(57)【要約】【課題】有接点式の磁気検出装置の接点の劣化を容易、確実に判別することができる技術を提供する。【解決手段】主制御回路１１１は、磁気検出器４０が磁気を検出している検出期間Ｔを測定する。そして、下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には遊技を中断する。また、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔを測定した場合にも、遊技を中断する。【選択図】図４
2010046366.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
開口部と、前記開口部を開閉する開閉部材と、前記開口部を通過した遊技球が移動する入賞空間および前記入賞空間に連設された特別領域を有する可変入賞装置と、前記特別領域を遊技球が通過したことを検出する特別球検出装置と、制御装置を備え、前記制御装置は、当たり遊技獲得条件の成立に起因して前記開閉部材を開制御するとともに有効期間を設定し、前記有効期間内に前記特別球検出装置によって遊技球が前記特別領域を通過したことが検出されたことによって遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる遊技機であって、
磁気を検出する有接点式の磁気検出装置を備え、
前記制御装置は、前記磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔを測定し、下限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜下限値Ｔａ＜上限値Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、遊技を中断することを特徴とする遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パチンコ機等の遊技球を使用する遊技機における不正遊技を検出および防止する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
遊技球を使用する遊技機としてパチンコ機が知られている。このような遊技球を使用するパチンコ機に対して、磁石を用いた不正遊技が行われることがある。例えば、可変入賞装置（「電動役物」と呼ばれている）を備えるパチンコ機が知られている。可変入賞装置は、開口部と、開口部を開閉する開閉部材と、開口部を通過した遊技球が移動する入賞空間と、入賞空間に設けられているＶ入賞口（特別入賞口）および一般入賞口を有している。このような遊技機では、開口部を通過した遊技球が入賞空間を移動してＶ入賞口に入球すると、遊技者に有利な大当たり遊技が発生する。このため、遊技球が入賞空間を移動している時に、磁石等を用いあるいは遊技機に外力を印加して遊技球の移動方向を変えることによって、遊技球をＶ入賞口に入球させる不正遊技が行われることがある。
そこで、不正遊技を防止するために、磁気検出装置を設けた遊技機（特許文献１参照）や振動検出装置を設けた遊技機（特許文献２参照）が提案されている。これらの遊技機では、磁気検出装置からの磁気検出信号あるいは振動救出装置からの振動検出信号によって不正遊技が行われていることを検知し、遊技を中断させている。
【特許文献１】特開２００７−１３５７０９号公報
【特許文献２】特開２００６−２４７１７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
磁気検出装置としては、通常、安価な有接点式の磁気検出装置が用いられる。この有接点式の磁気検出装置は、接点の劣化によって誤動作（磁気を検出していない状態で、磁気を検出していることを示す磁気検出信号を出力）する虞がある。接点式の磁気検出装置が誤動作すると、不正遊技が行われている虞がないにも拘わらず遊技が中断されてしまう。このため、有接点式の磁気検出装置を用いる場合には、一般的には、接点の劣化度合いに対応して予め設定されている使用期間に基づいて有接点式の磁気検出装置を交換している。
しかしながら、有接点式の磁気検出装置の接点の劣化度合いは、使用状態等によって異なる。例えば、接点の動作（開状態あるいは閉状態）を検出するための検出用電圧（例えば、ＤＣ１８Ｖ）や遊技球が遊技領域を移動する際の振動等によって接点の劣化度合いが変わる。このため、予め設定されている使用期間が経過する前に接点が劣化し、誤動作する虞がある。したがって、有接点式の磁気検出装置の接点の劣化を早期に、確実に検出することができる技術が要望されている。
本発明は、このような点に鑑みて創案されたものであり、有接点式の磁気検出装置の接点の劣化を簡単な構成で早期に、確実に検出することができる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１発明は、可変入賞装置を有する遊技機を対象とする。
このような遊技機としては、典型的には、電動役物と呼ばれるパチンコ機（「第２種パチンコ機」と呼ばれている）が対応する。可変入賞装置は、開口部と、開口部を開閉する開閉部材と、開口部を通過した遊技球が移動する入賞空間および入賞空間に連設された特別領域を有している。典型的には、可変入賞装置は、入賞空間に連設されているＶ入賞口と一般入賞口を有している。この可変入賞装置のＶ入賞口が、本発明の「特別領域」に対応する。勿論、可変入賞装置には、入賞空間内における遊技球の移動態様に変化を持たせるための部材（振り分け部材やガイド部材等）を設けることもできる。また、可変入賞装置は、遊技球が特別領域を通過したことを検出する特別球検出装置を有している。特別球検出装置は、遊技球が特別領域を通過したこと、例えば、Ｖ入賞口に入球したことを検出することができればよく、その検出方法や配置位置等は適宜選択可能である。本発明の可変入賞装置は、開口部、開閉部材、入賞空間、特別領域、特別球検出装置を有していればよく、各部材が一体に組み付けられている構成のものや別々に配置されている構成のものであってもよい。
本発明では、当たり遊技獲得条件の成立に起因して開閉部材を開制御するとともに有効期間が設定される。そして、有効期間内に、特別球検出装置によって遊技球が特別領域を通過したことが検出されたことにより、遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる。「当たり遊技獲得条件」は、大当たり遊技を発生させるために必要な条件を意味するが、この当たり遊技獲得条件が満足されると直ちに大当たり遊技が発生する条件を意味するものではない。「当たり遊技獲得条件」としては、典型的には、可変入賞装置の開閉部材を一定期間あるいは一定回数開制御（開閉制御を含む）する条件、例えば、遊技球が始動入賞口を通過（入球を含む）した条件が用いられる。「有効期間」は、例えば、開閉部材の開制御（開閉制御を含む）が終了する直前に開口部を通過した遊技球が特別領域を通過するまでの期間等を考慮して適宜設定される。「大当たり遊技」としては、例えば、可変入賞装置の開閉部材を、当たり遊技獲得条件成立時より長い期間開制御して、遊技球が可変入賞装置の開口部をより通過し易くする遊技態様や大入賞口を開閉する開閉部材を開制御して遊技球が大入口に入球し易くする遊技態様が用いられる。
本発明は、さらに、磁気を検出する磁気検出装置を備えている。本発明では、磁気検出装置として、安価に入手可能な有接点式の磁気検出装置が用いられている。有接点式の磁気検出装置は、例えば、検出していない時には接点は開いており（開状態）、磁気を検出した時には接点が閉じる（閉状態）。磁気検出装置は、磁石等の磁気を用いて遊技球を不正に移動させて不正遊技を行う可能性が高い箇所に配置される。
制御装置は、磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔを測定する。磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔを測定する方法としては、典型的には、磁気検出装置から、磁気を検出していることを示す磁気検出信号が出力されている期間を測定する方法が用いられる。そして、制御装置は、上限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜下限値Ｔａ＜上限値Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、遊技を中断させる。なお、下限値Ｔａ、上限値Ｔｂおよび設定回数Ｎは、使用する有接点式の磁気検出装置の構成や使用状態等に応じて適宜設定される。下限値Ｔａは、遊技球が遊技領域を移動する際の振動等によって磁気検出装置が誤動作する期間（例えば、接点が閉状態となる期間）より長く設定される。また、上限値Ｔｂは、磁気を用いた不正遊技が行われる際の磁気検出装置の最小の動作期間（例えば、接点が閉状態となっている期間）より短く設定される。
本発明では、有接点式の磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔが下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内である状態が設定回数Ｎ回発生したことによって、有接点式の磁気検出装置の接点が劣化していることを判別し、遊技を中断する。これにより、有接点式の磁気検出装置の接点が劣化していることを簡単な構成で早期に、確実に検出することができ、したがって、有接点式の磁気検出装置の接点の劣化による磁気検出装置の誤動作によって遊技が中断するのを確実に防止することができる。
【発明の効果】
【０００５】
本発明を用いることにより、有接点式の磁気検出装置の接点の劣化を簡単な構成で早期に、確実に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
以下に、本発明をパチンコ機１として構成した実施の形態を、図面を参照して説明する。図１は、パチンコ機１の全体を示す斜視図である。図２は、遊技盤７の正面図であり、図３は、遊技盤７の背面図である。パチンコ機１は、本発明の「遊技機」に対応する。
図１に示すように、パチンコ機１は、外枠２、内枠（前面枠とも呼ばれる）３、遊技盤７、ガラス扉４等を主体にして構成されている。内枠２は、パチンコ機１の前方側（遊技者側）から見て左側縁部が、ヒンジ機構（図示省略）により外枠２に対して回動可能（開閉可能）に取り付けられている。遊技盤７は、内枠３に取り付けられている。ガラス扉４は、パチンコ機１の前方側から見て左側縁部が、ヒンジ機構により内枠３に対して回動可能（開閉可能）に取り付けられている。
内枠３には、外枠２に対する内枠３の開閉状態を検出し、内枠３の開閉状態を示す枠開閉検出信号を出力する枠開閉検出器８が取り付けられている。また、内枠３には、内枠３に対するガラス扉４の開閉状態を検出し、ガラス扉４の開閉状態を示す扉開閉検出信号を出力する扉開閉検出器９が取り付けられている。本実施の形態では、枠開閉検出器８及び扉開閉検出器９として、固定接点と可動接点を有するスイッチが用いられている。なお、スイッチとしては、外枠２あるいはガラス扉４との当接によって可動接点が移動する機械式スイッチ等の種々のスイッチを用いることができる。
枠開閉検出器８は本発明の「枠開閉検出装置」に対応し、扉開閉検出器９は「扉開閉検出装置」に対応する。
また、内枠３には、遊技盤７にガイドレールによって形成されている遊技領域に遊技球を発射させる発射ハンドル６が設けられている。
