(57)【要約】【課題】規格上の記録容量より多い記録容量となるようにデータ記録を行う上で必要となる記録パワーを適切に算出する。【解決手段】予め定められた標準記録線速度にて、光ディスクに対するライトピークパワーＰｗを最適化して、最適化ライトピークパワーＰｗoを特定し、記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量とＰｗ又は当該Ｐｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す関係データに従って、標準記録線速度における第２のライトピークパワーＰｗ2を特定し、関係データに従って、標準記録線速度より遅い指定記録線速度又は標準記録線速度に対応する標準記録容量より多い指定記録容量における第３のライトピークパワーＰｗ3を特定すると共に、当該Ｐｗ3を、ＰｗoとＰｗ2との差で調整して、調整後ライトピークパワーＰｗaを算出する。【選択図】図３
2010033686.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め定められた標準記録線速度にて、波長４００乃至４１０ｎｍの範囲で記録可能な吸収スペクトルを有する記録層を備えた光ディスクに対するライトピークパワーＰｗを最適化して、最適化ライトピークパワーＰｗoを特定する最適化ステップと、
記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量と前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す関係データに従って、前記標準記録線速度における第２のライトピークパワーＰｗ2を特定するステップと、
前記関係データに従って、前記標準記録線速度より遅い指定記録線速度又は前記標準記録線速度に対応する標準記録容量より多い指定記録容量における第３のライトピークパワーＰｗ3を特定すると共に、当該第３のライトピークパワーＰｗ3を、前記最適化ライトピークパワーＰｗoと前記第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後ライトピークパワーＰｗaを算出するステップと、
前記調整後ライトピークパワーＰｗaを設定し、前記指定記録線速度又は前記指定記録容量から決定される記録線速度で、前記光ディスクに対してデータ記録を実施する記録ステップと、
を含むデータ記録方法。
【請求項２】
前記関係データが、前記記録線速度から前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を特定する関数又はデータテーブルである
請求項１記載のデータ記録方法。
【請求項３】
前記最適化ステップが、
前記ライトピークパワーを変化させてテストデータ記録を実施し、当該テストデータ記録の結果を読み出して指標値を算出し、当該指標値が、予め設定されているターゲット指標値と一致する際のライトピークパワーＰｗを特定するステップ
を含む請求項１記載のデータ記録方法。
【請求項４】
前記関係データが、前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を前記記録線速度の１次式又は２次式として表す関数又は当該関数に相当するデータテーブルである
請求項１記載のデータ記録方法。
【請求項５】
前記調整後ライトピークパワーＰｗaが、
前記第３のライトピークパワーＰｗ3−（前記最適化ライトピークパワーＰｗo−前記第２のライトピークパワーＰｗ2）
で算出される請求項１記載のデータ記録方法。
【請求項６】
前記記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量とバイアスパワーＰｂｗ又は当該ライトピークパワーＰｂｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す第２の関係データに従って、前記指定記録線速度又は前記指定記録容量におけるバイアスパワーＰｂｗ1を特定すると共に、当該バイアスパワーＰｂｗ1を、前記最適化ライトピークパワーＰｗoと前記第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後バイアスパワーＰｂｗaを算出するステップ
をさらに含み、
前記記録ステップにおいて、前記調整後バイアスパワーＰｂｗaを設定する
請求項１記載のデータ記録方法。
【請求項７】
前記指定記録線速度又は前記指定記録容量におけるストラテジデータを取得するステップをさらに含み、
前記記録ステップにおいて、取得された前記ストラテジデータを設定する
請求項６記載のデータ記録方法。
【請求項８】
予め定められた標準記録線速度にて、波長４００乃至４１０ｎｍの範囲で記録可能な吸収スペクトルを有する記録層を備えた光ディスクに対するライトピークパワーＰｗを最適化して、最適化ライトピークパワーＰｗoを特定する最適化手段と、
記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量と前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す関係データに従って、前記標準記録線速度における第２のライトピークパワーＰｗ2を特定する手段と、
前記関係データに従って、前記標準記録線速度より遅い指定記録線速度又は前記標準記録線速度に対応する標準記録容量より多い指定記録容量における第３のライトピークパワーＰｗ3を特定すると共に、当該第３のライトピークパワーＰｗ3を、前記最適化ライトピークパワーＰｗoと前記第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後ライトピークパワーＰｗaを算出する手段と、
前記調整後ライトピークパワーＰｗaを設定し、前記指定記録線速度又は前記指定記録容量から決定される記録線速度で、前記光ディスクに対してデータ記録を実施させる記録制御手段と、
を有する光ディスク記録再生装置。
【請求項９】
前記関係データが、前記記録線速度から前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を特定する関数又はデータテーブルである
請求項８記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１０】
前記最適化手段が、
前記ライトピークパワーを変化させてテストデータ記録を実施し、当該テストデータ記録の結果を読み出して指標値を算出し、当該指標値が、予め設定されているターゲット指標値と一致する際のライトピークパワーＰｗを特定する
請求項８記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１１】
