(57)【要約】【課題】検査信号を整形するためのバッファ回路を不要化または縮小化する。【解決手段】複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して液晶素子１２が配置される。走査線駆動回路３２は、開始パルスＳPの転送で複数の転送信号Ｓ[1]〜Ｓ[M]を生成する転送回路４２と、各転送信号Ｓ[m]から走査信号Ｙ[m]を生成するＭ個の出力回路４５[1]〜４５[M]とを含んで構成される。検査出力部５２Aは、走査信号Ｙ[M]に応じた検査信号Ｚ1を外部に出力する。切替部５４Aは、走査線駆動回路３２における最終段の出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]を検査出力部５２Aに出力するか否かを切替える。【選択図】図１
2010266500.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、前記走査線の選択時に前記信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、
前記走査線の選択／非選択を指示する走査信号を前記各走査線に出力する走査線駆動回路であって、開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、前記各転送信号から前記走査信号を生成する複数の出力回路とを含む走査線駆動回路と、
前記走査信号に応じた検査信号を外部に出力するための検査出力部と、
前記走査線駆動回路における一の出力回路が生成した前記走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替える第１切替部と
を具備する電気光学装置。
【請求項２】
前記第１切替部は、前記一の出力回路が生成した前記走査信号を前記検査出力部に出力するときに、当該一の出力回路に対応する走査線と前記一の出力回路とを電気的に絶縁する
請求項１の電気光学装置。
【請求項３】
前記第１切替部は、前記開始パルスの転送方向における最終段の出力回路が生成した前記走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替える
請求項１または請求項２の電気光学装置。
【請求項４】
前記走査線駆動回路は、前記開始パルスの転送方向を第１方向および第２方向に切替え可能であり、
前記第１切替部は、前記第１方向における最終段の出力回路が生成した前記走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替え、
前記第２方向における最終段の出力回路が生成した前記走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替える第２切替部を具備する
請求項１または請求項２の電気光学装置。
【請求項５】
複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、前記走査線の選択時に前記信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、
前記走査線の選択／非選択を指示する第１走査信号を第１側から前記各走査線に出力する第１走査線駆動回路であって、開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、前記各転送信号から前記走査信号を生成する複数の出力回路とを含む走査線駆動回路と、
前記走査線の選択／非選択を指示する第２走査信号を前記第１側とは反対の第２側から前記各走査線に出力する第２走査線駆動回路であって、前記開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、前記各転送信号から前記走査信号を生成する複数の出力回路とを含む第２走査線駆動回路と、
前記走査信号に応じた検査信号を外部に出力するための検査出力部と、
前記第１走査線駆動回路における一の出力回路が生成した前記第１走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替える第１切替部と、
前記第２走査線駆動回路における一の出力回路が生成した前記第２走査信号を前記検査出力部に出力するか否かを切替える第２切替部と
を具備する電気光学装置。
【請求項６】
前記検査出力部は、前記第１切替部から前記第１走査信号が供給される第１検査端子と、前記第２切替部から前記第２走査信号が供給される第２検査端子とを含む
請求項５の電気光学装置。
【請求項７】
前記検査出力部は、
前記第１切替部から供給される前記第１走査信号と前記第２切替部から供給される前記第２走査信号との論理積を演算する論理回路と、
前記論理回路からの出力信号が供給される検査端子とを含む
請求項５の電気光学装置。
【請求項８】
