(57)【要約】【課題】被測定体としてのタイヤ構成部材の大小に関らず形状の検査の精度に差が生じない測定検査装置及びその方法を提供する。【解決手段】タイヤの構成部材を被測定体として一定長さの帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、このセンサの出力により被測定体の形状を演算する形状処理手段を備えた測定検査装置により、被測定体の別部位を個別に測定する複数個の各センサの出力で得られる各被測定体の形状を形状処理手段で合成し、形状処理手段により合成された被測定体の合成形状と予め用意された基準形状とを判定手段により比較して形状の良否を判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、
上記センサの出力により被測定体の形状を演算する形状処理手段を備えた測定検査装置であって、
測定検査装置は、上記被測定体の別部位を個別に測定する上記センサを複数個備え、上記各センサの出力で得られる上記別部位の形状を上記形状処理手段で合成することを特徴とする測定検査装置。
【請求項２】
タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、
上記センサの出力により被測定体の形状を演算する形状処理手段を備えた測定検査装置であって、
測定検査装置は、上記被測定体の別部位を個別に測定する上記センサを複数個備え、上記各センサの出力で得られる上記別部位の形状を上記形状処理手段で合成し、
上記形状処理手段により合成された被測定体の合成形状と予め用意された基準形状とを比較して形状の良否を判定する判定手段を備えることを特徴とする測定検査装置。
【請求項３】
上記形状処理手段は、各センサの出力により被測定体の断面形状を演算して出力し、上記複数のセンサは各センサの光照射部に重なりを有するように位置され、形状処理手段では、上記別部位の形状の重なり部分における高さが一致する点を重ね合わせて各被測定体の形状を合成することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の測定検査装置。
【請求項４】
上記各センサから被測定体に帯状又は線状のレーザー光をリング状に成形された被測定体の半径方向に照射して、帯状又は線状の光よりなる光照射部を形成しこの光照射部の反射光を受光して測定するレーザーセンサにより構成されることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の測定検査装置。
【請求項５】
上記各センサは、２次元レーザーセンサであって、上記２次元レーザーセンサの照射する光は、各センサと被測定体との間の照射距離により照射長が規定されることを特徴とする請求項４に記載の測定検査装置。
【請求項６】
上記照射する光は、赤色レーザー光であることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の測定検査装置。
【請求項７】
上記形状処理手段は、上記複数のセンサと被測定体とを相対的に移動させて被測定体の複数箇所を測定して、データ処理することにより３次元の形状データを作成することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれかに記載の測定検査装置。
【請求項８】
タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、上記センサの出力により被測定体の形状を測定する形状処理手段を用いた測定検査方法であって、
上記被測定体の別部位を個別に測定する上記センサを複数個備え、上記各センサの出力で得られる上記別部位の形状を上記形状処理手段で合成することを特徴とする測定検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、タイヤを構成する構成部材の形状を検査する測定検査装置及びその方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば、ホイールのリム部分と当接し密着するタイヤのビード部を補強するタイヤの構成部材の一つであるビードコードは、タイヤのビード部内にビードフィラーとともに埋め込まれる。このビードコードは、心材となる環状をしたビードコアにビード線材を螺旋状に、かつ複数層にわたり巻付けられる。このように成形されたビードコードは、ゴム部材に覆われて略６角形に成形されビード部材となる。このビード部材の外周の片側には、成形されたビードフィラーが巻き付けて取り付けられる。ビードフィラーは、断面が略三角形状をした長手状のシート状の部材よりなり、ビード部材と接合する面は、略６角形状をなすビード部材の３辺と一致する形状に成形されている。
