(57)【要約】【課題】光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置およびその制御方法を提供することを目的とする。【解決手段】光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光量調整回路３を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光量調整回路３の調整目標値を決定し、また、発光パターン調整回路４を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光パターン調整回路４の調整目標値を決定するＣＰＵ７を備え、ＣＰＵ７は、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整回路３の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整回路４の調整目標値を決定することを特徴とする。【選択図】図１
2010113740.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発光する光源と、
前記レーザ光を照射することにより光ディスクにデータを記録する光ピックアップと、
前記光源の発光量を調整する発光量調整手段と、
前記光源の発光パターンを調整する発光パターン調整手段と、
前記光ディスクからの反射光を基にＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、
前記ＲＦ信号を基に、記録品質を評価する記録品質評価値を算出する記録品質評価値算出手段と、
光ディスク装置を起動の際に前記光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、前記発光量調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき前記発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、前記発光パターン調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定する制御手段と、を備え、
前記制御手段は、
連続しない２つの記録単位を用いて前記発光量調整手段の調整目標値を決定し、
連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記発光量調整手段の調整目標値を決定する前記連続しない２つの記録単位の間に、前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定する前記１組の記録単位のうち、少なくとも１つの記録単位が位置することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記発光量調整手段の調整目標値を決定する記録単位は少なくとも１組、前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定する記録単位は少なくとも３組であり、
前記発光量調整手段の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する記録単位を第１記録単位、次に記録する記録単位を第２記録単位とし、
前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する１組目の記録単位を第３記録単位、第４記録単位とし、２番目に記録する２組目の記録単位を第５記録単位、第６記録単位とし、３番目に記録する３組目の記録単位を第７記録単位、第８記録単位としたとき、
それぞれの記録単位は、第１記録単位、第３記録単位、第２記録単位、第４記録単位、第７記録単位、第５記録単位、第８記録単位、第６記録単位の順に配置されることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスク装置を起動する際に前記光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、前記発光量調整手段の調整目標値と、前記発光パターン調整手段の調整目標値とを決定する光ディスク装置の制御方法であって、
連続しない２つの記録単位を用いて前記発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として前記発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報の記録を行う光ディスク装置およびその制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、装着された光ディスクに最適な記録ができるように光源の発光量と発光パターンを調整している。
【０００３】
