(57)【要約】【課題】半導体素子を密閉する絶縁膜が二重の構造で、ペレッタイズなどのために第二の絶縁膜の角部などに損傷が発生しても、半導体素子の密閉性が良好に維持される半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置１００は、第一の絶縁膜１０５Ａの角部が面取りされているので、第二の絶縁膜１０５Ｂの角部などに損傷が発生しても第一の絶縁膜１０５Ａの角部まで損傷が進行しにくい。このため、半導体素子１０７の密閉性が良好に維持されて歩留りが良好である。それでいて第二の絶縁膜１０５Ｂの角部まで面取りする必要がないので、構造が簡単で生産性が良好である。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ウェーハ基板と、
前記ウェーハ基板の表面に配列されて形成されている半導体素子と、
前記ウェーハ基板の表面に形成されて前記半導体素子を密閉している第一の絶縁膜と、
前記ウェーハ基板の表面に形成されて前記第一の絶縁膜を密閉している第二の絶縁膜と、を有し、
前記第一の絶縁膜は、角部が面取りされた多角形の平面形状に形成されている半導体装置。
【請求項２】
前記第二の絶縁膜は、角部が面取りされた多角形の平面形状に形成されている請求項１に記載の半導体装置。
【請求項３】
前記第一の絶縁膜の角部の内側に形成されているボンディングパッドを、さらに有し、
前記ボンディングパッドは、前記第一の絶縁膜の面取りに対応した部分が面取りされた多角形の平面形状に形成されている請求項１または２に記載の半導体装置。
【請求項４】
前記第一の絶縁膜は、角部が面取りされた矩形の平面形状に形成されている請求項１ないし３の何れか一項に記載の半導体装置。
【請求項５】
前記第一の絶縁膜は、親水性の材料で形成されており、
前記第二の絶縁膜は、疎水性の材料で形成されいる請求項１ないし４の何れか一項に記載の半導体装置。
【請求項６】
前記第一の絶縁膜は、酸化膜で形成されており、
前記第二の絶縁膜は、窒化膜で形成されいる請求項１ないし５の何れか一項に記載の半導体装置。
【請求項７】
ウェーハ基板の表面のペレット形成領域ごとに複数の半導体素子を配列させて形成し、
前記ウェーハ基板の表面に前記半導体素子を密閉する第一の絶縁膜を角部が面取りされた多角形の平面形状に形成し、
前記ウェーハ基板の表面にスクライブ領域を介して配列されるように第二の絶縁膜を形成して前記第一の絶縁膜を密閉する、半導体装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の半導体ペレットがスクライブ領域を介してウェーハ基板に連設されている半導体装置に関し、特に、ウェーハ基板の表面に形成されている半導体素子が第一／第二の絶縁膜で二重に密閉されている半導体装置、その製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体装置である半導体ペレットは、一般に、素子や電極を絶縁膜で覆い、チップ表面の保護を行っている。ウェーハ状態からチップ個片化(ペレッタイズ)を行う手法として、ブレードダイシングやスクライブ・ブレーキングが用いられる。
【０００３】
この際、ペレット外周端面付近に、欠けや内在したキズが発生していた。なお、欠け不良の大半は、ペレット角部に発生している。このような欠けやキズが絶縁膜より内側に到達した場合、破断された絶縁膜の隙間からチップ内部へ水分が浸入し、耐湿性劣化が生じるという問題があった。また、欠けやキズがチップ内部まで達する場合は、素子や電極の破砕といった素子本来の機能を失うこともあった。
【０００４】
なお、ここではペレッタイズされる以前の複数の半導体ペレットがスクライブ領域を介して半導体基板に連設されているものを半導体装置と呼称しているが、ペレッタイズされた半導体ペレットも半導体装置である。
【０００５】
ここで、第一の従来例を図５を参照して以下に説明する。第一の従来例の半導体装置は、ウェーハ基板１に形成された半導体ペレット２の外周に沿って、チッピング防止壁３が設けられた構造となっている。
【０００６】
