(57)【要約】【課題】  回路と接続端子を接続する信号線にさらに検査用端子を接続すると、寄生容量が増加して回路動作を行う際の負荷が大きくになる。【解決手段】  基板（８）に設けられた回路（２）と、  前記基板の前記回路とは離れた位置に設けられ、前記回路の入力または出力信号を中継する接続端子（４）と、  前記回路と前記接続端子とを接続する信号配線（３）と、  前記基板に前記接続端子とは別に設けられた複数の検査用端子（６）と、  前記信号配線から分岐し、前記複数の検査用端子の１つに接続された分岐配線（３１）と、を有する回路装置であって、  前記分岐配線の、前記分岐と前記検査用端子との間にスイッチ（１）が設けられていることを特徴とする回路装置。【選択図】  図１
2010091972.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板に設けられた回路と、
前記基板の前記回路とは離れた位置に設けられ、前記回路の入力または出力信号を中継する接続端子と、
前記回路と前記接続端子とを接続する信号配線と、
前記基板に前記接続端子とは別に設けられた検査用端子と、
前記信号配線から分岐し、前記検査用端子に接続された分岐配線と、
を有する回路装置であって、
前記分岐配線の、前記分岐と前記検査用端子との間にスイッチが設けられていることを特徴とする回路装置。
【請求項２】
前記検査用端子を複数、有し、前記スイッチの開閉を制御する制御信号が、前記分岐配線が接続されている検査用端子とは別の検査用端子に接続された制御線を通して供給されることを特徴とする請求項１に記載の回路装置。
【請求項３】
前記制御線が接続された検査用端子がオープンになっている結果、前記スイッチが開いていることを特徴とする請求項２に記載の回路装置。
【請求項４】
前記接続端子に集積回路チップが接続されていることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の回路装置。
【請求項５】
前記回路が
データ線駆動回路と、
走査線駆動回路と、
画像を表示する領域にマトリクス状に配列し、前記データ線駆動回路および前記走査線駆動回路からの出力信号が供給される画素回路と、
を含むことを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１項に記載の回路装置。
【請求項６】
請求項１ないし５のいずれか１項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
【請求項７】
基板に、
回路と、
前記回路とは離れた位置にある接続端子と、
前記回路と前記接続端子とをつなぐ信号配線と、
検査用端子と、
前記信号配線の分岐と前記検査用端子とをつなぐ分岐配線と、
前記分岐と前記検査用端子との間に設けられたスイッチと、
を備えた回路装置の検査方法であって、
Ａ．  前記スイッチの開閉を制御する制御線に前記スイッチを閉じる信号を与える工程、
Ｂ．  前記検査用端子を通じて、前記分岐配線に前記回路の入力信号を与える、または前記分岐配線から前記回路の出力信号を検出する工程、ならびに
Ｃ．  前記検査用端子をオープンにする工程
を有することを特徴とする回路装置の検査方法。
【請求項８】
前記回路装置が、前記検査用端子を複数備え、前記スイッチの制御線が、前記分岐配線が接続されている検査用端子とは別の検査用端子に接続されており、
前記Ａの工程が、前記別の検査用端子を介して前記スイッチを閉じる信号を与える工程であり、
前記Ｃの工程が、前記分岐配線が接続されている検査用端子と、前記スイッチの制御線が接続されている別の検査用端子とを、ともにオープンにする工程である
ことを特徴とする請求項７に記載の回路装置の検査方法。
【請求項９】
前記回路装置が表示素子を駆動する回路装置であって、前記Ａ−Ｃの工程を、前記回路装置に表示素子を形成する前に行うことを特徴とする請求項７または８に記載の回路装置の検査方法。
【請求項１０】
