(57)【要約】【課題】通電用クリップを用いて多数個の電子部品の試験を、同時に、かつ、自動的に行うことができるような給放電用試験装置を提供すること。【解決手段】電子部品の電極を突出させてセットする電子部品トレイと、電子部品の電極に臨ませて設けた通電用クリップと、この通電用クリップの１対の接触端子間が開閉するようにクリップ体間に進退するためのクサビ体を可動するクサビ体用シリンダと、通電用クリップとクサビ体とを一体に電子部品の電極側に進退する通電用クリップ用シリンダとを具備し、通電用クリップ用シリンダは、通電用クリップとクサビ体を進退する上シリンダと、上シリンダの退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダとからなり、通電用クリップの１対の接触端子により電子部品の電極を圧接摺動せしめる。【選択図】  図８
2010145419.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験体としての電子部品の電極を突出させてセットする電子部品トレイと、この電子部品トレイにセットされた電子部品の電極に臨ませて設けた通電用クリップと、この通電用クリップの１対の接触端子間が開閉するようにこの通電用クリップの１対のクリップ体間に進退するためのクサビ体を可動するクサビ体用シリンダと、通電用クリップ１とクサビ体とを一体に電子部品の電極側に進退する通電用クリップ用シリンダとを具備し、前記通電用クリップ用シリンダは、通電用クリップとクサビ体を進退する上シリンダと、この上シリンダの退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダとからなり、通電用クリップの１対の接触端子により電子部品の電極を圧接摺動せしめるようにしたことを特徴とする通電用クリップを用いた給放電試験装置。
【請求項２】
固定ケースと、この固定ケースの上部にセットされ、被試験体としての複数個の電子部品の電極を所定間隔で下向きに突出させてセットするための電子部品トレイと、前記固定ケースの内部に上下動自在に設けられた通電用グリップ支持ケースと、この通電用グリップ支持ケースに上下動自在に設けられたクサビ体取付け枠と、前記複数個の電子部品の電極に臨ませて前記通電用グリップ支持ケースに設けた複数個の通電用クリップと、前記通電用グリップ支持ケースと前記クサビ体取付け枠の間に設けられ、前記通電用クリップの１対の接触端子間が開閉するようにこの通電用クリップの１対のクリップ体間に進退するためのクサビ体を可動するクサビ体用シリンダと、前記固定ケース３通電用グリップ支持ケースの間に設けられ、前記通電用クリップとクサビ体とを一体に電子部品の電極側に進退する通電用クリップ用シリンダとを具備し、前記通電用クリップ用シリンダは、通電用クリップとクサビ体を進退する上シリンダと、この上シリンダの退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダとからなり、通電用クリップの１対の接触端子により電子部品の電極を圧接摺動せしめるようにしたことを特徴とする通電用クリップを用いた給放電試験装置。
【請求項３】
通電用クリップは、２個の絶縁性部材からなるクリップ体にそれぞれ電極材を一体成型し、この電極材の一端部をクリップ体の一端から露出してリード線接続端子となし、この電極材の他端部を、クリップ体の他端で互いに向い合わせて露出して接触端子となし、前記２個のクリップ体のほぼ中央のそれぞれのシャフト受突起を互いに噛合し、かつ、シャフトを挿通するとともに、このシャフトにトーションばねを介装し、このトーションばねは、互いに向い合う接触端子が常時開く方向に付勢して設けて、リード線接触端子側に設けたクリップ体の突出部間にクサビ体を進退自在に介在し、常開タイプとしたことを特徴とする請求項１又は２記載の通電用クリップを用いた給放電試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品（例えばカード式二次電池や電気二重層コンデンサ等）の＋、−の電極に接続して、その電子部品の充放電を行ったり、＋、−の電極からの信号検出により、その電子部品の試験を行ったりするための通電用クリップを用いた給放電試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、図９及び図１０に示すように、カード型二次電池等の電子部品２０の一般的な電極２１は、電子部品２０の一端から＋電極２２と−電極２３が突出してなるもので、＋電極２２にはアルミニウム、−電極２３にはニッケルを用い、ともに形状は長方形、厚さは約８０μｍ程度である。
