(57)【要約】【課題】光学素子が固定される光学フレームがダイカストで形成される場合であっても、光学素子の光軸ずれを抑制することができる光学フレームを製造するための光学フレームの製造方法を提供すること。【解決手段】光学素子が固定される光学フレームの製造方法は、光学フレームをダイカストで形成する成型工程Ｓ２と、成型工程Ｓ２後に光学フレームを強制冷却する強制冷却工程Ｓ３とを備えている。この製造方法で製造された光学フレームでは、その表面での錆の発生を抑制することができる。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学素子が固定される光学フレームの製造方法において、
前記光学フレームをダイカストで形成する成型工程と、前記成型工程後に前記光学フレームを強制冷却する強制冷却工程とを備えることを特徴とする光学フレームの製造方法。
【請求項２】
前記強制冷却工程では、前記光学フレームを空冷することを特徴とする請求項１記載の光学フレームの製造方法。
【請求項３】
前記強制冷却工程では、前記光学フレームを水冷することを特徴とする請求項１記載の光学フレームの製造方法。
【請求項４】
前記光学フレームは、亜鉛合金で形成されていることを特徴とする請求項１から３いずれかに記載の光学フレームの製造方法。
【請求項５】
光学素子が固定される光学フレームをダイカストで形成するための金型において、
前記光学素子が当接する前記光学フレームの光学素子当接部を形成するための当接部形成部を少なくとも強制冷却するための冷却手段を備えていることを特徴とする金型。
【請求項６】
前記光学フレームを形成するための溶融亜鉛合金が注入されることを特徴とする請求項５記載の金型。
【請求項７】
請求項１から４のいずれかに記載の光学フレームの製造方法によって製造されることを特徴とする光ヘッド装置の光学フレーム。
【請求項８】
請求項５または６記載の金型によって形成されることを特徴とする光ヘッド装置の光学フレーム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学フレームの製造方法、金型および光ヘッド装置の光学フレームに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光記録媒体に対する情報の記録、再生を行う光ヘッド装置は、光記録媒体に向かって光を射出するレーザ光源と、光記録媒体で反射された反射光を受光する受光素子と、レーザ光源から光記録媒体へ向かう光路上や光記録媒体から受光素子に向かう光路上に配置される光学系等を備えており、これらのレーザ光源、受光素子および光学系は、フレームに搭載されている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００３】
光ヘッド装置は一般に、光学系を構成する光学素子として、レーザ光源からの射出光を光記録媒体に導くとともに光記録媒体で反射された反射光を受光素子に導くビームスプリッタを備えている。このビームスプリッタは一般に、フレームに形成される取付基準面に当接した状態でフレームに固定されている。また、光学素子が搭載されるフレームは、亜鉛ダイカスト、アルミダイカストあるいはマグネシウムダイカスト等の金属、または、樹脂で形成されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−１２０２５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ビームスプリッタ等の光学素子がフレームの取付基準面に当接した状態で固定される光ヘッド装置の場合、フレームが亜鉛ダイカストで形成されていると、光ヘッド装置の組立後に所定の調整を行ったにもかかわらず、時間の経過に伴って、光記録媒体に対する記録、再生に支障がでることがある。本願発明者の検討によると、光学素子の光軸ずれがこの現象の主要原因であることが明らかになった。
【０００６】
そこで、本発明の課題は、光学素子が固定される光学フレームがダイカストで形成される場合であっても、光学素子の光軸ずれを抑制することができる光学フレームを製造するための光学フレームの製造方法および金型を提供することにある。また、本発明の課題は、かかる光学フレームの製造方法によって製造された光ヘッド装置の光学フレームおよびかかる金型によって形成された光ヘッド装置の光学フレームを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため、本願発明者は種々の検討を行った。特に、光学素子の光軸ずれが高湿度の環境下で発生しやすいことに着目して本願発明者は種々の検討を行った。その結果、光学素子の光軸ずれは、光学素子の取付基準面に生じる錆に起因して発生していることを知見するに至った。具体的には、取付基準面に生じる錆によって、取付基準面から光学素子が浮き上がって、光学素子の光軸がずれることを知見するに至った。また、本願発明者は、種々の検討の結果、光学フレームの表面に組織の細かい層（チル層）を形成することで光学フレームの表面での錆の発生を抑制して、光学素子の光軸ずれを抑制できることを知見するに至った。
