(57)【要約】【課題】光ディスク装置の再生性能を定量的に評価する。【解決手段】評価用光ディスク１０のデータ領域に欠陥１２を形成し、データ記録時にスペア領域に代替記録されるようにする。欠陥は、クラスタ単位で形成され、かつ、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成される。この評価用光ディスクを再生することで、欠陥領域のシーク動作を伴う再生性能を評価する。【選択図】図１
2010165402.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データ領域と、
前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域と、
を有し、
前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成されてなる、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスクにおいて、
前記欠陥は、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンの全てを混在させて形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスクにおいて、
前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録領域を有する層が複数からなる、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の光ディスクにおいて、
前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、
前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項５】
請求項４記載の光ディスクにおいて、
内周の複数のチャプタには前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのうちのいずれかのパターンの欠陥が形成され、中周の複数のチャプタには残りの２つのパターンのうちのいずれかのパターンの欠陥が形成され、外周の複数のチャプタには残りの１つのパターンの欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項６】
請求項５記載の光ディスクにおいて、
内周の複数のチャプタには前記第２パターンの欠陥が形成され、中周の複数のチャプタには前記第１パターンの欠陥が形成され、外周の複数のチャプタには前記第３パターンの欠陥が形成される、光ディスク装置の再生性能評価用光ディスク。
【請求項７】
評価用光ディスクを再生することで光ディスク装置の再生性能を評価する評価方法であって、
前記評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうちの少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成され、
前記評価用光ディスクを再生し、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのうちの少なくともいずれか２つのパターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
【請求項８】
請求項７記載の方法において、
前記欠陥は、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンの全てを混在させて形成され、
前記評価用光ディスクを再生し、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
【請求項９】
請求項８記載の方法において、
前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、
前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成されることで各チャプタ毎に再生性能に対する負荷が異なるように形成されており、
前記負荷が小さいチャプタから順に再生して再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置評価用光ディスク及び評価方法に関し、特に光ディスク装置の再生性能（プレイアビリティ）を評価するための評価用光ディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
記録可能なブルーレイディスク（ＢＤ−Ｒ／ＲＥ：登録商標）等の高音質のオーディオデータ及び高画質のビデオデータを長時間にわたって記録できる高密度光ディスク及びこの光ディスクにデータを記録あるいは再生する光ディスク装置（光ディスクレコーダ／プレーヤ）が実用化されている。ＢＤ−Ｒ／ＲＥは、リードイン領域、データ領域、及びリードアウト領域を有する。データ領域の先頭及び末尾には、それぞれ内部スペア領域ＩＳＡ及び外部スペア領域ＯＳＡが割り当てられている。ＢＤ−Ｒ／ＲＥのデータ記録単位はクラスタであり、データの記録中にデータ領域内に欠陥（ディフェクト）があるか否かを検出する。ディフェクトが検出された場合、代替記録動作が行われる。例えば、データ領域に記録する予定のデータをスペア領域（内部スペア領域あるいは外部スペア領域）に記録する。その後、検出した欠陥領域の位置情報と、スペア領域に代替記録された置換情報を管理情報としてリードイン領域内に位置づけられたディスク管理領域ＤＭＡの欠陥リストＤＦＬに格納される。データ再生時には、欠陥領域のデータの代わりに、欠陥リストＤＦＬにアクセスすることによりスペア領域に代替記録されたデータを再生する。
