(57)【要約】【課題】  光干渉断層法を用いた撮像装置において、被検査物の検査対象となる重要部分について、走査線上の重み付けを可能なようにして構成すること。【解決手段】  光干渉断層法を用いた撮像装置は、以下を備える。  まず、前記被検査物に入射する信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、該信号光を主走査方向に走査するための走査手段を備える。  次に、複数の主走査線として走査される画像取得領域における前記主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定領域において、１画素あたりの光干渉信号の積分時間を前記所定領域以外の領域よりも増大させるように前記走査手段を制御するための制御手段を備える。【選択図】  図１
2010169660.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光干渉断層法を用いた撮像装置であって、
被検査物に入射する信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、該信号光を主走査方向に走査するための走査手段と、
複数の主走査線として走査される画像取得領域における前記主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定領域において、１画素あたりの光干渉信号の積分時間を前記所定領域以外の領域よりも増大させるように前記走査手段を制御するための制御手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記少なくとも１つの所定領域と該所定領域以外の領域とに付加された重み付け情報に基づいて前記走査手段を制御するように構成されることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記重み付け情報に応じて、該重み付け情報を付加した領域における前記走査を相対的に変化させるための光学的位置調整手段を備えることを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
２つの異なる共振周波数を持つ共振型スキャナを光学的に共役な関係に配置して構成される、あるいは、
外枠振動子と該外枠振動子内に一体的に設けられた反射部振動子とによる２周期共振型スキャナによって構成されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記制御手段は、
前記被検査物に対する深さ方向のフォーカス位置を制御することが可能に構成される、あるいは、
前記信号光の光路長に対する前記参照光の光路長を所定の長さに制御することが可能に構成されることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記複数の主走査線が、第一の走査線群と第二の走査線群によって構成されていることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記信号光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像するための光干渉断層法を用いた撮像方法であって、
複数の主走査線として走査される所定の画像取得領域の主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定位置において、単位走査線長あたりの光干渉信号を積分する時間を増大させて、前記主走査方向の光走査を制御する工程を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項８】
前記主走査方向の光走査を制御する工程は、
重み付け情報を個別に指定する工程と、
前記個別に指定された重み付け情報を統合する工程と、
前記統合された重み付け情報を、重み付け制御パラメータとして最適化する工程と、
前記最適化された重み付け制御パラメータを、重み付け制御手段に出力する工程と、
を含むことを特徴とする請求項７に記載の撮像方法。
【請求項９】
請求項７あるいは８に記載の撮像方法をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納したことを特徴とするコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
【請求項１０】
請求項７あるいは８に記載の撮像方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光干渉断層法を用いた撮像装置および撮像方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光干渉断層法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、光干渉断層計、以下ＯＣＴと記す。）を用いた撮像装置は、特に眼科領域において、眼底の断層画像を得る目的で用いられている。
【０００３】
ＯＣＴによる眼底撮像中に発生した生体の動き（特に眼球運動）による画像の乱れ（Ｍｏｒｔｉｏｎ  Ａｒｔｉｆａｃｔ）により診断精度が大きく影響される。典型的な眼球運動として、１秒間に１００μｍ程の動きが、眼底の面内方向（以下、横方向と称する。）および深さ方向（以下、縦方向と称する。）の双方に３次元的に生ずる固視微動と呼ばれるものがある。
【０００４】
ＯＣＴには、主に２つの方式があり、それぞれＴＤ−ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）とＦＤ−ＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）と呼ばれる。上記タイムドメイン方式のＯＣＴでは、Ｂスキャンによる断面画像（横方向１次元＋縦方向１次元の２次元画像）を取得するのに１秒程度を要する。このことから、Ｂスキャンの１００枚程度で構成される３次元画像の取得は、眼球運動に対して撮像時間がかかりすぎるという問題がある。一方、上記フーリエドメイン方式のＯＣＴは、上記タイムドメイン方式のＯＣＴに比べて１０倍以上の高速撮像（眼底の３次元画像を１秒から３秒程度で撮像。）が可能である。なお、上記フーリエドメイン方式のＯＣＴには、ＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）とＳＳ−ＯＣＴ（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ  ＯＣＴ）がある。
【０００５】
