(57)【要約】【課題】ライトストラテジを効率良く短時間で最適化する。【解決手段】選択された複数のライトストラテジのパラメータとそれぞれに対する係数の積の和で与えられる合成変数の分散が大きくなるように、前記係数を定めることで、定められた係数で定義される成分軸に沿って、再生信号のジッター値が最小となるようライトストラテジを調整する調整工程（Ｓ１６２）と、ライトストラテジ調整工程により得られたライトストラテジを用いて光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程（Ｓ１７）とを有する。成分軸の生成は、例えば書き込みを行う光記録装置とは別の装置で、書き込みに用いられるのとは別の光記録媒体を用いて行われる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データのマーク長に応じたライトストラテジに従って、光記録媒体にレーザー光を照射することによりデータを記録し、記録したデータを再生する光記録装置であって、
選択された複数のライトストラテジのパラメータとそれぞれに対する係数の積の和で与えられる合成変数の分散が大きくなるように、前記係数を定めることで、定められた係数で定義される成分軸に沿って、再生信号のジッター値が最小となるよう前記ライトストラテジを調整する調整手段と、
前記ライトストラテジ調整手段による調整により得られたライトストラテジを用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有する
ことを特徴とする光記録装置。
【請求項２】
前記成分軸を表すベクトル値を記憶する成分軸記憶手段をさらに有し、
前記調整手段は、前記成分軸記憶手段に記憶されたベクトル値により表される成分軸を前記調整に用いる
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項３】
前記成分軸は、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られた各々のローカル最適点を、前記選択されたライトストラテジとして用いて生成されたものであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録装置。
【請求項４】
前記成分軸は、前記初期ライトストラテジとして、予め特定の光記録媒体について、ライトストラテジのパラメータが取り得る値の範囲の大部分をカバーするように選択された複数のライトストラテジを用いて生成されたものであることを特徴とする請求項３に記載の光記録装置。
【請求項５】
前記成分軸が、１枚または複数枚の光記録媒体を用いて生成された複数の成分軸であり、
生成された成分軸を表すベクトル値を記憶する成分軸記憶手段をさらに有し、
前記調整手段は、前記成分軸記憶手段に記憶されている前記成分軸を表すベクトル値を読み出して、読み出したベクトル値で表わされる成分軸のうちの一つまたは複数の成分軸に沿って、ライトストラテジを調整する
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項６】
前記成分軸が、前記書き込み手段における書き込みを行う光記録装置とは別の装置で生成されたものであることを特徴とする請求項５に記載の光記録装置。
【請求項７】
前記成分軸が、前記分散が大きいものから順に生成された第１乃至第ｐの成分軸（ｐはライトストラテジのパラメータの数）を含むことを特徴とする請求項５又は６に記載の光記録装置。
【請求項８】
前記成分軸を生成する成分軸生成手段をさらに有し、
前記書き込み手段による書き込み先立ち、当該書き込みの対象となる光記録媒体を用いて前記成分軸生成手段が前記成分軸の生成を行う
ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
【請求項９】
前記成分軸生成手段は、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られた各々のローカル最適点を、前記選択されたライトストラテジとして用いることを特徴とする請求項８に記載の光記録装置。
【請求項１０】
前記成分軸生成手段は、当該書き込みの対象となる光記録媒体を用いて複数の成分軸を生成し、
前記調整手段は、前記複数の成分軸のうちの一つ又は複数の成分軸に沿って前記ライトストラテジを調整することを特徴とする請求項８又は９に記載の光記録装置。
【請求項１１】
前記成分軸生成手段は、前記分散が大きいものから順に第１乃至第ｐの成分軸（ｐはライトストラテジのパラメータの数）を生成することを特徴とする請求項１０に記載の光記録装置。
【請求項１２】
光記録媒体に記憶されたライトストラテジの推奨値から、その近傍のローカル探索を行って、ライトストラテジの最適点を見つけるローカル探索手段をさらに有し、
前記調整手段は、前記ローカル探索で見つけられたライトストラテジの最適点を基準として、前記成分軸に沿う調整を行う
ことを特徴とする請求項８乃至１１のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項１３】
前記調整手段による調整により得られた、ジッター値が最小となるライトストラテジから、その近傍のローカル探索を行って、ライトストラテジの最適点を見つける再ローカル探索手段をさらに有する
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項１４】
前記成分軸に沿う調整の結果得られた最小のジッター値が所定の値よりも大きいときに、当該成分軸上の複数の点から、その近傍をローカル探索した結果得られた複数のローカル最適点に基づいて新たな成分軸を生成する成分軸補正手段をさらに有し、
前記調整手段は、当該新たな成分軸に沿ってライトストラテジを調整する
ことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項１５】
前記ライトストラテジの調整を行った前記光記録媒体について、前記調整手段により得られたライトストラテジを記憶するライトストラテジ記憶手段をさらに有し、
当該光記録媒体が後に再び挿入された場合に、前記書き込み手段は、前記ライトストラテジ記憶手段に記憶されている前記ライトストラテジを読み出して、書き込みで用いるべきライトストラテジとして利用することを特徴とする請求項１乃至１４のいずれかに記載の光記録装置。
【請求項１６】
記録データのマーク長に応じたライトストラテジに従って、光記録媒体にレーザー光を照射することによりデータを記録し、記録したデータを再生する光記録方法であって、
選択された複数のライトストラテジのパラメータとそれぞれに対する係数の積の和で与えられる合成変数の分散が大きくなるように、前記係数を定めることで、定められた係数で定義される成分軸に沿って、再生信号のジッター値が最小となるよう前記ライトストラテジを調整する調整工程と、
前記ライトストラテジ調整工程による調整により得られたライトストラテジを用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有する
ことを特徴とする光記録方法。
【請求項１７】
前記成分軸を表すベクトル値を光記録装置の成分軸記憶手段に記憶しておき、
前記調整工程は、前記成分軸記憶手段に記憶されたベクトル値により表される成分軸を前記調整に用いる
ことを特徴とする請求項１６に記載の光記録方法。
【請求項１８】
前記成分軸は、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られた各々のローカル最適点を、前記選択されたライトストラテジとして用いて生成されたものであることを特徴とする請求項１６又は１７に記載の光記録方法。
【請求項１９】
前記成分軸は、前記初期ライトストラテジとして、予め特定の光記録媒体について、ライトストラテジのパラメータが取り得る値の範囲の大部分をカバーするように選択された複数のライトストラテジを用いて生成されたものであることを特徴とする請求項１８に記載の光記録方法。
