(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、複数の記録層のフォーカスオフセット処理時、処理時間の短縮や処理精度の確保を図る。【解決手段】互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光による信号に基づき、該案内溝に対する光学系のフォーカスオフセットを学習し、該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットに基づき、記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算して設定する。３層以上の記録層の場合は、上記学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを、それぞれの記録層のまたはそれぞれの記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定したり、または、該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットの平均値を１つの記録層のフォーカスオフセットとして設定したりする。【選択図】図７
2010129119.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３層以上の複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録または再生が可能な光ディスク装置であって、
レーザ光を集光して上記記録層に照射する光学系と、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層であって上記光学系側から第１の記録層、第２の記録層、第３の記録層の順で配されたそれぞれの記録層について、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習し、上記第１の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットは、上記学習した第１、第２の記録層のフォーカスオフセットから、該学習した第１の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、上記第３の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットは、上記学習した第２、第３の記録層のフォーカスオフセットから、該学習した第３の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットは、上記学習した第１、第２及び第３の記録層のフォーカスオフセットの平均値を演算するまたは上記学習した第２、第３の記録層のフォーカスオフセットから、該学習した第２の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算して、それぞれの演算結果を設定する制御部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録または再生が可能な光ディスク装置であって、
レーザ光を集光して上記記録層に照射する光学系と、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習する第１の制御手段と、
上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットに基づき、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットを演算して設定する第２の制御手段と、
を備え、
上記第２の制御手段は、
上記複数の記録層が、上記光学系側から第１の記録層、第２の記録層、第３の記録層の順で配されているとき、
学習された上記第１の記録層のフォーカスオフセットと学習された上記第２の記録層のフォーカスオフセットとから、該第１の記録層の該学習されたフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第１のフォーカスオフセットと、該第２の記録層の該学習されたフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第２のフォーカスオフセットとを演算するとともに、
上記学習された上記第２の記録層の上記フォーカスオフセットと上記学習された上記第３の記録層のフォーカスオフセットとから、該第２の記録層の該学習されたフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第３のフォーカスオフセットと、該第３の記録層の該学習されたフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第４のフォーカスオフセットとを演算し、
さらに、上記演算した第２のフォーカスオフセットと第３のフォーカスオフセットとから、該両フォーカスオフセットの平均値である第５のフォーカスオフセットを演算または該両フォーカスオフセットとの差が、上記光学系の特性に対応した値となる第６のフォーカスオフセットを演算し、
記録または再生時用のフォーカスオフセットとして、上記第１の記録層に対しては上記第１のフォーカスオフセットを設定し、上記第２の記録層に対しては上記第５のフォーカスオフセットまたは上記第６のフォーカスオフセットを設定し、上記第３の記録層に対しては上記第４のフォーカスオフセットを設定する
構成であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録または再生が可能な光ディスク装置であって、
レーザ光を集光して上記記録層に照射する光学系と、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習する第１の制御手段と、
上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットに基づき、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットを演算して設定する第２の制御手段と、
を備え、
上記光ディスク内で複数の記録層が、上記光学系側から第１の記録層、第２の記録層、第３の記録層の順で配されているとき、
上記第２の制御手段は、
学習された上記第１の記録層のフォーカスオフセットと学習された上記第２の記録層のフォーカスオフセットとから、上記学習された第１の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第１のフォーカスオフセットを演算し、該演算した第１のフォーカスオフセットを第１の記録層における記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定するとともに、
学習された上記第２の記録層のフォーカスオフセットと学習された上記第３の記録層のフォーカスオフセットとから、上記学習された第２の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第２のフォーカスオフセットと、上記学習された第３の記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となる第３のフォーカスオフセットとを演算し、該演算した第２のフォーカスオフセットを第２の記録層における記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定し、該演算した第３のフォーカスオフセットを第３の記録層における記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定する
構成であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
上記第１の制御手段が学習した上記隣接する記録層のうちの第１の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ０、第２の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ１、第３の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ２、上記第２の制御手段が上記第１の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ０、同じく上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ１ｃ、同じく上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ２とするとき、
上記第２の制御手段は、ＦＱ０、ＦＱ１ｃ、ＦＱ２を、
ＦＱ０＝（３×ＦＡ０＋ＦＡ１）／４
ＦＱ１ｃ＝{（ＦＡ０＋３×ＦＡ１）／４＋（３×ＦＡ１＋ＦＡ２）／４}／２
ＦＱ２＝（ＦＡ１＋３×ＦＡ２）／４
により演算して設定する構成である
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記第１の制御手段が学習した上記隣接する記録層のうちの第１の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ０、第２の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ１、第３の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ２、上記第２の制御手段が上記第１の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ０、同じく上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ１ｂ、同じく上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ２とするとき、
上記第２の制御手段は、ＦＱ０、ＦＱ１ｂ、ＦＱ２を、
ＦＱ０＝（３×ＦＡ０＋ＦＡ１）／４
ＦＱ１ｂ＝（３×ＦＡ１＋ＦＡ２）／４
ＦＱ２＝（ＦＡ１＋３×ＦＡ２）／４
により演算して設定する構成である
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録または再生が可能な光ディスク装置であって、
レーザ光を集光して上記記録層に照射する光学系と、
当該光ディスク装置内の温度を検出する温度検出手段と、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習し、該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセット及び上記温度検出手段が検出した温度情報に基づき、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットを演算して設定する制御部と、
を備えた構成を特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
複数の記録層を有する光ディスクに対して情報の記録または再生が可能な光ディスク装置であって、
レーザ光を集光して上記記録層に照射する光学系と、
当該光ディスク装置内の温度を検出する温度検出手段と、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習する第１の制御手段と、
上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセット及び上記温度検出手段が検出した温度情報に基づき、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットを演算して設定する第２の制御手段と、
を備えた構成を特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
上記第１の制御手段は、上記反射光に基づく信号として、プッシュプル信号またはウォブル信号を用い、上記それぞれの案内溝に対するそれぞれのフォーカスオフセットとして、上記プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大範囲の振幅となるフォーカスオフセットを学習する構成である請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記温度検出手段が検出した温度が相対的に低温の第１の温度のとき、上記第２の制御手段は、上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットの平均値を演算し、上記温度検出手段が検出した温度が相対的に高温の第２の温度のとき、上記第２の制御手段は、上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が異なるフォーカスオフセットを演算し該演算したフォーカスオフセットを該両記録層に共通の記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットとして設定する、または、上記第１の制御手段が学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、該演算したフォーカスオフセットを上記それぞれの記録層の記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットとして設定する構成である請求項７また請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
上記第１の制御手段が学習した上記隣接する記録層のうちの第１の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ０、第２の記録層のフォーカスオフセットをＦＡ１、上記第２の制御手段が上記第１の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ０、同じく上記第２の記録層の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットをＦＱ１とするとき、
上記第１の温度が、０℃から２５℃の範囲の温度のとき、上記第２の制御手段は、ＦＱ０、ＦＱ１を、
ＦＱ０＝ＦＱ１＝（ＦＡ０＋ＦＡ１）／２
により演算し、
上記第２の温度が、５０℃から６５℃の範囲の温度のとき、上記第２の制御手段は、ＦＱ０、ＦＱ１を、
ＦＱ０＝（３×ＦＡ０＋ＦＡ１）／４
ＦＱ１＝（ＦＡ０＋３×ＦＡ１）／４
により演算する
構成である請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
複数の記録層を有する光ディスクに対し光学系によりレーザ光を集光して照射し情報の記録または再生が可能な光ディスク装置のフォーカスオフセット設定方法であって、
上記光ディスクの互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する上記光学系のフォーカスオフセットを学習するとともに、当該光ディスク装置内の温度を検出する第１のステップと、
上記学習したそれぞれのフォーカスオフセット及び上記検出した温度情報に基づき、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットを演算し設定する第２のステップと、
を備えた構成を特徴とする光ディスク装置のフォーカスオフセット設定方法。
【請求項１２】
上記検出した装置内の温度が、相対的に低温の第１の温度のとき、上記第２のステップでは、上記第１のステップにおいて学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットの平均値を演算し、該平均値を記録または再生時用の該両記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定する請求項１１に記載の光ディスク装置のフォーカスオフセット設定方法。
