(57)【要約】【課題】試験を効率的に行うことができるように改良された試験システムを提供することを目的とする。【解決手段】本発明にかかる第１の試験システムは、試験の対象であって、複数の構成部分を含み、複数の構成部分それぞれに対する第１の試験を行う被試験装置を試験する試験システムであって、被試験装置において実施された第１の試験の結果に基づいて、第２の試験の対象とすべき構成部分を選択する選択手段と、選択された構成要素と、第２の試験に含まれる試験項目とを対応づける対応付け手段と、対応付けられた構成部分と試験項目とを表する表示手段とを有する。また、複数の構成部分を含む被試験装置を試験する第２の試験システムであって、構成部分の選択を受け入れる受け入れ手段と、選択された構成要素と、試験に含まれる試験項目とを対応づける対応付け手段と、対応付けられた構成部分と試験項目とを表する表示手段とを有する。【選択図】図３
2010048682.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験の対象であって、複数の構成部分を含み、前記複数の構成部分それぞれに対する第１の試験を行う被試験装置を試験する試験システムであって、
前記被試験装置において実施された第１の試験の結果に基づいて、第２の試験の対象とすべき前記構成部分を選択する選択手段と、
前記選択された構成要素と、第２の試験に含まれる試験項目とを対応づける
対応付け手段と、
前記対応付けられた前記構成部分と試験項目とを表示する表示手段と
を有する試験システム。
【請求項２】
複数の構成部分を含む被試験装置を試験する試験システムであって、
前記構成部分の選択を受け入れる受け入れ手段と、
前記選択された構成要素と、試験に含まれる試験項目とを対応づける
対応付け手段と、
前記対応付けられた前記構成部分と試験項目とを表示する表示手段と
を有する試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験の対象となる被試験装置を試験する試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１は、被試験装置の故障部位を特定する試験装置を開示する。
【特許文献１】特開平９−３０４１２９
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、上述した背景からなされたものであって、被測定装置をさらに迅速に試験できるように改良された試験システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的のために、本発明にかかる第１の試験システムは、試験の対象であって、複数の構成部分を含み、前記複数の構成部分それぞれに対する第１の試験を行う被試験装置（２０）を試験する試験システム（１）であって、前記被試験装置において実施された第１の試験の結果に基づいて、第２の試験の対象とすべき前記構成部分を選択する選択手段（２３４）と、前記選択された構成要素と、第２の試験に含まれる試験項目とを対応づける対応付け手段（２３６）と、前記対応付けられた前記構成部分と試験項目とを表示する表示手段（２４０）とを有する。
【０００５】
また、本発明にかかる第２の試験システムは、複数の構成部分を含む被試験装置を試験する試験システムであって、前記構成部分の選択を受け入れる受け入れ手段（３００）と、前記選択された構成要素と、試験に含まれる試験項目とを対応づける対応付け手段（２３６）と、前記対応付けられた前記構成部分と試験項目とを表示する表示手段（２４０）とを有する。
なお、この部分の記載において付された符号は、本願発明の技術的範囲の限定を意図していない。
【発明の効果】
【０００６】
本発明にかかる試験システムによれば、被試験装置を迅速に試験することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
［第１の実施形態］
以下、本発明の第１の実施形態として、試験システム１を説明する。
図１（Ａ）は、本発明に係る試験システム１（試験システム）の構成を示す図である。
