(57)【要約】【課題】電気的な検査と光学的な検査が可能で、かつ、コンパクトな液晶表示装置を提供すること。【解決手段】本発明に係る液晶表示装置１は、複数の画素に対応して、画素電極と、前記画素電極に接続されたスイッチング素子が形成された第１の基板２と、液晶層を介して前記第１の基板の少なくとも一部を覆う第２の基板３と、第１の上流側スイッチ端子と、複数の第１の検査端子を含む第１の端子群５と、第２の上流側スイッチ端子と、下流側スイッチ端子と、第２の検査端子を含む第２の端子群６と、上流側スイッチ回路８６と、上流側スイッチ回路８６の下流側に接続される下流側スイッチ回路８７と、を有し、第１の上流側スイッチ端子及び第２の上流側スイッチ端子は上流側スイッチ回路８６に接続され、下流側スイッチ端子は下流側スイッチ回路８７に接続される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素に対応して、画素電極と、前記画素電極に接続されたスイッチング素子が形成された第１の基板と、
液晶層を介して前記第１の基板の少なくとも一部を覆う第２の基板と、
第１の上流側スイッチ端子と、複数の第１の検査端子を含む第１の端子群と、
第２の上流側スイッチ端子と、下流側スイッチ端子と、第２の検査端子を含む第２の端子群と、
前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第１の検査端子及び前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える上流側スイッチ回路と、
前記上流側スイッチ回路の下流側に接続され、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える下流側スイッチ回路と、
を有し、
前記第１の上流側スイッチ端子及び第２の上流側スイッチ端子は前記上流側スイッチ回路に接続され、
前記下流側スイッチ端子は前記下流側スイッチ回路に接続される液晶表示装置。
【請求項２】
前記第２の端子群に含まれる端子は、前記第１の端子群に含まれる端子より大きい請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記第２の端子群に含まれる端子の数は、前記第１の端子群に含まれる端子の数より少ない請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースからの信号を選択信号に基づいて、少なくとも前記画素の色に応じて選択する選択回路と、
前記第２の端子群に含まれ、前記選択回路に選択信号を入力する選択端子と、
を有する請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項５】
さらに、前記第１の基板上に実装されたドライバＩＣを有し、
前記第２の端子群の少なくとも一部は、前記ドライバＩＣに覆われている請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記第１の基板は、前記第２の基板に覆われ、画像表示領域を含む被覆領域と、前記第２の基板に覆われていない開口領域を有し、
前記第１の端子群は、少なくとも一部が前記画像表示領域を除く前記被覆領域内に配置される
請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記第１の端子群に替えて、前記第１の端子群に接続されていた信号線を有する請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項８】
前記第１の端子群、前記第２の端子群、前記上流側スイッチ回路及び前記下流側スイッチ回路の少なくともいずれかに替えて、当該前記第１の端子群、前記第２の端子群、前記上流側スイッチ回路及び前記下流側スイッチ回路の少なくともいずれかに接続されていた信号線を有する請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項９】
複数の画素電極と、前記画素電極の各々に接続された複数のスイッチング素子が形成された第１の基板と、
液晶層を介して前記第１の基板の少なくとも一部を覆う第２の基板と、
第１のスイッチ端子と、複数の第１の検査端子を含む第１の端子群と、
第２のスイッチ端子と、第２の検査端子を含む第２の端子群と、
前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第１の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える第１のスイッチ回路と、
前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える第２のスイッチ回路と、
を有し、
前記第１のスイッチ端子は前記第１のスイッチ回路に接続され、
前記第２のスイッチ端子は前記第２のスイッチ回路に接続される液晶表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置は、２枚のガラス等の透明基板で液晶層を挟み、かかる基板の一方に格子状に形成された電極（画素電極と呼ばれる）に電圧を加え、同じ基板若しくは他の基板に形成された電極（共通電極と呼ばれる）との間に電気力線を生じさせることにより、液晶の配向方向を変化させ、光線の透過率を制御している。一般にアクティブマトリックス型と呼ばれる液晶表示装置では、画素電極ごとに設けられたＴＦＴ（Ｔｈｉｎ  Ｆｉｌｍ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）などのスイッチング素子により画素電極への導通を許可したり遮断したりすることで、画素電極と共通電極により形成される容量に電圧を書き込み、一定期間液晶の配向方向を保持する。なお、ＴＦＴが形成されている基板は一般にＴＦＴアレイ基板、他方の基板はカラーフィルタ基板と呼ばれることが多い。
【０００３】
かかる液晶表示装置では、ＴＦＴアレイ基板上の回路の断線や短絡、あるいは画素毎の画素電極と共通電極が形成する容量やスイッチング素子の特性のばらつきによりその表示性能が変化する。そのため、電気的な検査を行うことにより、液晶表示装置の表示性能をある程度検査することができる。しかしながら、カラーフィルタの色抜けや液晶の注入不良など、電気的な検査が難しい欠陥も発生し得るため、最終的な検査は目視あるいはカメラを用いた自動認識による画像検査等の光学的な検査を行うことが望ましい。
【０００４】
特許文献１には、ＴＦＴアレイ基板上に、電気的な検査又は光学的な検査のため、スイッチング素子から延びる配線毎に接続された検査用端子を表示領域の周辺部に設けた液晶表示装置が記載されている。
【０００５】
特許文献２には、ＴＦＴアレイ基板上に、光学的な検査を行うため、スイッチング素子から延びる複数の配線をＴＦＴを介しまとめて接続した検査用端子をＴＦＴアレイ基板の露出部分に設けた液晶表示装置が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−１７３１６４号公報
