(57)【要約】【課題】信号処理系の診断を、従来に比べて簡便に行うことが可能な信号処理装置等を提供する。【解決手段】本発明の信号処理装置は、被写体を撮像する撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部を具備する撮像装置から出力される、所定のテストパターンに対して信号処理を施す信号処理系と、撮像素子の特性を検出する検出部と、検出部の検出結果に基づき、信号処理系における信号処理が所定のテストパターンに対して適正に施された場合の処理結果を出力する情報出力部と、信号処理系における信号処理の結果と、情報出力部から出力される処理結果とを比較する比較部と、比較部の比較結果に基づき、信号処理系の診断を行う診断部と、を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮像する撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部を具備する撮像装置から出力される、該所定のテストパターンに対して信号処理を施す信号処理系と、
前記撮像素子の特性を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づき、前記信号処理系における信号処理が前記所定のテストパターンに対して適正に施された場合の処理結果を出力する情報出力部と、
前記信号処理系における信号処理の結果と、前記情報出力部から出力される前記処理結果とを比較する比較部と、
前記比較部の比較結果に基づき、前記信号処理系の診断を行う診断部と、
を有することを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記信号処理系は、入力される前記テストパターンまたは前記撮像素子により撮像された前記被写体に応じて前記撮像装置から出力される撮像信号のいずれか一方に対して夫々異なる信号処理を施すための複数の信号処理部を備えることを特徴とする請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記撮像素子の特性は、前記撮像素子の読み出しチャンネル数または画素数の少なくとも一方であることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の信号処理装置。
【請求項４】
被写体を撮像して撮像信号を出力する撮像素子を有するとともに、該撮像信号に対して信号処理を施す信号処理系を具備する信号処理装置に接続可能な撮像装置であって、
前記信号処理装置が前記信号処理系の診断を行う際に用いられるテストパターンとしての、前記撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
前記撮像素子の特性は、前記撮像素子の読み出しチャンネル数または画素数の少なくとも一方であることを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
【請求項６】
被写体を撮像して撮像信号を出力する撮像素子と、
前記撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部と、
前記テストパターン発生部から出力される前記所定のテストパターンに対して信号処理を施す信号処理系と、
前記撮像素子の特性を検出する検出部と、
前記検出部の検出結果に基づき、前記信号処理系における信号処理が前記所定のテストパターンに対して適正に施された場合の処理結果を出力する情報出力部と、
前記信号処理系における信号処理の結果と、前記情報出力部から出力される前記処理結果とを比較する比較部と、
前記比較部の比較結果に基づき、前記信号処理系の診断を行う診断部と、
を有することを特徴とする撮像システム。
【請求項７】
前記信号処理系は、入力される前記テストパターンまたは前記撮像信号のいずれか一方に対して夫々異なる信号処理を施すための複数の信号処理部を備えることを特徴とする請求項６に記載の撮像システム。
【請求項８】
前記撮像素子の特性は、前記撮像素子の読み出しチャンネル数または画素数の少なくとも一方であることを特徴とする請求項６または請求項７に記載の撮像システム。
【請求項９】
前記所定のテストパターンは、デジタル信号として前記信号処理系に入力されることを特徴とする請求項６乃至請求項８のいずれか一項に記載の撮像システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、信号処理装置、撮像装置及び撮像システムに関し、特に、信号処理系の診断を所定のテストパターンを用いて行う信号処理装置、撮像装置及び撮像システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
内視鏡及び画像処理装置等を有して構成される内視鏡装置は、工業分野及び医療分野等において従来広く用いられている。特に、医療分野における内視鏡装置は、生体内の各種器官の観察等の用途において主に用いられている。
【０００３】
一方、テストパターンを用いることにより、内視鏡からの撮像信号が入力される画像処理装置の内部に設けられた各回路に対してエラーチェックまたは動作チェック等の自己診断を行うことが可能な構成を具備する内視鏡装置が近年提案されている。そして、前述したような、テストパターンを用いて各種回路の自己診断を行うための技術としては、例えば、特許文献１に記載されているものがある。
【０００４】
具体的には、特許文献１には、ビデオカメラ装置と、該ビデオカメラ装置とは別体の冶具とを用い、該ビデオカメラ装置に接続された状態の該冶具から出力されるテストパターン信号を、該ビデオカメラ装置の信号処理ブロックを構成する各回路に通すことによって自己診断を行う、という技術が記載されている。
【特許文献１】特開平９−３３１５５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に記載の技術は、ビデオカメラ装置の自己診断を行う毎に冶具の着脱を伴うような構成を具備している。また、特許文献１に記載の技術によれば、仕様が相互に異なる複数の種類のビデオカメラに対して自己診断を行う場合に、それぞれのビデオカメラの種類に応じたテストパターンを出力可能な複数の冶具を準備する必要がある。その結果、特許文献１に記載の技術においては、ビデオカメラ装置の自己診断を行う際に、ユーザに対して煩雑な操作または（及び）過度な負担を強いてしまう、という課題が生じている。
【０００６】
本発明は、前述した事情に鑑みてなされたものであり、信号処理系の診断を、従来に比べて簡便に行うことが可能な信号処理装置、撮像装置及び撮像システムを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明における信号処理装置は、被写体を撮像する撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部を具備する撮像装置から出力される、該所定のテストパターンに対して信号処理を施す信号処理系と、前記撮像素子の特性を検出する検出部と、前記検出部の検出結果に基づき、前記信号処理系における信号処理が前記所定のテストパターンに対して適正に施された場合の処理結果を出力する情報出力部と、前記信号処理系における信号処理の結果と、前記情報出力部から出力される前記処理結果とを比較する比較部と、前記比較部の比較結果に基づき、前記信号処理系の診断を行う診断部と、を有することを特徴とする。
【０００８】
本発明における撮像装置は、被写体を撮像して撮像信号を出力する撮像素子を有するとともに、該撮像信号に対して信号処理を施す信号処理系を具備する信号処理装置に接続可能な撮像装置であって、前記信号処理装置が前記信号処理系の診断を行う際に用いられるテストパターンとしての、前記撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部を有することを特徴とする。
