(57)【要約】【課題】配線基板の実装工程において、実装ミスの有無を確認できるようにし、工程の後戻りを回避できるようにする。【解決手段】信号線５１が形成された支持基板と、支持基板の周辺部に配置され、信号線５１に対応する信号接続線５３が形成された映像信号配線基板５０ａと、信号線５１と信号接続線５３とを電気的に接続するための電気接続部とを備え、支持基板は、電気接続部の信号線５１の外側に、信号接続線５３に対応しない一対の自由端子５４ａ、５４ｂを有し、映像信号配線基板５０ａは、電気接続部で信号線５１と信号接続線５３とを電気的に接続したときに、各自由端子５４ａ、５４ｂに電気的に接続されて自由端子５４ａ、５４ｂを短絡するための短絡配線５６ａを有する。【選択図】図９
2010145712.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有する
マトリックス型表示装置。
【請求項２】
請求項１に記載のマトリックス型表示装置において、
各前記自由端子は、前記自由端子間の抵抗値を測定するための抵抗測定部を有する
マトリックス型表示装置。
【請求項３】
請求項１に記載のマトリックス型表示装置において、
前記配線基板は、可とう性のあるフィルム状の絶縁体の上に導体箔で前記接続用配線及び前記短絡配線を形成したフレキシブルプリント基板である
マトリックス型表示装置。
【請求項４】
請求項１に記載のマトリックス型表示装置において、
前記配線基板は、マトリックス状に配列された前記発光素子の列方向又は行方向に複数配置され、
各前記自由端子は、両端の前記配線基板の外側及び各前記配線基板の間にそれぞれ配置されている
マトリックス型表示装置。
【請求項５】
マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記配線基板は、前記電気接続部の前記接続用配線の外側に、前記発光用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記支持基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有する
マトリックス型表示装置。
【請求項６】
マトリックス状に配列された複数の発光素子と、
各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、
前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部と
を備え、
前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、
前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有しており、
前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続した後、前記自由端子間の抵抗値を測定する
マトリックス型表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各発光素子を発光させるための発光用配線と、発光用配線に対応する接続用配線とを有するマトリックス型表示装置及びマトリックス型表示装置の検査方法に係るものである。そして、詳しくは、発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無の確認を簡単に行えるようにした技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、マトリックス型表示装置であるフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）は、液晶表示装置（ＬＣＤ）が主流を占めている。しかし、液晶表示装置は、自発光デバイスではなく、バックライトや偏光板等の部材を必要とする。そのため、液晶表示装置の厚みが増すだけでなく、輝度が不足する等の問題点を有している。
【０００３】
そこで、近年では、発光素子として有機エレクトロルミネッセンス素子（以下、「有機ＥＬ素子」という）を使用した有機ＥＬ表示装置に対する関心が高まっている。この有機ＥＬ表示装置は、有機ＥＬ素子をマトリックス状に配列して各画素を構成するとともに、有機ＥＬ素子を駆動する駆動装置を設けた自発光デバイスである。そして、有機ＥＬ表示装置は、液晶表示装置と比較して、バックライト等の他の部材が原理的に不要であり、薄型化が可能で高輝度である等の利点を有している。特に、各画素に対応するスイッチング素子（駆動装置）を設けたアクティブマトリックス型有機ＥＬ表示装置は、各画素をホールド点灯させることで消費電流を低く抑えることができるという利点がある。また、大画面化や高精細化を比較的容易に達成できる。そのため、各社で開発が進められており、次世代のフラットパネルディスプレイの主流になると期待されている。
【０００４】
ここで、アクティブマトリックス型有機ＥＬ表示装置に使用される有機ＥＬ素子は、アノード電極とカソード電極との間に有機物の正孔輸送層や有機物の発光層（有機物層）を積層した電流発光素子である。そのため、有機ＥＬ素子の有機物層に電子と正孔とを注入すれば発光する。そして、有機ＥＬ素子に流れる電流値を駆動装置によってコントロールすることにより、所望の輝度を得ることができる。
