(57)【要約】【課題】被膜付電線における絶縁被膜の絶縁破壊電圧を正確に測定することができる被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法を提供すること。【解決手段】絶縁破壊試験装置１は、被膜付電線８における絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧を測定するものであり、印加手段２、測定手段３、電解液容器４、絶縁液容器５を有している。被膜付電線８の中間部８０３を電解液容器４の電解液４１中に配置し、被膜付電線８の一端部８０１を、絶縁液容器５の絶縁液５１中に浸漬させた状態で他方の電極２２に導通させ、かつ被膜付電線８の他端部８０２を、絶縁液５１を貯留する他の絶縁液容器５０の絶縁液５１中に浸漬させておき、印加手段２によって、一対の電極２１、２２間に印加する電圧を徐々に上昇させ、測定手段３によって、電解液４１中の被膜付電線８における絶縁被膜８２が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属導体に対して電気絶縁性の絶縁被膜を設けてなる被膜付電線に対して、上記絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する絶縁破壊試験装置であって、
一対の電極間に電圧を印加する印加手段と、
該印加手段によって印加する電圧を測定する測定手段と、
上記被膜付電線の両端部を除く中間部を浸漬させるための電解液を貯留すると共に、一方の上記電極を上記電解液中に配置してなる電解液容器と、
上記被膜付電線の一端部を浸漬させるための絶縁液を貯留すると共に、他方の上記電極を上記絶縁液中に配置してなる絶縁液容器とを有しており、
上記被膜付電線の中間部を上記電解液容器の上記電解液中に配置し、上記被膜付電線の一端部を、上記絶縁液容器の上記絶縁液中に浸漬させた状態で上記他方の電極に導通させておき、
上記印加手段によって、上記一対の電極間に印加する電圧を徐々に上昇させ、上記測定手段によって、上記電解液中の上記被膜付電線における上記絶縁被膜が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定するよう構成したことを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置。
【請求項２】
請求項１において、上記被膜付電線の他端部を、上記絶縁液容器の上記絶縁液中又は他の容器の絶縁液中に浸漬させた状態で、上記絶縁破壊電圧を測定するよう構成したことを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置。
【請求項３】
請求項１又は２において、上記絶縁液容器の上記絶縁液中には、導電性を有する複数の金属球が浸漬してあり、上記被膜付電線の一端部は、上記複数の金属球を介して上記他方の電極に導通されるよう構成したことを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項において、上記金属球は、黄銅からなると共に、その直径が１〜５ｍｍの範囲内であることを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置。
【請求項５】
請求項２〜４のいずれか一項において、上記被膜付電線の一端部及び他端部を、上記絶縁液中に５０ｍｍ以上浸漬した状態で、上記絶縁破壊電圧を測定するよう構成したことを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置。
【請求項６】
金属導体に対して電気絶縁性の絶縁被膜を設けてなる被膜付電線に対して、上記絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する絶縁破壊試験方法であって、
上記被膜付電線の中間部を、一方の電極を配置した電解液容器の電解液中に配置し、上記被膜付電線の一端部を、他方の電極を配置した絶縁液容器の絶縁液中に浸漬させた状態で上記他方の電極に導通させておき、
上記一対の電極間に印加する電圧を徐々に上昇させ、上記電解液中の上記被膜付電線における上記絶縁被膜が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定することを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験方法。
【請求項７】
