(57)【要約】【課題】配線モデルの作成にかかる作業時間および作業負担を削減し、設計期間の短縮化を図ること。【解決手段】設計支援装置１００は、点Ｇ１をメッシュ原点として分割されたメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９の中から、配線経路１０１と交差するメッシュ領域を検出する。このあと、設計支援装置１００は、配線経路１０１がメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する。設計支援装置１００は、配線経路１０１が頂点を通過する場合、メッシュ原点を点Ｇ１から点Ｇ２に変更する。つぎに、設計支援装置１００は、点Ｇ２をメッシュ原点として分割されたメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９の中から、配線経路１０１と交差するメッシュ領域を検出する。そして、設計支援装置１００は、検出結果をマージして、配線経路１０１の始点Ｓから終点Ｅに辿り着くまでのメッシュ領域列を探索して、配線経路１０１の配線モデルとして出力する。【選択図】図１
2010287001.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象回路内の配線経路に含まれる線分ごとに、当該線分の始点／終点座標を記憶するデータベースにアクセス可能なコンピュータを、
前記対象回路に関するレイアウト領域内の所定の座標を原点座標として、当該レイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する分割手段、
前記データベース内の線分群から選ばれた任意の線分が前記分割手段によって分割されたメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する判定手段、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段、
として機能させることを特徴とする設計支援プログラム。
【請求項２】
前記コンピュータを、
前記複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する検出手段、
前記検出手段によって検出されたメッシュ領域のうち、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する探索手段、
前記探索手段によって探索されたメッシュ領域列に、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域が存在しない場合に、前記任意の線分が前記メッシュ領域の頂点を通過すると判定する判定手段として機能させることを特徴とする請求項１に記載の設計支援プログラム。
【請求項３】
前記コンピュータを、
前記任意の線分が前記メッシュ領域の頂点を通過すると判定された場合、前記原点座標を、前記レイアウト領域内の前記所定の座標とは異なる他の座標に変更する変更手段として機能させるとともに、
前記分割手段は、
前記所定の座標を原点座標として、前記レイアウト領域を前記所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する第１の分割手段、
前記変更手段によって変更された他の座標を前記原点座標として前記レイアウト領域を前記所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する第２の分割手段の機能を有し、
前記検出手段は、
前記第１の分割手段によって分割された複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する第１の検出手段、
前記第２の分割手段によって分割された複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する第２の検出手段の機能を有し、
前記探索手段は、前記第１および第２の検出手段によって検出されたメッシュ領域のうち、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索することを特徴とする請求項２に記載の設計支援プログラム。
【請求項４】
前記出力手段は、前記任意の線分が前記メッシュ領域の頂点を通過しないと判定された場合、前記探索手段によって探索されたメッシュ領域列を出力することを特徴とする請求項２または３に記載の設計支援プログラム。
【請求項５】
前記コンピュータを、更に、
前記レイアウト領域上の第１および第２の軸を含む直交座標系において、前記原点座標を、前記第１の軸方向に第１距離移動させるとともに、前記第２の軸方向に第２距離移動させる第１の変更手段、
前記直交座標系において、前記原点座標を、前記第１の軸方向に前記第２距離移動させるとともに、前記第２の軸方向に前記第１距離移動させる第２の変更手段として機能させるとともに、
前記分割手段は、
前記所定の座標を原点座標として、前記レイアウト領域を前記所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する第１の分割手段、
前記第１の変更手段によって変更された他の座標を前記原点座標として前記レイアウト領域を前記所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する第２の分割手段、
前記第２の変更手段によって変更された他の座標を前記原点座標として前記レイアウト領域を前記所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する第３の分割手段の機能を有し、
前記検出手段は、
前記第１の分割手段によって分割された複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する第１の検出手段、
前記第２の分割手段によって分割された複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する第２の検出手段、
前記第３の分割手段によって分割された複数のメッシュ領域から、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分の終点座標を含むメッシュ領域と、前記任意の線分と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域と、を検出する第３の検出手段の機能を有し、
前記探索手段は、
前記第１、第２および第３の検出手段によって検出されたメッシュ領域のうち、前記任意の線分の始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索し、
前記出力手段は、
前記探索手段によって探索されたメッシュ領域列を出力することを特徴とする請求項２に記載の設計支援プログラム。
【請求項６】
前記探索手段は、探索先となるメッシュ領域が複数存在する場合、予め設定された前記第１、第２および第３の検出結果に関する優先度に基づいて、前記探索先のメッシュ領域を決定することを特徴とする請求項５に記載の設計支援プログラム。
【請求項７】
対象回路内の配線経路に含まれる線分ごとに、当該線分の始点／終点座標を記憶する記憶手段と、
前記対象回路に関するレイアウト領域内の所定の座標を原点座標として、当該レイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する分割手段と、
前記記憶手段によって記憶された線分群から選ばれた任意の線分が前記分割手段によって分割されたメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段によって判定された判定結果を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする設計支援装置。
【請求項８】
制御手段および記憶手段を備え、対象回路内の配線経路に含まれる線分ごとに、当該線分の始点／終点座標を記憶するデータベースにアクセス可能なコンピュータが、
前記制御手段により、前記対象回路に関するレイアウト領域内の所定の座標を原点座標として、当該レイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割して、前記記憶手段に記憶する分割工程と、
前記制御手段により、前記データベース内の線分群から選ばれた任意の線分が前記分割工程によって分割されたメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定して、前記記憶手段に記憶する判定工程と、
前記制御手段により、前記判定工程によって判定された判定結果を出力する出力工程と、
を実行することを特徴とする設計支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示技術は、半導体集積回路の設計を支援する設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体集積回路の高密度化、高速化にともない、超高速半導体部品を搭載したプリント基板では、クロストーク／反射ノイズ、誘電損による波形なまりなどの様々なノイズ問題が発生している。そのため、設計時において、プリント基板の伝送ノイズ解析を実行して、適切なノイズ対策を行なうことが重要となっている。
【０００３】
一般に、プリント基板の伝送ノイズ解析では、ＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ）モデルを用いて、プリント基板上の配線パターンを簡略化して配線モデルを作成する。そして、各種条件（たとえば、メッシュ原点、物性、実行条件など）を設定し、配線モデルを解析ツールに与えて伝送ノイズ解析を実行する。
【０００４】
従来において、配線モデルを作成する手法として、プリント基板のレイアウト領域を複数のメッシュ領域に分割し、配線パターンをメッシュ領域ごとに認識するものがある。
【０００５】
