(57)【要約】【課題】被検査物の断層像を撮像するに当たり、被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態を観察することができ、  該測定光群を被検査物の所定の位置に結像させて、該断層像を高速に取得することが可能となる光断層画像撮像装置等を提供する。【解決手段】光源から出射され分割された複数の光を、又は複数の光源から出射された複数の光を、測定光群と参照光群とに分割し、該測定光群を被検査物に導くと共に前記参照光群を参照ミラーに導き、  前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光群による戻り光群と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光群とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、  前記被検査物の観察画像を取得する観察手段を備え、  該観察手段によって、前記被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態が観察可能とされている。【選択図】            図１
2010152196.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射され分割された複数の光を、又は複数の光源から出射された複数の光を、測定光群と参照光群とに分割し、該測定光群を被検査物に導くと共に前記参照光群を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光群による戻り光群と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光群とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検査物の観察画像を取得する観察手段を備え、
該観察手段によって、前記被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態が観察可能とされていることを特徴とする光断層画像撮像装置。
【請求項２】
前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群の入射位置を把握する位置把握手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項３】
前記観察手段が、前記被検査物である被検眼の近傍に配置され、該観察手段によって前記測定光群による前記被検眼の前眼部に照射する状態を観察可能に構成されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項４】
前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整可能に構成された調整手段を有することを特徴とする請求項３に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項５】
前記調整手段が、前記測定光群が前記前眼部を照射している面積が最小に調整することが可能に構成されていることを特徴とする請求項４に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項６】
前記調整手段は、前記測定光群の本数を増減することが可能に構成されていることを特徴とする請求項４に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項７】
前記測定光群の本数を増減することによって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握することが可能に構成されていることを特徴とする請求項６に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項８】
前記調整手段が、前記測定光群の走査範囲を増減することが可能に構成されていることを特徴とする請求項４から７のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項９】
前記調整手段が、前記被検眼に注視させる固視灯によって視線を移動させることが可能に構成されていることを特徴とする請求項４から８のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１０】
前記調整手段が、前記被検者の顔を所定の位置に保持する顔受けユニットを移動させることが可能に構成されていることを特徴とする請求項４から９のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１１】
前記調整手段が、前記測定光群を被検査物に導く測定光学系を調整することが可能に構成されていることを特徴とする請求項４から１０のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１２】
前記観察画像と前記断層画像とを関連付けて記録する記録手段を有することを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１３】
前記観察手段が、カメラで構成されていることを特徴とする請求項１から１２のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１４】
前記観察手段が、エリアセンサで構成されていることを特徴とする請求項１から１２のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１５】
前記観察手段が、共焦点顕微鏡で構成されていることを特徴とする請求項１から１２のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１６】
前記光源からの光を前記測定光群と前記参照光群とに分割される位置まで導く光路と、
前記測定光群を前記被検査物まで導く光路と、
前記戻り光群を光電変換回路まで導く光路と、
前記参照光群を前記光電変換回路まで導く光路と、
における少なくとも何れかの光路が、光ファイバーによって構成されていることを特徴とする請求項１から１５のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１７】
前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、
前記被検眼における眼底の平面像を撮像するカメラ部と、
を有することを特徴とする請求項４から１６のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１８】
前記眼底カメラ本体部と、眼底の平面像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする請求項１７に記載の光断層画像撮像装置。
【請求項１９】
請求項８から１２のいずれか１項に記載の光断層画像撮像装置を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、
前記走査範囲増減手段を用いて、前記走査範囲を所定の撮像範囲より小さく設定する第１の調整工程と、
前記観察手段を用いて、前記測定光群が前記前眼部を照射する状態を観察する第２の調整工程と、
前記本数増減手段を用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握する第３の調整工程と、
前記顔受けユニットと前記固視灯と前記測定光学系との少なくとも何れかを用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整する第４の調整工程と、
