(57)【要約】【課題】  磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査において最適なシークを測定して設定することが可能で、検査のスループットを向上させることができる最適なシーク時間測定方法およびこの測定方法を使用する検査装置を提供することにある。【解決手段】  この発明は、トラック１周分に亙って各前記セクタ対応に読出信号の正極側の平均値と負極側の平均値の差を採り、これらの差のうちの最大値Ｈと最小値Ｌとして、セトリング時間を変えてシーク時間を算出してテストデータを書込み、テストデータを読出して平均値の変位量ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）を算出して、平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下となるセトリング時間のうち最小となるセトリング時間を最適なセトリング時間あるいは最適なシーク時間として得るものである。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ヘッドあるいは磁気ディスクの検査をするために前記磁気ヘッドを磁気ディスク上のセクタ分割されたトラックにシークさせて前記トラックにテストデータを書込み、前記トラックから前記テストデータを読出して前記磁気ヘッドの振動が減衰するまでのセトリング時間あるいはこのセトリング時間を含むシーク時間を測定するシーク時間測定方法において、
所定のトラックあるいはヘッドロードポジションから前記目標トラックまでの前記シーク時間を算出してこのシーク時間に従って前記磁気ヘッドを前記目標トラックにシークさせて前記シーク時間後に前記目標のトラックに前記テストデータを書込み、
書込まれた前記テストデータを前記目標のトラックから読出して前記テストデータの正極側の読出レベルの平均値と負極側の読出レベルの前記セクタ対応の平均値をそれぞれ検出してこれら平均値によるトラック１周分の波形を採取し、
採取した前記トラック１周分の波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値Ｈと最小値Ｌとを検出し、さらに平均値の変位量ＤＥＶとしてＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／ＨあるいはＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／Ｌのいずれかの式により前記平均値の変位量ＤＥＶを算出してこの平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下あるいは所定値を越えているかを判定するものであって、
前記所定値は、前記目標トラックまでのシークにおいて前記磁気ヘッドが確実にセトリングする最大時間か、それ以上の前記セトリング時間を持つシーク時間を設定したときに選択された前記式により算出された平均値の変位量ＤＥＶに対応し、
前記セトリング時間を変えて前記シーク時間を算出して前記テストデータを書込み、前記テストデータを読出して前記判定により得られる所定値以下の最小のシーク時間を最適な前記シーク時間としてあるいは前記最小のシーク時間のときのセトリング時間を最適なセトリング時間として得る磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法。
【請求項２】
前記目標トラックをＡＣイレーズして前記目標トラックへのテストデータの書込が行われ、前記目標トラックまでのシークにおいて前記磁気ヘッドが確実にセトリングする最大時間か、それ以上の前記セトリング時間を持つシーク時間が初期値として与えられ、所定値以下の判定がなされるごとに前記初期値における前記セトリング時間が順次減算されてシーク時間が算出されるものであって、前記最小となるシーク時間は、前記所定値以下かの判定において所定値を越えたときに、その手前で算出されたシーク時間とされる請求項１記載の磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法。
【請求項３】
前記平均値の変位量ＤＥＶは、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）により算出され、前記所定値は、０．０３であって、前記セトリング時間は、ヘッドロードポジションから前記磁気ディスク上の最外周トラックへ、前記ヘッドロードポジションから前記磁気ディスク上の最内周トラックへ、前記最外周トラックから前記最内周トラックへ、そして前記最内周トラックから前記最外周トラックへのいずれかのシークのうち前記セトリング時間が最も長い時間となるセトリング時間における最大セトリング時間か、これ以上の値が初期値として与えられ、前記セトリング時間の変更は、前記初期値が判定ごとに一定量減算されることで行われる請求項２記載の磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法。
【請求項４】
