器具２８と、模擬基板２０に振動を加える加振部４０とを備えている。押し付け器具２８は、コイルばね３２ｆの弾性力を用いて電子チューナ２２を模擬基板２０に押し付けているため、模擬基板２０を振動させたときの振動に電子チューナ２２を容易に追従させることができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査対象の電子チューナが実装される予定の回路基板を模した模擬基板と、
前記模擬基板に対して前記電子チューナを押し付けた状態で保持する押し付け器具と、
前記押し付け器具により前記電子チューナが押し付けられた状態で前記模擬基板に振動を加える加振部とを備え、
前記押し付け器具は、
前記加振部により前記模擬基板に振動が加えられる方向への弾性力を用いて前記電子チューナを前記模擬基板に押し付け可能であることを特徴とするチューナ検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載のチューナ検査装置において、
前記電子チューナは、
内蔵部品を取り囲む周壁状に配置された枠体と、この枠体の両側に一対をなして配置されて前記内蔵部品を覆うカバーとを有しており、
前記押し付け器具は、
前記カバーを避けた前記枠体の外面のみに接触した状態で前記電子チューナを押し付けることを特徴とするチューナ検査装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のチューナ検査装置において、
前記電子チューナは、
前記回路基板に接続される複数の接続端子を有しており、
前記模擬基板には、
前記電子チューナが前記模擬基板に押し付けられた状態で、複数の前記接続端子に弾性力で接触する複数のコンタクトピンが設けられていることを特徴とするチューナ検査装置。
【請求項４】
請求項３に記載のチューナ検査装置において、
複数の前記接続端子には、
前記回路基板との間で入出力信号を伝送する入出力端子と、
前記内蔵部品の動作を制御するための制御信号を伝送する制御用端子が含まれており、
複数の前記コンタクトピンを前記制御用端子に接触させる弾性力に比較して、前記入出力端子に接触させる弾性力が大きく設定されていることを特徴とするチューナ検査装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれかに記載のチューナ検査装置において、
前記模擬基板は樹脂製であることを特徴とするチューナ検査装置。
【請求項６】
被検査対象の電子チューナが実装される予定の回路基板を模した模擬基板に対し、その厚み方向への弾性力を用いて前記電子チューナを押し付けて保持する工程と、
前記電子チューナが押し付けられた状態で前記模擬基板に厚み方向への振動を加える工程と、
前記模擬基板に振動が加えられた状態で前記電子チューナを作動させ、その性能を検査する工程と
を有するチューナ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子チューナの振動に対する性能を検査するためのチューナ検査装置及びチューナ検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ケーブルＴＶのセットトップボックス等に搭載される電子チューナに振動を加えながら検査を行う検査装置及び検査方法の先行技術が知られている（例えば、特許文献１参照。）。この先行技術は、被検査対象の電子チューナをベース板に固定しておき、ベース板上に設けた打振ベースを打振塊で叩くことで、打振ベースからベース板及び電子チューナに振動を伝達して電子チューナの性能を検査するものである。
【０００３】
上記の先行技術によれば、電子チューナそのものを直接叩いて振動させるのではなく、ベース板や打振ベースを介して電子チューナに振動を伝達しているので、電子チューナがセットトップボックス等にセットされた状態と同じような環境で検査を行うことができると考えられる。
【特許文献１】特許第４０３３３２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述した先行技術のように、打振ベースを叩いたときにベース板と電子チューナとを一体に振動させるためには、ベース板上に固定用シリンダー部等の固定手段を設けて電子チューナを確実に固定しておく必要がある（特許文献１の図７を参照）。このため先行技術では、それだけベース板にも強固な構造が要求されることになる。
【０００５】
