(57)【要約】【課題】対象物中の異物等の検出精度を向上させる放射線画像取得システムを提供する。【解決手段】Ｘ線画像取得システム１は、対象物ＳにＸ線源からＸ線を照射し、対象物Ｓを透過した複数のエネルギ範囲のＸ線を検出する。Ｘ線画像取得システム１は、対象物Ｓを透過する低エネルギ範囲におけるＸ線を検出して低エネルギ画像データを生成する低エネルギ検出器３２と、不感帯領域８２を挟んで低エネルギ検出器３２と並列に配置され対象物Ｓを透過する高エネルギ範囲におけるＸ線を検出して高エネルギ画像データを生成する高エネルギ検出器４２と、低エネルギ検出器３２で生成される低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で生成される高エネルギ画像データとが互いに対応するように不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷに基づいて高エネルギ検出器４２の検出タイミングを制御するタイミング制御部５０とを備える。【選択図】図２
2010117170.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象物に放射線源から放射線を照射して、該対象物を透過した複数のエネルギ範囲の放射線を検出する放射線検出装置であって、
前記対象物を透過する第１のエネルギ範囲における放射線を検出して第1放射線画像データを生成する第１検出器と、
所定領域を挟んで前記第１検出器と並列に配置され、前記対象物を透過する第２のエネルギ範囲における放射線を検出して第２放射線画像データを生成する第２検出器と、
前記第１検出器で生成される第１放射線画像データと前記第２検出器で生成される第２放射線画像データとが互いに対応するように、前記所定領域の幅に基づいて、少なくとも前記第２検出器の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、を備える放射線検出装置。
【請求項２】
前記第１検出器は、前記第1放射線画像データを連続した分割画像データで生成する第１ラインセンサであり、
前記第２検出器は、前記第２放射線画像データを連続した分割画像データで生成する第２ラインセンサであり、
前記タイミング制御部は、前記第１ラインセンサによる分割画像データの前記対象物での検出範囲と前記第２ラインセンサによる分割画像データの前記対象物での検出範囲とが一致するように、少なくとも前記第２ラインセンサの検出タイミングを前記所定領域の幅に基づいて遅延制御する請求項１記載の放射線検出装置。
【請求項３】
前記所定領域の幅は、前記第１検出器又は前記第２検出器の短手方向に沿った幅であって、前記第１検出器又は前記第２検出器において放射線を感知する感知幅よりも小さい請求項１又は２に記載の放射線検出装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載の放射線検出装置と、
前記所定領域の幅に基づいて前記検出タイミングを算出するタイミング算出部と、を備える放射線画像取得システム。
【請求項５】
前記タイミング制御部で互いに対応するように制御されて前記第１検出器で生成された放射線画像データと前記第２検出器で生成された放射線画像データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部と、を備える請求項４に記載の放射線画像取得システム。
【請求項６】
対象物に放射線源から放射線を照射し、該対象物を透過した複数のエネルギ範囲の放射線を検出して該対象物を検査する放射線検査システムであって、
前記放射線源として放射線を前記対象物に照射する放射線照射器と、
前記対象物を透過する第１のエネルギ範囲における放射線を検出して第1放射線画像データを生成する第１検出器と、
所定領域を挟んで前記第１検出器と並列に配置され、前記対象物を透過する第２のエネルギ範囲における放射線を検出して第２放射線画像データを生成する第２検出器と、
前記放射線照射器による前記放射線の照射方向と交差する方向に前記対象物を搬送する搬送部と、
前記搬送部により搬送される前記対象物を透過する放射線を前記第1検出器及び前記第２検出器で検出する際に前記第１検出器で生成される前記第１放射線画像データと前記第２検出器で生成される前記第２放射線画像データとが互いに対応するように、前記所定領域の幅と前記搬送部による前記対象物の搬送速度とに基づいて、少なくとも前記第２検出器の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、
前記タイミング制御部で互いに対応するように制御されて前記第１検出器で生成された第１放射線画像データと前記第２検出器で生成された第２放射線画像データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部と、
前記合成画像生成部で生成された前記合成画像を出力する合成画像出力部と、
を備える放射線検査システム。
【請求項７】
前記タイミング制御部は、前記所定領域の幅と前記搬送速度とに加え、前記放射線照射器及び前記対象物間の距離と、前記放射線照射器及び前記第１検出器又は前記第２検出器間の距離との比である拡大率とに基づいて、少なくとも前記第２検出器の検出タイミングを制御する請求項６記載の放射線検査システム。
【請求項８】
対象物に放射線を照射する放射線源と、第１のエネルギ範囲における放射線を検出する第１検出器と、所定領域を挟んで前記第１検出器と並列して配置され、第２のエネルギ範囲における放射線を検出する第２検出器と、第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部とを備えた放射線検出装置における放射線検出方法であって、
前記放射線源が前記対象物に放射線を照射する照射工程と、
前記照射工程で照射されて前記対象物を透過した第１のエネルギ範囲における放射線を前記第1検出器が検出して第１放射線画像データを生成する第１検出工程と、
前記照射工程で照射されて前記対象物を透過した第２のエネルギ範囲における放射線を前記第２検出器が検出して第２放射線画像データを生成する第２検出工程と、
前記第１検出工程で生成される第１放射線画像データと前記第２検出工程で生成される第２放射線画像データとが互いに対応するように、前記所定領域の幅に基づいて、少なくとも前記第２検出工程での検出タイミングを前記タイミング制御部が制御するタイミング制御工程と、を含む放射線検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、食品や医薬品等の被検査物である対象物にＸ線を透過させて、その透過Ｘ線画像から対象物中の異物の有無を検査することが広く行われている。このような検査には、Ｘ線を対象物に照射するＸ線源と、このＸ線源から対象物に照射されたＸ線の透過画像を検出する直線状のラインセンサとを備えたＸ線画像の取得装置が用いられている。
