(57)【要約】【課題】テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供すること。【解決手段】プラグ部３１の収納凹部８３に収納され、開口部８２から突出自在に設けられた突起爪８１と、突起爪８１を付勢する付勢ばね８４と、突起爪８１を開口部８２から突出した状態で固定する突起爪ロック機構８０と、テスト端子口１０へのプラグ部３１の挿抜を検出する突起爪出没検出センサ８６と、活線側接続部３２１及び非活線側接続部３２２に微弱電流を供給する微弱電流供給回路９１と、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２の短絡を検出する短絡検出センサ９２と、微弱電流の供給を遮断する電流遮断スイッチ９３と、突起爪ロック機構８０を制御するロック機構制御部９５ａと、電流遮断スイッチ９３を制御する電流遮断制御部９５ｂと、を備える。【選択図】図２
2010220312.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれが電源側装置に接続される複数の電源側導体と、それぞれが負荷側装置に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を有するテスト端子口に差し込まれ、
絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、
前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって当該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、
前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体と導通する活線側接続部と、前記非活線側導体と導通する非活線側接続部とを有し、外部回路に接続可能な複数の接続プラグ部と、を備えるテストプラグであって、
前記プラグ部の表面に開口した収納凹部に収納され、当該収納凹部の開口部から突出自在に設けられた突起爪と、
前記突起爪を突出方向に付勢する突起爪付勢手段と、
前記突起爪を前記開口部から突出した状態で固定する突起爪ロック機構と、
前記テスト端子口への前記プラグ部の挿抜を検出するプラグ挿抜検出部と、
前記活線側接続部及び前記非活線側接続部に微弱電流を供給する微弱電流供給部と、
前記活線側接続部と前記非活線側接続部との短絡を検出する短絡検出部と、
前記微弱電流供給部による前記微弱電流の供給を遮断する電流遮断部と、
前記短絡検出部による検出結果に基づいて前記突起爪ロック機構を制御するロック機構制御部と、
前記プラグ挿抜検出部による検出結果に基づいて前記電流遮断部を制御する電流遮断制御部と、
を備えることを特徴とするテストプラグ。
【請求項２】
前記突起爪は、係合穴を有すると共に前記プラグ部の挿入方向先端側に向かって下り勾配となる傾斜面を先端部に有し、
前記突起爪ロック機構は、
前記係合穴に係合することにより前記突起爪の突出状態を維持する係合シャフトと、
前記係合シャフトを前記係合穴と係合する方向に付勢する係合シャフト付勢手段と、
前記係合シャフトと連結され、通電されることによって当該係合シャフトを引き寄せ当該係合シャフトと前記係合穴との係合を解除する電磁アクチュエータと、
を備えることを特徴とする請求項１に記載のテストプラグ。
【請求項３】
前記ロック機構制御部は、前記短絡検出部により前記活線側接続部と前記非活線側接続部との短絡が検出され、かつ、前記プラグ挿抜検出部により前記プラグ部の前記テスト端子口への挿入が検出されたときには、前記電磁アクチュエータへの通電を切ることを特徴とする請求項２に記載のテストプラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＴ（Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍｅｒｓ）クランプによる電流測定を行う際に使用されるテストプラグに関する。
【背景技術】
【０００２】
遠制装置や保護継電器等の配電盤には、機器点検時に試験器（例えば、ＣＴクランプによる電流測定を行うクランプ電流計）と接続するためのテスト端子が設けられている。このテスト端子は、電源側装置に電気的に接続される電源側導体と、計器類等の負荷側装置に電気的に接続される負荷側導体とを備え、通常時は電気的に接続された状態となっている。
【０００３】
一方、試験時には、テスト端子にはテストプラグのプラグ部が挿入されて電源側導体と負荷側導体との電気的接続が分離される。また、上記負荷側導体は、上記電源側装置の拘束を受けない状態でテストプラグの接続用端子となる接続プラグを介して、配線により試験器等と接続される。そして、試験後には、テストプラグをテスト端子から外すことにより電源側導体と負荷側導体とが再び電気的に接続される。
【０００４】
例えば、クランプ電流計を用いて電流測定を行う場合、上記接続プラグの所定の接続部同士を、接続ケーブル等によって接続して短絡させ、この接続ケーブルに流れる電流を測定している。
【０００５】
この短絡が不十分な状態でテストプラグがテスト端子に接続されると、配電盤側の回路の破損等につながる虞があるので、作業には十分な配慮を必要としていた。このため、短絡に使用される短絡用治具が種々提供されている（例えば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００６−７４８５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来より短絡用治具が種々提供されているものの、作業者の不注意等により短絡用治具をテストプラグに装着していない状態（短絡していない状態）でテストプラグをテスト端子に接続してしまったり、或いは、短絡が不十分な状態でテストプラグをテスト端子に接続してしまう場合があった。
【０００８】
このように、テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグの提供が望まれていた。
【０００９】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明は、以下のようなテストプラグを提供する。
【００１１】
