(57)【要約】【課題】  裏写り低減処理を行う画素と行わない画素との境界が目立たないように、裏写り低減処理を実行する画像読取装置及びその制御方法を提供する。【解決手段】  本画像読取装置は、原稿の読み取り時に発生する裏写りを低減させる際の裏写り低減強度を算出する際に、読み取った画像データを複数に分割した領域において、裏写り低減処理を実行する領域と、当該領域に隣接する複数の領域との情報を用いる。具体的には、複数の隣接した各領域の特定画素において決定した低減強度を用いて、複数の領域間で低減強度が滑らかに変化するように、各画素に適用する低減強度を算出する。【選択図】図６
2010010833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取手段と、
読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出手段と、
前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定手段と、
前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りを低減させる程度を示す低減強度を決定する低減強度決定手段と、
決定された前記複数の低減強度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における低減強度を算出する低減強度算出手段と、
算出された前記各画素における低減強度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理手段と
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記低減強度決定手段は、
前記第２面の対応領域及び複数の前記隣接領域における輝度を算出し、算出した各領域の輝度を用いて前記低減強度を決定することを特徴とする請求項１に記載の画像読取装置。
【請求項３】
原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取手段と、
読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出手段と、
前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定手段と、
前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りする程度を示す裏写り強度を用いて該特定画素における裏写りした輝度を決定する裏写り輝度決定手段と、
決定された前記複数の裏写りした輝度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における裏写りした輝度を算出する裏写り輝度算出手段と、
算出された前記各画素における裏写りした輝度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理手段と
を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
画像を読み取る原稿の紙厚を検知する紙厚検知センサをさらに備え、
前記裏写り輝度決定手段は、前記紙厚検知センサによって検知された原稿の紙厚から求まる前記裏写り強度を用いて前記裏写りした輝度を決定することを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記裏写り強度を入力する入力手段をさらに備え、
前記裏写り輝度決定手段は、入力された前記裏写り強度を用いて前記裏写りした輝度を決定することを特徴とする請求項３に記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記輝度算出手段は、
前記注目領域に含まれる複数画素の平均輝度を算出することを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記輝度算出手段は、
前記注目領域に含まれる複数画素において統計処理を行い、最も頻度の高い輝度を算出することを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項８】
前記注目領域とは、原稿から読み取られた第１面の画像データにおいて、複数の画素を含む領域に分割された領域であることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像読取装置。
【請求項９】
前記特定画素とは、各領域の中心画素であることを特徴とする請求項１乃至８の何れか１項に記載の画像読取装置。
【請求項１０】
画像読取装置の制御方法であって、
原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取ステップと、
読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出ステップと、
前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定ステップと、
前記判定ステップにおいて裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りを低減させる程度を示す低減強度を決定する低減強度決定ステップと、
決定された前記複数の低減強度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における低減強度を算出する低減強度算出ステップと、
算出された前記各画素における低減強度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理ステップと
を含むことを特徴とする画像読取装置の制御方法。
【請求項１１】
画像読取装置の制御方法であって、
原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取ステップと、
読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出ステップと、
前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定ステップと、
