(57)【要約】【課題】光ディスク記録装置において、記録開始時における記録品質の悪化を防止する。【解決手段】レーザー制御部２０３は、データ記録開始時に、半導体レーザー１０１の駆動電流値を、テスト発光時にレーザー光検出部１０２により検出されたパワーと目標パワーとの差に基づいて算出した電流値に設定する。また、データ記録開始から所定期間経過後に、レーザー光検出部１０２により検出されているパワーと目標パワーとの差に応じた電流値の算出及びこの算出により取得した電流値への半導体レーザー１０１の駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御動作を開始する。記録パワーレベルでのテスト発光が、層間ジャンプ中であり、かつフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に行われる。【選択図】図３
2010003384.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
駆動電流値に応じたパワーのレーザー光を発生する半導体レーザーと、当該半導体レーザーにより発生されたレーザー光のパワーを検出するレーザー光検出部とを備えた光ディスク記録装置において、前記半導体レーザーを制御する集積回路であって、
光ディスクにおける記録対象の層に対するデータ記録開始時に、前記半導体レーザーの駆動電流値を、テスト発光時に前記レーザー光検出部により検出されたパワーと目標パワーとの差に基づいて算出した電流値に設定し、データ記録開始から所定期間経過後に、前記レーザー光検出部により検出されているパワーと目標パワーとの差に応じた電流値の算出及び当該算出により取得した電流値への前記駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御動作を開始するレーザー制御部と、
データ記録時における層間ジャンプ中に、フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間をテスト発光許可期間として特定するテスト発光許可信号を出力するテスト発光許可信号生成部とを備え、
記録パワーレベルでのテスト発光を、当該層への記録開始前の層間ジャンプ中、前記テスト発光許可信号によって特定されたテスト発光許可期間に行うように前記半導体レーザーを制御する集積回路。
【請求項２】
請求項１の集積回路において、
前記記録開始前の層間ジャンプより前の層間ジャンプ時に前記フォーカスエラー信号が所定値以上になった期間を特定し、当該期間を層間ジャンプ開始タイミングを基準として特定するデフォーカス期間情報をメモリに格納するフォーカス制御部をさらに備え、
前記テスト発光許可信号生成部は、前記メモリに格納されたデフォーカス期間情報に基づいて、前記テスト発光許可信号を生成することを特徴とする集積回路。
【請求項３】
請求項１の集積回路において、
前記層間ジャンプ中、前記記録パワーレベルでのテスト発光が、再生パワーレベルでのテスト発光と交互に複数回行われ、
前記テスト発光許可信号生成部は、前記層間ジャンプ中における前記再生パワーレベルでのテスト発光中に取得されたフォーカスエラー信号の値に基づいて、前記テスト発光許可信号を生成することを特徴とする集積回路。
【請求項４】
請求項１の集積回路と、
前記半導体レーザーと、
前記レーザー光検出部とを備えたことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
駆動電流値に応じたパワーのレーザー光を発生する半導体レーザーと、当該半導体レーザーにより発生されたレーザー光のパワーを検出するレーザー光検出部とを備えた光ディスク記録装置における光ディスク記録制御方法であって、
光ディスクにおける記録対象の層に対するデータ記録開始時に、前記半導体レーザーの駆動電流値を、テスト発光時に前記レーザー光検出部により検出されたパワーと目標パワーとの差に基づいて算出した電流値に設定するステップと、
当該層に対するデータ記録開始から所定期間経過後に、前記レーザー光検出部により検出されているパワーと目標パワーとの差に応じた電流値の算出、及び前記算出により取得した電流値への前記駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御を開始するステップとを有し、
