(57)【要約】【課題】電子写真感光体をドラムユニットに組み立てる前に正確な検査を実施し、無駄のない生産を行うことを目的とする。【解決手段】軸又は軸受部を有する端部係合部材を、円筒状の電子写真感光体の端部に組みつける工程を有する電子写真感光体ユニットの製造方法において、まず、円筒状の電子写真感光体を回転軸Ｌ１で回転して母線位置２点の偏心を測定し、電子写真装置に搭載した時の回転軸Ｌ２を演算する。次に、電子写真感光体を回転軸Ｌ１で回転しながら測定された電位データを回転軸Ｌ２で回転した場合に測定されるべき電位データに補正し、補正された電位データが所定範囲内であるか判断する。電位データが所定範囲内と判断された電子写真感光体に端部係合部材を組みつけ、端部係合部材の軸又は軸受部をＬ２と同一中心軸を有する円状に加工して電子写真感光体ユニットを製造する。【選択図】図１
2010169975.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
軸又は軸受部を有する端部係合部材を、円筒状の電子写真感光体の端部に組みつける工程を少なくとも有する電子写真感光体ユニットの製造方法において、
円筒状の電子写真感光体を回転軸Ｌ１で回転させた状態で、前記電子写真感光体の母線位置Ａおよび母線位置Ｂにおける偏心を測定し、前記母線位置Ａにおける前記電子写真感光体の外周基準の中心ＯＡ、および、前記母線位置Ｂにおける前記電子写真感光体の外周基準の中心ＯＢを演算し、前記外周基準の中心ＯＡおよび前記外周基準の中心ＯＢを通る回転軸Ｌ２を演算する第１工程と、
前記電子写真感光体を前記回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、帯電手段によって前記電子写真感光体を帯電して、表面電荷量Ｑと表面電位Ｖとの関係を測定してＱ−Ｖの傾きαを求め、前記Ｑ−Ｖの傾きαから、前記帯電手段と前記電子写真感光体の表面との間の距離ｄの変動量Δｄによって発生する表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する補正係数βを求める第２工程と、
前記電子写真感光体を前記回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、前記帯電手段によって前記電子写真感光体を帯電して、電子写真感光体の周方向に渡る表面電位Ｖ１Ｃ、および、電子写真感光体の周方向に渡る前記帯電手段と前記電子写真感光体の表面との間の距離ｄ１Ｃを測定する第３工程と、
前記第３工程で測定された前記表面電位Ｖ１Ｃを、前記第２工程で求めた前記補正係数βと前記距離ｄ１Ｃから、前記第１工程で演算された前記回転軸Ｌ２で回転した場合に測定されるべき表面電位Ｖ２Ｃに補正する第４工程と、
前記第４工程で求められた前記表面電位Ｖ２Ｃが所定範囲内であるか判断する第５工程と、
前記第５工程で所定範囲内と判断された電子写真感光体の端部に前記端部係合部材を組みつけて電子写真感光体ユニットを製造する第６工程と、
前記電子写真感光体ユニットを前記回転軸Ｌ２で回転させた状態で、前記端部係合部材の軸又は軸受部を前記円筒状の電子写真感光体の外周基準の中心軸と同一中心軸を有する円状に加工する第７工程からなることを特徴とする電子写真感光体ユニットの製造方法。
【請求項２】
前記Ｑ−Ｖの傾きαが異なる複数の電子写真感光体について、前記帯電手段と前記電子写真感光体の表面との間の距離ｄの変動量Δｄによる表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する補正係数βを事前に決定し、決定された前記αと前記βの関係を補正テーブルあるいは補正式として準備し、前記第２工程で求められたＱ−Ｖの傾きαから、前記補正テーブルあるいは前記補正式より補正係数βを決定する請求項１に記載の電子写真感光体ユニットの製造方法。
【請求項３】
前記帯電手段としてコロナ帯電器を用いる請求項１または２に記載の電子写真感光体ユニットの製造方法。
【請求項４】
前記表面電荷量Ｑの代わりに前記帯電手段に供給する電流Ｉｔを用いる請求項１乃至３のいずれかに記載の電子写真感光体ユニットの製造方法。
【請求項５】
前記帯電手段に供給する電流Ｉｔの代わりに、電子写真感光体の方向に流れる電流Ｉｄを用いる請求項４に記載の電子写真感光体ユニットの製造方法。
【請求項６】
前記第２工程および前記第３工程において、帯電前露光手段によって帯電前露光を行いながら測定する請求項１乃至５のいずれかに記載の電子写真感光体ユニットの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電子写真装置に用いる電子写真感光体ユニットの製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真装置は、一般に帯電手段と露光手段により電子写真感光体上に潜像を形成し、さらにこの潜像を現像手段により現像して潜像を顕像化する。
電子写真感光体ユニット（以下、「ドラムユニット」とも記す）は、一般に表面に感光層を有する円筒状の電子写真感光体（以下、「感光体」とも記す）、及び該感光体の両端又は片端に設けられた端部係合部材より構成される。
端部係合部材は一般にギア、フランジとも言われ、外周部で感光体に接続され、軸又は軸受部（以下、「軸」と「軸受」を含めて「軸」とも記す）を有する。また、端部係合部材は、ドラムユニットを画像形成装置内の所定の位置に支持し、さらには駆動手段より駆動力を受け取り、ドラムユニットを所定の軸回りに高精度に回転させる作用を受け持つ。
【０００３】
ドラムユニットの円筒精度が良くない場合、例えば軸が偏心している状態であると、ドラムユニットを画像形成装置に組み込んで回転させた場合にドラムユニット外周が画像形成中に振れる。その結果、感光体の表面と現像手段との距離が一定に保てず、現像時において画像濃度ムラが生じ良好な画像が得られない。なお、感光体の表面と現像手段との距離を一定に保つために、現像器をコロで当接させることもできるが、長期間の使用においては、安定性を維持することが困難な場合がある。
さらに、ドラムユニットの円筒精度が良くない場合にはドラムユニットの外周の周速にムラが発生するため、転写時等において画像ずれ（特にカラー画像において転写位置がずれて色がにじんでしまう現象）を生じ、良好な画像が得られないと言う問題が発生する。
【０００４】
そのため、ドラムユニットにおいて、特に円筒振回り精度（ドラムユニット軸を基準として回転させたときの外周最大部と外周最小部二つの同軸外接円筒径の差、「ＪＩＳ−Ｂ００２１  １８．１６．１全振れ公差」に相当する）の値を小さくする必要がある。モノトーンでかつ解像度の低い電子写真装置においては、円筒振回り精度は１００μｍ程度で問題がなかったが、近年の電子写真装置は高解像度化やフルカラー化が進んでおり、ドラムユニットは高精度であることが要求されている。
