(57)【要約】【課題】パターンドメディアに対するトラッキング制御を正確に実行することができる磁気ディスク装置を提供する。【解決手段】試し書き位置移動制御手段は、サーボ領域を読み取ることで所望とする記録トラックＴ２のトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置からトラックピッチＴｐの半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた所定の試し書き位置に磁気ヘッドを合わせるように制御する。試し書き情報記録制御手段は、ユーザ領域Ｕの一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する。試し書き情報の書き込み後、試し書き記録状態検証手段は、試し書き情報が記録トラックＴ１，Ｔ２の２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する。ヘッド位置ずれ調整手段は、２列に記録された状態か１列に記録された状態に応じて所望とする記録トラックに対する磁気ヘッドの位置ずれを調整する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスク周方向に並ぶ複数の磁性ドットにより記録トラックが形成され、この記録トラックがディスク径方向に所定のトラックピッチで複数列をなすようにユーザ領域が形成されているとともに、上記記録トラックそれぞれのトラック位置を示すためのサーボ領域が上記ユーザ領域とはディスク周方向に離間して形成された磁気ディスクと、
上記記録トラックごとに上記磁性ドットのそれぞれに対して読み書き可能であるとともに、ディスク径方向の書き込み位置が上記記録トラックと記録トラックとの中間位置に合わされた状態ではこれら２列の記録トラックに対して同時に書き込み可能な磁気ヘッドと、
上記磁気ディスクに対して上記磁気ヘッドを対向させつつディスク径方向に往復移動させる磁気ヘッド移動機構と、
上記磁気ヘッドを介して上記サーボ領域を読み取ることで所望とする上記記録トラックのトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置から上記トラックピッチの半ピッチ分ずれた所定の試し書き位置に上記磁気ヘッドを合わせるように上記磁気ヘッド移動機構を制御する試し書き位置移動制御手段と、
上記試し書き位置に合わせられた上記磁気ヘッドにより、上記ユーザ領域の一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する試し書き情報記録制御手段と、
上記試し書き情報の書き込み後、上記磁気ヘッドを介して上記ユーザ領域の一部を読み取ることにより、上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する試し書き記録状態検証手段と、
上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に上記トラックピッチの半ピッチ分戻すように移動させる一方、上記試し書き情報が上記記録トラックの１列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に所定量ずつ移動させ、上記所望とする記録トラックに対して上記磁気ヘッドの位置ずれを調整するヘッド位置ずれ調整手段と、
を備えている、磁気ディスク装置。
【請求項２】
上記ユーザ領域の一部においては、上記記録トラックの所定列数ごとに上記複数の磁性ドットがディスク周方向に位置ずれしている、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
ディスク周方向に並ぶ複数の磁性ドットにより記録トラックが形成され、この記録トラックがディスク径方向に所定のトラックピッチで複数列をなすようにユーザ領域が形成されているとともに、上記記録トラックの所定列を基準列としてそのディスク径方向内外両側にずれるように少なくとも一対の上記磁性ドットが試し書き領域として形成されており、かつ、上記記録トラックそれぞれのトラック位置を示すためのサーボ領域が上記ユーザ領域および試し書き領域とはディスク周方向に離間して形成された磁気ディスクと、
上記記録トラックごとに上記磁性ドットのそれぞれに対して読み書き可能であるとともに、ディスク径方向の書き込み位置が上記基準列の記録トラックに合わされた状態では上記試し書き領域における一対の磁性ドットに対して同時に書き込み可能な磁気ヘッドと、
上記磁気ディスクに対して上記磁気ヘッドを対向させつつディスク径方向に往復移動させる磁気ヘッド移動機構と、
上記磁気ヘッドを介して上記サーボ領域を読み取ることで上記基準列の記録トラックのトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置を所定の試し書き位置として上記磁気ヘッドを合わせるように上記磁気ヘッド移動機構を制御する試し書き位置移動制御手段と、
上記試し書き位置に合わせられた上記磁気ヘッドにより、上記試し書き領域に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する試し書き情報記録制御手段と、
上記試し書き情報の書き込み後、上記磁気ヘッドを介して上記試し書き領域を読み取ることにより、上記試し書き情報が上記試し書き領域における一対の磁性ドット全てに記録された状態かディスク径方向片側の磁性ドットのみに記録された状態かを検証する試し書き記録状態検証手段と、
上記試し書き情報が上記一対の磁性ドット全てに記録された状態の場合、上記磁気ヘッドのディスク径方向位置が上記基準列の記録トラックに位置合わせされた状態と判断する一方、上記試し書き情報がディスク径方向片側の磁性ドットのみに記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に所定量ずつ移動させ、上記基準列の記録トラックに対して上記磁気ヘッドの位置ずれを調整するヘッド位置ずれ調整手段と、
を備えている、磁気ディスク装置。
【請求項４】
上記試し書き領域は、上記ユーザ領域と上記サーボ領域との間に形成されている、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
上記試し書き領域は、上記ユーザ領域内に存在するように形成されている、請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
上記試し書き位置移動制御手段は、上記磁気ヘッドからの再生信号の信号レベルが所定の基準レベルより小さいとき、または、雰囲気温度が所定の許容範囲を逸脱するとき、あるいは、外乱による振動が所定の許容範囲を逸脱するときに上記磁気ヘッド移動機構を制御する、請求項１ないし５のいずれかに記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
