(57)【要約】【課題】ビード部両側の母材面が曲率の大きな曲面形状であってもビード部の形状を精度良く検出することができ、適切な検査が可能となる溶接ビード検査装置および溶接ビード検査方法を提供する。【解決手段】ビード検査装置１に備えられる演算手段は、断面プロファイルの第一母材又は／及び第二母材上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間と、該母材推定区間に対して前記ビード側に隣接し、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋに応じて区間幅δが定められるビードエッジ探索区間と、からなる母材区間を設定する、設定手段と、前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、該母材推定曲線を用いて、ビードエッジ探索区間におけるビードエッジを検出する、ビードエッジ検出手段と、を備える。【選択図】図４
2010025818.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第一母材と第二母材とが溶接されている溶接箇所における、前記第一母材又は／及び前記第二母材と、ビードと、を含む複数の断面プロファイルのデータを順次検出して、前記複数の断面プロファイルからなる断面プロファイル群を取得し、
取得した前記断面プロファイル群より選択した、一つの断面プロファイルのデータに基づいて母材面の近似曲線を算出し、算出した近似曲線を用いてビードエッジを検出する溶接ビード検査方法において、
前記断面プロファイルの前記第一母材又は／及び前記第二母材上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間と、該母材推定区間に対して前記ビード側に隣接し、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋに応じて区間幅δが定められるビードエッジ探索区間と、からなる母材区間を設定する、設定工程と、
前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、該母材推定曲線を用いて、ビードエッジ探索区間におけるビードエッジを検出する、ビードエッジ検出工程と、を備える、
ことを特徴とする、溶接ビード検査方法。
【請求項２】
前記設定工程では、
最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐを定義し、
若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、前断面プロファイルのビードエッジと同じＸ座標を持つ点から、前記ビードと反対側に設定値だけオフセットして起点Ｐを定義し、
前記起点Ｐから前記ビードと反対側に、前記母材推定区間を設定し、
前記起点Ｐにおける曲率ｋを測定し、
前記起点Ｐから前記ビードと同じ側に、前記曲率ｋと前記区間幅δが負の相関関係を持つように前記ビードエッジ探索区間を設定する、
ことを特徴とする、請求項１に記載の溶接ビード検査方法。
【請求項３】
前記ビードエッジ検出工程では、
前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、
前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、
該垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジとして推定する、
ことを特徴とする、請求項１又は請求項２に記載の溶接ビード検査方法。
【請求項４】
前記ビードエッジ検出工程において、
前記境界点が検出された場合には、検出された該境界点を前記ビードエッジとして推定し、
前記境界点が検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間を前記ビード側に区間幅δだけ移動させて、
前記ビードエッジ探索区間を更新する、
ことを特徴とする、請求項３に記載の溶接ビード検査方法。
【請求項５】
前記母材推定曲線は、前記母材推定区間の前記断面プロファイルのデータに基づいて、ロバスト推定手法によって近似計算する、
ことを特徴とする、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の溶接ビード検査方法。
【請求項６】
第一母材と第二母材とが溶接されている溶接箇所における、前記第一母材又は／及び前記第二母材と、ビードと、を含む断面プロファイルのデータを複数検出して、前記複数の断面プロファイルからなる断面プロファイル群を取得する、断面プロファイル検出手段と、
取得した前記断面プロファイル群より選択した、一つの断面プロファイルのデータに基づいて母材面の近似曲線を算出し、算出した近似曲線を用いてビードエッジを検出する演算手段と、
を備える溶接ビード検査装置において、
前記演算手段は、
前記断面プロファイルの前記第一母材又は／及び前記第二母材上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間と、該母材推定区間に対して前記ビード側に隣接し、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋに応じて区間幅δが定められるビードエッジ探索区間と、からなる母材区間を設定する、設定手段と、