【０００５】
このようなアクティブマトリックス型有機ＥＬ表示装置は、支持基板の上にＴＦＴ（薄膜トランジスタ）等の駆動装置が配置され、ＴＦＴ等の上に絶縁膜が積層され、この絶縁膜の上に有機ＥＬ素子が配列されている。そして、有機ＥＬ素子を駆動するために、例えば、有機ＥＬ素子のアノード電極とＴＦＴのソース電極とが電気的に接続されている。さらに、支持基板の上には、ＴＦＴ等に接続される発光用配線（例えば、走査線、電源制御線、信号線等）が配線されている。
【０００６】
また、支持基板の周辺部には、発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板が配置されている。具体的には、支持基板の外側に、フレキシブルプリント基板である走査信号・電源制御信号配線基板、映像信号配線基板、及び電源供給配線基板がそれぞれ別々に接続されており、有機ＥＬ素子を発光させるようになっている。そして、走査信号・電源制御信号配線基板及び映像信号配線基板には、ドライバＩＣ（Integrated Circuit）が接続されており、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）となっている。一方、電源供給配線基板は、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）によって外部回路と接続されている。
【０００７】
しかし、製造工程で異物が混入等すると、その異物によって発光用配線でショートが発生し、点欠陥や、有機ＥＬ素子の横一列又は縦一列のすべてが線欠陥となる。また、製造工程において、フレキシブルプリント基板の実装ミスにより、発光用配線と接続用配線との電気的な接続がなされていない場合にも、点欠陥や線欠陥が発生する。そのため、歩留りが低下してしまう。
【０００８】
そこで、ショートが発生した場合に、その修復作業を行うことができるようにしたマトリックス型配線基板が知られている。具体的には、ゲートライン上で交差するドレインラインを覆う層間絶縁膜に対し、両ラインの交点を挟むように予め一対の開口部を形成し、この開口部において、ドレインラインを露出させておく。そして、層間絶縁膜の欠陥により、両ラインの交点でショートが発生し、それを検査工程において検知した場合は、そのショート部分を挟む一対の開口部のそれぞれ内側（ショート側）の層間絶縁膜を破壊し、その下のドレインラインを切断する。その後、一対の開口部を介して、ショート部分を迂回するようにバイパスラインを形成し、切断したドレインラインを再び接続するようにした技術である（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２４１８３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、上記の特許文献１の技術は、ショート部分に対し、バイパスラインを形成して修復するものである。そのため、フレキシブルプリント基板の実装ミスによる有機ＥＬ素子の点灯不良には対応できない。そして、有機ＥＬ素子の点灯確認は、フレキシブルプリント基板を実装した後の検査工程で行っているので、実装ミスによる点灯不良があった場合には、すでに終了したはずの実装工程にもう一度戻してやり直さなければならない。その結果、フレキシブルプリント基板の実装を再度行うこととなり、そのための余分な工数が発生してしまう。
【００１０】
したがって、本発明が解決しようとする課題は、検査工程に行く前の配線基板（フレキシブルプリント基板）の実装工程において、実装ミスの有無（発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無）を確認できるようにし、工程の後戻りを回避できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、以下の解決手段によって、上述の課題を解決する。
本発明の請求項１に記載の発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部とを備え、前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有するマトリックス型表示装置である。
【００１２】
また、本発明の請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の発明と同様の発光素子と、発光用配線が形成された支持基板と、接続用配線が形成された配線基板と、電気接続部とを備え、前記配線基板は、前記電気接続部の前記接続用配線の外側に、前記発光用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記支持基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有するマトリックス型表示装置である。
【００１３】
（作用）
上記の請求項１及び請求項５に記載の発明は、電気接続部の発光用配線又は接続用配線の外側に、一対の自由端子を有している。そして、配線基板又は支持基板は、電気接続部で発光用配線と接続用配線とを電気的に接続したときに、各自由端子に電気的に接続されて自由端子同士を短絡するための短絡配線を有している。そのため、電気接続部の発光用配線又は接続用配線の両外側間において、自由端子同士の導通状態を確認することができる。
