(57)【要約】【課題】簡便な装置で、リアルタイムに太陽光発電装置のモジュール毎の劣化や故障を検出する太陽光発電装置の劣化検出装置を提供する。【解決手段】本発明の太陽光発電装置の劣化検出装置は、太陽光発電装置２を構成する複数のモジュール５のそれぞれについて、所定の測定値を測定する測定手段７と、所定の基準値を記憶する記憶部８と、測定値と基準値とに基づいて、複数のモジュール５に含まれる特定モジュール１０の劣化度合いを判定する判定手段９と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
設置済みの太陽光発電装置を構成する複数のモジュールのそれぞれについて、所定の測定値を測定する測定手段と、
所定の基準値を記憶する記憶部と、
前記測定値と前記基準値とに基づいて、前記複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する判定手段と、を備える太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項２】
前記所定の測定値は、前記特定モジュールが発電している発電電流値および前記特定モジュールの温度である測定温度値の少なくとも一つを含む、請求項１記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項３】
前記基準値が、前記特定モジュールの発電可能な理想電流値である場合に、
前記判定手段は、前記測定温度値に基づいて、前記特定モジュールの前記発電電流値と前記理想電流値との差分値を算出し、前記差分値が所定値以上である場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項１又は２記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項４】
前記判定手段は、前記理想電流値を前記測定温度値で補正した補正理想電流値を算出し、前記特定モジュールの前記発電電流値と前記補正理想電流値との差分値を算出し、前記差分値が所定値以上である場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項３記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項５】
前記基準値が、前記複数のモジュールのそれぞれの前記発電電流値の平均値である場合に、
前記判定手段は、前記特定モジュールの発電電流値と前記平均値との差分値を算出し、前記差分値が所定値以上である場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項１から４のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記特定モジュールの前記発電電流値が所定値以下である場合には、前記特定モジュールを、故障状態として判定する請求項１から５のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項７】
前記測定値を所定期間に渡って記憶する累積値記憶部を更に備え、
前記判定手段は、前記所定期間における前記特定モジュールの前記発電電流値の変化が、前記所定期間における前記理想電流値もしくは前記補正理想電流値の予想される変化よりも大きく、変化の差分が所定値以上である場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項１から６のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項８】
前記判定手段は、前記所定期間における前記特定モジュールの前記発電電流値の累積値が、前記所定期間における前記理想電流値もしくは前記補正理想電流値の累積値より小さく、累積値の差分が所定値以上である場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項１から６のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項９】
前記記憶部は、前記特定モジュールの前記所定期間における日照時間を記憶しており、
前記判定手段は、前記所定期間における前記特定モジュールの前記発電電流値と前記日照時間との乗算値と、前記所定期間における前記理想電流値もしくは前記補正理想電流値と前記日照時間との乗算値と、の差分値が所定値以上の場合には、前記特定モジュールを、劣化状態として判定する請求項１から６のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１０】
前記判定手段が、異なる複数のタイミングで、所定回数以上において前記特定モジュールを劣化状態であると判定する場合に、前記判定手段は、前記特定モジュールを劣化モジュールとして決定する請求項３から９のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１１】
前記測定手段の測定値および前記判定手段の判定結果の少なくとも一つを出力する出力手段を更に備える請求項１から１０のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１２】
前記出力手段は、有線通信および無線通信の少なくとも一つで、前記測定値および前記判定結果の少なくとも一つを出力する請求項１１記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１３】
前記特定モジュールは、前記複数のモジュールの中での位置を特定する識別子を有しており、前記測定手段および前記判定手段の少なくとも一方は、前記特定モジュールの識別子を識別する請求項１から１２のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１４】
前記測定手段は、前記複数のモジュールが発電する直流電流を交流電流に変換するパワーコンディショナの温度および電流値の少なくとも一方を更に測定し、
前記判定手段は、前記パワーコンディショナの温度および電流値の少なくとも一方に基づいて、前記パワーコンディショナの劣化度合いを判定する請求項１から１３のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置。
【請求項１５】
請求項１から１４のいずれか記載の太陽光発電装置の劣化検出装置と、
前記判定手段の判定結果に基づいて警告を発する警告発生装置と、
前記警告に基づいて前記特定モジュールへ所定の処置を行う処置装置と、を備える太陽光発電装置の劣化検出システム。
【請求項１６】
設置済みの太陽光発電装置を構成する複数のモジュールのそれぞれについて、所定の測定値を測定し、
記憶部が記憶する所定の基準値を読み出し、
前記測定値と前記基準値とに基づいて、前記複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する太陽光発電装置の劣化検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、簡便な仕組みによって、太陽光発電装置を構成する要素であるモジュール毎の劣化、故障を検出する、太陽光発電装置の劣化検出装置、太陽光発電装置の劣化検出システム、太陽光発電装置の劣化検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、エネルギー需要の増大、化石燃料の減少、地球温暖化防止などの問題に対処するために、太陽光発電装置が商業施設や一般住宅に普及し始めている。
【０００３】
図１２は、一般的な太陽光発電装置のブロック図である。
【０００４】
太陽光発電装置８００は、複数のセル８０３で構成されたユニットであるモジュール８０２、複数のモジュール８０２がアレイ状に配置されたアレイ８０１、直流電流を交流電流に変換するパワーコンディショナ８０４、負荷８０５、発電量測定器８０６を備える。セル８０３は、結晶系シリコン、薄膜系シリコン、化合物などの素材で作られた、太陽光を利用した発電の最少発電単位である。複数のセル８０３が組み合わされて、モジュール８０２が構成される。モジュール８０２は、実際の太陽光発電装置における一つの発電単位であり、複数のモジュール８０２を、仕様に応じて、直列や並列に接続して、商業施設や一般住宅に設置される太陽光発電装置の発電部であるアレイ８０１が構成される。