【０００３】
図１４に、ＢＤ−Ｒ／ＲＥのデータフォーマットを示す。内周側の例えば２４．００ｍｍ〜２４．６２ｍｍの領域に内部スペア領域ＩＳＡ０が設けられ、外周側の例えば５５．２３ｍｍ〜５７．４８ｍｍの領域にブランク領域が設けられ、５７．４８ｍｍ〜５８．００ｍｍに外部スペア領域ＯＳＡ０が設けられる。データ領域は、２４．６２ｍｍ〜５５．２３ｍｍの領域である。
【０００４】
図１５に、欠陥がある場合のスペア領域に対する代替記録の様子を示す。データ領域にチャプタ１〜チャプタ１６までデータを記録するものとし、内周〜中周に記録されるチャプタ１〜チャプタ８に欠陥が検出された場合には内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録し、中周〜外周に記録されるチャプタ９〜チャプタ１６に欠陥が検出された場合には外部スペア領域ＯＳＡ０に代替記録する。すなわち、チャプタ１にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを内部スペア領域ＩＳＡ０までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。また、チャプタ８にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを内部スペア領域ＩＳＡ０までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。また、チャプタ９にデータを記録中に欠陥を検出した場合、光ディスク装置のコントローラは光ピックアップを外部スペア領域までシークしてデータを代替記録し、その後光ピックアップを再び元の位置までシークしてデータの記録を続行する。
【０００５】
欠陥が検出された場合に内部スペア領域ＩＳＡあるいは外部スペア領域ＯＳＡのいずれに代替記録するかは任意であるが、概ねディスク半径４０ｍｍ以内の欠陥については内部スペア領域ＩＳＡに代替記録し、それ以降の欠陥については外部スペア領域ＯＳＡに代替記録することでシーク距離を短縮化できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−１０１２２号公報
【特許文献２】特開２００７−１７９７４０号公報
【特許文献３】特開２００８−３１０８７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
上記のように、代替記録された光ディスクを再生する場合、予めリードイン領域内に位置づけられたディスク管理領域ＤＭＡの欠陥リストＤＦＬの情報を読み取り、データ領域内に存在する欠陥領域のデータの代わりにスペア領域に記録されたデータを再生することになるが、光ピックアップはデータ領域とスペア領域を往復するシーク動作を行うことになるので再生機能にとり大きな負担となる。例えば、あるチャプタにおいて欠陥が２箇所存在する場合には問題なくデータを再生することができるが、欠陥が４箇所、８箇所、１６箇所と増大するに伴い、その分だけシーク回数が増大することになるためデータ再生時にコマ落ちや映像飛びが顕著に現れる場合がある。もちろん、どの程度の欠陥でコマ落ちや映像飛び等の不具合が生じるかは光ディスク装置の再生性能に大きく依存することになるが、言い換えれば、光ディスク装置にとってどの程度の欠陥に耐えられるかを正確に評価することは極めて重要である。
【０００８】
なお、上記の特許文献３には、データ領域に映像データが不連続に記録された第１領域と、欠陥領域として扱われる第２領域とを交互に設けるとともに、ディスク外周側に代替領域を設け、光ピックアップが第１の領域と代替領域との間を交互に移動しながら映像データを読み取ることで再生性能を評価することが開示されているが、再生映像にシークによる途切れがあるか否かにより再生性能を評価できるだけであり、いわば再生性能が良い、あるいは悪いという２値的な評価のみに留まり、再生性能をより高精度に定量的に評価することはできない。
【０００９】
本発明は、代替記録に対する光ディスク装置の再生性能（プレイアビリティ）を定量的に評価することができる評価用光ディスク及び評価方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の光ディスク装置の再生性能評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成されてなる。
【００１１】
本発明の１つの実施形態では、前記欠陥は、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンの全てを混在させて形成される。
【００１２】
また、本発明の他の実施形態では、前記データは、前記データ領域に複数のチャプタとして記録され、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのそれぞれにおいて、各チャプタ毎に互いに数あるいは位置が異なるように前記欠陥が形成される。
【００１３】
