(57)【要約】【課題】本発明に係る誘導加熱調理器によれば、温度センサに対する漏れ磁界による悪影響を極力低減することにより、測定誤差の少ない温度測定を可能とすることができる。【解決手段】本発明に係る誘導加熱調理器は、トッププレートと、トッププレートの下方に配設され、半径方向に分割されたドーナツ状の内側および外側の加熱コイルと、加熱コイルの中心付近から半径方向に延びる複数の高透磁率部材と、加熱コイルに高周波電流を供給するための電源回路と、加熱コイルまたはトッププレートの温度を検出するための温度センサとを備える。高透磁率部材のそれぞれは、間隙領域および外側領域において垂直方向に延び、トッププレートとは離間して形成された間隙突起部および外側突起部を有し、温度センサが間隙領域に配置される。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
トッププレートと、
前記トッププレートの下方に配設され、半径方向に分割されたドーナツ状の内側および外側の加熱コイルと、
前記加熱コイルの中心付近から半径方向に延びる複数の高透磁率部材と、
前記加熱コイルに高周波電流を供給するための電源回路と、
前記加熱コイルまたは前記トッププレートの温度を検出するための温度センサとを備え、
前記ドーナツ状の内側の加熱コイルより半径方向内側に内側領域、前記内側および外側の加熱コイルの間に間隙領域、ならびに前記外側の加熱コイルより半径方向外側に外側領域が形成され、
前記高透磁率部材のそれぞれは、前記間隙領域および前記外側領域において垂直方向に延び、トッププレートとは離間して形成された間隙突起部および外側突起部を有し、
前記温度センサが前記間隙領域に配置されていることを特徴とする誘導加熱調理器。
【請求項２】
各高透磁率部材が内側領域において垂直方向に延び、トッププレートとは離間して形成された内側突起部を有するか、あるいは
前記高透磁率部材とは別体の高い透磁率を有するコア部材が前記内側領域において垂直方向に延び、前記トッププレートとは離間するように配設されることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項３】
温度センサは、間隙領域において高透磁率部材により近接して配置されることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項４】
温度センサは、間隙領域において高透磁率部材に実質的に当接して配置されることを特徴とする請求項３に記載の誘導加熱調理器。
【請求項５】
さらなる温度センサが外側領域において、隣接する高透磁率部材からほぼ等距離にある位置に配置されることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項６】
間隙突起部および外側突起部は、内側および外側の加熱コイルを超えて高く上方に延びないことを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項７】
各高透磁率部材の間隙突起部および外側突起部は、周方向にも突出することを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【請求項８】
温度センサはサーミスタであることを特徴とする請求項１に記載の誘導加熱調理器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、温度センサを有する誘導加熱調理器に関し、とりわけ温度センサが誘導加熱コイルから生じる交流磁場の影響を受けにくい誘導加熱調理器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
いわゆるＩＨクッキングヒータなどの誘導加熱調理器は、渦巻状に捲回された加熱コイルに数十ｋＨｚの交流電流を通電したときに生じる交流磁場により、導電体からなる鍋などの調理器具に渦電流を形成して、調理器具自体を加熱するものである。
【０００３】
従来式のＩＨクッキングヒータが例えば特許文献１に記載されている。特許文献１に記載の電磁調理器は、概略、加熱コイルと、加熱コイルの下方に配置された複数の棒状のフェライトと、加熱コイルの上方に配置されたガラスなどで形成されたトッププレートとを有する。フェライトとは、一般には、酸化鉄を主成分とするセラミックスの総称のことであるが、特許文献１においては非導電性で高透磁率を有し、強磁性を有する部材を示している。特許文献１の発明によれば、半径方向に延びる複数の棒状フェライトは、その内部で渦電流が形成されることなく、加熱コイルにより生じる磁路の磁気抵抗を下げ、加熱コイルが発生する磁界を増大させることにより、鍋の発熱効率を増加させることができる（図３）。
