(57)【要約】      （修正有）【課題】点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上し、検出するための時間も短縮する。【解決手段】撮像装置は、光電変換部と、電荷電圧変換部と、光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、電荷電圧変換部に対するリセット部と、電荷電圧変換部の電圧信号を出力する出力部とをそれぞれ含む複数の画素の配列と、画素配列を駆動する駆動部と、画素配列の出力信号から欠陥画素を検出する手段と、検出された欠陥画素の信号を隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とをもつ。駆動部は、欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、転送部が光電変換部の電荷を電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、電荷電圧変換部がリセットされた状態で出力部が電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、各画素を駆動する。【選択図】図５
2010028488.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素が行方向及び列方向に配列された画素配列と、
前記画素配列を駆動する駆動部と、
前記画素配列から出力された信号に応じて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段と、
を備え、
前記駆動部は、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記転送部が前記光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素配列の各画素を駆動する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記１フレーム期間中に、前記画素配列の各画素から前記複数回出力された信号の差分をとることにより、第１の差分画像信号を生成する差分手段をさらに備えた
ことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記検出手段は、
複数フレームの前記第１の差分画像信号における信号レベルの最大値を画素ごとに抽出することにより、１フレームの最大値画像信号を生成する最大値生成手段と、
複数フレームの前記第１の差分画像信号における信号レベルの最小値を画素ごとに抽出することにより、１フレームの最小値画像信号を生成する最小値生成手段と、
前記最大値画像信号と前記最小値画像信号との差分をとることにより、第２の差分画像信号を生成する第２の差分生成手段と、
前記第２の差分画像信号における信号レベルが第１の閾値以上の画素を欠陥画素として抽出する抽出手段と、
を含む
ことを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記検出手段は、
複数フレームの前記第１の差分画像信号における信号レベルの最大値を画素ごとに抽出することにより、１フレームの最大値画像信号を生成する最大値生成手段と、
複数フレームの前記第１の差分画像信号における信号レベルの平均値を画素ごとに抽出することにより、１フレームの平均値画像信号を生成する平均値生成手段と、
前記最大値画像信号と前記平均値画像信号との差分をとることにより、第３の差分画像信号を生成する第３の差分生成手段と、
前記第３の差分画像信号における信号レベルが第２の閾値以上の画素を欠陥画素として抽出する抽出手段と、
ことを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項５】
第１の光電変換部と、第２の光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記第１の光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する第１の転送部と、前記第２の光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する第２の転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素ユニットが行方向及び列方向に配列された画素ユニット配列と、
前記画素ユニット配列を駆動する駆動部と、
前記画素ユニット配列から出力された信号に応じて、前記画素ユニット配列における欠陥画素ユニットを検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素ユニットの信号を、前記検出された欠陥画素ユニットに隣接する画素ユニットの信号を用いて補間する補間手段と、
を備え、
前記駆動部は、前記検出手段による欠陥画素ユニットの検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記第１の転送部が前記第１の光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記第２の転送部が前記第２の光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素ユニット配列の各画素ユニットを駆動する
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素が行方向及び列方向に配列された画素配列と、前記画素配列を駆動する駆動部と、前記画素配列から出力された信号に応じて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とを有する撮像装置の制御方法であって、
動作モードを、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードに設定する工程と、
前記検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記転送部が前記光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素配列の各画素を前記駆動部が駆動する工程と、
を備えたことを特徴とする撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置、及び撮像装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子カメラなどの撮像装置に搭載されるＣＭＯＳイメージセンサなどの撮像センサは、複数の画素が行方向及び列方向に配列された画素配列を有する。近年の電子カメラでは、数百万から数千万の画素を含む画素配列を有する撮像センサを搭載するものが多く存在している。画素配列の全ての画素が適正に入射光量に応じた信号を発生させるような撮像センサを常に製造するのは非常に困難であり、画素配列には、いくつかの正常に動作しない「欠陥画素」が含まれ得る。
【０００３】
それに対して、撮像装置の製造工程において、撮影された画像を基に撮像センサにおける欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素のアドレスを撮像装置のメモリに保存しておく方法がある。この方法によれば、撮像装置は、メモリに保存されたアドレスを参照することにより、欠陥画素から出力された画像信号を、その周辺の画素の画像信号を用いて補間することができる。
【０００４】
あるいは、撮像装置の出荷後において、撮像装置が撮影指示を受けた際に、撮像センサの画素配列の各画素から出力された画像信号のレベルとその周辺画素のレベルとの差から、撮像装置がリアルタイムに欠陥画素を検出してメモリに保存しておく方法がある。この方法によっても、撮像装置は、メモリに保存されたアドレスを参照することにより、欠陥画素から出力された画像信号を、その周辺の画素の画像信号を用いて補間することができる。
【０００５】
ここで、その欠陥の発生原因には、温度や露光時間に応じて暗電流が発生することや、そもそも画素自体が正しく形成されておらず正常に信号を出力しないことが考えられる。それらの現象は、同一の撮影条件下における撮影毎に発生する。
【０００６】
一方、同一の撮影条件下であっても撮影毎に欠陥が発生したり発生しなかったりする「点滅欠陥画素」も存在する。近年における撮像センサの高画素化による画素の小型化に伴い、その点滅欠陥が発生する頻度が増大する傾向にあり、点滅欠陥画素についても正確な検出及び補間が必要とされてきている。
【０００７】
ここで、点滅欠陥の発生要因のひとつとして、最近の研究により、画素の増幅トランジスタで１／ｆノイズが発生することが主要因であるということがわかってきている。この現象は、同一の撮影条件下であっても撮影毎に発生したり発生しなかったりする。
【０００８】
それに対して、特許文献１には、カメラにおいて、複数のフレーム期間に渡って画像を取得し、取得した複数フレームの画像における輝度値の変動幅が閾値を超えた画素を点滅欠陥画素と判定している。
【特許文献１】特開２００３−２９８９４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
特許文献１に記載された方法では、点滅欠陥の検出を十分な精度で行うために、複数のフレーム期間に渡って画像を取得している。その結果、点滅欠陥を有する画素を検出するのに膨大な時間を費やすことになる。
【００１０】
これにより、例えば、撮像装置の製造工程における欠陥画素の検出工程に費やす時間の増加に伴い、撮像装置の製造時間が増加する。そのため、撮像装置の製造コストが増加する可能性がある。
【００１１】
また、出荷後に撮像装置の使用者によって行われる、キズ画素の自動検出機能における処理完了までにかかる時間が長くなる。このため、ユーザによる撮像装置の使い勝手が悪くなる。
