(57)【要約】      （修正有）【課題】離鍵時の鍵の戻り具合や鍵の浮き沈みを検査する鍵盤検査装置を実現する。【解決手段】電子鍵盤楽器２００の鍵盤の鍵を押離鍵する押離鍵部３０５に、鍵面との離間距離に対応した出力を発生する鍵面検出センサ１７を設けておき、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から一定のストローク「Ａ」分上方へ移動した時の鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上ならば、離鍵時の鍵の戻り具合が適正な良品特性と判定し、一方、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」未満であると、離鍵時の鍵の戻り具合が不適正な不良品特性と判定する。また、鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロとなる押離鍵部３０５のストローク量を検出して押離鍵による鍵の浮き沈みを検査する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の鍵を押離鍵する押離鍵手段と、
前記押鍵手段に設けられ、鍵面との離間距離に対応した出力信号を発生する鍵面検出手段と、
前記押離鍵手段が鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時の、前記鍵面検出手段の出力信号を計測する出力計測手段と、
前記出力計測手段により計測された出力信号が所定値以上の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定手段と
を具備することを特徴とする鍵盤検査装置。
【請求項２】
鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の複数の鍵をまとめて押離鍵する押離鍵手段と、
前記押鍵手段に設けられ、各鍵毎に鍵面との離間距離に対応した出力信号をそれぞれ発生する鍵面検出手段と、
前記押離鍵手段が複数の鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時の、前記鍵面検出手段の各出力信号をそれぞれ計測する出力計測手段と、
前記出力計測手段により計測された複数鍵の各出力信号毎に、それぞれ所定値以上であるか否かを判断し、所定値以上の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定手段と、
前記押離鍵手段が複数の鍵をまとめて押離鍵した後に、次の複数鍵を押離鍵する位置に当該押離鍵手段を移動させる移動手段と
を具備することを特徴とする鍵盤検査装置。
【請求項３】
前記鍵面検出手段の出力信号がゼロとなる前記押離鍵手段の上方移動位置を検出する検出手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至２のいずれかに記載の鍵盤検査装置。
【請求項４】
鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の鍵を押離鍵する際に、鍵面との離間距離に対応した出力信号を発生する鍵面検出過程と、
鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時に、前記鍵面検出過程で発生した出力信号を計測する出力計測過程と、
前記出力計測過程により計測された出力信号が所定値以上の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定過程と
を具備することを特徴とする鍵盤検査方法。
【請求項５】
鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の複数の鍵をまとめて押離鍵する際に、各鍵毎に鍵面との離間距離に対応した出力信号をそれぞれ発生する鍵面検出過程と、
複数の鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時に、前記鍵面検出過程で発生した各出力信号を計測する出力計測過程と、
前記出力計測過程により計測された各出力信号毎に、それぞれ所定値以上であるか否かを判断し、所定値以上の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定過程と、
複数の鍵をまとめて押離鍵した後に、次の複数鍵を押離鍵する位置に移動させる移動過程と
を具備することを特徴とする鍵盤検査方法。
【請求項６】