【０００７】
遊技盤７の前面側（遊技者側）には、図２に示すように、ガイドレールによって遊技領域１０が形成されている。
遊技領域１０の下方には始動入賞口１１が設けられている。なお、図示は省略しているが、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを検出し、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号を出力する始動入賞球検出器１１ａ（図４参照）が設けられている。始動入賞球検出器１１ａが、本発明の「始動球検出装置」に対応する。
遊技領域１０の中央には可変入賞装置２０（通常、「電動役物」と呼ばれている）が設けられている。可変入賞装置２０には、遊技球が移動可能な入賞空間２１が形成されている。可変入賞装置２０の上部には、開口部２２ａが形成されているとともに、この開口部２２ａを開閉する開閉部材（可動部材）２２が設けられている。開閉部材２２は、図２の上下方向に移動可能（スライド可能）であり、上方に移動することによって開口部２２ａが閉じられ、下方に移動することによって開口部２２ａが開く。開口部２２ａは入賞空間２１と連通されており、開閉部材２２が下方に移動して開口部２２ａが開いている時に開口部２２ａを通過した遊技球は、入賞空間２１内を移動する。入賞空間２１の下部には、Ｖ入賞口（「特別入賞口」と呼ばれることもある）２４と一般入賞口２５が、入賞空間２１に連設されている。開口部２２ａを通過した遊技球は、Ｖ入賞口２４と一般入賞口２５のいずれかに入球する。なお、図示は省略しているが、遊技球がＶ入賞口２４に入球したことを検出し、遊技球がＶ入賞口２４に入球したことを示すＶ入賞球検出信号を出力するＶ入賞球検出器２４ａ（図４参照）、遊技球が一般入賞口２５に入球したことを検出し、遊技球が一般入賞口２５に入球したことを示す一般入賞球検出信号を出力する一般入賞球検出器２５ａ（図４参照）が設けられている。
Ｖ入賞口２４が本発明の「特別領域」に対応し、Ｖ入賞球検出器２４ａが本発明の「遊技球が特別領域を通過したことを検出する特別球検出装置」に対応し、「一般入賞口」は本発明の「普通領域」に対応し、一般入賞球検出器２５ａは本発明の「遊技玉が普通領域を通過したことを検出する一般球検出装置」に対応する。
【０００８】
また、磁気を検出する磁気検出器４０が設けられている。本実施の形態では、磁気検出器４０として、安価な有接点式の磁気検出器（「リードスイッチ」と呼ばれる）を用いている。有接点式の磁気検出器４０（以下、単に「磁気検出器４０」という）の概略構成が図５に示されている。図５に示されている磁気検出器４０は、不活性ガスが充填される空間４１ａを有するケース４１と、一対のリード片４２、４３を有している。リード片４２、４３は、磁性材料により形成され、ケース４１の外方に配置される固定部分４２ａ、４３ａと、空間４１ａ内に配置され、可撓性を有する可動部分４２ｂ、４３ｂを有している。可動部分４２ｂ、４３ｂには、対向する箇所に接点４２ｃ、４３ｃが設けられている。磁気検出器４０に磁界が加えられていない（近傍に磁石が存在しない）時には、接点４２ｃと４３ｃは開いている（開状態）。一方。磁気検出器４０に磁界が加えられている（近傍に磁石が存在する）時には、接点４２ｃ、４３ｃの部分が異なる磁極となる。例えば、図５に示されているように磁石４５が磁気検出器４０の近傍に存在する場合には、リード片４２の固定部分４２ａ側がＮ極、可動部分４２ｂ側がＳ極となり、リード片４３の固定部分４３ａ側がＳ極、可動部分４３ｂ側がＮ極となる。これにより、可動部分４２ｃと４３ｃの間に発生する磁気吸引力が可動片４２ｂ、４３ｂの弾性力より大きくなり、接点４２ｃと４３ｃが閉じる（閉状態）。
有接点式の磁気検出器４０が、本発明の「磁気を検出する有接点式の磁気検出装置」に対応する。
本実施の形態では、磁気検出器４０は、磁石によって遊技球を始動入賞口１１に不正に入球させる不正遊技を検知するために、始動入賞口１１の近傍に設けられている。勿論、磁気検出器４０の配設箇所は、始動入賞口１１の近傍に限定されず、磁石を用いて遊技球を不正に移動させる箇所を選択することができる。例えば、磁石によって遊技球を開口部２２ａを通過させる不正遊技を検知する場合には開口部２２ａの近傍に配設され、磁石によって遊技球をＶ入賞口２４に入球させる不正遊技を検知する場合にはＶ入賞口２４の近傍に配設される。
【０００９】
可変入賞装置２０の入賞空間２１の中央の後方側（反遊技者側）には、装飾図柄等を用いて種々の遊技演出を行う装飾図柄表示装置３０が設けられている。本実施の形態では、装飾図柄表示装置３０としては、種々の演出表示を行うことができる液晶表示装置が用いられている。
また、遊技盤１２の正面側には、遊技者側から見て右側上方に、異常報知ランプ１２が設けられている。本実施の形態では、異常報知ランプ１２として、ＬＥＤが用いられている。
遊技盤７の背面側（反遊技者側）には、図３に示されているように、各種の基板が基板ボックスに収容された状態で配設されている。例えば、後述する主制御基板１１０が収容された基板ボックス、副制御基板１２０が収容された基板ボックス、払出制御基板１３０が収容された基板ボックス等が配設されている。
また、パチンコ機１に外力が加えられたことを検出する外力検出器５０が設けられている。本実施の形態では、外力検出器５０として振動検出器が用いられている。なお、外力検出器５０は、遊技盤７に加えられた外力を検出するように配置するのが好ましい。
外力検出器（振動検出器）５０は、本発明の「遊技機に外力が加えられたことを検出する外力検出装置」に対応する。
なお、図示されていないが、電源投入時にＲＡＭに記憶されている情報をクリアするためのＲＡＭクリアスイッチが設けられている。ＲＡＭに記憶されている全情報を消去する場合（ＲＡＭを初期化する場合）には、ＲＡＭクリアスイッチを操作した状態で電源を投入する。
また、内枠３や遊技盤７には、装飾あるいは遊技演出のためのＬＥＤ（発光ダイオード）（光発生器）、スピーカ１２５（音発生器）（図４参照）が設けられている。ランプ１２６の種類、数や配置位置等は、装飾効果や遊技演出効果等を考慮して適宜選択される。
【００１０】
次に、本実施の形態のパチンコ機１の制御系の概略構成を、図４を用いて説明する。本実施の形態のパチンコ機１には、主制御基板１１０、副制御基板１２０、払出制御基板１３０、外部端子板１４０等の基板が設けられている。なお、図２には図示していないが、本実施の形態のパチンコ機１は、これ以外の種々の基板、遊技用機器、検出器が設けられている。
【００１１】
主制御基板１１０には、主制御回路１１１、ＲＯＭやＲＡＭを含む記憶回路（主制御用記憶回路）１１２等が配設されている。
主制御基板１１０には、端子１１０ａ〜１１０ｌ等が設けられている。入力端子１１０ｄ〜１１０ｇ、１１０ｊ、１１０ｋは、それぞれ、始動入賞球検出信号を出力する始動入賞球検出器１１ａ、Ｖ入賞球検出信号を出力するＶ入賞球検出器２４ａ、一般入賞球検出信号を出力する一般入賞球検出器２５ａ、振動検出器５０、磁気検出器４０、払出制御基板１３０の出力端子１３０ｉ、１３０ｊに接続されている。また、出力端子１１０ａ〜１１０ｃ、１１０ｈ、１１０ｌは、それぞれ、特別図柄表示装置１３、可変入賞装置２０の開閉部材２２、異常報知ランプ１２、副制御基板１２０の入力端子１２０ｄ、払出制御基板１３０の入力端子１３０ｋに接続されている。入出力端子１１０ｉは、払出制御基板１３０の入出力端子１３０ｈに接続されている。なお、太線はバスを示している。
主制御回路１１１は、入力信号と、記憶回路１１２に書き込まれている情報（例えば、制御プログラムや各種の乱数発生プログラム等のプログラムや制御データ等の記憶情報）に基づいて主制御信号を出力する。例えば、小当たり図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号、大当たり図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号、はずれ図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号を主制御信号として副制御回路１２１に出力する。
また、可変入賞装置２０の開閉部材２２を駆動する開閉部材用駆動装置に、開閉部材制御信号を主制御信号として出力する。
また、異常報知ランプ１２を駆動する異常報知ランプ用駆動装置に、異常報知ランプ制御信号を主制御信号として出力する。
また、Ｖ入賞球検出信号や一般入賞球検出信号の入力に応答して、賞球数を示す払出用主コマンド信号を主制御信号として払出制御回路１３１に出力する。
また、特別図柄表示装置３０を駆動する特別図柄表示装置駆動装置に、特別図柄制御信号を主制御信号として出力する。
勿論、主制御回路１１１は、これ以外にも種々の制御を行う。
【００１２】
副制御基板１２０には、副制御回路１２１、ＲＯＭやＲＡＭを含む記憶回路（副制御用記憶回路）１２２、ＶＤＰ（ビデオディスプレイプロセッサ）（画像処理回路）１２３、音源ＩＣ１２４等が配設されている。
副制御基板１２０には、端子１２０ａ〜１２０ｄ等が設けられている。入力端子１２０ｄは、主制御基板１１０の出力端子１１０ｇに接続されている。また、出力端子１３０ａ〜１３０ｃは、それぞれ装飾図柄表示装置３０、スピーカ１２５、ランプ１２６に接続されている。
副制御回路１２１は、主制御回路１１１から出力された主コマンド信号と、記憶回路１２２に書き込まれている情報（例えば、制御プログラムや各種の乱数発生プログラム等のプログラムや制御データ等の記憶情報）に基づいて、副制御信号を出力する。例えば、入力端子１２０ｄに入力された表示用主コマンド信号に含まれている小当たり図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数に対応する小当たり図柄と変動パターン、大当たり図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数に対応する大当たり図柄と変動パターン、はずれ図柄判定用乱数と変動パターン判定用乱数に対応するはずれ図柄と変動パターンを判別し、判別した小当たり図柄と変動パターン、大当たり図柄と変動パターン、はずれ図柄と変動パターンを装飾図柄表示装置３０に表示させるための表示制御信号を副制御信号としてＶＤＰ１２３に出力する。
ＶＤＰ１３３は、入力された表示制御信号に基づいて、記憶回路から装飾図柄画像情報、キャラクタ画像情報や背景画像情報等を読み出し、読み出した各画像情報を、大きさや配置位置を調整しながら合成することによって表示画面に対応するビットマップデータを作成する。そして、作成したビットマップデータに基づいて装飾図柄表示装置３０を制御する。
【００１３】
また、変動パターンに応じた音による演出を行うために、変動パターンを示す変動パターン情報を含む音用副コマンド信号を副制御信号として音源ＩＣ１２４に出力する。音源ＩＣ１２４は、音制御回路と音制御用記憶回路を有しており、入力された音用副コマンド信号と、音制御用記憶回路に記憶されている情報に基づいてスピーカ１２５を駆動する音制御信号を出力し、変動パターンに対応した音をスピーカ１２５から発生させる。
また、変動パターンに応じた光による演出を行うために、変動パターンに応じてランプ１２６を制御するランプ制御信号を副制御信号として出力する。