請求項１から請求項７の何れかの電気光学装置を具備する電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶装置や発光装置などの電気光学装置を検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電気光学装置を検査する技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、液晶表示装置に利用される走査線駆動回路内のシフトレジスタ回路の最終段から出力される検査信号（エンドパルス）を検査端子に出力する技術が開示されている。検査信号の経路上には、波形の鈍りの原因となる容量や抵抗が付随するから、特許文献１の図６に開示されるように、シフトレジスタ回路の最終段から検査端子までの経路上には、検査信号を増幅または整形するためのバッファ回路（インバータ）が設置される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−１３１７０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の技術のもとでは、検査信号の整形用のバッファ回路を走査線駆動回路とは別個に設置する必要がある。したがって、額縁領域（表示領域の周辺領域）の拡大や製造コストの増加といった問題が発生し得る。以上の事情を考慮して、本発明は、検査信号を整形するためのバッファ回路の不要化または縮小化を目的とする
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明の第１の態様に係る電気光学装置は、複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、走査線の選択時に信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、走査線の選択／非選択を指示する走査信号を各走査線に出力する走査線駆動回路であって、開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、各転送信号から走査信号を生成する複数の出力回路とを含む走査線駆動回路と、走査信号に応じた検査信号を外部に出力するための検査出力部（例えば図１の検査出力部５２A）と、走査線駆動回路における一の出力回路が生成した走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替える第１切替部（例えば図１の切替部５４A）とを具備する。以上の構成においては、走査線駆動回路の出力回路から出力された走査信号が検査出力部に供給されるから、検査信号を増幅するための大規模なバッファ回路を走査線駆動回路から独立して設置する必要がない（バッファ回路が不要である、または、小規模なバッファ回路で足りる）という利点がある。したがって、額縁領域の縮小や製造コストの低減を実現することが可能である。
【０００６】
本発明の具体的な態様において、第１切替部は、一の出力回路が生成した走査信号を検査出力部に出力するときに、当該一の出力回路に対応する走査線と一の出力回路とを電気的に絶縁する。以上の構成によれば、走査信号を検査出力部に出力するとき（すなわち検査時）に出力回路と走査線とが絶縁されるから、検査時に出力回路と走査線との導通が維持される構成と比較して、検査出力部に付随する容量が削減される。したがって、検査信号の波形の鈍りが抑制されるという利点がある。
【０００７】
本発明の好適な態様において、第１切替部は、開始パルスの転送方向における最終段の出力回路が生成した走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替える。以上の態様においては、最終段の出力回路から出力された走査信号が検査出力部に供給されるから、転送回路の全体（全部の転送段）にわたる動作の良否を判定できるという利点がある。
【０００８】
本発明の好適な態様において、走査線駆動回路は、開始パルスの転送方向を第１方向および第２方向に切替え可能であり、第１切替部は、第１方向における最終段の出力回路が生成した走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替え、第２方向における最終段の出力回路が生成した走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替える第２切替部（例えば図３の切替部５４B）を具備する。以上の態様においては、開始パルスが第１方向に転送される場合と第２方向に転送される場合との各々について個別に走査線駆動回路を検査できるという利点がある。
【０００９】
本発明の第２の態様に係る電気光学装置は、複数の走査線と複数の信号線との各交差に対応して配置され、走査線の選択時に信号線に供給される階調信号に応じた階調に制御される複数の電気光学素子と、走査線の選択／非選択を指示する第１走査信号を第１側から各走査線に出力する第１走査線駆動回路であって、開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、各転送信号から走査信号を生成する複数の出力回路とを含む走査線駆動回路（例えば図４や図６の走査線駆動回路３２L）と、走査線の選択／非選択を指示する第２走査信号を第１側とは反対の第２側から各走査線に出力する第２走査線駆動回路であって、開始パルスの転送で複数の転送信号を生成する転送回路と、各転送信号から走査信号を生成する複数の出力回路とを含む第２走査線駆動回路（例えば図４や図６の走査線駆動回路３２R）と、走査信号に応じた検査信号を外部に出力するための検査出力部（例えば図４の検査出力部６２や図６の検査出力部６６）と、第１走査線駆動回路における一の出力回路が生成した第１走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替える第１切替部（例えば図４や図６の切替部６４L）と、第２走査線駆動回路における一の出力回路が生成した第２走査信号を検査出力部に出力するか否かを切替える第２切替部（例えば図４や図６の切替部６４R）とを具備する。以上の構成においても、第１の態様に係る電気光学装置と同様の効果が実現される。また、第１走査線駆動回路の出力回路が生成した第１走査信号と第２走査線駆動回路の出力回路が生成した第２走査信号とが検査出力部に供給されるから、第１走査線駆動回路および第２走査線駆動回路の双方の検査を実施できるという利点がある。
