(57)【要約】【課題】駆動トランジスタの電気的な特性に起因した発光素子の輝度の誤差を低減する。【解決手段】画素回路ＰXは、電流の供給で発光する発光素子Ｅと、給電線１６と発光素子Ｅとの間に介在する駆動トランジスタＴDRと、駆動トランジスタＴDRをダイオード接続させる制御スイッチＴR1とを含む。第１駆動回路２２は、制御スイッチＴR1を第１測定動作時にオン状態に制御するとともに駆動動作時にオフ状態に制御する。電圧供給回路４２は、第１測定動作時に給電線１６に測定用電位ＶSを供給する。補正値設定部６４は、第１測定動作時における発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRとの間の測定点Ｎ1の電位ＶAと測定用電位ＶSとの差分から補正値ＣAを設定する。階調補正部６２は、補正値ＣAに応じて階調値Ｇ2を補正する。第２駆動回路２４は、補正後の階調値Ｇ3に応じた階調信号Ｘ[j]を駆動動作時に信号線１４に供給する。【選択図】図８
2010160386.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流の供給で発光する発光素子と、
給電線と前記発光素子との間に介在するとともに信号線の階調信号に応じてゲートの電位が設定される駆動トランジスタと、
駆動トランジスタをダイオード接続させる第１制御スイッチと、
前記第１制御スイッチを第１測定動作時にオン状態に制御するとともに駆動動作時にオフ状態に制御する第１駆動回路と、
第１測定動作時に前記給電線に測定用電位を供給する電圧供給回路と、
第１測定動作時における前記発光素子と前記駆動トランジスタとの間の測定点の電位と前記測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定する補正値設定手段と、
前記第１補正値に応じて階調値を補正する階調補正手段と、
前記補正後の階調値に応じた階調信号を駆動動作時に前記信号線に供給する第２駆動回路と
を具備する発光装置。
【請求項２】
利用者が操作する入力装置を具備し、
前記入力装置に対する操作を契機として前記第１測定動作を開始する
請求項１の発光装置。
【請求項３】
前記電圧供給回路は、前記測定用電位を経時的に増加させ、
前記補正値設定手段は、前記駆動トランジスタが導通するまで前記測定用電位を増加させたときの前記測定点の電位と当該測定用電位との差分に応じて前記第１補正値を設定する
請求項１または請求項２の発光装置。
【請求項４】
前記測定点に接続された経路上に配置された第２制御スイッチを具備し、
前記第１駆動回路は、前記第２制御スイッチを第１測定動作時にオン状態に制御するとともに駆動動作時にオフ状態に制御し、
前記補正値設定手段は、第１測定動作時に前記第２制御スイッチを介して電圧出力点に供給される電位と前記測定用電位との差分に応じて前記第１補正値を設定する
請求項１から請求項３の何れかの発光装置。
【請求項５】
第１測定動作時に前記信号線を前記電圧出力点に接続するとともに駆動動作時に前記信号線を前記第２駆動回路に接続する切替部を具備し、
前記第２制御スイッチは、前記信号線と前記測定点との間に介在する
請求項４の発光装置。
【請求項６】
第２測定動作時に前記第２制御スイッチを介して前記発光素子に測定用電流を供給する定電流源を具備し、
前記補正値設定手段は、第２測定動作時の前記電圧出力点の電位に応じて第２補正値を設定し、
前記階調補正手段は、前記第１補正値および前記第２補正値に応じて階調値を補正する
請求項４または請求項５の発光装置。
【請求項７】
前記発光素子と前記駆動トランジスタと前記第１制御スイッチとを各々が含む複数の画素回路と、
前記複数の画素回路の各々における測定点を第１測定動作時に時分割で前記電圧出力点に導通させる時分割制御部と
を具備する請求項１から請求項６の何れかの発光装置。
【請求項８】
前記発光素子と前記駆動トランジスタと前記第１制御スイッチとを各々が含む複数の画素回路と、
前記定電流源が生成する測定用電流を前記第２測定動作時に前記複数の画素回路の各々の発光素子に時分割で供給する時分割制御部と
を具備する請求項６の発光装置。
【請求項９】
請求項１から請求項８の何れかの発光装置を具備する電子機器。
【請求項１０】
電流の供給で発光する発光素子と、給電線と前記発光素子との間に介在するとともに信号線の階調信号に応じてゲートの電位が設定される駆動トランジスタとを具備する発光装置の制御方法であって、
第１測定動作時に、前記駆動トランジスタをダイオード接続するとともに前記給電線に測定用電位を供給したうえで、前記発光素子と前記駆動トランジスタとの間の測定点の電位と前記測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定し、
駆動動作時に、前記第１補正値で補正された階調値に応じた階調信号を前記信号線に供給する
発光装置の制御方法。
【請求項１１】
第２測定動作時に、前記発光素子に測定用電流を供給したときの前記測定点の電位に応じて第２補正値を設定し、
駆動動作時に、前記第１補正値および前記第２補正値で補正された階調値に応じた階調信号を前記信号線に供給する
請求項１０の発光装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光装置を制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬ素子などの発光素子を利用した発光装置においては、発光素子の電気的な特性の誤差（目標値からの相違や各素子間のバラツキ）が問題となる。特許文献１には、所定の電流を供給したときの発光素子の電圧（陽極の電圧）を測定し、発光素子の駆動に利用される電源電位を測定の結果に応じて調整する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−２２９５１３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、特許文献１の技術においては発光素子の電圧が測定されるに過ぎないから、例えば駆動トランジスタ（発光素子に供給される電流の制御のために発光素子に直列に接続されたトランジスタ）の電気的な特性に誤差がある場合、発光素子の輝度を高精度に制御することは困難であり、階調斑（ムラ）の原因となる。以上の事情を考慮して、本発明は、駆動トランジスタの電気的な特性に起因した発光素子の輝度の誤差を低減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