前記セトリング時間は、前記ヘッドロードポジションから前記磁気ディスクの最外周トラックへ、前記ヘッドロードポジションから最内周トラックへ、前記ヘッドロードポジションから前記最外周トラックと前記最内周トラックの間にある中央位置のトラックへの少なくとも３トラックをシークしたときの最大のセトリング時間か、これ以上の値が初期値として与えられる請求項３記載の磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法。
【請求項５】
前記所定値は、０．０２〜０．０３の範囲として与えられ、前記判定は、０．０２〜０．０３の範囲に入るか否かによる請求項４記載の磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法。
【請求項６】
請求項１〜５記載の磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法により検出した最適なシーク時間により磁気ヘッドあるいは磁気ディスクを検査する検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法およびこの測定方法を使用する検査装置に関し、詳しくは、磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査において磁気ヘッドを目標のトラックに位置決めしてデータの読み／書きをするときに必要となるシーク時間に対して磁気ヘッドセトリング時間を考慮したシーク時間の最適値を測定して測定したシーク時間を磁気ディスク検査あるいは磁気ヘッド検査においてシーク時間として設定することで検査のスループットの向上を図ることができるような磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査において、磁気ヘッドが所定のロードポジションからあるいは現在トラック位置から目標トラックまでシークする際には、シークにより励起されたアクチュエータ（ボイスコイルモータ等）の振動が目標のトラック上で減衰していなければ磁気ヘッドの位置も振動し安定しない。そのため、目標のトラック上で磁気ヘッド（アクチュエータ）の振動が減衰するまでの待ち時間（セトリング時間）を含めたシーク時間が設定されて目標トラックまでのシークが行われる。
特に、オープン制御のヘッドシークでは、ロードポジションあるいは現在トラック位置から磁気ヘッドを最加速して減速に入って目標トラックに位置決めされるが、目標トラックにヘッドが停止位置決めされるまでの位置決め時間と、この停止位置決めされてからアクチュエータの振動が減衰するまでの待ち時間（セトリング時間）との和が通常の磁気ヘッドのシーク時間とされている。
【０００３】
シークにおけるヘッドの停止位置決めまでの時間は、スタートする位置と目標トラックまでの距離により相違する。また、アーム等のヘッドシークのための機構系には一般に高周波数の機械系固有の振動が存在しているので、セトリング時間は、磁気ヘッド（磁気ヘッドアッセンブリ）と、ヘッドキャリッジや磁気ヘッドが装着されたスピンドル等の機構的な関係で相違してくる。さらにそれは、ヘッドキャリッジの駆動部品、機構の経年変化などにも依存してくる。
なお、セトリング時間に関しては、フィードフォワード制御において、機構系の共振を抑えてシーク時間を短縮する駆動技術が開発され、すでに公知になっている（特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００６−２０２３６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来、オープン制御のシークにおけるセトリング時間は、確実にセトリングする最大時間にさらに余裕をもって、例えば、５０ｍsec程度のセトリング時間が設定されてシーク時間が決定されている。それにより磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査が行われる。しかし、セトリング時間を５０ｍsec程度とすると、シーク時間が長くなり、検査効率が悪い。
しかし、５０ｍsecより少ないセトリング時間を選択すると、ヘッドキャリッジや磁気ヘッドが装着されたスピンドル等の機構的な条件により、また、ヘッドキャリッジの駆動部品、機構の経年変化やヘッドキャリッジの駆動部品の交換等により選定されているセトリング時間を越えてしまう問題がある。
セトリング時間を越えたシーク時間で検査された磁気ディスクあるいは磁気ヘッドは、正常な測定結果を得ることができず、それらが磁気ディスク装置に搭載されると装置の信頼性の低下を招く虞がある。しかし、現実の磁気ヘッドのセトリング時間がいつの時点で選択されたセトリング時間を越えたは現在のところ知るすべはない。