ここで、眼科用のＯＣＴを用いた撮像では、失明に至る可能性のある三大疾病（糖尿病網膜症、緑内障、加齢黄班変性）の早期発見を目的とした集団検診によるスクリーニングへの適用が望まれている。このとき、集団検診における検査は、単位時間あたりの人数をできるだけ多くすることが必須である。このため、撮影のやり直しを減らすことは重要な課題である。しかしながら、眼科用のＯＣＴでは、眼球運動や体動による画像の乱れが生じると、撮像をやり直すことになるという問題がある。また、診断の質を低下させないためにも画質をできるだけ保つ必要があることから高速撮像が望まれる。さらに、黄班部と視神経乳頭部を含む広い範囲の一括撮像が望まれるが、撮像範囲が広がれば、撮像時間も長くなるという問題がある。
【０００６】
そこで、ＯＣＴを用いた撮像において、診断上の重要箇所に対して、他の箇所よりも多くの走査線を走らせ、重要箇所の画像情報を効率的に取得する手法がある。図１０（ｃ）は、ＯＣＴ撮像範囲２７０１の中心に重要箇所があるとしたときに、中心を他の領域よりも数多く走査させることを、格子によって表現したものである。なお、一本のラインは走査線２７０２を模式的に表すもので、一回の主走査に相当する。また、上記格子を極座標系で配置し、動径方向と円の接線方向で走査線の間隔を調整し、重要部分に重み付けをすることに関して、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】米国特許出願公開第２００７／０１９５２６９号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ここで、上述の走査手法を用いると、一走査線上の画素に注目すると、各画素は重要部分であるかないかに関わらず走査線上に一様に配置されている。このため、診断上の重要箇所を効率的に重み付けしているとは言い難く、改善の余地を残している。
【０００９】
また、図１０（ｃ）に示した２次元的に主走査と副走査とを切り替えて走査する手法では、共振型スキャナを用いることで１ｋＨｚ以上の主走査レートを得ることができるが、高速な共振型スキャナを２次元のどちらの軸にも用いることができない。なぜならば、主走査と副走査とを走査の途中で切り替えるので、副走査時には非共振動作が必要となるからである。これにより、図１０（ｃ）の走査手法は、高速走査を困難にしている。
【００１０】
上述したように、従前のＯＣＴを用いた撮像装置においては、集団検診のスクリーニング用途で求められる広画角の高速撮像を重要部分の重み付けにより効率的に実現することができないという課題があった。
【００１１】
本発明は、上記課題に鑑み、光干渉断層法を用いた撮像装置において、被検査物の検査対象となる重要部分について、走査線上の重み付けを可能なようにして構成することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光干渉断層法を用いた撮像装置は、
光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
被検査物によって反射あるいは散乱された前記信号光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像するための光干渉断層法を用いた撮像装置であって、
前記信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、主走査方向の光走査を制御する光走査制御手段と、
複数の主走査線として走査される所定の画像取得領域の主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定位置において、単位走査線長あたりの光干渉信号を積分する時間を増大させて、前記光走査制御手段を制御する制御手段と、を有することを特徴とする。
【００１３】
また、別の本発明の光干渉断層法を用いた撮像装置は、
前記被検査物に入射する信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、該信号光を主走査方向に走査するための走査手段と、
複数の主走査線として走査される画像取得領域における前記主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定領域において、１画素あたりの光干渉信号の積分時間を前記所定領域以外の領域よりも増大させるように前記走査手段を制御するための制御手段と、を有することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の光干渉断層法を用いた撮像方法は、
光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導き、
前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記信号光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像するための光干渉断層法を用いた撮像方法であって、
複数の主走査線で構成される所定の画像取得領域の主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定位置において、単位走査線長あたりの光干渉信号を積分する時間を増大させて、前記主走査方向の光走査を制御する工程を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光干渉断層法を用いて断層画像の撮像装置において、被検査物の検査対象となる重要部分について、走査線上の重み付け可能に構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明における実施形態の撮像装置の機能を説明するための模式図である。
【図２】本発明における実施形態の重要領域に対する重み付け制御の様態を示す摸式図である。
【図３】本発明における実施形態の光学計測系の構成を説明するための模式図である。
【図４】本発明における実施形態及び従来例の制御・信号処理手段の機能を説明するためのブロック図である。
【図５】本発明における実施形態の走査光学系の構成を示す模式図である。
【図６】本発明における実施形態を説明するための模式図である。
【図７】本発明における実施形態及び従来例の走査制御による重み付けの構成を説明するための模式図である。
【図８】本発明のおける実施形態及び従来例の光学計測系を示す模式図である。
【図９】本発明における実施形態及び従来例における撮像装置を説明するための模式図である。
【図１０】本発明における実施形態及び従来例における撮像装置を説明するための模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下に、図を用いて本発明の実施形態について説明する。
【００１８】
［第一の実施形態］
第一の実施形態に係る光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮像するための撮像装置は、以下の通りである。
【００１９】
まず、前記被検査物に入射する信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、該信号光を主走査方向に走査するための走査部を備える。
