(57)【要約】【課題】全体が大型化せずに大きな玉型形状の測定ができる玉型形状測定方法及びその装置を提供すること。【解決手段】回転軸線（回転中心Ｏ５）の周りに回転可能であると共に回転軸線に対して半径方向に進退移動可能な測定子（玉型用測定子３６，レンズ枠用測定子３７）をメガネＭの玉型であるレンズ枠（ＲＦ，ＬＦ）の内周面又はメガネＭの玉型である眼鏡レンズや型板（玉型Ｌｍ即ち玉型ＭＬ，ＭＲ）の外周面に当接させると共に、この当接状態で測定子を玉型の当接面に沿って周方向に移動させて、玉型の玉型形状の幾何学中心から測定子までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を玉型形状の全周に亘って測定させるようになっている。しかも、玉型の測定領域において測定子で玉型形状を測定可能な位置まで回転軸線を移動させて、各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようになっている。【選択図】図３４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転軸線の周りに回転可能であると共に前記回転軸線に対して半径方向に進退移動可能な測定子をメガネの玉型であるレンズ枠の内周面又は前記メガネの玉型である眼鏡レンズや型板の外周面に当接させると共に、この当接状態で前記測定子を前記玉型の当接面に沿って周方向に移動させて、前記玉型の玉型形状の幾何学中心から前記測定子までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を前記玉型形状の全周に亘って測定させる玉型形状測定方法であって、
前記玉型の測定領域において前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようにしたことを特徴とする玉型形状測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載の玉型形状測定方法において、前記玉型形状の前記測定子による測定領域を複数に分けると共に、前記各測定領域毎に前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようにしたことを特徴とする玉型形状測定方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の玉型形状測定方法において、眼鏡レンズ枠又は型板の周縁において、測定子が外れた箇所又は移動停止した箇所を境界とし、測定領域を分け、前記測定子を移動し、前記境界を測定開始点として玉型を測定することを特徴とすることを特徴とする玉型形状測定方法。
【請求項４】
請求項２の玉型形状測定方法において、前記測定子の前記回転軸線を測定初期位置に配設して前記玉型形状を測定したとき、前記玉型形状を前記動径ρｉが前記測定子の前記半径方向への最大移動量Ｓmaxを超えない第１領域と前記測定子の動径ρｉが前記最大移動量Ｓmaxを超える第２領域に分けると共に、前記第１領域では前記回転軸線を第１の位置である前記測定初期位置に配設した状態で前記動径ρｉを測定し、前記第２領域では前記測定子が前記最大移動量Ｓmaxを超えない状態となる第２の位置に前記回転軸線を前記測定初期位置に移動させて、前記玉型の動径ρｉを測定するようにしたことを特徴とする玉型形状測定方法。
【請求項５】
請求項４の玉型形状測定方法において、前記第１領域では前記玉型形状の測定開始位置からの角度θｉ及び該角度θｉに対応する前記動径ρｉを測定させ、前記第２領域では前記玉型の動径ρｉのみを測定するようにしたことを特徴とする玉型形状測定方法。
【請求項６】
回転軸線の周りに回転可能であると共に前記回転軸線に対して半径方向に進退移動可能な測定子をメガネの玉型であるレンズ枠の内周面又は前記メガネの玉型である眼鏡レンズや型板の外周面に当接させると共に、この当接状態で前記測定子を前記玉型の当接面に沿って周方向に移動させて、前記玉型の玉型形状の幾何学中心から前記測定子までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を前記玉型形状の全周に亘って測定させる玉型形状測定装置であって、
前記玉型の測定領域において前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようにしたことを特徴とする玉型形状測定装置。
【請求項７】
請求項６に記載の玉型形状測定装置であって、前記玉型形状の前記測定子による測定領域を複数に分けると共に、前記各測定領域毎に前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようにしたことを特徴とする玉型形状測定装置。
【請求項８】
請求項６に記載の玉型形状測定装置において、眼鏡レンズ枠又は型板の周縁において、測定子が外れた箇所又は移動停止した箇所を境界とし、測定領域を分け、前記測定子を移動し、前記境界を測定開始点として玉型を測定することを特徴とすることを特徴とする玉型形状測定装置。
【請求項９】
請求項８の玉型形状測定装置において、前記測定子の前記回転軸線を測定初期位置に配設して前記玉型形状を測定したとき、前記玉型形状を前記動径ρｉが前記測定子の前記半径方向への最大移動量Ｓmaxを超えない第１領域と前記測定子の動径ρｉが前記最大移動量Ｓmaxを超える第２領域に分けると共に、前記第１領域では前記回転軸線を第１の位置である前記測定初期位置に配設した状態で前記動径ρｉを測定し、前記第２領域では前記測定子が前記最大移動量Ｓmaxを超えない状態となる第２の位置に前記回転軸線を前記測定初期位置に移動させて、前記玉型の動径ρｉを測定するようにしたことを特徴とする玉型形状測定装置。
【請求項１０】
請求項８又は９の玉型形状測定装置において、前記第１領域では前記玉型形状の測定開始位置からの角度θｉ及び該角度θｉに対応する前記動径ρｉを測定させ、
前記第２領域では前記玉型の動径ρｉのみを測定するようにしたことを特徴とする玉型形状測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メガネフレームのレンズ枠のレンズ枠形状や型板やダミーレンズ等の外径形状を玉型形状として測定するための玉型形状測定方法およびその装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、メガネフレーム（眼鏡フレーム）には、リムタイプのものとリムレスタイプのものがある。
【０００３】
このリムタイプのメガネフレームは、左のレンズ枠（左の環状リム）及び右のレンズ枠（右の環状リム）をブリッジで一体に連結したフレーム本体と、このフレーム本体の左右のレンズ枠の耳側にそれぞれ装着した左右のテンプルを有する。しかも、この左右のレンズ枠は、各レンズ枠の内周面に沿って環状に延び且つ断面が略Ｖ字状に形成されたヤゲン溝をそれぞれ有する。そして、このレンズ枠を有するメガネでは、眼鏡レンズの周面に環状に突設した断面三角形状のヤゲン山がレンズ枠のヤゲン溝に係合するように、眼鏡レンズをレンズ枠に枠入れするようになっている。
【０００４】
また、リムレスタイプのメガネフレームには、部分的にリムを有する半リムレスフレーム（溝掘フレーム）のタイプのものと、リムが全くないリムレスフレームのタイプのものがある。
【０００５】
この半リムレスフレームのメガネフレームは、左右の上側半分の半リムをブリッジで一体に連結したリムバー（フレーム本体）と、このリムバーの左右両端（耳側）にそれぞれ装着された左右のテンプルを有している。
【０００６】
また、リムレスフレームのタイプのメガネフレームは、左右の眼鏡レンズの鼻側を固定するブリッジ金具と、左右の眼鏡レンズの耳側にそれぞれ装着される左右のテンプルを有している。
【０００７】
そして、半リムレスフレーム（溝掘フレーム）を有するメガネでは、眼鏡レンズの外周面の下半分にバンド用溝を形成し、このバンド用溝に配設した樹脂製のバンド（吊り下げ紐）両端部を上側半分のリムバーに固定することにより、眼鏡レンズを樹脂製のバンド（吊り下げ紐）で吊り下げ保持させるようにしている。また、リムレスフレームのメガネでは、ブリッジ金具をネジで左右の眼鏡レンズの鼻側に固定すると共に、左右のテンプルを左右の眼鏡レンズの耳側の部分にネジで固定している。
【０００８】
上述したレンズ枠のレンズ枠の内周面形状（即ちレンズ枠形状であるヤゲン溝形状）や眼鏡レンズの外形形状（外周面形状）は、玉形形状すなわち眼鏡レンズを加工する際の玉型形状として知られている。尚、この眼鏡レンズには、眼鏡装用者の眼の処方箋に基づいて実際に作られたものや、眼鏡店等において展示のためにメガネフレームに装着（保持）された度数のないダミーのレンズ（以下、ダミーレンズと略称）等がある。また、眼鏡レンズの外形形状（外周面形状）は、玉形形状あるいは眼鏡レンズを加工する際の玉型形状として知られている。
【０００９】
従来、このようなレンズ枠や玉型の玉型形状を測定する玉型形状測定装置としては、メガネフレームのレンズ枠の内周面形状（ヤゲン溝形状）を測定するレンズ枠測定用の測定子、及び、型板やダミーレンズ等の玉型の外周面形状を測定する玉型測定用の測定子を備えているものがある（例えば、特許文献１参照）。
【００１０】
この玉型形状測定装置には、鉛直な回転軸線を中心に回転可能に装着された回転ベースと、この回転軸線の半径方向に進退動可能に回転ベースに装着されたスライダと、このスライダに上下動可能に保持されたレンズ枠測定用の測定子と、このスライダに起倒可能に装着された玉型測定用の測定子を設けているものある。
【００１１】
この玉型形状測定装置では、回転ベースを回転軸線の周りに水平回転させながら、測定子をヤゲン溝に沿って周方向に移動させ、又は測定子を玉型の外周面に沿って周方向に移動させることにより、回転ベースの回転軸線の周りの回転角（角度）θｉに対する測定子の水平方向（回転軸線の半径方向）への移動量を測定して、玉型形状の幾何学中心から測定子までの距離の変化を動径ρｉとして求めるようになっている。
【特許文献１】特開平７−１６４２９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
このような玉型形状測定装置においては、メガネの左右のレンズ枠をフレーム保持部に保持させてレンズ枠形状を測定する直前に、スライダの測定子を平均的な大きさのレンズ枠で且つ平均的な幾何学中心間距離ＦＰＤを有するメガネの左又は右のレンズ枠の幾何学中心位置に対応して配置させた後、この測定子をレンズ枠の下リム部の測定開始位置の部分に当接させるようになっている。尚、この測定子は、測定開始直前の配置位置から水平方向（回転軸線の半径方向）への最大移動量は予め設定されている。
【００１３】
そして、玉型形状測定装置では、測定子の下リム部への当接位置から回転ベースを鉛直軸周りに水平に回転させることにより、回転ベースの鉛直軸周りの回転角θｉに対する測定子の水平方向への移動量を動径ρｉとして求め、レンズ枠の玉型形状データ（θｉ，ρｉ）として得るようになっている。
【００１４】
しかも、メガネの左右のレンズ枠の幾何学中心間距離ＦＰＤは、左右のレンズ枠のレンズ枠形状（玉型形状）のサイズが大きくなるほど大きくなるほど大きくなるため、平均的なメガネのレンズ枠よりも大きくなるに従って、測定開始直前の測定子の配置位置と幾何学中心との位置のズレが大きくなる。
【００１５】
また、このような従来の玉型形状測定装置では、測定子の水平方向（回転軸線の半径方向）への最大移動量が決まっているため、左右のレンズ枠の幾何学中心間距離ＦＰＤが大きくなる大形メガネのレンズ枠を測定する場合、平均的なレンズ枠を有するメガネを測定するための測定開始位置からレンズ枠の形状の測定を開始すると、測定子がヤゲン溝から外れる場合もあった。型板測定の場合も同様で、測定子の水平方向（回転軸線の半径方向）への最大移動量が決まっているため、左右のレンズ枠の幾何学中心間距離ＦＰＤが大きくなる大形メガネのレンズ枠を測定する場合、測定子が停止してしまい、それ以上型板を測定できない場合もあった。
【００１６】
これを防止するには測定子の水平方向（回転軸線の半径方向）への最大移動量を大きくすれば良いが、この場合には玉型形状測定装置の測定部が大型化し、ひいては玉型形状測定装置全体が大型化するという問題がある。
【００１７】