しかしながら、あまりベース板の構造を強固にすると、今度は逆に振動が発生しにくくなる。このため先行技術では、電子チューナに充分な振動を伝えようとすると、相当に強い打撃を打振ベースに加えなければならない。この場合、実際のセット状態ではほとんど発生しないレベルの強い衝撃が加わるため、本来の検査で想定している不良（半田付け不良等）とは別の要因によるノイズ（衝撃による外乱）が検査結果に混在してしまう。また、振動を媒介する材料が実製品とは異なった性質を有するため、検査で発生させている振動の質（加速度等）も実情から大きく乖離したものになってしまうという問題がある。
【０００６】
そこで本発明は、より実情に近い環境で電子チューナの検査を行うことができる技術の提供を課題としたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するため以下の解決手段を採用する。
すなわち本発明は、被検査対象の電子チューナが実装される予定の回路基板を模した模擬基板と、模擬基板に対して電子チューナを押し付けた状態で保持する押し付け器具と、押し付け器具により電子チューナが押し付けられた状態で模擬基板に振動を加える加振部とを備えたチューナ検査装置である。そして上記の押し付け器具は、加振部により模擬基板に振動が加えられる方向への弾性力を用いて電子チューナを模擬基板に押し付け可能である。
【０００８】
また本発明のチューナ検査方法は、被検査対象の電子チューナが実装される予定の回路基板を模した模擬基板に対し、その厚み方向への弾性力を用いて電子チューナを押し付けて保持する工程と、電子チューナが押し付けられた状態で模擬基板に厚み方向への振動を加える工程と、模擬基板に振動が加えられた状態で電子チューナを作動させ、その性能を検査する工程とを有するものである。
【０００９】
本発明のチューナ検査装置及びチューナ検査方法によれば、押し付け器具により模擬基板に対して電子チューナを押し付けた状態で保持しているため、模擬基板そのものを特に強固な構造にする必要がなく、実際の回路基板を模した構造を容易に採用することができる。また電子チューナは、振動が加えられる方向（模擬基板の厚み方向）への弾性力を用いて模擬基板に押し付けられているため、模擬基板の振動に追従して電子チューナを確実に振動させることができる。このため、検査の過程で電子チューナが実製品として回路基板に実装された状態を模擬的に再現することができ、それだけ実情に近い環境の下で検査を実行することができる。
【００１０】
本発明において被検査対象となる電子チューナは、内蔵部品を取り囲む周壁状に配置された枠体と、この枠体の両側に一対をなして配置されて内蔵部品を覆うカバーとを有している。この場合、上記の押し付け器具は、カバーを避けた枠体の外面のみに接触した状態で電子チューナを押し付ける態様であることが好ましい。
【００１１】
このような態様であれば、押し付け器具との接触によってカバーの振動が拘束されないため、カバーに生じる振動が電子チューナの性能に及ぼす影響を正確に評価することができる。
【００１２】
また本発明において、電子チューナは、回路基板に接続される複数の接続端子を有しており、模擬基板には、電子チューナが模擬基板に押し付けられた状態で、複数の接続端子に弾性力で接触する複数のコンタクトピンが設けられている。
【００１３】
この場合、コンタクトピンに例えば性能表示装置を接続することで、その表示内容（電子チューナから出力された信号を元に表示される画像）に基づいて電子チューナの性能検査を容易に実行することができる。また、コンタクトピンが模擬基板と一体的に振動できるため、振動による端子とコンタクトピンとの接触不良（瞬断）を防止することができる。
【００１４】
また複数の接続端子に回路基板との間で入出力信号を伝送する入出力端子と、内蔵部品の動作を制御するための制御信号を伝送する制御用端子が含まれている場合、複数のコンタクトピンを制御用端子に接触させる弾性力に比較して、入出力端子に接触させる弾性力が大きく設定されていることが好ましい。
【００１５】
このような態様であれば、性能検査に関係する入出力端子との接触状態を確実に保持しつつ、トータルでみた弾性力が過大になるのを防止することができる。これにより、模擬基板から電子チューナが浮き上がろうとする力を低く抑えるとともに、電子チューナを模擬基板に押し付けた状態で確実に保持しておくことができる。
【００１６】
