(57)【要約】【課題】遅延干渉計の遅延量の調節時間を短縮させる。【解決手段】入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路Ａ，Ｂを有する光干渉計６を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器５において、前記２つの光導波路Ａ，Ｂのうち一方の光導波路Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路Ｂの温度と前記光干渉計６から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路Ｂの温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、前記一方の光導波路の温度Ｂを前記選択した温度に変化させる。【選択図】図５
2010206709.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【請求項２】
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度と前記平均光電流が他の極値または０値となる前記一方の光導波路の温度とを前記モニタ結果に基づいて選択し、前記選択した２つの温度に基づき、前記光干渉計の位相を４５度変化させる温度差を算出し、前記一方の光導波路の温度を前記平均光電流が極値となる前記温度よりも前記算出した温度差だけ高いあるいは低い温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【請求項３】
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記モニタ結果に基づいて前記平均光電流と前記一方の光導波路の温度との少なくとも４つの組み合わせを検出し、前記組み合わせに基づいて、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を演算により算出し、前記一方の光導波路の温度を前記算出した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【請求項４】
前記所定の範囲が、前記光干渉計の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲である、
ことを特徴とする、請求項１または２に記載の光受信器。
【請求項５】
前記所定の範囲が、前記光干渉計の位相が初期位相から少なくとも７２０度変化する範囲である、
ことを特徴とする、請求項１または２に記載の光受信器。
【請求項６】
前記所定の範囲が、前記平均光電流が初期値から極値となるまでの範囲である、
ことを特徴とする、請求項１記載の光受信器。
【請求項７】
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記正相側の平均光電流の極大値である、
ことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光受信器。
【請求項８】
前記平均光電流が、前記強度変調信号の逆相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記逆相側の平均光電流の極小値である、
ことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光受信器。
【請求項９】
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流と前記強度変調信号の逆相側の平均光電流との差分の平均光電流であって、
前記極値は、前記差分の平均光電流の極大値である、
ことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光受信器。
【請求項１０】
前記温度検出部で検出される温度モニタ値の代わりに、
時間計測により求めた時刻により前記一方の光導波路の温度を計算する、
ことを特徴とする、請求項１〜３のいずれか１項に記載の光受信器。
【請求項１１】
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器の光受信方法であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路の温度と前記光干渉計から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、
前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、
前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信方法。
【請求項１２】
請求項１〜１０のいずれか１項に記載の光受信器と、前記光受信器に位相変調信号を送信する光送信器と、をそなえた、
ことを特徴とする、光伝送システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本件は、光受信器、光受信方法及び光伝送システムに関する。前記光伝送システムには、例えば、光信号を位相変調して伝送するシステムが含まれる。
【背景技術】
【０００２】
近年、大容量のデータ伝送を実現するために、Differential Phase Shift Keying（ＤＰＳＫ）などの変調方式を用いた光伝送システムが検討されている。
上記の光伝送システムでは、例えば、光送信器によりＤＰＳＫ方式で変調された光信号（以下、単にＤＰＳＫ光信号という）が、光伝送路を介して、光受信器で受信される。ＤＰＳＫなどの位相変調方式では、例えば、送信器側が位相変調処理の前段でプリコーディング処理を行なうことにより、位相変調信号に強度変調信号としての情報を保持させている。
【０００３】
そのため、光送信器からＤＰＳＫ光信号を受信した光受信器は、例えば、ＤＰＳＫ光信号に対して所定の遅延差を与えて干渉させることにより、ＤＰＳＫ光信号を位相変調から強度変調に変換して復調することができる。
図１（Ａ）に、光受信器に入力されるＤＰＳＫ光信号（入力信号）の一例を示す。光受信器に設けられた遅延干渉計は、例えば、前記入力信号をパワー分岐し、その分岐信号の一方に１シンボル分の遅延を与え（１シンボルシフトさせ）て、図１（Ｂ）に示すような遅延信号を得る。そして、前記遅延干渉計により、前記分岐信号の一方（遅延信号）と前記分岐信号の他方（入力信号）とを干渉させる。同時刻における入力信号の位相と遅延信号の位相とが同相であれば強めあい、逆相であれば弱めあうので、光受信器は、例えば、図１（Ｃ）に示すような強度変調信号（復調信号）を得ることができる。
【０００４】
ただ、上記遅延信号を得るための遅延量は光伝送システムの環境などに応じて変化するため、光受信器は、遅延干渉計での遅延量を調整してから遅延干渉計を起動させる。
なお、位相変調信号を強度変調信号に変換して受信する既知の技術としては、多値差動位相シフトキーイング信号〔Differential Multiple-Phase-Shift Keying（ＤＭＰＳＫ）信号〕を強度変調信号に変換し、その強度変調信号の振幅の分布の平均値が最大となるように、光干渉計の遅延時間を調整する方法などが知られている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１８１１７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記方法では、所望の遅延量（制御目標値）に到達するまでに長い時間を要する。
本発明の目的の一つは、遅延干渉計の遅延量の調節時間を短縮させることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
例えば、以下の手段を用いる。
（１）入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、前記制御部が、前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、光受信器を用いることができる。
【０００８】
（２）また、入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、前記制御部が、前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度と前記平均光電流が他の極値または０値となる前記一方の光導波路の温度とを前記モニタ結果に基づいて選択し、前記選択した２つの温度に基づき、前記光干渉計の位相を４５度変化させる温度差を算出し、前記一方の光導波路の温度を前記平均光電流が極値となる前記温度よりも前記算出した温度差だけ高いあるいは低い温度に変化させる、光受信器を用いることができる。
【０００９】
（３）さらに、入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、前記制御部が、前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記モニタ結果に基づいて前記平均光電流と前記一方の光導波路の温度との少なくとも４つの組み合わせを検出し、前記組み合わせに基づいて、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を演算により算出し、前記一方の光導波路の温度を前記算出した温度に変化させる、光受信器を用いることができる。
【００１０】
（４）また、入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器の光受信方法であって、前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路の温度と前記光干渉計から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、光受信方法を用いることができる。
【００１１】
（５）さらに、上記の光受信器と、前記光受信器に位相変調信号を送信する光送信器と、をそなえた、光伝送システムを用いることができる。
【発明の効果】
【００１２】
遅延干渉計の遅延量の調節時間を短縮させることが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】（Ａ）は位相変調信号の一例を示す図であり、（Ｂ）は遅延信号の一例を示す図であり、（Ｃ）は強度変調信号の一例を示す図である。
【図２】光受信器の構成の一例を示す図である。
【図３】図２に示す光受信器の制御の一例を示す図である。
【図４】一実施形態に係る光伝送システムの構成の一例を示す図である。
【図５】図４に示す光受信器の構成の一例を示す図である。
【図６】光導波路温度と計測値との差分の一例を示す図である。
【図７】図５に示す光受信器の制御の一例を示す図である。
【図８】（Ａ）は駆動電圧の一例を示す図であり、（Ｂ）は光導波路の温度変化の一例を示す図であり、（Ｃ）は平均光電流の変化の一例を示す図である。
