(57)【要約】【課題】ハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を提供する。【解決手段】磁気ヘッドの浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と、ディスクの回転時に磁気ヘッドから出力される磁気信号に基づいて、ディスクの円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階と、浮上高の変化量と基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、磁気ヘッドの浮上高をディスクの円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と、記録命令または再生命令が入力された場合、印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、磁気ヘッドに印加されるＦＯＤ電圧を制御する段階とを含むハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法が提供される。【選択図】図６
2010218680.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ヘッドの浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と；
ディスクの回転時に前記磁気ヘッドから出力される磁気信号に基づいて、前記ディスクの円周方向への前記磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階と；
前記浮上高の変化量と前記基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、前記磁気ヘッドの浮上高を前記ディスクの円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と；
記録命令または再生命令が入力された場合、前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、前記磁気ヘッドに印加されるＦＯＤ電圧を制御する段階と；
を含むことを特徴とする、ハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項２】
前記浮上高の変化量を算出する段階は、
前記ディスクの半径方向に沿って区画された領域別に選定された少なくとも一つのトラックに対して行われることを特徴とする、請求項１に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項３】
前記浮上高の変化量を算出する段階において算出された前記浮上高の変化量を前記ディスクに保存する段階と；
前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階において算出された前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを前記ディスクに保存する段階と；
をさらに含むことを特徴とする、請求項２に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項４】
前記浮上高の変化量は、前記ディスクのトラック別に算出されて、前記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存され、
前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、前記ディスクのトラック別に算出されて、前記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存されることを特徴とする、請求項３に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項５】
前記ＦＯＤ電圧を制御する段階は、
前記磁気ヘッドを前記ディスクのメインテナンスシリンダーに移動させ、前記メインテナンスシリンダーに保存された前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルのうちから、記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに対応する前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを選択する段階と；
前記磁気ヘッドを前記ターゲットトラックに移動させ、前記選択された印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、前記磁気ヘッドにＦＯＤ電圧を印加する段階と；
を含むことを特徴とする、請求項４に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項６】
前記浮上高の変化量は、前記ディスクのトラック別に算出されて、前記ディスクのメインテナンスシリンダーまたは前記ディスクの各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存され、
前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、前記ディスクのトラック別に算出されて、前記ディスクの各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存されることを特徴とする、請求項３に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項７】
前記ＦＯＤ電圧を制御する段階は、
前記磁気ヘッドを記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに移動させ、前記ターゲットトラックの前記少なくとも一つのサーボセクターに保存された前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、前記磁気ヘッドにＦＯＤ電圧を印加することを特徴とする、請求項６に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項８】
前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階は、
前記基準ＦＯＤ電圧プロファイルから前記磁気ヘッドの目標浮上高に対応する基準ＦＯＤ電圧を選定する段階と；
前記浮上高の変化量に対応するＦＯＤ電圧増減分を前記ディスクの円周方向に沿って前記基準ＦＯＤ電圧に反映して、前記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と；
を含むことを特徴とする、請求項１〜７のいずれか１項に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項９】