請求項６において、上記被膜付電線の他端部を、上記絶縁液容器の上記絶縁液中又は他の容器の絶縁液中に浸漬させた状態で、上記絶縁破壊電圧を測定することを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被膜付電線における絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属導体に対して電気絶縁性の絶縁被膜を設けてなる被膜付電線に対して、絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する方法としては、例えば、ＪＩＳ  Ｃ３００３に規定されたエナメル線試験方法がある。この試験方法においては、グリセリン液中に浸漬させた電線試料の絶縁破壊電圧を測定するグリセリン法と、２つに撚り合わせた状態の電線試料の絶縁破壊電圧を測定する２個撚り法とがある。
【０００３】
グリセリン法においては、電線試料の中間部を、プラス電極と導通するグリセリン溶液中に浸漬させ、電線試料の一端部をマイナス電極に導通させて、一対の電極間に５００Ｖ／ｓｅｃの昇圧速度で、電線試料における絶縁被膜が破壊されるまで電圧を印加する。また、電線試料の一端部における絶縁被膜を、専用工具にて１０〜１５ｍｍ除去し、この被膜剥離部位の金属導体に接続クリップを接続してマイナス電極と導通させている。２個撚り法においては、２つに撚り合わせた一対の電線試料間に、上記と同様に電圧を印加している。
【０００４】
また、例えば、特許文献１の被覆電線用絶縁被膜劣化診断装置においては、被覆電線の絶縁被膜の劣化状態を非破壊で診断する際に、被覆電線と、この被覆電線を覆うようにして装着した測定用プローブとの間に、所定周波数領域の電圧信号を印加し、このときの電流値と位相とを測定する。そして、測定した周波数特性のパターンから劣化の度合いを診断している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平８−２１１１１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記グリセリン法においては、電線試料の一端部における金属導体の部分及び接続クリップが空気中に露出した状態で、絶縁破壊される電圧を測定している。そのため、この露出した金属導体の部分及び接続クリップから電線試料の絶縁被膜の表面へ漏れ電流が流れて蓄積され、電線試料の絶縁被膜の表面において、グリセリン液中のプラス電極と短絡して導通してしまうおそれがある。また、上記グリセリン法においては、電線試料と接続クリップとの接触抵抗のばらつきにより、測定した絶縁破壊電圧の値にばらつきが生ずるおそれがある。従って、絶縁破壊電圧を正確に測定するためには十分ではない。
【０００７】
また、特許文献１においては、一方の測定用ケーブルを被覆電線の電線導体に接続しており、この露出する電線導体の部分から漏れ電流が流れ、測定用プローブを介して他方の測定用プローブに短絡してしまうおそれがある。そのため、特許文献１によっても、絶縁破壊電圧を正確に測定するためには十分ではない。
【０００８】
本発明は、かかる従来の問題点に鑑みてなされたもので、被膜付電線の電極接続端部からの漏れ電流の発生を抑制して、被膜付電線における絶縁被膜の絶縁破壊電圧を正確に測定することができる被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１の発明は、金属導体に対して電気絶縁性の絶縁被膜を設けてなる被膜付電線に対して、上記絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する絶縁破壊試験装置であって、
一対の電極間に電圧を印加する印加手段と、
該印加手段によって印加する電圧を測定する測定手段と、
上記被膜付電線の両端部を除く中間部を浸漬させるための電解液を貯留すると共に、一方の上記電極を上記電解液中に配置してなる電解液容器と、
上記被膜付電線の一端部を浸漬させるための絶縁液を貯留すると共に、他方の上記電極を上記絶縁液中に配置してなる絶縁液容器とを有しており、
上記被膜付電線の中間部を上記電解液容器の上記電解液中に配置し、上記被膜付電線の一端部を、上記絶縁液容器の上記絶縁液中に浸漬させた状態で上記他方の電極に導通させておき、
上記印加手段によって、上記一対の電極間に印加する電圧を徐々に上昇させ、上記測定手段によって、上記電解液中の上記被膜付電線における上記絶縁被膜が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定するよう構成したことを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験装置にある（請求項１）。