【図９】（Ａ）は図２に示す光受信器におけるサンプリング間隔と光導波路の温度との関係を示す図であり、（Ｂ）は図５に示す光受信器におけるサンプリング間隔と光導波路の温度との関係を示す図である。
【図１０】第１変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１１】第２変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１２】第３変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１３】第４変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１４】第５変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１５】（Ａ）は駆動電圧の一例を示す図であり、（Ｂ）は光導波路の温度変化の一例を示す図であり、（Ｃ）は平均光電流の変化の一例を示す図である。
【図１６】第７変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１７】第８変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図１８】図４に示す光受信器の構成の一例を示す図である。
【図１９】図４に示す光受信器の制御目標値を示す図である。
【図２０】（Ａ）は駆動電圧の一例を示す図であり、（Ｂ）は光導波路の温度変化の一例を示す図であり、（Ｃ）は平均光電流の変化の一例を示す図である。
【図２１】第１０変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図２２】第１０変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図２３】第１０変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図２４】第１０変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図２５】第１１変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【図２６】第１２変形例に係る光受信器の制御の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、図面を参照して実施の形態を説明する。ただし、以下に示す実施形態は、あくまでも例示に過ぎず、以下に示す実施形態で明示しない種々の変形や技術の適用を排除する意図はない。即ち、本実施形態は、その趣旨を逸脱しない範囲で種々変形（各実施形態を組み合わせる等）して実施することができる。
〔１〕一実施形態
図２は光受信器の構成の一例を示す図である。
【００１５】
この図２に示す光受信器１００は、例示的に、記憶部１０１と、演算部１０２と、制御部１０３と、遅延干渉計１０４と、バランスドレシーバ１０５と、差動増幅器１０６，１０７とをそなえる。
遅延干渉計１０４は、光送信器（図示省略）から送信されたＤＰＳＫ光信号を位相変調信号から強度変調信号に変換する。このため、遅延干渉計１０４は、例示的に、光カプラ１０８と、光路長の異なる２つの光導波路ａ，ｂと、ヒータ１０９と、光復調部１１０とをそなえる。
【００１６】
光カプラ１０８は、遅延干渉計１０４に入力されたＤＰＳＫ光信号を、光導波路ａと光導波路ｂとに分岐する。光導波路ａと光導波路ｂとの間には、所定の光路差が設けられており、図２に示す例では、光導波路ａの光路長よりも光導波路ｂの光路長のほうが長い。この光路差により、光導波路ｂを伝送する光信号は、光導波路ａを伝送する光信号よりも遅延する。
【００１７】
また、光導波路ｂには、制御部１０３からの温度制御に基づいて導波路ｂを加熱するヒータ１０９が設けられる。光導波路ｂの屈折率は光導波路の温度に応じて変化し、屈折率の変化に応じてその光路長も変化するので、ヒータ１０９の温度制御により、光導波路ａを伝送する光信号と光導波路ｂを伝送する光信号との間の遅延量を調整することができる。
【００１８】
光復調部１１０は、光導波路ａを伝送する光信号（入力信号）と光導波路ｂを伝送する光信号（遅延信号）との位相関係に基づき、上述したように、ＤＰＳＫ光信号を位相変調信号から強度変調信号に変換する。光復調部１１０により変換された強度変調信号（正相成分及び逆相成分）は、バランスドレシーバ１０５に出力される。
バランスドレシーバ１０５は、遅延干渉計１０４から出力される強度変調信号の正相成分及び逆相成分をそれぞれ光電変換し、各電気信号の差分を復調信号として出力する。このため、バランスドレシーバ１０５は、例示的に、フォトダイオードｐｄ１，ｐｄ２と、差動増幅器１１１とをそなえる。
【００１９】
ｐｄ１は、遅延干渉計１０４から出力される強度変調信号の正相成分を光電変換して、差動増幅器１１１に出力する。また、ｐｄ２は、遅延干渉計１０４から出力される強度変調信号の逆相成分を光電変換して、差動増幅器１１１に出力する。さらに、差動増幅器１１１は、ｐｄ１及びｐｄ２から出力される電気信号の差分を増幅して、復調信号として出力する。
【００２０】
ここで、図２に示す例では、ｐｄ１及びｐｄ２に逆バイアス電圧Ｖｃｃが印加されており、ｐｄ１及びｐｄ２には正相成分及び逆相成分の受光強度に応じた平均受光電流Ｉｐｄ１及びＩｐｄ２がそれぞれ流れる。
差動増幅器１０６は、ｐｄ１に接続された既知の抵抗ｒ１の両端の電位差を増幅して演算部１０２に出力し、差動増幅器１０７は、ｐｄ２に接続された既知の抵抗ｒ２の両端の電位差を増幅して演算部１０２に出力する。
【００２１】
演算部１０２は、差動増幅器１０６，１０７から入力される抵抗ｒ１，ｒ２の両端の各電位差からＩｐｄ１，Ｉｐｄ２をそれぞれ算出するとともに、制御部１０３からヒータ１０９に供給されるヒータ駆動電圧を検出する。前記算出結果及び前記検出結果は、演算部１０２により記憶部１０１に出力される。
記憶部１０１は、演算部１０２から入力されるＩｐｄ１，Ｉｐｄ２の値とヒータ駆動電圧値とを対応付けてテーブルに保持する。
【００２２】
また、演算部１０２は、記憶部１０１に格納された前記テーブルに基づき、Ｉｐｄ１が極大（またはＩｐｄ２が極小）となるようなヒータ駆動電圧値（制御目標値）を探索（検出）して、前記探索結果を制御部１０３に通知する。
制御部１０３は、演算部１０２から通知される制御目標値に基づいたヒータ駆動電圧値をヒータ１０９に供給することにより、Ｉｐｄ１が最大となるようにヒータ１０９の温度を制御する。
【００２３】
前述した光受信器１００では、制御目標値を決定する際、ヒータ駆動電圧を所定の変化（ステップ）幅で変化させる（ディザリングする）。そして、前記変化に応じて変動するｐｄ１，ｐｄ２の平均受光電流Ｉｐｄ１，Ｉｐｄ２を検出し、Ｉｐｄ１が極大（またはＩｐｄ２が極小）となるヒータ駆動電圧を探索する。
ここで、ヒータ駆動電圧の二乗値［Ｖ２］と平均受光電流［μＡ］との関係の一例を図３に示す。この図３に示すように、例えば、ＤＰＳＫ光信号を復調する場合、Ｉｐｄ１が極大となるヒータ駆動電圧とＩｐｄ２が極小となるヒータ駆動電圧とは同じ値であり、この値がヒータ駆動電圧の制御目標値となる。
【００２４】
光受信器１００は、例えば、図３中の白丸で示すディザリング開始点から所定のステップ幅でヒータ駆動電圧を変化させる（図３の破線矢印参照）。このとき、ヒータ１０９の温度は、ヒータ駆動電圧の変化が開始してから遅れて変化するので、光受信器１００は、ヒータ駆動電圧を変化させた後、ヒータ１０９の温度が安定するまで待ってからＩｐｄ１，Ｉｐｄ２を検出する。
【００２５】
そして、検出したＩｐｄ１が極大（またはＩｐｄ２が極小）でないと判定されている間は、光受信器１００は、ヒータ駆動電圧を所定のステップ幅で変化させ、ヒータ１０９の温度が安定するまで待ち、Ｉｐｄ１，Ｉｐｄ２を検出するといった一連の動作を繰り返す。図３に示す例では、ディザリング開始点及び図３中の黒三角で示す制御点の合計７点で上記の動作が繰り返し行なわれる。
【００２６】
やがて、検出したＩｐｄ１が極大（またはＩｐｄ２が極小）であると判定されると、光受信器１００は、その平均光電流に対応するヒータ駆動電圧（制御目標値）を検出し、このヒータ駆動電圧でヒータ１０９の温度を制御する。
しかしながら、ヒータ１０９の応答時間（温度が安定するまでの時間）は数秒オーダであるので、ディザリング毎にヒータ１０９の温度が安定するまで待って平均受光電流の検出を繰り返す上記方法では、制御目標値に到達するまでに多くの時間を要する。
【００２７】
また、制御目標値の探索精度を向上させるためには、ディザリング幅（ヒータ駆動電圧の変化幅）を細かくすることが考えられるが、ディザリング幅を細かくすればするほど、制御目標値に到達するまでに要する時間が増大する場合がある。
図４は、上記の点に留意した、一実施形態に係る光伝送システムの構成の一例を示す図である。
【００２８】
この図４に示す光伝送システム１は、例示的に、光送信器２−１，・・・，２−Ｎ（Ｎは自然数）と、ＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing）装置３−１，３−２と、光増幅器４−１，４−２と、光伝送路１９と、光受信器５−１，・・・，５−Ｎとをそなえる。なお、光送信器２−１，・・・，２−Ｎを区別しない場合は、単に光送信器２と称し、光受信器５−１，・・・，５−Ｎを区別しない場合は、単に光受信器５と称する。また、光送信器２及び光受信器５の数は、図４に示す例に限定されず、Ｎ＝１の場合は、ＷＤＭ装置３−１，３−２を省略してもよい。
【００２９】
ここで、光送信器２は、送信すべきデータ信号を所定の波長の光信号に変換するとともに、当該光信号に位相変調を施してＷＤＭ装置３−１へ出力する。前記位相変調には、例えば、ＤＰＳＫや、Differential Quadrature Phase Shift Keying（ＤＱＰＳＫ）や、その他の位相変調方式などを用いることができるが、ここでは、例示的に、ＤＰＳＫを用いることとする。
【００３０】
ＷＤＭ装置３−１は、光送信器２から入力されるＤＰＳＫ光信号を波長多重して、波長多重光信号を光増幅器４−１へ出力する。
光増幅器４−１は、ＷＤＭ装置３−１から入力される波長多重光信号を増幅して、光伝送路１９へ出力する。
光伝送路１９は、例えば、光ファイバなどで構成される光信号を伝送可能な媒体であり、その途中に中継装置や増幅器などを有していてもよい。
【００３１】
光増幅器４−２は、光伝送路１９を介して光増幅器４−１から伝送される波長多重光信号を増幅して、ＷＤＭ装置３−２へ出力する。
ＷＤＭ装置３−２は、光増幅器４−２から入力される波長多重光信号を波長分割して、光受信器５へ出力する。
光受信器５は、ＷＤＭ装置３−２から入力されるＤＰＳＫ光信号を位相変調から強度変調に変換して復調する。
【００３２】
ここで、図５に光受信器５の構成の一例を示す。
この図５に示す光受信器５は、例示的に、遅延干渉計６と、バランスドレシーバ７と、電圧供給部８と、温度検出部９と、電流検出部１０と、制御部１１と、記憶部１２とをそなえる。
