(57)【要約】【課題】本発明は書換え可能な光ディスクに対する試し書き処理において、消去できなかった領域を排除して記録パワーを調整することで、高い安定性と高い精度を確保できる試し書き処理を実現する記録パワーの調整方法及び光ディスク装置を提案する。【解決手段】光ディスクの試し書き領域に記録光を出力するための出力回路と、出力回路から出力される記録光の記録パワーを調整する制御回路と、を備える光ディスク装置の記録パワーの調整方法であって、制御回路が、試し書き領域に記録された記録マークを消去するステップと、試し書き領域への記録に対し記録動作を開始する閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録するステップと、記録パワーを変更しながら試し書き領域に記録するステップと、を含むことを特徴とする。【選択図】図１
2010044807.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの試し書き領域に記録光を出力するための出力回路と、前記出力回路から出力される記録光の記録パワーを調整する制御回路と、を備える光ディスク装置の記録パワーの調整方法であって、
前記制御回路が、前記試し書き領域に記録された記録マークを消去するステップと、
前記試し書き領域への記録に対し記録動作を開始する閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録するステップと、
前記記録パワーを変更しながら前記試し書き領域に記録するステップと、を含む
ことを特徴とする記録パワーの調整方法。
【請求項２】
前記制御回路が、複数のセクタで分割された前記試し書き領域に前記閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録された記録マークを用いて、記録パワーの調整対象とするか否かをセクタごとに判定するステップを含む
ことを特徴とする請求項１記載の記録パワーの調整方法。
【請求項３】
前記制御回路が、閾値数以上の不良セクタが存在する場合に、当該試し書き領域を記録パワーの調整対象の領域から除外するステップを含む
ことを特徴とする請求項２記載の記録パワーの調整方法。
【請求項４】
前記制御回路が、閾値数未満の不良セクタが存在する場合に、当該不良セクタを除外して記録パワーの調整を行うステップを含む
ことを特徴とする請求項２記載の記録パワーの調整方法。
【請求項５】
前記制御回路が、前記閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録されたマークの長さと、所定の記録マーク長が設定された基準長と、を比較し、前記セクタごとに得られたそれぞれの記録マーク長に対して、前記基準長から外れた又は前記基準長ではない記録マーク長として検出された個数が所定の閾値個数以下の場合に、当該マークが記録されたセクタを記録パワーの調整から除外するセクタであると判定するステップを含む
ことを特徴とする請求項２記載の記録パワーの調整方法。
【請求項６】
前記閾値パワーは、前記光ディスクに記載された設定値から算出した閾値パワー、前記光ディスクに記載された記録パワーの値と、前記記録パワー及び前記光ディスクに記載された閾値パワーの値との比から算出した閾値パワー、又は前記記録マークのエッジのずれの量を示すデータ−クロックジッタが１３％となる閾値パワー、のいずれかである
ことを特徴とする請求項１記載の記録パワーの調整方法。
【請求項７】
光ディスクの試し書き領域に記録光を出力するための出力回路と、
前記出力回路から出力される記録光の記録パワーを調整する制御回路と、を備え、
前記制御回路は、
前記試し書き領域に記録された記録マークを消去する消去処理と、前記記録パワーを変更しながら前記試し書き領域に記録する記録処理との間に、前記試し書き領域への記録に対し記録動作を開始する閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録マークを記録するように、前記記録パワーを制御する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
前記制御回路は、
複数のセクタで分割された前記試し書き領域に前記閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録された記録マークを用いて、記録パワーの調整対象とするか否かをセクタごとに判定する
ことを特徴とする請求項７記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記制御回路は、
閾値数以上の不良セクタが存在する場合に、前記記録処理で用いた当該試し書き領域を記録パワーの調整対象の領域から除外するように制御する
ことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
前記制御回路は、
閾値数未満の不良セクタが存在する場合に、当該不良セクタを除外して記録パワーの調整を行うように制御する
ことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記制御回路は、
前記閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録されたマークの長さと、所定の記録マーク長が設定された基準長と、を比較し、前記セクタごとに得られたそれぞれの記録マーク長に対して、前記基準長から外れた又は前記基準長ではない記録マーク長として検出された個数が所定の閾値個数以下の場合に、当該マークが記録されたセクタを記録パワーの調整から除外するセクタであると判定する
ことを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
前記閾値パワーは、前記光ディスクに記載された設定値から算出した閾値パワー、前記光ディスクに記載された記録パワーの値と、前記記録パワー及び前記光ディスクに記載された閾値パワーの値との比から算出した閾値パワー、又は前記記録マークのエッジのずれの量を示すデータ−クロックジッタが１３％となる閾値パワー、のいずれかである
ことを特徴とする請求項７記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パワーの調整方法及び光ディスク装置に関し、書換え可能な光ディスク（CD−RW、DVD−RAM、DVD＋RW、DVD−RW、BD−RE等）に対するデータの記録及び再生を行う光ディスク装置に適用する。
【背景技術】
【０００２】
記録できる光ディスクには、どの様な記録波形でどのくらいのレーザ記録パワーで記録すべきかがその光ディスク１枚ずつに記録されている。しかし、実際にはメディアメーカーが測定している機械と実際の記録機やドライブとのレーザビームの違い、記録波形の立ち上がりの早さの違い等の要因から、記録された波形と記録パワーで光ディスクに記録しても結果が良くないことがある。