【００１４】
また、本発明の請求項６に記載の発明は、マトリックス状に配列された複数の発光素子と、各前記発光素子を発光させるための発光用配線が形成された支持基板と、前記支持基板の周辺部に配置され、前記発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板と、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続するための電気接続部とを備え、前記支持基板は、前記電気接続部の前記発光用配線の外側に、前記接続用配線に対応しない一対の自由端子を有し、前記配線基板は、前記電気接続部で前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続したときに、各前記自由端子に電気的に接続されて前記自由端子同士を短絡するための短絡配線を有しており、前記発光用配線と前記接続用配線とを電気的に接続した後、前記自由端子間の抵抗値を測定するマトリックス型表示装置の検査方法である。
【００１５】
（作用）
上記の請求項６に記載の発明は、電気接続部の発光用配線の外側に、一対の自由端子を有している。また、配線基板は、電気接続部で発光用配線と接続用配線とを電気的に接続したときに、各自由端子に電気的に接続されて自由端子同士を短絡するための短絡配線を有している。そして、発光用配線と接続用配線とを電気的に接続した後、自由端子間の抵抗値を測定する。そのため、測定された抵抗値により、自由端子間の導通状態を確認することができる。
【発明の効果】
【００１６】
上記の発明によれば、電気接続部の発光用配線（又は接続用配線）の外側にある一対の自由端子同士の導通状態を確認することができる。そして、自由端子同士が導通していれば、その内側にある発光用配線（又は接続用配線）も導通していると予想できる。逆に、自由端子同士が導通していなければ、その内側にある発光用配線（又は接続用配線）も導通していないと予想できる。したがって、発光素子の点灯確認をしなくても、電気接続部の発光用配線と接続用配線との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面を参照して、本発明を実施するための最良の形態（以下、実施の形態とする）について説明する。
ここで、本発明におけるマトリックス型表示装置は、以下の実施の形態では、有機ＥＬディスプレイ１０、８０、９０であるとする。なお、説明は、以下の順序で行う。
１．第１の実施の形態（有機ＥＬディスプレイ１０：支持基板に自由端子を設けた例）
２．第２の実施の形態（有機ＥＬディスプレイ８０：支持基板に自由端子を設けた例）
３．第３の実施の形態（有機ＥＬディスプレイ９０：配線基板に自由端子を設けた例）
【００１８】
＜１．第１の実施の形態＞
［マトリックス型表示装置の構成例］
図１は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第１の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイ１０を示す平面図である。
【００１９】
図１に示すように、有機ＥＬディスプレイ１０は、ガラス等の透明基板やシリコン基板等の中から適宜選択して用いられる絶縁基板を支持基板１１としている。そして、支持基板１１の上に、複数の有機ＥＬ素子２０（本発明における発光素子に相当するもの）によって構成された表示領域１０ａ（各有機ＥＬ素子２０の配列範囲）が形成されている。具体的には、表示領域１０ａにおいて、有機ＥＬ素子２０は、Ｍ行×Ｎ列のマトリックス状の画素として配列されている。そして、有機ＥＬ素子２０には、光の三原色中の赤を発光するＲ画素２０ａと、緑を発光するＧ画素２０ｂと、青を発光するＢ画素２０ｃとの３種類がある。
【００２０】
このような有機ＥＬディスプレイ１０の支持基板１１には、各有機ＥＬ素子２０を発光させるための発光用配線として、走査線４１、電源制御線４２、及び信号線５１が形成されている。また、支持基板１１の周辺部には、発光用配線に対応する接続用配線が形成された配線基板が配置されている。この配線基板は、フレキシブルプリント基板からなり、走査信号・電源制御信号配線基板４０、映像信号配線基板５０、及び電源供給配線基板６０がそれぞれ別々に支持基板１１に接続されるようになっている。
【００２１】
ここで、走査信号・電源制御信号配線基板４０及び映像信号配線基板５０には、それぞれドライバＩＣ４３（図示せず）及びドライバＩＣ５２（図示せず）が接続されており、ＴＣＰ（Tape Carrier Package）となっている。一方、電源供給配線基板６０は、ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）によって外部回路と接続されている。そして、これらと支持基板１１とは、ＡＣＦ（Anisotropic Conductive Film ）を用いた圧着（ＡＣＦ圧着）によって接続されている。そして、走査信号・電源制御信号配線基板４０、映像信号配線基板５０、及び電源供給配線基板６０に実装ミスがなければ、各有機ＥＬ素子２０を発光させることができる。
【００２２】
［発光素子の構成例］