【０００３】
従来、このような電子部品２０の＋電極２２及び−電極２３からの給放電や信号の検出は、図９に示すような接触ピン２４を用いる方法や、図１０に示すようなわに口クリップ２６による方法が用いられていた。
このうち、図９に示すような接触ピン２４による方法では、絶縁ボード２５に複数個植設した接触ピン２４を＋電極２２及び−電極２３に押圧することにより信号検出を行っており、電子部品２０の給放電量や電子部品２１から検出される電流量等の使用目的に応じて、使用する接触ピン２４の数量やピン径の大きさを選択していた。
又、図１０に示すような、わに口クリップ２６で前記電子部品２０の＋電極２２及び−電極２３を挟むことにより給放電を行う方法又は信号を検出する方法では、前記わに口クリップ２６の鋸歯状をなすクリップ部２８で、＋電極２２及び−電極２３を挟んでいた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平６−５３２０号公報
【特許文献２】特開平３−９８２７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
図９に示すような、前記複数個の接触ピン２４を電極２１に押圧接触して電子部品２０の給放電及び信号検出を行う場合、接触ピン２４の先端部２９は突起状をなしているので、特に、薄板状の電極２１は、裏面に平板な部材を介在したとしても、電極２１の表面に傷や凹凸などが生じてしまう。このため、前記接触ピン２４による試験後は、電子部品の組立てや、他部品との接続といった加工が困難になるという問題があった。
一方、図１０に示すように、わに口クリップ２６で前記電極２１を挟んで接続する場合には、給放電用のわに口クリップ２６と信号検出用のわに口クリップ２６を少なくとも２個必要とした。又、わに口クリップ２６のクリップ部２８は鋸歯状をなしているので、電極２１の表面には、接触ピン２４を用いたときよりも多くの傷や凹凸などが生じてしまう。このため、前記わに口クリップ２６による試験後においても、電子部品２０の加工が困難になるという問題があった。
【０００６】
又、前記接触ピン２４においては、前記電極２１と接触するのは突起状の先端部２９のみであり、前記わに口クリップ２６においては、前記電極２１と接触するのはクリップ部２８の突端部分のみであった。すなわち、電極２１と、接触ピン２４又はわに口クリップ２６とは、いずれも点接触により接触していた。このため、電子部品の大電流には対応できず、かつ、接触抵抗が大きくなって、正しい給放電及び信号検出は行えないという問題があった。
【０００７】
本発明の目的は、通電用クリップを用いて多数個の電子部品の試験を、同時に、かつ、自動的に行うことができるような給放電用試験装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、被試験体としての電子部品２０の電極２１を突出させてセットする電子部品トレイ３０と、この電子部品トレイ３０にセットされた電子部品２０の電極２１に臨ませて設けた通電用クリップ１と、この通電用クリップ１の１対の接触端子１８間が開閉するようにこの通電用クリップ１の１対のクリップ体２間に進退するためのクサビ体３４を可動するクサビ体用シリンダ４８と、通電用クリップ１とクサビ体３４とを一体に電子部品２０の電極２１側に進退する通電用クリップ用シリンダ４９とを具備し、前記通電用クリップ用シリンダ４９は、通電用クリップ１とクサビ体３４を進退する上シリンダ５１と、この上シリンダ５１の退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダ５２とからなり、通電用クリップ１の１対の接触端子１８により電子部品２０の電極２１を圧接摺動せしめるようにしたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は、上述のように構成したので、電圧の給放電、信号検出等を行うときに、通電用クリップで電極に傷をつけることがない。
【００１０】
又、本発明は、前記通電用クリップを複数個用いて、自動の電子部品用試験装置を形成した。
従って、通電用クリップ１個では対応できない大容量の電流量を有する電子部品や、複数個の電子部品の試験を、自動的に行うことができる試験装置を提供することができる。