【０００３】
ところで、エネルギ弁別機能を有しない１つのラインセンサで透過Ｘ線を検出する場合、エネルギ弁別機能を有しないことから、対象物中に含まれる異物の組成の相違（例えば、食肉検査において骨なのか肉なのか、又は軟骨、異物なのかといった違い）や厚さの相違により、検出精度が低下することがある。そこで、異なるエネルギ範囲のＸ線を検出する２つのラインセンサを並列に配置して、これら２つのラインセンサで検出されたＸ線画像から差分データ像であるサブトラクション像を取得して、対象物中に含まれる異物の組成や厚さに関係なく検出精度を向上させることが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１０−３１８９４３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、本発明者らの検討によれば、並列に配置された２つのラインセンサで検出生成された対象物のＸ線画像からサブトラクション像を得ようとすると、サブトラクション像において異物等を示す画像部分のエッジが不明瞭になる場合があることがわかった。そのため、２つのラインセンサを用いるだけでは、対象物中に含まれる異物の検出を精度良く行うことができない場合があった。
【０００５】
そこで、本発明は、かかる課題に鑑みて為されたものであり、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる放射線検出装置、放射線画像取得システム、放射線検査システム、及び放射線検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明者らは、上記目的を達成するために鋭意検討を重ねた結果、エネルギサブトラクション像において異物等を示す画像部分のエッジが不明瞭になるのは、２つのラインセンサに挟まれる不感帯領域の存在に主として起因していることを突き止めた。この不感帯領域は、可能な範囲で小さくすることはできるものの、同一チップ上に異なる画素を設ける場合には、どうしても生じてしまう。そこで、本発明者らは、不感帯領域の幅に基づいて、２つのラインセンサによるＸ線の検出タイミングを調整することを行えば、２つのラインセンサによる異物検査での検出精度を向上させることができるとの知見を得て本発明を完成させるに至った。    
【０００７】
すなわち、本発明に係る放射線検出装置は、対象物に放射線源から放射線を照射して、該対象物を透過した複数のエネルギ範囲の放射線を検出する放射線検出装置であって、対象物を透過する第１のエネルギ範囲における放射線を検出して第1放射線画像データを生成する第１検出器と、所定領域を挟んで第１検出器と並列に配置され、対象物を透過する第２のエネルギ範囲における放射線を検出して第２放射線画像データを生成する第２検出器と、第１検出器で生成される第１放射線画像データと第２検出器で生成される第２放射線画像データとが互いに対応するように、所定領域の幅に基づいて、少なくとも第２検出器の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、を備える。
【０００８】
また、本発明に係る放射線検出方法は、対象物に放射線を照射する放射線源と、第１のエネルギ範囲における放射線を検出する第１検出器と、所定領域を挟んで第１検出器と並列して配置され、第２のエネルギ範囲における放射線を検出する第２検出器と、第１検出器及び第２検出器での放射線の検出タイミングを制御するタイミング制御部とを備えた放射線検出装置における放射線検出方法であって、放射線源が対象物に放射線を照射する照射工程と、照射工程で照射されて対象物を透過した第１のエネルギ範囲における放射線を第1検出器が検出して第１放射線画像データを生成する第１検出工程と、照射工程で照射されて対象物を透過した第２のエネルギ範囲における放射線を第２検出器が検出して第２放射線画像データを生成する第２検出工程と、第１検出工程で生成される第１放射線画像データと第２検出工程で生成される第２放射線画像データとが互いに対応するように、所定領域の幅に基づいて、少なくとも第２検出工程での検出タイミングをタイミング制御部が制御するタイミング制御工程と、を含む。
【０００９】
この放射線検出装置及び放射線検出方法では、タイミング制御部が、第１検出器で生成される放射線画像データと第２検出器で生成される放射線画像データとが互いに対応するように、所定領域の幅に基づいて、少なくとも第２検出器の検出タイミングを制御するようになっている。これにより、所定領域の存在によって第1検出器での検出タイミングに対してズレ（遅延等）が生じていた第２検出器での検出タイミングが調整され、第１検出器で生成される放射線画像データと第２検出器で生成される放射線画像データとが互いに対応するようになる。そして、互いに対応した２つの放射線画像データから得られるサブトラクション像では、不明瞭なエッジ部分が低減される。その結果、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
【００１０】
また、サブトラクション像を生成する際、一般に、不明瞭なエッジ部分を画像処理で低減させることができる。しかし、高速（例えば分速８０ｍ）で搬送される対象物に含まれる異物を検出する際に不明瞭なエッジ部分の低減を画像処理で行おうとすると、画像処理の処理速度が高速な搬送速度に対応しづらい場合がある。それに対し、上記の放射線検出装置及び放射線検出方法によれば、放射線画像の検出タイミングを制御して、サブトラクション像から不明瞭なエッジ部分を低減させているため、対象物の搬送速度が高速になった場合でも不明瞭なエッジ部分が低減されたサブトラクション像を迅速に生成することができる。その結果、高速な異物検査であっても、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
【００１１】
第１検出器は、第1放射線画像データを連続した分割画像データで生成する第１ラインセンサであり、第２検出器は、第２放射線画像データを連続した分割画像データで生成する第２ラインセンサであり、タイミング制御部は、第１ラインセンサによる分割画像データの対象物での検出範囲と第２ラインセンサによる分割画像データの対象物での検出範囲とが一致するように、少なくとも第２ラインセンサの検出タイミングを所定領域の幅に基づいて遅延制御することが好適である。このように分割画像データで示される対象物の検出範囲が同じになるように第２ラインセンサの検出タイミングを遅延制御することにより、サブトラクション像における不明瞭なエッジ部分を確実に低減することができる。
