(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、書き換え可能な光ディスクへの情報記録の記録パワー精度を向上させる。【解決手段】情報記録する光ディスクのディスクＩＤを判別し、判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報を、光ディスク装置内に予め登録されているストラテジから求め、該求めた記録回数情報により、光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対し実施する試し記録の回数を設定し、該設定された回数の試し記録を行い、最終回の試し記録後の再生信号に基づき情報記録用の最適記録パワー値を演算する構成とする。【選択図】図５
2010033630.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試し記録に基づき求めた記録パワーで光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録を行う光ディスク装置であって、
レーザ光を発生するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
上記光ディスクのディスクＩＤを判別し、該ディスクＩＤに対応し予め当該光ディスク装置内にストラテジとして登録された試し記録回数情報により、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定し、該設定された回数の試し記録用信号を生成して上記レーザ駆動回路に出力するとともに、上記設定された回数の試し記録のうち最終回の試し記録を行った後の再生信号に基づき、情報記録用の記録パワーを演算する構成を有する制御部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
試し記録に基づき求めた記録パワーで光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録を行う光ディスク装置であって、
レーザ光を発生するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
上記光ディスクのディスクＩＤを判別するディスク判別部と、
当該光ディスク装置内に予めストラテジとして登録されている、上記判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報により、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定する試し記録条件設定部と、
試し記録時、上記レーザ駆動回路に入力する試し記録用信号を生成し、上記記録条件設定部により設定された試し記録回数に対応して出力する記録用信号生成部と、
上記設定された回数の試し記録のうち最終回の試し記録後の再生信号に基づき、情報記録用の記録パワーを演算する演算部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
試し記録に基づき求めた記録パワーで光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録を行う光ディスク装置であって、
レーザ光を発生するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
上記光ディスクのディスクＩＤを判別するディスク判別部と、
当該光ディスク装置内に予めストラテジとして登録されている、上記判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報により、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定する試し記録条件設定部と、
試し記録時、上記レーザ駆動回路に入力する試し記録用信号として、各回の試し記録期間中に試し記録パワーが変化するように該レーザ駆動回路が上記レーザダイオードを駆動するものを生成し、該生成した試し記録用信号を、上記記録条件設定部により設定された試し記録回数に対応して出力する記録用信号生成部と、
上記設定された回数の試し記録のうち最終回の試し記録後の再生信号につきその変調度特性を演算する変調度特性演算部と、
上記変調度特性からγ特性を演算するγ特性演算部と、
上記γ特性に基づき、予めストラテジとして当該光ディスク装置内に登録されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワー値を演算する最適記録パワー演算部と、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
上記試し記録条件設定部は、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、先行の第１の試し記録で記録された情報を消去したアドレス位置に後行の第２の試し記録を行うことを試し記録条件として設定する構成である請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記試し記録条件設定部は、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、最終回の直前の回の試し記録で記録された情報を消去すること及び該情報を消去したアドレス位置に上記最終回の試し記録を行うことを試し記録条件として設定する構成である請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
試し記録に基づき求めた記録パワーで光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録を行う光ディスク装置の情報記録方法であって、
記録を行う光ディスクのディスクＩＤを判別する第１のステップと、
上記判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報を、光ディスク装置内に予め登録されているストラテジから求め、該求めた試し記録回数情報により、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定する第２のステップと、
