(57)【要約】【課題】有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供する。【解決手段】テストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。【選択図】      図３
2010073052.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを記憶する記憶手段と、
操作者によりテスト日を示す情報が入力される操作入力手段と、
前記記憶手段により記憶されている前記ベーシックテストデータの日付関数に、前記操作入力手段により入力されたテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成するテストデータ生成手段と、
前記テストデータ生成手段により生成した前記テストデータを出力する出力手段と、
を具備することを特徴とするテストデータ生成装置。
【請求項２】
日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを記憶する記憶手段と、
操作者によりテスト日の開始日と増分と終了日とを示す情報が入力される操作入力手段と、
前記操作入力手段による入力されたテストの開始日から終了日まで、増分毎に複数のテスト日を決定するテスト日決定手段と、
前記記憶手段により記憶されている前記ベーシックテストデータの日付関数に、前記テスト日決定手段により決定された複数のテスト日を示す情報を代入し、複数のテストデータを生成するテストデータ生成手段と、
前記テストデータ生成手段により生成した前記テストデータを出力する出力手段と、
を具備することを特徴とするテストデータ生成装置。
【請求項３】
日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、
前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、
前記生成した前記テストデータを出力する、
ことを特徴とするテストデータ生成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、駅務機器などの精算プログラムの検査に用いるテストデータを生成するテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、鉄道などの交通機関では、運賃（料金）の自動精算などの駅務処理を行う機能を有する種々の駅務機器が実用化されている。特に、近年では、駅務処理が多様化、複雑化してきており、自動精算機能を実現する駅務機器も高性能化が求められている。  
このような駅務機器の高性能化に伴って処理内容が複雑になり、駅務機器で実行されるプログラムによる処理も複雑になってきている。例えば、上記のようなプログラムの不具合が発見されず運用された場合、大きな問題となる可能性がある。上記のような駅務機器に適用されるプログラムを正確に運用する場合、高精度な検査を行う必要がある。この為、検査に手間とコストとがかかるという問題がある。
【０００３】
この為、実際に改札機により処理されるデータを用いてプログラムが正確な結果を出力するか否かを検証する自動改札機の検証システムが提供されている（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６−２９３９１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記したような自動改札機の検証システムで用いられるテストデータは、従来人手により作成している。例えば、テストデータを作成して検証を行った後、再び検証を行う場合、テストデータ中の日付の情報が過去の日付であるため、正確に検証が行われない場合がある。そこで、正確に検証を行うために、テストデータの日付の情報を手作業で更新する必要があるという問題がある。
【０００５】
本発明の一形態における目的は、有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一実施形態に係るテストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを記憶する記憶手段と、操作者によりテスト日を示す情報が入力される操作入力手段と、前記記憶手段により記憶されている前記ベーシックテストデータの日付関数に、前記操作入力手段により入力されたテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成するテストデータ生成手段と、前記テストデータ生成手段により生成した前記テストデータを出力する出力手段と、を具備する。
【０００７】
