(57)【要約】      （修正有）【課題】塗布機構を有する加熱ステージを提供することによって、簡便に塗布面に膜厚ムラや塗布面内での乾燥挙動にムラの発生を防止し、厳密に乾燥挙動を観察することが可能となる装置、及びその解析方法を提供する。【解決手段】顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ１において、前記塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ１は、少なくとも、インキ塗布機構４，４’と、加熱機構２と、からなることを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージは、少なくとも、インキ塗布機構と、加熱機構と、からなることを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ。
【請求項２】
顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる請求項１に記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記インキ塗布機構は、少なくとも、加熱部付きステージと、ドクターガイドと、ドクターと、スライダーと、からなることを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ。
【請求項３】
顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる請求項1乃至2のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記インキ塗布機構において使用するインキ被塗布基材が、表面にくぼみが設けられたくぼみ付き基材である、ことを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ。
【請求項４】
顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる請求項1に記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記インキ塗布機構は、少なくとも、加熱部付きステージと、アプリケーターと、基材と、スライダーと、からなることを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ。
【請求項５】
顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる請求項１乃至４のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記加熱部付きステージには、観察用窓を有する乾燥部上蓋が設けられている、ことを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ。
【請求項６】
請求項１乃至5のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージを、顕微鏡の対物レンズの下方に設置したことを特徴とする、顕微鏡。
【請求項７】
請求項１乃至5のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージまたは、請求項６に記載の顕微鏡を用いることを特徴とする、塗膜の解析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、及びそれを用いたインキ塗膜形成過程の解析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷技術は、近年では多岐にわたる製品の製造過程に利用されている。また、製品を安定的に製造する為には、製造条件が製品品質に与える影響を理解することが重要である。例えば製造の一工程であるインキ塗布工程では、印刷条件やインキ物性が製品性能に与える影響（以下、プロセスの影響と称す）を把握することが重要である。
【０００３】
ここで印刷条件とは、印刷機の原反搬送速度、乾燥温度、乾燥風量、等の条件のことである。インキ物性とは、インキに含まれる成分の組成や相溶性、分散性、インキ粘度、およびそのインキ物性の安定性、等のことである。精密な印刷技術を利用している分野においては、各種条件の複雑な相互作用が製品性能に影響する場合が多く、これらを詳細に検討する手段確立への要求が高まっている。
【０００４】
また、通常の印刷分野においても、プロセスの影響を把握する重要性が再認識され始めている。これはプロセスの把握によって、製造の安定化、乾燥条件の最適化、インキ配合の最適化、改良製品の開発期間の短縮、等が可能となり、製造コストの削減や環境負荷の低減に反映できる為である。