前記関係データが、前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を前記記録線速度の１次式又は２次式として表す関数又は当該関数に相当するデータテーブルである
請求項８記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１２】
前記調整後ライトピークパワーＰｗaが、
前記第３のライトピークパワーＰｗ3−（前記最適化ライトピークパワーＰｗo−前記第２のライトピークパワーＰｗ2）
で算出される請求項８記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１３】
前記記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量とバイアスパワーＰｂｗ又は当該ライトピークパワーＰｂｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す第２の関係データに従って、前記指定記録線速度又は前記指定記録容量におけるバイアスパワーＰｂｗ1を特定すると共に、当該バイアスパワーＰｂｗ1を、前記最適化ライトピークパワーＰｗoと前記第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後バイアスパワーＰｂｗaを算出する手段
をさらに有し、
前記記録制御手段が、前記調整後バイアスパワーＰｂｗaを設定する
請求項８記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１４】
前記指定記録線速度又は前記指定記録容量におけるストラテジデータを取得する手段をさらに有し、
前記記録制御手段が、取得された前記ストラテジデータを設定する
請求項１３記載の光ディスク記録再生装置。
【請求項１５】
予め定められた標準記録線速度にて、波長４００乃至４１０ｎｍの範囲で記録可能な吸収スペクトルを有する記録層を備えた光ディスクに対するライトピークパワーＰｗを最適化して、最適化ライトピークパワーＰｗoを特定する最適化ステップと、
記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量と前記ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す関係データに従って、前記標準記録線速度における第２のライトピークパワーＰｗ2を特定するステップと、
前記関係データに従って、前記標準記録線速度より遅い指定記録線速度又は前記標準記録線速度に対応する標準記録容量より多い指定記録容量における第３のライトピークパワーＰｗ3を特定すると共に、当該第３のライトピークパワーＰｗ3を、前記最適化ライトピークパワーＰｗoと前記第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後ライトピークパワーＰｗaを算出するステップと、
前記調整後ライトピークパワーＰｗaを設定し、前記指定記録線速度又は前記指定記録容量から決定される記録線速度で、前記光ディスクに対してデータ記録を実施させるステップと、
を、光ディスク記録再生装置のプロセッサに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波長４００乃至４１０ｎｍの範囲で記録可能な吸収スペクトルを有する記録層を備えた光ディスクに対する高密度データ記録のための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク（ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ）への記録において，従来の手法ではＣＡＶ記録やＺｏｎｅ  ＣＬＶ記録といった高倍速記録時のように、記録線速度がＯＰＣ（Optimum Power Control）エリアにおける最大線速度を超える外周部での記録パワー算出方法の提案はなされている。これはＯＰＣを行うエリアにおける最大記録線速度よりも、外周部での記録線速度の方が速く、この時の記録パワーを推定又は算出する必要があるためである。
【０００３】
なお、高速度化についての文献には以下に示すようなものがある。また、一部には高密度記録について触れられているものもある。
【特許文献１】特開２００６−３３１５８８号公報
【特許文献２】特開２００３−２８１７２６号公報
【特許文献３】特開２００２−３０４７２９号公報
【特許文献４】特開２００４−３４８８９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
一方で、近年書き込み可能なＢｌｕ−ｒａｙディスクの記録容量を２５ＧＢｙｔｅ以上にあげることが論文等で提案されている。その多くは、再生信号処理に関するものである。また、制約条件としてピックアップレーザ波長は４０５ｎｍ、ＮＡ（開口率）は０．８５とされているため、以下で述べるように「理論上」３１ＧＢｙｔｅを超える記録容量では、光学限界となり最短マークである２Ｔマークなどを読み取ることはできない。従って、単純な方法では、規格上の記録容量より多い記録容量となるようにデータ記録を行う上で必要となる記録パワーを算出することはできない。
【０００５】
従って、本発明の目的は、規格上の記録容量より多い記録容量となるようにデータ記録を行う上で必要となる記録パワーを適切に算出するための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係るデータ記録方法は、予め定められた標準記録線速度にて、波長４００乃至４１０ｎｍの範囲で記録可能な吸収スペクトルを有する記録層を備えた光ディスクに対するライトピークパワーＰｗを最適化して、最適化ライトピークパワーＰｗoを特定する最適化ステップと、記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量とライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す関係データに従って、標準記録線速度における第２のライトピークパワーＰｗ2を特定するステップと、関係データに従って、標準記録線速度より遅い指定記録線速度又は標準記録線速度に対応する標準記録容量より多い指定記録容量における第３のライトピークパワーＰｗ3を特定すると共に、当該第３のライトピークパワーＰｗ3を、最適化ライトピークパワーＰｗoと第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後ライトピークパワーＰｗaを算出するステップと、調整後ライトピークパワーＰｗaを設定し、指定記録線速度又は指定記録容量から決定される記録線速度で、光ディスクに対してデータ記録を実施する記録ステップとを含む。
【０００７】