【０００５】
モジュール８０２同士は、電流の出力と入力とによって直列または並列に接続され、モジュール８０２にて発電された電流がアレイ８０１全体で組み合わされて、負荷８０５にて利用される。
【０００６】
パワーコンディショナ８０４によって、アレイ８０１からの直流電流を交流に変換し、商業施設や一般住宅で電力として利用できるようにする。パワーコンディショナ８０４が変換した交流電流を受けて、負荷８０５は、電力に基づく動作を行える。なお、必要に応じて、アレイ８０１全体での発電量を計測する発電量計測器８０６がもうけられてもよい。
【０００７】
ところで、太陽光発電装置は非常に高価であり、商業施設や一般住宅への普及が進んでいない。このため、太陽光発電装置の商業施設や一般住宅への普及を進めるために、発電して余った余剰電力を、魅力ある価格で売電することが可能となる施策が制定され始めている。
【０００８】
一方で、太陽光発電装置は、商業施設や一般住宅の屋根や壁に設置されるので、自然環境の影響を受けやすい。例えば、高温や低温、風雨、災害、塩害などによって、太陽光発電装置８００が劣化することもありえる。このように太陽光発電装置８００が劣化すると、十分な発電量が得られず、高価な費用を用いて設置した太陽光発電装置の魅力が薄れ、普及を阻害することにもなりかねない。
【０００９】
このため、太陽光発電装置の発電最大単位であるアレイの自己診断を行う技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【００１０】
一方で、特許文献１のようなアレイを単位とした自己診断では、アレイを構成するモジュールのいずれが劣化しているかを特定することができない問題がある。この問題に対応するために、アレイを構成するモジュールに対する故障や劣化を診断する技術も提案されている（例えば、特許文献２、３参照）。
【特許文献１】特開平８−６４６５３号公報
【特許文献２】特開２００８−９１８０７号公報
【特許文献３】特開２００９−２１３４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
特許文献１は、上述の通りアレイ単位でしか劣化や故障を検出できないので、アレイが含む複数のモジュールのいずれに劣化や故障があるかを特定できない。このため、専門のエンジニアが設置場所に派遣されなければ、問題点の特定も対処も不可能である。
【００１２】
また、特許文献２、３は、専門のエンジニアが設置場所に赴いて、モジュール毎の故障や劣化を診断するので、メンテナンスのタイミングでしか、モジュール毎の劣化や故障が判定できない。
【００１３】
一方で、商業ビルや一般住宅では、専門のエンジニアによる太陽光発電装置の診断を受けるのはコスト面で折り合いが合わない。このため、特許文献１〜３の技術は、コスト面を十分に考慮した装置やシステムではない。劣化や故障の検出に関わるコストが高ければ、太陽光発電装置の商業施設や一般住宅への普及が阻害される恐れもある。
【００１４】
加えて、設置している太陽光発電装置からの売電を見込んでいることから、太陽光発電装置のリアルタイムでの診断を必要とするが、特許文献２、３は、リアルタイムでの劣化検出ができない問題を有する。
【００１５】
また、特許文献２、３は、モジュール毎での発電電圧値と発電電流値との関係や、テスト信号と出力との関係から、モジュールの劣化や故障を検出する。
【００１６】
しかしながら、太陽光発電のモジュールは、温度によって発電可能な電力が変化することが知られており、特許文献２、３に開示する技術は、温度を考慮した電力によって、劣化や故障を検出していない問題もある。
【００１７】
以上をまとめると、特許文献１〜３は、（１）リアルタイムでのモジュール毎の劣化や故障を検出できない、（２）劣化や故障検出のコストが高いことで、太陽光発電装置の商業施設や一般住宅への普及が阻害される、（３）専門エンジニアによる検出を前提としているので、商業施設や一般住宅での取り扱いが難しい、（４）劣化や故障の検出精度が不十分である、といった問題を有している。
【００１８】
本発明は、上記（１）〜（４）の問題を解決しつつ、簡便な装置で、リアルタイムに太陽光発電装置のモジュール毎の劣化や故障を検出する太陽光発電装置の劣化検出装置、太陽光発電装置の劣化検出システム、太陽光発電装置の劣化検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上記課題に鑑み、本発明の太陽光発電装置の劣化検出装置は、太陽光発電装置を構成する複数のモジュールのそれぞれについて、所定の測定値を測定する測定手段と、所定の基準値を記憶する記憶部と、測定値と基準値とに基づいて、複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する判定手段と、を備える。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の太陽光発電装置の劣化検出装置は、モジュール毎に、劣化や故障を、リアルタイムに検出できる。また、検出結果は、例えば管理センターなどに出力されるので、劣化や故障の警告がリアルタイムに処理される。このとき、実際の設置場所には、専門のエンジニアが派遣される必要はなく、太陽光発電装置を設置している主体者が検出作業を行う必要もない。このため、太陽光発電装置の設置者への負担は無いままに、リアルタイムに太陽光発電装置の問題点が検出される。
【００２１】
また、リアルタイムに太陽光発電装置の問題点が検出されることで、太陽光発電装置による発電量の確保量が向上し、太陽光発電装置の普及へのモチベーションが向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
本発明の第１の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置は、太陽光発電装置を構成する複数のモジュールのそれぞれについて、所定の測定値を測定する測定手段と、所定の基準値を記憶する記憶部と、測定値と基準値とに基づいて、複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する判定手段と、を備える。
【００２３】
この構成により、太陽光発電装置を構成する複数のモジュール毎の単位で、不具合や劣化を検出できる。より細かな単位での劣化が検出できることで、修理や処置の精度が高まり、修理コストも低減できる。また、リアルタイムでの検出が可能となる。
【００２４】
本発明の第２の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１の発明に加えて、所定の測定値は、特定モジュールが発電している発電電流値および特定モジュールの温度である測定温度値の少なくとも一つを含む。
【００２５】
この構成により、気象条件をも加味したモジュールの劣化検出が可能となる。
【００２６】
本発明の第３の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１又は第２の発明に加えて、基準値が、特定モジュールの発電可能な理想電流値である場合に、判定手段は、測定温度値に基づいて、特定モジュールの発電電流値と理想電流値との差分値を算出し、差分値が所定値以上である場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００２７】
この構成により、モジュール毎の劣化状態が、モジュール毎のスペックとの比較の上で判定できる。
【００２８】
