(57)【要約】【課題】  シェーディング補正板の汚損状態にかかわらず、高精度のシェーディング補正用のデータを得て、シェーディング補正による画像再現性を向上する。【解決手段】  シェーディング補正板２８のＦブロックとＳブロックの小領域に分類し、分類した複数の小領域から、各ブロック毎に有効領域を検知する。検知して得た有効領域を、採用領域として設定する。原稿Ｄの読取前にシェーディング補正板２８の採用領域を走査して高精度のシェーディング補正用のデータを得る。【選択図】図５
2010166562.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を走査する光照射部と、
前記光照射部の走査領域に位置する基準板と、
前記光照射部による前記原稿或は前記基準板からの反射光を受光する検知部と、
前記光照射部の走行方向と垂直の方向に複数領域に分割される前記基準板の各領域を複数のブロックに分類し、前記光照射部により、前記基準板を前記ブロック毎に走査して、前記各ブロックの有効領域を検知する第１の制御部と、
前記複数のブロックの前記有効領域を、シェーディング補正に用いる採用領域として設定する第２の制御部とを具備することを特徴とするシェーディング補正装置。
【請求項２】
前記第１の制御部は、前記光照射部による第１の走査時に、第１のブロックと第２のブロックとして分類した前記各領域のうち、前記第１のブロックを走査して、前記検知部による検知結果から第１の基準値を設定し、前記光照射部による第２の走査時に、前記検知部による、前記第１のブロックの前記各領域の検知結果を、前記第１の基準値と比較して、前記第１のブロックの有効領域を検知し、
前記光照射部による第３の走査時に、前記第２のブロックを走査して、前記検知部による検知結果から第２の基準値を設定し、前記光照射部による第４の走査時に、前記検知部による、前記第２のブロックの前記各領域の検知結果を、前記第２の基準値と比較して、前記第２のブロックの有効領域を検知することを特徴とする請求項１記載のシェーディング補正装置。
【請求項３】
前記基準板の前記各領域は、前記光照射部の走行方向に沿って順番に番号を付けられていて、前記第１のブロックに分類する領域は奇数番号の領域であり、前記第２のブロックに分類する領域は偶数番号の領域であり、
前記基準板の、前記奇数番号の領域と前記偶数番号の領域にまたがる領域を境界領域とし、前記各境界領域は前記光照射部の走行方向に沿って順番に番号を付けられていて、奇数番号の前記境界領域は第３のブロックとして分類され、偶数番号の前記境界領域は第４のブロックとして分類され、
前記第１の制御部は、前記光照射部の第５の走査時に、前記第３のブロックを走査して、前記検知部による検知結果から第３の基準値を設定し、前記光照射部による第６の走査時に、前記検知部による、前記第３のブロックの前記各境界領域の検知結果を、前記第３の基準値と比較して、前記第３のブロックの有効領域を検知し、
前記第１の制御部は、前記光照射部の第７の走査時に、前記第４のブロックを走査して、前記検知部による検知結果から第４の基準値を設定し、前記光照射部による第８の走査時に、前記検知部による、前記第４のブロックの前記各境界領域の検知結果を、前記第４の基準値と比較して、前記第４のブロックの有効領域を検知し、
前記第２の制御部は、前記第１のブロックの有効領域及び前記第２のブロックの有効領域であり、且つ前記第３のブロックの有効領域及び前記第４のブロックの有効領域である領域を前記採用領域として設定することを特徴とする請求項２記載のシェーディング補正装置。
【請求項４】
前記第１の基準値は、前記第１のブロックの前記各領域の平均輝度の中の第１の最大平均輝度値であり、前記第１の最大平均輝度値との差が所定の閾値未満の領域を、前記第１のブロックの有効領域として検知し、前記第２の基準値は、前記第２のブロックの前記各領域の平均輝度の中の第２の最大平均輝度値であり、前記第２の最大平均輝度値との差が所定の閾値未満の領域を、前記第２のブロックの有効領域として検知することを特徴とする請求項２記載のシェーディング補正装置。
【請求項５】