【請求項２０】
前記成分軸が、１枚または複数枚の光記録媒体を用いて生成された複数の成分軸であり、
生成された成分軸を表すベクトル値を光記録装置の成分軸記憶手段に記憶しておき、
前記調整工程は、前記光記録装置に挿入された光記録媒体に対して書き込みを行うに先立ち、前記成分軸記憶手段に記憶されている前記成分軸を表すベクトル値を読み出して、読み出したベクトル値で表わされる成分軸のうちの一つまたは複数の成分軸に沿って、ライトストラテジを調整する
ことを特徴とする請求項１６に記載の光記録方法。
【請求項２１】
前記成分軸が、前記書き込み工程における書き込みを行う光記録装置とは別の装置で生成されたものであることを特徴とする請求項２０に記載の光記録方法。
【請求項２２】
前記成分軸が、前記分散が大きいものから順に生成された第１乃至第ｐの成分軸（ｐはライトストラテジのパラメータの数）を含むことを特徴とする請求項２０又は２１に記載の光記録方法。
【請求項２３】
前記成分軸を生成する成分軸生成工程をさらに有し、
前記書き込み工程による書き込み先立ち、当該書き込みの対象となる光記録媒体を用いて前記成分軸生成工程により前記成分軸の生成を行う
ことを特徴とする請求項１６に記載の光記録方法。
【請求項２４】
前記成分軸生成工程は、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られた各々のローカル最適点を、前記選択されたライトストラテジとして用いることを特徴とする請求項２３に記載の光記録方法。
【請求項２５】
前記成分軸生成工程は、当該書き込みの対象となる光記録媒体を用いて複数の成分軸を生成し、
前記調整工程は、前記複数の成分軸のうちの一つ又は複数の成分軸に沿って前記ライトストラテジを調整することを特徴とする請求項２３又は２４に記載の光記録方法。
【請求項２６】
前記成分軸生成工程は、前記分散が大きいものから順に第１乃至第ｐの成分軸（ｐはライトストラテジのパラメータの数）を生成することを特徴とする請求項２５に記載の光記録方法。
【請求項２７】
光記録媒体に記憶されたライトストラテジの推奨値から、その近傍のローカル探索を行って、ライトストラテジの最適点を見つけるローカル探索工程をさらに有し、
前記調整工程は、前記ローカル探索で見つけられたライトストラテジの最適点を基準として、前記成分軸に沿う調整を行う
ことを特徴とする請求項２３乃至２６のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項２８】
前記調整工程による調整により得られた、ジッター値が最小となるライトストラテジから、その近傍のローカル探索を行って、ライトストラテジの最適点を見つける再ローカル探索工程をさらに有する
ことを特徴とする請求項１６乃至２７のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項２９】
前記成分軸に沿う調整の結果得られた最小のジッター値が所定の値よりも大きいときに、当該成分軸上の複数の点から、その近傍をローカル探索した結果得られた複数のローカル最適点に基づいて新たな成分軸を生成する成分軸補正工程をさらに有し、
前記調整工程は、当該新たな成分軸に沿ってライトストラテジを調整する
ことを特徴とする請求項１６乃至２７のいずれかに記載の光記録方法。
【請求項３０】
前記ライトストラテジの調整を行った前記光記録媒体について、前記調整工程により得られたライトストラテジをライトストラテジ記憶手段に記憶させ、
当該光記録媒体が後に再び挿入された場合に、前記書き込み工程は、前記ライトストラテジ記憶手段に記憶されている前記ライトストラテジを読み出して、書き込みで用いるべきライトストラテジとして利用することを特徴とする請求項１６乃至２９のいずれかに記載の光記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体、例えば光ディスクに対してデータの記録を行うための光記録装置及び方法に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジ(記録に用いられるレーザー発光波形規則)を最適化する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃなどの大容量の光ディスクに対応した光記録装置が広まりつつある。このような光ディスクに対し、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適化する必要がある。
【０００３】
ライトストラテジを最適に調整する従来の方法は、下記特許に記載されている（特許文献１〜３）。また、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ等のマルチパルス型ライトストラテジの形状は、非特許文献１に示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２１６３４７号公報（第１−９頁、第１−９図）
【特許文献２】特開２００２−２３７０４５号公報（第１−７頁、第１−４図）
【特許文献３】特開２００６−００４６０１号公報（第１−１８頁、第１−１６図）
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】シャープ技報、第９０号２００４年１２月（第１１−１５頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記特許文献１に記載の技術においては、ライトストラテジの各々パラメータに対し再生信号のジッター値の二次近似曲線を得て、二次近似曲線を基に各々のパラメータを順番に調整している。しかし、全てのライトストラテジのパラメータに対し上記二次近似曲線を求める為、調整に長時間を要するという問題がある。
【０００７】
上記特許文献２に記載の技術においては、試し書きにより形成される記録マークにおいて、最短記録マーク長と最長記録マーク長に対応する再生信号の振幅レベル値の差を基にライトストラテジのうちのパルス幅を調整している。しかし、ライトストラテジがパルス幅だけでなく位相に関する情報を含んでいる場合、上記振幅レベル値の差は、複数のライトストラテジのパラメータに影響される為、パルス幅を一意に決定することができず最適化する為に長時間を要するという問題がある。
【０００８】
上記特許文献３に記載の技術においては、記録マークのデビエーション（記録マークの理想的な長さとの差）を評価して、前記デビエーションが所定の範囲内になるようにライトストラテジを調整している。しかし、上記特許文献２と同様、デビエーションの変動が複数のライトストラテジのパラメータによって引き起こされる為、ライトストラテジを最適化する為に長時間を要するという問題がある。
【０００９】
上記非特許文献１には、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃに代表される、１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマークを記録する為のライトストラテジについて説明されている。
【００１０】
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、光ディスクに対して情報の記録を行うためのライトストラテジを、効率良く短時間で最適化できるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の光記録装置は、
記録データのマーク長に応じたライトストラテジに従って、光記録媒体にレーザー光を照射することによりデータを記録し、記録したデータを再生する光記録装置であって、
選択された複数のライトストラテジのパラメータとそれぞれに対する係数の積の和で与えられる合成変数の分散が大きくなるように、前記係数を定めることで、定められた係数で定義される成分軸に沿って、再生信号のジッター値が最小となるよう前記ライトストラテジを調整する調整手段と、