を有することを特徴とする光断層画像の撮像方法。
【請求項２０】
前記第１の工程から前記第４の工程のうち、
少なくとも一つの工程を自動的に行うことを特徴とする請求項１９に記載の光断層画像の撮像方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、光学機器を用いた眼科用機器として、様々なものが使用されている。
例えば、眼を観察する光学機器として、前眼部撮影機、眼底カメラ、共焦点レーザー走査検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：ＳＬＯ）、等様々な機器が使用されている。
中でも、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）による光断層画像撮像装置では、試料の断層像を高分解能に得ることができる。
このようなことから、この装置は眼科用機器として網膜の専門外来では必要不可欠な装置になりつつある。以下、これをＯＣＴ装置と記す。
【０００３】
上記ＯＣＴ装置によると、低コヒーレント光である測定光を、サンプルに照射し、そのサンプルからの後方散乱光を、干渉系を用いることで高感度に測定することができる。
また、ＯＣＴ装置は該測定光を、該サンプル上にスキャンすることで、断層像を高分解能に得ることができる。
そのため、被検眼の眼底における網膜の断層像を高分解能に撮像することも可能であることから、網膜の眼科診断等において広く利用されている。
【０００４】
近年、眼科用ＯＣＴ装置は従来のタイムドメイン（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ）方式から、より高速な撮像が可能なフーリエドメイン（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ）方式に移行しつつある。高速な撮像は、固視微動に代表される眼球運動による画像のブレや欠落を防ぐことを可能にしている。
しかし、高速な撮像が可能なフーリエドメイン方式であっても、完全に眼球運動による画像のブレや欠落を防止できるというわけではなく、結局、さらなる高速化が望まれている。
【０００５】
特許文献１においては、マイクロレンズアレイとニポウディスクとを利用して、複数の測定光を有するマルチビームのＯＣＴ装置を具現化している。ここでは、生体の断層画像及び蛍光断層画像とを高速に、取得することを可能にしている。
【０００６】
特許文献２においては、複数の光源、複数の光源に共通した物体光結像光学系を持ち、共通の参照光結像光源系と光源に対応した位置に離散配置された複数の光センサを有するＯＣＴ装置を具現化している。
ここでは、同時に多数点でデータを取得し、リファレンス光をずらすことで多点データを取得し、高速データの取得を可能にしている。
また、ＯＣＴ装置は該低コヒーレント光である測定光を網膜の所定の位置に結像させて、断層像を取得する。
しかし、被検眼の静止が難しいこと等の被検眼の要因により、該測定光が虹彩にけられることなく瞳孔を通過し、網膜の所定の位置に結像することが、難しい場合がある。
つまり、ＯＣＴ装置は、各該測定光が虹彩にけられることにより、該測定光の網膜の所定の位置に到達する割合が減少し、網膜からの反射光もそれに従って減少することがある。その場合、測定光のパワーには安全性の確保のために上限があるため、結果的に得られる断層像のコントラストが低くなることになる。
特に、光軸に垂直な方向に高解像度なＯＣＴ装置を目的として、該測定光のビーム径を大きく構成している場合や、高速なＯＣＴ装置を目的として、複数の測定光を有するマルチビームのＯＣＴ装置を構成する場合には、その傾向はより顕著である。
【０００７】
特許文献３においては、高解像度観察が可能な生物標本の内部を観察するＯＣＴ装置が開示されている。
ここでは、試料を観察する時に、高解像度観察を可能にするモードと広範囲観察を可能にするモードとを切り換えることを、光束径変換光学系を用いることで行い、高Ｓ／Ｎ比での観察を可能にしている。
【特許文献１】特開２００６−１９５２４０号公報
【特許文献２】特許第０２８７５１８１号公報
【特許文献３】特開２００２−１７４７６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上記説明したとおり、ＯＣＴ装置を用いて、眼底観察を行う際、被検眼の静止が難しいこと等の被検眼の要因により、該測定光が虹彩に照射されることなく瞳孔を通過し、網膜の所定の位置に結像することが、難しい場合がある。
さらに、広範囲の断層像を高速に取得するため、複数の測定光を有する、マルチビームのＯＣＴ装置を構成する場合、その影響はより顕著である。
【０００９】
上記特許文献１では、マイクロレンズアレイとニポウディスクとを利用して、マルチビームのＯＣＴ装置を具現化し、高速な撮像を可能にしているが、眼底観察時に必要な上記した静止が難しいこと等による被検眼に対する対策等については特に配慮されていない。
上記特許文献２では、複数の光源と複数の光センサとを有するＯＣＴ装置を具現化し、高速な撮像を可能にしているが、ここでも眼底観察時に必要な上記した静止が難しいこと等による被検眼に対する対策等については、特に配慮されていない。
上記特許文献３では、高解像度観察を可能にするモードと広範囲観察を可能にするモードとを切り換える光束径変換光学系を用いて、高解像度観察を可能にしている。
しかし、ここでも眼底観察時に必要な上記した静止が難しいこと等による被検眼に対する対策等については、特に配慮されていない。
【００１０】
本発明は、上記課題に鑑み、被検査物の断層像を撮像するに当たり、被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態を観察することができ、
該測定光群を被検査物の所定の位置に結像させて、該断層像を高速に取得することが可能となる光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、つぎのように構成した光断層画像撮像装置を提供するものである。本発明の光断層画像撮像装置は、光源から出射され分割された複数の光を、又は複数の光源から出射された複数の光を、測定光群と参照光群とに分割し、該測定光群を被検査物に導くと共に該参照光群を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光群による戻り光群と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光群とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置であって、
前記被検査物の観察画像を取得する観察手段を備え、