【０００５】
これらプロセスの影響への言及に際しては、各種条件を入力信号とした際の、最終的な塗膜状態という出力信号の把握（所謂、静的なプロセス把握）、のみに留まらず、
各種条件を入力信号とした際の、塗膜が得られるまでの過程そのものという出力信号（所謂、動的なプロセス把握）、が必要となる場合もあり、ますます高度な分析技術の確立が必要となっている。
【０００６】
そのような例として、塗布過程を可視化・観察することによって様々な印刷条件が製品性能に与える影響を把握する方法が提案されている。例えば乾燥塗膜の顕微鏡での観察を行うことにより、「製品性能に影響する因子」を分析することや、塗布工程の動的な観察を行うことで、「塗布時に発生する現象と製品性能との相関」を考察することが可能となる。
【０００７】
具体的には、観察機能を有したカメラ等を実際の製造機に設置して観察する方法が知られている。この方法を用いれば、実際の製造プロセスを観察することができ、不良が発生した際にはその時の製造条件と観察結果とを対比することで、不良発生原因を追求することができる。しかし、一般に製造機への観察機能の搭載は、塗布部周辺への設置場所や安全性の面より困難な状況となることが多い。また、具現化するためには観察機能を搭載するための改造コストがかかり高価であること、等の理由から、実際に分析機器を製造機へ組み込む事は難しい。
【０００８】
以上の理由から、プロセス検証のためには、所望の機能を搭載した検証用の装置を用いることが一般的である。検証機は製造機と比較して一般に小型のものを選択することができる為、装置の費用を抑えることが可能であり、また必要とする材料なども少量で済み、準備時間も比較的少なくて済む、という利点がある。
【０００９】
このような方法として、加熱ステージにインキを垂らし、自然に塗れ広がらせてインクを塗膜化し、その際に起こる挙動を顕微鏡等で観察する、方法が知られている。この方法に高時間分解能を持つ高速度撮影（録画）機能付き顕微鏡を用いた場合は、塗膜乾燥過程の経時変化を詳細に把握できる。塗膜形成過程では乾燥の影響も大きく、乾燥条件の影響把握が重要であるため、目的に応じて加熱ステージを選択する必要がある。
【００１０】
上術した目的に使用できる加熱ステージの例として、特許文献１には、試料台上の試料の温度を迅速に上昇下降することが出来る顕微鏡用加熱ステージが記載されている。また他の例として、特許文献２には、加熱ステージ面内での温度分布が発生し難い加熱ステージについて記載されている。
【特許文献１】特開昭６３−１５２０９
【特許文献２】特開２００２−２１７１４１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながらこれらの加熱ステージを用いた場合には、インキの濡れ広がりについての制御を行う機能を有していないので、その測定精度には限界があった。すなわち乾燥過程において進行する体積収縮（いわゆる膜減り）は、(a)溶剤成分の蒸発、(b)インキの濡れ広がり、の２種の要素が混在したものであり、各要素を切り分けた観察を行うことが出来ない。また使用するインキ種類によっては塗膜の中央部と端部で微妙な塗膜厚みの差が発生し、その結果として観察範囲の選択によって測定結果に差が生じることになり、観察結果に再現性が無い場合あった。これらの影響は分析機器の装置的な問題であるために、製造機での製造時には含まれていない因子でありながら、塗膜形成過程を分析した際には、それがあたかも塗膜性能に影響を与える因子であるかの様な、誤った結果を与えてしまう場合があり、このことが原因となって製品性能と塗布条件との依存性が不明になる場合があった。
【００１２】
本発明は上述した様な問題点に鑑み、塗布機構を有する加熱ステージを提供することによって、簡便に塗布面に膜厚ムラや塗布面内での乾燥挙動にムラの発生を防止し、ミリセカンドオーダーで厳密に乾燥挙動を観察することが可能となる装置、及びその分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
すなわち本発明は、（i）顕微鏡の対物レンズの下方に設置して用いる塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいて、前記塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージは、少なくとも、インキ塗布機構と、加熱機構と、からなるを特徴とする、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、である。
【００１４】