また、本発明の一実施形態に係るテストデータ生成装置は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを記憶する記憶手段と、操作者によりテスト日の開始日と増分と終了日とを示す情報が入力される操作入力手段と、前記操作入力手段による入力されたテストの開始日から終了日まで、増分毎に複数のテスト日を決定するテスト日決定手段と、前記記憶手段により記憶されている前記ベーシックテストデータの日付関数に、前記テスト日決定手段により決定された複数のテスト日を示す情報を代入し、複数のテストデータを生成するテストデータ生成手段と、前記テストデータ生成手段により生成した前記テストデータを出力する出力手段と、を具備する。
【０００８】
また、本発明の一実施形態に係るテストデータ生成方法は、日付に関する情報が日付関数により構成されているベーシックテストデータを予め記憶し、前記記憶している前記ベーシックテストデータの日付関数に、操作者により入力されるテスト日を示す情報を代入し、テストデータを生成し、前記生成した前記テストデータを出力する。
【発明の効果】
【０００９】
この発明の一形態によれば、有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図を参照しながら、本発明の一実施形態に係るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法について詳細に説明する。  
図１は、本発明の一実施形態に係るテストデータ生成装置１０（端末装置）が適用された検証システムについて説明する為の概念図である。  
端末装置１０は、例えば、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）などの一般的な構成のコンピュータにより実現される。端末装置１０は、テストデータを生成するものである。端末装置１０は、後述するベーシックテストデータとテストデータ生成プログラムとを記憶している。
【００１１】
端末装置２０は、例えば、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）などの一般的な構成のコンピュータにより実現される。端末装置２０は、入力されたテストデータに基づいて改札機のプログラム（精算プログラム）の検証を行うものである。端末装置２０は、乗車券情報に基づいて精算処理を行う精算プログラムと、この精算プログラムによる処理の結果について検証する検証プログラムとを記憶している。
【００１２】
端末装置１０と端末装置２０とは、例えば、ＬＡＮなどにより接続される。端末装置１０により生成されたテストデータは、ＬＡＮを介して端末装置２０に入力される。端末装置２０は、検証プログラムを実行し、入力されたテストデータに基づいて、精算プログラムが正確な結果を出力するか否かを検証し、テスト結果を出力する。
【００１３】
図２は、端末装置２０に入力されるテストデータと精算プログラムとの関係について説明する為の説明図である。
【００１４】
改札機に用いられる精算プログラムは、例えば、料金改定および新線開業などによりその内容が改訂される。通常改札機には、改訂前の旧精算プログラムと改定後の新精算プログラムとの両方が組み込まれる。改札機は、図２に示すように、乗車券情報を処理する日付に応じて使用する精算プログラムを切り替える。例えば、精算プログラムの改訂日を７／１とした場合、６／３０以前は旧精算プログラムが使用され、７／１以降は新精算プログラムが使用される。
【００１５】
テストデータＡは、旧精算プログラムが使用される日付を乗車日とした乗車券情報の一例である。テストデータＢは、新精算プログラムが使用される日付を乗車日とした乗車券情報の一例である。テストデータＡ及びテストデータＢは、有効開始日、終了日、乗車日、区間、券種、及び入場情報などの情報を有する。
【００１６】
有効開始日は、乗車券が使用可能な期間の開始日を示す情報である。終了日は、乗車券が使用可能な期間の終了日を示す情報である。乗車日は、乗車券が使用される日付を示す情報である。区間は、乗車券により乗車可能な駅を示す情報である。乗換が含まれる場合、経由情報なども含まれる。券種は、乗車券の種類を示す情報である。例えば、学割定期券、または通常の通勤定期券などの情報である。入場情報は、乗車券を処理した改札機が設置されている駅の情報、及び、乗車券が処理された時間などの情報である。
【００１７】
図２に示すように、テストデータＡの乗車日が４／１となっている為、改札機に用いられる精算プログラムを記憶した端末装置２０は、旧精算プログラムによりテストデータＡを処理する。
【００１８】
図２に示すように、テストデータＢの乗車日が７／１となっている為、改札機に用いられる精算プログラムを記憶した端末装置２０は、新精算プログラムによりテストデータＢを処理する。
【００１９】
上記したように、新しく運用される精算プログラムの検証を行う場合、乗車日（テスト日）及び、乗車券の有効期間が、精算プログラム改訂後の日程に対応する必要がある。
