(57)【要約】【課題】  パターンマッチングに必要なラインメモリについて、一部のラインメモリには画素の画像データを記憶するのではなくて画素の地紋判断結果を記憶するようにして、ラインメモリ全体のメモリ容量を減らす画像処理装置および画像処理プログラムを提供する。【解決手段】  ラインメモリＡ１０には画像データが記憶され、ラインメモリＢ１１には画素の地紋判断結果が記憶され、ラインメモリＡ１０から作られるウィンドウＡ、ウィンドウＢとラインメモリＢ１１から作られるウィンドウＣとにより注目画素の地紋判断が行われる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
判定対象画像の注目画素を含む第１の領域の画像データを前記判定対象画像のライン単位で蓄積する第１のラインメモリと
前記判定画像の前記第１のラインメモリに蓄積された画像データに対応する画像を除く第２の領域の各画素が地紋を構成するか否かの判定結果データを前記判定対象画像のライン単位で各画素に対応して蓄積する第２のラインメモリと、
前記第１のラインメモリに蓄積された画像データおよび前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果から前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する判定手段と
を具備する画像処理装置。
【請求項２】
前記第１のラインメモリは、
前記判定対象画像の画像データを入力して該判定対象画像の画像データをライン単位で順次シフトして記憶する第１の複数のラインメモリ
を具備し、
前記第２のラインメモリは、
前記判定結果データをライン単位で各画素に対応して記憶する第２の複数のラインメモリ
を具備する請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記第２のラインメモリは、
前記判定結果データとして各画素が地紋を構成するか否かを示す第１の情報および前記注目画素に対する周辺画素の配置方向を示す角度情報をライン単位で各画素に対応して記憶する第２の複数のラインメモリ
を具備する請求項１記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記判定手段は、
前記第１の複数のラインメモリに蓄積された画素データおよび前記第２の複数のラインメモリに蓄積された前記判定結果データを入力して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する請求項２記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記判定手段は、
前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第１の判定領域を生成する第１の判定領域生成手段と、
前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第２の判定領域を生成する第２の判定領域生成手段と、
前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第３の判定領域を生成する第３の判定領域生成手段と、
前記第１の判定領域生成手段により生成された前記第１の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第１の判定手段と、
前記第２の判定領域生成手段により生成された前記第２の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第２の判定手段と、
前記第３の判定領域生成手段により生成された前記第３の領域の前記判定結果データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第３の判定手段と、
前記第１の判定手段および前記第２の判定手段および前記第３の判定手段の判定結果を総合して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する総合判定手段と
を具備する請求項１記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第１の判定手段は、
前記第１の領域の画像データを予め記憶された参照データとの照合により前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する請求項４記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記第２の判定手段は、
前記第２の領域の画像データのうちの前記注目画素から所定の距離にある画素の画像データを参照して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する請求項４記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記第３の判定手段は、