また、本発明は、評価用光ディスクを再生することで光ディスク装置の再生性能を評価する評価方法であって、前記評価用光ディスクは、データ領域と、前記データ領域に欠陥が存在する場合にデータが代替記録されるスペア領域とを有し、前記データ領域にクラスタ単位で欠陥が形成され、かつ前記欠陥は、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうちの少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成されてなり、前記評価用光ディスクを再生し、前記第１パターン、前記第２パターン、前記第３パターンのうちの少なくともいずれか２つのパターンの欠陥による前記データ領域と前記スペア領域との間の光ピックアップのシーク動作に伴う再生データ品質を評価することで前記光ディスク装置の再生性能を評価することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、複数の欠陥パターンを混在させて形成することで、光ディスク装置の再生性能を定量的に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】評価用光ディスクの欠陥パターン説明図である。
【図２】図１の欠陥パターンにおける代替記録説明図である。
【図３】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図４】複数のクラスタの境界に欠陥が存在する場合の説明図である。
【図５】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図６】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図７】軽い汚れや細い傷が存在する場合の説明図である。
【図８】指紋や太い幅の欠陥が存在する場合の説明図である。
【図９】評価用光ディスクに含まれる欠陥パターンの一覧を示す表図である。
【図１０】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図１１】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図１２】評価用光ディスクの他の欠陥パターン説明図である。
【図１３】実施形態の処理フローチャートである。
【図１４】光ディスクのデータフォーマット図である。
【図１５】チャプタの欠陥に応じた代替記録の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。本実施形態では、図１４に示されるように内周側に内部スペア領域ＩＳＡ０が配置され、外周側に外部スペア領域ＯＳＡ０が配置されるデータフォーマットを前提とする。また、図１５に示されるように、チャプタ１〜チャプタ１６のデータをデータ領域に記録し、チャプタ１〜チャプタ８に欠陥が検出された場合に内部スペア領域ＩＳＡ０にデータを代替記録し、チャプタ９〜チャプタ１６に欠陥が検出された場合に外部スペア領域ＯＳＡ０にデータを代替記録する光ディスク装置を前提とする。光ディスク装置は、ＢＤ−Ｒ／ＲＥに記録されたデータを再生するレコーダ／プレーヤである。
【００１７】
図１に、本実施形態における評価用光ディスク１０の欠陥パターンを示す。ＢＤ−Ｒ／ＲＥでは既述したようにクラスタ単位でデータが記録されるが、この評価用光ディスク１０は、１クラスタ毎に欠陥１２が形成された光ディスクである。すなわち、隣接するクラスタｉ、ｉ＋１、ｉ＋２、ｉ＋３、ｉ＋４、・・において、クラスタｉに欠陥１２が形成され、クラスタｉ＋１には欠陥１２が形成されておらず、クラスタｉ＋２に欠陥１２が形成され、クラスタｉ＋３には欠陥１２が形成されておらず、クラスタｉ＋４に欠陥１２が形成される。
【００１８】
このような欠陥１２は、例えばレーザ光を用いて形成することが可能である。すなわち、欠陥を形成すべきクラスタにレーザ光を照射してピットを形成しておく。すると、データ記録時において当該クラスタにデータを記録すると、既に形成されているピットにさらにデータを記録することになり、過剰なピットが形成されるため欠陥となる。このように１クラスタ毎に欠陥が形成されるようなパターンは、光ディスク装置の再生性能にとって厳しいパターンである。短時間に何回も光ピックアップのシーク動作を繰り返し実行する必要があるからである。以下、図１に示すように１クラスタ毎に欠陥１２が形成される欠陥パターンを欠陥パターンＩと称する。
【００１９】
図２に、欠陥パターンＩが存在する場合の、代替記録の様子を示す。データ領域内においてあるチャプタのデータを記録する場合、チャプタの先頭から例えば５秒後に１つのクラスタ（クラスタ６とする）に欠陥が存在するため、内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録する。ＩＳＡ０には図示のようにクラスタ６に記録すべきデータが代替記録される。クラスタ６に隣接する次のクラスタ７には欠陥が存在していないため、クラスタ７にはデータがそのまま記録される。クラスタ７に隣接する次のクラスタ８には欠陥が存在するため、内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録する。内部スペア領域ＩＳＡ０には図示のようにクラスタ８に記録すべきデータが代替記録される。クラスタ８に隣接する次のクラスタ９には欠陥が存在していないため、クラスタ９にはデータがそのまま記録される。以下、同様にして、クラスタ６，８，１０，１２，１４，１６については内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録され、クラスタ７，９，１１，１３，１５，１７についてはその位置にそのまま記録される。