【請求項１３】
上記検出した装置内の温度が、相対的に高温の第２の温度のとき、上記第２のステップでは、上記第１のステップにおいて学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が、上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、該演算したフォーカスオフセットを上記それぞれの記録層の記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットとして設定する請求項１１に記載の光ディスク装置のフォーカスオフセット設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置におけるフォーカスオフセット処理に係り、特に、光ディスクが複数の記録層を有する場合の該複数の記録層に対するフォーカスオフセットの設定に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連した従来技術としては、例えば、特許第３４６５４１３号明細書（特許文献１）や特開２００３−２１７１４０号公報（特許文献２）や、特開２００３−２４８９４０号公報（特許文献３）に記載されたものがある。特許第３４６５４１３号明細書には、トラッキングエラー信号の振幅、ジッタ、ＲＦ信号振幅等により、フォーカスオフセット値を設定するとした技術が記載され、特開２００３−２１７１４０号公報には、各記録層に対してフォーカスオフセットを独立に設定する技術が記載され、特開２００３−２４８９４０号公報には、装置内に温度検出器を設け、装置内温度が所定値以上変化しかつフォーカスジャンプやシークを完了した時にオフセット再調整を行うとした技術が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特許第３４６５４１３号明細書
【特許文献２】特開２００３−２１７１４０号公報
【特許文献３】特開２００３−２４８９４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来技術においては、各記録層のフォーカスオフセット量をそれぞれ独立に求めたり、記録層切替え前後のトラッキングエラー信号の振幅、ジッタ、ＲＦ信号振幅等の差に基づき、該切替え後の記録層のフォーカスオフセット量を求めたりするため、オフセット処理の所要時間が長くなり易いし、また、未記録状態の記録層の場合には処理精度を確保できないおそれがある。
【０００５】
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、複数の記録層のフォーカスオフセット処理時における、該処理時間の短縮や、記録済み状態の記録層（再生専用ディスクも含む）や未記録状態の記録層に対するフォーカスオフセット処理精度の確保が図れるようにすることである。また、装置内の温度変化にも対応してフォーカスオフセット処理精度を確保することができるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、光ディスク装置において、使い勝手性を向上させ得る技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置において、光ディスクが有する複数の記録層のうち互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光による信号に基づき、該案内溝に対する光学系のフォーカスオフセットを学習し、該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットに基づき、記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算して設定する。記録または再生時用の光学系のフォーカスオフセットとしては、上記学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットの平均値を、該それぞれの記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定したり、または、上記学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを、それぞれの記録層のまたはそれぞれの記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定したり、または、該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットの平均値を１つの記録層のフォーカスオフセットとして設定したりする。また、装置内の温度変化に対応して、上記学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットの平均値または該学習したそれぞれの記録層のフォーカスオフセットとの差が上記光学系の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを、記録または再生時用の光学系のフォーカスオフセットとして設定する。
なお、本発明において、上記学習によって求めるフォーカスオフセットは、本発明を有効に構成するに足る適正範囲のフォーカスオフセットを意味するものとする。また、本発明における「記録層」は、情報が記録される層（記録層）であって、既に情報が記録されている記録層（再生専用ディスクの記録層も、記録可能ディスクすなわち書き換え可能なディスクや追記可能なディスクの記録層も含む）も、また、未だ情報が記録されていないがいずれ情報が記録される記録層（この場合は記録可能ディスクの記録層）も含む意味のものであるとする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光ディスク装置において、複数の記録層のフォーカスオフセット処理を短時間で行うことができ、情報の記録または再生動作の迅速な開始が可能となる。また、記録済み状態の記録層（再生専用ディスクも含む）や未記録状態の記録層に対してもフォーカスオフセットの処理精度を確保することができる。また、装置内の温度変化にも対応してフォーカスオフセット処理精度を確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、本発明の実施例につき、図面を用いて説明する。
図１〜図１０は、本発明の第１の実施例としての光ディスク装置の説明図である。図１は、本発明の第１の実施例としての光ディスク装置の構成図、図２は、図１の光ディスク装置における光ディスクの複数の記録層の基準面位置と、光ピックアップの光学系の位置の説明図、図３は、図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図、図４は、実測データに基づく図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセットの演算及び設定の説明図、図５は、他の実測データに基づく図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセットの演算及び設定の説明図、図６は、図１の光ディスク装置の、光ディスク中の隣接する記録層に対するフォーカスオフセット処理の動作フロー図、図７は、図１の光ディスク装置において、３層以上の記録層を有する光ディスクに対するフォーカスオフセット処理の説明図、図８は、図７のフォーカスオフセット処理の動作フロー図、図９は、図１の光ディスク装置において、３層以上の記録層を有する光ディスクに対する他のフォーカスオフセット処理の説明図、図１０は、図９のフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
なお、以下の説明において用いる「記録層」は、情報が記録される層（記録層）であって、既に情報が記録されている記録層（再生専用ディスクの記録層も、記録可能ディスクの記録層も含む）も、また、未だ情報が記録されていないがいずれ情報が記録される記録層（この場合は記録可能ディスクの記録層）も含む意味のものとする。
【０００９】
図１において、１ａは、本発明の実施例としての光ディスク装置、２は、複数の記録層を有するＤＶＤ＋／−Ｒ ＤＬなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するディスクモータ、４は光ピックアップ、５は、光ピックアップ４内にあって、対物レンズ（図示なし）を含んで構成され、レーザ光を集光し、該集光したレーザ光を光ディスク２の記録面に照射する光学系、６は、光ピックアップ４内にあって記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、光ピックアップ４内にあって、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、光ピックアップ４内にあって、光学系５を介し光ディスク２の記録面（ディスク面）からの反射光を受光して電気信号（再生信号）に変換して出力する受光部、９は、光学系５中の対物レンズ（図示なし）の位置や姿勢を変化させるアクチュエータ、１０は、受光部８から出力された再生信号を、ＲＦ信号として増幅や復調などを行って信号処理する再生信号処理部、１１は、直線状のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１２は、該移動・案内機構部１１内にあってリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライドモータ、１４は、アクチュエータ９を駆動する駆動信号を生成するフォーカス／トラッキング制御部、１５は、ディスクモータ３やスライドモータ１２を回転駆動するモータ駆動回路、３０は、当該光ディスク装置１ａ全体を制御する制御部としてのシスコン、３１は、シスコン３０内にあってモータ駆動回路１５を制御するモータ制御部、３２は、シスコン３０内のマイコン、３２１は、マイコン３２内に構成され、再生信号処理部１０から出力された信号から上記光学系５の最適フォーカスオフセット（最適な範囲にあるフォーカスオフセットすなわち本発明を有効に構成するに足る適正範囲にあるフォーカスオフセットを意味するものとする。以下の説明中における「最適フォーカスオフセット」は全てこの意味であるとする）を学習（検出）する第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段、３２２は、マイコン３２内に構成され、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットに基づき、記録または再生時用の上記光学系５のフォーカスオフセットを演算し設定する第２の制御手段としてのフォーカスオフセット演算・設定手段である。上記第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段３２１は、上記最適フォーカスオフセットの学習時、再生信号処理部１０から出力された信号すなわち、光ディスク２の複数の記録層のうち、互いに隣接する記録層のそれぞれの記録面に形成された案内溝からの反射光に基づいた信号から、それぞれの該案内溝に対する光学系５の最適フォーカスオフセットを学習（検出）する。
【００１０】
また、図１において、３３は、レーザダイオード６を駆動するための記録用信号を生成し出力する記録用信号生成部、４０は、光学系５の特性情報や、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した隣接するそれぞれの記録層の最適フォーカスオフセットの情報や、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が演算・設定した記録または再生時用の上記光学系５のフォーカスオフセットの情報や、フォーカスオフセット学習手段３２１に上記学習動作の一連の手順を実行させるプログラムや、上記フォーカスオフセット演算・設定手段３２２に上記演算・設定動作の一連の手順を実行させるプログラムなどが格納されるメモリである。光学系５の特性情報や、上記学習動作実行用のプログラムや、上記演算・設定動作実行用のプログラムは、フォーカスオフセット学習手段３２１による最適フォーカスオフセットの学習動作前に予め、メモリ４０に格納されているものとする。
【００１１】
再生信号処理部１０からは、上記最適フォーカスオフセットの学習時、互いに隣接する複数の記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号として、プッシュプル信号またはウォブル信号が出力される。
【００１２】
第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段３２１は、最適フォーカスオフセットの学習時、上記再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号またはウォブル信号を用い、互いに隣接する複数の記録層のそれぞれの案内溝に対するそれぞれの最適フォーカスオフセットとして、上記プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大（実質的な最大の範囲にある値という意味であって、真の最大値を含み例えば真の最大値の９５％以上となる範囲にある値を意味するものとする。以下、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅における「最大」または「最大値」とはこの意味であるとする）となるフォーカスオフセットを学習（検出）する構成を有する。プッシュプル信号により最適フォーカスオフセットを学習する場合は、トラッキング制御はオフ（ＯＦＦ）状態とされ、ウォブル信号により最適フォーカスオフセットを学習する場合は、トラッキング制御はオン（ＯＮ）状態とされる。フォーカスオフセット学習手段３２１は、メモリ４０から読み出したプログラムに従って、最適フォーカスオフセット学習動作における所定の手順を実行する。
【００１３】
第２の制御手段としてのフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、互いに隣接する複数の記録層に情報を記録または再生するときのためのフォーカスオフセットを演算、設定する時、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した、該隣接する複数の記録層のそれぞれの最適フォーカスオフセットすなわち上記プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットの平均値（平均のフォーカスオフセット）を演算し該演算した平均値を、記録または再生時における該両記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定したり、または、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習したそれぞれの記録層の最適フォーカスオフセットとの差が光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットすなわち光学系５の特性に対応して記録層毎に重み付けしたフォーカスオフセットを演算し該演算したフォーカスオフセットを上記互いに隣接する複数の記録層のそれぞれにおける記録または再生時用のフォーカスオフセットとして該記録層毎に個々に設定したりする。
【００１４】
