(57)【要約】【課題】保護継電器や計器の、試験や取替えの際に起こる人為的ミスや可動接触板の動作不良によりトリップ回路が形成されることを防止し、遮断器の誤遮断を防ぐ。【解決手段】電源側導体部２１と負荷側導体部１１は筐体２内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には電源側導体部２１と負荷側導体部１１は接点１４，２４において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により電源側導体部２１の可動接触板２７と負荷側導体部１１の可動接触板１７の間隔が広がり、接点１４，２４が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成し、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設ける。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、
前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、
通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、
所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成し、
テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けた、ことを特徴とするテストターミナル。
【請求項２】
前記接点部における前記可動接点（３１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、前記筐体（２）内面側に絶縁体（３５）を介して設けられ、
前記固定接点（３２）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（３１）と離れ、テストプラグ挿入時には該可動接点（３１）と接するように位置し、該負荷側導体部（１１）の支持導体（１３）に絶縁体（３６）を介して配置された、ことを特徴とする請求項1に記載のテストターミナル。
【請求項３】
前記接点部における前記可動接点（３３）は、前記電源側導体部（２１）の前記可動接触板（２７）の、前記筐体（２）内面側に絶縁体（３７）を介して設けられ、
前記固定接点（３４）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（３３）と離れ、テストプラグ挿入時には該可動接点（３３）と接するように位置し、該電源側導体部（２１）の支持導体（２３）に絶縁体（３８）を介して配置された、ことを特徴とする請求項1又は２に記載のテストターミナル。
【請求項４】
前記接点部における前記可動接点（５１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、プラグ挿入口（１）と反対側の先端部に先端部を延長するように、絶縁板（３）を介して設けられ、
前記固定接点（５２）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（５１）と離れ、テストプラグの挿入時には該可動接点（５１）と接するように位置する、ことを特徴とする請求項1，２又は３に記載のテストターミナル。
【請求項５】
前記接点部における前記可動接点（５１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、プラグ挿入口（１）と反対側の先端部に先端部を延長するように、絶縁板（３）を介して設けられ、
前記固定接点（５３）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（５１）と接触し、テストプラグ挿入時には該可動接点（５１）と離れるように位置する、ことを特徴とする請求項1，２，３又は４に記載のテストターミナル。
【請求項６】
電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを用いて、遮断器を動作させるトリップコイルを制御する方法であって、
保護継電器の動作指令を入力し、
テストプラグ挿入前に操作するロックスイッチによる信号を入力し、
前記テストターミナルの接点部からの出力信号を入力することにより、遮断器の誤遮断を防ぐこと、を特徴とするトリップコイルの制御方法。
【請求項７】
電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを構成部品として備えた保護継電器であって、
該保護継電器が形成する遮断器引き外し回路において、該テストターミナルの接点部からの出力信号を入力する接点を該遮断器引き外し回路に設けたこと、を特徴とする保護継電器。
【請求項８】
自動復旧装置の機能をロックする信号やロックを解除する信号を出力する制御回路を有する自動復旧装置において、
電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを構成部品として備え、
該テストターミナルの接点部からの出力信号を入力する接点を該制御回路に設けたこと、を特徴とする自動復旧装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、保護継電器等の試験や取替えの際に使用するテストターミナルに係り、特にテストプラグの誤挿入やスイッチの操作ミス等による遮断器の誤遮断を防ぐことができるテストターミナル、それを用いたトリップコイルの制御方法及びそのテストターミナルを備えた装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
送電系統における高電圧、大電力回路の電流は変流器（ＣＴ）を、高圧、特別高圧の電圧は計器用変圧器（ＰＴ）を通して、保護継電器や計器等に接続される。保護継電器等は、線路や機器の故障等を検出すると、遮断器にトリップ信号を送り遮断器を動作させ、故障区間を系統から切り離しその影響を最小限に抑える。そして、この保護継電器等の試験や交換が線路を活線状態にしたままで行えるように、変流器等と保護継電器等の間にはテストターミナル（テスト端子）が配設されている。テストターミナルは、テストプラグの挿入により、保護継電器等を変流器等のある電源側から電気的に切り離すという役割を担う。
【０００３】
一般的に、テストターミナルにテストプラグを挿入する前には、保護継電器等がテストプラグ挿入による電気的な変化（要素不足）を故障と判断しトリップ信号を遮断器に送ることを防ぐため、保護継電器等のトリップ回路はロックされる。そこで、例えば、特許文献１の特開２００７−１４７３７２号「テスト端子」などが提案されている。
