(57)【要約】【課題】例えば、液晶装置の検査時において、電源系信号が入力される検査用の入力端子と、制御系信号が入力される検査用の入力端子とが相互にショートすることによって生じる歩留まりの低下を抑制する。【解決手段】複数の電源系信号入力端子（１０２ｄ）及び複数の制御系信号入力端子（１０２ｓ）は、ＴＦＴアレイ基板（１０）上においてバラバラな位置に設けられているのはなく、領域（１０ｄ）及び（１０ｓ）の夫々の領域にまとめられた状態で配置されている。よって、液晶装置１によれば、複数の電源系信号入力端子（１０２ｄ）と、複数の制御系信号入力端子（１０２ｓ）との夫々がまとめて配置されていない場合に比べて、液晶装置（１）の検査時において、複数の電源系信号入力端子（１０２ｄ）と、複数の制御系信号入力端子（１０２ｓ）とが、位置ずれを生じた検査用プローブ（１９０ｄ）又は（１９０ｓ）を介してショートすることを低減できる。【選択図】図４
2010079153.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
前記基板上に形成されており、前記基板上の表示領域に形成された複数の画素部及び前記複数の画素部を駆動する駆動回路を含む表示回路部と、
前記基板上において前記表示領域を除く領域の一の領域に形成され、且つ前記表示回路部に電気的に接続されており、前記表示回路部を検査する電源系信号が入力される複数の電源系信号入力端子と、
前記表示領域を除く領域において前記一の領域に隣り合う他の領域に形成され、且つ前記表示回路部に電気的に接続されており、前記表示回路部を検査する制御系信号が入力される複数の制御系信号入力端子と、
を備えたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記複数の電源系信号入力端子は、前記一の領域において前記基板上の一方向に沿って延びていると共に、前記一方向に交差する他の方向に沿って第１の間隔で相互に離間された状態で配列されており、
前記複数の制御系信号入力端子は、前記他の領域において前記一方向に沿って延びていると共に、前記他の方向に沿って第２の間隔で相互に離間された状態で配列されており、
前記複数の電源系信号入力端子のうち前記他の方向に沿って最も端に位置する一の電源系信号入力端子と、前記複数の制御系信号入力端子のうち前記他の方向に沿って前記一の電源系信号入力端子に隣り合う一の制御系信号入力端子との間隔は、前記第１の間隔及び前記第２の間隔より大きいこと
を特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記第１の間隔及び前記２の間隔の大きさは相互に異なっていること
を特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記一の電源系列信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子間の領域に設けられたダミー端子を備えたこと
を特徴とする請求項２又は３に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記ダミー端子は、前記表示回路部を検査する際に、前記電源系信号及び前記制御系信号のうち一方の信号に応じて前記表示回路部から出力された出力信号を検査用端子に読み出すための出力端子であり、前記出力端子及び前記電源系信号入力端子の夫々の電位は相互に揃えられていること
を特徴とする請求項４に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記一方向に沿って、前記電源系信号入力端子及び前記制御系信号入力端子の夫々の長さは相互に異なっていること
を特徴とする請求項２乃至５の何れか一項に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の一方の入力端子は、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の他方の入力端子側から前記一方の入力端子が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部を有していること
を特徴とする請求項２乃至６の何れか一項に記載の電気光学装置。
【請求項８】
前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の一方の入力端子は、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の他方の入力端子側から前記一方の入力端子が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部を有し、
