(57)【要約】【課題】多管球Ｘ線ＣＴ装置における複数の光学系の互いのＺ軸方向のアライメント調整を行うこと。【解決手段】第１のＸ線管１０−１からのパスＸ線ｒｐを第２のＸ線検出器１１−２におけるパス用Ｘ線検出器２２により検出し、パス用Ｘ線検出器２２から出力されたパスＸ線検出信号ｐｐに基づいて第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２との間のずれ量ｄ３０を測定し、このずれ量ｄ３０に従って第２のＸ線検出器１１−２をＺ２軸方向に移動し、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２とをアライメントする。【選択図】図１
2010046211.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法において、
前記少なくとも２つの光学系における前記各Ｘ線管と前記各Ｘ線検出器との各アライメント調整を行う第１の工程と、
前記少なくとも２つの光学系のうち一方の前記光学系の前記Ｘ線管から出力されるＸ線を他方の前記光学系の前記Ｘ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて前記一方の光学系と前記他方の光学系とのアライメント調整を行う第２の工程と、
前記他方の光学系における前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とのアライメント調整を行う第３の工程と、
を有することを特徴とする多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項２】
前記第１の工程は、前記少なくとも２つの光学系における前記各Ｘ線管と前記各Ｘ線検出器とをそれぞれ前記Ｚ軸方向及びＸ軸方向での各アライメント調整を行うことを特徴とする請求項１記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項３】
前記第２の工程は、前記一方の光学系の前記Ｘ線管をＺ軸方向に移動し、前記一方の光学系の前記Ｘ線管から出力された前記Ｘ線を前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器により検出し、
前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器の前記Ｘ線検出結果に基づいて前記一方の光学系の前記Ｘ線管に対して前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器が位置ずれしているか否かを判断し、前記位置ずれしていれば、前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器を前記Ｚ軸方向にアライメント調整する、
ことを特徴とする請求項１記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項４】
前記第２の工程は、前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器から出力されるＸ線検出信号を入力し、前記一方の光学系に対する前記他方の光学系のアライメント位置を測定し、
前記アライメント測定位置の基準アライメント位置に対するずれ量が許容範囲内にあるか否かを判断し、前記ずれ量が前記許容範囲内になければ、前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器を前記Ｚ軸方向にアライメント調整する、
ことを特徴とする請求項１記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項５】
前記各Ｘ線管は、それぞれファン角方向の前記Ｘ線を制限し、かつそれぞれ自身が属する前記光学系とは別の前記光学系の前記Ｘ線検出器に前記Ｘ線を通すパス部位が形成された各減衰部材を用い、
前記第２の工程は、前記少なくとも２つの光学系のうち一方の前記光学系の前記Ｘ線管から出力され、前記パス部位を通過した前記Ｘ線を他方の前記光学系の前記Ｘ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて前記一方の光学系における前記Ｘ線管に対する前記他方の光学系における前記Ｘ線検出器のアライメント調整を行う、
ことを特徴とする請求項１記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項６】
前記Ｘ線管から出力された前記Ｘ線は、前記パス部位を通過して前記Ｘ線検出器の一端部に入射することを特徴とする請求項５記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項７】
前記一方の光学系に対する前記他方の光学系のアライメント調整は、前記他方の光学系における前記Ｘ線検出器を前記Ｚ軸方向に移動し、当該Ｘ線検出器を前記一方の光学系における前記Ｘ線管にアライメント調整することを特徴とする請求項５記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項８】
前記第３の工程は、前記他方の光学系における前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを前記Ｚ軸方向でアライメント調整することを特徴とする請求項１記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項９】
第１のＸ線管と第１のＸ線検出器とを対にして成る第１の光学系と、第２のＸ線管と第２のＸ線検出器とを対にして成る第２の光学系とを有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法において、
前記第１の光学系における前記第１のＸ線管と前記第１のＸ線検出器とをＺ軸方向及びＸ軸方向でアライメント調整し、
前記第２の光学系における前記第２のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とをＺ軸方向及びＸ軸方向でアライメント調整し、
