(57)【要約】【課題】振動を検知するだけでなく、その振動がどこで発生しているのかという位置情報を得ることが可能なサニャック干渉型の光ファイバ振動センサを提供する。【解決手段】振動を検出するフェンスなどの構造体４に沿って配置される光ファイバループ２ａ，２ｂと、構造体４で発生した振動を光ファイバループ２ａ，２ｂを介して検出する振動センサ本体３とを備えたサニャック干渉型の光ファイバ振動センサ１において、構造体４に沿って、長さの異なる複数の光ファイバループ２ａ，２ｂを配置するものである。【選択図】図１
2010048706.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
振動を検出するフェンスなどの構造体に沿って配置される光ファイバループと、前記構造体で発生した振動を前記光ファイバループを介して検出する振動センサ本体とを備えたサニャック干渉型の光ファイバ振動センサにおいて、
前記構造体に沿って、長さの異なる複数の前記光ファイバループを配置することを特徴とする光ファイバ振動センサ。
【請求項２】
前記構造体をその長さ方向に区画して複数の検査対象領域を形成し、前記構造体に沿って配置される前記光ファイバループは、前記検査対象領域の数と同じ本数とされると共に、順次前記検査対象領域ごとに異なる長さに形成される請求項１記載の光ファイバ振動センサ。
【請求項３】
前記各光ファイバループが前記振動センサ本体に接続され、前記振動センサ本体は、各光ファイバループの振動の強度を検出すると共に、検出した各光ファイバループの振動の強度を比較して、振動が発生した前記検査対象領域を特定する請求項２記載の光ファイバ振動センサ。
【請求項４】
前記構造体をその長さ方向に区画して長さＬ1、Ｌ2、・・・、Ｌnの前記検査対象領域を形成し、前記光ファイバループがｎ個とされ、各光ファイバループの長さｌが［数１］に示す式（１）
【数１】
2010048706.tif 000005
に形成される請求項２または３記載の光ファイバ振動センサ。
【請求項５】
前記構造体をその長さ方向に区画して長さＬの前記検査対象領域をｎ個形成し、前記光ファイバループがｎ個とされ、各光ファイバループがＬ×ｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）の長さに形成される請求項２または３記載の光ファイバ振動センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、侵入検知センサなどに用いられるサニャック干渉型の光ファイバ振動センサに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
侵入者による盗難や破壊、情報の流出を抑制するため、あるいは人身の安全を確保するため、フィジカルセキュリティ技術への関心が高まっている。特に、空港や港湾、発電所などの重要施設では、敷地境界にフェンスを設けて不法侵入を阻止する措置がとられているが、フェンスの物理的な高さや強度には限界があり、不法侵入行為を検知する侵入検知センサの併設が必要になっている。
【０００３】
このような侵入検知センサとして、フェンスなどの構造体に固定し、その構造体の振動を検知する振動センサが注目されており、低コスト化やフィールドでの耐久性が期待できることから、サニャック干渉系を用いたサニャック干渉型の光ファイバ振動センサが注目されている。
【０００４】
図５に示すように、従来のサニャック干渉型の光ファイバ振動センサ５１では、光ファイバループ５２の一部を振動検知用のセンサ検知部として用い、この光ファイバループ５２をフェンスなどの構造体に沿って配置している。
【０００５】
この光ファイバ振動センサ５１では、光源５３から出射した光は、第１の光カプラ５４を伝搬し、偏光子５５で直線偏光にされ、第２の光カプラ５６で２つに分岐されて、光ファイバループ５２の異なる端にそれぞれ入射する。光ファイバループ５２に入射した光のうち、一方を右回り光Ｌcw、他方を左回り光Ｌccwとする。
