(57)【要約】【課題】配線間のショート欠陥を容易に修理できるようにした有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を提供すること。【解決手段】第１配線２０及び第２配線４０の間で発生したショート欠陥を修理する有機電界発光表示装置の配線修理構造において、第１配線２０とのショート欠陥部分が切断されて切断された部分が残りの部分と断絶された第２配線４０と、第２配線４０と隣接するように配置され、ショート欠陥部分と隣接した一領域が切断されて切断された部分が残りの部分と断絶された第３配線５０と、第２配線４０が第３配線５０の切断された部分を通じて電気的な連結状態を維持するように第２配線４０の残りの部分と第３配線５０の切断された部分を電気的に連結する第１リペアパターンＲＰ１と、を備える。【選択図】図１
2010044353.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１及び第２配線の間で発生したショート欠陥を修理する有機電界発光表示装置の配線修理構造において、
前記第１配線とのショート欠陥部分が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第２配線と、
前記第２配線と隣接するように配置され、前記ショート欠陥部分と隣接した一領域が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第３配線と、
前記第２配線が前記第３配線の切断された部分を通じて電気的な連結状態を維持するように前記第２配線の残りの部分と前記第３配線の切断された部分を電気的に連結する第１リペアパターンと、
を備える有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項２】
前記第３配線は、両方向から信号の供給を受ける両方向配線であることを特徴とする請求項１に記載の有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項３】
前記第１配線と前記第２及び第３配線は絶縁膜を介在し、互いに交差するように配置され、
前記第１配線は前記絶縁膜の下部に配置され、前記第２及び第３配線は前記絶縁膜の上部に並んで配置されることを特徴とする請求項１に記載の有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項４】
前記第３配線と隣接するように配置され、前記第３配線の切断された部分と隣接した一領域が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第４配線と、
前記第３配線が前記第４配線の切断された部分を通じて電気的な連結状態を維持するように前記第４配線の切断された部分と前記第３配線の残りの部分を電気的に連結する第２リペアパターンと、
を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項５】
前記第４配線は、両方向から信号の供給を受ける両方向配線であることを特徴とする請求項４に記載の有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項６】
前記第４配線が電気的な連結状態を維持するように前記第４配線の残りの部分を互いに電気的に連結する第３リペアパターンを更に備えることを特徴とする請求項４に記載の有機電界発光表示装置の配線修理構造。
【請求項７】
第１及び第２配線の間で発生したショート欠陥を前記第２配線と隣接した第３配線を用いて修理する有機電界発光表示装置の配線修理方法において、
前記第１配線とのショート欠陥部分が残りの部分と断絶されるように前記第２配線を切断し、前記ショート欠陥部分と隣接した前記第３配線の一領域を切断して切断された部分を前記第３配線の残りの部分と断絶させる段階と、
前記ショート欠陥部分を除いた前記第２配線の残りの部分を前記第３配線の切断された部分と電気的に連結する第１リペアパターンを形成して前記第２配線の電気的な連結状態を修理する段階と、
を含む有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【請求項８】
前記有機電界発光表示装置において、前記第３配線の両側から前記切断された部分の方向に信号が印加されることを特徴とする請求項７に記載の有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【請求項９】
前記第３配線と隣接した第４配線を用いて前記第３配線の電気的な連結状態を修理する段階を更に含むことを特徴とする請求項７に記載の有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【請求項１０】
