(57)【要約】【課題】放射線撮像装置の２次元放射線検出器において、キャリブレーションデータ作成時に、天板の構造に起因するノイズの写し込みを抑止して欠損画素を正確に検出して、キャリブレーションデータを正確に作成する。【解決手段】  キャリブレーションデータ作成時に、天板を移動させながらＸ線を照射することで、位相の異なる天板のノイズ成分が写し込まれた画像データを複数枚とる。この複数枚の画像データを平均化することで、位相のずれたノイズ成分が互いに相殺し、天板によるノイズ成分が平滑化され、欠損画素を正確に検出することができ、キャリブレーションデータを正確に作成することができる。【選択図】図１
2010005286.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を照射する放射線照射手段と、
被検体を載置する天板と、
前記放射線照射手段から前記天板を透過して入射する放射線を検出する放射線検出手段と、
前記天板を水平方向に、または、前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを対にして水平方向に移動させる移動制御手段と、
前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を水平方向に移動させつつ、前記放射線照射手段から放射線を照射し、前記天板を透過して前記放射線検出手段で検出した複数枚の画像データを格納するメモリ部と、
前記複数枚の画像データを平均化することで前記天板による画像データのノイズを除去するノイズ除去部と、
前記ノイズ除去部によりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出部と、
前記欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成部と
を備えることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
放射線を照射する放射線照射手段と、
被検体を載置する天板と、
前記放射線照射手段により前記天板を透過して入射する放射線を検出する放射線検出手段と、
前記放射線照射手段および前記天板を予め定められたキャリブレーション位置にて、前記放射線照射手段より放射線を照射し、前記天板を透過して前記放射線検出手段で検出した画像データを格納するメモリ部と、
前記画像データから前記キャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を除去するノイズ除去部と、
前記ノイズ除去部によりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出部と、
前記欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成部と
を備えることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３】
放射線撮像装置のキャリブレーションの方法において、
被検体を載置する天板を水平方向に、または、放射線を照射する放射線照射手段と放射線を検出する放射線検出手段とを対にして水平方向に移動させる移動ステップと、
前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を移動させつつ放射線を照射する放射線照射ステップと、
前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を移動させつつ放射線を照射することで、前記天板を透過して放射線が放射線検出手段に入射され、複数枚の画像データを取得する画像データ取得ステップと、
前記複数枚の画像データを平均化することで前記天板による画像データのノイズを除去するノイズ除去ステップと、
前記ノイズ除去ステップによりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出ステップと、
前記欠損画素検出ステップにより検出した欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成ステップと
を備えたことを特徴とする放射線撮像装置のキャリブレーション方法。
【請求項４】
放射線撮像装置のキャリブレーションの方法において、
放射線を照射する放射線照射手段および被検体を載置する天板を予め定められたキャリブレーション位置で固定しつつ、放射線を照射させる放射線照射ステップと、
前記天板を透過して放射線が放射線検出手段に照射され、画像データを取得する画像データ取得ステップと、
前記画像データから前記キャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を除去するノイズ除去ステップと、
前記ノイズ除去ステップによりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出ステップと、
前記欠損画素検出部により検出された欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成ステップと