ディスク周方向に並ぶ複数の磁性ドットにより記録トラックが形成され、この記録トラックがディスク径方向に所定のトラックピッチで複数列をなすようにユーザ領域が形成されているとともに、上記記録トラックそれぞれのトラック位置を示すためのサーボ領域が上記ユーザ領域とはディスク周方向に離間して形成された磁気ディスクと、
上記記録トラックごとに上記磁性ドットのそれぞれに対して読み書き可能であるとともに、ディスク径方向の書き込み位置が上記記録トラックと記録トラックとの中間位置に合わされた状態ではこれら２列の記録トラックに対して同時に書き込み可能な磁気ヘッドと、
上記磁気ディスクに対して上記磁気ヘッドを対向させつつディスク径方向に往復移動させる磁気ヘッド移動機構と、
を備えた磁気ディスク装置に組み込まれ、所望とする上記記録トラックに上記磁気ヘッドを位置決めするためのトラッキング制御回路であって、
上記磁気ヘッドを介して上記サーボ領域を読み取ることで上記所望とする記録トラックのトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置から上記トラックピッチの半ピッチ分ずれた所定の試し書き位置に上記磁気ヘッドを合わせるように上記磁気ヘッド移動機構を制御する試し書き位置移動制御手段と、
上記試し書き位置に合わせられた上記磁気ヘッドにより、上記ユーザ領域の一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する試し書き情報記録制御手段と、
上記試し書き情報の書き込み後、上記磁気ヘッドを介して上記ユーザ領域の一部を読み取ることにより、上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する試し書き記録状態検証手段と、
上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に上記トラックピッチの半ピッチ分移動させる一方、上記試し書き情報が上記記録トラックの１列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に所定量ずつ移動させ、上記所望とする記録トラックに対して上記磁気ヘッドの位置ずれを調整するヘッド位置ずれ調整手段と、
を備えている、トラッキング制御回路。
【請求項８】
ディスク周方向に並ぶ複数の磁性ドットにより記録トラックが形成され、この記録トラックがディスク径方向に所定のトラックピッチで複数列をなすようにユーザ領域が形成されているとともに、上記記録トラックの所定列を基準列としてそのディスク径方向内外両側にずれるように少なくとも一対の上記磁性ドットが試し書き領域として形成されており、かつ、上記記録トラックそれぞれのトラック位置を示すためのサーボ領域が上記ユーザ領域および試し書き領域とはディスク周方向に離間して形成された磁気ディスクと、
上記記録トラックごとに上記磁性ドットのそれぞれに対して読み書き可能であるとともに、ディスク径方向の書き込み位置が上記基準列の記録トラックに合わされた状態では上記試し書き領域における一対の磁性ドットに対して同時に書き込み可能な磁気ヘッドと、
上記磁気ディスクに対して上記磁気ヘッドを対向させつつディスク径方向に往復移動させる磁気ヘッド移動機構と、
を備えた磁気ディスク装置に組み込まれ、上記基準列の記録トラックに対して上記磁気ヘッドを位置合わせするトラッキング制御回路であって、
上記磁気ヘッドを介して上記サーボ領域を読み取ることで上記基準列の記録トラックのトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置を所定の試し書き位置として上記磁気ヘッドを合わせるように上記磁気ヘッド移動機構を制御する試し書き位置移動制御手段と、
上記試し書き位置に合わせられた上記磁気ヘッドにより、上記試し書き領域に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する試し書き情報記録制御手段と、
上記試し書き情報の書き込み後、上記磁気ヘッドを介して上記試し書き領域を読み取ることにより、上記試し書き情報が上記試し書き領域における一対の磁性ドット全てに記録された状態かディスク径方向片側の磁性ドットのみに記録された状態かを検証する試し書き記録状態検証手段と、
上記試し書き情報が上記一対の磁性ドット全てに記録された状態の場合、上記磁気ヘッドのディスク径方向位置が上記基準列の記録トラックに位置合わせされた状態と判断する一方、上記試し書き情報がディスク径方向片側の磁性ドットのみに記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に所定量ずつ移動させ、上記基準列の記録トラックに対して上記磁気ヘッドの位置ずれを調整するヘッド位置ずれ調整手段と、
を備えている、トラッキング制御回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、いわゆるパターンドメディアと称される磁気ディスクのトラッキング制御に優れた磁気ディスク装置、およびトラッキング制御回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
パターンドメディアのトラッキング制御に関する技術としては、特許文献１に開示されたものがある。同文献に開示された技術では、ディスク周方向にピッチＰで複数の記録セル（磁性ドット）を並べることで複数列のサブトラックが形成され、かつ、隣り合う２列のサブトラック上における最近接の２つの記録セルがディスク周方向にＰ／２ピッチずれるように形成されたパターンドメディアを用いている。読み出しヘッドとしては、２列のサブトラックに跨って読み取り可能なものを用いている。
【０００３】
このようなパターンドメディアに対するトラッキング制御では、読み出しヘッドがサブトラックを２列ずつまとめて読み取ることにより、隣り合うサブトラックのちょうど中間位置を読み出しヘッドが通るように制御される。具体的には、隣り合う２列のサブトラックにおいて複数の記録セルに記録されるビットパターンに応じた複数の信号パターンがあらかじめＲＯＭに記憶されている。隣り合う２列のサブトラックにおける複数の記録セルを実際に読み取り、これにより得られた実測信号と上記ＲＯＭに記憶された複数の信号パターンとを比較してトラックずれ情報を求め、このトラックずれ情報に基づいて読み出しヘッドのディスク径方向位置をトラッキング制御している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−１５７６３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来のパターンドメディアに対するトラッキング制御の技術では、あらかじめＲＯＭに記憶された複数の信号パターンを読み出し、これらの信号パターンと実測信号とを詳細に比較しなければ、隣り合うサブトラックの中間に位置合わせすることができない。そのため、トラッキング制御のアルゴリズムとしては複雑にならざるを得ず、さらには、製造時のパターン形成位置ずれなどによっても予め記憶された複数の信号パターンだけでは正確にトラッキング制御できないという難点があった。
