(57)【要約】【課題】本発明は、微細で高価なプローブの使用を最小限にし、検査に高電圧での駆動を必要とせず、最小限の検査専用の配線により製造段階での欠陥を効率的に発見し特定し得ると共に、検査終了後にはコントラスト等の完成品としての機能低下を招くことのない、アクティブマトリックス型液晶パネルおよび検査方法の提供を目的とする。【解決手段】アクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、複数のデータ線にデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、検査用表示信号を供給するデータ線検査用信号線は３本とし、一定の順序で該スイッチング素子に接続し、該スイッチング素子を導通遮断するための検査用制御線は２本とし、データ線が偶数番目には偶数制御線に奇数番目には奇数制御線に接続し、２本のデータ線側ショートリング線を設置して、奇数ショートリング線には奇数番目データ線を偶数ショートリング線には偶数番目データ線を接続して検査を行う。【選択図】図１
2010169739.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は３本（以下「前記データ線検査用信号線は３本のうち１本をＳＲ線、他の１本をＳＧ線、最後の１本をＳＢ線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は２本とし、前記２本の検査用制御線のうち１本を奇数データ線検査用制御線、他の１本を偶数データ線検査用制御線として、
前記データ線が偶数番目の場合には前記偶数データ線検査用制御線に、奇数番目の場合には前記奇数データ線検査用制御線に順次接続し、
さらに、前記３本のデータ線検査用信号線の外側に２本のデータ線側ショートリング線（以下、前記２本のデータ線側ショートリング線のうち１本を「データ線側奇数ショートリング線」、他の１本を「データ線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記データ線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記データ線を前記データ線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記データ線が接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項２】
請求項１に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置されたデータ線検査用信号線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項３】
請求項１または２に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子に接続する検査用の走査信号を供給する走査線検査用信号線は２本として、そのうち１本を「奇数走査線検査用信号線」、他の１本を「偶数走査線検査用信号線」ともいう。）として、順次、一定の順序で、前記奇数走査線検査用信号線は奇数番目の前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、偶数走査線検査用信号線は隣接する前記偶数番目の走査線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線を各前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
さらに、前記走査線検査用データ線の外側に２本の走査線側ショートリング線（以下、前記２本の走査線側ショートリング線のうち１本を「走査線側奇数ショートリング線」、他の１本を「走査線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記走査線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記走査線を前記走査線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記走査線が接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項４】
絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は２本（以下「前記データ線検査用信号線は２本のうち１本をＳ１線、他の１本をＳ２線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は３本（以下、「前記３本の検査用制御線のうち１本目をＧＲ制御線、２本目をＧＧ制御線、３本目をＧＢ制御線」ともいう。）として、前記データ線が１番目の場合にはＧＲ制御線に、２番目の場合にはＧＧ制御線に、３番目の場合にはＧＢ制御線に、以下、順次接続することを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項５】
請求項４に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置された前記３本の検査用制御線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項６】
請求項４または５に記載された記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線線検査用スイッチング素子に接続する検査用の信号を供給する走査線検査用信号線２本（以下「前記データ線検査用信号線は２本のうち１本をＧ１線、他の１本をＧ２線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記走査線線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための走査線検査用制御線は３本（以下、「前記３本の検査用制御線のうち１本目をＧＲ制御線、２本目をＧＧ制御線、３本目をＧＢ制御線」ともいう。）として、前記データ線が１本目の場合にはＧＲ制御線に、２本目の場合にはＧＧ制御線に、３本目の場合にはＧＢ制御線に、以下、順次接続することを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項７】
請求項６に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、前記走査線に接続された走査線検査用スイッチング素子に３本設置された前記３本の検査用制御線は、前記走査線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当する走査線ごとに接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項８】
絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は３本（以下「前記データ線検査用信号線は３本のうち１本をＳＲ線、他の１本をＳＧ線、最後の１本をＳＢ線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は１本とし、前記データ線に共通に順次接続し、
さらに、２本のデータ線側ショートリング線（以下、前記２本のデータ線側ショートリング線のうち１本を「データ線側奇数ショートリング線」、他の１本を「データ線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記データ線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記データ線を前記データ線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記データ線が接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項９】
