(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスクの回転数に応じて異なる光ディスクの反りに対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置及びそのチルト制御方法を提供する。【解決手段】制御手段は、第１所定位置ａ１に対応する第１回転数ｂ１で光ディスクを回転させて第１所定位置ａ１に対応する対物レンズ駆動手段の第１駆動値ｃ１を決定し、第２所定位置ａ２に対応する第２回転数ｂ２で光ディスクを回転させて第２所定位置ａ２に対応する対物レンズ駆動手段の第２駆動値ｃ２を決定し、第１駆動値ｃ１と、第２駆動値ｃ２と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域におけるチルトアクチュエータの駆動値を決定する。【選択図】図４
2010040120.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転させる回転駆動手段と、
レーザ光を出射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、
前記対物レンズを介して前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、
前記受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、
前記ＲＦ信号の振幅量を測定する信号振幅量測定手段と、
前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数と前記光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、
前記光ディスクの所定位置で前記ＲＦ信号の振幅量が最大になる前記対物レンズ駆動手段の駆動値から、前記光ディスクの回転数に応じた前記光ディスクの反り量に対応する前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、
前記所定位置は第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、
前記制御手段は、前記第１所定位置に対応する第１回転数で前記光ディスクを回転させて前記第１所定位置に対応する前記対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、前記第２所定位置に対応する第２回転数で前記光ディスクを回転させて前記第２所定位置に対応する前記対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、
前記第１駆動値と、前記第２駆動値と、前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数とから、前記第１所定位置と前記第２所定位置とに挟まれる領域における前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数は、第１関数と第２関数の２つの関数で表され、
前記第１関数は、前記光ディスクの記録または再生する位置が内周側の場合に対応し、前記光ディスクの記録または再生する位置に関わらず前記光ディスクの回転数が一定であり、
前記第２関数は、前記光ディスクの記録または再生する位置が外周側の場合に対応し、前記光ディスクの記録または再生する位置が外周側になるほど回転数が小さくなることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクの内周側と外周側を区分する閾値は、
前記光ディスクの回転数が前記回転駆動手段の最大回転数になる光ディスクの記録または再生位置であることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記憶手段は、前記第１駆動値に乗ずる第１定数を記憶し、
前記制御手段は、
前記第１駆動値に前記第１定数を乗じて第３駆動値とし、
前記第１所定位置に対応する前記第３駆動値と前記第２所定位置に対応する前記第２駆動値とから前記光ディスクの外周側に対応する前記対物レンズ駆動手段の駆動値を算出することを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記記憶手段は、前記第２駆動値に乗ずる第２定数を記憶し、
前記制御手段は、
前記第２駆動値に前記第２定数を乗じて第４駆動値とし、
前記第１所定位置に対応する前記第１駆動値と前記第２所定位置に対応する前記第４駆動値とから前記光ディスクの内周側に対応する前記対物レンズ駆動手段の駆動値を算出することを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクを回転させる回転駆動手段と、
レーザ光を出射する光源と、
前記レーザ光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズを前記光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、
前記対物レンズを介して前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、
前記受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、
前記ＲＦ信号からジッタ成分を検出し数値化するジッタ検出回路と、
前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数と前記光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、
前記光ディスクの所定位置で前記ジッタ成分が最小になる前記対物レンズ駆動手段の駆動値から、前記光ディスクの回転数に応じた前記光ディスクの反り量に対応する前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、
前記所定位置は第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、
前記制御手段は、前記第１所定位置に対応する第１回転数で前記光ディスクを回転させて前記第１所定位置に対応する前記対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、前記第２所定位置に対応する第２回転数で前記光ディスクを回転させて前記第２所定位置に対応する前記対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、
前記第１駆動値と、前記第２駆動値と、前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数とから、前記第１所定位置と前記第２所定位置とに挟まれる領域における前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスクの所定位置でＲＦ信号の振幅量が最大になる対物レンズの傾きから、光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する前記対物レンズの駆動値を決定する光ディスク装置のチルト制御方法であって、
前記所定位置は第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、
前記第１所定位置に対応する第１回転数で前記光ディスクを回転させて前記第１所定位置に対応する前記対物レンズの第１駆動値を決定し、
前記第２所定位置に対応する第２回転数で前記光ディスクを回転させて前記第２所定位置に対応する前記対物レンズの第２駆動値を決定し、
前記第１駆動値と、前記第２駆動値と、前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数とから、前記第１所定位置と前記第２所定位置とに挟まれる領域における前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とする光ディスク装置のチルト制御方法。