図２８は、従来手法の一例を示す説明図である。図２８において、プリント基板２８００上の配線２８１０が表示されている。なお、図面では、プリント基板２８００の一部を抜粋して表示している。ここで、配線経路２８２０は、配線２８１０の中央部を通る経路である。従来手法では、配線経路２８２０が交差するメッシュ領域を認識することで、配線２８１０の配線モデル（図２８中ハッチ部分）を作成する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−５０１３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述した従来手法では、配線がメッシュ領域の頂点を通過する場合、解析ツールにおいて配線モデルが非連続と認識され、伝送ノイズ解析を適切に行なうことができないという問題がある。図２８の例では、配線経路２８１０がメッシュ領域の頂点Ｆを通過するため、配線モデルが非連続となっている。具体的には、メッシュ領域Ｍａとメッシュ領域Ｍｂを接続するメッシュ領域Ｍｃまたはメッシュ領域Ｍｄが非認識となり、配線モデルが非連続となっている。
【０００８】
このような場合、ユーザが、配線モデルの非連続箇所を特定し、配線モデルの連続性を補完するためのメッシュ領域（たとえば、メッシュ領域Ｍｃ，Ｍｄ）を追加するなどの修正を行なう必要がある。この結果、配線モデルの作成にかかる作業負担および作業時間が増大し、ひいては設計期間の長期化を招くという問題がある。
【０００９】
本開示技術は、上述した従来技術による問題点を解消するため、配線モデルの作成にかかる作業時間および作業負担を削減し、設計期間の短縮化を図ることができる設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、本開示技術は、対象回路に関するレイアウト領域内の所定の座標を原点座標として、当該レイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割し、前記対象回路内の配線経路に含まれる線分ごとの始点／終点座標を記憶するデータベースにアクセスして、前記線分群から選ばれた任意の線分が、分割されたメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定し、判定された判定結果を出力することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法によれば、配線モデルの作成にかかる作業時間および作業負担を削減し、設計期間の短縮化を図ることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本設計支援手法の概要の一例を示す説明図である。
【図２】実施の形態にかかる設計支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図３】対象回路の一例を示す説明図である。
【図４】ラインデータＤＢの記憶内容の一例を示す説明図である。
【図５】設計支援装置の機能的構成を示すブロック図である。
【図６】メッシュ領域の分割例を示す説明図（その１）である。
【図７】メッシュ位置情報の一例を示す説明図である。
【図８】メッシュ領域の検出例を示す説明図（その１）である。
【図９】第１検出結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図である。
【図１０】第１検出結果イメージの一例を示す説明図である。
【図１１】メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その１）である。
【図１２】探索結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図（その１）である。
【図１３】非連続ラインレポート情報の一例を示す説明図である。
【図１４】メッシュ領域の分割例を示す説明図（その２）である。
【図１５】メッシュ領域の検出例を示す説明図（その２）である。
【図１６】第１および第２の検出結果のマージ例を示す説明図である。
【図１７】メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その２）である。
【図１８】探索結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図（その２）である。
【図１９】メッシュ領域の分割例を示す説明図（その３）である。
【図２０】メッシュ領域の検出例を示す説明図（その３）である。
【図２１】第１、第２および第３の検出結果のマージ例を示す説明図である。
【図２２】メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その３）である。
【図２３】本実施の形態にかかる設計支援装置の設計支援処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２４】ステップＳ２３０４の第１検出処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２５】ステップＳ２３０５の第１探索処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２６】ステップＳ２３０６の判定処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２７】ステップＳ２３０７のオフセット処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２８】従来手法の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に添付図面を参照して、この発明にかかる設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。
【００１４】
（設計支援手法の概要の一例）
まず、本設計支援手法の概要の一例について説明する。図１は、本設計支援手法の概要の一例を示す説明図である。ここでは、本設計支援手法により、プリント基板（ＰＣＢ：Ｐｒｉｎｔ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ）などの対象回路の伝送ノイズ解析に用いる配線モデルを作成する場合について説明する。
【００１５】
図１において、設計支援装置１００は、対象回路内の配線経路を簡略化した配線モデルを作成する機能を有する。以下、設計支援装置１００において、プリント基板１２０上の配線経路１０１の配線モデルを作成する手順について説明する。なお、点Ｓは配線経路１０１の始点であり、点Ｅは配線経路１０１の終点である。
【００１６】
（１）設計支援装置１００は、Ｘ軸とＹ軸からなる直交座標系において、点Ｇ１をメッシュ原点として、プリント基板１２０のレイアウト領域を格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する。ここでは、プリント基板１２０のレイアウト領域がメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９に分割されている。
【００１７】
（２）設計支援装置１００は、点Ｇ１をメッシュ原点として分割されたメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９の中から、配線経路１０１と交差するメッシュ領域を検出する。ここでは、メッシュ領域Ｍ１，Ｍ４，Ｍ５，Ｍ９が検出される。
【００１８】
（３）設計支援装置１００は、配線経路１０１がメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する。ここでは、配線経路１０１が頂点Ａを通過していると判定される。この場合、伝送ノイズ解析を実行する解析ツールにおいて、配線経路１０１の配線モデルは非連続と認識される。
【００１９】
そこで、以下（４）〜（７）の手順により、配線経路１０１がメッシュ領域の頂点を通過することを回避して、配線モデルの連続性を補完する。
【００２０】
（４）設計支援装置１００は、メッシュ原点を点Ｇ１から点Ｇ２に変更する。ここで、点Ｇ２は、点Ｇ１をＸ軸およびＹ軸方向にそれぞれΔＸ、ΔＹ移動させた点である。
【００２１】
（５）設計支援装置１００は、Ｘ軸とＹ軸からなる直交座標系において、点Ｇ２をメッシュ原点として、プリント基板１２０のレイアウト領域を格子状に区切って複数のメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９に分割する。すなわち、メッシュ原点を変更して、メッシュ領域の位置をずらすことにより、配線経路１０１がメッシュ領域の頂点を通過することを回避する。
【００２２】
（６）設計支援装置１００は、点Ｇ２をメッシュ原点として分割されたメッシュ領域Ｍ１〜Ｍ９の中から、配線経路１０１と交差するメッシュ領域を検出する。ここでは、メッシュ領域Ｍ１，Ｍ４，Ｍ５，Ｍ６，Ｍ９が検出される。
【００２３】
（７）設計支援装置１００は、上記（２）および（６）の検出結果をマージして、配線経路１０１の始点Ｓから終点Ｅに辿り着くまでのメッシュ領域列を探索する。ここでは、メッシュ領域Ｍ１，Ｍ４，Ｍ５，Ｍ６，Ｍ９が探索される。
【００２４】
（８）設計支援装置１００は、探索されたメッシュ領域Ｍ１，Ｍ４，Ｍ５，Ｍ６，Ｍ９を、配線経路１０１の配線モデルとして出力する。
【００２５】
このように、本設計支援手法によれば、配線経路１０１の配線モデルが非連続となる箇所（頂点Ａ）を特定して、配線モデルの連続性を補完することができる。ここでは、メッシュ領域Ｍ５とメッシュ領域Ｍ９を接続するメッシュ領域Ｍ６により、配線モデルの連続性が補完されている。これにより、配線モデルの作成にかかる作業時間および作業負担を削減し、設計期間の短縮化を図ることができる。
【００２６】
（設計支援装置のハードウェア構成）
図２は、実施の形態にかかる設計支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。図２において、設計支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ‐Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、磁気ディスクドライブ２０４と、磁気ディスク２０５と、光ディスクドライブ２０６と、光ディスク２０７と、ディスプレイ２０８と、Ｉ／Ｆ（Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２０９と、キーボード２１０と、マウス２１１と、スキャナ２１２と、プリンタ２１３と、を備えている。また、各構成部はバス２００によってそれぞれ接続されている。