【００２０】
このように代替記録された評価用光ディスクを検査対象の光ディスク装置に装着してデータを再生する場合、検査対象の光ディスク装置の光ピックアップは、クラスタ１〜クラスタ５まで（つまりチャプタの先頭から５秒間まで）はその位置でデータを再生することができるが、クラスタ６については内部スペア領域ＩＳＡ０まで光ピックアップをシークしてデータを再生し、その後に再びクラスタ７の位置まで光ピックアップをシークしてデータを再生する。そして、クラスタ８については再び内部スペア領域ＩＳＡ０まで光ピックアップをシークしてデータを再生し、その後に再びクラスタ９の位置まで光ピックアップをシークしてデータを再生する。１クラスタ毎に欠陥１２が存在するため、１クラスタ毎に内部スペア領域ＩＳＡ０へのシーク動作が発生し、再生性能に影響を与える。このチャプタのデータがコマ落ちなく再生できるか否か、あるいは映像飛びを生じることなく再生できるか否かを評価することで、光ディスク装置の再生性能を評価することができる。
【００２１】
また、欠陥１２の数が増大するほど再生性能に与える影響は大きくなるので、欠陥１２の数を増減することで光ディスク装置の再生性能を定量評価することができる。例えば、欠陥１２を１クラスタ毎に形成するが、欠陥１２が１チャプタあたり１個のみ、欠陥１２が１チャプタあたり４個、欠陥１２が１チャプタあたり８個、欠陥１２が１チャプタあたり１６個の４種類を評価用光ディスク１０に形成しておき、欠陥１２の数と再生データの品質を評価することで、再生性能を定量評価することができる。再生性能を１〜４の４段階で評価（「４」が最も再生性能が良いものとする）するものとし、欠陥１２が１６個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「４」、８個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「３」、欠陥１２が４個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「２」、欠陥１２が１個の場合にコマ落ちしたときに再生性能を「１」とする等である。
【００２２】
図３に、本実施形態における評価用光ディスク１０の他の欠陥パターンを示す。上記の欠陥パターンＩではクラスタ毎に交互に欠陥１２が形成されているが、この欠陥パターンでは欠陥１２が複数のクラスタにわたって連続的に形成される。図３では、２トラック分にわたって欠陥１２が連続して形成される。なお、クラスタは、光ディスクの内周で円周当たり２個、外周で円周当たり５個存在し（１クラスタ長＝７１．３９ｍｍ）、ディスク径の増大とともにリニアにクラスタ数は増大する。図３において、あるディスク径における１トラックには３個のクラスタが存在するものとすると、この３個のクラスタ全てに連続的に欠陥１２が形成される。２トラックにわたって欠陥１２が形成されると、合計６個のクラスタに欠陥１２が形成されることになる。このように、連続する複数のクラスタに欠陥１２が形成されるパターン（あるトラック全てに欠陥１２が形成されるパターン）を欠陥パターンＩＩと称する。
【００２３】
図４に、欠陥パターンＩＩの物理的意義を示す。内周側のあるトラックにクラスタ１、クラスタ２が存在し、次のトラックにクラスタ３、クラスタ４が存在するものとする。光ディスクに何らかの欠陥１３が存在し、しかもこの欠陥１３がクラスタ１とクラスタ２との境界、及びクラスタ３とクラスタ４の境界に存在する場合には、データ記録はクラスタ単位で行われるため、クラスタ１、クラスタ２、クラスタ３、クラスタ４の合計４個のクラスタにおいて内部スペア領域ＩＳＡ０（あるいは外部スペア領域ＯＳＡ０）に代替記録されることになる。これは、２つのトラック全てにおいて欠陥１３が存在する場合と等価であり、欠陥パターンＩＩの場合に相当する。すなわち、欠陥パターンＩＩは、図４に示すような欠陥１３が存在する場合において光ディスク装置の再生性能を評価するものであるといえる。
【００２４】
欠陥パターンＩＩにおいても、欠陥１２の数を増減することで再生性能を定量評価することができる。例えば、１トラック分で合計３個のクラスタに欠陥１２を形成する場合、２トラック分で合計６個のクラスタに欠陥１２を形成する場合、３トラック分で合計９個のクラスタに欠陥１２を形成する場合の３種類を評価用光ディスク１０に形成しておき、欠陥１２の数と再生データの品質を評価することで、再生性能を定量評価することができる。
【００２５】
図５及び図６に、本実施形態における評価用光ディスク１０の他の欠陥パターンを示す。図５は、複数のトラックにわたり、ある特定の部位あるいは方向に位置するクラスタに欠陥１２が形成される。連続したクラスタではなく、離散的にクラスタに欠陥１２が形成される。一方、図６は、図５と同様に離散的にクラスタに欠陥１２が形成されることは同様であるが、図５では１トラック毎に欠陥１２が形成されるのに対し、５トラック毎に欠陥１２が形成される。
【００２６】