図１（Ａ）に示すように、試験システム１は、制御装置１２と、被試験装置用制御装置１４と、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎ（ｎ≧１；ただし、全てのｎが常に同数を示すとは限らない。）と、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎ（被試験装置）とが、ＬＡＮなどのネットワーク１０に接続され、ｎ個の測定装置１６−１〜１６−ｎと、ｎ個の被試験装置２０−１〜２０−ｎとが、切替装置１８を介して接続されて構成される。
なお、以下、測定装置１６−１〜１６−ｎなど、複数ある構成部分のいずれかを示すときは、単に、測定装置１６と記載することがある。
以下、各図において、実質的に同じ構成部分・処理には、同じ符号が付される。
【０００８】
［ハードウェア構成］
図１（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２および被試験装置用制御装置１４のハードウェア構成を例示する図である。
図１（Ｂ）に示すように、制御装置１２及び被試験装置用制御装置１４はそれぞれ、メモリ１２２およびＣＰＵ１２４などを含む情報処理装置１２０、キーボードおよび表示装置などを含む外部入出力装置１２６、データ通信を行うための通信装置１２８、および、ハードディスクなどの記録媒体１３２に対してデータの記録を行う記録装置１３０などから構成される。
つまり、制御装置１２および被試験装置用制御装置１４は、情報処理およびデータ通信が可能なコンピュータとしての構成部分を有している。
試験システム１は、これらの構成部分により、被試験装置２０単体で実行されるＢＩＴ試験（図２（Ａ）を参照して後述）の結果に応じて、被試験装置２０の機能・性能を試験する（機能・性能試験；図２（Ｂ），（Ｃ）を参照して後述）。
【０００９】
［ＢＩＴ試験〜機能・性能試験の手順］
ここで、本願発明にかかる試験システム１の各構成部分の説明に先立ち、その理解を助けるために、まず、ＢＩＴ試験および機能・性能試験の手順を説明する。
図２（Ａ）は、図１（Ａ）に示した被試験装置２０それぞれが単体で実行するＢＩＴ試験の結果を例示する図であり、（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２において実行される第１の試験項目決定プログラム２２のパラメータ記憶部２３８（図３（Ａ）を参照して後述）が記憶するモジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータを例示する図であり、（Ｃ）は、第１の試験項目決定プログラム２２の表示部２４０（同じく、図３（Ａ）を参照して後述）が、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示する機能・性能試験実行時の画面を例示する図である。
【００１０】
なお、以下、説明の具体化および明確化のために、以下の１−１〜１−３の場合が具体例とされる。
１−１．被試験装置２０が無線機であって、図２（Ａ）に示すように、制御部（１Ａ１）、シンセサイザ部（１Ａ２）、ガード受信部（１Ａ３）、主受信部（１Ａ４）、電源部（１Ａ５）および送信部（１Ａ６）など、複数のハードウェアモジュールおよびソフトウェアモジュールから構成され；
１−２．被試験装置２０それぞれが、単体で、上記モジュールそれぞれに対するＢＩＴ試験を行い；
１−３．制御装置１２は、図２（Ｂ）に示したように、モジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータを用いて機能・性能試験の試験項目を決定し、図２（Ｃ）に示したように、決定した試験項目およびモジュール一覧を外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））表示する。
【００１１】
［ＢＩＴ試験］
上述のように、試験システム１においては、２種類の試験、つまり、被試験装置２０によるＢＩＴ（Built-In-Test）試験と、制御装置１２による機能・性能試験とが実行される。
これらの試験のうち、まず、被試験装置２０それぞれ単体によるＢＩＴ試験が行われる。
図２（Ａ）に示すように、ＢＩＴ試験は、被試験装置２０の自己診断試験であり、複数回実施できる（図２（Ａ）においては５回を例示）。
ＢＩＴ試験により、被試験装置２０を構成する各モジュールの良／否が判断される。
