(57)【要約】【課題】１つの磁石によって３方向の操作位置を検出する操作位置算出装置を提供する。【解決手段】レバーコントロールスイッチ装置１の判定部５は、第１のＭＲセンサ４０の第１のハーフブリッジ回路Ｓ１の第１の出力電圧Ｖ１と第３のＭＲセンサ４２の第５のハーフブリッジ回路Ｓ５の第５の出力電圧Ｖ５との差分値と、第１のＭＲセンサ４０の第２のハーフブリッジ回路Ｓ２の第２の出力電圧Ｖ２と第３のＭＲセンサ４２の第７のハーフブリッジ回路Ｓ７の第７の出力電圧Ｖ７との差分値と、から逆正接値を算出することによって、操作部１７のプッシュ操作位置を算出することができる。【選択図】図６
2010096510.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁界を発生させる磁界発生部と、
前記磁界発生部の側面部に発生する前記磁界を検出領域とする２つの磁気抵抗素子が９０°の角度をなして形成するハーフブリッジ回路であり、前記磁界発生部との相対変位に伴う前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第１の出力信号を出力する第１の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第２の出力信号を出力する第２の磁気抵抗回路と、を有する第１の磁気センサと、前記磁界発生部を介して前記第１の磁気センサと対向して設けられ、前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第３の出力信号を出力する第３の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第４の出力信号を出力する第４の磁気抵抗回路と、を有する第２の磁気センサと、
前記第１及び前記第３の出力信号に基づいて第１の差分値を算出し、前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて第２の差分値を算出し、算出された前記第１及び前記第２の差分値に基づいて逆正接値を算出し、算出された前記逆正接値に基づいて前記相対変位の変位量を算出する算出部と、
を備える操作位置算出装置。
【請求項２】
前記磁界発生部は、支持機構によって傾倒操作、及びプッシュ操作可能に支持された操作部に設けられ、磁化方向が前記プッシュ操作方向となる永久磁石であり、
前記第１及び前記第３の磁気抵抗回路は、前記磁化方向に対してそれぞれの感磁方向が４５°の角度をなすように形成され、
前記第２及び前記第４の磁気抵抗回路は、前記磁化方向に対して１つの前記磁気抵抗素子の前記感磁部が直交するように形成される請求項１に記載の操作位置算出装置。
【請求項３】
前記第２の磁気センサは、前記第３の磁気抵抗回路を１８０°回転させ、反転した正弦波形状の第５の出力信号を出力する第５の磁気抵抗回路を有し、
前記算出部は、前記第１及び前記第５の出力信号から算出された第３の差分値と前記第２の差分値から前記逆正接値を算出し、算出された前記逆正接値に基づいて前記操作部の前記プッシュ操作によるプッシュ操作位置を算出する請求項２に記載の操作位置算出装置。
【請求項４】
支持機構によって傾倒操作、及びプッシュ操作可能に支持された操作部に設けられ、磁界を発生させる磁界発生部と、
前記磁界発生部の側面部に発生する前記磁界を検出領域とする２つの磁気抵抗素子が９０°の角度をなして形成するハーフブリッジ回路であり、前記磁界発生部との相対変位に伴う前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第１の出力信号を出力する第１の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第２の出力信号を出力する第２の磁気抵抗回路と、を有する第１の磁気センサと、前記磁界発生部を介して前記第１の磁気センサと対向して設けられ、前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第３の出力信号を出力する第３の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第４の出力信号を出力する第４の磁気抵抗回路と、前記第３の磁気抵抗回路を１８０°回転させ、反転した正弦波形状の第５の出力信号を出力する第５の磁気抵抗回路と、を有する第２の磁気センサと、
前記第１及び前記第２の磁気センサの中心を回転中心として時計回りに９０°回転した位置に設けられ、前記第１の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、正弦波形状の第６の出力信号を出力する第６の磁気抵抗回路と、前記第２の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、余弦波形状の第７の出力信号を出力する第７の磁気抵抗回路と、を有する第３の磁気センサと、前記第３の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、正弦波形状の第８の出力信号を出力する第８の磁気抵抗回路と、前記第４の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、余弦波形状の第９の出力信号を出力する第９の磁気抵抗回路と、を有する第４の磁気センサと、
前記第１及び前記第３の出力信号、及び前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第１の逆正接値を算出し、算出された前記第１の逆正接値に基づいて前記第１及び前記第２の磁気センサ方向の前記傾倒操作に基づく前記相対変位の変位量を算出し、前記第６及び前記第８の出力信号、及び前記第７及び前記第９の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第２の逆正接値を算出し、算出された前記第２の逆正接値に基づいて前記第３及び前記第４の磁気センサ方向の前記傾倒操作に基づく前記相対変位の変位量を算出する算出部と、
を備える操作位置算出装置。
【請求項５】
前記算出部は、前記第１及び前記第５の出力信号、及び前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第３の逆正接値を算出し、算出された前記第３の逆正接値に基づいて前記操作部の前記プッシュ操作によるプッシュ操作位置を算出する請求項４に記載の操作位置算出装置。
【請求項６】
前記磁界発生部は、磁化方向が前記プッシュ操作方向であり、前記第１及び第２の磁気センサに面する磁極と、前記第３及び第４の磁気センサに面する磁極が異なる請求項４又は５の何れか１項に記載の操作位置算出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、操作位置算出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の技術として、レバー本体と、レバー本体に対して上下前後及び回転操作可能となるようにレバー本体に設けられた操作レバーと、操作レバーの各操作による操作の位置を検出する第１〜第３の位置検出部と、を備えたコンビネーションスイッチが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
第１の検出部は、円筒形状を有して操作ノブに固定され、操作ノブと一体的に回転する第１のマグネットと、第１のマグネットの内部スペースに設けられた第１のホールセンサと、を有し、操作レバーの操作ノブを回転させることによって第１のマグネットが回転し、この回転による磁界変化を第１のホールセンサが検出して出力し、その出力レベルに応じて、車両のヘッドライトの点灯等が制御される。
【０００４】
第２の検出部は、被レバー操作部の軸部に磁石ホルダを介して固定され、円筒形状を有する第２のマグネットと、第２のマグネットの内部スペースに設けられた第２のホールセンサと、を有し、操作レバーを上下方向に操作することによって第２のマグネットが回転し、この回転による磁界変化を第１のホールセンサが検出して出力し、その出力レベルに応じて、車両のウインカーの点灯、又はワイパーの駆動等が制御される。
【０００５】
第３の検出部は、レバー本体に固定された扇形の平板形状を有する第３のマグネットと、この第３のマグネットの上面の近接位置に配置された第３のホールセンサと、を有し、操作レバーを前後方向に操作することによって第３のマグネットと第３のホールセンサの相対位置の変化に基づく磁界の変化を第３のホールセンサが検出して出力し、その出力レベルに応じてパッシング、及びウオッシャの駆動等が制御される。
