(57)【要約】【課題】記録品質を向上させるため、記録パルスの所定のパラメータのストラテジ調整を行うことにより、記録されたマークの後端の偏差を最適に抑制する光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブを提供する。【解決手段】記録速度が低速の場合は、記録パルスを構成するクーリングパルスの立上りエッジを変化させることによりマークの後端の偏差の補正を行い、最適なストラテジを決定し、記録速度が高速の場合は、記録パルスを構成するラストパルスの立下りエッジとクーリングパルスの立上りエッジとを変化させるか、又は、ラストパルスの立上り及び立下りエッジと、クーリングパルスの立上りエッジとを変化させることにより、マーク後端の偏差の補正を行い、最適なストラテジを決定する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブの記録方法であって、
記録速度に応じて、前記マークの後端の偏差の補正を行うステップと、
この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップとを含むことを特徴とする光ディスクドライブの記録方法。
【請求項２】
前記記録速度が低速の場合は、記録パルスを構成するクーリングパルスの立上りエッジを変化させることにより前記マークの後端の偏差の補正を行うステップと、
この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップと、
前記記録速度が高速の場合は、前記記録パルスを構成するラストパルスの立下りエッジと前記クーリングパルスの立上りエッジとを変化させるか、または、前記記録パルスを構成する前記ラストパルスの立上り及び立下りエッジと、前記クーリングパルスの前記立上りエッジとを変化させることにより、前記マークの後端の偏差の補正を行うステップと、
この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップとを含むことを特徴とする請求項１に記載の光ディスクドライブの記録方法。
【請求項３】
レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブにおいて、
最適な記録ストラテジを決定するための演算、制御を行うライトストラテジ演算、制御部と、前記ライトストラテジ演算、制御部からの所定のデータの記録パルス列を生成して出力する記録パルス調整部とを含み、
前記ライトストラテジ演算、制御部は、記録速度に応じて、前記マークの後端の偏差の補正を行う演算処理と、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定する演算処理とを実行することを特徴とする光ディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録するための記録品質に係り、詳しくは、記録品質を向上させるため、記録パルスの所定のパラメータのストラテジ調整を行うことにより、記録されたマークの後端の偏差を最適に抑制する光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクへの情報の記録は、ＰＣ（Ｐｅｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）信号に変換して行なわれるが、使用する光ディスクの組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のマークやスペースを形成できない。
【０００３】
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスクに固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて、良好な記録品質を維持する方式が採用されている。
【０００４】
書き換え型光記憶ディスクにおいて、従来は補正位置が固定であったため、ディスクや記録速度によっては、パルス幅を補正することにより、逆に記録品質が低下する場合があった。この場合は、粗調整のみ実施して、繊細調整を実施しない等で記録品質の低下を回避してきた。このように、補正位置が不適であることにより繊細調整されない場合は、記録されたマーク、スペースのジッターやブロックエラーレート（ＰＩＥ）が増加するため、記録品質を充分に保証できない状態が生じてくる。
【０００５】
特許文献１には、システムコントローラのメモリに、光ディスクの識別情報毎に最適記録ストラテジを設定したテーブルを記憶しておき、識別情報が無い光ディスクには、平均的な記録ストラテジを設定しておき、識別情報のない光ディスクにデータを記録する場合、平均的な記録ストラテジ及びこれを変化させたストラテジでテストデータを記録し、同期信号の検出率が所定値以上となるストラテジを最適ストラテジに設定する、旨の記載がある。