従来の光ディスク装置では、レーザ光を発光する光源と、レーザ光を照射することにより光ディスクにデータを記録する光ピックアップと、光源の発光量を調整する発光量調整手段と、光源の発光パターンを調整する発光パターン調整手段と、光ディスクからの反射光を基にＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、ＲＦ信号を基に、記録品質を評価する記録品質評価値を算出する記録品質評価値算出手段と、光ディスク装置を起動する際に光ディスクの最内周領域に位置するＯＰＣ領域（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ、以下単にＯＰＣと呼ぶ）で、発光量調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、発光パターン調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光パターン調整手段の調整目標値を決定する制御手段を設けるという構成で、光源の発光量と発光パターンを調整していた。また、必要に応じて最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、同様の構成で光源の発光量と発光パターンを調整していた。
【特許文献１】特開平９−３０５９７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、最外周領域に位置するＯＰＣ領域において上記従来の構成では、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることが難しいという問題があった。すなわち、装着された光ディスクにちりやほこりや指紋などが隣り合う２つの記録単位を跨ぐように付着していた場合、もしくは、装着された光ディスクに傷があり、その傷が隣り合う２つの記録単位を跨ぐように位置していた場合、発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際、そのディフェクトの影響を著しく受けてしまい、繰り返し精度が安定しないという問題があった。特に、ブルーレイディスクに対応した光ディスクはトラック幅が狭いのでその影響を受けやすく、さらに光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域は使用者が取り扱う際に傷や指紋が付きやすく、そのＯＰＣ領域を用いて発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する場合は条件が厳しくなる。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置およびその制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、レーザ光を発光する光源と、レーザ光を照射することにより光ディスクにデータを記録する光ピックアップと、光源の発光量を調整する発光量調整手段と、光源の発光パターンを調整する発光パターン調整手段と、光ディスクからの反射光を基にＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、ＲＦ信号を基に、記録品質を評価する記録品質評価値を算出する記録品質評価値算出手段と、光ディスク装置を起動する際に光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光量調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、発光パターン調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光パターン調整手段の調整目標値を決定する制御手段と、を備え、制御手段は、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とするものである。
【０００７】
また本発明は、光ディスク装置を起動する際に光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光量調整手段の調整目標値と、発光パターン調整手段の調整目標値とを決定する光ディスク装置の制御方法であって、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は上記構成により、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整手段の調整目標値を決定するので、装着された光ディスクに付着したちりやほこり、指紋または傷などのディフェクトの影響を受けにくくする。その結果、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置およびその制御方法を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
