(57)【要約】【課題】ある試験測定機器が検出したイベントにより、他の試験測定機器の取り込みをトリガする際に、正確な同期をとれるようにする。【解決手段】ハブ１８は、複数の試験測定機器１２〜１５の各々に結合されている。各試験測定機器は、ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガする。この際、各試験測定機器は、機器イベントを発生し、ハブは、これら機器イベントを組合せてハブ・イベントを発生する。各試験測定機器は、ハブから入力部までのコミュニケーションの時間遅延にほぼ類似の出力部からハブまでのコミュニケーションの時間遅延がある。構成モードでは、ハブが試験測定機器から受けたイベントを試験測定機器に戻し、試験測定機器がハブから戻るイベントの時間を測定する。【選択図】図１
2010112947.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験測定機器であって、
イベントを受ける入力部と、
該入力部に結合され、上記イベントに応答してデータの取り込みをトリガし、上記試験測定機器及び少なくとも１個の他の試験測定機器に関連したオフセット時間に応答して上記取り込んだデータをオフセットする制御器と
を具えた試験測定機器。
【請求項２】
複数の試験測定機器と、
該複数の試験測定機器の各々に結合したハブとを具え、
上記複数の試験測定機器の各々は、上記ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガし、
上記複数の試験測定機器の各々は、機器イベントを発生し、
上記ハブは、上記機器イベントを組合せて上記ハブ・イベントを発生するロジック回路を含み、
上記複数の試験測定機器の各々は、上記ハブに結合された入力部及び出力部を含み、
上記複数の試験測定機器の各々には、上記ハブから上記入力部までのコミュニケーションの時間遅延にほぼ類似の上記出力部から上記ハブまでのコミュニケーションの時間遅延があり、
上記試験測定機器は、上記ハブを構成モードにし、
該構成モードでは、上記ハブが上記試験測定機器から受けたイベントを上記試験測定機器に戻し、
上記試験測定機器は、上記イベントが上記ハブから戻される時間を測定する
ことを特徴とする測定システム。
【請求項３】
ハブから試験測定機器までの往復時間を測定し、
上記試験測定機器にて上記ハブからのイベントを受け、
上記イベントに応答してデータを取り込み、
上記往復時間に応答して上記データを表すタイムベースを調整する
ことを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、多数の試験測定機器のトリガに関し、特に、多数の試験測定機器に対してイベントの時間同期を行う方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
１つの試験測定機器でのイベント（事象）を用いて、他の試験測定機器での取り込みをトリガできる。例えば、第１試験測定機器がトリガ出力を発生する。取り込みの原因となる状態を第１試験測定機器が検出したことを示す信号をトリガ出力部から出力する。
【０００３】
第１試験測定機器のトリガ出力部に他の試験測定機器を結合できる。これら試験測定機器は、第１試験測定機器からの外部トリガ信号に応答して、取り込みをトリガできる。よって、ある試験測定機器が検出したイベントにより、他の多数の試験測定機器の取り込みをトリガできる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２５４９９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ある試験測定機器が検出したイベントにより、他の試験測定機器の取り込みをトリガする際に、正確な同期を考慮する必要がある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の実施例は、複数の試験測定機器と、これら試験測定機器の各々に結合されたハブとを有する測定システムを含む。試験測定機器の各々は、ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガするように構成されている。
【０００７】
本発明の他の実施例は、イベントを受ける入力部と、この入力部に結合され、上述のイベントと試験測定機器及び少なくとも１個の他の試験測定機器とに関連する時間に応答して取り込みをトリガする制御器とを含む。
【０００８】
