(57)【要約】【課題】半導体チップパッケージ製品の落下試験装置及びその使用方法を提供する。【解決手段】落下試験装置１００は、水平移動ができるように固定ラック１１０に設置され、被試験デバイス(ｄｅｖｉｃｅ  ｕｎｄｅｒ  ｔｅｓｔ、ＤＵＴ)１０を所定の角度に照準することが可能となり、且つクランプ１３０に正確、快速及び安全に固定されることを特徴とする落下開始角度設定治具１２０を有する。このような治具は、第二基準面１２３を提供して昇降調節可能の試験サンプル台１２１に連結する。試験サンプル台１２１は第一基準面１２２を有することにより、ＤＵＴ１０はクランプ１３０に挟まれた後に、摩擦が起きなく移動もしないように治具１２０から着脱することができる。従って、ＤＵＴ１０は精確に位置決められるだけではなく、治具１２０は滑りレールとストッパとの設計を用い迅速及び安全に参考位置に戻ることができる。【選択図】図１
2010160074.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
水平方向滑りレールが設けられている滑り座を有する固定ラックと、
前記滑り座上に設置され、第一基準面を有する試験サンプル台と第二基準面とを有する落下開始角度設定治具と、
クランプとを備え、
前記試験サンプル台の昇降移動により、前記第一基準面は第一設定位置と第一着脱位置との間で移動し、
前記治具は前記水平方向滑りレールのガイドを受けて水平に移動する時、前記第二基準面は第二設定位置と第二着脱位置との間に移動し、
前記クランプはＤＵＴを挟む時、前記第一設定位置にある前記第一基準面は前記ＤＵＴの第一表面と接触し、前記第二設定位置にある前記第二基準面は前記ＤＵＴの第二表面と接触することを特徴とする落下試験装置。
【請求項２】
前記滑り座の側縁に第一ストッパを設置し、前記落下開始角度設定治具の側縁に第二ストッパを連結し、該第二ストッパは前記第一ストッパと接触する時、前記第二基準面は前記第二設定位置に移動することを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項３】
前記治具と前記滑り座との相対位置を固定するため前記第二ストッパに緊締固定部材を設置することを特徴とする請求項２記載の落下試験装置。
【請求項４】
前記治具は、調節棒と弾性部材を有し、該弾性部材は前記試験サンプル台を前記第一設定位置に向いて移動させる弾力を提供し、前記調節棒は前記試験サンプル台が前記第一設定位置に向いて移動する程度を制限することを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項５】
前記試験サンプル台の両側にそれぞれ滑り部材を連結し、前記治具の両側に前記滑り部材の垂直方向滑り用とする垂直方向滑りレールをそれぞれ１つ設置することを特徴とする請求項４または５記載の落下試験装置。
【請求項６】
前記水平方向滑りレールの水平面を調節するため前記固定ラックの底部に複数の調節脚を設置することを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項７】
前記ＤＵＴを細長状のメモリモジュールにすることを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項８】
前記第一基準面と前記第二基準面とは相互垂直になっていることを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項９】
前記クランプと結合するため更にクランプ座を含むことを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項１０】
前記クランプは、Ｌ字の上下を逆にする外形を有して第一挟面と第二挟面を有し、前記第一挟面の挟込み間隙は前記第二挟面の挟込み間隙より小さくなり、且つ前記第一挟面は前記第二挟面より前記第一基準面に遠くなることを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項１１】
前記第一設定位置の前期第一基準面と前記第二設定位置の前記第二基準面との間にギャップを形成することを特徴とする請求項１記載の落下試験装置。
【請求項１２】
前記第一基準面を前記第一設定位置に、前記第二基準面を前記第二設定位置にそれぞれ移動させるため前記試験サンプル台と前記治具を調節するステップと
前記ＤＵＴの第一表面を前記第一基準面に、前記ＤＵＴの第二表面を前記第二基準面にそれぞれ接触させるように前記ＤＵＴを前記治具に置くステップと
前記ＤＵＴを前記クランプで固定するステップと
前記第一基準面を前記第一着脱位置に移動し、前記ＤＵＴに接触させないように前記試験サンプル台を降下するステップであって、ここで、前記ＤＵＴは依然に前記治具の前記第二基準面と接触しているステップと、