該観察手段によって、前記被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態が観察可能とされていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群の入射位置を把握する位置把握手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段が、前記被検査物である被検眼の近傍に配置され、該観察手段によって前記測定光群による前記被検眼の前眼部を照射する状態が観察可能とされていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整可能に構成された調整手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、前記測定光群が前記前眼部を照射している面積を最小に調整することが可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、前記測定光群の本数を増減することが可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記測定光群の本数を増減によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握することが可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、前記測定光群の走査範囲を増減することが可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、被検眼に注視させる固視灯によって視線を移動させることが可能に構成されていることを特徴とする。また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、前記被検者の顔を所定の位置に保持する顔受けユニットを移動させることが可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記調整手段が、前記測定光群を被検査物に導く測定光学系を調整することが可能に構成されていることを特徴とする。また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察画像と前記断層画像とを関連付けて記録する記録手段を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段が、カメラで構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段が、エリアセンサで構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記観察手段が、共焦点顕微鏡で構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記光源からの光を前記測定光群と前記参照光群とに分割される位置まで導く光路、
前記測定光群を前記被検査物まで導く光路、
前記戻り光群を光電変換回路まで導く光路、
前記参照光群を前記光電変換回路まで導く光路、
における少なくとも何れかの光路が、光ファイバーによって構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部と、
前記被検眼における眼底の平面像を撮像するカメラ部と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像撮像装置は、前記眼底カメラ本体部と、眼底の平面像を撮像するカメラ部とが、アダプターを介して接続可能に構成されていることを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、上記した光断層画像撮像装置を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、
前記走査範囲増減手段を用いて、前記走査範囲を所望の撮像範囲より小さく設定する第１の調整工程と、
前記観察手段を用いて、前記測定光群が前記前眼部を照射する状態を観察する第２の調整工程と、
前記本数増減手段を用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握する第３の調整工程と、
前記顔受けユニットと前記固視灯と前記測定光学系との少なくとも何れかを用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整する第４の調整工程と、
を有することを特徴とする。
また、本発明の光断層画像の撮像方法は、前記第１の工程から前記第４の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、被検査物の断層像を撮像するに当たり、被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態を観察することができ、該測定光群を被検査物の所定の位置に結像させて、該断層像を高速に取得することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下に、本発明の実施形態について説明する。
本実施形態においては、上記した本発明の構成を適用して、例えば、次の（１）〜（２０）のような光断層画像撮像装置（ＯＣＴ装置）を構成することができる。
（１）本実施形態の光断層画像撮像装置は、図１に示されるように、
光源１０１から出射され複数に分割された光を、該分割された複数の光からなる測定光群１０６と参照光群１０５とに更に分割し、該測定光群を被検査物１０７に導くと共に該参照光群を参照ミラー１１４に導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記測定光群による戻り光群１０８と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光群とを用い、前記被検査物の断層画像（図２（ｃ）参照）を撮像するように構成されている。
その際、前記被検査物の観察画像を取得する観察手段１５７を備え、該観察手段によって、前記被検査物に対する前記測定光群の入射する位置と角度とによる入射状態が観察可能とされている。
このような構成により、複数の測定光からなる測定光群を有する光断層画像撮像装置１００が、測定光群が被検査物に向かって照射する状態を観察する。
このように観察画像を取得する観察手段を有することで、測定光群が被検査物に向かって照射する状態を容易に把握することができる。
その結果、測定光群と被検査物との位置関係を容易に最適化することができ、広範囲の断層画像を高速に取得することが可能になる。
（２）前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群の入射位置を把握する位置把握手段を有する構成とすることで、測定光群と被検査物との相対位置を容易に把握することが可能になり、該相対位置の調整が容易になる。
（３）前記観察手段が、前記被検査物である被検眼の近傍に配置され、該観察手段によって前記測定光群による前記被検眼の前眼部を照射する状態が観察可能とすることで、測定光群を被検眼に対して、光学的に最適な状態に入射させることが可能になる。
（４）前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整可能に構成された調整手段（パソコン１２５）を有する構成とすることで、光学的に、測定光群を被検眼に適切に、入射させることが可能になる。
（５）前記調整手段は、前記測定光群が前記前眼部を照射している面積を最小に調整することが可能に構成することで、光学的に、測定光群を被検眼に適切に、入射することが可能になる。
（６）前記調整手段が、前記測定光群の本数を増減することを可能に構成することで、測定光群と被検眼との相対位置が、最適位置に対して、遠いか近いかを判断する指標を得ることが可能になる。
（７）前記測定光群の本数増減手段による測定光群の本数の増減によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握することを可能に構成することで、調整手段を用いてどのように調整するかを決定する指針を得ることが可能となる。
（８）前記調整手段が、前記測定光群の走査範囲を増減することを可能に構成することで、測定光群と被検眼との相対位置を調整する際に、測定光群の走査範囲を小さくし、調整を容易にすることが可能になる。
（９）前記調整手段が、被検眼に注視させる固視灯によって視線を移動させることを可能に構成することで、主に被検眼の回転運動を促すことが可能になり、結果として、測定光群を容易に網膜の所定の位置に結像させることが可能になる。
（１０）前記調整手段が、被検者の顔を所定の位置に保持する顔受けユニットを移動させることを可能に構成することで、被検眼の平行移動が可能になり、結果として、測定光群を容易に網膜の所定の位置に結像させることが可能になる。
