(57)【要約】【課題】検査者の負担を軽減することができ、ひいては検査時間の短縮と誤判定の防止を図る。【解決手段】実装基板検査用治具２０は、部品１１〜１９が実装された実装基板１の検査に用いられる。実装基板検査用治具２０は、実装基板１に実装すべき部品１１〜１９に対応してその部品１１〜１９を露出させるための開口部２１〜２４が形成され実装基板１に被せられる不透明の板状部材を備える。検査者は、実装基板１に実装基板検査用治具２０を被せた状態で、実装基板１を検査する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品が実装された実装基板の検査に用いられる実装基板検査用治具であって、前記実装基板に実装すべき部品に対応してその部品を露出させるための開口部が形成され前記実装基板に被せられる不透明の板状部材を備えたことを特徴とする実装基板検査用治具。
【請求項２】
前記実装すべき部品のうち方向性を有する部品に対応して、前記方向性を示すマークが前記板状部材に付されたことを特徴とする請求項１記載の実装基板検査用治具。
【請求項３】
請求項１又は２記載の実装基板検査用治具を前記実装基板に被せた状態で、前記実装基板を検査することを特徴とする実装基板の検査方法。
【請求項４】
請求項２記載の実装基板検査用治具を前記実装基板に被せた状態で、前記実装基板を検査する実装基板の検査方法であって、
前記マークによって前記方向性を有する部品の前記方向性の適否を判定することを特徴とする実装基板の検査方法。
【請求項５】
前記実装基板検査用治具の前記開口部における部品の有無から、前記実装すべき部品の欠落の有無を判定することを特徴とする請求項３又は４記載の実装基板の検査方法。
【請求項６】
前記実装基板に対する前記板状部材の傾き状態及び／又は浮き状態から、前記実装基板に実装すべきでない部品の実装の有無を判定することを特徴とする請求項３乃至５のいずれかに記載の実装基板の検査方法。
【請求項７】
基板に部品を実装する実装工程と、
前記実装工程により得られた実装基板を、請求項３乃至６のいずれかに記載の検査方法により検査する検査工程と、
を備えたことを特徴とする実装基板の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、部品が実装された実装基板の検査に用いられる実装基板検査用治具、この実装基板検査用治具を用いた実装基板の検査方法、及び、この検査方法を用いた実装基板の製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
実装基板は、部品が実装されたプリント基板である。部品の欠落の有無の判定などの実装基板の検査は、自動検査装置（例えば、下記特許文献１）を用いて行われる場合もある。しかし、設備コスト等を削減するため、実装基板の検査を検査者が目視で行う場合も多い。
【０００３】
実装基板の検査を目視で行う場合、従来は、検査者は実装基板をそのまま目視で行っている。このとき、実装基板に実装すべき部品が欠落しているか否かは、プリント基板に印刷されたシルク印刷文字等で判定している。また、プリント基板に予備のランドが形成されているが当初はその予備のランドに部品を実装しないような場合には、検査者は、その予備のランドに部品が誤って実装されていないことを、その箇所を目視して基板製作指示書等と照合しながら確認している。
【特許文献１】特開平０２−２１２７０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
目視による実装基板の従来の検査では、前述したように、実装基板をそのまま目視して行っている。しかし、実装基板をそのまま見ると、プリント基板上に、小さい部品や大きい部品、シルク印刷、電極のランド等が入り交じって視野に入ってしまうので、検査者にとって非常に見づらい。したがって、従来の目視による実装基板の検査方法では、検査者の負担が非常に大きい。このため、検査者による従来の検査方法では、検査時間の短縮が困難であるとともに、誤判定を招く可能性も少なくなかった。
【０００５】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、自動検査装置を用いるのではなく検査者による実装基板の検査でありながら、検査者の負担を軽減することができ、ひいては検査時間の短縮と誤判定の防止を図ることができる実装基板の検査方法、これに用いられる実装基板検査用治具、及び、前記検査方法を用いた実装基板の製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記課題を解決するための手段として、以下の各態様を提示する。第１の態様による実装基板検査用治具は、部品が実装された実装基板の検査に用いられる実装基板検査用治具であって、前記実装基板に実装すべき部品に対応してその部品を露出させるための開口部が形成され前記実装基板に被せられる不透明の板状部材を備えたものである。
【０００７】
第２の態様による実装基板検査用治具は、前記第１の態様において、前記実装すべき部品のうち方向性を有する部品に対応して、前記方向性を示すマークが前記板状部材に付されたものである。
【０００８】
第３の態様による実装基板の検査方法は、前記第１又は第２の態様による実装基板検査用治具を前記実装基板に被せた状態で、前記実装基板を検査するものである。