余裕をもって設定されたセトリング時間は、シーク時間を遅らせ、検査のスループットが低下する問題があるので磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査では最適なシーク時間の設定が望まれるところである。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査において最適なシーク時間を測定して設定することが可能で、検査のスループットを向上させることができる磁気ヘッドセトリング時間を考慮した最適なシーク時間測定方法およびこの測定方法を使用する検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような目的を達成するためのこの発明の最適なシーク時間測定方法およびこの測定方法を使用する検査装置の構成は、所定のトラックあるいはヘッドロードポジションから目標トラックまでのシーク時間を算出してこのシーク時間に従って磁気ヘッドを目標トラックにシークさせてシーク時間後に目標のトラックにテストデータを書込み、書込まれたテストデータを目標のトラックから読出してテストデータの正極側の読出レベルの平均値と負極側の読出レベルのセクタ対応の平均値をそれぞれ検出してこれら平均値によるトラック１周分の波形を採取し、
採取したトラック１周分の波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値Ｈと最小値Ｌとを検出し、さらに平均値の変位量ＤＥＶとしてＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／ＨあるいはＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／Ｌのいずれかの式により平均値の変位量ＤＥＶを算出してこの平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下あるいは所定値を越えいるかを判定する。
ここで、前記の所定値は、目標トラックまでのシークにおいて磁気ヘッドが確実にセトリングする最大時間か、それ以上のセトリング時間を持つシーク時間を設定したときに選択された前記式により算出された平均値の変位量ＤＥＶに対応し、セトリング時間を変えてシーク時間を算出してテストデータを書込み、テストデータを読出して前記の判定により得られる所定値以下の最小のシーク時間を最適なシーク時間としてあるいは最小のシーク時間のときのセトリング時間を最適なセトリング時間として得るものである。
【発明の効果】
【０００７】
目標トラック上で磁気ヘッド（アクチュエータ）が振動すると、その振動によるトラックからの位置ずれに応じてテストデータのトラックに対する書込みレベルは低下する。それにより読出信号のレベルが低下する。そこで、磁気ヘッドの位置ずれ量を読出波形により捉え、それを磁気ヘッド（アクチュエータ）の振動成分として検出することができるが、スピンドルにより回転するディスクは偏心し、磁気ヘッドとトラックとの位置関係も書込／読出のそのときどきの状況に応じて変動するので、ただ読出信号を得ても磁気ヘッド（アクチュエータ）セトリング時の振動との位置関係は掴みにくい。
セトリング時の磁気ヘッドの振動は、ヘッドキャリッジ等の機械系の構造から生じる機械的な振動であり、その主なるものがアクチュエータの駆動から生じる高周波振動となるので、ここでは、これに着目して各セクタ対応に読出レベルの平均値を採ることで磁気ヘッドのセトリング状態を電気信号として検出する。それにより磁気ヘッドの振動に対応する読出波形を得ることができる。
この読出波形からセクタ対応の正極側と負極側の各平均値のトラック１周分の波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値Ｈと最小値Ｌとを検出して平均値の変位量ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／ＨあるいはＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／Ｌにおいて平均値の変位量ＤＥＶを算出する。これら各式における平均値の変位量ＤＥＶは、トラック１周において磁気ヘッドの振動によるトラックからのずれ量を表している。
【０００８】
目標トラックまでのシークにおいて磁気ヘッドが確実にセトリングする最大時間か、それ以上のセトリング時間を持つシーク時間を設定したときの平均値の変位量ＤＥＶを前記式により算出すれば、このときの算出値は、磁気ヘッドの振動が確実に減衰したときの値に対応する。一方、最適なセトリング時間は、検査のスループット向上から考えて磁気ヘッドの振動が減衰するまでの時間のうち、最小値である。
そこで、磁気ヘッドの振動が確実に減衰したときの平均値の変位量ＤＥＶの値を基準にして、これを越えるまでシーク時間を変化させて、そのうちの最小シーク時間を最適なシーク時間としてここでは検出する。
【０００９】
具体的には、セトリング時間を変えて磁気ヘッドをシークさせて、この平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下、例えば、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）において、０．０３以下にあるときでかつセトリング時間のうち最小となる時間を検出することで、最適なセトリング時間あるいは最適なシーク時間を得るものである。
