(57)【要約】【課題】  電位センサを用いて感光体の表面電位を測定する際、帯電手段や現像手段に印可した高電圧の電位測定への影響を取り除き、より精度の高い電位測定を実現する。【解決手段】  電位センサを用いて感光体の表面電位を測定する際、電位センサや感光体の近傍に配置された帯電手段や現像手段に印可される電圧値を元に、電位センサでの測定結果を補正する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定対象と、前記被測定対象の表面電位を測定する為の表面電位測定装置と、前記被測定対象と前記表面電位測定装置の近傍に配置された高電圧印加部と、前記高電圧印加部に高電圧を印加する為の高電圧電源とで構成され、
前記表面電位測定装置にて前記被測定対象の表面電位を測定する際、前記高電圧印加部に印加された高電圧を元に、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システム。
【請求項２】
前記高電圧印加部に印加された直流電圧を元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１に記載の表面電位測定システム。
【請求項３】
前記高電圧印加部に印加された直流電圧と交流電圧とを元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１、又は請求項２に記載の表面電位測定システム。
【請求項４】
前記高電圧電源は外部からのコントロール信号によりその出力値が決定されており、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する際、前記コントロール信号の値を元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の表面電位測定システム。
【請求項５】
表面電位測定装置での測定結果を補正する際、オフセット電圧を補正する事を特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の表面電位測定システム。
【請求項６】
感光体と、
前記感光体を帯電させる為の帯電手段と、
第一のコントロール信号に応じた高電圧を前記帯電手段に印加する為の第一の高圧電源と、
画像信号に基づき前記感光体を露光する為の露光手段と、
帯電した前記感光体の表面電位を測定する為の電位センサと、
前記電位センサを制御する制御部と、
前記露光手段により前記感光体上に形成された潜像を現像するための現像手段と、
第二のコントロール信号に応じた高電圧を前記現像手段に印加する為の第二の高圧電源とで構成され、
前記制御部は前記電位センサにて前記感光体の表面電位を測定する際、前記第一のコントロール信号と前記第二のコントロール信号に応じて電位測定の結果を補正する事を特徴とする画像形成装置。
【請求項７】
前記第一のコントロール信号は、少なくとも前記帯電手段に印加する直流電圧値を決定しており、
前記第二のコントロール信号は、少なくとも前記現像手段に印加する直流電圧値を決定している事を特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記第一のコントロール信号は、前記帯電手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記第二のコントロール信号は、前記現像手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記制御部は、電位測定の結果を補正する際に、前記帯電手段に印加する直流電圧値と交流電圧値と、前記現像手段に印加する直流電圧値と交流電圧値とを元に補正する事を特徴とする請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項９】
電位測定の結果を補正する際、オフセットを補正する事を特徴とする請求項６から請求項８のいずれかに記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、像担持体の表面電位を検出する表面電位検知手段を有する画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像形成装置においては、画像品質を安定化させる為、電位センサ等により感光体の表面電位を測定し、その測定結果を基に、画像形成時の帯電高圧や現像高圧や露光強度の出力調整を行っている。
【０００３】
図１０に従来の画像形成装置における感光ドラムの表面電位測定系のブロック図を示す。
【０００４】
図１０において、符号１は感光ドラム、符号８は感光ドラムの表面電位を測定する為の電位センサ、符号１０７は電位センサ８を制御する為の電位センサ制御部１０７、符号１１１は装置本体全体を制御するコントローラ１１１である。