以上の課題を解決するために、本発明に係る発光装置は、電流の供給で発光する発光素子と、給電線と発光素子との間に介在するとともに信号線の階調信号に応じてゲートの電位が設定される駆動トランジスタと、駆動トランジスタをダイオード接続させる第１制御スイッチと、第１制御スイッチを第１測定動作時にオン状態に制御するとともに駆動動作時にオフ状態に制御する第１駆動回路と、第１測定動作時に給電線に測定用電位を供給する電圧供給回路と、第１測定動作時における発光素子と駆動トランジスタとの間の測定点の電圧と測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定する補正値設定手段と、第１補正値に応じて階調値を補正する階調補正手段と、補正後の階調値に応じた階調信号を駆動動作時に信号線に供給する第２駆動回路とを具備する。以上の構成においては、測定用電位の供給時における測定点の電位と測定用電位との差分（すなわち駆動トランジスタの閾値電圧）に応じて第１補正値が設定されるから、駆動トランジスタの閾値電圧に起因した発光素子の輝度の誤差を低減することが可能である。
【０００５】
本発明の好適な態様において、利用者が操作する入力装置を具備し、入力装置に対する操作を契機として第１測定動作を開始する。以上の態様においては、入力装置に対する操作を契機として第１測定動作が実行されるから、発光装置の電源の投入の直後や発光装置の動作の停止の直前に第１測定動作を実行する場合と比較して、発光装置の電源の投入から実際に駆動動作が開始されるまでの時間や、発光装置の停止が指示されてから実際に動作が停止するまでの時間が短縮されるという利点がある。
【０００６】
本発明の好適な態様において、電圧供給回路は、測定用電位を経時的に増加させ、補正値設定手段は、駆動トランジスタが導通するまで測定用電位を増加させたときの測定点の電位と当該測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定する。以上の構成によれば、測定用電位を駆動トランジスタが導通する電位に固定する場合と比較して、測定用電位を必要以上に上昇させる必要がないという利点がある。
【０００７】
本発明の好適な態様において、測定点に接続された経路上に配置された第２制御スイッチを具備し、第１駆動回路は、第２制御スイッチを第１測定動作時にオン状態に制御するとともに駆動動作時にオフ状態に制御し、補正値設定手段は、第１測定動作時に第２制御スイッチを介して電圧出力点に供給される電位と測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定する。さらに好適には、第１測定動作時に信号線を電圧出力点に接続するとともに駆動動作時に信号線を第２駆動回路に接続する切替部（例えば図３の切替部３６）を具備し、第２制御スイッチは、信号線と測定点との間に介在する。以上の態様によれば、第１測定動作時における測定点の電位の伝達に信号線が流用されるから、階調信号の供給と測定点の電位の伝達とに別個の配線を利用する構成と比較して、発光装置の構成が簡素化されるという利点がある。
【０００８】
本発明の好適な態様において、第２測定動作時に第２制御スイッチを介して発光素子に測定用電流を供給する定電流源を具備し、補正値設定手段は、第２測定動作時の電圧出力点の電位に応じて第２補正値を設定し、階調補正手段は、第１補正値および第２補正値に応じて階調値を補正する。以上の態様においては、発光素子に測定用電流を供給したときの測定点の電位（例えば発光素子の両端間の電圧）に応じて第１補正値が設定されるから、発光素子の電気的な特性に起因した輝度の誤差も低減することが可能である。
【０００９】
本発明の好適な態様に係る発光装置は、発光素子と駆動トランジスタと第１制御スイッチとを各々が含む複数の画素回路と、複数の画素回路の各々における測定点を第１測定動作時に時分割で電圧出力点に導通させる時分割制御部とを具備する。以上の態様においては、複数の画素回路の各々の測定点の電位が時分割で電圧出力点に供給されるから、測定点の電位を取得するための要素（例えばＡ/Ｄ変換器）を画素回路毎（列毎）に設置する場合と比較して発光装置の構成が簡素化されるという利点がある。
【００１０】
本発明の好適な態様に係る発光装置は、発光素子と駆動トランジスタと第１制御スイッチとを各々が含む複数の画素回路と、定電流源が生成する測定用電流を第２測定動作時に複数の画素回路の各々の発光素子に時分割で供給する時分割制御部とを具備する。以上の態様においては、複数の画素回路の各々の発光素子に時分割で測定用電流が供給されるから、定電流源を画素回路毎（列毎）に設置する場合と比較して発光装置の構成が簡素化されるという利点がある。
【００１１】
本発明に係る発光装置は各種の電子機器に利用される。電子機器の典型例は、発光装置を表示装置として利用した機器である。本発明に係る電子機器としてはパーソナルコンピュータや携帯電話機が例示される。もっとも、本発明に係る発光装置の用途は画像の表示に限定されない。例えば、光線の照射によって感光体ドラムなどの像担持体に潜像を形成するための露光装置（露光ヘッド）としても本発明の発光装置が適用される。
【００１２】