前記鍵面検出過程で発生する出力信号がゼロとなる上方移動位置を検出する検出過程を更に備えることを特徴とする請求項４乃至５のいずれかに記載の鍵盤検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子鍵盤楽器における離鍵時の鍵の戻り具合や押離鍵による鍵の浮き沈みを検査する鍵盤検査装置および鍵盤検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
周知のように、電子楽器用の鍵盤では、鍵タッチをアコースティックピアノの感触に近づける工夫が種々なされており、例えば特許文献１には押鍵時に鍵に抜ける感じのタッチ感を付与しつつ、かつ連打性を向上させた構造を有する鍵盤装置が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−２６５３４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、従来、こうした構造の鍵盤装置を検査する工程では、鍵に加える静加重とその静加重に応じて沈降する鍵ストローク（鍵変位量）とが規定範囲に収まるか否かを判定する静特性検査や、所定の押鍵速度で実際に鍵を押鍵して得られるベロシティが適正であるか否かを判定する動特性検査を施し、これら特性検査に合格した鍵盤装置を良品としている。しかしながら、上述の静特性検査や動特性検査では、タッチ感の向上に大きく関係する離鍵時の鍵の戻り具合や、押離鍵による鍵の浮き沈みを検査することが出来ないという問題がある。
【０００５】
そこで本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、離鍵時の鍵の戻り具合や、押離鍵による鍵の浮き沈みを検査することができる鍵盤検査装置および鍵盤検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の鍵を押離鍵する押離鍵手段と、前記押鍵手段に設けられ、鍵面との離間距離に対応した出力信号を発生する鍵面検出手段と、前記押離鍵手段が鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時の、前記鍵面検出手段の出力信号を計測する出力計測手段と、前記出力計測手段により計測された出力信号が所定値以上の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定手段とを具備することを特徴とする。
【０００７】
請求項２に記載の発明では、鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の複数の鍵をまとめて押離鍵する押離鍵手段と、前記押鍵手段に設けられ、各鍵毎に鍵面との離間距離に対応した出力信号をそれぞれ発生する鍵面検出手段と、前記押離鍵手段が複数の鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時の、前記鍵面検出手段の各出力信号をそれぞれ計測する出力計測手段と、前記出力計測手段により計測された複数鍵の各出力信号毎に、それぞれ所定値以上であるか否かを判断し、所定値以上の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定手段と、前記押離鍵手段が複数の鍵をまとめて押離鍵した後に、次の複数鍵を押離鍵する位置に当該押離鍵手段を移動させる移動手段とを具備することを特徴とする。
【０００８】
上記請求項１乃至２のいずれかに従属する請求項３に記載の発明では、前記鍵面検出手段の出力信号がゼロとなる前記押離鍵手段の上方移動位置を検出する検出手段を更に備えることを特徴とする。
【０００９】
請求項４に記載の発明では、鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の鍵を押離鍵する際に、鍵面との離間距離に対応した出力信号を発生する鍵面検出過程と、鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時に、前記鍵面検出過程で発生した出力信号を計測する出力計測過程と、前記出力計測過程により計測された出力信号が所定値以上の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の場合に離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定過程とを具備することを特徴とする。
【００１０】
請求項５に記載の発明では、鍵面に対して上下方向に移動して鍵盤の複数の鍵をまとめて押離鍵する際に、各鍵毎に鍵面との離間距離に対応した出力信号をそれぞれ発生する鍵面検出過程と、複数の鍵を押鍵している状態から所定距離分上方へ移動した時に、前記鍵面検出過程で発生した各出力信号を計測する出力計測過程と、前記出力計測過程により計測された各出力信号毎に、それぞれ所定値以上であるか否かを判断し、所定値以上の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が適正と判定し、一方、所定値未満の出力信号に対応する鍵については離鍵時の鍵の戻り具合が不適正と判定する判定過程と、複数の鍵をまとめて押離鍵した後に、次の複数鍵を押離鍵する位置に移動させる移動過程とを具備することを特徴とする。