本発明の第４の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第３の発明に加えて、判定手段は、理想電流値を測定温度値で補正した補正理想電流値を算出し、特定モジュールの発電電流値と補正理想電流値との差分値を算出し、差分値が所定値以上である場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００２９】
この構成により、温度によって変化しうる発電状態を考慮した上で、モジュール毎の劣化状態が判定できる。
【００３０】
本発明の第５の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１から第４のいずれかの発明に加えて、基準値が、複数のモジュールのそれぞれの発電電流値の平均値である場合に、判定手段は、特定モジュールの発電電流値と平均値との差分値を算出し、差分値が所定値以上である場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００３１】
この構成により、絶対的な基準ではなく、複数のモジュールとの相対的な関係によって、モジュールの劣化状態が判定できる。
【００３２】
本発明の第６の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１から第５のいずれかの発明に加えて、判定手段は、特定モジュールの発電電流値が所定値以下である場合には、特定モジュールを、故障状態として判定する。
【００３３】
この構成により、発電状態の非常に悪くなっているモジュールを、即座に故障と判定でき、故障モジュールの修理や交換へのスムーズな接続が可能となる。
【００３４】
本発明の第７の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１から第６のいずれかの発明に加えて、測定値を所定期間に渡って記憶する累積値記憶部を更に備え、判定手段は、所定期間における特定モジュールの発電電流値の変化が、所定期間における理想電流値もしくは補正理想電流値の予想される変化よりも大きく、変化の差分が所定値以上である場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００３５】
この構成により、経年変化を基準とした、モジュールの劣化状態が判定できる。経年変化を基準とすることで、モジュールの劣化状態は、より高い精度と実使用に即した状態で、判定できる。
【００３６】
本発明の第８の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１から第６のいずれかの発明に加えて、判定手段は、所定期間における特定モジュールの発電電流値の累積値が、所定期間における理想電流値もしくは補正理想電流値の累積値より小さく、累積値の差分が所定値以上である場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００３７】
この構成により、経年変化を基準とした、モジュールの劣化状態が判定できる。経年変化を基準とすることで、モジュールの劣化状態は、より高い精度と実使用に即した状態で、判定できる。
【００３８】
本発明の第９の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第１から第６のいずれかの発明に加えて、記憶部は、特定モジュールの所定期間における日照時間を記憶しており、判定手段は、所定期間における特定モジュールの発電電流値と日照時間との乗算値と、所定期間における理想電流値もしくは補正理想電流値と日照時間との乗算値と、の差分値が所定値以上の場合には、特定モジュールを、劣化状態として判定する。
【００３９】
この構成により、日照時間によって発電量が変化することも考慮した高い精度でのモジュールの劣化状態の判定が行える。
【００４０】
本発明の第１０の発明に係る太陽光発電装置の劣化検出装置では、第３から第９のいずれかの発明に加えて、判定手段が、異なる複数のタイミングで、所定回数以上において特定モジュールを劣化状態であると判定する場合に、判定手段は、特定モジュールを劣化モジュールとして決定する。
【００４１】
この構成により、判定精度と判定結果に対する信頼性が向上する。
【００４２】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施の形態を説明する。
【００４３】
なお、本明細書におけるモジュールとは、太陽光発電装置において複数のセルで構成されたユニットであり、パネルと呼ばれることもある部位である。但し、詳細な意味に限定されるものではなく、商業施設や一般住宅に設置される太陽光発電装置を構成する複数のユニットのそれぞれを示すものである。
【００４４】
（実施の形態１）
まず、実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置の概要について説明する。
【００４５】
（概要）
図１は、本発明の実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。なお、図１は、太陽光発電装置の一部と太陽光発電装置の劣化検出装置とを同じ図面に示している。
【００４６】
太陽光発電装置２は、アレイ４、アレイ４を構成する複数のモジュール５、複数のモジュール５のそれぞれを構成する最少発電単位であるセル６を備えている。なお、本来的には、パワーコンディショナなども備えているが、説明の便宜のために割愛する。
【００４７】
太陽光発電装置の劣化検出装置３（以下、説明の簡便のために「劣化検出装置」と記載する）は、太陽光発電装置２と接続され、太陽光発電装置２が備える複数のモジュール５の劣化を検出する。
【００４８】
劣化検出装置３は、複数のモジュール５のそれぞれについて、所定の測定値を測定する測定手段７、所定の基準値を記憶する記憶部８、測定値と基準値とに基づいて、複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する判定手段９と、を備える。
【００４９】
ここで、アレイ４に含まれる左下のモジュールを特定モジュール１０とする。
【００５０】
測定手段７は、複数のモジュール５のそれぞれが発電している発電電流値、複数のモジュール５のそれぞれの温度である測定温度値の少なくとも一つを測定する。このとき、測定手段７は、複数のモジュール５のそれぞれに設けられてもよいし、複数のモジュール全体をまとめて設けられても良い。測定手段は、複数のモジュール５のそれぞれで測定した発電電流値と測定温度値とを、判定手段９に出力する。
【００５１】
記憶部８は、判定手段９が特定モジュール１０の劣化状態を判定するのに所定の基準となる基準値を記憶する。なお、図１では記憶部８は判定手段９と異なる要素として記載されているが、判定手段９に含まれる要素であっても良い。
【００５２】
判定手段９は、記憶部８から基準値を読み出す。また、測定手段７から特定モジュール１０の発電電流値と測定温度値とを読み出す。
【００５３】
判定手段は、測定値である発電電流値と基準値とを比較する。このとき、発電電流値と基準値とを単純に比較してもよいし、測定温度値に基づいて比較しても良い。あるいは、判定手段９は、発電電流値および基準値のいずれかを測定温度値によって補正した上で、発電電流値と基準値とを比較しても良い。なお、発電電流値との比較を行うために、基準値は、特定モジュール１０の発電可能な理想電流値であることも好適である。測定温度値を考慮して判定が行われることで、天候や気象条件に左右されにくい、モジュールの劣化検出が行われる。
【００５４】
判定手段９は、発電電流値と基準値との比較に基づいて、特定モジュール１０の劣化・故障を判定する。判定手段９は、判定結果を出力する。
【００５５】
なお、判定手段９は、測定手段７が測定値を得れば、即座に判定することができるので、劣化検出装置３は、リアルタイムでモジュールの劣化を検出できる。また、測定手段７が連続的に測定値を測定すれば、判定手段９も連続的にモジュールの劣化度合いを判定できる。このため、劣化検出装置３は、常時、モジュールの劣化を検出できる。
【００５６】