前記浮上高の変化量を算出する段階は、前記磁気ヘッドに所定のＦＯＤ電圧を印加しながら、前記磁気ヘッドから出力される磁気信号を測定することを特徴とする、請求項１〜７のいずれか１項に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【請求項１０】
前記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階は、バーンイン工程でタッチダウンテストを通じて行なわれ、
前記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階において算出された前記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを前記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存する段階をさらに含むことを特徴とする、請求項１〜７のいずれか１項に記載のハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ハードディスクドライブのＦＯＤ（Ｆｌｙｉｎｇ  Ｏｎ  Ｄｅｍａｎｄ）電圧制御方法に係り、特に、局部的な磁気ヘッドとディスクとの衝突を防止して信頼性を向上させ、かつディスクのトラック方向に均一な記録および再生を実現することが可能なハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、高いＴＰＩ（Ｔｒａｃｋ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）および高いＢＰＩ（Ｂｉｔｓ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）の実現が可能になって、ハードディスクドライブに保存できるデータの容量は大きく増えている。また、その一方、ハードディスクドライブのサイズは、非常に小くなっている。そして、ハードディスクドライブの高容量化および小型化、軽量化を果たすためには、記録密度の向上が必須であるが、記録密度を向上させるための最も効果的な方法の一つは、磁気ヘッドの浮上高を減らすことである。そのため、ハードディスクドライブで磁気ヘッドの浮上高は、次第に低くなる趨勢である。
【０００３】
一方、ハードディスクドライブのディスクは、クランピングトルクおよび／または関連部品の誤差などによってスピンドルモータに締結された後に、その形状が半径方向および円周方向に変形してしまう場合がある。具体的には、半径方向に、ディスクは、ディスクの中心から遠くなるほど次第に上昇する形状を有し、円周方向に、ディスクは、上下に振動する形状を有する。
【０００４】
このようなディスクの変形は、磁気ヘッドの浮上高に影響を与える。特に、円周方向に変形がある場合、磁気ヘッドの浮上高は、ディスクの変形に影響を受けてディスクの回転時に上下に振動する形状を有する。
【０００５】
このように、ディスクの変形によって磁気ヘッドの浮上高が円周方向に沿って変化したときには、磁気ヘッドの浮上高を十分な余裕を有するように設計しても、劣悪な環境条件、例えば、高度が高い、温度が高いなど、磁気ヘッドの浮上高が全体として低くなる場合、ディスクの変形によって相対的に磁気ヘッドの浮上高が低くなった部分で、磁気ヘッドとディスクとが衝突するＨＤＩ（Ｈｅａｄ  Ｄｉｓｋ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）問題が発生する。一方、ディスクの変形によって相対的に磁気ヘッドの浮上高が高くなった部分では、弱い記録（Ｗｅａｋ  Ｗｒｉｔｅ）などの信頼性問題が発生する。特に、ＦＯＤ技術を採用するハードディスクドライブの場合、記録密度を向上させるために磁気ヘッドの浮上高を全体としてさらに低く制御するために、上記問題点はさらに深刻となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】米国特許出願公開第２００８／０１６５４４６号明細書
【特許文献２】米国特許第６９７２９１９号明細書
【特許文献３】米国特許出願公開第２００７／０２６８６１２号明細書
【特許文献４】韓国特許出願公開第２００７／００９７２８７号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、ディスクに変形があっても、ディスクの円周方向に沿って磁気ヘッドの浮上高を一定に維持させ、磁気ヘッドの浮上高がディスクの変形に影響を受けて劣悪な環境条件で発生する局部的な磁気ヘッドとディスクとの衝突を防止して信頼性を向上させ、かつディスクのトラック方向に均一な記録および再生を実現することが可能な、新規かつ改良されたハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の第１の観点によれば、磁気ヘッドの浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と、ディスクの回転時に上記磁気ヘッドから出力される磁気信号に基づいて、上記ディスクの円周方向への上記磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階と、上記浮上高の変化量と上記基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、上記磁気ヘッドの浮上高を上記ディスクの円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階と、記録命令または再生命令が入力された場合、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、上記磁気ヘッドに印加されるＦＯＤ電圧を制御する段階とを含むハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法が提供される。
【０００９】
また、上記浮上高の変化量を算出する段階は、上記ディスクの半径方向に沿って区画された領域別に選定された少なくとも一つのトラックに対して行われてもよい。
【００１０】
また、上記浮上高の変化量を算出する段階において算出された上記浮上高の変化量を上記ディスクに保存する段階と、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階において算出された上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを上記ディスクに保存する段階とをさらに含んでもよい。
【００１１】
また、上記浮上高の変化量は、上記ディスクのトラック別に算出されて、上記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存され、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、上記ディスクのトラック別に算出されて、上記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存されてもよい。
【００１２】