前記他方の入力端子の前記１方向の端縁は、前記切り欠き部の前記一方向の幅の範囲に位置することを特徴とする請求項２乃至５の何れか一項に記載の電気光学装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、点灯試験によってその動作状態を検査可能な液晶装置等の電気光学装置の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の電気光学装置では、液晶製品の検査時において、当該液晶製品の引き出し電極にプローブ電極をコンタクトさせる際に生じ得る引き出し電極及びプローブ電極相互の位置ずれを検出する検出機構が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
また、この種の電気光学装置の一例である液晶装置では、外部回路から液晶装置に供給される画像信号等の制御信号、及びこれら制御信号より相対的に電圧が高い電源信号の夫々が入力される複数の入力端子の近くに検査用端子が配置されることがある。液晶装置の検査時において、検査用端子と、検査装置に電気的に接続されたプローブとの夫々が相互に電気的に接続されることによって、検査用信号が検査用端子を介して液晶装置の駆動回路等の各種回路部に入力される。
【０００４】
検査用信号は、液晶装置の動作時に液晶装置に入力されるクロック信号等の制御信号と同等の電圧を有する制御系信号と、駆動回路部又は画素部を駆動するための駆動用の電源信号と同等の電圧を有する電源系信号との２種類の信号に大きく分けられる。電源系信号の電圧は、通常制御系信号の電圧より高い。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−２５８７４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、電源系信号が入力される検査用の入力端子と、制御系信号が入力される検査用の入力端子とが相互に近い位置に設けられている場合、液晶装置の検査時、言い換えれば液晶装置が正しく画像を表示できているか否かを検査する点灯検査時において、電源系信号が入力される入力端子に接触すべきプローブが、制御系信号が入力されるべき入力端子に接触してしまい、これら入力端子が相互にショート（短絡）してしまう場合がある。より具体的には、例えば、電源系信号が入力される入力端子と、制御系信号が入力される入力端子が、相互に交互に配列されている場合、或いは、これら入力端子の一部の入力端子が相互に交互に配列されている場合、電源系信号が入力される入力端子に接触させるべきプローブの位置合わせが十分な精度で行われず、当該プローブが、電源系信号が入力される入力端子と、制御系信号が入力されるべき入力端子との双方に接触してしまい、入力端子間にショートが発生してしまう虞がある。
【０００７】
このようなショートが発生した場合、液晶装置の駆動回路、或いは画素部等の各種回路部が高い電圧によって破壊され、液晶装置を製造する際の歩留まりを低下させてしまう問題点があった。
【０００８】
特に、液晶装置の表示性能を向上させることを目的として画素ピッチの微細化が進み、これに合わせて検査用端子のピッチが狭小化すると、より一層検査用端子及び検査用プローブ相互の位置合わせが困難になる。したがって、検査用端子のピッチの狭小化が進むことによって、検査時において各種回路部が電圧破壊されてしまうことが多くなり、液晶装置の歩留まりの低下を抑制することが困難になる。
【０００９】
よって、本発明は上記問題点等に鑑みてなされたものであり、例えば、液晶装置の検査時において、電源系信号が入力される検査用の入力端子と、制御系信号が入力される検査用の入力端子とが相互にショートすることによって生じる歩留まりの低下を抑制可能な液晶装置等の電気光学装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る電気光学装置は上記課題を解決するために、基板と、前記基板上に形成されており、前記基板上の表示領域に形成された複数の画素部及び前記複数の画素部を駆動する駆動回路を含む表示回路部と、前記基板上において前記表示領域を除く領域の一の領域に形成され、且つ前記表示回路部に電気的に接続されており、前記表示回路部を検査する電源系信号が入力される複数の電源系信号入力端子と、前記表示領域を除く領域において前記一の領域に隣り合う他の領域に形成され、且つ前記表示回路部に電気的に接続されており、前記表示回路部を検査する制御系信号が入力される複数の制御系信号入力端子とを備える。
【００１１】
本発明に係る電気光学装置によれば、表示回路部は、例えば、基板上の表示領域を構成する複数の画素部と、走査線駆動回路及びデータ線駆動回路等の駆動回路を含んで構成されており、これら画素部及び駆動回路は配線を介して相互に電気的に接続されている。
【００１２】
複数の電源系信号入力端子は、前記基板上において前記表示領域を除く領域の一部を占める一の領域に形成されている。したがって、複数の電源系信号入力端子は、基板上においてバラバラな位置に設けられているのはなく、一の領域にまとめられた状態で配置されている。複数の電源系信号入力端子には、当該電気光学装置の検査時において、複数の電源系信号の夫々が入力される。ここで、「電源系信号」とは、当該電気光学装置の動作時において表示回路部を駆動するために表示回路部に供給される電源信号と同等の電圧を有する検査用信号をいう。このような電源系信号は、後述する制御系信号に比べて高い電圧を有しており、例えば、制御系信号の電圧が５Ｖである場合、電源系信号の電圧は１４乃至１５Ｖ程度である。