【０００９】
本発明における撮像システムは、被写体を撮像して撮像信号を出力する撮像素子と、前記撮像素子の特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部と、前記テストパターン発生部から出力される前記所定のテストパターンに対して信号処理を施す信号処理系と、前記撮像素子の特性を検出する検出部と、前記検出部の検出結果に基づき、前記信号処理系における信号処理が前記所定のテストパターンに対して適正に施された場合の処理結果を出力する情報出力部と、前記信号処理系における信号処理の結果と、前記情報出力部から出力される前記処理結果とを比較する比較部と、前記比較部の比較結果に基づき、前記信号処理系の診断を行う診断部と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明における信号処理装置、撮像装置及び撮像システムによると、信号処理系の診断を、従来に比べて簡便に行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。
【００１２】
（第１の実施形態）
図１から図１０は、本発明の第１の実施形態に係るものである。図１は、本発明の第１の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図である。図２は、図１のプロセッサが有するγ補正処理部の具体的な構成例を示す図である。図３は、図１のプロセッサが有する拡大処理部の具体的な構成例を示す図である。図４は、図１のプロセッサが有する強調処理部の具体的な構成例を示す図である。図５は、図１の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図である。図６は、ＣＣＤの読み出しチャンネルが１チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図である。図７は、ＣＣＤの読み出しチャンネルが２チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図である。図８は、ＣＣＤの読み出しチャンネルが４チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図である。図９は、モニタに表示されるエラー画像の一例を示す図である。図１０は、エラーメッセージ一覧表の一例を示す図である。
【００１３】
撮像システムとしての内視鏡システム１は、図１に示すように、先端部２１及び基端部２２を具備する、撮像装置としての内視鏡２と、内視鏡２に照明光を供給する光源装置３と、プロセッサ４と、プロセッサ４から出力される映像信号に応じた映像を表示するモニタ５と、を有している。
【００１４】
内視鏡２の先端部２１には、図示しない対物光学系と、該対物光学系の結像位置に配置されたＣＣＤ（電荷結合素子）２１ａと、が設けられている。また、内視鏡の基端部２２には、前処理部２２ａと、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部２２ｂと、が内蔵されている。
【００１５】
ＣＣＤ２１ａは、図示しない対物光学系により結像された被写体の像を撮像し、撮像信号として出力する。
【００１６】
前処理部２２ａは、自己診断モード以外の場合において、ＣＣＤ２１ａからの撮像信号に対してＡ／Ｄ変換等の処理を施すことにより、デジタル信号を生成してプロセッサ４へ出力する。
【００１７】
また、前処理部２２ａは、自己診断モードの場合において、テストパターン発生部２２ｂからデジタル信号として出力される所定のテストパターンに対して信号処理を施すことにより、テストパターン信号を生成してプロセッサ４へ出力する。すなわち、自己診断モードの場合において、テストパターン発生部２２ｂからデジタル信号として出力される所定のテストパターンは、前処理部２２ａを経た後、テストパターン信号として後述のγ補正処理部４１に入力される。
【００１８】
テストパターン発生部２２ｂは、例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数というような、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた所定のテストパターンを予め保持している。そして、テストパターン発生部２２ｂは、自己診断モードの場合において、自身が保持しているテストパターンを前処理部２２ａへ出力する。
【００１９】
プロセッサ４は、γ補正処理部４１と、拡大処理部４２と、強調処理部４３と、ＣＰＵ４４と、デジタルシグナルプロセッサ（以降、ＤＳＰと略記する）４５と、セレクタ４６と、Ｄ／Ａコンバータ４７と、同期信号発生部４８と、を有している。なお、プロセッサ４における信号処理系は、γ補正処理部４１と、拡大処理部４２と、強調処理部４３と、を具備してなるものとする。
【００２０】
γ補正処理部４１は、図２に示すように、情報処理回路４１ａと、γ補正回路４１ｂと、比較回路４１ｃと、を有している。
【００２１】
情報処理回路４１ａには、種々のＣＣＤの特性（例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数等）に応じた処理パラメータ、及び、種々のＣＣＤの特性に応じたテストパターン夫々に対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）γ補正処理が施された場合の処理結果が予め記憶されている。
【００２２】
検出部としての機能を有する情報処理回路４１ａは、内視鏡２がプロセッサ４に接続された際に、例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数というような、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を前処理部２２ａを介して検出する。そして、情報処理回路４１ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータをγ補正回路４１ｂに出力する。
【００２３】
また、情報出力部としての機能を有する情報処理回路４１ａは、自己診断モードの場合において、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正にγ補正処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４１ｃへ出力する。
【００２４】
γ補正回路４１ｂは、自己診断モード以外の場合において、情報処理回路４１ａから出力される処理パラメータを用いつつ、前処理部２２ａから出力されるデジタル信号に対してγ補正処理を施す。そして、γ補正回路４１ｂは、γ補正処理後のデジタル信号を比較回路４１ｃへ出力する。
【００２５】
また、信号処理部としての機能を有するγ補正回路４１ｂは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４１ａから出力される処理パラメータを用いつつ、前処理部２２ａから出力されるテストパターン信号に対してγ補正処理を施す。そして、γ補正回路４１ｂは、γ補正処理後のテストパターン信号を比較回路４１ｃへ出力する。
【００２６】
比較回路４１ｃは、自己診断モード以外の場合において、γ補正回路４１ｂによるγ補正処理後のデジタル信号を拡大処理部４２へ出力する。
【００２７】
