(57)【要約】      （修正有）【課題】測定対象の記録型光ディスクが一定品質の再生耐久性を満たさない場合であっても、当該一定品質を満たすことができる新たな条件を簡単に算出することができる。【解決手段】情報記録再生装置は、規定回数の再生耐久性を有するための最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた判断情報を記憶し、検出した第１線速度の最適記録パワーと、記憶された判断情報から取得した第１線速度の最適記録パワーを比較して、規定回数の再生耐久性を有しないと判定した場合には、第１線速度において規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定方法で算出し、算出した最適再生パワーと記憶された判断情報の線形関係に基づいて、新たな判断情報を作成し、作成した判断情報を参照して、検出された第２線速度の最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する。【選択図】図４
2010113757.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置であって、
予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段と、
測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワーを検出する第１の最適記録パワー検出手段と、
前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得手段と、
前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段で検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断手段と、
前記再生耐久性判断手段により、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成手段と、
前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出手段と、
前記判断情報作成手段が作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得手段と、
前記測定対象の光ディスクにおいて前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出手段で検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出手段と、
を有することを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項２】
レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置であって、
前記光ディスクは、
予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段を備えており、
測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワーを検出する第１の最適記録パワー検出手段と、
前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得手段と、
前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断手段と、
前記再生耐久性判断手段により、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成手段と、
前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出手段と、
前記判断情報作成手段が作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得手段と、
前記測定対象の光ディスクにおいて前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出手段と、
を有することを特徴とする情報記録再生装置。
【請求項３】
前記再生耐久性判断手段は、
前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーが、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワー以上の場合には、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有すると判定し、前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーが、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワー未満の場合には、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有しないと判断することを特徴とする請求項１又は２記載の情報記録再生装置。
【請求項４】
前記判断情報作成手段は、
前記再生耐久性判断手段により、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、アレニウスの法則に基づく加速劣化試験によって、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを算出し、算出した最適再生パワーと、前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した前記第１の線速度における最適記録パワーを対応付けた情報を作成する第１の判断情報作成手段と、
前記第１の判断情報作成手段により作成された情報と、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係における傾きを用いて、前記規定回数の再生耐久性を有する新たな再生耐久性判断情報を作成する第２の判断情報作成手段と、
を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の情報記録再生装置。
【請求項５】
前記判断情報記憶手段は、
前記光ディスクの種類ごとに、複数の再生耐久性判断情報を備えており、
前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第３の線速度における最適記録パワーを検出する第３の最適記録パワー検出手段をさらに有し、
前記再生耐久性判断手段は、
前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した第１の線速度における最適記録パワーと、前記第３の最適記録パワー検出手段が検出した第３の線速度における最適記録パワーに基づいて、前記判断情報記憶手段から該当する再生耐久性判断情報を取得し、取得した再生耐久性判断情報に基づいて、前記測定対象の光ディスクの再生耐久性の判断を行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の情報記録再生装置。
【請求項６】
前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の妥当性を所定の方法で検証する判断情報検証手段をさらに有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の情報記録再生装置。
【請求項７】
レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置が光ディスクの再生耐久性を評価する方法であって、
予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段を前記情報記録再生装置又は前記光ディスクが備えた状態において、
