(57)【要約】【課題】複数の発光手段を有する光源について寿命予測の精度が低いという課題を解決すること。【解決手段】複数の発光手段を有し、感光体上に照射する光を出射する光源２１と、光源２１の複数の発光手段のうち少なくとも１つを寿命判定用発光手段として用い、寿命判定用発光手段の一定時間に発光する発光量が、他の発光手段の一定時間に発光する発光量より多くなるよう制御する光源駆動部２２と、寿命判定用発光手段の発光状態に応じて光源２１の寿命を判定する中央演算部３０とを有する画像処理装置である。【選択図】図２
2010158818.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体上に光を照射する複数の光源と、
前記複数の光源のうち少なくとも１つの光源を、寿命を判定する光源として用い、前記寿命を判定する光源の一定時間に発光する発光量が、他の光源の前記一定時間に発光する発光量よりも多くなるように制御する制御手段と、
前記寿命を判定する光源の発光状態に応じて前記光源の寿命を判定する判定手段と
を有する画像処理装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記寿命を判定する光源の発光時間が、前記他の光源の発光時間よりも長くなるよう制御する
請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記寿命を判定する光源の単位時間あたりの発光量が、前記他の光源の単位あたりの発光量より多くなるように制御する
請求項１または２記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記制御手段は、一定時間当たりの前記寿命判定用発光手段の連続点灯時間が前記露光用発光手段の連続点灯時間より長くなるよう制御する
請求項１から３のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記一定時間は、前記光源から前記感光体上に光を走査する際の１走査にかかる時間である
請求項１から４のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記光源から出射された光が前記感光体を走査する方向の基準位置を検出するための点灯を、前記寿命を判定する光源で行うよう制御する
請求項１から５のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記判定手段で前記光源の寿命に達したと判定した際に通知する通知手段を有する
請求項１から６のうちいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
複数の光源のうち少なくとも１つの光源を、寿命を判定する光源として用い、前記寿命を判定する光源の一定時間に発光する発光量が、他の光源の前記一定時間に発光する発光量よりも多くなるように制御するステップと、
前記寿命を判定する光源の発光状態に応じて前記光源の寿命を判定するステップと
をコンピュータに実行させる画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置および画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１では、出力する画素数から光源の点灯時間を算出し、点灯累積時間から光源の寿命に対する残り時間を求めている。すなわち、感光体への画像データは、クロックに同期して出力し、クロック周波数から１画素当たりの点灯時間を求める。
【０００３】
特許文献２では、所定の光量を得るのに必要な光源の駆動電流をモニタし、所定値以上となった時に光源が劣化したと判定し、ユーザに知らせている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−３１９６５７号公報
【特許文献２】特開２０００−２８０５２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の技術では、光源の点灯時間や駆動電流を所定値と比較する事で寿命予測を行っていたが、光源が劣化したと判定される条件は、装置の動作モードや設置場所など動作条件によって異なる。
【０００６】