本発明の別の実施例は、ハブから試験測定機器までの往復時間を測定し、試験測定機器にてハブからのイベントを受け、このイベントに応答してデータを取り込み、往復時間に応答してデータを表すタイムベースを調整する。
【０００９】
本発明は、次の概念を含む。
（１）試験測定機器であって；イベントを受ける入力部と；該入力部に結合され、上記イベントに応答してデータの取り込みをトリガし、上記試験測定機器及び少なくとも１個の他の試験測定機器に関連したオフセット時間に応答して上記取り込んだデータをオフセットする制御器とを具えた試験測定機器。
（２）上記イベントを第１イベントとし；上記試験測定機器が第２イベントを出力するイベント・デコーダを更に具え；上記制御器は、上記第１イベント及び上記第２イベントの間の往復時間を測定し、上記往復時間に応答して上記オフセット時間を設定する概念１の試験測定機器。
（３）コミュニケーション・インタフェースを更に具え；上記制御器は、上記コミュニケーション・インタフェースを介して少なくとも１個の他の試験測定機器の各々からの往復時間に関連したすくなくとも１つの校正時間を受け、上記試験測定機器及び上記少なくとも１個の他の試験測定機器の校正時間に応答して上記オフセット時間を求める概念２の試験測定機器。
（４）上記イベント・デコーダを第１イベント・デコーダとし；上記試験測定機器は、上記第１イベントを受ける第２イベント・デコーダと；上記第１イベント・デコーダ及び上記第２イベント・デコーダに結合され、上記第１イベント及び上記第２イベントの間の時間を上記往復時間として測定する時間測定装置とを更に具える概念２の試験測定機器。
（５）上記第２イベントを遅延させる調整可能な遅延手段と；上記遅延させた第２イベントを出力する出力部とを更に具えた概念２の試験測定機器。
（６）コミュニケーション・インタフェースを更に具え；上記制御器は、上記少なくとも１個の他の試験測定機器の各々から上記コミュニケーション・インタフェースを介しての上記往復時間に関連した少なくとも１つの校正時間を受け；上記制御器は、上記試験測定機器の上記往復時間の半分と上記試験測定機器及び上記少なくとも１個の他の試験測定機器の往復時間の最大値の半分との間の差に上記調整可能な遅延回路の遅延を設定する概念５の試験測定機器。
（７）上記制御器は、上記試験測定機器の上記往復時間の半分と上記試験測定機器及び上記少なくとも１個の他の試験測定機器の上記往復時間の半分との和だけ、上記取り込んだデータのタイムベースをオフセットする概念２の試験測定機器。
（８）複数の試験測定機器と；該複数の試験測定機器の各々に結合したハブとを具え；上記複数の試験測定機器の各々は、上記ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガし；上記複数の試験測定機器の各々は、機器イベントを発生し；上記ハブは、上記機器イベントを組合せて上記ハブ・イベントを発生するロジック回路を含み；上記複数の試験測定機器の各々は、上記ハブに結合された入力部及び出力部を含み；上記複数の試験測定機器の各々には、上記ハブから上記入力部までのコミュニケーションの時間遅延にほぼ類似の上記出力部から上記ハブまでのコミュニケーションの時間遅延があり；上記試験測定機器は、上記ハブを構成モードにし；該構成モードでは、上記ハブが上記試験測定機器から受けたイベントを上記試験測定機器に戻し；上記試験測定機器は、上記イベントが上記ハブから戻される時間を測定することを特徴とする測定システム。
（９）各試験測定機器に対して、上記ハブから上記イベントが戻るのにかかる時間を上記試験測定機器が測定した後、上記測定試験機器が上記ハブの制御を他の試験測定機器に渡す概念８の測定システム。
（１０）少なくとも１個の上記試験測定機器は、上記ハブから上記イベントが戻るのにかかる上記時間の最長時間を求め；上記試験測定機器の各々が上記最長時間に応答して上記取り込みをトリガする概念９の測定システム。
（１１）ハブから試験測定機器までの往復時間を測定し；上記試験測定機器にて上記ハブからのイベントを受け；上記イベントに応答してデータを取り込み；上記往復時間に応答して上記データを表すタイムベースを調整することを特徴とする方法。
（１２）更に、上記試験測定機器から第１イベントを出力し；上記ハブから第２イベントを受け；上記第１イベントの出力及び上記第２イベントの受けの間の時間を測定し；この測定した時間に応答して上記タイムベースを求める概念１１の方法。
（１３）更に、上記試験測定機器に応答して上記ハブが構成モードに入る概念１１の方法。
（１４）更に、イベントを発生し；上記イベントをある時間だけ遅延させ；上記試験測定機器から上記遅延したイベントを発生する概念１１の方法。
