(57)【要約】【課題】コンデンサ出口部のＳＣ値を安定させることができるとともに、高いＣＯＰを確保可能なサブクールタイプコンデンサを提供する。【解決手段】熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、サブクールコア部における総回路断面積を、サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部出口における過冷却の達成度合の指標であるサブクール値との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第１の値以上とするとともに、前記総回路断面積と、サブクールコア部の回路断面積当たりの成績係数との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第２の値以下としたことを特徴とするサブクールタイプコンデンサ。【選択図】図１
2010054123.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部出口における過冷却の達成度合の指標であるサブクール値との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第１の値以上としたことを特徴とするサブクールタイプコンデンサ。
【請求項２】
２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部の回路断面積当たりの成績係数との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第２の値以下としたことを特徴とするサブクールタイプコンデンサ。
【請求項３】
２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部出口における過冷却の達成度合の指標であるサブクール値との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第１の値以上とするとともに、前記総回路断面積と、サブクールコア部の回路断面積当たりの成績係数との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第２の値以下としたことを特徴とするサブクールタイプコンデンサ。
【請求項４】
前記第１の値が２６ｍｍ2である、請求項１または３に記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項５】
前記第２の値が８３ｍｍ2である、請求項２または３に記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項６】
前記サブクールコア部における総回路断面積が、前記サブクールコア部を構成するチューブの本数および／またはその内部形状を調節することによって前記第１の値以上とされている、請求項１、３、４のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項７】
前記サブクールコア部における総回路断面積が、前記サブクールコア部を構成するチューブの本数および／またはその内部形状を調節することによって前記第２の値以下とされている、請求項２、３、５のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項８】
前記熱交換チューブ内通路高さが０．４〜１．２ｍｍの範囲に設定されている、請求項１〜７のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項９】
前記熱交換チューブ内通路相当直径が０．５〜１．１ｍｍの範囲に設定されている、請求項１〜８のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項１０】
前記熱交換チューブ内通路が支柱を介して分割されており、該チューブ内通路支柱の厚さが０．２〜０．４ｍｍの範囲に設定されている、請求項１〜９のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項１１】
前記熱交換チューブ内通路が支柱を介して分割されており、該分割された一つのチューブ内通路の横幅が０．６〜１．６ｍｍの範囲に設定されている、請求項１〜１０のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項１２】