前記第１の制御部は、前記複数のブロック毎に前記各領域の平均輝度を平均化する平均化回路及び、前記平均化回路で得られた平均輝度から最大平均輝度値を各ブロックの基準値として設定する基準値設定回路を有することを特徴とする請求項１記載のシェーディング補正装置。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載のシェーディング補正装置を備えるとともに、原稿を支持する原稿台と、前記設定された前記採用領域を読取って、前記原稿の読み取りデータをシェーディング補正する補正制御部とを備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項７】
基準板を、光照射部の走行方向と垂直の方向に複数の領域に分割する工程と、
前記複数の領域を複数のブロックに分類する工程と、
前記複数のブロック毎に前記複数の領域を前記光照射部で走査して、前記ブロック毎にシェーディング補正時に採用する有効領域を検知する工程と
前記複数のブロックの前記有効領域を、シェーディング補正に用いる採用領域として設定する工程とを具備することを特徴とするシェーディング補正装置の採用領域設定方法。
【請求項８】
前記有効領域の検知は、
任意のブロックの全領域を走査して基準値を設定し、その後に前記任意のブロックの前記各領域を再度走査し、走査結果を前記基準値と比較して、前記任意のブロックの有効領域を検知する操作を、前記複数のブロックの全てに対して繰り返すことを特徴とする請求項７記載のシェーディング補正装置の採用領域設定方法。
【請求項９】
前記基準値は、前記任意のブロックの前記各領域の平均輝度の中の最大平均輝度値であり、前記各領域を再度走査した前記走査結果と前記最大平均輝度値との差が所定の閾値未満となる領域を、前記任意のブロックの有効領域として検知することを特徴とする請求項８記載のシェーディング補正装置の採用領域設定方法。
【請求項１０】
前記基準板の各領域は、前記光照射部の走行方向に沿って順番に番号を付けられていて、奇数番号の領域を第１のブロックに分類し、偶数番号の領域を第２のブロックに分類し、
前記有効領域の検知は、
前記第１のブロックを走査して、前記第１のブロックの前記領域の平均輝度の中の最大平均輝度を第１の基準値として設定し、その後に前記第１のブロックの前記各領域を再度走査して、走査結果を前記第１の基準値と比較して、前記第１の基準値との差が所定の閾値未満の領域を前記第１のブロックの有効領域として検知し、
前記第２のブロックを走査して、前記第２のブロックの前記領域の平均輝度の中の最大平均輝度を第２の基準値として設定し、その後に前記第２のブロックの前記各領域を再度走査して、走査結果を前記第２の基準値と比較して、前記第２の基準値との差が所定の閾値未満の領域を前記第２のブロックの有効領域として検知することを特徴とする請求項９記載のシェーディング補正装置の採用領域設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、画像読取装置の光学系の特性のばらつきを補正するシェーディング補正装置に関し、特にシェーディング補正板の無効領域を避けて、有効領域を使用してシェーディング補正を行うシェーディング補正装置、画像読取装置及びシェーディング補正装置の採用領域設定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像読取装置では、光源の経時変化あるいは、光学系の環境状態等により光学特性が変動して、光電変換素子（ＣＣＤ）による画像読取信号が変動する。このため画像読取装置は、光学特性が変動した場合でも、常に同じ画像再現性を得るように、従来ＣＣＤによる画像読取信号をシェーディング補正している。従来シェーディング補正時に、複写倍率に応じてシェーディング補正板の読み取りライン数を変えて、読取ったデータを平均化してシェーディング補正用のデータとし、このシェーディング補正用のデータを用いて
シェーディング補正する装置がある。（例えば特許文献１参照。）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第３２５５５７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら上記特許文献１において、シェーディング補正板にごみが付着し或は気泡を生じた領域がある場合に、シェーディング補正時にごみが付着した領域を読取ると、正しいシェーディング補正用のデータを得られない恐れがある。正しいシェーディング補正用のデータが得られないと、補正後の原稿読み取り信号に補正ムラを生じて、画像再現性が低下する恐れがある。
