(57)【要約】【課題】半導体集積回路におけるマクロ試験時の消費電力を削減すること。【解決手段】電源供給支援装置１００では、試験対象回路１１０内の電源供給先としてあらかじめ分類されているグループ１〜４のうち、試験対象となる素子を含むグループを抽出することによって、マクロ試験時に正しい試験結果を得るために電源供給先を特定することができる。ここで特定した電源供給先にのみ電源を供給させることによって、マクロ試験時の電源供給を必要最低限に抑えることができる。【選択図】図１
2010204004.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータを、
試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得手段、
前記取得手段によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出手段、
前記取得手段によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出手段によって抽出された素子が属するグループを特定する特定手段、
前記特定手段によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成手段、
として機能させることを特徴とする電源供給支援プログラム。
【請求項２】
前記抽出手段は、前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子のうち、マクロを構成する素子を抽出し、
前記作成手段は、前記抽出手段によって抽出されたマクロを構成する素子が属するグループごとに、当該グループと、当該グループ内の素子を活性化させる素子が属する他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする請求項１に記載の電源供給支援プログラム。
【請求項３】
前記コンピュータを、さらに、
前記特定手段によって特定されたグループの中から常時電源が供給される素子のみが属するグループを検索する検索手段として機能させ、
前記作成手段は、前記特定手段によって特定されたグループのうち前記検索手段によって検索されたグループ以外の他のグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする請求項１または２に記載の電源供給支援プログラム。
【請求項４】
前記コンピュータを、さらに、
前記抽出手段によって抽出された素子を前記分類情報に基づいて、同一のグループに属する素子ごとに分別する分別手段、
前記分別手段によって同一のグループに分別された素子をあらたなグループとして再設定する再設定手段、として機能させ、
前記作成手段は、前記再設定手段によって設定されたあらたなグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする請求項１に記載の電源供給支援プログラム。
【請求項５】
前記作成手段は、前記再設定手段によって再設定されたあらたなグループのうち、マクロを構成する素子が属しているグループごとに、当該グループと、当該グループに属する素子を活性化させる素子が属している他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする請求項４に記載の電源供給支援プログラム。
【請求項６】
試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出手段と、
前記取得手段によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出手段によって抽出された素子が属するグループを特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成手段と、
を備えることを特徴とする電源供給支援装置。
【請求項７】
コンピュータが、
試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得工程と、
前記取得工程によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出工程と、
前記取得工程によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出工程によって抽出された素子が属するグループを特定する特定工程と、
前記特定工程によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成工程と、
を実行することを特徴とする電源供給支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、試験対象回路の試験時の効率的な電源供給を支援する電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、多くの半導体集積回路には消費電力の低減を目的としたパワーゲーティング方式が採用されている。パワーゲーティング方式の半導体集積回路では、システムの動作モードに応じて、半導体集積回路内の使用されていないブロックへの電源供給を一時的に遮断することができる。一般的に、半導体集積回路内の電源供給の対象となるブロック単位はパワードメインと呼ばれている。また、半導体集積回路の内部には、動作モードごとに電源供給先となるパワードメインを選択するための制御回路が用意されている（たとえば、下記特許文献１参照。）。
【０００３】
ここで、図３０は、従来の制御回路の挿入例を示す回路図である。図３０のようにパワードメインが設定されたパワーゲーティング方式の半導体集積回路３０には、電源回路３１からの電源を選択的に各ドメインへ供給するために論理回路によって制御をおこなう。たとえば、電源回路３１のようにドメイン１〜４への電源供給を制御する制御回路として機能させるために出力ポート（ＰＳ［０］〜［３］）の前段にＮＯＲ回路が挿入されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−５１８０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、パワーゲーティング方式が採用された半導体集積回路であっても、回路試験時には、すべてのパワードメインに対して電源が供給されてしまう。たとえば図３０にて説明した半導体集積回路３０の場合、回路試験時には、回路試験状態を指示するＴＡＰＣ（Ｔｅｓｔ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｐｏｒｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）または専用コントローラからのＭｏｄｅＡ信号のポートから電源回路３１内の各ＮＯＲ回路へＭｏｄｅＡ信号＝「１」が入力される。したがって、回路試験時には、ＭｏｄｅＡ信号によってドメイン１〜４すべてに対する電源供給がＯＮになるように制御される。
【０００６】
これは、半導体集積回路３０内に配置されたＦＦ（Ｆｌｉｐ  Ｆｌｏｐ）などのロジック回路（図３０には不図示）を試験する際に、電源が供給されないパワードメインが存在すると、このパワードメイン内に配置されたＦＦ回路からの出力が不定値になってしまい、正しい試験結果を得られないためである。このように従来の半導体集積回路では、すべてのパワードメインへ電源供給がおこなわれるため、パワーゲーティング方式が採用されていながら、回路試験時には依然として多大な消費電力となることが重大な問題となっていた。
【０００７】
そこで、本開示技術は、上述した従来技術による問題点を解消するため、ロジック回路の出力が影響しないマクロ試験時の消費電力を削減する電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本開示技術は、コンピュータを、試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報とを取得する処理と、取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する処理と、取得された分類情報に基づいて、抽出する処理によって抽出された素子が属するグループを特定する処理と、特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する処理と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
