(57)【要約】【課題】自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）を提供すること。【解決手段】ＳＴＡは、筺体（２４）を含む。バックプレーン（２６）が、筺体（２４）によって収納される。デュアルデータバス（６２）がバックプレーン（２６）内に一体化される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）が、バックプレーン（２６）内に挿入される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）は、ＡＴＥステーション受け部（２０）と相互接続するためのポートを有する。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）は、デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域、および少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験するように適合されているリソース特有の領域（６４）を含む。【選択図】図１
2010085403.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）であって、
筺体（２４）と、
前記筺体（２４）によって収納されるバックプレーン（２６）と、
前記バックプレーン（２６）内に一体化されるデュアルデータバス（６２）と、
前記バックプレーン（２６）内に挿入するための少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）であって、ＡＴＥステーション受け部（２０）と相互接続するためのポートを有しており、前記デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域と、少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験のために適合されているリソース特有の領域（６４）とを含む、少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）と
を備えるセルフ試験アダプタ。
【請求項２】
自動化試験装置（ＡＴＥ）をセルフ試験するためのシステムであって、
データバス（６２）と、
それぞれが前記データバス（６２）を通じて通信する複数のセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）モジュール（５８）と
を備え、前記複数のＳＴＡモジュール（５８）のそれぞれが、
前記複数のＳＴＡモジュール（５８）間で通信するためのフロントエンド回路と、
ＡＴＥリソースの試験機能を実行するためのリソース回路とを含む
システム。
【請求項３】
自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）（２２）を製造する方法であって、
筺体（２４）を用意するステップと、
前記筺体（２４）によって収納されるバックプレーン（２６）を用意するステップと、
前記バックプレーン（２６）内に一体化されるデュアルデータバス（６２）を用意するステップと、
前記バックプレーン（２６）内に挿入するための少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）を用意するステップであって、前記少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）が、ＡＴＥステーション受け部（２０）と相互接続するためのポートを有しており、前記少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）が、前記デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域と、少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験のために適合されているリソース特有の領域（６４）とを含む、ステップと
を含む方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、電子システムのための試験装置に関し、より詳細には、自動試験装置のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）に関するが、それに限定されない。
【背景技術】
【０００２】