測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワー値を検出する第１の最適記録パワー検出ステップと、
前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得ステップと、
前記第１の最適記録パワー検出ステップで検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得ステップで取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出ステップにおいて検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得ステップで取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断ステップと、
前記再生耐久性判断ステップにより、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成ステップと、
前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出ステップと、
前記判断情報作成ステップで作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得ステップと、
前記測定対象の光ディスクに対して前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出ステップが検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段で取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出ステップと、
を有することを特徴とする光ディスクの再生耐久性評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの繰り返し再生に対する耐久性を評価する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc）などの光ディスクにおいては、何回再生しても一定の品質で再生が行えるという再生耐久性が求められており、例えば、ＢＤの規格においては、１００万回再生しても再生特性が劣化しないことが規定されている。
【０００３】
しかしながら、光ディスクの再生耐久性を評価するのに、実際に１００万回程度の再生を実施すると、最低でも数時間に及んで連続的にレーザパワーを照射する必要がある。
【０００４】
この点、特許文献１に示す光ディスクの再生耐久性評価方法においては、ドライブで用いる通常再生パワーよりもパワーレベルの高い、少なくとも２種類の再生パワーで一定の品質を保つ再生回数を測定し、測定した結果にアレニウスの法則を適用して、通常再生パワーでの再生耐久性を求める技術が開示されている。
【０００５】
この方法を利用すれば、測定対象の光ディスクが予め定めた一定の品質（例えば、１００万回再生しても再生特性が劣化しないなど）を満たすか否かを短時間で判定することができる。
【０００６】
【特許文献１】特開２００７−２９３９７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、上述した特許文献１に示す方法において、測定対象の光ディスクが予め定めた一定の品質を満たさなかった場合であっても、光ディスクが記録型ディスクであれば、情報を再生する際の再生速度を上げて、情報を再生する際の再生パワーを上げることで、予め定めた一定の品質を満たすことは可能である。すなわち、測定対象の光ディスクが予め定めた一定の品質を満たさなかった場合であっても、別途、好適な記録速度及び記録パワーを選択して、情報を記録し、記録したこの情報を好適な再生速度及び再生パワーを選択して再生すれば、上記一定の品質を満たすことは可能である。
【０００８】
本発明は、上記の事情を鑑みてなされたものであり、その課題の一例としては、測定対象の記録型光ディスクが一定品質の再生耐久性を有するか否かを短時間で判断できるとともに、測定対象の記録型光ディスクが一定品質を満たさない場合であっても、当該一定品質を満たすことができる新たな条件を簡単に算出することができる情報記録再生装置及び光ディスクの再生耐久性評価方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を達成するため、請求項１記載の情報記録再生装置は、レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置であって、予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段と、測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワーを検出する第１の最適記録パワー検出手段と、前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得手段と、前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段で検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断手段と、前記再生耐久性判断手段により、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成手段と、前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出手段と、前記判断情報作成手段が作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得手段と、前記測定対象の光ディスクにおいて前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出手段で検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出手段と、を有することを特徴とする。
【００１０】
また、請求項２記載の情報記録再生装置は、レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置であって、前記光ディスクは、予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段を備えており、測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワーを検出する第１の最適記録パワー検出手段と、前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得手段と、前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得手段で取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生したときには、前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断手段と、前記再生耐久性判断手段により、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成手段と、前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出手段と、前記判断情報作成手段が作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得手段と、前記測定対象の光ディスクにおいて前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段が取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出手段と、を有することを特徴とする。
【００１１】