（１５）更に、第２試験測定機器と通信をして上記ハブでの構成を実行する概念１１の方法。
（１６）更に、第２試験測定機器及び上記ハブとの間の往復時間を測定する概念１１の方法。
（１７）更に、上記ハブに結合された各試験測定機器からの往復時間に応答して上記タイムベースの上記調整を判断する概念１１の方法。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施例による測定システムのブロック図である。
【図２】図１の試験測定機器及びハブの接続を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施例により、２個の試験測定機器に対する往復時間の測定を示すタイミング図である。
【図４】本発明の実施例により、２個の試験測定機器に対する往復時間の測定を示すタイミング図である。
【図５】本発明の実施例により、第１試験測定機器から多数の試験測定機器に伝搬するイベントを示すタイミング図である。
【図６】本発明の実施例により、第２試験測定機器からのイベントが多数の試験測定機器に伝搬するのを示すタイミング図である。
【図７】本発明の実施例により、被測定装置上の波形の時間関係を示すタイミング図である。
【図８】各トリガ点が整列した場合の図７の波形の時間関係を示すタイミング図である。
【図９】本発明の実施例により、波形オフセットの時間関係を示すタイミング図である。
【図１０】本発明の実施例によるハブのブロック図である。
【図１１】多数の試験測定機器の校正の例を示す流れ図である。
【図１２】本発明の実施例による試験測定機器のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の実施例は、試験測定機器、測定システム、校正及び測定技術などを含んでおり、１つ以上の試験測定機器で発生するイベントを用いて、任意の又は全ての試験測定機器での取り込みをトリガできる。
【００１２】
図１は、本発明の実施例の測定システムのブロック図である。この実施例において、測定システム１０は、複数の試験測定機器１２〜１５を含んでおり、これらがハブ１８に結合されている。これら試験測定機器１２〜１５の各々は、コミュニケーション・リンク１６を介してハブ１８に結合される。特に、試験測定機器１２〜１５の各々は、ハブ１８からコミュニケーション・リンク１６を介して受けたイベント（ハブ・イベント）に応答して、取り込みをトリガできる。測定システム１０は、被測定装置（ＤＵＴ）１１に結合できる。試験測定機器１２〜１５の各々は、ＤＵＴ１１に結合できる。
【００１３】
試験測定機器１２〜１５は、種々の機器を含むことができる。例えば、試験測定機器は、オシロスコープ、ロジック・アナライザ、ネットワーク・アナライザ、スペクトラム・アナライザなどを含んでもよい。イベントに応答してデータを取り込める任意の測定機器を試験測定機器として用いることができる。
【００１４】
種々の条件をイベントにできる。例えば、イベントは、立ち上がりエッジ、レベル、グリッチ、パルス幅などでもよい。他の実施例において、イベントには、パケット形式、データ・シーケンスなどを含むことができる。これらイベントの組合せを、１つのイベントにできる。試験測定機器により測定可能な任意の出来事をイベントにできる。
【００１５】
しかし、イベントは、複数の試験測定機器の間で一致する必要はない。例えば、ロジック・アナライザは、ＤＵＴ１１の特定のデータ・シーケンスをイベントとして検出できる。オシロスコープは、パルス幅を検出できる。すなわち、いくつかの試験測定機器１２〜１５は、異なる形式のイベントに対してＤＵＴ１１をモニタできる。
【００１６】
特に、本発明の実施例においては、異なる形式の試験測定機器１２〜１５を互いに結合して、同じイベントに基づいてトリガできる。例えば、試験測定機器１２は、特定のデータ・パターンに対してＤＵＴ１１をモニタするロジック・アナライザであり、試験測定機器１３は、特定の立ち上がり時間のエッジに対してＤＵＴ１１をモニタするオシロスコープである。オシロスコープ１３は、このエッジを検出し、検出イベントをハブ１８に伝送できる。ハブ１８は、試験測定機器１２〜１５の各々にイベントを伝送して、試験測定機器１２〜１５がデータを取り込めるようにする。代わりに、ロジック・アナライザ１２が検出した特定のデータ・パターンにより、同様に、取り込みをトリガできる。
【００１７】