【００１３】
複数の制御系信号入力端子は、当該電気光学装置の検査時において、検査用の制御系信号が入力される入力端子である。制御系信号は、当該電気光学装置の動作時に表示回路部の駆動を制御するために表示回路部に供給されるクロック信号等の制御信号と同等の電圧を有している。複数の制御系信号入力端子は、前記表示領域を除く領域において前記一の領域に隣り合う他の領域に形成されている。したがって、複数の制御系信号入力端子は、基板上においてバラバラな位置に設けられているのはなく、一の領域に隣り合う他の領域にまとめられた状態で配置されている。
【００１４】
よって、本発明に係る電気光学装置によれば、複数の電源系信号入力端子と、複数の制御系信号入力端子との夫々がまとめて配置されていない場合に比べて、当該電気光学装置の検査時において、複数の電源系信号入力端子と、複数の制御系信号入力端子とが検査用プローブを介してショートすることを低減できる。より具体的には、複数の電源系信号入力端子と、複数の制御系信号入力端子との夫々のうち相互に隣り合う２つの入力端子が検査用プローブを介してショートする可能性が残されているものの、表示回路部のうち当該２つの入力端子に電気的に接続された回路部のみが電圧破壊されるため、表示回路部のうち他の大部分を占める回路部が破壊されことがない。
【００１５】
したがって、本発明に係る電気光学装置によれば、その検査時において、表示回路部が電圧破壊される可能性を極力低くすることができ、電気光学装置を製造する際の歩留まりの低下を抑制可能である。加えて、本発明に係る電気光学装置によれば、該電気光学装置の検査時において、検査用プローブを介して高い電圧が検査装置に供給されることを低減できるため、検査装置の故障を低減することも可能である。
【００１６】
なお、本発明に係る電源系信号入力端子と制御系信号入力端子は、表示回路部の検査だけに使用される場合に限らず、当該電気光学装置の動作時において表示回路部を駆動するために表示回路部に供給される電源信号や制御系信号を表示回路部に供給する端子と共用する場合であっても良い。
【００１７】
本発明に係る電気光学装置の一の態様では、前記複数の電源系信号入力端子は、前記一の領域において前記基板上の一方向に沿って延びていると共に、前記一方向に交差する他の方向に沿って第１の間隔で相互に離間された状態で配列されており、前記複数の制御系信号入力端子は、前記他の領域において前記一方向に沿って延びていると共に、前記他の方向に沿って第２の間隔で相互に離間された状態で配列されており、前記複数の電源系信号入力端子のうち前記他の方向に沿って最も端に位置する一の電源系信号入力端子と、前記複数の制御系信号入力端子のうち前記他の方向に沿って前記一の電源系信号入力端子に隣り合う一の制御系信号入力端子との間隔は、前記第１の間隔及び前記第２の間隔より大きくてもよい。
【００１８】
この態様によれば、基板上の一方向が、複数の電源系信号入力端子と、複数の制御系信号入力端子との夫々の長手方向である。この態様によれば、相互に隣り合う一の電源系信号入力端子と、一の制御系入力端子との間隔が、第１の間隔及び第２の間隔の夫々より大きいため、当該電気光学装置の検査時において、検査用プローブが相互に隣り合う一の電源系信号入力端子と、一の制御系入力端子との双方に接触することを低減できる。したがって、この態様によれば、複数の電源系信号入力端子及び複数の制御系信号入力端子のうち、電気光学装置の検査時において、位置ずれが生じた検査用プローブを介してショートする可能性が最も高い一の電源系信号入力端子と一の制御系入力端子との間の電気的絶縁性を維持することができる。したがって、この態様によれば、電気光学装置の製造時における歩留まりの低下を確実に抑制できる。
【００１９】
この態様では、前記第１の間隔及び前記２の間隔の大きさは相互に異なっていてもよい。
【００２０】
この態様によれば、検査用プローブと、電源系信号入力端子及び制御系信号入力端子との位置合わせが容易になる。したがって、この態様によれば、電気光学装置の検査時において、検査用プローブを介して電源系信号入力端子及び制御系信号入力端子がショートすることをより一層確実に低減できる。
【００２１】
本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記一の電源系列信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子間の領域に設けられたダミー端子を備えていてもよい。
【００２２】
この態様によれば、例えば、ダミー端子を、位置ずれ検出用のマーカーに用いることによって、一の電源系信号入力端子及び一の制御系信号入力端子の双方に検査用プローブが接触しないように、検査用プローブの位置決め精度を高めることが可能である。
【００２３】