【００１２】
所定領域の幅は、第１検出器又は第２検出器の短手方向に沿った幅であって、第１検出器又は第２検出器において放射線を感知する感知幅よりも小さいことが好適である。所定領域の幅が狭いことにより、第１検出器又は第２検出器で生成される放射線画像に基づくサブトラクション画像における幾何学的なボケを防止することができる。
【００１３】
本発明に係る放射線画像取得システムは、上記した放射線検出装置と、所定領域の幅に基づいて検出タイミングを算出するタイミング算出部とを備えるようにしてもよい。タイミング制御部は、このタイミング算出部で算出された検出タイミングを用いて、第２検出器の検出タイミング等を制御して、不明瞭なエッジ部分が低減されたサブトラクション像を生成させることができる。
【００１４】
タイミング制御部で互いに対応するように制御されて第１検出器で生成された放射線画像データと第２検出器で生成された放射線画像データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部と、を備えるようにしてもよい。このような合成画像生成部により、不明瞭なエッジ部分が低減されたサブトラクション像を得ることができる。
【００１５】
本発明に係る放射線検査システムは、対象物に放射線源から放射線を照射し、該対象物を透過した複数のエネルギ範囲の放射線を検出して該対象物を検査する放射線検査システムであって、放射線源として放射線を対象物に照射する放射線照射器と、対象物を透過する第１のエネルギ範囲における放射線を検出して第1放射線画像データを生成する第１検出器と、所定領域を挟んで第１検出器と並列に配置され、対象物を透過する第２のエネルギ範囲における放射線を検出して第２放射線画像データを生成する第２検出器と、放射線照射器による放射線の照射方向と交差する方向に対象物を搬送する搬送部と、搬送部により搬送される対象物を透過する放射線を第1検出器及び第２検出器で検出する際に第１検出器で生成される第１放射線画像データと第２検出器で生成される第２放射線画像データとが互いに対応するように、所定領域の幅と搬送部による対象物の搬送速度とに基づいて、少なくとも第２検出器の検出タイミングを制御するタイミング制御部と、タイミング制御部で互いに対応するように制御されて第１検出器で生成された第１放射線画像データと第２検出器で生成された第２放射線画像データとを合成して合成画像を生成する合成画像生成部と、合成画像生成部で生成された合成画像を出力する合成画像出力部と、を備える。このような放射線検査システムによれば、対象物に含まれる異物の検査や手荷物検査等を精度よく行うことができる。
【００１６】
タイミング制御部は、上記の所定領域の幅と搬送速度とに加え、放射線照射器及び対象物間の距離と、放射線照射器及び第１検出器又は第２検出器間の距離との比である拡大率とに基づいて、少なくとも第２検出器の検出タイミングを制御することが好適である。拡大率を含めた制御を行うことにより、対象物に含まれる異物の検査や手荷物検査等を一層精度よく行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、対象物に含まれる異物等の検出精度を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を参照しつつ本発明に係るＸ線画像取得システムの好適な実施形態について説明する。なお、図面の説明においては同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１９】
図１は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの斜視図である。また、図２は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの概略構成図である。図１及び図２に示されるように、Ｘ線画像取得システム（放射線画像取得システム、放射線検査システム）１は、対象物ＳにＸ線源（放射線源）からＸ線（放射線）を照射し、照射されたＸ線のうち対象物Ｓを透過した透過Ｘ線を複数のエネルギ範囲で検出する装置である。Ｘ線画像取得システム１は、透過Ｘ線画像を用いて対象物Ｓに含まれる異物検出や手荷物検査等を行う。このようなＸ線画像取得システム１は、ベルトコンベア（搬送部）１０、Ｘ線照射器（放射線照射器）２０、低エネルギ画像取得部３０、高エネルギ画像取得部４０、タイミング制御部５０、タイミング算出部６０及び画像処理装置（合成画像生成部、合成画像出力部）７０を備えている。低エネルギ画像取得部３０、高エネルギ画像取得部４０及びタイミング制御部５０からデュアル画像取得装置（放射線検出装置）８０が構成される。
【００２０】
ベルトコンベア１０は、図１に示すように、対象物Ｓが載置されるベルト部１２を備える。ベルトコンベア１０は、ベルト部１２を搬送方向Ａ（図１の左側の上流側から図１の右側の下流側）に移動させることで、対象物Ｓを所定の搬送速度で搬送方向Ａに搬送する。対象物Ｓの搬送速度は、例えば４８ｍ／分である。ベルトコンベア１０は、必要に応じて、ベルトコンベア制御部１４により、例えば２４ｍ／分や９６ｍ／分といった搬送速度に速度を変更することができる。また、ベルトコンベア制御部１４は、ベルト部１２の高さ位置を変更することができる。ベルト部１２の高さ位置を変更することで、Ｘ線照射器２０と対象物Ｓとの距離（後述する「ＦＯＤ」に相当）を変更させることができる。この変更により、低エネルギ画像取得部３０及び高エネルギ画像取得部４０で取得されるＸ線透過像の解像度を変更させることが可能となる。なお、ベルトコンベア１０で搬送される対象物Ｓとしては、例えば、食肉等の食品やタイヤなどのゴム製品、セキュリティ・安全のための手荷物検査や貨物検査、その他に樹脂製品や金属製品、鉱物など資源材料、分別や資源回収（リサイクル）のための廃棄物、電子部品等など広くあげることができる。
【００２１】
Ｘ線照射器２０は、Ｘ線源としてＸ線を対象物Ｓに照射する装置である。Ｘ線照射器２０は、点光源であり、一定の照射方向に所定の角度範囲でＸ線を拡散させて照射する。Ｘ線照射器２０は、Ｘ線の照射方向がベルト部１２に向けられると共に拡散するＸ線が対象物Ｓの幅方向（搬送方向Ａと交差する方向）全体に及ぶように、ベルト部１２から所定の距離を離れてベルト部１２の上方に配置される。また、Ｘ線照射器２０は、対象物Ｓの長さ方向（搬送方向Ａと平行な方向）においては、長さ方向における所定の分割範囲が照射範囲とされ、対象物Ｓがベルトコンベア１０で搬送方向Ａへ搬送されることにより、対象物Ｓの長さ方向全体に対してＸ線が照射されるようになっている。