前記第２の領域の画像データのうちの前記注目画素から所定の距離にある画素の前記判定結果データを参照して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する請求項４記載の画像処理装置。
【請求項９】
コンピュータを、
判定対象画像の注目画素を含む第１の領域の画像データを前記判定対象画像のライン単位で第１のラインメモリに蓄積する手段、
前記前記判定画像の前記第１のラインメモリに蓄積された画像データに対応する画像を除く第２の領域の各画素が地紋を構成するか否かの判定結果データを前記判定対象画像のライン単位で各画素に対応して第２のラインメモリに蓄積する手段、
前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第１の判定領域を生成する第１の判定領域生成手段、
前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第２の判定領域を生成する第２の判定領域生成手段、
前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第３の判定領域を生成する第３の判定領域生成手段、
前記第１の判定領域生成手段により生成された前記第１の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第１の判定手段、
前記第２の判定領域生成手段により生成された前記第２の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第２の判定手段、
前記第３の判定領域生成手段により生成された前記第３の領域の前記判定結果データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第３の判定手段、
前記第１の判定手段および前記第２の判定手段および前記第３の判定手段の判定結果を総合して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する総合判定手段
として機能させる画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置および画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
画像処理技術において、画像比較に必要なメモリを削減する技術が存在する。
【０００３】
特許文献１では、紙に出力した画像をスキャナで読み取り、読み取った画像と元画像とを比較して出力画像の適否を判断する際に、従来はページ単位で画像比較していたことを、ページをいくつかの領域に分けて比較することで、メモリの削減と処理速度の向上を実現する画像形成装置が提案されている。
【特許文献１】特開２００６−０６０７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
この発明は、パターンマッチングに必要なラインメモリについて、一部のラインメモリには画素の画像データを記憶するのではなくて画素の地紋判断結果を記憶するようにして、ラインメモリ全体のメモリ容量を減らす画像処理装置および画像処理プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、請求項１の発明の画像処理装置は、判定対象画像の注目画素を含む第１の領域の画像データを前記判定対象画像のライン単位で蓄積する第１のラインメモリと前記判定画像の前記第１のラインメモリに蓄積された画像データに対応する画像を除く第２の領域の各画素が地紋を構成するか否かの判定結果データを前記判定対象画像のライン単位で各画素に対応して蓄積する第２のラインメモリと、前記第１のラインメモリに蓄積された画像データおよび前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果から前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する判定手段とを具備するように構成される。
【０００６】
また、請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記第１のラインメモリは、前記判定対象画像の画像データを入力して該判定対象画像の画像データをライン単位で順次シフトして記憶する第１の複数のラインメモリを具備し、前記第２のラインメモリは、前記判定結果データをライン単位で各画素に対応して記憶する第２の複数のラインメモリを具備するように構成される。
【０００７】
また、請求項３の発明は、請求項１の発明において、前記第２のラインメモリは、前記判定結果データとして各画素が地紋を構成するか否かを示す第１の情報および前記注目画素に対する周辺画素の配置方向を示す角度情報をライン単位で各画素に対応して記憶する第２の複数のラインメモリを具備するように構成される。
【０００８】