自動試験装置（ＡＴＥ）は、自動車環境、航空宇宙環境、海洋環境、その他の環境に組み込まれているシステムなど、電子システムおよびデバイスに対して試験を実行するのに使用される自動化デバイスを示す。航空機産業など、多くの産業においては、ＡＴＥは、航空機システムおよびデバイスの診断や予測など、価値のある診断機能を実行する。
【０００３】
ＡＴＥデバイスは、プリント回路板（ＰＣＢ）、集積回路（ＩＣ）および他の関連する電子コンポーネントまたはモジュールなど電子デバイスを、迅速かつ効率的に試験するために使用可能である。ＡＴＥデバイスは、コンピュータもしくはコンピューティング環境、専用コントローラまたはさらにリレー制御によっても制御可能である。
【０００４】
ＡＴＥシステムまたはリソースは、その動作モードや測定が、コンピュータによって制御され、解析されるデジタルマルチメータ（ＤＭＭ）のように単純であっても、非常に精巧なフライングプローブテスタなど、複雑な電子システム内で自動的に試験し、障害を診断することのできる多数の複雑な試験計器を含むシステムのように複雑であってもよい。ＡＴＥシステムは、単純なコンポーネント（抵抗器、コンデンサおよびインダクタ）から、ＩＣ、ＰＣＢや、複雑な、完全に組み立てられた電子システムまで、広範囲な電子デバイスおよびシステムを試験するために使用される。
【０００５】
ＡＴＥは、電子製造産業において、電子コンポーネントやシステムの製造後の試験に広く使用される。ＡＴＥはまた、民間や軍用の航空機上のアビオニクスシステムの試験にも使用される。ＡＴＥシステムはまた、今日の自動車における電子モジュールの試験にも使用される。
【０００６】
ＡＴＥシステムは、一般に、被試験デバイス（ＤＵＴ）を物理的に配置する自動化配置ツールとインターフェースし、それにより、ＤＵＴは、装置によって測定可能および試験可能になる。過去４０年にわたって、ＡＴＥは、エレクトロニクス用途に特化したシステムから、電子装置を組み込んだ、多くの産業における広範囲な用途に成長してきた。多くの場合において、ＡＴＥデバイスは、ＤＭＭまたは他の装置など、ＡＴＥリソースを収納するステーションに組み込まれている。
【０００７】
自動試験ステーションが製品を試験するのに使用される前に、自動試験ステーションリソースを機能的に妥当性検証する必要がある。生産または開発の自動試験ステーションセルフ試験は、試験ステーション刺激リソースおよび測定リソースが機能的に妥当性検証されていると決定する自動化プロセスである。この妥当性検証プロセスは、被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する前に必要であり、それにより、顧客に対して機能しない製品を納品すること、または動作する製品を不合格とすることを含む不必要な危険に製造業者をさらす可能性のある誤った試験結果を少なくする。
【０００８】
セルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）は、インストールされている測定計器リソースを使用して、刺激計器または測定リソースを確認することによって、機能的に計器の妥当性検証プロセスを自動化する特注インターフェースユニットである。一例が、測定するために電源電圧リソースをＤＭＭリソースに切り替えるのに使用される自動試験ステーション切替えリソースである。このステーションリソースへの依存は、普通なら必要とされないであろうセルフ試験アダプタのための専用リソースであるために、自動試験ステーション設計のコストを増大させる可能性がある。
【０００９】
個々の技術者による特注セルフ試験アダプタの製造は、同一のセルフ試験アダプタ設計間の製造変動を招く可能性がある。変動は、ワイヤ長、コネクタへのワイヤ圧着、接点のはんだ付け、およびワイヤのルーティングの不統一を含み、その不統一は不統一な経路抵抗を招き、同一のセルフ試験アダプタ設計からの試験結果が変動することになる。
【００１０】
計器リソース変更に対処するためのセルフ試験アダプタに対する修正または追加は、技術的リソースの消費、予期せぬエラーの導入およびスケジュールの延長によって、コストを増大させる。既存のセルフ試験アダプタ設計にリソース修正を追加するための技術的労力が必要とされることがあり得る。というのは、他の計器リソースが設計段階では明らかでない可能性のある修正の結果として影響を受けないことを確認するからである。ＳＴＡの実際の修正は、ワイヤを前後に動かすことによって生じるワイヤ破損などの電気的な保全性を損なう可能性がある。結果として、これらの修正は、コスト、遅延を増大させ、得られる試験データに誤差をもたらす可能性がある。場合によっては、技術的設計、製造、および今日の複雑かつ特有なＳＴＡ設計を得るコストは、ＳＴＡを実装しないという判断に影響を及ぼす可能性があり、さらに危険性を増大させる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ＡＴＥステーションリソースを独立して妥当性検証する能力を有し、さらには、ユーザが修正しやすいように十分構成可能なモジュール型の、スケーラブルな、かつジェネリックなＳＴＡ設計の必要性がある。さらには、本発明の他の望ましい機能および特徴は、添付の図面および本発明のこの背景と併せ読めば、本発明の次の詳細な説明ならびに添付の特許請求の範囲から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