請求項１記載の発明は、レーザ光を発光する光源と、レーザ光を照射することにより光ディスクにデータを記録する光ピックアップと、光源の発光量を調整する発光量調整手段と、光源の発光パターンを調整する発光パターン調整手段と、光ディスクからの反射光を基にＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、ＲＦ信号を基に、記録品質を評価する記録品質評価値を算出する記録品質評価値算出手段と、光ディスク装置を起動する際に光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光量調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、発光パターン調整手段を複数の駆動値で駆動してそれぞれの駆動値に対応する記録品質評価値を算出し、それらの記録品質評価値に基づき発光パターン調整手段の調整目標値を決定する制御手段と、を備え、制御手段は、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とするものである。これにより、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整手段の調整目標値を決定するので、装着された光ディスクに付着したちりやほこり、指紋または傷などのディフェクトの影響を受けにくくする。その結果、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置を実現できる。
【００１０】
請求項２記載の発明は、発光量調整手段の調整目標値を決定する連続しない２つの記録単位の間に、発光パターン調整手段の調整目標値を決定する１組の記録単位のうち、少なくとも１つの記録単位が位置することを特徴とするものである。これにより、発光量調整手段の調整目標値を決定する連続しない２つの記録単位の間に、発光パターン調整手段の調整目標値を決定する１組の記録単位のうち少なくとも１つの記録単位を位置させるので、発光量調整手段の調整目標値を決定する連続しない２つの記録単位の間に生じた記録単位を無駄にすることなく、発光量調整手段の調整目標値を決定する、もしくは発光パターン調整手段の調整目標値を決定する記録領域を有効利用できる。
【００１１】
請求項３記載の発明は、発光量調整手段の調整目標値を決定する記録単位は少なくとも１組、発光パターン調整手段の調整目標値を決定する記録単位は少なくとも３組であり、発光量調整手段の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する記録単位を第１記録単位、次に記録する記録単位を第２記録単位とし、発光パターン調整手段の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する１組目の記録単位を第３記録単位、第４記録単位とし、２番目に記録する２組目の記録単位を第５記録単位、第６記録単位とし、３番目に記録する３組目の記録単位を第７記録単位、第８記録単位としたとき、それぞれの記録単位は、第１記録単位、第３記録単位、第２記録単位、第４記録単位、第７記録単位、第５記録単位、第８記録単位、第６記録単位の順に配置されることを特徴とするものである。これにより、第１記録単位、第３記録単位、第２記録単位、第４記録単位、第７記録単位、第５記録単位、第８記録単位、第６記録単位の順に配置するので、発光量調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用１組目の記録単位、発光量調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用３組目の記録単位、発光パターン調整用２組目の記録単位、発光パターン調整用３組目の記録単位、発光パターン調整用２組目の記録単位の順に配置でき、記録順番が複雑になるのを抑えつつ、記録単位を効率良く配置することができる。その結果、光ピックアップの移動距離を最小限に抑えることができる。
【００１２】
請求項４記載の発明は、光ディスク装置を起動する際に光ディスクの最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光量調整手段の調整目標値と、発光パターン調整手段の調整目標値とを決定する光ディスク装置の制御方法であって、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、また、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として発光パターン調整手段の調整目標値を決定することを特徴とするものである。これにより、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整手段の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整手段の調整目標値を決定するので、装着された光ディスクに付着したちりやほこり、指紋または傷などのディフェクトの影響を受けにくくする。その結果、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置の制御方法を実現できる。
【００１３】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１について、図面を参照しながら説明する。
【００１４】
図１は、本発明の実施の形態１における光源の発光量および発光パターン制御系のブロック図である。図１において、１は光ディスク、２は光ピックアップ、２ａは光源、２ｂは対物レンズ、２ｃは受光部、３は発光量調整回路、４は発光パターン調整回路、５はエラーレート測定回路、６は変調度測定回路、７はＣＰＵ、８はスピンドルモータ、９はトラバースモータ、１０はモータ制御回路、１１はＡＣＴ（Ａｃｔｕａｔｏｒ、以下ＡＣＴと呼ぶ）制御回路、１２はピックアップモジュール、１３はＲＦ再生信号生成回路、１４はサーボ制御信号生成回路、１５はメモリである。なお、本実施の形態における光源は光源２ａ、光ピックアップは光ピックアップ２、発光量調整手段は発光量調整回路３、発光パターン調整手段は発光パターン調整回路４、記録品質評価値測定手段はエラーレート測定回路５と変調度測定回路６、制御手段はＣＰＵ７に相当する。
