(57)【要約】【課題】磁石検知センサに着磁された磁力の影響をうける事なく、磁石が所定領域に接近した時のみ磁力検出信号を出力するようにした磁石検知方法及び磁石検知センサを提供する。【解決手段】磁束センサ出力基準値の初期値を磁束センサの初期出力に等しくし、磁束センサの出力が、センサ出力基準値(Ｘ０)と第１の閾値(Ｓ１）との和を超えて、磁束センサの着磁閾値(Ｓ２)の範囲内にあり、且つ、所定時間(ＳＴ２)の間の磁束センサの出力の変化量が第２の閾値(Ｓ２Ｄ)より小さい場合に、磁石検知装置は着磁したと判定して磁束センサ出力基準値を磁束センサの出力の現在値（Ｘ０’）に更新する。【選択図】図５
2010068877.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技機の磁石検知装置に含まれる磁束センサの出力が、磁束センサ出力基準値と磁石を検出する第１の閾値との和より大きい場合に磁石が前記磁石検知装置の近傍に存在すると判定する磁石検知装置において、着磁補正処理部を備え、該着磁補正処理部は、前記磁束センサ出力基準値の初期値を前記磁束センサの初期出力に等しくし、前記磁束センサの出力が、前記センサ出力基準値と前記第１の閾値との和を超えて、前記磁束センサの着磁閾値の範囲内にあり、且つ、所定時間の間の前記磁束センサの出力の変化量が第２の閾値より小さい場合に、前記磁石検知装置は着磁したと判定して前記磁束センサ出力基準値を前記磁束センサの出力の現在値に更新することを特徴とする磁石検知装置。
【請求項２】
遊技機の磁石検知装置に含まれる磁束センサの出力が、磁束センサ出力基準値と磁石を検出する第１の閾値との和より大きい場合に磁石が前記磁石検知装置の近傍に存在すると判定する磁石検知方法において、前記磁束センサ出力基準値の初期値を前記磁束センサの初期出力に等しくし、前記磁束センサの出力が、前記センサ出力基準値と前記第１の閾値との和を超えて、前記磁束センサの着磁閾値の範囲内にあり、且つ、所定時間の間の前記磁束センサの出力の変化量が第２の閾値より小さい場合に、前記磁石検知装置は着磁したと判定して前記磁束センサ出力基準値を前記磁束センサの出力の現在値に更新することを特徴とする磁石検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は遊技機の磁石検知装置及び方法に関し、特にパチンコ遊技機に取付けられる磁石検知装置の着磁により磁石が存在していない場合にも磁石があると誤検出することを防止する遊技機の磁石検知装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
パチンコ遊技機の不正防止方法において、パチンコ玉の動きを操作する不正行為に用いられる磁石を検知して不正行為を報知する先行技術として特許文献１が知られている。この特許文献１においては、不正磁石の操作作用点となる複数の入賞口近傍に配置された複数の磁石検知装置を用いて、磁石を検知した場合に遊技機の外部に発報する技術が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−３４００７４
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
パチンコ遊技機には、役物可動用モータ、ソレノイド等に使用されている磁石やパチンコ発射部に使用されている磁石などによる既存磁力が存在している。この既存磁力を不正磁石から放出されている磁力として誤検出する事を防止する手段としては、磁石検知装置の検知感度を低くするか又は既存磁力の影響を受けない位置に磁石検知装置を配置することにより、パチンコ遊技機内に存在する既存磁力を誤検出しないようにする必要がある。
【０００５】