このような構造のウェーハ基板１をスクライブ領域４に沿ってペレッタイズした場合、チッピング防止壁３で欠けやキズの浸入が防がれるため、半導体装置である半導体ペレット２が保護される（例えば、特許文献１参照）。
【０００７】
つぎに、第二の従来例を図６を参照して以下に説明する。第二の従来例の半導体装置は、ウェーハ基板１１に形成された半導体装置である半導体ペレット１２の内側に絶縁膜１５が覆われており、半導体ペレット１２と絶縁膜１５は角部が面取りされた構造となっている。
【０００８】
このような構造のウェーハ基板１１をスクライブ領域１４に沿ってペレッタイズした場合、ペレット角部の欠けが半導体ペレット１２や絶縁膜１５に到達しにくくなり、半導体ペレット１２が保護される（例えば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平０６−１６９０１４号公報
【特許文献２】特開２００８−０２８２４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上述した第一の従来例の場合、半導体ペレット２の外側にチッピング防止壁３があることから、スクライブ領域４を広げる必要がある。そのため、ウェーハ基板１枚あたりのペレット収量が低下する。
【００１１】
また、チッピング防止壁３を形成するための拡散工程(レジスト塗布〜露光〜現像〜膜形成〜レジスト除去)が増えるため、ウェーハ製造コスト(資材費や人件費)が増えるとともに、製造リードタイムが長くなるという問題がある。
【００１２】
一方、第二の従来例の場合、絶縁膜１５の外周に半導体ペレット１２の領域があることから、半導体ペレット１２に欠けを発生させないためには、スクライブ領域を広げる必要がある。
【００１３】
そのため、第一の従来例と同様、ペレット収量が低下する。また、第二の従来例は、半導体ペレット１２と絶縁膜１５との両方の角部を面取りする構造を特徴としているため、その形成のために生産性が低下する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の半導体装置は、ウェーハ基板と、ウェーハ基板の表面に配列されて形成されている半導体素子と、ウェーハ基板の表面に形成されて半導体素子を密閉している第一の絶縁膜と、ウェーハ基板の表面に形成されて第一の絶縁膜を密閉している第二の絶縁膜と、を有し、第一の絶縁膜は、角部が面取りされた多角形の平面形状に形成されている。
【００１５】
従って、本発明の半導体装置では、ウェーハ基板の表面の半導体素子が第一の絶縁膜と第二の絶縁膜とで二重に密閉されている。第一の絶縁膜はスクライブ領域を介してペレット形成領域に形成されているので、このスクライブ領域で半導体素子はペレッタイズされることになる。このとき、第二の絶縁膜の角部などに損傷が発生して第一の絶縁膜の角部などまで損傷が進行すると、半導体素子の密閉性が阻害されて歩留りが低下する。しかし、第一の絶縁膜は角部が面取りされているので、第二の絶縁膜の角部などに損傷が発生しても第一の絶縁膜の角部まで損傷が進行しにくい。
【００１６】
また、上述のような半導体装置において、第二の絶縁膜は、角部が面取りされた多角形の平面形状に形成されていてもよい。
【００１７】
また、上述のような半導体装置において、第一の絶縁膜の角部の内側に形成されているボンディングパッドを、さらに有し、ボンディングパッドは、第一の絶縁膜の面取りに対応した部分が面取りされた多角形の平面形状に形成されていてもよい。
【００１８】
また、上述のような半導体装置において、第一の絶縁膜は、角部が面取りされた矩形の平面形状に形成されていてもよい。
【００１９】
また、上述のような半導体装置において、第一の絶縁膜は、親水性の材料で形成されており、第二の絶縁膜は、疎水性の材料で形成されいてもよい。
【００２０】
また、上述のような半導体装置において、第一の絶縁膜は、酸化膜で形成されており、第二の絶縁膜は、窒化膜で形成されいてもよい。
【００２１】
本発明の半導体装置の製造方法は、ウェーハ基板の表面のペレット形成領域ごとに複数の半導体素子を配列させて形成し、ウェーハ基板の表面に半導体素子を密閉する第一の絶縁膜を角部が面取りされた多角形の平面形状に形成し、ウェーハ基板の表面に第二の絶縁膜を形成して第一の絶縁膜を密閉する。
