(57)【要約】【課題】互いに異なる２つ以上の信号域での感度特性の違いに起因した画質の劣化を抑えることができる断層撮影装置を提供することを目的とする。【解決手段】高信号域での高信号域投影像High[i]および低信号域での低信号域投影像Low[i]から、低信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布から高信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布へ変換するための分布差異パラメータLtoH[i]を求める。この分布差異パラメータLtoH[i] を用いて、低信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]を、高信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]’に変換する。したがって、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とで異なった感度特性を持っている場合でも、高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i] を取得するだけで、高信号域・低信号域の感度特性の違いに起因した画質の劣化を抑えることができる。【選択図】図２
2010124890.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
断層撮影による断層画像を取得する断層撮影装置であって、互いに異なる２つ以上の信号域における各投影値から投影値の分布の差異を分布差異物理量として求める分布差異物理量算出手段と、その分布差異物理量算出手段で求められた分布差異物理量を用いて、ある信号域における感度特性の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、別の信号域における感度特性の影響を受けたデータに変換するデータ変換手段とを備え、そのデータ変換手段によって変換されたデータに基づいて断層画像を取得することを特徴とする断層撮影装置。
【請求項２】
請求項１に記載の断層撮影装置において、前記分布差異物理量算出手段は、互いに異なる２つの信号域のうち低信号域での感度特性の影響を受けた投影値の分布から高信号域での感度特性の影響を受けた投影値の分布へ変換するための前記分布差異物理量を求め、その分布差異物理量算出手段で求められた分布差異物理量を用いて、前記低信号域における感度特性の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、前記高信号域における感度特性の影響を受けたデータに前記データ変換手段は変換することを特徴とする断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＣＴ装置やＣ型アーム装置などに用いられる断層撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図７に、コーンビーム再構成におけるＣ型アーム装置を示す。Ｘ線管１０１から照射されたＸ線は、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）などに代表されるＸ線検出器１０２で検出される。途中、Ｘ線は天板（ベッド）に載置された被検体Ｍを透過して減弱し、また被検体Ｍや天板によってＸ線が散乱して散乱線も発生する。Ｘ線検出器１０２の手前に設置されたＸ線グリッドに散乱線とともに減弱されたＸ線が透過することで、散乱線を低減させる。ＣＴデータ収集では、Ｃ型アーム１０４を回転させながら半周以上にわたって投影像を収集する。
【０００３】
断層像を作成する再構成処理では、収集した投影像データを被検体による透過長データに変換して処理したのち、断層画像を得る。収集した投影像データから被検体による透過長データを算出する際に、事前に収集済みの、被検体がない状態での投影信号像（以下、減弱前信号データという）からの信号減弱量を算出し、透過長量を求めることになる。通常、減弱前信号データは、ノイズ低減のため、十分なフレーム数だけ平均して得られる。
【０００４】
コーンビームＣＴでは、一度に多くの断層面を再構成するので、通常のＣＴ装置と比べ、散乱線の影響が大きい。上述したＸ線グリッドは、多数の薄い板状のＸ線吸収箔（グリッド箔）に対して隙間を空けて配置させたもので、多くの散乱線を低減させるが、グリッド箔が存在することにより直接線も多少遮られる。特に、グリッド箔が投影像上の水平方向または垂直方向に配置される場合には、Ｘ線検出器の画素間隔とグリッド箔間隔との条件によってはグリッド箔の影が投影像上にくっきりと現れる。