【００１２】
本発明の目的は、点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上するとともに、点滅欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の第１側面に係る撮像装置は、光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素が行方向及び列方向に配列された画素配列と、前記画素配列を駆動する駆動部と、前記画素配列から出力された信号に応じて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とを備え、前記駆動部は、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記転送部が前記光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素配列の各画素を駆動することを特徴とする。
【００１４】
本発明の第２側面に係る撮像装置は、第１の光電変換部と、第２の光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記第１の光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する第１の転送部と、前記第２の光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する第２の転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素ユニットが行方向及び列方向に配列された画素ユニット配列と、前記画素ユニット配列を駆動する駆動部と、前記画素ユニット配列から出力された信号に応じて、前記画素ユニット配列における欠陥画素ユニットを検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素ユニットの信号を、前記検出された欠陥画素ユニットに隣接する画素ユニットの信号を用いて補間する補間手段とを備え、前記駆動部は、前記検出手段による欠陥画素ユニットの検出を行うための検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記第１の転送部が前記第１の光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記第２の転送部が前記第２の光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素配列の各画素ユニットを駆動することを特徴とする。
【００１５】
本発明の第３側面に係る撮像装置の制御方法は、光電変換部と、電荷電圧変換部と、前記光電変換部で発生した電荷を前記電荷電圧変換部へ転送する転送部と、前記電荷電圧変換部をリセットするリセット部と、前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を出力とする出力部とをそれぞれ含む複数の画素が行方向及び列方向に配列された画素配列と、前記画素配列を駆動する駆動部と、前記画素配列から出力された信号に応じて、前記画素配列における欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の信号を、前記検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する補間手段とを有する撮像装置の制御方法であって、動作モードを、前記検出手段による欠陥画素の検出を行うための検出モードに設定する工程と、前記検出モードにおいて、１フレーム期間中に、前記転送部が前記光電変換部の電荷を前記電荷電圧変換部へ転送しないように、かつ、前記リセット部により前記電荷電圧変換部がリセットされた状態で前記出力部が前記電荷電圧変換部の電圧に応じた信号を複数回出力するように、前記画素配列の各画素を前記駆動部が駆動する工程とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上することができるとともに、点滅欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明の第１実施形態に係る撮像装置１００を、図１を用いて説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る撮像装置１００の構成を示す図である。
【００１８】
撮像装置１００は、動作モードとして、静止画撮影モード、動画撮影モード、及び検出モードなどを有する。静止画撮影モードは、撮像装置１００の各部が静止画撮影のための動作を行うモードである。動画撮影モードは、撮像装置１００の各部が動画撮影のための動作を行うモードである。検出モードは、後述の検出部１１２ｂが後述の画素配列ＰＡにおける欠陥画素を検出するためのモードである。
【００１９】
光学系１０１は、レンズ１０１ａおよび絞り１０１ｂを含む。レンズ１０１ａは、撮像センサ１０３の撮像面に被写体の像を形成する。絞り１０１ｂは、光路上においてレンズ１０１ａと撮像センサ１０３との間に設けられ、レンズ１０１ａを通過後に撮像センサ１０３へ導かれる光の量を調節する。
【００２０】
メカニカルシャッタ１０２は、光路上において撮像センサ１０３の手前に設けられ、露出を制御する。メカニカルシャッタ１０２は、撮像センサ１０３を所定時間だけ露光した後、遮光する機能を有する。
【００２１】
撮像センサ１０３は、画素配列に形成された被写体の像を画像信号に変換する。撮像センサ１０３は、例えば、ＣＭＯＳイメージセンサーである。撮像センサ１０３は、その画像信号（アナログ信号）を画素配列から読み出して出力する。
【００２２】
具体的には、撮像センサ１０３は、図２に示すように、画素配列ＰＡ、垂直走査回路（駆動部）１０、読み出し回路２０、水平走査回路３０、及び出力アンプ２３２を含む。なお、図２は、撮像センサ１０３の構成を示す図である。
【００２３】
画素配列ＰＡでは、複数の画素２０１が行方向及び列方向に配列されている。各画素２０１は、図３に示すように、光電変換部２０２、転送部２０３、電荷電圧変換部２０７、リセット部２０４、出力部２０６、及び選択部２０５を含む。なお、図３は、各画素２０１の構成及び読み出し回路２０における１列分の構成を示す図である。
【００２４】
光電変換部２０２は、光に応じた電荷を発生させて所定の蓄積時間だけ蓄積する電荷蓄積動作を行う。光電変換部２０２は、例えば、フォトダイオードである。
【００２５】
転送部２０３は、光電変換部２０２で発生した電荷を電荷電圧変換部２０７へ転送する。転送部２０３は、例えば、転送ＭＯＳトランジスタ（転送スイッチ）であり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＸがそのゲートに供給された際にオンすることにより、光電変換部２０２で発生した電荷を電荷電圧変換部２０７へ転送する。
【００２６】
電荷電圧変換部２０７は、転送された電荷を電圧に変換する。電荷電圧変換部２０７は、例えば、浮遊拡散層（フローティングディフュージョン）である。
【００２７】
リセット部２０４は、電荷電圧変換部２０７をリセットする。リセット部２０４は、例えば、リセットＭＯＳトランジスタであり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＲＥＳがそのゲートに供給された際にオンすることにより、電荷電圧変換部２０７を電源ＳＶＤＤに応じたレベルにリセットする。
【００２８】
出力部２０６は、電荷電圧変換部２０７の電圧に応じた信号を垂直出力線２２２へ出力する。すなわち、出力部２０６は、リセット部２０４による電荷電圧変換部２０７のリセットがなされた後の状態で、電荷電圧変換部２０７の電圧に応じたノイズ信号を垂直出力線２２２へ出力する。出力部２０６は、転送部２０３により光電変換部２０２の電荷が電荷電圧変換部２０７へ転送された状で、電荷電圧変換部２０７の電圧に応じた光信号を垂直出力線２２２へ出力する。ここで、光信号は、光電変換部２０２で発生した信号にノイズ信号が重畳した信号となる。出力部２０６は、例えば、増幅ＭＯＳトランジスタ（画素アンプ）であり、垂直出力線２２２に接続された負荷電流源２２１とともにソースフォロワ動作を行うことにより、電荷電圧変換部２０７の電圧に応じた信号を垂直出力線２２２へ出力する。
【００２９】
選択部２０５は、画素２０１を選択状態／非選択状態にする。選択部２０５は、例えば、選択ＭＯＳトランジスタ（選択スイッチ）であり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＳＥＬがそのゲートに供給された際にオンすることにより、画素２０１を選択状態にする。選択部２０５は、垂直走査回路１０からノンアクティブな制御信号ＰＳＥＬがそのゲートに供給された際にオフすることにより、画素２０１を非選択状態にする。
【００３０】
なお、画素配列ＰＡは、有効領域ＥＡと遮光領域ＳＡとを有する。遮光領域ＳＡの各画素における構成は、光電変換部２０２が遮光されている点で有効領域ＥＡの各画素における構成と異なるが、その他の点で有効領域ＥＡの各画素における構成と同様である。
【００３１】
図２に示す垂直走査回路１０は、画素配列ＰＡを垂直方向に走査する。すなわち、垂直走査回路１０は、所定の行の画素にアクティブな制御信号ＰＳＥＬを供給することにより、画素配列ＰＡにおける所定行を選択する。また、垂直走査回路１０は、所定行の画素に制御信号ＰＴＸ、ＰＲＥＳを供給することにより、画素配列ＰＡにおける所定行の画素を駆動する。
【００３２】
例えば、垂直走査回路（駆動部）１０は、上記の検出モードにおいて、１フレーム期間中に、転送部２０３が光電変換部２０２の電荷を電荷電圧変換部２０７へ転送しないように、画素配列ＰＡの各画素を駆動する。垂直走査回路１０は、検出モードにおいて、次のように画素配列ＰＡの各画素を駆動する。垂直走査回路１０は、１フレーム期間中に、リセット部２０４による電荷電圧変換部２０７のリセットがなされた後の状態で出力部２０６が電荷電圧変換部２０７の電圧に応じたノイズ信号を複数回出力するように、画素配列ＰＡの各画素を駆動する。
