(57)【要約】【課題】磁気ヘッドの位置決めを高精度に行う。【解決手段】複数組のサーボパターンの転写品質を評価し（ステップＳ１１）、その結果に基づいて、磁気ディスクのゾーンごとに位置決めに使用するサーボパターン組（最良サーボパターン）を選択する（ステップＳ１２）ことから、サーボパターンの歩留まりを高くすることができる。このため、当該サーボパターンを用いて磁気ヘッドの位置決めを行うことにより、磁気ヘッドの位置決め精度を向上することが可能となる。【選択図】図４
2010108557.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気記憶媒体に設けられた複数組のサーボパターンの品質を、磁気ヘッドによる前記サーボパターンの検出結果を用いて評価する評価工程と、
前記評価結果から、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに、前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組を選択する選択工程と、を含み、
前記磁気ヘッドの位置決めには、前記選択工程で選択されたサーボパターンの組を用いることを特徴とする磁気ヘッドの位置決め方法。
【請求項２】
前記選択工程では、前記磁気記憶媒体のトラックごと、又はゾーンごとに前記サーボパターンの組を選択することを特徴とする請求項１に記載の磁気ヘッドの位置決め方法。
【請求項３】
前記選択工程の後、前記選択されたサーボパターンの組を再度評価して、不良サーボパターンを検出する不良検出工程と、
前記不良サーボパターンごとに、前記選択工程で選択されなかったサーボパターン組のいずれかを代替サーボパターンに設定する代替工程と、を更に含み、
前記磁気ヘッドの位置決めには、前記不良サーボパターンに代えて、前記代替サーボパターンを用いることを特徴とする請求項１又は２に記載の磁気ヘッドの位置決め方法。
【請求項４】
前記代替工程では、同一トラック上で隣接する前記磁気ヘッドの位置決めに用いるサーボパターン間の間隔が、基準値以下となるように、前記代替サーボパターンを決定することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の磁気ヘッドの位置決め方法。
【請求項５】
磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドの位置決めに用いられる複数組のサーボパターンが設けられた磁気記憶媒体と、
前記磁気記憶媒体のサーボパターンの品質を評価し、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに、前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組を選択する品質評価・選択部と、
前記品質評価・選択部により選択されたサーボパターンの組を用いて、前記磁気ヘッドの位置決めを行う位置決め部と、を備える磁気記憶装置。
【請求項６】
前記品質評価・選択部は、前記磁気記憶媒体のトラックごと、又はゾーンごとに前記サーボパターンの組を選択することを特徴とする請求項５に記載の磁気記憶装置。
【請求項７】
前記品質評価・選択部による選択後、前記選択されたサーボパターンの組を評価して、不良サーボパターンを検出する不良検出部と、
前記検出された不良サーボパターンごとに、前記品質評価・選択部にて選択されなかったサーボパターンの組のいずれかを代替サーボパターンに設定する代替部と、を更に含み、
前記位置決め部は、前記不良サーボパターンと前記代替サーボパターンとを交換して、前記磁気ヘッドの位置決めを行うことを特徴とする請求項５又は６に記載の磁気記憶装置。
【請求項８】
前記代替部では、同一トラック上で隣接する前記磁気ヘッドの位置決めに用いるサーボパターン間の間隔が、基準値以下となるように、前記代替サーボパターンを決定することを特徴とする請求項５〜７のいずれか一項に記載の磁気記憶装置。
【請求項９】
磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドの位置決めに用いられる複数組のサーボパターンが設けられた磁気記憶媒体と、
前記磁気記憶媒体のサーボパターンの品質を評価した結果から選択される、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組の情報を保持する情報保持部と、
前記情報保持部に保持されている情報に基づいて、前記磁気ヘッドの位置決めを行う位置決め部と、を備える磁気記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ヘッドの位置決め方法及び磁気記憶装置に関し、特に磁気記憶媒体に対する磁気ヘッドの位置決め方法及び当該磁気ヘッドの位置決め方法の実施に好適な磁気記憶装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置（ハードディスク装置（ＨＤＤ））は、主として、情報を磁気的に記録する磁気ディスク（磁気記憶媒体）と、スピンドルモータによって回転駆動される磁気ディスクに対して情報を記録または再生する磁気ヘッドとを備えている。磁気ヘッドは、一定角度の範囲内を回転するヘッド・スタック・アッセンブリの先端部分に設けられている。