（１）  それぞれが電源側装置に接続される複数の電源側導体と、それぞれが負荷側装置に接続される複数の負荷側導体と、前記複数の電源側導体と前記複数の負荷側導体とが常時接続状態である複数のテスト端子を有するテスト端子口に差し込まれ、絶縁材料で形成されたテストプラグ本体と、前記テストプラグ本体の一方側に突出し、それぞれが各電源側導体に接続される複数の活線側導体と、それぞれが各負荷側導体に接続される複数の非活線側導体と、絶縁材料で形成された絶縁支持体であって当該絶縁支持体の一方側及び他方側の面にそれぞれ前記複数の活線側導体及び前記複数の非活線側導体が配置される絶縁支持体とを有する前記テスト端子口に挿入されるプラグ部と、前記テストプラグ本体の他方側に突出し、前記活線側導体と導通する活線側接続部と、前記非活線側導体と導通する非活線側接続部とを有し、外部回路に接続可能な複数の接続プラグ部と、を備えるテストプラグであって、前記プラグ部の表面に開口した収納凹部に収納され、当該収納凹部の開口部から突出自在に設けられた突起爪と、前記突起爪を突出方向に付勢する突起爪付勢手段と、前記突起爪を前記開口部から突出した状態で固定する突起爪ロック機構と、前記テスト端子口への前記プラグ部の挿抜を検出するプラグ挿抜検出部と、前記活線側接続部及び前記非活線側接続部に微弱電流を供給する微弱電流供給部と、前記活線側接続部と前記非活線側接続部との短絡を検出する短絡検出部と、前記微弱電流供給部による前記微弱電流の供給を遮断する電流遮断部と、前記短絡検出部による検出結果に基づいて前記突起爪ロック機構を制御するロック機構制御部と、前記プラグ挿抜検出部による検出結果に基づいて前記電流遮断部を制御する電流遮断制御部と、を備えることを特徴とする。
【００１２】
テストプラグの活線側導体と非活線側導体とが短絡用治具によって短絡されていない場合には、微弱電流供給部により供給される微弱電流が活線側導体と非活線側導体との間に流れない。このため、短絡されていないことが短絡検出部によって検出される。すると、ロック機構制御部は、突起爪ロック機構を制御し、プラグ部の表面から突起爪が突出した状態で当該突起爪を固定する。このため、プラグ部の外径が、突起爪が突出している分だけ大きくなり、テストプラグをテスト端子口に物理的に挿入できなくなる。
【００１３】
一方、活線側導体と非活線側導体とが短絡用治具によって短絡されている場合には、微弱電流供給部により供給される微弱電流が活線側導体と非活線側導体との間に流れる。このため、短絡されていることが短絡検出部によって検出される。すると、ロック機構制御部は、突起爪ロック機構を制御し、プラグ部の表面から突起爪が突出した状態で固定されないようにする。このため、テストプラグをテスト端子口に挿入するときに突起爪が邪魔にならず、テストプラグをテスト端子に電気的に接続することができる。
【００１４】
したがって、（１）の発明によれば、テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供することができる。
【００１５】
（２）  （１）の発明においては、前記突起爪は、係合穴を有すると共に前記プラグ部の挿入方向先端側に向かって下り勾配となる傾斜面を先端部に有し、前記突起爪ロック機構は、前記係合穴に係合することにより前記突起爪の突出状態を維持する係合シャフトと、前記係合シャフトを前記係合穴と係合する方向に付勢する係合シャフト付勢手段と、前記係合シャフトと連結され、通電されることによって当該係合シャフトを引き寄せ当該係合シャフトと前記係合穴との係合を解除する電磁アクチュエータと、を備えることが好ましい。
【００１６】
（２）の発明によれば、突起爪及び突起爪ロック機構を簡易な構成で提供することができる。
【００１７】
（３）  （２）の発明においては、前記ロック機構制御部は、前記短絡検出部により前記活線側接続部と前記非活線側接続部との短絡が検出され、かつ、前記プラグ挿抜検出部により前記プラグ部の前記テスト端子口への挿入が検出されたときには、前記電磁アクチュエータへの通電を切ることが好ましい。
【００１８】
（３）の発明によれば、電磁アクチュエータへの通電を切っても、係合シャフト付勢手段によって係合シャフトを係合穴に係合することができるので、電磁アクチュエータによる消費電力を節約することができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、テストプラグが短絡用治具によって短絡されていない場合にはテスト端子に接続できないように構成されたテストプラグを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】第１実施形態に係るテストプラグを示す斜視図である。
【図２】接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に挿入する前の状態を示す断面図である。
【図３】接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に電気的に接続した状態を示す斜視図である。
【図４】接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に電気的に接続した状態を示す断面図である。
【図５】突起爪が突出状態でロックされた状態を示す断面図である。
【図６】突起爪がロックを解除された状態を示す断面図である。
【図７】突起爪が収納凹部に退行した状態を示す断面図である。
【図８】制御部によって制御される各構成要素を示すブロック図である。
【図９】制御方法を示すフローチャートである。
【図１０】第２実施形態に係る制御方法を示すフローチャートである。
【図１１】突起爪が収納凹部に退行した状態を示す断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。
【００２２】
〔第１実施形態〕
図１は、第１実施形態に係るテストプラグを示す斜視図である。図２は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に挿入する前の状態を示す断面図である。図３は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に電気的に接続した状態を示す斜視図である。図４は、接続ケーブルによって短絡されたテストプラグをテスト端子に電気的に接続した状態を示す断面図である。
【００２３】
また、図５は、突起爪が突出状態でロックされた状態を示す断面図であり、突起爪によってプラグ部のテスト端子口への挿入（テスト端子２との電気的接続）が阻止されている状態を示している。図６は、突起爪がロックを解除された状態を示す断面図であり、プラグ部がテスト端子と電気的に接続される直前の状態、又はプラグ部がテスト端子から抜かれて電気的接続が解除された直後の状態を示している。図７は、突起爪が収納凹部に退行した状態を示す断面図であり、プラグ部がテスト端子と電気的に接続された状態を示している。図８は、制御部によって制御される各構成要素を示すブロック図である。
