(57)【要約】【課題】本発明は、例えば有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置に適用して、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。【解決手段】本発明は、異常発光画素の発光輝度を補正して正常画素の発光輝度に近づける。【選択図】        図１
2010101926.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリックス状に画素を配置した表示部と、
画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有し、
前記駆動部は、
異常発光画素の輝度を補正する輝度調整部を有し、
前記輝度調整部により順次入力される画像データを補正して異常発光画素の輝度を補正し、前記輝度調整部により前記異常発光画素の輝度を補正しない場合に比して前記異常発光輝度を視認し難くする
画像表示装置。
【請求項２】
前記輝度調整部は、
対応する階調の正常画素の輝度を値１とおいたとき、値１．３〜値０．７の範囲の輝度に、前記異常画素の輝度を補正する
請求項１に記載の画像表示装置。
【請求項３】
少なくとも前記異常発光画素の位置情報及び前記異常発光画素の輝度を補正する補正量の情報を保持する画素輝度情報部を有し、
前記輝度調整部は、
前記位置情報及び前記補正量の情報に基づいて、前記異常発光画素の輝度を補正する
請求項２に記載の画像表示装置。
【請求項４】
前記補正量の情報が、特定の階調における前記異常発光画素の補正輝度量の情報であり、
前記輝度調整部は、
前記補正輝度量の情報により、前記異常発光画素の階調における補正量を求めて前記異常発光画素の輝度を補正する
請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項５】
前記補正輝度量の情報が、前記異常発光画素の複数の階調で検出された補正量の情報であり、
前記輝度調整部は、
前記複数の階調で検出された補正量から、対応する異常発光画素の輝度における補正量を求め、前記異常発光画素の輝度を補正する
請求項４に記載の画像表示装置。
【請求項６】
前記補正量の情報が、特定の階調における前記異常発光画素の補正輝度量の情報と、補正量の計算に使用する関数を定義する補正モードの情報とであり、
前記輝度調整部は、
前記補正モードに対応する関数を用いて、前記補正輝度量の情報から、対応する異常発光画素の輝度における補正量を求め、前記異常発光画素の輝度を補正する
請求項３に記載の画像表示装置。
【請求項７】
マトリックス状に画素を配置した表示部と、
画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置の駆動方法において、
順次入力される画像データを補正して異常発光画素の輝度を補正し、前記異常発光画素の輝度を補正しない場合に比して前記異常発光輝度を視認し難くする
画像表示装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法に関し、例えば有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子を用いた画像表示装置に適用することができる。本発明は、異常発光画素の発光輝度を補正して正常画素の発光輝度に近づけることにより、異常発光画素による画質劣化を低減する。
【背景技術】
【０００２】
近年、有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置の開発が盛んになっている。ここで図６に示すように、この種の画像表示装置１は、マトリックス状に画素を配置して表示部２が形成される。画像表示装置１は、順次入力される画像データＤ１に応じて、駆動回路３により表示部２を駆動し、表示部２で所望の画像を表示する。
【０００３】
有機ＥＬ素子の画像表示装置は、パッシブマトリックス型とアクティブマトリックス型とに大別される。ここで図７に示すように、パッシブマトリックス型の画像表示装置５は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ（１，１）、ＯＬＥＤ（１，２）、……による画素をマトリックス状に配置して表示部２が形成される。画像表示装置５は、駆動回路３に設けられたスイッチ回路６により走査線ＳＣＡＮ（１）、ＳＣＡＮ（２）、……を順次循環的に選択する。画像表示装置５は、順次入力される画像データＤ１を電流駆動回路７（１）、７（２）、……に振り分け、電流駆動回路７（１）、７（２）、……でそれぞれ画像データＤ１に応じた駆動電流Ｉｓｉｇ（１）、Ｉｓｉｇ（２）、……を生成して対応する信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……に出力する。これにより画像表示装置５は、ライン順次で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤ（１，１）、ＯＬＥＤ（１，２）、……を順次発光させて所望の画像を表示する。これにより画像表示装置５は、信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介した電流駆動により各画素の階調を設定する。