【０００３】
例えば、タイヤの構成部材であるビード部材とビードフィラーが接合されたビードスティフナの接合部分の良否を判定するものには、特許文献１に示すように、２次元レーザーセンサよりレーザーを照射し、その反射光を検知して良否の判定を行うようにしたものが提案されている。
【特許文献１】特開２００８−７４３２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の検査方法は、一台の２次元レーザーセンサにより測定、検査を行っている。この方法では、被測定体が大きいときには、２次元レーザーセンサを被測定体から離間し、被測定体が小さいときには２次元レーザーセンサを近接させて測定、検査を行っている。しかし、２次元レーザーセンサは被測定体に反射した光を検知して測定しているため、タイヤの構成部材としての被測定体に近接させて測定した場合と、この被測定体から離間させて測定した場合では測定の精度に違いが生じることとなる。そのため、被測定体の大小により、良、不良の判定の精度に差が生じ、すなわち検査の精度に差が生じるおそれがある。特に被測定体より離間し、被測定体の測定部分全体をカバーしようとする場合にあっては、レーザー反射光が受光面に入りにくくなり、反射光も弱くなって、測定不能となるか、モニタ画像の解像度が劣化してしまうおそれがあった。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するため、被測定体としてのタイヤの構成部材の大小に関らず形状の検査の精度に差が生じない測定検査装置及び方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の形態として、タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、センサの出力により被測定体の形状を演算する形状処理手段を備えた測定検査装置であって、測定検査装置は、被測定体の別部位を個別に測定するセンサを複数個備え、各センサの出力で得られる別部位の形状を形状処理手段で合成する構成とした。
本発明によれば、被測定体の別部位を個別に測定するセンサを複数個備え、各センサの出力で得られる別部位の形状を形状処理手段で合成することにより、一つのセンサで被測定体の測定が出来ない場合でも測定できる。さらに、各センサが最も精度よく測定できる距離を使用して測定できるので測定精度も向上する。
【０００７】
本発明の他の形態として、タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、センサの出力により被測定体の形状を演算する形状処理手段を備えた測定検査装置であって、測定検査装置は、被測定体の別部位を個別に測定するセンサを複数個備え、各センサの出力で得られる別部位の形状を形状処理手段で合成し、形状処理手段により合成された被測定体の合成形状と予め用意された基準形状とを比較して形状の良否を判定する判定手段を備える構成とした。
本発明によれば、被測定体の別部位を個別に測定するセンサを複数個備え、各センサの出力で得られる別部位の形状を形状処理手段で合成することにより、一つのセンサで被測定体の測定が出来ない場合でも測定できる。さらに、各センサが最も精度よく測定できる距離を使用して測定できるので測定精度も向上する。また、形状処理手段により合成された被測定体の合成形状と予め用意された基準形状とを比較して形状の良否を判定する判定手段を備えたことにより、予め用意された基準形状に対して被測定体の合成形状を比較して形状の良否を直ちに判別することができる。
【０００８】