【０００３】
磁気ディスクには、磁気ヘッドと磁気ディスク上のトラックとの相対位置を検出するための位置情報（サーボ情報）が磁気的に記録されている。このサーボ情報を用いて位置決めされた磁気ヘッドは、磁気ディスクに対して情報（ユーザデータ）の記録を行う。サーボ情報は、媒体の半径方向に延伸したパターンで形成され、例えば、サーボクロックパターン、セクタマーク（ＳＭ）、トラッキング用パターン領域を含んでいる。
【０００４】
このサーボ情報の磁気ディスクに対する記録は、従来、サーボトラックライタ（ＳＴＷ）と呼ばれる装置を用いて行われていた。しかるに、ＳＴＷを用いると、例えば６０Ｇバイトの記録容量の磁気ディスクにサーボ情報を記録するのに３０分／枚程度の時間がかかってしまう。また、将来的には、トラック記録密度の増加に伴ってサーボ情報の記録処理に要する時間はさらに増大すると考えられる。
【０００５】
これに対し、最近では、サーボ情報の記録時間を短縮するための技術として、サーボ情報を磁気ディスクに磁気転写する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
この磁気転写方法では、クリーンルーム中で、サーボ情報に対応する凹凸が形成された転写マスタと磁気ディスクとを１枚１枚密着させてサーボ情報の転写を行う。このため、密着、解除を何度も繰り返すと、転写マスタと磁気ディスクとの間に塵埃（コンタミ）を巻き込み、磁気的なサーボ情報が正確に転写されない部分が生じ、いわゆる転写欠陥が生じる場合がある。また、このほかにも転写マスタ作製時のパターン欠陥、転写マスタと磁気ディスクとの密着不良による信号振幅の低下やパターンの欠陥、媒体の磁気特性ばらつきなど、磁気転写における不良要因が存在する場合がある。そこで、最近では、転写欠陥をできるだけなくし、歩留りを向上させるために、さまざまな欠陥検査方法が提案されている（例えば、特許文献２〜６等参照）。
【０００７】
【特許文献１】特開平１０−４０５４４号公報
【特許文献２】特開２００１−２４９０８０号公報
【特許文献３】特開２００１−１７６００１号公報
【特許文献４】特開２００２−７４６０１号公報
【特許文献５】特開２００１−２８３４３２号公報
【特許文献６】特開２００１−１６７４３４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記方法を用いても、不良セクタを皆無にすることは困難である。このため、１トラックに数個の不良セクタが存在する場合には、そのトラック全体の使用ができなくなり、当該不良トラックに代えて代替トラックが用意されることになる。
【０００９】
最近では、高ＴＰＩ化に伴って代替トラックを利用するケースが増えているが、予め用意されている代替トラックリストが一杯になると、その転写した媒体自体が不良品となり、磁気ヘッドの高精度な位置決めができなくなる。
【００１０】
そこで本発明は上記の課題に鑑みてなされたものであり、磁気ヘッドの位置決めを高精度に行うことが可能な磁気ヘッドの位置決め方法を提供することを目的とする。また、本発明は、磁気ヘッドによる情報記録及び再生を高精度に行うことが可能な磁気記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本明細書に記載の磁気ヘッドの位置決め方法は、磁気記憶媒体に設けられた複数組のサーボパターンの品質を、磁気ヘッドによる前記サーボパターンの検出結果を用いて評価する評価工程と、前記評価結果から、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに、前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組を選択する選択工程と、を含んでおり、前記磁気ヘッドの位置決めには、前記選択工程で選択されたサーボパターンの組を用いる磁気ヘッドの位置決め方法である。
【００１２】
これによれば、複数組のサーボパターンの品質を評価した結果に基づいて、位置決めに使用するサーボパターンの組を、磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに選択し、当該選択されたサーボパターンの組を用いて磁気ヘッドの位置決めを行うので、領域ごとに品質の良い（歩留まりの高い）サーボパターンを用いて磁気ヘッドの位置決めを行うことができる。これにより、磁気ヘッドの位置決めを高精度に行うことが可能となる。
【００１３】
