(57)【要約】【課題】無遮光では欠陥画素位置を検出できないうえに高周波成分が過補正さる。【解決手段】検出手段１０１が、撮像素子１０７の各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う。記憶手段１０５が、検出手段１０１が順次検出する欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する。測定手段１０３が、検出手段１０１が順次検出する欠陥画素候補の画素位置を記憶手段１０５から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する。判定手段１０４が、検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する。補正手段１０６,１１９が、欠陥画素と判定される画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する。【選択図】図１
2010093471.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子と、
各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う検出手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する記憶手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する測定手段と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、
前記欠陥画素と判定される画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する補正手段と、
を備える、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記検出手段は、前記複数の画素から順次着目画素を設定したうえで、各着目画素が欠陥画素候補であるか否かを、当該着目画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて判定し、
前記測定手段は、前記検出回数を前記検出手段の測定毎に更新し、
前記判定手段は、前記欠陥画素を判定する処理を、前記測定手段が前記検出回数を更新する毎に行い、
前記補正手段は、前記欠陥画素を補正する処理を、前記判定手段が前記欠陥画素を判定する毎に行う、
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記撮像素子の画素領域中に映像変化検出領域を設定したうえで、設定した前記映像変化検出領域における、欠陥画素候補検出処理時の画像情報と以前の画像情報との間の映像変化を検出する映像変化検出手段を、
さらに備え、
前記検出手段は、前記映像変化検出手段によって前記映像変化が検出されない欠陥画素候補検出処理時において前記欠陥画素候補として検出する前記着目画素を前記欠陥画素候補から排除する、
ことを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記映像変化検出手段は、前記映像変化検出領域を、前記欠陥画素候補を含む画素範囲に設定する、
ことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数に基づいて、欠陥画素判定を行う、
ことを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数に基づいて、欠陥画素判定を行う、
ことを特徴とする請求項１または２に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が第２の閾値未満である場合（第２の閾値＜第１の閾値）、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記欠陥画素の画素位置が登録されるもう一つの記憶手段をさらに備え、
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が前記第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が前記第２の閾値以上である場合、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定したうえで、当該欠陥画素の画素位置を、前記もう一つの記憶手段に登録し、
前記補正手段は、前記もう一つの記憶手段に画素位置が登録された前記欠陥画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する、
ことを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】
前記記憶手段は、前記撮像素子から得られる画像情報を画素混合したうえで得られる前記欠陥画素の画素位置を記憶する、
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項１０】
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子を具備する撮像装置用の半導体集積回路であって、
各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う検出手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する記憶手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する測定手段と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、
前記欠陥画素と判定された画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する補正手段と、
を備える、
ことを特徴とする半導体集積回路。
【請求項１１】
前記検出手段は、前記複数の画素から順次着目画素を設定したうえで、各着目画素が欠陥画素候補であるか否かを、当該着目画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて判定し、
前記測定手段は、前記検出回数を前記検出手段の測定毎に更新し、
前記判定手段は、前記欠陥画素を判定する処理を、前記測定手段が前記検出回数を更新する毎に行い、
前記補正手段は、前記欠陥画素を補正する処理を、前記判定手段が前記欠陥画素を判定する毎に行う、
ことを特徴とする請求項１０に記載の半導体集積回路。
【請求項１２】