【００１５】
ピックアップモジュール１２は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ８と、レーザ光を発光する光源２ａと、光源２ａが発光したレーザ光を光ディスク１に照射して光ディスク１にデータを記録する、もしくはデータを再生する光ピックアップ２と、光ピックアップ２が搭載されたキャリッジを光ディスク１の半径方向に移動させるためのトラバースモータ９とによって構成されたものである。
【００１６】
トラバース部はトラバースモータ９、ギヤ、スクリューシャフト等から構成され、トラバースモータ９を回転させることによってトラバース部が移動し、その際トラバースモータ９からパルスが周期的に出力されるようになっている。また、モータ制御回路１０は、スピンドルモータ８とトラバースモータ９の回転制御を行い、光ディスク１の回転速度とキャリッジの移動量を制御する。
【００１７】
光ピックアップ２は、レーザ光を発光する光源２ａと、光源２ａが発光したレーザ光を光ディスク１に集光する対物レンズ２ｂと、光ディスク１からの反射光を受光する受光部２ｃとから構成され、受光部２ｃは、光ディスク１からの反射光を受光して電気信号に変換する。
【００１８】
サーボ制御信号生成回路１４は、受光部２ｃからの信号出力を基に、対物レンズ２ｂのフォーカスを制御するフォーカスエラー信号、対物レンズ２ｂのトラッキングを制御するトラッキングエラー信号などのアナログ信号を生成する。そして、生成されたフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号は、ＡＣＴ制御回路１１に送られる。
【００１９】
ＡＣＴ制御回路１１は、ＯＮ／ＯＦＦ回路、演算回路、フィルタ回路、増幅回路等によって構成され、送られてきたフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を基に、光ピックアップ２に設けられた対物レンズ２ｂとキャリッジとの相対的な位置関係を示すレンズ位置信号を生成し、光ピックアップ２に出力する。光ピックアップ２では、その信号を基に光ピックアップ２に備えられた対物レンズ２ｂの位置制御を行う。
【００２０】
ＲＦ再生信号生成回路１３は、受光部２ｃからの信号出力を基にＲＦ信号を生成する。そして、生成されたＲＦ信号は、エラーレート測定回路５と変調度測定回路６に送られる。
【００２１】
エラーレート測定回路５は、送られてきたＲＦ信号からエラーレートを算出し、このエラーレートをＣＰＵ７に出力する。ＣＰＵ７は、発光パターン調整回路４の駆動値を変化させながら光源２ａの発光パターンを変更し、それぞれの駆動値におけるエラーレートをモニタしてライトストラテジの最適化すなわち光源２ａの発光パターンを決定する。なお、ここで算出したエラーレートは、本実施の形態１における発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する際の記録品質評価値に相当する。エラーレートは、エラー訂正単位中のエラーデータ個数の割合と定義したとき、
（エラー訂正単位中のエラーデータ個数）／（エラー訂正単位中のデータ数）
で表すことができる。
【００２２】
一方、変調度測定回路６は、送られてきたＲＦ信号から変調度を算出し、この変調度をＣＰＵ７に出力する。ＣＰＵ７は、発光量調整回路３の駆動値を変化させながら光源２ａの発光量を変更し、それぞれの駆動値における変調度をモニタして記録パワーの最適化すなわち光源２ａの発光量を決定する。なお、ここで算出した変調度は、本実施の形態１における発光量調整回路３の調整目標値を決定する際の記録品質評価値に相当する。変調度は、ＲＦ信号の最大レベルをＩｐｋ、また最小レベルをＩｂｔと定義したとき、
（Ｉｐｋ−Ｉｂｔ）／Ｉｐｋ
で表すことができる。
【００２３】
メモリ１５は、ＣＰＵ７が発光パターン調整回路４の駆動値を変化させながら光源２ａの発光パターンを変更し、それぞれの駆動値におけるエラーレートをモニタする際に、発光パターン調整回路４の駆動値とその駆動値に対応するエラーレートを保持し、ＣＰＵ７の要求に応じて、記憶している情報をＣＰＵ７に出力する。また、メモリ１５は、ＣＰＵ７が発光量調整回路３の駆動値を変化させながら光源２ａの発光パターンを変更し、それぞれの駆動値における変調度をモニタする際に、発光量調整回路３の駆動値とその駆動値に対応する変調度を保持し、ＣＰＵ７の要求に応じて、記憶している情報をＣＰＵ７に出力する。
【００２４】
ＣＰＵ７は、本発明の制御手段を構成し、発光量調整回路３、発光パターン調整回路４、エラーレート測定回路５、変調度測定回路６、モータ制御回路１０、ＡＣＴ制御回路１１、サーボ制御信号生成回路１４、メモリ１５の各部から送られる信号が入力され、これらの信号の演算処理等を行い、この演算処理の結果（信号）を各部に送出し、各部にて駆動、処理を実行させ、各部の制御を行うものである。
【００２５】
ここで、本発明における光ディスク装置の信号の流れについて説明する。
【００２６】