を備えたことを特徴とする放射線撮像装置のキャリブレーション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、医療分野や、非破壊検査，ＲＩ（Radio isotope）検査，および光学検査などの工業分野や、原子力分野などに用いられる放射線撮像装置に係り、特に、フラットパネル型放射線検出器の画素についてキャリブレーション（校正）を行う放射線撮像装置および放射線撮像装置のキャリブレーション方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線撮像装置に使われるフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、ＦＰＤという）は、放射線（Ｘ線）に感応する感応膜をアクティブマトリックス基板上に積層して構成している。放射線が感応膜に入射すると放射線は電荷に変換され、２次元アレイ状に配置されたキャパシタＣａに電荷が蓄積される。蓄積された電荷はアクティブマトリックス基板のスイッチング素子（ＴＦＴ素子）をＯＮにすることで読み出され、電気信号として画像処理手段に送り込まれる。しかしながら、同じ放射線量が入射されていても、画素（検出素子）ごとに変換される電荷量にバラツキがあり、その結果、キャパシタＣａに蓄積される電荷量にもバラツキが発生する。これより、同じ放射線量が入射されていても、画素ごとに電気信号に変換された画像信号についてもバラツキが発生し、正しい放射線量に見合った画像を表示できない。かかるバラツキをなくすために、例えば画素ごとの増幅器（アンプ）のゲインをそれぞれ調節して出力側をそろえるキャリブレーション（校正）を行う（特許文献１参照）。このキャリブレーションは増幅器のゲインを直接調節してもよいが、画像処理部にて画像信号を調節することでもできる。
【０００３】
キャリブレーションは通常、被検体を載置していない天板上に放射線を照射して、ＦＰＤにより得られた複数の画像データを平均化することでキャリブレーションデータを作成し、このキャリブレーションデータを基に、画像処理部にて各画素ごとに送られてくる画像データのゲイン調節が行われる。
【特許文献１】特開２００５−２０４９８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＦＰＤには放射線に感応する感応膜としてアモルファスセレン（ａ−Ｓｅ）半導体膜が用いられるが、時間が経過するとともにａ−Ｓｅが結晶化するなどａ−Ｓｅ半導体膜に経時変化が起きる。この経時変化により、ａ−Ｓｅ半導体膜中に放射線に感応しない部分が生じ、放射線に感応しないことで画素の値が極端に小さくなる。また、これとは逆に、ａ−Ｓｅ半導体膜の導電率が高くなり、増加した暗電流により画素の値が極端に大きくなるものもある。このように、画素の値が極端に小さい部分と画素の値が極端に大きい部分をＦＰＤの欠損画素と呼んでいる。
【０００５】
上述したように、ａ−Ｓｅの結晶化および暗電流の増加は経時的に発生するので、当初、ＦＰＤの画素の欠損の無かった場所に欠損が発生することや、また、欠損が１画素分の大きさであったのが周囲に広がり２画素もしくは３画素分の欠損になることがある。これより、ＦＰＤのキャリブレーションは定期的に行うことが必要であり、各設置されている場所にて日々、Ｘ線検査をしているオペレータ自身により定期検査時等に行うことが望ましい。しかしながら、定期検査時にキャリブレーションを行うと実際にはＦＰＤの欠損では無い画素を欠損と検出する問題が生じた。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、放射線撮像装置の画素の欠損を正確に検出し、キャリブレーションデータを作成することができる放射線撮像装置および放射線撮像装置のキャリブレーション方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願の発明者は鋭意研究した結果、次の知見を得ることができた。それは、キャリブレーションを行う際、オペレータは被検体を載置する天板を通して放射線をＦＰＤに照射しており、この天板によるノイズ成分をＦＰＤの画素の欠損と誤って検出していたのである。
【０００８】
従来、天板はカーボンなどの放射線を透過する素材で形成されており、天板により放射線が減衰する量は軽微なものである。これより、天板を通してキャリブレーションを実行しても問題は無いと思われていた。そこで、天板を除去してキャリブレーションを実行するといった大がかりなことをすることなく、天板を通してキャリブレーションを実行していた。
【０００９】
しかしながら、天板のカーボン繊維に起因する放射線の固定パターンのノイズがキャリブレーションデータに生じることが確認された。図７（ａ）に示されるように、天板４１により、天板４１を透過した放射線には周期的な強度分布が形成されてしまう。つまり、天板４１によるノイズが発生する。そして、周期的な強度分布を持った放射線がＦＰＤ４３に入射して、図７（ｂ）に示されるような、天板４１に起因するノイズ成分が検出される。このノイズ成分を含んだ画像データよりキャリブレーションデータを作成するので、誤ったキャリブレーションデータを作成することになり、欠損でない画素を欠損と検出していた。
【００１０】
また、キャリブレーションデータを作成する際、複数枚の画像データを取り、その画像データを平均化するのが一般的である。しかしながら、図７（ａ）に示されるように、天板４１とＦＰＤ４３は固定された状態で画像データを取得するので、どの画像データにも、同じ位相で天板４１によるノイズが発生する。これより、画像データを例えば、加算平均しても天板４１によるノイズ成分は除去されない。以上の理由で、天板のノイズ成分がキャリブレーションデータに影響していた。
