(57)【要約】【課題】ＧＵＩツールでテスタ操作を行うのにあたり、対応するＣＵＩコマンドも併せて出力できるＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの親和性の高い半導体テスタを提供すること。【解決手段】ＧＵＩツールで操作を行うように構成された半導体テスタにおいて、前記ＧＵＩ操作に対応するＣＵＩコマンドを出力するコマンド表示モジュールと、このコマンド表示モジュールから出力されるＣＵＩコマンドを所望の形態で出力するＣＵＩコマンドログ出力部を設けたことを特徴とするもの。【選択図】                    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＧＵＩツールで操作を行うように構成された半導体テスタにおいて、
前記ＧＵＩ操作に対応するＣＵＩコマンドを出力するコマンド表示モジュールと、
このコマンド表示モジュールから出力されるＣＵＩコマンドを所望の形態で出力するＣＵＩコマンドログ出力部を設けたことを特徴とする半導体テスタ。
【請求項２】
前記コマンド表示モジュールには、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係を表す第１のテーブルと、パラメータ作成モジュールを表す第２のテーブルが設けられていることを特徴とする請求項１記載の半導体テスタ。
【請求項３】
前記ＣＵＩコマンドログ出力部は、前記ＣＵＩコマンドログを、一連のログとしての表示とログファイル出力の少なくともいずれかの形態で出力することを特徴とする請求項１または請求項２記載の半導体テスタ。
【請求項４】
前記ＣＵＩコマンドログのファイル出力に基づき、半導体テスタ操作を自動化するためのシェルスクリプトが作成されることを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれかに記載の半導体テスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体テスタに関し、詳しくは、操作用インターフェースの改善に関するものである。
【０００２】
従来から、半導体テスタのファイル設定や実行操作などの手段として、たとえば特許文献１にも記載されているように、操作端末からＣＵＩ(Character User Interface)コマンドを入力することによる操作が行われてきた。
【０００３】
これに対し、近年、半導体テスタの分野でも、分かりやすく簡単なインターフェースとして図４に示すようなＧＵＩ(Graphic User Interface)ツールを用いることが多くなり、主に初心者を中心として利用頻度が高くなっている。
【０００４】
図４において、テスタコンソールのＧＵＩツール１０に設けられている「ロード」ボタン１１が選択操作されると、テスタ操作ライブラリ２０に格納されているロードや削除などの細かな処理単位ごとに用意された複数のプログラムの中から、ロード用のプログラム２１が呼び出され、記述されている所定の処理（プログラムのロード）が実行される。
【０００５】
同様に、テスタコンソールのＧＵＩツール１０に設けられている「置き換えロード」ボタン１２が選択操作されると、テスタ操作ライブラリ２０に格納されている複数のプログラムの中から削除用のプログラム２２とロード用のプログラム２１が呼び出され、記述されているプログラムの削除とプログラムのロードなどの所定の処理が実行される。
【０００６】
特許文献１には、キャラクタ・ユーザ・インタフェースを使ったＩＣ試験装置における不良解析装置の構成が開示されている。
【０００７】
【特許文献１】特開２０００−３１０６６９
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
一般に、テスタコンソールからのテスタ操作であれば、ＧＵＩツールを利用することが可能である。ところが、たとえばネットワーク経由でテスタ操作を行いたい場合には、ネットワークの速度や、クライアントとなるコンピュータの状況によってはＧＵＩツールを利用できない場合があり、ＧＵＩ操作と同じことが行えるＣＵＩコマンド操作を知る必要性もある。
【０００９】
これとは逆に、従来からＣＵＩコマンドでのテスタ操作に習熟しているユーザには、従来のＣＵＩコマンド操作に対応したＧＵＩ操作が何であるのかを直感的に理解しにくいという問題があった。
【００１０】
また、テスタ操作の自動化にあたり、ＧＵＩツールでは実現が困難で、ＯＳのシェルが直接処理・解釈できるシェルスクリプトを利用しなければならない場合にも、ＧＵＩ操作と同じことができるＣＵＩコマンド操作を知る必要性がある。
【００１１】
本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、ＧＵＩツールでテスタ操作を行うのにあたり、対応するＣＵＩコマンドも併せて出力できるＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの親和性の高い半導体テスタを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
ＧＵＩツールで操作を行うように構成された半導体テスタにおいて、
前記ＧＵＩ操作に対応するＣＵＩコマンドを出力するコマンド表示モジュールと、
このコマンド表示モジュールから出力されるＣＵＩコマンドを所望の形態で出力するＣＵＩコマンドログ出力部を設けたことを特徴とする。
【００１３】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の半導体テスタにおいて、
前記コマンド表示モジュールには、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係を表す第１のテーブルと、パラメータ作成モジュールを表す第２のテーブルが設けられていることを特徴とする。
【００１４】
請求項３記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の半導体テスタにおいて、