そこで、この発明は、全体が大型化せずに大きな玉型形状の測定ができる玉型形状測定方法及びその装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
この目的を達成するために、この発明の玉型形状測定方法及びその装置は、回転軸線の周りに回転可能であると共に前記回転軸線に対して半径方向に進退移動可能な測定子をメガネの玉型であるレンズ枠の内周面又は前記メガネの玉型である眼鏡レンズや型板の外周面に当接させると共に、この当接状態で前記測定子を前記玉型の当接面に沿って周方向に移動させて、前記玉型の玉型形状の幾何学中心から前記測定子までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を前記玉型形状の全周に亘って測定させるようになっている。しかも、この発明の玉型形状測定方法及びその装置は、前記玉型の測定領域において前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようになっている。
【発明の効果】
【００１９】
この発明によれば、測定子の最大回転半径を小さくすることを可能にし、装置を小型化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【実施例】
【００２１】
[構成]
図１はこの発明に係る玉型形状測定装置の要部構成を示しており、この玉型形状測定装置は測定装置本体１を有する。この測定装置本体１は、下部の測定機構収納用のケース部１ａと、ケース部１ａの上部に配設されたレンズ枠保持機構１ｂを有する。そして、図１のケース部１ａ内の底部には図２に示したベース２が設けられている。
【００２２】
また、レンズ枠保持機構１ｂは、ケース部に固定された一対の平行なガイドロッド（ガイド部材）１ｃ，１ｃを有する。しかも、このガイド部材１ｃ，１ｃにはスライド枠３，３が相対接近・離反可能に保持されている。このスライド枠３，３は、図示しないコイルスプリング等で互いに接近する方向にバネ付勢されている。このスライド枠３，３は、互いに対向させられていてメガネ（眼鏡）のレンズ枠（図示せず）が当接させられる縦壁３ａ，３ａを有すると共に、このレンズ枠を保持させるレンズ枠保持手段３ｂを有する。このレンズ枠保持手段３ｂは、縦壁３ａから突出する下部側の固定保持棒３ｂ１と、固定保持棒３ｂ１に対して上側から開閉可能にスライド枠３に取り付けられた上側の可動保持棒３ｂ２を有する。このレンズ枠保持手段３ｂは、図示しないメガネの左右のレンズ枠に対してそれぞれ設けられる。尚、このようなレンズ枠保持機構１ｂとしては、例えば特開平１０−３２８９９２号公報等に開示された構成、又はその他周知の技術を採用できる。従って、レンズ枠保持機構１ｂの詳細な説明は省略する。
【００２３】
＜測定機構＞
図１Ａはこの発明に係る玉型形状測定装置の斜視図、図１Ｂは図１Ａの玉型形状測定装置を視点を変えて見たときの斜視図である。図１Ｃは図１Ａの玉型形状測定装置を矢印Ｃ方向から見たときの側面図、図１Ｄは図１Ａの玉型形状測定装置の上面図である。
【００２４】
スライド枠３は、図１および図１Ａ〜１Ｃに示すように、その底面４００が下に凸の角形形状に形成されている。底面４００には、その中央部に開口４００Ａが形成されている。この開口４００Ａは、レンズ枠用測定子３７および取付穴測定子３８が下側から上方へ向かって挿通されるためのものである。レンズ枠用測定子３７および取付穴測定子３８については後述する。
【００２５】
尚、底面４００を下に凸の円筒面にしてもよい。また、両スライド枠３の外側端面４０１には、帯状を成し、且つ仮想軸４０２を中心とした円弧状に曲げられたガイドレール４０３が取り付けられている。
【００２６】
一方、測定装置本体１には、その下部ケース４０４の両側上部にブラケット４０５，４０５が上方に向かって設けられている。各ブラケット４０５には、その上部に支持コロ４０６が、支持コロ４０６の下方に支持コロ４０７がそれぞれ回転自在に設けられている。そして、各ブラケット４０５の支持コロ４０６，４０７は、スライド枠３のガイドレール４０３を上下で挟持するよう配置されている。すなわち、両スライド枠３は、ガイドレール４０３がその上下を支持コロ４０６，４０７で挟持されることによって、測定装置本体１の下部ケース４０４上に支持されており、これにより、両スライド枠３は仮想軸４０２を中心にして矢印Ｄ方向にスイングすることができる。
【００２７】
また、ガイドレール４０３の下側縁には、図１Ｅに示すように、ベルト４０８が設けられている。このベルト４０８は、その両端部がガイドレール４０３の下側縁に固定され、両端部以外の部分はガイドレール４０３の下側縁には固定されていない。つまり、ベルト４０８は、その両端部以外の部分はガイドレール４０３の下側縁から離間することができるようになっている。
【００２８】
測定装置本体１の下部ケース４０４上には、駆動部としてモータ４０９（図１Ａ〜１Ｄ参照）が設けられ、このモータ４０９の出力軸には駆動コロ４１０が取り付けられている。駆動コロ４１０は、その両側のブラケット４０５，４０５にそれぞれ取り付けられた支持コロ４０７，４０７間のほぼ中間で且つ支持コロ４０７，４０７よりも下方の位置に配置されている。
【００２９】
そして、ガイドレール４０３の下側縁に設けられたベルト４０８は、一方の支持コロ４０７に巻き回され後、駆動コロ４１０に巻き回され、さらに、他方の支持コロ４０７に巻き回されている。ベルト４０８は、その上面（ガイドレール４０３の下側縁に接触する側の面）がギザギザになっており、また、駆動コロ４１０の外周面もギザギザになっている。その結果、ベルト４０８の上面と駆動コロ４１０の外周面との間の摩擦係数は大きく、駆動コロ４１０が回転すると、ベルト４０８は滑ることなく、図１Ｅにおいて、右方向または左方向へ移動する。その結果、スライド枠３を、仮想軸４０２を中心にして矢印Ｄ方向（図１Ａおよび図１Ｃ参照）スイングさせることができる。
【００３０】
尚、ガイドレール４０３、支持コロ４０６，４０７、ベルト４０８、モータ４０９および駆動コロ４１０は、保持手段スイング機構を構成している。
【００３１】
また、ベース２上には図２〜図５に示したような測定機構１ｄが設けられている。この測定機構１ｄは、ベース２上に固定されたベース支持部材４を有する。このベース支持部材４には大径の従動ギヤ５が鉛直軸（鉛直軸線）を中心に水平回転自在に取り付けられている。また、ベース２には、図５Ａに模式的に示した駆動モータ６が従動ギヤ（タイミングギヤ）５に隣接して取り付けられている。この駆動モータ６の出力軸６ａにはピニオン（タイミングギヤ）７が固定され、このピニオン７と従動ギヤ５にはタイミングベルト８が掛け渡されている。尚、図５Ａでは、従動ギヤ５の鉛直軸を回転中心Ｏ５として示している。
【００３２】
そして、駆動モータ６を作動させると、駆動モータ６の出力軸６ａの回転がピニオン７及びタイミングベルト８を介して従動ギヤ５に伝達されて、従動ギヤ５が回転させられるようになっている。尚、駆動モータ６には２相ステッピングモータが用いられている。
【００３３】
また、図２〜図５に示したように、従動ギヤ５上には回転ベース９が一体に固定されている。この従動ギヤ５の回転中心Ｏ５が回転ベース９の回転軸線となっている。
【００３４】
更に、この回転ベース９には、原点検出装置（原点検出手段）としてのフォトセンサ９ａが取り付けられている。この場合、例えば、ベース２上に、原点位置指示用の発光手段９ｂを配設しておいて、この発光手段９ｂから線状又は点状の光束を原点マークとして上方に向けて照射し、この原点マークとしての光束をフォトセンサ９ａが検出したときに、回転ベース９の水平回転の原点位置とすることができる。
【００３５】
尚、原点検出装置としては、透過型のフォトセンサや反射型のフォトセンサ或いは近接センサ等の周知の技術を採用することができる。
【００３６】
更に、回転ベース９の長手方向両端部には、図２〜図４に示したように、上下に延び且つ互いに対向する平行なレール取付板１０，１１が一体に固定され、図３に示したようにレール取付板１０の一側部とレール取付板１１の一側部には側板１２の長手方向端部がそれぞれ固定され、図４に示したようにレール取付板１０の他側部とレール取付板１１の他側部には側板１３の長手方向端部がそれぞれ固定されている。
【００３７】
また、図２〜図４に示したように、対向するレール取付板１０，１１の上部間には互いに平行で且つ軸状の一対のガイドレール１４，１４が水平に配設されている。この各ガイドレール１４の両端部はレール取付板１０，１１に固定されていて、ガイドレール１４，１４にはスライダ１５が長手方向に進退移動可能に保持されている。
【００３８】
更に、側板１２には、図２，図３に示したように、レール取付板１０に近接させて側方に水平に突出するプーリ支持板部１２ａが折曲により一体に形成されていると共に、レール取付板１１に近接させてモータ取付用のブラケット１６が固定されている。
【００３９】
そして、プーリ支持板部１２ａには従動プーリ１７が上下に延びる軸線を中心に水平回転自在に取り付けられ、ブラケット１６にはスライダ移動用の駆動モータ１８の上端部が固定されている。この駆動モータ１８にはＤＣモータが用いられている。また、この駆動モータ１８は出力軸１８ａの軸線が上下に向けられていて、この出力軸１８ａには図５Ｂ，図５Ｃに示すように駆動プーリ１９が取り付けられている。
【００４０】
このプーリ１７，１９には環状のワイヤ２０が掛け渡され、このワイヤ２０の一端部近傍の部分は軸状のワイヤ保持部材２１に保持されている。このワイヤ保持部材２１はブラケット２２，２２'を介してスライダ１５に固定されている。また、ワイヤ２０の両端部はコイルスプリング２３を介して連結されている。これにより、駆動モータ１８を正転又は逆転させると、出力軸１８ａ及び駆動プーリ１９が正転又は逆転させられて、スライダ１５が図３中左又は右に移動させられるようになっている。
【００４１】
また、ブラケット２２'と側板１２との間には、図５Ｄに示したように、スライダ１５の移動位置（移動量）の原点を検出するための原点センサ（原点検出手段）２０ａが介装されている。この原点センサ２０ａには反射型のセンサを用いている。このセンサは、上下に延びるスリット状の反射面（図示せず）が設けられた反射板２０ｂを有すると共に、発光素子と受光素子を備えた反射型のフォトセンサ２０ｃを有する。そして、反射板２０ｂはブラケット２２'に設けられ、フォトセンサ２０ｃは側板１２に設けられている。
【００４２】
尚、原点センサ２０ａとしては、透過型のフォトセンサや近接センサ等の周知の技術を採用することができる。
【００４３】
また、図４の側板１３の長手方向中央部には、図４のように側方に水平に突出する支持板部１３ａが一体に折曲により形成されている。この側板１３とスライダ１５との間には、図４に示したように、ガイドレール１４の延びる方向へのスライダ１５の水平方向の移動位置を検出するリニアスケール（位置測定手段）２４が動径検出センサ（動径検出手段）として介装されている。
【００４４】
このリニアスケール２４は、ガイドレール１４と平行にスライダ１５に保持された軸状のメインスケール２５と、支持板部１３ａに固定されてメインスケール２５の位置情報を読み取る検出ヘッド２６を備えている。この検出ヘッド２６は、メインスケール２５の位置検出用情報（移動量検出用情報）からスライダ１５の水平方向への移動位置を検出するようになっている。このリニアスケール２４には、例えば周知の磁気式のものや光学式のものを用いることができる。
【００４５】
例えば、磁気式の場合、メインスケール２５に軸線方向に磁極Ｓ，Ｎの磁気パターンを位置検出用情報（移動量検出用情報）として交互に微小間隔で設けておいて、この磁気パターンを検出ヘッド（磁気変化検出用ヘッド）２６で検出することにより、スライダ１５の移動量（移動位置）を検出できる。また、光学式の場合、メインスケール２５を板状に形成し且つこのメインスケール２５に長手方向に微小間隔のスリットを設け、メインスケール２５を挟むように発光素子と受光素子を配設すると共に、発光素子からの光をメインスケール２５のスリットを介して受光素子により検出して、スリットの数を求めることにより、スライダ１５の移動量（移動位置）を検出できる。
【００４６】
また、スライダ１５の略中央部には図２に示したように貫通孔１５ａが形成され、この貫通孔１５ａには上下に延びるガイド筒２７が挿通されている。このスライダ１５の下方には、図４に示したように、支持枠２８が配設されている。この支持枠２８は、上端部がスライダ１５に保持された縦フレーム２９，３０と、縦フレーム２９，３０の下端部に固定された横板（底板）３１を備えている。