【００３３】
すなわち、検出モードでは、各画素から光信号を出力させずノイズ信号を複数回出力させるので、光信号とノイズ信号とをそれぞれ複数回づつ出力させる場合（上記の静止画撮影モード等）に比べて、各画素から信号を出力させるための時間を短縮できる。
【００３４】
読み出し回路２０は、画素配列ＰＡから信号を読み出す。具体的には、読み出し回路２０における各列の構成は、転送スイッチ２２５、転送スイッチ２２４、転送容量ＣＴＳ２２７、転送容量ＣＴＮ２２６、転送スイッチ２２９、及び転送スイッチ２２８を含む。
【００３５】
転送スイッチ２２４は、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＮがそのゲートに供給された際にオンすることにより、画素２０１から垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号を転送容量ＣＴＮ２２６へ転送する。転送スイッチ２２４は、ノンアクティブな制御信号ＰＴＮがそのゲートに供給された際にオフする。これにより、転送容量ＣＴＮ２２６は、転送されたノイズ信号を保持する。
【００３６】
転送スイッチ２２５は、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＳがそのゲートに供給された際にオンすることにより、画素２０１から垂直出力線２２２へ出力された光信号を転送容量ＣＴＳ２２７へ転送する。転送スイッチ２２５は、ノンアクティブな制御信号ＰＴＳがそのゲートに供給された際にオフする。これにより、転送容量ＣＴＳ２２７は、転送された光信号を保持する。
【００３７】
転送スイッチ２２８は、水平走査回路３０からアクティブな制御信号ＰＨＮがそのゲートに供給された際にオンすることにより、転送容量ＣＴＮ２２６に保持されたノイズ信号を水平出力線２３３へ出力する。ここで、水平出力線２３３が寄生容量ＣＨＮ２３０を有するので、ノイズ信号は、転送容量ＣＴＮ２２６の容量値と寄生容量ＣＨＮ２３０の容量値との容量分割により水平出力線２３３へ出力される。
【００３８】
転送スイッチ２２９は、水平走査回路３０からアクティブな制御信号ＰＨＳがそのゲートに供給された際にオンすることにより、転送容量ＣＴＳ２２７に保持された光信号を水平出力線２３４へ出力する。ここで、水平出力線２３４が寄生容量ＣＨＳ２３１を有するので、光信号は、転送容量ＣＴＳ２２７の容量値と寄生容量ＣＨＮ２３０の容量値との容量分割により水平出力線２３４へ出力される。
【００３９】
図２に示す水平走査回路３０は、読み出し回路２０を水平方向へ走査する。すなわち、水平走査回路３０は、読み出し回路２０における各列の転送スイッチ２２８を順次にオンさせることにより、各列のノイズ信号を転送容量ＣＴＮ２２６から水平出力線２３３へ順次に転送する。水平走査回路３０は、読み出し回路２０における各列の転送スイッチ２２９を順次にオンさせることにより、各列の光信号を転送容量ＣＴＳ２２７から水平出力線２３４へ順次に転送する。
【００４０】
出力アンプ２３２は、水平出力線２３３を介して伝達されたノイズ信号と水平出力線２３４を介して伝達された光信号との差分をとることにより、画像信号（アナログ信号）を生成してアナログ信号処理回路１０４へ出力する。
【００４１】
例えば、出力アンプ（差分手段）２３２は、静止画撮影モード、動画撮影モードにおいて、１フレーム期間中に、画素配列ＰＡの各画素からの光信号とノイズ信号の差分をとることにより、画像信号を生成する。
【００４２】
例えば、出力アンプ（差分手段）２３２は、検出モードにおいて、１フレーム期間中に、画素配列ＰＡの各画素からの複数のノイズ信号の差分をとることにより、第１の差分画像信号を生成する。
【００４３】
図１に示すアナログ信号処理回路１０４は、撮像センサ１０３から出力された画像信号を受ける。アナログ信号処理回路１０４は、受けた画像信号（アナログ信号）に対して、アナログ信号処理を行う。アナログ信号処理回路１０４は、ＣＤＳ回路１０５、信号増幅器（ＰＧＡ）１０６、クランプ（ＣＬＡＭＰ）回路１０７、及びＡ／Ｄ変換器１０８を含む。
【００４４】
ＣＤＳ回路１０５は、撮像センサ１０３における出力アンプ２３２のオフセットと、そのオフセットが画像信号に重畳された信号との差分をとる相関二重サンプリング（ＣＤＳ）処理を行う。これにより、ＣＤＳ回路１０５は、出力アンプ２３２のオフセットが除去された画像信号を生成して、生成した画像信号を信号増幅器１０６へ出力する。
【００４５】
信号増幅器１０６は、ＣＤＳ回路１０５から出力された画像信号を受ける。信号増幅器１０６は、受けた画像信号を所定の増幅率で増幅し、増幅した画像信号をクランプ回路１０７へ出力する。
【００４６】
クランプ回路１０７は、信号増幅器１０６から出力された遮光領域ＳＡ（図２）の画像信号を受ける。クランプ回路１０７は、遮光領域ＳＡの画像信号をオフセット信号として保持しておく。そして、クランプ回路１０７は、信号増幅器１０６から出力された有効領域ＥＡ（図２）の画像信号を受ける。クランプ回路１０７は、受けた有効領域ＥＡの画像信号に対して、オフセット信号を用いたクランプ処理（ＯＢクランプ処理）を行い、処理後の画像信号をＡ／Ｄ変換器１０８へ出力する。
【００４７】
Ａ／Ｄ変換器１０８は、クランプ回路１０７から出力された画像信号（アナログ信号）を受ける。Ａ／Ｄ変換器１０８は、受けた画像信号（アナログ信号）に対してＡ／Ｄ変換処理を行うことにより画像信号（デジタル信号）を生成する。Ａ／Ｄ変換器１０８は、生成した画像信号（デジタル信号）をデジタル信号処理回路１１２へ出力する。
【００４８】
タイミング信号発生回路１１０は、駆動回路１１１、撮像センサ１０３、及びアナログ信号処理回路１０４へそれぞれタイミング信号を供給する。これにより、駆動回路１１１、撮像センサ１０３、及びアナログ信号処理回路１０４は、それぞれ、タイミング信号に同期して動作する。
【００４９】
駆動回路１１１は、光学系１０１及びメカニカルシャッタ１０２を駆動する。例えば、駆動回路１１１は、レンズ１０１ａの位置を調節したり、絞り１０１ｂの開度を調節したり、メカニカルシャッタ１０２を開閉したりする。
【００５０】
デジタル信号処理回路１１２は、アナログ信号処理回路１０４から出力された画像信号（デジタル信号）を受ける。デジタル信号処理回路１１２は、受けた画像信号（デジタル信号）に対して各種の補正等のデジタル信号処理を行うことにより、画像データを生成する。各種の補正等は、色変換、ホワイトバランス、ガンマ補正等の画像処理、解像度変換処理、画像圧縮処理等を含む。
【００５１】
具体的には、デジタル信号処理回路１１２は、検出部（検出手段）１１２ｂ、及び補間部（補間手段）１１２ａを含む。
【００５２】
検出部１１２ｂは、画素配列ＰＡが遮光された状態で画素配列ＰＡから出力された信号に応じて、すなわち、第１の差分画像信号を用いて画素配列ＰＡにおける欠陥画素を検出する。
【００５３】
具体的には、検出部１１２ｂは、最大値生成部（最大値生成手段）１１２ｂ１、最小値生成部（最小値生成手段）１１２ｂ２、第２の差分生成部（第２の差分生成手段）１１２ｂ３、及び抽出部（抽出手段）１１２ｂ４を含む。
【００５４】
最大値生成部１１２ｂ１は、複数フレームの第１の差分画像信号を受ける。最大値生成部１１２ｂ１は、複数フレームの第１の差分画像信号における輝度レベルの最大値を画素ごとに抽出することにより、最大値画像信号を生成する。
【００５５】
最小値生成部１１２ｂ２は、複数フレームの第１の差分画像信号を受ける。最小値生成部１１２ｂ２は、複数フレームの第１の差分画像信号における輝度レベルの最小値を画素ごとに抽出することにより、最小値画像信号を生成する。
【００５６】
第２の差分生成部１１２ｂ３は、最大値画像信号を最大値生成部１１２ｂ１から受け、最小値画像信号を最小値生成部１１２ｂ２から受ける。第２の差分生成部１１２ｂ３は、最大値画像信号と最小値画像信号との差分をとることにより、第２の差分画像信号を生成する。
【００５７】
抽出部１１２ｂ４は、第２の差分画像信号を第２の差分生成部１１２ｂ３から受ける。抽出部１１２ｂ４は、第２の差分画像信号における輝度レベルが第１の閾値以上の画素を欠陥画素として抽出（検出）する。
【００５８】
補間部１１２ａは、検出部１１２ｂにより検出された欠陥画素の信号を、検出された欠陥画素に隣接する画素の信号を用いて補間する。
【００５９】
例えば、補間部１１２ａは、撮影用の画像信号における欠陥画素に対して同色の正常な画素のうち横方向又は縦方向に一番近い２画素の信号を平均して、その平均された信号を欠陥画素の信号として補間する。
【００６０】
あるいは、例えば、補間部１１２ａは、撮影用の画像信号における欠陥画素に対して同色の正常な画素のうち横方向及び縦方向に一番近い４画素の信号を平均して、その平均された信号を欠陥画素の信号として補間する。
【００６１】
あるいは、例えば、補間部１１２ａは、撮影用の画像信号における欠陥画素に対して同色の正常な画素のうち１つの対角方向に一番近い２画素の信号を平均して、その平均された信号を欠陥画素の信号として補間する。
【００６２】
あるいは、例えば、補間部１１２ａは、撮影用の画像信号における欠陥画素に対して同色の正常な画素のうち２つの対角方向に一番近い４画素の信号を平均して、その平均された信号を欠陥画素の信号として補間する。
【００６３】
このようにしてデジタル信号処理回路１１２により生成された撮影用の画像データは、画像メモリ１１３、表示回路１１７、システム制御部１１８、及び記録回路１１５などへ供給される。
【００６４】
画像メモリ１１３は、デジタル信号処理回路１１２から出力された画像データを一時的に記憶する。
【００６５】