この態様では、前記ダミー端子は、前記表示回路部を検査する際に、前記電源系信号及び前記制御系信号のうち一方の信号に応じて前記表示回路部から出力された出力信号を検査用端子に読み出すための出力端子であり、前記出力端子及び前記電源系信号入力端子の夫々の電位は相互に揃えられていてもよい。
【００２４】
この態様によれば、検査用プローブの位置ずれを検出する検出精度を高めることができ、一の電源系信号入力端子及び一の制御系信号入力端子の双方に検査用プローブが接触しないように、検査用プローブの位置決め精度を高めることが可能である。
【００２５】
本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記一方向に沿って、前記電源系信号入力端子及び前記制御系信号入力端子の夫々の長さは相互に異なっていてもよい。
【００２６】
この態様によれば、検査用プローブが他の方向に沿って位置ずれした場合であっても、他の方向に沿って各々が配列された複数の電源系信号入力端子及び複数の制御系信号入力端子の双方に検査用プローブが接触することを低減できる。したがって、この態様によれば、電気光学装置の検査時において、複数の電源系信号入力端子及び複数の制御系信号入力端子がショートすることを低減でき、電気光学装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【００２７】
本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の一方の入力端子は、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の他方の入力端子側から前記一方の入力端子が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部を有していてもよい。
【００２８】
この態様によれば、電気光学装置の検査時において、他の方向に沿って検査用プローブの位置がずれたとしても、一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の双方に検査用プローブが接触する可能性を低減でき、電気光学装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【００２９】
本発明に係る電気光学装置の他の態様では、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の一方の入力端子は、前記一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の他方の入力端子側から前記一方の入力端子が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部を有し、前記他方の入力端子の前記１方向の端縁は、前記切り欠き部の前記一方向の幅の範囲に位置するようにしてもよい。
【００３０】
この様態によれば、電気光学装置の検査時において、他の方向であって、一方の入力端子の方向に沿って検査用プローブの位置がずれた場合であっても、他方の入力端子の方向に沿ってずれた場合であっても、どちらの場合でも、一の電源系信号入力端子及び前記一の制御系信号入力端子の双方に検査用プローブが接触する可能性を低減でき、電気光学装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【００３１】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、図面を参照しながら、本発明に係る電気光学装置の実施形態を説明する。本実施形態では、電気光学装置の一例として液晶装置１を挙げる。
【００３３】
図１及び図２を参照しながら、液晶装置１の主要な構成を説明する。図１は、ＴＦＴアレイ基板をその上に形成された各構成要素と共に対向基板の側から見た液晶装置１の概略的な平面図であり、図２は、図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。
【００３４】
図１及び図２において、液晶装置１では、本発明の「基板」の一例であるＴＦＴアレイ基板１０と、ＴＦＴアレイ基板１０に対向配置された対向基板２０とを備えている。ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０間には液晶層５０が封入されており、ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０は、本発明の「表示領域」の典型例である画像表示領域１０ａの周囲に位置するシール領域に設けられたシール材５２を介して相互に接着されている。
【００３５】
シール材５２は、両基板を貼り合わせるための、例えば紫外線硬化樹脂、熱硬化樹脂等からなり、製造プロセスにおいてＴＦＴアレイ基板１０上に塗布された後、紫外線照射、加熱等により硬化させられたものである。シール材５２中には、ＴＦＴアレイ基板１０と対向基板２０との間隔（基板間ギャップ）を所定値とするためのグラスファイバ或いはガラスビーズ等のギャップ材が散布されている。
【００３６】