本明細書に記載の第１の磁気記憶装置は、磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドの位置決めに用いられる複数組のサーボパターンが設けられた磁気記憶媒体と、前記磁気記憶媒体のサーボパターンの品質を評価し、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに、前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組を選択する品質評価・選択部と、前記品質評価・選択部により選択されたサーボパターンを用いて、前記磁気ヘッドの位置決めを行う位置決め部と、を備えている。
【００１４】
これによれば、品質評価・選択部が、複数組のサーボパターンの品質を評価した結果に基づいて、位置決めに使用するサーボパターンの組を、磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに選択し、位置決め部が、当該選択されたサーボパターンの組を用いて磁気ヘッドの位置決めを行うので、領域ごとに品質の良い（歩留まりの高い）サーボパターンを用いて磁気ヘッドの位置決めを行うことができる。これにより、磁気ヘッドによる情報記録及び再生を高精度に行うことが可能となる。
【００１５】
本明細書に記載の第２の磁気記憶装置は、磁気ヘッドと、前記磁気ヘッドの位置決めに用いられる複数組のサーボパターンが設けられた磁気記憶媒体と、前記磁気記憶媒体のサーボパターンの品質を評価した結果から選択される、前記磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに前記磁気ヘッドの位置決めに使用するサーボパターンの組の情報を保持する情報保持部と、前記情報保持部に保持されている情報に基づいて、前記磁気ヘッドの位置決めを行う位置決め部と、を備えている。
【００１６】
これによれば、情報保持部が保持する、磁気記憶媒体を半径方向に分割した領域ごとに選択されたサーボパターンの組の情報に基づいて、位置決め部が磁気ヘッドの位置決めを行うので、領域ごとに品質の良い（歩留まりの高い）サーボパターンを用いて磁気ヘッドの位置決めを行うことができる。これにより、磁気ヘッドによる情報記録及び再生を高精度に行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００１７】
本明細書に記載の磁気ヘッドの位置決め方法は、磁気ヘッドの位置決めを高精度に行うことができるという効果を奏する。また、本明細書に記載の磁気記憶装置は、磁気ヘッドによる情報記録及び再生を高精度に行うことができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の磁気記憶装置の一実施形態について、図１〜図１５に基づいて詳細に説明する。
【００１９】
図１は、本実施形態に係る磁気記憶装置としてのハードディスクドライブ（ＨＤＤ）１００の内部構成を示している。この図１に示すように、ＨＤＤ１００は、箱型の筺体１１、筺体１１内部の空間（収容空間）に収容された磁気記憶媒体としての磁気ディスク２０、スピンドルモータ１５、ヘッド・スタック・アッセンブリ（ＨＳＡ）１６、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１７及びヘッド位置決め回路、各種の制御用ＬＳＩ等が実装された制御基板（図示せず）等を備える。なお、筺体１１は、実際には、ベースと上蓋（トップ・カバー）とにより構成されているが、図１では、上蓋の図示を省略している。ヘッド・スタック・アッセンブリ１６は、磁気ヘッド１６１を有している。このヘッド・スタック・アッセンブリ１６は、磁気ヘッド１６１とは反対側に設けられたボイスコイルモータ１７により、支軸１４を中心に駆動（揺動）されるようになっている。
【００２０】
磁気ディスク２０は、ガラスやアルミナ製の非磁性の基板を有し、スピンドルモータ１５によって高速度で回転駆動される。なお、本実施形態では、磁気ディスク２０の表側の面のみが記録面であるものとする。ただし、磁気ディスク２０は、表側の面と裏側の面の両面が記録面であっても良い。また、磁気ディスク２０は、回転軸に沿って（図１の紙面直交方向に沿って）複数枚設けられていても良い。
【００２１】
磁気ディスク２０の記録面には、図２（ａ）に模式的に示すように、４組のサーボパターン群ＳＰ１、ＳＰ２，ＳＰ３，ＳＰ４が等間隔で設けられている。これら４組のサーボパターン群ＳＰ１〜ＳＰ４のそれぞれは、磁気ディスク２０上のセクタ数と同一数のサーボパターンを有しており、各サーボパターン間の角度は等角度に設定されている。また、本実施形態では、各サーボパターンの種類（位相パターン、面積パターンなどの種類）は同一とされている。ただし、これに限らず、それぞれが異なる種類のサーボパターンであっても良い。
【００２２】
なお、以下の説明では、サーボパターン群ＳＰ１〜ＳＰ４を構成するサーボパターンがどのサーボパターン群に属しているかを明確にする必要がある場合には、単独のサーボパターンに対しても、サーボパターン群と同一の符号ＳＰ１〜ＳＰ４を付すものとする。