【００４７】
この横板（底板）３１には、上下に延び且つ互いに平行に設けられた軸状の一対の支持部材３２，３２の下端部が固定されている（図８参照）。この支持部材３２，３２の上端部には保持部材（連結部材）３３が固定され、この保持部材３３には側面形状をＬ字状に形成したガイド支持部材３４の縦壁３４ａが固定されている。このガイド支持部材３４の横壁（上壁）３４ｂ上にはガイド筒２７の下端部が固定されている。
【００４８】
そして、ガイド筒２７には上下に延びる測定子軸３５が上下動自在に嵌合保持され、測定子軸３５の上端部には玉型用測定子（玉型用周縁形状測定子）３６が一体に設けられている。この玉型用測定子３６は、測定子軸３５の上端部に垂直に取り付けられた取付部３６ａと、取付部３６ａから上方に延びる垂直部３６ｂがＬ字状に形成されている。また、垂直部３６ｂの背面３６ｃは玉型用周縁形状測定のため、一定のＲにて加工されている。この垂直部３６ｂの上端部には取付部３６ａと平行にレンズ枠用測定子３７が一体に設けられている。
【００４９】
この測定子軸３５及び測定子３６，３７は、スライダ１５がガイドレール１４に案内されて水平方向に移動することにより、従動ギヤ５及び回転ベース９の回転軸線である図５Ａの回転中心（回転軸線）Ｏ５に対して半径方向に進退移動するようになっている。尚、この測定子軸３５及び測定子３６，３７の半径方向への進退移動量は、ガイドレール１４の長さやスライダ１５の大きさ等に影響される。また、測定子軸３５及び測定子３６，３７の半径方向への最大移動量は予め設定されている。
【００５０】
しかも、玉型用測定子３６の上端には、図１０に示したように、上方に突出する取付穴測定子３８が一体に設けられている。この取付穴測定子３８は、測定子軸３５の軸線と平行に玉型用測定子３６の垂直部３６ｂの上端に一体に取り付けた軸部３８ａと、軸部３８ａの上端部に設けた半球３８ｂを有する。この半球３８ｂは、いろいろな取付穴径に対応するため、一般的な取付穴径（２．２φ）よりも大きな半球形状が望ましい。また、取付穴測定子３８は前述のように玉型用測定子３６と一体である必要はない。例えば、図９に示すように玉型用測定子３６にネジ部３６ｓを設けて、このネジ部３６ｓを垂直部３６ｂの上端部に螺着することにより、玉型用測定子３６を垂直部３６ｂの上端部に着脱可能に取り付けられるようにしても良い。
【００５１】
また、図６〜図８に示したように、測定子軸３５の下端部にはブラケット３９が固定されている。しかも、図１３に示したように、ブラケット３９とガイド支持部材３４との間には、上下方向の移動位置を検出するリニアスケール（位置測定手段）４０が高さ検出センサ（高さ検出手段）として介装されている。
【００５２】
このリニアスケール４０は、上下に向けて測定子軸３５と平行に配設された軸状のメインスケール４１と、メインスケール４１の上下方向への移動量から測定子３７，３８の上下方向への移動位置を検出する検出ヘッド４２を備えている。このメインスケール４１は、上端部が保持部材３３に固定され且つ下端部がブラケット３９に固定（又は保持）されている。また、検出ヘッド４２は、保持部材３３に保持されている。このリニアスケール４０にも上述したリニアスケール２４と同様な磁気式又は光学式のものを採用する。
【００５３】
尚、図６〜図８に示したように、ブラケット３９と横板（底板）３１との間には測定子軸３５を上方にバネ付勢するコイルスプリング４３が介装されている。更に、測定子軸３５の下端部近傍には、ブラケット３９の上方に位置し且つ測定子軸３５と直交する係合軸４４が取り付けられている。また、横板（底板）３１上には図６に示したようにＵ字状に形成したブラケット４５が固定され、このブラケット４５の対向壁４５ａ，４５ａには支持軸４６の両端部が軸線周りに回動可能に保持され、この支持軸４６に押さえレバー４７が固定されている。この押さえレバー４７は係合軸４４の上部に当接させられている。しかも、この押さえレバー４７と横板３１との間にはレバー引き下げ用の引張りコイルスプリング４８が介装されている。この引張りコイルスプリング４８の引張りバネ力は、コイルスプリング４３のバネ力よりも大きく設定されている。
【００５４】
また、支持軸４６には、上昇位置規制レバー４９が固定されている。この上昇位置規制レバー４９は、押さえレバー４７による係合軸４４の上昇位置を規制して、測定子軸３５及びレンズ枠用測定子３７と玉型用測定子３６の上昇位置を設定するのに用いられる。この上昇位置規制レバー４９は押さえレバー４７と同方向に延びている。
【００５５】
そして、この上昇位置規制レバー４９の下方にはアクチュエータモータ５０が配設されている。このアクチュエータモータ５０は、横板３１上に固定されたモータ本体５０ａと、このモータ本体５０ａから上方に向けて突出し且つ軸線が測定子軸３５と平行に設けられたシャフト５１を有する。このシャフト５１の上端には、上昇位置規制レバー４９が引張りコイルスプリング４８の引張りバネ力により当接させられている
尚、このアクチュエータモータ５０にはパルスモータが用いられている。しかも、アクチュエータモータ５０は、正転させることによりシャフト５１が上方に進出し、逆転させることによりシャフト５１が下方に移動するように成っている。
【００５６】
尚、コイルスプリング４３，支持軸４６，押さえレバー４７，引張りコイルスプリング４８，上昇位置規制レバー４９，アクチュエータモータ５０等は、測定子３７，３８の昇降機構を構成している。
【００５７】
＜制御回路＞
また、図１０Ａに示したように上述したフォトセンサ（原点検出手段）９ａからの原点検出信号、フォトセンサ（原点検出手段）２０ｃからの原点検出信号、リニアスケール２４の検出ヘッド２６からの移動量検出信号（位置検出信号）、及びリニアスケール４０の検出ヘッド４２からの移動量検出信号（位置検出信号）等は、演算制御回路（制御回路）５２に入力されるようになっている。また、この演算制御回路５２は、駆動モータ６，１８及びアクチュエータモータ５０を作動制御するようになっている。
【００５８】
また、スライド枠３，３の一方の側壁には、図１に示したようにホルダー検出手段５３が設けられている。このホルダー検出手段５３には、マイクロスイッチ等が用いられている。このホルダー検出手段５３からの検出信号は、図１０Ａに示したように演算制御回路５２に入力されるようになっている。図中、５４は測定開始用のスタートスイッチである。尚、５５は演算制御回路５２に接続されたメモリである。
[作用]
以下、このような玉型形状測定装置の作用を説明する。
（Ａ）．メガネフレームについて
ここで、メガネフレーム（眼鏡フレーム）には、リムタイプのものとリムレスタイプのものがある。
【００５９】
このリムタイプのメガネフレームは、左のレンズ枠（左の環状リム）及び右のレンズ枠（右の環状リム）をブリッジで一体に連結したフレーム本体と、このフレーム本体の左右のレンズ枠の耳側にそれぞれ装着した左右のテンプルを有する。しかも、この左右のレンズ枠は、各レンズ枠の内周面に沿って環状に延び且つ断面が略Ｖ字状に形成されたヤゲン溝をそれぞれ有する。そして、このレンズ枠を有するメガネでは、眼鏡レンズの周面に環状に突設した断面三角形状のヤゲン山がレンズ枠のヤゲン溝に係合するように、眼鏡レンズをレンズ枠に枠入れするようになっている。
【００６０】
また、リムレスタイプのメガネフレームには、部分的にリムを有する半リムレスフレーム（溝掘フレーム）のタイプのものと、リムが全くないリムレスフレームのタイプのものがある。
【００６１】
この半リムレスフレームのメガネフレームは、左右の上側半分の半リムをブリッジで一体に連結したリムバー（フレーム本体）と、このリムバーの左右両端（耳側）にそれぞれ装着された左右のテンプルを有している。
【００６２】
また、リムレスフレームのタイプのメガネフレームは、左右の眼鏡レンズの鼻側を固定するブリッジ金具と、左右の眼鏡レンズの耳側にそれぞれ装着される左右のテンプルを有している。
【００６３】
そして、半リムレスフレーム（溝掘フレーム）を有するメガネでは、眼鏡レンズの外周面の下半分にバンド用溝を形成し、このバンド用溝に配設した樹脂製のバンド（吊り下げ紐）両端部を上側半分のリムバーに固定することにより、眼鏡レンズを樹脂製のバンド（吊り下げ紐）で吊り下げ保持させるようにしている。また、リムレスフレームのメガネでは、ブリッジ金具をネジで左右の眼鏡レンズの鼻側に固定すると共に、左右のテンプルを左右の眼鏡レンズの耳側の部分にネジで固定している。
【００６４】
上述したレンズ枠のレンズ枠の内周面形状（即ちレンズ枠形状であるヤゲン溝形状）や眼鏡レンズの外形形状（外周面形状）は、玉形形状すなわち眼鏡レンズを加工する際の玉型形状として知られている。尚、この眼鏡レンズには、眼鏡装用者の眼の処方箋に基づいて実際に作られたものや、眼鏡店等において展示のためにメガネフレームに装着（保持）された度数のないダミーのレンズ（以下、ダミーレンズと略称）等がある。また、眼鏡レンズの外形形状（外周面形状）は、玉形形状あるいは眼鏡レンズを加工する際の玉型形状として知られている。
（Ｂ）．平均的な大きさ又は通常の玉型形状の測定
(Ｉ)レンズ枠形状の測定
上述した玉型形状測定装置でメガネのレンズ枠（玉型）の形状測定、又はデモレンズ等の玉型の形状測定を行う前には、アクチュエータモータ５０のシャフト５１の上端が図６〜図８に示したように最下端（下死点）に位置している。この位置では押さえレバー４７が、コイルスプリング４３よりもバネ力の強い引張りコイルスプリング４８によって、支持軸４６を中心に下方に回動するよう回動付勢されている。これにより押さえレバー４７は、係合軸４４を介して測定子軸３５を下方に押し下げている。これにより、レンズ枠用測定子３７及び玉型用測定子３６は最下端に位置させられている。
【００６５】
この状態の玉型形状測定装置でメガネのレンズ枠の形状測定を行う場合には、例えば特開平１０−３２８９９２号公報におけるように、図７の左右のレンズ枠ＬＦ（ＲＦ）を有するメガネフレームＭＦを図１のスライド枠３，３間に配設し（図１ではメガネフレームＭＦの図示を省略）、玉型であるレンズ枠ＬＦ（ＲＦ）を図７の如く保持棒３ｂ１，３ｂ２間で挟持させる。この保持は特開平１０−３２８９９２号公報と同様である。
【００６６】
また、この保持棒３ｂ１，３ｂ２間に保持されたレンズ枠ＬＦ（ＲＦ）は、図７に示したように測定開始前の状態ではレンズ枠用測定子３７よりも上方に位置するように設定されている。即ち、レンズ枠用測定子３７は、レンズ枠ＬＦ（ＲＦ）よりも下方の初期位置（イ）に位置させられている。しかも、図７に示したように、レンズ枠用測定子３７及び取付穴測定子３８は、保持棒３ｂ１，３ｂ２間に保持されたレンズ枠ＬＦ（ＲＦ）の略中央の初期位置(i)に対応するように位置させられる。
【００６７】
この位置では、フォトセンサ９ａが発光手段９ｂからの光束から回転ベース９の水平回転の原点を検出し、原点センサ２０ａがスライダ１５の移動位置の原点を検出している状態となっている。
【００６８】
尚、レンズ枠が三次元方向に湾曲していても、レンズ枠の保持棒３ｂ１，３ｂ２による保持部分は他の部分よりも最も低く設定した高さとなる。この保持部分では、レンズ枠ＬＦ（ＲＦ）のヤゲン溝Ｙｍの高さも設定した高さとなり、レンズ枠の形状測定開始位置Ｂとなる。
【００６９】
この状態から図１０Ａのスタートスイッチ５４をＯＮさせると、演算制御回路５２はアクチュエータモータ５０を正転させて、図６〜図８の位置からシャフト５１を図１１〜図１４の位置まで上方に所定量だけ進出（上昇）させる。この際、シャフト５１は、上昇位置規制レバー４９の自由端部を引張りコイルスプリング４８のバネ力に抗して上方に所定量持ち上げて、上昇位置規制レバー４９を支持軸４６と一体に回動させる。
【００７０】
これに伴い、押さえレバー４７は、支持軸４６と一体に回動して、自由端部が上方に所定量上昇させられる。この押さえレバー４７の自由端部の上昇により、係合軸４４がコイルスプリング４３のバネ力により押さえレバー４７の自由端部に追従して上昇させられ、測定子軸３５が所定量上昇させられる。
【００７１】
この測定子軸３５の上昇量、即ちアクチュエータモータ５０によるシャフト５１の上方への進出（上昇）量は、レンズ枠用測定子３７の先端が図７の初期位置（イ）から上述した形状測定開始位置Ｂのヤゲン溝Ｙｍに臨む高さ（ロ）まで上昇する量Ｌとなる。
