(57)【要約】      （修正有）【課題】高温、高湿及び装置内に塵埃が発生しうる環境においてでも、高い信頼性を維持する。【解決手段】磁気ディスク装置は、データを記録保持する２枚以上の磁気ディスク１２と、磁気ディスクを回転させるＳＰＭ１１と、磁気ディスクにデータを記録又は磁気ディスクからデータを再生する磁気ヘッド１４と、磁気ヘッドを支持するアーム１５と、磁気ディスクとＳＰＭと磁気ヘッドとアームとを収納するベース１３１およびトップカバー１３２とを有する。そして、磁気ディスク装置は、磁気ディスクのベースに最も近い面とトップカバーに最も近い面とに対向するアームに磁気ヘッドがなく、且つ、アーム表面に帯電させたシートであるエレクトレットフィルター１００を貼付る。【選択図】図１
2010238344.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを記録保持する２枚以上の磁気ディスクと、
前記磁気ディスクを回転させる回転手段と、
前記磁気ディスクにデータを記録又は前記磁気ディスクからデータを再生する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを支持するアームと、
前記磁気ディスクと回転手段と磁気ヘッドとアームとを収納するベースおよびトップカバーとを有する磁気ディスク装置であって、
前記磁気ディスクの前記ベースに最も近い面と前記トップカバーに最も近い面とに対向する前記アームに前記磁気ヘッドがなく、且つ、前記アーム表面に帯電させたシートを貼付させたことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記アームに貼付する帯電シートは、正に帯電させたエレクトレットフィルターであることを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
磁気ディスク筐体内部の温度を測定する温度センサと、
前記温度センサから求められる温度が所定値以上であるかを判定し、前記温度が所定値以上である場合に、前記磁気ディスクを回転させてアンロード制御を行う制御回路を有することを特徴とする請求項１または２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
磁気ディスク筐体内部の温湿度を測定する温湿度センサと、
前記温湿度センサから求められる相対湿度が所定値以上であるかを判定し、前記相対湿度が所定値以上である場合に、前記磁気ディスクを回転させてアンロード制御を行う制御回路を有することを特徴とする請求項１または２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
データを記録保持する２枚以上の磁気ディスクと、
前記磁気ディスクを回転させる回転手段と、
前記磁気ディスクにデータを記録又は前記磁気ディスクからデータを再生する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを支持するアームと、
前記磁気ディスクと回転手段と磁気ヘッドとアームとを収納するベースおよびトップカバーとを有する磁気ディスク装置であって、
前記磁気ディスクの該ベースに最も近い面と前記トップカバーに最も近い面とに対向する前記アームに前記磁気ヘッドがなく、筐体内部の温度を測定する温度センサと、前記温度センサから求められる温度が所定値以上であるかを判定し、前記温度が所定値以上である場合に、前記磁気ディスクを回転させてアンロード制御を行う制御回路とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項６】
データを記録保持する２枚以上の磁気ディスクと、
前記磁気ディスクを回転させる回転手段と、
前記磁気ディスクにデータを記録又は前記磁気ディスクからデータを再生する磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを支持するアームと、
前記磁気ディスクと回転手段と磁気ヘッドとアームとを収納するベースおよびトップカバーとを有する磁気ディスク装置であって、
前記磁気ディスクの最も該ベースに近い面と最も該トップカバーに近い面に対向する前記アームに前記磁気ヘッドがなく、筐体内部の温湿度を測定する温湿度センサと、前記温湿度センサから求められる相対湿度が所定値以上であるかを判定し、前記相対湿度が所定値以上である場合に、前記磁気ディスクを回転させてアンロード制御を行う制御回路とを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項７】