なお模擬基板は樹脂製であることが好ましい。この場合、振動を媒介する模擬基板の材料を実製品と同等にすることができるため、実製品として回路基板に電子チューナが実装された状態をより正確に再現することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明のチューナ検査装置及びチューナ検査方法によれば、その検査結果が実製品としての性能を正確に表すことから、検査に対する信頼性や精度を大幅に向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図１は、一実施形態のチューナ検査装置１０の全体的な構成を表す正面図である。また図２は、同じくチューナ検査装置１０の全体的な構成を表す右側面図である。以下、これら図１及び図２に基づいてチューナ検査装置１０の構成を説明する。
【００１９】
チューナ検査装置１０は、その基底部に水平なベース１２を備えており、このベース１２は例えば金属製の平板材から形成されている。図１及び図２には示されていないが、ベース１２はその平面視において矩形をなしている。
【００２０】
またベース１２の後端縁にはベース脚１４が直立して取り付けられている。図１に示されるように、ベース脚１４はその正面視において門形をなしており、その両側に一対の脚柱部１４ａを有するほか、これら脚柱部１４ａの上端同士の間をつなぐ梁部１４ｂを有している。なお一対の脚柱部１４ａは、それぞれベース１２の両側縁の近傍に固定されている。
【００２１】
ベース脚１４（梁部１４ｂ）の上部にはメイン支柱１６が直立して取り付けられている。このメイン支柱１６は縦長の平板状をなしており、基端がベース脚１４に固定された状態で上方へ延びている。チューナ検査装置１０は、以上のベース１２、ベース脚１４及びメイン支柱１６を主なフレームとして構成されている。
【００２２】
〔模擬基板〕
チューナ検査装置１０は模擬基板２０を備えており、この模擬基板２０は、ベース１２の上方に４本のサブ支柱１８を介して水平に設置されている。模擬基板２０は電子チューナ２２が実際に実装される予定の回路基板（図示していない）を模して作られており、この模擬基板２０には、被検査対象となる電子チューナ２２が仮に固定されるものとなっている。また模擬基板２０の材質は、実際の回路基板と同等の材質（例えばガラスエポキシ樹脂）で作られており、その大きさや厚み等の仕様は実際の回路基板と略同等に設定されていることが好ましい。なお模擬基板２０はベース１２よりも小さい矩形状をなしており、その四隅の位置にそれぞれ対応して上記のサブ支柱１８が配置されている。
【００２３】
〔押し付け器具〕
模擬基板２０の上方には、押し付け器具２８が設置されている。この押し付け器具２８は、電子チューナ２２を模擬基板２０に押し付けた状態で保持するためのものである。上記のメイン支柱１６には、その上端部にクランプ固定ブロック２４及び天板２６が取り付けられており、押し付け器具２８は、これらクランプ固定ブロック２４及び天板２６に固定されている。
【００２４】
押し付け器具２８は、大きく分けてトグルクランプ３０、シャフトユニット３２及びチューナ固定ブロック３４から構成されており、このうちトグルクランプ３０が上記のクランプ固定ブロック２４及び天板２６に対して直に固定されている。図２中に矢印で示されているように、トグルクランプ３０は上下方向にスイングするレバー３０ａを有しており、このレバー３０ａはその基端部がピン３０ｂによって支持されている。
【００２５】
レバー３０ａには、ピン３０ｃを介してシャフトユニット３２が連結されている。具体的には、シャフトユニット３２はその上端部にフック形状の連結部材３２ａを有しており、この連結部材３２ａの上端がピン３０ｃを介してレバー３０ａに接合されている。また連結部材３２ａは、その下端が別のピン３２ｂを介してシャフトユニット３２の本体３２ｃに接合されている。このためレバー３０ａを上下方向にスイングさせると、レバー３０ａ及び連結部材３２ａがトグル機構として機能し、シャフトユニット３２全体を垂直方向に昇降させることができる。なお、トグルクランプ３０の下面にはスリーブ３２ｄが取り付けられており、このスリーブ３２ｄによって本体３２ｃの鉛直方向への昇降動作が案内されている。
【００２６】
またシャフトユニット３２は、ボス３２ｅ及びコイルばね３２ｆを有しており、このうちボス３２ｅは本体３２ｃの外側に嵌め合せた状態で取り付けられている。またコイルばね３２ｆは、本体３２ｃの外面との間に隙間をあけた状態で取り付けられており、このコイルばね３２ｆは、その上端をボス３２ｅに接触させた状態で、その反発力を下方に向けて作用させることができる。
【００２７】
