(57)【要約】【課題】周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うこと。【解決手段】端子圧着に伴って検出される圧力波形と圧着良否判別基準とに基づいて端子の圧着良否判別を行う。連続的に行われる端子圧着処理の途中で、圧着良否判別基準を変更して圧着良否判別を行う。【選択図】図７
2010033804.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子の圧着良否判別を行う端子圧着状態良否判別装置であって、
端子圧着に伴って検出される圧力波形が入力される圧力波形入力部と、
複数の圧着良否判別基準を記憶する記憶部と、
前記複数の圧着良否判別基準のうちの一つと前記圧力波形とに基づいて、端子の圧着良否判別を行う良否判別部と、
を備え、
前記良否判別部は、連続的な端子圧着処理の途中で、前記圧着良否判別基準を変更する、端子圧着状態良否判別装置。
【請求項２】
請求項１記載の端子圧着状態良否判別装置であって、
前記記憶部は、前記複数の圧着良否判別基準として複数の基準波形を記憶し、
前記良否判別部は、前記複数の基準波形のうちの一つと前記圧力波形とを比較して、端子の圧着良否判別を行う、端子圧着状態良否判別装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２記載の端子圧着状態良否判別装置であって、
前記良否判別部は、端子圧着関連動作に応じて前記圧着良否判別基準を変更する、端子圧着状態良否判別装置。
【請求項４】
請求項１〜請求項３のいずれかに記載の端子圧着状態良否判別装置であって、
前記良否判別部は、連続的な端子圧着開始後１回目の端子圧着と２回目以降の端子圧着との間で前記圧着良否判別基準を変更する、端子圧着状態良否判別装置。
【請求項５】
請求項４記載の端子圧着状態良否判別装置であって、
前記良否判別部は、前記圧力波形入力部を通じて入力される前記圧力波形に基づく端子圧着間隔が所定期間よりも大きいときに１回目の端子圧着が行われたと判断し、前記端子圧着間隔が所定期間よりも小さいときに２回目以降の端子圧着が行われたと判断する、端子圧着状態良否判別装置。
【請求項６】
端子圧着を行う一対の圧着型と、
前記一対の圧着型を相対的に接近及び離隔移動させる圧着駆動部と、
前記一対の圧着型に設けられ、端子圧着に伴う圧力波形を検出する圧力検出部と、
請求項１〜請求項５のいずれかに記載の端子圧着状態良否判別装置と、
を備える端子圧着加工装置。
【請求項７】
電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子の圧着良否判別を行う端子圧着状態良否判別方法であって、
（ａ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と圧着良否判別基準とに基づいて端子の圧着良否判別を行うステップと、
（ｂ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と、前記工程（ａ）における圧着良否判別基準とは別の圧着良否判別基準とに基づいて、端子の圧着良否判別を行うステップと、
を、連続的な端子圧着処理の途中で変更して実行する、端子圧着状態良否判別方法。
【請求項８】
電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子圧着に伴って検出される圧力波形に基づいて端子の圧着良否判別を行うための端子圧着状態良否判別プログラムであって、コンピュータに、
（ａ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と圧着良否判別基準とに基づいて端子の圧着良否判別を行う処理と、
（ｂ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と、前記工程（ａ）における圧着良否判別基準とは別の圧着良否判別基準とに基づいて、端子の圧着良否判別を行う処理と、
を、連続的な端子圧着処理の途中で変更して行わせる処理を実現させるための端子圧着状態良否判別プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電線に端子を圧着する際に端子圧着状態の良否判別を行う技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
端子圧着状態の不良を検出する方法として、特許文献１に開示のものがある。特許文献１では、端子圧着時に検出した圧力の時間的変化波形を、所定の基準波形等と比較することで、圧着状態の良否を判別している。
【０００３】