なお、図４では、装飾図柄表示装置３０を制御する制御回路（例えば、ＶＤＰ等）を副制御基板１２０に配設したが、装飾表示装置３０を制御する制御回路（例えば、表示制御回路、ＶＤＰ等）を配設した表示制御基板を設けることもできる。この場合には、副制御回路１２１から表示制御回路に、図柄や変動パターンを装飾図柄表示装置３０に表示させるための画像情報を示す副コマンド信号を副制御信号として出力する。
【００１４】
払出制御基板１３０には、払出制御回路１３１、ＲＯＭやＲＡＭを含む記憶回路（払出制御用記憶回路）１３２等が配設されている。
払出制御基板１３０には、端子１３０ａ〜１３０ｋ等が設けられている。入力端子１３０ｃ、１３０ｄ、１３０ｋは、それぞれ枠開閉検出器８、扉開閉検出器９、主制御基板１１０の入出力端子１３０ｋに接続されている。入出力端子１３０ｈは、主制御基板１１０の入出力端子１１０ｈに接続されている。出力端子１３０ｆ、１３０ｇ、１３０ｉ、１３０ｊは、それぞれ外部端子坂１４０の入力端子１４０ａ、１４０ｂ、主制御基板１１０の入力端子１１０ｉ、１１０ｊに接続されている。また、入力端子１３０ｃ、１３０ｄは、それぞれ、配線パターンを介して出力端子１３０ｆ、１３０ｇに接続されているとともに、出力端子１３０ｊ、１３０ｋに接続されている。
払出制御回路１３１は、入出力端子１３０ｈに入力された払出用主コマンド信号と、記憶回路１３２に書き込まれている情報に基づいて、出力端子１３０ｂから払出制御信号を払出装置１３５に出力し、払出用主コマンド信号で示される数の遊技球を払出装置１３５から払い出す。また、出力端子１３０ａから、発射ハンドル６の回動量に対応した発射制御信号を発射装置１６に出力する。
【００１５】
外部端子板１４０は、端子１４０ａ〜１４０ｆ等を有している。入力端子１４０ａ、１４０ｂ、１４０ｃは、それぞれ払出制御基板１３０の出力端子１３０ｆ、１３０ｇ、１３０ｅに接続されている。入力端子４０ａ、１４０ｂ、１４０ｃは、それぞれ、フォトモスリレー１４１、１４２、１４３を介して出力端子１４０ｄ、１４０ｅ、１４０ｆに接続されている。フォトモスリレーは、フォトカプラを用いた回路であり、非接触の信号経路を形成する。
外部端子板１４０の出力端子１４０ｄ、１４０ｅ、１４０ｆから出力される扉開閉検出信号、枠開閉検出信号、異常報知信号は、ホールコンピュータ等の管理装置に出力される。
管理装置は、各遊技機の外部端子板１４０から出力される扉開閉検出信号、枠開閉検出信号に基づいて、ガラス扉４あるいは内枠３が開いている（開状態にある）遊技機を判別する。また、各遊技機の外部端子板１４０から出力される異常報知信号に基づいて、不正遊技が行われている遊技機を判別する。
【００１６】
次に、本実施の形態のパチンコ機１の通常の動作（磁気検出器４０からの磁気検出信号および振動検出器５０からの振動検出信号基づく動作を除く）の一例を以下に説明する。
通常状態において、遊技球が始動入賞口１１に入球すると（当たり遊技獲得条件が成立すると）、始動入賞球検出器１１ａから主制御回路１１１に、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号が入力される。
主制御回路１１１は、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号が入力されると、当たり判定用乱数、小当たり図柄判定用乱数、大当たり図柄判定用乱数、はずれ図柄判定用乱数、変動パターン判定用乱数を取得する。そして、読み取った当たり判定用乱数が小当たり値（小当たり設定値）あるいは大当たり値（大当たり設定値）と一致するか否かを判定する（抽選手段により抽選を行う）。
当たり判定用乱数が小当たり値および大当たり値と一致しない場合（はずれの場合）には、はずれ図柄判定用乱数とはずれ変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号を副制御回路１２１に出力する。当たり判定用乱数が小当たり値と一致する場合（小当たり時）には、小当たり図柄判定用乱数と小当たり変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号を副制御回路１２１に出力する。当たり判定用乱数が大当たり値と一致する場合（大当たり時）には、大当たり判定用乱数と大当たり変動パターン判定用乱数を含む表示用主コマンド信号を副制御回路１２１に出力する。
【００１７】
副制御回路１２１は、主制御回路から入力された表示用主コマンド信号で示される装飾図柄および変動パターンを装飾図柄表示装置３０に変動表示させる。例えば、はずれ図柄判定用乱数とはずれ変動パターン判定用乱数に対応するはずれ図柄とはずれ変動パターン、小当たり図柄判定用乱数と小当たり変動パターン判定用乱数に対応する小当たり図柄と小当たり変動パターン、大当たり図柄判定用乱数と大当たり変動パターン判定用乱数に対応する大当たり図柄と大当たり変動パターンを装飾図柄表示装置３０に表示させるための表示制御信号をＶＤＰ１２３に出力する。また、変動パターンに応じた音をスピーカ１２５から発生させるために、変動パターンに対応した音用副コマンド信号を音源ＩＣ１２４に出力する。また、変動パターンに対応した光をランプ１２６から発生させるために、変動パターンに対応した光制御信号によってランプ１２６を駆動する。
【００１８】
主制御回路１１１は、当たり判定用乱数が小当たり値と一致している場合（小当たり時）には、小当たり変動パターンに対応する変動表示時間経過後、小当たり遊技を発生させる。小当たり遊技では、可変入賞装置２０の開閉部材２２を一定期間開制御（開閉制御を含む）して開口部２２ａを開状態（開閉状態を含む）とする。そして、小当たり遊技を発生させてから有効期間が経過するまでの間に、遊技球がＶ入賞口２４に入球してＶ入賞球検出器２４ａから主制御回路１１１に、遊技球がＶ入賞口に入球したことを示すＶ入賞球検出信号が入力された場合には、大当たり遊技を発生させる。大当たり遊技では、可変入賞装置２０の開閉部材２２を、遊技球が始動入賞口１１に入球した時より長い期間開制御（開閉制御を含む）する。
また、当たり判定用乱数が大当たり値と一致している場合（大当たり時）には、大当たり変動パターンに対応する変動表示時間経過後、大当たり遊技を発生させる。
なお、各遊技状態に対応して音や光による演出を行うために、適宜の副コマンド信号が主制御回路１１１から副制御回路１２１に出力される。
【００１９】
このようなパチンコ機では、始動入賞球検出器２４ａから、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号が主制御回路１１１に入力されると（当たり遊技獲得条件が成立すると）、先ず、当たり判定用乱数を取得してはずれ、小当たり、大当たりであるか否かを判別する。この時点では不正を行い難い。そして、小当たりである場合には、可変入賞装置２０の開閉部材２２が開制御され、有効期間内に遊技球がＶ入賞口２４に入球すると大当たり遊技が発生する。この場合、遊技機に外力を加えることによって遊技球を不正に移動させ、遊技球をＶ入賞口２４に不正に入球させる不正遊技が行なわれる虞が高い。また、磁石の磁気を用いて遊技球を不正時に移動させ、遊技球を始動入賞口１１やＶ入賞口４に不正に入球させる不正遊技が行われる虞もある。本実施の形態では、磁気を検出する磁気検出器４０および遊技機に外力が加えられたことを検出する振動検出器５０を用いることによって、このような不正遊技を精度よく検出および防止する構成としている。以下に、不正遊技の検出および防止動作を含めた本実施の形態のパチンコ機の動作を説明する。
【００２０】
まず、本実施の形態の、磁気検出器４０からの磁気検出信号（例えば、磁気検出器４０が磁気を検出していないことを示す［Ｌ］レベルの磁気検出信号、磁気検出器４０が磁気を検出していることを示す［Ｈ］レベルの磁気検出信号）および振動検出器５０からの振動検出信号（振動検出器５０が遊技機に外力が加えられていないことを検出している［Ｌ］レベルの振動検出信号、振動検出器５０が遊技機に外力が加えられていることを検出している［Ｈ］レベルの振動検出信号）に基づく動作の概要を説明する。
【００２１】
前述したように、有接点式の磁気検出器４０は、接点の開閉状態を検出するための検出用電圧（例えば、ＤＣ１８Ｖ）や遊技球が遊技領域を移動する際の振動等によって接点が劣化し、誤動作する（磁気を検出しない状態で、磁気を検出していることを示す磁気検出信号が出力される）虞がある。ここで、有接点式の磁気検出器４０の接点の劣化状態を解析したところ、接点が劣化すると、磁気検出器４０に磁界が加えられていない（近傍に磁石が存在しない）状態で、磁気検出器４０から、下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内の期間（例えば、下限値Ｔａ＝１０００ｍｓ〜上限値Ｔｂ＝５０００ｍｓの範囲内の期間）、磁気を検出していることを示す磁気検出信号（例えば、［Ｈ］レベルの磁気検出信号）が出力されること、すなわち、磁気検出器４０が誤動作することが判明した。また、この範囲内の期間の、磁気を検出していることを示す磁気検出信号が、設定回数Ｎ回（例えば、設定回数Ｎ＝３回）出力されると、それ以降、磁気を検出していることを示す磁気検出信号が出力される頻度が増加すること、すなわち、磁気検出器４０が誤動作する頻度が高くなることが判明した。さらに、この範囲の下限値Ｔａ（例えば、１０００ｍｓ）は、遊技球が遊技領域を移動する際の振動等によって磁気検出器４０から出力される、磁気を検出していることを示す磁気検出信号の期間より長く、また、この範囲の上限値Ｔｂ（例えば、５０００ｍｓ）は、磁石等の磁気を用いて不正遊技を行う際に、磁気検出器４０から出力される、磁気を検出していることを示す磁気検出信号の期間より短いことも判明した。
そこで、本実施の形態では、磁気検出器４０から出力される、磁気を検出していることを示す磁気検出信号の検出期間Ｔ（磁気検出器４０が磁気を検出している検出期間Ｔ）を測定する。そして、下限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜Ｔａ＜Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、磁気検出器４０の接点が劣化していることを判別し、遊技を中断するとともに、異常報知１を行う。これにより、接点の劣化による磁気検出器４０の誤動作によって遊技が中断するのを防止することができるとともに、遊技店の係員等は、磁気検出器４０の接点が劣化していることを判別することができる。また、下限値Ｔａに達しない検出期間Ｔを測定した場合には、遊技球が遊技領域を移動する際の振動等によって磁気検出器４０が誤動作したことを判別し、無視する。また、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔを測定した場合には、磁気を用いた不正遊技の虞があることを判別し、遊技を中断するとともに、異常報知２を行う。これにより、磁気を用いた不正遊技を検出および防止することができるとともに、遊技店の係員等は、磁気を用いた不正遊技を判別することができる。
異常報知１および異常報知２における異常報知態様としては、適宜の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプ１２を制御する異常報知態様や、ホールコンピュータあるいは遊技店の係員等に異常を通知する（例えば、異常報知信号を送信する）異常報知態様等を用いることができる。なお、異常報知１と異常報知２では、磁気検出器４０の接点の劣化および磁気を用いた不正遊技を判別可能に、異なる異常報知態様を用いるのが好ましい。例えば、異常報知ランプ１２の制御態様（連続点灯制御態様や間欠点灯制御態様）や点灯色を変える。