本発明の他の実施例において、試験測定機器１２〜１５の各々は、同じでもよいし、ほぼ同様なものでも良い。例えば、試験測定機器１２〜１５の各々をオシロスコープにできる。１つの測定機器上での特定イベントを用いて、試験測定機器１２〜１５の全ての取り込みをトリガできる。実施例において、使用する試験測定機器の形式にかかわらず、多数（複数）の試験測定機器１２〜１５の機能を有するように測定システム１０を構成でき、単一の統合された試験測定機器と略同様に同期できる。よって、単一の試験測定機器の機能を超えたトリガ条件を用いる測定システム１０を構成できる。
【００１８】
４つの試験測定機器を図示したが、任意の数の試験測定機器を測定システム１０の一部にできる。特に、１つ以上の任意の数の試験測定機器を用いることができる。
【００１９】
さらに、ハブ１８は、試験測定機器１２〜１５から分離して図示されているが、別の実施例においては、ハブ１８を試験測定機器１２〜１５の１つの一部であってもよい。例えば、ハブ１８は、試験測定機器１２と一体化できる。試験測定機器１２〜１５の他への接続は、試験測定機器１２への外部接続により達成できる。これにもかかわらず、イベントがハブ１８を経由できるように、測定システム１０を構成できる。
【００２０】
図２は、図１の測定システムにおける試験測定機器及びハブの接続を示すブロック図である。この実施例において、コミュニケーション・リンク１６は、コミュニケーション・ライン３２と、イベント伝送ライン３４及び３６とを含んでいる。コミュニケーション・リンク３２とイベント伝送ライン３４及び３６は、任意の種々の接続により形成できる。例えば、イベント伝送ライン３４及び３６は、同軸ケーブル、ツイスト・ペア・ケーブルなどでもよい。コミュニケーション・ライン３２も同様に任意の種々の接続にできる。
【００２１】
試験測定機器１２は、ハブ１８のコミュニケーション・ポート２６に結合されたコミュニケーション・ポート２０を含んでいる。試験測定機器１２のイベント出力部２２は、イベント伝送ライン３４を介してハブ１８のイベント入力部２８に結合できる。試験測定機器１２のイベント入力部２４は、イベント伝送ライン３６を介して、ハブ１８のイベント出力部３０に結合できる。
【００２２】
実施例において、イベント出力部２２は、イベント（機器イベント）をハブ１８に出力できる。ハブ１８は、イベント入力部２８を介してイベントを受けることができる。ハブ１８は、このイベントを処理し、イベント出力部３０を介してイベント入力部２４にイベント（ハブ・イベント）を伝送する。
【００２３】
試験測定機器１２とハブ１８との間のイベントの通信（コミュニケーション）を別々に説明したが、かかるイベントの通信は、単一のコミュニケーション・リンクを介してもできる。例えば、一実施例において、イベント入力部及びイベント出力部の対の各々を同軸ケーブルで結合できる。他の実施例において、独立した同軸ケーブルにより、イベント入力端を、対応するイベント出力端に結合できる。とにかく、イベントをハブ１８に送信でき、ハブ１８からイベントを受信できる。
【００２４】
実施例において、イベント・コミュニケーション・ライン３４及び３６を介してのコミュニケーションがほぼ同じになるように、これらイベント・コミュニケーション・ライン３４及び３６を形成できる。例えば、イベント伝送ライン３４による時間遅延は、イベント伝送ライン３６による時間遅延とほぼ類似である。よって、詳細に後述するように、ハブ１８までの伝搬時間を計算できる。
【００２５】
図３及び図４は、本発明の実施例による２つの試験測定機器の往復時間の測定を示すタイミング図である。図３は、試験測定機器Ａのタイミング図を示し、図４は、試験測定機器Ｂのタイミング図を示す。
【００２６】
特に、これらタイミング図は、ハブ１８に及びハブ１８からのイベントの往復伝送のタイミングを示すタイミング図である。図３を参照する。例えば、イベントは、試験測定機器Ａからイベント出力部２２を介してハブ１８に伝送される。時間２×ＴAの後、ハブ１８からのイベントがイベント入力部２４で受信される。特に、ハブ１８からハブ１８までの往復時間を測定できる。詳細に後述する如く、この測定の期間中、特定の試験測定機器が伝送したイベントをハブ１８が戻すように、このハブ１８は構成されている。
【００２７】
この実施例において、往復時間を時間２×ＴAで表す。よって、ハブ１８までの伝搬時間は、約ＴAである。同様に、試験測定機器Ｂ用の往復時間２×ＴBも測定できる。特に、詳細に後述するように、各試験測定機器自体及びハブ１８の間の往復時間を測定できるように各試験測定機器が構成されている。よって、各試験測定機器は、その試験測定機器からハブ１８まで移動するイベントの時間を測定できる。