【特許文献１】特開昭６３−２８１０７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、端子圧着を連続的に行う場合、周辺振動環境を一定とすることは難しい。例えば、端子圧着の際に発生する振動の影響は、次回の端子圧着時にも残存する。この振動は、端子圧着時に検出される圧力波形にも影響を与える。
【０００５】
このため、端子圧着時に検出される圧力波形は、良品として判別されるべき圧着状態であっても、異なる形を持つ圧力波形として観察され得る。このように圧力波形は周辺振動環境による影響を受けるため、特許文献１に記載のように、単一の基準と比較するだけでは、周辺振動環境に応じて精度よく圧着良否を判別することは困難となる。
【０００６】
そこで、本発明は、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、第１の態様に係る端子圧着状態良否判別装置は、電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子の圧着良否判別を行う端子圧着状態良否判別装置であって、端子圧着に伴って検出される圧力波形が入力される圧力波形入力部と、複数の圧着良否判別基準を記憶する記憶部と、前記複数の圧着良否判別基準のうちの一つと前記圧力波形とに基づいて、端子の圧着良否判別を行う良否判別部と、を備え、前記良否判別部は、連続的な端子圧着処理の途中で、前記圧着良否判別基準を変更するものである。
【０００８】
第２の態様は、第１の態様に係る端子圧着状態良否判別装置であって、前記記憶部は、前記複数の圧着良否判別基準として複数の基準波形を記憶し、前記良否判別部は、前記複数の基準波形のうちの一つと前記圧力波形とを比較して、端子の圧着良否判別を行うものである。
【０００９】
第３の態様は、第１又は第２の態様に係る端子圧着状態良否判別装置であって、前記良否判別部は、端子圧着関連動作に応じて前記圧着良否判別基準を変更するものである。
【００１０】
第４の態様は、第１〜第４のいずれかの態様に係る端子圧着状態良否判別装置であって、前記良否判別部は、連続的な端子圧着開始後１回目の端子圧着と２回目以降の端子圧着との間で前記圧着良否判別基準を変更するものである。
【００１１】
第５の態様は、第４の態様に係る端子圧着状態良否判別装置であって、前記良否判別部は、前記圧力波形入力部を通じて入力される前記圧力波形に基づく端子圧着間隔が所定期間よりも大きいときに１回目の端子圧着が行われたと判断し、前記端子圧着間隔が所定期間よりも小さいときに２回目以降の端子圧着が行われたと判断するものである。
【００１２】
第６の態様は、端子圧着を行う一対の圧着型と、前記一対の圧着型を相対的に接近及び離隔移動させる圧着駆動部と、前記一対の圧着型に設けられ、端子圧着に伴う圧力波形を検出する圧力検出部と、第１〜第５のいずれかの態様に係る端子圧着状態良否判別装置と、を備えるものである。
【００１３】
第７の態様は、電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子の圧着良否判別を行う端子圧着状態良否判別方法であって、（ａ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と圧着良否判別基準とに基づいて端子の圧着良否判別を行うステップと、（ｂ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と、前記工程（ａ）における圧着良否判別基準とは別の圧着良否判別基準とに基づいて、端子の圧着良否判別を行うステップとを、連続的な端子圧着処理の途中で変更して実行するものである。
【００１４】
第８の態様は、電線に端子を圧着する端子圧着処理を連続的に行う際に、端子圧着に伴って検出される圧力波形に基づいて端子の圧着良否判別を行うための端子圧着状態良否判別プログラムであって、コンピュータに、（ａ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と圧着良否判別基準とに基づいて端子の圧着良否判別を行う処理と、（ｂ）端子圧着に伴って検出される圧力波形と、前記工程（ａ）における圧着良否判別基準とは別の圧着良否判別基準とに基づいて、端子の圧着良否判別を行う処理とを、連続的な端子圧着処理の途中で変更して行わせる処理を実現させるものである。
【発明の効果】
【００１５】
第１の態様によると、前記良否判別部は、連続的な端子圧着処理の途中で、圧着良否判別基準を変更する。このため、周辺振動環境の変動に応じて適切な圧着良否判別基準を用いて、圧着良否判別を行うことができ、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００１６】
第２の態様によると、周辺振動環境の変動に応じた適切な基準波形を用いることで、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００１７】