このとき、判定手段９は、複数のモジュール５のそれぞれを、順々にあるいは並列に判定対象の特定モジュールとして判定を行い、複数のモジュール５の内、どのモジュールが劣化・故障しているかを検出する。太陽光発電装置２においては、アレイ４に含まれる複数のモジュール５のそれぞれに位置を示すＩＤ番号が付与されていることが多い。判定手段９は、判定を行う特定モジュールのＩＤ番号を読み取った上で、劣化・故障を判定する。この結果、判定手段９は、ＩＤ番号で特定されるモジュールの劣化・故障を判定して、判定結果を出力できる。すなわち、劣化検出装置３は、アレイ４に含まれる複数のモジュールの内、どのモジュールに異常が存在するかを特定できる。
【００５７】
判定結果は、有線通信や無線通信などで、設置者あるいは管理センターに通信される。
【００５８】
設置者や管理センターは、判定結果を受信すると、この判定結果に応じた対応を行う。例えば、設置者や管理センターは、劣化や故障をしているモジュールを修理したり交換したりする手配を整えたり、劣化や故障をしているモジュールを太陽光発電装置２から切り離す処理を行ったりする。
【００５９】
以上のように、劣化検出装置３は、天候や気象条件に左右されにくく、位置の特定されたモジュールの劣化をリアルタイムで検出できる。
【００６０】
次に、各部の詳細について説明する。
【００６１】
（測定手段）
まず、測定手段７について説明する。
【００６２】
測定手段７は、複数のモジュール５のそれぞれについて、所定の測定値を測定する。所定の測定値は、複数のモジュール５のそれぞれが発電している発電電流値、複数のモジュール５のそれぞれの温度である測定温度値の少なくとも一つを含む。また、測定値は、複数のモジュール５のそれぞれにおける日照時間を含んでも良い。
【００６３】
測定手段７は、複数のモジュール５のそれぞれに設置された電流測定デバイスおよび温度測定デバイス（これら２つのデバイスは、一体であっても別体であってもよい）を用いて、モジュール５の発電電流値や測定温度値を測定する。電流測定デバイスは、例えば、複数のモジュール５のあるモジュールと他のモジュールとを接続する入出力信号線に接続されることで、モジュールが実際に発電している発電電流値を測定できる。
【００６４】
温度測定デバイスは、接触温度計や非接触温度計を用いる。
【００６５】
温度測定デバイスは、モジュールの表面、モジュールの内部、モジュールの中央付近、モジュールの端部付近などの種々の位置の内、仕様により定められる位置の温度を測定する。あるいは、温度測定デバイスは、モジュールの表面、モジュールの内部、モジュールの中央付近、モジュールの端部付近などの全ての位置での温度の平均値を、測定温度値として測定する。
【００６６】
また、測定手段７は、複数のモジュール５のそれぞれにおける日照時間を測定してもよい。日照時間は、照度計を用いて測定される。
【００６７】
測定手段７は、このような電流測定デバイスや温度測定デバイスを用いて、発電電流値および測定温度値を測定する。また、測定手段７は、半導体メモリ、磁気メモリ、光ディスクなどを備える記憶装置に、これら測定した測定値を記憶させても良い。
【００６８】
測定手段７は、測定した測定値を、判定手段９に出力する。このとき、測定手段７は、自ら判定手段９に測定値を出力してもよいし、判定手段９の要求に基づいて測定値を出力しても良い。
【００６９】
なお、測定手段７は、アレイ４が含む複数のモジュール５の全てについての測定値を常に測定しなければならないわけではない。測定手段７は、仕様や管理者の設定に応じて、複数のモジュール５のいずれかのモジュールを選択して測定値を測定しても良い。
【００７０】
なお、アレイ４は複数のモジュール５を備えているが、複数のモジュール５のそれぞれには、アレイ４における位置を示す識別子が付与されている。測定手段７は、特定モジュール１０の発電電流値や測定温度値を測定するのにあわせて、特定モジュール１０の識別子を識別する。識別子を読み取ることで、アレイ４におけるどの位置のモジュールについて劣化を検出しているかが、設置者や管理者にとっては容易に判別できる。
【００７１】
測定手段７は、測定値を出力する際には、この特定モジュールの識別子をあわせて出力する。結果として、記憶部８に測定値が記憶される場合には、モジュールのアレイ４の中での位置を示す識別子と共に、測定値が記憶される。同様に、判定手段９が特定モジュールの劣化度合いを判定する際には、アレイ４の中での位置を示す識別子によって、どの位置のモジュールであるかを特定した上で判定できる。
【００７２】
（記憶部）
次に、記憶部８について説明する。
【００７３】
記憶部８は、基準値を記憶する。記憶部８は、半導体メモリ、光ディスク、磁気ディスク、ハードディスクドライブなど、電子データを記憶できる種々のデバイスを含む。記憶部８は、測定手段７、判定手段９とは別の要素であってもよいし、一体の要素であってもよい。例えば、記憶部８は、測定手段７が測定した測定値を、基準値と共に記憶しても良い。
【００７４】
記憶部８は、記憶している基準値を、判定手段９に出力する。このとき、記憶部８は、自ら判定手段９に基準値を出力してもよいし、判定手段９の要求に基づいて基準値を出力しても良い。
【００７５】
基準値は、判定手段９が劣化度合いを判定する判定の対象となる特定モジュール１０が、本来的に有する理想的な理想電流値を含む。理想電流値は、例えば、太陽光発電装置のモジュールやアレイのメーカが提供するデータシートから得られる。図２は、本発明の実施の形態１におけるデータシートを説明する説明図であり、図２は、データシートの一例を示す。
【００７６】
データシートは、多くの場合、モジュールの種類に応じた、発電可能な理想電流値を記載しており、例えば図２のように、最少値（Ｍｉｎ）、中間値（Ｔｙｐ）、最大値（Ｍａｘ）を示している。
【００７７】
理想電流値は、特定モジュール１０の理想的に発電可能な電流値を示しており、この理想電流値と実際に発電している発電電流値との乖離状態で、特定モジュール１０の劣化度合いを判定できる。
【００７８】
記憶部８は、理想電流値を測定温度値で補正した補正理想電流値を、記憶しても良い。あるいは、アレイ４が備える複数のモジュール５のそれぞれで測定された発電電流値の平均値や合計値を記憶しても良い。
【００７９】
判定手段は、補正理想電流値、発電電流値の平均値、発電電流値の合計値などを基準に、特定モジュール１０の劣化度合いを判定することもありうるからである。
【００８０】
なお、記憶部８は、太陽光発電装置２の設置場所に近接して設置されてもよいし、離隔して設置されても良い。例えば、多くの場所に設置された太陽光発電装置を一括管理する管理センターに、記憶部８が設置されても良い。
【００８１】
（判定手段）
次に、判定手段９について説明する。
【００８２】
判定手段９は、測定値と基準値に基づいて、特定モジュール１０の劣化度合いを判定する。概説的には、測定された特定モジュール１０の発電電流値が、理想電流値に対して所定以上の乖離を有する場合には、判定手段９は、特定モジュール１０を、劣化状態として判定する。あるいは判定手段９は、特定モジュール１０を、故障状態として判定する。
【００８３】
なお、測定手段７および判定手段９の少なくとも一方は、アレイ４が含む複数のモジュール５の中での、特定モジュール１０の位置を特定する識別子を識別できる。このため、判定手段９は、特定もジュール１０を複数のモジュール５の中での位置を特定した上で、特定モジュール１０の劣化度合いの判定結果を出力できる。この結果、太陽光発電装置の設置者や管理者は、アレイ４の中でのどの位置にあるモジュールが、劣化や故障を起こしているかを即座に判断でき、劣化や故障に対する対応を取りやすくなる。例えば、故障を起こしているモジュールを交換する必要がある場合には、どの位置のモジュールが故障を起こしているかがわかっているので、交換対象となるモジュールは容易に特定される。このため、設置者や管理者は、特定できたモジュールのみを即座に交換・修理できる。
【００８４】
判定手段９は、基準値をカスタマイズすることで、種々の観点から判定できる。以下に、それぞれを説明する。
【００８５】
（判定手法その１）
