(57)【要約】【課題】ビームエキスパンダ用ステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合、再起動のための処理時間を短縮すること。【解決手段】マイクロプロセッサ１９は、位置センサ２６からの検出信号を基にステッピングモータ２３に噛み込み状態が発生したと判定したとき、ＥＥＰＲＯＭ２９に噛み込み状態を示すフラグと検出信号の極性を記憶しておく。装置起動時ＥＥＰＲＯＭ２９を参照し、噛み込み状態を示すフラグが記憶され、現在の検出信号の極性と異なる場合は、ステッピングモータ２３を通常より減速して駆動させるように制御する。【選択図】図１
2010003336.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに照射するレーザビームの球面収差を補正するビームエキスパンダを有する光ディスク装置において、
上記ビームエキスパンダの可動レンズを光軸方向に移動させるステッピングモータと、
該ステッピングモータを駆動するビームエキスパンダ駆動回路と、
上記可動レンズが光軸方向の基準位置に達したことを検出する位置センサと、
上記ビームエキスパンダ駆動回路を制御するマイクロプロセッサと、
上記ステッピングモータを駆動するための情報を格納するメモリを備え、
上記マイクロプロセッサは、上記位置センサからの検出信号を基に上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、上記メモリに噛み込み状態を示す情報を記憶しておき、装置起動時上記メモリを参照し、噛み込み状態を示す情報が記憶されている場合は、上記ビームエキスパンダ駆動回路に対し上記ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記位置センサは、前記可動レンズが前記基準位置に達したとき検出信号の極性が反転するものであって、
前記マイクロプロセッサは、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、前記メモリに前記位置センサからの検出信号の極性を記憶しておき、装置起動時、前記メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光ディスク装置において、
前記マイクロプロセッサは、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動することにより、前記可動レンズを前記基準位置に移動させることができた場合、そのときの速度を前記メモリに脱出速度として記憶し、装置起動時、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合、前記ステッピングモータを前記メモリに記憶している上記脱出速度にて駆動させるように制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
光ピックアップ内の可動レンズをステッピングモータにより駆動する光ディスク装置の制御方法において、
装置起動時、装置内のメモリに記憶した情報を参照して、上記ステッピングモータにより上記可動レンズを予め定めた基準位置へ移動させるステップと、
位置センサにより上記可動レンズが上記基準位置に達したことを検出するステップと、
上記位置センサにより上記可動レンズが上記基準位置に達したことを検出できなかった場合、上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定し上記メモリに記憶するステップとを有し、
装置起動時上記メモリを参照し、上記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合は、上記ステッピングモータを通常より減速して駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記位置センサは、前記可動レンズが前記基準位置に達したとき検出信号の極性が反転するものであって、