図２は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の有機ＥＬ素子２０（Ｒ画素２０ａ、Ｇ画素２０ｂ、及びＢ画素２０ｃ）を示す平面図である。
また、図３は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の１つの有機ＥＬ素子２０の表層部を示す平面図及び断面図である。
さらにまた、図４は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の１つの有機ＥＬ素子２０の内部構造を示す平面図である。
さらに、図５は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の等価回路図である。
【００２３】
有機ＥＬ素子２０は、上部電極である透明なカソード電極２１（図３参照）と、下部電極であるアノード電極２２（図２及び図３参照）との間に、有機物の発光層である有機物層２３（図３参照）を積層したものである。そして、このような有機ＥＬ素子２０は、支持基板１１（図１参照）の上に、図２に示すように、Ｒ画素２０ａ、Ｇ画素２０ｂ、及びＢ画素２０ｃを一組として、マトリックス状に配列されている。また、有機ＥＬ素子２０は、図４及び図５に示すように、有機ＥＬ素子２０ごとにそれぞれ設けられた薄膜トランジスタ（駆動ＴＦＴ３０ａ、書込みＴＦＴ３０ｂ）や容量素子（キャパシタ３４）からなる駆動手段によって駆動される。したがって、第１の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ１０（図１参照）は、有機ＥＬ素子２０ごとに設けられた駆動手段によって駆動されるアクティブマトリックス型表示装置となっている。
【００２４】
ここで、有機ＥＬ素子２０は、図５に示すように、カソード電極２１がＧＮＤ（グラウンド）に接続され、アノード電極２２が駆動ＴＦＴ３０ａのソース電極３１ａに接続されている。そして、アノード電極２２とソース電極３１ａとは、接続コンタクト２４（図２ないし図４参照）を介して接続されている。
【００２５】
また、支持基板１１（図１参照）の上には、図２、図４、及び図５に示すように、有機ＥＬ素子２０を発光させるための発光用配線として、走査線４１、電源制御線４２、及び信号線５１が形成されている。この走査線４１は、マトリックス状に配列された有機ＥＬ素子２０の各行（各行の上方）ごとに配線され、電源制御線４２は、有機ＥＬ素子２０の各行（各行の下方）ごとに配線され、信号線５１は、有機ＥＬ素子２０の各列ごとに配線されている。そして、図４及び図５に示すように、駆動ＴＦＴ３０ａのドレイン電極３２ａは、正電位（Ｖｃｃ）の電源制御線４２に接続され、駆動ＴＦＴ３０ａのソース電極３１ａと書込みＴＦＴ３０ｂのソース電極３１ｂとの間には、キャパシタ３４が接続されている。さらにまた、駆動ＴＦＴ３０ａのゲート電極３３ａは、書込みＴＦＴ３０ｂのソース電極３１ｂと接続され、書込みＴＦＴ３０ｂのドレイン電極３２ｂは、信号線５１と接続され、ゲート電極３３ｂは、走査線４１と接続されている。
【００２６】
このような有機ＥＬ素子２０では、駆動ＴＦＴ３０ａが駆動トランジスタとなり、書込みＴＦＴ３０ｂがスイッチングトランジスタとなっている。そして、走査線４１に信号を印加し、書込みＴＦＴ３０ｂのゲート電極３３ｂの電位を制御すると、信号線５１の電圧が駆動ＴＦＴ３０ａのゲート電極３３ａに印加される。この際、ゲート電極３３ａの電位は、次に走査線４１に信号が印加されるまでの間、キャパシタ３４によって安定的に保持される。そのため、この間は、駆動ＴＦＴ３０ａのゲート電極３３ａとソース電極３１ａとの間の電圧に応じた電流が有機ＥＬ素子２０に流れる。その結果、有機ＥＬ素子２０が電流値に応じた輝度で発光し続けることとなる。
【００２７】
このように、有機ＥＬディスプレイ１０（図１参照）は、有機ＥＬ素子２０に流れる電流値をコントロールして発光させている。また、電源制御線４２をパルス駆動（２回パルス）することにより、有機ＥＬ素子２０を駆動している。そして、１回目のパルスで駆動ＴＦＴ３０ａの特性バラツキである閾値電圧の補正を行い、２回目のパルスで信号の印加と移動度の補正とを同時に行なっている。そのため、有機ＥＬ素子２０の経時劣化や駆動ＴＦＴ３０ａの特性のバラツキが抑制されたものとなっている。
【００２８】
また、有機ＥＬ素子２０から発生した光は、図３に示す開口規定絶縁膜２５が抜かれた開口部分（図２に示す開口部）から取り出される。具体的には、開口規定絶縁膜２５は、アノード電極２２及びその同層の補助配線２６の全体を覆い、アノード電極２２の上を部分的に抜いて画素（図２に示すＲ画素２０ａ、Ｇ画素２０ｂ、及びＢ画素２０ｃ）用の開口としている。また、有機物層２３は、アノード電極２２よりも一回り大きく蒸着されている。さらにまた、透明なカソード電極２１は、全画素の共通電極として全体的に成膜されており、カソード電極２１の上には、封止材を介して封止ガラス（図示せず）が配置されている。そのため、有機ＥＬ素子２０の発生光は、開口規定絶縁膜２５の開口で、カソード電極２１を通って外部に出ることとなる。なお、カソード電極２１を構成している光透過率の高い導電性材料は、抵抗値が高いものである。そこで、カソード電極２１の電気抵抗を調整し、カソード電極２１の低抵抗化を図るため、カソード電極２１には、補助配線２６が接続されている。そして、この補助配線２６は、アノード電極２２の周囲に配線されており、カソード電極２１と同電位で、例えば、ＧＮＤに接地されている。