また本発明は、（ii）インキ塗布機構が、少なくとも、加熱部付きステージと、ドクターガイドと、ドクターと、スライダーと、からなることを特徴とする、前記（i）に記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、である。
【００１５】
また本発明は、（iii）インキ塗布機構において使用するインキ被塗布基材が、表面にくぼみが設けられたくぼみ付き基材である、ことを特徴とする、前記（i）乃至（ii）のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、である。
【００１６】
また本発明は、（iv）インキ塗布機構が、少なくとも、加熱部付きステージと、アプリケーターと、基材と、スライダーと、からなることを特徴とする、前記（i）に記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、である。
【００１７】
また本発明は、（v）加熱部付きステージが、少なくとも観察用窓を有している乾燥部上蓋が設けられている、ことを特徴とする、前記（i）乃至（iv）のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ、である。
【００１８】
また本発明は、（vi）前期（i）乃至（v）のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージを、顕微鏡の対物レンズの下方に設置したことを特徴とする、顕微鏡、である。
【００１９】
また本発明は、前期（i）乃至（v）のいずれかに記載の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージまたは、前期（vi）に記載の顕微鏡を用いることを特徴とする、塗膜の解析方法、である。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の加熱ステージを使用することによって、塗布面に膜厚ムラや塗布面内での乾燥挙動にムラの発生を防止し、ミリセカンドオーダーで厳密に乾燥挙動の観察が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下に本発明の好ましい実施形態について、図面を用いて詳細に説明する。図１（a）は本発明に用いられる塗布機能付き加熱ステージ（１）の断面を現す概略図である。すなわち本願発明における塗布機能付き加熱ステージ（１）は、加熱部付きステージ（２）、ドクターガイド（３）、ドクター（４）、くぼみ付き基材（５）、およびスライダー（６）によって構成されている。以下に各構成要素について説明する。
【００２２】
＜加熱部付きステージ（２）＞
図２は、本願発明に用いる加熱部付きステージ（２）の概略図である。加熱部付きステージ（２）の中央部には、加熱部（９）が設けられており、くぼみ付き基材（５）上に塗布されたインキを、くぼみ付き基材（５）の下面側から加熱することが出来る。加熱部（９）に用いられる加熱装置（図示なし）は特に限定されないが、例えば複数個を並べたもの、を用いることができる。さらに加熱部（９）は、体積収縮(膜減り)の把握、スライド機能の安定化の観点からは、熱膨張が小さいことが望ましく、また透過観察を可能にするという観点からは、透明であるか透過光が通過する穴を有していることが望ましい。
【００２３】
また、塗布に際して、くぼみ付き基材（５）上のインキ塗布部分が加熱部（９）を通り過ぎてしまわないように、用いる加熱部付きステージ（２）にはストッパ（８）を設けることが出来る。ストッパ（８）の、形状、位置、大きさ等については特に限定されず、加熱部上蓋（７）により隙間が空かないこと、くぼみ付き基材（５）が確実にストップすること、加熱部（９）に塗布膜が設置されること、が維持できる範囲内の寸法において、適宜選択可能である。
【００２４】
図３は、本願発明における乾燥部上蓋（７）の概略図である。その中央には観察用窓（１０）が設けられており、実際の観察に際しては観察用窓（１０）の上側に、例えば対物レンズなどの観察機能を有した装置（図示なし）が配置されて使用される。これにより、サンプル乾燥時の溶剤成分の蒸発やインキの飛散等による汚染から、観察装置を保護することが出来、インキ乾燥による成膜挙動を動的観察することができる。
【００２５】