【００１１】
上記請求項４乃至５のいずれか従属する請求項６に記載の発明では、前記鍵面検出過程で発生する出力信号がゼロとなる上方移動位置を検出する検出過程を更に備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明では、離鍵時の鍵の戻り具合や押離鍵による鍵の浮き沈みを検査することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
Ａ．構成  
（１）鍵盤検査装置１００の電気的構成
図１は、実施の一形態による鍵盤検査装置１００の電気的構成を示すブロック図である。この図において、ＣＰＵ１０は操作部１３から供給されるスイッチイベントに応じて装置各部を制御するものであり、本発明の要旨に係わる特徴的な処理の動作については追って詳述する。
【００１４】
ＲＯＭ１１は、データエリアおよびプログラムエリアを備える。ＲＯＭ１１のデータエリアには、後述する鍵盤評価処理（図１０参照）の鍵盤特性検査（ステップＳＡ３）、ベロシティばらつき検査処理（ステップＳＡ４）および離鍵不具合検査処理（ステップＳＡ５）において参照される各種の検査用データが記憶される。なお、ここで言う検査用データとは、例えば検査治具３００（後述する）を構成する水平摺動部３０２および垂直摺動部３０４の位置や移動速度を設定するデータを指す。
【００１５】
ＲＯＭ１１のプログラムエリアには、ＣＰＵ１０が実行する鍵盤評価処理（図１０参照）のプログラムの他、図示されていない検査ラインで被検査品（電子鍵盤楽器２００）の搬送を制御するプログラムなどをがストアされる。ＲＡＭ１２は、各種レジスタ・フラグデータを一時記憶するワークエリアの他、各種検査で測定されたデータを格納するデータエリアを備える。操作部１３は、例えば装置電源をパワーオン／オフする電源スイッチや、検査用データを入力するテンキースイッチ、あるいは検査の開始／停止を指示するスタート／ストップスイッチ等を備え、操作されるスイッチ種に対応したスイッチイベントを発生する。操作部１３が発生するスイッチイベントはＣＰＵ１０に取り込まれる。
【００１６】
表示部１４は、ＣＰＵ１０から供給される表示制御信号に従って、例えば検査進行状況や検査結果（良否判定結果）などを表示する。ライン制御部１５は、ＣＰＵ１０からの指示に従って、検査ライン（不図示）に被検査品（電子鍵盤楽器２００）の搬送を指示する制御信号を発生する。検査治具制御部１６は、ＣＰＵ１０からの指示に従い、検査治具３００（後述する）を構成する水平摺動部３０２および垂直摺動部３０４を駆動制御する。
【００１７】
鍵面検出センサ１７は、被検査品（電子鍵盤楽器２００）の鍵盤の鍵を押離鍵する押離鍵部３０５（後述する）の先端部に配設されるフォトリフレクタから構成され、鍵の表面（以下、鍵面と称す）からの反射光を検出する。この鍵面検出センサ１７の出力が意図するところについては後述する。押離鍵部３０５は、後述するように複数鍵をまとめて押離鍵する構造を有するので、鍵面検出センサ１７はその構造に対応して複数のフォトリフレクタを備えている。なお、フォトリフレクタとは、発光素子と受光素子とを有し、発光された光が対象物で反射して戻る反射光を受光し、その受光強度に応じた出力を発生する。
【００１８】
（２）検査治具３００の構造
次に、図２〜図４を参照して検査治具３００の概略構造について説明する。図２は検査治具３００の構造を示す側面図である。この図に示すように、検査治具３００は、移動部３０１、水平摺動部３０２、検査台３０３、垂直摺動部３０４および押離鍵部３０５から構成される。移動部３０１は、水平フレームと垂直フレームとから形成される側面視Ｌ字形状の部材であり、水平フレームには水平摺動部３０２が、垂直フレームには垂直摺動部３０４がそれぞれ配設される。
【００１９】
水平摺動部３０２は、上述した検査治具制御部１６から供給される駆動制御信号に応じて移動部３０１全体を水平方向に摺動移動させる。具体的には、図３に図示するように、水平摺動部３０２は押離鍵部３０５が検査台３０３上の被検査品（電子鍵盤楽器２００）の鍵盤の複数鍵をまとめて押離鍵する毎に移動部３０１を水平方向に移動させる。垂直摺動部３０４は、上述した検査治具制御部１６から供給される駆動制御信号に応じて押離鍵部３０５を垂直方向（上下方向）に摺動移動させ、検査台３０３上の被検査品（電子鍵盤楽器２００）の鍵盤の複数鍵をまとめて押離鍵させる。具体的には、図４に図示する通り、垂直摺動部３０４が下方向に移動し、これにより押離鍵部３０５の端部が電子鍵盤楽器２００の鍵盤の複数の鍵をまとめて押離鍵するようになっている。なお、押離鍵する押離鍵部３０５の端部には、上述した鍵面検出センサ１７が設けられている。