フォーカスオフセット学習手段３２１による学習結果を用いて、記録または再生時用の上記平均のフォーカスオフセットを演算して設定するとき、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は以下のようにして該フォーカスオフセットの設定を行う。すなわち、例えば、レーザ光入射側（光学系５が配された側）から第１の記録層（Ｌ０層）、第２の記録層（Ｌ１層）が配されているときであって、該第１の記録層（Ｌ０層）に対するフォーカスオフセット学習手段３２１による学習により、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ０が得られ、また、該第２の記録層（Ｌ１層）に対する学習によっては、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ１が得られたとき、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱＣとして、例えば、
ＦＱＣ＝（ＦＡ０＋ＦＡ１）／２                              （数１）
により演算した値を、該第１の記録層（Ｌ０層）及び該第２の記録層（Ｌ１層）に共通のフォーカスオフセット（記録または再生時用のフォーカスオフセット）として設定する。
【００１５】
また、フォーカスオフセット学習手段３２１による学習結果を用いてかつ光学系５の特性に対応して隣接記録層毎に個々に記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算して設定する場合には、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は以下のようにして該記録または再生時用のフォーカスオフセットの設定を行う。すなわち、例えば、レーザ光入射側から第１の記録層（Ｌ０層）、第２の記録層（Ｌ１層）の順で記録層が配されているときであって、該第１の記録層（Ｌ０層）に対するフォーカスオフセット学習手段３２１による学習により、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ０が得られ、また、該第２の記録層（Ｌ１層）に対する学習によっては、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ１が得られたとき、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０としては、例えば、
ＦＱ０＝（３×ＦＡ０＋ＦＡ１）／４                              （数２）
により演算した値を設定し、
また、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１としては、例えば、
ＦＱ１＝（ＦＡ０＋３×ＦＡ１）／４                              （数３）
により演算した値を設定する。
【００１６】
フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、メモリ４０から読み出したプログラムに従い、記録または再生動作用の上記光学系５の上記フォーカスオフセットを演算・設定する動作手順を実行する。
なお、上記数１〜数３は、発明者が、本発明を検討する過程において、複数の光ディスクを用いた実験から得た数式であり、本発明の課題点を解決し顕著な効果が得られる実用的な数式である。
【００１７】
上記構成の光ディスク装置１ａにおいて、複数の記録層を有する光ディスク２に対して情報の記録または再生を行うとき、例えば、光ディスク２が、装置内にローディングされ、所定速度で回転された状態において、光ピックアップ４内のレーザダイオード６が発生したレーザ光が、光学系５を通して光ディスク２の複数の記録層の記録面に照射され、複数の記録層に対するフォーカスオフセット処理が行われる。フォーカスオフセット処理は、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、該各記録層に形成された案内溝の溝情報（溝の構造や状態を示す情報）を利用して行われる。すなわち、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光を受光部８で受けて電気信号（再生信号）に変換し、再生信号処理部１０からプッシュプル信号またはウォブル信号として出力する。フォーカスオフセット処理時、再生信号処理部１０からプッシュプル信号が出力される構成とした場合は、光ディスク装置１ａにおいて、トラッキング制御は行われず、フォーカス／トラッキング制御部１４からはフォーカス制御信号のみが出力される。一方、再生信号処理部１０からウォブル信号を出力する構成とした場合は、トラッキング制御も行われ、フォーカス／トラッキング制御部１４からはフォーカス制御信号とトラッキング制御信号が出力される。互いに隣接する各記録層の案内溝の溝情報として再生信号処理部１０から出力された該プッシュプル信号またはウォブル信号は、マイコン３２内のフォーカスオフセット学習手段３２１に入力される。フォーカスオフセット学習手段３２１は、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、該入力されたプッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットを最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する。マイコン３２内のフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記のように、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した互いに隣接する記録層それぞれの最適フォーカスオフセットの平均値、または、該学習された各最適フォーカスオフセットとの差が、光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットとして設定する。
以下、説明中で用いる図１の光ディスク装置１ａの構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
【００１８】
図２は、図１の光ディスク装置１ａにおいて、光ディスク２の複数の記録層の基準面（フォーカスオフセットが０（ゼロ）となる面）の位置と、それに対する光ピックアップ４の光学系５の位置の説明図である。（ａ）は、光学系５で集光されたレーザ光が第１の記録層（Ｌ０層）に照射され、該第１の記録層（Ｌ０層）の記録面の案内溝からの反射光に基づくプッシュプル信号またはウォブル信号から、該第１の記録層（Ｌ０層）に対する最適フォーカスオフセットの学習を行うときの状態を示し、（ｂ）は、光学系５で集光されたレーザ光が、上記第１の記録層（Ｌ０層）に隣接する第２の記録層（Ｌ１層）に照射され、該第２の記録層（Ｌ１層）の記録面の案内溝からの反射光に基づくプッシュプル信号またはウォブル信号から、該第２の記録層（Ｌ１層）に対する最適フォーカスオフセットの学習を行うときの状態を示す。５ａは、光学系５中の対物レンズ、ｈは、第１の記録層（Ｌ０層）の基準面と第２の記録層（Ｌ１層）の基準面との間の距離である。最適フォーカスオフセットの学習時においても、対物レンズ５ａは、フォーカス／トラッキング制御部１４からのフォーカス制御信号に基づき、アクチュエータ９によってフォーカス方向（±Ｚ軸方向）の位置を制御される。第１の記録層（Ｌ０層）に対する最適フォーカスオフセットの学習を行うときは、第１の記録層（Ｌ０層）の基準面位置を含む該第１の記録層（Ｌ０層）の基準面の近傍で対物レンズ５ａのフォーカス方向位置がアクチュエータ９によって変えられ、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となる対物レンズ５ａのフォーカス方向位置によるフォーカスオフセットが、フォーカスオフセット学習手段３２１によって、第１の記録層（Ｌ０層）に対する最適フォーカスオフセットとして学習される。同様に、第２の記録層（Ｌ１層）に対する最適フォーカスオフセットの学習を行うときは、該第２の記録層（Ｌ１層）の基準面位置を含む該第２の記録層（Ｌ１層）の基準面の近傍で対物レンズ５ａのフォーカス方向位置がアクチュエータ９によって変えられ、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となる対物レンズ５ａのフォーカス方向位置によるフォーカスオフセットが、フォーカスオフセット学習手段３２１によって、第２の記録層（Ｌ１層）に対する最適フォーカスオフセットとして学習される。第３の記録層（Ｌ２層）（図示なし）に対する最適フォーカスオフセットの学習を行うときも同様である。
【００１９】
以下の説明中においても、第１の記録層（Ｌ０層）と第２の記録層（Ｌ１層）とは、レーザ光入射方向（対物レンズ５ａが配された方向）に対して上記図２に示す位置関係にあるものとする。また、図７〜図１０で説明する記録層が３層以上の光ディスクの場合は、第３の記録層（Ｌ２層）（図示なし）は、第２の記録層（Ｌ１層）よりもさらにＺ軸方向側の位置に配されているものとする。
【００２０】
図３は、図１の光ディスク装置１ａにおける光ディスク２に対するフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図である。本図３では、フォーカスオフセット学習はプッシュプル信号を用いて行うとしている。図３において、横軸にはフォーカスオフセットＦをとり、縦軸には、プッシュプル信号振幅Ａと分解能Ｄとをとっている。
【００２１】
図３において、Ａ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線のモデル、Ａ０ｍａｘは、振幅特性曲線Ａ０上の最大値すなわち第１の記録層（Ｌ０層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ０は、振幅特性曲線Ａ０上においてプッシュプル信号振幅が最大値Ａ０ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセット、Ａ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線のモデル、Ａ１ｍａｘは、振幅特性曲線Ａ１上の最大値すなわち第２の記録層（Ｌ１層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ１は、振幅特性曲線Ａ１上においてプッシュプル信号振幅が最大値Ａ１ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセット、Ｄ０は、第１の記録層（Ｌ０層）からの反射光による分解能特性曲線のモデル、ＦＤ０は、該分解能特性曲線Ｄ０が最大値となるときのフォーカスオフセット、Ｄ１は、第２の記録層（Ｌ１層）からの反射光による分解能特性曲線のモデル、ＦＤ１は、該分解能特性曲線Ｄ１が最大値となるときのフォーカスオフセットである。上記プッシュプル信号振幅の最大値Ａ０ｍａｘとそのときのフォーカスオフセットＦＡ０（最適フォーカスオフセット）及び、上記プッシュプル信号振幅の最大値Ａ１ｍａｘとそのときのフォーカスオフセットＦＡ１（最適フォーカスオフセット）は、第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段３２１によって学習（検出）される。なお、上記分解能Ｄは、光ディスク２の各記録層の案内溝中の最短マーク（ＤＶＤにおいては３Ｔマーク）からの反射光による信号の振幅の、同最長マーク（ＤＶＤにおいては１１Ｔマーク）からの反射光による信号の振幅に対する比で定義されるものとする。
【００２２】
また、図３において、Ｑ０は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセット（最適フォーカスオフセット）ＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ０との差が光学系５の特性に対応した値となるように演算し設定したフォーカスオフセットの位置すなわち、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ０は、該位置Ｑ０に対応するフォーカスオフセット、Ｑ１は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように演算し設定したフォーカスオフセットの位置すなわち、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１は、該位置Ｑ１に対応するフォーカスオフセット、ＱＣは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき演算し設定するフォーカスオフセットであって、該両フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットの位置、ＦＱＣは、該位置ＱＣに対応するフォーカスオフセットである。図３は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２によるフォーカスオフセットの演算に用いられる数式の精度が高く、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が演算し設定したフォーカスオフセットＦＱ０と、分解能特性曲線Ｄ０が最大値となるときのフォーカスオフセットＦＤ０とが同値、かつ、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が演算し設定したフォーカスオフセットＦＱ１と、分解能特性曲線Ｄ１が最大値となるときのフォーカスオフセットＦＤ１とが同値となる場合を示している。フォーカスオフセットＦＱＣは、例えば数１を用いて演算され、フォーカスオフセットＦＱ０は、例えば数２を用いて演算され、フォーカスオフセットＦＱ１は、例えば数３を用いて演算され、該フォーカスオフセットＦＱＣ、ＦＱ０、ＦＱ１のそれぞれが、分解能特性曲線Ｄ０、Ｄ１や、フォーカスオフセットＦＤ０、ＦＤ１を求めることなく、情報の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定される。
なお、図３の横軸上で、第１の記録層（Ｌ０層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第２の記録層（Ｌ１層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置とを重ねている。すなわち、図３は、図２における距離ｈを０（ゼロ）として上記両位置を重ねた状態としている。
【００２３】
図４は、実測データに基づく図１の光ディスク装置１ａにおけるフォーカスオフセット学習と、情報の記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図である。横軸にはフォーカスオフセットＦをとり、縦軸には、プッシュプル信号の振幅Ａと、３Ｔマークによる信号の振幅Ｂとをとっている。図４においては、フォーカスオフセット学習手段３２１によるプッシュプル信号による学習結果を用い、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、該学習で求めた最適フォーカスオフセット（最適な範囲にあるフォーカスオフセットすなわち本発明を有効に構成するに足る適正範囲にあるフォーカスオフセットを意味する）の平均値を演算し、該演算したフォーカスオフセットを記録または再生用のフォーカスオフセットとして設定する場合と、上記学習で求めた最適フォーカスオフセットとの差が光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットすなわち光学系５の特性に対応して重み付けしたフォーカスオフセットを演算で求め、該求めたフォーカスオフセットを記録または再生用のフォーカスオフセットとして設定する場合とについて述べる。
【００２４】