製造機での塗膜の乾燥は、熱風を用いて行う場合があるので、これを再現する機能として、加熱部に熱風乾燥機能を持たせることが好ましい。これは例えば乾燥部上蓋（７）に給排気用穴（１１）を設け、ここから加熱した空気を送り込むことによって熱風乾燥を実現出来る。すなわち本願発明の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージにおいては、加熱部付きステージ（２）と加熱部上蓋（７）にて囲まれた空間（以下、乾燥部と記す）が、製造機における乾燥炉と同じ機能を果たしている。給排気用穴（１１）の形状、大きさ、位置、個数は特に限定されず、ターゲットにとしている製造条件を再現することを目的として、適宜調整することが出来る。給排気用穴（１１）には開閉可能な蓋が設けてあり、熱風による乾燥を必要としない場合には、当該蓋を閉めた状態で観察を行う。
【００２６】
給排気用穴（１１）を通じて乾燥部へ熱風を送り込む熱風発生源としては、乾燥に用いる熱風の温度、湿度、風速等の条件を正確に調整、把握する機能を有した熱風発生装置を適宜選択して用いることができる。また乾燥部内にセンサを配置することで、乾燥部の温度、湿度、蒸発溶剤濃度を計測できる構成とすることも望ましい。
＜ドクターガイド（３）＞
図４は本願発明に用いるドクターガイド（３）を現す概略図である。中央部付近にはドクターを挿入する穴が設けられており、使用に際してはここにドクター（４）を挿入する。材質、形状等については適宜選択することができるが、インキが付着した際に溶解しない程度の耐溶剤性を備えていることが望ましく、またスライダー（６）を移動させた際にその応力でドクターホルダがずれない様に、ドクターガイド（３）は加熱ステージ（２）に固定されているか、あるいはスライダーでの塗布工程での衝撃ではずれない程度の重さを有していることが望ましい。
【００２７】
複数のドクター（４）を使用する際には、ドクターガイド（３）複数個穴が設けることができる。この穴に必要数のドクターを挿入し、ドクターが１個の場合よりもくぼみ（１４）へのインキ充填精度を向上することが出来る。その他、ドクター圧力、ドクター角度、の調節機能、等の機能を有していることが望ましい。
【００２８】
＜ドクター（４）＞
本願が発明においてドクター（４）はドクターガイド（３）に設けられたドクター挿入用穴（１０）に挿入して使用する。本願発明で使用できるドクターは特に限定されず、様々な材質、形状、その他の特性を持ったものを使用することができるが、耐溶剤性、安全面、作業性を考慮し、ポリエチレンやポリエステル系等のプラスチックドクタ−を用いることが好ましい。また、ドクタ−先端部は角度が４５°であることが好ましい。本発明の目的は製造機における塗膜形成過程の再現とその観察にあることから、使用するドクターは、観察するインキサンプルに応じて適宜変更することが望ましい。また必要に応じて１つ以上のドクターを用いることができるが、複数のドクターを用いる場合には異なった性質、組み合わせでも用いることができる。
＜スライダー（６）＞
図５は、本願発明に用いるスライダー（６）の概略図である。スライダー（６）には基材設置用溝（１１）が設けられており、インキの塗布後にくぼみ付き基材（５）表面のくぼみ（１４）が、伝熱板の中央に位置する様に調節することが出来る。塗布に際して、スライダー（６）の溝に沿ってくぼみ付き基材（５）を動かす場合には、スライダー（６）上にくぼみ付き基材（５）を解して加熱部と反対側に、塗布後のスライドガラスを押す治具（補助部材、図示せず）、を用いても良い。その他、塗布速度（くぼみ付き基材（５）の移動速度）の調整機構、等を有していても良い。
【００２９】
図６は、本願発明におけるくぼみ付き基材（５）の概略図である。中央には均一な深さのくぼみ（１４）が設けられている。くぼみ付き基材（５）の材質、くぼみ（１４）の大きさ、深さ、形状、等は、目的に応じて適宜選択することができる。
【００３０】
くぼみ（１４）の大きさは目的に応じて適宜調整することが出来るが、塗膜形成過程を解析したい製造機において、実際に印刷または塗布するインキ量（ｗｅｔ膜厚）に適宜調整したものを使用することができる。一般の印刷技術によって設けられる塗膜の膜厚（ｗｅｔ膜厚）が１０〜１００μｍであることから、この範囲で調整できる機能を有するように作製することが好ましい。下限以下の場合は、顕微鏡（全焦点顕微鏡）で観察を行う上で観察箇所の特定が困難になる、という観点からも好ましくなく、上限以上の場合は、乾燥による膜ベリの終点が１０μｍ〜１００μｍでない場合が生じるため乾燥挙動の動的観察ができない場合がある、という観点からも好ましくない。深さの調整方法としては、例えばあらかじめ深さの異なるくぼみを設けた複数のくぼみ付き基材（５）を用意しておき、それらを適宜使い分けることができる。また基材の厚みは、表面に設けるくぼみ（１４）の深さ以上であり、かつ機械的な強度が保たれる範囲であれば適宜選択することができるが、例えば、くぼみ付き基材（５）としてスライドガラスを用いる場合、１ｍｍ＋α（所望の塗布厚み）程度であることが好ましい。
【００３１】