本開示技術によれば、試験対象回路内の電源供給先のグループのうち、マクロ試験時に電源供給が必要なグループを抽出して電源供給先を表す電源供給情報を作成する。マクロ試験時にはこの電源供給情報に基づいて電源供給を制御することによって、マクロ試験時の消費電力を必要最低限に抑制することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法によれば、マクロ試験時の消費電力を削減するという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本実施の形態にかかる電源供給支援処理の概要を示す説明図である。
【図２】本実施の形態にかかる電源供給支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図３】本実施の形態にかかる電源供給支援装置の機能的構成を示すブロック図である。
【図４】本実施例における試験対象回路の構成を示す回路図である。
【図５】実施例１における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。
【図６】実施例１における電源供給例（ＡＯＢなし）を示す回路図である。
【図７】実施例１における電源供給例（ＡＯＢあり）を示す回路図である。
【図８】実施例１における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。
【図９】実施例１における制御回路の挿入例を示す回路図である。
【図１０】テスト信号のモード例を示すデータテーブルである。
【図１１】実施例２における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。
【図１２】実施例２における電源供給例を示す回路図である。
【図１３】実施例２における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。
【図１４】実施例２における制御回路の挿入例を示す回路図である。
【図１５】実施例３における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。
【図１６】実施例３における電源供給例を示す回路図である。
【図１７】実施例３における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。
【図１８】実施例３における制御回路の挿入例を示す回路図である。
【図１９】実施例４にかかる電源供給支援処理の手順を示す説明図である。
【図２０】実施例４における電源供給例を示す回路図である。
【図２１】実施例４における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。
【図２２】実施例４における制御回路の挿入例を示す回路図である。
【図２３】制御回路挿入前のサンプル回路を示す回路図である。
【図２４】システムパワー設計情報のデータ構成を示す説明図である。
【図２５】使用端子情報のデータ構成を示す説明図である。
【図２６】インスタンス情報の抽出例を示す説明図である。
【図２７】書き換え後のシステムパワー設計情報を示す説明図である。
【図２８】電源供給先のリスト作成の手順を示すフローチャートである。
【図２９】制御回路挿入後のサンプル回路を示す回路図である。
【図３０】従来の制御回路の挿入例を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。本実施の形態にかかる電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法では、試験対象回路内の電源供給先としてあらかじめ分類されているグループのうち、試験対象となる素子を含むグループを抽出することによって、マクロ試験時に正しい試験結果を得るために電源供給先を特定することができる。ここで特定した電源供給先にのみ電源を供給させることによって、マクロ試験時の電源供給を必要最低限に抑えることができる。
【００１３】
（電源供給支援処理の概要）
まず、本実施の形態にかかる電源供給支援処理の概要について説明する。図１は、本実施の形態にかかる電源供給支援処理の概要を示す説明図である。図１のように、本実施の形態では、電源供給支援装置１００によって試験対象回路１１０に関する情報を取得して、試験対象回路１１０内の素子のうちマクロ試験時に電源を供給する素子を抽出する（ステップＳ１０１）。
【００１４】
たとえば、試験対象回路１１０の場合、グループ１〜グループ４の４つのグループが電源供給対象として分類されている。そして、各グループにはＦＦやＲＡＭやバッファといった様々な機能をもつ素子が配置されている。ステップＳ１０１では、これらの素子のうち、マクロ試験の際に試験対象となる素子と、これら試験対象となる素子を活性化させる、すなわち、試験対象となる素子の前段に接続された素子とが抽出される。
【００１５】
つぎに、ステップＳ１０１において抽出された各素子が属するグループを特定する（ステップＳ１０２）。電源供給支援装置１００では、あらかじめ試験対象回路１１０に関する情報が用意されており、この情報を参照することによって、試験対象回路１１０内の各素子がいずれのグループに属しているかを特定することができる。図１のような試験対象回路１１０の場合、抽出された素子が属するグループとして、たとえばグループ１，２などが特定される。
【００１６】
最後に、ステップＳ１０２によって特定されたグループをマクロ試験時の電源供給先に指定するための制御情報が作成される（ステップＳ１０３）。電源供給支援装置１００では、電源供給先に指定するための制御情報として、電源供給情報１１１を作成する。具体的には、試験対象回路１１０がマクロ試験の実行指示を受け付けた際に、ステップＳ１０２によって特定されたグループ（上述の例ではグループ１，２）のみに電源を供給するように指示する情報である。データ構成としては、たとえば、電源供給ＯＮ／ＯＦＦを表す２値によって「グループ１：１（ＯＮ）、グループ２：１（ＯＮ）、グループ３：０（ＯＦＦ）、グループ４：０（ＯＦＦ）」のような表現のなされたデータ列が提供される。なお、ここで作成される電源供給情報１１１のデータは、試験対象回路１００への電源供給を制御する制御回路１３０によって処理可能なものであれば、その構成は特に限定されない。
【００１７】
そして、電源供給支援装置１００によって作成された電源供給情報１１１は、試験対象回路１１０へ電源を供給する電源回路１２０に接続された制御回路１３０に入力される。制御回路１３０では、マクロ試験実行指示を受け付けると、電源供給情報１１１に基づいて、電源回路１２０の電源供給を制御し、グループ１，２にのみ電源を供給させる。
【００１８】
このように、本実施の形態にかかる電源供給支援処理を用いることによって、半導体集積回路のパワードメインのうち、マクロ試験時の電源供給が必要なドメインを特定することができる。従来、半導体集積回路の回路試験時では、回路内すべてのグループへ電源を供給しなければならず、その消費電力の大きさが大きな課題となっていたが、マクロ試験時の電源供給先を本実施の形態によって特定されたドメインに絞ることによって消費電力を大幅に削減することができる。
【００１９】
以下に、上述した電源供給支援処理を実現するための具体的な構成ならびに処理内容について説明する。
【００２０】
（電源供給支援装置のハードウェア構成）
まず、本実施の形態にかかる電源供給支援装置１００のハードウェア構成について説明する。図２は、本実施の形態にかかる電源供給支援装置１００のハードウェア構成を示すブロック図である。図２において、電源供給支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ‐Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、磁気ディスクドライブ２０４と、磁気ディスク２０５と、通信Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２０６と、入力デバイス２０７と、出力デバイス２０８と、を備えている。また、各構成部はバス２１０によってそれぞれ接続されている。