【００２０】
図３は、図１に示す端末装置１０の構成例について説明する為のブロック図である。図３に示すように端末装置１０は、ＣＰＵ１１、操作入力部１２、表示部１３、不揮発性メモリ１４、ＲＯＭ１５、ＲＡＭ１６、及びインターフェース１７などを備えている。
【００２１】
ＣＰＵ１１は、端末装置１０の各部の動作を総合的に制御する。ＣＰＵ１１は、ＲＯＭ１５若しくは不揮発性メモリ１４に記憶されているプログラムおよびデータに基づいて動作することにより、種々の処理を行なう。
【００２２】
操作入力部１２は、操作者による操作入力を操作信号として受け取る。即ち、操作入力部１２は、操作入力手段として機能する。操作入力部１２は、例えばキーボードなどの入力装置により構成される。
【００２３】
表示部１３は、ＣＰＵ１１による処理結果を表示する。表示部１３は、例えば、液晶パネルなどの表示装置により構成される。なお、操作入力部１２及び表示部１３は、たとえば、タッチパネル内蔵の表示装置により構成するようにしても良い。
【００２４】
不揮発性メモリ１４は、記憶手段として機能する。不揮発性メモリ１４は、種々の処理を実現するための制御プログラムなどの制御データ、あるいは、処理データなどを記憶する。即ち、不揮発性メモリ１４は、上述したベーシックテストデータ１４ａを記憶する。
【００２５】
ＲＯＭ１５は、制御用のプログラム、及び制御データなどを予め記憶している。ＲＯＭ１５は、上述したテストデータ生成プログラム１５ａを記憶する。
【００２６】
ＲＡＭ１６は、ワーキングメモリとして機能し、ＣＰＵ１１が処理中のデータなどを一時的に記憶する。
【００２７】
インターフェース１７は、例えば、ＬＡＮポートなどにより構成される。インターフェース１７は、端末装置２０とデータの送受信を行なうための送受信手段である。端末装置１０は、生成したテストデータをインターフェース１７を介して端末装置２０に出力する出力手段として機能する。
【００２８】
図４は、不揮発性メモリ１４に記憶されているベーシックテストデータ１４ａの一例について説明する為の説明図である。
【００２９】
ベーシックテストデータ１４ａは、有効開始日、終了日、乗車日、区間、券種、及び入場情報などが対応付けられたテストデータを複数有する。ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日、終了日、及び乗車日などの日付に関する情報には、それぞれ日付関数が置かれている。
【００３０】
図４に示すように、ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日には、「Ｍ３０ＤＡＹ（Ｍｉｎｕｓ  ３０  Ｄａｙ）」という日付関数が置かれている。また、ベーシックテストデータ１４ａの終了日には、「Ｐ６０ＤＡＹ（Ｐｌｕｓ  ６０  Ｄａｙ）」という日付関数が置かれている。またさらに、ベーシックテストデータ１４ａの乗車日には、「０ＤＡＹ」という日付関数が置かれている。
【００３１】
端末装置１０の操作入力部１２により、テスト日が入力された場合、ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日、終了日、及び乗車日の日付関数にそれぞれテスト日の日付が代入される。
【００３２】
例えば、端末装置１０の操作入力部１２により、テスト日として「２００８／０７／０１」が代入された場合、ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日は、「２００８／０７／０１」から３０日前の「２００８／０６／０１」となる。また、テスト日として「２００８／０７／０１」が代入された場合、ベーシックテストデータ１４ａの終了日は「２００８／０７／０１」から６０日後の「２００８／０８／３１」となる。またさらに、テスト日として「２００８／０７／０１」が代入された場合、ベーシックテストデータ１４ａの乗車日は、「２００８／０７／０１」となる。このように、ＣＰＵ１１は、テスト日に対応した日付のテストデータを生成する。
【００３３】
なお、本実施形態では、ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日に「Ｍ３０ＤＡＹ」、終了日に「Ｐ６０ＤＡＹ」という日付関数を置いて説明したが、これに限定されない。日付関数の内容は、有効開始日と終了日との間に乗車日がくるような構成であれば、如何なる内容であってもよい。
【００３４】
このベーシックテストデータ１４ａは、操作者が入力することにより作成してもよいが、既存のテストデータをベーシックテストデータ１４ａに書き換えることも出来る。即ち、既存のテストデータの日付に関する情報を、それぞれ適宜上記したような日付関数に置き換えることにより、テストデータの区間、券種、及び入場情報などの情報を新たに作成する必要がなくなる。