請求項８に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置されたデータ線検査用信号線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとを接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【請求項１０】
請求項８または９に記載されたに記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子に接続する検査用の走査信号を供給する走査線検査用信号線は２本（１本を「ＡＬＩＮＥ走査線検査用信号線」、他の１本を「ＳＧ走査線検査用信号線」ともいう。）として、原則としてＳＧ走査線検査用信号線を前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、所定の間隔で、ＡＬＩＮＥ走査線検査用信号線を前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線を各前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
さらに、前記走査線検査用データ線の外側に２本の走査線側ショートリング線（以下、前記２本の走査線側ショートリング線のうち１本を「走査線側奇数ショートリング線」、他の１本を「走査線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記走査線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記走査線を前記走査線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記走査線が接続されていることを特徴とするアクティブマトリックス型液晶パネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、アクティブマトリックス型液晶パネルおよびその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、液晶表示装置の主流はアクティブマトリックス型液晶表示装置である。このアクティブマトリックス型液晶表示装置が従来のブラウン管テレビにかわり液晶テレビとして普及するにつれて、表示画面の大型化とともに価格競争も厳しくなりつつある。
【０００３】
表示画面の大型化に伴い、表示装置あたりの画素数が増加し、画素電極の配列ピッチは年々微細なものとなりつつあり、不良が生じやすく、また、検査が困難となりつつある。
【０００４】
このような状況下において、製造コストを低減するためには、検査方法を考慮した設計をし、製造歩留まりを向上させることが必要である。
【０００５】
文献１にアクティブマトリックス型液晶パネルの各データ線（文献１の図１の３）に検査用のスイッチング素子（文献１の図１の２６ａ）を配設し、データ線検査用の信号を送るデータ線検査用表示信号線とスイッチング素子を導通または遮断するためのデータ線検査用制御信号線を設置し、赤緑青の色表示を行いつつ、点灯検査をすることによって、欠陥輝点、データ線間のリーク等を検査する検査方法が開示されている。
【０００６】
しかし、この検査方法では隣接するデータ線間の短絡等の欠陥をデジタル的に容易に検査し特定できない等の問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開平１１−３３８３７６
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
そこで、発明者は、隣接するデータ線間の欠陥を簡易に検査するために、アクティブマトリックス型液晶パネルの各データ線に検査用のスイッチング素子を配設し、複数のデータ線検査用の信号を送るデータ線検査用表示信号線を設けて、隣接するデータ線に異なる検査信号を送ることを可能にするとともに、外周に所謂ショートリングとしても機能する２本の線（以下「データ線側ショートリング線」ともいう）を設置して、隣接するデータ線を２つの群にわけて、隣接するデータ線を交互に該データ線側ショートリング線に接続し、該外周の２本の線に異なる信号を与えながら、各データ線に検査用のスイッチング素子に信号を送って、検査をする方法に着目した。
【０００９】
図２は、データ線検査用信号線を６本設けて、通常の画像が表示される画素マトリックス１００内の隣接するデータ線に、異なる信号を与えて検査をする方法を示す説明図である。外周には所謂ショートリングとしても機能する２本の線（以下「データ線側ショートリング線」ともいう）を設置して、隣接するデータ線を奇数と偶数の２つの群に分けて、隣接するデータ線を交互に該データ線側ショートリング線２３ＥＶＮ（偶数）と２３ＯＤ（奇数）に接続し、該外周の２本の線に異なる信号を与える。アレイテストの際は、奇数ショートリング２３ＯＤと偶数ショートリング２３ＥＶＮを利用することにより、欠陥を生じやすい隣接するデータ線に、独立した検査信号を供給することができる。
【００１０】
図２において、２１Ｒ、２１Ｇ、２１Ｂ、２２Ｒ、２２Ｇおよび２２Ｂは６本のデータ線検査用制御線である。各データ線検査用制御線は、それぞれスイッチング素子のソースとゲートに接続し、画素マトリックス１００内の隣接する各データ線に順に接続している。
【００１１】
図２において、検査用制御線２２Ｂ（図２においては上から６本目）を、画素マトリックス１００の左端のデータ線１３１に接続しているスイッチング素子２６１ＳＷのソースとゲートに接続し、データ線検査用制御線２２Ｇ（図２においては上から５本目）を、画素マトリックス１００の左端から２番目のデータ線１３２に接続しているスイッチング素子２６２ＳＷのソースとゲートに接続し、データ線検査用制御線２２R（図２においては上から４本目）を、左端から３番目のデータ線１３３に接続しているスイッチング素子２６３ＳＷのソースとゲートに接続し, 検査用制御線２1Ｂ（図２においては上から３本目）を、左端から４番目のデータ線１３４に接続しているスイッチング素子２６４ＳＷのソースとゲートに接続し、データ線検査用制御線２１Ｇ（図２においては上から２本目）を、左端から５番目のデータ線１３５に接続しているスイッチング素子２６５ＳＷのソースとゲートに接続し、データ線検査用制御線２１Rを、左端から６番目のデータ線１３６に接続しているスイッチング素子２６６ＳＷのソースとゲートに接続する。
【００１２】
以下同様に図２では示されていないが、画素マトリックス１００内の次の６個のデータ線１３７，１３８，１３９，１４０，１４１、１４２に関しても、データ線１３７からデータ線１４２にそれぞれ接続しているスイッチング素子２６７ＳＷ、２６８ＳＷ、２６９ＳＷ、２７０ＳＷ、２７１ＳＷ、２７２ＳＷのソースとゲートに、検査用制御線２２Ｂ、２２Ｇ、２２Ｒ，２１Ｂ、２１Ｇ、２１Ｒをそれぞれ接続し、以降もこの接続のパターンを繰り返す。
【００１３】
このようにデータ線検査用制御線を順次接続することにより、１番目のデータ線１３１へは、スイッチング素子２６１ＳＷを介してデータ線検査用制御線２２Ｂから、２番目のデータ線１３２へは、スイッチング素子２６２ＳＷを介してデータ線検査用制御線２２Ｇから、３番目のデータ線１３３へは、スイッチング素子２６３ＳＷを介してデータ線検査用制御線２２Ｒから、４番目のデータ線１３４へは、スイッチング素子２６４ＳＷを介してデータ線検査用制御線２１Ｂから、５番目のデータ線１３５へは、スイッチング素子２６５ＳＷを介してデータ線検査用制御線２１Ｇから、６番目のデータ線１３６へは、スイッチング素子２６６ＳＷを介してデータ線検査用制御線２１Ｒから、それぞれ固有の検査信号を送ることができる。データ線が６本以上の場合は、以上の順序を繰り返す。即ち、検査用制御線２２Ｂ、２２Ｇ、２２Ｒ，２１Ｂ、２１Ｇ、２１Ｒの各検査用制御線から送られる検査信号は、各スイッチング素子を介してデータ線に接続されるが、その際に２２Ｂ，２２Ｒ，２１Ｇについては奇数番目データ線に送られ、２２Ｇ，２１Ｂ，２１Ｒについては偶数番目データ線に送られることになる。
【００１４】