データを記録保持する２枚以上の磁気ディスクに対して、磁気ヘッドによってデータが記録又は再生される面とは異なる面と対向する表面に、帯電させたシートを貼付させたことを特徴とする磁気ディスク装置のアーム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置および磁気ディスク装置のアームに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ノート型パーソナルコンピュータをはじめ、携帯機器や車載機器でも、磁気ディスク装置が使用され、高容量化以上に高信頼性が要求されている。信頼性に大きな影響を及ぼす因子として、環境特に高温での発ガス、高湿での磁気ヘッドの浮上への影響や振動、衝撃による発塵がある。
【０００３】
高温では、磁気ディスク装置を構成する様々な部品から、有機系や酸性等のガスが発生し、問題視されている。特にスピンドルや磁気ヘッドを支持するアームを稼働させるピボットから飛散するグリースオイルは、磁気ヘッドや磁気ディスク表面に付着し、浮上変動を引き起こす。また、高湿環境下では、短期的に磁気ヘッドに働く正圧力の減少により、浮上量が低下すると考えられている。
【０００４】
更に、長期的には、水蒸気が磁気ディスク表面に吸着し、その影響で磁気ディスク表面の潤滑膜が磁気ヘッドに移着して浮上変動を引き起こしたり、潤滑膜が凝集して磁気ヘッドの浮上障害を招いたりすることがある。磁気ヘッドの浮上量の低下や変動は、磁気ディスク表面の微小突起等に衝突しやすくなったり、データの読み込みエラーが発生しやすくなったりするので、磁気ディスク装置の信頼性を大きく損なう。
【０００５】
一方、振動や衝撃により、磁気ディスク装置の構成部品から塵埃や異物が発生することがある。磁気ヘッドと磁気ディスクの間に塵埃が介在すると、磁気ヘッドの浮上変動や酷い場合はクラッシュを引き起こし、大きく信頼性を損なう。
【０００６】
このようなことから、磁気ヘッドにヒータを内蔵して、ヒータの通電により、磁気ヘッドを熱膨張させ、ヘッド浮上面を磁気ディスク方向に突き出す現象（サーマルプロトリューション：ＴＰＲ）を利用して、ヘッドと磁気ディスクの記録面とのクリアランスをコントロールする従来技術が提案されている。
【０００７】
即ち、この従来技術では、磁気ディスク装置内に温湿度センサと、予め求めておいた温湿度変化による浮上量変化の比例係数のテーブルを設け、検出した温湿度値に応じて、テーブルを参照し、対応する比例係数を求める。そして、この従来技術では、検出した温度と湿度と比例計数とから、浮上量変化を検出し、浮上量を調整することを開示している。
【０００８】
また、結露センサを設け、結露検出時に磁気ディスクの回転を起動して、磁気ディスクの回転による風やモータの発熱により装置全体の温度を上昇させて結露を防止し、磁気ヘッドや磁気ディスク表面への水蒸気の吸着を防ぐことで高湿環境下での信頼性を向上させる従来技術も提案されている。
【０００９】
また、装置内の発塵、発ガスに対し、ベース等に帯電フィルターを配置し、塵埃の補修効率を向上させる従来技術も提案されている。また、磁気ヘッド支持機構の磁気ディスク対向面側にガス吸着材を取付けて、問題となるガスの除去効率を向上させる従来技術も提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００６−２６９００５号公報
【特許文献２】特開２００２−１５７８７３号公報
【特許文献３】特開２００５−２５１２５２号公報
【特許文献４】特開２００１−７６４７８号公報
【非特許文献】
【００１１】
【非特許文献１】Brian  D.  Strom、Shuyu  Zhang、Sung  Chang  Lee、Andrei  Khurshudov  and  George  W.  Tyndall、“Effects  of  Humid  Air  on  Air-Bearing  Flying  Height”、IEEE  Transactions  on  Magnetics、Vol.43、No.7、2007、p3301
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、上記したいずれの従来技術を用いても、高温、高湿及び装置内に塵埃が発生しうる環境では、高い信頼性を維持することができないという課題があった。
【００１３】