前記ライトストラテジ調整手段による調整により得られたライトストラテジを用いて前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有する
ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ライトストラテジを効率良く短時間で最適化することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】この発明の実施の形態１の光記録装置の構成例を示す概略図である。
【図２】（ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態１乃至３における光記録装置において、光ディスクへの記録時に生成するライトストラテジの例を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態１乃至３における光記録方法において、光ディスク挿入から記録までの手順の一例を示すフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態１におけるジッター値検出部において、複数の主成分軸のうち、比較的分散の大きい主成分軸１をｘ軸、比較的分散の小さい主成分軸２をｙ軸、ジッター値をｚ軸とした時の三次元ジッター値分布図である。
【図５】（ａ）は図４においてｘをそれぞれ互いに異なる値、ｘ１、ｘ２、ｘ３に固定したときの、ｙとｚの関係を示し、（ｂ）は図４においてｙをそれぞれ互いに異なる値、ｙ１、ｙ２、ｙ３に固定したときの、ｘとｚの関係を示す。
【図６】実施の形態１により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６の一例の詳細を示すフローチャートである。
【図７】実施の形態１により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６の他の例の詳細を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態１により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６のさらに他の例の詳細を示すフローチャートである。
【図９】実施の形態１により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６のさらに他の例の詳細を示すフローチャートである。
【図１０】この発明の実施の形態２の光記録装置の構成例を示す概略図である。
【図１１】実施の形態２により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６の一例の詳細を示すフローチャートである。
【図１２】実施の形態２により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６の他の例の詳細を示すフローチャートである。
【図１３】この発明の実施の形態３の光記録装置の構成例を示す概略図である。
【図１４】実施の形態３により図３の処理を行う際の、ステップＳ１６の一例の詳細を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザーをライトストラテジに従い発光させ、記録マークを形成することにより情報の記録を行っている。ここではライトストラテジとして、マルチパルス型のものについて述べる。
マークの長さやマーク相互間のスペースの長さは、該マークやスペースに対応する信号部分の、記録や再生に用いられるチャンネルクロックの周期Ｔを単位として表される。光ディスクへのデータの記録が、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃに代表される１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマーク、即ちクロック周期数ｎが２乃至９のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射する場合について説明する。
【００１５】
以下の実施の形態では、このマルチパルス型のライトストラテジを、予め定められた成分軸に沿って調整を行う。本実施の形態において、前記成分軸は、複数のライトストラテジに対し主成分分析を適用することにより得られる主成分軸を指す。
【００１６】
この主成分軸としては、ライトストラテジを調整する前の調整開始点である初期ライトストラテジを複数設定し、該複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索（例えば最急降下法による探索、学習による探索等がある）により得られる各々のローカル最適点（「選択されたライトストラテジ」と呼ぶことがある）におけるパラメータに対し主成分分析を適用することで求められるものであり、上記の複数のローカル最適点におけるパラメータと係数との積の和（線形結合）で得られる変数の分散が大きくなるように、係数が決定され、これにより主成分軸が生成される。
例えば、主成分軸はライトストラテジのパラメータの数と同数まで生成しても良く、それより少ない数だけ生成しても良い。
上記のローカル最適点としては、比較的良好な結果、即ち比較的ジッター値が小さいことが分かっている、或いは予想されるライトストラテジが用いられる。
【００１７】
例えば、ライトストラテジのパラメータの数が４であり、ローカル最適点の数が３であるとし、
第１のローカル最適点におけるライトストラテジのパラメータをｐ１１、ｐ１２、ｐ１３、ｐ１４とし、
第２のローカル最適点におけるライトストラテジのパラメータをｐ２１、ｐ２２、ｐ２３、ｐ２４とし、
第３のローカル最適点におけるライトストラテジのパラメータをｐ３１、ｐ３２、ｐ３３、ｐ３４とすると、
第１、第２、第３、第４のパラメータに対する係数をａｉ１、ａｉ２、ａｉ３、ａｉ４（但し、ａｉ１２＋ａｉ２２＋ａｉ３２＋ａｉ４２＝１とする）としたとき、下記のように、それぞれのライトストラテジについてのパラメータと係数との積の和（線形結合）、
ｕｉ１＝ａｉ１×ｐ１１＋ａｉ２×ｐ１２＋ａｉ３×ｐ１３＋ａｉ４×ｐ１４
ｕｉ２＝ａｉ１×ｐ２１＋ａｉ２×ｐ２２＋ａｉ３×ｐ２３＋ａｉ４×ｐ２４
ｕｉ３＝ａｉ１×ｐ３１＋ａｉ２×ｐ３２＋ａｉ３×ｐ３３＋ａｉ４×ｐ３４
で求められる合成変数ｕｉ１、ｕｉ２、ｕｉ３の分散が大きくなるように、係数ａｉ１、ａｉ２、ａｉ３、ａｉ４を求める。ｉは、主成分軸を互いに区別するための添え字であり、本例のように、パラメータの数が４のときは、ｉ＝１、２、３、４である。
【００１８】
より具体的には、最初に、変数ｕ１１、ｕ１２、ｕ１３の分散が最大となるように、係数ａ１１、ａ１２、ａ１３、ａｉ４を求め、係数ａ１１、ａ１２、ａ１３、ａ１４の比で定義される方向を第１の主成分軸の方向とする。
次に、第１の主成分軸に直交し、ｕ２１、ｕ２２、ｕ２３の分散が最大となるように、係数ａ２１、ａ２２、ａ２３、ａ２４を求め、係数ａ２１、ａ２２、ａ２３、ａ２４の比で定義される方向を第２の主成分軸の方向とする。
次に、第１及び第２の主成分軸に直交し、ｕ３１、ｕ３２、ｕ３３の分散が最大となるように、係数ａ３１、ａ３２、ａ３３、ａ３４を求め、係数ａ３１、ａ３２、ａ３３、ａ３４の比で定義される方向を第３の主成分軸の方向とする。
次に、第１、第２、及び第３の主成分軸に直交し、ｕ４１、ｕ４２、ｕ４３の分散が最大となるように、係数ａ４１、ａ４２、ａ４３、ａ４４を求め、係数ａ４１、ａ４２、ａ４３、ａ４４の比で定義される方向を第４の主成分軸の方向とする。
【００１９】
上記の例では、パラメータの数が４であるとしているが実際にはそれよりも多い。
パラメータの数がｐで表わされる場合、上記と同様の処理をｐ回繰り返すことで、１番目の主成分軸からｐ番目の主成分軸までを順に求めることができる。