また、請求項４の発明は、請求項２の発明において、前記判定手段は、前記第１の複数のラインメモリに蓄積された画素データおよび前記第２の複数のラインメモリに蓄積された前記判定結果データを入力して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するように構成される。
【０００９】
また、請求項５の発明は、請求項１の発明において、前記判定手段は、前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第１の判定領域を生成する第１の判定領域生成手段と、前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第２の判定領域を生成する第２の判定領域生成手段と、前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第３の判定領域を生成する第３の判定領域生成手段と、前記第１の判定領域生成手段により生成された前記第１の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第１の判定手段と、前記第２の判定領域生成手段により生成された前記第２の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第２の判定手段と、前記第３の判定領域生成手段により生成された前記第３の領域の前記判定結果データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第３の判定手段と、前記第１の判定手段および前記第２の判定手段および前記第３の判定手段の判定結果を総合して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する総合判定手段とを具備するように構成される。
【００１０】
また、請求項６の発明は、請求項４の発明において、前記第１の判定手段は、前記第１の領域の画像データを予め記憶された参照データとの照合により前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するように構成される。
【００１１】
また、請求項７の発明は、請求項４の発明において、前記第２の判定手段は、前記第２の領域の画像データのうちの前記注目画素から所定の距離にある画素の画像データを参照して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するように構成される。
【００１２】
また、請求項８の発明は、請求項４の発明において、前記第３の判定手段は、前記第２の領域の画像データのうちの前記注目画素から所定の距離にある画素の前記判定結果データを参照して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するように構成される。
【００１３】
また、請求項９の発明の画像処理プログラムは、コンピュータを、判定対象画像の注目画素を含む第１の領域の画像データを前記判定対象画像のライン単位で第１のラインメモリに蓄積する手段、前記前記判定画像の前記第１のラインメモリに蓄積された画像データに対応する画像を除く第２の領域の各画素が地紋を構成するか否かの判定結果データを前記判定対象画像のライン単位で各画素に対応して第２のラインメモリに蓄積する手段、前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第１の判定領域を生成する第１の判定領域生成手段、前記第１のラインメモリに蓄積された画像データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第２の判定領域を生成する第２の判定領域生成手段、前記第２のラインメモリに蓄積された前記判定結果データから前記注目画素の周辺画素に基づき該注目画素が地紋を構成するか否かを判定するための第３の判定領域を生成する第３の判定領域生成手段、前記第１の判定領域生成手段により生成された前記第１の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第１の判定手段、前記第２の判定領域生成手段により生成された前記第２の領域の画像データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第２の判定手段、前記第３の判定領域生成手段により生成された前記第３の領域の前記判定結果データに基づき前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する第３の判定手段、前記第１の判定手段および前記第２の判定手段および前記第３の判定手段の判定結果を総合して前記注目画素が地紋を構成するか否かを判定する総合判定手段として機能させるように構成される。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００１５】