また、上記ＦＯＤ電圧を制御する段階は、上記磁気ヘッドを上記ディスクのメインテナンスシリンダーに移動させ、上記メインテナンスシリンダーに保存された上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルのうちから、記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに対応する上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを選択する段階と、上記磁気ヘッドを上記ターゲットトラックに移動させ、上記選択された印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、上記磁気ヘッドにＦＯＤ電圧を印加する段階とを含んでもよい。
【００１３】
また、上記浮上高の変化量は、上記ディスクのトラック別に算出されて、上記ディスクのメインテナンスシリンダーまたは上記ディスクの各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存され、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、上記ディスクのトラック別に算出されて、上記ディスクの各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存されてもよい。
【００１４】
また、上記ＦＯＤ電圧を制御する段階は、上記磁気ヘッドを記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに移動させ、上記ターゲットトラックの上記少なくとも一つのサーボセクターに保存された上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて、上記磁気ヘッドにＦＯＤ電圧を印加してもよい。
【００１５】
また、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階は、上記基準ＦＯＤ電圧プロファイルから上記磁気ヘッドの目標浮上高に対応する基準ＦＯＤ電圧を選定する段階と、上記浮上高の変化量に対応するＦＯＤ電圧増減分を上記ディスクの円周方向に沿って上記基準ＦＯＤ電圧に反映して、上記印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階とを含んでもよい。
【００１６】
また、上記浮上高の変化量を算出する段階は、上記磁気ヘッドに所定のＦＯＤ電圧を印加しながら、上記磁気ヘッドから出力される磁気信号を測定してもよい。
【００１７】
また、上記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階は、バーンイン工程でタッチダウンテストを通じて行なわれ、上記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階において算出された上記基準ＦＯＤ電圧プロファイルを上記ディスクのメインテナンスシリンダーに保存する段階をさらに含んでもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、ディスクに変形があっても、ディスクの円周方向に沿って磁気ヘッドの浮上高を一定に維持させ、磁気ヘッドの浮上高がディスクの変形に影響を受けて劣悪な環境条件で発生する局部的な磁気ヘッドとディスクとの衝突を防止して信頼性を向上させ、かつディスクのトラック方向に均一な記録および再生を実現することができる。
【００１９】
より具体的には、本発明によれば、ディスクの変形に対応することができる印加ＦＯＤ電圧プロファイルを予め算出し、これに基づいて磁気ヘッドに印加されるＦＯＤ電圧を制御することによって、ディスクに変形があっても、ディスクの円周方向に沿って磁気ヘッドの浮上高を一定に維持させ、磁気ヘッドの浮上高がディスクの変形に影響を受けて劣悪な環境条件で発生する局部的な磁気ヘッドとディスクとの衝突を防止して信頼性を向上させ、かつディスクのトラック方向に均一な記録および再生を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法が適用されるハードディスクドライブの部分分解斜視図である。
【図２】図１に示すハードディスクドライブでディスクの平面図である。
【図３】図２に示すディスクで半径方向への変形を示す図である。
【図４】図２に示すディスクで円周方向への変形を示す図である。
【図５】図１に示すハードディスクドライブの駆動回路の概略的なブロック図である。
【図６】本発明の一の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を説明するためのフローチャートである。
【図７】図６に示すＳ１５０およびＳ１７０をさらに詳しく説明するためのフローチャートである。
【図８】図６に示すＳ１１０で算出された基準ＦＯＤ電圧プロファイルの一例を示す図である。
【図９】図６に示すＳ１３０で磁気ヘッドの浮上高の変化量を説明するための概略図である。
【図１０】図６に示すＳ１５０で算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルの一例を示す図である。
【図１１】図６に示すＳ１７０でディスクの変形が発生しているにもかかわらず磁気ヘッドの浮上高がディスクの円周方向に沿って一定に維持される形状を示す概路図である。
【図１２】本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を説明するためのフローチャートである。
【図１３】図１２に示すＳ２５０およびＳ２７０をさらに詳しく説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。また、本発明を説明するに当って、既に公知された機能あるいは構成についての説明は、本発明の要旨を明瞭にするために省略する。
【００２２】
図１は、本発明の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法が適用されるハードディスクドライブの部分分解斜視図である。
【００２３】
図１を参照すると、ハードディスクドライブは、データが記録される二枚のディスク１１１と、ディスク１１１を回転させるためのスピンドルモータ１２０（Ｓｐｉｎｄｌｅ  Ｍｏｔｏｒ）と、ピボット軸１３０ａを軸心としてディスク１１１上を移動しながら、ディスク１１１に／からデータを記録／再生するヘッドスタックアセンブリー１３０（ＨＳＡ：Ｈｅａｄ  Ｓｔａｃｋ  Ａｓｓｅｍｂｌｙ）と、大部分の回路部品をＰＣＢ（Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ）上に装着してハードディスクドライブを電気的に制御する印刷回路基板組立体１４０（ＰＣＢＡ：Ｐｒｉｎｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｂｏａｒｄ  Ａｓｓｅｍｂｌｙ）と、これら構成部品が組み立てられるベース１５０と、ベース１５０を覆うカバー（図示せず）とを含む。
【００２４】