【０００４】
また加熱コイルは、鍋底の発熱温度分布を均一にするため、半径方向に分割された２つの内側および外側の加熱コイルを用いられる場合がある（図３）。より具体的には、内側コイルと外側コイルのターン数比を調整することにより、鍋底の渦電流分布を調整して、鍋底の発熱温度分布がより均一となるように制御することができる。
【０００５】
一方、特許文献２に記載の誘導加熱調理器は、特許文献１の電磁調理器と同様の構成を有し、フェライトが第１および第２のコイル体の間に大断面積部を有し（図１１）、鍋の発熱効率を向上させようとするものである。
【０００６】
【特許文献１】特開平３−２２６９８９号公報
【特許文献２】特開２００７−３２８９１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
一般に、誘導加熱調理器は、加熱コイルまたはトッププレートの温度を検出するための温度センサを有し、これらの検出温度をフィードバックして、加熱コイルへ供給すべき適正な電流を制御している。したがって、鍋底を目標とする温度に正確に制御する上で、温度センサによる温度検出には高い精度が求められる。
【０００８】
ところが加熱コイルは、上述のように、高周波磁場を形成して鍋底を発熱させるものであるので、温度センサが加熱コイル付近に配置された温度センサは、とりわけ電気抵抗式のサーミスタであるとき、加熱コイルから生じる漏れ磁界により、サーミスタ自体が誘導加熱され、トッププレートの実際の温度より高い温度を検出することがある。また温度センサが光学式の赤外線センサであっても、そのリード線に漏れ磁界が加わると、電圧が誘起され、検出結果に測定誤差が生じ得る。こうした場合、温度検出回路にフィルタ回路を設けて、動作条件によって温度検出値に補正を行う必要があり、温度検出回路が大型化し、制御手法の煩雑化を招いていた。
【０００９】
特許文献１には、そもそも温度センサに関する記載は一切なく、漏れ磁界による温度センサの検出精度の低下といった解決課題についても何ら言及するものではない。
【００１０】
また特許文献２には、内側および外側の加熱コイルの間の空隙に複数のセンサが設けられることについては記載されているが、漏れ磁界による温度センサの検出精度の低下という問題については記載がなく、とりわけ空隙の中でも、加熱コイルから生じる交流磁場の影響を受けにくい配置位置については何ら記載されていない。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る誘導加熱調理器は、トッププレートと、トッププレートの下方に配設され、半径方向に分割されたドーナツ状の内側および外側の加熱コイルと、加熱コイルの中心付近から半径方向に延びる複数の高透磁率部材と、加熱コイルに高周波電流を供給するための電源回路と、加熱コイルまたはトッププレートの温度を検出するための温度センサとを備え、ドーナツ状の内側の加熱コイルより半径方向内側に内側領域、内側および外側の加熱コイルの間に間隙領域、ならびに外側の加熱コイルより半径方向外側に外側領域が形成される。そして、高透磁率部材のそれぞれは、間隙領域および外側領域において垂直方向に延び、トッププレートとは離間して形成された間隙突起部および外側突起部を有し、温度センサが間隙領域に配置されることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係る誘導加熱調理器によれば、温度センサに対する漏れ磁界による悪影響を極力低減することにより、測定誤差の少ない温度測定を可能にし、高精度な温度制御を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、添付図面を参照して本発明に係る誘導加熱調理器の実施の形態を説明する。各実施の形態の説明において、理解を容易にするために方向を表す用語（例えば、「上方」および「下方」など）を適宜用いるが、これは説明のためのものであって、これらの用語は本発明を限定するものでない。
【００１４】
実施の形態１．