遅延干渉計（光干渉計）６は、光送信器２から送信されるＤＰＳＫ光信号を位相変調信号から強度変調信号に変換する。このため、遅延干渉計６は、例示的に、光カプラ１３と、光路長の異なる光導波路Ａ，Ｂと、温度調節部１４と、温度計測部１５と、光復調部１６とをそなえる。
【００３３】
光カプラ１３は、遅延干渉計６に入力されたＤＰＳＫ光信号を、光導波路Ａと光導波路Ｂとに分岐する。光導波路Ａと光導波路Ｂとの間には、所定の光路差が設けられており、図５に示す例では、光導波路Ａの光路長よりも光導波路Ｂの光路長のほうが大きい。この光路差により、光導波路Ｂを伝送する光信号は、光導波路Ａを伝送する光信号より所定量（例えば、１シンボル分）遅延する。
【００３４】
また、光導波路Ｂには、温度調節部１４と、温度計測部１５とが設けられる。
温度調節部１４は、電圧供給部８から供給される駆動電圧に応じて光導波路Ｂを加熱または冷却し、光導波路Ｂの温度を変化させる。温度調節部１４は、例えば、ヒータや、冷却素子（例えば、ペルチェ素子など）で構成されてもよく、ヒータと冷却素子との組み合わせで構成されてもよい。温度調節部１４が光導波路Ｂの温度を変化させて屈折率を変化させることにより、遅延干渉計６は、光導波路Ａを伝送する光信号と光導波路Ｂを伝送する光信号との間の遅延量を調整することができる。
【００３５】
電圧供給部８は、制御部１１により制御され、温度調節部１４に光導波路Ｂの温度を変化させる駆動電圧を供給する。
温度計測部１５は、光導波路Ｂの温度または温度調節部１４の温度を計測する。前記計測結果は、温度計測部１５により、温度検出部９へ出力される。
温度検出部９は、温度計測部１５による計測結果から、光導波路Ｂの温度を検出する。温度検出部９は、例えば、所定のサンプリング周期で温度計測部１５での計測値をサンプリングし、その結果を制御部１１へ出力する。
【００３６】
なお、温度検出部９は、温度計測部１５での検出結果を補正して、光導波路Ｂの温度を検出するようにしてもよい。例えば、図６に例示するように、光導波路Ｂの温度と温度計測部１５による計測値との間に誤差（差分）がある場合、温度検出部９は、その差分を予め測定しておく。そして、温度検出部９は、温度計測部１５での計測値に、予め測定しておいた前記差分（補正温度）を加算（または減算）することにより、温度計測部１５での計測値を補正して、光導波路Ｂの温度を正確に算出することができる。
【００３７】
光復調部１６は、光導波路Ａを伝送する光信号（入力信号）と光導波路Ｂを伝送する光信号（遅延信号）との位相関係に基づき、入力された光信号を位相変調信号から強度変調信号に変換する。例えば、光復調部１６は、入力信号と遅延信号とを干渉させることにより、同時刻における入力信号の位相と遅延信号の位相とが同相であれば強めあわせ、逆相であれば弱めあわせて、強度変調信号（復調信号）を得る。光復調部１６により変換された強度変調信号（正相成分及び逆相成分）は、バランスドレシーバ７に出力される。
【００３８】
バランスドレシーバ（受光器）７は、遅延干渉計６から出力される強度変調信号の正相成分及び逆相成分を受光して、それぞれ光電変換する。そして、バランスドレシーバ７は、変換した各電気信号の差分を復調信号として出力する。このため、バランスドレシーバ７は、例示的に、フォトダイオードＰＤ１，ＰＤ２と、差動増幅器１８とをそなえる。
ＰＤ１は、遅延干渉計６から出力される強度変調信号の正相成分を光電変換して、差動増幅器１８に出力する。また、ＰＤ２は、遅延干渉計６から出力される強度変調信号の逆相成分を光電変換して、差動増幅器１８に出力する。
【００３９】
さらに、差動増幅器１８は、ＰＤ１及びＰＤ２から出力される電気信号の差分を増幅して、復調信号を出力する。
電流検出部１０は、バランスドレシーバ７のＰＤ１，ＰＤ２で受光される強度変調信号の正相成分及び逆相成分の平均受光電流ＩＰＤ１，ＩＰＤ２のいずれか一方または双方を検出する。電流検出部１０は、例えば、所定のサンプリング周期でＩＰＤ１，ＩＰＤ２の値をサンプリングし、その結果を制御部１１へ出力する。ここで、電流検出部１０は、例えば、ＰＤ１及びＰＤ２にそれぞれ接続された既知の抵抗Ｒ１及びＲ２の両端の電位差を測定することにより、ＰＤ１及びＰＤ２の平均受光電流ＩＰＤ１，ＩＰＤ２を検出するようにしてもよい。
【００４０】
制御部１１は、電圧供給部８及び温度調節部１４を介して、光導波路Ｂの温度を変化させることにより、遅延干渉計６の位相（遅延量）を制御する。
本例では、制御部１１が、例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される電圧を制御し、光導波路Ｂの温度を所定の範囲で掃引（スイープ）する。さらに、制御部１１は、光導波路Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、温度検出部９でのサンプリング結果と電流検出部１０でのサンプリング結果とをモニタし、前記モニタ結果に基づき、光導波路Ｂの温度とＩＰＤ１，ＩＰＤ２とを対応付けたテーブルを作成する。制御部１１により作成された前記テーブルは、記憶部１２に格納される。記憶部１２は、前記テーブルを格納するメモリである。なお、前記テーブルは、制御部１１により、遅延干渉計６を起動する毎に作成されてもよいし、定期あるいは不定期にその内容が更新されてもよい。
【００４１】
そして、制御部１１は、前記テーブルに基づき、ＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）し、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、電圧供給部８及び温度調節部１４を制御する。
即ち、制御部１１は、光導波路Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、温度検出部９での検出結果と電流検出部１０での検出結果とをモニタし、バランスドレシーバ７での平均光電流ＩＰＤ１，ＩＰＤ２が極値となる光導波路Ｂの温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、光導波路Ｂの温度を前記選択した温度に変化させる制御部の一例として機能する。
【００４２】
なお、制御部１１は、例えば、Proportional Integral Derivative（ＰＩＤ）制御により、電圧供給部８及び温度調節部１４を制御して、光導波路Ｂの温度を変化させるようにしてもよい。ＰＩＤ制御を用いることにより、光導波路Ｂの温度をより高速に所定の値に変化させることが可能となる。
ここで、図７及び図８（Ａ）〜図８（Ｃ）を用いて、上記光受信器５の動作の一例について説明する。
【００４３】
例えば、制御部１１が光導波路Ｂの温度を変化（掃引）させながら正相成分の平均光電流ＩＰＤ１をモニタした場合、光導波路Ｂの温度変化［℃］とＩＰＤ１［ｍＡ］との関係は、図７に例示するように、正弦波状に変化する。
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ１の位相が初期位相（走査開始点）から７２０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化（掃引）させる。即ち、本例では、遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも７２０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を連続的に変化（掃引）させる。
【００４４】
この場合、ＩＰＤ１が極大値となる点が２つ検出され、検出された極大値のうち、光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が小さい方を光導波路Ｂの温度の制御目標値とすることができる。これにより、遅延干渉計６の起動時に電圧供給部８から供給される駆動電圧を小さくすることができ、省電力化を図ることが可能となる。なお、制御部１１は、他の極大値に相当する光導波路Ｂの温度を制御目標値として光導波路Ｂを温度制御してもよい。例えば、もう一方の極大値（光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が大きい方）に相当する光導波路Ｂの温度を制御目標に選択することにより、走査完了点から当該制御目標値までに要する温度変化量を小さくすることができ、光導波路Ｂの温度制御に要する時間を削減することが可能となる。
【００４５】
ここで、電圧供給部８から供給される駆動電圧の一例を図８（Ａ）に示す。
この図８（Ａ）に示すように、例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧（「走査駆動波形」及び「走査駆動波形の軌跡」参照）が印加された場合、光導波路Ｂの温度は、図８（Ｂ）に示すように過渡的に変化する（「走査時の温度」及び「走査温度の軌跡」参照）。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ１は図８（Ｃ）に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００４６】
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ１の位相が初期位相から７２０度変化した時点〔時刻ｔ１（ｔ１は自然数）〕で走査を完了し、得られたモニタ結果からＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
そして、時刻ｔ１以降は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する（図８（Ａ）の「制御時の駆動波形」参照）。これに伴い、時刻ｔ１以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき（図８（Ｂ）の「制御時の温度」参照）、ＩＰＤ１は、極大値に向かって収束していく（図８（Ｃ）の「制御時」参照）。
【００４７】
以上のように、本例の光受信器５によれば、光導波路Ｂの温度制御を１回行なう（掃引する）だけで制御目標値（例えば、ＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度）を検出することができるので、制御目標値の探索時間を低減させることができる。また、その結果、遅延干渉計６の起動速度を向上させることが可能となる。
また、本例では、ＩＰＤ１の極大値を高精度に検出するために、電流検出部１０による平均光電流のサンプリング周期を数ｍｓｅｃ〜約５０ｍｓｅｃとするようにしてもよい。
【００４８】
ここで、図９（Ａ）は図２に例示した光受信器１００におけるサンプリング間隔と光導波路ｂの温度変化との関係を示す図であり、図９（Ｂ）は図５に示す光受信器５におけるサンプリング間隔と光導波路Ｂの温度変化との関係を示す図である。
光受信器１００では、ヒータ１０９の温度が安定するまで待ってから、平均光電流の検出（サンプリング）を行なうため、電流検出の周期（サンプリング間隔）は約４ｓｅｃ〜約５ｓｅｃとしている。その結果、図９（Ａ）に示す例では、例えば、８回目の探索で制御目標値（極大値）を検出するので、制御目標値の検出に約３２ｓｅｃ〜約４０ｓｅｃの時間を要する。
【００４９】