【００２８】
図５は、本発明の実施例により、第１試験測定機器から多数の試験測定機器に伝搬するイベントを示すタイミング図である。実施例において、異なる試験測定機器の間では、往復時間が異なることに留意されたい。しかし、かかる測定により、試験測定機器のトリガ機能がほぼ同期できる。
【００２９】
特に、試験測定機器Ａは、イベントを発生できる。イベントは、時間ＴDAだけ遅延できる。特に、時間ＴDAは、時間ＴAと時間ＴA及びＴBの最大時との間の差にすることができる。ＴMAXは、この最長時間を表す。この実施例において、ＴBが最長時間ＴMAXである。各試験測定機器は、その試験測定機器に特定される遅延時間だけ、任意にある場所で発生したイベントを遅延できるように構成されている。
【００３０】
次に、遅延されたイベントが試験測定機器Ａからハブ１８に出力する。イベントがハブ１８に到達するのに時間ＴAだけかかる。このイベントは、時間ＴDAだけ遅延され、ハブに届くのに時間ＴAだけかかるので、総合時間は、ＴDA＋ＴA、即ち、ＴMAXである。同様に、各試験測定機器は、ある場所で発生したイベントを、特定の試験測定機器に対応する時間だけ遅延できるので、異なる試験測定機器からの同時のイベントがほぼ同じ時点にハブ１８に到達できる。すなわち、そのイベントを発生した試験測定機器に関係なく、各イベントは、そのイベントが生じた後の時間ＴMAXにハブ１８に到達する。すなわち、ＤＵＴ１１でのイベントの時間配列を、ハブ１８に到達するイベントにてほぼ維持することができる。
【００３１】
ハブ１８は、イベントを試験測定機器の各々に伝搬するように構成されている。しかし、伝送遅延時間が異なるので、イベントが種々の試験測定機器に異なる時点に到達する。例えば、時間ＴAの後、図示にようにイベントが試験測定機器Ａに到達する。同様に、時間ＴBの後に、イベントが試験測定機器Ｂに到達する。
【００３２】
図６は、本発明の実施例により、第２試験測定機器から多数の試験測定機器に伝搬するイベントのタイミング図を示す。イベントのソース（信号源）から実質的に独立した同期を示すために、試験測定機器Ｂが発生したイベントを、図５における試験測定機器Ａのイベントと同様に示す。
【００３３】
図６において、試験測定機器Ｂにてイベントが発生する。試験測定機器Ｂがハブ１８までの最長時間を有するので、その時間ＴBが時間ＴMAXである。よって、試験測定機器Ｂにて遅延したイベントは、発生したイベントに対して、実質的に遅延しない。しかし、ハブへの伝搬時間がＴBであるので、この例では、ＴBが時間ＴMAXであるため、依然、時間ＴMAXの後、イベントがハブ１８に到達する。ハブ１８において、イベントが試験測定機器に伝搬する。イベントが実質的に同じ時間にハブ１８に到達するので、試験測定機器Ａ及びＢに到達するイベントは、図５に示すのと略同様である。
【００３４】
図７は、本発明の実施例により、被試験装置における波形の時間関係を示すタイミング図である。波形Ａは、試験測定機器Ａが検知したＤＵＴ１１の波形を示す。同様に、波形Ｂは、試験測定機器Ｂが検知したＤＵＴ１１の波形を示す。これら波形は、ＤＵＴ１１にて時間内に存在するとして示される。
【００３５】
この実施例において、波形Ａのエッジ４４をイベントとして用いる。すなわち、エッジ４４に応答して、試験測定機器Ａは、図５に示すイベントＡに類似のイベントを発生する。上述の如く、時間ＴMAX＋ＴAの後に、このイベントを試験測定機器Ａに戻す。イベントに応答して、試験測定機器Ａは、取り込みをトリガできる。トリガ点４０は、ＤＵＴ１１での波形Ａの発生に関連した時間の点である。ここでは、このイベントが受信されて、トリガが発生する。
【００３６】
同様に、同じイベントが試験測定機器Ｂで受信され、波形Ｂの取り込みがトリガされる。しかし、上述の如く、イベントの発生からそのイベントが試験測定機器に到達する時点までにかかる時間は、各試験測定機器毎に異なる。この例において、時間は、ＴMAX＋ＴBである。よって、試験測定機器Ｂは、時間ＴMAX＋ＴBの後に、波形Ｂの取り込みをトリガする。波形Ｂのトリガ点４２は、このトリガ点を表す。基準として、波形Ｂの点４６は、エッジ４４と同時に生じた波形Ｂの位置を表す。
【００３７】
図８は、整列したトリガ点と図７の波形との時間関係を示すタイミング図である。図示の如く、波形Ａ及びＢのトリガ点４０及び４２を用いて、波形Ａ及びＢを時間的に整列させる。しかし、上述の如く、トリガ点の時間的発生は同じではない。その結果、波形Ａのエッジ４４及び波形Ｂの点４６の如く、波形Ａ及びＢの同時点の間に時間エラー４８が導入される。
【００３８】