前記ＣＵＩコマンドログ出力部は、前記ＣＵＩコマンドログを、一連のログとしての表示とログファイル出力の少なくともいずれかの形態で出力することを特徴とする。
【００１５】
請求項４記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれかに記載の半導体テスタにおいて、前記ＣＵＩコマンドログのファイル出力に基づき、半導体テスタ操作を自動化するためのシェルスクリプトが作成されることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ＧＵＩツールで半導体テスタの操作を行う際、対応するＣＵＩコマンドを併せて出力することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明について、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に基づく半導体テスタの一実施例を示すブロック図であって、図４と共通する部分には同一符号を付けている。図１の構成で図４と異なる点は、コマンド表示モジュール３０と、ＣＵＩコマンドログ出力部４０を設けていることである。
【００１８】
コマンド表示モジュール３０には、図２に示すように、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係を表す第１のテーブル３１と、パラメータ作成モジュールを表す第２のテーブル３２が設けられている。これら第１のテーブル３１と第２のテーブル３２に基づき、ボタン操作などのＧＵＩ操作に対応するＣＵＩコマンドのライブラリ呼び出し、ＣＵＩコマンドログ出力部４０に出力する。
【００１９】
ＣＵＩコマンドログ出力部４０は、これらＧＵＩ操作に対応するＣＵＩコマンドの内容を、一連のログとして表示したりログファイルとして出力する出力処理を行う。
【００２０】
図２（Ａ）に示すように、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係を表す第１のテーブル３１には、各ＧＵＩの操作３１ａに相当するＣＵＩコマンド３１ｂが登録されている。なお、ＧＵＩの１操作は複数のＣＵＩコマンドに相当する場合があり、その場合には複数のＣＵＩコマンドが一覧として登録されている。また、各コマンド３１ｂには、対応するパラメータ作成モジュール番号３１ｃが登録されている。
【００２１】
図２（Ｂ）に示すように、パラメータ作成モジュールを表す第２のテーブル３２には、パラメータ作成モジュール番号３２ａに対応して、ＧＵＩツールでのファイル選択やチェックボックスの状態などの各種設定状態をＣＵＩコマンドのオプションとして文字列化するモジュール３２ｂが登録されている。
【００２２】
図３は、図１に示す構成における処理の流れを説明するフローチャートである。
はじめに、ＧＵＩツール１０でテスタの操作が行われることにより、コマンド表示モジュール３０が呼び出される（ＳＰ１）。
【００２３】
続いて、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係を表す第１のテーブル３１が参照されて、実行されたＧＵＩ操作に相当するＣＵＩコマンドが決定される（ＳＰ２）。
【００２４】
続いて、パラメータ作成モジュールを表す第２のテーブル３２が参照されて、ステップＳＰ２で決定されたＣＵＩコマンドに対するパラメータが決定される（ＳＰ３）。
【００２５】
そして、ＣＵＩコマンドログ出力部４０は、これらステップＳＰ２で決定されたＣＵＩコマンドとステップＳＰ３で決定されたパラメータを組み合わせて、一連のログとして画面に表示したり、ログファイルとして出力する（ＳＰ４）。
【００２６】
これにより、ＧＵＩツールでテスタの操作を行ったとき、その操作に相当するＣＵＩコマンドがメッセージとして出力されるので、ＧＵＩツールだけを使用する場合であってもＧＵＩツール操作に対応するＣＵＩコマンド操作方法を直感的に理解して習得でき、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの親和性を高めることができる。
【００２７】
また、ＣＵＩコマンド操作の出力一覧をファイル出力する機能によって、テスタ操作を自動化するためのシェルスクリプトを容易に作成することができる。
【００２８】
なお、半導体テスタのＧＵＩツールの中には、半導体テスタに対する操作以外にも一般的なワークステーションのコマンドと同様な操作が可能なツールがある。このようなものに対しても、半導体テスタのコマンドと同様にワークステーションのコマンドを出力できるようにすることによって、より広い範囲でのＣＵＩコマンド操作を表示することが可能となる。
【００２９】
以上説明したように、本発明によれば、ＧＵＩツールでテスタ操作を行うのにあたり、対応するＣＵＩコマンドも併せて出力されるので、ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの親和性の高い半導体テスタが実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明に基づく半導体テスタの一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１のコマンド表示モジュール３０の構成説明図である。
【図３】図１に示す構成における処理の流れを説明するフローチャートである。
【図４】図１に示す構成における処理の流れを説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００３１】
１０  ＧＵＩツール
２０  テスタ操作ライブラリ
３０  コマンド表示モジュール
３１  第１のテーブル／ＧＵＩ操作とＣＵＩコマンドの対応関係
３２  第２のテーブル／ラメータ作成モジュール
４０  ＣＵＩコマンドログ出力部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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