(57)【要約】【課題】ＡＤ変換器のデジタル変換特性の補正処理について，その信頼性と補正精度の向上を図る。【解決手段】アナログセンサ群１０４Ａから得られるアナログ入力信号と，高精度分圧抵抗１１８ａ〜１１８ｄによって得られる第一・第二の校正電圧Ａ１・Ａ２は，マルチプレクサ１１６によって順次選択されてＡＤ変換器１１４を介してデジタル変換されてマイクロプロセッサ１１０に入力される。マイクロプロセッサ１１０はプログラムメモリ１１１Ａと協働して，第一・第二の校正電圧Ａ１・Ａ２に基づく直線近似係数を算出し，この近似係数を用いてアナログ入力信号に対するデジタル変換値の補正を行なって，ＡＤ変換器の変換特性の線形性誤差を補正する。近似係数の算出に当たっては測定値や算出係数の上下限チェックを行なうと共に，複数回の算出結果を平均化して精度の向上を図っている。【選択図】図１
2010141807.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログセンサ群から得られる複数点数のアナログ入力信号の一つが，マルチプレクサによって順次選択されてＡＤ変換器のアナログ入力端子に印加され，当該ＡＤ変換器によってデジタル変換されたデジタルデータをマイクロプロセッサに入力するようにしたアナログ入力信号を有する電子制御装置において，
前記マルチプレクサには複数点数の校正用電圧信号が入力されると共に，前記マイクロプロセッサと協働するプログラムメモリには直線近似係数演算手段と補間補正演算手段と平均化手段と帯域チェック手段となる制御プログラムが付加されていて，
前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される基準電圧Ｖrefを複数の高精度分圧抵抗によって分圧して得られる電圧入力信号であり，
前記直線近似係数演算手段は前記ＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，単一または複数の近似直線で表現し，前記複数の校正用電圧信号の電圧対デジタル変換値との関係が当該近似直線上に包含されるように近似直線算式の比例係数とオフセット成分とを算出して直線近似用のパラメータとする手段であり，
前記補間補正演算手段は前記アナログ入力信号の一つの入力信号電圧に対するデジタル変換値を読み出して，当該デジタル変換値に対応したアナログ入力電圧を前記近似直線上から逆算算出し，当該逆算算出値に比例した値を補正されたデジタル変換値とする手段であり，
前記平均化手段は前記直線近似係数演算手段による近似算式の算出を複数回実行し，得られた比例係数とオフセット成分の各平均値を算出して前記補間補正演算手段で適用する実用パラメータとする手段であり，
前記帯域チェック手段は前記校正用電圧信号のデジタル変換値が，前記プログラムメモリに格納されている校正値用の上下限閾値の帯域内となっているかどうか，または前記直線近似用のパラメータか，または実用パラメータの値が，前記プログラムメモリに格納されているパラメータの上下限閾値の帯域内となっているかどうかを判定し，当該判定結果が帯域外の異常値であったときには再度前記校正用電圧信号のデジタル変換値の読出しと，直線近似用のパラメータの算出と平均化を実行する手段であることを特徴とするアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項２】
前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される所定の基準電圧Ｖrefの２５％近傍の第一の校正電圧Ａ１と，７５％近傍の第二の校正電圧Ａ２とが使用されて，前記第一・第二の校正電圧は少なくとも０＜Ａ１＜Ａ２＜Ｖrefの関係に設定され，
前記直線近似係数演算手段は前記ＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を単一の近似直線で表現するものであり，当該単一近似直線は前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１と，前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２とを座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線であることを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項３】
前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される所定の基準電圧Ｖrefの２５％近傍の第一の校正電圧Ａ１と，７５％近傍の第二の校正電圧Ａ２と，入力電圧が０Ｖ近傍の最小校正電圧Ａ０と前記基準電圧Ｖref近傍の最大校正電圧Ａ３の４点の校正電圧が使用されて，前記各校正電圧は少なくとも０≦Ａ０＜Ａ１＜Ａ２＜Ａ３≦Ｖrefの関係に設定され，
前記直線近似係数演算手段は前記ＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，第一・第二・第三の近似直線による折線で表現するものであり，
前記第一の近似直線は前記最小校正電圧Ａ０に対応した最小デジタル変換値Ｄ０と，前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１とを座標点（Ａ０/Ｖref，Ｄ０）（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線であり，
前記第二の近似直線は前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１と，前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２とを座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線であり，
前記第三の近似直線は前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２と，前記最大校正電圧Ａ３に対応した最大デジタル変換値Ｄ３とを座標点（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）（Ａ３/Ｖref，Ｄ３）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線であることを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項４】
前記マイクロプロセッサと協働するプログラムメモリは更に，定期更新手段となる制御プログラムを包含し，
当該定期更新手段は前記直線近似係数演算手段と前記平均化手段と前記帯域チェック手段とを所定周期毎に実行して，前記実用パラメータである平均化比例係数の値と平均化オフセット成分の値とを順次更新する手段であり，
前記所定周期は前記ＡＤ変換器の熱時定数に相当した時間よりも短い時間の周期であることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項５】
前記プログラムメモリは更に，時間超過判定手段となる制御プログラムを包含し，
当該時間超過判定手段は前記平均化手段において平均化比例係数と平均化オフセット成分の値を算出して，実用パラメータを得るに必要な時間が所定の閾値時間を超過したかどうかを判定する手段であり，当該時間超過判定手段が時間超過判定を行なったときには異常報知手段によって警報表示されることを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項６】
