(57)【要約】【課題】  パルス型放射線検出器の交換時期を延ばすことを目的とする。【解決手段】  計数率測定装置は、放射線を測定するパルス型放射線検出器１と、パルス型放射線検出器１の出力信号の不要な信号を減衰する帯域フィルタ２と、帯域フィルタの出力信号を増幅する増幅器３と、増幅器３の出力信号を計数して放射線量を演算する演算処理部６とを備え、帯域フィルタ２は、パルス型放射線検出器１の周波数成分のゲインを高周波数側より低周波数側を大きくすることを特徴とする。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を測定するパルス型放射線検出器と、
前記パルス型放射線検出器の出力信号の不要な信号を減衰する帯域フィルタと、
前記帯域フィルタの出力信号を計数して放射線量を演算する演算処理部と
を備え、
前記帯域フィルタは、前記パルス型放射線検出器の周波数成分のゲインを高周波数側より低周波数側を大きくすることを特徴とする計数率測定装置。
【請求項２】
前記帯域フィルタは、ハイパスフィルタと、第１のローパスフィルタと、第２のローパスフィルタとを備え、
前記第１のローパスフィルタと前記第２のローパスフィルタのカットオフ周波数は異なることを特徴とする請求項１記載の計数率測定装置。
【請求項３】
前記帯域フィルタの周波数特性を前記パルス型放射線検出器の長期使用による出力信号の波高の低下分を補償する分だけゲインが増加するフィルタ特性としたことを特徴とする請求項１記載の計数率測定装置。
【請求項４】
前記パルス型放射線検出器の出力信号を模擬した信号を出力する校正回路と、
前記パルス型放射線検出器の出力信号と前記校正回路の校正信号を選択して前記帯域フィルタに出力する信号切り替え部とを備えたことを特徴とする請求項１記載の計数率測定装置。
【請求項５】
前記校正回路は、出力するパルス信号の立下がり、立上り、パルス幅、繰返し周期、波高を調整できることを特徴とする請求項４記載の計数率測定装置。
【請求項６】
パルス型放射線検出器で放射線を測定し、
高周波数側のゲインより低周波数側のゲインが大きい帯域フィルタで前記パルス型放射線検出器の出力信号の不要な信号を減衰し、
前記帯域フィルタの出力信号を計数して放射線量を演算することを特徴とする計数率測定方法。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パルス出力型放射線検出器からのパルス信号を計数する計数率測定装置および計数率測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の計数率測定装置は、パルス出力型放射線検出器からのパルス出力信号を帯域フィルタを通して不要な信号を除去して増幅器にて増幅して計数する。帯域フィルタは、ハイパスフィルタとローパスフィルタを組み合わせたバンドパスフィルタとなっている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開2005-24465公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上述した計数率測定装置においては、パルス型放射線検出器が放射線照射の累積によりガス増幅率が低下して出力信号の波高が低下してＳ／Ｎ比が悪くなると共に、パルス型放射線検出器内部での再結合率が増加することによって出力信号の周波数帯域が低周波数側にシフトする。パルス型放射線検出器がまだ寿命ではなくてもＳ／Ｎ比がある値以下になったときにはパルス型放射線検出器は寿命と判断され交換されていた。従来は、パルス感度が初期状態の約０．３倍、原子炉の運転サイクルでは６サイクルでパルス型放射線検出器を交換していた。
【０００４】
本発明は、これらの課題を解決するために、パルス型放射線検出器の交換時期を延ばすことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る計数率測定装置は、放射線を測定するパルス型放射線検出器と、パルス型放射線検出器の出力信号の不要な信号を減衰する帯域フィルタと、帯域フィルタの出力信号を計数して放射線量を演算する演算処理部とを備え、帯域フィルタは、パルス型放射線検出器の周波数成分のゲインを高周波数側より低周波数側を大きくすることを特徴とするものである。
【０００６】
