(57)【要約】【課題】ディスク装置内部に発生する微粒子を検出し、微粒子による障害の発生の可能性を知ることができる情報記録装置を提供する。【解決手段】筐体１内に配置された、ディスク媒体２とディスク媒体に対向して情報を書き込み／読み取りするヘッド５を有するディスク装置内に、ディスク媒体の高速回転に伴って前記筐体内を流れる気流の流路に配置された質量センサ８ａ〜８ｃを配置する。質量センサ８ａ〜８ｃが微粒子の急激な発生を検出すると、データ破壊あるいはヘッドクラッシュの可能性を示すアラームを発する。【選択図】図２
2010009736.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
筐体と、
前記筐体内に配置された、少なくとも１つの回転する記録媒体と該記録媒体に対向して情報を書き込み／読み取りするヘッドと、
前記記録媒体の回転に伴って前記筐体内を流れる気流の流路に配置された、微粒子を検出する少なくとも１つの質量センサと、
前記質量センサからの出力を監視する監視回路と、
を有する情報記録装置。
【請求項２】
前記質量センサは、前記筐体の内壁角部に配置される請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
前記質量センサは、前記筐体の内壁から突き出して配置される請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記監視回路が前記質量センサの出力の変化量が所定の閾値を超えたと判断すると、アラームを発する請求項１〜３のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記監視回路は、書き込み／読み取りヘッドを前記記録媒体のデータ領域から退避させる請求項１〜４のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明は、情報を記録するために回転する記録媒体を有する情報記録装置に関し、特に微粒子の発生を監視することができる情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータ用外部記憶装置などに使用されている磁気ディスク装置は、磁気ディスクが高速で回転することにより生じた空気の流れを利用して記録再生ヘッドを浮上させ、アクチュエータにより記録再生ヘッドを所望のトラックに位置決めしてデータの記録または再生を行う。
【０００３】
磁気ディスクと記録再生ヘッドは、磁気ディスク装置の動作中ごく微小な間隙を保ち浮上している。この間隙に塵埃粒子などの微粒子すなわちパーティクルが入り込むと、記録再生ヘッドの記録再生素子の劣化やディスクへのダメージが生ずることがある。記録再生素子が劣化したり、ディスクがダメージを受けると、ディスク上に記録された情報が読み出し不能となったり、記録された情報が破壊される等の障害を引き起こす。最悪の場合は、ディスク装置全体が使用不能となるクラッシュに至る場合もある。年々記録密度が高まり、ヘッドとディスク間の微小間隙がより狭くなっているので、より小さな微粒子によっても障害が発生する可能性がある。
【０００４】
なお、従来、ハードディスク磁気記録媒体の容器内のガス量の変化をモニタすることが提案されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−３５１８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記問題に鑑み、ディスク装置内部に発生する微粒子の発生を早期に検出することができる情報記録装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本情報記録装置は、筐体と、前記筐体内に配置された、少なくとも１つの回転する記録媒体と該記録媒体に対向して情報を書き込み／読み取りするヘッドと、前記記録媒体の回転に伴って前記筐体内を流れる気流の流路に配置された、粒子状物質を検出する少なくとも１つの質量センサと、前記質量センサからの出力を監視する監視回路とを有する。
【０００８】
前記質量センサは、前記エンクロージャの内壁角部に配置されてもよく、前記エンクロージャの内壁から突き出して配置されてもよい。
【０００９】
