(57)【要約】【課題】回路基板の複数の端子の導通試験を容易に行えるプローブユニットを提供する。【解決手段】複数の端子に対応して複数の孔が設けられたユニット板７２と、ユニット板７２に設けられた複数の孔７３にスライド可能に取り付けられた複数のプローブ７１とを備え、各プローブは、孔７３をスライドする導電性の胴部７４と、胴部７４の一端を端子９２に接触させる接触機構６０を備え、接触機構６０は、胴部７４の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石７５を有する。また、胴部７４の周囲に設けられ胴部７４の一端を端子９２に押し付けるばね７６とを有する。【選択図】図２
2010164406.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の端子の導通試験を行うプローブユニットにおいて、
複数の孔が設けられたユニット板と、
ユニット板に設けられた複数の孔にスライド可能に取り付けられた複数のプローブと
を備え、
上記複数のプローブの各プローブは、
孔をスライドする導電性の胴部と、
胴部の一端を端子に電気的に接触させる接触機構とを備えたことを特徴とするプローブユニット。
【請求項２】
上記接触機構は、胴部の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石を有することを特徴とする請求項１記載のプローブユニット。
【請求項３】
上記接触機構は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばねを有することを特徴とする請求項１又は２記載のプローブユニット。
【請求項４】
端子間の配線確認試験を行う配線確認システムにおいて、
１本の送電側プローブと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブに通電して、導通テストをする通電部と、
通電部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号を出力する表示器とを備えたことを特徴とする配線確認システム。
【請求項５】
複数の端子と複数の端子との間の配線確認試験を行う配線確認システムにおいて、
複数の送電側プローブを備えた送電側プローブユニットと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブに対して、送電側プローブ１本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部と、
導通テスト部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部の判定結果を出力する出力部とを備えたことを特徴とする配線確認システム。
【請求項６】
配線確認システムは、さらに、配線確認装置と接続される情報処理装置を備え、
上記情報処理装置は、
複数の端子と複数の端子との間の結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶する記憶部と、
上記出力部が出力する判定結果をプローブ対情報として入力する取り込み部と、
取り込み部が入力したプローブ対情報を、記憶部に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して出力する異常出力部と
を備えたことを特徴とする請求項５記載の配線確認システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、プローブユニット及び配線確認システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のプローブユニットには、以下のようなものがあった。
試験点の数だけプローブを用意し、これらプローブを各試験点の座標に応じた位置において保持板に挿通保持させる。保持板をボード側に移動させ、各試験点に各プローブを一斉に接触させる。
全試験点のＩＤ番号と基準データとがメモリに入力されている状態で、まずプローブを対応する試験点にそれぞれ接触させる。スイッチ選択部を制御して順に１個のスイッチのみをオンにして、その時の検出電圧をＡＤ変換器でデジタル値に変換する。検出された電圧と、対応基準データとを比較し、その判定結果を表示部及びブザーで報知させる（たとえば、特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−２３００８１号公報（「００３３」「００３４」図７）
【特許文献２】特開２００４−９３３３３号公報
【特許文献３】特開２００１−３４３３９８号公報
【特許文献４】特開平６−３４７４７６号公報
【特許文献５】実用新案登録第２５３４１５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来の配線確認システムは、複数の配線を効率よく検査するものがなかった。
【０００５】
この発明は、複数の配線を効率よく検査するプローブユニット及び配線確認システムを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明のプローブユニットは、
回路基板の複数の端子の導通試験を行うプローブユニットにおいて、
複数の端子に対応して複数の孔が設けられたユニット板と、
ユニット板に設けられた複数の孔にスライド可能に取り付けられた複数のプローブと
を備え、
上記複数のプローブの各プローブは、
孔をスライドする導電性の胴部と、
胴部の一端を端子に電気的に接触させる接触機構とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
上記接触機構は、胴部の一端に取り付けられ端子に吸着する導電性磁石を有することを特徴とする。
【０００８】
上記接触機構は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばねを有することを特徴とする。
【０００９】
この発明の配線確認システムは、
