(57)【要約】【課題】複数層を備える光情報記録媒体に偏芯がある場合でも、記録速度の低下を抑制できる光情報記録再生装置等を提供することを目的とする。【解決手段】光情報記録再生装置は、第１の層の欠陥が検出された位置と対応する第２の層における所定の領域を、欠陥領域として情報を記録する。光情報記録再生は、第１の層の欠陥が登録された位置と対応する第２の層における所定の領域を、欠陥領域として情報を再生する。望ましくは、欠陥領域の半径方向の距離は、層間の接合誤差よりも大きいものとする。  また、光情報記録媒体は、第１の層の欠陥の位置と対応する第２の層における所定の領域を欠陥領域として登録する。そして、欠陥領域の半径方向の距離は、層間の接合誤差よりも大きいものとする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の層及び第２の層を備える光情報記録媒体に対して情報の記録または再生を行なう光情報記録再生装置であって、
前記光情報記録媒体にレーザを照射するピックアップと、
前記光情報記録媒体を回転させるモータと、
前記ピックアップから読み出された信号から欠陥の検出を行う欠陥検出手段と、
前記第１の層での情報の記録時に前記欠陥を検出した場合には、前記欠陥の検出位置に対応する第２の層における所定の領域を欠陥領域として前記情報の記録を行なうよう制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域のリストを示す情報を前記光情報記録媒体から読み出すよう制御することを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の光情報記録再生装置であって、
前記所定の領域の半径方向の距離は、前記第１の層と前記第２の層との接合誤差以上であることを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域に対する情報の記録に失敗した場合のリトライ動作を変更するよう制御することを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項５】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域および該欠陥領域に隣接する領域に対する情報の記録に失敗した場合のリトライ動作を変更するよう制御する事を特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項６】
請求項４または５に記載の光情報記録再生装置であって、
前記リトライ動作の変更とは、リトライ回数を減らすまたはリトライを行わないことである光情報記録再生装置。
【請求項７】
請求項４または５に記載の光情報記録再生装置であって、
前記リトライ動作の変更とは、記録速度及び記録方式の変更であることである光情報記録再生装置。
【請求項８】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域に記録を行なう場合には、記録動作を変更するよう制御することを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項９】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域または該欠陥領域に隣接する領域に情報の記録を行なう場合には、記録動作を変更するよう制御する事を特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項１０】
請求項８または９に記載の光情報記録再生装置であって、
前記制御手段は、記録速度を低下させる、または、リードアフターライト方式で記録を行なうことにより、前記記録動作の変更を行うことを特徴とする光情報記録再生装置。
【請求項１１】
第１の層及び第２の層を備える光情報記録媒体から情報の再生を行なう光情報再生装置であって、
前記光情報記録媒体にレーザを照射するピックアップと、
前記光情報記録媒体を回転させるモータと、
前記第１の層で所定のアドレスに欠陥がある事が登録されている場合には、前記欠陥の登録位置に対応する第２の層における所定の領域を欠陥領域として前記情報の再生を行なうよう制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする光情報再生装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の光情報再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域のリストを示す情報を前記光情報記録媒体から読み出すよう制御することを特徴とする光情報再生装置。
【請求項１３】
請求項１１または１２に記載の光情報再生装置であって、
前記所定の領域の半径方向の距離は、前記第１の層と前記第２の層との接合誤差以上であることを特徴とする光情報再生装置。
【請求項１４】
請求項１１ないし１３のいずれか１項に記載の光情報再生装置であって、
前記制御手段は、前記欠陥領域および該欠陥領域に隣接する領域では、フォーカスサーボ引き込みを行わないことを特徴とする光情報再生装置。
【請求項１５】
第１の記録層と第２の記録層とを有する光情報記録媒体であって、
前記第１の記録層の記録領域にはアドレスが割り当てられ、
前記第２の記録層の記録領域にはアドレスが割り当てられ、
前記第２の記録層の記録領域は、所定の範囲のアドレス毎に分割された複数の領域を有し、
前記第１の記録層におけるアドレスと前記第２の記録層における領域とが対応し、
前記第１の記録層にて欠陥が検出された場合には、前記第１の記録層おいて欠陥が検出されたアドレスに対応づけられている領域が欠陥領域として登録され、
前記欠陥領域の半径方向の距離は、半径方向の距離が前記第１の記録層と前記第２の記録層との接合誤差の値以上であることを特徴とする光情報記録媒体。
【請求項１６】
請求項１５に記載の光情報記録媒体であって、
前記複数の領域のうち、どの領域が欠陥領域であるかを示す欠陥領域情報を記録する領域を有することを特徴とする光情報記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光情報記録再生装置、光情報再生装置および光情報記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、「片面２層媒体のような複数の記録層を有する光ディスクにおいて、少なくとも一つの記録層に媒体欠陥に関する情報を有する欠陥リストを記録し、その欠陥リストに欠陥リストが記録される記録層の数及び位置によらず全ての記録層の媒体欠陥に関する情報を持たせることにより、欠陥管理の信頼性向上、高速アクセスの実現を図ることができる。」と記載されている。