前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、該母材推定曲線を用いて、ビードエッジ探索区間におけるビードエッジを検出する、ビードエッジ検出手段と、を備える、
ことを特徴とする、溶接ビード検査装置。
【請求項７】
前記設定手段では、
最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐを定義し、
若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、前断面プロファイルのビードエッジと同じＸ座標を持つ点から、前記ビードと反対側に設定値だけオフセットして起点Ｐを定義し、
前記起点Ｐから前記ビードと反対側に、前記母材推定区間を設定し、
前記起点Ｐにおける曲率ｋを測定し、
前記起点Ｐから前記ビードと同じ側に、前記曲率ｋと前記区間幅δが負の相関関係を持つように前記ビードエッジ探索区間を設定する、
ことを特徴とする、請求項６に記載の溶接ビード検査装置。
【請求項８】
前記ビードエッジ検出手段では、
前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、
前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、
該垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジとして推定する、
ことを特徴とする、請求項６又は請求項７に記載の溶接ビード検査装置。
【請求項９】
前記ビードエッジ検出手段において、
前記境界点が検出された場合には、検出された該境界点を前記ビードエッジとして推定し、
前記境界点が検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間を前記ビード側に区間幅δだけ移動させて、
前記ビードエッジ探索区間を更新する、
ことを特徴とする、請求項８に記載の溶接ビード検査装置。
【請求項１０】
前記母材推定曲線は、前記母材推定区間の前記断面プロファイルのデータに基づいて、ロバスト推定手法によって近似計算する、
ことを特徴とする、請求項６から請求項９のいずれか１項に記載の溶接ビード検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、溶接ビード検査方法、及び、溶接ビード検査装置に関し、より詳しくは、母材面同士を溶接した場合にビード形状を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、溶接ビードの形状を検出し、溶接箇所の検査を行う手法が広く用いられており、公知となっている。
例えば、電縫溶接管のビード部の母材面曲線を最小二乗法による近似計算から求め、ビード部断面の測定値と母材近似曲線よりビード部の形状を検出する方法が公知となっており、以下に示す特許文献１および特許文献２等において開示されている。
【特許文献１】特開平９−８９５２４号公報
【特許文献２】特開２００４−１１７０５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
前記に示すような従来技術においては、任意の一定幅の母材推定区間を設定し、該母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、該垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジとして推定する手法が用いられる（図８〜図１０参照）。ここで、ビード部を境とする両側の母材面曲線は緩やかな同一円弧上や同一平面上に位置するものとして想定し、最小二乗法等による近似計算から求めている。
【０００４】
しかし、前記従来技術ではビード部両側の母材面が曲率の大きな曲面形状を有するような場合は想定されていない。従って、このような面曲線を有する部材に対して従来技術を適用すると、曲率の大きい母材部分において前記母材推定曲線に対する垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となることがあるため、その部分をビードエッジとして誤って検出してしまい、正確なビードエッジ検出結果が得られない場合があった。
【０００５】
そこで本発明では、上記に鑑み、ビード部両側の母材面が曲率の大きな曲面形状であってもビード部の形状を精度良く検出することができ、適切な検査が可能となる溶接ビード検査方法、及び、溶接ビード検査装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の解決しようとする課題は以上の如くであり、次にこの課題を解決するための手段を説明する。
【０００７】