【０００４】
また図８に示すように、アクティブマトリックス型の画像表示装置１１は、画素ＰＩＸ（１，１）、ＰＩＸ（１，２）、……を構成する有機ＥＬ素子ＯＬＥＤと有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する駆動回路とによる画素回路１６をマトリックス状に配置して表示部２が形成される。ここで画素回路１６は、例えばＰチャンネル型トランジスタＴｒ２と有機ＥＬ素子ＯＬＥＤとの直列回路の両端が電源Ｖｄｄ及びＶｓｓに接続され、ゲートソース間電圧に応じた駆動電流で駆動トランジスタＴｒ１により有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを駆動する。画素回路１６は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間に、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を保持する保持容量Ｃｓが設けられる。画素回路１６は、走査線ＳＣＡＮを介した書込トランジスタＴｒ２の制御により、保持容量Ｃｓの端子電圧が信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介して順次設定される。これにより画素回路１６は、信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……を介して駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を設定して各画素の階調を設定し、この駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。
【０００５】
駆動回路３は、順次入力される画像データＤ１を各信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……に振り分けてそれぞれディジタルアナログ変換処理し、各信号線ＳＩＧ（１）、ＳＩＧ（２）、……の駆動電圧Ｖｓｉｇ（１）、Ｖｓｉｇ（２）、……を設定する。また駆動回路３は、この駆動電圧Ｖｓｉｇ（１）、Ｖｓｉｇ（２）、……の設定に対応して各走査線ＳＣＡＮ（１）、ＳＣＡＮ（２）、……に書込トランジスタＴｒ２の制御信号を出力する。
【０００６】
また有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置は、図６及び図７に示す有機ＥＬ素子の駆動電流を可変して階調を表現する方式の他、有機ＥＬ素子の発光時間を可変して階調を表現する方法（時間変調方式）、有機ＥＬ素子の発光面積を可変して階調を表現する方法（面積変調方式）等が提案されている。
【０００７】
有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置に関して、特開２００７−３１０３１１号公報には、２つのトランジスタを用いて画素回路を構成する方法が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の方法によれば、構成を簡略化することができる。またこの特開２００７−３１０３１１号公報には、有機ＥＬ素子を駆動する駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきを補正する構成が開示されている。従ってこの特開２００７−３１０３１１号公報に開示の構成によれば、駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきによる画質劣化を防止することができる。
【特許文献１】特開２００７−３１０３１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで有機ＥＬ素子の画像表示装置は、種々の要因により、正常画素に比して発光輝度が著しく異なる異常発光画素が発生する。
【０００９】
すなわちこの種の画像表示装置に適用される有機ＥＬ素子は、微小間隔で対向するように保持された陰極及び陽極で有機ＥＬ層を挟持し、この微小間隔が数〔μｍ〕〜１０〔μｍ〕に設定される。画像表示装置は、微小な塵、汚染等により、有機ＥＬ層の膜厚、膜質等が局所的に変化する場合がある。この場合、有機ＥＬ素子の駆動電圧（電圧電流特性）、発光効率等が局所的に変化し、異常発光画素が発生する。
【００１０】
またアクティブマトリックス型の画像表示装置は、画素回路を構成するＴＦＴ（Thin Film Transistor）の特性が微小な塵、汚染等により局所的に変化し、その結果、異常発光画素が発生する場合がある。またアクティブマトリックス型の画像表示装置は、微小な塵、汚染等により局所的に保持容量、トランジスタにリーク電流が発生することによっても、異常発光画素が発生する。
【００１１】
これらの異常発光画素は、周囲の正常画素に比して、著しく発光輝度が低い場合、滅点と同様に視認されることになる。またこれとは逆に、周囲の正常画素に比して、著しく発光輝度が高い場合、輝点と同様に視認されることになる。なおここで滅点は、非発光の欠陥画素であり、輝点は、１００〔％〕の輝度レベルで常時発光する欠陥画素である。その結果、これらの異常発光画素は、階調を表現できるにも係わらず、滅点、輝点と同様に画質を著しく劣化させる問題があった。