また、請求項７記載の光ディスクの再生耐久性評価方法は、レーザ光を光ディスクに出射することにより、光ディスクに情報を記録したり、光ディスクから情報を再生したりする情報記録再生装置が光ディスクの再生耐久性を評価する方法であって、予め定めた規定回数の再生耐久性を有するための前記レーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を記憶する判断情報記憶手段を前記情報記録再生装置又は前記光ディスクが備えた状態において、測定対象の光ディスクの第１の線速度における最適記録パワー値を検出する第１の最適記録パワー検出ステップと、前記判断情報記憶手段を参照して、前記第１の線速度における最適記録パワー及び最適再生パワーを取得する第１の判断情報取得ステップと、前記第１の最適記録パワー検出ステップで検出した最適記録パワーと、前記第１の判断情報取得ステップで取得した前記第１の線速度における最適記録パワーを比較して、前記第１の線速度かつ前記第１の最適記録パワー検出ステップにおいて検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第１の線速度かつ前記第１の判断情報取得ステップで取得した最適再生パワーで再生したときには前記規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断ステップと、前記再生耐久性判断ステップにより、前記規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、前記第１の線速度において前記規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーを所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーと、前記判断情報記憶手段に記憶された再生耐久性判断情報の線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報を作成する判断情報作成ステップと、前記測定対象の光ディスクの前記第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーを検出する第２の最適記録パワー検出ステップと、前記判断情報作成ステップで作成した新たな再生耐久性判断情報を参照して、前記第２の最適記録パワー検出手段が検出した最適記録パワーに対応する最適再生パワーを取得する第２の判断情報取得ステップと、前記測定対象の光ディスクに対して前記規定回数の再生耐久性を有する条件は、前記第２の線速度かつ前記第２の最適記録パワー検出ステップが検出した最適記録パワーで情報を記録し、記録した情報を前記第２の線速度かつ前記第２の判断情報取得手段で取得した最適再生パワーで再生した場合であることを算出する新再生条件算出ステップと、を有することを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。
【００１３】
＜基本的な考え方＞
本発明の実施の形態に係る情報記録再生装置１及び光ディスクの再生耐久性評価方法について説明する前に、まず、測定対象の光ディスク２が予め定めた規定回数の再生耐久性を有するか否かを判断するための基本的な考え方について説明する。
【００１４】
図１は、ＢＤＲ（Blu-ray Disc Recordable）の規格書（Blu-ray Disc, System Description Blu-ray Disc Recordable Format, Part 1, Basic Format Specifications, Version 1.30 Final Draft）に記載された最大定格の値に基づいて、本発明者が作成した表及びグラフである。詳しくは、図１（ａ）は、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための最適記録パワーと最適再生パワーの関係を示す表であり、線速度（記録速度及び再生速度）ごとの最適記録パワーと最適再生パワーの組合せを示している。例えば、ＳＬ（片面１層）の一行目のデータは、１倍速（１Ｘ）の記録速度において当該記録速度における最適記録パワー６ｍＷで記録したデータを、１倍速（１Ｘ）の再生速度において当該再生速度における最適再生パワー０．４ｍＷで再生すると、１００万回再生しても再生特性は劣化しないということを示している。また、同様にして、例えば、ＤＬ（片面２層）の３行目のデータは、４倍速（４Ｘ）の記録速度において当該記録速度における最適記録パワー１８ｍＷで記録したデータを、４倍速（４Ｘ）の再生速度において当該再生速度における最適再生パワー１．３ｍＷで再生すると、１００万回再生しても再生特性は劣化しないということを示している。
【００１５】
図１（ｂ）は、横軸を最適再生パワー（ｍＷ）、縦軸を最適記録パワー（ｍＷ）として、図１（ａ）の表をグラフにしたものである。図１（ｂ）は、最適再生パワーと最適記録パワーの線形関係を示しており、線速度（記録速度、再生速度）を上げると、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための最適記録パワー及び最適再生パワーがそれぞれ上がることを示している。すなわち、本実施の形態においては、図１（ｂ）に示す直線Ｌ１及び直線Ｌ２上の点は、１００万回の再生耐久性を有する最適記録パワー及び最適再生パワーの組合せを示しており、線速度を上昇させるに従って、最適記録パワー及び最適再生パワーの値も上昇するようになっている。詳しくは後述するが、本実施の形態においては、予め定められた規定回数（例えば、１００万回など）の再生耐久性を有する最適記録パワーと最適再生パワーの組合せのデータは、図１（ｂ）に示すように、線速度をパラメータとして、線形（比例）関係にあることを利用して、光ディスクの再生耐久性を評価するようになっている。
【００１６】
ここで、本実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法において、測定対象の光ディスク２が一定の品質の再生耐久性（例えば、再生回数１００万回の再生耐久性）を備えているか否かを判定する方法について具体的に説明する。なお、本実施の形態においては、図１に示す情報、すなわち、予め定めた規定回数の再生耐久性を有する、最適再生パワーと最適記録パワーの線形関係を示す情報（以下、再生耐久性判断情報といい、判断情報とも略す）は、光ディスク２が装着される情報記録再生装置１に予め記憶されているものとする。つまり、情報記録再生装置１は、判断情報が記憶された情報テーブル（以下、判断情報テーブルという）ＴＡをメモリ上に備えているものとする。
【００１７】
まず、測定対象の光ディスク２に対して、所定の線速度（例えば、１倍速）で記録する場合の最適記録パワーＷＰ１を決定する。これは、具体的には、情報記録再生装置１が装着された測定対象の光ディスク２に対してパワーキャリブレーションを実施して、ＰＣＡ領域（パワー・キャリブレーション・エリア）にテスト記録することにより、最適記録パワーＷＰ１を決定するものである。なお、これとは別の方法により最適記録パワーＷＰ１を決定してもよい。例えば、光ディスク２のディスクインフォーメーション領域に線速度ごとの最適記録パワーが記録されている場合には、光ディスク２のディスクインフォーメーション領域に記録されている最適記録パワーを用いて、最適記録パワーＷＰ１を決定してもよい。
【００１８】
なお、本実施の形態では、情報記録再生装置１がパワーキャリブレーション等を実施して決定する最適記録パワーをＷＰと表記し、例えば、１倍速の記録速度で記録する場合の最適記録パワーをＷＰ１と表記する。
【００１９】
次に、決定した所定の線速度（例えば、１倍速）における最適記録パワーＷＰ１と、判断情報テーブルＴＡに記憶された所定の線速度（例えば、１倍速）における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）を比較し、最適記録パワーＷＰ１＝最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）の場合には、測定対象の光ディスクは予め定めた規定回数の再生耐久性を有するものと判断する。
【００２０】