なお、所定値＝０．０３は、目標トラックを磁気ディスク上のどこのトラックを選択しても確実にセトリングする最大時間、すなわち、５０ｍsecを設定したときに平均値の変位量ＤＥＶの値が０．０２〜０．０３になることによる。これにより、平均値の変位量ＤＥＶの値の限界値が０．０３であることが判る。もちろん、所定値＝０．０２としてもよいが、磁気ヘッドの振動が完全に減衰する少し手間でも実質的に差し支えないので、スループット向上の点から次に説明する実施例では、所定値として大きい方の０．０３を採用している。
【００１０】
そこで、この発明は、読出波形からセクタ対応の正極側と負極側の各平均値のトラック１周分の波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値Ｈと最小値Ｌとを検出してかつセトリング時間を変えてシーク時間を算出してテストデータを書込み、テストデータを読出して平均値の変位量ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／ＨあるいはＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／Ｌのいずれかの式のより平均値の変位量ＤＥＶを算出して、平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下となるセトリング時間のうち最小となるセトリング時間を最適なセトリング時間あるいは最適なシーク時間として得るものである。
その結果、磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査において最適なシークを測定して設定することが可能となり、検査のスループットを向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、この発明の最適なシーク時間測定方法を適用した一実施例の最適シーク時間測定機能を有する検査装置のブロック図である。
【図２】図２は、読出信号平均値波形生成回路で生成されたトラック１周分のセクタ対応の各平均値による検出波形の説明図である。
【図３】図３は、シーク時間測定処理の基本フローチャートである。
【図４】図４は、最適なセトリング時間を短時間で得るために初期設定するセトリング時間についての測定処理の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
図１において、１０は、最適シーク時間測定機能を有する検査装置であって、磁気ディスク（以下ディスク）１と、スピンドル２、磁気ヘッド（以下ヘッド）３、読出信号平均値波形生成回路４、そして測定処理・検査装置２０とを有している。
ディスク１は、スピンドル２に装着されて回転し、スピンドル２には、インデックス信号ＩＮＤ（あるいはセクタ信号ＳＥＣ）を発生するロータリエンコーダ２ａが設けられている。
ヘッド３は、ディスク１に対してヘッドキャリッジ１５に搭載され、ディスク１にローディングされる。
ヘッド３は、ディスク１の目標トラックに対応して所定のトラックからあるいはヘッドロードポジションから目標トラックまでシークし、このシークに対応して設定されたシーク時間で目標トラックに停止位置決めされる。そして、、セトリング時間を経て所定の周波数のテストデータを目標トラックに書込み、この目標トラックからテストデータを読出す。なお、このときのシーク時間にはセトリング時間が含まれている。
【００１３】
ヘッド３の読出信号は、読出アンプ（ＡＭＰ）３ａを介して読出信号平均値波形生成回路４のローパスフィルタ（ＬＰＦ）５に入力される。ＬＰＦ５は、測定帯域の信号を通過させ、それ以上の成分を急峻にカットし、高域ノイズを取除くためのフィルタである。
ＬＰＦ５の出力信号は、書込テストデータの周波数２ｆoとすると周波数ｆoで発生し、その範囲は１ＭＨｚ〜８００ＭＨｚ程度か、それ以上のものである。
ここでは、８００ＭＨｚの読出信号があるとすると、この８００ＭＨｚの読出信号は、次に、アンプ（ＡＭＰ）６において増幅されて各セクタ対応に読出信号の平均値を正極側と負極側とについて生成するセクタ対応読出信号平均値発生回路７に入力される。
セクタ対応読出信号平均値発生回路７は、周知のＴＡＡ回路（トラック１周分平均値発生回路）をインデックス信号ＩＮＤに対応して動作させずに、インデックス信号ＩＮＤに換えてセクタ信号で動作させることで実現できる。
【００１４】
セクタ対応読出信号平均値発生回路７とＤ／Ａ８は、ロータリエンコーダ２ａからインデックス信号ＩＮＤ（あるいはセクタ信号ＳＥＣ）を受けて、１周分で１０２４個のセクタがあるとすると、セクタ対応読出信号平均値発生回路７が１０２４個の各セクタ対応に読出信号の平均値を算出してＡ／Ｄ変換回路（Ａ／Ｄ）８へと送出してＡ／Ｄ８がセクタ対応の各平均値をデジタル値に変換して波形データメモリ９に送出する。なお、ＬＰＦ５からＡ／Ｄ８までが読出信号平均値波形生成回路４の各回路である。
その結果、波形データメモリ９には、トラック１周分の読出信号の正極側と負極側について各セクタ対応に算出された平均値がデータとして記憶される。
この波形データメモリ９のデータは、次にデータ処理・測定装置２０のバス２６を介してＭＰＵ２１により読み込まれる。