【請求項８】
光ディスクの所定位置でジッタ成分が最小になる対物レンズの傾きから、光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する前記対物レンズの駆動値を決定する光ディスク装置のチルト制御方法であって、
前記所定位置は第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、
前記第１所定位置に対応する第１回転数で前記光ディスクを回転させて前記第１所定位置に対応する前記対物レンズの傾きを補正する第１駆動値を決定し、
前記第２所定位置に対応する第２回転数で前記光ディスクを回転させて前記第２所定位置に対応する前記対物レンズの第２駆動値を決定し、
前記第１駆動値と、前記第２駆動値と、前記光ディスクの記録または再生する位置に対応する前記光ディスクの回転数とから、前記第１所定位置と前記第２所定位置とに挟まれる領域における前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とする光ディスク装置のチルト制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報の記録または再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置及びチルト制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、ラップトップ型ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）に搭載される光ディスク装置は、その厚みを薄くしてＰＣの携帯性を向上させる取組みが行われている。光ディスク装置の薄型化を進めようとすると、回転する光ディスクから光ディスク装置を覆うカバーまでの距離を短くする必要がある。そのため、光ディスクを高速回転させると、回転する光ディスクは、光ディスク自体が回転する際の風圧、または負圧の影響を大きく受けてしまう。回転する光ディスクが風圧または負圧の影響を大きく受けると、光ディスクはレーザ光を集束させる対物レンズから離れる方向に反りを生じる。この反りは、光ディスクの回転数が大きくなるほど大きくなる。
【０００３】
光ディスクは、記録または再生する位置に応じて、すなわちその半径位置毎に記録または再生する際の回転数が異なるため、回転する光ディスクは記録または再生する位置によって異なる量の反りが発生する。このため、光ディスク装置は、この回転数に応じた光ディスクの反りの影響を考慮して、対物レンズを駆動するチルトアクチュエータの駆動値を決定しなければならない。
【特許文献１】特開２００６−２６８９６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、チルトアクチュエータの駆動値を光ディスクの回転数に応じた駆動値にしようとすると、光ディスクを実際に高速回転させてチルトアクチュエータの駆動値を光ディスクの半径位置毎に測定する必要があった。そのため、チルトアクチュエータの駆動値を決定するためには、多くの時間を要するという問題があった。
【０００５】
図９は、ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図であり、図９（ａ）は、ディスクの半径位置と光ディスクの回転数の関係を示し、図９（ｂ）は、ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図である。図９（ａ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数であり、図９（ｂ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸はチルトアクチュエータの駆動値である。
【０００６】
光ディスク装置は、例えば図９（ａ）に示すように、光ディスクの半径位置がＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉの９箇所に対応するそれぞれの回転数で光ディスクを実際に回転させる。そして、それぞれの位置とそれぞれの位置に対応する回転数にあったチルトアクチュエータの駆動値を測定する。このとき、光ディスク装置は、光ディスクを光ディスクの半径位置がＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉに対応するそれぞれの回転数で回転させる必要があり、それぞれの半径位置で定められた回転数に到達させるまでには多くの時間を要する。そして、光ディスク装置は、例えば図９（ｂ）に示すように、光ディスクの半径位置がＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ，Ｉのそれぞれの位置で対物レンズを傾け、チルトアクチュエータの最適な駆動値を算出するのに多くの時間を要する。
【０００７】
そのため、チルトアクチュエータの駆動値を決定するためには、多くの時間を要するという問題があった。
【０００８】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、光ディスクの回転数に応じて異なる光ディスクの反りに対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置及びそのチルト制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、レーザ光を出射する光源と、レーザ光を集光する対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、対物レンズを介して光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、ＲＦ信号の振幅量を測定する信号振幅量測定手段と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数と光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、光ディスクの所定位置でＲＦ信号の振幅量が最大になる対物レンズ駆動手段の駆動値から光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、所定位置が第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、制御手段が、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する記対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とするものである。
【００１０】
また本発明は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、レーザ光を出射する光源と、  レーザ光を集光する対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、対物レンズを介して光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、ＲＦ信号からジッタ成分を検出し数値化するジッタ検出回路と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数と光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、光ディスクの所定位置でジッタ成分が最小になる対物レンズ駆動手段の駆動値から光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、所定位置は第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、制御手段が、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明は上記構成により、第１所定位置に対応する第１駆動値と、第２所定位置に対応する第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定するので、光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置及びそのチルト制御方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