【００１０】
第２の態様に係る電気光学装置は、例えば第３実施形態（図４）や第４実施形態（図６）として後述される。もっとも、第１走査線駆動回路および第２走査線駆動回路を具備する電気光学装置は、第１の態様に係る電気光学装置の概念に包含され得る。すなわち、電気光学装置の第１走査線駆動回路および第２走査線駆動回路の何れか一方のみに着目したときに第１の態様の総ての要件を充足するならば、当該電気光学装置は、本発明の第１の態様の範囲に当然に包含される。
【００１１】
第２の態様に係る電気光学装置の具体例において、検査出力部は、第１切替部から第１走査信号が供給される第１検査端子（例えば図４の検査端子ＴL）と、第２切替部から第２走査信号が供給される第２検査端子（例えば図４の検査端子ＴR）とを含む。以上の態様においては、第１走査信号と第２走査信号とが別個の検査端子に供給されるから、第１走査線駆動回路の良否と第２走査線駆動回路の良否とを個別に検査できるという利点がある。以上の態様の具体例は第３実施形態として後述される。
【００１２】
第２の態様に係る電気光学装置の具体例において、検査出力部は、第１切替部から供給される第１走査信号と第２切替部から供給される第２走査信号との論理積を演算する論理回路（例えば図６の論理回路６８）と、論理回路からの出力信号が供給される検査端子（例えば図６の検査端子ＴC）とを含む。以上の態様においては、第１走査信号と第２走査信号との論理積が１個の検査端子に出力されるから、第１走査線駆動回路および第２走査線駆動回路の検査が簡素化されるという利点がある。
【００１３】
本発明に係る電気光学装置は各種の電子機器に利用される。電子機器の典型例は、電気光学装置を表示装置として利用した機器である。本発明に係る電子機器としてはパーソナルコンピュータや携帯電話機が例示される。もっとも、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成するための露光装置（光ヘッド）としても本発明の電気光学装置が適用される。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の第１実施形態に係る電気光学装置のブロック図である。
【図２】走査線駆動回路の動作を示すタイミングチャートである。
【図３】第２実施形態に係る電気光学装置のブロック図である。
【図４】第３実施形態に係る電気光学装置のブロック図である。
【図５】電気光学装置の使用時における切替部の状態を示すブロック図である。
【図６】第４実施形態に係る電気光学装置のブロック図である。
【図７】変形例に係る電気光学装置のブロック図である。
【図８】変形例に係る電気光学装置のブロック図である。
【図９】電子機器の形態（パーソナルコンピュータ）を示す斜視図である。
【図１０】電子機器の形態（携帯電話機）を示す斜視図である。
【図１１】電子機器の形態（携帯情報端末）を示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置１００Aのブロック図である。電気光学装置１００Aは、画像を表示する表示器として様々な電子機器に採用される。図１に示すように、電気光学装置１００Aは、複数の画素回路ＰXが配列された素子部（表示領域）１０と、各画素回路ＰXを駆動する走査線駆動回路３２および信号線駆動回路３４と、電気光学装置１００Aの全体を制御する制御回路３８とを具備する。
【００１６】
複数の画素回路ＰXは基板２０の面上に形成される。基板２０の周縁（素子部１０の周囲）には、電気光学装置１００Aに対する信号の入力や出力のための複数の端子Ｔが形成される。複数の端子Ｔには、例えば、走査線駆動回路３２の制御に利用される複数の端子ＴYや、信号線駆動回路３４の制御に利用される複数の端子ＴXが含まれる。走査線駆動回路３２および信号線駆動回路３４は、集積回路（ＩＣ）の形態で基板２０の面上に実装される。ただし、各画素回路ＰXとともに基板２０の面上に形成された能動素子（例えば薄膜トランジスタ）で走査線駆動回路３２や信号線駆動回路３４が構成された態様も好適である。
【００１７】
素子部１０には、Ｘ方向に延在するＭ本の走査線２２と、Ｘ方向に交差するＹ方向に延在するＮ本の信号線２４とが形成される（Ｍ，Ｎは自然数）。複数の画素回路ＰXは、各走査線２２と各信号線２４との交差に配置されて縦Ｍ行×横Ｎ列の行列状に配列する。各画素回路ＰXは、画素電極と対向電極との間の電圧に応じて液晶の透過率が変化する液晶素子（液晶容量）１２を含む。
【００１８】
走査線駆動回路３２は、制御回路３８による制御のもとに走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]を生成して各走査線２２に出力する。第ｍ行（ｍ＝１〜Ｍ）の走査線２２に出力される走査信号Ｙ[m]は、第ｍ行の走査線２２の選択／非選択を指示する電圧信号である。図２に示すように、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]は、各垂直走査期間Ｆ内において順次にアクティブレベル（走査線２２の選択を意味するレベル）に設定される。なお、走査線２２を選択する時間（走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]のパルス幅）が可変に制御される構成も好適である。