（１１）前記調整手段が、測定光群を被検査物に導く測定光学系を調整することを可能に構成することで、測定光群を被検査物に対して適切に入射するよう調整することが可能になる。
（１２）前記観察画像と前記断層画像とを関連付けて記録する記録手段を有する構成とすることで、測定光群の被検査物に対する入射状態を把握し、取得した断層画像の信頼性を検討することが可能となる。
（１３）前記観察手段をカメラ１５７で構成することで、測定光群が前眼部に入射する様子を容易に観察することができる。
（１４）前記観察手段をエリアセンサ（図１０の５０１参照）で構成することで、測定光群が前眼部に入射する様子を容易に観察することができる。
（１５）前記観察手段を共焦点顕微鏡で構成することで、測定光が前眼部に入射する様子を容易に観察することができる。
（１６）前記光源からの光を前記測定光群と前記参照光群とに分割される位置まで導く光路、前記測定光群を前記被検査物まで導く光路、前記戻り光群を光電変換回路まで導く光路、前記参照光群を前記光電変換回路まで導く光路、
における少なくとも何れかの光路を、光ファイバーによって構成することで、安定性に優れ、小型な光断層撮像装置を実現することが可能になる。
（１７）前記被検眼における眼底の断層画像を撮像する光断層画像撮像装置における眼底カメラ本体部３００と、
前記被検眼における眼底の平面像を撮像するするカメラ部５００と、
を有する構成とすることで、眼底カメラとＯＣＴ装置との両方の機能を１つの装置で実現することが可能になる。
そのため、スペースの利用効率が高く、採算性の高いＯＣＴ装置を実現することが可能になる。
（１８）前記眼底カメラ本体部と、前記眼底の平面像を撮像するカメラ部とが、アダプター４００を介して接続可能に構成することで、既存の眼底カメラを利用して、ＯＣＴ装置の機能を実現することが可能になる。
（１９）上記したいずれかに記載の光断層画像撮像装置を用い、前記被検査物の断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法であって、
前記走査範囲増減手段を用いて、前記走査範囲を所望の撮像範囲より小さく設定する第１の調整工程と、
前記観察手段を用いて、前記測定光群が前記前眼部を照射する状態を観察する第２の調整工程と、
前記本数増減手段を用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を把握する第３の調整工程と、
前記顔受けユニットと前記固視灯と前記測定光学系との少なくとも何れかを用いて、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整する第４の調整工程と、
を有する構成とすることで、効率的に測定光群を被検眼の網膜の所定の位置に結像させることが可能となり、効率的に撮像を行うことが可能となる。
（２０）上記第１の工程から上記第４の工程のうち、少なくとも一つの工程を自動的に行うことで、測定光群と被検眼の相対位置の調整を効率的に行うことが可能となる。
【実施例】
【００１４】
つぎに、本発明の実施例について説明する。
［実施例１］
実施例１においては、本発明を適用した、ＯＣＴ装置について説明する。ここでは特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）を撮像する装置について説明する。
ここで説明するＯＣＴ装置はフーリエドメイン方式のＯＣＴ装置（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）であり、さらに、高速撮像を目的として３本の測定光を有し、同時に３つの断層像の取得が可能な、マルチビームのＯＣＴ装置について説明する。
ここでは、３本の測定光を有する場合について説明するが、所定の撮像速度によって、測定光の数をさらに増やしてもよい。
【００１５】
まず、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系の全体の概略構成について説明する。
図１に、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系全体の概略構成について説明する図を示す。図１において、１００はＯＣＴ装置、１０１は光源、１０４は出射光、１０５は参照光、１０６は測定光、１４２は合波された光、１０７は被検眼、１０８は戻り光、１１０はシングルモードファイバー、１２０、１３５はレンズ、１１４はミラーである。１１５は分散補償用ガラス、１１７は電動ステージ、１１９はＸＹスキャナ、１２５はパソコンである。
１２６は角膜、１２７は網膜、１３１、１５６は光カプラー、１３９はラインカメラ、１４０はフレームグラバー、１４１は透過型グレーティング、１５３は偏光コントローラ、１５５はファイバ長可変装置、１５７は観察カメラである。
【００１６】
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
図中、光源１０１から出射した光である出射光１０４は光カプラー１５６にて３本の出射光１０４−１〜３に分割される。ここでは、１つの光源からの光を複数の光に分割して複数の出射光としたが、複数の光源を用意して、複数の出射光を構成してもよい。
さらに、出射光１０４−１〜３のそれぞれは、偏光コントローラ１５３−１を通過し、光カプラー１３１−１〜３にて参照光１０５−１〜３と測定光１０６−１〜３とに５０：５０の強度比で分割する。
測定光１０６−１〜３は、観察対象である被検眼１０７における網膜１２７等によって反射あるいは散乱された戻り光１０８−１〜３となって戻され、光カプラー１３１−１〜３によって、参照光１０５−１〜３と合波される。
参照光１０５−１〜３と戻り光１０８−１〜３とは合波された後、透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、ラインカメラ１３９に入射される。ラインカメラ１３９は各位置（波長）毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼１０７の断層像が構成される。
【００１７】
つぎに、光源１０１の周辺について説明する。
光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。
波長は８３０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍである。ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。
さらに、波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは８３０ｎｍとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
【００１８】
つぎに、参照光１０５の光路について説明する。
光カプラー１３１−１〜３によって分割された参照光１０５−１〜３は、偏光コントローラ１５３−２、ファイバー長可変装置１５５−１〜３を通過し、レンズ１３５−１にて、直径１ｍｍの平行光となって、出射される。
次に、参照光１０５−１〜３は分散補償用ガラス１１５を通過し、レンズ１３５−２にて、ミラー１１４に集光される。
次に、参照光１０５−１〜３はミラー１１４にて方向を変え、再び光カプラー１３１−１〜３に向かう。
次に、参照光１０５−１〜３は光カプラー１３１−１〜３を通過し、ラインカメラ１３９に導かれる。