記録回路１１５は、デジタル信号処理回路１１２から出力された画像データを記録用の画像データ（例えば階層構造を持つファイルシステムデータ）に変換する。記録回路１１５には、記録媒体（画像記録媒体）１１４が取り外し可能に接続される。これにより、記録回路１１５は、記録用の画像データを記録媒体１１４に記録する。
【００６６】
表示回路１１７は、デジタル信号処理回路１１２から出力された画像データを表示用の画像信号（例えばＮＴＳＣ方式のアナログ信号等）に変換する。表示回路１１７は、表示用の画像信号を画像表示装置１１６へ供給する。
【００６７】
画像表示装置１１６は、表示回路１１７から出力された表示用の画像信号を受ける。画像表示装置１１６は、受けた表示用の画像信号に応じた画像を表示する。
【００６８】
システム制御部１１８は、各部を全体的に制御する。
【００６９】
不揮発性メモリ（ＲＯＭ）１１９は、システム制御部１１８で実行される制御方法を記載したプログラム、プログラムを実行する際に使用されるパラメータやテーブル等の制御データ、および、キズアドレス等の補正データを記憶している。
【００７０】
揮発性メモリ（ＲＡＭ）１２０は、システム制御部１１８により不揮発性メモリ１１９から転送されたプログラム等やを一時的に記憶したり、システム制御部１１８により所定の制御処理を行うための作業領域として機能したりする。
【００７１】
温度検出回路１２１は、撮像センサ１０３あるいはその周辺回路の温度を検出する。温度検出回路１２１は、検出した温度の情報をシステム制御部１１８へ供給する。これにより、システム制御部１１８は、検出した温度に応じて、各部を制御する。
【００７２】
蓄積時間設定部１２２は、撮像センサ１０３の画素配列の各画素における蓄積時間（シャッタースピード）を設定する。蓄積時間設定部１２２は、設定した蓄積時間の情報をシステム制御部１１８へ供給する。これにより、システム制御部１１８は、設定した蓄積時間に応じて、タイミング信号発生回路１１０経由で撮像センサ１０３の画素配列の各画素における電荷蓄積動作を制御する。
【００７３】
撮影モード設定部１２３は、操作部（図示せず）を介して受けた指示などに応じて、撮像装置１００の動作モードを設定する。撮影モード設定部１２３により設定される動作モードは、例えば、ＩＳＯ感度などの撮影条件を設定するための設定モード、静止画撮影モード、及び動画撮影モードを含む。
【００７４】
このように、撮像装置１００では、検出モードにおいて、１フレーム期間中に画素配列ＰＡから信号が複数回出力され、その複数回出力された信号に応じて複数フレームの画像信号が取得される。そして、その１フレーム期間中に取得された複数フレームの画像信号を用いて欠陥画素の検出を行うので、点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上することができるとともに、点滅欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮することができる。
【００７５】
次に、撮像装置１００の静止画撮影モード又は動画撮影モードにおける概略動作について説明する。
【００７６】
システム制御部１１８は、撮影動作に先立ち、電源投入等の所定の指示に応じて、不揮発性メモリ１１９から必要なプログラム、制御データおよび補正データを揮発性メモリ１２０に転送して一時的に記憶しておく。これらのプログラムやデータは、システム制御部１１８が各部を制御する際に使用する。また、システム制御部１１８は、必要に応じて、追加のプログラムやデータを不揮発性メモリ１１９から揮発性メモリ１２０に転送したり、直接不揮発性メモリ１１９内のデータを読み出して使用したりする。
【００７７】
システム制御部１１８は、操作部（図示せず）を介して静止画撮影指示又は動画撮影指示を受ける。システム制御部１１８は、静止画撮影指示又は動画撮影指示に応じて、動作モードを静止画撮影モード又は動画撮影モードに設定するとともに、駆動回路１１１を介して光学系１０１を制御する。これにより、光学系１０１における絞り１０１ｂとレンズ１０１ａとが駆動して、適切な明るさに設定された被写体の像が撮像センサ１０３の撮像面に形成される。
【００７８】
次に、システム制御部１１８は、静止画像撮影モードにおいて、駆動回路１１１を介してメカニカルシャッタ１０２を制御する。これにより、メカニカルシャッタ１０２は、静止画像撮影モードにおいて、必要な露光時間となるように撮像センサ１０３の露光を制御する。メカニカルシャッタ１０２は、露光時間が経過したら撮像センサ１０３を遮光するように駆動される。
【００７９】
なお、システム制御部１１８は、静止画撮影モードにおいて、撮像センサ１０３の電子シャッタ機能（画素２０１のリセット部２０４によるリセット動作）とメカニカルシャッタ１０２のメカシャッタ機能と併用して、撮像センサ１０３の露光を制御してもよい。
【００８０】
あるいは、システム制御部１１８は、動画撮影モードにおいて、撮像センサ１０３の電子シャッタ機能を用いて、撮像センサ１０３の画素配列ＰＡの各画素における蓄積時間を制御する。これにより、撮像センサ１０３の露光が制御される。このとき、システム制御部１１８は、動画撮影終了の指示を受けるまで、メカニカルシャッタ１０２を開状態に制御している。
【００８１】
撮像センサ１０３の画素配列ＰＡの各画素は、システム制御部１１８により制御されるタイミング信号発生回路１１０が発生するタイミング信号（駆動パルス）に応じて、電荷蓄積動作を行う。撮像センサ１０３は、画素配列ＰＡに形成された被写体の像を画像信号に変換する。すなわち、撮像センサ１０３は、露光処理を行う。撮像センサ１０３は、その画像信号（アナログ信号）を画素配列から読み出して出力する。
【００８２】
デジタル信号処理回路１１２は、撮像センサ１０３から出力された画像信号をアナログ信号処理回路１０４経由で受ける。デジタル信号処理回路１１２は、受けた画像信号に対して所定のデジタル信号処理（現像処理）を行うことにより画像データを生成し、生成した画像データを記録回路１１５へ出力する。
【００８３】
記録回路１１５は、画像データを記録用の画像データに変換する処理（記録処理）を行い、処理後の画像データを記録媒体１１４に記録する。
【００８４】
このようにして、露光処理、現像処理、及び記録処理を含む撮影処理（静止画撮影処理、動画撮影処理）が行われる。
【００８５】
次に、撮像装置１００の検出モードにおける概略動作について説明する。この検出モードは、撮像装置１００における動作モードの１つであり、デジタル信号処理回路１１２における検出手段による欠陥画素の検出を行うためのモードである。
【００８６】
システム制御部１１８は、操作部を介して受けた所定の指示に応じて、あるいは、所定の条件を満たしたことに応じて、動作モードを検出モードに設定する。
【００８７】
次に、システム制御部１１８は、検出モードにおいて、駆動回路１１１を介してメカニカルシャッタ１０２を制御する。これにより、メカニカルシャッタ１０２は、検出モードにおいて、撮像センサ１０３の画素配列ＰＡを遮光するように閉状態になる。
【００８８】
なお、後述のように、本実施形態では、検出モードにおいて、メカニカルシャッタ１０２を開状態にしたまま欠陥画素の検出を行っても良い。
【００８９】
撮像センサ１０３の画素配列ＰＡの各画素は、システム制御部１１８により制御されるタイミング信号発生回路１１０が発生するタイミング信号（駆動パルス）に応じて、遮光状態で電荷蓄積動作を行う。撮像センサ１０３は、遮光画像を画像信号に変換する。すなわち、撮像センサ１０３は、露光処理を行う。撮像センサ１０３は、第１の差分画像信号（アナログ信号）を画素配列から読み出して出力する。
【００９０】
デジタル信号処理回路１１２は、第１の差分画像信号を用いて、所定のデジタル信号処理（現像処理）に加えて、後述のキズ検出処理を行う。
【００９１】
ここで、デジタル信号処理回路１１２は、システム制御部１１８からの制御信号による信号処理をせずにデジタル画像信号をそのまま画像データとして、画像メモリ１１３や記録回路１１５に出力してもよい。
【００９２】
デジタル信号処理回路１１２は、システム制御部１１８から要求があった場合に、信号処理の過程で生じたデジタル画像信号や画像データの情報を出力する。例えば、デジタル信号処理回路１１２は、画像の空間周波数、指定領域の平均値、圧縮画像のデータ量等の情報、あるいは、それらから抽出された情報をシステム制御部１１８に出力する。さらに、記録回路１１５は、システム制御部１１８から要求があった場合に、記録媒体１１４の種類や空き容量等の情報をシステム制御部１１８に出力する。
【００９３】
次に、撮像装置１００の再生モードにおける概略動作について説明する。この再生モードは、撮像装置１００における動作モードの１つであり、記録媒体１１４に記録された画像データを再生するためのモードである。
【００９４】
記録媒体１１４には、すでに、画像データが記録されているとする。記録回路１１５は、システム制御部１１８からの制御信号により、記録媒体１１４から画像データを読み出す。
【００９５】
デジタル信号処理回路１１２は、システム制御部１１８からの制御信号により、画像データが圧縮画像データであった場合に画像伸長処理を行い、処理後の画像データを画像メモリ１１３に記憶させる。
【００９６】
その後、デジタル信号処理回路１１２は、画像メモリ１１３に記憶されている画像データを読み出し、読み出した画像データに対して解像度変換処理を実施して、処理後の画像データを表示回路１１７へ供給する。
【００９７】
表示回路１１７は、供給された画像データを画像表示装置１１６に適した信号、すなわち表示用の画像信号に変換し、変換した画像データを画像表示装置１１６へ供給する。これにより、画像表示装置１１６は、表示用の画像信号に応じた画像を表示する。
【００９８】
図４は、撮像装置の静止画撮影モード又は動作撮影モードにおける動作を示すタイミングチャートである。
【００９９】
タイミングＴＭ１において、タイミング信号発生回路１１０は、水平走査期間の開始を示す制御信号ＨＤをノンアクティブなレベルからアクティブなレベルへ立ち下げる。このとき、リセット回路（図示せず）は、垂直出力線２２２を所定電位にリセットする。
【０１００】