本発明の他の形態として、形状処理手段は、各センサの出力により被測定体の断面形状を演算して出力し、複数のセンサは各センサの光照射部に重なりを有するように位置され、形状処理手段では、別部位の形状の重なり部分における高さが一致する点を重ね合わせて各被測定体の形状を合成する構成とした。
本発明によれば、形状処理手段が各センサの出力により被測定体の断面形状を演算して出力し、複数のセンサを各センサの光照射部に重なりを有するように位置させ、形状処理手段によって被測定体の別部位の形状の重なり部分における高さが一致する点を重ね合わせて被測定体の別部位の形状を合成することにより、被測定体の形状を光照射部の重なり部分において高さ方向にずれることなく合成することができる。
【０００９】
本発明の他の形態として、各センサから被測定体に帯状又は線状のレーザー光をリング状に成形された被測定体の半径方向に照射して、帯状又は線状の光よりなる光照射部を形成しこの光照射部の反射光を受光して測定するレーザーセンサにより構成した。
本発明によれば、各センサから被測定体に帯状又は線状のレーザー光をリング状に成形された被測定体の半径方向に照射して、帯状又は線状の光よりなる光照射部を形成しこの光照射部の反射光を受光して測定するレーザーセンサにより構成することにより、レーザーセンサから被測定体までの距離が正確に測定できるので、被測定体表面の微細な凹凸や変化を測定することができる。
【００１０】
本発明の他の形態として、各センサは、２次元レーザーセンサであって、２次元レーザーセンサの照射する光は、各センサと被測定体との間の照射距離により照射長が規定される。
本発明によれば、２次元レーザーセンサの照射する光は、各センサと被測定体との間の照射距離により照射長が規定されるため、一度に照射長分の測定をすることが可能となり、最も精度の良い照射距離を選んで測定することができる。さらに各センサを同じ高さに設ければほぼ同じ精度で被測定体を測定することができる。
【００１１】
本発明の他の形態として、照射する光は、赤色レーザーである。
本発明によれば、照射する光を赤色レーザーとしたことにより、ゴム製品などの黒色でレーザー光の反射率の悪い被測定体に対しても良い反射が得られ、精度の良い測定が可能となる。
【００１２】
本発明の他の形態として、形状処理手段は、複数のセンサと被測定体とを相対的に移動させて被測定体の複数箇所を測定して、データ処理することにより３次元の形状データを作成する。
本発明によれば、形状処理手段は、複数のセンサと被測定体とを相対的に移動させて被測定体の複数箇所を測定して、データ処理することで３次元の形状データが作成されるので、視覚的に見やすい表示を行うことが可能となり、どの部位に不良があるのかが一目瞭然となる。
【００１３】
本発明の他の形態として、タイヤの構成部材を被測定体として帯状又は線状の光を照射して、当該光の光照射部からの反射光を受光して被測定体の形状を測定するセンサと、センサの出力により被測定体の形状を測定する形状処理手段を用いた測定検査方法であって、被測定体の別部位を個別に測定するセンサを複数個備え、各センサの出力で得られる別部位の形状を形状処理手段で合成する方法とした。
本方法によれば、被測定体の別部分を個別に測定するセンサを複数個用い、各センサの出力で得られる被測定体の別部位の形状を形状処理手段で合成したことにより、一つのセンサで被測定体の測定が出来ない場合でも測定できる。さらに、各センサが最も精度よく測定できる距離を使用して測定できるので測定精度も向上する。
【００１４】
なお、上記の発明の概要は、本発明に必要な特徴のすべてを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となり得る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態１を説明する。
図１は、本発明に係るタイヤを構成する構成部材の測定検査装置１の概略構成図を示す。
本発明の測定検査装置１は、例えば、タイヤの構成部材のリング状のビードスティフナ７を被測定体として検査台８の載置面８ａに対して水平に載置し、このビードスティフナ７の片面（上面）７ａに対して、半径方向にかつ載置面８ａにはみ出すように帯状のレーザー光を照射して、光照射部Ｍを形成し、この光照射部Ｍの反射光を受光することによりビードスティフナ７の上面７ａの断面外形形状を測定する。
