(57)【要約】【課題】ＬＳＩテスタを用いたテストプログラムのデバッグにおいて、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮できるようにする。【解決手段】テストプログラム自動作成ツール（１０）に、テストに応じて使用するピンのグループ（設定ピングループ）をピンラインナップと対応させて定義する機能を持たせ、テスタ（２０）にはテストプログラムの実行時にデバッグ中のテストに合わせたピンラインナップを自動的に選択する機能（２３，２４）を持たせるようにした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＬＳＩのテストプログラムを実行するテスト制御部と、
テストの内容に関わるピンの状態を表示させ実行されたテストプログラムのデバッグを支援するデバッグ機能と、
テストプログラム自動作成ツールから与えられたテスト内容に関わる複数のピンの組合せを指定するデータ群および該データ群の各データに付随したデータ識別情報を含む補助データに基づいて、状態を表示させるピンの組合せを選択するピンラインナップ制御機能と、
を備えることを特徴とするＬＳＩテスタ。
【請求項２】
前記データ群のデータを修正する修正機能を備えることを特徴とする請求項１に記載のＬＳＩテスタ。
【請求項３】
前記修正機能により修正された内容を記憶し、後に当該修正に係るデータと同一若しくは類似のデータが選択された場合に前記修正内容に応じてデータを修正する学習機能を有することを特徴とする請求項２に記載のＬＳＩテスタ。
【請求項４】
ＬＳＩの設計データおよびシミュレーション情報に基づいて当該ＬＳＩをテストするテストプログラムを作成する機能と、
前記テストプログラムによって実行される複数のテストのそれぞれの内容に対応した複数のピンの組合せを指定するデータ群および該データ群の各データに付随したデータ識別情報を含む補助データを作成する機能と、
をコンピュータに実現させるためのテストプログラム自動作成ツール。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれかに記載のＬＳＩテスタと、請求項４に記載のテストプログラム自動作成ツールとを備え、
前記テストプログラム自動作成ツールによって作成された前記テストプログラムと前記複数のピンの組合せを指定するデータ群および補助データとが前記ＬＳＩテスタに供給されるように構成されていることを特徴とするテストシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デバッグツールを備えたＬＳＩテスタおよびテストプログラム自動作成ツール（プログラム）に関し、テスト対象のＬＳＩ（大規模半導体集積回路）のピンラインナップのデータを自動的に生成する機能を提供するツールに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩテスタは、ＩＣ、ＬＳＩ等の被試験対象の良否を判定するために、被試験対象に電圧や電流を印加して、被試験対象のＩＣやＬＳＩから出力される電流や電圧を測定し、規定範囲に入っているかどうか検査するＤＣテストや、パターンデータを入力して所望の論理出力が得られるか検査するファンクションテストなどを行うのに使用される。
【０００３】
近年のＬＳＩテスタは、デバッグを支援するためのデバッグツールを備えており、そのデバッグの際に実行されるテストプログラムの多くは、ユーザーが設計したＬＳＩのレイアウトデータやシミュレーションパターンに基づいて、テストプログラム自動作成ツール（ソフトウェア）により作成されるようになってきている（図５参照）。なお、テストプログラム自動作成装置に関する発明としては、例えば特許文献１に記載されているものがある。
【０００４】
テストプログラムで実行するテストには、ＤＣテストやファンクションテスト、アナログレベルを測定するＤＡＣテストなど複数種類あるとともに、同一種類のテストであっても試験対象となる回路ブロックや機能に応じて使用するピン（外部端子）の組合せが異なる場合がある。そのため、テストプログラム自動作成ツールでは、図６に示すように、テストごとに使用するピンの組合せを指定するピングループと呼ばれるデータを設定し出力することが行われる。
【特許文献１】特開２００２−１４８３１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
近年のＬＳＩテスタでは、レベル設定やタイミング設定がパーピン処理されるようになってきている。そこで、それに対応するためデバッグツールにおいても、モニタ上にすべてのピンの状態を表示するのではなく、表示するピンの組合せをテストに応じてピンラインナップとしてグループ化して定義するとともに、定義されたグループの中から任意のものを選択できるようにするピンラインナップツールを設けたものが提供されている（図５参照）。
【０００６】
しかしながら、従来のピンラインナップツールは、実行する各テストに応じたピンラインナップを定義したり選択したりすることで、ピンの状態を重要なピンから順に表示させたり、余分なピンの状態の表示を省略して必要なピンの状態のみを表示させることができる。それによって、デバッグ作業がやり易くなるものの、ピンラインナップの定義や選択はオペレータが手作業で行わなくてはならなかった。そのため、デバッグ前の準備時間が長くなるとともに、作業が面倒であるためその機能が充分に活かされないことがあるという課題があった。