【０００３】
また、特許文献２には、「多層光ディスクの各記録層のディスク表面から見て物理的に同じ位置にディフェクトが存在したり、ディスク表面に傷やゴミなどといったディフェクトが存在すると、ある層での書き込みがディフェクトによる影響で失敗し、その時のアドレスをディフェクトリストへ登録したにもかかわらず、別の機会において、他の層のディスク表面から見て物理的に同じ位置への書き込みの際、以前検出した同じディフェクトが原因で書き込みに失敗をし、再度ディフェクトリストに登録をするといった二度手間になる可能性があるため、書き込み時のディフェクトリストへの登録の処理の無駄が生じていた」と課題の欄に記載され、また効果の欄には、「各記録層のディスク表面から見て物理的に同じ位置にディフェクトが存在するか、ディスク表面に傷やゴミなどといったディフェクトが存在するものとみなして、アクセス中の記録層のディフェクト領域のアドレスと、他の記録層のディスク表面から見て物理的に同じ位置のアドレスをディフェクトリストに登録するので、ディフェクトリストへの登録の効率が上がり、書き込み時の処理速度を向上させることができる」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開2001−14808号公報（[発明の効果]）
【特許文献２】特開2007−334940号公報（[特許請求の範囲]、[発明の効果]）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献２に記載の技術を実現する為には、各記録層の張り合わせを角度方向、半径方向共に高精度に制御を行いながら光情報記録媒体を作成する必要がある。
【０００６】
例えば、Blu−Ray規格のディスクの場合、０．２３μｍ張り合わせ位置がずれただけで欠陥登録すべきアドレスは変化してしまう。
【０００７】
しかし、一般的に、複数層を備える光情報記録媒体では、各層の偏芯が最大で約５０μｍ生じる。また、ある層と他の層とを接合する場合には、各層の角位相は合わせないことが一般的である。従って、ある層と他の層を接合すると、各層の偏芯の方向が真逆になる場合もある。つまり、一般の光情報記録媒体で、張り合わせを行なう場合、層と層との相対的な偏芯の差（以下、接合誤差という）は最大で約１００μｍ程度となる。
【０００８】
従って、同一の物理的な位置を示す各層のアドレスを対応させることは困難である。そして、ある層の記録再生中に欠陥が検知された箇所のアドレスを取得し、そのアドレスに対応するであろう他層のアドレスを取得しても、該他層のアドレスで示される箇所とは異なる箇所で欠陥が検知される可能性が高い。そして、該異なる箇所においては、再び欠陥が検知されるにも関わらず、欠陥が無い箇所と同じように情報の記録または再生がされていた。例えば、欠陥があるにも関わらず、従来と同じ回数のリトライが行なわれ処理時間の増加を招いていた。このため、例えば、記録速度を向上させることは難しくなる。
【０００９】
しかし、特許文献２においては、このような問題についての記載はない。
【００１０】
本発明は、複数層を備える光情報記録媒体に偏芯がある場合でも、記録速度の低下を抑制できる光情報記録再生装置を提供することを目的とする。
【００１１】
また、本発明は、複数層を備える光情報記録媒体に偏芯がある場合でも、再生速度の低下を抑制できる光情報記録再生装置を提供することを目的とする。
【００１２】
また、本発明は、偏芯がある場合でも、装置による記録速度、または再生速度の低下を抑制できる光情報記録媒体を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記の課題は、例えば、特許請求の範囲に記載の発明によって解決される。また、要点を簡単に説明すると以下の通りである。
【００１４】
光情報記録再生装置は、第１の層の欠陥が検出された位置と対応する第２の層における所定の領域を、欠陥領域として情報を記録する。光情報記録再生は、第１の層の欠陥が登録された位置と対応する第２の層における所定の領域を、欠陥領域として情報を再生する。望ましくは、欠陥領域の半径方向の距離は、層間の接合誤差よりも大きいものとする。
【００１５】
また、光情報記録媒体は、第１の層の欠陥の位置と対応する第２の層における所定の領域を欠陥領域として登録する。そして、欠陥領域の半径方向の距離は、層間の接合誤差よりも大きいものとする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によると、複数層を備える光情報記録媒体に偏芯がある場合でも、記録速度の低下を抑制できる光情報記録再生装置を提供することが可能となる。
【００１７】
また、本発明によると、複数層を備える光情報記録媒体に偏芯がある場合でも、再生速度の低下を抑制できる光情報記録再生装置を提供することが可能となる。
【００１８】
また、本発明によると、偏芯がある場合でも、装置による記録速度、または再生速度の低下を抑制できる光情報記録媒体を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】２層の記録層を有する光情報記録媒体の説明図である。（実施例１）
【図２】記録層の構造を説明した図である。（実施例１）
【図３】記録層に記録を行うデータ領域を示した図である（実施例１）
【図４】欠陥検知領域を示した図である。（実施例１）
【図５】光情報記録再生装置の構成図である。
【図６】記録時の欠陥検知処理のフローチャートの例である。（実施例２）
【図７】記録時の欠陥検知に、欠陥検知領域３０１を利用した処理のフローチャートの例である。（実施例２）
【図８】欠陥検知領域を利用した記録のフローチャートの例である。（実施例３）
【図９】再生時に欠陥検知を利用したリトライのフローチャートの例である。（実施例４）
【図１０】欠陥検知領域の欠陥情報を記録しない場合の欠陥推定の方法を示した例である。（実施例５）
【図１１】表面に傷がある場合の各記録層の再生信号レベルを示した図である。
【図１２】領域定義情報を示す図。
