(57)【要約】【課題】実際にイオン発生装置を作動させた状態で検査するため、正確な検査結果が得られるものの、実際にイオン発生装置を作動させると、電極間で放電が生じることになる。この放電は、空気などの絶縁層を貫いて発生するため、例えば、気温や空気中の湿度によって絶縁層の絶縁係数が変化すると、放電の状態が変化するという不具合が生じる。放電の状態が変化すると高圧発生部の出力端子間の高電圧にも影響が及び、結果的に気温や湿度の影響が検査結果に影響する。【解決手段】両電極に印加される高圧発生部の出力端子に当接するプローブの他に、プローブがこの出力端子に接触している状態で開口電極の開口内に挿入され、かつ針状の電極を囲繞して、両電極間での放電を阻害する絶縁体からなる筒状の放電阻害部材５を設けた。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
針状の電極と、この針状の電極を囲繞する開口が設けられた開口電極との間に、高電圧を印加させてイオンを発生させるイオン発生装置の、両電極に印加される電圧を測定するための検査用治具であって、両電極に印加される高圧発生部の出力端子に当接するプローブの他に、プローブがこの出力端子に接触している状態で開口電極の開口内に挿入され、かつ針状の電極を囲繞して、両電極間での放電を阻害する絶縁体からなる筒状の放電阻害部材を備えたことを特徴とするイオン発生装置の検査用治具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、１対の電極間に高電圧を印加して放電させ、イオンを発生させるイオン発生装置の検査用治具に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種のイオン発生装置では、定電圧の交流電源を１次電源として、昇圧コイルで１次電源の電圧を昇圧させ、放電に必要な高電圧の交流を出力する高圧発生部を有している。そして、この高圧発生部の出力端子に上記１対の電極を接続し、両端子間で放電させてイオンを発生させている。
【０００３】
高圧発生部や電極はケーシングに納められており、このようにケーシングに納められ、完成品となった状態で正常に作動するか否かを最終的に検査する必要がある。そのため、ケーシングの一部であって、上記高圧発生部の出力端子に対応する部分にプローブを挿入することのできる開口を設け、実際にイオン発生装置を作動させた状態で検査することが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２４２２５４号公報（図４）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来のものでは実際にイオン発生装置を作動させた状態で検査するため、正確な検査結果が得られるものの、実際にイオン発生装置を作動させると、電極間で放電が生じることになる。
【０００６】
この放電は、空気などの絶縁層を貫いて発生するため、例えば、気温や空気中の湿度によって絶縁層の絶縁係数が変化すると、放電の状態が変化するという不具合が生じる。
【０００７】
放電の状態が変化すると高圧発生部の出力端子間の高電圧にも影響が及び、結果的に気温や湿度の影響が検査結果に影響することになる。
【０００８】
そこで本発明は、上記の問題点に鑑み、気温や湿度用の外乱の影響を受けないでイオン発生装置の検査を行うことのできるイオン発生装置の検査用治具を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために本発明によるイオン発生装置の検査用治具は、針状の電極と、この針状の電極を囲繞する開口が設けられた開口電極との間に、高電圧を印加させてイオンを発生させるイオン発生装置の、両電極に印加される電圧を測定するための検査用治具であって、両電極に印加される高圧発生部の出力端子に当接するプローブの他に、プローブがこの出力端子に接触している状態で開口電極の開口内に挿入され、かつ針状の電極を囲繞して、両電極間での放電を阻害する絶縁体からなる筒状の放電阻害部材を備えたことを特徴とする。
【００１０】
上記構成では放電阻害部材が針状の電極を囲繞して両電極間に高電圧が印加されても放電が生じないようにできる。この状態で高圧発生部の出力端子の電圧を測定すれば、気温や湿度といった外乱の影響が排除される。
【発明の効果】
【００１１】
以上の説明から明らかなように、本発明は、高圧発生部の端子間に電圧を測定する際に外乱の影響を排除することができるので、検査結果に外乱の影響が及ばず、安定した検査結果を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施の形態の構成を示す図
【図２】放電阻害部材の装着状態を示す図
【図３】放電阻害部材の他の形状を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１３】
図１および図２を参照して、１は本発明を用いての検査対象であるイオン発生装置である。このイオン発生装置１は樹脂製のケーシング１１で覆われている。ケーシング１１の上面には４個の開口部１２が設けられており、開口部１２の中心には針状の電極２１が配設されている。また、ケーシング１１の内側には開口部１２と同心の開口２２であって、電極２１を囲繞する開口２２が設けられた板状の開口電極２３が設けられている。
【００１４】
ケーシング１１に着脱自在に取り付けられたリード線３から低電圧の電力が供給されると、ケーシング１１内に配置された図示しない高圧発生部が高電圧の交流電力を出力し、その高圧電力が両電極２１，２３に印加される。すると、両電極２１，２３間で放電が生じ、イオンが発生する。その発生したイオンは開口部１２から外部へと放出される。
【００１５】
ケーシング１１には高圧発生部の出力端子の位置に対応して１対の開口１３が設けられている。このイオン発生装置１を最終的に検査する際にはリード線３から電力を供給して実際にイオン発生装置１を作動させた状態で行う。すなわち、イオン発生装置１が棹津している状態で開口１３から１対のプローブ４１を挿入して高圧発生部から出力されている高圧の交流電力の電圧等を検査する。
【００１６】
このプローブ４１は検査用治具４に取り付けられており、検査用治具４をイオン発生装置１の上方から降ろすことによりプローブ４１が開口１３内に挿入されるように構成されている。
【００１７】
また、この検査用治具４には絶縁性セラミック製の筒状の放電阻害部材５が各電極２１に対応して設けられている。上述のように、検査用治具４を降ろすと、プローブ４１が開口１３に挿入され、高圧発生部の出力端子に当接するが、その状態で、放電阻害部材５は、図２に示すように、電極２１を囲繞して、電極２３と電極２１との間を遮断する。なお、放電阻害部材５は絶縁性の材料であればセラミックに限らず、例えばプラスチック等の樹脂で形成してもよい。また、上下の貫通している必要は必ずしも無く、図３に示すように、電極２１を覆う部分のみ筒状に形成してもよい。
【００１８】
放電阻害部材５は絶縁性を有しているので、電極２１，２３間の放電経路が遮断され、両電極間に放電が生じなくなる。この状態であってもリード線３から電力が供給されると高圧発生部は高電圧を発生させるので、その発生した電圧等をプローブ４１を介して測定することができる。
【００１９】
このように、高圧発生部の出力電圧等を測定する際に放電が生じないので、気温や湿度によって放電条件が変化しても測定結果にそれらの外乱要素が影響するとこがない。
【００２０】
なお、本発明は上記した形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変更を加えてもかまわない。
【符号の説明】
【００２１】
１ イオン発生装置
４ 検査用治具
５ 放電阻害部材
１１ ケーシング
２１ 電極
２３ 開口電極
４１ プローブ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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