前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、前記メモリに前記位置センサからの検出信号の極性を記憶し、
装置起動時、前記メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、前記ステッピングモータを通常より減速して駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項６】
請求項４または５に記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記ステッピングモータを通常より減速して駆動することにより、前記可動レンズを前記基準位置に移動させることができた場合、そのときの速度を前記メモリに脱出速度として記憶し、
装置起動時、前記ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合、前記ステッピングモータを前記メモリに記憶している上記脱出速度にて駆動させることを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへの記録又は再生を行う光ディスク装置に係り、特に光ピックアップ内の可動レンズを駆動するステッピングモータの制御技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
高密度記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ）では、ディスクの厚さ方向に第１の記録層と第２の記録層が所定の間隔をおいて配置されるため、一方の記録層から他方の記録層へ切り替わる際に球面収差が発生する。光ディスク装置ではこの球面収差を補正するために、光ピックアップ内にビームエキスパンダというモータ駆動の補正レンズが組み込まれている。ビームエキスパンダは固定レンズと可動レンズで構成され、可動レンズの位置をステッピングモータで駆動制御することにより球面収差を補正している。
【０００３】
ステッピングモータは、簡単な構成で正確な位置決め制御を実現できるものであるが、負荷が大きすぎたり駆動周波数が高すぎると同期外れで制御が乱れることがある。この状態を「噛み込み」あるいは「脱調」と称する。噛み込みが発生するとビームエキスパンダが機能せず記録再生動作が不可能になるので、噛み込みを脱出するためのリカバリ処理が施される。
【０００４】
例えば特許文献１には、ステッピングモータの噛み込みを検出した場合、ステッピングモータの駆動周波数を下げてトルクを増加させて駆動する光ディスク装置が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−２６５５９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
前記ビームエキスパンダにおいては、球面収差補正用の可動レンズの絶対位置を算出するために位置センサを備えている。位置センサは、可動レンズが基準位置（Ｒｅｚｅｒｏ）を通過するとき、その極性（Ｓｅｎｓｅ極性）が反転するように設定しておく。ビームエキスパンダを動作させるときは、まず可動レンズを往復移動させてＳｅｎｓｅ極性が反転する位置を検出して停止させ（Ｒｅｚｅｒｏ処理）、その位置を基準として所望の距離だけ移動させるようにする。
【０００７】
Ｒｅｚｅｒｏ処理においてＳｅｎｓｅ極性が反転できなかった場合、すなわちＲｅｚｅｒｏ処理に失敗した場合には、一般にはステッピングモータに噛み込みが発生し可動レンズを駆動できなかったと判断する。ステッピングモータの噛み込みは、例えば、可動レンズをその可動限界端まで移動させたような場合、駆動負荷が増大することで発生する。このような場合、特許文献１のようにモータトルクを増大させることで噛み込み状態から脱出することができる。
【０００８】
しかしながら、Ｒｅｚｅｒｏ処理の失敗は他の原因でも生じる。ステッピングモータを駆動して可動レンズが移動し、Ｒｅｚｅｒｏ位置を通過したにもかかわらず、何らかの原因により位置センサのＳｅｎｓｅ極性が反転しない場合がある。これは、位置センサ自体は正常であるにもかかわらず、レンズ移動時の機械的振動や装置内ノイズ発生などの周囲環境が原因で、一時的にＳｅｎｓｅ信号不良となる現象である。このように通過検出に失敗すると、可動レンズはそのまま移動を続け可動限界端に衝突して噛み込み状態に陥ってしまう。