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が第２の閾値未満である場合（第２の閾値＜第１の閾値）、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定する、
ことを特徴とする請求項１１に記載の半導体集積回路。
【請求項１３】
前記欠陥画素の画素位置が登録されるもう一つの記憶手段をさらに備え、
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が前記第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が前記第２の閾値以上である場合、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定したうえで、当該欠陥画素の画素位置を、前記もう一つの記憶手段に登録し、
前記補正手段は、前記もう一つの記憶手段に画素位置が登録された前記欠陥画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する、
ことを特徴とする請求項１２に記載の撮像装置。
【請求項１４】
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子の各画素とその周辺画素との間の信号差分を計算する工程と、
１または複数のフレーム毎に、前記信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する工程と、
前記欠陥画素候補の画素位置を記憶手段に記憶する工程と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する工程と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する工程と、
を含む、
欠陥画素判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮像素子を用いた撮像装置に係り、特に、固体撮像素子の欠陥画素を信号処理で補正する機能を有する撮像装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、撮像装置および欠陥画素補正方法において、ダーク画像と特定の被写体とにより、白キズと黒キズ等の欠陥画素のアドレスを検出したうえで、欠陥画素周辺の平均値により欠陥画素を補正する手法がある。（例えば、特許文献１参照）。また、内部温度を測定したうえで、測定温度が所定以上である場合における映像データに基づいて、欠陥画素を検出し、検出した欠陥画素の位置を示す位置情報をメモリに記憶する手法がある。（例えば、特許文献２参照）。また、不揮発性メモリと、欠陥画素の検出を頻繁に行い、より確実に欠陥画素補正を行う手法がある。（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開平１０−３２２６０３号公報
【特許文献２】特開２００７−９６５３５号公報
【特許文献３】特開平８−１８８７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、従来の撮像装置や欠陥画素補正方法においては、電源スイッチがＯＮ/あるいはＯＦＦになると、自動的に一旦、欠陥画素補正モード（遮光も含む）に移行して、欠陥画素の位置情報を更新する。そのため、内視鏡などの遮光制御装置がない動画システムの場合、遮光を含む欠陥画素補正モードに移行できない、という課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の撮像装置は、
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子と、
各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う検出手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する記憶手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する測定手段と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、
前記欠陥画素と判定される画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する補正手段と、
を備える。かかる構成では、遮光を必要することなく、高精度に欠陥画素を検出することができる。
【０００５】
本発明の撮像装置には、
前記検出手段は、前記複数の画素から順次着目画素を設定したうえで、各着目画素が欠陥画素候補であるか否かを、当該着目画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて判定し、
前記測定手段は、前記検出回数を前記検出手段の測定毎に更新し、
前記判定手段は、前記欠陥画素を判定する処理を、前記測定手段が前記検出回数を更新する毎に行い、
前記補正手段は、前記欠陥画素を補正する処理を、前記判定手段が前記欠陥画素を判定する毎に行う、
という態様がある。かかる構成では、任意の欠陥画素の動的な補正を行いつつ、欠陥画素判定を行うことできる。
【０００６】
この態様のさらに具体的な態様としては、
前記撮像素子の画素領域中に映像変化検出領域を設定したうえで、設定した前記映像変化検出領域における、欠陥画素候補検出処理時の画像情報と以前の画像情報との間の映像変化を検出する映像変化検出手段を、
さらに備え、
前記検出手段は、前記映像変化検出手段によって前記映像変化が検出されない欠陥画素候補検出処理時において前記欠陥画素候補として検出する前記着目画素を前記欠陥画素候補から排除する、
という態様がある。かかる構成では、映像変化のない時点で検出される欠陥画素候補を候補から排除するので、その分、検出精度が向上する。
【０００７】
本発明の撮像装置には、前記映像変化検出手段は、前記映像変化検出領域を、前記欠陥画素候補を含む画素範囲に設定する、という態様がある。かかる構成では、検出精度がさらに向上する。
【０００８】
本発明の撮像装置には、前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数に基づいて、欠陥画素判定を行う、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数を数えることで、欠陥画素の確からしさを判定することができる。
【０００９】
本発明の撮像装置には、前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数に基づいて、欠陥画素判定を行う、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数の連続性を見ることができ、欠陥画素の確からしさを判定することができる。