本発明の光ディスク装置の記録時における信号の流れは、ＣＰＵ７の記録指令に基づき、ＡＣＴ制御回路１１を介して光ピックアップ２を動作させ、光ディスク１にデータの記録を行う。また、本発明の光ディスク装置の再生時における信号の流れは、光ディスク１に記録されたデータを光ピックアップ２で読み取り、ＲＦ再生信号生成回路１３、エラーレート測定回路５を介して、ＣＰＵ７が光源２ａの発光パターンを変更するのに必要な情報を入手する。また、光ディスク１に記録されたデータを光ピックアップ２で読み取り、ＲＦ再生信号生成回路１３、変調度測定回路６を介して、ＣＰＵ７が光源２ａの発光量を変更するのに必要な情報を入手する。そのため、記録と再生を繰り返し行うことで光源２ａの発光パターンと発光量を最適化する本発明の光ディスク装置では、上述の信号の流れが繰り返し行われることで光源２ａの発光パターンと発光量を最適化する。
【００２７】
次に、光源２ａの発光量を決定する方法について説明する。
【００２８】
図２は、本発明の実施の形態１における光源の発光量を決定する方法を示す図である。図２（ａ）は光源の発光量に対する変調度の値を示し、図２（ｂ）は光源の発光量と変調度の値との関係から最適な光源の発光量を決定する方法を示している。図２において、横軸は光源の発光量、縦軸は変調度である。
【００２９】
光源２ａの発光量を変化させながら変調度を測定すると、光源２ａの発光量の変化に合せて変調度も変化する。このとき、変調度はあらかじめ最適な変調度を目標変調度として設定しており、この目標変調度のとき、記録品質が良いと判断できる。
【００３０】
本実施の形態１では、ＣＰＵ７が発光量調整回路３を駆動して、光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、光源２ａの発光量を小さい方から大きい方に順次変化させて、図２（ａ）に示すそれぞれの発光量に対応する変調度を測定する。ＣＰＵ７は、発光量調整回路３の駆動値を変化させながら光源２ａの発光量を変更し、それぞれの駆動値における変調度をモニタする際に、発光量調整回路３の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５に保持する。その後、ＣＰＵ７は、発光量調整回路３の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５から読み込み、光源の発光量と変調度との関係から図２（ｂ）に示す変調度カーブを算出する。そして、その変調度カーブを用いて変調度の調整目標値となる目標変調度に対応する光源の発光量を算出し、その発光量を光源２ａの最適発光量として発光量調整回路３に設定する。なお、発光量調整回路３の調整目標値を光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域で決定するのは、最内周領域に位置するＯＰＣ領域ではスピンドルモータ８の回転数制限により実施できない高倍速記録時の最適発光量を求めるためである。
【００３１】
ここで、光源２ａの発光量を決定する際に用いる変調度カーブは、光源の発光量と変調度との関係から求められるので、光源２ａの発光量を小さい方から大きい方に順次変化させて変調度を測定する際に、連続してディフェクトの影響を受けると、連続してディフェクトの影響を受けない場合と比較して変調度カーブの信頼性が著しく低下する。
【００３２】
次に、光源２ａの発光パターンを決定する方法について説明する。
【００３３】
図３は、本発明の実施の形態１における光源の発光パターンを決定する方法を示す図である。図３（ａ）は光源の発光パターンすなわち発光パルス幅に対するエラーレートの値を示し、図３（ｂ）は光源の発光パルス幅とエラーレートとの関係から最適な光源の発光パターンを決定する方法を示している。図３において、横軸は光源の発光パルス幅、縦軸はエラーレートである。
【００３４】
光源２ａの発光パルス幅を変化させながらエラーレートを測定すると、光源２ａの発光パルス幅の変化に合せてエラーレートも変化する。このとき、エラーレートは、エラー訂正単位中のエラーデータ個数の割合であるため、その値が小さいほど記録品質が良いと判断できる。
【００３５】
本実施の形態１では、ＣＰＵ７が発光パターン調整回路４を駆動して、光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域で、発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させて、図３（ａ）に示すそれぞれのパルス幅に対応するエラーレートを測定する。本実施の形態１においては、パルス長さ３Ｔのトップパルスのパルス幅を変更する。ＣＰＵ７は、発光パターン調整回路４の駆動値を変化させながら光源２ａの発光パターンを変更し、それぞれの駆動値におけるエラーレートをモニタする際に、発光パターン調整回路４の駆動値とその駆動値に対応するエラーレートをメモリ１５に保持する。その後、ＣＰＵ７は、発光パターン調整回路４の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５から読み込み、発光パルス幅とエラーレートとの関係から図３（ｂ）に示すエラーレートカーブを算出する。そして、そのエラーレートカーブを用いて、エラーレートが最小になる発光パルス幅を、装着された光ディスク１の最適発光パターンとして発光パターン調整回路４に設定する。なお、発光パターン調整回路４の調整目標値を光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域で決定するのは、最内周領域に位置するＯＰＣ領域ではスピンドルモータ８の回転数制限により実施できない高倍速記録時の最適発光パターンを求めるためである。