このようにすることによって、光学限界に達して最短マーク等を理論的には読み取れない高密度記録を行う場合においても、当該高密度記録においてライトピークパワーＰｗを変化させて最適化せずに済むようになるため、より適切なライトピークパワーＰｗを特定することができるようになる。
【０００８】
なお、上で述べた関係データが、記録線速度からライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を特定する関数又はデータテーブルである場合もある。このようにすれば、容易に、必要となる記録線速度に対応するライトピークパワーＰｗ等を特定することができるようになる。なお、関係データは、例えばメディアＩＤと記録速度との組み合わせに対応して用意される。さらに、この関係データは、光ディスク記録再生装置のメモリに用意される場合もあれば、光ディスク上に用意される場合もある。
【０００９】
さらに、上で述べた最適化ステップが、ライトピークパワーを変化させてテストデータ記録を実施し、当該テストデータ記録の結果を読み出して指標値を算出し、当該指標値が、予め設定されているターゲット指標値と一致する際のライトピークパワーＰｗを特定するステップを含むようにしてもよい。この他にも、最適ライトピークパワーＰｗを特定する手法はあるが、その場合にも例えばアシンメトリ値やβ値を指標にして最適化処理を実施しても良い。
【００１０】
また、上で述べた関係データを、ライトピークパワーＰｗ又は当該ライトピークパワーＰｗを算出するのに用いられる指標値を記録線速度の１次式又は２次式として表す関数又は当該関数に相当するデータテーブルとしてもよい。特定の光ディスクについては上記のような関数が成り立つものである。
【００１１】
さらに、上で述べた調整後ライトピークパワーＰｗaが、第３のライトピークパワーＰｗ3−（最適化ライトピークパワーＰｗo−第２のライトピークパワーＰｗ2）で算出されるようにしてもよい。この他にも（最適化ライトピークパワーＰｗo−第２のライトピークパワーＰｗ2）を記録線速度に応じて調整した値を用いるようにしても良い。
【００１２】
また、本発明において、記録線速度又は当該記録線速度から決定される記録容量とバイアスパワーＰｂｗ又は当該ライトピークパワーＰｂｗを算出するのに用いられる指標値との関係を表す第２の関係データに従って、指定記録線速度又は指定記録容量におけるバイアスパワーＰｂｗ1を特定すると共に、当該バイアスパワーＰｂｗ1を、最適化ライトピークパワーＰｗoと第２のライトピークパワーＰｗ2との差で調整して、調整後バイアスパワーＰｂｗaを算出するステップをさらに含むようにしてもよい。その場合、記録ステップにおいて、調整後バイアスパワーＰｂｗaを設定するものである。このようにすれば、より高品質のデータ記録を実施することができるようになる。
【００１３】
さらに、本発明において、指定記録線速度又は前記指定記録容量におけるストラテジデータを取得するステップをさらに含むようにしてもよい。その場合、記録ステップにおいて、取得されたストラテジデータを設定するものである。これにより、さらに高品質のデータ記録を行うことができるようになる。
【００１４】
本発明のデータ記録方法を光ディスク記録再生装置のプロセッサに実行させるためのプログラムを作成することができ、当該プログラムは、例えばフレキシブル・ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリ、ハードディスク等の記憶媒体又は記憶装置若しくはプロセッサの不揮発性メモリに格納される。なお、処理途中のデータについては、プロセッサのメモリ等の記憶装置に一時保管される。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、規格上の記録容量より多い記録容量となるようにデータ記録を行う上で必要となる記録パワーを適切に算出することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
１．実施の形態１
［実施の形態１の原理］
書き込み可能なＢｌｕ−ｒａｙディスク（ＢＤ−Ｒとも記す）に通常の記録を行う場合には、Channel Clockが６６ＭＨｚで、Ｗｒｉｔｅパルスにもこの周波数を用いている。また、波長λ＝４０５ｎｍで、開口率ＮＡ＝０．８５である。このような条件において、標準線速度＝４．９１７ｍ／ｓ又はこの倍速にて記録を行うと、ＢＤ標準の記録容量である２５ＧＢｙｔｅとなり、最短マーク長は２Ｔの１４９ｎｍである。
【００１７】
このようなＢＤ−Ｒに対して、線速度を下げ、同一の６６ＭＨｚのChannel Clockにて記録を行えば、最短マーク長が短くなるので、記録密度を上げることができる。例えば、図１に各線速度について、容量と２Ｔマーク長と３Ｔマーク長とが示されている。図１から分かるように、線速度を２０％ダウンさせることによって、記録容量は約３１．３ＧＢｙｔｅまで上げることができるようになる。
【００１８】
しかしながら、波長λ＝４０５ｎｍで開口率ＮＡ＝０．８５という制約条件によって、光学限界に直面することになる。すなわち、光学的に読み取ることのできる限界マーク長は１１９．１ｎｍ（＝（４０５ｎｍ／（２＊０．８５））／２）であり、限界トラックピッチは２３８．２ｎｍ（＝４０５ｎｍ／（２＊０．８５））である。従って、図１と比較すると、理論上、３１ＧＢｙｔｅを超えると、２Ｔマークを読み取れないことになる。なお、完全に読み取れないわけではなく、ＢＤからの反射光による再生信号（ＲＦ信号）を得ることができ、さらにＢＤシステムにおいて採用されている再生信号検出方法であるＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）を用いれば、ある程度の性能（例えばＳＮＲ：Signal to Noise Ratio）で読み取りを行うことは可能である。
【００１９】
但し、線速度をダウンさせて光学限界以上にトラックピッチ及びマーク長を短くしてしまった状態において、２ＴマークのＲＦ信号の振幅レベルを必要とするアシンメトリ値等を算出し、さらにアシンメトリ値等を用いてこの状態における記録パワーＰｗ等を最適化することは不適切である。すなわち、理論的には読み取ることができないマークのマーク長に基づく評価指標を算出しても、適切に評価できているとは言えない。
【００２０】
そこで、本実施の形態では、実験機によって各線速度における最適記録パワーの値を測定して、その関係を予め取得しておくものとする。そして、実際に書き込みを行うディスク・システムにおいて、通常の線速度でＯＰＣを実施して、最適記録パワーを特定すると共に、線速度と最適記録パワーとの関係式から通常の線速度における記録パワーを算出し、ＯＰＣによる最適記録パワーと関係式による記録パワーとの差を算出する。そして、指定された線速度における記録パワーを上記関係式から算出すると共に、算出された記録パワーの差によって当該指定線速度における記録パワーを調整することによって、指定線速度における最適記録パワーを特定する。