図４において、Ａ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の実測振幅特性曲線、Ａ０ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、実測振幅特性曲線Ａ０上の最大値すなわち第１の記録層（Ｌ０層）によるプッシュプル信号振幅の最大値（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）、ＦＡ０は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、実測振幅特性曲線Ａ０上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセットである。また、Ａ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の実測振幅特性曲線、Ａ１ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、実測振幅特性曲線Ａ１上の最大値すなわち第２の記録層（Ｌ１層）によるプッシュプル信号振幅の最大値（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）、ＦＡ１は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、実測振幅特性曲線Ａ１上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセットである。
【００２５】
また、図４において、Ｂ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝中の３Ｔマークからの反射光により再生信号処理部１０から出力される信号の実測振幅特性曲線、ＦＢ０は、実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘ（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）をとるときのフォーカスオフセットである。また、Ｂ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝中の３Ｔマークからの反射光により再生信号処理部１０から出力される信号の実測振幅特性曲線、ＦＢ１は、実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘを（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）をとるときのフォーカスオフセットである。
【００２６】
また、図４において、Ｑ０は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセット（最適フォーカスオフセット）ＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ０との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置すなわちフォーカスオフセットＦＡ０側に光学系５の特性に対応して重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ０は、該位置Ｑ０に対応するフォーカスオフセットである。また、Ｑ１は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記学習された両最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、最適フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置すなわちフォーカスオフセットＦＡ１側に光学系５の特性に対応して重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１は、該位置Ｑ１に対応するフォーカスオフセットである。また、ＱＣは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、前述の数１を用いて演算し設定したフォーカスオフセットであって該両最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットの位置、ＦＱＣは、該位置ＱＣに対応したフォーカスオフセットである。
なお、図４においては、横軸上で、第１の記録層（Ｌ０層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第２の記録層（Ｌ１層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置とを重ねている。すなわち、図２における距離ｈを０（ゼロ）として上記両位置を重ねた状態としている。
【００２７】
具体的には、図４において、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習された第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットＦＡ０は約７×０．０５μｍ、同じく第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットＦＡ１は約０×０．０５μｍである。また、実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ０は約３×０．０５μｍ、実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ１は約２×０．０５μｍである。また、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づきかつ光学系５の特性に対応して、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットＦＱ０は約５×０．０５μｍ、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットＦＱ１は約２×０．０５μｍ、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）に共通の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定する該両フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットＦＱＣは約３．５×０．０５μｍである。
【００２８】
上記から明らかなように、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定されたフォーカスオフセットＦＱ０（約５×０．０５μｍ）は、該第１の記録層（Ｌ０層）の実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ０（約３×０．０５μｍ）と近い値であり、また、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定されたフォーカスオフセットＦＱ１（約２×０．０５μｍ）は、該第２の記録層（Ｌ１層）の実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ１（約２×０．０５μｍ）と一致し、また、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用の共通のフォーカスオフセットとして設定された平均値のフォーカスオフセットＦＱＣ（約３．５×０．０５μｍ）は、上記実測フォーカスオフセットＦＢ０（約３×０．０５μｍ）や、上記実測フォーカスオフセットＦＢ１（約２×０．０５μｍ）と近い値である。この結果、互いに隣接する記録層のそれぞれが、図４のようなプッシュプル信号振幅特性及び３Ｔマークによる信号振幅特性を有する光ディスクの場合には、光ディスク装置１ａにおいては、記録または再生時用のフォーカスオフセットとしては、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）に共通の上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットを数１に基づいて演算して設定してもよいし、または、第１の記録層（Ｌ０層）と第２の記録層（Ｌ１層）とのそれぞれに対応したものを、数２や数３により演算して設定してもよいことが明らかである。
【００２９】
図５は、図１の光ディスク装置１ａにおいて、互いに隣接する記録層のそれぞれが、図４の場合とは異なる光ディスク２について、図４とは異なるプッシュプル信号振幅特性の実測データに基づき、フォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定とを行う場合の説明図である。図５も、図４の場合と同様、横軸にはフォーカスオフセットＦをとり、縦軸には、プッシュプル信号の振幅Ａと、３Ｔマークによる信号の振幅Ｂとをとっている。図５においても、フォーカスオフセット学習手段３２１によるプッシュプル信号による学習結果を用い、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、該学習で求めた最適フォーカスオフセットの平均値を演算し、該演算したフォーカスオフセットを情報の記録または再生用のフォーカスオフセットとして設定する場合と、上記学習で求めた最適フォーカスオフセットとの差が光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットすなわち光学系５の特性に対応して重み付けしたフォーカスオフセッを演算で求め、該求めたフォーカスオフセットを情報の記録または再生用のフォーカスオフセットとして設定する場合とについて述べる。
【００３０】
図５において、Ａ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の実測振幅特性曲線、Ａ０ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、実測振幅特性曲線Ａ０上の最大値すなわち第１の記録層（Ｌ０層）によるプッシュプル信号振幅の最大値（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）、ＦＡ０は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、実測振幅特性曲線Ａ０上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセットである。また、Ａ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の実測振幅特性曲線、Ａ１ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、実測振幅特性曲線Ａ１上の最大値すなわち第２の記録層（Ｌ１層）によるプッシュプル信号振幅の最大値（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）、ＦＡ１は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、実測振幅特性曲線Ａ１上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわち最適フォーカスオフセットである。
【００３１】
また、図５において、Ｂ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝中の３Ｔマークからの反射光により再生信号処理部１０から出力される信号の実測振幅特性曲線、ＦＢ０は、実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘを（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）をとるときのフォーカスオフセットである。また、Ｂ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝中の３Ｔマークからの反射光により再生信号処理部１０から出力される信号の実測振幅特性曲線、ＦＢ１は、実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘ（実測データを用いて多項式近似により求めた最大値）をとるときのフォーカスオフセットである。
【００３２】
また、図５において、Ｑ０は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセット（最適フォーカスオフセット）ＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ０との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわちフォーカスオフセットＦＡ０側に光学系５の特性に対応して重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ０は、該位置Ｑ０に対応するフォーカスオフセットである。また、Ｑ１は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわちフォーカスオフセットＦＡ１側に光学系５の特性に対応して重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１は、該位置Ｑ１に対応するフォーカスオフセットである。また、ＱＣは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、前述の数１を用いて演算し設定したフォーカスオフセットであって該両フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットの位置、ＦＱＣは、該位置ＱＣに対応するフォーカスオフセットである。
【００３３】
なお、図５においても、上記図４の場合と同様、横軸上で、第１の記録層（Ｌ０層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第２の記録層（Ｌ１層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置とを重ねている。すなわち、図５も、図２における距離ｈを０（ゼロ）として上記両位置としている。
【００３４】
具体的には、図５において、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習された第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットＦＡ０は約３×０．０５μｍ、同じく第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットＦＡ１は約−８×０．０５μｍである。また、実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ０は約０×０．０５μｍ、実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ１は約−４×０．０５μｍである。また、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づきかつ光学系５の特性に対応して、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットＦＱ０は約０×０．０５μｍ、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定するフォーカスオフセットＦＱ１は約−５×０．０５μｍ、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）に共通の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定する該両フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値のフォーカスオフセットＦＱＣは約−２．５×０．０５μｍである。