【００１２】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、正常画素に比して発光輝度が著しく異なる異常発光画素による画質劣化を低減することができる画像表示装置及び画像表示装置の駆動方法を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記の課題を解決するため請求項１の発明は、マトリックス状に画素を配置した表示部と、画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置に適用する。前記駆動部は、異常発光画素の輝度を補正する輝度調整部を有し、前記輝度調整部により順次入力される画像データを補正して異常発光画素の輝度を補正し、前記輝度調整部により前記異常発光画素の輝度を補正しない場合に比して前記異常発光輝度を視認し難くする。
【００１４】
また請求項７の発明は、マトリックス状に画素を配置した表示部と、画像データに応じて前記表示部に配置した画素を駆動し、前記表示部で所望の画像を表示する駆動部とを有する画像表示装置の駆動方法に適用する。順次入力される画像データを補正して異常発光画素の輝度を補正し、前記異常発光画素の輝度を補正しない場合に比して前記異常発光輝度を視認し難くする。
【００１５】
請求項１、又は請求項７の構成によれば、順次入力される画像データを補正して異常発光画素の輝度を補正し、異常発光画素の輝度を補正しない場合に比して異常発光輝度を視認し難くすることにより、異常発光画素を滅点、輝点として認識し難くすることができ、その結果、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、正常画素に比して発光輝度が著しく異なる異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。なお説明は、以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態
２．第２の実施の形態
３．第３の実施の形態
４．第４の実施の形態
５．第５の実施の形態
６．第６の実施の形態
７．変形例
＜第１の実施の形態＞
〔実施の形態の構成〕
図１は、図６との対比により本発明の第１の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。この画像表示装置２１において、表示部２は、図７又は図８の構成が適用される。駆動回路２２は、順次入力される画像データＤ１を輝度調整演算回路２３で補正した後、図７又は図８について上述した駆動回路３の構成により駆動電流又は駆動電圧を生成して表示部２を駆動する。
【００１８】
画素輝度調整情報部２４は、メモリにより構成され、異常発光画素の位置情報であるアドレス、輝度調整量の情報を格納して保持する。輝度調整演算回路２３は、この画素輝度調整情報部２４に格納した情報により画像データＤ１を補正し、異常発光画素の発光輝度を補正する。画素輝度調整情報部２４は、製造工程における最終調整工程において、このアドレス、輝度調整量の情報が設定される。
【００１９】
すなわちこの画像表示装置２１は、最終調整工程において、一定の駆動電流又は駆動電圧で駆動して各画素の発光輝度が計測される。またこの計測した発光輝度を所定のしきい値で判定して異常発光画素が検出される。なおこの異常発光画素の検出は、特定の階調でのみ検出してもよく、さらには複数の階調で検出してもよい。ここで特定の階調のみで検出する場合には、例えば異常発光画素が滅点及び輝点として比較的視認され易い中間階調で各画素を発光させて検出される。また複数の階調で検出する場合には、例えば異常発光画素が滅点として視認され易い高輝度レベルで各画素を発光させて検出した後、さらに異常発光画素が輝点として視認され易い低輝度レベルで各画素を発光させて検出される。
【００２０】
ここで人間の目は、表示画面上の特定の１画素が周辺画素より一定値以上暗い場合、この特定画素を滅点とほぼ同等に認識する。またこれとは逆に、表示画面上の特定の１画素が周辺画素より一定値以上明るい場合、この特定画素を輝点とほぼ同等に認識する。人間の目の特性上、この一定値は、正常画素の発光輝度のほぼ３割であると言える。従って正常画素の発光輝度を値１とおいた場合に、発光輝度が値０．７〜１．３の範囲に納まっている画素は、滅点、輝点として認識されないことになる。
【００２１】
そこでこの最終調整工程は、正常画素の発光輝度を値１とおいた場合に、少なくとも発光輝度が値０．７〜１．３の範囲に納まらない画素を異常発光画素として検出する。なお正常画素の発光輝度は、例えば異常画素検出時の発光輝度により複数の画素を発光させて発光輝度の平均値を検出する等により求められる。
【００２２】
最終調整工程は、検出した異常発光画素のアドレスを画素輝度調整情報部２４に格納する。また異常発光画素検出時に検出される異常発光画素の発光輝度から、輝度調整量の情報を作成して画素輝度調整情報部２４に格納する。
【００２３】
ここで輝度調整演算回路２３で輝度調整しない場合の異常発光画素の輝度をＬ（調整前）とし、輝度調整演算回路２３で輝度調整した場合の異常発光画素の輝度をＬ（調整後）とする。また正常画素の輝度をＬ（正常）とする。ここで輝度調整演算回路２３で輝度調整しない場合と、輝度調整演算回路２３で輝度調整した場合とで、正常画素の発光輝度に対する異常画素の発光輝度の比率をそれぞれα（調整前）及びα（調整後）とおく。この場合、次式の関係式が成立する。