前記接続端子が前記基板に集積回路チップを取り付けるための接続端子であって、前記Ａ−Ｃの工程を、前記集積回路チップを取り付ける前に行うことを特徴とする請求項７ないし９のいずれか１項に記載の回路装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路装置、特に表示素子とそれを駆動する回路を備えた回路装置と、その検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
表示装置として、液晶表示装置、有機ＥＬ表示装置等が知られている。これらの表示装置の表示領域には表示素子がマトリックス状に配置され、表示素子に対応して配置された画素回路によって表示素子が制御されて表示が行われる。表示装置には、走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路、データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路が備えられており、画素回路は走査線およびデータ線を介して供給される信号によって駆動されて表示が行われる。また、これら駆動回路に接続される外部接続端子が設けられ、外部接続端子から駆動回路に制御信号を供給することで駆動回路は制御されている。
【０００３】
一般的に上記駆動回路は薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）で構成され、ＴＦＴ不良により駆動回路が不良となる可能性があることから、製造工程において駆動回路の動作を前もって検査している。この駆動回路の検査の際、検査用プローブを直接外部接続端子に接触させて検査信号を入力すると、端子表面が擦られて表面上の導電膜が剥離して外部接続端子が劣化し、外部接続端子と実装部品との間で接続不良が生じる可能性がある。また、剥離した導電膜が隣接する外部接続端子間に付着することで短絡を生じさせ、表示装置の信頼性を低下させるといった問題がある。
【０００４】
そのため特許文献１の表示装置では、駆動回路と外部接続端子を接続する信号線に分岐を設けて、分岐を設けた箇所から接続した検査用端子を備えている。これによって駆動回路の検査の際は、検査用端子に検査用プローブを当てて検査信号を入力し、駆動回路の動作を前もって検査する。製品完成後に使用する外部接続端子には検査用プローブの接触が無いので、その部分の接続不良や短絡が防止される。
【特許文献１】特開２００８−０６５０１５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の技術では、駆動回路と外部接続端子を接続する信号線にさらに検査用端子を接続するので、検査用端子の追加による寄生容量が増加して表示を行う際の負荷になる。そのため、駆動マージンが低下し、誤動作が発生する恐れが生じる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、表示装置他の回路装置の信頼性を低下させずにそれに含まれる回路の検査が実施可能であり、かつ動作時の駆動マージンの大きい回路装置とその製造方法を提供することを目的とする。
【０００７】
上記目的を達成するため、本発明に係る回路装置は、
基板に設けられた回路と、
前記基板の前記回路とは離れた位置に設けられ、前記回路の入力または出力信号を中継する接続端子と、
前記回路と前記接続端子とを接続する信号配線と、
前記基板に前記接続端子とは別に設けられた検査用端子と、
前記信号配線から分岐し、前記検査用端子に接続された分岐配線と、
を有する回路装置であって、
前記分岐配線の、前記分岐と前記検査用端子との間にスイッチが設けられていることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明にかかる回路装置の検査方法は、
基板に、
回路と、
前記回路とは離れた位置にある接続端子と、
前記回路と前記接続端子とをつなぐ信号配線と、
検査用端子と、
前記信号配線の分岐と前記検査用端子とをつなぐ分岐配線と、
前記分岐と前記検査用端子との間に設けられたスイッチと、
を備えた回路装置の検査方法であって、
Ａ．  前記スイッチの開閉を制御する制御線に前記スイッチを閉じる信号をあたえる工程、