【００２１】
なお、本実施の形態では、ＲＦ信号の波形歪みについては問題が無く、さらにライトピークパワーＰｗのみで調整が可能なケースを想定する。
【００２２】
また、図２に、マルチパルスを採用した場合の各種記録パラメータを示す。記録パワーに関するパラメータには、マーク形成時のライトピークパワーＰｗ、スペース形成時の記録パワーＰｓの他に、クーリングパルスにおける記録パワーＰｃ、ライトパルスにおけるバイアスパワーＰｂｗがある。また、タイミングに関するパラメータには、ｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｓなどがある。クーリングパルス幅は、ｄＴｓを調整することによって設定することができる。標準速度記録及び２倍速記録の場合には、図２に示すようなマルチパルス型の記録波形が用いられる。
【００２３】
さらに、上で述べた線速度と記録パワーの関係は、例えば図３に示すようなものである。図３の例では、横軸は線速度（２倍速の場合）を表し、縦軸はパワー（ｍＷ）を表す。なお、ＷｒｉｔｅＰｗは、以下のように定義される指標である。
【００２４】
ＷｒｉｔｅＰＷ＝（Ｐｗ−Ｐｂｗ）×２＋Ｐｂｗ
【００２５】
図３の例では、ＰｗもＷｒｉｔｅＰｗも、線速度を下げてゆくと、好ましいパワーは少しずつ下がってゆく。図３の例では、線速度ｖとＷｒｉｔｅＰｗの関係が２次関数ＷｒｉｔｅＰｗ＝ａｖ2＋ｂｖ＋ｃで表されるものとして、回帰計算を行うものとする。そうすると、線速度ｖとＷｒｉｔｅＰｗとの関係は以下の２次関数で表される。
【００２６】
ＷｒｉｔｅＰｗ＝−０．０２８１ｖ2＋０．７２２８ｖ＋０．５２９９
【００２７】
なお、Ｒ2＝０．９９９１である。
【００２８】
このように２次の項の係数ａ＝−０．０２８１であり、ａは負の値となっている。これは、線密度（すなわち記録容量）を上げるために、標準の線速度から線速度を下げるためである。
【００２９】
なお、今回の測定結果では、線速度と記録パワーの関係は、２次関数で表現することが好ましいが、場合によっては１次関数にて表現する方が好ましい場合もある。
【００３０】
また、線速度と記録パワーの関係式（線速度パワー関数とも呼ぶ）は、各ディスク種別及び各記録速度について予め取得しておく必要がある。
【００３１】
さらに、ＷｒｉｔｅＰｗについての式ではなく、Ｐｗについての式を求めるようにしても良い。この場合、ＷｒｉｔｅＰｗの式が２次式又は１次式であれば、Ｐｗの式も２次式又は１次式で表される。
【００３２】
［実施の形態１の具体的実施例］
本発明の実施の形態におけるドライブ・システムの機能ブロック図を図４を用いて説明する。本発明の実施の形態に係るドライブ・システムは、光ディスク記録再生装置１００と、テレビ受像器などの表示部とリモートコントローラなどの操作部とを含む入出力システム（図示せず）とを含む。
【００３３】
光ディスク記録再生装置１００は、処理途中のデータ、処理結果のデータ、処理における参照データなどを格納するメモリ１２７と、以下で説明する処理を行わせるためのプログラムが記録されるメモリ回路１２６を含むＣＰＵ（中央演算装置：Central Processing Unit）などから構成される制御回路１２５と、入出力システムとのインターフェースであるインターフェース部（Ｉ／Ｆ）１２８と、再生信号であるＲＦ信号の最大振幅レベル又は最小振幅レベル等を検出する特性値検出部１２４と、デジタル信号を符号間干渉が残る不完全な周波数レスポンスに対して、ｎＴマークの長さ方向の中央位置の振幅レベルがピーク値となり、中央位置からはなれるに従って隣接のｎＴスペースの影響を受ける振幅レベルの値を、例えば０乃至６の７レベルの比率に等化させる等化器１３１と、等化器１３１で波形等化された再生ＲＦ信号から最も確からしい標準符号系列に復号するデータ復調回路１２３と、ピックアップ部１１０と、制御回路１２５から出力される記録すべきデータに対して所定の変調を行い、レーザ・ダイオード（ＬＤ）ドライバ１２１に出力するデータ変調回路１２９と、ＬＤドライバ１２１と、光ディスク１５０の回転制御部及びモータ並びにピックアップ部１１０用のサーボ制御回路１３２等を含む。なお、光ディスク記録再生装置１００は、図示しないが、表示装置やパーソナルコンピュータに接続され、場合によってはネットワークに接続して１又は複数のコンピュータなどと通信を行う場合もある。
【００３４】
また、ピックアップ部１１０は、対物レンズ１１４と、ビームスプリッタ１１６と、検出レンズ１１５と、コリメートレンズ１１３と、ＬＤ１１１と、フォトディテクタ（ＰＤ）１１２とを含む。ピックアップ部１１０では、サーボ制御回路１３２の制御に応じて図示しないアクチュエータが動作し、フォーカス及びトラッキングが行われる。
【００３５】
制御回路１２５は、メモリ１２７、特性値検出部１２４、Ｉ／Ｆ１２８、ＬＤドライバ１２１、データ復調回路１２３、データ変調回路１２９、サーボ制御回路１３２、図示しない回転制御部などに接続されている。また、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２、制御回路１２５などに接続されている。ＬＤドライバ１２１は、データ変調回路１２９、制御回路１２５及びＬＤ１１１に接続されている。制御回路１２５は、Ｉ／Ｆ１２８を介して入出力システムにも接続されている。
【００３６】
次に、光ディスク１５０に対してデータを記録する場合における処理の概要を説明する。まず、制御回路１２５は、データ変調回路１２９に、光ディスク１５０に記録すべきデータに対して所定の変調処理を実施させ、データ変調回路１２９は変調処理後のデータをＬＤドライバ１２１に出力する。ＬＤドライバ１２１は、指定の記録条件（ストラテジデータ等）に従って、受信したデータでＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介してディスク１５０に照射され、光ディスク１５０にマークとスペースを形成する。なお、本実施の形態では、制御回路１２５は、サーボ制御回路１３２に対して、データ記録を行う際の線速度を指定して、回転制御部及びモータを指示に従って駆動させる。
【００３７】
また、光ディスク１５０に記録されたデータを再生する場合における処理の概要を説明する。制御回路１２５からの指示に従ってＬＤドライバ１２１は、ＬＤ１１１を駆動してレーザ光を出力させる。レーザ光は、コリメートレンズ１１３、ビームスプリッタ１１６、対物レンズ１１４を介して光ディスク１５０に照射される。光ディスク１５０からの反射光は、対物レンズ１１４、ビームスプリッタ１１６、検出レンズ１１５を介してＰＤ１１２に入力される。ＰＤ１１２は、光ディスク１５０からの反射光を電気信号に変換し、特性値検出部１２４及び等化器１３１等に出力する。等化器１３１及びデータ復調回路１２３等は、出力された再生信号に対して所定の復号処理を行い、復号されたデータを制御回路１２５及びＩ／Ｆ１２８を介して、入出力システムの表示部に出力して、再生データを表示させる。特性値検出部１２４は、通常の再生では用いられない。