【００１０】
本発明の被膜付電線の絶縁破壊試験装置は、電線の両端部を絶縁液中に浸漬させた状態で、絶縁破壊電圧の測定を行う。
具体的には、本発明の絶縁破壊試験装置は、上記印加手段、電解液容器、絶縁液容器を有しており、電解液容器の電解液中と絶縁液容器の絶縁液中にはそれぞれ印加手段によって電圧を印加するための電極が配置してある。そして、絶縁破壊電圧の測定を行うに当たっては、被膜付電線の中間部を電解液容器の電解液中に浸漬させ、被膜付電線の一端部（電極接続端部）を絶縁液中に浸漬させる。
【００１１】
被膜付電線の中間部は、その金属導体が、絶縁被膜を介して一方の電極に導通された電解液と絶縁されている状態を形成し、被膜付電線の一端部は、絶縁液容器の絶縁液中に浸漬させた状態で他方の電極に導通させておく。この状態で、印加手段によって、一対の電極間に印加する電圧を徐々に上昇させ、測定手段によって、電解液中の被膜付電線における絶縁被膜が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定する。
このとき、本発明の被膜付電線の一端部は絶縁液中に浸漬されており、被膜付電線の両端部において露出する金属導体の部分から、被膜付電線の中間部における絶縁被膜の表面へ漏れ電流が流れて蓄積されてしまうことを抑制することができる。
【００１２】
それ故、本発明の被膜付電線の絶縁破壊試験装置によれば、被膜付電線の一端部（電極接続端部）からの漏れ電流の発生を抑制して、被膜付電線における絶縁被膜の絶縁破壊電圧を正確に測定することができる。
【００１３】
第２の発明は、金属導体に対して電気絶縁性の絶縁被膜を設けてなる被膜付電線に対して、上記絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する絶縁破壊試験方法であって、
上記被膜付電線の中間部を、一方の電極を配置した電解液容器の電解液中に配置し、上記被膜付電線の一端部を、他方の電極を配置した絶縁液容器の絶縁液中に浸漬させた状態で上記他方の電極に導通させておき、
上記一対の電極間に印加する電圧を徐々に上昇させ、上記電解液中の上記被膜付電線における上記絶縁被膜が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定することを特徴とする被膜付電線の絶縁破壊試験方法にある（請求項５）。
【００１４】
本発明の被膜付電線の絶縁破壊試験方法も、電線の両端部を絶縁液中に浸漬させた状態で、絶縁破壊電圧の測定を行う。
従って、本発明の被膜付電線の絶縁破壊試験方法によれば、上記絶縁破壊試験装置の場合と同様に、被膜付電線の一端部（電極接続端部）からの漏れ電流の発生を抑制して、被膜付電線における絶縁被膜の絶縁破壊電圧を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施例における、被膜付電線の絶縁破壊試験装置を概略的に示す説明図。
【図２】実施例における、絶縁液容器内に浸漬させた被膜付電線の一端部の周辺を示す説明図。
【図３】実施例における、絶縁液容器内に浸漬させた他の被膜付電線の一端部の周辺を示す説明図。
【図４】確認試験における発明品について、横軸に時間をとり、縦軸に印加電圧値及び漏れ電流値をとって、被膜付電線における絶縁破壊電圧を示すグラフ。
【図５】確認試験における比較品について、横軸に時間をとり、縦軸に印加電圧値及び漏れ電流値をとって、被膜付電線における絶縁破壊電圧を示すグラフ。
【図６】確認試験における発明品及び比較品について、被膜付電線の絶縁被膜における絶縁破壊電圧の平均値の比較を示すグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
上述した第１、第２の発明における好ましい実施の形態につき説明する。
第１、第２の発明において、上記絶縁破壊試験装置又は絶縁破壊試験方法においては、上記被膜付電線の他端部を、上記絶縁液容器の上記絶縁液中又は他の容器の絶縁液中に浸漬させた状態で、上記絶縁破壊電圧を測定することが好ましい（請求項２、７）。
この場合には、被膜付導体の他端部からの漏れ電流の発生を抑制することができる。
【００１７】
また、上記絶縁液容器の上記絶縁液中には、導電性を有する複数の金属球を浸漬させ、上記被膜付電線の一端部は、上記複数の金属球を介して上記他方の電極に導通されるよう構成することが好ましい（請求項３）。