Ｂ．  前記検査用端子を通じて、前記分岐配線に前記回路の入力信号を与える、または前記分岐配線から前記回路の出力信号を検出する工程、ならびに
Ｃ．  前記検査用端子をオープンにする工程
を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、検査用端子を使用して回路の動作を調べる検査をおこない、通常の回路動作の際は、スイッチによって検査用端子を切り離して寄生容量を取り除くので、製造工程では歩留まりが向上し、通常動作時の駆動可能範囲を広げることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明に係る表示装置を実施するための最良の形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【００１１】
本発明に用いられる回路装置としては、液晶表示素子、有機ＥＬ素子、無機ＥＬ素子、発光ダイオードなどを用いた表示装置が挙げられる。表示装置は、これらの表示素子を駆動するために、画素ごとに設けられる回路や、画素のマトリクス配列の周辺に設けられた回路を含む回路装置である。しかし、本発明は表示装置にのみ適用されるものではなく、基板の上に回路と接続端子とがあり、接続端子を通じて回路に入力信号を与えるかもしくは回路から出力される信号を検出するように構成された回路装置のすべてに適用できる。
【００１２】
表示装置の場合、表示領域には表示素子がマトリックス状に配置され、表示素子に対応して配置された画素回路によって表示素子が制御されて表示が行われる。表示装置には、走査線に走査信号を供給する走査線駆動回路、データ線にデータ信号を供給するデータ線駆動回路が備えられており、画素回路は走査線およびデータ線を介して供給される信号によって駆動されて表示が行われる。また、これら駆動回路に接続される外部接続端子が設けられ、外部接続端子から駆動回路に制御信号を供給することで駆動回路は制御されている。
【００１３】
表示装置はこのように各種の回路を含んでおり、回路装置とみなすことができる。回路装置を構成する画素回路、駆動回路、信号線などはガラス基板上に形成される。ガラス基板の代わりにプラスチック基板を用いても良い。
【００１４】
ガラス基板やプラスチック基板上の回路は、キャパシタなどの受動素子と配線は別として大抵は薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）で構成される。ＴＦＴの活性層としては、非晶質シリコン、多結晶シリコン、微結晶シリコンなどの非単結晶半導体が好適に用いられる。単結晶シリコンのような単結晶半導体を活性層に用いても良い。
【００１５】
しかし、すべての回路をＴＦＴで形成するのでなく、表示装置の走査線駆動回路、あるいはデータ線駆動回路の少なくとも一部が集積回路（ＩＣ）チップで構成され、基板上に実装されていることもある。本発明はこのような回路装置にも適用できる。
【００１６】
図１は本発明の回路装置の構成を示す概略図である。
【００１７】
回路装置１０は、回路２と、外部との接続端子４とが設けられた基板８で構成されている。外部接続端子４は、回路２を動作させる際に、外部回路（不図示）から送られる信号を信号配線に伝え、信号配線３を通じて駆動回路２に入力する。信号配線３が複数あり、その一部が、駆動回路で発生した信号を外部接続端子４を通じて外部回路（不図示）に伝えるための信号配線であってもよい。このように、外部接続端子４は、回路２の入出力信号と外部の回路の信号とを中継する役割を果たしている。
【００１８】
外部接続端子は基板の一辺の端部に設けられ、そこから回路２までは基板上で離れているため、両者をつなぐ信号配線３は、その長さに応じて周囲の配線や電源との間に寄生容量を持つ。寄生容量は信号の遅延と波形のなまりを生むので、できるだけ小さくしなければならない。
【００１９】
信号配線３には、分岐５から別の配線（以下、分岐配線という）３１が分岐しており、スイッチ１を介して外部接続端子４とは別に設けられた検査用端子６に導かれている。
【００２０】