【００３８】
次に、光ディスク記録再生装置１００の動作について図５乃至図７を用いて説明する。なお、ここでは高密度記録の実施をユーザからＩ／Ｆ１２８を介して指示されているものとする。また、その際の線速度又は記録容量についても同じくユーザからＩ／Ｆ１２８を介して指示されているものとする。但し、記録すべきデータのデータ量から必要な記録容量を特定し、線速度を自動的に決定するようにしても良い。また、記録速度についても、ユーザ指定の記録速度又は実施可能な最高速度の記録速度として特定する。
【００３９】
まず、制御回路１２５は、光ディスク１５０に記録されているメディアＩＤをＰＤ１１２、等化器１３１及びデータ復調回路１２３を介して再生することによって読み出す（ステップＳ１）。また、制御回路１２５は、読み出したメディアＩＤ及び記録速度を用いてメモリ１２７を検索し、メディアＩＤ及び記録速度に対応するストラテジテーブル等がメモリ１２７に格納されているか確認する（ステップＳ３）。ストラテジテーブルには、図２に示したようなタイミングに関するパラメータの他に、記録パワーに関するパラメータを含む。さらに、ストラテジテーブルに加えて、ＯＰＣのためのターゲットアシンメトリ値等（β値の場合もある）と、本発明の実施の形態の原理において述べた線速度と記録パワーとの関係を表す線速度パワー関数のデータも用意されているものとする。
【００４０】
メモリ１２７に、使用すべきストラテジテーブルが格納されている場合には（ステップＳ５：Ｙｅｓルート）、制御回路１２５は、メモリ１２７よりストラテジテーブルに加えて、ターゲットアシンメトリ値等及び線速度パワー関数データを読み出す（ステップＳ９）。そして、使用すべきストラテジテーブルのデータ（ライトピークパワーＰｗを除く）をＬＤドライバ１２１に設定する。また、処理はステップＳ１１に移行する。
【００４１】
一方、メモリ１２７に、使用すべきストラテジテーブルが格納されていない場合には（ステップＳ５：Ｎｏルート）、制御回路１２５は、光ディスク１５０から、ストラテジテーブルに加えて、ターゲットアシンメトリ値等及び線速度パワー関数データを、ＰＤ１１２、等化器１３１及びデータ復調回路１２３を介して再生することによって読み出す（ステップＳ７）。そして、使用すべきストラテジテーブルのデータ（ライトピークパワーＰｗを除く）をＬＤドライバ１２１に設定する。
【００４２】
なお、メモリ１２７にも光ディスク１５０にも該当するストラテジテーブル等が格納されていない場合には、メモリ１２７に格納されており、指定記録速度に対応する標準的なストラテジテーブルを用いるか、高密度記録の実施を中止する。
【００４３】
ステップＳ７の後又はステップＳ９の後に、制御回路１２５は、ＯＰＣを実施する領域におけるターゲットアドレスを、サーボ制御回路１３２及びピックアップ部１１０等にシークさせ（ステップＳ１１）、標準線速度及び特定のパターンにて、所定の範囲でライトピークパワーＰｗを変化させつつ、光ディスク１５０上のＯＰＣのための領域にデータ記録を、制御対象回路に実施させる（ステップＳ１３）。特定のパターンは、例えばランダムパターン、２Ｔマーク及び８Ｔマーク並びに２Ｔスペース及び８Ｔスペースからなるパターン、又は２Ｔマーク及び８Ｔマーク並びに２Ｔスペース及び８Ｔスペースを含む所定のパターンである。いずれのパターンであってもアシンメトリ値等を算出できるような振幅レベルを特性値検出部１２４で測定する必要がある。
【００４４】
図６に示すように、アシンメトリ値は、２Ｔマーク及び２ＴスペースによるＲＦ信号のトップの振幅レベルＩ2Hとボトムの振幅レベルＩ2Lと、８Ｔマーク及び８ＴスペースによるＲＦ信号のトップの振幅レベルＩ8Hとボトムの振幅レベルＩ8Lとから算出される。なお、Ｉ8pp＝Ｉ8H−Ｉ8Lである。
【００４５】
また、アシンメトリ値は、以下の式で算出される。
【数１】
2010033686.tif 000003
【００４６】
ステップＳ１３の後に、制御回路１２５は、ＯＰＣのための領域に書き込んだ記録パターンを読み出すように制御を行い、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２から出力されるＲＦ信号についてアシンメトリ値等を算出するのに必要な特性値（上で述べたＩ2H、Ｉ2L、Ｉ8H、Ｉ8L。なおβ値を採用している場合には、β値を算出するのに必要なデータ）を測定し、制御回路１２５に特性値を出力する。制御回路１２５は、特性値検出部１２４から各ライトピークパワーＰｗについての特性値を受け取り、各ライトピークパワーＰｗについてアシンメトリ値等を算出し、メモリ１２７に格納する（ステップＳ１５）。
【００４７】
そして、制御回路１２５は、ライトピークパワーＰｗの変化によって、ステップＳ１５で算出されたアシンメトリ値等がターゲットアシンメトリ値等をまたいだか判断する（ステップＳ１７）。すなわち、アシンメトリ値がターゲットアシンメトリ値を最初に下回わるまでライトピークパワーＰｗを変化させる。
【００４８】
従って、ライトピークパワーＰｗの変化によって、ステップＳ１５で算出されたアシンメトリ値等がターゲットアシンメトリ値等をまたいでいないと判断された場合には、制御回路１２５は、ライトピークパワーＰｗの変更範囲を変更して、ステップＳ１３に戻る（ステップＳ１９）。
【００４９】
一方、ライトピークパワーＰｗの変化によって、ステップＳ１５で算出されたアシンメトリ値等がターゲットアシンメトリ値等をまたいでいると判断された場合には、端子Ａを介して図７の処理に移行する。
【００５０】
図７の処理の説明に移行して、制御回路１２５は、ターゲットアシンメトリ値等におけるライトピークパワーＰｗを最適ライトピークパワーＰｗoとして特定する（ステップＳ２１）。そして、最適ライトピークパワーＰｗoで、再度ＯＰＣのための領域に標準線速度及び特定のパターンでデータ記録を実施する（ステップＳ２３）。そして、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２から出力されるＲＦ信号についてアシンメトリ値等を算出するのに必要な特性値を測定し、制御回路１２５に特性値を出力する。制御回路１２５は、特性値検出部１２４から特性値を受け取り、アシンメトリ値等を算出し、例えばターゲットアシンメトリ値等との差が一定値以内であるか確認する（ステップＳ２５）。
【００５１】
