(57)【要約】【課題】エコーキャンセラ等の装置が内在された電話機において、ダブルトーク時の通信品質についての性能を高精度に評価可能なダブルトーク時減衰量測定装置を得る。【解決手段】電話機５０におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、測定信号を生成する測定信号発生器１と、ダブルトーク信号（妨害信号）を生成するダブルトーク信号発生器２と、受話入力部５６又は送話入力部５３の一方に測定信号を入力し、他方にダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、受話出力部５４又は送話出力部５５で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部３と、混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ４と、減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルとダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する減衰量算出部５を備える。【選択図】図１
2010199707.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、
測定信号を生成する測定信号発生器と、
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器と、
前記受話入力部又は送話入力部の一方に前記測定信号を入力し、他方に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタと、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する減衰量算出部と
を具備することを特徴とするダブルトーク時減衰量測定装置。
【請求項２】
前記受話入力部に測定信号を入力し、前記送話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記受話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部において受話挿入減衰量を測定する請求項１に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
【請求項３】
前記送話入力部に測定信号を入力し、前記受話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記送話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部において送話挿入減衰量を測定する請求項１に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
【請求項４】
前記受話入力部に測定信号を入力し、前記送話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記送話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部においてエコー損失量を測定する請求項１に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
【請求項５】
前記電話機は、前記送話入力部と前記受話出力部を有する受話器を備えて成る請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載のダブルトーク時減衰量測定装置。
【請求項６】
受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する方法であって、
前記受話入力部又は送話入力部の一方に測定信号を入力し、他方にダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記混在出力信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
を含むことを特徴とするダブルトーク時減衰量測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電話機のダブルトーク（双方向通話）時における送話及び受話の減衰量（ボイススイッチ）やエコー損失（エコー消し残り量）を測定する減衰量測定装置及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハンドセット電話機やハンズフリー電話機には、例えば受話側から送話側への回り込み等で発生するエコーを除去して通話品質の向上を図るためのエコーキャンセラが内蔵されている。また、電話機においては、エコーキャンセラにより送話側に入った信号を完全に打ち消せない場合があるため、信号を補正するための送話減衰器や受話減衰器を設けて通話品質の向上を図ることが行われている。
【０００３】
例えば、送話減衰器及び受話減衰器を備えたハンズフリー電話機５０は、図１８に示すように、送話信号線５１に対して音声入力部となる送話入力部（マイク）５３及び電気信号の出力部となる送話出力部５５、受話信号線５２に対して音声出力部となる受話出力部（スピーカ）５４及び電気信号の入力部となる受話入力部５６と、受話信号線５２と送話信号線５１との間に装着されたエコーキャンセラ５７と、送話信号線５１に設けた増幅器５９の送話出力側に装着した送話減衰器６１と、受話信号線５２に設けた増幅器５８の受話入力側に装着した受話減衰器６２と、を有して構成されている。
【０００４】
このような構成のハンズフリー電話機５０における受話時のエコー排除動作について説明する。
受話入力部５６から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部（スピーカ）５４から出る。その際に、受話出力部（スピーカ）５４から出る音が回り込んで送話入力部（マイク）５３から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラ５７で打ち消すことが行われるが、完全に打ち消せない場合がある。そのような場合には、送話信号線５１に対して挿入された送話減衰器６１により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。また、場合によっては、送話信号線５２に対して挿入された受話減衰器６２により打ち消せなかった信号を下げることが行われる。その結果、送話出力部５５には回り込み信号（エコー）が出ることを防止することができる。
【０００５】
次に、ハンズフリー電話機５０における送話時の受話ダブルトーク動作について説明する。
送話入力部５３から送話信号が入ると、送話出力が送話出力部５５から出る。同時に受話入力部５６から受話信号が入ると、受話出力が受話出力部（スピーカ）５４から出る（受話の入力に応じて送話減衰が入る場合がある）。その際に、受話出力部（スピーカ）５４から出る音が回り込んで送話入力部（マイク）５３から送話に入る現象が生じる。このような送話に入った信号は、エコーキャンセラで打ち消すことが行われる、その結果、送話出力部５５には受話の回り込み信号が出ることを防止することができる。