【００１６】
具体的には、ビード部材５とビードフィラー６の接合により成形されたビードスティフナ７の接合部分の測定検査を行う測定検査装置１は、コンピュータ２、モニタ３、２次元レーザーセンサ用コントローラ４（以下、コントローラ４と記す）、第１レーザーセンサ１０（以下、第１センサ１０と記す）、第２レーザーセンサ２０（以下、第２センサ２０と記す）、検査台８によって概略、構成される。第１センサ１０と第２センサ２０は、ホルダ３０によって一直線上に固定され、Ｍ１は第１センサ１０から照射されるレーザー光で形成される帯状の光照射部、Ｍ２は第２センサ２０から照射されるレーザー光で形成される帯状の光照射部で、これら光照射部Ｍ１，光照射部Ｍ２で帯状の光照射部Ｍが形成される。上記コンピュータ２とコントローラ４とにより形状処理手段が構成される。
【００１７】
図２は、本発明により測定されるタイヤの構成部材としてのタイヤＴの断面図を示す。
図２に示すように、タイヤＴのビード部Ｔ１には、概略すると、ビード部材５、ビードフィラー６よりなるビードスティフナ７が埋設される。
ビードスティフナ７を構成するビード部材５は、スチールワイヤなどからなり、図外のホイールリムとの内圧を保持したり、回転するタイヤに作用するトルクに対して、タイヤＴとホイールリムとの間に滑りが生じないようにタイヤＴをホイールリムに固定する役割を果たす。このビード部材５の周囲には、ゴムからなるビードフィラー６が設けられる。
ビードフィラー６は、タイヤのビード部分におけるカーカスＴ２の折り返し部分を満たし、ビード部Ｔ１の補強部材としての役割を果たす部材である。
【００１８】
図３は、加工されたビード部材５の拡大断面図を示す。
ビード部材５は、幾つかの層に分けられてビードコアＴ３にビードワイヤＴ４を巻き付けて環状に成形される。環状に成形されたビード部材５は、ゴム材Ｔ５で覆われて断面が略正六角形となるように成形される。
【００１９】
図４（ａ），（ｂ）は、ビード部材５とビードフィラー６よりなるビードスティフナ７の断面を示す。
図４（ａ），（ｂ）に示すように、ビード部材５に巻き付けられるビードフィラー６は、断面が長手状の略三角形状となるように成形された長手状のシート状の部材で、三角形状断面のうちビード部材５に巻付けられる台形凹状の巻付け面６ｍの３辺６ｇ，６ｈ，６ｉが上記ビード部材５の外側面の３辺５ｇ，５ｈ，５ｉと一致するように成形される。
つまり、ビード部材５の３辺５ｇ，５ｈ，５ｉとビードフィラー６の３辺６ｇ，６ｈ，６ｉとの接合において、ビード部材５の断面における４つの頂点５ａ，頂点５ｂ，頂点５ｃ，頂点５ｄとビードフィラー６の断面における４つの頂点６ａ，頂点６ｂ，頂点６ｃ，頂点６ｄとが接合する。具体的には、頂点５ａと頂点６ａ、頂点５ｂと頂点６ｂ、頂点５ｃと頂点６ｃ、頂点５ｄと頂点６ｄとがそれぞれ一致するように接合される。
【００２０】
図５は、ビード部材５にビードフィラー６を巻付けてビードスティフナ７が成形される図を示す。図６は、ビード部材５とビードフィラー６が接合されたビードスティフナ７を示す。
図５に示すように、ビード部材５とビードフィラー６は、互いの接合面を接着して巻付けられる。環状のビード部材５に一周分のビードフィラー６の巻付けが終了すると、ビードフィラー６は切断されたのちに両端面が接合されて、図６に示す環状をなすビードスティフナ７として成形される。
【００２１】
図７は、ビードスティフナ７の測定をビード部材５の中心から示した側面概念図である。図８は、ビードスティフナ７の測定の正面概念図を示す。
第１センサ１０と第２センサ２０は、２次元レーザーセンサを用い、２次元レーザーセンサの照射する光は、照射距離Ｈ１０，Ｈ２０により照射長Ｌ１０，Ｌ２０が規定される帯状の２次元の赤色レーザー光１１ａ，２１ａ（以下、レーザー光１１ａ，レーザー光２１ａと記す）である。このレーザー光１１ａ，２１ａをビードスティフナ７の上面７ａに照射して光照射部Ｍ１，光照射部Ｍ２よりなる光照射部Ｍを形成し、ビードスティフナ７の上面７ａにより上記光照射部Ｍで反射される反射光１１ｂ，２１ｂを各センサ１０，２０の備える受光部で受光して、ビードスティフナ７までの距離をそれぞれ測定して形状を測定する。
