(57)【要約】【課題】  電気二重層キャパシタ等の電子部品に圧力を加えながら動作試験を行うための装置を提供する。【解決手段】    ラミネート型の電気二重層キャパシタ３を載せる基台２の上に、その中央部を跨ぐように門形フレーム２０を設ける。このフレームに、押圧板２６と、これを基台２に向けて押しやる付勢部２７を設ける。押圧板２６に固定された４本の軸体２９が門形フレーム２０の横部材２３を貫いて上に延びており、これら軸体２９に沿って押圧板２６と横部材２３の間にコイルスプリング３０が縮設される。他方、押圧板２６の略中心に上向きに操作軸を取り付け、それに圧縮コイルスプリング３２を通す。この操作軸は門形フレームを貫いて上に延びており、その軸端に、周面が横部材２３の上面に摺接する偏心カム３３をピン３５で取り付ける。偏心カム３３からは操作レバー３６が一体に延びている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
板状の電子部品の本体を置くための基台と、該電子部品本体を該基台に押し付けるための押圧部と、該電子部品本体から延びる電極タブを咥える電極挟持部を備え、該押圧部が次の構成を備えている電子部品試験台。
（イ）該基台の側部に立つ固定縦部材と、該固定縦部材に一辺を枢支された横部材と、該横部材の他辺に枢支され、下部が該基台に係合離脱自在な可動縦部材からなる、該基台を跨ぐ門形フレーム；
（ロ）該基台上の該電気部品本体に当接する押圧板；
（ハ）該押圧板を該基台に向けて押しやる付勢部。
【請求項２】
該付勢部が次の構成を有する請求項１に記載の電子部品試験台。
（イ）該押圧板から上に延びて該横部材を貫く複数本の軸体；
（ロ）該軸体に沿って該押圧板と該横部材の間に縮設されたコイルスプリング；
（ハ）該押圧板から上に延びて該横部材を貫く操作軸；
（ニ）該操作軸の上端に回動自在に枢支され、周面が該横部材に摺接する偏心カム；
（ホ）該カムから延び、これを回動することで該操作軸を引き上げる操作レバー。
【請求項３】
該電極挟持部が次の構成を有する請求項１または２に記載の電子部品試験台。
（イ）該電極タブを下から支える固定台；    
（ロ）該固定台に立てられた左右一対の支柱；
（ハ）該左右一対の支柱の上部をつなぐ梁；
（ニ）該左右一対の支柱に沿ってスライド自在な昇降部材；
（ホ）該昇降部材に立設された、該梁を貫く操作軸；
（ヘ）該昇降部材と梁の間に縮設されたコイルスプリング；
（ト）該操作軸の上端に回動自在に枢支され、周面が該梁に摺接する偏心カム；
（チ）該カムから延びる、回動することで該操作軸を引き上げる操作レバー；
（リ）該固定台の上面または該昇降部材の下面に取り付けられた、該電極タブに当接する左右一対の接触子。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電気二重層キャパシタ等の電子部品の試験台に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、電気二重層キャパシタが蓄電手段としてに注目されているが、その電気二重層キャパシタは、円筒形のものもあるが、扁平形（角形）およびラミネート形など独特の形状を持っている。偏平形（角形）は、電極板とセパレータを交互に重ね合わせ、偏平形（角形）のアルミケースに収納して密封したものである。ラミネート形は積層数を少なくして、アルミラミネートフィルムで密封したもので、薄型形状になっている。これら扁平形（角形）およびラミネート形キャパシタはいずれもその一辺から、一対のフレキシブルな薄板状の電極タブが間隔を存して平行に突出している。このような薄型形状の電極タブを持つものでは、充放電等の性能試験を行う場合、従来、電極タブをワニ口クリップで咥えて試験装置に接続していた。しかしこの方法は、電極タブの間隔の大小に拘わらずテストができて便利であるが、クリップが外れやすく、また、電極タブの表面が傷ついたり、折れ曲がってしまうなどの問題があった。
【０００３】
特許文献１に示すように、従来、電極タブを、開閉自在な一対の顎の間に咥えるようにしたものもあるが、装置が大きく、操作性もよくなかった。
【特許文献１】特開２００２-３４３３１８号公報
【０００４】
また、ラミネート形電気二重層キャパシタでは、本体を挟みつける圧力の大きさによって充放電特性が変化することが知られている。従来装置では、充放電中に、圧力を加えたり除いたりするができなかった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