このため、光ディスクには、試し書き領域(ＰＣＡ(Power Calibration Area))というエリアが準備されている。光ディスク装置はこのエリアに記録マークを形成させて、試し書きを行うことで、記録時の記録波形と記録パワーの校正を行い、その光ディスクにとって最適な条件で記録できる処理を行っている（以下、試し書き処理（ＯＰＣ(Opｔimum Power Control)という）。
特許文献１には、試し書き領域のうち、記録膜の劣化・欠陥がある領域を回避し、試し書きを実行する技術が開示されている。
特許文献２には、記録速度−最適記録パワー特性に基づいて、試し書きされたデータを再生することで得られる再生信号の品位を測定して、記録可能な最高速度を求める技術が開示されている。
特許文献３には、高パワーのレーザ光を用いて試し書き領域に消去処理を行うことで、試し書きの結果が試し書き領域の状態に関係なく安定した結果が得られる技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００５−１８２８８６号公報
【特許文献２】特開２００２−２９８３５６号公報
【特許文献３】特開２００５−０３８４６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
未記録の状態から記録マークが形成し始める記録パワーを特定するために、光ディスク装置は試し書き領域に記録された記録マークを消去する。しかし、記録マークの半径方向の幅が消去可能な領域より大きいため記録マークが消去しきれずに残ってしまうという問題や、高記録パワーで記録するため光ディスク記録膜の特性が変化しすぎて消去できないという問題が生じる。
【０００４】
そこで、本発明は、書換え可能な光ディスクに対する試し書き処理において、消去できなかった領域を排除して記録パワーを調整することで、高い安定性と高い精度を確保できる試し書き処理を実現する記録パワーの調整方法及び光ディスク装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
かかる課題を解決するため本発明においては、光ディスクの試し書き領域に記録光を出力するための出力回路と、出力回路から出力される記録光の記録パワーを調整する制御回路と、を備える光ディスク装置の記録パワーの調整方法であって、制御回路が、試し書き領域に記録された記録マークを消去するステップと、試し書き領域への記録に対し記録動作を開始する閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録するステップと、記録パワーを変更しながら試し書き領域に記録するステップと、を含むことを特徴とする。
【０００６】
また、本発明の光ディスク装置においては、光ディスクの試し書き領域に記録光を出力するための出力回路と、出力回路から出力される記録光の記録パワーを調整する制御回路と、を備え、制御回路は、試し書き領域に記録された記録マークを消去する消去処理と、記録パワーを変更しながら試し書き領域に記録する記録処理との間に、試し書き領域への記録に対し記録動作を開始する閾値パワーより低い一定の記録パワーで記録マークを記録するように、記録パワーを制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、書換え可能な光ディスクに対する試し書き処理において、消し残りなどにより記録パワーに対応した特性を得られない領域を排除して記録パワーの調整を行うことで、高い安定性と高い精度を確保できる試し書き処理を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下図面について、本発明による一実施形態を説明する。
【０００９】
（１）光ディスク装置の構成
図１に示す１は、本実施の形態による光ディスク装置を示す。
この光ディスク装置１は、ホストコンピュータ２からの要求に応じて、光ディスク３にデータを記録し、又は光ディスク３に記録されたデータを再生するように構成されている。
この光ディスク装置１の場合、ホストコンピュータ２から送信される各種コマンドはマイコン制御回路４に与えられる。マイコン制御回路４は、ＣＰＵ（図示せず）、及び、各種テーブルや各種プログラムが格納された内部メモリ（図示せず）を備えたマイクロコンピュータで構成され、ホストコンピュータ２から与えられるコマンドや光ディスク装置１内の各種回路から与えられる各種情報に基づいて必要な制御処理や演算処理を実行する。
例えば、マイコン制御回路４は、ホストコンピュータ２から記録コマンドが与えられた場合、回転制御部５を介して、スピンドルモータ６を駆動することにより、所定状態に装着された光ディスク３を回転させる。このときスピンドルモータ６に取り付けられたフレクエンシージェネレーター（図示せず）はスピンドルモータ６の出力軸が所定角度回転するごとに、ＦＧ（Frequency Generator）信号を発生させる。回転制御部５は、このＦＧ信号を二値化し、得られた二値化ＦＧ信号をマイコン制御回路４に送出する。そしてマイコン制御回路４はこの二値化ＦＧ信号に基づいて、装着された光ディスク３を当該光ディスク３の記録方式（例えば、回転数を一定に保つＣＡＶ方式又は光ヘッドが光ディスク３をなぞる速度を一定に保つＣＬＶ方式）に応じた回転状態で回転させるように、スピンドルモータ６を制御する。
【００１０】
またマイコン制御回路４は、記録コマンドとともにホストコンピュータ２から与えられる記録対象のデータ（以下、記録対象データという）を、エラー訂正器７を介して、変調器８に送出する。変調器８は、記録対象データに対して、決められた変調規則に従って３Ｔから１４Ｔ（Ｔは基準クロック時間）の長さの０または１の信号列に変換し、変調信号としてタイミング制御器９に送出する。
また一方でマイコン制御回路４は、特殊パターン出力器１０に生成コマンドを送出する。
特殊パターン出力器１０は、記録マーク長の基準長となるパターンを繰り返し生成する。なお、本実施の形態では、６Ｔ（Ｔはクロック）の基準長を生成する。特殊パターン出力器１０は、光ディスク３に記録される記録マークの消去処理が終了すると、動作するように制御されている。特殊パターン出力器１０は、生成した基準長をタイミング制御器９に送出する。
タイミング制御器９は、変調器８または特殊パターン出力器１０より送出された変調信号に基づいて、記録パワーまたは消去パワーとなるタイミング信号をレーザドライバ１２に送出する。また、記録マークの消去処理の終了後に、タイミング制御器９は、基準長を送出する。
また、記録パワー制御部１１は、マイコン制御回路４の制御コマンドによって動作する制御部であり、光ディスク３に照射するレーザ光（記録光）の記録パワーや消去パワーを制御し、光ディスク３のセクタごとにパワーの切り替えを制御する。
