(57)【要約】【課題】分光データの出力先又は分光データの出力先との通信手段への負荷を減少する分光測定装置を提供する。【解決手段】分光測定装置からの分光データの出力にあたっては、繰り返し生成した複数の分光データVを分光測定装置の側で一時的に記憶する。そして、分光データVに特徴的変化が生じたことを検出すると、特徴的変化が生じた分光データV[p]、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]、分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]の全部又は一部を出力する。【選択図】図１
2010151703.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定装置であって、
分光測定を繰り返し行い分光データを繰り返し生成する測定部と、
前記測定部が生成した複数の分光データを一時的に記憶するバッファメモリと、
前記測定部が生成した分光データから基準分光データを導出する基準分光データ導出部と、
判定の対象とする分光データと前記基準分光データ導出部が導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する判定部と、
前記判定部により基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定された第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記バッファメモリから読み出して出力する出力部と、
を備える分光測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の分光測定装置において、
トリガ条件が、波長と当該波長における分光データと基準分光データとの差のトリガレベルとの組を含み、
前記判定部は、
トリガ条件に含まれる波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値がトリガ条件に含まれる当該波長と組をなすトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する分光測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の分光測定装置において、
トリガ条件が、波長と当該波長における分光データと基準分光データとの差のトリガレベルとの組を複数個含み、各組ごとにトリガレベルが独立しており、
前記判定部は、
トリガ条件に含まれる全部又は一部の波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値がトリガ条件に含まれる当該波長と組をなすトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する分光測定装置。
【請求項４】
請求項２又は請求項３に記載の分光測定装置において、
トリガレベルの設定を受け付ける設定部、
をさらに備え、
前記判定部は、前記設定部により設定されたトリガレベルによって決まるトリガ条件に合致するか否かを判定する分光測定装置。
【請求項５】
請求項４に記載の分光測定装置において、
前記測定部が生成した分光データを表現するグラフにノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を示す情報と前記設定部により設定されたトリガレベルを示す情報とを重ね合わせて表示する表示部、
をさらに備える分光測定装置。
【請求項６】
請求項１に記載の分光測定装置において、
トリガ条件が、各波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値の測定波長範囲全体に渡る総和のトリガレベルを含み、
前記判定部は、
総和がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する分光測定装置。
【請求項７】
請求項１に記載の分光測定装置において、
各波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値の測定波長範囲全体に渡る二乗和のトリガレベルを含み、
前記判定部は、
二乗和がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する分光測定装置。
【請求項８】
請求項１に記載の分光測定装置において、
トリガ条件が、分光データの重心波長と基準分光データの重心波長との重心波長差のトリガレベルを含み、
前記判定部は、
重心波長差の絶対値がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する分光測定装置。
【請求項９】
請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の分光測定装置において、
前記バッファメモリのメモリ空間が循環的に使用される分光測定装置。
【請求項１０】
請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の分光測定装置において、
前記基準分光データ導出部は、
前記判定部が判定の対象とする分光データの直近に測定された複数の分光データを平均して基準分光データを導出する分光測定装置。
【請求項１１】
請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の分光測定装置において、
前記基準分光データ導出部は、
一連の分光データの測定において最初に測定された分光データを基準分光データにする分光測定装置。
【請求項１２】
光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定方法であって、
a) 分光測定を繰り返し行い分光データを繰り返し生成する工程と、
b) 前記工程a)において生成された複数の分光データを一時的に記憶する工程と、