また、請求項２の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００１６】
また、請求項３の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００１７】
また、請求項４の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００１８】
また、請求項５の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００１９】
また、請求項６の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００２０】
また、請求項７の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００２１】
また、請求項８の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【００２２】
また、請求項９の発明によれば、本発明を構成しない場合と比較して、より少ない記憶容量のラインメモリで、判定対象画像中の注目画素が地紋を構成するか否かを判定することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施例について添付図面を参照して詳細に説明する。
【００２４】
まず、画像処理装置１について図１を参照して説明する。
【００２５】
図１は、画像処理装置１の構造を示した模式図である。
【００２６】
画像処理装置１は、地紋が印刷された原稿をスキャンして複写制御等を行う。
【００２７】
図１に示すように、画像処理装置１は、スキャナ部２、表示／操作部３、ページメモリ４、ＲＯＭ（Read Only Memory）５、ＲＡＭ（Random Access Memory）６、制御部７、プリンタエンジン８、画像処理ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）９、ラインメモリＡ１０、ラインメモリＢ１１、ウィンドウＡ生成部１２、ウィンドウＢ生成部１３、ウィンドウＣ生成部１４、パターンマッチング部１５、総合パターンマッチング部１６、地紋画像生成部１７を有する。
【００２８】
スキャナ部２は、紙である原稿を光学的に読み取り、原稿の画像データを取得する。
【００２９】
表示／操作部３は、液晶のタッチパネルで構成され、ユーザインタフェースの機能を司る。
【００３０】
ページメモリ４は、スキャナ部２で取得された原稿の画像データを一時記憶する。
【００３１】
ＲＯＭ５は、書き換え不可能な不揮発性メモリであり、画像処理装置１を動作させるファームウェア等が記憶されている。
【００３２】
制御部７は、中央演算処理装置で構成され、画像処理装置１を統括的に制御し、スキャナ部２にセットされる原稿に印刷されている地紋に埋め込まれた情報に応じた印刷制御を行う。
【００３３】
スキャナ部２にセットされる原稿には電子透かし技術として地紋が印刷されており、その地紋には原稿を印刷した印刷者のＩＤ、印刷日時といった原稿の属性情報が埋め込まれている。
【００３４】
制御部７は、地紋に埋め込まれた印刷者のＩＤ、印刷日時といった属性情報を読み取り、その地紋が印刷されている原稿の複写制御や情報源追跡などの処理を行う。
【００３５】
画像処理ＡＳＩＣ９は、原稿の画像データより地紋を検知して、原稿に印刷された地紋だけをまとめた画像データを生成する処理を行う。
【００３６】
また、画像処理ＡＳＩＣは、ラインメモリＡ１０、ラインメモリＢ１１、ウィンドウＡ生成部１２、ウィンドウＢ生成部１３、ウィンドウＣ生成部１４、パターンマッチング部１５、総合パターンマッチング部１６、地紋画像生成部１７を備える。
【００３７】
ラインメモリＡ１０は、ＦＩＦＯ（First-In First-Out）メモリであり、スキャナ部２で取り込まれた原稿の画像データを次々に記憶するラインメモリである。
【００３８】
また、ラインメモリＡ１０は、記憶する画像データを600dpiで表現されるように記憶し、1dpiにつき8bitの情報量を記憶する。
【００３９】
ラインメモリＢ１１は、ＦＩＦＯメモリであり、画素毎に地紋検知の判定結果を記憶する。
【００４０】
また、ラインメモリＢ１１は、画素毎の判定結果だけを記憶するので、600dpiで表現される画像データに対して、1dpiにつき1bitの情報量を記憶する。
【００４１】
その為、ラインメモリＢ１１は、ラインメモリＡ１０と比較して１ラインの記憶容量が格段に少なくて済む（約1/8）。
【００４２】
ウィンドウＡ生成部１２は、ラインメモリＡ１０内の所定の位置の画素が地紋画像であるか否かを判断するために、その所定の位置の周辺の画像データにより構成されるウィンドウＡを生成する。
【００４３】
ウィンドウ生成部Ｂ１３は、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データにより構成されるウィンドウＢを生成する。
【００４４】