さらに、複数のドラムユニットを平行に並べ、イエロー、シアン、マゼンダ、ブラックの各色のトナーに対してそれぞれ別のドラムユニットを使用するタンデム方式の電子写真装置ではドラムユニットに高い精度が要求されている。高解像度化やフルカラー化された電子写真装置では、ドラムユニットとしては円筒振回り精度で５０μｍ以下、特に高精度のものでは３０μｍ以下であることが要求されている。
【０００５】
前述の要求を満たすために、軸又は軸受部を有する端部係合部材を、感光層を有する感光体の端部に組みつけた後で、端部係合部材の軸又は軸受部を切削加工する加工工程を行うことにより、ドラムユニットを製造する技術が開示されている（特許文献１）。
一方、形成された感光体を精度よく検査するためには、感光体をドラムユニットまで組み立て、前述の加工を施し、円筒振回り精度の高い状態で検査することが望ましい。しかし、上記の方法による検査の結果、不合格となった場合、端部係合部材や加工が無駄になってしまう。さらに、一部の高耐久ドラムでは、感光体を昇温するためのヒーターおよび温度コントロール回路をドラムユニット内部に収納するため、それらの部品も無駄になってしまう。したがって、感光体の形態で検査を行い、検査を合格したものだけを上記加工することが効率的である。
【０００６】
しかし、感光体にギア、フランジを仮組みして回転させた場合、前述のように円筒振回り精度の低い状態で検査することになる。円筒振回り精度の低い状態で検査した場合、検査に用いるプロセス装置および測定装置（例えば、帯電手段、露光手段、表面電位センサ）と感光体との距離が変動して、精度の高い検査が困難になる。
表面電位センサと対象物の距離が変動する場合には、対象物の表面電位に応じた電位を測定する表面電位センサと、表面電位センサと対象物との間の距離を測定する変位センサとを、結合、分離可能に構成する。そして、表面電位センサによって測定される電位と距離との関係に基づく補正データに基づいて、表面電位センサによって測定される電位を補正して対象物の表面電位を算出する技術が開示されている（特許文献２）。
【特許文献１】特開２００５−０５５８１９号公報
【特許文献２】特開２００７−０４７０１５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、電子写真プロセスにおいては、感光体の表面電位は表面電位センサと感光体の表面との距離の他に、その他のプロセス機器と感光体の表面との距離、特に帯電手段と感光体の表面との距離の影響を受ける。プロセス機器とは、帯電前露光手段、帯電手段、帯電後露光手段などを意味する。
したがって、前述のように感光体の表面とプロセス機器との距離の変動を少なくする努力がなされている。とは言え、実際に電子写真装置にドラムユニットを取り付けた時には、プロセス機器と感光体との距離が完全に一定に保たれるわけではなく、あくまで円筒振回り精度が小さくなるように加工された状態に保持、回転することになる。そのため、プロセス装置と感光体の表面との距離はある程度は変動してしまうのが現状である。よって、従来の方法だけでは補正が適正ではなく、検査精度が不十分な場合がある。
【０００８】
本発明は、上記のような条件下においても、感光体をドラムユニットに組み立てることなく、実際に電子写真装置に搭載された際の回転軸で回転させた場合に測定され得る電位に補正して検査することを可能とし、効率的なドラムユニット製造方法を提供できる。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、軸又は軸受部を有する端部係合部材を、円筒状の電子写真感光体の端部に組みつける工程を少なくとも有する電子写真感光体ユニットの製造方法において、
円筒状の電子写真感光体を回転軸Ｌ１で回転させた状態で、前記電子写真感光体の母線位置Ａおよび母線位置Ｂにおける偏心を測定し、前記母線位置Ａにおける前記電子写真感光体の外周基準の中心ＯＡ、および、前記母線位置Ｂにおける前記電子写真感光体の外周基準の中心ＯＢを演算し、前記外周基準の中心ＯＡおよび前記外周基準の中心ＯＢを通る回転軸Ｌ２を演算する第１工程と、
前記電子写真感光体を前記回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、帯電手段によって前記電子写真感光体を帯電して、表面電荷量Ｑと表面電位Ｖとの関係を測定してＱ−Ｖの傾きαを求め、前記Ｑ−Ｖの傾きαから、前記帯電手段と前記電子写真感光体の表面との間の距離ｄの変動量Δｄによって発生する表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する補正係数βを求める第２工程と、
前記電子写真感光体を前記回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、前記帯電手段によって前記電子写真感光体を帯電して、電子写真感光体の周方向に渡る表面電位Ｖ１Ｃ、および、電子写真感光体の周方向に渡る前記帯電手段と前記電子写真感光体の表面との間の距離ｄ１Ｃを測定する第３工程と、
前記第３工程で測定された前記表面電位Ｖ１Ｃを前記第２工程で求めた前記補正係数βと前記距離ｄ１Ｃから、前記第１工程で演算された前記回転軸Ｌ２で回転した場合に測定されるべき表面電位Ｖ２Ｃに補正する第４工程と、
前記第４工程で求められた前記表面電位Ｖ２Ｃが所定範囲内であるか判断する第５工程と、
前記第５工程で所定範囲内と判断された電子写真感光体の端部に前記端部係合部材を組みつけて電子写真感光体ユニットを製造する第６工程と、
前記電子写真感光体ユニットを前記回転軸Ｌ２で回転させた状態で、前記端部係合部材の軸又は軸受部を前記円筒状の電子写真感光体の外周基準の中心軸と同一中心軸を有する円状に加工する第７工程を実施して電子写真感光体ユニットを製造する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の電子写真感光体ユニットの製造方法によって、感光体をドラムユニットに組み立てることなく、実際に感光体をドラムユニットに組み立てて電子写真装置に搭載された際の回転軸で回転させた場合に測定され得る電位に補正して検査できる。その結果、不合格品に対して端部契合部材の組み付け及び加工を行う必要がないため、無駄のない生産を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について図を参照しながら説明する。本発明は以下の実施形態に限定されない。