【０００６】
本発明は、上記した事情のもとで考え出されたものであって、パターンドメディアに対するトラッキング制御を正確に実行することができる磁気ディスク装置、およびトラッキング制御回路を提供することをその課題としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明では、次の技術的手段を講じている。
【０００８】
本発明によれば、ディスク周方向に並ぶ複数の磁性ドットにより記録トラックが形成され、この記録トラックがディスク径方向に所定のトラックピッチで複数列をなすようにユーザ領域が形成されているとともに、上記記録トラックそれぞれのトラック位置を示すためのサーボ領域が上記ユーザ領域とはディスク周方向に離間して形成された磁気ディスクと、上記記録トラックごとに上記磁性ドットのそれぞれに対して読み書き可能であるとともに、ディスク径方向の書き込み位置が上記記録トラックと記録トラックとの中間位置に合わされた状態ではこれら２列の記録トラックに対して同時に書き込み可能な磁気ヘッドと、上記磁気ディスクに対して上記磁気ヘッドを対向させつつディスク径方向に往復移動させる磁気ヘッド移動機構と、上記磁気ヘッドを介して上記サーボ領域を読み取ることで所望とする上記記録トラックのトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置から上記トラックピッチの半ピッチ分ずれた所定の試し書き位置に上記磁気ヘッドを合わせるように上記磁気ヘッド移動機構を制御する試し書き位置移動制御手段と、上記試し書き位置に合わせられた上記磁気ヘッドにより、上記ユーザ領域の一部に対して所定の試し書き情報を書き込むように制御する試し書き情報記録制御手段と、上記試し書き情報の書き込み後、上記磁気ヘッドを介して上記ユーザ領域の一部を読み取ることにより、上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態か１列に記録された状態かを検証する試し書き記録状態検証手段と、上記試し書き情報が上記記録トラックの２列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に上記トラックピッチの半ピッチ分戻すように移動させる一方、上記試し書き情報が上記記録トラックの１列に記録された状態の場合、上記磁気ヘッドをディスク径方向に所定量ずつ移動させ、上記所望とする記録トラックに対して上記磁気ヘッドの位置ずれを調整するヘッド位置ずれ調整手段と、を備えた磁気ディスクのトラッキング制御に関する技術が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明により開示された技術によれば、試し書きによって記録トラックの２列に記録された状態であると検証された場合、磁気ヘッドがディスク径方向にトラックピッチの半ピッチ分戻すように移動させられることにより、所望とする記録トラックのトラック位置に対して磁気ヘッドが正確に位置決めされる。その一方、１列に記録された状態であると検証された場合には、磁気ヘッドがディスク径方向に所定量ずつ移動させられ、最終的には繰り返し検証を行って記録トラックの２列に記録された状態になる。これにより、所望とする記録トラックに対する磁気ヘッドの位置ずれが調整され、正しいトラック位置に磁気ヘッドを位置合わせすることができるので、いわゆるパターンドメディアに対するトラッキング制御を正確に実行することができる。
【００１０】
本発明のその他の特徴および利点は、添付図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明が適用された磁気ディスク装置の一実施形態を示す構成図である。
【図２】記録トラックに対するヘッドの位置状態を示す模式図である。
【図３】試し書き制御の手順を説明するためのフローチャートである。
【図４】他の実施形態におけるユーザ領域を示す模式図である。
【図５】他の実施形態における試し書き領域を示す模式図である。
【図６】図５の実施形態に対応する試し書き制御の手順を説明するためのフローチャートである。
【図７】他の実施形態における試し書き領域を示す模式図である。
【図８】他の実施形態における試し書き領域を示す模式図である。
【図９】本発明が適用された磁気ディスク装置の他の実施形態を示す構成図である。
【図１０】図９の磁気ディスク装置による試し書き制御の手順を説明するためのフローチャートである。
【図１１】本発明が適用された磁気ディスク装置の他の実施形態を示す構成図である。
【図１２】図１１の磁気ディスク装置による試し書き制御の手順を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の好ましい実施の形態を、図面を参照して具体的に説明する。
【００１３】
図１〜３は、本発明が適用された磁気ディスク装置の一実施形態を示している。本実施形態の磁気ディスク装置Ａは、いわゆるパターンドメディアの磁気ディスク１に対して磁気ヘッド２をトラッキング制御しながら磁気情報を読み書きする装置である。トラッキング制御に関係する構成要素としては、磁気ディスク１および磁気ヘッド２のほか、スピンドルモータ３、スイングアーム４、ボイスコイルモータ５、トラッキング制御回路１０、およびＶＣＭ駆動部２０を備えている。スイングアーム４およびボイスコイルモータ５は、磁気ヘッド移動機構として設けられている。磁気ヘッド２およびＶＣＭ駆動部２０は、トラッキング制御回路１０に接続されている。トラッキング制御回路１０には、再生信号基準レベル記憶部１１、試し書き制御開始判定部１２、試し書き位置移動制御部１３、試し書き情報記録制御部１４、試し書き記録状態検証部１５、およびヘッド位置ずれ調整部１６が含まれる。
【００１４】
磁気ディスク１は、いわゆるパターンドメディアであり、垂直磁気記録方式に適したものである。この磁気ディスク１には、磁気記録部分となる磁性ドットｄが非磁性領域内において離散状に形成されている。特に本実施形態の磁気ディスク１は、以下のようなパターンで形成されている。
【００１５】