なお、ロータリエンコーダ２ａからインデックス信号ＩＮＤ（あるいはセクタ信号ＳＥＣ）は、データ処理・測定装置２０にも入力されている。
【００１５】
テストデータのディスク１への書込みは、テストデータ生成回路１１と書込制御回路１２と書込回路１３を介して行われ、テストデータ生成回路１１は、データ処理・測定装置２０から制御信号に応じてテストデータを生成し、書込制御回路１２は、所定のタイミングでテストデータを書込回路１３を介して書込む。
１４は、ヘッドアクセス制御回路であって、測定処理・検査装置２０からの制御信号を受けてヘッドキャリッジ１５を駆動してヘッド３を目標となる目標トラックに位置決めする。なお、ディスク１を回転駆動する駆動回路は図では省略してある。
測定処理・検査装置２０は、ＭＰＵ２１と、メモリ２２、ディスプレイ２３、インタフェース２４、そしてキーボード２５等により構成され、これらと波形データメモリ９とがバス２６により相互に接続されている。
【００１６】
図２は、読出信号平均値波形生成回路４で生成されたトラック１周分のセクタ対応の各平均値の波形の説明図である。
セクタ対応の各平均値は、図２に示すように、正極と負極を有するアナログ波形として表示でき、正極側、負極側それぞれにおいて１周に１０２４個分発生する。
この波形において、波形が低下している領域は、トラック１周において磁気ヘッド（アクチュエータ）の振動による各セクタにおけるトラックからのヘッド３の平均的なずれ量を表している。
そこで、このトラック１周分の読出信号のセクタ平均値の波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値ＨＦMAX（この発明の最大値Ｈに対応）と最小値ＨＦMIN（この発明の最小値Ｌに対応）とを算出して平均値の変位量ＤＥＶ＝（ＨＦMAX−ＨＦMIN）／（ＨＦMAX＋ＨＦMIN）（あるいはＤＥＶ（％）＝｛（ＨＦMAX−ＨＦMIN）／（ＨＦMAX＋ＨＦMIN）｝×１００）を算出し、これが、例えば、０．０３以下になったときに振動が減衰し、セトリングが完了したものとする。
【００１７】
波形データメモリ９から得られる１回の測定におけるこのような読出信号の平均値の波形データは、バス２６を介してＭＰＵ２１に読込まれ、それがバス２６を介してあるいは波形データメモリ９から直接メモリ２２に転送されて波形データ記憶領域２２ｆに記憶される。これにより波形データメモリ９にはトラック１周分の次の測定データを上書きすることが可能になる。
メモリ２２には、最適シーク時間測定プログラム２２ａ、シーク時間設定プログラム２２ｂ、目標トラックへシークしてデータの書き、読みをするデータ書込／読出プログラム２２ｃ、平均値の変位量ＤＥＶを算出してＤＥＶ値を判定するＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄ、最適セトリング時間検出プログラム２２ｅ等が記憶されている。また、波形データ記憶領域２２ｆと作業領域２２ｇ、測定のための制御データを記憶するパラメータ領域２２ｈ等が設けられている。
【００１８】
所定の機能キー入力により最適シーク時間測定の測定処理が起動されると、ＭＰＵ２１は、最適シーク時間測定プログラム２２ａを実行する。最適シーク時間測定プログラム２２ａがＭＰＵ２１により実行されると、ＭＰＵ２１は、目標値トラックの指定待ちをして目標値トラックが決定されると、目標トラックをＡＣイレーズして、シーク時間設定プログラム２２ｂ、データ書込／読出プログラム２２ｃ、読出信号の平均値についてＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄ、最適セトリング時間検出プログラム２２ｅ等を順次コールして実行する。
シーク時間設定プログラム２２ｂがＭＰＵ２１に実行されると、ＭＰＵ２１は、パラメータ領域２２ｉに記憶されたセトリング時間Ｔｓとヘッド３の現在位置であるトラックあるいはヘッドロードポジションから目標トラックまでの距離を算出してこの距離から算出されるヘッドの停止位置決め時間とセトリング時間Ｔｓとから目標トラックまでのシーク時間を算出する。そして、データ書込／読出プログラム２２ｃをコールする。
なお、セトリング時間Ｔｓは、測定開始時には初期値として５０ｍsecが設定される。
【００１９】
データ書込／読出プログラム２２ｃがＭＰＵ２１に実行されると、算出したシーク時間に従って指定された目標トラックまでヘッド３をシークしてテストデータを書込み、そのテストデータを読出す。これにより波形データメモリ９にトラック１周分の各セクタ対応の正極と負極を含む平均値の波形データが採取される。
そして、ＭＰＵ２１は、ＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄをコールして実行し、波形データメモリ９の採取データを波形データ記憶領域２２ｆに転送して記憶する。ＭＰＵ２１がＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄを実行すると、さらに、平均値の変位量ＤＥＶを算出して平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下か判定する。所定値以下と判定されると、ＭＰＵ２１は、最適シーク時間測定プログラム２２ａにリターンして、シーク時間設定プログラム２２ｂをコールしてセトリング時間Ｔｓを短い方向に更新してシーク時間が短くなるように更新してデータ書込／読出プログラム２２ｃをコールして実行し、続いてＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄをコールして実行して平均値の変位量ＤＥＶが所定値を越えるまで処理を繰り返す。
