(57)【要約】【課題】光ファイバの折損状況を自動的に、且つリアルタイムで検出する。【解決手段】電子内視鏡１０に挿通されたライトガイド３５を構成する各光ファイバ６５を導電膜６７で覆う。この導電膜６７に定電圧を印加し、導電膜６７に流れる電流値を計測する。光源装置１２の比較回路５７は、計測された電流値を基準値と比較する。測定された電流値が基準値を上回っている場合、ＣＰＵ６０は、所定数以上の光ファイバ６５が折損していると判定し、電子内視鏡１０の交換を促す。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
内視鏡に挿通された導光用のライトガイドを構成する複数の光ファイバを個別に覆う導電膜と、
前記導電膜に、所定レベルの電力を供給する給電手段と、
前記導電膜で覆われた複数の前記光ファイバに掛かる電力の変化を元に、前記光ファイバの折損状況を判定する判定手段と、
を備えることを特徴とする内視鏡システム。
【請求項２】
前記導電膜は、前記光ファイバの外周面に塗布又はスパッタリングされることを特徴とする請求項１記載の内視鏡システム。
【請求項３】
前記導電膜は、導電性樹脂、銅、あるいは酸化インジウムスズからなることを特徴とする請求項１または２記載の内視鏡システム。
【請求項４】
前記給電手段は、前記導電膜に定電圧を印加する定電圧源であり、
前記判定手段は、前記導電膜を流れる電流を計測する電流計と、前記電流計の計測値を基準値と比較する比較回路とを有することを特徴とする請求項１ないし３いずれか記載の内視鏡システム。
【請求項５】
前記基準値を記憶した記憶手段を更に備えることを特徴とする請求項４記載の内視鏡システム。
【請求項６】
前記判定手段はさらに、折損状況の判定結果に基づいて、前記ライトガイドが使用に耐え得るか否かを判定することを特徴とする請求項１ないし５いずれか記載の内視鏡システム。
【請求項７】
前記判定手段の判定結果を表示する表示手段を更に備えることを特徴とする請求項１ないし６いずれか記載の内視鏡システム。
【請求項８】
内視鏡に挿通された導光用のライトガイドを構成する複数の光ファイバを個別に覆う導電膜に、所定レベルの電力を供給し、
前記導電膜で覆われた複数の前記光ファイバに掛かる電力の変化を元に、前記光ファイバの折損状況を判定することを特徴とする光ファイバの折損検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、内視鏡に挿通された導光用のライトガイドを構成する複数の光ファイバの折損検出に好適な内視鏡システム並びに折損検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、医療分野や工業分野において、内視鏡システムが広く用いられている。内視鏡システムは、細径で湾曲自在な挿入部の先端に固体撮像素子を内蔵した内視鏡と、内視鏡の固体撮像素子から撮像信号を受信して画像を生成するプロセッサ装置と、被写体を照らすための照明光を内視鏡に供給する光源装置とから構成されている。内視鏡の内部には、ライトガイドが配設されており、光源装置から供給される照明光は、このライトガイドを介して内視鏡の先端まで導光され、先端に設けた照明窓から被写体に照射される。
【０００３】
ライトガイドは、複数の光ファイバを巻回テープ等の集束材により束ねて構成されている。これら光ファイバは、材料の性質から、時間経過とともに硬化が進む。内視鏡は、使用時に挿入部が鋭い角度で湾曲されるため、光ファイバが硬化していると、湾曲の圧力によって光ファイバが折損することがある。すると、折損部分から光が漏れ出し、被写体に照射される照明光の光量が低下してしまう。
【０００４】
折損した光ファイバの本数が少ない間は、照明光の光量低下はさほど深刻ではなく、内視鏡の使用に支障をきたすことはない。しかし、所定数以上の光ファイバが折損した場合には、被写体に照射される照明光の光量が著しく低下するため、内視鏡画像が暗くなって、その情報量が低下し、誤診等を招く結果となる。そこで、従来は、内視鏡システムを使用していない時に、ライトガイドの折損を定期的に点検していた（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開昭６０−３５７０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記の従来技術では、内視鏡の先端に白色板を設置して測光するという煩雑な操作が必要となる。また、点検のための時間を定期的に設けなくてはならず、操作面と時間面において使用者の負担となっていた。