【００２１】
ここで、ＣＰＵ２０１は、電源供給支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラムや、本実施の形態にかかる電源供給支援処理を実現するための電源供給支援プログラムなどの各種プログラムを記憶している。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。磁気ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって磁気ディスク２０５に対するデータの更新／参照を制御する。磁気ディスク２０５は、磁気ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。なお、図２のハードウェア構成では、記録媒体として、磁気ディスク２０５を用いているが、光ディスクや、フラッシュメモリなど他の記録媒体を利用してもよい。
【００２２】
通信Ｉ／Ｆ２０６は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク（ＮＥＴ）２０９に接続され、このネットワーク２０９を介して他の情報処理装置やその他の外部装置に接続される。そして、通信Ｉ／Ｆ２０６は、ネットワーク２０９と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。通信Ｉ／Ｆ２０６の構成例としては、たとえばモデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。
【００２３】
入力デバイス２０７は、電源供給支援装置１００に対しての外部からの入力を受け付ける。入力デバイス２０７としては、具体的には、キーボード、マウスなどが挙げられる。キーボードの場合、たとえば、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力をおこなう。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウスの場合、たとえば、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などをおこなう。また、ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。
【００２４】
出力デバイス２０８は、電源供給支援装置１００に配置されたデータや、シミュレーションの実行結果などを出力する。出力デバイス２０８としては、具体的には、ディスプレイ、プリンタなどが挙げられる。ディスプレイの場合、たとえば、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示する。このディスプレイとしてさらに、ＣＲＴ、ＴＦＴ液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。また、プリンタの場合、たとえば、画像データや文書データを印刷する。さらに、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。
【００２５】
（電源供給支援装置の機能的構成）
つぎに、電源供給支援装置１００の機能的構成について説明する。図３は、本実施の形態にかかる電源供給支援装置の機能的構成を示すブロック図である。図３のように、電源供給支援装置１００は、取得部３０１と、抽出部３０２と、特定部３０３と、作成部３０４と、分別部３０５と、再設定部３０６と、検索部３０７と、を含む構成である。この制御部となる機能（取得部３０１〜検索部３０７）は、具体的には、たとえば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５などの記憶領域に記憶された電源供給検証支援プログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、通信Ｉ／Ｆ２０６により、その機能を実現する。
【００２６】
取得部３０１は、電源供給情報１１１を生成するための必要な情報３００を取得する機能を有する。具体的には、取得部３０１は、試験対象回路１１０の回路情報（たとえば、ネットリスト）と、試験対象回路１１０内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、試験対象回路１１０内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報（たとえば、パワードメインを表すシステムパワー設計情報など）とを取得する。なお、取得された各情報は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５などの記憶領域に一旦記憶される。
【００２７】
抽出部３０２は、取得部３０１によって取得された回路情報から端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する機能を有する。上述したように、端子情報は、試験対象回路１１０内のマクロ試験時に利用される入出力端子を示す。したがって、抽出部３０２によって抽出された素子は、マクロ試験時に電源が供給されている必要のある素子であることを意味している。なお、抽出された素子の情報は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５などの記憶領域に一旦記憶される。
【００２８】
また、抽出部３０２によって抽出された素子であっても、グループごとの電源供給とは別に常時電源が供給されるような素子も存在する。このような素子のみが配置されているグループについては、電源供給先に指定する必要はないため、後述する検索部３０７を利用することによって、他のグループと分けて扱うことができる（詳しくは検索部３０７において説明する）。
【００２９】
特定部３０３は、取得部３０１によって取得された分類情報に基づいて、抽出部３０２によって抽出された素子が属するグループを特定する機能を有する。上述したように、分類情報は、試験対象回路１１０内の各素子がいずれのグループに属しているかを表す。したがって、特定部３０３は、抽出部３０２によって抽出された素子について分類情報から一意的に属するグループを特定することができる。特定されたグループの情報は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５などの記憶領域に一旦記憶される。
【００３０】
作成部３０４は、特定部３０３によって特定されたグループを試験対象回路１１０のマクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報１１１を作成する機能を有する。すなわち、作成部３０４では、マクロ試験時に特定部３０３によって特定されたグループに対する電源供給がＯＮ状態になるような電源供給情報１１１を作成する。なお、作成部３０４によって作成される電源供給情報１１１のデータ形式は一様ではなく、試験対象回路１１０への電源供給を制御する制御回路１３０によって処理可能なデータであればよい。また、作成された電源供給情報１１１は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５などの記憶領域に一旦記憶される。
【００３１】
上述したように、本実施の形態にかかる電源供給支援装置１００では、基本的な処理として、取得部３０１、抽出部３０２、特定部３０３および作成部３０４によってマクロ試験時に電源供給を必要とするすべてのグループに対して同時に電源を供給するための電源供給情報１１１を作成ことができる。
【００３２】