【０００５】
図１０の動作について、図１１を用いて説明する。
【０００６】
図１１において、コントローラ１１１より入力されるリモート信号がＯＮの状態になると、電位センサ８及び電位センサ制御部１０７の動作が開始される。
【０００７】
まず、図示しない駆動回路により電位センサ８に駆動信号が入力される。すると、音叉型振動子８ｅが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、８ｃ、８ｄの矢印方向に振動する。
【０００８】
一方、音叉型振動子８ｅが振動する事で、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化Ｃ（ｔ）し、これにより測定電極８ｆの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路８ｇにおける検出抵抗ＲＳにて電圧に変換する事で、感光ドラム１と測定電極８ｆ間の電位差に比例した交流電圧信号を得ている。そして、それを増幅し、電位センサ制御部１０７へ出力している。
【０００９】
なお、電位センサ８を構成する各部は後述する高圧電源１０７ｂの出力（図１１中Ｈ点）を基準電位として動作している。
【００１０】
そして、電位センサ制御部１０７においては、検出回路８ｇからの出力である交流検出信号を元に、この交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源１０７ｂの出力を制御している。ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム１の表面電位と測定電極８ｆの電位、つまり感光ドラム１の表面電位と高圧発生部１０７ｂの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム１の表面電位を得る事が出来る。（ゼロメソッド）
電位センサ制御部１０７は、この時の高圧発生部１０７ｂの出力を図示しない検出出力信号生成部にて、例えば図１２に示す様な関係で変換しコントローラ１１１へ出力している
電位センサ制御部１０７の出力である検出値と感光ドラム１の表面電位との関係を図１２に示す。図１２の場合、電位センサ制御部１０７での測定結果が、−５０Ｖの時に検出出力信号生成部１０７ｃの出力が０Ｖであり、＋９００Ｖの時に検出出力信号生成部１０７ｃの出力が３．３Ｖになる様な、測定結果と検出値とがリニアな関係になっている。
【００１１】
よって、コントローラ１１１は、電位センサ制御部１０７から入力された信号を図１２の関係に基づき換算する事で、感光ドラム１の表面電位情報を得る事ができる。そして、この情報を元に、画像形成時の帯電高圧や現像高圧の各出力値や、所定の濃度を得る為の露光強度の設定を行っている。
【特許文献１】特許第３２２７３４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、近年、装置の小型化に伴い感光ドラム１が小径化しており、それに伴い、電位センサ８と、帯電ローラ２、現像器４それぞれとの距離が近づいてきている。
【００１３】
その結果、帯電ローラ２や現像器４内の現像ローラに印加した高電圧が、電位センサ８と感光ドラム１間の電界に影響を及ぼしている。
【００１４】
つまり、上記の様に感光ドラム１が小径化し、帯電ローラ２、現像器４が電位センサ８に近づいてくると、帯電ローラ２、現像器４に印加した高電圧により、電位センサ８での電位測定が影響を受け、その測定結果が真の値から外れてしまうと言う問題が発生する。
【００１５】
そして、電位センサ８による感光ドラム１の表面電位測定結果は、帯電高圧出力、現像高圧出力、露光装置光量調整等、画像形成における各パラメータ設定に用いられている為、電位測定結果が影響を受けるという事は、画像形成における各パラメータが影響を受けると言う事であり、結果として所望の濃度が得られなくなると言った問題が発生する。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記問題を解決する為に、本発明においては、以下の構成を有する事を特徴とする画像形成装置であり、帯電高圧、現像高圧の各出力値に基づき電位センサ８による感光ドラム１の表面電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位測定が可能となり、結果として、画質の安定化が可能となる。
【００１７】
請求項１の発明は、
被測定対象（１）、前記被測定対象の表面電位を測定する為の表面電位測定装置（８、１０７）、前記被測定対象（１）と前記表面電位測定装置（８、１０７）の近傍に配置された高電圧印加部（２、４）、前記高電圧印加部（２、４）に高電圧を印加する為の高電圧電源（１０９、１０８）とで構成され、