これにより、帯状のレーザー光１１ａ，２１ａが照射されたビードスティフナ７の上面７ａの光照射部Ｍ１，Ｍ２により、照射長Ｌ１０，Ｌ２０における断面外形形状を一度に測定することができる。すなわち、光照射部Ｍ１，光照射部Ｍ２の高さ方向の変化に対応して反射光１１ｂ，２１ｂが変化するので、この変化に基づき、第１センサ１０と第２センサ２０でビードスティフナ７の上面７ａの高さ方向の変化を、断面外形形状として捉えることができる。なお、検査台８の載置面８ａにレーザー光１１ａ，２１ａを照射することで、載置面８ａの位置を高さ方向に対して０レベルの基準位置として捉えることができる。
なお、このレーザー光１１ａ，２１ａは、照射距離Ｈ１０，Ｈ２０により照射長Ｌ１０，Ｌ２０が規定されるため、第１センサ１０と第２センサ２０とを同じ高さに位置することでビードスティフナ７に対して、ほぼ同じ精度で断面外形形状を測定することができる。さらに、赤色レーザー光を用いたことにより反射率の低いゴム部材に対しても良好な反射光１１ｂ，２１ｂが得られ、精度の良い測定が可能となる。
なお、本実施形態では、被測定体であるビードスティフナ７が黒色のゴムのため赤色レーザー光１１ａ，２１ａを照射する各センサ１０，２０を用いたが、測定する被測定体の色、素材によっては異なる色のレーザー光を照射するレーザーセンサを用いても良い。
【００２２】
図７に示すように、第１センサ１０と第２センサ２０は、載置面８ａに水平向きに載置されたリング状のビードスティフナ７の上面７ａにレーザー光１１ａ，２１ａを照射して、光照射部Ｍ１，Ｍ２よりなる光照射部Ｍを形成し、その反射光１１ｂ，２１ｂを受光部で検出し、図外のコントローラ４では検出された反射光１１ｂ，２１ｂの出力をそれぞれ処理して、半径方向の外形の形状を演算出力する。
なお、レーザー光の照射の方法は、各センサ１０，２０の受光部が反射光１１ｂ，２１ｂを受光できれば、いずれの角度で照射されても良い。
【００２３】
すなわち、図８に示すように、第１センサ１０は、ビードスティフナ７の内周側に帯状のレーザー光１１ａを照射長Ｌ１０で照射して光照射部Ｍ１を形成する。第２センサ２０は、ビードスティフナ７の外周側に帯状のレーザー光２１ａを照射長Ｌ２０で照射して光照射部Ｍ２を形成する。第１センサ１０と第２センサ２０は、各光照射部Ｍ１，Ｍ２が重なりＬ０を持ちつつビードスティフナ７の半径方向に一直線に帯状の照射部Ｍを形成するように配置される。
第１センサ１０と第２センサ２０により照射された帯状のレーザー光１１ａ，２１ａは、ビードスティフナ７の半径方向に延長するように照射され、図１に示す光照射部Ｍを形成する。これにより、光照射部Ｍに沿ってビードスティフナ７の上面７ａの半径方向の断面外形形状が測定される。しかし、光照射部Ｍ１と光照射部Ｍ２との重なりＬ０のために、後述するように光照射部Ｍ１，Ｍ２からの反射光１１ｂ，２１ｂにより得られる測定形状データｓ１，ｓ２には余分な重なり部分ｒ１，ｒ２が捕捉されることになる。
【００２４】
図９は、コンピュータ２での処理を示すブロック図である。
コントローラ４は、第１センサ１０と第２センサ２０とコンピュータ２が接続され、コンピュータ２から出力された制御信号１０１ａに基づき、第１センサ１０と第２センサ２０とが同期して測定するように制御する。このコントローラ４はコンピュータ２とともに本発明の形状処理手段１０２を構成する。
【００２５】
コンピュータ２は、測定の開始及び終了を制御する制御手段１０１と、上記測定により得られた測定形状データｓ１，ｓ２を合成した合成形状データｓ３と予め用意された基準形状Ａとを比較して形状の良否や各種の寸法を検出する判定手段１０３と、基準形状Ａと合成形状データｓ３と第１センサ１０及び第２センサ２０との相対的な配置関係などを記憶する記憶手段１０４とを備える。
【００２６】
制御手段１０１は、測定の開始及び終了をコントローラ４に制御信号１０１ａを出力する。
測定開始の制御信号１０１ａが入力されたコントローラ４は、第１センサ１０と第２センサ２０とに測定開始の測定開始信号４ａを出力する。このコントローラ４により第１センサ１０と第２センサ２０とを同期させながら測定がなされる。