【０００５】
通常、このグリッド箔の影があると、得られた画像から診断するのに支障があるので、影を除去する処理を行う。しかし、実際には、投影像上では除去されているように見えるが、断層画像の再構成処理などでは除去しきれないグリッド箔の影が断層画像に対して影響を及ぼすことがある。
【０００６】
特に、Ｃ型アーム装置では、専用機であるＣＴ装置（被検体の体軸周りを囲むガントリ内にＸ線管とＸ線検出器とを配設して、Ｘ線管およびＸ線検出器をガントリ内で被検体の体軸周りに回転させるＣＴ装置）に比べ、Ｃ型アームの両端に重量があるＸ線管とＸ線検出器とを保持しているので、回転位置により重量によるＣ型アームのたわみなどの影響を受け易い。具体的には、回転しているＣ型アームの位置（すなわち収集角度位置）に応じて、Ｘ線検出器面に対するＸ線管の相対位置が重量によって変化する。そのため、グリッド箔の影の位置も、収集角度位置に応じて変化し、被検体を何も透過していないときの減弱前信号は収集角度位置に応じて変化する。しかし、これらの変化を無視して、減弱前信号データを平均することにより求めて画像再構成処理を行うと、偽像が発生し、断層画像（再構成画像）の画質は低下する。
【０００７】
偽像発生を防ぐために、被検体があるときのＣＴデータ収集と同様に、被検体なしのときでもＣ型アームを回転させながら収集角度位置ごとの減弱前信号データをそれぞれ収集する。これらの収集された収集角度位置ごとの減弱前信号データを基準として、被検体による減弱と透過の水透過長に変換（水長さ変換）して、再構成処理を行って断層画像（再構成画像）を取得する（図３を参照）。この手法では、Ｃ型アームのたわみや、それによる変化を考慮して画像再構成を行っているので、たわみによって発生する偽像を低減させることができる。
【０００８】
一般に、Ｘ線検出器上の全て検出画素において、入力Ｘ線に対する検出値割合である感度特性は同じとは限らない。検出物質の厚み、Ｘ線エネルギー、増幅率などが関連する。そこで、入射Ｘ線が一定と考えられる条件における投影像（通常は、被検体なしの投影データ）を予め取得し、このときのデータのバラツキが均一になるような補正を行う。ここでは、この補正処理を「感度補正」と呼ぶ。
【０００９】
Ｘ線検出器は、信号域に関わらず、同一の感度特性を持つことが理想である。しかし、ある中間的な信号域（以下、「検出器特定信号域」という）を境に高信号域と低信号域とに区分けされ、その高信号域と低信号域とで異なった感度特性を持っている場合、そのような境が複数存在する場合、または境がはっきり存在せずに感度特性が徐々に変化する場合がある。
【００１０】
例えば、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とで互いに異なった感度特性をもっているＸ線検出器を用いている場合、上述した収集角度位置ごとの減弱前信号データを用いてＣＴデータの減弱を求めようとすると以下のような問題が発生する。すなわち、減弱前信号データは、被検体を透過しない信号値（つまり減弱前の高い信号値）を有し、高信号域であるので、高信号域での感度補正がされなければならない。一方、被検体を透過した信号値（つまり減弱後の低い信号値）は低信号域であり、低信号域における感度補正が行わなければならないが、異なる高信号域での感度補正がされ、感度補正はうまく働かない。
【００１１】
低信号域における感度補正がされなければならないところに対し、感度特性の違いを考慮せず、減弱を求めたため、ある厚み以上での被検体領域では検出器特定信号域よりも低い信号になり、特に再構成画像のある厚み以上の中心部において偽像が発生する。したがって、被検体について特に診たい箇所で画質が劣化するという欠点がある。
【００１２】
この課題を解決するために、上述した収集角度位置ごとの減弱前信号データを収集する際、線量を減らしたＸ線を照射して、検出信号としては低信号域で収集する方法が考えられる。この場合、低信号域レベルで感度補正がされるので、同じ低信号域であるＣＴデータについて、適切な感度補正がされることになる。したがって、被検体について特に診たい箇所（表層部以外の箇所）で偽像が発生して画質が劣化するという欠点を回避することができる。被検体表層部では感度補正はうまく働かないが、表層部に関心領域は少ないのであまり問題にはならない。しかし、低信号域でのデータ収集では、信号が小さくなり相対的にノイズが増大するので、このデータを用いて減弱量（減弱データ）を算出することで、ノイズの影響から却って画質が劣化する恐れがある。
【００１３】