パチンコ遊技機内に存在する既存磁力を誤検出しないようにするために、上記特許文献１においては、磁石による不正操作がなされる複数の位置のそれぞれに磁石検知装置を配置している。このため、パチンコ遊技機の１台当たりの価格が単一の磁石検知装置による場合に比較して高価となり、且つ、構成が複雑になるという課題がある。
【０００６】
また、簡素で安価な磁石検知手段（以下、磁石検知センサと称する）を実現する為に検知感度を高くする検知手段が望まれている。磁石を磁石検知センサに接近させると磁石検知センサの金属部分に微量の磁力が着磁してしまう場合あるが微量の磁力を検知する高感度磁石検知センサではその着磁による磁力も検出してしまう。
【０００７】
その為、磁石が磁石検知センサから離れた状態になっても着磁の影響で磁石検出信号が磁石検知センサより出力されてしまう為、一度、磁石を検出してしまった磁石検知センサは脱磁などによりの影響を解除する必要があった。
【０００８】
他方で、磁石からの磁力を検知して予め設定された閾値を超えた磁力を検知した場合にのみＯＮするひとつの磁石検知センサにおいて、パチンコ機に対する不正磁石を広範囲に検出しようとすると検知感度を高くする必要がある。
【０００９】
検知感度を高くして広範囲に磁石を検知するには磁石検知センサの閾値を低くする必要がある。磁石検知センサの閾値を低くすると、磁石検知センサ自身が磁性を帯びて着磁してしまうことにより磁石検知センサ出力が閾値よりも大きくなり、磁石が無い状態でもＯＮ状態のままになって磁石検知センサが機能しなくなるという問題がある。
【００１０】
この問題は、磁石検知センサを構成する電子部品が磁性体であり、磁石を近づけると磁石検知センサ自身が磁性を帯びて着磁してしまい、磁石検知センサ自身の磁力で磁石検知センサの出力が閾値を超えたままとなることにより発生する。
【００１１】
磁石検知センサの着磁の影響を軽減するための方法として、次の2つの方法が考えられる。（１）磁束検知センサを構成する電子部品や配線パターンを磁化しない材料を選ぶ。（２）磁石検知センサ内の磁束センサを他の電子部品から遠ざける。（１）の方法では、コンデンサや抵抗などの標準部品の材料を変更する必要があるが、これはコスト等により現実的ではない。（２）の方法では、磁束センサ本体を磁石検知センサの他の構成部品から遠ざけることにより、磁石検知センサの形状が大きくなってしまう。磁石検知センサ形状が大きくなると、磁石検知センサのパチンコ機への取付け位置の自由度が下がるという不利益がある。
【００１２】
本発明の目的は、上記問題に鑑み、磁石検知センサに着磁された磁力の影響をうける事なく、磁石が所定領域に接近した時のみ磁力検出信号を出力するようにした、磁石検出精度の高い磁石検知方法及び磁石検知センサを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するために、本発明により提供されるものは、遊技機の磁石検知装置に含まれる磁束センサの出力が、磁束センサ出力基準値と磁石を検出する第１の閾値との和より大きい場合に磁石が磁石検知装置の近傍に存在すると判定する磁石検知方法及び装置において、磁束センサ出力基準値の初期値を磁束センサの初期出力に等しくし、磁束センサの出力が、磁束センサ出力基準値と第１の閾値との和を超えて、磁束センサの着磁閾値の範囲内にあり、且つ、所定時間の間の磁束センサの出力の変化量が第２の閾値より小さい場合に、磁石検知装置は着磁したと判定して磁束センサ出力基準値を磁束センサの出力の現在値に更新することを特徴とする磁石検知装置及び磁石検知方法である。
【発明の効果】
【００１４】
本発明により、磁束センサ出力基準値は磁束センサの出力の変化量が所定時間の間あまり変化しない場合（第２の閾値以下の場合）に、磁石検知装置が磁石により着磁したと判定して磁束センサ出力基準値をその時の磁束センサの出力値に更新するので、磁石が近くに存在していない場合でも磁石が存在するとする誤検出が防止される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明を実施するための最良の形態を図面より詳述する。全図を通して同一参照番号は同一のものを示す。