端子間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、
１本の送電側プローブと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブに通電して、導通テストをする通電部と、
通電部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号を出力する表示器とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
この発明の配線確認システムは、
複数の端子と複数の端子との間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、
複数の送電側プローブを備えた送電側プローブユニットと、
複数の受電側プローブを備えた受電側プローブユニットと、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブと受電側プローブユニットの複数の受電側プローブとを接続する配線確認装置とを備え、
上記配線確認装置は、
送電側プローブユニットの複数の送電側プローブに対して、送電側プローブ１本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部と、
導通テスト部が導通テストをしている間に、受電側プローブユニットの複数の受電側プローブに対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブに導通があるかを判定する導通サーチ部と、
導通テスト部が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号とを出力する出力部とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
配線確認システムは、さらに、配線確認装置と接続される情報処理装置を備え、
上記情報処理装置は、
複数の端子と複数の端子との間の結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶する記憶部と、
上記出力部が出力する導通テスト部が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する取り込み部と、
取り込み部が入力したプローブ対情報を、記憶部に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して出力する異常出力部と
を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
この発明のプローブユニットは、プローブユニットの複数のプローブが、回路複数の端子に自律的に接触するので、人間がプローブを端子に接触させる必要がなくなり作業効率が向上する。
この発明の配線確認システムは、導通サーチ部が複数の受電側プローブの中から導通のある受電側プローブを自動的に検出するので、人間がいずれの受電側プローブを導通があるかを判断する必要がなくなり作業効率が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】配線確認システム１００の構成図である。
【図２】プローブユニット７０の部分構成図である。
【図３】プローブユニット７０の部分斜視図である。
【図４】プローブユニット７０の接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
【図５】プローブユニット７０の接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
【図６】プローブユニット７０の接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
【図７】プローブ７１の実施例を示す図である。
【図８】配線確認装置３０と情報処理装置４０の構成図である。
【図９】マニアル検査モードの動作フロー図である。
【図１０】自動検査モードの動作フロー図である。
【図１１】情報処理装置４０の動作説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
実施の形態１．
図１は、配線確認システム１００の構成図である。
【００１５】
配線確認システム１００は、プローブ針９０と送電側プローブユニット１０と受電側プローブユニット２０と配線確認装置３０と情報処理装置４０とを備えている。
配線確認システム１００は、回路基板９１の端子９２と端子９３の間の結線が正しいか否かを検査するシステムである。
プローブ針９０と送電側プローブユニット１０とは、いずれかが使用される。
【００１６】
プローブ針９０は、マニアル検査モードで、試験をする場合に使用される。作業者は、プローブ針９０を用いて手動で、プローブ針９０を端子９２の一つ一つに接触させて導通試験を行う。
【００１７】
送電側プローブユニット１０は、自動検査モードで、試験をする場合に使用される。
送電側プローブユニット１０は、図１においては、６本の送電側プローブ１１を有している。これら複数の送電側プローブ１１は、端子９２の配列に対応して、配列されている。したがって、送電側プローブ１１の本数と位置とは、回路基板９１の端子９２の個数と位置とに対応する。送電側プローブ１１には、１番から６番までのプローブの番号が付されている。
受電側プローブユニット２０も送電側プローブユニット１０と同じ構成である。
【００１８】
配線確認装置３０には、マニアル検査モードか自動検査モードかを選択するスイッチと、プローブの番号を表示する表示器がある。
配線確認装置３０には、コネクタ５６，５７，５８などの着脱可能なコネクタがあり、プローブ針９０、送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１、受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１が、治具ケーブル７９を介して着脱可能に接続される。配線確認装置３０は、情報処理装置４０とも信号ケーブルにより着脱可能に接続される。