判定手段９は、特定モジュール１０の発電電流値と理想電流値との差分値を算出する。更に、判定手段９は、この差分値を所定の閾値と比較する。差分値が所定の閾値以上である場合には、判定手段９は、特定モジュールを、劣化状態として判定する。なお、差分値が所定の閾値以上であるとすることに加えて、発電電流値が理想電流値以下であるとの条件を加味して、判定手段９は、特定モジュール１０を、劣化状態として判定しても良い。
【００８６】
なお、理想電流値は、太陽光発電装置２のモジュールあるいはアレイを製造するメーカが図２に示されるスペックとして提供することが多い。メーカは、モジュールのみを製造して施工業者に販売し、施工業者が必要な数のモジュールを直列・並列に接続して、商業施設や一般住宅に設置する。
【００８７】
劣化検出装置３の検出結果を利用するのは、太陽光発電装置２の設置者や管理者（施工業者が管理者を兼ねることもある）である。設置者や管理者は、実際に設置された太陽光発電装置２が含むモジュール毎の発電電流値と理想電流値との比較によって、メーカが提供するスペックに比して大きく劣る場合に、モジュールが劣化しているとして認識できる。
【００８８】
（判定手法その２）
判定手段９は、図２のデータシートに示される理想電流値を、測定温度値で補正して、補正理想電流値を算出する。データシートに表される理想電流値は、所定温度（通常は、室温を基準とする）での発電電流値であるので、モジュールの温度変化によっては、モジュールが発電可能な電流値は変化しうる。例えば、モジュールの温度が上がっていくと、モジュールが発電可能な電流値は、室温を基準とした理想電流値よりも小さくなることが知られている。
【００８９】
このことを考慮すると、理想電流値が、室温での発電可能な電流値であることから、モジュールの発電電流値とこの理想電流値を比較しただけで、モジュールの劣化度合いを判定するのは不十分であるといえる（なお、理想電流値との比較は、簡便な処理でもあるので、設置者や管理者の要請に応じて、理想電流値と補正理想電流値を比較対象に用いるかを決めればよい）。
【００９０】
このため、判定手段９は、理想電流値を測定温度値で補正した補正理想電流値を算出して、この補正理想電流値を発電電流値との比較に用いる。すなわち、基準値は、補正理想電流値である。なお、補正理想電流値は、記憶部８に記憶されていてもよいし、判定手段９が保持していても良い。
【００９１】
補正理想電流値は、理想電流値に測定温度値を所定の数式で乗算して得られてもよいし、対応テーブルによって得られても良い。あるいは、図３に示されるように、温度によって理想電流値を補正する補正関数に従って、補正理想電流値が得られても良い。図３は、本発明の実施の形態１における、補正理想電流値と温度との関係を示すグラフである。
【００９２】
図３は一例であるが、室温（データシートに示される理想電流値を示す温度）での補正理想電流値を最大として、室温より温度が上がるにつれて補正理想電流値は減少し、室温より温度が下がるにつれて補正理想電流値は減少する。すなわち、太陽光発電装置２に対する外部環境を考慮した補正理想電流値が得られる。
【００９３】
もちろん、図３のグラフは一例であり、グラフは、温度が上昇するにつれて補正理想電流値が低下する曲線（直線）を有していても良い。
【００９４】
判定手段９は、記憶部８に記憶されている理想電流値と測定温度値を用いて、補正理想電流値を算出し、この補正理想電流値を発電電流値と比較してモジュールの劣化度合いを検出する。
【００９５】
判定手段９は、特定モジュール１０の発電電流値と測定温度値を読み出す。更に理想電流値を読み出す。読み出された測定温度値と理想電流値とを用いて補正理想電流値を算出する。ついで、判定手段９は、発電電流値と補正理想電流値との差分値を算出する。このとき、差分値が所定の閾値以上である場合には、判定手段９は、この特定モジュール１０を、劣化状態として判定する。なお、発電電流値が補正理想電流値よりも小さい上で、差分値が所定の閾値以上であることを、判定手段９は、劣化の条件としてもよい。
【００９６】
なお、ここでは、測定温度値を用いて理想電流値を補正したが、測定温度値を用いて発電電流値を補正して、測定温度値により補正された発電電流値と理想電流値との比較に基づいて、判定手段９は、特定モジュール１０の劣化状態を判定しても良い。
【００９７】
（判定手法その３）
判定手段９および測定手段７の少なくとも一方は、複数のモジュール１０の全て（あるいは過半）の発電電流値の平均値を算出する。記憶部８は、この平均値を基準値として記憶する。あるいは、判定手段９は、測定手段７が算出した平均値を用いて、あるいは自ら算出した平均値を用いて、特定もジュール１０の劣化状態を判定する。
【００９８】
アレイ４に含まれる複数のモジュール５のそれぞれは、データシートに記載の理想電流値を有する。劣化検出装置３は、この理想電流値（あるいは補正理想電流値）を基準として、モジュール毎の劣化状態を検出する。しかし、このような絶対値との比較ではなく、複数のモジュール同士での相対的な比較によって、モジュール毎の劣化状態を判定することも好適である場合がある。例えば、太陽光発電装置２が設置されてから年月が経過し、太陽光発電装置２全体として経年劣化している場合には、個々のモジュールを絶対値と比較して劣化を検出するのは適当でない。アレイ４に含まれる多くのモジュールが劣化状態として検出されてしまいかねないからである。
【００９９】
経年劣化が前提となっている太陽光発電装置２では、複数のモジュール５の中でのモジュールの良し悪しに基づいて劣化状態を検出する方が適当である。
【０１００】
判定手段９は、特定モジュール１０の発電電流値と平均値との差分値を算出する。
【０１０１】
判定手段９は、この差分値が所定の閾値以上である場合には、特定モジュール１０を、劣化状態であるとして判定する。このとき、特定モジュール１０の発電電流値が平均値よりも小さい上で、差分値が所定の閾値以上であることを、劣化の条件としても良い。
【０１０２】
このように、アレイ４に含まれる複数のモジュール５の中における相対的な位置づけによって、特定モジュール１０の劣化状態を判定することも好適である。
【０１０３】
なお、判定手段９は、複数のモジュールのそれぞれの発電電流値の平均値ではなく、アレイ４全体が発電している電流値（パワーコンディショナでの電流値）を、比較対照としても良い。
【０１０４】
（判定手法その４）
判定手段９は、特定モジュール１０の発電電流値が、所定値以下である場合には、特定モジュール１０を故障状態として判定する。理想電流値や補正理想電流値との比較にかかわらず、最低限の発電量を生じさせていない特定モジュール１０は、故障状態であると考えられる。このため、最低限の発電量に対応する電流値を、所定値と定めると、判定手段９は、発電電流値がこの所定値以下である場合に、特定モジュール１０を故障状態として判定する。
【０１０５】
また、図４に示されるように、判定手段９は、異なる複数のタイミングのそれぞれで発電電流値と所定値を比較して、所定値以下である比較結果が所定回数以上である場合に、判定手段９は、特定モジュールを故障状態であると判定しても良い。
【０１０６】
図４は、本発明の実施の形態１における故障状態を判定する説明図である。
【０１０７】
図４に示されるように、判定手段９は、特定モジュール１０の発電電流値を、タイミングｔ１〜ｔ６の６回にわたって、所定値と比較している。タイミングｔ４においてのみ、発電電流値は、所定値を上回っている。しかし、他のタイミングでは、発電電流値は、所定値を下回っている。このように、比較回数の過半の回数において発電電流値が所定値を下回っていることから、判定手段９は、特定モジュール１０を故障状態であるとして判定する。
【０１０８】
以上のように、特定モジュール１０の発電電流値が所定値以下である場合には、判定手段９は、特定モジュール１０を、故障状態であるとして判定する。
【０１０９】
（判定手法その５）
判定手段９は、ある特定のタイミングにおける判定、あるいは複数のタイミングにおける判定により、特定モジュール１０の劣化状態を判定するだけでなく、所定期間における特定モジュール１０の変化に基づいて、特定モジュール１０の劣化状態を判定する。所定期間にわたる発電電流値の変化を基準に判定することで、より高い精度での判定が行われる。