図９は、本発明の実施例による波形オフセットの時間関係を示すタイミング図である。この実施例において、対応試験測定機器に特定のイベント伝搬時間だけ、波形Ａ及びＢの各々は、それらのトリガ点から時間的にオフセットされる。すなわち、波形Ａは、時間ＴMAX＋ＴAだけオフセットされ、波形Ｂは、時間ＴMAX＋ＴBだけオフセットされる。よって、波形Ａ及びＢが時間的に整列されて、図７に示す如く、ＤＵＴ１１での時間整列と実質的に等化となる。
【００３９】
よって、校正が行われ、伝送時間ＴA、時間ＴMAX、差時間ＴDAの如き時間が求まると、所定の試験測定機器は、そのイベントを発生したのがどの試験測定機器かを識別する必要がない。すなわち、各試験測定機器は、それ自体のイベントを遅延するように構成されているので、イベントの発生からそのイベントがハブ１８に到達する時点までの時間は、どの試験測定機器に対しても実質的に類似である。
【００４０】
各試験測定機器がハブ１８への接続で特徴付けられているので、各試験測定機器は、ハブからの特定の戻り時間を考慮するために、その取り込み、トリガ機能、データの位置などを調整できる。すなわち、イベントがハブ１８で同期するので、導入された任意の残りの時間オフセットは、特定の試験測定機器への戻り経路に応じてほぼ決まるのみである。よって、試験測定機器は、どの試験測定機器がイベントを発生したかに関する情報がなくても、かかる時間差を考慮して、取り込みデータを同期できる。
【００４１】
複数の試験測定機器の間でのハブまでの伝搬時間の最長のものとして時間をＴMAXを説明したが、この時間は、最長である必要はない。実施例において、この時間は、最長時間よりも長くできる。このより長い時間に対して、時間ＴDAの如き差時間を更に計算できる。しかし、この実施例において、ＴDB、即ち、最長時間より上である試験測定機器Ｂ用の差時間は、実質的なゼロよりも長くできる。
【００４２】
図１０は、本発明の実施例によるハブのブロック図である。この実施例において、ハブ１８は、制御器５０及びロジック回路５２を含んでいる。制御器５０は、コミュニケーション・ライン５４及び５６を介して試験測定機器に結合される。個別のコミュニケーション・ラインについて説明したが、試験測定機器に沿って単一のコミュニケーション・システムを使用できる。
【００４３】
ロジック回路５２は、複数の試験測定機器から受信したイベントを組合せように構成されている。例えば、イベント伝送ライン５８及び６０は、ロジック回路５２にイベントを提供できる。任意の処理、組合せなどの後に、イベント伝送ライン６２及び６４を介して、イベントを種々の試験測定機器に伝搬できる。
【００４４】
実施例において、ハブ１８は、イベントのアグリゲーターとして構成できる。すなわち、ハブ１８のロジック回路は、ハブ１８が受けた任意のイベントを伝搬するように構成されている。例えば、ロジック回路５２は、任意の受信したイベントの論理オアを含むことができる。よって、任意のイベントは、試験測定機器に伝搬する出力イベントを生じる。
【００４５】
しかし、他の実施例において、ハブ１８は、複数のイベントを互いに組合せように構成されている。例えば、ロジック回路５２は、任意の受信したイベントの論理アンドを含むことがでる。よって、試験測定機器に伝搬すべきイベントのために、多数のイベントが実質的に一緒に生じなければならない。
【００４６】
論理オア機能及び論理アンド機能を上述したが、イベントの任意の組合せを用いることができる。例えば、マルチ・ゲート・ロジック・システムを用いて、イベントを組み合わせることができる。他の例では、試験測定機器からの種々のイベントを入力とするステート・マシンを用いることもできる。
【００４７】
特に、試験測定機器は、ロジック回路５２におけるイベントの組合せに関するいかなる情報も必要としないことに留意されたい。試験測定機器は、ハブ１８から受信した任意のイベントでトリガするように構成できる。上述の如く、試験測定機器は、イベントのソースを知る必要がない。
【００４８】
本発明の実施例において、ハブ１８から受信したイベントは、取り込みをトリガするための単一の条件である必要がない。例えば、ハブ１８から受信したイベントを、特定の試験測定機器のトリガ・システムにおける任意の他のイベントと組み合わせることができる。よって、ハブ１８から受信したイベントによる結果のトリガよりも、一層複雑なトリガを発生することができる。
【００４９】
図１１は、多数の試験測定機器の校正の例を説明する流れ図である。上述の如く、ハブ１８への伝搬時間の最長値又はより長い値を、ハブ１８に到達するイベントを実質的に同期させるために使用することができる。よって、個別の試験測定機器は、任意の受信したイベントのソースを知る必要がない。