前記表面電位測定装置（８、１０７）にて前記被測定対象（１）の表面電位を測定する際、前記高電圧印加部（２、４）に印加された高電圧を元に、前記表面電位測定装置での測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。
【００１８】
請求項２の発明は、第１の発明において、
前記高電圧印加部（２、４）に印加された直流電圧を元に測定結果を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。
【００１９】
請求項３の発明は、第１、又は第２の発明において、
前記高電圧印加部（２、４）に印加された直流電圧と交流電圧とを元に測定結果を補正する事を特徴とする請求項１から２に記載の表面電位測定システム。
【００２０】
請求項４の発明は、第１から第３のいずれかに記載の発明において、
前記高電圧電源（１０９、１０８）は外部からのコントロール信号によりその出力値が決定されており、前記表面電位測定装置（８、１０７）での測定結果を補正する際、前記コントロール信号の値を元に測定結果を補正する事を特徴とする事を特徴とする表面電位測定システムである。
【００２１】
請求項５の発明は、第１から第４のいずれかに記載の発明において、
表面電位測定装置での測定結果を補正する際、オフセット電圧を補正する事を特徴とする表面電位測定システムである。
【００２２】
請求項６の発明は、
感光体（１）、
前記感光体（１）を帯電させる為の帯電手段（２）、
第一のコントロール信号に応じた高電圧を前記帯電手段（２）に印加する為の第一の高圧電源（１０９）
画像信号に基づき前記感光体（１）を露光する為の露光手段（３）、
帯電した前記感光体（１）の表面電位を測定する為の電位センサ（８）、
前記電位センサ（８）を制御する制御部（１０７）、
前記露光手段（３）により前記感光体（１）上に形成された潜像を現像するための現像手段（４）、
第二のコントロール信号に応じた高電圧を前記現像手段（４）に印加する為の第二の高圧電源（１０８）とで構成され、
前記制御部は前記電位センサにて前記感光体の表面電位を測定する際、前記第一のコントロール信号、前記第二のコントロール信号に応じて電位測定の結果を補正する事を特徴とする画像形成装置である。
【００２３】
請求項７の発明は、第６の発明において、
前記第一のコントロール信号は、少なくとも前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値を決定しており、
前記第二のコントロール信号は、少なくとも前記現像手段（４）に印加する直流電圧値を決定している事を特徴とする記載の画像形成装置である。
【００２４】
請求項８の発明は、第６の発明において、
前記第一のコントロール信号は、前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記第二のコントロール信号は、前記現像手段（４）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを決定しており、
前記制御部（１０７）は、電位測定の結果を補正する際に、前記帯電手段（２）に印加する直流電圧値と交流電圧値と、前記現像手段（４）に印加する直流電圧値と交流電圧値とを元に補正する事を特徴とする画像形成装置である。
【００２５】
請求項９の発明は、第６から第８のいずれかに記載の発明において、
電位測定の結果を補正する際、オフセットを補正する事を特徴とする画像形成装置である。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、電位センサ８での感光ドラム１の表面電位測定時に、帯電ローラ２、現像器４内の現像ローラに印加する高圧直流出力に基づき、表面電位測定結果を補正する事で、より正確な表面電位の測定が可能となる。
【００２７】
また、帯電ローラ２、現像器４内の現像ローラに印加する高圧直流出力、および高圧交流出力に基づき、表面電位測定結果を補正する事で、より正確な表面電位の測定が可能となる。
【００２８】
そして、上記の様に、より正確な表面電位の測定が可能という事は、帯電ローラ２に印加する高電圧、さらに現像器４内の現像ローラに印加される高電圧、さらに潜像形成時の露光量など、画像形成に重要なパラメータを最適化する事が可能となると言う事であり、結果として、画質の安定化が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
次に、本発明の詳細を実施例の記述に従って説明する。
【００３０】
以下に図面を参照して、本発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【実施例１】
【００３１】
本発明の第１の実施例である画像形成装置としては、図６に示すような概略構成図のものがある。本例装置は電子写真プロセスの画像形成装置である。
【００３２】