したがって、前述したことに鑑みて、１つの実施形態においては、ほんの一例として、自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）が提供される。ＳＴＡは、筺体を含む。バックプレーンが、筺体によって収納される。デュアルデータバスが、バックプレーン内に一体化される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールが、バックプレーンに挿入される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールは、ＡＴＥステーション受け部と相互接続するためのポートを有する。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールは、デュアルデータバスを通じて追加のＳＴＡカードモジュールとインターフェースするように適合されているジェネリックな領域と、少なくとも１つのＡＴＥステーションリソースのセルフ試験に適合されているリソース特有の領域とを含む。
【００１３】
追加の実施形態においては、やはりほんの一例として、自動化試験装置（ＡＴＥ）をセルフ試験するためのシステムが提供される。システムは、データバスを含む。複数のセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）モジュールのそれぞれは、データバスを通じて通信する。複数のＳＴＡモジュールのそれぞれは、複数のＳＴＡモジュール間で通信するためのフロントエンド回路と、ＡＴＥリソースの試験機能を実行するためのリソース回路とを含む。
【００１４】
さらに別の実施形態においては、やはりほんの一例として、自動試験装置（ＡＴＥ）のためのセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）を製造する方法が提供される。筺体が用意される。筺体によって収納されるバックプレーンが用意される。バックプレーン内に一体化されるデュアルデータバスが用意される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールが、バックプレーン内に挿入するために用意される。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールは、ＡＴＥステーション受け部と相互接続するためのポートを有する。少なくとも１つのＳＴＡカードモジュールは、デュアルデータバスを通じて追加のＳＴＡカードモジュールとインターフェースするように適合されているジェネリックな領域と、少なくとも１つのＡＴＥステーションリソースのセルフ試験のために適合されているリソース特有の領域とを含む。
【００１５】
以下、本発明を以下の図面と共に説明することにし、同様の数詞は同様の要素を示す。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】例示的な自動試験装置（ＡＴＥ）ステーションと、セルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）とを示す図である。
【図２】一体化バックプレーンを含むセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）筺体を示す図である。
【図３】少なくとも１つのＳＴＡモジュールを組み込んだＳＴＡカードを示す図である。
【図４】図３に示されているＳＴＡカードと図２に示されているバックプレーンとの間の相互接続を示す図である。
【図５】ブラケット上に取り付けられているいくつかのＳＴＡアダプタカードを示す図である。
【図６】バックプレーンと通信し、バックプレーンとの間で通信する複数のＳＴＡモジュールを示すブロック図である。
【図７】例示的なＳＴＡカード構成を示す図である。