この増大するノイズを相対的に減らすには、収集するデータ数を増やす方法がある。しかし、例えば、Ｃ型アームをゆっくりと回転させ、その間にデータを多く収集する方法は、通常の回転速度でのＣＴデータ収集と比べＣ型アームの回転速度が異なるので、通常の回転速度でのＣＴデータ収集で発生する現象とは異なり、補正には使えない恐れがある。また、通常の回転速度でのＣＴデータ収集と同じようにＣ型アームを回転させるためには、必要回数分だけデータ収集を行わなければならず、データ収集が完了するまでの操作時間が長く、手間がかかり大変である。
【００１４】
さらに、検出器感度特性の線形性を補正した後に減弱データを求めＣＴ再構成を行う方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００６−２６４１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら、上述した特許文献１のような方法の場合には、線形性を補正するためのデータ取得には、管電圧条件ごと、かつ取得信号全体をカバーする種々のデータ収集が必要で手間がかかる。
【００１６】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、互いに異なる２つ以上の信号域に起因した画質の劣化を抑えることができる断層撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、断層撮影による断層画像を取得する断層撮影装置であって、互いに異なる２つ以上の信号域における各投影値から投影値の分布の差異を分布差異物理量として求める分布差異物理量算出手段と、その分布差異物理量算出手段で求められた分布差異物理量を用いて、ある信号域における感度特性の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、別の信号域における感度特性の影響を受けたデータに変換するデータ変換手段とを備え、そのデータ変換手段によって変換されたデータに基づいて断層画像を取得することを特徴とするものである。
【００１８】
［作用・効果］請求項１に記載の発明によれば、分布差異物理量算出手段は、互いに異なる２つ以上の信号域における各投影値から投影値の分布の差異を分布差異物理量として求める。その分布差異物理量算出手段で求められた分布差異物理量を用いて、ある信号域における感度特性の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、別の信号域における感度特性の影響を受けたデータにデータ変換手段は変換する。したがって、互いに異なる２つ以上の信号域において異なった感度特性を持っている場合でも、該当する信号域での投影値を取得するだけで、互いに異なる２つ以上の信号域に起因した画質の劣化を抑えることができる。
【００１９】
互いに異なる２つ以上の信号域が、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とに区分けされる場合には、上述した発明の一例では、分布差異物理量算出手段は下記のように分布差異物理量を求め、データ変換手段は下記のようにデータを変換する。すなわち、分布差異物理量算出手段は、互いに異なる２つの信号域のうち低信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布から高信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布へ変換するための分布差異物理量を求める。その分布差異物理量算出手段で求められた分布差異物理量を用いて、低信号域における感度特性の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、高信号域における感度特性の影響を受けたデータにデータ変換手段は変換する。したがって、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とで異なった感度特性を持っている場合でも、２つの信号域での投影値を取得するだけで、高信号域・低信号域に起因した画質の劣化を抑えることができる。例えば、被検体の表層部以外での画質の劣化を抑えることができる。
【発明の効果】
【００２０】
この発明に係る断層撮影装置によれば、互いに異なる２つ以上の信号域において異なった感度特性を持っている場合でも、該当する信号域での投影値を取得するだけで、互いに異なる２つ以上の信号域に起因した画質の劣化を抑えることができる。
【実施例】