【００１０】
本発明の撮像装置には、前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が第２の閾値未満である場合（第２の閾値＜第１の閾値）、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定する、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数と検出回数の連続性により常に欠陥画素として存在するのか、そうでないのかを判断することができ、その判断に基づいて欠陥画素を精度高く補正することができる。
【００１１】
本発明の撮像装置には、前記欠陥画素の画素位置が登録されるもう一つの記憶手段をさらに備え、
前記判定手段は、前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が前記第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が前記第２の閾値以上である場合、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定したうえで、当該欠陥画素の画素位置を、前記もう一つの記憶手段に登録し、
前記補正手段は、前記もう一つの記憶手段に画素位置が登録された前記欠陥画素の画素データをその周辺画素の画素データから補正する、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数と検出回数の連続性により常に欠陥画素として存在するのか、そうでないのかを判断することができ、その判断に基づいて、欠陥画素の位置を参照した静的な欠陥画素補正（白キズ・黒キズの補正）を行うことが可能になる。
【００１２】
本発明の撮像装置には、前記記憶手段は、前記撮像素子から得られる画像情報を画素混合したうえで得られる前記欠陥画素の画素位置を記憶する、という態様がある。かかる構成により、画素混合する前の撮像素子の欠陥画素の位置情報を考慮せずに、欠陥画素補正を行うことができる。
【００１３】
本発明の半導体集積回路は、
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子を具備する撮像装置用の半導体集積回路であって、
各画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する処理を、１または複数のフレーム毎に行う検出手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を検出毎に記憶する記憶手段と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する測定手段と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する判定手段と、
前記欠陥画素と判定される画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する補正手段と、
を備える。かかる構成では、高精度に欠陥画素を検出することができる。
【００１４】
本発明の半導体集積回路には、
前記検出手段は、前記複数の画素から順次着目画素を設定したうえで、各着目画素が欠陥画素候補であるか否かを、当該着目画素とその周辺画素との間の信号差分に基づいて判定し、
前記測定手段は、前記検出回数を前記検出手段の測定毎に更新し、
前記判定手段は、前記欠陥画素を判定する処理を、前記測定手段が前記検出回数を更新する毎に行い、
前記補正手段は、前記欠陥画素を補正する処理を、前記判定手段が前記欠陥画素を判定する毎に行う、
という態様がある。かかる構成では、高精度に欠陥画素を検出することができ、常に新しい欠陥画素の位置を記憶し、動的な欠陥画素補正を静的な欠陥画素補正と同様に実施することができる。
【００１５】
本発明の半導体集積回路には、
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が第２の閾値未満である場合（第２の閾値＜第１の閾値）、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定する、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数と検出回数の連続性により常に欠陥画素として存在するのか、そうでないのかを判断することができ、その判断に基づいて欠陥画素を精度高く補正することができる。
【００１６】
本発明の半導体集積回路には、
前記欠陥画素の画素位置が登録されるもう一つの記憶手段をさらに備え、
前記判定手段は、任意に数設定した複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を含む前記検出回数が前記第１の閾値以上であり、かつ当該複数フレームにおける前記検出手段による前記欠陥画素候補の不連続検出を除く前記検出回数が前記第２の閾値以上である場合、当該欠陥画素候補を前記欠陥画素に判定したうえで、当該欠陥画素の画素位置を、前記もう一つの記憶手段に登録し、
前記補正手段は、前記もう一つの記憶手段に画素位置が登録された前記欠陥画素の画素データをその周辺画素の画素データに基づいて補正する、という態様がある。かかる構成では、欠陥画素検出回数と検出回数の連続性により常に欠陥画素として存在するのか、そうでないのかを判断することができ、その判断に基づいて、欠陥画素の位置を参照した静的な欠陥画素補正（白キズ・黒キズの補正）を行うことが可能になる。
【００１７】
本発明の欠陥画素判定方法は、
アレイ配置された複数の画素を含みフレーム単位で画像情報を出力する撮像素子の各画素とその周辺画素との間の信号差分を計算する工程と、
１または複数のフレーム毎に、前記信号差分に基づいて前記複数の画素の中から欠陥画素候補を検出する工程と、
前記欠陥画素候補の画素位置を記憶手段に記憶する工程と、
前記検出手段が順次検出する前記欠陥画素候補の画素位置を前記記憶手段から読み出して、各画素が前記欠陥画素候補として検出される検出回数を画素毎に計測する工程と、
前記検出回数に基づいて各画素が欠陥画素であるか否かを判定する工程と、
を含む。かかる方法では、高精度に欠陥画素を検出することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は、遮光制御装置がない動画システムでも欠陥画素が検出できるうえに、コストの上昇なく高精度に欠陥画素を検出することもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、撮像装置、および撮像装置用集積回路の実施形態について図面を参照して説明する。なお、実施の形態において同じ符号を付した構成要素は同様の動作を行うので、再度の説明を省略する場合がある。