さらに、前記質量センサは、記録媒体間に存在する部材に搭載されるようにしてもよく、前記書き込み／読み取りヘッドを支持するアクチュエータに搭載されるようにしてもよい。
【００１０】
前記監視回路が前記質量センサの出力の変化量が所定の閾値を超えたと判断すると、アラームを発するようにしてもよく、前記監視回路は、書き込み／読み取りヘッドを前記記録媒体のデータ領域から退避させるようにしてもよい。
【発明の効果】
【００１１】
本情報記録装置によれば、ディスク装置内部に発生する微粒子を早期に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本実施形態で使用する質量センサの一例の動作を説明する図である。
【図２】本実施形態によるディスク装置の一例を示す図である。
【図３】図２のディスクエンクロージャ内の気流のシミュレーション結果を示す図である。
【図４】本実施形態によるディスク装置の他の例を示す図である。
【図５】ディスク装置内に発生する粒子の計測例を示す図である。
【図６】複数のディスク媒体間に配置される質量センサを示す図である。
【図７】本実施形態によるディスクエンクロージャ内の環境のモニタのための概略構成を示す図である。
【図８】本実施形態による質量センサの出力の一例を示す図である。
【図９】本実施形態による質量センサの出力の他の例を示す図である。
【図１０】本実施形態によるディスクエンクロージャ内の環境のモニタのための動作フローを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図面を参照して実施の形態を説明する。
図１は、本実施形態において塵埃粒子をモニタする質量センサの動作を説明する図である。本実施形態において塵埃粒子をモニタする質量センサは、特定のセンサに限定されるものではないが、例えば、ＱＣＭ（Quartz Crystal Microbalance）法を用いたＱＣＭセンサ、表面弾性波（(Surface Acoustic Wave)を用いた弾性波マイクロセンサ、ＭＥＭＳ(Micro Electro Mechanical Systems)を用いた質量センサなどがある。
【００１４】
図１には、本実施形態に使用する質量センサであるＱＣＭセンサ８が示されている。ＱＣＭセンサ８は、水晶振動子８１を挟む銀電極８２、８３に発振回路８４を接続して水晶振動子８１を共振させる。物質が水晶振動子８１の銀電極８２、８３に付着すると、物質の質量が加わることにより、振動している水晶振動子８１の共振周波数が変化する。共振周波数の変化を周波数カウンタ８５で検出することにより、物質の付着量が分かる。銀電極８２、８３のそれぞれの表面にコーティング層８６、８７を設けることもできる。
【００１５】
図２は、本実施形態による質量センサが配置された磁気ディスク装置の一例を示す図である。図２には、磁気ディスク装置１０が示されている。磁気記録媒体であるディスク媒体２は、筐体であるディスクエンクロージャ１に固定されたスピンドルモータ３に回転可能に支持されている。ディスク媒体に対して情報の書き込み／読み出しを行うヘッド５は、ディスク媒体に対向するように、アクチュエータ４の先端に配置されている。アクチュエータ４は、ボイスコイル６によりディスク媒体の略半径方向に移動可能に、ディスクエンクロージャ１に固定されている。磁気ディスク装置１０は、ロード・アンロードタイプであるので、ディスク媒体２の外側近傍には、ランプ７を備えている。ディスク装置の停止時にアクチュエータ４は、ディスク媒体２から退避して、ランプ７に置かれる。ロード・アンロードタイプは、ＣＳＳ（Contact Start Stop）タイプとは異なり、ヘッド５とディスク媒体２とが接触することがない。
【００１６】
本実施形態では、発生する微粒子を検出するために質量センサ８ａ〜８ｂが配置される。質量センサ８ａと８ｂとは、エンクロージャ１の内壁角部に貼り付けるようにして取り付けられている。質量センサ８ｃは、質量センサ８ａ、８ｂに代えて、エンクージャ１の内壁中間部に配置する場合の例を示している。エンクロージャ１の内壁中間部に配置される質量センサ８ｃは、内壁から突き出るようにして配置する。
【００１７】
