(57)【要約】【課題】ランプ機構を備えたディスク装置において、動作中にスライダの浮上面に付着した異物を、ランプ機構を利用して確実に除去可能にする。【解決手段】磁気ヘッドを備えたスライダ５３が取り付けられたロードビーム５０の先端部を保持することにより、スライダ５３をディスク４の外側に退避させることができるランプ機構１０を備えた記憶装置において、ランプ機構１０に、スライダ５３の退避位置Ｐに対してディスク４から遠い側にクリーニング位置ＨＣを設け、ランプ機構１０の近傍に、スライダ５３がクリーニング位置ＨＣにある時に、スライダ５３の浮上面全体に接触可能な接触面を備えたクリーニング板２１を設け、クリーニング板２１にはヒータを内蔵させる。ヒータは、ロードビーム５０の先端部が退避部Ｔからクリーニング部Ｋに移動する時に通電してクリーニング板２１を加熱する。【選択図】図４
2010205367.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ヘッドを備えたスライダが取り付けられたスイングアームの先端部を保持することにより、前記スライダをディスクの表面から退避させるランプ機構を備えた記憶装置において、
前記ランプ機構に、前記スライダの退避位置に対して、前記ディスクから遠い側にクリーニング位置を設け、
前記ランプ機構の近傍に、前記スライダが前記クリーニング位置にある時に、前記スライダの浮上面に対向するクリーニング面を備えたクリーニング板を配置し、
前記クリーニング板にはヒータを内蔵させたことを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
前記クリーニング板は、前記記憶装置のベースハウジングに突設した保持台によって片持ち支持させたことを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項３】
前記クリーニング板は、前記ランプ機構に設けたアームの先端部に保持させたことを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項４】
前記ランプ機構の前記スイングアームの先端部をガイドするランプレール部には、前記退避位置に対応する退避部と、前記クリーニング位置に対応するクリーニング部とを設け、
前記クリーニング部は前記退避部に対して一段窪ませて形成すると共に、前記退避部と前記クリーニング部は滑らかに接続し、
前記スイングアームの先端部が前記退避部から前記クリーニング部に移動する時に、前記スライダが前記クリーニング機構のクリーニング面に斜め方向から接近して接触する
-ようにしたことを特徴とする請求項１から３の何れか１項に記載の記憶装置。
【請求項５】
前記ヒータは、前記スイングアームの先端部が前記退避部から前記クリーニング部に移動する直前、或いは移動した直後に通電されて前記クリーニング板を加熱するようにしたことを特徴とする請求項１から４の何れか１項に記載のランプ機構を備えた記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は記憶装置に関し、特に、ロード／アンロード方式の磁気ディスク装置のような記憶装置において、ヘッドを搭載するスライダの浮上面に付着した異物を、ヘッドのアンロード時に除去可能なランプ機構を備えた記憶装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、コンピュータにおけるデータの保存は、電源の供給が停止してもデータを保存することができる外部記憶装置によってなされている。この外部記憶装置には、半導体メモリ、光ディスク、及び磁気ディスク等の記憶媒体が用いられるが、記憶容量が大きいことから、磁気ディスクを搭載する磁気ディスク装置が普及している。磁気ディスク装置は、磁性層を形成したデータ記憶用の円板と、円板に対してデータを読み書きする磁気ヘッドから構成されるハードディスク装置が主流である。ハードディスク装置に使用される円板は、磁性層を形成したアルミニウムやガラスのディスクを何枚も重ねあわせた構造になっている。そして、円板をモータで高速に回転させることにより円板上に浮上するスライダに取り付けられた磁気ヘッドによってデータを読み書きする。
【０００３】