磁気ディスク１には、ユーザ領域Ｕ、試し書き領域Ｗ、およびサーボ領域Ｓがディスク周方向にセクタ単位で形成されている。ユーザ領域Ｕは、磁気情報が記録再生される領域である。このユーザ領域Ｕには、図２に示すように、ディスク周方向Ｃに並ぶ多数の磁性ドットｄにより記録トラックＴ１〜Ｔ３が形成され、これらの記録トラックＴ１〜Ｔ３がディスク径方向に所定のトラックピッチＴｐで複数列をなすように形成されている。本実施形態の磁気ディスク装置Ａは、ユーザ領域Ｕにおける記録トラックＴ１〜Ｔ３の１列ずつに対して磁気情報の記録や再生を行うものである。なお、記録トラックＴ１〜Ｔ３の列数やディスク周方向Ｃに並ぶ磁性ドットｄの数は、もちろん図示する数に限られるものではなく、実際には極めて多くの記録トラックの列や磁性ドットｄが形成されている。
【００１６】
磁性ドットｄには、後述する記録ヘッド２Ｂからの垂直磁界により、磁気ディスク１の表面に対して上下いずれかの向きをなす磁化方向が磁気情報として記録される。図２においては、たとえば白抜きの磁性ドットｄを上向きの磁化方向が記録されているものとし、黒塗りの磁性ドットｄを下向きの磁化方向が記録されているものとして示している。このようなユーザ領域Ｕにおいて、磁気ディスク１の回転方向前側から磁性ドットｄが所定個数並ぶ部分（図２では一例として白抜きの磁性ドットｄが４個並ぶ領域）については、試し書き領域Ｗとして設けられている。この試し書き領域Ｗの磁性ドットｄは、初期化によって磁化方向が一定の方向に揃えられた後、所定の試し書き情報が記録される。
【００１７】
サーボ領域Ｓは、記録再生時のタイミング信号やディスク径方向のトラック位置が得られる磁気パターンの領域である。このサーボ領域Ｓには、特に符号を付さないが、プリアンブル部、アドレス部、およびバーストパターン部が含まれる。プリアンブル部は、ディスク周方向Ｃに並ぶ多数の磁性ドットｄに対して記録再生を行う際の基準となるタイミング信号を生成するための磁気パターン部分である。アドレス部は、セクタ番号やトラック番号といったアドレス情報を示すための磁気パターン部分である。バーストパターン部は、たとえば所望とする列の記録トラックＴ２に対して後述の再生ヘッド２Ａを位置合わせするための磁気パターン部分である。このようなサーボ領域Ｓは、ユーザ領域Ｕからディスク周方向Ｃにある程度離間して形成されている。そのため、たとえばディスク製造時のパターン形成位置ずれ、雰囲気温度による熱変形、あるいは外乱としての振動などにより、サーボ領域Ｓのみでは所望とする記録トラックＴ２のトラック位置に磁気ヘッド２を正確に位置合わせすることが保障されない。そのため、後述の試し書き制御が行われる。
【００１８】
図１に示すように、磁気ヘッド２は、磁性ドットｄに対して磁気情報の記録再生を行うものであり、図示しないスライダに組み込まれている。スライダは、磁気ディスク１の記録面と対向するようにスイングアーム３の先端に設けられている。磁気ヘッド２は、磁気情報の読み書きをそれぞれ独立して行う再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂを有する。再生ヘッド２Ａと記録ヘッド２Ｂは、ディスク周方向Ｃに並んでおり、再生ヘッド２Ａよりも磁気ディスク１の回転方向前側に記録ヘッド２Ｂが位置している。
【００１９】
記録ヘッド２Ｂは、たとえば図２（Ａ）に示すように、所望とする記録トラックＴ２のトラック位置に合わされた場合、その記録トラックＴ２に含まれる磁性ドットｄのみに磁気情報を書き込み可能となり、隣接する記録トラックＴ１，Ｔ３の磁性ドットｄに磁気情報が書き込まれることはない。一方、図２（Ａ’）に示すように、たとえば隣り合う２列の記録トラックＴ１，Ｔ２の中間位置に記録ヘッド２Ｂが位置合わせされた場合、すなわち、各記録トラックＴ１，Ｔ２のトラック位置から半ピッチＴｐ／２分ずれた位置に記録ヘッド２Ｂが位置する場合、記録ヘッド２Ｂが２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に跨るため、これら２列の記録トラックＴ１，Ｔ２の双方に含まれる磁性ドットｄに対して同時に磁気情報を書き込み可能となる。
【００２０】
再生ヘッド２Ａは、記録ヘッド２Ｂよりもディスク径方向のヘッド幅が小さく形成されている。このような再生ヘッド２Ａは、たとえば図２（Ａ）に示すように、所望とする記録トラックＴ２のトラック位置に合わされた場合、その記録トラックＴ２に並ぶ複数の磁性ドットｄから磁気情報を読み出し可能となる。一方、図２（Ａ’）に示すように、再生ヘッド２Ａが隣り合う２列の記録トラックＴ１，Ｔ２のトラック位置から半ピッチ分Ｔｐ／２ずれ、これら２列の記録トラックＴ１，Ｔ２の中間位置に位置合わせされた場合、再生ヘッド２Ａは、各記録トラックＴ１，Ｔ２の磁性ドットｄにほとんど重ならないため、これらの記録トラックＴ１，Ｔ２の双方に含まれる磁性ドットｄの磁気情報を読み取ることができない。このように再生ヘッド２Ａが所望とする記録トラックＴ２からずれている場合、再生ヘッド２Ａから出力される再生信号の信号レベルとしては、記録トラックＴ２に対して正しく位置合わせされた場合よりも小さくなる。
【００２１】
なお、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂは、概ねディスク径方向の同一位置にあるが、厳密には製造誤差やいわゆるスキュー角の関係でディスク径方向に若干ずれている。このような再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂの相対的な位置ずれについては、既知の位置ずれ補正回路によって対応することができる。本実施形態のトラッキング制御回路１０には、位置ずれ補正回路が組み込まれており、この位置ずれ補正回路によって再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂの相対的な位置ずれが補正される。そのため、本実施形態の説明では、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂが常にディスク径方向の同一位置にあるものとする。
【００２２】
スピンドルモータ３は、磁気ディスク１を高速回転させるものである。スイングアーム４は、磁気ヘッド２を概ねディスク径方向に往復移動させるものであり、ボイスコイルモータ５によって揺動させられる。ボイスコイルモータ５は、ＶＣＭ駆動部２０によって駆動される。
【００２３】
トラッキング制御回路１０は、磁気ヘッド２およびＶＣＭ駆動部２０を介したフィードバック制御により、各記録トラックＴ１〜Ｔ３のトラック位置に磁気ヘッド２を位置合わせするためのロジック回路である。このようなトラッキング制御回路１０により実行されるトラッキング制御には、次の試し書き制御が含まれる。試し書き制御は、再生信号基準レベル記憶部１１、試し書き制御開始判定部１２、試し書き位置移動制御部１３、試し書き情報記録制御部１４、試し書き記録状態検証部１５、およびヘッド位置ずれ調整部１６によって実行される。
【００２４】