【０００６】
これら左右回り光Ｌcw，Ｌccwは、位相変調器５７で光の位相を変調され、光ファイバループ５２を一周して再び第２の光カプラ５６に入射する。第２の光カプラ５６に入射した左右回り光Ｌcw，Ｌccwは、第２の光カプラ５６で干渉して干渉光となり、偏光子５５を伝搬し、第１の光カプラ５４で再び２つの光に分岐され、分岐された一方の光は受光器５８で受光される。
【０００７】
光ファイバループ５２が振動していないときは、受光器５８は常に一定の光強度を検出しているが、光ファイバループ５２が振動すると、左右回り光Ｌcw，Ｌccwに位相差が生じ、受光器５８で検出する光強度が変化する。この光強度の変化を信号処理ユニット５９により検出することで、光ファイバループ５２の振動を検知する。
【０００８】
光ファイバ振動センサ５１では、光ファイバループ５２の振動を検知することにより、侵入者によって構造体に与えられた振動を検知することができる（例えば、特許文献１参照）。
【０００９】
【特許文献１】特開２００６−２０８０８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、図５の光ファイバ振動センサ５１では、構造体の振動を光ファイバループ５２の振動を介して検知することはできるものの、光ファイバループ５２のどの位置で振動が発生したかを特定することができず、例えば、侵入者の位置（侵入位置情報）を特定することができなかった。
【００１１】
しかし、近年、サニャック干渉型の光ファイバ振動センサを利用して、例えば、侵入者を検知するだけでなく、どこから侵入者が侵入したのかという侵入位置情報を特定したいというニーズがある。
【００１２】
本発明は、上記事情に鑑み為されたものであり、振動を検知するだけでなく、その振動がどこで発生しているのかという位置情報を得ることが可能なサニャック干渉型の光ファイバ振動センサを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は上記目的を達成するために創案されたものであり、請求項１の発明は、振動を検出するフェンスなどの構造体に沿って配置される光ファイバループと、前記構造体で発生した振動を前記光ファイバループを介して検出する振動センサ本体とを備えたサニャック干渉型の光ファイバ振動センサにおいて、前記構造体に沿って、長さの異なる複数の前記光ファイバループを配置する光ファイバ振動センサである。
【００１４】
請求項２の発明は、前記構造体をその長さ方向に区画して複数の検査対象領域を形成し、前記構造体に沿って配置される前記光ファイバループは、前記検査対象領域の数と同じ本数とされると共に、順次前記検査対象領域ごとに異なる長さに形成される請求項１記載の光ファイバ振動センサである。
【００１５】
請求項３の発明は、前記各光ファイバループが前記振動センサ本体に接続され、前記振動センサ本体は、各光ファイバループの振動の強度を検出すると共に、検出した各光ファイバループの振動の強度を比較して、振動が発生した前記検査対象領域を特定する請求項２記載の光ファイバ振動センサである。
【００１６】
請求項４の発明は、前記構造体をその長さ方向に区画して長さＬ1、Ｌ2、・・・、Ｌnの前記検査対象領域を形成し、前記光ファイバループがｎ個とされ、各光ファイバループの長さｌが［数１］に示す式（１）
【００１７】
【数１】
2010048706.tif 000003
【００１８】
に形成される請求項２または３記載の光ファイバ振動センサである。
【００１９】
請求項５の発明は、前記構造体をその長さ方向に区画して長さＬの前記検査対象領域をｎ個形成し、前記光ファイバループがｎ個とされ、各光ファイバループがＬ×ｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）の長さに形成される請求項２または３記載の光ファイバ振動センサである。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、振動を検知するだけでなく、その振動がどこで発生しているのかという位置情報を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面にしたがって説明する。