平均値の変位量ＤＥＶが所定値を越えた時点で、ＭＰＵ２１は、最適セトリング時間検出プログラム２２ｅをコールする。
最適セトリング時間検出プログラム２２ｅがＭＰＵ２１に実行されると、平均値の変位量ＤＥＶが所定値以下にあるときのセトリング時間のうちの最小値を最適セトリング時間として検出して最適シーク時間を算出する。これにより最適シーク時間が測定される。
【００２０】
以下、図２のシーク時間測定処理のフローチャートに従って最適シーク時間を測定する処理について具体的に説明する。
まず、セトリング時間Ｔs＝５０ｍsecとしてパラメータ領域２２ｉに初期値を記憶して初期設定をし（ステップ１０１）、目標トラックの入力待ちをして（ステップ１０２）。目標トラックが入力されると、指定された目標トラックをＡＣイレーズする（ステップ１０３）。そして、ＭＰＵ２１は、シーク時間設定プログラム２２ｂをコールしてＭＰＵ２１が実行してセトリング時間を含むシーク時間を算出してパラメータ領域２２ｉの所定領域に記憶することでシーク時間の設定をする（ステップ１０４）。
最初は、シーク時間設定プログラム２２ｂは、セトリング時間を初期値の５０ｍsecとし、ヘッド３の現在位置から目標トラックまでのトラック数（距離）から位置決め時間Ｔを算出して、シーク時間Ｓ＝Ｔ＋５０ｍsecを算出する。そして、最適シーク時間測定プログラム２２ａにリターンする。以後のステップ１０４の処理では位置決め時間Ｔを記憶しておき、算出をしないで済ませる。
なお、セトリング時間Ｔs＝５０ｍsecは、ディスク上のどのトラックからどのトラックへとシークしてもヘッドの停止位置決め後に磁気ヘッドの振動が完全に減衰する最大のセトリング時間であり、ディスクの径によっても多少相違がある。もちろん、入力された目標トラックへ位置決めしてヘッド３のセトリングが完了するシークする時間よりも大きい。
具体的には、ヘッドロードポジションから磁気ディスク上の最外周トラックへ、ヘッドロードポジションから磁気ディスク上の最内周トラックへ、最外周トラックから最内周トラックへ、そして最内周トラックから最外周トラックへのいずれかのシークのうちセトリング時間が最も長い時間となるセトリング時間における最大セトリング時間に等しいか、これ以上の値として与えられている。これが初期値のセトリング時間５０ｍsecである。
また、現在位置は、現在ヘッド３が位置決めされているトラック位置の場合とヘッドロードポジション（ホームポジション）の場合とがある。
【００２１】
次に、ＭＰＵ２１は、データ書込／読出プログラム２２ｃをコールして実行し、パラメータ領域２２ｉに記憶されたシーク時間Ｓに従って現在位置から目標トラックへヘッド３をシークし（ステップ１０５）、シーク時間Ｓ経過したか否かの判定により、シーク時間が終了したか否かを判定してセトリングが完了したか否かを判定する、セトリング待ちに入る（ステップ１０６）。
ＭＰＵ２１は、次にインデックス信号ＩＮＤに同期して目標トラックへトラック１周分のテストデータを書込み（ステップ１０７）、続いて書込んだテストデータを読出して、波形データメモリ９にトラック１周分の読出信号の正極側と負極側信号につてのそれぞれのレベルのセクタ対応の平均値のデータを記憶する（ステップ１０８）。
【００２２】
トラック１周分のテストデータの読出が済むと、ＭＰＵ２１は、ＤＥＶ算出・判定処理プログラム２２ｄをコールして実行し、波形データメモリ９に記憶されたデータを読込み、内部メモリ２２（波形データ記憶領域２２ｆ）に転送する（ステップ１０９）、そして、採取したトラック１周分の平均値波形におけるピーク−ツウ−ピークの振幅のうちの最大値ＨＦMAX（＝Ｈ）と最小値ＨＦMIN（＝Ｌ）とを算出して（ステップ１１０）、続いて前記した式により読出信号の平均値の変位量ＤＥＶの算出する（ステップ１１１）。そして算出値ＤＥＶはＭ（＝０．０３）以下かの判定をし（ステップ１１２）、ＹＥＳのときにはセトリング時間ＴsをＴs＝Ｔs−αとして算出して更新し（ステップ１１３）、パラメータ領域２２ｉに更新したセトリング時間Ｔsを順次追加記憶していく（ステップ１１４）。
そして目標トラックをＡＣイレーズして（ステップ１１５）、ヘッド３を目標トラックからスタート時点の最初のトラック位置に戻し（ステップ１１６）、ステップ１０４へと戻る。
ここで、ＮＯのときには、ステップ１１７へと移り、ＭＰＵ２１は、最適セトリング時間検出プログラム２２ｅをコールして最適セトリング時間の検出処理に入る。
【００２３】
ここでは、Ｍは０．０３（＝３％）であり、αは、１ｍsec〜３ｍsecの範囲から選択されたものである。これにより、通常、１０ｍsec〜３０ｍsecの間にある平均値の変位量ＤＥＶが０．０３を越える直前の最適なセトリング時間Ｔsを限界値として求めることができる。