【００２７】
次に、図１０（ａ），（ｂ）に示すように、コンピュータ２，コントローラ４よりなる形状処理手段１０２により測定形状データｓ１が処理されて得られる画像パターンＰ１と測定形状データｓ２が処理されて得られる画像パターンＰ２の合成について説明する。
図１０（ａ）のＰ１は画像パターンであり、照射部Ｍ１の反射光を第１センサ１０で受光して、測定形状データｓ１を得て、この測定形状データｓ１をコントローラ４、コンピュータ２で演算処理することで得られる画像パターンである。
図１０（ｂ）のＰ２は画像パターンであり、照射部Ｍ２の反射光を第２センサ２０で受光して、測定形状データｓ２を得て、この測定形状データｓ２をコントローラ４、コンピュータ２で演算処理することで得られる画像パターンである。
この画像パターンＰ１，Ｐ２を形成するための測定形状データｓ１，ｓ２中には、レーザー光１１ａ，２１ａの重なりＬ０で生じる同一形状の画像の重なり部分（図中の斜線部分）ｒ１，ｒ２がともに生成される。
図１０（ａ）に示すように、画像パターンＰ１における底面辺ｓ１６を０レベルの基準位置とした場合の傾斜辺ＭＡの長さ方向の各部位の高さ寸法ｓ１８、各角部ｓ１２，ｓ１３，ｓ１４の高さ寸法と、底面辺ｓ１６からのレーザー光２１ａの照射端部位ｓ１９の高さ寸法はコンピュータ２、コントローラ４による形状処理手段１０２で既知として得られ、測定形状データｓ１が生成される。
また、図１０（ｂ）に示すように、画像パターンＰ２における底面辺ｓ２５を０レベルの基準位置とした場合の傾斜辺ＭＢの長さ方向の各部位の高さ寸法ｓ２７、各角部ｓ２１，ｓ２２の高さ寸法と、底面辺ｓ２５からのレーザー光１１ａの照射端部位ｓ２４の高さ寸法はコンピュータ２、コントローラ４による形状処理手段１０２で既知として得られ、測定形状データｓ２が生成される。
【００２８】
したがって、図１０（ｃ）に示すように、測定形状データｓ１に対応する画像パターンＰ１と測定形状データｓ２に対応する画像パターンＰ２を載置面８ａからの反射光で得られる底面辺ｓ１６，ｓ２５を基準としてスライドし、合成する場合、既知の角部ｓ１２の高さ寸法と照射端部位ｓ２４の高さ寸法とが一致するように、また、角部ｓ２２の高さ寸法と照射端部位ｓ１９の高さ寸法とが一致するように合成することで、重なり部分ｒ１，ｒ２の重ね合わせが可能となり、縦方向の画像パターン線ｓ１７，ｓ２６及び不要部分である底面辺ｓ１６，ｓ２５を消去することで画像パターンＰ１，Ｐ２を合成してなる画像パターンＰより形成されたビードスティフナ７の上面７ａの断面外形形状が得られる。
【００２９】
このように画像パターンＰ１と画像パターンＰ２とを合成して、画像パターンＰを形成するのに際して、角部ｓ１２に対し、傾斜辺ＭＢにおける高さ寸法ｓ２７をサーチして高さが一致する照射端部位ｓ２４を検出してこれ等を一致させ、同時に角部ｓ２２に対し傾斜辺ＭＡにおける高さ寸法ｓ１８をサーチして高さが一致する照射端部位ｓ１９を検出してこれ等を一致させることで、図１０（ｃ）に示すように正確な合成が可能となり、画像パターンＰが得られる。
なお、実際は画像パターンＰ１，Ｐ２の合成に際して、測定形状データｓ１と測定形状データｓ２とを合成することで合成形状データｓ３を得て、この合成形状データｓ３に基づき画像パターンＰが生成される。画像パターンＰ１，Ｐ２は必ずしもモニタ表示されなくても良く、画像パターンＰのみがモニタ表示されれば良い。
【００３０】
このような手法で、図１に示したようにビードスティフナ７を載置面８ａ上に載置し、照射部Ｍ１と照射部Ｍ２とにより半径方向に延長する如く照射部Ｍを形成し、この工程をビードスティフナ７の周方向に沿って複数箇所行ってモニタ表示すれば、各箇所におけるビードスティフナ７のビード部材５とビードフィラー６との接合の良否を目視で判定できる。
さらに、形状処理手段１０２により各センサ１０，２０と被測定体であるビードスティフナ７を相対的に移動させてビードスティフナ７の複数箇所を測定して、測定結果をデータ処理することにより３次元の形状データを作成することもできる。
【００３１】