【０００９】
従来技術では、装置起動時のＲｅｚｅｒｏ処理は、ステッピングモータを予め設定している通常のトルクで駆動する。よって、モータが既に噛み込み状態に陥っている状態の場合においても、最初に通常のトルクで駆動するため可動レンズの移動ができずＲｅｚｅｒｏ処理に失敗することが多い。一旦Ｒｅｚｅｒｏ処理に失敗すると、噛み込み状態を脱出するためにモータトルクを増大させてリカバリ処理を行い、再度Ｒｅｚｅｒｏ処理を行う必要がある。このように、モータが既に噛み込み状態に陥っている場合の再起動処理は、噛み込み脱出までの処理時間が増大する問題があった。
【００１０】
本発明の目的は、ステッピングモータが既に噛み込み状態に陥っている場合の再起動のための処理時間を短縮することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、光ディスクに照射するレーザビームの球面収差を補正するビームエキスパンダを有する光ディスク装置であって、ビームエキスパンダの可動レンズを光軸方向に移動させるステッピングモータと、ステッピングモータを駆動するビームエキスパンダ駆動回路と、可動レンズが光軸方向の基準位置に達したことを検出する位置センサと、ビームエキスパンダ駆動回路を制御するマイクロプロセッサと、ステッピングモータを駆動するための情報を格納するメモリを備える。マイクロプロセッサは、位置センサからの検出信号を基にステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、メモリに噛み込み状態を示す情報を記憶しておき、装置起動時メモリを参照し、噛み込み状態を示す情報が記憶されている場合は、ビームエキスパンダ駆動回路に対しステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御する。
【００１２】
ここに前記位置センサは、可動レンズが基準位置に達したとき検出信号の極性が反転するものであって、前記マイクロプロセッサは、ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定したとき、メモリに位置センサからの検出信号の極性を記憶しておく。そして装置起動時、メモリに記憶している検出信号の極性が現在の検出信号の極性と異なっている場合、ステッピングモータを通常より減速して駆動させるように制御する。
【００１３】
本発明は、光ピックアップ内の可動レンズをステッピングモータにより駆動する光ディスク装置の制御方法であって、装置起動時、装置内のメモリに記憶した情報を参照して、ステッピングモータにより可動レンズを予め定めた基準位置へ移動させるステップと、位置センサにより可動レンズが上記基準位置に達したことを検出するステップと、位置センサにより可動レンズが基準位置に達したことを検出できなかった場合、ステッピングモータに噛み込み状態が発生したと判定しメモリに記憶するステップとを有する。そして装置起動時メモリを参照し、ステッピングモータに噛み込み状態が発生している場合は、ステッピングモータを通常より減速して駆動させる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、ビームエキスパンダ用ステッピングモータに噛み込み状態が発生しても、再起動時に迅速に噛み込み状態から脱出させることで起動処理時間を短縮する効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図である。
スピンドルモータ２は、スピンドルモータ駆動回路３から供給される駆動電力によって、光ディスク（例えばＢＤ）１を回転する。光ピックアップ４は、光ディスク１にレーザビームを照射し情報の記録または再生を行う。光ピックアップ４は、スレッドモータ１５によりディスク半径方向へ移動する。その送り機構は、スレッドモータ１５に螺旋状の溝が形成されたシャフト１６を取付け、シャフト１６の溝に光ピックアップ４に固定されたピン１７を挿入する。スレッドモータ１５はスレッド送り駆動回路１８により回転し、光ピックアップ４全体を移動させる。