再生信号基準レベル記憶部１１には、再生ヘッド２Ａから出力される再生信号の信号レベルに対して基準となるレベル（基準レベル）が予め記憶されている。
【００２５】
試し書き制御開始判定部１２は、再生信号の信号レベルと基準レベルとを比較し、その信号レベルが基準レベルよりも小さい場合に試し書き制御を開始させる。たとえば再生ヘッド２Ａを介してサーボ領域Ｓを読み取り、所望とする記録トラックＴ２のトラック位置を仮決めして再生ヘッド２Ａを位置合わせした状態とする。このとき、再生ヘッド２Ａから出力される再生信号の信号レベルが基準レベルよりも小さい場合、試し書き制御開始判定部１２は、図２（Ｂ）に示すように再生ヘッド２Ａが所望とする記録トラックＴ２からディスク径方向に位置ずれした状態と判断する。これにより、試し書き制御開始判定部１２は、試し書き領域Ｗの磁性ドットｄの磁化方向を同一方向に揃えるように記録ヘッド２ＢによるＤＣイレーズやＶＣＭ駆動部２０によるヘッド移動を実行させた後、試し書き位置移動制御部１３に対して試し書き制御を開始させる。このような磁性ドットｄの磁化方向を同一方向に揃える処理を初期化と称する。
【００２６】
試し書き位置移動制御部１３は、所望とする記録トラックＴ２について仮決めされたトラック位置から所定のディスク径方向にトラックピッチＴｐの半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた試し書き位置に記録ヘッド２Ｂを移動させるようにＶＣＭ駆動部２０を制御する。本実施形態では、一例として図２（Ａ）から（Ａ’）の位置、あるいは図２（Ｂ）から（Ｂ’）の位置へと移動させるように、図面上側に半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた位置を試し書き位置として記録ヘッド２Ｂを移動させるものとする。
【００２７】
試し書き情報記録制御部１４は、試し書き位置に記録ヘッド２Ｂを位置決めした後、その記録ヘッド２Ｂを介して試し書き領域Ｗに所定の試し書き情報を書き込むように制御する。このような試し書き情報を書き込む前には、初期化によって試し書き領域Ｗの磁性ドットｄがたとえば磁化方向上向きとなる白抜きに揃えられているため、試し書き情報が磁性ドットｄに書き込まれると、その磁性ドットｄの磁化方向が下向きとなって黒塗りの磁性ドットｄになる。
【００２８】
試し書き記録状態検証部１５は、試し書き情報の書き込み後、再生ヘッド２Ａを介して試し書き領域Ｗを読み取ることにより、たとえば図２（Ａ’）に示すように試し書き位置の両側となる２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に試し書き情報が記録された状態か、それら記録トラックＴ１，Ｔ２のいずれか１列（図２（Ｂ’）に示す例では記録トラックＴ１）に記録された状態かを検証する。このような試し書き情報の記録状態を検証する際には、再生ヘッド２Ａが試し書き位置のディスク径方向両側に移動させられ、その試し書き位置も含めてディスク径方向の所定範囲で再生ヘッド２Ａに読み取り動作を行わせる。これにより、試し書き位置からディスク径方向の所定範囲にある記録トラックＴ１，Ｔ２の磁性ドットｄに対して試し書き情報が記録されたか否かが判別される。つまり、所望とする記録トラックＴ２を含む２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に試し書き情報が記録されていると、試し書き位置の記録ヘッド２Ｂは、所望とする記録トラックＴ２から上側の記録トラックＴ１の方に概ね半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた位置にあると認識され、１列の記録トラックＴ１のみに試し書き情報が記録されていると、試し書き位置の記録ヘッド２Ｂは、所望とする記録トラックＴ２から上側の記録トラックＴ１の方に半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた位置よりもさらにずれた位置にあると認識される。
【００２９】
ヘッド位置ずれ調整部１６は、たとえば図２（Ｂ’）に示すように１列の記録トラックＴ１のみに試し書き情報が記録された状態の場合、試し書き領域Ｗの磁性ドットｄの磁化方向を同一方向に揃えるように初期化した後、正しい試し書き位置となる２列の記録トラックＴ１，Ｔ２の中間位置へと近づく方向、すなわち下側の記録トラックＴ２の方へと所定量ずつ記録ヘッド２Ｂを移動させる。記録ヘッド２Ｂを移動させる所定量は、半ピッチ分Ｔｐ／２よりも小さく設定されている。これにより、記録ヘッド２Ｂは、正しい試し書き位置へと徐々に移動させられる。このような記録ヘッド２Ｂの移動を所定量ずつ繰り返しつつ試し書き情報の記録や試し書き記録状態の検証を再び行うことにより、最終的には２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に同時に試し書き情報が記録される。２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に試し書き情報が記録された状態になると、ヘッド位置ずれ調整部１６は、図２（Ａ’）から（Ａ）の位置へと移動させるように半ピッチ分Ｔｐ／２だけ再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂを移動させる。これにより、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂは、所望とする記録トラックＴ２に位置決めされる。
【００３０】
次に、一例として所望とする記録トラックＴ２に対するトラッキング制御の手順につき、図３を参照して説明する。
【００３１】
まず、図３に示すように、トラッキング制御回路５０は、図示しないホストコンピュータからの命令に応じて再生ヘッド２Ａを所望の記録トラックＴ２に移動させる（Ｓ１）。このとき、記録トラックＴ２のトラック位置は、再生ヘッド２Ａを介してサーボ領域Ｓを読み取ることにより判明するが、先述したように製造時のパターン形成位置ずれによって必ずしも正しいトラック位置とは限らず、再生ヘッド２Ａが記録トラックＴ２からずれている場合もある。そのため、現時点で再生ヘッド２Ａが位置合わせされたトラック位置は、仮決めされたトラック位置となる。
【００３２】
次に、試し書き制御開始判定部１２は、仮決めされたトラック位置に再生ヘッド２Ａを位置決めした状態でその再生ヘッド２Ａにユーザ領域Ｕの磁性ドットｄを読み取らせ、再生信号の信号レベルを検出する（Ｓ２）。このとき、図２（Ａ）に示すように再生ヘッド２Ａがちょうど記録トラックＴ２上に位置すれば、比較的大きな信号レベルが検出される一方、図２（Ｂ）に示すように記録トラックＴ２の磁性ドットｄに対して再生ヘッド２Ａがほとんど外れていれば、基準レベルよりも小さい信号レベルが検出される。
