(57)【要約】【課題】  測定時間を短縮し、被検者の負担を軽減する。【解決手段】  測定光源と、光分割部材と、光分割部材によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有する干渉光学系を備える眼寸法測定装置において、前記光分割部材によって分割された他方の光路として、第１の光路長を持つ第１光路と、前記光路長変更部材が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第２の光路長を持つ第２光路と、が形成されており、前記光路長変更部材が所定方向に移動されたときに前記受光素子から出力される第１の干渉信号と第２の干渉信号とを取得し、前記第１の干渉信号と前記第２の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定する。【選択図】      図１
2010184048.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光を分割させる光分割部材と、前記測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために前記光分割部材によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記光路長変更部材を移動させる駆動部と、
該駆動部の駆動を制御すると共に、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を測定する演算制御手段と、を備える眼寸法測定装置において、
前記光分割部材によって分割された他方の光路として、第１の光路長を持つ第１光路と、前記光路長変更部材が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第２の光路長を持つ第２光路と、が形成されており、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材が所定方向に移動されたときに前記受光素子から出力される第１の干渉信号と第２の干渉信号とを取得し、前記第１の干渉信号と前記第２の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項２】
請求項１の眼寸法測定装置において、前記光路長変更部材が所定方向に移動された状態において、使用する光路を前記第１光路と前記第２光路との何れかから選択するための光路選択手段を有し、
前記演算制御手段は、該光路選択手段を制御し、前記光路長変更部材の移動位置に応じて前記第１光路と前記第２光路との何れかから選択することを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項３】
請求項２の眼寸法測定装置において、前記干渉光学系は、前記光分割部材によって分割された他方の光路にこの光路をさらに前記第１光路と前記第２光路に分割するための第２光分割部材を有することを特徴とする眼寸法測定装置。
【請求項４】
請求項３の眼寸法測定装置において、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材の所定方向への移動が完了した後に前記光路長変更部材が反対方向に移動させたときに前記受光素子から出力される第３の干渉信号と第４の干渉信号とを取得し、前記第３の干渉信号と前記第４の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする眼寸法測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検眼の所定部位の寸法を測定する眼寸法測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の所定部位の軸方向寸法（例えば、眼軸長、前房深度）を測定する眼寸法測定装置としては、光源から出射された低コヒーレント光を被検眼の異なる軸方向位置に存在する２つの部位に向けて照射する照射光学系と、２つの部位からの反射光を干渉光として受光素子で受光する受光光学系と、を有し、光路分割部材によって分割された第１の光と第２の光との間の光路差を調整可能な光路長変更部材を光軸方向に移動させ、受光素子によって干渉光が検出されたときの光路長変更部材の移動位置に基づいて眼寸法を測定する装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平２−２９７３３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、従来の装置の場合、測定開始のトリガ信号が出力されると、光路長変更部材が原点位置から所定方向に向けて移動され、第１の光と第２の光との光路長が一致されたときに受光素子から干渉信号が出力される。そして、この干渉信号が検出されたときの光路長変更部材の移動位置に基づいて眼寸法が測定される。なお、光路長変更部材は、移動限界位置に達した後、反対方向に移動され、原点位置に復帰される。