【００２４】
【数１】
2010101926.tif 000003
【００２５】
ここでα（調整後）＝１となるように異常画素の発光輝度を調整すれば、異常発光画素の発光輝度を正常画素の発光輝度と完全に同一に設定することができる。しかしながら全ての階調において、α（調整後）＝１となるように輝度調整演算回路２３で輝度調整するためには、輝度調整演算回路２３における画像データＤ１の処理が格段的に複雑になる。
【００２６】
これに対して次式により示すように、正常画素の発光輝度に近づくように、異常発光画素の発光輝度を補正すれば、調整前に比して滅点、輝点を目立ち難くすることができ、一定の調整効果を得ることができる。
【００２７】
【数２】
2010101926.tif 000004
【００２８】
しかしながら（２）式の関係式を満足するように設定した場合にあっても、未だ滅点、輝点として視認される場合がある。そこでこの実施の形態では、さらに次式の関係式を満足するように設定される。
【００２９】
【数３】
2010101926.tif 000005
【００３０】
また人間の目は、カラー画像の３原色のうちで、緑色の視認性が最も高いことにより、次式の関係式を満足するように設定される。なおここでα（調整後：ＧＲＥＥＮ）、α（調整後：ＲＥＤ）、α（調整後：ＢＬＵＥ）は、それぞれ緑色、赤色、青色のサブ画素において、正常画素の発光輝度に対する異常画素の発光輝度の輝度調整後の比率である。
【００３１】
【数４】
2010101926.tif 000006
【００３２】
より具体的に、この実施の形態において、画像表示装置２１は、緑色のサブ画素については、異常発光画素の検出時に検出された異常発光画素の発光輝度Ｌ（調整前）と、対応する正常画素の発光輝度Ｌ（正常）とから、（発光輝度Ｌ（正常）−発光輝度Ｌ（調整前））／発光輝度Ｌ（調整前）を計算する。これにより画像表示装置２１は、異常発光画素検出時の階調において、調整後の比率α（調整後）を値１とするための発光輝度補正量が、発光輝度Ｌ（調整前）を基準にして検出される。画像表示装置２１は、この発光輝度補正量が輝度調整量として画素輝度調整情報部２４に格納される。なおこの場合に、複数の階調で異常発光画素を検出する場合には、各階調で検出した発光輝度補正量から最も補正量の大きな発光輝度補正量を画素輝度調整情報部２４に格納する場合、平均値を計算して画素輝度調整情報部２４に格納する場合等、必要に応じて種々の設定方法を適用することができる。
【００３３】
また赤色及び青色のサブ画素については、緑色のサブ画素と同様にして発光輝度補正量を検出した後、（４）式の関係式を満足するように、所定の重み付け係数Ｗ（０＜Ｗ＜１）により重み付けして画素輝度調整情報部２４に格納する。
【００３４】
輝度調整演算回路２３は、順次入力される画像データＤ１のうち、画素輝度調整情報部２４に格納されたアドレスに対応する画像データＤ１について、対応する輝度調整量により乗算して補正量を計算し、この計算した補正量を加算して画像データＤ１を出力する。またそれ以外の画像データＤ１については、何ら補正することなく出力する。
【００３５】
〔実施の形態の動作〕
以上の構成において、この画像表示装置２１において、順次入力される画像データＤ１は、駆動回路２２において、駆動電流又は駆動電圧に変換され、この駆動電流又は駆動電圧により有機ＥＬ素子による表示部２が駆動される。これにより画像表示装置２１は、画像データＤ１による画像を表示部２で表示することができる。
【００３６】
しかしながら有機ＥＬ素子の画像表示装置では、種々の要因により、正常画素に比して発光輝度が著しく異なる異常発光画素が発生する。すなわち有機ＥＬ素子は、微小な塵、汚染等により、有機ＥＬ層の膜厚、膜質等が局所的に変化し、その結果、有機ＥＬ素子の駆動電圧（電圧電流特性）、発光効率等が局所的に変化する場合がある。有機ＥＬ素子は、駆動電流Ｉ、発光効率Φを用いて、発光輝度ＬがＬ＝Φ・Ｉで表される。
【００３７】
従って発光効率が局所的に変化すると、発光輝度が局所的に変化することになり、この変化が著しい場合に異常発光画素が発生することになる。
【００３８】
また有機ＥＬ素子では、駆動電圧（電圧電流特性）が変化すると駆動電流が変化し、発光輝度が変化する。なお図７、図８の構成では、有機ＥＬ素子を定電流駆動していることから、有機ＥＬ素子の電圧電流特性の変化によっては、発光輝度が変化しないようにも思われる。しかしながら例えば図８の画素回路１６では、有機ＥＬ素子の負荷変動（電圧電流特性の変動）により有機ＥＬ素子の端子電圧が変化し、この端子電圧の変化に対して駆動電流の変化を避け得ない。従って画素回路１６は、十分な定電流特性を有していないと言え、このように十分な定電流特性を有していない場合の定電流駆動では、有機ＥＬ素子の電圧電流特性の変化により発光輝度が変化する。従ってこの場合も、この発光輝度の変化が著しい場合に異常発光画素が発生することになる。
【００３９】