【０００７】
なお、シミュレーションパターンに基づいてテストプログラム自動作成ツールで設定するピングループと、テスタのピンラインナップツールで定義、選択するピンラインナップは、テストが特定されるとほぼ同じとなる。あるテストで使用するピンが決まると、デバッグ処理でモニタに表示させたいピンの種類は、シミュレーション時の着眼点と似てくる。
【０００８】
この発明の目的は、ＬＳＩテスタを用いたテストプログラムのデバッグにおいて、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮できるようにすることにある。
【０００９】
この発明の他の目的は、ＬＳＩテスタにピンラインナップの修正にかかわる情報を記憶させ、他のテストで使用するピンラインナップを自動的に修正する機能を持たせて、デバッグ効率の向上を図ることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため請求項１に記載の発明は、ＬＳＩテスタに、ＬＳＩのテストプログラムを実行するテスト制御部と、テストの内容に関わるピンの状態を表示させ実行されたテストプログラムのデバッグを支援するデバッグ機能と、テストプログラム自動作成ツールから与えられたテスト内容に関わる複数のピンの組合せを指定するデータ群および該データ群の各データに付随したデータ識別情報を含む補助データに基づいて、状態を表示させるピンの組合せを選択するピンラインナップ制御機能と、を設けるようにしたものである。これにより、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮することができる。
【００１１】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、ＬＳＩテスタに、前記データ群のデータを修正する修正機能を設けるようにしたものである。これにより、表示順などを調整した好みのピンラインナップを得ることができる。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記修正機能により修正された内容を記憶し、後に当該修正に係るデータと同一若しくは類似のデータが選択された場合に前記修正内容に応じてデータを修正する学習機能を設けるようにしたものである。これにより、ピンラインナップに関しオペレータが既に行った修正と同様な修正を繰り返す手間を減らし、デバッグ効率の向上を図ることができる。
【００１３】
請求項４に記載の発明は、テストプログラム自動作成ツールに、ＬＳＩの設計データおよびシミュレーション情報に基づいて当該ＬＳＩをテストするテストプログラムを作成する機能と、前記テストプログラムによって実行される複数のテストのそれぞれの内容に対応した複数のピンの組合せを指定するデータ群および該データ群の各データに付随したデータ識別情報を含む補助データを作成する機能を設けるようにしたものである。これにより、オペレータの負担を軽減するとともに、デバッグ前に行う準備に要する時間を短縮することができる。
【００１４】
請求項５に記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載のＬＳＩテスタと、請求項４に記載のテストプログラム自動作成ツールとを備えたテストシステムであって、前記テストプログラム自動作成ツールによって作成された前記テストプログラムと前記複数のピンの組合せを指定するデータ群および補助データとが前記ＬＳＩテスタに供給されるように構成したものである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、ＬＳＩテスタを用いたテストプログラムのデバッグにおいて、オペレータの負担を軽減するとともにデバッグ前に行う準備に要する時間を短縮することができる。また、テスタにピンラインナップの修正にかかわる情報を記憶させ、他のテストで使用するピンラインナップを自動的に修正する機能を持たせることで、デバッグ効率を向上させることができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の好適な実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、本発明を適用したテストシステムの一実施形態を示す。
【００１８】
本実施形態のテストシステムは、テストプログラム自動作成ツール１０と、該ツールによって作成されたテストプログラムを実行してデバッグを行うＬＳＩテスタ２０とから構成される。テストプログラム自動作成ツール１０は、ソフトウェア（プログラム）であり、パーソナルコンピュータやワークステーションなどに搭載されて、ユーザーが設計したＬＳＩのレイアウトデータ１１やシミュレーションパターン（シミュレーションに使用する信号のデータ）１２に基づいてテストプログラムを作成する。
【００１９】
ＬＳＩテスタ２０は、図示しないキーボードなどの入力操作装置から入力されるスタート指令によって上記テストプログラムを実行するテスト制御部２１と、テストの内容に関わるピンの状態をモニタ上に表示させ実行されたテストプログラムのデバッグを支援するためのデバッグツール２２、実行する各テストに応じたピンラインナップを定義したり選択したりするピンラインナップツール２３、該ピンラインナップツール２３に対してピンラインナップツールの切替えを指示するピンラインナップ制御部２４などを備える。