【００２２】
本発明の光ファイバ振動センサは、サニャック干渉型の光ファイバ振動センサであり、例えば、侵入検知センサとして用いられるものである。
【００２３】
図１は、本実施形態に係る光ファイバ振動センサの斜視図である。
【００２４】
図１に示すように、光ファイバ振動センサ１は、振動を検出するフェンスなどの構造体４に沿って配置される、長さの異なる複数（図１では２本）の光ファイバループ２ａ，２ｂと、構造体４で発生した振動を光ファイバループ２ａ，２ｂを介して検出する振動センサ本体３とを備える。
【００２５】
光ファイバループ２ａは、光ファイバをループ状にしたものであり、光ファイバループ２ａを構成する光ファイバの長さは、光ファイバループ２ａの長さの略２倍（往復分）となる。光ファイバループ２ｂについても同様である。
【００２６】
各光ファイバループ２ａ，２ｂは、構造体４に沿って略平行に設けられ、各光ファイバループ２ａ，２ｂは、振動センサ本体３にそれぞれ接続される。
【００２７】
本実施形態では、構造体４をその長さ方向に区画して２つの検査対象領域Ａ，Ｂを形成している。検査対象領域Ａ，Ｂは概念的な領域であり、光ファイバ振動センサ１の設定値として画一的に定めるものではない。要するに、検知対象領域Ａ，Ｂは、光ファイバループ２ａ，２ｂの配置状態（構造体４の形状）によって変化するものである。
【００２８】
検査対象領域Ａ，Ｂの長さ（光ファイバループ２ａ，２ｂに沿った長さ）は、構造体４の長さや形状、要求される位置分解機能などに応じて任意に設定でき、例えば、数ｍ〜数ｋｍである。
【００２９】
各光ファイバループ２ａ，２ｂは、順次検査対象領域Ａ，Ｂごとに異なる長さに形成される。具体的には、光ファイバループ２ａは、検査対象領域Ａの長さと、検査対象領域Ｂの長さを足した長さ（光ファイバループ２ａを構成する光ファイバはその略２倍の長さ）に形成され、光ファイバループ２ｂは、検査対象領域Ａと同じ長さ（光ファイバループ２ｂを構成する光ファイバはその略２倍の長さ）に形成される。
【００３０】
つまり、光ファイバループ２ａは検査対象領域Ａおよび検査対象領域Ｂの全長にわたって配置され、光ファイバループ２ｂは検査対象領域Ａの全長にわたって配置される。これにより、検査対象領域Ａには光ファイバループ２ａ，２ｂが存在し、検査対象領域Ｂには光ファイバループ２ａのみが存在することになる。
【００３１】
振動センサ本体３と構造体４とを離して設ける場合は、各光ファイバループ２ａ，２ｂを、上述した長さに振動センサ本体３と構造体４間の長さを足した長さに形成するとよい。
【００３２】
光ファイバループ２ａ，２ｂとしては、偏波面保存光ファイバ（ＰＭＦ：Polarization Maintaining Fiber）を用いるとよい。これは、光ファイバループ２ａ，２ｂとしてシングルモード光ファイバ（ＳＭＦ：Single Mode Fiber）を用いた場合、ＳＭＦでは互いに直交した伝搬定数のわずかに異なる２つの固有偏光モードが伝搬するために、振動や温度変化などの外乱によりモード変換が発生し、このモード変換による干渉雑音が発生してしまうためである。
【００３３】
図２に示すように、振動センサ本体３は、各光ファイバループ２ａ，２ｂに対応した、光源２１、フォトダイオードなどの受光器２２、第１の光カプラ２３、偏光子２４、第２の光カプラ２５、位相変調器２６、およびこれらを光学的に接続する接続用光ファイバ２７ａ，２７ｂ，２７ｃを備え、さらに、各光ファイバループ２ａ，２ｂ共用の信号処理ユニット２８とこれらを収容する筐体２９とを備える。
【００３４】