＜検査装置＞
図１は、本発明の電子写真感光体の検査を実施する検査装置の一例を示す断面図である。図１の検査装置１００は、不図示の感光体保持部と、プロセスリング１０２とを有している。電子写真感光体１０１（以下、単に「感光体１０１」とも記す）は不図示の回転機構で矢印の方向に回転する。
プロセスリング１０２は、感光体１０１の外周部に位置し、帯電手段１０３、帯電後露光手段１０４、表面電位センサ１０５、変位センサ１０６、および帯電前露光手段１０７が取り付けられている。帯電手段１０３、帯電後露光手段１０４、表面電位センサ１０５、変位センサ１０６、および帯電前露光手段１０７は、プロセスリング１０２の任意の角度位置に取付け可能である。また、感光体１０１の表面の鉛直方向に関しても感光体１０１の直径に合わせて任意の位置に取付け可能である。
また、プロセスリング１０２は感光体１０１の母線方向に対して移動可能であり、感光体１０１の母線方向における任意の位置において感光体特性を測定できる。さらに、感光体１０１から取り外される時に、感光体１０１に傷を付けるおそれのないように、プロセスリング１０２を感光体１０１の範囲外まで移動できる。
【００１２】
本実施形態では変位センサ１０６によって帯電手段１０３と感光体１０１の表面との距離を測定する。変位センサ１０６は、帯電手段１０３と結合して直接的に測定する構成にしても良いし、図１に示すように分割して配置し、帯電手段１０３と変位センサ１０６との配置関係から算出して良い。
【００１３】
なお、プロセスリング１０２に設置されたプロセス機器および測定機器と検査装置中心との距離変動は少ないほど好ましい。具体的には、プロセスリング１０２を感光体１０１の母線方向に移動した際に、検査装置の回転中心とプロセスリング１０２の位置関係が変動しないように機械的に調整しておく。具体的には機械的精度によって、母線方向の検査範囲で変動量が１０μｍ以下の範囲に調整しておくことが望ましい。
【００１４】
図１に示す例では、帯電手段１０３としてコロナ帯電器（コロトロン帯電器、スコロトロン帯電器）が好ましい。特開２００２−８２５７２号公報より、帯電手段の感光体母線方向の有効帯電範囲は２０ｍｍ以上１５０ｍｍ以下の範囲が好ましく、図１の装置では６０ｍｍのコロトロン帯電手段を使用している。
図１に示す例では、帯電後露光手段１０４、帯電前露光手段１０７としてＬＥＤを用いているが、レーザー光や、ハロゲンランプのようなアナログ光や、アナログ光をフィルターや回折格子などを使って単色光とした光などを照射する構成としてもよい。
【００１５】
表面電位センサ１０５に制限はないが、表面電位センサ１０５と感光体１０１の表面との距離の影響を受け難い表面電位計を用いることが好ましい。感光体１０１の表面との距離の影響を受け難い表面電位計としては、フィードバック方式の振動容量型表面電位計が挙げられる。例えば、ＡＣフィードバック方式の振動容量型表面電位計として、Ｔｒｅｋ社製の表面電位計  Ｍｏｄｅｌ  ３４４が挙げられる。
【００１６】
図１に示す装置において、帯電後露光手段１０４および帯電前露光手段１０７による感光体１０１への露光を行わなければ、いわゆる除電光レスの状態における感光体１０１の帯電特性を評価することができる。この場合、感光体１０１を回転させながら帯電し続けると、電流値によっては感光体１０１がチャージアップするおそれが有るので、帯電プロセス開始後１周目ないし２周目の表面電位を測定することが好ましい。
また、帯電前露光手段１０７によって感光体１０１への露光を行えば、除電光ありの状態における感光体１０１の帯電特性を評価することができる。さらに、帯電後露光手段１０４によって感光体１０１への露光を行えば、感光体１０１の感光特性を評価することができる。したがって、図１の装置は、実際の複写機内におけるプロセス条件に合わせて、感光体１０１の帯電特性および感光特性を評価することができる。
【００１７】
感光体１０１の母線方向に沿って感光体特性を測定することによって、感光体１０１の諸特性について母線方向分布を測定することが可能である。
同様に、感光体１０１の諸特性を感光体１周のデータを読取ることによって周方向分布を評価することが可能である。諸特性の周方向分布は、表面電位センサ１０５からの出力を、測定角度データと共にデータメモリー機能のついたオシロスコープやデジタルマルチメータなどによって記録させて、感光体１周のデータを読取ることによって評価することができる。
なお、感光体１０１の諸特性の母線方向分布および周方向分布を組み合わせることによって、諸特性の面内分布を知ることができる。
【００１８】
＜検査手順＞
まず、感光体１０１の帯電特性の周方向分布、面内分布を評価するための具体的な方法について説明する。
感光体１０１に内蔵した不図示のヒーターを稼動し、感光体１０１の表面温度を４２℃±１℃に制御する。感光体１０１を図示の方向に所望のプロセススピードで回転させながら、帯電手段１０３により感光体１０１に所定の表面電荷量Ｑを与え、表面電位計１０５により表面電位Ｖを測定する。
なお、感光体１０１の表面電荷量Ｑを直接測定することは難しい。そのため、帯電工程において帯電手段１０３を流れる電流Ｉｔや、帯電工程において感光体１０１方向に流れる電流Ｉｄや、帯電工程において帯電手段１０３に印加する電圧Ｖｐを測定し、表面電荷量Ｑの代わりに用いても良い。本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｄで評価を行った。感光体の方向に流れる電流Ｉｄは、帯電手段１０３を流れる電流をＩｔ、帯電手段１０３のシールドに流れ込む電流をＩｓとした場合に、Ｉｄ＝Ｉｔ−Ｉｓで求めることができる。
【００１９】
帯電特性の周方向分布は、感光体１０１に与える表面電荷量Ｑ（本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｄ）を一定の条件として、感光体１０１の表面電位Ｖを周方向について詳細に測定すればよい。さらに上記測定を母線方向に沿って評価すれば、感光体１０１の帯電特性の面内分布が得られる。
なお、感光体１０１に与える表面電荷量Ｑ（本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｄ）に対する感光体１０１の表面電位Ｖの依存性を測定することによって、表面電荷量Ｑと表面電位Ｖとの関係、いわゆるＱ−Ｖ特性が得られる。
【００２０】
次に、感光体１０１の感光特性の周方向分布、面内分布を評価するための具体的な方法について説明する。