【００３５】
上記から明らかなように、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定されたフォーカスオフセットＦＱ０（約０×０．０５μｍ）は、該第１の記録層（Ｌ０層）の実測振幅特性曲線Ｂ０が最大値Ｂ０ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ０（約０×０．０５μｍ）とほぼ一致し、また、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとして設定されたフォーカスオフセットＦＱ１（約−５×０．０５μｍ）は、該第２の記録層（Ｌ１層）の実測振幅特性曲線Ｂ１が最大値Ｂ１ｍａｘとなるときのフォーカスオフセットＦＢ１（約−４×０．０５μｍ）に近い値となる。しかしながら、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用の共通のフォーカスオフセットとして設定された平均値のフォーカスオフセットＦＱＣ（約−２．５×０．０５μｍ）は、上記実測フォーカスオフセットＦＢ０（約０×０．０５μｍ）や、上記実測フォーカスオフセットＦＢ１（約−４×０．０５μｍ）との差が大きい。この結果、互いに隣接する記録層のそれぞれが、図５のようなプッシュプル信号振幅特性及び３Ｔマークによる信号振幅特性を有する光ディスクの場合には、光ディスク装置１ａは、記録または再生時用のフォーカスオフセットとしては、第１の記録層（Ｌ０層）と第２の記録層（Ｌ１層）とのそれぞれに対応したものを、数２や数３により演算し別々に設定することで、適切なフォーカスオフセット処理が可能となる。
【００３６】
図６は、図１の光ディスク装置１ａが、光ディスク２中の隣接する記録層である第１の記録層（Ｌ０層）と第２の記録層（Ｌ１層）に対して行うフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。該フォーカスオフセット処理では、フォーカスオフセット学習手段３２１は、図４、図５の場合と同様、プッシュプル信号により最適フォーカスオフセットを学習するものとする。
【００３７】
光ディスク装置１ａが、複数の記録層を有する光ディスク２に対してフォーカスオフセット処理を行うとき、図６において、ａ、ｃ間が接続状態とされた場合は、
（１）まず、制御部としてのシスコン３０は、光ディスク装置１ａを、トラッキング制御オフ（ＯＦＦ）、フォーカス制御オン（ＯＮ）の状態にする。すなわち、シスコン３０は、フォーカス／トラッキング制御部１４を制御し、該フォーカス／トラッキング制御部１４が、トラッキング制御信号を出力せず、フォーカス制御信号のみを出力する状態にする（ステップＳ６０１）。
（２）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第１の記録層（Ｌ０層）に、光学系５からレーザ光が照射され、シスコン３０内においてマイコン３２の一部を構成するフォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ０を、第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ６０２）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０はメモリ４０に格納される。
（３）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第２の記録層（Ｌ１層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ１を、第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ６０３）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１はメモリ４０に格納される。
（４）シスコン３０内においてマイコン３２の一部を構成するフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第１の記録層（Ｌ０層）に対する情報の記録または再生用のフォーカスオフセットＦＱ０を演算し設定する（ステップＳ６０６）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ０を、例えば数２により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算する。設定された該フォーカスオフセットＦＱ０はメモリ４０に格納される。
（５）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１を演算し設定する（ステップＳ６０７）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ１を、例えば数３により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算する。設定された該フォーカスオフセットＦＱ１はメモリ４０に格納される。
（６）シスコン３０は、光ディスク装置１ａに、上記設定したフォーカスオフセットＦＱ０、ＦＱ１による光ディスク２に対する記録または再生動作を開始させる（ステップＳ６０８）。光ディスク装置１ａは、設定されたフォーカスオフセットＦＱ０により、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生を行い、設定されたフォーカスオフセットＦＱ１により、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生を行う。
【００３８】
なお、上記フォーカスオフセットの学習及び演算・設定においてはいずれも、第１の記録層（Ｌ０層）についての処理が、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理よりも先行されるようにしたが、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理が先行されるようにしてもよい。
【００３９】
光ディスク２に対する上記フォーカスオフセット処理は、フォーカスオフセット学習手段３２１及びフォーカスオフセット演算・設定手段３２２がそれぞれ、メモリに格納されたプログラムに従って上記一連の動作手順を実行することにより行われる。
【００４０】
また、光ディスク装置１ａは、複数の記録層を有する光ディスク２に対してフォーカスオフセット処理を行うとき、図６においてａ、ｂ間が接続状態とされた場合は、
（１）まず、制御部としてのシスコン３０は、光ディスク装置１ａを、トラッキング制御オフ（ＯＦＦ）、フォーカス制御オン（ＯＮ）の状態にする。すなわち、シスコン３０は、フォーカス／トラッキング制御部１４を制御し、該フォーカス／トラッキング制御部１４が、トラッキング制御信号を出力せず、フォーカス制御信号のみを出力する状態にする（ステップＳ６０１）。
（２）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第１の記録層（Ｌ０層）に、光学系５からレーザ光が照射され、シスコン３０内においてマイコン３２の一部を構成するフォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ０を、第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ６０２）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０はメモリ４０に格納される。
（３）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第２の記録層（Ｌ１層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ１を、第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ６０３）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１はメモリ４０に格納される。
（４）シスコン３０内においてマイコン３２の一部を構成するフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第１の記録層（Ｌ０層）及び第２の記録層（Ｌ１層）に共通のフォーカスオフセットを記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算し設定する（ステップＳ６０４）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱＣを、例えば数１により該両フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値として演算する。設定された該フォーカスオフセットＦＱＣはメモリ４０に格納される。
（５）シスコン３０は、光ディスク装置１ａに、上記設定したフォーカスオフセットＦＱＣによる光ディスク２に対する記録または再生動作を開始させる（ステップＳ６０５）。光ディスク装置１ａは、フォーカスオフセットＦＱＣにより、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生を行うとともに、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生も該フォーカスオフセットＦＱＣによって行う。
【００４１】
なお、上記フォーカスオフセットの学習においては、第１の記録層（Ｌ０層）についての学習が、第２の記録層（Ｌ１層）についての学習よりも先行されるようにしたが、第２の記録層（Ｌ１層）についての学習が先行されるようにしてもよい。
【００４２】
光ディスク２に対する上記フォーカスオフセット処理は、フォーカスオフセット学習手段３２１及びフォーカスオフセット演算・設定手段３２２がそれぞれ、メモリ４０に格納されたプログラムに従って上記一連の動作手順を実行することにより行われる。
【００４３】
図７は、光ディスク２が３層以上の記録層を有し、光ディスク装置１ａが該光ディスク２に対してフォーカスオフセット処理をする場合の説明図である。フォーカスオフセット学習手段３２１におけるフォーカスオフセットの学習はやはり、プッシュプル信号で行うものとする。図７において、横軸にはフォーカスオフセットＦをとり、縦軸にはプッシュプル信号振幅Ａをとっている。
【００４４】
図７において、Ａ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ０ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ０上の最大値すなわち第１の記録層（Ｌ０層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ０は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ０上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセット、Ａ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ１ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ１上の最大値すなわち第２の記録層（Ｌ１層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ１は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ１上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセット、Ａ２は、第３の記録層（Ｌ２層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ２ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ２上の最大値すなわち第３の記録層（Ｌ２層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ２は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ２上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第３の記録層（Ｌ２層）の最適フォーカスオフセットである。
【００４５】
また、図７において、Ｑ０は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセット（最適フォーカスオフセット）ＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ０との差が、光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ０は、該位置Ｑ０に対応するフォーカスオフセット、Ｑ１ａは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１ａは、該位置Ｑ１ａに対応するフォーカスオフセット、Ｑ１ｂは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算したフォーカスオフセットの位置、すなわち、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ２との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１ｂは、該位置Ｑ１ｂに対応するフォーカスオフセット、Ｑ２は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、フォーカスオフセットＦＡ２との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ２側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ２との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ２は、該位置Ｑ２に対応するフォーカスオフセット、Ｑ１ｃは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が演算し設定した上記フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂの平均値のフォーカスオフセットの位置、ＦＱ１ｃは、該位置Ｑ１ｃに対応するフォーカスオフセットである。なお、図７においては、横軸上で、第１の記録層（Ｌ０層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第２の記録層（Ｌ１層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第３の記録層（Ｌ２層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置とを重ねた状態にしている。
【００４６】
図８は、図７のフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
図８において、