なお、ビードスティフナ７の基準モデルを以上と同様な手法で検出して基準モデルとして記憶手段に記憶しておき、この基準モデルの記憶データと上記ビードスティフナ７の外形形状の検出データとを自動的に比較する判定手段１０３を設けることで、目視によらず自動的に良否の判定が可能となる。
【００３２】
図１１（ａ）は、基準モデルの画像パターンＰＭ、図１１（ｂ）は、被測定体の画像パターンＰ、図１１（ｃ）は、基準モデル及び被測定体の寸法や判定を表示する表画像Ｓを示す。
例えば、図１１（ａ）に示すように、基準モデルの画像パターンＰＭと、この画像パターンＰＭの各角部ｓ１３，ｓ１４，ｓ２１及びｓ２１と角部ｓ１３との水平距離Ｌ１、角部ｓ２１と角部ｓ１４との水平距離Ｌ２を入力した図１１（ｃ）に示すような、表画像Ｓをモニタに表示することとし、図１１（ｂ）に示す実際の測定により画像パターンＰ１，Ｐ２を合成して得た画像パターンＰの画像及び各角部ｓ１３，ｓ１４，ｓ２１及び水平距離Ｌ１，水平距離Ｌ２のデータを同画像パターンＰの中に入力可能としておくこととし、コンピュータ２では、同一モニタでの図１１（ｂ）の上記画像パターンＰ中の各角部ｓ１３，ｓ１４，ｓ２１及び水平距離Ｌ１，水平距離Ｌ２をクリックすることで、表画像Ｓ中の測定した寸法データ（高さ、距離）欄Ｇに自動的に取り込んで入力するように構成することで、欄Ｇ内のデータと基準モデルのデータとを対比することで、画像パターンＰの良否判定が可能となる。
【００３３】
また、表画像Ｓ中に、判定良否の欄Ｆを設けることとし、形状処理手段１０２では基準モデルの高さ、距離データと、クリックして入力した欄Ｇ内の高さ、距離データとを対比し、判定手段１０３によって両者が許容範囲の誤差ならば“良”、許容範囲の誤差でない場合には“否”を表示するように構成すれば良い。
【００３４】
図１２（ａ），（ｂ）は、ビードフィラー６がビード部材５より一部離脱状態で一体化した図を示す。
このように図１２（ａ）に示すようにビードフィラー６がビード部材５より一部離脱状態で一体化されている場合には、図１２（ｂ）に示す水平距離Ｌ１，Ｌ２は、基準モデルの水平距離Ｌ１，Ｌ２に対し差が生じる。これが許容範囲ならば欄Ｆ中の水平距離Ｌ１，Ｌ２に良が表示され、許容範囲でなければ否が表示される。
上記の構成により、目視で実施している被測定体としてのビードスティフナ７の品質チェックを自動的に判定することが可能となり、ビードスティフナ７の全数の検査が可能となる。さらにこの品質検査を全数行うことにより、後工程に対して自動的に良品のみを供給するように装置を構成すれば、設備上の自動化を行うことができるようになる。
【００３５】
実施形態２
実施形態１で説明した画像パターンＰ１と画像パターンＰ２との合成の他の形態について説明する。
画像合成を容易にするためには、図１３に示すようにビードスティフナ７の上面７ａの任意の位置である境界部位Ｚで、光照射部Ｍ１，Ｍ２よりなる光照射部Ｍを形成するようにレーザー光１１ａの照射端１１ａｍと、レーザー光２１ａの照射端２１ａｍとが交差するように、第１センサ１０，第２センサ２０のホルダ３０に対する取り付け位置を図外の調整手段で調整して、各センサ１０，２０で照射部Ｍ１，Ｍ２を捕捉し、図１４に示す角部ｓ１２，角部ｓ２２の高さ寸法が同一寸法である画像パターンＰ１，Ｐ２を近接方向に水平移動することによりそのままの状態で合成できる。
【００３６】
実施形態３
画像パターンＰ１，Ｐ２の合成の他の形態について説明する。
画像パターンＰ１，Ｐ２との合成に際しては、形状データの高さ寸法を一致させるとして説明したが、図１５に示すように、タイヤの構成部材として支障のないマーカＭＫを凹状あるいは凸状としてビードスティフナ７に刻印して、各センサ１０，２０で検出するようにして、画像パターンＰ１，画像パターンＰ２を得てマーカＭＫが境界となるように画像パターンＰ１と画像パターンＰ２を重ねるように合成しても良い。
【００３７】
実施形態４
被測定体にレーザーを照射するレーザーセンサの他の形態について説明する。光照射部Ｍ１，光照射部Ｍ２，光照射部Ｍは帯状であるとして説明したが、線状であっても良い。この場合には、各レーザーセンサを水平にビードスティフナ７の半径方向に移動させて、線状のレーザー光を走査するさせることにより２次元の断面外形形状の測定をすることができる。つまり、レーザーセンサからビードスティフナ７の上面７ａに照射される光照射部Ｍからの反射光を受光して被測定体の高さを検出して断面外形形状を測定できるものであれば良い。