シール材５２が配置されたシール領域の内側に並行して、画像表示領域１０ａの額縁領域を規定する遮光性の額縁遮光膜５３が、対向基板２０側に設けられている。但し、このような額縁遮光膜５３の一部又は全部は、ＴＦＴアレイ基板１０側に内蔵遮光膜として設けられてもよい。
【００３７】
画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域のうち、シール材５２が配置されたシール領域の外側に位置する領域には、後述する画素部７２（図４参照。）と共に、本発明の「表示回路部」の一例を構成するデータ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２がＴＦＴアレイ基板１０の一辺に沿って設けられている。外部回路接続端子１０２のうち所定数の接続端子が、検査時に検査用の各種信号が入力される検査用の入力端子として用いられる。また、走査線駆動回路１０４は、この一辺に隣接する２辺のいずれかに沿い、且つ、前記額縁遮光膜５３に覆われるようにして設けられている。尚、走査線駆動回路１０４を、データ線駆動回路１０１及び外部回路接続端子１０２が設けられたＴＦＴアレイ基板１０の一辺に隣接する２辺に沿って設けるようにしてもよい。この場合、ＴＦＴアレイ基板１０の残る一辺に沿って設けられた複数の配線によって、二つの走査線駆動回路１０４は互いに接続される。また。データ線駆動回路１０１及び走査線駆動回路１０４と共に、不図示の制御回路部２２０がＴＦＴアレイ基板１０上に形成されている。
【００３８】
対向基板２０の４つのコーナー部には、両基板間の上下導通端子として機能する上下導通材１０６が配置されている。他方、ＴＦＴアレイ基板１０にはこれらのコーナー部に対向する領域において上下導通端子が設けられている。これら上下導通端子及び上下導通材１０６により、ＴＦＴアレイ基板１０及び対向基板２０間で電気的な導通をとることができる。
【００３９】
図２において、ＴＦＴアレイ基板１０上には、画素スイッチング用のＴＦＴや走査線、データ線等の配線が形成された後の画素電極９ａ上に、配向膜が形成されている。他方、対向基板２０上には、対向電極２１の他、格子状又はストライプ状の遮光膜２３、更には最上層部分に配向膜が形成されている。液晶層５０は、例えば一種又は数種類のネマティック液晶を混合した液晶からなり、これら一対の配向膜間で、所定の配向状態をとる。
【００４０】
次に、図３を参照しながら、液晶装置１の画像表示領域１０ａにおける電気的構成を詳細に説明する。図３は、液晶装置１の画像表示領域１０ａにおける回路構成を示した回路図である。
【００４１】
図３において、液晶装置１は、液晶装置１の画像表示領域１０ａを構成する複数の画素部７２を備えている。複数の画素部７２は、画像表示領域１０ａにおいて図３中のＸ方向及びＹ方向に沿ってマトリクス状に形成されている。尚、本実施形態では、Ｙ方向が、本発明の「一方向」の一例であり、Ｘ方向が本発明の「他の方向」の一例である。
【００４２】
画素部７２は、画素電極９ａ、トランジスタ素子Ｔｒ、及び、液晶素子５０ａを備えている。トランジスタ素子Ｔｒは、例えば、画素スイッチング用ＴＦＴである。トランジスタ素子Ｔｒは、画像信号が供給されるデータ線６ａと、画素電極９ａとに電気的に接続されており、液晶装置１の動作時に画素電極９ａをスイッチング制御する。データ線６ａに書き込む画像信号Ｓ１、Ｓ２、・・・、Ｓｎは、この順に線順次に供給しても構わないし、相隣接する複数のデータ線６ａ同士に対して、グループ毎に供給するようにしてもよい。
【００４３】
トランジスタ素子Ｔｒのゲートに走査線３ａが電気的に接続されており、液晶装置１は、所定のタイミングで、走査線３ａにパルス的に走査信号Ｇ１、Ｇ２、・・・、Ｇｍを、この順に線順次で印加するように構成されている。画素電極９ａは、トランジスタ素子Ｔｒのドレインに電気的に接続されており、スイッチング素子であるトランジスタ素子Ｔｒを一定期間だけそのスイッチを閉じることにより、データ線６ａから供給される画像信号Ｓ１、Ｓ２、・・・、Ｓｎが所定のタイミングで書き込まれる。画素電極９ａを介して液晶に書き込まれた所定レベルの画像信号Ｓ１、Ｓ２、・・・、Ｓｎは、対向基板２０に形成された対向電極との間で一定期間保持される。
【００４４】
液晶層５０に含まれる液晶は、印加される電圧レベルにより分子集合の配向や秩序が変化することにより、光を変調し、階調表示を可能とする。蓄積容量７０は、固定電位線３００に電気的に接続されており、画像信号がリークすることを防ぐために、画素電極９ａと対向電極との間に形成される液晶素子５０ａと並列に付加されている。
【００４５】
次に、図４を参照しながら、外部回路接続端子１０２のうち検査用の入力端子として用いられる端子の配置を説明する。図４は、入力端子の配置と共に、これら入力端子と、液晶装置１の検査時における検査用プローブとの相対的な位置関係を示した平面図である。
【００４６】
なお、これら検査用の入力端子として用いられる端子は、表示回路部の検査だけに使用される場合に限らず、電気光学装置の動作時において表示回路部を通常通りの駆動するために表示回路部に各種信号を供給する端子として使用する場合もある。