前記第３配線の連結状態を修理する段階は、
前記第３配線の切断された部分と隣接した前記第４配線の一領域を切断して、切断された部分を前記第４配線の残りの部分と断絶させる段階と、
前記第３配線の残りの部分と前記第４配線の切断された部分を電気的に連結する第２リペアパターンを形成する段階と、
を含むことを特徴とする請求項９に記載の有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【請求項１１】
前記有機電界発光表示装置において、前記第４配線の両側から前記切断された部分の方向に信号が印加されることを特徴とする請求項１０に記載の有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【請求項１２】
前記第４配線の残りの部分を互いに電気的に連結する第３リペアパターンを形成して前記第４配線の電気的な連結状態を修理する段階を更に含むことを特徴とする請求項１０に記載の有機電界発光表示装置の配線修理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法に関し、特に、配線間のショート欠陥を修理するための有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機電界発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｓｐｌａｙ Ｄｅｖｉｃｅ）は、自発光素子である有機発光ダイオードを用いて映像を表示する平板表示装置の一種であって、輝度及び色純度に優れていることから、次世代表示装置として注目されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】大韓民国特許公開第２００４−００５９６７２号公報
【特許文献２】大韓民国特許公開第２００３−００４５４５６号公報
【特許文献３】特開２００５−０４３６３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
有機電界発光表示装置は、走査信号及びデータ信号などはもちろん、第１及び第２画素電源ＥＬＶＤＤ、ＥＬＶＳＳの供給を受けて駆動される。また、アクティブマトリックス型有機電界発光表示装置の場合、各画素毎に多数のトランジスタ及びキャパシタを備え、画素の構造によっては初期化電源などが追加で供給されて駆動される。
【０００５】
従って、有機電界発光表示装置は、液晶表示装置及びプラズマ表示パネルなどの他の平板表示装置に比べて複雑な配線構造を有する。
【０００６】
これにより、有機電界発光表示装置の配線の間でショート欠陥などが発生する場合、これを修理するための空間が十分に確保されず、配線の修理が難しいという問題点がある。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、配線間のショート欠陥を容易に修理することが可能な、新規かつ改良された有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、第１及び第２配線の間で発生したショート欠陥を修理する有機電界発光表示装置の配線修理構造において、前記第１配線とのショート欠陥部分が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第２配線と、前記第２配線と隣接するように配置され、前記ショート欠陥部分と隣接した一領域が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第３配線と、前記第２配線が前記第３配線の切断された部分を通じて電気的な連結状態を維持するように前記第２配線の残りの部分と前記第３配線の切断された部分を電気的に連結する第１リペアパターンとを備える有機電界発光表示装置の配線修理構造が提供される。
【０００９】
また、前記第３配線は、両方向から信号の供給を受ける両方向配線であってもよい。
【００１０】
また、前記第１配線と前記第２及び第３配線は絶縁膜を介在し、互いに交差するように配置され、前記第１配線は前記絶縁膜の下部に配置され、前記第２及び第３配線は前記絶縁膜の上部に並んで配置されるものであってもよい。
【００１１】
また、前記第３配線と隣接するように配置され、前記第３配線の切断された部分と隣接した一領域が切断されて、切断された部分が残りの部分と断絶された第４配線と、前記第３配線が前記第４配線の切断された部分を通じて電気的な連結状態を維持するように前記第４配線の切断された部分と前記第３配線の残りの部分を電気的に連結する第２リペアパターンと、を更に備えるものであってもよい。