c) 前記工程a)において生成された分光データから基準分光データを導出する工程と、
d) 判定の対象とする分光データと前記工程(c)において導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する工程と、
e) 前記工程d)において基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定した第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記工程a)の記憶先から読み出して出力する工程と、
を備える分光測定方法。
【請求項１３】
コンピュータで実行されることにより、光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定プログラムであって、前記分光測定プログラムは、コンピュータに、
a) 分光データを繰り返し取得する工程と、
b) 前記工程a)において取得した複数の分光データを一時的に記憶する工程と、
c) 前記工程a)において取得した分光データから基準分光データを導出する工程と、
d) 判定の対象とする分光データと前記工程(c)において導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する工程と、
e) 前記工程d)において基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定した第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記工程a)の記憶先から読み出して出力する工程と、
を実行させる分光測定プログラム。
【請求項１４】
分光測定システムであって、
請求項２又は請求項３に記載の分光測定装置と、
前記分光測定装置に接続され、トリガレベルの設定を受け付ける設定部と、前記測定部が生成した分光データを表現するグラフにノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を示す情報と前記設定部により設定されたトリガレベルを示す情報とを重ね合わせて表示する表示部とを備える外部装置と、
を備える分光測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定装置及びこれに関連する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
分光光度計・分光測色計・分光放射輝度計等の分光測定装置には、光量・輝度・照度・透過率・反射率等の光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データをパーソナルコンピュータ等の外部装置に出力するものがある。このような分光測定装置には、分光測定を繰り返し行い分光データを外部装置に繰り返し出力するものがある。
【０００３】
特許文献１は、本願発明と関連する文献公知発明が記載された先行技術文献である。特許文献１は、測定データに関連した内部トリガを検出するとアクイジョンメモリに測定データを書き込む技術に言及している。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２０３７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、分光測定を繰り返し行い分光データを外部装置に繰り返し出力する場合、分光データに顕著な変化がない場合でも分光データを外部装置に出力することになる。このため、似たような分光データの繰り返しの出力により、外部装置又は分光測定装置と外部装置との通信手段にあまり意味のない分光データにより負荷を与えることになる。
【０００６】
本発明は、この問題を解決するためになされたもので、分光データの出力先又は分光データの出力先との通信手段への負荷を減少する分光測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、請求項１の発明は、光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定装置であって、分光測定を繰り返し行い分光データを繰り返し生成する測定部と、前記測定部が生成した複数の分光データを一時的に記憶するバッファメモリと、前記測定部が生成した分光データから基準分光データを導出する基準分光データ導出部と、判定の対象とする分光データと前記基準分光データ導出部が導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する判定部と、前記判定部により基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定された第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記バッファメモリから読み出して出力する出力部と、を備える。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１に記載の分光測定装置において、トリガ条件が、波長と当該波長における分光データと基準分光データとの差のトリガレベルとの組を含み、前記判定部は、トリガ条件に含まれる波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値がトリガ条件に含まれる当該波長と組をなすトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する。
【０００９】
請求項３の発明は、請求項１に記載の分光測定装置において、トリガ条件が、波長と当該波長における分光データと基準分光データとの差のトリガレベルとの組を複数個含み、各組ごとにトリガレベルが独立しており、前記判定部は、トリガ条件に含まれる全部又は一部の波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときに当該波長と組をなすトリガ条件に合致したと判定する。