即ち、請求項１においては、第一母材と第二母材とが溶接されている溶接箇所における、前記第一母材又は／及び前記第二母材と、ビードと、を含む複数の断面プロファイルのデータを順次検出して、前記複数の断面プロファイルからなる断面プロファイル群を取得し、取得した前記断面プロファイル群より選択した、一つの断面プロファイルのデータに基づいて母材面の近似曲線を算出し、算出した近似曲線を用いてビードエッジを検出する溶接ビード検査方法において、前記断面プロファイルの前記第一母材又は／及び前記第二母材上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間と、該母材推定区間に対して前記ビード側に隣接し、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋに応じて区間幅δが定められるビードエッジ探索区間と、からなる母材区間を設定する、設定工程と、前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、該母材推定曲線を用いて、ビードエッジ探索区間におけるビードエッジを検出する、ビードエッジ検出工程と、を備えるものである。
【０００８】
請求項２においては、前記設定工程では、最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐを定義し、若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、前断面プロファイルのビードエッジと同じＸ座標を持つ点から、前記ビードと反対側に設定値だけオフセットして起点Ｐを定義し、前記起点Ｐから前記ビードと反対側に、前記母材推定区間を設定し、前記起点Ｐにおける曲率ｋを測定し、前記起点Ｐから前記ビードと同じ側に、前記曲率ｋと前記区間幅δが負の相関関係を持つように前記ビードエッジ探索区間を設定するものである。
【０００９】
請求項３においては、前記ビードエッジ検出工程では、前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、該垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジとして推定するものである。
【００１０】
請求項４においては、前記ビードエッジ検出工程において、前記境界点が検出された場合には、検出された該境界点を前記ビードエッジとして推定し、前記境界点が検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間を前記ビード側に区間幅δだけ移動させて、前記ビードエッジ探索区間を更新するものである。
【００１１】
請求項５においては、前記母材推定曲線は、前記母材推定区間の前記断面プロファイルのデータに基づいて、ロバスト推定手法によって近似計算するものである。
【００１２】
請求項６においては、第一母材と第二母材とが溶接されている溶接箇所における、前記第一母材又は／及び前記第二母材と、ビードと、を含む断面プロファイルのデータを複数検出して、前記複数の断面プロファイルからなる断面プロファイル群を取得する、断面プロファイル検出手段と、取得した前記断面プロファイル群より選択した、一つの断面プロファイルのデータに基づいて母材面の近似曲線を算出し、算出した近似曲線を用いてビードエッジを検出する演算手段と、を備える溶接ビード検査装置において、前記演算手段は、前記断面プロファイルの前記第一母材又は／及び前記第二母材上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間と、該母材推定区間に対して前記ビード側に隣接し、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋに応じて区間幅δが定められるビードエッジ探索区間と、からなる母材区間を設定する、設定手段と、前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、該母材推定曲線を用いて、ビードエッジ探索区間におけるビードエッジを検出する、ビードエッジ検出手段と、を備えるものである。
【００１３】
請求項７においては、前記設定手段では、最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐを定義し、若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、前断面プロファイルのビードエッジと同じＸ座標を持つ点から、前記ビードと反対側に設定値だけオフセットして起点Ｐを定義し、前記起点Ｐから前記ビードと反対側に、前記母材推定区間を設定し、前記起点Ｐにおける曲率ｋを測定し、前記起点Ｐから前記ビードと同じ側に、前記曲率ｋと前記区間幅δが負の相関関係を持つように前記ビードエッジ探索区間を設定するものである。
【００１４】
請求項８においては、前記ビードエッジ検出手段では、前記母材推定区間中の断面プロファイルのデータから、前記母材の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、該垂線の長さが立上り／立下り閾値以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジとして推定するものである。
【００１５】