長時間の高湿環境下では、磁気ディスク表面の潤滑膜が磁気ヘッドの表面へ移着しやすくなり、この移着した潤滑膜が磁気ヘッド表面で蓄積すると、磁気ヘッドの記録・読み取り素子の磁気ディスク面側に潤滑剤が層として形成される。このような状態では、記録・読み取り素子から見た浮上量が、時間経過とともに増加していると考えられる。このように、浮上量が経時的に変化することや潤滑膜移着のメカニズムが複雑であるため、従来の技術のように、温湿度変化に対する浮上量変化の比例係数自体を求めることが難しい。
【００１４】
一方、磁気ディスクを回転させることで装置内温度が上昇し、一時的に装置内湿度を低下させることは可能であるが、長時間の高湿環境下では装置内湿度上昇を抑制し続けることはできない。また、磁気ディスクの回転での風による磁気ディスク表面への水蒸気の吸着防止効果は、ベース及びトップカバーに最も近い面では効果が薄い。
【００１５】
また、帯電フィルターをベースやトップカバーに取り付けようとすると、スペースが限られているためフィルターの面積を大きくすることができず、フィルターの改善効果も小さい。さらに、帯電フィルターは、一般的に大きな塵埃を捕集しにくいという欠点がある。
【００１６】
また、磁気ヘッド支持機構部にガス吸着材を付加する場合も上記同様面積が限定されるため、微量なガスの吸着なら問題ないかもしれないが、水蒸気の吸着材としては不適である。
【００１７】
開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであって、高温、高湿及び装置内に塵埃が発生しうる環境においてでも、高い信頼性を維持することが可能である磁気ディスク装置および磁気ディスク装置のアームを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
本願の開示する磁気ディスク装置（システム、方法、プログラム）は、一つの態様において、データを記録保持する２枚以上の磁気ディスクと、前記磁気ディスクを回転させる回転手段と、前記磁気ディスクにデータを記録又は前記磁気ディスクからデータを再生する磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドを支持するアームと、前記磁気ディスクと回転手段と磁気ヘッドとアームとを収納するベースおよびトップカバーと、前記磁気ディスクの前記ベースに最も近い面と前記トップカバーに最も近い面とに対向する前記アームに前記磁気ヘッドがなく、且つ、前記アーム表面に帯電させたシートを貼付させたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本願の開示する磁気ディスク装置の一つの態様によれば、高温、高湿及び装置内に塵埃が発生しうる環境においてでも、高い信頼性を維持することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】図１は、実施例１に係る磁気ディスク装置の要部断面図である。
【図２】図２は、実施例１に係る磁気ディスク装置内において、磁気ヘッドを支持するアームの一部外略図である。
【図３】図３は、実施例２に係る磁気ディスク装置を示す図である。
【図４】図４は、周方向から見た磁気ディスク断面図である。
【図５】図５は、実施例２に係る磁気ディスク装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】図６は、実施例２に係る磁気ディスク装置における高湿環境下でのヘッド浮上量変化の説明図である。
【図７】図７は、実施例２に係る磁気ディスク装置における高湿環境下（休止状態）でのヘッド浮上量変化の説明図である。
【図８】図８は、実施例２に係る磁気ディスク装置における高湿環境下での浮上量変化の相対湿度依存性の説明図である。
【図９】図９は、実施例２に係る磁気ディスク装置における塵埃投入後の磁気ディスク表面の塵埃付着数の説明図である。
【図１０】図１０は、実施例２に係る磁気ディスク装置におけるＤＯＰ投入後の浮上量変化の説明図である。
【図１１】図１１は、パターン１〜パターン８の比較例において、ＤＯＰ投入後の浮上量変化の比較結果を示す図である。
【図１２】図１２は、パターン１〜パターン８の比較例において、ＤＯＰ投入後の実施例の浮上量変化（休止状態）の比較結果を示す図である。
【図１３】図１３は、パターン１〜パターン８の比較例において、湿度環境下での実施例の浮上量変化の比較結果を示す図である。
【図１４】図１４は、パターン１〜パターン８の比較例において、湿度環境下での実施例の浮上量変化（休止状態）の比較結果を示す図である。