【００１９】
情報処理装置４０は、たとえばパーソナルコンピュータであり、キーボード５０や表示画面５１を備えている。
【００２０】
以下、送電側プローブユニット１０と受電側プローブユニット２０をまとめて、プローブユニット７０として、説明する。
図２は、プローブユニット７０の部分構成図である。
図３は、プローブユニット７０の部分斜視図である。
【００２１】
この実施の形態のプローブユニット７０は、回路基板９１の複数の端子９２と複数の端子９３との導通試験を行うプローブユニット７０である。
プローブユニット７０は、複数の端子９２に対応して複数の孔７３が設けられたユニット板７２を備えている。
ユニット板７２は、絶縁体である。ユニット板７２の複数の孔７３の配置と個数は、回路基板９１の端子９２の配置と個数と同じである。
【００２２】
プローブユニット７０は、ユニット板７２に設けられた複数の孔７３にスライド可能に取り付けられた複数のプローブ７１を備えている。
各プローブ７１は、孔７３をスライドする導電性の胴部７４と、胴部７４の両端にスライドエンド８２と胴端部８３とを備え、孔７３から抜け落ちないようになっている。
図において、各プローブ７１の長さ・サイズ・形・間隔は同一であるが、端子９２の位置・高さ・大きさによって異なっていてもよい。
全てのプローブ７１は、胴部７４の胴端部８３側の一端を端子９２に接触させる接触機構６０と、プローブユニット７０を回路基板９１に取り付ける取付機構８０とを備えている。
【００２３】
上記接触機構６０と取付機構８０とは、胴部７４の胴端部８３の一端に取り付けられた磁石であって、端子９２に吸着する導電性磁石７５を有している。図１から図３で、導電性磁石は接触機構６０と取付機構８０との両方の構成に兼用されている。複数の導電性磁石７５は、磁力が等しい永久磁石である。導電性の接着剤や導電ペースト（たとえば、ナミックス株式会社製「ＥジスＰＥＮ」（イージスペンは、登録商標））を用いて、胴端部８３と導電性磁石７５とを接着する。
治具ケーブル７９はスライドエンド８２に、はんだ付けされている。こうして、導電性磁石７５と胴部７４と治具ケーブル７９とは電気的に接続された状態になる。
【００２４】
ユニット板７２と胴端部８３の間の胴部７４の周囲に、ばね７６がある。ばね７６は、接触機構６０の一部であり、ユニット板７２と胴端部８３とを離隔させる圧縮コイルばねである。無負荷時のばね７６の長さは、スライドエンド８２と胴端部８３の間の胴部７４の長さ以上である。より正確には、無負荷時のばね７６の長さは、ユニット板７２の下面から胴端部８３までの最大距離以上であればよい。その結果、ばね７６は、スライドエンド８２がユニット板７２に接触するまでユニット板７２と胴端部８３とを遠くに引き離す。換言すれば、スライドエンド８２がユニット板７２に接触していない場合には、ばね７６にはユニット板７２と胴端部８３とを遠くに引き離す反発力が増す。こうして、導電性磁石７５は、ばね７６により端子９２に対して押し付けられる。
【００２５】
６個の導電性磁石７５の６個の端子９２への合計吸着力（合計磁力）は、プローブユニット７０と治具ケーブル７９との全体の重さよりも大きい。したがって、プローブユニット７０が逆さに端子９２に取り付けられても、プローブユニット７０が端子９２から落下することはない。即ち、プローブユニット７０は、６個の導電性磁石７５により自律的に取り付けられる。プローブ７１の個数が少ない場合でも、導電性磁石７５の磁力を増せば、少ない数のプローブ７１で自律的にプローブユニット７０を回路基板９１に取り付けることができる。つまり、１個の導電性磁石７５でプローブユニット７０が落下しなければよく、１個の導電性磁石７５の磁力は、プローブユニット７０の重量よりも大きいことが望ましい。
ここで、「自律的」とは、一旦、接触状態になると外力なしに接触状態を保ち続けるとともに、その接触状態は外力が加わるまで保たれることをいう。
ユニット板７２は、操作者が手ではがそうとして（道具なしに）外力を加えることにより、回路基板９１から容易にはがす事ができる。したがって、ユニット板７２は、回路基板９１に対して着脱自在に（着脱可能に）取り付けられる。
【００２６】
重さと磁力の関係は以下の通りである。
【００２７】
操作者の腕力
＞導電性磁石７５と端子９２の合計吸着力
＞プローブユニット７０（と治具ケーブル７９）の重さ
【００２８】
１個の導電性磁石７５と１個の端子９２の吸着力
＞１個のプローブ７１（と１本の治具ケーブル７９）の重さ
【００２９】
図１から図３において、ユニット板７２を回路基板９１に固定する機構は存在しない。作業者がプローブユニット７０を手に持ってプローブユニット７０を回路基板９１に近づけると、図２に示すように、すべての端子９２の頭部にすべての導電性磁石７５が吸着することにより、プローブユニット７０が自動的に、かつ、自律的に取り付けられる。したがって、作業者は、プローブユニット７０をその場で保持し続けることはない。
図２に示すように、端子９２の高さに差があっても、胴部７４が孔７３をスライドするので、各端子９２の高さに合わせて、導電性磁石７５が端子９２に接触できる。その接触を確実なものとするために、ばね７６が導電性磁石７５を端子９２に押し付ける。
図２と図３に示すように、回路基板９１の端子９２の上にユニット板７２が取り付けられた場合は、ユニット板７２は自重により、ばね７６の反発力と拮抗する位置まで下方にさがる。
逆に、回路基板９１を上にしてユニット板７２を下にして、端子９２の下にユニット板７２が逆さに取り付けられた場合は、ユニット板７２は自重により、スライドエンド８２までさがる。この場合でも、磁力によりプローブユニット７０が落下することはないし、導電性磁石７５が端子９２に吸いつき、かつ、ばね７６が導電性磁石７５を端子９２に押し付ける。
図２と図３においては、接触機構６０と取付機構８０とは、各プローブ７１の導電性磁石７５によって構成されている。
【００３０】
ばね７６の機能は、端子９２と導電性磁石７５との接触を確実にすることにあるが、以下の場合に特に有効である。