【００２０】
そして、複数の主走査線として走査される画像取得領域における前記主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定領域において、１画素あたりの光干渉信号の積分時間を前記所定領域以外の領域よりも増大させるように前記走査部を制御するための制御部を備える。
【００２１】
ここで、光干渉断層法を用いた撮像装置は、一般的に、以下の構成を備える。
【００２２】
まず、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、前記信号光を被検査物に導くと共に前記参照光を参照ミラーに導くように構成される。そして、前記被検査物によって反射あるいは散乱された前記信号光による戻り光と、前記参照ミラーによって反射された前記参照光とを用い、前記被検査物の断層画像を撮像するように構成される。
【００２３】
なお、本実施形態に係る走査部は、前記信号光を被検査物に導く光路中に設けられ、主走査方向の光走査を制御する光走査制御部でも良い。
【００２４】
また、本実施形態に係る制御部は、複数の主走査線で構成される所定の画像取得領域の主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定位置において、単位走査線長あたりの光干渉信号を積分する時間を増大させるように制御可能に構成されても良い。
【００２５】
つぎに、本実施形態における光干渉断層法を用いた撮像装置の全体の機能について、ブロック図である図１（ａ）を用いて説明する。
ここで、１０１は重み付け個別情報指定部、１０２は重み付け情報統合処理部、１０３は重み付け制御パラメータ最適化計算部、１０４は横方向重み付け制御部、１０５は縦方向重み付け制御部である。また、１０６は光干渉断層計測部、１０７は重み付け画像補正部、１０８は画像表示部、１０９は画像情報記憶部である。
重み付け個別情報指定部１０１により、ＯＣＴの３次元画像取得において、３次元的な取得範囲の中で診断対象の疾病に応じて重要部位とその種類を指定する。
指定される重み付け個別情報としては、３次元的な位置、範囲（重み付け箇所）と、当該位置、範囲のそれぞれ対応した横分解能、感度の重み付け量が含まれる。
【００２６】
次に、重み付け情報統合処理部１０２により、個別に指定された重み付け情報は統合され、重み付け制御パラメータ最適化計算部１０３に送られる。
重み付け制御パラメータとは、本発明のＯＣＴ装置に組み込まれた複数の制御部に関する制御パラメータを指し、これを統合された重み付け情報を元に最適化する。
最適化された制御パラメータは横方向と縦方向にそれぞれ分けられ、横方向重み付け制御部１０４と、縦方向重み付け制御部１０５に送られる。
重み付け制御部を含むＯＣＴを構成する光干渉断層計測部１０６は制御を行った上で画像取得をし、重み付けの施された計測画像を出力する。
当該重み付け画像情報は重み付け画像補正部１０７に送られ、当該部により、重み付けにより生じた画像の変質を必要に応じて補正する。
画像の変質には、例えば輝度や画像の縦方向位置ずれである。補正された画像は画像表示部１０８および画像情報記憶部１０９に送られ、それぞれ、画像表示、データの記憶が行われる。
【００２７】
本実施形態においては、これらにより、複数の主走査線で構成される所定の画像取得領域の主走査方向の両端部以外の少なくとも１つの所定位置において、単位走査線長あたりの光干渉信号を積分する時間を増大させて、主走査方向の光走査を制御する工程を有する光干渉断層撮像方法を実現することができる。
【００２８】
つぎに、重み付け指定の例について具体的に説明する。
図１（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）に、本実施形態の光干渉断層撮像装置における重要領域指定の様態を説明する模式図を示す。
【００２９】
図１（ｂ）は、横方向と縦方向の撮像対象画像範囲を示す上面図であり、図１（ｃ）はその側面図であり、それぞれ表示装置に表示される。略４５度程度の画角の範囲が示されている。画像取得範囲２０１内には被検査物である眼底の画像概要２０２が示されており、特徴的な部位である視神経乳頭部２０４、黄班部２０３が含まれている。
本発明の目指すところの集団検診におけるスクリーニングでは、失明に至る三大疾病である緑内障、加齢黄班変性、糖尿病網膜症が最も重要な対象であり、これらを本実施形態の対象とする。
それぞれの疾病について重要な診断部位を、図１（ｂ）に示された緑内障重要部位指定２０５、加齢黄班変性重要部位指定２０６、糖尿病網膜症指定２０７のように指定する。この指定は本実施形態ではユーザによりＧＵＩを用いて作図され、指定される。
【００３０】
同様に、図１（ｃ）に示すように、縦方向の画像取得範囲２０８の中に、緑内障重要部位指定２１０、加齢黄班変性重要部位指定２１１、糖尿病網膜症指定２１２が指定される。
【００３１】
図１（ｄ）と（ｅ）は、それぞれ横方向、縦方向に対応する重み付け指定情報のみを残して表示したものである。すなわち、重み付けの箇所と種類が情報として示されている。重み付け情報は上述したように統合され、実際の制御パラメータの最適化が行われるが、本実施形態においては、横方向では緑内障、加齢黄班変性、糖尿病網膜症、共に感度に重み付けをし、１画素あたり積分時間が制御パラメータとなる。一方、縦方向では緑内障重要部位では感度、横分解能ともに重み付けをし、領域の近い加齢黄班変性重要部位と糖尿病網膜症重要部位では、加齢黄班変性に横分解能重み付け、糖尿病網膜症に感度重み付けを行う。この最適化には例えば、加齢黄班変性重要部位が網膜色素上皮層近傍であって、比較的信号レベルが高い部位である一方、視細胞層の欠損等を詳細に見るために横分解能を必要とするという情報、および、糖尿病網膜症重要部位が網膜内の比較的信号レベルの低い部位であるという情報が用いられている。これらの情報は適宜プリセットで重み付け制御パラメータ最適化計算部に保持されており、さらに、ユーザの入力等により追加することが可能である。
【００３２】
つぎに、本実施形態の実際の制御パラメータと制御部、断層撮像装置全体について説明する。図２（ａ）と（ｂ）に、本実施形態の重要領域に対する重み付け制御の様態を示す摸式図を示す。なお、図２（ａ）と（ｂ）はそれぞれ、図１（ｄ）と（ｅ）に対して制御パラメータに関する概要を追加記載した説明図である。図２（ａ）には、走査線の様子を示す概要が示されている。走査線について、まず主走査方向（ｘ）についてそれぞれの走査線の中央部３０１は周辺部３０２に比して１画素あたり積分時間を長くとっており、これが色の濃淡で大まかに表されている。また、副走査方向（ｙ）については、その配置の密度が非均一に構成されている。それぞれ主走査方向、副走査方向で指定された重要部位について重み付けがなされている。次に、図２（ｂ）に示されるように、フォーカス位置３０４とゼロディレイ位置３０５の２つの独立した自由度を持つ制御パラメータをそれぞれ制御し、緑内障重要部位について双方ともに重要部位２１０上を通過するように制御する。一方、加齢黄班変性と糖尿病網膜症の重要部位については、前者（図中２１１）をフォーカス位置が通過するように、後者（図中２１２）をゼロディレイ位置が通過するように、それぞれ別の縦位置（深さ位置；ｚ）を通過するように制御する。