磁気ディスク装置１０が動作中には、ディスク媒体２が高速で回転することにより生じる空気流れによりヘッド５が浮上する。ヘッド５は、アクチュエータ４により所望のトラックに位置決めされ、データの書き込み／読み出しが行われる。エンクロージャ内で発生する微粒子は、ディスク媒体２の高速回転によって生じる気流に沿って流れ、図２の矢印で示す気流の通路に配置されている質量センサ８ａ、８ｂあるいは質量センサ８ｃに付着する。
【００１８】
付着した微粒子により質量センサ８ａ〜８ｃの出力は変化する。質量センサ８ａ〜８ｃの出力の変化量が所定の閾値より大きい場合は、アラームが発せられる。また、ヘッド５は、ディスク媒体２のデータ領域から退避してランプ７に載置される。このようにして、発生した微粒子は早期に検出することができ、所望の対策をとることができる。
【００１９】
図３は、図２の磁気ディスク装置で発生する気流のシミュレーション結果を示す図である。ディスク媒体は、反時計回りに高速回転する。ディスク媒体の高速回転により発生する気流の一部は、ディスク媒体上から図２の下内壁に沿って右方向に進む。矢印Ｐで示されるように、図２の下内壁に沿って進む気流は、さらに図２の右内壁に沿って図の下方から上方へ向かい、図２の上内壁に沿って左方向に進み、ディスク媒体上の気流に合流している。
【００２０】
図３のシミュレーション結果からみて、エンクロージャ内の気流が当たる位置に質量センサを配置するのがよいことがわかる。本実施形態では、質量センサが容易に配置できるか否かも考慮して、図２に示すように、エンクロージャ１の内壁角部に質量センサ８ａ、８ｂを貼り付けること、あるいはエンクロージャ１の内壁からセンサ８ｃを突出させて配置している。エンクロージャ１の内壁からセンサを突出させる場合は、内壁に対して直交する方向に配置するのが好ましい。
【００２１】
図２に示す例では、質量センサ８ａ、８ｂあるいは８ｃを配置しているが、質量センサの数は、少なくとも１つあればよく、例えば質量センサ８ａだけ配置するようにしてもよい。また、質量センサ８ａ〜８ｃすべてを配置してもよい。さらに４個以上配置してもよい。また、質量センサの配置個所も適宜選択できる。さらに、例えば質量センサ８ａと８ｃを用いてもよいし、内壁から突出する質量センサを２つ以上用いてもよい。その他、気流内であればどこに配置してもよい。質量センサの種類も適宜選択でき、配置個所によって質量センサの種類を変えてもよい。
【００２２】
図２では、ランプ７を有するロード・アンロードタイプの磁気ディスク装置を説明したが、ランプ７を備えることのない、ＣＳＳタイプの磁気ディスクにも同様に質量センサを配置することができる。ＣＳＳタイプの磁気ディスクでは、アラームが発せられたとき、ヘッドは、ディスク媒体のデータ領域から退避し、ディスク媒体の内周にあるランディング・ゾーンに載置される。
【００２３】
図４は、本実施形態による質量センサが配置された磁気ディスク装置の他の一例を示す図である。図２のものと同機能を有する部品には同一の番号を付している。図４に示す磁気ディスクでは、図２のものとエンクロージャ１内の気流の流れが相違している。気流通路の相違に対応して、図４では、質量センサ８ｅ〜８ｇが配置される。質量センサ８ｅ、８ｆは、図２のものと同様の内壁角部に貼り付けるようにして配置される。質量センサ８ｇは、矢印で示す気流を受けるように、図左角部に貼り付けるように配置される。いずれも、気流に乗って運ばれる微粒子の捕捉を確実に行うことができるように、エンクロージャ内の気流内に気流に直面するように配置されている。
【００２４】
質量センサ８ｈは、エンクージャ１の内壁中間部から突き出るようにして配置されたセンサである。質量センサ８ｈは、質量センサ８ｅ〜８ｇに代えて用いることができる。さらに、質量センサ８ｅ〜８ｇとともに用いることができる。質量センサの数、配置場所、種類、組み合わせは、前述のとおり適宜採用できる。
【００２５】
図５は、ディスク装置のエンクロージャ内に発生する微粒子の実測例を示す図である。図５に示すグラフの横軸は時間軸で、計測のサンプリング間隔は１０秒である。縦軸には発生した粒子のカウント数を示す。
【００２６】
ディスク装置のエンクロージャ内に発生する微粒子のほとんどは、エンクロージャ内に配置されている粒子除去用のフィルタ（図示せず）などに吸着され、数ミリ秒〜数十秒間の比較的短い時間で除去される。図５の例では、粒子が発生してから長くても３０秒程度で消失している。しかしながら、微粒子が発生して吸着により粒子数が減少するまでの短い時間が最も危険な状態となる。この間に微粒子がヘッドと記録媒体との間隙に到達するとデータ破壊あるいはヘッドクラッシュが生じる場合がある。
