(57)【要約】【課題】試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。【解決手段】テストプラグ端子用保護カバー５０は、絶縁体被覆部５１とキャップ部５２とスカート部５５とを備える。絶縁体被覆部５１は筒形状を有し、その内周面５１ａは、接続プラグ３２の活線側導体３３と非活線側導体３４を収容する内部空間５１ｂを形成する。絶縁体被覆部５１は、絶縁体被覆部５１の一方の端部から絶縁体被覆部５１の軸線方向Ｘに伸びるスリット５３を有する。スリット５３の長さは、活線側接続部３２１に取り付けた電線を絶縁体被覆部５１の外に引き出すことができるように、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂと活線側接続部３２１との間の距離と略等しいことが好ましい。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれ、
絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、
前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、
前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、
を備えるテストプラグの各接続プラグ部を覆うテストプラグ端子用保護カバーであって、
各接続プラグ部の前記活線側導体及び前記非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部であって該絶縁体被覆部の一方の端部から該絶縁体被覆部の軸線方向に伸びるスリットを有する絶縁体被覆部を備えるテストプラグ端子用保護カバー。
【請求項２】
さらに、前記スリットを覆うように、前記スリットの近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部を備える請求項１に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
【請求項３】
前記スリット覆部は一対の鰭部を有し、一対の鰭部は、前記スリットを覆うように又はその幅を狭めるように、かつ、前記スリットの伸びる方向に直角の方向に、前記スリットを間に配置するように、前記スリットの近傍に形成されている請求項２に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
【請求項４】
前記一対の鰭部は、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部を有する請求項３に記載のテストプラグ端子用保護カバー。
【請求項５】
さらに、前記絶縁体被覆部の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部を備え、
前記キャップ部は、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部と反対側の端部に形成されている請求項１から４のいずれかに記載のテストプラグ端子用保護カバー。
【請求項６】
さらに、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部を備える請求項１から５のいずれかに記載のテストプラグ端子用保護カバー。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配電盤などに設けられているテスト端子に嵌合させて使用されるテストプラグの絶縁を行うためのテストプラグ端子用保護カバーに関する。
【背景技術】
【０００２】
遠制装置や保護継電器などの配電盤には、機器点検時に試験器と接続するためのテスト端子が設けられている。このテスト端子は、電源側装置に電気的に接続される電源側導体と、計器類等の負荷側装置に電気的に接続される負荷側導体とを備え、通常時は電気的に接続された状態となっている。試験時にはテストプラグのプラグ部が挿入されて電源側導体と負荷側導体との電気的接続が分離される。負荷側導体は、電源側装置の拘束を受けない状態でテストプラグの接続用端子となる接続プラグを介して配線により試験器等と接続される。そして、試験後には、テストプラグをテスト端子から外すことにより電源側導体と負荷側導体とが再び電気的に接続される。
【０００３】
従来の配電盤等におけるテスト端子を用いた試験作業中には、テスト端子の電源側導体と接続されているテストプラグにおいて、試験器等との接続用端子部分にビニールテープや絶縁シート等を用いた絶縁処理を施したり、絶縁カバーを用いることにより作業者の安全性や試験器等の損傷を防ぐ絶縁処理を施したりしていた（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】実用新案登録第３０８１８４５号公報
【０００５】
特許文献１の発明は、テストプラグの活線側導体を覆い、非活線側導体を覆わない保護カバーを着脱自在に備えるが、これは、活線側導体の保護や作業中の安全性向上を目的としたものである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上述の絶縁処理は煩雑であり、また、作業者の技量によっては、十分な絶縁処理を行うまでに多くの時間を要する。また、絶縁処理が十分な状態で上述の試験作業を行うと、十分な絶縁処理がされていない箇所に導電性の工具等が接触して、ショートを引き起こし、ひいては、試験器の焼損や配電盤の損傷、テストプラグを操作する作業員にも感電等の危険が生じる恐れがある。
【０００７】
本発明は、以上のような問題を解決し、試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスによる短絡を防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明者は、精鋭研究を重ね、それぞれが各電源側端子に接続する複数の電源側導体と、それぞれが各負荷側端子に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を備えるテスト端子口に差し込まれるテストプラグに用いるテストプラグ端子用保護カバーを発明するに至った。
【０００９】