第３の態様によると、端子圧着関連動作に応じて前記圧着良否判別基準の変更タイミングを決定することで、周辺振動環境の変動に応じて適切なタイミングで圧着良否判別基準を変更することができる。
【００１８】
第４の態様によると、連続的な圧着開始後１回目の端子圧着と２回目以降の端子圧着との間で前記圧着良否判別基準を変更することで、周辺振動環境の変動に応じた適切なタイミングで、圧着良否判別基準を変更することができる。
【００１９】
第５の態様によると、振動の減衰を考慮した振動影響に変動に応じた適切なタイミングで、圧着良否判別基準を変更することができる。
【００２０】
第６の態様によると、周辺振動環境の変動に応じて適切な圧着良否判別基準を用いて、圧着良否判別を行うことができ、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００２１】
第７の態様によると、周辺振動環境の変動に応じて適切な圧着良否判別基準を用いて、圧着良否判別を行うことができ、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００２２】
第８の態様によると、周辺振動環境の変動に応じて適切な圧着良否判別基準を用いて、圧着良否判別を行うことができ、周辺振動環境の影響をなるべく考慮して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、実施の形態に係る端子圧着加工装置について説明する。
【００２４】
図１は端子圧着加工装置１０を示す概略正面図であり、図２は端子圧着機構装置２０を示す概略側面図である。
【００２５】
この端子圧着加工装置１０は、端子圧着機構装置２０と端子圧着状態良否判別装置３０とを備えている。端子圧着機構装置２０は、電線１２の端部に端子１４を圧着する端子圧着処理を連続的に行う装置であり、端子圧着状態良否判別装置３０は端子の圧着良否判別を行う装置である。
【００２６】
＜１．端子圧着機構装置＞
端子圧着機構装置２０は、横向きにした略Ｕ字状の支持部材２１と、一対の圧着型２２，２５と、圧着駆動部２６と、圧力検出部２４とを備えている。
【００２７】
一対の圧着型２２，２５は、下側の圧着型２２と上側の圧着型２５とを有しており、それらの間で端子１４を圧着可能に構成されている。
【００２８】
下側の圧着型２２は、支持部材２１の下部ベース部２１ａ上に上向き突出で取付けられている。また、下部ベース部２１ａには、下側の圧着型２２に隣設して支持台２２ａが取付けられている。そして、端子１４の圧着部１４ａを下側の圧着型２２上に載置すると共に、端子１４の他の部分を支持台２２ａ上に載置した状態で、端子１４が載置状に支持可能に構成されている。
【００２９】
また、下部ベース部２１ａ内であって下側の圧着型２２の下方に、当該下側の圧着型２２と接触した状態で圧力伝達部材２３が配設されている。また、圧力伝達部材２３の下方に、当該圧力伝達部材２３と接触した状態で圧力検出部２４が配設されている。そして、端子圧着時に下側の圧着型２２に作用する圧力が、圧力伝達部材２３を介して圧力検出部２４に伝達されるように構成されている。圧力検出部２４は、ひずみゲージ、ピエゾ素子、光ファイバ式圧力センサ等、圧力に応じた電気信号を出力するセンサによって構成されている。そして、端子圧着時に生じた圧力が圧力伝達部材２３を介して圧力検出部２４に伝達されると、圧力検出部２４はその圧力変化に応じた圧力波形を電気信号として出力するように構成されている。
【００３０】
なお、上記圧力検出部２４は、上側の圧着型２５側に組込まれていてもよいし、一対の圧着型２２，２５の双方側に組込まれていてもよい。後者の場合、それぞれで検出される圧力波形のそれぞれに対して後述する圧着良否判別処理を行ってもよいし、それぞれの検出波形の平均波形に対して後述する圧着良否判別処理を行ってもよい。
【００３１】
また、圧着駆動部２６は、トグルリンク機構、エアシリンダ、油圧シリンダ等により構成されており、上記支持部材２１の上方支持部分２１ｂに設けられている。圧着駆動部２６には、上側の圧着型２５が垂下状姿勢で昇降可能に支持されている。この圧着駆動部２６の駆動により、上型の圧着型２５が下側の圧着型２２に対して接近及び離隔移動されるように構成されている。なお、圧着駆動部２６は、一対の圧着型２２，２５を相対的に接近及び離隔移動させる構成であればよい。
【００３２】
また、この端子圧着機構装置２０には、複数の端子１４を連続的に下側の圧着型２２に供給する端子供給機構部２８と、電線１２を予め設定された所定長に切断し、その端部を皮剥ぎして端子１４の圧着部１４ａ内に配設する処理を連続的に行う電線処理機構部２９とが組込まれている。そして、電線１２に端子１４を圧着する端子圧着処理を連続的に行えるように構成されている。これらの端子供給機構部２８及び電線処理機構部２９については、周知構成を含む種々構成を適用可能であるので、詳細な説明は省略する。