【図１５】図１５は、パターン１〜パターン８の比較例において、塵埃投入試験での実施例のエラー発生個数の比較結果を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に、本願の開示する磁気ディスク装置および磁気ディスク装置のアームの実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。
【実施例１】
【００２２】
本願が開示する磁気ディスク装置は、図１や図２に示すように、磁気ディスク装置のベース１３１に最も近い面（h#0）とトップカバー１３２に近い面（h#3）の磁気ヘッド１４をアーム１５から取り外す。そして、ベース１３１に最も近い面（h#0）とトップカバー１３２に近い面（h#3）に対向するアーム１５表面に、正に帯電させたエレクトレットフィルター１００を貼付した。
【００２３】
具体的には、本願が開示する磁気ディスク装置は、データを記録保持する２枚以上の磁気ディスク１２と、磁気ディスク１２を回転するＳＰＭ（スピンドルモータ）１１と、磁気ディスク１２にデータを記録又は磁気ディスク１２からデータを再生する磁気ヘッド１４とを有する。そして、磁気ディスク装置は、磁気ヘッド１４を支持するアーム１５と、これらの要素を収納するベース１３１およびトップカバー１３２を有する磁気ディスク装置において、磁気ディスク１２のベース１３１に最も近い面とトップカバー１３２に最も近い面には磁気ヘッドがない。
【００２４】
これは、磁気ディスク１２のベース１３１に最も近い面とトップカバー１３２に最も近い面を水蒸気、塵埃、ガス等を吸着、集塵させる表面として利用するため、磁気ヘッド１４を浮上させることができないためである。しかし、磁気ヘッド１４を支持するアーム１５は、磁気ディスク１２表面から塵埃の大きさに対して十分離れているため、あっても問題はない。そして、磁気ディスク１２の２面を記録再生面として使用しないことになるので、記録容量は減少するが、磁気ディスク１２の表面が広いため集塵能力は高く、且つ表面の潤滑膜が付着した塵埃等をメニスカス力で脱離することを防ぐ等、フィルター機能として優れており、大きな信頼性の向上が得られる。
【００２５】
また、車載など記憶容量の大きさより、高い信頼性を重視する用途において、本願が開示する磁気ディスク装置は効果を発する。実際、磁気ヘッド１４、磁気ディスク１２を装置に組み込んだ後に、それぞれの性能に依って使用するヘッド本数を変更して、低容量版として製品化するという処理は行われており、このような装置を利用するのも有効である。また、本願が開示する磁気ディスク装置では、磁気ディスク１２の枚数が２枚以上必要であるが、２枚の場合には副次的効果もある。磁気ディスク１２の枚数が２枚の場合、記録再生面として利用する磁気ディスク１２面はそれぞれ片面であるため、磁気ディスク１２の出荷検査で片面のみパスしたメディアを利用でき、歩留まりが向上し、その結果コスト削減につながる。更に、本願が開示する磁気ディスク装置は、磁気ディスク１２のベース１３１に最も近い面とトップカバー１３２に最も近い面に対向するアーム１５表面に、帯電させたシート（例えば、エレクトレットフィルター１００）を貼付している。
【００２６】
この帯電させたシートからの誘電分極により、対向する磁気ディスク１２表面も帯電する。磁気ディスク１２表面を帯電させることで、磁気ディスク装置内の塵埃の多くは他の粒子との接触や装置壁面との接触などで帯電しており、より集塵効率が向上する。塵埃は、金属など正に帯電することが多く、また、磁気ディスク１２表面は、フッ素系の潤滑膜で覆われており、負に帯電しやすいことから、帯電シートは正に帯電させることが好適である。例えば、ナイロンシートを金属（鉄やアルミ）で擦ることにより、正に帯電したシートが簡単に作製できる。更に、帯電シートにエレクトレットフィルター１００を使用すると、少数の負に帯電した塵埃の集塵に有効であり、より好適である。
【００２７】
このように、磁気ディスク装置内部の水蒸気や塵埃や異物をベース１３１及びトップカバー１３２に最も近い磁気ディスク１２表面に吸着、集塵させることにより、耐候性、耐久性に優れた磁気記録装置を提供することが可能である。
【実施例２】
【００２８】
（磁気ディスク装置の構成）
次に、図３〜図５を用いて、磁気ディスク装置に温湿度センサを用いた例について説明する。なお、本願が開示する磁気ディスク装置の実施の形態は、この実施の形態に限られない。
【００２９】