【００１６】
図１は本発明の背景を説明するための、磁石検知センサが搭載されているパチンコ遊技機の外観斜視図、図２は図１に示した遊技機の正面図である。図１及び図２において、パチンコ遊技機３は、遊技枠１２と、遊技枠１２に組み込まれた遊技盤１４と、遊技盤１４の前面に設けられた遊技枠１２にガラス扉１６と、遊技盤１４上に設けられた複数の役物１８と、ガラス扉１６の下側で遊技枠１２の前面に設けられたパチンコ玉受け皿２０と、パチンコ玉受け皿２０の右側に設けられたパチンコ玉発射ハンドル２２とを備えている。遊技機３の外部からの不正磁石を検出可能な単一の磁石検知装置２４がガラス扉１６の枠の端面に取り付けられている。磁石検知装置２４の構成には磁束センサとして知られる市販のＭＩセンサが含まれている。以下、磁石検知装置２４を磁石検知センサと称する。
【００１７】
ガラス扉１６の枠の端面に磁石検知センサ２４を取り付けるメリットは、取り付けのしやすさ、演出の邪魔にならない、大きな磁場を発生する中央の役物ソレノイドの影響を受けにくいなどである。
【００１８】
図３は従来技術において磁石検知センサに対する磁石の位置と磁束センサ出力との関係を説明するグラフ図である。図３において、縦軸は磁束密度を単位とする磁束センサ出力を表し、横軸は時間を表す。まず、電源投入状態である状態Ａでは、磁石検知センサの電源投入時における磁石検知センサ内の磁束センサ出力を、磁束センサ出力基準値（以下、単にセンサ出力基準値と証する）として設定する。閾値はそのセンサ出力基準値からの変化量とする。
【００１９】
次に、状態Ｂにおいて、磁石を磁石検知センサに近づけると磁束センサに入射される磁束が大きくなり磁束センサ出力はセンサ出力基準値から離れていく。磁束センサ出力が時刻ｔ１にて閾値を超えると検知出力状態が「検知ＯＮ」となる。
【００２０】
次に状態Ｃにおいて、磁石検知センサに近づけた磁石を磁石検知センサから遠ざけていくと磁束センサに入射される磁束が小さくなり磁束センサ出力はセンサ出力基準値に近づいていく。
【００２１】
次に状態Ｄにおいて、磁石検知センサの近くに磁石がない状態になっても、磁束センサの出力は磁石検知センサ基板の着磁により閾値を超えた状態を維持するので、磁石がないにもかかわらず時刻ｔ２以降も検知出力状態が「検知ＯＮ」のままとなってしまい、この後に磁石が磁石検知センサの近くに配置されてもその磁石を検知することができなくなってしまう。
【００２２】
従来技術では、磁石を検出するための閾値のみで磁束センサの出力を「検知ＯＮ」、「検知ＯＦＦ」の２値出力していた。
【００２３】
図４は本発明の実施の形態による磁石検知センサの構成を示すブロック図である。図４において、磁石検知センサ４１（図１における磁石検知センサ２４に対応するもの）は、磁束センサ４２と、磁束センサ４２の出力を処理する検出信号処理部４３とを備えている。
【００２４】
検出信号処理部４３は、本実施の形態ではマイコンにより実現されている。検出信号処理部４３は、磁束センサ４２の出力に接続されたセンサ信号取得処理部４４と、センサ信号処理部４４の出力に接続された平均化フィルタ部４５と、センサ出力基準値決定処理部４６と、平均化フィルタ部４５及びセンサ出力基準値決定処理部４６の出力に接続された磁石検知処理部４７と、センサ信号取得処理部４４及び磁石検知処理部４７の出力に接続された着磁補正決定処理部４８とを備えている。
【００２５】