【図１３】欠陥管理情報の例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の実施例について説明する。なお、光情報記録媒体１００とは、例えばBD等の光ディスクであるが、これに限定されるものではなく、さまざまな媒体に適用可能である。望ましくは、光情報記録媒体１００は、２層以上の多層構造の記録媒体であり、ある層と他の層を接合する際に生じる誤差が、一つの層内におけるトラックやピット間の距離以上である媒体である。また、光情報記録再生装置４００の例として、光ディスクドライブ装置の事を示すが、光情報記録媒体１００に対して、情報の記録または再生が可能であればよい。また、光情報記録再生装置４００は、光ディスクドライブ装置を内蔵する装置、例えばＰＣやストレージ装置であってもよい。
【実施例１】
【００２１】
実施例１では、光情報記録媒体１００について説明する。本実施例の光情報記録媒体１００は、概ねBlu-Ray  Disc  Recordable規格に沿った構成とするが、後述するように、欠陥管理領域３０１等の規格と異なる構成を含む。
【００２２】
図１に、光情報記録媒体１００の層構造について説明する。
【００２３】
図示されるように、光情報記録媒体１００は、第一の記録層１０２と第二の記録層１０４と２つの記録層を持つ。
【００２４】
具体的には、光情報記録媒体１００は、図１に示すように、基盤層１０１、第１の記録層１０２、第一の中間層１０３、第二の記録層１０４、カバー層１０５のように積層構造となっている。
【００２５】
なお、図１で説明している光情報記録媒体１００は、２層の記録層をもっているが、より多くの記録層をもつ光情報記録媒体１００の場合には、それぞれ中間層および記録層を増やす事により記録層数を増やす事が出来る。
【００２６】
次に、図２を用いて第２の記録層１０４の構造の例について説明する。
【００２７】
図２中、第２の記録層１０４は、らせん状の記録トラック２０１を持っており、光情報はこの記録トラック２０１沿いに信号が記録される構造となっている、この時らせん状の記録トラック２０１の回転は右巻きとなっているが、トラック２０１は左巻き、右巻きどちらでも良く、第一の記録層１０２と第二の記録層１０４のトラック２０１が逆方向の螺旋になっていても問題ない。また、記録トラック２０１は螺旋状の構造では無く、同心円状の構造でもよい。
【００２８】
次に、図３を用いて記録層に記録されるデータの例について説明する。
【００２９】
記録層に記録されるデータは図３に示すようにアドレスにより大きくLead  in領域、Data  one領域に分けられている。
【００３０】
Lead  in領域のうちの最内周側のＢＣＡ（BurstCuttingArea）及びプリレコーデッド情報領域ＰＲが再生専用エリア（ＰＢエリア）領域とされ、リードインゾーンの管理／ 制御情報領域からリードアウトゾーンまでが、１回記録可能なライトワンスエリア（ＷＯエリア）とされる。
【００３１】
リードインゾーンの最内周のＢＣＡ（BurstCuttingArea）は、例えば高出力のレーザーで、記録層を焼ききる記録方式により、半径方向にバーコード状の信号を記録する。これにより光情報記録媒体１００の１枚１枚にユニークなＩＤが記録される。そしてこのユニークＩＤにより、光情報記録媒体１００へのコンテンツのコピーを管理するようにしている。
【００３２】
ＢＣＡを除いた再生専用エリア、つまりプリレコーデッド情報領域ＰＲと、ＷＯエリアの全域には、ウォブリンググルーブ（蛇行された溝）による記録トラック２０１がスパイラル状に形成されている。グルーブはレーザスポットによるトレースの際のトラッキングのガイドとされ、かつこのグルーブが記録トラック２０１とされてデータの記録再生が行われる。
【００３３】
なお本例では、グルーブにデータ記録が行われる光情報記録媒体１００を想定しているが、本発明はこのようなグルーブ記録の光情報記録媒体１００に限らず、グルーブとグルーブの間のランドにデータを記録するランド記録方式の光情報記録媒体１００に適用してもよいし、また、グルーブ及びランドにデータを記録するランドグルーブ記録方式の光情報記録媒体１００にも適用することも可能である。
【００３４】
次に、２つの記録層を持つ光情報記録媒体１００に欠陥が存在する場合の影響について説明する。
【００３５】
光情報記録媒体１００の記録情報の読み出しは、光情報記録再生装置４００が、目的の記録層でフォーカスが合うように表面よりレーザを入射し信号を読み出す。
【００３６】
また、目的の記録層へのフォーカス合わせや記録トラック２０１の追従には、光情報記録再生装置が、記録層より反射したレーザの信号を使用し制御を行っている。
【００３７】
また、記録データの読み出し制御も、同様に記録層からの反射したレーザの信号を使用している。
【００３８】
ここで、光情報記録媒体１００の表面に傷９０１がある場合の各層の読み出し信号レベルを図１１に示す。
【００３９】
光情報記録媒体１００の表面に傷９０１があると、傷９０１の部分のみレーザが傷９０１により拡散されてしまい、記録面から反射してくる信号レベルは傷９０１の奥にある記録層部分で悪くなる。その為、傷９０１の奥にある記録層部分では、フォーカス、トラッキング制御を行う為の信号が劣化しサーボが外れるという問題が起こる。
【００４０】
次に、図４を用いて、欠陥検知領域３０１について説明する。
【００４１】
光情報記録媒体１００は、半径方向に分割されて定義された欠陥検知領域３０１を有する。本図では、欠陥検知領域３０１として、領域１から領域ｎまでが定義される。
【００４２】
また、本実施例では、欠陥検知領域３０１は、半径のみに依存して定義される。その為、第一の記録層１０２、第二の記録層１０４それぞれ同一半径であれば、同一の欠陥検知領域３０１となる。なお、半径のみに依存するのは、光情報記録媒体１００の製造時、第一の記録層１０２と第二の記録層１０４とを接合する際に、それぞれの層の角位相を合わせないことが理由である。もちろん、媒体の製造方法によっては、欠陥検知領域３０１を、円周方向に依存させ定義してもよい。
【００４３】