【００２３】
本実施形態では、サーボパターンの一部を拡大して示す図２（ｂ）から分かるように、サーボパターンとして振幅パターンを採用している。これらサーボパターンは、図２（ｂ）に示すように、プリアンブル部と、アドレス部と、バースト部とを有している。また、アドレス部は、サーボパターン組番号、トラック番号、セクタ番号を含んでいる。サーボパターン組番号は、サーボパターン群の組ＳＰ１〜ＳＰ４の番号「１」〜「４」を意味する。
【００２４】
図３には、磁気ヘッド１６１の位置決めを実行するための位置決め部としての位置決め制御系５０の基本構成のブロック図が示されている。この図３に示すように、位置決め制御系５０は、フィードバック制御器（ＦＢ制御器）２１、制御対象であるＶＣＭ１７、演算ブロック２３ａ、２３ｂ、２３ｃ、２３ｄ、サンプラ２５ａ、２５ｂを備えている。サンプラ２５ａは、Ａ／Ｄ変換器を含み、サンプラ２５ｂは、Ｄ／Ａ変換器を含んでいる。位置決め制御系５０によれば、加速度外乱、位置外乱及びスピンドルモータのＲＲＯ（Repeatable Run Out）の影響を考慮した、ＶＣＭ１７（磁気ヘッド１６１）の正確なフィードバック制御が可能である。なお、図３のブロック図は、位置決め制御系５０の基本構成を示すものであり、実際には、その他の構成（図８に示す品質評価選択演算部３１、最良サーボパターン記憶部３３など）も含んでいるが、この点については後で詳述する。
【００２５】
次に、図４〜図６のフローチャートに基づいて、磁気ディスク２０へのサーボパターン（サーボパターン群ＳＰ１〜ＳＰ４）の記録（作成）、及びサーボパターンが記録された磁気ディスク２０をＨＤＤ１００に搭載した後に行う出荷前試験の詳細について説明する。なお、本出荷前試験は、出荷前のＨＤＤ１００の全てに対して実行するものであるとする。
【００２６】
まず、図４のステップＳ１０では、磁気ディスク２０に対し、所要セクタ数を有するｎ組（本実施形態では４組）のサーボパターン群（ＳＰ１〜ＳＰｎ（ＳＰ４））を磁気転写法により記録（作製）する。図７（ａ）〜図７（ｄ）には、このステップＳ１０の処理の手順が簡略化して示されている。なお、図７（ａ）〜図７（ｄ）は、磁気ディスク２０が水平磁気記録用の磁気ディスクである場合の手順を示している。
【００２７】
この磁気転写法では、まず、図７（ａ）に示すような、磁気ディスク２０に記録されるべきサーボ情報に対応した凹凸パターンを持つ転写マスタディスク（以下、単に「転写マスタ」と呼ぶ）３０２を用意する。この転写マスタ３０２の凹凸パターンは、ＥＢ描画装置により描画されており、当該凹凸パターン部分には磁性層が形成されている。
【００２８】
次いで、図７（ｂ）に示すように、サーボ情報を記録する磁気ディスク２０の近傍に、外部磁界Ａ（磁気ヘッド３０３）を近接させ、磁気ディスク２０の磁性層を、一方向（Ａ１）に磁化（初期磁化）させる。
【００２９】
次いで、図７（ｃ）に示すように、転写マスタ３０２と磁気ディスク２０とを密着させた状態で、転写マスタ３０２側から、初期磁化と逆向きの磁界Ｂを加える。
【００３０】
このとき、転写マスタ３０２と接した磁気ディスク２０の部分は、初期磁化の方向（Ａ１）とは逆の方向（Ｂ１）に磁化反転する。しかし、磁気ディスク２０の転写マスタ３０２と接していない部分は、図７（ｃ）のように、初期磁化の方向（Ａ１）の磁化がそのまま保たれる。
【００３１】
次いで、図７（ｄ）に示すように、転写マスタ３０２と磁気ディスク２０との密着を解除することにより、磁気ディスク２０にサーボ情報（サーボパターン）が磁気的情報として転写される。なお、磁気ディスク２０が垂直磁気記録用の磁気ディスクである場合には、図７（ｂ）、図７（ｃ）の磁化方向を水平方向から垂直方向に変更すれば良い。
【００３２】
本実施形態では、上記のような磁気転写法を用いるため、複数種類のサーボパターン群（ＳＰ１〜ＳＰ４）を磁気ディスク２０に転写することとしても、１種類のサーボパターンを転写する場合と同程度の転写時間で足りる。
【００３３】
上記のようにして、磁気ディスク２０に対するサーボパターン群の転写が完了すると、次のステップＳ１１（図４）では、サーボパターンの転写品質の評価（取得）に関するサブルーチンを実行する。なお、ステップＳ１１のサブルーチンの処理は、位置決め制御系５０に含まれる品質評価・選択部としての品質評価選択演算部３１（図８参照）が実行する。ただし、以下の説明では、特に必要な場合を除いて、処理の主体についての記載を省略するものとする。
【００３４】
このステップＳ１１のサブルーチンでは、まず、図５のステップＳ２０において、サーボパターン群の組を示す変数ｋ（ｋ＝１〜ｎ（ここではｎ＝４））を１に設定する。次いで、ステップＳ２２では、位置決め制御系５０により磁気ヘッド１６１をサーボパターン群ＳＰｋ（ここではＳＰ１）にオントラックし、次のステップＳ２４において、転写品質ＱＥｋ（ここではＱＥ１）を、磁気ディスク２０のゾーンごとに取得する。