【００３５】
図５は、ＲＯＭ１５に記憶されているテストデータ生成プログラム１５ａについて説明する為の説明図である。
【００３６】
ＣＰＵ１１は、テストデータ生成プログラム１５ａ起動する場合、図５に示すようなテストデータ生成画面を表示部１３に表示する。この場合、ＣＰＵ１１は、不揮発性メモリ１４に記憶されているベーシックテストデータ１４ａを読み出し、テストデータ生成画面に組み込んで表示する。
【００３７】
テストデータ生成画面は、ベーシックテストデータ１４ａと、テスト日に関する入力を受け付けるための複数の項目とを表示する。テストデータ生成画面は、テスト日に関する入力を受け付けるための複数の項目として、テスト日の開始日の入力欄１３１、増分１３２、テスト日の終了日の入力欄１３３、及び実行ボタン１３４を表示する。
【００３８】
ＣＰＵ１１は、入力欄１３１、増分１３２、及び入力欄１３３に入力された内容に基づいて、テストデータを生成する日程（テスト日）を決定する。
【００３９】
例えば、入力欄１３１と入力欄１３３とに同じ日付が入力された場合、ＣＰＵ１１は、入力欄１３１と入力欄１３３とに入力された日付をテスト日としてテストデータを生成する。
【００４０】
また、例えば、入力欄１３１と入力欄１３３とで異なる日付が入力された場合、ＣＰＵ１１は、入力欄１３１に入力された日付から、増分１３２に入力された内容に基づいてテスト日を増分し、入力欄１３３に入力された日付までの複数の日付をテスト日として決定する。即ち、ＣＰＵ１１は、テスト日決定手段として機能する。
【００４１】
増分１３２は、「日」、「月」、「年」、「時」、「分」、「秒」などの増分単位を選択するためのボタンと、増分値の入力欄とを備えている。ＣＰＵ１１は、入力欄１３１に入力された日付に、増分単位で選択された単位を増分値の入力欄に入力された数値だけ加算する。
【００４２】
例えば、入力欄１３１に「２００８／０７／０１」が入力され、入力欄１３３に「２００８／１０／０１」が入力され、増分単位で「月」が選択され、増分値の入力欄に「１」が入力されている場合、ＣＰＵ１１は、「２００８／０７／０１」と、これに１ヶ月加算した「２００８／０８／０１」と、さらに１ヶ月加算した「２００８／０９／０１」と、またさらに１ヶ月加算した「２００８／１０／０１」とをテスト日として決定する。
【００４３】
実行ボタン１３４は、テストデータの生成をＣＰＵ１１に実行させる為のボタンである。実行ボタン１３４が押される場合、ＣＰＵ１１は、各入力欄の入力内容に応じてテスト日を決定し、上記した処理によりテストデータを生成する。即ち、ＣＰＵ１１は、テストデータ生成プログラム１５ａを実行することにより、テストデータ生成手段として機能する。
【００４４】
なお、入力欄１３１、増分１３２、及び入力欄１３３に入力された内容に基づいて、テストデータを生成する日程（テスト日）を決定する構成として説明したが、この構成に限定されない。テストデータ生成画面に１つのテスト日入力欄を表示し、テスト日入力欄の入力内容をテスト日に決定する構成であってもよい。
【００４５】
図６は、生成されたテストデータの一例について説明する為の説明図である。図６に示すテストデータは、「２００８／０７／０１」をテスト日として生成されたテストデータである。
【００４６】
即ち、図６に示すテストデータの有効開始日は、「２００８／０７／０１」から３０日前の「２００８／０６／０１」となる。また、テストデータの終了日は、「２００８／０７／０１」から６０日後の「２００８／０８／３１」となる。
【００４７】
図４は、テストデータが定期乗車券情報のテストデータである場合を想定して説明したが、本発明は、普通乗車券情報にも適用することが出来る。
【００４８】
図７は、不揮発性メモリ１４に記憶されているベーシックテストデータ１４ａの他の例について説明する為の説明図である。ここでは、テストデータが普通乗車券情報のテストデータであると想定する。
【００４９】
ベーシックテストデータ１４ａは、有効開始日、終了日、乗車日、料金情報、券種、及び入場情報などが対応付けられたテストデータを複数有する。ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日、終了日、及び乗車日には、それぞれ日付関数が置かれている。
【００５０】
料金情報は、入場駅から乗車可能な区間に関する情報である。精算プログラムを実行する場合ＣＰＵ１１は、鉄道会社で定められている料金に基づいて料金を算出し、料金情報の金額と比較し、通行の可否を判定する。
【００５１】
図７に示すように、ベーシックテストデータ１４ａの有効開始日、終了日、及び乗車日には、「０ＤＡＹ」という日付関数が置かれている。これは、このテストデータが、テスト日のみ有効なテストデータであることを示す。
【００５２】
図８は、生成されたテストデータの一例について説明する為の説明図である。図６に示すテストデータは、「２００８／０７／０１」をテスト日として生成されたテストデータである。