少なくとも前記第１のＸ線管に、ファン角方向の前記Ｘ線を制限し、かつ前記第１のＸ線管から出力されたＸ線を前記第２のＸ線検出器に通すパス部位が形成された減衰部材を用い、前記第１のＸ線管から出力され、前記パス部位を通過した前記Ｘ線を前記第２のＸ線検出器により検出して前記第１のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とのアライメント位置を測定し、
前記アライメント測定位置の基準アライメント位置に対するずれ量が許容範囲内にあるか否かを判断し、前記ずれ量が前記許容範囲内でなければ、前記第２のＸ線検出器を前記Ｚ軸方向に移動して前記第１のＸ線管に対してアライメント調整し、
前記ずれ量が前記許容範囲内であれば、前記第２のＸ線管を前記Ｚ軸方向に移動して前記第２のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とをアライメント調整する、
ことを特徴とする多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法。
【請求項１０】
Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置において、
前記少なくとも２つの光学系における前記各Ｘ線管と前記各Ｘ線検出器との各アライメント調整を行う第１の手段と、
前記少なくとも２つの光学系のうち一方の前記光学系の前記Ｘ線管から出力されるＸ線を他方の前記光学系の前記Ｘ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて前記一方の光学系と前記他方の光学系とのアライメント調整を行う第２の手段と、
前記他方の光学系における前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とのアライメント調整を行う第３の手段と、
を具備することを特徴とする多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１１】
前記各Ｘ線検出器から出力される各Ｘ線検出信号を入力し、少なくとも前記一方の光学系に対する前記他方の光学系のアライメント位置を測定するアライメント測定手段を有し、
前記アライメント測定手段は、前記アライメント位置の測定結果に基づいて基準アライメント位置に対する前記アライメント位置のずれ量を報知し、前記ずれ量が許容範囲内になければ、前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器を前記Ｚ軸方向にアライメント調整する旨を報知する、
ことを特徴とする請求項１０記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１２】
前記各Ｘ線管は、それぞれファン角方向の前記Ｘ線を制限する各減衰部材を設け、
前記各減衰部材は、それぞれ自身が属する前記光学系とは別の前記光学系の前記Ｘ線検出器に前記Ｘ線を通すパス部位が形成される、
ことを特徴とする請求項１０記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１３】
前記各Ｘ線検出器は、それぞれ自身が属する前記光学系とは別の前記光学系の前記Ｘ線管から出力される前記Ｘ線を検出する別光学系用検出器を有することを特徴とする請求項１０記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１４】
前記別光学系用検出器は、前記Ｘ線検出器と一体的、又は前記Ｘ線検出器とは別体に設けられたことを特徴とする請求項１３記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１５】
前記別光学系用検出器は、前記Ｘ線検出器の端部に一体的に設けられたことを特徴とする請求項１４記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１６】
前記各Ｘ線検出器から出力される各Ｘ線検出信号を入力し、少なくとも前記一方の光学系に対する前記他方の光学系のアライメント位置を測定するアライメント測定手段を有し、
前記アライメント測定手段は、前記一方の光学系の前記Ｘ線管をＺ軸方向に移動し、このとき前記一方の光学系の前記Ｘ線管から出力され、前記パス部位を通過した前記Ｘ線を前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器により検出して前記一方の光学系の前記Ｘ線管と前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器とのアライメント位置を測定し、
前記アライメント位置の測定結果に基づいて前記アライメント位置の基準アライメント位置に対するずれ量を報知し、前記ずれ量が許容範囲内になければ、前記他方の光学系の前記Ｘ線検出器を前記Ｚ軸方向に移動して前記一方の光学系の前記Ｘ線管に対してアライメント調整する旨を報知する、
ことを特徴とする請求項１２記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１７】
前記一方の光学系は、第１のＸ線管と第１のＸ線検出器とを有し、
前記他方の光学系は、第２のＸ線管と第２のＸ線検出器とを有し、
前記アライメント測定手段は、前記第１のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とのアライメント位置を測定し、前記アライメント測定位置の基準アライメント位置に対するずれ量が許容範囲内にあるか否かを判断し、前記ずれ量が前記許容範囲内でなければ、前記第２のＸ線検出器を前記Ｚ軸方向にアライメント調整する、
ことを特徴とする請求項１６記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１８】
前記アライメント測定手段は、前記アライメント測定位置の前記基準アライメント位置に対する前記ずれ量が前記許容範囲内であれば、前記他方の光学系において前記第２のＸ線管と前記第２のＸ線検出器との前記Ｚ軸方向のアライメント調整を行う、