上記設定された回数の試し記録用信号を生成し、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに試し記録を行う第３のステップと、
上記設定された回数の試し記録のうち最終回の試し記録後の再生信号に基づき、情報記録用の記録パワーを演算する第４のステップと、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置の情報記録方法。
【請求項７】
試し記録に基づき求めた記録パワーで光ディスクにレーザ光を照射し情報の記録を行う光ディスク装置の情報記録方法であって、
記録を行う光ディスクのディスクＩＤを判別する第１のステップと、
上記判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報を、光ディスク装置内に予め登録されているストラテジから求め、該試し記録回数情報により、上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定する第２のステップと、
各回の試し記録期間中に試し記録パワーを変化させる試し記録用信号を生成し、該生成した試し記録用信号に基づきレーザ光を発生させ、上記設定された回数で上記光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに試し記録を行う第３のステップと、
上記設定された回数の試し記録のうち最終回の試し記録後の再生信号につきその変調度特性を演算する第４のステップと、
上記変調度特性からγ特性を演算する第５のステップと、
上記γ特性に基づき、予めストラテジとして当該光ディスク装置内に登録されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワー値を演算する第６のステップと、
を備えたことを特徴とする光ディスク装置の情報記録方法。
【請求項８】
上記第２のステップでは、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、先行の第１の試し記録により記録された情報を消去した後に、後行の第２の試し記録を行うことを設定する請求項６または請求項７に記載の光ディスク装置の情報記録方法。
【請求項９】
上記第２のステップでは、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、最終回の直前の回の試し記録で記録された情報を消去すること及び該情報を消去したアドレス位置に上記最終回の試し記録を行うことを試し記録条件として設定する請求項６または請求項７に記載の光ディスク装置の情報記録方法。
【請求項１０】
光ディスクにレーザ光を照射し、情報の記録を行う光ディスク装置であって、
レーザ光を照射するレーザダイオードと、
上記レーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路と、
上記光ディスクの試し書き領域に対して、記録パワーを変化させて、上記レーザダイオードによりレーザ光を照射するパワースキャンライトを複数回行い、最適記録パワーを設定する制御部と、
上記制御手段により設定された上記最適記録パワーに基づいて上記光ディスクへの記録を行う記録手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
上記制御部は、上記複数回のパワースキャンライトを行う間に少なくとも１度、上記光ディスクの上記試し書き領域に対してデータを消去する構成である請求項１０に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の情報記録技術に係り、特に、情報を書き換え可能な光ディスクに対するＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置においては、例えば、ＲＷ系のＣＤやＤＶＤなど情報を書き換え可能な（リライタブル）光ディスクに対して情報を記録する場合、情報記録に先立って行う記録パワーの設定は、例えば、図７に示すように、パワー値を次第に増大させた試し記録用記録パワーによる試し記録（Ｐｏｗｅｒ  Ｓｃａｎ  Ｗｒｉｔｅ）を、光ディスクの試し記録領域に１回行い（Ｓ７０１）、その後これを再生し（Ｓ７０２）、再生信号の変調度特性を演算し（Ｓ７０３）、該変調度特性からγ特性を演算し（Ｓ７０４）、該γ特性から目標記録パワー値を求め、さらに、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワー値を演算し設定する（Ｓ７０５）ことにより行っているものがある。図８（ａ）は、その光ディスク装置における再生信号特性の例であり、記録パワー値Ｐｗに対する再生信号レベルを示す。図中、ｅｔｏｐは再生信号レベルのトップエンベロープ値を示し、ｅＤＣは再生信号レベルのＤＣ値を示し、ｅｂｔｍは再生信号レベルのボトムエンベロープ値を示す。各点は測定値の点である。また、図８（ｂ）は、図８（ａ）の再生信号特性から演算された再生信号の変調度（Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）特性（Ｍｏｄ特性）の例と、該変調度特性（Ｍｏｄ特性）から演算されたγ特性の例を示す。該変調度特性（Ｍｏｄ特性）は、数式：変調度Ｍｏｄ＝（ｅｔｏｐ−ｅｂｔｍ）／ｅｔｏｐにより演算され、該γ特性は、数式：γ＝（Ｐｗ／Ｍｏｄ）・（ｄＭｏｄ／ｄＰｗ）により演算される。図中、Ｍｏｄ１は、図８（ａ）の再生信号レベルの各測定値に対応する変調度の値、Ｍｏｄ２は、各Ｍｏｄ１の値から求められる近似の変調度特性（Ｍｏｄ特性）、γ１は、Ｍｏｄ１を用いて演算されるγ特性、γ２は、Ｍｏｄ２を用いて演算されるγ特性である。目標記録パワー値Ｐｗtargetは、γ２で表されるγ特性上で目標γ値γtargetに対応する記録パワー値として求められる。
【０００３】