【００２９】
しかし、図１に示す走査信号・電源制御信号配線基板４０や映像信号配線基板５０に実装ミスがあれば、有機ＥＬ素子２０が発光しない。具体的には、図２、図４、及び図５に示す走査線４１及び電源制御線４２は、走査信号・電源制御信号配線基板４０との間でＡＣＦ圧着によって接続される。しかし、実装ミスによって接続されない走査線４１や電源制御線４２があれば、有機ＥＬ素子２０の点灯不良となる。また、信号線５１も、映像信号配線基板５０との間でＡＣＦ圧着によって接続されるが、実装ミスによって接続されない信号線５１があれば、有機ＥＬ素子２０の点灯不良となる。
【００３０】
［配線基板の構成及び実装例］
図６は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の走査信号・電源制御信号配線基板４０を示す平面図である。
また、図７は、図１に示す有機ＥＬディスプレイ１０の映像信号配線基板５０を示す平面図である。
さらにまた、図８は、図７に示す映像信号配線基板５０（５０ａ、５０ｂ）の実装部を示す斜視図である。なお、図８では、理解の容易のために、映像信号配線基板５０ａの一部をめくって図示している。
【００３１】
図６に示すように、走査信号・電源制御信号配線基板４０は、制御用のドライバＩＣ４３と、接続用配線である走査・電源制御接続線４４とを有している。そして、走査・電源制御接続線４４は、ドライバＩＣ４３を介して、支持基板１１上に配線された走査線４１（４１ａ、４１ｂ、・・・）及び電源制御線４２（４２ａ、４２ｂ、・・・）と電気的に接続されるようになっている。
【００３２】
ここで、走査信号・電源制御信号配線基板４０は、走査・電源制御接続線４４を可とう性のあるフィルム状の絶縁体（例えば、ポリイミド樹脂）で両面側からはさみ込んだサンドイッチ構造をなすフレキシブルプリント基板である。そして、走査・電源制御接続線４４は、ポリイミド樹脂製のフィルムの上に導体箔（例えば、銅箔）を貼り付けた後、エッチングすることによって形成されている。
【００３３】
また、走査信号・電源制御信号配線基板４０と支持基板１１とは、ＡＣＦ圧着によって接続される。そして、ドライバＩＣ４３と、走査線（４１ａ、４１ｂ、・・・）及び電源制御線４２（４２ａ、４２ｂ、・・・）とが電気接続部１２で接続される。具体的には、ドライバＩＣ４３の１番目のピン４３ａと、１行目の有機ＥＬ素子２０（図１参照）に対応する走査線４１ａとが接続される。さらにまた、ドライバＩＣ４３の２番目のピン４３ｂと、１行目の有機ＥＬ素子２０に対応する電源制御線４２ａとが接続される。同様に、３番目のピン４３ｃと、２行目の有機ＥＬ素子２０に対応する走査線４１ｂとが接続され、４番目のピン４３ｄと、２行目の有機ＥＬ素子２０に対応する電源制御線４２ｂとが接続される。
【００３４】
一方、図７に示すように、映像信号配線基板５０は、制御用のドライバＩＣ５２と、接続用配線である信号接続線５３とを有している。そして、映像信号配線基板５０は、ドライバＩＣ５２を介して、支持基板１１上に配線された信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、５１ｄ、・・・）と電気的に接続されるようになっている。
【００３５】
ここで、映像信号配線基板５０は、信号接続線５３を可とう性のあるフィルム状の絶縁体（例えば、ポリイミド樹脂）で両面側からはさみ込んだサンドイッチ構造をなすフレキシブルプリント基板である。そして、信号接続線５３は、ポリイミド樹脂製のフィルムの上に導体箔（例えば、銅箔）を貼り付けた後、エッチングすることによって形成されている。
【００３６】
また、映像信号配線基板５０と支持基板１１とは、ＡＣＦ圧着によって接続される。そして、ドライバＩＣ５２と、信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、５１ｄ、・・・）とが電気接続部１２で接続される。具体的には、ドライバＩＣ５２の１番目のピン５２ａと、１行目の有機ＥＬ素子２０（図１参照）に対応する信号線５１ａとが接続される。さらにまた、ドライバＩＣ５２の２番目のピン５２ｂと、２行目の有機ＥＬ素子２０に対応する信号線５１ｂとが接続される。同様に、３番目のピン５２ｃと、３行目の有機ＥＬ素子２０に対応する信号線５１ｃとが接続され、４番目のピン５２ｄと、４行目の有機ＥＬ素子２０に対応する信号線５１ｄとが接続される。
【００３７】
このような走査信号・電源制御信号配線基板４０（図６参照）及び映像信号配線基板５０（図７参照）は、図１に示すように、支持基板１１の周辺部にそれぞれ別々に配置される。具体的には、走査信号・電源制御信号配線基板４０は、マトリックス状に配列された有機ＥＬ素子２０の列方向に複数配置され、映像信号配線基板５０は、有機ＥＬ素子２０の行方向に複数配置される。
【００３８】
ここで、図８に示すように、支持基板１１に対して映像信号配線基板５０（５０ａ、５０ｂ、・・・）を実装するには、電気接続部１２において、信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、・・・、５１ｎ）と信号接続線５３（５３ａ、５３ｂ、５３ｃ、・・・、５３ｎ）とを合わせる。そして、信号線５１の先端に信号接続線５３の先端を１対１で対向させてＡＣＦ接続する。また、図６に示す走査・電源制御接続線４４と走査線４１及び電源制御線４２との電気的な接続も、まったく同様にして行う。なお、図８では、説明の便宜のため、ドライバＩＣ５２（図７参照）の図示を省略している。