ことを特徴とする請求項１７記載の多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置。
【請求項１９】
コンピュータにより実行され、Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラムにおいて、
前記少なくとも２つの光学系における前記各Ｘ線管と前記各Ｘ線検出器との各アライメント調整を実行させ、
前記少なくとも２つの光学系のうち一方の前記光学系の前記Ｘ線管から出力されるＸ線を他方の前記光学系の前記Ｘ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて前記一方の光学系と前記他方の光学系とのアライメント調整を実行させ、
前記他方の光学系における前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とのアライメント調整を実行させる、
ことを特徴とする多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラム。
【請求項２０】
コンピュータにより実行され、第１のＸ線管と第１のＸ線検出器とを対にして成る第１の光学系と、第２のＸ線管と第２のＸ線検出器とを対にして成る第２の光学系とを有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラムにおいて、
前記第１の光学系における前記第１のＸ線管と前記第１のＸ線検出器とをＺ軸方向及びＸ軸方向でアライメント調整を実行させ、
前記第２の光学系における前記第２のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とをＺ軸方向及びＸ軸方向でアライメント調整を実行させ、
ファン角方向の前記Ｘ線を制限し、かつ前記第１のＸ線管から出力されたＸ線を前記第２のＸ線検出器に通すパス部位が形成された減衰部材を用いた少なくとも前記第１のＸ線管から出力され、前記パス部位を通過した前記Ｘ線を前記第２のＸ線検出器により検出して前記第１のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とのアライメント位置を測定させ、
前記アライメント測定位置の基準アライメント位置に対するずれ量が許容範囲内にあるか否かを判断し、前記ずれ量が前記許容範囲内でなければ、前記第２のＸ線検出器を前記Ｚ軸方向にアライメント調整を実行させ、
前記ずれ量が前記許容範囲内であれば、前記第２のＸ線管と前記第２のＸ線検出器とを前記Ｚ軸方向でアライメント調整を実行させる、
ことを特徴とする多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数のＸ線管を備えた多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法及びその装置並びに光学系調整プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
単管球Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線を出力するＸ線管と、被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器とを対向配置している。Ｘ線管には、Ｘ線絞り機構としての上部スリット及び下部スリットと、減衰機構（フィルタ）としてのウェッジとが設けられている。上部スリット及び下部スリットは、Ｘ線管の直下に配置される。ウェッジもＸ線管の直下に配置される。上部スリットは、Ｘ線管から出力されるＸ線のＦＡＮ角方向とコーン角方向とを制限する。下部スリットは、コーン角方向を制限し、スライス幅を決定している。ウェッジは、主にＦＡＮ角方向のＸ線を制限する。
【０００３】
かかる単管球Ｘ線ＣＴ装置では、例えばＸ線管とＸ線検出器との加工状態や、Ｘ線管の組み立て工程においてＸ線管とＸ線検出器との配置位置に誤差を生じる。このため、単管球Ｘ線ＣＴ装置では、Ｘ線管とＸ線検出器とのアライメント調整が行われる。Ｘ線管とＸ線検出器とは、一対であるので、Ｘ線管と下部スリットとＸ線検出器との間のアライメント調整は、下部スリットを基準としてＸ線管をアライメントしている。図９はＸ線ＣＴ装置の光学系の構成図を示す。光学系１は、一対のＸ線管１ａとＸ線検出器１ｂとを有する。これらＸ線管１ａとＸ線検出器１ｂとは、回転中心２を中心とする円形の軌道３上に回転移動する。
【０００４】
Ｘ線管１ａとＸ線検出器１ｂとのアライメント調整は、アライメント専用ソフトウェアを用い、図１０に示す作業フローチャートに従って行われる。アライメント用のピンが回転中心２に配置される。アライメント調整は、ステップ＃１において、オーバロードプロセス（ＯＬＰ）が例えば４０〜６０％であるか否か、すなわちＸ線管１ａが例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２に移ってＸ線管１ａのウォームアップが実施される。
【０００５】
Ｘ線管１ａが例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃３に移り、Ｘ線管１ａをＺ軸方向に移動させる。このとき、図１１に示すようにＸ線検出器１ｂから出力されるＸ線検出信号ｐ１と基準位置ｓ１とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ１と基準位置ｓ１とのずれ量ｄ１を測定する。  
次に、ステップ＃４において、ずれ量ｄ１が許容範囲（例えば±０．１０ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ１が許容範囲以内でなければ、ステップ＃５に移り、Ｘ線管１ａがＺ軸方向に移動され、Ｚ軸方向に対するアライメント調整が行われる。Ｚ軸方向は、体軸方向，寝台送り方向，寝台の長手方向、前後方向とも称する。
【０００６】
上記判断の結果、ずれ量ｄ１が許容範囲以内であれば、ステップ＃６に移り、再び、オーバロードプロセス（ＯＬＰ）が例えば４０〜６０％であるか否か、すなわちＸ線管１ａが例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃７に移ってＸ線管１ａのウォームアップが実施される。  