そして、発明されたテストプラグ端子用保護カバーは、絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体及び前記非活線側導体の少なくとも一方が外部回路に接続される接続部を有する複数の接続プラグ部と、を備えるテストプラグの各接続プラグ部を覆うのに最適である。より具体的には、発明者は、以下のテストプラグ端子用保護カバーを発明した。
【００１０】
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、各接続プラグ部の前記活線側導体及び前記非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部であって該絶縁体被覆部の一方の端部から該絶縁体被覆部の軸線方向に伸びるスリットを有する絶縁体被覆部を備える。
【００１１】
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記スリットを覆うように又はその幅を狭めるように、前記スリットの近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部を備えてもよい。
【００１２】
前記スリット覆部は一対の鰭部を有し、一対の鰭部は、前記スリットを覆うように、かつ、前記スリットの伸びる方向に直角の方向に、前記スリットを間に配置するように、前記スリットの近傍に形成されていてもよい。
【００１３】
前記一対の鰭部は、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部を有していてもよい。
【００１４】
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記絶縁体被覆部の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部を備えていてもよい。前記キャップ部は、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部と反対側の端部に形成されている。
【００１５】
本発明に係るテストプラグ端子用保護カバーは、さらに、前記絶縁体被覆部において前記スリットが開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部を備えてもよい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、テストプラグ端子用保護カバーは、各接続プラグ部の活線側導体及び非活線側導体を収容する内部空間を形成する筒形状の絶縁体被覆部を備えるので、テストプラグ端子用保護カバーをテストプラグのテスト端子に装着することにより、活線側導体及び前記非活線側導体を被覆することができる。これにより、作業者や導電性を有する工具が接続プラグ部に電気的に接触する恐れがほとんど生じない。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る保護カバーを示す斜視図である。
【図２】図１に示す保護カバーのＩＩ−ＩＩ断面図である。
【図３】図１に示す保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【図４】図３に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。
【図５】図４に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。
【図６】図５に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【図７】本発明に係る別の保護カバーを示す斜視図である。
【図８】本発明に係るさらに別の保護カバーを示す斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて説明する。なお、以下の説明及び図面に記載した内容は、好適な実施形態の一例であって、発明の技術的範囲はこれに限られない。
【００１９】
図１は、本発明に係る保護カバーを示す斜視図である。図２は、図１に示す保護カバーのＩＩ−ＩＩ断面図である。図３は、図１に示す保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。図４は、図３に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図５は、図４に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す断面図である。図６は、図５に続く保護カバー及びテストプラグを使用している状況を示す斜視図である。
【００２０】
１．概要
図１及び図２に示すように、テストプラグ端子用保護カバー５０は、図４に示すように、配電盤１のテスト端子口１０にテストプラグ３が挿入される前の状態、図５に示すように、配電盤１のテスト端子口１０にテストプラグ３が挿入されている状態、及び、図４に示すように、テストプラグ３がテスト端子口１０から抜かれた状態になるまで使用される。
【００２１】
つまり、テストプラグ３のテストプラグ本体３０に設けられたプラグ部３１がテスト端子口１０から挿入され、プラグ部３１における後述の活線側導体３３ａ、３３ｂ、３３ｃ、３３ｄと非活線側導体３４ａ、３４ｂ、３４ｃ、３４ｄがテスト端子２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄにそれぞれ接続された状態で使用される。
【００２２】
また、テストプラグ本体３０のプラグ部３１と反対側の面３０ｂに接続プラグ部となる接続プラグ３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄが設けられている。なお、活線側導体、非活線側導体、テスト端子、及び、接続プラグが設けられている数は、それぞれ２以上となっているが、これらは、全て同一の構成である。以下においては、代表とする一の構成を詳述し、他の同一構成の部分については、図面及び説明を省略する。
【００２３】
２．各部
２−１．テスト端子及びテストプラグ
