(57)【要約】【課題】試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用仕切カバーを提供すること。【解決手段】テストプラグ端子用仕切カバー５０は、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄのうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置される絶縁性部材で形成された複数の仕切部材５１ａ、５１ｂを備える。仕切部材５１ａ、５１ｂは、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄの伸びる方向において、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂから活線側導体３３及び非活線側導体３４のいずれもよりも長い。【選択図】図３
2010166697.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれ、
絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、
前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、
前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、
を備えるテストプラグの前記複数の接続プラグ部を仕切るテストプラグ端子用仕切カバーであって、
それぞれが前記複数の接続プラグ部のうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置される絶縁性部材で形成された複数の仕切部材を備え、
各仕切部材は、各接続プラグ部の伸びる方向において、前記テストプラグ本体の他方の面から前記活線側導体及び前記非活線側導体のいずれもよりも長いことを特徴とするテストプラグ端子用仕切カバー。
【請求項２】
さらに、前記複数の接続プラグ部を区分けするように、互いの前記複数の仕切部材の端部を接続する仕切部材支持部を有する請求項１に記載のテストプラグ端子用仕切カバー。
【請求項３】
前記仕切部材支持部は前記複数の仕切部材を回転可能に支持する請求項２に記載のテストプラグ端子用仕切カバー。
【請求項４】
前記複数の仕切部材のうち所定の仕切部材は、前記テストプラグ本体の側面に接触する接触部を有する請求項１から３のいずれかに記載のテストプラグ端子用仕切カバー。
【請求項５】
前記接触部は、前記テストプラグ本体の側面を押さえつけるプッシャー機構を有する請求項４に記載のテストプラグ端子用仕切カバー。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配電盤などに設けられているテスト端子に嵌合させて使用されるテストプラグの短絡の防止を行うためのテストプラグ端子用仕切カバーに関する。
【背景技術】
【０００２】
遠制装置や保護継電器などの配電盤には、機器点検時に試験器と接続するためのテスト端子が設けられている。このテスト端子は、電源側装置に電気的に接続される電源側導体と、計器類等の負荷側装置に電気的に接続される負荷側導体とを備え、通常時は電気的に接続された状態となっている。試験時にはテストプラグのプラグ部が挿入されて電源側導体と負荷側導体との電気的接続が分離される。負荷側導体は、電源側装置の拘束を受けない状態でテストプラグの接続用端子となる接続プラグを介して配線により試験器等と接続される。そして、試験後には、テストプラグをテスト端子から外すことにより電源側導体と負荷側導体とが再び電気的に接続される。
【０００３】
従来の配電盤等におけるテスト端子を用いた試験作業中には、テスト端子の電源側導体と接続されているテストプラグにおいて、試験器等との接続用端子部分にビニールテープや絶縁シート等を用いた絶縁処理を施したり、絶縁カバーを用いることにより作業者の安全性や試験器等の損傷を防ぐ絶縁処理を施したりしていた（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実用新案登録第３０８１８４５号公報
【０００５】
特許文献１の発明は、テストプラグの活線側導体を覆い、非活線側導体を覆わない保護カバーを着脱自在に備えるが、これは、活線側導体の保護や作業中の安全性向上を目的としたものである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上述の絶縁処理は煩雑であり、また、作業者の技量によっては、十分な絶縁処理を行うまでに多くの時間を要する。また、絶縁処理が十分な状態で上述の試験作業を行うと、十分な絶縁処理がされていない箇所に導電性の工具等が接触して、ショートを引き起こし、ひいては、試験器の焼損や配電盤の損傷、テストプラグを操作する作業員にも感電等の危険が生じる恐れがある。
【０００７】