【特許文献１】特開２００３−８６０６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、従来のコンビネーションスイッチは、３方向の操作レバーの操作方向を検出するため、それぞれにマグネットを必要とし、コストが掛かるという問題があった。
【０００７】
従って本発明の目的は、１つの磁石によって３方向の操作位置を検出する操作位置算出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）本発明は上記目的を達成するため、磁界を発生させる磁界発生部と、前記磁界発生部の側面部に発生する前記磁界を検出領域とする２つの磁気抵抗素子が９０°の角度をなして形成するハーフブリッジ回路であり、前記磁界発生部との相対変位に伴う前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第１の出力信号を出力する第１の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第２の出力信号を出力する第２の磁気抵抗回路と、を有する第１の磁気センサと、前記磁界発生部を介して前記第１の磁気センサと対向して設けられ、前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第３の出力信号を出力する第３の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第４の出力信号を出力する第４の磁気抵抗回路と、を有する第２の磁気センサと、前記第１及び前記第３の出力信号に基づいて第１の差分値を算出し、前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて第２の差分値を算出し、算出された前記第１及び前記第２の差分値に基づいて逆正接値を算出し、算出された前記逆正接値に基づいて前記相対変位の変位量を算出する算出部と、を備える操作位置算出装置を提供する。
【０００９】
（２）本発明は上記目的を達成するため、前記磁界発生部は、支持機構によって傾倒操作、及びプッシュ操作可能に支持された操作部に設けられ、磁化方向が前記プッシュ操作方向となる永久磁石であり、前記第１及び前記第３の磁気抵抗回路は、前記磁化方向に対してそれぞれの感磁方向が４５°の角度をなすように形成され、前記第２及び前記第４の磁気抵抗回路は、前記磁化方向に対して１つの前記磁気抵抗素子の前記感磁部が直交するように形成される前記（１）に記載の操作位置算出装置を提供する。
【００１０】
（３）本発明は上記目的を達成するため、前記第２の磁気センサは、前記第３の磁気抵抗回路を１８０°回転させ、反転した正弦波形状の第５の出力信号を出力する第５の磁気抵抗回路を有し、前記算出部は、前記第１及び前記第５の出力信号から算出された第３の差分値と前記第２の差分値から前記逆正接値を算出し、算出された前記逆正接値に基づいて前記操作部の前記プッシュ操作によるプッシュ操作位置を算出する前記（２）に記載の操作位置算出装置を提供する。
【００１１】
（４）本発明は上記目的を達成するため、支持機構によって傾倒操作、及びプッシュ操作可能に支持された操作部に設けられ、磁界を発生させる磁界発生部と、前記磁界発生部の側面部に発生する前記磁界を検出領域とする２つの磁気抵抗素子が９０°の角度をなして形成するハーフブリッジ回路であり、前記磁界発生部との相対変位に伴う前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第１の出力信号を出力する第１の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第２の出力信号を出力する第２の磁気抵抗回路と、を有する第１の磁気センサと、前記磁界発生部を介して前記第１の磁気センサと対向して設けられ、前記磁界の変化に基づいて正弦波形状の第３の出力信号を出力する第３の磁気抵抗回路と、前記磁界の変化に基づいて余弦波形状の第４の出力信号を出力する第４の磁気抵抗回路と、前記第３の磁気抵抗回路を１８０°回転させ、反転した正弦波形状の第５の出力信号を出力する第５の磁気抵抗回路と、を有する第２の磁気センサと、前記第１及び前記第２の磁気センサの中心を回転中心として時計回りに９０°回転した位置に設けられ、前記第１の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、正弦波形状の第６の出力信号を出力する第６の磁気抵抗回路と、前記第２の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、余弦波形状の第７の出力信号を出力する第７の磁気抵抗回路と、を有する第３の磁気センサと、前記第３の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、正弦波形状の第８の出力信号を出力する第８の磁気抵抗回路と、前記第４の磁気抵抗回路と同様の構成を有し、余弦波形状の第９の出力信号を出力する第９の磁気抵抗回路と、を有する第４の磁気センサと、前記第１及び前記第３の出力信号、及び前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第１の逆正接値を算出し、算出された前記第１の逆正接値に基づいて前記第１及び前記第２の磁気センサ方向の前記傾倒操作に基づく前記相対変位の変位量を算出し、前記第６及び前記第８の出力信号、及び前記第７及び前記第９の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第２の逆正接値を算出し、算出された前記第２の逆正接値に基づいて前記第３及び前記第４の磁気センサ方向の前記傾倒操作に基づく前記相対変位の変位量を算出する算出部と、を備える操作位置算出装置を提供する。
【００１２】
（５）本発明は上記目的を達成するため、前記算出部は、前記第１及び前記第５の出力信号、及び前記第２及び前記第４の出力信号に基づいて算出されたそれぞれの差分値に基づいて第３の逆正接値を算出し、算出された前記第３の逆正接値に基づいて前記操作部の前記プッシュ操作によるプッシュ操作位置を算出する前記（４）に記載の操作位置算出装置を提供する。
【００１３】
（６）本発明は上記目的を達成するため、前記磁界発生部は、磁化方向が前記プッシュ操作方向であり、前記第１及び第２の磁気センサに面する磁極と、前記第３及び第４の磁気センサに面する磁極が異なる前記（４）又は（５）の何れか１項に記載の操作位置算出装置を提供する。
【発明の効果】
【００１４】
このような発明によれば、１つの磁石によって３方向の操作位置を検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下に、本発明の操作位置算出装置の実施の形態を図面を参考にして詳細に説明する。
【００１６】
[実施の形態]
（レバーコントロールスイッチ装置の構成）
図１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るレバーコントロールスイッチ装置の概略図であり、（ｂ）は、磁石と磁気センサ部の位置関係を示す側面図である。本発明における操作位置算出装置をレバーコントロールスイッチ装置とした場合について説明する。なお、図１（ｂ）は、操作部１７が基準操作位置にある場合について図示している。また、図１（ｂ）は、第２のＭＲ（Magneto Resistance）センサ４１と第４のＭＲセンサ４３は、第１のＭＲセンサ４０と第３のＭＲセンサ４２を結んだ中心を回転中心として時計回りに９０°回転した位置に配置されるので、第１のＭＲセンサ４０と第３のＭＲセンサ４２の側面図と、第２のＭＲセンサ４１と第４のＭＲセンサ４３の側面図の両方を図１（ｂ）に図示している。
【００１７】
なお、レバーコントロールスイッチ装置１は、一例として、図１（ａ）に示すように、Ｙ軸支持部１５を台座１１に対して垂直に保ち、Ｘ軸支持部１４の回転に伴って操作部１７が移動する方向をＸ軸方向とし、Ｘ軸支持部１４を台座１１に対して平行となるように保ち、Ｙ軸支持部１５の回転に伴って操作部１７が移動する方向をＹ軸方向とし、操作部１７に対するプッシュ方向、言い換えるなら後述する磁石２の中心を通る軸方向をＺ軸方向とし、Ｚ軸は、Ｘ−Ｙ軸の交点を中心に変位するものとする。
【００１８】
また、操作部１７の中心軸が、Ｘ軸及びＹ軸に対して直交する操作位置を、図１（ｂ）に示す基準操作位置とし、そのときのＺ軸をＺ（基準操作位置）と示すものとする。