また、本発明は、発光装置を制御する方法としても特定される。本発明に係る制御方法は、電流の供給で発光する発光素子と、給電線と発光素子との間に介在するとともに信号線の階調信号に応じてゲートの電位が設定される駆動トランジスタとを具備する発光装置の制御方法であって、第１測定動作時に、駆動トランジスタをダイオード接続するとともに給電線に測定用電位を供給したうえで、発光素子と駆動トランジスタとの間の測定点の電位と測定用電位との差分に応じて第１補正値を設定し、駆動動作時に、第１補正値で補正された階調値に応じた階調信号を信号線に供給する。以上の制御方法によれば、本発明の発光装置と同様の効果が実現される。さらに好適には、第２測定動作時に、発光素子に測定用電流を供給したときの測定点の電位に応じて第２補正値を設定し、駆動動作時に、第１補正値および第２補正値で補正された階調値に応じた階調信号を信号線に供給する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る発光装置のブロック図である。発光装置１００は、画像を表示する表示装置として電子機器に搭載される。図１に示すように、発光装置１００は、複数の画素回路ＰXが配列された素子部（表示領域）１０と、各画素回路ＰXを駆動する第１駆動回路（走査線駆動回路）２２および第２駆動回路（信号線駆動回路）２４と、第１駆動回路２２および第２駆動回路２４を制御する制御回路４０と、利用者が操作する入力装置７０とを具備する。
【００１４】
素子部１０には、Ｘ方向に延在するＭ本の走査線１２と、Ｘ方向に交差するＹ方向に延在するＮ本の信号線１４とが形成される（ＭおよびＮは自然数）。各画素回路ＰXは、走査線１２と信号線１４との各交差に対応して配置される。したがって、複数の画素回路ＰXは、Ｘ方向およびＹ方向に沿ってＭ行×Ｎ列の行列状に配列する。
【００１５】
図２は、画素回路ＰXの回路図である。図２においては、第ｉ行（ｉ＝１〜Ｍ）の第ｊ列（ｊ＝１〜Ｎ）に位置する１個の画素回路ＰXが代表的に図示されている。図２に示すように、画素回路ＰXは、発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRと選択スイッチＴSLと制御スイッチＴR1と制御スイッチＴR2と保持容量Ｃ0とを含んで構成される。なお、図２に図示された各トランジスタの導電型は任意に変更される。
【００１６】
発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRとは給電線１６と給電線１８（接地線）との間に直列に配置される。給電線１６は、素子部１０内の複数の画素回路ＰXにわたって連続する配線である。給電線１８には接地電位ＶLが供給される。
【００１７】
発光素子Ｅは、相対向する陽極と陰極との間に有機ＥＬ材料の発光層を介在させた有機ＥＬ素子である。発光素子Ｅの陰極は給電線１８に接続される。発光素子Ｅは、供給電流の電流量に応じた輝度で発光する。駆動トランジスタＴDRは、発光素子Ｅに供給される電流の電流量を自身のゲートの電位に応じて可変に制御するＮチャネル型のトランジスタ（例えば薄膜トランジスタ）である。駆動トランジスタＴDRのドレインは給電線１６に接続され、ソースは発光素子Ｅの陽極に接続される。
【００１８】
保持容量Ｃ0は、駆動トランジスタＴDRのゲートと給電線１６（または他の定電位線）との間に介在して駆動トランジスタＴDRのゲートの電位を保持する。選択スイッチＴSLは、信号線１４と駆動トランジスタＴDRのゲートとの間に介在して両者の電気的な接続（導通／非導通）を制御するＮチャネル型のトランジスタである。第ｉ行の各画素回路ＰXにおける選択スイッチＴSLのゲートは第ｉ行の走査線１２に接続される。
【００１９】
制御スイッチＴR1は、駆動トランジスタＴDRのゲートとドレイン（給電線１６）との間に介在して両者の電気的な接続を制御するＮチャネル型のトランジスタである。制御スイッチＴR1がオン状態に遷移すると駆動トランジスタＴDRのゲートとドレインとが接続（ダイオード接続）され、制御スイッチＴR1がオフ状態に遷移すると駆動トランジスタＴDRのダイオード接続が解除される。制御スイッチＴR2は、発光素子Ｅと駆動トランジスタＴDRとの間のノード（以下「測定点」という）Ｎ1と信号線１４との間に介在して両者の電気的な接続を制御する。
【００２０】
図２に示すように、素子部１０には走査線１２とともにＸ方向に延在するＭ本の制御線１３１とＭ本の制御線１３２とが形成される。第ｉ行の各制御スイッチＴR1のゲートは第ｉ行の制御線１３１に接続され、第ｉ行の各制御スイッチＴR2のゲートは第ｉ行の制御線１３２に接続される。
【００２１】
図１の第１駆動回路２２は、Ｍ本の走査線１２の各々に走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]を供給する。また、第１駆動回路２２は、Ｍ本の制御線１３１の各々に制御信号Ｚ1[1]〜Ｚ1[M]を供給し、Ｍ本の制御線１３２の各々に制御信号Ｚ2[1]〜Ｚ2[M]を供給する。なお、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]と制御信号Ｚ1[1]〜Ｚ1[M]と制御信号Ｚ2[1]〜Ｚ2[M]とを別個の回路が生成する構成も採用される。
【００２２】
図３は、第２駆動回路２４および制御回路４０の詳細なブロック図である。図３に示すように、第２駆動回路２４は、各信号線１４に対応するＮ個の単位回路Ｕ[1]〜Ｕ[N]を具備する。単位回路Ｕ[1]〜Ｕ[N]の各々は、駆動用回路３２と測定用回路３４と切替部３６とを含んで構成される。もっとも、駆動用回路３２と測定用回路３４とが単一の回路を構成する必要はない。例えば、各単位回路Ｕ[j]の測定用回路３４を制御回路４０内に搭載した構成も採用される。
【００２３】
第ｊ列の単位回路Ｕ[j]の駆動用回路３２は、階調信号Ｘ[j]を生成して第ｊ列の信号線１４に出力する。階調信号Ｘ[j]は、第ｊ列の各画素回路ＰXの階調値Ｇ3を時分割で順次に指定する電圧信号である。階調値Ｇ3は制御回路４０から順次に指示される。階調値Ｇ3をアナログの階調信号Ｘ[j]に変換するＤ/Ａ変換器が駆動用回路３２として採用される。
【００２４】
