(57)【要約】【課題】ディスクアレイ装置において、できるだけ速やかに故障被疑箇所を発見すること。【解決手段】複数のＩ/Ｆモジュール１１、１６（ホストＩ/Ｆ、ディスクＩ/Ｆ）と、Ｉ/Ｆモジュール間を接続するスイッチモジュール１５とを備えたディスクアレイ装置１であって、スイッチモジュール１５を通じて他のＩ/Ｆモジュール１６に対するライト/リード試験を行う診断試験実行部１１Ｃと、診断試験実行部１１Ｃと試験対象となる他のＩ/Ｆモジュール１６との組が相違する１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと、組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所とを含む複数の診断ルールと、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を選択し、その実行を指示する診断試験制御部１５Ｈとを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のホストインターフェースおよび複数のディスクインターフェースから構成される複数のインターフェースモジュールと、インターフェースモジュール間を接続するスイッチモジュールとを備えたディスクアレイ装置であって、
前記インターフェースモジュールに設けられ、前記スイッチモジュールを通じて他のインターフェースモジュール内のメモリに対するライト/リード試験を行う１以上の診断試験実行手段と、
診断試験を実行する前記診断試験実行手段と試験対象となる前記他のインターフェースモジュールとの組が相違する１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと該組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所との対応関係を示す診断ルールを複数記憶する診断ルール記憶手段と、
前記診断ルール記憶手段に記憶された診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を選択し、該選択したライト/リード試験を実行する前記診断試験実行手段に試験の実行を指示する処理を行う診断試験制御手段とを備えることを特徴とするディスクアレイ装置。
【請求項２】
前記診断試験制御手段は、現在まで実行されたライト/リード試験の試験結果によって組み合わせパターンが既に成立している診断ルールを検出した時点で、当該診断ルールの故障被疑箇所の情報を管理サーバへ通知することを特徴とする請求項１に記載のディスクアレイ装置。
【請求項３】
前記診断試験制御手段は、前記診断ルール記憶手段に記憶された全ての診断ルールの診断結果の組み合わせパターンの成否が判明するまで、前記処理を繰り返すことを特徴とする請求項１または２に記載のディスクアレイ装置。
【請求項４】
前記診断試験実行手段を前記ホストインターフェースに備えることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載のディスクアレイ装置。
【請求項５】
前記診断試験実行手段を前記ディスクインターフェースに備えることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載のディスクアレイ装置。
【請求項６】
前記診断試験制御手段を前記スイッチモジュールに備えることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載のディスクアレイ装置。
【請求項７】
複数のホストインターフェースおよび複数のディスクインターフェースから構成される複数のインターフェースモジュールと、モジュール間を接続するスイッチモジュールと、前記インターフェースモジュールに設けられ、前記スイッチモジュールを通じて他のインターフェースモジュール内のメモリに対するライト/リード試験を行う１以上の診断試験実行手段と、診断試験を実行する前記診断試験実行手段と試験対象となる前記他のインターフェースモジュールとの組が相違する１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと該組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所との対応関係を示す診断ルールを複数記憶する診断ルール記憶手段と、診断試験制御手段とを備えたディスクアレイ装置の試験方法であって、
ａ）前記診断試験制御手段が、前記診断ルール記憶手段に記憶された診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を選択するステップと、
ｂ）前記診断試験制御手段が、前記選択したライト/リード試験を実行する前記診断試験実行手段に試験の実行を指示するステップと、
を含むことを特徴とするディスクアレイ装置の試験方法。
【請求項８】