比較部としての比較回路４１ｃは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４１ａによる抽出結果と、γ補正回路４１ｂによるγ補正処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を拡大処理部４２へ出力する。
【００２８】
拡大処理部４２は、図３に示すように、情報処理回路４２ａと、拡大回路４２ｂと、比較回路４２ｃと、を有している。
【００２９】
情報処理回路４２ａには、種々のＣＣＤの特性（例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数等）に応じた処理パラメータ、及び、種々のＣＣＤの特性に応じたテストパターン夫々に対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）拡大処理が施された場合の処理結果が予め記憶されている。
【００３０】
検出部としての機能を有する情報処理回路４２ａは、内視鏡２がプロセッサ４に接続された際に、例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数というような、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を前処理部２２ａを介して検出する。そして、情報処理回路４２ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを拡大回路４２ｂに出力する。
【００３１】
また、情報出力部としての機能を有する情報処理回路４２ａは、自己診断モードの場合において、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に拡大処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４２ｃへ出力する。
【００３２】
拡大回路４２ｂは、自己診断モード以外の場合において、情報処理回路４２ａから出力される処理パラメータを用いつつ、γ補正処理部４１から出力されるデジタル信号に対して拡大処理を施す。そして、拡大回路４２ｂは、拡大処理後のデジタル信号を比較回路４２ｃへ出力する。
【００３３】
また、信号処理部としての機能を有する拡大回路４２ｂは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４２ａから出力される処理パラメータを用いつつ、前処理部２２ａから出力されるテストパターン信号に対して拡大処理を施す。そして、拡大回路４２ｂは、拡大処理後のテストパターン信号を比較回路４２ｃへ出力する。
【００３４】
比較回路４２ｃは、自己診断モード以外の場合において、拡大回路４２ｂによる拡大処理後のデジタル信号を強調処理部４３へ出力する。
【００３５】
比較部としての比較回路４２ｃは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４２ａによる抽出結果と、拡大回路４２ｂによる拡大処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を強調処理部４３へ出力する。
【００３６】
強調処理部４３は、図４に示すように、情報処理回路４３ａと、強調回路４３ｂと、比較回路４３ｃと、を有している。
【００３７】
情報処理回路４３ａには、種々のＣＣＤの特性（例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数等）に応じた処理パラメータ、及び、種々のＣＣＤの特性に応じたテストパターン夫々に対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）強調処理が施された場合の処理結果が予め記憶されている。
【００３８】
検出部としての機能を有する情報処理回路４３ａは、内視鏡２がプロセッサ４に接続された際に、例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数というような、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を前処理部２２ａを介して検出する。そして、情報処理回路４３ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを強調回路４３ｂに出力する。
【００３９】
また、情報出力部としての機能を有する情報処理回路４３ａは、自己診断モードの場合において、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に強調処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４３ｃへ出力する。
【００４０】
強調回路４３ｂは、自己診断モード以外の場合において、情報処理回路４３ａから出力される処理パラメータを用いつつ、拡大処理部４２から出力されるデジタル信号に対して強調処理を施す。そして、強調回路４３ｂは、強調処理後のデジタル信号を比較回路４３ｃへ出力する。
【００４１】
また、信号処理部としての機能を有する強調回路４３ｂは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４３ａから出力される処理パラメータを用いつつ、前処理部２２ａから出力されるテストパターン信号に対して強調処理を施す。そして、強調回路４３ｂは、強調処理後のテストパターン信号を比較回路４３ｃへ出力する。
【００４２】
比較回路４３ｃは、自己診断モード以外の場合において、強調回路４３ｂによる強調処理後のデジタル信号をセレクタ４６へ出力する。
【００４３】
比較部としての比較回路４３ｃは、自己診断モードの場合において、情報処理回路４３ａによる抽出結果と、強調回路４３ｂによる強調処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号をセレクタ４６へ出力する。
【００４４】
ＣＰＵ４４は、プロセッサ４が自己診断モードに移行した旨、及び、該自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【００４５】
一方、診断部としての機能を有するＣＰＵ４４は、自己診断モードの場合において、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部から夫々出力される比較結果に基づき、該各処理部の診断を行う。
【００４６】
具体的には、ＣＰＵ４４は、自己診断モードの場合において、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部から夫々出力される比較結果に基づき、該各処理部の比較結果が正常であることを検出すると、強調処理部４３から出力される信号を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う。また、ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部から夫々出力される比較結果のうち、少なくともいずれか１つの比較結果が異常であることを検出すると、異常が生じている箇所に夫々対応したエラーメッセージ等を生成させるための制御をＤＳＰ４５に対して行うとともに、ＤＳＰ４５から出力される信号を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う。
【００４７】
ＤＳＰ４５は、ＣＰＵ４４の制御に基づき、異常が生じている箇所に夫々対応したエラーメッセージを含むエラー画像等を生成した後、該エラー画像等に係る画像信号をセレクタ４６へ出力する。
【００４８】
セレクタ４６は、ＣＰＵ４４の制御に基づき、強調処理部４３からのデジタル信号、及び、ＤＳＰ４５からの画像信号のうちのいずれか一方の信号を選択する。そして、セレクタ４６は、選択結果に係る信号をＤ／Ａコンバータ４７へ出力する。