前記帯域チェック手段において，異常判定が行なわれた後に再度前記校正用電圧信号の読出しを行なうタイミングは，当該異常判定が行なわれた演算サイクルとは異なる後続の演算サイクルにおいて実行されるものであることを特徴とする請求項１に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【請求項７】
前記プログラムメモリは更に，退避保存手段となる制御プログラムを包含し，当該退避保存手段は前記帯域チェック手段と時間超過判定手段によって異常判定がなされた異常発生回数を記憶して，不揮発性のデータメモリに転送格納する手段であり，転送格納された異常履歴情報は外部ツールを接続して読出し表示されるものであることを特徴とする請求項５または請求項６に記載のアナログ入力信号を有する電子制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は，多チャンネルアナログ‐デジタル変換器（以下ＡＤ変換器という）のアナログ入力信号に対するデジタル変換特性の線形性誤差を補正して，高精度・高信頼度のデジタル変換出力を得るように改良されたアナログ入力信号を有する電子制御装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＡＤ変換器の製造過程でアナログ的なキャリブレーションで高精度のデジタル変換精度を確保することには限界があり，安価・低精度のＡＤ変換器を、実用段階でデジタル的にキャリブレーションを行なって、必要とされる変換精度を得る手法が用いられている。例えば下記の特許文献１「ＡＤ変換器またはＤＡ変換器のためのデジタルキャリブレーション方法及び装置」によれば，ＡＤ変換器のキャリブレーションを効率的に行う方法として，キャリブレートすべきＡＤ変換器に対して少なくとも２つの異なる基準のアナログ信号をそれぞれ入力するステップと，前記各基準のアナログ信号の入力に応じて前記ＡＤ変換器で変換された各デジタル信号に基づき，補正パラメータを算出するステップと，前ステップで算出した前記補正パラメータを用いて前記ＡＤ変換器の出力デジタル信号に対して補正演算を行なうステップとを具えたことを特徴とするＡＤ変換器のためのデジタルキャリブレーション方法が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−２９５１０２号公報（図１，要約）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
（１）従来技術の課題の説明
前記特許文献１によれば，キャリブレートすべきＡＤ変換器に対して少なくとも２つの異なる基準のアナログ信号をそれぞれ入力するステップにおいてノイズ誤動作等による読み誤りが発生した場合や，前記各基準のアナログ信号の入力に応じて前記ＡＤ変換器で変換された各デジタル信号に基づき補正パラメータを算出するステップにおいて算出誤差が発生したような場合に，その後において適正ではない補正パラメータを用いて補正演算されたデジタル変換値には異常な誤差が含まれつづけることになる。なお，前記算出誤差の発生原因としては，たとえ高精度な基準のアナログ信号が使用されていても，ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加されている電圧が変動すると，変換されたデジタル値が変動するためである。補正演算を行なわないで使用されたＡＤ変換器であれば，一時的なノイズ誤動作による誤ったデジタル変換値は，定期的に読み出される次回の測定によって正常に復することになるが，補正演算算パラメータに異常があると一時的な問題では済まない致命的な欠陥となる問題点がある。
【０００５】
（２）発明の目的の説明
この発明は，ＡＤ変換特性の線形性誤差が比較的大きなＡＤ変換器において，高精度なデジタル変換データを得るための補正演算用のパラメータを，正確・高精度・短時間に算出することができるアナログ入力信号を有する電子制御装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明によるアナログ入力信号を有する電子制御装置は，アナログセンサ群から得られる複数点数のアナログ入力信号の一つが，マルチプレクサによって順次選択されてＡＤ変換器のアナログ入力端子に印加され，当該ＡＤ変換器によってデジタル変換されたデジタルデータをマイクロプロセッサに入力するようにしたアナログ入力信号を有する電子制御装置となっている。前記マルチプレクサには複数点数の校正用電圧信号が入力されると共に，前記マイクロプロセッサと協働するプログラムメモリには直線近似係数演算手段と補間補正演算手段と平均化手段と帯域チェック手段となる制御プログラムが付加されている。前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される基準電圧Ｖrefを
複数の高精度分圧抵抗によって分圧して得られる電圧入力信号である。
【０００７】
前記直線近似係数演算手段は前記ＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，単一または複数の近似直線で表現し，前記複数の校正用電圧信号の電圧対デジタル変換値との関係が当該近似直線上に包含されるように近似直線算式の比例係数とオフセット成分とを算出して直線近似用のパラメータとする手段となっている。
前記補間補正演算手段は前記アナログ入力信号の一つの入力信号電圧に対するデジタル変換値を読み出して，当該デジタル変換値に対応したアナログ入力電圧を前記近似直線上から逆算算出し，当該逆算算出値に比例した値を補正されたデジタル変換値とする手段となっている。前記平均化手段は前記直線近似係数演算手段による近似算式の算出を複数回実行し，得られた比例係数とオフセット成分の各平均値を算出して前記補間補正演算手段で適用する実用パラメータとする手段となっている。
【０００８】
前記帯域チェック手段は前記校正用電圧信号のデジタル変換値が，前記プログラムメモリに格納されている校正値用の上下限閾値の帯域内となっているかどうか，または前記直線近似用のパラメータか，または実用パラメータの値が，前記プログラムメモリに格納されているパラメータの上下限閾値の帯域内となっているかどうかを判定し，当該判定結果が帯域外の異常値であったときには再度前記校正用電圧信号のデジタル変換値の読出しと，直線近似用のパラメータの算出と平均化を実行する手段となっている。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によるアナログ入力信号を有する電子制御装置によれば，アナログ入力に対するデジタル変換出力特性について線形性誤差の大きな安価な構成のＡＤ変換器であっても，補正手段によって正確なデジタル変換出力が得られると共に，帯域チェック手段によってリップル変動等による直線近似係数の算出誤差が発生するのを防止して，誤った係数を用いることによって複数のアナログ入力の全てに対して継続的に誤ったＡＤ変換補正が行なわれる危険性を軽減することができる効果がある。
【００１０】
また，平均化手段を用いたことにより，実用される直線近似係数の精度を高め，より高精度なＡＤ変換補正が行なえるようになる効果がある。なお，校正用電圧信号に微小なリップル変動があっても平均化手段を用いることにより，異常値の影響を低減できるけれども，この場合にはより多くのデータの平均化が必要であって，実用直線近似係数を得るのに長時間を要すると共に，校正用電圧信号の読出しタイミングにおいて偶然にも異常リップル値が継続しておれば平均化手段だけでは解消できない誤差成分が残されることになる。
【００１１】