Ｘ線管１ａが例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃８に移り、Ｘ線管１ａをＸ軸方向（左右方向）に移動させる。このとき、図１２に示すようにＸ線検出器１ｂから出力されるＸ線検出信号ｐ２と基準位置ｓ２とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２と基準位置ｓ２とのずれ量ｄ２を測定する。
【０００７】
次に、ステップ＃９において、ずれ量ｄ２が許容範囲（例えば±０．０５ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ２が許容範囲以内でなければ、ステップ＃１０に移り、Ｘ線管１ａがＸ軸方向に移動され、Ｘ軸方向に対するアライメント調整が行われる。  
上記判断の結果、ずれ量ｄ２が許容範囲以内であれば、アライメント調整は終了する。  
近年、多管球Ｘ線ＣＴ装置が用いられている。この多管球Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管を複数備え、Ｘ線管とＸ線検出器との対から成る光学系を複数備える。かかる多管球Ｘ線ＣＴ装置では、各光学系毎の各対のＸ線管から下部スリット、Ｘ線検出器の間の各アライメントをそれぞれ実施しなければならない。さらに、多管球Ｘ線ＣＴ装置では、各光学系間においても互いにＺ軸方向をアライメント調整する必要がある。すなわち、各光学系により取得される各スライスのセンタを揃える必要がある。しかしながら、各光学系間の各Ｚ軸方向を互いにアライメント調整する手法を有していないのが現状である。
【特許文献１】特開２００６−２７１７２３号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的は、複数の光学系の互いのＺ軸方向のアライメント調整ができる多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法及びその装置並びに光学系調整プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１によれば、Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法において、少なくとも２つの光学系における各Ｘ線管と各Ｘ線検出器との各アライメント調整を行う第１の工程と、少なくとも２つの光学系のうち一方の光学系のＸ線管から出力されるＸ線を他方の光学系のＸ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて一方の光学系と他方の光学系とのアライメント調整を行う第２の工程と、他方の光学系におけるＸ線管とＸ線検出器とのアライメント調整を行う第３の工程とを有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法である。
【００１０】
請求項１０によれば、Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置において、少なくとも２つの光学系における各Ｘ線管と各Ｘ線検出器との各アライメント調整を行う第１の手段と、少なくとも２つの光学系のうち一方の光学系のＸ線管から出力されるＸ線を他方の光学系のＸ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて一方の光学系と他方の光学系とのアライメント調整を行う第２の手段と、他方の光学系におけるＸ線管とＸ線検出器とのアライメント調整を行う第３の手段とを具備する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置である。
【００１１】
請求項１９によれば、コンピュータにより実行され、Ｘ線管とＸ線検出器とを対にして成る少なくとも２つの光学系を有する多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラムにおいて、少なくとも２つの光学系における各Ｘ線管と各Ｘ線検出器との各アライメント調整を実行させ、少なくとも２つの光学系のうち一方の光学系のＸ線管から出力されるＸ線を他方の光学系のＸ線検出器により検出し、当該Ｘ線検出結果に基づいて一方の光学系と他方の光学系とのアライメント調整を実行させ、他方の光学系におけるＸ線管とＸ線検出器とのアライメント調整を実行させる多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整プログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、複数の光学系の互いのＺ軸方向のアライメント調整ができる多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整方法及びその装置並びに光学系調整プログラムを提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の第１の実施の形態について図面を参照して説明する。  
図１は多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置の構成図を示す。同装置は、第１の光学系（メイン光学系）１０と、第２の光学系（サブ光学系）１１とを設けている。第１の光学系１０は、第１のＸ線管１０−１と、第１のＸ線検出器１０−２とを有する。第２の光学系１１は、第２のＸ線管１１−１と、第２のＸ線検出器１１−２とを有する。これら第１の光学系１０と第２の光学系１１とは、それぞれ回転中心１３を中心とする円形の軌道１４上に回転移動する。第１のＸ線検出器１０−２及び第２のＸ線検出器１１−２は、それぞれ複数のＸ線検出素子を縦横方向に羅列してなる。なお、第１の光学系１０は、Ｘ１Ｙ１Ｚ１の軸方向を有し、第２の光学系１１は、Ｘ２Ｙ２Ｚ２の軸方向を有する。
【００１４】