この場合には、絶縁液容器内の他方の電極に対して、複数の金属球を介して被膜付電線の一端部を、極めて簡単に導通させることができる。そのため、被膜付電線の一端部と一方の電極との間に、導通不良が発生することを確実に防止することができる。また、被膜付電線の一端部と他方の電極との接続部分における接触抵抗にばらつきが生じることを抑制することができ、上記絶縁破壊電圧の値にばらつきが生じることを抑制することができる。
【００１８】
また、上記金属球は、黄銅から構成すると共に、その直径を１〜５ｍｍの範囲内にすることが好ましい（請求項４）。
この場合には、複数の金属球により、被膜付電線の一端部と一方の電極との導通状態をより確実に維持することができる。
【００１９】
また、上記被膜付電線の一端部及び他端部を、上記絶縁液中に５０ｍｍ以上浸漬した状態で、上記絶縁破壊電圧を測定するよう構成することが好ましい（請求項５）。
この場合には、被膜付電線の一端部及び他端部を絶縁液中に十分に浸漬しておくことができ、被膜付電線の両端部から漏れ電流が発生することをより効果的に抑制することができる。
【実施例】
【００２０】
以下に、本発明の被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法にかかる実施例につき、図面を参照して説明する。
本例の絶縁破壊試験装置１は、図１、図２に示すごとく、金属導体８１に対して電気絶縁性の絶縁被膜８２を設けてなる被膜付電線８に対して、絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧を測定するものである。
絶縁破壊試験装置１は、一対の電極２１、２２間に電圧を印加する印加手段２と、印加手段２によって印加する電圧を測定する測定手段３と、被膜付電線８の両端部８０１、８０２を除く中間部８０３を浸漬させるための電解液４１を貯留すると共に、一方の電極２１を電解液４１中に配置してなる電解液容器４と、被膜付電線８の一端部８０１を浸漬させるための絶縁液５１を貯留すると共に、他方の電極２２を絶縁液５１中に配置してなる絶縁液容器５とを有している。
【００２１】
絶縁破壊電圧を測定するに当たっては、絶縁破壊試験装置１においては、被膜付電線８の中間部８０３を電解液容器４の電解液４１中に配置し、被膜付電線８の一端部８０１を、絶縁液容器５の絶縁液５１中に浸漬させた状態で他方の電極２２に導通させ、かつ被膜付電線８の他端部８０２を、絶縁液５１を貯留する他の絶縁液容器５０の絶縁液５１中に浸漬させておく。そして、絶縁破壊試験装置１は、印加手段２によって、一対の電極２１、２２間に印加する電圧を徐々に上昇させ、測定手段３によって、電解液４１中の被膜付電線８における絶縁被膜８２が破壊する電圧を絶縁破壊電圧として測定するよう構成してある。
【００２２】
以下に、本例の被膜付電線８の絶縁破壊試験装置１及び絶縁破壊試験方法につき、図１〜図３を参照して詳説する。
本例の被膜付電線８は、モータ、ジェネレータ、モータジェネレータ等の回転電機に用いるマグネットワイヤであり、銅材料からなる金属導体８１に対し、種々の樹脂による絶縁被膜８２を被覆してなるエナメル線である。
【００２３】
図１に示すごとく、電解液容器４の内側底部には、一方の電極２１が配置してある。電解液容器４には、被膜付電線８の中間部８０３を浸漬するために十分な量の電解液４１が貯留してある。
本例の電解液容器４に貯留する電解液４１は、電気伝導性を有するものであり、グリセリンと含塩水とを混合してなるものである。この電解液４１は、グリセリンと飽和含塩水とを、８５対１５の割合で混合させたものとすることができる。
【００２４】
絶縁液容器５及び他の絶縁液容器５０には、被膜付電線８の一端部８０１及び他端部８０２を十分に絶縁液５１中に浸漬させるための絶縁液５１が貯留してある。また、他の絶縁液容器５０に貯留する絶縁液５１は、絶縁液容器５に貯留するものと同じにした。
本例の絶縁液容器５及び他の絶縁液容器５０に貯留する絶縁液５１は、電気絶縁性を有するものであり、シリコーン（ケイ素）を含むシリコン絶縁液５１、フッ素系不活性液、超電解水等とすることができる。
【００２５】
図１に示すごとく、本例の印加手段２は、一対の電極２１、２２間に交流電圧を印加するものであり、印加する交流電圧を適宜調整可能にしたものである。なお、印加手段２は、一対の電極２１、２２間に直流電圧を印加するものとし、印加する直流電圧を適宜調整可能にすることもできる。この場合、電解液容器４内の一方の電極２１をプラス側電極とし、絶縁液容器５内の他方の電極２２をマイナス側電極とすることができる。