【００１０】
請求項４の発明は、請求項２又は請求項３に記載の分光測定装置において、トリガレベルの設定を受け付ける設定部、をさらに備え、前記判定部は、前記設定部により設定されたトリガレベルによって決まるトリガ条件に合致するか否かを判定する。
【００１１】
請求項５の発明は、請求項４に記載の分光測定装置において、前記測定部が生成した分光データを表現するグラフにノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を示す情報と前記設定部により設定されたトリガレベルを示す情報とを重ね合わせて表示する表示部、をさらに備える。
【００１２】
請求項６の発明は、請求項１に記載の分光測定装置において、トリガ条件が、各波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値の測定波長範囲全体に渡る総和のトリガレベルを含み、前記判定部は、総和がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する。
【００１３】
請求項７の発明は、請求項１に記載の分光測定装置において、各波長における分光データと基準分光データとの差の絶対値の測定波長範囲全体に渡る二乗和のトリガレベルを含み、前記判定部は、二乗和がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する。
【００１４】
請求項８の発明は、請求項１に記載の分光測定装置において、トリガ条件が、分光データの重心波長と基準分光データの重心波長との重心波長差のトリガレベルを含み、前記判定部は、重心波長差の絶対値がトリガ条件に含まれるトリガレベルを超えたときにトリガ条件に合致したと判定する。
【００１５】
請求項９の発明は、請求項１ないし請求項８のいずれかに記載の分光測定装置において、前記バッファメモリのメモリ空間が循環的に使用される。
【００１６】
請求項１０の発明は、請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の分光測定装置において、前記基準分光データ導出部は、前記判定部が判定の対象とする分光データの直近に測定された複数の分光データを平均して基準分光データを導出する。
【００１７】
請求項１１の発明は、請求項１ないし請求項９のいずれかに記載の分光測定装置において、前記基準分光データ導出部は、一連の分光データの測定において最初に測定された分光データを基準分光データにする。
【００１８】
請求項１２の発明は、光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定方法であって、a) 分光測定を繰り返し行い分光データを繰り返し生成する工程と、b) 前記工程a)において生成された複数の分光データを一時的に記憶する工程と、c) 前記工程a)において生成された分光データから基準分光データを導出する工程と、d) 判定の対象とする分光データと前記工程(c)において導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する工程と、e) 前記工程d)において基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定した第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記工程a)の記憶先から読み出して出力する工程と、を備える。
【００１９】
請求項１３の発明は、コンピュータで実行されることにより、光の波長ごとの強弱に関する値を記録した分光データを出力する分光測定プログラムであって、前記分光測定プログラムは、コンピュータに、a) 分光データを繰り返し取得する工程と、b) 前記工程a)において取得した複数の分光データを一時的に記憶する工程と、c) 前記工程a)において取得した分光データから基準分光データを導出する工程と、d) 判定の対象とする分光データと前記工程(c)において導出した基準分光データとの違いがトリガ条件に合致するか否かを判定する工程と、e) 前記工程d)において基準分光データとの違いがトリガ条件に合致すると判定した第１の分光データ、第１の分光データの後であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第２の分光データ及び第１の分光データの前であって第１の分光データの測定時から設定時間内に測定された第３の分光データの全部又は一部を前記工程a)の記憶先から読み出して出力する工程と、を実行させる。
【００２０】
請求項１３の発明は、分光測定システムであって、請求項２又は請求項３に記載の分光測定装置と、前記分光測定装置に接続され、トリガレベルの設定を受け付ける設定部と、前記測定部が生成した分光データを表現するグラフにノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を示す情報と前記設定部により設定されたトリガレベルを示す情報とを重ね合わせて表示する表示部とを備える外部装置と、を備える。
【発明の効果】
【００２１】
請求項１ないし請求項１４の発明によれば、トリガ条件に合致するような特徴的変化が分光データに生じないと分光データが出力されないので、分光データの出力先又は分光データの出力先との通信手段への負荷が減少する。その一方で、特徴的変化が分光データに生じると分光データが出力されるので、重要な分光データは失われない。
【００２２】
請求項２の発明によれば、特定の波長における分光データの変化が特徴的変化として検出される。
【００２３】
請求項３の発明によれば、波長ごとにトリガレベルが独立しているので、波長によってノイズの出方が異なっても特徴的変化が適切に検出される。
【００２４】
請求項５の発明によれば、ノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を参照しながらトリガレベルを設定することになるので、ノイズの影響を受けにくい適切なトリガレベルが設定される。