【００２７】
本実施形態では、発生した微粒子が気流に乗って運ばれる途中で質量センサにより検出するので、早期の検出が可能で、データ破壊あるいはヘッドクラッシュが生じる可能性を減少させることができる。
【００２８】
ところで、エンクロージャ内に発生する汚染物質には、微粒子のほかにガス状物質も存在する。通常の使用状態ではディスク装置内のガス状物質は極めて微量で、ガス状物質の変化が信頼性に影響を及ぼすのは、少なくとも数時間〜数日を要する。本実施形態は、上述のように短時間で大きな影響の可能性がある微粒子に対して効果を発揮する。
【００２９】
図６は、本実施形態による質量センサをディスク媒体の近傍に配置する例を示す図である。図６に示すように、磁気ディスク装置は、スピンドルに回転可能に支持されたディスク媒体２−１〜２−３を複数枚備えている場合が多い。複数枚のディスク媒体２−１〜２−３間には、気流の整流や媒体の振動の抑制を行うためのスポイラ９−１〜９−４が配置されている。ディスク媒体２近傍に発生する微粒子を効果的にモニタするため、質量センサ８ｊ〜８ｍをスポイラの上面に配置する。ディスク媒体の外周部は、周速が速く、気体流の流量も大きいので、質量センサ８ｊ〜８ｍは、ディスク媒体の外周部に近接して配置するのが好適である。また、質量センサ８ｊ〜８ｍは、スポイラの下面に配置することもできる。
【００３０】
なお、質量センサ８ｊ〜８ｍに代えて、スポイラ支持体９のスポイラ９−１〜９−４の間に配置された質量センサ８ｖ〜８ｘを用いることもできる。
【００３１】
さらに、ディスク媒体に対して情報を書き込み／読み出すためのヘッド５−１〜５−６をそれぞれ有するアクチュエータ４−１〜４−６に質量センサ８ｐ〜８ｕを配置することもできる。この場合も、質量センサ８ｐ〜８ｕは、ディスク媒体２の外周部に近接して配置する。本例では、質量センサ８ｐ〜８ｕは、アクチュエータ４−１〜４−６の下面に配置されているが、アクチュエータ４−１〜４−６の上面に配置してもよい。
【００３２】
なお、図６は、質量センサの配置可能場所を示すためだけのものであり、ディスク媒体２の数や、アクチュエータ４−１〜４−６とスポイラ９−１〜９−４との位置関係を限定するものではない。
【００３３】
スポイラあるいはアクチュエータに質量センサを搭載する場合、記録媒体の周速が速く装置内に内包される気体の流量が大きい媒体外周部に近接させて配置するのが好ましい。また、質量センサは、スポイラあるいはアクチュエータの、ディスク媒体の回転と共に流れる気流が直接当たる側、すなわち上流側に配置するようにしてもよい。
【００３４】
図７は、本実施形態のディスク装置の概要を示すブロック図である。図７では、ディスクエンクロージャ１内の構造は省略して、特定の部材のみを示す。ディスク媒体２、ヘッド５を有するアクチュエータ４、質量センサ８を有するディスクエンクロージャ１は、駆動制御回路１２に接続して駆動制御される。駆動制御回路１２は、例えばパーソナルコンピュータのような上位装置あるいは上位システムに接続される。
【００３５】
監視回路１１には質量センサ８の検出信号が入力して、微粒子の発生が監視される。質量センサ８から定期的に出力される検出信号は、一時的なデータ保存のための揮発性メモリ１３に記憶される。揮発性メモリへのデータの記録周期は、可能な限り短い周期とするのがよいが、各種条件を考慮して適宜定めることができる。また、予め定める定期記録の周期を最短周期よりも長く設定しておく通常モードと、異常値が確認された場合、定期周期よりも短い周期で記録できる異常モードを設定することもできる。さらに異常モードを２段階に設定するなど３つ以上の周期をもつ記録モードを持ち、データを保持することもできる。
【００３６】
また、過去に遡って質量センサ８の変化を知るために、検出データを揮発性メモリ１３から不揮発性メモリ１４に記録する。さらに、ディスク装置に実装されたメモリの記憶容量やデータの記録周期やなどを考慮しつつ、不揮発性メモリ１４からディスク媒体２上へデータを記録することもできる。
【００３７】
ディスクエンクロージャ１内に温度センサ１６を配置して、ディスク装置の使用環境やディスク装置自身の発熱による温度変化を検出して、監視回路１１内の補正回路１７により質量センサ８の出力を補正する。質量センサ８の出力を補正することにより、検出精度の向上を図ることができる。