従って、６本のデータ線検査用制御供給線を２つの群にわけ、２２Ｇ，２１Ｂ，２１Ｒは偶数番目データ線検査用制御線とし、２２Ｂ，２２Ｒ，２１Ｇは奇数番目データ線検査制御線とし、順次、奇数番目である１番目のデータ線１３１を奇数番目であるスイッチング素子２６１ＳＷのドレインに接続し、奇数番目データ線検査用制御供給線２２Ｂを検査用のスイッチング素子２６１ＳＷのソースとゲートに接続し、偶数番目である２番目のデータ線１３２を偶数番目であるスイッチング素子２６２ＳＷのドレインに接続し、偶数番目データ線検査制御線２２Ｇを検査用のスイッチング素子２６２ＳＷのソースとゲートに接続することにより、隣接するデータ線１３１，１３２間の欠陥の検査と場所の特定が容易となる。
【００１５】
しかしながら、検査用制御線が最低６本必要であり、また、この検査方法では、高電圧で駆動する必要があり、また、製品とした場合にコントラストの低下を招くという欠陥があった。
【００１６】
そこで、本発明は、高電圧で駆動することを必要とせず、また、製品とした場合にコントラストの低下を招くことなく効率的に検査し得るアクティブマトリックス型液晶パネルとアクティブマトリックス型液晶パネルの検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
請求項１に記載の発明は、絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルであって、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は３本（以下「前記データ線検査用信号線は３本のうち１本をＳＲ線、他の１本をＳＧ線、最後の１本をＳＢ線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は２本とし、前記２本の検査用制御線のうち１本を奇数データ線検査用制御線、他の１本を偶数データ線検査用制御線として、
前記データ線が偶数番目の場合には前記偶数データ線検査用制御線に、奇数番目の場合には前記奇数データ線検査用制御線に順次接続し、
さらに、前記３本のデータ線検査用信号線の外側に２本のデータ線側ショートリング線（以下、前記２本のデータ線側ショートリング線のうち１本を「データ線側奇数ショートリング線」、他の１本を「データ線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記データ線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記データ線を前記データ線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記データ線が接続されていることを特徴とする。
【００１８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置されたデータ線検査用信号線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されていることを特徴とする
【００１９】
請求項３に記載の発明は、請求項１または２に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルであって、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子に接続する検査用の走査信号を供給する走査線検査用信号線は２本として、そのうち１本を「奇数走査線検査用信号線」、他の１本を「偶数走査線検査用信号線」ともいう。）として、順次、一定の順序で、前記奇数走査線検査用信号線は奇数番目の前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、偶数走査線検査用信号線は隣接する前記偶数番目の走査線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線を各前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
さらに、前記走査線検査用データ線の外側に２本の走査線側ショートリング線（以下、前記２本の走査線側ショートリング線のうち１本を「走査線側奇数ショートリング線」、他の１本を「走査線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記走査線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記走査線を前記走査線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記走査線が接続されていることを特徴とする。
【００２０】
請求項４に記載の発明は、絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルにであって、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は２本（以下「前記データ線検査用信号線は２本のうち１本をＳ１線、他の１本をＳ２線、」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は３本（以下、「前記３本の検査用制御線のうち１本目をＧＲ制御線、２本目をＧＧ制御線、３本目をＧＢ制御線」ともいう。）として、前記データ線が１番目の場合にはＧＲ制御線に、２番目の場合にはＧＧ制御線に、３番目の場合にはＧＢ制御線に、以下、順次接続することを特徴とする。
【００２１】
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置された前記３本の検査用制御線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとに接続されていることを特徴とする。
【００２２】
請求項６に記載の発明は、請求項４または５に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線線検査用スイッチング素子に接続する検査用の信号を供給する走査線検査用信号線２本（以下「前記データ線検査用信号線は２本のうち１本をＧ１線、他の１本をＧ２線、」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記走査線線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための走査線検査用制御線は３本（以下、「前記３本の検査用制御線のうち１本目をＧＲ制御線、２本目をＧＧ制御線、３本目をＧＢ制御線」ともいう。）として、前記データ線が１本目の場合にはＧＲ制御線に、２本目の場合にはＧＧ制御線に、３本目の場合にはＧＢ制御線に、以下、順次接続することを特徴とする。
【００２３】
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記走査線に接続された走査線検査用スイッチング素子に３本設置された前記３本の検査用制御線は、前記走査線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当する走査線ごとに接続されていることを特徴とする。
【００２４】
請求項８に記載の発明は、絶縁基板上に画素電極、前記電極に個別に接続される画素スイッチング素子、前記画素スイッチング素子を介して画素電極を駆動する、格子状に配設された複数の走査線及びデータ線を有するアクティブマトリックス基板と、共通電極を有する対向基板とが、液晶層を介して張り合わされてなるアクティブマトリックス型液晶パネルにおいて、
前記複数のデータ線に、検査用の表示信号の供給をスイッチングするためのデータ線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子に接続する検査用の表示信号を供給するデータ線検査用信号線は３本（以下「前記データ線検査用信号線は３本のうち１本をＳＲ線、他の１本をＳＧ線、最後の１本をＳＢ線」ともいう。）として、順次、一定の順序で隣接する前記データ線検査用スイッチング素子に接続し、
前記データ線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線は１本とし、前記データ線に共通に順次接続し、