請求項１記載の発明は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、レーザ光を出射する光源と、レーザ光を集光する対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、対物レンズを介して光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、ＲＦ信号の振幅量を測定する信号振幅量測定手段と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数と光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、光ディスクの所定位置でＲＦ信号の振幅量が最大になる対物レンズ駆動手段の駆動値から、光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、所定位置が第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、制御手段が、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とするのものである。これにより、第１所定位置に対応する第１駆動値と、第２所定位置に対応する第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定するので、光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置を実現できる。
【００１３】
請求項２記載の発明は、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数が、第１関数と第２関数の２つの関数で表され、第１関数は、光ディスクの記録または再生する位置が内周側の場合に対応し、光ディスクの記録または再生する位置に関わらず前記光ディスクの回転数が一定であり、第２関数は、光ディスクの記録または再生する位置が外周側の場合に対応し、光ディスクの記録または再生する位置が外周側になるほど回転数が小さくなることを特徴とするものである。これにより、光ディスクの内周側の回転数と外周側の回転数の差を小さくするので、内周側の回転数から外周側の回転数に変化させる時間、もしくは外周側の回転数から内周側の回転数に変化させる時間を削減できる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値をさらに短時間で決定できる。また、光ディスクの内周側の回転数と外周側の回転数の差を小さくするので、内周側の回転数から外周側の回転数に変化させる電力、もしくは外周側の回転数から内周側の回転数に変化させる電力を削減できる。
【００１４】
請求項３記載の発明は、光ディスクの内周側と外周側を区分する閾値が、光ディスクの回転数が回転駆動手段の最大回転数になる光ディスクの記録または再生位置であることを特徴とするものである。これにより、回転駆動手段が光ディスクを最大回転数で回転させる頻度を上げるので、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値をさらに短時間で決定すると共に、光ディスクの記録または再生にかかる時間を削減できる。
【００１５】
請求項４記載の発明は、記憶手段が第１駆動値に乗ずる第１定数を記憶し、制御手段が、第１駆動値に第１定数を乗じて第３駆動値とし、第１所定位置に対応する第３駆動値と第２所定位置に対応する第２駆動値とから光ディスクの外周側に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を算出することを特徴とするものである。これにより、光ディスクの記録領域を内周側と外周側に分け、光ディスクの外周側領域の駆動値を第３駆動値と第２駆動値とから算出するので、簡単な処理で光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。
【００１６】
請求項５記載の発明は、記憶手段が第２駆動値に乗ずる第２定数を記憶し、制御手段が、第２駆動値に第２定数を乗じて第４駆動値とし、第１所定位置に対応する第１駆動値と第２所定位置に対応する第４駆動値とから光ディスクの内周側に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を算出することを特徴とするものである。これにより、光ディスクの記録領域を内周側と外周側に分け、光ディスクの内周側領域の駆動値を第１駆動値と第４駆動値とから算出するので、簡単な処理で光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。
【００１７】
請求項６記載の発明は、光ディスクを回転させる回転駆動手段と、レーザ光を出射する光源と、レーザ光を集光する対物レンズと、対物レンズを光ディスクの半径方向に傾ける対物レンズ駆動手段と、対物レンズを介して光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、受光手段で受光した反射光に基づいてＲＦ信号を生成する信号生成手段と、ＲＦ信号からジッタ成分を検出し数値化するジッタ検出回路と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数と光ディスクの所定位置を記憶する記憶手段と、光ディスクの所定位置でジッタ成分が最小になる対物レンズ駆動手段の駆動値から光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する制御手段と、を備え、所定位置が第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、制御手段が、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズ駆動手段の第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とするものである。これにより、第１所定位置に対応する第１駆動値と、第２所定位置に対応する第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定するので、光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置を実現できる。
【００１８】
請求項７記載の発明は、光ディスクの所定位置でＲＦ信号の振幅量が最大になる対物レンズの傾きから、光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズの駆動値を決定する光ディスク装置のチルト制御方法であって、所定位置が第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する対物レンズの傾きを補正する第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズの傾きを補正する第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とするものである。これにより、第１所定位置に対応する第１駆動値と、第２所定位置に対応する第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定するので、光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置のチルト制御方法を実現できる。
【００１９】
