(57)【要約】【課題】磁気テープにおける正常部を欠陥部として誤って認識することを防止できるとともに、欠陥部の位置をより正確に検出することができる磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】縞状のパターンが形成されたフィルタ２４によって透過させた照射光を、磁気テープＴの幅方向全体に照射し、磁気テープＴにおける、照射光が照射された照射面Ｒとは反対側の面をバックアップロール１２によって支持するとともに、照射面Ｒを撮影し、撮影された照射面Ｒの縞模様に基づいて欠陥部Ｔｄを検出する。【選択図】図１
2010230684.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープの幅方向全体に照射光を照射する投光部材と、
前記磁気テープにおける前記照射光が照射された照射面を撮影する撮影部材と、
前記磁気テープにおける前記照射面の反対側の面を支持するバックアップロールとを備え、
前記投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられ、前記撮影部材によって撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出する処理部を備えていることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記照射面は、その長手方向が前記バックアップロールの軸方向と平行になるように配置される磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープが前記バックアップロールの外周面から所定のテンションとなるように押圧されることで支持されている磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記縞模様を走査線で走査したときの走査方向に対する明暗の変化を示す映像波形の変化を検出し、該映像波形に基づいて、暗部閾値又は明部閾値における波形のピーク値の幅が一定である部位を正常部とし、幅が大きくなった部位を欠陥部として検出する磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記縞模様が、縞の太さと、縞間隔と、前記磁気テープの搬送方向に対する縞の配列される角度によって規定される磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項６】
磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査方法であって、
縞状のパターンが形成されたフィルタによって透過させた照射光を、前記磁気テープの幅方向全体に照射し、前記磁気テープにおける、前記照射光が照射された照射面とは反対側の面をバックアップロールによって支持するとともに、前記磁気テープで前記照射面を撮影し、撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出することを特徴とする磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項７】
請求項６に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記照射面は、その長手方向が前記バックアップロールの軸方向と平行になるように配置される磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項８】
請求項６又は７に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記磁気テープが前記バックアップロールの外周面から所定のテンションとなるように押圧されることで支持されている磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項９】
請求項６から８のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記縞模様を走査線で走査したときの走査方向に対する明暗の変化を示す映像波形の変化を検出し、該映像波形に基づいて、暗部閾値又は明部閾値における波形のピーク値の幅が一定である部位を正常部とし、幅が大きくなった部位を欠陥部として検出する磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項１０】
請求項６から９のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記縞模様が、縞の太さと、縞間隔と、前記磁気テープの搬送方向に対する縞の配列される角度によって規定される磁気テープの欠陥検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープを光学的に検査して欠陥を検出する磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、磁気テープの欠陥を検査する欠陥検査装置としては、例えば、下記特許文献１に示すものがある。図９は、従来の磁気テープの欠陥検査装置の概要を示す図である。