【００３６】
ここで、発光パルス幅を決定する際に用いるエラーレートカーブは、光源２ａの発光パルス幅とエラーレートとの関係から求められるので、光源２ａの発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させてエラーレートを測定する際に、連続してディフェクトの影響を受けると、連続してディフェクトの影響を受けない場合と比較してエラーレートカーブの信頼性が著しく低下する。
【００３７】
次に、本発明の特徴部分である、光ディスクの記録単位の位置関係について説明する。
【００３８】
図４は、本発明の実施の形態１における光ディスクの記録単位の位置関係を示す図である。図４（ａ）は光ディスクの最外周領域に形成されたＯＰＣ領域上の記録トラックを示す図であり、図４（ｂ）は光ディスクに形成された記録トラックをまっすぐに伸ばし、記録単位の位置関係をわかりやすくしたものである。図４において、Ａ〜Ｉは記録単位であり、記録単位Ａが光ディスク１の外周側に位置し、記録単位Ｉが内周側に位置する。また、（１）〜（８）はそれぞれの記録領域の記録順番を示し、（１）、（２）、（３）、…の順に記録する。
【００３９】
ＣＰＵ７は、発光量調整回路３の調整目標値と発光パターン調整回路４の調整目標値とを同時に決定する。
【００４０】
発光量調整回路３の調整目標値は、ＯＰＣ領域内に位置する記録単位を複数用いて、所定の発光量による記録を行い、その記録を再生することにより決定される。また、発光パターン調整回路４の調整目標値は、ＯＰＣ領域内に位置する記録単位を複数用いて、所定の発光パターンによる記録を行い、その記録を再生することにより決定される。
【００４１】
発光量調整回路３の調整目標値を決定する場合、少なくとも２つの記録単位が必要であり、双方の記録単位とも同一の発光量変化仕様で記録する。また、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する場合は、少なくとも２つの記録単位を１組とした記録単位が必要であり、双方の記録単位とも同一の発光パターン変化仕様で記録する。記録単位の組数を増やすことで、発光パターン調整回路４の調整目標値を精度良く決定することができる。
【００４２】
光源２の最適な発光量を算出する変調度カーブと光源２の最適な発光パルス幅を算出するエラーレートカーブは、連続してディフェクトの影響を受けると各々のカーブの信頼性が著しく低下する。そこで、本発明においては、ディフェクトの影響を連続して受けないように、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整回路３の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する。
【００４３】
すなわち、図４（ａ）、図４（ｂ）の場合、記録単位Ａと記録単位Ｃを用いて発光量調整回路３の調整目標値を決定し、記録単位Ｂと記録単位Ｄを１組の記録単位として用いて発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する。これにより、連続しない２つの記録単位を用いて発光量調整回路３の調整目標値を決定し、連続しない２つの記録単位を１組の記録単位として用いて発光パターン調整回路４の調整目標値を決定するので、装着された光ディスクに付着したちりやほこり、指紋または傷などのディフェクトの影響を受けにくくする。
【００４４】
また、図４（ａ）、図４（ｂ）に示すように、発光量調整回路３の調整目標値を決定する連続しない２つの記録単位すなわち記録単位Ａと記録単位Ｃとの間に、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する１組の記録単位のうち、１つの記録単位すなわち記録単位Ｂを位置させると、発光量調整回路３の調整目標値を決定する連続しない２つの記録単位すなわち記録単位Ａと記録単位Ｃとの間に生じた記録単位を無駄にすることない。これにより、発光量調整回路３の調整目標値を決定する、もしくは発光パターン調整回路４の調整目標値を決定するＯＰＣ領域を有効利用できる。
【００４５】
さらに、発光パターン調整回路４の調整目標値を精度良く決定するために、多くの記録単位を用いる場合、図４（ａ）、図４（ｂ）に示すように、記録単位Ａ〜記録単位Ｄに加えて、記録単位Ｅ〜記録単位Ｈも併せて用いる。
【００４６】