【００２２】
低エネルギ画像取得部３０は、低エネルギ検出器（第１検出器）３２と低エネルギ画像補正部３４と備えている。
【００２３】
低エネルギ検出器３２は、Ｘ線照射器２０から照射されたＸ線のうち対象物Ｓを透過した低エネルギ範囲（第１のエネルギ範囲）のＸ線を検出して、低エネルギ画像データ（第１放射線画像データ）を生成する。低エネルギ検出器３２は、例えば、対象物Ｓの幅と同等以上の長さを備えた直線状のラインセンサからなり、Ｘ線の検出面がＸ線照射器２０に対向した状態で搬送方向Ａと直交するようにベルト部１２の上流側の下方に配置される。
【００２４】
低エネルギ画像補正部３４は、低エネルギ検出器３２で生成された低エネルギ画像データを増幅及び補正する部分である。低エネルギ画像補正部３４は、低エネルギ画像データを増幅するアンプ３４ａ、アンプ３４ａで増幅された低エネルギ画像データをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部３４ｂ、Ａ／Ｄ変換部３４ｂで変換された低エネルギ画像データに対して所定の補正処理を行う補正回路３４ｃ、補正回路３４ｃで補正された画像データを外部出力する出力インターフェイス３４ｄを備えている。
【００２５】
高エネルギ画像取得部４０は、高エネルギ検出器（第２検出器）４２と高エネルギ画像補正部４４と備えている。
【００２６】
高エネルギ検出器４２は、Ｘ線照射器２０から照射されたＸ線のうち対象物Ｓを透過した高エネルギ範囲（第２のエネルギ範囲）のＸ線を検出して、高エネルギ画像データ（第２放射線画像データ）を生成する。高エネルギ検出器４２は、例えば、対象物Ｓの幅と同等以上の長さを備えた直線状のラインセンサからなり、Ｘ線の検出面がＸ線照射器２０に対向した状態で搬送方向Ａと直交するようにベルト部１２の下流側の下方に配置される。なお、低エネルギ検出器３２で検出される低エネルギ範囲と高エネルギ検出器４２で検出される高エネルギ範囲とは、明確に区別されるものではなく、エネルギ範囲がある程度、重なるようになっている。
【００２７】
高エネルギ画像補正部４４は、高エネルギ検出器４２で生成された高エネルギ画像データを増幅及び補正する部分である。高エネルギ画像補正部４４は、高エネルギ画像データを増幅するアンプ４４ａ、アンプ４４ａで増幅された高エネルギ画像データをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換部４４ｂ、Ａ／Ｄ変換部４４ｂで変換された高エネルギ画像データに対して所定の補正処理を行う補正回路４４ｃ、補正回路４４ｃで補正された画像データを外部出力する出力インターフェイス４４ｄを備えている。
【００２８】
ここで、低エネルギ検出器３２及び高エネルギ検出器４２について詳細に説明する。図１及び図３に示すように、低エネルギ検出器３２は、搬送方向Ａに沿った感知幅がＬＷのラインセンサである。また、高エネルギ検出器４２は、搬送方向Ａに沿った感知幅がＨＷのラインセンサである。この感知幅ＬＷと感知幅ＨＷとは、本実施形態では、同一幅となっており、例えば０．８ｍｍである。そして、このような感知幅ＬＷを有する低エネルギ検出器３２と感知幅ＨＷを有する高エネルギ検出器４２とは、搬送方向Ａすなわちラインセンサである各検出器の短手方向に沿って不感帯幅ＮＷを有する不感帯領域（所定の領域）８２を挟んで並列にベース８４上に配置固定され、半導体検出器であるデュアルエナジセンサ８６を構成する。
【００２９】
このデュアルエナジセンサ８６では、低エネルギ画像と高エネルギ画像とにおける視差（Ｘ線源からのＸ線の入射経路の差）をできるだけ小さくするため、両検出器３２，４２間の距離ができるだけ狭くなるように設定されている。このため、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷは、各検出器３２，４２での電子が他方の検出器に流れ込まない程度の最小限の厚みを備えて、極力、狭くなるように設定される。このような不感帯幅ＮＷは、本実施形態では、例えば０．４ｍｍであり、各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷ（０．８ｍｍ）より狭くなっている。
【００３０】
なお、デュアルエナジセンサ８６を構成する低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２としては、例えば、高エネルギセンサ上に低エネルギカット用のフィルタを配置したエネルギ弁別機能を備えたものを用いてもよい。また、低エネルギ範囲のＸ線を可視光に変換するシンチレータや高エネルギ範囲のＸ線を可視光に変換するシンチレータを用いて、両検出器３２，４２に異なる波長感度を持たせて、異なるエネルギ範囲を検出できるようにしたものでもよい。なお、異なる波長感度を持つシンチレータ上にフィルタを配置してもよい。更に、ＣｄＴｅ（テルル化カドミウム）などの直接変換方式によるエネルギ弁別機能を備えたものでもよい。
【００３１】
タイミング制御部５０は、低エネルギ検出器３２での透過Ｘ線の検出タイミングと高エネルギ検出器４２での透過Ｘ線の検出タイミングとを制御するものである。タイミング制御部５０は、低エネルギ検出器３２に対しては、図７（ａ）に示されるような所定周期の低エネルギセンサ用制御パルスを出力する。また、タイミング制御部５０は、高エネルギ検出器４２に対しては、低エネルギセンサ用制御パルスと同周期であってパルスの立ち上がり箇所が所定時間Ｔ（以下、「遅延時間Ｔ」と記す場合ある）遅延する高エネルギセンサ用制御パルス信号を出力する。このような制御パルスが入力されると、各検出器３２，４２は、各制御パルスの１周期単位で受光する透過Ｘ線を各周期が終了する度に画像データとして出力する。
【００３２】
この遅延時間Ｔは、図５に示すような所定周期の制御パルス信号が低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とに同時に入力された場合に、低エネルギ検出器３２で検出及び生成される低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で検出及び生成される高エネルギ画像データとの間で発生する画像ズレ分に相当するものである。すなわち、遅延時間Ｔは、デュアルエナジセンサ８６における不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷや、この不感帯領域８２を対象物Ｓが通過する速度（つまり搬送速度Ｍ）などによって決まる調整時間である。
【００３３】
