(57)【要約】【課題】セグメントドライバを効率良く検査できるようにしたセグメントドライバの検査方法及びその検査システムを提供する。【解決手段】セグメントドライバ２に接続された表示メモリ３にテストパターンを書き込んで、セグメントドライバ２が有する複数のセグメント端子２ａ〜２ｈ…から信号を出力させる工程、を含み、テストパターンは、数のセグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号が当該端子間で全て同じ電圧レベルとなるように生成されている。このような方法であれば、例えば、出力信号の電圧レベルとして「１」と「０」とを同時に測定することができないような、通常のテスタを用いて検査を行う場合でも、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…を同時に測定することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
セグメントドライバに接続された表示メモリにテストパターンを書き込んで、前記セグメントドライバが有する複数の測定対象端子から信号を出力させる工程、を含み、
前記テストパターンは、前記複数の測定対象端子から出力される前記信号が前記測定対象端子間で全て同じ電圧レベルとなるように生成されていることを特徴とするセグメントドライバの検査方法。
【請求項２】
前記テストパターンを生成する工程、をさらに含み、
前記セグメントドライバは、配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスであり、
前記テストパターンを形成する工程では、前記フォトマスクのレイアウト情報を参照して前記テストパターンを生成することを特徴とする請求項１に記載のセグメントドライバの検査方法。
【請求項３】
テストパターン生成部と、
前記テストパターン生成部によって生成されたテストパターンをセグメントドライバに接続された表示メモリに書き込んで、前記セグメントドライバが有する複数の測定対象端子から信号を出力させるテスタと、を備え、
前記テストパターン生成部は、
前記測定対象端子から出力される前記信号が前記測定対象端子間で全て同じ電圧レベルとなるように前記テストパターンを生成することを特徴とするセグメントドライバの検査システム。
【請求項４】
前記セグメントドライバは、配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスであり、
前記テストパターン生成部は、前記フォトマスクのレイアウト情報を参照して前記テストパターンを生成することを特徴とする請求項３に記載のセグメントドライバの検査システム。
【請求項５】
前記レイアウト情報を格納する第１の格納部、をさらに備え、
前記テストパターン生成部は、前記第１の格納部から前記レイアウト情報を読み出すことを特徴とする請求項４に記載のセグメントドライバの検査システム。
【請求項６】
前記第１の格納部は、複数種類の前記レイアウト情報を格納し、
前記テストパターン生成部は、前記第１の格納部に格納された前記複数種類のレイアウト情報の中から、検査対象のセグメントドライバに対応した種類のレイアウト情報を読み出すことを特徴とする請求項５に記載のセグメントドライバの検査システム。
【請求項７】
前記テストパターンを格納する第２の格納部、をさらに備え、
前記テスタは、前記第２の格納部から前記テストパターンを読み出すことを特徴とする請求項３から請求項６の何れか一項に記載のセグメントドライバの検査システム。
【請求項８】
前記第２の格納部は、前記表示メモリに対する書き込み内容が異なる複数種類の前記テストパターンを格納し、
前記テスタは、前記第２の格納部に格納された前記複数種類のテストパターンの中から、検査対象のセグメントドライバに対応した種類のテストパターンを読み出すことを特徴とする請求項７に記載のセグメントドライバの検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、セグメントドライバの検査方法及び検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機やノート型パーソナルコンピュータなどの電子機器には、液晶表示装置として、ドットマトリクスディスプレイや、セグメントディスプレイなどが広く使用されている。これらディスプレイの駆動はドライバにより行われる。ドライバは例えばシリコン基板に形成された集積回路からなり、ディスプレイとは別の工程で形成される。ドライバが正常に機能するか否かの検査は、通常、ドライバをディスプレイに装着する前に行われる（例えば、特許文献１参照）。
図６は、従来例に係るセグメントドライバの検査方法を示す図である。図６に示すセグメントドライバ２は、いわゆるゲートアレイデバイスであり、各セグメント端子２ａ〜２ｚはマスクオプション（即ち、フォトマスクの選択）によって、表示メモリ３の任意のアドレスに割り付けられている。検査工程では、各セグメント端子２ａ〜２ｚがそれぞれ図示しないテスタに接続される。
【０００３】