ここで、分散補償用ガラス１１５は被検眼１０７を測定光１０６が往復した時の分散を、参照光１０５に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、Ｌ＝２３ｍｍとする。さらに、１１７−１は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光１０５の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ１１７−１はパソコン１２５により高速に制御することができる。
また、ファイバー長可変装置１５５−１〜３は各ファイバーの長さの微調整を行う目的で設置され、測定光１０６−１〜３のそれぞれの測定部位に応じて、参照光１０５−１〜３の光路長を調整することができ、パソコン１２５から制御することができる。
【００１９】
つぎに、測定光１０６の光路について説明する。
光カプラー１３１−１〜３によって分割された測定光１０６−１〜３は、偏光コントローラ１５３−４を通過し、レンズ１２０−３にて、直径１ｍｍの平行光となって出射され、ＸＹスキャナ１１９のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、ＸＹスキャナ１１９は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置され、網膜１２７上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。また、測定光１０６−１〜３のそれぞれの中心はＸＹスキャナ１１９のミラーの回転中心と一致するようにレンズ１２０−１、３等が調整されている。
レンズ１２０−１、１２０−２は測定光１０６−１〜３が網膜１２７を走査するための光学系であり、測定光１０６を角膜１２６の付近を支点として、網膜１２７をスキャンする役割がある。
ここでは、レンズ１２０−１、１２０−２の焦点距離はそれぞれ５０ｍｍ、５０ｍｍである。
また、１１７−２は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ１２０−２の位置を、調整・制御することができる。レンズ１２０−２の位置を調整することで、被検眼１０７の網膜１２７の所定の層に測定光１０６を集光し、観察することが可能になる。
また、被検眼１０７が屈折異常を有している場合にも対応できる。測定光１０６−１〜３は被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８−１〜３となり、光カプラー１３１−１〜３を通過し、ラインカメラ１３９に導かれる。
ここで、電動ステージ１１７−２はパソコン１２５により高速に制御することができる。
【００２０】
つぎに、本実施例のＯＣＴ装置における測定系の構成について説明する。
網膜１２７にて反射や散乱された光である戻り光１０８−１〜３と参照光１０５−１〜３とは光カプラー１３１−１〜３にて合波される。
そして、合波された光１４２は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−３で集光され、ラインカメラ１３９にて光の強度が各位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ１３９上には測定光１０６−１〜３の数に対応して、３本の波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー１４０にてデジタル値に変換されて、パソコン１２５にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ１３９は４０９６画素を有し、その内３０７２画素を使用することで、合波された光１４２−１〜３のそれぞれの波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。
【００２１】
つぎに、ＯＣＴ装置を用いた断層像の取得方法について説明する。
ここでは、図２を用いて網膜１２７の断層像（光軸に平行な面）の取得方法について説明する。
図２（ａ）は被検眼１０７がＯＣＴ装置１００によって観察されている様子を示している。図１に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
図２（ａ）に示すように、測定光１０６−１〜３は角膜１２６を通して、網膜１２７に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光１０８−１〜３となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ１３９に到達する。
【００２２】
ここでは、光源１０１のバンド幅が広く、空間コヒーレンス長が短いために、参照光路の光路長と測定光路の光路長とが略等しい場合に、ラインカメラ１３９にて、干渉縞が検出できる。上述のように、ラインカメラ１３９で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。
次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ１３９と透過型グレーティング１４１との特性を考慮して、合波された光１４２−１〜３毎に、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報が得られる。
【００２３】
さらに、簡単のため、測定光のうち１０６−２だけを示した図２（ｂ）に示すように、ＸＹスキャナ１１９のＸ軸を駆動しながら、該干渉縞を検知すれば、各Ｘ軸の位置毎に干渉縞が得られ、つまり、各Ｘ軸の位置毎の深さ方向の情報を得ることができる。
結果として、ＸＺ面での戻り光１０８−２の強度の２次元分布が得られ、それはすなわち断層像１３２である（図２（ｃ））。
本来は、断層像１３２は上記説明したように、該戻り光１０８の強度をアレイ状に並べたものであり、例えば該強度をグレースケールに当てはめて、表示されるものである。ここでは得られた断層像の境界のみ強調して表示している。
【００２４】
また、図２（ｄ）に示す様に、ＸＹスキャナ１１９を制御して、測定光１０６−１〜３を網膜１２７上にラスタースキャンすれば、３つの断層像を同時に、連続して取得することができる。ここでは、ＸＹスキャナの主走査方向をＸ軸方向、副走査方法をＹ軸方向として、スキャンする場合を示し、結果として複数のＹＺ面の断層像を得ることができる。また、ここでは、測定光１０６−１〜３のそれぞれが、お互いの重複なくスキャンする場合を示しているが、断層像のレジストレーション等のため、重複してスキャンしてもよい。
【００２５】
つぎに、本発明の特徴である測定光観察系の構成について図１を用いて説明する。
ＯＣＴ装置１００において、測定光１０６−１〜３は上記説明したように、角膜１２６を通して、網膜１２７に照射される。観察カメラ１５７は測定光１０６−１〜３が角膜１２６を通して、網膜１２７に入射する様子を観察する目的で設置されている。
ここでは、被検眼１０７の右側前方に設置されているが、角膜１２６付近を観察出来れば、観察カメラ１５７の位置は何処であってもよい。
また、前記観察手段により取得された観察画像によって、前記測定光群と前記被検眼との相対位置を調整可能に構成された調整手段をつぎのように構成することができる。
例えば、観察カメラ１５７とパソコン１２５とを電気的に接続して、観察カメラ１５７で取得した観察像をパソコン１２５に取り込み、画像処理等を施し、ＯＣＴ装置１００と被検眼１０７との相対位置の調整に用いることができる。
また、観察像とＯＣＴ像とを関連づけて、表示や保存等を行うことができる。観察カメラ１５７は測定光１０６の波長８３０ｎｍに対応して、ここでは近赤外カメラを用いる。また、近赤外カメラを近赤外のエリアセンサとレンズを組み合わせて構成してもよい。
【００２６】
次に、観察カメラ１５７を用いて取得される観察像１４２について図３から図６を用いて説明する。
図１、図２に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