前記第二基準面を前記第二着脱位置に移動し、前記ＤＵＴに接触させないように前記治具を横方向に移動するステップと
ＤＵＴを解放するステップと、を含むことを特徴とする請求項１記載の落下試験装置の使用方法。
【請求項１３】
前記試験サンプル台の降下ステップと前記治具の横移動ステップにおいて、前記ＤＵＴは前記試験サンプル台と前記治具に摩擦しないことを特徴とする請求項１２記載の落下試験装置の使用方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器または機器に内蔵される電子部品に対する静止或は動き状態のバランステストに関し、特に半導体チップパッケージ製品の落下試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ユーザの操作や携帯において製品の所定設計品質を確保するため、通常、チップパッケージに対し実装完成後に最終製品試験を行い、例えば、老化試験、電気試験、引っ張る試験、半田ボール接合強度試験などがある。次に品質と信頼性の良好なチップパッケージをメモリモジュールなどの電子製品に組み立て、モジュール化にして一般の日常生活においてよく見られる電子機器、例えば、パソコン、携帯電話、デジタルカメラ、ＰＤＡなどに応用することができるので、耐衝撃性や耐抵抗応力性の要求が厳しく求められ、必要とする試験はますます重要となる。それにより、業界では、チップパッケージまたはメモリモジュールの耐衝撃性評価について厳格な試験規格を規定しており、例えば、ＪＥＤＥＣ(米国合同電子デバイス委員会)が落下試験(ｄｒｏｐ ｔｅｓｔ)とする規格を定め、この規格に準拠して電子製品の耐落下衝撃性を計算することができる。
【０００３】
従来の落下試験を検討すると、幾つの現象を発見した。
１、試験条件の再現性が低い。被試験デバイス(ｄｅｖｉｃｅ ｕｎｄｅｒ ｔｅｓｔ，ＤＵＴ)の高度と角度を手動により位置決めることが難しいため、毎回の落下角度と衝撃位置はバラツキとなって得た試験結果は完全に異なるという問題がある。
２、試験のコストが高い、試験前の準備時間もかなりかかる。試験条件の再現性が低いため、ＤＵＴを数多く用意するが、一旦設計を変更した以上は、ＤＵＴを再用意しなければいけない。特に製品開発段階において、各ＤＵＴのコストは比較的に高くなり、且つ落下試験は破壊性な実験であり試験の繰り返しによる材料コストが重くかかるという問題もある。
３、落下試験過程中に衝突現象を発生する可能性があるので、非線形現象が起きる可能性がある。
４、従来の落下試験装置は単一測定条件だけに適用してその試験パラメーターは一定であり、例えば、所定高度ＨからＤＵＴを落下させ衝突による衝撃波(ｉｍｐｕｌｓｅ)を測定する。ＤＵＴの実装形態または応用環境は異なる場合、試験条件を変えることができなく、特に各メーカーが準拠する規格は異なるため、一旦試験条件を変えたら、別の落下試験装置を購入しなければいけなくなり、試験コストの低減が実現できない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、上記の問題を解決するためになされたものであり、種々の寸法を持つＤＵＴに適用し、様々な角度で落下試験を行うことが可能となり、且つ異なる試験条件を調節することができる一種の落下試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の目的を達成するために本発明による落下試験装置は、主に固定ラック、落下開始角度設定治具及びクランプを含む。固定ラックには水平方向滑りレールを有する滑り座が設置される。落下開始角度設定治具は滑り座に設置され、昇降調節可能な試験サンプル台と連結する。試験サンプル台は第一基準面を提供し、治具は第二基準面を提供し、試験サンプル台の昇降移動により、第一基準面は第一設定位置と第一着脱位置との間で移動する。治具は上記水平方向滑りレールのガイドを受けて水平に移動する時、第二基準面は第二設定位置と第二着脱位置との間で移動する。クランプはＤＵＴを挟む時、第一設定位置にある第一基準面はＤＵＴの第一表面と接触し、第二設定位置にある第二基準面はＤＵＴの第二表面と接触する。
【０００６】
上記目的を達するために本発明では、更に他の技術を採用する。
上記落下試験装置において、滑り座の側縁に第一ストッパを設置し、落下開始角度設定治具の側縁に第二ストッパを連結し、第二ストッパが第一ストッパと接触する時に第二基準面は第二設定位置に移動する。
上記落下試験装置において、治具と滑り座との相対位置を固定するため第二ストッパに緊締固定部材を設置してもよい。