【０１１０】
あるタイミングでの発電電流値と基準値との比較だけでは、気象条件、外部条件、内部条件、誤差、などの外的要因によって判定結果がばらつくことがある。複数のタイミングでの比較によってこの判定結果のばらつきを低減することもできる。しかし、モジュールの劣化は、特定時の発電電流値によるよりも、時間経過に伴う経年劣化により判定される方が適当であることも多い。
【０１１１】
判定手法その５では、判定手段９は、所定期間に渡る発電電流値の変化と、理想電流値もしくは補正理想電流値の予測変化との差分に基づいて、特定モジュール１０の劣化状態を判定する。
【０１１２】
劣化検出装置３は、発電電流値や測定温度値などの測定値を、所定期間に渡って記憶する累積値記憶部２０を更に備える。累積値記憶部２０は、発電電流値の所定期間における累積値や発電電流値の所定期間における変化曲線を記憶する。図５は、本発明の実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。劣化検出装置３は、累積値記憶部２０を備える。
【０１１３】
判定手段９は、累積値記憶部２０が記憶する特定モジュール１０の発電電流値の累積値あるいは所定タイミングごとの発電電流値を、読み出す。判定手段９は、所定タイミングごとの発電電流値をグラフ上にプロットする。このとき、所定期間に渡って、発電電流値をプロットする。更に、判定手段９は、記憶部８が記憶する理想電流値（あるいは補正理想電流値））の所定期間に渡っての予想変化曲線をグラフにプロットする。なお、発電電流値の変化曲線と理想電流値の変化曲線は、判定手段９が計算してもよいし、記憶部８、累積記憶部２０が計算した上で記憶しておいても良い。
【０１１４】
このように、判定手段９は、発電電流値の変化曲線と理想電流値の変化曲線（あるいは補正理想電流値の変化曲線）とをグラフにプロットする。このプロットされたグラフは図６のようになる。図６は、本発明の実施の形態１における発電電流値と理想電流値の時間変化曲線を示すグラフである。
【０１１５】
図６に示されるように、所定期間においては、特定モジュール１０の経年劣化によって、発電電流値が次第に減少することがある。また、工場出荷の後に経年劣化してモジュールそのものの理想電流値も減少することは予想されている。所定期間における理想電流値の変化は、図２に示されるデータシートなどから得ることができる。判定手段９は、発電電流値の変化曲線と理想電流値の変化曲線とを比較する。このとき、図６に示されるように、発電電流値の変化曲線が、理想電流値の変化曲線に対して大きな乖離（差分）を有する場合には、特定モジュール１０は、経年劣化を生じさせているものと考えられる。
【０１１６】
このため、図６の状態を検出した判定手段９は、特定モジュール１０を、劣化状態として判定する。すなわち、判定手段９は、所定期間における発電電流値の変化が、所定期間における予想される理想電流値の変化よりも、所定値以上に大きい場合には、特定モジュール１０を、劣化状態として判定する。
【０１１７】
このように、判定手段９は、時間要素をも考慮して、特定モジュール１０の劣化状態を判定することも好適である。
【０１１８】
なお、図６では、理想電流値の変化を判定の基準としたが、測定温度値によって補正される補正理想電流値の変化を判定の基準としても良い。
【０１１９】
（判定手法その６）
判定手段９は、累積値記憶部２０が記憶する特定モジュール１０の発電電流値の累積値を基準に、特定モジュール１０の劣化状態を判定する。
【０１２０】
図７は、本発明の実施の形態１における発電電流値の累積値と理想電流値の累積値とを比較するグラフである。
【０１２１】
判定手段９は、累積値記憶部２０から、特定モジュール１０の発電電流値の累積値を読み出す。加えて、判定手段９は、記憶部８から理想電流値もしくは補正理想電流値の累積値を読み出す（あるいは、理想電流値もしくは補正理想電流値を読み出して、所定期間に渡って累積演算する）。これらの累積値は、所定期間における累積値である。
【０１２２】
図７のグラフに示される理想電流値の累積値は、データシートから得られるデータと所定期間との乗算で得られる。時間の増加に伴って、理想電流値の累積値は増加していく。
【０１２３】
一方、発電電流値の累積値も、時間の増加に伴って増加していく。図７のグラフのとおりである。ここで、図７に示されるように、発電電流値の累積値が時間の経過と共に、その増加率が悪くなり、理想電流値の累積値と差分が生じることがある。この差分が所定値以上である場合には、判定手段９は、特定モジュール１０を、劣化状態であるとして判定する。発電電流値が、本来の発電量を生じさせていないことが所定期間に渡って明確であるからである。
【０１２４】
累積値記憶部２０は、記憶部８と一体でも別体でも良い。
【０１２５】
図７では、理想電流値の変化を判定の基準としたが、測定温度値によって補正される補正理想電流値の変化を判定の基準としても良い。
【０１２６】
判定手法その５、その６のように、所定期間の変化や累積値を基準としてモジュールの劣化状態を判定することは、モジュールにおいて生じやすい経年劣化を容易に検出できる。
【０１２７】
（判定手法その７）
判定手段９は、日照時間を考慮したモジュールの劣化状態の判定を行っても良い。
【０１２８】
記憶部８は、所定期間における日照時間を記憶する。この日照時間は、所定期間における実際の日照時間を、照度計を用いて測定された結果でもよいし、累積された気象データに基づいて算出された結果でも良い。
【０１２９】
前者の場合には、測定手段７が、発電電流値や温度以外に、日照時間を測定して、その測定値を記憶部８に記憶させる。この日照時間を、所定期間に渡って記憶させることで、所定期間における日照時間の累計値が記憶される。後者の場合には、記憶部８は、過去所定年数分から計算される一般的な日照時間（例えば、７月の１ヶ月は、３００時間であるなど）を記憶しておく。
【０１３０】
特定モジュール１０の発電電流値は、日照時間によっても左右される。このため、判定手段９は、日照時間の要素を、発電電流値および理想電流値に加味した上で、特定モジュール１０の劣化状態を判定する。
【０１３１】
判定手段９は、所定期間における発電電流値の累計値（もしくは平均値）に所定期間における日照時間の累計値（もしくは平均値）を乗算する。この乗算結果を第１乗算結果とする。
【０１３２】
同様に、判定手段９は、所定期間における理想電流値（もしくは補正理想電流値）の累計値（もしくは平均値）に、所定期間における日照時間の累計値（もしくは平均値）を乗算する。この乗算結果を第２乗算結果とする。
【０１３３】
判定手段９は、第１乗算結果と第２乗算結果とを比較して差分値を算出する。この差分値が、所定の閾値以上である場合には、判定手段９は、特定モジュール１０を、劣化状態であるとして判定する。また、このとき、第１乗算結果が第２乗算結果よりも小さいことを加重条件としてもよい。
【０１３４】
また、日照時間と測定温度値との両方を、発電電流値および理想電流値の補正要素に用いることで、気象条件や外部条件をより反映したモジュールの劣化検出ができる。
【０１３５】
例えば、日照時間と測定温度値を、発電電流値と理想電流値の両方に乗じた上で、それぞれの乗算結果を比較する。判定手段９は、この比較の結果に基づいて、モジュールの劣化状態を判定する。
【０１３６】
なお、以上の判定手法その１〜その７の全てでは、判定手段９は、アレイ４に含まれる複数のモジュール５のそれぞれのモジュールを、都度ごと特定モジュール１０として判定を行い、アレイ４に含まれる全てのモジュールについての、劣化状態の判定を行う。あるいは、必要なモジュールの全てについての劣化状態の判定を行う。
【０１３７】
また、判定手段９は、以上の判定手法のそれぞれにおいて、異なる複数のタイミングにおいて特定モジュールの劣化状態を判定する。このとき、複数のタイミングにおいて劣化状態であると判定される回数が、所定回数以上である場合に、特定モジュールを劣化モジュールであると決定しても良い。すなわち、あるタイミングにおいて上述の判定手法を用いた判定結果が劣化状態であることに加えて、他のタイミングにおいて上述の判定手法を用いた判定結果が劣化状態であることによって、判定手段９は、特定モジュール１０を真の劣化状態であると判定する。すなわち、あるタイミングでの判定結果だけを用いてもよいし、複数のタイミングでの判定結果の総合結果を用いてもよい。