本願によれば帯域チェック手段と平均化手段を併用することによって，短時間に高精度な実用直線近似係数を得ることができる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
実施の形態１．
（１）構成の詳細な説明
以下，この発明の第１実施例装置の回路ブロック図を示す図１について説明する。図１において，電子制御装置１００Ａは例えば車載エンジンの制御装置であって，電子制御装置１００Ａには車載バッテリである電源１０１が電源リレー１０２の出力接点１０２ａを介して接続されている。電源リレー１０２の励磁コイル１０２ｂは後述の電源制御回路１２１によって駆動されるようになっている。なお，電源スイッチ１０３は電子制御装置１００Ａに接続され，電源制御回路１２１と協働して電源リレー１０２を付勢するようになっている。
【００１３】
後述のマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）１１０に対して図示しないインタフェース回路を介して入力されるアナログセンサ群１０４Ａは，例えばエンジンの吸気量を測定するエアフローセンサ，アクセルペダルの踏込み度合いを検出するアクセルポジションセンサ，スロットル弁開度を検出するスロットルポジションセンサ，排気ガスセンサ，エンジンの冷却水の温度センサ等のエンジンの運転状況を監視する各種センサとなっている。
【００１４】
後述のマイクロプロセッサ１１０に対して図示しないインタフェース回路を介して入力される各種スイッチセンサ群１０５は，例えばエンジンのクランク角センサ，車速測定用のパルスセンサ等のエンジンの運転状況を監視するＯＮ/ＯＦＦ動作の各種センサとなっ
ている。
【００１５】
後述のマイクロプロセッサ１１０から図示しないインタフェース回路を介して給電駆動される各種電気負荷群１０６は，例えば燃料噴射弁の駆動用電磁コイル，エンジンの点火コイル（エンジン形式がガソリンエンジンの場合），吸気スロットルの弁開度制御用モータ，排気循環弁の駆動用モータ，エアコン用の電磁クラッチ，警報・表示器などがある。
【００１６】
後述のマイクロプロセッサ１１０に対して図示しないシリアルインタフェース回路を介して接続される外部ツール１０７は，製品の出荷検査や保守点検操作を行なうときに図示しない着脱コネクタを介して接続されるものである。
【００１７】
電子制御装置１００Ａの内部の構成として，マイクロプロセッサ１１０は例えば不揮発フラッシュメモリであるプログラムメモリ（ＦＭＥＭ）１１１Ａ，演算処理用のＲＡＭメモリ（ＲＭＥＭ）１１２，例えばＥＥＰＲＯＭメモリである不揮発性のデータメモリ（ＤＭＥＭ）１１３と協働するよう互いにバス接続されている。プログラムメモリ１１１Ａには電子制御装置１００Ａとしての入出力制御プログラムに加えて，図３・図４で後述するように定期更新手段３０４，帯域チェック手段３１１・３１３，直線近似係数演算手段３１２，時間超過判定手段３１５，平均化手段３１６，異常報知手段３１８，補間補正演算手段４２２，退避保存手段４２７となる制御プログラムや，判定閾値となる各種の制御データが格納されている。
【００１８】
多チャンネルのＡＤ変換器（ＡＤＣ）１１４は，例えば分解能が１０ビット精度のＡＤ変換部１１４ａと，１６チャンネル分のデジタル変換値が格納されるバッファメモリ（ＢＭＥＭ）１１４ｂとを備えていて，マイクロプロセッサ１１０からＡＤ変換指令１１５ａを受けると，後述の入力切替信号１１７ａを発生して１６チャンネル分のアナログ入力電圧Ａｉをデジタル変換出力Ｄｉに順次変換してバッファメモリ１１４ｂに格納するようになっている。
【００１９】
なお，ＡＤ変換器１１４の基準電圧端子には基準電圧Ｖrefが印加されている。アナロ
グ入力電圧Ａｉとデジタル変換出力Ｄｉと基準電圧Ｖrefと分解能ｎとの関係は次式で示
される。
Ｄｉ＝（２ｎ−１）×（Ａｉ/Ｖref）  ・・・・・・・・（１）
分解能ｎ＝１０の場合には定数Ｋ＝（２ｎ−１）＝１０２３となる。
ＡＤ変換器１１４の入出力特性を示す図２において，横軸はアナログ入力電圧比Ａｉ/Ｖref，縦軸はデジタル変換出力Ｄｉを表し，実線で示す理想特性直線２００は（１）式を示したものである。
【００２０】
図１に戻り，マイクロプロセッサ１１０はデータセレクト指令信号１１５ｂによってバッファメモリ１１４ｂのアドレスを指定し，所望のチャンネル番号のアナログ入力のデジタル変換データ１１５ｃをＲＡＭメモリ１１２に転送書込みすることができるようになっている。マルチプレクサ（ＭＰＸ）１１６はチャンネル番号ＣＨ０〜ＣＨ１５の１６点のアナログ入力端子を備え，入力切替指令信号１１７ａに応動して選択されたアナログ入力信号１１７ｂを発生してＡＤ変換器１１４に供給する。分圧抵抗１１８ａ〜１１８ｄは互いに直列接続されて基準電圧Ｖrefの電圧を分圧し，第一の校正電圧Ａ１と第二の校正電
圧Ａ２を得てマルチプレクサ１１６のチャンネルＣＨ１・ＣＨ０に供給するようになっている。マルチプレクサ１１６の他のチャンネルＣＨ２〜ＣＨ１５にはアナログセンサ群１０４Ａから得られたアナログ信号電圧が印加される。
【００２１】
図２において，破線で示す単一近似直線２０１は第一の校正電圧Ａ１とこの校正電圧に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１による座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）と，第二の校正電圧Ａ２とこの校正電圧に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２による座標点（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）を通過する直線であって，その算式は次式で示されるものである。
（Ｄｉ）＝α×（Ａｉ/Ｖref）＋β  ・・・・・・・・・・・・（２）
但し，比例係数α＝Ｖref×（Ｄ２−Ｄ１）/（Ａ２−Ａ１）  ・・・（21）
オフセット成分β＝（Ｄ１×Ａ２−Ｄ２×Ａ１）/（Ａ２−Ａ１）・・（22）
【００２２】
図１に戻り，制御電源ユニット（ＰＳＵ）１２０は電源リレー１０２の出力接点１０２ａから給電されて，電源１０１の電源電圧ＤＣ１０〜１６Ｖをもとにして制御電圧Ｖcc＝５Ｖを発生し，マイクロプロセッサ１１０を初めとする各部に安定化電圧を供給すると共に，制御電圧Ｖccはそのまま基準電圧Ｖrefとして利用されている。なお，電源制御回路１２１は電源スイッチ１０３が閉路されると直ちに電源リレー１０２を付勢するが，電源スイッチ１０３が開路されたときには所定の遅延時間をおいて電源リレー１０２を消勢するようになっており，この遅延遮断期間においてマイクロプロセッサ１１０の退避処理が行なわれるようになっている。
【００２３】
（２）作用動作の詳細な説明
次に，図１のとおりに構成されたこの発明の第１実施例装置において，電源スイッチ１０３が閉路されると電源リレー１０２の出力接点１０２ａが閉路して，制御電源ユニット１２０が電源１０１から給電されて，安定化された制御電源電圧Ｖccを発生し，マイクロプロセッサ１１０が動作を開始する。マイクロプロセッサ１１０はアナログセンサ群１０４Ａから得られるアナログ信号の電圧レベルと，スイッチセンサ群１０５から得られるＯＮ/ＯＦＦ信号の動作状態と，プログラムメモリ１１１Ａに格納されている入出力制御プログラムとに応動して，電気負荷群１０６の駆動制御を行なう。
【００２４】
マイクロプロセッサ１１０がどのようにしてアナログセンサ群１０４Ａからのアナログ信号電圧を精度よく取り込むのかを説明するのが図３及び図４に示したフローチャートである。マイクロプロセッサ１１０の前半動作説明用フローチャートである図３において，工程３００はマイクロプロセッサ１１０がアナログ入力処理を開始するステップ，続く工程３０１は工程３００による動作開始が，電源スイッチ１０３を閉路した直後の初回の動作開始であるかどうかを図示しないフラグの動作状態によって判定し，初回動作であればＹＥＳの判定を行なって工程３０２ａへ移行し，初回動作でなければＮＯの判定を行なって工程３０４へ移行するステップである。