スイッチ１は制御線７の信号で開閉される。制御線７は、検査用端子６のうちの、分岐配線が接続されていない端子に接続され、この端子をつうじて外部の信号発生回路（不図示）に接続される。したがって、検査用端子６は複数個あって、一部は分岐配線３１につながり、残りがスイッチ１の制御線７につながっている。
【００２１】
検査用端子６も、回路２の信号を外部に中継する役割を持っている点で、外部接続端子４と同じである。しかし、外部接続端子４が、回路装置１０を使用するために信号を中継するものであるのに対し、検査用端子６は、回路装置１０を製造する途中で回路２の検査のために使われるだけで、実際の回路装置１０の使用時に用いることがない。この違いがあるので、以下、実使用時に信号を伝達する外部接続端子４を単に接続端子４、検査時にのみ信号を伝える端子を検査用端子６として区別する。
【００２２】
検査用端子６は必ずしも接続端子４と同じ基板８の辺になくてもよく、別の辺にあってもよい。また、基板８の端部でなく内部の空きスペースに配置されていてもよい。
【００２３】
スイッチ１をオンさせると分岐５と検査用端子６が電気的に接続され、スイッチ１をオフさせると分岐５と検査用端子６は電気的に切断される。
【００２４】
スイッチ１は、オフのときの信号配線３の寄生容量を減らすために、分岐５の近傍に配置するのが好ましい。スイッチ１としてはＴＦＴが好適に用いられ、回路２その他を構成するＴＦＴと同一プロセスで形成される。
【００２５】
図２にスイッチ１の構成を示す。図２（Ａ）はＮ型ＴＦＴ、図２（Ｂ）はＰ型ＴＦＴ、図２（Ｃ）はＮ型ＴＦＴ及びＰ型ＴＦＴからなるトランスファーゲートである。図２のＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４はスイッチのオン／オフを制御する制御端子（ＴＦＴのゲート端子）であり、図１に示した制御線７を介して検査用端子６の一つに接続されている。
【００２６】
回路装置１０の製造工程中で、回路２の動作やそれを通じて他の部分の動作を検査する際は、検査用プローブを検査用端子６に接触させて、検査用端子６の１つから制御線７の信号を入力してスイッチ１をオンにする。同時に、その他の検査用端子６から検査信号を回路２に入力する。また、検査用端子６から回路２の出力を検出することもある。検査終了後は、検査用端子６をすべてオープンにし、代わりに接続端子４にフレキシブルケーブルを接着し、外部回路を接続する。
【００２７】
製品完成後の回路装置１０としての動作の際は、分岐５と検査用端子６を電気的に切断させるためにスイッチ１をオフにする。検査用端子６は、製品完成後の動作には使用せずオープン（外部回路に接続されていない状態）になっているので、そのときでもスイッチ１を開いておく必要がある。このため、スイッチの制御線７は、パネル内で次のようになっている。
（１）スイッチ１が図２（Ａ）のＮ型ＴＦＴである場合は、抵抗を介してＳ１をオフ電位にプルダウンする。
（２）スイッチ１が図２（Ｂ）のＰ型ＴＦＴである場合は、抵抗を介してＳ２をオフ電位にプルアップする。
（３）スイッチ１が図２（Ｃ）のＮ型ＴＦＴとＰ型ＴＦＴからなるトランスファーゲートである場合は、抵抗を介してＳ４をオフ電位にプルダウンし、かつ、抵抗を介してＳ３をオフ電位にプルアップする。
【００２８】
図２（Ｃ）の場合は、図３（Ａ）（Ｂ）に示したようにインバータを用いてスイッチ１の制御線を１本にする構成を採用しても良い。図３（Ａ）の場合、Ｓ５に接続されたスイッチ１の制御線７はプルダウン、図３（Ｂ）の場合、Ｓ６に接続された制御線７はプルアップされていることが好ましい。
【００２９】
また検査用端子６のサイズは、接続端子４のサイズより大きくし、隣接端子間の間隔も大きくしておくことが好ましい。これにより、検査用プローブを接触させる際の位置合わせが容易になり、検査の信頼性が向上する。
【実施例１】
【００３０】
図４は、本発明の実施例であるアクティブマトリクス方式の有機ＥＬ表示装置の平面構成図である。図１と同じ機能をもつもの、または同じ作用をするものには同じ符号を付した。
【００３１】
本実施例の有機ＥＬ表示装置２０においては、有機ＥＬ素子がマトリックス状に配置され、有機ＥＬ素子に対応して配置された画素回路が同じマトリクス状に配列して、画像を形成している。画素回路によって有機ＥＬ素子が駆動され、画像で表示が行われる。