また、垂直走査回路１０は、所定行の画素へアクティブな制御信号ＰＲＥＳを供給する。これにより、所定行の画素において、リセット部２０４がオンして電荷電圧変換部２０７を電位ＳＶＤＤにリセットする。
【０１０１】
タイミングＴＭ１から期間Ｔ１経過後のタイミングＴＭ２において、垂直走査回路１０は、所定行の画素へノンアクティブな制御信号ＰＲＥＳを供給する。これにより、所定行の画素において、リセット部２０４がオフしてリセット部２０４によるリセット動作が完了する。
【０１０２】
タイミングＴＭ４において、垂直走査回路１０は、所定行の画素へアクティブな制御信号ＰＳＥＬを供給する。これにより、期間Ｔ２の間、所定行の画素において、選択部２０５がオンしてその画素を選択状態にする。
【０１０３】
タイミングＴＭ６において、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２４へアクティブな制御信号ＰＴＮを供給している。これにより、転送スイッチ２２４は、オンして、垂直信号線２２２へ出力されたノイズ信号を転送容量ＣＴＮ２２６へ転送する。
【０１０４】
タイミングＴＭ７において、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２４へノンアクティブな制御信号ＰＴＮを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＮ２２６がノイズ信号を保持する。
【０１０５】
タイミングＴＭ７〜ＴＭ８の期間において、リセット回路（図示せず）は、垂直出力線２２２を所定電位にリセットする。
【０１０６】
タイミングＴＭ８において、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２５は、オンする。
【０１０７】
タイミングＴＭ９において、垂直走査回路１０は、所定行の画素へアクティブな制御信号ＰＴＸを供給する。これにより、所定行の画素において、転送部２０３がオンして光電変換部２０２の電荷を電荷電圧変換部２０７へ転送する。出力部２０６は、電荷電圧変換部２０７の電圧に応じて光信号を垂直出力線２２２へ出力する。
【０１０８】
すなわち、このＴ３の期間を内包する期間Ｔ４の間に、制御信号ＰＴＳをハイレベルにすることで、転送容量ＣＴＳ２２７が垂直出力線２２２と接続され、この転送容量ＣＴＳ２２７へ光信号が転送される。
【０１０９】
タイミングＴＭ９から期間Ｔ３経過後のタイミングＴＭ１０において、垂直走査回路１０は、所定行の画素へノンアクティブな制御信号ＰＴＸを供給する。これにより、所定行の画素において、転送部２０３がオフする。
【０１１０】
タイミングＴＭ８から期間Ｔ４経過後のタイミングＴＭ１１において、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７が光信号を保持する。
【０１１１】
このように、読み出し回路２０は、１行分のノイズ信号と光信号とを各列の転送容量ＣＴＮ２２６と転送容量ＣＴＳ２２７とにそれぞれ保持する。
【０１１２】
タイミングＴＭ１２以降のタイミングにおいて、水平走査回路３０は、各列の制御信号ＰＨＳ，ＰＨＮを順次にアクティブにする。これにより、読み出し回路２０に保持された各列のノイズ信号及び光信号は、それぞれ、水平出力線２３３及び水平出力線２３４へ順次に転送される。出力アンプ２３２は、転送されたノイズ信号と光信号との差分をとることにより、画像信号を生成してアナログ信号処理回路１０４へ出力する。
【０１１３】
図５は、撮像装置の検出モードにおける動作を示すタイミングチャートである。
【０１１４】
撮影モード（静止画撮影モード、動画撮影モード）では、各画素から光信号を出力させるために各画素において光電変換部から電荷電圧変換部へ電荷の転送を行っている。
【０１１５】
それに対して、検出モードでは、画素配列における欠陥画素を検出するために、各画素において光電変換部から電荷電圧変換部へ電荷の転送を行わない。すなわち、図５に示すように、検出モードでは、次の点で撮影モードと異なる動作が行われる。
【０１１６】
制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４´の間に、制御信号ＰＴＸはノンアクティブなレベルに維持される。これにより、所定行の画素において、転送部（転送ＭＯＳトランジスタ）２０３は、オフしたままであり、光電変換部２０２の電荷を電荷電圧変換部２０７へ転送しない。所定行の画素において、出力部２０６は、リセット部２０４により電荷電圧変換部２０７がリセットされた状態で電荷電圧変換部２０７の電圧に応じたノイズ信号が垂直出力線２２２へ出力される。垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号は、アクティブな制御信号ＰＴＳを受けた転送スイッチ２２５により転送容量ＣＴＳ２２７へ転送される。
【０１１７】
期間Ｔ４´が終わるタイミングで、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７がノイズ信号を保持する。
【０１１８】
ここで、制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４´は、撮影モードの駆動タイミングにおける制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４と比べ、画素内で電荷を転送するための期間Ｔ３が不要となるため、短期間にすることができる。
【０１１９】
上述のように、１行分の２回分のノイズ信号が、それぞれ、転送容量ＣＴＮ２２６及び転送容量ＣＴＳ２２７に蓄積される。
【０１２０】
次に、これら２回分のノイズ信号は、水平走査回路３０により転送容量ＣＴＮ２２６及び転送容量ＣＴＳ２２７からそれぞれ容量ＣＨＮ２３０、ＣＨＳ２３１へ転送される。そして容量ＣＨＮ２３０、ＣＨＳ２３１に蓄積された２つのノイズ信号は、出力アンプ２３２へ供給される。出力アンプ２３２は、２つのノイズ信号の差分を、すなわち読出し毎のばらつきを表す画像信号（第１の差分画像信号）として出力する。
【０１２１】
このように、本実施形態では、画素内における光電荷の転送を伴わずに画素からノイズ信号の出力を２回行い、それぞれのノイズ信号を転送容量ＣＴＮ２２６、ＣＴＳ２２７に転送し、両者の差分をとる。これにより、遮光状態で取得された２フレームの画像信号の差分がとられることと等価な処理が行われるので、出力アンプ２３２から出力される第１の差分画像信号自体が２フレームの画像信号における各画素の信号レベルの変動を示すものとなる。
【０１２２】
次に、図６〜図９を用いて、各種キズ（欠陥画素）検出、及び点滅キズ（点滅欠陥画素）検出の方法を説明する。
【０１２３】
図６は、本発明の第１実施形態における欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。
【０１２４】
システム制御部１１８は、欠陥画素検出処理を開始すべきと判断すると、まず、ＩＳＯ感度、シャッター秒時等の欠陥画素検出用の撮影条件を設定する（Ｓ５０１）。欠陥画素検出処理では、主に暗電流によって増幅される欠陥画素の検出を目的とする。このため、ここで設定される撮影条件は、より暗電流が発生しやすい条件として、シャッター秒時が１秒〜３０秒等の長秒蓄積に設定され、環境温度が４０℃〜６０℃等の高温に設定されることが望ましい。
【０１２５】
次に、システム制御部１１８は、ステップＳ５０１で設定された撮影条件で、撮影動作を行うように各部を制御する（Ｓ５０２）。ここで、暗電流起因の“白キズ”を検出する場合、撮像センサの画素配列を遮光した状態で撮影を行う。あるいは、例えば転送不良などで発生する“黒キズ”を検出する場合、撮像センサの画素配列の全画素を均一の光量で露光した状態で撮影する。
【０１２６】
続けて、デジタル信号処理回路１１２は、ステップＳ５０２の撮影動作により取得された画像信号を基に、欠陥画素の検出を行う（Ｓ５０３）。例えば、対象画素と周辺画素との信号レベルの差を算出し、その差の値が所定値以上である場合、対象画素を欠陥画素として検出する。
【０１２７】
そして、システム制御部１１８は、ステップＳ５０３で検出された欠陥画素のアドレスをメモリ（ＲＡＭ１２０等）に記録し（Ｓ５０４）、欠陥画素検出処理を終了する。
【０１２８】
図７は、本発明の第１実施形態における点滅欠陥画素検出処理を示すフローチャートである。
【０１２９】
システム制御部１１８は、点滅欠陥画素検出処理を開始すべきと判断すると、まず、ＩＳＯ感度、シャッター秒時等の点滅欠陥画素検出用の撮影条件を設定する（Ｓ６０１）。但し、本実施形態において検出しようとする点滅欠陥画素は、暗電流起因の欠陥画素ではないため、蓄積時間を長く取る必要がなく、環境温度にも依存されない。よって、シャッター秒時は短秒時、例えば１／５００秒等で良く、環境温度も常温でかまわない。
【０１３０】
次に、システム制御部１１８は、ステップＳ６０１で設定された撮影条件で、撮影動作を行うように各部を制御する（Ｓ６０２）。ここで、点滅キズを検出するのに、撮像センサの画素配列を遮光した状態で撮影を行ってもよいし、撮像センサの画素配列を露光した状態で撮影を行っても良い。検出しようとする点滅キズ（点滅欠陥）は、そのレベルが入射光量に依存しないため、画素配列へ光を入射させる必要がない。また、検出モードでは、画素配列の各画素において、光電変換部２０２から電荷電圧変換部２０７への光電荷の転送を行わないため、あえて画素配列を遮光した状態で行う必要もない。
【０１３１】
次に、システム制御部１１８は、ステップＳ６０２で行う撮影動作による画像信号取得が、あらかじめ定められた所定回数（所定フレーム数）に達したかを判定する（Ｓ６０３）。システム制御部１１８は、所定回数に達していなければ（Ｎｏ）、処理をステップＳ６０２に戻し、撮影動作を繰り返す。システム制御部１１８は、ステップＳ６０２で行う撮影動作が所定回数に達したら（Ｙｅｓ）、処理をステップＳ６０４に進める。ここで、あらかじめ定められた所定回数の設定数としては、点滅欠陥画素の検出レベルを超えるような欠陥の発生頻度によって決定される。本実施形態では、図８を用いて行う点滅欠陥画素検出の説明に合わせて、６回の撮影動作を行うこととする。なお、この撮影回数については、その数が多ければ多いほど点滅欠陥画素の検出精度は向上するが、撮影回数がふえればそれだけ、検出にかかる時間が増大するため、むやみに回数を増やすことは行わない。