【特許文献１】特開２００６−２６０６６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、記録品質を向上させるため、記録パルスの所定のパラメータのストラテジ調整を行うことにより、記録されたマークの後端の偏差を最適に抑制する光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光ディスクドライブの記録方法は、レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブの記録方法であって、記録速度に応じて、前記マークの後端の偏差の補正を行うステップと、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップとを含むことを特徴とする。これにより、記録されたマークの後端の偏差が最適となる記録パルスの所定のパラメータのストラテジを決定することができる。
【０００８】
本発明の光ディスクドライブの記録方法の記録速度が低速の場合は、記録パルスを構成するクーリングパルスの立上りエッジを変化させることによりマークの後端の偏差の補正を行うステップと、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップと、記録速度が高速の場合は、記録パルスを構成するラストパルスの立下りエッジとクーリングパルスの立上りエッジとを変化させるか、または、記録パルスを構成するラストパルスの立上り及び立下りエッジと、クーリングパルスの立上りエッジとを変化させることにより、マークの後端の偏差の補正を行うステップと、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定するステップとを含むことを特徴とする。これにより、具体的な記録速度に対して、記録されたマークの後端の偏差が最適となる記録パルスの所定のパラメータのストラテジを決定することができる。
【０００９】
レーザ光により、記録情報を表すマークおよびスペースを光ディスクに形成し、情報の記録あるいは再生を行う光ディスクドライブにおいて、最適な記録ストラテジを決定するための演算、制御を行うライトストラテジ演算、制御部と、ライトストラテジ演算、制御部からの所定のデータの記録パルス列を生成して出力する記録パルス調整部とを含み、ライトストラテジ演算、制御部は、記録速度に応じて、マークの後端の偏差の補正を行う演算処理と、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定する演算処理とを実行することを特徴とする。これにより、記録されたマークの後端の偏差が最適となる記録パルスの所定のパラメータのストラテジを決定することができる光ディスクドライブを提供することが可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、記録品質を向上させるため、記録パルスの所定のパラメータのストラテジ調整を行うことにより、記録されたマークの後端の偏差を最適に抑制する光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の実施例について図を用いて説明する。図７は、本発明による方法を実行する光ディスクドライブの基本機能ブロック図である。図７において、光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去（ＲＷおよびＲＡＭのみ）が行える光記録媒体であり、例えばＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
【００１２】
ＲＯＭ２２０は、ライトストラテジが記憶されている不揮発性メモリであり、設計者により、各種のディスクに対応したライトストラテジ等が記憶されている。ライトストラテジメモリ部２１８は、ライトストラテジ演算、制御部２１６で計算されたライトストラテジパラメータを一時的に記憶するメモリである。
【００１３】
ライトストラテジ演算、制御部２１６は、ＲＯＭ２２０から読み出したストラテジを基に、記録速度が低速の場合は、記録パルスを構成するクーリングパルスの立上りエッジを変化させるパラメータデータを設定し、そのデータを記録パルス調整部２２６に送り、光ディスク１に記録させる。記録速度が高速の場合は、記録パルスを構成するラストパルスの立下りエッジとクーリングパルスの立上りエッジとを変化させるか、または、記録パルスを構成するラストパルスの立上り及び立下りエッジと、クーリングパルスの立上りエッジとを変化させるパラメータデータを設定し、そのデータを記録パルス調整部２２６に送り、光ディスク１に記録させる。