【００２５】
工程３０２ａは後述の工程４２２において補間補正演算を行なうためのパラメータの初期値をプログラムメモリ１１１Ａから読み出して，ＲＡＭメモリ１１２の第一領域に書き込むステップ，続く工程３０３は後述の工程３１７によってセットされたパラメータの算出完了フラグをリセットするステップである。当該工程３０３が実行されると中継端子Ａを経由して図４の工程４２４へ移行し，電源スイッチ１０３が開路されていなければ工程４２５へ移行し，ＡＤ変換指令１１５ａを発生してから動作終了工程４２６へ移行するようになっている。マイクロプロセッサ１１０は動作終了工程４２６において待機状態となり，他の制御フローを実行してから所定時間後に工程３００へ移行して再びアナログ入力処理を開始するようになっている。なお，動作開始工程３００から動作終了工程４２６に至る一連のフローは，どのフローを経由したとしても例えば１００μｓ以下であるのに対し，動作開始工程３００が活性化される周期は例えば１０ｍｓである。また，ＡＤ変換器１１４は工程４２５でＡＤ変換指令１１５ａを受けると１６チャンネル分のＡＤ変換処理を行って，デジタル変換値をバッファメモリ１１４ｂに格納するが，ＡＤ変換器１１４が１６チャンネル分のＡＤ変換処理を行う時間は２００μｓ以下であり，動作終了工程４２６を経て再度動作開始工程３００が活性化されたときには，工程４２５によって指令されたＡＤ変換は既に完了している状態となっている。
【００２６】
工程３０４は校正時期の判定ステップであり，当該工程３０４では電源スイッチ１０３が閉路された後の初回の判定動作（制御フローの動作としては２回目に相当する）の時にはＹＥＳの判定を行なって工程３０５へ移行し，常時はＮＯの判定を行なって工程３０６へ移行するものであるが，数分後に再び工程３０４を通過するときには再びＹＥＳの判定を行なう定期更新手段となっている。この校正周期はＡＤ変換器１１４の熱時定数よりも短い時間が設定されている。工程３０５では校正動作の開始に当たって後述の工程３１７でセットされていたパラメータ算出完了フラグをリセットしてから工程３１０へ移行する。なお，後述する工程３１０から工程３１９ｂに至る一連の工程ブロック３２０は実用パラメータ算出手段となるものであり，工程３０２ａで適用されたパラメータの初期値が工程ブロック３２０によって算出された実用パラメータに置換され，工程３０２ｂによってＲＡＭメモリ１１２の第一領域に更新書込みされるまでには複数の演算サイクルが必要とされるようになっている。工程３０６は後述の工程３１７によってパラメータの算出完了フラグがセットされたかどうかを判定し，未完了であればＮＯの判定を行なって工程３１０へ移行し，算出完了であればＹＥＳの判定を行なって，中継端子Ｂを経由して図４の工程４２０へ移行するようになっている。
【００２７】
工程３１０は後述の工程４２５によってＡＤ変換されていたデジタル変換値のうち，第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１の値と，第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２の値とをバッファメモリ１１４ｂから読み出してＲＡＭメモリ１１２の第一・第二アドレスに格納するステップである。続く工程３１１は工程３１０で読み出された第一・第二のデジタル変換値Ｄ１・Ｄ２がプログラムメモリ１１１Ａに格納されている許容変動幅の帯域外になっていないかどうかを判定し，帯域外の異常データがあればＹＥＳの判定を行なって工程３１９ｂへ移行し，正常範囲であればＮＯの判定を行なって工程３１２へ移行する帯域チェック手段となる判定ステップである。なお，上記許容変動幅としては例えばＡＤ変換器及び高精度分圧抵抗１１８ａ〜１１８ｄに含まれる仕様上の変動幅±５ｍＶに対して２倍の余裕を与えた±１０ｍＶ程度の値とするのが適当である。工程３１２はプログラムメモリ１１１Ａに格納されている第一の校正電圧比Ａ１/Ｖref＝０.２５の値と、第二の校正電圧比Ａ２/Ｖref＝０.７５の値と，工程３１０で読み出された第一・第二のデジタル変換値Ｄ１・Ｄ２によって定まる座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）を基にして，前述の（２１）（２２）式によって比例係数αとオフセット成分βの値を算出する直線近似係数演算手段となるステップである。
【００２８】
続く工程３１３は工程３１２における直線近似係数演算の中で，比例係数であるパラメータαの値やオフセット成分であるパラメータβの値が，プログラムメモリ１１１Ａに格納されている許容変動幅の域外になっていないかどうかを判定し，どれかのパラメータに異常があればＹＥＳの判定を行なって工程３１９ｂへ移行し，正常であればＮＯの判定を行なって工程３１４へ移行する帯域チェック手段となる判定ステップである。続く工程３１４は工程３１２によるパラメータの算出が例えばＮ＝５回実行されたかどうかを判定し，実行回数が少ないときにはＮＯの判定を行なって，中継端子Ｂを経由して図４の工程４２０へ移行し，Ｎ＝５回の算出が完了するか，または実行回数が少ないときであっても所定の制限時間を超過すればＹＥＳの判定を行なって工程３１５へ移行する判定ステップとなっている。なお，工程３１４の判定がＮＯであったときには中継端子Ｂから図４の工程４２０〜４２６を経由して図３の工程３００に戻り，工程３０１・工程３０４・工程３０６・工程３１０・工程３１１・工程３１２・工程３１３・工程３１４を循環しながら５回分のパラメータα１〜α５とβ１〜β５を算出するが，各パラメータの算出に当たっては算出される都度に工程４２５によるＡＤ変換指令１１５ａが発生し，工程３１０によって読み出される校正データも更新されていることになる。
【００２９】
また，複数のパラメータα・βの算出過程で工程３１１や工程３１３が異常判定を行なったときには，工程３１９ｂ・中継端子Ｂ・工程４２０〜工程４２６・工程３００・工程３０１・工程３０４・工程３０６・工程３１０・工程３１１〜工程３１３を循環しながら，正常なデータが得られたら工程３１１〜工程３１３から工程３１４へ移行して算出回数が加算されるようになっている。従って，工程３１１や工程３１３による異常判定が継続すると，算出回数が少なくてもタイムアウト判定されて工程３１５へ移行するようになっている。
【００３０】
工程３１５は工程３１４の判定がタイムアウト判定であったときにはＹＥＳの判定を行なって工程３１８へ移行し，工程３１４が正常にＮ＝５回の算出を完了したと判定した場合にはＮＯの判定を行なって工程３１６へ移行する時間超過判定手段となる判定ステップである。工程３１６は工程３１２で仮記憶された５回分のパラメータを最小二乗法等による統計的手法で平均化して，実用パラメータα０・β０を算出記憶する平均化手段となるステップである。工程３１７はパラメータの算出完了フラグをセットすると共に，工程３１２の実行回数を計数する図示しないカウンタをリセットするステップである。なお，工程３１６の後工程において，工程３１６で算出された平均化比例計数α０や平均化オフセット成分β０である実用パラメータの帯域チェックを行なって，異常値であれば工程３１９ａへ移行し，正常であれば工程３１７へ移行するようにしてもよい。
【００３１】