【０００８】
本発明は、かかる新たな知見に基づくものであり、光学素子が固定される光学フレームの製造方法において、光学フレームをダイカストで形成する成型工程と、成型工程後に光学フレームを強制冷却する強制冷却工程とを備えることを特徴とする。
【０００９】
本発明の光学フレームの製造方法では、成型工程後の強制冷却工程で光学フレームを強制冷却している。そのため、光学フレームの表面に組織の細かい層（チル層）を形成することが可能となり、光学フレームの表面での錆の発生を抑制することができる。すなわち、光学フレームの、光学素子の取付基準面での錆の発生を抑制することができる。したがって、本発明では、光学素子が固定される光学フレームがダイカストで形成される場合であっても、光学素子の光軸ずれを抑制できる光学フレームを製造することができる。
【００１０】
本発明において、強制冷却工程では、たとえば、光学フレームを空冷する。また、強制冷却工程では、光学フレームを水冷しても良い。
【００１１】
また、上述の新たな知見に基づいて、本発明は、光学素子が固定される光学フレームをダイカストで形成するための金型において、光学素子が当接する光学フレームの光学素子当接部を形成するための当接部形成部を少なくとも強制冷却するための冷却手段を備えていることを特徴とする。
【００１２】
本発明の金型は、光学素子当接部を形成するための当接部形成部を強制冷却するための冷却手段を備えている。そのため、光学素子当接部の表面に組織の細かい層（チル層）を形成することが可能となり、光学素子当接部での錆の発生を抑制することができる。すなわち、光学フレームの、光学素子の取付基準面での錆の発生を抑制することができる。したがって、本発明では、光学素子が固定される光学フレームがダイカストで形成される場合であっても、光学素子の光軸ずれを抑制できる光学フレームを製造することができる。
【００１３】
本発明において、光学フレームは、亜鉛合金で形成されていることが好ましい。すなわち、本発明において、金型には、光学フレームを形成するための溶融亜鉛合金が注入されることが好ましい。このように構成すると、マグネシウム合金やアルミニウム合金によって光学フレームが形成される場合と比較して、光学フレームのコストを低減することができる。また、本願発明者の検討によると、マグネシウム合金やアルミニウム合金によって光学フレームが形成される場合と比較して、光学フレームが亜鉛合金で形成されると、光学フレームの表面に錆が発生しやすくなるが、本発明の光学フレームの製造方法によって製造された光学フレーム、あるいは、本発明の金型によって製造された光学フレームでは、その表面での錆の発生を抑制することができる。
【００１４】
本発明の光学フレームの製造方法を用いて、光ヘッド装置の光学フレームを製造することができる。また、本発明の金型を用いて、光ヘッド装置の光学フレームを形成することができる。この光ヘッド装置の光学フレームでは、その表面での錆の発生を抑制することができ、光学素子の光軸ずれを抑制することができる。
【発明の効果】
【００１５】
以上のように、本発明の光学フレームの製造方法および金型では、光学素子が固定される光学フレームがダイカストで形成される場合であっても、光学素子の光軸ずれを抑制できる光学フレームを製造することができる。また、本発明の光学フレームの製造方法によって製造された光ヘッド装置の光学フレームおよび本発明の金型によって形成された光ヘッド装置の光学フレームでは、光学素子の光軸ずれを抑制することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１７】
（光ヘッド装置の全体構成）
図１は、本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置１の、光学系５を中心とした概略構成図である。図２は、本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置１の一部の部品を取り除いた状態を示す平面図である。図３は、図２に示すフレーム６の斜視図である。図４は、図３のＥ−Ｅ断面の断面図である。
【００１８】