記録パワーレベルでのテスト発光を、データ記録時における層間ジャンプ中であり、かつフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に行うことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項６】
請求項５の光ディスク記録制御方法において、
前記記録開始前の層間ジャンプより前の層間ジャンプ時に前記フォーカスエラー信号が所定値以上になった期間を特定し、当該期間を層間ジャンプ開始タイミングを基準として特定するデフォーカス期間情報をメモリに格納するステップをさらに有し、
前記フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を、前記メモリに格納されたデフォーカス期間情報に基づいて特定することを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項７】
請求項５の光ディスク記録制御方法において、
前記層間ジャンプ中、前記記録パワーレベルでのテスト発光を、再生パワーレベルでのテスト発光と交互に複数回行い、
前記フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を、前記層間ジャンプ中における前記再生パワーレベルでのテスト発光中に取得されたフォーカスエラー信号の値に基づいて特定することを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録装置において、半導体レーザーによって発生されるレーザー光のパワーを制御する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載された光ディスク記録方法では、光ディスクの書き継ぎマージン領域をレーザー光の照射位置とした状態でテスト発光を行い、その際に検出したレーザーパワーを目標パワーと比較することにより、データ記録時における半導体レーザーの駆動電流値を算出する。そして、半導体レーザーの駆動電流値を算出した電流値に設定した状態でデータ記録を開始し、データ記録開始から所定期間経過後に、検出したレーザーパワーに基づく電流値の算出、及び前記算出により取得した電流値への駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御を開始する。
【特許文献１】特開２００２−２０３３２０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記特許文献１の光ディスク記録方法では、光ディスクの書き継ぎマージン領域が限られているので、記録の高倍速化に伴ってテスト発光期間が短縮されると、テスト発光時にレーザー光のパワーを検出するタイミングのマージンが短くなる。したがって、誤ったタイミングでパワーが検出されることにより、検出したパワーに基づいて算出される駆動電流値が適当な値とならず、記録開始時の記録品質が悪化するおそれがある。
【０００４】
本発明は、上記の点に鑑み、光ディスク記録装置において、記録開始時における記録品質の悪化を防止することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するため、本発明は、駆動電流値に応じたパワーのレーザー光を発生する半導体レーザーと、当該半導体レーザーにより発生されたレーザー光のパワーを検出するレーザー光検出部とを備えた光ディスク記録装置における光ディスク記録制御方法であって、光ディスクにおける記録対象の層に対するデータ記録開始時に、前記半導体レーザーの駆動電流値を、テスト発光時に前記レーザー光検出部により検出されたパワーと目標パワーとの差に基づいて算出した電流値に設定するステップと、当該層に対するデータ記録開始から所定期間経過後に、前記レーザー光検出部により検出されているパワーと目標パワーとの差に応じた電流値の算出、及び前記算出により取得した電流値への前記駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御を開始するステップとを有し、記録パワーレベルでのテスト発光を、データ記録時における層間ジャンプ中であり、かつフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に行うことを特徴とする。