次に、本発明に用いられる塗布機能付き加熱ステージ（１）を用いて実際にインキを塗布する工程について以下に説明する。図７は塗布機能付き加熱ステージ（１）を側面図であり、インキ液滴（１４）をくぼみ付き基材（５）のくぼみ（１４）に注入した状態を表している。インキの塗布時には、スライダー（６）の基材設置用溝（１３）にそってくぼみ付き基材（５）を図中の矢印方向にスライドさせて、インキを塗布することができる。
【００３２】
図８は、本願発明においてインキの塗布後を現す概略図である。くぼみ（１４）に注入したインキは、ドクター（４）によって均一な膜厚に塗布されたインキ塗布部（１６）となり、余剰分は余剰インキ（１７）として掻き出される。ドクターでかき取られた余剰インキが多い場合には、装置内を汚染する可能性があるので、余剰インキを受けることが出来る液溜めを設けておくことが好ましく、例えばくぼみ付き基材（５）のくぼみ（１４）の下流に、観察部とは別のインキ溜め用くぼみを設けることが出来る。
【００３３】
また本願発明においては、図１（a）に示した塗布機能付き加熱ステージ（１）におけるドクターガイド（３）とドクター（４）に変えてアプリケーター（４）′を、くぼみ付き基材（５）に変えて、基材（５）′をそれぞれ使用した塗布機能付き加熱ステージ（１）′としても同一の効果を得ることができる（図１（b））。この方法は被塗布基材にあらかじめくぼみを設けておく必要が無い為、任意の被塗布基材を用いることができる点で好ましい。この場合の膜厚の調整は、所望の塗布厚み形成用のアプリケーターを用いて行う。
【００３４】
以上の様に形成した塗膜を乾燥部にて所定の条件で乾燥させながら、顕微鏡を用いて観察する。
【００３５】
本願発明において用いる顕微鏡としては、観察機能を有した装置であれば特に限定されないが、膜減りの影響が大きい塗膜の観察を行う場合には全焦点顕微鏡を用いることが好ましい。また、塗膜の経時変化を観察する目的から、連続撮影機能や動画撮影機能を有していることが好ましい。倍率は、くぼみ全体から相分離の大きさまでを観察できる機能を有していれば特に制限無く用いることが出来る。その他の機能は観察対象に応じて適宜選択できるが、例えば時間分解能が１／３０秒以下で撮影可能なものを好ましく用いることができる。
【００３６】
本願発明は顕微鏡以外の分析機器と組み合わせて用いることが可能である。例えば乾燥部付きステージ（２）の上蓋の側面に設けられた穴（例えば給排気用穴（１１）の一つ）に溶剤センサを設けて溶剤蒸発成分の経時変化を捉えることができる。その他の例として、温度変化計測が可能な熱伝対やサーモグラフィー、相分離部分の化学組成を解析できる赤外分光度計（FT-IR）、等と組み合わせて用いることが可能である。
【００３７】
その他、同一の作用効果を奏する事が出来るものであれば本願発明は上述した方法に限定されることはなく、類似の方法を用いることができる。
【実施例】
【００３８】
以下に実施例を上げて説明する。
【００３９】
くぼみ付き基材（５）とドクター（４）との間に、マイクロピペットを用いて以下のインキを滴下し、スライド部をスライドさせてくぼみ部に以下のインキ１を塗布した。くぼみ付き基材（５）としては、表面に深さ１０μｍ、２０μｍ、３０μｍ、５０μｍのくぼみを持つスライドガラスの中から、所望の厚みの塗膜を形成できるものを適宜選択して使用した。ドクター（４）としては、エコブレ−ド社製ＰＲ角度４５°（材質はポリエチレン系）をドクターガイド（３）にセットして用いた。得られた塗膜は、加熱ステージの加熱部（伝熱板）を用いて温度２５℃、乾燥風量なしの条件にて乾燥し、その過程における塗膜の経時的な相分離挙動を観察した。
（インキ１組成）
ポリカーボネート樹脂（三菱エンジニアリングプラスチックス社製ノバレックス）                                １重量部
ポリスチレン樹脂（販売元：和光、製造元：Polysciences社製）              １重量部
テトラヒドロフラン                                                  １０５重量部
（評価方法）
塗膜の経時的な相分離挙動は、顕微鏡およびピエゾによるレンズ振動機能を付与した全焦点顕微鏡（フォトロン社製Focuscope、観察倍率５０倍）にて動画を撮影し、ポリカーボネート樹脂とポリスチレン樹脂との海島構造の形成過程を観察した。動画の一部を抜き出した静止画を、図９に示す。この動画を目視にて確認し、表面もしくは内部に界面が生じた時を相分離開始時間とした。ここで得られた塗布厚みと相分離開始時間の関係を図１０に示す。
【００４０】
さらに得られた塗膜を、赤外分光光度計（ＦＴ-ＩＲ）と用い、ポリカボネート樹脂の特徴的ピークである１７７０ｃｍ-1を基準ピーク強度としてマッピングを行った。塗布厚み５０μｍ、４０００ｍｓ後のサンプルを用いて行ったマッピングの結果を図１１に示す。