図９に示すように、従来の磁気テープの欠陥検査装置１００は、磁気テープ１１０を送出する送出リール１０１と、該送出リール１０１から送出された磁気テープ１１９を巻き取る巻き取りリール１０２とを備え、送出リール１０１と巻き取りリール１０２との間で磁気テープを搬送する搬送経路が形成されている。搬送経路にはガイドロール１０３，１０４が設けられ、これらガイドロール１０３，１０４との間に搬送されている磁気テープ１１０において、光源１０４によって照明された箇所の反射光をＣＣＤカメラ１０５で撮影する。ＣＣＤカメラ１０５から出力される検出信号に基づいて、信号処理部１０６で磁気テープ１１０の欠陥部を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−５００１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来のテープ欠陥検査装置１００では、ガイドロール１０３，１０４間を搬送される磁気テープ１１０には該ガイドローラ１０３，１０４から受けるテンションによって、所謂、ツレスジとよばれる磁気テープ１１０の搬送方向に延びるスジ状の湾曲が生じる。すると、光源１０４から照射される光がツレスジにおいて乱反射することに起因して、磁気テープ１１０の該ツレスジを誤って欠陥部として認識してしまうという不具合があった。
【０００５】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、磁気テープにおける正常部を欠陥部として誤って認識することを防止できるとともに、欠陥部の位置をより正確に検出することができる磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の上記目的は、磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、前記磁気テープの幅方向全体に照射光を照射する投光部材と、前記磁気テープにおける前記照射光が照射された照射面を撮影する撮影部材と、前記磁気テープにおける前記照射面の反対側の面を支持するバックアップロールとを備え、前記投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられ、前記撮影部材によって撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出する処理部を備えていることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置によって達成される。
【０００７】
本発明の磁気テープの欠陥検査装置は、磁気テープにおける、照射光が照射される照射面が反対側の面からバックアップロールによって支持されているため、搬送時にテンションが加わっても該磁気テープにツレスジが発生することを防止できる。また、磁気テープに照射光を投光する投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられているため、該フィルタを透過した照射光が磁気テープに照射されると、照射された部分が縞模様となる。そして、この縞模様を撮影装置で撮影して処理部で解析することで磁気テープにおける欠陥部をより正確に検出することができる。
【０００８】
また、本発明の上記目的は、磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査方法であって、縞状のパターンが形成されたフィルタによって透過させた照射光を、前記磁気テープの幅方向全体に照射し、前記磁気テープにおける、前記照射光が照射された照射面とは反対側の面をバックアップロールによって支持するとともに、前記磁気テープで前記照射面を撮影し、撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出することを特徴とする磁気テープの欠陥検査方法によって達成される。
【０００９】
本発明の磁気テープの欠陥検査方法によれば、バックアップロールで支持することによって磁気テープにツレスジが発生することを防止できるとともに、該磁気テープの照射面に形成された縞模様を撮影し、撮影された縞模様を解析することで欠陥部をより正確に検出することができる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、磁気テープにおける正常部を欠陥部として誤って認識することを防止できるとともに、欠陥部の位置をより正確に検出することができる磁気テープの欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明に係る磁気テープの欠陥検査装置を示す図である。