１．プローブユニット７０が逆さに取り付けられた場合でも、端子９２と導電性磁石７５との接触を確実にする。
２．複数の端子９２のうち、いくつかの端子が磁力で吸着できないあるいは磁力で吸着しにくい材料でできている場合でも、全ての端子９２と導電性磁石７５との接触を確実にする。
【００３１】
以上のことから、複数のばね７６の反発力関係は、以下の通りであることが望ましい。
１．均等
複数のばね７６の力に差異があると、ユニット板７２が傾き、正確な接触が得られにくいので、複数のばね７６の力を均等（あるいは、ほぼ均等）にする。
【００３２】
２．複数のばね７６の合計力＜ユニット板７２の重量
各ばね７６の力が強すぎると、プローブ７１がユニット板７２をスライドしない。プローブ７１がユニット板７２をスライドしないと、全ての端子９２と導電性磁石７５との接触を確実にすることができない。したがって、複数のばね７６の合計力を、ユニット板７２（と治具ケーブル７９）の重量よりも小さくする。
【００３３】
３．複数のばね７６の合計力＋ユニット板７２の重量＜１対の端子９２と導電性磁石７５との吸着力
１対の端子９２と導電性磁石７５との吸着力が複数のばね７６の合計力とユニット板７２の重量との和よりも大きければ、プローブユニット７０が逆さに取り付けられてもその１対の端子９２と導電性磁石７５とは吸着するので、全ての端子９２と導電性磁石７５との接触を確実にすることができる。したがって、複数のばね７６の合計力とユニット板７２の重量との和を、１対の端子９２と導電性磁石７５との吸着力、即ち、１個の導電性磁石７５の磁力よりも小さくする。
【００３４】
４．１個のばね７６の力＞１個のプローブ７１の重量
逆さの場合でも接触を確実にするために、１個のばね７６の力を、１個のプローブ７１（と１本の治具ケーブル７９）の重量よりも大きくする。
【００３５】
図４は、接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
図４においては、接触機構６０は、胴部の周囲に設けられ胴部の一端を端子に押し付けるばね７６を有する。
図４で、取付機構８０は、プローブユニット７０の両サイドのプローブ７１の導電性磁石７５を有している。２個の導電性磁石７５の磁力で、自律的にプローブユニット７０を回路基板９１に取り付けることができる。内側の３個のプローブ７１には、導電性磁石７５がなく、接触機構６０となるばね７６により胴部７４の胴端部８３を端子９２に押し付けて接触させる。
図４において、両サイドのプローブ７１はプローブとして用いてもよいし、取付機構８０としてのみ用いてもよい。
なお、図４において、取付機構８０となる導電性磁石７５は、プローブ７１に固定されてユニット板７２に対してスライド可能に取り付けられているが、導電性磁石７５はプローブ７１ではなくユニット板７２に固定されていてもかまわない。
【００３６】
図５は、接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
図５において、取付機構８０は、プローブユニット７０の両サイドにねじ７７を有している。回路基板９１には、ねじ７７を受容するねじ穴があるものとする。その他の構成は、図４と同じである。
【００３７】
図６は、接触機構６０と取付機構８０の他の実施例を示す図である。
図６において、取付機構８０は、プローブユニット７０の両サイドにクリップ７８を有している。クリップ７８は、板ばねや弾性体によりできており、クリップ７８が回路基板９１の両サイドを挟むことにより、プローブユニット７０が回路基板９１に取り付けられる。あるいは、回路基板９１に基板面から突出した端子台がある場合に、クリップ７８によって端子台の両側面を挟むことができる。クリップ７８は、２サイドだけでなく、４サイドにあってもよい。その他の構成は、図４と同じである。
なお、図４から図６において、中央の３個のプローブが導電性磁石７５を備えていてもよい。
また、図示しないが、取付機構８０としてクリップ７８の代わりに、吸着盤を備え、吸着盤で回路基板９１に吸着するようにしてもよい。
【００３８】
図７は、プローブ７１のいくつかの実施例を示す図である。
（ａ）は、図１から図３に示したプローブ７１の断面図である。プローブ７１は回転体であり円柱状の胴部７４の両端に円盤状のスライドエンド８２と円柱状の胴端部８３がある。スライドエンド８２と胴端部８３の直径は胴部７４の直径よりも大きく、かつ、孔７３の内径よりも大きい。胴部７４の直径は孔７３の内径よりも小さい。導電性磁石７５は、円柱状・円盤状をしており、胴部７４の端部の凹部に接合されている。
（ｂ）と（ｃ）に示すように、導電性磁石７５は、環状・ドーナツ状をしており、導電性磁石７５に胴部７４の端部を貫通させていてもよい。導電性磁石７５の端部内側にテーパー部または凹部を設け、導電性磁石７５の下端面と胴部７４の下端面とが同じ面になるようにしている。
（ｄ）に示すように、導電性磁石７５を胴部７４に単に接着してもよい。
（ｅ）に示すように、導電性磁石７５の下端面を凹面にしてもよい。あるいは、（ｅ）において導電性磁石７５は、ドーナツ状や環状でもよい。
（ｆ）に示すように、導電性磁石７５の端部内側にテーパー部または凹部を設け、導電性磁石７５の下端面が、胴部７４の下端面より下になるようにしてもよい。
（ｇ）に示すように、胴部７４の周囲に絶縁パイプ８４を設けてもよい。この場合、ユニット板７２は絶縁材でなくてもよい。絶縁パイプ８４の下半分に蛇腹構造を持たせて伸縮可能にしてばね７６の代わりにしてもよい。
【００３９】
図７のいずれの場合も、導電性磁石７５が、直接、端子９２に接触できる構造になっている。導電性磁石７５が胴部７４に磁力を与え胴部７４のみが端子９２に接触する場合に比べて、導電性磁石７５が直に端子９２に吸着するので、確実な接触が期待できる。
また、（ａ）の場合は、端子９２がねじの半球状の丸頭である場合に、点接触することになるが、（ｅ）（ｆ）の場合は、丸頭の端子９２に対して、円接触できるので、より確実な接触が得られる。
なお、プローブ７１の導電性磁石７５の先端構造は、針状でも、柱状でも、半球状でもよい。
【００４０】