ところで、Ｍ＝０．０３の値は、５０ｍsecを設定したときに平均値の変位量ＤＥＶの値が０．０２〜０．０３になることによる。これにより、平均値の変位量ＤＥＶの値の限界値を０．０３としている。前記したように、所定値＝０．０２としてもよいが、磁気ヘッドの振動が完全に減衰する少し手間でも実質的に差し支えないので、スループット向上の点からここでは、所定値として大きい方の０．０３を採用している。
Ｍ＝０．０３の値は、各ディスクの検査から得られた現在の実測値であり、ディスクの記録密度やキャリッジの機械的な構造、ヘッドの構造等が換われば、Ｍの数値は増減する。
【００２４】
ステップ１１１でＮＯとなると、ステップ１１７へと移行してパラメータ領域２２ｉに記憶された追加記憶されたセトリング時間Ｔsのうちの１つ手前のセトリング時間Ｔsを参照して、それを最適なセトリング時間としてパラメータ領域２２ｉに記憶する。
この場合の１つ手前のセトリング時間Ｔsは、０．０３（＝３％）を越えない限界値であり、最小のセトリング時間Ｔsになる。
この最適なセトリング時間によりシーク時間を算出して目標トラックにヘッド３をシークさせてディスクあるいは磁気ヘッドの検査をすることになる。
なお、目標トラックが複数ある場合には、各目標トラックに対応してそれぞれの最適なセトリング時間が測定され、各目標トラックに対応して最適なセトリング時間がパラメータ領域２２ｉにそれぞれ記憶してそれぞれに利用するか、これら複数の目標トラックのうちの最大セトリング時間を選択してこれを各目標トラック共通に使用してシーク時間を設定することになる。
【００２５】
ヘッド３の振動が確実にセトリング（減衰）する最大時間にさらに余裕をもった５０ｍsecを初期値に設定したときには、平均値の変位量ＤＥＶの値は、５回〜８回程度、ステップ１０４〜ステップ１１６の処理を循環することになる。そして、ステップ１１２の判定を繰り返して平均値の変位量ＤＥＶが０．０３を越えた時点でこの循環処理が停止する。
ステップ１０３〜ステップ１１６の処理では、目標トラックのＡＣイレーズ処理、テストデータの書込、読出処理等を伴うので、処理に時間がかかる。最適なセトリング時間Ｔsは、キャリッジの機構や検査装置によることなるが、多くの場合１０ｍsec〜３０ｍsec前後の値になる。そこで、ステップ１１３で１ｍsecごとの減算処理をしたときには、２０回程度ＹＥＳとなり、その後、ステップ１１１でＮＯとなる。
そこで、ステップ１０１で設定される初期値は、最適なセトリング時間Ｔsに近い値の方が最適なセトリング時間Ｔsを検出するまでの処理時間が短くて済む。
【００２６】
前記したように、実際に、ヘッドロードポジションから磁気ディスク上の最外周トラックへ、ヘッドロードポジションから磁気ディスク上の最内周トラックへ、最外周トラックから最内周トラックへ、そして最内周トラックから最外周トラックへのいずれかのシークのうちセトリング時間が最も長い時間を測定すれば、初期値は５０ｍsecより少ない時間にすることができる。それにより、０．０３を越える直前の最適なセトリング時間Ｔs（限界値）に至るまでのステップ１０３〜ステップ１１６の処理回数を低減することができる。
また、前記したように、シーク時間における位置決め時間は、スタートする位置と目標トラックまでの距離により相違するので、目標トラックの設定の仕方で当然最適なセトリング時間Ｔsが相違してくる。
しかも、実際の磁気ディスクで全面検査を行う場合、トラックを１トラックずつ順に移動していく。この場合、セトリング時間Ｔs＝５０ｍsecとしてシークする隣接トラックに対してそれぞれ最適セトリング時間Ｔsを検出したのでは、トラック数が１０，０００／インチ以上になる現在の記録密度では、測定に時間がかかり過ぎる。
そこで、トラックを１トラックずつ順に移動してそれぞれにおける最適なセトリング時間Ｔsを各トラック分求めてその最大値とするのが最適なセトリング時間Ｔsの決定の仕方としてよりよい方法である。これにより、最適なセトリング時間Ｔsを１つとして共通に使用して磁気ディスク等の全面検査が可能になる。
なお、ディスクの全面検査としては１トラックづつではなく、間引き検査も行われる。例えば、５μｍ〜２０μｍ程度の間隔を空けて１トラックづつ間引き検査をする場合には、それに合わせて５μｍ〜２０μｍ程度の間隔を空けて１トラックづつ最適なセトリング時間を求め、これらのうちの最大値を最適なセトリング時間Ｔsとすることができる。
【００２７】
そこで、より短時間で最適なセトリング時間Ｔsを求めるために初期設定するセトリング時間を最適なものとする方法が図４の処理手順である。
図４は、最適なセトリング時間を短時間で得るために初期設定するセトリング時間についての測定処理の説明図である。
まず、一次測定処理（ステップ２０１）として、前記のステップ１０４のセトリング時間を含むシーク時間の設定処理において、シーク時間の設定におけるヘッド３の現在位置をヘッドロードポジションに設定する（ステップ２０１ａ）。