【図２】投光部材の構成を説明する斜視図である。
【図３】バックアップロールを軸方向に見た状態を示す説明図である。
【図４】バックアップロールに支持された磁気テープを投光部材側からみた状態を示す図である。
【図５】投光部材が設置される位置の精度を説明する図である。
【図６】（ａ）磁気テープにおける欠陥部の位置を示す図である。（ｂ）磁気テープの欠陥部に対する照射面の縞模様の状態を説明する図である。
【図７】（ａ）撮影された縞模様の走査する手法を説明する図である。（ｂ）図７（ａ）に示す照射面Ｒの走査線Ｓａに沿って走査したときの縞模様の明部及び暗部とを映像波形で示した図である。（ｃ）図７（ａ）に示す照射面Ｒの走査線Ｓｂに沿って走査したときの縞模様の明部及び暗部とを映像波形で示した図である。
【図８】フィルタの形態の説明図である。
【図９】従来の磁気テープの欠陥検査装置の概要を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳しく説明する。
図１は、本発明に係る磁気テープの欠陥検査装置を示す図である。図１に示すように、磁気テープの欠陥検査装置（以下、単に検査装置ともいう。）１０は、図中矢印で示す方向に磁気テープＴを搬送させる搬送機構を備えている。
【００１３】
本実施形態の検査装置１０において検出対象とする、磁気テープの欠陥部とは、該磁気テープの搬送方向に沿って延びる微小なスジ状のもの（スジ欠陥）であり、肉眼で確認することができないものである。
【００１４】
検査装置１０の搬送機構には、搬送される磁気テープＴを支持するパスロール１１と、該パスロール１１に対して磁気テープＴの搬送方向の上流側に位置するバックアップロール１２とが設けられている。
【００１５】
また、検査装置１０は、搬送される磁気テープＴの幅方向全体に照射光を照射する投光部材２１と、該投光部材２１から照射された照射光が磁気テープＴに照らせて形成される照射面Ｒを撮影する撮影部材１３とを備えている。本実施形態では、撮影部材１３としてラインＣＣＤカメラを使用した。
【００１６】
図２は、投光部材２１の構成を説明する斜視図である。図２に示すように、投光部材２１は、長方体形状を有し、５つの側面によって内部空間を区画する筐体２２と、筐体２２の内部に配置された光源２３とを備えている。また、筐体２２において側面が設けられていない長方形の開口面に、該開口面と等しい形状である長方形を有する光透過性のフィルタ２４が取り付けられている。本実施形態では、光源２３としては、照度フィードバック制御機能を有する高周波蛍光灯を使用できる。
【００１７】
フィルタ２４は、縞状のパターンを有している。この縞状のパターンは、光を透過する帯状領域と光を透過しない帯状領域とが交互に配列されてなる。なお、縞の形態については、後述する。
【００１８】
投光部材２１の光源２３から発せられた光はフィルタ２４を透過して筐体２２から外部に照射され、図１に示すように、磁気テープＴに長方形の照射面Ｒを形成する。このとき、照射面Ｒは、透過したフィルタ２４の縞状のパターンを投影し、同様の縞模様を形成する。
【００１９】
検査装置１０は、磁気テープＴに照射光によって形成された照射面Ｒの縞模様を撮影部材１３で撮影し、撮影した縞模様の撮影データを処理部１４に出力し、処理部１４において、縞模様を解析して磁気テープＴの欠陥部Ｔｄを検出する構成である。
【００２０】
次に、投光部材２１と撮影部材１３との位置関係について説明する。
図３は、バックアップロール１２を軸方向に見た状態を示す説明図である。図３に示すように、矢印方向に搬送される磁気テープＴがバックアップロール１２の外周面から所定のテンションとなるように押圧されることで支持されている。
【００２１】
ここで、投光部材２３から光が照射される照射面Ｒの法線方向をＬ３とし、投光部材２１の光源２３から照射される照射光の方向をＬ１とし、磁気テープＴにおける照射面Ｒを撮影する撮影部材１３の撮像レンズの光軸をＬ２とする。投光部材２１は、照射光の方向Ｌ１が照射面Ｒの法線方向Ｌ３に対して、磁気テープＴの搬送方向下流側に角度Ａ１だけ傾くように設置されている。また、撮影部材１３は、光軸Ｌ２が照射面Ｒの法線方向Ｌ３に対して、磁気テープＴの搬送方向上流側に角度Ａ２だけ傾くように設置されている。本実施形態では、角度Ａ１と角度Ａ２とはともに１５°としたが、角度Ａ１及びＡ２は、投光部材２３と撮影部材１３とが干渉せずに設置可能であれば、１０°から４５°の範囲とすることができる。角度Ａ１と角度Ａ２とを１５°とすることが最も好ましい。また、投
光部材２１と照射面Ｒとの距離Ｄを、１５０ｍｍから３００ｍｍとすることが好ましい。
【００２２】
次に、搬送されるバックアップロール１２に対する照射面Ｒの位置について説明する。
図４は、バックアップロール１２に支持された磁気テープＴを投光部材２１側からみた状態を示す図である。図４に示すように、磁気テープＴにおける照射面Ｒの反対側の面がバックアップロールによって支持されている。また、照射面Ｒはその長手方向がバックアップロール１２の軸方向Ｃ１と平行になるように配置されることが好ましい。