【００３５】
転写品質ＱＥｋは、複数の転写品質指標ｑｋ（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）を用いて、次式（１）により算出（取得）する。なお、ρ（ｉ）は、重み係数である。
【００３６】
【数１】
2010108557.tif 000003
【００３７】
ここで、転写品質指標ｑｋ（ｉ）（ｉ＝１〜ｍ）としては、サーボパターン情報から求めることが可能な指標、例えば、以下の４つの指標を用いることができる。
ｑｋ（１）：１次偏心補正後のＲＰＥ（repeatable position error）
ｑｋ（２）：隣接トラックのＲＰＥ差分
ｑｋ（３）：トラック変動の周期成分
ｑｋ（４）：トラック中心でのプリアンブル部、アドレス部、バースト部のエラーレート
【００３８】
上式（１）を用いて、サーボパターン群ＳＰ１の転写品質（ＱＥ１）がゾーンごとに取得されると、次のステップＳ２６では、変数ｋが、総組数ｎ（ここではｎ＝４）であるか否かを判断する。この段階では、ｋ＝１であるので、判断は否定され、次のステップＳ２８において、ｋを１インクリメントした後、ステップＳ２２に戻る。
【００３９】
その後は、ステップＳ２２〜Ｓ２８を繰り返すことにより、サーボパターン群ＳＰ２〜ＳＰ４それぞれの転写品質ＱＥ２〜ＱＥ４をゾーンごとに取得する。そして、ステップＳ２６の判断が肯定された段階で、図４のステップＳ１２に移行する。
【００４０】
次のステップＳ１２では、品質評価選択演算部３１が、ステップＳ１１で取得した各サーボパターン群の転写品質をゾーンごとに判断して、各ゾーンにおいて、最も品質の良いサーボパターン（サーボパターン群）を決定する。そして、それら最も品質の良いサーボパターン群を「最良サーボパターン群ＳＰｏｐｔ」とし、情報保持部としての最良サーボパターン記憶部３３（図８参照）に登録する。
【００４１】
図９には、ゾーンごとに選択された最良サーボパターン群が、太線にて示されている。なお、図９では、磁気ディスク２０上にゾーンが３つ存在している場合を示しており、最も外側のゾーン１の最良サーボパターン群がＳＰ１であり、真ん中のゾーン２の最良サーボパターン群がＳＰ３であり、最も内側のゾーン３の最良サーボパターン群がＳＰ４である場合を図示している。また、図１０には、ゾーン番号と、そのゾーンにおいて選択された最良サーボパターン群の組番号の関係が表にて示されている。なお、図１０の表では、図９の場合と異なり、ゾーンが３以上（ｒ個（実際のｒは１０〜２０前後））ある場合について図示している。
【００４２】
次いで、図４のステップＳ１３では、位置決め制御系５０においてＲＲＯ電流補正テーブルを作成する。この場合、図１１に示す位置決め制御系５０（遅延回路３６を含む）が、最良サーボパターン記憶部３３に登録されている最良サーボパターン組ＳＰｏｐｔの情報に基づいて、磁気ヘッド１６１を最良サーボパターン組に位置決めする。そして、そのときの位置ずれ量（サーボパターン情報などから求められる）からＲＲＯ電流補正値を取得して、ＲＲＯ電流補正テーブル３５を作成する。位置決め制御系５０では、ＲＲＯ電流補正テーブル３５を用いた位置制御（例えば、図１２参照）を行うことで、サーボパターンへの位置決め精度を向上することができる。
【００４３】
次いで、図４のステップＳ１４では、最良サーボパターン組において、トラック毎に不良のサーボパターン（不良セクタ）の検出及び代替パターンの設定に関するサブルーチン（図６）を実行する。なお、図６のサブルーチンの処理は、主に、図１２に示す不良検出部及び代替部としての不良検出・代替パターン判定部３７が実行する。ただし、以下の説明では、特に必要な場合を除いて、処理の主体についての記載を省略するものとする。
【００４４】
まず、図６のステップＳ３０では、最良サーボパターン組において、位置決め制御系５０が、不良セクタ検出のための最初の対象トラックに磁気ヘッド１６１をオントラックする。なお、最初の対象トラックとしては、磁気ディスク２０上のどのトラックを設定しても構わないが、ここでは、例えば、磁気ディスクの最外周に位置するトラックが最初の対象トラックに設定されたものとする。
【００４５】
次のステップＳ３２では、最初の対象トラックに磁気ヘッド１６１をオントラックした状態で、最良パターンの検出を行う。次いで、ステップＳ３４では、不良検出・代替パターン判定部３７が、対象トラック上に不良セクタが存在したか否かを判断する。この不良セクタの検出は、不良セクタ検出指標Ｄｆ（ｊ）に基づいて行われる。
【００４６】
ここで、不良セクタ検出指標Ｄｆ（ｊ）としては、例えば、以下の指標を用いることができ、これら指標のいずれかが、それぞれの指標に設定された規定値（閾値）を超えた場合にそのセクタを不良セクタと判定するものとする。
Ｄｆ（１）：プリアンブル部、アドレス部、バースト部などの信号振幅やＳＮ