さらに、２本のデータ線側ショートリング線（以下、前記２本のデータ線側ショートリング線のうち１本を「データ線側奇数ショートリング線」、他の１本を「データ線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記データ線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記データ線を前記データ線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記データ線が接続されていることを特徴とする。
【００２５】
請求項９に記載の発明は、請求項８に記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記データ線に接続されたデータ線検査用スイッチング素子に３本設置されたデータ線検査用信号線は、前記データ線検査用スイッチング素子を介して画素における複数の表示色にそれぞれ相当するデータ線ごとを接続されていることを特徴とする。
【００２６】
請求項１０に記載の発明は、請求項８または９に記載されたに記載されたアクティブマトリックス型液晶パネルに係り、
前記複数の走査線に、走査線の検査用の走査信号の供給をスイッチングするための走査線検査用スイッチング素子を個別に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子に接続する検査用の走査信号を供給する走査線検査用信号線は２本（１本を「ＡＬＩＮＥ走査線検査用信号線」、他の１本を「ＳＧ走査線検査用信号線」ともいう。）として、原則としてＳＧ走査線検査用信号線を前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、所定の間隔で、ＡＬＩＮＥ走査線検査用信号線を前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
前記走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断するための検査用制御線を各前記走査線検査用スイッチング素子に接続し、
さらに、前記走査線検査用データ線の外側に２本の走査線側ショートリング線（以下、前記２本の走査線側ショートリング線のうち１本を「走査線側奇数ショートリング線」、他の１本を「走査線側偶数ショートリング線」ともいう。）を設置して、前記走査線側奇数ショートリング線には奇数番目の前記走査線を前記走査線側偶数ショートリング線には偶数番目の前記走査線が接続されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明に係るアクティブマトリックス型液晶パネルによれば、高価な多ピンプローブの使用を最小限にでき、また、それにともない多ピンプローブの接触不良の確認等に要する労力を低減し、結果として製造コストの低減を可能とする。
【００２８】
また、製品面でも検査のための余分な回路と製品の性能への悪影響を最小限にできる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施の形態１に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法によを示す説明図である。
【図２】隣接するデータ線を偶数番目の線と奇数番目の線の２つの群にわけて、各データ線に検査用のスイッチング素子を介して、隣接するデータ線に異なる信号を与えて検査をする方法を示す説明図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【図４】本発明の実施の形態２に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法の概要を示す説明図である。
【図５】本発明の実施の形態２に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【図６】本発明の実施の形態３に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法の概要を示す説明図である。
【図７】本発明の実施の形態３に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【図８】本発明の実施の形態に係るアクティブマトリックス型液晶パネルのセルテストの検査用信号の例である。
【図９】本発明の実施の形態に係るアクティブマトリックス型液晶パネルのセルテストの検査用信号の例である。
【図１０】本発明の実施の形態1に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの配線の様子を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
以下、図を参照しつつ、本発明を実施するための形態につき説明する。
【００３１】
図１は本発明の実施の形態１に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法の概要を示す説明図である。
【００３２】
図１において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。
【００３３】
２６１ＳＷ、２６２ＳＷ、２６３ＳＷ、２６４ＳＷ、２６５ＳＷ、および２６６ＳＷはデータ線検査用スイッチング素子であり、２６１ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線１３１に接続されており、２６２ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３２に接続されており、２６３ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３３に接続されており、２６４ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３４に接続されており、２６５ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３５に接続されており、２６６ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３６に接続されている。以下２６１ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線に接続されているものを「奇数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいい、２６２ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目のデータ線接続されているものを「偶数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００３４】
１０１は画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線（例えば１３１）と、奇数番目のデータ線検査用スイッチング素子（例えば２６１ＳＷのゲート）に接続されて、奇数番目のデータ線検査用スイッチング素子を導通または遮断する奇数番目データ線検査用制御線であり、
１０２は画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目のデータ線（例えば１３２）と、偶数番目のデータ線検査用スイッチング素子（例えば２６２ＳＷ）に接続されて、偶数番目のデータ線検査用スイッチング素子を導通または遮断する検査用偶数番目制御線である。
【００３５】
１０Ｂは１番目のデータ線検査用スイッチング素子２６１ＳＷのソース側に接続された検査用データ供給線であり、データ線検査用スイッチング素子２６１ＳＷを介して奇数番目であるデータ線１３１に接続する。
【００３６】
１０Ｇは２番目のデータ線検査用スイッチング素子２６２ＳＷのソース側に接続された検査用データ供給線であり、データ線検査用スイッチング素子２６２ＳＷを介して偶数番目であるデータ線１３２に接続する。
【００３７】