【００１１】
そこで、キャリブレーションデータへの天板の固定パターンノイズの影響を除去し、放射線撮像装置の画素の欠損を正確に検出し、キャリブレーションデータを作成することができる放射線撮像装置および放射線撮像装置のキャリブレーション方法が発明された。
【００１２】
本発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明によれば、放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を載置する天板と、前記放射線照射手段から前記天板を透過して入射する放射線を検出する放射線検出手段と、前記天板を水平方向に、または、前記放射線照射手段と前記放射線検出手段とを対にして水平方向に移動させる移動制御手段と、前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を水平方向に移動させつつ、前記放射線照射手段から放射線を照射し、前記天板を透過して前記放射線検出手段で検出した複数枚の画像データを格納するメモリ部と、前記複数枚の画像データを平均化することで前記天板による画像データのノイズを除去するノイズ除去部と、前記ノイズ除去部によりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出部と、前記欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成部とを備えることを特徴とする。
【００１３】
上記構成によれば、天板、または、放射線照射手段および放射線検出手段を水平方向に移動させながら放射線を照射することで、撮像ごとに天板と放射線照射手段および放射線検出手段との相対位置を変えた複数枚の画像データを取得し、この複数枚の画像データを平均化することで天板に起因するノイズ成分を相殺することができる。これより、欠損画素を正確に検出することができるので、各画素ごとのキャリブレーションデータを正確に作成できる。この結果、画像データの画質が向上する。
【００１４】
請求項２に記載の発明によれば、放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を載置する天板と、前記放射線照射手段により前記天板を透過して入射する放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線照射手段および前記天板を予め定められたキャリブレーション位置にて、前記放射線照射手段より放射線を照射し、前記天板を透過して前記放射線検出手段で検出した画像データを格納するメモリ部と、前記画像データから前記キャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を除去するノイズ除去部と、前記ノイズ除去部によりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出部と、  前記欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成部とを備えることを特徴とする。
【００１５】
上記構成によれば、予め定められたキャリブレーション位置にて画像データを取得し、また、そのキャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を画像データから除去することで、天板に起因するノイズ成分を画像データから除去することができる。これより、欠損画素を正確に検出することができるので、各画素ごとのキャリブレーションデータを正確に作成できる。この結果、画像データの画質が向上する。
【００１６】
請求項３に記載の発明によれば、放射線撮像装置のキャリブレーションの方法において、被検体を載置する天板を水平方向に、または、放射線を照射する放射線照射手段と放射線を検出する放射線検出手段とを対にして水平方向に移動させる移動ステップと、前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を移動させつつ放射線を照射する放射線照射ステップと、前記天板、または、前記放射線照射手段および前記放射線検出手段を移動させつつ放射線を照射することで、前記天板を透過して放射線が放射線検出手段に入射され、複数枚の画像データを取得する画像データ取得ステップと、前記複数枚の画像データを平均化することで前記天板による画像データのノイズを除去するノイズ除去ステップと、前記ノイズ除去ステップによりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出ステップと、前記欠損画素検出ステップにより検出した欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成ステップとを備えたことを特徴とする。
【００１７】
上記方法によれば、天板、または、放射線照射手段および放射線検出手段を水平方向に移動させながら放射線を照射することで、撮像ごとに天板と放射線照射手段および放射線検出手段との相対位置を変えた複数枚の画像データを取得し、この複数枚の画像データを平均化することで天板に起因するノイズ成分を相殺することができる。これより、欠損画素を正確に検出することができるので、各画素ごとのキャリブレーションデータを正確に作成できる。この結果、画像データの画質が向上する。