前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りする程度を示す裏写り強度を用いて該特定画素における裏写りした輝度を決定する裏写り輝度決定ステップと、
決定された前記複数の裏写りした輝度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における裏写りした輝度を算出する裏写り輝度算出ステップと、
算出された前記各画素における裏写りした輝度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理ステップと
を含むことを特徴とする画像読取装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿を読み取る際の裏写りを低減する画像読取装置及びその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
プリンタやスキャナなどの画像読取装置において、原稿の紙厚が薄い場合や一方の面に濃い画像が形成されている場合に、その画像が透けて他方の面に写った状態で読み取られる裏写りの現象が発生することがある。この裏写りを低減するための方法として、画像全体の読み取り濃度を下げて行う方法もある。しかし、読み取った画像が全体的に白くなり、読み取られる面に形成されている画像が薄い場合には、その薄い画像も除去される場合がある。
【０００３】
このような問題を解決する方法として、特許文献１には、おもて面画像と裏面画像を読み取り、おもて面の読取画像の画像データから裏面の読取画像の成分を差し引く方法が提案されている。この裏面成分は、読取画像の画素の濃度と色調の成分に基づいて裏写り画素であるかどうかが判定され、裏写りと判断される画素に対し、裏面の読取画像の画像データから算出される。
【特許文献１】特開平０７−０８７２９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上述の従来技術には以下に記載する問題がある。例えば、特許文献１の方法では、裏写りである可能性の高い画素のみに裏写り低減処理を行う。つまり、裏写りが起こっていない画素に対しては裏写り低減処理が行われない。したがって、裏写り低減処理を行った画素と、行っていない画素との境界が目立ってしまい、読み取った画像の品質を低下させてしまう。
【０００５】
本発明は、上述の問題に鑑みて成されたものであり、裏写り低減処理を行う画素と行わない画素との境界が目立たないように、裏写り低減処理を実行する画像読取装置及びその制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するために本発明における画像読取装置は、原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取手段と、読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出手段と、前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定手段と、前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りを低減させる程度を示す低減強度を決定する低減強度決定手段と、決定された前記複数の低減強度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における低減強度を算出する低減強度算出手段と、算出された前記各画素における低減強度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理手段とを備えることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明における画像読取装置は、原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取手段と、読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出手段と、前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定手段と、前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りする程度を示す裏写り強度を用いて該特定画素における裏写りした輝度を決定する裏写り輝度決定手段と、決定された前記複数の裏写りした輝度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における裏写りした輝度を算出する裏写り輝度算出手段と、算出された前記各画素における裏写りした輝度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明における画像読取装置の制御方法は、原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取ステップと、読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出ステップと、前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定ステップと、前記判定ステップにおいて裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りを低減させる程度を示す低減強度を決定する低減強度決定ステップと、決定された前記複数の低減強度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における低減強度を算出する低減強度算出ステップと、算出された前記各画素における低減強度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理ステップとを含むことを特徴とする。
【０００９】