【０００６】
これにより、層間ジャンプ中にテスト発光を行うので、高速に記録が行われる場合でも、長い期間テスト発光を行える。したがって、テスト発光時のレーザー光のパワーを正確に検出し、検出したパワーに基づいてデータ記録開始時における駆動電流値としてより適当な値を算出することができ、その結果、記録開始時における記録品質の悪化を防止できる。
【０００７】
また、フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に記録パワーレベルでのテスト発光を行うので、テスト発光によって光ディスクにデータが記録されてしまうことを防止できる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明により、長期間のテスト発光によって、テスト発光時のレーザー光のパワーを正確に検出し、検出したパワーに基づいてデータ記録開始時における半導体レーザーの駆動電流値としてより適当な値を算出することができ、その結果、記録開始時における記録品質の悪化を防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１０】
本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置は、図１に示すように、光ピックアップ１００と集積回路２００とを備え、光ディスク３００に対して記録を行う。
【００１１】
光ピックアップ１００は、半導体レーザー１０１、レーザー光検出部１０２、反射光検出部１０３、及びアクチュエータ１０４を備えている。
【００１２】
半導体レーザー１０１は、レーザー駆動電流に応じたパワーのレーザー光を発生する。
【００１３】
レーザー光検出部１０２は、半導体レーザー１０１により発生されたレーザー光を受光し、そのパワーを検出する。そして、検出したパワーに応じたレーザー光信号を出力する。
【００１４】
反射光検出部１０３は、半導体レーザー１０１により発生されて光ディスク３００に照射されたレーザー光の反射光を受光し、受光した反射光の強度に応じた電圧信号を反射光信号として出力する。
【００１５】
アクチュエータ１０４は、フォーカス駆動電流に応じて、半導体レーザー１０１により発生されたレーザー光の照射位置を制御する。かかる制御は、レーザー光が通過する対物レンズ（図示せず）を移動させることにより行う。
【００１６】
集積回路２００は、サンプルホールド回路（ＳＨ：Sample and Hold）２０１、ＡＤコンバータ（ＡＤＣ：Analog to Digital Converter）２０２、レーザー制御部２０３、ＤＡコンバータ（ＤＡＣ：Digital to Analog Converter）２０４、サンプルホールド回路（ＳＨ）２０５、ＡＤコンバータ（ＡＤＣ）２０６、フォーカス制御部２０７、ＤＡコンバータ（ＤＡＣ）２０８、メモリ２１０、テスト発光許可信号生成部２１１、テスト信号生成部２１２、記録データ信号生成部２１３、パルス分配部２１４、及びスイッチング手段２１５ａ〜２１５ｃを備えている。
【００１７】
サンプルホールド回路２０１は、レーザー光検出部１０２によって出力されたレーザー光信号を所定タイミング毎にサンプリングし、次のサンプリングタイミングまで保持する。
【００１８】
ＡＤコンバータ２０２は、サンプルホールド回路２０１によって保持されたレーザー光信号の振幅値をデジタル値に変換する。
【００１９】
レーザー制御部２０３は、デジタル信号に変換されたレーザー光信号（ＡＤコンバータ２０２の出力）によって示されるレーザーパワーを目標パワーと比較し、半導体レーザー１０１により発生されるレーザー光を目標パワーに近づけるように、半導体レーザー１０１の駆動電流値を算出する。
【００２０】
