(57)【要約】【構成】シャッタボタン２８ｓが全押しされると、メカニカルシャッタ１６が閉じられ、撮像面への入射光が遮断される。メカニカルシャッタ１６が閉じられると、静止画取り込み処理が実行される。これによって、撮像面で生成された電荷が４フィールド相当の飛び越し走査によって読み出され、対応する４フィールドの画像データがＳＤＲＡＭ３４に確保される。静止画取り込み処理が完了すると、補正画像取り込み処理が実行される。これによって、撮像面上の漏光エリアで生成された電荷が読み出され、対応する画像データがＳＤＲＡＭ３４に確保される。静止画取り込み処理によって取得された４フィールドの画像データは、補正画像取り込み処理によって取得された画像データと４フィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正される。【効果】漏光に起因する画質の劣化が抑制される。【選択図】図１
2010161695.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段、
前記撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光手段、
前記複数の受光素子で生成された電荷を前記遮光手段の遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出し手段、
前記複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を前記第１読み出し手段の読み出し処理の後に読み出す第２読み出し手段、および
前記第１読み出し手段によって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを前記第２読み出し手段によって読み出された電荷と前記Ｎフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正手段を備える、電子カメラ。
【請求項２】
前記補正手段は、前記第２読み出し手段によって読み出された電荷に基づく１フィールドの漏光画像データを前記時期情報を参照してＮフィールドの漏光画像データに変換する変換手段、および前記変換手段によって変換されたＮフィールドの漏光画像データを参照して前記Ｎフィールドの画像データを補正するデータ補正手段を含む、請求項１記載の電子カメラ。
【請求項３】
前記第１読み出し手段は既定時間毎に各フィールドの読み出し処理を実行し、
前記第２読み出し手段は前記第１読み出し手段によるＮフィールド目の読み出し処理から前記既定時間が経過した時点で読み出し処理を実行する、請求項２記載の電子カメラ。
【請求項４】
前記第２読み出し手段によって読み出される電荷は前記Ｎフィールドのいずれか１つに対応する、請求項１ないし３のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項５】
前記撮像手段はＣＣＤ型のイメージセンサに相当する、請求項１ないし４のいずれかに記載の電子カメラ。
【請求項６】
複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段を備える電子カメラのプロセッサに、
前記撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光ステップ、
前記複数の受光素子で生成された電荷を前記遮光ステップの遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出しステップ、
前記複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を前記第１読み出しステップの読み出し処理の後に読み出す第２読み出しステップ、および
前記第１読み出しステップによって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを前記第２読み出しステップによって読み出された電荷と前記Ｎフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正ステップを実行させるための、撮像制御プログラム。
【請求項７】
複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段を備える電子カメラによって実行される撮像制御方法であって、
前記撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光ステップ、
前記複数の受光素子で生成された電荷を前記遮光ステップの遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出しステップ、
前記複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を前記第１読み出しステップの読み出し処理の後に読み出す第２読み出しステップ、および
前記第１読み出しステップによって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを前記第２読み出しステップによって読み出された電荷と前記Ｎフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正ステップを備える、撮像制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子カメラに関し、特に、撮像面の露光によって生成された被写界像を撮像面への入射光を遮断した後に読み出す、電子カメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