１０Ｒは３番目のデータ線検査用スイッチング素子２６３ＳＷのソース側に接続された検査用データ供給線であり、データ線検査用スイッチング素子２６３ＳＷを介して奇数番目であるデータ線１３３に接続される。
【００３８】
３本の検査用データ供給線１０Ｂ，１０Ｇ，１０Ｒはこのように一定の順序で繰り返しデータ線検査用スイッチング素子に接続される。
【００３９】
さらに、１２１と１２２とは所謂ショートリングの役割も果たし、１２１は奇数番目のデータ線１３１、データ線１３３およびデータ線１３５に接続する（以下、１２１を「データ線側奇数ショートリング」ともいう）。１２２は偶数番目のデータ線１３２、データ線１３４およびデータ線１３６に接続する（以下、１２２を「データ線側偶数ショートリング」ともいう）。
このように接続することにより隣接するデータ線間の断線・短絡の検査等の所謂アレイテストを容易に行うことができる。
【００４０】
また、１４１は液晶パネルをマザー基板から切り出す際のカットラインである。
【００４１】
なお、図１においては、データ線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図１においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。
【００４２】
ただし、制御線(１０１、１０２）と検査用データ供給線（１０Ｂ、１０Ｇ、１０Ｒ）は繰り返して接続されるので、制御線(１０１、１０２）は２本であり、検査用データ供給線（１０Ｂ、１０Ｇ、１０Ｒ）は３本である。
【００４３】
アレイテストの際は、奇数ショートリング１２１と偶数ショートリング１２２を利用することにより、欠陥を生じやすい隣接するデータ線に、独立した検査信号を供給することができ、特に隣接するデータ線間の欠陥を容易に発見し、特定することの可能性を向上させることができる。
【００４４】
セルテストの際も、検査用奇数番目制御線１０１と検査用偶数番目制御線１０２に独立した信号を与えることにより奇数番目データ線検査用スイッチング素子と偶数番目データ線検査用スイッチング素子を独立して導通・遮断することができ、検査用データ供給線１０Ｒ、検査用データ供給線１０Ｇ、検査用データ供給線１０Ｂから検査用の表示信号を画素マトリックス１００データ線に供給できる。検査用奇数番目制御線１０１と検査用偶数番目制御線１０２に独立した信号を与えることにより、隣接するデータ線や画素間の検査と不良箇所の特定が容易になる。
【００４５】
走査線側についても、同様の考え方で、特に隣接する走査線間の欠陥の有無と欠陥場所の特定が容易になる。
【００４６】
図３は本発明の実施の形態に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【００４７】
図３において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。３６１ＳＷ、３６２ＳＷ、３６３ＳＷ、３６４ＳＷ、３６５ＳＷ、および３６６ＳＷは走査線検査用スイッチング素子であり、３６１ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち、上から数えて奇数番目の走査線３３１に接続されており、３６２ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち上から数えて偶数番目走査線３３２に接続されており、３６３ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目の走査線３３３に接続されており、３６４ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３４に接続されており、３６５ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線３３５に接続されており、３６６ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３６に接続されている。
【００４８】
以下３６１ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線に接続されているものを「奇数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいい、３６２ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線に接続されているものを「偶数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００４９】
３００は画素マトリックス１００の行を成すすべての走査線に接続されて、全ての走査線検査用スイッチング素子を一斉に導通または遮断する走査線検査用制御線である。
【００５０】
３０１は奇数番目走査線検査用スイッチング素子に接続され、奇数番目走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目の走査線に接続される（以下「奇数番目走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば３０１は走査線検査用スイッチング素子３６１ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子３６１ＳＷが走査線検査用制御線３００からの信号により導通すれば、奇数番目走査線３３１に接続する。同様に３０１は３６３ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子３６３ＳＷが走査線検査用制御線３００からの信号により導通すれば、奇数番目走査線３３３に接続する。同様に、３０１は奇数番目走査線３３５にも奇数番目走査線検査用スイッチング素子３６５ＳＷを介して接続する。
【００５１】
３０２は偶数番目走査線検査用スイッチング素子に接続され、偶数番目走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目の走査線に接続される（以下「偶数番目走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば３０２は走査線検査用スイッチング素子３６２ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子３６２ＳＷが走査線検査用制御線３００からの信号により導通すれば、偶数番目走査線３３２に接続する。同様に３０２は３６４ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子３６４ＳＷが走査線検査用制御線３００からの信号により導通すれば、偶数番目走査線３３４に接続する。図３においては同様に、３０１は偶数番目走査線３３６にも奇数番目走査線検査用スイッチング素子３６６ＳＷを介して接続する。
【００５２】
なお、図３においては、走査線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図３においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、その数は、画素マトリクッスの走査線の本数による。
【００５３】
さらに、走査線側についてもデータ線側の検査と同様に、マザー基板の外周に所謂ショートリングとしての機能をも果たし得る線を設けて走査線側のアレイテストの効率と不良箇所の特定に役立て得る。図３に基づいて簡単に説明する。
【００５４】
３２１と３２２とは所謂ショートリングの役割も果たし、３２１は奇数番目の走査線３３１、走査線３３３および走査線３３５に接続する（以下、３２１を「走査線側奇数ショートリング」ともいう）。３２２は偶数番目の走査線３３２、走査線３３４および走査線３３６に接続する（以下、３２２を「走査線側偶数ショートリング」ともいう）。
【００５５】
また、３４１は液晶パネルをマザー基板から切り出す際のカットラインである。
【００５６】
なお、図３においては、走査線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。走査線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図３においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。