図６において、１ａ〜１ｄは感光体、２ａ〜２ｄは１次帯電部、８ａ〜８ｄは電位センサ、３ａ〜３ｄは露光部、４ａ〜４ｄは現像部、５３ａ〜５３ｄは１次転写部、６ａ〜６ｄはクリーナー、５１は中間転写ベルト、５５は中間転写ベルトクリーナー、５６、５７は２次転写部である。
【００３３】
１次帯電部によって感光体が一様に帯電された後、画像信号に応じた露光が露光部によってなされることにより、感光体上に静電潜像が形成される。電位センサ８ａ〜８ｄは、静電潜像の電位を測定する為に、露光−現像間に設けられている。
【００３４】
静電潜像は、その後、現像部によってトナー像が現像され、４個の感光体上のトナー像は転写部によって中間転写ベルトに多重転写され、更に２次転写部によって記録材Ｐに転写される。感光体上に残った転写残トナーはクリーナーによって、中間転写ベルトに残った転写残トナーは中間転写ベルトクリーナー５５によって回収される。記録材Ｐに転写されたトナー像は定着部７によって定着されることにより、カラー画像を得る。
【００３５】
図１に本発明の第１の実施例である画像形成装置感光ドラム周辺部の構成例を示す。（図６における１ステーションのみを抜き出しており、本実施例の説明に不要な箇所は省略してある）
図１において１が感光ドラム１である。感光ドラム１の周囲には、帯電ローラ２、露光装置３、電位センサ８、現像器４、除電装置１１２などが配置されている。
【００３６】
帯電ローラ２には帯電高圧回路１０９により生成された帯電高圧出力が供給されて、感光ドラム１の表面を所定の電位で一様に帯電する。
【００３７】
なお、帯電高圧回路１０９はコントローラ１１１からのコントロール値に基づき所定の帯電高圧出力を出力している。
【００３８】
ここで、図２に帯電直流出力のコントロール値と帯電直流出力との関係の一例を示す。図２の場合は、コントロール値が０Ｖから１０Ｖの間で帯電直流出力が０Ｖから１０００Ｖまで変化する様な特性を有しており、例えば帯電直流出力に４００Ｖが必要な場合は、コントローラ１１１からコントロール値４Ｖが出力され、帯電高圧回路１０９に入力される。
【００３９】
よって、帯電高圧とコントロール信号の関係は、
Ｖｃｈ＝  Ｖｃｎｔ（ＣＨ）  ｘ  １００  と示す事が出来る。
【００４０】
なお、現像器４に印加される高圧に関しても同様に、ある特性を有しており、コントローラ１１１からのコントロール電圧Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）に基づき所定の高圧出力が出力される構成となっている。
【００４１】
図１に戻って、露光装置３はレーザースキャナーおよび光学系で構成されており、図示しない画像信号に基づき、感光ドラム表面に静電潜像を形成する。
【００４２】
電位センサ８は感光ドラムの表面電位を検知する為のセンサであり、電位センサ制御部１０７により制御され、電位センサ制御部１０７は検知結果をコントローラ１１１へ出力する。
【００４３】
現像器４は現像高圧回路１０７により生成された現像高圧出力が供給されることで、感光ドラム１上の静電潜像にトナーを付着させ可視像とする。
【００４４】
なお、現像高圧回路１０７はコントローラ１１１からのコントロール値に基づき所定の現像高圧出力を出力している。
【００４５】
除電装置１１２は帯電ローラ２の感光ドラム１回転方向上流側に配置されており、感光ドラム１に残留している電荷を除電している。
【００４６】
次に、電位センサ８と電位センサ制御部１０７に関し、図３を用いて説明する。
【００４７】
図３に電位センサ８及びその制御部１０７の概略構成図を示す。
【００４８】
図３において、符号８が電位センサで８あり、符号１０７が電位センサ制御部１０７である。
【００４９】
電位センサ８は、音叉型振動子８ｅ、音叉型振動子８ｅの両アームに配設された圧電素子８ａ、８ｂ（図３の場合、圧電素子８ｂが音叉型振動子８ｅを振動させる為の駆動用圧電素子８ｂであり、圧電素子８ａが音叉型振動子８ｅの振動を検出する為の検出用圧電素子８ａである）、測定電極８ｆ、検出回路８ｇで構成されている。
【００５０】
一方、電位センサ制御部１０７は、制御部１０７ａ、高圧電源１０７ｂ、検出出力信号生成部１０７ｃ、駆動回路１０７ｄ、増幅回路１０７ｅで構成されている。なお、図３中、１は感光ドラム１である。
【００５１】
図３の動作について説明する。
【００５２】
外部より入力されるリモート信号がＯＮの状態になると、電位センサ８及び電位センサ制御部１０７の動作が開始される。まず、駆動回路１０７ｄが圧電素子８ｂに駆動信号を入力する。すると、音叉型振動子８ｅが振動を開始し、その先端部が左右それぞれ、８ｃ、８ｄの矢印方向に振動する。音叉型振動子８ｅが振動を開始すると、圧電素子８ａは、その振動を電気信号に変換し振動検出信号として出力する。駆動回路１０７ｄは駆動信号と振動検出信号の位相差が所定の値になる様に駆動信号の周波数を制御する。これにより音叉型振動子８ｅは共振状態で振動を継続する。一方、音叉型振動子８ｅが振動する事で、測定電極８ｆと感光ドラム1間の静電容量が周期的に変化し、これにより測定電極８ｆの電荷量が変化し、この電荷量の変化を検出回路８ｇで電圧に変換する事で、感光ドラム1と測定電極８ｆ間の電位差に比例した交流電圧信号を得る事が出来る。
