(57)【要約】【課題】残響音の音質を維持しながらインパルス応答の残響時間を変化させる。【解決手段】波形区分部３２は、記憶装置１４に格納された初期インパルス応答Ｈ1を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する。補間長設定部３８は、基礎ブロック毎に相異なる補間長Ｌ[i]を設定する。時間調整部３６は、複数の基礎ブロックの各々と当該基礎ブロックの直後の基礎ブロックとの時間差を補間長Ｌ[i]に拡大する。補間処理部４２は、相前後する各基礎ブロックを加算または平均することで補間ブロックを生成する。波形合成部４４は、時間調整部３６による調整後の各基礎ブロックの間に補間ブロックを配置することで新規インパルス応答Ｈ2を生成する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分手段と、
前記基礎ブロック毎に相異なる補間長を設定する補間長設定手段と、
前記複数の基礎ブロックの各々と当該基礎ブロックの直後の基礎ブロックとの時間差を、前記補間長設定手段が設定した補間長に拡大する時間調整手段と、
補間ブロックを生成する補間処理手段と、
前記時間調整手段による処理後の各基礎ブロックの間に前記補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成手段と
を具備するインパルス応答加工装置。
【請求項２】
第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分手段と、
相異なる第１補間長と第２補間長とを含む複数の補間長を設定する補間長設定手段と、
相前後する２個の基礎ブロックの時間差を拡大する手段であって、前記複数の基礎ブロックのうち第１基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差を前記第１補間長に拡大し、前記複数の基礎ブロックのうち前記第１基礎ブロックとは異なる第２基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差を前記第２補間長に拡大する時間調整手段と、
補間ブロックを生成する補間処理手段と、
前記時間調整手段による処理後の各基礎ブロックの間に前記補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成手段と
を具備するインパルス応答加工装置。
【請求項３】
前記補間処理手段は、相前後する２個の基礎ブロック毎に、当該２個の基礎ブロックの補間長に等しい時間長の補間ブロックを生成する
請求項１または請求項２のインパルス応答加工装置。
【請求項４】
前記補間長設定手段は、
前記第１インパルス応答に対する前記第２インパルス応答の伸長率に応じて乱数の分布の範囲を設定する範囲設定手段と、
前記範囲設定手段が設定した範囲内の乱数を発生する乱数発生手段と、
前記複数の時間長の各々を前記乱数から順次に設定する演算手段とを含む
請求項１から請求項３の何れかのインパルス応答加工装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４の何れかのインパルス応答加工装置と、
前記インパルス応答加工装置が生成した第２インパルス応答と音響信号との畳込み演算を実行する残響付与手段と
を具備する残響付与装置。
【請求項６】
第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分処理と、
前記基礎ブロック毎に相異なる補間長を設定する補間長設定処理と、
前記複数の基礎ブロックの各々と当該基礎ブロックの直後の基礎ブロックとの時間差を、前記補間長設定処理で設定した補間長に拡大する時間調整処理と、
補間ブロックを生成する補間処理と、
前記時間調整処理の実行後の各基礎ブロックの間に前記補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成処理と
をコンピュータに実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、残響の付与に使用されるインパルス応答を加工する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
インパルス応答の畳込み演算で音響信号に残響を付加する装置において、残響が継続する時間長（以下「残響時間」という）を変化させる技術が従来から提案されている。例えば特許文献１には、２種類のインパルス応答の各々に指数関数を乗算してから加算（線形結合）することで、所望の残響時間の新規なインパルス応答を生成する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２９４７１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、特許文献１の技術においては、指数関数を乗算してインパルス応答の強度を上昇させることで、インパルス応答に重畳された雑音（暗騒音）の強度も増幅される。したがって、残響音の音質が低下するという問題がある。以上の事情を考慮して、本発明は、残響音の音質を維持しながら残響時間を変化させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
以上の課題を解決するために、本発明の第１態様に係るインパルス応答加工装置は、第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分手段と、基礎ブロック毎に相異なる補間長を設定する補間長設定手段と、複数の基礎ブロックの各々と当該基礎ブロックの直後の基礎ブロックとの時間差を、補間長設定手段が設定した補間長に拡大する時間調整手段と、補間ブロックを生成する補間処理手段と、時間調整手段による処理後の各基礎ブロックの間に補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成手段とを具備する。
【０００６】
以上の構成においては、第１インパルス応答を区分した各基礎ブロックの時間差の拡大で残響時間が伸長されるから、第１インパルス応答の振幅を増加させることで残響時間を伸長する構成と比較して、雑音が抑制された高品位な残響音の第２インパルス応答を生成できる。また、各基礎ブロックの間には補間ブロックが配置されるから、単純に各基礎ブロックの間隔を拡大して第２インパルス応答を生成する場合と比較して、聴感上で自然な残響音の第２インパルス応答を生成することが可能である。さらに、時間調整手段による処理後の各基礎ブロックの時間差（補間長）が相違するから、基礎ブロックと補間ブロックとの配列の周期に起因した周波数の成分が分散される。したがって、各基礎ブロックの時間差が共通の補間長だけ拡大される構成と比較して、基礎ブロックと補間ブロックとの配列の周期に起因した残響音の音程感が軽減されるという利点がある。