【００４９】
Ｄ／Ａコンバータ４７は、セレクタ４６から出力される信号に対してＤ／Ａ変換を施すことにより、アナログの映像信号を生成してモニタ５へ出力する。これにより、モニタ５には、Ｄ／Ａコンバータ４７から出力される映像信号に応じた映像が表示される。
【００５０】
同期信号発生部４８は、γ補正処理部４１と、拡大処理部４２と、強調処理部４３と、ＣＰＵ４４と、デジタルシグナルプロセッサ（以降、ＤＳＰと略記する）４５と、セレクタ４６と、Ｄ／Ａコンバータ４７との各部に対し、処理タイミングを同期させるための同期信号を出力する。また、同期信号発生部４８は、内視鏡２がプロセッサ４に接続されている場合には、前述の各部に加え、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂに対しても前記同期信号を出力する。
【００５１】
ここで、内視鏡システム１の作用について説明を行う。
【００５２】
まず、ユーザは、内視鏡システム１の各部を図１に示すように接続した後、該各部の電源を投入する。そして、プロセッサ４の電源を投入した直後において、図５に示すような、自己診断モードに係る一連の処理及び動作が開始される。
【００５３】
これに伴い、ＣＰＵ４４は、プロセッサ４が自己診断モードに移行した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【００５４】
情報処理回路４１ａ、４２ａ及び４３ａは、プロセッサ４が自己診断モードに移行したことを検出すると、内視鏡２と夫々通信を行うことにより、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を検出する（図５のステップＳ１）。
【００５５】
その後、情報処理回路４１ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータをγ補正回路４１ｂに出力するとともに、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正にγ補正処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４１ｃへ出力する。すなわち、情報処理回路４１ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に応じたテストパターン及び処理パラメータの設定を行う（図５のステップＳ２）。
【００５６】
また、情報処理回路４２ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを拡大回路４２ｂに出力するとともに、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に拡大処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４２ｃへ出力する。すなわち、情報処理回路４２ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に応じたテストパターン及び処理パラメータの設定を行う（図５のステップＳ２）。
【００５７】
さらに、情報処理回路４３ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを強調回路４３ｂに出力するとともに、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に強調処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４３ｃへ出力する。すなわち、情報処理回路４３ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に応じたテストパターン及び処理パラメータの設定を行う（図５のステップＳ２）。
【００５８】
一方、テストパターン発生部２２ｂは、プロセッサ４が自己診断モードに移行したことを検出すると、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた所定のテストパターンを前処理部２２ａに出力する。
【００５９】
なお、前記所定のテストパターンとしては、例えば図６、図７及び図８に示すようなものが挙げられる。具体的には、例えば、ＣＣＤ２１ａの読み出しチャンネル数が１チャンネルの場合には図６のテストパターンが出力され、ＣＣＤ２１ａの読み出しチャンネル数が２チャンネルの場合には図７のテストパターンが出力され、ＣＣＤ２１ａの読み出しチャンネル数が４チャンネルの場合には図８のテストパターンが出力される。
【００６０】
前処理部２２ａは、テストパターン発生部２２ｂから出力される所定のテストパターンに対してＡ／Ｄ変換等の処理を施すことにより、テストパターン信号を生成してプロセッサ４へ出力する（図５のステップＳ３）。
【００６１】
γ補正回路４１ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対してγ補正処理を施し、該γ補正処理後のテストパターン信号を比較回路４１ｃへ出力する。そして、比較回路４１ｃは、情報処理回路４１ａによる抽出結果と、γ補正回路４１ｂによるγ補正処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を拡大処理部４２へ出力する。
【００６２】
拡大回路４２ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して拡大処理を施し、該拡大処理後のテストパターン信号を比較回路４２ｃへ出力する。そして、比較回路４２ｃは、情報処理回路４２ａによる抽出結果と、拡大回路４２ｂによる拡大処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を強調処理部４３へ出力する。
【００６３】
強調回路４３ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して強調処理を施し、該強調処理後のテストパターン信号を比較回路４３ｃへ出力する。そして、比較回路４３ｃは、情報処理回路４３ａによる抽出結果と、強調回路４３ｂによる強調処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号をセレクタ４６へ出力する。
【００６４】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部から夫々出力される比較結果に基づき、該各処理部の比較結果が夫々正常であるか否かを判定する（図５のステップＳ４）。
【００６５】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部の比較結果が全て正常であると判定した場合には、プロセッサ４における信号処理系が正常であるとみなす（図５のステップＳ５）。そして、ＣＰＵ４４は、内視鏡２により得られた映像をモニタ５に出力させるための制御として、強調処理部４３から出力される信号（γ補正処理、拡大処理及び強調処理が順次施された信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図５のステップＳ６）。
【００６６】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４が有する信号処理系が正常であると判定された場合には、内視鏡２により撮像された被写体の像がモニタ５に出力される。
【００６７】
その後、ＣＰＵ４４は、図５のステップＳ６の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【００６８】