ハードディスク装置には、コンタクト・スタート・ストップ（ＣＳＳ）方式のハードディスク装置と、ロード／アンロード方式のハードディスク装置がある。ＣＳＳ方式は、磁気ディスク停止時に、磁気ヘッドを備えたスライダが磁気ディスクの上に着地し、磁気ディスクの回転時にスライダが磁気ディスクから浮上する方式である。これまではＣＳＳ方式が主流であった。一方、近年、このＣＳＳ方式に代わり、ロード／アンロード方式が普及している。
【０００４】
ロード／アンロード方式は、磁気ディスクの停止時に、スイングアーム先端部に設けられたスライダを磁気ディスク上からアンロードし、磁気ディスクの回転時に、スライダを磁気ディスク上にロードする方式である。ロード／アンロード方式のハードディスク装置では、スライダのアンロード時にスライダを保持させるためのリフトタブが、スイングアームの先端部に突設されている。ハードディスク装置の磁気ディスクの外周部近傍の筐体（ベースハウジング）に設けられたランプ機構は、スライダのアンロード時にこのリフトタブをガイドして保持するためのものである。
【０００５】
ロード／アンロード方式では、スライダを磁気ディスク上からアンロードする時に、スイングアームを磁気ディスクの外側方向に回転させると、リフトタブがランプ機構にガイドされて保持され、スライダが磁気ディスクに対向しなくなる。このようなロード／アンロード方式のハードディスク装置は、耐衝撃性が求められる磁気ディスク装置において多く用いられている。
【０００６】
ところで、磁気ディスク装置では、ディスク媒体の潤滑剤やグリース、或いはこれらと混じった塵埃等の異物がスライダの浮上面に付着することがある。異物がスライダの浮上面に付着すると、磁気ヘッドのリード／ライト障害が起き易く、最悪の場合はヘッドクラシュが発生する。ＣＳＳ方式のディスク装置では、スライダの浮上面に付着した媒体潤滑剤やグリース、或いはこれらと混じった塵埃等の異物は、磁気ディスクの回転／停止の都度、ディスク媒体とスライダが接触することにより除去される。
【０００７】
一方、ロード／アンロード方式のディスク装置では、磁気ディスクの回転停止時にスライダはランプ機構に保持されるので、スライダは媒体とは接触しない。従って、ロード／アンロード方式のディスク装置では、スライダの浮上面に媒体潤滑剤やグリース、或いはこれらと混じった塵埃等の異物が付着すると、異物が付着したまま除去されないという課題があった。
【０００８】
この課題に対して、ロード／アンロード方式のディスク装置において、スライダをディスクからランプ機構へアンロードする時、及びランプ機構からディスクへロードする時に、スライダの浮上面をブラシで擦ってクリーニングするものがある（特許文献１参照）。また、ロード／アンロード方式のディスク装置において、スライダのランプ機構へのアンロード時、通常のランプ機構とは別の待機領域／拭き取り領域で液体をスライダに吹き付けた後に拭き取るものがある（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００１−８４５３９号公報
【特許文献２】特開２００３−１３２５１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、スライダの浮上面に媒体潤滑剤やグリース、或いはこれらと混じった塵埃等の異物は油性であり、スライダ表面を単にブラシで擦っただけ、或いは液体を吹き付けた後に拭き取るだけでは除去され難いという課題があった。
【００１１】
そこで、この出願は、スライダの浮上面に付着した異物を、スライダがランプ機構にアンロードされる時に、ランプ機構を利用して確実に除去することが可能なランプ機構を備えたディスク装置に代表される記憶装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記目的を達成する本出願の記憶装置は、磁気ヘッドを備えたスライダが取り付けられたスイングアームの先端部を保持することにより、スライダをディスクの表面から退避させるランプ機構を備えた記憶装置において、ランプ機構に、スライダの退避位置に対して、ディスクから遠い側にクリーニング位置を設け、ランプ機構の近傍に、スライダがクリーニング位置にある時に、スライダの浮上面に対向するクリーニング面を備えたクリーニング板を配置し、クリーニング板にはヒータを内蔵させたことを特徴としている。
【００１３】
