(57)【要約】【課題】光ディスクドライブにとって記録ストラテジが未知なる光ディスクに対し、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法及び光ディスクドライブを提供する。【解決手段】ストラテジパラメータの任意の２つの組み合わせによるものであれば、これを二次元マトリクスに変化させることより記録品質を求め、記録品質が最良となる該２つのストラテジパラメータの最適値を決定するか、ストラテジパラメータの任意の１つと、ＤＯＷ（１）記録の下限界ピークパワーとの組み合わせによるものであれば、任意の１つのストラテジパラメータの値を変化させて下限界ピークパワーの最小値を求め、この最小値に対応する該ストラテジパラメータの最適値を決定するか、あるいは、さらにこの値から所定の補正量を減算又は加算する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法であって、
前記記録情報に応じた記録用マルチパルスを規定するストラテジパラメータのうち、パワー系及びパルス幅系の前記ストラテジパラメータを任意に組み合わせて二次元マトリクス状に変化させながら記録品質を評価するステップと、
前記記録品質の評価結果に基づいて、最適な記録品質を表す前記パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータの最適値を決定するステップと
を含むことを特徴とする光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法。
【請求項２】
前記記録用マルチパルスのストラテジパラメータのうち、任意の１つの前記ストラテジパラメータの値を変化させて５０回以下の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト記録の記録品質が所望の限界値となる記録パワーを求め、前記記録パワーの最適値に対応する前記任意の１つのストラテジパラメータの値を該ストラテジパラメータの最適値とするステップとを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法。
【請求項３】
前記重ね書き記録が、１回であることを特徴とする請求項２に記載の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法。
【請求項４】
前記最適値に対応する前記任意の１つのストラテジパラメータの値を該ストラテジパラメータの値とし、該値から所定の補正量を減算又は加算し最終最適値とするステップとを含むことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法。
【請求項５】
レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブにおいて、
前記記録情報に応じた記録用マルチパルスを規定するストラテジパラメータのうち、パワー系及びパルス幅系の前記ストラテジパラメータを任意に組み合わせて二次元マトリクス状に変化させることより記録品質を求める演算処理と、前記記録品質の評価結果に基づいて、最適な記録品質を表す前記パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータの最適値を決定する演算処理とを行うライトストラテジ演算、制御部と、
前記ライトストラテジ演算、制御部からの所定のデータの記録パルス列を生成して出力する記録パルス調整部とを含むことを特徴とする光ディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録するための記録品質に係り、詳しくは、光ディスクドライブにとって記録ストラテジが未知なる光ディスクに対し、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法及び光ディスクドライブに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクへの情報の記録は、ＰＣ（Ｐｅｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号に変換して行なわれるが、使用する光ディスクの組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のマークやスペースを形成できない。
【０００３】
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスクに固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて、良好な記録品質を維持する方式が採用されているが、使用する個々の光ディスク固有のライトストラテジを決定するためには、開発サイドの負担が大きく、しかも、ディスクドライブの開発終了後に発売されるような光ディスクに対するライトストラテジの対応が難しいという問題がある。
【０００４】