【００３２】
画像の２辺に沿ってデータ線駆動回路１１と走査線駆動回路１２が形成されている。データ線駆動回路１１および走査線駆動回路１２の出力は画像の画素回路（不図示）に入力される。データ線駆動回路１１は画像の各画素回路に画像データ信号を供給する。走査線駆動回路１２は、画像の各画素回路に走査信号を供給する。
【００３３】
本実施例においては、画像の画素回路、データ線駆動回路１１、走査線駆動回路１２をあわせたものが図１の回路２に相当する。
【００３４】
基板８の端部には、接続端子４と検査用端子６が形成されている。
【００３５】
接続端子４の各々からは信号配線３が延びて、データ線駆動回路１１と走査線駆動回路１２とに接続されている。信号配線３は基板上に延びて設けられた配線であり、その途中に分岐５が設けられている。分岐５から分かれて延びた配線は、スイッチ１を介して検査用端子６に接続されている。また、別の検査用端子６からは、スイッチ１の制御線７が延びて、スイッチ１のオン／オフ制御端子に接続されている。本実施例では、データ線駆動回路１１と走査線駆動回路１２とを別々に検査することができるよう、スイッチ１の制御線７が２本設けられて、それぞれが別の検査用端子６に導かれている。
【００３６】
接続端子４は、フレキシブルなフラットケーブル（不図示）を介して、画像処理回路や電源回路やタイミングコントローラなどの外部回路（不図示）に接続される。
【００３７】
データ線駆動回路１１、走査線駆動回路１２などの周辺回路を駆動するための電源と制御信号、およびに供給される電源と画像信号、が、これらの外部回路から接続端子４に供給される。
【００３８】
検査用端子６は、有機ＥＬ表示装置２０の製造途中で、データ線駆動回路１１、走査線駆動回路１２、の画素回路を検査する際に検査信号を供給するための端子である。端子は複数個あり、検査のための制御信号や画像信号が供給され、検査対象の回路から返ってくる出力信号を受け取る。検査のための制御信号としては、スイッチ１をオンさせるためのスイッチ制御信号も含まれる。
【００３９】
検査に際しては、先端が針状の検査用プローブを検査用端子６に接触させ、これを介して検査用の電源と信号が授受される。
【００４０】
検査は、に表示素子が形成される前、または後、またはその両方で行われる。に表示素子が形成され、表示の様子を見て検査するときは、検査対象の回路から返ってくる出力信号を受け取る端子はなくてもよい。
【００４１】
逆に、表示素子を形成する前に検査を行うことにより、回路に不良がある品を取り除くことができる。検査後は検査用端子６への外部回路の接続を取り外し、検査用端子６をすべてオープンにする。検査用端子６は製品完成後の表示動作時は使用しないので、ケーブルなどは接続されない。
【００４２】
検査用端子６を設けることにより、ケーブルなどを接続する接続端子４に検査用プローブを接触させることがなくなる。その結果、端子表面が擦られて表面上の導電膜が剥離して接続端子４が劣化し、接続端子４とケーブルなどの実装部品との間で接続不良が生じる可能性がない。また、剥離した導電膜が、隣接する接続端子間に付着することで短絡を生じさせ、有機ＥＬ表示装置２０の信頼性を低下させるといった問題も無くなる。検査用端子６にはケーブルなどは接続しないので、上記問題は考慮する必要が無い。
【００４３】
接続端子４は、実装する接続ケーブルを小型化にしてコストダウンを図るため、狭ピッチで配置されることが多く、接続端子４に検査用プローブを位置合わせして接触させることは困難である。検査用端子６は、プローブの位置合わせが容易に出来る程度に、接続端子４より大きな寸法（サイズ）と間隔で配置される。
【００４４】
表示装置として完成した後は、接続ケーブルが実装された接続端子４から制御信号や画像信号や電源が供給されて表示が行われる。
【００４５】
このとき、スイッチ１の制御線７は、抵抗を介してプルアップあるいはプルダウンされており、スイッチ１もオープン状態である。
【００４６】
このように、製品完成後、スイッチ１がオフになり、信号配線３と検査用端子６とは電気的に切断された状態となるので、検査用端子６の持つ大きな寄生容量は、信号配線３に影響しない。この結果、駆動マージンの低下が抑制されて表示装置の誤作動を防ぐことができる。