更に、本発明における自動装置においては、接触端子と電極を当接させるために、ストロークの異なる２個のシリンダを用い、ストロークの差分だけ接触端子が電極上を摺動するように形成した。従って、接触端子と電極との接触面がより多くなり、より大容量の電流に対応可能となる試験装置を提供することができる。
【００１１】
本発明は、常開タイプの通電用クリップを用いることにより、接触端子の間に電極を挟む場合は、リード線接触端子間にクサビ体等を圧入するという１種類の操作だけで接触端子が閉じ、電極を挟むことができる。
従って、操作の省略が可能となり、試験に要する手間や時間を大幅に削減することができ、試験回数を増加することも可能とする。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明による通電用クリップの一実施例を示す分解斜視図である。
【図２】図１における組立後の斜視図である。
【図３】本発明による常閉タイプの通電用クリップの縦断面図である。
【図４】本発明による常開タイプの通電用クリップの縦断面図である。
【図５】本発明による通電用クリップを用いた手動型給放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
【図６】図５における動作説明のための一部断面した正面図である。
【図７】図５における要部の分解斜視図である。
【図８】本発明による通電用クリップを用いた自動型給放電試験装置の一実施例を示す分解斜視図である。
【図９】従来の接触ピンを用いた場合の斜視図である。
【図１０】従来のわに口クリップを用いた場合の斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明による通電用クリップを用いた給放電試験装置は、固定ケースと、この固定ケースの上部にセットされ、被試験体としての複数個の電子部品の電極を所定間隔で下向きに突出させてセットするための電子部品トレイと、前記固定ケースの内部に上下動自在に設けられた通電用グリップ支持ケースと、この通電用グリップ支持ケースに上下動自在に設けられたクサビ体取付け枠と、前記複数個の電子部品の電極に臨ませて前記通電用グリップ支持ケースに設けた複数個の通電用クリップと、前記通電用グリップ支持ケースと前記クサビ体取付け枠の間に設けられ、前記通電用クリップの１対の接触端子間が開閉するようにこの通電用クリップの１対のクリップ体間に進退するためのクサビ体を可動するクサビ体用シリンダと、前記固定ケース３通電用グリップ支持ケースの間に設けられ、前記通電用クリップとクサビ体とを一体に電子部品の電極側に進退する通電用クリップ用シリンダとを具備し、前記通電用クリップ用シリンダは、通電用クリップとクサビ体を進退する上シリンダと、この上シリンダの退動の動作を一時的にわずかなストロークで停止させるための下シリンダとからなり、通電用クリップの１対の接触端子により電子部品の電極を圧接摺動せしめるようにしたことを特徴とする。
【実施例】
【００１４】
本発明の給放電用試験装置に用いられる通電用クリップを図１〜図４に基づき説明する。
通電用クリップ１は、２個のクリップ体２，２と、このクリップ体２，２の成型時にクリップ体２と一体に埋設した２個の電極材５，５と、シャフト７と、トーションばね１３からなり、トーションばね１３の組み込み方向の違いにより、図３に示す常閉タイプの通電用クリップ１ａと、図４に示す常開タイプの通電用クリップ１ｂとがある。以下、それぞれのタイプごとに説明する。
【００１５】
常閉タイプの通電用クリップ１ａ
図１、図２及び図３において、電極材５は、細板長方形状の導電体からなり、長手側を前記クリップ材２長さとほぼ同じ長さとし、短手側をクリップ体２の幅より狭くする。そして、長手側の一端部をリード線接続端子１７とし、他方端部は半円状に折曲して接触端子１８とする。尚、図示例では前記電極材５のリード線接続端子１７を板状とし、かつ、小さな孔をあけて半田付けタイプとしたが、本発明はこれに限られるものではなく、リード線接続端子１７は、Ｕ字溝状に折曲した圧着タイプであってもよい。
【００１６】
前記２個のクリップ体２は、絶縁性部材を、左右同一形状の選択ばさみ状に形成したもので、具体的な形状は以下のとおりとする。
クリップ体２の成型加工時に、前記電極材５をクリップ体２の中央部に埋設し、電極材５の両端のリード線接触端子１７と接触端子１８を電極材５から突出させるように一体成型する。
更に詳しくは、前記クリップ材２の上部には、電極材５のリード線接触端子１７を保護したり、短絡を防いだりするために、２個の突出部３，３を形成し、この突出部３，３の間に凹部４を形成する。