図３に示すように、テスト端子２は、絶縁性材料で形成されるフランジ２１及びテスト端子側筐体２２を備える。テスト端子２は、テスト端子２の内部に電源側装置８に接続する電源側導体１１と負荷側装置９に接続する負荷側導体１２とを有する。電源側導体１１は、電源側装置８に接続する電源側一次接続部１１１と、テストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する電源側二次接続部１１２とで構成される。また、負荷側導体１２は、負荷側装置９に接続する負荷側一次接続部１２１とテストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する負荷側二次接続部１２２とで構成される。
【００２４】
電源側二次接続部１１２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１１３が第１ターミナル２３に接続され、負荷側二次接続部１２２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１２３が第２ターミナル２４に接続される。電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２はバネ部材２５、２５によりそれぞれ付勢されている。このため、図２に示すように、テストプラグ３のプラグ部３１が挿入されていない場合には、端部１１３は第１ターミナル２３に、端部１２３は第２ターミナル２４にそれぞれ互いに接触して電気的に接続される。すなわち、通常の使用状態においては、電源側装置８と負荷側装置９とは、テスト端子２を介して互いに接続された状態となっている。
【００２５】
テストプラグ３は、絶縁性材料で形成されるテストプラグ本体３０と、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出し、テスト端子口１０からテスト端子２に挿入されるプラグ部３１と、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出し、外部回路となる試験器７に接続される接続プラグ３２と、により構成される。
【００２６】
プラグ部３１は、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出して形成される。プラグ部３１は、プラグ部３１がテスト端子２に挿入された場合に、電源側二次接続部１１２に接触して電気的に接続される活線側導体３３と、負荷側二次接続部１２２に接触して電気的に接続される非活線側導体３４と、活線側導体３３と非活線側導体３４との間に配置され、各接続部を絶縁する絶縁支持体３１１とで構成される。
【００２７】
また、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂには、接続プラグ３２を備える。接続プラグ３２は、活線側導体３３と電気的に接続された活線側接続部３２１と、非活線側導体３４と電気的に接続された非活線側接続部３２２と、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とを電気的に分離する絶縁材料で形成された絶縁部３２３と、で形成される。具体的には、活線側導体３３における接続プラグ３２側の端部は、ねじが形成された棒状の部材であり、そのテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出した先端部に活線側ナット３２４が螺合される。活線側ナット３２４を回転させることにより、活線側導体３３の先端部が露出され、その露出された部分が活線側接続部３２１となる。
【００２８】
非活線側導体３４における接続プラグ３２側の端部は、外周にねじが形成された管状の部材で形成され、その外周を非活線側ナット３２５が螺合されている。非活線側ナット３２５を回転させることにより、非活線側導体３４の先端部が露出され、その露出された部分が非活線側接続部３２２となる。
【００２９】
活線側導体３３及び非活線側導体３４の接続プラグ３２側端部は、棒状の部材で形成された活線側導体３３の外周に絶縁部３２３が覆うように配置され、絶縁部３２３の外周に管状の部材で形成された非活線側導体３４が覆うように配置される。つまり、接続プラグ３２は、棒状の活線側導体３３を中心として、筒状の絶縁部３２３と非活線側導体３４とが左記の順に略同心円状に配置され、さらに活線側ナット３２４及び非活線側ナット３２５がそれぞれ活線側導体３３と非活線側導体３４の端部に螺合されて形成される。
【００３０】
２−２．保護カバー
図１及び図２に示すように、テストプラグ端子用保護カバー５０は絶縁体被覆部５１とキャップ部５２とスカート部５５とを備える。なお、テストプラグ端子用保護カバー５０は、絶縁体被覆部５１は必須の構成部材であるが、キャップ部５２とスカート部５５とは、任意の構成部材である。
【００３１】
絶縁体被覆部５１は筒形状を有し、その内周面５１ａは、接続プラグ３２の活線側導体３３と非活線側導体３４を収容する内部空間５１ｂを形成する。絶縁体被覆部５１は、絶縁体被覆部５１の一方の端部から絶縁体被覆部５１の軸線方向Ｘに伸びるスリット５３を有する。スリット５３の長さは、活線側接続部３２１に取り付けた電線を絶縁体被覆部５１の外に引き出すことができるように、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂと活線側接続部３２１との間の距離と略等しいことが好ましい。
【００３２】
テストプラグ端子用保護カバー５０は、さらに、スリット５３を覆うように、スリット５３の近傍に形成された絶縁性を有する弾性体のスリット覆部５４を備える。スリット覆部５４は一対の鰭部５４ａ、５４ａを有する。一対の鰭部５４ａ、５４ａは、スリット５３を覆うようにスリット５３の近傍の絶縁体被覆部５１に形成されている。また、一対の鰭部５４ａ、５４ａは、スリット５３の伸びる方向Ｘに直角の方向Ｙに、スリット５３を間に配置するように、スリット５３の近傍の絶縁体被覆部５１に形成されている。一対の鰭部５４ａ、５４ａの長手方向の寸法は、スリット５３を確実に覆うことができるように、スリット５３の長さと略等しいことが好ましい。
【００３３】
一対の鰭部５４ａ、５４ａは、互いに重なり合う側のそれぞれに、互いに取り外し可能な接着部５４ｂを有していてもよい。具体的には、接着部５４ｂは、公知のマジックテープ（登録商標）であったり、粘着剤であったりする。