ここで、図１２を用いて、どの範囲で領域を定義するかを示す領域定義情報１２００について説明する。図中、１２０１は第１の記録層のアドレスを示し、１２０２は第２の記録層のアドレスを示し、また１２０３はこれらのアドレスに対応する欠陥検知領域３０１の番号を示している。この領域定義情報１２００を利用することにより、第１の記録層の特定のアドレスが第２の記録層における欠陥検知領域と対応づけることが可能となる。また、この領域定義情報１２００を利用することにより、第２の記録層の特定のアドレスが第１の記録層における欠陥検知領域と対応づけることが可能となる。また、この欠陥検知領域３０１は、実際の光情報記録媒体１００上の物理的な半径ではなく、例えば、偏芯や接合誤差が無く光情報記録媒体１００が製造されたと仮定した場合の物理的な半径に対応するアドレスに基づいて領域分けを行う。このように領域分けを行なうと、光情報記録媒体１００の偏芯や各記録層の接合誤差を計測する必要が無くなる。
【００４４】
また、この領域の半径方向の大きさは、例えば、光情報記録媒体１００の接合誤差と同じ値、または接合誤差以上の値とする。これにより、ある層で欠陥が検出された場合、他層において、同一の欠陥による欠陥検出がされうると推定される範囲は、接合誤差の大きさに寄らず、同一欠陥検出領域３０１もしくは、隣接する欠陥検出領域３０１に含まれる。従って、同一もしくは隣接する欠陥検出領域３０１を、欠陥を含む領域、またはその可能性が高い領域として扱うことが可能となる。
【００４５】
なお、接合誤差とは、前述したが、層と層との相対的な偏芯の差と定義する。一般的には、各層の偏芯の２倍程度の値とする。
【００４６】
また、張り合わせに伴う接合誤差の具体的な値とは、例えば、光情報記録媒体１００が準拠する規格に定められる偏芯の２倍の値とする。例えば、張り合わせに伴う接合誤差の値として、前述の１００μｍとする。しかし、必ずしもこの値に限定されない。
【００４７】
また、許容されている偏芯の範囲については、規格に基づいて定められるものであるが、光情報記録媒体１００の製造業者や、個々のモデルにも依存する。このため、予め、各製造業者やモデル毎の光情報記録媒体１００の標準的な接合誤差を計測しておいて、後述する光情報記録再生装置４００が、ＢＣＡや管理領域から読み出されるユニークなＩＤに基づいて接合誤差を取得する構成としてもよい。あるいは、光情報記録媒体１００上に、接合誤差を記録する領域を備えてもよい。もちろん、接合誤差の代わりに、各層の偏芯の２倍の値を以って、欠陥検知領域の幅としてもよい。
【００４８】
また、接合誤差の値については、ある層と他の層とで欠陥が検出された場合に、ある層のディフェクトアドレスと他のディフェクトアドレスとの物理的な位置の差に基づいて、光情報記録再生装置４００が取得する構成としてもよい。
【００４９】
ここで、例えば、第一の記録層１０２のある欠陥検知領域３０１において、光情報記録媒体１００の表面の傷等の欠陥を検知した場合、第二の記録層１０４の同一の欠陥検知領域３０１にて同じ欠陥に起因する欠陥が見つかると推定される。
【００５０】
その為、欠陥の検知された欠陥検知領域３０１の情報を登録しておく事で、同一欠陥によると推定されるエラーへ対処しやすくなる。そして、例えば、欠陥検知領域３０１の登録は、光情報記録媒体１００の所定領域、例えば欠陥管理領域に対して行なわれる。また、欠陥管理領域は、例えば、ＢＤにおけるＤＭＡ等の領域を欠陥検知領域３０１の登録が可能となるように拡張することにより実装する。
【００５１】
ここで、図１３を用いて、光情報記録媒体１００に登録される欠陥管理情報１３００について説明する。図中、１３０１は、ディフェクトアドレスである。ディフェクトアドレス１３０１は、反射光量の変化やエラー信号のゆがみ等に基づいて欠陥が検出された場合に、データの記録が行なわれていた位置を示すアドレスである。また、ディフェクトアドレス１３０１は、単一のアドレスによって示されてもよい、所定の記録単位、例えば１セクタの範囲を示すアドレスによって示されていてもよい。１３０２の欠陥領域情報は、ディフェクトアドレス１３０１に対応する欠陥検知領域３０１を示す情報である。欠陥領域情報１３０２は、例えば、ディフェクトアドレス１３０１が、図１２中のどの欠陥検知領域３０１に含まれるかによって求められる。
【００５２】
このように、例えば管理領域に、欠陥を検出したアドレスのみではなく、どの欠陥検知領域３０１かを示す欠陥管理領域情報１３０２も情報記録媒体１００に記録すると、欠陥箇所を含む欠陥検知領域３０１をアドレスから計算する必要が無くなる。
【００５３】
なお、本実施例では、欠陥管理領域３０１の半径方向の距離を層間の接合誤差の値以上としていた。これにより、ある層で欠陥が検知された領域と、同一もしくは隣接する欠陥検出領域３０１を欠陥を含む領域として情報の記録再生を行なうことを可能としていた。しかし、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離は、必ずしも接合誤差よりも大きくなくともよい。例えば、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、接合誤差の半分の値としても、ある層で欠陥が検知された領域と同一または隣接する欠陥検知領域３０１が、他層における欠陥を含む可能性は高い。そして、これらの領域を欠陥を含む可能性が高い領域として扱うことが可能となる。ある層と他の層との偏芯の値が同一であると仮定し、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、接合誤差の半分の値とした場合には、ある層と他の層との偏芯の方向の角位相差が０°≦θ≦±９０°の範囲にあれば、同一または隣接する欠陥検知領域３０１に同一の欠陥が含まれることとなる。
【００５４】
また、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、例えば、接合誤差の６割の値とした場合には、偏芯の方向の角位相差が０°≦θ≦約±１０１°の範囲にあれば、同一または隣接する欠陥検知領域３０１に同一の欠陥が含まれることとなる。また、例えば、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、接合誤差の７割の値とした場合には、偏芯の方向の角位相差が０°≦θ≦約±１１３°の範囲にあれば、同一または隣接する欠陥検知領域３０１に同一の欠陥が含まれることとなる。また、例えば、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、接合誤差の８割の値とした場合には、偏芯の方向の角位相差が０°≦θ≦約±１２６°の範囲にあれば、同一または隣接する欠陥検知領域３０１に同一の欠陥が含まれることとなる。また、例えば、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離を、接合誤差の９割の値とした場合には、偏芯の方向の角位相差が０°≦θ≦約±１４３°の範囲にあれば、同一または隣接する欠陥検知領域３０１に同一の欠陥が含まれることとなる。