詳しくは、レーザー制御部２０３は、テスト発光が行われると、テスト発光時にレーザー光検出部１０２により検出されたパワーと目標パワーとの差を算出し、当該差に基づいて、半導体レーザー１０１の駆動電流値を算出する。そして、算出した値を、光ディスク３００の記録対象の層に対するデータ記録開始から所定期間保持する。
【００２１】
また、レーザー制御部２０３は、データ記録開始から所定期間経過後には、レーザー光検出部１０２により検出されているパワーと目標パワーとの差に基づく電流値の算出及び当該算出により取得した電流値への半導体レーザー１０１の駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すフィードバック制御動作を開始する。つまり、電流値を新たに算出する毎に、保持している駆動電流値を、新たに算出した電流値に更新する。
【００２２】
ＤＡコンバータ２０４は、レーザー制御部２０３によって保持されている電流値に応じたレーザー駆動電流を出力する。
【００２３】
サンプルホールド回路２０５は、反射光検出部１０３によって出力された反射光信号を所定タイミング毎にサンプリングし、次のサンプリングタイミングまで保持する。
【００２４】
ＡＤコンバータ２０６は、サンプルホールド回路２０５によって保持された反射光信号の振幅値をデジタル値に変換する。
【００２５】
フォーカス制御部２０７は、デジタル信号に変換された反射光信号（ＡＤコンバータ２０６の出力）に基づいて、フォーカスエラー信号（ＦＥ（Focus Error）信号）を取得する。ここで、フォーカスエラー信号は、半導体レーザー１０１により発生されたレーザー光の焦点位置と光ディスク３００の記録面とのずれを示すものである。そして、フォーカス制御部２０７は、取得したフォーカスエラー信号を目標値と比較し、フォーカスエラー信号を目標値にするフォーカス駆動電流の電流値を算出する。フォーカス制御部２０７は、フォーカスエラー信号の取得及び上記比較算出を所定タイミング毎に行う。
【００２６】
また、フォーカス制御部２０７は、光ディスク記録装置起動時に第１層から第２層への層間ジャンプが行われる際に、フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を特定する。そして、当該期間を層間ジャンプ開始タイミングを基準として特定するデフォーカス期間情報をメモリ２１０に格納する。
【００２７】
なお、レーザー制御部２０３及びフォーカス制御部２０７により、演算プロセッサ（ＤＳＰ（Digital Signal Processor）部）２０９が構成されている。
【００２８】
ＤＡコンバータ２０８は、フォーカス制御部２０７によって算出された電流値に応じたフォーカス駆動電流を出力する。
【００２９】
テスト発光許可信号生成部２１１は、データ記録時における層間ジャンプ中にフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を、メモリ２１０に格納されたデフォーカス期間情報に基づいて、テスト発光許可期間として特定する。そして、当該テスト発光許可期間を特定するテスト発光許可信号Ｓ１を生成して出力する。詳しくは、特定したテスト発光許可期間にはテスト発光許可信号Ｓ１をＨレベルにする一方、それ以外の期間にはＬレベルにする。テスト発光許可期間の特定方法については後で詳述する。
【００３０】
テスト信号生成部２１２は、ピークパワーでのテスト発光を行うピークパワー発光期間を示す第１テスト発光信号、バイアスパワーでのテスト発光を行うバイアスパワー発光期間を示す第２テスト発光信号、及びボトムパワーでのテスト発光を行うボトムパワー発光期間を示す第３テスト発光信号を生成する。第１テスト発光信号は、テスト発光許可信号Ｓ１がＨレベルである期間内にピークパワー発光期間を収めるように生成され、第２テスト発光信号は、テスト発光許可信号Ｓ１がＨレベルである期間にバイアスパワー発光期間を収めるように生成される。
【００３１】
ここで、特許請求の範囲における記録パワーレベルとは、データ記録に用いられるパワーレベルであり、本実施形態のピークパワー及びバイアスパワーに対応する。また、特許請求の範囲における再生パワーレベルとは、データ再生に用いられるパワーレベルであり、本実施形態のボトムパワーに対応する。