【００２０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における撮像装置１１７のブロック図である。
【００２１】
撮像装置１１７は、撮像素子１０７と、アナログフロントエンド１１８と、ＣＰＵ１１１と、ＴＧ（Timing Generator）１１６と、検出手段１０１と、動的画素補正手段１０２と、測定手段１０３と、判定手段１０４と、記憶手段１０５と、位置参照補正手段１０６と、映像変化検出手段１１９と、操作部１１２と、表示装置１１３と、メモリ１１４と、圧縮・伸張信号処理回路１１５とを備える。アナログフロントエンド１１８は、ＣＤＳ（Correlated Double Sampling）１０８と、ＧＣＡ(Gain Control Amplitude)１０９と、ＡＤ変換器（Analog Digital Converter）１１０とを備える。
【００２２】
本実施の形態は、これらの構成要素の中で、検出手段１０１と、測定手段１０３と、判定手段１０４と、記憶手段１０５と、位置参照補正手段１０６と、動的画素補正手段１０２と、映像変化検出手段１１９との構成に特徴を有している。なお、本実施の形態では、動的画素補正手段１０２と位置参照補正手段１０６とから補正手段が構成される。
【００２３】
撮像素子１０７はアレイ配置された複数の画素を有しており、これらの複数の画素は被写体の撮像に用いられる有効画素領域を備える。有効画素領域は、遮光された領域に囲まれて配置される。ＣＤＳ１０８は、センサのアンプ雑音とリセット雑音を除去するために相関二重サンプリングを行う。ＧＣＡ１０９は、ＣＤＳ１０８から出力される信号を調整可能なゲインで増幅する。ＡＤ変換器１１０は、ＧＣＡ１０９によって増幅された信号をデジタル撮像信号に変換する。ＣＰＵ１１１は、システム全体を制御する。ＴＧ１１６は、撮像に用いるためのパルスを生成する。
【００２４】
検出手段１０１は、欠陥画素候補を検出するものであって、図３に示すように、撮像素子１０７から得られた映像から欠陥画素候補を検出する検出領域（以下、欠陥画素検出領域３０１という）を設定したうえで、欠陥画素検出領域３０１内にある任意の着目画素が、以下の条件１を満たすと、その着目画素を欠陥画素候補として検出する。
【００２５】
（条件１）
着目画素と周辺画素との間に生じる信号レベル差が条件１用閾値を超える。ここでいう周辺画素とは、着目画素に隣接してその周囲に配置された画素のことである。なお、条件１用閾値は、条件１用として予め設定されたうえで検出手段１０１に記憶される。
【００２６】
測定手段１０３は、任意に数設定した複数フレームにおいて各画素位置が検出手段１０１によって欠陥画素候補として検出される回数（以下、発生検出回数という）と、前記複数フレームにおいて欠陥画素候補が連続して検出される回数（以下、連続検出回数という）とを測定して、測定結果を判定手段１０４に知らせる。検出回数や連続検出回数は画素毎に測定される。測定手段１０３は、記憶手段１０５を一時記憶バッファとして用いて検出回数を測定する。
【００２７】
映像変化検出手段１１９は、欠陥画素候補が存在するフレームにおける欠陥画素検出領域３０１内にさらに映像の変化を検出する領域（以下、映像変化検出領域２０６）を設定したうえで、設定した映像変化検出領域２０６における現在のフレームの画像情報と直前のフレームの画像情報との間に生じる画像差分を検出し、検出結果（画像差分）を判定手段１０４に知らせる。
【００２８】
判定手段１０４は、以下の条件２を満たさない欠陥画素候補を不適当候補として排除する。
【００２９】
（条件２）
映像変化検出手段１１９が検出する画像差分が条件２用閾値を超える。なお、条件２用閾値は、条件２用として予め設定されたうえで判定手段１０４に記憶される。
【００３０】
さらに、判定手段１０４は、以下の条件３、条件４のうちの少なくとも一つを満たすと、その欠陥画素候補を欠陥画素として判定し、条件３、条件４を全く満たさない欠陥画素候補を排除する。
【００３１】
（条件３）
連続/不連続検出を問わず各画素が欠陥画素候補として検出される回数（検出回数）が条件３用閾値以上である。なお、条件３用閾値は、条件３用として予め設定されたうえで判定手段１０４に記憶される。条件３用閾値は、請求項における第１の閾値に相当する。
【００３２】
（条件４）
その画素が任意に数設定した複数のフレームにおいて連続して（不連続検出を除いて）欠陥画素候補として検出される回数（連続検出回数）が条件４用閾値以上である。なお、条件４用閾値は、条件４用として予め設定されたうえで判定手段１０４に記憶される。条件４用閾値は、請求項における第２の閾値に相当する。
【００３３】
さらに、判定手段１０４は、以下の条件５を満たすと、その欠陥画素の補正処理を、位置参照補正手段１０６に委ねる。
【００３４】
（条件５）
その欠陥画素は、上述した条件３と条件４との両方の条件を満たす。
【００３５】
また、判定手段１０４は、以下の条件６を満たすと、その欠陥画素の補正処理を、動的画素補正手段１０２に委ねる。
【００３６】
（条件６）
その欠陥画素は、上述した条件３を満たすものの条件４を満たさない。
【００３７】
記憶手段１０５は以下の画素位置情報を記憶する。
・検出手段１０１によって欠陥画素候補として検出される撮像素子１０７の画素位置
・判定手段１０４によって欠陥画素として判定される撮像素子１０７の画素位置
動的画素補正手段１０２は、判定手段１０４によって欠陥画素と判定された画素の画素データを、その周辺画素の画素データに基づいて補正する。位置参照補正手段１０６は、判定手段１０４によって欠陥画素と判定された画素の画素データを隣接する画素の画素データにより置き換えることで補正する。
【００３８】
なお、本実施の形態では、本発明を撮像装置として説明するが、半導体集積回路単体で本発明の主要機能を達成し、撮像素子と組み合わせても同様の効果を得ることができる。
【００３９】
以下、本実施の形態の撮像装置１１７の動作を説明する。アナログフロントエンド１１８から出力されたデジタル信号に所定の信号処理を施すことによって、図２に示すように、デジタル画像データに、有効領域２０２が設定される。有効領域２０２は、撮像素子１０７が出力する全画素領域の中で、有効なデジタルデータを出力可能な領域を示す。補正処理がなされていない場合、有効領域２０２は欠陥画素を含んでいる可能性がある。
【００４０】
欠陥画素は、
・常に高輝度となる信号を出力する白キズ２０１と、
・常に低輝度となる信号を出力する黒キズ２０４と、
・温度変化などにより後発的に発生する後発的キズ２０５と、