図２に示した具体例では、自己診断試験の５回目で、「１Ａ３  ガード受信部」が「不良」であると検知されている。
【００１２】
［機能・性能試験］  
試験システム１においては、次に、機能・性能試験が行われる。
図２（Ｂ）に示すように、機能・性能試験では、モジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータが設定されている。
図２（Ｂ）に示した試験Ａ〜Ｅはそれぞれ、「電源系」、「送信系」または「受信系」などの機能テストを目的とするものである。
各試験ごとに、使用される測定装置１６および被試験装置用制御装置１４から被試験装置２０に与えられる試験条件等が異なっている。
例えば「１Ａ３  ガード受信部」の機能・性能を確認するために、「試験Ｃ」および「試験Ｄ」が必要なので、それぞれのパラメータに、「０」以外の数が設定されている。
また、「試験Ａ」、「試験Ｂ」および「試験Ｅ」は、不要であるので、パラメータはそれぞれ「０」と設定され、これらの試験は実行されない。
つまり、制御装置１２は、図２（Ｂ）に示したパラメータを用いて、以下の２−１〜２−３の処理を行う。
２−１．制御装置１２は、図２（Ａ）に示したＢＩＴ試験の結果において「不良」であると示されたモジュール（ここでは、「１Ａ３  ガード受信部」）について、図２（Ｂ）に示したパラメータを用いて試験項目（ここでは、「試験Ｃ」，「試験Ｄ」）を決定し、さらに、試験項目の手順・順番を決定し；
２−２．制御装置１２は、試験を実施しない試験項目に「×」を表示した試験項目の一覧およびモジュールの一覧などを、図２（Ｃ）示したように、表示させ；
２−３．制御装置１２は、決定した試験項目およびその順番・手順に基づいて、機能・性能試験を行う。
【００１３】
［ＢＩＴ試験の手順］
以下、ＢＩＴ試験の手順３−１〜３−４を説明する。
３−１．ユーザは、まず、ＢＩＴ試験を行うために、制御装置１２（図１（Ａ））の外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して、ＢＩＴ試験の実行命令を入力する。
３−２．制御装置１２は、受け入れたＢＩＴ試験の実行命令を、被試験装置用制御装置１４を介して、被試験装置２０に対して出力する。
３−３．被試験装置２０は、被試験装置用制御装置１４から入力されたＢＩＴ試験の実行命令に従い、ＢＩＴ試験を実行し、ＢＩＴ試験の結果（図２（Ａ））を、被試験装置用制御装置１４を介して、制御装置１２に対して出力する。
３−４．制御装置１２は、外部入出力装置１２６に、ＢＩＴ試験の結果を表示する。
【００１４】
［機能・性能試験の手順］
以下、機能・性能試験の手順４−１〜４−７を説明する。
４−１．ユーザは、上述のように試験項目が決定された機能・性能試験を行うために、測定対象の被試験装置２０と切替装置１８とをケーブル接続し、制御装置１２の外部入出力装置１２６を介して、機能・性能試験の実行命令を入力する。
４−２．制御装置１２は、機能・性能試験の試験項目の順番・手順に従って、試験項目毎に、切替装置１８を制御して、その試験において用いられる測定装置１６と上記ユーザにより接続された被試験装置２０とを接続させる。
４−３．制御装置１２は、上記接続した測定装置１６の測定環境を設定する。
４−４．制御装置１２は、試験項目を被試験装置用制御装置１４に通知する。
４−５．被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から通知された試験項目に応じて、被試験装置２０設定し、試験信号を出力させる。
４−６．制御装置１２は、測定装置１６を制御し、被試験装置２０の各モジュールから出力される試験信号を測定させて試験を実行し、試験の結果を受け入れる。
４−７．制御装置１２は、測定装置１６から入力された試験の結果を外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる。
【００１５】
［試験システム１の各構成部分］
以下、図１（Ａ）に示した本発明にかかる試験システム１の各構成部分を、さらに、図３（Ａ）を参照して説明する。
図３（Ａ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２において実行される機能・性能試験の試験項目を決定するための第１の試験項目決定プログラム２２の構成を示す図である。