また、本発明に関連する従来技術であって特許文献に記載されたものとしては、例えば、特開２０００−２５１２５４号公報（特許文献１）、特開２００７−１４１４３８号公報（特許文献２）及び特開２００７−２２６９４８号公報（特許文献３）に記載された技術がある。特開２０００−２５１２５４号公報には、記録媒体への記録技術として、記録媒体の試し書き領域に、レーザ光照射により強制的に所定回数以上の記録動作を実行させ、試し書き領域の記録特性を安定化させた後、ＯＰＣ動作を行って最適レーザパワーを判別するとした技術が記載され、特開２００７−１４１４３８号公報には、光ディスクの最適記録パワーの決定方法として、最適記録パワーを決定するためのＯＰＣアルゴリズムで、所定間隔で増加させたパワーのテストパターンを３回繰り返して記録するとした技術が記載されている。また、特開２００７−２２６９４８号公報には、光ディスク装置において、ＯＰＣの前に、ＯＰＣ結果の信頼性を高めるために、最適の消去パワーで、ＯＰＣが行われた光ディスクの一部を消去するとし、該最適消去パワーは、パワー対比変調度曲線からパワー変化に対する変調度の変化量を算出し、該算出した変調度の変化量を用いて決定するとした技術が記載されている。消去後に行うＯＰＣ動作は、ＯＰＣ領域において、パワーを可変してテストデータを記録し、ＯＰＣを繰り返して行うことで、記録されたデータを再生し、最適の記録パワーを検出するとしている。
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−２５１２５４号公報
【特許文献２】特開２００７−１４１４３８号公報
【特許文献３】特開２００７−２２６９４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来技術のうち、図７及び図８で説明した従来の技術においては、ＯＰＣ処理として、「Ｐｏｗｅｒ  Ｓｃａｎ  Ｗｒｉｔｅ」の方式のうち、試し記録期間中に次第に試し記録パワーが増大する方式での試し記録用記録パワーによる１回の試し記録に基づいて最適記録パワー値の演算を行っている。このため、ＲＷ系のＣＤやＤＶＤなど情報を書き換え可能な（リライタブル）光ディスクに対してＯＰＣ処理を行った場合には、ＯＰＣ処理の結果として求められる最適記録パワーは、例えば図９に示すような特性となり、ＯＰＣ処理の繰り返しの回数を、２回、３回、４回…と重ねる毎に、求まる最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏの値は大きく減少する。例えば、最初（１回目）のＯＰＣ処理の結果では、最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏは約４２．３ｍＶであったものが、２回目のＯＰＣ処理の結果では、最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏは約４０．９５ｍＶとなって、２回目のＯＰＣ処理の結果では、１回目のＯＰＣ処理の結果よりも約１．３５ｍＶも減少し、また、３回目のＯＰＣ処理の結果では、最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏは約３９．９ｍＶとなって、２回目のＯＰＣ処理の結果よりも約１．０５ｍＶも減少する。このように、ＯＰＣ処理の繰り返し回数を重ねる毎に最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏ値の設定値が大きく変わることで、ＯＰＣ処理に基づいて設定される記録パワー値の、ＯＰＣ処理毎の差が大きくなり、記録パワーの精度を低下させる原因となる。記録パワー精度の低下は記録品質の劣化につながる。
【０００６】
また、特開２０００−２５１２５４号公報記載の技術は、「所定回数以上の記録動作」を、実施例の記載で「ＯＰＣ処理に利用するドライブテストゾーンの全域、もしくは実際に試し書きを行う一部のエリアについて、ＯＰＣ処理に先だって無条件に、少なくとも２回以上、好ましくは１０回以上のオーバーライトを実行するＤＯＷ」と説明していることからみて、記録パワーを変化させて試し記録を行う方式のＯＰＣ処理を行う前に、一定のパワーで記録動作を行う技術であると考えられる。特開２００７−１４１４３８号公報記載の技術は、実施例の記載「最適である記録パワーを決定するテストを、開始パワーを異ならせて設定して２回以上行い」からみて、３回のＯＰＣ処理を行うものであると考えられ、記録パワーの設定までの時間もこれに対応して比較的長いと考えられる。また、特開２００７−２２６９４８号公報記載の技術では、ＯＰＣが行われた光ディスクの一部を消去する最適の消去パワーを、パワー対比変調度曲線を求める段階と、パワー対比変調度曲線からパワー変化に対する変調度の変化量を算出する段階と、該算出した変調度の変化量を用いて最適の消去パワーを決定する段階とを経て求め、さらに、その後に行うＯＰＣ（ＯＰＣ処理）は、実施例の記載「ＯＰＣ動作は、テストデータを記録し、ＯＰＣを繰り返して行うことで、最適の記録パワーを検出するために、記録されたデータを再生する。」にもあるように、ＯＰＣ処理自体を繰り返し行うものであり、最適の記録パワーが検出されるまでの時間もこれに対応して長くなるものと考えられる。また、上記特開２００７−１４１４３８号公報記載の技術や、上記特開２００７−２２６９４８号公報記載の技術は、ＯＰＣ処理の繰り返しの回数を２回、３回、４回…と重ねる毎に、求まる最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏの値が大幅に減少することを抑えるための技術ではない。
【０００７】
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、書き換え可能な光ディスクへの情報記録の際、ＯＰＣ処理にかかる時間を短く抑えた状態下で、ＯＰＣ処理毎に求まる最適記録パワーの変化量（減少量）を低減させ、情報記録用の記録パワーの精度を一層向上させられるようにすることである。