【００２１】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＣ型アーム装置の概略図およびブロック図であり、図２は、実施例に係るＣ型アーム装置における各データのフローを併記したブロック図であり、図３は、図２との比較のための従来の各データのフローを併記したブロック図であり、図４は、実施例に係る一連の処理を示すフローチャートである。
【００２２】
図１に示すように、本実施例に係るＣ型アーム装置は、Ｘ線を照射するＸ線管１と、Ｘ線管１から照射されて被検体Ｍなどを透過したＸ線を検出するＸ線検出器２と、Ｘ線検出器２で検出されたＸ線の検出信号に基づいて各種の演算処理を行う演算処理部３と、Ｘ線管１・Ｘ線検出器２を保持するＣ型アーム４とを備えている。図１では、Ｘ線グリッドの図示を省略している。Ｘ線管１とＸ線検出器２とをＣ型アーム４の両端でそれぞれ保持して、被検体Ｍの周りをＣ型アーム４が回転することで、Ｃ型アーム４にそれぞれ保持されたＸ線管１およびＸ線検出器２が被検体Ｍの周りを回転する。
【００２３】
Ｘ線検出器２は、Ｘ線管１から照射されて被検体Ｍを透過して検出面に入射されたＸ線を電荷信号に変換し、さらに電荷信号を電気信号（検出信号）に変換してその値を収集することでＸ線を検出する。本実施例では、Ｃ型アーム４を静止させた状態で検出された高信号域での被検体なしの検出信号を、高信号域投影像High[i]としてＸ線検出器２から収集するとともに、同じくＣ型アーム４を静止させた状態で検出された低信号域での被検体なしの検出信号を、低信号域投影像Low[i]としてＸ線検出器２から収集する。また、被検体Ｍなしの状態で、ＣＴデータを収集するのと同じようにＣ型アーム４を回転させながら検出された被検体なしの検出信号を、減弱前信号データP0[i][j]としてＸ線検出器２から収集し、Ｃ型アーム４を回転させながら検出された被検体Ｍありの検出信号を、通常のＣＴデータCT[i][j]としてＸ線検出器２から収集する。なお、ｉは、検出画素のインデックスを示し、Ｍ個の検出画素でＸ線検出器２が構成されている場合には、ｉ＝１，２，３，…，Ｍとなる。jは、投影角度のインデックスを示し、J個の投影角度で収集されている場合には、j＝１，２，３，…，Jとなる。
【００２４】
演算処理部３は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。演算処理部３は、分布差異パラメータ算出部３１と減弱量算出部３２とデータ変換部３３と水長さ変換部３４と再構成処理部３５とを備えている。図３における従来のブロック図で後述するように、本実施例では、演算処理部３は、分布差異パラメータ算出部３１とデータ変換部３３とを新たに備えている点が特徴部分である。
【００２５】
分布差異パラメータ算出部３１は、上述したＸ線検出器２で収集された高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i]から投影値の分布の差異を分布差異パラメータLtoH[i]として求める。つまり、低信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布から高信号域における感度特性の影響を受けた投影値の分布へ変換するための分布差異パラメータLtoH[i]を求める。分布差異パラメータは、この発明における分布差異物理量に相当する。
【００２６】
減弱量算出部３２は、透過前および透過後のＸ線の検出信号比である減弱量（減弱データ）を求める。本実施例では、上述したＸ線検出器２で収集された透過前の検出信号である減弱前信号データP0[i][j]で透過後の検出信号であるＣＴデータCT[i][j]を除算する。減弱データをAtt[i][j]とすると、CT[i][j]/ P0[i][j]で表される。
【００２７】
データ変換部３３は、低信号域における感度補正の影響を受けた減弱データあるいは投影データを、高信号域における感度補正の影響を受けたデータに変換する。本実施例では、減弱量算出部３２で求められた低信号域における感度補正の影響を受けた減弱データAtt[i][j]を、高信号域における感度補正の影響を受けた減弱データAtt[i][j]’に変換する場合を例に採って説明する。
【００２８】
水長さ変換部３４は、データ変換部３３で変換された減弱データAtt[i][j]’ から断層撮影で必要とする透過物質である水の透過長に変換して求める。再構成処理部３５は、水長さ変換部３４で変換された水の透過長に基づいて再構成処理を行って断層画像（再構成画像）を取得する。
【００２９】
分布差異パラメータ算出部３１は、この発明における分布差異物理量算出手段に相当し、データ変換部３３は、この発明におけるデータ変換手段に相当する。演算処理部３内の各構成の具体的な機能については図４のフローチャートで後述する。
【００３０】