第１のＸ線管１０−１には、Ｘ線絞り機構としての上部スリット及び下部スリットと、減衰機構（フィルタ）としてのウェッジとが設けられている。図２はウェッジ１５の構成図を示す。このウェッジ１５は、第１の光学系１０と第２の光学系１１とのアライメント調整時に用いられる。このウェッジ１５は、第１のＸ線管１０−１から出力されるＸ線ｒ１のファン角方向を制限する。このウェッジ１５には、自身が属する第１の光学系１０とは別の第２の光学系１１の第２のＸ線検出器１１−２にＸ線ｒ１の一部ｒｐを通すパス部位としてのＸ線パス孔１６が設けられている。このＸ線パス孔１６は、第１のＸ線管１０−１から出力され、第１のＸ線検出器１０−１に入射する本来のＸ線ｒ１のＦＡＮ角方向よりも外側の角度方向に沿って設けられている。従って、ウェッジ１５は、第１のＸ線管１０−１から出力されたＸ線ｒ１の一部（以下、パスＸ線）ｒｐをパスして第２の光学系１１の第２のＸ線検出器１１−２の一端部に入射させる。
【００１５】
なお、第２のＸ線管１１−１にもＸ線絞り機構としての上部スリット及び下部スリットと、減衰機構（フィルタ）としてのウェッジとが設けられている。このウェッジにも図２に示すウェッジ１５と同様のＸ線パス孔が設けられていてもよい。ウェッジ１５は、アライメント調整時に用いられ、多管球Ｘ線ＣＴ装置による人体等の被検体のＣＴ画像データを取得するときには、Ｘ線パス孔１６が設けられていない通常のウェッジに交換される。
【００１６】
第１のアライメント測定部１７が第１のＸ線検出器１０−２に設けられている。この第１のアライメント測定部１７は、第１のＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０を入力し、第１のＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動させたとき、図３に示すように第１のＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１０とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１０とのずれ量ｄ１０を測定する。このずれ量ｄ１０は、表示部１８に送られる。  
又、第１のアライメント測定部１７は、第１のＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０を入力し、第１のＸ線管１０−１をＸ１軸方向に移動させたとき、図４に示すように第１のＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１１とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１１とのずれ量ｄ１１を測定する。このずれ量ｄ１１は、表示部１８に送られる。
【００１７】
第１のアライメント調整機構１９が第１のＸ線管１０−１及び第１のＸ線検出器１０−２に設けられている。この第１のアライメント調整機構１９は、第１のＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動させたときに測定されたずれ量ｄ１０が許容範囲（例えば±０．１０ｍｍ）以内でなければ、第１のＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動し、Ｚ１軸方向に対するアライメント調整を行う。  
又、第１のアライメント調整機構１９は、第１のＸ線管１０−１をＸ１軸方向に移動させたときに測定されたずれ量ｄ１１が許容範囲（例えば±０．０５ｍｍ）以内でなければ、第１のＸ線管１０−１をＸ１軸方向に移動し、Ｘ１軸方向に対するアライメント調整を行う。
【００１８】
一方、第２のアライメント測定部２０が第２のＸ線検出器１１−２に設けられている。この第２のアライメント測定部２０は、第２のＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０を入力し、第２のＸ線管１１−１をＺ２軸方向に移動させたとき、図５に示すように第２のＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とのずれ量ｄ２０を測定する。このずれ量ｄ２０は、表示部１８に送られる。  
又、第２のアライメント測定部２０は、第２のＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０を入力し、第２のＸ線管１１−１をＸ２軸方向に移動させたとき、図６に示すように第２のＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２１とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２１とのずれ量ｄ２１を測定する。このずれ量ｄ２１は、表示部１８に送られる。
【００１９】
第２のアライメント調整機構２１が第２のＸ線管１１−１及び第２のＸ線検出器１１−２に設けられている。この第２のアライメント調整機構２１は、第２のＸ線管１１−１をＺ２軸方向に移動させたときに測定されたずれ量ｄ２０が許容範囲以内でなければ、第２のＸ線管１１−１をＺ２軸方向に移動し、Ｚ２軸方向に対するアライメント調整を行う。  
又、第２のアライメント調整機構２１は、第２のＸ線管１１−１をＸ２軸方向に移動させたときに測定されたずれ量ｄ２１が許容範囲以内でなければ、第２のＸ線管１１−１をＸ２軸方向に移動し、Ｘ２軸方向に対するアライメント調整を行う。
【００２０】
第２のＸ線検出器１１−２は、別光学系用検出器としてパス用Ｘ線検出器２２を有する。このパス用Ｘ線検出器２２は、第２の光学系１１とは別の第１の光学系１０の第１のＸ線管１０−１から出力され、Ｘ線パス孔１６をパスしたパスＸ線ｒｐを検出し、パスＸ線検出信号ｐｐを出力する。このパス用Ｘ線検出器２２は、第２のＸ線検出器１１−２の一端部に設けられている。このパス用Ｘ線検出器２２は、第２のＸ線検出器１１−２に一体的に設けられている。なお、パス用Ｘ線検出器２２は、既存の第２のＸ線検出器１１−２の端部における複数のＸ線検出素子を用いればよい。なお、パス用Ｘ線検出器２２は、第２のＸ線検出器１１−２とは別体で、パスＸ線ｒｐの検出専用として設けてもよい。
【００２１】