特許文献１には、テスト端子の中性相の可動接触子の長さを他の各相の可動接触子の長さより短くすることにより、地絡継電器の誤作動を防ぐものが記載されている。
【特許文献１】特開２００７−１４７３７２号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
前述のように、保護継電器や計器の試験や取替えを行う際には、遮断器にトリップ信号を出力しないよう、保護継電器等のトリップ回路をロックしてからテストプラグが挿入される。しかし、複雑な作業工程の中、トリップ回路をロックすることを忘れてしまうことがある。そのため、テストプラグの挿入により整定値外の電流又は電圧が規定時間以上入力されると、保護継電器等はトリップ回路に信号を送りトリップ回路を形成し、遮断器を動作させてしまい、電気設備が停電するという問題を有していた。
【０００５】
また、作業工程の中で、保護継電器等の試験等終了後にはテストプラグを抜いてからトリップ回路のロックを解除するが、テストプラグを抜くのを失念したまま解除してしまう場合がある。さらに、テストターミナルの可動接触板の動作不良によりテストプラグを抜いても電源側導体の可動接触板と負荷側導体の可動接触板の間隔が広がった状態で戻らず、接触部が離れたままであることに気づかずにトリップ回路のロックを解除してしまう場合もある。このような場合にも前述と同様に保護継電器等はトリップ回路に信号を送り、遮断器を動作し、意図せぬ停電が起きるおそれがある。
【０００６】
本発明は、上述した問題点を解決するために創案されたものである。すなわち本発明の目的は、保護継電器や計器の、試験や取替えの際に起こる人為的ミスや可動接触板の動作不良によりトリップ回路が形成されることを防止し、遮断器の誤遮断を防ぐことを可能とするテストターミナル、それを用いたトリップコイルの制御方法及びそのテストターミナルを備えた装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するための本発明の第1の態様のテストターミナルは、電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成し、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたことを特徴とする。
【０００８】
本発明の第２の態様のテストターミナルは、前記接点部における前記可動接点（３１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、前記筐体（２）内面側に絶縁体（３５）を介して設けられ、前記固定接点（３２）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（３１）と離れ、テストプラグ挿入時には該可動接点（３１）と接するように位置し、該負荷側導体部（１１）の支持導体（１３）に絶縁体（３６）を介して配置されたことを特徴とする。
【０００９】
本発明の第３の態様のテストターミナルは、前記接点部における前記可動接点（３３）は、前記電源側導体部（２１）の前記可動接触板（２７）の、前記筐体（２）内面側に絶縁体（３７）を介して設けられ、前記固定接点（３４）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（３３）と離れ、テストプラグ挿入時には該可動接点（３３）と接するように位置し、該電源側導体部（２１）の支持導体（２３）に絶縁体（３８）を介して配置されたことを特徴とする。
【００１０】
本発明の第４の態様のテストターミナルは、前記接点部における前記可動接点（５１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、プラグ挿入口（１）と反対側の先端部に先端部を延長するように、絶縁板（３）を介して設けられ、前記固定接点（５２）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（５１）と離れ、テストプラグの挿入時には該可動接点（５１）と接するように位置することを特徴とする。
【００１１】
本発明の第５の態様のテストターミナルは、前記接点部における前記可動接点（５１）は、前記負荷側導体部（１１）の前記可動接触板（１７）の、プラグ挿入口（１）と反対側の先端部に先端部を延長するように、絶縁板（３）を介して設けられ、前記固定接点（５３）は、テストプラグの未挿入時には該可動接点（４１）と接触し、テストプラグ挿入時には該可動接点（５１）と離れるように位置する、ことを特徴とする。
【００１２】
本発明の第６の態様のトリップコイルの制御方法は、電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを用いて、遮断器を動作させるトリップコイルを制御する方法であって、保護継電器の動作指令を入力し、テストプラグ挿入前に操作するロックスイッチによる信号を入力し、前記テストターミナルの接点部からの出力信号を入力することにより、遮断器の誤遮断を防ぐことを特徴とする。
【００１３】
本発明の第７の態様の保護継電器は、電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを構成部品として備えた保護継電器であって、該保護継電器が形成する遮断器引き外し回路において、該テストターミナルの接点部からの出力信号を入力する接点を該遮断器引き外し回路に設けたことを特徴とする。
【００１４】
本発明の第８の態様の自動復旧装置は、自動復旧装置の機能をロックする信号やロックを解除する信号を出力する制御回路を有する自動復旧装置において、電源側に接続される電源側導体部（２１）と負荷側に接続される負荷側導体部（１１）を複数組有するテストターミナルであり、前記電源側導体部（２１）と負荷側導体部（１１）は筐体（２）内部の上面及び下面に相対向して設置され、通常時には該電源側導体部（２１）と該負荷側導体部（１１）は接点（１４，２４）において電気的に接続され、所定の試験時にはテストプラグの挿入により該電源側導体部（２１）の可動接触板（２７）と該負荷側導体部（１１）の可動接触板（１７）の間隔が広がり、接点（１４，２４）が離れることにより、電源側と負荷側を電気的に切り離すことができるように構成され、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために、一対の可動接点と固定接点からなる接点部を設けたテストターミナルを構成部品として備え、該テストターミナルの接点部からの出力信号を入力する接点を該制御回路に設けたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明のテストターミナルは、テストターミナルに接点部を設けることにより、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力することができるものである。この出力を保護継電器のトリップ回路や自動復旧装置の制御回路に取り込むことにより、従来の問題点であった人為的ミスや可動接触板の動作不良による遮断器の誤遮断を防ぐことができる。