上記落下試験装置において、治具は調節棒と弾性部材を有してよい、弾性部材は試験サンプル台を第一設定位置に向いて移動させる弾力を提供し、調節棒は試験サンプル台が第一設定位置に向いて移動する度合いを制限する。
上記落下試験装置において、試験サンプル台の両側にそれぞれ滑り部材を連結してもよい、治具の両側に滑り部材の垂直方向滑り用とする垂直方向滑りレールをそれぞれ１つ設置してもよい。
上記落下試験装置において、水平方向滑りレールの水平面を調節するため固定ラックの底部に複数の調節脚を設置してもよい。
上記落下試験装置において、ＤＵＴを細長状のメモリモジュールにしてもよい。
上記落下試験装置において、第一基準面と第二基準面とは相互垂直になってもよい。
上記落下試験装置において、クランプと結合するため更にクランプ座を含んでもよい。
上記落下試験装置において、クランプは、Ｌ字の上下を逆にする外形を有して第一挟面と第二挟面を提供し、第一挟面の挟込み間隙は第二挟面の挟込み間隙より小さくなり、且つ第一挟面は第二挟面より第一基準面に遠くなる。
上記落下試験装置において、第一設定位置の第一基準面と第二設定位置の第二基準面との間に割れ目を形成してもよい。
【０００７】
本発明は更に該落下試験装置に適用する使用方法を開示し、この使用方法は幾つのステップを含む。先ず、第一基準面を第一設定位置に、第二基準面を第二設定位置にそれぞれ移動させるため試験サンプル台と治具を調節する。次に、該ＤＵＴの第一表面を第一基準面に、該ＤＵＴの第二表面を第二基準面にそれぞれ接触させるようにＤＵＴを治具に置く。次に、ＤＵＴをクランプで固定する。そして、第一基準面を第一着脱位置に移動し、ＤＵＴに接触させないように試験サンプル台を降下する。ここで、ＤＵＴは依然に治具の第二基準面と接触している。次に、第二基準面を第二着脱位置に移動し、ＤＵＴに接触させないように治具を横方向に移動する。最後に、ＤＵＴを解放する。
【発明の効果】
【０００８】
以上のように、本発明にかかる落下試験装置及びその使用方法は下記の利点と効果を有する：
一、ＤＵＴの様々な落下表面を測定できるように提供し、種々寸法のＤＵＴに適用する。
二、落下試験を行う場合、落下開始の姿勢、例えば、同高度、同角度、同位置を保つことができ、試験条件の再現性を高め、更に試験コストを低減する。
三、ＤＵＴの落下開始の高度、角度及び位置を迅速に、正確に、安定に制御することができる。
四、滑り座は移動する時にＤＵＴと摩擦することがなく、ＤＵＴの位置は滑り座の移動と共に変わることがない。
五、緊締固定部材とストッパを介し、落下開始角度設定治具を快速的且つ安定的に指定基準位置に戻るようにすることができる。
六、調節脚を介し、落下試験装置の試験サンプル台を水平状態に保つようにすることができ、それにより、ＤＵＴの落下を鉛直に保持して精確な数字を測定することが可能となる。
七、落下試験を行う時に、ＤＵＴを任意の姿勢、例えば、直立または横置きの角度で落下し、クランプの高度だけではなく、クランプ座の相対高度を調節する必要がない。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の第一実施例による落下試験装置を示す立体図である。
【図２】本発明の第一実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動してＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図３】本発明の第一実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を着脱位置に移動したことを示す一部拡大立体図である。
【図４】本発明の第一実施例による落下試験装置の調節脚を示す立体図である。
【図５Ａ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図５Ｂ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図５Ｃ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図５Ｄ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図５Ｅ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図５Ｆ】本発明の第一実施例による落下試験装置の使用方法においての素子を示す側面図である。