本発明の目的は、かかる課題点を解決し、迅速に情報記録動作を開始でき、かつ、書き換え可能な光ディスクの記録品質をより一層向上させ得る光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置において、情報記録する光ディスクのディスクＩＤを判別し、判別したディスクＩＤに対応した試し記録回数情報を、光ディスク装置内に予め登録されているストラテジから求め、該求めた記録回数情報により、光ディスクの試し記録領域内の同じアドレスに対し実施する試し記録の回数を設定し、該設定された回数の試し記録を行い、最終回の試し記録後の再生信号に基づき情報記録用の最適記録パワー値を演算する構成とする。例えば、上記最終回の試し記録後の再生信号の変調度特性を演算し、該変調度特性からγ特性を演算し、該γ特性に基づき情報記録用の最適記録パワー値を演算する。なお、本発明において、「最適記録パワー」とは、最適なレベル範囲にある記録パワーすなわち本発明を有効に構成するに足るレベル範囲にある記録パワーを意味するものとする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、光ディスク装置において、情報記録動作の迅速な開始が可能となる。また、書き換え可能な光ディスクに情報（データ）を記録する際、記録パワーの精度の向上が可能となり、この結果、記録品質の向上と安定化とが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施例につき、図面を用いて説明する。
図１〜図６は、本発明の実施例としての光ディスク装置の説明図である。図１は、本発明の実施例としての光ディスク装置の構成図、図２は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第１の例の説明図、図３は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理で得られる最適記録パワー特性の一例を示す図、図４は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第２の例の説明図、図５は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第３の例の説明図、図６は、図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理で得られる最適記録パワーの他の特性例を示す図である。
【００１１】
以下、本発明の実施例の光ディスク装置としては、ＯＰＣ処理として、試し記録後、その再生信号に基づき変調度特性及びγ特性を求め、該γ特性に基づき最適記録パワーの演算を行う構成のものいわゆるγ方式のものについて説明するものとする。
【００１２】
図１において、１は、本発明の実施例としての光ディスク装置、２は、書き換え可能な光ディスクとしてのＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷなどの光ディスク、３は、光ディスク２を回転駆動するディスクモータ、４は光ピックアップ、５は対物レンズ、６は、記録または再生のために所定の強さのレーザ光を発生するレーザダイオード、７は、レーザダイオード６を駆動するレーザ駆動回路、８は、対物レンズ５を介し光ディスク２の記録面（ディスク面）からの反射レーザ光を受光して電気信号（再生信号）に変換して出力する受光部、９は、受光部８から出力された再生信号を、ＲＦ信号として増幅や復調などを行って信号処理する再生信号処理部、１１は、直線上のガイド部材（図示なし）やリードスクリュー部材（図示なし）などを備えて構成され、光ピックアップ４を光ディスク２の略半径方向に移動させる移動・案内機構部、１２は、移動・案内機構部１１内にあってリードスクリュー部材（図示なし）を回転駆動するスライドモータ、１５は、ディスクモータ３やスライドモータ１２を回転駆動するモータ駆動回路、３０は、当該光ディスク装置１全体を制御する制御部としてのシスコン、３１は、シスコン３０内にあってモータ駆動回路１５を制御するモータ制御部、３２は、シスコン３０内のマイコン、３２１は、マイコン３２内に構成され、再生信号処理部９から出力された再生信号につきその変調度特性を演算する変調度特性演算部、３２２は、マイコン３２内に構成され、変調度特性演算部３２１で演算された変調度特性からγ特性を演算するγ特性演算部、３２３は、マイコン３２内に構成され、γ特性演算部３２２で演算されたγ特性に基づき、予め設定されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワー値すなわち最適なレベル範囲の記録パワーを演算する最適記録パワー演算部（ただし、最適なレベル範囲の記録パワーとは、光ディスク装置１を有効に構成するに足る範囲の記録パワーであるとする。）、３２４は、マイコン３２内に構成され、ＯＰＣ処理時に、光ディスク装置１内に予めストラテジとして登録されているディスクＩＤに対応した試し記録回数情報により、光ディスク２の試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数を設定したり、該ディスクＩＤに対応した試し記録パワー情報により、記録パワーを設定したり、また、試し記録の回数として複数回数を設定した場合に、最終回以外の試し記録で記録された情報を消去することや該消去のタイミングを設定したりする試し記録条件設定部、３３は、シスコン３０内にあって、ＯＰＣ処理における試し記録時、レーザ駆動回路７に入力する試し記録用信号として、各回の試し記録期間中に試し記録パワーが次第に変化するように該レーザ駆動回路７がレーザダイオード６を駆動するもの（試し記録用信号）を生成し、該生成した試し記録用信号を、上記記録条件設定部３２４により設定された試し記録回数に対応して出力したり、既に試し記録されたデータを消去することや該消去のタイミングを指示する信号を出力したり、また、データ記録時には、上記最適記録パワー演算部３２３により演算された最適記録パワーでレーザダイオード６を駆動す��ための記録用信号を生成し出力する記録用信号生成部、３４は、シスコン３０内にあって、光ディスク２のディスクＩＤを判別するディスク判別部、４０は、光ディスク２を含む光ディスクのストラテジやＯＰＣ処理用のプログラムやＯＰＣ処理の処理条件の因子などが登録（格納）されたメモリである。上記最適記録パワー演算部３２３の出力は、記録用信号生成部３３に入力され、該記録用信号生成部３３において、通常の情報記録を行うための記録用信号が生成される。なお、本発明の実施例において、「最適記録パワー」は、最適なレベル範囲にある記録パワーすなわち本発明の実施例を有効に構成するに足るレベル範囲にある記録パワーを意味するものとする。