レーザドライバ１２は、タイミング制御器９から送出されたタイミングに基づいて光ピックアップ１３内のレーザダイオードに再生パワー、消去パワーおよび記録パワーの発光出力となる電流を出力する。このときそれぞれの電流設定値は、記録パワー制御部１１によって、制御される。この結果、駆動信号に基づいて、レーザ光が発射され、このレーザ光が対物レンズ１４を介して光ディスク３の記録面上に集光される。また、このときマイコン制御回路４は、スライダ機構を駆動することにより、光ピックアップ１３が固定されたスライダを所定速度で光ディスク３の径方向に移動させる。これにより記録対象データが光ディスク３に記録される。
光ディスク３に照射したレーザ光の反射光は、対物レンズ１４を介して光ピックアップ１３内のフォトディテクタ（図示せず）に導かれ、このフォトディテクタにおいて光電変換される。そしてこの光電変換によって得られた電流出力がＩＶアンプ１５によって電圧出力であるＲＦ信号に変換され、つぎに２値化器１６によってデジタル変換される。
２値化器１６は、ＰＬＬ (Phase Locked Loop) １７によってクロック周波数と同期させたデジタルＲＦ信号を復調器１８に送出する。一方で、２値化器１６は、デジタルＲＦ信号から後述するマークカウントＭＫをマークカウントＭＫ検出器１９で２１検出すると、マークカウントＭＫを検出した光ディスク３のセクタを不良セクタ検出器２０で検出し、検出したマークカウントＭＫを用いて後述する記録パワーの閾値を閾値検出器２１で検出する。検出した不良セクタ及び記録パワーの閾値は、マイコン制御回路４に送出される。マイコン制御回路４は、これらの情報を用いて最適な記録パワー値を算出し、次に照射するレーザ光のパワーと照射位置とを決定し、記録パワー制御部１１に通知する。
復調器１８は、デジタルＲＦ信号に対して所定の復調処理を実行して、得られた再生データを、エラー訂正器７を介して、マイコン制御回路４に送出する。
【００１１】
また光ピックアップ１３は、光電変換により得られた電流出力をＩＶアンプ１５に送出し、ＩＶアンプ１５の出力を演算することによってサーボ用信号を得て、得られたサーボ用信号を補償器２２に送出し、サーボ用の制御出力としてドライバ２３に送出する。
補償器２２は、フォーカス制御やトラッキング制御の特性を補正し、光ディスク３に対してフォーカス制御やトラッキング制御するための駆動信号や対物レンズ１４のチルト角を指示するチルト駆動信号を出力する。ドライバ２３はこれらの信号を増幅させると、増幅した信号を光ピックアップ１３に印加する。これにより光ピックアップ１３から発射されたレーザ光が、光ディスク３の記録面においてジャストフォーカスして、かつトラック中心に照射される。
【００１２】
（２）記録パワーの調整方法
試し書き領域ＰＣＡは、複数のブロックから形成されており、１ブロックは１６セクタから構成される。光ディスク装置１は、１回の試し書きで１６セクタを使用する。光ディスク装置１は、この試し書き領域ＰＣＡで記録パワーＰｗを段階的に変更しながら、最適な記録パワーを検出し、最適な記録パワーでデータ領域に記録する。
最適な記録パワーを検出する方法としては、各種方式があるが、いずれの方式も記録開始点の記録パワーＰｗとなる閾値パワーＰｔｈを求め、その閾値パワーＰｔｈから所定の数値を乗じたものを最適な記録パワーとしている。なお、所定の数値は光ディスク３上に記載されているのが通常である。万一、試し書き領域ＰＣＡに記録マークの書き残しまたは記録膜の特性異常があると、閾値パワーＰｔｈは、正常な試し書き領域ＰＣＡで求めた閾値パワーＰｔｈとは異なってしまうため、適切な記録パワーを算出することはできない。安定した閾値パワーＰｔｈを検出するためには、記録マークの書き残しまたは記録膜の特性異常がある不良セクタ（不良領域）を検出対象から外す必要がある。
本実施の形態では、マークカウント方式を使用して不良セクタを検出し、記録パワーを調整する方法を説明する。
【００１３】
（２−１）マークカウント方式
まず、マークカウント方式について説明する。
マークカウント方式は、マーク長記録方式（またはマークエッジ記録方式）で記録される記録マーク長のうち、基準長を決定し、基準長から記録マーク長がどのくらい離れているかという指標を示す方式である。光ディスク装置１は、記録時に記録された記録マークを再生（取り込み）時にマークカウント方式で評価する。ここでマーク長記録方式とは、情報を光ディスク３に記録する方式の１つで、記録マークのエッジ位置に情報が与えられ、エッジの間隔（記録マーク長、または記録マーク間のスペースの長さ）が情報量となるように記録される方式である。こうした光ディスク３では、記録マーク長が３Ｔから１４Ｔ（Ｔはクロックを示す）まで存在する。
図２Ａは、試し書き領域ＰＣＡをセクタごとに分割した図である。図２Ｂは、セクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗおよび消去パワーＰｅを変更した図である。そして図２Ｃは、セクタに対応するように、マークカウント方式でそれぞれのセクタを計測したグラフを示す。図２Ｃの縦軸は、セクタごとに得られたそれぞれの記録マーク長に対して、基準長とする範囲から外れた又は基準長ではない記録マーク長として検出された割合（以下、マークカウントＭＫという）を示す。ここで、各セクタ内が適正な記録パワーで記録され、各記録マーク長が基準長とする範囲内として検出されれば、マークカウントＭＫは低い値を示す。逆に各記録マーク長が適正な記録パワーからずれた場合、特に記録パワーが低い場合には、基準長から外れた記録マーク長が多く検出され、マークカウントＭＫは高い値を示す。図２Ｂにあるように、記録時にそれぞれのセクタに対して記録パワーＰｗと消去パワーＰｅを変えているため、横軸はそれぞれのセクタの記録パワーに対応している。
例えば、６Ｔの基準長が設定され、試し書き領域ＰＣＡの全ての正常なセクタのうち任意の１セクタに記録された記録マーク長が５Ｔとして検出された場合、図２Ｃに示すように、その記録マーク長は基準長より短いため、マーク長が適正なマークではないと判定されるため、マークカウントＭＫは１００％となる。基準長に記録マーク長が近づきつつある任意のマークカウントＭＫを閾値Ｔｈに設定し、この閾値と交差する交点ＭＫｔｈのｘ座標を閾値パワーＰｔｈとして検出する。
一方、試し書き領域ＰＣＡに記録された記録マークが消去しきれない場合には、不良なセクタが存在することになる。このような光ディスク３の状態にも関わらず、再生時にこの不良セクタを含めて試し書き領域ＰＣＡに記録された記録マークをマークカウント方式で評価した場合には、不良セクタに対応するマークカウントＭＫの値がそのセクタへの記録パワーに応じた値とならなくなり、適切な閾値パワーＰｔｈが検出されなくなる。このため最適な記録パワーを検出するためには、不良セクタからの影響を排除して適切な閾値パワーＰｔｈを検出する必要がある。
【００１４】
（２−２）不良セクタの検出方法
では次に、マークカウント方式において、不良セクタの検出方法について図３のフローチャートを用いて説明する。光ディスク装置１のＣＰＵが、光ディスク３の試し書き領域ＰＣＡで不良セクタを検出し、適切な閾値パワーＰｔｈを検出する。フローチャートは、光ディスク３のセットアップ時または光ディスク３への記録時に開始される。
