(57)【要約】【課題】光沢計において、光源から出る検査光の光量を変化させた場合に、当該光量毎の光源の温度特性を考慮して光沢度を算出する。【解決手段】被測定面Ｗに対して検査光Ｌ１を照射する光源２１１と、被測定面Ｗで反射される反射光Ｌ２を受光する光検出器２２３と、光源２１１の温度を検出する温度検出部２６と、光源２１１から出る検査光Ｌ１の光量を設定する光量設定信号に基づいて、検査光Ｌ１の光量を調整する光源制御部３０１と、光量設定値に対応する光源２１１の温度特性データ、温度検出部２６により得られた温度信号、及び光検出器２２３により得られた反射光Ｌ２の光量データに基づいて、被測定面Ｗの光沢度を算出する光沢度算出部３０２と、を具備する。【選択図】図１
2010127661.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定面に対して検査光を照射する光源と、
前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、
前記光源の温度を検出する温度検出部と、
前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光を前記光量設定値とする駆動信号を前記光源に出力する光源制御部と、
前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ、前記温度検出部により得られた温度信号、及び前記光検出器により得られた反射光の光量データに基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、を具備する光沢計。
【請求項２】
各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部をさらに備え、
前記光量設定信号が、低光沢度測定レンジの光量設定値である低光沢度用光量設定値又は高光沢度測定レンジの光量設定値である高光沢度用光量設定値を切り替えるためのものであり、
前記温度特性データ格納部が、前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、
前記光沢度算出部が、前記光量設定信号を取得して、低光沢度測定レンジの場合には前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得し、高光沢度測定レンジの場合には、前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得する請求項１記載の光沢計。
【請求項３】
被測定面に対して検査光を照射する光源と、
前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、
前記光検出器により得られた検出信号に基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、
前記光源の温度を検出する温度検出部と、
前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光が前記光量設定値となるように、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記温度検出部により得られた温度信号を用いて前記光源を制御する光源制御部と、を具備する光沢計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、物体表面の光沢度を測定する光沢計に関し、特に、温度補償機能を有する光沢計に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、物体表面の光沢を測定する方法として、鏡面光沢度測定法がある。この鏡面光沢度測定法を用いた光沢度は、特許文献１に示すように、被測定面に対して所定入射角度で検査光を照射する光照射部と、前記被測定面から前記所定入射角度と同じ反射角度で反射される反射光を受光する光検出部と、前記光検出部により得られた検出信号に基づいて、前記測定面の光沢度を算出する光沢度算出部とを備えている。そして、光照射部は、ＬＥＤを備えたものであり、検査光は一定となるように設定され、当該ＬＥＤの温度特性を補償するために温度補償回路が設けられている。
【０００３】