【００２７】
ここで、ＣＰＵ２０１は、設計支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラムなどのプログラムを記憶している。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。磁気ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって磁気ディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。磁気ディスク２０５は、磁気ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。
【００２８】
光ディスクドライブ２０６は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって光ディスク２０７に対するデータのリード／ライトを制御する。光ディスク２０７は、光ディスクドライブ２０６の制御で書き込まれたデータを記憶したり、光ディスク２０７に記憶されたデータをコンピュータに読み取らせたりする。
【００２９】
ディスプレイ２０８は、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示する。このディスプレイ２０８は、たとえば、ＣＲＴ、ＴＦＴ液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。
【００３０】
インターフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と略する。）２０９は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク２１４に接続され、このネットワーク２１４を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０９は、ネットワーク２１４と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０９には、たとえばモデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。
【００３１】
キーボード２１０は、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力をおこなう。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウス２１１は、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などをおこなう。ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。
【００３２】
スキャナ２１２は、画像を光学的に読み取り、設計支援装置１００内に画像データを取り込む。なお、スキャナ２１２は、ＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒ  Ｒｅａｄｅｒ）機能を持たせてもよい。また、プリンタ２１３は、画像データや文書データを印刷する。プリンタ２１３には、たとえば、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。
【００３３】
（対象回路の一例）
つぎに、対象回路について説明する。図３は、対象回路の一例を示す説明図である。図３において、対象回路３００は、配線３０１と配線３０２とを含む電子回路である。また、Ｘ軸とＹ軸からなる直交座標系において、点Ｏは対象回路３００に関するレイアウト領域の原点である。なお、図面では、対象回路３００の一部を抜粋して示している。
【００３４】
ここで、配線経路Ｗ１（図３中、一点鎖線）は、配線３０１の中央部を通る経路であり、ラインＬ１とラインＬ２とラインＬ３を含む経路である。配線経路Ｗ１において、点Ｐ１はラインＬ１の始点であり、点Ｐ２はラインＬ１の終点である。また、点Ｐ２はラインＬ２の始点であり、点Ｐ３はラインＬ２の終点である。また、点Ｐ３はラインＬ３の始点であり、点Ｐ４はラインＬ３の終点である。
【００３５】
また、配線経路Ｗ２（図３中、一点鎖線）は、配線３０２の中央部を通る経路であり、ラインＬ４とラインＬ５とラインＬ６とを含む経路である。配線経路Ｗ２において、点Ｐ５はラインＬ４の始点であり、点Ｐ６はラインＬ４の終点である。また、点Ｐ６はラインＬ５の始点であり、点Ｐ７はラインＬ５の終点である。また、点Ｐ７はラインＬ６の始点であり、点Ｐ８はラインＬ６の終点である。
【００３６】
（ラインデータＤＢの記憶内容）
つぎに、設計支援装置１００が用いるラインデータＤＢ４００の記憶内容について説明する。図４は、ラインデータＤＢの記憶内容の一例を示す説明図である。図４において、ラインデータＤＢ４００は、ラインＩＤ、始点座標、終点座標および配線幅のフィールドを有する。各フィールドに情報を設定することで、ラインデータ４００−１〜４００−ｎがレコードとして記憶されている。
【００３７】
ここで、ラインＩＤとは、図３に示した対象回路３００内の配線経路（たとえば、配線経路Ｗ１，Ｗ２）に含まれるラインＬ１〜Ｌｎの識別子である。始点座標とは、Ｘ軸とＹ軸からなる直交座標系における各ラインＬ１〜Ｌｎの始点の座標位置である。終点座標とは、Ｘ軸とＹ軸からなる直交座標系における各ラインＬ１〜Ｌｎの終点の座標位置である。配線幅は、各ラインＬ１〜Ｌｎを含む配線の配線幅である。
【００３８】
ラインデータ４００−２を例に挙げると、ラインＬ２の始点座標（図３中、点Ｐ２）は（６．４，７．２）、終点座標（図３中、点Ｐ３）は（１３．１，１８．３）、配線幅は０．４［ｍｍ］である。なお、ラインデータＤＢ４００は、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶されている。
【００３９】
以下の説明では、ラインＬ１〜Ｌｎから選ばれた任意のラインを「Ｌｉ」と表記する。ただし、「ｉ＝１，２，…，ｎ」である。また、ラインＬｉの始点座標は（Ｘｓｉ，Ｙｓｉ）、終点座標は（Ｘｅｉ，Ｙｅｉ）、配線幅は０．４［ｍｍ］である。
【００４０】
（設計支援装置の機能的構成）
つぎに、設計支援装置１００の機能的構成について説明する。図５は、設計支援装置の機能的構成を示すブロック図である。図５において、設計支援装置１００は、取得部５０１と、分割部５０２と、判定部５０３と、検出部５０４と、探索部５０５と、変更部５０６と、出力部５０７と、を含む構成である。この制御部となる機能（取得部５０１〜出力部５０７）は、具体的には、たとえば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０９により、その機能を実現する。
【００４１】
取得部５０１は、対象回路内の配線経路に含まれる線分ごとに、当該線分の始点／終点座標を含むラインデータを取得する機能を有する。ここで、対象回路とは、たとえば、複数の電子部品が配置・配線されたプリント基板である。また、配線経路とは、電子部品間を結ぶ配線であり、少なくとも一つ以上の線分を含む経路である。
【００４２】
具体的には、たとえば、取得部５０１が、図２に示したキーボード２１０やマウス２１１を用いたユーザの操作入力によりラインデータ４００−１〜４００−ｎ（図４参照）を取得する。また、取得部５０１が、対象回路３００に関する設計データからの抽出によりラインデータ４００−１〜４００−ｎを取得してもよい。なお、取得されたラインデータは、たとえば、図４に示したラインデータＤＢ４００に記憶される。
【００４３】
また、取得部５０１は、対象回路のレイアウト領域を分割する分割条件を取得する機能を有する。ここで、分割条件とは、たとえば、対象回路内の配線経路の配線幅と、メッシュ原点の座標と、を含む情報である。メッシュ原点は、レイアウト領域を格子状に区切る際の基準点であり、任意に設定可能（たとえば、レイアウト領域の原点）である。
【００４４】
具体的には、たとえば、取得部５０１が、キーボード２１０やマウス２１１を用いたユーザの操作入力により分割条件を取得する。なお、配線幅については、たとえば、取得部５０１が、対象回路３００に関する設計データからの抽出により取得してもよい。取得された分割条件は、たとえば、図２に示したＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶される。
【００４５】
以降において、本明細書では、対象回路を図３に示した対象回路３００とし、対象回路内の配線経路に含まれる線分をラインＬ１〜Ｌｎとして説明する。また、メッシュ原点を、対象回路３００に関するレイアウト領域の原点Ｏ（０，０）として説明する。
【００４６】
分割部５０２は、対象回路３００に関するレイアウト領域内の所定の座標を原点座標として、当該レイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する機能を有する。ここで、所定の座標は、取得された分割条件に含まれるメッシュ原点の座標である。また、所定幅は、各メッシュ領域の１辺の長さを表わすメッシュ幅である。
【００４７】
なお、メッシュ幅（所定幅）は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に予め記憶されていてもよく、また、下記式（１）を用いて求めることにしてもよい。ただし、Ｍはメッシュ幅、ｗは配線幅、αは３以上の任意の定数である。
【００４８】
Ｍ＝ｗ／α        ・・・（１）
【００４９】
ここで、上記αを「４」とする。また、対象回路３００内の配線経路の配線幅は０．４［ｍｍ］、メッシュ原点の座標は（Ｘ，Ｙ）＝（０，０）である。したがって、メッシュ幅Ｍは、上記式（１）から『Ｍ＝０．４／４＝０．１［ｍｍ］』となる。この場合、分割部５０２が、メッシュ原点（０，０）を基準にして、レイアウト領域を０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する。
【００５０】
図６は、メッシュ領域の分割例を示す説明図（その１）である。図６において、点Ｏ（０，０）をメッシュ原点として、対象回路３００のレイアウト領域が、０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で複数のメッシュ領域に分割されている。なお、図面では、対象回路３００の一部を抜粋して示している。