【００３２】
記録データ信号生成部２１３は、８／１６変調された記録データ信号を生成する。
【００３３】
パルス分配部２１４は、テスト発光期間中、テスト信号生成部２１２によって出力された第１テスト発光信号、第２テスト発光信号、及び第３テスト発光信号に基づいて、ピーク変調信号Ｓ２、バイアス変調信号Ｓ３、及びボトム変調信号Ｓ４を生成する。詳しくは、第１テスト発光信号によって示されたピークパワー発光期間には、ピーク変調信号Ｓ２を、短い間隔を空けて短期間複数回立ち上げる一方、当該ピークパワー発光期間以外の期間には、ピーク変調信号Ｓ２をＬレベルにする。また、第２テスト発光信号によって示されたバイアスパワー発光期間には、バイアス変調信号Ｓ３をＨレベルにする一方、当該バイアスパワー発光期間以外の期間には、バイアス変調信号Ｓ３をＬレベルにする。さらに、第３テスト発光信号によって示されたボトムパワー発光期間には、ボトム変調信号Ｓ４をＨレベルにする一方、当該ボトムパワー発光期間以外の期間には、ボトム変調信号Ｓ４をＬレベルにする。
【００３４】
また、パルス分配部２１４は、データ記録中、記録データ信号生成部２１３によって生成された記録データ信号に応じたマーク領域が生成されるように、ピーク変調信号Ｓ２、バイアス変調信号Ｓ３、及びボトム変調信号Ｓ４を生成する。詳しくは、８／１６変調された記録データ信号がＨレベルの期間、すなわちマーク（Mark）に対応する期間には、ピーク変調信号Ｓ２を、短い間隔を空けて短期間複数回立ち上げる一方、記録データ信号がＬレベルの期間、すなわちスペース（Space）に対応する期間には、ピーク変調信号Ｓ２をＬレベルにする。また、８／１６変調された記録データ信号がＨレベルの期間には、バイアス変調信号Ｓ３を、短い間隔を空けて短期間複数回立ち上げる一方、記録データ信号がＬレベルの期間には、バイアス変調信号Ｓ３をＨレベルに固定する。さらに、データ記録中にはボトム変調信号Ｓ４をＨレベルに固定する。
【００３５】
スイッチング手段２１５ａは、ピーク変調信号Ｓ２がＨレベルの場合に導通し、ＤＡコンバータ２０４によって出力されたレーザー駆動電流を半導体レーザー１０１に流す。一方、ピーク変調信号Ｓ２がＬレベルの場合には非導通となる。
【００３６】
スイッチング手段２１５ｂは、バイアス変調信号Ｓ３がＨレベルの場合に導通し、ＤＡコンバータ２０４によって出力されたレーザー駆動電流を半導体レーザー１０１に流す。一方、バイアス変調信号Ｓ３がＬレベルの場合には非導通となる。
【００３７】
スイッチング手段２１５ｃは、ボトム変調信号Ｓ４がＨレベルの場合に導通し、ＤＡコンバータ２０４によって出力されたレーザー駆動電流を半導体レーザー１０１に流す。一方、ボトム変調信号Ｓ４がＬレベルの場合には非導通となる。
【００３８】
ここで、上記のように構成された光ディスク記録装置において行われるフォーカス制御（フィードバック制御）について説明する。
【００３９】
半導体レーザー１０１により発生されたレーザー光が光ディスク３００に照射されると、その反射光が反射光検出部１０３によって受光され、その反射光の強度に応じた電圧信号が反射光信号として出力される。反射光検出部１０３により出力された反射光信号は、サンプルホールド回路２０５及びＡＤコンバータ２０６を経て、デジタル信号としてフォーカス制御部２０７に入力される。そして、フォーカス制御部２０７が、この反射光信号に基づいてフォーカスエラー信号を取得し、取得したフォーカスエラー信号に基づいて、光ディスク３００の記録面にレーザー光の焦点位置が合うように、フォーカス駆動電流の電流値を算出する。算出された電流値はＤＡコンバータ２０８に入力され、当該電流値に応じたフォーカス駆動電流によってアクチュエータ１０４が駆動する。
【００４０】
フォーカス制御部２０７によるフォーカスエラー信号の取得及びフォーカス駆動電流の電流値の算出は所定タイミング毎に行われ、算出された電流値は、次に電流値が算出されるタイミングまで保持され、保持されている電流値にフォーカス駆動電流の電流値が設定される。
【００４１】
次に、上記のように構成された光ディスク記録装置において行われるレーザー制御について説明する。