【００１６】
光ピックアップ４において、半導体レーザ光源５から出射されたレーザビームは、ハーフミラー６とミラー７で反射され、対物レンズ（フォーカスレンズ）８によって微小な光スポットに集光され、光ディスク１に照射される。その際、レーザ駆動回路１１は照射するレーザビームの強度を制御し、モニターディテクタ１０は照射するレーザビームの強度を検出する。
【００１７】
光ディスク１にて反射したレーザビームは、対物レンズ８で再度集光され、ミラー７で反射し、ハーフミラー６を透過して４分割光検出器９に達する。４分割光検出器９は、その受光領域が４個の受光素子に分割されていて、各々の受光素子で受光したレーザビームの光強度に応じた信号を出力する。
【００１８】
信号処理回路１２は４分割光検出器９からの出力信号を受け、情報再生信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）、トラッキングエラー信号（ＴＥ信号）などを生成する。レンズアクチュエータ駆動回路１３は、信号処理回路１２から出力されるＦＥ信号とＴＥ信号に基づき、レンズアクチュエータ１４に駆動信号を供給し、対物レンズ８の位置を光軸方向（フォーカス方向）とディスク半径方向（トラッキング方向）に調整する。
【００１９】
本実施例では、光ピックアップ４はさらにビームエキスパンダ２０を備える。ＢＤディスクの記録再生には、波長４０５ｎｍのレーザ光と開口数０．８５の対物レンズ８を用いるが、ＤＶＤディスク等に比べ焦点ずれに対する許容値が厳しい。そこで、対物レンズ８とは別に、固定レンズ２１と可動レンズ２２を組み合わせたビームエキスパンダ２０を設ける。可動レンズ２２を光軸方向に移動調整することで、レーザビームを光ディスク１の記録面に精度良く絞り込み、球面収差を補正する。
【００２０】
ビームエキスパンダ２０の可動レンズ２２の移動機構は、ビームエキスパンダ用ステッピングモータ２３に螺旋状の溝が形成されたリードスクリュー２５を取付け、リードスクリュー２５の溝にレンズホルダ２４を挿入して可動レンズ２２を支持する。ステッピングモータ２３は、ビームエキスパンダ駆動回路２７により駆動される。このモータ２３は、例えば１０μｍ／ステップ（駆動周波数１０００ｐｐｓ（パルス／ステップ））の高分解能を有し、駆動パルス数にて所定量の移動を実現する。また位置センサ２６を設けて、移動時の基点となる基準位置（Ｒｅｚｅｒｏ点）を検出する。
【００２１】
マイクロプロセッサ（ＤＳＰ）１９は、スピンドルモータ駆動回路３、スレッド送り駆動回路１８、レーザ駆動回路１１、信号処理回路１２、レンズアクチュエータ駆動回路１３、ビームエキスパンダ駆動回路２７に制御信号を送り、各部の動作を制御する。半導体メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）２９には、マイクロプロセッサ１９が各部を制御するための情報を記憶する。本実施例では、ビームエキスパンダ用ステッピングモータ２３を駆動するために、噛み込み判定フラグ、Ｓｅｎｓｅ極性、減速フラグ、脱出速度などの情報を格納する。
【００２２】
本実施例でマイクロプロセッサ１９は、位置センサ２６によるＲｅｚｅｒｏ点の検出に失敗してステッピングモータ２３に噛み込みが発生した場合、そのＳｅｎｓｅ極性をＥＥＰＲＯＭ２９に記憶しておく。そして、再起動時に再度Ｓｅｎｓｅ極性を検出し、ＥＥＰＲＯＭ２９に記憶している噛み込み時の極性と比較する。これらの極性が異なっていたら、Ｓｅｎｓｅ信号の不良による噛み込みと判定する。その場合、Ｒｅｚｅｒｏ処理時の駆動速度を通常よりさらに低速にしてトルクを増大させ、噛み込みから脱出させ、可動レンズをＲｅｚｅｒｏ点に位置付ける。また、脱出した時の駆動速度をＥＥＰＲＯＭ２９に記憶しておき、同じ現象が再発生した場合に、記憶しておいた速度で脱出する。これを繰り返すことで、装置に適した最適な速度で迅速に噛み込み状態から脱出させるものである。