を含む。なお、欠陥画素とキズとはほぼ同意語であって、文中では適宜適切な表現が用いられる。
【００４１】
欠陥画素（白キズ２０１・黒キズ２０４）は、位置参照補正手段１０６によって、その画素データが、周辺画素の画素データによって置き換えらえる。欠陥画素（後発的キズ２０５）は、動的画素補正手段１０２によってその信号成分が補正される。このように、本実施の形態の撮像装置では、位置参照補正手段１０６の他に、リアルタイムキズ検出補正が可能な動的画素補正手段１０２を設けることで、遮光制御装置を具備しないシステムにおける欠陥画素の検出が可能になっているうえに、欠陥画素（後発的キズ２０５）の補正が可能になっている。
【００４２】
動的画素補正が有効となる欠陥画素補正領域２０３を設定すると、領域内の欠陥画素は、すべて補正される。また、映像変化検出手段１１９によって映像が変化したことを検出することで、不適当に検出された欠陥画素候補の排除が可能になって欠陥画素の検出精度が向上する。アナログフロントエンド１０８は、画素混合されたデジタル信号を出力する。そのため欠陥画素は、画素混合された後にその位置が特定される。本発明による撮像装置は、画素混合された後の欠陥画素の位置を記憶し、補正処理を行う。
【００４３】
まず、検出手段１０１の動作を図３（ａ）〜（ｄ）を参照して説明する。検出手段１０１は、後発的キズ２０５と白キズ２０１と黒キズ２０４とを含む欠陥画素候補を検出する。なお、本実施の形態では、検出手段１０１は、フレーム毎に欠陥画素候補を検出するが、複数フレーム毎にフレーム毎に欠陥画素候補を検出してもよい。図３（ａ）に示すように、検出手段１０１は、有効領域２０２内にキズ検出領域３０１を設定したうえで、キズ検出領域３０１のすべての画素を走査してその輝度を測定する。なお、以下の説明では、キズ検出領域３０１にｎ個（ｎは任意の自然数）の画素があるとする。そのうえで検出手段１０１は、キズ検出領域３０１内に任意の一つの着目画素３０２Ａx（ｘは、１≦ｘ≦ｎを満たす自然数）を走査順に沿って順次設定しながら、設定した各着目画素３０２Ａxとその周辺画素３０２Ｂx（１）〜３０２Ｂx（８）との間で輝度の差分を測定する。そのうえで検出手段１０１は、前述した条件１（輝度差分が条件１用閾値以上である）を満たせば、その着目画素３０２Ａxを欠陥画素候補として検出する。
【００４４】
なお、
・周辺画素３０２Ｂx（１）は、図中、着目画素３０２Ａxの斜め左上側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（２）は、図中、着目画素３０２Ａxの上側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（３）は、図中、着目画素３０２Ａxの斜め右上側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（４）は、図中、着目画素３０２Ａxの左側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（５）は、図中、着目画素３０２Ａxの右側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（６）は、図中、着目画素３０２Ａxの斜め左下側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（７）は、図中、着目画素３０２Ａxの下側で隣接する画素である、
・周辺画素３０２Ｂx（８）は、図中、着目画素３０２Ａxの斜め右下側で隣接する画素である、
とする。
【００４５】
ここで、図３（ｂ）に示すように、
・着目画素３０２Ａxの輝度は２５０である、
・周辺画素３０２Ｂx（１）の輝度は９０である、
・周辺画素３０２Ｂx（２）の輝度は９１である、
・周辺画素３０２Ｂx（３）の輝度は９２である、
・周辺画素３０２Ｂx（４）の輝度は８９である、
・周辺画素３０２Ｂx（５）の輝度は８８である、
・周辺画素３０２Ｂx（６）の輝度は８８である、
・周辺画素３０２Ｂx（７）の輝度は８５である、
・周辺画素３０２Ｂx（８）の輝度は９２である、
とし、
条件１用閾値を３０とする。
【００４６】
この場合、着目画素３０２Ａxと周辺画素３０２Ｂx（１）〜３０２Ｂx（８）との間の輝度差分は、図３（ｃ）に示すように、１６０[３０２Ｂx（１）]、１５９[３０２Ｂx（２）]、１５８[３０２Ｂx（３）]、１６１[３０２Ｂx（４）]、１６２[３０２Ｂx（５）]、１６２[３０２Ｂx（６）]、１６５[３０２Ｂx（７）]、１５８[３０２Ｂx（８）]となる。このように着目画素３０２Ａxは、周辺画素３０２Ｂx（１）〜３０２Ｂx（８）との間の輝度差分が最低でも１５８となり、条件１用閾値（３０）を超えているため、着目画素３０２Ａxは、欠陥画素候補として検出される。なお、各周辺画素３０２Ｂx（１）〜３０２Ｂx（８）と着目画素３０２Ａxとの間の輝度差分を平均したうえで、その平均値と閾値とを比較することで欠陥画素候補を検出してもよい。
【００４７】
検出手段１０１により検出される欠陥画素候補には、不適当候補や高周波成分が混入する可能性があり、欠陥画素候補を即時、欠陥画素として判定して動的画素補正手段１０２等により補正すると、高周波成分等を欠陥画素として誤補正してしまうことになる。そこで、本実施の形態では、検出手段１０１により検出された欠陥画素候補はあくまでも欠陥画素の候補として取り扱って、図３（ｄ）に示すように、その画素位置を記憶手段１０５に一旦記憶させる。そのうえで、記憶手段１０５でその画素位置が記憶されている欠陥画素候補を、測定手段１０３と判定手段１０４とが所定数のフレームに渡って監視することで、欠陥画素候補から不適当候補を排除したうえで、不適当候補を排除した欠陥画素候補から高周波成分を排除することで、真の欠陥画素を抽出する。欠陥画素候補から不適当候補を排除する判断は、映像変化検出手段１１９と判定手段１０４により実施され、欠陥画素候補が欠陥画素であるか否かの判断（欠陥画素候補から高周波成分を排除する判断）は、測定手段１０３と判定手段１０４とにより実施される。
【００４８】
次に測定手段１０３の動作を説明する。
【００４９】
測定手段１０３は、
・所定数のフレームに渡る期間内において、各画素位置が、連続/不連続を問わず検出手段１０１によって欠陥画素候補として検出される検出回数、
・所定数のフレームに渡る期間内において、各画素位置が、検出手段１０１によって連続して欠陥画素候補として検出される連続検出回数、
を測定して、その測定結果を判定手段１０４に送る。
【００５０】
判定手段１０４は、測定手段１０３の測定結果に基づいて、欠陥画素候補から、高周波成分を排除してなる真の欠陥画素を判定する。しかしながら、その測定結果だけに基づいて欠陥画素を判定すると、次のような不都合が生じる。