【０００６】
更に、従来技術では、内視鏡の使用中に光ファイバの折損を知ることはできない。そのため、内視鏡の使用中に不意に照明光の光量が低下し、使用の中断を余儀なくされるおそれがあった。特に、折損の点検を長期間行わなかった場合には、光ファイバが不意に折損する可能性を排除することができず、使用者にストレスを与えていた。
【０００７】
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、ライトガイドを構成する光ファイバの折損状況を自動的に、且つリアルタイムで検出することができる内視鏡システム、並びに光ファイバの折損検出方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の内視鏡システムは、導電膜と、給電手段と、判定手段とを備えることを特徴とする。導電膜は、内視鏡に挿通された導光用のライトガイドを構成する複数の光ファイバを個別に覆う。給電手段は、導電膜に所定レベルの電力を供給する。そして、判定手段は、導電膜で覆われた複数の光ファイバに掛かる電力の変化を元に、光ファイバの折損状況を判定する。
【０００９】
導電膜は、光ファイバの外周面に塗布又はスパッタリングされることが好ましい。更に、導電膜は、導電性樹脂、銅、あるいは酸化インジウムスズからなることが好ましい。
【００１０】
本発明の好ましい実施形態では、給電手段は、導電膜に定電圧を印加する定電圧源であり、判定手段は、導電膜を流れる電流を計測する電流計と、電流計の計測値を基準値と比較する比較回路とを有する。この基準値は、内視鏡システムに設けられた記憶手段に記憶されている。
【００１１】
判定手段はさらに、折損状況の判定結果に基づいて、ライトガイドが使用に耐え得るか否かを判定することが好ましい。また、判定手段の判定結果を表示する表示手段を更に備えることが好ましい。
【００１２】
本発明の光ファイバの折損検出方法は、内視鏡に挿通された導光用のライトガイドを構成する複数の光ファイバを個別に覆う導電膜に、所定レベルの電力を供給し、導電膜で覆われた複数の光ファイバに掛かる電力の変化を元に、光ファイバの折損状況を判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ライトガイドを構成する各光ファイバを覆う導電膜に電力を供給し、その電力の変化を監視して光ファイバの折損状況を判定するから、光ファイバの折損状況を自動的に、且つリアルタイムで検出することができる。したがって、光ファイバの折損を点検するための煩雑な操作が不要となる。
【００１４】
また、内視鏡の使用中であっても、光ファイバの折損状況を検出することができるので、内視鏡の点検時期や交換時期を正確に把握することができる。これにより、検査の最中に内視鏡が使用できなくなるといった事態を回避することができ、検査中の使用者のストレスが軽減される。
【００１５】
更に、導電膜は、光ファイバの外周面に形成されるので、内視鏡の細径化を妨げず、また、湾曲動作を妨げることもない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図１に示すように、内視鏡システム２は、被検者の体腔内を撮像する電子内視鏡１０と、撮像信号から内視鏡画像を生成するプロセッサ装置１１と、体腔内を照明するための照明光を供給する光源装置１２とから構成されている。電子内視鏡１０は、体腔内に挿入される可撓性を有する挿入部１３と、挿入部１３の基端部分に連設された操作部１４と、操作部１４に接続されたユニバーサルコード１５とを備えている。
【００１７】
挿入部１３の先端には、複数の湾曲駒を連結した湾曲部１６が形成されている。この湾曲部１６の先端には、体腔内撮影用の光学系等を内蔵した先端部１７が連設されている。湾曲部１６は、操作部１４に設けられたアングルノブ１８を操作して、挿入部１３内に挿設されたワイヤを押し引きすることにより、上下左右方向に湾曲動作する。これにより、先端部１７が体腔内の所望の方向に向けられる。