【００５７】
アレイテストの際は、奇数ショートリング３２１と偶数ショートリング３２２を利用することにより、欠陥を生じやすい隣接する走査線に独立した検査信号を供給することができ、特に隣接する走査線間の欠陥を容易に発見し、特定することの可能性を向上させることができる。
【００５８】
セルテストの際も、奇数番目走査線検査用信号供給線３０１と偶数番目走査線検査用信号供給線３０２を利用して、隣接する奇数番目走査線と偶数番目走査線に異なる走査信号を供給でき、また、走査線検査用制御線３００を利用して走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断することができるので、奇数番目走査線検査用信号供給線３０１と偶数番目走査線検査用信号供給線３０２からの走査信号を一斉に供給・遮断することができ、欠陥の発見と特定に役立て、検査の効率を向上させることができる。
【００５９】
図８はセルテストの検査用信号の例の１つであり、このような信号によって液晶パネルの表示領域に、隣接する奇数列と偶数列に表示させる色を独立して制御して検査をすることが可能である。
【００６０】
図８において、８１０はデータ線検査用信号線であり、８１１は奇数データ線検査用制御線であり、８１２は偶数データ線検査用制御線であり、８０１は奇数番目走査線検査用信号線であり、８０２は偶数番目走査線検査用信号線である。
【００６１】
図９はセルテストの検査用信号の他の例の１つであり、このような信号によって、液晶パネルの表示領域内の画素を反転駆動しながら、隣接する奇数列と偶数列に表示させる色を独立して制御して検査をすることが可能である。
【００６２】
図９において、９１０はデータ線検査用信号線であり、９１１は奇数データ線検査用制御線であり、９１２は偶数データ線検査用制御線であり、９０１は奇数番目走査線検査用信号線であり、９０２は偶数番目走査線検査用信号線である。
【００６３】
図４は本発明の実施の形態２に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法の概要を示す説明図である。隣接するデータ線を奇数と偶数の二つの群に分け、各群を３本の検査用制御線でデータ線検査用スイッチング素子を導通・遮断しながら、セルテストを
行うことを可能としている。
【００６４】
図４において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。
【００６５】
４６１ＳＷ、４６２ＳＷ、４６３ＳＷ、４６４ＳＷ、４６５ＳＷ、および４６６ＳＷはデータ線検査用スイッチング素子であり、４６１ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線１３１に接続されており、４６２ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３２に接続されており、４６３ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３３に接続されており、４６４ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３４に接続されており、４６５ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３５に接続されており、４６６ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３６に接続されている。
【００６６】
以下４６１ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線に接続されているものを「奇数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいい、４６２ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目のデータ線接続されているものを「偶数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００６７】
４１は画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線（例えば１３１）に、奇数番目のデータ線検査用スイッチング素子（例えば４６１ＳＷ）を介して接続されて、奇数番目のデータ線検査用スイッチング素子を導通または遮断する奇数番目データ線検査用信号線であり、
４２は画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目のデータ線（例えば１３２）に、偶数番目のデータ線検査用スイッチング素子（例えば４６２ＳＷ）を介して接続されて、偶数番目のデータ線検査用スイッチング素子を導通または遮断する検査用偶数番目データ線検査用信号線である。
【００６８】
４００Ｂは、１番目のデータ線検査用スイッチング素子４６１ＳＷのゲート側に接続された検査用制御線であり、データ線検査用スイッチング素子４６１ＳＷを介して、奇数番目であるデータ線１３１に接続する。
【００６９】
４００Ｇは、２番目のデータ線検査用スイッチング素子４６２ＳＷのゲート側に接続された検査用制御線であり、データ線検査用スイッチング素子４６２ＳＷを介して偶数番目データ線１３２に接続する。
【００７０】
４００Ｒは、３番目のデータ線検査用スイッチング素子４６３ＳＷのゲート側に接続された検査用制御線であり、データ線検査用スイッチング素子４６３ＳＷを介して奇数番目データ線１３３に接続する。
【００７１】
３本の検査用制御線４００Ｂ，４００Ｇ，４００Ｒは、このように一定の順序で繰り返しデータ線検査用スイッチング素子に接続されている。その結果、画素マトリックス１００のデータ線に送る信号を、３本の検査用制御線４００Ｂ，４００Ｇ，４００Ｒにより制御できる。
【００７２】
なお、図４においては、データ線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図４においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。ただし、検査用制御線(４００Ｂ、４００Ｇ，４００Ｒ）と、検査用信号線（４１，４２）は繰り返して接続されるので、制御線(４００Ｂ、４００Ｇ，４００Ｒ）は３本であり、検査用信号線（４１，４２）は２本である。
【００７３】
セルテストの際、奇数番目データ線検査用信号線４１と偶数番目データ線検査用信号線４２に独立した信号を与えることにより奇数番目データ線検査用スイッチング素子と偶数番目データ線検査用スイッチング素子を独立して導通・遮断することができ、検査用データ制御線４００Ｂ、４００Ｇ、４００Ｒから検査用の表示信号を画素マトリックス１００データ線に供給できる。奇数番目データ線検査用信号線４１と偶数番目データ線検査用信号線４２から独立した信号を与えることにより、隣接するデータ線や画素間の検査と不良箇所の特定が容易になる。
【００７４】
走査線側についても、同様の考え方で、特に隣接する走査線間の欠陥の有無と欠陥場所の特定が容易になる。
【００７５】
図５は本発明の実施の形態２に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【００７６】