【００５１】
また、図６中、Ｘ軸およびＹ軸に沿って羅列された数字は、メッシュ領域ＩＤを特定するための番号である。なお、分割された分割結果は、たとえば、メッシュ位置情報７００（図７参照）としてＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶される。
【００５２】
図７は、メッシュ位置情報の一例を示す説明図である。図７において、メッシュ位置情報７００は、メッシュ領域ＩＤ、第１頂点座標および第２頂点座標のフィールドを有する。各フィールドに情報を設定することで、メッシュ位置情報７００−１−１〜７００−ｍ−ｍがレコードとして記憶されている。
【００５３】
ここで、メッシュ領域ＩＤとは、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mを識別する識別子である。第１および第２頂点座標は、各メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの対角する２つの頂点の座標である。メッシュ位置情報７００−１−２を例に挙げると、メッシュ領域Ｍ1_2の第１頂点座標は（１，０）であり、第２頂点座標は（２，１）である。
【００５４】
以下の説明では、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mのうち任意のメッシュ領域を「メッシュ領域Ｍj_k」と表記する。ただし、「ｊ＝１，２，…，ｍ、ｋ＝１，２，…，ｍ」とする。また、メッシュ領域Ｍj_kの第１頂点座標は（ｊ−１，ｋ−１）であり、第２頂点座標は（ｊ，ｋ）である。
【００５５】
図５の説明に戻り、判定部５０３は、対象回路３００内のライン群Ｌ１〜Ｌｎから選ばれた任意のラインＬｉが、分割されたメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する機能を有する。具体的には、たとえば、判定部５０３が、ラインデータＤＢ４００およびメッシュ位置情報７００を参照して、ラインＬｉがメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの頂点を通過するか否かを判定する。
【００５６】
ここで、判定部５０３による判定処理の具体例について説明する。まず、検出部５０４は、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの始点座標（Ｘｓｉ，Ｙｓｉ）を含むメッシュ領域を検出する。具体的には、たとえば、検出部５０４が、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの中から、「ｊ−１≦Ｘｓｉ≦ｊ」かつ「ｋ−１≦Ｙｓｉ≦ｋ」となるメッシュ領域Ｍj_kを検出する。
【００５７】
また、検出部５０４は、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの終点座標（Ｘｅｉ，Ｙｅｉ）を含むメッシュ領域を検出する。具体的には、たとえば、検出部５０４が、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの中から、「ｊ−１≦Ｘｅｉ≦ｊ」かつ「ｋ−１≦Ｙｅｉ≦ｋ」となるメッシュ領域Ｍj_kを検出する。
【００５８】
また、検出部５０４は、複数のメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉと境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域を検出する機能を有する。具体的には、たとえば、まず、検出部５０４が、ラインＬｉの始点座標（Ｘｓｉ，Ｙｓｉ）と終点座標（Ｘｅｉ，Ｙｅｉ）とを結ぶ直線の式を求める。
【００５９】
ラインＬｉの式は、下記式（２）〜（４）のいずれかの数式となる。ただし、ｘの範囲は「Ｘｓｉ≦ｘ≦Ｘｅｉ」、ｙの範囲は「Ｙｓｉ≦ｙ≦Ｙｅｉ」、ａは定数である。
【００６０】
ｙ＝ｘ（Ｙｅｉ−Ｙｓｉ）／（Ｘｅｉ−Ｘｓｉ）＋ａ      ・・・（２）
【００６１】
ｙ＝Ｙｓｉ＝Ｙｅｉ            ・・・（３）
【００６２】
ｘ＝Ｘｓｉ＝Ｘｅｉ            ・・・（４）
【００６３】
このあと、検出部５０４が、メッシュ領域Ｍj_kが有する４つの境界線Ｂjk１〜Ｂjk４とラインＬｉとの交点を求める。ここで、境界線Ｂjk１は、座標（ｊ−１，ｋ−１）と座標（ｊ，ｋ−１）とを結ぶ線分である。境界線Ｂjk２は、座標（ｊ−１，ｋ−１）と座標（ｊ−１，ｋ）とを結ぶ線分である。境界線Ｂjk３は、座標（ｊ−１，ｋ）と座標（ｊ，ｋ）とを結ぶ線分である。境界線Ｂjk４は、座標（ｊ，ｋ−１）と座標（ｊ，ｋ）とを結ぶ線分である。
【００６４】
そして、検出部５０４が、ラインＬｉと境界線Ｂjk１〜Ｂjk４との交点が２点以上となるメッシュ領域Ｍj_kを検出する。なお、ラインＬｉが境界線Ｂjk１〜Ｂjk４のいずれかと重なる場合には、検出部５０４が、メッシュ領域Ｍj_k、または、メッシュ領域Ｍj_kと境界線を介して隣接するメッシュ領域のいずれか一方を検出することになる。
【００６５】
具体的には、たとえば、ラインＬｉを「ｙ＝ｋ」とすると、ラインＬｉが、メッシュ領域Ｍj_kの境界線Ｂjk３と重なるとともに、メッシュ領域Ｍj_(k+1)の境界線Ｂj(k+1)１とも重なることになる。この場合は、検出部５０４が、メッシュ領域Ｍj_kおよびメッシュ領域Ｍj_(k+1)のいずれか一方を検出する。
【００６６】
図８は、メッシュ領域の検出例を示す説明図（その１）である。図８において、配線経路Ｗ１に含まれるラインＬ１〜Ｌ３と、配線経路Ｗ２に含まれるＬ４〜Ｌ６と、に関する検出例（図８中ハッチ部分）が示されている。
【００６７】
ラインＬ２を例に挙げると、ラインＬ２の始点座標（６．４，７．２）を含むメッシュ領域Ｍ7_8と、ラインＬ２の終点座標（１３．１，１８．３）を含むメッシュ領域Ｍ14_19が検出されている。さらに、ラインＬ２と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域Ｍ7_9，Ｍ8_9，…，Ｍ13_19が検出されている。なお、検出された検出結果は、たとえば、第１検出結果テーブル９００（図９参照）に記憶される。
【００６８】
図９は、第１検出結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図である。図９において、第１検出結果テーブル９００は、ラインＩＤおよびラインフラグのフィールドを有し、ラインＬ１〜Ｌｎごとの検出結果９００−１〜９００−ｎがレコードとして記憶されている。また、ラインフラグのフィールドは、メッシュ領域ごとのサブフィールドを有する。
【００６９】
ラインＩＤは、ラインＬ１〜Ｌｎの識別子である。ラインフラグは、ラインＬ１〜Ｌｎごとの検出結果を表わすフラグである。ここでは、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域と、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域と、ラインＬｉと境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域に対応するフィールドに「１」が設定される。なお、ラインフラグは初期状態では「０」である。この第１検出結果テーブル９００は、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶されている。
【００７０】
ここで、ラインＬ１〜Ｌ６を例に挙げて、検出結果９００−１〜９００−６をイメージ化した第１検出結果イメージについて説明する。図１０は、第１検出結果イメージの一例を示す説明図である。
【００７１】
図１０において、第１検出結果イメージ１０００には、対象回路３００のレイアウト領域から分割された複数のメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍ26_21が表示されている。また、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍ26_21のうち、ラインＬ１〜Ｌ６の少なくともいずれかのラインフラグが「１」となっているメッシュ領域に「１」が表示され、それ以外のメッシュ領域に「０」が表示されている。
【００７２】
図５の説明に戻り、探索部５０５は、検出されたメッシュ領域のうち、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する機能を有する。具体的には、たとえば、まず、探索部５０５が、ラインＬｉの傾きＳｉ（＝（Ｙｅｉ−Ｙｓｉ）／（Ｘｅｉ−Ｘｓｉ））を判断する。そして、探索部５０５が、ラインＬｉの傾きＳｉに応じて、以下の（ｉ）〜（ｉｉｉ）のいずれかの探索処理を行なう。
【００７３】
（ｉ）ラインＬｉの傾きＳｉが正の場合（上記式（２）に相当）
探索部５０５が、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域Ｍj_kを選択する。そして、探索部５０５が、第１検出結果テーブル９００を参照して、メッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k+1のうち、ラインＬｉのラインフラグが「１」のメッシュ領域を探索する。このあと、探索先のメッシュ領域（メッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k+1）をメッシュ領域Ｍj_kとして、処理を繰り返す。そして、探索先となるメッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k+1のラインフラグがともに「０」となったところで、探索処理を終了する。なお、探索済みのメッシュ領域は探索先から除外する。
【００７４】
（ｉｉ）ラインＬｉの傾きＳｉが負の場合（上記式（２）に相当）