【００１８】
ユニバーサルコード１５の延出先端には、コネクタ１９が連結されている。コネクタ１９は、通信用コネクタと光源用コネクタからなる複合タイプのコネクタであり、電子内視鏡１０は、このコネクタ１９を介して、プロセッサ装置１１及び光源装置１２に着脱自在に接続される。
【００１９】
図２に示すように、電子内視鏡１０は、ＣＣＤ２５を先端部１７に備え、アナログ信号処理回路（ＡＦＥ：Analog Front End）２６を操作部１４に備えている。先端部１７の端面には、被写体の像光を取り入れるための観察窓２７と、照明光が照射される照明窓２８とが設けられている。観察窓２７の奥には、対物光学系２９及びプリズム３０が配されている。対物光学系２９及びプリズム３０を通過した被写体光は、ＣＣＤ２５の受光面に入射する。ＣＣＤ２５は、この入射光に基づいた撮像信号を出力し、これをＡＦＥ２６に入力する。
【００２０】
ＡＦＥ２６は、相関二重サンプリング回路（ＣＤＳ）３１、自動ゲイン制御回路（ＡＧＣ）３２、及びアナログ／デジタル変換器（Ａ／Ｄ）３３から構成されている。ＣＤＳ３１は、ＣＣＤ２５から入力される撮像信号に対して相関二重サンプリング処理を施し、リセット雑音及びアンプ雑音を取り除く。ＡＧＣ３２は、ＣＤＳ３１によりノイズが除去された撮像信号を、所定のゲイン（増幅率）で増幅する。Ａ／Ｄ３３は、ＡＧＣ３２により増幅された撮像信号を、所定のビット数のデジタル信号に変換し、コネクタ１９を介してプロセッサ装置１１に入力する。
【００２１】
照明窓２８の奥には、照明光を被写体に照射する照射レンズ３４が取り付けられている。この照射レンズ３４には、光源装置１２からの照明光を導光するライトガイド３５の出射端が向けられている。ライトガイド３５は、挿入部１３、操作部１４、及びユニバーサルコード１５の内部を貫通し、その入射端は、コネクタ１９を介して光源装置１２の内部に挿入されている。
【００２２】
図３に断面を示すように、ライトガイド３５は、石英等からなる複数（例えば、１００本）の光ファイバ６５と、これら光ファイバ６５を覆う絶縁性のシース６６とから構成されている。図４に示すように、各光ファイバ６５は、導電膜６７により外周が覆われている。導電膜６７は、例えばグラファイト粉末等の抵抗率が低い材料を混合した導電性樹脂を光ファイバ６５の外周面に塗布して形成される薄膜体である。各光ファイバ６５は、その両端付近において、光ファイバ間に注入された充填材６９により固められ、一本の光ファイバの束にまとめられている。充填材６９は、導電性材料を混合した樹脂等からなり、各光ファイバ６５の導電膜６７同士を電気的に接続する。また、各光ファイバ６５を電気的に隔離するため、導電膜６７の外周は、充填材６９で固められた両端付近を除いて、絶縁膜６８でコーティングされている。各光ファイバ６５の導電膜６７は、充填材６９に形成した電極６９ａ，６９ｂ（図５参照）を介して、光源装置１２の定電圧源５５及び電流計５６（いずれも図２参照）に接続されている。なお、導電膜６７としては、銅等の導電塗料やＩＴＯ（酸化インジウムスズ）インクなどを用いてもよく、また、スパッタリングによって製膜してもよい。
【００２３】
図２に戻って、プロセッサ装置１１は、ユニバーサルコード１５内に挿通された伝送ケーブルを介して、電子内視鏡１０に電力を供給するとともに、電子内視鏡１０から撮像信号を受信して画像データを生成する。プロセッサ装置１１で生成された画像データは、内視鏡画像としてモニタ２０（図１も参照）に表示される。また、プロセッサ装置１１は、光源装置１２と電気的に接続されており、内視鏡システム２の動作を統括的に制御する。
【００２４】
プロセッサ装置１１は、タイミング／ドライバ回路４０と、デジタル信号処理回路（ＤＳＰ）４１と、デジタル／アナログ変換器（Ｄ／Ａ）４２と、これら各部を統括的に制御するＣＰＵ４４を備えている。タイミング／ドライバ回路４０は、伝送ケーブルを介して、ＣＣＤ２５に接続されている。タイミング／ドライバ回路４０は、ＣＰＵ４４の指示に応じて、タイミング信号（クロックパルス）をＣＣＤ２５に入力する。このタイミング信号により、ＣＣＤ２５から蓄積電荷を読み出すタイミングや、ＣＣＤ２５の電子シャッタのシャッタ速度などが制御される。
【００２５】