なお、本実施の形態では、情報記録再生装置１が判断情報テーブルＴＡから取得した最適記録パワーをＷＰ（ＴＡ）と表記し、例えば、１倍速の記録速度で記録する場合の最適記録パワーをＷＰ１（ＴＡ）と表記する。
【００２１】
例えば、具体的には、情報記録再生装置１が図１に示す判断情報テーブルＴＡを備えており、測定対象の光ディスク２（ＢＤのＳＬ）の１倍速における最適記録パワーＷＰ１が６ｍＷであれば、判断情報テーブルＴＡに記憶されたＳＬの１倍速における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）は６ｍＷであるので、この測定対象の光ディスク２は、記録速度１倍速かつ最適記録パワー６ｍＷで情報を記録し、記録したこの情報を再生速度１倍速かつ再生速度１倍速における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）の０．４ｍＷで再生する場合には、１００万回の再生耐久性を有するものと判断する（図１（ｃ）のＰ１参照）。
【００２２】
なお、本実施の形態では、情報記録再生装置１が判断情報テーブルＴＡから取得した、所定の線速度における最適再生パワーをＲＰ（ＴＡ）と表記し、例えば、１倍速の再生速度で再生する場合の最適再生パワーをＲＰ１（ＴＡ）と表記する。
【００２３】
一方、最適記録パワーＷＰ１＞最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）の場合には、測定対象の光ディスク２は予め定めた規定回数以上の再生耐久性を有するものと判断する。パワーキャリブレーション等の実施により検出した最適記録パワーＷＰ１が情報テーブルＴＡに記録された最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）より大きいということは、測定対象の光ディスク２は、情報テーブルＴＡに記録された標準的な光ディスク２よりも、レーザビームの照射によって記録ドメインが作成される（例えば、記録層の溶融や屈折率変化等で記録されること）記録層の感度が悪いと考えられるからである。
【００２４】
例えば、具体的には、情報記録再生装置１が図１に示す判断情報テーブルＴＡを備えており、測定対象の光ディスク（ＳＬ）の１倍速における最適記録パワーＷＰ１が７ｍＷであれば、判断情報テーブルＴＡに記載されたＳＬの１倍速における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）は６ｍＷであるので、この測定対象の光ディスク２は、記録速度１倍速かつ最適記録パワー７ｍＷで情報を記録し、記録したこの情報を再生速度１倍速かつ再生速度１倍速における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）の０．４ｍＷで再生する場合には、１００万回を超える再生耐久性を有するものと判断する（図１（ｃ）のＰ２参照）。
【００２５】
これに対して、最適記録パワーＷＰ１＜最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）の場合には、測定対象の光ディスク２は予め定めた規定回数未満の再生耐久性を有するものと判断する。パワーキャリブレーション等の実施により検出した最適記録パワーＷＰ１が情報テーブルＴＡに記録された最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）より小さいということは、測定対象の光ディスク２は、情報テーブルＴＡに記録された標準的な光ディスク２よりも、レーザビームの照射によって記録ドメインが作成される（例えば、記録層の溶融や屈折率変化等で記録されること）記録層の感度が良いと考えられるからである。
【００２６】
例えば、具体的には、情報記録再生装置１が図１に示す判断情報テーブルＴＡを備えており、測定対象の光ディスク２（ＢＤのＳＬ）の１倍速における最適記録パワーＷＰ１が５ｍＷであれば、判断情報テーブルＴＡのＳＬの１倍速における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）は６ｍＷであるので、この測定対象の光ディスク２は、記録速度１倍速かつ最適記録パワー５ｍＷで情報を記録し、記録したこの情報を再生速度１倍速かつ再生速度１倍速における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）の０．４ｍＷで再生する場合には、１００万回未満の再生耐久性を有するものと判断する（図１（ｃ）のＰ３参照）。
【００２７】
このように本実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法は、所定の線速度、かつ所定の線速度に最適な再生パワーＲＰ（ＴＡ）で情報を再生する場合においては、測定対象の光ディスク２から所定の線速度で記録する場合の最適記録パワーＷＰ１の値を検出するだけで予め定めた規定回数以上の再生耐久性を有するか否かを判断することができる。換言すれば、図１（ｃ）に示すグラフは、再生速度及び再生パワーが同一であれば、予め定めた規定回数の再生耐久性を満たす直線Ｌ１（Ｌ２）上、もしくは直線Ｌ１（Ｌ２）よりも上方の領域の点は、予め定めた規定回数の再生耐久性を満たすが、直線Ｌ１（Ｌ２）よりも下方の領域の点は、予め定めた規定回数の再生耐久性を満たさないことを示している。
【００２８】
従って、本実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法は、判断情報テーブルＴＡを用いることにより、測定対象の光ディスク２が予め定めた規定回数以上の再生耐久性を有するか否かを簡単かつ短時間で判断することができる。
【００２９】
図２は、本発明者らの実験に基づく表及びグラフである。図２（ａ）は、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための最適記録パワーと最適再生パワーの関係を示す表であり、線速（記録速度及び再生速度）ごとの最適記録パワーと最適再生パワーの組合せを示している。また、図２（ｂ）は、横軸を最適再生パワー（ｍＷ）、縦軸を最適記録パワー（ｍＷ）として、図２（ａ）の表をグラフにしたものである。図２（ｂ）は、最適再生パワーと最適記録パワーの線形関係を示しており、本実験においても、線速度（記録速度、再生速度）を上げると、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための最適記録パワー及び最適再生パワーがそれぞれ上がることを示している。なお、図２に示す値は、図１と異なり測定値であるため、ＤＬ（片面２層）においては、Ｌ０（１層目：奥側）の最適記録パワーと、Ｌ１（２層目：手前側）の最適記録パワーは異なった値となっている。また、本実験では、１００万回の再生耐久性を有する品質をジッタ値の劣化が＋０．５％以内として測定をしているが、再生耐久性を測定する特性値は、ジッタ特性に限定されず、エラーレート特性、反射率特性、サーボ信号特性などを用いて測定してもよいのは勿論である。
【００３０】
＜光ディスク記録再生装置の構成＞
図３は、本発明の実施の形態に係る情報記録再生装置１の概略構成を示す図である。情報記録再生装置１は、光ディスク２に対して情報を記録したり、光ディスク２に記録された情報を再生したりすることが可能な光ディスク記録再生装置であり、装着された光ディスク２の再生耐久性を評価する再生耐久性評価機能を備えている。なお、本実施の形態における光ディスク２としては、記録型（追記型、書き換え型の双方を含む）のＢＤ（Blu-ray Disc）を好適な一例として挙げて説明するが、これに限定されるものではなく、記録型の光ディスクであれば何であってもよい。例えば、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＣＤ（Compact Disc）、ＨＤＤＶＤ（High-Definition Digital Versatile Disc）であってもよい。また、光ディスク２としては、今後、光ディスクの大容量化に伴い、開発の進んでいる多層ディスク等も含む。
【００３１】