書き換え型ディスクのストラテジ調整においては、未記録領域に始めて記録するダイレクトオーバーライト（ＤＯＷ（０））から、１０００回の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト（ＤＯＷ（１０００））までの記録特性を保証する記録ストラテジを決定するのが一般的である。ところで、通常の場合、ＤＯＷ（１）とＤＯＷ（１０００）の記録特性と記録条件は互いにトレードオフの関係がある。このため、ストラテジの調整においては、短時間で効率よく互いのバランスをとることが重要となっている。
【０００５】
ところが現状においては、ディスクの推奨ストラテジ又は既存調整済みストラテジを基にストラテジの調整を開始し、１回の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト（ＤＯＷ（１））の記録特性を満足すると、ＤＯＷ（１０００）の記録特性の測定を行う。その結果十分なパワーマージンが確保できなかった場合には、記録用マルチパルスのトップパルス、トップクーリングパルス、マルチパルス、ラストパルス、及びクーリングパルスの各パルス幅と、ピークパワー、及びピ−クパワーとイレーズパワーとの比の値とを複合的に変化させ、ＤＯＷ（０）〜ＤＯＷ（１０００）の記録特性の膨大なデータを採取し、十分なパワーマージンが確保できるストラテジを選択決定していた。このため、ストラテジの調整には膨大な時間を費やしているのが実状である。
【０００６】
特許文献１には、パルス設定手段とパワー設定手段で記録パワーと消去パワーとボトムパワーを有するマルチパルスの異なるパルス幅とボトムパワー毎に記録パワーを複数段階に変化させた発光パターンを設定し、光ディスクに試し書きを行い、その領域に重ね書きを行い、再生信号を再生信号評価手段で評価し、パワーマージンが基準値を満足するパルス幅とボトムパワーを決定し、この条件下でのパワーマージンの中心の記録特性が確保できる記録パワーを最適記録パワーとする、旨の記載がある。
【０００７】
特許文献２には、システムコントローラのメモリに、光ディスクの識別情報毎に最適記録ストラテジを設定したテーブルを記憶しておき、識別情報が無い光ディスクには、平均的な記録ストラテジを設定し、識別情報が無い光ディスクにデータを記録する場合、平均的な記録ストラテジでテストデータを記録し、同期信号の検出率が所定値以上となるストラテジを最適ストラテジに設定する、旨の記載がある。ところが、これら特許文献１、２には、ＤＯＷ（１０００）の記録品質についての考慮がされていない。
【０００８】
特許文献３には、制御部は、未知ディスクの所定領域から推奨記録ストラテジを読み取り、対応する補正パラメータをメモリから読み取り、推奨記録ストラテジを補正し、補正済みの推奨記録ストラテジに基づいて記録パターンを記録パルスに変換し、ＯＰＣを実行し、その後実際のデータ記録を開始する、旨の記載がある。ところが、推奨記録ストラテジを補正するだけでは、全ディスク品質を保証することは困難である。
【特許文献１】特開２００５−０３８４７３号公報
【特許文献２】特開２００６−２６０６６８号公報
【特許文献３】特開２００８−０１６１６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、光ディスクドライブにとって記録ストラテジが未知なる光ディスクに対し、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法及び光ディスクドライブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法は、レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法であって、記録情報に応じた記録用マルチパルスを規定するストラテジパラメータのうち、パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータを任意に組み合わせて二次元マトリクス状に変化させながら記録品質を評価するステップと、記録品質の評価結果に基づいて、最適な記録品質を表す前記パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータの最適値を決定するステップとを含むことを特徴とする。これにより、最適な記録ストラテジを正確に決定することができる。
【００１１】
本発明の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法は、上記記録用マルチパルスのストラテジパラメータのうち、任意の１つのストラテジパラメータの値を変化させて５０回以下の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト記録が所望の限界値となる記録パワーを求め、記録パワーの最適値に対応する任意の１つのストラテジパラメータの値を該ストラテジパラメータの最適値とするステップとを含むことを特徴とする。これにより、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる。