【００２５】
請求項６ないし請求項７の発明によれば、測定波長範囲全体に渡る分光データの変化が特徴的変化として検出される。
【００２６】
請求項１４の発明によれば、ノイズの影響がある光の強弱に関する値の範囲を参照しながらトリガレベルを設定することになるので、ノイズの影響を受けにくい適切なトリガレベルが設定される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
＜１  分光測定装置からの分光データの出力の概略＞
図１は、分光測定装置からの分光データの出力の概略を説明する模式図である。図１は、基準分光データT及び測定順に時系列で並べられた分光データV[1],…,V[q],…,V[p],…,V[r],…,V[s]を模式的に示している。大括弧[]内の自然数は、分光データVの測定順を表す。分光データVは、波長ごとの光の強弱に関する値V(1),V(2),…,V(n)の集合であり、基準分光データTは、波長ごとの基準値T(1),T(2),…,T(n)の集合である。小括弧()内の自然数は、波長を表す指標である。
【００２８】
「分光データ」とは、光の波長ごとの強弱に関する値を記録したデータである。周波数・波数・光子エネルギー等の波長に反比例する値ごとのデータも波長ごとのデータの範疇に含まれると解すべきである。「光の強弱に関する値」には、光量・輝度・照度等の光の強弱そのものを直接的に表す値と透過率・反射率等の光の強弱から間接的に導出される値とがある。
【００２９】
分光測定装置からの分光データの出力にあたっては、繰り返し生成した複数の分光データVを分光測定装置の側で一時的に記憶する。そして、分光データVに特徴的変化が生じたことを検出すると、特徴的変化が生じた分光データV[p]、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]、分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時から設定時間内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]の全部又は一部を出力する。これにより、特徴的変化が分光データVに生じないと分光データVが出力されないので、分光データVの出力先又は分光データVの出力先との通信手段への負荷が減少する。その一方で、特徴的変化が生じると分光データVが出力されるので、重要な分光データVは失われない。
【００３０】
分光データVに特徴的変化が生じたか否かは、分光データVと基準分光データTとの違いがトリガ条件に合致するか否かで判断する。
【００３１】
基準分光データTは、分光データV[1],…,V[s]から導出される。基準分光データTは、時間によって変動する変動データであってもよいし、時間によって変動しない固定データであってもよい。
【００３２】
＜２  分光測定装置１０２＞
図２は、分光測定装置１０２の望ましい実施形態を説明する図である。図２は、分光測定装置１０２のブロック図となっている。
【００３３】
図２に示すように、分光測定装置１０２は、分光測定を繰り返し行い分光データVを繰り返し生成する測定部１０４と、測定部１０４が生成した分光データVを処理する組み込みコンピュータ１０６と、これらを内部に収容するハウジング１０８とを備える。
【００３４】
＜３  測定部１０４＞
図２に示すように、測定部１０４は、試料１９０から入射した光を波長ごとに分散させてから受光素子１１２に導く分光光学系１１０と、分光光学系１１０が波長ごとに分散させた光を受光し波長ごとに光量を表すアナログ信号を生成する受光素子１１２と、試料１９０に照射される外光（環境光）の光量を表すアナログ信号を生成する外光センサ１１４と、受光素子１１２及び外光センサ１１４が生成したアナログ信号を処理するアナログ信号処理回路１１６と、アナログ信号処理回路１１６が処理したアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路１１８と、受光素子１１２の動作タイミングを決めるタイミング信号を生成するタイミングジェネレータ１２０とを備える。試料１９０からの光には、試料１９０自身が発する光試料１９０によって反射された光であってもよい。試料１９０自身が発する光は、照明・ディスプレイ等の発光であってもよいし、蛍光・りん光等であってもよい。
【００３５】
Ａ／Ｄ変換回路１１８によってデジタル信号に変換された分光データVは、組み込みコンピュータ１０６へ出力される。タイミングジェネレータ１２０におけるタイミング信号の生成は、組み込みコンピュータ１０６によって制御される。
【００３６】
なお、受光素子１１２がタイミング信号を必要としなければ、タイミングジェネレータ１２０は省略される。
【００３７】
分光光学系１１０は、プリズム・回折格子等の波長分散素子や分光フィルタ等にレンズ・ミラー・フィルタ・シャッタ・スリット等の光学素子を組み合わせて構成される。
【００３８】
受光素子１１２は、フォトダイオード等の光電変換素子を一方向に配列したラインセンサであってもよいし、１個の光電変換素子を備えるポイントセンサであってもよい。受光素子１１２がポイントセンサである場合、受光素子１１２を走査する走査機構も設ける。ラインセンサにおける光電変換素子の配列方向及びポイントセンサの走査方向は、分光光学系１１０が光を波長ごとに分散する方向である。受光素子１１２としては、フォトダイオード・光電子増倍管・ＣＣＤイメージセンサ・ＣＭＯＳイメージセンサ等を用いる。
【００３９】
外光センサ１１４としても、フォトダイオード・光電子増倍管・ＣＣＤイメージセンサ・ＣＭＯＳイメージセンサ等を用いる。なお、外光センサ１１４がない分光測定装置もある。
【００４０】
分光測定装置１０２は、分光光度計・分光測色系・分光放射輝度計等の光の強弱に関する値の波長による変化を記録した分光データを出力する装置であればどのようなものでもあってよい。したがって、上述の測定部１０４の構成を目的に応じて変形することも許される。