【００３８】
微粒子は、空中を浮遊している状態では、プラスに帯電する事が一般的に知られている。本実施形態では、ディスクエンクロージャ内にバイアス電圧印加回路１９を配置して、バイアス電圧印加回路１９により質量センサ８の表面をマイナスに帯電させ、プラスに帯電している微粒子を吸着させる。バイアス電圧印加回路１９の印加電圧は自由に変更できるので、吸着特性を調整することができる。
【００３９】
また、質量センサ表面をマイナスに帯電しやすい状態とするためには、例えばテフロン（登録商標）ポリエチレンアクリルなどの電子受容性の高い材料をコーティングすることも可能である。図１に示すコーティング層８６、８７として電子受容性の高い材料を用いることで、センサ表面がマイナスに帯電しやすくなり、プラスに帯電している粒子を選択的に吸着することができる。電子受容性の高い材料のコーティングは、バイアス電圧の印加と併用するとこともできる。
【００４０】
バイアス電圧印加回路１９により質量センサ８の電極をプラスに帯電させて、マイナスに帯電した粒子を選択的に吸着することもできる。マイナスに帯電した粒子を選択的に吸着するためには、質量センサ８の電極上のコーティング層８６、８７を、例えばナイロン、レーヨンなどの電子を放出しやすい材料で形成することができる。電子を放出しやすい材料のコーティング層により、センサ表面はプラスとなり、マイナスに帯電した粒子状物質を選択的に吸着させることができる。電子を放出しやすい材料によるコーティングと、バイアス電圧印加回路１９により質量センサ８の表面をプラスに帯電させることとを併用することもできる。
【００４１】
なお、図７では、監視回路１１は、ディスクエンクロージャ１の外部に配置されているが、ディスクエンクロージャ１の内部に配置するようにしてもよい。また、バイアス電圧印加回路を監視回路１１内に配置するようにしてもよい。
【００４２】
図８は、質量センサの出力である周波数の変化の一例を説明する図である。
質量センサであるＱＣＭセンサの銀電極に微粒子が付着して、質量が増加すると共振周波数は下がり、周波数の変化量が増大する。図８によると、時間ｔ１から微粒子が急激に付着していることがわかる。微粒子に代表される粒子状物質は比較的質量が大きく、質量センサ表面に付着した場合センサの変化量が大きい。したがって、質量センサの周波数の単位時間当たりの変化量を用いて付着量を検出することにより、ディスクエンクロージャ内に発生する粒子状物質の早期の検出が可能となる。
【００４３】
周波数の変化量は、予め定められている閾値と比較され、閾値を超えると、アラームを発したり、センサをディスク媒体の動作位置から退避させて、微粒子をヘッドとディスクの間に挟みこむという事故を避ける。ヘッドを、ディスク媒体の動作位置からディスク媒体のデータ領域外に退避させる方法は、ディスク装置の種類によって異なる。ＣＳＳタイプのディスク装置は、ヘッドを最インナーのデータ領域外に退避させる。ロード・アンロードタイプのディスク装置は、ヘッドをディスク面から外し、ディスク近傍に配置されたランプに載置する。
【００４４】
銀電極に付着した微粒子は、付着したまま脱落することがないので、時間ｔ２以降の変化が見られない状態では、新たな微粒子が発生していないことがわかる。したがって、ｔ１以降の急激な周波数変化でヘッドを退避させている場合は、ｔ２以降の適当な時間でヘッドの退避を解除することができる。しかしながら、ｔ３では、急激な変化を示しているので、ヘッドを退避させることになる。
【００４５】
図９は、質量センサの出力である周波数の変化の他の例を説明する図である。図９に示すように、微粒子の急激な変化がなく徐々に増加して行く場合もある。このようなときには、周波数の変化量ではなく、センサに付着する粒子の積算値に対応する周波数値自体を、ディスクエンクロージャ内の環境の指標とすることもできる。粒子の積算値を指標とする場合は、例えば図８のｆ１に示すような予め閾値となる周波数を定めておいて、センサ出力が閾値ｆ１を越えるときにアラーム状態に移行するように設定する。なお、周波数の変化量と周波数の値とを組み合わせて、ディスクエンクロージャ内の環境の指標とすることもできる。
【００４６】