パス用アライメント測定部２３は、第１のＸ線管１０−１から出力され、Ｘ線パス孔１６を通過したパスＸ線ｒｐを第２のＸ線検出器におけるパス用Ｘ線検出器２２により検出したときのパスＸ線検出信号ｐｐを入力し、図７に示すようにパスＸ線検出信号ｐｐと基準アライメント位置ｓ３０とのずれ量ｄ３０を測定する。このずれ量ｄ３０は、表示部１８に送られる。
【００２２】
ここで、ずれ量ｄ３０が許容範囲内でなければ、上記第１のアライメント調整機構１９は、第２のＸ線検出器１１−２をＺ２軸方向に移動し、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２互いのＺ１軸方向とＺ２軸方向とを合せ込むアライメント調整を行う。
【００２３】
表示部１８は、例えば液晶ディスプレイから成る。表示部１８は、第１のアライメント測定部１７により測定されたずれ量ｄ１０、ずれ量ｄ１１、第２のアライメント測定部２０により測定されたずれ量ｄ２０、ずれ量ｄ２１、パス用アライメント測定部２３により測定されたずれ量ｄ３０などを液晶ディスプレイ上に表示する。
【００２４】
次に、上記の如く構成された装置による多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系のアライメント調整について図８に示すアライメント調整の作業フローチャートを参照して説明する。  
第１の光学系１０のアライメント調整がステップ＃２０において実施され、第２の光学系１１のアライメント調整がステップ＃２１において実施される。これら光学系１０、１１の各アライメントは、それぞれ上記図１０に示す作業フローチャートに従って実施される。
【００２５】
第１の光学系１０のアライメント調整は、アライメント用のピンが回転中心１３に配置され、ステップ＃１において、Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２に移ってＸ線管１０−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃３に移り、第１のアライメント調整機構１９によってＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動させる。このとき、第１のアライメント測定部１７は、図３に示すようにＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１０とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１０とのずれ量ｄ１０を測定する。このずれ量ｄ１０は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００２６】
次に、ステップ＃４において、ずれ量ｄ１０が許容範囲（例えば±０．１０ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ１０が許容範囲以内でなければ、ステップ＃５に移り、第１のアライメント調整機構１９は、Ｘ線管１０−１をＺ１軸方向に移動し、Ｚ１軸方向に対するアライメント調整を行う。上記判断の結果、ずれ量ｄ１０が許容範囲以内であれば、ステップ＃６に移り、再び、Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃７に移ってＸ線管１０−１のウォームアップが実施される。
【００２７】
Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃８に移り、第１のアライメント調整機構１９によりＸ線管１０−１をＸ１軸方向（左右方向）に移動させる。このとき、第１のアライメント測定部１７は、図４に示すようにＸ線検出器１０−２から出力されるＸ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１１とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ１０と基準位置ｓ１１とのずれ量ｄ１１を測定する。このずれ量ｄ１１は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００２８】
次に、ステップ＃９において、ずれ量ｄ１１が許容範囲（例えば±０．０５ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ１１が許容範囲以内でなければ、第１のアライメント調整機構１９は、ステップ＃１０に移り、Ｘ線管１０−１をＸ１軸方向に移動し、Ｘ１軸方向に対するアライメント調整を行う。上記判断の結果、ずれ量ｄ１１が許容範囲以内であれば、アライメント調整は終了する。
【００２９】
第２の光学系１１のアライメント調整は、アライメント用のピンが回転中心１３に配置され、ステップ＃１において、Ｘ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２に移ってＸ線管１１−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃３に移り、第２のアライメント調整機構２１によりＸ線管１１−１をＺ２軸方向に移動させる。このとき、第２のアライメント測定部２３は、図５に示すようにＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とのずれ量ｄ２０を測定する。このずれ量ｄ２０は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００３０】
次に、ステップ＃４において、ずれ量ｄ２０が許容範囲（例えば±０．１０ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ２０が許容範囲以内でなければ、ステップ＃５に移り、第２のアライメント調整機構２１によりＸ線管１１−１がＺ２軸方向に移動され、Ｚ２軸方向に対するアライメント調整が行われる。上記判断の結果、ずれ量ｄ２０が許容範囲以内であれば、ステップ＃６に移り、再び、Ｘ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃７に移ってＸ線管１１−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していれば、ステップ＃８に移り、第２のアライメント調整機構２１によりＸ線管１１−１をＸ２軸方向（左右方向）に移動させる。このとき、第２のアライメント測定部２３は、図６に示すようにＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２１とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２１とのずれ量ｄ２１を測定する。このずれ量ｄ２１は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００３１】