この検査工程では、表示メモリ３に対して二値データの書き込みを行い、各セグメント端子２ａ〜２ｚについて、電圧レベルと駆動能力の測定とを行う。例えば、１回目の書き込みでは、表示メモリ３内の（各セグメント端子２ａ〜２ｚに割り付けられた）全てのアドレスに、低電圧（即ち、ロー）レベルのデータ「０」を書き込む（即ち、ＡＬＬ＝０）。また、２回目の入力では、表示メモリ３内の（各セグメント端子２ａ〜２ｚに割り付けられた）全てのアドレスに、高電圧（即ち、ハイ）レベルのデータ「１」を書き込む（即ち、ＡＬＬ＝１）。
【０００４】
そして、各セグメント端子２ａ〜２ｚについて、１回目に測定された信号の電圧レベルと、２回目に測定された信号の電圧レベルとがそれぞれ異なり（例えば、１回目の出力信号＝１、２回目の出力信号＝０）、且つ、駆動能力が規格値の範囲内にあれば、セグメントドライバ２は正常に機能していると判定する。一方、各セグメント端子２ａ〜２ｚのうちのどれか一つでも、１回目と２回目の信号の電圧レベルが同じ（例えば、１回目の出力信号＝１、２回目の出力信号＝１）であったり、駆動能力が規格値の範囲外にあったりすると、セグメントドライバ２は正常に機能していないと判定する。
【特許文献１】特開平１１−２４０３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、図６に示した従来例に係るセグメントドライバの検査方法では、配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスのため、表示メモリ３に書き込むデータをＡＬＬ＝１、ＡＬＬ＝０というように電圧レベルを均一に設定しても、各セグメント端子２ａ〜２ｚから出力される信号の電圧レベルは「１」と「０」とが混在したものとなる。例えば、１回目の入力に対して、各セグメント端子２ａ〜２ｚから出力される信号は、１、１、１、０、…、１、０、１、０となる。また、２回目の入力端子に対して各セグメント端子２ａ〜２ｚから出力される信号は、括弧内に示すように、０、０、０、１…、０、１、０、１となる。
【０００６】
ここで、セグメントドライバ２の検査に用いられるテスタは、通常、「１」を出力するセグメント端子と、「０」を出力するセグメント端子とを同時に測定することができない（即ち、出力ドライブテスト等において、各セグメント端子２ａ〜２ｚを同測することができない。）。それゆえ、従来の検査方法では、各セグメント端子２ａ〜２ｚを個々に測定せざるを得ず、セグメントドライバの検査効率が低いという課題があった。
そこで、本発明のいくつかの態様は、このような課題に着目してなされたものであって、セグメントドライバを効率良く検査できるようにしたセグメントドライバの検査方法及びその検査システムの提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係るセグメントドライバの検査方法は、セグメントドライバに接続された表示メモリにテストパターンを書き込んで、前記セグメントドライバが有する複数の測定対象端子から信号を出力させる工程、を含み、前記テストパターンは、前記複数の測定対象端子から出力される前記信号が前記測定対象端子間で全て同じ電圧レベルとなるように生成されていることを特徴とするものである。ここで、「電圧レベル」は、電圧値の大小のレベルのことであり、任意に設定される閾値を境に、高電圧側と低電圧側とに分けられる。例えば、高電圧側を「１」、低圧側を「０」とする。このとき、測定対象端子から出力される全ての信号が「１」又は「０」のどちらか一方に揃うようであれば、測定対象端子から出力される信号は前記測定対象端子間で全て同じ電圧レベルにある、といえる。
【０００８】
また、上記の検査方法において、前記テストパターンを生成する工程、をさらに含み、前記セグメントドライバは、配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスであり、前記テストパターンを形成する工程では、前記フォトマスクのレイアウト情報を参照して前記テストパターンを生成することを特徴としても良い。ここで、「フォトマスクのレイアウト情報」とは、フォトマスクが有する遮光パターンの配置、形状に関する情報のことである。ゲートアレイデバイスでは、複数の論理セル間をユーザの要求機能を満たすように任意に接続されるが、これら論理セル間を接続する配線パターンは、上記の遮光パターンの配置、形状と一致した形に形成される。従って、フォトマスクのレイアウト情報から、論理セル間の任意の接続関係を把握することができる。
【０００９】
本発明の別の形態に係る検査システムは、テストパターン生成部と、前記テストパターン生成部によって生成されたテストパターンをセグメントドライバに接続された表示メモリに書き込んで、前記セグメントドライバが有する複数の測定対象端子から信号を出力させるテスタと、を備え、前記テストパターン生成部は、前記測定対象端子から出力される前記信号が前記測定対象端子間で全て同じ電圧レベルとなるように前記テストパターンを生成することを特徴とするものである。
また、上記の検査システムにおいて、前記セグメントドライバは、配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスであり、前記テストパターン生成部は、前記フォトマスクのレイアウト情報を参照して前記テストパターンを生成することを特徴としても良い。