この場合、クリーニング板は、記憶装置のベースハウジングに突設した保持台によって片持ち支持させるか、或いは、ランプ機構に設けたアームの先端部に保持させれば良い。また、ランプ機構のロードビームの先端部をガイドするランプレール部には、退避位置に対応する退避部と、クリーニング位置に対応するクリーニング部とを設け、クリーニング部は退避部に対して一段窪ませて形成すると共に、退避部とクリーニング部は滑らかに接続し、スイングアームの先端部が退避部からクリーニング部に移動する時に、スライダがクリーニング部のクリーニング面に斜め方向から接近して接触するようにする。更に、ヒータには、スイングアームの先端部が退避部からクリーニング部に移動する直前、或いは移動した直後に通電してクリーニング部を加熱するようにすれば良い。
【発明の効果】
【００１４】
本出願によれば、ランプ機構を備えたディスク装置において、スライダがランプ機構に設けたクリーニング位置に来た時にその浮上面全体を、ヒータで加熱されたクリーニング板のクリーニング面に接触、或いは近接させるようにしたので、温度で異物が溶けて異物が確実に除去される。また、ヒータは、スイングアームの先端部が退避部からクリーニング位置に移動する直前、或いは移動した直後に通電するようにしたので、記憶装置における電力消費量を抑えることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】（ａ）はこの出願の一実施例のランプ機構を備えた記憶装置であるハードディスク装置の構成を示す平面図、（ｂ）は（ａ）のランプ機構にスイングアームがリフトタブを介して保持された状態を示す部分拡大斜視図である。
【図２】（ａ）は図１（ａ）のランプ機構の部分を部分的に拡大して示す部分拡大平面図、（ｂ）は（ａ）に示すランプ機構を矢印Ａ方向から見た側面図、（ｃ）は（ａ）に示すクリーニング機構の側面図である。
【図３】（ａ）は図１（ａ）に示すハードディスク装置に使用されるスイングアームの先端部の構成を示す組み立て斜視図、（ｂ）は（ａ）の組み立て後の状態を示す斜視図、（ｃ）は（ｂ）の側面図である。
【図４】（ａ）はこの出願のハードディスク装置におけるスライダの、動作位置、退避位置、及びクリーニング位置を説明する部分拡大平面図、（ｂ）は（ａ）に示すスライダの退避位置における状態と、クリーニング位置におけるスライダとクリーニング機構との関係を示す部分拡大側面図である。
【図５】（ａ）は図４（ａ）、（ｂ）に示すスライダの退避位置における１つのスライダの状態を、図４（ａ）の矢印Ｂ方向から見た図、（ｂ）は図４（ａ）、（ｂ）に示すスライダのクリーニング位置における１つのスライダの状態を、図４（ａ）の矢印Ｂ方向から見た図である。
【図６】（ａ）はこの出願のランプ機構の別の実施例の構成を示すランプ機構の部分拡大平面図、（ｂ）は（ａ）のＣ‐Ｃ線における断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、添付図面を用いてこの出願のハードディスク装置の実施の形態を、具体的な実施例に基づいて詳細に説明する。
【００１７】
図１（ａ）は、この出願が適用されるロード／アンロード方式のハードディスク装置１の一実施例の構成を示すものである。ハードディスク装置１のベースハウジング２の上の一方の側には、記憶媒体として、スピンドルモータ３によって回転する少なくとも１枚の磁気ディスク４があり、この磁気ディスク４にはデータ記録用の多数のトラックがある。
【００１８】
ハードディスク装置１のベースハウジング２の上の他方の側には、磁気ディスク４のトラックにアクセスしてデータの読み書きを行う磁気ヘッド（図示せず）を先端部分に備えるスイングアーム５がある。スイングアーム５は回転軸６を中心にして揺動するように構成されており、回転軸６に対してスイングアーム５と反対側には、スイングアーム５をスイング動作させるボイスコイルモータ（以後ＶＣＭという）７がある。ヘッドによって磁気ディスク４から読み出された信号、或いはヘッドによって磁気ディスク４に書き込む信号は、読み書き回路を備えた制御回路基板８で処理される。
【００１９】