【図８】例示的なＳＴＡカード構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の以下の詳細な説明は、事実上例示に過ぎず、本発明を、または本発明の用途および使用を限定するものではない。さらには、本発明の先行する背景または本発明の以下の詳細な説明で提示されているいずれの理論にも制約されるものではない。
【００１８】
以下の説明および特許請求する主題は、自動試験装置（ＡＴＥ）ステーションリソースのためのジェネリックな、モジュール型の、かつスケーラブルなセルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）の例示的な実施形態を示す。例示的な実施形態は、商用ＡＴＥステーションリソースを独立して妥当性検証し、さらには、異なるＡＴＥステーション構成（異なるリソースの組合せまたは異なる数のリソース）についてユーザが修正しやすいように構成可能である。
【００１９】
例示的な実施形態に見られるモジュール型設計の手法は、技術的労力を削減し、標準的な制御ソフトウェアのアーキテクチャを使用し、ステーションリソースを独立して試験するための共通方法を提供する。初期設計時間は、１つまたは複数のＳＴＡモジュールを収納するセルフ試験アダプタの筺体内に含まれている実証済みかつ完全な機構を設計技術者に提供することによって短縮される。セルフ試験アダプタモジュールは、リソース信号をデュアルデータバスバックプレーンにルーティングし、このバックプレーンは、それぞれのリソースを個別に機能的に試験するために、試験ステーションの刺激リソースを測定リソースにマッピングする。
【００２０】
ＳＴＡモジュールは、モジュール機能を制御するための共通構造を用いて、かつソフトウェアの再使用を高め、セルフ試験アダプタリソースモジュールにおける信頼を高めるために標準的な識別法を用いて設計されている。この方法は、他の試験リソースに影響を及ぼすことなく、モジュールが任意の順番および量で組合せ可能であるため、セルフ試験アダプタの再設計の必要をなくする。
【００２１】
１つの実施形態においては、ＳＴＡモジュールは、セルフ試験リソースモジュールおよびデュアルデータバスバックプレーンのための特注プリント回路板内に組み込まれている。これらは、カードのフォームファクタを取ることができ、本明細書においてはＳＴＡカードモジュールと呼ばれることになる。ＳＴＡカードモジュールのそれぞれは、個々のリソースに応じて、信号負荷、通信ループバック、モジュール活動化、モジュール識別、およびいくつかのパラメトリック試験に関係する機能を含むように設計可能である。
【００２２】
ＳＴＡモジュール／ＳＴＡカードモジュールはそれぞれ、信号をデュアルデータバスバックプレーンにルーティングして、他の共有リソースに対する共通の計器または経路を使用することが可能である。デュアルデータバスバックプレーンは、すべてのモジュールにわたるように、およびハーフハイトのＳＴＡモジュールを試験するための方法を提供するために２重の同一バスを設けるように適合可能である。デュアルデータバスバックプレーンのコネクタは、ＡＴＥステーション受け部インターフェースのマス相互接続ソリューションのコネクタ間隔から導き出される一定の間隔を有するように適合可能である。全体的な設計は、試験ステーションリソースをＳＴＡモジュールに対合するマス相互接続ソリューションを使用する筺体内に収納可能である。それぞれのタイプのＳＴＡモジュールのための特注ソフトウェアは、完全なパッケージをユーザに提供するために、機能およびモジュール識別を制御するように適合可能である。
【００２３】
次いで、図１は、前の説明の様々な態様および以下の特許請求する主題を実装することができる例示的な自動試験装置（ＡＴＥ）のステーション１０を示す。ステーション１０は、ステーション１０の様々なリソースの制御、監視、および記録を行うために、コンピュータワークステーション１４、サーバ、または類似のコンピュータシステムを含む。様々なステーションリソース１６および１８は、ステーション１０内に一体化され、コンピュータワークステーション１４と通信するように適合されている。ステーションリソース１６および１８は、ユーザの必要性に応じて、実装によって異なることが可能である。例えば、リソース１６および１８は、前述したようなＤＭＭか、電源か、または類似のリソースを含んでよい。
【００２４】
受け部２０がステーション１０と被試験デバイス（ＤＵＴ）との間のインターフェースを提供し、それらの被試験デバイスは、通常、テーブル２４上に配置され、ステーション１０と相互接続される。しかし、示されている実施形態においては、セルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）２２が、受け部２０と相互接続されている。ＳＴＡ２２の機能と、内部コンポーネントと、アーキテクチャとは、さらに詳細に後述されることになる。ＳＴＡ２２は、ステーション１０内に実装される個々のリソースの試験を容易にするために特注製作されるいくつかのＳＴＡモジュール／ＳＴＡカードモジュールを含む。