【００３３】
このようにして検出された信号レベルが基準レベルよりも小さい場合（Ｓ３：ＹＥＳ）、試し書き制御開始判定部１２は、試し書き領域Ｗを初期化した後、試し書き制御を開始させる（Ｓ４）。このとき、試し書き領域Ｗの初期化においては、全ての記録トラックＴ１〜Ｔ３を初期化する必要はなく、たとえば仮決めされたトラック位置に対してその上側に試し書き位置を設定する場合には、所望とする記録トラックＴ２とその上側の記録トラックＴ１の２列を初期化すればよい。
【００３４】
試し書き制御が開始されると、試し書き位置移動制御部１３は、仮決めされたトラック位置からその上側に半ピッチ分Ｔｐ／２だけずれた位置を試し書き位置とし、この試し書き位置へと記録ヘッド２Ｂを移動させる（Ｓ５）。この場合、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂは、図２（Ｂ’）に示すように記録トラックＴ１の磁性ドットｄのみに重なる。
【００３５】
次に、試し書き情報記録制御部１４は、試し書き記録処理を実行する（Ｓ６）。この試し書き記録処理によれば、試し書き位置の記録ヘッド２Ｂにより試し書き領域Ｗに対して試し書き情報が記録される。つまり、図２（Ｂ’）の場合には、試し書き領域Ｗにおける上側の記録トラックＴ１の磁性ドットｄのみに試し書き情報が記録され、これらの磁性ドットｄが白抜きから黒塗りの状態になる。
【００３６】
次に、試し書き記録状態検証部１５は、試し書き位置からディスク径方向両側の所定範囲にわたり再生ヘッド２Ａを移動させ、その移動ごとに再生ヘッド２Ａに読み取り動作を行わせる。これにより、試し書き記録状態検証部１５は、試し書き領域Ｗにおいて所望とする記録トラックＴ１を含む２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に対して試し書き情報が記録された状態か、これら２列の記録トラックＴ１，Ｔ２のいずれか１列のみに試し書き情報が記録された状態かを検証する（Ｓ７）。
【００３７】
試し書き情報が２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に記録された状態の場合（Ｓ８：ＹＥＳ）、ヘッド位置ずれ調整部１６は、図２（Ａ’）に示すように試し書き位置の記録ヘッド２Ｂが２列の記録トラックＴ１，Ｔ２の概ね中間位置にあると判断し、その試し書き位置から半ピッチ分Ｔｐ／２だけ仮決めしたトラック位置から試し書き位置に向かう方向とは逆方向、すなわち所望とする記録トラックＴ２に近づく方向に再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂを移動させる（Ｓ９）。これにより、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂは、図２（Ａ）に示すように所望とする記録トラックＴ２のトラック位置に位置決めされる。
【００３８】
その後、ユーザ領域Ｕの記録トラックＴ２に対しては、そのトラック位置に位置決めされた記録ヘッド２Ｂあるいは再生ヘッド２Ａによって記録再生処理が実行される（Ｓ１０）。
【００３９】
Ｓ８において、試し書き情報が１列のみに記録された状態の場合（Ｓ８：ＮＯ）、ヘッド位置ずれ調整部１６は、試し書き領域Ｗを再び初期化し（Ｓ１１）、その後、試し書き情報が記録されていなかった列に近づく方向に記録ヘッド２Ｂを所定量ずつ移動させる（Ｓ１２）。これにより、記録ヘッド２Ｂは、たとえば図２（Ｂ’）の位置から図２（Ａ’）の位置へと徐々に移動させられ、最終的には２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に対して記録ヘッド２Ｂが跨った状態になる。このように記録ヘッド２Ｂを所定量ずつ移動させるごとに、試し書き情報記録制御部１４は、Ｓ６の試し書き記録処理を実行する。なお、Ｓ１１における試し書き領域Ｗの初期化においても、先述したように所望とする記録トラックＴ２とその上側の記録トラックＴ１の２列を初期化するのが好ましい。
【００４０】
Ｓ３において、信号レベルが基準レベル以上として検出された場合（Ｓ３：ＮＯ）、試し書き制御開始判定部１２は、図２（Ａ）に示すように再生ヘッド２Ａがちょうど記録トラックＴ２上に位置した状態と判断し、そのままＳ１０の記録再生処理が実行される。
【００４１】
なお、図３（Ｂ）の例としては、所望とする記録トラックＴ２から上側に再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂがずれている状態を示したが、もちろん所望とする記録トラックＴ２の下側に再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂがずれていてもよい。この場合、そのヘッド位置から上側に半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた位置を試し書き位置とすると、概ね図２（Ａ）に示すような状態になる。つまり、ヘッド位置が上側あるいは下側のいずれかの方向にずれている場合、そのヘッド位置から上側に半ピッチ分Ｔｐ／２だけずらして試し書きを行うと、記録トラックＴ１，Ｔ２のいずれか１列のみに試し書き情報が記録される。そのため、試し書き情報の記録状態を検証する際には、これら２列の記録トラックＴ１，Ｔ２について検証を行えばよい。これにより、たとえば記録トラックＴ２の１列のみに試し書き情報が記録されていた場合、再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂの当初仮決めされたトラック位置については、その記録トラックＴ２よりも下側にずれた位置と認識することができる。このような記録ヘッドの試し書き位置については、ヘッド位置から下側に半ピッチ分ずれた位置としてもよい。この場合も同様に試し書き情報について記録および検証を行うことができる。
【００４２】
したがって、本実施形態の磁気ディスク装置Ａによれば、試し書き制御によって所望とする記録トラックＴ２を含む２列の記録トラックＴ１，Ｔ２に記録された状態か、いずれか１列に記録された状態かを検証することで磁気ヘッド２の位置ずれが判明し、最終的には２列に記録された状態となる試し書き位置から半ピッチ分Ｔｐ／２だけ磁気ヘッド２を移動させるだけで所望とする記録トラックＴ２に磁気ヘッド２を位置決めすることができる。これにより、いわゆるパターンドメディアとしての磁気ディスク１２に対するトラッキング制御を正確に実行することができ、記録トラックＴ１〜Ｔ３の１列ごとに磁気ヘッド２を正しく位置決めすることができる。
【００４３】
図４〜１１は、他の実施形態を示している。なお、先述した実施形態によるものと同様の構成要素については同一符号を付し、その説明を省略する。