【００１６】
［被試験装置２０］
被試験装置２０は、図２（Ａ）を参照して上述したように、受信部、電源部および送信部などの複数のモジュールを含む無線機であって、ＢＩＴ試験を行う機能を有する。
測定対象の被試験装置２０は、機能・性能試験が実行される場合には、ユーザにより、切替装置１８にケーブル接続され、被試験装置用制御装置１４の制御に従い、試験信号を出力する。
【００１７】
［測定装置１６・被試験装置用制御装置１４］
測定装置１６は、例えば、オシロスコープ、高周波電力計、周波数カウンタ、スペクトラムアナライザおよび低周波分析器などであって、被試験装置２０の各モジュールから出力される試験信号の波形、周波数および電力などを測定し、測定の結果を、制御装置１２に出力する。
被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から通知された機能・性能試験の試験項目に応じて、ネットワーク１０を介して、被試験装置２０を制御し、周波数の設定、チャネルの設定およびパワーの設定などを行う。
また、被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から通知された機能・性能試験の試験項目に応じて、被試験装置２０が試験信号を出力するように、信号の出力命令を行う。
また、被試験装置用制御装置１４は、制御装置１２から入力されたＢＩＴ試験の実行命令に従い、被試験装置２０にＢＩＴ試験を実施させ、結果を、制御装置１２に出力する。
【００１８】
［制御装置１２］
制御装置１２は、第１の試験項目決定プログラム２２を実行して以下に示す制御処理５−１〜５−８を行う。
５−１．制御装置１２は、ユーザにより入力されたＢＩＴ試験の実行命令を、被試験装置用制御装置１４に対して出力し、被試験装置用制御装置１４から、ＢＩＴ試験の結果を受け入れ、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示する。
５−２．制御装置１２は、ＢＩＴ試験の結果に基づいて、機能・性能試験の試験項目およびその順番・手順を決定し、外部入出力装置１２６に表示する。
５−３．制御装置１２は、ユーザから入力された機能・性能試験の実行命令を受け入れる。
５−４．制御装置１２は、機能・性能試験の試験項目の順番・手順に従って、試験項目毎に、切替装置１８を制御して、その試験において用いられる測定装置１６と上記ユーザにより接続された被試験装置２０とを接続させる。
５−５．制御装置１２は、上記接続した測定装置１６の測定環境を設定する。
５−６．制御装置１２は、試験項目を被試験装置用制御装置１４に通知し、被試験装置用制御装置１４に被試験装置２０を制御させる。
５−７．制御装置１２は、測定装置１６を制御し、被試験装置２０の各モジュールから出力される試験信号を測定させて試験を実行し、試験の結果を受け入れる。
５−８．制御装置１２は、測定装置１６から入力された試験の結果を外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示させる。
【００１９】
［第１の試験項目決定プログラム２２］
以下、制御装置１２において実行される機能・性能試験の試験項目を決定するための第１の試験項目決定プログラム２２を説明する。
図３（Ａ）に示すように、第１の試験項目決定プログラム２２は、ＢＩＴ試験制御部２２０、実行命令受け入れ部２３０、ＢＩＴ試験結果受け入れ部２３２、モジュール選択部２３４（選択手段）、試験項目決定部２３６（対応付け手段）、パラメータ記憶部２３８、表示部２４０（表示手段）および試験制御部２６から構成される。
試験制御部２６は、測定装置制御部２６０、切替装置制御部２６２および被試験装置制御部２６４から構成される。
図３（Ａ）に示した第１の試験項目決定プログラム２２は、記録媒体１３２（図１（Ｂ））などを介して制御装置１２のメモリ１２２にロードされ、制御装置１２にインストールされたＯＳ（図示せず）上で制御装置１２のハードウェア資源を具体的に利用して実行される。
【００２０】
ＢＩＴ試験制御部２２０は、ユーザにより、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して入力されたＢＩＴ試験の実行命令を、被試験装置用制御装置１４に出力する。