光源２１としては、例えば、ＳＬＤ（スーパールミネッセントダイオード）を用いるとよい。これにより、光ファイバループ２ａ，２ｂからの戻り光とレイリー散乱光とが干渉して発生する干渉ノイズを低減することができる。
【００３５】
光源２１および受光器２２にはそれぞれ接続用光ファイバ２７ａ，２７ｂが接続され、両接続用光ファイバ２７ａ，２７ｂは共に光分岐結合素子である第１の光カプラ２３に接続される。光カプラ２３，２５は、１×２入出力ポートを有する光ファイバカプラである。第１の光カプラ２３は接続用光ファイバ２７ｃに接続され、接続用光ファイバ２７ｃは第２の光カプラ２５の１入出力ポートに接続される。第２の光カプラ２５の２入出力ポートには、光ファイバループ２ａ（あるいは２ｂ）の両端がそれぞれ接続される。
【００３６】
第１の光カプラ２３と第２の光カプラ２５間の接続用光ファイバ２７ｃには、偏光子２４が形成される。この偏光子２４は、接続用光ファイバ２７ｃの一部をコイル状に形成すると共に、コアの複屈折を大きくしたファイバ型の偏光子である。偏光子２４は、光源２１からの光を直線偏光にするためのものである。
【００３７】
光ファイバループ２ａ，２ｂの一端側には、位相変調器２６が設けられる。この位相変調器２６は、光ファイバループ２ａ，２ｂを互いに反対方向に伝搬する光に相対的に時間遅れのある位相変調をかけるものである。
【００３８】
受光器２２で検出される光の強度は、光ファイバループ２ａ（あるいは２ｂ）を互いに反対方向に伝搬する光の位相差の正弦に比例するため、零付近の位相差、すなわち微少な振動に対する感度が低い。よって、位相変調器２６により位相変調を行って位相差を大きくすることにより、微少な振動に対する感度を向上させることができる。
【００３９】
本実施形態では、位相変調器２６として、振動子とする円筒状のＰＺＴ（ピエゾセラミック）に光ファイバループ２ａ（あるいは２ｂ）の一部を巻き付けたものを用いた。この位相変調器２６では、ＰＺＴへ印加する電圧により、ＰＺＴに巻き付けた光ファイバループ２ａ，２ｂを伸縮させることで、光ファイバループ２ａ，２ｂを伝搬する光の位相を変調することができる。
【００４０】
接続用光ファイバ２７ａ，２７ｂ，２７ｃとしては、光ファイバループ２ａ，２ｂと同様に、偏波面保存光ファイバを用いるとよい。
【００４１】
信号処理ユニット２８は、光源２１の駆動、受信器２２で検出された光信号が光電変換された電気信号の処理、位相変調器２６の変調レベルの制御、処理結果（振動波形、振動の強度など）の出力などを行うためのものである。信号処理ユニット２８は、光源２１、受信器２２、および位相変調器２６と電気的に接続される。
【００４２】
また、信号処理ユニット２８は、受信器２２からの電気信号をもとに各光ファイバループ２ａ，２ｂの振動の強度を検出すると共に、検出した各光ファイバループ２ａ，２ｂの振動の強度を比較して、振動が発生した検査対象領域を特定する領域特定手段を備える。
【００４３】
次に、本実施形態に係る光ファイバ振動センサ１の動作を説明する。
【００４４】
光源２１から出射した光は、第１の光カプラ２３を伝搬し、偏光子２４で直線偏光にされ、第２の光カプラ２５に入射する。第２の光カプラ２５では、入射した光が２つに分岐され、分岐された光は光ファイバループ２ａ，２ｂの異なる端にそれぞれ入射する。
【００４５】
光ファイバループ２ａ，２ｂを伝搬する左右回り光は、位相変調器２６で位相変調され、光ファイバループ２ａ，２ｂを一周して再び第２の光カプラ２５に入射する。第２の光カプラ２５に入射した左右回り光は、第２の光カプラ２５で干渉して干渉光となる。この干渉光は、偏光子２４を伝搬し、第１の光カプラ２３で再び２つの光に分岐され、分岐された一方の光は受光器２２で受光される。
【００４６】
光ファイバループ２ａ，２ｂが振動していないときは、受光器２２は常に一定の光強度を検出しているが、光ファイバループ２ａ，２ｂが振動すると、光ファイバループ２ａ，２ｂを伝搬する左右回り光に位相差が生じ、受光器２２で検出する光強度が変化する。受光器２２で受光する光強度は左右回り光の位相差の正弦に比例するので、光ファイバループ２ａ，２ｂに与えられた振動が大きいほど、位相差が大きくなり、受光器２２で受光する光強度の変化も大きくなる。