図１０は、質量センサの出力によりディスク媒体に対する情報の書き込み／読み取りを制御するフローチャートの一例を示す図である。ディスク装置１０が起動して、ディスク２が高速回転し始めると、質量センサ８の検出値であるセンサ値が、監視回路１１により定期的に読み取られる（ステップＳ１）。監視回路１１では、得られたセンサ値から直前のセンサ値の差分をとり、センサ値の変化量を算出する（ステップＳ２）。
【００４７】
次に、算出されたセンサ値が、予め定められた閾値と比較される（ステップＳ３）。微粒子の急激な発生があり、質量センサ８の周波数の変化量である算出値が、閾値より大きくなると、ヘッド５が退避状態にあるか否かが判定される（ステップＳ４）。退避状態でなければ、アラームを発するとともに、ヘッド５をデータ領域外に自動退避させる（ステップＳ５）。
【００４８】
本実施形態では、アラームは、駆動制御回路１２を介して上位システムに通報される。したがって、通報を受けた管理者は、ディスク装置１０に記録された情報が破壊される危険性を把握できるため、危険性に応じて該当のディスク装置１０からデータを退避するあるいはディスク２の交換をする等の対応措置をとることができる。
【００４９】
図１０のフローでは、アラームを発するとともに、ヘッド５をデータ領域外に自動退避させているが、アラームの報知のみを行うようにすることもできる。例えば、複数の閾値を設定し、危険度に応じて対応措置をとるような場合、危険度が低い場合にはヘッド５をデータ領域外に自動退避させることなく、アラームの報知のみを行うようにすることもできる。
【００５０】
ステップＳ５による対応が終了すると、センサ値を記録して（ステップＳ６）、ステップＳ１に戻る。ステップＳ６では、算出した変化量も記録することもできる。センサ値のデータは、１つのアドレスに積算稼働時間とセンサ値とを記録する形式とすることができる。また、通常の定期データ格納領域と異常発生時のデータ格納領域とを異ならせて管理することもできる。
【００５１】
ステップＳ４で、ヘッドが退避状態にあれば、強制復帰コマンドが発行されているか否かがチェックされる（Ｓ７）。ヘッドが退避状態にある場合とは、以前に微粒子の急激な発生があってヘッドをディスクの動作位置から退避させている場合を含む。強制復帰コマンドは、ディスク装置１０がアラーム状態にあってヘッド５が退避している場合でも、強制的に通常モードに復帰させるコマンドである。例えば、重要なデータを読み出したい場合など、リスクをおかしても動作させたい場合に、強制復帰コマンドが使用できる。
【００５２】
ステップＳ７で、強制復帰コマンドが発行されていると、ステップＳ１０に進み、アラームおよびヘッド退避を解除して通常モードに復帰する。その後、センサ値が記録されて（ステップＳ６）、ステップＳ１に戻る。
【００５３】
ステップＳ３で、周波数変化量である算出値が、閾値を超えていない、すなわち微粒子の発生が少ないと判断されると、ヘッド５がディスク媒体２の動作位置から退避している状態にあるか否かが判断される（ステップＳ９）。退避状態になければ、ステップＳ６でセンサ値が記録され、ステップＳ１に戻る。
【００５４】
ステップＳ９で、ヘッド５がディスク媒体２の動作位置から退避している状態にあれば、アラームを解除し、ヘッド退避も解除して、通常モードに戻る（ステップＳ１０）。その後センサ値／算出値が記録されて（ステップＳ５）、ステップＳ１に戻る。
【００５５】
本実施形態では、微粒子の発生を検出して、ヘッドを退避させるので、ディスク装置のクラッシュやデータの破壊を防止することができる。また、ヘッドが媒体上のデータ領域から退避している間においても、質量センサはモニタを継続し、アラームに該当する場合はヘッドの退避状態を維持する。時間経過とともに判定基準を下回った場合には、アラーム状態を解消し、通常の動作モードに復帰する。さらに、アラームの継続中でも質量センサの値を読み出すことで、ディスク装置あるいは上位システムの管理者は、現在のディスク装置内の状況を知ることができる。
【００５６】
図１０の動作フローのステップＳ３では、質量センサが出力する周波数の変化量をモニタすることにより、アラームを発するように説明しているが、粒子の付着量に対応する周波数値をモニタすることもできる。すなわち、周波数値が所定の値を超えた場合、アラームを発するようにすることもできる。
【００５７】