【００３９】
しかし、映像信号配線基板５０（５０ａ、５０ｂ、・・・）の実装ミスにより、電気接続部１２の接続不良が発生することがある。特に、映像信号配線基板５０は、フレキシブルプリント基板であるため、信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、・・・、５１ｎ）の外側で接続不良が発生しやすい。例えば、映像信号配線基板５０ａのように、実装ミスによって一部がめくられたようになると、信号線５１ａ、５１ｂ、５１ｃと信号接続線５３ａ、５３ｂ、５３ｃとの間が接続不良となる。逆に、反対側の信号線５１ｎと信号接続線５３ｎとの間のように、接続不良がなければ、信号線５１ｎ及び信号接続線５３ｎより信号線５１ｃ及び信号接続線５３ｃに近い側も、接続不良がないと予想できる。
【００４０】
そこで、第１の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ１０（図１参照）は、支持基板１１における電気接続部１２の外側の信号線５１ａ及び信号線５１ｎのさらに外側に、信号接続線５３（５３ａ、５３ｂ、５３ｃ、・・・、５３ｎ）に対応しない一対の自由端子５４ａ及び自由端子５４ｂを有している。また、自由端子５４ａの先端部は、抵抗測定部５５ａとなっており、自由端子５４ｂの先端部は、抵抗測定部５５ｂとなっている。さらにまた、映像信号配線基板５０ａは、短絡配線５６ａを有している。そして、短絡配線５６ａは、電気接続部１２で信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、・・・、５１ｎ）と信号接続線５３（５３ａ、５３ｂ、５３ｃ、・・・、５３ｎ）とを電気的に接続したときに、自由端子５４ａ及び自由端子５４ｂに電気的に接続されて自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間を短絡するようになっている。なお、映像信号配線基板５０ｂも同様の構成となっており、映像信号配線基板５０ｂの短絡配線５６ｂは、映像信号配線基板５０ａと映像信号配線基板５０ｂとの間に配置された自由端子５４ｃに電気的に接続される。そして、自由端子５４ｃの先端部は、自由端子５４ｂと共通の抵抗測定部５５ｂとなっている。
【００４１】
このような抵抗測定部５５ａ及び抵抗測定部５５ｂは、自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間の抵抗値を測定するためのものである。具体的には、映像信号配線基板５０（５０ａ、５０ｂ、・・・）を実装し、信号線５１（５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、・・・、５１ｎ）と信号接続線５３（５３ａ、５３ｂ、５３ｃ、・・・、５３ｎ）とを電気的に接続した後、自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間の抵抗値を測定する。そして、検査工程に行く前の実装工程において測定された抵抗値により、実装状態を検査する。
【００４２】
［配線基板の実装状態の検査例］
図９は、本発明のマトリックス型表示装置の検査方法の一実施形態としての、有機ＥＬディスプレイ１０の検査方法を示す平面図である。
図９に示すように、有機ＥＬディスプレイ１０には、映像信号配線基板５０ａや映像信号配線基板５０ｂが実装される。そして、信号接続線５３と信号線５１とがドライバＩＣ５２を介して電気的に接続される。
【００４３】
また、信号線５１の外側には、信号接続線５３に対応しない自由端子５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄがある。そして、自由端子５４ａの先端部は、抵抗測定部５５ａを有し、自由端子５４ｂと自由端子５４ｃとの間は、抵抗測定部５５ｂを有し、自由端子５４ｄの先端部は、抵抗測定部５５ｃを有している。さらにまた、映像信号配線基板５０ａは、自由端子５４ａと自由端子５４ｂとを短絡するための短絡配線５６ａを有している。さらに、映像信号配線基板５０ｂは、自由端子５４ｃと自由端子５４ｄとを短絡するための短絡配線５６ｂを有している。
【００４４】
このような有機ＥＬディスプレイ１０において、映像信号配線基板５０ａの実装状態を検査するには、図９に示すように、テスタ７０のテストリードを抵抗測定部５５ａ及び抵抗測定部５５ｂに接触させる。そして、自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間の抵抗値を測定する。その結果、抵抗値が０オーム〜数オーム程度であれば、短絡配線５６ａによって自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間が短絡され、導通していることとなる。なお、数オーム程度になることがあるのは、映像信号配線基板５０ａ内の配線抵抗のためである。
【００４５】