また、光受信器１００に入力される信号光の波長に応じて遅延干渉計１０４に求められる遅延量（位相制御量）が異なる場合、上記検出に要する時間が入力信号の波長毎に異なることとなる。その結果、遅延干渉計１０４の起動時間が入力信号の波長に応じて異なる場合がある。そのため、複数の遅延干渉計１０４（光受信器１００）を有する光伝送システムでは、いずれかの遅延干渉計１０４の起動が遅れると、システム全体の起動が遅れることになる。
【００５０】
これに対し、本例の光受信器５では、ＩＰＤ１の位相変化量が７２０度となるまで光導波路Ｂの温度を変化させ（掃引し）、その間にＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度（制御目標値）を検出する。したがって、平均光電流のサンプリング時に、光導波路Ｂの温度が安定するまで待つ動作を省略できる。
また、ＩＰＤ１の極大値を高精度に検出すべく、電流検出部１０でのサンプリング周期を約５０ｍｓｅｃとした場合であっても、図９（Ｂ）に示す例では、例えば、走査完了までの時間は約５ｓｅｃとなり、光受信器１００に比して制御目標値の検出時間を大幅に低減できる。また、制御目標値を高精度に検出すべく、電流検出部１０でのサンプリング周期を短くした場合であっても、走査完了までに要する時間を一定とすることができる。
【００５１】
さらに、ＩＰＤ１の初期位相から制御目標値までの位相差は最大で１８０度であるので、光受信器１００では、探索ステップ幅（ディザリング幅）がＩＰＤ１の位相を５度変化させるような値である場合、ヒータ１０９の温度変更回数は３６回となる。一方、本例では、ＩＰＤ１の初期位相から制御目標値までの位相差にかかわらず、温度調節部１４の温度変更回数は２回であるので、光受信器１００に比して、温度変更回数を大幅に低減することができる。
【００５２】
また、光導波路Ｂの温度を制御目標値に変化させるまでの時間は、例えば、約５ｓｅｃであるので、遅延干渉計６の起動に要する時間も光受信器１００に比して大幅に削減できる。
さらに、光受信器５に入力される信号光の波長が異なる場合であっても、制御目標値の検出に要する時間はほぼ一定であるので、遅延干渉計６の起動時間は入力信号光の波長に対してほぼ一定となる。
【００５３】
また、遅延干渉計６の起動毎に制御目標値の走査を行なうようにすれば、システム外部の環境に起因する位相制御量の変動に柔軟に対応することが可能となる。
さらに、温度調節部１４と温度計測部１５とを一体化して構成することもできるので、コスト削減及び装置の小型化を実現することが可能となる。
〔２〕第１変形例
上述した例では、ＩＰＤ１が極大値となるように光導波路Ｂの温度を制御したが、本例のように、制御部１１が、強度変調信号の逆相成分の平均光電流（ＩＰＤ２）が極小値となるように光導波路Ｂの温度を制御してもよい。
【００５４】
本例では、制御部１１が、例えば、ＩＰＤ２の位相が初期位相（走査開始点）から７２０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化させる（掃引する）。即ち、本例では、遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも７２０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を掃引する。
この場合、ＩＰＤ２が極小値となる点が２つ検出され、検出された極小値のうち、光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が小さい方を光導波路Ｂの温度の制御目標値とすることができる。これにより、遅延干渉計６の起動時に電圧供給部８から供給される駆動電圧を小さくすることができ、省電力化を図ることが可能となる。なお、制御部１１は、他の極小値に相当する光導波路Ｂの温度を制御目標値として光導波路Ｂを温度制御してもよい。例えば、もう一方の極小値（光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が大きい方）に相当する光導波路Ｂの温度を制御目標に選択することにより、走査完了点から当該制御目標値までに要する温度変化量を小さくすることができ、光導波路Ｂの温度制御に要する時間を削減することが可能となる。
【００５５】
ここで、ＩＰＤ２の軌跡の一例を図１０に示す。
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化する。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ２は図１０に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ２の位相が初期位相から７２０度変化した時点で走査を完了し、得られたモニタ結果からＩＰＤ２が極小値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
【００５６】
そして、走査完了後は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、走査完了以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき、ＩＰＤ２は、極小値に向かって収束していく（図１０の「制御時」参照）。
以上のように、ＩＰＤ２が極小値となるように光導波路Ｂの温度を制御した場合も、上述した実施形態と同様の効果を得ることが可能となる。
【００５７】
〔３〕第２変形例
また、本例のように、制御部１１が、強度変調信号の正相成分の平均光電流（ＩＰＤ１）と逆相成分の平均光電流（ＩＰＤ２）との差分（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の値が極大となるように光導波路Ｂの温度を制御してもよい。
本例では、制御部１１が、例えば、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相（走査開始点）から７２０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化させる（掃引する）。即ち、本例では、遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも７２０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を掃引する。
【００５８】
この場合、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる点が２つ検出され、検出された極小値のうち、光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が小さい方を光導波路Ｂの温度の制御目標値とすることができる。これにより、遅延干渉計６の起動時に電圧供給部８から供給される駆動電圧を小さくすることができ、省電力化を図ることが可能となる。なお、制御部１１は、他の極大値に相当する光導波路Ｂの温度を制御目標値として光導波路Ｂを温度制御してもよい。例えば、もう一方の極大値（光導波路Ｂの初期温度からの温度変化が大きい方）を制御目標値に選択することにより、走査完了点から当該制御目標値までに要する温度変化量を小さくすることができ、光導波路Ｂの温度制御に要する時間を削減することが可能となる。
【００５９】
ここで、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の軌跡の一例を図１１に示す。
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化する。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は図１１に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００６０】
本例では、制御部１１により、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相から７２０度変化した時点で走査を完了し、得られたモニタ結果から（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
そして、走査完了後は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、走査完了以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は、極大値に向かって収束していく（図１１の「制御時」参照）。
【００６１】
以上のように、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となるように光導波路Ｂの温度を制御した場合も、上述した実施形態と同様の効果を得ることが可能となる。
〔４〕第３変形例
また、本例のように、制御部１１が、ＩＰＤ１の位相（遅延干渉計６の位相）が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を掃引し、ＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出することにより、光導波路Ｂの温度を制御してもよい。
【００６２】
本例では、制御部１１により、例えば、ＩＰＤ１の位相が初期位相（走査開始点）から３６０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化させる（掃引する）。
この場合、ＩＰＤ１が極大値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
【００６３】
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化し、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ１は図１２に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ１の位相が初期位相から３６０度変化した時点〔時刻ｔ２（ｔ２は自然数）〕で走査を完了し、得られたモニタ結果からＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
【００６４】
そして、時刻ｔ２以降は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、時刻ｔ２以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき、ＩＰＤ１は、極大値に向かって収束していく（図１２の「制御時」参照）。
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）を遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲とした場合も、ＩＰＤ１が極大値となるような光導波路Ｂの温度の制御目標値を検出することができ、上述した実施形態と同様の効果を得られる。
【００６５】