感光体１０１に内蔵した不図示のヒーターを稼動して、感光体１０１の表面温度を４２℃±１℃に制御する。前述の方法で得られたＱ−Ｖ特性から感光体１０１の表面電位Ｖを暗部設定電位Ｖｄ（例えば４００Ｖ）にする帯電電流Ｉｐを求める。帯電工程において帯電手段１０３から感光体１０１に帯電電流Ｉｐを供給し、表面電位を暗部設定電位Ｖｄに設定する。その状態で、帯電後露光手段１０４の露光光量Ｅに対する感光体１０１の表面電位Ｖを測定することによって、露光光量Ｅと表面電位Ｖとの関係、いわゆるＥ−Ｖ特性が得られる。
【００２１】
得られたＥ−Ｖ特性から、帯電後露光手段１０４の露光によって感光体１０１の表面電位Ｖが設定電位Ｖｈ（例えば２００Ｖ）となるように帯電後露光手段１０４の露光光量Ｅｈが求める。
感光特性の周方向分布は、帯電手段１０３から感光体１０１に帯電電流Ｉｐを供給し、帯電後露光手段１０４によって露光光量Ｅｈを照射し、感光体１０１の表面電位Ｖを周方向について詳細に測定すればよい。さらに、この測定を母線方向に沿って実施することによって、感光特性の面内分布が得られる。
【００２２】
＜データ補正手順＞
＜１．外周基準の中心（最小二乗中心）の求め方＞
図３に示すように、まず電子写真感光体１０１を回転軸Ｌ１で回転させた状態で、電子写真感光体１０１の母線位置Ａおよび母線位置Ｂにおける偏心を測定する（図９、ステップＳ１１）。次に、母線位置Ａにおける電子写真感光体１０１の外周基準の中心ＯＡおよび母線位置Ｂに電子写真感光体１０１の外周基準の中心ＯＢを演算する（ステップＳ１２）。外周基準の中心（又は中心軸）とは、外周面を基準とする中心（又は中心軸）を意味する。
図２を用いて外周基準の中心ＯＡの求め方を説明する。図２は感光体１０１を検査装置１００に設置し、母線位置Ａにおいて変位センサ１０６によって、感光体１０１と変位センサ１０６との距離を測定している状態を示している。図２において、感光体１０１の外周基準の中心ＯＡが回転中心Ｏとずれているため、感光体１０１が回転すると感光体１０１の表面と変位センサ１０６との距離ｄが変動する。
検査装置１００の回転中心Ｏと変位センサ１０６の距離は一定であるため、感光体１０１の表面と変位センサ１０６との距離ｄを測定すれば、各測定点Ｐｉにおける回転中心Ｏと感光体１０１の表面までの距離ρｉは算出できる。上記方法で回転中心Ｏと感光体１０１の表面の距離ρｉを周方向に渡って測定すると各点の距離ρｉおよび角度θｉを決定できる。なお、外周基準の中心ＯＡを求める場合には、θｉを周方向に等間隔角度で測定する必要がある。図２では４５°間隔に測定した場合を示している。
上記方法では各点Ｐｉは極座標系（ρｉ、θｉ）で表記できる。一旦、全ての測定点Ｐｉを、回転中心Ｏを原点とした直交座標系（ｘｉ、ｙｉ）に以下の式で座標変換する。
【００２３】
【数１】
2010169975.tif 000003
求められる各点の直交座標系（ｘｉ、ｙｉ）から、外周基準の中心ＯＡ（ＸＡ、ＹＡ）は次式で求まる。なお、ここでｎは測定データ数である。
【００２４】
【数２】
2010169975.tif 000004
また、平均半径ρＡは次式で求められる。
【００２５】
【数３】
2010169975.tif 000005
この作業を感光体の母線位置Ｂでも同様に行うことによって、母線位置Ｂにおける外周基準の中心ＯＢ（ＸＢ、ＹＢ）および、平均半径ρＢが求められる。
【００２６】
＜２．感光体の任意母線位置における補正座標の求め方＞
前述のとおり、母線位置Ａにおける外周基準の中心ＯＡおよび母線位置Ｂにおける外周基準の中心ＯＢが求められる。
次に、外周基準の中心ＯＡおよび外周基準の中心ＯＢを通る回転軸Ｌ２を演算する（図９、ステップＳ１３）。
図３を用いてＯＡおよびＯＢを通る回転軸Ｌ２で感光体を回転した場合の任意の母線位置Ｃ（ただし、母線位置Ｃは母線位置Ａおよび母線位置Ｂの間の点）における補正座標の求め方を説明する。
母線位置Ａの外周基準の中心ＯＡが（ＸＡ、ＹＡ）、母線位置Ｂの外周基準の中心ＯＢが（ＸＢ、ＹＢ）であるとき、母線位置Ａにおける回転中心Ｏからのずれは（ＸＡ、ＹＡ）、母線位置Ｂにおける回転中心Ｏからのずれは（ＸＢ、ＹＢ）になる。よって、母線位置Ａにおける補正座標は（ＸＡ、ＹＡ）、母線位置Ｂにおける補正座標は（ＸＢ、ＹＢ）となる。
したがって、任意の母線位置Ｃにおける補正座標ＯＣ（ＸＣ、ＹＣ）は、母線位置Ａと母線位置Ｂの距離をＬＡＢ、母線位置Ａと母線位置Ｃとの距離をＬＡＣとおくと、次の式で求められる。
【００２７】
【数４】
2010169975.tif 000006
【００２８】
＜３．回転中心を任意の回転中心に補正する方法＞
前述のとおり、母線位置Ｃにおける補正座標ＯＣ（ＸＣ、ＹＣ）が求められる。
次に、図４を用いて、回転中心を測定時の回転中心Ｏから補正座標ＯＣ（ＸＣ、ＹＣ）分ずらして回転した場合の帯電手段１０３と感光体１０１の距離の補正量を以下の手順で求める。
感光体１０１を回転軸Ｌ１で回転した時の回転中心Ｏを原点とした測定点Ｐｉの極座標を（ρｉ、θｉ）とし、補正座標（ＸＣ、ＹＣ）の極座標表示を（ｒ、φ）と置くと、
【００２９】
【数５】
2010169975.tif 000007
と書け、補正座標ＯＣを原点とした時、Ｐｉ’の極座標表示（ρｉ’、θｉ）のρｉ’は次式で表せる。
【００３０】
【数６】
2010169975.tif 000008
厳密にはＰｉとＰｉ’ではθ方向に−ｒｓｉｎ（θ-φ）ずれているので、ｒ方向の距離にも影響を与える。しかし、ｒ＜＜Ｒ（感光体半径）の条件下では、無視しても問題ない大きさである。感光体の半径にもよるが、Ｒ≧１２（ｍｍ）でｒ≦０．３０（ｍｍ）、Ｒ≧４２（ｍｍ）でｒ≦０．６０（ｍｍ）の範囲で、θ方向のずれ分によるｒ方向の変動は５μｍ以下となり、表面電位の測定への影響は少なく、無視しても問題ない。よって、ｒ＜＜Ｒ（感光体半径）の条件下で、測定点Ｐｉのｒ方向の距離補正量は、−ｒｃｏｓ（θ-φ）と近似できる。
【００３１】
＜４．帯電特性の補正方法＞
次に、電子写真感光体１０１を回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、帯電手段１０３によって電子写真感光体１０１を帯電して、表面電荷量Ｑと表面電位Ｖとの関係を測定してＱ−Ｖの傾きαを求める（図９、ステップＳ２１）。さらに、Ｑ−Ｖの傾きαから、帯電手段１０３と電子写真感光体１０１の表面との間の距離ｄの変動量Δｄによって発生する表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する補正係数βを求める（ステップＳ２２）。
次に、電子写真感光体１０１を回転軸Ｌ１で回転させた状態で、母線位置Ｃにおいて、帯電手段１０３によって電子写真感光体１０１を帯電する。そして、電子写真感光体１０１の周方向に渡る表面電位Ｖ１Ｃ、および、電子写真感光体１０１の周方向に渡る帯電手段１０３と電子写真感光体１０１の表面との間の距離ｄ１Ｃを測定する（図１０、ステップＳ３１）。