【００２６】
図２に示すごとく、本例の絶縁液容器５の絶縁液５１中には、導電性を有する複数（多数）の金属球５２が浸漬してある。そして、本例の被膜付電線８の一端部８０１は、複数の金属球５２を介して他方の電極２２に導通される。
本例の金属球５２は、略球状に形成した黄銅から構成してあり、各金属球５２の直径は、１〜５ｍｍの範囲内にしてある。本例の絶縁液容器５の内側底部には、他方の電極２２が配置してある。絶縁液容器５の絶縁液５１中においては、複数の金属球５２が他方の電極２２に接触した状態にある。
【００２７】
金属球５２としては、銀、金、銅等を用いることもできる。ただし、銀、金は、導電性に優れるが、高価であり、銅は、導電性に優れるが、錆びる性質がある。従って、安価で錆び難く、かつ導電性に優れた黄銅（真ちゅう）を用いることが好ましい。
【００２８】
本例の絶縁破壊試験装置１によって絶縁破壊電圧の測定をする被膜付電線８の線径（外径）は、０．３〜４ｍｍとすることができる。
被膜付電線８の線径が大きい場合（例えば、線径が金属球５２の粒径よりも大きい場合）には、図２に示すごとく、被膜付電線８の一端部８０１の絶縁被膜８２は剥離せず、切断したままの状態（絶縁被膜８２の剥離作業を行っていない状態）で絶縁破壊電圧の測定を行うことができる。この場合には、被膜付電線８の一端部８０１における金属導体８１の端面８１１を金属球５２に接触させることができる。そのため、被膜付電線８の一端部８０１における絶縁被膜８２を剥離させる作業が不要となり、被膜付電線８の絶縁破壊電圧の測定を一層簡単に行うことができる。
【００２９】
上記被膜付電線８の一端部８０１における絶縁被膜８２の剥離作業を不要にする効果を得るためには、複数の金属球５２の粒径は、絶縁被膜の絶縁破壊電圧を測定する被膜付電線の線径に比べて、小さくすることが好ましい。
一方、被膜付電線８の線径が小さい場合（例えば、線径が金属球５２の粒径よりも小さい場合）には、図３に示すごとく、被膜付電線８の一端部８０１の絶縁被膜８２を剥離させ、金属導体８１の外周面８１２を絶縁液容器５内の複数の金属球５２と接触させることができる。
また、被膜付電線８の他端部８０２は、切断したままの状態（絶縁被膜８２の剥離作業を行っていない状態）で、他の絶縁液容器５０内の絶縁液５１中に浸漬させることができる。
【００３０】
本例の絶縁破壊試験装置１においては、本例の被膜付電線８の一端部８０１及び他端部８０２を、それぞれ絶縁液容器５内の絶縁液５１又は他の絶縁液容器５０内の絶縁液５１中に、５０ｍｍ以上浸漬させた状態で、絶縁破壊電圧を測定する。なお、被膜付電線８の一端部８０１及び他端部８０２を絶縁液５１中に浸漬させる長さは、例えば、５０〜１００ｍｍの範囲内とすることができる。
【００３１】
本例の被膜付電線８の絶縁破壊試験方法においては、図１に示すごとく、電線の両端部８０１、８０２を絶縁液５１中に浸漬させた状態で、絶縁破壊電圧の測定を行う。本例の絶縁破壊試験方法を行うに際しては、被膜付電線８の中間部８０３は、その金属導体８１が、絶縁被膜８２を介して一方の電極２１に導通された電解液４１と絶縁されている状態を形成する。また、被膜付電線８の一端部８０１は、絶縁液容器５の絶縁液５１中に浸漬させた状態で他方の電極２２に複数の金属球５２を介して導通させておく。また、被膜付電線８の他端部８０２は、絶縁液容器５の絶縁液５１中に浸漬させておく。
【００３２】
この浸漬を行う際には、被膜付電線８の一端部８０１は、作業者が絶縁液容器５の中に入れるだけで、複数の金属球５２を介して他方の電極２２に導通させることができる。これにより、他方の電極２２に対して、複数の金属球５２を介して被膜付電線８の一端部８０１を極めて簡単に導通させることができる。そのため、被膜付電線８の一端部８０１と一方の電極２１との間に、導通不良が発生することを確実に防止することができる。また、被膜付電線８の一端部８０１と他方の電極２２との接続部分における接触抵抗にばらつきが生じることを抑制することができ、測定する絶縁破壊電圧の値にばらつきが生じることを抑制することができる。
【００３３】
そして、図１に示すごとく、上記各浸漬状態において、印加手段２によって、一対の電極２１、２２間に電圧を印加し、この印加する電圧を測定手段３によって測定する。また、印加手段２によって一対の電極２１、２２間に印加する電圧を徐々に上昇させ、測定手段３によって電解液４１中の被膜付電線８における絶縁被膜８２が破壊する電圧を、絶縁破壊電圧として測定する。