【００５５】
また、欠陥検知領域３０１の半径方向の距離が広ければ広いほど、隣接する欠陥領域３０１までに他層での欠陥位置を含む可能性が高くなる。
【００５６】
また、光情報記録媒体１００を、ある層における欠陥の箇所よりも半径方向に広い領域を、欠陥を含む可能性の高い欠陥領域として登録する構成としてもよい。
【実施例２】
【００５７】
実施例２では、前記光情報記録媒体１００に記録を行う時の、光情報記録再生装置４００の動作の例を示す。
【００５８】
まず、図５にて、前記光情報記録再生装置４００の構成例を示す。
【００５９】
光情報記録再生装置４００は、レーザ光の照射と、反射光の光量を電気信号に変えるピックアップ４０２を備える。また、光情報記録再生装置４００は、スピンドルモータやステッピングモータ等ピックアップ４０２と光情報記録媒体１００の相対位置を変化させる事が出来るモータ４０１を備える。また、光情報記録再生装置４００は、ピックアップ４０２より出力される信号からピックアップ４０２とモータ４０１とを制御し、さらに記録再生を行いホスト装置４０４と通信を行い再生されたデータの転送や、記録するデータの受信を行う信号処理装置４０３で構成されている。信号処理装置４０３は、すべての機能を有した１つのＬＳＩで構成されていてもよいし例えば、ピックアップ４０２からの信号を処理する部分、ピックアップ４０２とモータ４０１を制御する部分等機能事に個別の処理装置を組み合わせて実現していてもよい。また、光情報記録再生装置４００は、図示しないがメモリ等の記憶手段を備える。
【００６０】
また、光情報記録媒体１００がモータによって回転させられる位置に取り付けることが可能な構造となっている。また、ホスト装置４０４とは、例えばPCやビデオカメラ、TV、レコーダ等光情報記録媒体１００の再生や記録を行う為の機器であり、信号処理装置４０３と通信が可能な機器であれば何でもよい。
【００６１】
光情報記録媒体１００からのデータの読み出し手法としては、ピックアップ４０２よりレーザ光を光情報記録媒体１００に照射し、反射されたレーザの光量の変化信号を信号処理装置４０３に送る。
【００６２】
信号処理装置４０３は、受け取った信号から、ピックアップ４０２の位置、モータ４０１の速度を制御する信号をそれぞれピックアップ４０２とモータ４０１に送られる。さらに、受け取った信号より光情報記録媒体１００に記載されている情報の再生を行う。なお、この信号処理装置４０３が、ピックアップ４０２から取得した信号に基づいて、情報を記録している箇所または再生している箇所に欠陥があるかを検出する欠陥検出手段として動作する。また、信号処理装置４０３が、光情報記録再生装置４００における制御手段として動作する。
【００６３】
モータ４０１は、信号処理装置４０３から受信したコマンドに応じた速度で光情報記録媒体１００を回転させる。
【００６４】
次に、図６を用いて、本光情報記録媒体１００を使用しない、従来の記録時における欠陥認識処理のフローチャートの例を示す。
【００６５】
光情報記録再生機はデータの記録時は、まず記録処理を行う（Ｓ５０１）。その後、光情報記録再生機は、一定量もしくは一定時間毎に記録エラーが起こっているかを確認する（Ｓ５０２）。そして、Ｓ５０２において記録エラーの無い場合は、光情報記録再生機は、記録が終了しているかを確認し（Ｓ５０３）、記録終了まで、記録処理５０１を行い終了する。
【００６６】
また、Ｓ５０２において、記録エラーが起きた場合は、光情報記録再生機は、リトライを規定回数行なっているか否かを判定する（Ｓ５０４）。Ｓ５０４において、規定されている回数リトライが行われていない場合、光情報記録再生機は、光ピックアップの位置づけ処理等のリトライ前処理を行い（Ｓ５０８）、再度記録処理を行う（Ｓ５０１）。なお、リトライ前処理とは、例えば、再度記録処理を行なう前に、光ピックアップ４０２とモータ４０１とにより、レーザ光の照射位置を、エラー箇所に戻す処理をいう。Ｓ５０４において、光情報記録再生装置４００によって規定されている回数リトライを行っている場合、光情報記録再生機は、光情報記録媒体１００上に欠陥が無いか欠陥検出を行う（Ｓ５０５）。この、Ｓ５０５における処理は、光情報記録再生機が、光情報記録媒体１００からの反射光量の変化やエラー信号のゆがみ等を検出することにより行なう。
【００６７】
その後、Ｓ５０６において、光情報記録再生機は、検出の結果欠陥があったかを判定する（Ｓ５０６）。Ｓ５０６にて欠陥ありの場合に、光情報記録再生機は欠陥情報登録を行う（Ｓ５０７）。
【００６８】
一方、Ｓ５０６において、欠陥ありではなかった場合は、光情報記録再生機は、そのままエラーとして記録処理を終了する。
【００６９】
このように、従来の欠陥認識方法においては、記録している層または他の層に傷等の欠陥があるか否かに関わらず、規定回数のリトライが行なわれていた。このため、特に他の層の対応箇所に欠陥がある場合には、リトライしても記録処理が成功しない可能性が高いにも関わらず、規定回数のリトライが行なわれており、処理時間の増加を招いていた。
【００７０】
次に、上記図６を用いた説明と同様に、図７のフローチャートを用いて、本情報記録再生装置１００を使用した場合の記録時における欠陥検知処理について説明する。該図に示される処理が、従来の処理に比して特徴的である点は、例えば、現在データの記録を行なっている領域及びその隣接領域が、欠陥を含む領域か否かを処理を変更する点である。なお、以下の処理は、信号処理手段４０３の制御によって実行される。
【００７１】
光情報記録再生装置４００はデータの記録時は、まず記録処理を行う（Ｓ５０１）。次に、一定量のデータを記録する毎、もしくは一定時間毎に記録エラー５０２が起こっているかを判定する（Ｓ５０２）。Ｓ５０２にて、記録エラーの無い場合は、記録が終了しているかを確認し（Ｓ５０３）、記録終了まで記録処理５０１を継続する。
【００７２】
