(57)【要約】【課題】プリント配線板の配線パターンの信号減衰量測定方法であって、信号減衰量を簡単かつ正確に測定する方法を提供することを課題とする。【解決手段】第１テストクーポンと、第１テストクーポンよりも長さが大きい第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を信号減衰量の測定値とする。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント配線板の信号減衰量評価方法であって、両端にコネクタ接続部が接続された第１テストクーポンと、上記第１テストクーポンよりも長さが大きく、かつ、両端に上記第１テストクーポンに接続されたコネクタ接続部と同じ構成のコネクタ接続部が接続された第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で、前記コネクタ接続部を介してテスト用信号を入力して測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンの長さの差の分の信号減衰量の測定値として評価することを特徴とするプリント配線板の信号減衰量評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント配線板の信号減衰量評価方法に関し、詳しくは、プリント配線板におけるテストクーポンの信号減衰量を簡単かつ正確に測定し、評価する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリント配線板における信号配線の信号減衰量を評価するには、プリント配線板内又はプリント配線板製造のためのワーク内にテストクーポンを設け、このテストクーポンを用いて信号減衰量を測定し、評価する方法が一般的である。なお、ここでいうテストクーポンとは、信号減衰量を測定するために設けられている信号配線及びこれに付随する部位の総称をいう。
【０００３】
図４は、テストクーポンの従来例を示す平面図であって、詳しくは、テストクーポン２００の平面図である。このテストクーポン２００は、両端にスルーホール２０１及び２０２が接続されている一本の信号配線２０３からなる。また、スルーホール２０１及び２０２の周辺には、測定時に用いるコネクタ挿入用のスルーホール（図示せず）が設けられている。このテストクーポン２００の信号減衰量の測定は、スルーホール２０１及び２０２にコネクタを接続し、さらに、これをケーブルを介してネットワークアナライザに接続し、ネットワークアナライザにより減衰量を測定する。
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−１３８４３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
図４に示すようなテストクーポン２００において、スルーホール２０１及び２０２の特性インピーダンスと信号配線２０３の特性インピーダンスとが不整合である場合、特に高周波においては信号の反射が生じ、正確な減衰量が測定できない場合がある。
【０００６】
また、ここで、図５は差動配線形状のテストクーポンの平面図である。このテストクーポン２０４は、それぞれ、両端にスルーホール２０７が接続された二つの並行な信号配線２０５及び２０６からなる。このテストクーポン２０４の場合、信号配線２０５及び２０６の両端は、スルーホール２０７にコネクタを接続するために、図５に示すように、折れ曲がった形状とせざるを得ない。そのため、このテストクーポン２０４の信号減衰量を測定する際は、信号配線２０５及び２０６の両端の折れ曲がりにより、正確な測定ができない場合もある。
【０００７】
また、テストクーポン２０４の測定の場合においても、スルーホール２０７と信号配線２０５及び２０６とのそれぞれの特性インピーダンスが不整合であると、特に高周波においては信号の反射が生じ、正確な減衰量が測定できない場合がある。
【０００８】
そこで、この発明は、プリント配線板におけるテストクーポンの信号減衰量を簡単かつ正確に測定し、評価する方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題解決のための本発明は、両端にコネクタ接続部が接続された第１テストクーポンと、上記第１テストクーポンよりも長さが大きく、かつ、両端に上記第１テストクーポンに接続されたコネクタ接続部と同じ構成のコネクタ接続部が接続された第２テストクーポンとを用意し、上記第１テストクーポン及び第２テストクーポンのそれぞれの信号減衰量をそれぞれ同じ条件で、前記コネクタ接続部を介してテスト用信号を入力して測定し、上記第２テストクーポン及び上記第１テストクーポンのそれぞれの減衰量の測定値の差を、第１テストクーポン及び第２テストクーポンの長さの差の分の信号減衰量の測定値として評価するプリント配線板の減衰量評価方法である。
【発明の効果】
【００１０】
この発明によれば、それぞれ長さの異なる第１テストクーポン及び第２テストクーポンの測定値の差を取ることにより、それぞれのコネクタ接続部に起因する測定値の乱れがキャンセルされるので、第１テストクーポン及び第２テストクーポンの長さの差の分の信号減衰量を簡単かつ正確に測定でき、減衰特性の正確な評価をすることができる。また、第１テストクーポン及び第２テストクーポンがそれぞれ、差動配線構造である場合、シングル配線（単線）もキャンセルされるので、純粋な差動特性を評価する事ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図１は第１テストクーポン１００の平面図である。図２は第２テストクーポン１０１の平面図である。第１テストクーポンの長さは１４２．１１ｍｍである。第２テストクーポンの長さは２４５．６２ｍｍである。
【００１２】
これら第１テストクーポン１００及び第２テストクーポン１０１の各スルーホールにコネクタ及びケーブルを介してネットワークアナライザを接続し、それぞれの減衰量（Ｓ２１、単位：ｄＢ）を測定し、さらに、第２テストクーポン１０１の測定値から第1テストクーポン１００の測定値を引いた差を求めた。これらを図３に示す。
【００１３】
図３を参照すれば、上記の通り、第２テストクーポン１０１及び第１テストクーポン１００のそれぞれの測定値の差を取れば、これらの長さの差、１０３．５１ｍｍ分の信号配線の減衰量は、図３の（１）に示される通りとなる。このグラフより、この減衰特性の評価をすることができる。ここで、すべての信号周波数が０ＧＨを超え、８ＧＨｚ以下の帯域において、信号減衰量が−８ｄＢ以上であることを合格水準とすれば、本例においては合格水準を満たしている。
【符号の説明】
【００１４】
１００  第１テストクーポン
１０１  第２テストクーポン
２００  テストクーポン
２０１  スルーホール
２０２  スルーホール
２０３  信号配線
２０４  テストクーポン
２０５  信号配線
２０６  信号配線
２０７  スルーホール
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１テストクーポンの平面図。
【図２】第２テストクーポンの平面図。
【図３】減衰量の測定値を示すグラフ。
【図４】テストクーポンの従来例を示す平面図。
【図５】差動配線形状のテストクーポンの平面図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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