また、本発明における画像読取装置の制御方法は、原稿の第１面及び該第１面と対となる第２面の画像データを読み取る読取ステップと、読み取られた前記第１面の画像データにおける注目領域の輝度を算出する輝度算出ステップと、前記注目領域の画像が該注目領域に対応する前記第２面の対応領域に対して裏写りを発生させるか否かを、算出された前記注目領域の輝度から判定する判定ステップと、前記判定手段において裏写りを発生させると判定されると、前記第２面の対応領域及び該対応領域に隣接する複数の隣接領域の特定画素において、それぞれ前記第１面の裏写りする程度を示す裏写り強度を用いて該特定画素における裏写りした輝度を決定する裏写り輝度決定ステップと、決定された前記複数の裏写りした輝度に基づいて、前記対応領域及び複数の前記隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させるように、各画素における裏写りした輝度を算出する裏写り輝度算出ステップと、算出された前記各画素における裏写りした輝度を用いて、読み取られた前記第２面の画像データを画像処理することにより、裏写りを低減させる低減処理ステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、例えば、裏写り低減処理を必要とする画素と、必要としない画素との境界が目立たないように、裏写り低減処理を実行する画像読取装置及びその制御方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下に本発明の一実施形態を示す。以下で説明される個別の実施形態は、本発明の上位概念、中位概念及び下位概念など種々の概念を理解するために役立つであろう。また、本発明の技術的範囲は、特許請求の範囲によって確定されるのであって、以下の個別の実施形態によって限定されるわけではない。
【００１２】
［第１の実施形態］
以下では、図１乃至図１０を参照して、第１の実施形態について説明する。本実施形態は、おもて面（第１面）からの裏写り画像を含んだ裏面（第２面）の読取画像を画像処理することにより裏写りを低減させる。図１は、第１の実施形態に係る画像読取装置の構成例を示すブロック図である。ここでは、主に本発明を説明する上で重要となるブロックについて説明する。したがって、本発明に係る画像読取装置は、他のブロックを含んで構成されてもよい。
【００１３】
画像読取装置１０は、システムバス１１、ＣＰＵ１２、ＲＡＭ１３、フラッシュメモリ１４、外部Ｉ／Ｆ１５、ＡＤＦスキャナ部１６、モータドライバ１７及びモータ１８を備える。システムバス１１は、各ブロックと接続され、情報を伝達する。ＣＰＵ１２は、画像読取装置１０を統括的に制御し、例えば、スキャン動作を指示する処理などを実行する。フラッシュメモリ１４は、スキャン動作等の処理方法や読み取り設定情報などの各種データなどを格納する不揮発性の記憶媒体である。ＲＡＭ１３は、読み取られた画像データや各種のデータやＣＰＵ１２が実行するプログラムなどを一時的に蓄積する。
【００１４】
外部Ｉ／Ｆ１５は、ユーザからのスキャン指示をＣＰＵ１２に伝えたり、読み込まれた画像データをＰＣに送信する。ＡＤＦスキャナ部１６は、ＣＰＵ１２の指示によって画像読み取りセンサを用いて搬送される原稿の画像を読み取り、システムバス１１を通じてＲＡＭ１３にデジタル化した読取画像の画像データを蓄積させる。ここで、ＡＤＦスキャナ部１６は、原稿の第１面（おもて面）及び第１面と対となる第２面（裏面）を読み取って画像データを蓄積させる。つまり、ＡＤＦスキャナ部１６は、原稿の両面を読み取ることができる。モータ１８は、読み取る原稿を所定の読取位置に搬送するためのローラを駆動する。モータドライバ１７は、ＣＰＵ１２からの指示に従いモータ１８を駆動させる。
【００１５】
次に、図２を参照して、ＡＤＦスキャナ部１６の構成について説明する。図２は、第１の実施形態に係るＡＤＦスキャナ部１６の主要部を示す断面図である。２４は、画像読取対象となる原稿を示す。２１は、原稿２４を搬送するための搬送路を示す。搬送路２１には、複数の搬送ローラ２５が設けられている。２２はおもて面読取のための読取センサを示し、２３は裏面読取のための読取センサを示す。
【００１６】
外部Ｉ／Ｆ１５を通して不図示のホストコンピュータ等の外部装置からスキャンの指示があると、画像読取装置１０はモータ１８を回転させ、搬送路２１上において、搬送ローラ２５を用いて原稿２４を搬送する。搬送ローラ２５は、不図示のギアやベルト等を介してモータ１８から動力が伝達される。読取センサ２２は、ＬＥＤ光源２２ａ、画像読取用ラインセンサ２２ｂで構成され、ＬＥＤ光源２２ａで原稿表面を照射し、その反射光をラインセンサ２２ｂに入射させて、原稿２４のおもて面の画像を読み取る。ラインセンサ２２ｂの光電変換出力信号は、ＣＰＵ１２からの指示により不図示のＡ／Ｄ変換部で、デジタル画像データに変換され、ＲＡＭ１３に蓄積される。また、読取センサ２３も同様に、ＬＥＤ光源２３ａ、画像読取用ラインセンサ２３ｂで構成され、ＬＥＤ光源２３ａで原稿裏面を照射し、その反射光を、ラインセンサ２３ｂに入射させて、原稿２４の裏面の画像を読み取る。同様に、デジタル画像データに変換され、ＲＡＭ１３に蓄積される。
【００１７】
次に、図３を参照して、読み取る原稿について説明する。図３は、両面に文字が書かれた原稿の一例を示す図である。３０１はおもて面に「Ａ」と書いてある原稿の例であり、３０２は裏面に「Ｂ」と書いてある原稿の例である。
【００１８】
原稿の印刷方法には、おもて面と裏面の原稿画像の天地が揃っている横綴じ両面原稿と、おもて面と裏面の原稿画像の天地が逆になっている上綴じ両面原稿とがある。図４Ａ及び図４Ｂは、上綴じ両面原稿を読み取った際に裏写りした画像を示す図である。
【００１９】
図４Ａに示す４０１は、図３のおもて面３０１の原稿を読み取った画像を示す。また、４０２は、図３の裏面３０２の原稿を読み取った画像を示す。読み取り画像４０１は、裏面３０２からの裏写りがなく、「Ａ」の文字が表示されている。一方、読み取り画像４０２は、おもて面３０１から裏写りがあり、「Ｂ」の文字に加えて、「Ａ」の文字が裏写りして表示されている。本実施形態に係る画像読取装置１０は、読み取り画像４０２に裏写りした「Ａ」の文字を低減させるように制御する。
【００２０】
図５は、上綴じ両面原稿及び横綴じ両面原稿を読み取った際に裏写りした画像を示す図である。図５は表裏の画像方向によって異なる裏写りを起こした際の原稿の図である。３０１、３０２のように書かれた原稿をスキャンする際、上綴じ両面原稿は５０１のように裏写りを起こし、横綴じ両面原稿では５０２のように裏写りを起こす。
【００２１】