【００１３】
制御部としてのシスコン３０内において、変調度特性演算部３２１、γ特性演算部３２２及び最適記録パワー演算部３２３は、ＯＰＣ処理における試し記録の再生系制御部を構成し、ディスク判別部３４、試し記録条件設定部３２４及び記録用信号生成部３３は、ＯＰＣ処理における試し記録の記録系制御部を構成する。
【００１４】
ＯＰＣ処理時、変調度特性演算部３２１は、再生信号処理部９から出力された試し記録の再生信号のレベルのトップエンベロープ値をｅｔｏｐ、同ボトムエンベロープ値をｅｂｔｍとするとき、該再生信号の変調度特性（Ｍｏｄ特性）を、
変調度Ｍｏｄ＝（ｅｔｏｐ−ｅｂｔｍ）／ｅｔｏｐ          …（数１）
に基づいて演算する。また、該変調度特性演算部３２１は、該演算した変調度特性から近似の変調度特性も演算によって求める。
【００１５】
ＯＰＣ処理時、γ特性演算部３２２は、試し記録の記録パワーをＰｗ、該試し記録パワーＰｗで記録された試し記録の再生信号の変調度をＭｏｄとするとき、γ特性を、
γ＝（Ｐｗ／Ｍｏｄ）・（ｄＭｏｄ／ｄＰｗ）        …（数２）
に基づいて演算する。変調度Ｍｏｄとしては、変調度特性演算部３２１による演算結果を用いる。
【００１６】
ＯＰＣ処理時、最適記録パワー演算部３２３は、目標記録パワー値Ｐｗtargetを求めるとき、メモリ４０内に予めストラテジとして登録（格納）されている目標γ値γtargetを読み出し、γ特性上で該目標γ値γtargetに対応している目標記録パワー値Ｐｗtargetを求める。また、最適記録パワー値Ｐｏを求めるとき、上記求めた目標記録パワー値Ｐｔに、最適記録パワー値Ｐｏと該目標記録パワー値Ｐｗtargetとの予めの見込み比を表す係数であって、メモリ４０内に予めストラテジとして登録（格納）されている一定値の係数ρを乗じて求める。すなわち、最適記録パワー値Ｐｏを、
最適記録パワー値Ｐｏ＝ρ・Ｐｗtarget                  …（数３）
によって求める。
【００１７】
ＯＰＣ処理時、試し記録条件設定部３２４は、ディスク判別部３４によって判別されたディスクＩＤに対応した試し記録条件の情報すなわち試し記録回数情報、試し記録パワー情報、及び、試し記録の回数として複数回を設定した場合に、試し記録された情報を消去するか否か、消去する場合、消去をどのタイミングで行うか等の情報を、メモリ４０に登録（格納）されているストラテジから読み出して設定する。なお、メモリ４０内には、例えば複数種類の光ディスクのそれぞれのディスクＩＤに対応した試し記録条件の情報がテーブルとして格納されているものとする。該試し記録条件設定部３２４は、ＯＰＣ処理時、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、先行の第１の試し記録で記録された情報を消去したアドレス位置に後行の第２の試し記録を行うことを試し記録条件として設定する。また、該試し記録条件設定部３２４は、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、最終回の直前の回の試し記録で記録された情報を消去すること及び該情報を消去した光ディスクの試し記録領域内のアドレス位置に最終回の試し記録を行うことを試し記録条件として設定する。さらに、該試し記録条件設定部３２４は、ＯＰＣ処理時、試し記録の回数として複数回数を設定したとき、モータ制御部３１に指示信号を送信して移動・案内機構部１１のスライドモータ１１の回転を制御し、これによってリードスクリュー（図示なし）の回転を制御し、光ピックアップ４の移動位置を制御して、試し記録領域内の同じアドレス位置に試し記録信号が複数回繰り返して記録されるようにする。
【００１８】
記録用信号生成部３３では、試し記録用信号として、試し記録期間中に試し記録パワーが変化するパワースキャン式の試し記録（Ｐｏｗｅｒ  Ｓｃａｎ  Ｗｒｉｔｅ）（以下、パワースキャンライトという）が行われるものを生成する。以下の説明においては、試し記録としては、試し記録パワーが次第に増大するパワースキャンライトが行われるものとする。
【００１９】
上記構成において、光ディスク装置１が光ディスク２に情報（データ）を記録しようとするとき、記録に先立って、ＯＰＣ処理を行う。該ＯＰＣ処理としては、先ず、ディスク判別部３４が、光ディスク２のディスクＩＤを判別し、該判別結果の信号を試し記録条件設定部３２４に向けて出力する。試し記録条件設定部３２４では、ディスク判別部３４によって判別されたディスクＩＤに対応した試し記録条件の情報をメモリ４０に登録（格納）されているストラテジから読み出して設定する。試し記録条件の情報としては、光ディスク２の試し記録領域内の同じアドレスに対して実施する試し記録の回数の情報（試し記録回数情報）、及び、試し記録回数として複数回を設定した場合に、試し記録された情報を消去するか否か、消去する場合、消去をどのタイミングで行うか等の情報である。記録用信号生成部３３は、パワースキャンライトを行わせる試し記録用信号を生成し、上記試し記録条件設定部３２４により設定された試し記録条件の情報に基づき、該試し記録用信号を出力するとともに、試し記録回数が複数回に設定されている場合に、既に試し記録されたデータを消去することや該消去のタイミングを指示する指示信号を生成し出力する。該試し記録用信号、該指示信号はレーザ駆動回路７に入力される。レーザ駆動回路７では、該試し記録用信号や該指示信号に基づく駆動信号を生成し、該駆動信号によってレーザダイオード６を駆動しレーザ光を発生させる。このとき、モータ制御部３１は、スライドモータ１２の回転の制御を指示する指示信号を試し記録条件設定部３２４から受取り、該指示信号により、モータ駆動回路１５を介して該スライドモータ１２の回転を制御して、光ピックアップ４の位置すなわち対物レンズ５の位置を、上記発生したレーザ光が光ディスク２の試し記録領域内の所定のアドレス位置に照射される位置にする。