【００５１】
撮像装置１１７を三脚等で固定した状態で撮像が行われた場合、例えば、静止状態の被写体を撮像したときのように、欠陥画素候補を検出したフレームの映像状態が複数フレームに渡って持続することがあり、そうなると、欠陥画素候補の検出回数や連続検出回数は際限なく加算されてしまう。本発明は、欠陥画素候補の検出回数や連続検出回数に基づいて欠陥画素を判定する（高周波成分を排除する）ため、そのような状態では、高周波成分を排除することが困難となる。そのため、欠陥画素候補を検出したフレームの映像状態が複数フレームに渡って持続する状態で検出される欠陥画素候補を不適当候補として取り除く必要がある。
【００５２】
本実施の形態では、このような処理が可能になるように映像変化検出手段１１９を設けている。以下、映像変化検出手段１１９の動作を説明する。映像変化検出手段１１９は、図２に示すように、各フレームにおいて、欠陥画素検出領域２０３内に映像変化検出領域２０６を設定したうえで、直前のフレームにおける映像変化検出領域２０６の輝度と、欠陥画素検出時のフレームにおける映像変化検出領域２０６の輝度との間で生じる信号レベル差（輝度差分）を検出し、その検出結果を判定手段１０４に知らせる。
【００５３】
判定手段１０４は、映像変化検出手段１１９から報知された検出結果を、前述した条件２に照合する。判定手段１０４は、検出結果が条件２を満たさない欠陥画素候補を、フレームの映像状態が複数フレームに渡って持続された状態で検出された不適当な欠陥画素候補であるとみなして排除する。
【００５４】
次に、判定手段１０４は、不適当候補が排除された欠陥画素候補を前述した第３,第４の条件に照合する。判定手段１０４は、欠陥画素候補が条件３、条件４のうちの少なくとも一つを満たすと、その欠陥画素候補は高周波成分でない真の欠陥画素である、と判定する。
【００５５】
測定手段１０３による測定結果ならびに映像変化検出手段１１９による検出結果の一例を図４（ａ）に、判定手段１０４の条件３,４を図４（ｄ）にそれぞれ示したうえで、その場合における判定手段１０４の判定結果を説明する。
【００５６】
ここで、図４（ａ）は、ｎ番目のフレームにおける状態４０１であって、状態４０１は、
・欠陥画素候補を検出せず、
・ｎー１番目のフレームからの映像変化無し、
の状態を示す。
【００５７】
図４（ｂ）は、ｎ＋１番目のフレームにおける状態４０２であって、状態４０２は、
・欠陥画素候補を検出、
・ｎ番目のフレームからの映像変化有り、
の状態を示す。
【００５８】
図４（ｃ）は、ｎ＋２番目のフレームにおける状態４０３であって、状態４０３は、
・欠陥画素候補を検出、
・ｎ＋１番目のフレームからの映像変化無し、
の状態を示す。
【００５９】
検出手段１０１は各状態を条件１に照合する。すると、状態４０１は条件１を満たさないので、検出手段１０１は、その画素位置において欠陥画素候補を検出せずと判定する。したがって、この場合は、その画素位置における欠陥画素候補の検出回数は１加算（インクリメント）されない。状態４０２は条件１を満たすので、検出手段１０１は、その画素位置において欠陥画素候補を検出したと判定する。さらに、状態４０２は条件２を満たすので、判定手段１０４は、その画素位置における欠陥画素候補は不適当候補ではない、と判断する。したがって、この場合は、その画素位置における欠陥画素候補の検出回数や連続検出回数は１加算（インクリメント）される。状態４０３は条件１を満たすものの、条件２は満たさないので、判定手段１０４は、その画素位置において、欠陥画素候補を検出したがその欠陥画素候補は不適当候補であると判断する結果、欠陥画素候補を検出せずと判定する。したがって、この場合は、その画素位置における欠陥画素候補の検出回数や連続検出回数は１加算（インクリメント）されない。
【００６０】
なお、映像変化検出領域２０６は、任意に設定することができるが、欠陥画素候補が検出された画素位置を含む領域に設定することが望ましい。以下、その理由を説明する。撮像装置１１７が固定された状態で欠陥画素候補を含まない領域に映像変化検出領域２０６が設定された状態で、映像変化検出領域２０６に被写体が進入した場合を想定する。この場合、撮像装置１１７が固定されているために、高周波成分の出現状態が維持される結果として、高周波成分は欠陥画素候補として検出される。このような不適当な欠陥画素候補は映像変化検出手段１１９の働きによって排除すべきである。しかしながら、この状態では本来なら映像変化はないと判断されるべきにもかかわらず、被写体が進入するために映像変化検出手段１１９が映像変化有りと誤判断してしまう。そのため、この時点で欠陥画素候補であると誤検出された欠陥画素候補を不適当候補として排除することができなくなる。
【００６１】
これに対して、欠陥画素候補を含む領域に映像変化検出領域２０６を設定した場合、映像変化検出領域２０６内に被写体が進入すると、欠陥画素候補と誤検出された高周波成分は、被写体の進出によって映像中から消滅しまい欠陥画素候補から排除される一方、欠陥画素に基づいて検出される欠陥画素候補は、映像中から消滅することなく残存する。そのため、欠陥画素の検出精度がさらに向上する。
【００６２】
判定手段１０４は、所定のフレーム間（４０１、４０２、４０３等）において、
・上述した条件３を満たす、
または、
・上述した条件４を満たす、
とその欠陥画素候補を、高周波成分でない真の欠陥画素と判定する。
【００６３】
欠陥画素には、常時現れるものとランダムに現れるものとがある。常時現れる欠陥画素は、白キズ２０１や黒キズ２０４であって、このような欠陥画素は位置参照補正手段１０６により補正するのが適している。一方、ランダムに現れる欠陥画素は、後発的に発生するキズ（後発的キズ）であって、このような欠陥画素は動的画素補正手段１０２により補正するのが適している。
【００６４】
その欠陥画素は、どの補正手段により補正されるべきかを判定するために、判定手段１０４は、その欠陥画素は前述した条件５,６のどちらを満たすのかを判定する。条件５を満たす場合、判定手段１０４は、その欠陥画素の補正を行うのは、位置参照補正手段１０６が適任だと判断する。一方、条件６を満たす場合、判定手段１０４は、その欠陥画素の補正を行うのは、動的画素補正手段１０２が適任だと判断する。
【００６５】
位置参照補正手段１０６と動的画素補正手段１０２とは、上記判定手段１０４による適任判断に基づいて補正動作をする。動的画素補正手段１０２は、欠陥画素と判定された画素の信号成分を、その周辺画素の信号成分に基づいて補正する。位置参照補正手段１０６は、欠陥画素と判定された画素の信号成分を隣接する画素の信号成分に置き換えることで補正する。
【００６６】