【０００６】
従来、上述したようなエコーキャンセラを有する電話機の通話品質について、客観的に評価し得る装置としては、例えば特許文献１に開示されるように、試験信号をエコーキャンセラの遠方入力に供給し、エコーリターンパスの遅延量とインパルス応答を自在に設定する入力設定部と、遅延量とインパルス応答量に基づいて既知のエコーを生成するエコー生成部を設けることで、エコーキャンセラの遠端出力信号を用いてエコーキャンセラの性能を評価するエコーキャンセラ性能評価試験装置が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４−１４６９１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述したエコーキャンセラ性能評価試験装置によれば、一つの試験信号を入力し、この信号に各種の処理を行って音声信号を得ることで、エコーキャンセラの性能指標としているため、一方向からの入力信号が他方からの入力信号の影響を受けるダブルトーク（双方向通話）時の動作状態を正確に再現するものではなく、ダブルトーク時の送話及び受話の減衰量（ボイススイッチ）やエコー損失（エコー消し残り量）を測定する際の通話品質を評価する指標としては適していなかった。
【０００９】
本発明は上記事情に鑑みて提案されたもので、エコーキャンセラ等の通話品質を確保するための装置が内在された電話機において、ダブルトーク時の通信品質についての性能を高精度に評価することができるダブルトーク時減衰量測定装置及び測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため請求項１の発明は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定する装置であって、次の各構成を含むことを特徴としている。
測定信号を生成する測定信号発生器。
ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成する妨害信号発生器。
前記受話入力部又は送話入力部の一方に前記測定信号を入力し、他方に前記ダブルトーク信号を時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号が入力される出力信号測定部。
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る周波数フィルタ。
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する減衰量算出部。
【００１１】
請求項２は、請求項１のダブルトーク時減衰量測定装置において、前記受話入力部に測定信号を入力し、前記送話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記受話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部において受話挿入減衰量を測定することを特徴としている。
【００１２】
請求項３は、請求項１のダブルトーク時減衰量測定装置において、前記送話入力部に測定信号を入力し、前記受話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記送話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部において送話挿入減衰量を測定することを特徴としている。
【００１３】
請求項４は、請求項１のダブルトーク時減衰量測定装置において、前記受話入力部に測定信号を入力し、前記送話入力部にダブルトーク信号を入力し、前記送話出力部から前記混在出力信号を出力させることで、前記減衰量算出部においてエコー損失量を測定することを特徴としている。
【００１４】
請求項５は、請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載のダブルトーク時減衰量測定装置において、前記電話機は、前記送話入力部と前記受話出力部を有する受話器を備えて成ることを特徴としている。
【００１５】
請求項６は、受話入力部と受話出力部、及び、送話入力部と送話出力部を備えた電話機におけるダブルトーク時の減衰量を測定するダブルトーク時減衰量測定方法であって、
前記受話入力部又は送話入力部の一方に測定信号を入力し、他方にダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力し、前記受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成する手順と、
前記混在出力信号からダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号を得る手順と、
前記減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時のレベルと、前記減衰量測定信号におけるダブルトーク時のレベルとを測定し、ダブルトーク時の減衰量を算出する手順と
を含むことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、電話機における受話入力部又は送話入力部の一方に測定信号を入力し、他方にダブルトーク信号を所望時間遅延させて入力することにより、受話出力部又は送話出力部で出力されるダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号を作成し、この混在出力信号を基礎としてダブルトーク時の減衰量を算出する。
【００１７】
したがって、算出されるダブルトーク時の減衰量は、電話機における受話入力部及び送話入力部に入力される信号が反映されたものとなり、ダブルトーク時の送話及び受話の減衰量（ボイススイッチ）やエコー損失（エコー消し残り量）をより正確に測定することが可能となり、ダブルトーク時の通信品質についての性能を高精度に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図２】（ａ）〜（ｅ）は、図１のダブルトーク時減衰量測定装置の各部に入力される信号を表す模式図である。
【図３】（ａ）はダブルトーク時減衰量測定装置の測定信号発生器で生成される測定信号の周波数特性図、（ｂ）はダブルトーク時減衰量測定装置のダブルトーク信号発生器で生成されるダブルトーク信号の周波数特性図である。
【図４】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置の周波数フィルタで使用されるローパスフィルタの周波数特性図である。
【図５】ダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の受話挿入減衰量を測定するための手順を示すフローチャート図である。
【図６】ダブルトーク時減衰量測定装置で生成される測定信号及びダブルトーク信号の他の例を示す周波数特性図である。