さらに、電源供給支援装置１００は、上述の機能部（取得部３０１〜作成部３０４）を用いて、マクロ試験時に試験対象となるマクロを構成する素子ごとにマクロ試験を分割して、それぞれのマクロ試験時の電源供給情報１１１を作成することもできる。すなわち、試験対象回路１１０内のグループ１，２にそれぞれマクロを構成する素子が含まれている場合、グループ１内の素子を対象としてマクロ試験をおこなう場合の電源供給情報１１１と、グループ２内の素子を対象としてマクロ試験をおこなう場合の電源供給情報１１１とをそれぞれ作成する。
【００３３】
このとき、たとえばグループ１内の素子を対象としてマクロ試験をおこなう場合には、グループ１に電源供給をおこなうだけでなく、グループ１内の素子に入力する情報を生成する素子が属している他のグループにも電源供給がおこなわれていなければならない。そこで、作成部３０４では、抽出部３０２によって抽出されたマクロを構成する素子が属するグループごとに、このグループと、このグループ内の素子を活性化させる素子が属する他のグループとを電源供給対象に指定した電源供給情報１１１を作成する。
【００３４】
このように、マクロを構成する素子が含まれるグループごとにマクロ試験時の電源供給情報１１１を切り替えることによって、マクロ試験時の電源供給先が分散され、マクロ試験時の消費電力をより低減させることができる。
【００３５】
また、電源供給支援装置１００では、分別部３０５と再設定部３０６とを用いることによって電源供給先となるグループを、必要最低限の素子のみを含んだグループに再設定することができる。具体的には、まず、分別部３０５によって、抽出部３０２によって抽出された素子を分類情報に基づいて、同一のグループに属する素子ごとに分別する。そして、再設定部３０６は、分別部３０５によって同一のグループに分別された素子同士をあらたなグループとして再設定する。
【００３６】
作成部３０４は、再設定部３０６によって設定されたあらたなグループを、マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報１１１を作成する。すなわち、作成部３０４では、マクロ試験時に電源供給が必要な素子に絞った効率的なグループ単位の電源供給情報１１１を作成することができる。したがって、既存のグループ分けではマクロ試験時にすべてのグループが電源供給先に指定されてしまい、消費電力の低減が期待できないような場合であっても、上述のように、あらたにグループを再設定することによって、電源供給先となるグループの範囲を縮減し、マクロ試験時の消費電力の低減を可能にすることができる。
【００３７】
なお、分別部３０５および再設定部３０６によってあらたなグループを再設定した場合も、既存のグループを用いた場合と同様に、試験対象となるマクロを構成する素子が含まれるグループごとに電源供給先を切り替えることができる。このような場合、作成部３０４は、再設定部３０６によって再設定されたあらたなグループのうち、マクロを構成する素子が属しているグループごとに、このグループと、このグループに属する素子を活性化させる素子が属している他のグループとを、マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報１１１を作成すればよい。したがって、作成部３０４によって作成された電源供給情報１１１ごとに電源供給をおこなうことによって、マクロ試験時の消費電力をより低減することができる。
【００３８】
また、電源供給支援装置１００には、検索部３０７が用意されており、常時電源が供給されるような特殊な素子のみが属しているグループをマクロ試験時に電源供給が必要なグループから除外することができる。具体的には、検索部３０７は、特定部３０３によって特定されたグループの中から常時電源が供給される素子のみが属するグループを検索する機能を有する。
【００３９】
検索部３０７によって常時電源が供給される素子のみが属するグループが検索された場合、作成部３０４は、特定部３０３によって特定されたグループのうち検索部３０７によって検索されたグループ以外の他のグループを、マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報１１１を作成する。したがって、常時電源が供給される素子のみが属するグループへの電源供給の重複を防ぐことができる。
【００４０】
以上説明したように、電源供給支援装置１００では、マクロ試験時に電源供給が必要なグループのみを抽出して電源供給先を表す電源供給情報１１１を作成するため、マクロ試験時の電源供給先を必要最低限に抑制することができる。
【００４１】
＜実施例＞
つぎに、上述した構成をもつ電源供給支援装置１００による電源供給支援処理の実施例について実施例１〜４の４種類を挙げて説明する。ここで、図４は、本実施例における試験対象回路の構成を示す回路図である。以下の実施例１〜４では、図４に例示したように、試験対象回路４００には、マクロを構成するマクロＡ〜Ｃの３つのセル（素子）が含まれている。また、試験対象回路４００は、パワーゲーティング方式が採用され、パワードメインとして回路内がドメイン１〜４の４つの電源供給先に分類されているものとして、以下に本実施の形態にかかる電源供給支援処理の適応例について説明する。なお、マクロＡ〜Ｃにはそれぞれ、各マクロに対して独立した回路試験をおこなうためのテスト機構としてＢＩＳＴ（Ｂｕｉｌｔ  Ｉｎ  Ｓｅｌｆ  Ｔｅｓｔ）が備えられている。
【００４２】
（実施例１）
実施例１では、試験対象回路４００からマクロを構成するセルを活性化するドメインを電源供給先とした電源供給情報１１１を作成する。図５は、実施例１における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。図５のように、実施例１では、まず、回路情報として、試験対象回路４００のネットリスト５０１と、端子情報として、試験時の使用端子情報５０２とを取得し、各マクロ試験において使用するセルのインスタンス情報５０３を抽出する（ステップＳ５１０）。マクロ試験において使用するセルとは具体的にはＲＡＭ、ＢＳＲ（Ｂｏｕｎｄａｒｙ  Ｓｃａｎ  Ｒｅｇｉｓｔｅｒ）、クロック制御回路などが挙げられる。なお、便宜上、以下各実施例では、マクロ試験に使用するセルとしてＲＡＭを抽出するものとする。
【００４３】
つぎに、試験対象回路４００の分類情報としてシステムパワー設計情報５０４を取得し、このシステムパワー設計情報５０４を参照してステップＳ５１０によって抽出されたセルが存在するドメインを特定する（ステップＳ５２０）。各セルのドメインが特定されると、特定されたドメインからマクロ試験時に電源を供給する電源供給情報１１１として、電源供給先のドメインのリスト５０５を作成する（ステップＳ５３０）。
【００４４】
ここで、図６は、実施例１における電源供給例（ＡＯＢなし）を示す回路図であり、図７は、実施例１における電源供給例（ＡＯＢあり）を示す回路図である。通常、ステップＳ５２０の処理によって試験対象回路４００の中のドメインのうち、図６のように、ドメイン１，２，４が電源供給先として特定される。そして、ドメイン３（網掛け部分）は電源供給先から除外される。
【００４５】
このとき、ドメイン２には、いずれのマクロも含まれていないが、マクロＣを活性化させるバッファ６０１が配置される。そしてバッファ６０１は、常時電源が供給されるＡＯＢ（Ａｌｗａｙｓ  Ｏｎ  Ｂｕｆｆｅｒ）ではないため、マクロ試験時には、電源を供給しなければならない。したがって、ドメイン２は、電源供給先として特定される。一方、図７に示した試験対象回路４００の場合、ドメイン２に配置されているバッファ６０２はＡＯＢであるため、ドメイン２はマクロ試験時の電源供給先から除外される。
【００４６】
そして、図８は、実施例１における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。テーブル８００のシステムモードＡ、Ｂ，Ｃは、試験対象回路４００を通常使用する際のドメインの電源供給先を表している。システムモードの情報は、試験対象回路４００の動作設定として設計者や利用者によってあらかじめ設定されている。そして、テーブル８００のテストモード１，２は、図６，７によって特定したマクロ試験時の電源供給先を表している。テストモード１は、図６のようにドメイン２にＡＯＢ以外のバッファが配置されている場合、テストモード２は、図７のようにドメイン２にＡＯＢのバッファのみが配置されている場合のリストである。