【００２０】
テスト制御部２１は、ブレークポイントなどを設定しテストプログラムをテストごとに区切って実行しトレース処理などを行う制御用プログラムと、それを実行するＭＰＵ（マイクロプロセッサ）やＲＡＭなどから構成される一種のファームウェアである。テスト制御部２１にはＡＴＥ（自動テスト装置）が接続され、ＡＴＥに被テストデバイスとしてのＬＳＩが接続される。
【００２１】
この実施形態においては、テストプログラム自動作成ツール１０に、テストに応じて使用するピンのグループをピンラインナップと対応させて定義する機能が設けられる。具体的には、図２に示すように、もともとテストプログラム自動作成ツール１０によって作成されていた設定ピングループに、ピンラインナップツール２３で扱う「ピンラインナップ名」を補助データとして対応付けたものを、テストプログラム自動作成ツール１０が作成してテストプログラムとともに出力する機能を持たせる。
【００２２】
図３には、テストプログラム自動作成ツール１０に設けられた新たな機能を有する各テストのテストプログラム記述の出力処理の手順が示されている。
【００２３】
テストプログラム自動作成ツール１０は、例えば図２の「テストＩＤ」が“ｔｎｏ．１０００”で示されるＤＣテストのためのプログラム記述を出力した後、当該テストで使用するピンの組合せと同じ組合せ、順序を有するピングループのデータが既にあるか否かを判定する（ステップＳ２）。ここで、“Ｙｅｓ”すなわち同じデータが既にあるときは、該ピングループに当該テストのピンラインナップ名を付けて登録する（ステップＳ４）。一方、ステップＳ２で“Ｎｏ”すなわち同じデータがなかったときは、当該テストで使用するピンの組合せを新しいピンラインナップのデータとして作成する（ステップＳ３）。
【００２４】
その後、作成したピンラインナップデータに、当該テストのピンラインナップ名を付けて登録する（ステップＳ４）。登録されたピンラインナップ名は、対応するテストのプログラムがテストプログラム自動作成ツール１０からＬＳＩテスタ２０へ出力される際に、ピンラインナップ補助データとして出力されることとなる。ピンラインナップ補助データとしては、図３のうち「テストＩＤ」と「ピンラインナップ名」を含んでいれば良い。なお、「テストＩＤ」は、テスト番号、カテゴリ番号、ＦＣパターン名称など、テスト内容の種類を示すキーとなるものであればどのようなものでもよく、複数の情報のＡＮＤ条件で決まるものでも良い。
【００２５】
図４には、ＬＳＩテスタ２０に新たに設けられたピンラインナップ制御部２４による処理の手順が示されている。
【００２６】
ピンラインナップ制御部２４は、テスト制御部２１からテストプログラムの実行中断を示す“ｐａｕｓｅ”通知を受けると、図４の処理を開始する。なお、この“ｐａｕｓｅ”通知は、テスト制御部２１によって実行されるテストプログラムが、予め設定されたブレークポイントなどに達し、プログラムの実行を停止した際になされる。
【００２７】
“ｐａｕｓｅ”通知を受けると、ピンラインナップ制御部２４は、現在のテストのＩＤ（テスト番号）を確認して、当該テストＩＤに対応するピンラインナップ名をピンラインナップ補助データから調べて、現在のテストのピンラインナップ名と一致するか判定する（ステップＳ５）。そして、ピンラインナップ名が異なっていれば、ピンラインナップツール２３に対してピンラインナップの切替えを指示して処理を終了する（ステップＳ６）。ピンラインナップ名が同じであれば、次のテストを実行する際に、ピンラインナップを切り替えず前と同じピンラインナップを使用する。
【００２８】
ところで、テストプログラム自動作成ツールにより作成されたピングループは、そのままピンラインナップとして使用することが可能な場合もあるが、順序が最適でなかったりユーザーによってはピングループで設定されたすべてのピンの状態をモニタに表示させなくても良いと考える場合もある。そのような場合には、ピンラインナップツール２３を使用して、ピンラインナップの定義を修正することができるように構成されている。また、ピンラインナップ制御部２４からの指示によりピンラインナップツール２３が切り替えたピンラインナップが適切でない場合には、ユーザーがピンラインナップツール２３によって手動で他のピンラインナップに切り替えることができるように構成されている。
【００２９】
テストプログラム上のピングループ定義は、もともとシミュレーションパターン上のグループやレイアウト情報から決まるグループで作成されるようになっているため、そのピングループ定義からデバッグ表示上のピンラインナップデータを出力することで、ユーザーがピンラインナップツールを使用してピンラインナップの定義を行う手間を省き、ＬＳＩテスタにおいてある程度適当なピンラインナップを自動的に作り出すことができる。また、順序などの観点で最適でないでもピンラインナップツール２３を使用して順序を編集すればよいので、最初から定義する場合よりも簡単に作業を終了することができる。
【００３０】
さらに、ピンラインナップ制御部２４が現在のテストに合ったピンラインナップに自動的に切り替えてくれるので、ユーザーによるピンラインナップの切替えの手間を省くことができる。その結果、ユーザーは、テストの種類に応じて適切にグルーピングされた複数のピンに関する情報をモニタ上で確認しながらデバッグ作業を行えるので、デバッグ作業を効率的に行うことができるようになる。また、選択された各ピンの測定値を一緒に表示するデバッグツールが存在する場合、デバッグ中のテスト測定ピン情報をモニタ画面の上の方などに集めて表示させることで、視認性を向上させることもできる。