【００５３】
即ち、図８に示すテストデータの有効開始日、終了日、及び乗車日は、テスト日の「２００８／０７／０１」となる。
【００５４】
図９は、図３に示す端末装置１０のＣＰＵにより実行されるテストデータの生成処理について説明する為のフローチャートである。
【００５５】
まず、ＣＰＵ１１は、ＲＯＭ１５からテストデータ生成プログラム１５ａを読み出し、実行する（ステップＳ１１）。同時に、ＣＰＵ１１は、不揮発性メモリ１４からベーシックテストデータ１４ａを読み出す（ステップＳ１２）。
【００５６】
ＣＰＵは、図５に示すようなテストデータ生成画面を表示部１３に表示する（ステップＳ１３）。なお、テストデータ生成画面には、ベーシックテストデータ１４ａが組み込まれている。
【００５７】
ＣＰＵ１１は、実行ボタン１３４の押下を待つ状態となる（ステップＳ１４）。実行ボタン１３４が押下される場合１（ステップＳ１４、ＹＥＳ）、ＣＰＵ１１は、入力欄１３１に入力された日付をテスト日として決定する。
【００５８】
ＣＰＵ１１は、決定したテスト日をベーシックテストデータ１４ａの日付関数に代入する（ステップＳ１５）。ＣＰＵ１１は、テストデータの有効開始日、終了日、及び乗車日をそれぞれ算出し、テストデータを出力する（ステップＳ１６）。
【００５９】
ＣＰＵ１１は、テスト日の日付と入力欄１３３に入力されている日付とが一致するか否か判定する（ステップＳ１７）。テスト日の日付と入力欄１３３に入力されている日付とが一致する場合（ステップＳ１７、ＹＥＳ）、ＣＰＵ１１は、処理を終了する。
【００６０】
テスト日の日付と入力欄１３３に入力されている日付とが一致しない場合（ステップＳ１７、ＮＯ）、ＣＰＵ１１は、増分１３２に基づいてテスト日に増分を加算し（ステップＳ１８）、ステップＳ１５に移行する。これにより、ＣＰＵ１１は、テストの開始日から終了日まで、増分毎にテスト日を決定する。
【００６１】
上記したように、本実施形態に係るテストデータ生成装置は、日付に関する情報が関数により構成されるベーシックテストデータを予め記憶する。テストデータ生成装置は、入力されるテスト日の日付をベーシックテストデータの日付関数に代入し、テスト日に対応した日付の情報を有するテストデータを生成する。これにより、テストデータの日付に関する情報を有効なものに変換することができる。また、複数の日付のテストデータを管理する必要がなくなり、記憶容量を有効に活用することができる。
【００６２】
この結果として、有効な日付のテストデータを生成することが出来るテストデータ生成装置、及びテストデータ生成方法を提供することができる。
【００６３】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具現化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】図１は、本発明の一実施形態に係るテストデータ生成装置が適用された検証システムについて説明する為の概念図である。
【図２】図２は、端末装置に入力されるテストデータと精算プログラムとの関係について説明する為の説明図である。
【図３】図３は、図１に示す端末装置の構成例について説明する為のブロック図である。
【図４】図４は、不揮発性メモリに記憶されているベーシックテストデータの一例について説明する為の説明図である。
【図５】図５は、ＲＯＭに記憶されているテストデータ生成プログラムについて説明する為の説明図である。
【図６】図６は、生成されたテストデータの一例について説明する為の説明図である。
【図７】図７は、不揮発性メモリに記憶されているベーシックテストデータの他の例について説明する為の説明図である。
【図８】図８は、生成されたテストデータの一例について説明する為の説明図である。
【図９】図９は、図３に示す端末装置のＣＰＵにより実行されるテストデータの生成処理について説明する為のフローチャートである。
【符号の説明】
【００６５】
１０…端末装置、１１…ＣＰＵ、１２…操作入力部、１３…表示部、１４…不揮発性メモリ、１４ａ…ベーシックテストデータ、１５…ＲＯＭ、１５ａ…テストデータ生成プログラム、１６…ＲＡＭ、１７…インターフェース、２０…端末装置。
【図１】
2010073052.tif 000003
【図２】
2010073052.tif 000004
【図３】
2010073052.tif 000005
【図４】
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【図５】
2010073052.tif 000007
【図６】
2010073052.tif 000008
【図７】
2010073052.tif 000009
【図８】
2010073052.tif 000010
【図９】
2010073052.tif 000011