【００４７】
図４において、液晶装置１は、複数の電源系信号入力端子１０２ｄ、及び複数の制御系信号入力端子１０２ｓを備えている。
【００４８】
複数の電源系信号入力端子１０２ｄは、ＴＦＴアレイ基板１０上において画像表示領域１０ａを除く領域、より具体的には画像表示領域１０ａの周辺に位置する周辺領域の一部を占める領域１０ｄに形成されている。加えて、複数の電源系信号入力端子１０２ｄは、データ線６ａ及び走査線３ａの夫々を介して、データ線駆動回路１０１、走査線駆動回路１０４及び画素部７２に電気的に接続されている。液晶装置１を検査する際に、複数の電源系信号入力端子１０２ｄには、画素部７２と、データ線駆動回路１０１等の駆動回路を検査するための検査用信号として複数の電源系信号の夫々が検査用プローブ１９０ｄを介して入力される。
【００４９】
複数の制御系信号入力端子１０２ｓは、ＴＦＴアレイ基板１０上において画像表示領域１０ａを除く領域である周辺領域のうち領域１０ｄに隣り合う領域１０ｓに形成されている。複数の制御系信号入力端子１０２ｓは、データ線６ａ等の配線を介して、画素部７２と、データ線駆動回路１０１等の駆動回路とに電気的に接続されており、液晶装置１の検査時において、複数の制御系信号の夫々が入力される。
【００５０】
したがって、複数の電源系信号入力端子１０２ｄ及び複数の制御系信号入力端子１０２ｓは、ＴＦＴアレイ基板１０上においてバラバラな位置に設けられているのはなく、領域１０ｄ及び１０ｓの夫々の領域にまとめられた状態で配置されている。
【００５１】
よって、液晶装置１によれば、複数の電源系信号入力端子１０２ｄと、複数の制御系信号入力端子１０２ｓとの夫々がまとめて配置されていない場合に比べて、液晶装置１の検査時において、複数の電源系信号入力端子１０２ｄと、複数の制御系信号入力端子１０２ｓとが、位置ずれを生じた検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓを介してショートすることを低減できる。より具体的には、複数の電源系信号入力端子１０２ｄと、複数の制御系信号入力端子との夫々のうち相互に隣り合う電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１が検査用プローブ１９０ｓ又は１９０ｄを介してショートする可能性が残されているものの、データ線駆動回路１０１等を含む表示回路部のうちこれら２つの入力端子１０２ｄ−１及び１０２ｓ−１に電気的に接続された回路部のみが電圧破壊されるため、表示回路部のうち他の大部分を占める回路部が破壊されことがない。
【００５２】
したがって、液晶装置１によれば、その検査時において、データ線駆動回路１０１等を含む表示回路部が電圧破壊される可能性を極力低くすることができ、液晶装置１を製造する際の歩留まりの低下を抑制可能である。加えて、液晶装置１によれば、液晶装置１の検査時において、検査用プローブ１９０ｓを介して高い電圧が検査装置に供給されることを低減できるため、検査装置の故障を低減することも可能である。
【００５３】
（変形例１）
次に、図５を参照しながら、液晶装置１の一変形例を説明する。図５は、本実施形態に係る液晶装置の一変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。尚、以下の各変形例では、上述した液晶装置１のうち複数の電源系信号入力端子及び複数の制御系信号入力端子の夫々の配列状態或いは形状が液晶装置１と異なる点等に特徴があるため、液晶装置１と共通する部分に共通の参照符号を付している。
【００５４】
本例に係る液晶装置では、複数の電源系信号入力端子１０２ｄの夫々は、領域１０ｄにおいてＴＦＴアレイ基板１０上のＹ方向に沿って延びていると共に、Ｙ方向に交差するＸ方向に沿って第１の間隔Ｗ１で相互に離間された状態で配列されている。加えて、複数の制御系信号入力端子１０２ｓの夫々は、領域１０ｓにおいてＹ方向に沿って延びていると共に、Ｘ方向に沿って第２の間隔Ｗ２で相互に離間された状態で配列されている。
【００５５】
複数の電源系信号入力端子１０２ｄのうちＸ方向に沿って最も端に位置する電源系信号入力端子１０２ｄ−１と、複数の制御系信号入力端子のうちＸ方向に沿って電源系信号入力端子１０２ｄ−１に隣り合う制御系信号入力端子１０２ｓ−１との間隔Ｗ３は、第１の間隔Ｗ１及び第２の間隔Ｗ２より大きい。
【００５６】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、相互に隣り合う電源系信号入力端子１０２ｄ−１と、制御系入力端子１０２ｓ−１との間隔Ｗ３が、第１の間隔Ｗ１及び第２の間隔Ｗ２の夫々より大きいため、液晶装置の検査時において、検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓが、相互に隣り合う電源系信号入力端子１０２ｄ−１と、制御系入力端子１０２ｓ−１との双方に接触することを低減できる。したがって、本例に係る液晶装置によれば、複数の電源系信号入力端子１０２ｄ及び複数の制御系信号入力端子１０２ｓのうち、液晶装置の検査時において、位置ずれが生じた検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓを介してショートする可能性が最も高い電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１との間の電気的絶縁性を維持することができる。よって、本例に係る液晶装置によれば、液晶装置の製造時における歩留まりの低下を確実に抑制できる。