【００３１】
ピンラインナップ制御部２４は、テスト制御部２１やピンラインナップツール２３と独立して設けてもよいが、テスト制御部２１またはピンラインナップツール２３と一体に構成するようにしても良い。また、ピンラインナップ制御部２４は、テスト制御部２１と同様にプログラムとハードウェアとが一体となったファームウェアとして構成しても良いが、テスト制御部２１とハードウェアを共用させることができ、その場合、ソフトウェア（プログラム）として構成される。そして、このプログラムは、テスト制御部２１を構成する制御用プログラムなどと独立して設けてもよいし、制御用プログラムの機能の一部として設けても良い。同様に、ピンラインナップツール２３の機能の一部として設けても良い。
（変形例）
ＬＳＩにはロジックＬＳＩやアナログＬＳＩなど色々な種類のＬＳＩが存在しており、ＬＳＩの種類に応じてそれぞれ得意とするデバッグ対象が異なる種々のデバッグツールが提供されており、ＬＳＩテスタ２０には、複数のデバッグツールを搭載しているものある。前記実施形態のピンラインナップツール２３による管理は、複数のデバッグツールに共通に行うこともできるが、ツール毎に異なるピンラインナップ定義を行えるようにすることも可能である。
【００３２】
そして、その場合、ピンラインナップ定義の自動作成時に、ツールの種別ごとにピンラインナップ名を管理する形式とすることできる。また、ピンラインナップ定義が複数のデバッグツールに対して共通とされている場合に、ピンラインナップ制御部２４が各ツール（ピンラインナップツールとデバッグツール）に対して、個別にピンラインナップの切替えを指示することで、ツール別のピンラインナップ自動切換えを実現することもできる。
【００３３】
さらに、最初に行ったデバッグの段階で、ピンラインナップ補助データに基づいてピンラインナップを自動切替えした状態に不都合があり、ユーザーが手動で他のピンラインナップに切替えを行なったりピンの順序を並び替えたりしたような場合に、それをメモリに記憶しておく。そして、その後のテストで同様なピンラインナップ補助データが読み出された際に、前記記憶に基づいてピンラインナップ名や定義を書き替える学習機能をピンラインナップ制御部２４もしくはピンラインナップツール２３に持たせるように構成しても良い。
【００３４】
なお、この学習機能は、テストプログラム自動作成ツール１０によるピンラインナップデータ管理とは切り離して、テストプログラム自動作成ツール１０がピンラインナップデータ管理機能を持たずユーザーが手作業でピンラインナップを作成するようなシステム（図５参照）においても、テスタに学習機能を有するピンラインナップ制御部を設けて、ユーザーが手動で設定したピンラインナップを記憶させることで、ピンラインナップの自動切替えを行うようにすることも可能である。
【００３５】
また、デバッグ時に一時的にピンラインナップを修正した場合、該当テストのピンラインナップ名や定義を必ず書き替えるのではなく、ユーザーに書き替えるか否かの選択をさせる機能を持たせてよい。
【００３６】
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、前記実施形態では、テスト制御部２４からの“ｐａｕｓｅ”通知によってピンラインナップを自動切替えすると説明したが、このような自動切替えを行うモードと、手動で切替えを行なうモードとを設けて、ユーザーが自動切替えしないことを選択できるように構成したり、特定のテストについては自動切替えしないという情報をピンラインナップ補助データとして付加する機能をテストプログラム自動作成ツール１０に持たせるとともに、ピンラインナップ制御部２３にはその補助データを認識して自動切替えをしない機能を持たせるように構成しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明を適用したテストシステムの一実施形態を示すブロック図である。
【図２】実施形態のテストシステムにおけるテストプログラム自動作成ツールによって作成される設定ピングループの構成例を示す説明図である。
【図３】テストプログラム自動作成ツールに設けられた新たな機能による処理の手順を示すフローチャートである。
【図４】ＬＳＩテスタに新たに設けられたピンラインナップ制御部による処理の手順を示すフローチャートである。
【図５】ピンラインナップツールを備えた従来のテストシステムの構成例を示すブロック図である。
【図６】従来のテストプログラム自動作成ツールによって作成される設定ピングループの構成例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３８】
１０  テストプログラム自動作成ツール
１１  レイアウトデータ
１２  シミュレーションパターン
２０  ＬＳＩテスタ
２１  テスト制御部
２２  デバッグツール
２３  ピンラインナップツール
２４  ピンラインナップ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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