【００２４】
＜概要＞
先ず、テストプラグ３及びテスト端子２の概要を図１〜図４を参照して説明する。
テストプラグ３は、図１及び図２に示すように、配電盤１（図３参照）のテスト端子口１０にテストプラグ３が接続（挿入）される前の状態、図３及び図４に示すように、配電盤１のテスト端子口１０にテストプラグ３が接続されている状態、更に図１及び図２に示すように、テストプラグ３がテスト端子口１０から抜かれた状態になるまで、接続ケーブル７１等の短絡治具によって短絡されて使用される。
【００２５】
つまり、テストプラグ３は、テストプラグ本体３０に設けられたプラグ部３１が、テスト端子口１０から差し込まれ、プラグ部３１における後述の活線側導体３３ａ，３３ｂ，３３ｃ，３３ｄと非活線側導体３４ａ，３４ｂ，３４ｃ，３４ｄとが、テスト端子２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄにそれぞれ接続された状態で使用される。
【００２６】
テストプラグ本体３０のプラグ部３１と反対側の面（他方の面３０ｂ）には、接続プラグ（接続プラグ部）３２ａ，３２ｂ，３２ｃ，３２ｄが設けられている。なお、活線側導体、非活線側導体、テスト端子、及び接続プラグが設けられている数は、それぞれ２以上となっているが、これらは、全て同一の構成である。以下においては、代表とする一の構成を詳述し、他の同一構成の部分については、図面及び説明を省略する。
【００２７】
＜接続ケーブルの説明＞
先ず、短絡用治具としての接続ケーブル７１について図１及び図２を参照して説明する。図１及び図２に示すように、接続ケーブル７１は、後述するテストプラグ３の活線側接続部３２１及び非活線側接続部３２２（図２参照）に接続されるものである。接続ケーブル７１の一端側及び他端側には、略Ｕ字状の金属板からなる端子７３，７４が設けられている。
【００２８】
＜テスト端子の説明＞
次に、テスト端子２（以下、図２及び図４では、テスト端子２ｂとして例示する）の構成について図２〜図４を参照して説明する。
テスト端子２は、図２〜図４に示すように、接続ケーブル７１が取り付けられたテストプラグ３が差し込まれるようになっている。
【００２９】
図２及び図４に示すように、テスト端子２は、絶縁性材料で形成されるフランジ２１及びテスト端子側筐体２２を備える。フランジ２１の開口内壁面２１ａには、後述する突起爪８１が摺接する（図４及び図７参照）。テスト端子２は、テスト端子２の内部に電源側装置８に接続する電源側導体１１と負荷側装置９に接続する負荷側導体１２とを有する。
【００３０】
電源側導体１１は、電源側装置８に接続する電源側一次接続部１１１と、テストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する電源側二次接続部１１２とで構成される。また、負荷側導体１２は、負荷側装置９に接続する負荷側一次接続部１２１とテストプラグ３のプラグ部３１における対応接続部に接続する負荷側二次接続部１２２とで構成される。
【００３１】
電源側二次接続部１１２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１１３が第１ターミナル２３に接続され、負荷側二次接続部１２２は、そのテスト端子口１０側とは反対側の端部１２３が第２ターミナル２４に接続される。電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２は、ばね部材２５，２５によりそれぞれ付勢されている。
【００３２】
また、電源側二次接続部１１２は、テストプラグ３のプラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されるときに、プラグ部３１の活線側導体３３が最初に当接する第１当接部１１２ａと、次に当接する第２当接部１１２ｂと、を備える。第２当接部１１２ｂは、第１当接部１１２ａよりも若干下方に配置されている。
【００３３】
すなわち、電源側二次接続部１１２は、プラグ部３１のテスト端子口１０への挿入に伴い、活線側導体３３が第１当接部１１２ａに当接したときには、第１ターミナル２３と端部１１３は当接したままであり、活線側導体３３が第２当接部１１２ｂに当接したときに初めて第１ターミナル２３と端部１１３が離れるように構成されている。
【００３４】
同様に、負荷側二次接続部１２２は、テストプラグ３のプラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されるときに、プラグ部３１の非活線側導体３４が最初に当接する第１当接部１２２ａと、次に当接する第２当接部１２２ｂと、を備える。第２当接部１２２ｂは、第１当接部１２２ａよりも若干上方に配置されている。
【００３５】
すなわち、負荷側二次接続部１２２は、プラグ部３１のテスト端子口１０への挿入に伴い、非活線側導体３４が第１当接部１２２ａに当接したときには、第２ターミナル２４と端部１２３は当接したままであり、非活線側導体３４が第２当接部１２２ｂに当接したときに初めて第２ターミナル２４と端部１２３が離れるように構成されている。
【００３６】
このため、テストプラグ３のプラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されていない場合（図２参照）には、端部１１３は第１ターミナル２３に、端部１２３は第２ターミナル２４にそれぞれ互いに接触して電気的に接続されている。すなわち、通常の使用状態においては、電源側装置８と負荷側装置９とは、テスト端子２を介して互いに接続された状態となっている。
【００３７】
また、テストプラグ３の活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２が接続ケーブル７１等で短絡されていない状態では、後述する図５に示すように、プラグ部３１の開口部８２から突起爪８１が突出した状態で係合シャフト８８によりロックされている。このロック状態でプラグ部３１の先端部をテスト端子口１０に挿入したとしても、突起爪８１がテスト端子口１０の開口周縁部に引っ掛かるため、それ以上の進入が阻止される。すなわち、テストプラグ３の活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２が短絡されていない状態では、プラグ部３１の先端部は、テスト端子２の第２当接部１１２ｂ，１２２ｂに当接可能な位置まで進入できないように構成されている。