本形態の光ヘッド装置１は、ＣＤやＤＶＤ等の光記録媒体２に記録された情報の再生や、光記録媒体２への情報の記録を行う装置である。この光ヘッド装置１は、光記録媒体２に向かって、６５０ｎｍ帯の波長のレーザ光を射出する第１レーザ光源３Ａと、７８０ｎｍ帯の波長のレーザ光を射出する第２レーザ光源３Ｂと、光記録媒体２で反射された反射光を受光する信号検出用受光素子４と、第１レーザ光源３Ａまたは第２レーザ光源３Ｂから射出された射出光を光記録媒体２に集束させるとともに、光記録媒体２で反射された反射光を信号検出用受光素子４に導く光学系５とを備えている。また、光ヘッド装置１は、第１レーザ光源３Ａまたは第２レーザ光源３Ｂから射出された射出光の一部を受光するモニタ用受光素子７と、レーザ光源３Ａ、３Ｂ、受光素子４、７および光学系５が固定される光学フレームとしてのフレーム６とを備えている。
【００１９】
光学系５は、レーザ光源３Ａ、３Ｂから光記録媒体２へ向かう光路上および／または光記録媒体２から信号検出用受光素子４へ向かう光路上に配置される各種の光学素子を備えている。具体的には、光学系５は、光学素子として、回折素子８Ａ、８Ｂと、偏光プリズム９と、ビームスプリッタとしてのハーフミラー１０と、１／４波長板１１と、コリメータレンズ１２と、立ち上げミラー（全反射ミラー）１３と、対物レンズ１４と、リレーレンズ１５と、センサレンズ１６とを備えている。
【００２０】
第１レーザ光源３Ａから射出された光は、回折素子８Ａおよび偏光プリズム９の部分反射面９ａを透過して、ハーフミラー１０に入射する。また、第２レーザ光源３Ｂから射出された光は、回折素子８Ｂおよびリレーレンズ１５を透過した後、偏光プリズム９の部分反射面９ａで反射されて、ハーフミラー１０に入射する。
【００２１】
また、第１レーザ光源３Ａまたは第２レーザ光源３Ｂから射出された光の一部は、ハーフミラー１０で反射される。ハーフミラー１０で反射された光は、１／４波長板１１およびコリメータレンズ１２を透過し、立ち上げミラー１３で反射された後、対物レンズ１４を透過して、光記録媒体２に照射される。光記録媒体２で反射された光は、対物レンズ１４、立ち上げミラー１３、コリメータレンズ１２および１／４波長板１１を経由した後、ハーフミラー１０を透過するとともに、センサレンズ１６を透過して、信号検出用受光素子４に入射する。また、第１レーザ光源３Ａまたは第２レーザ光源３Ｂから射出された光の一部は、ハーフミラー１０を透過して、モニタ用受光素子７に入射する。
【００２２】
フレーム６は、ダイカストで形成されている。また、フレーム６は、亜鉛合金（ＺＤＣ）で形成されている。すなわち、フレーム６は、亜鉛ダイカストで形成されている。このフレーム６には、図２、図３に示すように、光ヘッド装置１を所定方向へ送るための送りねじ（図示省略）が係合するネジ係合部６ａと、光ヘッド装置１を所定方向へ案内するガイド軸（図示省略）が係合する軸係合部６ｂとが形成されている。本形態では、図２に示すように、フレーム６の略中央部にハーフミラー１０が固定されている。すなわち、フレーム６の略中央部には、ハーフミラー１０が固定されるミラー固定部６ｃが形成されている。以下、ハーフミラー１０の固定構造について説明する。
【００２３】
（ハーフミラーの固定構造）
図５は、図２のＦ−Ｆ方向からハーフミラー１０の固定構造を模式的に示す図である。図６は、図２のＧ−Ｇ方向からハーフミラー１０の固定構造を模式的に示す図である。
【００２４】
上述のように、フレーム６の略中央部には、ハーフミラー１０が固定されるミラー固定部６ｃが形成されている。このミラー固定部６ｃは、図４〜図６に示すように、フレーム６の底面６ｄから起立する２個の壁部６ｅ、６ｆと、壁部６ｅ、６ｆの下端側を繋ぐ接続壁部６ｇとを備えている。
【００２５】
図５、図６に示すように、壁部６ｅ、６ｆの間（すなわち、接続壁部６ｇの上方）には、上端側が開口する矩形状の切欠部６ｈが形成されている。具体的には、壁部６ｅの縁（図５の左端の縁）となる壁部端面６ｊと、壁部６ｆの縁（図５の右端の縁）となる壁部端面６ｋと、接続壁部６ｇの縁（図５の上端の縁）となる壁部端面６ｎとによって切欠部６ｈが形成されている。ハーフミラー１０を通過する光は、この切欠部６ｈを通過する。
【００２６】
ハーフミラー１０は、ハーフミラー１０の左右両端側および下端側が壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇに当接した状態で、フレーム６に接着で固定されている。すなわち、本形態では、壁部６ｅ、６ｆまたは接続壁部６ｇの、ハーフミラー１０が当接する部分は、ハーフミラー１０の取付基準面（証面）となっている。また、本形態では、壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇのそれぞれは、ハーフミラー１０が当接する光学素子当接部となっている。