このように主成分軸を生成する処理は、実施の形態１では、光記録装置のメーカーが光記録装置とは別の装置で、１枚又は複数枚の光記録媒体、例えば光ディスクについての書き込み及び再生ジッター値の測定を含む試験を行って、主成分軸を求め、主成分軸を表すデータ（係数を要素とするベクトル）を、光記録装置の記憶手段（例えば不揮発性のメモリ）に（例えば当該光記録装置の出荷前に書き込んでおき、光記録装置における個々の光ディスクへの書き込みに際して、記憶手段に記憶されている上記データ（ベクトル値）を読み出して、上記の主成分軸に沿うライトストラテジの調整に利用することとしても良い。
【００２０】
光記録装置とは別の装置で、例えばメーカーが主成分軸の生成を行う場合には、主成分軸の生成のための書き込み試験に光ディスクを１枚のみ用いても良い。すなわち、１枚の光ディスクを用いて生成した主成分軸を、複数の、例えばすべての光ディスクに対して使用しても良い。また種類毎に異なる主成分軸を用いることとして、各種類について１枚の光ディスクを用いて生成した主成分軸を、同じ種類の複数の、例えばすべての光ディスクに対して使用することとしても良い。例えば、１枚の追記型光ディスクを用いて生成した主成分軸を、すべての追記型光ディスクに対して使用し、同様に１枚の書換型光ディスクを用いて生成した主成分軸を、すべての書換型光ディスクに対して使用することとしても良い。
【００２１】
図１は実施の形態１の光記録装置の基本的な構成例を示す図である。図２（ａ）〜（ｅ）は光記録装置において、光ディスクへの記録時に生成するライトストラテジの例を示す図である。
【００２２】
図３は光記録方法において、光ディスク挿入から記録までの手順の一例を示すフローチャートである。図４は光記録方法において、複数の主成分軸のうち、比較的分散の大きい主成分軸１をｘ軸、比較的分散の小さい主成分軸２をｙ軸、ジッター値をｚ軸とした時の三次元ジッター値分布図である。図５（ａ）は、図４においてｘをそれぞれ互いに異なる値、ｘ１、ｘ２、ｘ３に固定したときの、ｙとｚの関係を示し、図５（ｂ）は、図４においてｙをそれぞれ互いに異なる値、ｙ１、ｙ２、ｙ３に固定したときの、ｘとｚの関係を示す。
図６は光記録方法において、ライトストラテジの調整方法の一例を示すフローチャートである。
【００２３】
以下実施の形態１では、光記録装置の出荷前に、例えばメーカーの試験用装置で求められ、そのベクトル値（ライトストラテジのパラメータに掛けられる係数を要素とするベクトル値）が光記録装置内に記憶されているものとする。
【００２４】
図１において、レーザー光源としての半導体レーザー１１０はレーザー駆動部１２０により駆動制御されている。
【００２５】
データ再生時においては、半導体レーザー１１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。光ディスク１６０からの反射光は、対物レンズ１５０を通った後にビームスプリッタ１４０により入射光と分離され、検出レンズ１７０を介して受光素子１８０で受光される。
【００２６】
上記のうち、半導体レーザー１１０、コリメートレンズ１３０、ビームスプリッタ１４０、対物レンズ１５０、検出レンズ１７０、受光素子１８０とで光学系が構成され、この光学系とレーザー駆動部１２０とで光ピックアップＰＵが構成されている。
【００２７】
受光素子１８０は光信号を電気信号に変換する。受光素子１８０において変換された電気信号は、ヘッドアンプ１９０を介してアドレス検出部２００とアシンメトリ検出部２１０とイコライザ２２０とに入力される。
アドレス検出部２００は、入力された電気信号から、光ディスク１６０のアドレス部に予め記録された、アシンメトリαの推奨値等の光ディスク固有の情報を検出する。
【００２８】
また、イコライザ２２０に入力されたヘッドアンプ１９０からの電気信号は整形され、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）信号処理部２６０で波形等化及び最尤復号を行うことで信号の誤り率を小さくし、データデコーダ２７０に入力される。データデコーダ２７０は、入力された電気信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク１６０に記録されたデータを生成（再生）する。
【００２９】
また、ジッター値検出部２８０には、イコライザ２２０により整形された信号が入力される。ジッター値検出部２８０は、データデコーダ２７０により２値化された再生信号と、図示しないＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）処理部によって生成されたクロック間の位相誤差の絶対値から求めるジッター値を検出する。
【００３０】
アシンメトリ検出部２１０は、入力された電気信号をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。このピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最短スペースのピークレベルと最短マークのボトムレベルの平均値をゼロレベルとした時に、それぞれ最長スペースのピークレベルと最長マークのボトムレベルを表している。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリαを算出する。
α＝（Ａ１＋Ａ２）／２（Ａ１−Ａ２）・・・（１）
【００３１】
次に、データ記録時について説明する。データエンコーダ２３０は、中央制御部２５０から与えられる、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザー１１０への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザー波形制御部２４０は、記録データに基づきライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２５０からライトストラテジが設定された後、データエンコーダ２３０から、クロック周期数ｎを指定する記録データ、即ち、２Ｔ乃至９Ｔのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザー波形制御部２４０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。
【００３２】
レーザー駆動部１２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザー１１０を駆動する。半導体レーザー１１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。
【００３３】
中央制御部２５０は、光記録装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、アドレス検出部２００からのアドレス情報、及びアシンメトリ検出部２１０からのアシンメトリ値、データデコーダ２７０からの再生データ、ジッター値検出部２８０からのジッター値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、レーザー駆動部１２０に制御信号を与える。
【００３４】
中央制御部２５０はまた、後に図３を参照して説明するアシンメトリ値の計算、それを基に修正された記録パワーレベルＰＷとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御を行い、ライトストラテジを調整する。
【００３５】
中央制御部２５０は、例えばＣＰＵ２５０ａと、該ＣＰＵ２５０ａの動作の為のプログラムを格納した不揮発性メモリ、例えばＲＯＭ２５０ｂと、ＣＰＵ２５０ａの動作中に外部から書き込まれるデータを一時的に記録するデータメモリ、例えばＲＡＭ２５０ｃとを備えている。ＲＯＭ２５０ｂにはまた、上記のように予め決定された主成分軸を表す係数を要素とするベクトル値、ライトストラテジの調整の際にジッター値判定として用いられる所定値等の、種々のデータが記憶されている。ＲＯＭ２５０ｂはデータの書き換えが可能なもの、例えばＥＥＰＲＯＭであるのが望ましい。上記のように、ＲＯＭ２５０ｂは主成分軸を表す係数を要素とするベクトル値を記憶するので、成分軸記憶手段として用いられているということができる。