請求項９においては、前記ビードエッジ検出手段において、前記境界点が検出された場合には、検出された該境界点を前記ビードエッジとして推定し、前記境界点が検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間を前記ビード側に区間幅δだけ移動させて、前記ビードエッジ探索区間を更新するものである。
【００１６】
請求項１０においては、前記母材推定曲線は、前記母材推定区間の前記断面プロファイルのデータに基づいて、ロバスト推定手法によって近似計算するものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の効果として、以下に示すような効果を奏する。
【００１８】
本発明により、ビード部両側の母材面が曲率の大きな曲面形状であってもビード部の形状を精度良く検出することができ、適切な検査が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
次に、発明の実施の形態を説明する。
図１は（ａ）は本発明の一実施例に係る断面プロファイルの計測方法を示す模式図、（ｂ）は断面プロファイル群を構成する断面プロファイルの一例を示す模式図である。
図２は断面プロファイルを示す模式図である。
図３は本発明に係る溶接ビード検査処理を示すフロー図である。
図４は設定工程（処理０／処理１）での処理を示すフロー図である。
図５は前断面プロファイルにおけるビードエッジ検出結果を、次断面プロファイルにおけるビードエッジ探索にフィードバックする手法を示す模式図である。
図６（ａ）は処理１における曲率ｋと区間幅δの関係を示した第１の図、（ｂ）は同じく処理１における曲率ｋと区間幅δの関係を示した第２の図である。
図７はビードエッジ検出工程（処理２）での処理を示すフロー図である。
図８は断面プロファイルを示す模式図である。
図９は断面プロファイルと母材推定曲線との関係を示す模式図である。
図１０は符号付垂線長と閾値の関係を示す模式図である。
図１１はビードエッジ検出工程（処理３）での処理を示すフロー図である。
図１２は同じくビードエッジ検出工程での処理を示す模式図である。
【００２０】
［溶接ビード検査方法の概要］
まず始めに、本発明の一実施例に係る断面プロファイルの計測方法について説明をする。
図１（ａ）に示す如く、本発明に係るビード検査装置１は、断面プロファイルの計測方法として、いわゆる光切断法を採用しており、レーザスキャナ２および演算装置３を備える構成としている。そして、第一母材４、第二母材５およびビード６を含む溶接部品７の表面にスリット光８を投光し、このスリット光８によって描き出される投影光９をビード６の長手方向に沿って移動しながらスキャンすることによって連続的に断面プロファイルを計測し、計測した複数の断面プロファイルを断面プロファイル群とすることで、溶接部材７の表面形状データを取得するようにしている。
【００２１】
断面プロファイル群を構成する断面プロファイルの一例を図１（ｂ）に示す。断面プロファイルのデータには、母材面（即ち、第一母材４、第二母材５）およびビード６の形状データが含まれており、この形状データに基づいて演算装置３によってビードエッジＥ１・Ｅ２を探索するようにしている。なお、図１（ｂ）に示す断面プロファイルは隅肉溶接の場合を例示している。
【００２２】
次に、本発明に係るビードエッジＥの検出方法について図２及び図３を用いて説明をする。
前記ビードエッジＥの検出処理は、図２に示すように、前記断面プロファイルの前記第一母材４又は／及び前記第二母材５上に、任意の一定幅Ｄの母材推定区間ＰＱと、該母材推定区間ＰＱに対して前記ビード６側に隣接する、区間幅δのビードエッジ探索区間ＰＲと、からなる母材区間ＰＱＲが設定されて行われる。
【００２３】
本発明に係る溶接ビード検査処理を示すフロー図を図３に示す。
まず、処理０及び処理１によって、母材区間ＰＱＲ（母材推定区間ＰＱ及びビードエッジ探索区間ＰＲ）の設定が行われる（設定工程・Ｓ１−０１）。なお、このビードエッジ探索区間ＰＲの区間幅δは、母材推定区間ＰＱの任意の一定幅Ｄに比して十分小さい値（即ち、δ≪Ｄ）に設定するようにしている。
次に、処理３によって処理２の反復計算が行われ、ビードエッジＥが探索される（ビードエッジ検出工程・Ｓ１−０２）。
次に、次断面プロファイルの処理が行われる（Ｓ１−０３）。
【００２４】
［処理０及び処理１・設定工程］
以下、本発明に係るビードエッジＥの検出方法について行われる各処理について、具体的に説明する。
まず、図４から図６を用いて、設定工程における処理０について説明する。
処理０においては、断面プロファイル群（断面１、２、３、・・・）における最初の断面プロファイルかどうかが判断される（Ｓ２−０１）。
前記（Ｓ２−０１）の判断において、最初の断面プロファイルであると判断された場合、与えられた初期値より起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）が定義され（Ｓ２−０２）、その後に（Ｓ２−０５）へと進む。
一方、前記（Ｓ２−０１）の判断において、最初の断面プロファイルでないと判断された場合、前断面のビードエッジＥ´（Ｅ´１・Ｅ´２）と同じＸ座標を持つ、現断面プロファイル上の点ｅ´（ｅ´１・ｅ´２）が定義される（Ｓ２−０３）。
次に、点ｅ´からビードと反対側に△だけオフセットした点が起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）と定義される（Ｓ２−０４）。