【００４７】
信号処理ユニット２８は、受光器２２からの電気信号に基づき、受光器２２で受光する光強度の変化を検出することで、光ファイバループ２ａ，２ｂの振動を検知すると共に、光ファイバループ２ａ，２ｂに与えられた振動の強度も得ることができる。
【００４８】
ここで、各検査対象領域Ａ，Ｂで振動が発生した場合についてそれぞれ説明する。
【００４９】
検査対象領域Ａで振動が発生した場合、この検査対象領域Ａには光ファイバループ２ａ，２ｂが存在するため、両光ファイバループ２ａ，２ｂがほぼ同じ強度で振動する。
【００５０】
検査対象領域Ａで振動が発生した場合に、両光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動波形の一例を図３（ａ）および図３（ｂ）に示す。図３（ａ）は、光ファイバループ２ａより得られた振動波形であり、図３（ｂ）は、光ファイバループ２ｂより得られた振動波形である。
【００５１】
図３（ａ）および図３（ｂ）に示すように、検査対象領域Ａで振動が発生した場合、両光ファイバループ２ａ，２ｂがほぼ同じ強度で振動するため、両光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動波形は略同じものとなり、信号処理ユニット２８で得られる振動の強度はほぼ同じになる。なお、検査対象領域Ａで振動が発生した場合、光ファイバループ２ａにより振動を検出した時間ｔ1と、光ファイバループ２ｂにより振動を検出した時間ｔ1’はほぼ同じになる。すなわち、両光ファイバループ２ａ，２ｂでほぼ同時に振動が検出される。
【００５２】
一方、検査対象領域Ｂで振動が発生した場合、この検査対象領域Ｂには光ファイバループ２ａのみが存在するため、光ファイバループ２ａの振動の強度が大きくなり，光ファイバループ２ｂの振動の強度が小さくなる。
【００５３】
このとき、信号処理ユニット２８により得られる振動波形の一例を図４（ａ）および図４（ｂ）に示す。図４（ａ）は、光ファイバループ２ａより得られた振動波形であり、図４（ｂ）は、光ファイバループ２ｂより得られた振動波形である。
【００５４】
図４（ａ）および図４（ｂ）に示すように、検査対象領域Ｂで振動が発生した場合、光ファイバループ２ａより得られる振動波形は、光ファイバループ２ｂより得られる振動波形とは異なり、信号処理ユニット２８で得られる振動の強度は、光ファイバループ２ｂより得られる振動の強度よりも光ファイバループ２ａより得られる振動の強度の方が大きくなる。なお、検査対象領域Ｂで振動が発生した場合、振動が光ファイバループ２ｂに伝わるのに時間がかかるため、光ファイバループ２ａにより振動を検出した時間ｔ2と、光ファイバループ２ｂにより振動を検出した時間ｔ2’との間には時間差（遅れ）が生じる。
【００５５】
つまり、両光ファイバループ２ａ，２ｂより得られた振動の強度が同じ場合には、検査対象領域Ａで振動が発生したことになり、光ファイバループ２ａより得られた振動の強度が光ファイバループ２ｂより得られた振動の強度よりも大きい場合には、検査対象領域Ｂで振動が発生したことになる。
【００５６】
このように、検査対象領域Ａで振動が発生した場合と、検査対象領域Ｂで振動が発生した場合とでは、光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動の強度が異なる。
【００５７】
信号処理ユニット２８の領域特定手段は、光ファイバループ２ａ（または２ｂ）である時間に振動を検知したとき、その光ファイバループ２ａ（または２ｂ）で検知した振動の強度と、これと同じ時間における他の光ファイバループ２ｂ（または２ａ）の振動の強度とを比較する。
【００５８】