探索部５０５が、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域Ｍj_kを選択する。そして、探索部５０５が、第１検出結果テーブル９００を参照して、メッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k-1のうち、ラインＬｉのラインフラグが「１」のメッシュ領域を探索する。このあと、探索先のメッシュ領域（メッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k-1）をメッシュ領域Ｍj_kとして、処理を繰り返す。そして、探索先となるメッシュ領域Ｍj+1_kまたはＭj_k-1のラインフラグがともに「０」となったところで、探索処理を終了する。なお、探索済みのメッシュ領域は探索先から除外する。
【００７５】
（ｉｉｉ）ラインＬｉの傾きＳｉが存在しない場合（上記式（３）または（４）に相当）
探索部５０５が、第１検出結果テーブル９００の検出結果９００−ｉを参照して、ラインフラグが「１」のメッシュ領域を、ラインＬｉのメッシュ領域列とする。
【００７６】
ここで、ラインＬ２、Ｌ５を例に挙げて、メッシュ領域列の探索例について説明する。なお、ラインＬ２の傾きＳ２は正である。また、ラインＬ５の傾きＳ５は正である。図１１は、メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その１）である。
【００７７】
図１１において、ルート１１１０は、ラインＬ２についての探索結果である。具体的には、まず、探索部５０５が、ラインＬ２の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ7_8と隣接するメッシュ領域Ｍ8_8またはＭ7_9のうちラインＬ２のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ7_9を探索する（図１０参照）。
【００７８】
このあと、探索部５０５が、メッシュ領域Ｍ7_9と隣接するメッシュ領域Ｍ8_9またはＭ7_10のうちラインＬ２のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ8_9を探索する。以降、探索先のラインフラグがともに「０」となるまで処理を繰り返す。この結果、メッシュ領域Ｍ14_19が探索されたところで探索処理が終了する。
【００７９】
図１１において、ルート１１２０は、ラインＬ５についての探索結果である。具体的には、まず、探索部５０５が、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4と隣接するメッシュ領域Ｍ16_4またはＭ15_5のうちラインＬ５のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ15_5を探索する。
【００８０】
このあと、探索部５０５が、メッシュ領域Ｍ15_5と隣接するメッシュ領域Ｍ16_5またはＭ15_6のうちラインＬ５のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ16_5を探索する。以降、探索先のラインフラグがともに「０」となるまで処理を繰り返す。この結果、メッシュ領域Ｍ18_9が探索されたところで探索処理が終了する。なお、探索された探索結果は、たとえば、図１２に示す探索結果テーブル１２００に記憶される。
【００８１】
図１２は、探索結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図（その１）である。図１２において、探索結果テーブル１２００は、ラインＩＤおよびメッシュ領域列ＩＤのフィールドを有する。各フィールドに情報を設定することで探索結果１２００−１〜１２００−ｎがレコードとして記憶されている。
【００８２】
ここで、ラインＩＤは、ラインＬ１〜Ｌｎの識別子である。メッシュ領域列ＩＤは、探索されたメッシュ領域列に含まれるメッシュ領域の識別子である。探索結果１２００−５を例に挙げると、ラインＬ５についてのメッシュ領域列は「Ｍ15_4，Ｍ15_5，Ｍ16_5，Ｍ16_6，Ｍ17_6，Ｍ17_7，Ｍ17_8，Ｍ18_8，Ｍ18_9」である。
【００８３】
図５の説明に戻り、判定部５０３は、探索されたメッシュ領域列の中にラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在する場合に、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過すると判定する。具体的には、たとえば、判定部５０３が、探索結果テーブル１２００を参照して、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在するか否かを判断する。
【００８４】
ここで、ラインＬ２を例に挙げると、判定部５０３が、探索結果テーブル１２００を参照して、ラインＬ２の終点座標を含むメッシュ領域Ｍ14_19が存在するか否かを判断する。ここでは、メッシュ領域Ｍ14_19が存在するため、判定部５０３が、ラインＬ２がメッシュ領域の頂点を通過しないと判定する。
【００８５】
また、ラインＬ５を例に挙げると、判定部５０３が、探索結果テーブル１２００を参照して、ラインＬ５の終点座標を含むメッシュ領域Ｍ19_11が存在するか否かを判断する。ここでは、メッシュ領域Ｍ19_11が存在しないため、判定部５０３が、ラインＬ５がメッシュ領域の頂点（図８中、囲み８０１）を通過すると判定する。
【００８６】
なお、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過するか否かの判定手法は、上述した手法に限らない。具体的には、たとえば、判定部５０３が、ラインＬｉを表わす式に各メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの頂点座標を代入して、等式が成立するか否かを判定することにしてもよい。この場合、判定部５０３が、等式が成立する場合に、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過すると判定する。
【００８７】
出力部５０７は、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過しないと判定された場合、ラインＬｉについての探索結果を配線モデルとして出力する機能を有する。ここで、配線モデルとは、メッシュ領域列によりラインＬｉを簡略化して表わす情報である。具体的には、たとえば、出力部５０７が、ラインＬ２の探索結果１２００−２を、ラインＬ２の配線モデルとして出力することにしてもよい。
【００８８】
出力形式としては、たとえば、ディスプレイ２０８への表示、プリンタ２１３への印刷出力、Ｉ／Ｆ２０９による外部装置への送信がある。また、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶することとしてもよい。
【００８９】
また、出力部５０７は、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過すると判定された場合、ラインＬｉを非連続ラインとして出力する機能を有する。ここで、非連続ラインとは、配線モデルが非連続と認識されるラインである。具体的には、たとえば、出力部５０７が、メッシュ領域の頂点を通過すると判定されたラインＬｉのラインＩＤをリスト化した非連続ラインレポート情報を出力することにしてもよい。
【００９０】
図１３は、非連続ラインレポート情報の一例を示す説明図である。図１３において、非連続ラインレポート情報１３００には、ラインＩＤとメッシュ領域列ＩＤとが対応付けて示されている。ここで、ラインＩＤは、メッシュ領域の頂点を通過するラインＬｉの識別子である。メッシュ領域列ＩＤは、メッシュ領域の頂点を通過するラインＬｉについての探索結果である。
【００９１】
非連続ラインレポート情報１３００によれば、メッシュ領域の頂点を通過するラインＬｉ、すなわち、解析ツールにおいて配線モデルが非連続と認識されるラインＬｉを特定することができる。また、メッシュ領域列ＩＤを参照することにより、配線モデルが非連続となる箇所を特定することができる。
【００９２】
以下、配線モデルが非連続となる箇所を補完する手法について説明する。
【００９３】
図５において、変更部５０６は、探索されたメッシュ領域列の中に、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在しないと判定された場合、メッシュ座標を、レイアウト領域内の所定の座標とは異なる他の座標に変更する機能を有する。具体的には、たとえば、変更部５０６が、メッシュ原点を、Ｘ軸方向に第１オフセット量移動させるとともに、Ｙ軸方向に第２オフセット量移動させる。
【００９４】
ここで、第１および第２オフセット量は、メッシュ幅に基づく値であり、たとえば、下記式（５）および（６）を用いて求めることができる。ただし、ΔＸは第１オフセット量、ΔＹは第２オフセット量、Ｍはメッシュ幅、βは任意の定数である。
【００９５】
ΔＸ＝Ｍ／β        ・・・（５）
【００９６】
ΔＹ＝ΔＸ／２      ・・・（６）
【００９７】
また、分割部５０２は、変更された他の座標をメッシュ原点として、対象回路３００のレイアウト領域を所定幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域に分割する。ここで、上記βを「β＝５」とすると、第１オフセット量ΔＸは「ΔＸ＝１／５」、第２オフセット量ΔＹは「ΔＹ＝１／１０」となる。
【００９８】
すなわち、メッシュ原点の座標は（Ｘ，Ｙ）＝（１／５，１／１０）となる。この場合、分割部５０２が、変更後のメッシュ原点を基準にして、対象回路３００のレイアウト領域を０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で格子状に区切って、複数のメッシュ領域に分割する。
【００９９】
図１４は、メッシュ領域の分割例を示す説明図（その２）である。図１４において、点Ｏ’（１／５，１／１０）をメッシュ原点として、対象回路３００のレイアウト領域が、０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で複数のメッシュ領域に分割されている。なお、図面では、対象回路３００の一部を抜粋して示している。
【０１００】
図１４の例では、メッシュ原点の変更（点Ｏ→点Ｏ’）にともなって、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mの位置が変更されたため、ラインＬ５がメッシュ領域の頂点を通過していない。なお、分割結果は、たとえば、図７に示したメッシュ位置情報７００と同様のデータ形式で、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶される。