【００３３】
＜２．端子圧着状態良否判別装置＞
図３は端子圧着状態良否判別装置３０を示すブロック図である。端子圧着状態良否判別装置３０は、上記圧力検出部２４で検出された圧力波形を入力可能に当該圧力検出部２４に電気的に接続されており、その圧力波形に基づいて端子の圧着良否判別を行うように構成されている。
【００３４】
より具体的には、端子圧着状態良否判別装置３０は、ＣＰＵ３２、内部記憶装置３４、外部記憶装置３５等がバスライン３１を介して相互接続された一般的なコンピュータによって構成されている。内部記憶装置３４は、基本プログラム等を格納したＲＯＭ及びデータを一時的に保持するＲＡＭ等を含んでおり、外部記憶装置３５はフラッシュメモリ或はハードディスク装置等の不揮発性の記憶装置によって構成されている。外部記憶装置３５には、後述する圧着良否判別処理を行うための判別プログラム３５ａが格納されている。この判別プログラム３５ａに従って、主制御部としてのＣＰＵ３２が演算処理を行うことにより、後述するように端子１４の圧着良否判別を行う良否判別部等の各種機能が実現されるように構成されている。判別プログラム３５ａは、通常、予め外部記憶装置３５に格納されるものであるが、ＣＤ−ＲＯＭ或はＤＶＤ−ＲＯＭ、フラッシュメモリ等の記録媒体に記録された状態で提供され、或は、ネットワークを介した外部サーバからのダウンロードなどにより提供され、追加的又は交換的に外部記憶装置３５に格納されるものであってもよい。
【００３５】
また、上記外部記憶装置３５には、複数の圧着良否判別基準として第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂ２が記憶されると共に、基準圧着間隔Ｔ２が予め設定された値として記憶されている。後述する良否判別処理は、これらの第１基準波形ＰＷｂ１、第２基準波形ＰＷｂ２及び基準圧着間隔Ｔ２を参照して行われる。なお、第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂ２の設定処理については後述する。また、基準圧着間隔Ｔ２は、後述する入力部３８を通じて予め入力設定された値として記憶される。
【００３６】
また、この端子圧着状態良否判別装置３０では、圧力波形入力回路部３６、信号出力回路部３７、入力部３８及び表示部３９も、バスライン３１に接続されている。
【００３７】
圧力波形入力回路部３６は、ＡＤ変換回路等によって構成されており、圧力検出部２４で検出された圧力波形がアナログ信号で入力されると、これをデジタル信号に変換するように構成されている。この圧力波形入力回路部３６でデジタル信号に変換された圧力波形は、逐次内部記憶装置３４或は外部記憶装置３５に記憶され、後述する基準波形生成処理及び圧着良否判別処理に供される。
【００３８】
信号出力回路部３７は、ＣＰＵ３２による制御下、他の機器への制御信号等を出力する出力回路である。ここでは、後述するように端子圧着機構装置２０に対するエラー停止信号及び動作許可信号が、信号出力回路部３７を介して出力され、端子圧着機構装置２０に与えられる。
【００３９】
入力部３８は、各種スイッチ、タッチパネル等により構成されており、基準波形生成開始指示及び圧着良否判別処理開始指示等、本端子圧着状態良否判別装置３０に対する諸指示を受付可能に構成されている。
【００４０】
表示部３９は、液晶表示装置、ランプ等により構成されており、ＣＰＵ３２による制御下、端子圧着の良否判別結果、圧力波形等の諸情報を表示可能に構成されている。
【００４１】
なお、上記端子圧着状態良否判別装置３０が行う一部或は全部の機能は、専用の論理回路等でハードウェア的に実現されてもよい。
【００４２】
＜３．端子圧着状態良否判別装置の処理＞
端子圧着状態良否判別装置３０の基準波形生成処理及び端子１４の圧着良否判別処理について説明する。
【００４３】
＜３．１．基準波形生成処理＞
図４は基準波形生成処理を示すフローチャートである。
【００４４】
まず、本装置の利用者等が、端子圧着機構装置２０に端子圧着開始指示を与えると共に、端子圧着状態良否判別装置３０に基準波形生成開始指示を与える。すると、圧力検出部２４で検出された圧力波形が、時間ｔの経過と圧力Ｐの変化を示す圧力波形情報として圧力波形入力回路部３６を通じて入力される。この際の波形は、図５に示すように、比較的小さな上向き凸波形後に比較的大きな上向き凸波形が連なる圧着波形ＰＷＳ１，ＰＷＳ２（以下では、このように圧着によって生ずる圧力波形部分を、単に圧着波形ということがある）が、間隔をあけて連続的に連なる波形として観測される。なお、上記圧着波形は、端子１４の種類等によって異なるため、必ずしも上記のような波形形状として観測されるわけではない。