信号処理ユニット２８の領域特定手段は、各光ファイバループ２ａ，２ｂで得られる振動の強度を比較することにより、どの検査対象領域で振動が発生したかを特定する。信号処理ユニット２８は、領域特定手段により特定した振動が発生した検査対象領域の情報を、例えば、外部に接続された監視装置などに出力する。
【００５９】
これにより、振動が発生した位置（位置情報）を得ることができ、構造体４のどの位置で振動が発生したかという位置情報を得ることができる。
【００６０】
また、検査対象領域Ａ，Ｂの長さを、例えば、１０ｍ以上と長くした場合、検査対象領域Ｂで発生した振動が検査対象領域Ａに伝わるのに時間がかかり、光ファイバループ２ｂでの振動が遅れて検知される場合がある。この場合、最初に検知される光ファイバループ２ａの振動の強度と、光ファイバループ２ａの振動を検知した後に検知される光ファイバループ２ｂでの振動の強度とを比較するようにするとよい。
【００６１】
また、振動センサ本体３に最も近い検査対象領域Ａ以外の検査対象領域（本実施形態では検査対象領域Ｂ）では、その検査対象領域内のどの位置で振動が発生したかを推定することも可能である。
【００６２】
一例として、検査対象領域Ｂで振動が発生した場合を説明すると、検査対象領域Ｂの検査対象領域Ａに近い位置で振動が発生した場合は、光ファイバループ２ｂより得られる振動の強度が大きくなり、検査対象領域Ｂの検査対象領域Ａから離れた位置で振動が発生した場合は、光ファイバループ２ｂより得られる振動の強度が小さくなる。よって、予め光ファイバループ２ａより得られる振動の強度と光ファイバループ２ｂより得られる振動の強度の比と検査対象領域Ｂの振動が発生した位置との関係を求めておくことで、検査対象領域Ｂ内のどの位置で振動が発生したかを推定することもできる。さらに、各光ファイバループ２ａ，２ｂで振動を検出した時間差を考慮することで、より正確に検査対象領域Ｂ内のどの位置で振動が発生したかを推定することも可能である。
【００６３】
また、信号処理ユニット２８は、各光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動波形をフーリエ変換し、周波数特性から振動の要因を分析するようにしてもよい。これにより、雨や風などの自然現象による振動であるか、あるいは人的な要因による振動であるかを推定することが可能となる。
【００６４】
以上説明したように、本実施形態に係る光ファイバ振動センサ１では、フェンスなどの構造体４に沿って、長さの異なる複数の光ファイバループ２ａ，２ｂを配置している。
【００６５】
これにより、各光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動の強度を比較すれば、両光ファイバループ２ａ，２ｂが配置された位置で振動が発生したのか、あるいは一方の光ファイバループ２ａ（あるいは２ｂ）のみが配置された位置で振動が発生したのかを特定することができ、構造体４のどの位置で振動が発生したかという位置情報を得ることができる。振動が発生した位置情報を得ることにより、例えば、侵入者が侵入した侵入位置情報を得ることができる。
【００６６】
また、光ファイバ振動センサ１では、構造体４をその長さ方向に区画して複数の検査対象領域Ａ，Ｂを形成し、光ファイバループ２ａ，２ｂを、検査対象領域の数と同じ本数とすると共に、順次検査対象領域Ａ，Ｂごとに異なる長さに形成している。
【００６７】
これにより、各検査対象領域Ａ，Ｂには異なる本数の光ファイバループ２ａ，２ｂが存在することになるため、各光ファイバループ２ａ，２ｂより得られる振動の強度を比較すれば、どの検査対象領域で振動が発生したかを特定することができる。検査対象領域の長さ（光ファイバループ２ａ，２ｂに沿った長さ）は任意に設計可能であるため、配置された監視カメラの台数や、構造体４の長さ、あるいは要求される位置分解能などに応じて自由度の高い設計を行うことが可能である。
【００６８】
本発明の実施の形態は、上記実施の形態に限定されるものではない。
【００６９】