【００３４】
テストプラグ端子用保護カバー５０は、さらに、絶縁体被覆部５１の端部に形成された絶縁性を有する弾性体のキャップ部５２を備えている。キャップ部５２は、絶縁体被覆部５１においてスリット５３が開放している側の端部と反対側の端部に形成されている。つまり、スリット５３は一方が開放している形状を有している。
【００３５】
キャップ部５２は、絶縁体被覆部５１よりも、若干堅い弾性体で形成されていることが好ましい。また、キャップ部５２の表面には、作業者が持ちやすいように、小さな複数の凹凸が形成された滑り止めが施されていることが好ましい。
【００３６】
テストプラグ端子用保護カバー５０は、さらに、絶縁体被覆部５１においてスリット５３が開放している側の端部にラッパ状に形成された絶縁性を有する弾性体のスカート部５５を備える。スカート部５５は、絶縁体被覆部５１よりも柔らかい弾性体で形成さていることが好ましい。これにより、絶縁体被覆部５１は、スカート部５５がテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに密着するように、かつ、絶縁体被覆部５１が接続プラグ３２の活線側導体３３と非活線側導体３４とを被覆するように、接続プラグ３２に装着することができる。
【００３７】
２−３．使用態様例
まず、図３及び図４に示すように、作業者は、試験時において必要な電線７１を活線側導体３３や非活線側導体３４に電気的に接続する。具体的には、電線７１の端子７３を活線側導体３３や非活線側導体３４に差し込み、活線側ナット３２４や非活線側ナット３２５で端子７３を挟み込む。これにより、電線７１は、活線側導体３３や非活線側導体３４に電気的に接続される。
【００３８】
次に、作業者は、キャップ部５２を持って、電線７１のケーブル部７２がスリット５３に入るように、かつ、スカート部５５がテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂにできるだけ接触するように、テストプラグ端子用保護カバー５０を接続プラグ３２に装着する。すると、活線側導体３３や非活線側導体３４は、ほとんど、テストプラグ端子用保護カバー５０によって覆われている。
【００３９】
次に、図５及び図６に示すように、作業者は、プラグ部３１をテスト端子２に挿入すると、テスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２の間にプラグ部３１が押し込まれる。すると、電源側二次接続部１１２の端部１１３及び負荷側二次接続部１２２の端部１２３は、第１ターミナル２３及び第２ターミナル２４との接触がそれぞれ無くなり、電源側装置８と負荷側装置９とが電気的に切り離される。そして、電源側装置８が接続プラグ３２の活線側接続部３２１と電気的に接続され、負荷側装置９が接続プラグ３２の非活線側接続部３２２と電気的に接続される。したがって、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが電線７１を介して電気的に接続するので、誘導電流を測定するような試験器７を用いて電線７１に流れる電流を測定することができる。
【００４０】
より具体的には、テストプラグ３のテストプラグ本体３０が、プラグ部３１を配電盤１のテスト端子口１０に挿入される。プラグ部３１における活線側導体３３及び非活線側導体３４がそれぞれテスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２にそれぞれ接続されると共に、テスト端子２における電源側導体１１と負荷側導体１２との電気的接続が非接続となる。このとき、テストプラグ３のテストプラグ本体３０及び接続プラグ３２がテスト端子口１０から突出した状態となる。
【００４１】
そして、試験終了後は、さらにテストプラグ３をテスト端子口１０から引き抜く。これにより、テストプラグ３には電気が流れなくなるので、作業者が活線側導体３３や非活線側導体３４にさわっても、感電することはない。その後、テストプラグ端子用保護カバー５０を接続プラグ３２から取り外す。そして、電線７１の端子７３を活線側導体３３や非活線側導体３４から取り外す。
【００４２】
本発明のテストプラグ端子用保護カバーは、図１及び図２に示したテストプラグ端子用保護カバー５０に限定されない。例えば、図７に示すように、テストプラグ端子用保護カバー５０のキャップ部５２を省略したテストプラグ端子用保護カバー５０ａであってもよい。
【００４３】
また、図８に示すように、スリット覆部５４を設ける代わりに、絶縁体被覆部５１におけるスリット５３の近傍５８を絶縁体被覆部５１よりも柔らかい弾性体で形成したテストプラグ端子用保護カバー５０ｂであってもよい。この場合、絶縁体被覆部５１におけるスリット５３の近傍５８は、絶縁体被覆部５１よりも柔らかい弾性体で形成していることが好ましい。
【００４４】
以上、本発明の実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることができる。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【符号の説明】
【００４５】
１  配電盤
２  テスト端子
３  テストプラグ
７  試験器
８  電源側装置
９  負荷側装置
１０  テスト端子口
１１  電源側導体
１２  負荷側導体
３０  テストプラグ本体
３１  プラグ部
３２  接続プラグ
３３  活線側導体
５０、５０ａ、５０ｂ  テストプラグ端子用保護カバー
５１  絶縁体被覆部
５１ａ  内周面
５１ｂ  内部空間
５２  キャップ部
５３  スリット
５４  スリット覆部
５４ａ  鰭部
５４ｂ  接着部
５５  スカート部
３４  非活線側導体
３２１  活線側接続部
３２２  非活線側接続部
【図１】
2010166696.tif 000003
【図２】
2010166696.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2010166696.tif 000008
【図７】
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【図８】
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