工程３１７に続く工程３０２ｂはＲＡＭメモリ１１２の第一領域に対して，工程３０２ａで書き込まれた初期値に代わって工程３１６で算出された実用パラメータを書き込むステップであり，当該工程３０２ｂに続いて中継端子Ｂを経由して図４の工程４２０へ移行するようになっている。工程３１８は工程３１５の判定が時間超過であったときに実行されて警報表示指令出力を発生して工程３１９ａへ移行する異常報知手段となるステップである。工程３１９ａでは工程３１２の実行回数を計数する図示しないカウンタをリセットして，再度所定回数のパラメータの算出と平均化演算を実行するためのステップとなっている。工程３１１または工程３１３の判定がＹＥＳであったとき，または工程３１９ａに続いて実行される工程３１９ｂは異常発生を記憶するための異常フラグをセットする工程であり，当該工程３１９ｂに続いて中継端子Ｂを経由して図４の工程４２０へ移行するようになっている。
【００３２】
図１のもののマイクロプロセッサの後半動作説明用フローチャートである図４において，工程４２０はアナログ入力番号を設定するステップであり，当該工程４２０では図１のデータセレクト指令信号１１５ｂによってバッファメモリ１１４ｂのアドレスを指定し，例えば入力チャンネル番号ＣＨ２に入力されたアナログ入力信号に対応したデジタル変換値の読出しを指定する。続く工程４２１は工程４２０で指定されたアドレスＢＦＭｎのバッファメモリ１１４ｂの内容（ＢＦＭｎ）をＲＡＭメモリ１１２のアドレスＲＡＭｎへ読み出すステップである。続く工程４２２は工程４２１で読み出されたバッファメモリ１１４ｂの内容（ＢＦＭｎ）の値から，補正されたデジタル変換値（ＲＡＭｎ）を算出してＲＡＭメモリ１１２のアドレスＲＡＭｎの内容として更新書換えする補間補正演算手段となるステップである。
【００３３】
なお，算式（２）においてデジタル変換値（Ｄｉ）＝（ＢＦＭｎ）であるときに，そのアナログ入力電圧比（Ａｉ/Ｖref）は次式によって算出される。
（Ａｉ/Ｖref）＝［（ＢＦＭｎ）−β］/α  ・・・・・・・・・（３）
但し，パラメータα・βはパラメータの算出完了までは工程３０２ａで読み出さされた初期値が使用され，算出完了後は工程３１６で算出記憶された（α１〜α５），（β1〜β
５）の平均値であるα０，β０が使用されるものである。このようにして算出されたアナログ入力電圧比（Ａｉ/Ｖref）を基準にして，もしもＡＤ変換器１１４が図２の理想特性直線２００で示される理想変換特性であったとすれば，得られるデジタル変換値は（１）式によって算出され，これが補正されたデジタル変換値（ＲＡＭｎ)に相当するものとなる。
（ＲＡＭｎ)＝（２ｎ−１）×（Ａｉ/Ｖref）  ・・・・・・・・（４）
【００３４】
続く工程４２３は全てのアナログセンサ群１０４に関するＡＤ変換の補正が完了したかどうかを判定し，未完了であればＮＯの判定を行なって工程４２０へ復帰し，完了であればＹＥＳの判定を行なって工程４２４へする判定ステップであり，当該工程４２３の判定が未完了であって工程４２０へ復帰したときには入力番号がチャンネルＣＨ３〜ＣＨ１５に順次更新されるようになっている。工程４２４では電源スイッチ１０３が開路されているかどうかが判定され，電源スイッチ１０３が開路されていないときにはＮＯの判定を行なって工程４２５へ移行し，電源スイッチ１０３が開路されているときにはＹＥＳの判定を行なって工程４２７へ移行するようになっている。工程４２５ではＡＤ変換指令１１５ａを発生してから動作終了工程４２６へ移行するようになっている。なお，ＡＤ変換指令１１５ａによってセットされる図示しない指令フラグはＡＤ変換器１１４が発生する変換完了信号によってリセットされるようになっている。
【００３５】
工程４２７は不揮発性のデータメモリ１１３に格納されていた異常履歴情報を一旦読み出して，工程３１９ｂで記憶された異常情報を加算した結果を再度データメモリ１１３へ転送保存する退避保存手段となるステップである。なお，工程３１９ｂでは工程３１１の判定に基づく読出校正値の異常，または工程３１３の判定に基づくパラメータの異常，または工程３１５の判定に基づくタイムアウト異常等の異常モード別に異常発生回数が計数され，これが工程４２７によって累積加算されるものである。工程４２７に続いてマイクロプロセッサ１１０は動作停止し，たとえばウォッチドッグ信号が停止したことに伴って電源制御回路１２１によって電源リレー１０２が消勢されるようになっている。
【００３６】
（３）実施の形態１の要点と特徴
この発明の実施の形態１による電子制御装置１００Ａは，アナログセンサ群１０４Ａから得られる複数点数のアナログ入力信号の一つが，マルチプレクサ１１６によって順次選択されてＡＤ変換器１１４のアナログ入力端子に印加され，当該ＡＤ変換器１１４によってデジタル変換されたデジタルデータをマイクロプロセッサ１１０に入力するようにしたアナログ入力信号を有する電子制御装置１００Ａとなっている。
【００３７】
前記マルチプレクサ１１６には複数点数の校正用電圧信号Ａ１，Ａ２が入力されると共に，前記マイクロプロセッサ１１０と協働するプログラムメモリ１１１Ａには直線近似係数演算手段３１２と補間補正演算手段４２２と平均化手段３１６と帯域チェック手段３１１・３１３となる制御プログラムが付加されている。前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器１１４の基準電圧端子に印加される基準電圧Ｖrefを複数の高精度分圧抵抗１１８ａ〜
１１８ｄによって分圧して得られる電圧入力信号Ａ１・Ａ２となっている。
【００３８】
前記直線近似係数演算手段３１２は前記ＡＤ変換器１１４の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，単一の近似直線２０１で表現し，前記複数の校正用電圧信号の電圧対デジタル変換値との関係が当該近似直線上に包含されるように近似直線算式の比例係数とオフセット成分とを算出して直線近似用のパラメータとする手段となっている。
【００３９】
前記補間補正演算手段４２２は前記アナログ入力信号の一つの入力信号電圧に対するデジタル変換値を読み出して，当該デジタル変換値に対応したアナログ入力電圧を前記近似直線上から逆算算出し，当該逆算算出値に比例した値を補正されたデジタル変換値とする手段となっている。
【００４０】
前記平均化手段３１６は前記直線近似係数演算手段３１２による近似算式の算出を複数回実行し，得られた比例係数とオフセット成分の各平均値を算出して前記補間補正演算手段４２２で適用する実用パラメータとする手段となっている。
【００４１】
前記帯域チェック手段３１１・３１３は前記校正用電圧信号のデジタル変換値が，前記プログラムメモリ１１１Ａに格納されている校正値用の上下限閾値の帯域内となっているかどうか，または前記直線近似用のパラメータか，または実用パラメータの値が，前記プログラムメモリ１１１Ａに格納されているパラメータの上下限閾値の帯域内となっているかどうかを判定し，当該判定結果が帯域外の異常値であったときには再度前記校正用電圧信号のデジタル変換値の読出しと，直線近似用のパラメータの算出と平均化を実行する手段となっている。
【００４２】
前記校正用電圧信号Ａ１・Ａ２は前記ＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される所定の基準電圧Ｖrefの２５％近傍の第一の校正電圧Ａ１と，７５％近傍の第二の校正電圧Ａ２と
が使用されて，第一・第二の校正電圧は少なくとも０＜Ａ１＜Ａ２＜Ｖrefの関係に設定