また、本例では、上述した実施形態及び各変形例に比して、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）が小さいので、制御目標値の検出時間を低減させ、遅延干渉計６の起動速度を更に向上させることが可能となる。
〔５〕第４変形例
また、本例のように、制御部１１が、ＩＰＤ２の位相（遅延干渉計６の位相）が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を掃引し、ＩＰＤ２が極小値となる光導波路Ｂの温度を検出することにより、光導波路Ｂの温度を制御してもよい。
【００６６】
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ２の位相が初期位相（走査開始点）から３６０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化させる（掃引する）。
この場合、ＩＰＤ２が極小値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化し、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ２は図１３に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００６７】
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ２の位相が初期位相から３６０度変化した時点で走査を完了し、得られたモニタ結果からＩＰＤ２が極小値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
そして、走査完了後は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、走査完了以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき、ＩＰＤ２は、極小値に向かって収束していく（図１３の「制御時」参照）。
【００６８】
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）を遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲とした場合も、ＩＰＤ２が極小値となるような光導波路Ｂの温度の制御目標値を検出することができ、上記第３変形例と同様の効果を得ることが可能となる。
〔６〕第５変形例
また、本例のように、制御部１１が、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相（遅延干渉計６の位相）が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲で光導波路Ｂの温度を掃引し、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出することにより、光導波路Ｂの温度を制御してもよい。
【００６９】
本例では、制御部１１により、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相（走査開始点）から３６０度変化する点（走査完了点）まで光導波路Ｂの温度を連続的に変化させる（掃引する）。
この場合、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
【００７０】
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化する。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は図１４に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
本例では、制御部１１により、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相から３６０度変化した時点で走査を完了し、得られたモニタ結果から（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる光導波路Ｂの温度を検出（選択）する。
【００７１】
そして、走査完了後は、光導波路Ｂの温度が前記選択した温度となるように、制御部１１が、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、走査完了以降、光導波路Ｂの温度は、前記選択した温度に向かって収束していき、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は、極大値に向かって収束していく（図１４の「制御時」参照）。
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）を遅延干渉計６の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲とした場合も、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となるような光導波路Ｂの温度の制御目標値を検出することができ、上記第３及び第４変形例と同様の効果を得ることが可能となる。
【００７２】
〔７〕第６変形例
また、本例のように、制御部１１が、ＩＰＤ１が初期値（第１回目のサンプリング値）から極大値となるまでの範囲で光導波路Ｂの温度を掃引してもよい。即ち、本例では、制御部１１により、ＩＰＤ１が極大値となった時点（走査完了点）で光導波路Ｂの温度の掃引制御を終了する。
【００７３】
この場合、ＩＰＤ１が極大値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
電圧供給部８から供給される駆動電圧の一例を図１５（Ａ）に示す。
この図１５（Ａ）に示すように、例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧（「走査駆動波形」及び「走査駆動波形の軌跡」参照）が印加された場合、光導波路Ｂの温度は、図１５（Ｂ）に示すように、過渡的に変化する（「走査時の温度」及び「走査温度の軌跡」参照）。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ１は図１５（Ｃ）に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００７４】
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ１が極大値となった時点〔時刻ｔ３（ｔ３は自然数）〕で走査を完了する。
そして、制御部１１は、光導波路Ｂの温度が時刻ｔ３における温度となるように、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する（図１５（Ａ）の「制御時の駆動波形」参照）。これに伴い、光導波路Ｂの温度は、時刻ｔ３における温度を維持し（図１５（Ｂ）の「制御時の温度」参照）、ＩＰＤ１は、極大値を維持する（図１５（Ｃ）の「制御時」参照）。
【００７５】
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（制御部１１による掃引の範囲）が、ＩＰＤ１が極大値となるまでの範囲である場合も、制御部１１は、制御目標値を検出することができ、上述した実施形態と同様の効果を得られる。
また、本例では、上述した実施形態及び各変形例に比して、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）が小さいので、制御目標値の検出時間を低減させ、遅延干渉計６の起動速度を更に向上させることが可能となる。
【００７６】
〔８〕第７変形例
また、本例のように、制御部１１が、ＩＰＤ２が初期値（第１回目のサンプリング値）から極小値となるまでの範囲で光導波路Ｂの温度を掃引してもよい。即ち、本例では、制御部１１により、ＩＰＤ２が極小値となった時点（走査完了点）で光導波路Ｂの温度の掃引制御を終了する。
【００７７】
この場合、ＩＰＤ２が極小値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化する。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ２は図１６に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００７８】
本例では、制御部１１により、ＩＰＤ２が極小値となった時点で走査を完了する。
そして、制御部１１は、光導波路Ｂの温度が走査完了時の温度となるように、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、光導波路Ｂの温度は、走査完了時の温度を維持し、ＩＰＤ２は、極小値を維持する（図１６の「制御時」参照）。
【００７９】
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引の範囲）が、ＩＰＤ２が極小値となるまでの範囲である場合も、制御部１１は、制御目標値を検出することができ、上記第６変形例と同様の効果を得られる。
〔９〕第８変形例
また、本例のように、制御部１１が、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が初期値（第１回目のサンプリング値）から極大値となるまでの範囲で光導波路Ｂの温度を掃引してもよい。即ち、本例では、制御部１１により、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となった時点（走査完了点）で光導波路Ｂの温度の掃引制御を終了する。
【００８０】
この場合、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となる点が１つ検出され、制御部１１は、この検出点を制御目標値として光導波路Ｂの温度制御を行なうことができる。
例えば、電圧供給部８から温度調節部１４に振幅２Ｖのステップ電圧が印加された場合、光導波路Ｂの温度は過渡的に変化する。また、光導波路Ｂの温度変化に応じて、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は図１７に例示するように変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【００８１】
本例では、制御部１１により、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となった時点で走査を完了する。
そして、制御部１１は、光導波路Ｂの温度が走査完了時の温度となるように、電圧供給部８から温度調節部１４に供給される駆動電圧を制御する。これに伴い、光導波路Ｂの温度は、走査完了時の温度を維持し、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）は、極大値を維持する（図１７の「制御時」参照）。
【００８２】