【００１９】
例えば、このレバーコントロールスイッチ装置１は、車両に搭載されたとき、一例として、Ｘ方向の操作位置によってウインカーを、Ｙ方向の操作位置によってライトのハイビームとパッシングの切り替えを、Ｚ方向の操作位置によってライトのオン・オフを操作できるものである。なお、Ｘ方向の操作位置とは、Ｘ軸回りに回転した位置であり、Ｙ方向の操作位置とは、Ｙ軸回りに回転した位置である。
【００２０】
レバーコントロールスイッチ装置１は、図１（ａ）に示すように、磁石（磁界発生部）２と、磁気センサ部４と、支持機構部１０と、操作部１７と、を備えて概略構成されている。
【００２１】
（支持機構部の構成）
支持機構部１０は、図１（ａ）に示すように、台座１１の上面から垂直方向に立ち上って対向する１組の凸部１２を有している。凸部１２に設けられた開口に挿入されたピン１３は、ロ形状を有するＸ軸支持部１４の対応する２辺中央に設けられた開口にも挿入され、Ｘ軸支持部１４は、ピン１３を回転軸として回転自在に台座１１に設けられている。Ｘ軸支持部１４は、ピン１３を回転軸とすることで、Ｙ方向への操作部１７の傾倒操作を可能としている。
【００２２】
また、Ｘ軸支持部１４は、他の２辺中央に開口を有し、コ字形状を有するＹ軸支持部１５の対応する両端に設けられた開口にピン１６を挿入することで、Ｙ軸支持部１５は、ピン１６を回転軸としてＸ軸支持部１４に対して回転可能に設けられている。Ｙ軸支持部１５は、ピン１６を回転軸とすることで、Ｘ方向への操作部１７の傾倒操作を可能としている。
【００２３】
なお、支持機構部１０の構成は、上記に限定されず、傾倒操作及びプッシュ操作が可能な公知の支持機構で良い。
【００２４】
（操作部の構成）
操作部１７は、一例として図１（ａ）に示すように、略球形状を有するノブ１８と、ノブ１８に設けられたレバー１９と、を備えて概略構成されている。
【００２５】
レバー１９は、Ｙ軸支持部１５の長手方向上面部に設けられた開口に挿入され、図１（ｂ）に示すＺ方向にＹ軸支持部１５に対して移動可能、言い換えるなら、プッシュ操作可能に設けられている。
【００２６】
また、レバー１９は、ノブ１８と対向する端部に後述する磁石２を有し、ノブ１８及びレバー１９を介して磁石２をＸ―Ｙ座標系の傾倒操作位置、及びＺ軸に沿ったプッシュ操作位置に自在に操作可能である。
【００２７】
（磁石の構成）
図２は、本発明の実施の形態に係る磁気センサ部の位置関係を示す平面図である。磁石２は、アルニコ、フェライト及びネオジム等によって形成された永久磁石であり、図１（ｂ）に示すように、磁化方向がプッシュ操作方向であり、また、磁化方向に垂直な断面の形状が正方形の立体となっている。
【００２８】
磁石２は、図２に示すように、対角線を境にして時計回りにＮ極、Ｓ極、Ｎ極及びＳ極と磁区が配置されるように着磁され、さらにＮ極の下部にＳ極が、Ｓ極の下部にＮ極が配置されるように着磁されている。言い換えるなら、磁石２は、第１及び第３のＭＲセンサ４０、４２に面する磁極と、第２及び第４のＭＲセンサ４１、４３に面する磁極が異なるように構成されている。
【００２９】
この磁石２は、外側に向けて放射状に磁界２０を形成し、特にＭＲセンサが配置されている検出領域は、磁界２０の方向変化が急峻となるようになっている。言い換えるなら、磁石２は、図２に示すように、磁石２の辺の中央から発生する磁界２０が、ＭＲセンサ付近で上側（図２においてＳ極の場合）、又は下側（図２においてＮ極の場合）に急峻な変化をするものである。
【００３０】
磁石２は、図１（ｂ）に示すように、その厚みＷ１が、一例として５ｍｍであり、また、図３に示す幅Ｗ２が、一例として１０ｍｍとなるように構成されている。また磁石２は、操作部１７を介してＺ軸に沿って上下、すなわちプッシュ操作位置に、一例として、±１ｍｍ移動可能となっている。磁石２は、一例として、第１の操作位置（−１ｍｍ）、第２の操作位置（０ｍｍ）及び第３の操作位置（＋１ｍｍ）の３つの操作位置を有するものとする。
【００３１】
磁石２は、操作部１７の傾倒操作に基づいて基準操作位置にあるときのＺ軸から傾き、図１（ｂ）に示すθは、その傾きを示すものとする。なお、磁石２の形状、及び着磁等はこれに限定されず、円柱形状や矩形状の磁石であっても良く、これに限定されない。
【００３２】
（磁気センサ部４の構成）
磁気センサ部４は、磁石２との相対変位に伴う磁界２０の変化を検出するものであり、第１の出力電圧（第１の出力信号）Ｖ１を出力する第１のハーフブリッジ回路（第１の磁気抵抗回路）Ｓ１と第２の出力電圧（第２の出力信号）Ｖ２を出力する第２のハーフブリッジ回路（第２の磁気抵抗回路）Ｓ２を有する第１のＭＲセンサ（第１の磁気センサ）４０と、第３の出力電圧（第６の出力信号）Ｖ３を出力する第３のハーフブリッジ回路（第６の磁気抵抗回路）Ｓ３と第４の出力電圧（第７の出力信号）Ｖ４を出力する第４のハーフブリッジ回路（第７の磁気抵抗回路）Ｓ４を有する第２のＭＲセンサ（第３の磁気センサ）４１と、第５の出力電圧（第５の出力信号）Ｖ５を出力する第５のハーフブリッジ回路（第５の磁気抵抗回路）Ｓ５と第６の出力電圧（第３の出力信号）Ｖ６を出力する第６のハーフブリッジ回路（第３の磁気抵抗回路）Ｓ６と第７の出力電圧（第４の出力信号）Ｖ７を出力する第７のハーフブリッジ回路（第４の磁気抵抗回路）Ｓ７を有する第３のＭＲセンサ（第２の磁気センサ）４２と、第８の出力電圧（第８の出力信号）Ｖ８を出力する第８のハーフブリッジ回路（第８の磁気抵抗回路）Ｓ８と第９の出力電圧（第９の出力信号）Ｖ９を出力する第９のハーフブリッジ回路（第９の磁気抵抗回路）Ｓ９を有する第４のＭＲセンサ（第４の磁気センサ）４３と、を備えて概略構成されている。以下に各ＭＲセンサの詳細な構成について説明する。
【００３３】
（第１のＭＲセンサの構成）
図３（ａ）は、本発明の実施の形態に係る第１のＭＲセンサの等価回路図であり、（ｂ）は、第２のＭＲセンサの等価回路図である。
【００３４】
第１のＭＲセンサ４０は、図１（ｂ）に示すように、基板４０ａ上に後述する複数の磁気抵抗素子が形成され、磁石２の側面部の所定の領域に発生する磁界２０が、磁気抵抗素子の後述する感磁部を横切るようにプリント配線基板３から立ち上がるように設けられている。言い換えるなら、第１のＭＲセンサ４０は、Ｘ軸と基準操作位置にあるときのＺ軸とで作る平面と、磁気抵抗素子が作る平面とが、略平行となるようにプリント配線基板３に設けられている。
【００３５】
図３（ａ）に示す等価回路図は、図１（ｂ）に示す第１のＭＲセンサ４０の回路図を示しており、Ｍ１〜Ｍ４は、磁気抵抗素子を示している。
【００３６】
なお、磁気抵抗素子は、一例として、基板４０ａ上の設置面に強磁性金属の薄膜によって形成され、磁界が横切る角度によって抵抗値が変化する感磁部を有し、感磁部は、図３（ａ）に示す矩形状の図形に対して短手方向にじゃばら状に折り返した形状を有している。感磁部は、磁界が平行に横切るとき、その抵抗値は変化せず、磁界と感磁部との角度が大きくなるにつれて、その抵抗値が小さくなる性質を有している。
【００３７】
第１のＭＲセンサ４０は、図３（ａ）に示すように、磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４によってフルブリッジ回路を形成しており、さらに、磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２とによって第１のハーフブリッジ回路Ｓ１、及び磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４とによって第２のハーフブリッジ回路Ｓ２が形成されている。
【００３８】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２は、９０°の角度をなして配置され、磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２とで形成される第１のハーフブリッジ回路Ｓ１は、基準操作位置にあるＺ軸に平行な直線に対して感磁部が４５°となるように傾いて基板４０ａ上に形成されている。
【００３９】
磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４は、９０°の角度をなして配置され、磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４とで形成される第２のハーフブリッジ回路Ｓ２は、基準操作位置にあるＺ軸に平行な直線に対して磁気抵抗素子Ｍ３の感磁部が直交するように基板４０ａ上に形成されている。