【００４４】
図４に一例として示す実施形態では、試し書き領域Ｗを含むユーザ領域Ｕの磁性ドットｄが記録トラックＴ１〜Ｔ３の３列ごとにディスク周方向Ｃに位置ずれするように形成されている。このような磁性ドットｄの形成パターンによれば、記録トラックＴ１〜Ｔ３の３列ごとにディスク周方向Ｃに周期的な書き込みタイミングを制御しながら試し書き制御を行うことにより、その３列以外の記録トラックに対する試し書き情報の記録を防止し、試し書き記録状態を検証する際に関係のない記録トラックからの混信を防ぐことができる。なお、試し書き領域を除くユーザ領域においては、各列の磁性ドットがディスク周方向に位置ずれしたようなパターンでなくてもよい。試し書き領域においては、記録トラックの１列ごとあるいは２列ごと、さらには４列以上ごとに磁性ドットが位置ずれしていてもよい。
【００４５】
図５に示す実施形態では、ユーザ領域Ｕとは異なるパターンでこれとは別に試し書き領域Ｗが形成されている。この試し書き領域Ｗにおいては、たとえば各記録トラックＴ１〜Ｔ３を基準列としてそのディスク径方向内外両側にずれるように一例として二対の磁性ドットｄが形成されている。なお、図５においては、試し書き領域Ｗにおける磁性ドットｄとして記録トラックＴ２に対応するものしか便宜上示していない。この試し書き領域Ｗにおいて対をなす磁性ドットｄがディスク径方向に並ぶピッチｔは、トラックピッチＴｐよりも小さく、再生ヘッド２Ａが一対の磁性ドットｄを同時に読み取ることができる。このような試し書き領域Ｗは、図示しないサーボ領域とユーザ領域Ｕとの間に形成されている。なお、対をなす磁性ドットは、少なくとも一対あればよく、ディスク周方向に三対以上並ぶように設けてもよい。基準列は、記録トラックの全ての列とする必要はなく、たとえば１列おきに基準列を設定してもよい。この場合、非基準列となった記録トラックのトラック位置は、基準列のトラック位置から所定の方向にトラックピッチ分ずれた位置になり、基準列のトラック位置が判明すれば非基準列のトラック位置も容易に判明する。
【００４６】
図５に対応するトラッキング制御としては、図６に示すような以下に説明する手順で実行される。なお、磁気ディスク装置の構成要素としては、図１と同一または類似のものになるため、図１の構成要素を適宜用いて説明する。
【００４７】
まず、トラッキング制御回路５０は、図示しないホストコンピュータからの命令に応じて再生ヘッド２Ａを所望の記録トラックＴ２のトラック位置に移動させる（Ｓ２０）。このとき、トラック位置は、再生ヘッド２Ａを介してサーボ領域Ｓを読み取ることにより判明するが、先述の実施形態で説明したように製造時のパターン形成位置ずれによって必ずしも正しいトラック位置とは限らず、たとえば図５（Ｂ）に示すように再生ヘッド２Ａが記録トラックＴ２からずれている場合もある。そのため、現時点で再生ヘッド２Ａが位置合わせされたトラック位置は、仮決めされたトラック位置となる。
【００４８】
次に、試し書き制御開始判定部１２は、仮決めされたトラック位置に再生ヘッド２Ａを位置決めした状態でその再生ヘッド２Ａに試し書き領域Ｗを読み取らせ、再生信号の信号レベルを検出する（Ｓ２１）。このとき、図５（Ａ）に示すように再生ヘッド２Ａがちょうど記録トラックＴ２上に位置すれば、試し書き領域Ｗにおいて対をなす磁性ドットｄが同時に読み取られるため、磁性ドットｄが２個分の比較的大きな信号レベルが検出される。その一方、図５（Ｂ）に示すように記録トラックＴ２に対して再生ヘッド２Ａがずれていれば、磁性ドットｄが１個分の信号レベルになるため、基準レベルよりも小さい信号レベルが検出される。
【００４９】
このようにして検出された信号レベルが基準レベルよりも小さい場合（Ｓ２２：ＹＥＳ）、試し書き制御開始判定部１２は、試し書き領域Ｗの磁性ドットｄを初期化した後（Ｓ２３）、試し書き制御を開始させる。
【００５０】
試し書き制御が開始されると、仮決めされたトラック位置をそのまま試し書き位置とし、試し書き情報記録制御部１４は、試し書き記録処理を実行する（Ｓ２４）。この試し書き記録処理によれば、試し書き位置の記録ヘッド２Ｂにより試し書き領域Ｗに対して試し書き情報が記録される。つまり、図５（Ｂ）の場合には、試し書き領域Ｗにおける上側の磁性ドットｄのみに試し書き情報が記録され、これらの磁性ドットｄが白抜きから黒塗りの状態になる。
【００５１】
次に、試し書き記録状態検証部１５は、試し書き位置からディスク径方向両側の所定範囲にわたり再生ヘッド２Ａを移動させ、その移動ごとに再生ヘッド２Ａに読み取り動作を行わせる。これにより、試し書き記録状態検証部１５は、試し書き領域Ｗにおいて対をなす全ての磁性ドットｄに試し書き情報が記録された状態か、これら対をなす磁性ドットｄのディスク径方向片側のみに試し書き情報が記録された状態かを検証する（Ｓ２５）。
【００５２】
試し書き領域Ｗにおいて対をなす全ての磁性ドットｄに試し書き情報が記録された状態の場合（Ｓ２６：ＹＥＳ）、ヘッド位置ずれ調整部１６は、図５（Ａ）に示すように試し書き位置の記録ヘッド２Ｂが所望とする基準列の記録トラックＴ２に対して正しく位置合わせされた状態と判断する。これにより、記録ヘッド２Ｂおよび再生ヘッド２Ａは、所望とする記録トラックＴ２に対してそのまま位置決めされ、ユーザ領域Ｕの記録トラックＴ２に対しては、そうして位置決めされた記録ヘッド２Ｂあるいは再生ヘッド２Ａによって記録再生処理が実行される（Ｓ２７）。
【００５３】
Ｓ２６において、試し書き領域Ｗにおいて対をなす磁性ドットｄのディスク径方向片側のみに試し書き情報が記録された状態の場合（Ｓ２６：ＮＯ）、ヘッド位置ずれ調整部１６は、試し書き領域Ｗを再び初期化し（Ｓ２８）、その後、所望とする記録トラックＴ２に近づく方向に記録ヘッド２Ｂを所定量ずつ移動させる（Ｓ２９）。このとき、ヘッド位置ずれ調整部１６は、上側の磁性ドットｄのみに試し書き情報が記録された状態であれば、記録ヘッド２Ｂを下側の方向に移動させ、下側の磁性ドットｄのみに試し書き情報が記録された状態であれば、記録ヘッド２Ｂを上側の方向に移動させる。たとえば、記録ヘッド２Ｂは、図５（Ｂ）の位置から図５（Ａ）の位置へと徐々に移動させられ、その移動ごとに試し書き情報記録制御部１４は、Ｓ６の試し書き記録処理を実行する。これにより、最終的には、対をなす全ての磁性ドットｄに試し書き情報が記録される。
【００５４】
Ｓ２２において、信号レベルが基準レベル以上として検出された場合（Ｓ２２：ＮＯ）、試し書き制御開始判定部１２は、図５（Ａ）に示すように再生ヘッド２Ａが記録トラックＴ２上に位置した状態と判断する。したがって、この場合には、所望とする記録トラックＴ２に対して再生ヘッド２Ａおよび記録ヘッド２Ｂが位置決めされた状態でそのままＳ１０の記録再生処理が実行される。
【００５５】