この凹部４の中央部には、前記電極材５の一端部を、クリップ体２の一端から突出させてリード線接続端子１７とする。又、電極材５の多端部から半円状の端部を突出させ、クリップ体２の内側の半円部１１に巻付けるようにして接触端子１８とする。
【００１７】
前記２個のクリップ材２の中央部には、それぞれシャフト７を挿通して軸受けとするため、２個のシャフト受突起８，８を、間隔１２をあけて形成する。これらのシャフト受突起８，８のうち、一方のシャフト受突起８はクリップ材２の一方の側縁と同一面に設け、他方のシャフト受突起８はクリップ材２他方の側縁との間にシャフト受突起８の幅と同程度の切欠きを設け、シャフト係合部９とする。更に、シャフト受突起８，８の中央には、相互に一直線状となるシャフト穴１０，１０を形成する。
【００１８】
前記トーションばね１３は、金属性の線からなる。形状は、中心角約６０度のＶ字形とし、中央部のみを数回巻いてコイル部１４とし、それ以外の両部分は直線とする。又、コイル部１４の直径はシャフト７の直径よりやや大きくする。
【００１９】
シャフト７は、絶縁棒や金属棒からなり、直径がシャフト穴１０よりやや小さめとする。又、このシャフト７は挿入時の抜け止めとして、一端部にシャフト穴１０よりやや大きめの抜け止め頭部１５を形成し、他端部に、挿入できるが抜け出ることがない抜け止め突起１６を形成する。
【００２０】
上記のとおり形成されたクリップ材２、電極材５、トーションばね１３及びシャフト７を、以下のように組立てる。
【００２１】
（１）電極材５を埋設した、同形の２個のクリップ材２，２を組合せるには、まず、前記クリップ材２は、互いにシャフト受突起８，８同士を向き合わせ、一方の２個のシャフト受突起８，８を他方のシャフト受突起８，８の間隔１２とシャフト受係号部９に待合させる。このとき、２個のクリップ体２，２のシャフト穴１０同士の位置を合せる。又、ここで、クリップ材２，２のシャフト受突起８，８間に生じる間隔１２の一部がコイル収納部１９となる。
【００２２】
（２）前記コイル収納部１９に前記トーションばね１３のコイル部１４を嵌込む。このとき、図３に示すように、トーションばね１３の先端部をリード線接続端子１７側に向けることにより常閉タイプの通電用クリップ１ａとなる。
【００２３】
（３）組合せた前記クリップ体２，２のシャフト穴１０，１０と前記トーションばね１３に、シャフト７を挿入する。シャフト７は、前記シャフト穴１０及び前記コイル部１４を、抜け止め頭部１５に係止するまで挿通させる。すると、抜け止め突起１６が前記シャフト受突起８の外部に表出して抜け止めとなる。
【００２４】
上記の常閉タイプの通電用クリップ１ａは、トーションばね１３によりクリップ材２，２の接触端子１８同士を閉じ、電子部品２０の電極２１に接続される。
又、クリップ体２，２間を指６でつまんで、接触端子１８と反対側、すなわちリード線接続端子１７側を内側に押圧すると、リード線接続端子１７，１７が、組込んだトーションばね１３の力に抗して、反対側の接触端子１８，１８が開いた状態となる。
給放電と信号検出を同時に行うときは、２個の常閉タイプの通電用クリップ１ａ，１ａを同一の電子部品２０に接続し、それぞれの常閉タイプの通電用クリップ１ａ，１ａの一方の電極材５が給放電用として作用し、他方の電極材５が信号検出用として作用する。
【００２５】
常開タイプの通電用クリップ１ｂ
前記クリップ材２、前記電極材５、前記トーションばね１３及び前記シャフト７の材質及び形状は、前記常閉タイプの通電用クリップ１ａと同様である。
しかし、常開タイプの通電用クリップ１ｂにおいては、前記コイル収納部１９に前記コイル部１４を組込むときに、前記トーションばね１３の先端部を、前記常閉タイプの場合と逆方向、すなわち、前記リード線接続端子１７側に向ける。
【００２６】
上記の方法により作成した常開タイプの通電用クリップ１ｂは、通常は、前記クリップ体２，２の前記接触端子１８側が接触せずに開いた状態となっている。そこで、反対側のリード線接続端子１７側の突出部３，３間にクサビ体３４の先端を差込んでおく。その状態で、接触端子１８，１８間に電子部品２０の電極２１を挿入し、クサビ体３４をトーションばね１３に抗して圧入することにより突出部３，３間を開くと、前記接触端子１８，１８が閉じ、接触端子１８が電子部品２０の電極２１に接触した状態となる。この常開タイプの通電用クリップ１ｂの給放電と信号検出の作用も、常閉タイプの通電用クリップ１ａと同様である。
【００２７】