図４Ａ及び図４Ｂの説明に戻り、さらに、図６を参照して、上綴じ両面原稿を読み取った際の裏写り低減方法について説明する。
【００２２】
４０３は、読み取り画像４０１の「Ａ」の一部を拡大した図を示す。４０４は、４０３で示した「Ａ」の一部が裏写りした画像の部分を拡大した図を示す。図４Ｂに示す４０５は読み取った原稿をＺ個の領域に分割した図を示す。図６は、第１の実施形態に係る裏写り低減処理の処理手順を示すフローチャートである。以下で説明する処理は、ＣＰＵ１２がＲＡＭ１３にロードしたプログラムを実行することにより制御される。当該プログラムは、画像読取装置に備えられるＲＯＭに予め記憶されている。
【００２３】
まず、ステップ６０１において、ＣＰＵ１２は、第１面の画像データである読取画像４０１を、それぞれＭ×Ｎ個の画素を有するＺ個の領域（Ｕｆ１〜ＵｆＺ）に分割する。続いて、ステップＳ６０２において、ＣＰＵ１２は、カウンタｋを１で初期化する。さらに、ステップＳ６０３において、ＣＰＵ１２は、現在のカウンタｋが示す値が領域数Ｚ以下であるか否かを判定する。ここで、カウンタｋが領域数Ｚ以下である場合は、ステップＳ６０４の処理に進む。一方、カウンタＫが領域数Ｚよりも大きければ処理を終了する。このステップＳ６０３の判定により、ＣＰＵ１２は、４０５に示すように、第１面における裏写り低減処理の対象となる注目領域Ｕｆｋを、Ｕｆ１からＵｆＺの間で第１面の画像内を左から右、上から下に向かって移動させていく。
【００２４】
第１面内の注目領域Ｕｆｋに対応する第２面（裏面）の対応領域Ｕｂｋは以下のように算出することができる。図４Ａの４０３に示すように、第１面の「Ａ」の一部である注目領域Ｕｆｋは、
Ｕｆｋ＝｛（ｘ１，ｙ１）、（ｘ２，ｙ２）、（ｘ３，ｙ３）、（ｘ４，ｙ４）｝と四隅の座標で表せる。なお座標の原点は左上としているため、ｙ軸は下向きになり、下に行くほどｙ座標値は増加する。
ここで、原稿の長さをＬとし、注目領域の幅をＭ、長さをＮとした場合、
Ｕｆｋ＝｛（ｘ１，ｙ１）、（ｘ１＋Ｍ，ｙ１）、（ｘ１，ｙ１＋Ｎ）、（ｘ１＋Ｍ，ｙ１＋Ｎ）｝
となる。
【００２５】
また、第１面の注目領域Ｕｆｋに対応する対応領域Ｕｂｋは、図４Ａの４０４に示すように、
Ｕｂｋ＝｛（ｘ１’，ｙ１’），（ｘ２’，ｙ２’），（ｘ３’，ｙ３’），（ｘ４’，ｙ４’）｝
＝｛（ｘ１，Ｌ−ｙ１），（ｘ１＋Ｍ，Ｌ−ｙ１），（ｘ１，Ｌ−ｙ１−Ｎ），（ｘ１＋Ｍ，Ｌ−ｙ１−Ｎ）｝
と計算でき、第１面の注目領域Ｕｆｋに対応する第２面の対応領域Ｕｂｋを算出することができる。ここでは、第２面の画像データに対する裏写り低減処理について説明する。しかし、本発明に係る裏写り低減処理は、第１面の画像データに対しても同様に適用できる。
【００２６】
次に、ステップＳ６０４において、ＣＰＵ１２は、第１面における注目領域Ｕｆｋの輝度を後述する数式１を用いて算出する。ここで算出する輝度は、例えば、注目領域Ｕｆｋの平均輝度となる。ここで、ＣＰＵ１２は、輝度算出手段として機能する。
【００２７】
第１面の注目領域Ｕｆｋの左上を（０，０）とした時の（ｉ，ｊ）の位置にある画素が有する輝度を三原色ＲＧＢごとに、それぞれＲ（Ｕｆｋ（ｉ，ｊ））、Ｇ（Ｕｆｋ（ｉ，ｊ））、Ｂ（Ｕｆｋ（ｉ，ｊ））とする。ここで、ｉ，ｊは整数である。注目領域Ｕｆｋの平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）は以下に示す数式１で求められる。
【００２８】
【数１】
2010010833.tif 000003
【００２９】
注目領域Ｕｆｋの平均輝度を数式１により算出すると、ステップＳ６０５において、ＣＰＵ１２は、各平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）が各閾値Ｓｒ、Ｓｇ、Ｓｂより小さいか否かを判定する。ここで、ＳｒはＲにおける閾値を示し、ＳｇはＧにおける閾値を示し，ＳｂはＢにおける閾値を示す。なお、閾値Ｓｒ，Ｓｇ，Ｓｂは、画像読取装置１０内に予め記憶された固定値である。具体的には、ＣＰＵ１２は、平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｒ、かつＧａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｇ、かつＢａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｂである場合に、当該領域の濃度が濃いと判断し、当該領域において裏写りを起こすと判定する。つまり、ＣＰＵ１２は、注目領域の画像が第２面の対応領域に裏写りすると判断する。この場合、ステップＳ６０６に進み、ＣＰＵ１２は、第１面内の注目領域に対応する第２面の領域における裏写り低減強度を算出する。ステップＳ６０６の詳細については後述する。その後、ステップＳ６０７に進む。
【００３０】
一方、ステップＳ６０５で平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｒ、又は、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｇ、又は、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｂの場合、輝度が高いと判断し、裏写りがないと判定する。この場合、ステップＳ６１０に進み、ＣＰＵ１２は、第２面に裏写りを起こさない画素であることを示すため、画素の輝度を２５５とする。その後、ステップＳ６０７に進む。
【００３１】
図７は、紙厚の薄い両面原稿を読み取る際の裏写りを低減させるための裏写り低減処理への入力値及び裏写り低減処理からの出力値の関係を示す図である。横軸は、裏写り低減処理を実行する前の入力値を示す。縦軸は、裏写り低減処理を実行した後の入力値に対応する最適出力値を示す。
【００３２】
裏写りが起こっている際の入力値Ｒ，Ｇ，Ｂの全体の輝度を評価するための値を（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）とすると、裏写り画像の影響による輝度の低下により、Ｒ＊Ｇ＊Ｂ（裏写り時）≦Ｒ＊Ｇ＊Ｂ（裏写りがない時）となる確率が高い。このため、後述する数式２を参照すると、下地色を原稿色の白に近づけるためには、後述するガンマ補正に用いるγＲ、γＧ、γＢを大きくする必要がある。ここで、γＲはＲのガンマ補正係数を示し、γＧはＧのガンマ補正係数を示し、γＢはＢのガンマ補正係数を示し、予め画像読取装置１０内のメモリに記憶されている。