【０００５】
この発明は上記課題を解決するものであり、シェーディング補正板にごみが付着し或いは気泡を生じたりした領域があった場合に、製造時或いはメンテナンス時等に、シェーディング補正板の交換作業或いは位置調整作業を行わなくても、正しいシェーディング補正用のデータを得ることが出来、シェーディング補正時の補正ムラを防止して、画像再現性を向上することが出来るシェーディング補正装置、画像読取装置及びシェーディング補正装置の採用領域設定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の課題を解決するために、この発明は、原稿を走査する光照射部と、前記光照射部の走査領域に位置する基準板と、前記光照射部による前記原稿或は前記基準板からの反射光を受光する検知部と、前記光照射部の走行方向と垂直の方向に複数領域に分割される前記基準板の各領域を複数のブロックに分類し、前記光照射部により、前記基準板を前記ブロック毎に走査して、前記各ブロックの有効領域を検知する第１の制御部と、前記複数のブロックの前記有効領域を、シェーディング補正に用いる採用領域として設定する第２の制御部とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
この発明は、シェーディング補正板の有効領域を、採用して精度の高いシェーディング補正用のデータを得ることにより、原稿Ｄの読取りデータの良好なシェーディング補正を得られる。又シェーディング補正板にインターバル領域を設けなくても良いことから、シェーディング補正板の小型化を得られる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】この発明の実施例１のスキャナユニットの要部を示す概略構成図である。
【図２】この発明の実施例１の制御系を示す概略ブロック図である。
【図３】この発明の実施例１のシェーディング補正板の分割領域を上面から見た概略説明図である。
【図４】この発明の実施例１のシェーディング補正板の分割領域を側面から見た概略説明図である。
【図５】この発明の実施例１のシェーディング補正板の有効領域の検知動作を示すフローチャートである。
【図６】この発明の実施例１のブロック毎の有効領域の検知を示すタイミングチャートである。
【図７】この発明の実施例２のシェーディング補正板の分割領域を側面から見た概略説明図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、この発明の実施の形態について、詳細に説明する。
【００１０】
この発明は、シェーディング補正板の有効領域を用いてシェーディング補正用のデータを得る。
【実施例１】
【００１１】
図１乃至図６を参照してこの発明の実施例１を説明する。図１は画像読取装置であるスキャナユニット１０の要部を示す概略構成図である。スキャナユニット１０は、無色透明なガラス板からなる原稿台１２上の原稿Ｄを走査する露光装置１３を有する。露光装置１３は、露光ランプ１４及びミラー１６を搭載する第１のキャリッジ１７と、ミラー１８、１９を搭載する第２のキャリッジ２０を有する。第２のキャリッジ２０は、第１のキャリッジ１７の１／２の速度で走行する。第１のキャリッジ１７及び第２のキャリッジ２０は、往動時に矢印ｒ方向に走行し、復動時に矢印ｓ方向に走行する。
【００１２】
スキャナユニット１０は、露光装置１３により導かれる、原稿Ｄからの反射光を集光する集光レンズ２２、集光レンズ２２で集光される原稿Ｄからの反射光を受光して電気信号に変換する検知部であるＣＣＤセンサ２４及び、ＣＣＤセンサ２４からの電気信号を処理する信号処理基板２６を有する。露光装置１３及び集光レンズ２２は光照射部を構成する。
【００１３】
原稿台１２は、原稿走査開始側の端部に、各種原稿サイズを表示するインジケータ２７を有する。原稿台１２は、インジケータ２７の下面に、基準板である、白色のシェーディング補正板２８を有する。シェーディング補正板２８は、露光装置１３の走査領域にある。