【００１６】
また、前記出力を遠隔制御装置に取り込むことにより、送電系統の総括的な監視・制御を行っている、遠隔地にある制御所であっても、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を認識することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明は、接点部の出力信号により可動接触板の動作変化を情報として取り出し、テストプラグの挿入・未挿入の状態を認識することができるテストターミナルと、接点部の出力信号を利用して遮断器を動作させるトリップコイルを制御する方法と、該テストターミナルを備え、接点部の出力信号を利用する装置である。
【実施例１】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図１は本発明の実施例１のテストターミナルを示し、（ａ）は通常時（テストプラグ未挿入）におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側面図であり、（ｂ）は開放時（テストプラグ挿入）におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側図（テストプラグは二点鎖線で記載）である。図２（ａ）は一般的なトリップ回路の回路構成図であり、図２（ｂ）は実施例１についての回路構成図である。なお、図１と図３の同一部分には同一番号を付してある。
実施例１のテストターミナルは、テストプラグ挿入口１を側面に有する筐体２内部の上面及び下面に接するように相対向して配設された一対の負荷側導体部１１と電源側導体部２１を複数組有する。
【００１９】
負荷側導体部１１は、負荷側端子１２と、支持導体１３と、可動接点１４及び接触部１５，１６を有する可動接触板１７と、スプリング１８とから構成される。
負荷側端子１２の一端は、筐体２の内面に接するように配されている支持導体１３と筐体２内部で嵌合し、負荷側端子１２の他端は筐体２内部から外部に突出している。可動接点１４は、相対する電源側導体部２１の円柱状導体部２９の固定接点２４に通常時に接触するように、可動接触板１７に設置されている。接触部１５，１６はテストプラグ挿入時にテストプラグと接触する部分である。スプリング１８の一端は該支持導体１３に固定され、スプリング１８の他端は可動接触板１７に固定される。図１（ａ），（ｂ）に示すように、テストプラグの挿入により、可動接触板１７とスプリング１８は変形して縮むが、テストプラグを抜くと元に戻る。
【００２０】
該電源側導体部２１は、電源側端子２２と、支持導体２３と、接触部２５，２６を有する可動接触板２７と、スプリング２８と、固定接点２４を有する円柱状導体部２９と、円柱状導体部２９を支持導体２３に固定する略逆Ｌ字状導体３０から構成される。
電源側端子２２の一端は、筐体２の内面に接するように配されている支持導体２３と筐体２内部で嵌合し、電源側端子２２の他端は筐体２内部から外部に突出している。接触部２５，２６はテストプラグ挿入時にテストプラグと接触する部分である。スプリング２８の一端は該支持導体２３固定され、スプリング２８の他端は可動接触板２７に固定される。固定接点２４は、相対する負荷側導体部１１の可動接触板１７に設置されている可動接点１４と通常時に接するように円柱状導体２９に設置されている。図１（ａ），（ｂ）に示すように、テストプラグの挿入により、可動接触板２７とスプリング２８は変形して縮むが、テストプラグを抜くと元に戻る。
【００２１】
図１（ａ）に示したように、通常時、即ち保護継電器の試験等のためにテストプラグが挿入されていない場合には、負荷側導体部１１の可動接触板１７の可動接点１４と電源側導体部２１の円柱状導体部２９の固定接点２４が接触することによって、負荷側と電源側が接続されている。また、図１（ｂ）に示したように、開放時、即ち保護継電器の試験等のためにテストプラグの挿入された場合には、テストプラグの挿入により負荷側導体部１１の可動接触板１７と電源側導体部２１の可動接触板２７の間隔が広げられることにより、接触していた負荷側導体部１１の可動接触板１７の可動接点１４と電源側導体部２１の円柱状導体部２９の固定接点２４が離れ、負荷側と電源側が電気的に切り離される。つまり、テストプラグ挿入により、負荷側導体部１１の負荷側端子１２に接続されている保護継電器等に入力される電流や電圧の値には電気的な変化が生じる。
【００２２】
テストプラグ挿入して行われる保護継電器の試験等の際には、前述の電気的な変化により保護継電器が遮断器にトリップ信号を出力しないよう、作業者は保護継電器のトリップ回路をロックしてからテストプラグを挿入する。しかし、電気設備の点検作業は多大かつ複雑な作業工程であるため、トリップ回路をロックすることを忘れてしまうことがある。このロック忘れのために、テストプラグの挿入により整定値外の電流又は電圧が規定時間以上入力される（要素不足が起こる）と、保護継電器等は事故発生と判断し遮断器を動作させるので、意図しない停電が起こる。
【００２３】
このような誤遮断を防ぐために、本実施例のテストターミナルの筐体２内部には、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために２つの接点部Ｘ１，Ｘ２（二対の可動接点と固定接点：３１と３２，３３と３４）が設けられている。
【００２４】
接点部Ｘ１は、可動接点３１と固定接点３２からなる。可動接点３１は、負荷側導体部１１の可動接触板１７の、筐体２内面側に絶縁体３５を介して設けられ、固定接点３２は、図１（ａ）に示したようにテストプラグの未挿入時には可動接点３１と離れ、図１（ｂ）に示したようにテストプラグ挿入時には可動接点３１と接するように位置し、負荷側導体部１１に絶縁体３６を介して配置されている。
接点部Ｘ２は、可動接点３３と固定接点３４からなる。可動接点３３は、電源側導体部２１の可動接触板２７の、筐体２内面側に絶縁体３７を介して設けられ、固定接点３４は、図１（ａ）に示したようにテストプラグの未挿入時には可動接点３３と離れ、図１（ｂ）に示したようにテストプラグ挿入時には可動接点３３と接するように位置し、電源側導体部２１に絶縁体３８を介して配置されている。
【００２５】
この２つの接点部Ｘ１，Ｘ２は、テストプラグが未挿入であれば、両接点部とも可動接点３１，３３と固定接点３２，３４が離れた状態なので、「電圧無」の信号を出力する。また、テストプラグが挿入されていれば、両接点部とも可動接点３１，３３と固定接点３２，３４が接した状態なので、「電圧有」の信号を出力する。これらの出力信号を利用することによって、トリップ回路のロック忘れによる遮断器の誤遮断を防ぐことができる。以下、その態様を述べる。