【００２５】
図２を見てみると、例示的なＳＴＡ２２がさらに詳細に示されている。ＳＴＡ２２は、筺体２４を含む。バックプレーン２６は、筺体２４内に収納される。バックプレーン２６は、ＡＴＥステーション受け部のマス相互接続構成に合致するように間隔を有するいくつかのコネクタを含む。さらに説明されることになるように、デュアルデータバスがバックプレーン２６内に一体化される。デュアルデータバスは、筺体２４内に配置されているＳＴＡモジュール間に相互接続性を提供する。
【００２６】
１つの実施形態においては、バックプレーン２６は、ＰＣＢフォームファクタ内に一体化される複数層を含むことが可能である。グランドラインが、信号ノイズを抑えるために、バックプレーン２６内に組込み可能である。抵抗を抑えるために、追加の銅を組み込むことなど、性能を引き上げるために他の設計特性を考慮に入れることが可能である。
【００２７】
いくつかのコネクタ２８および３０が、バックプレーン２６内に一体化される。コネクタ２８および３０は、さらに説明されることになるように、ＳＴＡモジュールとバックプレーン２６との間のデータ接続性を提供する。ブラケット３４が、示されているように、筺体２４上に配列される。１つの実施形態においては、ブラケット３４は、筺体２４内に挿入され、かつバックプレーン２６に接続されるいくつかのＳＴＡカードに対して、取付けおよび構造支持を提供する。ブラケット３４は、ＳＴＡカードのそれぞれのコネクタ（複数可）が、ＡＴＥ受け部２０（図１）とその中でインターフェースするいくつかの等間隔のスロット３６を含む。
【００２８】
図３は、筺体２４（図２）内に挿入するための例示的なＳＴＡカードモジュール４０を示す。ＳＴＡカードモジュール４０は、図示するように、ＰＣＢ内に組み込まれている少なくとも１つのＳＴＡモジュール５８を含む。ＳＴＡモジュール５８は、例えば、ＩＣを含むことが可能である。示されているＳＴＡモジュール５８は、カード４０を介してＩ／Ｏ信号を処理するためのリレーデバイス４８およびラインドライバ５０を含む。コネクタ４２および４４は、カード４０とバックプレーン２６／デュアルデータバス（図２）との間のＩ／Ｏの接続性を可能にする。コネクタ４６は、カード４０とＡＴＥステーション受け部２０（図１）との間のＩ／Ｏの接続性を可能にする。
【００２９】
図４は、筺体２４におけるＳＴＡカードモジュール４０とバックプレーン２６との間の相互接続性を示す。この場合もまた、筺体２４は、コネクタ２８および３０を有するバックプレーン２６と、ブラケット３４とを含む。リボン５０が、カード４０上のコネクタ４２および４４と、バックプレーン２６上のコネクタ２８および３０との間のＩ／Ｏ接続性を提供する。
【００３０】
当業者なら理解するように、いくつかのカード４０が、筺体２４内に挿入可能であり、バックプレーン２６を通じて相互接続可能である。カード４０は、さらに説明されることになるように、リソースに特有の機能を実行するように構成可能である。したがって、リソースに特有のカードは、その機能を実行するように提供可能である。例えば、カード４０がＡＴＥのＤＭＭステーションリソースに対してセルフ試験機能を実行するように構成可能である一方、追加のカード４０がＡＴＥ電源リソースに対してセルフ試験機能を実行するように構成可能である。図５は、ブラケット３４内に取り付けられているいくつかのこのようなカード４０を示す。
【００３１】
図６は、（ＳＴＡカードモジュール４０などの）ＳＴＡモジュール５８と、デュアルデータバス６２を組み込んだバックプレーン２６（図２）と、ＡＴＥステーション受け部２０との間の相互接続性のブロック図を示す。モジュール５８は、コネクタ４６を介して、受け部２０から、およびその受け部にＩ／Ｏを供給する／処理する（この場合では、信号転送を示すための矢印として示されている）。同様に、モジュール５８は、コネクタ５０および５２を介して、デュアルデータバス６２を通じて追加のモジュール５８から、およびそのモジュールにＩ／Ｏを供給する／処理する（この場合もやはり、矢印として示されている）。デュアルデータバス６２は、各モジュール５８間の全二重通信を可能にする。デュアルデータバスは、当業者なら理解するように、バックプレーン２６（図２）内に一体化される。
【００３２】