【００５３】
なお、電位センサ８を構成する各部は高圧電源１０７ｂの出力（図３中Ｈ点）を基準電位として動作している。
【００５４】
そして、制御部１０７ａにおいては、検出回路８ｇからの出力である交流検出信号を増幅回路１０７ｅで増幅して制御部１０７ａへ入力し、制御部１０７ａにおいては、この増幅された交流検出信号の振幅がゼロとなる様に、高圧電源１０７ｂの出力を制御している。
【００５５】
ここで、交流検出信号の振幅がゼロと言う状態は、音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態であり、この状態は、感光ドラム１の表面電位と測定電極８ｆの電位、つまり感光ドラム１の表面電位と高圧発生部１０７ｂの出力が同電位である事を意味している。これにより、感光ドラム１の表面電位を得る事が出来る。
【００５６】
電位センサ制御部１０７は、この時の高圧発生部１０７ｂの出力を図示しない検出出力信号生成部にて、例えば図１２に示す様な関係で変換し出力している。
【００５７】
次に、帯電高圧１０９により高圧が印加された帯電ローラ２が電位センサ８の測定結果に及ぼす影響について説明する。
【００５８】
先に説明した様に、電位センサ８は電位センサ制御部１０７により、感光ドラム１の表面電位と電位センサ８の電位が等しくなる様に制御され、その結果、感光ドラム１の表面電位を得る事が可能である。
【００５９】
ここで、図１の様に、帯電ローラ２や現像器４など、高圧を印加された部位が電位センサ８に近づいてくると、電位センサ８と感光ドラム１間の電界に影響を及ぼし、その結果、電位センサ８と感光ドラム１の電位の釣り合いが取れるポイントがずれてしまう。つまりは、電位センサ８内の音叉型振動子８ｅが振動し、測定電極８ｆと感光ドラム１間の静電容量が周期的に変化しているにもかかわらず、測定電極８ｆの電荷量が変化しない状態がずれてしまい、その結果が電位測定のオフセット変動として現れる。
【００６０】
次に、図４に帯電高圧と電位測定への影響の関係例を示す。
【００６１】
図４に示す様に、帯電高圧Ｖｄｃが０Vの際は、オフセットは０Vであるが、帯電高圧Ｖｄｃを上昇させると帯電高圧Ｖｄｃに比例してオフセットが上昇する。
【００６２】
つまり、電位測定への影響（オフセット）は、
Ｋ１１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＣＨ）      （Ｋ１１：帯電補正係数、Ｖｃｎｔ（ＣＨ）：帯電コントローラ信号電圧）
と示す事が出来る。
【００６３】
また、図示していないが、現像高圧の場合も同様に、
Ｋ２１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）      （Ｋ２１：現像補正係数、Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）：現像コントローラ信号電圧）
と示す事が出来る。
【００６４】
ここで、Ｋ１１（帯電補正係数）、Ｋ２１（現像補正係数）は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離や、帯電ローラ２の径や、現像器４内の現像ローラの径や、さらには、電位センサ８と帯電ローラ２，現像ローラそれぞれの距離など、物理的な構成により決定する係数である。
【００６５】
そして、これら帯電高圧の影響と現像高圧の影響はそれぞれ独立して起こる現象の為、重ね合わせる事が可能であり、結果として、電位測定への影響（オフセット）をＶｏｆｆｓｅｔとすると、
Ｖｏｆｆｓｅｔ  ＝  Ｋ１１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＣＨ）  ＋  Ｋ２１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）
と表す事ができる。
【００６６】
よって、実際に電位センサを用いて、感光体の表面電位を測定する際に、
測定結果-Ｖｏｆｆｓｅｔ
を算出する事で、帯電高圧、現像高圧の影響を取り除いた、真の感光体表面電位を得る事が可能となる。
【００６７】
次に上記関係を用いた、帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセットの補正フローについて図５のフローチャートを用いて説明する。
【００６８】