【００１９】
図１に示すように、走査線駆動回路３２は、転送回路４２とＭ個の出力回路４５[1]〜４５[M]とを含んで構成される。転送回路（シフトレジスタ回路）４２は、クロック信号ＣLKに同期して開始パルスＳPを順次にシフト（転送）することでＭ系統の転送信号Ｓ[1]〜Ｓ[M]を生成する。図１に示すように、転送回路４２は、Ｍ個の単位回路（フリップフロップ）４３[1]〜４３[M]で構成される。第ｍ段目の単位回路４３[m]は、前段の単位回路４３[m-1]が出力する転送信号Ｓ[m-1]（第１段目の単位回路４３[1]においては開始パルスＳP）をクロック信号ＣLKに応じて遅延させた転送信号Ｓ[m]を生成および出力する。
【００２０】
第ｍ段目の出力回路４５[m]は、第ｍ段目の単位回路４３[m]が出力する転送信号Ｓ[m]に応じた走査信号Ｙ[m]（Ｙ[1]〜Ｙ[M]）を生成して出力する。各出力回路４５[m]は、レベルシフト回路（ＬＳ）４７とバッファ回路４８とを含んで構成される。出力回路４５[m]のレベルシフト回路４７は、転送信号Ｓ[m]の電圧を所望の振幅（バッファ回路４８を駆動し得る振幅）に変換する。出力回路４５[m]のバッファ回路４８は、レベルシフト回路４７の出力信号を増幅および整形することで走査信号Ｙ[m]を生成して第ｍ行の走査線２２に出力する。
【００２１】
信号線駆動回路３４は、制御回路３８による制御のもとに、走査線駆動回路３２による走査線２２の選択に同期して各信号線２４に階調信号Ｘ[1]〜Ｘ[N]を出力する。走査線駆動回路３２による第ｍ行の選択中に第ｎ列（ｎ＝１〜Ｎ）の信号線２４に出力される階調信号Ｘ[n]は、第ｍ行に属する第ｎ列目の画素回路ＰXに指定された階調に応じたレベル（電圧）に設定される。液晶素子１２は、走査線駆動回路３２による走査線２２の選択時に信号線２４に供給されている階調信号Ｘ[n]に応じた階調（透過率）に制御される。
【００２２】
図１に示すように、走査線駆動回路３２の検査に利用される検査出力部５２Aと切替部５４Aとが基板２０の面上に設置される。検査出力部５２Aは、走査線駆動回路３２の良否の判定に利用される検査信号Ｚ1を外部に出力するための要素である。具体的には、検査出力部５２Aは、複数の端子Ｔに含まれる１個の検査端子ＴAで構成される。
【００２３】
図１に示すように、走査線駆動回路３２のうち第１段から第(M-1)段までの各出力回路４５[m]（４５[1]〜４５[M-1]）の出力端は、当該出力回路４５[m]に対応する第ｍ行の走査線２２に対して直接的に接続される。他方、最終段（第Ｍ段）の出力回路４５の出力端と第Ｍ行の走査線２２との間には切替部５４Aが介在する。切替部５４Aは、出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]を検査信号Ｚ1として検査出力部５２A（検査端子ＴA）に出力するか否かを切替えるスイッチである。具体的には、切替部５４Aは、出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]の出力先を、検査出力部５２Aおよび第Ｍ行の走査線２２の何れかに択一的に切替える。例えば画素回路ＰXとともに基板２０上に形成された能動素子（薄膜トランジスタ）が切替部５４Aとして好適に利用される。
【００２４】
電気光学装置１００Aの通常の使用時（画像の表示時）において、制御回路３８は、出力回路４５[M]の出力端が、第Ｍ行の走査線２２（図１のａ端）に接続されるとともに検査出力部５２Aから絶縁されるように、切替部５４Aを制御する。したがって、出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]は第Ｍ行の走査線２２に出力される。すなわち、第１行から第Ｍ行までのＭ本の走査線２２の各々が順番に選択される。各走査線２２の選択に同期して階調信号Ｘ[1]〜Ｘ[N]が各画素回路ＰXに供給されることで素子部１０には所望の画像が表示される。
【００２５】
他方、電気光学装置１００Aの出荷前の検査時において、制御回路３８は、出力回路４５[M]の出力端が、検査出力部５２A（ｂ端）に接続されるとともに第Ｍ行の走査線２２から絶縁されるように、切替部５４Aを制御する。したがって、出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]は検査信号Ｚ1として検査出力部５２A（検査端子ＴA）に供給される。検査端子ＴAから外部（例えば検査端子ＴAに接触するプローブ）に出力される検査信号Ｚ1を検出して波形を調査することで走査線駆動回路３２の良否が判定される。具体的には、検査信号Ｚ1が所定の時点で所定の時間長にわたってアクティブレベルに遷移するか否かが判定される。例えば、開始パルスＳPの供給の時点から所定の時間が経過しても検査信号Ｚ1（走査信号Ｙ[M]）がアクティブレベルに遷移しなければ、走査線駆動回路３２が不良であると判定される。
【００２６】
以上のように、本実施形態においては、走査線駆動回路３２内の出力回路４５[M]による生成後（増幅後または整形後）の走査信号Ｙ[M]が検査信号Ｚ1として検査出力部５２Aに出力される。したがって、検査信号Ｚ1を増幅するためのバッファ回路を走査線駆動回路３２とは別個に設置する必要はない。あるいは、検査信号Ｚ1の増幅が必要であるとしても、駆動能力が低い小規模のバッファ回路で足りるという利点がある。