【００２６】
図２（ａ）に示すように、通常のトリップ回路では、保護継電器の動作指令により閉じる常開接点（以下、Ｒｙ動作接点という）４１と、テストターミナル挿入前に遮断器が誤作動するのを防ぐために操作するロックスイッチ（以下、ロックＳＷという）の接点４２と、遮断器を遮断する操作機構を動作させるトリップコイル（ＴＣ）４３が直列に接続されている。なお、この回路には、トリップ回路形成時にトリップコイルの焼損を防止するためにリミットスイッチ等の開放部が設けられる場合もある。
この場合、ロックＳＷをロックするのを忘れてテストプラグが挿入された場合、ロックＳＷの接点４２が閉じたままであり、テストプラグ挿入による電気的変化により保護継電器の動作指令がなされＲｙ動作接点４１が閉じ、トリップ回路が形成されてしまう。
しかし、本実施例の場合は図２（ｂ）に示すように、通常のトリップ回路に、直列にテストターミナルの接点Ｘ１の出力信号を入力する常閉接点（ＴＸ１）４４を設けている。この常閉接点（ＴＸ１）４４は、テストプラグの挿入時には接点部Ｘ１から「電圧有」の信号が入力されるので開くので、トリップ回路が形成されない。つまり常閉接点（ＴＸ１）４４によってテストプラグ挿入時にはトリップ回路は強制的にロックされ、保護継電器から動作指令がなされても（Ｒｙ動作接点４１が閉じても）トリップコイル（ＴＣ）４３に電流が流れないので遮断器が動作せず、誤遮断を防ぐことができる。
【００２７】
さらに、図２（ａ）に示す通常のトリップ回路においては、前述と同様に遮断器を意図せずに遮断させてしまう場合がある。例えば、保護継電器の試験等終了後にはテストプラグを抜いてからトリップ回路のロックＳＷ４２のロックを解除しなければならないところ、誤ってテストプラグを抜き忘れたままロックを解除してしまう場合である。また、テストターミナルの可動接触板１７，２７の動作不良が発生し、テストプラグを抜いても負荷側導体部１１の可動接触板１７と電源側導体部２１の可動接触板２７の間隔が広がった状態で戻らず、負荷側導体部１１の可動接点１４と電源側導体部２１の固定接点２４が離れたままであることに気づかずにロックＳＷ４２のロックを解除してしまう場合である。
【００２８】
しかし、図２（ｂ）に示すようにテストターミナルの接点部Ｘ１の出力信号を入力する常閉接点（ＴＸ１）４４をトリップ回路に設けることにより、テストプラグが挿入されている限り、接点部Ｘ１の「電圧有」の出力信号が常閉接点（ＴＸ１）４４に入力され、常閉接点（ＴＸ１）４４は開きトリップ回路は形成されない。テストターミナルの可動接触板１７，２７の動作不良の場合も可動接点３１と固定接点３２とは接触したままであるので、同様に常閉接点（ＴＸ１）４４は開きトリップ回路は形成されない。このように本発明では、ロックスイッチのロック忘れだけでなく、テストプラグの抜き忘れや可動接触板１７，２７の動作不良による遮断器の誤遮断も防ぐことができる。
【００２９】
また、図２（ｂ）に示すようにテストターミナルの接点X２の出力信号は、常開接点（ＴＸ２）４５により遠隔制御装置に入力することで、遠隔制御装置を経由して制御所に伝送することができる。これにより系統の監視・制御を行っている制御所が遠隔地にあっても、テストプラグの挿入乃至未挿入を確認することができる。
【００３０】
本実施例では、テストターミナルの接点部Ｘ１とＸ２の出力信号は同じであるので、テストターミナル内に接点部Ｘ２を設けず接点部Ｘ１のみとし、遠隔制御装置の入力に接点部Ｘ１の出力信号を利用することもできる。また、接点部Ｘ１又はＸ２の出力信号は接続する機器にあわせて信号の取り込み方を変えることにより、自由に利用することができる。
さらにテストターミナルはその用途に合わせて、負荷側導体部１１と電源側導体部２１を複数組有するが、接点部Ｘ１，Ｘ２をどの負荷側導体部１１又は電源側導体部２１に対して設けるか、いくつを設けるかは自由に選ぶことができる。テストターミナルには、そのテストターミナルの負荷側導体部１１と電源側導体部２１の組数に応じた、一体化したテストプラグが挿入されるので、遮断器の誤遮断を防ぐ事のみを考えれば、接点部を複数個設ける必要はない。しかし、接点部Ｘ１，Ｘ２を複数個設け、その個々の出力信号を比較処理し、現地の配電盤や制御所の制御盤に情報として表示すれば、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態をより正確に判断できるだけでなく、個々の可動接触板１７，２７の動作不良の発生や接点部Ｘ１，Ｘ２の不良発生も認識することができる。
【実施例２】
【００３１】
図３は本発明の実施例２のテストターミナルを示す図であり、（ａ）は通常時（テストプラグ未挿入）におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側面図であり、（ｂ）は開放時（テストプラグ挿入）におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側図(テストプラグは二点鎖線で記載)である。なお、図面の中で接点部Ｙ１，Ｙ２は模式的に示されている。図４は自動復旧装置の設置例の要部を示すものである。図５は自動復旧装置の遮断制御回路構成図の一例を示した図であり、図６は実施例２についての自動復旧装置の遮断制御回路構成の一例を示す図である。
実施例２のテストターミナルは、実施例１のテストターミナルと接点部の位置が異なる。このテストターミナルの筐体２内部には、テストプラグの挿入乃至未挿入の状態を電気的に出力可能とするために二つの接点部Ｙ１，Ｙ２（二対の可動接点と固定接点：５１と５２，５１と５３）が設けられている。
【００３２】
一つの接点部Ｙ１は、可動接点５１と固定接点５２からなる。可動接点５１は、負荷側導体部１１の可動接触板１７の、プラグ挿入口１と反対側の先端部に先端部を延長するように、絶縁板3を介して設けられ、固定接点５２は、図３（ａ）に示したようにテストプラグの未挿入時には可動接点５１と離れ、図３（ｂ）に示したようにテストプラグ挿入時には可動接点５１と接するように位置する。
もう一つの接点部Ｙ２は、可動接点５１と固定接点５３からなる。固定接点５３は、図３（ａ）に示したようにテストプラグの未挿入時には可動接点５１と接触し、図３（ｂ）に示したようにテストプラグ挿入時には可動接点５１と離れるように位置する。
【００３３】
つまり、接点部Ｙ１は、テストプラグが未挿入であれば可動接点５１と固定接点５２が離れた状態なので、「電圧無」の信号を出力することができ、テストプラグが挿入されていれば可動接点５１と固定接点５２が接した状態なので、「電圧有」の信号を出力することができる。また、接点部Ｙ２は、テストプラグが未挿入であれば可動接点５１と固定接点５３が接した状態なので、「電圧有」の信号を出力することができ、テストプラグが挿入されていれば可動接点５１と固定接点５３が離れた状態なので、「電圧無」の信号を出力することができる。