次に、起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）からビードと反対側に任意の一定幅Ｄだけオフセットした点がＱ（Ｑ１・Ｑ２）と定義される（Ｓ２−０５）。
次に、断面プロファイルの起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）における曲率ｋ（ｋ１・ｋ２）を測定する（Ｓ２−０６）。
次に、後述する処理１により、前記曲率ｋ（ｋ１・ｋ２）に応じて区間幅δ（δ１・δ２）（≪Ｄ）が定められる（Ｓ２−０７）。
次に、起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）からビードと同じ側に前記区間幅δ（≪Ｄ）だけオフセットした点がＲ（Ｒ１・Ｒ２）と定義され（Ｓ２−０８）、終了する。
【００２５】
上記のように、処理０における設定工程では、最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）を定義し、若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、図５に示すように前断面プロファイルのビードエッジＥ´（Ｅ´１・Ｅ´２）と同じＸ座標を持つ点ｅ´（ｅ´１・ｅ´２）からビードと反対側に設定値△だけオフセットして起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）を定義し、該起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）から前記ビードと反対側に前記母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）が設定され、前記起点Ｐからビードと同じ側に前記ビードエッジ探索区間ＰＲ（Ｐ１Ｒ１・Ｐ２Ｒ２）が設定されるのである。
【００２６】
即ち、処理０に係る設定手段では、最初の断面プロファイルの場合は、初期値より起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）を定義し、若しくは、最初の断面プロファイルでない場合は、前断面プロファイルのビードエッジＥ´（Ｅ´１・Ｅ´２）と同じＸ座標を持つ点ｅ´（ｅ´１・ｅ´２）から、ビードと反対側に設定値だけオフセットして起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）を定義し、前記起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）から前記ビード６と反対側に、前記母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）を設定し、前記起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）からビードと同じ側に、前記ビードエッジ探索区間ＰＲ（Ｐ１Ｒ１・Ｐ２Ｒ２）を設定するのである。
【００２７】
つまり本発明に係るビード検査装置１では、一本のビードを長手方向にスキャンし連続的に断面プロファイルを検出し、断面プロファイル群として溶接箇所の形状データを取得するようにしていため、ある断面プロファイルと、その次の断面プロファイルは形状が極めて近似している場合が多いと考えられる。
そこで、この形状の近似性を利用して、前断面におけるビードエッジ検出位置を基準にして、次断面の母材推定区間の初期位置を決めることにより、よりビードエッジ位置に近い適正な位置に母材推定区間を設定できるようにし、母材推定曲線の反復計算回数を軽減し、ビードエッジ推定に要する計算時間を短縮するようにしているのである。
【００２８】
ここで、前記設定工程における処理１では、前記母材推定区間のビード側端点における曲率ｋと負の相関関係を持つように区間幅δが定められる。本実施例においては具体的に、区間幅δ（ｋ）は曲率ｋに応じて、次式（１）により求められる。
【００２９】
【数１】
2010025818.tif 000003
【００３０】
上記式（１）において、δＭは区間幅δの最大値、δｍは区間幅δの最小値、ｋ０は区間幅δが最小値δｍとなるときの曲率定数をそれぞれ表す。
【００３１】
即ち、本実施例においては図６（ａ）に示すように、曲率ｋが０以上ｋ０以下の場合は、区間幅δは曲率ｋの増加に伴って最大値δＭから最小値δｍまで一次関数的に減少し、曲率ｋがｋ０より大きい場合は、区間幅δは最小値δｍをとるのである。
【００３２】
このように設定することにより、曲率ｋが小さい場合は区間幅δを大きくとり、曲率ｋが大きい場合は区間幅δを小さくとることができる。
即ち、ビード部両側の母材面が曲率ｋの小さな曲面形状を有する場合は区間幅δを大きすることで、前記ビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）検出の精度を確保するとともに、ビード部両側の母材面が曲率ｋの大きな曲面形状を有するような場合は区間幅δを小さくすることで、母材部分をビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）として誤って検出することを防止できるのである。換言すれば、曲率ｋが大きい場合であっても、正確なビードエッジ検出結果を得ることができるのである。