一方、ＣＰＵ４４は、図５のステップＳ４の処理において、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部の比較結果のうち、少なくとも１つの比較結果が異常であると判定した場合には、プロセッサ４における信号処理系が異常であるとみなす（図５のステップＳ７）。そして、ＣＰＵ４４は、異常が生じている箇所を通知するための制御として、異常が生じている箇所に夫々対応したエラーメッセージ等を生成させるための制御をＤＳＰ４５に対して行うとともに、ＤＳＰ４５から出力される信号（エラー画像に係る画像信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図５のステップＳ８）。
【００６９】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４が有する信号処理系が異常であると判定された場合には、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像がモニタ５に表示される。具体的には、前記エラー画像としては、例えば図９に示すような、異常が生じている箇所を示す文字列が単色画像に重畳されたものが挙げられる。
【００７０】
なお、図９に示すエラー画像が表示された場合、ユーザは、該エラー画像における「ｅｒｒｏｒ：Ｅ１」という文字列と、例えばプロセッサ４のマニュアル等に記載された、図１０に示すエラーメッセージ一覧表と、を照合することにより、プロセッサ４が有する信号処理系のどの箇所に異常が生じているかを特定することができる。
【００７１】
その後、ＣＰＵ４４は、図５のステップＳ８の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【００７２】
なお、本実施形態のプロセッサ４は、図５のステップＳ７及びステップＳ８の処理を経て自己診断モードを終了した場合、自身の電源がオフされるまでの間、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像を表示し続けるものとする。
【００７３】
以上に述べたように、本実施形態によれば、信号処理系の診断を、従来に比べて簡便に行うことができる。
【００７４】
また、本実施形態によれば、信号処理系の診断を、内視鏡等の撮像装置が具備するＣＣＤの特性に応じたものとして行うことができる。その結果、信号処理装置側において、撮像装置の機種毎の膨大なテストパターンを保持しておく必要がなくなる。
【００７５】
（第２の実施形態）
図１１から図１５は、本発明の第２の実施形態に係るものである。図１１は、本発明の第２の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図である。図１２は、図１１のプロセッサが有するγ補正処理部の具体的な構成例を示す図である。図１３は、図１１のプロセッサが有する拡大処理部の具体的な構成例を示す図である。図１４は、図１１のプロセッサが有する強調処理部の具体的な構成例を示す図である。図１５は、図１１の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図である。
【００７６】
なお、以降の説明において、第１の実施形態と同様の構成を持つ部分については、詳細な説明を省略する。また、本実施形態における内視鏡システムの構成は、第１の実施形態における内視鏡システム１と類似の構成を有している。そのため、本実施形態においては、第１の実施形態における内視鏡システム１と異なる部分について主に説明を行うものとする。
【００７７】
内視鏡システム１Ａは、図１１に示すように、内視鏡２と、光源装置３と、プロセッサ４Ａと、モニタ５と、を有している。
【００７８】
プロセッサ４Ａは、γ補正処理部４１Ａと、拡大処理部４２Ａと、強調処理部４３Ａと、ＣＰＵ４４と、ＤＳＰ４５と、セレクタ４６と、Ｄ／Ａコンバータ４７と、同期信号発生部４８と、情報処理回路４９と、を有している。なお、プロセッサ４Ａにおける信号処理系は、γ補正処理部４１Ａと、拡大処理部４２Ａと、強調処理部４３Ａと、を具備してなるものとする。
【００７９】
プロセッサ４ＡのＣＰＵ４４は、検出部としての機能を有しており、内視鏡２がプロセッサ４Ａに接続された際に、例えば読み出しチャンネル数及び（または）画素数というような、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を前処理部２２ａを介して検出した後、検出結果を情報処理回路４９へ出力する。
【００８０】
情報処理回路４９は、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを、γ補正処理部４１Ａと、拡大処理部４２Ａと、強調処理部４３Ａと、に対して出力する。
【００８１】
情報出力部としての機能を有する情報処理回路４９は、自己診断モードの場合において、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果が入力された際に、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）γ補正処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果をγ補正処理部４１Ａへ出力する。
【００８２】
情報出力部としての機能を有する情報処理回路４９は、自己診断モードの場合において、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果が入力された際に、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）拡大処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を拡大処理部４２Ａへ出力する。
【００８３】
情報出力部としての機能を有する情報処理回路４９は、自己診断モードの場合において、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果が入力された際に、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に（ＣＣＤの特性に応じた適正な処理パラメータを用いて）強調処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を強調処理部４３Ａへ出力する。
【００８４】
γ補正処理部４１Ａは、図１２に示すように、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた処理パラメータが情報処理回路４９から入力されるγ補正回路４１ｂと、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正にγ補正処理が施された場合の処理結果が情報処理回路４９から入力される比較回路４１ｃと、を有している。
【００８５】
すなわち、γ補正処理部４１Ａは、自身の内部に情報処理回路を具備しないため、第１の実施形態のγ補正処理部４１に比べて簡易に構成することができる。
【００８６】
拡大処理部４２Ａは、図１３に示すように、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた処理パラメータが情報処理回路４９から入力される拡大回路４２ｂと、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に拡大処理が施された場合の処理結果が情報処理回路４９から入力される比較回路４２ｃと、を有している。
【００８７】
すなわち、拡大処理部４２Ａは、自身の内部に情報処理回路を具備しないため、第１の実施形態の拡大処理部４２に比べて簡易に構成することができる。