図３（ａ）は観察対象である被検眼１０７の断面を模式的に表す模式図１４３である。
ここで、１５８は瞳孔、１５９は虹彩、１６０は水晶体である。図３（ｂ）は観察像１４２である。
ここでは、測定光１０６−１〜３が被検眼１０７に対して、適切に照射されている様子を示している。
具体的には、適切な照射とは、測定光１０６−１〜３が虹彩１５９にけられることなく瞳孔１５８を通過し、水晶体１６０の表面付近で交差するように、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が調整されていることである。
測定光１０６の光路として、瞳孔１５８が最も狭くなるため、上記したように調整すると、より太い測定光１０６を被検眼１０７に入射することが可能になり、ＯＣＴ装置の高解像度化に有利である。
図３（ｂ）は水晶体１６０の表面付近に焦点を合わせて、測定光１０６−１〜３の様子を観察する観察像１４２である。
ここでは、測定光１０６−１〜３が略同一の位置を通過しているため、見かけ上、測定光１０６−１〜３は一つの円として認識できる。
ここで、水晶体１６０の表面とレンズ１２０−２との距離は、レンズ１２０−２の焦点距離と同一の５０ｍｍとし、ＸＹスキャナ１１９のミラー面と水晶体１６０の表面とが光学的に共役な関係となっている。
【００２７】
つぎに、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が適切でない場合について説明する。
図４（ａ）、図４（ｂ）は被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が図３（ａ）に示した最適位置と比較して近接している場合を示している。
その場合には、図４（ａ）から把握できるように、図４（ｂ）のように、測定光１０６−１〜３が見かけ上広がって観察できる。
ここで、測定光１０６−１を遮蔽して、図４（ｃ）のような観察像１４２を取得すれば、測定光１０６−２〜３が、遮蔽前と比較して＋Ｘ側に観察でき、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が最適位置と比較して近接していることが把握できる。
【００２８】
また、図５（ａ）に示すように、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が図３（ａ）に示した最適位置と比較して、離れている場合には、図５（ｂ）示すような観察像１４２を取得することができる。
同様に、測定光１０６−１を遮蔽して、図５（ｃ）のような観察像１４２を取得すれば、測定光１０６−２〜３が−Ｘ側に観察でき、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が最適位置と比較して離れていることが把握できる。
さらに、図６（ａ）に示すように、被検眼１０７がＯＣＴ装置１００に対して、−Ｘ方向にずれている場合には、図６（ｂ）示すような観察像１４２を取得することができ、その状況は明らかである。
【００２９】
上記したような、被検眼１０７とＯＣＴ装置１００との相対位置が適切でない場合には、上記説明した、ＸＹスキャナ１１９のミラー面と水晶体１６０の表面との光学的に共役な関係が成り立たないことになる。
そのため、図４（a）、図５（a）、図６（a）に代表される状態は、図３（ａ）の状態に比べて、戻り光１０８−１〜３の強度が小さくなり、結果として断層像を構成するための後述する干渉信号のＳ／Ｎ比が低くなる。
一般に、網膜に照射できる測定光のエネルギーには上限がある。そのため、診断に適する断層像を取得するには、測定光１０６を瞳孔１５８に適切に入射することが重要になる。また、被検者の静止が難しい等の理由から、測定光１０６−１〜３がやむを得ず虹彩１５９に照射された場合であっても、観察像１４２は、取得した断層像の信頼性の評価を行う手段として用いることができる。
【００３０】
つぎに、本発明の特徴である被検眼の位置を調整して光断層画像を撮像する光断層画像の撮像方法について具体的に主に図７を用いて説明する。
図１〜６に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
一般に眼底の網膜を観察する場合には、安全上の問題から、測定光を網膜上に走査して行う。
本実施例における光断層画像の撮像方法は、測定光を網膜上に走査しながら行うが、適宜、走査範囲を調整してもよい。
この光断層画像の撮像方法においては、以下の（１）〜（４）の工程を、例えば連続して行うものである。或いは、適宜工程を戻って行うこともできる。
また、コンピュータ等を用いて、以下の工程を自動的に行うように構成してもよい。
図８に、上記光断層画像の撮像方法を説明するための各工程のフロー図を示す。
（１）被検者の被検眼１０７を所定の位置に誘導し、観察カメラ１５７（図１参照）を用いて水晶体１６０の表面付近を観察し、観察像１４２を得る。ここでは、測定光の走査範囲を小さめに設定するとよい（図７（ａ））。
（２）測定光１０６−１を一旦、遮光して観察像１４２を得る（図７（ｂ））。観察像１４２から、測定光１０６−２〜３が−Ｘ側に観察でき、被検眼１０７の位置は図７（ｃ）の様であると推測できる。また、パソコン１２５を用いて、観察像１４２に画像処理を施し、測定光１０６の大きさを定量化してもよい。
（３）顔受けユニットや固視灯等（共に不図示）を用いて、被検眼１０７を＋Ｘ方向、＋Ｚ方向に誘導する。適宜、観察像１４２を注視し、測定光１０６−１〜３が見かけ上最小、また瞳孔１５８の中心に来るように誘導、調整する。（図７（ｄ））。
（４）測定光の走査範囲を所定の範囲に設定する。レンズ１２０−２の位置を調整することで視度補正を行い、断層像が鮮明になるように、調整する。
【００３１】
［実施例２］
実施例２においては、本発明を適用した、ＯＣＴ装置について説明する。
ここでは特に、被検眼の断層画像（ＯＣＴ像）及び眼底画像（平面像）を撮像する装置について説明する。
本実施例においては、眼底カメラにアダプターを介してＯＣＴ撮像部を接続してなるＯＣＴ装置について説明する。
本実施例は、スペースの利用効率が高く、採算性の高いＯＣＴ装置となっている。ここで説明するＯＣＴ装置は実施例１と同様に、フーリエドメイン方式のＯＣＴ装置であり、さらに、高速撮像を目的として３本の測定光を有し、同時に３つの断層像の取得が可能な、マルチビームのＯＣＴ装置である。
【００３２】
本実施例におけるアダプターを含んだＯＣＴ装置の全体の構成について図９を用いて説明する。図９はＯＣＴ装置の側面図であり、２００はＯＣＴ装置、１０２はＯＣＴ撮像部、３００は眼底カメラ本体部、４００はアダプター、５００はカメラ部である。
ここで、眼底カメラ本体部３００とアダプター４００とカメラ部５００とは光学的に接続されている。
ここで、眼底カメラ本体部３００とアダプター４００とは相対的に移動可能に保持されている。
そのため、大まかな光学的調整を行うことができる。また、アダプター４００とＯＣＴ撮像部１０２とは３本のシングルモードファイバー１４８を介して光学的に接続されている。アダプター４００とＯＣＴ撮像部１０２とは３つづつのコネクター４１０とコネクター１５４とをそれぞれ有している。そのため、簡単に取り付け及び取り外しが可能である。
また、３２３は顔受けユニットであり、被検者のあごと額とを固定することで、被検眼の固定を促し、撮像を行う。
また、１２５はパソコンであり、断層画像の構成や表示等を行う。
ここで、カメラ部５００は汎用のデジタル一眼レフカメラである。カメラ部５００とアダプター４００あるいは眼底カメラ本体部３００とは汎用のカメラマウントで接続される。
【００３３】
本実施例におけるアダプターを含んだＯＣＴ装置の光学系の構成について図１０を用いて、説明する。