【００７２】
そして、演算制御回路５２は、駆動モータ１８を駆動制御して駆動プーリ１９を回転させ、図２，図５Ｂのワイヤー２０によりスライダ１５をガイドレール１４に沿って移動させる。この際、スライダ１５は図７の矢印Ａ１方向に移動させられる。この移動は、レンズ枠用測定子３７の先端が形状測定開始位置Ｂで図１２の如くヤゲン溝Ｙｍに当接させられるまで行われる。しかも、レンズ枠用測定子３７の先端がヤゲン溝Ｙｍに当接した状態では、レンズ枠用測定子３７はヤゲン溝Ｙｍにコイルスプリング２３のバネ力で弾接させられる。この状態で、駆動モータ１８が停止させられる。
【００７３】
尚、レンズ枠用測定子３７の先端がヤゲン溝Ｙｍに当接したときには駆動モータ１８にかかる負荷が増大して、駆動モータ１８に流れる電流が増大するので、この電流変化を検出することで、レンズ枠用測定子３７の先端がヤゲン溝Ｙｍに当接したのを検出して、駆動モータ１８を停止させることができる。
【００７４】
この後、演算制御回路５２は、更にアクチュエータモータ５０を正転させて、図１１〜図１４の位置からシャフト５１を図１５〜図１７の位置まで上方に所定量だけ進出（上昇）させる。この際、シャフト５１は、上昇位置規制レバー４９の自由端部を引張りコイルスプリング４８のバネ力に抗して上方に所定量持ち上げて、上昇位置規制レバー４９を支持軸４６と一体に回動させる。
【００７５】
これに伴い、押さえレバー４７は、支持軸４６と一体に回動して、自由端部が上方に所定量上昇させられ、この押さえレバー４７の自由端部が係合軸４４から所定量離反させられ、測定子軸３５が上下変移可能となる。
【００７６】
次に、演算制御回路５２は、駆動モータ６を駆動制御して、駆動モータ６を正転させる。この駆動モータ６の回転は、ピニオン７，タイミングベルト８を介して従動ギヤ５に伝達され、従動ギヤ５が回転ベース９と一体に水平回転させられる（図５Ａ参照）。
【００７７】
この回転ベース９の回転に伴い、スライダ１５及びこのスライダ１５に設けられた多数の部品が回転ベース９と一体に水平回転し、レンズ枠用測定子３７の先端がヤゲン溝Ｙｍに沿って摺接移動する。この際、スライダ１５がレンズ枠用測定子３７と一体にガイドレール１４に沿って移動するので、スライダ１５の原点位置からこのスライダ１５が移動したときの移動量は、レンズ枠用測定子３７の先端の移動量と同じになる。この移動量は、リニアスケール２４の検出ヘッド２６の検出信号から演算制御回路５２により求められる。
【００７８】
しかも、測定子軸３５の中心からレンズ枠用測定子３７の先端までの寸法（長さ）は既知であるので、スライダ１５が原点にあるときの回転ベース９の回転中心からレンズ枠用測定子３７の先端までの距離を予め設定しておけば、スライダ１５がガイドレール１４に沿って移動したときにおいて、回転ベース９の回転中心からレンズ枠用測定子３７の先端までの距離が変化しても、この距離の変化は動径ρｉとすることができる。
【００７９】
従って、駆動モータ６の回転による回転ベース９の回転角（角度）θｉを駆動モータ６の駆動パルス数から求め、この回転角θｉに対応する動径ρｉを求めることで、レンズ枠ＬＦ（ＲＦ）のヤゲン溝Ｙｍの周方向の形状（レンズ枠形状）を極座標形式のレンズ枠形状情報（θｉ，ρｉ）として求めることができる。
【００８０】
また、レンズ枠用測定子３７の先端がヤゲン溝Ｙｍに沿って摺接移動する際、レンズ枠ＬＦ（ＲＦ）に上下方向の湾曲がある場合、この上下方向への湾曲状態はリニアスケール４０の検出ヘッド４２の検出信号から演算制御回路５２により上下方向の変位量として求められる。この上下方向への変位量は、上下方向の位置Ｚｉとなる。
【００８１】
従って、レンズ枠ＬＦ（ＲＦ）のレンズ枠形状は、演算制御回路５２により三次元のレンズ枠形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｉ）として求められる。この求められた三次元のレンズ枠形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｉ）は、演算制御回路５２によりメモリ５５に記憶される。
【００８２】
本実施例においては、レンズ枠形状測定の際、モータ４０９を正転および逆転させて、図１Ｅに示したように、駆動コロ４１０に巻き回されたベルト４０８を右方向および左方向へ移動させることにより、スライド枠３全体を、仮想軸４０２を中心にして矢印Ｄ方向にスイングさせることができる。
【００８３】
その結果、例えばプラス８カーブ以上のハイカーブフレーム（プラス１２カーブまで可能）を自動で傾斜させ、フィーラをフレーム枠のヤゲン溝から外れることなく、また、ヤゲン溝の底を測定可能とすることで、フレームＰＤも正確に測定することができる。
【００８４】
また、スライド枠３全体を、フレーム枠のカーブの曲率中心に近い仮想軸を中心にスイングさせることで、プラス８カーブのようなフレーム枠を水平に保持することができ、接触子をヤゲン溝に正確に係合させ、正確なフレーム枠（レンズ枠）形状を測定することができる。
【００８５】
（II）デモレンズ等の玉型の測定
(II-ａ)デモレンズ等の玉型のセット
また、玉型形状測定装置で図２３（ａ），（ｂ）に示したような２ポイントフレームのメガネＭの左右の玉型（眼鏡レンズのダミーレンズであるデモレンズ）Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の形状測定を行う場合には、例えば特開平１０−３２８９９２号公報や特開平８−２９４８５５号公報等に開示された周知の玉型ホルダーを用いることができる。この特開平１０−３２８９９２号公報の玉型ホルダーにデモレンズ等の玉型を保持させるためには、特開平８−２９４８５５号公報に開示されたような吸着盤及び吸着盤保持構造を採用できる。この玉型ホルダーの構造はこの発明の本質ではないので、その詳細な説明は省略する。
【００８６】
上述した玉型ホルダーにデモレンズ等の玉型を保持させて、玉型ホルダーをスライド枠３，３間に配設し、特開平１０−３２８９９２号公報の玉型ホルダーの側壁又は特開平８−２９４８５５号公報の側部のフランジを固定保持棒３ｂ１と可動保持棒３ｂ２との間で挟持させる。この際、玉型ホルダーに保持された玉型は、下方に向けられることになる。
【００８７】
尚、図２３（ａ）に示したような２ポイントフレームのメガネ２００においては、左右の玉型ＭＬ，ＭＲ間（鼻側の間）にブリッジ金具２０１が配設され、左右の玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の互いに反対側（耳側）にテンプル用金具２０２，２０３が配設されている。
【００８８】
このブリッジ金具２０１は、図２３（ｂ）に示したように、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の周面（コバ面）の鼻側（互いに対向する側）に当接する側板部２０１ａ，２０１ｂと、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の後側屈折面に当接する固定板部２０１ｃ，２０１ｄを有する。
【００８９】
また、テンプル用金具２０２は、図２３（ｂ）に示したように、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の周面（コバ面）の耳側に当接する側板部２０２ａと、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の後側屈折面に当接する固定板部２０２ｂを有する。テンプル用金具２０３は、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の周面（コバ面）の耳側に当接する側板部２０３ａと、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の後側屈折面に当接する固定板部２０３ｂを有する。
【００９０】
そして、図２３（ｂ）に示したように、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の鼻側縁部（互いに対向する側の縁部）には取付穴２０４，２０５が形成され、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の耳側縁部には取付穴２０６，２０７が形成されている。
【００９１】
また、ブリッジ金具２０１の左の固定板部２０１ａは取付穴２０４に挿通したネジ２０４ｓで玉型Ｌｍ（ＭＬ）に固定され、ブリッジ金具２０１の右の固定板部２０１ｂは取付穴２０５に挿通したネジ２０５ｓで玉型Ｌｍ（ＭＲ）に固定されている。更に、テンプル用金具２０２の固定板部２０２ｂは取付穴２０６に挿通したネジ２０６ｓで玉型Ｌｍ（ＭＬ）に固定され、テンプル用金具２０３の固定板部２０３ｂは取付穴２０７に挿通したネジ２０７ｓで玉型Ｌｍ（ＭＲ）に固定されている。尚、以下、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）は、単に玉型Ｌｍとして説明する。
【００９２】
(II-ｂ)標準の玉型への玉型用測定子３６の当接動作１
この玉型ホルダー（図示せず）がホルダー検出手段５３により検出されると、この検出信号が演算制御回路５２に入力される。これにより、演算制御回路５２は、スライダ１５を原点位置からガイドレール１４に沿って前方に移動させ、玉型用測定子３６を玉型ホルダー（図示せず）に保持された玉型の周縁の外側に位置させる。
【００９３】
次に、演算制御回路５２は、上述したようにアクチュエータモータ５０を正転させて、レンズ枠用測定子３７を上述した図７の初期位置（イ）から高さ（ロ）まで上昇させる。これに伴い、玉型用測定子３６もレンズ枠用測定子３７と一体に上昇して、玉型ホルダー（図示せず）に保持された玉型の周縁に対応する高さまで上昇する。
【００９４】
この後、演算制御回路５２は、駆動モータ１８を駆動制御して、駆動モータ１８の回転をワイヤ２０でスライダ１５に伝達させ、図１８に示したように玉型用測定子３６が玉型ホルダー（図示せず）に保持された玉型Ｌｍの周面に当接するまで移動するように、スライダ１５をガイドレール１４に沿って移動制御する。そして、図１８に示したように玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの周面に当接させられる。
【００９５】
このような制御は、予め実験等で求められた標準の玉型のデータに基づいて行うことができる。
【００９６】
(II-ｃ)玉型への玉型用測定子３６の当接動作２
尚、玉型用測定子３６を玉型Ｌｍの周面に当接させる手順としては、他の方法でも良い。即ち、先ずアクチュエータモータ５０を正転させて、上昇位置規制レバー４９の自由端部を図７の位置から引張りコイルスプリング４８のバネ力に抗して上方に図１５〜図１７の位置まで持ち上げ、支持軸４６を回動させる。この際、支持軸４６は押さえレバー４７を回動させて、押さえレバー４７の自由端部を上昇位置規制レバー４９の自由端部と同方向に上昇させる。これに伴い、係合軸４４がコイルスプリング４３のバネ力により測定子軸３５と一体に上昇させられて、玉型用測定子３６が上昇させられ、玉型Ｌｍの後側屈折面に当接させられる。この後、駆動モータ１８を駆動制御させて、スライダ１５をガイドレール１４に沿って所定速度で移動させ、玉型用測定子３６を玉型Ｌｍの後側屈折面に沿って周縁部側に移動させて、玉型用測定子３６を玉型Ｌｍの後側屈折面の周縁から大きく外れる位置まで移動させる。この際、玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの後側屈折面の周縁から外れてコイルスプリング４３のバネ力によりレンズ枠用測定子３７と一体に上昇しても、コイルスプリング４３のバネ力は弱いので、玉型用測定子３６の移動速度をある程度早くしておくことで、レンズ枠用測定子３７が玉型Ｌｍに衝突するのを回避できる。
【００９７】