次に、ステップ＃９において、ずれ量ｄ２１が許容範囲（例えば±０．０５ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ２１が許容範囲以内でなければ、ステップ＃１０に移り、第２のアライメント調整機構２１によりＸ線管１１−１がＸ２軸方向に移動され、Ｘ２軸方向に対するアライメント調整が行われる。上記判断の結果、ずれ量ｄ２１が許容範囲以内であれば、アライメント調整は終了する。
【００３２】
上記第１の光学系１０のアライメント調整が終了すると、ステップ＃２２において、同光学系１０のＸ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２３に移ってＸ線管１０−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していると、ステップ＃２４に移り、第１の光学系１０と第２の光学系１１との間のアライメント調整が行われる。
【００３３】
これら第１の光学系１０と第２の光学系１１との間のアライメント調整は、第１のアライメント調整機構１９によって第１の光学系１０における第１のＸ線管１０−１からＸ線を出力させ、かつ第１のＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動する。この第１のＸ線管１０−１から出力されたＸ線は、図２に示すようにウェッジ１５に設けられたＸ線パス孔１６を通り、パスＸ線ｒｐとして第２のＸ線検出器１１−２の一端部に設けられたパス用Ｘ線検出器２２に入射する。このパス用Ｘ線検出器２２は、Ｘ線パス孔１６をパスしたパスＸ線ｒｐを検出し、パスＸ線検出信号ｐｐを出力する。
【００３４】
パス用アライメント測定部２３は、パス用Ｘ線検出器２２から出力されたパスＸ線検出信号ｐｐを入力し、図７に示すようにパスＸ線検出信号ｐｐと基準アライメント位置ｓ３０とのずれ量ｄ３０を測定する。このずれ量ｄ３０は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００３５】
次に、ステップ＃２５において、ずれ量ｄ３０が許容範囲内でなければ、第２のアライメント調整機構２１は、ステップ＃２６において、第２のＸ線検出器１１−２をＺ２軸方向に移動し、第１の光学系１０のＺ１軸方向と第２の光学系１１のＺ２軸方向との互いのＺ軸方向を合せ込む。これにより、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２とがアライメントされる。
【００３６】
再び、ステップ＃２２に戻り、Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２３に移ってＸ線管１０−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１０−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していると、ステップ＃２４に移り、再度、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２との間のアライメント測定が行われる。
【００３７】
このアライメント測定の結果、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２との間のずれ量ｄ３０が許容範囲内であれば、ステップ＃２７に移り、第２の光学系１１のＸ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作しているかを判断し、かかるロードで動作していなければ、ステップ＃２８に移ってＸ線管１１−１のウォームアップが実施される。Ｘ線管１１−１が例えば４０〜６０％のロードで動作していると、ステップ＃２９に移り、第２の光学系１１のアライメント測定が行われる。
【００３８】
この第２の光学系１１のアライメント測定は、第２のアライメント調整機構２１によりＸ線管１１−１をＺ２軸方向に移動させる。このとき、第２のアライメント測定部２３は、図５に示すように第２のＸ線検出器１１−２から出力されるＸ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とを比較し、Ｘ線検出信号ｐ２０と基準位置ｓ２０とのずれ量ｄ２０を測定する。このずれ量ｄ２０は、表示部１８の液晶ディスプレイ上に表示される。
【００３９】
次に、ステップ＃３０において、ずれ量ｄ２０が許容範囲（例えば±０．１０ｍｍ）以内であるか否かを判断し、この判断の結果、ずれ量ｄ２０が許容範囲以内でなければ、第２のアライメント調整機構２１は、ステップ＃３１において、第２のＸ線管１１−１がＺ２軸方向に移動され、Ｚ２軸方向に対するアライメント調整が行われる。
【００４０】
このように上記第１の実施の形態によれば、第１のＸ線管１０−１から出力され、ウェッジ１５のＸ線パス孔１６を通ったパスＸ線ｒｐを第２のＸ線検出器１１−２におけるパス用Ｘ線検出器２２により検出し、パス用Ｘ線検出器２２から出力されたパスＸ線検出信号ｐｐに基づいて第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２との間のずれ量ｄ３０を測定し、このずれ量ｄ３０に従って第２のＸ線検出器１１−２をＺ２軸方向に移動し、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２とをアライメントする。これにより、第１の光学系１０のＺ１軸方向と第２の光学系１１のＺ２軸方向との間の互いに合せ込むことができ、第１の光学系１０と第２の光学系１１との間のアライメント調整が容易に短時間で行うことができる。しかるに、第１の光学系１０と第２の光学系１１とにより取得される各スライスのセンタを揃えることができ、第１の光学系１０と第２の光学系１１とを用いて高速でＣＴ画像データを取得できる。