請求項８記載の発明は、光ディスクの所定位置でジッタ成分が最小になる対物レンズの傾きから、光ディスクの回転数に応じた光ディスクの反り量に対応する対物レンズを駆動する駆動値を決定する光ディスク装置のチルト制御方法であって、所定位置が第１所定位置と第２所定位置の２つの位置であり、第１所定位置に対応する第１回転数で光ディスクを回転させて第１所定位置に対応する対物レンズの傾きを補正する第１駆動値を決定し、第２所定位置に対応する第２回転数で光ディスクを回転させて第２所定位置に対応する対物レンズの傾きを補正する第２駆動値を決定し、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定することを特徴とするものである。これにより、第１所定位置に対応する第１駆動値と、第２所定位置に対応する第２駆動値と、光ディスクの記録または再生する位置に対応する光ディスクの回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における対物レンズ駆動手段の駆動値を決定するので、光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスクの回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定する光ディスク装置のチルト制御方法を実現できる。
【００２０】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について、図面を参照しながら説明する。
【００２１】
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図である。図１において、１は光源、２は対物レンズ、３はレンズホルダ、４ａはフォーカスアクチュエータ、４ｂはチルトアクチュエータ、４ｃはトラッキングアクチュエータ、５は光検出器、６はスピンドルモータ、７はフィードモータ、８はフォーカスエラー信号生成回路、９はトラッキングエラー信号生成回路、１０はフォーカスサーボ回路、１１は信号振幅量計測回路、１２はメモリ、１３はＣＰＵ、１４はレーザ制御部、１５はドライバ、１６はトラッキングサーボ回路、１７はＲＦ信号生成回路、１８はジッタ検出回路、５０は光ディスク、１００は光ヘッド部、２００はピックアップモジュールである。なお、本実施の形態１における回転駆動手段はスピンドルモータ６、光源は光源１、対物レンズは対物レンズ２、対物レンズ駆動手段はチルトアクチュエータ４ｂ、受光手段は光検出器５、信号生成手段はＲＦ信号生成回路１７、信号振幅量測定手段は信号振幅量計測回路１１、記憶手段はメモリ１２、制御手段はＣＰＵ１３に相当する。
【００２２】
ピックアップモジュール２００は、光ディスク５０を回転させるスピンドルモータ６と、光ディスク５０に光を照射し光ディスク５０からの反射光を受光する光ヘッド部１００と、光ヘッド部１００を光ディスク５０の半径方向に移動させるフィードモータ７を備えたフィード部と、により構成されている。
【００２３】
光ヘッド部１００は、レーザ光を出射する光源１と、光源１から出射されたレーザ光を集光する対物レンズ２と、対物レンズ２が移動可能なように保持するレンズホルダ３と、対物レンズ２を介して光ディスク５０からの反射光を受光する光検出器５と、対物レンズ２をフォーカス方向に駆動するフォーカスアクチュエータ４ａと、対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に傾けるチルトアクチュエータ４ｂと、対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に移動させるトラッキングアクチュエータ４ｃと、により構成されている。
【００２４】
フォーカスアクチュエータ４ａは、フォーカス調整用コイルやマグネット等が設けられており、フォーカス調整用コイルに電流を流すことによりレンズホルダ３をフォーカス方向に駆動して対物レンズ２のフォーカス調整を行う。
【００２５】
チルトアクチュエータ４ｂは、チルト調整用コイルやマグネット等が設けられており、チルト調整用コイルに電流を流すことによりレンズホルダ３を光ディスク５０の半径方向に傾け対物レンズ２のチルト調整を行う。
【００２６】
トラッキングアクチュエータ４ｃは、トラッキング調整用コイルやマグネット等が設けられており、トラッキング調整用コイルに電流を流すことによりレンズホルダ３を光ディスク５０の半径方向に移動させ対物レンズ２のトラッキング調整を行う。
【００２７】
光検出器５は、光ディスク５０からの反射光を受光し、その受光した光量に応じた電気信号を生成し、その生成した電気信号をフォーカスエラー信号生成回路８とトラッキングエラー信号生成回路９とＲＦ信号生成回路１７に出力する。
【００２８】
フォーカスエラー信号生成回路８は、光検出器５から入力された電気信号からフォーカスエラー信号を生成し、そのフォーカスエラー信号をフォーカスサーボ回路１０に出力する。また、トラッキングエラー信号生成回路９は、光検出器５から入力された電気信号からトラッキングエラー信号を生成し、そのトラッキングエラー信号をトラッキングサーボ回路１６とＣＰＵ１３とに出力する。また、ＲＦ信号生成回路１７は、光検出器５から入力された電気信号からＲＦ信号を生成し、そのＲＦ信号を信号振幅量計測回路１１とジッタ検出回路１８とに出力する。
【００２９】
フォーカスサーボ回路１０は、フォーカスエラー信号生成回路８から入力されたフォーカスエラー信号を基にフォーカスアクチュエータ４ａに設けられたフォーカス調整用コイルに流す電流を決定し、ＣＰＵ１３に出力する。また、トラッキングサーボ回路１６は、トラッキングエラー信号生成回路９から入力されたトラッキングエラー信号を基に、対物レンズ２を光ディスク５０上のトラックに追従させるために必要な電流を決定し、ＣＰＵ１３に出力する。
【００３０】
信号振幅量計測回路１１は、ＲＦ信号生成回路１７から入力されたＲＦ信号の振幅量を測定し、その測定した振幅量をＣＰＵ１３に出力する。
【００３１】
ジッタ検出回路１８は、ＲＦ信号生成回路１７から入力されたＲＦ信号のジッタ成分を検出し、そのジッタ成分を数値化してＣＰＵ１３に出力する。
【００３２】
メモリ１２は、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数、チルトアクチュエータ４ｂの駆動値を測定するための所定位置、測定したチルトアクチュエータ４ｂの駆動値に乗ずる定数、光ディスク５０の内周側と外周側を区分する境界位置の情報を記憶している。
【００３３】
ここで、本発明の特徴部分について説明する。
【００３４】
ＣＰＵ１３は、光ディスク５０の回転数に応じた光ディスク５０の反り量に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を決定する際に、その駆動値を決定する光ディスク５０の所定位置の情報をメモリ１２から読み込む。この光ディスク５０の所定位置の情報は、第１所定位置と第２所定位置の２つの情報である。本実施の形態１では、第１所定位置は光ディスク５０の中心から半径２５ｍｍ程度離れた位置とし、第２所定位置は光ディスク５０の中心から半径５８ｍｍ程度離れた位置としている。
【００３５】
それから、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介して対物レンズ２を第１所定位置に移動させ、第１所定位置に対応する回転数で光ディスク５０を回転させ、チルトアクチュエータ４ｂを駆動して対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に傾ける。対物レンズ２を傾ける方向は、対物レンズ２の光束出射面が対物レンズ２の中立位置から光ディスク５０の内周側に向かう方向と、対物レンズ２の光束出射面が対物レンズ２の中立位置から光ディスク５０の外周側に向かう方向である。このとき、ＣＰＵ１３は、信号振幅量計測回路１１から出力されるＲＦ信号の振幅量をモニタしておき、そのＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索し、第１所定位置に対応するチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値を決定する。