【００２２】
なお、本発明の各種の構成要素は、必ずしも個々に独立した存在である必要はなく、複数の構成要素が一個の部材として形成されていること、一つの構成要素が複数の部材で形成されていること、ある構成要素が他の構成要素の一部であること、ある構成要素の一部と他の構成要素の一部とが重複していること、等でもよい。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の半導体装置では、第一の絶縁膜の角部が面取りされているので、ペレッタイズなどのために第二の絶縁膜の角部などに損傷が発生しても、第一の絶縁膜の角部まで損傷が進行しにくい。このため、半導体素子の密閉性が良好に維持されて半導体装置である半導体ペレットの歩留りが良好である。それでいて第二の絶縁膜の角部まで面取りする必要がないので、構造が簡単で生産性が良好である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の実施の形態の半導体装置を示す平面図である。
【図２】図１のａ−ａ線断面図である。
【図３】一の変形例の半導体装置を示す平面図である。
【図４】他の変形例の半導体装置を示す平面図である。
【図５】第一の従来例の半導体装置を示す平面図である。
【図６】第二の従来例の半導体装置を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
本発明の実施の一形態を図１および図２を参照して以下に説明する。なお、本実施の形態では図示するように前後左右上下の方向を規定して説明する。しかし、これは構成要素の相対関係を簡単に説明するために便宜的に規定するものである。従って、本発明を実施する製品の製造時や使用時の方向を限定するものではない。
【００２６】
本実施の形態の半導体装置１００は、前述のように各々が半導体装置である複数の半導体ペレット１１０が、スクライブ領域１０４を介してウェーハ基板１０１に連設された構造に形成されている。
【００２７】
本実施の形態の半導体装置１００は、ウェーハ基板１０１と、ウェーハ基板１０１の表面に配列されて形成されている半導体素子１０７と、ウェーハ基板１０１の表面に形成されて半導体素子１０７を密閉している第一の絶縁膜１０５Ａと、ウェーハ基板１０１の表面に形成されて第一の絶縁膜１０５Ａを密閉している第二の絶縁膜１０５Ｂと、を有し、第一の絶縁膜１０５Ａは、角部が面取りされた多角形の平面形状に形成されている。
【００２８】
より具体的には、第一の絶縁膜１０５Ａは、四つの角部が面取りされた矩形の平面形状に形成されている。第二の絶縁膜１０５Ｂは、四つの角部を有する矩形の平面形状に形成されている。
【００２９】
また、第一の絶縁膜１０５Ａは、親水性の材料である酸化膜で形成されている。第二の絶縁膜１０５Ｂは、疎水性の材料である窒化膜で形成されいる。なお、第一の絶縁膜１０５Ａの四つの角部の各々の内側には、やはり平面形状が矩形のボンディングパッド１０６が形成されている。
【００３０】
ここで、本実施の形態の半導体装置１００の製造方法を簡単に説明する。まず、ウェーハ基板１０１の表面に複数のペレット形成領域１０２ごとに半導体素子１０７を配列させて形成する。
【００３１】
つぎに、ウェーハ基板１０１の表面に半導体素子１０７を密閉する第一の絶縁膜１０５Ａを角部が面取りされた多角形の平面形状に形成する。つぎに、ウェーハ基板１０１の表面にスクライブ領域１０４を介して配列されるように第二の絶縁膜１０５Ｂを形成して第一の絶縁膜１０５Ａを密閉する。
【００３２】
そして、上述のように形成された半導体装置１００をスクライブ領域１０４でペレッタイズすることにより、ウェーハ基板１０１の表面に半導体素子１０７が形成されていて第一／第二の絶縁膜１０５Ａ，Ｂで二重に密閉された半導体ペレット１１０が、半導体装置として量産される。
【００３３】
本実施の形態の半導体装置１００は、上述のような状態のウェーハ基板１０１をスクライブ領域１０４でペレッタイズすることにより、ウェーハ基板１０１の表面に半導体素子１０７が形成されていて第一／第二の絶縁膜１０５Ａ，Ｂで二重に密閉された構造として量産される。