【００１２】
また、前記第４配線は、両方向から信号の供給を受ける両方向配線であってもよい。
【００１３】
また、前記第４配線が電気的な連結状態を維持するように前記第４配線の残りの部分を互いに電気的に連結する第３リペアパターンを更に備えるものであってもよい。
【００１４】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、第１及び第２配線の間で発生したショート欠陥を前記第２配線と隣接した第３配線を用いて修理する有機電界発光表示装置の配線修理方法において、前記第１配線とのショート欠陥部分が残りの部分と断絶されるように前記第２配線を切断し、前記ショート欠陥部分と隣接した前記第３配線の一領域を切断して切断された部分を前記第３配線の残りの部分と断絶させる段階と、前記ショート欠陥部分を除いた前記第２配線の残りの部分を前記第３配線の切断された部分と電気的に連結する第１リペアパターンを形成して前記第２配線の電気的な連結状態を修理する段階とを備える有機電界発光表示装置の配線修理方法が提供される。
【００１５】
また、前記有機電界発光表示装置において、前記第３配線の両側から前記切断された部分の方向に信号が印加されるものであってもよい。
【００１６】
また、前記第３配線と隣接した第４配線を用いて前記第３配線の電気的な連結状態を修理する段階を更に含むものであってもよい。
【００１７】
また、前記第３配線の連結状態を修理する段階は、前記第３配線の切断された部分と隣接した前記第４配線の一領域を切断して、切断された部分を前記第４配線の残りの部分と断絶させる段階と、前記第３配線の残りの部分と前記第４配線の切断された部分を電気的に連結する第２リペアパターンを形成する段階と、を含むものであってもよい。
【００１８】
また、前記有機電界発光表示装置において、前記第４配線の両側から前記切断された部分の方向に信号が印加されるものであってもよい。
【００１９】
前記第４配線の残りの部分を互いに電気的に連結する第３リペアパターンを形成して前記第４配線の電気的な連結状態を修理する段階を更に含むものであってもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、隣接配線を用いて欠陥が発生した配線を修理することで、修理空間を確保したか否かとは関係なく、配線を容易に修理できる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置の画素を示す回路図である。
【図２】配線の間でショート欠陥が発生した一例を示す平面図である。
【図３Ａ】本発明の一実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。
【図３Ｂ】本発明の一実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。
【図４Ａ】本発明の他の実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。
【図４Ｂ】本発明の他の実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。
【図５】本発明のもう１つの実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
下記の詳細な説明では、本発明の特定の実施形態を詳細に記載して示す。本発明の技術分野において通常の知識を有する者は、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で下記の実施形態を多様に変形できる。従って、添付する図面と説明は、本発明のある実施形態を説明するだけであって、本発明はこれに限定されるものではない。また、１つの構成要素が他の構成要素と「接触している（ｏｎ）」ということは、それがその他の構成要素と直接接触するか、または、１つ以上の要素を２つの間に介在させて間接的に接触していることを意味する。また、ある要素が他の要素に「結合されている」ということは、それがその他の要素に直接的に連結されているか、または、１つ以上の要素を２つの間に介在させて間接的に連結されていることを意味する。
【００２３】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００２４】
図１は、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置の画素を示す回路図である。図１を参照すれば、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置の画素１０は、第１及び第２トランジスタＭ１、Ｍ２、ストレージキャパシタＣｓｔ及び有機発光ダイオードＯＬＥＤを備える。