図１０において、２００はＯＣＴ装置、１０７は被検眼、３００は眼底カメラ本体部、４００はアダプター、５００はカメラ部、１０２はＯＣＴ撮像部である。ＯＣＴ装置２００は、ＯＣＴ撮像部１０２とカメラ部５００とを用いて被検眼１０７の網膜１２７の断層画像（ＯＣＴ像）及び眼底画像（平面像）を取得することを目的としている。
【００３４】
まず、眼底カメラ本体部３００について説明する。
被検眼１０７に対向して、対物レンズ３０２が設置され、その光軸上で孔あきミラー３０３によって光路３５１と光路３５２とに分岐される。
光路３５２は被検眼１０７の眼底を照明する照明光学系を形成している。眼底カメラ本体部３００の下部には、被検眼１０７の位置合わせに用いられるハロゲンランプ３１６、被検眼１０７の眼底の撮像に用いるストロボ管３１４が設置されている。
ここで、３１３、３１５はコンデンサレンズ、３１７はミラーである。ハロゲンランプ３１６とストロボ管３１４とからの照明光はリングスリット３１２によってリング状の光束となり、孔あきミラー３０３によって反射され、被検眼１０７の眼底を照明する。
ここで、３０９、３１１はレンズ、３１０は光学フィルターである。
【００３５】
光路３５１は被検眼１０７の眼底の断層画像及び眼底画像を撮像する撮像光学系を形成している。孔あきミラー３０３の右方にはフォーカスレンズ３０４と結像レンズ３０５が設置されている。
ここで、フォーカスレンズ３０４は光軸方向に移動可能に支持され、パソコン１２５によってその位置を制御できる。次に、クイックリターンミラー３１８を介して、光路３５１は固視灯３２０及び観察カメラ３２１に導かれている。
ここで、クイックリターンミラー３１８は赤外光の一部を反射及び透過し、可視光を反射するように設計されている。赤外光の一部を反射及び透過するよう設計しているため、固視灯３２０と観察カメラ３２１とＯＣＴ撮像部１０２とを同時に使用することが可能になっている。
また、３１９はダイクロイックミラーであり、固視灯３２０方向に可視光が、観察カメラ３２１方向に赤外光がそれぞれ分岐されるよう設計されている。
次に、光路３５１はミラー３０６、フィールドレンズ３２２、ミラー３０７、リレーレンズ３０８を介して、アダプター４００に導かれる。
ここで、観察カメラ３２１は角膜１２６付近を観察し、測定光１０６−１〜３が被検眼１０７に入射する様子を把握することができ、本発明の特徴としている。また、固視灯３２０を用いて、被検眼１２７を誘導することができる。
【００３６】
つぎに、光学系の構成（アダプター、カメラ部）について説明する。
アダプター４００は光路３５１をダイクロイックミラー４０５を介して、断層画像撮像用の光路３５１−１と眼底画像撮像用の光路３５１−２とに分割することを最大の機能としている。
ここで、４０６、４０７はリレーレンズ、４０８はＸＹスキャナ、４０９はコリメートレンズである。
また、ここでは、リレーレンズ４０６、４０７は移動可能に保持され、細かな位置調整を行うことで、光路３５１−１と３５１−２との光軸を調整することができる。
なお、ここでは、簡単のため、ＸＹスキャナ４０８は一つのミラーとして記したが、実際にはＸスキャン用ミラーとＹスキャン用ミラーとの２枚のミラーが近接して配置され、網膜１２７上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。
また、ＸＹスキャナ４０８はパソコン１２５によって制御される。
また、光路３５１−１の光軸はＸＹスキャナ４０８の２つのミラーの回転中心と一致するように調整されている。
また、４１０は３本の光ファイバーを取り付けるための３個のコネクターであり、３本の測定光をＯＣＴ撮像部１０２からアダプター４００と眼底カメラ本体部３００と被検眼１０７に順に入射することができる。
カメラ部５００は眼底画像を撮像するためのデジタル一眼レフカメラである。アダプター４００とカメラ部５００とは汎用のカメラマウントを介して接続される。
そのため、容易に着脱が可能である。５０１はエリアセンサであり、その表面に眼底像が形成される。
【００３７】
つぎに、光学系の構成（ＯＣＴ部）について説明する。
本実施例においては、ＯＣＴ撮像部１０２は、光学系の一部を光ファイバーを用いて、構成することにより、装置の小型化が図られている。
測定光学系が眼底カメラ本体部３００からなることを除けば、実施例１と同一である。
実施例１の図１に示した構成と同一または対応する構成には同一の符号が付されているから、重複する構成についての説明は省略する。
【００３８】
まず、本実施例におけるＯＣＴ撮像部１０２の光学系の全体の概略構成について説明する。
図１１に、本実施例におけるＯＣＴ装置の光学系全体の概略構成について説明する図を示す。
図１１において、１０２はＯＣＴ撮像部、１０１は光源、１０４は出射光、１０５は参照光、１０６は測定光、１４２は合波された光、１１０、１４８はシングルモードファイバー、１３５はレンズ、１１４はミラーである。
１１５は分散補償用ガラス、１１７は電動ステージ、１２５はパソコンである。１３１、１５６は光カプラー、１３９はラインカメラ、１４０はフレームグラバー、１４１は透過型グレーティング、１５３は偏光コントローラ、１５５はファイバ長可変装置である。
【００３９】
本実施例のＯＣＴ装置１００は、図１１に示されるように、全体としてマイケルソン干渉系を構成している。
図中、光源１０１から出射した光である出射光１０４は光カプラー１５６にて３本の出射光１０４−１〜３に分割される。
さらに、出射光１０４−１〜３のそれぞれは、偏光コントローラ１５３−１を通過し、光カプラー１３１−１〜３にて参照光１０５−１〜３と測定光１０６−１〜３を５０：５０の強度比で分割する。
測定光１０６−１〜３は、コネクター１５４、アダプター４００、眼底カメラ本体部３００を介して、観察対象である被検眼１０７における網膜１２７等によって反射あるいは散乱された戻り光１０８−１〜３となって戻される。そして、光カプラー１３１−１〜３によって、参照光１０５−１〜３と合波される（図１０）。
参照光１０５−１〜３と戻り光１０８−１〜３とは合波された後、透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、ラインカメラ１３９に入射される。ラインカメラ１３９は各位置（波長）毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼１０７の断層像が構成される。
【００４０】
つぎに、光源１０１の周辺について説明する。
光源１０１は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。波長は８３０ｎｍ、バンド幅５０ｎｍである。
ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではＳＬＤを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ  Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは８３０ｎｍとする。観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。
【００４１】
つぎに、参照光１０５の光路について説明する。
光カプラー１３１−１〜３によって分割された参照光１０５−１〜３は偏光コントローラ１５３−２、ファイバー長可変装置１５５−１〜３を通過し、レンズ１３５−１にて、直径１ｍｍの平行光となって、出射される。
次に、参照光１０５−１〜３は分散補償用ガラス１１５を通過し、レンズ１３５−２にて、ミラー１１４に集光される。
次に、参照光１０５−１〜３はミラー１１４にて方向を変え、再び光カプラー１３１−１〜３に向かう。
次に、参照光１０５−１〜３は光カプラー１３１−１〜３を通過し、ラインカメラ１３９に導かれる。