図３は、実施例２に係る磁気ディスク装置を示す図である。図３に示すように、磁気ディスク装置１は、磁気ディスク１２と、ヘッドスライダを含む磁気ヘッド１４と、磁気ヘッド１４を支持するアーム（磁気ヘッド支持アーム）１５と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１８と、回路基板１９とを有する。なお、回路基板１９は、磁気ヘッド支持アーム１５やＶＣＭ１８など磁気ディスク装置を駆動させる各種制御部に接続され、磁気ディスク装置を駆動させるために制御、磁気ディスクにデータを書き込んだり、磁気ディスクからデータを読み込んだりする制御を行う。
【００３０】
回路基板１９には、ヘッドＩＣの他、温湿度センサ１６が設置されている。温湿度センサ１６は、熱電対やサーミスタ、ＩＣ化温度センサ、バンドギャップベース温度センサなどを使用できる。又、温湿度センサ１６は、抵抗式や静電容量式のポリマー湿度センサなどが用いられる。尚、図示しないが、カバー呼吸孔には、シリカゲルや活性炭等の吸湿材が装着され、拡散流路を介して装置外部とつながっている。
【００３１】
磁気ディスク１２は、スピンドルモータ１１に取り付けられ、回転し、磁気ヘッド支持アーム１５は、ピボット１７に取り付けられ、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１８によって、磁気ヘッド１４を磁気ディスク１２の任意の半径位置に位置決めする。
【００３２】
ランプロード機構１３は、磁気ディスク１２から退避した磁気ヘッド１４をパーキングするための機構である。この実施の形態の磁気ディスク装置１では、ランプロード機構１３を備えているが、装置停止中、磁気ヘッド１４が磁気ディスク１２のある特定の領域で待機するコンタクト・スタート・ストップ方式の磁気ディスク装置でも、同様に得られる。
【００３３】
磁気ディスク１２には、図４に示すように、基板２３上に磁性膜２２（垂直記録ディスクの場合、ＳＵＬ層等も含む。）、その上にダイヤモンドライクカーボン（ＤＬＣ）などの保護膜２１、その上の最表面には潤滑膜２０が形成されている。なお、図４は、周方向から見た磁気ディスクの断面図である。
【００３４】
（磁気ディスク装置による処理の流れ）
次に、図５を用いて、実施例２に係る磁気ディスク装置における処理の流れを説明する。図５は、実施例２に係る磁気ディスク装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【００３５】
図５に示すように、実施例２に係る磁気ディスク装置１の温湿度センサ１６は、筐体内部の温度を測定して、筐体内部の温度が閾値以上か否かを判定する（ステップＳ１０１）。例えば、温湿度センサ１６は、筐体内部で、所定値（Ａ度）以上の温度が所定時間（Ｔ１）時間継続しているか否かを判定する。
【００３６】
そして、温湿度センサ１６は、筐体内部において、閾値以上の温度が所定時間継続していない場合（ステップＳ１０１否定）、筐体内部の湿度が閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ１０２）。例えば、温湿度センサ１６は、筐体内部で、所定値（Ｂ％）以上の湿度が所定時間（Ｔ２）時間継続しているか否かを判定する。
【００３７】
その後、磁気ディスク装置１は、回路基板１９などに存在するマイクロコンピュータから磁気ディスク１２の状態がスリープ状態であるか否かを判定する（ステップＳ１０３とステップＳ１０４）。また、磁気ディスク装置１は、筐体内部において、閾値以上の温度が所定時間継続している場合（ステップＳ１０１肯定）には、ステップＳ１０２の判定を行わずに、ステップＳ１０３とステップＳ１０４の処理を実行する。
【００３８】
そして、磁気ディスク装置１は、磁気ディスク１２の状態がスリープ状態である場合（ステップＳ１０４肯定）、回路基板１９などに存在するサーボコントロール回路を制御して（ステップＳ１０５）、磁気ヘッド１４をロードさせずにＳＰＭ１１を回転させる（ステップＳ１０６）。
【００３９】
一方、磁気ディスク装置１は、磁気ディスク１２の状態がスリープ状態でない場合（ステップＳ１０４否定）、回路基板１９などに存在するサーボコントロール回路やＶＣＭ回路を制御して（ステップＳ１０７とステップＳ１０８）、ＳＰＭ１１を回転させたまま、磁気ヘッド１４をアンロードさせる（ステップＳ１０９）。
【００４０】
（ヘッド浮上増加量の測定）