情報記録再生装置１は、概略、図３に示すように、スピンドルモータ１１、光ピックアップ１２、信号増幅回路１３、サーボ回路１４、レーザ駆動回路１５、及び制御部１６を備えている。
【００３２】
スピンドルモータ１１は、光ディスク２を所定の回転数で回転させるモータである。
【００３３】
光ピックアップ１２は、光ディスク２にレーザ光を照射することによってデータを光ディスク２に記録するとともに、レーザ光の反射光を受け取ることによって光ディスク２に記録されたデータを読み取るようになっている。また、レーザ光の反射光に対応するＲＦ信号を信号増幅回路１３に出力するようになっている。具体的には、光ピックアップ１２は、半導体レーザ１７及び光検出器１８を備え、レーザ光を光ディスク２上に収束させることにより、光ディスク２に対するデータの書き出し／読み取りを行うようになっている。なお、光ピックアップ１２は、図示しないが、光ディスク２に対するレーザ光の照射状態を調整するための対物レンズアクチュエータと、半導体レーザ１７から出射されたレーザ光を対物レンズに導き、かつ、光ディスク２からの反射光を光検出器１８に導くための光学系を備えている。
【００３４】
信号増幅回路１３は、光ピックアップ１２の光検出器１８から出力されたＲＦ信号を増幅及び演算処理して、各種信号（ウォブル信号、トラックエラー信号、及びフォーカスエラー信号）を生成し、サーボ回路１４に出力するようになっている。
【００３５】
サーボ回路１４は、信号増幅回路１３から入力された各種信号に基づいて、光ピックアップ１２及びスピンドルモータ１１の駆動を制御するようになっている。具体的には、サーボ回路１４は、信号増幅回路１３から入力されたフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号及びトラッキングサーボ信号を生成し、光ピックアップ１２の対物レンズアクチュエータに出力するようになっている。また、サーボ回路１４は、信号増幅回路１３から入力されたウォブル信号からモータサーボ信号を生成し、スピンドルモータ１１に出力するようになっている。
【００３６】
レーザ駆動回路１５は、光ディスク２のデータ記録、消去及び再生に応じたレーザ光駆動信号を生成するようになっている。具体的には、データ記録時には、記録信号に応じた駆動信号を半導体レーザ１７に出力し、データ再生時には、一定強度のレーザ光を出射するための駆動信号を半導体レーザ１７に出力するようになっている。
【００３７】
制御部１６は、情報記録再生装置１全体を制御するようになっている。具体的には、制御部１６は、ＣＰＵ、メモリ（ＲＯＭ、ＲＡＭ）などから構成され、メモリに各種データ及びプログラムを格納するとともに、予め設定されたプログラムに従って、情報記録再生装置１の各部を制御するようになっている。例えば、本実施の形態においては、制御部１６は、装着された光ディスク２の再生耐久性を評価する再生耐久性評価処理を実行するようになっている。
【００３８】
次に、図４〜図６を参照して、制御部１６の再生耐久性評価機能について詳しく説明する。ここで、図４は、制御部１６の機能構成図であり、図５及び図６は、光ディスクの再生耐久性評価方法を具体的に説明するためのグラフである。
【００３９】
本実施の形態に係る制御部１６は、図４に示すように、再生耐久性判断情報記憶部１６１、第１最適記録パワー検出部１６２、第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３、再生耐久性判断部１６４、再生耐久性判断情報作成部１６５、第２最適記録パワー検出部１６６、第２最適再生パワー取得部１６７、及び新再生条件算出部１６８を具備する構成である。
【００４０】
再生耐久性判断情報記憶部１６１は、具体的には、上述した判断情報テーブルＴＡであり、図１及び図２に示したような再生耐久性判断情報（判断情報）を記憶している。詳しくは、判断情報テーブルＴＡは、光ディスク２の種類（ＳＬ、ＤＬ）ごと、及び線速度ごとに、規定回数の再生耐久性を備える最適記録パワーと最適再生パワーの組合せを線形化して記憶している。
【００４１】
なお、以下の制御部１６の説明では、制御部１６は、具体的に、図５（ａ）に示すような線形関係を有する判断情報テーブルＴＡを備えているものとして、説明する。すなわち、判断情報テーブルＴＡは、例えば、線速度１Ｘにおいては、１００万回の再生耐久性を有する最適記録パワーは６ｍＷ、最適再生パワーは０．４ｍＷであり、線速度４Ｘにおいては、１００万回の再生耐久性を有する最適記録パワーは１０．５ｍＷ、最適再生パワーは０．７ｍＷのデータを備えているとする。
【００４２】
第１最適記録パワー検出部１６２は、測定対象の光ディスク２の第１の線速度（初期値；本実施の形態においては１倍速）における最適記録パワーＷＰ１を検出するようになっている。詳しくは、測定対象の光ディスク２に対してパワーキャリブレーションを実施して、または光ディスク２のディスクインフォーメーション領域に記録されている最適記録パワーを用いて、第１の線速度における最適記録パワーＷＰを決定するものである。
【００４３】
第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３は、判断情報テーブルＴＡを参照して、第１の線速度（１倍速）における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）及び最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）の組合せを取得するようになっている。
【００４４】
例えば、第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３は、図５（ａ）に示すように、第１の線速度（記録速度１倍速）における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）６ｍＷ、第１の線速度（再生速度１倍速）における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）０．４ｍＷを取得する（図５（ａ）の点Ｐ１参照）。
【００４５】
再生耐久性判断部１６４は、測定対象の光ディスク２に対して第１最適記録パワー検出部１６２が検出した第１の線速度（１倍速）における最適記録パワーＷＰ１と、第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３が取得した第１の線速度（１倍速）における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）を比較し、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録し、記録した情報を第１の線速度かつ第１の線速度における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）で再生した場合の予め定めた規定回数の再生耐久性を判断するようになっている。そして、最適記録パワーＷＰ１≧最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）のときは、測定対象の光ディスク２は予め定めた規定回数の再生耐久性を有すると判断し、最適記録パワーＷＰ１＜最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）のときは、測定対象の光ディスク２は予め定めた規定回数の再生耐久性を有しないと判断するようになっている。
【００４６】
例えば、第１最適記録パワー検出部１６２が、第１の線速度（１倍速）において最適記録パワーＷＰ１として４ｍＷを検出していた場合には、最適記録パワーＷＰ１［４ｍＷ］＜最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）［６ｍＷ］であるので、第１の線速度（１倍速）かつ第１の線速度（１倍速）における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）の０．４ｍＷで再生したときには１００万回の再生耐久性を有しないと判断する（図５（ｂ）の点Ｐ２参照）。