【図７】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図８】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンズフリー電話機のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図９】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１０】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１１】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してハンドセット電話機のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１２】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ（ＴＡ）に２線電話機を接続した場合の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１３】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ（ＴＡ）に２線電話機を接続した場合の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１４】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用してターミナルアダプタ（ＴＡ）に２線電話機を接続した場合のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１５】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）の受話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１６】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）の送話挿入減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１７】本発明のダブルトーク時減衰量測定装置を使用して４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）のエコー減衰量を測定するための構成ブロック図である。
【図１８】エコーキャンセラ及び送話減衰器・受話減衰器が内蔵されたハンズフリー電話機の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例１】
【００１９】
以下、本発明のダブルトーク時減衰量測定装置の実施形態の一例について、図１〜図５を参照しながら説明する。この例では、ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器６２の受話挿入減衰量を測定する。
【００２０】
ハンズフリー電話機５０は、図１８に示したものと同じ構造であり、音声入力部となる送話入力部（マイク）５３、音声出力部となる受話出力部（スピーカ）５４、電気信号の出力部となる送話出力部５５、電気信号の入力部となる受話入力部５６、エコーキャンセラ５７、送話減衰器６１、受話減衰器６２を備えて構成されている。図１のハンズフリー電話機５０において、図１８と同一構成を取る部分については同一符号を付している。
【００２１】
ダブルトーク時減衰量測定装置１０は、ハンズフリー電話機５０の内部を通して減衰量を測定する際の基準信号となる測定信号を生成する測定信号発生器１と、ダブルトーク信号に対応する妨害信号を生成するダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２と、ハンズフリー電話機５０の受話出力部（スピーカ）５４からの受話出力を入力する出力信号測定部３と、出力信号測定部３から減衰量測定信号を得る周波数フィルタ４と、ダブルトーク時の減衰量を算出する減衰量算出部５を備えて構成されている。
【００２２】
測定信号発生器１で生成される測定信号は、ハンズフリー電話機５０の損失を測定するための低域帯域ノイズ信号（図２（ａ））の電気信号であり、図３（ａ）に示すような２００〜５００Ｈｚの帯域幅を有し、ハンズフリー電話機５０の受話入力部５６に入力するように接続されている。
【００２３】
ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号は、ダブルトーク（双方向通話）時において妨害信号となる高域帯域ノイズ信号（図２（ｂ））の電気信号であり、図３（ｂ）に示すような１ｋ〜３ｋＨｚの帯域幅を有し、アンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンズフリー電話機５０の送話入力部５３に入力するようになっている。
【００２４】
送話入力部５３にダブルトーク信号が、受話入力部５６に測定信号が入力されたハンズフリー電話機５０は、受話入力部５６に入力された信号のみを受話出力部（スピーカ）５４から忠実に出力して通信品質を確保するため、受話信号線５２を流れる信号に対してエコーキャンセラ５７，送話減衰器６１，受話減衰器６２により補正処理が行われ、ダブルトーク信号の影響（回り込み）を受けるとともにダブルトーク信号が乗畳した受話出力信号（図２（ｃ））が受話出力部（スピーカ）５４から音信号として出力される。受話出力部（スピーカ）５４から出力される受話出力信号（音信号）は、測定信号発生器１に設けた測定マイク７を介して出力信号測定部３に入力される。また、スピーカ６が測定マイク７の近傍位置に設置されることで、スピーカ６から出力される音信号が測定マイク７に入力される「信号回り込み」現象も生じる。
【００２５】
出力信号測定部３では、ダブルトーク信号の影響を受けた測定信号が測定マイク７を介して入力され電気信号として測定されることが行われるが、ダブルトーク信号発生器２で生成されるダブルトーク信号を測定信号発生器１で生成される測定信号に対して遅らせてハンズフリー電話機５０に入力させることにより、ダブルトーク無し時とダブルトーク時が混在する混在出力信号（図２（ｃ）の受話出力信号）が入力されるようになっている。
【００２６】
周波数フィルタ４は、図４に示すような７００Ｈｚ以下の周波数の信号のみを通過させるローパスフィルタから構成され、電気信号として測定された混在出力信号について、高周波（１ｋ〜３ｋＨｚ）のダブルトーク信号分を除去して減衰量測定信号（図２（ｄ）の周波数フィルタ処理された受話出力信号）を得る。
【００２７】
減衰量算出部５は、周波数フィルタ４で得られた減衰量測定信号に対して、ダブルトーク無し時とダブルトーク時の各レベルをそれぞれ測定検出（図２（ｅ））して記憶し、両者を比較することで、ダブルトーク無し時のレベルに対してダブルトーク時のレベルがどの程度減衰しているかを評価する減衰量（ｄＢ）を算出し、この減衰量を受話減衰量として出力部８より出力する。
【００２８】
次に、上述したダブルトーク時減衰量測定装置１０を使用したダブルトーク時減衰量測定方法について、主に図５のフローチャートを参照しながら説明する。
【００２９】
測定信号発生器１において、測定信号として予め所望の帯域幅（２００〜５００Ｈｚ）を有する低域帯域ノイズ信号（図２（ａ））が作成され（ステップ１０１）、この測定信号が測定信号発生器１から予め決められた一定期間出力され（ステップ１０２）、測定ターゲットであるハンズフリー電話機５０の受話入力部５６に入力される（ステップ１０３）。