【００４１】
＜４  組み込みコンピュータ１０６＞
図２に示すように、組み込みコンピュータ１０６は、分光データ処理プログラム１３６を実行する演算回路（ＣＰＵ）１２２と、分光データ処理プログラム１３６がロードされるメモリ１２４と、測定部１０４が生成した分光データVを一時的に記憶するバッファメモリ１２６と、分光データ処理プログラム１３６がインストールされるフラッシュメモリ１２８と、外部装置との間でデータをやり取りするインターフェース１３０と、画像を表示する表示部１３２と、操作を受け付ける操作部１３４とを備える。フラッシュメモリ１２８に代えて、ハードディスクドライブ等の他の補助記憶装置を採用してもよい。
【００４２】
組み込みコンピュータ１０６は、フラッシュメモリ１２８からメモリ１２４にロードされた分光データ処理プログラム１３６を演算回路１２２が実行することにより、取得した分光データVを処理する。組み込みコンピュータ１０６が行う処理の全部又は一部を専用のハードウエア回路に行わせてもよい。
【００４３】
メモリ１２４は、基準分光データ１３８、トリガ条件１４０及び出力パターン１４２も保持する。
【００４４】
操作部１３４は、キー・スイッチ・ロータリエンコーダ・タッチパネル等で構成する。操作部１３４に対して行われた操作は、組み込みコンピュータ１０６において検出される。
【００４５】
表示部１３２は、液晶ディスプレイパネル・有機ＥＬディスプレイパネル等で構成される。表示部１３２をタッチパネルとして表示部１３２が操作部１３４としても機能するようにしてもよい。
【００４６】
分光データ処理プログラム１３６は、分光測定装置１０２の出荷時に予めインストールされる。ただし、出荷後に分光データ処理プログラム１３６をディスク１４４等の記録媒体からインストールすることやネットワーク経由でインストールすることも許される。
【００４７】
分光データVが出力される外部装置は、パーソナルコンピュータであってもよいし、ハードディスクドライブ・フラッシュメモリ等の記憶装置であってもよいし、ディスプレイであってもよい。
【００４８】
＜５  トリガ条件１４０＞
図３〜図６は、それぞれ、トリガ条件１４０の第１〜第４の例を説明する図である。なお、図３〜図６に示すトリガ条件１４０の例は、例示にすぎず、基準分光データTと分光データVとの違いが大きくなったことを検出しうる他のトリガ条件を採用してもよい。
【００４９】
｛トリガ条件１４０の第１の例｝
図３に示すトリガ条件１４０の第１の例は、波長λと当該波長λにおける基準分光データTと分光データVとの光量差（より一般的には、光の強弱に関する値の差）ΔI(λ)のトリガレベル（閾値）TLとの組を含む。
【００５０】
図７は、トリガ条件１４０の第１の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。図７（ａ）〜（ｅ）は、それぞれ、基準分光データTを表現する点線で描かれたグラフに一連の測定により得られた分光データV[0],V[1],V[2],V[3],V[4]を表現する実線で描かれたグラフを重ね合わせた図である。図７は、一連の分光データの測定において最初に測定された分光データV[0]を基準分光データTにした場合を示している。
【００５１】
トリガ条件１４０の第１の例を採用する場合、組み込みコンピュータ１０６は、光量差ΔI(λ)の絶対値|I(λ)|が、図７（ａ）〜（ｂ）に示すトリガレベルTLを超えていない状態から図７（ｃ）に示すトリガレベルTLを超えた状態になったときに分光データVと基準分光データTとの違いがトリガ条件１４０に合致したと判定し、分光データVに特徴的変化が生じたとみなす。トリガ条件１４０に合致したと判定した後に、図７（ｄ）〜（ｅ）に示す光量差ΔI(λ)の絶対値|ΔI(λ)の|がトリガレベルTLを超えてない状態に戻ったときも、先のトリガ条件１４０に合致したとの判定に影響はない。
【００５２】
トリガ条件１４０の第１の例によれば、特定の波長λにおける分光データVの変化が特徴的変化として検出される。
【００５３】
｛トリガ条件１４０の第２の例｝
図４に示すトリガ条件１４０の第２の例は、波長λiと波長λiにおける分光データVと基準分光データTとの光量差ΔI(λi)のトリガレベルTLiとの組を複数個含む(i=1,2…,,u-1,u)。トリガレベルTLiは、各組ごとに独立している。このようなトリガ条件１４０は、例えば、ルックアップテーブルとしてメモリ１２４に保持される。
【００５４】
トリガ条件１４０の第２の例を採用する場合、組み込みコンピュータ１０６は、トリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuの全部又は一部の波長λiにおける光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|が波長λiと組をなすトリガレベルTLiを超えたときに分光データVと基準分光データTとの違いがトリガ条件１４０に合致したと判定し、分光データVに特徴的変化が生じたとみなす。「全部又は一部」とは、トリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuの全部における光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|がトリガレベルTLiを超えたときにトリガ条件１４０に合致したと判定してもよいし、トリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuのいずれかにおける光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|がトリガレベルTLiを超えたときにトリガ条件１４０に合致したと判定してもよいことを意味する。この他、トリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuから選択された第１の群の全部の波長における光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|がトリガレベルTLiを超えるとともにトリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuから選択された第２の群のいずれかの波長における光量差ΔI(λi)がトリガレベルTLiを超えたときにトリガ条件１４０に合致したと判定することや、トリガ条件に含まれる波長λ1,λ2,…,λu-1,λuのうち基準個数以上の波長における光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|がトリガレベルTLiを超えたときにトリガ条件１４０に合致したと判定することも「全部又は一部」の範疇に含まれる。