二枚のディスク１１１は、図１に示されたように、スピンドルモータ１２０上で上下に積層される。この際、二枚のディスク１１１は、スピンドルモータ１２０のハブ１２１に挟まれるが、リング状のスぺーサ１１３によって相互に離隔した状態でスピンドルモータ１２０のハブ１２１によって回転自在に支持される。なお、本発明の実施形態に係るハードディスクドライブの構成は、上記に限られない。例えば、本発明の実施形態に係るハードディスクドライブには、一枚のディスク１１１が設けられるか、さらに多くのデータの記録のために三枚以上のディスク１１１が設けられる構成であってもよい。
【００２５】
一方、スピンドルモータ１２０のハブ１２１に挟まれたディスク１１１は、図１に示すように、ディスククランプ１１５とクランピングスクリュー１１７とによって、スピンドルモータ１２０のハブ１２１に固定される。この際、クランピングスクリュー１１７は、ディスク１１１をスピンドルモータ１２０のハブ１２１に対して固定するためのクランピング力（Ｃｌａｍｐｉｎｇ  Ｆｏｒｃｅ）あるいはクランピングトルク（Ｃｌａｍｐｉｎｇ  Ｔｏｒｑｕｅ）を提供するものであって、ディスククランプ１１５をしてディスク１１１の内周の上面を加圧させることによって、ディスク１１１をスピンドルモータ１２０のハブ１２１に対して固定させる。
【００２６】
ヘッドスタックアセンブリー１３０は、ディスク１１１にデータを記録する、および／または、ディスク１１１からデータを再生する磁気ヘッド１３１と、磁気ヘッド１３１を搭載してディスク１１１上で磁気ヘッド１３１を浮上させるスライダー１３２と、スライダー１３２をディスク１１１の表面に向けて弾性支持するサスペンション１３３と、サスペンション１３３を支持する一方、磁気ヘッド１３１がディスク１１１上の要求される位置に近付くように、ピボット軸１３０ａに回動可能に結合されるアクチュエータアーム１３４と、アクチュエータアーム１３４を回動させるアクチュエータとしてボイスコイルモータ１３５（ＶＣＭ：Ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ）とを含む。
【００２７】
磁気ヘッド１３１は、ディスク１１１の表面を磁化させてディスク１１１にデータを記録するか、ディスク１１１表面に形成された磁界を感知してディスク１１１からデータを再生する。実質的に磁気ヘッド１３１は、ディスク１１１を磁化させるための記録用ヘッドとディスク１１１の磁界を感知するための再生用ヘッドとで構成されるが、添付した図面では、これを区別せずに示している。
【００２８】
一般的に、磁気ヘッド１３１は、一枚のディスク１１１に対して２つが設けられるが、２つの磁気ヘッド１３１は、ディスク１１１の両面（上面および底面）から所定の間隙が生じるように浮き上がってそれぞれ配される。本発明の実施形態では、ディスク１１１の個数が二枚であるので、４つの磁気ヘッド１３１がディスク１１１の両面から浮き上がってそれぞれ配される。
【００２９】
磁気ヘッド１３１は、所定の浮上高ほどディスク１１１の表面から浮き上がった状態でディスク１１１にデータを記録する、および／または、ディスク１１１からデータを再生する。ここで、磁気ヘッド１３１の浮上高（ＦＨ：Ｆｌｙｉｎｇ  Ｈｅｉｇｈｔ）は、磁気ヘッド１３１とディスク１１１との間の間隙を意味する。
【００３０】
近年、高いＴＰＩ（Ｔｒａｃｋ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）および高いＢＰＩ（Ｂｉｔｓ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）の実現が可能になって、ハードディスクドライブに保存できるデータの容量は大きく増え、一方、ハードディスクドライブのサイズは非常に小くなっている。そして、ハードディスクドライブの高容量および小型化、軽量化を果たすためには、記録密度の向上が必須であるが、記録密度を向上させるための最も効果的な方法の一つは、磁気ヘッド１３１の浮上高を減らすことである。そのため、ハードディスクドライブで磁気ヘッド１３１の浮上高は、次第に低くなる趨勢である。
【００３１】
一方、磁気ヘッド１３１の浮上高を減らす技術のうち一つとしてＦＯＤ技術がある。ここで、ＦＯＤ技術は、磁気ヘッド１３１に内蔵されたヒーターに電圧（あるいは、電流）を印加することで、局部的に熱を加えて磁気ヘッド１３１の端部を熱膨脹突出させて磁気ヘッド１３１の浮上高を減らすものであって、近年大部分の製品に採用されている技術である。
【００３２】
本発明は、このようなＦＯＤ技術をより一層発展させたものであって、ディスク１１１の円周方向への変形を勘案して、これに適切な印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出し、これに基づいて磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する方法を提案する。本発明の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法に関する具体的な事項は、後述する。
【００３３】
図２は、図１に示すハードディスクドライブでディスク１１１の平面図であり、図３は、図２に示すディスク１１１で半径方向への変形を示す図であり、図４は、図２に示すディスク１１１で円周方向への変形を示す図である。
【００３４】
図２を参照すると、ディスク１１１は、その中心に近い順序でＩＤ（Ｉｎｎｅｒ  Ｄｉａｍｅｔｅｒ）領域、ＭＤ（Ｍｉｄｄｌｅ  ｄｉａｍｅｔｅｒ）領域およびＯＤ（Ｏｕｔｔｅｒ  Ｄｉａｍｅｔｅｒ）領域に区画される。これらそれぞれの領域は、ディスク１１１の中心を同心とする多数の環状トラック（Ｔｒａｃｋ）からなる。また、トラックには、ディスク１１１の回転中心に対して等角度間隔で分割された単位客体であるセクターが形成される。また、セクターは、トラック上で交互的に位置するサーボセクター（ｓｅｒｖｏ  ｓｅｃｔｏｒ）とデータセクター（ｄａｔａ  ｓｅｃｔｏｒ）とに区分される。ここで、サーボセクターは、サーボ信号区間を含んでトラック探索（ｔｒａｃｋ  ｓｅｅｋｉｎｇ）およびトラック追従（ｔｒａｃｋ  ｆｏｌｌｏｗｉｎｇ）などのサーボ制御のためのものであり、データセクターは、ユーザのデータを記録するためのものである。
【００３５】
図３および図４を参照すると、スピンドルモータ１２０に締結された後のディスク１１１の形状は、半径方向（図２に示す矢印Ａ方向）および円周方向（図２に示す矢印Ｂ方向）に変形が発生する場合がある。例えば、半径方向には、ディスク１１１は、ディスク１１１の中心から遠くなるほど次第に上昇する形状を有し（図３参照）、円周方向には、ディスク１１１は、上下に振動する形状を有する（図４参照）。上記のようなディスク１１１の変形は、ディスク１１１をスピンドルモータ１２０のハブ１２１に対して固定するためのクランピングトルクおよび／または関連部品（例えば、ハブ１２１の面）の誤差などに起因する。ここで、上記のようなディスク１１１の変形は、ディスククランプ１１５の形状の改善およびディスク１１１組立過程での精密度向上などを通じて、ある程度減らすことができるが、ディスク１１１の変形は、現実的に不可避である。
【００３６】