単位回路Ｕ[j]の測定用回路３４は、第ｊ列の各画素回路ＰXにおける測定点Ｎ1の電位の測定に利用される。図３に示すように、測定用回路３４は、Ａ/Ｄ変換器３４２と定電流源３４４とスイッチ３４６とを含んで構成される。Ａ/Ｄ変換器３４２は、電圧出力点Ｎ2の電位（アナログ）をデジタルの数値に変換する。定電流源３４４は、所定の電流量の電流（以下「測定用電流」という）ＩSを生成する電流源である。スイッチ３４６は、電圧出力点Ｎ2と定電流源３４４との間に介在する。単位回路Ｕ[j]の切替部３６は、駆動用回路３２の出力端と測定用回路３４の電圧出力点Ｎ2との何れかを第ｊ列の信号線１４に対して選択的に接続するスイッチである。
【００２５】
制御回路４０は、発光装置１００の全体を制御する。例えば、制御回路４０は、各画素回路ＰXの駆動に使用される信号（例えば、水平走査期間や垂直走査期間を規定する同期信号）を第１駆動回路２２および第２駆動回路２４に供給する。図３に示すように、制御回路４０は、電圧供給回路４２とガンマ補正部５２と記憶回路５４と階調補正部６２と補正値設定部６４と動作制御部６６とを含んで構成される。
【００２６】
電圧供給回路４２は、給電線１６の電位を制御する。図３に示すように、電圧供給回路４２は、第１電圧生成部４４と第２電圧生成部４６と切替部４８とを含んで構成される。第１電圧生成部４４は、所定の駆動電源電位ＶHを生成する電源回路（例えばＤＣ-ＤＣコンバータ）である。第２電圧生成部４６は、経時的に変化する測定用電位ＶSを生成する。切替部４８は、第１電圧生成部４４が生成する駆動電源電位ＶHと第２電圧生成部４６が生成する測定用電位ＶSとの何れかを選択的に給電線１６に供給するスイッチである。
【００２７】
図３に示すように、第２電圧生成部４６は、電位調整部４６１とＤ/Ａ変換器４６２と増幅器４６３とを含んで構成される。電位調整部４６１は、測定用電位ＶSのレベル（デジタル値）を指示する。Ｄ/Ａ変換器４６２は、電位調整部４６１が指示するレベルに対応した電位を生成する。Ｄ/Ａ変換器４６２が出力する電位を増幅器４６３が増幅することで測定用電位ＶSが生成される。
【００２８】
制御回路４０には、各画素回路ＰXの発光素子Ｅの輝度（階調）を指定する階調値Ｇ1が上位装置から時分割で順次に供給される。ガンマ補正部５２は、各階調値Ｇ1にガンマ特性を付与することで階調値Ｇ2を生成する。記憶回路５４は、補正値ＣAと補正値ＣBとを画素回路ＰX毎に記憶する。補正値ＣAは、画素回路ＰXにおける駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHの誤差を補償するための数値である。他方、補正値ＣBは、画素回路ＰXにおける発光素子Ｅの電流−電圧特性の誤差（初期的な誤差や経時的な変化）を補償するための数値である。
【００２９】
階調補正部６２は、各画素回路ＰXの階調値Ｇ2を当該画素回路ＰXの補正値ＣAと補正値ＣBとに応じて補正することで階調値Ｇ3を生成する。具体的には、階調補正部６２は、階調値Ｇ2と補正値ＣAと補正値ＣBとの加算値を補正後の階調値Ｇ3として算定する（Ｇ3＝Ｇ2＋ＣA＋ＣB）。補正値設定部６４は、補正値ＣAと補正値ＣBとを画素回路ＰX毎に設定する。補正値設定部６４の動作の詳細は後述する。動作制御部６６は、切替部３６や切替部４８を制御する。
【００３０】
図４は、発光装置１００の動作のフローチャートである。図４に示すように、発光装置１００の電源が投入されると駆動動作が実行される（ステップＳ1）。駆動動作は、階調値Ｇ1で指示される画像を素子部１０に表示する動作であり、利用者が入力装置７０に所定の操作（例えばメニューボタンの押下）を付与するまで反復される（ステップＳ2：NO）。入力装置７０が操作されると（ステップＳ2：YES）、動作制御部６６は、補正値の更新が利用者から指示されたか否かを判定する（ステップＳ3）。補正値の更新以外の処理が指示された場合、利用者から指示された処理（例えば輝度の調整）が実行さたうえで（ステップＳ4）、駆動動作が再開される。
【００３１】
補正値の更新が指示されると、制御回路４０は、第１測定動作（ステップＳ5）と第２測定動作（ステップＳ6）とを各画素回路ＰXについて順次に実行する。第１測定動作は、各画素回路ＰXにおける駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHを測定するとともに測定の結果に応じて当該画素回路ＰXの補正値ＣAを設定する処理である。第２測定動作は、各画素回路ＰXにおける発光素子Ｅの劣化の度合を測定するとともに測定の結果に応じて当該画素回路ＰXの補正値ＣBを設定する処理である。第１測定動作と第２測定動作とが完了すると駆動動作が再開される。
【００３２】
駆動動作（ステップＳ1）と第１測定動作（ステップＳ5）と第２測定動作（ステップＳ6）との詳細を以下に説明する。なお、以下では第ｉ行の第ｊ列に位置する画素回路ＰXに着目して動作を説明するが、素子部１０内の各画素回路ＰXについて同様の動作が順次に反復される。
【００３３】
（１）駆動動作（図５，図６）  
駆動動作が開始すると、動作制御部６６は、図５に示すように、信号線１４が駆動用回路３２に導通するように切替部３６を制御するとともにスイッチ３４６をオフ状態に制御する。また、動作制御部６６は、給電線１６が第１電圧生成部４４に導通するように切替部４８を制御する。したがって、給電線１６には駆動電源電位ＶHが供給される。階調補正部６２は、ガンマ補正部５２による処理後の階調値Ｇ2を補正値ＣAと補正値ＣBとに応じて補正した階調値Ｇ3を各単位回路Ｕ[j]の駆動用回路３２に順次に供給する。
【００３４】
図６に示すように、第１駆動回路２２は、制御信号Ｚ1[1]〜Ｚ1[M]と制御信号Ｚ2[1]〜Ｚ2[M]とを非アクティブレベルに維持したまま、走査信号Ｙ[1]〜Ｙ[M]を単位期間Ｈ毎に順番にアクティブレベルに設定する。したがって、図５に示すように、各画素回路ＰXの制御スイッチＴR1および制御スイッチＴR2がオフ状態に維持されたまま、第ｉ行の各画素回路ＰXの選択スイッチＴSLが行単位で順番にオン状態に変化する。
【００３５】