【０００５】
しかしながら、従来の装置の場合、眼寸法を２回以上測定するためには光路長変更部材を２回以上往復して移動させている構成であったため、測定時間が長く、被検者にとって負担となっていた。
【０００６】
本発明は、上記問題点を鑑み、測定時間を短縮し、被検者の負担を軽減できる眼寸法測定装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）  低コヒーレント光を出射する測定光源と、該測定光源から出射された光を分割させる光分割部材と、前記測定光源から出射された光の一部の光路長を変化させるために前記光分割部材によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材と、受光素子と、を有し、被検眼に低コヒーレント光を照射し、被検眼からの反射光を干渉光として前記受光素子で受光する干渉光学系と、
前記光路長変更部材を移動させる駆動部と、
該駆動部の駆動を制御すると共に、前記受光素子から出力される干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を測定する演算制御手段と、を備える眼寸法測定装置において、
前記光分割部材によって分割された他方の光路として、第１の光路長を持つ第１光路と、前記光路長変更部材が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第２の光路長を持つ第２光路と、が形成されており、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材が所定方向に移動されたときに前記受光素子から出力される第１の干渉信号と第２の干渉信号とを取得し、前記第１の干渉信号と前記第２の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする。
（２）  （１）の眼寸法測定装置において、前記光路長変更部材が所定方向に移動された状態において、使用する光路を前記第１光路と前記第２光路との何れかから選択するための光路選択手段を有し、前記演算制御手段は、該光路選択手段を制御し、前記光路長変更部材の移動位置に応じて前記第１光路と前記第２光路との何れかから選択することを特徴とする。
（３）  （２）の眼寸法測定装置において、前記干渉光学系は、前記光分割部材によって分割された他方の光路にこの光路をさらに前記第１光路と前記第２光路に分割するための第２光分割部材を有することを特徴とする。
（４）  （３）の眼寸法測定装置において、
前記演算制御手段は、前記光路長変更部材の所定方向への移動が完了した後に前記光路長変更部材が反対方向に移動させたときに前記受光素子から出力される第３の干渉信号と第４の干渉信号とを取得し、前記第３の干渉信号と前記第４の干渉信号の各干渉信号に基づいて被検眼の所定部位の寸法を各々測定することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、測定時間を短縮し、被検者の負担を軽減できる。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。なお、以下の実施形態では、本発明を眼軸長測定装置に適用した場合について説明する。
【００１１】
被検眼角膜と被検眼眼底に測定光を照射するために配置された照射光学系１０は、低コヒーレント光を出射する測定光源１（例えば、ＳＬＤ）と、測定光源１から出射された光束を平行光束とするコリメータレンズ３と、光源１から出射された光を分割するビームスプリッタ５と、ビームスプリッタ５の反射方向に配置された分散補正用ガラス７及び第１三角プリズム（コーナーキューブ）９と、ビームスプリッタ５の透過方向に配置されたビームスプリッタ１１（例えば、ハーフミラー）と、ビームスプリッタ１１の透過方向に配置された第２三角プリズム１３と、ビームスプリッタ１１の反射方向に配置された第３三角プリズム１５と、偏光ブームスプリッタ１７と、１／４波長板１９と、を有する。
【００１２】
光源１から出射された光は、コリメータレンズ３によってコリメートされた後、ビームスプリッタ５によって第１測定光（参照光）と第２測定光とに分割される。ここで、第１測定光は、ガラス７を介して、三角プリズム９によって反射されて折り返される。その後、第１測定光は、ガラス７を介してビームスプリッタ５に入射される。また、第２測定光は、ビームスプリッタ１１によって分割された後、第２三角プリズム１３及び第３三角プリズム１５によって反射され各々折り返される。その後、第２測定光は、ビームスプリッタ１１を介してビームスプリッタ５に入射される。このようにして、第１測定光と第２測定光がビームスプリッタ５によって合成される。