【００４７】
図５の説明に戻り、つぎに、ステップＳ５３０によって作成された電源供給先のドメインのリスト５０５を利用して、このリストのＯＮ／ＯＦＦを試験対象回路４００への電源供給に反映するため、電源回路１２０を制御する制御回路１３０を構成する処理（ステップＳ５４０）に移行する。制御回路１３０では、図８に例示したテーブル８００のＯＮ／ＯＦＦを反映する論理回路が構成される。なお、ＯＮ／ＯＦＦの真理値に基づいて論理回路を構成する処理については既存の技術であるため、詳細な説明は省略する。そして、電源供給支援装置１００では、ステップＳ５４０によって構成された制御回路１３０を含む試験対象回路４００のネットリスト５０６が作成され、一連の処理を終了する。
【００４８】
ここで、図９は、実施例１における制御回路の挿入例を示す回路図である。実施例１では、電源供給支援処理をおこなうため、試験対象回路４００に電源を供給する電源回路１２０にあらたに、制御回路１３０を挿入する。図３０と比較すると明らかなように、本実施例（実施例１〜４）に用いられる試験対象回路４００は、図３０に例示した従来の電源回路３１に制御回路１３０を追加した構成になっている。制御回路１３０は、たとえばＪＴＡＧなどの規格に準拠した信号を利用してＴＡＰＣ１３１によって制御回路１３０内の各論理ゲートを制御する。なお実装例はＴＡＰＣ１３１を利用して制御する構成に限定せずに、ＴＡＰＣ１３１の代わりに、専用のコントローラとしてあらたに制御回路１３０を準備してもよい。
【００４９】
そして、各論理回路からの出力値［１／０］に応じて電源回路１２０内の電源供給端子ＰＳ［０］〜［３］のうち、所望する端子ＰＳからの出力を試験対象回路４００に入力させることができる。なお、図１０は、テスト信号のモード例を示すデータテーブルである。制御回路１３０は、図１０のテーブル１０００の各モードの切り替えをおこなうことによって、ＴＡＰＣ１３１からは、対応したモードの信号が出力され、電源回路１２０が適切に制御される。
【００５０】
具体的には、たとえば、図３０にて説明したすべてのパワードメインを電源供給先とするＭｏｄｅＡに加え、下記のような回路試験内容に応じたモード（ＭｏｄｅＢ〜Ｄ）を用意する。
【００５１】
ＭｏｄｅＢ：ロジックテストモード
ＭｏｄｅＣ：ＳＲＡＭ／ＲＯＭテストモード
ＭｏｄｅＤ：ＰＬＬテストモード
【００５２】
ＭｏｄｅＢでは、試験対対象回路４００内のロジック回路の試験を目的とする。したがって、制御回路１３０からＭｏｄｅＢ信号＝［１］が出力された場合には、ＭｏｄｅＡと同様に、すべてのパワードメイン（ドメイン１〜４）へ電源供給がＯＮ状態となる。
【００５３】
そして、ＭｏｄｅＣでは、試験対対象回路４００内のマクロ回路の試験を目的とする。したがって、制御回路１３０からＭｏｄｅＣ信号＝［１］が出力された場合には、ドメイン１，２，４への電源供給がＯＮ状態となり、各ドメインが活性化される。
【００５４】
また、ＭｏｄｅＤでは、試験対対象回路４００内のＰＬＬ回路の試験を目的とする。したがって、制御回路１３０からＭｏｄｅＤ信号＝［１］が出力された場合には、ドメイン１への電源供給がＯＮ状態となり、ドメイン１が活性化される。なお、試験対象回路４００全体を実際に動作させる場合、すなわちシステム動作時には、各Ｍｏｄｅ信号による制御は不要であるため、各ポートからは［０］が出力される。
【００５５】
このように、実施例１によれば、試験対象回路４００のパワードメインのうち、マクロ試験時に活性化の必要のないドメインへの電源供給を抑えることによって、試験の正確性を保ちながら消費電力を低減することができる。
【００５６】
（実施例２）
実施例２では、あらたなパワードメインを設定して電源供給先を必要最低限の範囲に限定した電源供給情報１１１を作成する。図１１は、実施例２における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。図１１のように、実施例２でも、まずは、実施例１と同様に試験対象回路４００のネットリスト５０１と、試験時の使用端子情報５０２とを取得し、各マクロ試験において使用するセルのインスタンス情報５０３を抽出する（ステップＳ１１１０）。
【００５７】
実施例２の場合、つぎに、試験対象回路４００の分類情報としてシステムパワー設計情報５０４を取得すると、インスタンス情報５０３を用いて、マクロ試験対象となる素子のみ（ここではＲＡＭを構成するセル）を含むドメインを再設定し（ステップＳ１１２０）、システムパワー再設計情報５０７を作成する。
【００５８】
その後、システムパワー再設計情報５０７を参照して、ステップＳ１１１０によって抽出されたセルが存在するドメインを特定する（ステップＳ１１３０）。各セルのドメインが特定されると、特定したドメインからマクロ試験時に電源を供給する電源供給情報１１１として、電源供給先のドメインのリスト５０５を作成する（ステップＳ１１４０）。
【００５９】
ステップＳ１１５０によってリストが作成されると、以下は、実施例１と同様に、電源供給先のドメインのリスト５０５のＯＮ／ＯＦＦを試験対象回路４００への電源供給に反映するため、電源回路１２０を制御する制御回路１３０を構成する処理（ステップＳ１１５０）に移行する。すなわち、制御回路１３０を含む試験対象回路４００のネットリスト５０６を作成することによって、一連の処理を終了する。
【００６０】
ここで、図１２は、実施例２における電源供給例を示す回路図である。実施例２の場合、ステップＳ１１２０の処理によってパワードメインの再設定がおこなわれる。したがって、図１２のように、ドメイン１のセルが含まれていない領域１２０１の内部にマクロＡ，Ｂのみを電源供給対象としたドメイン１−１が再設定される。同様にドメイン４内には、マクロＣのみを電源供給対象としたドメイン４−１が再設定される。このように、再設定されるドメインは、存在する子階層（たとえば、ドメイン１の子階層ドメイン１−Ｘというように）に対して行う。
【００６１】
そして、図１３は、実施例２における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。テーブル１３００のように、ドメイン１−１とドメイン４−１が再設定されている。したがって、テストモード１（ここでは、ドメイン２のバッファ１２０２はＡＯＢ以外のセルとし、ＡＯＢの場合は省略する）では、ドメイン１−１，２，４−１のみが電源供給先となるリストを作成すればよい。
【００６２】
図１４は、実施例２における制御回路の挿入例を示す回路図である。図１４のように、実施例２の場合も、電源回路１２０と制御回路１３０ならびに制御回路１３０を制御するモード設定は、実施例１と同様であるが、試験対象回路４００には、あらたに再設定したドメイン１−１，４−１へ電源供給を反映させるための切り替えスイッチ４０１，４０２が追加された構成となっている。スイッチ４０１，４０２は、他のスイッチと同様に、システムパワー再設計情報５０７の情報を元に、レイアウト工程で組み込まれる。
【００６３】
実施例２の場合も、回路試験の内容に応じて対応するＭｏｄｅ信号から［１］が出力され電源供給先となるドメインが活性化される。なお実施例２の場合、あらたなドメインに再設定されているため、ＭｏｄｅＣ信号＝［１］すなわちＳＲＡＭ／ＲＯＭテストモードの場合は、ドメイン１−１，２，４−１が活性化され、ＭｏｄｅＤ信号＝［１］すなわちＰＬＬテストモードの場合は、ドメイン１，１−１が活性化される。
【００６４】
このように、実施例２によれば、試験対象回路４００のパワードメインを、電源供給範囲が必要最小限となるようなドメインに再設定する。したがって、試験対象回路４００が実施例１の処理をおこなった場合に、電源供給先としてすべてのドメインが特定されてしまうような回路であっても、マクロ試験時の電源供給を抑え、消費電力を低減することができる。
【００６５】
（実施例３）
実施例３では、実施例１の処理によって特定された同一のドメイン内のマクロのみを同時に試験をするように、ドメインごとに電源供給情報１１１を作成する。図１５は、実施例３における電源供給支援処理の手順を示す説明図である。図１５のように、実施例３でも実施例１と同様に、まず、試験対象回路４００のネットリスト５０１と、試験時の使用端子情報５０２とを取得し、各マクロ試験において使用するセルのインスタンス情報５０３を抽出する（ステップＳ１５１０）。