また、上記の検査システムにおいて、前記レイアウト情報を格納する第１の格納部、をさらに備え、前記テストパターン生成部は、前記第１の格納部から前記レイアウト情報を読み出すことを特徴としても良い。
【００１０】
また、上記の検査システムにおいて、前記第１の格納部は、複数種類の前記レイアウト情報を格納し、前記テストパターン生成部は、前記第１の格納部に格納された前記複数種類のレイアウト情報の中から、検査対象のセグメントドライバに対応した種類のレイアウト情報を読み出すことを特徴としても良い。
また、上記の検査システムにおいて、前記テストパターンを格納する第２の格納部、をさらに備え、前記テスタは、前記第２の格納部から前記テストパターンを読み出すことを特徴としても良い。
また、上記の検査システムにおいて、前記第２の格納部は、前記表示メモリに対する書き込み内容が異なる複数種類の前記テストパターンを格納し、前記テスタは、前記第２の格納部に格納された前記複数種類のテストパターンの中から、検査対象のセグメントドライバに対応した種類のテストパターンを読み出すことを特徴としても良い。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下に説明する各図において、同一の構成を有する部分には同一の符号を付し、その重複する説明は省略する。
（１）第１実施形態
図１は、本発明の第１実施形態に係る検査システム１０の構成例を示す概念図である。図１に示す検査システム１０は、セグメントドライバ２が正常に機能するか否かを検査するためのシステムであり、サーバ１１と、このサーバ１１に接続されたテスタ１２とを有する。
サーバ１１は、テストパターン生成部２０と、このテストパターン生成部２０に接続された第１の格納部２１と、第２の格納部２２と、を有する。これらの中で、第１の格納部２１は、マスクオプションデータを格納する（即ち、記憶する）記憶装置である。検査対象であるセグメントドライバ２は、例えば、その配線パターン形成用のフォトマスクが任意に選択されるゲートアレイデバイスであるが、この選択されるフォトマスクのレイアウト情報が、マスクオプションデータとして格納部２１に格納されている。この格納部２１は、例えば、ハードディスク又は不揮発性半導体メモリ等の記憶装置からなる。
【００１２】
また、テストパターン生成部２０は、表示メモリ３に書き込まれるテストパターンを生成するものである。このテストパターン生成部２０は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）からなる。さらに、第２の格納部２２は、テストパターン生成部２０により生成されたテストパターンを格納する記憶装置である。この格納部２２は、例えば、ハードディスク又は不揮発性半導体メモリ等の記憶装置、或いは、レジスタ等の記憶素子からなる。
テスタ１２は、セグメントドライバ２に接続された表示メモリ３にテストパターンを書き込んで、セグメントドライバ２が有する複数のセグメント端子２ａ、２ｂ、２ｃ、２ｄ、…、２ｈ、…（以下、２ａ〜２ｈ…という。）からそれぞれ信号を出力させると共に、出力された信号を測定する装置である。また、その測定結果に基づいて、検査対象であるセグメントドライバ２の良否を判定する装置でもある。
【００１３】
一方、検査対象であるセグメントドライバ２は、複数のセグメント端子２ａ〜２ｈ…から信号を出力することによって、当該端子２ａ〜２ｈ…に接続される図示しないセグメントディスプレイを駆動する集積回路である。図１に示すように、このセグメントドライバ２には表示メモリ３が接続されている。また、セグメントドライバ２の各セグメント端子２ａ〜２ｈ…はマスクオプションによって、表示メモリ３の任意のアドレス３ａ〜３ｈ…に割り付けられている。表示メモリ３は例えばレジスタ等の記憶素子であり、セグメントドライバ２と同一の半導体基板に形成されている。次に、図１に示した検査システム１０を用いてセグメントドライバ２を検査する場合について説明する。
【００１４】
図２は、本発明の第１実施形態に係るセグメントドライバの検査方法を示すフローチャートである。まず始めに、図２のステップ（Ｓ）１では、図１に示した第１の格納部２１から、検査対象であるセグメントドライバ２に対応したマスクオプションデータを読み出す。例えば、検査対象であるセグメントドライバ２の配線パターンをフォトマスクＡ（以下、単にマスクＡともいう。）で形成した場合は、マスクオプションデータとして、マスクＡのレイアウト情報を格納部２１から読み出す。この読み出しは、テストパターン生成部２０が行う。
次に、図２のステップ（Ｓ）２では、読み出したレイアウト情報を参照して、テストパターンを生成する。ここでは、測定対象であるセグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号が、セグメント端子２ａ〜２ｈ…間で全て同じ電圧レベルとなるように、テストパターンを生成する。つまり、測定対象であるセグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される全ての信号が「１」又は「０」のどちらか一方に揃うように、テストパターンを生成する。
【００１５】