【００４５】
端子圧着状態良否判別装置３０は、基準波形生成開始指示を受付けると、ステップＳ１において、１回目の圧着波形ＰＷＳ１を予め設定されたサンプリング期間ＴＳにおいてサンプリングする。圧着波形ＰＷＳ１の有無は、例えば、圧力Ｐが予め設定された基準圧力値Ｐａ以上になったか否か（或は基準圧力値Ｐａよりも大きくなったか否か）をもって判断するとよい。所定の基準圧力値Ｐａは、例えば、過去に行った試行結果に基づき、圧着波形の圧力ピーク値に対する数十％値として決定した値を用いることができる。また、サンプリング期間ＴＳは、例えば、圧力Ｐが所定の基準圧力値Ｐａになった時間ｔａをサンプリング基準時間ｔａとして、その前の期間ＴＳａ及びその後の期間ＴＳｂとで規定される期間ＴＳとして設定することができる。その前の期間ＴＳａ及びその後の期間ＴＳｂは、上記サンプリング基準時間ｔａを基準として圧着良否判別上有効な圧着波形が現れる期間として実験的に或は経験的に判断された値を用いることができる。もっとも、圧力波形の有無及びサンプリング期間の設定は、上記例に限られない。例えば、一定の圧力範囲内でサンプリングしてもよいし、端子圧着機構装置２０における圧着動作に連動して所定期間内でサンプリングしてもよい。もっとも、圧力波形の変化に応じてサンプリングを行うことで、端子圧着機構装置２０からの動作信号を受けることなくサンプリングを行うことができ、構成の簡易化を図ることができる。
【００４６】
ステップＳ１終了後、端子圧着状態良否判別装置３０は、ステップＳ２において、２回目の圧着波形ＰＷＳ２をサンプリングする。圧着波形ＰＷＳ２の有無及びサンプリング期間ＴＳは、上記と同様に判断或は設定することができる。
【００４７】
なお、端子圧着機構装置２０における１回目の端子圧着と２回目の端子圧着との間隔、つまり、１回目の圧着波形ＰＷＳ１と２回目の圧着波形ＰＷＳ２との間隔Ｔ１は、後述する所定期間である基準圧着間隔Ｔ２よりも小さくなるように、設定されている。
【００４８】
ステップＳ２終了後、端子圧着状態良否判別装置３０は、ステップＳ３において、ステップＳ１においてサンプリングされた圧着波形ＰＷＳ１を第１基準波形ＰＷｂ１に設定すると共に、ステップＳ２においてサンプリングされた圧着波形ＰＷＳ２を第２基準波形ＰＷｂ２に設定して、それぞれ外部記憶装置３５に記憶させる。この後、基準波形生成処理を終了する。
【００４９】
図６は、圧着波形例を示す図である。同図において、１回目の圧着波形ＰＷＳ１例を実線で、２回目の圧着波形ＰＷＳ２例を破線で示している。同図に示すように、２回目の圧着波形ＰＷＳ２例では、１回目の圧着波形ＰＷＳ１例よりも、凹凸の変化差が大きいことがわかる。この原因は、１回目の圧着時の振動影響が、２回目の圧着時に影響を及しているからであると想定される。そこで、後述するように、実際の連続的な端子圧着処理においても、処理開始後の１回目の圧着に関しては、１回目の圧着波形ＰＷＳ１を基準波形ＰＷｂ１として用いて良否判別を行い、２回目以降の圧着に関しては、２回目の圧着波形ＰＷＳ２を基準波形ＰＷｂ１として用いて良否判別を行うことで、周辺振動環境に応じた適切な基準波形ＰＷｂ１，ＰＷｂ２によって適切な良否判別を行うことができる。
【００５０】
なお、上記第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂは、端子１４の種類及び電線１２の種類等で特定される端子加工条件に対する圧着良否判別基準として用いられることが好ましい。このため、端子１４の種類及び電線１２の種類等の端子加工条件が変った場合には、新たに別の第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂをサンプリングすることが好ましい。もっとも、端子１４の種類及び電線１２の種類変更が、検出されるべき圧力波形に影響を与えない或はあまり影響を与えない程度の変更である場合には、同一の第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂを圧着良否判別基準として用いてもよい。
【００５１】
また、上記基準波形生成処理は端子１４の圧着処理を行う度に必ず行う必要はない。例えば、既に行った基準波形生成処理により、特定の端子１４及び特定の電線１２に関して、第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂ２が得られている場合には、当該第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂ２を用いて後述する端子１４の圧着状態良否判別を行ってもよい。
【００５２】
＜３．２．端子の圧着良否判別処理＞