一般に、星空を撮像すると、その映像データに高周波成分が多数含まれる。このような特徴を有する星空を、三脚等で固定された本発明の撮像装置１１７によって撮像すると、夜空を背景にした被写体（星）が映像化される。この映像データを検出手段１０１が検査することで欠陥画素候補が検出されるが、そのようにして検出される欠陥画素候補には、上述したように高周波成分が含まれる。高周波成分を含む欠陥画素は、測定手段１０３,記憶手段１０５,判定手段１０４の働きにより、欠陥画素候補として検出される。このとき映像変化検出手段１１９と判定手段１０４とが映像変化検出領域２０６を観測することで、隣接するフレームの間で映像が変化していない（条件２を満たさない）場合は、そのフレームで検出された欠陥画素候補は不適当候補として排除される。一方、隣接するフレームの間で映像が変化する（条件２を満たす）場合は、そのフレームで検出された欠陥画素候補は、候補として適任であると判断されてその地位が維持される。以上のようにして各画素位置で検出される欠陥画素候補の検出回数や連続検出回数が前述した条件３や条件４を満たすと、その欠陥画素候補は高周波成分でない真の欠陥画素である、と判定されたうえで、その画素位置（欠陥画素）の信号成分が動的画素補正手段１０２や位置参照補正手段１０６により補正される。
【００６７】
以上のようにして行われる欠陥画素の検出／補正処理において、撮像装置１１７が固定され、かつ移動する被写体が存在する状態では、移動する被写体に応じて検出手段１０１が欠陥画素候補を検出し、映像変化検出手段１１９が映像変化を検出する。しかしながら、この撮像状態で検出される欠陥画素候補では、現時点（フレーム）での候補検出画素位置と、記憶手段１０５で記憶されている先の検出時点（前フレーム等）での候補検出画素位置とが異なるものとなる。そのため、判定手段１０４は、先の検出時点で欠陥画素候補として検出された画素位置における欠陥画素候補の検出回数をインクリメントしない。したがって、この画素位置は、欠陥画素と見なされることはなく、動的画素補正手段１０２や位置参照補正手段１０６で画素補正されない。このようにして、撮像装置１１７が固定される（映像が固定される）ことで生じる欠陥画素候補の誤認識は抑制される。
【００６８】
また、撮像装置１１７が固定されていない撮像状態で映像データに生じる高周波成分は映像とともに移動する。そのため、欠陥画素候補として検出手段１０１が誤検出した高周波成分は、測定手段１０３と判定手段１０４との働きによって欠陥画素候補から排除される。したがって、高周波成分に対する誤った補正は実施されない。一方、欠陥画素は、検出手段１１９によって欠陥画素候補として検出される。さらに、映像変化は、被写体の動きに関係なく常に映像変化検出手段１１９によって検出される。そのため、真正の欠陥画素からなる欠陥画素候補は、映像変化検出手段１１９と判定手段１０４とが所定のフレーム間監視することで、判定手段１０４によって欠陥画素として判定される。したがって、そのようにして検出される欠陥画素は、動的画素補正手段１０２等によって適切に補正される。
【００６９】
位置参照補正手段１０６による欠陥画素（白キズ２０１、黒キズ２０４）の補正方法では、図５（ａ）に示す欠陥画素（白キズ２０１、黒キズ２０４）の発生位置（画素位置）は、図５（ｂ）に示すように、記憶手段１０５に記憶される。記憶手段１０５は、欠陥画素の水平、垂直の位置に関する情報を格納する。位置参照補正手段１０６は、図５（ｃ）に示すように、記憶手段１０５から欠陥画素の画素位置情報を読み出したうえで、図５（ｄ），（ｅ）に示すように、その欠陥画素位置に隣接する画素の信号データにより欠陥画素の信号を置き換えることで補正する。
【００７０】
なお、動的画素補正手段１０２は記憶手段１０５を一時バッファとして用いているのに対して、位置参照補正手段１０６は、記憶手段１０５を欠陥画素（白キズ２０１・黒キズ２０４）の発生位置（画素位置）の登録手段として用いている。このように記憶手段１０５は、動的画素補正手段１０２における一時バッファとして機能するうえに、欠陥画素（白キズ２０１・黒キズ２０４）の発生位置（画素位置）を登録するためのもう一つの記憶手段としても機能する。
【００７１】
白キズ２０１・黒キズ２０４からなる欠陥画素（後発的キズ２０５以外）では、その発生上の特徴から一度、判定手段１０４により欠陥画素として判定されると、以降のフレームでも欠陥画素として判定される確率が高い。そのため、白キズ２０１・黒キズ２０４からなる欠陥画素の画素位置を記憶手段１０５に登録することにより、動的画素補正手段１０２を駆動させることなく欠陥画素を補正することができる。
【００７２】
以上のようにして白キズ２０１・黒キズ２０４からなる欠陥画素補正処理を、位置参照補正手段１０６が行う場合、位置参照補正手段１０６は、新たに欠陥画素として判定される画素位置が記憶手段１０５に登録された欠陥画素位置と重複するか否かを検査したうえで、重複していない場合のみ、新規の欠陥画素位置として記憶手段１０５に登録する。
【００７３】
なお、記憶手段１０５に登録されている欠陥画素位置は、その発生上の特徴から継続的に検出されるはずである。そのため、既に記憶手段１０５に記憶されている欠陥画素位置が、検出手段１０１によって新規に欠陥画素として判定されない状態が、任意のフレーム数に渡って継続される場合には、その画素位置は、誤って欠陥画素として判定されたものである確率が高い、または欠陥画素でなくなった確率が高いと判断されて記憶手段１０５から削除される。例えば、温度要因で発生した欠陥画素は、正常な温度に戻ると欠陥画素でなくなるという状況において、この再判定処理は効果的である。
【００７４】
次に、撮像装置１の動作について図６〜図８のフローチャートを参照して説明する。
【００７５】
欠陥画素を検出する前処理として、欠陥画素補正領域２０３が設定される。欠陥画素補正領域２０３は、例えば四角形状で設定される。この場合は、対角の２点が設定される。なお、多角形状の欠陥画素補正領域２０３が設定されてもよいが、その場合は、各頂点が設定される。同様に、映像変化検出領域２０６が設定される。映像変化検出領域２０６は、欠陥画素補正領域２０３と同様に任意の位置に設定されが、その設定方法としては、欠陥画素を検出した位置を中心とした所定の範囲に設定する方法を採用するのが好ましい。
【００７６】
（ステップＳ６０１）
撮像装置が映像を取り込んでいるときに、環境温度変化等の理由で撮像素子１０７に欠陥画素が生じると、その欠陥画素は、検出手段１０１,判定手段１０４等の働きによって欠陥画素候補として検出されてその画素位置が記憶手段１０５に記憶される。欠陥画素候補が複数発生することも考えられるが、その場合には、走査順で最初に検出される欠陥画素候補が検出される。欠陥画素候補が検出されると、ステップＳ６０２に移行する。
【００７７】
（ステップＳ６０２,Ｓ６０３）