【００２２】
また、可変入賞装置２０の開口部２０ａを開制御する小当たり遊技中に、遊技遊に外力を加えて遊技球をＶ入賞口２４に不正に入球させる不正遊技が行われることが多い。そこで、本実施の形態では、小当たり遊技中に振動検出器５０から、振動を検出したことを示す振動検出信号（遊技機に外力が加えられていることを示す振動検出信号）（例えば、［Ｈ］レベルの磁気検出信号）が出力された場合には、異常報知３を行う、異常報知３における異常報知態様としては、適宜の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプ１２を制御する異常報知態様を用いることができる。この時、異常報知１および２と異なる異常報知態様を用いるのが好ましい。これにより、遊技店の係員等に、遊技機への外力の印加による不正遊技に対する注意を喚起させることができる。そして、小当たり遊技中に、Ｖ入賞球検出器２４ａから遊技球がＶ入賞口２４に入球したことを示すＶ入賞球検出信号が出力されるとともに、振動検出器５０から、振動を検出したこと（遊技機に外力が加えられたこと）を示す振動検出信号が出力された場合には、遊技機への外力の印加による不正遊技が行われた虞があることを判別し、遊技を中断するとともに異常報知２を行う。なお、磁気検出器４０からの磁気検出信号に基づいた異常報知２と振動検出器５０からの振動検出信号に基づいた異常報知２においては、同じ異常報知態様を用いてもよいし、磁気検出信号に基づいた異常報知態様（磁気を用いた不正遊技の報知）と振動検出信号に基づいた異常報知態様（遊技機への外力の印加による不正遊技の報知）を判別可能な異なる異常報知態様を用いてもよい。
【００２３】
本実施の形態の、磁気検出器４０からの磁気検出信号および振動検出器５０からの振動検出信号に基づく動作（不正遊技検出処理）を、図７を用いて具体的に説明する。なお、以下では、磁気検出器４０から出力される磁気検出信号が、磁気検出器４０が磁気を検出していないことを示している状態を［Ｌ］レベルとよび、磁気検出器４０が磁気を検出していることを示している状態を［Ｈ］レベルとよぶ。また、振動検出器５０から出力される振動検出信号が、振動検出器４０が遊技機に外力が加えられていないことを検出していることを示している状態を［Ｌ］レベルとよび、振動検出器５０が遊技機に外力が加えられていることを検出していることを示している状態を［Ｈ］レベルとよぶ。また、設定回数Ｎとして、［３］回を用いている。
【００２４】
図７（ａ）は、磁気検出器４０からの磁気検出信号に基づいて、磁気検出器４０の接点の劣化を検出する動作を示している。
磁気検出信号は、時点ｔ１と時点ｔ２の間の期間Ｔ１（Ｔ１＜Ｔａ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ１が下限値Ｔａに達していないため（遊技球が遊技領域を移動する際の振動等による誤動作）、時点ｔ２での検出回数（下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内の検出期間Ｔを測定した回数）ｎは［０］回のままである。
次に、磁気検出信号は、時点ｔ３と時点ｔ４の間の期間Ｔ２（Ｔａ≦Ｔ２≦Ｔｂ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ２が下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内であるため、時点ｔ４での検出回数ｎは［１］回となる。
次に、磁気検出信号は、時点ｔ５と時点ｔ６の間の期間Ｔ３（Ｔａ≦Ｔ３≦Ｔｂ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ３が下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内であるため、時点ｔ６での検出回数ｎは［２］回となる。
次に、磁気検出信号は、時点ｔ７と時点ｔ８の間の期間Ｔ４（Ｔ４＜Ｔａ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ４が下限値Ｔａに達してないため、時点ｔ８での検出回数ｎは［２］回のままである。
次に、磁気検出信号は、時点ｔ９と時点ｔ１０の間の期間Ｔ５（Ｔａ≦Ｔ５≦Ｔｂ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ５が下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内であるため、時点ｔ１０での検出回数ｎは［３］回となる。時点ｔ６で検出回数ｎが設定回数Ｎ（＝［３］回）に達したため、磁気検出器４０の接点が劣化したことを判別し、磁気検出フラグ１をセットする。これにより、遊技が中断するとともに、異常報知１が行われる。
【００２５】
図７（ｂ）は、磁気検出器４０からの磁気検出信号に基づいて、磁気を用いた不正遊技を検出する動作を示している。
磁気検出信号は、時点ｔ２１と時点ｔ２２の間の期間Ｔ２１（Ｔ２１＜Ｔａ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ２１が上限値Ｔｂを超えていないため、時点ｔ２２では、不正遊技が行われていないことを判別する。また、検出期間Ｔ２１が下限値Ｔａに達していないため、検出回数［ｎ］は［０］回のままである。
次に、磁気検出信号は、時点２３と時点ｔ２４の間の期間Ｔ２２（Ｔａ≦Ｔ２２≦Ｔｂ）［Ｈ］レベルとなっている。この場合、検出期間Ｔ２２は、下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内であるが上限値Ｔｂを超えていないため、時点ｔ２４では、不正遊技が行われていないことを判別し、また、検出回数ｎは［１］回となる。
次に、磁気検出信号は、時点２５から上限値Ｔｂを超える期間［Ｈ］レベルである。この場合、時点ｔ２５から、期間Ｔｂより大きい期間Ｔ２３経過した時点ｔ２６で、磁気を用いた不正遊技を判別し、磁気検出フラグ２をセットする。これにより、遊技が中断するとともに、異常報知２が行われる。
【００２６】
図７（ｃ）は、振動検出器５０からの振動検出信号に基づいて、磁気を用いた不正遊技を検出する動作を示している。
振動検出信号は、時点ｔ３１と時点ｔ３２の間［Ｈ］レベルとなっており、遊技機に外力が加えられたことが検出されている。この場合、小当たり遊技中でないため、振動検出フラグはセットされない。
次に、振動検出信号は、時点ｔ３４から時点ｔ３５の間［Ｈ］レベルとなっている。ここで、時点ｔ３３から時点ｔ３６まで小当たり遊技が行われている。このため、時点ｔ３４（あるいは時点ｔ３５）で、振動検出フラグがセットされる。これにより、異常報知３が行われる。この場合、小当たり遊技が行われている期間ｔ３３と時点ｔ３４の期間内にＶ入賞球検出信号が［Ｈ］レベルとならなかった（遊技球がＶ入賞口２４に入球しなかった）ため、小当たり遊技が終了する時点ｔ３６で、振動検出フラグはリセットされる。
次に、振動検出信号は、時点ｔ３８から時点ｔ３９の間［Ｈ］レベルとなっている。ここで、時点ｔ３７から時点ｔ４２まで小当たり遊技が行われている。このため、時点ｔ３８（あるいは時点ｔ３９）で、振動検出フラグがセットされる。これにより、異常報知３が行われる。この場合、小当たり遊技が行われている期間ｔ３７とｔ４２の期間内の時点ｔ４０とｔ４１の間Ｖ入賞球検出信号が［Ｈ］レベルとなっている（遊技球がＶ入賞口２４に入球した）。このため、時点ｔ４０（あるいは時点ｔ４１）で、遊技中断フラグがセットされる。これにより、遊技が中断するとともに、異常報知２が行われる。
【００２７】
本実施の形態の主制御回路１１１の処理を、図８に示すフローチャートを用いて説明する。図８は、主制御回路１１１の電源投入時処理とメイン処理の概略を説明するフローチャートである。図８に示す電源投入時処理は、電源の投入等によって、主制御回路１１１に供給される電源の電圧が、主制御回路１１１が動作可能な動作電圧に達した時点で開始される。
【００２８】
ステップＡ１では、主制御回路１１１の初期設定が行われる。
ステップＡ２では、ＲＡＭクリアスイッチが操作されているか否かを判定する。ＲＡＭクリアスイッチは、ＲＡＭに記憶されている情報を消去し、初期値から遊技を開始させる場合に操作される。典型的には、ＲＡＭクリアスイッチは営業開始時に操作される。一方、前回の停電時の状態から遊技を再開させる場合には、ＲＡＭクリアスイッチは操作されない。ＲＡＭクリアスイッチが操作されている場合にはステップＡ９進み、ＲＡＭクリアスイッチが操作されていない場合にはステップＡ３に進む。このステップＡ２では、「ＲＡＭクリアスイッチが操作されている状態で駆動電力が供給されたか否かを判定する処理」が実行される。
ステップＡ３では、記憶回路１１２のＲＡＭに記憶されている遊技情報等が正常であるか否か（ＲＡＭに記憶されている遊技情報が停電中に変化しているか否か）を判定するための判定情報を算出する。本実施の形態では、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等のチェックサム値を判定情報として算出している。
ステップＡ４では、ステップＡ３で算出した判定情報を用いて、ＲＡＭに記憶されている情報が正常であるか否か（ＲＡＭに記憶されている遊技情報等が停電中に変化しているか否か）を判定する。本実施の形態では、ステップＡ３で算出したチェックサム値とＲＡＭに記憶されているチェックサム値（前回の停電処理時に算出したチェックサム値）が一致しているか否かを判断する。算出したチェックサム値とＲＡＭに記憶されているチェックサム値が一致している場合にはステップＡ５に進み、一致していない場合にはステップＡ９に進む。
【００２９】
ステップＡ５では、バックアップフラグがセットされているか否か（「１」に設定されているか否か）を判断する。バックアップフラグは、前回の停電処理時に、停電処理が正常に終了したか否かを示すフラグである。すなわち、前回の停電処理が正常に終了した場合にはセットされ（「１」が設定され）、正常に終了していない場合にはリセットされる（「０」が設定される）。バックアップフラグがセットされている場合にはステップＡ６に進み、リセットされている場合にはステップＡ９に進む。このステップＡ５では、「前回の停電処理が正常に終了したか否かを判定する」処理が実行される。
ステップＡ６では、ＲＡＭクリアスイッチが操作されてない状態で主制御回路１１１が動作状態となり、また、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等が正常であり、さらに、前回の停電処理が正常に終了したことを判定し、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等に基づいて遊技を再開する（停電発生時の遊技状態から遊技を再開する）。すなわち、ＲＡＭの作業領域の復電時設定を行う。
ステップＡ７では、復電時処理を実行する。復電時処理では、例えば、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等に対応する主制御信号（主コマンド信号や制御信号）をＲＡＭの所定領域に記憶する。
【００３０】
