(57)【要約】【課題】  適切なＩｗ感度を効率よく測定することができる制御装置、磁気ディスク装置、Ｉｗ感度算出方法を提供する。【解決手段】  磁気ヘッドに信号を書き込ませる書き込み部と、磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、磁気ヘッドに書き込まれた信号を読み出させる読み出し部と、Ｉｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、Ｉｗ感度取得部は、第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、第１電気パラメータを設定して第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、読み出された所定の周波数の信号の制御に係る出力値を取得する第１取得部と、第２電気パラメータを設定して第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る出力値を取得する第２取得部と、第１取得部により取得された出力値と、第２取得部により取得された出力値とに基づいて、Ｉｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備える。【選択図】図４
2010205380.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置の制御装置であって、
前記磁気ヘッドに信号を書き込ませる書き込み部と、
前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、
前記磁気ヘッドに書き込まれた信号を読み出させる読み出し部と、
前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、
前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、
前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、
前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備えることを特徴とする制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の制御装置において、
前記所定の電気パラメータは、前記磁気ヘッドのライト電流であることを特徴とする制御装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号の増幅におけるゲインであることを特徴とする制御装置。
【請求項４】
請求項１または請求項２に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号に対するＨｅｒｍｏｎｉｃｓ  Ｓｅｎｓｏｒ回路の出力値であることを特徴とする制御装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項４に記載の制御装置において、
前記第１取得部及び前記第２取得部は、前記所定の周波数の信号を前記読み出し部に複数回読み出させ、複数回読み出されたそれぞれの信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の平均値を所定の出力値とすることを特徴とする制御装置。
【請求項６】
ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置であって、
前記磁気ヘッドにより信号を書き込む書き込み部と、
前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、
前記磁気ヘッドにより書き込まれた信号を読み出す読み出し部と、
前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、
前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、
前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、
前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備えることを特徴とする制御装置。
【請求項７】
ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置のＩｗ感度算出方法であって、
前記磁気ヘッドに所定の周波数の信号を所定の第１トラックに書き込ませる第１書き込みステップと、
所定の第１パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第１設定ステップと、
前記第１設定ステップにより前記第１パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第１トラックと異なる第２トラックに信号を書き込ませる第２書き込みステップと、
前記第２書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第１読み出しステップと、
前記第１読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得ステップと、
前記第１パラメータとその値が異なる第２パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第２設定ステップと、
前記第２設定ステップにより前記第２パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第２トラックに信号を書き込ませる第３書き込みステップと、