【００３６】
次に、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介して対物レンズ２を第２所定位置に移動させ、第２所定位置に対応する回転数で光ディスク５０を回転させ、チルトアクチュエータ４ｂを駆動して対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に傾ける。対物レンズ２を傾ける方向は、対物レンズ２の光束出射面が対物レンズ２の中立位置から光ディスク５０の内周側に向かう方向と、対物レンズ２の光束出射面が対物レンズ２の中立位置から光ディスク５０の外周側に向かう方向である。このとき、ＣＰＵ１３は、信号振幅量計測回路１１から出力されるＲＦ信号の振幅量をモニタしておき、そのＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索し、第２所定位置に対応するチルトアクチュエータ４ｂの第２駆動値を決定する。
【００３７】
ここで、光ディスク５０の回転数に応じた反りは、光ディスク５０が対物レンズ２から離れる方向に発生するので、チルトアクチュエータ４ｂを駆動して対物レンズ２を傾ける方向を対物レンズ２の中立位置から対物レンズ２の面が光ディスク５０の内周側に向かう方向とすることで、時間短縮が可能である。
【００３８】
その後、ＣＰＵ１３は、第１駆動値と、第２駆動値と、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数とから、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域におけるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を決定する。
【００３９】
なお、本実施の形態１では、ＣＰＵ１３が信号振幅量計測回路１１から出力されるＲＦ信号の振幅量をモニタしておき、そのＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索してチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値と第２駆動値の決定したが、第１駆動値と第２駆動値の決定方法はこれに限定されるものではない。例えば、ジッタ検出回路１８で、入力されたＲＦ信号からジッタ成分を検出して数値化し、その数値化されたジッタ成分をモニタしておき、そのジッタ成分が最小になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索してチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値と第２駆動値の決定しても良い。この場合、ＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索する場合と同様の効果を得ることができる。
【００４０】
次に、第１所定位置と第２所定位置とに挟まれる領域における前記対物レンズ駆動手段の駆動値を決定する方法について図２〜図６を用いて具体的に説明する。
【００４１】
図２は、本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図である。図２（ａ）は光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数の関係を示す図であり、横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数である。図２（ｂ）は光ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値の関係を示す図であり、横軸は光ディスクの半径位置、縦軸はチルトアクチュエータの駆動値である。
【００４２】
ＣＰＵ１３は、第１所定位置ａ１の情報と第２所定位置ａ２の情報をメモリ１２から読み込む。本実施の形態１では、第１所定位置ａ１を光ディスク５０の中心から半径２５ｍｍ程度の位置とし、第２所定位置ａ２を光ディスク５０の中心から半径５８ｍｍ程度の位置とする。ここで、図２における第１所定位置は第１所定位置ａ１に対応し、第２所定位置は第２所定位置ａ２に対応する。
【００４３】
ＣＰＵ１３は、対物レンズ２を第１所定位置ａ１に移動させ、図２（ａ）に示す第１所定位置ａ１に対応する光ディスク５０の回転数ｂ１で光ディスク５０を回転させ、チルトアクチュエータ４ｂを駆動して対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に傾ける。このとき、信号振幅量計測回路１１から出力されるＲＦ信号の振幅量をモニタしておき、そのＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索する。この探索の結果、ＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値をチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値ｃ１とする。第１駆動値ｃ１と第１所定位置ａ１の関係は、図２（ｂ）に示すものとなる。
【００４４】
それから、ＣＰＵ１３は、対物レンズ２を第２所定位置ａ２に移動させ、図２（ａ）に示す第２所定位置ａ２に対応する光ディスク５０の回転数ｂ２で光ディスク５０を回転させ、チルトアクチュエータ４ｂを駆動して対物レンズ２を光ディスク５０の半径方向に傾ける。このとき、信号振幅量計測回路１１から出力されるＲＦ信号の振幅量をモニタしておき、そのＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索する。この探索の結果、ＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値をチルトアクチュエータ４ｂの第２駆動値ｃ２とする。第２駆動値ｃ２と第２所定位置ａ２の関係は、図２（ｂ）に示すものとなる。
【００４５】
図３は、本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図であり、図２の続きを示している。図３（ａ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数であり、図３（ｂ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸はチルトアクチュエータの駆動値である。
【００４６】
ＣＰＵ１３は、光ディスク５０の内周側と外周側を区分する境界位置の情報をメモリ１２から読み込む。本実施の形態１では、光ディスク５０の内周側と外周側を区分する境界位置を光ディスク５０の中心から半径４５ｍｍ程度とする。ここで、第１所定位置ａ１から境界位置ａ３までの範囲を光ディスク５０の内周側とし、境界位置ａ３から第２所定位置ａ２までの範囲を光ディスク５０の外周側とし、それぞれＡゾーン、Ｂゾーンとする。また、本実施の形態１では、ＡゾーンとＢゾーンを区分する閾値を、光ディスク５０の回転数がスピンドルモータ６の最大回転数になる光ディスク５０の記録または再生位置とした。これにより、スピンドルモータ６が光ディスク５０を最大回転数で回転させる頻度を上げるので、光ディスク５０の回転数に応じて異なるチルトアクチュエータの駆動値をさらに短時間で決定すると共に、光ディスク５０の記録または再生にかかる時間を削減できる。
【００４７】
ＣＰＵ１３は、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数の情報をメモリ１２から読み込む。本実施の形態１では、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数は、第１関数と第２関数の２つの関数で表され、第１関数は図３に示すＡゾーンに対応し、第２関数は図３に示すＢゾーンに対応する。そして、第１関数は光ディスク５０の記録または再生する位置に関わらず光ディスク５０の回転数が一定であり、第２関数は光ディスク５０の記録または再生する位置が外周側になるほど回転数が小さくなる。これにより、光ディスク５０の内周側の回転数と外周側の回転数の差を小さくするので、内周側の回転数から外周側の回転数に変化させる時間、もしくは外周側の回転数から内周側の回転数に変化させる時間を削減できる。その結果、光ディスク３０の回転数に応じて異なる対物レンズ駆動手段の駆動値をさらに短時間で決定できる。また、光ディスクの内周側の回転数と外周側の回転数の差を小さくするので、内周側の回転数から外周側の回転数に変化させる電力、もしくは外周側の回転数から内周側の回転数に変化させる電力を削減できる。