また、ロード／アンロード方式のハードディスク装置１が動作を停止している間は、制御回路基板８に搭載されたマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）１８がＶＣＭ７を駆動し、磁気ヘッドが設けられたスライダを磁気ディスク４の上からアンロードする。このスライダのアンロード時には、スライダが磁気ディスク４に接触しないように、スライダを磁気ディスク４の外側に退避させて保持する。このため、ロード／アンロード方式のハードディスク装置１には、磁気ディスク４の外周部近傍のベースハウジング２の上に、スイングアーム５の先端部を保持するランプ機構１０がある。スイングアーム５の先端部には、このランプ機構１０に係合するリフトタブ（図１（ｂ）に符号９で示す）がある。
【００２０】
逆に、ハードディスク装置１が動作停止状態から動作して磁気ディスク４が回転した時には、制御回路基板８に搭載されたＭＰＵ１８がＶＣＭ７を駆動し、ランプ機構１０からスライダを磁気ディスク４の上に移動させて所望のトラックに位置決めする。このようなスライダのロード／アンロード動作、及び前述のスライダを介してデータを磁気ディスク４に対して読み書き処理は、実際には制御回路基板８に搭載されたＭＰＵ１８が行う。制御回路基板８にはＭＰＵ１８の他に、メモリや入出力回路等があるが、制御回路基板８としては公知の構成のものを使用でき、本出願の特徴ではないので、これ以上の説明を省略する。本出願の制御回路基板８は、前述の磁気ディスク４に対するデータの読み書き処理を行う機能の他、ＶＣＭ７を駆動してスイングアーム５のスイング動作を行う機能、及び後述するスライダのクリーニング処理を行う機能を有する。
【００２１】
なお、図１（ａ）には制御回路基板８はベース２に搭載されているように記載されているが、制御回路基板８は実際にはフレキシブル回路基板（ＦＰＣ）であることが多い。ＦＰＣがベース２の外部にある回路基板に接続される場合には、ＭＰＵはベース２の外部にある回路基板に搭載されたＭＰＵであっても良い。
【００２２】
ランプ機構１０は、図１（ｂ）に示すように、樹脂製の複雑な形状をしており、その本体１１がベースハウジング２に固定されている。ランプ機構１０の本体１１には、スイングアーム５の先端部に設けられたリフトタブ９を保持する複数本のレール部１２があり、このレール部１２にアンロード時にリフトタブ９を保持する退避部Ｐがある。退避部Ｐはパーキング部とも呼ばれる。
【００２３】
１枚の磁気ディスク４は、その両面がデータの記録面である。したがって、１枚の磁気ディスク４に対して、スライダ５３は磁気ディスク４を挟んで２つ設けられており、スイングアーム５もスライダ５３の個数と同じ枚数ある。このため、レール部１２はその上面と下面の両方に、リフトタブ９をこの図に符号Ｐで示す退避位置（パーキング位置）まで導く誘導通路１４が形成されている。アンロード時にはリフトタブ９が退避位置Ｐにおいて振動が抑止された状態で保持されるので、ヘッドの耐振動性が良い。
【００２４】
２本のレール部１２のディスク側の先端部側の間の部分には切欠部１５があり、磁気ディスク４の外周部がこの切欠部１５の中にある。即ち、磁気ディスク４の外周部はランプ機構１０の端部とオーバラップしている。また、レール部１２のディスク側の先端部は、スイングアーム５の退避時に、スイングアーム５の先端部にあるリフトタブ９をスムーズにレール部１２の上に導くためのガイド斜面１６となっている。スイングアーム５の退避時に、リフトタブ９はまずこのガイド斜面１６に当接し、このガイド斜面１６上を摺動しながらレール部１２に保持され、その後誘導通路１４を通って退避位置Ｐに至る。
【００２５】
このようなロード／アンロード方式のハードディスク装置１において、この出願では、ランプ機構１０のスイングアーム５の退避位置Ｐに対して、磁気ディスク４から遠い側に、更に、スイングアーム５のクリーニング位置ＨＣを設けた。そして、スイングアーム５がこのクリーニング位置ＨＣに来た時に、スライダ５３の浮上面に接するクリーニング面を備えたクリーニング機構２０を、ランプ機構１０の近傍に設けた。この実施例のクリーニング機構２０は、ベースハウジング２に突設した支持用ポスト２２、支持アーム２３、及び支持アーム２３の先端部に設けられた加熱クリーニング板２１から構成した。
【００２６】
図２（ａ）〜（ｃ）は、図１（ａ）、（ｂ）に示したランプ機構１０とクリーニング機構２０の一実施例の構成を詳細に示すものである。まず、ランプ機構１０の構成について説明する。この実施例のランプ機構１０は、磁気ディスク４が２枚設けられたハードディスク装置に使用されるものである。従って、ランプ機構１０の本体１１には、この本体１１のハードディスク装置のスイングアームに対向する側の湾曲した面に、２条のレール部１２と３条のガイド突起１７が突設されている。