本発明は、以上のような問題を解決し、試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスによる短絡を防止することができるテストプラグ端子用仕切カバーを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明者は、精鋭研究を重ね、それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれるテストプラグに用いるテストプラグ端子用仕切カバーを発明するに至った。
【０００９】
そして、発明されたテストプラグ端子用仕切カバーは、絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、を備えるテストプラグの前記複数の接続プラグ部を仕切るのに最適である。より具体的には、発明者は、以下のテストプラグ端子用仕切カバーを発明した。
【００１０】
本発明に係るテストプラグ端子用仕切カバーは、それぞれが前記複数の接続プラグ部のうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置される絶縁性部材で形成された複数の仕切部材を備える。各仕切部材は、各接続プラグ部の伸びる方向において、前記テストプラグ本体の他方の面から前記活線側導体及び前記非活線側導体のいずれもよりも長いことを特徴とする。
【００１１】
本発明に係るテストプラグ端子用仕切カバーは、さらに、前記複数の接続プラグ部を区分けするように、互いの前記複数の仕切部材の端部を接続する仕切部材支持部を有してもよい。
【００１２】
前記仕切部材支持部は前記複数の仕切部材を回転可能に支持するようにしてもよい。
【００１３】
前記複数の仕切部材のうち所定の仕切部材は、前記テストプラグ本体の側面に接触する接触部を有するようにしてもよい。
【００１４】
前記接触部は、前記テストプラグ本体の側面を押さえつけるプッシャー機構を有するようにしてもよい。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、各仕切部材は、前記複数の接続プラグ部のうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置された絶縁性部材で形成され、また、各仕切部材は、各接続プラグ部の伸びる方向において、前記テストプラグ本体の他方の面から前記活線側導体及び前記非活線側導体のいずれもよりも長い。このため、各仕切部材は隣接する接続プラグ部の間に配置されるので、隣接する接続プラグ部の活線側導体及び前記非活線側導体が短絡しにくくなる。これにより、作業者や導電性を有する工具が接続プラグ部に電気的に接触する恐れがほとんど生じない。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明に係るテストプラグ端子用仕切カバーを示す斜視図である。
【図２】図１に示す仕切カバーの変形状態を示す正面図である。
【図３】図１に示す仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【図４】図３に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。
【図５】図４に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。
【図６】図５に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【図７】図６に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【図８】本発明に係る別の仕切カバーを示す側面図である。
【図９】図９に示す仕切カバーの部分斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて説明する。なお、以下の説明及び図面に記載した内容は、好適な実施形態の一例であって、発明の技術的範囲はこれに限られない。
【００１８】
図１は、本発明に係るテストプラグ端子用仕切カバーを示す斜視図である。図２は、図１に示す仕切カバーの変形状態を示す正面図である。図３は、図１に示す仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。図４は、図３に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図５は、図４に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図６は、図５に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。図７は、図６に続く仕切カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【００１９】
１．概要
図１及び図２に示すように、テストプラグ端子用仕切カバー５０は、図４に示すように、配電盤１のテスト端子口１０にテストプラグ３が挿入される前の状態、図７に示すように、配電盤１のテスト端子口１０にテストプラグ３が挿入されている状態、及び、図４に示すように、テストプラグ３がテスト端子口１０から抜かれた状態になるまで使用される。
【００２０】