【００４２】
半導体レーザー１０１がレーザー光を発生すると、レーザー光検出部１０２がそのパワーを検出（モニタ）し、そのパワーに応じた電圧信号としてレーザー光信号を出力する。レーザー光検出部１０２により出力されたレーザー光信号は、サンプルホールド回路２０１及びＡＤコンバータ２０２を経て、デジタル信号としてレーザー制御部２０３に入力される。そして、レーザー制御部２０３は、入力されたレーザー光信号により示されるパワーと目標パワーとの差を算出し、当該差に基づいて半導体レーザー１０１の駆動電流値を算出して保持する。そして、レーザー制御部２０３によって保持された駆動電流値はＤＡコンバータ２０４に入力され、当該駆動電流値に応じたレーザー駆動電流が、スイッチング手段２１５ａ〜２１５ｃを通過することにより、パルス分配部２１４によって出力されるピーク変調信号Ｓ２、バイアス変調信号Ｓ３及びボトム変調信号Ｓ４に応じたパルス電流となって半導体レーザー１０１を駆動する。
【００４３】
なお、図示を簡略化しているが、サンプルホールド回路２０１、ＡＤコンバータ２０２、及びＤＡコンバータ２０４は、特開２００２−２０３３２０と同様に、ピークパワー（Ｐｐ）、バイアスパワー（Ｐｅ）及びボトムパワー（Ｐｂ）の３種類のパワーに対応して、３系統設けられている。そして、レーザー制御部２０３は、上記３種類のパワーに対応する駆動電流値を算出するようになっている。
【００４４】
図２は、本実施形態の光ディスク記録装置がデータ記録時に第１層から第２層への層間ジャンプを行うときの動作を示す説明図である。
【００４５】
図２（ａ）は、半導体レーザー１０１によって発生されたレーザー光の照射位置が位置する層を示している。まず、第１層に対してデータ記録が行われている状態から、時刻ｔ１で第２層への層間ジャンプを開始し、時刻ｔ２で層間ジャンプを終了して第２層へのデータ記録を開始している。
【００４６】
図２（ｂ）は、フォーカス制御の状態を示す。第１層及び第２層に対する記録中にはフォーカス制御が行われている（フォーカスＯＮ状態である）が、時刻ｔ１から時刻ｔ２の層間ジャンプ中にはフォーカス制御が停止している（フォーカスＯＦＦ状態である）。
【００４７】
図２（ｃ）は、時刻ｔ１までは第１層に対するデータ記録用の発光が行われ、その後、時刻ｔ１から時刻ｔ２ではテスト発光が行われ、さらにその後の時刻ｔ２からは、第２層に対するデータ記録用の発光が行われることを示している。
【００４８】
図２（ｄ）は、レーザー制御の状態を示す。時刻ｔ１までは、フィードバック制御動作が行われる。当該フィードバック制御動作は、レーザー光検出部１０２により検出されたパワー（データ記録用の発光パルスのパワー）と目標パワーとの差に基づく電流値の算出、及び当該算出により取得した電流値への半導体レーザー１０１の駆動電流値の更新を所定タイミング毎に繰り返すものである。時刻ｔ２から時刻ｔ３では、半導体レーザー１０１の駆動電流値が固定されたフィードフォワード制御状態となる。この時刻ｔ２から時刻ｔ３では、時刻ｔ１から時刻ｔ２（テスト発光時）にレーザー光検出部１０２により検出されたパワー（テスト発光のパルスのパワー）と目標パワーとの差に基づいて算出した電流値に、半導体レーザー１０１の駆動電流値が固定される。第２層へのデータ記録開始から所定期間経過後の時刻ｔ３では、時刻ｔ１までと同様のフィードバック制御が開始される。
【００４９】
図２（ｅ）は、半導体レーザー１０１によって発生されたレーザー光のパワーの波形を示す。第２層は第１層よりも光ピックアップ１００から離れた位置にあるため、第１層記録パワーに対して第２層記録パワーが高くなっている。層間ジャンプ中には、テスト発光が行われるが、テスト発光中のレーザー光の波形については、後で詳述する。
【００５０】
図２（ｆ）は、図２（ｅ）のようなレーザー光で記録された領域を再生した場合に得られる再生信号の波形の包絡線を示す。
【００５１】
図３は、層間ジャンプ中、すなわち時刻ｔ１から時刻ｔ２までの動作を示すタイミングチャートである。
【００５２】