【特許文献２】特開２００５−２４１９８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
近年、液晶表示装置の高精細化が進んでおり、ＴＦＴアレイ基板上の配線数は増加し、その密度も高くなっている。このような液晶表示装置に対し、電気的な検査をするべく上記特許文献１のように配線毎に検査用端子を設けると、検査用端子の数が多くなるとともに個々の端子は非常に小さなものとなる。このような端子を用いて検査をしようとすると、数が多くかつ高精度に制作された検査用のプローブを正確に検査用端子に接触させなければならず、検査自体が難しくなる。
【０００８】
係る検査を簡便にするには、上記特許文献２のように一の検査用端子に複数の配線を接続し、検査用端子の数を減らせばよいが、各配線自体がもつ容量が数十〜数百ｐＦ程度であるのに対し検査すべき各画素が持つ容量は数百ｆＦと小さいため、あまり多数の配線をまとめると信号のＳ／Ｎ比が低下し、検査自体が困難になってしまう。
【０００９】
一方、光学的な検査をする場合には、ＴＦＴアレイ基板とカラーフィルタ基板が液晶層を挟むように貼り合わされた状態で行わなければならない。その場合、液晶表示装置の外形とＴＦＴアレイ基板上のパターンとの間には多少の機械的誤差が生じるため、光学的検査に用いる検査用端子は、当該検査を作業者が行うにせよ、自動機で行うにせよ、ある程度大きなものとしなければ検査用プローブを正確に接触させることができない。
【００１０】
すなわち、電気的な検査と光学的な検査の双方を行う場合、検査用端子を電気的な検査が可能な程度の数用意し、なおかつ、光学的な検査が可能な程度の大きさとすると、検査用端子がＴＦＴアレイ基板上に占める面積が大きくなってしまい、製品を小型化することができないばかりか、一枚のマザーガラスから得られる製品数が減少するため、生産性の低下を招きかねない。
【００１１】
本発明はかかる観点に鑑みてなされたものであって、その目的は、電気的な検査と光学的な検査が可能で、かつ、コンパクトな液晶表示装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本出願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
【００１３】
（１）複数の画素に対応して、画素電極と、前記画素電極に接続されたスイッチング素子が形成された第１の基板と、液晶層を介して前記第１の基板の少なくとも一部を覆う第２の基板と、第１の上流側スイッチ端子と、複数の第１の検査端子を含む第１の端子群と、第２の上流側スイッチ端子と、下流側スイッチ端子と、第２の検査端子を含む第２の端子群と、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第１の検査端子及び前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える上流側スイッチ回路と、前記上流側スイッチ回路の下流側に接続され、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える下流側スイッチ回路と、を有し、前記第１の上流側スイッチ端子及び第２の上流側スイッチ端子は前記上流側スイッチ回路に接続され、前記下流側スイッチ端子は前記下流側スイッチ回路に接続される液晶表示装置。
【００１４】
（２）（１）において、前記第２の端子群に含まれる端子は、前記第１の端子群に含まれる端子より大きい液晶表示装置。
【００１５】
（３）（１）において、前記第２の端子群に含まれる端子の数は、前記第１の端子群に含まれる端子の数より少ない液晶表示装置。
【００１６】
（４）（１）において、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースからの信号を選択信号に基づいて、少なくとも前記画素の色に応じて選択する選択回路と、前記第２の端子群に含まれ、前記選択回路に選択信号を入力する選択端子と、を有する液晶表示装置。
【００１７】
（５）（１）において、さらに、前記第１の基板上に実装されたドライバＩＣを有し、前記第２の端子群の少なくとも一部は、前記ドライバＩＣに覆われている液晶表示装置。
【００１８】
（６）（１）において、前記第１の基板は、前記第２の基板に覆われ、画像表示領域を含む被覆領域と、前記第２の基板に覆われていない開口領域を有し、前記第１の端子群は、少なくとも一部が前記画像表示領域を除く前記被覆領域内に配置される液晶表示装置。
【００１９】
（７）（１）において、前記第１の端子群に替えて、前記第１の端子群に接続されていた信号線を有する液晶表示装置。
【００２０】
（８）（１）において、前記第１の端子群、前記第２の端子群、前記上流側スイッチ回路及び前記下流側スイッチ回路の少なくともいずれかに替えて、当該前記第１の端子群、前記第２の端子群、前記上流側スイッチ回路及び前記下流側スイッチ回路の少なくともいずれかに接続されていた信号線を有する液晶表示装置。
【００２１】
（９）複数の画素電極と、前記画素電極の各々に接続された複数のスイッチング素子が形成された第１の基板と、液晶層を介して前記第１の基板の少なくとも一部を覆う第２の基板と、第１のスイッチ端子と、複数の第１の検査端子を含む第１の端子群と、第２のスイッチ端子と、第２の検査端子を含む第２の端子群と、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第１の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える第１のスイッチ回路と、前記複数のスイッチング素子のドレイン又はソースから前記第２の検査端子への信号の通過及び遮断を切り替える第２のスイッチ回路と、を有し、前記第１のスイッチ端子は前記第１のスイッチ回路に接続され、前記第２のスイッチ端子は前記第２のスイッチ回路に接続される液晶表示装置。
【発明の効果】
【００２２】
以上の本出願において開示される発明によれば、電気的な検査と光学的な検査が可能で、かつ、コンパクトな液晶表示装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】第１の実施形態に係る液晶表示装置を模式的に示した平面図である。
【図２】第１の実施形態に係る液晶表示装置の画素部分の拡大図である。
【図３】図２中Ａ−Ａ線で示した断面図である。
【図４】第１の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。
【図５】第２の実施形態に係る液晶表示装置を模式的に示した平面図である。
【図６】第３の実施形態に係る、第１の基板の回路が形成された切断前のマザーガラスの一部を模式的に示す平面図である。
【図７】第３の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。
【図８】第４の実施形態に係る、第１の基板の回路が形成された切断前のマザーガラスの一部を模式的に示す平面図である。
【図９】第５の実施形態に係る、第１の基板の回路が形成された切断前のマザーガラスの一部を模式的に示す平面図である。