【００５７】
（変形例２）
次に、図６を参照しながら、液晶装置１の他の変形例を説明する。図６は、本実施形態に係る液晶装置の他の変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【００５８】
図６に示すように、本例に係る液晶装置では、第１の間隔Ｗ１及び第２の間隔Ｗ２の夫々の大きさが相互に異なっている。
【００５９】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓと、電源系信号入力端子１０２ｄ及び制御系信号入力端子１０２ｓとの位置合わせが容易になる。よって、本例に係る液晶装置によれば、液晶装置の検査時において、検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓを介して電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１がショートすることをより一層確実に低減できる。
【００６０】
（変形例３）
次に、図７を参照しながら、液晶装置１の他の変形例を説明する。図７は、本実施形態に係る液晶装置の他の変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【００６１】
図７に示すように、本例に係る液晶装置は、電源系列信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１間の領域に設けられたダミー端子１０２ａを備えている。
【００６２】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、ダミー端子１０２ａを位置ずれ検出用のマーカーに用いることによって、電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１の双方に検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓが接触しないように、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓの位置決め精度を高めることが可能である。
【００６３】
加えて、本例に係る液晶装置では、ダミー端子１０２ａは、液晶装置の検査時において、電源系信号及び制御系信号のうち一方の信号に応じてデータ線駆動回路１０１等を含む表示回路部から出力された出力信号を検査用プローブ１９０ｄ又は１９０ｓに読み出すための出力端子であり、ダミー端子１０２ａ及び電源系信号入力端子１０２ｄの夫々の電位は相互に揃えられている。
【００６４】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓの位置ずれを検出する検出精度を高めることができ、電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１の双方に検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓが接触しないように、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓの位置決め精度を高めることが可能である。
【００６５】
（変形例４）
次に、図８を参照しながら、液晶装置１の他の変形例を説明する。図８は、本実施形態に係る液晶装置の他の変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【００６６】
図８に示すように、本例に係る液晶装置では、Ｙ方向に沿って、電源系信号入力端子１０２ｄ及び制御系信号入力端子１０２ｓの夫々の長さは相互に異なっていてもよい。
【００６７】
本例に係る液晶装置によれば、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓがＸ方向に沿って位置ずれした場合であっても、Ｘ方向に沿って各々が配列された複数の電源系信号入力端子１０２ｄ及び複数の制御系信号入力端子１０２ｓの双方に検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓが接触することを低減できる。したがって、液晶装置の検査時において、複数の電源系信号入力端子１０２ｄ及び複数の制御系信号入力端子１０２ｓがショートすることを低減でき、液晶装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【００６８】
（変形例５）