該レーザ光照射により、該アドレス位置での試し記録やその消去が行われる。複数回の試し記録回数が設定されている場合には、対物レンズ５の位置を制御して、試し記録領域内の同じアドレスに複数回繰り返して試し記録が行われるようにする。試し記録したデータを消去する場合も同様に対物レンズ５の位置を制御する。試し記録（パワースキャンライト）後、光ピックアップ４の受光部８は試し記録されたアドレスからの反射レーザ光を受光して電気信号に変換する。再生信号処理部９は、受光部８から出力された再生信号に対して増幅や復調などの信号処理を行う。複数回の試し記録が行われた場合、該信号処理は最終回の試し記録後の再生信号につき行えばよい。変調度特性演算部３２１では、再生信号処理部９から出力された、最終回の試し記録後の再生信号につき、前述の数１を用いて変調度特性を演算する。γ特性演算部３２２は、変調度特性演算部３２１が演算した変調度特性に基づき、前述の数２を用いてγ特性を演算する。最適記録パワー演算部３２３は、上記γ特性演算部３２２で演算されたγ特性に基づき、予め設定されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワー値すなわち最適なレベル範囲の記録パワー値を、前述の数３を用いて演算し、該演算結果に対応した制御信号を��成し記録用信号生成部３３に向けて出力し、該記録用信号生成部３３を制御する。これをもってＯＰＣ処理が終了する。記録用信号生成部３３は上記制御信号に基づき制御され、通常の情報記録用の記録用信号を生成する。
【００２０】
ＯＰＣ処理後、レーザ駆動回路７は、該通常の情報記録用の記録用信号によって制御され、上記設定された最適記録パワーのレーザ光をレーザダイオード６に発生させるように、該レーザダイオード６を駆動する。該駆動によって発生するレーザ光による記録パワーで光ディスク２へ通常の情報記録（データ記録）が行われる。
以下、説明中で用いる図１の構成における構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いる。
【００２１】
図２は、図１の光ディスク装置１におけるＯＰＣ処理の第１の例の説明図である。本第１の例は、試し記録としてのパワースキャンライトを３回繰り返して行い、途中で試し記録データの消去は行わない場合の例である。
図２は、光ディスク装置１のＯＰＣ処理の処理動作のフローを示す。
図２において、
（１）制御部としてのシスコン３０内のディスク判別部３４が、情報記録対象の光ディスク２のディスクＩＤを判別する（ステップＳ２０１）。
（２）シスコン３０内の試し記録条件設定部３２４は、上記判別されたディスクＩＤに対応した試し記録条件としての試し記録回数３回の情報を、メモリ４０に登録（格納）されているストラテジから読み出して設定する（ステップＳ２０２）。
（３）シスコン３０内の記録用信号生成部３３は、上記試し記録条件設定部３２４による設定結果に基づき、３回のパワースキャンライトを行わせる試し記録用信号を生成し、レーザ駆動回路７に向けて出力する。レーザ駆動回路７は、試し記録用信号に基づいてレーザダイオード６を駆動し、レーザダイオード６はレーザ光を発生する。該レーザ光は、対物レンズ５を通して光ディスク２の試し記録領域内の同じアドレスに照射され、これによって、試し記録としての３回のパワースキャンライトが該同じアドレスに対して行われる（ステップＳ２０３）。このとき、対物レンズ５は、該３回のパワースキャンライトが同じアドレスに対して行われるように、モータ制御部３１、移動・案内機構部１１を介して位置制御される。
（４）受光部８と再生信号処理部９は、試し記録された信号を再生する（ステップＳ２０４）。すなわち、受光部８は試し記録されたアドレスからの反射レーザ光を受光して電気信号に変換する。再生信号処理部９は、受光部８から出力された最終回である３回目のパワースキャンライト後の再生信号に対して増幅や復調などの信号処理を行う。
（５）シスコン３０のマイコン３２内の変調度特性演算部３２１は、再生信号処理部９から出力された、３回目のパワースキャンライト後の再生信号につき、前述の数１を用いて変調度特性を演算する（ステップＳ２０５）。
（６）シスコン３０のマイコン３２内のγ特性演算部３２２は、変調度特性演算部３２１が演算した変調度特性に基づき、前述の数２を用いてγ特性を演算する（ステップＳ２０６）。
（７）シスコン３０のマイコン３２内の最適記録パワー演算部３２３は、γ特性演算部３２２が演算したγ特性に基づき、予め設定されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、前述の数３を用いて、該目標記録パワー値から通常の情報記録用の最適記録パワーＰｏを演算する（ステップＳ２０７）。
【００２２】
上記ステップＳ２０１〜ステップＳ２０７の一連の動作は、メモリ４０内に予め登録されているプログラムが、シスコン３０に各動作の手順を実行させることによって行われる。
【００２３】
図３は、図１の光ディスク装置１において、光ディスク２（ディスクＩＤを、便宜上「Ａ」とする）に対する上記図２のＯＰＣ処理で得られる最適記録パワーの特性例を示す図である。
図３において、Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３はそれぞれ、３回のパワースキャンライトを行い、最終の３回目のパワースキャンライト後の再生信号から最適記録パワーＰｏを求めた場合の該最適記録パワーＰｏの特性上の位置を示し、このうち、Ｑ１は、最初のＯＰＣ処理として、３回のパワースキャンライトを行い、最終の３回目のパワースキャンライト後の再生信号から最適記録パワーＰｏを求めた場合の該最適記録パワーＰｏの特性上の位置を示し、Ｑ２は、２度目のＯＰＣ処理として、３回のパワースキャンライトを行い、最終の３回目のパワースキャンライト後の再生信号から最適記録パワーＰｏを求めた場合の該最適記録パワーＰｏの特性上の位置を示し、Ｑ３は、３度目のＯＰＣ処理として、３回のパワースキャンライトを行い、最終の３回目のパワースキャンライト後の再生信号から最適記録パワーＰｏを求めた場合の該最適記録パワーＰｏの特性上の位置を示す。なお、図３の特性において、ＯＰＣ処理が１回のパワースキャンライト毎に行われた場合には、図９と同じ最適記録パワーＰｏの特性が得られるものとする。