この発明は、電気二重層キャパシタ式の電池など電子部品の薄板状の電極タブを、簡単な操作でしっかりと咥えることができる試験台を提供する。また、電池本体に圧力を加えたり、除去したりできるようにすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係る電子部品試験台は、板状の電子部品の本体を置くための基台と、電子部品本体を基台に押し付けるための押圧部と、該電子部品本体から延びる電極タブを咥える電極挟持部からなる。該押圧部は基台を跨ぐ門形フレームと、基台上の該電気部品本体に当接する押圧板と、該押圧板を基台に向けて押しやる付勢部から構成される。また、門形フレームは、基台の側部に立つ固定縦部材と、固定縦部材に一辺を枢支された横部材と、横部材の他辺に枢支され、下部が該基台に係合離脱自在な可動縦部材からなる。
【０００７】
この試験台では、基台に載せた電子部品を、門形フレームの下に吊設した押圧板で押し付けるようにして電子部品に容易に圧力を掛けることができる。また、門形フレームを跳ね上げることができるので、テストすべき電子部品を押圧部に邪魔されることなく、基台の上に載せることができる。
【０００８】
好ましくは、前記付勢部は、押圧板から上に延びて該横部材を貫く複数本の軸体と、軸体に沿って該押圧板と該横部材の間に縮設されたコイルスプリングと、押圧板から上に延びて該横部材を貫く操作軸と、この操作軸の上端に回動自在に枢支され、周面が該横部材に摺接する偏心カムと、該カムから延びて、回動することにより該操作軸を引き上げる操作レバーから構成する。
【０００９】
こうすれば、レバーを操作するだけで、テストするキャパシタに圧力を加えたり、圧力を除去することができ、圧力による電気性能の変化を知ることができる。
【００１０】
加える圧力の大きさは、弾発力の異なるコイルスプリングを何種類か用意しておいて、適宜付け替えて使用することに達成することができる。あるいは、基台と押圧板の間にキャパシタを挟むときに、適当な厚みを持った板材をいっしょに挟み込むようにすれば、キャパシタに掛かる圧力を高めることができる。電極挟持部は好ましくは、電極タブを下から支える固定台と、固定台に立てられた左右一対の支柱と、左右一対の支柱の上部をつなぐ梁と、左右一対の支柱に沿ってスライド自在な昇降部と、昇降部材に立設され、該梁を貫く操作と、昇降部材と梁の間に縮設されたコイルスプリンと、操作軸の上端に回動自在に枢支され、周面が該梁に摺接する偏心カムと、該カムから延びる、回動することで該操作軸を引き上げる操作レバーと、固定台の上面または該昇降部材の下面に取り付けられた、該電極タブに当接する左右一対の接触子から構成する。この構成によれば、キャパシタの電極タブをレバーの操作だけで簡単確実に咥えることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
この試験台は、図１、図２に示すように、シャーシ１の上に樹脂製の基台２が水平に支持されており、テストを行う電池（ラミネート型の電気二重層キャパシタ）３は本体部をこの基台の上に載せる。キャパシタ３の本体から延びる電極タブ３ａを咥える電極挟持部Ａが基台２前部のシャーシ１上に配置される。また、基台２の中央上部に、キャパシタ３の本体を基台２に押し付けるための押圧部Ｂが配置される。まず電極挟持部Ａについて説明する。左右に細長い樹脂製の固定台５を基台２の前端に接する格好でシャーシ１に取り付ける。図３に示すようにこの固定台の両端に左右一対の支柱６を立て、それら支柱に上下にスライドできるように左右に細長い樹脂製の昇降部材７を取り付け、支柱の上端同士は梁９で結ぶ。昇降部材７の略中央に操作軸１０を立て、該軸は梁９を擦動自在に貫いている。この操作軸１０が内部を通過する格好で昇降部材７と梁９の間にコイルスプリング１１を縮設する。操作軸１０の上端には、周面が梁９に摺接する偏心カム１２をピン１３で取り付ける。偏心カム１２からは操作レバー１５が一体に延びている。
【００１２】
このように構成された電極挟持部Ａでは、図３に鎖線で示すように操作レバー１５を倒しておくと、偏心カム１２の周面が梁９から離れ、コイルスプリング１１の力で昇降部材７が下向きに押しやられ、固定台５に押し付けられる。この状態から操作レバー１５を引き起こしていくと、梁９の上面にカム１２の周面が摺接するようになり、その摺接点を支点とする梃子の働きで操作軸１０が徐々に引き上げられる。それに伴って昇降部材７が上昇し、固定台５と昇降部材７との間が開いていく。偏心カム１２は操作レバーがほぼ垂直に立ったときに上死点に達し、したがって昇降部材７がもっとも上まで引き上げられる。レバーをさらに同方向にわずかに回動すると、レバーはカムのストッパ１２ａに当たり、レバーはその状態を自己保持する。
【００１３】
図３に示すように、固定台５の上面と昇降部材７の下面に、キャパシタの電極タブ３ａを挟持するように左右一対の金属製接触子１６を設ける。固定台５の中央には仕切板５ａを立て、一対の電極タブが対応する左右の接触子に振り分けられるようにする。各接触子から導いた電線はコネクタ１７に導かれる。
【００１４】
図１に示すように、基台２に穴をあけ、その中に温度センサー（サーミスタ）１９を埋め込み、それから延びるリード線も同様にコネクタ１７に導く。