他方、単位回路Ｕ[j]の駆動用回路３２は、階調値Ｇ3に応じた階調信号Ｘ[j]を信号線１４に出力する。階調信号Ｘ[j]は、第ｉ行の選択スイッチＴSLを経由して駆動トランジスタＴDRのゲートに印加されるとともに保持容量Ｃ0に保持される。したがって、階調信号Ｘ[j]の電圧（階調値Ｇ3）に応じた電流量の駆動電流が給電線１６から駆動トランジスタＴDRを経由して発光素子Ｅに供給される。駆動電流の供給で発光素子Ｅは階調値Ｇ3に応じた輝度で発光する。発光素子Ｅの発光は、次回に走査信号Ｙ[i]がアクティブレベルとなる単位期間Ｈの開始まで維持される。
【００３６】
（２）第１測定動作
第１測定動作は第１測定期間Ｈ1毎に行単位で順次に実行される。第ｉ行の各画素回路ＰXについて第１測定動作が実行される第１測定期間Ｈ1（第ｉ番目）の具体的な動作を以下に説明する。
【００３７】
第１駆動回路２２は、図７に示すように、制御信号Ｚ1[i]と制御信号Ｚ2[i]とをアクティブレベルに設定する。したがって、図８に示すように、第ｉ行の各画素回路ＰXにおける制御スイッチＴR1と制御スイッチＴR2とがオン状態に制御される。すなわち、駆動トランジスタＴDRがダイオード接続されるとともに測定点Ｎ1が信号線１４に導通する。他方、制御信号Ｙ[i]が非アクティブレベルに設定されることで選択スイッチＴSLはオフ状態に維持される。
【００３８】
動作制御部６６は、図８に示すように、信号線１４が測定用回路３４に導通するように切替部３６を制御するとともにスイッチ３４６をオフ状態に維持する。したがって、第ｉ行の画素回路ＰXの測定点Ｎ1は、制御スイッチＴR2と信号線１４と切替部３６とを介して電圧出力点Ｎ2（Ａ/Ｄ変換器３４２の入力端）に導通する。
【００３９】
また、動作制御部６６は、給電線１６が第２電圧生成部４６に導通するように切替部４８を制御する。したがって、給電線１６には測定用電位ＶSが供給される。第２電圧生成部４６は、測定用電位ＶSを経時的に増加させる。具体的には、電位調整部４６１は、Ｄ/Ａ変換器４６２に出力する数値（電圧値）をゼロから所定値ずつ増加させる。したがって、第２電圧生成部４６から給電線１６に供給される測定用電位ＶSは、図９に示すようにゼロから段階的に増加する。画素回路ＰXの駆動トランジスタＴDRはダイオード接続されているから、駆動トランジスタＴDRのドレイン−ソース間（ゲート−ソース間）の電圧が自身の閾値電圧ＶTHを上回る程度に給電線１６の測定用電位ＶSが上昇した時点で駆動トランジスタＴDRはオン状態に変化する。
【００４０】
図９に示すように、駆動トランジスタＴDRがオン状態に変化すると、測定点Ｎ1（発光素子Ｅの陽極）の電位ＶAは測定用電位ＶSとともに増加する。測定点Ｎ1の電位ＶAは、制御スイッチＴR2と信号線１４と切替部３６とを経由して電圧出力点Ｎ2に供給される。図８に示すように、Ａ/Ｄ変換器３４２による変換後の電位ＶAが、単位回路Ｕ[1]〜Ｕ[N]の各々の測定用回路３４から順次に補正値設定部６４に供給される。なお、測定点Ｎ1と電圧出力点Ｎ2との間の電圧降下は便宜的に無視した。
【００４１】
図９から理解されるように、駆動トランジスタＴDRがオン状態に遷移した状態では、測定用電位ＶSと測定点Ｎ1の電位ＶAとの差分が駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHに相当する。補正値設定部６４は、測定用電位ＶSから測定点Ｎ1の電位ＶAを減算することで閾値電圧ＶTHを算定し、閾値電圧ＶTHに応じて補正値ＣAを設定する。例えば、閾値電圧ＶTHを補正値ＣAとする構成や、閾値電圧ＶTHを利用した所定の演算で補正値ＣAを算定する構成が採用される。補正値設定部６４が各画素回路ＰXについて算定した補正値ＣAは記憶回路５４に格納される。
【００４２】
補正値ＣAは以上のように設定されるから、補正前の階調値Ｇ2が共通する場合でも、駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHが大きいほど補正後の階調値Ｇ3は大きい数値となる。すなわち、閾値電圧ＶTHが大きいほど階調信号Ｘ[j]は高い電圧に設定される。したがって、駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHに起因した発光素子Ｅの輝度（駆動電流の電流量）の誤差は低減される。
【００４３】
（２）第２測定動作  
第２測定動作は、初期化動作とともに行単位で第２測定期間Ｈ2毎に順次に実行される。初期化動作は、各画素回路ＰXの駆動トランジスタＴDRをオフ状態に制御するための動作であり、図１０に示すように、第２測定期間Ｈ2の直前の初期化期間ＨRにて実行される。第ｉ行の各画素回路ＰXについて初期化動作が実行される第ｉ番目の初期化期間ＨRと第ｉ行の各画素回路ＰXについて第２測定動作が実行される第２測定期間Ｈ2とにおける具体的な動作を以下に説明する。
【００４４】
第ｉ番目の初期化期間ＨRにおいて、動作制御部６６は、駆動動作時と同様に、信号線１４が駆動用回路３２に導通するように切替部３６を制御するとともにスイッチ３４６をオフ状態に制御する。また、動作制御部６６は、駆動電源電位ＶHが給電線１６に供給されるように切替部４８を制御する。また、第１駆動回路２２は、図１０に示すように、走査信号Ｙ[i]をアクティブレベルに設定することで第ｉ行の各選択スイッチＴSLをオン状態に制御する。制御信号Ｚ1[i]および制御信号Ｚ2[i]は非アクティブレベルに維持される。
【００４５】
以上の状態において、駆動用回路３２は、駆動トランジスタＴDRをオフ状態に制御するオフ電位（低電位）を信号線１４に出力する。オフ電位は、駆動用回路３２から切替部３６と信号線１４と選択スイッチＴSLとを介して第ｉ行の駆動トランジスタＴDRのゲートに供給される。したがって、初期化期間ＨRにて第ｉ行の各駆動トランジスタＴDRはオフ状態に制御される。
【００４６】