中央制御部２５０はまた、外部から記録開始などの指示を受けるためのインターフェース２５５に接続されている。
【００３６】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００３７】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した２Ｔ〜９Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２１０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
【００３８】
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせる記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。
【００３９】
このような光記録方法を基本として、本実施の形態においては、初期ライトストラテジから、その近傍のローカル最適点を探索するローカル探索を行った後、予め定められた主成分軸に沿って最適点への探索を行う。このとき、複数の主成分軸が設定されている場合には、そのうちの１本を用いて調整を行っても良く、複数本を用いて調整を行っても良い。複数本を用いる場合には、例えば最も分散の大きい主成分軸から順に沿う調整を行うのが望ましい。但し、分散の大きさの順以外の順序で調整を行っても良い。
【００４０】
図２（ａ）〜（ｅ）は、光記録装置１００において、レーザー波形制御部２４０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図２（ａ）に、記録のために用いられる周期Ｔを有するチャネルクロック（記録用チャネルクロック）を示す。図２（ｂ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図２（ｃ）に、図２（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジ信号、即ち発光パルスパターンの例を示す。発光パルスパターンは、３値のパワーレベル、すなわち記録パワーレベルＰＷ、消去パワーレベルＰＥ、バイアスパワーレベルＰＢＷを持ち、パルス状に変調された記録パルス波形である。
【００４１】
先頭パルスＦの幅をＴｔｏｐ、図２（ｂ）に示す記録データのマーク部ＭＡの立ち上がり位置から１Ｔ右へシフトしたところを基点とした時の先頭パルス始端位置のシフト量をｄＴｔｏｐ、中間パルスＭの幅をＴＭＰ、図２（ｂ）に示す記録データのマーク部ＭＡの立ち下がり位置を基点とした時の消去パルス始端位置のシフト量をｄＴＥとしている。
なお、以下では、中間パルスＭのうち、最終のパルスＬの幅をＴＬＰと呼び、最終パルスＬ以外のパルス、すなわち先頭パルスＦと最終パルスＬの間に位置するパルスを、改めて中間パルスＭと呼ぶことにする。但し、周期数ｎが３、すなわち記録マーク長が３Ｔの場合、先頭パルスＦと最終パルスＬの２つのパルスのみを有する。中間パルスＭは、周期数ｎが４以上、すなわち記録マーク長が４Ｔ以上の場合に存在し、ｎが４以上の時、中間パルスＭの数はｎ−３となる。
【００４２】
ここで、パルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＭＰ、ＴＬＰ）やパルス幅の位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）に関するパラメータは、記録マーク長に応じて各々個別に修正しなければならないが、周期数ｎが５以上、すなわち記録マーク長が５Ｔ以上の場合は、周期数ｎが４、すなわち記録マーク長が４Ｔの場合の各々のパラメータと同一としても良い。この場合、修正すべきライトストラテジのパラメータは、周期数ｎが２、すなわち記録マーク長が２Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ）及びパルス幅の位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）、周期数ｎが３、すなわち記録マーク長が３Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＬＰ）及びパルス幅の位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）、周期数ｎが４、すなわち記録マーク長が４Ｔの場合のパルス幅（Ｔｔｏｐ、ＴＭＰ、ＴＬＰ）及びパルス幅の位置（ｄＴｔｏｐ、ｄＴＥ）の計１２種類となる。
【００４３】
図２（ｄ）に、図２（ｃ）のライトストラテジで記録を行うことにより形成される光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。図２（ｄ）の横軸は、光ディスクのトラックに沿う長さ（位置）であるが、便宜上図２（ｃ）の発光パルスパターンに対応させて示してある。
【００４４】
図２（ｅ）に、図２（ｄ）のマークＭＫ及びスペースＳＰを読み出すことにより得られる再生信号を示す。この再生信号はマークＭＫに対応する部分ＭＢとスペースＳＰに対応する部分ＳＢとを有する。
【００４５】
最短マークは、周期数ｎ＝２、即ち２Ｔに対応する長さを有し、最長マークは周期数ｎ＝９、即ち９Ｔに対応する長さを有する。
図２（ｂ）及び図２（ｃ）は、最短マーク、即ち２Ｔのマークを記録し、次に２番目に短いマーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に３番目に短いマーク、即ち４Ｔのマークを記録する場合を示している。
【００４６】
以下、図３を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク１６０が光記録装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２５０に伝えられ、中央制御部２５０は、光ピックアップＰＵを駆動して光ディスク１６０から、予めディスクメーメーカにより記録されたライトストラテジの推奨値や、アシンメトリαの推奨値等のディスクの固有情報を読み出す（ステップＳ１１）。
【００４７】
次にステップＳ１２において、読み取られたライトストラテジの推奨値を、ライトストラテジを調整する前の調整開始点である初期ライトストラテジとして、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、初期ライトストラテジとしては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録装置１００に予め設定された（例えばＲＯＭ２５０ｂ内に記憶されている）特定のライトストラテジを用いるようにしても良い。あるいは、初期ライトストラテジとして、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録装置１００に予め設定された（例えばＲＯＭ２５０ｂ内に記憶されている）関係式により決まるライトストラテジを用いるようにしても良い。あるいは光ディスク１６０の種類に依らず固定値を用いても良い。
【００４８】
次にステップＳ１３において、読み取られたアシンメトリαの推奨値を、記録パワーの最適化に使用する為の目標値として、中央制御部２５０内に（例えばＲＡＭ２５０ｃ内に）設定する。なお、アシンメトリαの目標値としては、光ディスク１６０から読み取った値ではなく、光記録装置１００に予め設定された（例えばＲＯＭ２５０ｂ内に記憶されている）特定の値を用いても良い。あるいは、アシンメトリαの目標値として、光ディスク１６０から読み取った値と、光記録装置１００に予め設定された（例えばＲＯＭ２５０ｂ内に記憶されている）関係式により決まる値を用いるようにしても良い。あるいは光ディスク１６０の種類に依らず固定値を用いても良い。
【００４９】