ＤＳＰ４１は、電子内視鏡１０のＡＦＥ２６から入力される撮像信号に対し、色分離、色補間、ゲイン補正、ホワイトバランス調整、ガンマ補正等を行い、画像データを生成する。この画像データは、Ｄ／Ａ４２によってアナログ信号に変換され、モニタ２０に入力される。これにより、モニタ２０に内視鏡画像が表示される。
【００２６】
光源装置１２は、光源５０と、光源ドライバ５１と、絞り調節機構５２と、アイリスドライバ５３と、照明光をライトガイド３５の入射端に導く集光レンズ５４と、定電圧源５５と、電流計５６と、比較回路５７と、メモリ５８と、報知器５９と、これら各部を制御するＣＰＵ６０とから構成されている。
【００２７】
光源５０は、光源ドライバ５１の制御によって点消灯し、前方に位置する集光レンズ５４に向けて照明光を照射する。光源５０としては、例えばキセノンランプ、ハロゲンランプ、ＬＥＤ（発光ダイオード）、蛍光発光素子、あるいはＬＤ（レーザーダイオード）等を用いることができる。
【００２８】
絞り調節機構５２は、光源５０と集光レンズ５４の間に配置され、ＣＣＤ２５によって撮像される内視鏡画像が略一定の明るさとなるように、照明光の光量を調節する。絞り調節機構５２は、照明光が通過する絞り開口の直径（絞り径）を変化させる絞り羽根と、この絞り羽根を駆動するモータを備えている。絞り調節機構５２は、アイリスドライバ５３によって駆動制御され、絞り径の変化により照明光の通過面積を変化させて、ライトガイド３５に入射する照明光の光量を調節する。
【００２９】
アイリスドライバ５３は、ＣＰＵ６０から照明光の光量を減らす指示がなされると、絞り調節機構５２の絞り羽根を閉じさせて、照明光の光径を小さくする。逆に、ＣＰＵ６０から照明光の光量を増やす指示がなされると、アイリスドライバ５３は、絞り調節機構５２の絞り羽根を開かせて、照明光の光径を大きくする。これにより、照明光の光量が調節される。
【００３０】
定電圧源５５は、各光ファイバ６５の導電膜６７に定電圧を印加する。この定電圧源５５は、光ファイバ６５の束の基端側で、電流計５６とともに導電膜６７に直列接続されている。また、光ファイバ６５の束の先端側では、導電膜６７は電極６９ｂを介してＣＣＤ２５の信号グラウンド等に接続され、接地されている。定電圧源５５から印加される電圧により、導電膜６７には電流が流れる。電流計５６は、導電膜６７を流れる電流を計測して、得られた電流値を比較回路５７に入力する。
【００３１】
定電圧源５５、電流計５６、導電膜６７の等価回路を示す図５において、前述の如く、各光ファイバ６５の導電膜６７の両端には、電極６９ａ，６９ｂが接続されている。これら電極６９ａ，６９ｂを介して、導電膜６７に定電圧源５５の電圧Ｖが印加される。
【００３２】
電圧Ｖ＝一定であるため、電流計５６で計測される電流Ｉは、導電膜６７の抵抗値Ｒにのみ依存する。すなわち、抵抗値Ｒが大きくなれば電流Ｉは小さくなり、抵抗値Ｒが小さくなれば電流Ｉは大きくなる。光ファイバ６５の束を一本の導線と見做すと、抵抗値Ｒが大きくなるのは、導線抵抗が大きくなったとき、つまり、光ファイバ６５が折損して導電膜６７が導通不良、または非導通となったときである。
【００３３】
導電膜６７は、光ファイバ６５に折損が生じていない場合の抵抗値Ｒが、数百オームないし数千キロオームの範囲内となるように形成される。この範囲よりも抵抗値を低く設定すると、電流計５６に高い分解能が必要となり、実用的でない。また、この範囲よりも抵抗値を高く設定すると、定電圧源５５から高い電圧を印加しなければならず、やはり実用的でない。
【００３４】
光ファイバ６５に折損がない状態では、導電膜６７の抵抗値は初期値と変わらないから、電流計５６はそれに応じた一定の電流値を計測する。一方、光ファイバ６５に折損が生じると、導電膜６７にも同時に折損が生じ、導電膜６７に流れる電流のレベルが低下する。したがって、電流計５６は、折損が生じていないときよりも低い電流値を計測する。つまり、図６に示すように、光ファイバ６５に折損が生じると導電膜６７の抵抗値は上昇し、抵抗値が上昇するほど電流値は低下する。これをライトガイド３５全体として見ると、折損した光ファイバ６５の本数が増えるほど抵抗値が上昇し、電流値は低下する。したがって、導電膜６７の電流値を計測することで、光ファイバ６５の折損状況（折損の有無や折損した本数）を把握することができる。
【００３５】