【００３３】
フォーカス位置制御、ゼロディレイ位置制御の制御形態を含み、本実施形態の撮像装置についてその具体的構成について説明する。
【００３４】
図３（ａ）に、本実施形態に光干渉計測装置の光学計測系構成を示す模式図を示す。光源４０１により射出した光が単一モード光ファイバ４０２により導光され、ファイバ光結合器４０３に入射する。ファイバ光結合器４０３は所謂２ｘ２タイプであり、ファイバ４０２からの入射光を２つの出力ファイバに分岐する。一方の出力ファイバはマイケルソン干渉計の信号光路である人眼底撮像光学系に接続され、他方の出力ファイバは干渉計の参照光路に接続される。信号光路においては、ファイバ端より射出した光はコリメートレンズ４０４によって平行光に変換され、空間を伝搬し、Ｘスキャナ４０５、続いて、Ｙスキャナ４０６に入射する。両スキャナはそれぞれ１次元的な反射角度制御を行う反射型の光走査装置であり、組み合わせることにより２次元的な反射角度制御を行うことが可能となる。反射された信号光は走査レンズ４０７と接眼レンズ４０８により、導光されて、人眼４０９に入射する。Ｘスキャナ、Ｙスキャナ、走査レンズ、接眼レンズにより構成された走査光学系により平行光である信号光は、眼の光学作用を含めて、眼底観察対象部位４１０に集光され、かつ、その位置は眼底上の光軸に略垂直な面上を２次元的に走査される。接眼レンズ４０８により深さ方向のフォーカス位置が調整される。走査とフォーカスの制御はＸスキャナ４０５、Ｙスキャナ４０６およびフォーカス駆動アクチュエータ４１１が接続された制御・信号処理部５０１によって、他の制御とあわせて統合的に行われる。フォーカス制御については、上述した図２（ｂ）のフォーカス位置の制御に対応し、横分解能に関する重要領域を通過するように、走査系と同期して制御される。眼底観察対象部位４１０からの反射光、後方散乱光のうち略同一の光路を通って逆方向に進行する信号光は再びコリメートレンズ４０４を介してファイバ光結合器４０３に戻る。
【００３５】
一方、ファイバ光結合器４０３より分岐された参照光は、コリメートレンズ４０４により平行光に変換され、光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３および光ディレイ位置大域低速駆動装置４１４上に設置された参照光ミラー４１２にてその光路を逆向きに進行するように反射される。
【００３６】
参照光ミラー４１２の位置は光ディレイ位置大域低速駆動装置４１４および光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３の制御を行うことによってそれぞれ大域的、および、精細に参照光路のトータルの光路長が信号光路の長さに対して所定の長さとなるよう、調整・制御される。
【００３７】
各ディレイ位置駆動装置はそれぞれ制御・信号処理部５０１に接続されており、他の制御とあわせて統合的にその制御が行われる。
逆向きに進行した参照光は再びコリメートレンズ４０４を介してファイバ光結合器４０３に戻る。
大域的な光路長制御は、参照光路のトータルの光路長が信号光路に基準として所定の長さとなるよう、特に個人差のある眼軸長の補正を含めて、調整・制御される。
光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３による精細かつ高速な制御は上述した図２（ｂ）のゼロディレイ位置の制御に対応し、感度を増大させる重要部位を通過するように制御される。
ここで、ゼロディレイ位置とは、参照光路長と信号光路長が一致する際の被検査物上の対応する縦位置である。
ＳＤ−ＯＣＴの感度はゼロディレイ位置で最も高く、ディレイ位置から離れるに従って、低下する。
なお、ゼロディレイ位置を被検物内部の深さに設定すると、逆フーリエ変換処理により鏡像が発生する。
【００３８】
このため、本実施形態では干渉測定系を構成する参照光路内に不図示の位相変調器を具備し、所謂ＦＲＣ方式（Ｆｕｌｌ  Ｒａｎｇｅ  Ｃｏｍｐｌｅｘ方式）により鏡像を除去する構成を用いる。
【００３９】
ファイバ光結合器４０３に戻った信号光および参照光は、それぞれ分岐されて光源４０１へ戻る成分と干渉光受光系へ向かう成分に分かれるが、信号光と参照光は同一の単一モードファイバを伝播し、即ち、重ね合わさり、光干渉を生じる。
干渉光受光系は、本実施形態においては分光器であり、従って本実施形態のＯＣＴはＳＤ−ＯＣＴを構成する。
干渉光はコリメートレンズ４０４により平行光となり、反射ミラー４１５により回折格子４１６に導かれ、回折格子の作用により、その１次回折光が含まれる光の波長成分に応じて異なる角度へ進行する。
異なる角度で結像レンズ４１７へ入射した干渉光の各波長成分はそれぞれの角度に応じてラインセンサ４１８上の異なる位置に結像される。
そして、ラインセンサのそれぞれの画素に応じた光強度として読み出され、制御・信号処理部５０１へ信号が伝送される。
【００４０】
つぎに、制御・信号処理部５０１の構成と作用について説明する。
【００４１】
図４（ａ）に、本実施形態の制御・信号処理部の機能を説明するブロックを模式的に示す。
制御・信号処理部５０１は、Ｘスキャナ４０５、Ｙスキャナ４０６、光ディレイ大域低速駆動装置４１４、光ディレイ高速精細駆動装置４１３、フォーカス駆動装置４１１、ラインセンサ４１８の各々を制御する。
一方で角度、位置、光信号を検出した信号を受け取るドライバおよび取込部がそれぞれ具備されている。
このうち、ライン画像取込部５０７でラインセンサ４１８から伝送された光強度信号列をＦＦＴ処理部５０８によって高速で逆フーリエ変換処理し、その結果が中央処理部５０９に送られる。
中央処理部５０９では、時系列で送られてくる逆フーリエ変換後のデジタル光干渉信号をＸスキャナドライバ５０２、Ｙスキャナドライバ５０３からのスキャナ位置信号・同期信号、高速精細ディレイ駆動ドライバ５０４、低速大域ディレイ駆動ドライバ５０５からのディレイ位置信号・同期信号、および、フォーカスドライバ５０６からのフォーカス位置信号と比較し、これによって、光干渉信号と眼底観察対象部位上の位置とを対応付ける。
その後、所定の画素毎に光干渉信号が割り振られ、画像化が行われ、画像表示部５１０に表示される。
【００４２】
つぎに、本実施形態において重み付けのための制御をまとめて説明する。
【００４３】
まず、横方向の重み付けについて、図２（ａ）に対応する走査制御について説明する。
走査線の粗密配置については、副走査を担う図３（ａ）に示されるＹスキャナ４０６の制御で、従前の技術と同様に行われる。
すなわち、重要領域に対して走査線密度を増やし、それ以外で疎にするよう、副走査が行われる。副走査は主走査に比べて低速であり、従来の制御を少し工夫する程度で実現できる。