【００２７】
各レール部１２には、磁気ディスク４を受け入れる切欠部１５と、リフトタブをレール部１２の上に滑らかに導くガイド斜面１６がある。また、レール部１２の湾曲面の中程には、突起部１３がレール部１２の長手方向に沿って突設されている。２条のレール部１２のリフトタブが摺動する面と、この摺動面に対向する３条のガイド突起１７との間には、４つのリフトタブの誘導通路１４が形成されている。１つのレール部１２の上下方向にある誘導通路１４は、磁気ディスク４に近い側では所定距離Ｄだけ離間している。
【００２８】
一方、レール部１２とガイド突起１７の上下方向にある誘導通路１４間の距離は、磁気ディスク４から所定距離離れた位置でスロープを設けて縮め、スイングアーム５の退避位置Ｐでは誘導通路１４の距離を距離Ｄより小さくして退避部Ｔとした。ガイド突起１７のレール部１２に対向する面の形状もレール部１２と同様に変化させたので、誘導通路１４の高さは変わらない。前述のように、この出願では、ランプ機構１０のスイングアーム５の退避位置Ｐに対して、磁気ディスク４から遠い側に、スイングアーム５のクリーニング位置ＨＣを設けている。
【００２９】
そして、クリーニング位置ＨＣにおける誘導通路１４間の距離を、退避位置Ｐとクリーニング位置ＨＣとの間にスロープを設けて更に縮めてクリーニング部Ｋとした。ガイド突起１７のレール部１２に対向する面の形状もレール部１２と同様に変化させたので、誘導通路１４の高さは変わらない。また、ＭＰＵ１８の制御プログラムを変更し、ＭＰＵ１８によってＶＣＭ７を駆動することにより、スイングアーム５が退避位置Ｐからクリーニング位置ＨＣに移動できるようにした。
【００３０】
以上のように構成したランプ機構１０に対して、クリーニング機構２０は、以下のようにしてランプ機構１０の近傍に設置した。即ち、クリーニング機構２０の加熱クリーニング板２１は、スイングアーム５がクリーニング位置ＨＣに来た時に、各スライダ５３の浮上面にクリーニング面が接するように２つ用意し、それぞれ支持アーム２３で方持ちして支持用ポスト２２に取り付けた。支持用ポスト２２はベースハウジング２に突設した。この実施例では磁気ディスク４が２枚あるので、支持用ポスト２２には２本の支持アーム２３を突設して２つの加熱クリーニング板２１を支持させたが、加熱クリーニング板２１の数は、磁気ディスク４の枚数に応じて増減させれば良い。
【００３１】
加熱クリーニング板２１にはヒータ（図示せず）を内装させ、各ヒータには支持用ポスト２２を通した通電回路２４を接続する。この通電回路２４はワイヤ２５で引き出し、所定の電源に接続する。電源は、図１（ａ）に示した制御回路基板８にある電源（１〜１２Ｖ）とすることができるが、別の電源に接続しても良い。また、スライダに接触する加熱クリーニング板２１のクリーニング面は、スライダが吸着しないようにラップマシンでラップし、算術平均粗さＲａが１ｎｍ以上の表面粗さを持つようにした。また、加熱クリーニング板２１は、セラミック等の材質で構成し、ヒータを一体成型して形成することができる。加熱クリーニング板２１の、厚さは０．６ｍｍ程度、スライダの摺動方向の長さは２．５〜３ｍｍ程度、幅は２．０ｍｍ程度とすれば良い。
【００３２】
ここで、この出願のハードディスク装置１に使用されるスイングアーム５の先端部の構成について、図３（ａ）〜（ｃ）を用いて説明する。図３（ａ）に示すように、スイングアーム５の先端部にはロードビーム５０が設けられている。ロードビーム５０は先端部が細くなっており、この先端部にリフトタブ９が設けられている。リフトタブ９は前述のランプ機構１０のレール部１２の上を滑らかに摺動するように摺動面が湾曲面に形成されている。そして、ロードビーム５０のリフトタブ９に隣接する部分には、スライダ５３が取り付けられたフレキシャー５２が、図３（ｂ）に×印で示すように溶接によって取り付けられる。フレキシャー５２はばね性を備える矩形の金属板である。
【００３３】
一方、ロードビーム５０のフレキシャー５２に対向する面には、フレキシャー５２の先端部を、図３（ｃ）に示すように、ロードビーム５０の先端部から離間させるためのドーム状の突起であるディンプル５１が形成されている。ディンプル５１を設けるロードビーム５０の上の位置は、フレキシャー５２がロードビーム５０に取り付けられた時に、スライダ５３の中心部に対向する位置とすれば良い。