【０１３８】
このように、複数回に渡って劣化状態を検出することで、より正確に特定モジュール１０の劣化や故障を判定できる。
【０１３９】
以上のように、実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置は、実際の気象条件や外部条件を考慮した上で、アレイに含まれるモジュールの劣化状態を検出できる。しかも、測定手段と判定手段とは、常時動作できるので、劣化検出装置は、リアルタイムにモジュールの劣化状態を検出でき、検出に当たっては、専門エンジニアが専用の装置を持って現場にて対応する必要がない。また、モジュールに付与されている識別子を判定結果に含めることができるので、設置者や管理者は、いずれの位置にあるモジュールに劣化が生じているかを容易に把握できる。
【０１４０】
なお、実施の形態１に説明する劣化検出装置は、その一部もしくは全部がハードウェアで構成されても良いし、ソフトウェアで構成されても良い。ソフトウェアで構成される場合には、中央演算処理装置がメモリに記憶されているプログラムとデータを読み出して、所定の演算（実施の形態１で説明した判定手法に従う演算）を行って劣化を検出する。また、方法として実現されても良い。この場合には、太陽光発電装置を構成する複数のモジュールのそれぞれについて、所定の測定値を測定し、記憶部が記憶する所定の基準値を読み出し、測定値と基準値とに基づいて、複数のモジュールに含まれる特定モジュールの劣化度合いを判定する。
【０１４１】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２について説明する。
【０１４２】
図８は、本発明の実施の形態２における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。図８は、太陽光発電装置の一部と劣化検出装置を示している。
【０１４３】
劣化検出装置３０は、実施の形態１で説明した劣化検出装置３に比較して、出力手段４０を備えている。
【０１４４】
出力手段４０は、測定手段７が測定した測定値、判定手段９が判定した判定結果の少なくとも一つを出力する。例えば、出力手段４０は、測定手段７が測定した、モジュール毎の発電電流値、測定温度値、日照時間などのデータを出力する。あるいは／合わせて、出力手段４０は、判定手段９が判定したモジュール毎の劣化／非劣化の判定結果を出力する。このとき、モジュールを識別子で特定した上で、出力手段４０は、測定値や判定結果を出力する。
【０１４５】
出力手段４０は、有線通信、無線通信の少なくとも一つで、測定値や判定結果を出力する。例えば、インターネット回線や電話回線を通じて、出力手段４０は、測定値や判定結果を出力する。あるいは、近距離であればブルートゥース、ＯＦＤＭ通信、無線ＬＡＮなどを用いて出力し、遠距離であれば、ＦＭ通信、ＡＭ通信、短波通信などを用いて出力する。また、部分的に有線通信であって、部分的に無線通信である混在通信で、出力手段４０は、測定値や判定結果を出力しても良い。出力手段４０は、測定値や判定結果を、必要な処理のために出力することが目的であり、その通信手段は問わないものである。
【０１４６】
また、出力手段４０が、測定手段７での測定値を出力する場合には、劣化検出装置３が含む記憶部８および判定手段９は、測定手段７および出力手段４０とは離隔した位置に設けられても良い。
【０１４７】
すなわち、太陽光発電装置２が設置されている場所において、測定手段７と出力手段４０が設置される。記憶部８と判定手段９は、出力手段４０から受信する測定値を用いてモジュールの劣化状態を判定すればよいので、判定手段９（と記憶部８）は、太陽光発電装置２の設置場所から離隔した場所において設置されてもよい。この場合には、太陽光発電装置が設置されている複数の設置場所のそれぞれにおいて、測定手段７と出力手段４０とが設置される。複数の設置場所のそれぞれにおいて、測定手段７は、モジュール毎の測定値を測定し、出力手段４０が、測定結果を別の場所に設置されている劣化検出装置に出力する。
【０１４８】
図９は、本発明の実施の形態２における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。図９では、３箇所に太陽光発電装置２が設置されている。また３つの太陽光発電装置２のそれぞれには、太陽光発電装置としての識別子が付与されており、図９においては、左から、「Ａ」、「Ｂ」、「Ｃ」の識別子が付与されている。
【０１４９】
３つの太陽光発電装置２のそれぞれには、測定手段７と出力手段４０が備えられている。３つの測定手段７のそれぞれは、対応する太陽光発電装置に含まれるモジュール毎の発電電流値、測定温度値、日照時間を計測して、出力手段４０を介して、これらの測定値を、劣化検出装置５０に出力する。このとき、太陽光発電装置２のそれぞれには、「Ａ」、「Ｂ」、「Ｃ」の識別子が付与されているほか、太陽光発電装置２が含む複数のモジュールのそれぞれにも識別子が付与されている。例えば、図９における左端の太陽光発電装置２のあるモジュールの識別子は、「Ａ：５−１」のように表される。出力手段４０は、この「Ａ：５−１」（太陽光発電装置Ａの５列１行目のモジュールであることを示す）の識別子で示されるモジュールの測定値を、劣化検出装置５０に出力する。
【０１５０】
劣化検出装置５０は、このように複数の設置場所に設置されている異なる太陽光発電装置２の中のモジュールを特定した測定値の情報を得ることができる。この測定値の情報に基づいて、記憶部８に記憶されている各種基準値（実施の形態１で説明した基準値）を用いてモジュールの劣化状態を判定する。このとき、判定対象のモジュールの位置は、設置場所およびアレイの中での配置位置の両方から特定されているので、劣化検出装置５０は、モジュールを特定した上で劣化状態を検出できる。なお、判定手段９での判定の手法は、実施の形態１で説明したとおりである。
【０１５１】
例えば、複数の場所に太陽光発電装置２が設置されており、これら複数の太陽光発電装置のモジュール毎の劣化状態を検出する管理センターがある場合には、この管理センターに、図９に示される劣化検出装置５０が設置され、太陽光発電装置が設置されている場所ごとに、測定手段７と出力手段９とが設置されている。管理センターに設置される劣化検出装置５０は、判定手段９と記憶部８とを備えており、複数の太陽光発電装置についての劣化検出を、集中的に行うことができる。
【０１５２】
出力手段４０が、測定手段７での測定値を、有線あるいは無線によって管理センターに出力できることで、管理センターにおいて集中的に太陽光発電装置に含まれるモジュールの劣化状態を（そのモジュールの位置を特定した上で）検出できる。
【０１５３】
なお、出力手段４０が、判定結果を出力する場合には、記憶部８および判定手段９は、各太陽光発電装置２の設置場所に設置される。このとき、出力手段４０は、各太陽光発電装置２での判定結果を、管理センターに出力する。管理センターは、得られた判定結果を元に、モジュールの修理や対応を集中的に決定・管理する。
【０１５４】
このように、出力手段４０によって、個別あるいは集中的な太陽光発電装置の劣化管理と復帰処理とが実現できる。
【０１５５】
以上のように、実施の形態２における太陽光発電装置の劣化検出装置は、出力手段によって、個別の管理や集中的な管理を行える。
【０１５６】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３について説明する。
【０１５７】
図１０は、本発明の実施の形態３における太陽光発電装置の劣化検出システムのブロック図である。
【０１５８】
劣化検出システムは、実施の形態１、２で説明した劣化検出装置７０からの判定結果に基づいて警告を発する警告発生装置８１、警告を受ける管理センター８０、警告に基づいて太陽光発電装置（あるいはモジュール）へ所定の処置を行う処置装置８２、管理センター８０からの通報によって太陽光発電装置やモジュールの修理を行う修理センター８３とを備える。