【図１０】第５の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。
【図１１】第６の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。
【図１２】第７の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下本発明の第１の実施形態を図面を参照しつつ説明する。
【００２５】
図１は、本発明の第１の実施形態に係る液晶表示装置１を模式的に示した平面図である。
【００２６】
液晶表示装置１は、ＴＦＴアレイ基板である第１の基板２とカラーフィルタ基板である第２の基板３で液晶層を挟み込んだ構造をしている。なお、カラーフィルタ層をＴＦＴアレイ基板側に作成する、いわゆるカラーフィルタオンアレイ形式であれば第２の基板３にカラーフィルタ層を形成する必要はない。図示するように、第１の基板２は第２の基板３より大きく、第２の基板３に覆われた被覆領域２１と第２の基板３に覆われていない開口領域２２を有している。被覆領域２１は、外部から入力される信号に応じて映像を表示する画像表示領域３１と、その周辺の額縁領域３２を有している。
【００２７】
開口領域２２には、液晶表示装置１に外部から入力された映像信号を画素を駆動する駆動信号へと変換するドライバＩＣ４が実装されている。さらに、ドライバＩＣ４の下部には、電気的な検査に用いる第１の端子群５と、光学的な検査に用いる第２の端子群６が形成されている。外部接続端子群７は、フレキシブルプリント基板などを介して外部機器と液晶表示装置１を電気的に接続するための端子群である。
【００２８】
画像表示領域３１内の第１の基板２上には、ＴＦＴであるスイッチング素子を含む画素が格子状に多数配置されており、各画素はドライバＩＣ４と電気的に接続される。ゲート信号線８１は、各画素のスイッチング素子のゲートに接続される配線である。ドレイン信号線８２は、各画素のスイッチング素子のドレインに接続されており、各画素の容量に映像信号を書き込むための配線である。なお、回路構成によってはスイッチング素子のドレインに替えてソースに配線するようにしてもよく、その場合は、ドレイン信号線８２でなく、ソース信号線となる。コモン信号線８３は、各画素の共通電極に接続され、共通電極に与える電位を書き込む。本実施形態では、共通電極の電位が行ごとに反転する、いわゆるライン反転駆動方式を採用しているため、コモン信号線８３は２系統用意されている。しかしながら、全共通電極の電位を共通にしてもよく、その場合はコモン信号線８３は１系統あれば足りる。また、共通電極に与える電位をより複雑に変化させてもよく、そのためにコモン信号線８３は３系統以上用意しても差し支えない。
【００２９】
ゲート信号線８１、ドレイン信号線８２及びコモン信号線８３は、ドライバＩＣ４に接続される。その際、ドレイン信号線８２は選択信号線８４により駆動される選択回路８５を介してドライバＩＣ４に接続され、また、選択信号線８４自身もドライバＩＣ４に接続されている。
【００３０】
さらに、開口領域２２には、ドレイン信号線８２、選択信号線８４及びコモン信号線８３に接続される第１の端子群５が配置されている。第１の端子群５は、ドレイン信号線８２とは上流側スイッチ回路８６を介して接続されている。また、開口領域２２には、第１の端子群５と接続される第２の端子群６が配置されている。第２の端子群６は、ドレイン信号線８２に関し、さらに下流側スイッチ回路８７を介して第１の端子群５と接続されている。選択回路８５、上流側スイッチ回路８６、第１の端子群５、下流側スイッチ回路８７及び第２の端子群６の具体的な回路構成については後ほど詳細に説明する。また、上記説明した配線、回路や端子等は、フォトリソグラフィーの方法により第１の基板２上に形成されている。
【００３１】
なお、図１に示したのは、液晶表示装置１の回路配置や配線の状態を説明するために部分的に省略するなどして簡便に示した図であり、実際の液晶表示装置１の配線そのものを示しているわけではない。実際の液晶表示装置１では、画素の数は非常に多く、そのためゲート信号線８１、ドレイン信号線８２の数は図示したよりはるかに多い。一例として、ＶＧＡとよばれる解像度の液晶表示装置では、画素は横に６４０ピクセル×３色の１９２０列、縦に４８０行配置され、その総数は９０万以上にもなる。当然、ゲート信号線８１は４８０本、ドレイン信号線８２は１９２０本が必要となり、非常に微細かつ高密度に配置されるため、図示したように回路構成を視認することは難しい。もちろん、液晶表示装置１の解像度は必要に応じて任意のものとしてよい。また、外部接続端子群７はドライバＩＣ４と接続されているが、その配線は図を見やすくするため図示を省略した。
【００３２】
液晶表示装置１は、必要に応じて、さらにバックライトや枠等が追加されると共に外部機器に電気的に接続され、製品として利用される。
【００３３】
図２は、本実施形態に係る液晶表示装置１の画素部分の拡大図であり、図３は、図２中Ａ−Ａ線で示した断面図である。
【００３４】
図２に示すように第１の基板２にはゲート信号線８１とドレイン信号線８２が形成されており、これらに囲まれた領域が画素となる。ゲート信号線８１とドレイン信号線８２の交差部近傍にＴＦＴであるスイッチング素子９１が形成される。スイッチング素子９１のソース（又はドレイン）には、櫛歯状の画素電極９２が接続される。画素電極９２の下部には、点線で示したコモン信号線８３が配置されており、共通電極として機能している。なお、共通電極を画素毎に独立した電極として形成し、コモン信号線８３と別途接続するようにしても差し支えない。
【００３５】
図３には、第１の基板２上に形成されたスイッチング素子９１、画素電極９２、コモン信号線８３及び配向膜９３が示されており、それぞれの間には、適宜の絶縁膜が形成される。また、第１の基板２と液晶層を隔てて第２の基板３が配置されており、第２の基板３上には、ブラックマトリクス９４、カラーフィルタ層９５、平坦化膜９６及び配向膜９３が形成されている。なお、平坦化膜９６は必要なければ省略してもよい。
【００３６】
図２、図３に示すとおり、本実施形態に係る液晶表示装置１は、画素電極９２及び共通電極、すなわちコモン信号線８３の両方を第１の基板２に形成する、いわゆるＩＰＳ（Ｉｎ  Ｐｌａｎｅ  Ｓｗｉｔｃｈｉｎｇ）と呼ばれる駆動方式を採用している。かかる方式では、後述するように、第１の基板２に第２の基板３を貼り合わせる前に各画素の容量を電気的に検査できる利点があるが、液晶表示装置１の駆動方式はＩＰＳに限定されず、共通電極を第２の基板側に形成する他の方式、例えば、ＶＡ（Ｖｅｒｔｉｃａｌ  Ａｌｉｎｇｍｅｎｔ）やＴＮ（Ｔｗｉｓｔｅｄ  Ｎｅｍａｔｉｃ）等の駆動方式を用いてもよい。
【００３７】
図４は、本実施形態に係る液晶表示装置１の回路図である。同図には、ドレイン信号線８２、コモン信号線８３、選択信号線８４と選択回路８５、ドライバＩＣ接続端子群４１、上流側スイッチ回路８６、第１の端子群５、下流側スイッチ回路８７及び第２の端子群６の接続状態が示されている。