【００１４】
画像読取時、スキャナユニット１０は、読取データを補正するため、原稿Ｄを読取る前に、シェーディング補正板２８を走査して、シェーディング補正用のデータを得る。スキャナユニット１０は、露光ランプ１４を点灯して、シェーディング補正板２８を走査し、この時のＣＣＤセンサ２４の出力からシェーディング補正用の白基準値を得る。更に露光ランプ１４を消灯して、シェーディング補正板２８を走査し、この時のＣＣＤセンサ２４の出力からシェーディング補正用の黒基準値を得る。この後スキャナユニット１０は、原稿Ｄを走査して、この時のＣＣＤセンサ２４の出力を、シェーディング補正して、所望のプリントを実行するためのプリントデータを得る。
【００１５】
但し、シェーディング補正板２８にゴミやほこりが付着していると、正しいシェーディング補正用のデータを得られない。従って、スキャナユニット１０は、シェーディング補正板２８の、ゴミやほこりの付着している領域は走査しないで、ゴミやほこりの付着していない領域を走査して、精度の高いシェーディング補正用のデータを得る。
【００１６】
更にシェーディング補正板２８は、所定の幅を持って製造されて、インジケータ２７の下側に配置されるが、シェーディング補正板２８と支持部材の明るさの差により、支持部材との境界部では、迷光が発生する場合がある。シェーディング補正板２８は、支持部材との境界部で発生する迷光により暗くなり正しいシェーディング補正用のデータを得られない恐れがある。
【００１７】
またシェーディング補正板２８は、インジケータ２７の下側に取り付けるときに、取り付け位置に多少のばらつきを生じる場合がある。特にシェーディング補正板２８の取り付け位置を高精度に調整するのは難しく、製造工程で時間がかかってしまう。シェーディング補正板２８は、取り付け位置がずれて端部が斜めになっていたりすると、端部では、主走査方向の全長に渡って、シェーディング補正用の正しいデータを得られない恐れがある。
【００１８】
スキャナユニット１０は、シェーディング補正板２８の、迷光が発生する領域は走査しないで、迷光の影響の無い領域を走査して、精度の高いシェーディング補正用のデータを得る。更にスキャナユニット１０は、シェーディング補正板２８の位置ずれの影響を生じる領域は走査しないで、主走査方向の全長に渡って、シェーディング補正板２８が存在する領域を走査して、精度の高いシェーディング補正用のデータを得る。
【００１９】
次にシェーディング補正板２８のゴミやほこりが付着する領域、迷光を発生する領域あるいは位置ずれの影響を生じる領域を避けて、これらの影響の無い領域（有効領域）を走査して、精度の高いシェーディング補正用のデータを得るための制御について述べる。図２にシェーディング補正板２８の有効領域の検知を主体とする、制御系のブロック図を示す。
【００２０】
ＣＰＵ４０は、Ｉ/Ｏインターフェース４１を介して、スキャナユニット１０に接続し、スキャナユニット１０の全体を制御する。Random Access Memory(ＲＡＭ)４３、Read Only Memory(ＲＯＭ）４４と接続するＣＰＵ４０は、Ｉ/Ｏインターフェース４１を介して、第１の制御部である有効領域検知回路５０と接続する。ＣＰＵ４０は、Ｉ/Ｏインターフェース４１を介して、補正制御部であるシェーディング補正回路６０、モノクロプリンタ７１及びカラープリンタ７２と接続する。モノクロプリンタ７１或はカラープリンタ７２は、シェーディング補正した画像読取データに基づいて所望の画像をプリントする。ＣＰＵ４０は、モノクロプリンタ７１、カラープリンタ７２に限らず、その他の外部機器と接続可能である。
【００２１】
シェーディング補正回路６０は、シェーディング補正板２８を走査して得た、白基準値を保存する白メモリ６１及び、黒基準値を保存する黒メモリ６２を有する。
【００２２】
有効領域検知回路５０は、８ライン平均化回路５１、基準値設定回路５２及び比較回路５３を有する。有効領域検知回路５０は、シェーディング補正板２８を、露光装置１３の走行方向と垂直の方向に、複数ブロックに分割して有効領域を検知する。例えば、図３and図４に示すように、有効領域検知回路５０は、シェーディング補正板２８の実施領域２８ａを、１６の小領域に分割して検知する。実施領域２８ａの１つの小領域分を走査する間に、ＣＣＤセンサ２４は、露光による輝度データを８ライン読取る。