さらに、ステップＳ３１で測定された表面電位Ｖ１Ｃを、ステップＳ２２で求めた前記補正係数βとステップＳ３１で測定された距離ｄ１Ｃから、ステップＳ１３で演算された回転軸Ｌ２で回転した場合に測定されるべき表面電位Ｖ２Ｃに補正する（ステップＳ４１）。
そして、ステップＳ４１で求められた表面電位Ｖ２Ｃが所定範囲内であるか判断する（ステップＳ５１）。
【００３２】
まず、帯電特性の補正方法について説明する。帯電特性の補正は、測定対象である感光体のＱ−Ｖの傾きαから補正係数βを決定し、測定時の偏心によって発生する感光体１０１と帯電手段１０３の距離ｄの変動量Δｄと補正係数βを用いて、距離ｄの変動量Δｄに起因する表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する。
したがって、まず事前準備として帯電特性が異なる複数の感光体（Ｑ−Ｖの傾きαが異なる複数の電子写真感光体）を準備する。感光体の帯電特性は概ね感光層の膜厚によって決定されるので、膜厚の異なる感光体を準備するとよい。準備した膜厚の異なる感光体について、感光体１０１に与える表面電荷量Ｑ（本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｄ）に対する感光体１０１の表面電位Ｖの依存性を測定する。その結果、表面電荷量Ｑと表面電位Ｖとの関係、いわゆるＱ−Ｖ特性が得られる。得られたＱ−Ｖ特性から、実際の帯電特性の評価に用いる表面電荷量Ｑｐ（本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｐ）の近傍におけるＱ−Ｖの傾きαが得られる（図５（ａ））。
【００３３】
次に、準備した膜厚の異なる感光体について、帯電手段１０３と感光体１０１の表面との間の距離ｄに対する感光体１０１の表面電位Ｖの依存性を測定する。その結果、距離の変動量Δｄと表面電位Ｖの変動量ΔＶとの関係、いわゆるΔｄ−ΔＶ特性が得られる（図５（ｂ））。得られたΔｄ−ΔＶの傾きから、距離ｄの変動量Δｄによる表面電位Ｖの変動量ΔＶを補正する補正係数βが決定される。
前述の方法で得られた傾きαおよび補正係数βの関係性を調べることで、傾きαに対する補正係数βの関係、いわゆるα−β関係が得られる（図５（ｃ））。α−β関係は、補正テーブルとして、あるいは、補正式として準備しておく。
【００３４】
次に、測定データから補正データへの変換について説明する。まず、測定対象となる感光体１０１について、帯電特性を決定する際に用いる表面電荷量Ｑｐ（本実施形態では感光体の方向に流れる電流Ｉｐ）の近傍におけるＱ−Ｖ特性を評価する。その結果、測定対象となる感光体１０１の表面電荷量Ｑｐの近傍におけるＱ−Ｖの傾きαが求まる。求めた傾きαと事前に準備されたα−β関係から補正係数βが決定される。
続いて、測定対象となる感光体１０１について、帯電特性を決定する際に用いる表面電荷量Ｑに対する表面電位Ｖ、および、帯電手段１０３と感光体１０１の表面との距離変動Δｄを測定する。既に測定対象となる感光体１０１に対する補正係数βが決定しているので、測定された距離ｄの変動量Δｄを表面電位Ｖの変動量ΔＶに変換できる。
【００３５】
例えば、ΔｄとΔＶの間に線形の関係がある場合、ΔＶ＝βΔｄとなる。ある感光体において、補正係数β＝−０．１Ｖ／μｍであった。マイナスは帯電手段と感光体の表面との距離が広がると帯電特性が下がることを示している。
上記のようにΔｄとΔＶとの関係が決定できれば、回転軸Ｌ１で回転しながら測定された電位Ｖ１ｉにたいして回転軸Ｌ２で回転した時に測定されるべき電位Ｖ２ｉは、Ｖ２ｉ＝Ｖ１ｉ＋ΔＶ＝Ｖ１ｉ＋βΔｄとなる。
【００３６】
前述の手順によって、母線位置Ｃにおける補正された帯電特性の周方向分布が得られる。補正された帯電特性の周方向分布の最も高い電位部をＭａｘ（Ｖ２ｉ）、帯電特性の周方向分布の最も低い電位部をＭｉｎ（Ｖ２ｉ）とした時に、帯電特性の周むらをΔＶＤθ＝Ｍａｘ（Ｖ２ｉ）−Ｍｉｎ（Ｖ２ｉ）で定義する。帯電特性の周むらに関する規格値をγ１とした時に、ΔＶＤθ≦γ１であれば検査工程において合格と判定できる。
同様に帯電特性の面内分布から、最も高い電位部と最も低い電位部の差を帯電特性の面むらと定義し、帯電特性の面むらに関して合否を判断することもできる。
【００３７】
＜５．感光特性の補正方法＞
次に、感光特性の補正方法を説明する。
帯電特性の補正方法と同様に、帯電特性の異なる感光体について、Ｑ−Ｖ特性の傾きα、および、帯電手段１０３と感光体１０１の表面との距離ｄの変動量Δｄと表面電位Ｖの変動量ΔＶの関係から補正係数βを事前に決定する。決定されたαとβの関係を補正テーブルあるいは補正式として準備する。
さらに、帯電後露光手段１０４と感光体１０１の表面との距離ｄの変動量Δｄによる感光特性の表面電位Ｖの変動量ΔＶとの関係を事前に決定する。これは、帯電後露光手段１０４と感光体１０１の表面との距離を変化させた場合の感光特性を事前に測定し、補正データを補正テーブルあるいは補正式として準備する。
上記の補正を実施することによって、補正された感光特性の周方向分布を得ることができる。なお、感光体としてアモルファスシリコン感光体を用いた場合には、Ｅ−Ｖ特性が露光光量Ｅに対して一次関数的に減少する領域では、帯電後露光手段１０４と感光体１０１の表面との距離ｄの変動量Δｄによる感光特性への影響は殆んどなかった。以下、アモルファスシリコンは「ａ−Ｓｉ」とも記す。
【００３８】
したがって、感光体としてアモルファスシリコン感光体を用いた場合、Ｅ−Ｖ特性が露光光量Ｅに対して一次関数的に減少する領域においては、帯電手段と感光体の表面との距離ｄの変動量Δｄに応じた表面電位Ｖの変動量ΔＶの補正を実施する。これによって、補正された感光特性が得られる。
補正された感光特性の周方向分布の最も高い電位部をＭａｘ（Ｖ２ｉ）、感光特性の周方向分布の最も低い電位部をＭｉｎ（Ｖ２ｉ）とした時に、感光特性の周むらをΔＶＨθ＝Ｍａｘ（Ｖ２ｉ）−Ｍｉｎ（Ｖ２ｉ）で定義する。感光特性の周むらに関する規格値をγ２とした時に、ΔＶＨθ≦γ２であれば検査工程において合格と判定できる。
同様に感光特性の面内分布から、最も高い電位部と最も低い電位部の差を感光特性の面むらと定義し、感光特性の面むらに関して合否を判断することもできる。
【００３９】
＜ドラムユニットの作製＞
さらに、ステップＳ５１で所定範囲内と判断された電子写真感光体１０１の端部に端部係合部材６０９を組みつけて電子写真感光体ユニット（ドラムユニット）を製造する（図１０、ステップＳ６１）。