次に、高湿環境下で従来の磁気ディスク装置を稼動させた場合（磁気ディスク回転）の浮上増加量の測定結果を図６に示す。この測定例では、温度６０℃、湿度８０％ＲＨ環境下で、磁気ヘッド１２を１０時間ランダムシーク動作させて浮上量変化の測定を行った。尚、浮上量測定は、磁気ディスク１２の外周（半径３０ｍｍ）に固定パターンを記録して、Ｗａｌｌａｃｅ法にて実施した。また、ここで示した測定例では、加速のため呼吸孔の吸湿剤等を取り除き、湿度が装置内に入りやすくしている。
【００４１】
次に、高湿環境下で従来の磁気ディスク装置を放置（磁気ディスク停止）させた場合の浮上増加量の測定結果を図７に示す。この測定例では、温度６０℃、湿度８０％ＲＨ環境下で磁気ディスク装置１を稼動させず、１０時間放置後、湿度を２０％ＲＨまで下げ、１０時間ランダムシーク動作をさせた後、浮上量測定を行った。
【００４２】
図６の結果から、磁気ディスクを回転させると、浮上増加量がトップカバー１３２、ベース１３１に近い面は非常に大きい。これは、水蒸気がトップカバー１３２、ベース１３１に近い面に選択的に吸着し、潤滑膜が磁気ヘッド１４表面へ移着しやすくなり、移着した潤滑膜が磁気ヘッド素子上で層になって、結果浮上量が増加するためである。一方、図７の結果から、磁気ディスク１２を停止させた場合、浮上増加量が磁気ヘッド１４間で殆ど差がなくなったのは、水蒸気が、各磁気ディスク面にほぼ均等に付着したためである。以上より、磁気ディスク１２を回転させることにより、トップカバー１３２、ベース１３１に近い面以外のヘッドは湿度環境下での浮上増加を抑制することができる。
【００４３】
次に、図３に示した磁気ディスク装置において、温度６０℃において、相対湿度をパラメータに一定時間（１０時間）放置後の浮上増加量を測定した結果を図８に示す。図８では、横軸に相対湿度（RH%）、縦軸に浮上増加量（nano-meter）をとって示す。
【００４４】
図８に示すように、相対湿度が６０％ＲＨを越えると、急激に浮上量変化が大きくなる傾向であることが理解できる。即ち、高温で、相対湿度が高いと、磁気ディスク１２表面への水蒸気の吸着量が多くなり、その結果、磁気ヘッド１４表面への潤滑膜の移着が、より起こりやすくなるためと考えられる。
【００４５】
次に、図３に示した磁気ディスク装置において、磁気ディスクを回転させながら呼吸孔から（吸湿剤は取り除いた）粒径３００ｎｍ程のアルミナを噴霧し、磁気ディスク表面への付着数をＯＳＡ（Optical  Suface  Analyser）で測定した結果を図９に示す。図９に示すように、水蒸気の場合と同様、ベース１３１、トップカバー１３２に近い面の付着数が多い。これは、噴霧箇所を変えても結果は同様で、対向面が磁気ディスク表面である面は、塵埃が入りにくく、付着数が少ない。因みに停止状態では、噴霧場所近くに付着数が偏るため測定ができない。
【００４６】
次に、図３に示した磁気ディスク装置において、ＤＯＰ（フタル酸ジオクチル）５０ｍｇをトップカバーの内側に塗りひろげ、環境６０℃で磁気ディスクを回転させながら、１００ｈ後の浮上増加量を測定した結果を図１０に示す。図１０に示すように、高湿での測定より増加量は少ないが、傾向は同様で、ベース１３１、トップカバー１３２に近い面の浮上増加量が大きい。メカニズムは水蒸気の場合と同じであるかどうかは不明であるが、少なくともベース１３１、トップカバー１３２に近い面のＤＯＰ付着量が多いことが容易に予想できる。ただし、水蒸気と異なり、ガスはその種類により問題になる温度、時間は様々で、一意に決まらない。大凡ではあるが、温度６０℃〜７０℃以上でガス発生量が急増することがわかっている。
【００４７】
（実施例２による効果）
このように、本願が開示する磁気ディスク装置１は、筐体内部の温度を測定する温湿度センサ１６から求められる温度が、所定値以上であるかを判定し、該温度が所定値以上である時に、磁気ディスク１２を回転させる制御を行う制御回路を有する。高温で発生する様々なガスを選択的に、ベース１３１に最も近い面とトップカバー１３２に最も近い面に吸着させるためには、磁気ディスク１２を回転させることが有効である。
【００４８】
また、対向面が静止壁であるベース１３１とトップカバー１３２に近い面は比較的にエアシア（磁気ディスク表面を横切る空気剪断力）が小さいためではないかと考えられる。これにより、ベース１３１、トップカバー１３２に近い面以外の磁気ディスク１２表面へのガスの影響は抑えられる。特に問題視されているスピンドル１１やピボット１７から飛散するグリースオイルは、トップカバー１３２に近い面に付着しやすいので、本願が開示する磁気ディスク装置１はその意味でも有効である。