【００２７】
本形態では、ハーフミラー１０の、壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇに当接する側の面である当接面１０ａと壁部端面６ｊ〜６ｎとに跨るように塗布された接着剤２３（図６参照）と、ハーフミラー１０の側面１０ｂと壁部６ｅ、６ｆとに跨るように塗布された接着剤２４（図５参照）とによって、ハーフミラー１０がフレーム６に接着で固定されている。
【００２８】
接着剤２３は、４箇所に塗布されている。具体的には、図６に示すように、切欠部６ｈの四隅の近傍の４箇所に接着剤２３が塗布されている。接着剤２４は、図５に示すように、ハーフミラー１０の両側の２箇所に塗布されている。また、本形態では、接着剤２３として比較的硬度の高い接着剤（硬い接着剤）が使用され、接着剤２４として比較的硬度の低い接着剤（柔らかい接着剤）が使用されている。
【００２９】
（光学フレームの製造方法）
図７は、図２に示すフレーム６の製造工程の概略工程図である。
【００３０】
上述のように、フレーム６は亜鉛ダイカストで形成されており、以下のように製造される。すなわち、まず、フレーム６の素材となる亜鉛合金を溶融する（素材溶融工程Ｓ１）。素材溶融工程Ｓ１で溶融された亜鉛合金の温度は、たとえば、４５０℃である。その後、所定の金型の中に溶融した亜鉛合金を高圧で注入してフレーム６を成型（鋳造）する（成型工程Ｓ２）。なお、金型は、成型工程Ｓ２の前に予め、加熱されている。たとえば、成型工程Ｓ２の前に金型は、１５０℃に加熱されている。
【００３１】
その後、金型からフレーム６を取り出して、フレーム６を強制冷却する（強制冷却工程Ｓ３）。この強制冷却工程Ｓ３は、成型工程Ｓ２の直後に行う。すなわち、強制冷却工程Ｓ３は、金型からフレーム６を取り出した直後に行う。また、強制冷却工程Ｓ３では、たとえば、フレーム６を空冷する。すなわち、ノズルの先端から圧縮空気をフレーム６に吹き付けることで、あるいは、ファン（送風機）でフレーム６に向かって風を送ることで、フレーム６を強制冷却する。その後、ゲート等の不要部分を取り除く等の所定の加工を行って（加工工程Ｓ４）、フレーム６が完成する。
【００３２】
なお、強制冷却工程Ｓ３では、フレーム６を水冷しても良い。すなわち、金型から取り出されたフレーム６を所定の水槽の中につけて、フレーム６を水冷しても良い。この場合には、フレーム６の錆の発生を防止するため、強制冷却工程Ｓ３に、恒温槽でフレーム６を乾燥させる乾燥工程を設けることが好ましい。また、強制冷却工程Ｓ３では、フレーム６を油冷しても良い。この場合には、強制冷却工程Ｓ３に、フレーム６の脱脂処理を行う脱脂工程を設けることが好ましい。
【００３３】
また、成型工程Ｓ２の前に加熱される金型の加熱温度を下げることによって、強制冷却工程Ｓ３で、フレーム６を強制冷却しても良い。たとえば、成型工程Ｓ２の前の金型の温度を５０℃とすることによって、強制冷却工程Ｓ３で、フレーム６を強制冷却しても良い。この場合には、溶融した亜鉛合金の金型への注入が終わった直後に、強制冷却工程Ｓ３となり、強制冷却工程Ｓ３の後に、金型からフレーム６が取り出される。
【００３４】
さらに、ハーフミラー１０の光学素子当接部となるフレーム６の壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇを形成するための金型の当接部形成部を少なくとも強制冷却するための冷却手段を金型に設け、強制冷却工程Ｓ３において、この冷却手段で当接部形成部を冷却することによって、フレーム６を強制冷却しても良い。この場合、冷却手段は、たとえば、当接部形成部の近傍に形成される中空部と、この中空部に向かって空気や水等の冷却用の媒体を供給する媒体供給機構と、中空部から冷却用の媒体を排出する排出機構とから構成されている。
【００３５】
このように、強制冷却工程Ｓ３での強制冷却方法は、空冷には限定されず、自然冷却以外の人工的な冷却方法であれば良い。また、上述した強制冷却方法のうちから任意に選択される複数の方法によって、強制冷却工程Ｓ３での強制冷却が行われても良い。
【００３６】
（本形態の主な効果）
以上説明したように、本形態では、成型工程Ｓ２直後の強制冷却工程Ｓ３でフレーム６を強制冷却している。そのため、フレーム６の表面に組織の細かい層（チル層）を形成することができ、フレーム６の表面での錆の発生を抑制することができる。すなわち、フレーム６の、ハーフミラー１０の取付基準面での錆の発生を抑制することができる。したがって、本形態では、フレーム６が亜鉛ダイカストで形成される場合であっても、ハーフミラー１０の光軸ずれを抑制することができる。