【００４０】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ３の間には、電圧Ｖｃｃが印加され、磁気抵抗素子Ｍ２とＭ４の間は、プリント配線基板３の接地回路に電気的に接続されている。
【００４１】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２の間の中点電位は、第１の出力電圧Ｖ１であるものとし、磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４の間の中点電位は、第２の出力電圧Ｖ２であるものとする。
【００４２】
（第２のＭＲセンサの構成）
第２のＭＲセンサ４１は、図１（ｂ）に示すように、基板４１ａ上に複数の磁気抵抗素子が形成され、第１のＭＲセンサ４０と同様に、磁石２の側面部の所定の領域に発生する磁界２０が、磁気抵抗素子の感磁部を横切るようにプリント配線基板３から立ち上がるように設けられている。言い換えるなら、第２のＭＲセンサ４１は、Ｙ軸と基準操作位置にあるときのＺ軸とで作る平面と、磁気抵抗素子が作る平面とが、略平行となるようにプリント配線基板３に設けられている。
【００４３】
図３（ｂ）に示す等価回路図は、図１（ｂ）に示す第２のＭＲセンサ４１の回路図を示しており、磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４は、第１のＭＲセンサ４０の磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４と同様の構成を有している。
【００４４】
第２のＭＲセンサ４１は、図３（ｂ）に示すように、磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４によってフルブリッジ回路を形成しており、さらに、磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２とによって第３のハーフブリッジ回路Ｓ３、及び磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４とによって第４のハーフブリッジ回路Ｓ４が形成されている。
【００４５】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ３の間には、電圧Ｖｃｃが印加され、磁気抵抗素子Ｍ２とＭ４の間は、プリント配線基板３の接地回路に電気的に接続されている。
【００４６】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２の間の中点電位は、第３の出力電圧Ｖ３であるものとし、磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４の間の中点電位は、第４の出力電圧Ｖ４であるものとする。
【００４７】
（第３のＭＲセンサの構成）
図４（ａ）は、本発明の実施の形態に係る第３のＭＲセンサの等価回路図であり、（ｂ）は、第４のＭＲセンサの等価回路図である。
【００４８】
第３のＭＲセンサ４２は、図２に示すように、磁石２を介して第１のＭＲセンサ４０に対向する位置に設けられ、図１（ｂ）に示すように、基板４２ａ上に複数の磁気抵抗素子が形成され、第１のＭＲセンサ４０と同様に、磁石２の側面部の所定の領域に発生する磁界２０が、磁気抵抗素子の感磁部を横切るようにプリント配線基板３から立ち上がるように設けられている。言い換えるなら、第３のＭＲセンサ４３は、Ｘ軸と基準操作位置にあるときのＺ軸とで作る平面と、磁気抵抗素子が作る平面とが、略平行となるようにプリント配線基板３に設けられている。
【００４９】
図４（ａ）に示す等価回路図は、図３に示す第３のＭＲセンサ４２の等価回路図を示しており、磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４は、第１のＭＲセンサ４０の磁気抵抗素子Ｍ１〜Ｍ４と同様の構成を有しており、磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６は、磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２を１８０°回転させた形状を有している。
【００５０】
第３のＭＲセンサ４２は、図４（ａ）に示すように、磁気抵抗素子Ｍ１及びＭ２、磁気抵抗素子Ｍ５及びＭ６によってフルブリッジ回路が形成され、さらに磁気抵抗素子Ｍ７と磁気抵抗素子Ｍ８によって第７のハーフブリッジ回路Ｓ７が形成されている。
【００５１】
このフルブリッジ回路は、磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２とによって第５のハーフブリッジ回路Ｓ５、及び磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６とによって第６のハーフブリッジ回路Ｓ６が形成されている。
【００５２】
また、磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６は、第５のハーフブリッジ回路Ｓ５を設置面内で１８０°回転させたものであるから、基準操作位置にあるＺ軸に対して感磁部が４５°となっている。
【００５３】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ５の間、及び磁気抵抗素子Ｍ３には、電圧Ｖｃｃが印加され、磁気抵抗素子Ｍ２とＭ６の間、及び磁気抵抗素子Ｍ４は、プリント配線基板３の接地回路に電気的に接続されている。
【００５４】
磁気抵抗素子Ｍ１と磁気抵抗素子Ｍ２の間の中点電位は、第５の出力電圧Ｖ５であるとし、磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６の間の中点電位は、第６の出力電圧Ｖ６であるとし、磁気抵抗素子Ｍ３と磁気抵抗素子Ｍ４の間の中点電位は、第７の出力電圧Ｖ７であるものとする。
【００５５】
（第４のＭＲセンサの構成）
第４のＭＲセンサ４３は、図２に示すように、磁石２を介して第２のＭＲセンサ４１に対向する位置に設けられ、図１（ｂ）に示すように、基板４３ａ上に複数の磁気抵抗素子が形成され、第１のＭＲセンサ４０と同様に、磁石２の側面部の所定の領域に発生する磁界２０が、磁気抵抗素子の感磁部を横切るようにプリント配線基板３から立ち上がるように設けられている。言い換えるなら、第４のＭＲセンサ４３は、Ｘ軸と基準操作位置にあるときのＺ軸とで作る平面と、磁気抵抗素子が作る平面とが、略平行となるようにプリント配線基板３に設けられている。
【００５６】
図４（ｂ）に示す等価回路図は、図１（ｂ）に示す第４のＭＲセンサ４３の等価回路図を示しており、磁気抵抗素子Ｍ５、Ｍ６は、第３のＭＲセンサ４２の磁気抵抗素子Ｍ５、Ｍ６と同様の構成を有しており、また、磁気抵抗素子Ｍ７と磁気抵抗素子Ｍ８は、第３のＭＲセンサ４２の磁気抵抗素子Ｍ７、Ｍ８と同様の構成を有している。
【００５７】
第４のＭＲセンサ４３は、図４（ｂ）に示すように、磁気抵抗素子Ｍ５及びＭ６、磁気抵抗素子Ｍ７及びＭ８によってフルブリッジ回路が形成されている。また、このフルブリッジ回路は、磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６とによって第８のハーフブリッジ回路Ｓ８、及び磁気抵抗素子Ｍ７と磁気抵抗素子Ｍ８とによって第９のハーフブリッジ回路Ｓ９が形成されている。
【００５８】
磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ７の間に電圧Ｖｃｃが印加され、磁気抵抗素子Ｍ６とＭ８の間は、プリント配線基板３の接地回路に電気的に接続されている。
【００５９】
磁気抵抗素子Ｍ５と磁気抵抗素子Ｍ６の間の中点電位は、第８の出力電圧Ｖ８であるとし、磁気抵抗素子Ｍ７と磁気抵抗素子Ｍ８の間の中点電位は、第９の出力電圧Ｖ９であるものとする。
【００６０】
（判定部の構成）
図５は、本発明の実施の形態に係るレバーコントロールスイッチ装置に関するブロック図である。レバーコントロールスイッチ装置１の判定部（算出部）５は、図５に示すように、磁気センサ部４に接続され、磁気センサ部４から出力される出力信号に基づいて操作部１７の操作位置を判定し、判定した判定結果を車両を総合的に制御する車両制御部６に送信する。
【００６１】
車両制御部６は、レバーコントロールスイッチ装置１によって操作可能な被制御装置７に接続され、判定結果に基づいて被制御装置７を制御する。なお、上記に一例として上げたように、本実施の形態における被制御装置７は、ウインカー、及びライトであるとしているが、これに限定されず、カーナビゲーションシステムの操作や表示画面に表示されたアイコン等の操作に用いられても良く、また、これに限定されない。