なお、本実施の形態では、光ディスク３の内周と外周にある試し書き領域ＰＣＡのそれぞれで１回ずつ実行するものとし、光ディスク３がＤＶＤ−ＲＡＭの場合についての処理手順を説明する。ＤＶＤ−ＲＡＭの場合は、ランドトラック及びグルーブトラックそれぞれに対して適切な閾値パワーＰｔｈを検出する。
ＣＰＵは、光ディスク３の内周と外周にある試し書き領域ＰＣＡに対する記録パワーの調整が内周と外周のそれぞれで１回ずつ実行され、合計で２回実施されているか否かを判定する（Ｓ１）。
２回実施されていない場合には（Ｓ１：ＮＯ）、ＣＰＵは、閾値パワーＰｔｈの検出が２回目の実施か否かを判定する（Ｓ２）。
２回目の実施の場合には（Ｓ２：ＹＥＳ）、ＣＰＵは、光ディスク３の中心に対して、１回目に実施した試し書き領域ＰＣＡのディスク中心をはさんだ反対側の試し書き領域ＰＣＡ（１ブロック）を指定する（Ｓ３）。なお、反対側の試し書き領域ＰＣＡは、正反対側である必要はなく、ほぼ反対側の試し書き領域ＰＣＡであればよい。
１回目の実施の場合には（Ｓ２：ＮＯ）、ＣＰＵは、閾値パワーＰｔｈの検出をする試し書き領域ＰＣＡ（１ブロック）を全ての試し書き領域ＰＣＡからランダムに指定する（Ｓ４）。
閾値パワーＰｔｈの検出を実行するための試し書き領域ＰＣＡが決まると、ＣＰＵは、レーザ光を決定した試し書き領域ＰＣＡに誘導するランドトラックを指定する（Ｓ５）。
ランドトラックが指定されると、ＣＰＵは、後述する不良セクタの検出処理を実行して（Ｓ６）、不良セクタを除いて閾値パワーＰｔｈを検出し、最適な記録パワーを算出する。
その後、ＣＰＵはレーザ光を決定した試し書き領域ＰＣＡに誘導するグルーブトラックを指定する（Ｓ７）。ＣＰＵは、再び後述する不良セクタの検出処理を実行すると（Ｓ８）、ステップＳ１の処理を実行する。
ステップＳ１において、すでに２回目の記録パワーの調整が終了している場合には（Ｓ１：ＹＥＳ）、ＣＰＵは２回目の調整が失敗したか否かを判定し（Ｓ９）、２回目の調整が失敗している場合には（Ｓ９：ＹＥＳ）、１回目で求めたランドトラック及びグルーブトラックそれぞれの記録パワーＰｗの結果のみを使用して（Ｓ１０）、この処理を終了する。
ＣＰＵは２回の調整が成功している場合には（Ｓ９：ＮＯ）、ランドトラック及びグルーブトラックそれぞれ２回分の記録パワーＰｗを平均化して（Ｓ１１）、この処理を終了する。
引き続き、図４及び図５に示すフローチャートを用いて不良セクタの検出処理を説明する。
ＣＰＵは、決定した試し書き領域ＰＣＡに対して一定の消去パワーで消去する（Ｓ２１）。記録パワーの調整が初回であるならば、光ディスク３に記載された消去パワーＰｅを使用して試し書き領域ＰＣＡに対し消去処理を実行する。一方、一度でも記録パワーの調整である試し書きが実行されていれば、その実行時で求められた消去パワーＰｅを使用して、試し書き領域ＰＣＡに記録された記録マークを消去する。
次にＣＰＵは、試し書き領域ＰＣＡに対して一定の低パワーの記録パワーで記録する（Ｓ２２）。一定の低パワーとは、閾値パワーＰｔｈより低いパワーをいう。なお、記録パワーの調整が初回であるならば、光ディスク３に記載された記録パワーの６０％となる記録パワーとし、一度でも記録パワーである調整が実行されていれば、その実行時で求められた記録パワーの６０％の記録パワーとする。
ＣＰＵは、一定の低パワーで記録された記録マークのマークカウントＭＫをセクタごとに取得し（Ｓ２３）、不良セクタを検出するために設定したマークカウントＭＫ閾値（以下、不良セクタ用閾値という）ＳＴｈ以下である不良セクタを確認する（Ｓ２４）。この不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈは、不良セクタを確実に検出するため、記録パワーを求める際に必要なマークカウントＭＫの閾値Ｔｈより高い値の閾値を設定する。
次にＣＰＵは、確認したセクタ数が８セクタ以上の不良セクタであるか否かを判定する（Ｓ２５）。なお、本実施の形態では、閾値とするセクタ数を８セクタとしているが、ステップＳ３またはＳ４にて指定した試し書き領域ＰＣＡ（１６セクタ）を使用するか否かを判定する上での値であればよく、８セクタに限られない。
不良セクタが８セクタ以上である場合には（Ｓ２５：ＹＥＳ）、ＣＰＵはその指定した試し書き領域ＰＣＡ（１６セクタ）を使用しないと判定する。そしてＣＰＵは、記録パワーの調整対象となる試し書き領域ＰＣＡを変更し（Ｓ３３）、変更先の試し書き領域ＰＣＡで再びステップＳ２１を実行する。
不良セクタ数が８セクタ未満である場合には（Ｓ２５：ＮＯ）、低パワーで記録した記録マークの消去を行う（Ｓ２６）。次にＣＰＵは、セクタごとの消去パワーＰｅと記録パワーＰｗとを段階的に変更しながら記録する（Ｓ２７）。本実施の形態では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は一定であるため、消去パワーＰｅと記録パワーＰｗとは同じ比率で変更される。
ＣＰＵは、正常セクタに記録された記録マークからマークカウントＭＫを取得し（Ｓ２８）、マークカウントＭＫの閾値Ｔｈを挟んだ前後のマークカウントＭＫがステップＳ２４で確認した不良セクタのマークカウントＭＫか否か判定する（Ｓ２９）。
マークカウントＭＫの閾値を挟んだ前後のマークカウントＭＫが不良セクタのマークカウントＭＫである場合には（Ｓ２９：ＹＥＳ）、ＣＰＵは、その試し書き領域ＰＣＡ（１６セクタ）は使用せず、指定する試し書き領域ＰＣＡを変更し（Ｓ３３）、変更先の試し書き領域ＰＣＡで再びステップＳ２１を実行する。
マークカウントＭＫの閾値Ｔｈを挟んだ前後のマークカウントＭＫが正常セクタのマークカウントＭＫである場合には（Ｓ２９：ＹＥＳ）、ＣＰＵは、閾値パワーＰｔｈを求める（Ｓ３０）。本実施の形態では、マークカウントＭＫの閾値Ｔｈを挟んだ前後のマークカウントＭＫを線形補間し、閾値パワーＰｔｈを算出する。記録パワーをｘ軸、マークカウントＭＫをｙ軸として、前後のマークカウントＭＫの座標ＭＫ０（ｘ０，ｙ０），ＭＫ１（ｘ１，ｙ１）とし、求めたい閾値マークカウントＭＫの座標ＭＫｔｈ（ｘ，ｙ）とする。このとき、
（ｙ−ｙ０）／（ｙ１−ｙ０）＝（ｘ−ｘ０）／（ｘ１−ｘ０）…数式１
が成立する。補間係数をαとすると、
α＝（ｙ−ｙ０）／（ｙ１−ｙ０）…数式２
α＝（ｘ−ｘ０）／（ｘ１−ｘ０）…数式３
が成立するため、
ｙ＝ｙ０＋α（ｙ１−ｙ０）…数式４
ｘ＝ｘ０＋α（ｘ１−ｘ０）…数式５
が成立する。これにより、マークカウントＭＫの閾値Ｔｈであるｙより、ｘである閾値パワーＰｔｈを算出することができる。
ＣＰＵは、閾値パワーＰｔｈから求めた記録パワーＰｗを用いて試し書き領域ＰＣＡに記録後（Ｓ３１）、閾値パワーＰｔｈから求めた消去パワーＰｅを用いて試し書き領域ＰＣＡを消去すると（Ｓ３２）、この処理を終了する。