【００２３】
分割された実施領域２８ａの各小領域は、露光装置１３の往動時の走行方向である矢印ｒ方向に沿って、順次（１）から（１６）の番号を付けられる。例えば実施領域２８ａの奇数番号を付けた全ての小領域は、第１のブロックであるＦブロックとして分類され、実施領域２８ａの偶数番号を付けた全ての小領域は、第２のブロックであるＳブロックとして分類される。有効領域検知回路５０は、実施領域２８ａの、Ｆブロックの有効領域及びＳブロックの有効領域をブロック毎に検知する。
【００２４】
有効領域検知回路５０の、８ライン平均化回路５１は、各小領域の１回目の走査により信号処理基板２６から入力される各小領域毎の８ラインの輝度データの平均輝度値を求める。基準値設定回路５２は、各小領域を順次走査しながら、８ライン平均化回路５１で得た各小領域の平均輝度値を、より大きい平均輝度値に置き換えて、最大平均輝度値を設定する。比較回路５３は、２回目の走査により信号処理基板２６から入力される小領域毎の８ラインの平均輝度値を、基準値設定回路５２で設定した最大平均輝度値と比較して、平均輝度値と最大平均輝度値との差が所定の閾値未満であれば、小領域を有効領域として検知する。
【００２５】
例えば、平均輝度値と最大平均輝度値との差が、最大平均輝度値の１０％未満であれば、小領域を有効領域として検知する。但し所定の閾値は、これに限定されない。シェーディング補正板２８の、ゴミやホコリがある小領域、迷光の影響を受ける小領域、或は斜めになった端部の小領域では、一般に平均輝度値が低下していて、有効領域とならない。
【００２６】
有効領域検知回路５０により、シェーディング補正板２８の有効領域を検知するフローチャートを図５に示す。有効領域の検知をスタートすると、露光装置１３は矢印ｒ方向に往動して、シェーディング補正板２８のブロック毎の各小領域を、番号の小さい順から走査する（ＡＣＴ１００）。８ライン平均化回路５１は、任意のブロックの各小領域の平均輝度値を算出する（ＡＣＴ１０１）。基準値設定回路５２は、各小領域の平均輝度値の中の最大平均輝度値を設定して（ＡＣＴ１０２）、任意のブロックの往動読取を終了する。
【００２７】
次に露光装置１３は矢印ｓ方向に復動して、シェーディング補正板２８の任意のブロックの各小領域を、番号の大きい順から走査する。８ライン平均化回路５１は、復動時の各小領域の平均輝度値を算出する（ＡＣＴ１０５）。比較回路５３は、各小領域の復動時の平均輝度値を最大平均輝度値と比較する（ＡＣＴ１０６）。最大平均輝度値と平均輝度値の差が、所定の閾値未満であれば（ＡＣＴ１０７でＹｅｓ）、有効領域検知回路５０は、その小領域を有効領域であると検知する（ＡＣＴ１０８）。
【００２８】
最大平均輝度値と平均輝度値の差が、所定の閾値以上であれば（ＡＣＴ１０７でＮｏ）、有効領域検知回路５０は、その小領域にごみ或はほこり等がある、あるいはその小領域は迷光の影響を生じ、或は斜めである等と判断し、シェーディング補正用の正しいデータを得られない領域であると検知する。有効領域検知回路５０は、最大平均輝度値と平均輝度値の差が所定の閾値以上である小領域を、使用不可能であり、有効領域では無いと検知する（ＡＣＴ１１０）。
【００２９】
シェーディング補正板２８の有効領域を検知するタイミングチャートを図６に示す。シェーディング補正板２８の有効領域の検知は、最初にＦブロックの有効領域を検知し、次にＳブロックの有効領域を検知する。シェーディング補正板２８の有効領域を検知するため、有効領域検知回路５０は、露光装置１３が往動する間に、実施領域２８ａを１回目読取する。１回目読取は、Ｆブロックの各小領域（１）、（３）・・・（１３）、（１５）を番号の小さい方から順に全て読取る。有効領域検知回路５０は、１回目読取により、図５に示すフローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行して、第１の最大平均輝度値であるＦブロックの最大平均輝度値を設定する。
【００３０】
有効領域検知回路５０は、Ｆブロックの任意の小領域を８ライン読取った後、露光装置１３が、隣接するＳブロックの小領域分を移動するタイミングの間に、フローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行する。