この種のカメラの一例が、特許文献１に開示されている。この背景技術によれば、撮影レンズ系とＣＣＤ固体撮像素子との間の光路上にメカニカルシャッタが介挿される。光路はメカニカルシャッタによって開閉され、これによってＣＣＤ固体撮像素子の露光が制限される。ＣＣＤ固体撮像素子は、１フレームの画像を３フィールドに分けて出力する。ＣＰＵは、出力される３フィールドの画像データの露光量の差異に基づいて、光学銅鏡の漏光やメカニカルシャッタの動作異常を検出する。このような異常状態が検出されると、エラー情報が表示装置に表示される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１８４３９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、背景技術では、異常状態が表示装置によって報知されるに留まり、異常状態が検出された後にＣＣＤ固体撮像素子から出力される画像の品質が改善されることはない。
【０００５】
それゆえに、この発明の主たる目的は、漏光に起因する画質の劣化を抑制することができる、電子カメラを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に従う電子カメラ(10：実施例で相当する参照符号。以下同じ)は、複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段(20)、撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光手段(S21)、複数の受光素子で生成された電荷を遮光手段の遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出し手段(S23)、複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を第１読み出し手段の読み出し処理の後に読み出す第２読み出し手段(S25)、および第１読み出し手段によって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを第２読み出し手段によって読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正手段(S27, S29)を備える。
【０００７】
撮像手段は、複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する。撮像面への入射光は、既定指示に応答して遮光手段によって遮断される。第１読み出し手段は、複数の受光素子で生成された電荷を、遮光手段の遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す。複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷は、第１読み出し手段の読み出し処理の後に第２読み出し手段によって読み出される。補正手段は、第１読み出し手段によって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを、第２読み出し手段によって読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する。
【０００８】
第２読み出し手段によって読み出される電荷は、撮像面への入射光が遮断された状態で生成された電荷つまり漏光に起因する電荷に相当する。また、漏光に起因する電荷の量は、漏光期間の延長に伴って増大する。さらに、漏光が照射されるエリアは固定的である。
【０００９】
したがって、第１読み出し手段によって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを第２読み出し手段によって既定エリアから読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正することで、漏光に起因する画像データの品質の劣化を抑制することができる。
【００１０】
好ましくは、補正手段は、第２読み出し手段によって読み出された電荷に基づく１フィールドの漏光画像データを時期情報を参照してＮフィールドの漏光画像データに変換する変換手段(S27)、および変換手段によって変換されたＮフィールドの漏光画像データを参照してＮフィールドの画像データを補正するデータ補正手段(S29)を含む。
【００１１】
さらに好ましくは、第１読み出し手段は既定時間毎に各フィールドの読み出し処理を実行し、第２読み出し手段は第１読み出し手段によるＮフィールド目の読み出し処理から既定時間が経過した時点で読み出し処理を実行する。
【００１２】
好ましくは、第２読み出し手段によって読み出される電荷はＮフィールドのいずれか１つに対応する。
【００１３】
好ましくは、撮像手段はＣＣＤ型のイメージセンサに相当する。
【００１４】