ステップＡ９では、ＲＡＭクリアスイッチが操作されている状態で主制御回路１１１が動作状態となったこと、あるいは、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等が異常であること、あるいは、前回の停電処理が正常に終了していないことを判定し、ＲＡＭの全領域をクリア（初期化）する初期化処理を実行する。例えば、ＲＡＭの全領域に初期値「０」を設定する。なお、記憶回路１１２のＲＯＭに記憶されている初期値を読み出してＲＡＭに設定する方法を用いることもできる。
ステップＡ１０では、ＲＡＭの作業領域を初期設定する。この初期設定では、ＲＯＭに記憶されている初期値を読み出し、読み出した初期値をＲＡＭの作業領域に設定する。また、ＲＡＭクリア時処理を実行する。ＲＡＭクリア時処理では、例えば、ＲＡＭを初期化したことを示すＲＡＭクリア報知コマンド、各制御回路や遊技用機器の検査を行うためのテストコマンドを作成し、ＲＡＭの出力領域に記憶する。なお、主制御回路１１１からＲＡＭクリア報知コマンド信号が出力されると、装飾図柄表示装置３０にＲＡＭが初期化されたことを報知する画像情報が表示される。また、主制御回路１１１からテストコマンドが出力されると、各制御回路や各遊技用機器の検査が行われる。
【００３１】
ステップＡ８では、割り込み初期設定を行う。割り込み初期設定では、主制御回路１１１のメイン処理内でタイマ割り込み処理を行う割り込み周期が設定される。本実施の形態では、割り込み周期として４ｍｓが設定される。勿論、メイン処理は、タイマ割り込み周期より短い周期で実行される。
ステップＡ１１では、割り込み許可設定を行う。割り込み許可設定により、ステップＡ８で設定したタイマ割り込み周期毎のタイマ割り込み処理が実行される。
【００３２】
ステップＡ１２では、停電検出回路からの停電検出信号（停電予告信号）が入力されているか否かを判断する。停電検出回路は、例えば、電源（例えば、１２Ｖ電源や５Ｖ電源等）の電圧が設定値以下になったことにより停電検出信号を出力する。なお、設定値は、停電検出信号が出力された時点から主制御回路１１１等が停電処理を実行する期間の間電源の電圧が主制御回路１１１等の動作電圧以下に低下しない値に設定される。停電検出信号が入力されていない場合にはステップＡ１３に進み、停電検出信号が入力された場合にはステップＡ１４に進む。
ステップＡ１３では、非当落乱数の更新処理を行う。非当落乱数は、当たりであるか否かの判定に直接使用しない乱数を意味する。例えば、下限設定値と上限設定値の間で順次加算されるカウント値を当たり判定用乱数として用いるとともに、１周期毎にカウント開始値（初期値）を更新する場合（「初期値更新型乱数」という）に、初期値として用いられる当たり判定用乱数の初期値用乱数が対応する。
ステップＡ１３の処理を終了した後ステップＡ１２に戻る。
なお、メイン処理内においてタイマ割り込み周期（例えば、４ｍｓ）毎にタイマ割り込み処理が実行される。
【００３３】
ステップＡ１４では、割り込み禁止設定を行う。割り込み禁止設定により、以後のタイマ割り込み処理が禁止され、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等の書き換えが禁止される。
ステップＡ１５では、停電クリア信号の出力を開始する。これにより、主制御回路３１からの信号の出力が停止され、遊技用機器の駆動が停止する。遊技用機器の駆動が停止されることによって、電力消費が抑制され、主制御回路１１１による停電処理のための電力が確保される。
ステップＡ１６では、次回の主制御回路１１１の電源投入時処理を実行する時に、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等が正常であるか否か（ＲＡＭ３３に記憶されている遊技情報等が停電中に変化しているか否か）を判定するための判定情報を作成する。本実施の形態では、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等に基づいて判定情報を算出する。本実施の形態では、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等のチェックサム値を算出している。そして、ＲＡＭに記憶されている遊技情報等と算出したチェックサム値をバックアップ情報としてＲＡＭのチェックサム値記憶領域に記憶する。判定情報としては、チェックサム値に限定されず、パリティデータ等の種々の判定情報を用いることができる。
ステップＡ１７では、ステップＡ１６の処理（ＲＡＭに記憶されている遊技情報等と算出したチェックサム値をＲＡＭのチェックサム値記憶領域に記憶する処理）を終了した後、バックアップフラグを、停電処理を終了したことを示す「１」に設定する。なお、ステップＡ１６の処理が完了しなかった場合には、バックアップフラグは、停電処理が正常に終了しなかったことを示す「０」の状態（ＲＡＭ３３が初期化された時の状態）に保持される。
【００３４】
次に、主制御側回路１１１のメイン処理内で実行されるタイマ割り込み処理を図９に示すフローチャートにより説明する。図９に示すタイマ割り込み処理は、図８に示したメイン処理内で、ステップＡ８で設定されたタイマ割り込み周期（本実施の形態では、４ｍｓ）毎に実行される。
ステップＢ１では、遊技中断フラグがセットされているか否かを判断する。「遊技中断フラグ」については後述する。遊技中断フラグがセットされている場合にはステップＢ１１に進み、セットされていない場合にはステップＢ２に進む。遊技中断フラグは、本発明の「磁気を用いた不正遊技あるいは遊技機への外力の印加による不正遊技を示す不正遊技情報」に対応する。
ステップＢ２では、振動検出フラグラグがセットされているか否かを判断する。「振動検出フラグ」については後述する。振動検出フラグがセットされていない場合にはステップＢ３に進み、セットされている場合にはステップＢ１０に進む。振動検出フラグは、本発明の「遊技機に外力が加えられたことを示す外力印加情報」に対応する。
ステップＢ３では、各種信号の入力処理を行う。入力された信号は、入力情報としてＲＡＭの入力領域に書き込まれる。入力される信号としては、例えば、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号、遊技球がＶ入賞口２４に入球したことを示すＶ入賞球検出信号、遊技球が一般入賞口２５に入球したことを示す一般入賞球検出信号等が用いられる。
ステップＢ４では、タイマ更新処理を行う。例えば、装飾図柄表示装置３０に装飾図柄を変動表示させる際に、装飾図柄の変動表示期間を減算する。この場合、変動表示期間が「０」になることによって、装飾図柄表示装置３０への装飾図柄の変動表示が終了する時点を判別することができる。あるいは、信号を出力した後のＡＣＫ信号（応答信号）の入力判定期間を減算する。入力判定期間が「０」に達するまでにＡＣＫ信号が入力されなかったことにより、異常が発生していることを判別する。なお、本実施の形態では、４ｍｓ毎にタイマ割り込み処理を実行しているため、各期間は、４ｍｓずつ減算される。
【００３５】
ステップＢ５では、ＲＡＭに記憶されている当たり判定用乱数の更新処理を行う。複数の当たり判定用乱数を用いている場合には、ＲＡＭに記憶されている複数の当たり判定用乱数を更新する。なお、当判定用乱数の更新処理において、各周期の初期値として非当落乱数が設定される。これにより、当たり判定用カウント値が設定値（小当たり値、大当たり値）と一致する時点を予測するのが困難となり、不正遊技を防止することができる。
なお、ステップＢ５では、ステップＡ１３での非当落乱数更新処理と同様の更新処理も行われる。このように、非当落乱数の更新処理を、メイン処理内およびメイン処理内のタイマ割り込み処理内それぞれで行うことにより、当たり初期値用カウント値のランダム性がより高まる。
【００３６】
ステップＢ６では、賞球払出処理を行う。賞球払出処理では、ＲＡＭの入力領域から遊技球が入賞口（始動入賞口、Ｖ入賞口、一般入賞口等）に入球したことを示している入力情報を読み出し、読み出した入力情報に対応する（遊技球が入球した入賞口に対応する）賞球数を示す払出用主コマンド信号をＲＡＭの出力領域に記憶する。
ステップＢ７では、不正検出処理（不正遊技検知処理）を行う。不正検出処理については後述する。不正を検出した場合には、外部に異常報知信号を出力するためにＲＡＭの出力領域に異常報知出力信号を書き込む。
ステップＢ８では、当たり遊技発生処理を行う。当たり遊技発生処理については後述する。
ステップＢ９では、信号出力処理を行う。例えば、ＲＡＭの出力領域に書き込まれている出力情報を読み出し、読み出した出力情報に基づいて各種の主制御信号（主コマンド信号や制御信号）を出力する。
【００３７】
ステップＢ１０では、振動検出フラグがセットされていることを報知する異常報知３を行う。異常報知３の異常報知態様としては、振動検出フラグがセットされていること（小当たり遊技中に遊技機に外力が加えられたこと）を判別可能な適宜の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプ１２を設定期間（例えば、３０秒）点灯あるいは点滅させる。「異常報知３」が、本発明の「第３の異常報知」に対応する。
ステップＢ１０では、遊技球がＶ入賞口２４に入球していないため、不正遊技が行われている可能性は低いが、小当たり遊技中（有効期間内）に、遊技機に外力が加えられたことが検出されているため、不正遊技が行われる虞があると判断し、遊技店の係員等に遊技機への外力の印加による不正遊技に対する注意を促す。これにより、遊技点の係員等は、異常報知ランプ１２の点灯状態に基づいて、遊技機への外力の印加による不正遊技が行われる虞があることを認識することができる。
【００３８】
ステップＢ１１では、不正遊技が行われている可能性が高いため、遊技中断処理を実行する。遊技中断処理としては、大当たり遊技による特典（典型的には、賞球の払出）を得ることができないようにする処理が用いられる。例えば、賞球の払出を無効にする処理を実行する。賞球の払出を無効にする方法としては、例えば、入賞球検出信号の入力を禁止する態様と、入力された入賞球検出信号に対応する賞球数を示す払出用主コマンド信号の払出制御回路１３１への出力を禁止する態様を用いることができる。あるいは、遊技球を発射させる発射装置の作動を停止させる態様を用いる。例えば、発射装置を駆動するモータへの電源供給を停止する態様を用いることができる。なお、遊技の中断は、遊技店の係員等による遊技中断復旧処理が実行されるまで保持されるように構成するのが好ましい。例えば、遊技中断フラグがセットされている間、遊技を中断するように構成するのが好ましい。
ステップＢ１２では、磁気検出フラグ１がセットされているか否かを判断する。「磁気検出フラグ１」については後述する。磁気検出フラグ１は、本発明の「磁気検出器の接点が劣化していることを劣化情報」に対応する。磁気検出フラグ１がセットされている場合にはステップＢ１３に進み、磁気検出フラグ１がセットされていない場合にはステップＢ１４に進む。
ステップＢ１３では、異常報知１を行う。異常報知１の異常報知態様としては、有接点式の磁気検出器４０の接点が劣化したことを判別可能な適宜の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプ１２を、設定された色で、点灯あるいは点滅させる。なお、異常報知１では、磁気検出器４０の接点が劣化していることをホールコンピュータあるいは遊技店の係員等に報知するための磁気検出器劣化報知信号の出力準備をしてもよい。この磁気検出器劣化報知信号は、ステップＢ９において、外部端子坂１４０からホールコンピュータ等に出力される。「異常報知１」が、本発明の「第１の異常報知」に対応する。