すなわち、発光量調整回路３の調整目標値を決定する記録単位を１組とし、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する記録単位を３組とする。そして、発光量調整回路３の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する記録単位を記録領域Ａ（第１記録単位）、次に記録する記録単位を記録単位Ｃ（第２記録単位）とし、かつ発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する記録単位のうち、最初に記録する１組目の記録単位を記録領域Ｂ（第３記録単位）、記録領域Ｄ（第４記録単位）とし、２番目に記録する２組目の記録単位を記録領域Ｆ（第５記録単位）、記録領域Ｈ（第６記録単位）とし、３番目に記録する３組目の記録単位を記録領域Ｅ（第７記録単位）、記録領域Ｇ（第８記録単位）としたとき、それぞれの記録単位を、Ａ（第１記録単位）、記録領域Ｂ（第３記録単位）、記録単位Ｃ（第２記録単位）、記録領域Ｄ（第４記録単位）、記録領域Ｅ（第７記録単位）、記録領域Ｆ（第５記録単位）、記録領域Ｇ（第８記録単位）、記録領域Ｈ（第６記録単位）の順に配置する。これにより、発光量調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用１組目の記録単位、発光量調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用１組目の記録単位、発光パターン調整用３組目の記録単位、発光パターン調整用２組目の記録単位、発光パターン調整用３組目の記録単位、発光パターン調整用２組目の記録単位の順に配置でき、記録順番が複雑になるのを抑えつつ、記録単位を効率良く配置することができる。その結果、光ピックアップの移動距離を最小限に抑えることができる。
【００４７】
なお、本実施の形態１における記録領域Ａ〜記録領域Ｈまでの記録順番は、記録領域Ａ（第１記録単位）、記録単位Ｃ（第２記録単位）、記録領域Ｂ（第３記録単位）、記録領域Ｄ（第４記録単位）、記録領域Ｆ（第５記録単位）、記録領域Ｈ（第６記録単位）、記録領域Ｅ（第７記録単位）、記録領域Ｇ（第８記録単位）の順である。これにより、光ピックアップの移動距離を最小限に抑えることができ、発光量調整回路３の調整目標値および発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する際にかかる時間を軽減できる。
【００４８】
次に、光源２ａの発光量と発光パターンを決定する流れについて説明する。
【００４９】
図５は、本発明の実施の形態１における光源の発光量と発光パターンの決定方法を示すフローチャートである。
【００５０】
光ディスク１が光ディスク装置に装着されると、ＣＰＵ７は、スピンドルモータ４８を回転させ、光源２ａを発光させ（Ｓ１）、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかける（Ｓ２）。その後、ＣＰＵ７は、モータ制御回路１０、トラバースモータ９を介して光ピックアップ２を光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域に移動させる（Ｓ３）。そして、ＣＰＵ７は、このＯＰＣ領域で記録と再生を行うことにより光源２ａの発光量と発光パターンとを決定する。本実施の形態１では、図４に示すように、発光量調整回路３の調整目標値を決定する記録単位を１組、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する記録単位を３組とする。
【００５１】
ＣＰＵ７は、光ピックアップ２を光ディスク１の最外周領域に位置するＯＰＣ領域に移動させると、さらに光ピックアップ２をそのＯＰＣ領域内に位置する記録領域Ａに移動させる。そして、発光量調整回路３を駆動して、光源２ａの発光量を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光量による記録を順次行う（Ｓ４）。その後、光ピックアップ２を記録領域Ｂに移動させ、発光量調整回路３を駆動して、光源２ａの発光量を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光量による記録を順次行う（Ｓ５）。
【００５２】
その後、ＣＰＵ７は光ピックアップ２、ＲＦ再生信号生成回路１３、変調度測定回路６を介して、記録領域Ａおよび記録領域Ｃの変調度を測定する（Ｓ６）。そして、ＣＰＵ７は発光量調整回路３の駆動値を変化させながら光源２ａの発光量を変更し、それぞれの駆動値における変調度を測定する際に、発光量調整回路３の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５に保持する。その後、ＣＰＵ７は、発光量調整回路３の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５から読み込み、図２（ｂ）に示す光源の発光量２ａと変調度との関係を算出して、光源２ａの発光量を決定する（Ｓ７）。
【００５３】
次に、ＣＰＵ７は、光ピックアップ２を最外周領域に位置するＯＰＣ領域内に位置する記録領域Ｂに移動させる。そして、発光パターン調整回路４を駆動して、光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光パターンによる記録を順次行う（Ｓ８）。その後、光ピックアップ２を記録領域Ｄに移動させ、発光パターン調整回路を駆動して光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させてながら所定の発光パターンによる記録を順次行う（Ｓ９）。
【００５４】
また、ＣＰＵ７は、光ピックアップ２を最外周領域に位置するＯＰＣ領域内に位置する記録領域Ｆに移動させる。そして、発光パターン調整回路４を駆動して、光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光パターンによる記録を順次行う（Ｓ１０）。その後、光ピックアップ２を記録領域Ｈに移動させ、発光パターン調整回路４を駆動して、光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光パターンによる記録を順次行う（Ｓ１１）。