然る後、使用者により図示しない手段例えばリモコンによりインターフェース２５５を介して記録の指示が与えられると（Ｓ１４）、ステップＳ１５において、上記のようにして設定された初期ライトストラテジ及びアシンメトリ目標値を用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１２において中央制御部２５０内に設定されたライトストラテジ（各ｎＴに対するライトストラテジ）をレーザー波形制御部２４０に設定することにより、レーザー波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ピックアップを用いて光ディスク１６０への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を光ピックアップで再生し、アシンメトリ検出部２１０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ１３において設定されたアシンメトリ目標値とを中央制御部２５０で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００５０】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ１６で、ライトストラテジの調整を行う。ステップＳ１６については、後に図６乃至図９を参照して説明する。なお、ステップＳ１６では、ライトストラテジの調整と共に、再度パワー調整を行っても良い。
【００５１】
最後にステップＳ１７において、ステップＳ１６で調整されたライトストラテジをレーザー波形制御部２４０に設定することにより、レーザー波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への本来の書き込み（本書き込み）を行う。なお、ステップＳ１６において、記録パワーの再調整が行われた場合は、前記記録パワーは、ステップＳ１５で決定された値ではなく、ステップＳ１６で決定された値を用いても良い。
【００５２】
上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２５０とにより行われる。ステップＳ１１の処理は、光ピックアップＰＵ、ヘッドアンプ１９０、アドレス検出部２００、イコライザ２２０、ＰＲＭＬ信号処理部２６０、データデコーダ２７０、及び中央制御部２５０により行われる。ステップＳ１２及びＳ１３の処理は、中央制御部２５０により行われる。ステップＳ１４の処理は、インターフェース２５５と、中央制御部２５０とにより行われる。ステップＳ１５及びＳ１６の処理は、ヘッドアンプ１９０、アシンメトリ検出部２１０、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。ステップＳ１７の処理は、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。
【００５３】
図３のステップＳ１６においては、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られる各々のローカル最適点を分析対象として主成分分析を施すことにより得られた複数の主成分軸のうち、１又は２以上のものに沿ってライトストラテジを調整してジッター値が最小となるライトストラテジを求める。
【００５４】
例えば、ライトストラテジのパラメータの数ｐと同数の主成分軸を求めることができるが、それより少ない数ｑの主成分軸を求めることとしてもよい。また、求められた主成分軸のすべてを用いて、各主成分軸に沿うライトストラテジの調整を行っても良く、求められた主成分軸のうちの一部（１つまたは２本以上）の主成分軸を用いて、各主成分軸に沿うライトストラテジの調整を行っても良い。
【００５５】
図６及び図７は、求められた複数の主成分軸のうちの２本の主成分軸を用いて場合を示す。２本の主成分軸のうち、分散の比較的大きいものを主成分軸１とし、分散の比較的小さいものを主成分軸２とした場合の、ステップＳ１６の処理の異なる例を示す。
【００５６】
図４は、上記の主成分軸１をｘ軸、主成分軸２をｙ軸、ジッター値をｚ軸とした時の三次元ジッター値分布図である。図５（ａ）は、図４において、ｘをそれぞれ互いに異なる値、ｘ１、ｘ２、ｘ３に固定したときの、ｙとｚの関係を示し、図５（ｂ）は、図４において、ｙをそれぞれ互いに異なる値、ｙ１、ｙ２、ｙ３に固定したときの、ｘとｚの関係を示す。ジッター値は、主成分軸１（ｘ軸）に対しては変化が比較的少なく、主成分軸２（ｙ軸）に対しては、変化が比較的大きく、破線領域ＪＧＡで小さくなるような分布となる。
【００５７】
そこで、図６及び図７に示す例では、図３のステップＳ１２で設定された初期ライトストラテジ（ＩＰ）から、その近傍の最適点を探索するローカル探索ＬＳを行ってローカル最適点ＬＯＰを見つけ（図４及び図５（ｂ）において、符号ＬＳは、ローカル探索の軌跡を概念的に示す）、該ローカル最適点（ＬＯＰ）を基準にして（例えば起点として）主成分軸２に沿った（主成分軸２に平行な方向に）調整ＰＳを行い、ジッター値が最小となる点（ＯＰ）を見つける。
【００５８】
以下、図６を参照して処理の手順を詳しく説明する。
ライトストラテジの調整が開始される（ステップＳ１６０）と、ステップＳ１６１において図３のステップＳ１２で設定された初期ライトストラテジＩＰからローカル探索を行い、ローカル最適点ＬＯＰを見つける。このローカル探索においては、初期ライトストラテジを出発点として、ライトストラテジのパラメータを変更しながら、試し書きを行い、再生ジッター値が最小となる点を見つけ出す。この探索としては例えば最急降下法による探索、学習による探索を用いることができる。
次にステップＳ１６２において、ステップＳ１６１において得られるローカル最適点を基準に主成分軸２に沿った調整を行い、ジッター値が最小となる点を見つける。
【００５９】
次にステップＳ１６３において、中央制御部２５０により、上記最小のジッター値が所定の値より大きいかどうかを判定する。もしジッター値が所定の値より大きい場合は、ステップＳ１６４において上記ジッター値が最小となる点を基準に主成分軸１（主成分軸２よりも分散の大きい主成分軸）に沿う調整を行い、そうでなければステップＳ１６５において、ライトストラテジの調整を終了する。なお、上記所定の値は、任意に設定可能である。
【００６０】
ここで、図３のステップＳ１２で設定される初期ライトストラテジの値をある範囲に限定し、光記録装置１００に予め設定しても良い。
【００６１】
上記のうち、ステップＳ１６１〜Ｓ１６４の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、ジッター値検出部２８０、中央制御部２５０、データエンコーダ２４０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。ステップＳ１６５の処理は、中央制御部２５０により行われる。
【００６２】
図４及び図６に示す処理において、主成分軸２に沿った調整を行なうことにより、書込みに用いるべきライトストラテジを速やかに求めることができる。これは、図２（ｃ）に示すライトストラテジのパラメータの全ての組み合わせについて記録再生を行う必要がなくなるためである。ライトストラテジのパラメータの全ての組み合わせについて記録再生を行った場合、各々のパラメータの変更可能ステップを２０ステップとした場合に１２個のパラメータの最適値を得るのに２０１２回の記録再生を行う必要があるが、これに対し、主成分軸２に沿った調整では数十回程度の記録再生で済むので、ライトストラテジの調整効率を大幅に向上する効果が得られる。
【００６３】
上記の図６の処理の代わりに図７に示す処理を行なっても良い。図７の処理は、図６の処理と概して同じであるが、図６のステップＳ１６４の代わりに、ステップＳ１６６を行なう。ステップＳ１６６では、ジッター値最小点（ＯＰ）から再度ローカル探索を行なう。上記ステップＳ１６６の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、ジッター値検出部２８０、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われる。