【００１３】
合成された光は、偏光ビームスプリッタ１７によって反射され、１／４波長板１９によって円偏光に変換された後、ダイクロイックミラー２１を介して被検眼に照射される。このとき、測定光束は、被検者眼の角膜と眼底にて反射されると、１／２波長分位相が変換される。
【００１４】
照射光学系１０によって照射された測定光による角膜反射光と眼底反射光による干渉光を受光するために配置された受光光学系２０は、１／４波長板１９と、偏光ビームスプリッタ１７と、集光レンズ２５と、受光素子２７と、を有する。
【００１５】
角膜反射光及び眼底反射光は、ダイクロイックミラー２１を介して、１／４波長板１９によって直線偏光に変換される。その後、偏光ビームスプリッタ１７を透過した反射光は、集光レンズ２５によって集光された後、受光素子２７によって受光される。
【００１６】
三角プリズム９は、測定光源２から出射された光の一部の光路長を変化させるためビームスプリッタ５によって分割された一方の光路に移動可能に配置された光路長変更部材として用いられる。そして、三角プリズム９は、駆動部７１（例えば、モータ）の駆動によってビームスプリッタ５に対して移動される。この場合、三角プリズム９の移動可能範囲は、干渉光による第１（第４）の干渉信号を得るために設定された第１の移動範囲Ｍ１（Ｐ１〜Ｐ２）と、干渉光による第２（第３）の干渉信号を得るために設定された第２の移動範囲Ｍ２（Ｐ２〜Ｐ３）と、に分割される（詳しくは、後述する）。なお、第１移動範囲Ｍ１と第２移動範囲Ｍ２はそれぞれ、比較的大きな眼軸長及び小さい眼軸長を持つ被検者でも測定範囲に含まれるように移動範囲が設定されている。なお、反転後のプリズム９の速度が測定に十分な一定速度に到達した状態で、干渉信号が検出されるように、プリズム９の助走距離が確保されるのが好ましい。光路長変更部材は、三角ミラー、コーナープリズム等であってもよい。また、プリズム９の駆動位置は、位置検出センサ７２（例えば、ポテンショメータ、エンコーダ、等）によって検出される。
【００１７】
また、ビームスプリッタ５によって分割された他方の光路には、第１の光路長を持つ第１光路と、プリズム９が所定量移動されたときに生成される光路差をオフセット可能な第２の光路長を持つ第２光路と、が形成されている。図１の場合、ビームスプリッタ５によって分割された他方の光路には、この他方の光路をさらに第１光路と第２光路に分割するための第２光分割部材（ビームスプリッタ１１）が配置されている。
【００１８】
第２三角プリズム１３と第３三角プリズム１５は、ビームスプリッタ１１に対する距離が互いに異なるように配置されている。これにより、第２三角プリズム１３を通過する第２測定光の光路と、第３三角プリズム１５を通過する第２測定光の光路と、の間には所定の光路差が生じる。なお、この光路差は、第１移動範囲Ｍ１における始点位置Ｐ１から終点位置Ｐ２まで第１三角プリズム９が移動されることによって生じる光路長の変化量とほぼ等しくなるように設定できる。この場合、図１の構成に限らず、ビームスプリッタ１１の反射方向の光路が短く、ビームスプリッタ１１の透過方向の光路が長い構成であってもよい。
【００１９】
なお、以上の説明において、光路長変更部材は、光路分割部材（ビームスプリッタ５）によって分割される測定光路のいずれかに配置され、分割された測定光路間の光路差が調整されるように移動されればよい。具体的には、光路長変更部材及び光路分割部材は、図１のように照射光学系１０の光路中に配置される他、受光光学系２０の光路、又は照射光学系１０と受光光学系２０の共通光路に配置された構成であってもよい。
【００２０】
ダイクロイックミラー２１の反射方向には、被検眼の前眼部を撮像するために配置された前眼部撮像光学系３０が設けられている。撮像光学系３０は、光源１から出射された光を透過し前眼部照明光源４０から出射された光を反射する特性を有するダイクロイックミラー２１、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３５、二次元撮像素子３７、を有する。ここで、照明光源４０によって赤外照明された前眼部像は、ダイクロイックミラー２１、対物レンズ３１、全反射ミラー３３、結像レンズ３５を介して、二次元撮像素子３７に結像される。
【００２１】
次に、本実施形態に係る装置の制御系について説明する。制御部８０は、表示モニタ８１、光源１、受光素子２７、駆動部７１、位置検出センサ７２、コントロール部８４、メモリ８５、等が接続される。制御部８０は、受光素子２７から出力される干渉信号を処理して被検眼の眼軸長を演算により求める。また、メモリ８５には、求められた測定値などが記憶される。また、コントロール部８４には、測定開始のトリガ信号を発する測定開始スイッチ８４ａ、等の各種スイッチが設けられている。