【００１８】
請求項４に記載の発明によれば、放射線撮像装置のキャリブレーションの方法において、  放射線を照射する放射線照射手段および被検体を載置する天板を予め定められたキャリブレーション位置で固定しつつ、放射線を照射させる放射線照射ステップと、前記天板を透過して放射線が放射線検出手段に照射され、画像データを取得する画像データ取得ステップと、前記画像データから前記キャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を除去するノイズ除去ステップと、前記ノイズ除去ステップによりノイズが除去された画像データから欠損画素を検出する欠損画素検出ステップと、前記欠損画素検出部により検出された欠損画素を補完するキャリブレーションデータ作成ステップとを備えたことを特徴とする。
【００１９】
上記方法によれば、予め定められたキャリブレーション位置にて画像データを取得し、また、そのキャリブレーション位置にて予め計測された天板ノイズ成分を画像データから除去することで、天板に起因するノイズ成分を画像データから除去することができる。これより、欠損画素を正確に検出することができるので、各画素ごとのキャリブレーションデータを正確に作成できる。この結果、画像データの画質が向上する。
【発明の効果】
【００２０】
この発明に係る放射線撮像装置および放射線撮像装置のキャリブレーション方法によれば、撮像された画像データから天板によるノイズ成分を除去することができる。これより、天板によるノイズ成分がキャリブレーションデータに影響することが無く、画素の欠損を正確に検出することができ、各画素ごとのキャリブレーションデータを正確に作成できる放射線画像撮像装置および放射線画像撮像装置のキャリブレーション方法を提供することができる。
【実施例】
【００２１】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＸ線診断装置のブロック図であり、図２は、Ｘ線診断装置に用いられる側面視したＦＰＤの等価回路であり、図３は、平面視したＦＰＤの等価回路である。本実施例では、放射線画像撮像装置としてＸ線診断装置を例に採って説明する。
【００２２】
＜Ｘ線診断装置＞
本実施例に係るＸ線診断装置は、図１に示されるように、被検体を載置する天板１と、その被検体に向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体および天板１を透過したＸ線を検出するＦＰＤ３と、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４とを備えている。Ｘ線管２はこの発明における放射線照射手段に相当する。ＦＰＤ３はこの発明における放射線検出手段に相当し、天板制御部４はこの発明における移動制御手段に相当する。
【００２３】
Ｘ線診断装置は、他に、ＦＰＤ３の位置を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号に基づいてキャリブレーションおよび種々の画像処理を行う画像処理部８や、これらの各構成部を統括するコントローラ１５や、オペレータが入力設定を行う入力部１６や、処理された画像などを表示するモニタ１７などを備えている。
【００２４】
天板制御部４は、天板１を昇降および水平移動させて被検体を所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体の体軸の軸心周りに回転移動させることに関する制御を行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体の体軸の軸心周りに回転移動させる走査に関する制御や、Ｘ線管２内のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。
【００２５】
コントローラ１５は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されている。また、入力部１６は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。
【００２６】
＜フラットパネル型Ｘ線検出器＞
ＦＰＤ３は、図２に示されるように、絶縁基板２１と、絶縁基板２１上に形成された薄膜トランジスタ（以下、ＴＦＴという）２２とから構成されている。ＴＦＴ２２については、図２、図３に示すように、縦・横式２次元マトリクス状に多数個（例えば、1024個×1024個）配列して形成されており、画素電極２３ごとにＴＦＴ２２がスイッチング素子として互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。
【００２７】
図２に示されるように画素電極２３の上にはＸ線感応型半導体２４が積層形成されており、図２、図３に示すように画素電極２３は、ＴＦＴ２２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ２５からは複数本のゲートバスライン２６が接続されているとともに、各ゲートバスライン２６はＴＦＴ２２のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ２７には増幅器２８を介して複数本のデータバスライン３０が接続されているとともに、図２、図３に示すように各データバスライン３０はＴＦＴ２２のドレインＤに接続されている。