【００３８】
＜テストプラグ全体の説明＞
次に、テストプラグ３の構成について図１〜図８を参照して説明する。
図１〜図４に示すように、テストプラグ３は、絶縁性材料で形成されるテストプラグ本体３０と、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出し、テスト端子口１０からテスト端子２に挿入されるプラグ部３１と、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出し、外部回路となるクランプ電流計７に接続される接続プラグ３２と、を備える。
【００３９】
また、図５及び図８に示すように、テストプラグ３は、突起爪８１と、収納凹部８３と、付勢ばね（突起爪付勢手段）８４と、突起爪ロック機構８０と、突起爪出没検出センサ（プラグ挿抜検出部）８６と、微弱電流供給回路（微弱電流供給部）９１と、短絡検出センサ（短絡検出部）９２と、電流遮断スイッチ（電流遮断部）９３と、制御部９５とを備える。
【００４０】
図１〜図４に示すように、プラグ部３１は、テストプラグ本体３０の一方の面３０ａに突出して形成される。プラグ部３１は、プラグ部３１がテスト端子口１０に挿入された場合に、電源側二次接続部１１２に接触して電気的に接続される活線側導体３３と、負荷側二次接続部１２２に接触して電気的に接続される非活線側導体３４と、活線側導体３３と非活線側導体３４との間に配置され、各接続部を絶縁する絶縁支持体３１１とで構成される。
【００４１】
また、プラグ部３１は、突起爪８１、突起爪８１を出没自在に収納する収納凹部８３、突起爪８１を突出状態で固定する突起爪ロック機構８０等を備える。これら突起爪８１等の構成については、後述する。
【００４２】
また、テストプラグ本体３０の他方の面３０ｂには、接続プラグ３２を備える。接続プラグ３２は、活線側導体３３と電気的に接続された活線側接続部３２１と、非活線側導体３４と電気的に接続された非活線側接続部３２２と、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とを電気的に分離する絶縁材料で形成された絶縁部３２３と、で形成される。
【００４３】
具体的には、活線側導体３３における接続プラグ３２側の端部は、ねじが形成された棒状の部材であり、そのテストプラグ本体３０の他方の面３０ｂに突出した先端部に活線側ナット３２４（図１参照）が螺合される。活線側ナット３２４を回転させることにより、活線側導体３３の先端部が露出され、その露出された部分が活線側接続部３２１となる。
【００４４】
非活線側導体３４における接続プラグ３２側の端部は、外周にねじが形成された管状の部材で形成され、その外周を非活線側ナット３２５が螺合されている。非活線側ナット３２５を回転させることにより、非活線側導体３４の先端部が露出され、その露出された部分が非活線側接続部３２２となる。
【００４５】
活線側導体３３及び非活線側導体３４の接続プラグ３２側端部は、棒状の部材で形成された活線側導体３３の外周に絶縁部３２３が覆うように配置され、絶縁部３２３の外周に管状の部材で形成された非活線側導体３４が覆うように配置される。
【００４６】
つまり、接続プラグ３２は、棒状の活線側導体３３を中心として、筒状の絶縁部３２３と非活線側導体３４とが左記の順に略同心円状に配置され、更に活線側ナット３２４及び非活線側ナット３２５がそれぞれ活線側導体３３と非活線側導体３４の端部に螺合されて形成される。
【００４７】
次に、テストプラグ３が備える突起爪８１、収納凹部８３、突起爪ロック機構８０及び制御部９５等について図５〜図８を参照して説明する。なお、図５〜図７において、後述する電磁アクチュエータ８７や突起爪出没検出センサ８６と制御部９５との配線は、図示を省略する。
【００４８】
＜収納凹部及び付勢ばねの説明＞
収納凹部８３は、図５に示すように、開口部８２を有し、４つのプラグ部３１のうちいずれか１つのプラグ部３１の絶縁支持体３１１に設けられる。収納凹部８３は、後述する突起爪８１を出没自在に収納する。
【００４９】
収納凹部８３の開口部８２は、プラグ部３１の活線側導体３３に設けられている。この開口部８２は、図５に示すように、突起爪８１が開口部８２から突出し、後述する係合シャフト８８によってロックされた状態で、プラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されたときに、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されないような位置に配置されている。
【００５０】
収納凹部８３の底部側には、開口部８２側よりも大きな空間を有しており、当該空間との境界位置に段部８３ａが設けられている。この段部８３ａは、後述する突片部８１ｃの上方への限界動作位置を規制する。
【００５１】
また、収納凹部８３の底部には、突起爪８１を突出方向（図５において、プラグ部３１の上面に直交する上方向である。以下、突出方向という）に付勢する付勢ばね８４と、後述する突起爪出没検出センサ８６が設けられている。
【００５２】
付勢ばね８４の一端は、後述する突起爪８１の基端部に固定され、他端は収納凹部８３の底部に固定されている。
【００５３】
突起爪出没検出センサ８６は、突起爪８１の変位を検出するために、突片部８１ｃの下方に配設されている。
【００５４】
＜突起爪の説明＞
突起爪８１は、図５に示すように、縦断面が略Ｌ字状の絶縁性部材から形成されている。突起爪８１は、傾斜面８１ａと、係合穴８１ｂと、突片部８１ｃとを有する。
【００５５】
傾斜面８１ａは、突起爪８１の突出方向の先端部（図５において突起爪８１の上端部）に、プラグ部３１の挿入方向（図５において右方向であり、以下、プラグ部挿入方向という）先端側に向かって下り勾配となるように設けられている。
【００５６】
このような傾斜面８１ａを形成したのは、プラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されていくのにしたがって傾斜面８１ａがテスト端子口１０の開口周縁部及び開口内壁面２１ａに当接することで、突起爪８１が収納凹部８３に円滑に退行できるようにするためである。
【００５７】
係合穴８１ｂは、突起爪８１の基端部側に設けられた円形貫通穴である。係合穴８１ｂは、プラグ部挿入方向と平行に設けられ、かつ、突起爪８１が突出した状態において、後述する係合シャフト８８の軸心と一致するように配置されている。
【００５８】
係合穴８１ｂの内径は、後述する係合シャフト８８が挿抜自在となるように、係合シャフト８８の外径よりも若干大きめに形成されている。
【００５９】