本発明は、複数の発光手段を有する光源について寿命予測の精度が低いという課題を解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願請求項１に係る発明は、感光体上に光を照射する複数の光源と、前記複数の光源のうち少なくとも１つの光源を、寿命を判定する光源として用い、前記寿命を判定する光源の一定時間に発光する発光量が、他の光源の前記一定時間に発光する発光量よりも大きくなるように制御する制御手段と、前記寿命を判定する光源の発光状態に応じて前記光源の寿命を判定する判定手段とを有する画像処理装置である。
【０００８】
本願請求項２に係る発明は、前記制御手段として、前記寿命を判定する光源の発光時間が、前記他の光源の発光時間よりも長くなるよう制御する請求項１記載の画像処理装置である。
【０００９】
本願請求項３に係る発明は、前記制御手段として、前記寿命を判定する光源の単位時間あたりの発光量が、前記他の光源の単位あたりの発光量より大きくなるように制御する請求項１または２記載の画像処理装置である。
【００１０】
本願請求項４に係る発明は、前記制御手段として、一定時間当たりの前記寿命判定用発光手段の連続点灯時間が前記露光用発光手段の連続点灯時間より長くなるよう制御する請求項１から３のうちいずれか１項に記載の画像処理装置である。
【００１１】
本願請求項５に係る発明は、前記一定時間が、前記光源から前記感光体上に光を走査する際の１走査にかかる時間である請求項１から４のうちいずれか１項に記載の画像処理装置である。
【００１２】
本願請求項６に係る発明は、前記制御手段として、前記光源から出射された光が前記感光体を走査する方向の基準位置を検出するための点灯を、前記寿命を判定する光源で行うよう制御する請求項１から５のうちいずれか１項に記載の画像処理装置である。
【００１３】
本願請求項７に係る発明は、前記判定手段で前記光源の寿命に達したと判定した際に通知する通知手段を有する請求項１から６のうちいずれか１項に記載の画像処理装置である。
【００１４】
本願請求項８に係る発明は、複数の光源のうち少なくとも１つの光源を、寿命を判定する光源として用い、前記寿命を判定する光源の一定時間に発光する発光量が、他の光源の前記一定時間に発光する発光量よりも大きくなるように制御するステップと、前記寿命を判定する光源の発光状態に応じて前記光源の寿命を判定するステップとをコンピュータに実行させる画像処理プログラムである。
【発明の効果】
【００１５】
本願請求項１に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、高精度に光源の寿命を判定することが可能となる。
【００１６】
本願請求項２に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、寿命を判定する光源の一定時間当たりの発光時間から光源全体の寿命を高精度に判定することが可能となる。
【００１７】
本願請求項３に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、寿命を判定する光源の一定時間当たりの発光量から光源全体の寿命を高精度に判定することが可能となる。
【００１８】
本願請求項４に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、寿命を判定する光源の一定時間当たりの連続点灯時間から光源全体の寿命を高精度に判定することが可能となる。
【００１９】
本願請求項５に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、寿命を判定する光源の一走査当たりの発光条件から光源全体の寿命を高精度に判定することが可能となる。
【００２０】
本願請求項６に係る発明では、最も発光率の高い条件から光源の寿命を判定することが可能となる。
【００２１】
本願請求項７に係る発明では、光源の寿命に達したことを把握することが可能となる。
【００２２】
本願請求項８に係る発明では、光源の点灯累積時間から寿命を判定する場合に比べ、高精度に光源の寿命を判定することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明を実施するための最良の形態（以下、「実施形態」と言う。）について説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．光源の構成