また、ＢＩＴ試験制御部２２０は、被試験装置用制御装置１４から入力されたＢＩＴ試験の結果を受け入れ、外部入出力装置１２６に表示するとともに、ＢＩＴ試験結果受け入れ部２３２に対して出力する（上記制御処理５−１に対応）。
試験実行命令受け入れ部２３０は、ユーザにより、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））を介して入力された機能・性能試験の実行命令を試験制御部２６に出力する（上記制御処理５−３に対応）。
【００２１】
ＢＩＴ試験結果受け入れ部２３２は、ＢＩＴ試験制御部２２０からＢＩＴ試験の結果を受け入れ、モジュール選択部２３４に対して出力する（上記制御処理５−２の一部に対応）。
モジュール選択部２３４は、ＢＩＴ試験結果受け入れ部２３２から受け入れたＢＩＴ試験の結果において、「不良」であると検知されたモジュールを選択し、選択したモジュールの情報を、試験項目決定部２３６に対して出力する（上記制御処理５−２の一部に対応）。
具体的には、モジュール選択部２３４が、図２（Ａ）に示したＢＩＴ試験の結果を受け入れた場合には、試験５回目で、「１Ａ３  ガード受信部」が「不良」であると検知されているので、「１Ａ３  ガード受信部」が選択される。
パラメータ記憶部２３８は、モジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータ（図２（Ｂ））を記憶する。
【００２２】
試験項目決定部２３６（図３）は、モジュール選択部２３４から入力されたモジュールの情報と、パラメータ記憶部２３８に記憶されたパラメータとから、実施する機能・性能試験の試験項目（実施試験項目）を決定する（上記制御処理５−２の一部に対応）。
具体的には、試験項目決定部２３６は、「１Ａ３  ガード受信部」が選択されたことを示す情報が入力された場合には、図２（Ｂ）に示したパラメータを参照し、「試験Ｃ」および「試験Ｄ」を選択する。
また、試験項目決定部２３６は、実施される試験項目の順番・手順を決定する（上記制御処理５−２の一部に対応）。
また、試験項目決定部２３６は、実施試験項目およびその順番・手順などの情報を、表示部２４０、測定装置制御部２６０、切替装置制御部２６２および被試験装置制御部２６４に対して出力する。
表示部２４０は、試験項目決定部２３６から入力された実施試験項目およびその順番・手順などの情報を、外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））に表示する（上記制御処理５−２の一部に対応）。
また、表示部２４０は、測定装置制御部２６０から入力された試験の結果を、外部入出力装置１２６に表示する（上記制御処理５−８に対応）。
【００２３】
測定装置制御部２６０は、実施試験項目およびその順番・手順などの情報を試験項目決定部２３６から受け入れる。
また、測定装置制御部２６０は、試験実行命令受け入れ部２３０から入力された実行命令に従い、試験項目の順番・手順に従って、試験項目毎に、測定装置１６の測定環境を設定する（上記制御処理５−５に対応）。
また、測定装置制御部２６０は、測定装置１６に被試験装置２０から出力される試験信号を測定させて試験を実行し、試験の結果を受け入れて、表示部２４０に対して出力する（上記制御処理５−７に対応）。
【００２４】
切替装置制御部２６２は、実施試験項目およびその順番・手順などの情報を試験項目決定部２３６から受け入れる。
また、切替装置制御部２６２は、試験実行命令受け入れ部２３０から入力された実行命令に従い、試験項目の順番・手順に従って、試験項目毎に、切替装置１８を制御して、その試験において用いられる測定装置１６と上記ユーザにより接続された被試験装置２０とを接続させる（上記制御処理５−４に対応）。
被試験装置制御部２６４は、実施試験項目およびその順番・手順などの情報を試験項目決定部２３６から受け入れる。
また、被試験装置制御部２６４は、試験実行命令受け入れ部２３０から入力された実行命令に従い、機能・性能試験の試験項目を被試験装置用制御装置１４に通知し、被試験装置用制御装置１４に被試験装置２０を制御させる（上記制御処理５−６に対応）。
【００２５】
［第１の全体動作例］
以下、図１（Ａ）に示した試験システム１の第１の全体動作例を説明する。