プローブ７１をボルトとナットにより、以下のように構成してもよい。
プローブ７１の胴部７４＝ボルトの軸部、
プローブ７１の胴端部８３＝ボルトの頭部、
プローブ７１のスライドエンド８２＝ボルトの軸部の端部に固定されたナット。
導電性磁石７５は、ボルトの頭部に接着すればよい。あるいは、ボルトの頭部にマグネットを有するボルト（たとえば、株式会社ミスミ製のマグネット付きボルト）を用いればよい。
【００４１】
この実施の形態のプローブユニット７０は、以下の４点の理由により、絶縁隔壁により端子を囲み、導電性のねじを用いて電線を端子に圧着して止める端子台（たとえば、ＩＤＥＣ株式会社製「ＢＮ１Ｕ形／ねじアップ形ターミナルブロック（端子台）」などのターミナルブロック）に対して、特に有効である。
【００４２】
第１点目
通常、端子台は１台に、絶縁隔壁（絶縁壁）を間にして複数の端子９２を配列しており、この実施の形態のプローブユニット７０は、複数のプローブ７１の間に絶縁隔壁が入り込めるため、絶縁隔壁があっても支障なく、各プローブ７１を各端子９２に接触させることができる。つまり、プローブ７１の長さが、絶縁隔壁の高さより、長ければ、各プローブ７１を各端子９２に接触させることができる。
すなわち、
プローブ７１の長さ＞絶縁隔壁の高さ
である。ここで、
プローブ７１の長さとは、ユニット板７２の下面から導電性磁石７５の下部までの最大距離である。
絶縁隔壁の高さとは、端子台の上面から端子の頂部までの最大距離である。
【００４３】
第２点目
端子台は、ねじを用いて電線を圧着してねじ止めするので、ねじ頭の高さが、電線の太さや電線の噛み具合やねじの締め付け程度によって変化しやすいが、この実施の形態のプローブユニット７０は、プローブ７１がユニット板７２をスライドして、端子台の端子の頂部の高さの差異が吸収できる。また、この実施の形態のプローブユニット７０は、特開２００２−３２９５３３号公報の図３に示されたような段差がある階段式の端子台においても端子台の端子の頂部の高さの差異が吸収できる。
【００４４】
第３点目
端子台のねじは、ねじ頭が半球状の丸ねじであることが多く、平面基板の平面端子に導電性磁石７５が吸着するよりも、半球状のねじ頭に導電性磁石７５がより吸着しやすい。仮に、半球状のねじ頭に導電性磁石７５が斜めに吸着しても絶縁隔壁があるために、導電性磁石７５が隣の導電性磁石７５や隣の端子に接触する（ショートする）ことはない。
逆にいえば、絶縁隔壁があるので、プローブ７１はユニット板７２の板面に対して常に９０度（垂直）方向に正確にスライドする必要はない。したがって、ユニット板７２の厚さを薄くしたり、ユニット板７２の孔７３の加工精度をラフにすることができる。絶縁隔壁がない場合は、プローブ７１の間隔、即ち、導電性磁石７５の間隔を正確に端子間隔と一致させる必要があり、プローブ７１はユニット板７２の板面に対して常に９０度（垂直）方向に正確にスライドする必要があるとともに、少なくとも、いかなる場合でも隣り合う導電性磁石７５が接触しないようにプローブユニット７０を製造しなければならない。
【００４５】
第４点目
端子台は、規格品であったり、メーカーの寸法・仕様が既知であるため、汎用性があり、端子台の規格・仕様に合わせた汎用性のプローブユニット７０を事前に準備することができる。
たとえば、プローブ７１の本数は、端子台の端子数と一致させればよい。
また、端子台自体が、絶縁筺体を有しているので、端子台の絶縁筺体に合わせて、ユニット板７２が自律的に取り付けられればよい。具体的には、図４から図６に示した取付機構８０は、端子台の絶縁筺体に対する取付機構８０であればよい。
【００４６】
以下に、接触機構６０と取付機構８０について、まとめて説明する。
接触機構６０：プローブ７１を端子に接触させる機構のこと。
図１から図３：導電性磁石７５、及び／又は、ばね７６
図４から図６：ばね７６
取付機構８０：プローブユニット７０を回路基板や端子台に取り付ける機構のこと。
図１から図３：導電性磁石７５（接触機構６０と兼用）
図４：導電性磁石７５（接触機構６０と兼用）
図５：ねじ７７
図６：クリップ７８
以上で、プローブユニット７０の説明を終了する。
【００４７】
以下、この実施の形態の配線確認システム１００の配線確認装置３０と情報処理装置４０と配線確認方法とを説明する。
図８は、配線確認装置３０と情報処理装置４０の構成図である。
【００４８】
「マニアル検査モード」
この実施の形態の配線確認システム１００は、
端子間の配線確認試験を行う配線確認システムであり、マニアル検査モードのために、
１本の送電側プローブ（プローブ針９０）と、
複数の受電側プローブ２１を備えた受電側プローブユニット２０と、
送電側プローブ（プローブ針９０）と受電側プローブユニット２０の複数の受電側プローブ２１とを治具ケーブル７９を介して接続する配線確認装置３０とを備えている。
プローブ針９０は、プローブユニット７０と同一構成をしていても構わない。
【００４９】
上記配線確認装置３０は、
送電側プローブ（プローブ針９０）に通電して、導通テストをする通電部３４と、
通電部３４が導通テストをしている間（通電中）に、受電側プローブユニット２０の複数の受電側プローブ２１に対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ２１に導通があるかを判定する導通サーチ部３２と、
導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブ２１の番号を出力する表示器３９とを備えたことを特徴とする。
【００５０】
「自動検査モードの構成」
また、この実施の形態の配線確認システム１００は、
複数の端子９２と複数の端子９３との間の配線確認試験を行う配線確認システム１００であり、自動検査モードのために、複数の送電側プローブ１１を備えた送電側プローブユニット１０を備えている。
送電側プローブユニット１０の複数の送電側プローブ１１は、治具ケーブル７９を介して配線確認装置３０に接続されている。
上記配線確認装置３０は、
送電側プローブユニット１０の複数の送電側プローブ１１に対して、送電側プローブ１本づつ順に通電して、導通テストをする導通テスト部３１と、