【図６】本発明の第一実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して第二調節落下開始角度としてのＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図７】本発明の第一実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して第三調節落下開始角度としてのＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図８】落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して他種のＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図９】本発明の第二実施例による落下試験装置を示す一部拡大立体図である。
【図１０Ａ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有するＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図１０Ｂ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有するＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図１０Ｃ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有するＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図１１Ａ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有する他のＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図１１Ｂ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有する他のＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【図１１Ｃ】本発明の第二実施例による落下試験装置の落下開始角度設定治具を設定位置に移動して直立置き、横置き、又は横たわりなどの姿勢による種々の落下開始角度を有する他のＤＵＴを放置したことを示す一部拡大立体図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付された図面を参照して、本発明の実施例について説明する。しかしながら、図面においては、本発明の基本構成や実施方法を示す概略図であり、本発明に係る要素と構成だけを示し、実際に実施する部材の個数、外形、寸法を一定の比率で記載するものではなく、説明の便宜及び明確性のために簡略または誇張されておる。一方、実際に使われる個数、外形、寸法は様々な設計に応じ、部材の配置はより複雑になる可能性がある。
【００１１】
立体的に示す図１を参照して、本発明の第一実施例に係る落下試験装置について説明する。
図示の落下試験装置１００は、主要に固定ラック１１０、落下開始角度設定治具１２０及びクランプ１３０を含み、ＤＵＴ１０を所定高度から落下させ、ＤＵＴ１０の耐落下衝撃性の測定として用いられる。該ＤＵＴ１０を細長状のメモリモジュールにしてもよい、例えば、ＤＩＭＭ（Ｄｕａｌ  Ｉｎ−Ｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅｓ）またはＳＯ−ＤＩＭＭ（Ｓｍａｌｌ  Ｏｕｔｌｉｎｅ  Ｄｕａｌ  Ｉｎ−Ｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅｓ）。該ＤＵＴ１０を他の電子製品にしてもよい、種類としては特に限定されるものではなく、フリップチップパッケージ、リードフレームパッケージ、マルチチップパッケージまたは他の常用なチップパッケージなどにしてもよい。しかしながら、チップパッケージの種類は多く、しかも、各メーカーの試験規格も異なって、低コストで製造することが困難であることに対し、本発明は、多種の試験規格に適用する調節可能な落下試験装置を設計し、コストの低減が実現できる。
【００１２】
図１と図２に示すように、固定ラック１１０には滑り座１１１が設置され、この滑り座１１１は水平方向滑りレール１１２を有する。固定ラック１１０は直立ラック１１０Ａと底枠１１０Ｂにより構成され、直立ラック１１０Ａは底枠１１０Ｂの上に直立固定され、固定ラック１１０が容易に倒れないようにするため底枠１１０Ｂは一定の面積を占めている。本実施例において、底枠１１０Ｂはコの字形状になってその内側は落下試験の衝突面を囲んでいる（図１に示すよう）。滑り座１１１は固定ラック１１０の片持ち梁上に設置され、所定の高さ、例えば、３０ｃｍ、５０ｃｍ、６０ｃｍ、更に１２０ｃｍに位置して落下開始角度設定治具１２０の高度設定として用いられる。