【０００７】
本発明の第２の態様に係るインパルス応答加工装置は、第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分手段と、相異なる第１補間長と第２補間長とを含む複数の補間長を設定する補間長設定手段と、相前後する２個の基礎ブロックの時間差を拡大する手段であって、複数の基礎ブロックのうち第１基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差を第１補間長に拡大し、複数の基礎ブロックのうち第１基礎ブロックとは異なる第２基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差を第２補間長に拡大する時間調整手段と、補間ブロックを生成する補間処理手段と、時間調整手段による処理後の各基礎ブロックの間に補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成手段とを具備する。以上の構成においても、第１態様に係るインパルス応答加工装置と同様に、雑音が抑制された自然な残響音を生成できるという利点がある。また、第１基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差の調整後の第１補間長と、第２基礎ブロックと直後の基礎ブロックとの時間差の調整後の第２補間長とが相違するから、時間調整手段による調整後の各基礎ブロックの時間差が共通する構成と比較すると、第１態様と同様に、基礎ブロックと補間ブロックとの配列に起因した周波数の成分が分散される。したがって、基礎ブロックと補間ブロックとの周期に起因した残響音の音程感が軽減されるという利点がある。
【０００８】
本発明（第１態様および第２態様）の好適な態様において、補間処理手段は、相前後する２個の基礎ブロック毎に、当該２個の基礎ブロックの補間長に等しい時間長の補間ブロックを生成する。以上の態様によれば、時間調整手段による調整後の各基礎ブロックの時間差と補間ブロックの区間長とが合致するから、基礎ブロックと補間ブロックとを連続的に配列される。したがって、聴感上で自然な残響音の第２インパルス応答を生成できるという利点がある。
【０００９】
本発明の好適な態様において、補間処理手段は、波形区分手段による区分後の基礎ブロックから補間ブロックを生成する。以上の態様においては、基礎ブロックに依拠した補間ブロック（典型的には音響特性が基礎ブロックに類似する補間ブロック）が生成されるから、聴感上で自然な残響音の第２インパルス応答を生成できるという利点がある。
【００１０】
本発明の好適な態様において、補間長設定手段は、乱数を発生する乱数発生手段と、複数の時間長の各々を乱数から順次に設定する演算手段とを含む。以上の態様においては、複数の補間長を簡易かつ適切に分散させることが可能である。さらに好適な態様において、補間長設定手段は、第１インパルス応答に対する第２インパルス応答の伸長率に応じて乱数の分布の範囲を設定する範囲設定手段を含む。以上の態様によれば、各補間長が分布する範囲を適宜に制限することが可能である。
【００１１】
本発明の好適な態様において、補間長設定手段は、第１インパルス応答に対する第２インパルス応答の伸長率が高いほど複数の補間長の分布範囲が広くなるように複数の補間長を設定する。以上の態様によれば、第１インパルス応答と第２インパルス応答との音響特性の相違を伸長率が低い場合に抑制しながら、伸長率Ｒが高い場合に特に問題となる残響音の音程感を軽減することが可能である。
【００１２】
本発明に係る残響付与装置は、以上の各態様に係るインパルス応答加工装置と、インパルス応答加工装置が生成した第２インパルス応答と音響信号との畳込み演算を実行する残響付与手段とを具備する。本発明の残響付与装置によれば、以上の各態様に係るインパルス応答加工装置と同様の作用および効果が実現される。
【００１３】
また、以上の各態様に係るインパルス応答加工装置は、インパルス応答の加工に専用されるＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのハードウェア（電子回路）によって実現されるほか、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などの汎用の演算処理装置とプログラムとの協働によっても実現される。本発明に係るプログラムは、第１インパルス応答を時間軸上で複数の基礎ブロックに区分する波形区分処理と、基礎ブロック毎に相異なる補間長を設定する補間長設定処理と、複数の基礎ブロックの各々と当該基礎ブロックの直後の基礎ブロックとの時間差を、補間長設定処理で設定した補間長に拡大する時間調整処理と、補間ブロックを生成する補間処理と、時間調整処理の実行後の各基礎ブロックの間に補間ブロックを配置することで第２インパルス応答を生成する波形合成処理とをコンピュータに実行させる。以上のプログラムによれば、第１態様に係るインパルス応答加工装置と同様の作用および効果が奏される。本発明のプログラムは、コンピュータが読取可能な記録媒体に格納された形態で利用者に提供されてコンピュータにインストールされるほか、通信網を介した配信の形態でサーバ装置から提供されてコンピュータにインストールされる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の第１実施形態に係る残響付与装置のブロック図である。
【図２】インパルス応答加工部のブロック図である。
【図３】インパルス応答加工部の動作を説明するための概念図である。
【図４】補間処理部のブロック図である。
【図５】対比例１におけるインパルス応答の加工を説明するための概念図である。
【図６】補間長設定部のブロック図である。
【図７】補間長が分布する範囲を示す概念図である。
【図８】第２実施形態における補間長設定部のブロック図である。
【図９】第３実施形態における補間処理部のブロック図である。
【図１０】波形加工部の動作を説明するための概念図である。
【図１１】第４実施形態の動作を説明するための概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
＜Ａ：第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る残響付与装置のブロック図である。図１に示すように、残響付与装置１００には信号供給装置９２と放音機器９４とが接続される。信号供給装置９２は、音響（楽音や音声）の波形を表す音響信号ＳINを残響付与装置１００に供給する。例えば、周囲の音響に応じた音響信号ＳINを生成する収音機器や、記録媒体から音響信号ＳINを取得して出力する再生装置が信号供給装置９２として採用される。残響付与装置１００は、音響信号ＳINに残響を付加した残響音信号ＳRを生成および出力する。残響音信号ＳRは、放音機器９４（例えばスピーカやヘッドホン）に供給されることで音波として再生される。