そして、玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの後側屈折面から外れる離脱位置は、玉型用測定子３６が上昇したときの位置をリニアスケール４０が検出することで判断できる。この離脱位置の玉型用測定子３６の水平方向の位置はリニアスケール２４の検出信号から得られる。従って、離脱位置におけるリニアスケール２４，４０からの検出信号により、玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの後側屈折面から外れる位置は三次元座標データとして求めることができる。また、この三次元座標データに基づいて、アクチュエータモータ５０を駆動制御して上昇位置規制レバー４９の自由端部の高さを調整することで、押さえレバー４７の自由端部の高さを調整して、玉型用測定子３６を玉型ホルダー（図示せず）に保持された玉型Ｌｍの周縁に対応する高さに調整できる。この後、演算制御回路５２は、駆動モータ１８を駆動制御して、駆動モータ１８の回転をワイヤ２０でスライダ１５に伝達させ、図１８に示したように玉型用測定子３６が玉型ホルダー（図示せず）に保持された玉型Ｌｍの周面に当接するまで移動するように、スライダ１５をガイドレール１４に沿って移動制御する。そして、図１８に示したように玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの周面に当接させられる。
【００９８】
(II-ｄ)玉型用測定子３６による周縁形状測定
次に、演算制御回路５２は、駆動モータ６を駆動制御して、駆動モータ６を正転させる。この駆動モータ６の回転は、ピニオン７，タイミングベルト８を介して従動ギヤ５に伝達され、従動ギヤ５が回転ベース９と一体に水平回転させられる。
【００９９】
この回転ベース９の回転に伴い、スライダ１５及びこのスライダ１５に設けられた多数の部品が回転ベース９と一体に水平回転し、玉型用測定子３６が玉型Ｌｍの周面（コバ端）に沿って摺接移動する。この際、スライダ１５がレンズ枠用測定子３７と一体にガイドレール１４に沿って移動するので、スライダ１５の原点位置からこのスライダ１５が移動したときの移動量は、レンズ枠用測定子３７の先端の移動量と同じになる。この移動量は、リニアスケール２４の検出ヘッド２６の検出信号から演算制御回路５２により求められる。
【０１００】
しかも、測定子軸３５の中心からレンズ枠用測定子３７の先端までの寸法（長さ）は既知であるので、スライダ１５が原点にあるときの回転ベース９の回転中心からレンズ枠用測定子３７の先端までの距離を予め設定しておけば、スライダ１５がガイドレール１４に沿って移動したときにおいて、回転ベース９の回転中心から玉型用測定子３６までの距離が変化しても、この距離の変化は動径ρｉとすることができる。
【０１０１】
従って、駆動モータ６の回転による回転ベース９の回転角θｉを駆動モータ６の駆動パルス数から求め、この回転角θｉに対応する動径ρｉを求めることで、玉型Ｌｍの周面形状（玉型形状）を極座標形式の玉型形状情報（θｉ，ρｉ）として求めることができる。
【０１０２】
[玉型の周縁の凹みの検出]図３０（ａ）に示したように、ツウポイントフレームには玉型３００の周縁に凹み３０１（図３０（ｂ）参照）を設け、この凹み３０１を利用してテンプル３０２を取り付ける金具３０３を取り付けるものも存在する。２０６，２０４は金具取付用の取付穴である。
【０１０３】
このような玉型を測定すると、玉型データの一部に凹みが生じる。一般的に凹みがある部分は、玉型の上半分になるため、これらの条件に合わせて測定誤差による凸凹と、取付用の凹みを区別し、凹み位置を検出する。次に、凹みの玉型中心方向の長さＹは取付穴測定子３８を横方向に移動させて測定する。または、外部入力手段により長さのを入力することも可能にする。
【０１０４】
（III）玉型Ｌｍの後側屈折面の曲率の測定
上述した（ｂ）の玉型Ｌｍの周縁形状測定（外周形状測定）において二次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ）しか得られない場合には、図１９に示した玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの曲率を測定により算出して、この算出した曲率と玉型形状情報（θｉ，ρｉ）から玉型形状情報（θｉ，ρｉ）における玉型Ｌｍのコバ端の上下方向の位置Ｚｉを求めることにより、三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｉ）を得ることができる。そして、この三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｉ）からダミーレンズである玉型Ｌｍの三次元周長を算出することができる。以下、玉型Ｌｍの後側屈折面の曲率を求める手順を説明する。
【０１０５】
ステップＳ１図２０に示したように、ステップＳ１で玉型Ｌｍの周縁形状測定（外周形状測定）において二次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ）を求め、ステップＳ２に移行する。
【０１０６】
ステップＳ２このステップＳ２で演算制御回路５２は、図１９に示した玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの曲率を測定する。このためには、先ず上述したようにアクチュエータモータ５０を（ａ）のレンズ枠の測定と同様に作動制御して、図示しないレンズホルダーに保持させた玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂに玉型用測定子３６の上端をコイルスプリング４３のバネ力で当接させる。
【０１０７】
ここで、玉型Ｌｍは吸着盤に保持され、この吸着盤を図示しないレンズホルダーに着脱可能に取り付けることにより、玉型Ｌｍはレンズホルダーに保持されている。しかも、レンズホルダーをスライド枠３，３間に保持させた状態では、レンズホルダーの吸着盤の上下に延びる軸線（図示せず）とスライダ１５が原点位置にあるときの玉型用測定子３６の上下に延びる軸線（図７の軸線Ｏ）とが一致するように設定しておく。この軸線の一致位置（一致点）を、測定のＸ方向（玉型Ｌｍの半径方向）の原点Ｐ０とする。
【０１０８】
また、図７に示したように、測定子軸３５が最も下方に降下させられて、レンズ枠用測定子３７が初期位置（イ）にあるとき、玉型用測定子３６も最も下方の初期位置に位置させられている。このときの玉型用測定子３６の上端（先端）位置を初期位置（ハ）とし、この初期位置（ハ）を図２１（ａ），図２１（ｂ）の測定のＺ方向（上下方向）原点Ｚ０とする。
【０１０９】
このような条件において演算制御回路５２は、駆動モータ１８を作動制御して、この駆動モータ１８に連動するワイヤ２０によりスライダ１５をガイドレール１４に沿って移動させて、玉型用測定子３６の上端（先端）を玉型Ｌｍの半径方向（Ｘ方向）の測定ポイントＰ２，Ｐ１に順次移動させる。この測定ポイントＰ２はＸ方向原点Ｘ０から距離Ｘ２だけ玉型Ｌｍの半径方向（Ｘ方向）に移動させた位置であり、測定ポイントＰ１はＸ方向原点Ｘ０から距離Ｘ１（Ｘ１＞Ｘ２）だけ玉型Ｌｍの半径方向（Ｘ方向）に移動させた位置である。
【０１１０】
この際、演算制御回路５２は、玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの距離Ｘ２，Ｘ１におけるＺ方向（上下方向）高さＺ２，Ｚ１をリニアスケール４０からの移動量検出信号から演算して求め、ステップＳ３に移行する。尚、Ｚ方向高さＺ２，Ｚ１は、Ｚ方向原点Ｚ０からの距離である。
【０１１１】
ステップＳ３このステップＳ３で演算制御回路５２は、玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの曲率からカーブ値を求める。ここで、玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの曲率中心Ｏ１からＺ方向原点Ｚ０までの距離をΔＺとすると、曲率中心Ｏ１から測定ポイントＰ２までの高さはＺ１＋ΔＺとなり、曲率中心Ｏ１から測定ポイントＰ１までの高さはＺ２＋ΔＺとなる。従って、測定ポイントＰ２の座標は（Ｘ２，Ｚ２＋ΔＺ）、測定ポイントＰ１の座標は（Ｘ１，Ｚ１＋ΔＺ）となる。
【０１１２】
そして、このような測定ポイントＰ２の座標（Ｘ２，Ｚ２＋ΔＺ）と、測定ポイントＰ１の座標（Ｘ１，Ｚ１＋ΔＺ）から曲率を求めるために円の方程式を用いて、演算制御回路５２により演算させる。この円の方程式は、玉型Ｌｍの曲率半径をＲとすると、Ｘ2＋Ｚ2＝Ｒ2となる。この方程式から測定ポイントＰ１を通る式は、
（Ｘ１）2＋（Ｚ１＋ΔＺ）2＝Ｒ2・・・（１）
となる。また、測定ポイントＰ２を通る式は、
（Ｘ２）2＋（Ｚ２＋ΔＺ）2＝Ｒ2・・・（２）となる。
【０１１３】
この式（１）−（２）を行うと、（Ｘ１）2−（Ｘ２）2＋（Ｚ１＋ΔＺ）2−（Ｚ２＋ΔＺ）2＝０となる。これを展開すると、（Ｘ１）2−（Ｘ２）2＋（Ｚ１）2＋２（Ｚ１）・ΔＺ＋ΔＺ2−（Ｚ２）2−２（Ｚ２）・ΔＺ−ΔＺ2＝０となる。そして、この式は、（Ｘ１）2−（Ｘ２）2＋（Ｚ１）2＋２（Ｚ１）・ΔＺ−（Ｚ２）2−２（Ｚ２）・ΔＺ＝０となる。この式をΔＺについてまとめると、[２（Ｚ１）−２（Ｚ２）]ΔＺ＝（Ｘ２）2−（Ｘ１）2＋（Ｚ２）2−（Ｚ１）2となり、この式から下記式を用いてΔＺを求めることができる。
【０１１４】
【数１】
2010085237.tif 000003
【０１１５】
ところで、眼鏡レンズのカーブ値は、図２２に示したような１カーブから８カーブまでの範囲で設定されている。この１カーブから８カーブの曲率半径Ｒ１〜Ｒ８は、表１に示すようになっている。
【０１１６】
【表１】
2010085237.tif 000004
【０１１７】
そして、上述したＸ１，Ｘ２を、Ｘ１＝１０ｍｍ、Ｘ２＝５ｍｍとすると、表１に示したように１カーブから８カーブに対応して測定ポイントＰ１，Ｐ２のＺ方向差ΔＬ（ΔＬ１〜ΔＬ８）が得られる。換言すれば、測定ポイントＰ１，Ｐ２のＺ方向差（図２１のΔＬ）が例えばΔＬ１の０．２８７程度の場合、デモレンズである玉型Ｌｍの曲率半径は１カーブ（カーブ値１）に対応するＲ１の５２３ｍｍであると判断できる。
【０１１８】
尚、測定ポイントＰ１，Ｐ２のＺ方向差（図２１のΔＬ）とカーブ値Ｃｖは線形近似で表すことができ、その方程式は、カーブ値＝３.３６９５×Ｚ方向差ΔＬ＋０.０８０９となる。そして、このカーブ値とＣｖとＺ方向差ΔＬ（ΔＬ１〜ΔＬ８）との関係は、図２２（ｂ）に示したように直線的に比例する。
【０１１９】
このように演算制御回路５２は、玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂのカーブ値を求めて、ステップＳ４に移行する。
【０１２０】
ステップＳ４このステップＳ４で演算制御回路５２は、Ｚ方向差ΔＬ（ΔＬ１〜ΔＬ８）に基づいて求めたカーブ値Ｃｖと玉型形状情報（θｉ，ρｉ）とから、玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの周縁のＺ方向の位置情報Ｚｂｉを求め、ステップＳ５に移行する。
【０１２１】
ステップＳ５このステップＳ５で演算制御回路５２は、二次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ）とステップＳ４で求めた玉型Ｌｍの後側屈折面ｆｂの周縁のＺ方向の位置情報Ｚｂｉとから、三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）を求めて終了する。この求められた三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｉ）は、演算制御回路５２によりメモリ５５に記憶される。
【０１２２】
（IV）玉型Ｌｍの取付穴の位置測定
次に、図２３（ｂ）に示したように、玉型Ｌｍ（ＭＬ）は取付穴２０４，２０６を有し、玉型Ｌｍ（ＭＲ）は取付穴２０５，２０７を有する。
【０１２３】
例えば、上述した（II)，(III）で測定により得た三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）の玉型Ｌｍが図２３（ｂ）の玉型Ｌｍ（ＭＬ）である場合、演算制御回路５２は三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて図２４（ａ）に示したように取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓａ，Ｓｂを設定する。
【０１２４】