【００１３】
図２と図３に示すように、落下開始角度設定治具１２０は滑り座１１１の上に設置され、昇降調節可能の試験サンプル台１２１（図３に示すよう）と連結する。試験サンプル台１２１は水平や傾斜になる第一基準面１２２を提供し、治具120は垂直や傾斜になる第二基準面１２３を提供する。水平方向滑りレール１１２のガイドで治具１２０は水平に移動することが可能となり、第一基準面１２２と第二基準面１２３とは相互垂直になることが好ましい、それにより、ＤＵＴの位置決めが提供される。
【００１４】
試験サンプル台１２１の昇降移動により、第一基準面１２２は第一設定位置と第一着脱位置との間で移動し、ここで、第一設定位置は試験サンプル台１２１が上昇位置（図５Ａに示すよう）に位置することであり、第一着脱位置は試験サンプル台１２１が降下位置（図５Ｂに示すよう）に位置することである。
【００１５】
治具１２０は水平方向滑りレール１１２のガイドで水平に移動する時、第二基準面１２３は第二設定位置と第二着脱位置との間で移動し、ここで、第二設定位置は第二基準面１２３が前に移動して固定ラック１１０から遠ざかる位置（図５Ａと図５Ｂに示すよう）となり、第二着脱位置は第二基準面１２３が後ろに移動して固定ラック１１０に接近する位置（図５Ｄに示すよう）となる。
【００１６】
図２に示すように、ＤＵＴ１０はクランプ１３０で固定される時、ＤＵＴ１０第一表面１１は第一設定位置の第一基準面１２２と接触し、ＤＵＴ１０を試験サンプル台１２１の上に置くと、ＤＵＴ１０の一第二表面１２は第二設定位置の第二基準面１２３と接触する（図２と図３に示すよう）。本実施例において、第一表面１１はメモリモジュールの長手側表面であり、第二表面１２はメモリモジュールの基板表面や素子設置面である。
【００１７】
ＤＵＴ１０を置いた後、ＤＵＴ１０の第一表面１１と第二表面１２は第一基準面１２２と第二基準面１２３にそれぞれ接触し、クランプ１３０でＤＵＴ１０の両側を挟んで固定する。本実施例において、ＤＵＴ１０の挟まれる表面はメモリモジュールの短手側表面であり、よって、ＤＵＴ１０の落下高度、落下開始の角度と位置を快速、精確及び安定に設置でき、繰り返しの落下高度と落下開始角度を同一に保持することも可能となってズレが起きない。具体的に言えば、クランプ１３０の両端(図に示せず)を直立ラック１１０Ａに連結してクランプ１３０の高度を上下に調節する。他に、クランプ１３０は伸縮自在でＤＵＴ１０の種々寸法に適用することができる。
【００１８】
具体的に言えば、図２と図３に示すように、滑り座１１１の側縁に第一ストッパ１１３を設置し、落下開始角度設定治具１２０の側縁に第二ストッパ１２４を連結する。ここで、滑り座１１１の該側縁は落下開始角度設定治具１２０の該側縁と同一側辺に位置し、これからは落下開始角度設定治具１２０を水平方向に移動する時、第二ストッパ１２４は第一ストッパ１１３に接触することにより、第二基準面１２３を第二着脱位置に移動させることになる（図３と図５Ｄに示すよう）。また、滑り座１１１の該側縁に更に第三ストッパ１１５を設置し、落下開始角度設定治具１２０は水平方向に移動する時、第二ストッパ１２４は第三ストッパ１１５に接触することにより、第二基準面１２３を第二設定位置に移動させることになる。このように、第二設定位置と第二着脱位置とを明らかに定義することができる。
【００１９】
詳しく言うと、図２に示すように、治具１２０と滑り座１１１との相対位置を固定して移動しないようにするため、第二ストッパ１２４に緊締固定部材１２５を設置する。
【００２０】
また、図３にしめすように、治具１２０は調節棒１２６と弾性部材１２７を有し、弾性部材１２７は、試験サンプル台１２１を第一設定位置に向って移動するように弾力を提供し、調節棒126は、試験サンプル台１２１が第一設定位置に向って移動する度合いを制限する。このように、調節棒１２６の挿入上死点と弾性部材１２７の復帰弾力とを介し、試験サンプル台１２１の第一基準面１２２は第一設定位置に精確に到着することができる。一方、調節棒１２６の挿入下死点と弾性部材１２７の復帰弾力とを介し、試験サンプル台１２１の第一基準面１２２は第一着脱位置に精確に到着することもできる。それにより、第一設定位置と第一着脱位置とを明らかに定義することができる。また、試験サンプル台１２１の両側にそれぞれ1つの滑り部材１２８を連結し、治具１２０の両側にも、滑り部材１２８の垂直方向滑り用とする垂直方向滑りレール１２９をそれぞれ１つ設置すると、調節棒１２６の回転により試験サンプル台１２１を垂直方向滑りレール１２９のガイドで垂直方向に移動することができる。
【００２１】