また、Ｓ５０２にて、記録エラーが起きていると判定された場合、欠陥管理情報１３００に含まれる欠陥領域情報１３０２に、データを記録中のアドレスを含む欠陥検知領域３０１と同一の欠陥検知領域３０１もしくは、隣接した欠陥検知領域３０１が登録されているか否かを判定する（Ｓ６０１）。なお、Ｓ６０１において、例えば光情報記録媒体１００の認識時に欠陥管理情報１３００を、光情報記録再生装置４００のメモリ（図示せず）に読み出しをしておく事により、情報の記録中に欠陥管理情報１３００の読み出しを行わないようにしておくと、データの読み出し時間を短縮出来てよい。また、隣接した欠陥検知領域３０１とは、記録エラーが起きた欠陥検知領域３０１に対して、内周側および外周側に隣接した欠陥検知領域３０１のことである。
【００７３】
Ｓ６０１において、欠陥管理情報１３００に、データを記録中のアドレスを含む欠陥検知領域３０１と同一欠陥検知領域３０１もしくは、隣接する欠陥検知領域３０１の欠陥情報が登録されていた場合、リトライの規定数変更をする（Ｓ６０２）。Ｓ６０２において、リトライの数は、例えば、リアルタイム記録の必要なビデオデータの記録を行なう場合は、規定のリトライ回数を０回とし、リトライを行なわないようにすることによりリアルタイム記録性を向上することが出来る。
【００７４】
また、リアルタイム記録の必要なデータを行なわなくとも、データを記録中のアドレスを含む欠陥検知領域３０１と同一欠陥検知領域３０１もしくは、隣接する欠陥検知領域３０１に、欠陥が発見されている場合には、記録エラーの原因が欠陥による可能性が高いと推測出来る。そこで、光情報記録再生装置４００は、欠陥が発見されている場合には、リトライ回数を欠陥が発見されていない場合に比べ少なくするよう制御する構成としてもよい。これにより、光情報記録再生装置４００は、リトライ処理の時間による記録速度の低下を抑制できる。
【００７５】
次に、光情報記録再生装置４００は、規定数以上リトライしているかを判定する（Ｓ５０４）。規定数以下の場合、光情報記録再生装置４００は、光ピックアップの位置づけ処理等のリトライ前処理を行い（Ｓ５０８）、再度記録処理を行う（Ｓ５０１）。Ｓ５０４において、規定数以上リトライしている場合、光情報記録再生装置４００は、光情報記録媒体１００上に欠陥が無いか検出する（Ｓ５０５）。その後、Ｓ５０６において、光情報記録媒体１００上に欠陥が検出されたか否かを判定する。Ｓ５０６において、欠陥が検出されていた場合には、欠陥管理情報１３００にその欠陥検知領域３０１を登録し（Ｓ５０７）、エラーとして、記録を終了する。
【００７６】
また、光情報記録再生装置４００は、Ｓ５０６において、光情報記録媒体１００上に欠陥を検知できなかった場合でも、同様にエラーで記録を終了する。
【００７７】
この例以外にも、Ｓ６０２においては、リトライ規定数変更するだけでは無く、安定した記録が可能となるように、記録速度の変更や記録方式をＲＥＡＤ  ＡＦＴＥＲ  ＷＲＩＴＥに変更する構成としてもよい。これにより、リトライ時に記録が正常に行えるようになる可能性が増える。
【００７８】
このように、光情報記録再生装置４００は、欠陥を含む欠陥検知領域３０１と同一及び隣接する欠陥検知領域３０１を、欠陥を含むあるいはその可能性が高い領域である欠陥領域として検出し、処理を変更する。
【００７９】
また、以上述べた光情報記録再生装置４００によると、以下のような利点がある。すなわち、ある層にて欠陥があると検出されている場合には、他の層において該欠陥の影響を受けうる範囲が接合誤差によって広くなる。これに対して、光情報記録再生装置４００は、データが記録されている箇所が含まれる欠陥検知領域３０１と、内周側および外周側に隣接する欠陥検知領域３０１に対して、リトライ数や記録方式を変更することにより、再度欠陥が検出される可能性が高い領域に対して好適な処理を行なうことが可能となる。また、逆に言うと、本光情報記録再生装置４００は、上記のリトライ数の変更や記録方式の変更を行う半径方向の範囲を、欠陥検知領域３０１の３倍の幅に抑えることが可能となる。従って、半径方向の範囲を広く取りすぎた結果、本来、欠陥が検出される可能性が高くない箇所に対して、リトライ数の変更や記録方式の変更を行うことを抑制することが可能となる。
【００８０】
なお、上述の実施例においては、Ｓ６０１において、隣接する欠陥検知領域３０１まで、欠陥領域として登録されているか否かを判定したが、同一の欠陥検知領域３０１までで判定を行なってもよい。同一の欠陥検知領域３０１のみにおいても、該領域に他層の欠陥が含まれる可能性が高いからである。
【００８１】
ところで、上述のＳ６０１の検知処理においては、欠陥があると検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層との関係については、処理の複雑化を抑制するために、考慮しない処理としている。
【００８２】
しかし、欠陥があると検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層との関係を考慮した処理としてもよい。以下、詳細を説明する。
【００８３】
すなわち、欠陥があると検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層が異なる場合には、同一の欠陥検知領域３０１だけでなく、隣接する欠陥検知領域３０１においても欠陥があると検出される可能性は高い。欠陥があると検出時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層とが同一である場合には、接合誤差を考慮する必要は無い。
【００８４】
従って、本情報記録再生装置４００は、信号処理装置４０３によって、欠陥ありと検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層とが同一であるか異なるかを判定する処理を実行してもよい。さらに、欠陥ありと検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層とが同一である場合には、同一の欠陥領域３０１のみが欠陥が登録されているか否かを判定する処理を実行してもよい。また、欠陥ありと検出された時にデータの記録が行なわれていた層と、現在データの記録が行なわれている層とが異なる場合には、同一の欠陥領域３０１のみが欠陥が登録されているか否かを判定する処理を実行してもよい。
【００８５】
このような構成を備えることにより、欠陥があると検出される時にデータの記録が行なわれていた層と同一の層にデータを記録する場合に、隣接する欠陥検知領域３０１には欠陥が無いにも関わらずリトライ数を減らす等の処理を行なう可能性を抑制する。