【００３４】
次に、以上のように構成されたランプ機構１０及びクリーニング機構２０により、スライダの浮上面がクリーニングされる動作を、図４及び図５を用いて説明する。図４（ａ）はスライダ５３の、動作位置Ｍ、退避位置Ｐ、及びクリーニング位置ＨＣを示しており、図４（ｂ）は（ａ）に示すスライダ５３の、退避位置Ｐにおける状態と、クリーニング位置ＨＣにおけるクリーニング機構２０との関係を示している。なお、動作位置Ｍは磁気ディスクの上の位置であれば良く、固定位置ではない。また、図５（ａ）、（ｂ）は、図４（ａ）、（ｂ）に示すスライダ５３の退避位置Ｐとクリーニング位置ＨＣにおけるスライダ５３の状態を、図４（ａ）の矢印Ｂ方向から見た状態を示している。但し、図５（ａ）、（ｂ）にはスライダ５３は１つのみしか示していない。
【００３５】
図４（ａ）に示すスライダ５３の動作位置Ｍでは、磁気ディスク４は回転しており、スライダ５３は磁気ディスク４の表面に対して浮上している。このときは、図１（ａ）に示したＭＰＵ１８によってスライダ５３は磁気ディスク４に対してデータの読出し、或いはデータの書き込み処理を行っている。ＭＰＵ１８に設けられた前述の読み書き回路は、スライダ５３への異物の付着をスライダ５３によって磁気ディスク４から読み出されたデータ信号のレベルを常に監視することによって行うことができる。例えば、読み書き回路は、磁気ディスク４から読み出されたデータの信号レベルが変動した時には、この変動を過去のデータ信号のレベルの変化履歴と比較することにより、スライダ５３の汚れを判定することができる。
【００３６】
スライダ５３によって磁気ディスク４から読み出されたデータ信号のレベルに異常がない場合は、スライダ５３はクリーニングする必要がない。このときは、磁気ディスク４の回転が停止すると、ＭＰＵ１８がＶＣＭを駆動してスイングアーム５をランプ機構１０側に回転させ、ロードビーム５０の先端部にあるリフトタブ９をレール部１２の退避位置Ｐまで移動するだけである。この状態が、図４（ｂ）の左側、及び図５（ａ）に示す状態である。
【００３７】
一方、スライダ５３に搭載されたヘッドからリード／ライト障害が発生した状態の信号が得られた異常時に、この異常がスライダ５３の汚れに起因するとＭＰＵ１８が判定した場合は、スライダ５３のクリーニング処理が実施される。クリーニング処理では、磁気ディスク４の回転が停止すると、ＭＰＵ１８がＶＣＭを駆動してスイングアーム５をランプ機構１０側に回転させ、リフトタブ９をまずレール部１２の退避位置Ｐ（退避部Ｔ）まで移動させ、ここでスイングアーム５の回転を一旦停止させる。
【００３８】
次いで、ＭＰＵ１８はＶＣＭを駆動してスイングアーム５を退避位置Ｐから更に回転させるので、リフトタブ９がレール部１２のクリーニング位置ＨＣ（クリーニング部Ｋ）まで到達する。この時、誘導通路１４にあるスロープ１２Ｓにより、磁気ディスクの上側にあるスライダ５３は位置が下降し、磁気ディスクの下側にあるスライダ５３は位置が上昇する。そして、スライダ５３は加熱クリーニング板２１のクリーニング面に、斜め上方から、或いは斜め下方から接近して接触する。スライダ５３が加熱クリーニング板２１に対して斜め方向から接触する際に、スライダ５３は加熱クリーニング板２１に対して傾くが、スライダ５３はフレキシャー５２を介してディンプル５１で支えられており自由度があるので問題ない。この状態が、図４（ｂ）の右側、及び図５（ｂ）に示す状態である。
【００３９】
ＭＰＵ１８は、スライダ５３を退避位置Ｐからクリーニング位置ＨＣに移動させる時に、加熱クリーニング板２１にあるヒータに予め通電して加熱する。加熱クリーニング板２１の温度は、スライダ５３に熱障害がなく、スライダ５３に付着する可能性のある媒体の潤滑剤やグリースの粘度を低下させる温度に応じて予め決定され、図示しないメモリに記憶されている。加熱クリーニング板２１の温度は、例えば２００°Ｃにすれば良い。加熱クリーニング板２１を２００°Ｃまで上昇させるまでの時間は、加熱クリーニング板２１が小さいため、数秒程度以下である。このため、ヒータへの通電は、スライダ５３が退避位置Ｐからクリーニング位置ＨＣに移動した後でも良い。
【００４０】