【００２０】
Ｂ．離鍵不具合検査の概要
次に、図５〜図９を参照して上記構造の検査治具３００を用いた鍵盤検査装置１００により具現される離鍵不具合検査の概要について説明する。先ず図５は、上述した検査治具３００の押離鍵部３０５により押鍵された鍵が適正に離鍵する過程を示した図面である。また、図６は、押鍵された鍵が適正に離鍵した時の、押離鍵部３０５の移動量と鍵面検出センサ１７の出力との関係を示す特性グラフである。
【００２１】
図５（ａ）は、被検査品となる電子鍵盤楽器２００の鍵が押離鍵部３０５により押鍵されている状態を示している。押離鍵部３０５の端部には、フォトリフレクタである鍵面検出センサ１７が設けられている。この押鍵状態では、押離鍵部３０５の端部が鍵面に当接している為、フォトリフレクタが受光する鍵面からの反射光の強度は最大になる。この結果、鍵面検出センサ１７の出力は図６に図示するように最大値Ｍａｘとなる。なお、押鍵状態にある押離鍵部３０５のストロークＬ（移動量）をゼロ基準とする。
【００２２】
そして、押鍵状態にある押離鍵部３０５は、このゼロ基準から上方へ移動し始め、押鍵状態から離鍵状態へ変化するが、その途中の過程である図５（ｂ）の離鍵中の状態では、鍵の戻り（復元力）により鍵面が押離鍵部３０５の端部に当接したままとなる。したがって、この状態においても鍵面検出センサ１７の出力は図６に図示するように最大値Ｍａｘを維持する。鍵面検出センサ１７の出力が最大値Ｍａｘとなる状態は、図５（ｃ）の離鍵状態、すなわち鍵が戻りきるまで持続する。この後、押離鍵部３０５は、図５（ｄ）に図示するように、鍵面から離れ、それに連れて鍵面検出センサ１７の出力も徐々に低下する。そして、図６に図示するように、押離鍵部３０５が鍵面から所定のストロークＬ分離間すると、鍵面検出センサ１７の出力がゼロになる。
【００２３】
このように、離鍵時の鍵の戻り具合が適正ならば、押鍵状態にある押離鍵部３０５が一定速度で上方移動し、これにより押鍵状態から離鍵状態に変化するまでの間、鍵面が押離鍵部３０５の端部に当接したままとなり、鍵面検出センサ１７の出力が最大値Ｍａｘを維持するようになる。
【００２４】
次に、離鍵時の鍵の戻り具合が不適正である場合について図７〜図８を参照して説明する。図７は、上述した検査治具３００の押離鍵部３０５により押鍵された鍵が不適正に離鍵する過程を示した図面である。また、図８は、押鍵された鍵が適正に離鍵できない時の、押離鍵部３０５の移動量と鍵面検出センサ１７の出力との関係を示す特性グラフである。
【００２５】
図７（ａ）は、上述した図５（ａ）の説明と同様、被検査品となる電子鍵盤楽器２００の鍵が押離鍵部３０５により押鍵されている状態を示している。この状態では、押離鍵部３０５の端部が鍵面に当接している為、鍵面検出センサ１７の出力は図８に図示するように最大値Ｍａｘとなる。そして、押離鍵部３０５が上方へ移動し始め、押鍵状態から離鍵状態に変化する過程で図７（ｂ）に図示する状態、例えば押鍵された鍵が他の部材に引っ掛かる等して鍵が戻らなかったり、鍵の戻りが遅かったりすると、鍵面と押離鍵部３０５の端部とが離間する結果、鍵面検出センサ１７の出力は図８に図示するように、その離間距離に対応して最大値Ｍａｘから低減したレベルとなる。以後、上方へ移動する押離鍵部３０５の端部と鍵面との離間距離に応じて鍵面検出センサ１７の出力も徐々に低下する。
【００２６】
このように、押鍵された鍵が戻らなかったり、鍵の戻りが遅かったりする場合、つまり離鍵時の鍵の戻り具合が不適正であると、図６に図示したように、押鍵状態から離鍵状態に変化するまで鍵面が押離鍵部３０５の端部に当接して鍵面検出センサ１７の出力が最大値Ｍａｘを維持する特性とはならず、図８に図示するように、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から所定ストローク分移動しただけで鍵面検出センサ１７の出力レベルが低下してしまう。
【００２７】
そこで、本発明による離鍵不具合検査では、図９に図示するように、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から一定ストローク「Ａ」分上方移動した時の鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上ならば、離鍵時の鍵の戻り具合が適正な良品特性と判定し、一方、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」未満であると、離鍵時の鍵の戻り具合が不適正な不良品特性と判定するようになっている。