第ｉ番目の第２測定期間Ｈ2において、動作制御部６６は、図１１に示すように、信号線１４が測定用回路３４に導通するように切替部３６を制御するとともにスイッチ３４６をオン状態に制御する。また、第１駆動回路２２は、図１０に示すように、走査信号Ｙ[i]および制御信号Ｚ1[i]を非アクティブレベルに維持するとともに、制御信号Ｚ2[i]をアクティブレベルに設定することで第ｉ行の各制御スイッチＴR2をオン状態に制御する。以上の状態において、第ｉ行の各画素回路ＰXにおける測定点Ｎ1は、図１１に示すように、制御スイッチＴR2と信号線１４と切替部３６とスイッチ３４６とを介して定電流源３４４に導通する。したがって、定電流源３４４が生成した測定用電流ＩSは、スイッチ３４６と切替部３６と信号線１４と制御スイッチＴR2とを経由して発光素子Ｅに供給される。なお、切替部４８は駆動電源電位ＶHを給電線１６に供給する。
【００４７】
発光素子Ｅに測定用電流ＩSが流れると、測定用電流ＩSの電流量に応じた電位ＶBが測定点Ｎ1に発生する。測定点Ｎ1と電圧出力点Ｎ2と間の電圧降下を便宜的に無視すると、測定点Ｎ1の電位ＶBが電圧出力点Ｎ2に供給される。したがって、図１１に示すように、Ａ/Ｄ変換器３４２による変換後の電位ＶBが、単位回路Ｕ[1]〜Ｕ[N]の各々の測定用回路３４から順次に補正値設定部６４に供給される。補正値設定部６４は、測定用回路３４が測定した電位ＶBを記憶回路５４に格納する。
【００４８】
発光素子Ｅの電流−電圧特性を例示する図１２から理解されるように、所定の駆動用電流ＩSを供給したときの発光素子Ｅの両端間の電圧ＶEは、発光素子Ｅが劣化するほど増加する（ＶE1→ＶE2）。したがって、電圧出力点Ｎ2の電位ＶBは、発光素子Ｅの劣化の度合（電流−電圧特性）を示す指標となる。すなわち、電位ＶBが高いほど発光素子Ｅの劣化の度合が高いと評価できる。そこで、補正値設定部６４は、測定用回路３４が測定した電位ＶBに応じて補正値ＣBを設定する。
【００４９】
具体的には、補正値設定部６４は、第ｉ行の第ｊ列の画素回路ＰXについて前回の第２測定動作で測定された電位ＶB_Pを記憶回路５４から取得し、今回の第２測定動作で測定された電位ＶBと前回の電位ＶB_Pとの差分値ΔＶB（ΔＶB＝ＶB−ＶB_P）を算定する。そして、補正値設定部６４は、差分値ΔＶBに応じて補正値ＣBを設定する。例えば、差分値ΔＶBを補正値ＣBとする構成や、差分値ΔＶBを利用した所定の演算で補正値ＣBを算定する構成が採用される。補正値設定部６４が各画素回路ＰXについて設定した補正値ＣBは記憶回路５４に格納される。
【００５０】
補正値ＣBは以上のように設定されるから、補正前の階調値Ｇ2が共通する場合でも、第２測定動作で測定された電位ＶB（発光素子Ｅの両端間の電圧）が高いほど補正後の階調値Ｇ3は大きい数値となる。すなわち、発光素子Ｅの劣化の度合が高いほど階調信号Ｘ[j]は高い電圧に設定される。したがって、発光素子Ｅの電気的な特性（電流−電圧特性）に起因した輝度の誤差は低減される。
【００５１】
以上に説明したように、第１実施形態によれば、駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHの誤差と発光素子Ｅの電流−電圧特性の誤差との双方を有効に補償することが可能である。したがって、素子部１０に表示される画像の階調斑を抑制できるという利点がある。
【００５２】
なお、画素回路ＰX内の動作で駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHを補償する構成（例えば特表2002-514320号公報の構成）では、画素回路ＰXの構成が煩雑化する（画素回路ＰXを構成するトランジスタや容量素子の個数が増加する）という問題がある。第１実施形態においては、電位（ＶA，ＶB）の測定と補正値（ＣA，ＣB）の設定と階調値Ｇ2の補正とが画素回路ＰXの外部で実行されるから、画素回路ＰXの構成を過度に複雑化することなく駆動トランジスタＴDRおよび発光素子Ｅの電気的な特性の誤差を補償できるという利点がある。
【００５３】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。なお、以下の各形態において作用や機能が第１実施形態と同等である要素については、以上と同じ符号を付して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
【００５４】
図１３に示すように、劣化前の発光素子Ｅに所定の電流を供給したときの陽極の電位（発光素子Ｅの両端間の電圧）と、劣化後の発光素子Ｅに所定の電流を供給したときの陽極の電位との差異（以下「電圧変化量」という）ΔＶEは、発光素子Ｅに供給される電流の電流量に応じて相違する。具体的には、電流ＩS_Mに対応する電圧変化量ΔＶE_Mは、電流ＩS_Mよりも小さい電流ＩS_Lに対応する電圧変化量ΔＶE_Lよりも大きく、電流ＩS_Mよりも大きい電流ＩS_Hに対応する電圧変化量ΔＶE_Hよりも小さい（Ｖ_L＜Ｖ_M＜Ｖ_H）。したがって、１種類の測定用電流ＩSの供給時の電位ＶBに応じて補正値ＣBを設定するだけでは、発光素子Ｅの電流−電圧特性の誤差を低階調から高階調までの広範囲にわたって過不足なく補償することは困難である。そこで、第２実施形態においては、測定用電流ＩSの電流量を変化させた各場合の電位ＶBから個別に補正値ＣBを設定する。
【００５５】
第２測定動作時に、定電流源３４４は、測定用電流ＩSを３種類の電流量（ＩS_L，ＩS_M，ＩS_H）に変化させる。電流量ＩS_Lは、低階調が指定された場合に発光素子Ｅに供給されるべき電流量である。同様に、電流量ＩS_Mは中間調に対応し、電流量ＩS_Hは高階調に対応する。測定用回路３４は、発光素子Ｅに供給する測定用電流ＩSの電流量を変化させた各場合について電圧出力点Ｎ2（測定点Ｎ1）の電位ＶBを補正値設定部６４に指示する。補正値設定部６４は、測定用電流ＩSの電流量毎に個別に補正値（ＣB_L，ＣB_M，ＣB_H）を設定する。補正値ＣB_Lは、電流量ＩS_Lの測定用電流ＩSを発光素子Ｅに供給したときの電圧出力点Ｎ2の電位ＶBから第１実施形態と同様の方法で算定される。同様に、補正値ＣB_Mは電流量ＩS_Mの供給時の電位ＶBから算定され、補正値ＣB_Hは電流量ＩS_Hの供給時の電位ＶBから算定される。
【００５６】