上記のようなディスク１１１の変形は、磁気ヘッド１３１の浮上高に影響を与えるが、特に、円周方向に変形がある場合、磁気ヘッド１３１の浮上高は、ディスク１１１の変形に影響を受けてディスク１１１の回転時に上下に振動する形状を有する。このとき、ディスク１１１の上面に配された磁気ヘッド１３１を基準にする場合、ディスク１１１の上昇部分で磁気ヘッド１３１の浮上高は減少し、ディスク１１１の下降部分で磁気ヘッド１３１の浮上高は増加する。すなわち、磁気ヘッド１３１の浮上高は、ディスク１１１の変形、特に、円周方向への変形によって変化が発生する。参考までに、ディスク１１１の底面に配された磁気ヘッド１３１の場合、ディスク１１１の変形による磁気ヘッド１３１の浮上高の振動は、ディスク１１１の上面に配された磁気ヘッド１３１の浮上高の振動と実質的に同サイズであり、方向は反対である。
【００３７】
図５は、図１に示すハードディスクドライブの駆動回路の概略的なブロック図である。
【００３８】
図５を参照すると、コントローラ１６０は、プリアンプ、リード／ライトチャンネル１８１、ホストインターフェース１７０、ＶＣＭ駆動部１３６、ＳＰＭ駆動部１２３などを制御する。
【００３９】
プリアンプ１８３（Ｐｒｅ−ＡＭＰ）は、磁気ヘッド１３１がディスク１１１から再生したデータ信号を増幅する。また、プリアンプ１８３は、リード／ライトチャンネル１８１によって変換された記録電流を増幅して磁気ヘッド１３１を通じてディスク１１１に記録させる。
【００４０】
リード／ライトチャンネル１８１（Ｒ／Ｗ  Ｃｈａｎｎｅｌ）は、プリアンプ１８３が増幅した信号をデジタル信号に変換してホストインターフェース１７０を通じてホスト機器（図示せず）に伝送する。また、リード／ライトチャンネル１８１は、ユーザが入力したデータをホストインターフェース１７０を通じて受信して、記録に容易な二進データストリーム（Ｂｉｎａｒｙ  Ｄａｔａ  Ｓｔｒｅａｍ）に変換させてプリアンプ１８３に入力する。
【００４１】
ホストインターフェース１７０（Ｈｏｓｔ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）は、デジタル信号に変換されたデータをホスト機器に伝送する。また、ホストインターフェース１７０は、ユーザが入力したデータをホスト機器から受信して、コントローラ１６０を通じてリード／ライトチャンネル１８１に入力する。ここで、ホスト機器は、例えば、コンピュータのＣＰＵ、Ｉ／Ｏコントローラ１６０のように、ハードディスクドライブを含んだコンピュータ全体を全般的に制御および作動させる要素を総称する意味として使われる。
【００４２】
ＶＣＭ駆動部１３６（ＶＣＭ  Ｄｒｉｖｅｒ）は、コントローラ１６０の制御信号を受けてボイスコイルモータ１３５に印加される電流量を調節する。ＳＰＭ駆動部１２３（ＳＰＭ  Ｄｒｉｖｅｒ）は、コントローラ１６０の制御信号を受けてスピンドルモータ１２０に印加される電流量を調節する。
【００４３】
コントローラ１６０は、データ記録モードでは、ユーザがホスト機器を通じて入力したデータを、ホストインターフェース１７０を通じて受信し、これをリード／ライトチャンネル１８１に出力する。また、コントローラ１６０は、データ判読モードでは、リード／ライトチャンネル１８１によってデジタル信号に変換されたリード信号が入力されて、ホストインターフェース１７０に出力する。また、コントローラ１６０は、ＶＣＭ駆動部１３６およびＳＰＭ駆動部１２３の出力を制御する。
【００４４】
特に、コントローラ１６０は、磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する機能を有する。より具体的には、コントローラ１６０は、磁気ヘッド１３１の浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出し、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号に基づいてディスク１１１の円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する。また、コントローラ１６０は、磁気ヘッドの浮上高の変化量と基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、磁気ヘッド１３１の浮上高をディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出し、記録命令または再生命令が入力された場合、印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する。ＦＯＤ電圧制御と関連したコントローラ１６０のさらに具体的な機能は、本発明の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法についての説明と並行して詳しく説明する。
【００４５】
このようなコントローラ１６０は、マイクロプロセッサ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、マイクロコントローラ（Ｍｉｃｒｏ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）などであり、ソフトウェア（Ｓｏｆｔｗａｒｅ）またはファームウェア（Ｆｉｒｍｗａｒｅ）の形態として具現可能である。
【００４６】
以下、本発明の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を、図６〜図１１を参照して詳しく説明する。
【００４７】
図６は、本発明の一の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を説明するためのフローチャートであり、図７は、図６に示すＳ１５０およびＳ１７０をさらに詳しく説明するためのフローチャートである。図８は、図６に示すＳ１１０で算出された基準ＦＯＤ電圧プロファイルの一例を示す図であり、図９は、図６に示すＳ１３０で磁気ヘッドの浮上高の変化量を説明するための概路図である。図１０は、図６に示すＳ１５０で算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルの一例を示す図であり、図１１は、図６に示すＳ１７０でディスクの変形にもかかわらず磁気ヘッドの浮上高がディスクの円周方向に沿って一定に維持される形状を示す概路図である。
【００４８】
図６および図７を参照すると、本実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、磁気ヘッド１３１の浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１１０）と、算出された基準ＦＯＤ電圧プロファイルをディスク１１１のメインテナンスシリンダー（Ｍａｉｎｔｅｎａｎｃｅ  Ｃｙｌｉｎｄｅｒ）に保存する段階（Ｓ１２０）と、ディスク１１１の回転時に磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号に基づいてディスク１１１の円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）と、算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量をディスク１１１のメインテナンスシリンダーに保存する段階（Ｓ１４０）と、磁気ヘッドの浮上高の変化量と基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、磁気ヘッド１３１の浮上高をディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５０）と、算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルをディスク１１１のメインテナンスシリンダーに保存する段階（Ｓ１６０）と、記録命令または再生命令が入力された場合、印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ１７０）とを含む。なお、これら段階は、例えばコントローラ１６０によって全体として制御される。