【００３８】
ドレイン信号線８２にＲ、Ｇ、Ｂとして示しているのは、それぞれ、赤色の画素、緑色の画素及び青色の画素のスイッチング素子に接続されることを示している。また、コモン信号線８３にＣＯＭ−ＡおよびＣＯＭ−Ｂとして示したのは、２系統あるコモン信号線８３のそれぞれを意味している。
【００３９】
選択信号線８４は選択回路８５に接続される。図示したように、選択回路８５はドレイン信号線８２のＲ、Ｇ、Ｂを１組としてＴＦＴ等のスイッチング素子を介してまとめる回路である。選択信号線８４はＲに対応して設けられるスイッチング素子のゲートに接続されるＳＥＬ−Ｒ、Ｇに対応して設けられるスイッチング素子のゲートに接続されるＳＥＬ−Ｇ及びＢに対応して設けられるスイッチング素子のゲートに接続されるＳＥＬ−Ｂの３系統を有している。ドレイン信号線８２は、Ｒ、Ｇ、Ｂを１組として、Ｓ１〜Ｓｎのｎ系統へとまとめられる。ｎは液晶表示装置の横方向のピクセル数に等しく、ＶＧＡの解像度を持つ場合には、６４０となる。選択回路８５では、任意の１系統の選択信号線８４にオン信号を入力し、他の系統の選択信号線８４にオフ信号を入力することにより、特定の色の画素に接続されるドレイン信号線８２のみを選択してＳ１〜Ｓｎと接続することができる。たとえば、ＳＥＬ−Ｒにオン信号を入力し、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂにオフ信号を入力すれば、Ｓ１〜Ｓｎに入力された信号は赤色画素に接続されるドレイン信号線８２のみに伝達される。言い換えれば、特定の色に対応する選択信号線８４に選択信号を入力することにより、特定の色の画素に対応するドレイン信号線８２を選択することができる。このような選択回路８５を設けることにより、ドライバＩＣ４とドレイン信号線８２との接続部の数を減らすことができる。すなわち、本実施形態のように３系統の選択信号線８４を用い、３本のドレイン信号線８２をまとめるようにすれば、ドライバＩＣとドレイン信号線８２との接続部の数は、ドレイン信号線８２の総数のおよそ１／３になる。もちろん、選択信号線８４の系統の数は３に限られず任意であって、必要に応じ適宜の数を設定してよい。しかしながら、後述するように、少なくとも各画素の色に対応して選択信号線８４を設けることが好ましく、フルカラー表示可能な液晶表示装置では、通常、赤、緑及び青の３色に対応する３系統以上とすることが望ましい。
【００４０】
ドライバＩＣ接続端子群４１は、ドライバＩＣ４と第１の基板２を接続するための端子群である。図中矩形で示した部分が各端子であり、理解を容易にするため、各端子を示す矩形内部には、各端子が接続される配線の系統を示す符号が記入されている。選択端子４２は、選択信号線８４の各系統に対応するようＳＥＬ−Ｒ、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂの３つが設けられ、ドライバＩＣ４から選択信号線８４への信号が入力される。また、映像信号端子４３は、選択回路８５によってまとめられたドレイン信号線８２に応じてＳ１〜Ｓｎのｎ個が設けられる。なお、図中では全ての映像信号端子４３に対し参照符号を付すと見づらくなるため、代表としてＳ１にのみ参照符号を付している。コモン端子４４はコモン信号線８３の２つの系統に応じて、ＣＯＭ−ＡとＣＯＭ−Ｂの２つが設けられる。
【００４１】
なお、ここではドライバＩＣ接続端子群４１に含まれる端子として、選択端子４２、映像信号端子４３及びコモン端子４４の３種のみを示したが、これ以外の端子もドライバＩＣ接続端子群４１に含まれている。そのような端子には、例えば、ゲート信号線８１に接続される端子や、外部接続端子群７に含まれる端子と接続される端子がある。また、ドライバＩＣ接続端子群４１は図１中ではドライバＩＣ４に覆われて見えないため図示されていない。
【００４２】
再び図４に戻り、映像信号端子４３及びコモン端子４４は、さらに上流側スイッチ回路８６に接続される。上流側スイッチ回路８６は、一例として図示した通りのものであり、その機能は信号ＳＷ−Ｕに応じて映像信号であるＳ１〜Ｓｎ並びにコモン信号であるＣＯＭ−Ａ及びＣＯＭ−Ｂの下流側への通過及び遮断を切り替えることである。より具体的には、Ｓ１〜Ｓｎ並びにＣＯＭ−Ａ及びＣＯＭ−Ｂの個々の下流側にＴＦＴ等のスイッチング素子が設けられ、かかるスイッチング素子のゲートにＳＷ−Ｕが入力されるようになっている。当該スイッチング素子の下流において、Ｓ１〜Ｓｎは適宜の数、本実施例では６の第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６にまとめられ、ＣＯＭ−ＡおよびＣＯＭ−Ｂは単一のコモン信号ＣＯＭにまとめられる。
【００４３】
なお、本実施形態の説明では、上流とは、電気的により画素に近い側を指し、下流とは、電気的により画素から遠い側を指すものとして用いている。
【００４４】
さらにドライバＩＣ接続端子群４１及び上流側スイッチ回路８６の下流には、第１の端子群５が設けられている。第１の端子群５は、第１の選択端子５１、第１の上流側スイッチ端子５２、第１の検査端子５３、第１の下流側スイッチ端子５４、第１の第２の検査端子５５及び第１のコモン端子５６が含まれている。第１の選択端子５１は、選択端子４２に接続されており、選択端子４２同様ＳＥＬ−Ｒ、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂの３つが設けられる。第１の上流側スイッチ端子５２は、ＳＷ−Ｕに対応しており、上流側スイッチ回路８６のスイッチング素子のゲートに接続される。第１の検査端子５３は、第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６に応じて設けられる。なお、図中では全ての第１の検査端子に対し参照符号を付すと見づらくなるため、代表としてＴ６にのみ参照符号を付している。もちろん、検査信号の数は６に限定されず、必要に応じて任意の数とすることができるため、第１の検査端子５３はかかる検査信号の数に応じた数だけ設けられることになる。第１の下流側スイッチ端子５４及び第１の第２の検査端子５５は、第２の端子群６に含まれる第２の下流側スイッチ端子６３及び第２の第２の検査端子６４と電気的に接続されており、その働きは同等であるので、説明は後述する。第１のコモン端子５６は、単一のコモン信号ＣＯＭに接続される。
【００４５】
第１の端子群５の第１の検査端子５３は、さらに下流において下流側スイッチ回路８７に接続される。すなわち、下流側スイッチ回路８７は、上流側スイッチ回路８６の下流に接続されることになる。下流側スイッチ回路８７は、一例として図示した通りのものであり、その機能は上流側スイッチ回路８６とその働きは類似している。すなわち、信号ＳＷ−Ｄに応じて第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６の下流側への通過及び遮断を切り替えることである。より具体的には、第１の検査端子５３の下流側にそれぞれＴＦＴ等のスイッチング素子が設けられ、かかるスイッチング素子のゲートにＳＷ−Ｄが入力されるようになっている。当該スイッチング素子の下流において、第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６は第２の検査信号ＴＥＳＴにまとめられる。