Ｄｆ（２）：サーボ評価で取得されるＲＰＥ、ＮＲＰＥ
Ｄｆ（３）：データのライト／リード評価で取得されるエラーレート
【００４７】
このステップＳ３４における判断が否定された場合には、ステップＳ５０に移行するが、肯定された場合にはステップＳ３６に移行する。ここでは、例えば、図１３に符号「ＢＳＰ」で示すサーボパターンが不良（不良セクタ）であったものとして、以下説明する。
【００４８】
次いで、ステップＳ３６では、不良検出・代替パターン判定部３７が、不良のサーボパターンＢＳＰに隣接するサーボパターン（別の組のサーボパターン）の品質をステップＳ１１と同様にして検出（評価）する。ここでは、例えば、最良サーボパターン組として登録されているサーボパターン（ＳＰ１）に隣接するサーボパターンには、優先順位がある。最適サーボパターン組がＳＰ１であるとして、セクタ＃３（セクタは反時計回りで数値が増加するとする）で不良サーボパターンＢＳＰが発生したとすると、優先順位は、サーボパターンＳＰ１の不良セクタ＃３（ＢＳＰ）に反時計回り方向に近いもの、時計回り方向に近いものという順番で、ＳＰ２（セクタ＃３）→ＳＰ４（セクタ＃２）→ＳＰ３（セクタ＃３）の順となっている。このため、ステップＳ３６では、最も優先順位の高いサーボパターンＳＰ２（セクタ＃３）の評価を行う。
【００４９】
なお、最良サーボパターン組として登録されているサーボパターンがサーボパターンＳＰ２であり、不良セクタがセクタ＃３である場合には、隣接するサーボパターンの優先順位は、反時計回り方向に近いもの、時計回り方向に近いものという順番で、ＳＰ３（セクタ＃３）→ＳＰ１（セクタ＃３）→ＳＰ４（セクタ＃３）となる。すなわち、一般的には、優先順位は、最良サーボパターン組として登録されているサーボパターンＳＰｓに対し、反時計回りに最も近いサーボパターン→時計回りに最も近いサーボパターン→反時計回りに２番目に近いサーボパターン→時計回りに２番目に近いサーボパターン…の順となる。この場合、サーボパターンの組が１〜ｎまである場合には、反時計回りにｎ／２番目に近いサーボパターンまでを評価対象にするとともに、時計回りにｎ／２番目に近いサーボパターンまでを評価対象にすれば良い。
【００５０】
次のステップＳ３８では、不良検出・代替パターン判定部３７が、ステップＳ３６の結果、隣接するサーボパターン（ＳＰ２（セクタ＃３））が良好か否かを判断する。ここでの判断が否定された場合（不良であった場合）は、ステップＳ４０において、同一セクタ内および一つ前のセクタに別の組の隣接するサーボパターンがあるか否かを判断する。ここでは、まだ、サーボパターンＳＰ２の評価を行ったのみなので、ステップＳ３６に戻り、次の優先順位のサーボパターン（ＳＰ４（セクタ＃２））の評価を行う。このようにして、良好なサーボパターンが発見された場合には、ステップＳ３８の判断が肯定されて、ステップＳ４４に移行する。一方、ステップＳ４０で同一セクタ内および一つ前のセクタの全ての組のサーボパターンが不良であった場合には、ステップＳ４０の判断が否定され、ステップＳ４２に移行する。このステップＳ４２では、不良検出・代替パターン判定部３７が、図１３において符号ＢＳＰで示されるサーボパターンを含むセクタを不良セクタと判定し、当該判定結果を、情報保持部としての不良セクタ・代替パターン記憶部３９に登録する。
【００５１】
これに対し、ステップＳ３８の判断が肯定され、ステップＳ４４に移行すると、不良検出・代替パターン判定部３７は、ステップＳ３８で良好と判定されたサーボパターンと、同一トラック上で隣接する最良サーボパターンとの間の間隔が所定値（基準値）以下か否かを判断する。この場合の所定値（基準値）とは、サーボ演算に必要な時間が確保できるだけの間隔を意味し、より具体的には、あるサーボパターン検出後、そのサーボ演算が完了するまでに次のサーボパターンの検出が開始されない程度の間隔を意味する。
【００５２】
例えば、図１３に示す不良のサーボパターンＢＳＰに対して、サーボパターン（ＳＰ２）が良好と判断されたものとする（図６のステップＳ３８）。この場合、サーボパターンＳＰ１（セクタ＃２）と隣接するサーボパターンＳＰ２（セクタ＃３）との演算時間Ｄ12が所定の演算時間Ｄ（基準値）以下か否かを判断する。また、同様に、図６のステップＳ３８においてサーボパターンＳＰ４、ＳＰ３が良好と判断された場合には、サーボパターンＳＰ１（セクタ＃２）と隣接サーボパターンＳＰ４（セクタ＃２）との演算時間Ｄ14が、あるいは，サーボパターンＳＰ１（セクタ＃２）と隣接パターンＳＰ３（セクタ＃３）との演算時間Ｄ13が、所定演算時間Ｄ（基準値）以下か否かを判断する。この場合、演算時間が所定演算時間Ｄより長い場合には、このステップＳ４４の判断が否定される場合がある。
【００５３】
このステップＳ４４の判断が否定された場合には、ステップＳ４０に移行する。
【００５４】
一方、ステップＳ４４の判断が肯定された場合には、次のステップＳ４６において、不良検出・代替パターン判定部３７が、良好なサーボパターンを、代替サーボパターンに設定し、不良セクタ・代替パターン記憶部３９に登録する。