【００４４】
これに対して、主走査の制御では、走査線内での１画素あたり積分時間を最適化するために本発明の構成が用いられる。
これは、すなわち主走査線内で重要領域である中央部での走査速度を周辺部での走査速度に比べて遅くする構成である。
従って、本発明自身は、必ずしも副走査方向制御による走査線の粗密構成（図２（ａ））を行わず、走査間隔を等しくしても、その機能を果たすことができる。
【００４５】
つぎに、本実施形態における主走査線内の制御について説明する。
【００４６】
図７に、本実施形態の走査制御による重み付けの構成を説明する模式図を示す。
図７（ａ）には走査時間ｔおよび走査位置ｘについて、１画素あたり積分時間Ｔｐ、走査速度Ｖ、走査位置ｘをグラフとして示したものである。
一方、対応する走査の様子をその往路、復路と走査位置ｘを含めて図７（ｂ）に示した。なお、図７（ｂ）は、基本的に図２（ａ）と同一であるが、その方向は９０度回転して表示されている。
図７（ａ）中、Ｔとは往路復路走査の合計時間であり、即ち、主走査の周期を表す。
往路はｔ＝０からＴ／２まで、復路はＴ／２からＴまでに対応し、ｘの位置は往路がｘ＝０からＸまで、復路がｘ＝Ｘから逆進し０までとなる。
本実施形態では走査線上で速度Ｖを走査位置ｘの関数Ｖ（ｘ）として重み付け情報を反映したものとする。
その結果として、１画素あたり積分時間Ｔｐは走査位置ｘの関数Ｔｐ（ｘ）として重要領域である走査線中央部において増大するよう、構成されている。
すなわち、走査位置として往路のｘ＝Ｘ／２および復路のｘ＝Ｘ／２位置近傍において共にＴｐは３倍以上となっている。
１画素あたり積分時間Ｔｐが増した領域では、光干渉信号が増えＳＮ比が向上する。
なぜならば、通常のＯＣＴの稼動領域では、ショット雑音や熱雑音に制限された領域であるため、ＳＮ比は積分時間に略比例するからである。
結果として、このような重み付けを行うために、走査位置ｘを時間ｔの関数としてｘ（ｔ）は図７（ａ）最下図のような駆動を必要とする。
図７（ａ）で示されるＸスキャナの駆動制御について、本実施形態では、図５（ａ）と（ｂ）で示される光学系を用いて、合成の主走査により所望の走査（図７（ａ））を得るように構成される。
すなわち、２つの異なる共振周波数を持つ第一共振スキャナ８０２と第二共振スキャナ８０４による共振型Ｘスキャナを光学的に共役な関係に配置し、合成の主走査により所望の走査（図７（ａ））を得るように構成される。
【００４７】
図５（ｃ）と（ｄ）にスキャナの概観を説明する模式図を示す。
図５（ａ）と（ｂ）は、それぞれ光学系の概要として、上面図、側面図を示すものである。
図５（ｂ）において、信号光８０１が第一共振スキャナ８０２に入射する。第一共振スキャナ８０２と共に、第二共振スキャナ８０４の光走査回転中心は第一リレー光学系８０３により互いに光学的共役関係に配置される。
第一及び第二共振スキャナ８０２、８０４は図５（ｃ）に示すような概観を持ち、回転ミラー９０１は駆動系９０３、駆動軸９０２により角度走査が所定の単一周波数を持つ三角関数的に行われる。
第二共振スキャナ８０４により反射された光は、次に第二リレー光学系８０５により、副走査を担うＹガルバノスキャナ８０６に導光される。
そして、さらにＹガルバノスキャナ８０６で反射された信号光は接眼光学系８０７により人眼４０９に入射し、人眼の光学作用も含めて、主走査２つ、副走査１つのスキャナにより与えられる２次元的な走査角度に応じて眼底内の対応する横位置に結像され、走査される。
第一共振スキャナ８０２、第二共振スキャナ８０４の共振周波数はそれぞれ２ｋＨｚ、６ｋＨｚであり、第二共振スキャナ８０４が第一共振スキャナ８０２に対して３倍の共振周波数を持つように構成されている。
【００４８】
図６（ａ）と（ｂ）に、第一、第二スキャナの走査の様態を示す模式図を示す。
図６（ａ）は合成走査振動を示す図であり、図６（ｂ）は合成前のそれぞれの走査振動を示す図である。合成走査角度θは時間ｔの関数θ（ｔ）として、
合成走査角度θ（ｔ）＝ａ  ｓｉｎ（ωｔ）＋  ０．３ａ  ｓｉｎ（３ωｔ）
で表される。
但し、ω＝２πｆ，ｆ＝２ｋＨｚである。
すなわち、図６（ｂ）に示すようにスキャナの走査振動の位相については位相差０で、振幅については１：０．３の比で構成されている。図６（ａ）に表されるように、所望の走査である図７（ａ）の制御が可能となることがわかる。
【００４９】
本実施形態においては、重み付け補正は重要領域の明るさ補正を行うモードを備える。これは、例えば本実施形態において補正無しで断層画像を構成すると重要領域の輝度が１画素あたり積分時間に応じて高く構成されるのに対して、輝度を積分時間の比率を用いて逆比例で調整するモードを具備するものである。
【００５０】
このようなモードをユーザが選択した場合、重要領域についてその輝度は重み付けなしの場合と変わらないが、暗部のノイズが低減した画質となり重要部位がより高品質に描出される。
【００５１】
以上述べた本実施形態の構成により、複数の眼科疾病に対する重み付けのなされた走査型の光干渉断層撮像装置が実現される。
【００５２】
［第二の実施形態］
第二の実施形態における２周期共振型スキャナを構成した例について、図５（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）、（ｆ）を用いて説明する。
【００５３】
本実施形態においては、第一の実施形態において主走査方向の共振的走査光学系を、単一のスキャナデバイスに変更して実施するように構成される。
【００５４】
図５（ｄ）は本実施形態で用いる２周期共振型のＭＥＭＳスキャナデバイスの概観を示した模式図であり、外枠振動子９０４と該外枠振動子内に一体的に設けられるように、反射部振動子９０５が一体のシリコンウエハからＭＥＭＳプロセスにより形成される。
【００５５】
外枠振動子は図６（ｂ）に示したうちの基本共振周波数２ｋＨｚで振動し、入れ子になった反射部振動子９０５はその３倍の共振周波数６ｋＨｚで振動することにより、第一の実施形態において２つの分離した共振スキャナをリレー光学系を介して所定配置していた部分を単一のスキャナで置き換えることが可能である。対応する構成を図５（ｅ）と（ｆ）に示した。
【００５６】
本実施形態により、図中のＭＥＭＳ複共振スキャナ１１０１により単一の反射面により図７（ａ）の走査を略実現することが可能となり、光学系の小サイズ化を図ることが可能となる。
【００５７】
さらに、図５（ｇ）のように本実施例のＭＥＭＳ複共振スキャナ１１０１と副走査のガルバノスキャナ８０６を近接して配置し、リレー光学系を用いずに多少の共役関係のはずれを伴う２次元走査系を構成し、一層の小サイズ化を図ることができるのは言うまでもない。
図５（ｇ）に、本発明の第二の実施形態の光干渉計測装置の走査光学系構成を説明する模式図を示す。
【００５８】
以上、本実施形態により、効率的に重要部位に重み付けをした３次元的な光干渉断層撮像が、小型化され、かつ高速動作の実施が可能となる。
【００５９】
［第三実施形態］