【実施例２】
【００４７】
図５は、本発明の第２の実施例であるアクティブマトリクス方式の有機ＥＬ表示装置の平面構成図である。
【００４８】
本実施例の有機ＥＬ表示装置３０は、実施例１と同様に、に有機ＥＬ素子がマトリックス状に配置され、有機ＥＬ素子に対応して配置された画素回路によって有機ＥＬ素子が制御されて表示が行われる。
【００４９】
に画像データ信号を供給するデータ線駆動回路１１が表示領域の下辺に沿って形成されている。また、の右辺に沿って走査線駆動回路１２が形成されている。データ線駆動回路１１および走査線駆動回路１２の出力は画素回路に入力される。
【００５０】
本実施例が図１の回路装置１０および実施例１の有機ＥＬ表示装置２０と異なるのは、有機ＥＬ表示装置３０に集積回路チップ（ＩＣチップ）２８が搭載されていることである。基板上にＩＣチップ実装用端子２９が設けられ、このＩＣチップ実装用端子２９とＩＣチップ２８のパッドとは、直接の接触によって、または異方性導電材料を介して電気的及び機械的に接続される。
【００５１】
ＩＣチップ２８は、ＩＣチップ実装用端子２９に接続された信号配線２３を通してデータ線駆動回路１１および走査線駆動回路１２に制御信号や画像信号を供給している。
【００５２】
ＩＣチップ２８は、実施例１におけるデータ線駆動回路１１の機能を一部備えた形態であり、特に高い駆動周波数を要する機能を備える。
【００５３】
本実施例においても、画像の画素回路、データ線駆動回路１１、走査線駆動回路１２をあわせたものが、図１の回路２に相当する。
【００５４】
データ線駆動回路１１、走査線駆動回路１２に信号を送る信号配線２３は、図１の信号配線３に該当し、信号配線２３の終端であるＩＣチップ実装用端子２９が、図１の接続端子４に該当する。その他、図１と同じ符号を付したものは同じ機能を持っている。
【００５５】
基板８の端部には、ＩＣ信号を中継する外部取り出し端子１４と検査用端子６とが形成されている。外部取り出し端子１４は信号配線２３Ａを介してＩＣチップ実装用端子２９に接続され、結果的にＩＣチップ２８と接続されている。
【００５６】
有機ＥＬ表示装置３０は、検査用端子６を複数備えている。ＩＣチップ２８とデータ線駆動回路１１あるいは走査線駆動回路１２と接続している信号配線２３には分岐５が設けられており、分岐５と検査用端子６はスイッチ１を介して接続して配置されている。検査用端子６の少なくとも１つはスイッチ１の制御線７を介して前記スイッチ１のオン／オフ制御端子に接続されている。これら複数の検査用端子６は、基板上の空きスペースに配置される。
【００５７】
外部取り出し端子１４には、ＩＣチップ２８を駆動するための制御信号や画像信号や電源が供給される。外部取り出し端子１４は、異方性導電材料を介してフレキシブル基板からなる接続ケーブルと電気的及び機械的に接続される。接続先としては画像処理回路や電源回路やタイミングコントローラなどを備える外部基板（不図示）があるが、ＩＣチップ２８内に画像処理回路や電源回路やタイミングコントローラの機能を含めることで外部基板の小型化を図ることが可能である。
【００５８】
本実施例によれば、検査用端子６はスイッチ１を介してデータ線駆動回路１１あるいは走査線駆動回路１２に接続されており、ＩＣチップ２８の実装前においても、データ線駆動回路１１あるいは走査線駆動回路１２の検査が可能である。
【００５９】
検査としては、ＩＣチップ２８の実装前の段階において、針状の検査用プローブを検査用端子６に接触させ、スイッチ１の制御線７に接続された検査用端子６にスイッチ１をオンさせる信号を入力する。同時に、データ線駆動回路１１と走査線駆動回路１２にスイッチ１を介して接続された検査用端子６から検査信号を供給する。
【００６０】
このように検査を行うと、ＩＣチップ実装用端子２９に検査用プローブを接触させることがない。その結果、端子表面が擦られて表面上の導電膜が剥離してＩＣチップ実装用端子２９が劣化し、ＩＣチップ実装用端子２９とＩＣチップ２８との間で接続不良が生じる可能性が少なくなる。また、剥離した導電膜が隣接するＩＣチップ実装用端子２９に付着することで短絡を生じさせ、表示装置の信頼性を低下させるといった問題も無くなる。一方、検査用端子６は検査用プローブを接触させても実装部品は接続しないので、上記問題は考慮する必要が無い。