このような接点部Ｙ１，Ｙ２の出力信号を利用することによっても、実施例１に示したように、保護継電器のトリップ回路の形成を制御し、遮断器の誤遮断を防ぐことができるのはもちろんである。
【００３４】
実施例２では、接点部Ｙ１，Ｙ２の出力信号を自動復旧装置において使用する一例を示す。
自動復旧装置は、送電線に事故等が発生するとトリップ信号を送り、遮断器により電線路を遮断する機能（トリップ指令機能）を有し、また、その後に所定の条件下で保護リレー装置の動作により遮断器を再閉路して、停電した送電線を自動的に復旧する機能（投入指令機能）を有する装置である（以下、トリップ指令機能と投入指令機能とを併せてＡＲＥ機能という）。
【００３５】
図４は変電所における自動復旧装置の配置例の要部である。母線６１から変電所を通り他の変電所へとつながる送電線６２には、遮断器（ＣＢ）６３が設置されている。計器用変圧器（ＰＴ）６４からの母線電圧ＶＢ１，ＶＢ２と計器用変圧器（ＰＴ）６５からの線路電圧ＶＬ１、ＶＬ２は、自動復旧装置６６内部にある電圧用テストターミナル（ＰＴＴ）６７を介して演算部６８に入力される。自動復旧装置の演算部６８は入力された情報を基にしてＣＢ制御信号６９を送り、遮断器６３を制御する。
【００３６】
図５は自動復旧装置の遮断制御回路構成図の一例を示した図である。
図５に示すように、自動復旧装置のＡＲＥ機能制御回路は、自動復旧装置（Automatic  Restoration  Equipment）の操作盤にある、使用・不使用が連動する「ＡＲＥ機能の使用・不使用切替スイッチ」（以下、ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチという）Ｓ１と、遠隔制御監視装置（Tele  Control   Equipment）の操作盤にある「ＡＲＥ機能の使用・不使用切替スイッチ」（以下、ＴＣ盤の使用・不使用スイッチという）Ｓ２があり、それぞれキープリレー（ラッチリレー）７１，７２に接続されている。
ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１は、作業者が作業時に現場で操作するものである。また、ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２は、受電設備全体を総括し、監視制御を行う遠方の制御所等の遠隔制御装置に備えられたものであり、制御所からＡＲＥ機能の使用・不使用を設定する必要がある場合に切り替えるものである。
キープリレーは、一時的な通電で接点を閉じ（又は開き）、通電が切れた後もその接点の開く（又は閉じる）ための通電があるまでの間、閉じた状態（又は開いた状態）を保持できる機能を有するものである。ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１とＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２は、それぞれ「使用」にすると、ＡＲＥ機能のロック解除信号を出力するキープリレー７１の接点を閉じ（ＳＥＴ）、ＡＲＥ機能のロック信号を出力するキープリレー７２の接点を開く（ＲＥＳＥＴ）ように接続されている。また、「不使用」にするとＡＲＥ機能のロック解除信号を出力するキープリレー７１の接点を開き（ＲＥＳＥＴ）、ＡＲＥ機能のロック信号を出力するキープリレー７２の接点を閉じる（ＳＥＴ）ように接続されている。よって、ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１とＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２が「使用」のときには、キープリレー７１によりＡＲＥ機能のロック解除信号が出力され、キープリレー７２によりＡＲＥ機能のロック信号は出力されなくなる。また、「不使用」のときには、キープリレー７２によりＡＲＥ機能のロック信号が出力され、キープリレー７１によりＡＲＥ機能のロック解除信号が出力されなくなる。（以下、キープリレー７１，７２については、接点が閉じる場合（ＳＥＴに接続される場合）について述べ、開く場合（ＲＥＳＥＴに接続される場合）については省略する。）
【００３７】
自動復旧装置６６の試験を行う場合、作業者はあらかじめ自動復旧装置６６から遮断器６３にトリップ信号を送らないように切替スイッチ（以下、４３ＴＬという）を「試験」にしてから、自動復旧装置６６内に設けられている電圧用テストターミナル（ＰＴＴ）にテストプラグを挿入する。４３ＴＬを「試験」に切り替えれば、ＡＲＥ機能のうちのトリップ指令機能のみをロックすることができるからである。しかし、作業者がこの４３ＴＬの切り替えを失念してしまうことがある。この場合、テストプラグを挿入により負荷側（１１ＶＢ１，１１ＶＢ２，１１ＶＬ１，１１ＶＬ２）が電源側（２１ＶＢ１，２１ＶＢ２，２１ＶＬ１，２１ＶＬ２）から切り離されるため、自動復旧装置６６への入力が要素不足となり、自動復旧装置６６から遮断器６３にトリップ信号６９が出力され、遮断器６３を動作してしまう。
【００３８】
図６は実施例２についての自動復旧装置の遮断制御回路構成の一例を示す図である。
図６に示す回路は、前述の問題を解決するために、自動復旧装置のＡＲＥ機能制御回路に本実施例のテストターミナル内の接点部Ｙ１，Ｙ２の出力信号を取り込んだものである。通常のＡＲＥ機能使用回路（Ｉ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ））やＡＲＥ機能不使用回路（ＩＶ）に、接点部からの出力を入力する接点を設けることで誤遮断を防ぐことを可能とした。また、ＡＲＥ機能使用回路（Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ），ＩＩ）やＡＲＥ機能不使用回路（ＩＶ）に４３ＴＬ、実遮断器（ＣＢ）遮断試験用断路端子（以下、実遮用ＵＴＴという）の条件を取り込むことにより、自動復旧装置自体の再投入指令機能の試験や実遮断器遮断試験等にも対応できるものとした。なお、実遮用ＵＴＴについては後に述べる。
ＡＲＥ機能のロック解除信号を出力するキープリレー７１（ＳＥＴ）に接続される回路(使用回路Ｉ−１（Ａ）（Ｂ）、Ｉ−２（Ａ）（Ｂ）、ＩＩ)と、ＡＲＥ機能のロック信号を出力するキープリレー７２（ＳＥＴ）に接続される回路（不使用回路ＩＩＩ−１、ＩＩＩ−２、ＩＶ）の各回路は、以下のような構成になっている。
【００３９】
使用回路Ｉ−１（Ａ），Ｉ−１（Ｂ）は、ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１が「使用」の時に「接」する接点Ｓ１１に、接点部Ｙ１の信号が入力される常閉接点ＴＹ１−１と実遮用ＵＴＴが「ロック（ＯＦＦ）」の時のみ閉じる接点ＵＴ−１とが並列である回路を、直列に接続した回路である。