【００１６】
図１に示すように、残響付与装置１００は、演算処理装置１２と記憶装置１４とで構成されるコンピュータシステムである。記憶装置１４は、演算処理装置１２が実行するプログラムや演算処理装置１２が使用するデータを記憶する。例えば初期インパルス応答Ｈ1の波形を表すサンプル系列（畳込み演算の係数列）が記憶装置１４に格納される。初期インパルス応答Ｈ1は、例えば特定の音響空間内でインパルス音を発生させたときの残響音を採取することで事前に生成される。半導体記憶装置や磁気記憶装置などの公知の記録媒体が記憶装置１４として任意に採用される。
【００１７】
演算処理装置１２は、記憶装置１４に格納されたプログラムを実行することで複数の要素（インパルス応答加工部２２，残響付与部２４）として機能する。なお、演算処理装置１２の各要素を複数の装置（集積回路）に分散的に搭載した構成や、音響信号ＳINの処理に専用される電子回路（ＤＳＰ）が各要素を実現する構成も採用される。
【００１８】
インパルス応答加工部２２は、記憶装置１４に格納された初期インパルス応答Ｈ1を加工することで、初期インパルス応答Ｈ1とは残響時間が相違する新たなインパルス応答（以下「新規インパルス応答」という）Ｈ2を生成する。具体的には、新規インパルス応答Ｈ2は、残響時間を初期インパルス応答Ｈ1のＲ倍（１＜Ｒ≦２）に伸長した波形のサンプル系列である。残響付与部２４は、インパルス応答加工部２２が生成した新規インパルス応答Ｈ2を利用したフィルタ処理（畳込み演算）を音響信号ＳINに対して実行することで残響音信号ＳRを生成する。残響付与部２４による残響音信号ＳRの生成には公知の技術が任意に採用される。
【００１９】
残響付与装置１００には入力装置１６が接続される。入力装置１６は、残響付与装置１００に対する指示の入力のために利用者が操作する操作子で構成される。利用者は、入力装置１６に対する操作に応じて残響時間の伸長率Ｒを可変に指定することが可能である。
【００２０】
図２は、インパルス応答加工部２２のブロック図であり、図３は、インパルス応答加工部２２による具体的な処理を説明するための概念図である。図２に示すように、インパルス応答加工部２２は、波形区分部３２と窓掛部３４と時間調整部３６と補間長設定部３８と補間処理部４２と波形合成部４４とを含んで構成される。
【００２１】
波形区分部３２は、図３の部分(A)に示すように、記憶装置１４に格納された初期インパルス応答Ｈ1を時間軸上で(M+1)個の基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]に区分する（Ｍは自然数）。基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]の各々の区間長（サンプルの個数）は、初期インパルス応答Ｈ1のサンプルの２Ｎ個分（例えばＮ＝64）に相当する。また、時間軸上で相前後する基礎ブロックＢa[i]（ｉ＝１〜Ｍ）と基礎ブロックＢa[i+1]との時間差はサンプルのＮ個分に相当する。したがって、基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とは部分的に重複する。すなわち、各基礎ブロックＢa[i]における後半のＮ個のサンプルと、基礎ブロックＢa[i+1]における前半のＮ個のサンプルとは共通する。
【００２２】
図２の窓掛部３４は、図３の部分(B)に示すように、波形区分部３２が区分した各基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]に窓関数ｗAを乗算することで(M+1)個の基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]を生成する。基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の各々の区間長はサンプルの２Ｎ個分に相当する。両端部に接近するほど関数値が減少する関数（例えばハニング窓）が窓関数ｗAとして好適である。図３の部分(B)においては、窓関数ｗAの乗算後の基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]が、窓関数ｗAの形状を表す図形で代替的に図示されている。また、偶数番目の基礎ブロックＢb（Ｂb[2]，Ｂb[4]，……）は、実線で図示された奇数番目の基礎ブロックＢb（Ｂb[1]，Ｂb[3]，……）との区別のために便宜的に破線で図示されている。
【００２３】
図２の補間長設定部３８は、相異なるＭ個の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]を設定する。補間長設定部３８が設定した補間長Ｌ[i]は、時間調整部３６による各基礎ブロックＢb[i]の位置の調整と、補間処理部４２による補間ブロックＰ[i]の生成とに使用される。補間長設定部３８の具体的な構成や補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の設定の方法については後述する。
【００２４】
図２の時間調整部３６は、時間軸上における基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の位置を調整する。具体的には、図３の部分(C)に示すように、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との時間差（基礎ブロックＢb[i]の中点Ｃ[i]と基礎ブロックＢb[i+1]の中点Ｃ[i+1]との間隔）が、窓掛部３４による処理後の区間長Ｎ（サンプルのＮ個分）から、補間長設定部３８が設定した補間長Ｌ[i]に拡大するように、時間調整部３６は基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の時間軸上の位置を調整する。例えば、図３の部分(C)に示すように、基礎ブロックＢb[1]と基礎ブロックＢb[2]との時間差は補間長Ｌ[1]に拡大される。また、基礎ブロックＢb[2]と基礎ブロックＢb[3]との時間差は補間長Ｌ[2]（Ｌ[2]＜Ｌ[1]）に拡大され、基礎ブロックＢb[3]と基礎ブロックＢb[4]との時間差は補間長Ｌ[3]（Ｌ[3]＞Ｌ[1]）に拡大される。
【００２５】