したがって、本実施形態の磁気ディスク装置によれば、磁気ヘッド２を半ピッチ分Ｔｐ／２ずらす必要がないので、トラッキング制御を迅速に行うことができ、記録再生処理を速やかに実行することができる。
【００５６】
図７に示す実施形態は、図５に示す実施形態の変形例である。この実施形態に示す試し書き領域Ｗにおいては、記録トラックＴ２を基準列としてそのディスク径方向内外両側にずれる二対の磁性ドットｄに加え、いずれかの磁性ドットｄが記録トラックＴ２のトラック位置に一致しつつ図面において上側と下側にずれるように二対の磁性ドットが形成されている。なお、このような四対の磁性ドットからなるパターンは、その四対を１組として２組以上あってもよい。
【００５７】
このような四対の磁性ドットパターンが形成された試し書き領域Ｗでは、試し書き記録状態を検証する際、以下のようにして試し書き記録状態が検証される。たとえば図７（Ａ）に示す状態では、試し書き記録処理後にそのまま再生ヘッド２Ａを介して試し書き領域Ｗを読み取ると、再生信号の信号レベルが「２１１２」のパターンで検出される。「２」は、２つの磁性ドットｄを同時に読み取った場合の再生信号の信号レベルであり、「１」は、１つの磁性ドットｄを読み取った場合の再生信号の信号レベルである。なお、いずれの磁性ドットｄも読み取ることができなかった場合、再生信号の信号レベルは「０」となる。これにより、同図（Ａ’）に示す状態では、再生信号の信号レベルが「１１０１」、同図（Ｂ）に示す状態では、再生信号の信号レベルが「１２１１」、同図（Ｂ’）に示す状態では、再生信号の信号レベルが「０１００」のパターンで検出される。このような試し書き領域Ｗによれば、試し書き記録状態を検証する際に再生信号の信号レベルのパターンを読み取ることにより、記録トラックＴ２に対する磁気ヘッド２の位置ずれ量やずれ方向を詳細に認識することができ、その認識結果に基づいて磁気ヘッド２の位置ずれ調整を高精度かつ迅速に行うことができる。
【００５８】
図８（Ａ）および（Ｂ）に示す実施形態も、図５に示す実施形態の変形例である。この実施形態では、ユーザ領域Ｕ内においてディスク周方向Ｃに並ぶ磁性ドットｄと磁性ドットｄとの間に試し書き領域Ｗが形成されている。このような試し書き領域Ｗによっても、先述した図５および図６の実施形態によるものと同様の効果を得ることができる。
【００５９】
図９に示す実施形態では、先述した図１の実施形態における再生信号基準レベル記憶部１１に代わり、雰囲気温度検出センサ３０が設けられている。磁気ディスク装置Ａ’は、所定の温度範囲での使用を前提としており、その温度範囲では、サーボ領域Ｓの情報を用いてトラッキング制御を概ね正常に行うことが可能である。一方、所定の温度範囲の境界付近の温度、あるいは温度範囲から外れてしまった場合には、サーボ領域Ｓの情報を用いたトラッキング制御が不安定になることが懸念される。このような温度によるトラッキング制御の不安定性を解消すべく、図１０に示すような雰囲気温度に応じたトラッキング制御を行う。
【００６０】
図１０に示すように、試し書き制御開始判定部１２は、雰囲気温度検出センサ３０によって検出された雰囲気温度が所定の許容範囲外にあると判断した場合（Ｓ３０：ＹＥＳ）、試し書き領域Ｗを初期化した後、試し書き制御を開始させる（Ｓ４）。雰囲気温度が所定の許容範囲内であれば（Ｓ３０：ＮＯ）、そのままＳ１０の記録再生処理が実行される。このような磁気ディスク装置Ａ’によれば、厳しい温度環境下においてトラッキング制御を行う場合でも、正常にトラッキング制御を行うことができる。なお、図９に示す実施形態については、たとえば図５に示すような試し書き領域とし、図６に示すトラッキング制御処理を実行させるようにしてもよい。
【００６１】
図１１に示す実施形態では、先述した図１の実施形態における再生信号基準レベル記憶部１１や雰囲気温度検出センサ３０に代わり、振動検出センサ４０が設けられている。図１２に示すように、試し書き制御開始判定部１２は、振動検出センサ４０によって検出された振動レベルが所定の許容範囲外にあると判断した場合（Ｓ４０：ＹＥＳ）、試し書き領域Ｗを初期化した後、試し書き制御を開始させる（Ｓ４）。雰囲気温度が所定の許容範囲内であれば（Ｓ４０：ＮＯ）、そのままＳ１０の記録再生処理が実行される。このような磁気ディスク装置Ａ”によれば、たとえば車載用の装置として振動が激しい環境下において使用される場合であっても、正確にトラッキング制御を行うことができる。なお、図１１に示す実施形態についても、たとえば図５に示すような試し書き領域とし、図６に示すトラッキング制御処理を実行させるようにしてもよい。
【００６２】
なお、本発明は、上記の各実施形態に限定されるものではない。
【００６３】
上記実施形態で示した構成は、あくまでも一例にすぎず、仕様に応じて適宜設計変更することが可能である。
【００６４】
たとえば記録トラックのトラックピッチは、記録ヘッドおよび再生ヘッドのヘッド幅に対して最適となるように設定されるが、本発明では、少なくとも記録ヘッドのヘッド幅が２列の記録トラックに跨る程度の大きさとされる。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明は、たとえば垂直磁気記録方式の磁気ディスク装置におけるトラッキング制御に利用することができる。
【符号の説明】
【００６６】
Ａ，Ａ’，Ａ” 磁気ディスク装置
Ｓ            サーボ領域
Ｕ            ユーザ領域
Ｗ            試し書き領域
ｄ            磁性ドット
Ｔ１〜Ｔ３    記録トラック
Ｔｐ          トラックピッチ
１            磁気ディスク
２            磁気ヘッド
２Ａ          再生ヘッド
２Ｂ          記録ヘッド
１０          トラッキング制御回路
１３          試し書き位置移動制御部（試し書き位置移動制御手段）
１４          試し書き情報記録制御部（試し書き情報記録制御手段）
１５          試し書き記録状態検証部（試し書き記録状態検証手段）
１６          ヘッド位置ずれ調整部（ヘッド位置ずれ調整手段）
【図１】
2010211866.tif 000003
【図２】
2010211866.tif 000004
【図３】
2010211866.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2010211866.tif 000009
【図８】
2010211866.tif 000010
【図９】
2010211866.tif 000011
【図１０】
2010211866.tif 000012
【図１１】
2010211866.tif 000013
【図１２】
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