実遮用ＵＴＴとは、実遮断器の試験時に用いられるものであり、実遮断器の試験の時のみ「ロック（ＯＦＦ）」にされるスイッチである。実遮断器の試験は、感電事故などが起こらないように、また不要な停電が起こらないように、母線の断路器（ＬＢＳ）により遮断器を送電系統から切り離してから行われるものである。テストプラグから試験信号を入力し、実際にＡＲＥ機能によって遮断器が動作するかを確認する試験などが行われる。
【００４０】
使用回路Ｉ−２（Ａ），Ｉ−２（Ｂ）は、ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２が「使用」の時に「接」する接点Ｓ２１に、接点部Ｙ１の信号が入力される常閉接点ＴＹ１−１と実遮用ＵＴＴが「ロック（ＯＦＦ）」の時のみ閉じる接点ＵＴ−１とが並列である回路を、直列に接続した回路である。
【００４１】
使用回路ＩＩは、自動復旧装置自体の試験をするときにのみ使用される押しボタンスイッチ（試験用使用スイッチ）Ｓ３の接点Ｓ３１と、同じく自動復旧装置自体の試験をするときにのみ「平常」から「試験」に切り替えられる切替スイッチ４３ＴＬの接点４３ＴL−１が直列に接続される。接点４３ＴＬ−１は、４３ＴＬが「平常」の時には「開」き、「試験」の時は「閉」じる。
４３ＴＬは、遮断器にトリップ信号を出力せずに自動復旧装置内部の試験をすることを可能とするスイッチである。４３ＴLが「試験」であれば、ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１や ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２の「使用」・「不使用」に関らず、自動復旧装置のトリップ指令機能はロックされ、遮断器にトリップ信号が送られることはない。例えば、４３ＴＬが「試験」であればテストプラグを抜き忘れ、テストプラグ挿入状態でＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチを「使用」にしても、自動復旧装置は遮断器にトリップ信号を送らない。また、４３ＴＬが「平常」であれば、試験用使用スイッチを押すことができないようになっている。
【００４２】
以上の５つの使用回路のいずれかがつながれば、ＡＲＥ機能のロック解除信号を出力するキープリレー７１の接点が閉じ、自動復旧装置のＡＲＥ機能が使用できる状態となり、その状態が保持される。
【００４３】
不使用回路ＩＩＩ−１と不使用回路ＩＩＩ−２は、それぞれＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１が「不使用」の時に「接」する接点Ｓ１２からなる回路と、ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２が「不使用」の時に「接」する接点Ｓ２２からなる回路であり、図５に記載のものと変わらない。
【００４４】
不使用回路ＩＶは、４つの接点を直列につないだものである。
一つ目の接点ＴＹ１−２は、常開接点であり、実施例２のテストターミナルの接点部Ｙ１とＹ２の出力信号からテストプラグが挿入されていると判断した時（以下、開放時という）にのみ接点部Ｙ１の出力信号が入力されるものであり、テストプラグの未挿入と判断した時（以下、通常時という）には接点部Ｙ１の出力信号は入力されない。つまり、開放時の接点部Ｙ１，Ｙ２は、図３（ｂ）に示されているように、接点部Ｙ１は「閉」じ、かつ、接点部Ｙ２は「開」いている状態であるので、接点部Ｙ１が「電圧有」で、かつ、接点部Ｙ２が「電圧無」のときのみ、この接点ＴＹ１−２には接点部Ｙ１の「電圧有」の信号が入力され、接点が「閉」じる。
二つ目の接点Ｌ−ｂは、図４に示された継電器Ｒｙ（Ｌ）からの出力信号が入力される常閉接点であり、このＲｙ（Ｌ）は自動復旧装置６６内の電圧用テストターミナルの演算部６８側に設置されたものである。図４に示すように、母線電圧ＶＢ１，ＶＢ２と線路電圧ＶＬ１，ＶＬ２は、通常時には自動復旧装置６６内の電圧用テストターミナル（ＰＴＴ）６７を介し演算部６８に入力されている。開放時には、ＰＴＴの負荷側導体部１１ＶＢ１，１１ＶＢ２，１１ＶＬ１，１１ＶＬ２は、テストプラグの挿入により電源側導体部２１ＶＢ１，２１ＶＢ２，２１ＶＬ１，２１ＶＬ２と電気的に切り離される。つまり、テストプラグ未挿入の状態ではＶＬ１とＶＬ２をつなぐＲｙ（Ｌ）は「電圧有」の信号を出力するが、テストプラグ挿入により「電圧無」の信号を出力する。よって、Ｒｙ（Ｌ）の出力信号が入力される二つ目の接点Ｌ−ｂは、テストプラグ未挿入時には「電圧有」の信号が入力されるので「開」き、テストプラグ挿入時には「電圧無」の信号が入力されるので「閉」じる。なお、ＶＢ１とＶＢ２をつなぐＲｙ（Ｂ）の出力信号を用いても、同様である。
三つ目の接点４３ＴＬ−２は前述の切替スイッチ４３ＴＬの信号が入力される接点である。ここでは、使用回路ＩＩの場合と異なり、４３ＴＬ−２は４３ＴＬが「平常」の時には「閉」じ、「試験」の時は「開」く。
四つ目の接点ＵＴ−２は、前述の実遮用ＵＴＴの接点であるが、使用回路Ｉ−1，Ｉ−２の場合と異なり、実遮用ＵＴＴが「ロック（ＯＦＦ）」の時のみ開く接点である。
【００４５】
以上の３つの不使用回路のいずれかがつながれば、ＡＲＥ機能のロック信号を出力するキープリレー７２の接点が閉じ、自動復旧装置のＡＲＥ機能は使用できない状態となり、その状態が保持される。
【００４６】
次に自動復旧装置の各場合についての、各回路の接点等の開閉状態を図６に基づいて説明する。
【００４７】
自動復旧装置が通常に使用されている場合は以下のようになる。
この場合、テストプラグは未挿入なので、実施例２のテストターミナル内の接点部Ｙ１は「電圧無」の信号出力をし、接点部Ｙ２は「電圧有」の信号出力をする。接点部Ｙ１と接点部Ｙ２の出力信号により、テストターミナルの状態は「通常時」と判断される。
各スイッチや接点の開閉状態は以下のようになる。
（１）ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１は「使用」であり、Ｓ１１は「閉」じ、Ｓ１２は「開」く。
（２）Ｙ１の信号が入力される常閉接点ＴＹ１−１には「電圧無」が入力され、ＴＹ１−１は「閉」じる。
（３）実遮用ＵＴＴは実遮断器試験時ではないので「ロック解除（ＯＮ）」であり、ＵＴ−１は「開」き、ＵＴ−２は「閉」じる。
（４）ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２は「使用」であり、Ｓ２１は「閉」じ、Ｓ２２は「開」く。
（５）試験用使用スイッチＳ３は「ＯＦＦ」であり、Ｓ３１は「開」く。