したがって、信号線５１の外側にある自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間が導通しているので、自由端子５４ａ及び自由端子５４ｂの内側にある信号線５１も導通している（実装ミスなし）と予想できる。逆に、測定された抵抗値が大きく、自由端子５４ａと自由端子５４ｂとの間が導通していないと判断される場合には、その内側にある信号線５１も導通していない（実装ミスあり）と予想できる。そのため、有機ＥＬ素子２０（図１参照）の点灯確認をしなくても、信号線５１と信号接続線５３との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。
【００４６】
また、映像信号配線基板５０ｂの実装状態を検査するには、テスタ７０のテストリードを抵抗測定部５５ｂ及び抵抗測定部５５ｃに接触させ、自由端子５４ｃと自由端子５４ｄとの間の抵抗値を測定する。そして、短絡配線５６ｂによって自由端子５４ｃと自由端子５４ｄとの間が短絡され、導通していれば、映像信号配線基板５０ｂにおける信号線５１と信号接続線５３とが電気的に接続されていることが確認できる。なお、同様にして、走査信号・電源制御信号配線基板４０（図１参照）の実装ミスの有無（図６に示す走査・電源制御接続線４４と走査線４１及び電源制御線４２との電気的な接続の有無）を確認できる。
【００４７】
このように、映像信号配線基板５０ａや映像信号配線基板５０ｂの実装工程で実装状態の検査を行えば、次の検査工程で検査を行い、実装ミスがあった場合には、実装工程に戻して実装をやり直す場合よりも、生産性が大幅に向上する。また、映像信号配線基板５０ａや映像信号配線基板５０ｂを一つ実装するごとに検査を行えば、すべてを実装した後に検査を行う場合よりも生産性が向上する。
【００４８】
＜２．第２の実施の形態＞
［マトリックス型表示装置の構成例］
図１０は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第２の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイ８０を示す平面図である。
図１０に示す第２の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ８０は、支持基板８１の周辺部に、図１に示す第１の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ１０と同じ走査信号・電源制御信号配線基板４０及び映像信号配線基板５０を複数配置したものである。
【００４９】
しかし、図１０に示す第２の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ８０では、両端の走査信号・電源制御信号配線基板４０の外側だけに一対の自由端子を配置し、支持基板８１の各自由端子の先端部を抵抗測定部８１ａ及び抵抗測定部８１ｂとしている。そのため、テスタ７０（図９参照）のテストリードを抵抗測定部８１ａ及び抵抗測定部８１ｂに接触させ、抵抗値を測定することにより、複数の走査信号・電源制御信号配線基板４０の実装状態（実装ミスの有無）を１回で検査できる。
【００５０】
また、図１０に示す第２の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ８０では、両端の映像信号配線基板５０の外側だけに一対の自由端子を配置し、支持基板８１の各自由端子の先端部を抵抗測定部８２ａ及び抵抗測定部８２ｂとしている。そのため、テスタ７０（図９参照）のテストリードを抵抗測定部８２ａ及び抵抗測定部８２ｂに接触させ、抵抗値を測定することにより、複数の映像信号配線基板５０の実装状態（実装ミスの有無）を１回で検査できる。
【００５１】
＜３．第３の実施の形態＞
［配線基板の構成及び実装例］
図１１は、本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第３の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイ９０の一部を示す平面図である。
図１１に示すように、有機ＥＬディスプレイ９０の支持基板９１の周辺部には、映像信号配線基板９２が配置されている。そして、支持基板９１には、図９に示す第１の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ１０と同様の信号線５１が形成されている。一方、映像信号配線基板９２は、図９に示す第１の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ１０と同様のドライバＩＣ５２を有しており、信号接続線５３が接続されている。
【００５２】
ここで、信号線５１と信号接続線５３とは、電気接続部１２によって電気的に接続されるが、図１１に示す第３の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ９０は、映像信号配線基板９２に、一対の自由端子９３ａ及び自由端子９３ｂが設けられている。また、自由端子９３ａの先端部は、抵抗測定部９４ａとなっており、自由端子９３ｂの先端部は、抵抗測定部９４ｂとなっている。そして、支持基板９１は、自由端子９３ａと自由端子９３ｂとの間を短絡するための短絡配線９５を有している。
【００５３】