図５において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。５６１ＳＷ、５６２ＳＷ、５６３ＳＷ、５６４ＳＷ、５６５ＳＷ、および５６６ＳＷは走査線検査用スイッチング素子であり、５６１ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち、上から数えて奇数番目の走査線３３１に接続されており、５６２ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち上から数えて偶数番目走査線３３２に接続されており、５６３ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番めの走査線３３３に接続されており、５６４ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３４に接続されており、５６５ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線３３５に接続されており、５６６ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３６に接続されている。以下５６１ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線に接続されているものを「奇数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいい、５６２ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線に接続されているものを「偶数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００７７】
５００Ｂ，５００Ｇ，５００Ｒの３本の制御線は画素マトリックス１００の行を成す走査線に所定の順序で順次接続されて、走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断する走査線検査用制御線である。
【００７８】
５０１は奇数番目走査線検査用スイッチング素子に接続され、奇数番目走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目の走査線に接続される（以下「奇数番目走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば５０１は走査線検査用スイッチング素子５６１ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子５６１ＳＷが走査線検査用制御線５００Ｂからの信号により導通すれば、奇数番目走査線３３１に接続する。同様に５０１は５６３ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子５６３ＳＷが走査線検査用制御線５００Ｒからの信号により導通すれば、奇数番目走査線３３３に接続する。同様に、５０１は奇数番目走査線３３５にも奇数番目走査線検査用スイッチング素子５６５ＳＷを介して接続する。
【００７９】
５０２は偶数番目走査線検査用スイッチング素子に接続され、偶数番目走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目の走査線に接続される（以下「偶数番目走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば５０２は走査線検査用スイッチング素子５６２ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子５６２ＳＷが走査線検査用制御線５００Ｇからの信号により導通すれば、偶数番目走査線３３２に接続する。同様に５０２は５６４ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子５６４ＳＷが走査線検査用制御線５００Ｂからの信号により導通すれば、偶数番目走査線３３４に接続する。同様に、５０２は偶数番目走査線３３６にも奇数番目走査線検査用スイッチング素子５６６ＳＷを介して接続する。
【００８０】
なお、図５においては、走査線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図５においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。
【００８１】
セルテストの際には、奇数番目走査線検査用信号供給線５０１と偶数番目走査線検査用信号供給線５０２を利用して、隣接する奇数番目走査線と偶数番目走査線に異なる信号を供給でき、また、走査線検査用制御線５００Ｂ，５００Ｇ，５００Ｒのいずれかを利用して走査線検査用スイッチング素子を導通・遮断することができるので、奇数番目走査線検査用信号供給線５０１と偶数番目走査線検査用信号供給線５０２からの信号を、走査線検査用制御線５００Ｂ，５００Ｇ，５００Ｒ毎に独立して一斉に供給・遮断することができ、欠陥の発見と特定に役立て、検査の効率を向上させることができる。
【００８２】
図６は本発明の実施の形態３に係るアクティブマトリックス型液晶パネルと検査方法の概要を示す説明図である。本発明の実施の形態３は検査用の線の数の最小化を目的としている。
【００８３】
図６において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。
【００８４】
６６１ＳＷ、６６２ＳＷ、６６３ＳＷ、６６４ＳＷ、６６５ＳＷ、および６６６ＳＷはデータ線検査用スイッチング素子であり、６６１ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線１３１に接続されており、６６２ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３２に接続されており、６６３ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３３に接続されており、６６４ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３４に接続されており、６６５ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番めのデータ線１３５に接続されており、６６６ＳＷは画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目データ線１３６に接続されている。以下６６１ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち奇数番目のデータ線に接続されているものを「奇数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいい、６６２ＳＷのように画素マトリックス１００の列を成すデータ線のうち偶数番目のデータ線接続されているものを「偶数番目データ線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００８５】
６００は、画素マトリックス１００の列を成すすべてのデータ線に接続されて、全てのデータ線検査用スイッチング素子を一斉に導通または遮断するデータ線検査用制御線である。
【００８６】
６０Ｂは１番目のデータ線検査用スイッチング素子６６１ＳＷのソース側に接続されたデータ検査用信号線であり、データ線検査用スイッチング素子６６１ＳＷを介して奇数番目であるデータ線１３１に接続する。
【００８７】
６０Ｇは２番目のデータ線検査用スイッチング素子６６２ＳＷのソース側に接続されたデータ検査用信号線であり、データ線検査用スイッチング素子６６２ＳＷを介して偶数番目であるデータ線１３２に接続する。
【００８８】
６０Ｒは３番目のデータ線検査用スイッチング素子６６３ＳＷのソース側に接続されたデータ検査用信号線である、データ線検査用スイッチング素子６６３ＳＷを介して奇数番目であるデータ線１３３に接続する。
【００８９】
３本の検査用データ供給線６０Ｂ，６０Ｇ，６０Ｒはこのように一定の順序で繰り返しデータ線検査用スイッチング素子に接続される。
【００９０】
さらに、６２１と６２２とは所謂ショートリングの役割も果たし、６２１は奇数番目のデータ線１３１、データ線１３３およびデータ線１３５に接続する（以下、６２１を「データ線側奇数ショートリング」ともいう）。６２２は偶数番目のデータ線１３２、データ線１３４およびデータ線１３６に接続する（以下、６２２を「データ線側偶数ショートリング」ともいう）。また、６４１は液晶パネルをマザー基板から切り出す際のカットラインである。
【００９１】