【００２５】
第１トランジスタＭ１はデータ線Ｄｍと第１ノードＮ１との間に接続され、第１トランジスタＭ１のゲート電極は走査線Ｓｎに接続される。このような第１トランジスタＭ１は、走査線Ｓｎから走査信号ＳＳが供給される時にターンオンされてデータ線Ｄｍから供給されるデータ電圧Ｖｄａｔａを第１ノードＮ１に供給する。
【００２６】
第２トランジスタＭ２は第１画素電源ＥＬＶＤＤと有機発光ダイオードＯＬＥＤとの間に接続され、第２トランジスタＭ２のゲート電極は第１ノードＮ１に接続される。このような第２トランジスタＭ２は、第１ノードＮ１の電圧に対応して有機発光ダイオードＯＬＥＤに供給される電流量を調節する。
【００２７】
ストレージキャパシタＣｓｔは、第１ノードＮ１と第１画素電源ＥＬＶＤＤとの間に接続される。このようなストレージキャパシタＣｓｔは、第１ノードＮ１にデータ電圧Ｖｄａｔａが供給されるとき、第１画素電源ＥＬＶＤＤとデータ電圧Ｖｄａｔａの差電圧を格納し、これを１フレーム期間維持する。
【００２８】
有機発光ダイオードＯＬＥＤは、第２トランジスタＭ２と第２画素電源ＥＬＶＳＳとの間に接続される。このような有機発光ダイオードＯＬＥＤは、第２トランジスタＭ２から供給される電流量に対応する輝度で発光する。
【００２９】
以下では、前述した画素１０の駆動方法を説明する。便宜上、第２トランジスタＭ２の閾値電圧などは考慮しないことにする。
【００３０】
まず、走査線Ｓｎにローレベルの走査信号ＳＳが供給されれば、第１トランジスタＭ１がターンオンされる。これにより、データ線Ｄｍから供給されるデータ電圧Ｖｄａｔａが第１ノードＮ１に供給される。
【００３１】
データ電圧Ｖｄａｔａが第１ノードＮ１に供給されれば、ストレージキャパシタＣｓｔには第１画素電源ＥＬＶＤＤとデータ電圧Ｖｄａｔａの差電圧ＥＬＶＤＤ−Ｖｄａｔａに対応する電圧が格納される。
【００３２】
すると、第２トランジスタＭ２は、ストレージキャパシタＣｓｔにより維持されるゲート電極とソース電極との間の電圧Ｖｇsに対応して、有機発光ダイオードＯＬＥＤに供給される電流量を制御する。そして、有機発光ダイオードＯＬＥＤは、第２トランジスタＭ２から供給される電流量に対応する輝度で発光する。
【００３３】
前述した画素１０の例からも分かるように、有機電界発光表示装置の場合、データ線Ｄｍを介して供給されるデータ電圧Ｖｄａｔａ及び第１電源線ＰＬｍを介して供給される第１画素電源ＥＬＶＤＤの電圧値によって画素１０の発光輝度が決定される。
【００３４】
従って、均一な映像を表示するためには画素１０が配置される位置と関係なく、均一なデータ電圧Ｖｄａｔａ及び第１画素電源ＥＬＶＤＤの供給を受けるようにしなければならない。
【００３５】
しかしながら、有機発光ダイオードＯＬＥＤが発光するとき、第１画素電源ＥＬＶＤＤから第２トランジスタＭ２及び有機発光ダイオードＯＬＥＤを経由して第２画素電源ＥＬＶＳＳに電流パスが形成されるので、第１電源線ＰＬｍで電圧降下ＩＲ
Ｄｒｏｐが発生する。このような電圧降下ＩＲ Ｄｒｏｐは、第１電源線ＰＬｍを経由する長さが長くなるほど、深刻になる。これにより、各画素には、その位置に応じて互いに異なる大きさの第１画素電源ＥＬＶＤＤが供給されることになる。特に、有機電界発光表示装置が大型化するほど、第１画素電源ＥＬＶＤＤの電圧降下による輝度偏差によって画質が不均一になり得る。
【００３６】
従って、有機電界発光表示装置を設計するとき、第１電源線ＰＬｍの両側から第１画素電源ＥＬＶＤＤを供給することで、第１画素電源ＥＬＶＤＤの電圧降下ＩＲ
Ｄｒｏｐを緩和させることができる。
【００３７】
また、データ電圧Ｖｄａｔａを伝達するデータ線Ｄｍの場合にも複数のデータ駆動部（図示せず）から両方向にデータ電圧Ｖｄａｔａを供給して速い速度で画素１０にデータ電圧Ｖｄａｔａが充電されるようにすることができる。
【００３８】
即ち、有機電界発光表示装置の場合、液晶表示装置などとは異なり、両方向から信号（又は電源）の供給を受ける両方向配線を形成できる。このような両方向配線の両端部はそれぞれパッド又は駆動回路と連結されて両方向から同時に信号（又は電源）の供給を受けるようになる。
【００３９】
一方、有機電界発光表示装置は、比較的に複雑な配線構造を有し、配線の間でショート欠陥が発生し易い。
【００４０】
しかしながら、有機電界発光表示装置の場合、配線が比較的に稠密に配置されるため、配線の修理に必要な新規配線を形成するための空間などの修理空間が不十分であり、配線が修理され難くなることもある。
【００４１】
従って、本発明では後述する実施形態を通じて、修理空間が十分に確保されなくても隣接配線を用いてショート欠陥を容易に修理する配線修理構造及びその修理方法を提示する。