次に、演算処理部３内の各構成の具体的な機能について図２、図４を参照して説明する。また、図２との比較のために従来の各データのフローについて、図３を参照して説明する。
【００３１】
（ステップＳ１）Ｃ型アームを静止させて収集
被検体を天板に載置しないでＣ型アーム４を静止させた状態でＸ線管１からＸ線を照射してＸ線検出器２で収集する。高信号域での被検体なしの検出信号を収集する場合には、通常のＣＴデータ収集と同じ程度の管電流、照射時間にして、Ｘ線管１からＸ線を照射する。低信号域での被検体なしの検出信号を収集する場合には、線量を減らしたＸ線を照射する。本実施例では、Ｘ線管１からＸ線を複数回分（例えば３０フレーム／秒で１秒間）にわたって照射して、その複数回分の検出信号をＸ線検出器２が収集して、その平均値を投影像として収集する。例えば、高信号域での被検体なしの検出信号を収集して、３０フレーム分の高信号域での被検体なしの検出信号の平均値を高信号域投影像High[i]として、低信号域での被検体なしの検出信号を収集して、３０フレーム分の低信号域での被検体なしの検出信号の平均値を低信号域投影像Low[i]とする。図２に示すように、高信号域投影像High[i] および低信号域投影像Low[i]を分布差異パラメータ算出部３１に送り込む。
【００３２】
なお、先に、高信号域での被検体なしの検出信号を収集するためにＸ線管１からＸ線を連続的に照射した後に、低信号域での被検体なしの検出信号を収集するためにＸ線管１からＸ線を連続的に照射してもよいし、逆に、低信号域での被検体なしの検出信号を収集するためにＸ線管１からＸ線を連続的に照射した後に、高信号域での被検体なしの検出信号を収集するためにＸ線管１からＸ線を連続的に照射してもよい。また、高信号域での被検体なしの検出信号と、低信号域での被検体なしの検出信号とを交互に収集するためにＸ線管１からＸ線を交互に連続的に照射してもよい。また、複数回分の高／低信号域での被検体なしの検出信号の平均値を投影像としたが、平均値に限定されず中央値（メディアン）などでもよい。したがって、複数回分の高／低信号域での被検体なしの検出信号の中央値を投影像としてもよい。
【００３３】
（ステップＳ２）分布差異パラメータの算出
分布差異パラメータ算出部３１は、Ｘ線検出器２で収集された高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i]から投影値の分布の差異を分布差異パラメータLtoH[i]として求める。具体的には、分布差異パラメータLtoH[i]は下記（１）式のように表される。
【００３４】
LtoH[i]=(High[i]/Low[i])*average(Low[i]/ High[i])          …（１）
ここで、average(x[i])は、x [i]の空間的な平均値を示す。したがって、average(x[i])=Σx [i]/M（x [1]〜x [M]の総和を検出画素の個数Ｍで除算したもの）でaverage(x[i])は表される。図２に示すように、分布差異パラメータLtoH[i]をデータ変換部３３に送り込む。
【００３５】
（ステップＳ３）被検体なしでＣ型アームを回転させて収集
被検体を天板に載置しないでＣ型アーム４を回転させながらＸ線管１からＸ線を照射してＸ線検出器２で収集する。被検体Ｍの周りをＣ型アーム４が回転することで、Ｃ型アーム４にそれぞれ保持されたＸ線管１およびＸ線検出器２が被検体Ｍの周りを回転しながらＸ線検出器２は被検体なしの検出信号を逐次に収集する。この被検体なしの検出信号が収集角度位置ごとの減弱前信号データP0[i][j]である。図２に示すように、この減弱前信号データP0[i][j]を減弱量算出部３２に送り込む。ノイズ低減を目的として、P0[i][j]のj方向に束ねたり、移動平均したりすることがある。
【００３６】
（ステップＳ４）被検体ありでＣ型アームを回転させて収集
通常のＣＴデータ収集を行う。すなわち、被検体Ｍを天板に載置させてＣ型アーム４を回転させながらＸ線管１からＸ線を照射してＸ線検出器２で収集する。被検体Ｍの周りをＣ型アーム４が回転することで、Ｃ型アーム４にそれぞれ保持されたＸ線管１およびＸ線検出器２が被検体Ｍの周りを回転しながらＸ線検出器２は被検体Ｍありの検出信号を逐次に収集する。この被検体Ｍありの検出信号が収集角度位置ごとの通常のＣＴデータCT[i][j]である。図２に示すように、このＣＴデータCT[i][j]を減弱量算出部３２に送り込む。
【００３７】
（ステップＳ５）減弱データの算出