前記第３書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第２読み出しステップと、
前記第２読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得ステップと、
前記第１取得ステップにより取得された所定の出力値と、前記第２取得ステップにより取得された所定の出力値とに基づき、前記磁気ヘッドによる読み出し信号の振幅と前記所定の出力値との相関関係により前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出ステップと
を備えるＩｗ感度算出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、制御装置、磁気ディスク装置、Ｉｗ感度算出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁気ディスク装置の信頼性を確保するための技術としてヘッド浮上量制御が知られている。また、ヘッド浮上量制御技術の一つとしてＤＦＨ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｆｌｙ  Ｈｅｉｇｈｔ）が知られている。このＤＦＨは、ヘッドに組み込まれたヒータの発熱によりヘッドの先端にあるヘッド素子を突き出させる技術が知られている。以下、図を用いてＤＦＨについて具体的に説明する。図１６は、ＤＦＨの一例を示す図である。
【０００３】
図１６に示すように、ＤＦＨは、スライダ先端にあるヘッド素子（ライトコア及びリードコア）を有する絶縁膜をヒータによって熱膨張させることによりヘッド素子を突き出させ、その浮上量を制御する。なお、ＤＦＨにおいて、絶縁膜はヒータによる加熱だけでなく、ヘッド素子に電流を流した際に生じる熱によっても膨張する。つまり、ＤＦＨにおける突き出し量は、ライト電流（Ｉｗ）とヒータパワーとに基づく。そのため、ＤＦＨは、ライト電流と突き出し量との関係性を示すＩｗ感度に基づいて突出し量を算出し、目標とする浮上量となるようにヒータ電力を制御する。また、ＤＦＨにおいて、突き出し量の算出に用いられるＩｗ感度は、複数の装置、複数のヘッドに対して試験機により測定されたＩｗ感度に基づく平均値である。
【０００４】
また、Ｉｗ感度には、ライト電流１ｍＡあたりの突き出し量を示すＩｗ突き出し感度（単位：ｎｍ／ｍＡ）と、このＩｗ突き出し感度をヒータパワーに換算したＩｗヒータ感度（単位：ｍＷ／ｍＡ）がある。
【０００５】
また、磁気ディスク装置において、ライト動作に起因したＴＰＲ量の変化を測定し、その結果をメモリ上もしくは磁気ディスク上に保持しておき、このデータを用いて浮上量管理を行う技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−７１５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来のＤＦＨにおいてＩｗ感度は予め算出された平均値に固定されているが、個々のヘッドによってＩｗ感度は異なるため、実際のＩｗ感度と固定されたＩｗ感度にはズレがあるという問題がある。また、ヘッドごとにＩｗ感度を測定器により測定することは、膨大な時間とコストが掛かるという問題がある。
【０００８】
本発明は上述した問題点を解決するためになされたものであり、適切なＩｗ感度を効率よく測定することができる制御装置、磁気ディスク装置、Ｉｗ感度算出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した課題を解決するため、制御装置は、ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置の制御装置であって、前記磁気ヘッドに信号を書き込ませる書き込み部と、前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、前記磁気ヘッドに書き込まれた信号を読み出させる読み出し部と、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備える。
【００１０】
また、磁気ディスク装置は、ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する装置であって、前記磁気ヘッドにより信号を書き込む書き込み部と、前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、前記磁気ヘッドにより書き込まれた信号を読み出す読み出し部と、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備えることを特徴とする制御装置。
【００１１】