端子圧着状態良否判別装置３０は、基本的には、第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂのうちの一つと圧力波形とに基づいて、端子１４の圧着良否判別を行い、かつ、連続的な端子圧着処理の途中で、基準として用いる第１基準波形ＰＷｂ１及び第２基準波形ＰＷｂを変更する処理を実行する。
【００５３】
この端子１４の圧着良否判別処理について、図７に示すフローチャートを用いてより具体的に説明する。
【００５４】
すなわち、利用者等が、端子圧着機構装置２０に連続的な端子圧着開始指示を与えると共に、端子圧着状態良否判別装置３０に圧着良否判別処理開始指示を与える。すると、圧力検出部２４で検出された圧力波形が圧力波形入力回路部３６を通じて入力される。この際の圧力波形は、図８に示すように、圧着波形ＰＷ（１），ＰＷ（２），ＰＷ（３）・・・ＰＷ（ｎ−１），ＰＷ（ｎ），ＰＷ（ｎ＋１）・・・が、間隔をあけて連続的に連なる波形として観測される。
【００５５】
端子圧着状態良否判別装置３０は、圧着良否判別処理開始指示を受付けると、ステップＳ１１において、圧着波形ＰＷ（Ｎ）（Ｎは自然数）有りと判断すると、圧着波形ＰＷ（Ｎ）のサンプリングを行い、その後、ステップＳ１２に進む。圧着波形ＰＷ（Ｎ）の有無及びサンプリング期間は、上記基準波形生成処理の場合と同様に判断或は設定すればよい。
【００５６】
ステップＳ１２では、前回圧着波形取得からの経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２以上であるか否か（或は基準圧着間隔Ｔ２よりも大きいか否か）を判断する。経過期間ＴＰは、端子１４の圧着間隔として求められる期間であり、例えば、次のようにして求められる期間である。
【００５７】
すなわち、上記したように圧着波形ＰＷ（Ｎ）のサンプリングを行うので、サンプリング基準時間ｔａを、経過時間ＴＰを求める際の基準時間として考える。つまり、時間的に連続する圧着波形ＰＷ（Ｎ）間で、時間ｔａの差を、端子１４の圧着間隔である経過期間ＴＰとして求める。なお、完全な初期状態からの圧着開始時、つまり、前回の基準時間ｔａの実際の値が不存在である場合には、経過期間ＴＰは、Ｔ３（Ｔ３＞Ｔ２である値）として設定されるようにしておけばよい。
【００５８】
もっとも、経過期間ＴＰは、上記例に限らず、圧着波形ＰＷ（Ｎ）が圧力のピーク値を呈する時間差、或は、端子圧着機構装置２０における圧着タイミングを示す信号の出力時間の差等に基づいて求めることもできる。ただし、圧力波形に基づいて経過期間ＴＰを求めることで、端子圧着機構装置２０からの動作信号を受けることなく経過期間ＴＰを求めることができ、構成の簡易化を図ることができる。
【００５９】
また、基準圧着間隔Ｔ２は、連続的に端子１４を圧着する場合に、前回の端子１４の圧着による振動影響が、次回の端子１４の圧着における圧力波形に大きな影響を与えないと考えられる時間であり、実験的或は経験的に設定される値である。
【００６０】
つまり、このステップＳ１２では、端子１４の圧着間隔である経過期間ＴＰが基準圧着間隔Ｔ２以上であるときに、１回目の端子１４の圧着が行われたと判断し、経過期間ＴＰが基準圧着間隔Ｔ２よりも小さいときに、連続的な端子１４の圧着作業における２回目以降の端子圧着が行われたと判断している。
【００６１】
ステップＳ１２において、経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２以上であると判断されるとステップＳ１３に進み、経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２以上ではないと判断されると、ステップＳ１６に進む。
【００６２】
ステップＳ１３では、端子圧着状態良否判別装置３０は、ステップＳ１１でサンプリングされた圧着波形ＰＷ（Ｎ）と第１基準波形ＰＷｂ１とを比較する処理を実行する。圧着波形ＰＷ（Ｎ）と第１基準波形ＰＷｂ１との比較は、例えば、所定時間区間での傾き比較、所定時間区間での上限値及び下限値の差比較、圧力ピーク値の比較、両波形の近似度合の算出（例えば相関係数の算出等）等により行われる。この後ステップＳ１４に進む。
【００６３】
ステップＳ１４では、ステップＳ１３での比較結果を、所定のしきい値等と比較することで、端子１４の良否判別を行い、良品であると判断されると、ステップＳ１５に進む。ステップＳ１５では、端子圧着を行う生産継続を続行する旨、端子圧着機構装置２０に指示し、その後、ステップＳ１１に戻り、続いてサンプリングされる圧着波形ＰＷ（Ｎ）に対して、ステップＳ１１以下の処理を繰返す。一方、ステップＳ１４において、不良であると判断されると、ステップＳ１８に進む。
【００６４】