図１〜図１０を参照しながら、本発明に係る誘導加熱調理器の実施の形態１について以下詳細に説明する。図１は、本発明に係る誘導加熱調理器１の全体を概略的に図示する斜視図である。図２は、図１のII−II線から見たときの誘導加熱調理器１の一部を示す断面図である。図３は、図２に示す誘導加熱調理器１を下から見た平面図である。図１に示すように、誘導加熱調理器１は、概略、ハウジング５と、その最上部に配設されたトッププレート６と、誘導加熱部７と、ユーザが加熱能力を調整するための操作部８とを有する。
【００１５】
また誘導加熱調理器１は、図２および図３に示すように、ハウジング５内に収容され、トッププレート６（誘導加熱部７）の下方に配設された内側および外側の加熱コイル１０，１２と、複数のフェライト部材（高透磁率部材）２０とを有し、トッププレート６上には金属などで作製された鍋（被加熱体）９が簡略的に図示されている。
【００１６】
内側および外側の加熱コイル１０，１２は、導電線をドーナツ状に捲回して形成されたものであって、互いに対して半径方向に分割されている。すなわち、ドーナツ状の内側の加熱コイル１０より半径方向内側には内側領域２１、内側および外側の加熱コイル１０，１２の間には間隙領域２２、そして外側の加熱コイル１２より半径方向外側には外側領域２３が形成されている（図２）。なお、これに限定されるものではないが、内側の加熱コイル１０が約２０ｍｍの内径および約５０ｍｍの外径を有し（Ｒ１＝約２０ｍｍ〜約５０ｍｍ）、外側の加熱コイル１２が約７０ｍｍの内径および約１００ｍｍの外径を有する（Ｒ２＝約７０ｍｍ〜約１００ｍｍ）ものであってもよい。
さらに複数のフェライト部材２０のそれぞれは、非導電性で高透磁率を有する強磁性材料からなり、内側および外側の加熱コイル１０，１２の中心付近から半径方向に延び（図３）、これに限定されるものではないが、ほぼ中心から約１１０ｍｍまで延びるものであってもよい。
【００１７】
任意ではあるが、誘導加熱調理器１は、内側領域２１において上方に延びるコア部材１４を有していてもよく、コア部材１４は、各フェライト部材２０の内径側端部に接触して、あるいは離間して配置してもよい。さらに択一的には、各フェライト部材２０を内側領域２１において一体に形成することにより、コア部材１４を構成してもよい。コア部材１４が各フェライト部材２０に接触して、あるいは一体に形成された場合は、コア部材１４が各フェライト部材２０とは離間して配置された場合に比して、内側領域２１における漏れ磁界を低減させることができる。
【００１８】
実施の形態１に係る各フェライト部材２０は、図２に示すように、間隙領域２２および外側領域２３において、上方に延びる間隙突起部３２および外側突起部３３を有する。したがって、内側および外側の加熱コイル１０，１２で生じた高周波磁場は、フェライト部材２０および鍋底９において閉磁路（図２の破線３０で示す）を形成するが、間隙突起部３２および外側突起部３３の高い透磁率に起因して周囲の磁束が引きつけられ、鍋底９における発熱効率を増大させることができる。換言すると、間隙突起部３２および外側突起部３３の周囲においては、磁束がこれらの突起部に引きつけられるので、突起部３２，３３を設けない場合に比して、磁束は弱められることになる。したがって、加熱コイルから生じる漏れ磁界（すなわちフェライト部材２０を通らない磁界）に起因して、検出精度が低下するおそれのある温度センサ１６は、漏れ磁界が極力小さい位置に配置することにより、測定誤差を低減することができる。
【００１９】
そこで本発明者は、漏れ磁界の小さい位置に関する考察を以下のように行った。まず、本発明に係る誘導加熱調理器１とは異なり、コア部材１４、間隙突起部３２および外側突起部３３が配設されない従来式のフェライト部材を用いて構成された誘導加熱調理器に関し、間隙領域２２および外側領域２３の所定の半径方向位置（Ｒ＝６０ｍｍおよびＲ＝１００ｍｍ）において、図３に示すように、所定の基線Ｂ（１つのフェライト部材２０の中心線）からの角度θ（１０°＜θ＜３５°、θ＝１０°および３５°のときを破線で示す。）に依存して変化する漏れ磁界の強度（φ０）を有限要素法にて求める。次に、本発明に係る誘導加熱調理器１に関し、もれ磁界の強度（φ１）を同様に求める。そして、従来式の誘導加熱調理器による漏れ磁界の強度（φ０）に対する本発明に係る誘導加熱調理器による漏れ磁界の強度（φ１）の磁界比（φ１／φ０）を漏れ磁界比としてプロットして、図４に示すグラフを得た。
【００２０】