２．画像処理装置のシステム構成
３．寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係
４．寿命判定用発光手段の発光条件
５．寿命判定用発光手段の点灯タイミング
６．画像処理装置の他のシステム構成
７．画像処理プログラム
【００２４】
＜１．光源の構成＞
図１は、本実施形態に係る画像処理装置で適用される光源の構成を説明する図で、（ａ）は全体平面図、（ｂ）は発光手段の部分拡大平面図である。この光源２１は、半導体レーザが形成されたチップをパッケージ内に収納したものである。チップには複数の発光手段である半導体レーザがマトリクス状に配置された状態で形成されている。この光源２１として、具体的には、面発光型半導体レーザ（Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser diode：以下、「ＶＣＳＥＬ」と言う。）が用いられている。
【００２５】
ＶＣＳＥＬは、同一チップ内に複数の半導体レーザの発光手段が形成されたもので、各半導体レーザは同一工程によって形成されている。また、複数の半導体レーザの発光点は、１つの発光点が１つの走査線に対応した配置となっており、複数の発光点から出射されるレーザ光の走査によって感光体へ複数走査線分同時に書き込む構成となっている。
【００２６】
図１（ｂ）に示す発光手段のレイアウトでは、走査方向と垂直な方向に沿って８個の半導体レーザで１列を構成し、これが４列配置されている。また、４列の並びは走査方向と垂直な方向に走査線のピッチ分ずれた位置で配置されている。このような配列によって、合計８×４＝３２走査線分のレーザ光走査を同時に行い得る構成となっている。
【００２７】
本実施形態の画像処理装置は、このような光源２１を構成する複数の発光手段のうち１つ以上を寿命判定用発光手段、他の１つ以上を露光用発光手段としている。図１（ｂ）に示す例では、８×４＝３２個の半導体レーザ（発光手段）のうち、図中破線枠で示す半導体レーザ（発光手段）を寿命判定用発光手段、それ以外の図中一点鎖線枠で示す半導体レーザ（発光手段）を露光用発光手段としている。
【００２８】
＜２．画像処理装置のシステム構成＞
図２は、本実施形態に係る画像処理装置のシステム構成を説明するブロック図である。画像処理装置は、主として画像形成群２０と制御群１０とで構成される。画像形成群２０は、図１に示すＶＣＳＥＬから成る光源２１、光源駆動部２２、レンズ群２３、ポリゴンミラー２４、光量検出器２６、走査検出器２７を備えている。
【００２９】
光源駆動部２２は、光源２１であるＶＣＳＥＬの各半導体レーザ（発光手段）に駆動のための信号を与える。光源駆動部２２は、後述する制御群１０から送られる画像情報に応じて各半導体レーザ（発光手段）に駆動のための信号を与える。また、光源駆動部２２は、電圧設定部１３の基準電圧を基に、各半導体レーザ（発光手段）の基準光量を設定し、その基準となる光量に等しくなるよう駆動のための信号を制御する。また、光源駆動部２２は、走査のタイミングと同期して各半導体レーザ（発光手段）を駆動する。
【００３０】
レンズ群２３は、光源２１であるＶＣＳＥＬの各半導体レーザ（発光手段）から出射されたレーザ光を集光してポリゴンミラー２４に送る。
【００３１】
ポリゴンミラー２４は、光源２１であるＶＣＳＥＬの各半導体レーザ（発光手段）から出射され、レンズ群２５で集光されたレーザ光を感光体側に反射させる多面のミラーを備え、回転することによって反射したレーザ光を感光体上で走査する。
【００３２】
光量検出部２６は、各半導体レーザ（発光手段）から出射されるレーザ光の光量を検出する受光部である。光源２１とレンズ群２５との間にはハーフミラー２５が設けられ、このハーフミラー２５によって反射したレーザ光の一部を光量検出部２６によって受光し、レーザ光の光量を検出する。検出した光量に応じた出力信号は光源駆動部２２に送られ、フィードバック制御に用いられる。
【００３３】
走査検出器２７は、ポリゴンミラー２４によって反射したレーザ光を受光して、レーザ光の走査ごとに信号（走査開始信号）を出力する。
【００３４】