（１）制御部としてのシスコン３０は、光ディスク装置１ａを、トラッキング制御オフ（ＯＦＦ）、フォーカス制御オン（ＯＮ）の状態にする（ステップＳ８０１）。
（２）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第１の記録層（Ｌ０層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ０を、第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ８０２）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０はメモリ４０に格納される。
（３）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第２の記録層（Ｌ１層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ１を、第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ８０３）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１はメモリ４０に格納される。
（４）光ディスク２内の第３の記録層（Ｌ２層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ２を、第３の記録層（Ｌ２層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ８０４）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ２はメモリ４０に格納される。
（５）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第１の記録層（Ｌ０層）における情報の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０を演算し設定する（ステップＳ８０５）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ０を、数２により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算する。設定された該フォーカスオフセットＦＱ０はメモリ４０に格納される。
【００４７】
（６）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１ａを演算する（ステップＳ８０６）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ１ａを、数３により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算する。演算された該フォーカスオフセットＦＱ１ａはメモリ４０に格納される。
（７）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１ｂを演算する（ステップＳ８０７）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ１ｂを、数２により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ２との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算する。ただし、この演算では、数２において、「ＦＡ０」は「ＦＡ１」に置き換えられ、「ＦＡ１」は「ＦＡ２」に置き換えられて、演算が行われる。演算された該フォーカスオフセットＦＱ１ｂはメモリ４０に格納される。
（８）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、第３の記録層（Ｌ２層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ２を演算する（ステップＳ８０８）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ２を、数３により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ２側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ２との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算する。ただし、この演算では、数３において、「ＦＡ０」は「ＦＡ１」に置き換えられ、「ＦＡ１」は「ＦＡ２」に置き換えられて、演算が行われる。設定された該フォーカスオフセットＦＱ２はメモリ４０に格納される。
【００４８】
（９）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂに基づき、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１ｃを、フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂの平均値として演算し設定する（ステップＳ８０９）。設定された該フォーカスオフセットＦＱ１ｃはメモリ４０に格納される。
（１０）シスコン３０は、光ディスク装置１ａに、上記設定したフォーカスオフセットＦＱ０、ＦＱ１ｃ、ＦＱ２による光ディスク２に対する情報の記録または再生動作を開始させる（ステップＳ８１０）。光ディスク装置１ａは、設定されたフォーカスオフセットＦＱ０により、第１の記録層（Ｌ０層）に対する情報の記録または再生を行い、設定されたフォーカスオフセットＦＱ１ｃにより、第２の記録層（Ｌ１層）に対する情報の記録または再生を行い、設定されたフォーカスオフセットＦＱ２により、第３の記録層（Ｌ２層）に対する情報の記録または再生を行う。
【００４９】
なお、上記図７、図８におけるフォーカスオフセットの学習及び演算・設定においては、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、第２の記録層（Ｌ１層）に対しては、フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂの平均値としてのフォーカスオフセットＦＱ１ｃを演算して設定したが、この他、これらフォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂとの差が光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算して設定してもよい。また、上記図７、図８におけるフォーカスオフセットの学習及び演算・設定においては、処理順序を、第１の記録層（Ｌ０層）についての処理、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理とされているが、処理順序はこれに限定されないものとする。
【００５０】
光ディスク２に対する上記フォーカスオフセット処理は、フォーカスオフセット学習手段３２１及びフォーカスオフセット演算・設定手段３２２がそれぞれ、メモリ４０に格納されたプログラムに従って上記ステップＳ８０１〜ステップＳ８０９の一連の動作手順を実行することにより行われる。
【００５１】
図９は、光ディスク２が３層以上の記録層を有し、光ディスク装置１ａが該光ディスク２に対して、上記図７、図８の場合とは異なるフォーカスオフセット処理をする場合の説明図である。フォーカスオフセット学習手段３２１におけるフォーカスオフセットの学習はやはり、プッシュプル信号で行うものとする。図９において、横軸にはフォーカスオフセットＦをとり、縦軸にはプッシュプル信号振幅Ａをとっている。
【００５２】
図９において、Ａ０は、第１の記録層（Ｌ０層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ０ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ０上の最大値すなわち第１の記録層（Ｌ０層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ０は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ０上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセット、Ａ１は、第２の記録層（Ｌ１層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ１ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ１上の最大値すなわち第２の記録層（Ｌ１層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ１は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ１上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセット、Ａ２は、第３の記録層（Ｌ２層）の案内溝からの反射光により再生信号処理部１０から出力されるプッシュプル信号の振幅特性曲線、Ａ２ｍａｘは、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習される振幅値であって、振幅特性曲線Ａ２上の最大値すなわち第３の記録層（Ｌ２層）によるプッシュプル信号振幅の最大値、ＦＡ２は、フォーカスオフセット学習手段３２１によって学習されるフォーカスオフセットであって、振幅特性曲線Ａ２上においてプッシュプル信号振幅が最大となるときのフォーカスオフセットすなわちプッシュプル信号から学習した第３の記録層（Ｌ２層）の最適フォーカスオフセットである。
【００５３】
また、図９において、Ｑ０は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセット（最適フォーカスオフセット）ＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ０との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくされた）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ０は、該位置Ｑ０に対応するフォーカスオフセット、Ｑ１ａは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１ａは、該位置Ｑ１ａに対応するフォーカスオフセット、Ｑ１ｂは、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、フォーカスオフセットＦＡ１との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数２を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ２との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ１ｂは、該位置Ｑ１ｂに対応するフォーカスオフセット、Ｑ２は、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、上記フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、フォーカスオフセットＦＡ２との差が光学系５の特性に対応した値となるように、前述の数３を用いて演算し設定したフォーカスオフセットの位置、すなわち光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ２側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ２との差を小さくした）フォーカスオフセットの位置、ＦＱ２は、該位置Ｑ２に対応するフォーカスオフセットである。なお、図９においても、図７の場合と同様、横軸上で、第１の記録層（Ｌ０層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第２の記録層（Ｌ１層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置と、第３の記録層（Ｌ２層）におけるフォーカスオフセットＦ＝０の位置とを重ねている。
【００５４】
図１０は、図９のフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
図１０において、
（１）制御部としてのシスコン３０は、光ディスク装置１ａを、トラッキング制御オフ（ＯＦＦ）、フォーカス制御オン（ＯＮ）の状態にする（ステップＳ１００１）。
（２）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第１の記録層（Ｌ０層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ０を、第１の記録層（Ｌ０層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ１００２）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０はメモリ４０に格納される。
（３）光ディスク２内において互いに隣接する記録層のうちの第２の記録層（Ｌ１層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ１を、第２の記録層（Ｌ１層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ１００３）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１はメモリ４０に格納される。
（４）光ディスク２内の第３の記録層（Ｌ２層）に、光学系５からレーザ光が照射され、フォーカスオフセット学習手段３２１は、再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットＦＡ２を、第３の記録層（Ｌ２層）の最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する（ステップＳ１００４）。該学習された最適フォーカスオフセットＦＡ２はメモリ４０に格納される。
（５）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づき、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０を演算し設定する（ステップＳ１００５）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ０を、例えば数２により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算する。設定された該フォーカスオフセットＦＱ０はメモリ４０に格納される。
【００５５】