階調補正部６２は、ガンマ補正部５２による処理後の階調値Ｇ2の高低に応じて、補正に適用される補正値ＣBを可変に制御する。具体的には、階調補正部６２は、階調値Ｇ2が低階調である場合には補正値ＣB_Lに応じて階調値Ｇ2を補正する。また、階調値Ｇ2が中間調である場合には補正値ＣB_Mが階調値Ｇ2の補正に利用され、階調値Ｇ2が高階調である場合には補正値ＣB_Hが階調値Ｇ2の補正に利用される。したがって、階調値Ｇ2の示す階調が高いほど、補正の前後にわたる階調の変化が大きくなる。なお、補正値ＣAによる補正は第１実施形態と同様である。
【００５７】
第２実施形態によれば、階調値Ｇ2に応じて補正値ＣBが可変に制御されるから、図１３のように発光素子Ｅに供給される電流量に応じて劣化の前後の電圧変化量ΔＶEが相違する場合であっても、低階調から高階調までの広範囲にわたって発光素子Ｅの電流−電圧特性の誤差を補償できるという利点がある。なお、測定用電流ＩSの電流量の種類数は任意である。また、以上においては測定用電流ＩSの各電流量に対応する３種類の補正値を利用したが、第２測定動作で算定された複数の補正値ＣBを補間することで、多数の階調値に対応した補正値ＣBを算定する構成も好適である。
【００５８】
＜Ｃ：第３実施形態＞
図１４は、第３実施形態に係る第２駆動回路２４のブロック図である。図１４に示すように、第２駆動回路２４は、各信号線１４に対応するＮ個の駆動用回路３２および切替部３６と、相隣接するｎ本（ｎ≦Ｎ）を単位としてＮ本の信号線１４を区分した複数（Ｎ/ｎ個）のブロックＢの各々に対応する測定用回路３４と時分割制御部３８とを具備する。測定用回路３４は、第１実施形態と同様に、Ａ/Ｄ変換器３４２と定電流源３４４とスイッチ３４６とを含んで構成される。各ブロックＢに対応する時分割制御部３８は、測定用回路３４における電圧出力点Ｎ2を当該ブロックＢ内のｎ個の切替部３６の何れかに選択的に接続する。
【００５９】
第ｉ行について第１測定動作が実行される第１測定期間Ｈ1内において、時分割制御部３８は、測定用回路３４における電圧出力点Ｎ2を時分割でｎ個の切替部３６の各々に接続する。第１測定期間Ｈ1内では信号線１４が測定用回路３４側に接続されるとともに制御スイッチＴR2がオン状態に設定されるから、第ｉ行のうち各ブロックＢに対応するｎ個の画素回路ＰXの各々の測定点Ｎ1が時分割で電圧出力点Ｎ2に順次に導通する。したがって、ｎ個の測定点Ｎ1の電位ＶAが第１測定期間Ｈ1内に時分割で測定用回路３４に供給される。
【００６０】
第ｉ行について第２測定動作が実行される第２測定期間Ｈ2内においても同様に、時分割制御部３８は、測定用回路３４における電圧出力点Ｎ2を時分割でｎ個の切替部３６の各々に接続する。第２測定期間Ｈ2内では制御スイッチＴR2と測定用回路３４のスイッチ３４６とがオン状態に制御されるから、定電流源３４４が生成する測定用電流ＩSが、第ｉ行のうち１個のブロックＢに対応するｎ個の画素回路ＰXの各々の発光素子Ｅに時分割で供給される。したがって、ｎ個の画素回路ＰXの各々における測定点Ｎ1の電位ＶBが第２測定期間Ｈ2内に時分割で測定用回路３４に供給される。
【００６１】
以上の構成においては、画素回路ＰXのｎ列毎に１個の測定用回路３４が設置されるから、Ｎ列の各々について測定用回路３４が設置される第１実施形態と比較して、第２駆動回路２４の構成の簡素化（回路規模の縮小や製造コストの低減）が実現されるという利点がある。
【００６２】
＜Ｄ：変形例＞
以上の各形態は多様に変形される。具体的な変形の態様を以下に例示する。なお、以下の例示から任意に選択された２以上の態様を組合わせた構成も採用される。
【００６３】
（１）変形例１  
第１測定動作や第２測定動作が実行される時期は以上の例示に限定されない。例えば、発光装置１００の電源が投入された直後や発光装置１００の動作の停止が指示された直後に第１測定動作や第２測定動作を実行する構成も採用される。もっとも、発光装置１００の電源の投入を契機として第１測定動作や第２測定動作を実行する構成では、電源が投入されてから素子部１０に実際に画像が表示されるまでの時間が長くなり、発光装置１００の動作の停止を契機として第１測定動作や第２測定動作を実行する構成では、利用者による指示から実際に発光装置１００の動作が停止するまでの時間が長くなるという問題がある。したがって、以上の各形態のように入力装置７０に対する操作を契機として第１測定動作や第２測定動作を実行する構成が好適である。
【００６４】
また、第２測定動作の実行後に第１測定動作を実行する構成や、画素回路ＰXを行単位で順次に選択するとともに選択行の各画素回路ＰXについて第１測定動作と第２測定動作とを実行する構成（第１測定動作と第２測定動作とを行毎に反復する構成）も採用される。なお、第１測定動作と第２測定動作との双方を実行する必要はない。例えば、発光素子Ｅの電気的な特性に起因した輝度の誤差を抑制する必要が少ない場合には第１測定動作のみが実行され、駆動トランジスタＴDRの閾値電圧ＶTHに起因した輝度の誤差を抑制する必要が少ない場合には第２測定動作のみが実行される。
【００６５】
（２）変形例２  
第１実施形態においては、第２電圧生成部４６が測定用電位ＶSを経時的に増加させたが、第１測定動作の当初から、駆動トランジスタＴDRがオン状態となる電位に測定用電位ＶSを設定する構成も採用される。なお、駆動トランジスタＴDRがオン状態となるレベルに測定用電位ＶSを固定する構成では、閾値電圧ＶTHが比較的に高い駆動トランジスタＴDRも測定用電位ＶSの供給で確実にオン状態に遷移するように、測定用電位ＶSを高目に設定する必要がある。他方、測定用電位ＶSを経時的に増加させる第１実施形態によれば、測定用電位ＶSを必要以上に上昇させる必要がないという利点がある。
【００６６】
（３）変形例３  
以上の各形態においては、制御スイッチＴR2と信号線１４とを介して補正値設定部６４が測定点Ｎ1の電位（ＶA．ＶB）を取得したが、測定点Ｎ1の電位（ＶA，ＶB）の経路は任意である。例えば、第１測定動作や第２測定動作の実行時に、信号線１４とは別個の配線を測定点Ｎ1に接続させることで測定点Ｎ1の電位（ＶA，ＶB）を補正値設定部６４に伝達する構成も採用される。同様に、測定用電流ＩSを発光素子Ｅに供給する経路も任意であり、例えば信号線１４とは別個の配線を測定点Ｎ1に接続させて発光素子Ｅに測定用電流ＩSを供給する構成も採用される。もっとも、階調信号Ｘ[j]の供給用の信号線１４を電圧（ＶA，ＶB）や測定用電流ＩSの経路として流用する構成によれば、第１測定動作や第２測定動作のための構成が簡素化されるという利点がある。