そして、電子写真感光体ユニットを回転軸Ｌ２で回転させた状態で、端部係合部材の軸又は軸受部を電子写真感光体の外周基準の中心軸と同一中心軸を有する円状に加工する（ステップＳ７１）。
【００４０】
本実施形態においてドラムユニットの製造方法に用いる加工装置の例を述べる。図６は、本実施形態においてドラムユニットの製造方法に用いる加工装置の概略の構成図であり、図６（ａ）は正面図、図６（ｂ）は側面図である。
また、図７は加工を施す係合部材（フランジ）の一例を示した模式断面図である。図７の場合、係合部材６０９の軸６１０の外周面（黒く塗られた部分）を切削加工することになる。
【００４１】
図６の加工装置６００では、感光体６０１の外周面６０２に３組の支持ローラ６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、６０４ｂ、６０５ａ、及び６０５ｂを当ててドラムユニット６０６を支持している。
支持ローラ６０３ａ、６０４ａ、及び６０５ａは感光体の一方の端部に、支持ローラ６０３ｂ、６０４ｂ、及び６０５ｂは感光体の他方の端部に当接するように配置されている。なお、図６（ａ）では６０３ａ、６０３ｂ及び６０３ｃは示していない。それぞれの支持ローラは感光体の外周基準とする中心軸と概略平行に設定された軸６０３ｃ、６０４ｃ、又は６０５ｃにより加工装置に固定され、軸を中心として円滑に回転するように設定されている。６０３ａと６０３ｂ、６０４ａと６０４ｂ、６０５ａと６０５ｂは軸を共有して回転している。
【００４２】
感光体外周中心線より低い位置にある支持ローラ６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、及び６０４ｂは駆動されていないが、ドラムユニット６０６を高精度に支持する機能を果している。
したがって、軸６０３ｃ、及び６０４ｃは、ドラムユニットを支えるのに十分な強度が必要である。その材質としてはステンレスやアルミニウムが好ましい。また、形状としては、円柱状または円筒状が好ましい。さらに軸は高精度のベアリング、焼結金属等の軸受で受ける必要がある。
さらに支持ローラは精度の高いローラ部材を用いることが好ましく、例えばステンレス、高炭素低クロム鋼等の磨耗しにくい金属材料、またはポリエステル樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂等の樹脂を用いることが好ましい。
【００４３】
支持ローラのうち円筒状の電子写真感光体の外周基準の中心軸６０８より高い位置に当接する支持ローラ６０５ａ、６０５ｂは、モータ６０７ａ及び動力伝達手段６０７ｂ、６０７ｃよりなる駆動手段を介してドラムユニット６０６を駆動する機能を果している。以下、６０５ａと６０５ｂを「駆動ローラ」という。
駆動ローラは回転ムラが少なく、さらにドラムユニットを駆動するのに十分な摩擦抵抗を備えた表面材料を選定する。そのような表面材料としては、天然ゴム、ブタジエンゴム等のゴム、ウレタン、ポリエステル等の樹脂材料等を用いることが好ましい。
【００４４】
支持ローラ６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、６０４ｂ及び駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂの配置は中心軸６０８を中心としてドラムユニット６０６を回転させる構造とする。支持ローラ、駆動ローラが感光体の表面に当接する位置は画像形成にかかわる領域を避けて感光体の端部とすることが好ましい。
さらに感光体の両端部の近傍に支持ローラ６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、６０４ｂ、及び駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂを当接することによりドラムユニット回転軸の振れを少なくすることができる。ドラムユニット６０６が回転している状態で、係合部材６０９ａ、６０９ｂの軸６１０ａ、６１０ｂ（図６の例では軸の外周）それぞれに工具６１１ａ、６１１ｂをあて、感光体の外周面６０２と同心状に加工できるように加工工具６１１ａ、６１１ｂを設置する。
【００４５】
加工工具６１１ａ、６１１ｂは工具台６１２ａ、６１２ｂに固定され工具台はレール６１３ａ、６１３ｂ上に乗っており、軸（又は軸受部）の加工面に沿って必要に応じて移動可能である。さらにドラムユニット６０６が感光体の中心軸６０８と平行方向（図６（ａ）において左右方向）に振れるのを防止するため、ドラムユニット側面に接する振れ防止ローラ６１４ａ、６１４ｂを備えることも好ましい。
ドラムユニット６０６を出し入れする際は、駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂは保持を解除できるようにする。
【００４６】
図６に示す加工装置６００によってドラムユニット６０６を製造する方法を説明する。支持ローラ６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、６０４ｂの上にドラムユニットを置き、駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂを押し当ててドラムユニット６０６を保持する。次いで、駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂを駆動させ、感光体の外周面６０２を基準とする中心軸６０８を中心としてドラムユニット６０６を回転させる。この状態で係合部材６０９ａ、６０９ｂの軸６１０ａ、６１０ｂ（図６の例では軸の外周）に加工工具６１１ａ、６１１ｂを押しあて、加工する。これによって、端部係合部材６０９ａ、６０９ｂの軸６１０ａ、６１０ｂの表面を円筒状の電子写真感光体の外周面６０２と同心状に加工することができる。
【００４７】
工具台６１２ａ、６１２ｂはレール６１３ａ、６１３ｂ上に乗っており、軸面に沿って移動させ所定の部分を加工する。加工時は、軸６１０ａに加工工具６１１ａを、軸６１０ｂに加工工具６１１ｂを、同時に押しあて同時に走査しながら加工すると加工時間を短くすることができる。加工工具を走査し軸部の全長にわたって加工が完了した後、切削工具を移動退避させた状態で駆動ローラ６０５ａ、６０５ｂのドラムユニット６０６に対する保持を解除し、その後、加工完了したドラムユニット６０６を取り出す。
【実施例】
【００４８】
以下に、具体的な実施例を挙げて本発明を説明する。ただし、本発明はこれらに限定されるものではない。
［実施例１］