次に、第三実施形態について説明する。
【００６０】
図２（ｃ）と（ｄ）に、本実施形態の重要領域に対する重み付け制御の様態を説明する模式図を示す。図２（ｃ）と（ｄ）に示されるように、画像取得領域２０１を走査する走査線は、本実施形態においては第一の走査線群１３０１および第二の走査線群１３０２によってその全体の走査が構成され、光干渉断層画像が取得される。
【００６１】
つぎに、第一および第二の走査線群を実施する光干渉断層法を用いた撮像装置の構成について説明する。
【００６２】
図３（ｂ）に、本実施形態の光干渉計測装置の光学計測系の構成を説明する模式図を示す。光源４０１から出射した光は単一モード光ファイバを介してファイバ光分配器１４０１へ送られ、分配作用により２つの光ファイバ４０２へ２等分され伝搬する。
それぞれの光はさらにファイバ光結合器４０３により、信号光路と参照光路に分けられる。
信号光路においては、コリメートレンズ４０４を並置させ、２本の平行ビームとして信号光が射出され、両ビームは結像光学系１４０２によりＸスキャナ４０５の反射走査の略回転中心で交わるように構成される。
【００６３】
続いて、Ｙスキャナ４０６を介して所定の発散角度を隔てて伝搬する２本の信号光１４０３、１４０４は接眼光学系８０７を介して人眼４０９に入射する。
２本の信号光は、眼の光学作用も含めて、それぞれ眼底の異なる位置に同時に集光され、さらに、Ｘスキャナ、Ｙスキャナの回転走査により眼底上を所定の間隔を隔てて、それぞれの走査範囲１４０５、１４０６を、同期して２次元的に走査する。
この２つの走査が上述した図２（ｃ）と（ｄ）の第一、第二の走査線群を構成する。
一方、参照光は並置されたコリメータ４０４により２本の平行ビームとして射出し、光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３および光ディレイ位置大域低速駆動装置４１４上に設置された参照光ミラー４１２にてその光路を逆向きに進行するように反射される。
参照光ミラー４１２の位置は光ディレイ位置大域低速駆動装置４１４および光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３の制御を行うことによってそれぞれ大域的に、調整・制御される。
また、精細に参照光路のトータルの光路長が信号光路の長さに対して所定の長さとなるよう、調整・制御される。
信号光と参照光はそれぞれ２本ずつ、ファイバ光結合器４０３に戻り、光源側に戻る光と受光光学系側に進む光に分けられるが、各光路においては信号光と参照光が同一基本モードで伝搬しているため、即ち重ね合わさり、干渉光を構成する。
並置されたコリメートレンズ４０４により２つの平行ビームとして出射した干渉光は結像レンズ１４０７により回折格子４１６上で交わるように構成される。
回折格子４１６は図３（ｂ）では、紙面垂直方向に格子が配列されている。回折格子４１６により２つの干渉光の１次回折光は紙面垂直方向に波長分解され、それぞれラインセンサ１４０８、１４０９上に分光光強度に応じた光強度パターンを生じさせる。
ラインセンサ１４０８、１４０９は図３（ｂ）では紙面垂直方向に画素が１次元的に配列されて成るものである。
ラインセンサ１４０８、１４０９で検知された分光光干渉信号は、制御・信号処理部５０１によってそれぞれ逆フーリエ変換処理等を施した後に画像化され、走査位置に応じてつなぎ合わされて画像取得領域２０１の全体を構成する。
【００６４】
以上の光干渉断層法を用いた撮像装置の構成により、図２（ｃ）と（ｄ）に示した第一、第二の走査線群の並列的な画像取得が可能となる。
【００６５】
つぎに、本実施形態の走査の構成と制御により、図２（ｃ）の指定された重要領域２０５、２０６、２０７に付加する重み付けについて説明する。ここで、図２（ｃ）に、本実施形態の走査の様態を説明する模式図を示す。また、図７（ｃ）と（ｄ）に、本実施形態の走査制御による重み付けの構成を説明する模式図を示す。
【００６６】
一方、図７（ｃ）には走査時間ｔおよび走査位置ｘについて、１画素あたり積分時間Ｔｐ、走査速度Ｖ、走査位置ｘをグラフとして示した。また、対応する走査の様子をその往路、復路と走査位置ｘを含めて図７（ｄ）に示した。なお、図７（ｄ）は、基本的に図２（ｃ）と同一であるが、その方向は９０度回転して表示されている。
【００６７】
図７（ｃ）において、ｘの位置は往路がｘ＝０からＸまで、復路がｘ＝Ｘから逆進し０までとなる。本実施形態では往路、復路共に第一の走査線群と第二の走査線群に分担されて走査されるため、第一の走査線群は略０からＸ／２の範囲を走査し、第二の走査線群は略Ｘ／２からＸの範囲を走査する。従って、走査位置ｘを時間ｔの関数としてｘ（ｔ）は図７（ｃ）最下図のような駆動を行う。図７（ｃ）と（ｄ）では、このような２つの走査線群の分担について、第一の走査線群を実線、第二の走査線群を破線を用いて、各図に示している。本実施形態では高速化のために走査は共振的に行われ、従って、画面中央部では三角関数に従って、第一、第二の走査線群ともに走査速度が低下する。このような走査を行うことにより、図７（ｃ）中段に示すように、走査線上で速度Ｖを走査位置ｘの関数Ｖ（ｘ）として重み付け情報を反映したものとなる。
【００６８】
その結果として、１画素あたり積分時間Ｔｐは走査位置ｘの関数Ｔｐ（ｘ）として重要領域である走査線中央部において増大するよう、構成されている。本実施形態では、走査位置として往路のｘ＝Ｘ／２および復路のｘ＝Ｘ／２位置近傍において共にＴｐは３倍以上となっている。
１画素あたり積分時間Ｔｐが増した領域では、光干渉信号が増えＳＮ比が向上する。
なぜならば、通常のＯＣＴの稼動領域は、ショット雑音や熱雑音に制限された領域であるため、ＳＮ比は積分時間に略比例するからである。
【００６９】
［その他の実施形態］
本発明においては、以上に述べた実施形態１から３に記載した具体的構成の詳細に限定されるものではない。
それら以外の構成においても、それぞれ構成要件の一部を本発明を逸脱しない範囲で変形して用いることができるのは言うまでもない。
例えば、実施形態３の並列走査系においては、図２（ｅ）と（ｆ）に示すように、ｙ方向を主走査として、３つの走査群１７０１、１７０２、１７０３によりｙ方向に対して重要な２箇所に重み付けを行い、その領域の感度を向上させることが可能である。その場合における走査線の様子を図２（ｅ）に示す。
なお、図２（ｅ）については、その２次元走査を高速に行う場合、それぞれの副走査をステップ上でなく連続的に行い、実際には図６（ｃ）と（ｄ）に模式的に示したような走査形態としてもよい。１３０１、１３０２、１７０１、１７０２、１７０３は、それぞれ走査線を示している。
【００７０】