【００２４】
図３の特性において、図２に示すＯＰＣ処理を行った場合には、最初のＯＰＣ処理で求まる最適記録パワー（ＯＰＣ  Ｐｏｗｅｒ）Ｐｏは約３９．９ｍＶ（Ｑ１位置）、２度目のＯＰＣ処理で求まる最適記録パワーＰｏは約３８．５ｍＶ（Ｑ２位置）、３度目のＯＰＣ処理で求まる最適記録パワーＰｏは約３８．４ｍＶ（Ｑ３位置）となり、２度目以降のＯＰＣ処理においては、求まる最適記録パワーＰｏの変化量は極めて小さくなる。このため、ＯＰＣ処理毎に設定する記録パワー値の差も小さくなり、該記録パワーの精度も向上する。記録パワー精度の向上によって記録品質も向上しかつ安定化する。
【００２５】
図４は、図１の光ディスク装置１におけるＯＰＣ処理の第２の例の説明図である。本第２の例は、試し記録としてのパワースキャンライトを３回繰り返して行い、かつ、１回目のパワースキャンライトと２回目のパワースキャンライトとの間、及び、２回目のパワースキャンライトと３回目のパワースキャンライトとの間においてそれぞれ、試し記録データの消去を行うとした場合の例である。
図４は、光ディスク装置１のＯＰＣ処理の処理動作のフローを示す。
図４において、
（１）制御部としてのシスコン３０内のディスク判別部３４が、情報記録対象の光ディスク２のディスクＩＤを判別する（ステップＳ４０１）。
（２）シスコン３０内の試し記録条件設定部３２４は、上記判別されたディスクＩＤに対応した試し記録条件としてのパワースキャンライト回数３回の情報、及び、１回目のパワースキャンライトと２回目のパワースキャンライトとの間、及び、２回目のパワースキャンライトと３回目のパワースキャンライトとの間でそれぞれ、試し記録データの消去を行うとした消去タイミングの情報を、メモリ４０に登録（格納）されているストラテジから読み出して設定する（ステップＳ４０２）。
（３）シスコン３０内の記録用信号生成部３３は、上記試し記録条件設定部３２４による設定結果に基づき、３回のパワースキャンライトを行わせる試し記録用信号を生成するとともに、試し記録されたデータを消去することや該消去のタイミングを指示する指示信号を生成し、レーザ駆動回路７に向けて出力する。レーザ駆動回路７は、記録用信号生成部３３から出力された該試し記録用信号及び該指示信号に基づいてレーザダイオード６を駆動し、レーザダイオード６に試し記録用のレーザ光を発生させる。該レーザ光は、対物レンズ５を通して光ディスク２の試し記録領域内の同じアドレスに照射され、これによって、試し記録としての３回のパワースキャンライトと２回の消去が該同じアドレスに対して行われる（ステップＳ４０３）。このとき、対物レンズ５は、該３回のパワースキャンライト及び２回の消去が同じアドレスに対して行われるように、モータ制御部３１、移動・案内機構部１１を介して位置制御される。
（４）受光部８と再生信号処理部９は、試し記録された信号を再生する（ステップＳ４０４）。すなわち、受光部８は試し記録されたアドレスからの反射レーザ光を受光して電気信号に変換する。再生信号処理部９は、受光部８から出力された３回目のパワースキャンライト後の再生信号に対して増幅や復調などの信号処理を行う。
（５）シスコン３０のマイコン３２内の変調度特性演算部３２１は、再生信号処理部９から出力された、３回目のパワースキャンライト後の再生信号につき、前述の数１を用いて変調度特性を演算する（ステップＳ４０５）。
（６）シスコン３０のマイコン３２内のγ特性演算部３２２は、変調度特性演算部３２１が演算した変調度特性に基づき、前述の数２を用いてγ特性を演算する（ステップＳ４０６）。
（７）シスコン３０のマイコン３２内の最適記録パワー演算部３２３は、γ特性演算部３２２が演算したγ特性に基づき、予め設定されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、前述の数３を用いて、該目標記録パワー値から、通常の情報記録用の最適記録パワーＰｏを演算する（ステップＳ４０７）。
【００２６】
上記ステップＳ４０１〜ステップＳ４０７の一連の動作は、メモリ４０に予め登録されているプログラムが、シスコン３０に各動作の手順を実行させることによって行われる。
【００２７】
図５は、図１の光ディスク装置１におけるＯＰＣ処理の第３の例の説明図である。本第３の例は、試し記録としてのパワースキャンライトを３回繰り返して行い、かつ、２回目のパワースキャンライトと３回目のパワースキャンライトとの間でだけ試し記録データの消去を行うとした場合の例である。
図５は、光ディスク装置１のＯＰＣ処理の処理動作のフローを示す。
図５において、
（１）制御部としてのシスコン３０内のディスク判別部３４が、情報記録対象の光ディスク２のディスクＩＤを判別する（ステップＳ５０１）。
（２）シスコン３０内の試し記録条件設定部３２４は、上記判別されたディスクＩＤに対応した試し記録条件としてのパワースキャンライト回数３回の情報、及び、２回目のパワースキャンライトと３回目のパワースキャンライトとの間で試し記録データの消去を行うとした消去タイミングの情報を、メモリ４０に登録（格納）されているストラテジから読み出して設定する（ステップＳ５０２）。
（３）シスコン３０内の記録用信号生成部３３は、上記試し記録条件設定部３２４による設定結果に基づき、３回のパワースキャンライトを行わせる試し記録用信号を生成するとともに、試し記録されたデータを消去することや該消去のタイミングを指示する指示信号を生成し、レーザ駆動回路７に向けて出力する。レーザ駆動回路７は、記録用信号生成部３３から出力された該試し記録用信号及び該指示信号に基づいてレーザダイオード６を駆動し、レーザダイオード６に試し記録用のレーザ光を発生させる。該レーザ光は、対物レンズ５を通して光ディスク２の試し記録領域内の同じアドレスに照射され、これによって、試し記録としての３回のパワースキャンライトと１回の消去が該同じアドレスに対して行われる（ステップＳ５０３）。このとき、対物レンズ５は、該３回のパワースキャンライト及び２回の消去が同じアドレスに対して行われるように、モータ制御部３１、移動・案内機構部１１を介して位置制御される。