また、Ｉｗ感度算出方法は、ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置のＩｗ感度算出方法であって、前記磁気ヘッドに所定の周波数の信号を所定の第１トラックに書き込ませる第１書き込みステップと、所定の第１パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第１設定ステップと、前記第１設定ステップにより前記第１パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第１トラックと異なる第２トラックに信号を書き込ませる第２書き込みステップと、前記第２書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第１読み出しステップと、前記第１読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得ステップと、前記第１パラメータとその値が異なる第２パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第２設定ステップと、前記第２設定ステップにより前記第２パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第２トラックに信号を書き込ませる第３書き込みステップと、前記第３書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第２読み出しステップと、前記第２読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得ステップと、前記第１取得ステップにより取得された所定の出力値と、前記第２取得ステップにより取得された所定の出力値とに基づき、前記磁気ヘッドによる読み出し信号の振幅と前記所定の出力値との相関関係により前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出ステップとを備えるＩｗ感度算出方法。
【発明の効果】
【００１２】
適切なＩｗ感度を効率よく測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態１に係る磁気ディスク装置のハードウェア構成を示す図である。
【図２】リードチャネルのハードウェア構成を示す図である。
【図３】リードライトヘッドのハードウェア構成を示す図である。
【図４】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の機能構成を示すブロック図である。
【図５】実施の形態１に係る磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】観測パターン書き込み中のリードライトヘッドの状態を示す図である。
【図７】観測パターン読み出し中のリードライトヘッドの状態を示す図である。
【図８】書き込みから読み出しへの切り替えにおけるライトゲート及びリードゲートを示す図である。
【図９】Ｉｗ感度を算出する式を示す図である。
【図１０】相関関係情報を示す図である。
【図１１】近似曲線を算出する式を示す図である。
【図１２】実施の形態２に係る磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１３】本実施の形態における観測パターンの読み出しを示す図である。
【図１４】サーボゲインにおけるプリアンブルを示す図である。
【図１５】実施の形態４におけるヒータパワーまたはライト電流とゲインの関係を示す図である。
【図１６】ＤＦＨの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、実施の形態について図を用いて説明する。
【００１５】
（実施の形態１）
まず、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のハードウェア構成について説明する。図１は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置のハードウェア構成を示す図である。
【００１６】
図１に示すように、上位装置２と磁気ディスク装置１はホストインターフェイス（ＩＦ）３を介して接続されている。上位装置２は記憶装置として磁気ディスク装置１を備えるパーソナルコンピュータであり、データの読み書きにおいて、磁気ディスク装置１に対してコマンドを発行する。
【００１７】
磁気ディスク装置１は、ホストＩＦ（インターフェイス）制御部１１、バッファ制御部１２、バッファメモリ１３、フォーマット制御部１４、リードチャネル１５、ヘッドＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）１６、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏｐｒｏｃｅｓｓｏｒ  Ｕｎｉｔ）１７（制御装置）、メモリ１８、不揮発性メモリ１９、サーボ制御部２０、ＶＣＭ（Ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ）２１、ＳＰＭ（Ｓｐｉｎｄｌｅ  Ｍｏｔｏｒ）２２、リードライトヘッド２３（磁気ヘッド）、ディスク媒体２４、バス２５、および、ホストＩＦ（インターフェイス）３を有する。
【００１８】
ホストＩＦ３は、磁気ディスク装置１と上位装置２との間でデータやコマンドを送受するための通信に寄与する。ホストＩＦ制御部１１はホストＩＦ３を介して送られる上位装置２へのデータやコマンドを制御する。また、ホストＩＦ制御部１１は上位装置２から送られてホストＩＦ３で受け取られたデータやコマンドを制御する。バッファ制御部１２は、バッファメモリ１３に記憶されるデータの書き込みや読み出しを制御する。バッファメモリ１３は、ディスク媒体２４に書き込まれるデータや、ディスク媒体２４から読み出されたデータを一時的に記憶する。フォーマット制御部１４はディスク媒体２４に書き込まれるデータの書き込みフォーマットを生成する。リードチャネル１５は、ディスク媒体２４に書き込まれるデータを信号に変換するとともに、ディスク媒体２４から読み出された信号をデータに変換する。
【００１９】