図７及び図８に、図５及び図６に示す欠陥パターンの物理的意義を示す。図７は、比較的狭い幅のスクラッチ傷や指紋等の汚れが欠陥１３として光ディスクに存在する場合である。このような場合、連続したトラックにおいて代替記録（置換）が生じるのではなく、間欠的に代替記録が生じ得る。図６の欠陥パターンに相当するものである。また、図８は、比較的太い幅のスクラッチ傷や指紋が欠陥１３として光ディスクに存在する場合である。このような場合、連続したトラックにおいて代替記録（置換）が生じ得る。図５の欠陥パターンに相当するものである。すなわち、図５や図６は、スクラッチ傷や指紋という、実際に生じ得る欠陥をシミュレーションした欠陥パターンといえる。このように、スクラッチ傷や指紋等の欠陥をシミュレーションした欠陥パターンを欠陥パターンＩＩＩと称する。この欠陥パターンＩＩＩにおいても、上記の欠陥パターンＩ、欠陥パターンＩＩと同様に、欠陥１２の数あるいは位置を変化させることで再生性能を定量評価することができる。例えば、１０トラック毎の合計１６個のクラスタに欠陥１２を形成する場合、５トラック毎の合計１６個のクラスタに欠陥１２を形成する場合、２トラック毎の合計１６個のクラスタに欠陥１２を形成する場合、１トラック毎の合計１６個のクラスタに欠陥１２を形成する場合の４種類を評価用光ディスク１０に形成しておき、どのパターンで再生データにコマ落ちや途切れが生じたかを判定して再生性能を定量評価できる。
【００２７】
以上のように、評価用光ディスク１０に形成する欠陥パターンには、欠陥パターンＩ、ＩＩ、ＩＩＩの３つのパターンが存在し、これらの欠陥パターンは適宜組み合わせて評価用光ディスク１０に形成することができる。例えば、欠陥パターンＩと欠陥パターンＩＩを評価用光ディスク１０に形成する、あるいは欠陥パターンＩＩと欠陥パターンＩＩＩを評価用光ディスク１０に形成する、あるいは欠陥パターンＩと欠陥パターンＩＩＩを評価用光ディスク１０に形成する等である。欠陥パターンＩ、ＩＩ、ＩＩＩはそれぞれ異なる欠陥パターンであり、光ディスク装置の再生性能に与える影響、つまり再生性能に対する負荷が相違する。したがって、複数の欠陥パターンを評価用光ディスク１０に形成しておき、どの欠陥パターンで再生データのコマ落ちや途切れが生じたか否かを評価することで再生性能をより高精度に定量評価することができる。例えば、欠陥パターンＩと欠陥パターンＩＩとを比較すると、多くの場合、欠陥パターンＩの方が再生性能に対する負荷が大きい。したがって、欠陥パターンＩにおいて再生データのコマ落ちが生じた光ディスク装置と、欠陥パターンＩＩにおいて再生データのコマ落ちが生じた光ディスク装置とでは、前者の方が再生性能に優れると評価できる。そして、欠陥パターンＩ内、あるいは欠陥パターンＩＩ内においても、それぞれ既述したように欠陥１２の数や位置に応じて再生性能を定量評価することができるから、これらを組み合わせることで高精度の定量評価が可能となる。最も好適な例としては、欠陥パターンＩ、ＩＩ、ＩＩＩを全て１つの評価用光ディスク１０に形成する場合であろう。
【００２８】
図９に、欠陥パターンＩ、ＩＩ、ＩＩＩが全て形成された評価用光ディスク１０のフォーマットを示す。データ領域にはチャプタ１〜チャプタ１６までの合計１６個のチャプタが記録される。チャプタ１には欠陥１２は形成されない。チャプタ２〜チャプタ４には欠陥パターンＩＩで、つまり連続クラスタに欠陥１２が形成される。チャプタ２には１トラック分の合計３個のクラスタに欠陥１２が形成され、チャプタ３には２トラック分の合計６個のクラスタに欠陥１２が形成され、チャプタ４には２トラック毎の合計６トラック分で合計１８個のクラスタに欠陥１２が形成される。これらの欠陥領域では、内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録される。
【００２９】
また、チャプタ５〜チャプタ８には欠陥パターンＩで、つまり１クラスタ毎に欠陥１２が形成される。チャプタ５には１個の欠陥１２が形成され、チャプタ６には４個の欠陥１２が形成され、チャプタ７には８個の欠陥１２が形成され、チャプタ８には１６個の欠陥１２が形成される。これらの欠陥領域では、内部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録される。
【００３０】
また、チャプタ９〜チャプタ１２には再び欠陥パターンＩで、つまり１クラスタ毎に欠陥１２が形成される。チャプタ９には１個の欠陥１２が形成され、チャプタ１０には４個の欠陥１２が形成され、チャプタ１１には８個の欠陥１２が形成され、チャプタ１２には１６個の欠陥１２が形成される。これらの欠陥領域では、外部スペア領域ＩＳＡ０に代替記録される。
【００３１】
また、チャプタ１３〜チャプタ１６には欠陥パターンＩＩＩで、つまりスクラッチ傷や指紋等の欠陥をシミュレーションしたパターンで欠陥１２が形成される。チャプタ１３には１０トラック毎に合計１６個の欠陥１２が形成され、チャプタ１４には５トラック毎に合計１６個の欠陥１２が形成され、チャプタ１５には２トラック毎に合計１６個の欠陥１６が形成され、チャプタ１６には１トラック毎に合計１６個の欠陥１２が形成される。これらの欠陥領域では、外部スペア領域ＯＳＡ０に代替記録される。なお、ここまでの説明は、記録層が１層のみからなる光ディスクを例として説明したが、もちろん、本発明は、記録層が複数からなる光ディスクにも適用される。
【００３２】