【００４６】
そして、第１の端子群５及び下流側スイッチ回路８７の下流には、第２の端子群６が設けられている。第２の端子群６には、第２の選択端子６１、第２の上流側スイッチ端子６２、第２の下流側スイッチ端子６３、第２の第２の検査端子６４及び第２のコモン端子６５が含まれる。第２の選択端子６１は選択信号線８４の系統に応じ、選択信号であるＳＥＬ−Ｒ、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂに対応してそれぞれ設けられる。第２の上流側スイッチ端子６２は第１の上流側スイッチ端子５２同様ＳＷ−Ｕに接続され、第２の下流側スイッチ端子６３は下流側スイッチ回路８７を制御する信号であるＳＷ−Ｄに接続される。また、第２の第２の検査端子６４はＴＥＳＴに、第２のコモン端子６５は単一のコモン信号ＣＯＭにそれぞれ接続される。
【００４７】
図４において、第１の端子群５及び第２の端子群６中に矩形で示された各端子の大きさは、実際の端子の大きさを模式的に反映したものとなっている。すなわち、第２の端子群６に含まれる端子は、第１の端子群５に含まれる端子より大きい。具体的には、たとえば第１の端子群５に含まれる端子は、一辺が数十から百μｍ程度の矩形であるのに対し、第２の端子群６に含まれる端子は、一辺が五百から千μｍ程度の矩形とすることができる。もちろん、ここで挙げた具体的な寸法は一例であり、これに限定されるものではない。また、端子の形状も矩形に限定されず、円形やその他任意の形状としてよい。また、第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６が第２の検査信号ＴＥＳＴにまとめられていることからわかるように、第２の端子群６に含まれる端子の数は、第１の端子群５に含まれる端子の数より少ない。
【００４８】
続いて、液晶表示装置１の製造工程における、電気的な検査及び光学的な検査について説明する。
【００４９】
液晶表示装置１の第１の基板２の製造方法では、フォトリソグラフィーやＣＶＤ（Ｃｈｅｍｉｃａｌ  Ｖａｐｏｒ  Ｄｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）やスパッタリング等の公知の半導体素子製造プロセスにより、マザーガラスと呼ばれる大判のガラス基板上に複数の第１の基板２の回路を一時に形成する、いわゆる多面取りと呼ばれる方法が一般的である。その後、マザーガラスは適宜切断され、複数の第１の基板２が得られる。また、１枚のマザーガラスから１枚の第１の基板２のみを得るいわゆる単面取りの方法であっても、回路を形成後、周辺の不要な部分はやはり切断され、残存した部分が第１の基板２となる。いずれにせよ、マザーガラス上に回路を形成した後、マザーガラスを切断する工程があることになる。
【００５０】
切断後得られた第１の基板２に対しては、別途作成された第２の基板３を液晶層を挟むように貼り合わせ、さらにドライバＩＣ４を実装することにより液晶表示装置１が得られる。
【００５１】
ところで、液晶表示装置１の検査のため、第１の基板２上に形成された端子にコンタクトプローブを接触させる際の位置合わせの精度について考慮すると、マザーガラスを切断する前の段階では、マザーガラス上に半導体素子製造プロセスを用いて回路と同時に形成された位置合わせ用のアライメントマークが利用できるため、高精度な位置合わせが可能である。すなわち、マザーガラスの切断前であれば、検査用の端子は小さなものとすることができ、高密度に配置することができる。一方、マザーガラスを切断し、第２の基板３を貼り合わせた後では、切断位置の機械精度はそれほど高くなく誤差が大きいこと、切断によりアライメントマークが失われたり、第２の基板３に覆われてしまうためにアライメントマークが利用できなくなったりするため、コンタクトプローブを端子に接触させる際の位置合わせの精度は低い。そのため、第２の基板３を貼り合わせた後では、検査用の端子は大きなものとしなければならず、その配置の密度もそれほど高くはできない。
【００５２】
そして、液晶表示装置１の検査には前述のとおり電気的な検査と、光学的な検査がある。そのうち、電気的な検査には、各画素の容量測定、各画素のスイッチング素子のリーク電流測定、各配線の断線あるいは短絡検査等が含まれるが、これらは、第１の基板２に第２の基板３を貼り合わせなくとも可能である。なお、本実施形態において、各画素の容量測定がマザーガラスの切断前に可能なのは、本実施形態に係る液晶表示装置１がＩＰＳ方式を採用しているため、第１の基板２上に画素電極９２及び共通電極（コモン信号線８３）の両方が作成され、第１の基板２だけで各画素の容量が形成されるためである。液晶表示装置１がＶＡやＴＮ等他の方式である場合には、共通電極は第２の基板３に作成されるため、各画素の容量測定は第２の基板３の貼り合わせ後でなければできないが、その他の検査は可能である。
【００５３】
そして、光学的な検査は、第１の基板２に液晶層を挟むように第２の基板３を貼り合わせたのち、ドライバＩＣ４実装前の液晶表示装置１を光学検査台上に載せ、白色の光を背面から照射した状態で各画素を実際に駆動し、表示された画素の状態を目視又はカメラ等を用いた画像検査により確認することで行う。したがって、光学的な検査は、液晶層が光スイッチング素子として機能し得る状態である、第２の基板３の貼り合わせ後でなければ実施することができない。
【００５４】
以上の考察から、電気的な検査をマザーガラスの切断前に行うこととすれば、電気的な検査用の端子は小さく高密度に配置したものでよいことになり、端子の数が多くとも第１の基板２上で端子が占める面積は大きくならない。また、光学的な検査は第２の基板３の貼り合わせ後に行われるため、光学的な検査用の端子は大きくまばらに配置したものでなければならず、端子の数はなるべく少ない方が好ましい。これが、本実施形態に係る液晶表示装置１が、端子の大きさは小さいが数の多い第１の端子群５と端子の大きさは大きいが数が少ない第２の端子群６の両方を有する理由である。
【００５５】
続いて、電気的な検査と光学的な検査の詳細を図４を参照して具体的に説明する。
【００５６】
電気的な検査は、マザーガラス上に第１の基板２の回路が半導体素子製造プロセスを用いて作成された状態で、コンタクトプローブを第１の端子群５に接触させて行う。この時、第１の選択端子５１にはＳＥＬ−Ｒ、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂの何れかを選択する選択信号を入力し、特定の色の画素を選択する。第１の上流側スイッチ端子５２にはオン信号を入力し、上流側スイッチ回路８６を信号を通過する状態にする。そのようにすると、映像信号Ｓ１〜Ｓｎ、すなわち選択された色の画素に接続されているドレイン信号線８２は第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６にまとめられ第１の検査端子５３に接続される。さらに、第１の下流側スイッチ端子５４にはオフ信号を入力し、第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６と第２の検査信号ＴＥＳＴとを遮断する。こうすることで、第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６が短絡することを防止できる。第１のコモン端子５６には必要なコモン電位を与える。コモン信号ＣＯＭに入力されたコモン電位は上流側スイッチ回路８６を介してＣＯＭ−Ａ及びＣＯＭ−Ｂに伝達される。