また、さらなる変形例として、重み付け情報に応じて、該重み付け情報を付加した領域における走査を相対的に変化させるための光学的位置調整部を備えることが好ましい。すなわち、光学系１４０２をズーム（変倍）機能を具備した光学系で構成することが可能である。例えば、図９（ａ）に示されるように、光学系１４０２に備えられたズーム光学系１４０８により４０４から射出された３つのビームの走査範囲、即ち、各々の走査中心の間隔に変化を与えることができる。これにより、図９（ｂ）の１７０３の走査範囲から図９（ｃ）の１７０３の走査範囲にズームを行うことで、被験者によって黄班と乳頭の間隔が異なる場合にも、繋ぎ目、即ち、重み付けをして高画質化する部位に、複数ビーム間の繋ぎ目の位置を適合することが可能である。これにより、様々な被検者に対して、本発明の効果を得ることが可能となる。
【００７１】
また、例えば、光ディレイ駆動装置としては、図３（ｃ）に示すようにしてもよい。
すなわち、光ディレイ位置高速精細駆動装置４１３と光ディレイ位置大域低速駆動装置４１４を異なる参照光ミラーとして別配置し、光サーキュレータ２００１等の光結合器を用いて参照光路中にシリアル配置してもよい。
【００７２】
その他の変形例としては、例えば、図８（ａ）に概要を示すＲＳＯＤ（Ｒａｐｉｄ  Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄｅｌａｙ）により構成するものがある。これは、回折格子４１６により波長分解した光に光周波数に対して線形的な位相差を加えることによって光ディレイを構成するものである。ここで、位相差の調整は、レンズ４１９を経た光が入射する回転反射鏡４２０の角度制御により行う。
【００７３】
当該ＲＳＯＤを用いる場合，個人差によるディレイ長を角度のオフセット設定として行い、当該オフセット角度を中心にして重み付けのゼロディレイ位置調整のための角度制御を動的に加えるよう行うことが好ましい。
【００７４】
さらに、その他の変形例としては、例えば、図８（ｂ）および図６（ｅ）と（ｆ）に示すように重み付けのためのゼロディレイ位置調整部として、透明な回転円盤体２２０１を透過素子として参照光路に挿入することもできる。
【００７５】
この場合の回転円盤体２２０１には所定の段差２２０２が設けられており、回転することにより参照光路が周期的に変調される。
モータ２２０３の回転速度は主走査の繰り返しレートに同期するよう調整制御されており、従って、ゼロディレイ位置は主走査位置に合わせて周期的に変調される。
【００７６】
図６（ｇ）、（ｈ）、（ｉ）にはこの場合の重み付け画像補正の様子を模式的に示している。
【００７７】
図６（ｇ）は眼底断層とゼロディレイ位置２３０１の制御の位置関係が示されており、視神経乳頭部と黄班部の間でゼロディレイ位置が２値的に変化する。
この場合、補正なしで断層画像を構成すると、ディレイ位置を画面内で直線となるように構成されるため、図６（ｈ）のように、重み付け断層画像自体に不連続的な変位２３０２が加わる。
従って、好ましい重み付け画像補正としては、回転円盤体２２０１により加えられる光路長差情報を画像構成時に加えて処理し、図６（ｉ）のような連続的な断層画像として再構成するものである。
このような重み付け画像補正については、自動で行っても良いし、ユーザ指定により半自動や手動で行うことも可能である。
【００７８】
また、上述した実施形態、実施例においては１画素あたり積分時間を増す構成としたが、これを例えば、積分時間を増す代わりに，単位走査線長あたりの画素数を増やすことも可能であり、この場合には横解像度が重み付けされる。
【００７９】
また、例えば、第二の実施形態で説明した２つの共振周波数を持つ系については、これを３つ以上の共振周波数を持つ系で構成してもよい。
【００８０】
また、各振動子の位相差や振幅比などを適宜調整して、重要領域に適応した合成走査制御を構成することが可能であることは言うまでもない。
【００８１】
また、上記の実施形態ではゼロディレイ位置を被検物内部の深さに設定可能とし、逆フーリエ変換処理により鏡像を除去するために、所謂Ｆｕｌｌ  Ｒａｎｇｅ  Ｃｏｍｐｌｅｘ方式の構成を用いたが、本発明はこれに限定されるものではない。
例えば、ゼロディレイ位置を信号レベルの低く鏡像が実効的に無視できる網膜表面より浅部の硝子体に設定し、かつ、感度をできるだけ高めるために、上記実施形態で述べたようなゼロディレイ調整部により、網膜表面に沿って曲線的、あるいは近似的な直線の組合せに従って調整してもよい。
【００８２】
また、例えば、重み付け指定については、上述した実施形態では眼底モニタのプレスキャンとユーザ入力により行われるが、プレスキャンによる画像取得の代わりに標準眼底画像テンプレートを用いてもよい。
【００８３】
また、重要領域指定についても標準的なプリセット値を用いて自動指定してもよい。
さらに、プレスキャンを行う場合には、ＯＣＴ装置と複合化された眼底カメラ、眼軸長測定器やその他、本光断層干渉撮像装置とは別の眼科計測機器を用いることができる。
【００８４】
また、これらＯＣＴ以外の計測装置により得た計測情報を元に、標準眼底画像テンプレートを拡大／縮小、回転などの変換調整を行ったのちに表示して、それを元にユーザ指定、あるいはプリセット値を当てはめて自動指定しても良い。
【００８５】
また、特に集団検診時においては、図１０（ａ）に模式的に示すように、別の眼科測定器２４０４を検診順路の最初の方に配置し、本光断層干渉撮像装置２４０６を後ろの方に配置する。
そして、別の眼科測定器２４０４の測定後、他の検診測定器２４０５による検査中に、その情報を通信により本装置２４０６に伝送して、被験者が本検査を行う前に重要箇所の指定が終わるようにし、トータルの検査時間を短縮する構成としても良い。
【００８６】
また、本発明の高分解能のＯＣＴ光干渉計測装置は、特に集団検診における眼科スクリーニングに適応しているが、その他、皮膚、内視鏡などの生体観察ならびに、産業上の品質管理などを含み、各種の診断装置、検査装置に利用することができる。
【００８７】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。なお、記憶媒体は、コンピュータに実行させるためのプログラムを格納できるものであれば何でも良い。
【００８８】
［比較例］
次に、一般的なＦＤ−ＯＣＴについて説明する。
【００８９】
まず、図８（ｃ）に、従来例の典型的な眼科用ＦＤ−ＯＣＴを説明する模式図を示す。光源２５０１により射出した光が単一モード光ファイバ２５０２により導光され、ファイバ光結合器２５０３に入射する。ファイバ光結合器２５０３は所謂２ｘ２タイプであり、ファイバ２５０２からの入射光を２つの出力ファイバに分岐する。一方の出力ファイバはマイケルソン干渉計の信号光路である人眼底撮像光学系に接続され、他方の出力ファイバは干渉計の参照光路に接続される。信号光路においては、ファイバ端より射出した光はコリメートレンズ２５０４によって平行光に変換され、空間を伝搬し、ＸＹスキャナ２５０５に入射する。ＸＹスキャナ２５０５は２次元的な反射角度制御を行う反射型の光走査装置であり、反射された信号光は走査レンズ２５０６と接眼レンズ２５０７により、導光されて、人眼２５０８に入射する。ＸＹスキャナ、走査レンズ、接眼レンズにより構成された走査光学系により平行光である信号光は眼の光学作用を含めて、眼底観察対象部位２５０９に集光され、かつ、その位置は眼底上の光軸に略垂直な面上を２次元的に走査される。接眼レンズ２５０７により深さ方向のフォーカス位置が調整される。走査とフォーカスの制御は、ＸＹスキャナ２５０５およびフォーカス駆動アクチュエータ２５１０が接続された制御・信号処理部２６０１によって、他の制御とあわせて統合的に行われる。眼底観察対象部位２５０９からの反射光、後方散乱光のうち略同一の光路を通って逆方向に進行する信号光は再びコリメートレンズ２５０４を介してファイバ光結合器２５０３に戻る。