参考までに、図１０にチャプタ４における欠陥パターンを示し、図１１にチャプタ１３における欠陥パターンを示し、図１２にチャプタ１５における欠陥パターンを示す。図１，図３，図５，図６，図１０，図１１及び図１２では、いずれも説明の都合上、該当チャプタにおける欠陥パターンを模式的に示したものであり、評価用光ディスク１０の実際の位置に対応していないことに留意されたい。実際の位置は、図９の開始位置に示されたとおりである。
【００３３】
図１３に、このように複数の欠陥パターンＩ、ＩＩ、ＩＩＩが形成された評価用光ディスク１０を検査対象である光ディスク装置に装着し、光ディスク装置の再生性能を評価する処理フローチャートの一例を示す。再生性能にとって負荷の小さいものから高いものへと順に再生していくフローチャートである。
【００３４】
まず、評価用光ディスク（検査調整用ディスク）１０を検査対象の光ディスク装置に装着する（Ｓ１０１）。そして、チャプタ１の再生を開始する（Ｓ１０２）。図９に示すように、チャプタ１には欠陥１２が形成されていないので、問題なく再生できるはずである。チャプタ１を再生後、チャプタ２に移行してチャプタ２の再生を開始する（Ｓ１０３）。
【００３５】
チャプタ２には欠陥パターンＩＩの欠陥１２が合計３個存在する。したがって、この３個の欠陥領域（３個の連続したクラスタ）において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１０４）。再生データの評価は、具体的にはコマ落ちや映像飛び、映像途切れの有無である。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能は極めて低く不良と評価する（Ｓ１１１）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、次のチャプタ３に移行してチャプタ３の再生を開始する（Ｓ１０５）。
【００３６】
チャプタ３には欠陥パターンＩＩの欠陥１２が合計６個存在する。したがって、この６個の欠陥領域（６個の連続したクラスタ）において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１０６）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１０４でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１１）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、次のチャプタ４を飛び越えてチャプタ５に移行してチャプタ５の再生を開始する（Ｓ１０７）。チャプタ４ではなくチャプタ５に移行するのは、チャプタ４とチャプタ５の欠陥が再生性能に与える負荷の大小を考慮したものであり、チャプタ４の方がチャプタ５よりも負荷が大きいと考えられるからである。
【００３７】
チャプタ５には欠陥パターンＩの欠陥１２が１個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１０８）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１０６でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１１）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ９に移行してチャプタ９の再生を開始する（Ｓ１０９）。チャプタ５からチャプタ９に移行するのも、チャプタ６〜チャプタ９の欠陥が再生性能に与える負荷の大小を考慮したものである。
【００３８】
チャプタ９には欠陥パターンＩの欠陥１２が１個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１１０）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１０８でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１１）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１３に移行してチャプタ１３の再生を開始する（Ｓ１１２）。
【００３９】
チャプタ１３には欠陥パターンＩＩＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１１３）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１１０でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１８）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ４に移行してチャプタ４の再生を開始する（Ｓ１１４）。
【００４０】
チャプタ４には欠陥パターンＩＩの欠陥１２が合計１８個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１１５）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１１３でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１８）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１４に移行してチャプタ１４の再生を開始する（Ｓ１１６）。
【００４１】