まず、直径８４ｍｍ、長さ３８１ｍｍ、肉厚３ｍｍのアルミニウム円筒状基体の表面に鏡面加工を施して洗浄した。洗浄したアルミニウム円筒状基体を図８に示したプラズマＣＶＤ装置に設置し、既知の製造方法にてアモルファスシリコン感光体を１０本作製した。
具体的には、アルミニウム円筒状基体の表面にホウ素をドープした厚さ３μｍのａ−Ｓｉ阻止層を形成し、その上に厚み３０μｍのａ−Ｓｉ光導電層を積層した。更にＳｉＨ４（シラン）、ＣＨ４（メタン）を用いて厚み０．５μｍのａ−ＳｉＣ（アモルファス炭化ケイ素）表面保護層を積層した。
【００４９】
図８に示したプラズマＣＶＤ装置について説明する。図８は、高周波電源を用いたＲＦプラズマＣＶＤ法によるａ−Ｓｉ感光体を堆積可能なプラズマＣＶＤ装置の一例を模式的に示した図である。
プラズマＣＶＤ装置８００中の反応容器８０２内にはアースに接続された円筒状基体８１４、ヒーター８０４、および、原料ガス供給管８０７が設置され、さらにカソード電極８０１にはインピーダンス整合回路８０５を介して高周波電源８０６が接続されている。
原料ガス供給バルブ８０９の上流には、不図示の原料ガス供給装置が接続され、原料ガス供給管８０７を通じて、ＳｉＨ４，Ｈ２，ＣＨ４，ＮＯ，Ｂ２Ｈ６，ＰＨ３，ＣＦ４，Ａｒ，Ｈｅ等の原料ガスを反応容器８０２内に所望の流量で供給可能な構成になっている。また、メイン排気バルブ８１１の下流には、不図示の排気装置が接続され、反応容器８０２内部を減圧可能な構成となっている。
【００５０】
次にこのプラズマＣＶＤ装置８００を使った堆積膜の形成方法について説明する。まず、脱脂洗浄した円筒状基体８１４を反応容器８０２内に設置する。次に、不図示の排気装置を運転し、反応容器８０２内を排気する。圧力計８１３の表示を見ながら、反応容器８０２内の圧力がたとえば１Ｐａ以下の所定の圧力になったところで、ヒーター８０４に電力を供給し、円筒状基体８１４を例えば５０℃から３５０℃の所望の温度に加熱する。このとき、不図示のガス供給装置より、原料ガス供給管８０７を通じて、Ａｒ、Ｈｅ等の不活性ガスを反応容器８０２内に供給して、不活性ガス雰囲気中で加熱を行うこともできる。
【００５１】
次に、不図示のガス供給装置より堆積膜形成に用いる原料ガスを反応容器８０２内に所望の流量で供給すると同時に、圧力計８１３の表示を見ながらメイン排気バルブ８１１を操作し、反応容器８０２内の圧力が所望の圧力になるように調整する。所望の圧力が得られたところで高周波電源８０６より高周波電力を印加すると同時にインピーダンス整合回路８０５を操作し、反応容器８０２内にプラズマ放電を生起する。その後、速やかに高周波電力を所望の電力に調整し、堆積膜の形成を行う。
所定の堆積膜の形成が終わったところで、高周波電力の印加を停止し、原料ガス供給バルブ８０９を閉じ、原料ガスの供給を終え、メイン排気バルブ８１１を開き、反応容器８０２内を１Ｐａ以下の圧力まで排気する。
【００５２】
以上で、堆積層の形成を終えるが、複数の堆積層（たとえばａ−Ｓｉ阻止層、ａ−Ｓｉ光導電層、および、ａ−ＳｉＣ表面保護層など）を形成する場合、再び上記の手順を繰り返してそれぞれの層を形成すれば良い。原料ガス流量や、圧力等を光導電層形成用の条件に一定の時間で変化させて、中間層の形成を行うこともできる。
すべての堆積膜形成が終わったのち、メイン排気バルブ８１１を閉じ、反応容器８０２内にリークバルブ８１２より不活性ガスを導入し大気圧に戻した後、円筒状基体８１４を取り出す。
【００５３】
また、事前にα−β関係を求めるための校正用アモルファスシリコン感光体も作製した。校正用アモルファスシリコン感光体として、光導電層膜厚が２７μｍ、３０μｍ、３３μｍの３種類のドラムを作製した。
【００５４】
作製したアモルファスシリコン感光体について図１の検査装置を用い、前述の手順で検査工程を行った。
まず、図１の感光体検査装置に光導電層膜厚の異なる各校正用アモルファスシリコン感光体を設置した。各校正用アモルファスシリコン感光体についてＱ−Ｖ特性を測定し、各校正用アモルファスシリコン感光体のαを求めた。さらに、各校正用アモルファスシリコン感光体について帯電手段１０３と感光体１０１の距離を変化させた場合の電位変動ΔＶを測定し、Δｄ−ΔＶ関係から補正係数βを求めた。得られたαとβからα−βの関係を求め、αからβを求める補正式を準備した。
次に、本実施例で作製したアモルファスシリコン感光体を図１の感光体検査装置に設置した。アモルファスシリコン感光体の母線方向の両端部位置（後のフランジ加工時に感光体を保持する位置）において偏心量を測定し、前述の方法で外周基準の中心を演算し、フランジ加工後の回転軸を求めた。
【００５５】
続けて、本実施例で作製したアモルファスシリコン感光体の母線方向中心位置にて表面電荷量Ｑ（実際にはＱの代わりとして帯電手段１０３を流れる電流Ｉｔ）と表面電位Ｖとの関係を測定して、Ｑ−Ｖ特性を得た。得られたＱ−Ｖ特性から帯電特性の設定電位を４００Ｖとする設定電流Ｉｐを決定した。また、Ｑ−Ｖ特性の傾きαを求め、事前に求めたα−β関係から補正係数βを決定した。
さらに、設定電流Ｉｐを供給しながら帯電後露光手段による露光光量Ｅと表面電位Ｖとの関係を測定し、感光特性の設定電位が２００Ｖとなる設定露光光量Ｅｈを求めた。
上記の方法で決定した設定電流Ｉｐ、および、設定露光光量Ｅｈにより、本実施例で作製したアモルファスシリコン感光体の帯電特性の面内分布と感光特性の面内分布を測定した。帯電特性および感光特性の測定を母線方向９個所において感光体１周分の電位データおよび偏心データをそれぞれ測定した。測定された電位データを先ほど決定した補正係数βと、測定された偏心データからフランジ加工後の回転軸で回転した時に測定されるべき電位データに補正を行った。
【００５６】
補正された電位データを用いて、帯電特性の面内分布および感光特性の面内分布を評価した。なお、帯電特性の面内むらの規格を２０Ｖ以下、感光特性の面内むらの規格を２０Ｖ以下として検査を行った。検査の結果、１０本中３本の規格外品を検出した。
帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらが規格範囲内であった７本の感光体について、ドラムユニットに組み立て、図６の加工装置を用い、前述の方法でフランジの加工工程を行った。
【００５７】
作製されたドラムユニットを本実施例用に改造した電子写真装置（キヤノン製ｉＲ５８８０）を用いて、帯電特性の面内分布、および、感光特性の面内分布を測定した。
前述の改造した電子写真装置（キヤノン製ｉＲ５８８０）は以下の点を改造した。まず、一次帯電手段の電流および電圧設定を外部電源で調節可能な構成とした。次に、帯電後露光光量を外部から調節可能な構成とした。さらに、ブラック用現像器の代わりに表面電位センサを設置した。