【０１０１】
以下の説明では、所定の座標（ここでは、点Ｏ）を基準としてレイアウト領域から分割された複数のメッシュ領域を「第１のメッシュ領域群」と表記する。また、他の座標（ここでは、点Ｏ’）を基準としてレイアウト領域から分割された複数のメッシュ領域を「第２のメッシュ領域群」と表記する。
【０１０２】
図５の説明に戻り、検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの始点座標（Ｘｓｉ，Ｙｓｉ）を含むメッシュ領域を検出する。また、検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの終点座標（Ｘｅｉ，Ｙｅｉ）を含むメッシュ領域を検出する。さらに、検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉと境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域を検出する。
【０１０３】
図１５は、メッシュ領域の検出例を示す説明図（その２）である。図１５において、配線経路Ｗ１に含まれるラインＬ１〜Ｌ３と配線経路Ｗ２に含まれるＬ４〜Ｌ６に関する検出例（図１５中ハッチ部分）が示されている。
【０１０４】
ここで、ラインＬ５を例に挙げると、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4と、ラインＬ５の終点座標を含むメッシュ領域Ｍ19_11が検出されている。さらに、ラインＬ５と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域Ｍ15_5，Ｍ16_5，…，Ｍ19_10が検出されている。
【０１０５】
以下の説明では、第１のメッシュ領域群から検出されたメッシュ領域を「第１の検出結果」と表記し、第２のメッシュ領域群から検出されたメッシュ領域を「第２の検出結果」と表記する。なお、第２の検出結果は、たとえば、図９に示した第１検出結果テーブル９００と同様のデータ形式で、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶される。
【０１０６】
探索部５０５は、第１および第２の検出結果のうち、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する。具体的には、たとえば、まず、探索部５０５が、第１の検出結果（たとえば、図８参照）と第２の検出結果（たとえば、図１５参照）とをマージ（併合）する。
【０１０７】
図１６は、第１および第２の検出結果のマージ例を示す説明図である。図１６において、配線経路Ｗ１に含まれるラインＬ１〜Ｌ３と配線経路Ｗ２に含まれるＬ４〜Ｌ６に関するマージ例（図１６中ハッチ部分）が示されている。具体的には、図８に示した検出例に比べて、メッシュ領域Ｍ8_11，Ｍ9_13，Ｍ11_16，Ｍ16_7，Ｍ18_10が増えている。
【０１０８】
このあと、探索部５０５が、第１および第２の検出結果をマージしたマージ後の検出結果のうち、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する。
【０１０９】
ここで、ラインＬ５を例に挙げて、メッシュ領域列の探索例について説明する。なお、ラインＬ５の傾きＳ５は正である。図１７は、メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その２）である。図１７において、ルート１７１０は、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4を起点とする探索結果である。
【０１１０】
具体的には、まず、探索部５０５が、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4と隣接するメッシュ領域Ｍ16_4またはＭ15_5のうちラインＬ５のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ15_5を探索する。以降、探索先のラインフラグがともに「０」となるまで処理を繰り返す。
【０１１１】
なお、ラインフラグが「１」となる探索先が複数存在する場合は、探索部５０５が、任意のメッシュ領域を選択することにしてもよい。また、第１および第２の検出結果に関する予め設定された優先順位にしたがって探索先を選択することにしてもよい。ここで、第１の検出結果の優先順位が第２の検出結果に比べて高く設定されているとする。
【０１１２】
図１７の検出例では、メッシュ領域Ｍ16_6の探索先（ラインフラグが「１」）としてメッシュ領域Ｍ16_7およびメッシュ領域Ｍ17_6がある。この場合、探索部５０５が、たとえば、メッシュ領域Ｍ16_6と隣接するメッシュ領域Ｍ16_7またはＭ17_6のうち第１の検出結果であるメッシュ領域Ｍ17_6を選択する。なお、探索された探索結果は、たとえば、図１２に示した探索結果テーブル１２００に記憶される。
【０１１３】
図１８は、探索結果テーブルの記憶内容の一例を示す説明図（その２）である。図１８において、探索結果テーブル１２００は、探索結果１８００−１〜１８００−ｎを有している。ここで、探索結果１８００−５を例に挙げると、図１２に示した探索結果１２００−５に比べて、メッシュ領域Ｍ18_10，Ｍ19_10，Ｍ19_11が増えている。
【０１１４】
判定部５０３は、探索結果テーブル１２００を参照して、ラインＬ５の終点座標を含むメッシュ領域Ｍ19_11が存在するか否かを判断する。ここでは、メッシュ領域Ｍ19_11が存在するため、判定部５０３が、ラインＬ５がメッシュ領域の頂点を通過しないと判定する。
【０１１５】
この場合、出力部５０７が、たとえば、ラインＬ５の探索結果１８００−５を出力することにしてもよい。これにより、ラインＬ５の連続性が補完された配線モデルを提供することができる。また、出力部５０７が、配線経路に含まれる全ラインの探索結果を集約して出力することにより、配線経路ごとの配線モデルを提供することができる。
【０１１６】
なお、上述した説明では、メッシュ原点を点Ｏから点Ｏ’に変更することで、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過するのを回避している。ただし、（第２オフセット量／第１オフセット量）がラインＬｉの傾きＳｉと一致する場合、メッシュ原点を変更してもラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過することになる。
【０１１７】
そこで、変更部５０６が、原点座標を、Ｘ軸方向にメッシュ幅に基づく第２オフセット量移動させるとともに、Ｙ軸方向にメッシュ幅に基づく第１オフセット量移動させることにしてもよい。上述した例では、メッシュ原点の座標は（Ｘ，Ｙ）＝（１／１０，１／５）となる。
【０１１８】
そして、分割部５０２が、変更後のメッシュ原点を基準にして、対象回路３００のレイアウト領域を０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で格子状に区切って、複数のメッシュ領域に分割する。これにより、メッシュ原点の変更後におけるラインＬｉのメッシュ領域の頂点の通過を確実に回避することができる。
【０１１９】
図１９は、メッシュ領域の分割例を示す説明図（その３）である。図１９において、点Ｏ’’（１／１０，１／５）をメッシュ原点として、対象回路３００のレイアウト領域が、０．１［ｍｍ］のメッシュ幅で複数のメッシュ領域に分割されている。なお、図面では、対象回路３００の一部を抜粋して示している。
【０１２０】
以下の説明では、他の座標（ここでは、点Ｏ’’）を基準としてレイアウト領域から分割された複数のメッシュ領域を「第３のメッシュ領域群」と表記する。
【０１２１】
検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの始点座標（Ｘｓｉ，Ｙｓｉ）を含むメッシュ領域を検出する。また、検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉの終点座標（Ｘｅｉ，Ｙｅｉ）を含むメッシュ領域を検出する。さらに、検出部５０４は、第２のメッシュ領域群Ｍ1_1〜Ｍm_mから、ラインＬｉと境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域を検出する。
【０１２２】
図２０は、メッシュ領域の検出例を示す説明図（その３）である。図２０において、配線経路Ｗ１に含まれるラインＬ１〜Ｌ３と配線経路Ｗ２に含まれるＬ４〜Ｌ６に関する検出例（図２０中ハッチ部分）が示されている。
【０１２３】
ここで、ラインＬ５を例に挙げると、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4と、ラインＬ５の終点座標を含むメッシュ領域Ｍ19_10が検出されている。さらに、ラインＬ５と境界線との交点が２点以上となるメッシュ領域Ｍ15_5，Ｍ16_5，…，Ｍ19_9が検出されている。
【０１２４】
以下の説明では、第３のメッシュ領域群から検出されたメッシュ領域を「第３の検出結果」と表記する。なお、第３の検出結果は、たとえば、図９に示した第１検出結果テーブル９００と同様のデータ形式で、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶装置に記憶される。
【０１２５】
探索部５０５は、第１、第２および第３の検出結果のうち、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する。具体的には、たとえば、まず、探索部５０５が、第１の検出結果（たとえば、図８参照）と第２の検出結果（たとえば、図１５参照）と第３の検出結果（たとえば、図２０参照）をマージする。
【０１２６】
図２１は、第１、第２および第３の検出結果のマージ例を示す説明図である。図２１において、配線経路Ｗ１に含まれるラインＬ１〜Ｌ３と配線経路Ｗ２に含まれるＬ４〜Ｌ６に関するマージ例（図２１中ハッチ部分）が示されている。具体的には、図１６に示したマージ例に比べて、メッシュ領域Ｍ14_18，Ｍ15_18，…，Ｍ26_18，Ｍ19_9，Ｍ20_10，Ｍ21_10，…，Ｍ26_10が増えている。