【００４９】
まず、基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１１０）は、ハードディスクドライブの製造工程のうち一つであるバーンイン工程（Ｂｕｒｎ−Ｉｎ）でタッチダウン（Ｔｏｕｃｈ  Ｄｏｗｎ）テストを通じて行われる。すなわち、磁気ヘッド１３１に漸進的に増加するＦＯＤ電圧を印加すれば、所定の高さで浮上状態を維持した磁気ヘッド１３１は、次第にディスク１１１方向に下降しながら、ディスク１１１にタッチダウンされる。上記のようなタッチダウンテストを通じて、図８に示されたような磁気ヘッド１３１の浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルが算出される。このとき、磁気ヘッド１３１とディスク１１１とのタッチダウン時に磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を‘タッチダウンＦＯＤ電圧ＦＯＤ＿ＴＤ’といい、タッチダウンＦＯＤ電圧印加時に磁気ヘッド１３１の浮上高は、ゼロ（０）になる。上記のような基準ＦＯＤ電圧プロファイルは、実際のユーザ環境におけるターゲットクリアランス（Ｔａｒｇｅｔ  Ｃｌｅａｒａｎｃｅ）、すなわち、目標浮上高に必要な印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出するのに基準となる。印加ＦＯＤ電圧プロファイルに関する具体的な事項は、後述する。一方、基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１１０）で算出された基準ＦＯＤ電圧プロファイルは、ディスク１１１のメインテナンスシリンダーなどに保存される（Ｓ１２０）。
【００５０】
次いで、磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）は、バーンイン工程でディスク１１１を複数回回転させながら、ディスク１１１の一回転ごとに磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号を測定し、測定された磁気信号に対する統計的データに基づいて磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する。図９に示されたように、円周方向へのディスの変形によって磁気ヘッド１３１の浮上高ＦＨ１またはＦＨ３が高くなった位置では、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号のサイズが小さく測定され、一方、磁気ヘッド１３１の浮上高ＦＨ２またはＦＨ４が低くなった位置では、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号のサイズが大きく測定される。よって、ディスク１１１の円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量は、上述したように測定された磁気信号に基づいて算出されうる。一方、ディスク１１１を複数回回転させながら、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号を複数回測定することは、測定の信頼性を高めるためである。このとき、統計的データは、ディスク１１１上の位置別に測定された磁気信号の平均値などになりうる。なお、例えば、ディスク１１１を一回転させて磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号を一回測定してもよい。
【００５１】
一方、磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）では、例えば、磁気ヘッド１３１に所定のＦＯＤ電圧を印加しながら、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号を測定することが望ましい。上記は、磁気ヘッド１３１に所定のＦＯＤ電圧を印加すれば、磁気ヘッド１３１の浮上高が低くなって、すなわち、磁気ヘッド１３１とディスク１１１との間の間隙が小さくなって、磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号をさらに精密に測定することができるためである。
【００５２】
上記のような磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）は、例えば、ディスク１１１の半径方向に沿って区画された領域別に選定された少なくとも一つのトラックに対して行われることが望ましい。例えば、磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）は、ディスク１１１のＩＤ領域、ＭＤ領域およびＯＤ領域のそれぞれに一つのトラックを選定し、選定されたトラックに対して行われる（図２参照）。選定されたトラックに対する磁気ヘッドの浮上高の変化量が算出されれば、残りのトラックに対する磁気ヘッドの浮上高の変化量は、選定されたトラックに対する磁気ヘッドの浮上高の変化量をサンプルにしてインターポレーション（ｉｎｔｅｒｐｏｌａｔｉｏｎ）方法などによって算出されうる。上記のように、円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量をディスク１１１のトラック別に算出することは、図３に示されたような半径方向へのディスク１１１の変形を反映して、より正確な磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出するためである。一方、磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ１３０）でディスク１１１のトラック別に算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量は、ディスク１１１のメインテナンスシリンダーなどに保存される（Ｓ１４０）。
【００５３】