図２の補間処理部４２は、Ｍ個の補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]を生成する。補間ブロックＰ[i]は、図３の部分(D)に示すように、区間長が補間長Ｌ[i]に調整されたサンプル系列（Ｌ[i]個のサンプルの集合）である。すなわち、補間処理部４２は、時間調整部３６による調整後の基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との時間差（補間長Ｌ[i]）に等しい区間長の補間ブロックＰ[i]を生成する。例えば、図３の部分(D)に示すように、補間ブロックＰ[1]は基礎ブロックＢb[1]と基礎ブロックＢb[2]との間の補間長Ｌ[1]に調整され、補間ブロックＰ[2]は基礎ブロックＢb[2]と基礎ブロックＢb[3]との間の補間長Ｌ[2]に調整される。補間ブロックＰ[i]は、波形区分部３２による区分後の基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とから生成される。
【００２６】
図４に示すように、補間処理部４２は、波形併合部５２と波形調整部５４とを含んで構成される。波形併合部５２は、時間軸上で相前後する基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とを併合することで補間ブロックＰa[i]を生成する。具体的には、補間ブロックＰa[i]は、基礎ブロックＢa[i]のサンプルと基礎ブロックＢa[i+1]のサンプルとの平均値（すなわち、基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とにおいて相対応する時間のサンプルの数値の平均値）に相当する２Ｎ個のサンプルで構成される。
【００２７】
波形調整部５４は、補間ブロックＰa[i]の区間長（２Ｎ個のサンプルに相当する時間長）を補間長Ｌ[i]に調整することで補間ブロックＰ[i]を生成する。具体的には、波形調整部５４は、窓幅が補間長Ｌ[i]に設定された窓関数ｗB（例えばハニング窓）を補間ブロックＰa[i]に乗算することで補間ブロックＰ[i]を生成する。
【００２８】
図２の波形合成部４４は、図３の部分(E)および部分(F)に示すように、時間調整部３６による調整後の各基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の間に、補間処理部４２が生成した補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の各々を配置することで新規インパルス応答Ｈ2を生成する。補間ブロックＰ[i]は、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に配置される。基礎ブロックＢb[i]および基礎ブロックＢb[i+1]の時間差と補間ブロックＰ[i]の区間長とは双方とも補間長Ｌ[i]であるから、図３の部分(E)に示すように、補間ブロックＰ[i]の始点が基礎ブロックＢb[i]の中点Ｃ[i]に合致し、かつ、補間ブロックＰ[i]の終点が基礎ブロックＢb[i+1]の中点Ｃ[i+1]に合致するように、補間ブロックＰ[i]の時間軸上の位置が選定される。
【００２９】
波形合成部４４は、以上のように時間軸上に配置された各基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と各補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]とについて、同じ時点に対応する各サンプルの数値を加算する。図３の部分(F)に示す新規インパルス応答Ｈ2は、各基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]のサンプルと各補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]のサンプルとの加算値の時系列である。
【００３０】
なお、以上のように新規インパルス応答Ｈ2は基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]との加算で生成されるから、図４の波形調整部５４が補間ブロックＰa[i]の区間長を単純に補間長Ｌ[i]に調整しただけでは、新規インパルス応答Ｈ2のうち補間ブロックＰ[i]に対応する区間の振幅が過大となる可能性がある。さらに、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]とが時間軸上で重複する区間が長いほど（すなわち、補間長Ｌ[i]が小さいほど）、新規インパルス応答Ｈ2の振幅の増大の問題は顕在化する。そこで、図４の波形調整部５４が使用する窓関数ｗBは、補間ブロックＰa[i]の振幅（各サンプルの数値）が低減されるように選定される。具体的には、図３の部分(D)に示すように、補間長Ｌ[i]が小さいほど窓関数ｗBの乗算後の補間ブロックＰ[i]の振幅が減少するように窓関数ｗBを選定した構成が好適である。
【００３１】
基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の各々の時間差を拡大する第１実施形態によれば、以下に説明するように、初期インパルス応答Ｈ1に指数関数を乗算することで残響時間を伸長する構成（以下「対比例１」という）と比較して、伸長後の残響音の音質の低下が抑制されるという利点がある。
【００３２】
対比例１の新規インパルス応答Ｈ2’は、例えば数式(1)で表現されるように、初期インパルス応答Ｈ1に対して指数関数ａ(t)を乗算することで生成される。対比例１においては、図５に示すように、初期インパルス応答Ｈ1の振幅（強度）に対する新規インパルス応答Ｈ2’の振幅の増幅率は初期インパルス応答Ｈ1の後部に至るほど指数的に増加するから、初期インパルス応答Ｈ1の後部に重畳された雑音（暗騒音）の強度が新規インパルス応答Ｈ2’において顕在化する。したがって、新規インパルス応答Ｈ2’の残響時間を初期インパルス応答Ｈ1と比較して伸長するほど残響音の音質が低下するという問題がある。
【数１】
2010190989.tif 000003
【００３３】
一方、第１実施形態においては、初期インパルス応答Ｈ1の強度を増幅するわけではなく、初期インパルス応答Ｈ1を区分した複数の基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の各々の時間差を拡大する（初期インパルス応答Ｈ1を時間軸の方向に伸長する）ことで新規インパルス応答Ｈ2が生成されるから、初期インパルス応答Ｈ1の雑音が新規インパルス応答Ｈ2にて顕在化するという対比例１の問題は防止される。したがって、残響音の音質を維持しながら残響時間を伸長することが可能である。しかも、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間には補間ブロックＰ[i]が配置されるから、単純に基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との時間差を拡大して新規インパルス応答Ｈ2を生成する場合と比較して、聴感上で自然な残響音を生成することが可能である。