この取付穴検出範囲Ｓａ，Ｓｂは、三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて、玉型Ｌｍの外周面から所定範囲内側に設定する。この所定範囲内側とは、例えば玉型Ｌｍの外周面から所定量内側（例えば、１ｍｍ内側）に設定する。これは、取付穴測定子３８を取付穴検出範囲Ｓａ，Ｓｂで移動させて取付穴２０４，２０６を検出する際に、取付穴測定子３８が玉型Ｌｍから外れると、元に戻すのに時間がかかるので、取付穴測定子３８が玉型Ｌｍから外れないようにするためである。尚、この１ｍｍの数字は一例を示したもので、必ずしもこれに限定されるものではない。要は、取付穴測定子３８が玉型Ｌｍから外れず且つ取付穴を検出できれば良い。
【０１２５】
この後、演算制御回路５２は、三次元の玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて、図２４（ｂ）に示したように玉型Ｌｍの後側屈折面に当接させた取付穴測定子３８を取付穴検出範囲Ｓａ，Ｓｂ内で矢印Ａ１，Ａ２で示したようにジグザグに走査（移動）させて、取付穴２０４，２０６のセンシングをさせる。この図２４（ａ）では、取付穴測定子３８を玉型Ｌｍの上から下方に向けてジグザグに移動させている。尚、この取付穴測定子３８の移動方向は、図２４（ｃ）に矢印Ａ３，Ａ４で示したように玉型Ｌｍの左右方向に向けてジグザグに移動させても良い。
【０１２６】
このような取付穴測定子３８の水平方向への移動は、駆動モータ６及び図示されない図２のベース全体を左右に移動させるパルスモータ（図示せず）を演算制御回路５２により駆動制御することで実行できる。そして、取付穴測定子３８の水平方向への移動位置は、駆動モータ６による回転ベース９の回転角θｉと前述のパルスモータの左右移動量の位置情報（θｉ，ρｉ'）として得られる。また、取付穴測定子３８の上下方向への移動位置は、位置情報（θｉ，ρｉ'）に対応してリニアスケール４０の検出信号からＺｉ'としてえられる。従って、取付穴測定子３８を上述したようにジグザグに移動させたとき、取付穴測定子３８の三次元位置情報が（θｉ，ρｉ'，Ｚｉ'）として得られる。
【０１２７】
このように取付穴測定子３８を上述したようにジグザグに移動させた場合において、取付穴測定子３８が例えば図２５（ａ）〜（ｃ）に示したように矢印Ｂ１，Ｂ２で示した方向に移動したとき、取付穴２０６を通過する前後では取付穴測定子３８が玉型Ｌｍの後側屈折面に沿って滑らかに上方に変移する。この取付穴測定子３８の上方への移動位置Ｚｉは、リニアスケール４０の検出信号から図２５（ｄ）に示したような上下位置変化曲線として得られる。この際、上下位置変化曲線において、取付穴測定子３８が図２５（ａ）〜（ｃ）の矢印Ｂ１で示した取付穴２０６に向かう位置ではＢ１'で示したように移動位置Ｚｉ'が滑らかに上方に変化し、取付穴測定子３８が図２５（ａ）〜（ｃ）の矢印Ｂ２で示した取付穴２０６に向かう位置ではＢ２'で示したように移動位置Ｚｉ'が滑らかに上方に変化する。
【０１２８】
そして、取付穴測定子３８の一部が取付穴２０６に入り込むと、図２５（ｄ）の上下位置変化曲線のように取付穴測定子３８の上方向への変位がＰで示した位置で大きく変化する。
【０１２９】
従って、演算制御回路５２は、位置Ｐの中心位置を取付穴２０６の三次元位置情報（θｉ，ρｉ'，Ｚｉ'）としてメモリ５５に記憶させ、取付穴位置の加工データ（穴開けデータ）とする。
【０１３０】
尚、取付穴２０４，２０５，２０７についても同様にして測定する。
（Ｃ）．平均的なレンズ枠より大きいレンズ枠の玉型形状（レンズ枠形状）や眼鏡レンズ，ダミーレンズ，型板等の玉型の玉型形状の測定
この測定は、図７に示したメガネフレームＭＦのレンズ枠ＬＦ（ＲＦ）や、図１８，図１９に示した眼鏡レンズ又はダミーレンズ等の玉型Ｌｍ（図２３の玉型ＭＬ，ＭＲ）を、図３２に示したように玉型（玉形）ＳＬ，ＳＲとして説明する。
【０１３１】
また、この玉形（玉型）ＳＬ，ＳＲの測定に用いる測定子３６，３７は上述したように図２〜図５の従動ギヤ５により回転させられるようになっている。
【０１３２】
即ち、図２〜図５の従動ギヤ５は図５Ａの回転中心Ｏ５を有する。この従動ギヤ５には回転ベース９が一体に設けられていて、従動ギヤ５の回転中心Ｏ５は、回転ベース９の回転軸線となっている。この回転中心（回転軸線）Ｏ５は、鉛直方向に延びている。
【０１３３】
しかも、上述したように、測定子軸３５及び測定子３６，３７は、スライダ１５がガイドレール１４に案内されて水平方向に移動することにより、従動ギヤ５及び回転ベース９の回転軸線である図５Ａの回転中心（回転軸線）Ｏ５に対して半径方向に進退移動するようになっている。尚、この測定子軸３５及び測定子３６，３７の半径方向への進退移動量は、ガイドレール１４の長さやスライダ１５の大きさ等に影響される。また、測定子軸３５及び測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxは予め設定されている。
（i）予め測定子の移動半径オーバーとなりやすいポイントへＸ単独駆動して動
径長を確認しに行き拡張測定の必要性を判定。
【０１３４】
この判定に際して、演算制御回路（演算手段）５２は、上述した（Ｂ）の平均的な大きさ又は通常の玉型形状の測定と同様に駆動モータ６，１８やアクチュエータモータ５０等の各駆動部を駆動制御して、測定子３６，３７を移動制御を実行する。
【０１３５】
即ち、この移動制御において、演算制御回路５２は、
・玉型形状の通常測定開始前に、図３２のように測定子３６，３７をＸ方向であるＸＲ方向（ＸＬ方向）に移動させて、測定子３６，３７が測定ストロークオーバーし易いポイントＰａＲ（ＰａＬ）へ距離ＸａＲ（ＸａＬ）だけ単独駆動して、玉型（玉形）ＳＲ（ＳＬ）の測定中心ＳｃＲ（ＳｃＬ）からポイントＰａＲ（ＰａＬ）までの動径長ｒρＲ（ｒρＬ）を確認しに行く。ここで、測定中心ＳｃＲ（ＳｃＬ）は、回転ベース９の回転中心（回転軸線）Ｏ５である。
・この確認のための測定子３６，３７のＸ単独駆動により、回転ベース９の回転中心（回転軸線）Ｏ５を通る仮想線ＸからポイントＰａＲ（ＰａＬ）までの距離を測定値ρｙＲ（ρｙＬ）として読み取り、測定値ρｙＲ（ρｙＬ）に基づいて測定中心ＳｃＲ（ＳｃＬ）から測定子３６，３７（パターンセンサー）までの距離を動径長ｒρＲ（ｒρＬ）に変換する。この距離は、測定子３６，３７（パターンセンサー）の中心までであっても良い。
・測定子３６，３７をＸＲ方向（ＸＬ方向）に移動させたとき、測定子３６，３７を動径長ｒρＲ（ｒρＬ）が最大（最大移動量Ｓmax）となる変極点まで最大移動すると、途中で動径長ｒρＲ（ｒρＬ）が測定ストローク（最大移動量Ｓmax）をオーバー（エラーに相当）するので、この場合には拡大測定実行判定とする。
・測定子３６，３７をＸＲ（ＸＬ）方向に移動させたときに上述の変極点が見つからない場合、測定子３６，３７を通常測定可能な距離ＸａＲ（ＸａＬ）だけ最大移動させる。
・測定子３６，３７のＸＲ（ＸＬ）方向への移動左右の玉型ＳＲとＳＬで図３２のように互いに反対方向となるように設定する。この際、回転中心（回転軸線）Ｏ５を中心とする測定子３６，３７の測定回転方向ＣＷ（時計回り方向）／ＣＣＷ（反時計回り方向）にはよらない。
・このようにして検索が終了したら、測定子３６，３７を測定開始点に戻す。
・動径長ｒρＲ（ｒρＬ）が測定ストロークオーバーしている場合、拡張測定シーケンスに移行する。
・動径長ｒρＲ（ｒρＬ）が測定ストロークオーバーしていない場合、通常測定を継続する。
【０１３６】
ここで、玉型ＳＲにおいて、
測定中心からの移動距離：ＸａＲ
ＳＬＩＤＣ（リニアスケール２４）の読み取り値：ρｙＲ
測定中心からパターンセンサー中心までの距離：ｒρＲ
とすると、
【０１３７】
【数２】
2010085237.tif 000005
【０１３８】
となる。また、玉型ＳＬにおいて、
測定中心からの移動距離：ＸａＬ
ＳＬＩＤＣ（リニアスケール２４）の読み取り値：ρｙＬ
測定中心からパターンセンサー中心までの距離：ｒρＬ
とすると、
【０１３９】
【数３】
2010085237.tif 000006
【０１４０】
となる。
【０１４１】
※測定時間の短縮が必要になる場合は、このような測定領域の判断及び設定の工程は省略可能である。
（ii）通常測定中に測定子の移動限界（測定限界）半径値オーバーを検出し拡張測定の必要性を判定。
【０１４２】
(i)のようなポイントの測定から測定領域を複数に分けるか否かの判断をするのではなく、玉型ＳＬ（ＳＲ）の測定から測定領域を複数に分けるか否かの判断をすることもできる。この測定及び判断（判定）は、最初に右の玉型ＳＲについて実行する。
ステップＳ１０
即ち、演算制御回路（演算手段）５２は、図３３のステップＳ１０において、上述したように駆動モータ６，駆動モータ１８，アクチュエータモータ５０等を駆動制御して、測定子３６，３７の回転軸線（回転中心Ｏ５）を測定初期位置に配設した後、駆動モータ６を駆動制御して回転ベース９を回転中心（鉛直軸線）Ｏ５を中心に水平方向に回転させて、玉型（玉形）ＳＲの玉型形状の測定子３６，３７による測定を開始し、ステップＳ１１に移行する。
ステップＳ１１
このステップＳ１１において演算制御回路５２は、回転中心（鉛直軸線）Ｏ５周りの回転ベース９の回転角（角度）θｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）に対する動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）をリニアスケール２４により測定して、玉型形状データ（θｉ，ρｉ）を取得を開始する。
【０１４３】
この測定において、レンズ枠用測定子３７をメガネの玉型ＳＲであるレンズ枠ＲＦの玉型形状を測定する場合、レンズ枠用測定子３７をメガネの玉型ＳＲであるレンズ枠ＲＦの内周面に当接させる。この当接状態でレンズ枠用測定子３７をレンズ枠ＲＦの内周面（玉型への当接面）に沿って周方向に移動させて、玉型であるレンズ枠ＲＦのレンズ枠形状（玉型形状）の幾何学中心からレンズ枠用測定子３７までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を回転角θｉに対応して玉型形状（玉型）の測定を開始させる。
【０１４４】
一方、測定において、玉型用測定子３６をメガネの玉型ＳＲである眼鏡レンズ，ダミーレンズ，型板等の玉型Ｌｍ（図２３の玉型ＭＲ）の玉型形状を測定する場合、玉型用測定子３６を玉型Ｌｍ（図２３の玉型ＭＲ）の外周面に当接させる。この当接状態で玉型用測定子３６を玉型Ｌｍ（図２３の玉型ＭＲ）の外周面（玉型への当接面）に沿って周方向に移動させて、玉型Ｌｍ（図２３の玉型ＭＲ）の玉型形状の幾何学中心から玉型用測定子３６までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を回転角θｉに対応して玉型形状（玉型）の測定を開始させる。
【０１４５】
このようにして演算制御回路５２は、玉型ＳＲの玉型形状データ（θｉ，ρｉ）を取得を開始し、ステップＳ１２に移行する。
ステップＳ１２
そして、演算制御回路５２は、ステップＳ１２において取得される玉型形状データ（θｉ，ρｉ）に基づき、玉型（玉形）ＳＲの玉型（玉型形状）の全周の測定領域を、動径ρｉが測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxを超える（オーバーストロークする）か否かを判定（判断）する。この判定において、動径ρｉが測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxを超えない（オーバーストロークしない）場合は、ステップＳ１３に移行する。この判定において、動径ρｉが測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxを超える（オーバーストロークする）場合は、ステップＳ１４に移行する。
ステップＳ１３
このステップＳ１３において演算制御回路５２は、玉型ＳＲの玉型形状データ（θｉ，ρｉ）が玉型ＳＲの全周において取得されたか否かを判定（判断）する。
【０１４６】
そして、玉型ＳＲの玉型形状データ（θｉ，ρｉ）が玉型ＳＲの全周において取得されていない場合にはステップＳ１０に戻ってループする。
【０１４７】
また、ステップＳ１３において、玉型ＳＲの玉型形状データ（θｉ，ρｉ）が玉型ＳＲの全周において取得された場合には通常測定を終了する。