図３（ａ）は、層間ジャンプ中、すなわち時刻ｔ１から時刻ｔ２におけるフォーカスエラー信号の波形を示す。時刻ｔ１では、レーザー光の焦点が第１層に合っており、時刻ｔ１１及び時刻ｔ２では、レーザー光の焦点が第２層に合っている。このようにレーザー光の焦点が記録層の記録面に合っているときに高いレーザーパワーでテスト発光が行われると、光ディスク３００にデータが記録されてしまう。そこで、本実施形態の光ディスク記録装置では、フォーカスエラー信号が所定値未満になる期間では、テスト発光許可信号生成部２１１がテスト発光許可信号Ｓ１としてＬレベルを出力し、ピークパワー及びバイアスパワーでのテスト発光が行われないようになっている。
【００５３】
ここで、フォーカスエラー信号が所定値未満になる期間を特定する方法について説明する。
【００５４】
光ディスク記録装置の起動時には、第１層及び第２層の管理領域が再生される。このとき、第１層の管理領域を再生してから第２層の管理領域を再生するまでに、第１層から第２層への層間ジャンプが行われる。この層間ジャンプ時には、データ記録時と同様の波形のフォーカスエラー信号、すなわち、図３（ａ）に示すような波形のフォーカスエラー信号が得られる。フォーカス制御部２０７は、この管理領域再生時における層間ジャンプ時にフォーカスエラー信号が所定値以上になった期間を特定し、当該期間を層間ジャンプ開始タイミングを基準として特定するデフォーカス期間情報をメモリ２１０に格納する。このデフォーカス期間情報は、どのような形式であってもよいが、例えば図３に示すように、フォーカスエラー信号の絶対値が最初に所定値以上になったタイミングｔ１２から、次に所定値未満に戻るタイミングｔ１３までの期間ｗ１、及びタイミングｔ１３から、フォーカスエラー信号の絶対値が再度所定値以上になるタイミングｔ１４までの期間ｗ２がフォーカス期間情報としてメモリ２１０に格納されるようにしてもよい。なお、期間ｗ１は、第１層と第２層の記録面の距離に応じた情報であり、期間ｗ２は、第２層の合焦期間に応じた情報である。
【００５５】
なお、デフォーカス期間情報の取得及びメモリ２１０への格納は、第２層へのデータ記録開始前の層間ジャンプより前の層間ジャンプ時に行われればよく、必ずしも、光ディスク記録装置の起動時における管理領域再生時の層間ジャンプ時に行われなくてもよい。
【００５６】
その後のデータ記録時における層間ジャンプ時には、テスト発光許可信号生成部２１１が、フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を、メモリ２１０に格納されたデフォーカス期間情報に基づいてテスト発光許可期間として特定し、テスト発光許可期間であるか否かに応じてテスト発光許可信号Ｓ１のレベルを切り替える。例えば、図３（ｂ）に示すように、テスト発光許可信号Ｓ１がＬレベルの状態で層間ジャンプを開始し、開始から期間ｗ２の半分の期間が経過するとテスト発光許可信号Ｓ１をＬレベルからＨレベルにし、その後期間ｗ１が経過したタイミングでテスト発光許可信号Ｓ１をＨレベルからＬレベルにし、さらに期間ｗ２が経過するとテスト発光許可信号Ｓ１をＬレベルからＨレベルにし、その後期間ｗ１が経過したタイミングでテスト発光許可信号Ｓ１をＨレベルからＬレベルにする。
【００５７】
これにより、図３（ｄ）及び図３（ｅ）に示すように、ピーク変調信号Ｓ２及びバイアス変調信号Ｓ３は、テスト発光許可期間のみでＨレベルとなる。したがって、図３（ｃ）に示すように、層間ジャンプ中、ピークパワー及びバイアスパワーでのテスト発光が、フォーカスエラー信号が所定値以上となっている期間のみで行われ、テスト発光によって光ディスク３００にデータが記録されてしまうことが防止される。
【００５８】
一方、図４に示すように、層間ジャンプ終了後にフォーカス制御が行われている状態でテスト発光を行うようにした場合、記録の高倍速化に伴ってテスト発光期間が短縮されると、レーザー光のパワーを検出するタイミングのマージンが短くなる。したがって、誤ったタイミングでパワーが検出されることにより、検出したパワーに基づいて不適当な駆動電流値が算出され、図４（ｅ）に示すように、フィードフォワード制御区間でレーザー光のパワーが過剰になったり、フィードバック制御区間の開始時に過渡応答が発生したりする。特に、層間ジャンプを行った後の記録開始時には、層によって適当なレーザー光のパワーが大きく異なるため、テスト記録時に誤ったパワーが検出されることが、算出される駆動電流値に大きな影響を及ぼすと考えられる。図４（ｅ）のような波形のパワーでデータ記録が行われた光ディスク３００を再生した場合、図４（ｆ）のような波形の再生信号が得られる。同図（ｆ）の波形では、振幅が同図（ｅ）の波形に応じて劣化しており、この場合、第２層の記録端部を再生できない可能性がある。