より詳しく言えば、図１と図４に示すように、固定ラック１１０の底部に複数の調節脚１１４を設置し、それらの調節脚１１４は固定ラック１１０の底枠１１０Ｂにある二個や四個の隅所に位置して、それらの調節脚１１４により、水平方向滑りレール１１２の水平面が調節され、落下試験装置１００の試験サンプル台１２１が水平状態に保持され、この時、ＤＵＴ１０は鉛直に落下して精確な数字を測定することができる。
【００２２】
本発明は更に該落下試験装置１００の使用方法を図５Ａ-図５Ｆに示す側面図を参照して説明する。
【００２３】
先ず、図５Ａに示すように、試験サンプル台１２１と治具１２０を調節することにより、第一基準面１２２は第一設定位置に、第二基準面１２３は第二設定位置にそれぞれ移動することになる。第一設定位置は、試験サンプル台１２１の第一基準面１２２が上昇位置に位置するのであり、第二設定位置は、第二基準面１２３が前方位置に移動するのである。第一基準面１２２と第二基準面１２３とは相互垂直になっている。次に、図５Ａの斜め矢印で指すように、治具１２０の試験サンプル台１２１の上にＤＵＴ１０を置き、ＤＵＴ１０の第一表面11は第一基準面１２２に接触しＤＵＴ１０の第二表面１２は第二基準面１２３に接触する（図５Ｃに示すよう）。次に、ＤＵＴ１０の両側辺をクランプ１３０で固定すると（図２に示すよう）、ＤＵＴ１０の高度と角度は快速的、精確的、且つ安定的に制御され、同一条件（高度と角度）の試験を繰り返すことができ、ズレが発生しない。
【００２４】
次に、図５Ｂに示すように、調節棒１２６を回すことにより、試験サンプル台１２１は降下し、第一基準面１２２は第一着脱位置に移動してＤＵＴ１０の第一表面１１と接触しなくなるが、ＤＵＴ１０の第二表面１２は治具１２０の第二基準面１２３と依然に接触している。ここで、上記調節棒１２６を回す方向は図５Ｂの矢印で指した時計回りであり、上記試験サンプル台１２１の降下方向は図５Ｂの矢印で指した下向きである。
【００２５】
次に、図５Ｃに示すように、治具１２０を横移動することにより、第二基準面
１２３は第二着脱位置に移動してＤＵＴ１０と接触しなくなる。ここで、上記横移動する方向は図５Ｃの矢印で指した左向きである。この時、第二ストッパ１２４は第一ストッパ１１３と接触し、緊締固定部材１２５を用い治具１２０と滑り座１１１との相対位置を固定して移動させない。上記固定方法としては図５Ｃの矢印で指した逆時計回りのように緊締固定部材１２５を回すことである。また、治具１２０は後ろに水平移動する過程において、ＤＵＴ１０の第一表面１１は第一基準面１２２と接触しなくなったため、滑り座１１１は移動する時にＤＵＴ１０と摩擦することがなく、滑り座１１１の移動があったとしてもＤＵＴ１０の位置は変わることがない。ＤＵＴ１０の両側辺はクランプ１３０に挟まれ空中に浮かんでいる。
【００２６】
次に、図５Ｄの斜の矢印で指したよう、クランプ１３０の解放により、第一表面１１が下向くままに、ＤＵＴ１０は地面に落下衝突してデータを測定し得る。上記落下方向は図５Ｄの矢印で指した下向きである。
【００２７】
繰り返しの落下試験を行う時、図５Ｅに示すように、治具１２０を水平に移動して第二設定位置に復帰することができる。ここで、上記水平移動の方向は図５Ｅの矢印で指した右向きである。この時、第二ストッパ１２４は第三ストッパ１２５と接触して治具１２０は移動しなくなって停止状態となる。そして、緊締固定部材１２５を用い治具１２０と滑り座１１１との相対位置を固定して滑らせないようにする。上記固定方法としては図５Ｅの矢印で指した時計回りのように緊締固定部材１２５を回すことである。
【００２８】
次に、図５Ｆに示すように、試験サンプル台１２１の第一基準面１２２を上昇させて第一設定位置（即ち、所定の試験高度）に復帰するように調節棒１２６を回す。上記調節棒１２６は図５Ｆの矢印で指した方向に回し、上記第一基準面１２２の上昇方向は図５Ｆの矢印で指した上向きである。
【００２９】
次に、図５Ａ−図５Ｆに示したステップを繰り返してＤＵＴ１０を1つずつ試験し、試験過程において、ＤＵＴ１０の所定高度、所定位置を保持することができ、落下開始角度をも調節することが可能となり、即ち落下試験の再現性と精度を向上させ、試験コストの低減をも実現することができる。
【００３０】
なお、本発明の落下試験装置１００はＤＵＴ１０を種々の落下開始角度で試験することを提供するだけではなく、様々な寸法を持つＤＵＴ１０にも適用することができる。図６示すように、ＤＵＴ１０を試験サンプル台１２１に横置いてもよい。具体的に言えば、図３と図５Ｆに示すように、第一設定位置の第一基準面１２２と第二設定位置の第二基準面１２３との間にギャップＧを形成し、このギャップＧはＤＵＴ１０の厚みより大きくなるので、ＤＵＴ１０は横置かれる時にギャップＧに一部嵌め込まれることができ、クランプ１３０の固定高度を調節する必要がなくより固定し易くなる。この時、ＤＵＴ１０は第一基準面１２２の第一表面１１に接触ように試験サンプル台１２１の上に置かれ、第一表面１１はメモリモジュールの基板表面や素子設置面である。ＤＵＴ１０の第二表面１２はメモリモジュールの長手側辺表面であり、上記第二基準面１２３と試験サンプル台１２１との間に形成したギャップＧにこの第二表面１２を嵌め込むことにより、クランプ１３０はメモリモジュールの短手側辺表面を固定することができる。