導通テスト部３１が導通テストをしている間（通電中）に、受電側プローブユニット２０の複数の受電側プローブ２１に対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ２１に導通があるかを判定する導通サーチ部３２と、
導通テスト部３１が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブの番号とを出力する出力部３３とを備えている。
【００５１】
上記配線確認装置３０は、さらに、入力部６９を備え、入力部６９から入力した情報やチェック結果や判定結果を記憶するメモリ３７を備えている。
上記配線確認装置３０の各部は、制御部３６により制御される。制御部３６は、マイクロプロセッサなどの中央処理装置（ＣＰＵ）やファームウエアやプログラムを備え、配線確認装置３０の各部を制御する。
また、配線確認装置３０は、マニアル検査モードと自動検査モードとを切り替えるモード切り替えスイッチ３５を有している。
【００５２】
「情報処理装置４０の説明」
配線確認システム１００は、さらに、配線確認装置３０と接続される情報処理装置４０を備えている。
上記情報処理装置４０は、記憶部４３を備えている。記憶部４３は、配線データファイル４４を記憶する。配線データファイル４４には、端子対テーブル４５とプローブ対テーブル４６とがある。
端子対テーブル４５は、複数の端子と複数の端子との間の正常な結線関係を、端子番号による端子対情報として記憶したものである。
情報処理装置４０は、正常な端子対情報をキーボード５０から入出力部４９を介して入力する。
正常な端子対情報は、端子対テーブル４５に記憶される。端子対テーブル４５は複数記憶することができる。
【００５３】
上記情報処理装置４０は、さらに、
上記出力部３３が出力する導通テスト部３１が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する取り込み部４１と、
取り込み部４１が入力したプローブ対情報をプローブ対テーブル４６に記憶し、プローブ対情報を記憶部４３の端子対テーブル４５に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定して表示画面５１に出力する異常出力部４８と
を備えている。
【００５４】
上記情報処理装置４０は、一つの端子対テーブル４５を選択して、配線確認装置３０に出力する書き込み部４２を備えている。出力された端子対テーブル４５は、配線確認装置３０において、端子対テーブル３８としてメモリ３７に記憶される。
【００５５】
上記情報処理装置４０の各部は、ＣＰＵ４７により制御される。ＣＰＵ４７は、マイクロプロセッサやファームウエアやプログラムを備え、情報処理装置４０の各部を制御する。
【００５６】
「機能の説明」
配線確認システムは、接続先検索機能（機能１）と配線確認検査機能（機能２）を備えている。
【００５７】
（機能１：マニアル検査モード）
配線の接続先検索機能は、配線確認装置３０に情報処理装置４０を未接続の状態にて、任意の接続元端子９２から接続先端子９３の検索を行い配線確認装置３０の表示器３９に接続端子番号を表示する。
【００５８】
（機能２：自動検査モード）
配線確認検査機能は、配線確認装置３０と情報処理装置４０とを接続することにより、正常な配線データと比較することにより良否判定を行い、不具合箇所を発見すると不具合内容（ショート、オープン）を情報処理装置４０の表示画面５１に表示し、記憶部４３の結果ファイルに良否結果を保存する。
【００５９】
「動作の説明」
図９は、マニアル検査モードの動作フロー図である。
１．作業者の準備作業
配線確認装置３０のＰＯＷＥＲスイッチのＯＦＦを確認する。
モード切り替えスイッチ３５で「マニアル」（接続先検索機能）を選択する。
情報処理装置４０を除き、配線確認装置３０にプローブ針９０、受電側プローブユニット２０を治具ケーブル７９を介して接続する。
受電側プローブユニット２０を回路基板９１に取り付け、複数の受電側プローブ２１を複数の端子９３に接触させる。
【００６０】
２．マニアル検査モードの動作
作業者が配線確認装置３０のＰＯＷＥＲスイッチをＯＮする。
この時点で、図９のフローがスタートする。
【００６１】
Ｓ１：通電ステップ
作業者が接続元の任意の１個の端子９２にプローブ針９０を接触させる。そして、通電部３４がプローブ針９０に通電する。
【００６２】
Ｓ２：導通検査ステップ
導通サーチ部３２が受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の導通状態を順に１端子づつ検査する。導通サーチ部３２は全端子について導通検査をして導通のあった端子番号を制御部３６に出力する。
【００６３】
Ｓ３：表示ステップ
制御部３６は、導通検査をして導通のあった端子番号をすべて表示器３９に表示すると共にブザーを鳴らす。ブザー音は、接続先端子９３が一箇所の場合は、“ピッ“と１回鳴る。接続先端子９３が複数箇所の場合は、“ピッピッピッ“と３回鳴る。
作業者は、表示器３９の表示とブザー音で配線の正誤を確認する。
なお、Ｓ２において、制御部３６が導通のあった端子番号をメモリ３７に記憶し、Ｓ３において、作業者が後からメモリ３７に記憶した端子番号を表示器３９に表示してもよい。
【００６４】
図１０は、自動検査モードの動作フロー図である。
１．作業者の準備作業
情報処理装置４０の記憶部４３の配線データファイル４４の端子対テーブル４５に、検査対象となる回路基板９１の正常な配線関係を示す端子対情報を記憶しておく。たとえば、図１１の端子対テーブル４５がその一例である。端子対テーブル４５の端子対情報は、作業者がキーボード５０から入力することができる。
配線確認装置３０のＰＯＷＥＲスイッチのＯＦＦを確認する。
モード切り替えスイッチ３５の「自動」（配線確認機能）を選択する。
配線確認装置３０に、送電側プローブユニット１０、受電側プローブユニット２０を治具ケーブル７９を介して接続する。
配線確認装置３０に、情報処理装置４０を接続する。