【００５０】
実施例においては、ソースを知る必要性をなくすために、校正を実行する。例えば、ステップ８０において、ハブ１８との間の往復時間を、第１試験測定機器に対して測定する。特に、試験測定機器は、ハブが構成（configuration）モードに入るように構成でき、この構成モードでは、ハブ１８が試験測定機器から受信したイベントを試験測定機器に戻す。
【００５１】
例えば、試験測定機器は、別の試験測定機器から受信した任意のイベントを無視するようにハブ１８を制御できる。上述の如く、ハブ１８のロジック回路５２が論理アンド機能を含んでいれば、この論理アンド機能への他の入力を高レベルに設定できる。同様に、論理オア機能により、他の入力を論理低レベルに設定できる。他の例においては、他の試験測定機器からのイベントを無視する状態にロジック回路５２内のステート・マシンを設定できる。これにかかわらず、１個の試験測定機器からのイベントのみを伝搬するように、ハブを制御できる。
【００５２】
よって、試験測定機器は、イベントを発生し、そのイベントとハブ１８から受信したイベントとの間の時間を測定できる。上述の如く、ハブ１８からのイベントは、種々のソースからやってくるが、校正（calibration）モードにおいて、伝搬されるイベントのみが、試験測定機器からのイベントであり、現在の校正を実施するものである。往復時間を測定し、上述のように使用することができる。
【００５３】
測定が実行されると、ステップ８２において、試験測定機器は、ハブの制御権を他の試験測定機器に渡す。ステップ８４において、ハブに結合された残りの試験測定機器がなくなるまで、ステップ８０の測定と、ステップ８２における制御権を渡すこととを繰り返し実行する。よって、各試験測定機器は、往復時間を測定し、ハブ１８への伝送時間を校正する。
【００５４】
実施例において、校正を開始した試験測定機器は、ステップ８６にて、伝搬時間の最長時間を求めるように構成されている。かかる最長時間は、種々の方法で求めることができる。例えば、試験測定機器は、各試験測定機器の往復時間を受信することができる。この最長時間を計算し、２分の１に割り算し、ハブへの最大伝搬時間を求める。同様に、試験測定機器は、対応する試験測定機器が計算した個別の伝搬時間を受けて、最長時間を計算する。さらに、試験測定機器は、最長時間とする実際の最長値よりも長い時間を選択できる。よって、上述の如く、最長伝搬時間以上の時間を計算でき、取り込みのトリガ機能において使用できる。
【００５５】
この最長時間は、試験測定機器の各々に送られる。例えば、試験測定機器は、ハブ、又はイーサネット（登録商標）インタフェースなどの他のコミュニケーション・インタフェースを介して他の試験測定機器の各々と通信をできる。したがって、各試験測定機器は、イベントがハブに実質的に同時に到達するように、それ自体の伝搬時間に基づいて、それ自体を構成できる。その結果、最長時間に応答して、ステップ８８において、上述のように、試験測定機器は、取り込みをトリガし、データが時間において実質的に配列することができる。
【００５６】
かかる最長時間の計算を開始し、及び／又は制御するものとして試験測定機器を説明したが、他の方法でも最長時間を計算できる。例えば、ハブ１８が校正を開始し、次に、イベントを発生するような指示を各試験測定機器に送ることもできる。ハブ１８は、種々の伝搬時間又は往復時間を収集し、計算した最長値を試験測定機器に通信するように構成することもできる。したがって、試験測定機器は、任意の他の試験測定機器を気にする必要がない。
【００５７】
さらに、実施例において、種々の条件に応答して、かかる校正を実施できる。例えば、上述の如く、試験測定機器の１つにより校正が開始する。ユーザは、校正ボタンを押し、校正メニュー項目の選択などを行う。他の例において、新たな試験測定機器の検出に応答して、校正を実行できる。すなわち、新たな試験測定機器をハブ１８に結合できる。新たな試験測定機器は、その存在をハブ１８、その他の試験測定機器などに伝える。これに応答して、新たな校正が実行されて、この新たな試験測定機器を含む試験測定機器の各々に対する伝搬時間を測定し、上述のように最長値などと組み合わせることができる。
【００５８】
図１２は、本発明の実施例による試験測定機器のブロック図である。実施例において、試験測定機器１００は、イベント発生器１０１を含んでいる。このイベント発生器１０１は、上述の種々のイベントを発生するシステムを表す。例えば、イベント発生器１０１は、遷移、データ・パターンの一致などを検出するための回路やパターン分析器などを含んでいる。試験測定機器１００は、人の数のかかるイベント発生器１０１を有する。