そして近年、光沢度０−２００の低光沢測定レンジと光沢度０−１０００の高光沢測定レンジとで光沢度を測定する場合に、ＬＥＤから出る検査光の光量を切り替えて測定することが行われている。このとき、ＬＥＤの光量切替としては電流制御を行うことが考えられている
【０００４】
しかしながら、ＬＥＤから一定光量の検査光を照射することを前提としていた温度補償回路をそのまま用いると、ＬＥＤに流れる電流に応じてＬＥＤの温度特性が異なることから、正確な温度補償を行うことができないという問題がある。
【特許文献１】特許第２９９６３００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで本発明は、上記問題点を一挙に解決するためになされたものであり、光沢計において、光源から出る検査光の光量を変化させた際に、当該光量毎の光源の温度特性を考慮して光沢度を算出することをその主たる所期課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
すなわち本発明に係る光沢計は、被測定面に対して検査光を照射する光源と、前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、前記光源の温度を検出する温度検出部と、前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光を前記光量設定値とする駆動信号を前記光源に出力する光源制御部と、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ、前記温度検出部により得られた温度信号、及び前記光検出器により得られた前記反射光の光量データに基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、を具備することを特徴とする。
【０００７】
このようなものであれば、光沢度算出部が各光量設定値に対応する光源の温度特性を考慮して光沢度を算出するので、光量設定値を変化させて光沢度を測定する場合それぞれにおいて、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。
【０００８】
光沢度０−２００の低光沢度測定レンジ及び光沢度０−１０００の高光沢度測定レンジの切り替えを行うことができる光沢計において温度補償を好適に行うためには、各光量設定値における前記光源の温度特性データを格納する温度特性データ格納部をさらに備え、前記光量設定信号が、低光沢度測定レンジの光量設定値である低光沢度用光量設定値又は高光沢度測定レンジの光量設定値である高光沢度用光量設定値を切り替えるためのものであり、前記温度特性データ格納部が、前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データ及び前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを格納するものであり、前記光沢度算出部が、前記光量設定信号を取得して、低光沢度測定レンジの場合には前記低光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得し、高光沢度測定レンジの場合には、前記高光沢度用光量設定値に対応する前記光源の温度特性データを取得することが望ましい。
【０００９】
また、本発明に係る光沢計は、被測定面に対して検査光を照射する光源と、前記被測定面で反射される反射光を受光する光検出器と、前記光検出器により得られた検出信号に基づいて、前記被測定面の光沢度を算出する光沢度算出部と、前記光源の温度を検出する温度検出部と、前記検査光を少なくとも２種類以上の光量に設定するための光量設定値を示す光量設定信号を取得して、前記検査光が前記光量設定値となるように、前記光量設定値に対応する前記光源の温度特性及び前記温度検出部により得られた温度を用いて前記光源を制御する光源制御部と、を具備することを特徴とする。このようなものでも、光源の光量設定値毎に温度特性を考慮し、検査光を調整して照射することができるので、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。
【発明の効果】
【００１０】