送電側プローブユニット１０を回路基板９１に取り付け、送電側プローブ１１を端子９２に接触させる。
受電側プローブユニット２０を回路基板９１に取り付け、受電側プローブ２１を端子９３に接触させる。
【００６５】
２．自動検査モードの動作
作業者が、配線確認装置３０のＰＯＷＥＲスイッチをＯＮする。
作業者が、情報処理装置４０のプログラムを起動する。
この時点で、図１０のフローがスタートする。
【００６６】
Ｓ４１：選択ステップ
作業者が、記憶部４３の複数の端子対テーブル４５から一つの端子対テーブル４５を選択する。
【００６７】
Ｓ４２：起動ステップ
ＣＰＵ４７は、配線確認装置３０の自動検査モードを起動する。選択された端子対テーブル４５は、ＣＰＵ４７により書き込み部４２から出力される。
【００６８】
Ｓ３０：起動ステップ
配線確認装置３０は、自動検査モードを起動し、情報処理装置４０から端子対テーブル４５を入力部６９を介して入力する。制御部３６は端子対テーブル４５をメモリ３７に端子対テーブル３８として記憶する。
【００６９】
Ｓ３１：導通テストステップ
導通テスト部３１は、送電側プローブユニット１０の複数の送電側プローブ１１に対して、送電側プローブ１本づつ順に通電して、導通テストをする。
【００７０】
Ｓ３２：導通サーチステップ
導通サーチ部３２は、導通テスト部３１が導通テストをしている間（通電中）に、受電側プローブユニット２０の複数の受電側プローブ２１に対して、受電側プローブ１本づつ順に、導通チェックをして、いずれの受電側プローブ２１に導通があるかを判定する。
【００７１】
Ｓ３３：出力ステップ
出力部３３は、メモリ３７の端子対テーブル３８と比較して、導通テスト部３１が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブの番号とが、端子対テーブル３８の配線情報と異なる場合に、導通テスト部３１が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として出力する。
【００７２】
Ｓ３４：ループステップ
上記Ｓ３１からＳ３３を、全送電側プローブ１１に順に通電して繰り返す。
なお、Ｓ３３の個々の導通検査結果の出力をやめ、Ｓ３４の後に、まとめて出力してもよい。また、メモリ３７の端子対テーブル３８と比較することをせず、全導通検査結果を情報処理装置４０に出力してもよい。
【００７３】
Ｓ４３：取り込みステップ
取り込み部４１は、上記出力部３３が出力する導通検査結果、即ち、導通テスト部３１が導通テストをした送電側プローブの番号と、導通サーチ部３２が導通ありと判定した受電側プローブの番号とをプローブ対情報として入力する。
【００７４】
Ｓ４４：比較ステップ
ＣＰＵ４７は、取り込み部４１が入力したプローブ対情報をプローブ対テーブル４６に記憶し、プローブ対情報を記憶部４３の端子対テーブル４５に記憶した端子対情報と比較して、配線に異常があるか否かを判定する。
【００７５】
Ｓ４５：出力ステップ
異常出力部４８は、表示画面５１に判定結果を出力する。
【００７６】
図１１は、ＣＰＵ４７の比較判定動作の一例を示す図である。
図１１において、端子対テーブル４５は正常な配線を示す。プローブ対テーブル４６は配線確認装置３０からの全導通検査結果である。
端子対テーブル４５において端子番号１と端子番号１とは結線されており、プローブ対テーブル４６でも結線されているので正常な結線である。
端子対テーブル４５において端子番号２と端子番号２とは結線されており、プローブ対テーブル４６では結線されていないので、オープン状態であり異常出力される。
端子対テーブル４５において端子番号３と端子番号４とは結線されており、プローブ対テーブル４６ではプローブ番号３とプローブ番号３とが結線されているので、ショート状態であり異常出力される。
端子対テーブル４５において端子番号４と端子番号３とは結線されており、プローブ対テーブル４６ではプローブ番号４とプローブ番号４とが結線されているので、ショート状態であり異常出力される。
【００７７】
実施の形態２．
実施の形態１と異なる点について以下に説明する。
実施の形態１では、端子対テーブル４５をキーボード５０から入力して作成したが、実施の形態２では、通電部３４と情報処理装置４０を用いて端子対テーブル４５を自動作成する。
先ず、良品の回路基板９１を準備する。良品の回路基板９１は配線が正常であるものとする。
配線確認装置３０は、良品の回路基板９１に対して、上記図１０のＳ３１からＳ３４を繰り返し、得られた全端子の配線情報を正常な端子対情報として出力部３３から情報処理装置４０に出力する。
情報処理装置４０は、正常な端子対情報を取り込み部４１から取り込み、ＣＰＵ４７は、その正常な端子対情報のファイル名を付して端子対テーブル４５として登録する。以後、その端子対テーブル４５は、正常な端子対情報を記憶した端子対テーブル４５として用いることができる。
【００７８】
実施の形態３．
実施の形態１と２と異なる点について以下に説明する。
【００７９】
プローブユニット７０の複数のプローブ７１の配列は、以下のように任意である。
（Ｍ，Ｎは任意の２以上の整数）
１行×Ｎ列
Ｍ行×１列
Ｍ行×Ｎ列
複数のプローブ７１は、配列されていなくてもよい。複数のプローブ７１は、端子９２及び端子９３の配置に合わせて、環状、角状、台形状、放射線状、曲線状、ランダムに配置されていてもよい。
【００８０】
送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１の数と受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の数は異なっていてもよく、以下に述べるように、複数回の試験をすれば全端子の試験ができる。
【００８１】
「送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１の数＜受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の数の場合」