【００５５】
次いで、ステップＳ５０では、不良検出・代替パターン判定部３７が、同一トラック上ですべてのセクタを終了したか否かを判断し、判断が否定された場合には、ステップＳ５１において次のセクタに移動した後、ステップＳ３４に戻り、上記と同様の処理を実行する。一方、同一トラック上のすべてのセクタを終了した場合には、ステップＳ５２に移行する。なお、前述したステップＳ３４の判断が否定された場合にもステップＳ５０に移行する。ステップＳ５０の判断が肯定された場合には、ステップＳ５２に移り、全トラック終了判断が行われ、判断が否定された場合には、ステップＳ５３にて次のトラックへ移動した後、ステップＳ３０に戻って次のトラックに対する上記と同様の処理を実行する。また、全トラックに対する上記と同様の処理が終了し、ステップＳ５２の判断が肯定された場合には、図６のサブルーチンを終了して、図４のステップＳ１５に移行する。
【００５６】
ここで、図１４には、図６のサブルーチンが完了した際に、不良セクタ・代替パターン記憶部３９に登録されている代替サーボパターンのリスト（表）の一例が示されている。この図１４のリストによると、ゾーン２の不良セクタのトラック番号が「Ｔ−２００００」、セクタ番号が「Ｓ−５０」及び「Ｓ−１３０」であり、これらのセクタにおいて設定されている最良サーボパターン（ＳＰ３）に代えて、代替サーボパターンＳＰ２及びＳＰ１がそれぞれ設定されたことが分かる。
【００５７】
図４に戻り、次のステップＳ１５では、位置決め制御系５０（遅延回路４１を含む）が、ＲＲＯ目標値補正テーブルを作成する。この場合、図１５に示すように、最良サーボパターン記憶部３３に登録されている最良サーボパターン群ＳＰｏｐｔの情報、及び不良セクタ・代替パターン記憶部３９に登録されている代替サーボパターンの情報に基づいて、実際に磁気ヘッド１６１を位置決めする。そして、そのときのサーボパターン情報からＲＲＯ目標値の補正値を取得して、ＲＲＯ目標値補正テーブル４２を作成する。なお、ＲＲＯ目標値補正テーブルは、実際には、磁気ディスク２０の各セクタ直後に書き込まれるようになっている。
【００５８】
以上のようにして、図４の全ての処理が完了すると、ＨＤＤ１００の出荷前試験が終了する。
【００５９】
ここで、ＨＤＤ１００の出荷後は、図１６に示すように、位置決め制御系５０が、最良サーボパターン記憶部３３に登録されている最良サーボパターン情報、不良セクタ・代替パターン記憶部３９に登録されている代替パターン情報、ＲＲＯ電流補正テーブル３５及びＲＲＯ目標値補正テーブル４２の情報を用いて、磁気ヘッド１６１の位置決め制御を実行する。
【００６０】
なお、ＨＤＤ１００では、磁気ディスク２０への情報（ユーザ情報）の記録（書き込み）が進むにつれ、磁気ディスク２０上に転写されているサーボパターンのうち、制御に用いられないサーボパターンは次第に消去される（ユーザ情報の上書きがされる）ようになっている。
【００６１】
以上詳細に説明したように、本実施形態によると、複数組のサーボパターン群の転写品質を評価した結果に基づいて、位置決めに使用するサーボパターン組（最良サーボパターン組ＳＰｏｐｔ）を磁気ディスク２０のゾーンごとに選択するので、位置決めに使用するサーボパターンの歩留まりを向上することができる。したがって、上記のようにして選択されたサーボパターンを用いて磁気ヘッド１６１の位置決めを行うことにより、磁気ヘッド１６１の位置決めを高精度に行うことができる。
【００６２】
また、本実施形態では、最良サーボパターン組を選択した後、再度最良サーボパターン組を評価して、不良サーボパターンを検出し、その不良サーボパターンごとに、最良サーボパターン組以外のサーボパターンのいずれかを代替サーボパターンに設定するので、最良サーボパターンの中に不良サーボパターンが含まれるような場合であっても、磁気ヘッド１６１の位置決めを高精度に行うことが可能である。
【００６３】
また、本実施形態では、同一トラック上で位置制御に用いられる隣接サーボパターン間の間隔（狭いほうの間隔）が、基準値（サーボ演算を考慮した値）以下となるように、代替サーボパターンを決定するので、位置決め制御に支障の無い代替サーボパターンを選択することができる。
【００６４】
なお、上記実施形態では、サーボパターン群の転写品質の評価及び最良サーボパターン組の選択を、ゾーンごとに行う場合について説明したが、本発明はこれに限られるものではない。例えば、１トラック毎に転写品質の評価及び最良サーボパターン組の選択を行うこととしても良いし、数トラック毎に転写品質の評価及び最良サーボパターン組の選択を行うこととしても良い。
【００６５】
なお、上記実施形態では、出荷前試験においてＲＲＯ目標値補正テーブルを作成する場合（ステップＳ１５）について説明したが、これに限られるものではなく、ＲＲＯ目標値補正テーブルは、出荷後（例えば、出荷後最初に電源が投入されたとき）に作成することとしても良い。