（iii）．上述した(i)または(ii)による拡張測定の必要性判定の実施により、拡張測定の必要性があると判定された場合、図３４の拡張測定シーケンスを実行する。
ステップＳ１４
そして、演算制御回路５２は、この測定に基づいて、動径ρｉが測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxを超える（オーバーストロークする）測定領域があると判定した場合には、動径ρｉが測定子３６，３７の半径方向への最大移動量Ｓmaxを超えない第１領域（第１測定領域）と、測定子３６，３７の動径ρｉが最大移動量Ｓmaxを超える（移動半径オーバーとなる）第２領域（第２測定領域）に分ける。
【０１４８】
この後、第１領域では回転軸線（回転中心Ｏ５）を第１の位置である測定初期位置に配設した状態で動径ρｉを測定する。また、第２領域では、測定子３６，３７が最大移動量Ｓmaxを超えない状態となる第２の位置に回転軸線（回転中心Ｏ５）を測定初期位置に移動させて、玉型の動径ρｉを測定する。
【０１４９】
このような玉型の全周（玉型全周）の測定領域を第１領域（第１測定領域）と第２領域（第２測定領域）に分ける判断や、この第１領域と第２領域で玉型の測定をる判断及び制御は、演算制御回路（演算手段）５２によって実行される。
【０１５０】
即ち、図３４のような測定領域を設定して、玉型の測定が実行される。この図３４のようにＸ駆動のみで測定する区間Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４（拡張測定エリア）を挟み玉型ＳＲのＡサイズ方向（Ｘ方向）の測定ストローク不足をカバーする。図３４はＣＣＷ（反時計回り方向）の測定の場合を示す。
(a).Ｘ軸方向の回転中心（回転軸線）Ｏ５を通常測定中心Ｏｃ位置から拡張測定幅Ｘ#ｗｉｄｅの２分の1手前位置（Ｒ１）である（−Ｘ＿ｗｉｄｅ／２）に移動する。
(b).回転中心（回転軸線）Ｏ５を（−Ｘ＿ｗｉｄｅ／２）の位置（Ｒ）に位置させた状態で、回転ベース９を回転中心（回転軸線）Ｏ５を中心に回転させて、玉型ＳＲを測定子３６，３７により極座標測定で１８０度分測定する。
(c).区間Ｘ１，Ｘ２（拡張測定エリア）では、回転ベース９の回転中心（回転軸線）Ｏ５を中心とする軸回転を停止させて、玉型Ｓｒの上側の拡大測定幅（Ｘ＿ｗｉｄｅ）を測定子３６，３７により測定する。
【０１５１】
Ｘモーター（駆動モータ１８）によるスライダ１５の移動量は最小ピッチ０．０２ｍｍ間隔で移動させて、区間Ｘ１，Ｘ２（玉型Ｓｒの上側）の動径（半径データ）を玉型ＳＲを測定子３６，３７により測定する。
(d).Ｘ軸方向の回転中心（回転軸線）Ｏ５を通常測定中心Ｏｃ位置から拡張測定幅Ｘ#ｗｉｄｅの位置（Ｒ２）に移動して、回転中心（回転軸線）Ｏ５を（−Ｘ＿ｗｉｄｅ／２）の位置に位置させて、回転ベース９を回転中心（回転軸線）Ｏ５を中心に回転させて、玉型ＳＲを測定子３６，３７により極座標測定で１８０度分測定する。
(e).区間Ｘ３，Ｘ４（拡張測定エリア）では、回転ベース９の回転中心（回転軸線）Ｏ５を中心とする軸回転を停止させて、玉型Ｓｒの下側の拡大測定幅（Ｘ＿ｗｉｄｅ）を測定子３６，３７により測定する。
〔拡張測定で取得した動径（半径データ）の演算処理〕
このように（ａ）〜（ｅ）において取得した動径（半径データ）の演算処理を演算制御回路５２は下記の手順で実行する。                                                      
【０１５２】
ここで、
Ｘ軸拡張測定幅：ｘ＿ｗｉｄｅ〔ｍｍ〕                                  
Ｘモーターリニアリティー：ｘ＿ｍｔｒ#ｌｉｎｉａ〔比率〕              
極座標系と絶対座標系の軸度差：ｘ#ｍｔｒ#ａｘｉｓ〔度〕              
(1-1)．取得した生半径データ（ρデータ）をパターンスタイラス中心位置に変換する。
【０１５３】
ρ  ⇒  ρｓｔｒｓ
(1-2)．極座標測定部分のρデータをＸ,Ｙ座標に変換する。
【０１５４】
（ρｓｔｒｓ,  θ）  ⇒  （x,y）
(1-3)．極座標測定部分のＸＹ座標を通常測定中心位置に変換する。
ｘ座標修正量：
Δｘ = ｘ＿ｗｉｄｅ／２ * １０００ * ｘ＿ｍｔｒ＿ｌｉｎｉａ
ｙ座標修正量：
Δｙ = ｔａｎ（ｘ＿ｍｔｒ#ａｘｉｓ） * Δｘ
〔ＣＣＷ測定の場合〕
０〜１８０度      （x',ｙ'） =（ x +Δｘ,  ｙ＋Δｙ）
１８０〜３６０度  （x',ｙ'） =（ x -Δｘ,  ｙ−Δｙ）
(1-4)．拡張エリア測定部分の半径データを通常測定中心位置に変換する。
【０１５５】
（Ｘ,  ρｓｔｒｓ）  ⇒  （x',y'）
〔ＣＣＷ測定の場合〕
拡張測定エリアを区間分け、
＜区間１＞
３０００ｐ  〜  ３０００ｐ +｛（ｘ＿ｗｉｄｅ*/０．０２）*（１/２）｝  
ｘ座標：ｘ' =（ ｘ＿ｗｉｄｅ -  ０．０２*ｊ）  *  1000  *  ｘ＿ｍｔｒ＿ｌｉｎｉａ
ｙ座標：ｙ' = ρｓｔｒｓ＋  ｔａｎ(ｘ#ｍｔｒ＿ａｘｉｓ) * ｘ'
＜区間２＞
３０００ｐ +｛（ｘ＿ｗｉｄｅ/０．０２）*（１/２）｝  〜  ３０００ｐ +（ｘ＿ｗｉｄｅ/０．０２）
x座標：ｘ' = -0.02*ｊ  *  1000  *   x＿mtr＿linia
ｙ座標：ｙ' = ρstrs＋  tan(x＿mtr＿axis) * ｘ'
＜区間３＞
６０００ｐ +（ｘ#ｗｉｄｅ/０．０２）  〜  ６０００ｐ +｛（ｘ#ｗｉｄｅ/０．０２）*（３／２）｝
x座標：ｘ' =−（ x＿wide -  0.02*ｊ）  *  1000  *  x＿mtr＿linia
ｙ座標：ｙ' = −ρstrs＋  tan(x＿mtr＿axis) * ｘ'
＜区間４＞
６０００ｐ +｛（ｘ＿ｗｉｄｅ／０．０２）*（３／２）｝  〜  ６０００ｐ +（（ｘ＿ｗｉｄｅ／０．０２）*２
x座標：ｘ' = ０．０２＊ｊ  *  １０００  *  ｘ＿ｍｔｒ＿ｌｉｎｉａ
ｙ座標：ｙ' = −ρｓｔｒｓ＋  tan(ｘ＿ｍｔｒ＿ａｘｉｓ) * ｘ'
(1-5)．拡張測定で通常より多く得られた測定ポイント数を、
通常測定時のポイント数６０００へ変換する。
(1-6)．通常ポイント数６０００ポイントに変換後の演算処理は通常測定時に同じ。
（Ｃ）．その他
（変形例１）
また、上述した実施例では、ブリッジ金具２０１が図２３（ｂ）に示したように、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の後側屈折面に当接する固定板部２０１ｃ，２０１ｄを有し、テンプル用金具２０２が図２３（ｂ）に示したように玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の後側屈折面に当接する固定板部２０２ｂを有する構成としているが、必ずしもこれに限定されるものではない。
【０１５６】
例えば、図２６（ａ），図２６（ｂ）に示したように玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の前側屈折面に当接する固定板部２０１ｃ，２０１ｄを有し、テンプル用金具２０２が図２３（ｂ）に示したように玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の前側屈折面に当接する固定板部２０２ｂ，２０３ｂを有する構成としても良い。
【０１５７】
この場合には、玉型Ｌｍ（ＭＬ），Ｌｍ（ＭＲ）の前側屈折面の曲率及びコバ面の周長を、上述した玉型Ｌｍの後側屈折面と同様に測定すると共に、取付穴２０４〜２０７の位置を測定する。
【０１５８】
尚、図２６（ａ），図２６（ｂ）において、図２３（ａ），図２３（ｂ）と同一又は類似する部分には図２３（ａ），図２３（ｂ）に用いた符号を付して、その説明は省略する。
【０１５９】
（変形例２）
また、上述した実施例では、玉型Ｌｍの左右の部分に上下に延びる取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓａ，Ｓｂを設定したが、必ずしもこれに限定されるものではない。例えば、図２７に示したように、玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて、玉型Ｌｍの外周面３１０から所定量内側（例えば、１ｍｍ内側）に測定のための余裕ライン３１１を設定する共に、予め所定範囲（例えば、１０ｍｍ×１０ｍｍ）の取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓｃを設定する。
【０１６０】
そして、図２８に示したように、上述した取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓｃ内に多数の測定点（例えば、縦横の配列で２００の測定点）Ｐｉを設けて、縦横（行列）の２００の測定点Ｐｉにおける玉型Ｌｍの屈折面の三次元位置情報を取付穴測定子３８で測定する。この測定により取付穴測定子３８が取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓｃ内で大きく上方に変移する箇所をリニアセンサ４０の検出信号から得られた場所が取付穴の位置であり、この位置を取付穴の三次元位置情報（θｉ，ρｉ'，Ｚｉ'）としてメモリ５５に記憶させ、取付穴位置の加工データ（穴開けデータ）とする。
【０１６１】
尚、典型的なものとして、玉型Ｌｍの形状に対して取付穴２０４〜２０７等の設けられる位置は、玉型Ｌｍの上側の左右端部寄りか、又は玉型Ｌｍの左右端部の上下方向の中央部寄りになる。このため、玉型Ｌｍの左右上端部又は上下方向中央部等の検出位置を選択するためのスイッチを設けておいて、このスイッチにより選択された検出位置と玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて、取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓｃを設定すると良い。
【０１６２】
（変形例３）
また、図２９に示したように、玉型形状情報（θｉ，ρｉ，Ｚｂｉ）に基づいて玉型Ｌｍの形状２２０をタッチパネル式の液晶表示器２２１に表示させ、取付穴２０４〜２０６等の大まかな位置を液晶表示器２２１のタッチパネルを介して例えば十字マーク２２２で示した位置を指示させ、この指示された位置を基準に上述した取付穴検出範囲（センシング範囲）Ｓｃを設定するようにすることもできる。
【０１６３】
以上説明したように、この発明の実施の形態の玉型形状測定装置は、測定装置本体１に設けられる玉型保持手段（図示せず）と、前記玉型保持手段（図示せず）に保持された玉型Ｌｍの周縁形状を測定する玉型用測定子３６と、前記玉型Ｌｍの外周面に沿って移動させる測定子移動手段（駆動モータ６）と、前記玉型用測定子３６の前記外周面に沿う位置を検出する第１位置検出手段（リニアスケール２４）と、前記第１検出手段（リニアスケール２４）と直交する方向の位置を検出する第２位置検出手段（リニアスケール４０）と、前記第１，第２位置検出手段（リニアスケール２４，４０）からの検出信号に基づいて前記玉型Ｌｍの周面形状データを三次元情報として求める演算制御回路５２を備えている。しかも、前記測定子移動手段（駆動モータ６）を利用（制御）して、前記玉型保持手段（図示せず）に保持された玉型Ｌｍの屈折面に前記玉型用測定子３６の先端を当接させて移動させることにより、前記第２位置検出手段（リニアスケール４０）の検出信号から前記玉型Ｌｍへの金具の取付穴（１０４〜１０７）へ係合したときの変化を前記第２位置検出手段（リニアスケール４０）からの検出信号に基づいて玉型周縁形状と穴位置の関係を検出するようになっている。
【０１６４】
この構成によれば、ツーポイントフレームの金具を玉型に取り付ける取付穴の位置を簡易且つ正確に測定できる。
【０１６５】
また、この発明の実施の形態の玉型形状測定装置は、前記玉型の周縁形状より周縁に凹みを持つ金具の取付穴を有する玉型の凹み位置を検出するようになっている。
【０１６６】
この構成によれば、玉型形状の周縁に凹みを設け、この凹みを利用してツウポイントフレームの金具を取り付けることができる。
【０１６７】
更に、この発明の実施の形態の玉型形状測定装置の前記玉型の金具の取付穴を検出する測定子は、周縁形状を測定する測定子と別部材で構成されても良い。
【０１６８】