されている。前記直線近似係数演算手段３１２は前記ＡＤ変換器１１４の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を単一の近似直線２０１で表現するものとなっている。当該単一近似直線２０１は前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１と，前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２とを座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線となっている。従って，電源電圧の変動の影響を受けないで比較的簡単な校正手段によってＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換特性の補正が行なえる特徴がある。
【００４３】
前記マイクロプロセッサ１１０と協働するプログラムメモリ１１１Ａは更に，定期更新手段３０４となる制御プログラムを包含している。当該定期更新手段３０４は前記直線近似係数演算手段３１２と前記平均化手段３１６と前記帯域チェック手段３１１・３１３とを所定周期毎に実行して，前記実用パラメータである平均化比例係数α０の値と平均化オフセット成分の値β０とを順次更新する手段となっている。なお，前記所定周期は前記ＡＤ変換器１１４の熱時定数に相当した時間よりも短い時間の周期となっている。従って，ＡＤ変換器の環境温度変化に伴うデジタル変換特性の変動を補正して，高精度なデジタル変換データを得ることができる特徴がある。
【００４４】
前記プログラムメモリ１１１Ａは更に，時間超過判定手段315となる制御プログラムを包含している。当該時間超過判定手段３１５は前記平均化手段３１６において平均化比例係数α０と平均化オフセット成分の値β０を算出して，実用パラメータを得るに必要な時間が所定の閾値時間を超過したかどうかを判定する手段であり，当該時間超過判定手段３１５が時間超過判定を行なったときには異常報知手段３１８によって警報表示されるようになっている。従って，散発的な異常には応答せず，帯域チェック異常が重複発生したような場合に異常報知を行なって，保守点検を促すことができる特徴がある。
【００４５】
前記帯域チェック手段３１１・３１３において，異常判定が行なわれた後に再度前記校正用電圧信号の読出しを行なうタイミングは，当該異常判定が行なわれた演算サイクルとは異なる後続の演算サイクルにおいて実行されるものとなっている。従って，異常判定された校正データを再使用することがなく，効率的に直線近似係数の再計算を行なうことができる特徴がある。
【００４６】
前記プログラムメモリ１１１Ａは更に，退避保存手段４２７となる制御プログラムを包含している。当該退避保存手段４２７は前記帯域チェック手段３１１・３１３と時間超過判定手段３１５によって異常判定がなされた異常発生回数を記憶して，不揮発性のデータメモリ１１３に転送格納する手段であり，転送格納された異常履歴情報は外部ツール１０７を接続して読出し表示されるようになっている。従って，異常発生履歴情報を読み出して，校正値やパラメータの変動許容範囲とタイムアウトチェック時間との関係を分析して，適正な設定値を算定することができる特徴がある。
【００４７】
実施の形態２．
（１）構成の詳細な説明
以下，この発明の第２実施例装置の回路ブロック図を示す図５について，図１のものとの相違点を中心にして説明するが，各図において同一符号は同一または相当部分を示している。図５において，電源１０１から電源リレー１０２を介して給電される電子制御装置１００Ｂはプログラムメモリ１１１Ｂと協働するマイクロプロセッサ１１０を備えている。プログラムメモリ１１１Ｂには電子制御装置１００Ｂとしての入出力制御プログラムに加えて，図７・図８で後述するように定期更新手段７０４，帯域チェック手段７１１・７１３，直線近似係数演算手段７１２，時間超過判定手段７１５，平均化手段７１６，異常報知手段７１８，補間補正演算手段８２２，退避保存手段８２７となる制御プログラムや，判定閾値となる制御データが格納されている。
【００４８】
多チャンネルのＡＤ変換器１１４は，図１のものと同様に例えば分解能が１０ビット精度のＡＤ変換部１１４ａと，１６チャンネル分のデジタル変換値が格納されるバッファメモリ１１４ｂとを備えていて，マイクロプロセッサ１１０からＡＤ変換指令１１５ａを受けると，後述の入力切替信号１１７ａを発生して１６チャンネル部のアナログ入力電圧Ａｉをデジタル変換出力Ｄｉに順次変換してバッファメモリ１１４ｂに格納するようになっている。なお，ＡＤ変換器114の基準電圧端子には基準電圧Ｖrefが印加されていて，アナログ入力電圧Ａｉとデジタル変換出力Ｄｉと基準電圧Ｖrefと分解能ｎとの関係は前述の（１）式で示されるものである。
【００４９】
マイクロプロセッサ１１０は図１のものと同様に，データセレクト指令信号１１５ｂによってバッファメモリ１１４ｂのアドレスを指定し，所望のチャンネル番号のアナログ入力のデジタル変換データ１１５ｃをＲＡＭメモリ１１２に転送書込みすることができるようになっている。マルチプレクサ１１６はチャンネル番号ＣＨ０〜ＣＨ１５の１６点のアナログ入力端子を備え，入力切替指令信号１１７ａに応動して選択されたアナログ入力信号１１７ｂを発生してＡＤ変換器１１４に供給するようになっている。
【００５０】
分圧抵抗１１９ａ〜１１９ｃは互いに直列接続されて基準電圧Ｖrefの電圧を分圧し，
基準電圧Ｖrefの２５％近傍の第一の校正電圧Ａ１と，７５％近傍の第二の校正電圧Ａ２
を得ると共に，入力電圧が０Ｖ近傍の最小校正電圧Ａ０と前記基準電圧Ｖref近傍の最大
校正電圧Ａ３の４点の校正電圧を得て，マルチプレクサ１１６のチャンネルＣＨ０〜ＣＨ３に供給するようになっていて，この実施例ではＡ０＝０，Ａ３＝Ｖrefとなっている。
マルチプレクサ１１６の他のチャンネルＣＨ４〜ＣＨ１５にはアナログセンサ群１０４Ｂから得られたアナログ信号電圧が印加されるようになっている。
【００５１】
ＡＤ変換器１１４の入出力特性を示す図６において，横軸はアナログ入力電圧比Ａｉ/
Ｖref，縦軸はデジタル変換出力Ｄｉを示し，実線で示す理想特性直線６００は（１）式
を示したものである。細い破線で示す第一の近似直線６０１は最小校正電圧Ａ０＝０とこの校正電圧に対応した最小デジタル変換値Ｄ０による座標点（Ａ０/Ｖref，Ｄ０）と，第一の校正電圧Ａ1とこの校正電圧に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１による座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）を通過する直線であって，その算式は次式で示されるものである。
（Ｄｉ）＝Ａ×（Ａｉ/Ｖref）＋Ｂ  ・・・・・・・・・・・・（５）
但し，比例係数Ａ＝Ｖref×（Ｄ１−Ｄ０）/Ａ１  ・・・・・・（51）
オフセット成分Ｂ＝Ｄ０  ・・・・・・・・・・・・・・（52）
鎖線で示す第二の近似直線６０２は第一の校正電圧Ａ１とこの校正電圧に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１による座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）と，第二の校正電圧Ａ２とこの校正電圧に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２による座標点（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）を通過する直線であって，その算式は次式で示されるものである。
（Ｄｉ）＝Ｃ×（Ａｉ/Ｖref）＋Ｄ  ・・・・・・・・・・・・（６）
但し，比例係数Ｃ＝Ｖref×（Ｄ２−Ｄ１）/（Ａ２−Ａ１）  ・・・・（61）
オフセット成分Ｄ＝（Ｄ１×Ａ２−Ｄ２×Ａ１）/（Ａ２−Ａ１）  ・・（62）
【００５２】