【００３３】
図８は、第１の実施形態に係る読み取り画像の画像処理への入力値（Ｒ，Ｇ，Ｂ）と画像処理後の出力値を示した図である。横軸は、裏写り低減処理を実行する前の入力値を示す。縦軸は、裏写り低減処理を実行した後の入力値に対応する出力値を示す。本実施形態では裏写り低減処理の式として以下に示す数式２を使用する。図８は、入力Ｒ、Ｇ、ＢをＲ＝Ｇ＝Ｂとし、補正係数を０，６０，８０，１００，１２０，１４０，１７０，２００，２５５としたときの、数式２における入力値（Ｒ，Ｇ，Ｂ）と画像処理後の出力値を示す。
【００３４】
以下では、裏写り低減処理を実行するための数式２を例示する。
Ｒ’＝Ｒ＋γＲ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３
Ｇ’＝Ｇ＋γＧ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３
Ｂ’＝Ｂ＋γＢ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３・・・（数式２）
但し、数式２でＲ’＞２５５となるときＲ’＝２５５とし、Ｇ’＞２５５となるときＧ’＝２５５とし、Ｂ’＞２５５となるときＢ’＝２５５とする。なお、数式２は、ステップＳ６０８の処理に相当する。本実施形態に係る画像読取装置１０は、読み取られた画像データに対して上述の数式２を用いて画像処理することにより、裏写りを低減させる。
【００３５】
図９は、第１の実施形態に係る裏写り低減処理の処理結果を示す図である。図９では、ガンマ補正係数として、例えば、γＲ＝γＧ＝γＢ＝６０としている。９０１はガンマ補正係数γを示す。９０２は裏写り低減処理前の入力データを示す。９０３は裏写り低減処理後の出力データを示す。
【００３６】
また、９０４は、赤の強い色データ（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２３０，９８，９８）を示す。９０５は、緑の強い色データ（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（１１５，２３０，８５）を示す。９０６は、青の強い色データ（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（６８，８５，２３４）を示す。９０７は、濃い灰色データとして（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（１５０，１５０，１５０）を示す。９０８は、薄い灰色データとして（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＝（２１０，２１０，２１０）を示す。
【００３７】
これらのデータ９０４〜９０８に数式２の処理を適用するとそれぞれ９０３のようになる。裏写り画像に多い薄い灰色は白色になり、色味の強い色や濃い灰色などはほとんど元の値が保存される。このように、本実施形態によれば、裏写り低減処理を実行する際に、第１面の輝度は使用せず、第２面の輝度のみで裏写りを低減する。
【００３８】
次に、図１０及び数式２を参照して、より具体的に裏写り低減処理について説明する。図１０は、第２面の対応領域Ｕｂｋ周辺の拡大図である。図１０は、図４に示す４０４をさらに詳細に示す。
【００３９】
Ｒ（Ｕｂｋ（ｉ，ｊ））、Ｇ（Ｕｂｋ（ｉ，ｊ））、Ｂ（Ｕｂｋ（ｉ，ｊ））は第１面の領域Ｕｆｋに対応する第２面の対応領域Ｕｂｋにおいて、左上を（０，０）とした時の（ｉ，ｊ）の位置にある画素が有する輝度である。ｉ，ｊは整数であり、注目領域Ｕｂｋの平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ）は、以下の数式３で算出される。
【００４０】
【数３】
2010010833.tif 000004
【００４１】
これに対して、数式２を第２面の対応領域Ｕｂｋに適用すると、
Ｒ’ａｖｇ（Ｕｂｋ）＝Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）＋γＲ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ））／２５５３
Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｋ）＝Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）＋γＧ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ））／２５５３
Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｋ）＝Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ）＋γＢ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ））／２５５３
となる。
【００４２】
Ｒ’ａｖｇ（Ｕｂｋ），Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｋ），Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｋ）は裏写り低減後の色毎の平均輝度であり、γＲはＲのガンマ補正係数、γＧはＧのガンマ補正係数、γＢはＢのガンマ補正係数を示す。
【００４３】
求めたＲ’ａｖｇ（Ｕｂｋ），Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｋ），Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｋ）を第２面の対応領域Ｕｂｋの中心画素Ｐｂｋの画素データとする。
【００４４】
このような裏写り低減処理は、注目領域Ｕｆｋの下隣接領域Ｕｆｄｋ、Ｕｆｋの右下隣接領域Ｕｆｒｄｋ、注目領域Ｕｆｋ自体、Ｕｆｋの右隣接領域Ｕｆｒｋのそれぞれに対応する第２面の領域についても行われる。具体的には、それぞれ領域Ｕｂｋ、Ｕｂｕｋ、Ｕｂｒｕｋ、Ｕｂｒｋとなる。