このように構成した本発明によれば、光沢計において、光源から出る検査光の光量を変化させた際に、当該光量毎の光源の温度特性を考慮して光沢度を算出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下に本発明に係る光沢計１００について、図面を参照して説明する。なお、図１は本実施形態に係る光沢計１００を示す模式的斜視図、図２は検出部の光学的構成を示す模式図、図３はケーシング２３に保護カバー部２４を装着した状態を示す模式図、図４は本体部３の機能構成を示す模式図、図５は本体部３の液晶表示部３１及び操作部３２を示す平面図である。
【００１２】
＜１．装置構成＞
本実施形態の光沢計１００は、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）及び高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）というように測定レンジを切り替えて、光沢度を測定可能なものであり、図１及び図２に示すように、床等の試料の物体表面（以下、被測定面Ｗという。）に検査光Ｌ１を照射して反射光Ｌ２を受光する分析部２と、当該分析部２から検出信号を受け付けて、光沢度を算出して表示する本体部３と、を具備する。分析部２及び本体部３は、例えばカールケーブル等の信号ケーブルＣにより接続されている。
【００１３】
以下、分析部２及び本体部３について説明する。
【００１４】
分析部２は、図２に示すように、被測定面Ｗに対して所定入射角度αで検査光Ｌ１を照射する光照射部２１と、被測定面Ｗから所定入射角度αと同じ反射角度βで反射される反射光Ｌ２を受光する光検出部２２と、光照射部２１及び光検出部２２を収容する、例えば合成樹脂からなる概略直方体形状のケーシング２３と、保護カバー部２４を備えている。
【００１５】
光照射部２１は、ピーク波長が例えば０．８９μｍの近赤外光を発する近赤外発光ダイオード等の光源２１１と、当該光源２１１の光射出側前方に設けられた入射側スリット２１２を通った近赤外光を平行光（検査光Ｌ１）にする平行レンズ２１３と、を備える。なお、ケーシング２３内において光源２１１の近傍には、当該光源２１１の温度を検出するための例えばサーミスタ等の温度検出部２６が設けられている。
【００１６】
光検出部２２は、被測定面Ｗからの反射光Ｌ２を集光する集光レンズ２２１と、集光レンズ２２１の焦点近傍に設けられた反射側スリット２２２を通った反射光Ｌ２を受光するフォトダイオード等の光検出器２２３と、を備える。
【００１７】
ケーシング２３は、平坦な一端面（下面）に被測定面Ｗを覆う凹部２３Ａが設けられ、当該凹部２３Ａの対向する側壁の一方に光照射部２１の平行レンズ２１３が設けられ、他方に光検出部２２の集光レンズ２２１が設けられている。また、ケーシング２３には、光照射部２１及び光検出部２２が、光源２１１から出る検査光Ｌ１の光軸及び被測定面Ｗに対する垂直な方向のなす角度αと、光検出器２２３により検出される反射光Ｌ２の光軸及び被測定面Ｗに対する垂直な方向のなす角度βとが等しくなるように固定されている。本実施形態では、角度α及び角度βが６０°である。このような構成において、被測定面Ｗにおける測定部面積は、短径３ｍｍ×長径６ｍｍの楕円形状をなす。また、ケーシング２３の上面には、センター位置マーク２３Ｘが付されており、検査光Ｌ１が照射される測定部がユーザに分かるようにしている。
【００１８】
保護カバー部２４は、前記ケーシング２３に装着されるものであり、装着時において、凹部２３Ａ開口を覆い、平行レンズ２１３及び集光レンズ２２１等の光学系が塵埃により汚れてしまうことを防止すると共に、他の部材により接触して傷つくことを防止するものである。
【００１９】
具体的に保護カバー部２４は、図１に示すように、例えば一端が開口した箱形状をなすものであり、対向する側壁には、ケーシング２３の側壁に設けられた溝状の係止凹部２３１に係合する係止凸部２４１が形成されている。係止凹部２３１及び係止凸部２４１は、逆に設けられても良い。また、保護カバー部２４の内部には、図３に示すように、平面視概略矩形状の低光沢用校正基準板（不図示）又は高光沢用校正基準板２５が設けられている。そして、保護カバー部２４をケーシング２３に装着した状態において、校正基準板が凹部２３Ａ開口を覆うように構成されている。
【００２０】
低光沢用校正基準板は、光沢度が９０程度のホウケイ酸ガラス（ＢＫ７など）により構成されており、その裏面及び側面には不要な光による影響を取り除くために、反射防止処理が施されている。
【００２１】