ステップＳ１８では、表示部３９に不良表示である旨を表示すると共に、端子圧着をエラー停止させる旨の信号を端子圧着機構装置２０に与える。これにより、端子圧着機構装置２０による端子１４の圧着処理は一時的に停止される。この後、ステップＳ１９に進む。
【００６５】
ステップＳ１９では、入力部３８等を通じた確認リセット指示の入力の有無が判断され、入力無しと判断されるとステップＳ１９の処理を繰返し、入力有りと判断されるとステップＳ１５に進む。すなわち、利用者が、端子１４の圧着の不良を認識して、当該不良品の排除、端子圧着機構装置２０の状態確認等を行った後、確認リセット指示を入力すると、ステップＳ１９からステップＳ１５に進み、端子圧着処理が再開される。
【００６６】
また、ステップＳ１２において、経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２以上ではないと判断された場合のステップＳ１６では、端子圧着状態良否判別装置３０は、ステップＳ１１でサンプリングされた圧着波形ＰＷ（Ｎ）と第２基準波形ＰＷｂ２とを比較する処理を実行する。ここでの比較は、ステップＳ１３の場合と同様に行うことができる。この後ステップＳ１７に進む。
【００６７】
ステップＳ１７では、ステップＳ１６での比較結果に基づいて、端子１４の良否判別を行い、良品であると判断されると、ステップＳ１５に進み、端子圧着を続行する。一方、本ステップＳ１７において、不良であると判断されると、ステップＳ１８に進む。そして、ステップＳ１８からステップＳ１９を経てステップＳ１５に進むことで、端子圧着を停止した後、端子圧着処理を再開する。
【００６８】
上記判別処理においては、連続的な端子１４の圧着開始後１回目の端子圧着については第１基準波形ＰＷｂ１を用いて良否判別を行い、連続的な端子１４の圧着開始後２回目以降の端子圧着については第２基準波形ＰＷｂ２を用いて良否判別を行うことになる。つまり、連続的な端子圧着処理の途中、より具体的には、連続的な端子圧着開始後１回目の圧着と２回目以降の圧着との間で圧着良否判別基準である第１基準波形ＰＷｂ１を第２基準波形ＰＷｂ２に変更している。
【００６９】
端子圧着状態良否判別装置３０の圧着良否判別処理の実際の動作について、図８を参照して説明する。
【００７０】
まず、連続的な端子１４の圧着処理開始後、最初の圧着波形ＰＷ（１）がサンプリングされると、この圧着波形ＰＷ（１）と第１基準波形ＰＷｂ１とを比較することで、良否判別が行われる。
【００７１】
この後、基準圧着間隔Ｔ２よりも小さい経過期間ＴＰａの間隔をあけて圧着波形ＰＷ（２）がサンプリングされると、判別基準が第１基準波形ＰＷｂ１から第２基準波形ＰＷｂ２に変更され、圧着波形ＰＷ（２）と第２基準波形ＰＷｂ２とを比較することで、良否判別が行われる。
【００７２】
続いて、同じく基準圧着間隔Ｔ２よりも小さい経過期間ＴＰａの間隔をあけて圧着波形ＰＷ（３）・・・が順次サンプリングされ、これらについても第２基準波形ＰＷｂ２と比較することで、良否判別が行われる。
【００７３】
（ｎ−１）回目の圧着終了後、一時停止した後、端子１４の圧着が再開された場合、（ｎ）回目の圧着波形ＰＷ（ｎ）がサンプリングされる。この場合、（ｎ−１）回目の圧着波形ＰＷ（ｎ−１）と（ｎ）回目の圧着波形ＰＷ（ｎ）との間隔である経過期間ＴＰｂは、上記一時停止していた期間分長く、経過期間ＴＰｂは基準圧着間隔Ｔ２以上であるとする。
【００７４】
すると、再度、判別基準が第２基準波形ＰＷｂ２から第１基準波形ＰＷｂ１に変更され、圧着波形ＰＷ（ｎ）と第１基準波形ＰＷｂ１とを比較することで、良否判別が行われる。
【００７５】
この後、基準圧着間隔Ｔ２よりも小さい経過期間ＴＰａの間隔をあけて圧着波形ＰＷ（ｎ＋１）がサンプリングされると、判別基準が再度第１基準波形ＰＷｂ１から第２基準波形ＰＷｂ２に変更され、圧着波形ＰＷ（ｎ＋１）と第２基準波形ＰＷｂ２とを比較することで、良否判別が行われ、以下、同様にして判別処理が行われる。
【００７６】
以上のように構成された端子圧着状態良否判別装置、端子圧着各装置、端子圧着状態良否判別方法及び端子圧着状態良否判別プログラムによると、端子１４の種類及び電線１２の種類等の圧着加工条件が同じ場合でも、連続的な端子１４の圧着処理の途中で、圧着良否判別基準としての第１基準波形ＰＷｂ１，第２基準波形ＰＷｂ２を変更する。このため、周辺振動環境の変動に応じて適切な基準である第１基準波形ＰＷｂ１或は第２基準波形ＰＷｂ２を用いて、圧着良否判別を行うことができる。これにより、周辺振動環境の影響をなるべく排除して、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００７７】
特に、圧着良否判別基準として実際の周辺振動環境の変動に応じてサンプリングされた圧着波形に基づく第１基準波形ＰＷｂ１，第２基準波形ＰＷｂ２を用いるため、周辺振動環境を適切に反映させた基準で、精度よく圧着良否判別を行うことができる。