比較回路５７は、メモリ５８に予め記憶された基準値を読み出し、電流計５６が計測した電流値と基準値を比較する。そして、計測された電流値が基準値を下回っているときは、その旨を示す信号（例えば、「０」）をＣＰＵ６０へ出力する。ＣＰＵ６０は、その信号を受けて、光ファイバ６５には折損が生じていない、あるいは少数の光ファイバ６５のみが折損している状況であると判定する。また、比較回路５７は、計測された電流値が基準値を上回っているときは、その旨を示す信号（例えば、「１」）をＣＰＵ６０へ出力する。ＣＰＵ６０は、その信号を受けて、所定数を上回る光ファイバ６５が折損している状況と判定する。
【００３６】
次いで、ＣＰＵ６０は、光ファイバ６５の折損状況を元に、ライトガイド３５が使用に耐え得るか否かを判定する。例えば、折損した光ファイバ６５がない、あるいは少数であるときは、ライトガイド３５は使用に耐えうると判定する。一方、折損した光ファイバ６５が所定数を上回っているときは、ライトガイド３５は使用不可能であると判定する。
【００３７】
報知器５９は、例えば光源装置１２の前面に設けた液晶表示パネルであり、文字情報を表示する。報知器５９は、ＣＰＵ６０によって制御され、例えば、ライトガイド３５が使用できるときは「ＯＫ」、使用不可能であるときは「交換」等、折損状況に応じたメッセージを表示する。なお、報知器５９としては、液晶表示パネルの他、ＬＥＤランプや音声によって報知するものでもよい。また、プロセッサ装置１１のＣＰＵ４４と通信して、モニタ２０にメッセージを表示してもよい。
【００３８】
次に、以上のように構成された内視鏡システム２の作用について説明する。内視鏡システム２の電源が投入されると、プロセッサ装置１１及び光源装置１２が起動する。光源装置１２のＣＰＵ６０は、光源ドライバ５１を駆動して光源５０を点灯させ、集光レンズ５４に向けて照明光を照射する。照明光は、絞り調節機構５２を通過することで光量が調節され、集光レンズ５４に入射する。そして、照明光はライトガイド３５の入射端に導かれ、電子内視鏡１０の先端部１７まで導光される。また、ＣＰＵ６０は、定電圧源５５を駆動制御して、各光ファイバ６５を覆う導電膜６７に定電圧を印加する。
【００３９】
次いで、電子内視鏡１０の挿入部１３を体腔内に挿入し、光源装置１２からの照明光で体腔内を照明しながら、体腔内の画像をＣＣＤ２５で撮像する。ＣＣＤ２５から出力された撮像信号は、ＡＦＥ２６の各部３１〜３３で各種処理を施された後、プロセッサ装置１１のＤＳＰ４１に入力される。ＤＳＰ４１では、入力された撮像信号に対して各種信号処理が施され、画像データが生成される。ＤＳＰ４１で生成された画像データは、Ｄ／Ａ４２を経てモニタ２０に内視鏡画像として表示される。
【００４０】
光源装置１２の電流計５６は、導電膜６７を流れる電流値を計測し、得られた電流値を比較回路５７に入力する。光ファイバ６５に折損が生じていないときは、電流計５６は一定レベルの電流値を計測する。一方、光ファイバ６５に折損が生じると、電流計５６は、折損が生じていないときよりも低い電流値を計測する。
【００４１】
比較回路５７は、電流計５６で計測された電流値とメモリ５８から読み出した基準値を比較する。この比較結果に基づいて、ＣＰＵ６０は、光ファイバ６５の折損状況を判断し、ライトガイド３５が使用に耐え得るか否かを判定する。
【００４２】
この判定結果に応じて、ＣＰＵ６０は、報知器５９にメッセージを表示させる。ライトガイド３５が使用できると判定されたときは、報知器５９には「ＯＫ」のメッセージが表示される。一方、ライトガイド３５が使用不可能と判定されたときは、報知器５９には「交換」のメッセージが表示され、使用者に電子内視鏡１０の交換を促す。これらのメッセージは、内視鏡システム２の稼働中は継続的に表示され、また、判定結果が変わったときには、その変化に合わせて変更される。このように、光ファイバ６５の折損状況は自動的に、且つリアルタイムで検出され、ライトガイド３５が使用に耐え得るか否かがメッセージとして表示されるので、使用者は電子内視鏡１０の点検時期や交換時期を正確に把握することができる。また、光ファイバ６５の不意な折損を意識して、不要なストレスを感じることもない。
【００４３】