高光沢用校正基準板２５は、光沢度が９９０程度のものであり、基板及び当該基板上に成膜された誘電体多層膜により構成されている。誘電体多層膜は、異なる２種類の誘電体層、具体的には低屈折率膜と高屈折率膜とを交互に積層して形成されており、検査光Ｌ１のほぼ全てを光検出部２２に向かって反射し、その反射率は９９％以上である。また、誘電体多層膜の膜厚は２μｍ程度であり、各誘電体層で反射した光が互いに強めあうようにしている。
【００２２】
低屈折率膜としては例えば酸化ケイ素（ＳｉＯ２）、高屈折率膜としては例えば酸化タンタル（Ｔａ２Ｏ５）を用いることができる。なお、誘電体多層膜としては、Ａｌ２Ｏ３、ＣｅＯ２、ＦｅＯ２、ＨｆＯ２、Ｉｎ２Ｏ３、Ｎｂ２Ｏ３、ＳｎＯ２、Ｔａ２Ｏ３、ＴｉＯ２、Ｙ２Ｏ３、ＺｎＯ、ＺｒＯ２、ＮｉＯ、ＩＴＯ、Ｓｂ２Ｏ３、ＭｇＯなどを用いることもできる。
【００２３】
本体部３は、図４に示すように、測定結果である光沢度、校正値又は測定レンジ等を表示する液晶表示部３１及び光沢計１００の各種操作を行うためのボタン群からなる操作部３２が設けられたケーシング３３と、当該ケーシング３３内部に設けられたＣＰＵ、メモリ、入出力インターフェイス、ＡＤ変換器等を備えたコンピュータ（不図示）とからなる。そして、前記メモリの所定領域に記憶させた所定プログラムにしたがってＣＰＵ、周辺機器等を協働させることにより、図５に示すように、光源制御部３０１、温度特性データ格納部Ｄ１、光沢度算出部３０２、校正値変更部３０３、表示制御部３０４等としての機能を発揮する。
【００２４】
本実施形態の操作部３２は、図４に示すように、６個のボタン、つまり、ＯＮボタン（ＯＮ）３２ａ、ＯＦＦボタン（ＯＦＦ）３２ｂ、校正ボタン（ＣＡＬ  ▽）３２ｃ、ホールドボタン（ＨＯＬＤ  △）３２ｄ、校正値表示ボタン（ＳＴＤ）３２ｅ、レンジ切替ボタン（ＲＡＮＧＥ（１００／１０００））３２ｆを備えている。
【００２５】
ＯＮボタン３２ａは、光沢計１００の電源を入れるためのボタンである。また、ＯＮボタン３２ａは、校正基準板による校正値設定モードの際には、その時に液晶表示部３１に表示されている値を校正値（基準値）として記憶するためのボタンとして機能する。また、ＯＦＦボタン３２ｂは、光沢計１００の電源を切るためのボタンである。校正ボタン３２ｃは、校正を行うためのボタンであり、所定時間（例えば２秒）長押しすることによって校正を開始し、校正が終了すると測定モードになる。なお、校正は各レンジで別々に行い、校正値は校正が完了した時点で書き換えられる。また、校正ボタン３２ｃは、校正値設定モードの際には、校正値を減少させる数値減少ボタンとして機能する。ホールドボタン３２ｄは、測定値（光沢度）を一時的に固定するためのボタンである。また、ホールドボタン３２ｄは、校正値設定モードでは、校正値を増加させる数値増加ボタンとして機能する。校正値表示ボタン３２ｅは、光沢度測定値表示／校正値表示を切り替えるためのボタンである。また、レンジボタンは、低光沢度測定レンジと、高光沢度測定レンジを切り替えるためのボタンである。
【００２６】
光源制御部３０１は、光源２１１を間欠発光させるものであり、例えばデューティー比１／２０（発光周期１ｍｓｅｃ、発光時間５０μｓｅｃ）で発光させるものである。また、光源制御部３０１は、検査光Ｌ１の光量設定値を示す光量設定信号を取得して、検査光Ｌ１を光量設定値とするための駆動信号を光源２１１に出力する。光量設定値は、検査光Ｌ１の少なくとも２種類以上の光量に設定するものであり、本実施形態では、低光沢度測定レンジにおける検査光の光量と、高光沢度測定レンジにおける検査光の光量を設定するものである。光量設定信号は、レンジ切替ボタン３２ｆが押された時に光源制御部３０１に入力される信号であり、低光沢度測定レンジにおける検査光の光量設定値（例えば１０）又は高光沢度測定レンジにおける検査光の光量設定値（例えば１）を切り替えるためのものである。そして、光源制御部３０１は、測定レンジによって、光源２１１から発せられる検査光Ｌ１の光量を調整するものであり、具体的には、レンジ切替ボタン３２ｆが押され、低光沢度測定レンジから高光沢度測定レンジに切り替えられた場合に、光源２１１から射出される検査光Ｌ１の光量を減少させるものである。より詳細には、低光沢度測定レンジの場合の検査光Ｌ１の光量を１０とした場合に、高光沢度測定レンジの場合の光量を１とするものである。具体的な調光方式としては、光源２１１に流す電流の大きさを調整することにより検査光Ｌ１の光量を調整することにより、検査光Ｌ１の光量を１／１０に減少させる。つまり、光源制御部３０１は、検査光Ｌ１の光量が１／１０とするための駆動信号を光源２１１に出力する。その他、パルス幅変調方式（ＰＷＭ方式）であり、デューティー比を小さくすることにより、検査光Ｌ１の光量を調整することもできる。