突片部８１ｃは、突起爪８１の基端部の側壁部からプラグ部挿入方向に突設されている。突起爪８１が収納凹部８３に退行し、突起爪８１の先端部がプラグ部３１の上面から略突出していない状態になると、突片部８１ｃは、後述する突起爪出没検出センサ８６のアクチュエータ部８６ａを押下し、突起爪出没検出センサ８６の接点（図示せず）をＯＮにする。
【００６０】
また、突片部８１ｃは、突起爪８１が突出することによって、上記アクチュエータ部８６ａと当接しなくなるので、アクチュエータ部８６ａの押下状態を解除し、突起爪出没検出センサ８６の接点（図示せず）をＯＦＦにする。
【００６１】
＜突起爪ロック機構の説明＞
突起爪ロック機構８０は、後述するロック機構制御部９５ａ（図８参照）に接続され、ロック機構制御部９５ａによる指令に基づいて突起爪８１を開口部から突出した状態で固定する。
【００６２】
具体的には、突起爪ロック機構８０は、係合シャフト８８と、電磁アクチュエータ８７と、付勢ばね（係合シャフト付勢手段）９０と、を備える。なお、突起爪ロック機構８０は、電磁アクチュエータ８７を駆動するための駆動回路等を備えるが、詳細な説明は省略する。
【００６３】
係合シャフト８８は、後述する電磁アクチュエータ８７によってプラグ部挿入方向に進退自在に作動するように構成されている。係合シャフト８８は、突起爪８１の係合穴８１ｂに係合することにより突起爪８１の突出状態を維持する。係合シャフト８８は、後述する付勢ばね９０の一端を係止する係止部８９を有する。係合シャフト８８は、例えば、金属製の丸棒により形成されることが好ましい。
【００６４】
電磁アクチュエータ８７は、突起爪８１の近傍の絶縁支持体３１１に設けられている。電磁アクチュエータ８７は、係合シャフト８８と連結され、通電されることによって係合シャフト８８を電磁吸引力により引き寄せ、係合シャフト８８と係合穴８１ｂとの係合を解除する。
【００６５】
電磁アクチュエータ８７は、例えば、通電によって電磁吸引力を発生する、いわゆる直線ソレノイドであることが好ましい。なお、電磁アクチュエータ８７の電源としては、例えば、図示しない電池等を用いることができる。
【００６６】
絶縁支持体３１１における電磁アクチュエータ８７のプラグ部挿入方向の両端部には、係合シャフト８８の作動空間として作動用穴部８５が設けられている。
【００６７】
付勢ばね９０は、係合シャフト８８をプラグ部挿入方向に常時付勢し、突起爪８１の係合穴８１ｂと係合させる。付勢ばね９０は、一端を係合シャフト８８の係止部８９に固定され、他端を電磁アクチュエータ８７に固定されている。すなわち、付勢ばね９０は、電磁アクチュエータ８７が通電されていないときには、図５に示すように、係合シャフト８８を付勢して係合穴８１ｂに係合させるように構成されている。
【００６８】
＜突起爪出没検出センサの説明＞
突起爪出没検出センサ８６は、突起爪８１の突片部８１ｃの変位（図５においては、上下動）に応じてＯＮ・ＯＦＦするスイッチとして構成されている。すなわち、突起爪出没検出センサ８６は、図８に示すように、制御部９５に接続され、テスト端子口１０へのプラグ部３１の挿抜を検出する。
【００６９】
具体的には、突起爪出没検出センサ８６は、突起爪８１が突出状態であるとき、すなわち、プラグ部３１がテスト端子口１０に挿入されていないとき、又はプラグ部３１の一部が挿入されていてもテスト端子２に電気的に接続されていないときにＯＦＦになる。
【００７０】
また、突起爪出没検出センサ８６は、突起爪８１が収納凹部８３に退行した状態（非突出状態）、すなわち、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入され、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されたときにＯＮになる。
突起爪出没検出センサ８６による検出結果は、制御部９５に出力される。
【００７１】
＜微弱電流供給回路の説明＞
微弱電流供給回路９１は、図８に示すように、接続プラグ３２の活線側接続部３２１及び非活線側接続部３２２に微弱電流を供給する。なお、微弱電流供給回路９１の電源としては、例えば、電池を用いることが好ましい。
【００７２】
＜短絡検出センサの説明＞
短絡検出センサ９２は、図８に示すように、制御部９５に接続され、接続プラグ３２の活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２との短絡を検出する。すなわち、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが接続ケーブル７１等の短絡用治具によって短絡されると、微弱電流供給回路９１が閉じられ、微弱電流が流れるので、この微弱電流を短絡検出センサ９２によって検出する。短絡検出センサ９２は、この短絡を検出すると制御部９５に出力する。このように構成された短絡検出センサ９２は、各接続プラグ３２ａ，３２ｂ，３２ｃ，３２ｄごとに設けられている。
【００７３】
＜電流遮断スイッチの説明＞
電流遮断スイッチ９３は、図８に示すように、後述する電流遮断制御部９５ｂに接続され、電流遮断制御部９５ｂによる指令に基づいて微弱電流供給回路９１による微弱電流の供給を遮断する。クランプ電流計７によって電流測定をする際に、微弱電流の影響を排除するためである。このように構成された電流遮断スイッチ９３は、各接続プラグ３２ａ，３２ｂ，３２ｃ，３２ｄごとに設けられている。
【００７４】
＜制御部の説明＞
制御部９５は、図８に示すように、突起爪ロック機構８０、突起爪出没検出センサ８６、短絡検出センサ９２及び電流遮断スイッチ９３と接続され、突起爪ロック機構８０及び電流遮断スイッチ９３を制御する。制御部９５は、ロック機構制御部９５ａと電流遮断制御部９５ｂとを備える。
【００７５】
ロック機構制御部９５ａは、短絡検出センサ９２による検出結果に基づいて突起爪ロック機構８０を制御する。具体的には、ロック機構制御部９５ａは、短絡検出センサ９２により、接続プラグ３２の活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２との短絡が検出されると、突起爪ロック機構８０の電磁アクチュエータ８７に通電する。これにより、ロック機構制御部９５ａは、係合シャフト８８と係合穴８１ｂとの係合を解除する。
【００７６】
すなわち、ロック機構制御部９５ａは、テストプラグ３が上記短絡状態のときにのみ突起爪８１の突出状態の固定を解除することで、プラグ部３１をテスト端子口１０に完全に挿入でき、テスト端子２と電気的に接続できるようにする。
【００７７】