制御群１０は、画像処理部１１、光量制御部１２、電圧設定部１３、寿命判定用発光手段の点灯制御部１４、寿命通知部１５を備えている。
【００３５】
画像処理部１１は、入力される画像情報に対して所定の処理を施し、デジタル信号から成る画像情報を出力する。画像情報は画像形成群２０の光源駆動部２２に送られ、この画像情報に基づき光源２１が駆動される。
【００３６】
光量制御部１２は、光源駆動部２２に対して制御信号を送ることで光源２１のレーザ出力を制御する部分である。光量制御部１２は、中央演算部３０からの指示によって制御信号を出力する。光量制御部１２から送られる制御信号は、光源２１の光量制御を行うためのタイミング信号で、印字領域外のレーザ光点灯タイミングを指示するものである
【００３７】
電圧設定部１３は、光源駆動部２２に対してアナログの電圧設定信号を送ることで光源２１の各半導体レーザ（発光手段）を駆動する際の基準電圧を設定する部分である。電圧設定部１３は、中央演算部３０からの指示によって電圧設定信号を出力する。例えば、感光体の帯電の状態に応じてレーザ光の出力を調整するため、電圧設定信号を光源駆動部２２に送る。電圧設定信号は、光源駆動部２２が光源２１を駆動する際の基準電圧となる。
【００３８】
寿命判定用発光手段の点灯制御部１４は、光源２１に設けられる寿命判定用発光手段に対する点灯制御を行う。本実施形態では、寿命判定用発光手段の発光条件が、露光用発光手段の発光条件と同等以上に厳しくなるよう制御する。
【００３９】
寿命通知部１５は、光源２１であるＶＣＳＥＬの各半導体レーザ（発光手段）うち、寿命判定用発光手段が寿命に達した際に光源２１の寿命である旨の通知を行い、光源２１の交換を促す処理を行う。寿命通知部１５は、中央演算部３０からの指示によって光源２１の寿命である旨の通知を行う。
【００４０】
すなわち、中央演算部３０は、寿命判定用発光手段の発光状態に応じて光源２１の寿命を判定する判定手段を備えている。例えば、一定駆動電流で寿命判定用発光手段を駆動している場合、光量検出器２６で検出した寿命判定用発光手段の発光量が所定の閾値を下回った場合に光源２１の寿命であると判定する。
【００４１】
ここで、中央演算部３０は、寿命判定用発光手段の発光量を計測する発光量計測手段を備えている。発光量計測手段は、光量制御部１２から出力される基準電圧とStitching設定値等によって発光源の光量を計測する部分である。発光量計測手段は、寿命判定用発光手段の発光量を以下の算出式によって求める。
【００４２】
（算出式）
寿命判定用発光手段の発光量＝（ＶＲＥＦ／ＲＲＥＦ）／ＭＰＤ透過率×ＭＰＤ受光電流変換率×Stitching比率
【００４３】
ここで、ＶＲＥＦは光量制御部が設定する設定電圧、ＲＲＥＦは設定電圧から設定電流を生成するための抵抗である。
【００４４】
また、ＭＰＤ透過率は、光源２１の出力光がハーフミラーを介して光量検出部２６に達する光量比率である。一例として、ＭＰＤ透過率４．５％では、光源２１の発光量が５００μＷの場合、ＭＰＤ受光量は２２．５μＷとなる。
【００４５】
また、ＭＰＤ受光電流変換率は、光量検出部２６が受光した光量から電流へ変換する際の効率である。一例として、ＭＰＤ受光電流変換率０．４８では、ＭＰＤ受光量が２２．５μＷの場合、ＭＰＤ受光電流は１０．８μＡとなる。
【００４６】
また、Stitching比率は、ＶＲＥＦから生成される光源２１の発光量を１００％としたとき、光源２１の発光量の減衰率である。一例として、Stitching比率０．９では、ＶＲＥＦから生成される光源２１の発光量に対して９０％の発光量となる。
【００４７】
寿命判定用発光手段の発光量の一例を示す。例えば、ＶＲＥＦ＝０．５Ｖ、ＲＲＥＦ＝３３ＫΩ、ＭＰＤ透過率＝４．５％、ＭＰＤ受光電流変換率＝０．４８、Stitching比率＝０．９の場合、寿命判定用発光手段の発光量＝６３１μＷ≒（０．５Ｖ／３３ＫΩ）／４．５％×０．４８×０．９となる。このような算出式を用いて、寿命判定用発光手段の発光量を計測する。
【００４８】
中央演算部３０の判定手段は、上記発光量計測手段により計測した寿命判定用発光手段の発光量と、予め設定された所定の閾値とを比較し、計測した発光量が閾値以下となった場合、光源２１の寿命であると判定する。
【００４９】