【００２８】
図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン２６の電圧を印加（または０Ｖに）することでＴＦＴ２２のゲートがＯＮされて、画素電極２３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体２４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、ＴＦＴ２２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３０に読み出す。なお、ＴＦＴ２２がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタＣａで暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３０に読み出された電荷信号を増幅器２８で増幅して、マルチプレクサ２７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器２９でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。
【００２９】
このとき、Ｘ線感応型半導体２４内でＸ線に感応しない部分が生じると、キャパシタＣａに蓄積される電荷信号が他のキャパシタＣａに蓄積される電荷信号よりも数が少なくなり、画素の欠損として検出される。このように、ＦＰＤ３の欠損画素を検出することがキャリブレーションを行う理由の１つである。
【００３０】
＜画像処理部＞
画像処理部８はＦＰＤ３から送られる画像データを保存するメモリ部９と、メモリ部９に格納された複数枚の画像データを加算平均処理して天板１のノイズ成分を除去するノイズ除去部１０と、ノイズが除去された画像データの放射線検出値と予め定められた閾値とを比較することで欠損画素を検出する欠損画素検出部１１と、欠損画素を除く各画素ごとのノイズが除去された放射線検出値より、各画素ごとの増幅率（ゲイン値）を決めるキャリブレーションデータ作成部１２と、各画素ごとのゲイン値を格納するキャリブレーションデータメモリ部１３と、被検体を撮像した際、被検体を透過して得られた画像データが格納されているメモリ部９の画像データに、キャリブレーションデータメモリ部１３に格納されているゲイン値で補正して、X線透過画像を構成する画像補正部１４とから構成される。画像補正部１４にて補正された画像データはコントローラ１５を介して、モニタ１７に映し出される。
【００３１】
次に、本実施例における一連のキャリブレーションの制御シーケンスについて、図４のフローチャートを参照して説明する。
【００３２】
（ステップＳ１）天板移動
キャリブレーションデータを作成するために、天板制御部４にて天板１を長手方向に移動させる。このとき、天板１上には何も載置していない。
【００３３】
（ステップＳ２）放射線照射
天板１を長手方向に移動させつつ、Ｘ線管２よりＸ線を照射する。このとき、Ｘ線管２およびＦＰＤ３は固定されたままである。
【００３４】
（ステップＳ３）画像データ取得
天板１の上には何も載置されていないので、ＦＰＤ３に検出される画像データは、ＦＰＤ３の各画素ごとの放射線検出値と天板１によるノイズ成分が合わさったデータが画像データとして測定される。そこで、図５（ａ）に示されるように、天板１を移動させつつ、天板１を透過したＸ線の複数枚の画像データを取得する。こうすることで、天板１に起因するノイズ成分において、様々な位相のノイズ成分を取得することができる。図５（ｂ）によれば、２枚しか画像データを取得していないが、これは構成を簡易にして説明するためであって、実際上は、一秒間に３０枚ほどの撮像スピードで数十枚の画像データを取得することが望ましい。
【００３５】
（ステップＳ４）ノイズ除去
複数枚の画像データが画像処理部８内のメモリ部９に送られ格納される。このメモリ部９では、ＦＰＤ３から得られた画像データを２次元状に配列して格納される。このメモリ部９内の複数の画像データをノイズ除去部１０にて加算平均化する。図５（ｃ）に示される様に、各画像データにおける天板１のノイズ成分は位相が異なるので、加算平均化するとノイズ同士が相殺され、平滑化する。このようにして、天板１のノイズ成分を除去してＦＰＤ３の各画素ごとの正確な放射線検出値が測定される。
【００３６】
（ステップＳ５）欠損画素検出
ノイズ除去ステップにおいて得ることができた画像データを基に、各画素ごとの放射線検出値が予め定められた上限閾値および下限閾値を超えているか超えていないかを欠損画素検出部１１にて判別する。ノイズを除去した画像データが上限閾値および下限閾値の範囲内であれば正常画素とし、上限閾値および下限閾値を越えていれば欠損画素として検出する。
【００３７】
（ステップＳ６）キャリブレーションデータ作成
正常画素と検出された画素は、ノイズを除去した画像データを基に、キャリブレーションデータ作成部１２にて各画素ごとのX線検出値がそろうように、画像データの増幅率（ゲイン値）すなわちキャリブレーションデータを作成する。なお、検出された欠損画素については、欠損画素と隣接する複数個の画素から中央値の画素で欠損画素を置換するメディアンフィルタ処理や、隣接する画素に基づいて重み付けするなど適当な補完処理を施して欠損画素を補完する。この各画素ごとのキャリブレーションデータはキャリブレーションメモリ部１３へ格納される。