【００６６】
つぎに、システムパワー設計情報５０４を取得し、このシステムパワー設計情報５０４を参照してステップＳ１５１０によって抽出されたセルをドメインごとにグループ化する（ステップＳ１５２０）。そして、ステップＳ１５２０によってグループ化されたグループごとにマクロ試験時に電源を供給するドメインのリスト５０８を作成する（ステップＳ１５３０）。
【００６７】
ここで、図１６は、実施例３における電源供給例を示す回路図である。実施例３の場合、マクロＡ，Ｂを含むドメイン１と、マクロＣを含むドメイン４とが特定されるため、ドメイン１内のマクロのみを同時に試験するためのリスト５０８と、ドメイン４内のマクロのみを同時に試験するためのリスト５０８とが作成される。図１５に戻り、そして、グループ切り替えごとにリストのＯＮ／ＯＦＦを反映する制御回路を構成する処理に移行する（ステップＳ１５４０）。すなわち、制御回路を含む試験対象回路のネットリスト５０６を作成することにより、一連の処理を終了する。
【００６８】
なお、ドメイン４−１内のマクロＣを試験するには、ドメイン２内のバッファ６０１を活性化させる必要があるため、ドメイン２も電源供給先となる。そして、実際のマクロ試験時には試験対象回路４００−１と４００−２との切り替えがおこなわれ、いずれか一方のドメイン内のマクロを試験対象とする。
【００６９】
そして、図１７は、実施例３における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。図１６にて説明したように、実施例３の場合は、マクロ試験対象となるマクロを含んだドメインごとにそれぞれ独立したテストをおこなうため、テストの切り替えがおこなわれる。したがって、実施例３では、図１７のテーブル１７００のように、ドメイン１内のマクロを対象としたマクロ試験をおこなうマクロテスト１と、ドメイン４内のマクロを対象としたマクロ試験をおこなうマクロテスト２との、それぞれの電源供給先を反映したリストを作成する。
【００７０】
なお、ドメイン１内のマクロを試験対象としたマクロ試験をおこなう場合には、ドメイン１のみに電源を供給すればよいが、ドメイン４内のマクロを試験対象としたマクロ試験をおこなう場合には、マクロＣを活性化させる素子を含んだドメイン２にも電源を供給しなければならない。したがって、テーブル１７００に示したように、マクロテスト２の場合には、ドメイン２，４を「ＯＮ」とするリストを作成する。
【００７１】
また、図１８は、実施例３における制御回路の挿入例を示す回路図である。図１８のように、実施例３の場合、制御回路１３０にマクロテスト１とマクロテスト２との切り替えをおこなうＴＧＣ（Ｔｅｓｔ  Ｇｒｏｕｐ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）１３２が追加されている。ＴＧＣ１３２から出力される切り替え信号ＴＧＳ（Ｔｅｓｔ  Ｇｒｏｕｐ  Ｓｉｇｎａｌ）として［０／１］が出力される。具体的にはマクロテスト１を実行する場合にはＴＧＳ［０］＝［１（Ｈｉｇｈ状態）］を出力させ、マクロテスト２を実行する場合にはＴＧＳ［１］＝［１（Ｈｉｇｈ状態）］を出力する。
【００７２】
なお、実施例３では、ＴＧＳ［０］とＴＧＳ［１］の関係は、ワンホット型のデコード論理のように１つのグループのみを選択させる例を用いて説明しているが、もちろん、同一ドメイン内の複数マクロ同士に対し、更にグループを分割させるものであってもよい。同一ドメイン内でグループ分割を行った場合は、パワーゲーティング方式での消費電力の削減はできない。しかしながら、たとえば、ＴＧＳ信号を利用したクロックゲーティング方式によってクロックを遮断することにより、消費電力を削減できる事は容易に想像できる。また、実施例３では、ＴＧＣ１３２によるテストの切り替えが追加されたため、図１０のテーブル１０００にて説明したＴＡＰＣ１３１のＭｏｄｅＣの制御が省かれた構成になっている。
【００７３】
このように、実施例３では、実施例１の処理によってマクロ試験時に活性化する必要があると特定されたドメインについて、さらに、同一のドメイン内のマクロのみが同時に試験されるように、テスト対象を切り替える機能が追加されている。したがって、マクロ試験時には、選択されたテストのみが実行されるため、消費電力のさらなる低減を実現することができる。
【００７４】
（実施例４）
実施例４は、実施例２によって再設定された各ドメインについて、同一のドメイン内のマクロのみを同時に試験をするように、ドメインごとに電源供給情報１１１を作成する。すなわち、実施例２と実施例３との双方の処理を適用している。図１９は、実施例４にかかる電源供給支援処理の手順を示す説明図である。図１９のように、実施例４でも、まずは、実施例２と同様に試験対象回路４００のネットリスト５０１と、試験時の使用端子情報５０２とを取得し、各マクロ試験において使用するセルのインスタンス情報５０３を抽出する（ステップＳ１９１０）。
【００７５】
つぎに、試験対象回路４００の分類情報としてシステムパワー設計情報５０４を取得すると、インスタンス情報５０３を用いて、マクロ試験対象となる素子のみ（ここではＲＡＭを構成するセル）を含むドメインを再設定し（ステップＳ１９２０）、システムパワー再設計情報５０７を作成する。
【００７６】
その後、システムパワー再設計情報５０７を参照して、ステップＳ１９１０によって抽出されたセルをドメインごとにグループ化する（ステップＳ１９３０）。そして、ステップＳ１９３０によってグループ化されたグループごとに、マクロ試験時に電源を供給するドメインのリスト５０８を作成する（ステップＳ１９４０）。
【００７７】
そして、ステップＳ１９４０によって作成されたグループごとの電源供給先ドメインのリスト５０８を利用して、グループ切り替えごとに、リストのＯＮ／ＯＦＦを試験対象回路４００への電源供給に反映する。すなわち、リスト５０８によって、電源回路１２０を制御する制御回路１３０を構成する処理（ステップＳ１９５０）に移行し、制御回路１３０を含む試験対象回路４００のネットリスト５０６を作成することによって、一連の処理を終了する。
【００７８】
ここで、図２０は、実施例４における電源供給例を示す回路図である。実施例４の場合、マクロＡ，Ｂを含むドメイン１―１と、マクロＣを含むドメイン４―１とが特定される。したがって、ドメイン１―１内のマクロのみを同時に試験するためのリスト５０８と、ドメイン４―１内のマクロのみを同時に試験するためのリスト５０８とが作成される。実際のマクロ試験時には試験対象回路４００−１と４００−２とが切り替えられ、いずれか一方のドメイン内のマクロを試験対象とする。
【００７９】
そして、図２１は、実施例４における電源供給先ドメインのリスト作成例を示すデータテーブルである。図２０に示したように、実施例４の場合は、テストの切り替えがおこなわれる。このとき、実施例４では、実施例２と同様にドメイン１のセルが含まれていない領域１２０１の内部にマクロＡ，Ｂのみを電源供給対象としたドメイン１−１が再設定されている。図２１のテーブル２１００のように、ドメイン１―１内のマクロを対象としたマクロ試験をおこなうマクロテスト１と、ドメイン４―１内のマクロを対象としたマクロ試験をおこなうマクロテスト２（ドメイン２のバッファ１２０２はＡＯＢ以外のセルとする）との、それぞれの電源供給先を反映したリストを作成する。
【００８０】
また、図２２は、実施例４における制御回路の挿入例を示す回路図である。図２２のように、実施例４の場合も、実施例３と同様に、制御回路１３０にはマクロテスト１とマクロテスト２との切り替えをおこなうＴＧＣ１３２が追加されている。また、試験対象回路４００にも、ドメイン１−１と、ドメイン４−１とを電源供給先とするための、スイッチ４０１，４０２とが追加されている。スイッチ４０１，４０２は、他のスイッチと同様に、システムパワー再設計情報５０７の情報を元に、レイアウト工程で組み込まれる。
【００８１】
したがって、ＭｏｄｅＣ信号＝［１］すなわちＳＲＡＭ／ＲＯＭテストモードの場合、マクロテスト１であれば、ドメイン１−１が活性化され、マクロテスト２であれば、ドメイン４−１が活性化される。