【００４８】
図４は、本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図であり、図３の続きを示している。図４（ａ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数であり、図４（ｂ）においての横軸は光ディスクの半径位置、縦軸はチルトアクチュエータの駆動値である。
【００４９】
ＣＰＵ１３は、第１定数ｋ１をメモリ１２から読み込む。ここで、第１定数ｋ１は、光ディスク５０の半径位置がＡゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第１定数ｋ１は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗ずることで第２関数上の一点となるように値付けされたものである。
【００５０】
それから、ＣＰＵ１３は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗じて、第２関数の延長線上に位置し第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３を算出する。本実施の形態１の場合、第２関数を１次関数としたので、図４において、第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３と第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２とを結ぶ直線から光ディスク５０の外周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出できる。また、本実施の形態１の場合、光ディスク５０の外周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値をｃｙ、光ディスク５０の半径位置をａｘとすると、第２関数は以下の式で表すことができる。
【００５１】
ｃｙ＝（ｃ２−ｃ３）／（ａ２−ａ１）×ａｘ＋（ａ１×ｃ２−ａ２×ｃ３）／（ａ２−ａ１）（但し、ａ３≦ａｘ≦ａ２）（数式１）
このように、ＣＰＵ１３は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗じて第３駆動値ｃ３とし、第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３と第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２とから光ディスク５０の外周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する。これにより、光ディスク５０の記録領域を内周側と外周側に分け、光ディスク５０の外周側領域の駆動値を第３駆動値と第２駆動値とから算出するので、簡単な処理で光ディスクを実際に回転させて駆動値を測定する回数を抑えることができる。
【００５２】
次に、ＣＰＵ１３は、第２定数ｋ２をメモリ１２から読み込む。ここで、第２定数ｋ２は、光ディスク５０の半径位置がＢゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第２定数ｋ２は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗ずることで第１関数上の一点となるように値付けされたものである。
【００５３】
それから、ＣＰＵ１３は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗じて、第１関数の延長線上に位置し、第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４を算出する。本実施の形態１の場合、第１関数を１次関数としたので、図４において、第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４とを結ぶ直線から光ディスク５０の内周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出できる。また、本実施の形態１の場合、光ディスク５０の内周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値をｃｙ、光ディスク５０の半径位置をａｘとすると、第１関数は以下の式で表すことができる。
【００５４】
ｃｙ＝（ｃ４−ｃ１）／（ａ２−ａ１）×ａｘ＋（ａ２×ｃ１−ａ１×ｃ４）／（ａ２−ａ１）（但し、ａ１≦ａｘ≦ａ３）（数式２）
このように、ＣＰＵ１３は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗じて第４駆動値ｃ４とし、第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４とから光ディスク５０の内周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する。これにより、光ディスク５０の記録領域を内周側と外周側に分け、光ディスク５０の内周側領域の駆動値を第３駆動値と第２駆動値とから算出するので、簡単な処理で光ディスク５０を実際に回転させて駆動値の駆動値を測定する回数を抑えることができる。
【００５５】
図５は、本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値と対物レンズの位置との関係を示す図である。図５（ａ）は光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数の関係を示す図であり、図５（ｂ）〜図５（ｃ）は光ディスクと対物レンズの関係を示す図である。図５（ａ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数であり、図５（ｂ）は、対物レンズ２が図４に示すＡゾーンの内側寄りに位置する場合を示し、図５（ｃ）は、対物レンズ２が図４に示すＡゾーンの外側寄りに位置する場合を示している。
【００５６】
図５（ａ）に示すように、対物レンズ２が光ディスク５０のＡゾーンの領域に位置するとき、光ディスク５０の回転数は、光ディスク５０の記録または再生する位置、すなわち対物レンズ２の位置に関わらず一定である。しかしながら、光ディスク５０は回転していない状態、すなわち静止状態でも多少の反りを有している。
【００５７】
このため、対物レンズ２が光ディスク５０のＡゾーンの領域に位置するとき、図５（ｂ）〜図５（ｃ）に示すように、光ディスク５０の回転数に応じた光ディスク５０の反り量に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を可変とし、図４で求めた駆動値、すなわち第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４とから得られた駆動値を使用して対物レンズ２のチルト制御を行う。
【００５８】
図６は、本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値と対物レンズの位置との関係を示す図である。図６（ａ）は光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数の関係を示す図であり、図６（ｂ）〜図６（ｄ）は光ディスクと対物レンズの関係を示す図である。図６（ａ）の横軸は光ディスクの半径位置、縦軸は光ディスクの回転数であり、図６（ｂ）は、対物レンズ２が図４に示すＢゾーンの内側寄りに位置する場合を示し、図６（ｃ）は、対物レンズ２が図４に示すＢゾーンの中間に位置する場合を示し、図６（ｄ）は、対物レンズ２が図４に示すＢゾーンの外側寄りに位置する場合を示している。