また図８の画素回路１６において、有機ＥＬ素子の駆動電流Ｉｏｌｅｄは、次式により表される。なおここでＶｔｈは、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧、μは駆動トランジスタＴｒ１の移動度、Ｗ及びＬは、駆動トランジスタＴｒ１のゲート幅及びゲート長である。Ｃｏｘは、駆動トランジスタＴｒ１の単位面積当たりのゲート容量である。
【００４０】
【数５】
2010101926.tif 000007
【００４１】
従って駆動トランジスタのしきい値電圧Ｖｔｈ、移動度μが微小な塵、汚染等により変化すると、この場合も有機ＥＬ素子の発光輝度が変化することになる。従ってこの場合も、この発光輝度の変化が著しい場合に異常発光画素が発生することになる。
【００４２】
また画素回路１６では、微小な塵、汚染により書込トランジスタＴｒ２、保持容量Ｃｓにリーク電流が発生すると、保持容量Ｃｓに正しく駆動電圧Ｖｓｉｇを設定、保持することが困難になり、有機ＥＬ素子の発光輝度が変化することになる。従ってこの場合も、この発光輝度の変化が著しい場合に異常発光画素が発生することになる。
【００４３】
このように正常画素に比して著しく発光輝度が異なる異常発光画素は、一般的に、滅点、輝点と同様に視認され、画質を著しく劣化させる。
【００４４】
そこでこの画像表示装置２１では、製造工程において、滅点、輝点として認識される異常発光画素が検出される。またこの異常発光画素のアドレス、異常発光画素の発光輝度を調整する輝度調整量の情報が画素輝度調整情報部２４に格納される。画像表示装置２１では、この画素輝度調整情報部２４に格納されたアドレスにより順次入力される画像データＤ１から異常発光画素の画像データＤ１が検出される。また検出した異常発光画素の画像データＤ１が画素輝度調整情報部２４に格納された対応する輝度調整量により補正され、これにより異常発光画素の発光輝度が補正される。
【００４５】
画像表示装置２１では、この異常発光画素の発光輝度の補正が、正常画素の発光輝度に近づけるように実行され（（２）式）、これにより異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【００４６】
より具体的に、特定階調表現時における異常発光画素の発光輝度が、対応する正常画素の発光輝度と一致するように輝度調整量を設定して、（３）式の関係式を満足するように、異常発光画素の発光輝度を調整する。これにより画像表示装置２１では、異常発光画素が滅点、輝点として視認されないようにし、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【００４７】
また緑色のサブ画素に比して、赤色、青色のサブ画素における輝度調整量を低減することにより、人間の視覚特性を有効に利用して、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【００４８】
〔第１の実施の形態の効果〕
以上の構成によれば、異常発光画素の発光輝度を、正常画素の発光輝度に近づけるように補正することにより、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。従って画像表示装置の歩留りを向上し、画質を向上することができる。
【００４９】
より具体的に、正常画素の対応する発光輝度を値１とおいたとき、異常発光画素の発光輝度が値０．７〜１．３の範囲に納まるように設定することにより、異常発光画素が滅点、輝点として視認されないようにし、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【００５０】
また緑色のサブ画素に比して、赤色、青色のサブ画素における輝度調整量を低減することにより、人間の視覚特性を有効に利用して、異常発光画素による画質劣化を低減することができる。
【００５１】
＜第２の実施の形態＞
図２は、本発明の第２の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。この実施の形態の画像表示装置は、この画素回路３６に関する構成が異なる点を除いて、図１の画像表示装置と同一に構成される。
【００５２】
ここでこの画素回路３６は、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのカソードが所定電圧Ｖｓｓ１に保持され、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノードが駆動トランジスタＴｒ１のソースに接続される。またこの駆動トランジスタＴｒ１は、ドレインが走査線に接続され、この走査線を介して駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が供給される。なおトランジスタＴｒ１は、Ｎチャンネル型のトランジスタである。Ｃｏｌｅｄは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量であり、Ｃｓｕｂは、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄと並列な付加容量である。これにより画素回路３６は、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）による電源の供給により、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する。
【００５３】