【００３１】
図７に示すように、他にＤＵＴ１０は直立方式で試験サンプル台１２１に置かれることもある。この場合、ＤＵＴ１０の第一表面１１は第一基準面１２２に、ＤＵＴ１０の第二表面１２は第二基準面１２３にそれぞれ接触する。第一表面１１はメモリモジュールの短手側辺表面であり、第二表面１２はメモリモジュールの基板表面や素子配置面であるため、クランプ１３０はメモリモジュールの長手側辺表面を固定することができる。
【００３２】
また、本発明の落下試験装置１００には、図８に示すように、更に他の寸法または製品形態が異なるＤＵＴ２０を置くこともできる。この場合、ＤＵＴ２０の第一表面２１を第一基準面１２２に、ＤＵＴ２０の第二表面２２を第二基準面１２３にそれぞれ接触させるように、種々の寸法に応じ伸縮自在なクランプ１３０を調節しながらＤＵＴ２０を固定して、同一落下試験装置１０で種々の寸法を持つDUT１０に対し落下試験を行う。
【００３３】
本発明の第二実施例による他種の落下試験装置を、図９を参照して説明する。該落下試験装置は主要に固定ラック１１０、落下開始角度設定治具１２０及びクランプ１３０を含む。本実施例では、第一実施例で用いた主要部材と同一の機能を有する部材には同一の部材番号を付記し、その説明を省略する。
【００３４】
本実施例において、該落下試験装置は更にクランプ座２４０を含み、このクランプ座２４０は固定ラック１１０と向かい合って配置されて横棒でクランプ１３０と連結される。クランプ１３０は、Ｌ字の上下を逆にする外形を有し、第一挟面２３１と第二挟面２３２を有し、第一挟面２３１の挟込み間隙は第二挟面２３２の挟込み間隙より小さくなり、且つ第一挟面２３１は第二挟面２３２より第一基準面から遠くなる。それにより、種々の落下角度で落下試験を行う時に、クランプ１３０とクランプ座２４０の高度を調節する必要がなく、即ちクランプ座２４０を昇降する必要がない。各ＤＵＴ１０に対し、クランプ１３０の第一挟面２３１と第二挟面２３２との水平距離差はちょうどＤＵＴ１０の長手側辺表面と短手側辺表面との長さの半分になる時、クランプ１３０はＤＵＴ１０の姿勢、例えば直立置き、横置き、横たわりに拘らず同一挟みプロセスでＤＵＴ１０を固定することができる。
【００３５】
種々の落下開始角度による落下試験を図１０Ａ−図１０Ｃを参照して説明する。図１０Ａにしめすように、ＤＵＴ１０は直立方式で試験サンプル台１２１に置かれる場合、ＤＵＴ１０の第一表面１１は第一基準面１２２に、ＤＵＴ１０の第二表面１２は第二基準面１２３にそれぞれ接触する。ここで、第一表面１１はメモリモジュールの短手側辺表面であり、第二表面１２はメモリモジュールの基板表面や素子配置面である。メモリモジュールの長手側辺表面の長さと等しくなるようにクランプ１３０の第一挟面２３１の挟み隙間を調節すると同時に、クランプ１３０の第一挟面２３１はそのままメモリモジュールの長手側辺表面の中央処を挟んでクランプ１３０の高度を調節する必要がない。
【００３６】
また、ＤＵＴ１０は試験サンプル台１２１に横置かれる場合（図１０Bに示すよう）、ＤＵＴ１０の第一表面１１は第一基準面１２２に、ＤＵＴ１０の第二表面１２は第二基準面１２３にそれぞれ接触する。ここで、第一表面１１はメモリモジュールの長手側辺表面であり、第二表面１２はメモリモジュールの基板表面や素子配置面である。メモリモジュールの長手側辺表面の長さと等しくなるようにクランプ１３０の第二挟面２３２の挟み隙間を調節すると同時に、クランプ１３０の第二挟面２３２はそのままメモリモジュールの短手側辺表面を挟むことになる。
【００３７】
また、ＤＵＴ１０は試験サンプル台１２１に横たわられる場合（図１０Cに示すよう）、ＤＵＴ１０はギャップＧに一部嵌め込まれることができ（図９に示すよう）、クランプ１３０の挟み高度を調節しなくてもよいためより固定し易くなる。この時、第一基準面１２２と接触するＤＵＴ１０の第一表面１１はメモリモジュールの基板表面や素子設置面である。ＤＵＴ１０の長手側辺表面は上記第二基準面１２３と試験サンプル台１２１との間に形成したギャップＧに嵌め込まれることができるため、メモリモジュールの短手側辺表面はクランプ１３０に挟まれることが可能となる。
【００３８】