画像形成装置において、所望の画質を維持する為に、帯電高圧や現像高圧の出力を最適値に修正するタイミング等、感光ドラムの表面電位を測定する必要が発生した場合、最初に電位センサのリモートをONにする。（Ｓ５０１）
次に、電位測定を行う際の、帯電高圧出力の設定値を確認する。（Ｓ５０２）
さらに、電位測定を行う際の、現像高圧出力の設定値を確認する。（Ｓ５０３）
次はＳ５０２、Ｓ５０３にて確認した帯電高圧、現像高圧の各出力値と、予め決められた補正係数Ｋ１１（帯電補正係数）、Ｋ２１（現像補正係数）を用いて、
オフセット補正値  Ｖｏｆｆｓｅｔ  ＝  Ｋ１１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＣＨ）  ＋  Ｋ２１  ｘ  Ｖｃｎｔ（ＤＥＶ）  
に基づき、オフセット補正値を算出する。（Ｓ５０４）
オフセット補正値が決定すると、実際に感光体の表面電位を測定する。
【００６９】
その際、Ｓ５０２で確認した帯電高圧出力にて感光体を帯電させ、さらに所定の光量でレーザーを発光させて表面電位を変化させると同時に、Ｓ５０３で確認した現像高圧出力もONにしておく。（Ｓ５０５）
表面電位の測定が完了すると、Ｓ５０５で得た測定結果から、Ｓ５０４にて算出した、オフセット補正値を減じて電位測定結果を補正する。（Ｓ５０６）
この補正した結果、  ドラム電位＝（電位測定結果−Ｖｏｆｆｓｅｔ）
が、真のドラム電位となり、同時に電位センサのリモートをOFFにする。（Ｓ５０７）
そして、装置は帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセット値を補正した真の感光ドラム表面電位を得る事が出来る。
【００７０】
以上、説明した様に、電位センサ８にて感光ドラム１の表面電位を測定する際に、その際、出力している帯電高圧、現像高圧のコントロール値に基づき算出したオフセット補正値を用いて電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。
【００７１】
そして、装置の状態における最適な画像形成条件（画像形成時の帯電高圧出力、現像高圧出力、露光強度）を決定する際に行う感光ドラム１の表面電位測定時（電位制御）に、上記補正を行う事で、より最適な画像形成条件の設定が可能となり、結果として装置が出力する画像の品質を高品質に維持する事が可能となる。
【実施例２】
【００７２】
本発明に係る画像形成装置システムの第二の実施形態について図面を参照して説明する。
【００７３】
図７〜図９に於いて前述の従来例の図１０〜図１２及び第一の実施形態の図１〜図６と同一ないし相当する部材には同一符号を付し、その説明は省略するものとする。
【００７４】
第二の実施形態は、帯電高圧または現像高圧の直流成分と交流成分の両方を元に補正する場合の実施形態である。
【００７５】
帯電高圧もしくは現像高圧に交流成分を有する場合、そのＡＣ成分のＶｐｐによっても電位測定への影響が出てしまう。
【００７６】
その影響は、直流電圧と交流電圧の組み合わせで決定する為、予め各組み合わせでのオフセット補正値をデータとして有しておき、電位測定の際の、各高圧の直流電圧Ｖｄｃと交流電圧Ｖｐｐに基づきルックアップテーブル（ＬＵＴ）を参照しオフセット補正値を決定する場合の形態である。
【００７７】
次に上記関係を用いた、帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセットの補正フローについて図７のフローチャートを用いて説明する。
【００７８】
まず、画像形成装置において、所望の画質を維持する為に、帯電高圧や現像高圧の出力を最適値に修正するタイミング等、感光ドラムの表面電位を測定する必要が発生した場合、電位センサのリモートをONにする。（Ｓ７０１）
次に、電位測定を行う際の、帯電高圧出力の直流出力、交流出力の設定値を確認し、ＬＵＴに基づき、オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＣＨ）を決定する。（Ｓ７０２）
図８に帯電高圧出力の直流出力と交流出力の設定値とオフセット補正値のＬＵＴの例を示す。
【００７９】
図８の様に、直流出力は１００Ｖ単位、交流出力は２００Ｖ単位で区切られており、例えば、直流出力４５０Ｖで交流出力１３００Ｖの場合は、Ｍ０６０４に格納されたオフセット補正値が選択される。
【００８０】
なお、表のそれぞれのセル（Ｍ＊＊＊＊）には、装置の構成により予め決められた所定のオフセット補正値が設定されている。
【００８１】
なお、このオフセット補正値は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離、帯電ローラの径や電位センサ８と帯電ローラとの位置関係など、装置の物理的な構成により決定される為、予め最適な補正値を決定しておく必要が有る。
【００８２】