ヘッドＩＣ１６は、リードライトヘッド２３によりディスク媒体２４に書き込まれる信号やディスク媒体２４から読み出された信号を増幅する。ＭＰＵ１７は磁気ディスク装置１全体の動作を制御する。メモリ１８は揮発性のメモリである。不揮発性メモリ１９は、磁気ディスク装置を制御するためのプログラムを記憶する。サーボ制御部２０は、ＶＣＭ２１およびＳＰＭ２２の動作を制御する。ＶＣＭ２１はリードライトヘッド２３を駆動する。ＳＰＭ２２は、ディスク媒体２４を回転駆動する。リードライトヘッド２３はディスク媒体２４にデータとしての信号を書き込んだり、ディスク媒体２４に記録されているデータを信号として読み出したりする。ディスク媒体２４はデータを記録するための記憶媒体である。バス２５は、ホストＩＦ制御部１１、バッファ制御部１２、フォーマット制御部１４、リードチャネル１５、ヘッドＩＣ１６、ＭＰＵ１７、メモリ１８、不揮発性メモリ１９、および、サーボ制御部２０との間のデータやコマンドなどの情報の送受に寄与する。
【００２０】
次に、リードチャネルのハードウェア構成について説明する。図２は、リードチャネルのハードウェア構成を示す図である。
【００２１】
図２に示すように、リードチャネル１５は、周波数調整器１５１、ＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路１５２、ＶＧＡ（Ｖａｒｉａｂｌｅ  Ｇａｉｎ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）１５３、Ａ／Ｄ変換器１５４、Ａ／Ｄ変換器１５５、Ａ／Ｄ変換器１５６、復調回路１５７、ＨＳ（Ｈａｒｍｏｎｉｃｓ  Ｓｅｎｓｏｒ）回路１５８、Ａ／Ｄ変換器１５９を備える。
【００２２】
周波数調整器１５１は、ＶＧＡ１５３より出力されるＶＧＡ出力信号の周波数を調整する。また、ＡＧＣ回路１５２は、周波数調整器１５１より出力されるＡＧＣ入力信号に対して、Ｇａｉｎを決定し、Ｇａｉｎを示す制御信号であるＶＧＡゲインをＶＧＡ１５３に対して出力する。また、ＶＧＡ１５３は、ＡＧＣ回路１５２より出力されるＶＧＡゲインに基づいて、リードライトヘッド２３によりディスク媒体２４から読み出された読み出し信号を増幅し、ＶＧＡ出力信号として出力する。また、Ａ／Ｄ変換器１５４は、ＶＧＡ１５３より出力されるＶＧＡ出力信号振幅をＡ／Ｄ変換し、変換した値（ＶO）をＭＰＵ１７へ出力する。また、Ａ／Ｄ変換器１５５は、周波数調整器１５１より出力されるＶＧＡ出力信号振幅をＡ／Ｄ変換し、変換した値（Ｖi）をＭＰＵ１７及び復調回路１５７へ出力する。また、Ａ／Ｄ変換器１５６は、ＡＧＣ回路１５２より出力されたＶＧＡゲインをＡ／Ｄ変換し、変換した値（ＡVGA）をＭＰＵ１７へ出力する。また、復調回路１５７は、Ａ／Ｄ変換器１５５によりＡ／Ｄ変換された信号を復調し、読み出しデータとしてフォーマット制御部１４へ出力する。また、ＨＳ回路１５８は、周波数調整器１５１により出力された信号の周波数に基づいて電圧を出力する。また、Ａ／Ｄ変換器１５９は、ＨＳ回路１５８により出力された電圧をＡ／Ｄ変換し、ＭＰＵ１７へ出力する。
【００２３】
次に、リードライトヘッドのハードウェア構成について説明する。図３は、リードライトヘッドのハードウェア構成を示す図である。
【００２４】
図３に示すように、リードライトヘッド２３は、アームに取り付けられたスライダと、スライダの先端にある絶縁膜からなる。また、この絶縁膜内には、ライトコア２３１、リードコア２３２、ヒータ２３３が備えられている。ライトコア２３１は、書き込み信号を磁気に変換することによりディスク媒体２４に書き込む素子である。また、リードコア２３２は、ディスク媒体２４に書き込まれた磁気を信号に変換することにより、信号を読み出し信号として読み出す素子である。また、ヒータ２３３は、絶縁膜を、供給されるヒータパワーに応じて加熱することにより膨張させ、リードライトヘッド２３のディスク媒体２４に対する浮上量を調整する。なお、ライトコア２３１は、ディスク媒体２４への書き込み時に熱を生じ、この熱によって絶縁膜が膨張する。よって、ヒータ２３３による浮上量の調整において、ライトコア２３１のＩｗ感度が加味される。
【００２５】
次に、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の機能構成について説明する。図４は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の機能構成を示すブロック図である。
【００２６】
図４に示すように、本実施の形態に係る磁気ディスク装置１は、機能として、書き込み部９０１、読み出し部９０２、設定部９０３、取得部９０４（Ｉｗ感度取得部、第１取得部、第２取得部）、算出部９０５（Ｉｗ感度取得部、Ｉｗ感度算出部）を備える。書き込み部９０１は、リードライトヘッド２３にディスク媒体２４へ信号を書き込ませる。また、読み出し部９０２は、リードライトヘッド２３にディスク媒体２４から信号を読み出させる。また、設定部９０３は、リードライトヘッド２３のライト電流（電気パラメータ）を設定する。また、取得部９０４は、ＶＧＡゲイン値、ＡＧＣ入力信号振幅値、ＶＧＡ出力信号振幅値を取得する。また、取得部９０４は、書き込み部９０１に信号の書き込み、読み出し部９０２に信号の読み出し、設定部９０３にライト電流の設定を、それぞれ指示する。また、算出部９０５は、取得部９０６により取得された値に基づいて、Ｉｗ感度を算出し、取得する。なお、これら各部は、実質的にはＭＰＵ１７により実現される機能である。
【００２７】
次に、図６〜図９を参照しつつ、図５に示す本実施の形態に係る磁気ディスク装置１の動作について説明する。図５は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。また、図６は、観測パターン書き込み中のリードライトヘッドの状態を示す図である。また、図７は、観測パターン読み出し中のリードライトヘッドの状態を示す図である。また、図８は、書き込みから読み出しへの切り替えにおけるライトゲート及びリードゲートを示す図である。また、図９は、Ｉｗ感度を算出する式を示す図である。