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引の範囲）が、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値となるまでの範囲である場合も、制御部１１は、制御目標値を検出することができ、上記第６及び第７変形例と同様の効果を得ることが可能となる。
〔１０〕第９変形例
上述した実施形態及び各変形例では、入力信号がＤＰＳＫ光信号である例について説明したが、本例では、入力信号がＤＱＰＳＫ光信号である例について説明する。
【００８３】
本例では、光受信器５に代えて、例えば、図１８に例示する光受信器５´を用いることができる。
この図１８に示す光受信器５´は、例示的に、分離回路１７と、遅延干渉計６−１，６−２と、バランスドレシーバ７−１，７−２と、電圧供給部８−１，８−２と、温度検出部９−１，９−２と、電流検出部１０−１，１０−２と、制御部１１´と、記憶部１２´とをそなえる。
【００８４】
分離回路１７は、光受信器５´に入力されるＤＱＰＳＫ光信号をＩチャネル（Ｉ−ｃｈ）成分とＱチャネル（Ｑ−ｃｈ）成分とに分離し、Ｉチャネル成分を遅延干渉計６−１に出力する一方、Ｑチャネル成分を遅延干渉計６−２に出力する。
遅延干渉計（光干渉計）６−１は、分離回路１７で分離されたＤＱＰＳＫ光信号のＩチャネル成分を位相変調信号から強度変調信号に変換する。このため、遅延干渉計６−１は、例示的に、光カプラ１３−１と、光路長の異なる光導波路１Ａ，１Ｂと、温度調節部１４−１と、温度計測部１５−１と、光復調部１６−１とをそなえる。
【００８５】
光カプラ１３−１，光路長の異なる光導波路１Ａ，１Ｂ，温度調節部１４−１，温度計測部１５−１及び光復調部１６−１は、上述した光カプラ１３，光路長の異なる光導波路Ａ，Ｂ，温度調節部１４，温度計測部１５及び光復調部１６と同様の機能を有する。
また、電圧供給部８−１及び温度検出部９−１は、上述した電圧供給部８及び温度検出部９と同様の機能を有する。
【００８６】
バランスドレシーバ（受光器）７−１は、遅延干渉計６−１から出力される強度変調信号の正相成分及び逆相成分を受光し、それぞれ光電変換することにより、各電気信号の差分をＩチャネル成分の電気信号（復調信号）として出力する。このため、バランスドレシーバ７−１は、例示的に、フォトダイオードＰＤ１１，ＰＤ１２と、差動増幅器１８−１とをそなえる。
【００８７】
ＰＤ１１，ＰＤ１２及び差動増幅器１８−１は、上述したＰＤ１，ＰＤ２及び差動増幅器１８と同様の機能を有する。
また、電流検出部１０−１は、上述した電流検出部１０と同様の機能を有する。
一方、遅延干渉計（光干渉計）６−２は、分離回路１７で分離されたＤＱＰＳＫ光信号のＱチャネル成分を位相変調信号から強度変調信号に変換する。このため、遅延干渉計６−２は、例示的に、光カプラ１３−２と、光路長の異なる光導波路２Ａ，２Ｂと、温度調節部１４−２と、温度計測部１５−２と、光復調部１６−２とをそなえる。
【００８８】
光カプラ１３−２，光路長の異なる光導波路２Ａ，２Ｂ，温度調節部１４−２，温度計測部１５−２及び光復調部１６−２は、上述した光カプラ１３，１３−１，光路長の異なる光導波路Ａ，Ｂ，１Ａ，１Ｂ，温度調節部１４，１４−１，温度計測部１５，１５−１及び光復調部１６，１６−１と同様の機能を有する。
また、電圧供給部８−２及び温度検出部９−２は、上述した電圧供給部８，８−１及び温度検出部９，９−１と同様の機能を有する。
【００８９】
バランスドレシーバ（受光器）７−２は、遅延干渉計６−２から出力される強度変調信号の正相成分及び逆相成分を受光し、それぞれ光電変換することにより、各電気信号の差分をＱチャネル成分の電気信号（復調信号）として出力する。このため、バランスドレシーバ７−２は、例示的に、フォトダイオードＰＤ２１，ＰＤ２２と、差動増幅器１８−２とをそなえる。
【００９０】
ＰＤ２１，ＰＤ２２及び差動増幅器１８−２は、上述したＰＤ１，１Ａ，ＰＤ２，２Ａ及び差動増幅器１８，１８−１と同様の機能を有する。
また、電流検出部１０−２は、上述した電流検出部１０，１０−１と同様の機能を有する。
なお、電圧供給部８−１，８−２，温度検出部９−１，９−２及び電流検出部１０−１，１０−２は、それぞれ一体化して共用することもできる。このようにすれば、コスト低減及び装置の小型化を実現することが可能となる。
【００９１】
ここで、本例の制御部１１´は、電圧供給部８−１，８−２及び温度調節部１４−１，１４−２を介して、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度をそれぞれ変化させることにより、遅延干渉計６−１及び６−２の位相を制御する。
例えば、制御部１１´は、まず、電圧供給部８−１，８−２から温度調節部１４−１，１４−２に供給される電圧を制御して、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を所定の範囲で掃引（スイープ）する。
【００９２】
次に、制御部１１´は、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、温度検出部９−１，９−２でのサンプリング結果と電流検出部１０−１，１０−２でのサンプリング結果とをモニタする。
そして、制御部１１´は、前記モニタ結果に基づき、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度と、ＰＤ１１，ＰＤ１２，ＰＤ２１，ＰＤ２２の平均受光電流ＩＰＤ１１，ＩＰＤ１２，ＩＰＤ２１，ＩＰＤ２２とを対応付けたテーブルを作成する。以下、ＩＰＤ１１，ＩＰＤ２１を区別しない場合は単にＩＰＤ１と称し、また、ＩＰＤ１２，ＩＰＤ２２を区別しない場合は単にＩＰＤ２と称する場合がある。
【００９３】
制御部１１´により作成された前記テーブルは、記憶部１２´に格納される。記憶部１２´は、前記テーブルを格納するメモリである。なお、前記テーブルは、遅延干渉計６−１，６−２を起動する毎に作成されてもよいし、定期あるいは不定期にその内容が更新されてもよい。
ここで、入力信号光がＤＱＰＳＫ光信号である場合の制御目標点について図１９を用いて説明する。
【００９４】
図１９に示すように、入力信号光がＤＰＳＫ光信号である場合の制御目標点（ＤＰＳＫ制御目標点）は、例えば、ＩＰＤ１が極大値〔またはＩＰＤ２が極小値あるいは（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値〕となる点である。
このときの遅延干渉計６−１，６−２の位相を０度とすると、ＤＱＰＳＫ光信号のＩチャネル成分の制御目標点は、前記ＤＰＳＫ制御目標点から位相が＋４５度ずれた点となる。一方、ＤＱＰＳＫ光信号のＱチャネル成分の制御目標点は、前記ＤＰＳＫ制御目標点から位相が−４５度ずれた点となる。
【００９５】
そこで、本例では、まず制御部１１´が、既述の方法により、ＤＰＳＫ制御目標点における光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を検出し、次に、ＩＰＤ１が他の値（極大値または極小値）となる光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を検出する。
次に、制御部１１´は、前記検出した２つの温度の温度差と、各極大値の位相の差とに基づいて、遅延干渉計６−１，６−２の位相が４５度変化するような光導波路１Ｂ，２Ｂの温度差を演算により算出する。
【００９６】
そして、制御部１１´は、ＤＰＳＫ制御目標点における光導波路１Ｂの温度に前記算出した温度差を加算することにより、ＤＱＰＳＫ光信号のＩチャネル成分の制御目標点における光導波路１Ｂの温度を算出する。一方、制御部１１´は、ＤＰＳＫ制御目標点における光導波路２Ｂの温度から前記算出した温度差を減算することにより、ＤＱＰＳＫ光信号のＱチャネル成分の制御目標点における光導波路２Ｂの温度を算出する。
【００９７】
次に、制御部１１´は、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度が前記算出した各温度となるように、電圧供給部８−１，８−２及び温度調節部１４−１，１４−２を制御して、光導波路１Ｂを加熱する一方、光導波路２Ｂを冷却する。
即ち、制御部１１´，電圧供給部８−１，８−２及び温度調節部１４−１，１４−２は、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、温度検出部９−１，９−２での検出結果と電流検出部１０−１，１０−２での検出結果とをモニタし、バランスドレシーバ７−１，７−２でのＩＰＤ１が極値となる光導波路１Ｂ，２Ｂの温度とＩＰＤ１が他の値となる光導波路１Ｂ，２Ｂの温度とを前記モニタ結果に基づいて検出（選択）し、前記選択した２つの温度に基づき、位相干渉計６−１，６−２の位相を４５度変化させる温度差を算出し、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度をＩＰＤ１が極値となる前記温度よりも前記算出した温度差だけ高いあるいは低い温度に変化させる制御部の一例として機能する。
【００９８】
なお、制御部１１´は、例えば、ＰＩＤ制御により、電圧供給部８−１，８−２及び温度調節部１４−１，１４−２を制御して、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度を変化させるようにしてもよい。ＰＩＤ制御を用いることにより、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度をより高速に制御目標に変化させることが可能となる。
ここで、図２０（Ａ）〜図２０（Ｃ）を用いて、上記光受信器５´の動作の一例について説明する。
【００９９】
図２０（Ａ）に例示するように、例えば、電圧供給部８−１，８−２から温度調節部１４−１，１４−２に振幅２Ｖのステップ電圧（「走査駆動波形」及び「走査駆動波形の軌跡」参照）が印加された場合、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度は、図２０（Ｂ）に示すように、過渡的に変化する（「走査時の温度」及び「走査温度の軌跡」参照）。また、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度変化に応じて、ＩＰＤ１は図２０（Ｃ）に例示するように正弦波状に変化する（「走査時」及び「走査軌跡」参照）。
【０１００】
本例では、制御部１１´により、ＩＰＤ１の位相が初期位相から７２０度変化した時点〔時刻ｔ４（ｔ４は自然数）〕で走査を完了し、得られたモニタ結果からＩＰＤ１が極大値となる光導波路１Ｂ，２Ｂの温度をそれぞれ検出（選択）する。
さらに、制御部１１´は、例えば、得られたモニタ結果からＩＰＤ１が他の極大値となる光導波路１Ｂ，２Ｂの温度をそれぞれ検出（選択）する。
【０１０１】