【０００９】
第４の態様による実装基板の検査方法は、前記第２の態様による実装基板検査用治具を前記実装基板に被せた状態で、前記実装基板を検査する実装基板の検査方法であって、前記マークによって前記方向性を有する部品の前記方向性の適否を判定するものである。
【００１０】
第５の態様による実装基板の検査方法は、前記第３又は第４の態様において、前記実装基板検査用治具の前記開口部における部品の有無から、前記実装すべき部品の欠落の有無を判定するものである。
【００１１】
第６の態様による実装基板の検査方法は、前記第３乃至第５のいずれかの態様において、前記実装基板に対する前記板状部材の傾き状態及び／又は浮き状態から、前記実装基板に実装すべきでない部品の実装の有無を判定するものである。
【００１２】
第７の態様による実装基板の製造方法は、基板に部品を実装する実装工程と、前記実装工程により得られた実装基板を前記第３乃至第６のいずれかの態様による検査方法により検査する検査工程と、を備えたものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、自動検査装置を用いるのではなく検査者による実装基板の検査でありながら、検査者の負担を軽減することができ、ひいては検査時間の短縮と誤判定の防止を図ることができる実装基板の検査方法、これに用いられる実装基板検査用治具、及び、前記検査方法を用いた実装基板の製造方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明による実装基板検査用治具、実装基板の検査方法、及び実装基板の製造方法について、図面を参照して説明する。
【００１５】
図１は、適切に部品が実装された良品の実装基板１の一例を模式的に示す概略平面図である。実装基板１は、プリント基板２と、プリント基板２に実装された部品（１１〜１９等）とから構成されている。また、図１では、プリント基板２上の部品（１１〜１９等）のみしか図示していない。図１では、プリント基板２上の部品以外の領域に存在するシルク印刷や電極のランドなどの図示は省略している。
【００１６】
図２は、本発明の一実施の形態による実装基板検査用治具２０を模式的に示す概略平面図である。図３は、図２に示す実装基板検査用治具２０を図１に示す実装基板１に被せた状態を模式的に示す概略平面図である。図４は、図３中のＡ−Ａ’線に沿った概略断面図である。
【００１７】
本実施の形態による実装基板検査用治具２０は、図１に示す実装基板１の検査に用いられるものとして構成されている。本実施の形態による実装基板検査用治具２０は、実装基板１に実装すべき部品（１１〜１９等）に対応してその部品（１１〜１９等）を露出させるための開口部（２１〜２４等）が形成された不透明の板状部材からなり、検査時に実装基板１に被せられるものである。板状部材の材質は特に限定されるものではなく、板状部材として、例えば、樹脂板や金属板や厚紙等を用いることができる。
【００１８】
実装基板検査用治具２０の開口部（２１〜２４等）は、実装すべき部品（１１〜１９等）よりも一回り大きく形成されている。開口部（２１〜２４等）は、前述したように実装すべき部品（１１〜１９等）に対応して形成されるが、必ずしも、実装すべき部品（１１〜１９等）と１対１に形成する必要はない。接近した複数の部品に対して１つの開口部を形成してもよい。本実施の形態では、実装基板検査用治具２０には、部品１１に対して１対１に対応する開口部２１が形成され、部品１２に対して１対１に対応する開口部２２が形成され、接近した４つの部品１３〜１６に対して１つの開口部２３が形成され、接近した３つの部品１７〜１８に対して１つの開口部２４が形成されている。
【００１９】
部品１１は、方向性を有する部品の一例としてのＩＣである。この部品１１には、その方向性を示すマークとして、１番ピンを示すマーク１１ａが付されている。本実施の形態による実装基板検査用治具２０では、部品１１に対応した部品１１の配置の方向性を示すマーク３１として、部品１１の１番ピンの位置を示すマークが付されている。図面には示していないが、実装基板１に実装される部品のうち方向性を有する他の部品に関しても、その部品に対応してその配置の方向性を示すマークが、実装基板検査用治具２０に付されている。
【００２０】
なお、方向性を有する部品としては、ＩＣの他に、例えば、極性を有する部品（ダイオード、タンタルコンデンサ、電解コンデンサ等）などを挙げることができる。
【００２１】
次に、本発明の一実施の形態による実装基板製造方法として、図１に示す実装基板１を製造する製造方法について説明する。この製造方法では、まず、周知の実装技術を用いて、プリント基板２に部品（１１〜１９等）を実装する実装工程を行う。次に、実装工程により得られた実装基板１を、図２に示す実装基板検査用治具２０を用いて検査する検査工程を行う。その検査工程の結果として良品であると判定された実装基板１を製品として採用し、本実施の形態による実装基板製造方法を終了する。
【００２２】
ここで、前記検査工程について説明する。この検査工程では、図３及び図４並びに図５及び図６に示すように、実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態で、実装基板１を検査する。