【００２７】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。なお、以下の各形態において作用や機能が第１実施形態と同等である要素については、以上と同じ符号を付して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
【００２８】
図３は、第２実施形態に係る電気光学装置１００Bのブロック図である。電気光学装置１００Bは、第１実施形態の電気光学装置１００Aに方向制御部７２Aと方向制御部７２Bと切替部５４Bとを追加し、電気光学装置１００Aの検査出力部５２Aを検査出力部５２Bに置換した構成である。
【００２９】
方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bは、開始パルスＳPの転送の方向（走査線２２の選択の順番）を可変に制御する。方向制御部７２Aは、第１段目の単位回路４３[1]に対する開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKの供給の可否を制御し、方向制御部７２Bは、第Ｍ段目の単位回路４３[M]に対する開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKの供給の可否を制御する。方向制御部７２Aと方向制御部７２Bが相補的に動作することで、以下のように開始パルスＳPの転送の方向が変更される。
【００３０】
方向制御部７２Aが開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKを第１段目の単位回路４３[1]に供給する場合、方向制御部７２Bは、第Ｍ段目の単位回路４３[M]に対する開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKの供給を停止する。したがって、開始パルスＳPは、第１行から第Ｍ行に向かう方向ｄ1に順次に転送される。すなわち、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]は、第１行から第Ｍ行に向かう順番（Ｙ[1]→Ｙ[2]→……Ｙ[M-1]→Ｙ[M]）で順次にアクティブレベルに遷移する。
【００３１】
他方、方向制御部７２Bが開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKを第Ｍ段目の単位回路４３[M]に供給する場合、第１段目の単位回路４３[1]に対する開始パルスＳPおよびクロック信号ＣLKの供給は停止する。したがって、開始パルスＳPは、第Ｍ行から第１行に向かう方向ｄ2に順次に転送される。すなわち、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]は、第Ｍ行から第１行に向かう順番（Ｙ[M]→Ｙ[M-1]→……Ｙ[2]→Ｙ[1]）で順次にアクティブレベルに遷移する。
【００３２】
検査出力部５２Bは、検査端子ＴAと検査端子ＴBとを含んで構成される。切替部５４Aは、第１実施形態と同様に、第Ｍ段目の出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]を検査信号Ｚ1として検査端子ＴAに出力するか否かを切替える。他方、切替部５４Bは、第１段目の出力回路４５[1]が生成した走査信号Ｙ[1]を検査信号Ｚ2として検査端子ＴBに出力するか否かを切換える。具体的には、切替部５４Bは、走査信号Ｙ[1]の出力先を、検査端子ＴBおよび第１行の走査線２２の何れかに択一的に切替える。
【００３３】
電気光学装置１００Bの通常の使用時において、制御回路３８は、出力回路４５[1]の出力端が第１行の走査線２２に接続されるように切替部５４Bを制御し、出力回路４５[M]の出力端が第Ｍ行の走査線２２に接続されるように切替部５４Aを制御する。したがって、Ｍ本の走査線２２の各々が方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bの動作に応じた順番で順次に選択される。
【００３４】
電気光学装置１００Bの検査時において、制御回路３８は、開始パルスＳPの転送方向における最終段の出力回路４５（転送方向の下流側に位置する出力回路４５）から出力された走査信号（Ｙ[1]またはＹ[M]）が検査出力部５２Bに供給されるように、方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bの状態に応じて切替部５４Aおよび切替部５４Bを制御する。具体的には、開始パルスＳPが方向ｄ1に転送されるように方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bが動作している場合、制御回路３８は、第Ｍ段目の出力回路４５[M]の出力端が検査出力部５２B（検査端子ＴA）に接続されるように切替部５４Aを制御する。したがって、出力回路４５[M]が生成した走査信号Ｙ[M]が検査信号Ｚ1として検査端子ＴAに出力される。他方、開始パルスＳPが方向ｄ2に転送されるように方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bが動作している場合、制御回路３８は、第１段目の出力回路４５[1]の出力端が検査出力部５２B（検査端子ＴB）に接続されるように切替部５４Bを制御する。したがって、出力回路４５[1]が生成した走査信号Ｙ[1]が検査信号Ｚ2として検査端子ＴBに出力される。そして、開始パルスＳPを方向ｄ1に転送する機能の良否が検査信号Ｚ1に応じて判定され、開始パルスＳPを方向ｄ2に転送する機能の良否が検査信号Ｚ2に応じて判定される。