さらに、電位測定を行う際の、現像高圧出力の直流出力、交流出力の設定値を確認し、ＬＵＴに基づき、オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）を決定する。（Ｓ７０３）
図９に現像高圧出力の直流出力と交流出力とオフセット補正値のＬＵＴの例を示す。
【００８３】
基本的に図８と同じように、直流出力と交流出力の設定値を元にオフセット補正値が選択される。
【００８４】
なお、このオフセット補正値は、感光ドラム１の径や、電位センサ８と感光ドラム１との距離、現像ローラの径や電位センサ８と現像ローラとの位置関係など、装置の物理的な構成により決定される為、予め最適な補正値を決定しておく必要が有る。
【００８５】
次はＳ７０２、Ｓ７０３にて決定した帯電オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＣＨ）と、現像オフセット補正値Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）に基づき、オフセット補正値を算出する。（Ｓ７０４）
ここで、帯電高圧の影響と現像高圧の影響はそれぞれ独立して起こる現象の為、重ね合わが可能であり、両高圧の影響によるオフセット補正値Ｖｏｆｆは、Ｖｏｆｆ（ＣＨ）＋Ｖｏｆｆ（ＤＥＶ）により算出できる。
【００８６】
オフセット補正値が決定すると、実際に感光体の表面電位を測定する。
【００８７】
その際、Ｓ７０２で確認した帯電高圧出力にて感光体を帯電させ、さらに所定の光量でレーザーを発光させて表面電位を変化させると同時に、Ｓ７０３で確認した現像高圧出力もONにしておく。（Ｓ７０５）
表面電位の測定が完了すると、Ｓ７０５で得た測定結果から、Ｓ７０４にて算出した、オフセット補正値減じて電位測定結果を補正する。（Ｓ７０６）
この補正した結果、ドラム電位＝電位測定結果−オフセット補正値Ｖｏｆｆ
が、真のドラム電位となり、同時に電位センサのリモートをOFFにする。（Ｓ７０７）
そして、装置は帯電高圧、現像高圧の影響によるオフセット値を補正した真の感光ドラム表面電位を得る事が出来る。
【００８８】
以上、説明した様に、電位センサ８にて感光ドラム１の表面電位を測定する際に、その際、出力している帯電高圧の直流出力、交流出力、現像高圧の直流出力、交流出力に基づき算出したオフセット補正値を用いて電位測定結果を補正する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。
【００８９】
そして、装置の状態における最適な画像形成条件（画像形成時の帯電高圧出力、現像高圧出力、露光強度）を決定する際に行う感光ドラム１の表面電位測定時（電位制御）に、上記補正を行う事で、より最適な画像形成条件の設定が可能となり、結果として装置が出力する画像の品質を高品質に維持する事が可能となる。
【００９０】
なお、上述した帯電高圧、現像高圧の直流出力と交流出力に基づいたオフセット補正に関して、帯電高圧、現像高圧における交流成分の周波数も可変する場合においても、その周波数に応じて予め複数のＬＵＴを有しておき、選択した周波数に応じたＬＵＴに基づきオフセット補正値を選定する事で、より正確な感光ドラム１の表面電位情報を得る事が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】本発明の第一の実施形態に係る画像形成装置の概要を説明する図
【図２】図１の画像形成装置における、帯電直流出力の特性を示す図
【図３】図１の画像形成装置における電位センサ、電位センサ制御部の概要を説明する図
【図４】図１の画像形成装置における、帯電、現像高圧の電位測定への影響を説明する図
【図５】図１の画像形成装置における、オフセット補正のフローチャート
【図６】画像形成装置の概略構成図の一例を説明する図
【図７】本発明の第二の実施形態におけるオフセット補正のフローチャート
【図８】本発明の第二の実施形態における帯電高圧の影響よるオフセット補正値のＬＵＴ
【図９】本発明の第二の実施形態における現像高圧の影響よるオフセット補正値のＬＵＴ
【図１０】従来の画像形成装置の画像形成装置の概要を説明する図
【図１１】従来の画像形成装置における電位センサ、電位センサ制御部の概要を説明する図
【図１２】従来の電位センサ制御部の検出出力信号生成部の特性を示す図
【符号の説明】
【００９２】
１  感光ドラム
２  帯電ローラ
３  露光装置
４  現像器
８  電位センサ
１０７  電位センサ制御部
１０７ａ  制御部
１０７ｂ  高圧電源部
１０７ｃ  分圧出力部
１０７ｄ  駆動回路
１０７ｅ  増幅回路
１０８  現像高圧部
１０９  帯電高圧部
１１１  コントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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