【００３１】
尚仮に、シェーディング補正板２８を複数の小領域に分割して、隣接する小領域を連続して走査しようとすると、有効領域検知回路５０は、読取ったデータを処理するためのタイミングを確保する必要を生じる。読取ったデータを処理するタイミングを確保するための手法の１つとして、シェーディング補正板２８の隣接する小領域と小領域の間に、インターバル領域を配置する手法がある。この手法は、露光装置１３が、インターバル領域を走査する間に、有効領域検知回路５０が、先に読取った小領域のデータを処理する。
【００３２】
しかしながらシェーディング補正板２８にインターバル領域を配置すると、シェーディング補正板２８の幅が広くなり、スキャナユニットの小型化を妨げる恐れがある。これに対して、この実施態様は、隣接する小領域を１つおきに走査することにより、インターバル領域を不要としている。したがって、シェーディング補正板２８の幅を小さくすることが出来る。
【００３３】
１回目読取りを終了したら、有効領域検知回路５０は、露光装置１３が復動する間に、実施領域２８ａを２回目読取する。２回目読取は、Ｆブロックの各小領域を、番号の大きい方から順に読取る。有効領域検知回路５０は、２回目読取により、フローチャートの（ＡＣＴ１０５）−（ＡＣＴ１１０）を実行して、第１のブロックの有効領域であるＦブロックの有効領域を検知する。ＣＰＵ４０は、有効領域検知回路５０が検知したＦブロックの有効領域を、ＲＯＭ４４に保存する。第２の制御部として機能するＣＰＵ４０は、ＲＯＭ４４に保存したＦブロックの有効領域を、シェーディング補正用のデータを得るための採用領域として設定する。
【００３４】
次に有効領域検知回路５０は、露光装置１３が２度目の往動をする間に、実施領域２８ａを３回目読取する。３回目読取は、Ｓブロックの各小領域（２）、（４）・・・（１４）、（１６）を番号の小さい方から順に全て読取る。有効領域検知回路５０は、３回目読取により、図５に示すフローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行して、第２の最大平均輝度値であるＳブロックの最大平均輝度値を設定する。有効領域検知回路５０は、Ｓブロックの任意の小領域を８ライン読取った後、露光装置１３が、隣接するＦブロックの小領域分を移動するタイミングの間に、フローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行する。
【００３５】
３回目読取りを終了したら、有効領域検知回路５０は、露光装置１３が２度目の復動をする間に、実施領域２８ａを４回目読み取りする。４回目読取は、Ｓブロックの各小領域を、番号の大きい方から順に読取る。有効領域検知回路５０は、４回目読取により、フローチャートの（ＡＣＴ１０５）−（ＡＣＴ１１０）を実行して、第２のブロックの有効領域であるＳブロックの有効領域を検知する。ＣＰＵ４０は、有効領域検知回路５０が、検知したＳブロックの有効領域をＲＯＭ４４に保存し、ＲＯＭ４４に保存したＳブロックの有効領域を、シェーディング補正用のデータを得るための採用領域として設定する。
【００３６】
画像読取時、スキャナユニット１０は原稿Ｄを読取る前に、実施領域２８ａの中の、ＲＯＭ４４に保存したＦブロックの採用領域とＳブロックの採用領域に相当する領域を、シェーディング補正用のデータを得るために走査する。シェーディング補正回路６０は、シェーディング補正板２８のＦブロックの採用領域とＳブロックの採用領域を走査して得た白基準値を白メモリ６１に保存し、黒基準値を黒メモリ６２に保存する。白基準値及び黒基準値はいずれも、シェーディング補正板２８のゴミやホコリが付着する領域、迷光を発生する領域あるいは位置ずれの影響を生じる領域を避けて、採用領域を走査して得られる精度の高いシェーディング補正用のデータである。
【００３７】
次にスキャナユニット１０は原稿Ｄを走査して、ＣＣＤセンサ２４の読取りデータを、信号処理基板２６からシェーディング補正回路６０に入力する。シェーディング補正回路６０は、高精度のシェーディング補正用のデータである白メモリ６１の白基準値及び黒メモリ６２の黒基準値に基づき、原稿Ｄの読取りデータを、所望のプリントを実行するためのプリント用データに補正する。ＣＰＵ４０は、シェーディング補正したプリント用データを、モノクロプリンタ７１或はカラープリンタ７２に送信する。