（６）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１に基づきフォーカスオフセットＦＱ１ａを、例えば数３により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算するとともに、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１ｂを演算して設定する（ステップＳ１００６）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ１ｂを、例えば数２により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ２との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算する。ただし、この演算では、数２において、「ＦＡ０」は「ＦＡ１」に置き換えられ、「ＦＡ１」は「ＦＡ２」に置き換えられて、演算が行われる。演算された該フォーカスオフセットＦＱ１ｂはメモリ４０に格納される。なお、上記演算されたフォーカスオフセットＦＱ１ａは、フォーカスオフセットＦＱ１ｂよりもレーザ光入射側（対物レンズ５ａが配された側）に位置するため、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットとしては採用されない。このため、該フォーカスオフセットＦＱ１ａはメモリ４０に格納されない。
【００５６】
（７）フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、上記学習された最適フォーカスオフセットＦＡ１、ＦＡ２に基づき、第３の記録層（Ｌ２層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ２を演算する（ステップＳ１００７）。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、該フォーカスオフセットＦＱ２を、例えば数３により、光学系５の特性に対応してフォーカスオフセットＦＡ２側に重み付けされた（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ２との差を小さくされた）フォーカスオフセットとして演算する。ただし、この演算では、数３において、「ＦＡ０」は「ＦＡ１」に置き換えられ、「ＦＡ１」は「ＦＡ２」に置き換えられて、演算が行われる。設定された該フォーカスオフセットＦＱ２はメモリ４０に格納される。
（８）シスコン３０は、光ディスク装置１ａに、上記設定したフォーカスオフセットＦＱ０、ＦＱ１ｂ、ＦＱ２による光ディスク２に対する記録または再生動作を開始させる（ステップＳ１００８）。光ディスク装置１ａは、設定されたフォーカスオフセットＦＱ０により、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生を行い、設定されたフォーカスオフセットＦＱ１ｂにより、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生を行い、設定されたフォーカスオフセットＦＱ２により、第３の記録層（Ｌ２層）の記録または再生を行う。
【００５７】
なお、上記図９、図１０におけるフォーカスオフセットの学習及び演算・設定においては、処理順序が、第１の記録層（Ｌ０層）についての処理、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理、第２の記録層（Ｌ１層）についての処理の順とされているが、処理順序はこれに限定されないものとする。
【００５８】
光ディスク２に対する上記フォーカスオフセット処理は、フォーカスオフセット学習手段３２１及びフォーカスオフセット演算・設定手段３２２がそれぞれ、メモリ４０に格納されたプログラムに従って上記ステップＳ１００１〜ステップＳ１００７の一連の動作の手順を実行することにより行われる。
【００５９】
本発明の第１の実施例としての光ディスク装置１ａによれば、プッシュプル信号またはウォブル信号の最大振幅の学習結果から直接に、互いに隣接する記録層における記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算・設定することができるため、光ディスク２の複数の記録層についてのフォーカスオフセット処理時間を短くすることができ、記録または再生動作を短時間で開始することができる。また、プッシュプル信号やウォブル信号など記録面の案内溝の溝情報を利用してフォーカスオフセットの学習を行うため、記録済み状態の記録層（再生専用ディスクも含む）や未記録状態の記録層においてもフォーカスオフセットの学習を行うことができ、フォーカスオフセット処理の精度の向上を図ることができる。
【００６０】
なお、上記実施例では、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、光ディスク２内において互いに隣接する第１の記録層（Ｌ０層）、第２の記録層（Ｌ１層）に対して共通のフォーカスオフセットを、記録または再生時用のフォーカスオフセットとして演算・設定するとき、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習したフォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１の平均値（ＦＡ０＋ＦＡ１）／２を数１により演算して設定するとしたが、この他、例えば光学系５の特性に対応して、該平均値以外のフォーカスオフセットすなわちそれぞれの記録層の最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１との差が異なる共通のフォーカスオフセットを、（ｍ×ＦＡ０＋ｎ×ＦＡ１）／（ｍ＋ｎ）により演算して設定してもよい。ただし、ｍ、ｎはそれぞれ、光学系５の特性に対応して決定される係数である。また、図７に示した実施例においては、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１ｃを、フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂの平均値として演算し設定する（ステップＳ８０９）としたが、この他、例えば光学系５の特性に対応して、このフォーカスオフセットＦＱ１ｃを、フォーカスオフセットＦＱ１ａ、ＦＱ１ｂとの差が異なる共通のフォーカスオフセットとして演算し設定するようにしてもよい。
【００６１】
また、上記実施例では、光ディスク２が３層以上の記録層を有する場合において、光ディスク装置１ａが該光ディスク２の少なくとも第１、第２、第３の記録層に対して実施するフォーカスオフセット処理の例につき述べたが、光ディスク装置１ａはさらに、光ディスク２のこれ以外の記録層に対しても、基本的にはこれと同様のフォーカスオフセット処理を行うものとする。すなわち、互いに隣接する記録層について、該記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号から、それぞれの記録層の該案内溝に対する光学系のフォーカスオフセットを学習し、該学習結果に基づき、記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算して設定する。
【００６２】
図１１〜図１３は、本発明の第２の実施例としての光ディスク装置の説明図である。本第２の実施例は、記録または再生時用の光学系のフォーカスオフセットを、装置内の温度変化に対応して演算・設定する構成とした場合である。図１１は、本発明の第２の実施例としての光ディスク装置の構成図、図１２は、光ディスク装置の光学系のフォーカスオフセットの温度特性例を示す図、図１３は、図１１の光ディスク装置により図１２の温度特性を改善したときの状態を示す図である。
【００６３】
なお、以下の説明において用いる「記録層」は、上記第１の実施例の場合と同様、情報が記録される層（記録層）であって、既に情報が記録されている記録層（再生専用ディスクの記録層も、記録可能ディスクの記録層も含む）も、また、未だ情報が記録されていないがいずれ情報が記録される記録層（この場合は記録可能ディスクの記録層）も含む意味のものとする。
【００６４】
図１１において、１ｂは、本発明の実施例としての光ディスク装置、２は、複数の記録層を有するＤＶＤ＋／−Ｒ ＤＬなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するディスクモータ、４は光ピックアップ、５は、光ピックアップ４内にあって、対物レンズ（図示なし）を含んで構成され、レーザ光を集光し、該集光したレーザ光を光ディスク２の記録面に照射する光学系、６は、光ピックアップ４内にあって記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、光ピックアップ４内にあって、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、光ピックアップ４内にあって、光学系５を介し光ディスク２の記録面（ディスク面）からの反射光を受光して電気信号（再生信号）に変換して出力する受光部、９は、光学系５中の対物レンズ（図示なし）の位置や姿勢を変化させるアクチュエータ、２０は、光ディスク装置１ｂ内の温度を検出する温度検出手段としての温度センサ、１０は、受光部８から出力された再生信号を、ＲＦ信号として増幅や復調などを行って信号処理する再生信号処理部、１１は、直線状のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１２は、該移動・案内機構部１１内にあってリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライドモータ、１４は、アクチュエータ９を駆動する駆動信号を生成するフォーカス／トラッキング制御部、１５は、ディスクモータ３やスライドモータ１２を回転駆動するモータ駆動回路、３０は、当該光ディスク装置１ａ全体を制御する制御部としてのシスコン、３１は、シスコン３０内にあってモータ駆動回路１５を制御するモータ制御部、３２は、シスコン３０内のマイコン、３２１は、マイコン３２内に構成され、再生信号処理部１０から出力された信号から上記光学系５の最適フォーカスオフセット（最適な範囲にあるフォーカスオフセットすなわち本発明を有効に構成するに足る適正範囲にあるフォーカスオフセットを意味するものとする。以下の説明中における「最適フォーカスオフセット」は全てこの意味であるとする）を学習（検出）する第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段、３２２は、マイコン３２内に構成され、上記フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセット及び上記温度センサ２０が検出した温度情報に基づき、記録または再生時用の上記光学系５のフォーカスオフセットを演算し設定する第２の制御手段としてのフォーカスオフセット演算・設定手段である。上記第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段３２１は、上記最適フォーカスオフセットの学習時、再生信号処理部１０から出力された信号すなわち、光ディスク２の複数の記録層のうち、互いに隣接する記録層のそれぞれの記録面に形成された案内溝からの反射光に基づいた信号から、それぞれの該案内溝に対する光学系５の最適フォーカスオフセットを学習（検出）する。温度センサ２０は、光ピックアップ４内においてレーザダイオード６の近傍に配され、レーザダイオード６の周辺の温度を光ディスク装置１ｂ内の温度として検出する。
【００６５】
また、図１１において、３３は、レーザダイオード６を駆動するための記録用信号を生成し出力する記録用信号生成部、４０は、光学系５の特性情報や、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した隣接するそれぞれの記録層の最適フォーカスオフセットの情報や、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が演算・設定した記録または再生時用の上記光学系５のフォーカスオフセットの情報や、フォーカスオフセット学習手段３２１に上記学習動作の一連の手順を実行させるプログラムや、上記フォーカスオフセット演算・設定手段３２２に上記演算・設定動作の一連の手順を実行させるプログラムなどが格納されるメモリである。光学系５の特性情報や、上記学習動作実行用のプログラムや、上記演算・設定動作実行用のプログラムは、フォーカスオフセット学習手段３２１による最適フォーカスオフセットの学習動作前に予め、メモリ４０に格納されているものとする。
フォーカスオフセット処理を行うとき、再生信号処理部１０からは、上記最適フォーカスオフセットの学習時、互いに隣接する複数の記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光に基づく信号として、プッシュプル信号またはウォブル信号が出力される。
【００６６】
第１の制御手段としてのフォーカスオフセット学習手段３２１は、最適フォーカスオフセットの学習時、上記再生信号処理部１０から出力されたプッシュプル信号またはウォブル信号を用い、互いに隣接する複数の記録層のそれぞれの案内溝に対するそれぞれの最適フォーカスオフセットとして、上記プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大（実質的な最大の範囲にある値という意味であって、真の最大値を含み例えば真の最大値の９５％以上となる範囲にある値を意味するものとする。以下、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅における「最大」または「最大値」とはこの意味であるとする）となるフォーカスオフセットを学習（検出）する構成を有する。プッシュプル信号により最適フォーカスオフセットを学習する場合は、トラッキング制御はオフ（ＯＦＦ）状態とされ、ウォブル信号により最適フォーカスオフセットを学習する場合は、トラッキング制御はオン（ＯＮ）状態とされる。フォーカスオフセット学習手段３２１は、メモリ４０から読み出したプログラムに従って、最適フォーカスオフセット学習動作における所定の手順を実行する。
【００６７】
第２の制御手段としてのフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、互いに隣接する複数の記録層に情報を記録または再生するときのためのフォーカスオフセットを演算、設定する時、上記温度センサ２０が検出した温度に対応して、該複数の記録層のそれぞれの最適フォーカスオフセットすなわち上記プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットの平均値（平均のフォーカスオフセット）を演算し該演算した平均値を、記録または再生時における該両記録層に共通のフォーカスオフセットとして設定したり、または、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習したそれぞれの記録層の最適フォーカスオフセットとの差が光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットすなわち光学系５の特性に対応して記録層毎に重み付けしたフォーカスオフセットを演算し該演算したフォーカスオフセットを上記互いに隣接する複数の記録層のそれぞれにおける記録または再生時用のフォーカスオフセットとして該記録層毎に個々に設定したりする。
【００６８】
フォーカスオフセット学習手段３２１による学習結果を用いて、記録または再生時用の上記平均のフォーカスオフセットを演算して設定するとき、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は以下のようにして該フォーカスオフセットの設定を行う。すなわち、例えば、レーザ光入射側（光学系５が配された側）から第１の記録層（Ｌ０層）、第２の記録層（Ｌ１層）が配されているときであって、上記温度センサ２０が検出した温度が相対的に低温（＝第１の温度）のとき、例えば、該温度（第１の温度）が０℃から２５℃の範囲内の温度のとき、該第１の記録層（Ｌ０層）に対するフォーカスオフセット学習手段３２１による学習により、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ０が得られ、また、該第２の記録層（Ｌ１層）に対する学習によっては、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ１が得られたとき、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０及び第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１を、