この発明に従う撮像制御プログラムは、複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段(20)を備える電子カメラ(10)のプロセッサ(30)に、撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光ステップ(S21)、複数の受光素子で生成された電荷を遮光ステップの遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出しステップ(S23)、複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を第１読み出しステップの読み出し処理の後に読み出す第２読み出しステップ(S25)、および第１読み出しステップによって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを第２読み出しステップによって読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正ステップ(S27, S29)を実行させるための、撮像制御プログラムである。
【００１５】
この発明に従う撮像制御方法は、複数の受光素子が平面状に配列された撮像面を有する撮像手段(20)を備える電子カメラ(10)によって実行される撮像制御方法であって、撮像面への入射光を既定指示に応答して遮断する遮光ステップ(S21)、複数の受光素子で生成された電荷を遮光ステップの遮光処理の後にＮフィールド（Ｎ：２以上の整数）の飛び越し走査によって読み出す第１読み出しステップ(S23)、複数の受光素子のうち既定エリアに属する一部の受光素子で生成された電荷を第１読み出しステップの読み出し処理の後に読み出す第２読み出しステップ(S25)、および第１読み出しステップによって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを第２読み出しステップによって読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する補正ステップ(S27, S29)を備える。
【発明の効果】
【００１６】
この発明によれば、第２読み出し手段によって読み出される電荷は、撮像面への入射光が遮断された状態で生成された電荷つまり漏光に起因する電荷に相当する。また、漏光に起因する電荷の量は、漏光期間の延長に伴って増大する。さらに、漏光が照射されるエリアは固定的である。したがって、第１読み出し手段によって読み出された電荷に基づくＮフィールドの画像データを第２読み出し手段によって既定エリアから読み出された電荷とＮフィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正することで、漏光に起因する画像データの品質の劣化を抑制することができる。
【００１７】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】図１実施例に適用される色フィルタの構成の一例を示す図解図である。
【図３】図１実施例に適用されるＣＣＤイメージャの構成の一例を示す図解図である。
【図４】（Ａ）はスルー画像処理における奇数フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図であり、（Ｂ）はスルー画像処理における偶数フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図である。
【図５】撮像面における評価エリアの割り当て状態の一例を示す図解図である。
【図６】（Ａ）はシャッタボタンの操作に応答した第１フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図であり、（Ｂ）はシャッタボタンの操作に応答した第２フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図であり、（Ｃ）はシャッタボタンの操作に応答した第３フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図であり、（Ｄ）はシャッタボタンの操作に応答した第４フィールドの電荷読み出し動作の一例を示す図解図である。
【図７】（Ａ）は第１フィールドの基礎漏光画像データを示す図解図であり、（Ｂ）は第２フィールドの基礎漏光画像データを示す図解図であり、（Ｃ）は第３フィールドの基礎漏光画像データを示す図解図であり、（Ｄ）は第４フィールドの基礎漏光画像データを示す図解図である。
【図８】図１実施例の動作の一部を示す図解図である。
【図９】図１実施例の動作の他の一部を示す図解図である。
【図１０】図１実施例に適用されるＣＰＵの動作の一部を示すフロー図である。
【図１１】図１実施例に適用されるＣＰＵの動作の他の一部を示すフロー図である。
【図１２】図１実施例に適用されるＣＰＵの動作のその他の一部を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１を参照して、この実施例のディジタルカメラ１０は、ドライバ１８ａ，１８ｂおよび１８ｃによってそれぞれ駆動されるフォーカスレンズ１２，絞りユニット１４およびメカニカルシャッタ１６を含む。これらの部材を経た被写界の光学像は、ＣＣＤ型のイメージセンサ２０の撮像面に照射される。
【００２０】
撮像面は、ベイヤ配列を有する原色フィルタ２０ｆ（図２参照）によって覆われる。ベイヤ配列であるため、奇数番目の水平列にはＲ(Red)の色要素およびＧ(Green)の色要素が交互に配置され、偶数番目の水平列にはＧの色要素およびＢ(Blue)の色要素が交互に配置される。
【００２１】
図３を参照して、撮像面には複数の受光素子（画素）２０ｐ，２０ｐ，…が平面状に配列される。図２に示す複数の色要素は、このような複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…に１対１で割り当てられる。したがって、各受光素子２０ｐで生成される電荷は、Ｒ，ＧおよびＢのいずれか１つの色情報を有する。