【００４７】
再生耐久性判断情報作成部１６５は、再生耐久性判断部１６４が測定対象の光ディスク２に対して、予め定めた規定回数の再生耐久性を有しないと判断した場合には、測定対象の光ディスク２に対して新たな再生耐久性判断情報（判断情報）を作成するようになっている。
【００４８】
詳しくは、再生耐久性判断情報作成部１６５は、測定対象の光ディスク２に対して、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録した場合に、第１の線速度において予め定めた規定回数の再生耐久性を有するような最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）をアレニウスの法則に従った加速劣化試験で算出する最適再生パワー算出部１７１と、最適再生パワー算出部１７１が算出した最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）に基づいて、新たな最適再生パワーと最適記録パワーの線形関係を作成する線形関係作成部１７２と、を備えている。
【００４９】
なお、本実施の形態では、アレニウスの法則に従った加速劣化試験によって算出された、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録した場合に、第１の線速度において予め定めた規定回数の再生耐久性を有するような最適再生パワーを最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）と表記する。
【００５０】
例えば、最適再生パワー算出部１７１は、１倍速の記録速度かつ１倍速における最適記録パワーＷＰ１の４ｍＷで記録した情報を１倍速の再生速度で再生する場合において、１００万回の再生耐久性を有する再生パワーをアレニウスの法則に基づいて０．２ｍＷと算出したときには、最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）を０．２ｍＷとする（図５（ｂ）の点Ｐ３参照）。なお、アレニウスの法則に従った加速劣化試験は、具体的には、少なくとも２種類の再生パワー（０．４ｍＷより大きな再生パワー）において、一定の品質（１００万回の再生耐久性に対応する特性値の変化率；例えば、ジッタ値の劣化が０．５％以内など）を保つ再生回数をそれぞれ測定し、測定したそれぞれの結果にアレニウスの法則を適用して、再生回数が１００万回のときの最適再生パワーを求めるものである。
【００５１】
次に、線形関係作成部１７２は、測定中の光ディスク２に対して、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための最適記録パワーと最適再生パワーの新たな線形関係である判断情報テーブルＴＢを作成する。具体的には、図５（ｂ）及び図６（ａ）に示すように、最適記録パワー４ｍＷと最適再生パワー０．２ｍＷの組合せの点Ｐ３を通って、直線Ｌに平行な直線Ｌ’を引く。この結果、この直線Ｌ’上の点は、線速度（記録速度及び再生速度）をパラメータとして、測定中の光ディスク２における１００万回の再生耐久性を有する最適記録パワーＷＰ’（ＴＡ）と最適再生パワーＲＰ’（ＴＡ）の組合せを示すこととなる。
【００５２】
なお、直線Ｌ’を直線Ｌに対して平行とするのは、同一種類の光ディスク２の物理的特性は同一なため、１００万回の再生耐久性を有する最適記録パワーと最適再生パワーの組合せにおいて、最適記録パワーの最適再生パワーに対する変化率（傾き）は同一であると考えられるからである。
【００５３】
このように再生耐久性判断情報作成部１６５は、測定対象の光ディスク２が１倍速の最適再生速度ＲＰ１（ＴＡ）において再生回数１００万回の再生耐久性を備えていない場合であっても、最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）及び判断情報テーブルＴＡの線形関係を利用して、再生回数１００万回の再生耐久性を備えるための新たな条件（線速、再生パワー）を簡単に求めることができる。
【００５４】
第２最適記録パワー検出部１６６は、再生耐久性判断部１６４が測定対象の光ディスク２に対して、予め定めた規定回数の再生耐久性を有しないと判断した場合において、測定対象の光ディスク２の第２の線速度（第１の線速度よりも大きな線速度）における最適記録パワーＷＰ２を検出するようになっている。詳しくは、第１最適記録パワー検出部１６２と同様に、測定対象の光ディスク２に対してパワーキャリブレーションを実施して、または光ディスク２のディスクインフォーメーション領域に記録されている最適記録パワーを用いて、第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２を決定するものである。
【００５５】
なお、第２の線速度を第１の線速度よりも大きな値とするのは、線速度を小さくしても新たな条件を算出することは可能であるが、線速度を小さくした場合には、再生パワーも小さくなってしまい、レーザノイズの影響でＣＮＲ（carrier to noise ratio）が低くなってしまうので、このような弊害を除去するためである。従って、本実施の形態においては、初期値である１倍速よりも線速度が大きな２倍速、４倍速等を第２の線速度に設定する。
【００５６】
第２最適再生パワー取得部１６７は、第２最適記録パワー検出部１６６が検出した最適記録パワーＷＰ２をＷＰ２（ＴＢ）に設定して、判断情報テーブルＴＢを参照し、第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２（ＴＢ）に対応する最適再生パワーＲＰ２（ＴＢ）を取得するようになっている。
【００５７】
例えば、第２最適記録パワー検出部１６６が、記録速度として４倍速を選択し、４倍速における最適記録パワーＷＰ２として１０ｍＷを検出していた場合には、第２最適再生パワー取得部１６７は、図６（ｂ）に示すように、第２の線速度（記録速度４倍速）における最適記録パワーＷＰ２（ＴＢ）１０ｍＷに対応する第２の線速度（再生速度４倍速）における最適再生パワーＲＰ２（ＴＢ）０．６ｍＷを取得する（図６（ｂ）の点Ｐ４参照）。
【００５８】
新再生条件算出部１６８は、第２最適記録パワー検出部１６６が検出した、第２の線速度（記録速度）における最適記録パワーＷＰ２、第２最適再生パワー取得部１６７が判断情報テーブルＴＡから取得した、第２の線速度（再生速度）における最適再生パワーＷＰ２（ＴＡ）の結果を踏まえて、第２の線速度かつ第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２で情報を記録し、記録した情報を第２の線速度かつ第２の線速度における最適再生パワーＷＰ２（ＴＢ）で再生する場合には、測定対象の光ディスク２は規定回数の再生耐久性を有すると判断するようになっている。
【００５９】
例えば、第２最適再生パワー取得部１６７が、図６（ｂ）に示すように、第２の線速度（記録速度４倍速）における最適記録パワーＷＰ２（ＴＡ）１０ｍＷに対応する第２の線速度（再生速度４倍速）における最適再生パワーＲＰ２（ＴＡ）０．６ｍＷを取得した場合には、新再生条件算出部１６８は、測定中の光ディスク２が１００万回の再生耐久性を有する条件は、４倍速かつ４倍速における最適記録パワーＷＰ２の１０ｍＷで情報を記録し、記録した情報を４倍速かつ４倍速における最適再生パワーＷＰ２（ＴＡ）の０．６ｍＷで再生する場合であることを新再生条件として算出する。
【００６０】
＜再生耐久性評価処理＞
次に、図７及び図８を参照して、情報記録再生装置１の再生耐久性評価処理について説明する。図７は、情報記録再生装置１の再生耐久性評価処理の流れを示すフローチャートであり、図８は、図７のステップＳ７０の処理を詳しく示すフローチャートである。
【００６１】
まず、情報記録再生装置１は、第１最適記録パワー検出部１６２により、装着された測定対象の光ディスク２に対して、第１の線速度（１倍速）における最適記録パワーＷＰ１を検出する（ステップＳ１０）。
【００６２】