ウィンドウ生成部Ｃ１４は、ラインメモリＢ１１に記憶される地紋画像か否かの判断結果により構成されるウィンドウＣを生成する。
【００４５】
パターンマッチング部１５は、ウィンドウＡ生成部１２によって生成されたウィンドウＡ内の画像に地紋画像が含まれているか否かをパターンマッチングによって判断する。
【００４６】
ウィンドウＡは、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データの一部分によって構成されて、そのウィンドウＡの中には地紋画像の地紋パターンがおよそ１つ含まれるような小さいサイズである。
【００４７】
総合パターンマッチング部１６は、ラインメモリＡ１０に含まれる所定の画素について、ウィンドウＢの画像を基に行ったパターンマッチングによる判断結果と、ウィンドウＣのデータ列を基に行った判断結果と、ウィンドウＡの画像を基に行ったパターンマッチング部１５による判断結果とを総合して、地紋か否かの最終判断を決定する。
【００４８】
また、総合パターンマッチング部１６は、所定の画素についての最終判断の結果を一時記憶するラインメモリＢ用一時記憶部１８を備える。
【００４９】
そして、総合パターンマッチング部１６は、ラインメモリＢ用一時記憶部１８に記憶する地紋判断結果をラインメモリＢに送り、ラインメモリＢに地紋判断結果を記憶させる。
【００５０】
地紋画像生成部１７は、総合パターンマッチング部１６より送られる画素毎の地紋判断結果を合成して、原稿の画像データから地紋だけを取り出した画像データを生成する。
【００５１】
このように構成される画像処理装置１では、スキャナ部２に、地紋が印刷された原稿がセットされて、表示／操作部３を通じてユーザよりその原稿の複写指示が行われる。
【００５２】
スキャナ部２にセットされた原稿は、スキャナ部２により読み取りが行われ、画像データが取得される。
【００５３】
スキャナ部２で取得された原稿の画像データは画像処理ＡＳＩＣ９に送られる。
【００５４】
そして、画像処理ＡＳＩＣ９に送られた原稿の画像データはラインメモリＡ１０に入力されるが、原稿の画像データがラインメモリＡ１０の１ラインの幅で分解されて、その分解された画像データが次々とラインメモリＡ１０に入力される。そして、結局、原稿の画像データの全てがラインメモリＡ１０に入力されることになる。
【００５５】
原稿の画像データがラインメモリＡ１０に入力されることで、ウィンドウＡ、ウィンドウＢ、ウィンドウＣが生成されて、それらの情報を基に地紋判断が行われる。地紋判断は、原稿の画像データ中の全ての画素に対して行われ、原稿の画像データから地紋と判断された画素だけが選び出されて構成される画像データが生成される。
【００５６】
その原稿中の地紋により構成される画像データに基づいて、地紋に埋め込まれた情報が抽出され、複写制御等が行われる。
【００５７】
次に、ラインメモリＡ１０とラインメモリＢ１１に記憶されるデータについて図２を参照して説明を行う。
【００５８】
図２は、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データとラインメモリＢ１１に記憶されるデータとを示した模式図であり、図２（ａ）は原稿の画像データ中の地紋判断の為の従来のラインメモリに記憶される画像データを示した模式図であり、図２（ｂ）は図２（ａ）に記憶される画像データが画像処理装置１のラインメモリＡ１０とラインメモリＢ１１に記憶されたデータを示した模式図であり、図２（ｃ）は図２（ｂ）に示すラインメモリＡ１０に新たに１ライン分の画像データが入力されてかつラインメモリＢ１１に新たに１ライン分の地紋判断結果が入力された様子を示した模式図である。
【００５９】
図２（ａ）に示すように、従来では、画像データ中の地紋判断に使用されるラインメモリは１つで、そのラインメモリに記憶される画像データ中の中央部分の画素の地紋判断が行われる為に、ラインメモリに記憶された画像データが使用される。
【００６０】
それに対して画像処理装置１では図２（ａ）に示すラインメモリに記憶される画像データの一部分をラインメモリＡ１０に記憶し、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データ以外の画像データに示される画素についてはその画素の地紋判断結果がラインメモリＢ１１に記憶される。
【００６１】
図２（ｂ）に、従来だと原稿画像の画像データが地紋判断用のラインメモリに記憶される画素についてのデータとして、ラインメモリＢ１１に各画素の地紋判断結果が記憶された様子を示している。
【００６２】
図２（ｂ）に示すように、従来だとすべて画像データとしてラインメモリに記憶される画素の情報は、一部の画素は画像データがラインメモリＡ１０に記憶され、一部の画素は地紋判断結果がラインメモリＢ１１に記憶される。
【００６３】
ラインメモリＡ１０には、原稿の画像データがライン単位で入力される。
【００６４】
ラインメモリＡ１０はＦＩＦＯメモリであるから、画像データがライン単位で入力される度に、画像データがライン単位で出力される。