【００６２】
また判定部５は、各ハーフブリッジ回路から出力される出力信号から正弦波形状を有する差分値、及び余弦波形状を有する差分値を算出し、算出した差分値に基づいて角度変換として逆正接値を算出し、その逆正接値に基づいてプッシュ操作位置、Ｘ軸及びＹ軸回りの回転による操作位置を算出する。
【００６３】
（動作）
以下に、本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置に関する動作を各図を参照して詳細に説明する。まず、Ｚ軸方向の操作位置、つまりプッシュ操作位置の検出について説明する。なお、以下におけるグラフは、各条件下におけるシミュレーションの結果に基づいており、一例として、−１０°≦Ｘ≦１０°、−５．５°≦Ｙ≦５．５°、−１．２ｍｍ≦Ｚ≦１．２ｍｍの範囲で操作部１７は操作されるものとする。
【００６４】
（Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図６は、本発明の実施の形態に係るＺ軸の操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図であり、図７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００６５】
判定部５は、正弦波形状となる組み合わせとして、図６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ１及びＳ５の出力電圧から差分値（第３の差分値）Ｖ１−Ｖ５を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合、算出された差分値Ｖ１−Ｖ５は、図７（ａ）に示すように、正弦波形状となる。
【００６６】
同様に、判定部５は、余弦波形状となる組み合わせとして、図６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ２及びＳ７の出力電圧から差分値（第２の差分値）Ｖ２−Ｖ７を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５に固定されたままＺ軸方向に操作された場合、算出された差分値Ｖ２−Ｖ７は、図７（ｂ）に示すように、余弦波形状となる。
【００６７】
判定部５は、この正弦波形状となる差分値Ｖ１−Ｖ５と余弦波形状となる差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値（第３の逆正接値）を算出する。この算出された逆正接値は、図７（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００６８】
（Ｘ＝０°、Ｙ＝−５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝０°、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００６９】
判定部５は、図８（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図８（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図８（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００７０】
（Ｘ＝１０°、Ｙ＝−５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝１０°、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００７１】
判定部５は、図９（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図９（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図９（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００７２】
続いて、操作部１７が、Ｙ＝０°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＸ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【００７３】
（Ｘ＝−１０°、Ｙ＝０°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝０°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００７４】
判定部５は、図１０（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１０（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１０（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００７５】
（Ｘ＝０°、Ｙ＝０°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝０°、Ｙ＝０°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００７６】
判定部５は、図１１（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１１（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１１（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００７７】
（Ｘ＝１０°、Ｙ＝０°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝１０°、Ｙ＝０°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００７８】
判定部５は、図１２（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１２（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１２（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００７９】
続いて、操作部１７が、Ｙ＝５．５°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＸ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【００８０】
（Ｘ＝−１０°、Ｙ＝５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００８１】
判定部５は、図１３（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１３（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１３（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００８２】
（Ｘ＝０°、Ｙ＝５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝０°、Ｙ＝５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００８３】
判定部５は、図１４（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１４（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１４（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００８４】
（Ｘ＝１０°、Ｙ＝５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｘ＝１０°、Ｙ＝５．５°に固定されたままＺ軸方向に操作された場合について説明する。
【００８５】