つまり、テストプラグ３のテストプラグ本体３０に設けられたプラグ部３１がテスト端子口１０から挿入され、プラグ部３１における後述の活線側導体３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、３３ｄと非活線側導体３４ａ、３４ｂ、３４ｃ、３４ｄがテスト端子２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄにそれぞれ接続された状態で使用される。
【００２１】
また、テストプラグ本体３０のプラグ部３１と反対側の面３０ｂに接続プラグ部となる接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄが設けられている。なお、活線側導体、非活線側導体、テスト端子、及び、接続プラグ部が設けられている数は、それぞれ２以上となっているが、これらは、全て同一の構成である。以下においては、代表とする一の構成を詳述し、他の同一構成の部分については、図面及び説明を省略する。
【００２２】
２．各部
２−１．テスト端子及びテストプラグ
図３に示すように、テスト端子２は、絶縁性材料で形成されるフランジ２１及びテスト端子側筐体２２を備える。テスト端子２は、テスト端子２の内部に電源側装置８に接続する電源側導体１１と負荷側装置９に接続する負荷側導体１２とを有する。電源側導体１１は、電源側装置８に接続する電源側一次接続部１１１と、テストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する電源側二次接続部１１２とで構成される。また、負荷側導体１２は、負荷側装置９に接続する負荷側一次接続部１２１とテストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する負荷側二次接続部１２２とで構成される。
【００２３】
電源側二次接続部１１２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１１３が第１ターミナル２３に接続され、負荷側二次接続部１２２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１２３が第２ターミナル２４に接続される。電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２はバネ部材２５、２５によりそれぞれ付勢されている。このため、図２に示すように、テストプラグ３のプラグ部３１が挿入されていない場合には、端部１１３は第１ターミナル２３に、端部１２３は第２ターミナル２４にそれぞれ互いに接触して電気的に接続される。すなわち、通常の使用状態においては、電源側装置８と負荷側装置９とは、テスト端子２を介して互いに接続された状態となっている。
【００２４】
テストプラグ３は、絶縁性材料で形成されるテストプラグ本体３０と、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出し、テスト端子口１０からテスト端子２に挿入されるプラグ部３１と、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出し、外部回路となる試験器７に接続される接続プラグ部３２と、により構成される。
【００２５】
プラグ部３１は、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出して形成される。プラグ部３１は、プラグ部３１がテスト端子２に挿入された場合に、電源側二次接続部１１２に接触して電気的に接続される活線側導体３３と、負荷側二次接続部１２２に接触して電気的に接続される非活線側導体３４と、活線側導体３３と非活線側導体３４との間に配置され、各接続部を絶縁する絶縁支持体３１１とで構成される。
【００２６】
また、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂには、接続プラグ部３２を備える。接続プラグ部３２は、活線側導体３３と電気的に接続された活線側接続部３２１と、非活線側導体３４と電気的に接続された非活線側接続部３２２と、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とを電気的に分離する絶縁材料で形成された絶縁部３２３と、で形成される。具体的には、活線側導体３３における接続プラグ部３２側の端部は、ねじが形成された棒状の部材であり、そのテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出した先端部に活線側ナット３２４が螺合される。活線側ナット３２４を回転させることにより、活線側導体３３の先端部が露出され、その露出された部分が活線側接続部３２１となる。
【００２７】
非活線側導体３４における接続プラグ部３２側の端部は、外周にねじが形成された管状の部材で形成され、その外周を非活線側ナット３２５が螺合されている。非活線側ナット３２５を回転させることにより、非活線側導体３４の先端部が露出され、その露出された部分が非活線側接続部３２２となる。
【００２８】