タイミング制御部５０がこの遅延時間Ｔを含む制御パルス信号を生成する場合には、ＰＬＬ（Phase Locked Loop：位相同期回路）等を用いて図７（ｂ）に示されるタイミング制御用の高周波信号を生成する。このような高周波信号としては、例えば、エネルギ検出器３２，４２などにおいてセンサ駆動に要するピクセルクロックが２００ｋＨｚ程度で駆動していた場合には、その１００倍程度の高周波である２０ＭＨｚ以上の信号を用いると細やかに制御できる。センサ駆動のピクセルクロックが１ＭＨｚ程度の場合には同様に１００ＭＨｚ以上の信号を用いれば細やかな制御ができる。高周波信号の周波数が高いほど、搬送速度Ｍやピクセルクロック等の変化に対して柔軟に対応することができ、きめ細やかな制御が行える。なお、ＰＬＬに代えて、遅延信号用の高周波発振器を用いて遅延制御パルス信号を生成するようにしてもよい。
【００３４】
タイミング制御部５０は、このようなＰＬＬ等を用いて生成された高周波信号から遅延時間Ｔを含む制御パルス信号を生成する。そして、タイミング制御部５０は、遅延時間Ｔに基づいて低エネルギ検出器３２や高エネルギ検出器４２での透過Ｘ線を検出するタイミングを制御して、低エネルギ画像データと高エネルギ画像データとがそれぞれ対応するようにして、画像ずれを低減させる。
【００３５】
タイミング算出部６０は、タイミング制御部５０で用いる検出タイミングである遅延時間Ｔを算出するものである。タイミング算出部６０は、デュアルエナジセンサ８６における不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷやこの不感帯領域８２を対象物Ｓが通過する速度（つまり搬送速度Ｍ）に基づき、遅延時間Ｔを下記式（１）により算出する。なお、本実施形態では説明を容易にするため、図２に示すＦＯＤ（Focus Object Distance：線源物体間距離）と、Ｘ線照射器２０と各検出器３２，４２との距離であるＦＤＤ（FocusDetector Distance：線源センサ間距離）とが等しくて、Ｘ線透過像の拡大がない場合（すなわち拡大率Ｒが１の場合）を例にとって説明するが、拡大率Ｒはこれに限定されない。
Ｔ＝ＮＷ／Ｍ・・・（１）
式（１）により、低エネルギ検出器３２の検出タイミングに対する高エネルギ検出器４２の検出タイミングの遅延時間Ｔが算出される。そして、タイミング算出部６０は、算出された遅延時間Ｔを、検出タイミングとしてタイミング制御部５０に出力する。なお、不感帯幅ＮＷや搬送速度Ｍは、入力部等を介してタイミング算出部６０に入力される。
【００３６】
画像処理装置７０は、低エネルギ検出器３２で検出及び生成された低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で検出及び生成された高エネルギ画像データとの差分データを求める演算処理を行い、合成画像であるエネルギサブトラクション像を生成する装置である。画像処理装置７０に入力される両エネルギ画像データは、タイミング制御部５０により、互いの画像データが対応するように検出タイミングが制御されている。画像処理装置７０は、演算処理により生成したエネルギサブトラクション像をディスプレイ等に出力表示する。この出力表示により、対象物Ｓに含まれる異物等を目視で確認することができる。なお、エネルギサブトラクション像を出力表示せずに、データ出力のみを行って画像データ上での検出処理により画像データから直接、対象物Ｓに含まれる異物等を検出するようにしてもよい。
【００３７】
ここで、タイミング制御部５０で用いられる検出タイミングの遅延時間Ｔの算出方法と作用について、対象物Ｓ（図４参照）の透過Ｘ線画像を取得して、対象物Ｓに含まれる異物Ｏを検出する場合を例として説明する。説明に用いる対象物Ｓは、搬送方向Ａに沿った方向の長さが４．０ｍｍであり、各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷ（以下、「画素ピッチ」ともいう）よりも小さい異物Ｏ（長さＯＷが０．６ｍｍ）が所定の位置に含まれるものを想定する。各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷは、共に０．８ｍｍであり、長さ４．０ｍｍの対象物Ｓ全体の幾何学的に縮小のない形状、すなわち０．８ｍｍの検出幅で０．８ｍｍ以下の長さを検査する透過Ｘ線画像を取得するには、５つ以上の分割画像データがそれぞれ必要となる。また、ベルトコンベア１０の搬送速度は、０．８ｍｍ／ミリ秒（４８ｍ／分）とする。なお、説明を容易にするため、対象物Ｓの厚みは、厚みによるぼけが生じない程度の薄さとし、また、上述したように、図２に示すＦＯＤとＦＤＤとが等しくＸ線透過像の拡大がないもの（拡大率Ｒが１）とする。
【００３８】
まず、比較例として、検出タイミングの遅延時間Ｔを用いずに対象物Ｓの放射線画像を取得する場合について、図５及び図６を用いて説明する。この場合、搬送速度０．８ｍｍ／ミリ秒で搬送方向Ａに搬送される対象物ＳのＸ線画像を取得するために、タイミング制御部５０は、図５に示すように、低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２との検出タイミングが同じである同周期の制御パルスを、低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とに同時に出力して、各検出器３２，４２で０．８ｍｍ毎の分割画像データを取得する。
【００３９】
図６（ａ）のラインＰに対応する低エネルギ検出器３２の画素が出力する低エネルギ出力を図６（ｄ）に示す。同様に、図６（ａ）のラインＰに対応する高エネルギ検出器４２の画素が出力する高エネルギ出力を図６（ｅ）に示す。対象物Ｓの前方に位置する第１の分割範囲Ｓ１（最初の０．８ｍｍ分）が低エネルギ検出器３２の撮像領域である検出面上部を通過する際、低エネルギ検出器３２は、低エネルギ範囲における対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１を撮像して、図６（ｂ）に示すように、まず、第１の分割画像データＳ１Ｌを生成する。その後、対象物Ｓは、０．８ｍｍ／ミリ秒の搬送速度で移動し、１ミリ秒後には、対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１のうち、先端の０．４ｍｍに相当する部分が高エネルギ検出器４２の撮像領域である検出面上部に、残りの０．４ｍｍに相当する部分が不感帯領域８２の上部に位置する。この比較例では、同じタイミングの制御パルスで両エネルギ検出器３２，４２でのＸ線検出が制御されているため、上述したように、対象物Ｓの一部が不感帯領域８２の上部に位置した状態で、高エネルギ検出器４２は、対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１（第１分割画像データＳ１Ｌ）に相当する第１分割画像データＳ１Ｈ  を生成する。なお、高エネルギ検出器４２で第１分割画像データＳ１Ｈを生成するのと同時に、低エネルギ検出器３２は、第１の分割範囲Ｓ１に続く第２の分割範囲Ｓの分割画像データＳ２Ｌを生成する。