（６）切替スイッチ４３ＴＬは「平常」であり、４３ＴＬ−１は「開」き、４３ＴＬ−２は「閉」じる。
（７）開放時を認識した時にのみ接点部Ｙ1の出力信号が入力される接点ＴＹ１−２には、テストプラグ未挿入であり「開放時」と判断されないので、出力信号は入力されず、ＴＹ１−２は「開」いたままである。
（８）継電器Ｒｙ（Ｌ）の出力信号が入力される常閉接点Ｌ−ｂには、テストプラグが未挿入であるため、Ｒｙ（Ｌ）から「電圧有」が入力され、Ｌ−ｂは、「開」く。
【００４８】
よって、上記より、各回路の接続・未接続状態は以下のようになる。
１）使用回路Ｉ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ）は、Ｓ１１，Ｓ２１もＴＹ１−１も閉じているので、回路がつながる。
２）使用回路Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ）は、ＵＴ−１が開いており、回路はつながらない。
３）使用回路ＩＩは、Ｓ３１も４３ＴＬ−１も開いており、回路はつながらない。
４）不使用回路ＩＩＩ−１，ＩＩＩ−２は、Ｓ１２，Ｓ２２が開き、回路はつながらない。
５）不使用回路ＩＶは、ＴＹ１−２もＬ−ｂも開いており、回路はつながらない。
よって、使用回路Ｉ−１により、キープリレー７１の接点が閉じ、ロック解除信号が出力される。
【００４９】
自動復旧装置の試験の際に起こる誤操作等について説明する。
自動復旧装置の試験をする場合には、４３ＴＬを「平常」から「試験」に切り替えた後に、テストプラグを挿入する。４３ＴＬを切り替えることにより、前述のようにＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチやＴＣ盤の使用・不使用スイッチの「使用」・「不使用」に関らず、自動復旧装置が遮断器にトリップ信号を送るのを防ぐことができる。しかし、４３ＴＬを「試験」に切り替えるのを失念したまま、テストプラグを挿入してしまい、遮断器の誤遮断を起こす場合がある。
逆に、自動復旧装置の試験が終了し、通常の使用状態に戻すときも、テストプラグを抜いた後に４３ＴＬを「試験」から「平常」に切り替えるが、この場合もテストプラグを抜くのを失念し、テストプラグ挿入のまま４３ＴＬを「平常」に切り替えてしまうことがある。また、テストプラグを抜いても可動接触板１７の動作不良により、可動接定接点１４が通常の位置に戻らず、電源側と負荷側が切り離された状態のまま４３ＴＬを「平常」に戻してしまう場合もある。これらの場合も同様の理由で遮断器の誤遮断が起きる。
この時、テストプラグは挿入又はそれと同様の状態なので、実施例２のテストターミナル内の接点部Ｙ１は「電圧有」の信号出力をし、接点部Ｙ２は「電圧無」の信号出力をする。接点部Ｙ１と接点部Ｙ２の出力信号により、テストターミナルの状態は「開放時」と判断される。
各スイッチや接点の開閉状態は以下のようになる。
（１）ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１は「使用」であり、Ｓ１１は「閉」じ、Ｓ１２は「開」く。
（２）Ｙ１の信号が入力される常閉接点ＴＹ１−１は「電圧有」が入力され、ＴＹ１−１は「開」く。
（３）実遮用ＵＴＴは実遮断器試験時ではないので「ロック解除（ＯＮ）」であり、ＵＴ−１は「開」き、ＵＴ−２は「閉」じる。
（４）ＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２は「使用」であり、Ｓ２１は「閉」じ、Ｓ２２は「開」く。
（５）試験用使用スイッチＳ３は「ＯＦＦ」であり、Ｓ３１は「開」く。
（６）切替スイッチ４３ＴＬは「平常」であり、４３ＴＬ−１は「開」き、４３ＴＬ−２は「閉」じる。
（７）開放時を認識した時にのみ接点部Ｙ１の出力信号が入力される接点ＴＹ１−２には、テストプラグは挿入又はそれと同様の状態であり「開放時」と判断されることにより、接点部Ｙ１の出力信号「電圧有」が入力されて、ＴＹ１−２は「閉」じる。
（８）継電器の出力信号が入力される常閉接点には、テストプラグ挿入により、Ｒｙ（Ｌ）が「電圧無」を出力し、Ｌ−ｂは「閉」じる。
【００５０】
よって、上記より、各回路の接続・未接続状態は以下のようになる。
１）使用回路Ｉ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ）は、ＴＹ１−１が開いており、回路はつながらない。
２）使用回路Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ）は、ＵＴ−１が開いており、回路はつながらない。
３）使用回路ＩＩは、Ｓ３１も４３ＴＬ−１も開いており、回路はつながらない。
４）不使用回路ＩＩＩ−１，ＩＩＩ−２は、Ｓ１２，Ｓ２２が開き、回路はつながらない。
５）不使用回路ＩＶは、ＴＹ１−２もＬ−ｂも４３ＴＬ−２もＵＴ−２も閉じているので、回路がつながる。
よって、不使用回路ＩＶにより、キープリレー７２の接点が閉じ、ロック信号が出力される。これにより、遮断器へのトリップ信号出力がロックされ、遮断器の誤遮断を防ぐことができる。
【００５１】
実際に自動復旧装置の試験をする場合は以下のようになる。
自動復旧装置の試験をする場合には、４３ＴＬを「平常」から「試験」に切り替えた後に、テストプラグを挿入し、試験用使用スイッチＳ３を「ＯＮ」にする。４３ＴＬを切り替えることにより、前述のようにＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１やＴＣ盤の使用・不使用スイッチＳ２の「使用」・「不使用」やテストプラグの挿入と未挿入に関らず、自動復旧装置は遮断器にトリップ信号は送らない。
４３ＴＬによって無効等にならない回路のスイッチや接点の開閉状態は以下のようになる。
（１）試験用使用スイッチＳ３は「ＯＮ」であり、Ｓ３１は「閉」じる。
（２）切替スイッチ４３ＴＬは「試験」であり、４３ＴＬ−１は「閉」じ、４３ＴＬ−２は「開」く。
【００５２】
よって、上記より、各回路の接続・未接続状態は以下のようになる。
１）使用回路Ｉ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ）は、４３ＴＬを「試験」に切り替えたことにより、遮断器にトリップ信号を送らない。
２）使用回路Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ）も４３ＴＬを「試験」に切り替えたことにより、遮断器にトリップ信号を送らない。
３）使用回路ＩＩは、Ｓ３１も４３ＴＬ−１も閉じるので、回路がつながる。
４）不使用回路ＩＩＩ−１，ＩＩＩ−２は、４３ＴＬを「試験」に切り替えたことにより、遮断器にトリップ信号を送らない。
５）不使用回路ＩＶは、４３ＴＬ−２が開き、回路はつながらない。