【００３７】
以下、この本形態の効果を実験データに基づいて詳細に説明する。図８（Ａ）は、図１に示す信号検出用受光素子４の受光面を示す概念図であり、図８（Ｂ）は、（Ａ）のＨ部の拡大図である。図９は、本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置１での光軸のずれ量を測定した実験結果および比較例にかかる光ヘッド装置での光軸のずれ量を測定した実験結果を示すグラフである。
【００３８】
実験では、ハーフミラー１０の光軸のずれ量に対応する信号検出用受光素子４の受光面での光軸のずれ量を測定した。また、実験では、強制冷却工程Ｓ３で空冷されたフレーム６を有する光ヘッド装置１（以下、「実施例１の光ヘッド装置１」とする。）、強制冷却工程Ｓ３で水冷されたフレーム６を有する光ヘッド装置１（以下、「実施例２の光ヘッド装置１」とする。）、および、成型工程Ｓ２の前に加熱される金型の加熱温度を下げることによって、強制冷却工程Ｓ３で強制冷却されたフレーム６を有する光ヘッド装置１（以下、「実施例３の光ヘッド装置１」とする。）の高湿試験を行った後の、信号検出用受光素子４の受光面での光軸のずれ量を測定した。また、比較例として、成型工程Ｓ２後に室温中に放置されて自然冷却されたフレームを有する光ヘッド装置（以下、「比較例の光ヘッド装置」とする。）の高湿試験を行った後の、信号検出用受光素子４の受光面での光軸のずれ量を測定した。なお、実施例１の光ヘッド装置１では、強制冷却工程Ｓ３において、ノズルの先端から圧縮空気を噴射してフレーム６を強制冷却した。また、実施例３の光ヘッド装置１では、成型工程Ｓ２の前の金型の温度を５０℃とした。
【００３９】
また、光軸のずれ量は、回折素子８Ａ、８Ｂで分けられる−１次光、０次光および＋１次光の３つの光が入射する信号検出用受光素子４の受光面に形成される３個の受光部４ａ、４ｂ、４ｃのうちの、０次光が入射する受光部４ａでの受光量に基づいて算出した。具体的には、図８（Ｂ）に示すように受光部４ａを領域Ａ〜Ｄに４等分したときの、それぞれの領域における光のスポットＳの受光量をＬＡ〜ＬＤとした場合、下式（１）、（２）で算出されるＰｘ、Ｐｙの高湿試験前後の差から光軸のずれ量を算出した。すなわち、高湿試験前の（Ｐｘ１、Ｐｙ１）と高湿試験後の（Ｐｘ２、Ｐｙ２）とから、下式（３）、（４）に基づいて、高湿試験前後の光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）を算出した。
Ｐｘ＝{（ＬＡ＋ＬＤ）−（ＬＢ＋ＬＣ）}／（ＬＡ＋ＬＢ＋ＬＣ＋ＬＤ）：式（１）
Ｐｙ＝{（ＬＡ＋ＬＢ）−（ＬＣ＋ＬＤ）}／（ＬＡ＋ＬＢ＋ＬＣ＋ＬＤ）：式（２）
ΔＰｘ＝Ｐｘ２−Ｐｘ１：式（３）
ΔＰｙ＝Ｐｙ２−Ｐｙ１：式（４）
【００４０】
なお、高湿試験の条件は、以下の条件とした。
温度：６０℃
湿度：９０％
試験時間：２４０時間
【００４１】
実験結果を図９に示す。ここで、図９（Ａ）〜（Ｄ）のそれぞれのグラフの原点位置を中心として点線で形成される正方形の領域Ｒは、測定誤差の範囲を示しており、光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）が領域Ｒ内であれば、光軸ずれはほとんど発生していないと判断できる。
【００４２】
実施例１の光ヘッド装置１では、図９（Ａ）に示すように、５台のサンプルのうち、３台のサンプルの光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）が領域Ｒ内となった。また、領域Ｒ外となった２台のサンプルでも、１台のサンプルのΔＰｘが約−７５％となったのを除けば、光軸のずれ量は小さかった。また、実施例２の光ヘッド装置１では、図９（Ｂ）に示すように、５台のサンプルのうち、３台のサンプルの光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）が領域Ｒ内となった。また、領域Ｒ外となった２台のサンプルでも、光軸のずれ量は小さかった。さらに、実施例３の光ヘッド装置１では、図９（Ｃ）に示すように、５台のサンプルのうち、２台のサンプルの光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）が領域Ｒ内となった。また、領域Ｒ外となった２台のサンプルでも、光軸のずれ量は小さかった。
【００４３】