【００３０】
その一方、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２においては、ダブルトーク信号として所望の帯域幅（１ｋ〜３ｋＨｚ）を有してダブルトーク（双方向通話）時に妨害信号となる高域帯域ノイズ信号（図２（ｂ））が作成され（ステップ２０１）、このダブルトーク信号が測定信号発生器１から出力される測定信号に対して１００ｍ〜１sec遅れてダブルトーク信号発生器２から予め決められた一定期間出力され（ステップ２０２）、測定ターゲットであるハンズフリー電話機５０の送話入力部５３に入力される（ステップ２０３）。
【００３１】
ハンズフリー電話機５０では、測定信号として低域帯域ノイズ信号（図２（ａ））が受話入力部５６に入力され（ステップ１０４）、ダブルトーク信号として高域帯域ノイズ信号（図２（ｂ））が１００ｍ〜１sec遅れて送話入力部５３に入力される（ステップ２０４）ことにより、ダブルトーク信号の影響（回り込み）がない期間Ａと、ダブルトーク信号の影響（回り込み）を受けるとともにダブルトーク信号が乗畳した期間Ｂの双方の信号が混在した混在出力信号である受話出力信号（図２（ｃ））が機器遅延を伴って受話出力部（スピーカ）５４から音信号として出力される（ステップ３０５）。
【００３２】
音信号である混在出力信号は、測定マイク７から出力信号測定部３に入力され、ダブルトーク信号の影響（回り込み）がない期間Ａについて電気信号として測定し（ステップ１０６）と、ダブルトーク信号の影響（回り込み）を受けるとともにダブルトーク信号が乗畳した期間Ｂについて電気信号として測定する（ステップ２０６）ことが行われる（ステップ３０６）。
【００３３】
電気信号として測定された混在出力信号は、期間Ａ及び期間Ｂのそれぞれについて周波数フィルタ４（ローパスフィルタ）を通過させることにより（ステップ１０７及びステップ２０７）、高周波（１ｋ〜３ｋＨｚ）のダブルトーク信号分を除去し（ステップ３０７）、ダブルトーク信号の影響（回り込み）がない期間Ａと、ダブルトーク信号の影響（回り込み）を受ける期間Ｂが含まれる減衰量測定信号（図２（ｄ）の周波数フィルタ処理された受話出力信号）を得る。
【００３４】
減衰量算出部５では、周波数フィルタ４で得られた減衰量測定信号に対して、ダブルトーク無し時の信号レベルの検出（ステップ１０８）と、ダブルトーク時の信号レベルの検出（ステップ２０８）がそれぞれ行われる（ステップ３０８）。
測定信号については、ダブルトーク無し時の信号が先に一定時間入力され、遅延時間を有してダブルトーク時の信号が入力されるが、遅延時間及び低域帯域ノイズ信号の持続時間を考慮することで、減衰量測定信号におけるダブルトーク無し時（期間Ａ）とダブルトーク時（期間Ｂ）とを時間軸で分離することができる。
【００３５】
すなわち、減衰量測定信号（図２（ｄ））の期間Ａに対してダブルトーク無し時の信号レベルが検出されてこの値（ダブルトーク無し時レベル）を記憶し、減衰量測定信号（図２（ｄ））の期間Ｂに対してダブルトーク時の信号レベルが検出されてこの値（ダブルトーク時レベル）を記憶する。
そして、両者の値を比較することで、ダブルトーク無し時のレベルに対してダブルトーク時のレベルがどの程度減衰しているかを評価する減衰量（ｄＢ）を算出し（ステップ３０９）、この減衰量を求める受話減衰量として出力部８より出力する。
出力部８より出力される減衰量（ｄＢ）が小さいほど、ダブルトークの影響を受けない装置として判断することができる。
【００３６】
上述したダブルトーク時減衰量測定装置では、測定信号発生器１で生成する測定信号を低域帯域ノイズ信号（２００〜５００Ｈｚ）とし、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成するダブルトーク信号を高域帯域ノイズ信号（１ｋ〜３ｋＨｚ）としているが、測定信号を高域帯域ノイズ信号とし、ダブルトーク信号を低域帯域ノイズ信号としてもよい。この場合は、周波数フィルタ４について、ダブルトーク信号（低域）を遮断することが可能なハイパスフィルタを使用する。
なお、測定信号発生器１で生成する測定信号を低域帯域ノイズ信号（２００〜５００Ｈｚ）とした方が、測定信号を高域帯域ノイズ信号とする場合に比較して、電話機内における高調波歪の影響を受けにくいため、減衰量の測定をより正確に行うことができる。
また、図６に示すように、測定信号（実線）を低周波と高周波の各信号で生成し、ダブルトーク信号（点線）をそれより高周波側の各信号で生成するようにしてもよい。この場合は、周波数フィルタ４について、ダブルトーク信号の各帯域を遮断することが可能なくし型フィルタを使用する。図６に示すような測定信号（実線）及びダブルトーク信号（点線）を使用することで、低周波から高周波の広い範囲における減衰量についての測定が可能となる。
【００３７】
上述したダブルトーク時減衰量測定装置１０では、ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器６２の受話挿入減衰量を測定する構成としたが、ハンズフリー電話機５０の送話入力部５３、受話出力部５４、送話出力部５５、受話入力部５６への入力信号又は測定すべく出力信号を変更することで、ハンズフリー電話機５０の送話挿入減衰量やエコー減衰量の測定を行うこともできる。
更に、ハンドセット電話機、ターミナルアダプタ（ＴＡ）に２線電話機を接続した場合、４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）に対する受話挿入減衰量、送話挿入減衰量、エコー減衰量についてもそれぞれ測定することができる。
以下、上述したダブルトーク時減衰量測定装置１０を使用して各種減衰量を測定する例について説明する。
【実施例２】
【００３８】
ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図７を参照して説明する。図７において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図７のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンズフリー電話機５０の送話入力部５３に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がハンズフリー電話機５０の受話入力部５６に入力し、ハンズフリー電話機５０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。この例では、受話出力部５４から出力される音信号が送話入力部５３に入力される「信号回り込み」現象が生じている。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を送話入力部５３に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器６１の送話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例３】
【００３９】
ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図８を参照して説明する。図８において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図８のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がハンズフリー電話機５０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンズフリー電話機５０の送話入力部５３に入力し、ハンズフリー電話機５０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ハンズフリー電話機５０のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
【実施例４】
【００４０】
図１、図７、図８のダブルトーク時減衰量測定装置１０がハンズフリー電話機５０の各減衰量を測定するものであるのに対して、図９、図１０、図１１のダブルトーク時減衰量測定装置１０はハンドセット電話機６０の各減衰量を測定するものである。ハンドセット電話機６０は、送話線５１に接続される送話部と、受話線５２に接続される受話部を有する受話器６３を有して構成されている。受話器６３の受話部から受話信号を得る場合には、擬似耳となる受話器カップラ６４を介在させて行う。また、受話器６３の送話部と受話部との間には信号が回り込むことによりノイズ（側音）が発生する。
【００４１】
ハンドセット電話機６０のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図９を参照して説明する。図９において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図９のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がハンドセット電話機６０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンドセット電話機６０の受話器６３の送話部に入力し、ハンドセット電話機６０の受話器６３の受話部から受話器カップラ６４を介して電気信号が出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、受話出力の信号を測定することで、ハンドセット電話機６０のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器６２の受話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例５】
【００４２】
ハンドセット電話機６０のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図１０を参照して説明する。図１０において、図１及び図９と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１０のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンドセット電話機６０の受話器６３の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がハンドセット電話機６０の受話入力部５６に入力し、ハンドセット電話機６０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話器６３の送話入力側に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ハンドセット電話機６０のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器６１の送話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例６】
【００４３】
ハンドセット電話機６０のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図１１を参照して説明する。図１１において、図１及び図９と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１１のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がハンドセット電話機６０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号としてハンドセット電話機６０の受話器６３の送話部に入力し、ハンドセット電話機６０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ハンドセット電話機６０のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
【実施例７】
【００４４】
図１２、図１３、図１４は、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０に２線電話機を接続した場合の各種減衰量の測定について、ダブルトーク時減衰量測定装置１０を使用した例を示している。受話器６３が接続された２線電話機回路７２は、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０に設けた２線−４線の相互変換を行うＳＬＩＣ回路７１に接続されている。
【００４５】
ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０に２線電話機回路７２を接続した場合のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図１２を参照して説明する。図１２において、図１及び図９と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１２のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がターミナルアダプタ（ＴＡ）７０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号として２線電話機回路７２に接続された受話器６３の送話部に入力し、受話器６３の受話部から受話器カップラ６４を介して電気信号が出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、受話出力の信号を測定することで、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器６２の受話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例８】
【００４６】
ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０に２線電話機回路７２を接続した場合のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図１３を参照して説明する。図１３において、図１及び図１２と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１３のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号として２線電話機回路７２に接続された受話器６３の送話部に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がターミナルアダプタ（ＴＡ）７０の受話入力部５６に入力し、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話器６３の送話入力側に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器６１の送話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例９】
【００４７】
ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０に２線電話機回路７２を接続した場合のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図１４を参照して説明する。図１４において、図１及び図１２と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１４のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がターミナルアダプタ（ＴＡ）７０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がアンプ（図示せず）を介して擬似口となるスピーカ６から音信号として２線電話機回路７２に接続された受話器６３の送話部に入力し、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ターミナルアダプタ（ＴＡ）７０のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
【実施例１０】
【００４８】
図１５、図１６、図１７は、４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）８０の各種減衰量の測定について、ダブルトーク時減衰量測定装置１０を使用した例を示している。４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）８０は、電気信号が入出力される送話入力部８１及び受話出力部８２を備えることで、送話入力部８１、送話出力部５５、受話入力部５６、受話出力部８２の全て（４線）の入出力が電気信号で行われる。
【００４９】
４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時における受話挿入減衰量を測定する場合について、図１５を参照して説明する。図１５において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１５のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がゲートウェイ（ＧＷ）８０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ（ＧＷ）８０の送話入力部８１に入力し、ゲートウェイ（ＧＷ）８０の受話出力部８２からの電気信号が出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、受話出力の信号を測定することで、ゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時における受話出力の測定時に送話の混入の影響による受話減衰器６２の受話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例１１】
【００５０】
４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時における送話挿入減衰量を測定する場合について、図１６を参照して説明する。図１６において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１６のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号が電気信号のままゲートウェイ（ＧＷ）８０の送話入力部８１に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号がゲートウェイ（ＧＷ）８０の受話入力部５６に入力し、ゲートウェイ（ＧＷ）８０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を送話入力部８１に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時における送話出力の測定時に受話の混入の影響による送話減衰器６１の送話挿入減衰量を測定することができる。
【実施例１２】
【００５１】
４線電気入出力であるゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時におけるエコー減衰量を測定する場合について、図１７を参照して説明する。図１７において、図１と同様の構成をとる部分については同一符号を付している。
図１７のダブルトーク時減衰量測定装置１０では、測定信号発生器１で生成される測定信号がゲートウェイ（ＧＷ）８０の受話入力部５６に入力し、ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）２で生成されるダブルトーク信号が電気信号のままゲートウェイ（ＧＷ）８０の送話入力部８１に入力し、ゲートウェイ（ＧＷ）８０の送話出力部５５からの電気信号が直接出力信号測定部３に入力するように構成する。
上記構成のダブルトーク時減衰量測定装置１０によれば、測定信号を受話入力部５６に入力し、送話出力部５５からの信号を測定することで、ゲートウェイ（ＧＷ）８０のダブルトーク時におけるエコー測定時に送話の混入の影響によるエコー減衰量を測定することができる。
【符号の説明】
【００５２】
１…測定信号発生器、  ２…ダブルトーク信号発生器（妨害信号発生器）、  ３…出力信号測定部、  ４…周波数フィルタ、  ５…減衰量算出部、  ６…スピーカ（擬似口）、  ７…測定マイク、  ８…出力部、  １０…ダブルトーク時減衰量測定装置、  ５０…ハンズフリー電話機、  ５３…送話入力部、  ５４…受話出力部、  ５５…送話出力部、  ５６…受話入力部、  ５７…エコーキャンセラ、  ６０…ハンドセット電話機、  ６１…送話減衰器、  ６２…受話減衰器、  ６３…受話器、  ６４…受話器カップラ（擬似耳）、  ７０…ターミナルアダプタ（ＴＡ）、  ７１…ＳＬＩＣ回路、  ７２…２線電話機回路、  ８０…ゲートウェイ（ＧＷ）、  ８１…送話入力部、  ８２…受話出力部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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