複数のホストインターフェースおよび複数のディスクインターフェースから構成される複数のインターフェースモジュールと、モジュール間を接続するスイッチモジュールと、前記インターフェースモジュールに設けられ、前記スイッチモジュールを通じて他のインターフェースモジュール内のメモリに対するライト/リード試験を行う１以上の診断試験実行手段と、診断試験を実行する前記診断試験実行手段と試験対象となる前記他のインターフェースモジュールとの組が相違する１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと該組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所との対応関係を示す診断ルールを複数記憶する診断ルール記憶手段とを備えたディスクアレイ装置を構成するコンピュータを、
前記診断ルール記憶手段に記憶された診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を選択し、該選択したライト/リード試験を実行する前記診断試験実行手段に試験の実行を指示する処理を行う診断試験制御手段、
として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、障害診断機能を有するディスクアレイ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般にディスクアレイ装置は、複数のホストＩ/Ｆ（インターフェース）モジュールと、複数のディスクＩ/Ｆモジュールと、これらＩ/Ｆモジュール間を接続するスイッチモジュールとで構成されている。ホストコンピュータからのリクエストは、何れかのホストＩ/Ｆモジュールで受信されて、スイッチモジュールを介して該当するディスクＩ/Ｆモジュールへ伝達される。リクエストがライトの場合、ディスクＩ/Ｆモジュールによってディスクドライブが制御され、データがディスク媒体に書き込まれる。またリクエストがリードの場合、ディスクＩ/Ｆモジュールによってディスクドライブが制御されてデータの読み出しが行われ、スイッチモジュール、ホストＩ/Ｆモジュールを通じてホストコンピュータへデータが送出される。
【０００３】
ディスクアレイ装置は、ＲＡＩＤ構成により複数のハードディスクにデータを分散して保存するため、高い信頼性を有している。さらにディスクアレイ装置は、ハードウェア障害の自動診断機能を備えており、故障の検出、故障個所の切り離しによる縮退運転機能などをサポートしている。
【０００４】
ディスクアレイ装置におけるハードウェア障害の診断方法の一例が特許文献１に記載されている。特許文献１では、各モジュールに搭載されたＭＰＵが、自モジュール内各部の診断、スイッチを介して接続された他モジュール内各部の診断を行っている。
【０００５】
他方、特許文献２（特に図８、図９）には、複数の試験結果の組み合わせから障害箇所を特定する試験方法が記載されている。同様の技術は特許文献３にも見られる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開2005-301565号公報
【特許文献２】特開2006-107080号公報
【特許文献３】特開平10-21016号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ディスクアレイ装置を構成するモジュールに搭載されたＭＰＵが自モジュール内各部の診断を行う場合、その診断結果と診断対象部位の状態とは一致する。つまり、診断結果が故障を示す場合には診断対象部位は故障していることになる。しかし、ＭＰＵがスイッチを介して接続された他モジュールの診断を行う場合、診断結果と診断対象モジュールの状態とは必ずしも一致しない。その理由は、診断対象モジュールに故障が発生していなくても、診断対象モジュールに至る経路上に存在するスイッチモジュールなどに故障が発生していると、診断対象モジュールに故障が発生している場合と同様の診断結果となるためである。換言すれば、スイッチモジュールを介して他モジュールの診断を行う場合、単一の診断結果のみでは故障被疑箇所を絞り込めない。
【０００８】
このような場合、特許文献２、３に記載されるように複数の試験結果を組み合わせれば被疑故障箇所を絞り込むことができる。しかし、特許文献２、３では、試験結果を全て求めてから故障被疑箇所を判定するため、故障被疑箇所を発見するまでに長時間を要するという課題がある。
【０００９】
本発明の目的は、スイッチモジュールを介して診断対象モジュールの試験を行うディスクアレイ装置であって、できるだけ速やかに故障被疑箇所を発見することのできるディスクアレイ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明のディスクアレイ装置は、複数のホストインターフェースおよび複数のディスクインターフェースから構成される複数のインターフェースモジュールと、インターフェースモジュール間を接続するスイッチモジュールとを備えたディスクアレイ装置であって、前記インターフェースモジュールに設けられ、前記スイッチモジュールを通じて他のインターフェースモジュール内のメモリに対するライト/リード試験を行う１以上の診断試験実行手段と、１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと該組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所との対応関係を示す診断ルールを複数記憶する診断ルール記憶手段と、前記診断ルール記憶手段に記憶された診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を選択し、該選択したライト/リード試験を実行する前記診断試験実行手段に試験の実行を指示する処理を行う診断試験制御手段とを備えている。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、スイッチモジュールを介して診断対象モジュールの試験を行う場合に、できるだけ速やかに故障被疑箇所を発見することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明に係わる第１の実施の形態のディスクアレイ装置を表すブロック図