【００３５】
第２実施形態においても第１実施形態と同様の効果が実現される。さらに、第２実施形態においては、開始パルスＳPが方向ｄ1に転送される場合および方向ｄ2に転送される場合の双方について、転送方向の最終段から出力された走査信号Ｙ（Ｙ[1]またはＹ[M]）が検査出力部５２Bに出力されるから、開始パルスＳPを方向ｄ1に転送する機能および方向ｄ2に転送する機能の双方を検査できるという利点がある。
【００３６】
＜Ｃ：第３実施形態＞
図４は、第３実施形態に係る電気光学装置１００Cのブロック図である。電気光学装置１００Cは、第１実施形態の電気光学装置１００Aの走査線駆動回路３２を走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rに置換し、第１実施形態の検査出力部５２Aを検査出力部６２に置換し、切替部５４Aを切替部６４Lおよび切替部６４Rに置換した構成である。
【００３７】
走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rは、両者間に素子部１０が介在するように配置される。走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rは、第１実施形態の走査線駆動回路３２と同様の構成である。走査線駆動回路３２Lは走査信号ＹL[1]〜ＹL[M]を生成し、走査線駆動回路３２Rは走査信号ＹR[1]〜ＹR[M]を生成する。走査信号ＹL[m]は、第ｍ行の走査線２２におけるＸ方向の負側の端部に供給され、走査信号ＹR[m]は、第ｍ行の走査線２２におけるＸ方向の正側の端部に供給される。走査信号ＹL[m]および走査信号ＹR[m]の波形は第１実施形態の走査信号Ｙ[n]（図２）と同様である。
【００３８】
検査出力部６２は、検査端子ＴLと検査端子ＴRとを含んで構成される。検査端子ＴLおよび検査端子ＴRは、信号線駆動回路３４の制御に利用される端子ＴXと走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rの制御に利用される端子ＴYとの間に相隣接して形成される。検査端子ＴLは、走査線駆動回路３２Lの良否の判定に利用される検査信号ＺLを外部に出力する端子であり、検査端子ＴRは、走査線駆動回路３２Rの良否の判定に利用される検査信号ＺRを外部に出力する端子である。
【００３９】
切替部６４Lは、走査線駆動回路３２Lの最終段の出力回路４５[M]が生成した走査信号ＹL[M]を検査信号ＺLとして検査出力部６２の検査端子ＴLに出力するか否かを切換えるスイッチである。具体的には、切替部６４Lは、走査信号ＹL[M]の出力先を、検査端子ＴL（ｂ1端）および第Ｍ行の走査線２２（ａ2端）の何れかに択一的に切替える。他方、切替部６４Rは、走査線駆動回路３２Rの最終段の出力回路４５[M]が生成した走査信号ＹR[M]を検査信号ＺRとして検査端子ＴRに出力するか否かを切換えるスイッチである。
【００４０】
電気光学装置１００Cの通常の使用時において、制御回路３８は、図５に示すように、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]の出力端（ａ1端）が第Ｍ行の走査線２２（ａ2端）に接続されるように切替部６４Lを制御する。したがって、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]が生成した走査信号ＹL[M]は、走査線駆動回路３２Rの出力回路４５[M]が生成した走査信号ＹR[M]とともに第Ｍ行の走査線２２に出力される。検査出力部６２の検査端子ＴL（ｂ1端）は、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]の出力端（ａ1端）から絶縁される。また、切替部６４Rは、第Ｍ行の走査線２２（ａ2端）を検査出力部６２の検査端子ＴR（ｂ2端）から絶縁する。
【００４１】
電気光学装置１００Cの検査時に、制御回路３８は、図４に示すように、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]の出力端（ａ1端）が検査端子ＴL（ｂ1端）に接続されるように切替部６４Lを制御し、かつ、第Ｍ行の走査線２２（走査線駆動回路３２Rの出力回路４５[M]の出力端）が検査端子ＴR（ｂ2端）に接続されるように切替部６４Rを制御する。したがって、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]から出力された走査信号ＹL[M]（検査信号ＺL）は切替部６４Lを介して検査端子ＴLに供給され、走査線駆動回路３２Rの出力回路４５[M]から出力された走査信号ＹR[M]（検査信号ＺR）が第Ｍ行の走査線２２と切替部６４Rとを介して検査端子ＴRに供給される。検査信号ＺLおよび検査信号ＺRを検出することで走査線駆動回路３２Lまたは走査線駆動回路３２Rの良否が判定される。例えば、検査信号ＺLが所定の時点でアクティブレベルに遷移したが検査信号ＺRはアクティブレベルに遷移しない場合、走査線駆動回路３２Rが不良であると判定される。
【００４２】