減弱量算出部３２は、Ｘ線検出器２で収集された透過前の検出信号である減弱前信号データP0[i][j]で透過後の検出信号であるＣＴデータCT[i][j]を除算して、その除算で得られた値、すなわちCT[i][j]/P0[i][j]を減弱データAtt[i][j]として求める。図２に示すように、減弱データAtt[i][j]をデータ変換部３３に送り込む。
【００３８】
（ステップＳ６）データ変換
データ変換部３３は、分布差異パラメータ算出部３１で求められた分布差異パラメータLtoH[i]を用いて、減弱量算出部３２で求められた減弱データAtt[i][j]を減弱データAtt[i][j]’に変換する。変換後の減弱データAtt[i][j]’は下記（２）式のように表される。
【００３９】
Att[i][j]’= Att[i][j]*LtoH[i]                                    …（２）
上記（２）式によって低信号域で均一化される減弱データAtt[i][j]’に変換される。図２に示すように、変換後の減弱データAtt[i][j]’を水長さ変換部３４に送り込む。
【００４０】
この図２の説明からも明らかなように、従来では、図３に示すように、減弱量算出部１３２が減弱データAtt[i][j]を求めたら、その減弱データAtt[i][j]を水長さ変換部１３４に送り込んでいたのに対して、本実施例では、図２に示すように減弱量算出部３２が減弱データAtt[i][j]を求めたら、その減弱データAtt[i][j]をデータ変換部３３に送り込んで、低信号域で均一化される減弱データAtt[i][j]’にデータ変換部３３は変換する。そして、その変換後の減弱データAtt[i][j]’を水長さ変換部３４に送り込む。したがって、従来では、データ変換に用いられるための分布差異パラメータLtoH[i]や、データ変換という概念がない。言い換えれば、本実施例では、従来になかった分布差異パラメータ算出部３１とデータ変換部３３とを新たに備えている。
【００４１】
（ステップＳ７）水長さ変換・再構成処理
水長さ変換部３４は、データ変換部３３で変換された減弱データAtt[i][j]’から水の透過長に変換して求める。つまり、既知である水の線減弱係数に基づいて減弱データAtt[i][j]’をさらに補正して、その補正された減弱データに対応付けられた透過長を求める。具体的な水長さ変換については公知であるので、その説明を省略する。変換された水の透過長に基づいて再構成処理部３５は逆問題を解いて再構成処理を行い透過物質の分布を求めることで、断層画像（再構成画像）を取得する。具体的な再構成処理については公知であるので、その説明を省略する。
【００４２】
上述した本実施例に係るＣ型アーム装置によれば、分布差異パラメータ算出部３１は、互いに異なる２つ以上の信号域（本実施例では高信号域と低信号域）における各投影値（本実施例では高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i]）から投影値の分布の差異を分布差異パラメータとして求める。その分布差異パラメータ算出部３１で求められた分布差異パラメータを用いて、ある信号域（本実施例では低信号域）における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]を、別の信号域（本実施例では高信号域）における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]’にデータ変換部３３は変換する。したがって、互いに異なる２つ以上の信号域（高／低信号域）において異なった感度特性を持っている場合でも、該当する信号域での投影値（高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i]）を取得するだけで、互いに異なる２つ以上の信号域（高／低信号域）での異なる感度特性に起因した画質の劣化を抑えることができる。
【００４３】
本実施例のように、互いに異なる２つ以上の信号域が、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とに区分けされる場合には、分布差異パラメータ算出部３１は、互いに異なる２つの信号域のうち低信号域での投影値の分布から高信号域での投影値の分布へ変換するための分布差異パラメータLtoH[i]を求める。その分布差異パラメータ算出部３１で求められた分布差異パラメータLtoH[i] を用いて、低信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]を、高信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]’にデータ変換部３３は変換する。したがって、検出器特定信号域を境に高信号域と低信号域とで異なった感度特性を持っている場合でも、２つの信号域での投影値を示す高信号域投影像High[i]および低信号域投影像Low[i] を取得するだけで、高信号域・低信号域での感度特性の違いに起因した画質の劣化を抑えることができる。