図４に示すように、漏れ磁界比（φ１／φ０）は、半径方向位置が１００ｍｍの場合（Ｒ＝１００ｍｍ）、角度θが２２．５°のとき最小値が得られた。これは隣接する２つのフェライト部材２０の中間位置において、本発明に係る誘導加熱調理器１の漏れ磁界の強度（φ１）は最も小さくなることを意味する。すなわち、漏れ磁界に影響を受けやすい温度センサ１６は、外側領域２３においては隣接する２つのフェライト部材２０から同一の距離を隔てた位置（中間位置）に配置することが好ましいこと示唆するものである。したがって、本発明に係る誘導加熱調理器１は、図３に示すように、外側領域２３においては隣接するフェライト部材２０からほぼ等距離にある位置に配置される温度センサ１６ｂを有する。
【００２１】
一方、漏れ磁界比（φ１／φ０）は、半径方向位置６０ｍｍに配置された場合、すなわち間隙領域２２に配置された場合、予想に反して、角度θが２２．５°のとき最大値が得られ、フェライト部材２０に近づくにつれ小さくなることが明らかとなった。したがって、本発明に係る誘導加熱調理器は、図３に示すように、間隙領域２２においては、フェライト部材２０にできるだけ接近して、あるいはフェライト部材２０（間隙突起部３２）に実質的に当接して配置される温度センサ１６ａを有することが好ましい。
【００２２】
このように本発明によれば、漏れ磁界に起因して誤差範囲が拡大するおそれのあるサーミスタなどの温度センサは、外側領域２３においては、隣接するフェライト部材２０からほぼ等距離にある位置に配置し（温度センサ１６ｂ）、間隙領域２２においては、フェライト部材２０にできるだけ接近して、あるいはフェライト部材２０に実質的に当接して配置することにより（温度センサ１６ａ）、精度の高い温度制御を実現することができる。
【００２３】
なお、上述の特許文献１の電磁調理器のフェライトがトッププレートの裏面に固着されているのに対し、本発明の誘導加熱調理器１によれば、コア部材１４、間隙突起部３２および外側突起部３３は、トッププレート６とは十分に離間している。特許文献１に記載の発明において、フェライトがトッププレートの裏面に固着された場合、フェライトと鍋底との間に、加熱コイルを駆動する高周波電流と同じ周期の吸引電磁力が生じ、フェライトおよびトッププレートが高周波振動し、うなり音が発生して、いわゆる「鍋鳴り」という現象が生じるおそれがある。こうした状態で使用し続けると、振動によりフェライトに重大な不具合（破損）をもたらしかねない。一方、本発明の誘導加熱調理器１によれば、コア部材１４、間隙突起部３２および外側突起部３３は、トッププレート６に固着されていないので、「鍋鳴り」現象や振動による不具合を未然に防止することができる。
【００２４】
本発明によれば、コア部材１４、間隙突起部３２および外側突起部３３は、トッププレート６と十分に離間している限り、図５に示すように加熱コイル１０，１２よりも高さｈだけ上方に突出させて、トッププレート６にできるだけ接近させて、鍋底９に伝わる磁場を強くすることが好ましい。ただし、「鍋鳴り」現象や振動による不具合をより確実に防止して、信頼性の高い電磁調理器を実現するためには、コア部材１４、間隙突起部３２および外側突起部３３が加熱コイル１０，１２を超えて高く上方に延びないように設計することが好ましい。
【００２５】
本発明に係る電磁調理器は、上述のように、フェライト部材２０は外側領域２３に外側突起部３３、間隙領域２２に間隙突起部３２を有するものとして説明したが、本発明者は、さらなる比較例として、外側領域２３または間隙領域２２に突起部を設けない、さまざまな構成を有する電磁調理器において、漏れ磁界がどのように変化するか、以下のような考察を加えた。
【００２６】
すなわち、ｉ）図６（ａ）に示すように、内側領域２１にコア部材１４を設け、間隙領域２２に間隙突起部３２を設けず、外側領域２３に外側突起部３３を設けない電磁調理器、ii）図６（ｂ）に示すように、内側領域２１にコア部材１４を設け、間隙領域２２および外側領域２３にそれぞれ間隙突起部３２および外側突起部３３を設ける電磁調理器（本発明に係る電磁調理器）、iii）図６（ｃ）に示すように、内側領域２１にコア部材１４を設け、間隙領域２２に間隙突起部３２を設けず、外側領域２３に外側突起部３３を設ける電磁調理器、およびiv）図６（ｄ）に示すように、内側領域２１にコア部材１４を設け、間隙領域２２に間隙突起部３２を設け、外側領域２３に外側突起部３３を設けない電磁調理器について、所定の半径方向位置（Ｒ＝６０ｍｍ）における、基線Ｂからの角度θ（１０°＜θ＜２２．５°）に依存して変化する漏れ磁界の強度を、図６（ａ）に示す電磁調理器のθ＝２２．５°のときの値を１として、漏れ磁界比としてプロットして、図７（ａ）に示すグラフを得た。