１から２０番の端子９２と１から２０番の端子９３を検査するに当たり、送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１の数＝１０本、受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の数＝２０本の場合は、以下のように２回の試験をすればよい。
【００８２】
１回目の試験
１から１０番の端子９２と１０本の送電側プローブ１１を接続する。
１から２０番の端子９３と２０本の受電側プローブ２１を接続する。
この結果、１から１０番の端子９２と１から２０番の端子９３の結線関係が判明する。
【００８３】
２回目の試験
１１から２０番の端子９２と１０本の送電側プローブ１１を接続する。
１から２０番の端子９３と２０本の受電側プローブ２１を接続する。
この結果、１１から２０番の端子９２と１から２０番の端子９３の結線関係が判明する。
１回目と２回目の試験により、１から２０番の端子９２と１から２０番の端子９３の結線関係がすべて判明する。
【００８４】
「送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１の数＞受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の数の場合」
１から２０番の端子９２と１から２０番の端子９３を検査するに当たり、送電側プローブユニット１０の送電側プローブ１１の数＝２０本、受電側プローブユニット２０の受電側プローブ２１の数＝１０本の場合は、以下のように２回の試験をすればよい。
【００８５】
１回目の試験
１から２０番の端子９２と２０本の送電側プローブ１１を接続する。
１から１０番の端子９３と１０本の受電側プローブ２１を接続する。
この結果、１から２０番の端子９２と１から１０番の端子９３の結線関係が判明する。
【００８６】
２回目の試験
１から２０番の端子９２と２０本の送電側プローブ１１を接続する。
１１から２０番の端子９３と１０本の受電側プローブ２１を接続する。
この結果、１から２０番の端子９２と１１から２０番の端子９３の結線関係が判明する。
１回目と２回目の試験により、１から２０番の端子９２と１から２０番の端子９３の結線関係がすべて判明する。
【００８７】
プローブ７１の数は、端子９２あるいは端子９３の数より多くてもよく、プローブ７１が余っていてもかまわない。逆に、プローブ７１の数は、端子９２の数より少なくてもよく、上記の通り、複数回の試験をすればよい。
【００８８】
実施の形態４．
実施の形態１から３と異なる点について以下に説明する。
【００８９】
回路基板９１の代わりに、配線ケーブルを検査する場合や集積回路のピンを検査する場合でも構わない。配線ケーブルを検査する場合には、配線ケーブルの両端にあるコネクタと接続可能なコネクタを送電側プローブユニット１０と受電側プローブユニット２０の代わりの用いればよい。あるいは、配線確認装置３０のコネクタ５６と５７とに、配線ケーブルの両端にあるコネクタを直接接続すればよい。
端子９２と端子９３とは、基板のパッドでもよいし、配線ランドでもよいし、電線を止めるねじでも構わない。また、集積回路のソケットピンでも構わない。また、コネクタ・ターミナル・ジャック・プラグ・スイッチなどと呼ばれるものでも構わない。
【００９０】
ばね７６は、ユニット板７２とスライドエンド８２とを連結した引張りコイルばねでもよい。また、ばね７６は、端子９２と導電性磁石７５との接触を助けるもの、即ち、導電性磁石７５を端子９２に押すものであれば、コイルばねでなくてもよく、板ばねなどの他のばね構造のものでもよい。
また、ばね７６は、鋼ばね・非鉄金属ばねなどの金属ばねに限らず、非金属ばねでもよい。たとえば、圧縮空気や弾性体（ゴム・スポンジ・合成樹脂）を用いた加圧構造のものでも構わない。蛇腹状・襞状の伸縮構造のものでも構わない。
【００９１】
胴部７４をなくして、胴部７４に代わりに導電性のばね７６を用いてもよい。この場合は、治具ケーブル７９と導電性磁石７５とがばね７６の両端に、はんだ付けされ、導電性磁石７５とばね７６と治具ケーブル７９とは電気的に接続された状態になる。また、ばね７６を磁石にすれば、導電性磁石７５を省略することも可能である。
【００９２】
また、プローブ７１の胴部７４を磁石にし導電性磁石７５を省略してもよい。
【００９３】
端子番号やプローブ番号は数字でなくてもよく、Ａ，Ｂ，Ｃ，・・・などの記号でもよいし、その他の一意に定まる記号や識別子でもよい。
【符号の説明】
【００９４】
１０  送電側プローブユニット、１１  送電側プローブ、２０  受電側プローブユニット、２１  受電側プローブ、３０  配線確認装置、３１  導通テスト部、３２  導通サーチ部、３３  出力部、３４  通電部、３５  モード切り替えスイッチ、３６  制御部、３７  メモリ、３８，４５  端子対テーブル、３９  表示器、４０  情報処理装置、４１  取り込み部、４２  書き込み部、４３  記憶部、４４  配線データファイル、４６  プローブ対テーブル、４７  ＣＰＵ、４８  異常出力部、４９  入出力部、５０  キーボード、５１  表示画面、６０  接触機構、６９  入力部、７０  プローブユニット、７１  プローブ、７２  ユニット板、７３  孔、７４  胴部、７５  導電性磁石、７６  ばね、７７  ねじ、７８  クリップ、７９  治具ケーブル、８０  取付機構、８２  スライドエンド、８３  胴端部、８４  絶縁パイプ、９０  プローブ針、９１  回路基板、９２，９３  端子、１００  配線確認システム。
【図１】
2010164406.tif 000003
【図２】
2010164406.tif 000004
【図３】
2010164406.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2010164406.tif 000009
【図８】
2010164406.tif 000010
【図９】
2010164406.tif 000011
【図１０】
2010164406.tif 000012
【図１１】
2010164406.tif 000013