また画素回路３６は、この駆動トランジスタＴｒ１のゲート及びソースに、駆動トランジスタＴｒ１のゲートソース間電圧を保持する保持容量Ｃｓが接続される。これにより画素回路３６は、図３に示すように、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを発光させる発光期間の間（図３においては、「発光」により示す）、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）により駆動トランジスタＴｒ１に電源Ｖｄｄｖ２を供給し（図３（Ｂ））、駆動トランジスタＴｒ１により保持容量Ｃｓの端子間電圧に応じた駆動電流で有機ＥＬ素子ＯＬＥＤを電流駆動する（図３（Ｄ）〜（Ｆ））。
【００５４】
画素回路３６は、走査線を介して供給される書込信号ＶＳＣＡＮ１（ｉ）によりオンオフ動作する書込トランジスタＴｒ２を介して、保持容量Ｃｓのゲート側端が信号線に接続される。なお書込トランジスタＴｒ２は、Ｎチャンネル型のトランジスタである。また画素回路３６は、所定の固定電圧Ｖｏｆｓと駆動電圧Ｖｓｉｇ（＝Ｖｏｆｓ＋Ｖｄａｔａ）とが交互に出力される（図３（Ｃ））。
【００５５】
画素回路３６は、発光期間においては、トランジスタＴｒ２がオフ状態に保持される（図３（Ａ））。画素回路３６は、発光期間が終了して非発光期間が開始すると、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が所定電圧Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで電圧Ｖｓｓｖ２は、駆動トランジスタＴｒ１のソースをドレインとして機能させるのに十分に低い電圧である。これにより画素回路３６は、非発光期間が開始すると、駆動トランジスタＴｒ１を介して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの蓄積電荷が放電し、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのアノード電圧が立ち下がって有機ＥＬ素子ＯＬＥＤが発光を停止する（図３（Ｄ）及び（Ｅ））。また保持容量Ｃｓのソース側端がほぼ電圧Ｖｓｓｖ２に設定され、十分に低い電圧に設定される。
【００５６】
また続いて画素回路３６は、信号線が電圧Ｖｏｆｓに設定されている期間で、書込トランジスタＴｒ２がオン状態に設定され、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧が電圧Ｖｏｆｓに設定される（図３（Ａ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓの端子間電圧が電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２に設定される。ここで画素回路３６は、この電圧Ｖｏｆｓ−Ｖｓｓｖ２が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈより十分に大きな電圧となるように、電圧Ｖｏｆｓ、Ｖｓｓｖ２が設定される（図３（Ｄ）及び（Ｅ））。
【００５７】
画素回路３６は、続いて駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）が電源電圧Ｖｄｄｖ２に設定される（図３（Ｂ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓのゲート側端を電圧Ｖｏｆｓに保持した状態で、駆動トランジスタＴｒ１を介してこの保持容量Ｃｓの端子間電圧に応じた電流が有機ＥＬ素子ＯＬＥＤに流入する。その結果、画素回路３６は、この電流により保持容量Ｃｓの端子間電圧が徐々に減少し、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈになると、駆動トランジスタＴｒ１からの電流の流入が停止して保持容量Ｃｓの端子間電圧の減少が停止する（図３（Ｅ）及び（Ｆ））。
【００５８】
これにより画素回路３６は、駆動トランジスタＴｒ１を介して保持容量Ｃｓの端子間電圧が放電し、保持容量Ｃｓの端子間電圧が駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈに設定される。これにより画素回路３６は、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつきによる画質劣化を防止する処理を実行する。なおこの処理を図３では「Ｖｔ補」により示す。また非発光期間を開始した後、駆動信号ＶＳＣＡＮ２（ｉ）を電源電圧Ｖｄｄｖ２に立ち上げるまでの期間の間、この「Ｖｔ補」の処理を実行する準備処理を実行する。なおこの準備処理を図３では「準備」により示す。
【００５９】
続いて画素回路３６は、書込トランジスタＴｒ２がオフ状態に設定された後、信号線が駆動電圧Ｖｓｉｇに設定されている期間において、所定期間の間、書込トランジスタＴｒ２がオン状態に設定される。なおここで駆動電圧Ｖｓｉｇは対応する画像データＤ１をディジタルアナログ変換処理して得られる電圧Ｖｄａｔａに電圧Ｖｏｆｓを加算した電圧である。これにより画素回路３６は、図３において「書込」により示すように、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの発光輝度が設定される。