ＭＰＵ１８は、スライダ５３をクリーニングするために、スライダ５３をランプ機構１０のクリーニング位置ＨＣまで移動させた後は、スライダ５３をその位置で数秒間停止させる。これは、スライダ５３の浮上面に付着した潤滑剤やグリース等の粘度をヒータの熱で低くするためである。その後、ＭＰＵ１８はＶＣＭを駆動して、スライダ５３を加熱クリーニング板２１に接触させたままスイングアームを数回往復動作させるクリーニング処理を行う。スイングアームの往復動作により、スライダ５３が加熱クリーニング板２１上を往復動するので、スライダ５３の表面に付着した異物が擦れて除去される。クリーニング処理が終了すると、ＭＰＵ１８は、ＶＣＭを駆動してスイングアームを回転させ、スライダ５３を退避位置Ｐに戻す。
【００４１】
ＭＰＵ１８は、スライダ５３をクリーニング位置ＨＣから退避位置Ｐに戻した後は、その数秒後から加熱クリーニング板２１のヒータへの通電量を増やす。通電量が増えると、加熱クリーニング板２１の温度が２００〜４００°Ｃに上昇する。ＭＰＵ１８はこの通電量の増大処理を所定時間、例えば、１分間保持する。加熱クリーニング板２１が高温になることにより、スライダ５３の浮上面から剥離されて加熱クリーニング板２１に付着した媒体の潤滑剤やグリースが蒸発する。蒸発した潤滑剤やグリースは非常に微量であるため、蒸発させたままでも問題はない。
【００４２】
なお、図４(ａ)に示したスライダ５３の動作位置Ｍから、ランプ機構１０におけるスライダ５３の退避位置Ｐまでは、ＭＰＵ１８はスイングアームを従来通り高速で回転させる。一方、退避位置Ｐからクリーニング位置ＨＣまでのスライダ５３の移動と、加熱クリーニング板２１の上でのスライダ５３の移動は、スライダ５３が加熱クリーニング板２１と接触するためスイングアームの回転速度を遅くする必要がある。このため、ＭＰＵ１８は退避位置Ｐからクリーニング位置ＨＣまでのスライダ５３の移動と、加熱クリーニング板２１の上でのスライダ５３の移動時には、スイングアームの回転速度を１０ｍｍ／秒以下の速度、例えば１ｍｍ／秒程度と遅くする。
【００４３】
以上のように、ＭＰＵ１８は、スライダ５３に搭載されたヘッドからリード／ライト障害が発生した状態の信号が得られた異常時には、クリーニングによってヘッドのリード／ライト障害が解消する可能性があるのでクリーニングを行う。一方、ＭＰＵ１８はハードディスク装置の稼動時間をカウントする機能を備えているので、異常時でなくとも、スライダ５３の動作時間が長時間、例えば１ケ月に渡った場合にもクリーニングを行わせることができる。この場合は、長時間の動作によってスライダ５３に媒体の潤滑油やグリースが付着した可能性があるのでクリーニングを行うのである。
【００４４】
なお、以上説明した実施例では、クリーニング機構２０がランプ機構１０の近傍に独立して設置されていた。一方、クリーニング機構２０の加熱クリーニング板２１は、ランプ機構１０の一部に支持させて設けることもできる。図７（ａ）、(ｂ)はこの出願のランプ機構の別の実施例の構成を示すランプ機構２０の構成を示している。この実施例では、加熱クリーニング板２１を、ランプ機構の突起部１３に設けた支持アーム２６によってランプ機構１０に支持させている。この場合は、加熱クリーニング板２１のヒータに接続する通電回路は、ランプ機構１０の中に設ければ良い。
【００４５】
更に別の実施例として、２００°Ｃ程度の温度で蒸発する媒体潤滑剤を使用した場合には、スライダ５３を加熱クリーニング板２１に接触させない状態で、加熱クリーニング板２１を加熱する構成が考えられる。この場合は、ランプ機構１０の退避位置Ｐに続くスロープ１２Ｓの長さを短くし、クリーニング位置ＨＣにおけるレール部１２の高さを前述の実施例よりも高くする。そうすれば、スライダ５３がクリーニング位置ＨＣに来ても、スライダ５３の浮上面が加熱クリーニング板２１に近接するが接触しなくなる。そして、この状態で加熱クリーニング板２１のヒータに通電してその温度を２００°Ｃ以上に上げれば、加熱クリーニング板２１の熱でスライダ５３に付着した潤滑剤を蒸発させることができる。
【００４６】
以上、本発明を特にその好ましい実施の形態を参照して詳細に説明した。本発明の容易な理解のために、本発明の具体的な形態を以下に付記する。
【００４７】
（付記１）  磁気ヘッドを備えたスライダが取り付けられたスイングアームの先端部を保持することにより、前記スライダをディスクの表面から退避させるランプ機構を備えた記憶装置において、