電流遮断制御部９５ｂは、突起爪出没検出センサ８６による検出結果に基づいて電流遮断スイッチ９３を制御する。具体的には、電流遮断制御部９５ｂは、突起爪出没検出センサ８６により、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入され、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されたことを検出すると、電流遮断スイッチ９３を制御し、微弱電流供給回路９１による微弱電流の供給を遮断する。
【００７８】
以上のように、テストプラグ３は、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが短絡されていない場合には、突起爪ロック機構８０により突起爪８１が常時、突出状態で固定（ロック）されており、上記短絡がなされると、突起爪８１の突出状態のロックが解除されるように構成されている。
【００７９】
＜クランプ電流計の説明＞
なお、図２及び図４に示すクランプ電流計７は、接続ケーブル７１を流れる電流を測定するものである。クランプ電流計７は、開閉可能な環状鉄心と、当該環状鉄心に巻回されたコイルとを内部に有するクランプ部７ａを備え、当該環状鉄心に接続ケーブル７１を挿通させることにより電流測定を行えるように構成されている。
【００８０】
すなわち、接続ケーブル７１に交流電流が流れると、上記環状鉄心に巻回された上記コイルに電流が発生するので、当該コイルに流れる電流を電流測定回路（図示せず）で検出することによって接続ケーブル７１に流れている電流を測定できることになる。
【００８１】
＜テストプラグの制御方法の説明＞
次に、テストプラグ３の制御方法について図９及び図２〜図８を参照して説明する。ここで、図９は、制御方法を示すフローチャートである。以下の制御は、制御部９５によって実行される。
【００８２】
図９に示すように、先ず、ステップＳ１０では、制御部９５は、短絡検出センサ９２からの出力によって、テストプラグ３の活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２との短絡状態（図２及び図３参照）が検出されたか否かを判断する。
【００８３】
上述したように、テストプラグ３は、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが短絡されていない場合には、突起爪ロック機構８０により突起爪８１が突出状態で固定（ロック）されている（図５参照）。
【００８４】
したがって、ステップＳ１０での判断がＮＯの場合、すなわち、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが短絡されていない場合には、突起爪８１の突出状態をロックしたままにしてテストプラグ３のテスト端子２への挿入を阻止するために、ステップＳ１０に戻り、上記短絡が検出されるまで待機する。
【００８５】
このように、テストプラグ３の活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていない場合には、突起爪８１が突出状態でロックされたままであるので（図５参照）、テストプラグ３をテスト端子２に物理的に接続できない。したがって、活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていないテストプラグ３が、テスト端子２に誤って接続されてしまうことがない。
【００８６】
一方、ステップＳ１０での判断がＹＥＳの場合、すなわち、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが短絡された場合には、テストプラグ３をテスト端子２に挿入して電気的に接続できるようにするために、ステップＳ２０に移り、突起爪８１のロックを解除する必要がある。
【００８７】
このため、ステップＳ２０では、ロック機構制御部９５ａは、突起爪ロック機構８０の電磁アクチュエータ８７に通電する。すると、電磁アクチュエータ８７は、電磁吸引力を発生し、付勢ばね９０の付勢力に抗して係合シャフト８８を反プラグ部挿入方向に引き付けることで、係合穴８１ｂとの係合を解除する（図６参照）。
【００８８】
すなわち、テストプラグ３が上記短絡状態のときにのみ突起爪８１の突出状態を解除することで、プラグ部３１をテスト端子口１０に完全に挿入でき、テスト端子２と電気的に接続できるようにする（図７参照）。突起爪８１の突出状態のロックを解除したら、ステップＳ３０に移る。
【００８９】
ステップＳ３０では、制御部９５は、突起爪出没検出センサ８６からの出力によって、突起爪８１が非突出状態（突起爪８１が収納凹部８３に退行した状態）であることを検出されたか否かを判断する。すなわち、制御部９５は、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入され（図７参照）、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されているか否かを判断する。
【００９０】
ステップＳ３０での判断がＹＥＳの場合、すなわち、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されたと判断された場合には、ステップＳ４０に移る。
【００９１】
一方、ステップＳ３０での判断がＮＯの場合、すなわち、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されていないと判断された場合には、ステップＳ３０に戻り、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されたと判断されるまで待機する。
【００９２】
ステップＳ４０では、電流遮断制御部９５ｂは、突起爪出没検出センサ８６により、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入され（図７参照）、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に接続されたことを検出すると、電流遮断スイッチ９３を制御し、微弱電流供給回路９１による微弱電流の供給を遮断する。
【００９３】
これにより、クランプ電流計７によって電流測定をする際に、微弱電流の影響を排除することができる。微弱電流の供給が遮断されても、電磁アクチュエータ８７は通電されたままであり、突起爪８１の突出状態のロックは解除されている（図７参照）。
微弱電流の供給を遮断したら、ステップＳ５０に移る。
【００９４】