【００４０】
低エネルギ検出器３２で生成された第１の分割画像データＳ１Ｌと、高エネルギ検出器４２で生成された第１の分割画像データＳ１Ｈとの間には、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷ及びその不感帯領域を対象物Ｓが移動する速度（つまり搬送速度Ｍ）とに基づくズレが生じている。そして、同周期で同時に出力される制御パルス信号で制御される低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とは、このズレを維持したまま、透過Ｘ線を連続して検出し、残りの分割画像データを生成する。その結果、対象物Ｓからの透過Ｘ線を低エネルギ範囲で検出する低エネルギ検出器３２は、図６（ｂ）に示すような低エネルギ画像のための分割画像データ（Ｓ１Ｌ，Ｓ２Ｌ，Ｓ３Ｌ，Ｓ４Ｌ,Ｓ５Ｌの５つの分割画像データ）を生成する。一方、対象物Ｓからの透過Ｘ線を高エネルギ範囲で検出する高エネルギ検出器４２は、図６（ｃ）に示すような高エネルギ画像のための分割画像データ（Ｓ１Ｈ，Ｓ２Ｈ，Ｓ３Ｈ，Ｓ４Ｈ,Ｓ５Ｈ，Ｓ６Ｈ、の６つの分割画像データ）を生成する。
【００４１】
ここで、図６（ｂ）に示される分割画像データと図６（ｃ）に示される分割画像データとについて比較検討すると、不感帯幅ＮＷ及び搬送速度Ｍに基づくズレにより、対象物Ｓを基準とした両分割画像データ間での対応が取られていない。そのため、例えば、異物Ｏ部分のデータを最も多く含む箇所は、低エネルギ検出器３２による低エネルギ画像では、分割画像データＳ４Ｌといった１つの画像データであるのに対し、高エネルギ検出器４２による高エネルギ画像では、図６（ｃ）に示すように、分割画像データＳ４ＨとＳ５Ｈの２つの分割画像データにまたがっている。そして、この低エネルギ画像に対応する低エネルギ出力は、図６（ｄ）に示すように、分割画像Ｓ４Ｌに対応する一画素ピッチのみで検出値が顕著に変化し、異物Ｏの含有位置を示すようになっているのに対し、高エネルギ画像に対応する高エネルギ出力は、図６（ｅ）に示すように、分割画像データＳ４ＨとＳ５Ｈとに対応する２画素ピッチで検出値がやや変化し（例えば低エネルギ出力での検出値変化の半分程度）、異物Ｏの含有位置を大まかに示すようになっている。その結果、検出値の変化箇所及び変化量が、両エネルギ出力において異なってしまっている。
【００４２】
画像処理装置７０は、このように検出値の変化箇所及び変化量が異なる検出値データ（図６（ｄ）及び（ｅ）参照）に基づいてサブトラクション像を得ようとすると、異物Ｏに起因する検出値の変化箇所と変化量とが不明瞭となり、対象物Ｓにおける異物Ｏの位置が精度よく示されたサブトラクション像を得ることができなくなる。また、各検出値データに対応する分割画像データがそれぞれずれていることにより、図６（ｆ）に示す各エッジ部分の輝度の立ち上がり箇所が不鮮明ともなる。その結果、対象物Ｓにおける異物Ｏの位置が精度よく示されたサブトラクション像を得ることが一層難しくなってしまう。このように、低エネルギ検出器３２での検出タイミングと高エネルギ検出器４２での検出タイミングとを精度良く制御しないと、上述したようなズレやボケにより、異物検知の精度が低下する場合がある。
【００４３】
次に、このようなズレやボケの発生を防止するために、検出タイミングの遅延時間Ｔを用いて対象物Ｓの低エネルギ画像と高エネルギ画像とが対応するように両エネルギ画像を取得する場合について、図７及び図８を用いて説明する。
【００４４】
この場合、搬送速度０．８ｍｍ／ミリ秒で搬送方向Ａに搬送される対象物ＳのＸ線画像を取得するために、タイミング制御部５０は、図７に示すように、低エネルギ検出器３２での検出タイミングに対して高エネルギ検出器４２の検出タイミングが所定時間Ｔ遅延する同周期の制御パルスを、低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とに出力して、各検出器３２，４２で０．８ｍｍ毎の分割画像データを取得する。
【００４５】
すなわち、対象物Ｓの前方の第１の分割範囲Ｓ１（最初の０．８ｍｍ分）が低エネルギ検出器３２の撮像領域である検出面上部を通過する際、低エネルギ検出器３２は、低エネルギ範囲における対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１を撮像して、図８（ｂ）に示すように、まず、第１の分割画像データＳ１Ｌを生成する。その後、対象物Ｓは、０．８ｍｍ／ミリ秒の搬送速度で移動し、１ミリ秒後には、対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１のうち先端の０．４ｍｍに相当する部分が高エネルギ検出器４２の撮像領域である検出面上部に、残りの０．４ｍｍに相当する部分が不感帯領域８２の上部に位置する。遅延時間Ｔを用いる本実施形態では、対象物Ｓの前方の所定の分割位置が不感帯領域８２の上部に位置しないように対象物Ｓを０．４ｍｍ更に移動させるまでの時間、高エネルギ検出器４２でのＸ線検出が遅延される。この遅延時間Ｔは、上述した条件では、式（１）から、０．５ミリ秒として算出される。
【００４６】
高エネルギ検出器４２は、遅延時間Ｔが０．５ミリ秒とされた高エネルギセンサ用制御パルス信号により、対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１が不感帯領域８２を過ぎた状態、つまり対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１すべてが高エネルギ検出器４２の検出面上部に達した際に、対象物Ｓの第１の分割範囲Ｓ１に相当する第１の分割画像データＳ１Ｈを取得する。なお、高エネルギ検出器４２で第１の分割画像データＳ１Ｈを生成する前（遅延時間Ｔが経過する前）に、低エネルギ検出器３２は、第１の分割画像データＳ１Ｌに続く第２の分割画像データＳ２Ｌを生成する。
【００４７】