【００４２】
図２は、配線の間でショート欠陥が発生した一例を示す平面図である。便宜上、図２では互いに交差する配線の間でショート欠陥が発生した一例を示す。
【００４３】
図２を参照すれば、絶縁膜３０を介在し、互いに交差するように第１配線２０と第２〜第４配線４０、５０、６０が配置される。
【００４４】
第１配線２０（下部配線）は、絶縁膜３０の下部に第１方向（水平方向）に形成される。例えば、第１配線２０はゲート金属で形成される走査線Ｓｎなどに設定されることができる。
【００４５】
第２〜第４配線４０、５０、６０（上部配線）は、絶縁膜３０の上部に第１方向と交差する第２方向（垂直方向）に順次並んで形成される。例えば、第２〜第４配線４０、５０、６０は、ソース／ドレイン金属で形成される第１電源線ＰＬｍ又はデータ線Ｄｍなどのソース／ドレイン配線に設定されることができる。
【００４６】
このような第１〜第４配線２０、４０、５０、６０は、互いに絶縁状態を維持しながら安定的に走査信号、第１画素電源ＥＬＶＤＤ及び／又はデータ電圧Ｖｄａｔａなどを伝達する。
【００４７】
しかしながら、もし図２中のＡのように第１配線２０と第２配線４０とが交差する交差部で絶縁膜３０が部分的になくなれば、第１配線２０と第２配線４０との間でショート欠陥が発生するようになる。
【００４８】
このようなショート欠陥を修理するための方法としては、上部に配置された第２配線４０を切断してショート欠陥部分を第２配線４０から断絶させた後、別途のリペアパターンを形成して第２配線４０の連結状態を修理する方法が挙げられる。
【００４９】
しかしながら、配線の間でリペアパターンを形成するための空間が十分に確保されない場合、第２配線４０の連結状態を修理するのが困難となる。この場合には、第２配線４０と隣接した第３配線５０を用いて第２配線４０の連結状態を修理することができる。これについての詳細な説明は後述する。
【００５０】
図３Ａ及び図３Ｂは、本発明の一実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。本実施形態では図２に示した第３配線５０が両方向配線である場合、第１配線２０と第２配線４０の交差部で発生したショート欠陥を修理する場合を仮定して説明する。ここで、図面における矢印は信号が印加される方向を示す。
まず、図３Ａを参照すれば、第１配線２０とのショート欠陥部分が残りの部分と断絶されるように第２配線４０を切断する。このとき、微細調整が可能なレーザなどを用いれば、第２配線４０を容易に切断できる。
【００５１】
そして、ショート欠陥部分と隣接した第３配線５０の一領域をレーザなどにより切断して切断された部分が第３配線５０の残りの部分と断絶されるようにする。このとき、第３配線５０は隣接するように並んで配置された第２配線４０の連結状態を修理するために切断されるものであって、第３配線５０の切断範囲は第２配線４０の切断範囲より広く設定される。
【００５２】
その後、図３Ｂに示すように、ショート欠陥部分を除いた第２配線４０の残りの部分を第３配線５０の切断された部分と電気的に連結する第１リペアパターンＲＰ１を形成する。
【００５３】
ここで、第１リペアパターンＲＰ１は、第２配線４０の残りの部分及び第３配線５０の切断された部分と直接的に接触する導電体で形成されることができる。ここで、第１リペアパターンＲＰ１に用いられる導電体の種類は一般的な配線の形成物質などから多様に選択されることができる。一方、第２〜第４配線４０、５０、６０の上部に図示していない絶縁膜などが形成された状態で配線の欠陥が修理される場合には、コンタクホールなどにより第１リペアパターンＲＰ１を第２配線４０の残りの部分及び第３配線５０の切断された部分と電気的に連結させることもできることはもちろんである。
【００５４】
このように、第１リペアパターンＲＰ１を形成することによって、ショート欠陥部分と断絶された第２配線４０の残りの部分が第１リペアパターンＲＰ１及び第３配線５０の切断された部分を通じて互いに電気的に連結される。これにより、第２配線４０の電気的な連結状態が修理される。
【００５５】
一方、第３配線５０の場合、切断された部分を中心に一領域がオープンされても、両側から切断された部分に向かう方向に信号の印加を受ける。従って、第３配線５０を切断してオープンにしたことによる駆動の問題は発生しない。このとき、第３配線５０が切断される範囲は、第３配線５０が伝達する電源及び／又は信号がパネル内部の構成要素、例えば、画素に円滑に信号を伝達できるようにする程度の所定範囲内で設定されることができる。
【００５６】