【図２】本発明に係わる第１の実施の形態で使用する診断ルール群を示す図
【図３】本発明のディスクアレイ装置の診断試験の動作を表すフローチャート
【図４】本発明に係わる第２の実施の形態のディスクアレイ装置を表すブロック図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
[構成の説明]
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００１４】
図１を参照すると、本発明の一実施の形態としてのディスクアレイ装置１は、１以上のホストコンピュータ３に接続される複数のホストＩ/Ｆ１１〜１４と、複数のディスクドライブ２０、２１と、１以上のディスクドライブ２１、２２に接続される複数のディスクＩ/Ｆ１６〜１９と、ホストＩ/Ｆ１１〜１４とディスクＩ/Ｆ１６〜１９の間の接続を行うスイッチ（ＳＷ）モジュール１５とで構成されている。
【００１５】
ホストＩ/Ｆ１１は、ホストコンピュータ３とのデータの送受信を受け持つＩ/Ｆ部１１Ｂと、Ｉ/Ｆ部１１Ｂの設定、制御を行うＭＰＵ１１Ａと、データやプログラム等を記憶するメモリ１１Ｄとで構成される。またＭＰＵ１１Ａは、診断試験の一種であるライト/リード試験を実行する診断試験実行部１１Ｃを備えている。診断試験実行部１１Ｃは、例えばメモリ１１Ｄに記憶された診断試験実行プログラムをＭＰＵ１１Ａで実行することにより実現される機能的手段とすることができる。他のホストＩ/Ｆ１２〜１４も、ホストＩ/Ｆ１１と同様の構成を有する。
【００１６】
ディスクＩ/Ｆ１６は、ディスクドライブ２０、２１とのデータの送受信を受け持つＩ/Ｆ部１６Ｂと、Ｉ/Ｆ部１６Ｂの設定、制御を行うＭＰＵ１６Ａと、データやプログラム等を記憶するメモリ１６Ｃとで構成される。
【００１７】
スイッチモジュール１５は、モジュール内部の設定、制御を行うＭＰＵ１５Ａと、複数の診断ルールを記憶するメモリ１５Ｂと、各Ｉ/Ｆ１１〜１４、１６〜１９へのパスの制御を行うスイッチ１５Ｃ、１５Ｄ、１５Ｅ、１５Ｆ、１５Ｇとによって構成される。またＭＰＵ１５Ａは、診断試験の実行を指示し、その結果から故障被疑箇所の判断を行う診断試験制御部１５Ｈを備えている。診断試験制御部１５Ｈは、例えばメモリ１５Ｂに記憶された診断試験制御プログラムをＭＰＵ１６Ａで実行することにより実現される機能的手段とすることができる。
【００１８】
診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに記憶された複数の診断ルールを参照して、次に実行する診断試験の決定、決定した診断試験の実行指示の診断試験実行部１１Ｃへの送出、診断試験実行部１１Ｃからの試験結果の受信、故障被疑箇所の判定などの処理を司る。
【００１９】
メモリ１５Ｂに記憶された診断ルールの一例を図２に示す。図２を参照すると、この例では合計５０個の診断ルールが記憶されている。以下、個々の診断ルールを他の診断ルールと区別する情報として、診断ルールが記述されている行番号を用いることにする。例えば図２の１行目に記載された診断ルールを診断ルール１、２行目に記載された診断ルールを診断ルール２、…、５０行目に記載された診断ルールを診断ルール５０と呼ぶ。
【００２０】
個々の診断ルールは、１以上のライト/リード試験の試験結果の組み合わせパターンと、その組み合わせパターンが成立したときの故障被疑箇所との対応関係を含んでいる。例えば、診断ルール３は、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験の結果が異常を示す「ＮＧ」、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１７へのライト/リード試験の結果が同じく「ＮＧ」、ホストＩ/Ｆ１２からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験の結果が正常を示す「ＧＯＯＤ」、ホストＩ/Ｆ１２からディスクＩ/Ｆ１７へのライト/リード試験の結果が同じく「ＧＯＯＤ」であれば、ホストＩ/Ｆ１１とスイッチ１５Ｃとが故障被疑箇所となることを表している。ここで、異なる診断ルールどうしは、診断試験を実行する診断試験実行手段と試験対象となるＩ/Ｆモジュールとの組が相違している。
【００２１】
[動作の説明]
ディスクアレイ装置１がホストコンピュータ３からのリクエストに応じてディスクドライブ２０、２１にデータを書き込む際の動作、およびディスクドライブ２０、２１に記憶されたデータを読み出してホストコンピュータ３へ送出する際の動作は、一般的なディスクアレイ装置と同様に行われる。すなわち、ホストコンピュータ３からのリクエストは、何れかのホストＩ/Ｆ１１〜１４で受信されて、スイッチモジュール１５を介して該当するディスクＩ/Ｆ１６〜１９へ伝達され、ライトの場合はディスクＩ/Ｆ１６〜１９によってディスクドライブ２０、２１が制御され、データが書き込まれる。またリードの場合は、ディスクＩ/Ｆ１６〜１９によってディスクドライブ２０、２１が制御されてデータの読み出しが行われ、スイッチモジュール１５、ホストＩ/Ｆ１１〜１４を通じてリクエスト要求元のホストコンピュータ３へデータが送出される。