前記熱交換チューブの高さが１．１〜２．０ｍｍの範囲に設定されている、請求項１〜１１のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【請求項１３】
車両用空調装置の冷凍回路に設けられる、請求項１〜１２のいずれかに記載のサブクールタイプコンデンサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サブクールタイプコンデンサに関し、とくに、車両用空調装置の冷凍回路に用いて好適なサブクールタイプコンデンサに関する。
【背景技術】
【０００２】
２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する冷媒凝縮コア部と、該冷媒凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画し、実質的に受液器一体型に構成して、冷凍システム全体の小型化、低コスト化をはかりつつ、優れた冷媒凝縮性能を発揮できるようにしたサブクールタイプコンデンサが知られている（例えば、特許文献１）。
【０００３】
サブクールタイプコンデンサは、冷媒凝縮コア部からサブクールコア部に移行する段階で回路の縮小となるため、コンデンサ全体の通路抵抗が増加することとなる。コンデンサ全体の通路抵抗が増加すると、そのコンデンサを組み入れた冷凍システム全体の負荷が増大し、とくに圧縮機の消費動力が増大することとなる。例えば車両用空調装置における冷凍システムでは、圧縮機の消費動力を極力低減することが望まれるので、上記のようなコンデンサ全体の通路抵抗の増加は極力小さく抑える必要がある。
【０００４】
ところが、上記のように、サブクールコア部で、凝縮コア部に対し回路縮小（チューブ本数減少）するため、その通路抵抗が大きくなる。その通路抵抗の増加に伴って圧力損失が増大するので、サブクールコア部での圧力低下が顕著になり、コンデンサ出口での、過冷却の達成度合の指標であるサブクール値（以下、ＳＣ値と略称することもある。）が減少してしまう。所望のＳＣ値が達成されないと、サブクールコア部での成績係数（以下、ＣＯＰ〔Coefficient of Performance〕と略称することもある。）、ひいてはシステム全体のＣＯＰが低下し、目標とする優れた冷凍性能を発揮できないおそれがある。
【０００５】
また、コンデンサにおいては、近年、伝熱促進効果を期待し、管内流速を上げるために、回路断面積の縮小が主流となっている。しかし、単に全体の回路断面積を縮小するだけでは、コンデンサ全体として優れた冷媒凝縮性能を発揮しにくくなり、また、サブクールタイプコンデンサの場合には、冷媒凝縮コア部とサブクールコア部とのバランスを取りずらくなる。とくに、サブクールコア部での回路断面積を縮小しすぎると、コンデンサ出口部のＳＣ値が不安定になる。
【０００６】
所定の冷媒凝縮性能を維持しつつ、サブクールタイプコンデンサ全体の通路抵抗を低減させるために、チューブの内部構造を工夫するようにした提案もなされているが（特許文献２）、単にチューブの内部構造を工夫するだけでは、コンデンサ全体の通路抵抗を低減しつつ、ＳＣ値の安定化やＣＯＰの向上をはかるのには限界がある。すなわち、このチューブの内部構造を工夫するようにした提案では、ＳＣ値の安定化やＣＯＰの向上に関して、サブクールコア部での回路断面積の縮小という本質的な要素が考慮されていない。
【特許文献１】特開２００２−３１４３６号公報
【特許文献２】特開２００５−１０６３２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで本発明の課題は、上記のような実情に鑑み、コンデンサ出口部のＳＣ値を安定させることができるとともに、高いＣＯＰを確保可能なサブクールタイプコンデンサを提供することにあり、とくに、サブクールコア部の回路断面積の適正範囲を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係るサブクールタイプコンデンサは、２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部出口における過冷却の達成度合の指標であるサブクール値（ＳＣ値）との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第１の値以上としたことを特徴とするものからなる（本発明の第１の形態）。サブクールコア部における総回路断面積をこの第１の値以上とすることにより、後述の試験結果に示すように、目標とするＳＣ値が安定して得られる。
【０００９】