【００４４】
低信号域で均一化される減弱データAtt[i][j]’に変換したことで、被検体Ｍの透過時における信号が正確になり、被検体Ｍの表層部以外（例えば関心領域である被検体Ｍの中央部）での偽像が低減する。一方、被検体Ｍの表層部では偽像が発生するが、関心領域は被検体Ｍの中央部であるので、問題はない。このように、被検体Ｍの表層部以外での画質の劣化を抑えることができる。
【００４５】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４６】
（１）上述した実施例では、全てのデータに対して、高信号域における感度特性の影響を受けるデータに変換したが、逆に、高信号域における感度特性の影響を受ける投影値の分布から低信号域における感度特性の影響を受ける投影値の分布へ変換するための分布差異パラメータ（分布差異物理量）を求め、その分布差異パラメータを用いて、高信号域における感度特性の影響を受ける減弱データあるいは投影データを、低信号域における感度特性の影響を受けるデータに変換してもよい。
【００４７】
（２）上述した実施例では、互いに異なる２つの信号域（実施例では高／低信号域）の場合を例に採って説明したが、互いに異なる２つ以上の信号域が対象であれば、この発明は、例えば境が複数存在して、互いに異なる３つ以上の信号域の場合に適用してもよい。したがって、境が２つ存在して、高信号域・中信号域・低信号域と３つの信号域の場合であってもよい。
【００４８】
（３）上述した実施例では、低信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]を、高信号域における感度特性の影響を受けた減弱データAtt[i][j]’に変換する場合（変換の対象が減弱データ）を例に採って説明したが、図６に示すように、変換の対象が投影データであってもよい。すなわち、ある信号域（図６では低信号域）投影データを、別の信号域（図６では高信号域）における感度特性の影響を受けた投影データに変換した後に、その投影データを用いて減弱データを求めてもよい。図６では、投影データは、減弱前信号データP0[i][j]であって、分布差異パラメータLtoH[i]を用いて、その減弱前信号データP0[i][j]を減弱前信号データP0[i][j]’にデータ変換部３３が変換して、その変換後の減弱前信号データP0[i][j]’を減弱前信号データP0[i][j]で除算して、減弱量算出部３２は減弱データAtt[i][j]を求める。求められた減弱データAtt[i][j]は既にデータ変換されているので、直接に水長さ変換部３４に送り込めばよい。
【００４９】
（４）上述した実施例では、断層撮影装置はＣ型アーム装置であったが、この発明は、専用機であるＸ線ＣＴ装置に適用してもよい。このように、この発明が適用される断層撮影装置については特に限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】実施例に係るＣ型アーム装置の概略図およびブロック図である。
【図２】実施例に係るＣ型アーム装置における各データのフローを併記したブロック図である。
【図３】図２との比較のための従来の各データのフローを併記したブロック図である。
【図４】実施例に係る一連の処理を示すフローチャートである。
【図５】低信号域と高信号域との間にゲインが徐々に変化する場合を模式的に示した図である。
【図６】変形例に係るＣ型アーム装置における各データのフローを併記したブロック図である。
【図７】Ｃ型アーム装置の概略図である。
【符号の説明】
【００５１】
３１  …  分布差異パラメータ算出部
３３  …  データ変換部
High[i]  …  高信号域投影像
Low[i]  …  低信号域投影像
LtoH[i]  …  分布差異パラメータ
P0[i][j]  …  減弱前信号データ
CT[i][j]  …  ＣＴデータ
Att[i][j]  …  減弱データ
Att[i][j]’  …  変換後の減弱データ
【図１】
2010124890.tif 000003
【図２】
2010124890.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2010124890.tif 000007
【図６】
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【図７】
2010124890.tif 000009