次に、図９を参照しながら、液晶装置１の他の変形例を説明する。図９は、本実施形態に係る液晶装置の他の変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【００６９】
図９に示すように、本例に係る液晶装置では、電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１のうち電源系信号入力端子１０２ｄ−１は、制御系信号入力端子１０２ｓ−１側から電源系信号入力端子１０２ｄ−１が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部１９５を有している。
【００７０】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、液晶装置の検査時において、Ｘ方向に沿って検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓの位置がずれたとしても、電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１の双方に検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓが接触する可能性を低減でき、液晶装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【００７１】
（変形例６）
次に、図１０を参照しながら、液晶装置１の他の変形例を説明する。図１０は、本実施形態に係る液晶装置の他の変形例の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【００７２】
図１０（ａ）及び（ｂ）に示すように、変形例５と同様、電源系信号入力端子１０２ｄ−１は、制御系信号入力端子１０２ｓ−１側から電源系信号入力端子１０２ｄ−１が部分的に切り欠かれてなる切り欠き部１９５を有している。さらに、電源系信号入力端子１０２ｄ−１の切り欠き部１９５のＹ方向を切り欠き部の幅とした時に、この幅の範囲内に制御系信号入力端子１０２ｓ−１の端部のＸ方向の延長線が位置するように、制御系信号入力端子１０２ｓ−１が配置されている。
【００７３】
したがって、本例に係る液晶装置によれば、液晶装置の検査時において、検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓが、Ｘ方向の電源系信号入力端子１０２ｄ−１側、あるいは、制御系信号入力端子１０２ｓ−１側のいずれの方向にずれた場合であっても、電源系信号入力端子１０２ｄ−１及び制御系信号入力端子１０２ｓ−１の双方に検査用プローブ１９０ｄ及び１９０ｓが接触する可能性を低減でき、液晶装置の製造時における歩留まりの低下を抑制可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】本発明に係る電気光学装置の一実施形態である液晶装置の平面図である。
【図２】図１のＩＩ−ＩＩ´断面図である。
【図３】本実施形態に係る液晶装置の画像表示領域における回路構成を示した回路図である。
【図４】検査用信号が入力される入力端子の配置と共に、これら入力端子と、液晶装置の検査時における検査用プローブとの相対的な位置関係を示した平面図である。
【図５】本実施形態に係る液晶装置の変形例１の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【図６】本実施形態に係る液晶装置の変形例２の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【図７】本実施形態に係る液晶装置の変形例３の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【図８】本実施形態に係る液晶装置の変形例４の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【図９】本実施形態に係る液晶装置の変形例５の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【図１０】本実施形態に係る液晶装置の変形例６の一部の構成を詳細に示した部分平面図である。
【符号の説明】
【００７５】
１・・・液晶装置、１０・・・ＴＦＴアレイ基板、１０２ｄ・・・電源系信号入力端子、１０２ｓ・・・制御系信号入力端子、１９５・・・切り欠き部
【図１】
2010079153.tif 000003
【図２】
2010079153.tif 000004
【図３】
2010079153.tif 000005
【図４】
2010079153.tif 000006
【図５】
2010079153.tif 000007
【図６】
2010079153.tif 000008
【図７】
2010079153.tif 000009
【図８】
2010079153.tif 000010
【図９】
2010079153.tif 000011
【図１０】
2010079153.tif 000012