（４）受光部８と再生信号処理部９は、試し記録された信号を再生する（ステップＳ５０４）。すなわち、受光部８は試し記録されたアドレスからの反射レーザ光を受光して電気信号に変換する。再生信号処理部９は、受光部８から出力された３回目のパワースキャンライト後の再生信号に対して増幅や復調などの信号処理を行う。
（５）シスコン３０のマイコン３２内の変調度特性演算部３２１は、再生信号処理部９から出力された、３回目のパワースキャンライト後の再生信号につき、前述の数１を用いて変調度特性を演算する（ステップＳ５０５）。
（６）シスコン３０のマイコン３２内のγ特性演算部３２２は、変調度特性演算部３２１が演算した変調度特性に基づき、前述の数２を用いてγ特性を演算する（ステップＳ５０６）。
（７）シスコン３０のマイコン３２内の最適記録パワー演算部３２３は、γ特性演算部３２２が演算したγ特性に基づき、予め設定されている目標γ値に対応した目標記録パワー値を求め、さらに、前述の数３を用いて、該目標記録パワー値から情報記録用の最適記録パワーＰｏを演算する（ステップＳ５０７）。
【００２８】
上記ステップＳ５０１〜ステップＳ５０７の一連の動作は、メモリ４０に予め登録されているプログラムが、シスコン３０に各動作の手順を実行させることによって行われる。
【００２９】
図６は、図１の光ディスク装置１におけるＯＰＣ処理で得られる最適記録パワーの他の特性例を示す図である。
書き換え可能型の光ディスクの中にも、本図６のような特性を有する光ディスク（この光ディスクのディスクＩＤを、便宜上「Ｂ」とする）があり得ると考えられる。本図６の特性は、図３の特性と異なり、ＯＰＣ処理を１回の試し記録毎に行った場合にも、求まる最適記録パワーＰｏの変化量が極めて少ない特性である。光ディスク装置１においては、かかる特性の光ディスクに対しては、マイコン３２内の試し記録条件設定部３２４が、ディスク判別部３４が判別したディスクＩＤに対応する試し記録回数として、１回の試し記録回数を、試し記録条件として設定する。すなわち、メモリ４０内には、ストラテジとして、ディスクＩＤ「Ｂ」に対応する試し記録回数が１回として登録（格納）されている。
【００３０】
本発明の実施例としての光ディスク装置１によれば、迅速に情報記録動作を開始することができる。また、書き換え可能な光ディスクに情報を記録する際、記録対象の光ディスクのディスクＩＤに対応して、ＯＰＣ処理における試し記録回数を変えることができるため、１回の試し記録によるＯＰＣ処理で求まる最適記録パワーの変化量が大きい光ディスクに対しては自動的に、複数回の試し記録を行って、該最適記録パワーの変化量を小さくすることができる。この結果、記録パワーの精度向上が可能となり、記録品質の向上と安定化とが可能となる。
【００３１】
なお、上記実施例では、試し記録の回数を複数回とする図２、図４及び図５のＯＰＣ処理において、試し記録としてのパワースキャンライトの回数を３回としたが、本発明はこれに限定されず、２回であってもよいし、処理時間が許容される範囲であれば４回以上であってもよい。また、上記実施例では、パワースキャンライトとして、試し記録パワーを次第に増大させる試し記録方式としたが、本発明はこれに限定されず、記録パワーを次第に減少させる試し記録方式や、記録パワーをスクランブルさせる試し記録方式であってもよい。さらに、上記実施例では、ＯＰＣ処理として、試し記録後は、その再生信号に基づき変調度特性及びγ特性を求め、該γ特性に基づき最適記録パワーの演算を行うものいわゆるγ方式のものについて説明したが、試し記録後の処理はこれに限定されず、例えば、試し記録後、β特性に基づき最適記録パワーの演算を行うβ方式や、試し記録後、κ特性に基づき最適記録パワーの演算を行うκ方式のものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明の実施例としての光ディスク装置の構成図である。
【図２】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第１の例の説明図である。
【図３】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理で得られる最適記録パワーの特性例を示す図である。
【図４】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第２の例の説明図である。
【図５】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の第３の例の説明図である。
【図６】図１の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理で得られる最適記録パワーの他の特性例を示す図である。
【図７】従来の光ディスク装置におけるＯＰＣ処理の説明図である。
【図８】従来の光ディスク装置のＯＰＣ処理における再生信号特性、変調度特性及びγ特性の説明図である。
【図９】本発明の課題を説明する図である。
【符号の説明】
【００３３】
１…光ディスク装置、
２…光ディスク、
３…ディスクモータ、
４…光ピックアップ、
５…対物レンズ、
６…レーザダイオード、
７…レーザ駆動回路、
８…受光部、
９…再生信号処理部、
１１…移動・案内機構部、
１２…スライドモータ、
１５…モータ駆動回路、
３０…シスコン、
３１…モータ制御部、
３２…マイコン、
３２１…変調度特性演算部、
３２２…γ特性演算部、
３２３…最適記録パワー演算部、
３２４…試し記録条件設定部、
３３…記録用信号生成部、
３４…ディスク判別部、
４０…メモリ。
【図１】
2010033630.tif 000003
【図２】
2010033630.tif 000004
【図３】
2010033630.tif 000005
【図４】
2010033630.tif 000006
【図５】
2010033630.tif 000007
【図６】
2010033630.tif 000008
【図７】
2010033630.tif 000009
【図８】
2010033630.tif 000010
【図９】
2010033630.tif 000011