【００５９】
これに対し、本実施形態では、図２（ｆ）に示すように、再生信号の波形の包絡線が、第１層の記録領域終端部と第２層の記録領域始端部とで乱れることなく連続している。
【００６０】
このように、本実施形態では、層間ジャンプ中にテスト発光を行うので、高速に記録が行われる場合でも、長い期間テスト発光を行える。したがって、テスト発光時のレーザー光のパワーを正確に検出し、検出したパワーに基づいてデータ記録開始時における駆動電流値としてより適当な値を算出することができる。したがって、半導体レーザー１０１の駆動電流値に対するフィードバック制御動作の開始後に、過渡応答の発生が防止される。また、層間ジャンプ後にテスト発光のための時間が費やされないので、半導体レーザー１０１のパワーが早く目標パワーに整定制御され、再生信号の振幅劣化及び記録開始時の記録品質の悪化が防止される。
【００６１】
なお、上記実施形態では、光ディスク記録装置の起動時の層間ジャンプ時に得たデフォーカス期間情報に基づいて、データ記録時の層間ジャンプ中にフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を特定するようになっていた。しかし、データ記録時の層間ジャンプ中にフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を特定する方法は、これに限らない。例えば、図３（ｃ）で示すように、データ記録時の層間ジャンプ中に、ピークパワーでのテスト発光が、ボトムパワーでのテスト発光と交互に複数回行われる場合には、テスト発光許可信号生成部２１１が、ボトムパワーでのテスト発光中に取得されたフォーカスエラー信号の値に基づいて、フォーカスエラー信号が所定値以上になる期間を特定するようにしてもよい。例えば、ボトムパワーでのテスト発光中にフォーカスエラー信号の値が検出される毎に、フォーカスエラー信号の値が所定値以上であればテスト発光許可信号Ｓ１をＨレベルにする一方、フォーカスエラー信号の値が所定値未満であればテスト発光許可信号Ｓ１をＬレベルにし、次にフォーカスエラー信号が検出されるまでテスト発光許可信号Ｓ１をそのレベルに維持するようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００６２】
本発明に係る集積回路、光ディスク記録装置、及び光ディスク記録制御方法は、記録開始時における記録品質の悪化を防止できるという効果を有し、半導体レーザーによって発生されるレーザー光のパワーを制御する技術等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施形態に係る光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図２】同、光ディスク記録装置がデータ記録時に第１層から第２層への層間ジャンプを行うときの動作を示す説明図である。
【図３】同、光ディスク記録装置の層間ジャンプ中の動作を示すタイミングチャートである。
【図４】従来の光ディスク記録装置がデータ記録時に第１層から第２層への層間ジャンプを行うときの動作を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６４】
１０１      半導体レーザー
１０２      レーザー光検出部
２００      集積回路
２０３      レーザー制御部
２１０      メモリ
２１１      テスト発光許可信号生成部
３００      光ディスク
【図１】
2010003384.tif 000003
【図２】
2010003384.tif 000004
【図３】
2010003384.tif 000005
【図４】
2010003384.tif 000006