【００３８】
この実施例１によれば、有効領域検知回路５０は、シェーディング補正板２８のＦブロックとＳブロックとに分類される複数の小領域から、各ブロック毎の有効領域を検知して、採用領域とする。シェーディング補正回路６０は、原稿Ｄの読取前にシェーディング補正板２８の採用領域を走査して精度の高いシェーディング補正用のデータを得ることにより、原稿Ｄの読取りデータを良好にシェーディング補正できる。又シェーディング補正板２８にインターバル領域を設けなくて良いことから、シェーディング補正板２８を小型化できる。更にシェーディング補正板２８の端部のずれを避けて、有効領域を検知でき、シェーディング補正板２８の取り付け工程時間の短縮を得られる。
【実施例２】
【００３９】
次に実施例２について図７を用いて説明する。実施例２は実施例１において、更にＦブロックとＳブロックの境界にあるゴミやホコリを検知して、ゴミやホコリのある境界領域にかかる小領域（無効領域）を有効領域から除去して、シェーディング補正用のデータの精度を高めるものである。実施例２において実施例1と同一部分については同一符号を付しその詳細な説明を省略する。
【００４０】
図７に複数の境界領域に分割されるシェーディング補正板２８を示す。（１）から（１６）の小領域に分割されるシェーディング補正板２８の実施領域２８ａは、更にＦブロックとＳブロックの境界を挟む境界領域に分割される。分割された各境界領域は、矢印ｒ方向に沿って順次（１７）から（３１）の番号を付けられる。奇数番号を付けた（１７）から（３１）の境界領域は、第３のブロックであるＴブロックとして分類され、偶数番号を付けた（１８）から（３０）の境界領域は、第４のブロックであるＵブロックとして分類される。
【００４１】
この実施態様では、有効領域検知回路５０は、第１の実施態様と同様にして、Ｆブロック及びＳブロックの有効領域を検知した後、Ｔブロックの有効領域を検知し、次にＵブロックの有効領域を検知する。シェーディング補正板２８のＴブロック及びＵブロックの有効領域を検知するため、有効領域検知回路５０は、露光装置１３が往動する間に、実施領域２８ａを５回目読取する。５回目読取は、Ｔブロックの各境界領域（１７）・・・（３１）を番号の小さい方から順に全て読取る。有効領域検知回路５０は、５回目読取により、図５に示すフローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行して、第３の最大平均輝度値であるＴブロックの最大平均輝度値を設定する。有効領域検知回路５０は、Ｔブロックの任意の境界領域を８ライン読取った後、露光装置１３が、隣接するＵブロックの境界領域分を移動するタイミングの間に、フローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行する。
【００４２】
５回目読取りを終了したら、有効領域検知回路５０は、露光装置１３を復動する間に、実施領域２８ａを６回目読み取りする。６回目読取は、Ｔブロックの各境界領域を、番号の大きい方から順に読取る。有効領域検知回路５０は、６回目読取により、フローチャートの（ＡＣＴ１０５）−（ＡＣＴ１１０）を実行して、Ｔブロックの有効領域を検知する。ＣＰＵ４０は、有効領域検知回路５０が、検知したＴブロックの有効領域をＲＯＭ４４に保存する。
【００４３】
次に有効領域検知回路５０は、露光装置１３が往動する間に、実施領域２８ａを７回目読取する。７回目読取は、Ｕブロックの各境界領域（１８）・・・（３０）を番号の小さい方から順に全て読取る。有効領域検知回路５０は、７回目読取により、図５に示すフローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行して、第４の最大平均輝度値であるＵブロックの最大平均輝度値を設定する。有効領域検知回路５０は、Ｕブロックの任意の境界領域を８ライン読取った後、露光装置１３が、隣接するＴブロックの境界領域分を移動するタイミングの間に、フローチャートの（ＡＣＴ１００）−（ＡＣＴ１０２）を実行する。
【００４４】