【００４９】
更に、本願が開示する磁気ディスク装置１は、磁気ヘッド１４を磁気ディスク１２面外へ退避（アンロード）させることで、アーム１５自体が誘引するベース１３１、トップカバー１３２に近い面以外の磁気ディスク表面への空気の流れをなくすことができるので、より有効である。
【００５０】
又、本願が開示する磁気ディスク装置１は、筐体内部の温湿度を測定する温湿度センサ１６から求められる相対湿度が、所定値以上であるかを判定し、相対湿度が所定値以上である時に、磁気ディスク１２を回転させる制御を行う制御回路を有する。水蒸気の場合も、上記ガス同様磁気ディスクの回転により、選択的にベース１３１、トップカバー１３２に近い面に吸着する。
【００５１】
以上より、本願が開示する磁気ディスク装置１は、装置内部の水蒸気や塵埃や異物をベース１３１及びトップカバー１３２に最も近い磁気ディスク表面に吸着、集塵させることにより、耐候性、耐久性に優れた磁気記録装置を提供することが可能である。
【実施例３】
【００５２】
実施例３では、実施例２の測定例に基づき、２．５インチ、５４００ｒｐｍ、磁気ディスクが２枚搭載されている磁気ディスク装置で評価を行う。尚、環境温湿度の影響を見やすくするため、吸湿剤は取り外した。そして、比較例について、浮上量の変化や全面のエラー発生個数を測定した。
【００５３】
まず、実施例３で比較した磁気ディスク装置それぞれについて説明する。
【００５４】
（パターン１）
パターン１では、ベース１３１に最も近い面（h#0）とトップカバー１３２に近い面（h#3）に対向するアーム１５表面に、正に帯電させたエレクトレットフィルター１００を貼付した磁気ヘッドを有する磁気ディスク装置を用いた。
【００５５】
（パターン２）
パターン２では、図１のように、磁気ディスク装置のベース１３１に最も近い面（h#0）とトップカバー１３２に近い面（h#3）の磁気ヘッドをアームから取り外し、６０℃以上になると、磁気ディスクを回転させる制御回路を取り付けた磁気ディスク装置を用いた。
【００５６】
（パターン３）
パターン３では、図１のように、磁気ディスク装置のベース１３１に最も近い面（h#0）とトップカバー１３２に近い面（h#3）の磁気ヘッドをアームから取り外し、相対湿度が60%RH以上になると、磁気ディスクを回転させる制御回路を取り付けた磁気ディスク装置を用いた。
【００５７】
（パターン４）
パターン４では、パターン１の磁気ディスク装置に、筐体内部の温度が６０℃以上になると、磁気ディスクを回転させる制御回路を取り付けた磁気ディスク装置を用いた。
【００５８】
（パターン５）
パターン５では、パターン１の磁気ディスク装置に、筐体内部の相対湿度が６０％ＲＨ以上になると、磁気ディスクを回転させる制御回路を取り付けた磁気ディスク装置を用いた。
【００５９】
（パターン６）
パターン６では、パターン１の磁気ディスク装置で、筐体内部の温度が６０℃以上かつ筐体内部の相対湿度が６０％ＲＨ以上になると、磁気ディスクを回転させる制御回路を取り付けた磁気ディスク装置を用いた。
【００６０】
（パターン７とパターン８）
パターン７では、従来の磁気ディスク装置を用い、パターン８では、パターン１の磁気ディスク装置からアーム表面に貼付した帯電フィルターを取り除いた磁気ディスク装置を用いた。
【００６１】
（比較結果）
パターン１からパターン８の磁気ディスク装置にＤＯＰを５０ｍｇトップカバーに塗り、６０℃、1０％ＲＨ環境下でランダムシーク動作をさせ、１００時間後浮上量を測定した。尚、浮上量測定は外周（半径３０ｍｍ）に固定パターンを記録して、Ｗａｌｌａｃｅ法にて実施した。また浮上量変化値は全ヘッドの最大値とした。
【００６２】
上記した条件での測定結果を図１１に示す、図１１に示すように、パターン７以外は浮上増加量が抑制されており、本願の効果が確認できる。但し、パターン８も同様の効果が確認されており、帯電フィルターによるＤＯＰの吸着促進の効果は小さい。尚、この実験においては、パターン１から６の間に有意差はないとも考えられる。
【００６３】
次に、図１１に示した測定時と同じ環境（６０℃、1０％ＲＨ）で、パターン１から８の磁気ディスク装置にＤＯＰを５０ｍｇトップカバーに塗り、コマンド（命令）を入力せずに１００時間放置した。１００時間放置後の浮上量変化の測定結果を図１２に示す。図１２に示すように、放置開始後数分で、パターン２と４と６以外の磁気ディスク装置は、休止モードに入り、磁気ディスクの回転が停止した。磁気ディスクが回転していたパターン２と４と６は浮上増加量が抑制されている。