前述した実施形態によれば、隣接するように配置された両方向配線（即ち、第３配線５０）を用いることで、修理空間を確保したか否かとは関係なく、第１配線２０と第２配線４０との間で発生したショート欠陥を容易に修理できる。
【００５７】
図４Ａ及び図４Ｂは、本発明の他の実施形態に係る有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を示す平面図である。本実施形態では図２に示した第１〜第３配線（特に、第２〜第３配線）が単方向配線であり、第４配線が両方向配線である場合を仮定して説明する。便宜上、図４Ａ及び図４Ｂでは図３Ａ及び図３Ｂと同じ部分についての詳細な説明は省略する。
【００５８】
まず、図４Ａを参照すれば、第２配線４０と第３配線５０を切断することは勿論のこと、第３配線５０の切断された部分と隣接した第４配線６０の一領域を切断して、第４配線６０の切断された部分が第４配線６０の残りの部分と断絶されるようにする。このとき、第４配線６０は第３配線５０の連結状態を修理するために切断されるものであって、第４配線６０の切断範囲は第３配線５０の切断範囲より広く設定される。
【００５９】
その後、図４Ｂに示すように、ショート欠陥部分を除いた第２配線４０の残りの部分を第３配線５０の切断された部分と電気的に連結する第１リペアパターンＲＰ１と、第３配線５０の残りの部分と第４配線６０の切断された部分を電気的に連結する第２リペアパターンＲＰ２とを形成する。
【００６０】
ここで、第２リペアパターンＲＰ２は第１リペアパターンＲＰ１のようにその形成物質が特定物質に限定されるものではなく、一般的な配線の形成物質などから選択された導電体で形成されることができる。このような第２リペアパターンＰＲ２は第１リペアパターンＲＰ１と同じ物質で同時に形成されることもできることはもちろんである。
【００６１】
このように第１及び第２リペアパターンＲＰ１、ＲＰ２を形成することにより、切断によって一領域がオープンされた第２配線４０及び第３配線５０の電気的な連結状態が修理される。
【００６２】
一方、第４配線６０の場合、両側から切断された部分の方向に信号の印加を受けるので、第４配線６０を切断してオープンにしたことによる駆動の問題は発生しない。このとき、第４配線６０が切断される範囲は第４配線６０が伝達する電源及び／又は信号がパネル内部の構成要素、例えば、画素に円滑に信号を伝達できるようにする程度の所定範囲内で設定されることができる。
【００６３】
前述した実施形態によれば、両方向配線（即ち、第４配線６０）が直接的に隣接配置されなくても、隣接配線を用いて順に連結状態を修理することで、修理空間を確保したか否かとは関係なく、第１配線２０と第２配線４０との間で発生したショート欠陥を容易に修理できる。
【００６４】
一方、隣接配線を用いて順に連結状態を修理していく段階で、修理のための新規配線が形成される空間が確保される場合には、両方向配線を用いなくてもショート欠陥を修理できる。
【００６５】
例えば、図５に示すように、第４配線６０が単方向配線であっても第４配線６０の隣に新規配線が形成される空間が確保される場合には、確保された空間に第４配線６０の切断された部分を除いた残りの領域部分を互いに電気的に連結する第３リペアパターンＲＰ３を形成することで、第４配線６０の電気的な連結状態を修理できる。
【００６６】
一方、前述した実施形態では、互いに交差する第１配線２０及び第２配線４０の交差部で発生したショート欠陥を修理する場合を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、同一のレイヤに隣接するように配置された配線の間でショート欠陥が発生した場合にも、本発明の技術思想を適用してショート欠陥を修理できる。この場合には、ショート欠陥が発生した配線の他側に配置された隣接配線を用いてショート欠陥を修理することが可能である。
【００６７】
また、ショート欠陥ではなく、オープン欠陥が発生した場合には初めて欠陥が発生した配線を切断する工程を除いて、前述した実施形態と同じ過程で配線の連結状態を修理することもできる。
【００６８】
更に、ショート欠陥が発生した配線周囲の単方向配線のうちの少なくとも１つの配線に両方向に信号が供給されるように設計変更が可能であれば、図３Ａ〜図４Ｂに示す実施形態を用いて本発明を適用できることはもちろんである。
【００６９】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【００７０】
２０    第１配線
４０    第２配線
ＲＰ１  第１リペアパターン
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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