この構成によれば、玉型の金具の取付穴を検出する測定子（取付穴測定子３８）及び玉型用測定子３６の加工が容易となる。
【０１６９】
（変形例４）
図３１（ａ）および（ｂ）はフレーム保持部に複数のコロを設け、これらコロをガイドレール上で転動させることによって、フレーム保持部をスイングさせるようにしたものである。
【０１７０】
図３１（ａ）においては、フレーム保持部４２０に複数のコロ４２１が設けられ、これらコロ４２１は、上面が凹状を成したガイドレール４２２上を左右に転動できるようになっている。ガイドレール４２２の上面は逆円筒面状に形成されており、フレーム保持部４２０は、測定装置本体から離れた位置（測定装置本体の上方）にある仮想軸４２３を中心にして矢印Ｅ１，Ｅ２方向にスイングすることができる。
【０１７１】
尚、４２４は眼鏡のフレーム枠４２５の形状測定を行う測定子である。また、フレーム枠４２５はフレーム保持部４２０内にセットされ、仮想軸４２３からＲ１の距離に保持される。
【０１７２】
図３１（ｂ）においては、フレーム保持部４３０に複数のコロ４３１が設けられ、これらコロ４３１は、上面が凸状を成したガイドレール４３２上を左右に転動できるようになっている。ガイドレール４３２の上面は円筒面状に形成されており、フレーム保持部４３０は、測定装置本体から離れた位置（測定装置本体の下方）にある仮想軸４３３を中心にして矢印Ｆ１，Ｆ２方向にスイングすることができる。
【０１７３】
尚、４３４は眼鏡のフレーム枠４３５の形状測定を行う測定子である。また、フレーム枠４３５はフレーム保持部４３０内にセットされ、仮想軸４３３からＲ２の距離に保持される。
【０１７４】
以上説明したように、この発明の実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置は、回転軸線（回転中心Ｏ５）の周りに回転可能であると共に前記回転軸線（回転中心Ｏ５）に対して半径方向に進退移動可能な測定子（玉型用測定子３６，レンズ枠用測定子３７）をメガネＭの玉型であるレンズ枠（ＲＦ，ＬＦ）の内周面又は前記メガネＭの玉型（玉型Ｌｍ即ち玉型ＭＬ，ＭＲ）である眼鏡レンズや型板の外周面に当接させると共に、この当接状態で前記測定子（玉型用測定子３６，レンズ枠用測定子３７）を前記玉型の当接面に沿って周方向に移動させて、前記玉型の玉型形状の幾何学中心から前記測定子までの距離の変化である動径ρｉ（ｉ＝０，１，２，・・・ｎ）を前記玉型形状の全周に亘って測定させるようになっている。しかも、前記玉型の測定領域において前記測定子（玉型用測定子３６，レンズ枠用測定子３７）で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線（回転中心Ｏ５）を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようになっている。
【０１７５】
ここで、前記測定領域とは、例えば、鼻当て側の眼鏡レンズ枠又は型板の周縁の領域や、耳当て側の眼鏡レンズ枠又は型板の周縁の領域や、眼鏡レンズ枠の上リム及び下リムの中央付近又はそれに相当する型板の周縁の領域などのように、眼鏡レンズ枠又は型板周縁の曲率半径が変化する変極点付近を境界にした眼鏡レンズ枠又型板周縁の略円弧状の領域をいう。
【０１７６】
また、この発明の実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置は、前記玉型形状の前記測定子による測定領域を複数に分けると共に、前記各測定領域毎に前記測定子で前記玉型形状を測定可能な位置まで前記回転軸線を移動させて、前記各測定領域毎に前記玉型形状を前記測定子で測定させるようになっていいる。
【０１７７】
また、この発明の実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置は、眼鏡レンズ枠又は型板の周縁において、測定子が外れた箇所又は移動停止した箇所を境界とし、測定領域を分け、前記測定子を移動し、前記境界を測定開始点として玉型を測定するようになっている。
【０１７８】
更に、この発明の実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置は、前記測定子の前記回転軸線を測定初期位置に配設して前記玉型形状を測定したとき、前記玉型形状を前記動径ρｉが前記測定子の前記半径方向への最大移動量Ｓmaxを超えない第１領域と前記測定子の動径ρｉが前記最大移動量Ｓmaxを超える第２領域に分けるようになっている。そして、前記第１領域では前記回転軸線を第１の位置である前記測定初期位置に配設した状態で前記動径ρｉを測定し、前記第２領域では前記測定子が前記最大移動量Ｓmaxを超えない状態となる第２の位置に前記回転軸線を前記測定初期位置に移動させて、前記玉型の動径ρｉを測定するようになっている。
【０１７９】
また、この発明の実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置は、前記第１領域では前記玉型形状の測定開始位置からの角度θｉ及び該角度θｉに対応する前記動径ρｉを測定させ、前記第２領域では前記玉型の動径ρｉのみを測定するようにしている。
【０１８０】
これらの実施の形態の玉型形状測定方法及びその装置によれば、全体が大型化せずに大きな玉型形状の測定ができる。
【図面の簡単な説明】
【０１８１】
【図１】この発明にかかる玉型形状測定装置の部分概略斜視図である。
【図１Ａ】この発明に係る玉型形状測定装置の斜視図である。
【図１Ｂ】図１Ａの玉型形状測定装置を視点を変えて見たときの斜視図である。
【図１Ｃ】図１Ａの玉型形状測定装置を矢印Ｃ方向から見たときの側面図である。
【図１Ｄ】図１Ａの玉型形状測定装置の上面図である。
【図１Ｅ】フレーム保持部をスイングさせる機構を示す図である。
【図２】図１の玉型形状測定装置の測定機構の斜視図である。
【図３】図２の測定機構の正面図である。
【図４】図２の測定機構の背面図である。
【図５】図４の測定機構の右側面図である。
【図５Ａ】図２の測定機構の回転ベースの駆動手段を示す模式図である。
【図５Ｂ】図２のスライダ駆動機構を説明するための模式図である。
【図５Ｃ】図５Ｂの平面図である。
【図５Ｄ】図２のスライダの原点検出手段の概略説明図である。
【図６】図２の測定子の昇降機構を示す斜視図である。
【図７】図６の昇降機構によるレンズ枠の測定のための説明図である。
【図８】図７の左側面図である。
【図９】図１に示した玉型用測定子の部分拡大斜視図である。
【図１０】図９の側面図である。
【図１０Ａ】図１に示した玉型形状測定装置の制御回路図である。
【図１１】図６の測定子の昇降機構の作用を説明する斜視図である。
【図１２】図１１の昇降機構によるレンズ枠の測定のための説明図である。
【図１３】図１１の昇降機構のリニアスケールの説明図である。
【図１４】図１３の右側面図である。
【図１５】図６の測定子の昇降機構の作用を説明する斜視図である。
【図１６】図１５の昇降機構によるレンズ枠の測定のための説明図である。
【図１７】図１６の左側面図である。
【図１８】図２の昇降機構による玉型測定の説明図である。
【図１９】図２の昇降機構による玉型測定の説明図である。
【図２０】図１〜図５の玉型形状測定装置により玉型の屈折面の曲率を求めるためのフローチャートである。
【図２１】（ａ）は図１〜図５の玉型形状測定装置により玉型の曲率を測定により求めるための説明図、（ｂ）は（ａ）の部分拡大図である。
【図２２】（ａ）は眼鏡レンズのカーブ値の説明図、（ｂ）は（ａ）のカーブ値と玉型の屈折面の２つの測定点間の差との関係を示した特性線図である。
【図２３】（ａ）は２ポイントフレームのメガネの一例を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）のＣ１−Ｃ１線に沿う断面図である。
【図２４】（ａ）は玉型の取付穴の位置検出範囲の一例を示す説明図、（ｂ），（ｃ）は取付穴の位置検出の作用説明図である。
【図２５】（ａ）〜（ｃ）は玉型に設けられた取付穴の検出を説明する部分断面図、（ｄ）は（ａ）〜（ｃ）の取付穴の検出を説明する説明図である。
【図２６】（ａ）は２ポイントフレームのメガネの他の例を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）のＤ１−Ｄ１線に沿う断面図である。
【図２７】玉型の取付穴の位置検出範囲の他の例を示す説明図である。
【図２８】図２７の玉型の取付穴の位置検出範囲における位置検出位置の例を示す説明図である。
【図２９】玉型の取付穴の位置検出範囲の設定に用いる液晶表示器の説明図である。
【図３０】（ａ），（ｂ）は変形例を示す説明図である。
【図３１】フレーム保持部に複数のコロを設け、これらコロがガイドレール上で転動することによって、フレーム保持部がスイングするようにしたものであり、（ａ）はガイドレール上面が凹状である場合を示す図、（ｂ）はガイドレール上面が凸状である場合を示す図である。
【図３２】この発明に係る測定子のオーバーストロークの判定のための説明図である。
【図３３】この発明に係る測定子のオーバーストロークの判定のためのフローチャートである。
【図３４】図３３におけるオーバーストロークの場合の測定領域の説明図である。
【符号の説明】
【０１８２】
１・・・測定装置本体
６，１８・・・駆動モータ
２４・・・リニアスケール
３６・・・玉型用測定子
３７・・・レンズ枠用測定子
５２・・・演算制御回路
Ｍ・・・メガネ
ＭＦ・・・メガネフレーム
ＲＦ・・・レンズ枠（玉型）
ＬＦ・・・レンズ枠（玉型）
Ｌｍ（ＭＬ）・・・玉型
Ｌｍ（ＭＲ）・・・玉型
【図１】
2010085237.tif 000007
【図１Ａ】
2010085237.tif 000008
【図１Ｂ】
2010085237.tif 000009
【図１Ｃ】
2010085237.tif 000010
【図１Ｄ】
2010085237.tif 000011
【図１Ｅ】
2010085237.tif 000012
【図２】
2010085237.tif 000013
【図３】
2010085237.tif 000014
【図４】
2010085237.tif 000015
【図５】
2010085237.tif 000016
【図５Ａ】
2010085237.tif 000017
【図５Ｂ】
2010085237.tif 000018
【図５Ｃ】
2010085237.tif 000019
【図５Ｄ】
2010085237.tif 000020
【図６】
2010085237.tif 000021
【図７】
2010085237.tif 000022
【図８】
2010085237.tif 000023
【図９】
2010085237.tif 000024
【図１０】
2010085237.tif 000025
【図１０Ａ】
2010085237.tif 000026
【図１１】
2010085237.tif 000027
【図１２】
2010085237.tif 000028
【図１３】
2010085237.tif 000029
【図１４】
2010085237.tif 000030
【図１５】
2010085237.tif 000031
【図１６】
2010085237.tif 000032
【図１７】
2010085237.tif 000033
【図１８】
2010085237.tif 000034
【図１９】
2010085237.tif 000035
【図２０】
2010085237.tif 000036
【図２１】
2010085237.tif 000037
【図２２】
2010085237.tif 000038
【図２３】
2010085237.tif 000039
【図２４】
2010085237.tif 000040
【図２５】
2010085237.tif 000041
【図２６】
2010085237.tif 000042
【図２７】
2010085237.tif 000043
【図２８】
2010085237.tif 000044
【図２９】
2010085237.tif 000045
【図３０】
2010085237.tif 000046
【図３１】
2010085237.tif 000047
【図３２】
2010085237.tif 000048
【図３３】
2010085237.tif 000049
【図３４】
2010085237.tif 000050