【００１２】
本発明の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法の上記重ね書き記録が、１回であることを特徴とする。これにより、最適な記録ストラテジをさらに短時間に、且つ正確に決定することができる。
【００１３】
本発明の光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法は、最適値に対応する任意の１つのストラテジパラメータの値を該ストラテジパラメータの値とし、該値から所定の補正量を減算又は加算し最終最適値とするステップとを含むことを特徴とする。これにより、さらに正確な最適記録ストラテジを決定することができる。
【００１４】
本願発明の光ディスクドライブは、レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブにおいて、記録情報に応じた記録用マルチパルスを規定するストラテジパラメータのうち、パワー系及びパルス幅系の前記ストラテジパラメータを任意に組み合わせて二次元マトリクス状に変化させることより記録品質を求める演算処理と、前記記録品質の評価結果に基づいて、最適な記録品質を表す前記パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータの最適値を決定する演算処理とを行うライトストラテジ演算、制御部と、ライトストラテジ演算、制御部からの所定のデータの記録パルス列を生成して出力する記録パルス調整部とを含むことを特徴とする。これにより、最適な記録ストラテジを正確に決定する光ディスクドライブを提供することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光ディスクドライブにとって記録ストラテジが未知なる光ディスクに対し、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法及び光ディスクドライブを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明の実施例について図を用いて説明する。図１０は、本発明による方法を実行する光ディスクドライブの基本機能ブロック図である。図１０において、光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去（ＲＷおよびＲＡＭのみ）が行える光記録媒体であり、例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
【００１７】
ＲＯＭ２２０は、未知のディスクの推奨ライトストラテジ又は既存調整済みライトストラテジが記憶されている不揮発性メモリであり、設計者により、各種のディスクに対応したライトストラテジ等が記憶されている。ライトストラテジメモリ部２１８は、ライトストラテジ演算、制御部２１６で計算されたライトストラテジパラメータを一時的に記憶するメモリである。
【００１８】
ライトストラテジ演算、制御部２１６は、ＲＯＭ２２０から読み出した推奨ライトストラテジ又は既存調整済みライトストラテジを基に各ストラテジの初期条件を設定し、そのデータを記録パルス調整部２２６に送り、所定のデータを光ディスク１に記録させる。また、初期条件により記録された記録結果を基にデータ弁別、演算部２１２が算出した計算結果を演算処理し、記録品質が最良となるピークパワーＰｐ及びεを決定する。
【００１９】
さらに、このＰｐ及びεを基に本発明による対象ストラテジパラメータのパルス幅を決定するため、パワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータである、例えば、トップパルス、トップクーリングパルス、マルチパルス、ラストパルス、クーリングパルス等の各パルス幅及び、ピークパワー、イレーズパワー、バイアスパワー、イレーズパワーとピークパワーとの比（ε）等のパワーを定義するパラメータのうち、任意の２つのパラメータの値を二次元マトリクスに変化させて記録品質を求める条件を設定するか、任意の１つのパラメータのＤＯＷ（５０回以下）、又はＤＯＷ（１）の下限ピークパワーの最小値を求める条件を設定するか、又は、下限ピークパワーの最小値に対応するストラテジパラメータに補正を加える条件を設定して、そのデータを記録パルス調整部２２６に送る。
【００２０】
引き続き、その記録結果からデータ弁別、演算部２１２が算出した計算結果を基に比較、判定処理し、最適な記録品質を表すパワー系及びパルス幅系のストラテジパラメータの最適値を決定する。即ち、二次元マトリクス上の記録品質の最小位置、最大位置、スライスレベルの中心値、あるいは重心値等で求められた位置をもって２つのパラメータの最適値として決定するか、又は、任意の１つのパラメータのＤＯＷ（１）における下限ピークパワーの最小値に対応する値をストラテジパラメータの最適値として決定するか、又は、該最小値に対応するストラテジパラメータの値に所定の補正量を加算又は減算し最適値として決定する。この操作を他のストラテジパラメータ、又は、それらの組み合わせについても繰り返し行うことにより、前記ストラテジパラメータの全てもしくは一部について、最適値を決定する。このとき、決定された対象ストラテジパラメータの最適パルス幅のデータは、ライトストラテジメモリ部２１８に保存され、ユーザの動作時に、適宜読み出される。