活線側導体３３及び非活線側導体３４の接続プラグ部３２側端部は、棒状の部材で形成された活線側導体３３の外周に絶縁部３２３が覆うように配置され、絶縁部３２３の外周に管状の部材で形成された非活線側導体３４が覆うように配置される。つまり、接続プラグ部３２は、棒状の活線側導体３３を中心として、筒状の絶縁部３２３と非活線側導体３４とが左記の順に略同心円状に配置され、さらに活線側ナット３２４及び非活線側ナット３２５がそれぞれ活線側導体３３と非活線側導体３４の端部に螺合されて形成される。
【００２９】
２−２．仕切カバー
図１及び図２に示すように、テストプラグ端子用仕切カバー５０は、絶縁体で形成される板状の２つの仕切部を備える。２つの仕切部のうち、一方は、仕切部材５１ａと仕切部材５１ａとで１つの板状に形成されている。他方も、仕切部材５１ｂと仕切部材５１ｂとで１つの板状に形成されている。
【００３０】
仕切部材５１ｂと仕切部材５１ｂとの境目と、仕切部材５１ａと仕切部材５１ａとの境目とには、仕切部材５１ａ、５１ｂの幅方向において、該幅の約半分の長さのスリットが形成されている。そして、テストプラグ端子用仕切カバー５０は、２つの仕切部のスリットが互い違いの方向で差し込まれて、組み立てられている。換言すると、２つの仕切部材５１ａと２つの仕切部材５１ｂとは、仕切部材支持部５２によって支持されているといえる。
【００３１】
仕切部材支持部５２は、２つの仕切部材５１ａが１つの板状を形成するように、かつ、２つの仕切部材５１ｂが１つの板状を形成するように、これらを支持している。また、仕切部材支持部５２は、板状となった２つの仕切部材５１ａと、板状となった２つの仕切部材５１ｂとを所定の角度の範囲だけ回転可能に、これらを支持している。つまり、仕切部材支持部５２は、板状となった２つの仕切部材５１ａと、板状となった２つの仕切部材５１ｂとのなす角度が、図１に示すように略直角に近い角度（図示の例では、約４５度）になったり、図２に示すように、鋭角になったりすることができるような所定の角度の範囲だけ回転可能に、これらを支持している。
【００３２】
図４に示すように、仕切部材５１ａ、５１ａ、５１ｂ、５１ｂのそれぞれは、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄのうち、隣接する一対の接続プラグ（例えば、接続プラグ部３２ａと接続プラグ部３２ｃ）の間に配置が可能なように、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄの伸びる方向において、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂから活線側導体３３及び非活線側導体３４のいずれもよりも長くなるように形成されている。
【００３３】
図１に示すように、仕切部材５１ｂ、５１ｂのそれぞれは、テストプラグ本体３０の側面３０ａに接触する接触部５３を有する。具体的には、仕切部材５１ｂの端部には、テストプラグ端子用仕切カバー５０の差し込み方向（図３の矢印の方向）において、テストプラグ本体３０の側に延在した接触部５３を有する板状の仕切部材５１ｃが形成されている。仕切部材５１ｃ、５１ｃは、いずれも、絶縁材料で形成されている。
【００３４】
仕切部材５１ｃ、５１ｃは、板状となった２つの仕切部材５１ｂが回転すると、板状となった２つの仕切部材５１ａと平行にすることができるように、仕切部材支持部５４を介して仕切部材５１ｂ、５１ｂに、所定の角度範囲で回転可能に支持されている。これにより、仕切部材５１ｃ、５１ｃは、常に、板状となった２つの仕切部材５１ｂと平行にすることができる。
【００３５】
板状となった２つの仕切部材５１ａは、作業者が持ちやすいように、テストプラグ端子用仕切カバー５０の差し込み方向（図３の矢印の方向）において、テストプラグ本体３０と反対側に延在している。
【００３６】
２−３．使用態様例
まず、図３に示すように、作業者は、試験時において必要な電線７１を活線側導体３３や非活線側導体３４に電気的に接続する。具体的には、電線７１の端子７３を活線側導体３３や非活線側導体３４に差し込み、活線側ナット３２４や非活線側ナット３２５で端子７３を挟み込む。これにより、電線７１は、活線側導体３３や非活線側導体３４に電気的に接続される。
【００３７】
次に、作業者は、板状となった２つの仕切部材５１ａの端部を持って、仕切部材５１ａ、５１ａ、５１ｂ、５１ｂのそれぞれが接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄのうち、隣接する一対の接続プラグの間に配置されるように、テストプラグ端子用仕切カバー５０をテストプラグ本体３０に近づける。
【００３８】
そうすると、図４及び図５に示すように、テストプラグ端子用仕切カバー５０がテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに接触すると共に、一対の接触部５３がテストプラグ本体３０の側面３０ａに接触するように、テストプラグ本体３０に嵌合する。これにより、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄは、仕切部材５１ａ、５１ａ、５１ｂ、５１ｂによって仕切られる。つまり、隣接する活線側導体３３や非活線側導体３４との間には、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄによって仕切られるので、短絡する恐れがほとんど生じない。