【０１５９】
劣化検出装置７０は、実施の形態１、２で説明した手順で、太陽光発電装置２に含まれる特定モジュール１０の劣化状態を判定する。出力手段４０は、この判定結果を出力する。警告発生装置８１は、判定結果を受信する。受信した判定結果が、劣化状態であるとの情報を含んでいる場合には、警告発生装置８１は、警告を発する。警告としては、音声アラームや光、画像、テキスト、電子メールなどの視覚的アラームがありえる。いずれでもあるいはこれらの組み合わせでもかまわない。
【０１６０】
管理センター８０は、警告を受け取る。警告を受け取った管理センター８０は、問題が生じているものと考え、太陽光発電装置で問題が生じていることを修理センター８３に通知する。このとき、管理センター８０は、いずれの太陽光発電装置であって、太陽光発電装置のいずれの位置のモジュールに問題があるかを特定した上で、修理センター８３に通知できる。
【０１６１】
管理センター８０は、処置装置８２を有しており、処置装置８２は、修理センターと別個／一緒に、太陽光発電装置に対して所定の処置を行う。例えば、太陽光発電装置を自動で停止させるなどの処置である。例えば、修理センター８３による修理が間に合わない場合には、処置装置８２が、先んじて処置を行うことで、太陽光発電装置の設置者への不便を早期に解決できる。
【０１６２】
また、管理センター８０、修理センター８３、太陽光発電装置２、劣化検出装置７０のそれぞれは、インターネット回線、イントラネット回線、電話回線、ＩＳＤＮ回線、無線通信回線などの様々なネットワークで結ばれることも好適である。太陽光発電装置の設置者に対して安心感を与えるからである。このような安心感を与えることで、太陽光発電装置の普及が進みやすくなるメリットもある。
【０１６３】
以上のように、実施の形態３における太陽光発電装置の劣化検出システムは、太陽光発電装置の設置者に安心感を与える。
【０１６４】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４について説明する。
【０１６５】
図１１は、本発明の実施の形態４における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【０１６６】
実施の形態４では、劣化検出装置が、太陽光発電装置のアレイ４から出力される直流電流を交流電流に変換するパワーコンディショナ９０の劣化を検出する。
【０１６７】
パワーコンディショナ９０は、アレイ４に接続される。
【０１６８】
パワーコンディショナ９０は、通常アレイ４やアレイ４が備える複数のモジュール５の個数や接続方法によって発電する最大電流値（および最少電流値）に対応して選択される。このため、太陽光発電装置を設置する施工者によって、最適なパワーコンディショナ９０が選択されるはずである。
【０１６９】
しかしながら、選択ミスやその他の要因によって、パワーコンディショナ９０に劣化や故障などの問題も生じる。このようなパワーコンディショナ９０の劣化や故障を放置すると、太陽光発電装置全体の発電効率が低下する問題が生じる。
【０１７０】
測定手段９１は、パワーコンディショナ９０の温度値および電流値の少なくとも一方を測定する。パワーコンディショナ９０の温度や電流値に異常が見られれば、パワーコンディショナ９０は、劣化や故障を有していると考えられるからである。測定手段９１は、パワーコンディショナ９０の温度値および電流値を、記憶部８および判定手段９の少なくとも一方に出力する。このとき、出力手段９２が、測定した温度値や電流値を記憶部８および判定手段９の少なくとも一方に出力する。出力手段９２は、出力手段４０と同様に、有線、無線の手段を用いる。
【０１７１】
判定手段９は、パワーコンディショナ９０の温度値が所定値以上である場合には、パワーコンディショナ９０を劣化状態として判定する。あるいは、判定手段９は、パワーコンディショナ９０の電流値が所定値以上であったり所定値未満である場合には、パワーコンディショナ９０を、劣化状態として判定する。このような判定手段９における判定によって、パワーコンディショナ９０の劣化状態や故障状態が早期に発見される。
【０１７２】
判定手段９は、パワーコンディショナ９０の温度値が、一定時間以上に渡って所定値以上である場合には、パワーコンディショナ９０が劣化状態や故障状態にあると判定する。あるいは、パワーコンディショナ９０での電流値（これは、アレイ４が発電する合計値である）が一定時間以上にわたって、所定値以上あるいは所定値未満である場合には、パワーコンディショナ９０が劣化状態や故障状態にあると判定する。あるいは、判定手段９は、温度値と電流値とを組み合わせてパワーコンディショナ９０の劣化状態や故障状態を検出しても良い。
【０１７３】
ここで、出力手段４０は、実施の形態３の場合と同様に判定結果を出力する。判定結果は、特定モジュールの劣化、アレイ４全体の劣化、パワーコンディショナ９０の劣化の少なくとも一つを含んでいる。管理センター８０は、実施の形態３での場合と同様に判定結果を受けて、修理センター８３に通知して、モジュール、アレイ４、パワーコンディショナ９０の修理を促したり、可能な範囲での自己修復を行ったりする。
【０１７４】
この結果、モジュール、アレイの劣化のみならず、パワーコンディショナ９０の劣化をも早期に発見して、太陽光発電装置の問題にいち早く対応できる。
【０１７５】
以上、実施の形態１〜４で説明された太陽光発電装置の劣化検出装置、劣化検出システムは、本発明の趣旨を説明する一例であり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲での変形や改造を含む。
【図面の簡単な説明】
【０１７６】
【図１】本発明の実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１におけるデータシートを説明する説明図である。
【図３】本発明の実施の形態１における、補正理想電流値と温度との関係を示すグラフである。
【図４】本発明の実施の形態１における故障状態を判定する説明図である。
【図５】本発明の実施の形態１における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態１における発電電流値と理想電流値の時間変化曲線を示すグラフである。
【図７】本発明の実施の形態１における発電電流値の累積値と理想電流値の累積値とを比較するグラフである。
【図８】本発明の実施の形態２における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【図９】本発明の実施の形態２における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【図１０】本発明の実施の形態３における太陽光発電装置の劣化検出システムのブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態４における太陽光発電装置の劣化検出装置のブロック図である。
【図１２】一般的な太陽光発電装置のブロック図である。
【符号の説明】
【０１７７】
２    太陽光発電装置
３    劣化検出装置
４    アレイ
５    モジュール
６    セル
７    測定手段
８    記憶部
９    判定手段
１０    特定モジュール
２０    累積値記憶部
４０    出力手段
【図１】
2010287608.tif 000003
【図２】
2010287608.tif 000004
【図３】
2010287608.tif 000005
【図４】
2010287608.tif 000006
【図５】
2010287608.tif 000007
【図６】
2010287608.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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