【００２８】
まず、書き込み部９０１は、図６に示すように、目標トラック上にライトコア２３１が位置するように、サーボ制御部２０を介してリードライトヘッド２３を制御する（Ｓ１０１）。次に、書き込み部９０１は、リードライトヘッド２３に目標トラックへ観測パターンを１周書き込ませる（Ｓ１０２、第１書き込みステップ）。なお、この観測パターンは、一定の周波数の信号であれば良く、本実施の形態においては、Ｆ２周波数の信号が用いられるものとする。
【００２９】
次に、読み出し部９０２は、図７に示すように、目標トラック上にリードコア２３２が位置するように、サーボ制御部２０を介してリードライトヘッド２３を制御する（Ｓ１０３）。次に、書き込み部９０１は、ライト電流としてα（第１電気パラメータ）を設定し（Ｓ１０４、第１設定ステップ）、リードライトヘッド２３にダミー信号をディスク媒体２４に１周書き込ませる（Ｓ１０５、第２書き込みステップ）。次に、読み出し部９０２が、目標トラック上に書き込まれた観測パターンを読み出すとともに（Ｓ１０６、第１読み出しステップ）、取得部９０４が観測パターンの読み出しにおけるＶＧＡゲインを（Ａα）として取得する（Ｓ１０７、第１取得ステップ）。
【００３０】
ダミー信号の書き込みによって、リードライトヘッド２３の浮上量を、ライト電流αに対応する浮上量にすることができる。なお、このダミー信号が書き込まれるトラックは、リードコア２３２が目標トラック上に位置する際にライトコア２３１が位置するトラックとする。また、ダミー信号の書き込みから、観測パターンの読み出しへの切り替えは、図８に示すように、ライトゲートとリードゲートとの間にシーク制御を挟まずに行われる。この切り替えにより、シーク制御を挟む場合に比べ、ダミー信号の書き込み時の浮上量と、観測パターンの読み出し時の浮上量との差を低減させることができる。
【００３１】
次に、設定部９０３は、ライト電流としてαと異なるβ（第２電気パラメータ）を設定し（Ｓ１０８、第２設定ステップ）、リードライトヘッド２３にダミー信号をディスク媒体２４に１周書き込ませる（Ｓ１０９、第３書き込みステップ）。次に、読み出し部９０２が、目標トラック上に書き込まれた観測パターンを読み出す（Ｓ１１０、第２読み出しステップ）。この際、取得部９０４は、観測パターンの読み出しにおけるＶＧＡゲイン（Ａβ）を取得し（Ｓ１１１、第２取得ステップ）、ＡＧＣ入力信号振幅（Ｖi）、ＶＧＡ出力信号振幅（ＶO）を取得する（Ｓ１１２）。
【００３２】
次に、算出部９０５は、取得したＡα、Ａβ、Ｖi、ＶOに基づいて、Ｉｗ感度を算出する（Ｓ１１３、Ｉｗ感度算出ステップ）。以下、Ｉｗ感度の算出について詳述する。Ｉｗ感度の算出にはＷａｌｌａｃｅの式を用いる。ライト電流αの浮上量に設定された場合の観測パターンの読み出しを条件α、ライト電流βの浮上量に設定された観測パターンの読み出しを条件βとする。この場合、これら２条件における読み出し信号の振幅比と、浮上量の差分には相関がある。この相関は、浮上量の差分をΔＳＰ、読み出される書き込み信号の周波数（本実施の形態においてはＦ２周波数）をｆ、測定地点の速度をｖ、条件α時の読み出し信号の振幅をＶα、条件β時の読み出し信号の振幅をＶβとした場合、図９の式１のように表される。また、上述したＶＧＡゲイン（ＡVGA）、ＡＧＣ入力信号振幅（Ｖi）、ＶＧＡ出力信号振幅（ＶO）の関係は、図９の式２のように表される。このことを踏まえ、ＶOを固定の値とし、条件α時のＶＧＡゲイン（Ａα）、条件β時のＶＧＡゲイン（Ａβ）を用いて式１を変換すると、ΔＳＰは、式３により表される。また、ＶＧＡゲイン（ＡVGA）とＤ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ）ゲインの関係は、式４のように表される。
【００３３】
以上のことから、条件α時のＤゲインをＤｇａｉｎα、条件β時のＤゲインをＤｇａｉｎβとすると、ΔＳＰは式５により求められる。さらに、式６に示すように、ΔＳＰをライト電流αとライト電流βの差の絶対値で除算することにより、Ｉｗ突き出し感度が算出される。また、条件α及び条件βとして、異なるライト電流の代わりに異なるヒータパワーを設定することによって、Ｉｗヒータ感度を算出することができる。
【００３４】
このように、異なる条件（ライト電流またはヒータパワー）による浮上量における観測パターンの読み出しにおけるゲインに基づいてＩｗ感度（Ｉｗ突き出し感度またはＩｗヒータ感度）が算出されることによって、測定器を使用することなく、リードライトヘッドごとに適切なＩｗ感度が算出可能となる。また、磁気ディスク装置自身によりＩｗ感度が算出可能となるため、例えばユーザ環境において、リードライトヘッドの経年劣化や外的要因などによりＩｗ感度が変化した場合であっても、再度、Ｉｗ感度を算出し、このＩｗ感度に基づいて適切な浮上量を設定することができる。
【００３５】
（実施の形態２）
上述した実施の形態１において、読み出し信号の振幅比の算出にＶＧＡゲイン（Ａα、Ａβ）が用いられた。本実施の形態は、ＨＳ回路による出力（ＨＳＣ出力）に基づいて、読み出し信号の振幅比の算出を行う点が実施の形態１とは異なる。以下、実施の形態１とは異なる動作について説明する。図１０は、相関関係情報を示す図である。また、図１１は、近似曲線を算出する式を示す図である。また、図１２は、本実施の形態に係る磁気ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【００３６】