【００２７】
温度特性データ格納部Ｄ１は、各光量設定値における光源２１１の温度特性を示す温度特性データ及び光検出器２２３の温度特性を示す温度特性データを格納するものである。本実施形態では、低光沢度測定レンジにおける低光沢度用光量設定値（例えば１０）に対応する光源２１１の温度特性データ及び光検出器２２３の温度特性データと、高光沢度測定レンジにおける高光沢度用光量設定値（例えば１）に対応する光源２１１の温度特性データ（温度−光出力特性）及び光検出器２２３の温度特性データ（温度−光感度特性）と、を格納している。
【００２８】
低光沢度用光量設定値（例えば１０）に対応する光源２１１の温度特性とは、光源２１１から低光沢度用光量設定値の光量を出力するために当該光源２１１に所定電流を流した場合の、当該電流における光源２１１の温度特性である。一方、高光沢度用光量設定値（例えば１）に対応する光源２１１の温度特性とは、光源２１１からの高光沢度用光量設定値の光量を出力するために当該光源２１１に所定電流を流した場合の、当該電流における光源２１１の温度特性である。
【００２９】
本実施形態の温度特性データ格納部Ｄ１は、低光沢度用光量設定値に対応する光源２１１の温度特性及び光検出器２２３の温度特性を合わせた温度特性データと、高光沢度用光量設定値に対応する光源２１１の温度特性及び光検出器２２３の温度特性を合わせた温度特性データと、を格納している。これらの温度特性データは、低光沢校正基準板又は高光沢校正基準板を用いた光沢度の測定において、分析部２の環境温度を変化させた場合に光検出器２２３から得られる反射光Ｌ２の光量データと、当該温度とにより作成されて、温度特性データ格納部Ｄ１に格納される。
【００３０】
光沢度算出部３０２は、光検出器２２３から得られた光強度信号（光量データ）を取得して、被測定面Ｗの光沢度を算出するものであり、その算出結果を示す光沢度データを表示制御部３０４に出力する。なお、光沢度算出部３０２に入力される信号は、予め増幅器によって増幅されている。
【００３１】
本実施形態の光沢度算出部３０２は、光沢度を温度補償する機能を有しており、具体的には、光量設定値に対応する光源２１１及び光検出器２２３の温度特性データ、温度検出部２６により得られた温度信号、及び光検出器２２３により得られた反射光Ｌ２の光量データに基づいて、被測定面Ｗの光沢度を算出する。
【００３２】
詳細に光沢度算出部３０２は、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）における光沢度算出においては、低光沢用校正基準板の光沢度Ｇｒ、低光沢用校正基準板を用いた場合の光検出器２２３により得られた光量Ｖｒ、試料を測定した場合の光検出器２２３により得られた光量Ｖｘ、校正時における温度補正係数ｍｒ、及び試料測定時における温度補正係数ｍｘを用いて、光沢度Ｇｘ＝Ｇｒ×｛（ｍｘ・Ｖｘ）／（ｍｒ・Ｖｒ）｝により算出する。ここで、温度補正係数ｍｒは、低光沢度用光量設定値における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び校正時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。また、温度補正係数ｍｘは、低光沢度用光量設定における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び試料測定時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。なお、上記式により得られた光沢度Ｇｘは、その他の光沢計との整合性を担保するための補正係数又はリニアライズ補正を行うための補正係数等種々の補正係数を用いてさらに補正することができる。
【００３３】