【００２３】
図２は、ビームエキスパンダのモータ駆動方式の一例を示す図である。ここにビームエキスパンダ用ステッピングモータ２３は、Ａ相／Ｂ相で駆動する２相駆動方式とする。マイクロプロセッサ（ＤＳＰ）１９はビームエキスパンダ駆動回路（ドライバ）２７へＡ相／Ｂ相制御信号を出力する。Ａ相／Ｂ相の電圧がＲＥＦ電圧に対して高いか低いかでモータの回転方向を制御し、またそのパルス周波数で回転速度を制御する。パルス周波数を下げて回転速度を減速すると、モータトルクを増大させることができる。あるいは、駆動電流Ａ，Ｂを増加させることでも、モータトルクを増大させることができる。モータへの電力は、エキスパンダ用電源２８から供給される。
【００２４】
図３は、ビームエキスパンダ２０の可動レンズ２２の移動を説明する図である。光ディスクがＢＤの場合、可動レンズ２２の移動範囲は約２６００μｍであり、両端は可動限界端（壁面）３１，３２となっている。移動範囲の中に、基準位置としてＲｅｚｅｒｏ点３０を設けている。Ｒｅｚｅｒｏ点は、位置センサ（例えばフォトインタラプタ）２６による検出信号（Ｓｅｎｓｅ信号）の極性変化点（Ｈｉｇｈ／Ｌｏｗ）として定める。これは、装置が起動した段階では、ビームエキスパンダ内の可動レンズ２２の位置を知ることができないからである。よって、可動レンズの位置決めは、まずＳｅｎｓｅ信号によりＲｅｚｅｒｏ点３０を探してから（Ｒｅｚｅｒｏ処理）、可動レンズを所望の位置まで所定の距離を移動させる。
【００２５】
この図では、可動限界端３１からＲｅｚｅｒｏ点３０までの領域３３ではＳｅｎｓｅ信号の極性がＨｉｇｈであり、可動限界端３２からＲｅｚｅｒｏ点３０までの領域３４ではＳｅｎｓｅ信号の極性がＬｏｗとなる。但し、Ｓｅｎｓｅ信号の変化は移動方向によりヒステリシスが存在するので、例えば、ＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに反転する位置をもってＲｅｚｅｒｏ点とする。ＢＤの各記録層に対する可動レンズ位置は、Ｒｅｚｅｒｏ点３０を基準に、Ｌ０層が約＋１０１０μｍ、Ｌ１層が約＋１９０μｍの距離にある。Ｒｅｚｅｒｏ処理後、可動レンズをＬ０層またはＬ１層に対応する距離だけ移動させる。
【００２６】
Ｒｅｚｅｒｏ処理において、位置センサ２６によるＲｅｚｅｒｏ点の検出に失敗した場合を説明する。例えば、領域３３に存在する可動レンズを領域３４に向かって移動させるとき、Ｒｅｚｅｒｏ点３０にてＳｅｎｓｅ信号がＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベル（符号３５）に反転せず、Ｈｉｇｈレベル（符号３５’）のままであったとする。すると可動レンズは極性がＬｏｗレベルに反転するまで移動を続ける結果、符号２２’で示すように可動限界端３２に衝突して、ステッピングモータ２３は噛み込み状態に陥る。この状態では、Ｓｅｎｓｅ極性はＨｉｇｈレベルを示しており、ＥＥＰＲＯＭ２９にはこの極性と噛み込み状態を示すフラグを記憶する。
【００２７】
次に装置を再起動時のＲｅｚｅｒｏ処理を説明する。このとき可動レンズは可動限界端３２（符号２２’）の位置に存在し、検出されるＳｅｎｓｅ極性は正常な値であるＬｏｗレベル（符号３５）を示す。現在のＳｅｎｓｅ極性（Ｌｏｗ）とＥＥＰＲＯＭ２９に記憶している極性（Ｈｉｇｈ）とは異なり、このことからステッピングモータ２３は、現在、Ｓｅｎｓｅ信号の不良に基づく噛み込み状態にあることが判明する。よってＲｅｚｅｒｏ処理にてこれから脱出させるため、モータ速度を減速しトルクを増大させて、可動レンズをＲｅｚｅｒｏ点３０方向へ駆動させるように制御する。このようにすれば、１回目のＲｅｚｅｒｏ処理を失敗なく実行することができる。
【００２８】
本実施例では、起動時のＲｅｚｅｒｏ処理を失敗なく実行させるために、ステッピングモータの噛み込み発生の履歴をＥＥＰＲＯＭ２９に保存する。保存する情報は次の通りである。
（１）噛み込み判定フラグ：ステッピングモータが噛み込み状態であるかどうかを判定するフラグで、ＯＮ＝噛み込み有りの状態、ＯＦＦ＝噛み込み無しの状態を示す。初期値はＯＦＦとする。