ステップＢ１４では、異常報知２を行う。異常報知２の異常報知態様としては、不正遊技が行われていることあるいは行われたことを判別可能な適宜の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプ１２を、設定された色で、点灯あるいは点滅させる。なお、異常報知２では、不正遊技が行われていることあるいは行われたことホールコンピュータあるいは遊技店の係員等に報知するための不正遊技報知信号の出力準備をする。この不正遊技報知信号は、ステップＢ９において、外部端子坂１４０からホールコンピュータ等に出力される。なお、異常報知２では、磁気検出信号に基づく不正遊技（磁気を用いた不正遊技）に対する異常報知であるか振動検出信号に基づく不正遊技（遊技機への外力の印加による不正遊技）に対する異常報知であるから判別可能に、それぞれ異なる異常報知態様を用いることもできる。「異常報知２」が、本発明の「第２の異常報知」に対応する。
【００３９】
次に、図９のステップＢ７の不正検出処理（不正遊技検知処理）の一例を、図１０に示すフローチャートにより説明する。本実施の形態では、磁気を検出する磁気検出器４０を用いた不正遊技の検出処理（ステップＣ１〜Ｃ４）、磁気検出器４０の接点の劣化検出処理（ステップＣ５〜Ｃ９）、遊技機に外力が加えられたことを検出する振動検出器５０を用いた不正遊技の検出処理（ステップＣ１０〜Ｃ１２）を行っている。
ステップＣ１では、磁気検出器４０によって磁気が検出されたか否かを判断する、例えば、磁気検出信号が［Ｈ］レベルであるか否かを判断する。磁気が検出された場合にはステップＣ２に進み、磁気が検出されていない場合にはステップＣ５に進む。
ステップＣ２では、検出期間（磁気検出信号が［Ｈ］レベルである期間）Ｔを測定する。本実施の形態では、不正検出処理が４ｍｓ毎のタイマ割り込み処理で行われるため、検出期間Ｔに４ｍｓが加算される。
ステップＣ３では、検出期間Ｔが上限値Ｔｂを超えているか否かを判断する。検出期間Ｔが上限値Ｔｂを超えている場合［上下値Ｔｂ＜検出期間Ｔ］にはステップＣ４に進み、検出期間Ｔが上限値Ｔｂを超えていない場合［検出期間Ｔ≦上限値Ｔｂ］にはステップＣ１０に進む。
ステップＣ４では、磁気を用いた不正遊技を判別し、磁気検出フラグ２をセットする。磁気検出フラグ２は、本発明の「磁気を用いた不正遊技を示す磁気不正遊技情報」に対応する。
【００４０】
ステップＣ５では、ステップＣ２で測定した検出期間Ｔが下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内であるか否かを判断する。検出期間Ｔが下限値Ｔｂと上限値Ｔｂの範囲内である場合（下限値Ｔａ≦検出期間Ｔ≦上限値Ｔｂ）にはステップＣ６に進み、検出期間Ｔが下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内でない場合（検出期間Ｔ＜下限値Ｔａ、上限値Ｔｂ＜検出期間Ｔ））にはステップＣ９に進む。
なお、ステップＣ５の前に、「前回の処理で磁気が検出されたか否かを判断するステップ」を設け、前回の処理で磁気が検出された場合（磁気の検出が停止した直後の場合）にはステップＣ５に進み、前回の処理で磁気が検出された場合（磁気が検出されていない状態が継続している場合）にはステップＣ１０に進むように構成することもできる。
ステップＣ６では、検出回数（下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内である検出期間Ｔを測定した回数）ｎに［＋１］を加算する。
ステップＣ７では、検出回数ｎが設定回数Ｎ（本実施の形態では［３］回）に達したか否かを判断する。検出回数ｎが［３］回に達した場合にはステップＣ８に進み、検出回数ｎが［３］回に達していない場合にはステップＣ９に進む。
ステップＣ８では、磁気検出器４０の接点が劣化していることを判別し、磁気検出フラグ１をセットする。
ステップＣ９では、検出期間Ｔを［０］にする（リセットする）。
【００４１】
ステップＣ１０では、振動検出器５０によって遊技機に外力が加えられたことが検出されたか否かを判断する。遊技機に外力が加えられたことが検出された場合にはステップＣ１１に進み、遊技機に外力が加えられていることが検出されない場合には処理を終了する。
ステップＣ１１では、小当たり遊技中であるか否かを判断する。小当たり遊技中であるか否かは、例えば、小当たり遊技が発生されてから前述した有効期間内であるか否かによって判断する。小当たり遊技中である場合にはステップＣ１２に進み、小当たり遊技中でない場合には処理を終了する。
ステップＣ１２では、振動検出フラグをセットする（外力が印加されたことを示す外力印加情報を記憶する）。このステップＣ１２では、外力の印加による不正遊技が行われる可能性が高い小当たり遊技中に、遊技機に外力が印加されたことが検出された場合に振動検出フラグをセットする。
【００４２】
なお、前述したように、可変入賞装置２０を有するパチンコ機１では、始動入賞球検出信号の入力（当たり遊技獲得条件の成立）に起因して取得した当たり判定用乱数が小当たり値と一致し（小当たりとなり）、可変入賞装置２０の開口部２２ａを介した遊技球がＶ入賞口２４に入球することによって大当たり遊技が発生する。このため、小当たり遊技中に振動検出器１５から振動検出信号が入力されたことを判別することにより、遊技機への外力の印加による不正遊技をより精度よく検出することができる。
【００４３】
次に、図９のステップＢ８の当たり遊技発生処理の一例を、図１１に示すフローチャートを用いて説明する。
ステップＤ１では、図柄変動表示が開始されたか否かを判断する、図柄変動は、遊技球が始動入賞口１１に入球し、遊技球が始動入賞口１１に入球したことを示す始動入賞球検出信号が主制御回路１１１に入力されたこと（当たり遊技獲得条件の成立）に起因して開始される。図柄変動表示が開始された場合にはステップＤ２に進み、図柄変動表示が開始されていない場合にはステップＤ１３に進む。
ステップＤ２では、図柄変動表示処理を実行する。例えば、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得した変動パターン判定用乱数に対応する変動パターンで装飾図柄を装飾図柄表示装置３０に変動表示させる。
ステップＤ３では、小当たりであるか否かを判断する。小当たりであるか否かは、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得した当たり判定用乱数が小当たり値（小当たり設定値）と一致しているか否かによって判断することができる。小当たり遊技である場合にはステップＤ４に進み、小当たり遊技でない場合にはステップＤ９に進む。
【００４４】
ステップＤ４では、小当たり図柄停止表示処理を実行する。小当たり停止図柄は、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得した小当たり図柄判定用乱数によって決定される。このステップＤ４は、小当たり変動パターンに対応する変動表示時間経過後に実行される。
ステップＤ５では、小当たり遊技を発生させる。小当たり遊技では、可変入賞装置２０の開閉部材２２を一定期間開制御（開閉制御を含む）する。
ステップＤ６では、大当たり遊技移行判定処理を実行する。小当たり遊技中（小当たり遊技を発生させてから有効期間内）に遊技球がＶ入賞口２４に入球すると、小当たり遊技から大当たり遊技に移行するため、不正遊技が行われる虞がある。この大当たり遊技移行判定処理では、小当たり遊技から大当たり遊技への移行が不正遊技によるものか否かを判断する。大当たり遊技移行判定処理については後述する。
ステップＤ７では、小当たり遊技中（有効期間内）に遊技球がＶ入賞口２４に入球したか否か（遊技球がＶ入賞口２４に入球したことを示すＶ入賞球検出信号が入力されたか否か）を判断する。遊技球がＶ入賞口２４に入球した場合にはステップＤ８に進み、遊技球がＶ入賞口２４に入球しなかった場合には、処理を終了する。
ステップＤ８では、大当たり遊技を発生させる。大当たり遊技では、可変入賞装置２０の開閉部材２２を、小当たり遊技時の一定期間より長い期間開制御（開閉制御を含む）する。
【００４５】
ステップＤ９では、大当たりであるか否かを判断する。大当たりであるか否かは、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得した当たり判定用乱数が大当たり値（大当たり設定値）と一致しているか否かによって判断することができる。大当たりである場合にはステップＤ１０に進み、大当たりでない場合にはステップＤ１２に進む。
ステップＤ１０では、大当たり図柄停止表示処理を実行する。大当たり停止図柄は、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得した大当たり図柄判定用乱数によって決定される。このステップＤ１０は、大当たり変動パターンに対応する変動表示時間経過後に実行される。
ステップＤ１１では、大当たり遊技を発生させる。大当たり遊技では、可変入賞装置２０の開閉部材２２を、小当たり遊技時の一定期間より長い期間開制御（開閉制御を含む）する。大当たり遊技中では、不正遊技の検出は行わない。
ステップＤ１２では、はずれであるため、はずれ図柄を停止表示させる。はずれ図柄は、始動入賞球検出信号の入力に起因して取得したはずれ図柄判定用乱数によって決定される。このステップＤ１２は、はずれ変動パターンに対応する変動表示時間経過後に実行される。
ステップＤ１３では、待機処理を実行する。ステップＤ１３の待機処理は後述する。
【００４６】
次に、図１１のステップＤ１３の待機処理の一例を、図１２に示すフローチャート用いて説明する。
ステップＥ１では、磁気検出フラグ１あるいは磁気検出フラグ２がセットされているか否か（下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内の検出期間Ｔが設定回数Ｎ回（例えば、３回）測定されたか否かあるいは上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔが測定されたか否か）を判断する。磁気検出フラグ１あるいは磁気検出フラグ２がセットされている場合にはステップＥ２に進み、磁気検出フラグ１および磁気検出フラグ２がセットされていない場合には処理を終了する。
ステップＥ２では、遊技中断フラグをセットする。ステップＥ２の処理によって、装飾図柄表示装置３０に装飾図柄の変動処理が開始されていない時（小当たり遊技および大当遊技が発生していない時）に、磁気検出器４０の接点の劣化が検出された場合あるいは磁気を用いた不正遊技が検出された場合には、直ちに遊技中断フラグをセットする。これにより、図９に示されているタイマ割り込み処理のステップＢ１、Ｂ１１によって直ちに遊技が中断される。すなわち、通常の遊技において磁気は使用しないため、磁気が検出された場合には不正遊技が行われる虞が高く、直ちに遊技を中断する。
【００４７】
次に、図１１のステップＤ６の大当たり遊技移行判定処理の一例を、図１３に示すフローチャートを用いて説明する。小当たり遊技中に遊技機への外力の印加が検出された場合には、直ちに遊技を中断させるのではなく、小当たり遊技が終了した後に遊技を中断させる。