【００６７】
（４）変形例４  
以上の例示のように複数の画素回路ＰXが行列状に配列された構成のもとで各画素回路ＰXを行単位で時分割に駆動する場合には各画素回路ＰX内に選択スイッチＴSLが必要である。しかし、例えば複数の画素回路ＰXがＸ方向に沿って１列のみに配列された構成においては、時分割での行選択という動作が不要であるから、画素回路ＰX内の選択スイッチＴSLは不要となる。複数の画素回路ＰXを１列のみに配列した発光装置は、例えば、電子写真方式の画像形成装置（印刷装置）において感光体ドラムなどの像担持体を露光する露光装置として好適に採用される。
【００６８】
（５）変形例５  
有機ＥＬ素子は発光素子Ｅの例示に過ぎない。例えば、無機ＥＬ素子やＬＥＤ（Light Emitting Diode）素子などの発光素子を配列した発光装置にも以上の各態様と同様に本発明が適用される。すなわち、本発明においては、電流の供給で発光する被駆動素子が発光素子として好適に採用される。
【００６９】
＜Ｅ：応用例＞
次に、以上の各態様に係る発光装置１００を利用した電子機器について説明する。図１５ないし図１７には、発光装置１００を表示装置として採用した電子機器の形態が図示されている。
【００７０】
図１５は、発光装置１００を採用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。パーソナルコンピュータ２０００は、各種の画像を表示する発光装置１００と、電源スイッチ２００１やキーボード２００２が設置された本体部２０１０とを具備する。
【００７１】
図１６は、発光装置１００を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１およびスクロールボタン３００２と、各種の画像を表示する発光装置１００とを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、発光装置１００に表示される画面がスクロールされる。
【００７２】
図１７は、発光装置１００を適用した携帯情報端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す斜視図である。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１および電源スイッチ４００２と、各種の画像を表示する発光装置１００とを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった様々な情報が発光装置１００に表示される。
【００７３】
なお、本発明に係る発光装置１００が適用される電子機器としては、図１５から図１７に例示した機器のほか、デジタルスチルカメラ、テレビ、ビデオカメラ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電子ペーパー、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、プリンタ、スキャナ、複写機、ビデオプレーヤ、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。また、本発明に係る発光装置１００の用途は画像の表示に限定されない。例えば、電子写真方式の画像形成装置において露光により感光体ドラムに潜像を形成する露光装置としても本発明の発光装置１００は利用される。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】本発明の第１実施形態に係る発光装置のブロック図である。
【図２】画素回路の回路図である。
【図３】第２駆動回路および制御回路のブロック図である。
【図４】発光装置の動作のフローチャートである。
【図５】駆動動作時の発光装置の状態を示す概念図である。
【図６】駆動動作時の各信号の波形を示すタイミングチャートである。
【図７】第１測定動作時の各信号の波形を示すタイミングチャートである。
【図８】第１測定動作時の発光装置の状態を示す概念図である。
【図９】測定用電位の経時的な変化を示すグラフである。
【図１０】第２測定動作時の各信号の波形を示すタイミングチャートである。
【図１１】第２測定動作時の発光装置の状態を示す概念図である。
【図１２】劣化の前後にわたる発光素子の電流−電圧特性である。
【図１３】劣化の前後にわたる発光素子の電流−電圧特性である。
【図１４】第３実施形態に係る第２駆動回路のブロック図である。
【図１５】電子機器（パーソナルコンピュータ）の斜視図である。
【図１６】電子機器（携帯電話機）の斜視図である。
【図１７】電子機器（携帯情報端末）の斜視図である。
【符号の説明】
【００７５】
１００……発光装置、１０……素子部、１２……走査線、１４……信号線、１６……給電線、１８……給電線、ＰX……画素回路、Ｅ……発光素子、ＴDR……駆動トランジスタ、ＴSL……選択スイッチ、ＴR1……制御スイッチ、ＴR2……制御スイッチ、２２……第１駆動回路、２４……第２駆動回路、４０……制御回路、７０……入力装置、Ｕ[j]……単位回路、３２……駆動用回路、３４……測定用回路、３４２……Ａ/Ｄ変換器、３４４……定電流源、３４６……スイッチ、３６……切替部、４２……電圧供給回路、４４……第１電圧生成部、４６……第２電圧生成部、４８……切替部、５２……ガンマ補正部、５４……記憶回路、６２……階調補正部、６４……補正値設定部、６６……動作制御部。
【図１】
2010160386.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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