そして、制御部１１´は、各光導波路１Ｂ，２Ｂについて、前記検出した２つの極大値に相当する導波路温度の差分と、前記２つの極大値の位相差とを算出し、これらに基づいて、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度変化させる温度差を算出する。図２０（Ｃ）に示す例では、制御部１１´により、例えば、ＩＰＤ１の極大値に対応する光導波路１Ｂ，２Ｂの温度とＩＰＤ１の他の極大値に対応する光導波路１Ｂ，２Ｂの温度との差分に、４５度／３６０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度だけ変化させるような光導波路１Ｂ，２Ｂの温度変化量が算出される。
【０１０２】
次いで、制御部１１´は、時刻ｔ４以降、光導波路１Ｂの温度が、ＩＰＤ１の極大値に対応する光導波路１Ｂの温度に前記算出した温度変化量（温度差）を加算した温度となるように、電圧供給部８−１から温度調節部１４−１に供給される駆動電圧を制御する（図２０（Ａ）の「制御時の駆動波形（Ｉ−ｃｈ）」参照）。一方、制御部１１´は、時刻ｔ４以降、光導波路２Ｂの温度が、ＩＰＤ１の極大値に対応する光導波路２Ｂの温度から前記算出した温度変化量（温度差）を減算した温度となるように、電圧供給部８−２から温度調節部１４−２に供給される駆動電圧を制御する（図２０（Ａ）の「制御時の駆動波形（Ｑ−ｃｈ）」参照）。
【０１０３】
これに伴い、時刻ｔ４以降、光導波路１Ｂ，２Ｂの温度は、前記温度に向かって収束していき（図２０（Ｂ）の「制御時の温度（Ｉ−ｃｈ）」及び「制御時の温度（Ｑ−ｃｈ）」参照）、ＩＰＤ１１及びＩＰＤ２１は、極大値から位相が４５度ずれた値に向かって収束していく（図２０（Ｃ）の「制御時（Ｉ−ｃｈ）」及び「制御時（Ｑ−ｃｈ）」参照）。
【０１０４】
以上のように、本例の光受信器５´によれば、入力信号光がＤＱＰＳＫ光信号の場合であっても、上述した実施形態等と同様の効果を得ることが可能となる。
〔１１〕第１０変形例
上記第９変形例では、ＩＰＤ１の２つの極大値を検出して、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度変化させる温度差を算出したが、本例では、その他の値に基づいて前記温度差を算出し、上記第９変形例と同様の動作を実現することができる。
【０１０５】
例えば、制御部１１´は、ＩＰＤ１の極小値を２つ検出し、各極小値に対応する光導波路温度の差分に４５度／３６０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。
また、制御部１１´は、ＩＰＤ１の極大値と極小値とをそれぞれ検出し、検出した極大値と極小値とに対応する光導波路温度の差分に４５度／１８０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。なお、この場合、制御部１１´による光導波路温度の掃引範囲は、ＩＰＤ１の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化するまでの範囲であってもよい。
【０１０６】
さらに、制御部１１´は、図２１に例示するように、ＩＰＤ２の極小値（または極大値）を２つ検出し、各極小値（または各極大値）に対応する光導波路温度の差分に４５度／３６０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。
また、制御部１１´は、図２１に例示するように、ＩＰＤ２の極小値と極大値とをそれぞれ検出し、検出した極小値と極大値とに対応する光導波路温度の差分に４５度／１８０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。なお、この場合、制御部１１´による光導波路温度の掃引範囲は、ＩＰＤ２の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化するまでの範囲であってもよい。
【０１０７】
さらに、制御部１１´は、図２２に例示するように、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の極大値（または極小値）を２つ検出し、各極大値（または各極小値）に対応する光導波路温度の差分に４５度／３６０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。
また、制御部１１´は、図２２に例示するように、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の極小値と極大値とをそれぞれ検出し、検出した極小値と極大値とに対応する光導波路温度の差分に４５度／１８０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。なお、この場合、制御部１１´による光導波路温度の掃引範囲は、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化するまでの範囲であってもよい。
【０１０８】
さらに、制御部１１´は、図２３に例示するように、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が０となる光導波路温度を複数検出し、前記検出した光導波路温度の差分に４５度／１８０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。なお、この場合、制御部１１´による光導波路温度の掃引範囲は、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化するまでの範囲であってもよい。
【０１０９】
また、制御部１１´は、図２４に例示するように、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が０となる光導波路温度と、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）が極大値（または極小値）となる光導波路温度とを検出し、前記検出した光導波路温度の差分に４５度／９０度を乗じることにより、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出してもよい。なお、この場合、制御部１１´による光導波路温度の掃引範囲は、（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）の位相が初期位相から少なくとも１８０度変化するまでの範囲であってもよい。
【０１１０】
以上のように、本例の光受信器５´によれば、上記の各種方法により、遅延干渉計６−１，６−２の位相を４５度ずらすような温度差を算出でき、上記第９変形例と同様の効果を得ることが可能となる。
〔１２〕第１１変形例
また、本例のように、平均光電流が正弦波波形であることを利用して、演算により、光導波路Ｂの温度の制御目標値を算出してもよい。
【０１１１】
例えば、図２５に例示するように、本例の制御部１１（１１´）は、ＩＰＤ１が初期値（走査開始点）から少なくとも４点検出した時点で光導波路温度の掃引制御を終了する。
そして、本例の制御部１１（１１´）は、例えば、検出された各値を以下の式（１）に代入することにより得られる連立方程式により、未知数ａ〜ｄを求めて、ＩＰＤ１を表す関数を算出する。
【０１１２】
ＩＰＤ１＝ａ×ｓｉｎ（ｂ×Ｔｅｍｐ＋ｃ）＋ｄ  （Ｔｅｍｐは光導波路Ｂの温度を表す）・・・（１）
本例の制御部１１（１１´）は、上記の式（１）から得られる連立方程式を解くことにより、ＩＰＤ１が極大値となる光導波路温度を算出することができる。
【０１１３】
即ち、本例の制御部１１（１１´）は、光導波路Ｂの温度を所定の範囲で掃引しながら、温度検出部９（９−１，９−２）での検出結果と電流検出部１０（１０−１，１０−２）での検出結果とをモニタし、ＩＰＤ１と光導波路Ｂの温度との少なくとも４つの組み合わせを検出し、前記組み合わせに基づいて、ＩＰＤ１が極大値となる光導波路Ｂの温度を演算により算出し、前記一方の光導波路の温度を前記算出した温度に変化させる、制御部の一例として機能する。
【０１１４】
なお、制御部１１（１１´）は、例えば、ＩＰＤ１の代わりに、ＩＰＤ２または（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）を用いて、同様の演算を行なうようにしてもよい。
また、制御部１１（１１´）は、例えば、上記算出した関数に基づいて、ＤＰＳＫ制御目標点を算出できるほか、ＤＱＰＳＫの制御目標点を算出するようにしてもよい。
以上のように、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）が、ＩＰＤ１が少なくとも４点検出できるまでの範囲である場合も、制御目標値を検出することができ、上述した実施形態と同様の効果を得られる。
【０１１５】
また、本例では、上述した実施形態及び各変形例に比して、光導波路Ｂの温度変化の幅（掃引範囲）が小さいので、制御目標値の検出時間を低減させ、遅延干渉計６（６−１，６−２）の起動速度を更に向上させることが可能となる。
〔１３〕第１２変形例
また、本例のように、温度調節部１４（１４−１，１４−２）に対して駆動電圧が与えられてから十分時間が経過した後の光導波路Ｂの温度と前記駆動電圧とは比例関係にあることを利用して、演算により、ＩＰＤ１が極大値となる制御目標電圧ＶＴ（ＶＴ＞０）を算出してもよい。
【０１１６】
本例の制御部１１（１１´）は、例えば、ＩＰＤ１の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化するような駆動電圧〔例えば、振幅がＶ（Ｖ＞０）のステップ電圧〕を温度調節部１４（１４−１，１４−２）に供給し、ＩＰＤ１が極大値となるまでの時間〔サンプリング時間Ｔ（Ｔ＞０）〕を検出する。
そして、本例の制御部１１（１１´）は、例えば、検出された各値を以下の式（２）に代入することにより、ＩＰＤ１が極大値となるような制御目標電圧ＶＴを算出する。
【０１１７】
ＶＴ＝Ｖ×｛１−ｅｘｐ（−Ｔ／τ）｝  〔τは温度調節部１４（１４−１，１４−２）の時定数〕・・・（２）
ここで、図２６（Ａ）にステップ電圧Ｖを与えた場合の光導波路Ｂの温度変化を示す（「Ｖ印加時」参照）。このとき、図２６（Ｂ）に示すように、ＩＰＤ１は、時刻Ｔにおいて極大値となり、そのときの光導波路Ｂの温度変化量は０．４℃となる。なお、図２６において、τ＝１ｓｅｃであり、Tuning Rangeは２ＦＳＲ（Free Spectrum Range）である。
【０１１８】
このような場合において、上記の式（２）から求められるＶＴは、光導波路Ｂの温度を、ＩＰＤ１が極大値となるような光導波路Ｂの温度に制御する駆動電圧値である。即ち、上記算出したＶＴが、走査開始の時点から温度調節部１４（１４−１，１４−２）に印加された場合、光導波路Ｂの温度は、制御目標値（温度変化量が０．４℃）に向かって収束していく（図２６（Ａ）の「ＶＴ印加時」参照）。
【０１１９】
以上のように、本例の制御部１１（１１´）は、上記の式（２）から得られるＶＴに基づき、電圧供給部８（８−１，８−２）を制御することにより、位相干渉計６（６−１，６−２）の位相を最適化制御することが可能となる。
なお、制御部１１（１１´）は、例えば、ＩＰＤ１の代わりに、ＩＰＤ２または（ＩＰＤ１−ＩＰＤ２）を用いて、同様の演算を行なうようにしてもよい。