ステップＳ５０では、制御部９５は、突起爪出没検出センサ８６からの出力によって、突起爪８１が突出状態であることを検出されたか否かを判断する。すなわち、制御部９５は、作業員による電流測定作業が終了し、プラグ部３１がテスト端子口１０から引き抜かれ、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されたか否かを判断する。
【００９５】
ステップＳ５０での判断がＹＥＳの場合、すなわち、作業員による電流測定作業が終了し、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されたと判断された場合には、ステップＳ５５に移る。
【００９６】
一方、ステップＳ５０での判断がＮＯの場合、すなわち、作業員による電流測定作業が終了しておらず、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されていないと判断された場合には、ステップＳ５０に戻り、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されたと判断されるまで待機する。
【００９７】
ステップＳ５５では、電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにする。プラグ部３１がテスト端子口１０から引き抜かれ、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されると、突起爪８１が付勢ばね８４の付勢力によって押し上げられ、突出状態となる（図６参照）。
【００９８】
このとき、係合シャフト８８の軸心と係合穴８１ｂの中心とが一致するので、電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにすることで、係合シャフト８８が電磁吸着力から解放され、付勢ばね９０の付勢力によって係合シャフト８８が係合穴８１ｂに係合する（図５参照）。これにより、突起爪８１が突出状態でロックされる。電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにしたら、ステップＳ６０に移る。
【００９９】
ステップＳ６０では、電流遮断制御部９５ｂは、突起爪出没検出センサ８６により、プラグ部３１がテスト端子口１０から引き抜かれ、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されたこと（図２参照）を検出したら、電流遮断スイッチ９３をＯＮとなるように制御し、微弱電流供給回路９１による微弱電流の供給を再開して制御を終了する。
これにより、次の作業時における活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２との短絡検出に備えることができる。
【０１００】
なお、その後は、作業員によってテストプラグ３から接続ケーブル７１が取り外され、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２との短絡が開放される。
【０１０１】
＜使用態様例の説明＞
次に、テストプラグ３の使用態様例について説明する。
活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていない場合のテストプラグ３の作用については上述したので、以下には、活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡される場合の使用態様例について説明する。
【０１０２】
先ず、図２に示すように、作業者は、電流測定時において必要な接続ケーブル７１の端子７３，７４を、活線側導体３３や非活線側導体３４に電気的に接続する。具体的には、接続ケーブル７１の端子７３を活線側導体３３に接続し、端子７４を非活線側導体３４に接続するために、活線側ナット３２４で端子７３を挟み込み、非活線側ナット３２５で端子７４を挟み込む。これにより、活線側導体３３と非活線側導体３４とは、接続ケーブル７１によって短絡される。
【０１０３】
次に、図３及び図４に示すように、作業者は、プラグ部３１をテスト端子２に挿入すると、テスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２の間にプラグ部３１が押し込まれる。すると、電源側二次接続部１１２の端部１１３及び負荷側二次接続部１２２の端部１２３は、第１ターミナル２３及び第２ターミナル２４との接触がそれぞれ無くなり、電源側装置８と負荷側装置９とが電気的に切り離される。
【０１０４】
そして、電源側装置８が接続プラグ３２の活線側接続部３２１と電気的に接続され、負荷側装置９が接続プラグ３２の非活線側接続部３２２と電気的に接続される。また、活線側接続部３２１と非活線側接続部３２２とが接続ケーブル７１を介して電気的に接続される。したがって、誘導電流を測定するようなクランプ電流計７を用い、接続ケーブル７１のクランプ部７ａによって接続ケーブル７１を挟持することで、接続ケーブル７１に流れる電流を測定することができる。
【０１０５】
より具体的には、図２に示すテストプラグ３のプラグ部３１が、配電盤１のテスト端子口１０に挿入されると、図４に示す状態となる。すなわち、プラグ部３１における活線側導体３３及び非活線側導体３４がそれぞれテスト端子２の電源側二次接続部１１２及び負荷側二次接続部１２２にそれぞれ接続されると共に、テスト端子２における電源側導体１１と負荷側導体１２との電気的接続が非接続となる。このとき、テストプラグ３のテストプラグ本体３０及び接続プラグ３２がテスト端子口１０から突出した状態となる。
【０１０６】
クランプ電流計７による電流測定後は、図２に示すように、テストプラグ３をテスト端子口１０から引き抜く。そして、接続ケーブル７１の端子７３，７４を活線側導体３３や非活線側導体３４から取り外す。
【０１０７】
以上のように、この第１実施形態によれば、テストプラグ３の活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていない場合には、突起爪８１が突出状態でロックされているので、テストプラグ３をテスト端子２に物理的に接続できない。すなわち、活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていないテストプラグ３が、テスト端子２に誤って接続されてしまうことを防止することができる。
【０１０８】
〔第２実施形態〕