【００９０】
一方、参照光はファイバ光結合器２５０３より分岐され、コリメートレンズ２５０４により平行光に変換され、光ディレイ駆動装置２５１２上に設置された参照光ミラー２５１１にてその光路を逆向きに進行するように反射される。参照光ミラー２５１１の位置は光ディレイ駆動装置２５１２の制御を行うことによって、参照光路のトータルの光路長が信号光路を基準として所定の長さとなるよう、特に個人差のある眼軸長の補正を含めて、調整・制御される。参照光ミラー２５１１は制御・信号処理部２６０１に接続されており、他の制御とあわせて統合的にその制御が行われる。逆向きに進行した参照光は再びコリメートレンズ２５０４を介してファイバ光結合器２５０３に戻る。
ファイバ光結合器２５０３に戻った信号光および参照光は、それぞれ分岐されて光源２５０１へ戻る成分と干渉光受光系へ向かう成分に分かれるが、信号光と参照光は同一の単一モードファイバを伝播し、即ち、重ね合わさり、光干渉を生じる。
干渉光受光系は、この例においては分光器であり、この例におけるＯＣＴはスペクトル干渉を計測する手法によるＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ  Ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ）を構成する。コリメートレンズ２５０４により平行光となり、反射ミラーによって回折格子２５１４に導かれた干渉光は回折格子の作用により、その１次回折光が、含まれる波長成分に応じて異なる角度へ進行する。異なる角度で結像レンズ２５１５へ入射した干渉光の各波長成分はそれぞれの角度に応じてラインセンサ２５１６上の異なる位置に結像され、ラインセンサのそれぞれの画素に応じた光強度として読み出され、制御・信号処理部２６０１へ信号が伝送される。
【００９１】
また、このような従来例における制御・信号処理部の具体的構成について、図４（ｂ）を用いて説明する。制御・信号処理部２６０１では、ＸＹスキャナ２５０５、光ディレイ駆動装置２５１２、フォーカス駆動装置２５１０、ラインセンサ２５１６の各々を制御し、一方で角度、位置、光信号を検出した信号を受け取るドライバおよび取込部がそれぞれ具備されている。このうち、ライン画像取込部２６０７でラインセンサから伝送された光強度信号列をＦＦＴ処理部２６０８によって高速で逆フーリエ変換処理し、その結果が中央処理部２６０３に送られる。中央処理部２６０３では、時系列で送られてくる逆フーリエ変換後のデジタル光干渉信号をＸＹスキャナドライバ２６０２からのスキャナ位置信号・同期信号、光ディレイ装置ドライバ２６０５からのディレイ位置信号・同期信号、および、フォーカスドライバ２６０６からのフォーカス位置信号と比較し、これによって、光干渉信号と眼底観察対象部位上の位置とを対応付ける。その後、所定の画素毎に光干渉信号が割り振られ、画像化が行われ、画像表示部２６０４に表示される。このようなＦＤ−ＯＣＴにより、眼底について１〜３秒程度の撮像時間での３次元測定が可能となっている。
【００９２】
さらに、従来のＯＣＴの走査手法について説明する。
【００９３】
図７（ｆ）は、従来例における光干渉計測装置の走査様態の一例を示す模式図である。ＯＣＴ撮像範囲２７０１はＯＣＴの横方向の撮像範囲を模式的に示す上面図であり、横方向の２軸はｘ軸とｙ軸とし、図中に記載した方向をそれぞれ持つ。ＯＣＴ撮像範囲２７０１に対して、走査線２７０２はその一本一本が所謂主走査を模式的に表すものであり、この従来例においては、主走査方向はｘ方向である。ｙ方向に複数配置された走査線により、２次元な走査が行われる。ＯＣＴでは一つの走査線内に走査方向に沿って１次元的に画素が配列されており、画素一つ一つについて、紙面垂直方向の深さ方向（以下、深さ方向をｚ方向とする。）に対する光反射率をベースとした光断層情報が得られる。従って、このような２次元走査により３次元的な断層データが取得される。
【００９４】
次に、従来例における撮像装置の走査制御の一例について、図７（ｅ）と（ｆ）を用いて説明する。図７（ｅ）には走査時間ｔおよび走査位置ｘについて、１画素あたり積分時間Ｔｐ、走査速度Ｖ、走査位置ｘをグラフとして示した。一方、対応する走査の様子をその往路、復路と走査位置ｘを含めて図７（ｆ）に示した。ここで、図７（ｅ）のＴは、往路復路走査の合計時間であり、即ち、主走査の周期を表す。往路はｔ＝０からＴ／２まで、復路はＴ／２からＴまでに対応し、ｘの位置は往路がｘ＝０からＸまで、復路がｘ＝Ｘから逆進し０までとなる。この例においては、走査位置ｘを時間ｔの関数としてｘ（ｔ）をできる限り三角波的に制御している。これは即ち、走査線上で速度Ｖを走査位置ｘの関数Ｖ（ｘ）としてできる限り一定に、即ち、等速に制御し、均質な画質を得ることを目的としている。その結果として、１画素あたり積分時間Ｔｐは走査位置ｘの関数Ｔｐ（ｘ）としてできる限り一定に構成されている。
【００９５】
しかしながら、一般にＯＣＴの３次元取得、即ち、２次元走査においては、走査線上には密に画素が配置されており、一方で走査線に垂直な副走査方向には画素間距離、即ち、走査線の間隔が疎である。これを調整する意味で主走査方向と副走査方向を入れ替えて、図１０（ｂ）のように格子上に走査線を配置する構成が用いられる場合がある。なお、図１０（ｂ）は、従来例における光干渉計測装置の走査線構成の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【００９６】
１０１  重み付け個別情報指定部
１０２  重み付け情報統合処理部
１０３  重み付け制御パラメータ最適化計算部
１０４  横方向重み付け制御部
１０５  縦方向重み付け制御部
１０６  光干渉断層計測部
１０７  重み付け画像補正部
１０８  画像表示部
１０９  画像情報記憶部
【図１】
2010169660.tif 000003
【図２】
2010169660.tif 000004
【図３】
2010169660.tif 000005
【図４】
2010169660.tif 000006
【図５】
2010169660.tif 000007
【図６】
2010169660.tif 000008
【図７】
2010169660.tif 000009
【図８】
2010169660.tif 000010
【図９】
2010169660.tif 000011
【図１０】
2010169660.tif 000012