【００２３】
図５は、投光部材が設置される位置の精度を説明する図である。図５に示すように、投光部材２１から照射光によって形成される照射面Ｒの長手方向Ｃ２がバックアップロールの軸方向Ｃ１に対して傾斜する角度をＡ３とすると、角度Ａ３を、−１°から１°の範囲とすることが好ましい。こうすれば、検査精度を保持することができる。
【００２４】
次に、本実施形態において撮影された照射面の縞模様を解析する手法を説明する。
図６（ａ）は、磁気テープＴにおける欠陥部Ｔｄの位置を示す図であり、図６（ｂ）は、磁気テープＴの欠陥部Ｔｄに対する照射面Ｒの縞模様の状態を説明する図である。磁気テープＴにおいて、欠陥部Ｔｄが生じていない正常の部分（以下、正常部という。）では、平坦面が形成されるが、磁気テープＴに欠陥部Ｔｄが生じている部位では、磁気テープＴの微小なスジ状の凸部又は凹部になる。そして、磁気テープＴに照射光を照射すると、正常の部分では入射した光が所定の反射角で反射するももの、欠陥部Ｔｄでは入射した光が散乱することに起因して、照射面Ｒは、欠陥部が生じた箇所で縞模様の歪みＲｄが生じる。
【００２５】
図７（ａ）は、撮影された縞模様の走査する手法を説明する図である。図７（ｂ）は、図７（ａ）に示す照射面Ｒの走査線Ｓａに沿って走査したときの縞模様の明部及び暗部とを映像波形で示した図である。図７（ｃ）は、図７（ａ）に示す照射面Ｒの走査線Ｓｂに沿って走査したときの縞模様の明部及び暗部とを映像波形で示した図である。
【００２６】
処理部１４は、撮影部材１３によって撮影された照射面Ｒの撮影データを、図７（ａ）に示すように、照射面Ｒの長手方向に平行な走査線Ｓａ，Ｓｂに沿って走査し、縞模様の明暗をプロットし、図７（ｂ）及び（ｃ）に示すように走査方向に対する明暗の変化を示す映像波形を作成する。本実施形態においては、走査線Ｓａ，Ｓｂのうち一方で走査を行ったが、両方の走査線Ｓａ，Ｓｂに沿って走査を行ってもよい。また、本実施形態で使用した走査線Ｓａ，Ｓｂだけに限定されず、他の位置で走査を行ってもよい。
【００２７】
図７（ｂ）に示すように、照射面Ｒの縞模様を走査線Ｓａで走査したとき、縞模様の歪みＲｄにおいて映像波形が変化する。具体的には、磁気テープＴの正常部において、暗部閾値における暗部を示すピーク値の幅がいずれも一定であるのに対し、縞模様の歪みＲｄにおいては、走査線Ｓａと縞模様の暗部とが重なる範囲が増加することによって、暗部閾値における暗部を示すピーク値の幅が大きくなる。そして、処理部１４においては、この暗部閾値におけるピーク値の幅が大きくなった箇所を磁気テープＴの欠陥部Ｔｄとして検出する。
【００２８】
同様に、明部閾値に応じて欠陥部の検出を行うこともできる。図７（ｃ）に示すように、照射面Ｒの縞模様を走査線Ｓｂで走査したとき、縞模様の歪みＲｄにおいて映像波形が変化する。具体的には、磁気テープＴの正常部において、明部閾値における明部を示すピーク値の幅がいずれも一定であるのに対し、縞模様の歪みＲｄにおいては、走査線Ｓｂと縞模様の明部とが重なる範囲が増加することによって、明部閾値における明部を示すピーク値の幅が大きくなる。そして、処理部１４においては、この明部閾値におけるピーク値の幅が大きくなった箇所を磁気テープＴの欠陥部Ｔｄとして検出する。
【００２９】
また、処理部１４は、欠陥部Ｔｄを検出をするとともに、該欠陥部Ｔｄの位置を検出することもできる。欠陥部Ｔｄの位置を検出するには、図７（ｂ）及び（ｃ）に示すように、欠陥部を示すピーク値の両側に連続する正常部のピーク値の数を測定することで、磁気テープＴの幅方向における欠陥部Ｔｄの位置を検出することができる。
【００３０】
処理部１４は照射面Ｒの縞模様の解析を行った後、図１に示すように、検出された欠陥部Ｔｄに関するデータをデータ集計用端末（例えば、パーソナルコンピュータ）１５に出力し、必要に応じて集計結果をプリンタ１６から出力することができる。また、データ集計用端末１５によって集計されたデータを予め決められたフォーマットで検査ロールの品質情報としてハブ１７を介して生産管理サーバへ供給することもできる。
また、処理部１４には投光部材２１と撮影装置１３とが電気的に接続され、検査の開始、停止、中断を指令する動作信号を送受信することができる。
【００３１】
次に、投光部材２１に設けられるフィルタ２４の形態について説明する。
図８は、フィルタ２４の形態の説明図である。なお、図８は模式図であり、各部の寸法は実際とは異なる比率で示している。図８に示すように、フィルタ２４には、縞の太さをｗとし、縞同士の間隔（縞間隔）がｄの帯状の縞が、磁気テープＴの搬送方向をＸとしてときに角度Ａ４だけ傾斜した状態で複数配列されている。
【００３２】
フィルタ２４の縞の太さｗ，縞間隔ｄ及び角度Ａ４は、磁気テープＴの検査において検査精度を最適に設定するための重要な要素である。そこで、発明者はフィルタの適正試験を行い、その結果、以下のようなことがわかった。