【００２２】
以上のような構成を備える装置を用いて、被験者眼の眼軸長を測定する場合について説明する。検者は、モニタ８１に表示される被験者眼のアライメント状態を見ながら、図示なきジョイスティック等の操作手段を用いて、装置を上下左右及び前後方向に移動させ、装置を被験者眼Ｅに対して所定の位置関係に置く。また、検者は、図示無き固視標を被験者眼に固視させる。
【００２３】
ここで、測定開始のトリガ信号が発せられ、制御部８０によって測定光源１が点灯されると、照射光学系１０によって測定光が被検眼に照射されると共に、測定光による被検眼からの反射光が受光光学系２０の受光素子２７に入射される。
【００２４】
また、制御部８０は、駆動部７１の駆動を制御し、第１三角プリズム９を往復して移動させる。そして、制御部８０は、受光素子２７によって干渉光が検出されたタイミングを元に、眼軸長を算出する。
【００２５】
より具体的には、プリズム９は、初期位置（基準位置）Ｐ１を始点として移動され、第１移動範囲Ｍ１及び第２移動範囲Ｍ２をＡ方向に移動された後、終点位置Ｐ３にて移動方向が反転される。その後、プリズム９は、第２移動範囲Ｍ２及び第１移動範囲Ｍ１をＢ方向に移動され、初期位置Ｐ１に戻される。
【００２６】
ここで、プリズム９が第１移動範囲Ｍ１上を移動された状態で、プリズム９を介して角膜に照射された第１測定光の光路長と，プリズム１３を介して眼底に照射された第２測定光の光路長とが一致したとき、角膜反射光と眼底反射光による干渉光が受光素子２７に受光される。このとき、干渉光による第１の干渉信号が受光素子２７から制御部８０に出力される。
【００２７】
また、第１の干渉信号が受光素子２７によって検出された後も、制御部８０は、引き続き、プリズム９をＡ方向に移動させる。そして、プリズム９が第２移動範囲Ｍ２上を移動された状態で、プリズム９を介して角膜に照射された第１測定光の光路長と，プリズム１５を介して眼底に照射された第２測定光の光路長と，が一致されたとき、角膜反射光と眼底反射光による干渉光が受光素子２７に受光される。このとき、干渉光による第２の干渉信号が受光素子２７から制御部８０に出力される。
【００２８】
第２の干渉信号の検出後、プリズム９が終点位置Ｐ３に到達されたら、制御部８０は、プリズム９の移動方向を反転させ、終点位置Ｐ３からＢ方向にプリズム９を移動させる。そして、再びプリズム９が第２移動範囲Ｍ２上を移動された状態で、プリズム９を介して角膜に照射された第１測定光の光路長と，プリズム１５を介して眼底に照射された第２測定光の光路長と，が一致したとき、干渉光が受光素子２７に受光される。このとき、干渉光による第３の干渉信号が受光素子２７から制御部８０に出力される。
【００２９】
また、第３の干渉信号が受光素子２７によって検出された後も、制御部８０は、引き続き、プリズム９をＢ方向に移動させる。そして、再びプリズム９が第１移動範囲Ｍ１上を移動された状態で、プリズム９を介して角膜に照射された第１測定光の光路長と，プリズム１３を介して眼底に照射された第２測定光の光路長と，が一致したとき、干渉光が受光素子２７に受光される。このとき、干渉光による第４の干渉信号が受光素子２７から制御部８０に出力される。
【００３０】
第１〜第４の干渉信号が検出されたときのプリズム９の移動位置は、位置検出センサ７２から出力される信号に基づいてそれぞれ検出可能である。したがって、眼軸長値を算出する場合、所定の演算式又はテーブル表等を用い、プリズム９の移動位置と眼軸長との関係を予め求めておけばよい。この場合、第１の移動範囲Ｍ１におけるプリズム９の移動位置と眼軸長との関係と、第２の移動範囲Ｍ２におけるプリズム９の移動位置と眼軸長との関係と、をそれぞれ求めておく。なお、上記手法に限るものではなく、プリズム９の移動中において干渉信号が検出された時間に基づいて眼軸長を測定するようにしてもよい。
【００３１】
制御部８０は、第１〜第４の干渉信号に基づいてそれぞれ被検眼の眼軸長値を算出し、第１〜第４の測定結果を得る。これにより、プリズム９が所定方向に１回移動（走査）される間に、被検者眼の眼軸長を２回測定できる。さらに、プリズム９が１回往復移動される間に、被検者眼の眼軸長が４回測定できる。
【００３２】
取得された被験者眼の眼軸長の情報は、メモリ８５に記憶されるとともに、モニタ８１に表示される。また、制御部８０は、所定回数の測定が完了したら（又は被検者の眼軸長値が所定数得られたら）、プリズム９の往復移動を終了し、プリズム９の移動位置を初期位置に復帰させる。なお、上記のように眼軸長の測定値が複数取得された場合、各測定値をそれぞれ出力するようにしてもよいし、複数取得された測定値の平均値を出力するようにしてもよい。
【００３３】