そして、制御回路１２５は、ステップＳ２１で特定した最適なライトピークパワーＰｗoで問題があるか判断する（ステップＳ２７）。上で述べたように、ステップＳ２５で算出したアシンメトリ値等とターゲットアシンメトリ値等との差が一定値以内であれば問題なしと判断し、差が一定値以内でない場合には問題有りと判断する。差が一定値以内でない場合には問題有りとして端子Ｂを介して図５のステップＳ１１に戻る。なお、ステップＳ２１乃至Ｓ２７については実施せずにスキップしてもよい。
【００５２】
一方、問題なしと判断した場合には、制御回路１２５は、線速度パワー関数に基づき標準線速度におけるライトピークパワーＰｗ2を算出し、当該算出されたライトピークパワーＰｗ2とステップＳ２１で特定した最適ライトピークパワーＰｗoとの差Ｄ（＝算出されたライトピークパワーＰｗ2−最適ライトピークパワーＰｗo）を算出する（ステップＳ２９）。この差Ｄによって、線速度パワー関数を特定するのに用いた実験機と実際のドライブ・システムとの差を特定するものである。なお、線速度パワー関数がＷｒｉｔｅＰｗについての式である場合には、ＷｒｉｔｅＰｗを算出すると共に、ＷｒｉｔｅＰＷ＝（Ｐｗ−Ｐｂｗ）×２＋Ｐｂｗの関係式でもってライトピークパワーＰｗを算出する。但し、本実施の形態ではＰｂｗは一定又はＰｗとの比は一定であるとしているので、簡単にライトピークパワーＰｗを算出することができる。
【００５３】
さらに、制御回路１２５は、指定線速度に対応するライトピークパワーＰｗ3を線速度パワー関数から算出し、指定線速度に対応するライトピークパワーＰｗ3をステップＳ２９で算出された差Ｄにより調整を行う（ステップＳ３１）。すなわち、指定線速度に対応するライトピークパワーを、ステップＳ２９のように算出すると共に、指定線速度に対応するライトピークパワー−差Ｄで調整を行う。但し、差Ｄについては、標準線速度と指定線速度との比や差で調整する場合もある。
【００５４】
そして、制御回路１２５は、調整後のライトピークパワーを、ＬＤドライバ１２１に設定する（ステップＳ３３）。さらに、制御回路１２５は、データ記録を実施させ、同時に特性値検出部１２４で必要な特性値を測定して制御回路１２５は当該必要な特性値を用いてアシンメトリ値等を算出し、基準データとしてメモリ１２７に格納する（ステップＳ３５）。
【００５５】
このような処理を実施することによって、実験機による線速度パワー関数のデータに基づき高密度データ記録を行うことができるようになる。また、標準線速度における線速度パワー関数に基づく記録パワーと実際の最適記録パワーとの差でもって、指定線速度における線速度パワー関数に基づく記録パワーを調整することによって、ドライブ・システムによる特性ばらつきに対応できるようになる。
【００５６】
なお、上で述べたストラテジテーブル、線速度パワー関数及びターゲットアシンメトリ値等は、メモリ１２７に格納される場合もあれば、光ディスク１５０に格納される場合もある。光ディスク１５０に保持させる場合には、図８に示すようなＬｅａｄ−ｉｎ領域の中に保持しておく。Ｌｅａｄ−ｉｎ領域には、ＰＩＣ（Permanent Information & Control Data）領域１７０、ＩＮＦＯ領域、ＯＰＣ領域が含まれる。例えば、ＰＩＣ１７０に、上で述べたストラテジテーブル、線速度パワー関数及びターゲットアシンメトリ値等を保持しておく。なお、ＢＣＡ、ＤＡＴＡ領域、Ｌｅａｄ−ｏｕｔ領域は従来と同じである。
【００５７】
２．実施の形態２
［実施の形態２の原理］
第１の実施の形態では、パルス長などのストラテジについては変化させずに主にライトピークパワーＰｗを変化させていたので、図３に示すように、線速度とライトピークパワーＰｗの関係は、２次式で表されていた。本実施の形態では以下で述べるように、ストラテジと記録パワーの最適化を組み合わせて、線速度とライトピークパワーＰｗの関係が１次式で表されるようにすると共に、各線速度においてビットエラーレートが規格値を満たすようにする。
【００５８】
（１）前提
本実施の形態では、図９に示すように、比較的バイアスパワーＰｂｗを高くしたマルチパルス型のストラテジを採用することとする。具体的に、例えばＰｓ＝０．３５ｍＷであるとすると、Ｐｂｗ＝１．４４ｍＷ程度である。タイミングに関するパラメータは、図２に示したとおり、ｄＴｔｏｐ、Ｔｔｏｐ、Ｔｍｐ、Ｔｌｐ、ｄＴｓなどがある。クーリングパルス幅は、ｄＴｓを調整することによって設定することができる。標準速度記録及び２倍速記録の場合には、図２に示すようなマルチパルス型の記録波形が用いられる。
【００５９】
（２）ストラテジの最適化
最初に、標準線速度（容量で２５ＧＢｙｔｅ）におけるストラテジと同じストラテジで、バイアスパワーＰｂｗも標準線速度の場合と同じ値を採用した場合に、ビットエラーレートと第１の実施の形態で導入したＷｒｉｔｅＰＷとの関係を図１０に示す。
【００６０】
図１０において縦軸はビットエラーレートを表し、横軸はＷｒｉｔｅＰＷを表す。規格におけるビットエラーレートの閾値は、２×１０-4であり、２５ＧＢｙｔｅから容量を増加させると、徐々にＷｒｉｔｅＰＷの取り得る幅（マージン）が少なくなることが分かる。特に、３１．３ＧＢｙｔｅでは、かろうじて規格を満たしている。これは、例えば２Ｔスペース及びマークの連続する部分など短Ｔ連続部分でエラーが頻発するためであって、これは記録時の熱干渉によるものである。なお、３１．３ＧＢｙｔｅでは、ビットエラーレートを下げるためＰＲ１２２２１を採用している。
【００６１】
また、各容量における最適な記録パワーは、図１１に示すとおりである。図１１から分かるように、本実施の形態では、初期的に、バイアスパワーＰｂｗを、固定している。そして、容量が増加すると共に、ライトピークパワーＰｗは、徐々に下がるように調整されている。図１１では、線速度は２倍速の場合の線速度であり、再生は１倍速で行っている。
【００６２】
このような状態をベースとして、ストラテジの最適化を実施すると、図１２乃至図１６のような結果が得られた。図１２は、２５ＧＢｙｔｅの場合のストラテジを表しており、図１３は、２７．７ＧＢｙｔｅの場合のストラテジを表しており、図１４は、２９．４ＧＢｙｔｅの場合のストラテジを表しており、図１５は、３１．３ＧＢｙｔｅの場合のストラテジを表しており、図１６は、３３．３ＧＢｙｔｅの場合のストラテジを表している。図１２乃至図１６の数字は、１Ｔを１６等分した時間に対する設定値である。
【００６３】
図１２のストラテジをベースとすると、図１３乃至図１６ではハッチング部分が変更された部分となる。これを見ると、ｄＴｓを除き、１ステップのみの調整で済んでいる。また、ｄＴｓについては３１．３ＧＢｙｔｅ以上で調整が必要であり、図１５及び図１６のような調整ではなく、２５ＧＢｙｔｅの値を一律−４ステップ調整するようにしても良い。Ｔlpについても、３１．３ＧＢｙｔｅ以上で調整が必要となる。
【００６４】