また、ステップ１０２において入力される目標トラックをキーボードからの入力ではなく、ディスク１の内周トラックと、内周と外周の間にある中央トラックと外周トラックの３箇所に指定し（ステップ２０１ｂ）、ステップ１０１〜ステップ１１６の処理のくり返しを各トラック対応に繰り返して、この３トラックにおける最適なセトリング時間Ｔsをステップ１１７でそれぞれに求める（ステップ２０１ｃ）。それらをパラメータ領域２２ｉに記憶しておきこれら３トラックにおけるセトリング時間Ｔsの最大値を最適なセトリング時間Ｔsとして検出する（ステップ２０１ｄ）。
なお、この一次処理では、内周トラック、中央トラック、外周トラックにおいて最適なセトリング時間Ｔsを求めているが、実際の磁気ディスクの検査においては、トラック間隔を空けて、例えば、１０μｍ〜２０μｍ程度の間隔を空けて１トラックづつの最適なセトリング時間を求め、さらにこれらのうちの最大値を最適なセトリング時間Ｔsとして求めてもよい。
【００２８】
次に二次測定処理として、各トラックごとに順次シークするトラック・バイ・トラック測定（ステップ２０２）へ移り、ステップ２０１ｄで求めた最適なセトリング時間Ｔsを前記ステップ１０１で初期設定として設定し（ステップ２０２ａ）、ステップ１０１〜ステップ１１７の処理を各トラック対応に繰り返して全トラック分のセトリング時間Ｔsｔを各トラック対応にパラメータ領域２２ｉに記憶する（ステップ２０２ｂ）。
そして、これらセトリング時間Ｔsのうち最大値を最適なセトリング時間Ｔsｍとして検出する（ステップ２０２ｃ）、最大セトリング時間Ｔsｍをパラメータ領域２２ｉに検査のときの初期値として記憶し（ステップ２０３）、パラメータ領域２２ｉに記憶された最大セトリング時間Ｔsｔと各トラックごとの位置決め時間からシーク時間を決定して各トラック対応に磁気ディスク検査を開始する（ステップ２０４）。
【００２９】
ところで、実施例のステップ１１１では算出値ＤＥＶがＭ以下かの判定をしているが、これは、算出値ＤＥＶの判定をＭを越えるかとしてもよい。この場合には、ＹＥＳとＮＯの処理経路を入れ換えるとよい。さらに、算出値ＤＥＶの判定をＭ以上かとして、初期値を２０ｍsec以下として最初からセトリング時間より短いシーク時間を設定してステップ１０１〜ステップ１１６の処理を繰り返して、最小セトリング時間を求めてもよい。
したがって、図３の処理のステップ１１３では、一定値αをもって減算処理をしているが、減算処理は、この減算処理は一定値によるものでなくてもよい。さらに、この発明では、ステップ１１３の判定により得られる所定値以下の最小のシーク時間を求められるものであれば、減算処理によることに限定されない。
また、磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの検査に際しては、検査開始の時に限らず、図３の処理を定期的に行うような定期割込み処理等により最小セトリング時間を求めて検査を進めてもよい。さらに、ヘッドキャリッジ系の部品交換時等に行うようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
以上説明してきたが、実施例では、平均値の変位量ＤＥＶの算出式をＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／（Ｈ＋Ｌ）としているが、これは、ＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／ＨあるいはＤＥＶ＝（Ｈ−Ｌ）／Ｌを算出式としてもよい。この場合には判定基準となる所定値は、それぞれ相違してくる。さらにこれら各式においてＫ・ＤＥＶあるいは１／Ｋ・ＤＥＶ（ただしＫは“０”を除く自然数）を求めることは、この発明の各前記式における算出の範囲に含まれるものである。
また、実施例では、磁気ディスクの検査におけるセトリング時間Ｔsについて説明してきたが、これは、セトリング時間Ｔsと特定のトラックに対する位置決め時間を加えてシーク時間として最適シーク時間を検出してもよく、この発明は磁気ヘッドの検査にも適用できることはもちろんである。
【符号の説明】
【００３１】
１…磁気ディスク（ディスク）、２…スピンドル、
２ａ…ロータリエンコーダ、３…磁気ヘッド（ヘッド）、
４…読出信号平均値波形生成回路、３ａ，６…読出アンプ（ＡＭＰ）、
５…ローパスフィルタ（ＬＰＦ）、７…セクタ対応読出信号平均値発生回路、
８…Ａ／Ｄ、９…波形データメモリ、１０…最適シーク時間測定をする検査装置、
１１…テストデータ生成回路、１２…書込制御回路、
１３…書込回路、１４…ヘッドアクセス制御回路、
１５…ヘッドキャリッジ、
２０…測定処理・検査装置、２１…ＭＰＵ、２２…メモリ、
２２ａ…最適シーク時間測定プログラム、
２２ｂ…シーク時間設定プログラム、
２２ｃ…データ書込／読出プログラム、
２２ｄ…ＤＥＶ算出・判定処理プログラム、
２２ｅ…最適セトリング時間検出プログラム、
２２ｆ…波形データ記憶領域、２２ｈ…作業領域、
２２ｇ…パラメータ領域、
２３…ディスプレイ、２４…インタフェース、２５…キーボード、
２６…バス。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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