【００２７】
図７（ａ）のグラフから明らかなように、本発明に係る電磁調理器１が任意の角度において漏れ磁界比が最も小さい。そのため、漏れ磁界に影響を受けやすい温度センサ１６ａは、内側領域２１の同一位置に配置する場合、本発明のような突起部３２，３３を有するフェライト部材２０を電磁調理器１に搭載することにより、他の突起部構成を有するものより精度の高い温度検出を実現することができる。
【００２８】
同様に、図６（ａ）〜（ｄ）に示す構成を有する電磁調理器において、所定の半径方向位置（Ｒ＝６４ｍｍ）における漏れ磁界の強度の角度依存性を示す図７（ｂ）のグラフにおいても、本発明に係る電磁調理器１が任意の角度において漏れ磁界比が最も小さい。したがって、温度センサ１６ａは、間隙領域２２の同一位置に配置する場合、本発明のような突起部３２，３３を有するフェライト部材２０を電磁調理器１に搭載することにより、他の突起部構成を有するものより精度の高い温度検出を実現することができる。
【００２９】
また図６（ａ）〜（ｄ）の構成を有する電磁調理器において、所定の角度（θ＝１０°）における漏れ磁界比の半径方向位置に関する依存性についてプロットして、図８に示すグラフを得た。このとき図６（ａ）に示す電磁調理器の半径方向位置が６０ｍｍであるときの漏れ磁界の強度を１とした。図８のグラフから明らかなように、上記電磁調理器はすべて半径方向位置が６１ｍｍであるときに最小値が得られるが、中でも、本発明に係る電磁調理器１の漏れ磁界比が最も小さい。したがって、温度センサをθ＝１０°の位置に配置する場合、本発明に係る電磁調理器１の温度センサ１６ａが最も漏れ磁界の影響を受けにくく、高精度に温度を検出することができる。
【００３０】
一方、図９（ａ）および（ｂ）は、図６（ａ）〜（ｄ）の構成を有する電磁調理器において、所定の半径方向位置（Ｒ＝９０ｍｍおよび１００ｍｍ）における漏れ磁界の強度の角度依存性を示すグラフである。図９（ａ）および（ｂ）から分かるように、図６（ｂ）および図６（ｃ）に示す外側突起部３３を有するものと、図６（ａ）および図６（ｄ）に示す外側突起部３３を有さないものとの間で明確な差異があり、前者の漏れ磁界は後者に比べて勾配が急峻である。すなわち前者（外側突起部３３を設けないもの）の漏れ磁界は、小さい角度位置においては、後者（外側突起部３３を設けないもの）の漏れ磁界より小さいが、隣接するフェライト部材２０の中間位置（θ＝２２．５°）においては、後者の漏れ磁界より大きくなる。したがって、上述のように、温度センサによる測定誤差の少ない温度検出を実現するためには、外側突起部３３を有するフェライト部材２０の周方向の中間位置に温度センサ１６ｂを配置して漏れ磁界による悪影響を極力抑えることが好ましい。
【００３１】
さらに、図６（ａ）〜（ｄ）の構成を有する電磁調理器において、所定の角度（θ＝２２．５°）における漏れ磁界の強度の半径方向位置に関する依存性についてプロットして、図１０に示すグラフを得た。図１０から明らかなように、漏れ磁界は外側の加熱コイル１２から遠ざかるほど小さくなるので、温度センサ１６ｂの配置位置としては外側の加熱コイル１２から遠く離れるほど好ましいが、鍋底９が小さく、温度センサ１６ｂが鍋底９より外側に配置された場合、正確な検出ができない場合もある。
【００３２】
実施の形態２．
次に、図１１を参照しながら、本発明に係る電磁調理器の実施の形態２について以下詳細に説明する。実施の形態２に係る電磁調理器２は、フェライト部材２０の間隙突起部３２および外側突起部３３が周方向にも突出する点を除き、実施の形態１の電磁調理器１と同様の構成を有するので、重複する内容については説明を省略する。
【００３３】
図１１は、図３と同様の電磁調理器２の平面図である。上述のように、実施の形態２に係る電磁調理器２は、フェライト部材２０の間隙突起部３２および外側突起部３３が、間隙領域２２および外側領域２３において、垂直方向のみならず、周方向にも突出するものである。
なお、図１１ではフェライト部材２０の間隙突起部３２および外側突起部３３の両方が周方向にも突出するものとして図示したが、例えば間隙領域２２における間隙突起部３２のみが周方向にも突出するようにしてもよい。
【００３４】