前記ランプ機構に、前記スライダの退避位置に対して、前記ディスクから遠い側にクリーニング位置を設け、
前記ランプ機構の近傍に、前記スライダが前記クリーニング位置にある時に、前記スライダの浮上面に対向するクリーニング面を備えたクリーニング板を配置し、
前記クリーニング板にはヒータを内蔵させたことを特徴とする記憶装置。
（付記２）  前記クリーニング板のクリーニング面は、前記スライダが前記クリーニング位置にある時に、前記スライダの浮上面全面に接触することを特徴とする付記１に記載の記憶装置。
（付記３）  前記クリーニング板は、前記記憶装置のベースハウジングに突設した保持台によって片持ち支持させたことを特徴とする付記１又は２に記載の記憶装置。
（付記４）  前記クリーニング板は、前記ランプ機構に設けたアームの先端部に保持させたことを特徴とする付記１又は２に記載の記憶装置。
（付記５）  前記ランプ機構の前記スイングアームの先端部をガイドするランプレール部には、前記退避位置に対応する退避部と、前記クリーニング位置に対応するクリーニング部とを設け、
前記クリーニング部は前記退避部に対して一段窪ませて形成すると共に、前記退避部と前記クリーニング部は滑らかに接続し、
前記スイングアームの先端部が前記退避部から前記クリーニング部に移動する時に、前記スライダが前記クリーニング機構のクリーニング面に斜め方向から接近して接触するようにしたことを特徴とする付記１から４の何れかに記載の記憶装置。
【００４８】
（付記６）  前記ヒータは、前記スイングアームの先端部が前記退避部から前記クリーニング部に移動する直前、或いは移動した直後に通電されて前記クリーニング板を加熱するようにしたことを特徴とする付記１から５の何れかに記載の記憶装置。
（付記７）  前記記憶装置に、前記スライダの浮上面に異物が付着したか否かを検出する異物付着検出機能と、前記スイングアームに対して、前記退避位置から前記クリーニング位置に移動させる、及び前記クリーニング位置から前記退避位置に復帰させるようにモータを制御するクリーニング機能を備えた制御部を設け、
前記制御部は、前記スライダの浮上面に異物が付着したことを検出した時に、前記スライダを前記退避部から前記クリーニング部に移動することを特徴とする付記１から６の何れかに記載の記憶装置。
（付記８）  前記記憶装置に、前記記憶装置の動作時間を計数する動作時間計数機能と、前記スイングアームを前記退避位置から前記クリーニング位置に移動させる、及び前記クリーニング位置から前記退避位置に復帰させるクリーニング機能を備えた制御部を設け、
前記制御部は、前記記憶装置の動作時間が基準時間を超えたことを検出した時に、前記スイングアームを前記退避部から前記クリーニング部に移動することを特徴とする付記１から６の何れかに記載の記憶装置。
（付記９）  前記制御部は、前記スイングアームを前記クリーニング位置で所定時間、或いは所定回数だけ往復動作させることを特徴とする付記７又は８に記載の記憶装置。
（付記１０）  前記クリーニング板のクリーニング面は、前記スライダが接触した時に、前記スライダが前記クリーニング面に吸着しないように、面粗さが粗く形成されていることを特徴とする付記１から９の何れかに記載の記憶装置。
（付記１１）  前記クリーニング面は、算術平均粗さが１ｎｍ以上の表面粗さを有することを特徴とする付記１０に記載の記憶装置。
【符号の説明】
【００４９】
１    ハードディスク装置
４    磁気ディスク
５    スイングアーム
９    リフトタブ
１０    ランプ機構
１２    レール部
１３    突起部
１４    誘導通路
２０    クリーニング機構
２１    加熱クリーニング板
２２    支持用ポスト
２３、２６    支持アーム
５０    ロードビーム
５１    ディンプル
５２    フレキシャー
５３    スライダ
Ｍ    動作位置
Ｐ    退避位置
ＨＣ    クリーニング位置
Ｋ    クリーニング部
Ｔ    退避部
Ｗ    溶接部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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