【００２１】
記録パルス調整部２２６は、ライトストラテジ演算、制御部２１６からのパルス設定パラメータデータを入力し、記録パルス列を生成してレーザ駆動部２２８に出力する。レーザ駆動部２２８は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を発生して、光ピックアップ２００内の半導体レーザに出力し、半導体レーザは所定のデータを光ディスク１に記録する。
【００２２】
ヘッドアンプ２０２は、光ピックアップ２００が光ディスク１から検出した反射光により、反射光量を演算して、光量の総和を示すＲＦ信号を生成すると共に、光ピックアップ２００の半導体レーザの焦点ズレを検出する信号であるフォーカスエラー信号と、トラックズレを検出する信号であるトラッキングエラー信号とを生成する。
【００２３】
２値化回路２０４は、ヘッドアンプ２０２からの検出信号を成形してマーク及びスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。すなわち、２値化回路２０４は、ヘッドアンプ２０２から出力されたアナログの３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・・の各種信号を２値化して、パルス波形に直すための閾値を常に調節している。
【００２４】
クロックズレ測定部２０８は、対象ストラテジパラメータのパルス幅を決定するための判断パラメータを測定する測定部である。すなわち、クロックズレ測定部２０８は、２値化回路２０４からデータを取得し、各種信号のエッジとクロックエッジとのズレを測定する。記録パルス列のパルスエッジは、条件に応じて規定量（ΔＴ）増減し、この時に実測されるマークエッジの変化量（ｄＴ）が測定される。この時、各々のズレに対する記録品質が対応付けられる。
【００２５】
ＲＡＭ２１０は、クロックズレ測定部２０８で測定したデータを一時的に記憶するメモリである。すなわちＲＡＭ２１０には、ライトストラテジ演算、制御部２１６により設定された各種信号のクロックズレ、信号種類別のサンプル数、異なるライトストラテジで記録された再生信号の規定量（ΔＴ）動かした時に実測されたマークエッジの変化量（ｄＴ）、等が記憶される。
【００２６】
データ弁別、演算部２１２は、ＲＡＭ２１０に記憶された測定データより、ライトストラテジ演算、制御部２１６により設定された各種信号の変化量に対するズレを算出し、各々のズレに対する記録品質が対応付けられるよう、ライトストラテジ演算、制御部２１６に出力される。
【００２７】
次に、本発明で対象とするストラテジパラメータについて説明する。図２は、対象とするストラテジパラメータのマルチパルス波形を示すパルス波形図である。図２において、対象とするストラテジパラメータは、記録用マルチパルスのトップパルスのパルス幅（Ｔｏｐ）、トップクーリングパルスのパルス幅（Ｔｐｃ）、マルチパルスのパルス幅（Ｔｍｐ）、ラストパルスのパルス幅（Ｔｌｗ）、及びクーリングパルスのパルス幅（Ｔｃｗ）の５つのパルス幅を対象として説明する。また、対象とするストラテジパラメータには、さらにピークパワー（Ｐｐ）、イレーズパワー（Ｐｅ）、バイアスパワー（Ｐｂ）、ε等のパワーを定義するパラメータが加わり、これら全てのストラテジパラメータの内から、任意の２つのストラテジパラメータが組み合わせられても良い。ディスクの記録領域を溶融するＰｐと記録領域を結晶化するＰｅとは、ε＝Ｐｅ／Ｐｐの関係にある。急冷することにより記録マークを形成するＰｂはゼロの場合を想定している。
【００２８】
次に本発明の第１の方法の実施例について説明する。図３は、ＤＯＷ（１）におけるクーリングパルスとラストパルスのパルス幅とを２次元的に変化させたときの記録品質が所望の限界値となる下限界ピークパワーを示す記録品質表である。図３において、楕円で示されたＴｃｗが６〜９、Ｔｌｗが１９〜２２あたりに下限界ピークパワーの最小点が存在していると想定され、２次元２次近似によりこの最小点を算出するとＴｌｗ＝２０．３３、Ｔｃｗ＝７．７２、相関係数０．９１の結果となり、このときのパルス幅の値を、クーリングパルス及びラストパルスのパルス幅とすることで、最適なパルス幅を決定することができる。この操作を他のストラテジパラメータの組み合わせについても繰り返し行うことにより、全ての対象ストラテジパラメータの最適パルス幅を決定することができる。また、ＤＯＷ（１０００）の記録特性を必要としないため、ストラテジの調整を短時間で行うことが可能となる。
【００２９】