センサ信号取得処理部４４は磁束センサの出力信号を取得する。平均化フィルタ部４５は磁気検知処理部に入力される信号に含まれる発射パルスの影響を除去するために移動平均法による平均化を行う。センサ出力基準値決定処理部４６は電源投入時の磁束センサ出力を取得して初期オフセットのセンサ出力基準値を決定する。磁石検知処理部４７は原点からの変化量を計算して、変化分の磁束密度の大きさを求める。この磁束密度の大きさが、磁石を検知するための閾値以上の場合はＯＮ、未満の場合はＯＦＦを出力する。着磁補正処理部４８は磁石検知センサが着磁しているかどうか判断して着磁と判断した場合はセンサ出力基準値を補正する。
【００２６】
本発明の実施の形態では、従来の閾値に加えて着磁を検出するための第２の閾値を設けて、磁石検出後も予め設定された第２の閾値範囲内に所定時間連続して検出された場合に着磁磁力があると判断してセンサ出力基準値を補正する。
【００２７】
磁石検知センサの着磁を検出するための第２の閾値は、着磁閾値と所定時間と所定時間の磁束変化閾値で構成される。すなわち、磁石の飛来により磁束センサ出力が閾値を超えて磁石検知センサ出力が「検知ＯＮ」となった後、磁束センサ出力が着磁閾値範囲内で所定時間の間、磁束変化閾値内であれば着磁磁力とみなして所定時間内のセンサ出力の平均値を新しいセンサ出力基準値とする。
【００２８】
新しいセンサ出力基準値とするセンサ出力としては、所定時間内のセンサ出力の平均値に替えて、所定時間内のセンサ出力の最大、最小値の平均値または着磁磁力とみなした時のセンサ出力値を用いてもよい。
【００２９】
この補正により図３の磁石がない状態Ｄのときの検知出力状態は「検知ＯＦＦ」となりその後の磁石飛来も正常に検出することができる。また、磁石検知センサ自体の着磁以外にパチンコ機の枠にセンサを取り付けた時の枠板金、ねじ止めビスなどを考慮した着磁閾値を設定して補正することができる。この補正処理により板金などの磁性体が近くにあっても着磁閾値以下の着磁量であれば磁石検知センサが取付け可能でパチンコ機へのセンサ取付け制限がより少なくなる。
【００３０】
図５は本発明の実施の形態おける磁石検知センサ４１に対する磁石の位置と磁束センサ４２のＸ方向の出力との関係を説明するグラフ図である。Ｙ方向及びＺ方向については図示していないが、Ｘ方向の処理と同様である。図５において、着磁閾値Ｓ２を予め設定する。着磁閾値Ｓ２は磁束センサの最大着磁量に相当する絶対値であって、出力の最大値ＭＡＸと最小値ＭＩＮの間にある。着磁閾値Ｓ２は磁石検知センサ（及び磁石検知センサ基板）に予め最大に着磁させてそのときの磁束センサ出力を測定することにより定める（図６参照）。
【００３１】
状態Ａにて、センサ出力基準値決定処理部４６は、電源投入時に磁石を検出するための閾値Ｓ１とＸ方向のセンサ出力基準値Ｘ０を設定する。センサ出力基準値Ｘ０は磁石検知センサ４１への電源投入時の磁束センサ４２の出力である。閾値Ｓ１は電源投入時における磁石検知センサ４１の検知出力がＯＮになるときの磁束センサ４２の出力とセンサ出力基準値Ｘ０との差である。
【００３２】
次に状態Ｂでは、磁石を磁石検知センサ４１に近づけると磁束センサ４２に入射される磁束が大きくなり磁束センサ４２の出力はセンサ出力基準値Ｘ０から離れていく。磁束センサ４２の出力が閾値Ｓ１を超えると検知出力状態が「検知ＯＮ」となる。
【００３３】
次に状態Ｃで、磁石検知センサ４１に近づけた磁石を遠ざけていくと磁束センサ４２に入射される磁束が小さくなり磁束センサ４２の出力は低下しはじめてセンサ出力基準値Ｘ０に近づいていく。
【００３４】
次に状態Ｄで、磁石検知センサ４１の近傍に磁石がない状態の磁束センサ４２の出力が、（１）センサ出力基準値Ｘ０＋閾値Ｓ１より大きく、（２）着磁閾値Ｓ２の範囲内で、（３）かつ所定時間Ｓ２Ｔの間で磁束センサの出力の変化量が所定の磁束変化閾値Ｓ２Ｄ以下の場合は、磁石検知センサ４１が着磁していると判断する。即ち、磁束センサ４２の出力がセンサ出力基準値Ｘ０を基準にして閾値Ｓ１以上であるだけではなく、着磁閾値Ｓ２の範囲内で、磁束センサの出力の変化量が所定時間の間あまり変化しない場合に、磁束検知センサ４１は着磁したと判断する。
【００３５】