【００３４】
次に、図６を参照して、補間長設定部３８の具体的な構成を説明する。図６に示すように、補間長設定部３８は、乱数発生部６２と演算部６４とを含んで構成される。乱数発生部６２は、Ｍ個の乱数λ[1]〜λ[M]を発生する。乱数λ[1]〜λ[M]は、Ｍ個の平均値がゼロとなるように下限値λ_minから上限値λ_maxまでの範囲内で生成された乱数列である。具体的には、下限値λ_minから上限値λ_maxまでの範囲内の各数値が同じ確率で発生する一様乱数や、下限値λ_minから上限値λ_maxまでの各数値の発生の確率が概ね正規分布となる正規乱数が、Ｍ個の乱数λ[1]〜λ[M]として好適に採用される。下限値λ_minと上限値λ_maxとは、絶対値が等しい所定値に設定される（λ_min＝−λ_max）。
【００３５】
演算部６４は、補間長Ｌ[i]（Ｌ[1]〜Ｌ[M]）を乱数λ[i]に応じて可変に設定する。以下の数式(2)で定義されるように、補間長Ｌ[i]は、区間長Ｎ（サンプルのＮ個分）と乱数λ[i]に応じた区間長δ[i]との加算に相当する。すなわち、数式(2)の区間長δ[i]は、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との時間差の増加分に相当する。区間長δ[i]は、以下の数式(3)で定義されるように、乱数発生部６２が発生した乱数λ[i]に応じて可変に設定される。
Ｌ[i]＝Ｎ＋δ[i]  ……(2)
δ[i]＝（Ｒ−１）・Ｎ・（１＋λ[i]）  ……(3)
【００３６】
演算部６４は、数式(2)および数式(3)の演算を実行することで乱数λ[i]から補間長Ｌ[i]を算定する。演算部６４が算定した補間長Ｌ[i]は、時間調整部３６による各基礎ブロックＢb[i]の位置の調整と補間処理部４２による補間ブロックＰ[i]の生成とに適用される。
【００３７】
Ｍ個の乱数λ[1]〜λ[M]の平均値（合計値）はゼロであるから、区間長δ[1]〜δ[M]の平均値は（Ｒ−１）・Ｎとなる。したがって、数式(2)から理解されるように、Ｍ個の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の平均値はＮ・Ｒとなる。また、補間長Ｌ[i]の最小値Ｌ_minと最大値Ｌ_maxとは以下の数式(4a)および数式(4b)で表現される。すなわち、補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]は、図７に示すように、平均値Ｎ・Ｒを中心として数式(4a)のＬ_minから数式(4b)のＬ_maxまでの範囲（以下「分布範囲」という）Ａ内で乱数λ[i]に応じて分布する。
Ｌ_min＝Ｎ・｛１＋（Ｒ−１）・（１＋λ_min）｝  ……(4a)
Ｌ_max＝Ｎ・｛１＋（Ｒ−１）・（１＋λ_max）｝  ……(4b)
【００３８】
数式(3)や図７から理解されるように、伸長率Ｒが高いほど補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の分布範囲Ａ（区間長δ[1]〜δ[M]の分布の範囲）は広くなる。例えば、乱数λ[1]〜λ[M]の下限値λ_minが−0.5で上限値λ_maxが＋0.5である場合を想定する。伸長率Ｒが1.1に設定されたときの分布範囲Ａは、1.05Ｎ（Ｌ_min）から1.15Ｎ（Ｌ_max）までの範囲（分布幅0.1Ｎ）となる。他方、伸長率Ｒが1.5に設定されたときの分布範囲Ａは、1.25Ｎ（Ｌ_min）から1.75Ｎ（Ｌ_max）までの範囲（分布幅0.5Ｎ）となる。以上の例示のように、伸長率Ｒが高いほど補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の分散の度合が高くなる（分布範囲Ａが広くなる）。
【００３９】
また、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との時間差は時間調整部３６による処理で区間長Ｎから補間長Ｌ[i]に伸長されるから、基礎ブロックＢb[i]における局所的な伸長率Ｒ[i]は以下の数式(5)で表現される。すなわち、局所的な伸長率Ｒ[i]は乱数λ[i]に応じて基礎ブロックＢb[i]毎に刻々と変化する。
Ｒ[i]＝Ｌ[i]／Ｎ
＝（Ｎ＋δ[i]）／Ｎ
＝｛Ｎ＋（Ｒ−１）・Ｎ・（１＋λ[i]）｝／Ｎ
＝１＋（Ｒ−１）・（１＋λ[i]）  ……(5)
ただし、Ｍ個の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の平均値はＮ・Ｒであるから、伸長率Ｒ[i]が基礎ブロックＢb[i]毎に変化するとは言っても、新規インパルス応答Ｈ2の全体に着目すると、残響時間は初期インパルス応答Ｈ1のＲ倍に伸張される。したがって、利用者は、入力装置１６を操作して伸長率Ｒを適宜に指示することで、残響音信号ＳRの残響時間を任意に調整することができる。
【００４０】
次に、補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]を共通の数値（例えば、Ｎ個のサンプルに相当する時間長に伸長率Ｒを乗算した時間長（Ｎ・Ｒ））に設定した構成(以下「対比例２」という)を本形態との対比のために検討する。対比例２では、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]とが等間隔で時間軸上に交互に配列されるから、新規インパルス応答Ｈ2’のうち基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]との配列の周期に対応した周波数の成分の強度が顕在化する。したがって、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]との配列の周期に応じた音程感（ピッチ感）が残響音信号ＳRの残響音の受聴者に知覚される可能性がある。
【００４１】
第１実施形態においては、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]との配列の周期（補間長Ｌ[i]）が刻々と変動するから、特定の周波数に対する強度の集中が緩和（分散）される。したがって、残響音信号ＳRの残響音における音程感が対比例２と比較して軽減されるという利点がある。
【００４２】