次いで、印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５０）は、バーンイン工程で行われるものであって、メインテナンスシリンダーに保存された磁気ヘッドの浮上高の変化量と基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、磁気ヘッド１３１の浮上高をディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する。このとき、印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、ディスク１１１のトラック別に算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量に対応するようにディスク１１１のトラック別に算出される。
【００５４】
印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５０）は、基準ＦＯＤ電圧プロファイルから磁気ヘッド１３１の目標浮上高に対応する基準ＦＯＤ電圧を選定する段階（Ｓ１５１）と、磁気ヘッドの浮上高の変化量に対応するＦＯＤ電圧増減分をディスク１１１の円周方向に沿って基準ＦＯＤ電圧に反映して、印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５３）とを含む。基準ＦＯＤ電圧を選定する段階（Ｓ１５１）では、基準ＦＯＤ電圧は、例えば、ディスク１１１の変形が全くないと仮定したときの磁気ヘッド１３１の目標浮上高、すなわち、ユーザ環境におけるターゲットクリアランスに必要なＦＯＤ電圧を意味する。印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５３）では、例えば、ＦＯＤ電圧増減分は、磁気ヘッド１３１の浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルにＳ１３０段階で算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量を適用して得られる。
【００５５】
印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、ディスク１１１の変形、特に、円周方向へのディスク１１１の変形を反映したＦＯＤ電圧プロファイルであって、磁気ヘッド１３１の浮上高をディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持させるためにユーザ環境における実際の磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧の大きさを決定する。このような印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、図１０に示すように、そのＦＯＤ電圧の大きさがディスク１１１の円周方向によって変化（振動）する形状を有する。一方、印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ１５０）においてディスク１１１のトラック別に算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、ディスク１１１のメインテナンスシリンダーなどに保存される（Ｓ１６０）。
【００５６】
次いで、ＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ１７０）は、ユーザ環境で記録命令または再生命令が入力された場合、Ｓ１５０段階でディスク１１１のトラック別に算出されて、Ｓ１６０段階でメインテナンスシリンダーに保存された印加ＦＯＤ電圧プロファイルによって磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する。
【００５７】
ＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ１７０）では、記録命令または再生命令が入力された場合、磁気ヘッド１３１は、メインテナンスシリンダーに移動し（Ｓ１７１）、ディスク１１１のトラック別に算出されて、メインテナンスシリンダーに保存された印加ＦＯＤ電圧プロファイルのうちから記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに対応する印加ＦＯＤ電圧プロファイルが選択される（Ｓ１７３）。磁気ヘッド１３１は、ターゲットトラックに移動し（Ｓ１７５）、磁気ヘッド１３１には、選択された印加ＦＯＤ電圧プロファイルによってＦＯＤ電圧が印加される。上記のように、印加ＦＯＤ電圧プロファイルによって磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御すれば、スピンドルモータ１２０に締結された後、ディスク１１１に変形（特に、円周方向への変形）があっても、図１１に示されたように、磁気ヘッド１３１の浮上高は、ディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持される（ＦＨ１＝ＦＨ２＝ＦＨ３＝ＦＨ４）。
【００５８】
上述したように、本発明の一の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、ディスク１１１の変形に対応することができる印加ＦＯＤ電圧プロファイルをバーンイン工程であらかじめ算出し、これに基づいてユーザ環境で磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御することによって、ディスク１１１に変形、特に、円周方向への変形があっても、ディスク１１１の円周方向に沿って磁気ヘッド１３１の浮上高を一定に維持させることができる。
【００５９】
上記により、本発明の一の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ制御方法は、磁気ヘッド１３１の浮上高がディスク１１１の変形に影響を受けて劣悪な環境条件で発生する局部的な磁気ヘッド１３１とディスク１１１との衝突を防止して環境信頼性に対するマージン（ｍａｒｇｉｎ）を高め、かつディスク１１１のトラック方向に均一な記録および再生を実現することができる。
【００６０】
図１２は、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を説明するためのフローチャートであり、図１３は、図１２に示すＳ２５０およびＳ２７０をさらに詳しく説明するためのフローチャートである。以下では、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法を、図１２および図１３を参照して、上述した実施形態と異なる点を中心に説明する。
【００６１】