【００３３】
なお、処理１において、区間幅δの設定方法は前記式（１）による方法に限定されることはなく、区間幅δが曲率ｋと負の相関関係を持つように設定される方法であれば良い。例えば、次式（２）によって求める方法でも良い。
【００３４】
【数２】
2010025818.tif 000004
【００３５】
上記式（２）においては、δＭは区間幅δの最大値、δｍは区間幅δの最小値、ｋ０は曲率定数をそれぞれ表す。
【００３６】
即ち、本式によれば、図６（ｂ）に示すように、区間幅δは曲率ｋの増加に伴って最大値δＭから最小値δｍまで、定義域が負の範囲をとる指数関数として減少するのである。このように設定することによっても、曲率ｋが小さい場合は区間幅δを大きくとり、曲率ｋが大きい場合は区間幅δを小さくとることができ、前式（１）と同様の効果を得ることができるのである。このように、曲率ｋの増加に応じて区間幅δが減少する構成であれば、本実施例と異なる設定にすることは可能となる。
【００３７】
［処理２及び処理３・ビードエッジ検出工程］
次に、図７から図１０を用いて、ビードエッジ検出工程について説明する。処理２は後述する処理３内で繰り返される処理である。
処理２においては、まず、前記母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）の点群データに対して、適当な曲線（例えば２次曲線）を適当にフィッティングして（例えば、最小２乗法）、第１母材推定曲線及び第２母材推定曲線が計算される（Ｓ３−０１）。
ここで求めた各母材推定曲線を、図８に示す断面プロファイルの模式図と重ね合わせると、図９のように表される。
次に、断面プロファイルの各点（Ｘ，Ｚ）から、第１母材推定曲線及び第２母材推定曲線に下ろした符号付き垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）が計算される（Ｓ３−０２）。ここで、図９中においてＺ軸の正の方向に向けて引かれる垂線には正の符号を付し、反対に、Ｚ軸の負の方向に向けて引かれる垂線には負の符号を付すようにしている。そして、横軸をＸとし、縦軸に垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）をとってグラフ化すると、図１０の如く表すことができる。
次に、母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）の起点Ｐ（Ｐ１・Ｐ２）からビード側に向かって、垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）が閾値ＴＨ１（＞０）を上回る、又は、−ＴＨ１を下回る点をビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）として探索し（Ｓ３−０３）、終了する。
【００３８】
上記のように、処理２におけるビードエッジ検出工程では、前記母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）中の断面プロファイルのデータから、前記第一母材４又は／及び前記第二母材５の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）が立上り／立下り閾値ＴＨ１以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）として推定するのである。
【００３９】
即ち、処理２に係るビードエッジ検出手段では、前記母材推定区間ＰＱ（Ｐ１Ｑ１・Ｐ２Ｑ２）中の断面プロファイルから、前記第一母材４又は／及び前記第二母材５の近似曲線となる母材推定曲線を推定し、前記断面プロファイルから該母材推定曲線に対して引き出し方向に応じて垂線を引き、垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）が立上り／立下り閾値ＴＨ１以下となる前記断面プロファイル上の境界点をビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）として推定するのである。
【００４０】
このように、本発明においては、第１母材推定曲線および第２母材推定曲線を設定し、母材面の推定を直線近似ではなく曲線近似で行うため、曲面状の母材同士を溶接した箇所のビードに対してもビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）を検出することができるのである。
なお、第一母材４と第二母材５は必ずしも異なる部材である必要はなく、例えば、電縫管の溶接部のように、同一部材中の端面同士を溶接するような場合にも本発明を適用することができる。
【００４１】
ここで、ビードエッジ探索区間ＰＲの区間幅δは、上記の通り母材面の曲率ｋに応じて調節される。即ち、母材面の曲率ｋが大きい場合は区間幅δが小さく設定されるため、母材部分をビードエッジＥ（Ｅ１・Ｅ２）として誤って検出することを防止でき、正確なビードエッジ検出結果を得ることができるように設定されているのである。
【００４２】