よって、４３ＴＬの「試験」に切り替えているので遮断器にトリップ信号を送らずに、使用回路ＩＩにより、自動復旧装置の遮断機能について試験をすることができる。
【００５３】
テストプラグからの試験信号入力により実遮断器の試験をする場合は以下のようになる。
テストプラグは挿入されているので、実施例２のテストターミナル内の接点部Ｙ１は「電圧有」の信号出力をし、接点部Ｙ２は「電圧無」の信号出力をする。接点部Ｙ１と接点部Ｙ２の出力信号により、テストターミナルの状態は「開放時」と判断される。
各スイッチや接点の開閉状態は以下のようになる。
（１）ＡＲＥ盤の使用・不使用スイッチＳ１は「使用」であり、Ｓ１１は「閉」じ、Ｓ１２は「開」く。
（２）Ｙ1の信号が入力される常閉接点ＴＹ１−１は「電圧有」が入力され、ＴＹ１−１は「開」く。
（３）実遮用ＵＴＴは実遮断器試験時ではないので「ロック（ＯＦＦ）」であり、ＵＴ−１は「閉」じ、ＵＴ−２は「「開」く。
（４）TC盤の使用・不使用スイッチＳ２は「使用」であり、Ｓ２１は「閉」じ、Ｓ２２は「開」く。
（５）試験用使用スイッチＳ３は「ＯＦＦ」であり、Ｓ３１は「開」く。
（６）切替スイッチ４３TLは「平常」であり、４３ＴＬ−１は「開」き、４３ＴＬ−２は「閉」じる。
（７）開放時を認識した時にのみ接点部Ｙ１の出力信号が入力される接点ＴＹ１−２には、テストプラグ挿入であり「開放時」と判断されることにより、出力信号が入力されて、ＴＹ１−２は「閉」じる。
（８）継電器Ｒｙ（Ｌ）の出力信号が入力される常閉接点Ｌ−ｂには、テストプラグ挿入により、Ｒｙ（Ｌ）から「電圧無」が入力され、Ｌ−ｂは「閉」じる。
【００５４】
よって、上記より、各回路の接続・未接続状態は以下のようになる。
１）使用回路Ｉ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ）は、ＴＹ１−１が開いており、回路はつながらない。
２）使用回路Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ）は、Ｓ１１，Ｓ２１もＵＴ−１も閉じているので、回路がつながる。
３）使用回路ＩＩは、Ｓ３１も４３ＴＬ−１も開いており、回路はつながらない。
４）不使用回路ＩＩＩ−１，ＩＩＩ−２は、Ｓ１２，Ｓ２２が開き、回路はつながらない。
５）不使用回路ＩＶは、ＵＴ−２が開き、回路はつながらない。
よって、使用回路Ｉ−１（Ｂ），Ｉ−２（Ｂ）により、キープリレー７２の接点が閉じ、ロック解除信号が出力される。これにより、テストプラグからの試験信号入力により実遮断器が実際に電気回路を遮断するか否かの試験をすることができる。
【００５５】
以上に示したように、図３の実施例２のターミナルを利用した回路（図６）は、自動復旧装置の通常使用や試験、実遮断器の遮断試験に影響を与えることなく、自動復旧装置試験時に起こる４３ＴＬの切り替え忘れやテストプラグの抜き忘れによる遮断器の誤遮断を防ぐことができるものである。また、図６に示した回路は、自動復旧装置の通常運転時に使用するＩ−１（Ａ），Ｉ−２（Ａ）の回路に接点部Ｙ１の条件を取り込むことになるため、ＴＹ１−１の接点は常閉接点としている。接点部Ｙ１の接点不良により使用回路が形成されず自動復旧装置が操作不能となることを避けるためである。さらに、接点部Ｙ１，Ｙ２のどちらかに接点の不良が起きた場合には、両方の接点部から「電圧無」の信号、又は「電圧有」の信号が出力されるので、テストターミナルの状態は「開放時」とも「通常時」とも判断されず、接点部の異常発生を認識することも可能である。
【００５６】
本実施例でも実施例１同様、テストターミナルの接点部Ｙ２の出力信号を遠隔制御装置の常開接点（ＴＹ２）に入力することで、遠隔制御装置を経由して遠隔地にある制御所に伝送し、制御所にてテストプラグの挿入乃至未挿入を確認することができる。
また、接点部Ｙ1又はＹ2の出力信号は、接続する機器にあわせて信号の取り込み方を変えることにより、実施例１同様自由に利用することができる。但し、実施例２では通常時か、開放時かを認識するため、接点部Ｙ1とＹ2が少なくとも一組必要となるが、どこに設けるか、何組を設けるかは自由に選ぶことができる。接点部Ｙ1とＹ2の組数についても、実施例１と同様に、可動接触板１７，２７や各接点部の不良発生を認識し、テストプラグの挿入乃至未挿入についての確実な情報を得るために、複数の接点部の出力信号を利用する方がよい。
なお、上述した発明の実施の形態に限定されず、接点部からの入力信号を情報として処理又は利用できる機能を有する機器であれば、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変更できることは勿論である。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明のテストターミナルは、可動接触板１７，２７の動作の状態を接点部により出力するので、その出力信号の取り込み方により、各種機器に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の実施例１のテストターミナルを示し、（ａ）は通常時におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側面図であり、（ｂ）は開放時におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側図である。
【図２】トリップ回路の回路構成図であり、（ａ）は一般的な回路構成図であり、（ｂ）は実施例1についての一例を示す回路構成の図である。
【図３】本発明の実施例２のテストターミナルを示す図であり、（ａ）は通常時におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側面図であり、（ｂ）は開放時におけるテストターミナルの一部を切欠いた左側図である。接点部Ｙ１，Ｙ２は模式的に示されている。
【図４】自動復旧装置の設置例の要部を示した図である。
【図５】自動復旧装置の遮断制御回路構成図の一例を示した図である。
【図６】第２の実施例についての自動復旧装置の遮断制御回路構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１  テストプラグ挿入口
１１  負荷側導体部
２１  電源側導体部
１４，２４  接点
１５，１６，２５，２６  接触部
１７，２７  可動接触板
３１，３３，５１  可動接点
３２，３４，４２，４３  固定接点
Ｘ１，Ｘ２，Ｙ１，Ｙ２  接点部
【図１】
2010185764.tif 000003
【図２】
2010185764.tif 000004
【図３】
2010185764.tif 000005
【図４】
2010185764.tif 000006
【図５】
2010185764.tif 000007
【図６】
2010185764.tif 000008