低エネルギ検出器３２で生成された第１の分割画像データＳ１Ｌと、高エネルギ検出器４２で生成された第１の分割画像データＳ１Ｈとの間には、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷ及びその不感帯領域８２を対象物Ｓが移動する速度（つまり搬送速度Ｍ）とに基づくズレがなく、図８（ｂ）及び（ｃ）に示すように、両画像データが対応するようになっている。そして、不感帯幅ＮＷ等に基づく遅延時間Ｔを考慮して同周期で出力される制御パルス信号で制御される低エネルギ検出器３２と高エネルギ検出器４２とは、両画像データが対応したまま、透過Ｘ線を連続して検出し、残りの分割画像データを生成する。その結果、対象物Ｓからの透過Ｘ線を低エネルギ範囲で検出する低エネルギ検出器３２は、図８（ｂ）に示すような低エネルギ画像のための分割画像データ（Ｓ１Ｌ，Ｓ２Ｌ，Ｓ３Ｌ，Ｓ４Ｌ,Ｓ５Ｌの５つの分割画像データ）を生成し、対象物Ｓからの透過Ｘ線を高エネルギ範囲で検出する高エネルギ検出器４２は、図８（ｃ）に示すような高エネルギ画像のための分割画像データ（Ｓ１Ｈ，Ｓ２Ｈ，Ｓ３Ｈ，Ｓ４Ｈ,Ｓ５Ｈの５つの分割画像データ）を生成する。そして、両画像データは、対象物Ｓでの画像範囲がそれぞれ対応するようになっている。
【００４８】
ここで、図８（ｂ）に示される分割画像データと図８（ｃ）に示される分割画像データとについて比較検討すると、不感帯幅ＮＷ及び搬送速度Ｍに基づく遅延時間Ｔにより、対象物Ｓを基準とした両分割画像データ間での対応が取られている。そのため、例えば、異物Ｏ部分のデータを最も多く含む箇所は、低エネルギ検出器３２による低エネルギ画像では、分割画像データＳ４Ｌといった１つの画像データであり、高エネルギ検出器４２による低エネルギ画像でも分割画像データＳ４Ｈといった１つの画像データである。そして、低エネルギ画像に対応する低エネルギ出力は、図８（ｄ）に示すように、分割画像Ｓ４Ｌに対応する一画素ピッチのみで検出値が顕著に変化し、異物Ｏの含有位置を示すようになっており、また、高エネルギ画像に対応する高エネルギ出力も、図８（ｅ）に示すように、分割画像データＳ４Ｈに対応する一画素ピッチのみで検出値が顕著に変化し、異物Ｏの含有位置を示すようになっている。その結果、検出値の変化箇所及び変化量が、両エネルギ出力において一致するようになっている。なお、異物Ｏは必ずしも１つの分割画像に含まれている必要はなく、低エネルギ画像での異物Ｏが含まれる分割画像と高エネルギ画像での異物Ｏが含まれる分割画像とが一致していればよい。
【００４９】
画像処理装置７０は、このように検出値の変化箇所及び変化量が一致する検出値データ（図８（ｄ）及び（ｅ）参照）に基づいてサブトラクション像を得ようとすると、異物Ｏに起因する検出値の変化箇所と変化量とが明瞭となり、対象物Ｓにおける異物Ｏの位置が精度よく示されたサブトラクション像を得ることができる。また、各検出値データに対応する分割画像データがそれぞれ対応していることにより、図８（ｆ）に示す各エッジ部分の輝度の立ち上がり箇所が鮮明ともなる。その結果、対象物Ｓにおける異物Ｏの位置が一層精度よく示されたサブトラクション像を得ることができる。このように、低エネルギ検出器３２での検出タイミングと高エネルギ検出器４２での検出タイミングとが、不感帯幅ＮＷ及び搬送速度Ｍに基づく遅延時間Ｔにより、精度良く制御されていることにより、上述したようなズレやボケによる異物検知の精度の低下を防止でき、精度よい異物の検出が可能となる。
【００５０】
以上説明したように、このＸ線画像取得システム１では、タイミング制御部５０が、低エネルギ検出器３２で生成される低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で生成される高エネルギ画像データとが互いに対応するように、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷと搬送速度Ｍとに基づいて、少なくとも高エネルギ検出器４２の検出タイミングが遅延するように制御している。これにより、不感帯領域８２の存在によって低エネルギ検出器３２での検出タイミングに対してズレ（遅延等）が生じていた高エネルギ検出器４２での検出タイミングが調整され、低エネルギ検出器３２で生成される低エネルギ画像データと高エネルギ検出器４２で生成される高エネルギ画像データとが互いに対応するようになる。そして、互いに対応した２つのエネルギ画像データから得られるサブトラクション像では、異物を示す検出値の変化が明瞭となると共に不明瞭なエッジ部分が低減される。その結果、対象物Ｓに含まれる異物Ｏ等の検出精度を向上させることができる。
【００５１】
また、上記実施形態では、不感帯幅ＮＷと搬送速度Ｍとに基づいて検出タイミングを算出するタイミング算出部６０を備えている。タイミング制御部５０は、このタイミング算出部６０で算出された検出タイミングを用いて、低エネルギ検出器の検出タイミング等を制御して、不明瞭なエッジ部分が低減されたサブトラクション像を生成させることができる。
【００５２】
低エネルギ検出器３２は、低エネルギ画像データを連続した分割画像データで生成するラインセンサであり、高エネルギ検出器４２は、高エネルギ画像データを連続した分割画像データで生成するラインセンサであり、タイミング制御部５０は、低エネルギ検出器３２に係るラインセンサによる分割画像データに示される対象物Ｓでの検出範囲と高エネルギ検出器４２に係るラインセンサによる分割画像データで示される対象物Ｓでの検出範囲とが一致するように、少なくとも高エネルギ検出器４２のラインセンサの検出タイミングを不感帯幅ＮＷと搬送速度Ｍとに基づいて遅延制御するようになっている。このように分割画像データで示される対象物Ｓの検出範囲が一致するように高エネルギ検出器４２のラインセンサの検出タイミングを遅延制御することにより、サブトラクション像において、異物を示す検出値の変化が明瞭となると共に不明瞭なエッジ部分が低減される。
【００５３】
以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、図２に示すＦＯＤとＦＤＤとが等しくて、透過Ｘ線画像の拡大がない場合で説明したが、本発明は、ＦＯＤとＦＤＤとが異なり拡大が生じている場合にも適用することができる。例えば、ＦＯＤ：ＦＤＤ＝１：２の場合には拡大率Ｒが２倍となり、Ｘ線透過画像も２倍に拡大される。例えば、搬送速度Ｍが０．４ｍｍ／ミリ秒とすると、各検出器３２，４２上の画像は、０．８ｍｍ／ミリ秒に等しい速度で投影されることになる。このような拡大率を考慮する場合の遅延時間Ｔは、式（１）に代えて、下記の式（２）を用いて算出される。
Ｔ＝ＮＷ／（Ｍ×Ｒ）・・・（２）
なお、この拡大率Ｒは、Ｘ線画像取得システム１における記憶装置（不図示）等からタイミング算出部６０に入力される。
【００５４】