【００５９】
図６（ａ）に示すように、対物レンズ２が光ディスク５０のＢゾーンの領域に位置するとき、光ディスク５０の回転数は、光ディスク５０の記録または再生する位置が外周側になるほど、すなわち対物レンズ２が光ディスク５０の外周側に位置するほど小さくなる。
【００６０】
このため、対物レンズ２が光ディスク５０のＢゾーンの内側領域に位置するとき、図６（ｂ）〜図６（ｄ）に示すように、光ディスク５０の回転数に応じた光ディスク５０の反り量に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を可変とし、図４で求めた駆動値、すなわち第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３と第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２とから得られた駆動値を使用して対物レンズ２のチルト制御を行う。
【００６１】
図７は、本発明の実施の形態１におけるチルトアクチュエータの駆動値を決定するフローチャートである。なお、図７はＲＦ信号の振幅量が最大になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索してチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値と第２駆動値の決定する場合を示している。
【００６２】
光ディスク装置に光ディスク５０が装着されると、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介してスピンドルモータ６を回転させ、ドライバ１５，レーザ制御部１４を介して光源１を発光させる（Ｓ１０１）。そして、ＣＰＵ１３は、図４に示す第１所定位置ａ１に関する情報と、第２所定位置ａ２に関する情報と、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数に関する情報をメモリ１２から読み込む（Ｓ１０２）。それから、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介して対物レンズ２を光ディスク５０の第１所定位置ａ１に移動させ、光ディスク５０を第１所定位置ａ１に対応する回転数ｂ１で回転させる（Ｓ１０３）。その後、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介してチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を変化させて対物レンズ２の傾きを変えながら、光検出器５、ＲＦ信号生成回路１７、信号振幅量計測回路１１を経由してＲＦ信号の振幅量を測定する（Ｓ１０４）。ＣＰＵ１３は、測定したＲＦ信号の中から振幅が最大のものを検出し、その振幅量に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を第１所定位置ａ１に記録または再生する際の第１駆動値ｃ１とする（Ｓ１０５）。この第１駆動値ｃ１は、光ディスク５０を回転数ｂ１で回転させたとき、第１所定位置ａ１に発生する反りの影響を補正できる駆動値である。
【００６３】
次に、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介して対物レンズ２を光ディスク５０の第２所定位置ａ２に移動させ、光ディスク５０を第２所定位置ａ２に対応する回転数ｂ２で回転させる（Ｓ１０６）。その後、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介してチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を変化させて対物レンズ２の傾きを変えながら、光検出器５、ＲＦ信号生成回路１７、信号振幅量計測回路１１を経由してＲＦ信号の振幅量を測定する（Ｓ１０７）。ＣＰＵ１３は、測定したＲＦ信号の中から振幅が最大のものを検出し、その振幅量に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を第２所定位置ａ２に記録または再生する際の第２駆動値ｃ２とする（Ｓ１０８）。この第２駆動値ｃ２は、光ディスク５０を回転数ｂ２で回転させたとき、第２所定位置ａ２に発生する反りの影響を補正できる駆動値である。
【００６４】
次に、ＣＰＵ１３は、第１定数ｋ１と第２定数をメモリ１２から読み込む（Ｓ１０９）。ここで、第１定数ｋ１は、光ディスク５０の半径位置がＡゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第１定数ｋ１は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗ずることで第２関数上の一点となるように値付けされたものである。また、第２定数ｋ２は、光ディスク５０の半径位置がＢゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第２定数ｋ２は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗ずることで第１関数上の一点となるように値付けされたものである。
【００６５】
そして、ＣＰＵ１３は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗じて、第２関数の延長線上に位置し第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３を算出する。また、ＣＰＵ１３は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗じて、第１関数の延長線上に位置し第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４を算出する（Ｓ１１０）。
【００６６】
それから、ＣＰＵ１３は、図４に示すように、第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３と第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２とを結ぶ直線から光ディスク５０の外周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する（Ｓ１１１）。また、ＣＰＵ１３は、図４に示すように、第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４とを結ぶ直線から光ディスク５０の内周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する（Ｓ１１２）。
【００６７】
その後、ＣＰＵ１３は、算出した光ディスク５０の内周側に対応する駆動値と光ディスク５０の外周側に対応する駆動値をドライバ１５に設定してチルトアクチュエータ４ｂを駆動し（Ｓ１１３）、光ディスク５０の回転数に応じた反りの影響を軽減させながら対物レンズ２を制御する。
【００６８】
図８は、本発明の実施の形態１におけるチルトアクチュエータの駆動値を決定するフローチャートである。なお、図８はＲＦ信号からジッタ成分を検出して数値化し、その数値化されたジッタ成分をモニタしておき、そのジッタ成分が最小になるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を探索してチルトアクチュエータ４ｂの第１駆動値と第２駆動値の決定する場合を示している。
【００６９】