また、他の判定方法としては、寿命判定用発光手段の累積点灯時間が所定の閾値に達した場合、光源２１が寿命に達したと判定してもよい。また、寿命判定用発光手段を用いて走査検出を行う場合、走査検出器２７で検出した光量が点灯異常を検知した場合、光源２１が寿命に達したと判定してもよい。ここで、上記所定の閾値は、予め実験結果等によって求められた値である。判定手段によって光源２１の寿命に達したと判定された場合、中央演算部３０から寿命通知部１５へ光源２１の寿命の指示を与える。
【００５０】
＜３．寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係＞
図３は、寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係を説明する図である。図３において、横軸は時間、縦軸は光量であり、各種点灯条件（ａ）〜（ｃ）をパラメータとして、寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係を示したものである。発光手段は、時間の経過とともに光量が低下し、ある光量まで低下すると寿命であると判定される。いずれの点灯条件においても、寿命判定用発光手段の方が先に寿命となるように制御される。
【００５１】
本実施形態では、寿命判定用発光手段の発光条件が、露光用発光手段の発光条件と同等以上に厳しくなるよう制御している。したがって、いずれの点灯条件（ａ）〜（ｃ）であっても、露光用発光手段よりも寿命判定用発光手段の方が早く寿命に達することになる。
【００５２】
本実施形態では、このような寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係を利用して、寿命判定用発光手段が寿命に達した際には、いまだ露光用発光手段の寿命に達していない場合でも光源全体としの寿命が近いとして、光源の交換を促す通知を行う。これにより、露光用発光手段が寿命に達して画像形成に悪影響を与える前に光源の交換が行われることになる。
【００５３】
＜４．寿命判定用発光手段の発光条件＞
本実施形態に係る画像処理装置において、寿命判定用発光手段の発光条件の例を以下に示す。
（１）一定時間もしくは単位時間当たりの寿命判定用発光手段の発光時間が露光用発光手段の発光時間より長くなるよう制御する。
（２）一定時間もしくは単位時間当たりの寿命判定用発光手段の発光量が露光用発光手段の発光量より多くなるよう制御する。
（３）一定時間もしくは単位時間当たりの寿命判定用発光手段の連続点灯時間が露光用発光手段の連続点灯時間より長くなるよう制御する。
（４）一定時間もしくは単位時間当たりの寿命判定用発光手段の発光条件が露光用発光手段のうち最も厳しい発光条件と同等以上に厳しくなるよう制御する。
（５）一定時間もしくは単位時間当たりの寿命判定用発光手段の発光条件が露光用発光手段の平均の発光条件と同等以上に厳しくなるよう制御する。
（６）光源から出射された光が感光体を走査する方向の基準位置を検出するための点灯を寿命判定用発光手段で行うよう制御する。
ここで、上記一定時間とは、１走査期間、１ページ形成期間など、種々のものが考えられるが、本実施形態では１走査期間の場合を例とする。また、上記単位時間とは、１秒、１分、１時間、１日といった時間単位が考えられる。
【００５４】
また、上記（１）〜（３）、（６）を単独で行っても、適宜組み合わせて行ってもよい。さらに、上記（１）〜（３）を組み合わせる場合、上記（１）〜（３）に優先順位を設けてもよい。例えば、複数の露光用発光手段について一定時間当たりの点灯時間が等しい場合は、連続点灯している時間が長い方の露光用発光手段と同じ点灯のさせ方を寿命判定用発光手段に適用する。また、複数の露光用発光手段について一定時間当たりの点灯画素数や点灯時間、発光量、連続点灯時間を光量に換算してもよく、この換算を行う際に重み付き演算を適用してもよい。例えば、発光時間と連続点灯時間とを光量に換算するにあたり、共に実質的な総光量が同じであっても連続点灯時間の方の重み付け係数を大きくするといった演算を行う。
【００５５】
寿命判定用発光手段は、露光用とは独立で設けられていても、また露光用発光手段として兼用してもよい。ただし、兼用として用いる場合には、他の露光用発光手段より多くの負荷がかかるよう制御されることから、画像形成に影響の出ないタイミングや位置（印字領域以外）で発光が制御される。