次に、図１１及び図１２を用いて、処理３について説明する。
図１１に示すように、処理２におけるビードエッジ検出工程のステップによって、母材推定区間ＰＱから符号付の垂線長（又はその近似値）Ｈ（Ｘ）の立上り／立下り点Ｅを検出する（Ｓ４−０１）。
次に、前記立上り／立下り点がビードエッジ探索区間ＰＲ内に存在するか否かの判定を行う（Ｓ４−０２）。
ビードエッジ探索区間ＰＲ内で立上り／立下り点が検出された場合、そのままビードエッジＥとして決定し（Ｓ４−０３）、終了する。
ビードエッジ探索区間ＰＲ内で立上り／立下り点が検出されなかった場合、母材推定区間ＰＱとビードエッジ探索区間ＰＲを更新するようにした上で（Ｓ４−０４）、最初のステップ（Ｓ４−０１）へ戻って繰り返すようにし、ビードエッジＥの探索を行うようにしている。
尚、このビードエッジＥの検出方法では、無限ループを回避するために、母材推定区間ＰＱとビードエッジ探索区間ＰＲの更新回数に上限を設けておくことが望ましい。
【００４３】
前記ビードエッジＥの検出方法における母材推定区間ＰＱとビードエッジ探索区間ＰＲの更新方法を、図１２を用いて説明する。
なお、ここでは片側の母材推定区間（即ち、第一母材推定区間、あるいは、第二母材推定区間）のみ取り上げて説明を行うが、両側の母材推定区間に同時に適用することが可能である。本実施例における以下の説明についても、同様とする。
【００４４】
図１２に示す如く、更新前のビード断面プロファイルでは、ビード側の起点Ｐを基準として、任意の一定幅Ｄとするように反対側の境界点Ｑを定めて、母材推定区間ＰＱを設定するようにしている。
そして、ビード側の起点Ｐからさらにビード寄りに、区間幅δとするように境界点Ｒを定めて、ビードエッジ探索区間ＰＲを設定するようにしている。
【００４５】
ビードエッジ探索区間ＰＲ内でビードエッジＥが見つからなかった場合には、まず、元の点Ｒと同じＸ座標の位置を、ビード側の起点Ｐ´とし更新する。そして、起点Ｐ´を基準として任意の一定幅Ｄとするように反対側の境界点Ｑ´を定めて、母材推定区間Ｐ´Ｑ´に更新するようにしている。さらに、起点Ｐ´からさらにビードよりに、区間幅δとするように境界点Ｒ´を定めて、ビードエッジ探索区間Ｐ´Ｒ´として更新するようにしている。
【００４６】
なお、ビードエッジ探索区間ＰＲ内でビードエッジＥが見つからなかった場合に、元の点Ｒの位置をビード側の起点Ｐ´として更新するが、反対側の境界点Ｑは更新せず、母材推定区間Ｐ´Ｑに更新することも可能である。この場合は、母材推定区間の区間長はビード側の起点Ｐを更新する度に成長していく。
【００４７】
上記のように、ビードエッジ検出工程においては、前記ビードエッジＥが検出された場合には、検出された該ビードエッジＥを前記ビードエッジＥとして推定し、前記ビードエッジＥが検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間ＰＲを前記ビード側に任意の区間幅δだけ移動させて、前記ビードエッジ探索区間ＰＲを更新するのである。
【００４８】
即ち、ビードエッジ検出手段においては、前記ビードエッジＥが検出された場合には、検出された該ビードエッジＥを前記ビードエッジＥとして推定し、前記ビードエッジＥが検出されなかった場合には、前記ビードエッジ探索区間ＰＲを前記ビード側に任意の区間幅δだけ移動させて、前記ビードエッジ探索区間ＰＲを更新するのである。
【００４９】
このように、本発明においては、母材推定区間ＰＱの初期位置がビードの想定位置から離れており、または、ビードの余盛が小さい場合であっても、順次ビードエッジ探索区間をビート側に更新していくことにより、精度良くビードエッジＥを検出することができるのである。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】（ａ）は本発明の一実施例に係る断面プロファイルの計測方法を示す模式図、（ｂ）は断面プロファイル群を構成する断面プロファイルの一例を示す模式図。
【図２】断面プロファイルを示す模式図。
【図３】本発明に係る溶接ビード検査処理を示すフロー図。
【図４】設定工程（処理０／処理１）での処理を示すフロー図。
【図５】前断面プロファイルにおけるビードエッジ検出結果を、次断面プロファイルにおけるビードエッジ探索にフィードバックする手法を示す模式図。
【図６】（ａ）は処理１における曲率ｋと区間幅δの関係を示した第１の図、（ｂ）は同じく処理１における曲率ｋと区間幅δの関係を示した第２の図。
【図７】ビードエッジ検出工程（処理２）での処理を示すフロー図。
【図８】断面プロファイルを示す模式図。
【図９】断面プロファイルと母材推定曲線との関係を示す模式図。
【図１０】符号付垂線長と閾値の関係を示す模式図。
【図１１】ビードエッジ検出工程（処理３）での処理を示すフロー図。
【図１２】同じくビードエッジ検出工程での処理を示す模式図。
【符号の説明】
【００５１】
１    ビード検査装置
２    レーザスキャナ
３    演算手段
４    第一母材
５    第二母材
６    ビード
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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