なお、上記実施形態では、導電膜６７に電圧を印加して、光ファイバ６５の折損状況を検出しているが、導電膜６７に高周波のインパルス波を印加して、その反射波の形状を元に光ファイバ６５の折損状況を検出してもよい。その場合は、定電圧源５５に替えてパルス波発生回路を設け、電流計５６に替えてパルス波検出回路を設ける。
【００４４】
上記実施形態では、定電圧源５５を常時駆動しているが、一定時間間隔で定電圧源５５を駆動して折損判定をしてもよい。あるいは、光源装置１２に検査ボタン等の操作部材を設けておき、該操作部材が操作されたときにのみ定電圧源５５を駆動して折損判定をしてもよい。
【００４５】
また、基準値を一つだけ用意してライトガイド３５が使用に耐え得るか否かを判定しているが、基準値を複数用意して段階的な判定をしてもよい。例えば、ライトガイド３５は今のところ使用可能であるが、早晩使用不可能になる場合や、早急に使用を中止しないと誤診のおそれが大になる場合等、折損状況を細かく把握することができる。
【００４６】
さらに、基準値は電子内視鏡１０の種類（光ファイバ６５の本数や太さ）によっても変わるので、電子内視鏡１０の種類毎に基準値を記憶しておくことが好ましい。この場合、電子内視鏡１０をプロセッサ装置１１に接続したときに、電子内視鏡１０に設けられたＥＥＰＲＯＭ等からプロセッサ装置１１に送られる電子内視鏡１０のＩＤに応じた基準値をメモリ５８から読み出し、電流値との比較に供する。また、基準値を電子内視鏡１０に備えられたＲＯＭから読み出して使用する構成にしてもよい。
【００４７】
上記実施形態では、電流計５６で計測した電流値を元に判定をしているが、電流値を抵抗値に換算して、これを元に判定をしてもよい。
【００４８】
上記実施形態では、定電圧源５５から一定の電圧を導電膜６７に印加し電流計５６で計測した電流値を元に光ファイバ６５に折損の判定をしているが、定電圧源５５の代わりに定電流源を用いてもよい。この場合、電流計５６に替えて電圧計を設ける。図７に示すように、光ファイバ６５に折損が生じると導電膜６７の抵抗値は上昇し、抵抗値が上昇するほど定電流源の出力電圧値は上昇する。したがって、定電流源の出力電圧値を計測することで、光ファイバ６５の折損状況（折損の有無や折損した本数）を把握することができる。
【００４９】
また、上記実施形態では、ライトガイド３５が使用不可能と判定されたときに、「交換」のメッセージを直ちに表示しているが、検査中に電子内視鏡１０の交換を促すと、使用者にストレスを与えるおそれがある。そこで、検査中には「交換」のメッセージは表示せず、検査終了後や次回の使用の前に「交換」のメッセージを表示するようにしてもよい。また、内視鏡システム２を病院内ＬＡＮ等にネットワーク接続し、ホストコンピュータで検査状況等を一括管理するシステムに組み込んだ場合は、光ファイバ６５の折損状況をホストコンピュータにのみ通知してもよい。これにより、検査中の使用者に不要なストレスを与えることを回避することができる。
【００５０】
上記実施形態では、プロセッサ装置１１と光源装置１２を別体としているが、これらを一体としてよい。また、上記実施形態では、生体観測用の内視鏡を例示して説明したが、本発明は、工業用の内視鏡にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】内視鏡システムの概略構成を示す図である。
【図２】内視鏡システムの構成を示すブロック図である。
【図３】ライトガイドの断面図である。
【図４】光ファイバ束の構成を示す概略図である。
【図５】定電圧源、電流計及び導電膜の等価回路図である。
【図６】抵抗値と電流値の関係を示すグラフである。
【図７】抵抗値と電圧値の関係を示すグラフである。
【符号の説明】
【００５２】
２  内視鏡システム
１０  電子内視鏡
１１  プロセッサ装置
１２  光源装置
１３  挿入部
３５  ライトガイド
５５  定電圧源
５６  電流計
５７  比較回路
５９  報知器
６０  ＣＰＵ
６５  光ファイバ
６７  導電膜
【図１】
2010051650.tif 000003
【図２】
2010051650.tif 000004
【図３】
2010051650.tif 000005
【図４】
2010051650.tif 000006
【図５】
2010051650.tif 000007
【図６】
2010051650.tif 000008
【図７】
2010051650.tif 000009