【００２８】
Ｃ．動作
次に、図１０〜図１１を参照して鍵盤評価処理の動作を説明する。鍵盤検査装置１００の電源が投入されると、ＣＰＵ１０は鍵盤評価処理を実行してステップＳＡ１に進み、装置各部を初期化するイニシャライズを行う。このイニシャライズでは、例えばＲＯＭ１１のデータエリアから検査用データを読み出して検査治具３００の水平摺動部３０２や垂直摺動部３０４の初期位置をセットしたり、ＲＡＭ１２のワークエリアやデータエリアをゼロリセットしたりする。
【００２９】
続いて、ステップＳＡ２では、被検査品（電子鍵盤楽器２００）を検査台３０３上にセットするようライン制御部１５を介して図示されていない検査ラインの搬送機構に指示する。そして、被検査品（電子鍵盤楽器２００）が検査台３０３にセットされると、ステップＳＡ３に進み、鍵盤特性検査処理を実行する。鍵盤特性検査処理では、電子鍵盤楽器２００の鍵盤の各鍵に所定の静加重を加えた時に鍵ストローク（鍵変位量）が規定の範囲に収まるか否かを判定する。
【００３０】
次いで、ステップＳＡ４〜ＳＡ５では、前述した検査治具３００を用いてベロシティばらつき検査処理と離鍵不具合検査処理とを連続して実行する。先ず、ステップＳＡ４のベロシティばらつき検査処理では、垂直摺動部３０４により押離鍵部３０５を所定の押鍵速度で下方移動させて電子鍵盤楽器２００の鍵盤の複数鍵をまとめて押鍵し、この押鍵により発生する各鍵のベロシティ値が一定範囲に収まるか否かを判定する。
【００３１】
次に、ステップＳＡ５の離鍵不具合検査処理では、上述した検査概要で述べた通り、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から一定のストローク「Ａ」分上方移動した時の鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上ならば、離鍵時の鍵の戻り具合が適正な良品特性と判定し、一方、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」未満であると、離鍵時の鍵の戻り具合が不適正な不良品特性と判定する。こうした離鍵不具合検査処理の詳細については追って述べる。
【００３２】
以上のようにして、電子鍵盤楽器２００の鍵盤の複数鍵をまとめて押離してベロシティばらつき検査処理を行い、この後にそれら押鍵した鍵を離鍵して離鍵不具合検査処理を行うと、ＣＰＵ１０の指示に従って、図３に図示したように、水平摺動部３０２が次の複数鍵を押鍵する位置に押離鍵部３０５を移動させる。以後、ベロシティばらつき検査処理および離鍵不具合検査処理を電子鍵盤楽器２００の鍵盤の全ての鍵について施す。
【００３３】
ここで、図１１を参照して離鍵不具合検査処理の動作について説明する。図１０に図示したステップＳＡ５を介して離鍵不具合検査処理が実行されると、ＣＰＵ１０は図１１に図示するステップＳＢ１に進み、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から一定のストローク「Ａ」分上方移動した時の、各鍵に対応する鍵面検出センサ１７の出力レベルをそれぞれ取得し、鍵番号に対応付けてＲＡＭ１２のデータエリアにストアする。
【００３４】
次いで、ステップＳＢ２では、ＲＡＭ１２のデータエリアにストアした各鍵の鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上であるか否かを判断する。鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上であると、判断結果は「ＹＥＳ」になり、ステップＳＢ３に進み、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上の鍵については離鍵不具合検査ＯＫと判定して本処理を終える。
【００３５】
一方、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」未満ならば、上記ステップＳＢ２の判断結果は「ＮＯ」になり、ステップＳＢ４に進み、離鍵不具合検査ＮＧと判定し、続くステップＳＢ５では、ＮＧ判定された鍵番号をＲＡＭ１２のデータエリアにストアして本処理を終える。
【００３６】
こうして離鍵不具合検査処理が完了すると、ＣＰＵ１０は図１０に図示するステップＳＡ６に進み、上記ステップＳＡ３〜ＳＡ５の各検査処理の判定結果に基づき被検査品の良否判定を行う。不良品と判定されると、ステップＳＡ７に進み、不良品発生を報知するアラート表示を行った後、ステップＳＡ８に進み、不良品と判定された被検査品（電子鍵盤楽器２００）を検査ラインから排除する不良処理を行った後、前述のステップＳＡ２に処理を戻す。これに対し、良品と判定された場合には、ステップＳＡ９〜ＳＡ１１を実行し、良品として判定された被検査品を識別／表示する処理を行った後、良品判定された被検査品を次行程に投入した後、前述のステップＳＡ２に処理を戻す。