第３実施形態においても第１実施形態と同様の効果が実現される。さらに、第３実施形態においては、走査線駆動回路３２Lにて生成された走査信号ＹL[M]（検査信号ＺL）が検査端子ＴLに出力され、走査線駆動回路３２Rにて生成された走査信号ＹR[M]（検査信号ＺR）が検査端子ＴRに出力されるから、走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rの各々の良否を個別に検査できるという利点がある。
【００４３】
＜Ｄ：第４実施形態＞
図６は、本発明の第４実施形態に係る電気光学装置１００Dのブロック図である。図６に示すように、電気光学装置１００Dは、第３実施形態における検査出力部６２を検査出力部６６に置換した構成である。検査出力部６６は、論理回路６８と１個の検査端子ＴCとを含んで構成される。論理回路６８は、切替部６４L（ａ1端）から供給される検査信号ＺL（走査信号ＹL[M]）と切替部６４Rから供給される検査信号ＺR（走査信号ＹR[M]）との論理積を検査信号ＺCとして検査端子ＴCに出力する論理積回路である。
【００４４】
電気光学装置１００Dの通常の使用時の動作は第３実施形態（図５）と同様である。電気光学装置１００Dの検査時において、制御回路３８は、第３実施形態と同様に、走査線駆動回路３２Lの出力回路４５[M]の出力端（ａ1端）が検査出力部６６（ｂ1端）に接続されるように切替部６４Lを制御し、かつ、第Ｍ行の走査線２２（走査線駆動回路３２Rの出力回路４５[M]の出力端）が検査出力部６６（ｂ2端）に接続されるように切替部６４Rを制御する。したがって、走査信号ＹL[M]（検査信号ＺL）と走査信号ＹR[M]（検査信号ＺR）とが論理回路６８に供給されて両者の論理積に相当する検査信号ＺCが検査端子ＴCに出力される。検査信号ＺCを検出することで走査線駆動回路３２Lまたは走査線駆動回路３２Rの良否が判定される。例えば、検査信号ＺCが所定の時点でアクティブレベルに遷移しない場合、走査線駆動回路３２Lまたは走査線駆動回路３２Rの何れかに不良が発生している（走査信号ＹL[M]および走査信号ＹR[M]の何れかがアクティブレベルに遷移していない）と判定される。
【００４５】
第４実施形態においても第１実施形態と同様の効果が実現される。さらに、第４実施形態においては、検査信号ＺLおよび検査信号ＺRの双方を反映した１系統の検査信号ＺCが出力されるから、第３実施形態と比較して検査の手順が簡素化されるという利点がある。また、１個の検査端子ＴCに検査用のプローブを接触させることで検査が実施されるから、同様に１個の検査端子ＴAのみを備える電気光学装置１００Aとの間で検査用のプローブを流用できるという利点もある。
【００４６】
＜Ｅ：変形例＞
以上の各形態には様々な変形が加えられる。具体的な変形の態様を以下に例示する。以下の例示から任意に選択された２以上の態様は併合され得る。
【００４７】
（１）変形例１  
開始パルスＳPの転送方向を変化させる第２実施形態の構成は第３実施形態や第４実施形態にも同様に採用される。図７は、第２実施形態と第３実施形態とを併合した構成の電気光学装置１００Eのブロック図であり、図８は、第２実施形態と第４実施形態とを併合した構成の電気光学装置１００Fのブロック図である。
【００４８】
電気光学装置１００Eおよび電気光学装置１００Fは、第２実施形態の電気光学装置１００Bと同様に、開始パルスＳPの転送方向（走査線２２の選択の順番）を変化させる方向制御部７２Aおよび方向制御部７２Bを具備する。図７の電気光学装置１００Eにおいては、開始パルスＳPが方向ｄ2に転送される場合に走査信号ＹL[1]（検査信号ＺL）および走査信号ＹR[1]（検査信号ＺR）を外部に出力するための要素（切替部６４R，切替部６４L，検査出力部６２）が、走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rの第１段の出力回路４５[1]に対応して配置される。また、図８の電気光学装置１００Fにおいても同様に、開始パルスＳPが方向ｄ2に転送される場合に走査信号ＹL[1]および走査信号ＹR[1]に応じた検査信号ＺCを外部に出力するための要素（切替部６４R，切替部６４L，検査出力部６６）が、走査線駆動回路３２Lおよび走査線駆動回路３２Rの第１段の出力回路４５[1]に対応して配置される。図７の構成によれば、第２実施形態や第３実施形態と同様の効果が実現され、図８の構成によれば、第２実施形態や第４実施形態と同様の効果が実現される。
【００４９】
（２）変形例２  
第１実施形態においては、電気光学装置１００Aの検査時に第Ｍ行の走査線２２を出力回路４５[M]から絶縁する場合を例示したが、第Ｍ行の走査線２２と出力回路４５[M]との導通を検査時に維持する構成も採用される。ただし、走査線２２が検査時に検査端子ＴAに導通すると、検査端子ＴAに付随する容量が増加して検査信号Ｚ1の鈍りの原因となるから、検査信号Ｚ1の鈍りを抑制するという観点からすると、第Ｍ行の走査線２２を検査時に出力回路４５[M]から絶縁する構成が好適である。他の形態についても同様である。例えば、第２実施形態（図３）において、検査時に出力回路４５[1]と第１行の走査線２２との接続を維持する構成も採用される。
【００５０】
（３）変形例３  
以上の各形態においては、実際に画像の表示に利用される画素回路ＰXを駆動するための走査信号Ｙ（Ｙ[1]，Ｙ[2]）を検査出力部（５２A，５２B，６２，６６）に出力したが、表示に寄与しないダミーの画素回路ＰXを駆動するための走査信号Ｙを検査出力部（５２A，５２B，６２，６６）に出力する構成も採用される。
【００５１】
（４）変形例４  