太い破線で示す第三の近似直線６０３は第二の校正電圧Ａ２とこの校正電圧に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２による座標点（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）と，最大校正電圧Ａ３＝Ｖrefとこの校正電圧に対応した最大のデジタル変換値Ｄ３による座標点（Ａ３/Ｖref，Ｄ３）を通過する直線であって，その算式は次式で示されるものである。
（Ｄｉ）＝Ｅ×（Ａｉ/Ｖref）＋Ｆ  ・・・・・・・・・・・・（７）
但し，比例係数Ｅ＝Ｖref×（Ｄ３−Ｄ２）/（Ｖref−Ａ２）  ・・・・（71）
オフセット成分Ｆ＝（Ｄ２×Ｖref−Ｄ３×Ａ２）/（Ｖref−Ａ２）・・（72）
【００５３】
（２）作用動作の詳細な説明
次に，図５のとおりに構成されたこの発明の第２実施例装置において，電源スイッチ１０３が閉路されると電源リレー１０２の出力接点が閉路して，制御電源ユニット１２０が電源１０１から給電されて，安定化された制御電源電圧Ｖccを発生し，マイクロプロセッサ１１０が動作を開始する。マイクロプロセッサ１１０はアナログセンサ群１０４Ｂから得られるアナログ信号の電圧レベルと，スイッチセンサ群１０５から得られるＯＮ/ＯＦＦ信号の動作状態と，プログラムメモリ１１１Ｂに格納されている入出力制御プログラムとに応動して，電気負荷群106の駆動制御を行なう。マイクロプロセッサ１１０がどのようにしてアナログセンサ群１０４Ｂからのアナログ信号電圧を精度よく取り込むのかを説明するのが図７・図８に示したフローチャートである。なお，図７・図８のフローチャートは図３・図４と全く同じ構成となっていて，各工程番号の３００番台・４００番台が７００番台・８００番台に変更されている点のみが異なっている。
【００５４】
但し，図７において，工程７１０は図８の工程８２５によってＡＤ変換されていたデジタル変換値のうち，最小校正電圧Ａ０＝０に対応した最小デジタル変換値Ｄ０の値と，第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１の値と，第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２の値と，最大校正電圧Ａ３＝Ｖrefに対応した最大デジ
タル変換値Ｄ３の値とをバッファメモリ１１４ｂから読み出してＲＡＭメモリ１１２の所定領域に格納するステップである。また，工程７１２はプログラムメモリ１１１Ｂに格納されている各校正電圧比Ａ０/Ｖref＝０，Ａ１/Ｖref＝０.２５，Ａ２/Ｖref＝０.７５，Ａ３/Ｖref＝１.０の値と，工程７１０で読み出された各デジタル変換値Ｄ０〜Ｄ３によ
って定まる座標点（Ａ０/Ｖref，Ｄ０）（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）（Ａ３/Ｖref，Ｄ３）を基にして，前述の（５１）（５２）（６１）（６２）（７１）（７２）式によって比例係数Ａ・Ｃ・Ｅとオフセット成分Ｂ・Ｄ・Ｆの値を算出する直線近似係数演算手段となるステップである。更に，工程７１６は工程７１２で仮記憶された５回分のパラメータを最小二乗法等による統計的手法で平均化して，第一・第二・第三の近似直線６０１・６０２・６０３に関する実用パラメータを算出記憶する平均化手段となるステップである。
【００５５】
また，図８において，工程８２２は工程８２１で読み出されたバッファメモリ１１４ｂの内容（ＢＦＭｎ）の値から，補正されたデジタル変換値（ＲＡＭn）を算出してＲＡＭ
メモリ１１２のアドレスＲＡＭｎの内容として更新書換えする補間補正演算手段となるステップである。なお，算式（５）（６）（７）においてデジタル変換値（Ｄｉ）＝（ＢＦＭｎ）であるときに，そのアナログ入力電圧比（Ａｉ/Ｖref）は次式によって算出される。
（Ａｉ/Ｖref）＝［（ＢＦＭｎ）−Ｂ］/Ａ  ・・・・・・・・・（８１）
（Ａｉ/Ｖref）＝［（ＢＦＭｎ）−Ｄ］/Ｃ  ・・・・・・・・・（８２）
（Ａｉ/Ｖref）＝［（ＢＦＭｎ）−Ｆ］/Ｅ  ・・・・・・・・・（８３）
但し，パラメータＡ〜Ｆはパラメータの算出完了までは工程７０２ａで読み出さされた初期値が使用され，算出完了後は工程７１６で算出記憶された平均値が使用されるものである。但し算式（８１）（８２）（８３）のどれを適用するかは（ＢＦＭｎ）の値によって変化し，Ｄ１以下であれば（８１）式，Ｄ１〜Ｄ２であれば（８２）式，Ｄ２以上であれば（８３）式が適用されるものである。このようにして算出されたアナログ入力電圧比（Ａｉ/Ｖref）を基準にして，もしもＡＤ変換器１１４が図６の理想特性直線６００で示される理想変換特性であったとすれば，得られるデジタル変換値は（１）式によって算出され，これが補正されたデジタル変換値（ＲＡＭｎ)に相当するものとなる。
（ＲＡＭｎ)＝（２ｎ−１）×（Ａｉ/Ｖref）  ・・・・・・・・（９）
【００５６】
以上の説明で明らかなとおり，この発明によるＡＤ変換器はＡＤ変換器の入力信号電圧ＡｉとＡＤ変換器の基準電圧端子に印加される基準電圧Ｖrefとの比率に対応したデジタ
ル変換値を得るものであって，基準電圧Ｖrefとして制御電源ユニット１２０の出力電圧
である制御電源電圧Ｖcc（例えばＤＣ５Ｖ）が使用されている。従って，制御電源電圧Ｖccが変動しても分圧抵抗による入力電圧比は変動しないが，アナログ入力電圧の絶対値を必要とする用途では検出誤差が発生することになる。その対策としては，制御電源ユニット１２０の近傍に温度センサを設けて，この温度センサによる環境温度をＡＤ変換器１１４とマイクロプロセッサ１１０を介してＲＡＭメモリに格納すると共に，制御電源ユニット１２０の出力電圧対環境温度特性をデータテーブルまたは近似算式によって予めプログラムメモリ１１１Ｂに書き込んでおくことによって，運転状態における環境温度から制御電源ユニット１２０の出力電圧を推定し，目標とする制御電源電圧Ｖcc＝５Ｖからの電圧変動比率に応じて得られたデジタル変換値を補正することが理想的である。
【００５７】
（３）実施形態２の要点と特徴
この発明の実施形態２による電子制御装置１００Ｂは，アナログセンサ群１０４Ｂから得られる複数点数のアナログ入力信号の一つが，マルチプレクサ１１６によって順次選択されてＡＤ変換器１１４のアナログ入力端子に印加され，当該ＡＤ変換器１１４によってデジタル変換されたデジタルデータをマイクロプロセッサ１１０に入力するようにしたアナログ入力信号を有する電子制御装置１００Ｂとなっている。
【００５８】
前記マルチプレクサ１１６には複数点数の校正用電圧信号Ａ０・Ａ１・Ａ２・Ａ３が入力されると共に，前記マイクロプロセッサ１１０と協働するプログラムメモリ１１１Ｂには直線近似係数演算手段７１２と補間補正演算手段８２２と平均化手段７１６と帯域チェック手段７１１・７１３となる制御プログラムが付加されている。
【００５９】
前記校正用電圧信号は前記ＡＤ変換器１１４の基準電圧端子に印加される基準電圧Ｖrefを複数の高精度分圧抵抗１１９ａ〜１１９ｄによって分圧して得られる電圧入力信号Ａ０・Ａ１・Ａ２・Ａ３となっている。
【００６０】
前記直線近似係数演算手段７１２は前記ＡＤ変換器１１４の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，複数の近似直線６０１・６０２・６０３で表現し，前記複数の校正用電圧信号の電圧対デジタル変換値との関係が当該近似直線上に包含されるように近似直線算式の比例係数とオフセット成分とを算出して直線近似用のパラメータとする手段となっている。
【００６１】
前記補間補正演算手段８２２は前記アナログ入力信号の一つの入力信号電圧に対するデジタル変換値を読み出して，当該デジタル変換値に対応したアナログ入力電圧を前記近似直線上から逆算算出し，当該逆算算出値に比例した値を補正されたデジタル変換値とする手段となっている。