【００１４】
また、記録速度が低速の場合は、読み出されたデータからデータ弁別、演算部２１２が算出した読み出しデータから、クーリングパルスの立上りエッジの変化に対する偏差を求め、マークの後端の偏差の補正を行い、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定する。また、記録速度が高速の場合は、ラストパルスの立下りエッジとクーリングパルスの立上りエッジ、または、ラストパルスの立上り及び立下りエッジとクーリングパルスの立上りエッジの変化に対する偏差を求め、マークの後端の偏差の補正を行い、この時の補正値を基に最適なストラテジを決定する。これらの結果はライトストラテジメモリ部２１８に記憶され、ユーザの動作時に、適宜読み出されて使用される。
【００１５】
記録パルス調整部２２６は、ライトストラテジ演算、制御部２１６からのパルス設定パラメータデータを入力し、記録パルス列を生成してレーザ駆動部２２８に出力する。レーザ駆動部２２８は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を発生して、光ピックアップ２００内の半導体レーザに出力し、半導体レーザは所定のデータを光ディスク１に記録する。
【００１６】
ヘッドアンプ２０２は、光ピックアップ２００が光ディスク１から検出した反射光により、反射光量を演算して、光量の総和を示すＲＦ信号を生成すると共に、光ピックアップ２００の半導体レーザの焦点ズレを検出する信号であるフォーカスエラー信号と、トラックズレを検出する信号であるトラッキングエラー信号とを生成する。
【００１７】
２値化回路２０４は、ヘッドアンプ２０２からの検出信号を成形してマーク及びスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。すなわち、２値化回路２０４は、ヘッドアンプ２０２から出力されたアナログの３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・・等の各種信号を２値化して、パルス波形に直すための閾値を常に調節している。
【００１８】
クロックズレ測定部２０８は、ストラテジパラメータの変動を測定する測定部である。すなわち、クロックズレ測定部２０８は、２値化回路２０４からデータを取得し、各種信号のエッジとクロックエッジとのズレを測定する。記録パルス列のパルスエッジは、条件に応じて規定量（ΔＴ）増減し、この時に実測されるマークエッジの変化量（ｄＴ）が測定される。
【００１９】
ＲＡＭ２１０は、クロックズレ測定部２０８で測定したデータを一時的に記憶するメモリである。すなわちＲＡＭ２１０には、ライトストラテジ演算、制御部２１６により設定された所定の書き込みデータより実測されたマークエッジの変化量（ｄＴ）等が記憶される。
【００２０】
データ弁別、演算部２１２は、ＲＡＭ２１０に記憶された測定データより、ライトストラテジ演算、制御部２１６により設定された各立上り、立下がりの基準クロックに対するズレを算出し、各々のズレが偏差の算出に対応付けられるデータを、ライトストラテジ演算、制御部２１６に出力する。次に、上記で説明したライトストラテジ演算、制御部２１６で行なわれる演算処理について詳しく説明する。
【００２１】
図１は、本発明による記録パルスとマーク・スペースとの関係を示すタイミング図である。図１において、クロック（ＣＬＫ）に同期してＥＦＭ変調（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）パルスが入力される。記録パルスは、このＥＦＭ変調パルスの各マークに同期して生成され、このパルスにより、光ディスクにマークの記録が行われる。本発明は、マークの後端を補正し、後端の偏差をゼロに近づけるためのパルス調整であるため、この調整によるマーク前端への影響は、無視できる範囲でなければならない。
【００２２】
タイプ１〜３は、ストラテジ調整のための記録パルスの調整個所を示したものである。タイプ１においては、トップパルス（Ｔｏｐ）及びラストパルス（Ｔｌｐ）は変化させず、クーリングパルス（Ｔｃｌ）の立上りエッジのみを変化させる。  タイプ２においては、Ｔｌｐの立下がりエッジと、Ｔｃｌの立上りエッジを変化させる。タイプ３においては、Ｔｌｐの立上り及び立下がりエッジ、及びＴｃｌの立上りエッジを変化させる。
【００２３】