【００８８】
強調処理部４３Ａは、図１４に示すように、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた処理パラメータが情報処理回路４９から入力される強調回路４３ｂと、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に強調処理が施された場合の処理結果が情報処理回路４９から入力される比較回路４３ｃと、を有している。
【００８９】
すなわち、強調処理部４３Ａは、自身の内部に情報処理回路を具備しないため、第１の実施形態の強調処理部４３に比べて簡易に構成することができる。
【００９０】
ここで、内視鏡システム１Ａの作用について説明を行う。
【００９１】
まず、ユーザは、内視鏡システム１Ａの各部を図１１に示すように接続した後、該各部の電源を投入する。そして、プロセッサ４Ａの電源を投入した直後において、図１５に示すような、自己診断モードに係る一連の処理及び動作が開始される。
【００９２】
これに伴い、ＣＰＵ４４は、プロセッサ４Ａが自己診断モードに移行した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４Ａの各部とへ通知する。
【００９３】
また、ＣＰＵ４４は、プロセッサ４Ａが自己診断モードに移行した際に、内視鏡２と通信を行うことにより、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を検出した（図１５のステップＳ１１）後、検出結果を情報処理回路４９に対して出力する（図１５のステップＳ１２）。
【００９４】
情報処理回路４９は、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた処理パラメータを、γ補正処理部４１Ａと、拡大処理部４２Ａと、強調処理部４３Ａと、に対して出力する（図１５のステップＳ１３）。
【００９５】
情報処理回路４９は、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正にγ補正処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果をγ補正処理部４１Ａへ出力する（図１５のステップＳ１３）。
【００９６】
情報処理回路４９は、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に拡大処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を拡大処理部４２Ａへ出力する（図１５のステップＳ１３）。
【００９７】
情報処理回路４９は、ＣＰＵ４４によるＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果に基づき、該特性に応じた、テストパターン発生部２２ｂと同一のテストパターンに対して適正に強調処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を強調処理部４３Ａへ出力する（図１５のステップＳ１３）。
【００９８】
一方、テストパターン発生部２２ｂは、プロセッサ４が自己診断モードに移行したことを検出すると、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた所定のテストパターンを前処理部２２ａに出力する。
【００９９】
前処理部２２ａは、テストパターン発生部２２ｂから出力される所定のテストパターンに対してＡ／Ｄ変換等の処理を施すことにより、テストパターン信号を生成してプロセッサ４へ出力する（図１５のステップＳ１４）。
【０１００】
γ補正回路４１ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対してγ補正処理を施し、該γ補正処理後のテストパターン信号を比較回路４１ｃへ出力する。そして、比較回路４１ｃは、情報処理回路４９による抽出結果と、γ補正回路４１ｂによるγ補正処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を拡大処理部４２へ出力する。
【０１０１】
拡大回路４２ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して拡大処理を施し、該拡大処理後のテストパターン信号を比較回路４２ｃへ出力する。そして、比較回路４２ｃは、情報処理回路４９による抽出結果と、拡大回路４２ｂによる拡大処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を強調処理部４３へ出力する。
【０１０２】
強調回路４３ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して強調処理を施し、該強調処理後のテストパターン信号を比較回路４３ｃへ出力する。そして、比較回路４３ｃは、情報処理回路４９による抽出結果と、強調回路４３ｂによる強調処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号をセレクタ４６へ出力する。
【０１０３】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１Ａ、拡大処理部４２Ａ及び強調処理部４３Ａの各処理部から夫々出力される比較結果に基づき、該各処理部の比較結果が夫々正常であるか否かを判定する（図１５のステップＳ１５）。
【０１０４】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１Ａ、拡大処理部４２Ａ及び強調処理部４３Ａの各処理部の比較結果が全て正常であると判定した場合には、プロセッサ４における信号処理系が正常であるとみなす（図１５のステップＳ１６）。そして、ＣＰＵ４４は、内視鏡２により得られた映像をモニタ５に出力させるための制御として、強調処理部４３Ａから出力される信号（γ補正処理、拡大処理及び強調処理が順次施された信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図１５のステップＳ１７）。
【０１０５】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４Ａが有する信号処理系が正常であると判定された場合には、内視鏡２により撮像された被写体の像がモニタ５に出力される。
【０１０６】
その後、ＣＰＵ４４は、図１５のステップＳ１７の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４Ａの各部とへ通知する。
【０１０７】
一方、ＣＰＵ４４は、図１５のステップＳ１５の処理において、γ補正処理部４１Ａ、拡大処理部４２Ａ及び強調処理部４３Ａの各処理部の比較結果のうち、少なくとも１つの比較結果が異常であると判定した場合には、プロセッサ４Ａにおける信号処理系が異常であるとみなす（図１５のステップＳ１８）。そして、ＣＰＵ４４は、異常が生じている箇所を通知するための制御として、異常が生じている箇所に夫々対応したエラーメッセージ等を生成させるための制御をＤＳＰ４５に対して行うとともに、ＤＳＰ４５から出力される信号（エラー画像に係る画像信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図１５のステップＳ１９）。
【０１０８】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４Ａが有する信号処理系が異常であると判定された場合には、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像がモニタ５に表示される。