【００５７】
この状態では、選択された色の画素に対し、第１の検査端子５３から適宜の検査用の信号を与え、測定することができるので、各種必要な電気的な検査を行う。また、選択信号を切り替えることにより、全ての色、すなわち、全ての画素の電気的な検査を行う。
【００５８】
なお、下流側スイッチ回路８７が、信号ＳＷ−Ｄに何らの信号を与えない状態で信号を遮断する性質を有している場合、第１の下流側スイッチ端子５４は設けなくともよい。また、第１の第２の検査端子５５は、第１の端子群５を用いても後述する光学的な検査ができるように設けているものであり、必要なければ省略してよい。さらに、本実施形態では、コモン信号にはＣＯＭ−Ａ及びＣＯＭ−Ｂの２系統があるところ、検査時には両者をまとめ単一のコモン信号ＣＯＭを与えている。これは、コモン信号を複数系統用意する理由が主として画像表示時の表示品質向上のためであり、検査時には複数種のコモン信号を与える必要がないからである。もちろん、２系統のコモン信号をまとめることなく、それぞれ別個にコモン電位を入力するようにしてもよい。その場合には、第１のコモン端子５６は２つ設けられることになる。
【００５９】
以上の電気的検査を終えた段階で不良と判定された第１の基板２は破棄される等して後工程には進まない。その結果、良品のみが後工程で使用されることになるから、液晶表示装置１を製造する上での歩留まりが向上する。また、不良品の次工程への流出防止と、部材費削減にも効果的である。
【００６０】
続いて、マザーガラスを切断し、第２の基板３を貼り合わせた後、コンタクトプローブを第２の端子群６に接触させ、光学的な検査を行う。この時、第２の選択端子６１には電気的な検査同様選択信号を入力し、第２の上流側スイッチ端子６２及び第２の下流側スイッチ端子６３の両方にオン信号を入力する。このようにすると、選択された色の画素に接続されているドレイン信号線８２と導通している映像信号Ｓ１〜Ｓｎは上流側スイッチ回路８６を通過し第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６にまとめられ、さらに、下流側スイッチ回路８７を通過し第２の信号ＴＥＳＴにまとめられる。第２のコモン端子６５には、電気的な検査時と同様所定のコモン電位を与える。
【００６１】
この状態で、ＴＥＳＴ及びＣＯＭに適切な信号を入力し、選択された色の画素を全て点灯させ、画素の不点灯や色むらなどの存在を光学的に検査する。さらに、選択信号を切り替え、全ての画素の検査を行う。
【００６２】
なお、ここで各色毎に光学的な検査を行うのは、画素欠陥の発見を容易にするためである。全ての色の画素を点灯した状態で光学的な検査が可能であれば、ＳＥＬ−Ｒ、ＳＥＬ−Ｇ及びＳＥＬ−Ｂの全てにオン信号を入力し、全画素を点灯するようにしてもよい。また、第２の検査信号ＴＥＳＴは１系統でなければならないわけではなく、複数の系統に分割してもよい。また、コモン信号が単一でなくとも良い点は、電気的な検査の場合と同様である。
【００６３】
つづいて、本発明の第２の実施形態を図５を参照して説明する。図５は、第２の実施形態に係る液晶表示装置２０１を模式的に示した平面図である。同図は、基本的に図１と対応しているが、図示を簡略化し理解を容易にするため、ドライバＩＣ４は破線で示し、その背後の第１の基板２の表面を図示している。また、第１の基板２上の配線や回路はその図示を省略すると共に、各端子を個別に図示せず、それぞれの端子が属する端子群、すなわち、ドライバＩＣ接続端子群４１、第１の端子群５及び第２の端子群６が配置される領域をハッチングを付して示している。外部接続端子群７のみ図１同様の図示となっている。また、本実施形態における回路構成は第１の実施形態におけるものと全く同様であるため、その説明を省略する。さらに、第１の実施形態において説明したと同様の対象については、参照符号に同符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【００６４】
本実施形態において特徴となるのは、まず、第１の端子群５の少なくとも一部が額縁領域３２、すなわち、第１の基板２において第２の基板３に覆われる被覆領域２１のうち、画像表示領域３１を除いた部分に配置されることである。液晶表示装置２０１を小型化するには、画像表示に直接寄与しない部分、すなわち、画像表示領域３１以外の額縁領域３２や開口領域２２をできるだけ小さくすることが肝要である。額縁領域３２の幅は、配線に要するスペースや遮光性能、液晶表示装置２０１の機器への取り付けなどを考慮して定まる。そこで、第１の端子群５を開口領域２２でなく、額縁領域３２上に配置するようにすると、その分開口領域２２を小さくすることができる。額縁領域３２は、第２の基板３によって覆われるが、前述したように、第１の端子群５を用いた電気的な検査は、第２の基板３の張り合わせ前、マザーガラスを切断する前に行えるため、第１の端子群５を額縁領域３２に配置しても障害はない。なお、第２の端子群６を用いた光学的な検査は第２の基板３の張り合わせ後に行われるため、第２の端子群６を額縁領域３２に配置することはできない。
【００６５】
また、本実施形態における別の特徴は、第２の端子群６がドライバＩＣ４の下部に配置され、その少なくとも一部がドライバＩＣ４に覆われることである。同図に示したように、ドライバＩＣ４と第１の基板２を電気的に接続するドライバＩＣ接続端子群４１は、ドライバＩＣ４の背面すべてを覆うように配置されているわけではなく、隙間を有していることが多い。そこで、第２の端子群６をかかる隙間を利用して配置する、すなわち、第２の端子群６の少なくとも一部をドライバＩＣ４に覆われるように配置すると、スペースの無駄を省き、開口領域２２を小さくすることができる。この場合、第２の端子群６はドライバＩＣ４によって覆われるが、前述したように、第２の端子群６を用いた光学的な検査は、ドライバＩＣ４の実装前に行えるため、かかる配置をとっても障害はない。また、ドライバＩＣ４の実装前に光学的な検査を行い、不良と判定された第１の基板２を排除することで、良品のみが後工程であるドライバＩＣ４の実装工程へと回される。その結果、液晶表示装置２０１を製造する上での歩留まりが向上する。
【００６６】
ところで、第２の実施形態では、第１の端子群５を額縁領域３２のドライバＩＣ４に近い側に設けていたが、ドライバＩＣ４に近い領域では、多数の配線が配置されるため、第１の端子群５を設けることが難しい場合がある。以下に図６を参照して説明する第３の実施形態は、そのような場合に利用できる実施形態である。