また、光沢度算出部３０２は、高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）における光沢度算出においては、高光沢用校正基準板の光沢度Ｈｒ、高光沢用校正基準板を用いた場合の光検出器２２３により得られた光量Ｗｒ、試料を測定した場合の光検出器２２３により得られた光量Ｗｘ、校正時における温度補正係数ｎｒ、及び試料測定時における温度補正係数ｎｘを用いて、光沢度Ｈｘ＝Ｈｒ×｛（ｎｘ・Ｗｘ）／（ｎｒ・Ｗｒ）｝により算出する。ここで、温度補正係数ｎｒは、高光沢度用光量設定値における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び校正時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。また、温度補正係数ｎｘは、高光沢度用光量設定における光源２１１の温度特性、光検出器２２３の温度特性及び試料測定時において温度検出部２６により得られた温度信号により定まる係数である。なお、上記式により得られた光沢度Ｈｘは、その他の光沢計との整合性を担保するための補正係数又はリニアライズ補正を行うための補正係数等種々の補正係数を用いてさらに補正することができる。
【００３４】
さらに、光沢度算出部３０２は、校正時において、光沢度算出部３０２は、後述する校正値変更部３０３から設定された校正値データを取得して、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された校正値となるように演算する。
【００３５】
校正値変更部３０３は、低光沢用校正基準板又は高光沢用校正基準板２５を用いて校正する際の校正値を変更するものである。具体的には、校正値設定モードにおいて、校正ボタン３２ｃが押されると、その校正値変更信号を受け付けて校正値を減少させ、ホールドボタン３２ｄが押されると、その信号を受け付けて校正値を増加させる。
【００３６】
表示制御部３０４は、レンジ切替ボタン３２ｆにより選択された測定レンジを液晶表示部３１に表示させると共に、光沢度算出部３０２により得られた光沢度を表示させるものである。具体的には、表示制御部３０４は、低光沢度測定レンジの場合、０．０〜１９９．９（分解能０．１）を液晶表示部３１に表示し、高光沢度測定レンジの場合、０〜１０００（分解能１）を液晶表示部３１に表示する。このとき、表示制御部３０４は、光沢度算出部３０２により得られた光沢度が各測定レンジの範囲外の場合には、「ＯＶＥＲ」を点滅表示させた後、各レンジの最高値（１９９．９又は１０００）を点滅表示する。
【００３７】
また、表示制御部３０４は、低光沢度測定レンジの場合には、液晶表示部３１近傍に印字された「１００」Ｐ１の横に矢印を表示し、高光沢度測定レンジの場合には、液晶表示部３１近傍に印字された「１０００」Ｐ２の横に矢印を表示する。
【００３８】
さらに、表示制御部３０４は、ホールドボタン３２ｄが押された場合には、液晶表示部３１に表示されている光沢度を一時的に固定し、「ＨＯＬＤ」Ｐ３の横に表示している矢印を点滅表示する。
【００３９】
校正値表示ボタン３２ｅが所定時間（例えば２秒）以上押された場合の校正値設定モードにおいて、表示制御部３０４は、「ＳＴＤ」Ｐ４の横に表示されている矢印を点滅表示する。また、校正値設定モードにおいて、校正値変更部３０３から校正値変更データを受け付けて、液晶表示部３１に表示されている校正値を変更して表示する。さらに、表示制御部３０４は、校正時において、感度が基準以下又は基準以上の場合には、「Ｅｒｒ」を表示する。また、校正値が設定されていないときは、校正値が設定されるまで「−−−」を表示する。
【００４０】
＜２．校正方法＞
次に、上記各部の機能とともに、低光沢度測定レンジの校正方法及び高光沢度測定レンジの校正方法について図６を参照して詳述する。
【００４１】
＜２−１．低光沢度測定レンジの校正方法＞
ＯＮボタン３２ａを押して光沢計１００の電源を入れた後、レンジ変更ボタンを押して、測定レンジを低光沢度測定レンジに設定する（ステップＳ１）。具体的には、液晶表示部３１において右側に表示されている矢印が「１００」Ｐ１となるようにする。そして、光沢度が９０程度の低光沢用校正基準板が内蔵された保護カバー部２４を準備し、低光沢用校正基準板の光沢度を確認する（ステップＳ２）。
【００４２】
その後、校正値表示ボタン３２ｅを押す。そうすると、表示制御部３０４が、低光沢度測定レンジの校正値を液晶表示部３１に表示する（ステップＳ３）。そして、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、液晶表示部３１に表示されている校正値を低光沢用校正基準板の光沢度（例えば９０）に合わせる（ステップＳ４）。このとき、校正値の設定は、０．１ステップ毎に変更可能である。
【００４３】