このようなストラテジの調整を行った後、再度ビットエラーレートの測定を行うと、図１７及び図１８のような結果が得られる。図１７においては、縦軸はビットエラーレートを表し、横軸はＷｒｉｔｅＰＷを表しており、２７．７ＧＢｙｔｅの変更前後、２９．４ＧＢｙｔｅの変更前後を示している。このように、高パワー側のビットエラーレートが改善されており、マージンが広がっている。これは、ｄＴtop及びＴtopを調整した効果である。また、図１８においては、縦軸はビットエラーレートを表し、横軸はＷｒｉｔｅＰＷを表しており、３１．３ＧＢｙｔｅの変更前（初期）、バイアスパワーＰｂｗを１．４４ｍＷから１．３６ｍＷに変更した場合（Ｐｂｗ）、さらにストラテジを調整した場合（Ｐｂｗ＋ストラテジ）を示している。このように３１．３ＧＢｙｔｅの場合には、ストラテジの調整によって比較的大きな改善がなされるが、バイアスパワーＰｂｗの調整も効果があるということが分かる。
【００６５】
このように、ｄＴtop及びＴtopといったトップパルスに関するパラメータを調整すると共に、３１．３ＧＢｙｔｅ以上であれば、クーリングパルス幅やラストパルス幅を調整することが有効であることが分かる。これらは、マーク形成に係る熱量を最適化して、熱干渉を低減するように作用する。
【００６６】
以上のストラテジ調整をまとめると、図１９のようになる。２５ＧＢｙｔｅをベースにして、２７．７ＧＢｙｔｅの場合には、２ＴのマークにおけるｄＴtopを調整し、３Ｔ以上のマークにおけるＴtopを調整する。２９．４ＧＢｙｔｅの場合には、全ＴのマークにおけるｄＴtopを調整し、３Ｔ以上のマークにおけるＴtopを調整する。３１．３ＧＢｙｔｅ以上の場合には、全ＴのマークにおけるｄＴtopを調整し、３Ｔ以上のマークにおけるＴtopを調整し、４Ｔ以上のマークにおけるＴlpを調整し、全ＴのマークにおけるｄＴsを調整する。
【００６７】
（３）記録パワーの最適化
記録パワーの最適化の結果を図２０に示す。図２０において、縦軸はパワーを表し、横軸は線速度を表し、プロットされている点は、左から、２５ＧＢｙｔｅ、２７．７ＧＢｙｔｅ、２９．４ＧＢｙｔｅ、３１．３ＧＢｙｔｅ、３３．３ＧＢｙｔｅの場合をそれぞれ示している。ここで、変更前については、２５ＧＢｙｔｅと同様の条件での最適値であり、変更後については、２９．４ＧＢｙｔｅ以上の容量では、ストラテジを最適化しており、３１．３ＧＢｙｔｅ以上になるとバイアスパワーＰｂｗを調整している。２７．７ＧＢｙｔｅまでであればバイアスパワーＰｂｗについては固定である。
【００６８】
図２０ではあまり大きな変化があるようには見えないが、ライトピークパワーＰｗについては、線形性が改善されており、バイアスパワーＰｂｗについては、３１．３ＧＢｙｔｅ以上になると、下げられていることが分かる。
【００６９】
２５ＧＢｙｔｅから２９．４ＧＢｙｔｅまで（線速度４．９１７×２から４．１８×２［ｍ／ｓ］）の最適記録パワーについてまとめると図２１のようになる。図２１において、縦軸は記録パワーを表し、横軸は線速度を表す。このように、バイアスパワーＰｂｗについてはこの範囲では固定であり、ライトピークパワーＰｗについては、以下で示すような一次式で近似される。なお、ｖは、線速度を表す。
ｙ＝０．２５３５ｖ＋０．６９８２
ＷｒｉｔｅＰＷ＝（Ｐｗ−Ｐｂｗ）×２＋Ｐｂｗであるから、ＷｒｉｔｅＰＷについてはＰｗの変化に応じて変化する。
【００７０】
さらに、３１．３ＧＢｙｔｅ以上の範囲について最適記録パワーについてまとめると図２２のようになる。図２２において、縦軸は記録パワーを表し、横軸は線速度を表す。このように、バイアスパワーＰｂｗも、ライトピークパワーＰｗも、一次式で近似でき、それぞれ独立に制御されるべきものである。
Ｐｂｗ：ｙ1＝０．１６２７ｖ＋０．０８
Ｐｗ：ｙ2＝０．３３０５ｖ＋０．０６５
【００７１】
以上のように、記録パワーについては、２７．７ＧＢｙｔｅまでの場合には、ライトピークパワーＰｗを線速度に応じた一次式に従って変化させ、バイアスパワーＰｂｗについては固定する。すなわち、最適化した結果を得る必要がある場合には、バイアスパワーＰｂｗについてはライトピークパワーＰｗとは独立に制御できなければならない。
【００７２】
また、３１．３ＧＢｙｔｅ以上の場合には、ライトピークパワーＰｗも、バイアスパワーＰｂｗも、独立した一次式に従って変化させる。この場合にも、最適化した結果を得る必要がある場合には、バイアスパワーＰｂｗについてはライトピークパワーＰｗとは独立に制御できなければならない。
【００７３】
（４）まとめ
（Ａ）２５ＧＢｙｔｅから２９．４ＧＢｙｔｅ
バイアスパワーＰｂｗについては固定する。ライトピークパワーＰｗについては最適化が必要である。ストラテジについては２５ＧＢｙｔｅと同じ値を用いて調整せずとも規格値を満たすことができるが、調整することが好ましい。
【００７４】
（Ｂ）３１．３ＧＢｙｔｅ以上
バイアスパワーＰｂｗとライトピークパワーＰｗとを独立に調整すると共に、ストラテジの調整も行う。
【００７５】
ストラテジの調整については図１９に示したとおりである。
【００７６】
［実施の形態２の具体的実施例］
光ディスク記録再生装置の構成は基本的に第１の実施の形態と同じである。そして、処理フローについては、第１の実施の形態から、以下の点について変更が必要となる。
【００７７】
（１）ステップＳ７又はＳ９では、線速度パワー関数を読み出すが、読み出す線速度パワー関数は、図２１及び図２２に示したバイアスパワーＰｂｗ及びライトピークパワーＰｗについての線速度パワー関数である。
【００７８】
（２）ステップＳ７又はＳ９では、さらに、標準線速度より遅い範囲におけるストラテジデータについても、読み出しておく。
【００７９】
端子Ａ以降の図７の処理については、図２３に示すような処理で置き換える。まず、制御回路１２５は、ターゲットアシンメトリ値等におけるライトピークパワーＰｗを最適ライトピークパワーＰｗoとして特定する（ステップＳ５１）。そして、最適ライトピークパワーＰｗoで、再度ＯＰＣのための領域に標準線速度及び特定のパターンでデータ記録を実施する（ステップＳ５３）。そして、特性値検出部１２４は、ＰＤ１１２から出力されるＲＦ信号についてアシンメトリ値等を算出するのに必要な特性値を測定し、制御回路１２５に特性値を出力する。制御回路１２５は、特性値検出部１２４から特性値を受け取り、アシンメトリ値等を算出し、例えばターゲットアシンメトリ値等との差が一定値以内であるか確認する（ステップＳ５５）。
【００８０】
そして、制御回路１２５は、ステップＳ５１で特定した最適なライトピークパワーＰｗoで問題があるか判断する（ステップＳ５７）。上で述べたように、ステップＳ５５で算出したアシンメトリ値等とターゲットアシンメトリ値等との差が一定値以内であれば問題なしと判断し、差が一定値以内でない場合には問題有りと判断する。差が一定値以内でない場合には問題有りとして端子Ｂを介して図５のステップＳ１１に戻る。なお、ステップＳ５１乃至Ｓ５７については実施せずにスキップしてもよい。以上の処理については、図７と同じである。
【００８１】