【実施例３】
【００８６】
次に、実施例３では、既に欠陥情報が記録されている前記光情報記録媒体１００に記録を行った時の、光情報記録再生装置４００の別の動作例を示す。なお、実施例３における動作例のうち、特徴的な動作としては、例えば、既に欠陥検知領域３０１として登録されている箇所に対して記録を行なう場合には、その記録方式を変更した上で記録することである。
【００８７】
図８に、記録時に、既に欠陥検知されている欠陥検知領域３０１もしくはその隣接する欠陥検知領域３０１を記録する場合の動作のフローチャートを示す。なお、以下の処理は、信号処理手段４０３の制御によって実行される。
【００８８】
光情報記録再生装置４００のデータの記録動作は、一定の区間の記録処理（Ｓ７０１）と、エラーの有無の判定（Ｓ７０２）と記録の継続（Ｓ７０４）かの監視を繰り返している。ここで、一定の区間とは例えばBlu-Ray Discであれば１クラスタや、１マーク毎、一定時間毎等何でもよい。
【００８９】
Ｓ７０２にて、記録エラーがある場合、Ｓ７０３に遷移して、光情報記録再生装置４００は、エラー処理を行い記録処理を終了する。なお、ここでいうエラー処理とは、例えば、図７におけるＳ６０１、Ｓ６０２等の処理が該当する。
【００９０】
一方、Ｓ７０２にて、記録エラーが無い場合にはＳ７０４に遷移する。Ｓ７０４では、光情報記録再生装置４００は、記録継続するか否かを判定する（Ｓ７０４）。記録継続処理においては、光情報記録再生装置４００は、データを記録中のアドレスを含む欠陥検知領域３０１と同一の欠陥検知領域３０１もしくは、隣接した欠陥検知領域３０１が欠陥領域情報１３０２に記録されているか否かを判定する（Ｓ７０５）
なお、光情報記録再生装置４００は、欠陥検知領域３０１の欠陥の有無の情報を、例えば光情報記録媒体１００の認識時にメモリ（図示せず）に読み出しをしておく処理を実行してもよい。これにより、光情報記録再生装置４００は、当該領域を再度読み出しを行わないようにしておくと、データの読み出し時間を短縮出来てよい。
【００９１】
Ｓ７０４において、記録を継続する場合には、光情報記録再生装置４００は、次に記録を行う欠陥検知領域３０１もしくは次に記録を行う欠陥検知領域３０１に隣接した欠陥検知領域３０１に既に欠陥が検知されているかを判定する（Ｓ７０５）。Ｓ７０５において、欠陥が検知された場合には、光情報記録再生装置４００は、記録方式を変更する処理を行う（Ｓ７０６）。
【００９２】
この、Ｓ７０６における記録方式の変更には、例えば記録倍速をよりデータ転送速度の遅い記録速度に変更する、記録品質の安定する回転速度一定記録を線速度一定記録へ変更する処理がある。このように記録方式を変更すると、欠陥に対する耐性を強化することができる。そして、光情報記録再生装置４００は、欠陥がある場合でも記録を継続できる可能性を向上できる。
【００９３】
さらに、記録方式として記録したデータを読み出し、記録されていることを確認して記録を行う、Read After Writeで記録を行うと、欠陥部での記録品質を確保する事が出来る。
【００９４】
また、Ｓ７０４において、記録を継続しない場合には、光情報記録再生装置４００は、記録処理を終了する。なお、この記録を継続しない場合とは、例えば、ホスト装置４０４からの記録中止のコマンドを受信した場合等がある。
【００９５】
なお、上述の実施例においては、Ｓ７０５において、隣接する欠陥検知領域３０１まで、欠陥領域として登録されているか否かを判定したが、同一の欠陥検知領域３０１までで判定を行なってもよい。
【実施例４】
【００９６】
実施例４では、既に欠陥情報が記録されている前記光情報記録媒体１００の情報を再生する時の光情報再生装置４００´の動作例を示す。なお、本実施例における光情報再生装置４００´の構成図は、図１のものと対応する。また、以下の処理は、光情報記録再生装置４００でも実行できることはいうまでもない。
【００９７】
まず、図９のフローチャートを用いて、再生時に欠陥により再生エラーを起こしてしまった場合の動作のフローチャートを示す。なお、以下の処理は、信号処理手段４０３の制御によって実行される。
【００９８】
前記光情報再生装置４００´は、再生命令が来ると、データの再生を行う（Ｓ８０１）。
【００９９】
以降、光情報再生装置４００´は、一定区間の再生処理（Ｓ８０１）とサーボ外れ検出（Ｓ８０２）、再生終了チェック（Ｓ８０３）を繰り返して行なう。ここで、一定区間とは例えばBlu-Ray Discであれば１クラスタや、１マーク毎、一定時間毎等何でもよい。
【０１００】
Ｓ８０２においては、光情報再生装置４００´は、サーボ制御がはずれているか否かを検出する。Ｓ８０２において、サーボ外れが無い場合には、Ｓ８０３に遷移し、光情報再生装置４００´は、再生を終了するか否かを判定する。そして、Ｓ８０３において再生を終了する場合には、光情報再生装置４００´は、処理を終了する。なお、Ｓ８０３において再生を終了する場合とは、例えば、ホスト装置４０４から再生を終了するコマンドを受信する場合がある。また、サーボ制御が外れているとは、例えば、最適値からのサーボのずれ量が所定値以上になった場合の事を示す。
【０１０１】
一方、Ｓ８０３において、再生終了ではない場合、光情報再生装置４００´はＳ８０１に遷移して、次の一定区間のデータの再生処理を行う。
【０１０２】
また、Ｓ８０２において、サーボ外れが検出された場合、Ｓ８０４に遷移して、光情報再生装置４００´はサーボ外れが起こった位置を含む欠陥検知領域３０１が、欠陥検知領域３０１に登録されているか否かを判定する。
【０１０３】
Ｓ８０４において、サーボ外れが検出されたアドレスを含む欠陥検知領域３０１、もしくは、その隣接する欠陥検知領域３０１が欠陥領域情報に記録されている、欠陥によるサーボ外れの可能性が高いと推定される。その為、エラーが発生した欠陥検知領域３０１と同一の欠陥検知領域３０１でサーボのかけ直しを行うと、再度サーボ外れを起こす可能性が高いと推定される。
【０１０４】
そこで、Ｓ８０４において、光情報再生装置４００´は、サーボ外れ８０２が検出された欠陥検知領域３０１もしくは、その隣接する欠陥検知領域３０１に欠陥が登録されている場合はリトライ位置付け変更８０６を行う。具体的には、光情報再生装置４００´は、リトライ処理８０５にてサーボ引き込みを行う位置を同一もしくは隣接する欠陥検知領域３０１に欠陥登録がされていない位置に変化させる。これにより、光情報再生装置４００´が、欠陥が無い箇所にてリトライ処理を実行できる確率が向上する。