また、本発明に係るサブクールタイプコンデンサは、２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部の回路断面積当たりの成績係数（ＣＯＰ）との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第２の値以下としたことを特徴とするものからなる（本発明の第２の形態）。サブクールコア部における総回路断面積をこの第２の値以下とすることにより、後述の試験結果に示すように、有効な高いＣＯＰを達成することが可能になる。
【００１０】
さらに、本発明は、上記第１の形態と第２の形態を組み合わせたサブクールタイプコンデンサ、すなわち、２本のヘッダ間を並行に延びる複数の熱交換チューブで連結し、熱交換コア部を、冷媒を凝縮する凝縮コア部と、該凝縮コア部で凝縮された冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部とに区画したサブクールタイプコンデンサにおいて、前記サブクールコア部における総回路断面積を、前記サブクールタイプコンデンサを組み込んだシステムの性能試験における、前記総回路断面積と、サブクールコア部出口における過冷却の達成度合の指標であるサブクール値との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第１の値以上とするとともに、前記総回路断面積と、サブクールコア部の回路断面積当たりの成績係数との関係を表すグラフにて、変曲点を示す第２の値以下としたことを特徴とするサブクールタイプコンデンサについても提供する。サブクールコア部における総回路断面積を第１の値以上とし、かつ、第２の値以下とすることにより、目標とするＳＣ値が安定して得られるとともに、有効な高いＣＯＰが達成される。
【００１１】
後述の試験結果に示すように、上記第１の値の具体的な値としては、２６ｍｍ2を採用でき、上記第２の値の具体的な値としては、８３ｍｍ2を採用することが可能である。
【００１２】
上記サブクールコア部における総回路断面積は、サブクールコア部を構成するチューブの本数および／またはその内部形状を調節することによって、上記第１の値以上とし、または／および、上記第２の値以下とすることが可能である。具体的には、実施の形態で詳述する。
【００１３】
上記サブクールコア部における総回路断面積の目標範囲を達成するための、熱交換チューブの望ましい構造を例示すると、例えば、上記熱交換チューブ内通路高さが０．４〜１．２ｍｍの範囲に設定されていることが好ましい。また、上記熱交換チューブ内通路相当直径が０．５〜１．１ｍｍの範囲に設定されていることが好ましい。また、上記熱交換チューブ内通路が支柱を介して分割されており、該チューブ内通路支柱の厚さが０．２〜０．４ｍｍの範囲に設定されている構造を採用することもできる。また、上記熱交換チューブ内通路が支柱を介して分割されており、該分割された一つのチューブ内通路の横幅が０．６〜１．６ｍｍの範囲に設定されている構造を採用することもできる。さらに、上記熱交換チューブの高さ（チューブ内通路高さではなく、チューブ外面の高さ）が１．１〜２．０ｍｍの範囲に設定されていることが好ましい。このような好ましい範囲内の寸法から選択することにより、容易にサブクールコア部における総回路断面積を目標範囲に納めることが可能になる。
【００１４】
本発明に係るサブクールタイプコンデンサは、あらゆる冷凍回路に適用可能であるが、とくに、コンデンサ全体の通路抵抗を低減し、そのコンデンサを組み入れた冷凍システム全体の負荷を低減し、冷凍システム内の圧縮機の消費動力を極力低減することが望まれる車両用空調装置の冷凍回路に好適なものである。
【発明の効果】
【００１５】
このように、本発明に係るサブクールタイプコンデンサによれば、サブクールコア部の回路断面積を適正範囲内に設定することにより、コンデンサ出口部のＳＣ値を安定させることができ、かつ、有効な高いＣＯＰの確保が可能になる。その結果、サブクールタイプコンデンサの目標である、小型化、低コスト化、優れた冷媒凝縮性能、システム全体の消費動力の低減および成績係数の向上を達成することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下に、本発明の望ましい実施の形態について、実際に行った試験に基づいて詳細に説明する。