ここで、表示メモリ３のアドレス３ａ〜３ｈ…と、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…との対応関係は、配線パターンのレイアウトに依存している。従って、マスクＡのレイアウト情報から上記の対応関係を求め、この対応関係を前提として、セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される全ての信号が「１」又は「０」のどちらか一方に揃うときのアドレス３ａ〜３ｈ…の書き込み状態を求める。そして、この書き込み状態を実現する信号をテストパターンとして、テストパターン生成部２０が生成する。
次に、図２のステップ（Ｓ）３では、テストパターン生成部２０によって生成されたテストパターンを格納部２２に格納する（即ち、記憶させる）。次に、図２のステップ（Ｓ）４では、格納部に格納されたテストパターンをテスタ１２が読み出す。そして、図２のステップ（Ｓ）５では、読み出したテストパターンを表示メモリ３に書き込む。この書き込みは、テスタ１２が行う。これにより、測定対象である各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から信号が出力される。
【００１６】
例えば、図１に示すように、１回目の入力として、各メモリアドレス３ａ〜３ｈ…にテストパターン１、０、１、１、０、１、１、０…をそれぞれ書き込む。すると、（セグメントドライバ２が正常に機能する場合は）各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から信号「０」が出力される（即ち、ＡＬＬ＝０）。また、２回目の入力として、括弧内に示すように、各メモリアドレス３ａ〜３ｈ…にテストパターン０、１、０、０、１、０、０、１…をそれぞれ書き込む。つまり、１回目に入力したテストパターンとは電圧レベル「１」「０」が反対の信号を、２回目のテストパターンとして入力する。すると、（セグメントドライバ２が正常に機能する場合は）各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から信号「１」が出力される（即ち、ＡＬＬ＝１）。
【００１７】
そして、図２のステップ（Ｓ）６では、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号の電圧レベルと、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…の駆動能力（即ち、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される電流値）とをそれぞれ測定する。このような測定は、１回目の入力と、２回目の入力に対してそれぞれ行う。
このように、本発明の第１実施形態によれば、測定対象である各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号が全て同じ電圧レベルに揃えられる。従って、例えば、出力信号の電圧レベルとして「１」と「０」とを同時に測定することができないような、通常のテスタを用いて検査を行う場合でも、測定対象である各セグメント端子２ａ〜２ｈ…を同時に測定することができる。つまり、出力ドライブテスト等において、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…を同測することができる。これにより、セグメントドライバ２の検査効率を高めることができ、検査の所要時間を短縮することができる。
【００１８】
（２）第２実施形態
上記の第１実施形態では、配線パターン形成用のフォトマスクとして、マスクＡが選択される機種（以下、機種Ａともいう。）のセグメントドライバ２を検査する場合について説明した。しかしながら、図１に示した検査システム１０は、他機種（即ち、配線パターン形成用のフォトマスクとして、マスクＡとはレイアウトが異なる他のフォトマスクが選択される機種）のセグメントドライバ２を検査する場合にも適用可能である。その場合は、各々の機種にそれぞれ対応したフォトマスクのレイアウト情報を、マスクオプションデータとして格納部２１に格納しておけば良い。これにより、同一の検査システム１０を用いて、複数機種のセグメントドライバ２を効率良く検査することができる。
【００１９】
例えば、機種Ｂ（即ち、配線パターン形成用のフォトマスクとして、フォトマスクＢが選択される機種）のセグメントドライバ２を検査する場合は、フォトマスクＢ（以下、単にマスクＢという。）のレイアウト情報をマスクオプションデータとして格納部２１に予め格納しておけば良い。これにより、図２のステップ（Ｓ）１では、マスクＢのレイアウト情報を取得することができ、図２のステップ（Ｓ）２では、取得したレイアウト情報に基づいて、機種Ｂ用のテストパターンを生成することができる。また、図２のステップ（Ｓ）３では、生成した機種Ｂ用のテストパターンを格納部２２に格納することができ、図２のステップ（Ｓ）５では、このテストパターンを機種Ｂのセグメントドライバ２に接続された表示メモリ３に書き込むことができる。
【００２０】