例えば、上記実施の形態では、検査対象領域を２つとしたが、これに限定されず、検査対象領域を３つ以上としてもよい。この場合、検査対象領域の数と同じ本数の光ファイバループを配置し、各光ファイバループを順次検査対象領域ごとに異なる長さに形成する（検査対象領域に存在する光ファイバループの本数がそれぞれ異なるようにする）とよい。
【００７０】
具体的には、検査対象領域をｎ個形成した場合、振動センサ本体３に最も近い検査対象領域には光ファイバループがｎ本存在するようにし、振動センサ本体３から離れるにしたがって光ファイバループの本数を順次減少させ、振動センサ本体３から最も離れた検査対象領域には光ファイバループが１本存在するようにするとよい。
【００７１】
この場合、信号処理ユニット２８の領域特定手段は、検査対象領域内の全ての光ファイバループより得られる振動の強度が同じであり、かつ、振動センサ本体３に最も近い検査対象領域を、振動が発生した検査対象領域と特定することになる。
【００７２】
構造体４をその長さ方向に区画して長さＬ1、Ｌ2、・・・、Ｌnの検査対象領域を形成した場合、光ファイバループがｎ個とされ、各光ファイバループの長さｌは［数２］に示す式（１）
【００７３】
【数２】
2010048706.tif 000004
【００７４】
に形成される。
【００７５】
各検査対象領域の長さ（光ファイバループに沿った長さ）を等しく形成した場合には、検査対象領域の長さをＬとすると、各光ファイバループの長さは、Ｌ×ｉ（ｉ＝１，２，・・・，ｎ）に形成される。
【００７６】
検査対象領域の数を増加させる、すなわち、光ファイバループの本数を増加させることにより、位置分解機能を向上させることができる。
【００７７】
上記実施形態では、光ファイバループの本数を検査対象領域の数と同じとしたが、光ファイバループの本数は検査対象領域の数以上であればよく、例えば、検査対象領域ごとに２本ずつの光ファイバループを配置するようにしてもよい。
【００７８】
また、上記実施の形態では、各光ファイバループ２ａ，２ｂに対応した光源２１をそれぞれ設けたが、各光ファイバループ２ａ，２ｂ共用の１つの光源を設けるようにしてもよい。
【００７９】
さらに、上記実施の形態では、各光ファイバループ２ａ，２ｂを１つの振動センサ本体３に接続したが、各光ファイバループ２ａ，２ｂを、各光ファイバループ２ａ，２ｂに対応した別の振動センサ本体にそれぞれ接続し、各振動センサ本体から出力された振動のデータ（振動波形あるいは振動の強度）を別途設けた分析装置に入力し、その分析装置で各光ファイバループ２ａ，２ｂより得られた振動の強度を比較して、どの検査対象領域で振動が発生したかを特定するようにしてもよい。
【００８０】
上記実施形態では光ファイバループ２ａ，２ｂを構造体４に沿って略平行に設けたが、本技術思想から逸脱していなければ、略平行でなくてもよく、例えば、光ファイバループ２ａと光ファイバループ２ｂとを４５度に開いて設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】本発明の光ファイバ振動センサの斜視図である。
【図２】図１の光ファイバ振動センサの概略上面図である。
【図３】図３（ａ）、（ｂ）は、図１の光ファイバ振動センサにおいて検査対象領域Ａで振動が発生した場合の、各光ファイバループから得られる振動波形を示す図である。
【図４】図４（ａ）、（ｂ）は、図１の光ファイバ振動センサにおいて検査対象領域Ｂで振動が発生した場合の、各光ファイバループから得られる振動波形を示す図である。
【図５】従来の光ファイバ振動センサの概略図である。
【符号の説明】
【００８２】
１  光ファイバ振動センサ
２ａ，２ｂ  光ファイバループ
３  振動センサ本体
４  構造体
【図１】
2010048706.tif 000006
【図２】
2010048706.tif 000007
【図３】
2010048706.tif 000008
【図４】
2010048706.tif 000009
【図５】
2010048706.tif 000010