【００５６】
図４は、間欠点灯と連続点灯とを説明するタイミングチャートである。この図でＬＳは主走査領域信号、ＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３、…、ＬＤＸは複数の半導体レーザ（発光手段）の点灯タイミングである。ここで、ＬＤ１とＬＤ２とは、点灯画素数として同じ６画素であるが、ＬＤ１は１走査タイミングの中で別個に６画素分点灯している。これに対し、ＬＤ２は１走査タイミングの中で連続した６画素分点灯している。
【００５７】
本実施形態では、複数の露光用発光手段の１走査タイミングの中で連続して点灯する画素数の最も多いものと同等以上の連続点灯画素数で寿命判定用発光手段を点灯させる（上記（３））。これは、同じ画素数分の発光であっても連続点灯の方が負荷が大きいためである。
【００５８】
上記の制御を行うには、画像処理部から各半導体レーザ（発光手段）へ送られる画像情報を寿命判定用発光手段の点灯制御部が検知し、１走査タイミング中で最も多い連続点灯画素数を検出する。そして、検出した最も多い連続点灯画素数以上の連続点灯画素数で寿命判定用発光手段を駆動する（上記（４））。
【００５９】
また、本実施形態では、複数の露光用発光手段の１走査タイミングの中で点灯する画素数の最も多いものと同等以上の画素数で寿命判定用発光手段を点灯させるようにしてもよい（上記（１））。これは、点灯画素数が発光時間に比例するとする考えに基づくものである。
【００６０】
上記の制御を行うには、画像処理部から各半導体レーザ（発光手段）へ送られる画像情報を寿命判定用発光手段の点灯制御部が検知し、１走査タイミング中で最も多い点灯画素数を検出する。そして、検出した最も多い点灯画素数以上の点灯画素数で寿命判定用発光手段を駆動する（上記（４））。
【００６１】
また、本実施形態では、複数の露光用発光手段の１走査タイミングの中で点灯する発光量の最も多いものと同等以上の発光量で寿命判定用発光手段を点灯させるようにしてもよい（上記（２））。ここで、発光量は半導体レーザに印加する電圧に比例する（図５参照）。したがって、複数の露光用発光手段の１走査タイミングの中で最も印加電圧の高いものと同等以上の印加電圧で寿命判定用発光手段を点灯させる（上記（４））。
【００６２】
上記の制御を行うには、画像処理部から各半導体レーザ（発光手段）へ送られる画像情報、および光量制御部の出力信号、電圧設定部の出力信号を寿命判定用発光手段の点灯制御部が検知し、１走査タイミング中で最も高い印加電圧を検出する。そして、検出した最も高い印加電圧で寿命判定用発光手段を駆動する。
【００６３】
また、本実施形態では、上記（１）〜（３）の制御を行うにあたり、１走査タイミング中で複数の露光用発光手段の発光時間（点灯画素数）、発光量、連続点灯画素数の平均を求め、この平均以上の点灯条件で寿命判定用発光手段を発光させるようにしてもよい（上記（５））。
【００６４】
上記の制御を行うには、１走査タイミング中で複数の露光用発光手段の発光時間（点灯画素数）、発光量、連続点灯画素数の平均を中央演算部もしくは寿命判定用発光手段の点灯制御部で行い、求めた平均以上の点灯条件で寿命判定用発光手段を点灯させる。
【００６５】
また、本実施形態では、光源から出射された光が感光体を走査する方向の基準位置を検出するための点灯を、寿命判定用発光手段で行うよう制御してもよい（上記（６））。図６は、１走査の間の光源の点灯の種類を説明するタイミングチャートである。走査基準位置検出用の発光手段は、１回の印字領域および光量調整領域（ＡＰＣ領域）から成る１走査期間の間でレーザ光を出射する。そして、ポリゴンミラーによって反射したレーザ光を１走査ごとに走査検出器２７（図２参照）で受光して、走査方向の基準位置を検出する。また、走査基準位置検出用の発光手段および通常の発光手段は、光量調領域（ＡＰＣ領域）でＡＰＣのための点灯を行うとともに、印字領域で画像印字のための点灯を行う。
【００６６】