次に、情報記録再生装置１は、第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３により、判断情報テーブルＴＡを参照して、第１の線速度（１倍速）における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）、及び最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）を取得する（ステップＳ２０）。
【００６３】
次に、情報記録再生装置１は、再生耐久性判断部１６４により、最適記録パワーＷＰ１と最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）を比較する（ステップＳ３０）。
【００６４】
最適記録パワーＷＰ１≧最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）のときは（ステップＳ４０：ＹＥＳ）、再生耐久性判断部１６４は、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録し、記録した情報を第１の線速度かつ第１の線速度における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）で再生した場合には、測定対象の光ディスク２は、予め定めた規定回数の再生耐久性を有すると判断する（ステップＳ５０）。
【００６５】
一方、最適記録パワーＷＰ１＜最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）のときは（ステップＳ４０：ＮＯ）、再生耐久性判断部１６４は、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録し、記録した情報を第１の線速度かつ第１の線速度における最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）で再生した場合には、測定対象の光ディスク２は、予め定めた規定回数の再生耐久性を有しないと判断し（ステップＳ６０）、情報記録再生装置１は、再生耐久性判断情報作成部１６５により、規定回数の再生耐久性を有する新たな条件を算出する（ステップＳ７０）。
【００６６】
ここで、ステップＳ７０の処理を、図８を用いて詳しく説明する。
【００６７】
まず、情報記録再生装置１は、最適再生パワー算出部１７１により、測定対象の光ディスク２に対して、第１の線速度かつ第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１で情報を記録した場合に、第１の線速度において予め定めた規定回数の再生耐久性を有するような最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）をアレニウスの法則に従って算出する（ステップＳ７１）。
【００６８】
次に、情報記録再生装置１は、線形関係作成部１７２により、第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１と最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）の組合せ、及び判断情報テーブルＴＡの傾きを利用して、新たな判断情報テーブルＴＢを作成する（ステップＳ７２）。
【００６９】
次に、情報記録再生装置１は、第２最適記録パワー検出部１６６により、装着された測定対象の光ディスク２に対して、第１の線速度よりも大きい第２の線速度（例えば、４倍速）における最適記録パワーＷＰ２を検出する（ステップＳ７３）。
【００７０】
次に、情報記録再生装置１は、第２最適再生パワー取得部１６７により、判断情報テーブルＴＢを参照し、第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２（ＴＢ）に対応する最適再生パワーＲＰ２（ＴＢ）を取得する（ステップＳ７４）。
【００７１】
次に、情報記録再生装置１は、新再生条件算出部１６８により、測定対象の光ディスク２に対して、第２の線速度かつ第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２で情報を記録し、記録した情報を第２の線速度かつ第２の線速度における最適再生パワーＷＰ２（ＴＢ）で再生する場合には、測定対象の光ディスク２は規定回数の再生耐久性を有すると判断する（ステップＳ７５）。
【００７２】
以上、本実施の形態の形態によれば、情報記録再生装置１は、予め定めた規定回数の再生耐久性を有するためのレーザ光の最適記録パワーと最適再生パワーを複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報ＴＡを記憶する再生耐久性判断情報記憶部１６１と、測定対象の光ディスク２の第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１を検出する第１最適記録パワー検出部１６２と、再生耐久性判断情報ＴＡを参照して、第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）及び最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）を取得する第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部１６３と、最適記録パワーＷＰ１と最適記録パワーＷＰ１（ＴＡ）を比較して、第１の線速度かつ最適記録パワーＷＰ１で情報を記録し、記録した情報を第１の線速度かつ最適再生パワーＲＰ１（ＴＡ）で再生したときには規定回数の再生耐久性を有するか否かを判定する再生耐久性判断部１６４と、再生耐久性判断部１６４により、規定回数の再生耐久性を有しないと判定された場合には、第１の線速度において規定回数の再生耐久性を有する最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）を所定の方法により算出し、算出した最適再生パワーＲＰ１（ＡＬ）と再生耐久性判断情報ＴＡの線形関係に基づいて、新たな再生耐久性判断情報ＴＢを作成する再生耐久性判断情報作成部１６５と、測定対象の光ディスク２の第１の線速度より大きな第２の線速度における最適記録パワーＷＰ２を検出する第２最適記録パワー検出部１６６と、再生耐久性判断情報ＴＢを参照して、最適記録パワーＷＰ２に対応する最適再生パワーＲＰ２（ＴＢ）を取得する第２最適再生パワー取得部１６７と、測定対象の光ディスク２において規定回数の再生耐久性を有する条件は、第２の線速度かつ最適記録パワーＷＰ２で情報を記録し、記録した情報を第２の線速度かつ最適再生パワーＲＰ２（ＴＢ）で再生した場合であることを算出する新再生条件算出部１６８と、を有するので、測定対象の記録型光ディスク２が一定品質の再生耐久性を有するか否かを短時間で判断できるとともに、測定対象の記録型光ディスク２が一定品質を満たさない場合であっても、当該一定品質を満たすことができる新たな条件を簡単に算出することができる。
【００７３】
特にＢＤにおいては、ＤＶＤやＣＤと比べて、光ディスク上の光スポット径が小さくかつパワー密度も高いため、再生耐久性に対する品質がより厳しくなっているので、その意味においても、本実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法により、当初の条件下では一定の品質を満たさないＢＤであっても、一定品質を満たす新たな条件を算出できることは、ＢＤの再生耐久性の評価において有益であると考えられる。また、２層以上の多層ディスクになると、ディスクの記録感度を上げるために媒体反射率を下げることになるので、同様にして、再生耐久性に対する品質がさらに厳しくなっている。従って、ＢＤの多層ディスクにおいては、本実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法は、さらに有益であると考えられる。
【００７４】
＜その他＞