なお、図６においては、データ線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図６においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスのデータ線の本数による。ただし、制御線(６００）と検査用データ信号線（６０Ｂ、６０Ｇ、６０Ｒ）は繰り返し接続されるので、制御線(６００）は１本であり、検査用データ信号線（６０Ｂ、６０Ｇ、６０Ｒ）は３本である。
【００９２】
アレイテストの際は、奇数ショートリング６２１と偶数ショートリング６２２を利用することにより、欠陥を生じやすい隣接するデータ線に、独立した検査信号を供給することができ、特に隣接するデータ線間の欠陥を容易に発見し、特定することの可能性を向上させることができる。
【００９３】
走査線側についても、同様の考え方で、特に隣接する走査線間の欠陥の有無と欠陥場所の特定が容易になる。
【００９４】
図７は本発明の実施の形態３に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの走査線側の検査方法の概要を示す説明図である。
【００９５】
図７において、１００は通常の画像が表示される画素マトリックスである。７６１ＳＷ、７６２ＳＷ、７６３ＳＷ、７６４ＳＷ、７６５ＳＷ、および７６６ＳＷは走査線検査用スイッチング素子であり、７６１ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち、上から数えて奇数番目の走査線３３１に接続されており、７６２ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち上から数えて偶数番目走査線３３２に接続されており、７６３ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目の走査線３３３に接続されており、７６４ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３４に接続されており、７６５ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線３３５に接続されており、７６６ＳＷは画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線３３６に接続されている。以下７６１ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち奇数番目走査線に接続されているものを「奇数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいい、７６２ＳＷのように画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち偶数番目走査線に接続されているものを「偶数番目走査線検査用スイッチング素子」ともいう。
【００９６】
７００は画素マトリックス１００の行を成すすべての走査線に接続されて、全ての走査線検査用スイッチング素子を導通または遮断する走査線検査用制御線であろ。
【００９７】
７０１は所定の走査線検査用スイッチング素子に接続され、走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち前記所定の走査線に接続される（以下「ＳＧ走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば７０１は走査線検査用スイッチング素子７６１ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子７６１ＳＷが走査線検査用制御線７００からの信号により導通すれば、奇数番目走査線３３１に接続する。同様に７０１は７６２、７６３，７６４，７６６ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子７６２、７６３，７６４，７６６ＳＷが走査線検査用制御線７００からの信号により導通すれば、走査線３３２、３３３，３３４，３３６に接続する。
【００９８】
７０２は所定の間隔でＳＧ走査線検査用信号線に未接続の走査線検査用スイッチング素子に接続され、該走査線検査用スイッチング素子を介して画素マトリックス１００の行を成す走査線のうち所定の走査線に接続される（以下「ＡＬＩＧＮ走査線検査用信号線」ともいう）。たとえば７０２は走査線検査用スイッチング素子７６５ＳＷのソース側に接続されており、走査線検査用スイッチング素子７６５ＳＷが走査線検査用制御線７００からの信号により導通すれば、走査線３３５に接続され、走査信号を送ることができる。
【００９９】
なお、図７においては、走査線は６本であるが本数は６本に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。データ線検査用スイッチング素子の数についても同様であり、図７においては６個であるが、６個に限定されるわけではなく、画素マトリクッスの走査線の本数による。
【０１００】
さらに、走査線側についてもデータ線側の検査と同様に、マザー基板の外周に所謂ショートリングとしての機能をも果たしえる線を設けて走査線側のアレイテストの効率と不良箇所の特定に役立て得る。図７に基づいて簡単に説明する。
【０１０１】
７２１と７２２とは所謂ショートリングの役割も果たし、７２１は奇数番目の走査線３３１、走査線３３３および走査線３３５に接続する（以下、７２１を「走査線側奇数ショートリング」ともいう）。７２２は偶数番目の走査線３３２、走査線３３４および走査線３３６に接続する（以下、７２２を「走査線側偶数ショートリング」ともいう）。また、７４１は液晶パネルをマザー基板から切り出す際のカットラインである。
【０１０２】
アレイテストの際は、奇数ショートリング７２１と偶数ショートリング７２２を利用することにより、欠陥を生じやすい隣接する走査線に独立した検査信号を供給することができ、特に隣接する走査線間の欠陥を容易に発見し、特定することの可能性を向上させることができる。
【０１０３】
セルテストの際も、ＳＧ走査線検査用信号線７０１とＡＬＩＧＮ走査線検査用信号線７０２を利用して、所定の間隔を置いて走査線に異なる信号を供給でき、また、走査線検査用制御線７００を利用して走査線検査用スイッチング素子を一斉に導通・遮断することができるので、多様な検査信号を作成し、実施することが可能となる。
【０１０４】
図１０は、本発明の実施の形態1に係るアクティブマトリックス型液晶パネルの配線の様子をより具体的に示した模式図である。ただし、実際の配線と実装方法はこの図に限定されるものではない。
【産業上の利用可能性】
【０１０５】
液晶表示装置を効果的に検査でき、製造コストを低減できる。
【符号の説明】
【０１０６】
１００      画素マトリックス
１０１      検査用奇数番目制御線
１０２      検査用偶数番目制御線
１０Ｂ      データ線検査用信号線
１０Ｇ      データ線検査用信号線
１０Ｒ      データ線検査用信号線
１２１      データ線側奇数ショートリング
１２２      データ線側偶数ショートリング
１３１      データ線
１３２      データ線
１３３      データ線
１３４      データ線
１３５      データ線
１３６      データ線
１４１      カットライン
２６１ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
２６２ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
２６３ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
２６４ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
２６５ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
２６６ＳＷ  データ線検査用スイッチング素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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