即ち、注目領域Ｕｆｋに対応する対応領域Ｕｂｋ及び当該対応領域に隣接する３つの隣接領域Ｕｂｕｋ、Ｕｂｒｕｋ、Ｕｂｒｋについて裏写り低減処理を実行する。
【００４５】
その結果、第２面の当該対応領域Ｕｂｋに隣接する３つの隣接領域Ｕｂｕｋ、Ｕｂｒｕｋ、Ｕｂｒｋの中心画素をＰｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋとすると、
Ｐｂｕｋにおける画素データＲ’ａｖｇ（Ｕｂｕｋ），Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｕｋ），Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｕｋ）、
Ｐｂｒｕｋにおける画素データＲ’ａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ），Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ），Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ）、
Ｐｂｒｋにおける画素データＲ’ａｖｇ（Ｕｂｒｋ），Ｇ’ａｖｇ（Ｕｂｒｋ），Ｂ’ａｖｇ（Ｕｂｒｋ）が求められる。
【００４６】
数式２の補正値γ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３を裏写り低減強度とし、Ｒ値の裏写り低減強度Ｈｒ、Ｇ値の裏写り低減強度Ｈｇ、Ｂ値の裏写り低減強度Ｈｂは、
Ｈｒ＝γＲ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３
Ｈｇ＝γＧ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３
Ｈｂ＝γＢ×（Ｒ＊Ｇ＊Ｂ）／２５５３
となる。ここで、裏写り低減強度とは、第２面に発生する第１面の画像の裏写りを低減させる程度を示すパラメータである。
【００４７】
また、Ｕｂｋ、Ｕｂｕｋ、Ｕｂｒｕｋ、Ｕｂｒｋの中心画素Ｐｂｋ、Ｐｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋにおける輝度のＲ色成分の裏写り低減強度Ｈｒ（Ｕｂｋ），Ｈｒ（Ｕｂｕｋ），Ｈｒ（Ｕｂｒｕｋ），Ｈｒ（Ｕｂｒｋ）はそれぞれ、
Ｈｒ（Ｕｂｋ）＝γＲ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｋ））／２５５３、
Ｈｒ（Ｕｂｕｋ）＝γＲ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｕｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｕｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｕｋ））／２５５３、
Ｈｒ（Ｕｂｒｕｋ）＝γＲ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｒｕｋ））／２５５３
Ｈｒ（Ｕｂｒｋ）＝γＲ×（Ｒａｖｇ（Ｕｂｒｋ）×Ｇａｖｇ（Ｕｂｒｋ）×Ｂａｖｇ（Ｕｂｒｋ））／２５５３
となる。なお、Ｇ色成分の裏写り低減強度とＢ色成分の裏写り低減強度の演算は同様なので記述は省略する。この演算処理がステップＳ６０６に相当する。また、ＣＰＵ１２は、ステップＳ６０６において低減強度決定手段として機能する。つまり、ここでは、第２面の対応領域の特定画素及び複数の隣接領域の特定画素（ここでは、特定画素は中心画素とする。）において、それぞれ第１面の裏写りを低減させる際の低減強度を決定している。
【００４８】
次に、Ｐｂｋ、Ｐｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋを結んでできる領域をＸｓｂｋとすると、領域Ｘｓｂｋ内の（ｍ，ｎ）の位置にある画素における輝度のＲ色成分の裏写り低減強度Ｈｒ（Ｘｓｂｋ（ｍ，ｎ））は、
Ｈｒ（Ｘｓｂｋ（ｍ，ｎ））＝（１−ｎ／Ｎ）×｛（１−ｍ／Ｍ）×Ｈｒ（Ｕｂｕｋ）＋ｍ／Ｍ×Ｈｒ（Ｕｂｒｕｋ）｝＋ｎ／Ｎ×｛（１−ｍ／Ｍ）×Ｈｒ（Ｕｂｋ）＋ｍ／Ｍ×Ｈｒ（Ｕｂｒｋ）｝
となる。なお、Ｇ色成分の裏写り低減強度とＢ色成分の裏写り低減強度の演算は同様なので記述は省略する。この演算処理がステップＳ６０７に相当する。また、ＣＰＵ１２は、ステップＳ６０７において低減強度算出手段として機能する。上述のように、対応領域の低減強度を当該対応領域に隣接する隣接領域の情報に基づいて算出することで対応領域及び複数の隣接領域の間で裏写りを滑らかに低減させることができる。
【００４９】
第２面の領域Ｘｓｂｋの左上を（０，０）とし、（ｍ，ｎ）の位置にある画素の輝度をＸｓｂｋ（ｍ，ｎ）とした場合の（ｍ，ｎ）の位置にある画素に対しての裏写り低減処理は、
裏写り低減処理後の第２面の画素の輝度Ｕ（ｍ，ｎ）＝Ｘｓｂｋ（ｍ，ｎ）＋Ｈｒ（Ｘｓｂｋ（ｍ，ｎ））
の演算により実行される。この演算処理がステップＳ６０８に相当する。また、ＣＰＵ１２は、ステップＳ６０８において低減処理手段として機能する。
【００５０】
このように裏写り低減処理を実行することで、裏写り低減処理を強く行う画像と、弱く行う画像の境界が目立たない裏写り低減処理を実現することができる。また、画像データを領域分割し注目領域ごとに平均輝度を算出することで、平均輝度を算出する回数を減らすことができ、効率的に裏写り低減処理を行うことができる。次に、ステップＳ６０９において、ＣＰＵ１２は、カウンタｋに１を加算することにより、注目領域Ｕｆｋを次の領域に移動させ、処理をステップＳ６０３に遷移させる。
【００５１】
以上説明したように、本実施形態に係る画像読取装置は、原稿の読み取り時に発生する裏写りを低減させる際の裏写り低減強度を算出する際に、読み取った第２面の画像データにおける対応領域と隣接領域との情報を用いる。具体的には、複数の隣接した各領域の特定画素において決定した低減強度を用いて、複数の領域間で低減強度が滑らかに変化するように、各画素に適用する低減強度を算出する。これにより、本画像読取装置の裏写り低減処理は、従来の裏写り低減処理において各画素で適用する裏写り低減強度が著しく異なることにより発生する、裏写り低減を行わない領域との境界での画像の変化を低減する。したがって、本画像読取装置は、裏写り低減処理を行う画素と行わない画素との境界が目立たないように、裏写り低減処理を実行することができる。