本発明に係るサブクールタイプコンデンサの基本構成例を図１に示す。図１において、１はサブクールタイプコンデンサ全体を示している。サブクールタイプコンデンサ１においては、２本のヘッダ２、３間が、互いに並行に延びる複数の熱交換チューブ４で連結されているとともに、各隣接熱交換チューブ４間には、コルゲートタイプのフィン５が配設されている。熱交換コア部６は、冷媒入口パイプ９からヘッダ２に導入されてきた冷媒を凝縮する冷媒凝縮コア部７と、該冷媒凝縮コア部７で凝縮されヘッダ３の下部側から導入されてきた冷媒をさらに過冷却するサブクールコア部８とに区画され、過冷却された冷媒は冷媒出口パイプ１０から排出されるようになっている。すなわち、この構造例では、冷媒凝縮コア部６が冷媒の１パス通路に構成されており、ヘッダ２は内部に設けられた仕切板１１により上下に仕切られているとともに、ヘッダ３内は、液冷媒を貯留可能に上下に連通されている。図１における１２は、ヘッダ３内に設けられた、中央部が連通された保持板を示しており、図示を省略した乾燥剤保持構造物やストレーナ等、ヘッダ３内に着脱可能に挿入される内蔵物を、上下連通構造を維持しつつ、保持できるようになっている。また、１３は前面からの空気流れ（前面風）を示している。熱交換チューブ４は、例えば図２に示すように形成される。
【００１７】
次に、実際に行った試験について説明する。まず、前述した不安定要因であるサブクールコア部の通路抵抗を低減させるには、下記理論式（下記の数１）から、回路断面積拡大が一般的に有効であることが知られている。そこで、熱交換チューブ形状（回路断面積）、パス数、サブクールコア部のチューブ本数という視点から、以下の試験を行った。
【００１８】
【数１】
2010054123.tif 000003
【００１９】
上記理論式における各記号の意味は、以下の通りである。また、Ａ、Ｌについては、図２にも示す。
λ：管摩擦係数
ｌ：チューブ長さ（熱交換コア横方向）
γ：冷媒比重（ｋｇ／ｍ3 ）
ｄ：チューブ冷媒流路相当直径（ｍｍ）
ｇ：重力加速度
Ｑ：冷媒循環量（ｋｇ／ｈ）
Ａ：チューブ冷媒流路断面積（ｍｍ2 、図１に表示）
Ｌ：チューブ冷媒流路周長（ｍｍ）
【００２０】
試験は、各種のサブクールタイプコンデンサについて行い、チューブ形状、チューブ本数、チューブ長さ、パス割、ＳＣ占有率を基本として組合せを変えた１５個のコンデンサ（サンプルＮｏ．１〜１５）を使用した。試験に使用した多パス式サブクールタイプコンデンサの諸元を表１に示す。表１中、〔ＳＣ」は「サブクール」の略である。表１における「パス割」は、その最後の数字がサブクールコア部のチューブ本数であり、それまでの数字は冷媒凝縮コア部のチューブ本数を示しており、冷媒凝縮コア部のチューブ本数が複数表示されている場合には、冷媒凝縮コア部で各数字で表示されている本数のチューブで冷媒のパス（一方のヘッダから他方のヘッダへのパス）が構成され、各パスが折り返されるように形成されていることを表している。また、他のチューブ諸元の意味について、図２にも示した。
【００２１】
【表１】
2010054123.tif 000004
【００２２】
試験では、まず、サブクールタイプコンデンサの単体試験を行った。単体試験条件は以下の通りである。
入口空気温度：３５℃
風速（前面風速）：２，３，４，５ｍ／ｓ
凝縮圧力：１６２０ｋＰａ
コンデンサ入口過熱度：２５℃
サブクールコア部入口過冷却度：２℃（理想値は０だが、条件安定を考慮）
【００２３】
各サブクールタイプコンデンサの単体通路抵抗ΔＰｒ（ｋＰａ）（冷媒流量：１００ｋｇ／ｈ）の測定結果を表２に、各サブクールタイプコンデンサの単体放熱性能（ｋＷ）の測定結果を表３に、各サブクールタイプコンデンサにおける前面風速あたりのサブクールコア部出口ＳＣ値の測定結果を表４と図３に、それぞれ示す。
【００２４】
【表２】
2010054123.tif 000005
【００２５】
【表３】
2010054123.tif 000006
【００２６】
【表４】
2010054123.tif 000007
【００２７】
図３のグラフから、サブクールタイプコンデンサのコアの種類によって、前面風速（使用される条件）の変化に対応する傾き（以下、ＳＣ低下率と呼称する。）が異なるのが確認できる。これがＳＣ値の不安定要素となる。なぜなら、前面風速の違いは冷媒循環量の違いに置き換えられ、ＳＣ低下率絶対値が大きいコアほど、運転条件（圧縮機回転数）の変動影響をより大きく受けると言えるからである。
【００２８】
ここで、上記単体性能試験条件におけるＳＣ値の不安定要因を確認するため、ＳＣ低下率とＳＣコア部総回路断面積に注目し、それらとＳＣコア部圧力損失の結果を、表５に示す。
【００２９】
【表５】
2010054123.tif 000008
【００３０】