実際に磁気テープにおける検出対象となる欠陥部を測定し、先ず角度Ａ４を０°，１５°，３０°及び４５°についてそれぞれ検出を行った場合には、４５°が最も検出精度が良好であった。そして、角度Ａ４は、４５°に近いほど欠陥部の検出精度が良く、４５°に遠いほど、つまり、０°に近いほど欠陥部の検出精度が低下することがわかった。
【００３３】
フィルタ２４の縞の太さｗを２．８ｍｍ，１．４ｍｍ及び０．８ｍｍとして、実際に磁気テープの欠陥部を検出する試験を行うと、縞の太さｗが２．８ｍｍでは検出精度が良くなかったものの、１．４ｍｍ、０．８ｍｍではともに良好な検出精度を得ることができた。
【００３４】
検出精度が良好である縞の太さｗが１．４ｍｍ及び０．８ｍｍのときに、縞間隔を１．０ｍｍ，０．５ｍｍ及び０．３ｍｍとして検出精度を確認した。縞の太さが０．８ｍｍのとき、縞間隔を０．３ｍｍとすると最も好ましい検出精度を得ることができ、縞間隔を０．５ｍｍとすると、比較的好ましい検出精度を得ることができた。しかし、縞の太さが０．８ｍｍのとしたときに縞間隔を１．０ｍｍとすると、検出精度が低下することがわかった。縞の太さが１．４ｍｍのとき、縞間隔を０．３ｍｍ及び０．５ｍｍとすると最も好ましい検出精度を得ることができ、縞間隔を１．０ｍｍとすると、比較的好ましい検出精度を得ることができた。
【００３５】
本実施形態の磁気テープの欠陥検査装置１０によれば、磁気テープＴにおける、照射光が照射される照射面Ｒが反対側の面からバックアップロール１２によって支持されているため、搬送時にテンションが加わっても該磁気テープＴにツレスジが発生することを防止できる。また、磁気テープＴに照射光を投光する投光部材２１には縞状のパターンが形成されたフィルタ２４が設けられているため、該フィルタ２４を透過した照射光が磁気テープＴに照射されると、照射された部分が縞模様となる。そして、この縞模様を撮影装置１３で撮影して処理部１４で解析することで磁気テープＴにおける欠陥部をより正確に検出することができる。
【００３６】
また、上記の検査装置１０を用いれば、本発明に係る磁気テープの欠陥検査方法を好適に実施することができる。そして、磁気テープの欠陥検査方法によれば、磁気テープＴをバックアップロール１２で支持することによって該磁気テープＴにツレスジが発生することを防止できるとともに、該磁気テープＴの照射面Ｒに形成された縞模様を撮影し、撮影された縞模様を解析することで欠陥部Ｔｄをより正確に検出することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１０    磁気テープの欠陥検査装置
１２    バックアップロール
１３    撮影部材
１４    処理部
２１    投光部材
２４    フィルタ
Ｒ      照射面
Ｔ      磁気テープ
【図１】
2010230684.tif 000003
【図２】
2010230684.tif 000004
【図３】
2010230684.tif 000005
【図４】
2010230684.tif 000006
【図５】
2010230684.tif 000007
【図６】
2010230684.tif 000008
【図７】
2010230684.tif 000009
【図８】
2010230684.tif 000010
【図９】
2010230684.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】平成22年6月22日(2010.6.22)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープの幅方向全体に照射光を照射する投光部材と、
前記磁気テープにおける前記照射光が照射された照射面を撮影する撮影部材と、
前記磁気テープにおける前記照射面の反対側の面の、該照射面の法線方向と交わる部位を支持するバックアップロールとを備え、
前記投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられ、前記撮影部材によって撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出する処理部を備えていることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記照射面は、その長手方向が前記バックアップロールの軸方向と平行になるように配置される磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープが前記バックアップロールの外周面から所定のテンションとなるように押圧されることで支持されている磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項４】