【０１０９】
その後、ＣＰＵ４４は、図１５のステップＳ１９の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４Ａの各部とへ通知する。
【０１１０】
なお、本実施形態のプロセッサ４Ａは、図１５のステップＳ１８及びステップＳ１９の処理を経て自己診断モードを終了した場合、自身の電源がオフされるまでの間、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像を表示し続けるものとする。
【０１１１】
以上に述べたように、本実施形態によれば、第１の実施形態における効果に加え、信号処理系を簡易に構成することができる。
【０１１２】
（第３の実施形態）
図１６及び図１７は、本発明の第３の実施形態に係るものである。図１６は、本発明の第３の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図である。図１７は、図１６の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図である。
【０１１３】
なお、以降の説明において、前述した各実施形態と同様の構成を持つ部分については、詳細な説明を省略する。また、本実施形態における内視鏡システムの構成は、第１の実施形態における内視鏡システム１と類似の構成を有している。そのため、本実施形態においては、第１の実施形態における内視鏡システム１と異なる部分について主に説明を行うものとする。
【０１１４】
内視鏡システム１Ｂは、図１６に示すように、先端部２１及び基端部２２Ｂを具備する、撮像装置としての内視鏡２Ｂと、光源装置３と、プロセッサ４と、モニタ５と、を有している。
【０１１５】
内視鏡２Ｂの基端部２２Ｂには、前処理部２２ａと、ＣＣＤ２１ａの特性に応じた、少なくとも２種類の所定のテストパターンを予め保持するテストパターン発生部２２ｂと、スイッチ２２ｃと、が設けられている。
【０１１６】
具体的には、例えば、テストパターン発生部２２ｂがＣＣＤ２１ａの特性に応じた２種類のテストパターンを有する場合においては、一方がモノクロかつ他方がカラー、または、一方が無地かつ他方が模様入り、というような組み合わせが挙げられる。
【０１１７】
スイッチ２２ｃは、オンされた場合に、テストパターン発生部２２ｂから出力されるテストパターンの種類を変更するための指示を出力する。
【０１１８】
ここで、内視鏡システム１Ｂの作用について説明を行う。
【０１１９】
まず、ユーザは、内視鏡システム１Ｂの各部を図１６に示すように接続した後、該各部の電源を投入する。そして、プロセッサ４の電源を投入した直後において、図１７に示すような、自己診断モードに係る一連の処理及び動作が開始される。
【０１２０】
これに伴い、ＣＰＵ４４は、プロセッサ４が自己診断モードに移行した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【０１２１】
ＣＰＵ４４は、プロセッサ４が自己診断モードに移行した直後から所定の期間、スイッチ２２ｃがオンされたか否かを検出する（図１７のステップＳ２１）。
【０１２２】
そして、ＣＰＵ４４は、プロセッサ４が自己診断モードに移行した直後から所定の期間内にスイッチ２２ｃがオンされない場合には、デフォルトのテストパターン（例えばモノクロのテストパターン）によりプロセッサ４の自己診断を行うと判断し、該デフォルトのテストパターンをγ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３へ夫々出力させるための制御を前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂに対して行う。
【０１２３】
また、ＣＰＵ４４は、所定の期間内にスイッチ２２ｃがオンされたことを検出すると、変更後のテストパターン（例えばカラーのテストパターン）をモニタ５に表示させるための制御を前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂに対して行う。
【０１２４】
前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂは、ＣＰＵ４４の制御に基づき、変更後のテストパターンに応じたテストパターン信号を生成し、プロセッサ４のＤ／Ａコンバータ４７を介してモニタ５へ出力する。これにより、モニタ５には、変更後のテストパターンが表示される（図１７のステップＳ２２）。
【０１２５】
その後、ＣＰＵ４４は、再度スイッチ２２ｃがオンされるまでの間、変更後のテストパターンをモニタ５に出力させ続ける制御を前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂに対して行う（図１７のステップＳ２３）。また、ＣＰＵ４４は、再度スイッチ２２ｃがオンされる（図１７のステップＳ２３）と、変更後のテストパターンによりプロセッサ４の自己診断を行うと判断し、該変更後のテストパターンをγ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３へ夫々出力させるための制御を前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂに対して行う。
【０１２６】
一方、情報処理回路４１ａ、４２ａ及び４３ａは、プロセッサ４が自己診断モードに移行した直後から所定の期間内にスイッチ２２ｃがオンされない場合、または、変更後のテストパターンがモニタ５に出力されている状態において再度スイッチ２２ｃがオンされた場合に、内視鏡２Ｂと夫々通信を行うことにより、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報を検出する（図１７のステップＳ２４）。
【０１２７】
その後、情報処理回路４１ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果と、前処理部２２ａからのテストパターン信号とに基づき、該特性に応じた処理パラメータをγ補正回路４１ｂに出力するとともに、図１７のステップＳ２１からステップＳ２３までの処理により決定したものと同一のテストパターン（デフォルトまたは変更後のいずれか）に対して適正にγ補正処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４１ｃへ出力する（図１７のステップＳ２５）。
【０１２８】
また、情報処理回路４２ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果と、前処理部２２ａからのテストパターン信号とに基づき、該特性に応じた処理パラメータを拡大回路４２ｂに出力するとともに、図１７のステップＳ２１からステップＳ２３までの処理により決定したものと同一のテストパターンに対して適正に拡大処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４２ｃへ出力する（図１７のステップＳ２５）。
【０１２９】
さらに、情報処理回路４３ａは、ＣＣＤ２１ａの特性に係る情報の検出結果と、前処理部２２ａからのテストパターン信号とに基づき、該特性に応じた処理パラメータを強調回路４３ｂに出力するとともに、図１７のステップＳ２１からステップＳ２３までの処理により決定したものと同一のテストパターンに対して適正に強調処理が施された場合の処理結果を抽出し、抽出結果を比較回路４３ｃへ出力する（図１７のステップＳ２５）。
【０１３０】
一方、テストパターン発生部２２ｂは、ＣＰＵ４４の制御に基づき、図１７のステップＳ２１からステップＳ２３までの処理により決定したテストパターンを前処理部２２ａに出力する。
【０１３１】