【００６４】
次に、パターン１から８の磁気ディスク装置を、６０℃、８０％ＲＨ環境下でランダムシーク動作をさせ、１０時間後浮上量を測定した結果を図１３に示す。図１３に示すように、従来技術であるパターン７以外は浮上増加量が抑制されており、本願の効果が確認された。但し、パターン１、４〜６の抑制効果は比較的大きいが、これは、帯電フィルターにより、磁気ディスク表面を帯電させると、分極した水蒸気をより吸着させやすくなるためである。
【００６５】
次に、図１３の測定時と同じ環境（６０℃、８０％ＲＨ）で、パターン１から８の磁気ディスク装置に対して、コマンド（命令）を入力せずに１０時間放置した結果を図１４に示す。図１４に示すように、放置開始後数分で、パターン３と５と６以外の磁気ディスク装置は、休止モードに入り、磁気ディスクの回転が停止した。従来技術であるパターン７や８と比べ、パターン１や４は帯電フィルターにより水蒸気吸着が促進し、パターン３は磁気ディスクの回転により水蒸気吸着がより促進し、パターン５や６は帯電フィルターと磁気ディスクの回転の相乗効果により浮上増加量が大きく抑制されている。
【００６６】
次に、パターン１〜８の磁気ディスク装置に磁気ディスクを回転させながら、粒径３００ｎｍのアルミナを呼吸孔から噴霧し、全面Ｒｅａｄ試験後のエラー発生個数（４面中最大個数）を測定した結果を図１５に示す。図１５に示すように、従来技術であるパターン７に比べて、パターン１、４、５、６はエラー発生個数が大きく低減している。パターン８、パターン２、３でも低減効果は見られるが、効果は比較的小さい。これは磁気ディスク表面を帯電させたことによる集塵効率向上の結果である。
【００６７】
上記した図１１〜図１５の結果より、本願が開示するパターン１〜パターン６までの磁気ディスク装置は、従来技術であるパターン７やパターン８に示した従来の磁気ディスクよりも、耐候性、耐久性に優れた信頼性が高い磁気ディスク装置であることがわかる。その中でも、図１１〜図１５の全て良好な結果が得られたパターン６が最も信頼性が高い。
【実施例４】
【００６８】
さて、これまで本発明の実施例について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、以下では実施例４として、本発明に含まれる他の実施例について説明する。
【００６９】
（磁気ディスクの枚数）
例えば、実施例１〜３では、２枚の磁気ディスクを搭載した磁気ディスク装置で説明したが、３枚以上の磁気ディスクを搭載した装置にも適用できる。
【００７０】
（システム構成等）
また、図示した磁気ディスク装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。さらに、各装置にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＭＣＵ（もしくは、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）やＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）などの制御装置）および当該ＭＣＵ（もしくは、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）やＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）などの制御装置）にて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。
【００７１】
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともでき、あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【符号の説明】
【００７２】
１  磁気ディスク装置
１１  ＳＰＭ
１２  磁気ディスク
１３  ランプロード機構
１４  磁気ヘッド
１５  アーム
１６  温湿度センサ
１７  ピボット
１８  ＶＣＭ
１９  回路基板
２０  潤滑膜
２１  保護膜
２２  磁性膜
２３  基板
１００  エレクトロフィルター
１３１  ベース
１３２  トップカバー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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