【００２２】
イメージセンサ２０はまた、複数の垂直転送レジスタ２０ｖ，２０ｖ，…と１つの水平転送レジスタ２０ｈとを有する。垂直方向に並ぶ複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…で生成された電荷は共通の垂直転送レジスタ２０ｖに読み出され、垂直方向に転送される。水平転送レジスタ２０ｈに到達した電荷は、水平方向に転送され、ディフュージョンアンプ２０ｄを経て出力される。
【００２３】
図１に戻って、キー入力装置２８上の電源キー２８ｐが操作されると、ＣＰＵ３０は、撮像タスクの下でドライバ１８ｃにメカニカルシャッタ１６の開動作を命令する。これによって、被写界の光学像が撮像面に照射される。ＣＰＵ３０は続いて、スルー画像処理を開始するべく、ドライバ１８ｄに露光動作および間引き読み出し動作の繰り返しを命令する。ドライバ１８ｄは、図示しないＳＧ(Signal Generator)から周期的に発生する垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して、撮像面を露光し、かつ撮像面で生成された電荷の一部を飛び越し走査態様で読み出す。
【００２４】
図４（Ａ）および図４（Ｂ）を参照して、電荷は、奇数番目（＝奇数フィールド）の垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して奇数番目の水平ラインを形成する受光素子２０ｐ，２０ｐ，…の一部から読み出され、偶数番目（＝偶数フィールド）の垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して偶数番目の水平ラインを形成する受光素子２０ｐ，２０ｐ，…の一部から読み出される。
【００２５】
この結果、奇数フィールドでは、Ｒの色情報を有する電荷とＧの色情報を有する電荷とを含む低解像度の生画像信号がイメージセンサ２０から出力され、偶数フィールドでは、Ｇの色情報を有する電荷とＢの色情報を有する電荷とを含む低解像度の生画像信号がイメージセンサ２０から出力される。
【００２６】
前処理回路２２は、こうしてイメージセンサ２０から出力された生画像信号にＣＤＳ(Correlated Double Sampling)，ＡＧＣ（Automatic Gain Control），Ａ／Ｄ変換などの処理を施し、ディジタル信号である生画像データを出力する。出力された生画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４の生画像エリア３４ａに書き込まれる。
【００２７】
後処理回路３６は、生画像エリア３４ａに格納された連続２フィールドの生画像データをメモリ制御回路３２を通して順次走査態様で読み出す。読み出された生画像データは、Ｒの色情報およびＧの色情報を有する奇数番目の水平ラインとＧの色情報およびＢの色情報を有する偶数番目の水平ラインとによって形成される。後処理回路３６は、こうして読み出された生画像データに白バランス調整，色分離，ＹＵＶ変換などの処理を施し、ＹＵＶ形式に従う低解像度の画像データを生成する。生成された画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４のＹＵＶ画像エリア３４ｂに書き込まれる。
【００２８】
ＬＣＤドライバ３８は、ＹＵＶ画像エリア３４ｂに格納された画像データをメモリ制御回路３２を通して繰り返し読み出し、読み出されたＹＵＶ画像データに基づいてＬＣＤモニタ４０を駆動する。この結果、被写界のリアルタイム動画像（スルー画像）がモニタ画面に表示される。
【００２９】
図５を参照して、撮像面の中央には評価エリアＥＶＡが割り当てられる。評価エリアＥＶＡは水平方向および垂直方向の各々において１６分割され、２５６個の分割エリアが評価エリアＥＶＡを形成する。また、前処理回路２２は、上述した処理に加えて、生画像データを簡易的にＹデータに変換する簡易Ｙ変換処理を実行する。
【００３０】
ＡＥ評価回路２４は、前処理回路２２によって生成されたＹデータのうち評価エリアＥＶＡに属するＹデータを、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生する毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＥ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＥ評価回路２４から出力される。
【００３１】
また、ＡＦ評価回路２６は、前処理回路２２から出力されたＹデータのうち同じ評価エリアＥＶＡに属するＹデータの高周波成分を抽出し、抽出された高域周波数成分を垂直同期信号Ｖｓｙｎｃが発生する毎に積分する。これによって、２５６個の積分値つまり２５６個のＡＦ評価値が、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＡＦ評価回路２６から出力される。
【００３２】
ＣＰＵ３０は、ＡＥ評価回路２４からの出力に基づくスルー画像用ＡＥ処理をスルー画像処理と並列して実行し、適正ＥＶ値を算出する。算出された適正ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間は、ドライバ１８ｂおよび１８ｄにそれぞれ設定される。この結果、スルー画像の明るさが適度に調整される。
【００３３】