図７は、具体的なＡＴＥステーションリソースについてのＳＴＡカード４０の例示的な構成を示す。この場合もやはり、カードを介してＩ／Ｏ転送するためのコネクタ４２、４４および４６が示されている。１つの実施形態においては、コネクタ４４は、デジタルＩ／Ｏを容易にする。ＳＴＡカード４０は、リソースに特有の領域６４と、ジェネリックなフロントエンド領域６６とに細分される。リソースに特有の領域６４は、リレー部４８を利用するリソースのために適合されている。したがって、いくつかのリレー部４８は、ＳＴＡカード４０内に一体化される。他の実施形態においては、リソースに特有の領域６４は、カード４０介する信号転送のループバック機能を提供するループバック回路および／またはライントレース（図示せず）を含むことが可能である。
【００３３】
ジェネリックなフロントエンド領域６６は、別のＳＴＡカード４０の別のジェネリックなフロントエンド領域６６とインターフェースするように適合されている。ジェネリックなフロントエンド領域６６は、各ＳＴＡカード４０間の通信が同じであることを確実にし、ソフトウェア開発および回路設計を削減する。１つの実施形態においては、ＳＴＡカード４０は、非コントローラカード４０として適合可能であり、その場合、カード識別、スロット確認、機能制御などの機能と、入力回路（複数可）とが提供される。他の実施形態においては、ＳＴＡカード４０は、コントローラカード４０として適合可能であり、その場合、追加の回路が、バス制御および他の制御機能のために提供される。
【００３４】
示されている実施形態においては、ジェネリックなフロントエンド領域６６は、コンポーネント保護を提供するラインドライバ５０、リレードライバ７４からドライバリレー部４８と、デジタルＩ／Ｏを抑えるためのシフトレジスタ７６と、スロットＩＤ確認のためのコンパレータ７８などとのコンポーネントを含む。ジェネリックなフロントエンド領域６６はまた、カードの識別および見直しのためのレジスタバンク７０と、ユーザ通知を提供するためのいくつかの機能的発光ダイオード（ＬＥＤ）６８とを含む。
【００３５】
図８は、図７に示されているＳＴＡカード４０の構成８０のブロック図を示す。やはり、コネクタ４２および４４は、バックプレーン２６（図２）への信号接続性について示されている。示されているように、コネクタ４４を介するラインドライバ５０およびシフトレジスタ７６までのデジタルＩ／Ｏが容易になる。示されている実施形態においては、スロットＩＤは、デュアルデータバス６２（図６）上にハードコードされる。Ｉ／Ｏは、コネクタ４２を介してコンパレータ７８に供給され、シフトレジスタ７６を介して供給される。Ｉ／Ｏは、リレードライバ７４を介してラインドライバ５０からカード特有の機能部に供給される。オンボード領域８２がデジタルＩ／Ｏを容易にする。当業者は、ファームウェアおよびソフトウェアは、構成８０によって示されている機能を駆動するように調整可能であることを理解するであろう。
【００３６】
当業者は、図１〜８に示されているハードウェアは、異なる場合があることを理解するであろう。例えば、トランジスタ、ダイオード、コンデンサ、コントローラなど、他の電子コンポーネントがまた、示されているハードウェアに加えて、またはそのハードウェアに代えて使用可能である。示されている例は、本発明に関してアーキテクチャ面での制限を示唆することを意味するものではない。
【００３７】
例えば、１つの実施形態においては、ＳＴＡは、多段実装であることが可能である。第１の段は、受け部コネクタの第１の層とインターフェースすることが可能であり、第２の段は、受け部コネクタの第２の層とインターフェースすることが可能であり、その他も可能である。したがって、少なくとも２層を有する段になった筺体が企図される。バックプレーンは、当業者なら理解するように、１つの段または両方の段にわたることが可能である。他の実装は、一連の相互接続されたバックプレーンを、それぞれの段につき１つ、使用することが可能である。
【００３８】
この明細書中で説明されている機能的ユニットのうちのいくつかを、その実装の独立性をより具体的に強調するために、「モジュール」と呼んでいる。例えば、本明細書において、モジュールと呼ばれる機能は、特注ＶＬＳＩ回路もしくはゲートアレイ、論理チップなどの既製の半導体、トランジスタ、または他のディスクリートコンポーネントを含むハードウェア回路として、全体的にまたは部分的に実装可能である。モジュールはまた、フィールドプログラマブルゲートアレイ、プログラマブルアレイロジックデバイス、プログラマブルロジックデバイスなどのプログラム可能なハードウェアデバイスに実装可能である。
【００３９】