【００１５】
次に押圧部Ｂについて説明すると、図１、図４に示すように、基台２の中央部を跨ぐように門形フレーム２０を設ける。門形フレームは、基台の両側に立つ固定および可動縦部材２１、２２と、それら縦部材の上端同士をつなぐ横部材２３からなる。両縦部材と横部材の間にはそれぞれ蝶番２４、２５が組み込まれている。固定縦部材２１は下部がシャーシ１に固定されているが、可動縦部材２２の下部は基台２の下面に係合離脱自在なように内側に折れ曲がった鉤２２ａを備えている。蝶番２５にはスプリング２５ａが組み込まれており、そのスプリング力で可動縦部材２２は内側に（すなわち鉤が基台にかかるように）付勢されている。この鉤を外すことにより、門形フレーム２０は、蝶番２４に組み込んであるスプリング２４ａの反発力で図４に鎖線で示すように跳ね上がる。この状態では後述の押圧板２６に邪魔されることなく、キャパシタを基台２上に載せることができる。
【００１６】
この門形フレーム２０には、基台よりやや小さい長方形の樹脂製の押圧板２６と、これを基台２に向けて押しやる付勢部２７が設けられており、これについて説明する。押圧板２６に固定された４本の軸体２９が門形フレーム２０の横部材２３を下から貫いて延び、その上端に抜け止め防止の座金２９ａが取り付けてある。これら軸体２９に沿って押圧板２６と横部材２３の間にコイルスプリング３０を縮設する。
【００１７】
他方、押圧板２６の略中心に上向きに操作軸３１を取り付け、それに圧縮コイルスプリング３２を通す。この操作軸は門形フレームを貫いて上に延びており、その軸端に、周面が横部材２３の上面に摺接する偏心カム３３をピン３５で取り付ける。偏心カム３３からは操作レバー３６が一体に延びている。
【００１８】
この操作レバー３６が図１に鎖線で示すように倒れた状態では偏心カム３３は遊んでおり、門形フレーム２０と押圧板２６の間に縮設されているスプリング３０の力で、押圧板２６は基台２に向けて押し付けられる。この状態から操作レバー３６を引き起こしていくと、前記の電極挟持部Ａの偏心カム１２と同様、偏心カム３３が門形フレームの横部材２３に摺接するようになり、梃子の原理で操作軸３１が引き上げられる。それに伴って押圧板２６が上昇し、基台２から離れていく。偏心カム３３は、レバー３６がほぼ垂直になったときに上死点に達し、レバーは垂直状態を少し越えたところで偏心カムのストッパ３３ａに突き当たり、その状態を保持することができる。
【００１９】
電子部品（電気二重層キャパシタ）の試験を行うときは、電極挟持部のレバー１５を立てるようにして昇降部材７を引き上げる。同様に押圧板付勢部の操作レバー３６も立て、図４に実線で示すように押圧板２６を基台２から浮かし、鉤２２ａを外して門形フレーム２０を跳ね上げる。この跳ね上げ状態でキャパシタ３を基台２の上に載せ、キャパシタ３から延びる左右一対の電極タブ３ａを固定台５と昇降部材７の間に挿入する。こうして、門形フレーム２０を元の正立状態に戻し、可動縦部材２２の鉤２２ａを基台２に掛合する（図３実線）。
【００２０】
次いで、操作レバー３６を倒す。すると、スプリング３０の働きで押圧板２６が下向きに押しやられ、キャパシタ３は基台２と押圧板２６の間に挟まれ、圧力が加えられる。
【００２１】
最後に図１、図３にそれぞれ鎖線で示すように電極挟持部の操作レバー１５を倒せば、スプリング１１の力で昇降部材７が固定台５に押し付けられ、電子部品の電極タブ３ａは昇降部材７と固定台５の各々にそれぞれ設けられた接触子１６の間に挟みこまれる。これら上下の接触端子のうち、片方から電流を供給し、他方で電圧を測定することにより、接触抵抗の影響を受けずに正確な測定ができる。
【００２２】
なお、操作レバー３６を立てれば、押圧板２６が上昇して、キャパシタ３は本体に圧力を加えない状態で充放電テストを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】電子部品の試験台の縦断面図である。
【図２】同じく平面図である。
【図３】電極挟持部の正面図である。。
【図４】図１のＡ−Ａ断面図であり、門形フレームを跳ね上げた状態を鎖線で示す。
【符号の説明】
【００２４】
Ａ  電極挟持部
Ｂ  押圧部
２  基台
３  キャパシタ（電子部品）
３ａ  電極タブ
５  固定台
６  支柱
７  昇降部材
９  梁
１０  操作軸
１１  スプリング
１２  偏心カム
１５  操作レバー
１６  接触子
２０  門形フレーム
２１  固定縦部材
２２  可動縦部材
２３  横部材
２６  押圧板
２９  軸体
３０  スプリング
３１  操作軸
３３  偏心カム
３６  操作レバー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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