チューナ固定ブロック３４は、１つの上部ブロック３４ａと２つのコーナブロック３４ｂとから構成されている。このうち上部ブロック３４ａはシャフトユニット３２の本体３２ｃに対してある程度の距離（例えば１０ｍｍ程度）を上下方向へ移動可能に連結されている。コイルばね３２ｆの下端は上部ブロック３４ａの上面に接触しており、このため上部ブロック３４ａが本体３２ｃに対して上方向へ移動すると、それによってコイルばね３２ｆが圧縮される。なお上部ブロック３４ａは、図示しないストッパによって本体３２ｃからの落下を防止されている。
【００２８】
上部ブロック３４ａの下面には、その両端位置にそれぞれコーナブロック３４ｂが取り付けられている。各コーナブロック３４ｂは、直角三角形状の縦断面を有している。また各コーナブロック３４ｂは前後方向にある程度の厚みを有しており、このためコーナブロック３４ｂは単独でみると三角柱形状をなしている。
【００２９】
〔加振部〕
さらに模擬基板２０の上方には、押し付け器具２８の後方に加振部４０が設置されている。加振部４０は、模擬基板２０に対して振動を加えるためのものである。上記のメイン支柱１６には、その上下方向でみて略中間の位置に水平な支持板４０ａが取り付けられており、加振部４０は、この支持板４０ａを介してメイン支柱１６に固定されている。
【００３０】
図３は、加振部４０を単独で示した正面図である。以下、図１〜図３を参照しつつ説明する。加振部４０は、大きく分けてアクチュエータ４２及びインパクトブロック４４を有しており、このうちアクチュエータ４２が上記の支持板４０ａに固定されている。インパクトブロック４４はアクチュエータ４２の下端に取り付けられており、加振部４０は、アクチュエータ４２を作動させてインパクトブロック４４を模擬基板２０に打ち付け、その衝撃で模擬基板２０に振動を加えることができる。なおインパクトブロック４４は、例えば樹脂製の一体成型品である。
【００３１】
アクチュエータ４２は伸縮式のプッシュロッ４２ａを有しており、アクチュエータ４２は例えば空気圧を利用してプッシュロッド４２ａを伸縮させることができる。図２中に矢印で示されているように、インパクトブロック４４はプッシュロッド４２ａの伸縮動作に連動して昇降するほか、プッシュロッド４２ａに対してある程度の距離（例えば１０ｍｍ程度）を上下方向に移動可能に連結されている。
【００３２】
また、アクチュエータ４２はコイルばね４２ｂ及びボス４２ｃを有しており、このうちボス４２ｃはプッシュロッド４２ａの外側に嵌め合せた状態で取り付けられている。またコイルばね４２ｂは、プッシュロッド４２ａの外面との間に隙間をあけた状態で取り付けられており、このコイルばね４２ｂは、その上端をボス４２ｃに接触させた状態で、その反発力を下方に向けて作用させることができる。なおインパクトブロック４４は、図示しないストッパによってプッシュロッド４２ａからの落下を防止されている。
【００３３】
その他に、加振部４０はセンシング板４６及び光学式の位置センサ４８を有している。センシング板４６はプッシュロッド４２ａの基端部から水平方向に延びており、このセンシング板４６はプッシュロッド４２ａの伸縮に連動して上下に移動する。また、位置センサ４８は支持板４０ａを厚み方向に貫通した状態で下向きに取り付けられており、位置センサ４８のセンサ光は上記のセンシング板４６に向けて照射されている。位置センサ４８は支持板４０ａからの反射光強度に応じた検出信号を出力し、この検出信号は例えば図示しない制御装置に入力されている。制御装置は、位置センサ４８からの検出信号に基づいてプッシュロッド４２ａの伸縮状態（下降位置又は上昇位置）を検出することができる。
【００３４】
〔コンタクトピン〕
模擬基板２０の下方には、プローブユニット５０が設置されている。プローブユニット５０は複数のコンタクトピン（スプリングピン）５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄを有しており、これらコンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄは、検査時に電子チューナ２２の端子（図１，２には示されていない）に接触する。プローブユニット５０は水平な支持板５２を有しており、コンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄは、例えば支持板５２を厚み方向（上下方向）に貫通した状態で上向きに固定されている。また支持板５２は、図示しない連結部材を介して模擬基板２０に連結されている。
【００３５】