以上のような構成とすれば、少なくとも４回以上の連続測定がスムーズに行われる。また、測定が複数回行われることで、測定結果が安定し、良好な測定精度が得られる。なお、制御部８０は、第４の干渉信号の検出後においても、同様に、プリズム９が往復移動させることによって、第５、第６、…の干渉信号を検出し、干渉信号が検出されたときのプリズム９の移動位置に基づいて眼軸長をそれぞれ測定し、さらなる連続測定を行うようにしてもよい。
【００３４】
なお、上記構成において、ビームスプリッタ１１の例として、ハーフミラーを用いるものとしたが、偏光ビームスプリッタ１１ａを用いるようにしてもよい（図２参照）。なお、図１と同じ番号を付したものについては、特段の説明がない限り、図１と同じ機能・構成を有するものとする。ここで、光源１からビームスプリッタ５に向けて、紙面に対して垂直な偏光成分を持つ直線偏光の光が出射されるものとする。
【００３５】
図２（ａ）においては、偏光ビームスプリッタ１１ａは、回転駆動部７５によって回転軸Ｒ１を中心に回転されるような構成となっている。ここで、偏光ビームスプリッタ１１ａの回転角度が９０度毎に調整されることによって、光源１から出射された光がプリズム１３に向けて透過される状態と、光源１から出射された光がプリズム１５に向けて反射される状態と、に切換可能である。
【００３６】
図２（ｂ）においては、偏光ビームスプリッタ１１ａとビームスプリッタ５との間には、駆動部７６の駆動によって１／２波長板１４が挿脱可能な構成となっている。この場合、１／２波長板１４の挿入によって光の偏光成分が９０度変更される。これにより、１／２波長板１４が挿脱されることで、光源１から出射された光がプリズム１３に向けて透過される状態と、光源１から出射された光がプリズム１５に向けて反射される状態と、に切換可能である。
【００３７】
図２（ｃ）においては、照射光学系１０の光路に、１／２波長板４１と１／２波長板４２とがそれぞれ挿脱可能に配置され、駆動部７７及び駆動部７８の駆動によって挿脱可能な構成となっている。この場合、１／２波長板４１の挿入によって偏光ビームスプリッタ１１ａに入射される光の偏光成分が９０度変更される。また、１／２波長板４２の挿入によって光の偏光成分が９０度毎に変更される。
【００３８】
ここで、１／２波長板４２が光路中に配置され、１／２波長板４１が光路から外れている場合、光源１から出射された光は、偏光ビームスプリッタ１１ａを透過した後、プリズム１３、偏光ビームスプリッタ１１ａ及びビームスプリッタ５を介して、１／２波長板４２によってＳ偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ１７に向かう。
【００３９】
１／２波長板４１が光路中に配置され、１／２波長板４２が光路から外れている場合、光源１から出射された光は、偏光ビームスプリッタ１１ａによって反射された後、プリズム１５、偏光ビームスプリッタ１１ａ及びビームスプリッタ５を介して、偏光ビームスプリッタ１７に向かう。
【００４０】
図２（ａ）〜図２（ｃ）において、連続測定を行う場合、制御部８０は、駆動部７１を制御して、前述のようにプリズム９を移動させる。このとき、制御部８０は、第１移動範囲Ｍ１内をプリズム９が移動されるときには、光源１から出射された光がプリズム１３によって反射される状態とし、第２移動範囲Ｍ２内をプリズム９が移動されるときには、光源１から出射された光がプリズム１５によって反射される状態とする。すなわち、制御部８０は、プリズム９が所定方向に移動された状態において、使用する光路を第１光路と第２光路との何れかから選択するために、駆動部を制御し、プリズム９の移動位置に応じて第１光路と第２光路との何れかから選択する。これにより、プリズム９の移動位置に応じて前述の第１測定光と干渉する第２測定光の光路が切り換えられる。
【００４１】
なお、図２（ａ）において、制御部８０は、プリズム９の移動位置に応じて偏光ビームスプリッタ１１ａの回転角度を９０度毎に変化させればよい。図２（ｂ）においては、制御部８０は、プリズム９の移動位置に応じて１／２波長板１４を挿脱配置すればよい。図３（ｃ）においては、プリズム９の移動位置に応じて１／２波長板４１と１／２波長板４２とをそれぞれ挿脱配置すればよい。
【００４２】
上記のような構成とすれば、ビームスプリッタ１１によって第２測定光が分割される構成において、ハーフミラーに比べて、第２測定光の光量低下を回避できるため、受光素子２７にて検出される干渉光のＳ／Ｎ比を向上させることができる。また、受光素子２７に外乱光が入射されるのを回避できる。すなわち、プリズム９が第１移動範囲Ｍ１内を通過されるときに、プリズム１５からの反射光が受光素子２７に受光されるのを回避できる。プリズム９が第２移動範囲Ｍ１内を通過されるときに、プリズム１３からの反射光が受光素子２７に受光されるのを回避できる。
【００４３】