【００５２】
［第２の実施形態］
次に、図１１及び図１２を参照して、第２の実施形態について説明する。本実施形態に係る画像読取装置は、図１及び図２で説明した構成と同様であるため説明を省略する。また、第１の実施形態と同様の構成又は制御については、第１の実施形態を説明するために用いた図面を参照しながら説明する。以下では、図６のフローチャートにおいて、第１の実施形態と異なる制御について説明する。つまり、以下では、主にＳ６０６、Ｓ６０７及びＳ６０８について説明する。
【００５３】
ステップＳ６０５において、ＣＰＵ１２は、平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｒ、かつＧａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｇ、かつＢａｖｇ（Ｕｆｋ）＜閾値Ｓｂ（Ｓ５０５）である領域は裏写りを起こすと判定し、ステップＳ６０６に処理を遷移させる。ここで、第１面の輝度をＲａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）、裏写り強度をαとすると、第１面の画像が裏写りを起こして第２面の画素の輝度に影響を及ぼして起こる輝度の低下は、次式で表せる。
第１面から第２面に裏写りした画素による輝度低下
＝α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ））
となる。つまり、濃度が濃くすなわち輝度が低いほど裏写りを起こしやすい。ここで、裏写り強度とは、第１面の注目領域における画像が第２面の対応領域に裏写りする程度を示す値である。
【００５４】
一方、輝度の高い、平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｒ、又はＧａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｇ、又は、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）≧閾値Ｓｂの場合、ＣＰＵ１２は、裏写りがないと判定し、ステップＳ６１０に処理を遷移させる。ステップＳ６１０において、裏写りのない場合の演算を行うためＣＰＵ１２は、第２面に裏写りする第１面の画素の輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）＝２５５とする。
【００５５】
本実施形態に係る裏写り低減後の第２面の輝度は、
裏写り低減後の第２面の輝度
＝第２面の輝度（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＋第１面からの裏写りによる第２面の画素の輝度低下
＝第２面の輝度（Ｒ，Ｇ，Ｂ）＋α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ））
となる。つまり、本実施形態では、第１面からの裏写りによる画素の輝度低下を加算することにより、裏写りを低減させる。なお、この演算は後述する部分的な領域の中心画素について行い、その他の画素に対しては補間で行う。
【００５６】
以下では、図１１を参照して、本実施形態に係るステップＳ６０６の処理について説明する。図１１は、第１面及び第２面の領域Ｕｆｋ、Ｕｂｋ周辺の拡大図である。
【００５７】
Ｕｆｋの下隣接領域Ｕｆｄｋ、Ｕｆｋの右下隣接領域Ｕｆｒｄｋ、注目領域Ｕｆｋ、Ｕｆｋの右隣接領域Ｕｆｒｋの第１面の平均輝度をそれぞれ（Ｒａｖｇ（Ｕｆｄｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｄｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｄｋ））、（Ｒａｖｇ（ｆｒｄｋ），Ｇａｖｇ（ｆｒｄｋ），Ｂａｖｇ（ｆｒｄｋ））、（Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ））、（Ｒａｖｇ（Ｕｆｒｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｒｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｒｋ））とする。
【００５８】
また、第１面のＵｆｋ、Ｕｆｄｋ、Ｕｆｒｄｋ、Ｕｆｒｋに対応する第２面の対応領域及び対応領域に隣接する隣接領域をそれぞれＵｂｋ、Ｕｂｕｋ、Ｕｂｒｕｋ、Ｕｂｒｋとし、その中心画素をＰｂｋ、Ｐｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋとする。また、中心画素Ｐｂｋ、Ｐｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋにおける裏写りによる輝度低下をそれぞれＣＮ、ＵＣＮ、ＵＲＣＮ、ＲＣＮとすると、
ＵＣＮ（Ｒａｖｇ（Ｕｆｄｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｄｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｄｋ））
＝α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｄｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｄｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｄｋ））
ＵＲＣＮ（Ｒａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ））
＝α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｒｄｋ））
ＣＮ（Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ））
＝α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ））
ＲＣＮ（Ｒａｖｇ（Ｕｆｒｋ），Ｇａｖｇ（Ｕｆｒｋ），Ｂａｖｇ（Ｕｆｒｋ））
＝α×（２５５−Ｒａｖｇ（Ｕｆｒｋ），２５５−Ｇａｖｇ（Ｕｆｒｋ），２５５−Ｂａｖｇ（Ｕｆｒｋ））、