またプローブユニット５０は、例えば２つのコネクタ５４を有しており、図２に示されているように、これらコネクタ５４には各コンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄから延びた配線５６が接続されている。また図２に示されているように、各コネクタ５４にはワイヤハーネス５７を接続することができ、このワイヤハーネス５７を通じて図示しない性能表示装置に電子チューナ２２を接続することができる。
【００３６】
図４は、プローブユニット５０を詳細に示す正面図である。なお図４には、電子チューナ２２が模擬基板２０から分離した状態で示されている。上記の支持板５２は連結部材５１を介して模擬基板２０に連結されており、これら連結部材５１は、例えば支持板５２の四隅の位置にそれぞれ設けられている。
【００３７】
電子チューナ２２は、複数の接続端子として入力端子２２ａ、出力端子２２ｂ、制御用端子２２ｃ及びグランド（ＧＮＤ）端子２２ｄを有している。電子チューナ２２が実際に製品として図示しない回路基板に実装される場合、これら端子２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄは、例えば回路基板のスルーホールに挿通された状態で半田付けされる。なお入力端子２２ａは、回路基板との間で入力（ＲＦ）信号を伝送するためのものであり、出力端子２２ｂは回路基板との間で出力（ＩＦ）信号を伝送するためのものである。また制御用端子２２ｃは、例えば内蔵部品の動作を制御するための制御信号として、クロック（ＣＬＫ）用、データ用、チューニング用等の各種信号を伝送するためのものである。
【００３８】
チューナ検査装置１０の模擬基板２０には、実際の回路基板を模した複数のスルーホール２０ａが形成されており（ただし回路パターンは形成されていない）、検査時において電子チューナ２２の端子２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄは、それぞれ模擬基板２０の対応するスルーホール２０ａに挿通することができる。そして、電子チューナ２２を模擬基板２０上に設置すると、各端子２２ａ，２２ｂ，２２ｃ，２２ｄが模擬基板２０を貫通して下方に突出し、対応するコンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄに接触した状態となる。
【００３９】
〔ピン形状〕
特に図示していないが、各コンタクトピン５０ａ〜５０ｄは、その先端の形状が椀型（凹面形状）に成形されている。このため各コンタクトピン５０ａ〜５０ｄは、対応する端子２２ａ〜２２ｄとの接触面積をより大きく確保することができる。
【００４０】
〔コンタクトピンのばね圧〕
コンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄは、その種類によって異なるばね圧に設定されている。具体的には、制御用端子２２ｃと接触するコンタクトピン５０ｃよりも、入力端子２２ａ、出力端子２２ｂ及びグランド端子２２ｄと接触するコンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｄの方が強いばね圧（弾性力）に設定されている。すなわち、入力端子２２ａ、出力端子２２ｂ及びグランド端子２２ｄについては、コンタクトピン５０ａ，５０ｂ，５０ｃのばね圧を強めに設定することで、検査時に入出力信号の途切れや瞬間的な切断によるノイズが発生するのを防止している。一方、その他の制御用端子２２ｃについては、コンタクトピン５０ｃのばね圧を比較的弱めに設定することで、全体としてコンタクトピン５０ａ〜５０ｄが電子チューナ２２を持ち上げようとする力が過大になるのを防止している。
【００４１】
〔検査方法〕
次に、チューナ検査装置１０を用いたチューナ検査方法について説明する。図５は、模擬基板２０に対して被検査対象の電子チューナ２２を押し付けた状態を示す斜視図である。
【００４２】
例えば、予め上記のトグルクランプ３０のレバー３０ａ（図１，２参照）を上向きに跳ね上げておき、この状態で、図５に示されるように模擬基板２０上の適切な位置に電子チューナ２２を設置する。このとき各端子２２ａ〜２２ｄは、模擬基板２０のスルーホール２０ａ（図４参照）内に挿通される。
【００４３】