【００５５】
また、ＣＰＵ７は、光ピックアップ２を最外周領域に位置するＯＰＣ領域内に位置する記録領域Ｅに移動させる。そして、発光パターン調整回路４を駆動して光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させて所定の記録を順次行う（Ｓ１２）。その後、光ピックアップ２を記録領域Ｇに移動させ、発光パターン調整回路４を駆動して、光源の発光パルス幅を小さい方から大きい方に順次変化させながら所定の発光パターンによる記録を順次行う（Ｓ１３）。
【００５６】
その後、ＣＰＵ７は、光ピックアップ２、ＲＦ再生信号生成回路１３、エラーレート測定回路５を介して。記録領域Ｂおよび記録領域Ｄ、記録領域Ｆおよび記録領域Ｈ、記録領域Ｅおよび記録領域Ｇのエラーレートを測定する（Ｓ１４）。そして、ＣＰＵ７が発光パターン調整回路４の駆動値を変化させながら光源２ａの発光パターンを変更し、それぞれの駆動値におけるエラーレートを測定する際に、発光パターン調整回路４の駆動値とその駆動値に対応するエラーレートをメモリ１５に保持する。その後、ＣＰＵ７は、発光パターン調整回路４の駆動値とその駆動値に対応する変調度をメモリ１５から読み込み、図３（ｂ）に示す光源２ａの発光パルス幅とエラーレートとの関係を算出して、光源２ａの発光パターンを決定する（Ｓ１５）。
【００５７】
なお、記録領域Ａ，Ｃにおける所定の発光量による記録の相違点は無く、本実施の形態１の場合、記録領域Ａ，Ｃともに発光量を変化させながら記録が行われる。また、記録領域Ｂ，Ｄ、記録領域Ｆ，Ｈ、記録領域Ｅ，Ｇにおける所定の発光パターンによる記録の相違点はパルス幅を変化させる対象の違いであり、本実施の形態１の場合、記録領域Ｂ，Ｄには、最短マーク以外の先端パルスおよび終端パルスの幅を変化させながら記録が行われ、記録領域Ｆ，Ｈには、最短マークの先端パルスの幅を変化させながら記録が行われ、記録領域Ｅ，Ｇには、最短マークの終端パルスの幅を変化させながら記録が行われる。
【００５８】
本発明は、発光量調整回路３の調整目標値を決定する際に用いる記録単位に連続しない記録単位を用い、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する際に用いる記録単位に連続しない記録単位を用いるので、連続しない２つの記録単位を用い、発光パターン調整回路４の調整目標値を決定する際にも、連続しない２つの記録単位を用いるので、装着された光ディスクにちりやほこりや指紋などが隣り合う２つの記録単位を跨ぐように付着していた場合、もしくは、装着された光ディスクに傷があり、その傷が隣り合う２つの記録単位を跨ぐように位置していた場合であっても、ちりやほこり、指紋または傷などのディフェクトの影響を受けにくくする。その結果、光源２ａの発光量調整回路３の調整目標値と発光パターン調整回路４の調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができる光ディスク装置およびその制御方法を実現できる。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明は、光ディスクに付着したちりやほこり、または傷などのディフェクトの影響を受けにくくし、光源の発光量調整手段の調整目標値と発光パターンの調整目標値とを決定する際の繰り返し精度を安定させることができるので、光ディスクに情報の記録を行う光ディスク装置およびその制御方法などに適応可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施の形態１における光源の発光量および発光パターン制御系のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１における光源の発光量を決定する方法を示す図
【図３】本発明の実施の形態１における光源の発光パターンを決定する方法を示す図
【図４】本発明の実施の形態１における光ディスクの記録単位の位置関係を示す図
【図５】本発明の実施の形態１における光源の発光量と発光パターンの決定方法を示すフローチャート
【符号の説明】
【００６１】
１    光ディスク
２    光ピックアップ
２ａ    光源
２ｂ    対物レンズ
２ｃ    受光部
３    発光量調整回路
４    発光パターン調整回路
５    エラーレート測定回路
６    変調度測定回路
７    ＣＰＵ
８    スピンドルモータ
９    トラバースモータ
１０    モータ制御回路
１１    ＡＣＴ制御回路
１２    ピックアップモジュール
１３    ＲＦ再生信号生成回路
１４    サーボ制御信号生成回路
１５    メモリ
【図１】
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【図２】
2010113740.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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