よって、落下試験を行う時にＤＵＴ１０の姿勢、例えば直立置き、横置き、または横たわりに拘らず、クランプ１３０とクランプ座２４０との高度を調節する必要がなく、同一形態のＤＵＴ１０に対して種々の落下開始角度で落下試験を実施することができ（直立置き、横置き、と横たわりの方式を含み）、且つデータの統計と分析を提供し得る。更に、第一挟面２３１の挟み隙間と第二挟面２３２の挟み隙間との差を用い、クランプ１３０はＤＵＴ１０の姿勢、例えば直立置き、横置き、と横たわりに拘らず同一挟みプロセスでＤＵＴ１０を固定することができる。
【００３９】
なお、本発明の第二実施例による落下試験装置は、図１１Ａ−１１Ｃに示すように、他種の寸法や異なる形態のＤＵＴ２０を置くことができ、このＤＵＴ２０は上記のＤＵＴ１０より長くまたは大きくなってもよい。ここで、クランプ１３０はＬ字の上下を逆にする外形を有することにより、第一挟面２３１と第二挟面２３２を有する。図１１Ａにしめすように、ＤＵＴ２０は直立姿勢で試験サンプル台１２１に置かれる場合、ＤＵＴ２０が第一基準面１２２の第一表面２１に、第二基準面１２３の第二表面２２にそれぞれ接触するのはメモリモジュールの短手側辺表面とメモリモジュールの基板表面や素子配置面である。クランプ１３０の第一挟面２３１だけでメモリモジュールの長手側辺表面処を挟むことができ、そして、直立姿勢の落下開始角度で落下試験を実施する。
【００４０】
図１１Ｂに示すように、ＤＵＴ２０は試験サンプル台１２１に横置かれる場合、ＤＵＴ２０が第一基準面１２２の第一表面２１に、第二基準面１２３の第二表面２２にそれぞれ接触するのはメモリモジュールの長手側辺表面とメモリモジュールの基板表面や素子配置面である。クランプ１３０の第二挟面２３２だけでメモリモジュールの短手側辺表面処を挟むことができ、そして、横置き姿勢の落下開始角度で落下試験を実施する。
【００４１】
図１１Ｃに示すように、ＤＵＴ２０は試験サンプル台１２１に横たわられる場合、第一基準面１２２の第一表面２１と接触するのはＤＵＴ２０のメモリモジュールの基板表面や素子配置面であり、更にＤＵＴ２０の第二表面２２はギャップＧに一部嵌め込まれ（図９に示すよう）、この第二表面２２はメモリモジュールの長手側辺表面である。クランプ１３０の第二挟面２３２だけでメモリモジュールの短手側辺表面処を挟むことができ、そして、横たわり姿勢の落下開始角度で落下試験を実施する。
【００４２】
以上のように、同一形態のＤＵＴ２０に対して直立置き、横置き、横たわりなどの姿勢に拘らず種々の落下開始角度で落下試験を行っても、クランプ１３０とクランプ座２４０の高度を調節する必要がない。上記実施例の落下試験装置を用い、落下姿勢の変化を抑制することが可能となり、試験条件の再現性が優れて、手動方法で取得したデータの誤差がなくなる。
【００４３】
以上、本発明をその好適な実施例に基づいて説明したが、本発明の保護範囲は後付の特許請求の範囲で限定されて、この保護範囲に基準して、本発明の精神と範囲内に触れるどんな変更や修正は本発明の保護範囲に属する。
【符号の説明】
【００４４】
１０：被試験デバイス（ＤＵＴ）、  １１：第一表面、  １２：第二表面、  ２０：導入溝、  ２１：第一表面、  ２２：第二表面、  １００：落下試験装置、  １１０：固定ラック、  １１０Ａ：直立ラック、  １１０Ｂ：底枠、  １１１：滑り座、  １１２：水平方向滑りレール、  １１３：第一ストッパ、  １１４：調節脚、  １１５：第三ストッパ、  １２０：落下開始角度設定治具、  １２１：試験サンプル台、  １２２：第一基準面、  １２３：第二基準面、  １２４：第二ストッパ、  １２５：緊締固定部材、  １２６：調節棒、  １２７：弾性部材、  １２８：滑り部材、  １２９：垂直方向滑りレール、  １３０：クランプ、  ２３１：第一挟面、  ２３２：第二挟面、  ２４０：クランプ座、  Ｇ：ギャップ、
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図５Ｃ】
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【図５Ｄ】
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【図５Ｅ】
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【図５Ｆ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１０Ｃ】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１１Ｃ】
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