【０１０５】
一方、サーボ外れが検知された位置を含む領域及び隣接領域が欠陥領域情報１３０２に登録されていない場合には、光情報再生装置４００´はリトライ処理を行う（Ｓ８０５）。そして、リトライ処理の後、再度Ｓ８０１に遷移して再生処理を行う。
【０１０６】
なお、上述の実施例においては、Ｓ８０４において、隣接する欠陥検知領域３０１まで、欠陥領域として登録されているか否かを判定したが、同一の欠陥検知領域３０１までで判定を行なってもよい。
【０１０７】
また、本実施例のＳ８０５において、サーボ引き込みを行う領域は、欠陥検知領域３０１及びその隣接する欠陥検知領域３０１以外で、また再生を行うアドレスに近い位置であると、サーボの引き込みの安定性と、再生リトライの速度の低下を抑えることが可能となる。
【０１０８】
このように、光情報再生装置４００´は、欠陥を含む欠陥検知領域３０１と同一及び隣接する欠陥検知領域３０１を、欠陥を含むあるいはその可能性が高い領域である欠陥領域として検出し、処理を変更する。
【実施例５】
【０１０９】
実施例５では、光情報記録媒体１００が、欠陥領域情報１３０２を記録する領域が無い場合の、光情報記録再生装置４００の動作例を示す。
【０１１０】
まず、図１０を用いて、欠陥検知領域３０１の情報を記録する領域が無い場合の欠陥位置の予測方法について説明する。
【０１１１】
例えば、光情報記録媒体１００の第二の記録層１０４にデータの読み出し、もしくは記録を行っている場合、光情報記録媒体１００の表面に付いている傷９０１は記録もしくは再生エラーにより、第二の記録層１０４に記録層の欠陥９０２として検出される。
【０１１２】
ここで、光情報記録再生装置４００は、例えば、検出した欠陥のアドレスと、領域定義情報１２００より、欠陥の発見された箇所を含む欠陥検知領域３０１を取得する。そして、光情報記録再生装置４００は、その欠陥検知領域３０１に欠陥有りと光情報記録再生装置４００が備えるメモリ（図示せず）に保存する。
【０１１３】
その後の記録、再生の方法は実施例２ないし４のように行うことにより光情報記録媒体１００に欠陥領域情報１３０２を記録する領域が無い場合でも、他層の欠陥位置を推定する事が出来る。光情報記録媒体１００の欠陥管理領域に既に欠陥が登録されている場合には、登録されている欠陥のアドレスよりどの欠陥検知領域３０１に該当するかを計算し該当する欠陥検知領域３０１には欠陥有りと光情報記録再生装置もしくは光情報記録再生装置のメモリに保存することにより、前記した欠陥を発見した場合と同様に多層の欠陥を推定することができるようになる。これにより、実施例２及び実施例３及び実施例４に記載の記録再生方法を実施することが出来る。
【０１１４】
この手法は、欠陥検知領域３０１の欠陥の有無の情報を光情報記録媒体１００に記録する必要が無い為、光情報記録媒体１００の使用容量を削減することが出来る。また、本実施例の光情報記録再生装置４００を用いる場合は、欠陥領域情報１３０２を記録する領域を備えない媒体に対しても、欠陥がある可能性が高い領域に対するリトライ回数の変更等を行なうことが可能となる。
【０１１５】
また、光情報記録再生装置４００は、例えば、信号処理装置４０３によって、ＢＣＡや管理領域から、記録媒体が、欠陥検知領域３０１を登録する領域を有するか否かを検出する構成としてもよい。
【０１１６】
以上、各実施例の光情報記録再生装置４００、光情報再生装置４００、光情報記録媒体１００によると、複数の記録層を有する光情報記録媒体において、現在記録していない層の欠陥情報より、現在の層の欠陥位置を推定し、リトライ回数や、記録速度を変化させることにより記録速度の向上と安全なデータ記録の向上を目的とする。
【０１１７】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。また、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることことが可能である。
【０１１８】
また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１１９】
例えば、ＤＶＤやＢｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃのような光情報記録媒体を多層化する場合、記録速度と処理の確実性とを維持したままのデータの記録に適用できる。
【符号の説明】
【０１２０】
１００  光情報記録媒体、１０１  基盤層、１０２  第一の記録層、１０３  第一の中間層、１０４  第二の記録層、１０５  カバー層、２０１  記録トラック、３０１  欠陥検知領域、４００  光情報記録再生装置、４０１  モータ、４０２  ピックアップ、４０３  信号処理装置、４０４  ホスト装置、５０１  記録処理、５０２  記録エラー、５０３  記録が終了しているかを確認、５０４  規定されている回数リトライしたか否かの判定処理、５０５  欠陥検出、５０６  欠陥が検出されたか否かの判定処理、５０７  欠陥登録、
５０８  リトライ前処理、６０１  隣接した欠陥検知領域に欠陥の情報登録があるか否かの検知処理、６０２  リトライ規定数変更処理、７０１  記録処理、７０２  記録エラー、
７０３  エラー処理、７０４  記録継続、７０５  次記録領域もしくは隣接領域は欠陥検知済み、７０６  記録方式変更、８０１  再生処理、８０２  サーボ外れ、８０３  再生終了、８０４  サーボ外れ領域は欠陥検知済み、８０５  リトライ処理、８０６  リトライ位置付け変更、９０１  傷、９０２  記録層の欠陥。
【図１】
2010205317.tif 000003
【図２】
2010205317.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2010205317.tif 000008
【図７】
2010205317.tif 000009
【図８】
2010205317.tif 000010
【図９】
2010205317.tif 000011
【図１０】
2010205317.tif 000012
【図１１】
2010205317.tif 000013
【図１２】
2010205317.tif 000014
【図１３】
2010205317.tif 000015