ＦＱ０＝ＦＱ１＝（ＦＡ０＋ＦＡ１）／２                          （数４）
により演算した値を、該第１の記録層（Ｌ０層）及び該第２の記録層（Ｌ１層）に共通のフォーカスオフセット（記録または再生時用のフォーカスオフセット）ＦＱＣ（図３）として設定する。
【００６９】
また、上記温度センサ２０が検出した温度が相対的に高温（＝第２の温度）のとき例えば、該温度（第２の温度）が５０℃から６５℃の範囲内の温度のときには、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、フォーカスオフセット学習手段３２１による学習結果を用いてかつ光学系５の特性に対応して隣接記録層毎に個々に記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算して設定する。すなわち、例えば、レーザ光入射側から第１の記録層（Ｌ０層）、第２の記録層（Ｌ１層）の順で記録層が配されているときであって、該第１の記録層（Ｌ０層）に対するフォーカスオフセット学習手段３２１による学習により、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ０が得られ、また、該第２の記録層（Ｌ１層）に対する学習によっては、プッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるフォーカスオフセットとしてＦＡ１が得られたとき、第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０としては、
ＦＱ０＝（３×ＦＡ０＋ＦＡ１）／４                            （数２）
により演算した値を設定し、
また、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１としては、
ＦＱ１＝（ＦＡ０＋３×ＦＡ１）／４                            （数３）
により演算した値を設定する。
【００７０】
フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、メモリ４０から読み出したプログラムに従い、記録または再生動作用の上記光学系５の上記フォーカスオフセットを演算・設定する動作手順を実行する。
【００７１】
上記構成の光ディスク装置１ｂにおいて、複数の記録層を有する光ディスク２に対して情報の記録または再生を行うとき、例えば、光ディスク２が、装置内にローディングされ、所定速度で回転された状態において、光ピックアップ４内のレーザダイオード６が発生したレーザ光が、光学系５を通して光ディスク２の複数の記録層の記録面に照射され、複数の記録層に対するフォーカスオフセット処理が行われる。フォーカスオフセット処理は、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、該各記録層に形成された案内溝の溝情報（溝の構造や状態を示す情報）を利用して行われる。すなわち、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、記録層の記録面に形成された案内溝からの反射光を受光部８で受けて電気信号（再生信号）に変換し、再生信号処理部１０からプッシュプル信号またはウォブル信号として出力する。フォーカスオフセット処理時、再生信号処理部１０からプッシュプル信号が出力される構成とした場合は、光ディスク装置１ｂにおいて、トラッキング制御は行われず、フォーカス／トラッキング制御部１４からはフォーカス制御信号のみが出力される。一方、再生信号処理部１０からウォブル信号を出力する構成とした場合は、トラッキング制御も行われ、フォーカス／トラッキング制御部１４からはフォーカス制御信号とトラッキング制御信号が出力される。互いに隣接する各記録層の案内溝の溝情報として再生信号処理部１０から出力された該プッシュプル信号またはウォブル信号は、マイコン３２内のフォーカスオフセット学習手段３２１に入力される。フォーカスオフセット学習手段３２１は、互いに隣接する記録層のそれぞれについて、該入力されたプッシュプル信号またはウォブル信号の振幅が最大となるときのフォーカスオフセットを最適フォーカスオフセットとして学習（検出）する。マイコン３２内のフォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、温度センサ２０からの温度情報に対応して、上記のように、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した互いに隣接する記録層それぞれの最適フォーカスオフセットの平均値、または、該学習された各最適フォーカスオフセットとの差が、光学系５の特性に対応した値となるフォーカスオフセットを演算し、記録または再生時用の上記光学系のフォーカスオフセットとして設定する。
【００７２】
上記第２の実施例では、上記温度センサ２０が検出した温度が相対的に高温（＝第２の温度）のとき、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、光ディスク２内の第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０は、数２により、フォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ１との差よりもフォーカスオフセットＦＡ０との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算して設定し、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１は、数３により、フォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けした（＝フォーカスオフセットＦＡ０との差よりもフォーカスオフセットＦＡ１との差を小さくした）フォーカスオフセットとして演算して設定するとしたが、この他、例えば光学系５の特性に対応して、それぞれの記録層の最適フォーカスオフセットＦＡ０、ＦＡ１との差が異なる共通のフォーカスオフセットを、（ｍ×ＦＡ０＋ｎ×ＦＡ１）／（ｍ＋ｎ）により演算して設定してもよい。ただし、ｍ、ｎはそれぞれ、光学系５の特性に対応して決定される係数である。
以下、説明中で用いる図１１の光ディスク装置１ｂの構成要素には、図１１の場合と同じ符号を付して用いるとする。
【００７３】
図１２は、光ディスク装置１ｂの光学系５のフォーカスオフセットの温度特性の実験結果を示す図であり、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が温度センサ２０からの温度情報に基づいた処理動作をしていない場合（対温度非対応の場合）である。
【００７４】
図１２において、横軸は、センサ２０の位置で測定される光ディスク装置１ｂの装置内温度ｔ（℃）、縦軸は、記録または再生時用の光学系５のフォーカスオフセットＦ（×０．０５μｍ）である。図１２において、ＦＱ０は、対温度非対応の場合の光ディスク２の第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセット、ＦＱ１は、対温度非対応の場合の光ディスク２の第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットであり、ＦＱ０は、常温（２５℃）時に、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットに基づき、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、数２によって演算・設定し、ＦＱ１は、常温（２５℃）時に、フォーカスオフセット学習手段３２１が学習した最適フォーカスオフセットに基づき、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が、数３によって演算・設定したものである。この結果、装置内温度ｔが、常温（２５℃）から低下して０℃となった場合には、フォーカスオフセットＦは、ＦＱ０、ＦＱ１とも増大し、特にＦＱ０の場合は、基準値（Ｆ＝０）からのずれ量が大きく、約４×０．０５μｍにもなる。また、装置内温度ｔが、常温（２５℃）から上昇して５５℃となった場合には、フォーカスオフセットＦは、ＦＱ０は減少し、ＦＱ１は増大して、ＦＱ０、ＦＱ１とも基準値（Ｆ＝０）に一層近づくとともに、ＦＱ０、ＦＱ１間の差も縮減される。
【００７５】
図１３は、光ディスク装置１ｂの光学系５のフォーカスオフセットの温度特性の実験結果を示す図であり、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２が温度センサ２０からの温度情報に基づいた処理動作をしている場合（対温度対応の場合）である。
【００７６】
図１３において、横軸及び縦軸は、図１２の場合と同じである。図１３において、ＦＱ０は、対温度対応の場合の光ディスク２の第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセット、ＦＱ１は、対温度対応の場合の光ディスク２の第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットである。フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、温度センサ２０からの温度情報に基づいた処理動作として、装置内温度ｔが常温を含む相対的に低温（＝第１の温度）のとき、例えば０℃〜２５℃ときには、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、光ディスク２内の第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１を、数４により演算し、該演算した値を、該第１の記録層（Ｌ０層）及び該第２の記録層（Ｌ１層）に共通のフォーカスオフセット（記録または再生時用のフォーカスオフセット）ＦＱＣ（図３）として設定する。また、装置内温度ｔが相対的に高温（＝第２の温度）のとき、例えば５５℃ときには、フォーカスオフセット演算・設定手段３２２は、光ディスク２内の第１の記録層（Ｌ０層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ０は、数２により、フォーカスオフセットＦＡ０側に重み付けしたフォーカスオフセットとして演算して設定し、第２の記録層（Ｌ１層）の記録または再生時用のフォーカスオフセットＦＱ１は、数３により、フォーカスオフセットＦＡ１側に重み付けしたフォーカスオフセットとして演算して設定する。この結果、装置内温度ｔが、常温（２５℃）から低下して０℃となった場合でも、フォーカスオフセットＦは、ＦＱ０、ＦＱ１とも増大するものの、基準値（Ｆ＝０）からのずれ量は小さく約２×０．０５μｍとなる。また、装置内温度ｔが、常温（２５℃）から上昇して５５℃となった場合には、フォーカスオフセットＦは、常温（２５℃）時に比べて、ＦＱ０は増大、ＦＱ１は不変で、ＦＱ０、ＦＱ１とも基準値（Ｆ＝０）からのずれ量は小さく約０〜１×０．０５μｍとなる。従って、装置内温度ｔが低温側に変化した場合にも、また、高温側に変化した場合にも、ＦＱ０、ＦＱ１とも、基準値（Ｆ＝０）からのずれ量を、約２×０．０５μｍ以内にすることが可能となり、装置内温度ｔの、フォーカスオフセットＦへの影響を抑えることができる。なお、光学系５のフォーカスオフセットの温度特性の要因としては、光学系５自体の温度特性、光学系５の支持部の温度特性、光ディスク２の温度特性、光ディスク２の支持部の温度特性等が考えられるが、未確認である。
【００７７】
なお、上記説明では、上記第１の温度の範囲を０℃〜２５℃、上記第２の温度の範囲を５０℃〜６５℃としたが、上記光ディスク装置１ｂにおいては、該第１の温度の温度範囲や該第２の温度の温度範囲は、光学系５のフォーカスオフセットの温度特性に対応して予め設定されるものとする。
【００７８】
本発明の第２の実施例としての光ディスク装置１ｂによれば、プッシュプル信号またはウォブル信号の最大振幅の学習結果から直接に、互いに隣接する記録層における記録または再生時用のフォーカスオフセットを演算・設定することができるため、光ディスク２の複数の記録層についてのフォーカスオフセット処理時間を短くすることができ、記録または再生動作を短時間で開始することができる。また、装置内温度の、フォーカスオフセットへの影響を抑えることができる。また、プッシュプル信号やウォブル信号など記録面の案内溝の溝情報を利用してフォーカスオフセットの学習を行うため、記録済み状態の記録層（再生専用ディスクも含む）や未記録状態の記録層においてもフォーカスオフセットの学習を行うことができ、フォーカスオフセット処理の精度の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の第１の実施例としての光ディスク装置の構成図である。
【図２】図１の光ディスク装置における光ディスクの複数の記録層の基準面位置と、光ピックアップの光学系の位置の説明図である。
【図３】図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図である。
【図４】実測データに基づく図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図である。
【図５】他の実測データに基づく図１の光ディスク装置におけるフォーカスオフセット学習と、記録または再生時用のフォーカスオフセット設定の説明図である。
【図６】図１の光ディスク装置の、光ディスク中の隣接する記録層に対するフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
【図７】図１の光ディスク装置の、記録層が３層以上の光ディスクに対するフォーカスオフセット処理の説明図である。
【図８】図７のフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
【図９】図１の光ディスク装置の、記録層が３層以上の光ディスクに対する他のフォーカスオフセット処理の説明図である。
【図１０】図９のフォーカスオフセット処理の動作フロー図である。
【図１１】本発明の第２の実施例としての光ディスク装置の構成図である。
【図１２】光学系のフォーカスオフセットの温度特性例を示す図である。
【図１３】図１１の光ディスク装置により図１２の温度特性を改善したときの状態を示す図である。
【符号の説明】
【００８０】
１ａ、１ｂ…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…ディスクモータ、
４…光ピックアップ、
５…光学系、
５ａ…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…受光部、
９…アクチュエータ、
１０…再生信号処理部、
１１…移動・案内機構部、
１２…スライドモータ、
１４…フォーカス／トラッキング制御部、
１５…モータ駆動回路、
２０…温度センサ、
３０…シスコン、
３１…モータ制御部、
３２…マイコン、
３２１…フォーカスオフセット学習手段、
３２２…フォーカスオフセット演算・設定手段、
３３…記録用信号生成部、
４０…メモリ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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