【０１３２】
続けて、デジタル信号処理回路１１２は、ステップＳ６０２の撮影により取得された複数フレームの画像信号を基に、点滅欠陥画素の検出を行う（Ｓ６０４）。検出方法については、図８を用いて後述する。
【０１３３】
そして、システム制御部１１８は、ステップＳ６０４で検出された点滅欠陥画素のアドレスをメモリに記録し（Ｓ６０５）、欠陥画素検出処理を終了する。
【０１３４】
図８は、本発明の第１実施形態における点滅欠陥画素を検出する方法を説明する図である。
【０１３５】
図８ａ）は、図７のステップＳ６０２における撮影において取得した６枚の撮影画像（６フレームの画像信号）を示す。図８ａ）には、簡易的に、２つの点滅欠陥画素と、それぞれ１つづつの白キズ及び黒キズとが画像に含まれる場合が示されている。
【０１３６】
点滅欠陥画素検出処理において、まず取得した６枚の画像（第１の差分画像信号）の値（信号レベル）を各画素に比較し、それぞれの画素毎に最大値を抽出した最大値画像（最大値画像信号）と、最小値を抽出した最小値画像（最小値画像信号）を作成する。
【０１３７】
図８ｂ）は、その際得られた最大値画像及び最小値画像である。正常な画素、白キズ、及び黒キズは、撮影条件が同じであれば、撮影ごとの信号レベルのばらつきが小さいため、最大値画像と最大値画像とでその値（信号レベル）が大きく変わらない。
【０１３８】
しかし、点滅キズ（点滅欠陥画素）は、撮影ごとの信号レベルのばらつきが大きいため、最大値画像と最小値画像とでその値（信号レベル）の差が大きくなる。
【０１３９】
図８ｃ）は、図８ｂ）の最大値画像から最小値画像を減じて（差分をとって）作成した第２の差分画像である。図８ｃ）の画像よりわかるように、最大値画像と最小値画像との差分をとることで、点滅欠陥画素のみを抽出することが可能となる。
【０１４０】
図９は、本発明の第１実施形態における撮影処理（静止画撮影処理、動画撮影処理）を示すフローチャートである。
【０１４１】
システム制御部１１８は、シャッターボタン（図示せず）が半押しされてＳＷ１がオンしているか否かを判定する（Ｓ８０１）。システム制御部１１８は、ＳＷ１がオンしていないと判定すると（Ｎｏ）、処理をステップＳ８０１へ進める。システム制御部１１８は、ＳＷ１がオンしていると判定すると（Ｙｅｓ）、被写体輝度や被写体距離等の測定を行い、その結果をもとに、撮影条件を設定する（Ｓ８０２）。
【０１４２】
その後、システム制御部１１８は、シャッターボタンが全押しされＳＷ２がオンしているか否かをを判定する（Ｓ８０３）。システム制御部１１８は、ＳＷ２がオンしていないと判定すると（Ｎｏ）、処理をステップＳ８０１へ戻す。システム制御部１１８は、ＳＷ２がオンしていると判定すると（Ｙｅｓ）、撮影動作を行うように各部を制御する（Ｓ８０４）。
【０１４３】
デジタル信号処理回路１１２は、ステップＳ８０４における撮影動作により得られた画像信号に対し、各種補正処理を行う（Ｓ８０５）。ステップＳ８０５で行う各種補正処理の一つとして、図６〜図８を用いて説明した、各種欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の信号を補間する補間処理を含む「キズ補正」処理が行われる。これにより、デジタル信号処理回路１１２は、画像データを生成する。
【０１４４】
そして、システム制御部１１８は、ステップＳ８０５において各種補正処理が施された画像データを記録媒体１１４などに記録する（Ｓ８０６）。このようにして、一連の撮影処理を終了する。
【０１４５】
以上の説明したように、本実施形態によれば、検出モードにおいて、１フレーム期間中に画素配列ＰＡの各画素からノイズ信号が２回出力され、その２回出力されたノイズ信号に応じて２フレームの画像信号が取得される。そして、その１フレーム期間中に取得された２フレームの画像信号の差分をとることにより１フレームの差分画像信号を生成する。そのような差分画像信号を６フレーム分用いて（実質的に１２フレーム分用いて）欠陥画素の検出を行う。これにより、点滅欠陥を有する画素の検出精度を向上することができるとともに、点滅欠陥を有する画素を検出するための時間を短縮することができる。すなわち、精度の高い点滅欠陥画素検出を短時間で行うことが可能となる。
【０１４６】
なお、図１０に示すように、撮像装置１００ｉは、デジタル信号処理回路１１２ｉを備えても良い。デジタル信号処理回路１１２は、検出部（検出手段）１１２ｂｉを含む。
【０１４７】
検出部１１２ｂｉは、最大値生成部（最大値生成手段）１１２ｂ１、平均値生成部（平均値生成手段）１１２ｂ２ｉ、第３の差分生成部（第３の差分生成手段）１１２ｂ３ｉ、及び抽出部（抽出手段）１１２ｂ４を含む。
【０１４８】
最大値生成部１１２ｂ１は、複数フレームの第１の差分画像信号を受ける。最大値生成部１１２ｂ１は、複数フレームの第１の差分画像信号における輝度レベルの最大値を画素ごとに抽出することにより、最大値画像信号を生成する。
【０１４９】
平均値生成部１１２ｂ２ｉは、複数フレームの第１の差分画像信号を受ける。平均値生成部１１２ｂ２ｉは、複数フレームの第１の差分画像信号における輝度レベルの平均値を画素ごとに抽出することにより、平均値画像信号を生成する。
【０１５０】
第３の差分生成部１１２ｂ３ｉは、最大値画像信号を最大値生成部１１２ｂ１から受け、平均値画像信号を平均値生成部１１２ｂ２ｉから受ける。第３の差分生成部１１２ｂ３ｉは、最大値画像信号と平均値画像信号との差分をとることにより、第３の差分画像信号を生成する。
【０１５１】
抽出部１１２ｂ４は、第３の差分画像信号を第３の差分生成部１１２ｂ３ｉから受ける。抽出部１１２ｂ４は、第３の差分画像信号における輝度レベルが第２の閾値以上の画素を欠陥画素として抽出（検出）する。
【０１５２】
本発明の第２実施形態に係る撮像装置を、図１１を用いて説明する。図１１は、本発明の第２実施形態に係る撮像装置１００ｊにおける撮像センサ１０３ｊの構成を示す図である。以下では、第１実施形態と異なる部分を中心に説明する。
【０１５３】
撮像装置１００ｊは、撮像センサ１０３ｊを備える。撮像センサ１０３ｊは、画素ユニット配列ＰＡｊを含む。画素ユニット配列ＰＡｊでは、複数の画素ユニット９０１ａｊ，９０２ｂｊが行方向及び列方向に配列されている。図１１には、列方向に隣接して配された２つの画素ユニットが例示されている。
【０１５４】
画素ユニット９０１ａｊは、第１実施形態の画素配列ＰＡにおける列方向に隣接した２画素に対して、電荷電圧変換部９０７ａ、リセット部９０４ａ、出力部９０６ａ、及び選択部９０５ａが共通化されている。
【０１５５】
すなわち、画素ユニット９０１ａｊは、第１の光電変換部９０２ａ、第２の光電変換部９０２ｂ、第１の転送部９０３ａ、第２の転送部９０３ｂ、電荷電圧変換部９０７ａ、リセット部９０４ａ、出力部９０６ａ、及び選択部９０５ａを含む。
【０１５６】
第１の転送部９０３ａは、第１の光電変換部９０２ａで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。第１の転送部９０３ａは、例えば、転送ＭＯＳトランジスタ（転送スイッチ）である。第１の転送部９０３ａは、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＸａがそのゲートに供給された際にオンすることにより、第１の光電変換部９０２ａで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。
【０１５７】
第２の転送部９０３ｂは、第２の光電変換部９０２ｂで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。第２の転送部９０３ｂは、例えば、転送ＭＯＳトランジスタ（転送スイッチ）である。第２の転送部９０３ｂは、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＸｂがそのゲートに供給された際にオンすることにより、第２の光電変換部９０２ｂで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。
【０１５８】
リセット部９０４ａは、例えば、リセットＭＯＳトランジスタであり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＲＥＳａがそのゲートに供給された際にオンすることにより、電荷電圧変換部９０７ａを電源ＳＶＤＤに応じたレベルにリセットする。
【０１５９】
選択部９０５ａは、例えば、選択ＭＯＳトランジスタ（選択スイッチ）であり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＳＥＬａがそのゲートに供給された際にオンすることにより、画素ユニット９０１ａｊを選択状態にする。選択部９０５ａは、垂直走査回路１０からノンアクティブな制御信号ＰＳＥＬａがそのゲートに供給された際にオフすることにより、画素ユニット９０１ａｊを非選択状態にする。
【０１６０】
画素ユニット９０１ｂｊは、第１実施形態の画素配列ＰＡにおける列方向に配列された２画素に対して、電荷電圧変換部９０７ｂ、リセット部９０４ｂ、出力部９０６ｂ、及び選択部９０５ｂが共通化されている。
【０１６１】
すなわち、画素ユニット９０１ｂｊは、第１の光電変換部９０２ｃ、第２の光電変換部９０２ｄ、第１の転送部９０３ｃ、第２の転送部９０３ｄ、電荷電圧変換部９０７ｂ、リセット部９０４ｂ、出力部９０６ｂ、及び選択部９０５ｂを含む。
【０１６２】