【００２３】
図３及び図４は、実装基板１が良品である場合を示している。図５及び図６も、図３及び図４と同様に図２に示す実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態を示している。しかし、図５及び図６は、図２に示す実装基板検査用治具２０を不良品の実装基板１に被せた状態を示している。図５は、図２に示す実装基板検査用治具２０を不良品の実装基板１に被せた状態を模式的に示す概略平面図であり、図３に対応している。図６は、図５中のＢ−Ｂ’線に沿った概略断面図であり、図４に対応している。
【００２４】
図５及び図６に示す不良品の実装基板１が、図１、図３及び図４に示す良品の実装基板１と異なる所は、部品１６，１９が欠落している点と、プリント基板２の予備のランド（図示せず）に部品４１が誤って実装されている点のみである。
【００２５】
前記検査工程において、検査者は、実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態で、実装基板検査用治具２０の開口部（２１〜２４等）における部品の有無を目視によって確認し、実装すべき部品の欠落の有無を判定する。検査者は、図３の場合は部品の欠落がないと判定する一方、図５の場合は部品１６，１９が欠落していると判定することになる。
【００２６】
このとき、実装基板検査用治具２０が実装基板１に被せられているので、実装すべき部品の領域以外が実装基板検査用治具２０によってマスク（目張り）され、プリント基板２上の実装すべき部品の領域以外の領域に存在するシルク印刷や電極のランドなどがマスクされる。その結果、実装すべき部品の領域（部品の欠落の有無の判定に必要な領域）のみが浮き彫りにされ、実装基板検査用治具２０を被せることなく実装基板１をそのまま目視する場合に比べて、検査者の負担が著しく軽減される。したがって、検査者は、実装基板１をそのまま目視する場合に比べて容易に部品の欠落の有無を判定することができる。
【００２７】
なお、図面には示していないが、実装基板検査用治具２０を実装基板１に対して位置合わせするためのガイド部材等を、必要に応じて設けてもよい。
【００２８】
また、前記検査工程において、検査者は、実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態で、実装基板１に対する実装基板検査用治具２０の傾き状態及び／又は浮き状態を確認し、その傾き状態及び／又は浮き状態から、実装基板１に実装すべきでない部品の実装の有無（すなわち、誤実装部品の有無）を判定する。検査者は、図３及び図４に示す場合は誤実装部品がないと判定する一方、図５及び図６に示す場合は誤実装部品（図５の場合は部品４１）があると判定することになる。
【００２９】
このとき、誤実装部品がなければ、図４に示すように実装基板検査用治具２０がプリント基板２から傾いたり浮き上がったりしない一方、誤実装部品があれば、図６に示すように傾いたり浮き上がったりするので、検査者は容易に誤実装部品の有無を判定することができる。なお、複数の誤実装部品があれば、実装基板検査用治具２０がプリント基板２から平行に浮き上がるような場合もある。
【００３０】
さらに、前記検査工程において、検査者は、実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態で、マーク３１によって、方向性を有する部品１１の配置の方向性が正しいか否かを判定する。
【００３１】
このとき、検査者は、部品１１が浮き彫りにされた状態で、方向性を有する部品１１の配置の方向性をマーク３１によって確認することができるので、方向性を有する部品１１の配置の方向性を容易に確認することができる。
【００３２】
このように、前記検査工程において、検査者は、実装基板検査用治具２０を実装基板１に被せた状態で実装基板１を検査することで、実装基板１をそのまま目視する場合に比べて検査者の負担が著しく軽減される。その結果、検査時間の短縮と誤判定の防止を図ることができる。
【００３３】
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明はこの実施の形態に限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】良品の実装基板の一例を模式的に示す概略平面図である。
【図２】本発明の一実施の形態による実装基板検査用治具を模式的に示す概略平面図である。
【図３】図２に示す実装基板検査用治具を図１に示す実装基板１に被せた状態を模式的に示す概略平面図である。
【図４】図３中のＡ−Ａ’線に沿った概略断面図である。
【図５】図２に示す実装基板検査用治具を不良品の実装基板に被せた状態を模式的に示す概略平面図である。
【図６】図５中のＢ−Ｂ’線に沿った概略断面図である。
【符号の説明】
【００３５】
１  実装基板
２  プリント基板
１１〜１９，４１  部品
２０  実装基板検査用治具
２１〜２４  開口部
３１  マーク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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