ＣＰＵ３０はまた、スルー画像処理と並列するコンティニュアスＡＦタスクの下で、ＡＦ評価回路２６からの出力に基づくスルー画像用ＡＦ処理を実行する。フォーカスレンズ１２は、ＡＦ評価回路２６の出力がＡＦ起動条件を満足するとき、ドライバ１８ａによって合焦点に設定される。これによって、スルー画像のフォーカスが適度に調整される。
【００３４】
シャッタボタン２８ｓが半押しされると、ＣＰＵ３０は、コンティニュアスＡＦタスクを中断し、記録用ＡＦ処理を撮像タスクの下で実行する。記録用ＡＦ処理もまたＡＦ評価回路２６の出力に基づいて実行される。これによって、フォーカスが厳格に調整される。ＣＰＵ３０は続いて、ＡＥ評価回路２４の出力に基づいて記録用ＡＥ処理を実行し、最適ＥＶ値を算出する。算出された最適ＥＶ値を定義する絞り量および露光時間は、上述と同様、ドライバ１８ｂおよび１８ｄにそれぞれ設定される。この結果、スルー画像の明るさが厳格に調整される。
【００３５】
シャッタボタン２８ｓが全押しされると、ＣＰＵ３０は、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃの発生から最適ＥＶ値を定義する露光期間が経過した時点で、ドライバ１８ｃにメカニカルシャッタ１６の閉動作を命令する。これによって、撮像面への入射光が遮断され、最適ＥＶ値に対応する量の電荷が撮像面で生成される。
【００３６】
ＣＰＵ３０は続いて、静止画取り込み処理のために、全画素読み出し動作の実行をドライバ１８ｄに命令する。ドライバ１８ｄは、撮像面で生成された電荷の全てを４フィールドに跨る飛び越し走査態様で撮像面から読み出す。
【００３７】
図６（Ａ）〜図６（Ｄ）を参照して、電荷は、第１フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＮ＋１番目（Ｎ：０，１，２，３，…、以下同じ）の水平ラインを形成する複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…から読み出され、第２フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＮ＋２番目の水平ラインを形成する一部の受光素子２０ｐから読み出され、第３フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＮ＋３番目（Ｎ：０，１，２，３，…、以下同じ）の水平ラインを形成する複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…から読み出され、そして第４フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答してＮ＋４番目の水平ラインを形成する一部の受光素子２０ｐから読み出される。
【００３８】
この結果、第１フィールドおよび第３フィールドの各々では、Ｒの色情報を有する電荷とＧの色情報を有する電荷とを含む高解像度の生画像信号がイメージセンサ２０から出力され、第２フィールドおよび第４フィールドの各々では、Ｇの色情報を有する電荷とＢの色情報を有する電荷とを含む高解像度の生画像信号がイメージセンサ２０から出力される。
【００３９】
こうしてイメージセンサ２０から出力された４フィールドの生画像信号は、上述と同様、前処理回路２２によって４フィールドの生画像データに変換され、変換された４フィールドの生画像データはメモリ制御回路３２によってＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに書き込まれる。
【００４０】
このような静止画像取り込み処理が完了すると、ＣＰＵ３０は、補正画像取り込み処理の実行をドライバ１８ｄに命令する。ドライバ１８ｄは、上述した第４フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃの次に発生する垂直同期信号Ｖｓｙｎｃつまり第５フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに応答して、Ｎ＋１番目の水平ラインを形成する複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…で生成された電荷を読み出す。
【００４１】
この結果、Ｒの色情報を有する電荷とＧの色情報を有する電荷とを含む高解像度の生画像信号がイメージセンサ２０から出力される。出力された１フィールドの生画像信号は、上述と同様、前処理回路２２によって生画像データに変換され、変換された１フィールドの生画像データはメモリ制御回路３２によってＳＤＲＡＭ３４のワークエリア３４ｄに書き込まれる。
【００４２】
補正画像取り込み処理が完了すると、ワークエリア３４ｄに格納された生画像データと、第１フィールド〜第４フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃの発生時期を示す時期情報と、フラッシュメモリ４６に保存された漏光エリア情報とに基づいて、４フィールドの正規化漏光画像データが作成される。
【００４３】
なお、漏光エリア情報とは、メカニカルシャッタ１６が閉じられた後にメカニカルシャッタ１６から漏れた光が照射される撮像面上のエリアつまり漏光エリアを示す情報である。また、漏光はメカニカルシャッタ１６の不具合に起因するため、漏光エリアの位置は固定的であり、漏光エリア情報は出荷前の検査段階でフラッシュメモリ１６に保存される。
【００４４】