第１の転送部９０３ｃは、第１の光電変換部９０２ｃで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。第１の転送部９０３ｃは、例えば、転送ＭＯＳトランジスタ（転送スイッチ）である。第１の転送部９０３ｃは、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＸｃがそのゲートに供給された際にオンすることにより、第１の光電変換部９０２ｃで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。
【０１６３】
第２の転送部９０３ｄは、第２の光電変換部９０２ｄで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。第２の転送部９０３ｄは、例えば、転送ＭＯＳトランジスタ（転送スイッチ）である。第２の転送部９０３ｄは、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＴＸｄがそのゲートに供給された際にオンすることにより、第２の光電変換部９０２ｄで発生した電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。
【０１６４】
リセット部９０４ｂは、例えば、リセットＭＯＳトランジスタであり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＲＥＳｂがそのゲートに供給された際にオンすることにより、電荷電圧変換部９０７ｂを電源ＳＶＤＤに応じたレベルにリセットする。
【０１６５】
選択部９０５ｂは、例えば、選択ＭＯＳトランジスタ（選択スイッチ）であり、垂直走査回路１０からアクティブな制御信号ＰＳＥＬｂがそのゲートに供給された際にオンすることにより、画素ユニット９０１ｂｊを選択状態にする。選択部９０５ｂは、垂直走査回路１０からノンアクティブな制御信号ＰＳＥＬａがそのゲートに供給された際にオフすることにより、画素ユニット９０１ｂｊを非選択状態にする。
【０１６６】
また、撮像装置の撮影モード（静止画撮影モード、動画撮影モード）における動作が、図１２に示すように、次の点で第１実施形態（図４参照）と異なる。図１２は、第２実施形態に係る撮像装置の撮影モード（静止画撮影モード、動画撮影モード）における動作を示すタイミングチャートである。図１２のタイミングチャートでは、第１の光電変換部９０２ａ、第２の光電変換部９０２ｂ、第１の光電変換部９０２ｃ、第２の光電変換部９０２ｄにより蓄積された信号が順次に読み出される場合が示されている。
【０１６７】
期間Ｔ１ａ、Ｔ１ｂにおいて、制御信号ＰＲＥＳａをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ａｊのリセット部９０４ａは電荷電圧変換部９０７ａを所定電位ＳＶＤＤにリセットする。
【０１６８】
期間Ｔ２ａ、Ｔ２ｂにおいて、制御信号ＰＳＥＬａをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ａｊの選択部９０５ａは画素ユニット９０１ａｊを選択状態にする。
【０１６９】
このように、第１の光電変換部９０２ａにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫａ＋ＨＳＲａの期間と、第２の光電変換部９０２ｂにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｂ＋ＨＳＲｂの期間とは、同じ画素ユニット９０１ａｊが選択される。
【０１７０】
期間Ｔ３ａにおいて、制御信号ＰＴＸａをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ａｊの第１の転送部９０３ａは、第１の光電変換部９０２ａの電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。なお、期間Ｔ３ａを内包する期間Ｔ４ａの間に、制御信号ＰＴＳをハイレベルにすることで、転送容量ＣＴＳ２２７が垂直出力線２２２と接続され、この転送容量ＣＴＳ２２７へ光信号が転送される点は、第１実施形態と同様である。
【０１７１】
期間Ｔ３ｂにおいて、制御信号ＰＴＸｂをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ａｊの第２の転送部９０３ｂは、第２の光電変換部９０２ｂの電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送する。なお、期間Ｔ３ｂを内包する期間Ｔ４ｂの間に、制御信号ＰＴＳをハイレベルにすることで、転送容量ＣＴＳ２２７が垂直出力線２２２と接続され、この転送容量ＣＴＳ２２７へ光信号が転送される点は、第１実施形態と同様である。
【０１７２】
このように、第１の光電変換部９０２ａにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫａ＋ＨＳＲａの期間と、第２の光電変換部９０２ｂにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｂ＋ＨＳＲｂの期間とは、異なる転送部（トランジスタ）がオンする。
【０１７３】
期間Ｔ１ｃ、Ｔ１ｄにおいて、制御信号ＰＲＥＳｂをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ｂｊのリセット部９０４ｂは電荷電圧変換部９０７ｂを所定電位ＳＶＤＤにリセットする。
【０１７４】
期間Ｔ２ｃ、Ｔ２ｄにおいて、制御信号ＰＳＥＬｂをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ｂｊの選択部９０５ｂは画素ユニット９０１ｂｊを選択状態にする。
【０１７５】
このように、第１の光電変換部９０２ｃにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｃ＋ＨＳＲｃの期間と、第２の光電変換部９０２ｄにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｄ＋ＨＳＲｄの期間とは、同じ画素ユニット９０１ｂｊが選択される。
【０１７６】
期間Ｔ３ｃにおいて、制御信号ＰＴＸｃをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ｂｊの第１の転送部９０３ｃは、第１の光電変換部９０２ｃの電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。
【０１７７】
期間Ｔ３ｄにおいて、制御信号ＰＴＸｄをアクティブにする。これにより、画素ユニット９０１ｂｊの第２の転送部９０３ｄは、第２の光電変換部９０２ｄの電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送する。
【０１７８】
このように、第１の光電変換部９０２ｃにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｃ＋ＨＳＲｃの期間と、第２の光電変換部９０２ｄにより蓄積された信号を読み出すためのＨＢＬＫｄ＋ＨＳＲｄの期間とは、異なる転送部（トランジスタ）がオンする。
【０１７９】
図１３は、第２実施形態に係る撮像装置の検出モードにおける動作を示すタイミングチャートである。この検出モードは、画素ユニット配列における欠陥画素ユニットを検出するためのモードである。
【０１８０】
制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ａ´の間に、制御信号ＰＴＸａはノンアクティブなレベルに維持される。これにより、画素ユニット９０１ａｊにおいて、第１の転送部（転送ＭＯＳトランジスタ）９０３ａは、オフしたままであり、第１の光電変換部９０２ａの電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送しない。画素ユニット９０１ａｊにおいて、出力部９０６ａは、リセット部９０４ａにより電荷電圧変換部９０７ａがリセットされた状態で電荷電圧変換部９０７ａの電圧に応じたノイズ信号が垂直出力線２２２へ出力される。垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号は、アクティブな制御信号ＰＴＳを受けた転送スイッチ２２５により転送容量ＣＴＳ２２７へ転送される。
【０１８１】
期間Ｔ４ａ´が終わるタイミングで、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７がノイズ信号を保持する。
【０１８２】
ここで、制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ａ´は、撮影モードの駆動タイミングにおける制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ａと比べ、画素ユニット内で電荷を転送するための期間Ｔ３ａが不要となるため、短期間にすることができる。
【０１８３】
制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｂ´の間に、制御信号ＰＴＸｂはノンアクティブなレベルに維持される。これにより、画素ユニット９０１ａｊにおいて、第２の転送部（転送ＭＯＳトランジスタ）９０３ｂは、オフしたままであり、第２の光電変換部９０２ｂの電荷を電荷電圧変換部９０７ａへ転送しない。画素ユニット９０１ａｊにおいて、出力部９０６ａは、リセット部９０４ａにより電荷電圧変換部９０７ａがリセットされた状態で電荷電圧変換部９０７ａの電圧に応じたノイズ信号が垂直出力線２２２へ出力される。垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号は、アクティブな制御信号ＰＴＳを受けた転送スイッチ２２５により転送容量ＣＴＳ２２７へ転送される。
【０１８４】
期間Ｔ４ｂ´が終わるタイミングで、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７がノイズ信号を保持する。