【００６５】
画像データがライン単位でラインメモリＡより出力される度に、出力された画像データで示される画素の地紋判断結果がラインメモリＢ１１に入力される。
【００６６】
図２（ｃ）に示すように、ラインメモリＡ１０に新たにライン単位で画像データが入力されると、ラインメモリＡ１０の最も古く入力された画像データであり図２（ｃ）に示すようにウィンドウＢを構成する最上部のラインに記憶される画像データ（参照番号２０１）がラインメモリＡ１０より出力され、その画像データ（参照番号２０１）で示される画素の地紋判断結果が総合パターンマッチング部１６によってラインメモリＢ１１に入力される（参照番号２０２）。
【００６７】
そして、ラインメモリＡ１０の内部では、図２（ｃ）に示すライン単位で、記憶される画像データが１つづつ上に移動して記憶され、新たに入力された画像データはウィンドウＢを構成する最下部のラインに記憶される。
【００６８】
ラインメモリＢ１１もＦＩＦＯメモリなので、ラインメモリＡ１０と同様に、新しくライン単位でデータが入力されると、最も古く入力されたデータで図２（ｃ）に示すようにウィンドウＣを構成する最上部のラインに記憶される地紋判断結果がラインメモリＢ１１より出力される。
【００６９】
そして、新しく入力された画素の地紋判断結果は図２（ｃ）に示すようにウィンドウＣを構成する最下部のラインに記憶される。
【００７０】
ラインメモリＡ１０の最後に画像データが記憶されるラインは、ウィンドウＡの最上部の画像データを記憶するラインとなる。
【００７１】
そして、ラインメモリＢ１１の最初に地紋判断結果を記憶するラインには、ウィンドウＡの最上部に記憶される画像データの列の１つ前にラインメモリＡ１０に入力された画像データで示される画素の地紋判断結果が記憶される。
【００７２】
このように、ラインメモリＡ１０の出力されるデータが記憶されるラインである最上部のラインに画像データが記憶される画素列と、ラインメモリＢ１１の入力されるデータが最初に記憶されるラインである最下部のラインに地紋判断結果が記憶される画素列とは、原稿の画像データにおいて連続した隣同士の画素列となっている。
【００７３】
また、図２（ｃ）に示すように、ラインメモリＢ１１で記憶されるデータに基づいてウィンドウＣが生成され、ラインメモリＡ１０で記憶される画像データに基づいてウィンドウＢが生成され、また、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データであって地紋判断の対象となる画素の周囲の画像データによってウィンドウＡが生成される。
【００７４】
次に、画像処理ＡＳＩＣ９により地紋判断が行われる処理についての概要を図３を参照して説明を行う。
【００７５】
図３は、画像処理ＡＳＩＣ９により地紋判断が行われる処理についての概要を示した模式図である。
【００７６】
図３に示すように、スキャナ部２より送られた原稿の画像データは、ラインメモリＡ１０のライン幅に分解されて、ラインメモリＡ１０に入力される。
【００７７】
ラインメモリＡ１０へ送られる画像の一部は、ウィンドウＡ生成部１２にも送られる。
【００７８】
画像処理ＡＳＩＣ９では、ラインメモリＡ１０に入力された画像データを基に、ウィンドウＡ、ウィンドウＢが生成され、また、画素の地紋判断の結果を基にウィンドウＣが作成される。これらウィンドウＡ、ウィンドウＢ、ウィンドウＣを基に、ウィンドウＡ中の所定の画素が地紋であるか否かの判断が行われる。
【００７９】
そして、画像処理ＡＳＩＣ９に送られた全ての画像データについて地紋判断が行われ、原稿の画像データ中の地紋の画像データが生成される。
【００８０】
生成された原稿中の地紋の画像データより、地紋に埋め込まれた情報が抽出され、その情報に基づいて複写制御等の処理が行われる。
【００８１】
次に、画像処理ＡＳＩＣ９内の処理について図４を参照して説明を行う。
【００８２】
図４は、画像処理ＡＳＩＣ９内での処理について示したブロック図である。
【００８３】
図４に示すように、スキャンナ部２より取得された原稿の画像データは、画像処理ＡＳＩＣ９に入力されると、ラインメモリＡ１０、ウィンドウＡ生成部１２に入力される。
【００８４】
ラインメモリＡ１０に入力された画像データに基づき、ウィンドウＡ生成部１２でウィンドウＡが生成され、ウィンドウＢ生成部１３でウィンドウＢが生成される。
【００８５】
ウィンドウＡ生成部１２によって生成されたウィンドウＡの画像データは、パターンマッチング部１５によってパターンマッチングされ、その結果が総合パターンマッチング部１６に送られる。
【００８６】
また、ウィンドウＢ生成部１３によって生成されたウィンドウＢの画像データを基に、総合パターンマッチング部１６がパターンマッチングを行う。
【００８７】
また、ラインメモリＢ１１には画像データ中の各画素の地紋判断結果のデータが記憶され、ラインメモリＢ１１に記憶される情報を基にウィンドウＣ生成部１４でウィンドウＣが生成される。
【００８８】