磁束検知センサが着磁したと判断した場合は、状態Ｅにて、上記所定時間Ｓ２Ｔ内の磁束センサ出力の平均値を新しいセンサ出力基準値Ｘ０’とする。これにより、たとえ磁束センサ出力がＸ０＋Ｓ１より大きくてもＸ０’＋Ｓ１より小さければ、磁束センサ出力は磁石を検知するための閾値Ｓ１以内におさまり検知出力状態が「検知ＯＦＦ」となり、磁石が存在しないにもかかわらず磁石を検知したとする誤検知を防止できるばかりでなく、その後の磁石飛来も正しく検知することができる。
【００３６】
図６は図５に示した場合より長い時間にわたる、本発明の実施の形態おける磁石検知センサに対する磁石の位置と磁束センサ出力との関係を説明するグラフ図である。図６において、着磁閾値Ｓ２は、磁石検知センサ４１が最大着磁量になったときの磁束センサ４２の出力の最小値ＭＡＸと最大値ＭＩＮとの差である。図６においては、センサ出力基準値（着磁オフセット補正）がＸ０、Ｘ０’、Ｘ’’、Ｘ０’’’と更新されている。着磁閾値Ｓ２がセンサ出力のＭＡＸ、ＭＩＮの間に設定されており、磁束センサ出力が着磁閾値Ｓ２の範囲内にあるときにオフセット補正がなされるので、何回着磁しても、センサ出力が飽和することなくオフセット補正することができる。
【００３７】
図７は図３に示した磁石検知センサ４１のメイン処理を説明するフローチャートである。図７において、ステップ７１にてセンサ信号取得処理部４４により各軸の感度設定をする。感度は、各検知軸毎に持っているため各軸の磁束密度は以下の式で求める。なお、以下の説明では簡単のためにＸ，Ｙ軸の二次元について説明するが、実際には一次元、二次元および三次元のいずれにおいても処理できる。
磁束密度(μT)ΔＸ=(Ｘ−Ｘ０)÷Ｘ軸感度（mV/μT)
磁束密度(μT)ΔＹ=（Ｙ−Ｙ０)÷Ｙ軸感度（mV/μT)
ここで、Ｘ０、Ｙ０は、電源投入時の磁束センサ４２の出力であり、
Ｘ、Ｙは、磁束センサ４２の出力であり、
ΔＸ、ΔＹは、磁束密度変化量である。
Ｚ軸についても同様であるので、説明を省略する。
【００３８】
次いでステップ７２にて、センサ出力基準値決定処理部４６は、磁石検知閾値Ｓ１、着磁閾値Ｓ２、磁石検知センサ４１が最大着磁量になったときの磁束センサ４２の出力の最小値ＭＩＮと最大値ＭＡＸ、着磁所定時間Ｓ２Ｔ、着磁変化量Ｓ２Ｄを設定する。
【００３９】
次いでステップ７３にて、原点決定処理を行う。この処理の詳細は図８に示すフローチャートに示されている。ステップ７３は無限ループであって、電源がオフになり、メイン処理が終了するまで継続して行う。
【００４０】
ステップ７３に次いでステップ７４にて磁石検知処理を行う。この処理の詳細は図９のフローチャートに示されている。簡単に説明すると、（１）磁石が磁石検知センサ４１に近づくと、磁石の磁界によって磁束センサ４２の出力が変化する。（２）センサ出力基準値からの磁束センサ４２の出力の変化量を磁束密度の大きさとして求める。（３）磁石を近づけて、（２）によって求めた変化量が磁石を検知するための閾値Ｓ１を超えた場合は、検知出力をＯＮにする。また、近づけた磁石を遠ざけて変化量が磁石を検知するための閾値Ｓ１を下回った場合は、検知出力をＯＦＦとする。
【００４１】
ステップ７４に次いでステップ７５にて着磁補正処理を行う。ここでは、図５及び図６により説明したように、（１）センサ出力基準値Ｘ０＋閾値Ｓ１より大きく、（２）着磁閾値Ｓ２の範囲内で、（３）かつ所定時間Ｓ２Ｔの間で磁束センサの出力の変化量が所定の磁束変化閾値Ｓ２Ｄ以下の場合は、磁石検知センサ４１が着磁していると判断して、センサ出力基準値を更新する。
【００４２】
ステップ７５も無限ループであって、電源がオフになり、メイン処理が終了するまで継続して行う。
【００４３】