図１０は、第２実施形態に係る制御方法を示すフローチャートである。図１１は、突起爪が収納凹部に退行した状態を示す断面図であり、プラグ部がテスト端子と電気的に接続された状態を示している。なお、以下の説明において、既に説明した部材と同一若しくは相当する部材には、同一の符号を付して重複説明を省略又は簡略化する。
【０１０９】
この第２実施形態と上記第１実施形態とは、テストプラグ３の構成が同様であり、制御方法の一部が異なる。
【０１１０】
すなわち、上記第１実施形態においては、作業員による電流測定作業が終了し、プラグ部３１がテスト端子２と電気的に切り離されたと判断された場合（図９に示すステップＳ５０での判断がＹＥＳの場合）に電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにしていた。
【０１１１】
一方、この第２実施形態では、図１０のステップＳ４５に示すように、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入された直後（ステップＳ３０での判断がＹＥＳの場合）に電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにするようにした。
【０１１２】
以下、このように制御する理由について説明する。
図７に示すように、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入されると、突起爪８１は収納凹部８３に退行（下降）するので、係合穴８１ｂの中心は係合シャフト８８の軸心よりも下方に位置することとなる。
【０１１３】
この状態で電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにすると、係合シャフト８８は、電磁アクチュエータ８７による吸着力から解放される。すると、図１１に示すように、係合シャフト８８は、付勢ばね９０によってプラグ部挿入方向に付勢されているので、突起爪８１に当接して止まる。
【０１１４】
その後、電流測定が終了し、プラグ部３１が、テスト端子口１０から抜かれ、テスト端子２と電気的に切り離されると、図５に示すように、付勢ばね８４によって突出方向に付勢されている突起爪８１は、テスト端子口１０の開口内壁面２１ａとの当接状態から解放されるので、開口部８２から突出する。この突起爪８１の突出過程において、係合穴８１ｂの中心が係合シャフト８８の軸心と一致するので、突起爪８１に当接して止まっていた上記係合シャフト８８が係合穴８１ｂに係合する。
【０１１５】
このように、プラグ部３１がテスト端子口１０に完全に挿入された直後に電磁アクチュエータ８７への通電をＯＦＦにすることで、テストプラグ３がテスト端子口１０に挿入されてから抜かれるまでの間、電磁アクチュエータ８７による消費電力を節約することができる。また、上記タイミングで上記通電をＯＦＦにしても、係合シャフト８８は係合穴８１ｂと自動的に係合し、突起爪８１が突出状態でロックされる。
【０１１６】
なお、その他の制御方法は、上記第１実施形態の場合と同様であるので、重複説明を省略する。
【０１１７】
以上のように、この第２実施形態に係るテストプラグ３によれば、上記第１実施形態の場合と略同様の効果を奏するほか、テストプラグ３がテスト端子口１０に挿入されてから抜かれるまでの間、電磁アクチュエータ８７による消費電力を節約することができる。
【０１１８】
なお、上記各実施形態においては、突起爪ロック機構８０として、電磁アクチュエータ８７である直線ソレノイドを用いるものとして説明したが、これに限定されず、突起爪８１を突出状態でロックできれば、他のアクチュエータであってもよい。
【０１１９】
また、上記各実施形態においては、突起爪ロック機構８０の電磁アクチュエータ８７をプラグ部３１に設けるものとして説明したが、これに限定されず、テストプラグ本体３０に設けてもよい。この場合、上記各実施形態の場合よりも係合シャフト８８を長く形成し、プラグ部３１内を挿通して構成すればよい。
【０１２０】
また、上記各実施形態においては、プラグ挿抜検出部として、突起爪８１の出没を検出する突起爪出没検出センサ８６を用いるものとして説明したが、これに限定されず、テストプラグ３がテスト端子口１０に対して挿抜されるのを検出できれば、他の検出手段を用いてもよい。
【０１２１】
また、上記各実施形態においては、テスト端子２の内部構造を考慮し、突起爪８１の配設位置をプラグ部３１の基端側に設けるものとして説明したが、これに限定されない。すなわち、テストプラグ３の活線側導体３３と非活線側導体３４とが短絡されていない場合に、突起爪８１が突出状態でロックされ、テストプラグ３をテスト端子２に物理的に接続できないようにすればよいので、突起爪８１の配設位置は、テスト端子２の内部構造に応じて適宜変更可能であり、プラグ部３１の先端側に設けてもよい。
【０１２２】
また、上記と同様の趣旨から、上記突起爪８１に相当する突起手段を、テストプラグ本体３０からプラグ部３１の延びる方向に進退自在に設けてもよい。
【符号の説明】
【０１２３】
２  テスト端子
３  テストプラグ
８  電源側装置
９  負荷側装置
１０  テスト端子口
１１  電源側導体
１２  負荷側導体
３０  テストプラグ本体
３１  プラグ部
３２  接続プラグ（接続プラグ部）
３３  活線側導体
３４  非活線側導体
７１  接続ケーブル
８０  突起爪ロック機構
８１  突起爪
８１ａ  傾斜面
８１ｂ  係合穴
８２  開口部
８３  収納凹部
８４  付勢ばね（突起爪付勢手段）
８５  作動用穴部
８６  突起爪出没検出センサ（プラグ挿抜検出部）
８６ａ  アクチュエータ部
８７  電磁アクチュエータ
８８  係合シャフト
８９  係止部
９０  付勢ばね（係合シャフト付勢手段）
９１  微弱電流供給回路（微弱電流供給部）
９２  短絡検出センサ（短絡検出部）
９３  電流遮断スイッチ（電流遮断部）
９５  制御部
９５ａ  ロック機構制御部
９５ｂ  電流遮断制御部
３１１  絶縁支持体
３２１  活線側接続部
３２２  非活線側接続部
【図１】
2010220312.tif 000003
【図２】
2010220312.tif 000004
【図３】
2010220312.tif 000005
【図４】
2010220312.tif 000006
【図５】
2010220312.tif 000007
【図６】
2010220312.tif 000008
【図７】
2010220312.tif 000009
【図８】
2010220312.tif 000010
【図９】
2010220312.tif 000011
【図１０】
2010220312.tif 000012
【図１１】
2010220312.tif 000013