なお、ステップＳ５からＳ８までの処理手順は、光ディスク３がＤＶＤ−ＲＡＭの場合についての処理手順であるため、ランドトラック及びグルーブトラックそれぞれについてスキャン処理を実行していったが、全ての光ディスク３がこれらの処理手順を実行する必要はない。データ領域が片方に配置されている光ディスク３では、ＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡを指定した後、スキャン処理を実行すれば足りるものである。また、ＣＰＵが内周のみ、または外周のみスキャン処理を実行してもよい。また、記録パワーのずれを検出した場合、または周囲温度が規定値以上変化した場合に試し書きを再度実施するにあたり、ＣＰＵが内周のみ、または外周のみを実行し、前回の調整結果との差または比を、実行しなかった側の記録パワーに差または比として修正してもよい。
【００１５】
パワー設定値の一例としては、ＤＶＤ−ＲＡＭ ３ｘの光ディスクにおいて、ＣＰＵは、６．８ｍＷを一定の低パワーとして、試し書き領域に記録した。このとき、上述の方法によって求めた記録パワーは１４．１ｍＷ，消去パワーは５．６ｍＷであった。
【００１６】
（２−３）具体例
ではここで、本処理において、具体例を挙げて説明する。
【００１７】
（２−３−１）正常セクタの場合
図６Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して一定の低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図６Ｂのグラフに示す。本実施の形態では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定にしているため、記録パワーＰｗが求まると一定の低パワーの消去パワーＰｅが求まることになる。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを図６Ｃのグラフに示す。縦軸はマークカウントＭＫであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の白丸は、セクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを示す。ステップＳ２３では、ＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに記録した記録マークを一旦消去した後に新たに低パワーで記録マークを記録するので、低パワーで記録した記録マーク長は基準長より短くなる。そのため、低パワーで記録した記録マーク長は、基準長から大幅に外れているため、マークカウントＭＫは高い数値となる。図６Ｄに示す判定結果のように、マークカウントＭＫが不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより全て高い数値となる場合には、不良セクタが存在しないことを示している。
そして、図６Ｅに示すように、ＣＰＵがセクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗを変更する。また、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定なので、記録パワーＰｗと同時にＣＰＵがセクタＳごとの消去パワーＰｅも変更する（Ｓ２７）。そして図６Ｆに示すように、ＣＰＵがセクタＳごとのマークカウントＭＫを取得する（Ｓ２８）。そして、マークカウントの閾値Ｔｈを挟む前後のマークカウントＭＫは、不良セクタが保持するマークカウントＭＫではないことを確認し（Ｓ２９）、閾値パワーＰｔｈを算出する（Ｓ３０）。
【００１８】
（２−３−２）８セクタＳ以上の不良セクタＳがある場合
図７Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図７Ｂのグラフに示す。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを図７Ｃのグラフに示す。縦軸はマークカウントＭＫであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の白丸は、セクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを示す。本来なら、低パワーで記録した記録マーク長は、基準長から大幅に外れているため、マークカウントＭＫは高い数値となる。しかしながら、マークカウントＭＫは、不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより下回って記録されている箇所がある。この箇所は、試し書き領域に消去しきれない記録マークが存在するために当該マークが基準長に近づき、閾値ＳＴｈより下回って記録されている。図７Ｄに示す判定結果のように、不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより下回るマークカウントＭＫを保持するセクタＳは、不良セクタ（領域）であると判定される。加えて、この例では、不良セクタが９セクタあり、閾値セクタである８セクタ以上のセクタ数になるので、ＣＰＵがこの試し書き領域ＰＣＡ（１６セクタ）は使用しないと判定する（Ｓ２５：ＹＥＳ）。
【００１９】
（２−３−３）８セクタＳ未満の不良セクタＳがある場合
図８Ａ及び図９Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図８Ｂ及び図９Ｂのグラフに示す。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを図８Ｃ及び図９Ｃのグラフに示す。図８Ｃ及び図９Ｃは、マークカウント方式で評価した様子を示しており、縦軸はマークカウントＭＫであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の白丸は、セクタＳごとに取得したマークカウントＭＫを示す。マークカウントＭＫは、不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより下回って記録されている箇所がある。図８Ｄ及び図９Ｄに示す判定結果のように、不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより下回るマークカウントＭＫを保持するセクタＳは、不良セクタ（領域）であると判定される。図８Ｄは、高パワー側で不良セクタＳがあると判定された場合を示しており、図９Ｄは低パワー側で不良セクタＳがあると判定された場合を示している。
いずれの不良セクタも５セクタであり、閾値セクタである８セクタ未満のセクタ数になるので、ＣＰＵがこの試し書き領域ＰＣＡは使用すると判定する（Ｓ２５：ＮＯ）。