【０１２０】
以上のように、本例では、光導波路Ｂの温度を検出することなく、遅延干渉計６（６−１，６−２）の位相を最適化制御することができるので、温度検出部９（９−１，９−２）及び温度計測部１５（１５−１，１５−２）を省略することが可能となる。
従って、本例の光受信器５（５´）は、上述した実施形態と同様の効果を得られるほか、装置をさらに小型化することが可能となる。
【０１２１】
〔１４〕その他
なお、上述した光受信器５，５´の各構成及び各処理は、必要に応じて取捨選択してもよいし、適宜組み合わせてもよい。
以上の実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
〔１５〕付記
（付記１）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【０１２２】
（付記２）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度と前記平均光電流が他の値となる前記一方の光導波路の温度とを前記モニタ結果に基づいて選択し、前記選択した２つの温度に基づき、前記光干渉計の位相を４５度変化させる温度差を算出し、前記一方の光導波路の温度を前記平均光電流が極値となる前記温度よりも前記算出した温度差だけ高いあるいは低い温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【０１２３】
（付記３）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を変化させることにより、前記光干渉計の位相を制御する制御部と、
前記一方の光導波路の温度を検出する温度検出部と、
前記光干渉計から出力される前記強度変調信号を受光し、電気信号に変換して出力する受光器と、
前記受光器で受光される前記強度変調信号の平均光電流を検出する電流検出部と、をそなえ、
前記制御部が、
前記一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記温度検出部での検出結果と前記電流検出部での検出結果とをモニタし、前記モニタ結果に基づいて前記平均光電流と前記一方の光導波路の温度との少なくとも４つの組み合わせを検出し、前記組み合わせに基づいて、前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を演算により算出し、前記一方の光導波路の温度を前記算出した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信器。
【０１２４】
（付記４）
前記所定の範囲が、前記光干渉計の位相が初期位相から少なくとも３６０度変化する範囲である、
ことを特徴とする、付記１または２に記載の光受信器。
（付記５）
前記所定の範囲が、前記光干渉計の位相が初期位相から少なくとも７２０度変化する範囲である、
ことを特徴とする、付記１または２に記載の光受信器。
【０１２５】
（付記６）
前記所定の範囲が、前記平均光電流が初期値から極値となるまでの範囲である、
ことを特徴とする、付記１記載の光受信器。
（付記７）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記正相側の平均光電流の極大値である、
ことを特徴とする、付記１〜６のいずれか１項に記載の光受信器。
【０１２６】
（付記８）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の逆相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記逆相側の平均光電流の極小値である、
ことを特徴とする、付記１〜６のいずれか１項に記載の光受信器。
（付記９）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流と前記強度変調信号の逆相側の平均光電流との差分の平均光電流であって、
前記極値は、前記差分の平均光電流の極大値である、
ことを特徴とする、付記１〜６のいずれか１項に記載の光受信器。
【０１２７】
（付記１０）
前記温度検出部で検出される温度モニタ値の代わりに、
時間計測により求めた時刻により前記一方の光導波路の温度を計算する、
ことを特徴とする、付記１〜６のいずれか１項に記載の光受信器。
（付記１１）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記正相側の平均光電流の極大値であり、
前記他の値は、前記正相側の平均光電流の他の極大値または極小値である、
ことを特徴とする、付記２記載の光受信器。
【０１２８】
（付記１２）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の逆相側の平均光電流であって、
前記極値は、前記逆相側の平均光電流の極小値であり、
前記他の値は、前記逆相側の平均光電流の他の極小値または極大値である、
ことを特徴とする、付記２記載の光受信器。
【０１２９】
（付記１３）
前記平均光電流が、前記強度変調信号の正相側の平均光電流と前記強度変調信号の逆相側の平均光電流との差分の平均光電流であって、
前記極値は、前記差分の平均光電流の極大値であり、
前記他の値は、前記差分の平均光電流の他の極大値または極小値または０値である、
ことを特徴とする、付記２記載の光受信器。
【０１３０】
（付記１４）
前記モニタ結果を保持する記憶部をさらにそなえ、
前記制御部が、
前記記憶部に保持される前記モニタ結果に基づいて、前記一方の光導波路の温度を変化させる、
ことを特徴とする、付記１〜１３のいずれか１項に記載の光受信器。
【０１３１】
（付記１５）
前記制御部は、ＰＩＤ（Proportional Integral Derivative）制御により、前記一方の光導波路の温度を変化させる、
ことを特徴とする、付記１〜１４のいずれか１項に記載の光受信器。
（付記１６）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器の光受信方法であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路の温度と前記光干渉計から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、
前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度を前記モニタ結果に基づいて選択し、
前記一方の光導波路の温度を前記選択した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信方法。
【０１３２】
（付記１７）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器の光受信方法であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路の温度と前記光干渉計から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、
前記平均光電流が極値となる前記一方の光導波路の温度と前記平均光電流が他の極値または０値となる前記一方の光導波路の温度とを前記モニタ結果に基づいて選択し、
前記選択した２つの温度に基づき、前記光干渉計の位相を４５度変化させる温度差を算出し、
前記一方の光導波路の温度を前記平均光電流が極値となる前記温度よりも前記算出した温度差だけ高いあるいは低い温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信方法。
【０１３３】
（付記１８）
入力された位相変調信号を光路長の異なる２つの光導波路を有する光干渉計を用いて強度変調信号に変換して受信する光受信器の光受信方法であって、
前記２つの光導波路のうち一方の光導波路の温度を所定の範囲で掃引しながら、前記一方の光導波路の温度と前記光干渉計から出力される前記強度変調信号の平均光電流とをモニタし、
前記モニタ結果に基づいて前記平均光電流と前記一方の光導波路の温度との少なくとも４つの組み合わせを検出し、
前記組み合わせに基づいて、前記平均光電流が極値となる温度を演算により算出し、
前記一方の光導波路の温度を前記算出した温度に変化させる、
ことを特徴とする、光受信方法。
【０１３４】
（付記１９）
付記１〜１５のいずれか１項に記載の光受信器と、前記光受信器に位相変調信号を送信する光送信器と、をそなえた、
ことを特徴とする、光伝送システム。
【符号の説明】
【０１３５】
１  光伝送システム
２−１，・・・，２−Ｎ  光送信器
３−１，３−２  ＷＤＭ装置
４−１，４−２  光増幅器
５−１，・・・，５−Ｎ  光受信器
６，６−１，６−２  遅延干渉計
７，７−１，７−２  バランスドレシーバ
８，８−１，８−２  電圧供給部
９，９−１，９−２  温度検出部
１０，１０−１，１０−２  電流検出部
１１，１１´  制御部
１２，１２´  記憶部
１３，１３−１，１３−２  光カプラ
１４，１４−１，１４−２  温度調節部
１５，１５−１，１５−２  温度計測部
１６，１６−１，１６−２  光復調部
１７  分離回路
１８，１８−１，１８−２  差動増幅器
１９  光伝送路
１００  光受信器
１０１  記憶部
１０２  演算部
１０３  制御部
１０４  遅延干渉計
１０５  バランスドレシーバ
１０６，１０７，１１１  差動増幅器
１０８  光カプラ
１０９  ヒータ
１１０  光復調部
【図１】
2010206709.tif 000003
【図２】
2010206709.tif 000004
【図３】
2010206709.tif 000005
【図４】
2010206709.tif 000006
【図５】
2010206709.tif 000007
【図６】
2010206709.tif 000008
【図７】
2010206709.tif 000009
【図８】
2010206709.tif 000010
【図９】
2010206709.tif 000011
【図１０】
2010206709.tif 000012
【図１１】
2010206709.tif 000013
【図１２】
2010206709.tif 000014
【図１３】
2010206709.tif 000015
【図１４】
2010206709.tif 000016
【図１５】
2010206709.tif 000017
【図１６】
2010206709.tif 000018
【図１７】
2010206709.tif 000019
【図１８】
2010206709.tif 000020
【図１９】
2010206709.tif 000021
【図２０】
2010206709.tif 000022
【図２１】
2010206709.tif 000023
【図２２】
2010206709.tif 000024
【図２３】
2010206709.tif 000025
【図２４】
2010206709.tif 000026
【図２５】
2010206709.tif 000027
【図２６】
2010206709.tif 000028