そして、ウィンドウＣ生成部１４によって生成されたウィンドウＣの情報を基に、総合パターンマッチング部１６が地紋判断を行う。
【００８９】
そして、総合パターンマッチング部１６が、ウィンドウＡに基づく地紋判断結果と、ウィンドウＢに基づく地紋判断結果と、ウィンドウＣに基づく地紋判断結果とを考慮して総合的な地紋判断を行う。
【００９０】
地紋判断が行われた画素については、その画素の判断結果が地紋画像生成部１７とラインメモリＢ用一時記憶部１８に記憶される。
【００９１】
ラインメモリＢ用一時記憶部１８に記憶された地紋判断結果は、ラインメモリＢ１１に新たに地紋判断結果が入力される際に使用され、ラインメモリＢ１１に新たに入力される１ラインの地紋判断結果のデータの一部を構成する。
【００９２】
地紋画像生成部１７に各画素の地紋判断結果が入力されて、画像処理ＡＳＩＣ９に入力された原稿の画像データの全ての画素の地紋判断結果が入力されると、地紋画像生成部１７は原稿の画像データに含まれる地紋だけをまとめた画像データを生成し、制御部７に送る。
【００９３】
制御部７では、地紋画像生成部１７より送られる地紋の画像データに基づいて、その地紋の画像データに埋め込まれた情報を抽出して複写制御等の処理を行う。
【００９４】
次に、画像処理装置１において行われる処理について図５を参照して説明する。
【００９５】
図５は、画像処理装置１で行われる処理を示したフローチャートである。
【００９６】
図５に示すように、画像処理装置１のスキャナ部２に配置された原稿の画像データが取得されると（ステップ５０１）、ラインメモリＡ１０に原稿の画像データが入力される（ステップ５０２）。
【００９７】
ラインメモリＡ１０に画像データが入力されると、ラインメモリＡ１０に入力された画像データからウィンドウＡが生成される（ステップ５０３）。
【００９８】
ラインメモリＡ１０に入力された画像データは、図６（ｂ）に示すような画像であるが、その中の所定の画素を地紋検知の対象画素として、その対象画素を含んだウィンドウＡが生成される（図６（ａ）参照）。
【００９９】
また、ラインメモリＡ１０に入力された画像データからウィンドウＢも生成される（ステップ５０４）。
【０１００】
ウィンドウＢの生成は、図６（ｂ）に示すように、ラインメモリＡ１０に記憶される画像データ全体によって構成される。
【０１０１】
そして、図６（ａ）に示すように、生成されたウィンドウＡの画像データがパターンマッチングされて、ウィンドウＡの所定の位置にある画素について地紋か否かの判断が行われる（ステップ５０５）。
【０１０２】
ステップ５０５で行われるパターンマッチングは、パターンマッチング部１５で行われ、予めパターンマッチング部１５に記憶される地紋の構成要素となっている形とのパターンマッチングが行われる。
【０１０３】
そして、図６（ｂ）に示すように、生成されたウィンドウＢの画像データを基に、所定の画素が地紋か否かが判断される為のパターンマッチングが行われる（ステップ５０６）。
【０１０４】
ステップ５０６で行われるパターンマッチングは、ウィンドウＢに含まれるウィンドウＡ内の地紋判断の対象となる画素から１７画素離れた位置に、地紋の構成要素となっている形が存在するか否かが判断されて、地紋の構成要素が存在する場合には地紋判断の対象となる画素との配置角度が求められる。
【０１０５】
地紋は、構成要素が所定の距離を離して、互いに所定の角度で配置されている。
【０１０６】
それで、ステップ５０６のパターンマッチングによって、地紋特有の配置が行われているか否かが検証されて、対象画素が地紋であるか否かの判断要素とされる。
【０１０７】
そして、総合パターンマッチング部１６で、地紋判断の対象画素が地紋か否かの総合判定が行われる（ステップ５０７）。
【０１０８】
総合パターンマッチング部１６で行われる総合判定は、ウィンドウＡ、ウィンドウＢ、ウィンドウＣのパターンマッチングの結果を基に行われるが、ウィンドウＣが生成されない場合には、ウィンドウＡ、ウィンドウＢのパターンマッチングの結果を基に行われる。
【０１０９】
総合判定の結果は対象画素が地紋か否かというものであり、総合判定の結果は総合パターンマッチング部１６のラインメモリＢ用一時記憶部１８に記憶され、また、総合判定の結果は地紋画像生成部１７に送られる（ステップ５０８）。
【０１１０】
原稿の画像データの全ての画素の地紋判断が行われていない場合に（ステップ５０９でＮＯ）、ラインメモリＡ１０に１ライン分の原稿の画像データが新たに入力される（ステップ５１０）。
【０１１１】
ラインメモリＡ１０に１ライン分の原稿の画像データが新たに入力されると、ラインメモリＡ１０内での画像データの移動が行われる（ステップ５１２）。
【０１１２】
ラインメモリＡ１０内で画像データの移動が行われて、地紋判断が行われた画素の地紋判断結果がラインメモリＢ１１に入力される必要が生じると、総合パターンマッチング部１６は、ラインメモリＢ１１に入力する１ライン分のデータをラインメモリＢ用一時記憶部１８に記憶される内容に基づいて生成し、ラインメモリＢに入力する（ステップ５１１）。