そして、図８Ｅ及び図９Ｅに示すように、ＣＰＵがセクタＳごとの消去パワーＰｅと記録パワーＰｗとを段階的に変更しながら記録し（Ｓ２７）、図８Ｆ及び図９Ｆに示すように、ＣＰＵがマークカウントＭＫを取得する（Ｓ２８）。そして、マークカウントの閾値Ｔｈを挟む前後のマークカウントＭＫが不良セクタＳか否かを判定する。マークカウントの閾値Ｔｈと、マークカウントの閾値Ｔｈを挟む前後のマークカウントＭＫとの交点をとると、その交点が２箇所（ＭＫＴｈ１，ＭＫＴｈ２）存在することになる。しかし、マークカウントの閾値Ｔｈと交点ＭＫＴｈ２を作る前後のマークカウントは、不良セクタと判定したセクタＳが保持するマークカウントのため、これらのマークカウントＭＫを使用して閾値パワーＰｔｈは算出しない（Ｓ２９：ＹＥＳ）。一方、マークカウントの閾値Ｔｈと交点ＭＫＴｈ１を作る前後のマークカウントは、不良セクタが保持するマークカウントＭＫではないので（Ｓ２９）、ＣＰＵはこれらのマークカウントＭＫを使用して閾値パワーＰｔｈを算出する（Ｓ３０）。
【００２０】
以上より、不良セクタを検出し、検出した不良セクタを除いて閾値パワーＰｔｈが検出されるため、最適な記録パワーＰｗを検出することができる。本実施の形態では、マークカウント方式について説明したが、不良セクタを検出する方法については、マークカウント方式という称呼の他に、エラーパルス方式等、他の称呼や方式もあり、これらも本発明の範囲に属するものである。
【００２１】
（３）その他の方式による閾値パワーの検出
では次に、他の方法で最適な記録パワーＰｗを検出する方法について説明する。
【００２２】
（３−１）レベル方式
レベル方式は、再生時の記録パワーＰｗに対する再生信号の信号成分を指標として記録パワーＰｗを計測・評価していく方式である。光ディスク装置１は、再生信号の信号成分はセクタＳごとに取得する。光ディスク３がＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ±ＲＷの場合にこの方式を用いて閾値パワーＰｔｈを検出することが多い。
図１０Ｂに示す記録処理において、図１０Ａに示すセクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗを変更していくと、図１０Ｃに示すような再生信号を取得できる。この再生信号の信号成分を指標として、モジュレーション（変調度）を取得する。具体的には、モジュレーションを、次のように定義する。
Ｍｏｄ = （Ｉｈ−Ｉｌ）／Ｉｈ…数式６
Ｍｏｄはモジュレーション、Ｉｌは再生信号の信号成分のうち低レベル値（マークレベル）であり、Ｉｈは再生信号の信号成分のうち高レベル値（スペースレベル）を示す。モジュレーションの値が高いと、高い記録パワーによって記録されたということを示す。レベル方式は、このモジュレーションに基づいて、閾値パワーＰｔｈを求める。図１０Ｅのグラフは、横軸が記録パワーＰｗに対して、縦軸がγを示している。γは次のように定義される。
γ = ｄＭｏｄ・Ｐｗ／Ｍｏｄ・ｄＰｗ…数式７
目標とするγ値となる記録パワーが閾値パワーＰｔｈとなる。γは記録パワーＰｗに対するモジュレーションの変化率であるため、どのような条件下であっても、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比及びライトストラテジがわかれば安定した閾値パワーＰｔｈを求めることができる。なお、レベル方式においてもマーク長記録方式で記録マークが記録される。
【００２３】
では、不良セクタの検出方法について、レベル方式を用いた場合を説明する。
（３−１−１）正常セクタＳの場合
図１１Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図１１Ｂのグラフに示す。本実施の形態では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定にしているため、記録パワーＰｗが求まると一定の低パワーの消去パワーＰｅが求まることになる。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得した再生信号を図１１Ｃのグラフに示す。縦軸は、再生信号のレベル値であり、横軸は記録パワーＰｗを示している。消去後の試し書き領域ＰＣＡを一定の低パワーで記録するので、通常はスペースレベルとマークレベルとの差がほとんどなく、マークレベルはスペースレベルに近い値で一定となる。
この再生信号から取得したモジュレーションを図１１Ｄのグラフに示す。縦軸はモジュレーションであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の直線は、セクタＳごとに取得したモジュレーションを示す。スペースレベルとマークレベルとの差がほとんどない場合には、モジュレーションは低い値でプロットされる。従って、モジュレーションが不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより全て低い数値である場合には、図１１Ｅに示す判定結果のように、不良セクタが存在しないことを示している。
そして、図１１Ｆに示すように、ＣＰＵがセクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗを変更する。また、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定なので、記録パワーＰｗと同時にＣＰＵがセクタＳごとの消去パワーＰｅも段階的に変更しながら記録し（Ｓ２７）、図１１Ｇに示すように、ＣＰＵが再生信号を取得し、図１１Ｈに示すように、取得した再生信号に基づいてモジュレーションを取得する（Ｓ２８）。最終的に、図１１Ｉに示すように、記録パワーＰｗに対するモジュレーションからγ値を求めると、γ閾値Ｔｈを挟む前後のγ値が、不良セクタＳが保持するγ値ではないことを確認し（Ｓ２９）、閾値パワーＰｔｈを算出する（Ｓ３０）。
【００２４】
（３−１−２）８セクタＳ以上の不良セクタＳがある場合
図１２Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図１２Ｂのグラフに示す。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得した再生信号を図１２Ｃのグラフに示す。縦軸は、再生信号のレベル値であり、横軸は記録パワーＰｗを示している。消去後の試し書き領域ＰＣＡを低パワーで記録するので、本来ならばスペースレベルとマークレベルとの差がほとんどなく、マークレベルはスペースレベルにより近い値で一定となる。しかし、マークレベルとスペースレベルとの差のある箇所がある。
この再生信号から取得したモジュレーションを図１２Ｄのグラフに示す。縦軸はモジュレーションであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の直線は、セクタＳごとに取得したモジュレーションを示す。マークレベルとスペースレベルとの差のある場合には、モジュレーションは不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈを上回る値でプロットされる。従って、図１２Ｅに示す判定結果のように、モジュレーションが不良セクタ検出用の閾値ＳＴｈより高い数値となるセクタ箇所は、不良セクタであると判定される。加えて、この例では、不良セクタが９セクタＳあり、閾値セクタ数である８セクタ以上のセクタ数になるので、ＣＰＵがこの試し書き領域ＰＣＡは使用しないと判定する（Ｓ２５：ＹＥＳ）。