（２）Ｓｅｎｓｅ極性：位置センサにて検出した可動レンズの位置を示す信号で、ＨｉｇｈまたはＬｏｗの２値で区別。
（３）減速フラグ：ステッピングモータを減速して駆動することを指示するフラグで、ＯＮ＝減速指示、ＯＦＦ＝通常速度を示す。初期値はＯＦＦとする。
（４）脱出速度：ステッピングモータを駆動するときの速度の値。通常速度の他に複数の減速値を設定しておく。また、噛み込み状態から脱出できたときの速度を記憶する。
【００２９】
以下、本実施例における装置起動時のビームエキスパンダ処理の流れを図４と図５で説明する。
図４は、起動時のビームエキスパンダの処理の全体を示すフローチャートである。以下の一連の処理は、マイクロプロセッサ１９はＥＥＰＲＯＭ２９内の情報を読出し、または情報を更新しつつ、ビームエキスパンダ駆動回路２７に制御信号を送り、ステッピングモータ２３を駆動してビームエキスパンダ内の可動レンズ２２を移動させる。
【００３０】
光ディスク装置をパワーオンして起動（あるいは再起動）すると（Ｓ４００）、可動レンズの現在位置を検出するため、位置センサ２６にてＳｅｎｓｅ極性を判定する。また、ＥＥＰＲＯＭ２９に記憶している噛み込み判定フラグとＳｅｎｓｅ極性を読み出す（Ｓ４０１）。読み出した噛み込み判定フラグ＝ＯＮ（噛み込み状態）で、かつ現在のＳｅｎｓｅ極性と読み出したＳｅｎｓｅ極性とが異なるかどうかを判定する（Ｓ４０２）。判定の結果、両者ともＹｅｓの場合、減速フラグ＝ＯＮに設定する（Ｓ４０３）。判定の結果、少なくとも一方がＮｏの場合、減速フラグ＝ＯＦＦのままとする。
【００３１】
次に、ビームエキスパンダ内の可動レンズ２２の基準位置探索処理（Ｒｅｚｅｒｏ処理）を行う（Ｓ４０４）。Ｒｅｚｅｒｏ処理の詳細は図５にて説明するが、減速フラグの値に応じてステッピングモータ２３の速度を減速し、トルクを増大させて実行する。Ｒｅｚｅｒｏ処理の結果、正常に終了したか（可動レンズを基準位置に正常に位置付けできたか）どうかを判定する（Ｓ４０５）。正常に終了した場合は、噛み込みフラグ＝ＯＦＦに設定し（Ｓ４１１）、ビームエキスパンダの起動処理を終了する（Ｓ４１２）。正常に終了しなかった場合（Ｒｅｚｅｒｏ処理失敗時）は、噛み込み脱出のリカバリ処理（Ｓ４０６）へ進む。
【００３２】
リカバリ処理では、モータ速度を別途定めた速度に減速して設定し、Ｓｅｎｓｅ極性が現在と逆極性になる方向へ可動レンズを駆動させる（Ｓ４０６）。その際、モータ駆動電流を増加させて設定することで、モータのトルクをさらに増大させても良い。リカバリ処理の結果、Ｓｅｎｓｅ信号の極性が反転したかどうか判定する（Ｓ４０７）。極性が反転すれば、可動レンズがＲｅｚｅｒｏ点を通過して噛み込み状態からのリカバリが成功したことになる。その場合は再度Ｒｅｚｅｒｏ処理を実行する（Ｓ４０９）。極性が反転しなければ（Ｓ４０７でＮｏ）、所定回数（閾値）だけリトライする（Ｓ４０８）。このリトライ回数の閾値は例えば５回とし、５回の移動で可動レンズの全移動範囲をカバーできるようにする。所定回数リトライしても極性が反転しなければ、リカバリ処理に失敗したと判定する。その場合は、ＥＥＰＲＯＭの噛み込みフラグ＝ＯＮに設定し、そのときのＳｅｎｓｅ極性を記憶して（Ｓ４１３）、エラー終了とする（Ｓ４１４）。上記Ｓ４０９でＲｅｚｅｒｏ処理を行った場合には、正常に終了したかどうかを判定し（Ｓ４１０）、正常であれば上記Ｓ４１１に進み、失敗したときは上記Ｓ４１３に進む。
【００３３】
図５は、基準位置探索処理（Ｒｅｚｅｒｏ処理）の詳細を示すフローチャートである。この処理は、図４のＳ４０４とＳ４０９のステップで実行する。
Ｒｅｚｅｒｏ処理を開始すると（Ｓ５００）、ＥＥＰＲＯＭに記憶している減速フラグを読み出して判定する（Ｓ５０１）。減速フラグ＝ＯＮ（減速を指示）の場合は、ＥＥＰＲＯＭに格納されている複数の減速値の情報を参照して、モータ駆動速度を減速して設定する（Ｓ５０２）。例えば、前回のＲｅｚｅｒｏ処理で脱出できた速度が記憶されていれば、その値に設定する。また、前回のＲｅｚｅｒｏ処理に失敗した場合は、さらに低速度の値に設定する。減速フラグ＝ＯＦＦの場合は、通常の速度に設定する。