請求項１から３のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記縞模様を走査線で走査したときの走査方向に対する明暗の変化を示す映像波形の変化を検出し、該映像波形に基づいて、暗部閾値又は明部閾値における波形のピーク値の幅が一定である部位を正常部とし、幅が大きくなった部位を欠陥部として検出する磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記縞模様が、縞の太さと、縞間隔と、前記磁気テープの搬送方向に対する縞の配列される角度によって規定される磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記撮影部材が、光が照射された前記磁気テープの前記幅方向全体にわたる前記照射面を撮影する磁気テープの欠陥検査装置。
【請求項７】
磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査方法であって、
縞状のパターンが形成されたフィルタによって透過させた照射光を、前記磁気テープの幅方向全体に照射し、前記磁気テープにおける、前記照射光が照射された照射面とは反対側の面の、該照射面の法線方向と交わる部位をバックアップロールによって支持するとともに、前記磁気テープで前記照射面を撮影し、撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出することを特徴とする磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項８】
請求項７に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記照射面は、その長手方向が前記バックアップロールの軸方向と平行になるように配置される磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項９】
請求項７又は８に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記磁気テープが前記バックアップロールの外周面から所定のテンションとなるように押圧されることで支持されている磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項１０】
請求項７から９のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記縞模様を走査線で走査したときの走査方向に対する明暗の変化を示す映像波形の変化を検出し、該映像波形に基づいて、暗部閾値又は明部閾値における波形のピーク値の幅が一定である部位を正常部とし、幅が大きくなった部位を欠陥部として検出する磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項１１】
請求項７から１０のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
前記縞模様が、縞の太さと、縞間隔と、前記磁気テープの搬送方向に対する縞の配列される角度によって規定される磁気テープの欠陥検査方法。
【請求項１２】
請求項７から１１のいずれか１項に記載の磁気テープの欠陥検査方法であって、
光が照射された前記磁気テープの前記幅方向全体にわたる前記照射面を前記撮影部材によって撮影する磁気テープの欠陥検査方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
本発明の上記目的は、磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査装置であって、
前記磁気テープの幅方向全体に照射光を照射する投光部材と、
前記磁気テープにおける前記照射光が照射された照射面を撮影する撮影部材と、
前記磁気テープにおける前記照射面の反対側の面の、該照射面の法線方向と交わる部位を支持するバックアップロールとを備え、
前記投光部材には縞状のパターンが形成されたフィルタが設けられ、前記撮影部材によって撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出する処理部を備えていることを特徴とする磁気テープの欠陥検査装置によって達成される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
また、本発明の上記目的は、磁気テープを搬送させながら該磁気テープに光を照射し、照射した光の状態に基づいて欠陥部を検出する磁気テープの欠陥検査方法であって、
縞状のパターンが形成されたフィルタによって透過させた照射光を、前記磁気テープの幅方向全体に照射し、前記磁気テープにおける、前記照射光が照射された照射面とは反対側の面の、該照射面の法線方向と交わる部位をバックアップロールによって支持するとともに、前記磁気テープで前記照射面を撮影し、撮影された前記照射面の縞模様に基づいて欠陥部を検出することを特徴とする磁気テープの欠陥検査方法によって達成される。