一方、問題なしと判断した場合には、制御回路１２５は、ライトピークパワーＰｗについての線速度パワー関数に基づき標準線速度におけるライトピークパワーＰｗ2を算出し、当該算出されたライトピークパワーＰｗ2とステップＳ５１で特定した最適ライトピークパワーＰｗoとの差Ｄ（＝算出されたライトピークパワーＰｗ2−最適ライトピークパワーＰｗo）を算出する（ステップＳ５９）。この差Ｄによって、線速度パワー関数を特定するのに用いた実験機と実際のドライブ・システムとの差を特定するものである。
【００８２】
さらに、制御回路１２５は、指定線速度に対応するライトピークパワーＰｗ3をライトピークパワーＰｗについての線速度パワー関数から算出し、指定線速度に対応するライトピークパワーＰｗ3をステップＳ５９で算出された差Ｄにより調整を行う（ステップＳ６１）。すなわち、指定線速度に対応するライトピークパワーを、ステップＳ５９のように算出すると共に、指定線速度に対応するライトピークパワー−差Ｄで調整を行う。但し、差Ｄについては、標準線速度と指定線速度との比や差で調整する場合もある。
【００８３】
また、制御回路１２５は、指定線速度に対応するバイアスパワーＰｂｗをバイアスパワーＰｂｗについての線速度パワー関数から算出し、指定線速度に対応するバイアスパワーＰｂｗをステップＳ５９で算出された差Ｄにより調整を行う（ステップＳ６３）。ステップＳ６１と同様に、指定線速度に対応するバイアスパワーＰｂｗ−差Ｄで調整を行う。なお、上で述べたように、２９．４ＧＢｙｔｅまでの場合には、バイアスパワーＰｂｗについての線速度パワー関数は、一定値を出力するような関数である。但し、差Ｄについては、標準線速度と指定線速度との比や差で調整する場合もある。
【００８４】
そして、制御回路１２５は、調整後のライトピークパワー及びバイアスパワー、並びに指定線速度用のストラテジを、ＬＤドライバ１２１に設定する（ステップＳ６５）。さらに、制御回路１２５は、データ記録を実施させ、同時に特性値検出部１２４で必要な特性値を測定して制御回路１２５は当該必要な特性値を用いてアシンメトリ値等を算出し、基準データとしてメモリ１２７に格納する（ステップＳ６７）。
【００８５】
このような処理を実施することによって、実験機による線速度パワー関数のデータに基づき高密度データ記録を行うことができるようになる。また、標準線速度における線速度パワー関数に基づく記録パワーと実際の最適記録パワーとの差でもって、指定線速度における線速度パワー関数に基づく記録パワーを調整することによって、ドライブ・システムによる特性ばらつきに対応できるようになる。
【００８６】
また、ストラテジも指定線速度用のものを用いるので、より高品質のデータ記録を行うことができるようになる。
【００８７】
また、第２の実施の形態においても、図８に示したように、光ディスク１５０に、上で述べたストラテジテーブル、Ｐｗ及びＰｂｗについての線速度パワー関数及びターゲットアシンメトリ値等を保持しておくようにしてもよいし、例えば光ディスク１５０のメディアＩＤ毎に、上記データをメモリ１２７に保持しておくようにしても良い。
【００８８】
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図４の機能ブロック図は、実施の形態を説明するために示したもので、必ずしも実際の回路やモジュール構成と一致しない場合もある。また、処理フローについても処理結果が同じであれば処理順番を入れ替えたり、並列に実行するようにしても良い。
【００８９】
また、本発明は、無機材料を用いたディスクだけではなく、有機材料を用いたディスクにも適用することが可能である。さらに、記録方式がHigh-to-Lowの場合だけではなく、Low-to-Highの場合にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】線速度と、記録容量、２Ｔマーク長及び３Ｔマーク長との関係を示す図である。
【図２】記録波形の一例を示す図である。
【図３】ＷｒｉｔｅＰｗ、ライトピークパワーＰｗ及びバイアスパワーＰｂｗと、線速度の関係を表す図である。
【図４】本発明の実施の形態における機能ブロック図である。
【図５】本発明の第１の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図６】アシンメトリ値の算出に必要な振幅値を示す図である。
【図７】第１の発明の実施の形態における処理フローを示す図である。
【図８】光ディスクに格納されるデータ構造を示す図である。
【図９】第２の実施の形態において用いられるストラテジを説明するための図である。
【図１０】記録パワーのみを調整した場合のビットエラーレートとＷｒｉｔｅＰＷの関係について説明する図である。
【図１１】図１０の前提となる記録パワー等のデータを示す図である。
【図１２】２５ＧＢｙｔｅの場合のストラテジデータの一例を示す図である。
【図１３】２７．７ＧＢｙｔｅの場合のストラテジデータの一例を示す図である。
【図１４】２９．４ＧＢｙｔｅの場合のストラテジデータの一例を示す図である。
【図１５】３１．３ＧＢｙｔｅの場合のストラテジデータの一例を示す図である。
【図１６】３３．３ＧＢｙｔｅの場合のストラテジデータの一例を示す図である。
【図１７】２５ＧＢｙｔｅから２９．４ＧＢｙｔｅまでの範囲で、ストラテジを最適化した場合における、ビットエラーレートとＷｒｉｔｅＰＷの関係を説明するための図である。
【図１８】３１．３ＧＢｙｔｅ以上の範囲で、ストラテジデータなどを調整した場合における、ビットエラーレートとＷｒｉｔｅＰＷの関係を説明するための図である。
【図１９】ストラテジデータの最適化をまとめた図である。
【図２０】記録パワーの最適化について説明するための図である。
【図２１】２５ＧＢｙｔｅから２９．４ＧＢｙｔｅまでの範囲で、線速度記録パワー関数を説明するための図である。
【図２２】３１．３ＧＢｙｔｅ以上の範囲で、線速度記録パワー関数を説明するための図である。
【図２３】本発明の第２の実施の形態における処理フローを示す図である。
【符号の説明】
【００９１】
１００  光ディスク記録再生装置
１１０  ピックアップ部    １１１  ＬＤ  
１１２  ＰＤ    １１３  コリメートレンズ
１１４  対物レンズ    １１５  検出レンズ
１１６  ビームスプリッタ    １２１  ＬＤドライバ
１２３  データ復調回路    １２４  特性値検出部
１２５  制御回路    １２６  メモリ回路
１２７  メモリ    １２８  Ｉ／Ｆ    １２９  データ変調回路
１３１  等化器    １３２  サーボ制御回路
１５０  光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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