【００６０】
画素回路３６は、一定時間経過すると、書込トランジスタＴｒ２がオフ状態に設定される（図３（Ａ））。これにより画素回路３６は、保持容量Ｃｓのゲート側端の電圧を駆動電圧Ｖｓｉｇに保持した状態で、一定時間の間、駆動トランジスタＴｒ１の電流により保持容量Ｃｓの端子間電圧を放電させる。ここでこの保持容量Ｃｓの端子間電圧の放電速度は、駆動トランジスタＴｒ１の移動度が大きい場合程、速くなる。これにより画素回路３６は、図３において「μ補」により示すように、駆動トランジスタＴｒ１の移動度のばらつきを補正する。
【００６１】
画素回路３６は、この移動度の補正に係る書込トランジスタＴｒ２のオフ状態の設定により発光期間が開始し、いわゆるブートストラップ回路により機能して駆動トランジスタＴｒ１のゲート電圧Ｖｇ及びソース電圧Ｖｓが上昇する（図３（Ｅ）及び（Ｆ））。
【００６２】
この画像表示装置では、各画素回路３６で駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきを補正することができる。従ってこれらしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきによる画質劣化を防止することができる。
【００６３】
しかしながらこの画像表示装置では、各画素回路３６において、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの容量Ｃｏｌｅｄを利用して保持容量Ｃｓの端子間電圧を設定して有機ＥＬ素子ＯＬＥＤの階調を設定する。従ってこの画像表示装置では、第１の実施の形態について上述した要因以外に、有機ＥＬ素子ＯＬＥＤのリーク電流、容量Ｃｃｏｌｅｄの変化等によっても異常発光画素が発生することになる。
【００６４】
そこでこの画像表示装置は、第１の実施の形態の画像表示装置と同一に画素輝度調整情報部２４にアドレス及び輝度調整量の情報が格納され、このアドレス及び輝度調整量の情報により異常発光画素の画像データＤ１を補正して異常発光画素の発光輝度を補正する。
【００６５】
この実施の形態では、有機ＥＬ素子の容量を利用して階調を設定する場合でも、さらには駆動トランジスタのしきい値電圧のばらつき、移動度のばらつきを補正する場合でも、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００６６】
＜第３の実施の形態＞
この第３の実施の形態の画像表示装置は、有機ＥＬ素子を定電圧で駆動し、時間変調方式により有機ＥＬ素子の発光時間を可変して階調を表現する。従ってこの実施の形態の画像表示装置の画素回路は、信号線に設定される駆動電圧を保持する保持容量、この保持容量に設定された端子電圧に応じて有機ＥＬ素子の発光時間を制御する制御回路等により構成される。またこの制御回路は、保持容量に設定された端子電圧を一定の速度で低下させる積分回路、保持容量の端子電圧を判定して有機ＥＬ素子の駆動を制御する比較回路等により構成される。
【００６７】
この画像表示装置は、第１の実施の形態の画像表示装置と同一に画素輝度調整情報部にアドレス及び輝度調整量の情報が格納され、このアドレス及び輝度調整量の情報により異常発光画素の画像データを補正する。その結果、この画像表示装置は、正常画素と相違する異常発光画素の発光輝度を、発光時間の可変により補正して異常発光画素の発光輝度を補正する。
【００６８】
この実施例によれば、有機ＥＬ素子を定電圧により駆動して時間変調方式により階調を表現する場合でも、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００６９】
＜第４の実施の形態＞
この第４の実施の形態の画像表示装置は、表示部を構成する全画素について、輝度調整量の情報を画素輝度調整情報部に格納し、これにより異常発光画素の発光輝度を補正すると共に、併せてシェーディングを補正する。この実施の形態の画像表示装置は、この画素輝度調整情報部に係る構成が異なる点を除いて、第１〜第３の実施の形態と同一に構成される。
【００７０】
この実施の形態のように、異常発光画素の発光輝度を補正する構成をシェーディング補正の構成と兼用するようにしても、第１〜第３の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００７１】
＜第５の実施の形態＞
図４は、本発明の第５の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。画像表示装置４１は、画素輝度調整情報部２４、駆動回路２２に代えて、画素輝度調整情報部４４、駆動回路４２が設けられる点を除いて、第１〜第４の実施の形態の画像表示装置と同一に構成される。また駆動回路４２は、輝度調整演算回路２３に代えて輝度調整演算回路４３が設けられる点を除いて、駆動回路２２と同一に構成される。
【００７２】
ここで画素輝度調整情報部４４は、第１の実施の形態と同様にして輝度レベル１００〔％〕及び１０〔％〕でそれぞれ輝度調整量が検出され、異常発光画素毎に、この輝度調整量が記録される。輝度調整演算回路４３は、この画素輝度調整情報部４４に記録された輝度調整量の情報を用いた直線補間により、異常発光画素の階調に対する輝度調整量が求められる。またこの求めた輝度調整量で対応する異常発光画素の発光輝度を補正する。なお直線補間による演算処理に代えて、二次関数を用いた補間演算処理等により輝度調整量を計算する場合等、種々の演算手法を適用することができる。なおこの場合、括弧書により示すように、補間演算処理に供する関数を記録するようにしてもよい。