なお、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]や補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の周期に起因した音程感は、伸長率Ｒが高いほど顕在化し易いという傾向がある。第１実施形態においては、伸長率Ｒが高いほど補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の分布範囲Ａが広くなる（補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]のばらつきが大きくなる）から、伸長率Ｒが高い場合にも音程感を有効に軽減できるという利点がある。他方、補間長Ｌ[i]の分布範囲Ａが広いほど、新規インパルス応答Ｈ2の音響特性が初期インパルス応答Ｈ1から乖離する可能性は高まる。そして、初期インパルス応答Ｈ1と新規インパルス応答Ｈ2との特性の相違は、伸長率Ｒが低い場合に特に受聴者に知覚され易い。第１実施形態では、伸長率Ｒが低いほど補間長Ｌ[i]の分布範囲Ａが狭くなるから、伸長率Ｒが低い場合に、初期インパルス応答Ｈ1の音響特性を維持した新規インパルス応答Ｈ2を生成できるという利点がある。つまり、補間長Ｌ[i]の分布範囲Ａが伸長率Ｒに応じて可変に制御される第１実施形態によれば、初期インパルス応答Ｈ1と新規インパルス応答Ｈ2との音響特性の相違を伸長率Ｒが低い場合に抑制しながら、伸長率Ｒが高い場合に特に問題となる音程感を軽減することが可能である。
【００４３】
＜Ｂ：第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態について説明する。なお、以下の各形態において作用や機能が第１実施形態と同等である要素については、以上と同じ符号を付して各々の詳細な説明を適宜に省略する。
【００４４】
図８は、補間長設定部３８のブロック図である。図８に示すように、第２実施形態の補間長設定部３８は、範囲設定部６６を第１実施形態に追加した構成である。範囲設定部６６は、乱数λ[1]〜λ[M]の分布範囲（上限値λ_max，下限値λ_min）を伸長率Ｒに応じて可変に設定する。
【００４５】
いま、補間長Ｌ[i]の最大値Ｌ_maxを所定の範囲内に制限することが必要な場合を想定する。例えば、補間長Ｌ[i]が長いほど初期インパルス応答Ｈ1と新規インパルス応答Ｈ2との特性の相違が増大するから、初期インパルス応答Ｈ1と新規インパルス応答Ｈ2との特性の相違を抑制するためには補間長Ｌ[i]の最大値Ｌ_maxを所定の範囲に制限する必要がある。そこで、範囲設定部６６は、補間長Ｌ[i]の分布範囲Ａが所定の範囲に制限されるように、乱数λ[i]の上限値λ_maxを伸長率Ｒに応じて可変に設定する。
【００４６】
いま、補間長Ｌ[i]の最大値Ｌ_maxを２Ｎに制限する場合を想定する。数式(4b)の最大値Ｌ_maxが２Ｎに等しいという数式(6a)の条件から以下の数式(6b)が導出される。
Ｌ_max＝Ｎ・｛１＋（Ｒ−１）・（１＋λ_max）｝＝２Ｎ  ……(6a)
λ_max＝１／（Ｒ−１）−１  ……(6b)
【００４７】
範囲設定部６６は、数式(6b)の演算を実行することで最大値λ_maxを設定し、最大値λ_maxの符号を反転することで最小値λ_minを設定する。すなわち、乱数λ[i]の分布範囲（上限値λ_max，下限値λ_min）が伸長率Ｒに応じて可変に設定される。乱数発生部６２は、範囲設定部６６が設定した下限値λ_minから上限値λ_maxまでの範囲内の乱数λ[i]を発生する。
【００４８】
第２実施形態によれば、補間長Ｌ[i]を所定の範囲内に制限できるという利点がある。なお、以上においては伸長率Ｒから最大値λ_maxを算定したが、最小値λ_minを伸長率Ｒに応じて可変に設定するとともに最小値λ_minの符号を反転させて最大値λ_maxを算定する構成も好適である。
【００４９】
＜Ｃ：第３実施形態＞
第１実施形態においては、基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とを併合した補間ブロックＰa[i]から波形調整部５４が補間ブロックＰ[i]を生成した。しかし、補間ブロックＰa[i]の波形は基礎ブロックＢa[i]や基礎ブロックＢa[i+1]の波形に類似するから、新規インパルス応答Ｈ2が、相類似する波形を時間軸上に反復的に配置した波形となり、残響音信号ＳRの残響音に聴感上の違和感（うなり感）が知覚される可能性がある。
【００５０】
以上の問題を解決するために、第３実施形態の補間処理部４２は、図９に示す波形加工部５６を具備する。波形加工部５６は、波形併合部５２が生成した補間ブロックＰa[i]の波形を変形して補間ブロックＰb[i]を生成する。波形調整部５４は、波形加工部５６が生成した補間ブロックＰb[i]から第１実施形態と同様の方法で補間ブロックＰ[i]を生成する。
【００５１】
波形加工部５６は、図１０に示すように、補間ブロックＰa[i]の波形における時間軸上の前後を逆転させることで補間ブロックＰb[i]を生成する。すなわち、補間ブロックＰb[i]は、補間ブロックＰa[i]を構成する２Ｎ個のサンプルの順番を逆転させた２Ｎ個のサンプルの系列である。以上のように波形加工部５６による処理を経て生成される補間ブロックＰ[i]を使用すれば、新規インパルス応答Ｈ2において適度に相違する波形が反復されるから、残響音信号ＳRの残響音は聴感上で自然な音響となる。
【００５２】
なお、波形加工部５６による処理の内容は以上の例示に限定されない。例えば、補間ブロックＰa[i]の位相の回転で波形加工部５６が補間ブロックＰb[i]を生成する構成も好適である。すなわち、波形加工部５６は、補間ブロックＰa[i]から特定した周波数スペクトルの位相を所定の角度だけ回転してから時間領域に変換することで補間ブロックＰb[i]を生成する。以上の構成においても、自然な残響音の残響音信号ＳRを生成できるという利点がある。
【００５３】
＜Ｄ：第４実施形態＞
次に、本発明の第４実施形態を説明する。第１実施形態においては、伸長率Ｒが２倍以下である場合を想定した。本形態は、２倍を上回る伸長率Ｒで残響時間を伸長するための形態である。なお、本形態において伸長率Ｒが２倍を下回る場合には、第１実施形態から第３実施形態と同様の処理で残響時間が伸長される。
【００５４】
図１１は、第４実施形態の動作を説明するための概念図である。伸長率Ｒが２倍を上回る場合（例えばＲ＝2.5の場合）、補間長Ｌ[i]は、初期インパルス応答Ｈ1のサンプルの２Ｎ個分を上回る。したがって、２Ｎ個のサンプルで構成される１個の補間ブロックＰ[i]を基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に配置しただけでは、新規インパルス応答Ｈ2のうち基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に相当する区間の強度が不足する。そこで、波形合成部４４は、図１１に示すように、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に複数の補間ブロックＰ[i]（Ｐ[i]_1，Ｐ[i]_2）を配置して新規インパルス応答Ｈ2を生成する。
【００５５】