次に、保護カバー部２４をケーシング２３に装着して、ケーシング２３のセンター位置マーク２３Ｘを軽く押さえて、校正基準板とケーシング２３の凹部２３Ａ開口とを密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示して、校正が開始される（ステップＳ５）。このとき、光沢度算出部３０２は、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された校正値（例えば９０）となるように演算する。これによって、低光沢度測定レンジの校正が終了する。
【００４４】
＜２−２．高光沢度測定レンジの校正方法＞
前記低光沢度測定レンジの校正が終了した後、レンジ変更ボタンを押して、測定レンジを高光沢測定レンジに変更する（ステップＳ６）。具体的には、液晶表示部３１において右側に表示されている矢印が「１０００」Ｐ２となるようにする。このとき、光源制御部３０１は、光源２１１に出力する駆動信号（ＰＷＭ信号）を変更して、光源２１１から発せられる検査光Ｌ１の光量を減少させる。そして、光沢度が９９０程度の高光沢用校正基準板２５が内蔵された保護カバー部２４を準備する。このとき、高光沢用校正基準板２５の光沢度を確認する（ステップＳ７）。
【００４５】
その後、校正値表示ボタン３２ｅを押す。そうすると、表示制御部３０４が、高光沢度測定レンジの校正値を液晶表示部３１に表示する（ステップＳ８）。そして、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、液晶表示部３１に表示されている校正値を高光沢用校正基準板２５の光沢度（例えば９９０）に合わせる（ステップＳ９）。このとき、校正値の設定は、１ステップ毎に変更可能である。
【００４６】
次に、保護カバー部２４をケーシング２３に装着して、ケーシング２３のセンター位置マーク２３Ｘを軽く押さえて、校正基準板とケーシング２３の凹部２３Ａ開口とを密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示して、校正が開始される（ステップＳ１０）。このとき、光沢度算出部３０２は、光源２１１の光量と光検出器２２３により検出された光量により得られる光沢度が設定された値（例えば９９０）となるように演算する。これによって、高光沢度測定レンジの校正が終了する。
【００４７】
このように高光沢用校正基準板２５を用いているので、例えば反射率９９％以上を実現することができ、高光沢度測定レンジにおける校正を正確に行うことができる。また、誘電体多層膜を有する校正基準板では、誘電体膜を薄くできることから、反射光の出る表面領域を可及的に小さくすることができるので、光検出部をコンパクトにすることができる。さらに、低光沢度測定レンジ（光沢度０−２００）においては低光沢用校正基準板を用いて校正し、高光沢度測定レンジ（光沢度０−１０００）においては高光沢用校正基準板２５を用いて校正しているので、それぞれの測定レンジで測定する場合において、正確な測定結果を得ることができる。
【００４８】
このような校正後、被測定面Ｗに分析部２を密着させれば被測定面Ｗの光沢度が表示される。被測定面Ｗを異なる測定レンジで測定したい場合には、レンジ切替ボタン３２ｆを押して切り替える。このとき、光源制御部３０１は、低光沢度測定レンジから高光沢度測定レンジに切り替える場合には、光源２１１の検査光Ｌ１の光量を減少させ、一方、高光沢度測定レンジから低光沢度測定レンジに切り替える場合には、光源２１１の検査光Ｌ１の光量を増大させる。
【００４９】
＜３．基準値設定方法＞
次に、前記低光沢用校正基準板、高光沢用校正基準板２５を用いずに、ユーザが保有する標準物を用いて任意の校正値（基準値）を設定する方法について説明する。
【００５０】
このとき基準値の設定方法は、校正値表示ボタン３２ｅを押した後、校正ボタン３２ｃ又はホールドボタン３２ｄを押して、ユーザの保有する標準物の光沢度（例えば５００）を基準光沢度として設定する。
【００５１】
次に、標準物の被測定面Ｗに分析部２を密着させて、校正ボタン３２ｃを２秒以上押す。そうすると、表示制御部３０４が液晶表示部３１にＣＡＬ表示を点滅表示させて、校正が開始される。これによって、標準物の光沢度が基準値として設定される。以後の測定においては、標準物の光沢度（基準値）に対して、被測定面Ｗの光沢度の相対的な大きさが測定される。
【００５２】
＜４．本実施形態の効果＞