【００３８】
実施形態５
図１６は、画像パターンＰから寸法を表示する他の形態を示す。
測定により得られた画像パターンＰについての寸法データは、既知となっているのでこの画像パターンＰから寸法を表示する他の形態として、画像パターンＰに左右移動可能なカーソルＫＳを位置させ、このカーソルＫＳを左右に移動し、位置決めした後クリックすることで画像パターンＰの断面外形形状との交差ポイントＰＸの高さ寸法ＰＹを画像パターンＰの近傍に表示可能としても良い。このように処理可能とすれば、画像パターンＰのどの位置においても高さ寸法を知ることができる。
【００３９】
以上、本発明を実施形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施形態に記載の範囲には限定されない。上記実施形態に、多様な変更又は改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。そのような変更又は改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の実施形態に係る測定検査装置概略図。
【図２】本発明の実施形態に係るタイヤ断面図。
【図３】本発明の実施形態に係るビード部材断面図。
【図４】本発明の実施形態に係るビードスティフナの断面図。
【図５】本発明の実施形態に係るビード部材へのビードフィラー巻付け図。
【図６】本発明の実施形態に係るビードスティフナ外観図。
【図７】本発明の実施形態に係る測定方法概略側面図。
【図８】本発明の実施形態に係る測定方法概略正面図。
【図９】本発明の実施形態に係る形状処理手段を示すブロック図。
【図１０】本発明の実施形態に係る合成形状データの合成図。
【図１１】本発明の実施形態に係る画像パターン及び表示画像図。
【図１２】本発明の実施形態に係る接合不良の合成形状図。
【図１３】本発明の他の実施形態のレーザー照射図。
【図１４】本発明の他の実施形態に係る画像合成図。
【図１５】本発明の他の実施形態に係る画像合成方法を示す図。
【図１６】本発明の他の実施形態に係る測定結果表示方法を示す図。
【符号の説明】
【００４１】
１  測定検査装置、２  コンピュータ、３  モニタ、
４  ２次元レーザーセンサ用コントローラ（コントローラ）、５  ビード部材、
６  ビードフィラー、７  ビードスティフナ、
１０  第１レーザーセンサ（第１センサ）、１１ａ  赤色レーザー光（レーザー光）、
２０  第２レーザーセンサ（第２センサ）、２１ａ  赤色レーザー光（レーザー光）、
１０１  制御手段、１０２  形状処理手段、１０３  判定手段、１０４  記憶手段。
【図１】
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【図３】
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【図５】
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【図７】
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【図９】
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【図１０】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図２】
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【図４】
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【図６】
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【図８】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１６】
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