以上、本発明の実施の形態及び実施例について説明してきたが、本発明は上述した実施の形態および変形例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、本発明の実施の形態及び実施例に対して種々の変形や変更をして実施することが可能である。
【００７５】
例えば、上記実施の形態においては、判断情報テーブルＴＡは、光ディスク２の種類（ＳＬ、ＤＬ）ごと、及び線速度ごとに、規定回数の再生耐久性を備える最適記録パワーと最適再生パワーの組合せを線形化して記憶していた、すなわち、光ディスク２の種類ごとに１つの判断情報テーブルＴＡを備えていたが、複数の判断情報テーブルＴＡを備えるようにしてもよい。
【００７６】
例えば、図９（ａ）及び図９（ｂ）に示すように、同一の種類の光ディスク２であってもメーカによって、規定回数の再生耐久性を備える最適記録パワーと最適再生パワーの組合せの値が異なり、線形関係も異なる場合には、複数の判断情報テーブルＴＡを備えることが好ましい。そして、この場合には、第１の線速度における最適記録パワーＷＰ１に加えて、第３の線速度（第１の線速度より大きな線速度）における最適記録パワーＷＰ３を検出して、複数の中のいずれの判断情報テーブルＴＡを用いればよいかを決定し、決定した後、上記実施の形態で述べた光ディスク２の再生耐久性評価方法を実行すればよい。ここで、図９（ａ）は、１倍速における最適記録パワーと最適再生パワーの組合せの値は同じであるが、他の線速度においては最適記録パワーと最適再生パワーの組合せの値は異なる場合、図９（ｂ）は、すべての線速度において最適記録パワーと最適再生パワーの組合せの値が異なる場合の一例を示している。
【００７７】
また、上記実施の形態においては、情報記録再生装置１が備える判断情報テーブルＴＡに基づいて、測定対象の光ディスク２が一定の品質の再生耐久性を備えているか否かを判定したが、これに加えて他の方法を用いて、測定対象の光ディスク２が一定の品質の再生耐久性を備えているか否かを検証するようにしてもよい。例えば、情報記録再生装置１が上述した再生耐久性評価方法によって、測定対象の光ディスク２に対して一定の品質の再生耐久性を有すると判定した場合には、アレニウスの法則を用いて、加速劣化実験を行い、一定の品質の再生耐久性を有するか否かを検証するようにしてもよい。
【００７８】
また、上記実施の形態においては、情報記録再生装置１が判断情報テーブルＴＡを備える構成としたが、これに限定されず、測定対象の光ディスク２が判断情報テーブルＴＡを備えるようにしてもよい。すなわち、情報記録再生装置１が測定対象の光ディスク２から判断情報テーブルＴＡに記憶された判断情報を読み取って、再生耐久性の判断及び新たな再生条件の算出をしてもよい。この場合には、個々の光ディスク２ごとに最適な判断情報テーブルＴＡが具備されているので、情報記録再生装置１は光ディスク２の個体差に応じたきめ細やかな再生耐久性評価が可能となる。
【００７９】
なお、上記実施の形態では、図５及び図６に示したように、点Ｐ３は直線Ｌの上方の領域に存在するものとして説明したが、点Ｐ３は直線Ｌの下方の領域に存在してもよいものである。通常は、点Ｐ３は直線Ｌの上方の領域に存在するものと考えられるが、例えば、記録時と再生時で光ディスク２上におけるレーザ光のビーム径が異なったり、測定中の光ディスク２が上述した線形関係を有しない特殊な光ディスクが存在したりする場合には、点Ｐ３が直線Ｌの下方の領域で算出されることもあり得るからである。
【００８０】
また、再生耐久性判断情報作成部１６５が作成した新たな判断情報（判断情報テーブルＢ）を、測定中の光ディスク２に関するディスク情報（例えば、ＭＩＤコード）と対応させて再生耐久性判断情報記憶部１６１に記憶させるようにしてもよい。なお、再生耐久性判断情報記憶部１６１としては、上述したように、情報記録再生装置１が具備する記憶部（例えば、メモリー等）でもよいし、光ディスク２が具備する記憶部（例えば、コントロールデータゾーンなど）でもよい。この場合には、次回、ディスク情報が同一な光ディスク２に対して再生耐久性の評価を行うときには、記憶された新たな判断情報を基により迅速に新たな再生条件を算出することができる。
【００８１】
また、上記実施の形態においては、情報記録再生装置１の最適再生パワー算出部１７１がアレニウスの法則に従った加速劣化試験で最適再生パワーを算出したが、より測定時間を短縮するために、この最適再生パワーに関する情報を予め情報記録装置１または光ディスク２が備えるようにしてもよい。例えば、情報記録装置１または光ディスク２が工場から出荷される前に同様の加速劣化試験を行い、情報記録装置１または光ディスク２に最適再生パワーに関する情報を記録するようにしてもよい。
【００８２】
さらには、上記実施の形態においては、光ディスク２を記録型の光ディスクに限定したが、記録型の光ディスクに限定せず、記録型と再生型とが１枚の光ディスクの中に混在するハイブリッド型ディスクに適用してもよい。ハイブリッド型ディスクの場合には、記録型の部分の反射率と再生型の部分の反射率を比較して、同一の場合には、再生型の部分に対しても、上述の再生耐久性評価の方法を適用してもよい。なお、記録型の部分の反射率と再生型の部分の反射率が異なる場合には、両者の反射率の比率に応じて、上述の再生耐久性評価の方法における線形関係を調整して、再生型の部分に対して適用してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】再生回数１００万回の再生耐久性を有するための最適記録パワー値と最適再生パワー値を複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を示すグラフである（規格書のデータ）。
【図２】再生回数１００万回の再生耐久性を有するための最適記録パワー値と最適再生パワー値を複数の線速度に亘って対応付けた再生耐久性判断情報を示すグラフである（実験値）。
【図３】本発明の実施の形態に係る情報記録再生装置の概略構成図である。
【図４】図３に示す制御部の機能構成図である。
【図５】図６とともに、本発明の実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法において、規定回数の再生耐久性を有する新たな再生条件を算出する工程を説明するためのグラフである。
【図６】図５とともに、本発明の実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法において、規定回数の再生耐久性を有する新たな再生条件を算出する工程を説明するためのグラフである。
【図７】本発明の実施の形態に係る情報記録再生装置の再生耐久性評価処理を示すフローチャートである。
【図８】図７のステップＳ７０の処理を詳しく示すフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態に係る光ディスクの再生耐久性評価方法において、判断情報テーブルが光ディスクの種類ごとに複数の再生耐久性判断情報を備える場合の判断情報テーブルの内容を示すグラフである。
【符号の説明】
【００８４】
１  情報記録再生装置
２  光ディスク
１１  スピンドルモータ
１２  光ピックアップ
１３  信号増幅回路
１４  サーボ回路
１５  レーザ駆動回路
１６  制御部
１７  半導体レーザ
１８  光検出器
１６１  再生耐久性判断情報記憶部
１６２  第１最適記録パワー検出部
１６３  第１最適記録パワー・最適再生パワー取得部
１６４  再生耐久性判断部
１６５  再生耐久性判断情報作成部
１６６  第２最適記録パワー検出部
１６７  第２最適再生パワー取得部
１６８  新再生条件算出部
１７１  最適再生パワー算出部
１７２  線形関係作成部
【図１】
2010113757.tif 000003
【図２】
2010113757.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2010113757.tif 000009
【図８】
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【図９】
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