【００４１】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【００４２】
上記第１の実施の形態は、第１の光学系１０に対して第２の光学系１１をアライメント調整する場合について説明したが、これに限らず、第１の光学系１０に対して第２の光学系１１をアライメント調整するようにしてもよい。この場合、第２のＸ線管１１−１にＸ線パス孔を設けたウェッジを配置し、かつ第１のＸ線検出器１０−２の一端部にパス用Ｘ線検出器を設ける。そして、第２のＸ線管１１−１から出力され、ウェッジのＸ線パス孔を通ったパスＸ線を第１のＸ線検出器１０−２におけるパス用Ｘ線検出器により検出し、パス用Ｘ線検出器から出力されたパスＸ線検出信号に基づいて第２のＸ線管１１−１と第１のＸ線検出器１０−２との間のずれ量を測定し、このずれ量に従って第１のＸ線検出器１０−２をＺ１軸方向に移動し、第２のＸ線管１１−１と第１のＸ線検出器１０−２とをアライメントする。
【００４３】
第１の光学系１０と第２の光学系１１との間のアライメント調整は、第１の光学系１０に対する第２の光学系１１のアライメントと、第２の光学系１１に対する第１の光学系１０のアライメントとの両アライメントを行うようにしてもよい。すなわち、上記第１の実施の形態において説明したように、第１のＸ線管１０−１にＸ線パス孔１６を設けたウェッジ１５を配置し、かつ第２のＸ線検出器１１−２の一端部にパス用Ｘ線検出器２２を設け、第１のＸ線管１０−１から出力され、ウェッジ１５のＸ線パス孔１６を通ったパスＸ線ｒｐを第２のＸ線検出器１１−２におけるパス用Ｘ線検出器２２により検出し、パス用Ｘ線検出器２２から出力されたパスＸ線検出信号ｐｐに基づいて第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２との間のずれ量ｄ３０を測定し、このずれ量ｄ３０に従って第２のＸ線検出器１１−２をＺ２軸方向に移動し、第１のＸ線管１０−１と第２のＸ線検出器１１−２とをアライメントする。
【００４４】
これと共に、第２のＸ線管１１−１にＸ線パス孔を設けたウェッジを配置し、かつ第１のＸ線検出器１０−２の一端部にパス用Ｘ線検出器を設け、第２のＸ線管１１−１から出力され、ウェッジのＸ線パス孔を通ったパスＸ線を第１のＸ線検出器１０−２におけるパス用Ｘ線検出器により検出し、パス用Ｘ線検出器から出力されたパスＸ線検出信号に基づいて第２のＸ線管１１−１と第１のＸ線検出器１０−２との間のずれ量を測定し、このずれ量に従って第１のＸ線検出器１０−２をＺ１軸方向に移動し、第２のＸ線管１１−１と第１のＸ線検出器１０−２とをアライメントする。
【００４５】
これにより、第１の光学系１０に対する第２の光学系１１のアライメントと、第２の光学系１１に対する第１の光学系１０のアライメントとの両アライメントを行うことにより、アライメントの精度を高くできる。
【００４６】
パス用Ｘ線検出器２２は、第２のＸ線検出器１１−２の一端部に設けるのに限らず、他端部に設けてもよい。この場合、Ｘ線パス孔１６は、第２のＸ線検出器１１−２の他端部にパスＸ線が入射するようにウェッジ１５に設けられる。  
上記第１の実施の形態は、第１の光学系１０と第２の光学系１１との２つの光学系間のアライメントについて説明したが、２つ以上の複数の光学系間のアライメントにも適用可能である。  
第１のアライメント調整機構１９による第１のＸ線管１０−１をＺ１軸方向に移動してのＺ１軸方向に対するアライメント調整と、第２のアライメント調整機構２１による第２のＸ線管１１−１をＸ２軸方向に移動してのＸ２軸方向に対するアライメント調整とは、それぞれ作業員により手作業による調整も含むものとする。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明に係る多管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系調整装置の第１の実施の形態を示す構成図。
【図２】同装置におけるウェッジの構成図。
【図３】同装置における第１の光学系のＺ１軸方向のアライメント調整を示す図。
【図４】同装置における第１の光学系のＸ１軸方向のアライメント調整を示す図。
【図５】同装置における第２の光学系のＺ２軸方向のアライメント調整を示す図。
【図６】同装置における第２の光学系のＸ２軸方向のアライメント調整を示す図。
【図７】同装置における第１と第２の光学系とのＺ軸方向のずれ量を示す図。
【図８】同装置におけるアライメント調整の作業フローチャート。
【図９】単管球Ｘ線ＣＴ装置の光学系を示す構成図。
【図１０】同装置におけるアライメント調整の作業フローチャート。
【図１１】同装置におけるＺ軸方向のアライメント調整を示す図。
【図１２】同装置におけるＸ軸方向のアライメント調整を示す図。
【符号の説明】
【００４８】
１０：第１の光学系（メイン光学系）、１１：第２の光学系（サブ光学系）、１０−１：第１のＸ線管、１０−２：第１のＸ線検出器、１１−１：第２のＸ線管、１１−２：第２のＸ線検出器、１３：回転中心、１４：軌道、１５：ウェッジ、１６：Ｘ線パス孔、１７：第１のアライメント測定部、１８：表示部、１９：第１のアライメント調整機構、２０：第２のアライメント測定部、２１：第２のアライメント調整機構、２２：パス用Ｘ線検出器、２３：パス用アライメント測定部。
【図１】
2010046211.tif 000003
【図２】
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【図３】
2010046211.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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