【００３４】
上述のような構成において、本実施の形態の半導体装置１００では、ウェーハ基板１０１の表面の半導体素子１０７が第一の絶縁膜１０５Ａと第二の絶縁膜１０５Ｂとで二重に密閉されている。
【００３５】
第一の絶縁膜１０５Ａはスクライブ領域１０４を介してペレット形成領域１０２に形成されているので、このスクライブ領域１０４で半導体装置１００が半導体装置である半導体ペレット１１０にペレッタイズされることになる。
【００３６】
このとき、第二の絶縁膜１０５Ｂの角部などに損傷が発生して第一の絶縁膜１０５Ａの角部などまで損傷が進行すると、半導体素子１０７の密閉性が阻害されて歩留りが低下する。特に、酸化膜からなる第一の絶縁膜１０５Ａは親水性なので、第二の絶縁膜１０５Ｂの損傷が進行すると半導体素子１０７の耐湿性が大幅に劣化する。
【００３７】
しかし、本実施の形態の半導体装置１００では、第一の絶縁膜１０５Ａは角部が面取りされているので、第二の絶縁膜１０５Ｂの角部などに損傷が発生しても第一の絶縁膜１０５Ａの角部まで損傷が進行しにくい。
【００３８】
従って、本実施の形態の半導体装置１００では、ペレッタイズなどにより第二の絶縁膜１０５Ｂの角部などに損傷が発生しても、半導体素子１０７の密閉性が良好に維持されて半導体装置である半導体ペレット１１０の歩留りが良好である。
【００３９】
それでいて第二の絶縁膜１０５Ｂの角部まで面取りする必要がないので、構造が簡単で生産性が良好である。しかも、従来事例のようなチッピング防止壁３も不要であるため、ウェーハ基板１０１の１枚あたりのペレット収量が向上する。さらに、チッピング防止壁３を形成するための拡散工程も不要となるため、ウェーハ製造コストの抑制や製造リードタイムの短縮も可能となる。
【００４０】
なお、本発明は本実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で各種の変形を許容する。例えば、上記形態では第一の絶縁膜１０５Ａのみ角部が面取りされた矩形に形成されており、第二の絶縁膜１０５Ｂは角部が面取りされていない矩形に形成されていることを例示した。
【００４１】
しかし、図３に示すように、角部が面取りされた多角形である矩形の平面形状に、第二の絶縁膜１０５Ｂも形成されていてもよい。この場合、ペレッタイズにより第二の絶縁膜１０５Ｂに損傷が発生しにくくなるので、さらに半導体素子１０７の歩留りを向上させることができる。
【００４２】
また、上記形態では第一の絶縁膜１０５Ａの面取りされている角部の内側に矩形のボンディングパッド１０６が形成されていることを例示した。しかし、図４に示すように、第一の絶縁膜１０５Ａの面取りに対応した部分が面取りされた多角形の平面形状にボンディングパッド１０６が形成されていてもよい。
【００４３】
この場合、ボンディングパッド１０６を第一の絶縁膜１０５Ａの面取りされている角部に近接させて形成することができるので、半導体ペレット１１０の集積度を向上させることができる。
【００４４】
なお、当然ながら、上述した実施の形態および複数の変形例は、その内容が相反しない範囲で組み合わせることができる。また、上述した実施の形態および変形例では、各部の構造などを具体的に説明したが、その構造などは本願発明を満足する範囲で各種に変更することができる。
【符号の説明】
【００４５】
１    ウェーハ基板
２    半導体ペレット
３    チッピング防止壁
４    スクライブ領域
１１    ウェーハ基板
１２    半導体ペレット
１４    スクライブ領域
１５    絶縁膜
１００    半導体装置
１０１    ウェーハ基板
１０２    ペレット形成領域
１０４    スクライブ領域
１０５Ａ    第一の絶縁膜
１０５Ｂ    第二の絶縁膜
１０６    ボンディングパッド
１０７    半導体素子
１１０    半導体ペレット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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