判定部５は、図１５（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ５と図１５（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１５（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｚ軸方向の操作位置を容易に判定することができる。
【００８６】
上記したように、このレバーコントロールスイッチ装置１は、差分値Ｖ１−Ｖ５と差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出することによって、Ｘ軸及びＹ軸周りの傾倒操作に依存せず、Ｚ軸方向の操作位置、つまりプッシュ操作位置を検出することができる。続いて、Ｘ軸周りの傾倒操作の検出について説明する。
【００８７】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図１６は、本発明の実施の形態に係るＸ軸周りの傾倒操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図であり、図１７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【００８８】
判定部５は、正弦波形状となる組み合わせとして、図１６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ３及びＳ８の出力電圧から差分値Ｖ３−Ｖ８を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合、算出された差分値Ｖ３−Ｖ８は、図１７（ａ）に示すように、符号が反転した正弦波形状となる。
【００８９】
同様に、判定部５は、余弦波形状となる組み合わせとして、図１６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ４及びＳ９の出力電圧から差分値Ｖ４−Ｖ９を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合、算出された差分値Ｖ４−Ｖ９は、図１７（ｂ）に示すように、余弦波形状となる。
【００９０】
判定部５は、この正弦波となる差分値Ｖ３−Ｖ８と余弦波となる差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値（第１の逆正接値）を算出する。この算出された逆正接値は、図１７（ｃ）に示すように、図中左から右に上がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【００９１】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのＺ軸方向の操作位置の検出について）
図１８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【００９２】
判定部５は、図１８（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図１８（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１８（ｃ）に示すように、図中左から右に上がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【００９３】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図１９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【００９４】
判定部５は、図１９（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図１９（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図１９（ｃ）に示すように、図中左から右に上がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【００９５】
続いて、操作部１７が、Ｙ＝０°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＸ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【００９６】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【００９７】
判定部５は、図２０（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２０（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ８とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２０（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【００９８】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【００９９】
判定部５は、図２１（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２１（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２１（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１００】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１０１】
判定部５は、図２２（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２２（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２２（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１０２】
続いて、操作部１７が、Ｙ＝５．５°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＸ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【０１０３】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１０４】
判定部５は、図２３（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２３（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２３（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１０５】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１０６】
判定部５は、図２４（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２４（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２４（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１０７】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°に固定されたままＸ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１０８】
判定部５は、図２５（ａ）に示す差分値Ｖ３−Ｖ８と図２５（ｂ）に示す差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２５（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｘ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１０９】
上記したように、このレバーコントロールスイッチ装置１は、差分値Ｖ３−Ｖ８と差分値Ｖ４−Ｖ９とに基づいて逆正接値を算出することによってＺ軸方向のプッシュ操作、及びＹ軸の周りの傾倒操作に依存せず、Ｘ軸周りの傾倒操作を検出することができる。続いて、Ｙ軸周りの傾倒操作の検出について説明する。