ステップＦ１では、小当たり遊技が終了したか否かを判断する。小当たり遊技が終了したか否かは、例えば、小当たり遊技を発生させてから前述した有効期間が経過したか否かによって判断することができる。小当たり遊技が終了した場合にはステップＦ２に進み、小当たり遊技が終了していない場合には処理を終了する。
ステップＦ２では、小当たり遊技中（有効期間内)に遊技球がＶ入賞口２４に入球したか否かを判断する。小当たり遊技中に遊技球がＶ入賞口２４に入球した場合にはステップＦ３に進み、Ｖ入賞口２４に入球しなかった場合にはステップＦ５に進む。
ステップＦ３では、磁気検出フラグがセットされているか否かを判断する。このステップＦ３では、小当たり遊技中（有効期間内）に、遊技球がＶ入賞口２４に入球するとともに振動が検出されたか否かを、小当たり遊技が終了した時点で判別する処理である。小当たり遊技中に、遊技球がＶ入賞口２４に入球するとともに振動が検出された場合にはステップＦ４に進み、小当たり遊技中に、遊技球がＶ入賞口２４に入球しなかったか、あるいは、Ｖ入賞口２４に入球したが振動が検出されなかった場合にはステップＦ５に進む。
ステップＦ４では、遊技中断フラグをセットする。ステップＦ４は、小当たり遊技中（有効期間内）に、遊技球がＶ入賞口２４に入球するとともに振動が検出された場合に、小当たり遊技が終了した時点で遊技中断フラグをセットし、図９に示すタイマ割り込み処理のステップＢ１、Ｂ１１によって遊技中断処理を実行する。
ステップＦ５では、振動検出フラグをリセットする。ステップＦ５の処理によって、小当たり遊技中（有効期間内）に、遊技球がＶ入賞口２４に入球しなかった場合、あるいは、遊技球がＶ入賞口２４に入球したが、振動が検出されなかった場合には、不正遊技によって遊技球がＶ入賞口２４に入球した可能性が低いため、遊技の中断は行わず、振動検出フラグもリセットする。小当たり遊技中に不正遊技が行われても、大当たり遊技が発生するのは小当たり遊技が終了した後であるため、遊技店に不利益は発生しない。また、小当たりが終了した後に遊技を中断させることにより、遊技中断に対するインパクトを抑制することができる。
【００４８】
本実施の形態では、遊技中断フラグがセットされると、遊技中断フラグがセットされている間遊技の中断処理が実行される。ここで、一般的に、遊技機には、瞬時停電等によって短期間電源が遮断された場合、電源復旧時に停電発生時の状態から遊技を再開させることができるように、停電中にＲＡＭに記憶されている情報を保持するバックアップ電源が設けられている。ＲＡＭクリアスイッチを操作した状態で電源を投入することによってＲＡＭを初期化することができるが、このような遊技中断フラグのみをリセットするためＲＡＭを初期化する方法を用いるのは適切でない。
そこで、遊技中断フラグのみをリセットすることができる遊技中断復旧処理を設けるのが好ましい。遊技中断復旧処理としては、種々の処理方法を用いることができる。本実施の形態では、電源スイッチは遊技機の背面に設けられているため、電源スイッチを操作するためには内枠３を外枠２から開放する必要があることに着目し、内枠３が外枠２に対して開放されている状態で電源を投入する処理を遊技中断復旧処理として用いている。
本実施の形態の遊技中断復旧処理を含む電源投入時処理（メイン処理を含む）の概略を説明するフローチャートが図１４に示されている。図１４に示すフローチャートのステップＧ１、Ｇ２によって遊技中断復旧処理が実行される。
電源が投入されると、ステップＡ１で初期設定が行われる。
ステップＧ１では、内枠３が外枠２に対して開放されているか否かを判断する。内枠３が外枠２に対して開放されているか否かは、枠開閉検出器８からの枠開閉検出信号によって判断することができる。内枠３が外枠２に対して開放されている場合にはステップＧ２に進み、内枠３が外枠２に対して開放されていない（閉じている）場合にはステップＡ２に進む。
ステップＧ２では、遊技中断フラグ、磁気検出フラグ１、磁気検出フラグ２、振動検出フラグをリセットする。
以後のステップＡ２〜Ａ１７は、図５に示したステップＡ２〜Ａ１７と同様の処理を実行するため、説明を省略する。
本実施の形態の遊技中断復旧処理を用いることにより、特別の処理を行うことなく、また、ＲＡＭを初期化することなく遊技中断フラグをリセット（不正遊技が行われていることを示す不正情報を消去）することができる。これにより、遊技中断復旧処理を容易に行うことができる。
【００４９】
ここで、遊技機では、各制御基板や遊技用機器等に電力を供給するための電源基板を有している。電源基板には、ＡＣ電源（例えば、ＡＣ２４Ｖ電源）をＤＣ電源（例えば、ＤＣ５Ｖ電源、ＤＣ１２Ｖ電源、ＤＥ３４Ｖ電源）に変換する電源回路が設けられている。
従来の遊技機では、有接点式の磁気検出器４０からの磁気検出信号を検出するために、磁気検出器４０をＤＣ１８Ｖ電源に接続している。本発明者らによる検討の結果、磁気検出器４０を接続する電源を、ＤＣ１８Ｖ電源からＤＣ５Ｖ電源に変更することによって、磁気検出器４０の接点の劣化を防止することができ、接点の劣化による磁気検出器４０の誤動作を格段に防止することができることが判明した。
本実施の形態の主制御基板１１０の磁気検出器４０からの磁気検出信号を検出する要部の構成を図６に示す。
図６に示されているように、主制御基板１１１には、入力端子を介して磁気検出器４０のリード片４２、４３が接続される検出回路１１５、信号処理回路１１６、電圧変換回路１１７が設けられている。検出回路１１５と信号処理回路１１６によって、磁気検出信号を主制御回路１１１に入力する入力回路が構成されている。なお、主制御基板１１０には電源基板からＤＣ１２Ｖ電源とＤＣ３４Ｖ電源が供給されており、電圧変換回路１１７は、ＤＣ１２Ｖ電源をＤＣ５Ｖ電源に変換する。電圧変換回路としては、公知の適宜の電圧変換回路を用いることができる。
検出回路１１５は、ＤＣ５Ｖの検出用電源と接地端子との間に、磁気検出器４０、抵抗１１５ａ及び１１５ｂが接続されている。これにより、抵抗１１５ａと１１５ｂの接続点（Ａ点）には、磁気検出器４０の検出動作に応じた信号が出力される。すなわち、磁気検出器４０が磁気を検出していない時（接点４２ｃと４３ｃが開いている時）にはＡ点の信号は「Ｌ」レベルとなり、磁気を検出している時（接点４２ｃと４３ｃが閉じている時）にはＡ点の信号は「Ｈ」レベルとなる。これにより、接地端子を介して流れるノイズ等による誤検出を防止することができる。信号処理回路１１６は、ＮＰＮトランジスタ１１６ａとレベル反転回路１１６ｄによって構成され、Ａ点の信号と同じレベルの信号をＣ点に出力する。Ｃ点の信号は主制御回路１１１の入力端子１１ａに入力される。
【００５０】
以上のように、本実施の形態では、磁気検出器４０が磁気を検出している検出期間Ｔを測定し、下限値Ｔａと上限値Ｔｂの範囲内の検出期間Ｔが設定回数Ｎ回測定された場合には、遊技を中断させるとともに異常報知１を行う。また、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔが測定された場合には、遊技を中断するとともに異常報知２を行う。なお、下限値Ｔａに達しない検出期間Ｔを測定した場合には、無視する。これにより、遊技球が遊技領域を移動する際の振動等による誤動作に基づく遊技の中断を防止し、また、磁気を用いた不正遊技に対する遊技の中断機能を確保しながら、有接点式の磁気検出器４０の接点の劣化を容易に、早期に検出することができる。したがって、有接点式の磁気検出器４０の接点の劣化による磁気検出器４０の誤動作によって、遊技が中断するのを確実に防止することができる。
また、磁気検出器４０に接続する検出用電源をＤＣ１８Ｖ電源からＤＣ５Ｖ電源に変更しているため、検出用電圧による接点の劣化速度を格段に減少させることができる。したがって、これによっても、有接点式の磁気検出器４０の接点の劣化による磁気検出器の誤動作によって、遊技が中断するのを防止することができる。
また、磁気検出器４０の接点の劣化を検出した場合の異常報知１での異常報知態様として、磁気を用いた不正遊技を検出した場合の異常報知２での異常報知態様と異なる異常報知態様を用いているため、遊技店の係員等は、磁気検出器４０の接点の劣化と磁気を用いた不正遊技を容易に判別することができる。
また、本実施の形態では、Ｖ入賞口２４の有効期間内に、遊技機に外力が加えられた場合には、異常報知３を行う。これにより、遊技店の係員等は、遊技機への外力の印加による不正遊技は行われていないが、不正遊技が行われる虞があることを認識することができるため、不正遊技に対する対策を講じることができる。
また、小当たり遊技中に遊技機への外力の印加による不正遊技が検出された場合には、小当たり遊技を終了した後に遊技を中断させているため、遊技者に遊技の中断によるインパクトを抑制することができる。
また、Ｖ入賞口２４の有効期間内に、遊技機に外力が加えられるとともに、遊技球がＶ入賞口２４に入球した場合には、遊技を中断させるとともに異常報知２を行う。これにより、遊技機への外力の印加による不正遊技を精度良く防止することができる。
また、異常報知１〜異常報知３において、パチンコ機に設けられている異常報知ランプを動作させているため、不正遊技を抑制する効果を期待することができる。
【００５１】
本発明は実施の形態で説明した構成に限定されず、種々の変更、追加、削除が可能である。
実施の形態では、当たり遊技獲得条件が成立すると、先ず、当たり判定用乱数を用いた抽選を行い、抽選結果が大当たりである場合には大当たり遊技を発生させ、抽選結果が小当たりである場合には小当たり遊技を発生させ、小当たり遊技において、遊技球がＶ入賞口（特別領域）を通過したことにより大当たり遊技を発生させる遊技機について説明したが、本発明は、このような構成の遊技機に限定されない、例えば、当たり遊技獲得条件が成立したことに起因して、可変入賞装置の開閉部材を一定期間開制御し、有効期間内に遊技球がＶ入賞口（特別領域）を通過すると大当たり遊技を発生させる遊技機として構成することもできる。また、本発明の各技術は、始動入賞口を有する種々の遊技機に用いることができる。例えば、始動入賞口への入球に起因して抽選を行い、抽選結果が当たりである場合に遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生する遊技機に用いることができる。
磁気検出器４０を用いた不正遊技の検知処理と振動検出器５０を用いた不正遊技の検知処理を行う遊技機として構成したが、少なくとも一方の不正遊技の検知処理を行う遊技機として構成することもできる。さらに、磁気検出器４０の接点の劣化を検出して遊技の中断を行う遊技機として構成することもできる
磁気を用いた不正遊技や遊技機への外力の印加による不正遊技を検出するタイミングは、実施の形態で説明したタイミングに限定されず、適宜のタイミングを選択することができる。
異常報知装置としては、ランプに限定されず、装飾図柄表装置やスピーカ等を用いることもできる。
遊技中断復旧処理としては、実施の形態で説明した処理方法に限定されず種々の処理方法を用いることができる。
実施の形態で説明した各構成は個々に用いることもできるし、適宜選択した複数を組み合わせて用いることもできる。
実施の形態で説明した各フローチャートの各処理や処理手順は、適宜変更、削除、追加することができる。
パチンコ機として構成した場合について説明したが、本発明は、パチンコ機以外の種々の形式の遊技機として構成することができる。
【００５２】