【０１２７】
探索部５０５は、第１、第２および第３の検出結果をマージしたマージ後の検出結果のうち、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域から、当該メッシュ領域と境界線を共有して隣接するメッシュ領域を辿ってメッシュ領域列を探索する。ここで、ラインＬ５を例に挙げて、メッシュ領域列の探索例について説明する。なお、ラインＬ５の傾きＳ５は正である。
【０１２８】
図２２は、メッシュ領域列の探索例を示す説明図（その３）である。図２２において、ルート２２１０は、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4を起点とする探索結果である。なお、第１、第２および第３の検出結果に関する優先順位は、「第３の検出結果→第２の検出結果→第１の検出結果」の順に高く設定されている。
【０１２９】
具体的には、まず、探索部５０５が、ラインＬ５の始点座標を含むメッシュ領域Ｍ15_4と隣接するメッシュ領域Ｍ16_4またはＭ15_5のうちラインＬ５のラインフラグが「１」のメッシュ領域Ｍ15_5を探索する。以降、探索先のラインフラグがともに「０」となるまで処理を繰り返す。
【０１３０】
このように、メッシュ原点Ｏ（０、０）を点Ｏ’（ΔＸ、ΔＹ）および点Ｏ’’（ΔＹ、ΔＸ）に変更してメッシュ領域に分割することにより、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過することを確実に回避することができる。この結果、解析ツールにおいて非連続と認識される箇所が確実に補完された配線モデルを提供できる。
【０１３１】
（設計支援装置の設計支援処理手順）
つぎに、設計支援装置１００の設計支援処理手順について説明する。図２３は、本実施の形態にかかる設計支援装置の設計支援処理手順の一例を示すフローチャートである。図２３のフローチャートにおいて、まず、取得部５０１により、ラインデータ４００−１〜４００−ｎおよび分割条件を取得したか否かを判断する（ステップＳ２３０１）。
【０１３２】
ここで、ラインデータ４００−１〜４００−ｎおよび分割条件を取得するのを待って（ステップＳ２３０１：Ｎｏ）、取得した場合（ステップＳ２３０１：Ｙｅｓ）、分割部５０２により、取得された分割条件に基づいて、メッシュ原点Ｏおよびメッシュ幅を設定する（ステップＳ２３０２）。
【０１３３】
このあと、分割部５０２により、メッシュ原点Ｏを基準に、対象回路３００のレイアウト領域をメッシュ幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mに分割する（ステップＳ２３０３）。つぎに、検出部５０４により、メッシュ領域を検出する第１検出処理を実行して（ステップＳ２３０４）、探索部５０５により、メッシュ領域列を探索する第１探索処理を実行する（ステップＳ２３０５）。
【０１３４】
そして、判定部５０３により、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過するか否かを判定する判定処理を実行する（ステップＳ２３０６）。このあと、変更部５０６により、メッシュ原点を変更するオフセット処理を実行する（ステップＳ２３０７）。
【０１３５】
つぎに、探索部５０５により、第１、第２および第３の検出結果をマージして（ステップＳ２３０８）、第２探索処理を実行する（ステップＳ２３０９）。最後に、出力部５０７により、探索結果テーブル１２００を出力して（ステップＳ２３１０）、本フローチャートによる一連の処理を終了する。
【０１３６】
＜第１検出処理手順＞
つぎに、図２３に示したステップＳ２３０４の第１検出処理の具体的な処理手順について説明する。図２４は、ステップＳ２３０４の第１検出処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。図２４のフローチャートにおいて、まず、検出部５０４により、「ｉ＝１」として（ステップＳ２４０１）、ラインＬ１〜Ｌｎの中からラインＬｉを選択する（ステップＳ２４０２）。
【０１３７】
このあと、検出部５０４により、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域を検出する（ステップＳ２４０３）。そして、検出部５０４により、第１検出結果テーブル９００内のラインＬｉの該当フィールドのラインフラグを「１」に設定する（ステップＳ２４０４）。
【０１３８】
つぎに、検出部５０４により、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域を検出する（ステップＳ２４０５）。そして、検出部５０４により、第１検出結果テーブル９００内のラインＬｉの該当フィールドのラインフラグを「１」に設定する（ステップＳ２４０６）。
【０１３９】
このあと、検出部５０４により、「ｊ＝１，ｋ＝１」として（ステップＳ２４０７）、メッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mからメッシュ領域Ｍj_kを選択する（ステップＳ２４０８）。そして、検出部５０４により、ラインＬｉとメッシュ領域Ｍj_kの境界線との交点が２点以上となるか否かを判断する（ステップＳ２４０９）。
【０１４０】
ここで、ラインＬｉとメッシュ領域Ｍj_kの境界線との交点が２点以上の場合（ステップＳ２４０９：Ｙｅｓ）、検出部５０４により、第１検出結果テーブル９００内のラインＬｉの該当フィールドのラインフラグを「１」に設定する（ステップＳ２４１０）。一方、交点が２点未満の場合（ステップＳ２４０９：Ｎｏ）、ステップＳ２４１１に移行する。
【０１４１】
そして、検出部５０４により、ｊをインクリメントして（ステップＳ２４１１）、「ｊ＞ｍ」か否かを判断する（ステップＳ２４１２）。ここで、「ｊ≦ｍ」の場合は（ステップＳ２４１２：Ｎｏ）、ステップＳ２４０８に戻る。
【０１４２】
一方、「ｊ＞ｍ」の場合は（ステップＳ２４１２：Ｙｅｓ）、検出部５０４により、ｋをインクリメントして（ステップＳ２４１３）、「ｋ＞ｍ」か否かを判断する（ステップＳ２４１４）。ここで、「ｋ≦ｍ」の場合は（ステップＳ２４１４：Ｎｏ）、ステップＳ２４０８に戻る。
【０１４３】
一方、「ｋ＞ｍ」の場合は（ステップＳ２４１４：Ｙｅｓ）、検出部５０４により、ｉをインクリメントして（ステップＳ２４１５）、「ｉ＞ｎ」か否かを判断する（ステップＳ２４１６）。ここで、「ｉ≦ｎ」の場合は（ステップＳ２４１６：Ｎｏ）、ステップＳ２４０２に戻る。一方、「ｉ＞ｎ」の場合は（ステップＳ２４１６：Ｙｅｓ）、図２３に示したステップＳ２３０５に移行する。
【０１４４】
これにより、ラインＬｉと交差関係を有するメッシュ領域を検出することができる。
【０１４５】
＜第１探索処理手順＞
つぎに、図２３に示したステップＳ２３０５の第１探索処理の具体的な処理手順について説明する。図２５は、ステップＳ２３０５の第１探索処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【０１４６】
図２５のフローチャートにおいて、まず、探索部５０５により、「ｉ＝１」として（ステップＳ２５０１）、ラインＬ１〜Ｌｎの中からラインＬｉを選択する（ステップＳ２５０２）。このあと、探索部５０５により、ラインＬｉの傾きＳｉが正か否かを判断する（ステップＳ２５０３）。
【０１４７】
ここで、ラインＬｉの傾きＳｉが正の場合（ステップＳ２５０３：Ｙｅｓ）、探索部５０５により、第１検出結果テーブル９００を参照して、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域Ｍj_kを特定する（ステップＳ２５０４）。そして、探索部５０５により、メッシュ領域Ｍj_kのメッシュ領域ＩＤを探索結果テーブル１２００に登録する（ステップＳ２５０５）。
【０１４８】
このあと、探索部５０５により、ｊをインクリメントして（ステップＳ２５０６）、第１検出結果テーブル９００を参照して、ラインＬｉのメッシュ領域Ｍj_kのラインフラグは「１」か否かを判断する（ステップＳ２５０７）。ここで、ラインフラグが「１」の場合（ステップＳ２５０７：Ｙｅｓ）、ステップＳ２５０５に戻る。
【０１４９】
一方、ラインフラグが「０」の場合（ステップＳ２５０７：Ｎｏ）、探索部５０５により、ｊをデクリメントし、ｋをインクリメントする（ステップＳ２５０８）。そして、探索部５０５により、ラインＬｉのメッシュ領域Ｍj_kのラインフラグは「１」か否かを判断する（ステップＳ２５０９）。
【０１５０】
ここで、ラインフラグが「１」の場合（ステップＳ２５０９：Ｙｅｓ）、ステップＳ２５０５に戻る。一方、ラインフラグが「０」の場合（ステップＳ２５０９：Ｎｏ）、探索部５０５により、ｉをインクリメントして（ステップＳ２５１０）、「ｉ＞ｎ」か否かを判断する（ステップＳ２５１１）。
【０１５１】
ここで、「ｉ≦ｎ」の場合（ステップＳ２５１１：Ｎｏ）、ステップＳ２５０２に戻る。一方、「ｉ＞ｎ」の場合（ステップＳ２５１１：Ｙｅｓ）、図２３に示したステップＳ２３０６に移行する。
【０１５２】
また、ステップＳ２５０３において、ラインＬｉの傾きＳｉが正ではない場合（ステップＳ２５０３：Ｎｏ）、探索部５０５により、ラインＬｉの傾きＳｉが負か否かを判断する（ステップＳ２５１２）。
【０１５３】
ここで、ラインＬｉの傾きＳｉが負の場合（ステップＳ２５１２：Ｙｅｓ）、探索部５０５により、第１検出結果テーブル９００を参照して、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域Ｍj_kを特定する（ステップＳ２５１３）。そして、探索部５０５により、メッシュ領域Ｍj_kのメッシュ領域ＩＤを探索結果テーブル１２００に登録する（ステップＳ２５１４）。
【０１５４】
このあと、探索部５０５により、ｊをインクリメントして（ステップＳ２５１５）、第１検出結果テーブル９００を参照して、ラインＬｉのメッシュ領域Ｍj_kのラインフラグは「１」か否かを判断する（ステップＳ２５１６）。ここで、ラインフラグが「１」の場合（ステップＳ２５１６：Ｙｅｓ）、ステップＳ２５１４に戻る。
【０１５５】
一方、ラインフラグが「０」の場合（ステップＳ２５１６：Ｎｏ）、探索部５０５により、ｊおよびｋをデクリメントする（ステップＳ２５１７）。そして、探索部５０５により、ラインＬｉのメッシュ領域Ｍj_kのラインフラグは「１」か否かを判断する（ステップＳ２５１８）。