となる。この演算処理が本実施形態におけるステップＳ６０６の処理となる。なお、ここで、ＣＰＵ１２は、裏写り輝度決定手段として機能する。
【００５９】
また、Ｐｂｋ、Ｐｂｕｋ、Ｐｂｒｕｋ、Ｐｂｒｋを結んでできる領域をＸｓｂｋとすると、領域Ｘｓｂｋ内の（ｍ，ｎ）の位置にある画素における裏写りによる輝度の低下Ｕ（ｍ，ｎ）は、
Ｕ（ｍ，ｎ）＝（１−ｎ／Ｎ）×｛（１−ｍ／Ｍ）×ＵＣＮ＋ｍ／Ｍ×ＵＲＣＮ｝＋ｎ／Ｎ×｛（１−ｍ／Ｍ）×ＣＮ＋ｍ／Ｍ×ＲＣＮ｝
となる。この演算処理が本実施形態に係るステップＳ６０７の処理に相当する。なお、ここで、ＣＰＵ１２は、裏写り輝度算出手段として機能する。
【００６０】
第２面の領域Ｘｓｂｋの左上を（０，０）とした場合の（ｍ，ｎ）の位置にある画素に対する裏写り低減処理は、次式で表せる。
裏写り低減後の第２面の画素の輝度
＝第２面の画素の輝度＋第１面から第２面への裏写りによる輝度の低下分
＝Ｘｓｂｋ（ｍ，ｎ）＋Ｕ（ｍ，ｎ）
の演算により実行される。この演算処理が本実施形態に係るステップＳ６０８に相当する。
【００６１】
本実施形態では、閾値Ｓｒ、Ｓｇ、Ｓｂ、ガンマ補正係数γＲ、γＧ、γＢ、第２の面の部分的な領域の中心画素における裏写り強度αを予め保持する固定値としたが、これに限定されず、例えば、ユーザが指定してもよい。また、画像読取装置１０に紙厚検知センサと裏写り強度テーブルを設け、原稿読み取り時に紙厚を検知し、適切な裏写り強度を適用してもよい。
【００６２】
また、本実施形態では、裏写り原稿の例として上綴じ両面原稿を使用したが、横綴じ両面原稿であってもよい。このとき、上記で計算したＵｂｋの座標をそれぞれ、左上（ｘ２’，ｙ２’）、右上（ｘ１’，ｙ１’）、左下（ｘ４’，ｙ４’）、右下（ｘ３’，ｙ３’）とすると
Ｕｂ＝｛（ｘ１’，ｙ１’），（ｘ２’，ｙ２’），（ｘ３’，ｙ３’），（ｘ４’，ｙ４’）｝
＝｛（Ｗ−ｘ１，ｙ１），（Ｗ−ｘ１−Ｍ，ｙ１），（Ｗ−ｘ１，ｙ１＋Ｎ），（Ｗ−ｘ１−Ｍ，ｙ１＋Ｎ）｝
となる。
【００６３】
読み取る原稿に対して上綴じ両面原稿用の裏写り低減処理を行うか、横綴じ両面原稿用の裏写り低減処理を行うかは、原稿読み取り前に予めユーザが指定してもよい。また、原稿を１枚読み取る毎にユーザが指定してもよい。また、本画像読取装置が両面の原稿画像を読み取った後、ＯＣＲなどにより画像方向を自動的に判定してもよい。
【００６４】
上述では、第１面内の複数画素の輝度として分割領域の平均輝度Ｒａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｇａｖｇ（Ｕｆｋ）、Ｂａｖｇ（Ｕｆｋ）を用いたが、統計処理を用いて算出したヒストグラムからもっとも頻度の高い輝度を求めて用いてもよい。図１２は、第２の実施形態に係る裏写り低減処理に使用される輝度のヒストグラムの一例を示す図である。最も頻度の高い輝度は、図１２に示すように、０から２５５の輝度をｑ分割した
２５５／ｑ×ｋ＜Ｃ≦２５５／ｑ×（ｋ＋１）
（ｋは０≦ｋ＜ｑを満たす整数）
の輝度のうち、最大頻度をとる輝度Ｃである。
【００６５】
上記各実施形態では、裏写り低減処理は画像読取装置１０のＣＰＵ１２がＲＡＭ１３にロードしたプログラムを実行することにより実行されるが、本発明の裏写り低減処理の一部またはすべてをハードウエア回路で行うようにしてもよい。また、本発明の裏写り低減処理を画像読取装置１０に接続された不図示のホストコンピュータ等の外部機器で行うようにしてもよい。この場合、ホストコンピュータ等の外部機器に画像読取装置１０を接続した画像読取システムが本発明の画像読取装置に相当する。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】第１の実施形態に係る画像読取装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態に係るＡＤＦスキャナ部１６の周辺を示す断面図である。
【図３】両面に文字が書かれた原稿の一例を示す図である。
【図４Ａ】上綴じ両面原稿を読み取った際に裏写りした画像を示す図である。
【図４Ｂ】上綴じ両面原稿を読み取った際に裏写りした画像を示す図である。
【図５】上綴じ両面原稿及び横綴じ両面原稿を読み取った際に裏写りした画像を示す図である。
【図６】第１の実施形態に係る裏写り低減処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図７】紙厚の薄い両面原稿を読み取る際の裏写りを低減させるための入力値及び出力値の関係を示す図である。
【図８】第１の実施形態に係る読み取り画像の入力値（Ｒ，Ｇ，Ｂ）と画像処理後の出力値を示した図である。
【図９】第１の実施形態に係る裏写り低減処理の処理結果を示す図である。
【図１０】第２面の対応領域Ｕｂｋ周辺の拡大図である。
【図１１】第１面及び第２面の領域Ｕｆｋ、Ｕｂｋ周辺の拡大図である。
【図１２】第２の実施形態に係る裏写り低減処理に使用される輝度の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００６７】
１０：画像読取装置
１１：システムバス
１２：ＣＰＵ
１３：ＲＡＭ
１４：記憶媒体（フラッシュメモリ）
１５：外部通信Ｉ／Ｆ
１６：ＡＤＦスキャナ部
１７：モータドライバ
１８：モータ
２１：搬送路
２２：読取センサ
２２ａ：ＬＥＤ光源
２２ｂ：受光用ＣＣＤラインセンサ
２３：読取センサ
２３ａ：ＬＥＤ光源
２３ｂ：受光用ＣＣＤラインセンサ
２４：原稿
２５：搬送ローラ
【図１】
2010010833.tif 000005
【図２】
2010010833.tif 000006
【図３】
2010010833.tif 000007
【図６】
2010010833.tif 000008
【図７】
2010010833.tif 000009
【図８】
2010010833.tif 000010
【図９】
2010010833.tif 000011
【図１２】
2010010833.tif 000012
【図４Ａ】
2010010833.tif 000013
【図４Ｂ】
2010010833.tif 000014
【図５】
2010010833.tif 000015
【図１０】
2010010833.tif 000016
【図１１】
2010010833.tif 000017