モジュールはまた、様々なタイプのプロセッサによって実行するためのソフトウェアに実装可能である。実行可能コードの識別されたモジュールが、例えば、目的、手順、または機能として体系化可能である、例えば、コンピュータ命令の１つまたは複数の物理的もしくは論理的モジュールを含むことが可能である。にもかかわらず、識別されたモジュールの実行可能部は、物理的に、一緒に位置付けられる必要はなく、論理的に一緒に接合される場合、モジュールを含み、かつモジュールについて述べられている目的を達成する種々のロケーションに記憶された異種の命令を含むことが可能である。
【００４０】
実際には、実行可能コードのモジュールは、単一の命令または多数の命令であってよく、さらには、種々のプログラムの中でいくつかの異なるコードセグメント全体にわたって、およびいくつかのメモリデバイス全体にわたって、分配可能である。同様に、操作データは、任意の適切な形態で実施可能であり、任意の適切なタイプのデータ構造内で体系化可能である。操作データは、単一のデータセットとして収集可能であるか、または種々のメモリデバイス全体にわたることを含む種々のロケーション全体にわたって分配可能であり、少なくとも部分的に、単にシステムまたはネットワーク上の電子信号として存在可能である。
【００４１】
本明細書全体を通して、「ｏｎｅ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ（１つの実施形態）」、「ａｎ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ（実施形態）」、または類似の用語に関する参照は、実施形態に関連して説明されている具体的な機能、構造、または特徴が本発明の少なくとも１つの実施形態に含まれることを意味する。したがって、本明細書全体を通して、語句「ｉｎ  ｏｎｅ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ（１つの実施形態において）」、「ｉｎ  ａｎ  ｅｍｂｏｄｉｍｅｎｔ（実施形態において）」、および類似の用語が現れることは、同一の実施形態を全面的に示すことが可能であるが、必ずしもというわけではない。
【００４２】
さらには、本発明の説明されている機能、構造、または特徴は、１つまたは複数の実施形態において任意の適切なやり方で組合せ可能である。以下の説明においては、プログラミングの例、ソフトウェアモジュール、ユーザ選択、ネットワークトランザクション、データベースクエリ、データベース構造、ハードウェアモジュール、ハードウェア回路、ハードウェアチップなど、多数の具体的な詳細が、本発明の実施形態の完全な理解を可能にするために提供される。しかし、当業者は、本発明が、１つまたは複数の具体的な説明を含まずに、または他の方法、コンポーネント、材料などを含み、実行可能であることを理解するであろう。他の例においては、よく知られている構造、材料、または動作は、本発明の態様を曖昧にすることを避けるために、詳細に示されておらず、または説明されていない。
【００４３】
本発明の１つまたは複数の実施形態が詳細に示されてきたが、当業者は、それらの実施形態に対する修正形態および適応形態が、以下の特許請求の範囲に記載されているように、本発明の範囲から逸脱することなく、なされることが可能であることを理解するであろう。
【符号の説明】
【００４４】
１０  自動試験装置（ＡＴＥ）ステーション
１４  コンピュータワークステーション
１６  ステーションリソース
１８  ステーションリソース
２０  受け部
２２  セルフ試験アダプタ（ＳＴＡ）
２４  テーブル
２４  筺体
２６  バックプレーン
２８  コネクタ
３０  コネクタ
３４  ブラケット
３６  スロット
４０  ＳＴＡカードモジュール
４２  コネクタ
４４  コネクタ
４６  コネクタ
４８  リレーデバイス
５０  リボン
５０  ラインドライバ
５８  ＳＴＡモジュール
６２  デュアルデータバス
６４  リソースに特有の領域
６６  ジェネリックなフロントエンド領域
６８  発光ダイオード（ＬＥＤ）
７０  レジスタバンク
７４  リレードライバ
７６  シフトレジスタ
７８  コンパレータ
８０  構成
８２  オンボード領域
【図１】
2010085403.tif 000003
【図２】
2010085403.tif 000004
【図３】
2010085403.tif 000005
【図４】
2010085403.tif 000006
【図５】
2010085403.tif 000007
【図６】
2010085403.tif 000008
【図７】
2010085403.tif 000009
【図８】
2010085403.tif 000010
【外国語明細書】
2010085403000001.pdf