【０１１３】
ラインメモリＢ１１に新たに１ライン分の地紋判断結果のデータが入力されると、必要に応じてラインメモリＢ１１内でのデータの移動が行われる（ステップ５１３）。
【０１１４】
ステップ５１２で、ラインメモリＡ内でデータ移動が行われると、結合子Ａを介してステップ５０３とステップ５０４の処理が行われる。
【０１１５】
また、ステップ５１３で必要に応じてラインメモリＢ１１内でのデータの移動が行われると、結合子Ｂを介して、次のステップ５１５の処理が行われる。
【０１１６】
ステップ５１５では、ラインメモリＢ１１よりウィンドウＣが生成される（ステップ５１５）。
【０１１７】
ウィンドウＣが生成されると、図６（ｃ）に示すように、ウィンドウＡ内にある地紋判断の対象画素とウィンドウＣ内の地紋と判断された画素との位置関係が求められ、対象画素の地紋判断の判断要素とされる（ステップ５１６）。
【０１１８】
ステップ５１６で求められた位置関係は、総合パターンマッチング部１６がステップ５０７で地紋判断の総合判定の際に用いられる。
【０１１９】
このように原稿の画像データの画素について地紋判断が行われ、全ての画素の地紋判断が行われると（ステップ５０９でＹＥＳ）、地紋画像生成部１７が原稿の画像データ中の地紋だけを集めた画像データを生成して（ステップ５１７）、制御部７に地紋だけを集めた画像データが送られる。
【０１２０】
そして、制御部７では、送られた画像データより原稿に印刷された地紋に埋め込まれた情報を抽出して、抽出した情報に基づき、原稿の複写を禁止するなどの複写制御の処理が行われる。
【０１２１】
次に、ラインメモリＢ１１に記憶されるデータの記憶形式について図７を参照して説明する。
【０１２２】
図７はラインメモリＢ１１に記憶されるデータの記憶形式について示した模式図であり、図７（ａ）は地紋か否かの内容だけが記憶される場合について示した模式図であり、図７（ｂ）は地紋か否かだけでなく位置関係も記憶される場合について示した模式図である。
【０１２３】
ラインメモリＢ１１には地紋の判断結果が記憶されるが、ラインメモリＢ１１を600dpi-1bitとして、図７（ａ）に示すように、1bitに地紋か否かの情報が記憶されるように構成できる。
【０１２４】
また、ラインメモリＢ１１を200-3bitとして、図７（ｂ）に示すように、3bit中の1bitに地紋か否かの情報が記憶され、3bit中の2bitに地紋判断の為の有益な情報である地紋の構成要素の配置角度の情報が記憶されるようにも構成できる。
【０１２５】
ラインメモリＢ１１に地紋か否かの情報だけでなく、地紋判断の為の有益な情報が更に記憶される場合には、上述のようにラインメモリＢ１１を200-3bitとするだけでなく300-2bitなどとしてそのような情報が記憶されるように構成できる。
【０１２６】
これら、ラインメモリＢ１１に地紋か否かの情報だけでなく、地紋判断の為の有益な情報が更に記憶される場合には、制御回路を設けてラインメモリＢ１１に記憶される内容の制御を行い、ラインメモリＢ１１自体の構成については変えないようにすることができる。
【０１２７】
このように、地紋判断の為のラインメモリを600dpi-8bitのラインメモリＡ１０と600dpi-1bitのラインメモリＢ１１とで構成する画像処理装置１で、地紋が印刷された原稿の地紋検知が行われる。
【産業上の利用可能性】
【０１２８】
この発明は、画像処理装置および画像処理プログラムにおいて利用可能である。
【０１２９】
また、本発明の画像処理プログラムを通信手段で提供することはもちろん、ＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体に記録して提供することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１３０】
【図１】画像処理装置１の構造を示した模式図。
【図２】ラインメモリＡ１０とラインメモリＢ１１に記憶されるデータとを示した模式図。
【図３】画像処理ＡＳＩＣ９により地紋判断が行われる処理についての概要を示した模式図。
【図４】画像処理ＡＳＩＣ９内での処理を示したブロック図。
【図５】画像処理装置１で行われる処理を示したフローチャート。
【図６】ウィンドウ毎のパターンマッチングを示した模式図。
【図７】ラインメモリＢ１１に記憶されるデータの記憶形式を示す模式図。
【符号の説明】
【０１３１】
１    画像処理装置
２    スキャナ部
７    制御部
９    画像処理ＡＳＩＣ
１０    ラインメモリＡ
１１    ラインメモリＢ
１２    ウィンドウＡ生成部
１３    ウィンドウＢ生成部
１４    ウィンドウＣ生成部
１５    パターンマッチング部
１６    総合パターンマッチング部
１７    地紋画像生成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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