４フィールドの正規化漏光画像データを作成するにあたっては、まず、ワークエリア３４ｄ上の生画像データから漏光エリアＬ１上の一部の生画像データが切り出される。これによって、第１フィールドの基礎漏光画像データが図７（Ａ）に示す要領で得られる。第１フィールドの基礎漏光画像データは続いて、色要素間での透光率の相違、ならびにフィールド間での画素位置の相違を考慮したレベル調整を施される。これによって、第２フィールドの基礎漏光画像データが図７（Ｂ）に示す要領で作成され、第３フィールドの基礎漏光画像データが図７（Ｃ）に示す要領で作成され、そして第４フィールドの基礎漏光画像データが図７（Ｄ）に示す要領で作成される。
【００４５】
漏光エリアＬ１に照射される漏光の量つまり漏光エリアＬ１で生成される電荷の量は、図８および図９に示すように、メカニカルシャッタ１６が閉じられてからの時間経過とともに増大する。また、上述のように、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃは周期的に発生する。
【００４６】
したがって、漏光が漏光エリアＬ１に均一に照射されることを前提としてＧの色情報に対応するデータ値に注目した場合、第２フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値は第１フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値の２倍となり、第３フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値は第１フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値の３倍となり、第４フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値は第１フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値の４倍となる。さらに、図７（Ａ）〜図７（Ｄ）に示す基礎漏光画像データのＧデータ値はいずれも、第１フィールドの生画像データに含まれる漏光画像成分のＧデータ値の５倍となる。
【００４７】
このような特性を考慮して、図７（Ａ）に示す第１フィールドの基礎漏光画像データのデータ値は１／５に低減され、図７（Ｂ）に示す第２フィールドの基礎漏光画像データのデータ値は２／５に低減され、図７（Ｃ）に示す第３フィールドの基礎漏光画像データのデータ値は３／５に低減され、そして図７（Ｄ）に示す第４フィールドの基礎漏光画像データのデータ値は４／５に低減される。このような低減処理の結果、第１フィールド〜第４フィールドの正規化漏光画像データがワークエリア３４ｄ上に得られる。
【００４８】
記録画像エリア３４ｃ上の第１フィールドの生画像データは、ワークエリア３４ｄ上の第１フィールドの正規化漏光画像データを参照した減算処理によって補正される。記録画像エリア３４ｃ上の第２フィールドの生画像データは、ワークエリア３４ｄ上の第２フィールドの正規化漏光画像データを参照した減算処理によって補正される。記録画像エリア３４ｃ上の第３フィールドの生画像データは、ワークエリア３４ｄ上の第３フィールドの正規化漏光画像データを参照した減算処理によって補正される。記録画像エリア３４ｃ上の第４フィールドの生画像データは、ワークエリア３４ｄ上の第４フィールドの正規化漏光画像データを参照した減算処理によって補正される。
【００４９】
こうして第１フィールド〜第４フィールドの補正生画像データが得られると、ＣＰＵ３０は、記録処理を実行するべく、対応する命令を後処理回路３６およびＩ／Ｆ４２に与える。
【００５０】
後処理回路３６は、記録画像エリア３４ｃに格納された４フィールドの補正生画像データをメモリ制御回路３２を通して順次走査態様で読み出す。これによって、４フィールドの補正生画像データが１フレームの補正生画像データに変換される。変換された１フレームの補正生画像データは、上述と同様、白バランス調整，色分離，ＹＵＶ変換などの処理を施され、これによって生成されたＹＵＶ形式の画像データは、メモリ制御回路３２を通してＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに戻される。Ｉ／Ｆ４４は、記録画像エリア３４ｃに戻された画像データをメモリ制御回路３２を通して読み出し、読み出された画像データをファイル形式で記録媒体４６に記録する。
【００５１】
ＣＰＵ３０は、図１０〜図１２に示す撮像タスクを含む複数のタスクを並列的に実行する。なお、これらのタスクに対応する制御プログラムは、フラッシュメモリ４６に記憶される。
【００５２】
図１０を参照して、ステップＳ１ではドライバ１８ｃを通してメカニカルシャッタ１６を開き、ステップＳ３ではスルー画像処理を開始する。この結果、被写界を表す光学像が撮像面に照射され、被写界を表すスルー画像がＬＣＤモニタ４０に表示される。ステップＳ５ではコンティニュアスＡＦタスクを起動し、ステップＳ７ではシャッタボタン２８ｓが半押しされたか否かを判別する。判別結果がＮＯであれば、ステップＳ７のスルー画像用ＡＥ処理を繰り返す。ステップＳ５の処理によってスルー画像のフォーカスが適度に調整され、ステップＳ９の処理によってスルー画像の明るさが適度に調整される。
【００５３】
ステップＳ７でＹＥＳであれば、ステップＳ１１でコンティニュアスＡＦタスクを停止し、ステップＳ１３およびＳ１５で記録用ＡＦ処理および記録用ＡＥ処理をそれぞれ実行する。記録用ＡＦ処理によってスルー画像のフォーカスが厳格に調整され、記録用ＡＥ処理によってスルー画像の明るさが厳格に調整される。
【００５４】