【００８２】
このように、実施例４では、実施例２の処理によって必要最低限の範囲のみに再設定されたドメインについて、さらに、同一のドメイン内のマクロのみが同時に試験されるように、テスト対象を切り替える機能が追加されている。したがって、マクロ試験として、限定されたドメインを試験対象とし、さらに、試験対象を同一のドメイン内のマクロに限定した複数のテストモードが用意される。そして、マクロ試験時には、テストモードのうちの選択されたテストのみが実行されるため、実施例１〜４の中では、マクロ試験時に電源が供給されるドメインの範囲が最小となり、最も少ない消費電力で試験をおこなうことができる。
【００８３】
つぎに、上述した実施例１〜４の処理の際に利用した各情報の詳細な構成と、これらの情報を用いた電源供給支援処理を用いて試験対象回路に制御回路を挿入するまでの処理について説明する。なお、図２３は、制御回路挿入前のサンプル回路を示す回路図である。以下の説明では、サンプル回路２３００の構成を用いて説明をおこなう。
【００８４】
まず、サンプル回路２３００からインスタンス情報を取得するための処理について説明する。図２４は、システムパワー設計情報のデータ構成を示す説明図であり、図２５は、使用端子情報のデータ構成を示す説明図である。図２４のデータ列２４００のように、システムパワー設計情報は、パワードメインの分類を表すＰＤ１〜４について対応する領域の情報が示されている。また、図２５のデータ列２５００のように、端子情報として、各端子ＰＩＮ１〜８について、ロジック試験によって使用する場合の入出力情報Ｌと、マクロ試験によって使用する場合の入出力情報Ｍとが設定されている。
【００８５】
そして、図２６は、インスタンス情報の抽出例を示す説明図である。インスタンス情報を抽出するためには、まず、図２５にて説明した各端子の接続情報に基づいて、サンプル回路２３００のネットリストをバックトレースする。このバックトレース順に素子を表示させたデータ列２６１０を取得し、さらに、取得したデータ列２６１０の中から、マクロ試験の対象となるＲＡＭについて固有化したデータ列２６２０を抽出することによってＲＡＭ試験時のインスタンス情報を得ることができる。
【００８６】
また、図２７は、書き換え後のシステムパワー設計情報を示す説明図である。実施例２，４では、あらかじめ分類されていたドメインを再設定する。したがって、図２４のデータ列２４００によって表されたシステムパワー設計情報は、データ列２７００の網掛け箇所か追加され、以後、各セルのドメインを特定する際には、書き換え後のシステムパワー設計情報が参照される。
【００８７】
つぎに、電源供給先のリスト作成の手順について説明する。図２８は、電源供給先のリスト作成の手順を示すフローチャートである。図２８のフローチャートにおいて、まず、システムパワー設計情報から初期パワードメインのインスタンスを取得する（ステップＳ２８０１）。このとき、実施例２，４の場合は、図２７のように書き換えられたシステムパワー情報からインスタンスが取得される。
【００８８】
つぎに、ステップＳ２８０１において取得されたインスタンスがＲＡＭ試験時のインスタンス情報内にあるか否かを判断する（ステップＳ２８０２）。ここで、取得されたインスタンスがインスタンス情報内にあると判断された場合（ステップＳ２８０２：Ｙｅｓ）、取得したインスタンスを電源供給先ドメインに設定する（ステップＳ２８０３）。
【００８９】
一方、ステップＳ２８０２において、取得されたインスタンスがインスタンス情報内にないと判断された場合（ステップＳ２８０２：Ｎｏ）、つぎのパワードメインのインスタンスを取得して（ステップＳ２８０４）、ステップＳ２８０２の処理に移行する。
【００９０】
ステップＳ２８０３において、電源供給先のドメインが設定されると、つぎに、すべてのパワードメインを調査したか否かを判断する（ステップＳ２８０５）。そして、すべてのパワードメインの調査が終了するまで（ステップＳ２８０５：Ｎｏ）、ステップＳ２８０４の処理に移行し、つぎのパワードメインの調査をおこなう。そして、ステップＳ２８０５おいて、すべてのパワードメインの調査が終了したと判断されると（ステップＳ２８０５：Ｙｅｓ）、一連の処理を終了する。
【００９１】
そして、図２９は、制御回路挿入後のサンプル回路を示す回路図である。図２８の手順によって、下記のようなリストが作成される。
【００９２】
パワードメイン        ＲＡＭ試験時の電源供給
ＰＤ１                ＯＮ
ＰＤ２                ＯＮ
ＰＤ３                ＯＦＦ
ＰＤ４                ＯＮ
【００９３】
したがって、サンプル回路２３００に、上記のリストが示す電源供給を反映させる制御回路としてＵＳＥＲ  ＰＭＵの出力を制御するＰＭＵ（Ｐｏｗｅｒ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｕｎｉｔ）が追加されたサンプル回路２９００が作成される。なお、ＰＭＵの出力ＰＳ［０］等は、既存のパワーゲーティング方式と同様に、レイアウト工程で電源供給の制御スイッチと接続される。
【００９４】
以上説明したように、本実施の形態にかかる電源供給支援プログラム、電源供給支援装置および電源供給支援方法によれば、マクロ試験時に電源供給が必要なグループを抽出して電源供給先を表す電源供給情報を作成する。マクロ試験時にはこの電源供給情報に基づいて電源供給を制御することによって、従来の課題であったマクロ試験時の消費電力を必要最低限に抑制することができる。
【００９５】
また、電源供給先として特定されたドメインごとに電源供給先のリストを作成することによって、マクロ試験を対象となるドメインごとに分けておこなうこともできる。このように、マクロ試験を複数回に分けておこなうことによって、マクロ試験の消費電力を分散することができる。
【００９６】
さらに、あらかじめ設定されているドメインを、試験対象となるマクロが配置された範囲に絞ったドメインに再設定することによって、電源供給先を必要最低限に抑えることもできる。したがって、試験対象回路のドメインの設定内容にかかわらずに、マクロ試験時の消費電力を確実に低減させることができる。
【００９７】
なお、本実施の形態で説明した電源供給支援方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することにより実現することができる。本電源供給支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また本電源供給支援プログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布してもよい。
【００９８】
また、本実施の形態で説明した電源供給支援装置１００は、スタンダードセルやストラクチャードＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）などの特定用途向けＩＣ（以下、単に「ＡＳＩＣ」と称す。）やＦＰＧＡなどのＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）によっても実現することができる。具体的には、たとえば、上述した電源供給支援装置１００の機能（取得部３０１〜検索部３０７）をＨＤＬ記述によって機能定義し、そのＨＤＬ記述を論理合成してＡＳＩＣやＰＬＤに与えることにより、電源供給支援装置１００を製造することができる。
【００９９】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１００】
（付記１）コンピュータを、
試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得手段、
前記取得手段によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出手段、
前記取得手段によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出手段によって抽出された素子が属するグループを特定する特定手段、
前記特定手段によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成手段、