【００５８】
上記の電子写真装置を用いて、ベタ黒画像を出力し一次帯電手段の電流および電圧設定を調整し、設定電位を４００Ｖとして帯電特性の面内分布を測定した。そして、帯電特性の面内分布より帯電特性の面むらを測定した。
また、一次帯電手段の電流および電圧設定条件を前述の設定値とし、ベタ白画像を出力し、帯電後露光光量を外部電源で調整することで、設定電位を２００Ｖにした時の感光特性の面内分布を測定した。そして、感光特性の面内分布より感光特性の面むらを測定した。
上記の評価においても、検査装置で帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらが規格内と判断された７本の感光体を用いて作製されたドラムユニットは、帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらは規格範囲内であることが確認された。
【００５９】
［比較例１］
実施例１で作製したアモルファスシリコン感光体のうち、検査工程で帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらが規格外となった３本の感光体をドラムユニットに組み立てた。組み立てたドラムユニットを実施例１と同様の方法で、図６の加工装置を用い、フランジの加工工程を行った。
作製されたドラムユニットを実施例１で用いた電子写真装置によって、実施例１と同様の方法で、帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらを測定した。その結果、いずれのドラムユニットも規格範囲外であることが確認された。
【００６０】
［実施例２］
図８のプラズマＣＶＤ装置を用いて実施例１と同様の方法で、アモルファスシリコン感光体を１０本作製した。作製したアモルファスシリコン感光体について、図１の装置を用いて実施例１と同様の方法および規格にて検査工程を行った。ただし、本実施例では、Ｑ−Ｖ特性を得る際に表面電荷量Ｑの代わりとして感光体の方向に流れる電流Ｉｄに変更した。検査の結果、１０本中３本の規格外品を検出した。
帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらが規格範囲内であった７本の感光体について、ドラムユニットに組み立て、図６の加工装置を用い、実施例１と同様の方法でフランジの加工工程を行った。
作製されたドラムユニットについて、実施例１で用いた電子写真装置によって、実施例１と同様の方法で、帯電特性の面内むら、および、感光特性の面内むらを測定した。その結果、いずれのドラムユニットは規格範囲内であることが確認された。
【００６１】
［比較例２］
実施例２で作製したアモルファスシリコン感光体のうち、検査工程で帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらが規格外となった３本の感光体をドラムユニットに組み立てた。組み立てたドラムユニットを実施例１と同様の方法で、図６の加工装置を用い、フランジの加工工程を行った。
作製されたドラムユニットを実施例２で用いた電子写真装置によって、実施例１と同様の方法で、帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらを測定した。その結果、いずれのドラムユニットも規格範囲外であることが確認された。
【００６２】
以上のように、本発明を適用することによって、感光体をドラムユニットに組み立て、フランジ加工する前に、適正に検査が行えることが確認できた。本発明を適用すれば、帯電特性の面内むらおよび感光特性の面内むらの規格を満たさない感光体をドラムユニットに組み立て、フランジ加工する必要がなくなり、無駄の少ない生産が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本発明の実施形態において用いられる電子写真感光体の検査装置の一例を示す断面図である。
【図２】本発明の実施形態における外周基準の中心の求め方を説明するための図である。
【図３】本発明の実施形態における感光体の任意母線位置における補正座標の求め方を説明するための図である。
【図４】本発明の実施形態における回転中心を任意の回転中心に補正する方法を説明するための図である。
【図５】本発明の実施形態におけるＱ−Ｖ特性の一例、Δｄ−ΔＶ関係の一例、α−β関係の一例を説明するための図である。
【図６】本発明の実施形態におけるドラムユニット製造方法に用いる加工装置の一例を示す側面図である。
【図７】本発明の実施形態におけるフランジの模式断面図である。
【図８】本発明の実施例におけるプラズマＣＶＤ装置の一例を説明するための図である。
【図９】本発明の実施形態における処理の流れを示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施形態における処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６４】
１００・・・・検査装置
１０１‥‥感光体
１０２‥‥プロセスリング
１０３‥‥帯電手段
１０４‥‥帯電後露光手段
１０５‥‥表面電位センサ
１０６・・・・変位センサ
１０７・・・・帯電後露光手段
６００・・・・加工装置
６０１・・・・感光体
６０２・・・・感光体の外周面
６０３ａ、６０３ｂ、６０４ａ、６０４ｂ、・・・・支持ローラ
６０３ｃ、６０４ｃ、６０５ｃ・・・・軸
６０５ａ、６０５ｂ・・・・駆動ローラ
６０６・・・・ドラムユニット
６０７ａ・・・・モータ
６０７ｂ、６０７ｃ・・・・動力伝達手段
６０８・・・・中心軸
６０９ａ、６０９ｂ・・・・係合部材
６１０ａ、６１０ｂ・・・・軸
６１１ａ、６１１ｂ・・・・加工工具
６１２ａ、６１２ｂ・・・・工具台
６１３ａ、６１３ｂ・・・・レール
６１４ａ、６１４ｂ・・・・振れ防止ローラ
８００・・・・プラズマＣＶＤ装置
８０１・・・・カソード電極
８０２・・・・反応容器
８０３ａ、８０３ｂ・・・・碍子
８０４・・・・ヒーター
８０５・・・・インピーダンス整合回路
８０６・・・・高周波電源
８０７・・・・原料ガス供給管
８０８・・・・原料ガス分岐管
８０９・・・・原料ガス供給バルブ
８１０・・・・排気配管
８１１・・・・メイン排気バルブ
８１２・・・・リークバルブ
８１３・・・・圧力計
８１４・・・・円筒状基体
【図１】
2010169975.tif 000009
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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