ＳＣコア部総回路断面積と傾き（ＳＣ低下率）との関係は図４に示すようになり、ＳＣコア部総回路断面積とＳＣコア部圧力損失ＳＣΔＰｒとの関係は図４に示すようになる。理論上は、圧力損失にチューブ長さが影響するため、それを考慮すべきであり、結果（図４、５）にもチューブ長さの影響が確認できる。そのため、ここで上げたパラメータだけで比較することは適切でないとも言える。しかし、実際の製品設計上はチューブ長さが機種によって様々で、機種ごとにチューブ形状を新たに起こすことは現実的でない。そこで、チューブ長さについてはバラツキとみなし、チューブ長さは異なるがＳＣ総回路断面積値が同じサンプルの結果は、その平均値をプロットした。これについては、本質的な傾向を見る上では影響しないレベルであると言え、問題ないと考えられる。
【００３１】
そこでこの方針に沿って補正すると、図６、図７に示すバラツキ補正後のグラフとなる。図６から、グラフ傾き値（ＳＣ低下率）とＳＣコア部総回路断面積との間には、実線の近似線で示されるような相関があり、変曲点が確認できる。ＳＣコア部総回路断面積が変曲点以下になると急激にＳＣ低下率絶対値が大きくなる。図６の変曲点を読み取ると、約２３．６ｍｍ2である。したがって、ＳＣコア部総回路断面積が２３．６ｍｍ2以上であれば実運転中のＳＣ値安定を図ることができると言える。
【００３２】
同様に、ＳＣコア部圧力損失測定結果についても、同様な確認を行うと、図７に示すバラツキ補正後のグラフから、同様な傾向が見られ、約２３．８ｍｍ2が変曲点となる。ここまでの２つのまとめから、ＳＣコア部の総回路断面積を適正値以上とすることが望ましいことが分かる。
【００３３】
しかし、ここまでの内容はコンデンサ単体性能試験条件の場合である。更に、この現象の信頼度を増すために、実車相当のシステム試験を実施して確認した。試験条件は、以下の表６に示す通りである。
【００３４】
【表６】
2010054123.tif 000009
【００３５】
上記条件にてシステム性能試験を実施し、前記同様の比較を行った。前述したのと同様に、チューブ長さ補正後の条件ＳｔｅｐごとのＳＣコア回路断面積あたりのＳＣコア出口ＳＣ値測定結果（チューブ長さ補正後）のグラフを図８〜１１に示す。図８は、Ｓｔｅｐ  １の条件における結果を、図９は、Ｓｔｅｐ  ２の条件における結果を、図１０は、Ｓｔｅｐ  ３の条件における結果を、図１１は、Ｓｔｅｐ  ４の条件における結果を、それぞれ示している。
【００３６】
どのシステム条件においても、前記同様の変曲点が確認できる。ここで設計指標としてのＳＣコア総回路断面積（ｍｍ2）を導くために、ここまでの結果から求められた変曲点をすべて挙げてみる。
単体性能試験条件におけるSC低下率比較時：23.6
単体性能試験条件におけるSCコアΔPr比較時：23.8
システム試験条件Step１におけるSCコンデンサ出口SC比較時：25.8
システム試験条件Step２におけるSCコンデンサ出口SC比較時：25.7
システム試験条件Step３におけるSCコンデンサ出口SC比較時：25.5
システム試験条件Step４におけるSCコンデンサ出口SC比較時：26.0
したがって、最大値は２６．０ｍｍ2となる。ここまでで、ＳＣコア断面積を適正値２６．０ｍｍ2以上とすることでＳＣ値の安定化が図れることが分かる。すなわち、本発明で規定した第１の値としては２６ｍｍ2を採用し、２６ｍｍ2以上の範囲にＳＣコア部槽断面積を設定することが望ましいことが分かる。
【００３７】
しかし、ここまでの内容だけでは、下限値のみであるため、設計指標としては不十分であるおそれがある。そこで、システム性能試験から、以下のように上限値の見極めを行った。すなわち、前記のシステム試験結果をこれまでと同様にチューブ長さ補正後の条件ＳｔｅｐごとのＳＣコア回路断面積あたりのＣＯＰ値のグラフを図１２〜１５に示す。図１２は、Ｓｔｅｐ  １の条件における結果を、図１３は、Ｓｔｅｐ  ２の条件における結果を、図１４は、Ｓｔｅｐ  ３の条件における結果を、図１５は、Ｓｔｅｐ  ４の条件における結果を、それぞれ示している。
【００３８】
どのシステム条件においても、前項同様な変曲点が確認できる。ここで、設計指標としてのＳＣコア総回路断面積（ｍｍ2）を導くために、ここまでの結果から求められた変曲点をすべて挙げてみる。
システム試験条件Step１におけるCOP比較時：93.1
システム試験条件Step２におけるCOP比較時：83.4
システム試験条件Step３におけるCOP比較時：90.3
システム試験条件Step４におけるCOP比較時：84.7
したがって、最小値は８３．４ｍｍ2となる。ＣＯＰを考慮するとＳＣコア断面積上限値は８３．４ｍｍ2が望ましいことが分かる。すなわち、本発明で規定した第２の値としては８３ｍｍ2を採用し、８３ｍｍ2以下の範囲にＳＣコア部槽断面積を設定することが望ましいことが分かる。