【００５５】
トリガ条件１４０の第２の例によれば、波長ごとにトリガレベルが独立しているので、波長によってノイズの出方が異なっても特徴的変化が適切に検出される。
【００５６】
｛トリガ条件１４０の第３の例｝
図５に示すトリガ条件１４０の第３の例は、各波長λiにおける分光データVと基準分光データTとの光量差ΔI(λi)の絶対値|ΔI(λi)|の測定波長範囲全体に渡る総和Ｓ（式（１））のトリガレベルTLを含む。
【００５７】
【数１】
2010151703.tif 000003
【００５８】
図８は、トリガ条件１４０の第３の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。図８（ａ）〜（ｅ）は、それぞれ、基準分光データTを表現する点線で描かれたグラフに一連の測定により得られた分光データV[0],V[1],V[2],V[3],V[4]を表現する実線で描かれたグラフを重ね合わせた図である。図８は、一連の分光データの測定において最初に測定された分光データV[0]を基準分光データTにした場合を示している。
【００５９】
トリガ条件１４０の第３の例を採用する場合、組み込みコンピュータ１０６は、総和Sが、図８（ａ）〜（ｃ）に示すトリガレベルTLを越えていない状態から図８（ｄ）に示すトリガレベルTLを超えた状態になったときに分光データVと基準分光データTとの違いがトリガ条件１４０に合致したと判定し、分光データVに特徴的変化が生じたとみなす。
【００６０】
なお、総和SがトリガレベルTLを超えたか否かではなく、各波長λiにおける分光データVと基準分光データTとの光量差ΔI(λi)の測定波長範囲全体に渡る二乗和Ｓ（式（２））がトリガレベルTLを超えたか否かによって判定してもよい。
【００６１】
【数２】
2010151703.tif 000004
【００６２】
トリガ条件１４０の第３の例によれば、測定波長範囲全体に渡る分光データVの変化が特徴的変化として検出される。
【００６３】
｛トリガ条件１４０の第４の例｝
図６に示すトリガ条件１４０の第４の例は、分光データVの重心波長λgと基準分光データTの重心波長λgとの重心波長差ΔλgのトリガレベルTLを含む。重心波長λgは、式（３）に示すように、光量I(λ)で重み付けした波長λの測定波長範囲全体に渡る総和を光量I(λ)の測定波長範囲全体に渡るで規格化した値である。
【００６４】
【数３】
2010151703.tif 000005
【００６５】
図９は、トリガ条件１４０の第４の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。図９（ａ）〜（ｅ）は、それぞれ、基準分光データTを表現する点線で描かれたグラフに一連の測定により得られた分光データV[0],V[1],V[2],V[3],V[4]を表現する実線で描かれたグラフを重ね合わせた図である。図９は、一連の分光データの測定において最初に測定された分光データV[0]を基準分光データTにした場合を示している。
【００６６】
トリガ条件１４０の第４の例を採用する場合、組み込みコンピュータ１０６は、重心波長差Δλgの絶対値|Δλg|が、図９（ａ）〜（ｂ）に示すトリガレベルTLを超えていない状態から図９（ｃ）に示すトリガレベルTLを超えた状態になったときに分光データVと基準分光データTとの違いがトリガ条件１４０に合致したと判定し、分光データVに特徴的変化が生じたとみなす。トリガ条件１４０に合致したと判定した後に、図９（ｄ）〜（ｅ）に示す重心波長差ΔλgがトリガレベルTLを超えていない状態に戻ったときも、先のトリガ条件１４０に合致したとの判定に影響はない。
【００６７】
トリガ条件１４０の第４の例によれば、測定波長範囲全体に渡る分光データVの変化が特徴的変化として検出される。
【００６８】
＜６  出力パターン＞
図１０〜図１３は、分光データVに特徴的変化が生じたときに出力される分光データVの範囲に関する出力パターン１４２の第１〜第４の例を説明する図である。図１０〜図１３には、測定順に時系列で並べられた分光データ…,V[q],…,V[p-1],V[p],V[p+1],…,V[r],…が示されている。
【００６９】
｛出力パターン１４２の第１の例｝
図１０に示す出力パターン１４２の第１の例では、特徴的変化が生じた分光データV[p]と、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時TGから設定時間TM1内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]とが出力される。出力パターン１４２の第１の例は、特徴的変化が生じた後の分光データVが重要である場合に特に意義がある。
【００７０】
｛出力パターン１４２の第２の例｝
図１１に示す出力パターン１４２の第２の例では、特徴的変化が生じた分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時TGから設定時間TM2内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]が出力される。出力パターン１４２の第２の例は、特徴的変化が起こる前の分光データVが重要である場合に特に意義がある。なお、特徴的変化が生じた分光データV[p]も加え、分光データV[q],…,V[p]が出力されるようにしてもよい。