【００５９】
試験測定機器１００は、第１イベント・デコーダ１０２を含んでいる。第１イベント・デコーダ１０２は、第１イベント・デコーダ１０２からのイベントを選択し、かかるイベントなどを組合せように構成されている。イベント・デコーダ１０２は、イベントを発生し、イベントを伝搬するなどのように構成される。
【００６０】
イベント・デコーダ１０２からのイベントは、遅延手段（回路）１０４により遅延される。遅延手段１０４を制御器１１０により調整して、遅延手段１０４を通過する時間を上述のＴDAの如き差時間にできる。よって、イベント出力部２２を介してハブ１８に出力する前に、上述の如く、イベント・デコーダ１０２からのイベントを遅延できる。
【００６１】
試験測定機器は、第２イベント・デコーダ１０８に結合されたイベント入力部２４も有する。第２イベント・デコーダ１０８は、第１イベント・デコーダ１０２に実質的に類似している。すなわち、第２イベント・デコーダ１０８は、１つ以上のイベント発生器１０１からのイベントも受信できる。しかし、第２イベント・デコーダ１０８は、内部イベントに実質的に類似した方法で、イベント入力部２４からのイベントを使用できる。よって、時間測定装置１０６が表すトリガ回路のタイミング機能を用いて、第１イベント・デコーダ１０２からのイベントと、イベント入力部２４を介して受信したイベントとの間の時間を測定できる。
【００６２】
イベント入力部２４からのイベントは、第２イベント・デコーダ１０８を介して時間測定装置１０６に入力するとして説明したが、イベント入力部２４を時間測定装置１０６に直接的に結合できるし、第１イベント・デコーダ１０２に沿って専用時間測定装置１０６に結合することもできる。すなわち、図示のトリガ回路の時間測定装置１０６、専用タイマなどにより、往復時間、伝搬時間などを測的できる。
【００６３】
制御器１１０は、入力部２４を介して受信したイベントに応答して、取り込みシステム１１２の取り込みをトリガするように構成される。すなわち、入力部２４を介して受信したイベントを制御器１１０が用いて、イベント・デコーダ１０８が発生した他のイベントと類似に、取り込みをトリガできる。しかし、上述の如く、試験測定機器が取り込んだデータ対データの時間配列をスキューできる。したがって、制御器１１０は、試験測定機器及び少なくとも１個の他の試験測定機器に関連した時間に応答して、取り込んだデータをオフセットするように構成される。例えば、かかる時間は、上述の如く、時間ＴMAX＋ＴAである。すなわち、オフセットは、トリガ又はイベントと、取り込んだデータとの相対関係であるので、トリガ又はイベントと、取り込んだデータとのいずれを調整しても、すなわち、いずれのタイムベースを調整しても、同じ結果を得ることができる。
【００６４】
制御器１１０は、コミュニケーション・インタフェース１１４にも結合される。その結果、制御器１１０は、他の試験測定機器に関連した伝搬時間、最長時間などを受信するように構成できる。また、制御器１１０は、上述のように、遅延手段１０４用の遅延時間、タイムベース用のオフセット時間などを計算するように構成できる。
【００６５】
本発明の特定の実施例について上述したが、本発明の原理はこれら実施例に限定されるものでないことが理解できよう。本発明の要旨を逸脱することなく、種々の変形変更が可能である。
【符号の説明】
【００６６】
１０  測定システム
１１  被試験装置
１２、１３、１４、１５  試験測定機器
１６  コミュニケーション・リンク
１８  ハブ
２０、２６  コミュニケーション・ポート
２２、３０  イベント出力部
２４、２８  イベント入力部
３２  コミュニケーション・ライン
３４、３６  イベント伝送ライン
４０、４２  トリガ点
４４  エッジ
４６  点
４８  時間エラー
５０  制御器
５２  ロジック回路
５４、５６  コミュニケーション・ライン
５８、６０、６２、６４  イベント伝送ライン
１００  試験測定機器
１０１  イベント発生器
１０２、１０８  イベント・デコーダ
１０４  遅延手段
１０６  時間測定装置
１１０  制御器
１１２  取り込みシステム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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