光ディスク装置に光ディスク５０が装着されると、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介してスピンドルモータ６を回転させ、ドライバ１５，レーザ制御部１４を介して光源１を発光させる（Ｓ２０１）。そして、ＣＰＵ１３は、図４に示す第１所定位置ａ１に関する情報と、第２所定位置ａ２に関する情報と、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数に関する情報をメモリ１２から読み込む（Ｓ２０２）。それから、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介して対物レンズ２を光ディスク５０の第１所定位置ａ１に移動させ、光ディスク５０を第１所定位置ａ１に対応する回転数ｂ１で回転させる（Ｓ２０３）。その後、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介してチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を変化させて対物レンズ２の傾きを変えながら、光検出器５、ＲＦ信号生成回路１７、ジッタ検出回路１８を経由してＲＦ信号のジッタ成分を測定する（Ｓ２０４）。ＣＰＵ１３は、測定したジッタ成分の中からジッタ成分が最小のものを検出し、そのジッタ成分に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を第１所定位置ａ１に記録または再生する際の第１駆動値ｃ１とする（Ｓ２０５）。この第１駆動値ｃ１は、光ディスク５０を回転数ｂ１で回転させたとき、第１所定位置ａ１に発生する反りの影響を補正できる駆動値である。
【００７０】
次に、ＣＰＵ１３はドライバ１５を介して対物レンズ２を光ディスク５０の第２所定位置ａ２に移動させ、光ディスク５０を第２所定位置ａ２に対応する回転数ｂ２で回転させる（Ｓ２０６）。その後、ＣＰＵ１３は、ドライバ１５を介してチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を変化させて対物レンズ２の傾きを変えながら、光検出器５、ＲＦ信号生成回路１７、ジッタ検出回路１８を経由してＲＦ信号のジッタ成分を測定する（Ｓ２０７）。ＣＰＵ１３は、測定したジッタ成分の中からジッタ成分が最小のものを検出し、そのジッタ成分に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を第２所定位置ａ２に記録または再生する際の第２駆動値ｃ２とする（Ｓ２０８）。この第２駆動値ｃ２は、光ディスク５０を回転数ｂ２で回転させたとき、第２所定位置ａ２に発生する反りの影響を補正できる駆動値である。
【００７１】
次に、ＣＰＵ１３は、第１定数ｋ１と第２定数をメモリ１２から読み込む（Ｓ２０９）。ここで、第１定数ｋ１は、光ディスク５０の半径位置がＡゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第１定数ｋ１は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗ずることで第２関数上の一点となるように値付けされたものである。また、第２定数ｋ２は、光ディスク５０の半径位置がＢゾーンに対応する定数であり、回転数補正係数と呼ばれ、チルトアクチュエータ４ｂ駆動値の光ディスク１回転当たりの変化量である。また、第２定数ｋ２は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗ずることで第１関数上の一点となるように値付けされたものである。
【００７２】
そして、ＣＰＵ１３は、第１駆動値ｃ１に第１定数ｋ１を乗じて、第２関数の延長線上に位置し第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３を算出する。また、ＣＰＵ１３は、第２駆動値ｃ２に第２定数ｋ２を乗じて、第１関数の延長線上に位置し第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４を算出する（Ｓ２１０）。
【００７３】
それから、ＣＰＵ１３は、図４に示すように、第１所定位置ａ１に対応する第３駆動値ｃ３と第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２とを結ぶ直線から光ディスク５０の外周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する（Ｓ２１１）。また、ＣＰＵ１３は、図４に示すように、第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と第２所定位置ａ２に対応する第４駆動値ｃ４とを結ぶ直線から光ディスク５０の内周側に対応するチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を算出する（Ｓ２１２）。
【００７４】
その後、ＣＰＵ１３は、算出した光ディスク５０の内周側に対応する駆動値と光ディスク５０の外周側に対応する駆動値をドライバ１５に設定してチルトアクチュエータ４ｂを駆動し（Ｓ２１３）、光ディスク５０の回転数に応じた反りの影響を軽減させながら対物レンズ２を制御する。
【００７５】
以上の内容により、第１所定位置ａ１に対応する第１駆動値ｃ１と、第２所定位置ａ２に対応する第２駆動値ｃ２と、光ディスク５０の記録または再生する位置に対応する光ディスク５０の回転数とから、第１所定位置ａ１と第２所定位置ａ２とに挟まれる領域におけるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を決定するので、光ディスク５０を実際に回転させて駆動値の駆動値を測定する回数を抑えることができる。その結果、光ディスク５０の回転数に応じて異なるチルトアクチュエータ４ｂの駆動値を短時間で決定する光ディスク装置を実現できる。
【産業上の利用可能性】
【００７６】
本発明は、光ディスクの回転数に応じて異なる光ディスクの反りに対応する対物レンズ駆動手段の駆動値を短時間で決定できるため、光ディスクに情報の記録または再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置及びそのチルト制御方法などに適応可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図
【図３】本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図
【図４】本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図
【図５】本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値と対物レンズの位置との関係を示す図
【図６】本発明の実施の形態１における光ディスクの半径位置とチルトアクチュエータの駆動値と対物レンズの位置との関係を示す図
【図７】本発明の実施の形態１におけるチルトアクチュエータの駆動値を決定するフローチャート
【図８】本発明の実施の形態１におけるチルトアクチュエータの駆動値を決定するフローチャート
【図９】ディスクの半径位置と光ディスクの回転数とチルトアクチュエータの駆動値との関係を示す図
【符号の説明】
【００７８】
１    光源
２    対物レンズ
３    レンズホルダ
４ａ    フォーカスアクチュエータ
４ｂ    チルトアクチュエータ
４ｃ    トラッキングアクチュエータ
５    光検出器
６    スピンドルモータ
７    フィードモータ
８    フォーカスエラー信号生成回路
９    トラッキングエラー信号生成回路
１０    フォーカスサーボ回路
１１    信号振幅量計測回路
１２    メモリ
１３    ＣＰＵ
１４    レーザ制御部
１５    ドライバ
１６    トラッキングサーボ回路
１７    ＲＦ信号生成回路
１８    ジッタ検出回路
５０    光ディスク
１００    光ヘッド部
２００    ピックアップモジュール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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