まず、ＨＳＣ出力に基づいて読み出し信号の振幅比の算出を行うために、図１０に示すようなＨＳＣ出力と読み出し信号振幅との相関関係を示す情報（以下、相関関係情報）を、磁気ディスク装置１のメモリ１８に格納しておく。なお、相関関係情報は、例えば、ディスク媒体２４のシステム領域に格納されても構わない。本実施の形態において、この相関関係情報は、予め複数回計測されたＨＳＣ出力値と、これに対応する読み出し信号の振幅値とに基づく近似曲線（一次式）である。この近似曲線は、読み出し信号振幅値をｙ、ＨＳＣ出力値をｘ、定数をａ、ｂとした場合、ｙ＝ａｘ＋ｂにより表される。また、定数ａ、ｂは、最小二乗法により求められ、具体的には、図１１に示す式により求められる。この式において、ｘはＨＳＣ出力値、ｙは読み出し信号振幅値、ｎは測定回数をそれぞれ示す。
【００３７】
このような相関関係情報が予めメモリ１８に格納された状態において、図１２に示す動作が実行される。本実施の形態に係る磁気ディスク装置１の動作において、ステップＳ１０１〜Ｓ１０６及びステップＳ１０８〜Ｓ１１０は、実施の形態１と同様であるため、その説明を省略する。以下、実施の形態１と異なるステップについて説明する。
【００３８】
図１２に示すように、ライト電流αにより書き込まれた観測パターンが読み出されると、取得部９０４は、観測パターンの読み出しにおけるＨＳＣ出力値Ｂαを取得し（Ｓ１０７ａ）、相関関係情報を参照し、Ｂαに対応する読み出し信号振幅Ｖαを取得する（Ｓ１０７ｂ）。
【００３９】
また、ライト電流βにより書き込まれた観測パターンが読み出されると、取得部は９０４は、観測パターンの読み出しにおけるＨＳＣ出力値Ｂβを取得し（Ｓ１１１ａ）、相関関係情報を参照し、Ｂβに対応する読み出し信号振幅Ｖβを取得する（Ｓ１１１ｂ）。
【００４０】
次に、算出部９０５は、取得されたＶα、Ｖβに基づいて、Ｉｗ感度を算出する（Ｓ１１３ａ）。以下、Ｉｗ感度の算出について詳述する。本実施の形態におけるＩｗ感度の算出は、実施の形態１と同様にＷａｌｌａｃｅの式が用いられる。本実施の形態におけるＩｗ感度の算出は、読み出し信号振幅値を用いるため、実施の形態１とは、式１に取得した値を代入可能な点が異なるが、基本的には実施の形態１と同様の演算により、Ｉｗ突き出し感度が算出可能である。また、実施の形態１と同様に、条件α及び条件βとして、異なるライト電流の代わりに異なるヒータパワーを設定することによって、Ｉｗヒータ感度を算出することができる。
【００４１】
このように、異なる条件（ライト電流またはヒータパワー）による浮上量における観測パターンの読み出し信号に対するＨＳＣ出力に基づいてＩｗ感度（Ｉｗ突き出し感度またはＩｗヒータ感度）が算出されることによって、測定器を使用することなく、リードライトヘッドごとに適切なＩｗ感度が算出可能となる。
【００４２】
（実施の形態３）
上述した実施の形態において、ダミー信号の書き込み、観測パターンの読み出しは、条件α、条件βにおいてトラック単位、つまり周回単位でなされる。本実施の形態は、ダミー信号の書き込み、観測パターンの読み出しをサーボフレーム単位で複数回行い、観測パターンの読み出しにより得られたＶＧＡゲイン（または読み出し信号振幅）の加算値、また平均値をそれぞれの条件におけるＶＧＡゲイン（または読み出し信号振幅）とする。以下、本実施の形態における観測パターンの読み出し、加算、平均について説明する。図１３は、本実施の形態における観測パターンの読み出しを示す図である。
【００４３】
本実施の形態において、書き込み部９０１によるダミー信号の書き込み、読み出し部９０２による観測パターンの読み出しは、任意のサーボフレームで行われる。図１３において、観測パターンの読み出しは５サーボフレームに１回行われる。つまり、ダミー信号が４サーボフレーム書き込まれた後に、１サーボフレーム分の観測パターンの読み出しがなされる。また、読み出し部９０２は、サーボフレーム単位の観測パターンの読み出しを複数回行う。
【００４４】
複数の観測パターンの読み出しに対し、取得部９０４は、読み出し値（ＶＧＡゲイン、またはＨＳＣ出力に基づく読み出し信号振幅の値）を複数回取得する。また、取得部９０４は、複数回取得した読み出し値の加算値、または平均値を読み出し値とする。加算の場合、それぞれの条件には特定のライト電流（またはヒートパワー）ではなく、その範囲が設定され、範囲内で所定単位ごとに上げられたライト電流（またはヒートパワー）による読み出し値の変化量を加算していく。具体的には、ライト電流の範囲が１〜３ｍＡである場合、１ｍＡ、２ｍＡ、３ｍＡというようにライト電流を上げていき、それぞれのライト電流における読み出し値の変化量が加算され、この加算値がそれぞれの条件における読み出し値となる。また、平均の場合、それぞれの条件において、観測パターンの複数の読み出し値の平均を、読み出し値とする。このように、加算または平均された読み出し値をそれぞれの条件における読み出し値とすることによって、最終的に算出されるＩｗ感度の精度を向上させることができる。また、サーボフレーム単位で観測パターンの読み出しを行うことによって、読み出しに係る時間を短縮することができる。
【００４５】
（実施の形態４）
本実施の形態は、観測パターンとして、サーボトラックを用いる点が、実施の形態１とは異なる。図１４は、サーボゲインにおけるプリアンブルを示す図である。また、図１５は、本実施の形態におけるヒータパワーまたはライト電流とゲインの関係を示す図である。
【００４６】
本実施の形態において、磁気ディスク装置１は、本実施の形態において、磁気ディスク装置１は、ＳＴＷ（Ｓｅｒｖｏ  Ｔｒａｃｋ  Ｗｒｉｔｉｎｇ）方式を用いて予めディスク製造時に書き込まれている、サーボ位置情報のプリアンブル部を観測パターンとして用いる。取得部９０４は、図１４に示すような、観測パターンの読み出しにおけるサーボパターンのプリアンブルのＶＧＡゲインをそれぞれの条件において取得する。このプリアンブルのＶＧＡゲインは、図１５に示すように、ライト電流、またはヒータパワーと相関関係があるため、プリアンブルのＶＧＡゲインに基づいてＩｗ感度を測定することが可能となる。