図７の処理を行なう場合にも図６の処理を行なう場合と同様の効果が得られる。
【００６４】
次に、パラメータの数ｐと同数の主成分軸が生成されており、生成されている主成分軸のすべてについて調整を行う場合について図８及び図９を参照して説明する。これらの図において、図６及び図７と同じ符号は同一又は同様の処理を示す。
【００６５】
図８に示す例においては、ステップＳ１６７で、ｊをｐに初期化する。
次に、ステップＳ１６１でローカル探索を行ない、及びステップＳ１６２で主成分軸ｐに沿う調整を行なう。
ステップＳ１６３でｊがｐに初期化されているので、ステップＳ１６７の後に最初にステップＳ１６２の処理を行う際は、主成分軸ｐに沿う調整を行なうことになる。
即ち、ステップＳ１６７の後に最初に行われるステップＳ１６２においては、主成分軸１〜ｐ（ｐ：ライトストラテジのパラメータ数）のうち、最も分散の小さい主成分軸ｐに沿う調整を行なうことになる。
【００６６】
ステップＳ１６２の次にステップＳ１６３でジッター値が所定の値よりも大きいかどうかの判定を行い、大きくなければ、ステップＳ１６５に進み、ライトストラテジの調整を終了する。
ステップＳ１６３でジッター値が所定の値よりも大きければ、次にステップＳ１６８に進み、ｊを１減らし、次にステップＳ１６９でｊが０であるかどうかの判定を行う。
【００６７】
ｊが０であればステップＳ１６５に進み、ライトストラテジの調整を終了する。
ｊが０でなければ、ステップＳ１６２に戻り、主成分軸ｊに沿う調整を行なう。
ステップＳ１６８でｊを１だけ減らすので、前回ステップＳ１６２の処理を行ったときに比べ、分散の大きさの順位が１だけ上の主成分軸に沿う調整を行なうことになる。
【００６８】
上記のうち、ステップＳ１６７、Ｓ１６８及びＳ１６９の処理は、中央制御部２５０により行われる。
【００６９】
以上のように、図８に示す処理においては、初期ライトストラテジからローカル探索を行った後、主成分軸ｐに沿った調整、主成分軸ｐ−１に沿った調整、・・・、主成分軸２に沿った調整、主成分軸１に沿った調整が順番に行われる。
【００７０】
上記の図８の処理の代わりに図９に示す処理を行なっても良い。図９の処理は、図８の処理と概して同じであるが、図６のステップＳ１６９の代わりに、ステップＳ１７０及びＳ１６６を行なう。
ステップＳ１７０では、ｊが１かどうかの判定を行う。
ｊが１でない場合はステップＳ１６２に戻る。ｊが１の場合はステップＳ１６６に進む。ステップＳ１６６は、図７のステップＳ１６６と同じである。
【００７１】
このようにして、図９の処理では、図８における、最も分散の大きい主成分軸１に沿ってライトストラテジを調整する処理（図８において、ｊ＝１のときに行われるステップＳ１６２の処理）代わりに、２番目に分散の大きい主成分軸２に沿ってライトストラテジを調整した後に、ステップＳ１７０でｊ＝１となり、次にステップＳ１６６に進んで、ジッター値最小点から再度ローカル探索を行う。
【００７２】
すなわち、ステップＳ１６２において２番目に分散の大きい主成分軸２に沿ってライトストラテジを調整した後は、ステップＳ１６８においてｊが１となる為、最も分散の大きい主成分軸１に沿った調整は行われず、ステップＳ１６６においてライトストラテジのローカル探索（再ローカル探索）を行う。
上記ステップＳ１７０の処理は、中央制御部２５０により行われる。
【００７３】
図８及び図９に示す例においては、主成分軸１〜ｐのうち、すべて、又は最も分散の大きい主成分軸の除くすべての主成分軸に沿ってライトストラテジを調整することとしているので、ライトストラテジの調整を最適に行うことができる。
【００７４】
図２（ｃ）に示すライトストラテジは、各々のパラメータが他のパラメータの影響を受ける為、パラメータを一つずつ独立に調整することができないが、図６乃至図９を参照して説明したように、主成分軸を用いた場合、各々の主成分軸上で最適点を見つけた場合に該最適点が他の主成分軸上でのライトストラテジの調整の際にも保持される。すなわち各々の主成分軸が他の主成分軸の影響を受けない為、各々の主成分軸を順番に用いて調整を行うことができる。
【００７５】
なお、図６、図７、図８及び図９のステップＳ１６１のローカル探索を行なわず、ステップＳ１２で設定された初期ライトストラテジを起点（分析対象として選択されたライトストラテジ）として、主成分軸に沿う調整を行なうこととしても良い。ステップＳ１６０のライトストラテジ調整開始からステップＳ１６５のライトストラテジ調整終了にかけてライトストラテジのパラメータを変更する回数を少なくしたい場合は、むしろステップＳ１６１のローカル探索を行わない方が望ましい。
また、図６、図８及び図９の例では、主成分軸を分散の小さい順に選択して、選択された主成分軸調整を行なっているが、選択の順序はこれに限定されない。
【００７６】
実施の形態２．
上記の実施の形態１では、主成分軸の生成は、図３のステップＳ１７における書き込みを行う光記録装置とは別の装置において、予め特定の光ディスクについて行われており、生成された主成分軸を表すデータ（ベクトル値）が光記録装置の記憶手段、例えばＲＯＭ２５０ｂに記憶されており、光記録装置に光ディスクが挿入されたときに、記憶手段に記憶されているデータ（ベクトル値）を読み出して主成分軸に沿う調整を行っているが、このようにした場合には、挿入された光ディスクについては、上記主成分軸が最適でない可能性がある。
【００７７】
そこで、実施の形態２では、上記のようにする代わりに光記録装置において、挿入された個々の光ディスクに対して主成分軸に沿う調整を行なうに先立ち主成分軸の生成を行うこととしている。
【００７８】
図１０は実施の形態２の光記録装置の構成例を示す図である。
図１０で図１と同一の符号は、同一または同様の部材を示す。
図１０の光記録装置は、図１の光記録装置と概して同じであるが、主成分軸生成部２９０が付加されている。主成分軸生成部２９０は、中央制御部２５０で行われるローカル探索結果を基に主成分軸を決定する。決定された主成分軸のベクトル値はＲＯＭ２５０ｂに格納される。
【００７９】
実施の形態２において、図１０の光記録装置を用いて行なわれる光記録方法、即ち光ディスク挿入からデータ記録までの手順は、実施の形態１に関して図３を参照して説明したのと同様である。但し、図３のステップＳ１６における処理の内容が異なる。
図１１は、実施の形態２において行なわれる図３のステップＳ１６の一例を示す。
【００８０】
図１１のステップＳ１６０、Ｓ１６２〜Ｓ１６５は、図６に示すものと同様である。
図１１において、ステップＳ１７１では、複数回ローカル探索を行う。これは、実施の形態１において主成分軸を決定する際に複数の初期ライトストラテジからのローカル探索を行う方法と同じである。主成分軸を求める為には少なくとも２回のローカル探索（互いに異なる初期ライトストラテジを起点とする）を行う必要がある。また、ステップＳ１７１におけるローカル探索の初期ライトストラテジは、ライトストラテジのパラメータ範囲をある程度網羅する（パラメータが取り得る値の範囲の大部分をカバーする）ものを選定するのが望ましい。
【００８１】
次にステップＳ１７２において、ステップＳ１７１により得られた複数のローカル最適点に対し主成分分析を適用し、複数の主成分軸を決定する。このとき、パラメータの数と同数の主成分軸を生成しても良く、パラメータの数よりも少ない数の主成分軸を生成しても良い。
【００８２】
次にステップＳ１６２において、生成された主成分軸のうちの、主成分軸２に沿うライトストラテジの調整を行ない、ジッター値が最小となる点を見つける。
次に、ステップＳ１６３において、上記最小のジッター値が所定の値より大きいかどうかを判定する。もしジッター値が所定の値より大きい場合は、ステップＳ１６４において上記ジッター値が最小となる点を基準に主成分軸１（主成分軸２よりも分散の大きい主成分軸）に沿う調整を行い、そうでなければステップＳ１６５において、ライトストラテジの調整を終了する。