【００７３】
この実施の形態によれば、複数の階調で求めた輝度調整量を用いた補間処理により異常発光画素の階調に対する輝度調整量を計算して発光輝度を補正することにより、より適切に異常発光画素の発光輝度を補正し、一段と画質劣化を改善することができる。
【００７４】
すなわち異常発光画素は、上述した各種の発生要因により発生する。従って発生要因に応じて補正に要する特性が種々に異なる。その結果、単純に輝度補正量を乗算して補正値を作成したのでは、必ずしも全ての階調、全ての発生要因による異常発光画素について、滅点、輝点の発生を防止できるとは限らない。
【００７５】
しかしながらこの実施の形態のように複数の階調で輝度調整量を検出して記録し、この輝度調整量の補間演算処理により異常発光画素の発光輝度を補正すれば、一段と補正の精度を向上して画質を向上することができる。
【００７６】
＜第６の実施の形態＞
図５は、本発明の第６の実施の形態に係る画像表示装置を示すブロック図である。画像表示装置５１は、画素輝度調整情報部４４、駆動回路４２に代えて、画素輝度調整情報部５４、駆動回路５２が設けられる点を除いて、第５の実施の形態の画像表示装置４１と同一に構成される。また駆動回路５２は、輝度調整演算回路４３に代えて輝度調整演算回路５３が設けられる点を除いて、駆動回路４２と同一に構成される。
【００７７】
この画像表示装置では、第１の実施の形態と同様にして、複数の階調でそれぞれ輝度調整量が検出され、異常発光画素毎に、この輝度調整量の検出結果に基づいて補正に供する特性が分類される。
【００７８】
具体的に、（５）式に示すように、駆動トランジスタＴｒ１のしきい値電圧Ｖｔｈのばらつきによる異常発光画素は、二次関数の特性により補正量を計算することが必要になる。これに対して移動度μのばらつきによる異常発光画素は、一次関数の特性により補正量を計算することが必要になる。画像表示装置５１では、異常発光画素の複数の階調で検出した輝度調整量から、それぞれ補正に供する特性が検出されて分類され、補正モードが設定される。またこの補正モードが、特定発光輝度における輝度調整量の情報と共に画素輝度調整情報部５４に格納される。また各補正モードの補正関数が画素輝度調整情報部５４に格納される。
【００７９】
輝度調整演算回路５３は、画素輝度調整情報部５４に格納された補正モード毎に、対応する補正関数を用いた演算処理により異常発光画素の発光輝度を補正する。
【００８０】
この実施の形態によれば、輝度補正に供する特性を分類して記録し、この分類毎に補正関数を選択して異常発光画素の発光輝度を補正することにより、一段と適切に異常発光画素の発光輝度を補正し、一段と画質劣化を改善することができる。
＜変形例＞
なお上述の実施の形態においては、（３）式及び（４）式の関係式を満足するように異常発光画素の輝度を補正する場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、実用上十分な画質を確保することができる場合には、単に（１）式の関係式を満足するように、または（３）式の関係式を満足するように設定してもよい。
【００８１】
また上述の実施の形態においては、有機ＥＬ素子を用いたアクティブマトリックス型の画像表示装置に本発明を適用する場合について述べた。しかしながら本発明はこれに限らず、有機ＥＬ素子を用いたパッシブマトリックス型の画像表示装置、有機ＥＬ素子以外の発光素子を用いた画像表示装置等にも広く適用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８２】
本発明は、有機ＥＬ素子を用いた画像表示装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】本発明の第１の実施の形態の画像表示装置を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施の形態の画像表示装置に適用される画素回路を示す接続図である。
【図３】図２の画素回路の動作の説明に供するタイムチャートである。
【図４】本発明の第５の実施の形態の画像表示装置を示すブロック図である。
【図５】本発明の第６の実施の形態の画像表示装置を示すブロック図である。
【図６】従来の画像表示装置を示すブロック図である。
【図７】パッシブマトリックス型の画像表示装置を示す接続図である。
【図８】アクティブマトリックス型の画像表示装置を示す接続図である。
【符号の説明】
【００８４】
１、５、１１、２１、４１、５１……画像表示装置、２……表示部、３、２２、４２、５２……駆動回路、１６、３６……画素回路、２３、４３、５３……輝度調整演算回路、２４、４４、５４……画素輝度調整情報部、Ｃｓ……保持容量、Ｔｒ１、Ｔｒ２……トランジスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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