【０１１０】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２６は、本発明の実施の形態に係るＹ軸周りの傾倒操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図であり、図２７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１１１】
判定部５は、正弦波形状となる組み合わせとして、図２６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ１及びＳ６の出力電圧から差分値（第１の差分値）Ｖ１−Ｖ６を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合、Ｙ軸周りの回転角度が小さいため、算出された差分値Ｖ１−Ｖ６は、図２７（ａ）に示すように、直線に近い正弦波形状の曲線となる。
【０１１２】
同様に、判定部５は、余弦波形状となる組み合わせとして、図２６に示すように、ハーフブリッジ回路Ｓ２及びＳ７の出力電圧から差分値（第２の差分値）Ｖ２−Ｖ７を算出する。この組み合わせによれば、操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合、上記と同様の理由により、算出された差分値Ｖ２−Ｖ７は、図２７（ｂ）に示すように、直線に近い余弦波形状の曲線となる。
【０１１３】
判定部５は、この正弦波形状となる差分値Ｖ１−Ｖ６と余弦波形状となる差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値（第１の逆正接値）を算出する。この算出された逆正接値は、図２７（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１１４】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのＸ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１１５】
判定部５は、図２８（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図２８（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２８（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１１６】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図２９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１１７】
判定部５は、図２９（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図２９（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図２９（ｃ）に示すように、図中左から右に下がる直線、つまり線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１１８】
続いて、操作部１７が、Ｘ＝０°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＹ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【０１１９】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１２０】
判定部５は、図３０（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３０（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３０（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１２１】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１２２】
判定部５は、図３１（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３１（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３１（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１２３】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１２４】
判定部５は、図３２（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３２（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３２（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１２５】
続いて、操作部１７が、Ｘ＝１０°に固定されたまま、プッシュ操作、及びＹ軸周りの傾倒操作を行われた場合について説明する。
【０１２６】
（Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１２７】
判定部５は、図３３（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３３（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３３（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１２８】
（Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１２９】
判定部５は、図３４（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３４（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３４（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１３０】
（Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのＹ軸周りの傾倒操作位置の検出について）
図３５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。操作部１７が、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°に固定されたままＹ軸周りに傾倒操作された場合について説明する。
【０１３１】
判定部５は、図３５（ａ）に示す差分値Ｖ１−Ｖ６と図３５（ｂ）に示す差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出する。この算出された逆正接値は、図３５（ｃ）に示すような線形なグラフとなり、判定部５は、Ｙ軸周りの傾倒操作位置を容易に判定することができる。
【０１３２】
上記したように、このレバーコントロールスイッチ装置１は、差分値Ｖ１−Ｖ６と差分値Ｖ２−Ｖ７とに基づいて逆正接値を算出することによってＺ軸方向のプッシュ操作、及びＸ軸の周りの傾倒操作に依存せず、Ｙ軸周りの傾倒操作を検出することができる。
【０１３３】
（効果）
（１）本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置１は、１つの磁石２によってＺ軸方向のプッシュ操作位置、Ｘ軸周りの傾倒操作位置、及びＹ軸周りの傾倒操作位置の３方向の操作位置を検出することができる。
【０１３４】
（２）本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置１は、ハーフブリッジ回路Ｓ１〜Ｓ９によって、Ｚ軸方向のプッシュ操作位置、Ｘ軸周りの傾倒操作位置、及びＹ軸周りの傾倒操作位置を独立して検出することができる。
【０１３５】
（３）本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置１は、磁石２が図２に示す形状を有しているので、より急峻な磁界２０を発生させることができるので、操作部１７の操作位置に基づいて大きな変化のある出力電圧を出力することができる。