【００３９】
次に、図６及び図７に示すように、作業者は、プラグ部３１をテスト端子２に挿入すると、テスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２の間にプラグ部３１が押し込まれる。すると、電源側二次接続部１１２の端部１１３及び負荷側二次接続部１２２の端部１２３は、第１ターミナル２３及び第２ターミナル２４との接触がそれぞれ無くなり、電源側装置８と負荷側装置９とが電気的に切り離される。
【００４０】
そして、電源側装置８が接続プラグ部３２の活線側接続部３２１と電気的に接続され、負荷側装置９が接続プラグ部３２の非活線側接続部３２２と電気的に接続される。したがって、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが電線７１を介して電気的に接続するので、誘導電流を測定するような試験器７を用いて電線７１に流れる電流を測定することができる。
【００４１】
より具体的には、テストプラグ３のテストプラグ本体３０が、プラグ部３１を配電盤１のテスト端子口１０に挿入される。プラグ部３１における活線側導体３３及び非活線側導体３４がそれぞれテスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２にそれぞれ接続されると共に、テスト端子２における電源側導体１１と負荷側導体１２との電気的接続が非接続となる。このとき、テストプラグ３のテストプラグ本体３０及び接続プラグ部３２がテスト端子口１０から突出した状態となる。
【００４２】
そして、試験終了後は、さらにテストプラグ３をテスト端子口１０から引き抜く。これにより、テストプラグ３には電気が流れなくなるので、作業者が活線側導体３３や非活線側導体３４にさわっても、感電することはない。その後、テストプラグ端子用仕切カバー５０を接続プラグ部３２から取り外す。そして、電線７１の端子７３を活線側導体３３や非活線側導体３４から取り外す。
【００４３】
本発明のテストプラグ端子用仕切カバーは、図１及び図２に示したテストプラグ端子用仕切カバー５０に限定されない。例えば、図８及び図９に示すように、テストプラグ端子用仕切カバー５０の仕切部材５１ｃにテストプラグ本体３０の側面３０ａを押さえつけるプッシャー機構５５を設けてもよい。
【００４４】
図８及び図９に示すように、プッシャー機構５５は、一方が仕切部材５１ｃに取り付けられたバネ機構５７と、バネ機構５７の他方に取り付けられたプッシャー５６とを備える。プッシャー５６は、ゴムのような弾性材料で形成されており、本実施形態では、バネ機構５７から離れるにつれて、幅が広くなる三角柱の形状を有している。
【００４５】
バネ機構５７は、常にプッシャー５６をテストプラグ本体３０側の位置になるように、バネ力を付与している。したがって、テストプラグ端子用仕切カバー５０がテストプラグ本体３０にはまっていない状態においては、プッシャー５６の端部は、若干、仕切部材５１ｃの内側に位置する。そして、テストプラグ端子用仕切カバー５０がテストプラグ本体３０にはまった状態になると、２つのプッシャー５６は、２つのバネ機構５７のバネ力によって、テストプラグ本体３０を挟むことになるので、テストプラグ端子用仕切カバー５０は、安定して、テストプラグ本体３０に取り付けることができる。
【００４６】
このように、絶縁体で形成された仕切部材５１ａ、５１ａ、５１ｂ、５１ｂのそれぞれは、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄのうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置されるので、隣接する接続プラグ部の活線側導体及び非活線側導体が短絡しにくくなる。これにより、作業者や導電性を有する工具が接続プラグ部に電気的に接触する恐れがほとんど生じなくなる。
【００４７】
以上、本発明の実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【符号の説明】
【００４８】
１  配電盤
２  テスト端子
３  テストプラグ
７  試験器
８  電源側装置
９  負荷側装置
１０  テスト端子口
１１  電源側導体
１２  負荷側導体
３０  テストプラグ本体
３１  プラグ部
３２  接続プラグ
３３  活線側導体
５０  テストプラグ端子用仕切カバー
５１ａ、５１ｂ、５１ｃ  仕切部材
５２  仕切部材支持部
５３  接触部
５４  仕切部材支持部
５５  プッシャー機構
５６  プッシャー
５７  バネ機構
３４  非活線側導体
３２１  活線側接続部
３２２  非活線側接続部
【図１】
2010166697.tif 000003
【図２】
2010166697.tif 000004
【図３】
2010166697.tif 000005
【図４】
2010166697.tif 000006
【図５】
2010166697.tif 000007
【図６】
2010166697.tif 000008
【図７】
2010166697.tif 000009
【図８】
2010166697.tif 000010
【図９】
2010166697.tif 000011