【０１８５】
ここで、制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｂ´は、撮影モードの駆動タイミングにおける制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｂと比べ、画素ユニット内で電荷を転送するための期間Ｔ３ｂが不要となるため、短期間にすることができる。
【０１８６】
制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｃ´の間に、制御信号ＰＴＸｃはノンアクティブなレベルに維持される。これにより、画素ユニット９０１ｂｊにおいて、第１の転送部（転送ＭＯＳトランジスタ）９０３ｃは、オフしたままであり、第１の光電変換部９０２ｃの電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送しない。画素ユニット９０１ｂｊにおいて、出力部９０６ｂは、リセット部９０４ｂにより電荷電圧変換部９０７ｂがリセットされた状態で電荷電圧変換部９０７ｂの電圧に応じたノイズ信号が垂直出力線２２２へ出力される。垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号は、アクティブな制御信号ＰＴＳを受けた転送スイッチ２２５により転送容量ＣＴＳ２２７へ転送される。
【０１８７】
期間Ｔ４ｃ´が終わるタイミングで、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７がノイズ信号を保持する。
【０１８８】
ここで、制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｃ´は、撮影モードの駆動タイミングにおける制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｃと比べ、画素ユニット内で電荷を転送するための期間Ｔ３ｃが不要となるため、短期間にすることができる。
【０１８９】
制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｄ´の間に、制御信号ＰＴＸｄはノンアクティブなレベルに維持される。これにより、画素ユニット９０１ｂｊにおいて、第２の転送部（転送ＭＯＳトランジスタ）９０３ｄは、オフしたままであり、第２の光電変換部９０２ｄの電荷を電荷電圧変換部９０７ｂへ転送しない。画素ユニット９０１ｂｊにおいて、出力部９０６ｂは、リセット部９０４ｂにより電荷電圧変換部９０７ｂがリセットされた状態で電荷電圧変換部９０７ｂの電圧に応じたノイズ信号が垂直出力線２２２へ出力される。垂直出力線２２２へ出力されたノイズ信号は、アクティブな制御信号ＰＴＳを受けた転送スイッチ２２５により転送容量ＣＴＳ２２７へ転送される。
【０１９０】
期間Ｔ４ｄ´が終わるタイミングで、垂直走査回路１０は、転送スイッチ２２５へノンアクティブな制御信号ＰＴＳを供給する。これにより、転送スイッチ２２４がオフするので、転送容量ＣＴＳ２２７がノイズ信号を保持する。
【０１９１】
ここで、制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｄ´は、撮影モードの駆動タイミングにおける制御信号ＰＴＳをアクティブにする期間Ｔ４ｄと比べ、画素ユニット内で電荷を転送するための期間Ｔ３ｄが不要となるため、短期間にすることができる。
【０１９２】
なお、上述の駆動タイミングを用いて、点滅欠陥画素ユニット検出用の画像信号の読出しを行った際、点滅欠陥画素ユニットの欠陥要因は、主に、出力部（増幅ＭＯＳトランジスタ）９０６にあると考えられる。ＨＢＬＫａ＋ＨＳＲａの期間に生成される画像信号と、ＨＢＬＫｂ＋ＨＳＲｂの期間に生成される画像信号とは、等価な画像信号になるといえる。
【０１９３】
具体的に説明すると、第１の光電変換部９０２ａに対応する画像信号と、第２の光電変換部９０２ｂに対応する画像信号とは、いずれも出力部９０６ａが点滅欠陥画素ユニットの要因となりうるかを判断するための、同一の意味を持つ画像信号となる。同様に、第１の光電変換部９０２ｃに対応する画像信号と、第２の光電変換部９０２ｄに対応する画像信号とは、いずれも出力部９０６ｂが点滅欠陥画素ユニットの要因となりうるかを判断するための、同一の意味を持つ画像信号となる。
【０１９４】
点滅欠陥画素ユニット検出処理において、第１の光電変換部９０２ａに対応する画像信号と第２の光電変換部９０２ｂに対応する画像信号とは、撮影２回分の画素信号として処理することができる。
【０１９５】
そこで、図１４に示すように、第２実施形態の変形例に係る撮像装置の検出モードにおける動作では、ＨＢＬＫｂ＋ＨＳＲｂの期間の動作とＨＢＬＫｄ＋ＨＳＲｄの期間の動作とが省略されても良い。これにより、第１実施形態と比べ、撮影動作により取得すべき画像信号のフレーム数を半分にすることが可能となり、検出にかかる時間をさらに短縮することが可能となる。
【０１９６】
なお、撮像装置の実施形態について説明してきたが、本発明はこれに限定されることはなく、様々な形態をとることが可能である。
【０１９７】
例えば、図１５に示すように、画素ユニット１３０１は、第１実施形態の画素配列ＰＡにおける列方向に隣接した４画素に対して、電荷電圧変換部１３０７、リセット部１３０４、出力部１３０６、及び選択部１３０５が共通化されていてもよい。この場合、第１の転送部１３０３ａは、アクティブな制御信号ＰＴＸａに応じて、第１の光電変換部１３０２ａで発生した電荷を電荷電圧変換部１３０７へ転送する。第２の転送部１３０３ｂは、アクティブな制御信号ＰＴＸｂに応じて、第２の光電変換部１３０２ｂで発生した電荷を電荷電圧変換部１３０７へ転送する。第３の転送部１３０３ｃは、アクティブな制御信号ＰＴＸｃに応じて、第３の光電変換部１３０２ｃで発生した電荷を電荷電圧変換部１３０７へ転送する。第４の転送部１３０３ｄは、アクティブな制御信号ＰＴＸｄに応じて、第４の光電変換部１３０２ｄで発生した電荷を電荷電圧変換部１３０７へ転送する。
【０１９８】
このように、共通化する画素は縦１列とするなど、単純な構成にするほうが画素レイアウトの形成に関してはよいと考えられる。
【０１９９】
例えば、図１６に示すように、画素ユニット１４０１は、第１実施形態の画素配列ＰＡにおける２行ごとに列方向に隣接した４画素に対して、電荷電圧変換部１４０７、リセット部１４０４、出力部１４０６、及び選択部１４０５が共通化されていてもよい。この場合、第１の転送部１４０３ａは、アクティブな制御信号ＰＴＸａに応じて、第１の光電変換部１４０２ａで発生した電荷を電荷電圧変換部１４０７へ転送する。第２の転送部１４０３ｂは、アクティブな制御信号ＰＴＸｂに応じて、第２の光電変換部１４０２ｂで発生した電荷を電荷電圧変換部１３０７へ転送する。第３の転送部１４０３ｃは、アクティブな制御信号ＰＴＸｃに応じて、第３の光電変換部１４０２ｃで発生した電荷を電荷電圧変換部１４０７へ転送する。第４の転送部１４０３ｄは、アクティブな制御信号ＰＴＸｄに応じて、第４の光電変換部１４０２ｄで発生した電荷を電荷電圧変換部１４０７へ転送する。
【０２００】
ここで、欠陥画素の補間には、隣接する同色画素、すなわち補正対象画素から１画素おいた上下左右の画素の信号を使用することが多いため、２行ごとに水平方向に１列ずらした並びで画素を共通化する構成とすることも効果的であると考えられる。
【図面の簡単な説明】
【０２０１】
【図１】本発明の第１実施形態に係る撮像装置１００の構成を示す図。
【図２】撮像センサ１０３の構成を示す図。
【図３】各画素２０１の構成及び読み出し回路２０における１列分の構成を示す図。
【図４】本発明の第１実施形態に係る撮像装置の静止画撮影モード又は動作撮影モードにおける動作を示すタイミングチャート。
【図５】本発明の第１実施形態に係る撮像装置の検出モードにおける動作を示すタイミングチャート。
【図６】本発明の第１実施形態における欠陥画素検出処理を示すフローチャート。
【図７】本発明の第１実施形態における点滅欠陥画素検出処理を示すフローチャート。
【図８】本発明の第１実施形態における点滅欠陥画素を検出する方法を説明する図。
【図９】本発明の第１実施形態における撮影処理（静止画撮影処理、動画撮影処理）を示すフローチャート。
【図１０】本発明の第１実施形態の変形例に係る撮像装置１００ｉの構成を示す図。
【図１１】本発明の第２実施形態に係る撮像装置１００ｊにおける撮像センサ１０３ｊの構成を示す図。
【図１２】本発明の第２実施形態に係る撮像装置の撮影モード（静止画撮影モード、動画撮影モード）における動作を示すタイミングチャート。
【図１３】本発明の第２実施形態に係る撮像装置の検出モードにおける動作を示すタイミングチャート。
【図１４】本発明の第２実施形態の変形例に係る撮像装置の検出モードにおける動作を示すタイミングチャート。
【図１５】本発明の第２実施形態の変形例に係る撮像装置１００ｋにおける撮像センサ１０３ｋの構成を示す図。
【図１６】本発明の第２実施形態の変形例に係る撮像装置１００ｎにおける撮像センサ１０３ｎの構成を示す図。
【符号の説明】
【０２０２】
１００、１００ｉ、１００ｊ、１００ｋ、１００ｎ  撮像装置
【図１】
2010028488.tif 000003
【図２】
2010028488.tif 000004
【図３】
2010028488.tif 000005
【図４】
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【図５】
2010028488.tif 000007
【図６】
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【図７】
2010028488.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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