【００４１】
図９、図１０、図１１より、以下のことが分かる。
【００４２】
塗膜の相分離は塗布直後からミリセカンドオーダーで進行している。塗布膜厚は相分離開始時間に影響を与えており、塗布膜厚が厚くなるほど相分離開始時間が遅くなる事を可視化的に証明することができた。また、形成される相分離構造（海島構造）サイズも塗布膜厚が厚くなるほど、大きくなっていることを可視化的に証明することができた。
【００４３】
さらに図１１より、得られた塗膜は１７７０ｃｍ-1ピークを用いたマッピングにおいても海島状の分布を持っており、可視化的に得られた相分離構造が化学的組成成分の違いによるものであることが確認できた。
【産業上の利用可能性】
【００４４】
本発明の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージは、塗膜の厚みを制御して形成できることで塗布直後からの塗膜の乾燥挙動を精密に観察すること特徴を有し、製造機における塗膜形成過程を精密解析が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】(a)本発明の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を現す概略図である       （b)塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）におけるドクターガイド（３）とドクター（４）に変えてアプリケーター（４）′を、くぼみ付き基材（５）に変えて、基材（５）′を用いた、本発明の塗布機能付き加熱ステージ（１）′を現す概略図である
【図２】本発明にて使用する、加熱部付きステージ（２）を現す概略図である
【図３】本発明にて使用する、加熱部上蓋（７）を現す概略図である
【図４】本発明にて使用する、ドクターガイド（３）を現す概略図である
【図５】本発明にて使用する、スライダー（６）を現す概略図である
【図６】本発明にて使用する、くぼみ付き基材（５）を現す概略図である
【図７】本発明において、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を使用してインキを塗布する直前の概略図である。
【図８】本発明において、塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を使用してインキを塗布した直後の概略図である。
【図９】本発明に塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を用いて得られた塗膜の乾燥過程をっ示した写真である。
【図１０】本発明の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を用いて得られた、塗膜厚みと相分離開始時間の関係を示す図である。
【図１１】本発明の塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）を用いて得られた塗膜を、ＦＴ−ＩＲを用いて１７７０ｃｍ-1ピークを用いたマッピングした結果を示す図である。
【符号の説明】
【００４６】
（１）    塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ
（１）′  塗布機能付き顕微鏡用加熱ステージ（１）のドクターガイド（３）、ドクター          （４）、くぼみ付き基材（５）に変えて、アプリケーターガイド（３）′、ア          プリケーター（４）′、基材（５）′を用いた、本発明の塗布機能付き顕微            鏡用加熱ステージ
（２）    加熱部付きステージ
（３）    ドクターガイド
（４）    ドクター
（４）′  アプリケーター
（５）    くぼみ付き基材
（５）′  基材
（６）    スライダー
（７）    加熱部上蓋
（８）    ストッパー
（９）    加熱部
（１０）  観察用窓
（１１）  給排気用穴
（１２）  ドクター挿入用穴
（１３）  基材設置用溝
（１４）  くぼみ
（１５）  インキ液滴
（１６）  インキ塗布部
（１７）  余剰インキ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１０】
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【図９】
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【図１１】
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