【００６６】
なお、上記実施形態では、磁気転写方式のサーボトラックライタを用いた場合について説明したが、これに限られるものではなく、その他のサーボトラックライタ、例えば、プッシュピン方式、スタックＳＴＷ方式、リライトＳＴＷ方式、コピーＳＴＷ方式を用いて複数組のサーボパターンを作製した場合にも、上記実施形態と同様の位置決め制御を行うことが可能である。
【００６７】
なお、上記実施形態では、位置決め制御系５０に含まれる品質評価選択演算部３１を用いて、最良サーボパターン組ＳＰｏｐｔを決定するとともに、位置決め制御系５０に含まれる不良検出・代替パターン判定部３７を用いて、代替サーボパターンを決定することとした。しかしながら、これに限られるものではなく、図１７に示すように、ＨＤＤ１００を、外部の試験装置２００（品質評価選択演算部３１と同様の機能を有する品質評価選択演算器２３１と、不良検出・代替パターン判定部３７と同様の機能を有する不良検出・代替パターン判定器２３７を含む）に接続して、上記実施形態と同様の処理を実行しても良い。この場合、ＨＤＤ１００の位置決め制御系５０は、試験装置２００により取得される情報を利用可能な構成が少なくとも存在していれば良いので、図１６の構成（情報保持部としての、最良サーボパターン記憶部３３及び不良セクタ・代替パターン記憶部３９を有する構成）のみを有していれば良い。このような構成を採用することとしても、上記実施形態と同様の効果を得ることができるとともに、出荷前試験終了後にはほとんど使用することがない構成をＨＤＤ１００内に設けておく必要が無いので、装置の低コスト化を図ることができる。
【００６８】
なお、上記実施形態では、出荷前試験を、出荷前のＨＤＤ１００の全てに対して実行する場合を想定しているが、これに限られるものではない。例えば、同一ロットの磁気ディスクを搭載するＨＤＤの中から１台又は複数台を抽出し、当該抽出されたＨＤＤに対してのみ出荷前試験を行うこととしても良い。この場合、１台又は複数台で行われた試験の結果を、同一ロットの磁気ディスクを搭載するＨＤＤにおいて用いるようにすることができる。このようにしても、転写マスタ作製時のパターン欠陥や、転写マスタと磁気ディスクとの密着不良による信号振幅の低下やパターンの欠陥など、同一ロットの磁気ディスクであれば、ほぼ一律に生じるであろう不良要因を排除することは可能であり、従来よりも高精度な磁気ヘッドの位置決めが可能である。
【００６９】
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】一実施形態に係るＨＤＤの構成を概略的に示す平面図である。
【図２】図２（ａ）は、磁気ディスク上に記録された複数組のサーボパターン群を概略的に示す図であり、図２（ｂ）は、サーボパターンの具体的な構成を示す図である。
【図３】位置決め制御系を示す図である。
【図４】磁気ディスクへのサーボパターンの記録、及び出荷前試験における処理を示すフローチャートである。
【図５】ステップＳ１１のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図６】ステップＳ１４のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図７】図４のステップＳ１０の処理を概略的に示す図である。
【図８】図４のステップＳ１１の制御系を示す図である。
【図９】図４のステップＳ１２により選択された最適サーボパターンの一例を示す図である。
【図１０】図４のステップＳ１２により選択された最適サーボパターンをゾーン番号ごとに示す表である。
【図１１】図４のステップＳ１３の制御系を示す図である。
【図１２】図４のステップＳ１４の制御系を示す図である。
【図１３】図６の処理を説明するための図である。
【図１４】図６の処理により設定された代替サーボパターンを示す表である。
【図１５】図４のステップＳ１５の制御系を示す図である。
【図１６】出荷後に、磁気ヘッドの位置決めに用いる位置決め制御系を示す図である。
【図１７】変形例に係るＨＤＤ、及び当該ＨＤＤが出荷前試験において接続される試験装置を示す図である。
【符号の説明】
【００７１】
２０  磁気ディスク（磁気記憶媒体）
３１  品質評価選択演算部（品質評価・選択部）
３３  最良サーボパターン記憶部（情報保持部の一部）
３７  不良検出・代替パターン判定部（不良検出部、代替部）
３９  不良セクタ・代替パターン記憶部（情報保持部の一部）
５０  位置決め制御系（位置決め部）
１００  ＨＤＤ（磁気記憶装置）
１６１  磁気ヘッド
ＢＳＰ  不良サーボパターン
ＳＰ１〜ＳＰ４  サーボパターン群（サーボパターン）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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