【００３９】
このようにＳＣコア部槽断面積の望ましい範囲が定められると、具体的な本発明の実施方法としては、例えば、コンデンサＳＣコア部のチューブ数、形状によって上記望ましい範囲内に納めて所望の効果を得ることが可能であるため、コンデンサの外部に別部品を設けたりする必要はなく、コストアップはない。また、この方法によれば、チューブの内部形状および本数を変えることによって、ＳＣコア部総回路断面積を所定値にすることができる。例えば押出チューブによる場合は、内部の穴（分割された小流路）の数やその断面積を変えることによって実施できる（前述の図２参照）。また、板材をプレス成形やロール成型によって製造されるチューブにおいても同様である。
【００４０】
なお、今回試験に使用したチューブ断面仕様は、表１に示した通りであり、表１に示した各値からは、例えば各部寸法が以下の範囲内にて本発明の実施が可能であることが分かる。例えば、
チューブ内通路高さ：0.4〜1.2ｍｍ
チューブ内通路相当直径：0.5〜1.1ｍｍ
チューブ内通路支柱厚さ：0.2〜0.4ｍｍ
チューブ内通路横幅：0.6〜1.6ｍｍ
チューブ高さ：1.1〜2.0ｍｍ
となる。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
本発明に係るサブクールタイプコンデンサは、あらゆる冷凍回路に適用可能であり、とくに、車両用空調装置の冷凍回路に好適なものである。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明に係るサブクールタイプコンデンサの基本構成例を示す斜視図である。
【図２】熱交換チューブの構成例を示す横断面図である。
【図３】コンデンサ単体試験における前面風速あたりのサブクールコア出口ＳＣ値測定結果のグラフである。
【図４】ＳＣコア部総回路断面積あたりのグラフ傾き値（ＳＣ低下率）のグラフである。
【図５】ＳＣコア部総回路断面積あたりのＳＣコア部圧力損失のグラフである。
【図６】補正したＳＣコア部総回路断面積あたりのグラフ傾き値（ＳＣ低下率）のグラフである。
【図７】補正したＳＣコア部総回路断面積あたりのＳＣコア部圧力損失のグラフである。
【図８】システム試験における条件Step１でのＳＣコア部回路断面積あたりのＳＣコア部出口ＳＣ値のグラフ（補正後）である。
【図９】システム試験における条件Step２でのＳＣコア部回路断面積あたりのＳＣコア部出口ＳＣ値のグラフ（補正後）である。
【図１０】システム試験における条件Step３でのＳＣコア部回路断面積あたりのＳＣコア部出口ＳＣ値のグラフ（補正後）である。
【図１１】システム試験における条件Step４でのＳＣコア部回路断面積あたりのＳＣコア部出口ＳＣ値のグラフ（補正後）である。
【図１２】システム試験における条件Step１でのＳＣコア部回路断面積あたりのＣＯＰのグラフ（補正後）である。
【図１３】システム試験における条件Step２でのＳＣコア部回路断面積あたりのＣＯＰのグラフ（補正後）である。
【図１４】システム試験における条件Step３でのＳＣコア部回路断面積あたりのＣＯＰのグラフ（補正後）である。
【図１５】システム試験における条件Step４でのＳＣコア部回路断面積あたりのＣＯＰのグラフ（補正後）である。
【符号の説明】
【００４３】
１  サブクールタイプコンデンサ
２、３  ヘッダ
４  熱交換チューブ
５  フィン
６  熱交換コア部
７  冷媒凝縮コア部
８  サブクールコア部
９  冷媒入口パイプ
１０  冷媒出口パイプ
１１  仕切板
１２  保持板
１３  空気流れ
【図１】
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【図２】
2010054123.tif 000011
【図３】
2010054123.tif 000012
【図４】
2010054123.tif 000013
【図５】
2010054123.tif 000014
【図６】
2010054123.tif 000015
【図７】
2010054123.tif 000016
【図８】
2010054123.tif 000017
【図９】
2010054123.tif 000018
【図１０】
2010054123.tif 000019
【図１１】
2010054123.tif 000020
【図１２】
2010054123.tif 000021
【図１３】
2010054123.tif 000022
【図１４】
2010054123.tif 000023
【図１５】
2010054123.tif 000024