図１１は、ＤＯＷ（１）におけるεとピークパワーを２次元的に変化させたときのブロックエラーレートを示す記録品質表である。この表の場合は、２次元２次近似の結果決定される値は、Ｐｐ＝２８．９ｍＷ、ε＝０．２７となる。このように広範囲にわたりマトリクス測定してＰＩＥの最小位置を算出するため、より正確な記録パワーを決定することが可能となる。
【００３０】
次に、本発明の第２の方法の実施例について説明する。図４は、ラストパルスの幅とピークパワーとを２次元的に変化させたときのＤＯＷ（１）ブロックエラーレート（ＰＩＥ）を示す記録品質表であり、このときの各ラストパルス幅に対する下限界ピークパワーも示されている。図４において、下限界ピークパワー（Ｐｐｌ）のＴｌｗに対する変化には、詳しくは図８において説明するが、パワーマージンと類似性があるため、ＴｌｗとＰｐｌとの関係からＴｌｗを決定することが可能となる。また、このＰｐｌは、ダイレクトオーバーライト記録の記録品質が所望の限界値となる記録パワーを示すものであり、ＰＩＥをジッターにより置き換えても良い。
【００３１】
このため、Ｔｌｗに対するＰｐｌのグラフの求め方について説明する。図５は、ＤＯＷ（１）における、ラストパルスのパルス幅をパラメータとしたピークパワーとＤＯＷ（１）記録時のブロックエラーレートとの関係を示すＰｐ−ＰＩＥ特性図である。図５において、Ｔｌｗをパラメータとした各曲線と、規格値により事前に設定されたＰＩＥの下限スライスレベル２８０との交点に注目する。
【００３２】
図６は、ラストパルスの幅と下限界ピークパワーとの関係を示すＴｌｗ−Ｐｐｌ特性図である。図６における実線は、図５の各曲線と下限スライスレベル２８０との交点で決まるＰｐｌと、その曲線のＴｌｗとを求めてプロットしたものである。破線は、プロットされた曲線を２次関数近似したものであり、相関係数は０．９９０３である。また、この２次関数近似による最小値を示すパルス幅の値は、０．６４５である。これにより、図５で採集されるデータを基に、数値計算により図６の２次曲線が求まり、自動的にＴｌｗを求めることが可能となる。このため、各ストラテジパラメータに対してこの操作を繰り返すことにより、ＤＯＷ（１）のみで短時間で且つ正確な、全てのストラテジパラメータを決定することができる。また、ＤＯＷ（１）は、ＤＯＷ（５０以下）であっても良い。
【００３３】
次に、本発明の第３の方法の実施例について説明するに先立ち、ピークパワー（Ｐｐ）の上限界ピークパワー（Ｐｐｕ）及び下限界ピークパワー（Ｐｐｌ）とパワーマージンとの関係を説明する。図７は、書換え回数をパラメータとした記録時のピークパワーとブロックエラーレートとの関係を示すパワーマージン図である。ＰＩＥの上限スライスレベル７００と下限スライスレベル２８０は、規格値として事前に設定されている。
【００３４】
図７において、ＤＯＷ（０）〜ＤＯＷ（１０００）におけるＰｐとＰＩＥとから、ＤＯＷ（１０００）におけるＰｐが、最初にＰＩＥの上限スライスレベル７００と交差しており、Ｐｐｕは３２．１ｍＷとなっている。また、ＤＯＷ（１）におけるＰｐが、最初にＰＩＥの下限スライスレベル２８０と交差しており、Ｐｐｌは、２２．４ｍＷとなっている。このことから、パワーマージンは、Ｐｐｕ−Ｐｐｌ＝３２．１−２２．４＝９．７ｍＷとなる。書き換え型ディスクのストラテジ調整は、このパワーマージンを如何に広く調整できるかに係り、これに必要なＤＯＷ（１０００）記録を実施するためには、多大な時間を必要とする。また図７において、ＤＯＷ（１）とＤＯＷ（１０００）の記録特性は、互いにトレードオフの関係にある。
【００３５】
本発明の第３の実施例について説明する。図８は、ＤＯＷ（１）においてラストパルスを変化させたときの下限界ピークパワー及びＤＯＷ（１０００）においてラストパルスを変化させたときの上限界ピークパワーと、パワーマージンとの関係を示す相関図である。図８において、Ｐｐｕ及びパワーマージンは、Ｔｌｗに対して最大値を持つ２次曲線に近似される。これに対してＰｐｌは、Ｔｌｗに対して最小値を持つ２次曲線に近似され、且つＰｐｕに比べピークが顕著に現れている。また、Ｐｐｌが最小となるＴｌｗとパワーマージンが最大となるＴｌｗとは、ほぼ一致している。これより、Ｐｐｌが最小となるＴｌｗを求めることで、パワーマージンが最大となると推定される。
【００３６】
図９は、各ディスクの下限界ピークパワーの最小となるＴｌｗ及びパワーマージン最大となるＴｌｗを２次近似式により求めた極値表である。パワーマージン最大となるＴｌｗと下限値ピークパワー最小となるＴｌｗとの差（Δ-ｂ／（２ａ））には、バラツキがあるものの、平均値として−０．１である。この値の絶対値を補正値として、算出されたＰｐｌ最小となるＴｌｗから補正値を減算することにより、パワーマージンを拡大できるＴｌｗを求めることができる。このとき、補正されたＴｌｗは、パワーマージンを拡大するＴｌｗとなる。このため、Ｔｌｗの補正値を求め、この補正値を、算出されたＰｐｌ最小となるＴｌｗから減算することにより、さらに正確な最適Ｔｌｗを決定することが可能となる。
【００３７】