ここで、走査基準位置の検出は、印字領域以外の部分で行われる。すなわち、感光体上（印字領域）への走査の延長上で、印字領域の前もしくは後の位置に走査検出器を配置しておき、そこにレーザ光を照射する。このレーザ光の照射を行う走査基準位置検出用の発光手段として、寿命判定用発光手段を用いる。つまり、寿命判定用発光手段は各走査の間のタイミングで必ず点灯するが、露光用発光手段はこのタイミングで点灯しない。これにより、寿命判定用発光手段の発光条件が露光用発光手段の発光条件より厳しくなる。
【００６７】
走査期間内では、印字領域のほか、光量調整領域（ＡＰＣ領域）で半導体レーザ（発光手段）の点灯が行われる。光量調整領域（ＡＰＣ領域）では、光源の各半導体レーザを当該領域の期間内で順次点灯させ、光量検出部２６（図２参照）で受光して光量を検出する。そして、検出した光量が一定となるよう各半導体レーザ（発光手段）の光量がフィードバック制御されることになる。
【００６８】
＜５．寿命判定用発光手段の点灯タイミング＞
図７は、寿命判定用発光手段の点灯タイミングを説明するタイミングチャートである。この図では、画像形成の状態として、「Ｓ」で示される期間が走査基準位置の検出期間、「Ｉｍａｇｅ」で示される期間が印字期間、「ＡＰＣ」で示される期間が光量調整期間、図中ハッチングで示される期間が寿命判定用発光手段の点灯期間である。
【００６９】
図７（ａ）は、通常の状態でのタイミングチャートである。通常の状態では、「Ｓ」で示される期間に走査基準位置を検出し、１走査期間内で「Ｉｍａｇｅ」期間および「ＡＰＣ」期間が交互に設けられている。また、主走査領域信号が「Ｌｏｗ」、副走査領域信号が「Ｌｏｗ」の期間に合わせて「Ｉｍａｇｅ」期間が設けられ、この期間で印字（感光体への描画）が行われる。
【００７０】
ここで、寿命判定用発光手段から出射されたレーザ光が感光体へ到達しない構成では、「Ｉｍａｇｅ」の期間内で寿命判定用発光手段を点灯させてもよい。露光用発光手段による「Ｉｍａｇｅ」期間での点灯には影響を与えることなく寿命判定用発光手段が点灯するからである。この期間で寿命判定用発光手段を点灯させるにあたり、先に説明した寿命判定用発光手段の発光条件（１）〜（３）を適用する。また、この発光の際、発光条件（４）、（５）のいずれかを適用する。
【００７１】
図７（ｂ）は、寿命判定用発光手段の点灯タイミング（その１）を説明するタイミングチャートである。ここでは、図７（ａ）に示す通常の状態で、「Ｓ」、「Ｉｍａｇｅ」および「ＡＰＣ」の期間以外で寿命判定用発光手段を点灯させている。これにより、走査基準位置検出、印字、光量検出に影響を与えることなく寿命判定用発光手段が点灯する。この期間で寿命判定用発光手段を点灯させるにあたり、先に説明した寿命判定用発光手段の発光条件（１）〜（３）を適用する。また、この発光の際、発光条件（４）、（５）のいずれかを適用する。
【００７２】
図７（ｃ）は、寿命判定用発光手段の点灯タイミング（その２）を説明するタイミングチャートである。ここでは、「ＡＰＣ」期間が数回に１回の割合で設けられており、「ＡＰＣ」期間が設けられていない期間で寿命判定用発光手段を点灯させている。これにより、走査基準位置検出、印字、光量検出に影響を与えることなく寿命判定用発光手段が点灯する。この期間で寿命判定用発光手段を点灯させるにあたり、先に説明した寿命判定用発光手段の発光条件（１）〜（３）を適用する。また、この発光の際、発光条件（４）、（５）のいずれかを適用する。
【００７３】
図７（ｄ）は、寿命判定用発光手段の点灯タイミング（その３）を説明するタイミングチャートである。ここでは、インターイメージなど副走査方向の非描画期間で寿命判定用発光手段を点灯させている。これにより、走査基準位置検出、印字、光量検出に影響を与えることなく寿命判定用発光手段が点灯する。この期間で寿命判定用発光手段を点灯させるにあたり、先に説明した寿命判定用発光手段の発光条件（１）〜（３）を適用する。また、この発光の際、発光条件（４）、（５）のいずれかを適用する。
【００７４】
上記図７（ａ）〜（ｄ）のいずれのタイミングであっても、走査基準位置の検出期間である「Ｓ」で示す期間に寿命判定用発光手段を点灯させてもよい。つまり、走査基準位置の検出を行う際に点灯させる発光手段に寿命判定用発光手段を適用する。この期間、他の発光手段は点灯しないため、他の発光手段に比べて寿命判定用発光手段に多くの負荷がかかることになる。
【００７５】
＜６．画像処理装置の他のシステム構成＞