本実施形態によると、微粒子の発生を検出することにより、クラッシュと呼ばれるヘッドと媒体の破壊、噛み込み傷などによって発生する物理的なヘッドの損傷またはデータの部分的な破壊の可能性を事前に検知することができる。
【００５８】
そして、ディスク装置自身が自動的にヘッドをデータ記録領域から退避させるので、ディスク装置に記録された情報が読み出し不能となる現象、または情報が破壊される可能性を最小限にとどめることができる。
【００５９】
さらに、ディスクエンクロージャ内部の汚染の発生状況を定期的に記録しているので、過去の情報を読み出すことによって、ディスク装置の現状を知ることができ、アラームがでなくても所望の対応措置をとることもできる。
【００６０】
本実施形態では、磁気ディスク装置を例にして説明したが、磁気ディスク装置のみならず、光ディスク、光磁気ディスクなど回転する記録媒体に情報を記憶する装置であれば、本実施形態を適用することができる。
【００６１】
以上説明した実施形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００６２】
（付記１）
筐体と、
前記筐体内に配置された、少なくとも１つの回転する記録媒体と該記録媒体に対向して情報を書き込み／読み取りするヘッドと、
前記記録媒体の回転に伴って前記筐体内を流れる気流の流路に配置された、微粒子を検出する少なくとも１つの質量センサと、
前記質量センサからの出力を監視する監視回路と、
を有する情報記録装置。
（付記２）
前記質量センサは、前記筐体の内壁角部に配置される付記１に記載の情報記録装置。
【００６３】
（付記３）
前記質量センサは、前記筐体の内壁から突き出して配置される付記１に記載の情報記録装置。
【００６４】
（付記４）
前記記録媒体は、同軸の回転軸に間隔をあけて支持された複数の記録媒体を有し、前記質量センサは、前記記録媒体間に配置される部材に搭載される付記１に記載の情報記録装置。
【００６５】
（付記５）
前記質量センサは、前記書き込み／読み取りヘッドを支持するアクチュエータに搭載される付記１に記載の情報記録装置。
【００６６】
（付記６）
前記監視回路が前記質量センサの出力の変化量が所定の閾値を超えたと判断すると、アラームを発する付記１〜５のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【００６７】
（付記７）
前記監視回路は、さらに書き込み／読み取りヘッドを前記記録媒体のデータ領域から退避させる付記１〜６のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【００６８】
（付記８）
不揮発性メモリを備え、前記質量センサの出力は任意の周期で該不揮発性メモリおよび前記記録媒体の少なくとも１つに記録される付記１〜７のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【００６９】
（付記９）
前記質量センサに所定極性のバイアス電圧を印加するバイアス電圧印加回路を備える付記１〜８のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【００７０】
（付記１０）
前記質量センサは、電子受容性の高い材料で形成される被覆層を有する付記１〜９のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【符号の説明】
【００７１】
１    ディスクエンクロージャ
２    ディスク媒体
３    スピンドル
４、４−１〜４−６    アクチュエータ
５    ヘッド
６    ボイスコイル
７    ランプ
８    質量センサ
８２、８３    電極
８６、８７    コーティング層
８ａ〜８ｇ    質量センサ
８ｊ〜８ｍ    質量センサ
８ｐ〜８ｕ    質量センサ
９    スポイラ支持部
９−１〜９−４    スポイラ
１１    監視回路
１３    揮発性メモリ
１４    不揮発性メモリ
１６    温度センサ
１７    補正回路
１９    バイアス電圧印加回路
【図１】
2010009736.tif 000003
【図２】
2010009736.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図３】
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