図２は、タイプ１、２とマークの後端との関係を示す後端の偏差図である。図２におけるタイプ１においては、Ｔｃｌの立上りエッジが前後に変化することにより、３Ｔマークの後端も前後に変化する様子を示している。タイプ２においても同様に、Ｔｌｐの立下がりエッジと、Ｔｃｌの立上りエッジが前後に変化することにより、３Ｔマークの後端も前後に変化する様子を示している。次に、タイプ１、２に対する３Ｔマークの後端の偏差について、その実験結果を基に説明する。
【００２４】
図３は、記録速度２Ｘにおいて、タイプ１の条件で記録したときの３Ｔマークの偏差を示す偏差図である。詳しくは、Ｔｏｐを０．４４Ｔに、Ｔｌｐを０．３８Ｔに固定し、Ｔｃｌを（０．８１±０．１８８）Ｔの範囲で変化させた時の、３Ｔマークの前端と後端の偏差の推移を示している。図３において、Ｔｃｌの変化に対して、３Ｔマーク後端の偏差は直線的に変化している。一方、３Ｔマークの前端の偏差は、ほぼ変化無く推移している。
【００２５】
図４は、記録速度２Ｘにおいて、タイプ２の条件で記録したときの３Ｔマークの偏差を示す偏差図である。詳しくは、Ｔｏｐを０．４４Ｔに固定し、Ｔｌｐを（０．３８±０．１８８）Ｔ、及びＴｃｌを０．８１Ｔ固定の時の、３Ｔマークの前端と後端の偏差の推移を示している。Ｔｌｐ立下がりエッジとＴｃｌ立上がりエッジは、平行移動により同じ範囲で変化しているが、中心値が異なるため、横軸はＴｌｐのみ記載されている。
【００２６】
図４において、Ｔｌｐの変化に対して、３Ｔマーク後端の偏差は直線的に変化している。ところが、３Ｔマークの前端の偏差も同様の推移しているため、後端の影響が前端にまで及んでいる。この傾向はタイプ３においても見られるため（図示せず）、記録速度２Ｘにおけるストラテジ調整のための記録パルスの調整は、タイプ１が望ましい。
【００２７】
図５は、記録速度４Ｘにおいて、タイプ１の条件で記録したときの３Ｔマークの偏差を示す偏差図である。詳しくは、Ｔｏｐを０．６３Ｔに、Ｔｌｐを０．５Ｔに固定し、Ｔｃｌを（０＋０．３７５）Ｔの範囲で変化させた時の、３Ｔマークの前端と後端の偏差の推移を示している。図５において、３Ｔマーク後端の偏差の変化には直線性が見られるものの変化の傾きが小さく、偏差を調整するに十分とはいえない。
【００２８】
図６は、記録速度４Ｘにおいて、タイプ２の条件で記録したときの３Ｔマークの偏差を示す偏差図である。詳しくは、Ｔｏｐを０．６３Ｔに固定し、Ｔｌｐを（０．５±０．１８８）Ｔ、及びＴｃｌを０Ｔ固定の時の、３Ｔマークの前端と後端の偏差の推移を示している。Ｔｌｐ立下りエッジとＴｃｌ立上りエッジは、平行移動により同じ範囲で変化しているが、中心値が異なるため、横軸はＴｌｐのみ記載されている。
【００２９】
図６において、Ｔｌｐの変化に対して、３Ｔマーク後端の偏差は直線的に変化している。一方、３Ｔマークの前端の偏差は、ほぼ変化無く推移している。この傾向はタイプ３においても見られるため（図示せず）、記録速度４Ｘにおけるストラテジ調整のための記録パルスの調整は、タイプ２が望ましい。
【００３０】
以上説明したように、本発明によると、マークの後端の偏差を補正するためのストラテジ調整において、記録速度により補正位置を変更することにより、記録されたマークの後端の偏差を最適に抑制する光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブを提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明による記録パルスとマーク・スペースとの関係を示すタイミング図。
【図２】タイプ１、２とマークの後端との関係を示す後端の偏差図。
【図３】記録速度２Ｘにおいて、タイプ１のときの３Ｔマークの前端及び後端偏差を示す偏差図。
【図４】記録速度２Ｘにおいて、タイプ２のときの３Ｔマークの前端及び後端偏差を示す偏差図。
【図５】記録速度４Ｘにおいて、タイプ１のときの３Ｔマークの前端及び後端偏差を示す偏差図。
【図６】記録速度４Ｘにおいて、タイプ２のときの３Ｔマークの前端及び後端偏差を示す偏差図。
【図７】本発明による方法を実行する光ディスクドライブの基本機能ブロック図。
【符号の説明】
【００３２】
１  光ディスク
２  光ディスクドライブ
２００  光ピックアップ
２０２  ヘッドアンプ
２０４  ２値化回路
２０８  クロックズレ測定部
２１０  ＲＡＭ
２１２  データ弁別、演算部
２１６  ライトストラテジ演算、制御部
２１８  ライトストラテジメモリ部
２２０  ＲＯＭ
２２６  記録パルス調整部
２２８  レーザ駆動部
Ｔｏｐ  トップパルス
Ｔｌｐ  ラストパルス
Ｔｃｌ  クーリングパルス
ＣＬＫ  クロック
ＥＦＭ  Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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