一般に、フェライト部材２０の周囲の漏れ磁界は、磁界に対して垂直な方向のフェライト部材２０の断面積に比例してより小さくなる。したがって、実施の形態２のフェライト部材２０は、図１１に示すように、間隙突起部３２および外側突起部３３の断面積をより大きくすることにより、フェライト部材２０の周囲の漏れ磁界を小さくして、隣接するフェライト部材２０の間に配置される温度センサ１６に対する磁場の影響をさらに低減して、より精緻な温度検出を実現することができる。実施の形態２においても、間隙領域２２における温度センサ１６ａは、フェライト部材２０により接近して配置し、より好適にはフェライト部材２０に実質的に当接して配置され、外側領域２３における温度センサ１６ｂは、隣接するフェライト部材２０からほぼ等距離にある位置に配置される。
【００３５】
また図１１に示すように、実施の形態２に係るフェライト部材２０の間隙突起部３２および外側突起部３３の鍋底９に対向する面積を大きくすると、鍋底９に作用する磁場（電磁力）を増大させることができるので、さらなる効果として、鍋底９をより効率的に加熱することができる。
【００３６】
以上説明した実施の形態では、８本のフェライト部材２０を同じ角度間隔（４５°）で配置した電磁調理器について説明したが、本発明は、例えば６本のフェライト部材２０を同じ角度間隔（６０°）で配置したもの、あるいは１０本のフェライト部材２０を同じ角度間隔（３６°）で配置したものなど、８本以上またはそれ以下のフェライト部材２０を有する電磁調理器に適用することができる。
【００３７】
また、上記実施の形態では、温度センサ１６ａ，１６ｂが漏れ磁界に影響を受けやすいサーミスタなどの抵抗式温度センサを用いて説明したが、本発明は、漏れ磁界が温度センサに接続されるリード線にも影響を与え得るので、任意の温度センサを有する電磁調理器に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明に係る実施の形態１による誘導加熱調理器の全体を概略的に示す斜視図である。
【図２】図１のII−II線から見たときの誘導加熱調理器の一部を示す断面図である。
【図３】図３は、図２に示す誘導加熱調理器を下から見た平面図である。
【図４】本発明に係る誘導加熱調理器による漏れ磁界比の角度依存性を示すグラフである。
【図５】実施の形態１の変形例による誘導加熱調理器を示す図２と同様の断面図である。
【図６】（ａ）は内側領域にコア部材を設け、間隙領域および外側領域に突起部を設けない電磁調理器、（ｂ）は内側領域にコア部材を設け、間隙領域および外側領域にそれぞれ間隙突起部および外側突起部を設ける電磁調理器、（ｃ）は内側領域にコア部材を設け、間隙領域に間隙突起部を設けず、外側領域に外側突起部を設ける電磁調理器、そして（ｄ）は内側領域にコア部材を設け、間隙領域に間隙突起部を設け、外側領域に外側突起部を設けない電磁調理器を示す図２と同様の断面図である。
【図７】図６（ａ）〜（ｄ）に示す電磁調理器関し、（ａ）は所定の半径方向位置（Ｒ＝６０ｍｍ）における漏れ磁界比の角度依存性を示すグラフであり、（ｂ）は所定の半径方向位置（Ｒ＝６４ｍｍ）における漏れ磁界比の角度依存性を示すグラフである。
【図８】図６（ａ）〜（ｄ）に示す電磁調理器関し、所定の角度（θ＝１０°）における漏れ磁界比の半径方向位置に関する依存性を示すグラフである。
【図９】図６（ａ）〜（ｄ）に示す電磁調理器関し、（ａ）は所定の半径方向位置（Ｒ＝９０ｍｍ）における漏れ磁界比の角度依存性を示すグラフであり、（ｂ）は所定の半径方向位置（Ｒ＝１００ｍｍ）における漏れ磁界比の角度依存性を示すグラフである。
【図１０】図６（ａ）〜（ｄ）に示す電磁調理器関し、所定の角度（θ＝２２．５°）における漏れ磁界比の半径方向位置に関する依存性を示すグラフである。
【図１１】実施の形態２による誘導加熱調理器を示す図３と同様の平面図である。
【符号の説明】
【００３９】
１，２：誘導加熱調理器、５：ハウジング、６：トッププレート、７：誘導加熱部、８：操作部、９：鍋底（被加熱体）、１０：内側の加熱コイル、１２：外側の加熱コイル、１４：コア部材、１６ａ，１６ｂ：温度センサ、２０：フェライト部材（高透磁率部材）、２１：内側領域、２２：間隙領域、２３：外側領域、３０：閉磁路、３２：間隙突起部、３３：外側突起部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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