【００７１】
｛出力パターン１４２の第３の例｝
図１２に示す出力パターン１４２の第３の例では、特徴的変化が生じた分光データV[p]と、分光データV[p]の後であって分光データV[p]の測定時TGから設定時間TM31内に測定された分光データV[p+1],…,V[r]と、分光データV[p]の前であって分光データV[p]の測定時TGから設定時間TM32内に測定された分光データV[q],…,V[p-1]とが出力される。設定時間TM31と設定時間TM32とは、同じであってもよいし、異なっていてもよい。出力パターン１４２の第３の例は、特徴的変化が生じる前後の分光データVの変化が重要である場合に特に意義がある。
【００７２】
｛出力パターン１４２の第４の例｝
図１３に示す出力パターン１４２の第４の例では、特徴的変化が生じた分光データV[p]が出力される。出力パターン１４２の第４の例は、特徴的変化が生じた分光データVが特に重要である場合に特に意義がある。
【００７３】
＜７  処理＞
図１４は、分光測定装置１０２における処理の流れを説明するフローチャートである。
【００７４】
図１４に示すように、分光測定にあたっては、まず、操作部１３４によりトリガ条件１４０及び出力パターン１４２の設定が受け付けられ、設定されたトリガ条件１４０及び出力パターン１４２がメモリ１２４に書き込まれる（ステップＳ１０１）。
【００７５】
トリガ条件１４０及び出力パターン１４２の設定の後に始まる一連の測定においては、測定部１０６が生成した分光データVが組み込みコンピュータ１０６によって取得される（ステップＳ１０２）。このとき、測定部１０４又は組み込みコンピュータ１０６において外光の影響をキャンセルする処理を行ってもよい。外光の影響をキャンセルするためには、例えば、受光素子１１２から得られた分光データVと外光センサ１１４から得られた分光データとの差をとってもよいし、受光素子１１２から得られた分光データVを外光センサ１１４から得られた光量データで規格化してもよい。これにより、分光データVから外光の変動の影響が除去されるので、試料１９０に変化がないにもかかわらず外光が変動したときに分光データVに特徴的変化が生じたと判定してしまうことが抑制される。
【００７６】
続いて、組み込みコンピュータ１０６により分光データVがバッファメモリ１２６に書き込まれる（ステップＳ１０３）。
【００７７】
さらに続いて、判定の対象とする分光データVと基準分光データTとの違いがステップＳ１０１において設定されたトリガ条件に合致するか否かが組み込みコンピュータにより判定される（ステップＳ１０４）。
【００７８】
合致する場合は（ステップＳ１０４で"YES"）、組み込みコンピュータ１０６により、判定の対象とした分光データVの後に測定された分光データVがさらに取得され（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０５で取得された分光データVがバッファメモリ１２６に書き込まれ（ステップＳ１０６）、ステップＳ１０１において設定された出力パターンにしたがって分光データVがバッファメモリ１２６から読み出されてインターフェース１３０を介して外部装置に出力される（ステップＳ１０７）。もちろん、出力パターン１４２の第２又は第４の例のように判定の対象とした分光データVの後に測定された分光データVを出力する必要がない場合は、ステップＳ１０５〜Ｓ１０６の処理は省略される。
【００７９】
一方、合致しない場合は（ステップＳ１０４で"NO"）、ステップＳ１０２に戻って次に測定された分光データVについて同様の処理が繰り返される。
【００８０】
このような処理の流れによれば、分光データVをリアルタイムで出力する必要がない。このため、一連の測定が終わってから分光データVを出力することも許される。このことは、分光測定装置１０２における処理の負荷を小さくすることに寄与する。また、分光データVを生成するよりも遅い速度で分光データVを出力することも許される。このことは、分光測定装置１０２と外部装置との間の通信手段への負荷を減らすことに寄与する。通信手段への負荷を減らすことは、分光測定装置１０２と外部装置とが他の機器も接続されるUSB（ユニバーサルシリアルバス）インターフェースやLAN（ローカルエリアネットワーク）等の通信手段で接続されている場合に特に意義が大きい。
【００８１】
＜８  基準分光データT＞
基準分光データTは、一連の分光データVの測定において最初に測定された分光データV[0]であってもよいし、判定の対象とする分光データV[p]の直前に測定された分光データV[q],…,V[p-1]を平均した分光データであってもよい。
【００８２】
図１５及び図１６は、基準分光データTの導出の流れを示すフローチャートである。
【００８３】
一連の分光データVの測定において最初に測定された分光データV[0]を基準分光データTにする場合は、図１５に示すように、測定部１０４により分光データV[0]が生成された後に（ステップＳ１１１）、組み込みコンピュータ１０６により分光データV[0]が基準分光データTとしてメモリ１３８に書き込まれる（ステップＳ１１２）。
【００８４】
一方、判定の対象とする分光データV[p]の直前に測定された分光データV[q],…,V[p-1]を平均した分光データを基準分光データTにする場合は、測定部１０４により分光データV[p-1]が生成された後に（ステップＳ１２１）、組み込みコンピュータ１０６により、分光データV[q],…,V[p-1]の平均が導出され（ステップＳ１２２）、当該平均が基準分光データTとしてメモリ１３８に書き込まれる（ステップＳ１２３）。
【００８５】
＜９  バッファメモリ１２６への書き込み＞