このようにレベル方式においても、不良セクタを検出し、検出した不良セクタを除いて閾値パワーＰｔｈが検出されるため、最適な記録パワーＰｗを求めることができる。また、８セクタＳ未満の不良セクタＳがある場合も、マークカウント方式と同様に、不良セクタの影響を排除して、安定に閾値パワーＰｔｈより最適な記録パワーＰｗを求めることができる。
【００２５】
（３−２）ジッタ方式
ジッタ方式は、マーク長記録方式で記録された記録マークの長さまたは記録マーク間のスペースの長さを指標として記録パワーＰｗを計測・評価していく方式である。
具体的には２値化することによって得られた記録マークの長さと基準長との差を用いて閾値パワーＰｔｈを検出する。データ・トゥー・データジッタ方式は、記録される記録マークが適切な位置に適切な長さで記録されているかを検出する方式である。基準長を６Ｔと設定した場合、基準長から記録マークのエッジがどのくらいずれているのかという、ずれの量をジッタで示す。つまり、ジッタの値が高ければ、記録マークのエッジが基準長から大幅にずれていることを示している。本実施の形態では、基準長を６Ｔに設定する。
図１３Ｂに示す記録処理において、図１３Ａに示すセクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗを変更していくと、図１３Ｃに示すようなジッタを各セクタごとに取得できる。ジッタの閾値Ｔｈと波形との交点を閾値パワーＰｔｈとして検出する。
【００２６】
ではジッタ方式で、不良セクタの検出方法を適用した場合について説明する。
（３−２−１）正常セクタＳの場合
図１４Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図１４Ｂのグラフに示す。本実施の形態では、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定にしているため、記録パワーＰｗが求まると一定の低パワーの消去パワーＰｅが求まることになる。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得したジッタを図１４Ｃのグラフに示す。縦軸はジッタであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の直線は、セクタＳごとに取得したジッタを示す。ステップＳ２３では、ＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに記録した記録マークを一旦消去した後に新たに低パワーで記録マークを記録するので、低パワーで記録した記録マーク長は基準長より短くなる。そのため、低パワーで記録した記録マーク長は、基準長から大幅に外れているため、ジッタは高い数値となる。図１４Ｄに示す判定結果のように、ジッタが不良セクタＳ検出用の閾値より全て高い数値となる場合には、不良セクタが存在しないことを示している。
そして、図１４Ｅに示すように、ＣＰＵがセクタＳごとに段階的に記録パワーＰｗを変更する。また、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの比は固定なので、記録パワーＰｗと同時にＣＰＵがセクタＳごとの消去パワーＰｅも段階的に変更して記録し（Ｓ２７）、図１４Ｆに示すように、ＣＰＵがジッタを取得する（Ｓ２８）。そして、ジッタ閾値を挟む前後のジッタが、不良セクタＳが保持するジッタではないことを確認し（Ｓ２９）、閾値パワーＰｔｈを算出する（Ｓ３０）。
【００２７】
（３−２−２）８セクタＳ以上の不良セクタＳがある場合
図１５Ａに、セクタＳで分割された試し書き領域ＰＣＡを示す。
ステップＳ２２でＣＰＵが試し書き領域ＰＣＡに対して低パワーで記録パワーＰｗを記録する記録パワーＰｗと消去パワーＰｅとの様子を図１５Ｂのグラフに示す。
ステップＳ２３でＣＰＵがセクタＳごとに取得したジッタを図１５Ｃのグラフに示す。縦軸はジッタであり、横軸は記録パワーＰｗを示している。図の曲線は、セクタＳごとに取得したジッタを示す。本来なら、低パワーで記録した記録マーク長は、基準長から大幅に外れているため、ジッタは高い数値となる。しかしながら、ジッタは、不良セクタＳ検出用の閾値より下回って記録されている箇所がある。図１５Ｄに示す判定結果のように、不良セクタＳ検出用の閾値より下回るジッタを保持するセクタＳは、不良セクタＳ（領域）であると判定される。加えて、この例では、不良セクタＳが９セクタＳあり、閾値セクタ数である８セクタ以上のセクタ数になるので、ＣＰＵがこの試し書き領域ＰＣＡは使用しないと判定する（Ｓ２５：ＹＥＳ）。
このようにジッタ方式においても、不良セクタを検出し、検出した不良セクタを除いて閾値パワーＰｔｈが検出されるため、最適な記録パワーＰｗを求めることができる。また、８セクタＳ未満の不良セクタＳがある場合も、マークカウント方式と同様に、不良セクタの影響を排除して、安定に閾値パワーＰｔｈより最適な記録パワーＰｗを求めることができる。
【００２８】
以上、各方式において試し書き領域ＰＣＡに一定の高パワーで照射しない理由としては、１）適正な記録パワーが求まっていないため、記録膜の許容限界以上の記録パワーとすることにより、記録膜自体を破壊してしまう恐れがある、２）高パワー照射によってマークレベルは全体的に下がるが、消し残りまたは劣化した領域を明瞭に判別するレベル差を設定することが難しい、ためである。一定の低パワーで照射することで、より明確な再生信号のレベル差を得ることができる。また、試し書き領域の不良セクタを一度に判別でき、使用可能な領域を抽出することができる。
【００２９】
（６）本実施の形態の効果
本実施の形態によれば、書換え可能な光ディスクに対する試し書き処理において、消し残りなどにより記録パワーに対応した特性を得られない領域を排除して記録パワーの調整を行うことで、高い安定性と高い精度を確保できる試し書き処理を実現することができる。
【００３０】
（７）その他の実施の形態
本実施の形態では、基準長となる記録マーク長を６Ｔとしたが、６Ｔ以外の長さまたは複数種類の組み合わせてもよく、例えば６Ｔと７Ｔとの組み合わせでもよい。
閾値パワーＰｔｈから所定の数値を乗じたものを記録パワーとしているが、所定の数値は光ディスクの種類または光ディスクに予め埋め込まれた情報を基にマイコン制御回路が保持している数値を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本実施の形態における光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】（Ａ）マークカウント方式を説明する上で、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）マークカウント方式を説明する上で、記録処理を示す説明図である。（Ｃ）マークカウント方式を説明する上で、マークカウント処理を示す説明図である。