図４は、図１（Ａ）に示した試験システム１の第１の全体動作（Ｓ１０）を例示するフローチャートである。
図４に示すように、ステップ１００（Ｓ１００）において、ユーザは、制御装置１２（図１（Ａ））の外部入出力装置１２６（図１（Ｂ））などを介して、ＢＩＴ試験の実行命令を入力し、被試験装置２０は、入力されたＢＩＴ試験の実行命令に応じて、ＢＩＴ試験を実行する。
ステップ１０２（Ｓ１０２）において、制御装置１２は、ＢＩＴ試験の結果を受け入れ、ＢＩＴ試験の結果で、「不良」であると検出されたモジュールがあるか否かを判断する。
ＢＩＴ試験の結果で、「不良」であると検出されたモジュールがあったときには、制御装置１２は、Ｓ１０４の処理に進み、これ以外のときには、Ｓ１２０の処理に進む。
【００２６】
ステップ１０４（Ｓ１０４）において、制御装置１２は、ＢＩＴ試験の結果「不良」であると検出されたモジュールを選択する。
ステップ１０６（Ｓ１０６）において、制御装置１２は、ＢＩＴ試験の結果「不良」であると検出されたモジュールの情報と、図２（Ｂ）に例示したパラメータとから、機能・性能試験の実施試験項目およびその順番・手順を決定する。
ステップ１０８（Ｓ１０８）において、制御装置１２は、機能・性能試験において、実施しない試験項目に「×」を表示した試験項目およびモジュール一覧（図２（Ｃ）に例示）などを、外部入出力装置１２６に表示する。
ステップ１１０（Ｓ１１０）において、制御装置１２は、ユーザより入力された機能・性能試験の実行命令を受け入れる。
【００２７】
ステップ１１２（Ｓ１１２）において、制御装置１２は、決定した機能・性能試験項目およびその順番・手順に従い試験を実行する。
ステップ１１４（Ｓ１１４）において、制御装置１２は、機能・性能試験の結果を表示する。
ステップ１２０（Ｓ１２０）において、制御装置１２は、機能・性能試験において、全ての試験項目を実施しないことを決定する。
ステップ１２２（Ｓ１２２）において、制御装置１２は、全ての試験項目に「×」を表示した試験項目およびモジュール一覧（図２（Ｃ）に例示）などを、外部入出力装置１２６に表示する。
【００２８】
上述した第１の全体動作例では、制御装置１２は、ＢＩＴ試験の結果「不良」であると検出されたモジュールの情報と、予め定義されたモジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータ（図２（Ｂ））とから、機能・性能試験の実施しない試験項目について「×」を表示し、試験を実施しないように制御する。
つまり、上述した第１の全体動作例では、ＢＩＴ試験の結果に応じて、自動で機能・性能試験の試験項目が選択されるので、ユーザの操作により機能・性能試験の試験項目を選択する手間を省くことができる。
また、必要な試験項目のみ実施されるように制御されるため、試験時間を短縮することができる。
【００２９】
［第２の実施形態］
以下、本発明の第２の実施形態を説明する。
【００３０】
［第２の試験項目決定プログラム３０］
以下、機能・性能試験の試験項目を決定するために、制御装置１２において第１の試験項目決定プログラム２２に置換されて実行される第２の試験項目決定プログラム３０を説明する。
図３（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置１２において第１の試験項目決定プログラム２２のかわりに実行される第２の試験項目決定プログラム３０の構成を示す図である。
図３（Ｂ）に示すように、第２の試験項目決定プログラム３０は、第１の試験項目決定プログラム２２において、ＢＩＴ試験制御部２２０、試験実行命令受け入れ部２３０、ＢＩＴ試験結果受け入れ部２３２およびモジュール選択部２３４を、試験項目受け入れ部３００（受け入れ手段）に置き換えた構成を採る。
試験項目受け入れ部３００は、図２（Ｃ）に示したような「モジュール一覧」を表示し、ユーザに、モジュールを選択させる。
また、試験項目受け入れ部３００は、ユーザにより選択されたモジュールの情報を受け入れ、試験項目決定部２３６に対して出力する。
［第２の全体動作例］
以下、図１（Ａ）に示した試験システム１の第２の全体動作例を説明する。
図５は、図１（Ａ）に示した試験システム１の第２の全体動作（Ｓ２０）を例示するフローチャートである。