このような第３の実施の形態の有機ＥＬディスプレイ９０において、映像信号配線基板９２の実装状態を検査するには、テスタ７０（図９参照）のテストリードを抵抗測定部９４ａ及び抵抗測定部９４ｂに接触させる。そして、自由端子９３ａと自由端子９３ｂとの間の抵抗値を測定する。その結果、抵抗値が０オーム〜数オーム程度であれば、短絡配線９５によって自由端子９３ａと自由端子９３ｂとの間が短絡され、導通していることとなる。
【００５４】
したがって、信号接続線５３の外側にある自由端子９３ａと自由端子９３ｂとの間が導通しているので、自由端子９３ａ及び自由端子９３ｂの内側にある信号接続線５３も導通している（実装ミスなし）と予想できる。逆に、測定された抵抗値が大きく、自由端子９３ａと自由端子９３ｂとの間が導通していないと判断される場合には、その内側にある信号接続線５３も導通していない（実装ミスあり）と予想できる。そのため、有機ＥＬ素子２０（図１参照）の点灯確認をしなくても、信号線５１と信号接続線５３との電気的な接続の有無を簡単に確認できる。
【００５５】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されることなく、例えば、以下のような種々の変形が可能である。
（１）実施形態では、複数の有機ＥＬ素子２０ごとにそれぞれ駆動ＴＦＴ３０ａ等を設けたアクティブマトリックス型の有機ＥＬディスプレイ１０とした。しかし、パッシブマトリックス型のものにも適用可能である。
（２）実施形態では、有機ＥＬ素子２０が発した光を支持基板１１と反対側から取り出すようにしたトップエミッション方式の有機ＥＬディスプレイ１０とした。しかし、有機ＥＬ素子２０が発した光を支持基板１１と同じ側から取り出すようにしたボトムエミッション方式にも適用できる。
（３）実施形態では、発光素子に有機ＥＬ素子２０（有機エレクトロルミネッセンス素子）を用いている。しかし、無機エレクトロルミネッセンス素子や発光ダイオード等であってもよい。また、有機ＥＬディスプレイに限らず、プラズマディスプレイ等の自発光素子を備えたマトリックス型表示装置であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第１の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイを示す平面図である。
【図２】図１に示す有機ＥＬディスプレイの有機ＥＬ素子を示す平面図である。
【図３】図１に示す有機ＥＬディスプレイの１つの有機ＥＬ素子の表層部を示す平面図である。
【図４】図１に示す有機ＥＬディスプレイの１つの有機ＥＬ素子の内部構造を示す平面図である。
【図５】図１に示す有機ＥＬディスプレイの等価回路図である。
【図６】図１に示す有機ＥＬディスプレイの走査信号・電源制御信号配線基板を示す平面図である。
【図７】図１に示す有機ＥＬディスプレイの映像信号配線基板を示す平面図である。
【図８】図７に示す映像信号配線基板の実装部を示す斜視図である。
【図９】本発明のマトリックス型表示装置の検査方法の一実施形態としての、有機ＥＬディスプレイの検査方法を示す平面図である。
【図１０】本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第２の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイを示す平面図である。
【図１１】本発明のマトリックス型表示装置の一実施形態（第３の実施の形態）としての、有機ＥＬディスプレイの一部を示す平面図である。
【符号の説明】
【００５７】
１０  有機ＥＬディスプレイ（マトリックス型表示装置）
１１  支持基板
１２  電気接続部
２０  有機ＥＬ素子（発光素子）
４０  走査信号・電源制御信号配線基板（配線基板）
４１、４１ａ、４１ｂ  走査線（発光用配線）
４２、４２ａ、４２ｂ  電源制御線（発光用配線）
４４  走査・電源制御接続線（接続用配線）
５０、５０ａ、５０ｂ  映像信号配線基板（配線基板）
５１、５１ａ、５１ｂ、５１ｃ、５１ｎ  信号線（発光用配線）
５３ａ、５３ｂ、５３ｃ、５３ｄ、５３ｎ  信号接続線（接続用配線）
５４ａ、５４ｂ、５４ｃ、５４ｄ  自由端子
５５ａ、５５ｂ、５５ｃ  抵抗測定部
５６ａ、５６ｂ  短絡配線
８０  有機ＥＬディスプレイ（マトリックス型表示装置）
８１  支持基板
８１ａ、８１ｂ  抵抗測定部
８２ａ、８２ｂ  抵抗測定部
９０  有機ＥＬディスプレイ（マトリックス型表示装置）
９１  支持基板
９２  映像信号配線基板（配線基板）
９３ａ、９３ｂ  自由端子
９４ａ、９４ｂ  抵抗測定部
９５  短絡配線
【図１】
2010145712.tif 000003
【図２】
2010145712.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2010145712.tif 000008
【図７】
2010145712.tif 000009
【図８】
2010145712.tif 000010
【図９】
2010145712.tif 000011
【図１０】
2010145712.tif 000012
【図１１】
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