ステップＳ１７ではシャッタボタン２８ｓが全押しされたか否かを判別し、ステップＳ１９ではシャッタボタン２８ｓの操作が解除されたか否かを判別する。ステップＳ１７でＹＥＳであればステップＳ２１に進み、ステップＳ１９でＹＥＳであればステップＳ５に戻る。
【００５５】
ステップＳ２１では、ドライバ１８ｃを通してメカニカルシャッタ１６を閉じる。この結果、撮像面への入射光が遮断される。ステップＳ２３では、静止画取り込み処理を実行する。これによって、４フィールドの生画像データがＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに確保される。ステップＳ２５では、補正画像取り込み処理を実行する。これによって、１フィールドの生画像データがＳＤＲＡＭ３４のワークエリア３４ｄに確保される。
【００５６】
ステップＳ２７では、ワークエリア３４ｄに確保された１フィールドの生画像データと第１フィールド〜第４フィールドの垂直同期信号Ｖｓｙｎｃの発生時期を示す時期情報とフラッシュメモリ４６に保存された漏光エリア情報とに基づいて、４フィールドの正規化漏光画像データを作成する。ステップＳ２９では、作成された４フィールドの正規化漏光画像データを参照して、記録画像エリア３４ｃに格納された４フィールドの生画像データを補正する。補正処理が完了すると、ステップＳ３１で記録処理を実行する。これによって、４フィールドの補正生画像データがＹＵＶ形式に従う１フレームの画像データに変換され、変換された画像データがファイル形式で記録媒体４４に記録される。記録処理が完了すると、ステップＳ１に戻る。
【００５７】
ステップＳ２７に示す漏光画像データの作成処理は、図１２に示すサブルーチンに従って実行される。まず、ステップＳ４１で第１フィールドの基礎漏光画像データを作成し、ステップＳ４３で第２フィールドの基礎漏光画像データを作成する。続いて、ステップＳ４５で第３フィールドの基礎漏光画像データを作成し、ステップＳ４７で第４フィールドの基礎漏光画像データを作成する。ステップＳ４９では第１フィールドの基礎漏光画像データを正規化し、ステップＳ５１では第２フィールドの基礎漏光画像データを正規化する。さらに、ステップＳ５３では第３フィールドの基礎漏光画像データを正規化し、ステップＳ５５では第４フィールドの基礎漏光画像データを正規化する。ステップＳ５５の処理が完了すると、上階層のルーチンに復帰する。
【００５８】
以上の説明から分かるように、イメージセンサ２０は、複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…が平面状に配列された撮像面を有する。シャッタボタン２８ｓが全押しされると、ＣＰＵ３０は、メカニカルシャッタ１６を駆動して、撮像面への入射光を遮断する(S21)。メカニカルシャッタ１６が閉じられると、静止画取り込み処理がＣＰＵ３０によって実行される(S23)。複数の受光素子２０ｐ，２０ｐ，…で生成された電荷は、４フィールド相当の飛び越し走査によって読み出され、対応する４フィールドの生画像データがＳＤＲＡＭ３４の記録画像エリア３４ｃに確保される。
【００５９】
静止画取り込み処理が完了すると、補正画像取り込み処理がＣＰＵ３０によって実行される(S25)。これによって、漏光エリアに属する一部の受光素子２０ｐで生成された電荷が読み出され、対応する生画像データがＳＤＲＡＭ３４のワークエリア３４ｄに確保される。ＣＰＵ３０は、静止画取り込み処理によって取得された４フィールドの生画像データを、補正画像取り込み処理によって取得された生画像データと４フィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正する(S27, S29)。
【００６０】
補正画像取り込み処理によって撮像面から読み出される電荷は、撮像面への入射光が遮断された状態で生成された電荷つまり漏光に起因する電荷に相当する。また、漏光に起因する電荷の量は、漏光期間の延長に伴って増大する。さらに、漏光が照射されるエリアは固定的である。
【００６１】
したがって、静止画取り込み処理によって取得された４フィールドの画像データを補正画像取り込み処理によって取得された漏光エリアの画像データと４フィールドの飛び越し走査の時期情報とに基づいて補正することで、漏光に起因する画像データの品質の劣化を抑制することができる。
【００６２】
なお、この実施例では、補正画像取り込み処理において第１フィールドの生画像データを取得するようにしているが、これに代えて第２フィールド〜第４フィールドのいずれか１つの生画像データを取得するようにしてもよい。
【００６３】
また、この実施例では、漏光エリア以外のエリアの生画像データも取得するようにしているが、漏光エリアの生画像データのみを取得するようにしてもよい。
【００６４】
さらに、この実施例では、ＣＣＤ型のイメージセンサを採用するようにしているが、複数フィールドに跨ぐ電荷読み出し動作を実行する限り、ＣＣＤ型と異なる型のイメージセンサを採用するようにしてもよい。
【００６５】
また、この実施例では、静止画取り込み処理において４フィールドに跨ぐ電荷読み出し動作を実行するようにしているが、フィールド数は“２”以上である限り“４”に限られるものではない。
【符号の説明】
【００６６】
１０  …ディジタルカメラ
２０  …イメージセンサ
２４  …ＡＥ評価回路
２６  …ＡＦ評価回路
３０  …ＣＰＵ
３４  …ＳＤＲＡＭ
４６  …フラッシュメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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