ステップ２００（Ｓ２００）において、ユーザは、制御装置１２の外部入出力装置１２６などに表示される「モジュール一覧」（図２（Ｃ））から試験を実施したいモジュールを選択し、制御装置１２は、選択されたモジュールの情報を受け入る。
ステップ２０２（Ｓ２０２）において、制御装置１２は、選択されたモジュールの情報と、図２（Ｂ）に例示したパラメータとから、実施する機能・性能試験の試験項目を決定する。
ステップ２０４（Ｓ２０４）において、制御装置１２は、機能・性能試験において、実施しない試験項目に「×」を表示した試験項目およびモジュール一覧（図２（Ｃ）に例示）などを、外部入出力装置１２６に表示する。
ステップ２０６（Ｓ２０６）において、制御装置１２は、ユーザより入力された機能・性能試験の実行命令を受け入れる。
ステップ２０８（Ｓ２０８）において、制御装置１２は、決定した機能・性能試験項目およびその順番・手順に従い試験を実行する。
ステップ２１０（Ｓ２１０）において、制御装置１２は、機能・性能試験の結果を表示する。
【００３１】
上述した第２の全体動作例では、ユーザが指定（選択）したモジュールと、予め定義されたモジュール毎に必要とされる試験項目を示すパラメータ（図２（Ｂ））とから、実施しない試験項目について「×」を表示し、試験を実施しないように制御する。
つまり、第１の全体動作例では、ＢＩＴ試験の結果に応じて、自動で機能・性能試験の試験項目が選択されたが、第２の全体動作例では、ユーザが機能・性能試験を行いたいモジュールを選択する場合に、自動で機能・性能試験の試験項目が選択され、ユーザの操作により試験項目を選択する手間を省くことができる。
また、第１の全体動作例と同様に、必要な試験項目のみ実施されるように制御されるため、試験時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】（Ａ）は、本発明に係る試験システム（試験システム）の構成を示す図であり、（Ｂ）は、（Ａ）に示した制御装置および被試験装置用コントローラのハードウェア構成を例示する図である。
【図２】（Ａ）は、図１（Ａ）に示した被試験装置それぞれが単体で実行するＢＩＴ試験の結果を例示する図であり、（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置において実行される第１の試験項目決定プログラムのパラメータ記憶部（図３（Ａ））が記憶するモジュール毎に必要とされる機能・性能試験の試験項目を示すパラメータを例示する図であり、（Ｃ）は、第１の試験項目決定プログラムの表示部（図３（Ａ））が、外部入出力装置（図１（Ｂ））に表示する機能・性能試験実行時の画面を例示する図である。
【図３】（Ａ）は、図１（Ａ）に示した制御装置において実行される機能・性能試験の試験項目を決定するための第１の試験項目決定プログラムの構成を示す図であり、（Ｂ）は、図１（Ａ）に示した制御装置において第１の試験項目決定プログラムのかわりに実行される第２の試験項目決定プログラムの構成を示す図である。
【図４】図１（Ａ）に示した試験システムの第１の全体動作（Ｓ１０）を例示するフローチャートである。
【図５】図１（Ａ）に示した試験システム１の第２の全体動作（Ｓ２０）を例示するフローチャートである。
【符号の説明】
【００３３】
１・・・試験システム
１０・・・ネットワーク
１２・・・制御装置
１４・・・被試験装置用コントローラ
１６・・・測定装置
１８・・・切替装置
２０・・・被試験装置
１２０・・・情報処理装置
１２２・・・メモリ
１２４・・・ＣＰＵ
１２６・・・外部入出力装置
１２８・・・通信装置
１３０・・・記録装置
１３２・・・記録媒体
２２・・・第１の試験項目決定プログラム
２２０・・・ＢＩＴ試験制御部
２３０・・・試験実行命令受け入れ部
２３２・・・ＢＩＴ試験結果受け入れ部
２３４・・・モジュール選択部
２３６・・・試験項目決定部
２３８・・・パラメータ記憶部
２４０・・・表示部
２６・・・試験制御部
２６０・・・測定装置制御部
２６２・・・切替装置制御部
２６４・・・被試験装置制御部
３０・・・第２の試験項目決定プログラム
３００・・・試験項目受け入れ部
【図１】
2010048682.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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