以上の各形態においては、開始パルスＳPの転送方向の最終段の出力回路４５（４５[M]や４５[1]）が生成した走査信号Ｙを検査に利用する場合を例示したが、最終段以外の出力回路４５が生成した走査信号Ｙを検査に利用する構成も採用される。ただし、開始パルスＳPの転送方向の最終段の走査信号Ｙ（Ｙ[M]，Ｙ[1]）を検査に利用する構成では、転送回路４２の全体（Ｍ個の単位回路４３[1]〜４３[M]）の良否を判定できるという利点がある。
【００５２】
（５）変形例５  
第３実施形態（図５）や第４実施形態（図６）においては切替部６４Lと切替部６４Rとを走査線駆動回路３２L側に配置した構成を例示したが、切替部６４Lと切替部６４Rとを走査線駆動回路３２R側（走査線駆動回路３２Rと素子部１０との間）に配置した構成や、切替部６４Lを走査線駆動回路３２L側に配置するとともに切替部６４Rを走査線駆動回路３２R側に配置した構成も採用される。また、第３実施形態における検査端子ＴRおよび検査端子ＴLの位置は任意である。例えば、検査端子ＴLおよび検査端子ＴRが信号線駆動回路３４の複数の端子ＴXを挟むように配置した構成も採用される。
【００５３】
（６）変形例６  
液晶素子１２は電気光学素子の例示に過ぎない。本発明の電気光学装置に適用される電気光学素子について、自身が発光する自発光型と外光の透過率や反射率を変化させる非発光型（例えば液晶素子１２）との区別や、電流の供給によって駆動される電流駆動型と電界（電圧）の印加によって駆動される電圧駆動型との区別は不問である。例えば、無機ＥＬ素子，有機ＥＬ素子，電界電子放出素子（ＦＥ（Field-Emission）素子），表面伝導型電子放出素子（ＳＥ（Surface conduction Electron emitter）素子），弾道電子放出素子（ＢＳ（Ballistic electron Emitting）素子），ＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子，電気泳動素子、エレクトロクロミック素子など様々な電気光学素子を利用した電気光学装置１００に本発明は適用される。すなわち、電気光学素子とは、電流の供給や電圧（電界）の印加といった電気的な作用に応じて階調（透過率や輝度といった光学的な特性）が変化する素子である。
【００５４】
＜Ｆ：応用例＞
次に、以上の各態様に係る電気光学装置１００（１００A〜１００F）を利用した電子機器について説明する。図９ないし図１１には、電気光学装置１００を表示装置として採用した電子機器の形態が図示されている。
【００５５】
図９は、電気光学装置１００を採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、各種の画像を表示する電気光学装置１００と、電源スイッチ２００１やキーボード２００２が設置された本体部２０１０とを具備する。
【００５６】
図１０は、電気光学装置１００を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２と、各種の画像を表示する電気光学装置１００とを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置１００に表示される画面がスクロールされる。
【００５７】
図１１は、電気光学装置１００を適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す斜視図である。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２と、各種の画像を表示する電気光学装置１００とを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった様々な情報が電気光学装置１００に表示される。
【００５８】
なお、本発明に係る電気光学装置が適用される電子機器としては、図９から図１１に例示した機器のほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る電気光学装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、電子写真方式の画像形成装置において露光により感光体ドラムに潜像を形成する露光装置としても本発明の電気光学装置は利用される。
【符号の説明】
【００５９】
１００A，１００B，１００C，１００D，１００E，１００F……電気光学装置、ＰX……画素回路、１０……素子部、１２……液晶素子、２０……基板、２２……走査線、２４……信号線、３２，３２L，３２R……走査線駆動回路、３４……信号線駆動回路、４２……転送回路、４３[1]〜４３[M]……単位回路、４５[1]〜４５[M]……出力回路、４７……レベルシフト回路、４８……バッファ回路、５２A，５２B，６２，６６……検査出力部、５４A，５４B，６４L，６４R……切替部、ＴA，ＴB，ＴL，ＴR，ＴC……検査端子
【図１】
2010266500.tif 000003
【図２】
2010266500.tif 000004
【図３】
2010266500.tif 000005
【図４】
2010266500.tif 000006
【図５】
2010266500.tif 000007
【図６】
2010266500.tif 000008
【図７】
2010266500.tif 000009
【図８】
2010266500.tif 000010
【図９】
2010266500.tif 000011
【図１０】
2010266500.tif 000012
【図１１】
2010266500.tif 000013