【００３４】
Ｒｅｚｅｒｏ処理では、Ｓｅｎｓｅ信号の現在の極性を判定する（Ｓ５０３）。極性がＨｉｇｈであれば、可動レンズは図３の領域３３内に位置し、極性がＬｏｗであれば、領域３４内に位置する。極性がＨｉｇｈであればＳ５０４へ進み、極性がＬｏｗであればＳ５０７へ進む。
【００３５】
Ｓ５０４では、可動レンズを極性がＬｏｗとなる領域３４へ向かって移動させる。そして、極性がＬｏｗに反転するかどうか判定する（Ｓ５０６）。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば（Ｓ５０５でＹｅｓ）、Ｒｅｚｅｒｏ処理失敗と判定しエラー終了とする（Ｓ５１５）。時間内に極性がＬｏｗに反転すれば（Ｓ５０６でＹｅｓ）、Ｓ５０７へ進む。
【００３６】
Ｓ５０７では現在の極性はＬｏｗであり、可動レンズを極性がＨｉｇｈとなる領域３３へ向かって移動させる。そして、極性がＨｉｇｈに反転するかどうか判定する（Ｓ５０９）。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば（Ｓ５０８でＹｅｓ）、Ｒｅｚｅｒｏ処理失敗と判定しエラー終了とする（Ｓ５１５）。時間内にＨｉｇｈに反転すれば（Ｓ５０９でＹｅｓ）、Ｓ５１０へ進む。
【００３７】
Ｓ５１０では、現在の極性はＨｉｇｈであり、可動レンズを極性がＬｏｗとなる領域３４へ向かって移動させる。そして、極性がＬｏｗに反転するかどうか判定する（Ｓ５１２）。これを所定の時間繰り返し、反転せずにタイムアウトになれば（Ｓ５１１でＹｅｓ）、Ｒｅｚｅｒｏ処理失敗と判定しエラー終了とする（Ｓ５１５）。時間内にＬｏｗに反転すれば（Ｓ５１２でＹｅｓ）、その速度を脱出できた速度としてＥＥＰＲＯＭに記憶し（Ｓ５１３）、Ｒｅｚｅｒｏ処理を正常終了とする（Ｓ５１４）。Ｓ５１２にて極性がＨｉｇｈからＬｏｗへ反転した位置を基準位置（Ｒｅｚｅｒｏ点）として、可動レンズを位置付ける。
【００３８】
本実施例の処理によれば、ステッピングモータの噛み込み発生の履歴をメモリに残し、次回の処理で利用する。すなわち、再起動時において既に噛み込みが発生し、かつ噛み込み時と現在のＳｅｎｓｅ極性が異なっている場合、モータ速度を減速しトルクを増大させてＲｅｚｅｒｏ処理を実行する。よって、再起動時のＲｅｚｅｒｏ処理に失敗する確率が大幅に減少し、Ｒｅｚｅｒｏ処理の失敗に伴うリカバリ処理（Ｓ４０６）や再度のＲｅｚｅｒｏ処理（Ｓ４０９）の工程を不要にして、起動処理のための時間を短縮することができる。さらに、装置毎に噛み込み状態から脱出できたときの駆動速度を記憶し、その速度を次回の処理に適用することで、Ｒｅｚｅｒｏ処理の成功率をより高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示す構成図。
【図２】ビームエキスパンダのモータ駆動方式の一例を示す図。
【図３】ビームエキスパンダの可動レンズ２２の移動を説明する図。
【図４】起動時のビームエキスパンダの処理の全体を示すフローチャート。
【図５】基準位置探索処理（Ｒｅｚｅｒｏ処理）を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００４０】
１…光ディスク、
２…スピンドルモータ、
４…光ピックアップ、
５…半導体レーザ光源、
８…対物レンズ（フォーカスレンズ）、
１２…信号処理回路、
１５…スレッドモータ、
１９…マイクロプロセッサ（ＤＳＰ）、
２０…ビームエキスパンダ、
２１…固定レンズ、
２２…可動レンズ、
２３…ビームエキスパンダ用ステッピングモータ、
２４…レンズホルダ、
２５…リードスクリュー、
２６…位置センサ、
２７…ビームエキスパンダ駆動回路、
２９…ＥＥＰＲＯＭ。
【図１】
2010003336.tif 000003
【図２】
2010003336.tif 000004
【図３】
2010003336.tif 000005
【図４】
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【図５】
2010003336.tif 000007