また、本発明の計数率測定方法は、パルス型放射線検出器で放射線を測定し、高周波数側のゲインより低周波数側のゲインが大きい帯域フィルタでパルス型放射線検出器の出力信号の不要な信号を減衰し、帯域フィルタの出力信号を計数して放射線量を演算することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、パルス型放射線検出器の交換時期を延ばすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、本発明に係る計数率測定装置および計数率測定方法の実施形態について、図面を参照して説明する。
【０００９】
図１は本発明における計数率測定装置の第１の実施形態を示す図である。
【００１０】
第１の実施形態の計数率測定装置は、放射線を測定するパルス型放射線検出器１と、パルス型放射線検出器１からのパルス出力信号を受けて不要な信号を減衰し、波形整形する帯域フィルタ２と、帯域フィルタ２の出力信号を増幅する増幅器３と、ある一定の電圧を出力するディスクリ電圧設定回路５と、増幅器３の出力信号とディスクリ電圧設定回路５の出力電圧とを比較して、有効な信号の場合には信号を出力する比較器４と、比較器４の出力信号を計数して放射線量を演算する演算処理部６とから構成される。帯域フィルタ２は、カットオフ周波数がｆ１のハイパスフィルタ７と、カットオフ周波数ｆ２の第１のローパスフィルタ８と、カットオフ周波数ｆ３の第２のローパスフィルタ９とから構成されている。
【００１１】
帯域フィルタ２のフィルタ特性を図２に示す。ハイパスフィルタ７のカットオフ周波数ｆ１と第１のローパスフィルタ８のカットオフ周波数ｆ２と第２のローパスフィルタ８のカットオフ周波数ｆ３との関係はｆ１＜ｆ２＜ｆ３である。
【００１２】
このように構成された本実施の形態において、パルス型放射線検出器１が長期使用によって放射線照射の累積によりガス増幅率が低下して出力信号の波高が低下してＳ／Ｎ比が悪くなると共に、パルス型放射線検出器内部での再結合率が増加することによって出力信号の周波数帯域が低周波数側にシフトするが、パルス型放射線検出器１の周波数成分のゲインを高周波数側より低周波数側を大きくする、すなわち、帯域フィルタ２の周波数特性をパルス型放射線検出器１の長期使用による出力信号の波高の低下分を補償する分だけゲインが増加するように帯域フィルタ２のフィルタ特性を設定することで長期使用しても帯域フィルタ２の出力波高は変わらないようにする。
【００１３】
本実施の形態によれば、放射線検出器１の出力特性が放射線照射の累積により変わったとしても、帯域フィルタ２の出力信号の波高が変わらなく、ノイズの周波数成分は放射線照射の累積により変わらないため、Ｓ／Ｎ比は長期間にわたって安定させることができるので、パルス型放射線検出器の交換時期を延ばすことができる。
【００１４】
図３は本発明における計数率測定装置の第２の実施形態を示す図である。
【００１５】
第２の実施形態の計数率測定装置は、第１の実施形態の構成に、パルス型放射線検出器１の出力信号を模擬した信号を出力する校正回路１０と、パルス型放射線検出器１の出力信号と校正回路１０の校正信号を選択して帯域フィルタ２に出力する信号切り替え部１１から構成されている。
【００１６】
なお、第１の実施形態と同一の構成には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【００１７】
このように構成された本実施の形態において、校正回路１０の校正信号のパルス信号の立下がり、立上り、パルス幅、繰返し周期、波高を調整することで、放射線照射の累積により変化するパルス型放射線検出器１の出力信号を模擬する。
【００１８】
本実施の形態によれば、放射線照射の累積により変化するパルス型放射線検出器１の出力信号の波形を校正回路１０で模擬することができる。
【００１９】
なお、以上の説明は単なる例示であり、本発明は上述の実施の形態に限定されず、様々な形態で実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明における計数率測定装置の第１の実施形態を示す図。
【図２】帯域フィルタのフィルタ特性を示す図。
【図３】本発明における計数率測定装置の第２の実施形態を示す図。
【符号の説明】
【００２１】
１  パルス型放射線検出器
２  帯域フィルタ
３  増幅器
４  比較器
５  ディスクリ電圧設定回路
６  演算処理部
７  ハイパスフィルタ
８  第１のローパスフィルタ
９  第２のローパスフィルタ
１０  校正回路
１１  信号切り替え部 
【図１】
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【図２】
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【図３】
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