【００７８】
ところで、端子圧着によって振動が生じるため、連続的な端子１４の圧着開始後２回目以降では、前回の圧着による振動影響が大きい。そこで、連続的な端子１４の圧着開始後１回目の端子１４の圧着と、２回目以降の端子１４の圧着との間で、基準である第１基準波形ＰＷｂ１，第２基準波形ＰＷｂ２を変更することで、周辺振動環境の変動の変り目になると予測される適切なタイミングで、第１基準波形ＰＷｂ１，第２基準波形ＰＷｂ２を変更することができる。
【００７９】
上記の場合、通常、端子１４を圧着した後、しばらくは振動による影響が大きく、ある程度の時間が経過すれば、振動は減衰するのでその圧着による振動影響は少なくなる。そこで、端子１４の圧着間隔である経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２以上であるときに１回目の端子１４の圧着が行われたと判断し、経過期間ＴＰが所定の基準圧着間隔Ｔ２よりも小さいときに２回目以降の端子１４の圧着が行われたと判断すれば、前回の振動影響の減衰を適切に考慮したタイミングで、第１基準波形ＰＷｂ１，第２基準波形ＰＷｂ２を変更することができる。
【００８０】
｛変形例｝
なお、上記実施形態では、連続的に端子１４を圧着する際において、圧着開始後１回目と２回目以降との間で、圧着良否判別基準を変更しているが、必ずしもその必要はない。例えば、端子圧着機構装置２０の端子供給機構部２８の動作状況（動作の有無等）及び電線処理機構部２９の動作状況（動作の有無）等に応じて、別々の圧着良否判別基準を作成しておき、当該端子供給機構２８及び電線処理機構部２９の動作状況に応じて、圧着良否判別基準を変更してもよい。この場合、端子供給機構２８及び電線処理機構部２９からそれらの動作状況を示す信号を端子圧着状態良否判別装置３０に入力し、端子圧着状態良否判別装置３０において当該動作状況を示す信号に基づいて圧着良否判別基準を変更するタイミングを決定すればよい。
【００８１】
また、連続的な圧着波形が周期的に変動することが予測或は観察されている場合等には、周期的に圧着良否判別基準を変更してもよい。
【００８２】
要するに、圧着良否判別基準に影響を与える端子圧着を行う動作に関連して、圧着良否判別基準を変更すればよい。
【００８３】
また、上記実施形態では、電線１２の一端部に端子１４を圧着する例で説明したが、電線の両端に端子を圧着する構成であってもよい。この場合、電線１２の一端部に対する端子１４の圧着良否判別については、電線１２の他端部に対する端子１４の圧着動作状況に応じて、圧着良否判別基準を変更してもよい。
【００８４】
また、上記では、圧着良否判別基準として、サンプリングされた圧着波形に基づく基準波形を用いたが必ずしもその必要はない。圧着良否判別基準は、それぞれの振動環境条件に応じて推測された基準値或は推測された関数曲線等として設定されていてもよい。
【００８５】
なお、上記実施形態及び各変形例で説明した各構成は、相互に矛盾しない限り適宜組合わせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】実施形態に係る端子圧着加工装置を示す概略正面図である。
【図２】端子圧着機構装置を示す概略側面図である。
【図３】端子圧着状態良否判別装置を示すブロック図である。
【図４】基準波形生成処理を示すフローチャートである。
【図５】圧着波形の例を示す図である。
【図６】１回目の圧着波形例と２回目の圧着波形例とを示す図である。
【図７】端子の圧着良否判別処理を示すフローチャートである。
【図８】連続的な端子圧着加工中に現れる圧着波形例を示す図である。
【符号の説明】
【００８７】
１０  端子圧着加工装置
１２  電線
１４  端子
２０  端子圧着機構装置
２２，２５  圧着型
２４  圧力検出部
２６  圧着駆動部
３０  端子圧着状態良否判別装置
３２  ＣＰＵ
３５  外部記憶装置
３５ａ  判別プログラム
３６  圧力波形入力回路部
３８  入力部
３９  表示部
ＰＷｂ１  第１基準波形
ＰＷｂ２  第２基準波形
Ｔ２  基準圧着間隔
ＴＰ，ＴＰａ，ＴＰｂ  経過期間
【図１】
2010033804.tif 000003
【図２】
2010033804.tif 000004
【図３】
2010033804.tif 000005
【図４】
2010033804.tif 000006
【図５】
2010033804.tif 000007
【図６】
2010033804.tif 000008
【図７】
2010033804.tif 000009
【図８】
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