例えば、「（態様１）請求項１の遊技機であって、前記制御装置は、下限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜下限値Ｔａ＜上限値Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、第１の異常報知を行うことを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様１の遊技機では、磁気検出器の接点の劣化を検出した場合には、第１の異常報知を行う。第１の異常報知での異常報知態様としては、磁気検出器の接点の劣化を判別することができる種々の異常報知態様を用いることができる。例えば、異常報知ランプを用いて報知する報知態様を用いることができる。
本態様では、遊技店の係員等は、磁気検出器の接点が劣化していることを容易に判別することができる。
【００５３】
また、「（態様２）請求項１または態様１の遊技機であって、前記制御装置は、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔを測定した場合には、遊技を中断することを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様２の遊技機では、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔを測定した場合には、遊技を中断する。
本態様では、磁気検出器から磁気検出信号に基づいて、磁気検出器の接点の劣化を検出することができるとともに、磁気を用いた不正遊技をも検出することができる。
【００５４】
また、「（態様３）態様２に遊技機であって、前記制御装置は、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔを測定した場合には、第２の異常報知を行うことを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様３の遊技機では、上限値Ｔｂを超える検出期間Ｔが測定された場合には、第２の異常報知を行う。第２の異常報知での異常報知態様としては、磁気を用いた不正遊技を判別することができる種々の異常報知態様を用いることができる。例えば、ホールコンピュータや遊技店の係員等に異常報知信号を送信する報知態様や異常報知ランプを用いて報知する報知態様を用いることができる。第２の異常報知での異常報知態様は、第１の異常報知での異常報知態様と異なる異常報知態様を用いるのが好ましい。
本態様では、遊技店の係員等は、磁気を用いた不正遊技を容易に判別することができる。
【００５５】
また、「（態様４）請求項１、態様１〜３のいずれかの遊技機であって、前記磁気検出装置は、前記開口および前記特別領域の少なくとも一方の近傍に設けられていることを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様４の遊技機では、磁気検出装置を、可変入賞装置の開口あるいは特別領域の少なくとも一方の近傍に設けている。これにより、磁気を用いた不正遊技をより確実に検知することができる。
【００５６】
また、「（態様５）請求項１、態様１〜４のいずれかの遊技機であって、遊技機に外力が加えられたことを検出する外力検出装置を備え、前記制御装置は、前記有効期間内に、前記外力検出装置によって遊技機に外力が加えられたことが検出されるとともに、前記第２の遊技球検出装置によって遊技球が前記特別領域を通過したことが検出された場合には、遊技を中断するとともに、第２の異常報知を行うことを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様５の遊技機では、当たり遊技獲得条件の成立に起因して設定される有効期間内に、遊技機に外力が加えられるとともに、遊技球が可変入賞装置の特別領域を通過した場合には、遊技を中断させるように構成されている。遊技機への外力による不正遊技検出時の第２の異常報知での異常報知態様としては、磁気を用いてた正遊技検出時の第２の異常報知態様と同じ異常報知態様を用いてもよいし、それぞれの不正遊技を判別可能な異なる異常報知態様を用いてもよい。
本態様では、外力検出装置の検出精度や配置位置等に影響されずに、遊技機への外力の印加による不正遊技をも精度よく検出および防止することができる。
【００５７】
また、「（態様６）請求項１、態様１〜５のいずれかの遊技機であって、遊技機に外力が加えられたことを検出する外力検出装置を備え、前記制御装置は、前記有効期間内に、前記外力検出装置によって遊技機に外力が加えられたことが検出された場合には、第３の異常報知を行い、さらに、前記第２の遊技球検出装置によって遊技球が前記特別領域を通過したことが検出された場合には、遊技を中断するとともに、第２の異常報知を行うことを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
態様６の遊技機では、当たり遊技獲得条件の成立に起因して設定される有効期間内に、遊技機に外力が加えられたことが検出された場合には、第３の異常報知を行い、さらに、遊技球が特別領域を通過したことが検出された場合には、遊技を中断するとともに、第２の異常報知を行う。第３の異常報知での異常報知態様としては、有効期間内に遊技機に外力が印加されたことが検出されたこと（遊技機への外力の印加による不正遊技が行われる可能性があること）を判別可能な適宜の異常報知態様を用いることができる。
本態様では、遊技店の係員等に、磁気を用いた不正遊技に対する注意を喚起させることができるため、磁気を用いた不正遊技を未然に防止することができる。また、外力検出装置の検出精度や配置位置等に影響されずに、遊技機への外力の印加による不正遊技をも精度よく検出および防止することができる。
【００５８】
また、「（態様７）遊技球が移動する遊技領域に設けられた始動入賞口と、前記始動入賞口を遊技球が通過したことを検出する始動球検出装置と、制御装置を備え、前記制御装置は、前記始動球検出装置によって遊技球が前記始動入賞口を通過したことが検出されたことに起因して抽選を行い、抽選結果が当たりである場合に遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる遊技機であって、磁気を検出する有接点式の磁気検出装置が設けられており、前記制御装置は、前記磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔを測定し、下限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜下限値Ｔａ＜上限値Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、遊技を中断することを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
本態様では、始動入賞口への入球に起因して抽選を行い、抽選結果が当たりである場合に遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる遊技における、磁気検出器の接点の劣化を容易に、早期に検出することができる。なお、本態様においても、前記した種々の構成を用いることができる。
【００５９】
また、「（態様８）遊技球が移動する遊技領域に設けられた始動入賞口と可変入賞装置を備え、前記可変入賞装置は、開口部と、前記開口部を開閉する開閉部材と、前記開口部を通過した遊技球が移動する入賞空間および前記入賞空間に連設された特別領域を有しており、さらに、前記始動入賞口を遊技球が通過したことを検出する始動球検出装置と、前記特別領域を遊技球が通過したことを検出する特別球検出装置と、制御装置を備え、前記制御装置は、前記始動入賞球検出装置によって遊技球が前記始動入賞口を通過したことが検出されたことに起因して前記開閉部材を開制御するとともに有効期間を設定し、前記有効期間内に前記特別球検出装置によって遊技球が前記特別領域を通過したことが検出されたことによって遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる遊技機であって、前記始動入賞口、前記開口および前記特別領域の少なくとも１つの近傍には、磁気を検出する有接点式の磁気検出装置が設けられており、前記制御装置は、前記磁気検出装置が磁気を検出している検出期間Ｔを測定し、下限値Ｔａと上限値Ｔｂ（０＜下限値Ｔａ＜上限値Ｔｂ）の範囲内の検出期間Ｔを設定回数Ｎ回（Ｎは２以上の整数）測定した場合には、遊技を中断することを特徴とする遊技機。」として構成することができる。
本態様では、始動入賞口への入球に起因して開口を開閉する開閉部を開制御し、開口を通過した遊技球が有効期間内に特別領域を通過することによって遊技者に有利な大当たり遊技状態を発生させる遊技機における、磁気検出器の接点を容易に、早期に検出することができる。なお、本態様においても、前述した種々の構成を用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明をパチンコ機として構成した一実施の形態の全体を示す斜視図である。
【図２】一実施の形態の遊技盤の正面図である。
【図３】一実施の形態の背面図である。
【図４】一実施の形態の制御系の概略構成図である。
【図５】有接点式の磁気検出装置の概略構成を示す図である。
【図６】一実施の形態の主制御基板の要部構成を示す図である。
【図７】一実施の形態の、磁気検出器および振動検出器からの検出信号に基づく動作を説明する図である。
【図８】電源投入時処理（メイン処理を含む）の概略を説明するフローチャートである。
【図９】タイマ割り込み処理の概略を説明するフローチャートである。
【図１０】不正検出処理の概略を説明するフローチャートである。
【図１１】当たり遊技発生処理の概略を説明するフローチャートである。
【図１２】待機処理の概略を説明するフローチャートである。
【図１３】大当たり遊技移行判定処理の概略を説明するフローチャートである。
【図１４】遊技中断復旧処理の一例を含む電源投入時処理（メイン処理を含む）の概略を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００６１】
１  パチンコ機
２  外枠
３  内枠
４  ガラス扉
６  発射ハンドル
７  遊技盤
８  枠開閉検出器
９  扉開閉検出器
１０  遊技領域
１１  始動入賞口
１１ａ  始動入賞球検出器
１２  異常報知ランプ
１３  特別図柄表示装置
２０  可変入賞装置
２１  入賞空間
２２  開閉部材
２２ａ  開口部
２４  Ｖ入賞口
２４ａ  Ｖ入賞球検出器
２５  一般入賞口
２５ａ  一般入賞球検出器
３０  装飾図柄表示装置
４０  磁気検出器
４２、４３  リード片
４２ｂ、４３ｂ  接点
５０  振動検出器
１１０  主制御基板
１１１  主制御回路
１１２  記憶回路（主制御用記憶回路）
１１７  電圧変換回路
１２０  副制御基板
１２１  副制御回路
１２２  記憶回路（副制御用記憶回路）
１２３  ＶＤＰ
１２４  音源ＩＣ
１２５  スピーカ（音発生器）
１２６  ランプ（光発生器）
１３０  払出制御基板
１３１  払出制御回路
１３２  記憶回路（払出制御用記憶回路）
１３５  払出装置
１４０  外部端子板
１４１、１４２、１４３  フォトモスリレー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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