【００６１】
ＩＣチップ実装用端子２９は一般的に狭ピッチで配置されることが多く、これに検査用プローブを位置合わせして接触させることは困難である。そのため、ＩＣチップ実装用端子２９自体を検査用端子とすることはできない。代わりに、検査用端子６を設け、これをＩＣチップ実装用端子２９より比較的大きなサイズで配置することで信頼性の高い検査を容易に実施することができる。
【００６２】
検査後、表示装置の動作に問題がないようであればＩＣチップ２８を実装すればよく、表示装置に不良が見つかれば、ＩＣチップ２８は実装しない。これにより、回路に不良のある表示装置にＩＣチップ２８を実装するという無駄が排除できる。
【００６３】
通常の表示装置としての動作においては、検査用端子６はオープンであり、ケーブルが接続された外部取り出し端子１４からＩＣチップ２８に制御信号や画像信号や電源が供給されることでＩＣチップ２８が動作する。そしてＩＣチップ２８からデータ線駆動回路１１と走査線駆動回路１２に制御信号や画像信号が供給されて表示が行われる。スイッチ１としては前述した図２（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）のいずれも採用可能である。スイッチ１の制御線７は、抵抗を介してスイッチをオフする電位にプルアップあるいはプルダウンされている。
【００６４】
このように表示動作を行うことにより、表示動作の際はスイッチ１がオフの状態であり、検査用端子６は電気的に切断されている状態となるので、検査用端子６の追加による寄生容量が増加はなく、誤動作が発生する恐れを回避し、駆動マージンの低下を抑制できる。
【実施例３】
【００６５】
上述した各実施例の表示装置は各種電子機器に適用できる。
【００６６】
図６は、本発明が用いられる電子機器としてのデジタルスチルカメラシステムのブロック図である。図中、５０はデジタルスチルカメラシステム、５１は撮像部、５２は映像信号処理回路、５３は表示パネル、５４はメモリ、５５はＣＰＵ、５６は操作部を示す。
【００６７】
図６において、撮像部５１で撮影した映像または、メモリ５４に記録された映像を、映像信号処理回路５２で信号処理し、表示パネル５３で見ることができる。ＣＰＵ５５では、操作部５６からの入力によって、撮像部５１、メモリ５４、映像信号処理回路５２などを制御して、状況に適した撮影、記録、再生、表示を行う。また、表示パネル５３は、この他にも各種電子機器の表示部として利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明を説明する概略図である。
【図２】本発明に係るスイッチの構成例である。
【図３】本発明に係るスイッチの構成例である。
【図４】第１の実施例であるアクティブマトリクス方式の有機ＥＬ表示装置である。
【図５】第２の実施例であるアクティブマトリクス方式の有機ＥＬ表示装置である。
【図６】本発明に係る表示装置を用いたデジタルスチルカメラシステムの全体構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００６９】
１  スイッチ
２  回路
３，２３，２３Ａ  信号配線
４  接続端子
５  分岐
６  検査用端子
７  スイッチの制御線
８  有機ＥＬ表示装置
９  表示領域
１０  回路装置
１１  データ線駆動回路
１２  走査線駆動回路
１４  外部取り出し端子
２８  ＩＣチップ
２９  ＩＣチップ実装用端子
２０、３０  表示装置
５０  デジタルスチルカメラシステム
５１  撮像部
５２  映像信号処理回路
５３  表示パネル
５４  メモリ
５５  ＣＰＵ
５６  操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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