ステップＳ６０２,Ｓ６０３では、欠陥画素判定処理（不適当欠陥画素候補の排除と欠陥画素の判定）が実施される。欠陥画素判定処理は、測定手段１０３,映像変化検出手段１１９,および判定手段１０４により実施される。ステップＳ６０２,Ｓ６０３で欠陥画素（キズ）であると判定される場合、ステップＳ６０４に移行し、そうでなければ、ステップＳ６０６に移行する。
【００７８】
（ステップＳ６０４）
ステップＳ６０４では、その欠陥画素の補正を、動的画素補正手段１０２で実施するのか、位置参照補正手段１０６で実施するのかが判断される。判定は判定手段１０４によって実施される。判定は、欠陥画素が前述した条件５,６のどちらを満たすのかを見定めることで実施される。動的画素補正手段１０２で実施すると判定される場合、ステップＳ６０５に移行し、位置参照補正手段１０６で実施すると判定される場合、ステップＳ６０７に移行する。
【００７９】
（ステップＳ６０５）
ステップＳ６０５では、その欠陥画素の補正が動的画素補正手段１０２にて実施される。補正は、周辺画素の平均値、または中間値を用いることにより実施される。補正後は、ステップＳ６０６に移行する。
【００８０】
（ステップＳ６０７）
ステップＳ６０７,Ｓ６０８では、その欠陥画素の補正が位置参照補正手段１０６にて実施される。まず、ステップＳ６０７では、検出した欠陥画素の画素位置が記憶手段１０５に記憶（登録）される。記憶処理後は、ステップＳ６０８に移行する。
【００８１】
（ステップＳ６０８）
ステップＳ６０８では、その欠陥画素の補正が位置参照補正手段１０６にて実施される。具体的には、記憶手段１０５に登録されている画素位置の信号データを隣接する画素位置の信号データに置き換えることにより補正が実施される。補正後は、ステップＳ６０６に移行する。
【００８２】
（ステップＳ６０６）
ステップＳ６０６では、全ての画素に対するステップＳ６０１〜Ｓ６０４,Ｓ６０７〜Ｓ６０８の処理が完了したかどうかが判断される。完了していないと判断される場合、ステップＳ６０１に戻り、完了していると判断される場合、一連の欠陥画素補正処理が終了する。
【００８３】
次に、欠陥画素の検出判定処理（ステップＳ６０１,Ｓ６０２）の詳細を、図７、図８のフローチャートを参照して説明する。
【００８４】
まず、欠陥画素候補の検出処理を、図７のフローチャートを参照して説明する。
【００８５】
（ステップＳ７０１）
ステップＳ７０１では、着目画素（欠陥画素候補であるかどうかの判定対象とする画素）としている画素とその周辺画素との間の輝度差分が計算される。輝度差分の計算が完了すると、ステップＳ７０２に移行する。
【００８６】
（ステップＳ７０２）
ステップＳ７０２では、前述した条件１を満たす（算出した輝度差分が条件１用閾値を超える）着目画素が、欠陥画素候補として検出される。
【００８７】
（ステップＳ７０３）
ステップＳ７０３では、欠陥画素候補として検出された着目画素の画素位置が、記憶手段１０５に記憶される。
【００８８】
次に、不適当欠陥画素候補の排除処理ならびに欠陥画素の判定処理を、図８のフローチャートを参照して説明する。
【００８９】
（ステップＳ８０１）
ステップＳ８０１では、映像変化検出手段１１９が、その欠陥画素検出候補を検出したフレームにおいて、直前のフレームからみた映像変化を検出したうえで、その映像変化が条件２を満たさない（映像変化が条件２用閾値を超えない）欠陥画素候補は不適当候補として排除される。具体的には、映像変化が無い場合には、その欠陥画素候補は不適当候補ではないと判断されたうえで、その欠陥画素候補の欠陥画素候補の地位は維持されたままでステップＳ８０２に進む。一方、ステップＳ８０１において、映像変化がある場合には、その欠陥画素候補は不適当候補であると判断されたうえで、その欠陥画素候補の画素位置では、欠陥画素候補検出回数がインクリメントされない状態でステップＳ８０３へ進む。
【００９０】
（ステップＳ８０２）
ステップＳ８０２では、欠陥画素候補として判定された画素位置における欠陥画素候補検出回数が１加算（インクリメント）される。
【００９１】
（ステップＳ８０３）
ステップＳ８０３では、所定の検出動作回数（毎フレーム毎に欠陥画素候補を検出している場合は、フレーム数）を経過したかどうかが判断される。所定の検出回数を経過していれば、ステップＳ８０４へ進み、そうでなければ、ステップＳ８０１へ戻る。
【００９２】
（ステップＳ８０４）
ステップＳ８０４では、
・欠陥画素候補検出回数が条件３を満たす（条件３用閾値を超える）か否か、
・欠陥画素連続検出回数が条件４を満たす（条件４用閾値を超える）か否か、
が判断される。条件３,４のうちのいずれか一つを満たせば、その欠陥画素候補は欠陥画素と判定され、ステップＳ８０７へ進む。条件３,４のうちのいずれも満たさない場合は、その欠陥画素候補は欠陥画素ではないと判断されて欠陥画素判定処理が終了する。
【００９３】
本発明では、欠陥画素候補の検出回数を測定するための測定手段９０２と、検出した欠陥画素候補が真に欠陥画素であるか否かを判定するための判定手段９０３を備えた。これにより、欠陥画素を検出後、即時に欠陥画素を補正することにより起こる過補正（高周波成分の誤補正）を防ぐことで、欠陥画素を高精度に検出して補正することができる。さらに、映像変化検出手段１１９を備えることで、映像の変化が生じない状態で生じる欠陥画素候補の誤検出を防止することができるためにさらに欠陥画素の検出精度が向上する。
【００９４】
以上のことから、本発明によれば、遮光制御装置を備えない動画システムでも欠陥画素を精度よく補正することができる。
【００９５】
なお、本実施の形態によれば、ビデオカメラやデジタルカメラでも確実に欠陥画素を補正することができる。
【産業上の利用可能性】
【００９６】
以上のように、本発明にかかる撮像装置は、コストを増やすことなく精度よく欠陥画素を補正することができるという効果を有し、撮像装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００９７】
【図１】本発明の全体の構成図である。
【図２】欠陥画素補正領域の説明図である。
【図３】静的画素補正手段の説明図である。
【図４】欠陥画素候補検出手段の説明図である。
【図５】欠陥画素判定手段の説明図である。
【図６】本発明の処理フローを示すフローチャート図である。
【図７】本発明の処理フローを示すフローチャート図である。
【図８】本発明の処理フローを示すフローチャート図である。
【符号の説明】
【００９８】
１０１・・・検出手段
１０２・・・動的画素補正手段
１０３・・・発生頻度測定手段
１０４・・・判定手段
１０５・・・記憶手段
１０６・・・位置参照補正手段
１０７・・・撮像素子
１１９・・・映像変化検出手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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