また、上記実施形態では、対象物Ｓを厚みのほとんどないものとして説明したが、本発明は、対象物Ｓが例えば図９に示すように、所定の厚みを有する場合にも適用することができる。この場合には、対象物Ｓの底面部分の高さを基準としてＦＯＤを計算して拡大率Ｒを求め、式（２）等により遅延時間Ｔを算出する。そして、対象物Ｓを上記実施形態と同様にベルトコンベア１０で搬送して、まず、図９（ａ）に示されるように、対象物Ｓの領域Ｒ１における低エネルギ画像を低エネルギ検出器３２で検出して、低エネルギ画像データを生成する。その後、遅延時間Ｔに応じて対象物Ｓが搬送方向Ａに移動し、図９（ｂ）に示されるように、対象物Ｓの領域Ｒ２における高エネルギ画像を高エネルギ検出器４２で検出し、高エネルギ画像データを生成する。この領域Ｒ１と領域Ｒ２とは、対象物Ｓの図示下面における照射下面Ｒ１ａ，Ｒ２ａが略一致しており、領域Ｒ１における低エネルギ画像と領域Ｒ２における高エネルギ画像とには、図１０に示されるように、共有領域Ｒ３に相当する部分のＸ線透過データが含まれるようになっている。この共有領域Ｒ３が大きいほど、両エネルギ画像間でのずれが少なくなり、対象物Ｓに含まれる異物Ｏの検出精度を向上させることができる。
【００５５】
このように対象物Ｓが厚みを有する場合として、例えば、対象物Ｓの厚みが１００ｍｍ、Ｘ線照射器２０と各検出器３２，４２との距離が６００ｍｍ、検出器３２，４２と対象物Ｓ（下面）との距離が１０ｍｍ、Ｘ線照射器２０と対象物Ｓ（上面）との距離が４９０ｍｍ、各検出器３２，４２の感知幅ＬＷ，ＨＷが０．８ｍｍ、不感帯領域８２の不感帯幅ＮＷが０．４ｍｍの場合について説明する。なお、Ｘ線照射器２０は、両検出器３２，４２の間の不感帯領域８２の中央部の上方に位置するように配置されている。この場合、０．８ｍｍの感知幅に照射される透過Ｘ線は、検出器３２，４２からＸ線照射器２０側に１０ｍｍ寄った位置（照射下面Ｒ１ａ，Ｒ２ａ）では約０．７８７ｍｍの幅であり、検出器３２，４２からＸ線照射器２０側に１１０ｍｍ寄った位置（照射上面Ｒ１ｂ，Ｒ２ｂ）では約０．６５３ｍｍの幅である。そして、この約０．７８７ｍｍの幅である照射下面Ｒ１ａとＲ２ａとを一致させることにより、低エネルギ側と高エネルギ側との照射範囲の重なり（共有領域Ｒ３）は、約７０％となる。なお、図１１に示されるように、領域Ｒ１の照射下面Ｒ１ａと領域Ｒ２の照射下面Ｒ２ａとが完全に一致していない場合（例えば、上記例において、０．２ｍｍ相当ずれた場合）には、その共有部分Ｒ３が図１０に示す場合に比べて少なくなり、低エネルギ側と高エネルギ側との照射範囲の重なりは、例えば約４０％となる。この場合、両エネルギ画像間でのズレが大きくなり、対象物Ｓに含まれる異物の検出精度が低下する場合がある。
【００５６】
また、上記実施形態では、低エネルギ画像補正部３４の出力インターフェイス３４ｄと高エネルギ画像補正部４４の出力インターフェイス４４ｄとから、低エネルギ画像及び高エネルギ画像を別々に画像処理装置７０に出力しているが、図１２に示すように、両エネルギ画像の出力を共通の出力インターフェイス３６ａから画像処理装置７０に出力するようにしてもよい。また、上記実施形態では、搬送方向Ａの上流側に低エネルギ検出器３２を、下流側に高エネルギ検出器４２を備える構成としたが、搬送方向Ａの上流側に高エネルギ検出器４２を、下流側に低エネルギ検出器３２を備えるようにしてもよい。更に、上記実施形態では、高エネルギ検出器４２の検出タイミングを所定時間Ｔ遅延させるようにしたが、逆に低エネルギ検出器３２の検出タイミングを所定時間Ｔ早めるようにしてもよいし、低エネルギ検出器３２の検出タイミング３２の検出タイミングを早めると共に高エネルギ検出器４２の検出タイミングを遅延させ、両検出タイミングを所定時間Ｔずらすようにしてもよい。また、上記実施形態では、低エネルギと高エネルギとの２つの範囲での検出タイミングを制御していたが、３つ以上の範囲での検出タイミングを制御するようにしてももちろんよい。  
【００５７】
また、上記実施形態では、低エネルギの波長範囲と高エネルギ波長範囲とがある程度の重なりを有している場合について説明したが、低エネルギの波長範囲と高エネルギの波長範囲との一部が重なっていなくてもよい。また、上記実施形態では、１チップ上に２つのラインセンサを設けた例で説明したが、２つの検出器３２，４２は必ずしも１チップ上に設けられている必要はなく、２つの独立した検出器が並列に配置されて不感帯領域の幅が広くなっていてもよい。更に、本実施形態では、Ｘ線源として点光源を用いたが、ライン状のＸ線源を用いても、もちろんよい。なお、上記実施形態では、対象物Ｓからの異物Ｏの検出にＸ線画像取得システム１を用いているが、手荷物検査等にＸ線画像取得システム１を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本実施形態に係るＸ線画像取得システムの斜視図である。
【図２】本実施形態に係るＸ線画像取得システムの概略構成図である。
【図３】本実施形態に係るデュアルエナジセンサの側面図である。
【図４】異物が含まれる対象物を示す図である。
【図５】比較例に係るＸ線画像取得システムの各検出器の制御パルス信号を示す図である。
【図６】比較例に係るＸ線画像取得システムで生成される各エネルギセンサ画像と各エネルギ出力を示す図である。
【図７】（ａ）は、本実施形態に係るＸ線画像取得システムの各検出器の制御パルス信号を示す図であり、（ｂ）は、制御パルス信号を生成するための高周波信号を示す図である。
【図８】本実施形態に係るＸ線画像取得システムで生成される各エネルギセンサ画像と各エネルギ出力を示す図である。
【図９】対象物Ｓが厚みを有する場合の照射領域を示す図であり、（ａ）は、低エネルギ検出器で検出される領域を示す図であり、（ｂ）は、高エネルギ検出器で検出される領域を示す図である。
【図１０】図９で示す検出領域が一致した場合を示す図である。
【図１１】図９で示す検出領域が一致していない場合を示す図である。
【図１２】エネルギ画像補正部の別の実施形態を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１…Ｘ線画像取得システム、１０…ベルトコンベア、２０…Ｘ線照射器、３０…低エネルギ画像取得部、３２…低エネルギ検出器、３４…低エネルギ画像補正部、４０…高エネルギ画像取得部、４２…高エネルギ検出器、４４…高エネルギ画像補正部、５０…タイミング制御部、６０…タイミング算出部、７０…画像処理装置、８０…デュアル画像取得装置、８２…不感帯領域、８４…ベース、８６…デュアルエナジセンサ、Ａ…搬送方向、Ｍ…搬送速度、Ｏ…異物、Ｒ…拡大率、Ｓ…対象物、Ｔ…遅延時間、ＨＷ，ＬＷ…感知幅、ＮＷ…不感帯幅、Ｒ１，Ｒ２…照射領域、Ｒ３…共有領域。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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