【図３】記録パワーの調整処理を示すフローチャートである。
【図４】不良セクタの検出処理を示すフローチャートである。
【図５】不良セクタの検出処理を示すフローチャートである。
【図６】（Ａ）マークカウント方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）マークカウント方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）マークカウント処理を示す説明図である。（Ｄ）マークカウント方式において、判定結果を示す説明図である。（Ｅ）マークカウント方式において、記録処理を示す説明図である。（Ｆ）マークカウント処理を示す説明図である。
【図７】（Ａ）マークカウント方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）マークカウント方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）マークカウントを示す説明図である。（Ｄ）マークカウント方式において、判定結果を示す説明図である。
【図８】（Ａ）マークカウント方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）マークカウント方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）マークカウントを示す説明図である。（Ｄ）マークカウント方式において、判定結果を示す説明図である。（Ｅ）マークカウント方式において、記録処理を示す説明図である。（Ｆ）マークカウントを示す説明図である。
【図９】（Ａ）マークカウント方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）マークカウント方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）マークカウントを示す説明図である。（Ｄ）マークカウント方式において、判定結果を示す説明図である。（Ｅ）マークカウント方式において、記録処理を示す説明図である。（Ｆ）マークカウントを示す説明図である。
【図１０】（Ａ）レベル方式を説明する上で、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）レベル方式を説明する上で、記録処理を示す説明図である。（Ｃ）レベル方式を説明する上で、再生信号を示す説明図である。（Ｄ）レベル方式を説明する上で、変調度処理を示す説明図である。（Ｅ）レベル方式を説明する上で、γを示す説明図である。
【図１１−１】（Ａ）レベル方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）レベル方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）レベル方式において、再生信号を示す説明図である。（Ｄ）レベル方式において、変調度処理を示す説明図である。
【図１１−２】（Ｅ）レベル方式において、判定結果を示す説明図である。（Ｆ）レベル方式において、記録処理を示す説明図である。（Ｇ）レベル方式において、再生信号を示す説明図である。（Ｈ）レベル方式において、変調度処理を示す説明図である。（Ｉ）レベル方式において、γを示す説明図である。
【図１２】（Ａ）レベル方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）レベル方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）レベル方式において、再生信号を示す説明図である。（Ｄ）レベル方式において、変調度処理を示す説明図である。（Ｅ）レベル方式において、判定結果を示す説明図である。
【図１３】（Ａ）ジッタ方式を説明する上で、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）ジッタ方式を説明する上で、記録処理を示す説明図である。（Ｃ）ジッタ方式を説明する上で、ジッタを示す説明図である。
【図１４】（Ａ）ジッタ方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）ジッタ方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）ジッタ方式において、ジッタを示す説明図である。（Ｄ）ジッタ方式において、判定結果を示す説明図である。（Ｅ）ジッタ方式において、記録処理を示す説明図である。（Ｆ）ジッタ方式において、ジッタを示す説明図である。
【図１５】（Ａ）ジッタ方式において、試し書き領域を示す説明図である。（Ｂ）ジッタ方式において、一定の低パワーでの消去処理を行う説明図である。（Ｃ）ジッタ方式において、ジッタを示す説明図である。（Ｄ）ジッタ方式において、判定結果を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３２】
１……光ディスク３装置、２……ホストコンピュータ２、３……光ディスク３、４……マイコン制御回路、５……回転制御部、６……スピンドルモータ、７……エラー訂正器、８……変調器、９……タイミング制御器、１０……特殊パターン出力器、１１……記録パワー制御部、１２……レーザドライバ、１３……光ピックアップ、１４……対物レンズ、１５……ＩＶアンプ、１６……２値化器、１７……ＰＬＬ、１８……復調器、１９……マークカウント検出器、２０……不良セクタ検出器、２１……閾値検出器、Ｐｗ……記録パワー、Ｐｅ……消去パワー、ＳＴｈ……不良セクタ検出用閾値、Ｔｈ……閾値、Ｐｔｈ……閾値パワー、ＭＫ……マークカウント。
【図１】
2010044807.tif 000003
【図２】
2010044807.tif 000004
【図３】
2010044807.tif 000005
【図４】
2010044807.tif 000006
【図５】
2010044807.tif 000007
【図６】
2010044807.tif 000008
【図７】
2010044807.tif 000009
【図８】
2010044807.tif 000010
【図９】
2010044807.tif 000011
【図１０】
2010044807.tif 000012
【図１１−１】
2010044807.tif 000013
【図１１−２】
2010044807.tif 000014
【図１２】
2010044807.tif 000015
【図１３】
2010044807.tif 000016
【図１４】
2010044807.tif 000017
【図１５】
2010044807.tif 000018