図１１の補間ブロックＰ[i]_1は、基礎ブロックＢa[i]および基礎ブロックＢa[i+1]から生成された２Ｎ個のサンプルの系列である。補間ブロックＰ[i]_2は、基礎ブロックＢa[i]および基礎ブロックＢa[i+1]から生成された(Ｌ[i]−Ｎ)個のサンプルの系列である。波形合成部４４は、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に補間ブロックＰ[i]_1と補間ブロックＰ[i]_2を配置する。
【００５６】
補間処理部４２の波形加工部５６は、周波数特性が相違する複数の補間ブロックＰb[i]（Ｐb[i]_1，Ｐb[i]_2）を、波形併合部５２が生成した補間ブロックＰa[i]から生成する。例えば、波形加工部５６は、補間ブロックＰa[i]の位相を相異なる角度だけ回転させることで２個の補間ブロックＰb[i]（Ｐb[i]_1，Ｐb[i]_2）を生成する。すなわち、波形加工部５６は、補間ブロックＰa[i]の位相を角度θ1だけ回転させることで補間ブロックＰb[i]_1を生成し、補間ブロックＰa[i]の位相を角度θ2（θ2≠θ1）だけ回転させることで補間ブロックＰb[i]_2を生成する。
【００５７】
波形調整部５４は、波形加工部５６による処理後の複数の補間ブロックＰb[i]（Ｐb[i]_1，Ｐb[i]_2）から複数の補間ブロックＰ[i]（Ｐ[i]_1，Ｐ[i]_2）を生成する。補間ブロックＰ[i]_1は、窓幅が区間長２Ｎに設定された窓関数ｗB_1と補間ブロックＰb[i]_1との乗算で算定され、補間ブロックＰ[i]_2は、窓幅が区間長(Ｌ[i]−Ｎ)に設定された窓関数ｗB_2と補間ブロックＰb[i]_2との乗算で算定される。第１実施形態における補間ブロックＰ[i]の生成と同様に、補間ブロックＰb[i]_1と基礎ブロックＢb[i+1]とが時間軸上で重複する区間が長いほど補間ブロックＰ[i]_2の振幅が減少するように窓関数ｗB_2が選定される。
【００５８】
以上の構成においては、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に複数の補間ブロックＰ[i]（Ｐ[i]_1，Ｐ[i]_2）が配置されるから、伸長率Ｒを２倍以上に設定することが可能である。なお、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に配置される補間ブロックＰ[i]の個数は伸長率Ｒに応じて適宜に変更される。例えば、伸長率Ｒが３以上であれば、３個以上の補間ブロックＰ[i]が基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との間に配置される。
【００５９】
＜Ｅ：変形例＞
以上の各形態には様々な変形が加えられる。具体的な変形の態様を以下に例示する。なお、以下の例示から２以上の態様を任意に選択して組合わせてもよい。
【００６０】
（１）変形例１  
以上の各形態においては乱数λ[i]から補間長Ｌ[i]を算定したが、補間長Ｌ[i]の算定に乱数λ[i]を使用する構成は本発明において必須ではない。例えば、相異なる複数（Ｍ個）の数値が順番に配列された数値列を事前に用意し、補間長設定部３８が、数値列の各数値を配列順で選択するとともに当該数値から補間長Ｌ[i]を算定する構成も好適である。すなわち、補間長設定部３８は、相異なる複数の補間長（Ｌ[1]〜Ｌ[M]）を設定する手段として包括され、補間長Ｌ[i]を算定する具体的な方法の如何は不問である。
【００６１】
（２）変形例２  
以上の形態においては、Ｍ個の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の各々が相違する場合を例示したが、複数の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]のうち２以上の補間長Ｌ[i]が共通する構成も採用される。すなわち、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]のうち基礎ブロックＢb[u]（u＝１〜Ｍ）および基礎ブロックＢb[u+1]の時間差の拡大後の補間長Ｌ[u]と、基礎ブロックＢb[v]（ｖ≠ｕ）および基礎ブロックＢb[v+1]の時間差の拡大後の補間長Ｌ[v]とが相違する構成によれば、補間長Ｌ[u]およびＬ[v]以外の補間長Ｌの異同に拘わらず、総ての補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]が共通する対比例２と比較した場合に、特定の周波数に対する強度の集中が緩和される（さらには残響音の音程感が軽減される）という所期の効果が確かに実現される。ただし、残響音の音程感の軽減という効果を最大化する観点からは、Ｍ個の補間長Ｌ[1]〜Ｌ[M]の何れもが共通しない構成が格別に好適である。
【００６２】
（３）変形例３  
対比例２にて残響音に知覚される音程感の主要な原因は、時間調整部３６による調整後の基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]の周期的（規則的）な配列にあるから、基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との調整後の時間長（補間長Ｌ[i]）が変化する構成であれば、補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の区間長が共通する場合でも、残響音の音程感を軽減するという所期の効果は実現される。したがって、補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の区間長が共通する構成も採用される。ただし、基礎ブロックＢb[i]および基礎ブロックＢb[i+1]の補間長Ｌ[i]と補間ブロックＰ[i]の区間長とが合致しない構成では、新規インパルス応答Ｈ2の波形が補間ブロックＰ[i]の両端部の近傍で不連続となり、残響音の音質が低下する可能性がある。したがって、新規インパルス応答Ｈ2の波形の不連続に起因した音質の低下を抑制しながら残響音の音程感を軽減するという観点からは、補間ブロックＰ[i]の区間長が基礎ブロックＢb[i]と基礎ブロックＢb[i+1]との補間長Ｌ[i]に合致する構成が格別に好適である。
【００６３】
（４）変形例４  
乱数λ[1]〜λ[M]の種類は任意である。例えば、乱数発生部６２が自然乱数を発生する構成も採用される。また、乱数発生部６２が発生する乱数λ[1]〜λ[M]の種類が可変に制御される構成も好適である。例えば、複数種の乱数（例えば一様乱数，正規乱数，自然乱数）のうち入力装置１６に対する操作で選択された乱数を乱数発生部６２が発生する構成によれば、残響付与装置１００の使用の目的や必要な効果（例えば残響音のピッチ感の軽減が要求される度合）に応じた適切な新規インパルス応答Ｈ2を生成することが可能である。