【００３８】
以上の様にして、天板１のノイズ成分に影響されないキャリブレーションデータを作成することができる。このキャリブレーションデータを基に画像補正部１４では、被検体を撮像して得られた画像データとキャリブレーションデータメモリ部１３内のキャリブレーションデータを基に各画素ごとの放射線検出値を増幅して画像を補正する。これより、最適な画像を得ることができる。
【００３９】
本実施例に係る放射線画像診断装置および放射線画像診断装置のキャリブレーション方法によれば、天板１を移動させながら、画像データを複数枚取得して、各画像データの加算平均をすることで、天板１の固有のノイズ成分同士が相殺して、天板１のノイズ成分を除去することができる。これより、天板１のノイズ成分がキャリブレーションデータに影響することが無く、画素の欠損を正確に検出できるので、各画素ごとの正確なキャリブレーションデータ（ゲイン値）を作成することができる。この結果、画像データの画質向上という効果を得ることができる。
【００４０】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００４１】
（１）上述した実施例では、天板１を移動しながらキャリブレーションデータを作成していたが、予め定まったキャリブレーション位置なる場所を決めておき、その位置における天板１のノイズデータを予め計測しておいてもよい。そして、この天板１のノイズデータを基にノイズ除去部１０にて天板ノイズを除去してもよい。このようにしても、正確に欠損画素を検出し、キャリブレーションデータを作成することができる。この方法によれば、キャリブレーションデータ作成時に天板を移動する必要が無いので、オペレータによるキャリブレーションデータの作成がより容易になる効果が得られる。
【００４２】
（２）上述した実施例では、天板１を移動しながらキャリブレーションデータを作成していたが、天板１を揺動させながらキャリブレーションデータを作成してもよい。この場合、図６に示されるように、天板１に隣接して天板揺動機構部３３を設置し、天板揺動機構制御部３５により揺動させればよい。これより、天板１に起因するノイズに周期性がある無しにかかわらず、天板１に起因するノイズの平滑化を行うことができる。
【００４３】
（３）上述した実施例では、天板１を長手方向へ移動しながらキャリブレーションデータを作成していたが、天板１を短手方向へ移動しながらキャリブレーションデータを作成してもよい。
また、天板１の代わりにX線管２とFPD３とを対にして天板１の長手方向または短手方向へ移動しながらキャリブレーションデータを作成してもよい。この場合、FPD制御部５およびX線管制御部７がこの発明における移動制御手段に相当する。
【００４４】
（４）上述した実施例では、Ｘ線を検出するＸ線検出器を例に採って説明したが、この発明は、ＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように放射性同位元素（ＲＩ）を投与された被検体から放射されるγ線を検出するγ線検出器に例示されるように、放射線を検出する放射線検出器であれば特に限定されない。同様に、この発明は、上述したＥＣＴ装置に例示されるように、放射線を検出して撮像を行う装置であれば特に限定されない。
【００４５】
（５）上述した実施例では、ＦＰＤ３は、放射線（実施例ではＸ線）感応型の半導体を備え、入射した放射線を放射線感応型の半導体で直接的に電荷信号に変換する直接変換型の検出器であったが、放射線感応型の替わりに光感応型の半導体を備えるとともにシンチレータを備え、入射した放射線をシンチレータで光に変換し、変換された光を光感応型の半導体で電荷信号に変換する間接変換型の検出器であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】実施例に係るＸ線診断装置のブロック図である。
【図２】実施例に係るＸ線診断装置に用いられる側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図３】実施例に係る平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器の等価回路である。
【図４】実施例に係るキャリブレーションの一連の制御シーケンスを示すフローチャートである。
【図５】実施例に係るキャリブレーションデータの作成を示す説明図である。
【図６】本発明の他の実施例に係るＸ線診断装置のブロック図である。
【図７】従来例に係るキャリブレーションデータの作成を示す説明図である。
【符号の説明】
【００４７】
１  …  天板
２  …  Ｘ線管
３  …  フラットパネル型X線検出器（ＦＰＤ）
４  …  天板制御部
５  …  FPD制御部
６  …  高電圧発生部
７  …  Ｘ線管制御部
８  …  画像処理部
９  …  メモリ部
１０  …  ノイズ除去部
１１  …  欠損画素検出部
１２  …  キャリブレーションデータ作成部
１３  …  キャリブレーションデータメモリ部
１４  …  画像補正部
１５  …  コントローラ
１６  …  入力部
１７  …  モニタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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