図８は図７のステップ７３の詳細を説明するフローチャートである。図８において、ステップ８１にてサンプリング点数をＮ（Ｎは自然数）点とする。ステップ８２にてデータ取得数Ｃｎｔを０にリセットする。ステップ８３にて磁石検知センサ４１の検出出力のＸ軸値ＸａｄとＹ軸値ＹａｄとをＡＤ変換をする。ステップ８４にてＡＤ変換結果を前回のＡＤ変換結果に加算して記憶する。また、データ取得数Ｃｎｔをインクリメントする。ステップ８５にてデータ取得数Ｃｎｔが所定数Ｎになるまで、ステップ８３〜８５を繰り返す。ステップ８５にてデータ取得数Ｃｎｔが所定数Ｎ以上になると、ステップ８６にてＡＤ変換結果の合計をＮで割って原点とする。即ち、Ｘ軸の原点Ｘ０はＸ０＝Ｘｓｕｍ／Ｎ、Ｙ軸の原点Ｙ０はＹ０＝Ｙｓｕｍ／Ｎとなる。
【００４４】
図９は図７のステップ７４における磁石検知処理の詳細を説明するフローチャートである。図９において、ステップ９１にてセンサ信号取得処理部４４は磁束センサ４２の出力から磁束密度の大きさ（ΔＸ，ΔＹ）を計算する。次いでステップ９２にて平均化フィルタ部４５により平均化処理を行う。この処理は、標本化間隔Δｔ（秒）、Ｎ点移動平均した場合の平均化時間ＴａｖｅはＴａｖｅ＝ＮΔｔ（秒）となるので信号Ｘ（ｔ）をＴａｖｅ（秒）平均したときの出力は次の式で表わせる。
【００４５】
【数１】
2010068877.tif 000003
【００４６】
次いでステップ９３にてΔＸａｖｅ＞検知閾値とΔＹａｖｅ＞検知閾値の少なくとも一つが成立するか否かを判定し、成立すればステップ９４に進んで検知出力をＯＮにし、否であればステップ９５にて検知出力をＯＦＦにする。
【００４７】
図１０は図９のステップ９１における磁束密度の大きさの計算処理の詳細を説明するフローチャートである。図１０において、ステップ１０１にて磁束センサ４２の出力をＡＤ変換して２軸のデジタル値Ｘａｄ、Ｙａｄを得る。次いでステップ１０２にて上記デジタル値の原点からの変化量を計算する。すなわち、ΔＸ＝（Ｘａｄ−Ｘ０）÷Ｘ軸感度、ΔＹ＝（Ｙａｄ−Ｙ０）÷Ｙ軸感度を計算する。
【００４８】
図１１は図７のステップ７５の着磁補正処理の詳細を説明するフローチャートである。着磁補正処理は着磁補正処理部４８にて行われる。図１１において、ステップ１１１にて磁石検知センサ４１の検出出力はＯＮかを判定する。ＯＮであればステップ１１２にて磁束センサ４２の出力が着磁閾値Ｓ２以下か、即ち、ＭＩＮ＜Ｘａｄ＜ＭＡＸ且つＭＩＮ＜Ｙａｄ＜ＭＡＸが成立するかを判定する。
【００４９】
ステップ１１２の判定でＹＥＳであればステップ１１３に進み処理ステップ０かを判定する。初期状態では処理ステップは０に設定されているのでステップ１１４に進む。ステップ１１４では、磁束センサ出力の判定初期値を取得する。即ち、判定初期値ＨＸを検知出力ΔＸａｖｅとし、判定初期値ＨＹを検知出力ΔＹａｖｅとし、カウンタ２の合計値Ｃｎ２を１に、Ｘｓｕｍ２をＸａｄに、Ｙｓｕｍ２をＹａｄに初期化する。そしてステップ１１５にて処理ステップを１（ＳＴＥＰ＝１）に更新する。
【００５０】
ステップ１１１の判定又はステップ１１２の判定がＮＯであればステップ１２２に進み、処理ステップを０（ＳＴＥＰ＝０）に更新する。
【００５１】
ステップ１１６の判定でＹＥＳの場合はステップ１１７に進み判定初期値ＨＸ、ＨＹからの磁束センサ出力ΔＸａｖｅ、ΔＹａｖｅの変化量ΔＸｎｏｗ及びΔＹｎｏｗを求める。次いでステップ１１８にて上記変化量は着磁変化閾値以内かを判定する。即ち、ΔＸｎｏｗ＜Ｓ２Ｄか、及びΔＹｎｏｗ＜Ｓ２Ｄかを判定する。
【００５２】
ステップ１１８の判定がＹＥＳであればステップ１１９にて合計値を更新する。即ち、Ｃｎｔ２＝Ｃｎｔ２＋１、Ｘｓｕｍ２＝Ｘａｄ、Ｙｓｕｍ２＝Ｙａｄとする。ステップ１１８の判定がＮＯであればステップ１２３にて処理ステップをＳＴＥＰ＝０に更新する。
【００５３】
次いでステップ１２０にてステップ１１８の状態が所定時間経過したか、即ち、Ｓ２Ｔ＜Ｃｎｔ２かを判定する。この判定でＣｎｔ２＞Ｓ２Ｔであればステップ１２１にて処理ステップを２に更新する（ＳＴＥＰ＝２）。所定時間が経過していなければステップ１２１での処理ステップの更新は行わない。