チャプタ１４には欠陥パターンＩＩＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１１７）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１１５でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１１８）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１５に移行してチャプタ１５の再生を開始する（Ｓ１１９）。
【００４２】
チャプタ１５には欠陥パターンＩＩＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１２０）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１１７でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１２７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１６に移行してチャプタ１６の再生を開始する（Ｓ１２１）。
【００４３】
チャプタ１６には欠陥パターンＩＩＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１２２）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２０でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１２７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ６に移行してチャプタ６の再生を開始する（Ｓ１２３）。
【００４４】
チャプタ６には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計４個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１２４）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２２でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１２７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１０に移行してチャプタ１０の再生を開始する（Ｓ１２５）。
【００４５】
チャプタ１０には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計４個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１２６）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２４でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１２７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ７に移行してチャプタ７の再生を開始する（Ｓ１２８）。
【００４６】
チャプタ７には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計８個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１２９）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２６でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１３７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１１に移行してチャプタ１１の再生を開始する（Ｓ１３０）。
【００４７】
チャプタ１１には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計８個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１３１）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２９でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いあるいは同程度であり、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１３７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ８に移行してチャプタ８の再生を開始する（Ｓ１３２）。
【００４８】
チャプタ８には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが内部スペア領域ＩＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１３３）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１３１でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いが、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１３７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、チャプタ１２に移行して最後のチャプタ１２の再生を開始する（Ｓ１３４）。