図１７は、バッファメモリ１２６のメモリ空間における分光データVの配置を示す模式図である。図１７（ａ）は、メモリ空間に２個の分光データV[0].V[1]が書き込まれたが空き容量がある状態、図１７（ｂ）は、ｎ個の分光データV[0],v[1],…,V[n-1]が書き込まれ空き容量がない状態、図１７（ｃ）はｎ個の分光データが書き込まれ空き容量がない状態からさらに２個の分光データv[n],n[n+1]を書き込んだ後の状態を示している。
【００８６】
図１７に示すように、バッファメモリ１２６への分光データVの書き込みを行うと、図１７（ａ）に示すようにメモリ空間は若いアドレスの側から使用される。そして、図１７（ｂ）に示すようにメモリ空間が消費されつくされると、図１７（ｃ）に示すようにメモリ空間は再び若いアドレスの側から使用される。もちろん、このときには先に書き込んだ分光データVは上書きされる。このようにメモリ空間を循環的に使用することにより、バッファメモリ１２６に一定数の分光データVが保持された状態が維持される。また、特徴的変化が生じた後の分光データVの書き込み時間を制御することにより特徴的変化が生じる前後の分光データの比率も制御される。
【００８７】
＜１０  トリガレベル設定画面１７０＞
図１８は、トリガ条件を決めるトリガレベルを設定するときに表示部１３２に表示されるトリガレベル設定画面１７０を示す図である。
【００８８】
トリガレベル設定画面１７０のグラフ描画領域１７２には、分光データVを表現するグラフ１７４にノイズの影響がある光量の範囲を示す情報１７６とトリガ条件を示す情報１７８とが重ね合わせて表示されている。これにより、ノイズの影響がある光量の範囲を参照しながらトリガ条件１４０を設定することになるので、ノイズの影響を受けにくい適切なトリガ条件１４０が設定される。
【００８９】
ノイズの影響がある光量の範囲を示す情報１７６は、どのようなものであってもよいが、図１８に示すトリガレベル設定画面１７０では、ノイズの影響がある光量の範囲の上限及び下限に点線を描画し、当該点線と点線との間をグラフの背景とは別の色で着色している。ここでいう「ノイズ」とは、分光測定装置１０２そのものに起因するノイズであってもよいし、測定環境に起因するノイズ、例えば、外光の変動に起因するノイズであってもよい。外光の変動に起因するノイズは、外光センサ１１４から得られたデータから得られる。
【００９０】
トリガ条件を示す情報１７８も、どのようなものであってもよいが、図１８に示すトリガレベル設定画面１７０では、トリガ条件に合致しない範囲を光量方向に伸びるバーで表している。さらに、図１８に示すトリガレベル設定画面１７０では、波長とトリガレベルとの組を一覧表１７８として表示している。
【００９１】
なお、図１９に示すように、パーソナルコンピュータその他の表示部１９２と操作部１９４とを備える外部装置１９０をインターフェース１３０に接続し、トリガレベル設定画面１７０を表示部１９２に表示し、操作部１９４によりトリガレベルの設定を受け付けるようにしてもよい。
【００９２】
＜１１  その他＞
この発明は詳細に説明されたが、上記の説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。  
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】分光測定装置からの分光データの出力の概略を説明する模式図である。
【図２】分光測定装置の望ましい実施形態を説明するブロック図である。
【図３】トリガ条件の第１の例を説明する図である。
【図４】トリガ条件の第２の例を説明する図である。
【図５】トリガ条件の第３の例を説明する図である。
【図６】トリガ条件の第４の例を説明する図である。
【図７】トリガ条件の第１の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。
【図８】トリガ条件の第３の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。
【図９】トリガ条件の第４の例を採用した場合の特徴的変化の検出を説明する図である。
【図１０】出力パターンの第１の例を説明する模式図である。
【図１１】出力パターンの第２の例を説明する模式図である。
【図１２】出力パターンの第３の例を説明する模式図である。
【図１３】出力パターンの第４の例を説明する模式図である。
【図１４】分光測定装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【図１５】基準分光データの導出の流れを示すフローチャートである。
【図１６】基準分光データの導出の流れを示すフローチャートである。
【図１７】バッファメモリのメモリ空間における分光データの配置を示す模式図である。
【図１８】トリガレベル設定画面を示す図である。
【図１９】外部装置のブロック図である。
【符号の説明】
【００９４】
１０２  分光測定装置
１０４  測定部
１０６  組み込みコンピュータ
１０８  分光データ処理プログラム
１７２  トリガレベル設定画面
【図１】
2010151703.tif 000006
【図２】
2010151703.tif 000007
【図３】
2010151703.tif 000008
【図４】
2010151703.tif 000009
【図５】
2010151703.tif 000010
【図６】
2010151703.tif 000011
【図７】
2010151703.tif 000012
【図８】
2010151703.tif 000013
【図９】
2010151703.tif 000014
【図１０】
2010151703.tif 000015
【図１１】
2010151703.tif 000016
【図１２】
2010151703.tif 000017
【図１３】
2010151703.tif 000018
【図１４】
2010151703.tif 000019
【図１５】
2010151703.tif 000020
【図１６】
2010151703.tif 000021
【図１７】
2010151703.tif 000022
【図１８】
2010151703.tif 000023
【図１９】
2010151703.tif 000024