として機能させることを特徴とする電源供給支援プログラム。
【０１０１】
（付記２）前記抽出手段は、前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子のうち、マクロを構成する素子を抽出し、
前記作成手段は、前記抽出手段によって抽出されたマクロを構成する素子が属するグループごとに、当該グループと、当該グループ内の素子を活性化させる素子が属する他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１に記載の電源供給支援プログラム。
【０１０２】
（付記３）前記コンピュータを、さらに、
前記特定手段によって特定されたグループの中から常時電源が供給される素子のみが属するグループを検索する検索手段として機能させ、
前記作成手段は、前記特定手段によって特定されたグループのうち前記検索手段によって検索されたグループ以外の他のグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１または２に記載の電源供給支援プログラム。
【０１０３】
（付記４）前記コンピュータを、さらに、
前記抽出手段によって抽出された素子を前記分類情報に基づいて、同一のグループに属する素子ごとに分別する分別手段、
前記分別手段によって同一のグループに分別された素子をあらたなグループとして再設定する再設定手段、として機能させ、
前記作成手段は、前記再設定手段によって設定されたあらたなグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１に記載の電源供給支援プログラム。
【０１０４】
（付記５）前記作成手段は、前記再設定手段によって再設定されたあらたなグループのうち、マクロを構成する素子が属しているグループごとに、当該グループと、当該グループに属する素子を活性化させる素子が属している他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記４に記載の電源供給支援プログラム。
【０１０５】
（付記６）前記検索手段は、前記再設定手段によって設定されたあらたなグループの中から常時電源が供給される素子のみが属するグループを検索し、
前記作成手段は、前記再設定手段によって再設定されたグループのうち前記検索手段によって検索されたグループ以外の他のグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記４または５に記載の電源供給支援プログラム。
【０１０６】
（付記７）試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出手段と、
前記取得手段によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出手段によって抽出された素子が属するグループを特定する特定手段と、
前記特定手段によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成手段と、
を備えることを特徴とする電源供給支援装置。
【０１０７】
（付記８）前記抽出手段は、前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子のうち、マクロを構成する素子を抽出し、
前記作成手段は、前記抽出手段によって抽出されたマクロを構成する素子が属するグループごとに、当該グループと、当該グループ内の素子を活性化させる素子が属する他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記７に記載の電源供給支援装置。
【０１０８】
（付記９）前記抽出手段によって抽出された素子を前記分類情報に基づいて、同一のグループに属する素子ごとに分別する分別手段と、
前記分別手段によって同一のグループに分別された素子をあらたなグループとして再設定する再設定手段とを、さらに備え、
前記作成手段は、前記再設定手段によって設定されたあらたなグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記７に記載の電源供給支援装置。
【０１０９】
（付記１０）前記作成手段は、前記再設定手段によって再設定されたあらたなグループのうち、マクロを構成する素子が属しているグループごとに、当該グループと、当該グループに属する素子を活性化させる素子が属している他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記９に記載の電源供給支援装置。
【０１１０】
（付記１１）コンピュータが、
試験対象回路の回路情報と、当該試験対象回路内の端子のうちマクロ試験時に利用される入出力端子を示す端子情報と、当該試験対象回路内の素子のうち同時に電源を供給する素子を表すグループの分類情報と、を取得する取得工程と、
前記取得工程によって取得された回路情報から前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子を抽出する抽出工程と、
前記取得工程によって取得された分類情報に基づいて、前記抽出工程によって抽出された素子が属するグループを特定する特定工程と、
前記特定工程によって特定されたグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成する作成工程と、
を実行することを特徴とする電源供給支援方法。
【０１１１】
（付記１２）前記抽出工程では、前記端子情報が示す入出力端子間に配置されている素子のうち、マクロを構成する素子を抽出し、
前記作成工程では、前記抽出工程によって抽出されたマクロを構成する素子が属するグループごとに、当該グループと、当該グループ内の素子を活性化させる素子が属する他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１１に記載の電源供給支援方法。
【０１１２】
（付記１３）前記コンピュータが、
前記抽出工程によって抽出された素子を前記分類情報に基づいて、同一のグループに属する素子ごとに分別する分別工程と、
前記分別工程によって同一のグループに分別された素子をあらたなグループとして再設定する再設定工程とを、さらに実行し、
前記作成工程では、前記再設定工程によって設定されたあらたなグループを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１１に記載の電源供給支援方法。
【０１１３】
（付記１４）前記作成工程では、前記再設定工程によって再設定されたあらたなグループのうち、マクロを構成する素子が属しているグループごとに、当該グループと、当該グループに属する素子を活性化させる素子が属している他のグループとを、前記マクロ試験時の電源供給対象に指定した電源供給情報を作成することを特徴とする付記１３に記載の電源供給支援方法。
【符号の説明】
【０１１４】
１００  電源供給支援装置
１１０  試験対象回路
１２０  電源回路
１３０  制御回路
１３１  ＴＡＰＣ（Ｔｅｓｔ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｐｏｒｔ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）
１３２  ＴＧＣ（Ｔｅｓｔ  Ｇｒｏｕｐ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）
２０１  ＣＰＵ
２０２  ＲＯＭ
２０３  ＲＡＭ
２０４  磁気ディスクドライブ
２０５  磁気ディスク
２０６  通信Ｉ／Ｆ
２０７  入力ドライブ
２０８  出力ドライブ
２０９  ネットワーク（ＮＥＴ）
２１０  バス
３０１  取得部
３０２  抽出部
３０３  特定部
３０４  作成部
３０５  分別部
３０６  再設定部
３０７  検索部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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