【００２２】
次に、ディスクアレイ装置１における診断試験の動作について説明する。
【００２３】
診断試験制御部１５Ｈは、定期的に、あるいは管理サーバ２から診断試験の開始が指示されたときに、あるいはシステム管理者から診断試験の開始が要求されたときに、図３に示す処理を開始する。
【００２４】
まず診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに記憶された全ての診断ルールをルール集号Ｒに格納する（Ｓ１１）。図２の診断ルール群がメモリ１５Ｂに記憶されている場合、合計５０個の診断ルールがルール集合Ｒに格納される。
【００２５】
次に診断試験制御部１５Ｈは、ルール集合Ｒに含まれる診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を一つ選択する（Ｓ１２）。今の場合、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールは、診断ルール２６、３５〜５０である（何れも未確定の診断結果の個数は２である）。そこで、診断試験制御部１５Ｈは、診断ルール２６、３５〜５０から、その成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を一つ選択する。ここでは、例えば、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験を選択したものとする。
【００２６】
次に診断試験制御部１５Ｈは、上記選択したライト/リード試験を実行するホストＩ/Ｆ１１の診断試験実行部１１Ｃに対して、ディスクＩ/Ｆ１６を試験対象モジュールに指定して試験の実行を指示する（Ｓ１３）。この試験の実行指示は、診断試験制御部１５Ｈから、スイッチ１５Ｅ、スイッチ１５Ｃを通じてホストＩ/Ｆ１１に伝達される。
【００２７】
ホストＩ/Ｆ１１の診断試験実行部１１Ｃは、上記の試験の実行指示をＩ/Ｆ１１Ｂより受信すると、指定された試験対象モジュールであるディスクＩ/Ｆ１６に対してライト/リード試験を実施する。具体的には、診断試験実行部１１Ｃは、Ｉ/Ｆ１１Ｂ、スイッチモジュール１５、Ｉ/Ｆ１６Ｂを通じて、ディスクＩ/Ｆ１６のメモリ１６Ｃの所定のアドレスに所定のデータの書き込みを行った後、書き込んだデータを、Ｉ/Ｆ１６Ｂ、スイッチモジュール１５、Ｉ/Ｆ１１Ｂを通じて読み出し、この読み出したデータが書き込みを行った所定データと一致するか否かを判定する。一致した場合、試験結果は「ＧＯＯＤ」、不一致の場合、試験結果は「ＮＧ」となる。そして、診断試験実行部１１Ｃは、試験結果を診断試験制御部１５Ｈに通知する。今の場合、その試験結果は「ＮＧ」であったとする。
【００２８】
診断試験制御部１５Ｈは、診断試験実行部１１Ｃから送信されてきた試験結果「ＮＧ」を受信し、前記実行指示したライト/リード試験の試験結果としてメモリ１５Ｂに一時的に保存する（Ｓ１４）。
【００２９】
次に診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに保存されている現在までの試験結果によって組み合わせパターンが成立した診断ルールを、ルール集合Ｒから抽出する（Ｓ１５）。今の場合、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験だけで成立する診断ルールは一つも存在しないので、図３のステップＳ１６の判定結果はＮＯとなり、ステップＳ１７をスキップして、ステップＳ１８へ進む。
【００３０】
ステップＳ１８において診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに保存されている現在までの試験結果を参照して、組み合わせパターンが成立する可能性のなくなった診断ルールをルール集合Ｒから取り除く。今の場合、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験の結果が「ＮＧ」であったので、診断ルール５、２３、３９がルール集合から取り除かれる。
【００３１】
次に診断試験制御部１５Ｈは、ルール集合Ｒが空集合か否かを判定し（Ｓ１９）、空集合でなければステップＳ１２に戻り、空集合であれば図３の処理を終了する。今の場合、空集合でないので、ステップＳ１２に戻る。
【００３２】
次に診断試験制御部１５Ｈは、再び、ルール集合Ｒに含まれる診断ルールから、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を一つ選択する（Ｓ１２）。今の場合、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールは、診断ルール３５の１つである。従って診断試験制御部１５Ｈは、診断ルール３５の成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験として、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１７へのライト/リード試験を選択する。