【００４７】
以上説明したように、読み出し信号の制御に係る出力値に基づいて、Ｉｗ感度を算出することによって、個々のヘッドに対して適切なＩｗ感度を、磁気ディスク装置内において測定することができる。
【００４８】
以上、本実施の形態によれば、以下の付記で示す技術的思想が開示されている。
（付記１）  ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置の制御装置であって、
前記磁気ヘッドに信号を書き込ませる書き込み部と、
前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、
前記磁気ヘッドに書き込まれた信号を読み出させる読み出し部と、
前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、
前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、
前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、
前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備えることを特徴とする制御装置。
（付記２）  付記１に記載の制御装置において、
前記所定の電気パラメータは、前記磁気ヘッドのライト電流であることを特徴とする制御装置。
（付記３）  付記１または付記２に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号の増幅におけるゲインであることを特徴とする制御装置。
（付記４）  付記１または付記２に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号に対するＨｅｒｍｏｎｉｃｓ  Ｓｅｎｓｏｒ回路の出力値であることを特徴とする制御装置。
（付記５）  付記１乃至付記４に記載の制御装置において、
前記第１取得部及び前記第２取得部は、前記所定の周波数の信号を前記読み出し部に複数回読み出させ、複数回読み出されたそれぞれの信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の平均値を所定の出力値とすることを特徴とする制御装置。
（付記６）  付記１乃至付記４に記載の制御装置において、
前記第１取得部及び前記第２取得部は、前記所定の周波数の信号を前記読み出し部に複数回読み出させ、複数回読み出されたそれぞれの信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の変化量の加算値を、所定の出力値とすることを特徴とする制御装置。
（付記７）  付記１に記載の制御装置において、
前記電気パラメータは、前記ヒータの電力であることを特徴とする制御装置。
（付記８）  ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置であって、
前記磁気ヘッドにより信号を書き込む書き込み部と、
前記磁気ヘッドに所定の電気パラメータを設定する設定部と、
前記磁気ヘッドにより書き込まれた信号を読み出す読み出し部と、
前記磁気ヘッドのＩｗ感度を取得するＩｗ感度取得部とを備え、
前記Ｉｗ感度取得部は、前記書き込み部により第１トラックに所定の周波数の信号を書き込ませた後、前記設定部により前記磁気ヘッドに第１電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得部と、
前記設定部により前記磁気ヘッドに第２電気パラメータを設定して前記書き込み部により第２トラックに信号を書き込ませることに続いて、前記読み出し部により読み出された前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得部と、
前記第１取得部により取得された所定の出力値と、前記第２取得部により取得された所定の出力値とに基づいて、前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出部とを備えることを特徴とする制御装置。
（付記９）  付記８に記載の制御装置において、
前記所定の電気パラメータは、前記磁気ヘッドのライト電流であることを特徴とする制御装置。
（付記１０）  付記８または付記９に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号の増幅におけるゲインであることを特徴とする制御装置。
（付記１１）  付記８または付記９に記載の制御装置において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号に対するＨｅｒｍｏｎｉｃｓ  Ｓｅｎｓｏｒ回路の出力値であることを特徴とする制御装置。
（付記１２）  付記８乃至付記１１に記載の制御装置において、
前記第１取得部及び前記第２取得部は、前記所定の周波数の信号を前記読み出し部に複数回読み出させ、複数回読み出されたそれぞれの信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の平均値を所定の出力値とすることを特徴とする制御装置。
（付記１３）  付記８乃至付記１１に記載の制御装置において、
前記第１取得部及び前記第２取得部は、前記所定の周波数の信号を前記読み出し部に複数回読み出させ、複数回読み出されたそれぞれの信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の変化量の加算値を、所定の出力値とすることを特徴とする制御装置。