【００６４】
また、範囲設定部６６が乱数λ[1]〜λ[M]の下限値λ_minおよび上限値λ_maxを決定する基準は伸長率Ｒに限定されない。例えば、入力装置１６に対する操作に応じて範囲設定部６６が下限値λ_minおよび上限値λ_maxを可変に設定する構成によれば、残響付与装置１００の使用の目的や必要な効果（例えば残響音のピッチ感の軽減が要求される度合）に応じた適切な新規インパルス応答Ｈ2を生成することが可能となる。なお、下限値λ_minと上限値λ_maxとで絶対値が等しい必要はない。すなわち、下限値λ_minと上限値λ_maxとが独立に設定された構成も採用される。
【００６５】
（５）変形例５  
窓関数ｗAを乗算する段階は適宜に変更される。例えば、時間調整部３６による処理後の各基礎ブロックＢbに窓掛部３４が窓関数ｗAを乗算する構成も採用される。もっとも、窓関数ｗAの乗算は本発明の必須の要件ではない。例えば、波形区分部３２が区分した基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]の各間隔を時間調整部３６が拡大し、拡大後の各基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]の間隔に補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]を挿入することで波形合成部４４が新規インパルス応答Ｈ2を生成する構成も採用される。したがって、基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]との部分的な重複も本発明では必須ではない。もっとも、窓関数ｗAを利用しない構成においては、基礎ブロックＢa[i]と補間ブロックＰ[i]との境界で残響音が不連続となって音質が低下する場合がある。自然な残響音を生成するという観点からすれば、時間軸上で部分的に重複するように基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]を生成したうえで窓関数ｗAを乗算する構成が好適である。
【００６６】
（６）変形例６  
補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]を生成する方法は本発明において任意である。以上の形態においては基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]とを平均することで初期的な補間ブロックＰa[i]を生成したが、基礎ブロックＢa[i]と基礎ブロックＢa[i+1]との加算や加重和を波形併合部５２が補間ブロックＰa[i]として生成する構成も採用される。また、補間ブロックＰa[i]の算定の基礎は基礎ブロックＢa[i]および基礎ブロックＢa[i+1]に限定されない。例えば、ひとつの基礎ブロックＢa[i]（または基礎ブロックＢa[i+1]）を補間ブロックＰa[i]として使用する構成や、相連続する３個以上の基礎ブロック（例えば、基礎ブロックＢa[i-1]，Ｂa[i]，Ｂa[i+1]）を加算または平均することで補間ブロックＰa[i]を算定する構成も採用される。
【００６７】
もっとも、初期インパルス応答Ｈ1から抽出された基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]を補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の生成に使用する構成は本発明にとって必須ではない。例えば、初期インパルス応答Ｈ1（基礎ブロックＢa）とは無関係に予め作成された補間ブロックＰa[1]〜Ｐa[M]（例えばインパルス応答Ｈに特性が類似する別のインパルス応答を区分したブロック）から補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]を生成する構成も採用される。ただし、初期インパルス応答Ｈ1とは無関係に補間ブロックＰ[i]を生成する構成では、基礎ブロックＢb[1]〜Ｂb[M+1]と補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]との音響特性（周波数特性）の相違に起因して残響音信号ＳRの残響音に聴感上の違和感が知覚される場合がある。したがって、残響音の音質を向上させるという観点からすると、初期インパルス応答Ｈ1の基礎ブロックＢa[1]〜Ｂa[M+1]を補間ブロックＰ[1]〜Ｐ[M]の生成に使用する構成が好適である。
【００６８】
（７）変形例７  
第４実施形態において補間処理部４２が生成する複数の補間ブロックＰ[i]（Ｐ[i]_1，Ｐ[i]_2，……）の周波数特性を相違させるための方法は、位相の回転の角度θを補間ブロックＰ[i]毎に変化させる方法に限定されない。例えば、図１０に例示したように奇数番目の補間ブロックＰa（Ｐa[1]，Ｐa[3]，……）の波形を反転させることで奇数番目の補間ブロックＰb（Ｐb[1]，Ｐb[3]，……）が生成され、波形併合部５２の生成した偶数番目の補間ブロックＰa（Ｐa[2]，Ｐa[4]，……）が偶数番目の補間ブロックＰb（Ｐb[2]，Ｐb[4]，……）として使用される構成も採用される。もっとも、第４実施形態における複数の補間ブロックＰ[i]（Ｐ[i]_1，Ｐ[i]_2，……）の周波数特性が共通する構成も採用される。
【００６９】
（８）変形例８  
以上の形態においてはインパルス応答加工部２２と残響付与部２４とを具備する残響付与装置１００を例示したが、図１の残響付与装置１００から残響付与部２４を省略したインパルス応答加工装置（インパルス応答加工部２２）としても本発明は成立する。インパルス応答加工装置が生成した新規インパルス応答Ｈ2は、例えば、可搬型の記録媒体や通信網を介して別個の残響付与装置１００（残響付与部２４）に提供されて残響音の生成に使用される。
【符号の説明】
【００７０】
１００……残響付与装置、１２……演算処理装置、１４……記憶装置、１６……入力装置、２２……インパルス応答加工部、２４……残響付与部、３２……波形区分部、３４……窓掛部、３６……時間調整部、３８……補間長設定部、４２……補間処理部、４４……波形合成部、５２……波形併合部、５４……波形調整部、５６……波形加工部、ＳIN……音響信号、ＳR……残響音信号、Ｂa[1]〜Ｂa[M+1]，Ｂb[1]〜Ｂb[M+1]……基礎ブロック、Ｈ1……初期インパルス応答、Ｈ2……新規インパルス応答、Ｐ[1]〜Ｐ[M]，Ｐa[1]〜Ｐa[M]，Ｐb[1]〜Ｐb[M]……補間ブロック、Ｒ……伸長率。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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