【００３３】
次に診断試験制御部１５Ｈは、上記選択したライト/リード試験を実行するホストＩ/Ｆ１１の診断試験実行部１１Ｃに対して、ディスクＩ/Ｆ１７を試験対象モジュールに指定して試験の実行を指示する（Ｓ１３）。
【００３４】
ホストＩ/Ｆ１１の診断試験実行部１１Ｃは、上記の試験の実行指示をＩ/Ｆ１１Ｂより受信すると、指定された試験対象モジュールであるディスクＩ/Ｆ１７に対してライト/リード試験を実施する。そして、診断試験実行部１１Ｃは、試験結果を診断試験制御部１５Ｈに通知する。今の場合、その試験結果は「ＧＯＯＤ」であったものとする。
【００３５】
診断試験制御部１５Ｈは、診断試験実行部１１Ｃから送信されてきた試験結果「ＧＯＯＤ」を受信し、前記実行指示したライト/リード試験の試験結果としてメモリ１５Ｂに一時的に保存する（Ｓ１４）。
【００３６】
次に診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに保存されている現在までの試験結果によって組み合わせパターンが成立した診断ルールを、ルール集合Ｒから抽出する（Ｓ１５）。今の場合、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１６へのライト/リード試験の試験結果「ＮＧ」と、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１７へのライト/リード試験の試験結果「ＧＯＯＤ」とによって、診断ルール３５の試験結果の組み合わせパターンが成立する。よって、診断試験制御部１５Ｈは、診断ルール３５をルール集合Ｒから取り除き、診断ルール３５の故障被疑箇所に記述されているディスクＩ/Ｆ１６とスイッチ１５Ｆとを故障被疑箇所として管理サーバ２へ通知する（Ｓ１７）。管理サーバ２は、故障被疑箇所の情報を図示しないコンソール画面に表示したり、警報を発したり、ホストコンピュータ３へ異常を通知したりする等、故障発生時に実行すべき処理として予め定められた処理を実行する。
【００３７】
次に診断試験制御部１５Ｈは、メモリ１５Ｂに保存されている現在までの試験結果を参照して、組み合わせパターンが成立する可能性のなくなった診断ルールをルール集合Ｒから取り除く。今の場合、ホストＩ/Ｆ１１からディスクＩ/Ｆ１７へのライト/リード試験の結果が「ＧＯＯＤ」であったので、それに反する試験結果のパターンを持つ診断ルール１、３、１１、１２、１９、２０、３９がルール集合Ｒから新たに取り除かれる。
【００３８】
次に診断試験制御部１５Ｈは、ルール集合Ｒが空集合か否かを判定し（Ｓ１９）、空集合でなければステップＳ１２に戻って、前述した処理と同様の処理を繰り返す。また、ルール集合が空集合であれば、図３の処理を終了する。
【００３９】
このように本実施の形態によれば、スイッチモジュール１５を介して診断対象モジュールの試験を行う場合に、できるだけ速やかに故障被疑箇所を発見することができる。その理由は、メモリ１５Ｂに記憶された診断ルールのうち、成否判定に必要な未確定の診断結果の個数が最も少ない診断ルールを抽出し、この抽出した診断ルールの成否を判定するのに必要な未実行のライト/リード試験を、次に実行する試験として選択しているためである。例えば、図２の診断ルール群の場合、診断試験の数は全部で１６通り存在するため、特許文献２、３のように試験結果を全て求めてから故障被疑箇所を絞り込む場合、１６種類のライト/リード試験の実行が完了するまで故障被疑箇所は１つも判明しないことになる。これに対して本実施の形態によれば、最も早い場合には２種類のライト/リード試験を行った時点で故障被疑箇所を発見することができることになる。
【００４０】
[その他の実施の形態]
以上の実施の形態では、診断試験実行部１１ＣをホストＩ/Ｆに設けたが、診断試験実行部１１ＣをホストＩ/ＦではなくディスクＩ/Ｆに設け、ディスクＩ/Ｆからスイッチモジュール１５を通じてホストＩ/Ｆ内のメモリ１１Ｄに対するライト/リード試験を行う構成としても良い。また、図４に示すように、診断試験実行部１１ＣをホストＩ/Ｆに設けるとともに、ディスクＩ/Ｆに診断試験実行部１６Ｄを設けるようにしても良い。
【００４１】
また以上の実施の形態では、診断試験制御部１５Ｈをスイッチモジュール１５に設けたが、診断試験制御部１５Ｈを、ホストＩ/Ｆ、ディスクＩ/Ｆの何れかに設けるようにしても良いし、管理サーバ２に設けるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００４２】
１…ディスクアレイ装置
２…管理サーバ
３…ホストコンピュータ
１１〜１４…ホストＩ／Ｆ
１５…スイッチモジュール
１６〜１９…ディスクＩ／Ｆ
２０、２１…ディスクドライブ
１１Ａ、１５Ａ、１６Ａ…マイクロプロセッサユニット（ＭＰＵ）
１１Ｂ、１６Ｂ…Ｉ/Ｆ部、
１１Ｃ、１６Ｃ…診断試験実行部、
１５Ｂ、１６Ｃ…メモリ
１５Ｃ、１５Ｄ、１５Ｅ、１５Ｆ、１５Ｇ…スイッチ（ＳＷ）
１５Ｈ…診断試験制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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