【００３７】
以上のように、本実施形態では、上下方向に移動して被検査品（電子鍵盤楽器２００）の鍵盤の鍵を押離鍵する押離鍵部３０５に、鍵面との離間距離に対応した出力を発生する鍵面検出センサ１７を設けておき、押離鍵部３０５がゼロ基準（押鍵状態）から一定のストローク「Ａ」分上方へ移動した時の鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」以上ならば、離鍵時の鍵の戻り具合が適正な良品特性と判定し、一方、鍵面検出センサ１７の出力レベルが「Ｂ」未満であると、離鍵時の鍵の戻り具合が不適正な不良品特性と判定するので、離鍵時の鍵の戻り具合を検査することが可能になっている。また、離鍵時の鍵の戻り具合を検査可能にすることで鍵の連打性の善し悪しも検査することが出来る。
【００３８】
Ｄ．変形例
次に、図１２を参照して変形例について説明する。上述した実施形態では、離鍵時の鍵の復元力で押離鍵部３０５の端部に鍵面が追従しているか否かを鍵面検出センサ１７の出力レベルに基づき判定して離鍵時の鍵の戻り具合を検査するが、変形例では鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロになるまで押離鍵部３０５を上方移動させるストローク量の違いによって押離鍵による鍵面の浮き沈みを検査する。
【００３９】
すなわち、図１２に図示するように、押離鍵部３０５によって押離／離鍵された後に鍵面が元の位置に復帰していれば、押離鍵部３０５をストロークＬ０まで上方移動させた時に鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロとなる。これに対し、押離鍵部３０５によって押離／離鍵された後に鍵面が元の位置より浮いてしまった場合には、その浮いた分だけ鍵面が鍵面検出センサ１７に接近する為、鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロとなる押離鍵部３０５のストロークはＬ０＋ΔＬとなる。
【００４０】
これとは逆に、押離鍵部３０５によって押離／離鍵された後に鍵面が元の位置より沈んだ場合には、その沈んだ分だけ鍵面が鍵面検出センサ１７から離れる為、鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロとなる押離鍵部３０５のストロークはＬ０−ΔＬとなる。したがって、前述した離鍵不具合検査処理において、鍵面検出センサ１７の出力レベルがゼロとなる押離鍵部３０５のストローク量を検出するようにすれば、押離鍵による鍵の浮き沈みを検査することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明による実施の一形態による鍵盤検査装置１００の構成を示すブロック図である。
【図２】検査治具３００の構造を示す側面図である。
【図３】水平摺動部３０２の移動方向を説明するための図である。
【図４】垂直摺動部３０４の移動方向を説明するための図である。
【図５】押離鍵部３０５により押鍵された鍵が適正に離鍵する過程を示した図である。
【図６】押鍵された鍵が適正に離鍵した時の、押離鍵部３０５の移動量と鍵面検出センサ１７の出力との関係を示す特性グラフである。
【図７】押離鍵部３０５により押鍵された鍵が不適正に離鍵する過程を示した図である。
【図８】押鍵された鍵が適正に離鍵できない時の、押離鍵部３０５の移動量と鍵面検出センサ１７の出力との関係を示す特性グラフである。
【図９】離鍵不具合検査における判定方法を説明するためのグラフである。
【図１０】鍵盤評価処理の動作を示すフローチャートである。
【図１１】離鍵不具合検査処理の動作を示すフローチャートである。
【図１２】押離鍵による鍵の浮き沈みを検査する変形例を説明するための図である。
【符号の説明】
【００４２】
１００  鍵盤検査装置
１０  ＣＰＵ
１１  ＲＯＭ
１２  ＲＡＭ
１３  操作部
１４  表示部
１５  ライン制御部
１６  検査治具制御部
１７  鍵面検出センサ
２００  電子鍵盤楽器
３００  検査治具
３０１  移動部
３０２  水平摺動部
３０３  検査台
３０４  垂直摺動部
３０５  押離鍵部
【図１】
2010078651.tif 000003
【図２】
2010078651.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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