【００５４】
ステップ１１６の判定がＮＯ、即ち、処理ステップがＳＴＥＰ＝１ではない場合はステップ１２２にて検出座標原点を更新する。即ち、Ｘ０＝Ｘｓｕｍ２／Ｃｎｔ２及びＹ０＝Ｙｓｕｍ２／Ｃｎｔ２とする。次いでステップ１２３にてステップをＳＴＥＰ＝０に更新する。
【００５５】
図１２は本発明の実施の形態による磁石検知センサ４１の外観斜視図である。図１２において、磁石検知センサ４１は、Ｖｃｃ電源ピン１５１と、グランド（ＧＤＮ）ピン１５２よ。検知出力ピン１５３とを備えた３ピンコネクタ１５４を備えている。
【００５６】
図１３は図１２に示した磁石検知センサ４１の内部を示す斜視図である。図１３において、磁石検知センサ４１は磁束センサ４２と検出信号処理部４３と３ピンコネクタ１５４とを含んでいる。検出信号処理部４３はマイコンで実現される。
【００５７】
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、様々の変形が可能である。例えば、検出信号処理部４３はマイコンに替えて他の信号処理機能を有する電子機器により実現してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の背景を説明するための、磁石検知センサが搭載されているパチンコ遊技機の外観斜視図である。
【図２】図１に示した遊技機の正面図である。
【図３】従来技術において磁石検知センサに対する磁石の位置と磁束センサ出力との関係を説明するグラフ図である。
【図４】本発明の実施の形態による磁石検知センサの構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態おける磁石検知センサ４１に対する磁石の位置と磁束センサ４２のＸ方向の出力との関係を説明するグラフ図である。
【図６】図５に示した場合より長い時間にわたる、本発明の実施の形態おける磁石検知センサに対する磁石の位置と磁束センサ出力との関係を説明するグラフ図である。
【図７】図３に示した磁石検知センサ４１のメイン処理を説明するフローチャートである。
【図８】図７のステップ７３の詳細を説明するフローチャートである。
【図９】図７のステップ７４における磁石検知処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図１０】図９のステップ９１における磁束密度の大きさの計算処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図１１】図７のステップ７５の着磁補正処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図１２】本発明の実施の形態による磁石検知センサ４１の外観斜視図である。
【図１３】図１２に示した磁石検知センサ４１の内部を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００５９】
１０    パチンコ遊技機
２４    磁石検知センサ（磁石検知装置）
４１    磁石検知センサ（磁石検知装置）
４２    磁束センサ
４３    検出信号処理部
４４    センサ信号取得処理部
４５    平均化フィルタ部
４６    センサ出力基準値決定処理部
４７    磁石検知処理部
４８    着磁補正処理部
【図１】
2010068877.tif 000004
【図２】
2010068877.tif 000005
【図３】
2010068877.tif 000006
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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