前処理部２２ａは、ＣＰＵ４４の制御に基づき、テストパターン発生部２２ｂから出力されるテストパターンに対してＡ／Ｄ変換等の処理を施すことにより、テストパターン信号を生成してγ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３へ夫々出力する（図１７のステップＳ２６）。
【０１３２】
γ補正回路４１ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対してγ補正処理を施し、該γ補正処理後のテストパターン信号を比較回路４１ｃへ出力する。そして、比較回路４１ｃは、情報処理回路４１ａによる抽出結果と、γ補正回路４１ｂによるγ補正処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を拡大処理部４２へ出力する。
【０１３３】
拡大回路４２ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して拡大処理を施し、該拡大処理後のテストパターン信号を比較回路４２ｃへ出力する。そして、比較回路４２ｃは、情報処理回路４２ａによる抽出結果と、拡大回路４２ｂによる拡大処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号を強調処理部４３へ出力する。
【０１３４】
強調回路４３ｂは、前処理部２２ａからのテストパターン信号に対して強調処理を施し、該強調処理後のテストパターン信号を比較回路４３ｃへ出力する。そして、比較回路４３ｃは、情報処理回路４３ａによる抽出結果と、強調回路４３ｂによる強調処理後のテストパターン信号とを比較した後、比較結果をＣＰＵ４４へ出力するとともに、該テストパターン信号をセレクタ４６へ出力する。
【０１３５】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部から夫々出力される比較結果に基づき、該各処理部の比較結果が夫々正常であるか否かを判定する（図１７のステップＳ２７）。
【０１３６】
ＣＰＵ４４は、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部の比較結果が全て正常であると判定した場合には、プロセッサ４における信号処理系が正常であるとみなす（図１７のステップＳ２８）。そして、ＣＰＵ４４は、内視鏡２Ｂにより得られた映像をモニタ５に出力させるための制御として、強調処理部４３から出力される信号（γ補正処理、拡大処理及び強調処理が順次施された信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図１７のステップＳ２９）。
【０１３７】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４が有する信号処理系が正常であると判定された場合には、内視鏡２Ｂにより撮像された被写体の像がモニタ５に出力される。
【０１３８】
その後、ＣＰＵ４４は、図１７のステップＳ２９の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【０１３９】
一方、ＣＰＵ４４は、図１７のステップＳ２７の処理において、γ補正処理部４１、拡大処理部４２及び強調処理部４３の各処理部の比較結果のうち、少なくとも１つの比較結果が異常であると判定した場合には、プロセッサ４における信号処理系が異常であるとみなす（図１７のステップＳ３０）。そして、ＣＰＵ４４は、異常が生じている箇所を通知するための制御として、異常が生じている箇所に夫々対応したエラーメッセージ等を生成させるための制御をＤＳＰ４５に対して行うとともに、ＤＳＰ４５から出力される信号（エラー画像に係る画像信号）を選択させるための制御をセレクタ４６に対して行う（図１７のステップＳ３１）。
【０１４０】
すなわち、自己診断モードにおいて、プロセッサ４が有する信号処理系が異常であると判定された場合には、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像がモニタ５に表示される。
【０１４１】
その後、ＣＰＵ４４は、図１７のステップＳ３１の処理を行った後、自己診断モードが終了した旨を、前処理部２２ａ及びテストパターン発生部２２ｂと、プロセッサ４の各部とへ通知する。
【０１４２】
なお、本実施形態のプロセッサ４は、図１７のステップＳ３０及びステップＳ３１の処理を経て自己診断モードを終了した場合、自身の電源がオフされるまでの間、異常が生じている箇所を通知するためのエラー画像を表示し続けるものとする。
【０１４３】
以上に述べたように、本実施形態によれば、第１の実施形態における効果と同様の効果を得ることができる。
【０１４４】
なお、本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変更や応用が可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【０１４５】
【図１】本発明の第１の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図。
【図２】図１のプロセッサが有するγ補正処理部の具体的な構成例を示す図。
【図３】図１のプロセッサが有する拡大処理部の具体的な構成例を示す図。
【図４】図１のプロセッサが有する強調処理部の具体的な構成例を示す図。
【図５】図１の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図。
【図６】ＣＣＤの読み出しチャンネルが１チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図。
【図７】ＣＣＤの読み出しチャンネルが２チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図。
【図８】ＣＣＤの読み出しチャンネルが４チャンネルである場合のテストパターンの一例を示す図。
【図９】モニタに表示されるエラー画像の一例を示す図。
【図１０】エラーメッセージ一覧表の一例を示す図。
【図１１】本発明の第２の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図。
【図１２】図１１のプロセッサが有するγ補正処理部の具体的な構成例を示す図。
【図１３】図１１のプロセッサが有する拡大処理部の具体的な構成例を示す図。
【図１４】図１１のプロセッサが有する強調処理部の具体的な構成例を示す図。
【図１５】図１１の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図。
【図１６】本発明の第３の実施形態の内視鏡システムの要部の構成を示す図。
【図１７】図１６の内視鏡システムにおいて、自己診断モードの際に行われる処理等の一例を示す図。
【符号の説明】
【０１４６】
１，１Ａ，１Ｂ  内視鏡システム
２，２Ｂ  内視鏡
３  光源装置
４，４Ａ  プロセッサ
５  モニタ
２１  先端部
２２，２２Ｂ  基端部
２２ａ  前処理部
２２ｂ  テストパターン発生部
４１，４１Ａ  補正処理部
４２，４２Ａ  拡大処理部
４３，４３Ａ  強調処理部
４４  ＣＰＵ
【図１】
2010136823.tif 000003
【図２】
2010136823.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
2010136823.tif 000015
【図１７】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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