【０１３６】
（４）本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置１は、磁石２が永久磁石であるので、低コストで製造することができる。
【０１３７】
（５）本実施の形態におけるレバーコントロールスイッチ装置１は、逆正接値を算出することによって、操作部１７の操作位置を検出するので、正確に操作位置を検出することができる。
【０１３８】
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されず、本発明の技術思想を逸脱あるいは変更しない範囲内で種々の変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１３９】
【図１】図１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るレバーコントロールスイッチ装置の概略図であり、（ｂ）は、磁石と磁気センサ部の位置関係を示す側面図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態に係る磁気センサ部の位置関係を示す平面図である。
【図３】図３（ａ）は、本発明の実施の形態に係る第１のＭＲセンサの等価回路図であり、（ｂ）は、第２のＭＲセンサの等価回路図である。
【図４】図４（ａ）は、本発明の実施の形態に係る第３のＭＲセンサの等価回路図であり、（ｂ）は、第４のＭＲセンサの等価回路図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態に係るレバーコントロールスイッチ装置に関するブロック図である。
【図６】図６は、本発明の実施の形態に係るＺ軸の操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図である。
【図７】図７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図８】図８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図９】図９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１０】図１０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１１】図１１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１２】図１２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１３】図１３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝−１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝−１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１４】図１４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１５】図１５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＸ＝１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ５の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｘ＝１０°、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＺ軸の操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１６】図１６は、本発明の実施の形態に係るＸ軸周りの傾倒操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図である。
【図１７】図１７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１８】図１８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図１９】図１９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝−５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２０】図２０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２１】図２１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２２】図２２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２３】図２３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２４】図２４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２５】図２５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ３、Ｓ８の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｙ＝５．５°のときのハーフブリッジ回路Ｓ４、Ｓ９の差分値ＶとＸ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２６】図２６は、本発明の実施の形態に係るＹ軸周りの傾倒操作位置を検出するＭＲセンサの組み合わせを示す概略図である。
【図２７】図２７（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２８】図２８（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図２９】図２９（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝−１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３０】図３０（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３１】図３１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３２】図３２（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３３】図３３（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝−１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３４】図３４（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【図３５】図３５（ａ）は、本発明の実施の形態に係るＺ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ１、Ｓ６の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｂ）は、Ｚ＝１．０ｍｍ、Ｘ＝１０°のときのハーフブリッジ回路Ｓ２、Ｓ７の差分値ＶとＹ軸周りの傾倒操作位置に関するグラフであり、（ｃ）は、角度変換によって得られたグラフである。
【符号の説明】
【０１４０】
Ｍ１〜Ｍ８…磁気抵抗素子、Ｓ１〜Ｓ９…第１〜第９のハーフブリッジ回路、Ｖ１〜Ｖ９…第１〜第９の出力電圧、Ｖｃｃ…電圧、１…レバーコントロールスイッチ装置、２…磁石、３…プリント配線基板、４…磁気センサ部、５…判定部、６…車両制御部、７…被制御装置、１０…支持機構部、１１…台座、１２…凸部、１３…ピン、１４…Ｘ軸支持部、１５…Ｙ軸支持部、１６…ピン、１７…操作部、１８…ノブ、１９…レバー、２０…磁界、４０〜４３…第１〜第４のＭＲセンサ、４０ａ〜４３ａ…基板
【図１】
2010096510.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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