分散補償用ガラス１１５は被検眼１０７を測定光１０６が往復した時の分散を、参照光１０５に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、Ｌ＝２３ｍｍとする。さらに、１１７−１は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光１０５の光路長を、調整・制御することができる。
また、電動ステージ１１７−１はパソコン１２５により高速に制御することができる。
また、ファイバー長可変装置１５５−１〜３は各ファイバーの長さの微調整を行う目的で設置され、測定光１０６−１〜３のそれぞれの測定部位に応じて、参照光１０５−１〜３の光路長を調整することができ、パソコン１２５から制御することができる。
【００４２】
つぎに、測定光１０６の光路について説明する。
光カプラー１３１−１〜３によって分割された測定光１０６−１〜３は、偏光コントローラ１５３−４を通過する。そして、コネクター１５４、シングルモードファイバー１４８、アダプター４００、眼底カメラ本体部３００を介して、測定光１０６−１〜３は被検眼１０７の網膜に導かれる（図１０）。
測定光１０６−１〜３が被検眼１０７に入射すると、網膜１２７からの反射や散乱により戻り光１０８−１〜３となる。
戻り光１０８−１〜３は、再び、眼底カメラ本体部３００、アダプター４００、コネクター４１０、シングルモードファイバー１４８、コネクター１５４を順に介して、光カプラー１３１−１〜３に導かれる。
前述の参照光１０５−１〜３と戻り光１０８−１〜３とは、光カプラー１３１−１〜３にて合波され、さらに５０：５０に分割される。
そして、合波された光１４２−１〜３は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−３で集光され、ラインカメラ１３９にて光の強度が各位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ１３９上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
【００４３】
つぎに、本実施例のＯＣＴ装置における測定系の構成について説明する。
ＯＣＴ撮像系１０２は、マイケルソン干渉系による干渉信号の強度から構成される断層像（ＯＣＴ像）を取得することができる。
その測定系について、更に説明すると、網膜１２７にて反射や散乱された光である戻り光１０８−１〜３と参照光１０５−１〜３とは光カプラー１３１−１〜３にて合波される。
そして、合波された光１４２は透過型グレーティング１４１によって波長毎に分光され、レンズ１３５−３で集光され、ラインカメラ１３９にて光の強度が各位置（波長）毎に電圧に変換される。
具体的には、ラインカメラ１３９上には測定光１０６−１〜３の数に対応して、３本の波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。
得られた電圧信号群はフレームグラバー１４０にてデジタル値に変換されて、パソコン１２５にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ１３９は４０９６画素を有し、その内３０７２画素を使用することで、合波された光１４２−１〜３のそれぞれの波長毎（１０２４分割）の強度を得ることができる。
【００４４】
つぎに、断層像の取得方法について説明する。
ＯＣＴ装置を用いた断層像の取得方法は実施例１と略同一であるため説明を省略する。
ＯＣＴ装置２００は、ＸＹスキャナ４０８を制御し、ラインカメラ１３９で干渉縞を取得することで、網膜１２７の断層像を取得することができる（図１０）。
【００４５】
つぎに、測定光観察系の構成について説明する。
本発明の特徴である測定光観察系の構成については、観察カメラ３２１が眼底カメラ本体部３００の内部に設置されていることを除けば、実施例１と略同一であるため重複する説明は省略する。
ＯＣＴ装置２００は、眼底カメラ本体部３００の内部に設置されている観察カメラ３２１を用いて、測定光１０６−１〜３が角膜１２６付近を観察し、ＯＣＴ装置２００と被検眼１０７の相対位置の調整に用いることができる。
また、調整には固視灯３２０、顔受けユニット３２３、パソコン１２５等を用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の光学系の構成を説明する図である。
【図２】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の断層像の取得方法を説明する図である。
【図３】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の測定光観察系の構成を説明する図である。
【図４】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の測定光観察系の構成を説明する図である。
【図５】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の測定光観察系の構成を説明する図である。
【図６】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の測定光観察系の構成を説明する図である。
【図７】本発明の実施例１におけるＯＣＴ装置の被検眼の位置の調整方法を説明する図である。
【図８】本発明の実施例１における光断層画像の撮像方法を説明するための各工程のフロー図である。
【図９】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置の全体の構成について説明する図である。
【図１０】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置の光学系の構成について説明する図である。
【図１１】本発明の実施例２におけるＯＣＴ装置のＯＣＴ撮像部の構成について説明する図である。
【符号の説明】
【００４７】
１００：ＯＣＴ装置
１０１：光源
１０２：ＯＣＴ撮像部
１０５：参照光
１０６：測定光
１０７：被検眼
１０８：戻り光
１１４、３０６、３０７、３１７：ミラー
１１５：分散補償用ガラス
１１７：電動ステージ
１１９、４０８：ＸＹスキャナ
１２５：パソコン
１２６：角膜
１２７：網膜
１１０、１４８：シングルモードファイバー
１３１、１５６：光カプラー
１３２：断層像
１２０、１３５、３０９、３１１：レンズ
１３９：ラインカメラ
１４０：フレームグラバー
１４１：透過型グレーティング
１４２：合波された光
１５３：偏光コントローラ
１５４、４１０：コネクター
１５５：ファイバー長可変装置
１５７、３２１：観察カメラ
１５８：瞳孔
１５９：虹彩
１６０：水晶体
２００：ＯＣＴ装置
３００：眼底カメラ本体部
３０２：対物レンズ
３０３：孔あきミラー
３０４：フォーカスレンズ
３０５：結像レンズ
３０８、４０６、４０７：リレーレンズ
３１０：光学フィルター
３１２：リングスリット
３１３、３１５：コンデンサレンズ
３１４：ストロボ管
３１６：ハロゲンランプ
３１８：クイックリターンミラー
３１９、４０５：ダイクロイックミラー
３２０：固視灯
３２２：フィールドレンズ
３２３：顔受けユニット
３５１、３５２：光路
４００：アダプター
４０９：コリメートレンズ
５００：カメラ部
【図１】
2010152196.tif 000003
【図２】
2010152196.tif 000004
【図３】
2010152196.tif 000005
【図４】
2010152196.tif 000006
【図５】
2010152196.tif 000007
【図６】
2010152196.tif 000008
【図７】
2010152196.tif 000009
【図８】
2010152196.tif 000010
【図９】
2010152196.tif 000011
【図１０】
2010152196.tif 000012
【図１１】
2010152196.tif 000013