７回目読取りを終了したら、有効領域検知回路５０は、露光装置１３を復動する間に、実施領域２８ａを８回目読み取りする。８回目読取は、Ｕブロックの各境界領域を、番号の大きい方から順に読取る。有効領域検知回路５０は、８回目読取により、フローチャートの（ＡＣＴ１０５）−（ＡＣＴ１１０）を実行して、Ｕブロックの有効領域を検知する。ＣＰＵ４０は、有効領域検知回路５０が、検知したＵブロックの有効領域をＲＯＭ４４に保存する。
【００４５】
この後ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ４４に保存したＦブロック及びＳブロックの有効領域であって、Ｔブロック及びＵブロックの有効領域にまたがる小領域を新たな有効領域として、ＲＯＭ４４に保存する。ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ４４に保存した新たな有効領域を、シェーディング補正用のデータを得るための新たな採用領域として設定する。
【００４６】
また、より精度よくシェーディング補正を行うために、Ｆブロック及びＳブロックの有効領域かつ、Ｆブロック或はＳブロックの領域にまたがるＴブロック及びＵブロックが有効な時のみ、そのＦブロック及びＳブロックを採用しても良い。
【００４７】
画像読取時、スキャナユニット１０は原稿Ｄを読取る前に、実施領域２８ａの中の、ＲＯＭ４４に保存した新たな採用領域を、シェーディング補正用のデータを得るために走査する。シェーディング補正回路６０は、シェーディング補正板２８の新たな採用領域を走査して得た白基準値を白メモリ６１に保存し、黒基準値を黒メモリ６２に保存する。白基準値及び黒基準値はいずれも、シェーディング補正板２８のＦブロック及びＳブロックの有効領域から更にゴミやホコリのある境界領域にかかる小領域を避けた新たな採用領域を走査して得られる、より精度の高いシェーディング補正用のデータである。
【００４８】
この後スキャナユニット１０のＣＣＤセンサ２４からの原稿読取りデータを、シェーディング補正回路６０で、より高精度のシェーディング補正用のデータに基づき、シェーディング補正する。ＣＰＵ４０は、シェーディング補正したプリント用データを、モノクロプリンタ７１或はカラープリンタ７２に送信する。
【００４９】
この実施例２では、有効領域検知回路５０は、シェーディング補正板２８のＦブロックとＳブロックでブロック毎に検知した有効領域であり、更にＴブロック及びＵブロックの有効領域にまたがる小領域を新たな有効領域として検知し、シェーディング補正用のデータを得るための新たな採用領域として設定する。シェーディング補正回路６０は、シェーディング補正板２８の新たな採用領域を走査してより精度の高いシェーディング補正用のデータを得ることにより、原稿Ｄの読取りデータをより良好にシェーディング補正できる。
【００５０】
この発明は上記実施の形態に限られるものではなく、この発明の範囲内で種々変更可能であり、例えばシェーディング補正板の小領域をＦブロックとＳブロックに分類した場合に、シェーディング補正板の１回目の往動走査時に、Ｆブロックの最大平均輝度値を算出し、１回目の復動走査時に、Ｓブロックの最大平均輝度値を算出し、２回目の往動走査時に、Ｆブロックの有効領域を検知し、２回目の復動走査時に、Ｓブロックの有効領域を検知しても良い。又検知部は、カラーＣＣＤセンサ或は単色のＣＣＤセンサであっても良いし、第１の制御部の回路構成も限定されない。さらに、シェーディング補正板の有効領域の検知のタイミングは、画像読取装置の製造時或は、画像読取装置のメンテナンス時等任意である。
【符号の説明】
【００５１】
１０…スキャナユニット
１２…原稿台
１３…露光装置
２２…集光レンズ
２４…ＣＣＤセンサ
２６…信号処理基板
２７…インジケータ
２８…シェーディング補正板
２８ａ…実施領域
４０…ＣＰＵ
４３…ＲＡＭ
５０…有効領域検知回路
５１…８ライン平均化回路
５２…基準値設定回路
５３…比較回路
６０…シェーディング補正回路
６１…白メモリ
６２…黒メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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