【００６７】
図６は、第３の実施形態に係る、第１の基板２の回路が形成された切断前のマザーガラス９の一部を模式的に示す平面図である。電気的な検査後、マザーガラス９を切断する位置は切断線９７により一点鎖線で示されている。本実施形態では、第１の基板２の製造を多面取りにより行っているため、中央に示した第１の基板２の上下左右にも全く同様の別の第１の基板２が規則的に配置されている。複数の第１の基板２間には、マザーガラス９の切断により切除される切除部分９８が設けられている。また、理解を容易にするため、図中に画像表示領域３１及び額縁領域３２を破線で示した。本実施形態において、第１の実施形態において説明したと同様の対象については、参照符号に同符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【００６８】
本実施形態において特徴となるのは、まず、第１の端子群５が切除部分９８に配置されることである。このようにしても、第１の端子群５が開口領域２２上で占めるスペースを省くことができるため、開口領域２２を小さくできる。切除部分９８は、液晶表示装置１を製造する過程で切断され除去されるが、第１の端子群５を用いた電気的な検査は、マザーガラス９を切断する前に行えるため、第１の端子群５を切除部分９８に配置しても障害はない。
【００６９】
図７は、本実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。本実施形態に係る液晶表示装置の回路は、第１の実施形態に係る液晶表示装置１の回路（図４参照）とは、第１の端子群５が第２の端子群６の下流に設けられている点が異なっている。より詳しく説明すると、第１の選択端子５１、第１の上流側スイッチ端子５２、第１の下流側スイッチ端子５４、第１の第２の検査端子５５及び第１のコモン端子５６は、それぞれ、第２の選択端子６１、第２の上流側スイッチ端子６２、第２の下流側スイッチ端子６３、第２の第２の検査端子６４及び第２のコモン端子６５の下流に接続される。また、下流側スイッチ回路８７は、上流側スイッチ回路８６の下流に設けられるが、信号線を途中で分岐して接続しているため、第１の検査端子５３の下流には接続されていない。
【００７０】
図中一点鎖線は、切断線９７である。すなわち、第１の端子群５を用いて電気的な検査を終え、マザーガラス９を切断し、第２の基板３の張り合わせ、ドライバＩＣ４の実装を終えた後の本実施形態に係る液晶表示装置には第１の端子群５は存在しないことになる。それに替わり、第１の端子群５に接続されていた信号線が、液晶表示装置の第１の基板２の切断された端縁まで延びていることになる。すなわち、同図に示すように、第２の端子群６及び上流側スイッチ回路８６から第１の基板２の端縁まで延び、どこにも接続されていない信号線が存在している場合には、かかる信号線は、電気的な検査に用いる第１の端子群５に接続されていたと考えられるのである。
【００７１】
図８は、第４の実施形態に係る、第１の基板２の回路が形成された切断前のマザーガラス９の一部を模式的に示す平面図である。本図は図６と同様の図示を行っており、電気的な検査後、マザーガラス９を切断する位置は切断線９７により一点鎖線で示されている。また、第１の基板２の製造を多面取りにより行っている点においても同様である。
【００７２】
本実施形態が第３の実施形態と異なる点は、上下左右に規則的に配置されている複数の第１の基板２間に、マザーガラス９の切断時に切除される切除部分９８（図６参照）が設けられていない点である。この点について説明すると、１枚のマザーガラス９からはなるべく多数の第１の基板２を得たほうが、生産効率を高め、廃棄物を低減するにはよい。したがって、切断線９７の両側を第１の基板２の周縁として用いて問題がない場合には、本実施形態のように、マザーガラス９上に複数の第１の基板２を隙間なく敷き詰めるように配置すべきである。
【００７３】
しかしながら、このような配置とすると、第３の実施形態のように、第１の端子群５を切除部分９８に配置することができない。そこで、本実施形態では、図示のように、第１の端子群５を、隣接して配置されている第１の基板２の額縁領域３２に配置しているのである。
【００７４】
このようにしても、第１の端子群５が開口領域２２上で占めるスペースを省くことができるため、開口領域２２を小さくできる。第１の端子群５を用いた電気的な検査は、マザーガラス９を切断する前に行えるため、第１の端子群５を隣接して配置されている第１の基板２の額縁領域３２に配置しても障害はない。さらに、図に示したとおり、第１の端子群５は、額縁領域３２のドライバＩＣ４から遠い部分に配置される。かかる部分は、ドライバＩＣ４に近い部分とは異なり、配線はほとんど配置されないため、第１の端子群５を配置する空間を十分に確保することができる。
【００７５】
なお、本実施形態に係る液晶表示装置の回路構成は、第３の実施形態におけるものと全く同一でよいので、その図示及び説明は省略する。
【００７６】
また、第１の端子群５を用いて電気的な検査を終え、マザーガラス９を切断した後は、第１の基板２上には、第３の実施形態同様に、かつて第１の端子群５に接続されていたが、現在はどこにも接続されていない信号線が、液晶表示装置の第１の基板２の切断された端縁まで延びているとともに、額縁領域３２には、かつて隣接する第１の基板２の回路に接続されていたが、現在はどこにも接続されていない第１の端子群５が存在していることになる。すなわち、第２の端子群６及び上流側スイッチ回路８６から第１の基板２の端縁まで延び、どこにも接続されていない信号線が存在し、かつ、どこにも接続されていない第１の端子群５が残存しているならば、それは、かかる信号線がかつて電気的な検査に用いる第１の端子群５に接続されていた証拠である。
【００７７】
図９は、第５の実施形態に係る、第１の基板２の回路が形成された切断前のマザーガラス９の一部を模式的に示す平面図である。本図は図６と同様の図示を行っており、電気的な検査後、マザーガラス９を切断する位置は切断線９７により示している。また、本実施形態では、少なくとも光学的な検査の後に第１の基板２を切断しており、かかる第２の切断線９９は二点鎖線で示されている。
【００７８】
本実施形態が第３の実施形態と異なるのは、第２の端子群６も第１の端子群５と同様に切除部分９８に配置されていることである。このような配置とすると、第１の端子群５を用いる電気的な検査は、マザーガラス９の切断前に行われるため、障害は生じない。ところが、第２の端子群６を用いた光学的な検査は、マザーガラス９を切断し、第２の基板３を貼り合わせた後に行われるため、第１の基板２から切除部分９８を分離した後では実施することができなくなる。そこで、本実施形態では、第２の切断線９９の位置は、光学的な検査が終了するまでは切断しない。光学的な検査が終了した後であれば、第２の切断線９９の位置で第１の基板２を切断して差し支えない。このようにすると、第１の端子群５及び第２の端子群６の双方が開口領域２２上で占めるスペースを省くことができるため、開口領域２２を小さくできる。
【００７９】