図８は、本実施形態に係る画像処理装置の他のシステム構成を説明するブロック図である。この画像処理装置のシステム構成でも、図２に示すシステム構成と同様に、主として画像形成群２０と制御群１０とで構成される。
【００７６】
画像形成群２０は、図１に示すＶＣＳＥＬから成る光源２１、光源駆動部２２、レンズ群２３、ポリゴンミラー２４、ハーフミラー２５、光量検出器２６、走査検出器２７を備えている。この構成のうち、光源２１、光源駆動部２２、レンズ群２３、ポリゴンミラー２４、ハーフミラー２５、光量検出器２６、走査検出器２７は図２に示す構成と同じである。図８に示す画像処理装置では、光源駆動部２２に、露光用発光手段の駆動電流制御部２２ａと、寿命判定用発光手段の駆動電流制御部２２ｂとを備えている。
【００７７】
また、制御群１０は、画像処理部１１、光量制御部１２、電圧設定部１３、寿命判定用発光手段の点灯制御部１４、寿命通知部１５を備えている。これらの構成は、図２に示す構成と同じである。
【００７８】
ＶＣＳＥＬから成る光源２１を構成する複数の発光手段のうち、露光用発光手段の光量は露光用発光手段の駆動電流制御部２２ａによって制御される。一方、寿命判定用発光手段の光量は寿命判定用発光手段の駆動電流制御部２２ｂによって制御される。このように露光用発光手段と寿命判定用発光手段とで別個に駆動電流制御部２２ａ、２２ｂを持って制御することにより、寿命判定用発光手段の光量を露光用発光手段の光量より高く制御する。
【００７９】
具体的には、寿命判定用発光手段の駆動電流制御部２２ｂにより、寿命判定用発光手段に対して露光用発光手段よりも一定量高い電流を出力する。これにより、寿命判定用発光手段の負荷が露光用発光手段より大きくなる。
【００８０】
この一定量高い電流にする増加量は、予め設定された固定値でも、また、制御群１０に設けられるレジスタ制御部１６に設定値を保存しておき、これを用いるようにしてもよい。
【００８１】
＜７．画像処理プログラム＞
本実施形態に係る画像処理プログラムは、光源を構成する複数の発光手段のうち少なくとも１つを寿命判定用発光手段として用い、この寿命判定用発光手段の一定時間に発光する発光量が、他の発光手段の一定時間に発光する発光量より多くなるように制御するステップと、寿命判定用発光手段の発光状態に応じて光源の寿命を判定するステップとコンピュータに実行させるものである。
【００８２】
コンピュータは本実施形態に係る画像処理装置の中央演算部で実行される。また、本実施形態の情報処理プログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録されていたり、ネットワークを介して配信されるものでもある。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】本実施形態に係る画像処理装置で適用される光源の構成を説明する図で、（ａ）は全体平面図、（ｂ）は発光手段の部分拡大平面図である。
【図２】本実施形態に係る画像処理装置のシステム構成を説明するブロック図である。
【図３】寿命判定用発光手段と露光用発光手段との関係を説明する図である。
【図４】間欠点灯と連続点灯とを説明するタイミングチャートである。
【図５】電圧設定値と出力電圧との関係を示す図である。
【図６】１走査の間の光源の点灯の種類を説明するタイミングチャートである。
【図７】寿命判定用発光手段の点灯タイミングを説明するタイミングチャートである。
【図８】本実施形態に係る画像処理装置の他のシステム構成を説明するブロック図である。
【符号の説明】
【００８４】
１０…制御群、１１…画像処理部、１２…光量制御部、１３…電圧設定部、１４…寿命判定用発光手段の点灯制御部、１５…寿命通知部、２０…画像形成群、２１…光源、２２…光源駆動部、２３…レンズ群、２４…ポリゴンミラー、２５…ハーフミラー、２６…光量検出器、２７…走査検出器、３０…中央演算部
【図１】
2010158818.tif 000003
【図２】
2010158818.tif 000004
【図３】
2010158818.tif 000005
【図４】
2010158818.tif 000006
【図５】
2010158818.tif 000007
【図６】
2010158818.tif 000008
【図７】
2010158818.tif 000009
【図８】
2010158818.tif 000010