【００６２】
前記平均化手段７１６は前記直線近似係数演算手段７１２による近似算式の算出を複数回実行し，得られた比例係数とオフセット成分の各平均値を算出して前記補間補正演算手段８２２で適用する実用パラメータとする手段となっている。
【００６３】
前記帯域チェック手段７１１・７１３は前記校正用電圧信号のデジタル変換値が，前記プログラムメモリ１１１Ｂに格納されている校正値用の上下限閾値の帯域内となっているかどうか，または前記直線近似用のパラメータか，または実用パラメータの値が，前記プログラムメモリ１１１Ｂに格納されているパラメータの上下限閾値の帯域内となっているかどうかを判定し，当該判定結果が帯域外の異常値であったときには再度前記校正用電圧信号のデジタル変換値の読出しと，直線近似用のパラメータの算出と平均化を実行する手段となっている。
【００６４】
前記校正用電圧信号Ａ０〜Ａ３は前記ＡＤ変換器１１４の基準電圧端子に印加される所定の基準電圧Ｖrefの２５％近傍の第一の校正電圧Ａ１と，７５％近傍の第二の校正電圧
Ａ２と，入力電圧が０Ｖ近傍の最小校正電圧Ａ０と前記基準電圧Ｖref近傍の最大校正電
圧Ａ３の４点の校正電圧が使用されて，各校正電圧は少なくとも０≦Ａ０＜Ａ１＜Ａ２＜Ａ３≦Ｖrefの関係に設定されている。前記直線近似係数演算手段７１２は前記ＡＤ変換
器１１４の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換値の特性を，第一・第二・第三の近似直線６０１・６０２・６０３による折線で表現するものとなっている。
【００６５】
前記第一の近似直線６０１は前記最小校正電圧Ａ０に対応した最小デジタル変換値Ｄ０と，前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１とを座標点（Ａ０/Ｖref，Ｄ０）（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線となっている。
【００６６】
前記第二の近似直線６０２は前記第一の校正電圧Ａ１に対応した第一のデジタル変換値Ｄ１と，前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２とを座標点（Ａ１/Ｖref，Ｄ１）（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線となっている。
【００６７】
前記第三の近似直線６０３は前記第二の校正電圧Ａ２に対応した第二のデジタル変換値Ｄ２と，前記最大校正電圧Ａ３に対応した最大デジタル変換値Ｄ３とを座標点（Ａ２/Ｖref，Ｄ２）（Ａ３/Ｖref，Ｄ３）として包含する入力電圧比対デジタル変換出力の特性近似直線となっている。
【００６８】
従って，ＡＤ変換器の入力信号電圧の全帯域に対するデジタル変換特性の補正が高精度に行なえる特徴がある。また，校正用電圧信号を得るための高精度分圧抵抗が増加しなくて安価に構成することができる特徴がある。
【００６９】
前記マイクロプロセッサ１１０と協働するプログラムメモリ１１１Ｂは更に，定期更新手段７０４となる制御プログラムを包含している。当該定期更新手段７０４は前記直線近似係数演算手段７１２と前記平均化手段７１６と前記帯域チェック手段７１１・７１３とを所定周期毎に実行して，前記実用パラメータである平均化比例係数Ａ・Ｃ・Ｅの値と平均化オフセット成分の値Ｂ・Ｄ・Ｆとを順次更新する手段となっている。なお，前記所定周期は前記ＡＤ変換器１１４の熱時定数に相当した時間よりも短い時間の周期となっている。従って，ＡＤ変換器の環境温度変化に伴うデジタル変換特性の変動を補正して，高精度なデジタル変換データを得ることができる特徴がある。
【００７０】
前記プログラムメモリ１１１Ｂは更に，時間超過判定手段７１５となる制御プログラムを包含している。当該時間超過判定手段７１５は前記平均化手段７１６において平均化比例係数Ａ・Ｃ・Ｅと平均化オフセット成分の値Ｂ・Ｄ・Ｆを算出して，実用パラメータを得るに必要な時間が所定の閾値時間を超過したかどうかを判定する手段であり，当該時間超過判定手段７１５が時間超過判定を行なったときには異常報知手段７１８によって警報表示されるようになっている。従って，散発的な異常には応答せず，帯域チェック異常が重複発生したような場合に異常報知を行なって，保守点検を促すことができる特徴がある。
【００７１】
前記帯域チェック手段７１１・７１３において，異常判定が行なわれた後に再度前記校正用電圧信号の読出しを行なうタイミングは，当該異常判定が行なわれた演算サイクルとは異なる後続の演算サイクルにおいて実行されるものとなっている。従って，異常判定された校正データを再使用することがなく，効率的に直線近似係数の再計算を行なうことができる特徴がある。
【００７２】
前記プログラムメモリ１１１Ｂは更に，退避保存手段８２７となる制御プログラムを包含している。当該退避保存手段８２７は前記帯域チェック手段７１１・７１３と時間超過判定手段７１５によって異常判定がなされた異常発生回数を記憶して，不揮発性のデータメモリ１１３に転送格納する手段であり，転送格納された異常履歴情報は外部ツール１０７を接続して読出し表示されるようになっている。従って，異常発生履歴情報を読み出して，校正値やパラメータの変動許容範囲とタイムアウトチェック時間との関係を分析して，適正な設定値を算定することができる特徴がある。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】この発明の第１実施例装置の回路ブロック図である。
【図２】図１のものの説明用特性線図である。
【図３】図１のもののマイクロプロセッサの前半動作説明用フローチャートである。
【図４】図１のもののマイクロプロセッサの後半動作説明用フローチャートである。
【図５】この発明の第２実施例装置の回路ブロック図である。
【図６】図５のものの説明用特性線図である。
【図７】図５のもののマイクロプロセッサの前半動作説明用フローチャートである。
【図８】図５のもののマイクロプロセッサの後半動作説明用フローチャートである。
【符号の説明】
【００７４】
１００Ａ・１００Ｂ  電子制御装置，
１０４Ａ・１０４Ｂ  アナログセンサ群，
１０７  外部ツール，    １１０  マイクロプロセッサ，
１１１Ａ・１１１Ｂ  プログラムメモリ，
１１３  データメモリ，
１１４  ＡＤ変換器，
１１６  マルチプレクサ，
１１８ａ〜１１８ｄ  高精度分圧抵抗，
１１９ａ〜１１９ｃ高精度分圧抵抗，
２００  理想特性直線，
２０１  単一近似直線，
６００  理想特性直線，
６０１  第一の近似直線，
６０２  第二の近似直線，
６０３  第三の近似直線，
Ｖref  基準電圧，
Ａ０  最小校正電圧（Ａ０＝０），
Ａ１  第一の校正電圧，
Ａ２  第二の校正電圧，
Ａ３  最大校正電圧（Ａ３＝Ｖref），
Ｄ０  最小デジタル変換値，
Ｄ１  第一のデジタル変換値，
Ｄ２  第二のデジタル変換値，
Ｄ３  最大デジタル変換値，
３０４・７０４  定期更新手段，
３１１・７１１  帯域チェック手段，
３１２・７１２  直線近似係数演算手段，
３１３・７１３  帯域チェック手段，
３１５・７１５  時間超過判定手段，
３１６・７１６  平均化手段，
３１８・７１８  異常報知手段，
４２２・８２２  補間補正演算手段，
４２７・８２７  退避保存手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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