このように構成した本実施形態に係る光沢計１００によれば、光沢度算出部３０２が各光量設定値に対応する光源２１１の温度特性を考慮して光沢度を算出するので、光量設定値を変化させて光沢度を測定する場合それぞれにおいて、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。
【００５３】
＜５．その他の変形実施形態＞
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
【００５４】
例えば、前記実施形態では、光沢度算出部の演算処理により温度補正を行うようにしているが、光源制御部よるフィードバック制御により光源から出る検査光の光量を光量設定値（例えば１０）となるように制御しても良い。この場合、光源制御部は、検査光の光量設定値を示す光量設定信号を取得して、検査光が光量設定値となるように、光量設定値に対応する光源の温度特性及び温度検出部により得られた温度を用いて光源を制御するものである。このようなものでも、光源の光量設定値毎に温度特性を考慮し、検査光を調整して照射することができるので、温度補償を考慮した正確な光沢度を測定することができる。
【００５５】
また、前記実施形態では、光量設定信号が、低光沢度測定レンジの低光沢度用光量設定値（第１光量設定値）又は高光沢度測定レンジの高光沢度用光量設定値（第２光量設定値）を切り替えるためのものであったが、これに限られない。例えば光量設定値を連続的に変更するものであっても良いし、３つ以上の光量設定値（第１光量設定値、第２光量設定値、・・・）に多段階かつ選択的に切り替えるためのものであって良い。なお、このとき、温度特性データ格納部には、各光量設定値に対応した光源の温度特性データが格納されている。
【００５６】
さらに、前記実施形態では、温度特性データは、光源の温度特性及び光検出器の温度特性合わせて作成されたものであったが、光源のみの温度特性データ、光検出器のみの温度特性データをそれぞれ作成し、それら温度特性データにより得られる補正係数により補正を行うようにしても良い。また、光源のみの温度特性データを用いて補正するようにしても良い。
【００５７】
その上、低光沢度測定レンジの校正及び高光沢度測定レンジの校正の順序は、前記実施形態に限られず、逆に行っても良い。
【００５８】
加えて、増幅器などのゲインを調整して、所望の分解能で光沢度を算出するようにしても良い。たとえば、増幅器のゲインを大きくして、光沢度の変化幅を大きくして微小な変化を検出できるようにしても良いし、増幅器のゲインを小さくして分解能を低下させても良い。
【００５９】
なお、前記実施形態では、低光沢度測定と高光沢度測定とにおいて光量を切り替えているが、その他、光検出器により得られた光強度信号を増幅する増幅器において、低光沢度測定と高光沢度測定とによりゲイン（増幅率）を調整するようにしても良い。具体的には、高光沢度測定時よりも低光沢度測定時のゲインを大きくするように切り替える。この場合、光照射部から出る検査光の光量は、反射光Ｌ２を受光する光検出器がサチュレーションを起こさない程度の光量であり、低光沢度測定と高光沢度測定とにおいて同一である。
【００６０】
また、低光沢度測定レンジは光沢度０−１００に限られず、高光沢度測定レンジは０−１０００に限られず、任意に設定可能である。
【００６１】
その他、前述した実施形態や変形実施形態の一部又は全部を適宜組み合わせてよいし、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の一実施形態に係る本実施形態に係る光沢計を示す模式的斜視図。
【図２】検出部の光学的構成を示す模式図
【図３】ケーシングに保護カバー部を装着した状態を示す模式図。
【図４】本体部の機能構成を示す模式図。
【図５】本体部の液晶表示部及び操作部を示す平面図。
【図６】校正方法を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００６３】
１００・・・光沢計
Ｗ    ・・・被測定面
Ｌ１  ・・・検査光
２１  ・・・光照射部
Ｌ２  ・・・反射光
２２  ・・・光検出部
３０２・・・光沢度算出部
３０１・・・光源制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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