【００４９】
チャプタ１２には欠陥パターンＩの欠陥１２が合計１６個存在する。したがって、この欠陥領域において光ピックアップが外部スペア領域ＯＳＡ０までシークされる。そして、シーク動作を伴って得られた再生データの品質を評価する（Ｓ１３５）。もし、再生データにコマ落ちや途切れ等が生じている場合、評価結果はＮＧとなり、光ディスク装置の再生性能はＳ１２６でＮＧと評価される場合よりは相対的に良いあるいは同程度で、依然として再生性能は低く不良と評価する（Ｓ１３７）。再生データにコマ落ち等が生じていない場合、評価結果はＯＫとなり、再生性能に優れているとして良品と評価する（Ｓ１３６）。
【００５０】
なお、図１３の処理において、再生性能にとり負荷の小さい欠陥から順に配列すると以下のとおりである。
チャプタ１＜チャプタ２＜チャプタ３＜チャプタ５＝チャプタ９＜チャプタ１３＜チャプタ４＜チャプタ１４＜チャプタ１５＜チャプタ１６＜チャプタ６＝チャプタ１０＜チャプタ７＝チャプタ１１＜チャプタ８＝チャプタ１２
【００５１】
チャプタ５とチャプタ９、チャプタ６とチャプタ１０、チャプタ７とチャプタ１１、チャプタ８とチャプタ１２は内部スペア領域ＩＳＡ０にシークするか外部スペア領域ＯＳＡ０にシークするかの違いであり、再生性能に対する負荷は同程度と考えられる。
【００５２】
また、図１３の処理では、光ディスク装置の再生性能を良品（Ｓ１３６）と不良品（Ｓ１１１，Ｓ１１８，Ｓ１２７，Ｓ１３７）として評価したが、上記のとおり、不良品と評価されたものでも再生性能は相対的に異なるため、例えばＳ１１１で不良品と評価された場合に最低の評価レベル「１」、Ｓ１１８で不良品と評価された場合に次の評価レベル「２」、Ｓ１２７で不良品と評価された場合に次の評価レベル「３」、Ｓ１３７で不良品と評価された場合に次の評価レベル「４」、Ｓ１３６で良品と評価された場合に最高の評価レベル「５」を付与して定量評価してもよい。
【００５３】
このように、チャプタ１〜チャプタ１６のそれぞれに異なる欠陥１２を形成し、再生性能にとり負荷の小さいものから順次再生して再生データを評価することで、光ディスク装置の再生性能を定量評価することができる。
【００５４】
本実施形態では、図９に示すように内周のチャプタ２〜４には欠陥パターンＩＩで欠陥１２が形成され、中周のチャプタ５〜チャプタ１２には欠陥パターンＩで欠陥１２が形成され、外周のチャプタ１３〜チャプタ１６には欠陥パターンＩＩＩで欠陥１２が形成されているが、例えば内周のチャプタ２〜４には欠陥パターンＩで欠陥１２が形成され、中周のチャプタ５〜チャプタ１２には欠陥パターンＩＩで欠陥１２が形成され、外周のチャプタ１３〜チャプタ１６には欠陥パターンＩＩＩで欠陥１２が形成されてもよく、あるいは内周のチャプタ２〜４には欠陥パターンＩＩＩで欠陥１２が形成され、中周のチャプタ５〜チャプタ１２には欠陥パターンＩＩで欠陥１２が形成され、外周のチャプタ１３〜チャプタ１６には欠陥パターンＩで欠陥１２が形成されてもよい。
【００５５】
また、本実施形態では、再生性能にとり負荷の小さいチャプタから順に再生したが、負荷の大きいチャプタから順に再生することもできる。
【００５６】
また、本実施形態では、再生性能にとり負荷の小さいチャプタから順に再生するため、チャプタ順に再生していないが（例えば、チャプタ３の次はチャプタ５にジャンプする）、チャプタ１〜チャプタ１６において再生性能に対する負荷がこの順に大きくなるように欠陥１２を形成してもよい。
【００５７】
また、本実施形態では、内部スペア領域ＩＳＡ０と外部スペア領域ＯＳＡ０がともに存在する場合を前提としたが、内部スペア領域ＩＳＡ０のみ、あるいは外部スペア領域ＯＳＡ０のみとしてもよい。内部スペア領域ＩＳＡ０のみとした場合、データ領域の全ての欠陥領域は内部スペア領域ＩＳＡ０を用いて代替記録される。外部スペア領域ＯＳＡ０のみの場合も同様である。
【００５８】
さらに、本実施形態では、クラスタ毎に欠陥１２を形成する場合に、レーザ光を用いて欠陥１２を形成しているが、他の任意の方法、例えばスタンパ等で欠陥１２を形成してもよい。
【符号の説明】
【００５９】
１０  評価用光ディスク、１２，１３  欠陥。
【図１】
2010165402.tif 000003
【図２】
2010165402.tif 000004
【図３】
2010165402.tif 000005
【図４】
2010165402.tif 000006
【図５】
2010165402.tif 000007
【図６】
2010165402.tif 000008
【図７】
2010165402.tif 000009
【図８】
2010165402.tif 000010
【図９】
2010165402.tif 000011
【図１０】
2010165402.tif 000012
【図１１】
2010165402.tif 000013
【図１２】
2010165402.tif 000014
【図１３】
2010165402.tif 000015
【図１４】
2010165402.tif 000016
【図１５】
2010165402.tif 000017