また、上記構成に限るものではなく、第１測定光と干渉する第２測定光の光路を選択的に切り換えるための光路切換部が配置されていればよい。この場合、第２測定光を分割するために配置された光路分割部材として、第２測定光の光路を反射方向に形成された反射光路（第１光路）と透過方向に形成された透過光路（第２光路）との間で選択的に切り換える光路切換部材を設けるようにしてもよい。より具体的には、図１の構成において、ビームスプリッタ１１に代えて、駆動部（例えば、モータ）によって跳ね上げ可能な全反射ミラーを用いる。この場合、プリズム９が第１移動範囲Ｍ１内を移動されるとき、全反射ミラーが跳ね上げられ、第２測定光はプリズム１３によって折り返される。また、プリズム９が第２移動範囲Ｍ２内を移動されるとき、第２測定光は全反射ミラーによって反射され、プリズム１５によって折り返される。なお、上記のように光路切換を行う場合、光路切換に必要な時間を考慮して、第１移動範囲Ｍ１と第２移動範囲Ｍ２との間に、切換のための移動範囲を設けても良い。
【００４４】
また、図１の構成において、ハーフミラー１１とプリズム１３との間の光路と、ハーフミラー１１とプリズム１５との間の光路と、にそれぞれ挿脱可能な遮光部材を設けるようにしてもよい。この場合、第１移動可能範囲Ｍ１にプリズム９が位置されているとき、ハーフミラー１１とプリズム１５との間の光路に遮光部材が挿入される。また、第２移動可能範囲Ｍ２にプリズム９が位置されているとき、ハーフミラー１１とプリズム１３との間の光路に遮光部材が挿入される。
【００４５】
なお、以上の説明においては、第２測定光の光路を分割する構成としたが、これに限るものではなく、第２測定光の全光路長（光源１〜被検眼〜受光素子２７）として所定の光路長を有する第１光路と、眼軸長の測定範囲以上第１光路より長い光路長を有する第２光路と、が形成される構成であればよい。この場合、調整される第１測定光の全光路長と，第１光路（又は第２光路）による第２測定光の全光路長と，の光路差が被検眼の眼軸長に対応されるとき、受光素子２７によって干渉光が検出される。
【００４６】
例えば、第１光路と第２光路を形成させる他の手法としては、図３に示すように、第１測定光と第２測定光が分割された後の第２測定光の光路において、第２測定光を折り返すために配置された反射部材の位置を第２測定光の進行方向に関して第１の位置と第２の位置とに選択的に切換配置するような構成が考えられる。図３においては、第２測定光を折り返すプリズム５３ａ、５３ｂがビームスプリッタ５の透過方向に配置され、駆動部７９ａ、駆動部７９ｂによってそれぞれ挿脱可能な構成となっている。この場合、プリズム９が第１移動範囲Ｍ１内を移動されるとき、プリズム５３ａが光路中に配置され、プリズム９が第２移動範囲内を移動されるとき、プリズム５３ｂが光路中に配置される。
【００４７】
なお、以上の説明においては、光路分割部材（例えば、ビームスプリッタ５）によって第１測定光が通過する第１測定光路と第２測定光路に分割し、分割された光路中に配置された光路長変更部材（プリズム９）によって第１測定光と第２測定光との光路差を生成するものとしたが、これに限るものではない。この場合、光源から出射された光を分割するビームスプリッタ（光分割部材）と、被検眼に測定光を照射するために配置されるサンプルアーム（照射光学系）と、参照光を生成するために配置されるレファレンスアーム（参照光光学系）と、干渉光を受光するための受光素子を有する受光光学系と、を有し、光路長変更部材の移動によって，サンプルアームを介して被検眼に照射された測定光とレファレンスアームからの参照光とによる干渉光が受光素子に受光されるような構成であってもよい。
【００４８】
なお、以上の説明においては、眼軸長を測定するための構成について説明したが、これに限るものではなく、被検眼の軸方向において異なる位置に存在する２つの所定部位間の寸法を測定する構成であれば、これに限るものではない。例えば、被検者眼角膜と水晶体に測定光を照射し、その反射光を干渉光として受光して前房深度を測定する構成においても、適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の概略構成図である。
【図２】本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の第１変容例を示す図である。
【図３】本実施形態に係る眼寸法測定装置の光学系の第２変容例を示す図である。
【符号の説明】
【００５０】
１  測定光源
５  ビームスプリッタ
９  三角プリズム（光路長変更部材）
１０  照射光学系
１１  ビームスプリッタ
１３  第２三角プリズム１３
１５  第３三角プリズム
２０  受光光学系
２７  受光素子
５３ａ、５３ｂ  プリズム
７１  駆動部
８０  制御部
【図１】
2010184048.tif 000003
【図２】
2010184048.tif 000004
【図３】
2010184048.tif 000005