そして、電子チューナ２２を模擬基板２０上に正しく設置した状態で、トグルクランプ３０のレバー３０ａを下向きにスイングさせる（押し下げる）。すると、シャフトユニット３２（図１，２参照）とともにチューナ固定ブロック３４が下降するので、これに伴い、２つのコーナブロック３４ｂの斜面が電子チューナ２２の角部に接触した状態で電子チューナ２２を押さえ付ける。このとき押し付け器具２８は、コイルばね３２ｆの弾性力を用いて模擬基板２０に電子チューナ２２を押し付けた状態で保持することができる。
【００４４】
〔コーナブロックの接触位置〕
ここで、電子チューナ２２は枠体２２ｅ及びカバー２２ｆを有している。このうち枠体２２ｅは、内蔵部品（図示されていない）の四方を取り囲む周壁状に配置されており、一方のカバー２２ｆは枠体２２ｅの両側に一対をなして配置されており、これらカバー２２ｆは電子チューナ２２の内蔵部品を覆っている。このとき各コーナブロック３４ｂは、電子チューナ２２の両側面のカバー２２ｆを避けた枠体２２ｅの外面（角部のエッジ）のみに接触した状態で模擬基板２０を押し付けている。すなわち、カバー２２ｆは枠体２２ｅの各面に比較して面積が広く、それだけ振動が発生しやすい。したがって、電子チューナ２２の打振検査においてはカバー２２ｆの振動によるノイズの影響も正確に評価する必要があることから、本実施形態ではコーナブロック３４ｂがカバー２２ｆの振動を拘束しないようにカバー２２ｆを避けた位置で電子チューナ２２を押さえ付けている。
【００４５】
この状態で、上記の加振部４０（図１〜図３参照）を作動させると、インパクトブロック４４からの打撃によって模擬基板２０に上下方向（厚み方向）への振動が加えられる。なお加振部４０は、所定回数（例えば１０回程度）にわたり、一定周期（例えば数秒周期）でインパクトブロック４４を模擬基板２０の上面に打ち付ける動作を行う。このとき、電子チューナ２２はコイルばね３２ｆの弾性力で模擬基板２０に押し付けられているため、模擬基板２０の振動に追従して電子チューナ２２も上下に振動することができる。また上記のように、プローブユニット５０も模擬基板２０の振動に追従して上下に振動する。
【００４６】
上記の振動を加えつつ、図示しない性能表示装置（例えば出力波形表示装置、受信画像表示装置等）を用いて性能検査を行う。性能検査における評価は、例えば画像信号の乱れやノイズの有無等によって行うことができる。
【００４７】
上述した一実施形態のチューナ検査装置１０及びこれを用いた検査方法によれば、電子チューナ２２を模擬基板２０に押し付けた状態で振動を加えているため、実際の製品形態（回路基板に実装された状態）で発生する振動を模擬的に再現した性能検査を行うことができる。この場合、性能検査の結果が実製品としての性能を正確に表すため、より高精度な検査を行うことができる。また、模擬基板２０が実際の回路基板とほぼ同等の材質であるため、加振部４０から微弱な打撃を加えるだけで模擬基板２０を容易に振動させることができる。
【００４８】
なお、一実施形態として挙げたチューナ検査装置１０の構成は、その構成要素を種々に変形してもよい。例えば、実際に電子チューナ２２が実装される回路基板の形態が異なる場合、それに合わせて模擬基板２０の形態を変更することができる。
【００４９】
また、電子チューナ２２の端子配列や端子本数が異なる場合、それに合わせてコンタクトピンの配置が本数を調整することができる。
【００５０】
その他、一実施形態で挙げた押し付け器具２８や加振部４０の具体的な構成はあくまで一例であり、その他の構成を用いて本発明を実施してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】チューナ検査装置の全体的な構成を表す正面図である。
【図２】チューナ検査装置の全体的な構成を表す右側面図である。
【図３】加振部を単独で示した正面図である。
【図４】プローブユニットを詳細に示す正面図である。
【図５】模擬基板に対して被検査対象の電子チューナを押し付けた状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００５２】
１０    チューナ検査装置
２０    模擬基板
２２    電子チューナ
２２ａ  入力端子
２２ｂ  出力端子
２２ｃ  制御用端子
２２ｄ  グランド端子
２８    押し付け器具
４０    加振部
５０    プローブユニット
５０ａ，５０ｂ，５０ｃ，５０ｄ  コンタクトピン
【図１】
2010016553.tif 000003
【図２】
2010016553.tif 000004
【図３】
2010016553.tif 000005
【図４】
2010016553.tif 000006
【図５】
2010016553.tif 000007