【０１５６】
ここで、ラインフラグが「１」の場合（ステップＳ２５１８：Ｙｅｓ）、ステップＳ２５１４に戻る。一方、ラインフラグが「０」の場合（ステップＳ２５１８：Ｎｏ）、ステップＳ２５１０に移行する。
【０１５７】
また、ステップＳ２５１２において、ラインＬｉの傾きＳｉが負ではない場合（ステップＳ２５１２：Ｎｏ）、第１検出結果テーブル９００を参照して、ラインＬｉの検出結果９００−ｉを探索結果テーブル１２００に登録して（ステップＳ２５１９）、ステップＳ２５１０に移行する。
【０１５８】
これにより、ラインＬｉの始点座標を含むメッシュ領域を基点として、互いに境界線を共有するメッシュ領域列を探索することができる。なお、図２３に示したステップＳ２３１０の第２探索処理の具体的処理手順は、図２５に示した第１探索処理の具体的処理手順と同様のため説明を省略する。
【０１５９】
＜判定処理手順＞
つぎに、図２３に示したステップＳ２３０６の判定処理の具体的な処理手順について説明する。図２６は、ステップＳ２３０６の判定処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【０１６０】
図２６のフローチャートにおいて、まず、判定部５０３により、「ｉ＝１」として（ステップＳ２６０１）、ラインＬ１〜Ｌｎの中からラインＬｉを選択する（ステップＳ２６０２）。このあと、判定部５０３により、探索結果１２００−ｉを参照して、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在するか否かを判断する（ステップＳ２６０３）。
【０１６１】
ここで、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在する場合（ステップＳ２６０３：Ｙｅｓ）、判定部５０３により、ｉをインクリメントして（ステップＳ２６０４）、「ｉ＞ｎ」か否かを判断する（ステップＳ２６０５）。
【０１６２】
ここで、「ｉ≦ｎ」の場合（ステップＳ２６０５：Ｎｏ）、ステップＳ２６０２に戻る。一方、「ｉ＞ｎ」の場合（ステップＳ２６０５：Ｙｅｓ）、出力部５０７により、探索結果テーブル１２００を出力して（ステップＳ２６０６）、一連の処理を終了する。
【０１６３】
また、ステップＳ２６０３において、ラインＬｉの終点座標を含むメッシュ領域が存在しない場合（ステップＳ２６０３：Ｎｏ）、図２３に示したステップＳ２３０７に移行する。
【０１６４】
これにより、ラインＬ１〜Ｌｎの中から、メッシュ領域の頂点を通過するラインＬｉを特定することができる。
【０１６５】
＜オフセット処理手順＞
つぎに、図２３に示したステップＳ２３０７のオフセット処理の具体的な処理手順について説明する。図２７は、ステップＳ２３０７のオフセット処理の具体的処理手順の一例を示すフローチャートである。
【０１６６】
図２７のフローチャートにおいて、まず、変更部５０６により、上記式（５）を用いて、第１オフセット量ΔＸを算出する（ステップＳ２７０１）。つぎに、変更部５０６により、上記式（６）を用いて、第２オフセット量ΔＹを算出する（ステップＳ２７０２）。
【０１６７】
そして、変更部５０６により、メッシュ原点Ｏを、Ｘ軸方向にΔＸ移動させるとともに、Ｙ軸方向にΔＹ移動させて点Ｏ’に変更する（ステップＳ２７０３）。このあと、分割部５０２により、メッシュ原点Ｏ’を基準に、対象回路３００のレイアウト領域をメッシュ幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mに分割する（ステップＳ２７０４）。そして、検出部５０４により、メッシュ領域を検出する第２検出処理を実行する（ステップＳ２７０５）。
【０１６８】
つぎに、変更部５０６により、メッシュ原点Ｏを、Ｘ軸方向にΔＹ移動させるとともに、Ｙ軸方向にΔＸ移動させて点Ｏ’ ’に変更する（ステップＳ２７０６）。このあと、分割部５０２により、メッシュ原点Ｏ’’を基準に、対象回路３００のレイアウト領域をメッシュ幅で格子状に区切って複数のメッシュ領域Ｍ1_1〜Ｍm_mに分割する（ステップＳ２７０７）。そして、検出部５０４により、メッシュ領域を検出する第３検出処理を実行して（ステップＳ２７０８）、図２３に示したステップＳ２３０８に移行する。
【０１６９】
これにより、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過するのを確実に回避して、ラインＬｉと交差関係を有するメッシュ領域を検出することができる。なお、ステップＳ２７０５の第２検出処理およびステップＳ２７０８の第３検出処理の具体的処理手順は、図２４に示した第１検出処理の具体的処理手順と同様のため説明を省略する。
【０１７０】
なお、ここでは、少なくともいずれかのラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過する場合に、メッシュ原点を変更して、全ラインＬ１〜Ｌｎについて第２、第３検出処理および第２探索処理を行なうことにしたがこれに限らない。具体的には、たとえば、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過する場合、メッシュ原点を変更して、ラインＬｉについてのみ第２、第３検出処理および第２探索処理を行なうことにしてもよい。
【０１７１】
以上説明したように、本開示技術によれば、対象回路３００のレイアウト領域から分割されたメッシュ領域の頂点をラインＬｉが通過するか否かを判定することにより、解析ツールにおいて非連続と認識される箇所を特定できる。
【０１７２】
また、本開示技術によれば、始点座標を含むメッシュ領域から互いに境界線を共有して隣接するメッシュ領域列を探索することにより、ラインＬｉと交差するメッシュ領域の連続性を判断して、メッシュ領域の頂点を通過するラインＬｉを特定することができる。
【０１７３】
また、本開示技術によれば、メッシュ原点を変更して、非連続と認識されるラインＬｉに対するメッシュ領域の位置を変更することにより、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過することを回避することができる。
【０１７４】
また、本開示技術によれば、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過しない場合に、探索されたメッシュ領域列を出力することにより、解析ツールにおける連続性が保証されたラインＬｉの配線モデルを提供することができる。
【０１７５】
また、本開示技術によれば、メッシュ原点Ｏ（ｘ、ｙ）を点Ｏ’（ｘ＋ΔＸ、ｙ＋ΔＹ）および点Ｏ’’（ｘ＋ΔＹ、ｙ＋ΔＸ）に変更してメッシュ領域に分割することにより、ラインＬｉがメッシュ領域の頂点を通過することを確実に回避することができる。
【０１７６】
また、本開示技術によれば、探索先となるメッシュ領域が複数存在する場合、予め設定された優先度に基づいて探索先のメッシュ領域を決定することにより、始点座標を含むメッシュ領域から終点座標を含むメッシュ領域に辿り着くまでの単一ルートを効率的に探索することができる。
【０１７７】
また、本開示技術によれば、メッシュ領域のメッシュ幅を、３以上の定数αで配線幅を除算した値とすることにより、メッシュ領域の検出時における隣接するライン間の重なりを回避することができる。
【０１７８】
これらのことから、本設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法によれば、配線モデルの作成にかかる作業時間および作業負担を削減し、設計期間の短縮化を図ることができる。また、配線モデルの連続性が保証されるため、伝送ノイズ解析を精度よく行なうことが可能となり、対象回路の設計品質を向上させることができる。
【０１７９】
なお、本実施の形態では、直線の配線経路を対象として説明したが、曲線の配線経路についても、微少区間で直線に近似することで対象とすることができる。
【０１８０】
なお、本実施の形態で説明した設計支援方法は、予め用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本設計支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、本設計支援プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
【符号の説明】
【０１８１】
１００  設計支援装置
３００  対象回路
４００  ラインデータＤＢ
５０１  取得部
５０２  分割部
５０３  判定部
５０４  検出部
５０５  探索部
５０６  変更部
５０７  出力部
９００  第１検出結果テーブル
１２００  探索結果テーブル
【図１】
2010287001.tif 000003
【図２】
2010287001.tif 000004
【図３】
2010287001.tif 000005
【図４】
2010287001.tif 000006
【図５】
2010287001.tif 000007
【図６】
2010287001.tif 000008
【図７】
2010287001.tif 000009
【図８】
2010287001.tif 000010
【図９】
2010287001.tif 000011
【図１０】
2010287001.tif 000012
【図１１】
2010287001.tif 000013
【図１２】
2010287001.tif 000014
【図１３】
2010287001.tif 000015
【図１４】
2010287001.tif 000016
【図１５】
2010287001.tif 000017
【図１６】
2010287001.tif 000018
【図１７】
2010287001.tif 000019
【図１８】
2010287001.tif 000020
【図１９】
2010287001.tif 000021
【図２０】
2010287001.tif 000022
【図２１】
2010287001.tif 000023
【図２２】
2010287001.tif 000024
【図２３】
2010287001.tif 000025
【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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