これに対して、比較例の光ヘッド装置では、図９（Ｄ）に示すように、１０台のサンプルのうち、光軸のずれ量（ΔＰｘ、ΔＰｙ）が領域Ｒ内となったのはわずかに１台であった。また、領域Ｒ外となった他のサンプルの光軸のずれ量は大きかった。たとえば、領域外となった３台のサンプルのΔＰｘは、１００％を超えた。
【００４４】
このように、成型工程Ｓ２直後の強制冷却工程Ｓ３でフレーム６を強制冷却すると、ハーフミラー１０の光軸ずれを抑制できることがわかる。
【００４５】
なお、フレーム６の壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇを形成する金型の当接部形成部を強制冷却するための冷却手段を金型に設け、強制冷却工程Ｓ３において、この冷却手段で当接部形成部を冷却することによって、フレーム６を強制冷却する場合であっても、壁部６ｅ、６ｆおよび接続壁部６ｇでの錆の発生を抑制することができ、ハーフミラー１０の光軸ずれを抑制できることが推測される。
【００４６】
本形態では、フレーム６は、亜鉛ダイカストで形成されている。そのため、マグネシウムダイカストやアルミダイカストによってフレーム６が形成される場合と比較して、フレーム６のコストを低減することができる。また、マグネシウムダイカストやアルミダイカストによってフレーム６が形成される場合と比較して、フレーム６が亜鉛ダイカストで形成されると、フレーム６の表面に錆が発生しやすくなるが、本形態では、ハーフミラー１０の取付基準面における錆の発生を抑制することができる。
【００４７】
（他の実施の形態）
上述した形態は、本発明の好適な形態の一例ではあるが、これに限定されるものではなく本発明の要旨を変更しない範囲において種々変形実施が可能である。
【００４８】
上述した形態では、ミラー固定部６ｃは、壁部６ｅ、６ｆと接続壁部６ｇとから構成されている。この他にもたとえば、ミラー固定部６ｃは、２個の壁部６ｅ、６ｆのみによって構成されても良い。また、上述した形態では、フレーム６は、亜鉛ダイカストで形成されているが、フレーム６は、マグネシウムダイカストやアルミダイカストで形成されても良い。
【００４９】
上述した形態では、ハーフミラー１０の固定構造を例に本発明の実施の形態を説明しているが、ビームスプリッタとしての機能を有するプリズムが上述の固定構造によって固定されても良い。たとえば、偏光プリズム９が上述の固定構造で固定されても良い。また、ビームスプリッタ以外の光学素子が上述の固定構造によって固定されても良い。また、上述した形態では、光ヘッド装置１を例に本発明の実施の形態を説明しているが、本発明の光学フレームの製造方法および金型は、光ヘッド装置１以外の光学機器の光学フレームの製造にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置の、光学系を中心とした概略構成図である。
【図２】本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置の一部の部品を取り除いた状態を示す平面図である。
【図３】図２に示すフレームの斜視図である。
【図４】図３のＥ−Ｅ断面の断面図である。
【図５】図２のＦ−Ｆ方向からハーフミラーの固定構造を模式的に示す図である。
【図６】図２のＧ−Ｇ方向からハーフミラーの固定構造を模式的に示す図である。
【図７】図２に示すフレームの製造工程の概略工程図である。
【図８】（Ａ）は、図１に示す信号検出用受光素子の受光面を示す概念図であり、（Ｂ）は、（Ａ）のＨ部の拡大図である。
【図９】本発明の実施の形態にかかる光ヘッド装置での光軸のずれ量を測定した実験結果および比較例にかかる光ヘッド装置での光軸のずれ量を測定した実験結果を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５１】
１  光ヘッド装置
６  フレーム（光学フレーム）
６ｅ、６ｆ  壁部（光学素子当接部）
６ｇ  接続壁部（光学素子当接部）
１０  ハーフミラー（光学素子）
Ｓ２  成型工程
Ｓ３  強制冷却工程
【図１】
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【図２】
2010061754.tif 000004
【図３】
2010061754.tif 000005
【図４】
2010061754.tif 000006
【図５】
2010061754.tif 000007
【図６】
2010061754.tif 000008
【図７】
2010061754.tif 000009
【図８】
2010061754.tif 000010
【図９】
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