図１０は、第５の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。同図に示す回路構成は第３の実施形態におけるものと全く同じであるが、第２の切断線９９が示されている点が異なっている。本実施形態では、第２の切断線９９における切断は電気的な検査及び光学的な検査の終了後に行われるため、かかる検査に必要な回路や端子に関する部分はすべて切除してしまっても差支えない。
【００８０】
同図中に示した第２の切断線９９ａは、上流側スイッチ回路８６、下流側スイッチ回路８７、第２の端子群６及び第１の端子群５を全て切除部分９８に配置した場合の例である。この場合、第２の切断線９９ａで切断された後の第１の基板２上には、上流側スイッチ回路８６、下流側スイッチ回路８７、第２の端子群６及び第１の端子群５に接続されていた信号線のみが残される。
【００８１】
また、図中の第２の切断線９９ｂは、下流側スイッチ回路８７、第２の端子群６及び第１の端子群５を切除部分９８に配置した場合の例である。この場合、第２の切断線９９ｂで切断された後の第１の基板２上には、上流側スイッチ回路８６と、下流側スイッチ回路８７、第２の端子群６及び第１の端子群５に接続されていた信号線が残される。
【００８２】
そして、図中の第２の切断線９９ｃは、第２の端子群６及び第１の端子群５を切除部分９８に配置した場合の例である。この場合、第２の切断線９９ｃで切断された後の第１の基板２上には、上流側スイッチ回路８６及び下流側スイッチ回路８７と、第２の端子群６及び第１の端子群５に接続されていた信号線が残される。
【００８３】
いずれにせよ、本実施形態では、第２の端子群６を用いて光学的な検査を終え、マザーガラス９を第２の切断線９９において切断した後は、第１の基板２上には、かつて第１の端子群５及び第２の端子群６に接続されていたが現在はどこにも接続されていない信号線が、液晶表示装置の第１の基板２の切断された端縁まで延びていることになる。このような信号線が第１の基板２上に存在している場合には、かかる信号線は、かつて第１の端子群５及び第２の端子群６に接続されていたと考えられる。
【００８４】
なお、本実施形態では、マザーガラス９上で第１の基板２の回路を配置する際に、横方向に隣接する第１の基板２間に切除部分９８を設けた（図９参照）が、第４の実施例のように、かかる部分を省略し、横方向に隣接する第１の基板２が直接隣り合うように配置してもよい。
【００８５】
続いて、本発明の第６の実施形態を説明する。本実施形態は、回路構成のみが他の実施例と異なっており、その他の点、すなわち、第１の端子群５及び第２の端子群６の配置や、マザーガラス９の切断位置等についてはこれまで説明した第１〜第５の実施形態のいずれのものを採用しても差支えないので、ここではその詳細な説明を省略する。
【００８６】
図１１は、第６の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。図示の通り、本実施形態では、スイッチ回路が互いに上流下流の位置関係になく、映像信号端子４３及びコモン端子４４に並列に接続されている。それらのうち、第１のスイッチ回路８８は、第１〜５の実施形態における上流側スイッチ回路８６に対応し、第２のスイッチ回路８９は、第１〜５の実施形態における下流側スイッチ回路８７に対応しており、各々の機能はほぼ同様である。すなわち、映像信号Ｓ１〜Ｓｎを制御信号に応じて下流側へ通過させ又は遮断する。第１のスイッチ回路８８においては、映像信号Ｓ１〜Ｓｎは第１の検査信号Ｔ１〜Ｔ６にまとめられ、第２のスイッチ回路８９においては、映像信号Ｓ１〜Ｓｎは第２の検査信号ＴＥＳＴにまとめられる。第１のスイッチ回路８８を制御する信号はＳＷ−１、第２のスイッチ回路８９を制御する信号はＳＷ−２である。
【００８７】
第１の端子群５は、第１の選択端子５１、第１の検査端子５３、第１のコモン端子５６のほかに、第１のスイッチ端子５７を含む。第１のスイッチ端子５７は、第１のスイッチ回路８８に接続され、制御用の信号ＳＷ−１が入力される。
【００８８】
第２の端子群６は、第２の選択端子６１、第２の第２の検査端子６４、第２のコモン端子６５のほかに、第２のスイッチ端子６６を含む。第２のスイッチ端子６６は、第２のスイッチ回路８９に接続され、制御用の信号ＳＷ−２が入力される。
【００８９】
このような回路構成によっても、前記第１〜第５の実施形態同様に電気的な検査及び光学的な検査を行うことができる。そして、本実施形態では、電気的な検査に用いる第１のスイッチ回路８８及び第１の端子群５と、光学的な検査に用いる第２のスイッチ回路８９及び第２の端子群６とが完全に分離され、並列に接続されているため、第１の端子群５と第２の端子群６を第１の基板２上に配置する際の自由度が高く、例えば、第１の端子群５と第２の端子群６を離れた位置に配置することができる。一方で、第２のスイッチ回路８９は第１のスイッチ回路８８の下流には接続されないため、第２のスイッチ回路８９中で用いられるスイッチング素子の数は多くなる。その分、本実施形態では若干回路規模が増大することになる。
【００９０】
図１２は、第７の実施形態に係る液晶表示装置の回路図である。図示の通り、本実施形態では、上流側スイッチ回路８６を画像表示領域３１の上側に設けたものである。図１２に示す回路では、画像表示領域３１の上側に上流側スイッチ回路８６を設け、画像表示領域３１の下側に第１の端子群５、第２の端子群６及び下流側スイッチ回路８７を配置している。図１２に示す回路では、選択回路を介さずにドレイン信号線に検査信号を供給することが可能である。
【符号の説明】
【００９１】
１，２０１  液晶表示装置、２  第１の基板、２１  被覆領域、２２  開口領域、３  第２の基板、３１  画像表示領域、３２  額縁領域、４  ドライバＩＣ、４１  ドライバＩＣ接続端子群、４２  選択端子、４３  映像信号端子、４４  コモン端子、５  第１の端子群、５１  第１の選択端子、５２  第１の上流側スイッチ端子、５３  第１の検査端子、５４  第１の下流側スイッチ端子、５５  第１の第２の検査端子、５６  第１のコモン端子、５７  第１のスイッチ端子、６  第２の端子群、６１  第２の選択端子、６２  第２の上流側スイッチ端子、６３  第２の下流側スイッチ端子、６４  第２の第２の検査端子、６５  第２のコモン端子、６６  第２のスイッチ端子、７  外部接続端子群、８１  ゲート信号線、８２  ドレイン信号線、８３  コモン信号線、８４  選択信号線、８５  選択回路、８６  上流側スイッチ回路、８７  下流側スイッチ回路、８８  第１のスイッチ回路、８９  第２のスイッチ回路、９  マザーガラス、９１  スイッチング素子、９２  画素電極、９３  配向膜、９４  ブラックマトリクス、９５  カラーフィルタ層、９６  平坦化膜、９７  切断線、９８  切除部分、９９，９９ａ，９９ｂ，９９ｃ  第２の切断線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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