図１２および図１３を参照すると、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、磁気ヘッド１３１の浮上高とＦＯＤ電圧との相関関係を表わす基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２１０）と、算出された基準ＦＯＤ電圧プロファイルをディスク１１１のメインテナンスシリンダーに保存する段階（Ｓ２２０）と、ディスク１１１の回転時に磁気ヘッド１３１から出力される磁気信号に基づいてディスク１１１の円周方向への磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ２３０）と、算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量をディスク１１１に保存する段階（Ｓ２４０）と、磁気ヘッドの浮上高の変化量と基準ＦＯＤ電圧プロファイルとに基づいて、磁気ヘッド１３１の浮上高をディスク１１１の円周方向に沿って一定に維持させるための印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２５０）と、算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルをディスク１１１の各トラックの少なくとも一つのサーボトラックに保存する段階（Ｓ２６０）と、記録命令または再生命令が入力された場合、印加ＦＯＤ電圧プロファイルに基づいて磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ２７０）とを含む。
【００６２】
ここで、印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２５０）は、基準ＦＯＤ電圧プロファイルから磁気ヘッド１３１の目標浮上高に対応する基準ＦＯＤ電圧を選定する段階（Ｓ２５１）と、磁気ヘッドの浮上高の変化量に対応するＦＯＤ電圧増減分をディスク１１１の円周方向に沿って基準ＦＯＤ電圧に反映して、印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２５３）とを含む。
【００６３】
本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法では、基準ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２１０）、基準ＦＯＤ電圧プロファイルを保存する段階（Ｓ２２０）、磁気ヘッドの浮上高の変化量を算出する段階（Ｓ２３０）および印加ＦＯＤ電圧プロファイルを算出する段階（Ｓ２５０）は、上述した本発明の一の実施形態と実質的に同一の構成を有するので、これについての具体的な説明は、省略する。
【００６４】
本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、Ｓ２５０段階で算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルを保存する位置において、上述した本発明の一の実施形態と異なる。具体的には、上述した本発明の一の実施形態では、算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルがディスク１１１のメインテナンスシリンダーに保存されるのに対して、本発明の他の実施形態では、算出された印加ＦＯＤ電圧プロファイルがディスク１１１の各トラックの少なくとも一つのサーボセクター（サーボトラック）に保存される（Ｓ２６０）。ここで、サーボセクターは、トラック上でデータセクターと交互的に位置されるものであって、トラック探索およびトラック追従のためのサーボ信号区間を含んでいる。
【００６５】
また、磁気ヘッドの浮上高の変化量をディスク１１１に保存する段階（Ｓ２４０）では、算出された磁気ヘッドの浮上高の変化量は、上述した本発明の一の実施形態と同様に、ディスク１１１のメインテナンスシリンダーに保存されるか、上述した本発明の一の実施形態と異なって、ディスク１１１の各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存されうる。
【００６６】
図１３を参照すると、ＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ２７０）は、ユーザ環境で記録命令または再生命令が入力された場合、Ｓ２５０段階でディスク１１１のトラック別に算出されて、Ｓ２６０段階でディスク１１１の各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存された印加ＦＯＤ電圧プロファイルによって磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する。
【００６７】
ＦＯＤ電圧を制御する段階（Ｓ２７０）において、記録命令または再生命令が入力されれた場合、磁気ヘッド１３１は、記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに移動し（Ｓ２７１）、ターゲットトラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存された印加ＦＯＤ電圧プロファイルによってＦＯＤ電圧が印加される。
【００６８】
上述したように、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、ディスク１１１の変形に対応することができる印加ＦＯＤ電圧プロファイルをバーンイン工程であらかじめ算出して、ディスク１１１の各トラックの少なくとも一つのサーボセクターに保存することによって、ユーザ環境において磁気ヘッド１３１に印加されるＦＯＤ電圧を制御する場合に、磁気ヘッド１３１をディスク１１１のメインテナンスシリンダーに移動させて記録動作または再生動作が行われるターゲットトラックに対応する印加ＦＯＤ電圧プロファイルを選択する過程を省略することができる。したがって、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、記録および再生命令に対するハードディスクドライブの処理速度を向上させることができる。また、本発明の他の実施形態に係るハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法は、上述した本発明の一の実施形態の利点をそのまま含む。
【００６９】
なお、本発明の実施形態において、基準ＦＯＤ電圧プロファイル、磁気ヘッドの浮上高の変化量および印加ＦＯＤ電圧プロファイルは、例えば、ディスクに保存されず、ハードディスクドライブに内蔵されたメモリ（図示せず）に保存されうる。
【００７０】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば、特許請求の範囲に記載された範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【００７１】
本発明は、ハードディスクドライブのＦＯＤ電圧制御方法関連の技術分野に適用可能である。
【符号の説明】
【００７２】
１１１    ディスク
１１５    ディスククランプ
１２０    スピンドルモータ
１３１    磁気ヘッド
１４０    印刷回路基板組立体
１５０    ベース
１６０    コントローラ
【図１】
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【図２】
2010218680.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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