図１は、本発明による光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法を示すフローチャートである。図１において、ディスクの推奨ストラテジ又は既存調整済みストラテジを基に各ストラテジの初期設定を行う（ステップ１１０）。この初期設定を基に、εとＰｐとを二次元マトリクスに変化させることより記録品質を求め、記録品質が最良となるＰｐ及びεを決定する（ステップ１２０）。このＰｐ及びεを基に、対象ストラテジパラメータのパルス幅を決定するＥＰＯ（Ｅｄｇｅ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎ  Ｏｐｔｉｍｕｍ）動作を開始する（ステップ１３０）。対象ストラテジパラメータの任意の２つの組み合わせによるものであれば、二次元マトリクスに変化させることより記録品質を求め、二次元マトリクス上の記録品質が最良となる該２つの対象ストラテジパラメータの最適パルス幅を決定する（ステップ１４０、１７０、１８０）。全ての対象ストラテジパラメータが決定するまで、同様の処理を繰り返す（ステップ１９０）。
【００３８】
対象ストラテジパラメータの任意の１つと、下限界ピークパワーとの組み合わせによるものであれば、任意の１つの対象ストラテジパラメータのパルス幅を変化させてＤＯＷ（１）時の下限界ピークパワーの最小値を求め、下限界ピークパワーの最小値に対応する該１つの対象ストラテジパラメータの最適パルス幅を決定する（ステップ１５０、１７０、１８０）。全ての対象ストラテジパラメータが決定するまで、同様の処理を繰り返す（ステップ１９０）。
【００３９】
対象ストラテジパラメータの任意の１つと、下限界ピークパワーとの組み合わせによる結果に補正値を組み合わせるものであれば、任意の１つの対象ストラテジパラメータのパルス幅を変化させてＤＯＷ（１）時の下限界ピークパワーの最小値を求め、下限界ピークパワーの最小値に対応する該１つの対象ストラテジパラメータのパルス幅から所定の補正値を減算又は加算して最適パルス幅を決定する（ステップ１６０、１７０、１８０）。全ての対象ストラテジパラメータが決定するまで、同様の処理を繰り返す（ステップ１９０）。
【００４０】
以上説明したように、本発明によると、光ディスクドライブにとって記録ストラテジが未知なる光ディスクに対し、最適な記録ストラテジを短時間に、且つ正確に決定することができる光ディスクドライブの記録ストラテジ決定方法及び光ディスクドライブを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明による記録ストラテジ決定方法を示すフローチャート。
【図２】対象とするストラテジパラメータのマルチパルス波形を示すパルス波形図。
【図３】ＤＯＷ（１）におけるクーリングパルスとラストパルスの幅を２次元的に変化させたときの記録品質表。
【図４】ＤＯＷ（１）におけるラストパルス幅とピークパワーを２次元的に変化させたときの記録品質表。
【図５】ＤＯＷ（１）におけるラストパルスの幅をパラメータとしたＰｐ−ＰＩＥ図。
【図６】ラストパルスの幅と下限界ピークパワーとの関係を示すＴｌｗ−Ｐｐｌ図。
【図７】書換え回数をパラメータとしたピークパワーとブロックエラーレートによるパワーマージン図。
【図８】ラストパルスに対する上限界ピークパワーと下限界ピークパワーとパワーマージンとの相関図。
【図９】各ディスクの下限界ピークパワーの最小となるＴｌｗ及びパワーマージンの最大となるＴｌｗを２次近似式により求めた極値表。
【図１０】本発明による方法を実行する光ディスクドライブの基本機能ブロック図。
【図１１】ＤＯＷ（１）におけるεとピークパワーを２次元的に変化させたときの記録品質表。
【符号の説明】
【００４２】
１  光ディスク
２  光ディスクドライブ
２００  光ピックアップ
２０２  ヘッドアンプ
２０４  ２値化回路
２０８  クロックズレ測定部
２１０  ＲＡＭ
２１２  データ弁別、演算部
２１６  ライトストラテジ演算、制御部
２１８  ライトストラテジメモリ部
２２０  ＲＯＭ
２２６  記録パルス調整部
２２８  レーザ駆動部
ＤＯＷ（０）  未記録領域に始めて記録するダイレクトオーバーライト
ＤＯＷ（１）  １回の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト
ＤＯＷ（１０００）  １０００回の重ね書き記録をするダイレクトオーバーライト
Ｔｏｐ  トップパルス
Ｔｐｃ  トップクーリングパルス
Ｔｍｐ  マルチパルス
Ｔｌｗ  ラストパルス
Ｔｃｗ  クーリングパルス
Ｐｅ  イレーズパワー
Ｐｐ  ピークパワー
Ｐｂ  バイアスパワー
ε  ＰｅＰｐ比  
ＥＰＯ  Ｅｄｇｅ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎ  Ｏｐｔｉｍｕｍ
ＰＩＥ  ブロックエラーレート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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