【００８３】
以上のように、図１１の処理では、生成した複数の主成分軸のうちの２本を選び、そのうちの分散のより小さい方を主成分軸２とし、分散のより大きい方を主成分軸１として、分散のより小さい方を先に選択して、調整を行なっている。なお、実施の形態１について述べたように、３以上の主成分軸を選択して、順に調整を行なうようにしても良い。また、選択の順序は分散の小さい順に限定されない。
【００８４】
上記のうち、ステップＳ１７１の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、ジッター値検出部２８０、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１７２の処理は、主成分軸生成部２９０により行われる。
【００８５】
上記の図１１の処理の代わりに図１２に示す処理を行なっても良い。図１２の処理は、図１１の処理と概して同じであるが、図１１のステップＳ１６４の代わりに、ステップＳ１６６を行なう。ステップＳ１６６では、図７について述べたのと同様に、ジッター値最小点（ＯＰ）から再度ローカル探索を行なう。
【００８６】
以上のように本実施の形態２においては、ライトストラテジの探索過程において主成分軸を求めることにより、挿入された（書込みの対象となる）光ディスクに対して最適な主成分軸が得られ、ライトストラテジの調整を最適に行うことができる。
【００８７】
実施の形態３．
上記の実施の形態２では、書込みのために光ディスクが挿入された記録装置において、主成分軸を求めることにより、挿入された（書込みの対象となる）光ディスクについて最適な主成分軸を求めているが、このようにする代わりに、実施の形態３では、ＲＯＭ２５０ｂに予め格納されている主成分軸を、ライトストラテジの調整工程において補正することで新たな主成分軸を求めることとしている。
【００８８】
図１３は実施の形態３の光記録装置の基本的な構成例を示す図である。
図１３で図１と同一の符号は、同一または同様の部材を示す。
図１３の光記録装置は、図１の光記録装置と概して同じであるが、主成分軸補正部３００が付加されている。主成分軸補正部３００は、ある主成分軸に沿う調整の結果得られた最小のジッター値が所定の値より大きい場合に、当該主成分軸からローカル探索を行なって、ローカル最適点を見つけ、これらのローカル最適点を結ぶ直線を補正された主成分軸として求める。
【００８９】
実施の形態３において、図１０の光記録装置を用いて行なわれる光記録方法、即ち光ディスク挿入からデータ記録までの手順は、実施の形態１に関して図３を参照して説明したのと同様である。但し、図３のステップＳ１６における処理の内容が異なる。
図１４は、実施の形態３において行なわれる図３のステップＳ１６の一例を示す。
【００９０】
図１４のステップＳ１６０〜Ｓ１６３、Ｓ１６５は、図６に示すものと同様である。
図１４において、ステップＳ１６３でジッター値が所定の値より大きい場合は、ステップＳ１７３〜Ｓ１７５の処理を行う。
【００９１】
ステップＳ１７３において、主成分軸２上の２以上の点の各々から、その近傍の最適点を探索するローカル探索を行う。ステップＳ１７３のローカル探索を行う際の起点は、主成分軸２上の点でステップＳ１６１のローカル探索により得られるローカル最適点以外の点のうち、ある程度ジッター値が小さい点(ジッター値が所定値よりも小さい点、又はジッター値が比較的小さい点)が望ましい。これは、ローカル探索を行う際の起点におけるジッター値が大きい場合、ローカル探索を行ってもジッター値が高止まりする可能性があり、その結果後述するステップＳ１７４において正確に主成分軸を補正することができなくなるからである。
【００９２】
ステップＳ１７３の次にステップＳ１７４において、主成分軸の補正を行う。ステップＳ１６１及びＳ１７３のローカル探索により得られる複数のローカル最適点を結ぶ直線を新たな主成分軸とする。
【００９３】
次にステップＳ１７５において、ステップＳ１７４において補正した主成分軸（新たに生成した主成分軸）に沿った探索を行う。これによりジッター値が最小となる点を見つける。ここで該ジッター値が最小となる点から再度ローカル探索を行っても良い。
【００９４】
上記のうち、ステップＳ１７３及びＳ１７５の処理は、ヘッドアンプ１９０、イコライザ２２０、ジッター値検出部２８０、中央制御部２５０、データエンコーダ２３０、レーザー波形制御部２４０、及び光ピックアップＰＵにより行われ、ステップＳ１７４の処理は、主成分軸補正部３００により行われる。
【００９５】
以上のように本実施の形態３においては、ＲＯＭ２５０ｂに予め格納されている主成分軸を、ライトストラテジの調整工程において補正することで、挿入された（書込み対象となっている）光ディスクに対して最適な主成分軸が得られ、ライトストラテジの調整を最適に行うことができる。
【００９６】
なお、各光記録装置において、ある光ディスクが挿入されて、その光ディスクについて、実施の形態１乃至３のいずれかによりライトストラテジの調整を行ったときに、調整後のライトストラテジを、当該光ディスクの識別データとともに、記憶手段、例えばＲＡＭ２５０ｃ又はＲＯＭ２５０ｂに記憶させておき、次に同じ光ディスクが挿入されたときに、記憶されているライトストラテジを読み出して書き込みに用いても良い。こうすることで、同じ光ディスクが挿入された場合にライトストラテジの調整を省くことができる。挿入された光ディスクがライトストラテジの調整済みの光ディスクと同じものであるかどうかは識別データを参照することにより判断することができる。このような処理のための制御は、例えば中央制御部２５０のＣＰＵ２５０ａにより行うこととすれば良い。
なお、このように、ＲＡＭ２５０ｃ又はＲＯＭ２５０ｂは、調整後のライトストラテジを記憶するので、ライトストラテジ記憶手段として用いられていると言うことができる。
【００９７】
また、実施の形態１乃至３においては、複数の初期ライトストラテジから、その近傍の最適点を探索するローカル探索により得られるローカル最適点に対し主成分分析を適用することにより決定された主成分軸を成分軸としているが、該成分軸を決定する手法は主成分分析以外であっても良い。例えば独立成分分析法等であっても良い。
【００９８】
また、ライトストラテジをマルチパルス型として説明したが、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃへ４倍速以上の速度で記録を行う際に適用されるキャッスル型のライトストラテジ等、マルチパルス型以外のライトストラテジに対しても適用できる。
【００９９】
更に、光ディスクへの情報の記録が、１−７変調の２Ｔ〜９Ｔのマークを記録する場合について説明したが、ＤＶＤ等で利用されているＥＦＭ＋（８−１６）変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔのマークを記録する様な他の場合についても、実施の形態１乃至３と同様のライトストラテジの調整方法が適用できる。
【符号の説明】
【０１００】
１００  光情報処理装置、  １１０  半導体レーザー、  １２０  レーザー駆動部、  １３０  コリメートレンズ、  １４０  ビームスプリッタ、  １５０  対物レンズ、  １６０  光ディスク、  １７０  検出レンズ、  １８０  受光素子、  １９０  ヘッドアンプ、  ２００  アドレス検出部、  ２１０  アシンメトリ検出部、  ２２０  イコライザ、  ２３０  データエンコーダ、  ２４０  レーザー波形制御部、  ２５０  中央制御部、  ２６０  ＰＲＭＬ信号処理部、  ２７０  データデコーダ、  ２８０  ジッター値検出部、  ２９０  主成分軸生成部、  ３００  主成分軸補正部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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