このとき、本例の被膜付電線８の両端部８０１、８０２は絶縁液５１中に浸漬されており、被膜付電線８の両端部８０１、８０２において露出する金属導体８１の部分から、被膜付電線８の中間部８０３における絶縁被膜８２の表面へ漏れ電流が流れて蓄積されてしまうことを抑制することができる。
【００３４】
それ故、本例の被膜付電線８の絶縁破壊試験装置１及び絶縁破壊試験方法によれば、被膜付電線８の両端部８０１、８０２からの漏れ電流の発生を抑制して、被膜付電線８における絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧を正確に測定することができる。
【００３５】
また、本例においては、被膜付電線８の絶縁破壊電圧を正確に測定することができるため、二次的効果として、被膜付電線８の絶縁被膜８２の厚みを小さくすることができる。すなわち、絶縁破壊電圧を正確に測定することにより、被膜付電線８の本来の絶縁破壊電圧を求めることができ、被膜付電線８に要求される絶縁破壊電圧の仕様を満たし易くなる。
【００３６】
そのため、被膜付電線８を、モータ等の回転電機のステータ用コイルとして用いる場合には、従来の被膜付電線８に比べて絶縁被膜８２が薄いものを使用することが可能になる。これにより、被膜付電線８の単位長さ当たりの絶縁被膜８２の使用量を低減させることができ、コストダウンを図ることができる。また、被膜付電線８の外径を小さくすることが可能になり、ステータコアのスロット内に、より多くの被膜付電線８を配置することが可能になる。これにより、回転電機の小形・軽量化及び高性能化を図ることが可能になる。
【００３７】
（確認試験）
本確認試験においては、上記実施例に示した絶縁破壊試験装置１を用いて、被膜付電線８における絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧を測定した。上記被膜付電線８の両端部８０１、８０２を絶縁液５１中に浸漬させた場合（発明品）と、上記被膜付電線８の両端部８０１、８０２を空気中に曝した場合（比較品）とについて、絶縁破壊試験を行った。
試験条件としては、線径が０．８０ｍｍの被膜付電線８としてのマグネットワイヤ（エナメル線）に対し、上記印加手段２により、電圧を上昇させる速度（昇圧速度）を５００Ｖ／ｓｅｃとして一対の電極２１、２２間に交流電圧を印加した。そして、絶縁被膜８２が破壊されたと判断するカットオフ電流値を１５ｍＡとして、上記測定手段３によって測定する電流が１５ｍＡ以上になったときには（被膜付電線８に１５ｍＡ以上の漏れ電流が流れたとき）には、被膜付電線８が絶縁破壊されたとして、このときの電圧値を絶縁破壊電圧とした。
【００３８】
発明品及び比較品について、絶縁破壊電圧の測定を行った結果の一例を、図４、図５に示す。
各図は、横軸に時間をとり、縦軸に印加手段２による印加電圧値Ｖ（ｋＶ）及び測定手段３による漏れ電流値Ｉ（ｍＡ）をとって、被膜付電線８における絶縁破壊電圧Ｖ’（ｋＶ）を示すグラフである。
また、図６には、発明品及び比較品について１０回試験を行ったときの被膜付電線８における絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧Ｖ’の平均値の比較を示すグラフである。比較品の場合には、絶縁破壊電圧Ｖ’（ｋＶ）の平均値が１０．９５ｋＶとなり、発明品の場合には、絶縁破壊電圧Ｖ’の平均値が１２．０２ｋＶとなった。この結果より、比較品（被膜付電線８の両端部８０１、８０２を空気中に曝した構成）に比べて、発明品（被膜付電線８の両端部８０１、８０２を絶縁液５１中に浸漬させた構成）によれば、被膜付電線８における絶縁被膜８２の絶縁破壊電圧Ｖ’をより正確に測定できることがわかった。
【符号の説明】
【００３９】
１  絶縁破壊試験装置
２  印加手段
２１  一方の電極
２２  他方の電極
３  測定手段
４  電解液容器
４１  電解液
５  絶縁液容器
５１  絶縁液
５２  金属球
８  被膜付電線
８１  金属導体
８２  絶縁被膜
８０１  一端部
８０２  他端部
８０３  中間部
【図１】
2010230557.tif 000003
【図２】
2010230557.tif 000004
【図３】
2010230557.tif 000005
【図４】
2010230557.tif 000006
【図５】
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【図６】
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