（付記１４）  付記８に記載の制御装置において、
前記電気パラメータは、前記ヒータの電力であることを特徴とする制御装置。
（付記１５）  ヒータの熱により磁気ヘッドの浮上量を制御する磁気ディスク装置のＩｗ感度算出方法であって、
前記磁気ヘッドに所定の周波数の信号を所定の第１トラックに書き込ませる第１書き込みステップと、
所定の第１パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第１設定ステップと、
前記第１設定ステップにより前記第１パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第１トラックと異なる第２トラックに信号を書き込ませる第２書き込みステップと、
前記第２書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第１読み出しステップと、
前記第１読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第１取得ステップと、
前記第１パラメータとその値が異なる第２パラメータを前記磁気ヘッドに設定する第２設定ステップと、
前記第２設定ステップにより前記第２パラメータに設定された磁気ヘッドに前記第２トラックに信号を書き込ませる第３書き込みステップと、
前記第３書き込みステップによる信号の書き込みによる前記磁気ヘッドの浮上量において、前記第１書き込みステップにより前記第１トラックに書き込まれた所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに読み出させる第２読み出しステップと、
前記第２読み出しステップにより読み出された信号の制御に係る所定の出力値を取得する第２取得ステップと、
前記第１取得ステップにより取得された所定の出力値と、前記第２取得ステップにより取得された所定の出力値とに基づき、前記磁気ヘッドによる読み出し信号の振幅と前記所定の出力値との相関関係により前記磁気ヘッドのＩｗ感度を算出するＩｗ感度算出ステップと
を備えるＩｗ感度算出方法。
（付記１６）  付記１５に記載のＩｗ感度算出方法において、
前記第１パラメータ及び前記第２パラメータは、前記磁気ヘッドのライト電流であることを特徴とするＩｗ感度算出方法。
（付記１７）  付記１５または付記１６に記載のＩｗ感度算出方法において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号に対する増幅におけるゲインであることを特徴とするＩｗ感度算出方法。
（付記１８）  付記１５または付記１６に記載のＩｗ感度算出方法において、
前記所定の出力値は、前記磁気ヘッドにより読み出される信号に対するＨｅｒｍｏｎｉｃｓ  Ｓｅｎｓｏｒ回路の出力値であることを特徴とするＩｗ感度算出方法。
（付記１９）  付記１５乃至付記１８に記載のＩｗ感度算出方法において、
前記第１読み出しステップ及び前記第２読み出しステップは、前記所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに複数回読み出させ、
前記第１取得ステップ及び前記第２取得ステップは、複数回読み出された信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の平均値を、所定の出力値とすることを特徴とするＩｗ感度算出方法。
（付記２０）  付記１５乃至付記１８に記載のＩｗ感度算出方法において、
前記第１読み出しステップ及び前記第２読み出しステップは、前記所定の周波数の信号を前記磁気ヘッドに複数回読み出させ、
前記第１取得ステップ及び前記第２取得ステップは、複数回読み出された信号の制御に係るそれぞれの所定の出力値の変化量の加算値を、所定の出力値とすることを特徴とするＩｗ感度算出方法。
【符号の説明】
【００４９】
１  磁気ディスク装置、２  上位装置、３  ホストＩＦ、１１  ホストＩＦ制御部、１２  バッファ制御部、１３  バッファメモリ、１４  フォーマット制御部、１５  リードチャネル、１６  ヘッドＩＣ、１７  ＭＰＵ、１８  メモリ、１９  不揮発性メモリ、２０  サーボ制御部、２１  ＶＣＭ、２２  ＳＰＭ、２３  リードライトヘッド、２４  ディスク媒体、２５  バス、１５１  周波数調整器、１５２  ＡＧＣ回路、１５３  ＶＧＡ、１５４  Ａ／Ｄ変換器、１５５  Ａ／Ｄ変換器、１５６  Ａ／Ｄ変換器、１５７  復調回路、１５８  ＨＳ回路、１５９  Ａ／Ｄ変換器、２３１  ライトコア、２３２  リードコア、２３３  ヒータ、９０１  書き込み部、９０２  読み出し部、９０３  設定部、９０４  取得部、９０５  算出部。
【図１】
2010205380.tif 000003
【図２】
2010205380.tif 000004
【図３】
2010205380.tif 000005
【図４】
2010205380.tif 000006
【図５】
2010205380.tif 000007
【図６】
2010205380.tif 000008
【図７】
2010205380.tif 000009
【図８】
2010205380.tif 000010
【図９】
2010205380.tif 000011
【図１０】
2010205380.tif 000012
【図１１】
2010205380.tif 000013
【図１２】
2010205380.tif 000014
【図１３】
2010205380.tif 000015
【図１４】
2010205380.tif 000016
【図１５】
2010205380.tif 000017
【図１６】
2010205380.tif 000018