例えば、図３（ａ）に示すように、１回目の入力では、表示メモリ３の各アドレス３ａ〜３ｈ…に機種Ｂ用のテストパターン１、１、０、０、０、０、１、１…をそれぞれ書き込む。この機種Ｂ用のテストパターンは機種Ａ用のテストパターンとは異なるが、測定対象である各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号は、（セグメントドライバ２が正常に機能する場合は）ＡＬＬ＝０となる。また、２回目の入力では、括弧内に示すように、１回目に入力したテストパターンとは電圧レベル「１」「０」が反対の信号を、テストパターンとして入力する。このような入力に対し、セグメントドライバ２が正常に機能すれば、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号はＡＬＬ＝１となる。
【００２１】
機種Ｃのセグメントドライバ２を検査する場合も、上記の説明と同様である。例えば図３（ｂ）に示すように、１回目の入力では、表示メモリ３の各アドレス３ａ〜３ｈ…に機種Ｃ用のテストパターンをそれぞれ書き込む。この機種Ｃ用のテストパターンは機種Ａ用、機種Ｂ用とはそれぞれ異なるが、測定対象である各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号は、（セグメントドライバ２が正常に機能すれば）ＡＬＬ＝０となる。また、２回目の入力では、１回目に入力したテストパターンとは電圧レベル「１」「０」が反対の信号をテストパターンとして入力する。このような入力に対し、セグメントドライバ２が正常に機能すれば、各セグメント端子２ａ〜２ｈ…から出力される信号はＡＬＬ＝１となる。
【００２２】
なお、図１に示した検査システム１０において複数の機種を検査対象とする場合は、例えば、テスタ１２にセットされたセグメントドライバ２の機種を、テスタ１２自体が識別すれば良い。また、識別結果に関する情報は、テスタ１２からサーバ１１に送信されるようにすれば良い。これにより、図２のステップ（Ｓ）１では、テストパターン生成部２０が検査対象の機種を把握することができ、検査対象に対応したマスクオプションデータを取得することができる。
【００２３】
（３）第３実施形態
上記の第１、第２実施形態では、例えば図２のステップ（Ｓ）１〜３に示したように、検査対象に対応したマスクオプションデータを検査の都度作成する場合について説明した。しかしながら、例えば、同一の機種について繰り返し検査を行うような場合は、図２のステップ（Ｓ）１〜３を省略しても良い。
即ち、図４に示すように、ステップ（Ｓ）１の前にステップ（Ｓ）０を設ける。ステップ（Ｓ）０では、検査対象の機種について、既にテストパターンが格納部２２に格納されているか否かを確認する。そして、検査対象の機種について、既にテストパターンが格納されている場合は、ステップ（Ｓ）１〜３を省略してステップ（Ｓ）４へ進む。また、テストパターンが格納されていない場合は、ステップ（Ｓ）１へ進む。
このような方法であれば、テストパターンを検査の都度作成せずに済むので、検査効率をさらに高めることができ、所要時間のさらなる短縮に寄与することができる。
【００２４】
（４）第４実施形態
上記の第１実施形態では、検査システム１０は、サーバ１１とテスタ１２とを備え、サーバ１１は、テストパターン生成部２０と、このテストパターン生成部２０に接続された第１の格納部２１と、第２の格納部２２と、を有する場合について説明した。しかしながら、本発明において、検査システム１０の構成例はこれに限られることはない。
例えば、図５に示すように、検査システム１０は、サーバ１１と、サーバ１１に接続されたパーソナルコンピュータ（以下、ＰＣという。）１３と、ＰＣ１３に接続されたテスタ１２とを備え、サーバ１１は第１の格納部２１を有し、ＰＣ１３はテストパターン生成部２０と第２の格納部２２とを有していても良い。このような構成であっても、第１〜第３実施形態と同様、セグメントドライバ２の検査効率を高めることができ、検査の所要時間を短縮することができる。
上記の第１〜第４実施形態では、セグメント端子２ａ〜２ｈ…が本発明の「複数の測定対象端子」に対応している。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】第１実施形態に係る検査システム１０の構成例を示す図。
【図２】第１実施形態に係るセグメントドライバの検査方法を示す図。
【図３】第２実施形態に係るテストパターンの書き込み状態の一例を示す図。
【図４】第３実施形態に係るセグメントドライバの他の検査方法を示す図。
【図５】第４実施形態に係る検査システム１０の他の構成例を示す図。
【図６】従来例に係る検査方法を示す図。
【符号の説明】
【００２６】
２  セグメントドライバ、２ａ〜２ｈ…  セグメント端子、３  表示メモリ、３ａ〜３ｈ…  アドレス、１０  検査システム、１１  サーバ、１２  テスタ、１３  ＰＣ、２０  テストパターン生成部、２１  第１の格納部、２２  第２の格納部、
【図１】
2010127881.tif 000003
【図２】
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【図３】
2010127881.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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