次に、本発明による通電用クリップ１を用いた、手動操作により給放電の試験を行う試験装置と自動的に給放電の試験を行う試験装置の実施例を図５〜図８に基づき説明する。尚、これらの試験装置には、上記常開タイプの通電用クリップ１ｂを用いる。
【００２８】
第１実施例（手動操作による試験装置）
第１実施例の試験装置は、手動操作により電子部品の試験を行うためのもので、図５ないし図７に示すように、下方部に通電用クリップ支持ケース３１をセットし、その上部に試験用の電子部品２０を収納した電子部品トレイ３０をセットする。前記通電用クリップ支持ケース３１は、下部の固定ケース３２に進退自在に設けられている。
【００２９】
各部の詳細な構成を以下に説明する。
前記試験用の電子部品２０は、例えば図９又は図１０に示すように、薄型の長方形で、一辺部にごく薄い１対の板状の電極２１（＋電極２２及び−電極２３）が突出している。
前記電子部品トレイ３０は、直方体の内側に浅めの凹部２７を有する。この電子部品トレイ３０の凹部２７には複数個の電子部品挿入口３６を等間隔でかつ複数列に形成する。この電子部品挿入口３６は、電子部品２０の電極２１を下向きにして収納できる形状をなし、電子部品挿入口３６の下部にある電極挿入口３７は、前記電極２１を挿入でき、挿入した電極２１の先端が前記電子部品トレイ３０の下底から少なくとも１０ｍｍ程度突出する形状とする。
【００３０】
前記通電用クリップ支持ケース３１の内部には、浅めのクサビ体取付け枠３３を遊嵌する。このクサビ体取付け枠３３は、直方箱体とし、上面を開口し、底板には、クサビ体支持ガイド棒３８を支持するためのクサビガイド穴４１を等間隔に形成する。
【００３１】
前記通電用クリップ支持ケース３１は、図７に示すように、直方箱体とし、上面を開口し、底面に底板よりやや幅の狭い長穴４４を形成してなる通電用支持ケース本体部４２と、その上端から外方へ張り出して形成した２個の押下げ鍔部４３，４３とからなる。
【００３２】
前記固定ケース３２は、固定ケース本体部４５と、電源や検出器を接続するためのコネクタ接続部４６とからなる。
固定ケース本体部４５は直方箱体とし、上面を開口する。そして、内部に前記通電用クリップ支持ケース本体部３１を遊嵌するために、通電用クリップ支持ケース本体部３１より一回り大きくする。又、底面には、前記クサビ体ガイド棒３８のクサビガイド孔４１とコネクタ取付け孔６１を設け、底面の両端部に前記クサビ体ガイド棒３８を植立する。そして、このクサビ体取付けガイド棒３８が遊嵌するように、固定ケース本体部４５の底面と前記通電用クリップ支持ケース３１の押下げ鍔部４３の底面下側との間に、コイル状の押上げばね３５を介在する。
前記コネクタ接続部４６の上面には、複数個のコネクタ６２を取付けるためのコネクタ接続口４７を等間隔に数列形成する。
【００３３】
前記通電クリップ支持ケース３１の通電クリップ支持ケース本体部４２には、常開タイプの通電用クリップ１ｂが、２個を１対として１本のシャフト７を共有として収納されるものであり、そのシャフト７部分が前記通電用クリップ支持ケース本体部４２の両側板の軸孔６３に軸架されて、多数組を一定間隔に取付けられている。そして、この常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８は、通電用クリップ支持ケース３１の上面開口部から一部突出し、リード線接続端子１７側が下向きになるように配置されている。
前記クサビ体３４は絶縁性物質からなり、先端部から基端部にかけて両側で順次広くなるような傾斜を有する台形状とする。又、１個のクサビ体３４で、２個を１対とする通電用クリップ１ｂの突出部３，３間に圧入可能とする。又、クサビ体３４の底面中央部にはクサビ体ガイド棒３８を一体に形成する。このクサビ体支持ガイド棒３８は円柱形で、前記クサビ体取付け枠３３の丸孔６４と通電用クリップ支持ケース本体部４２の長孔４４を貫通し、更に固定ケース本体部４５のクサビガイド孔４１を貫通し、下端部の抜け止め突起３９により係止している。前記固定ケース本体部４５の底板の上面と押下げ鍔部４３の下面との間には、コイルばね４０を介在する。
【００３４】
前記実施例ではクサビ体３４の幅を広く形成し、１個のクサビ体３４で２個を１対とする通電用クリップ１ｂに圧入可能としたが、本発明はこれに限るものではなく、１個のクサビ体３４で１個の通電用クリップ１ｂに圧入可能としてもよい。
【００３５】
次に、前述のとおり組立てられた手動試験装置による試験方法を説明する。
試験に先立ち、電子部品トレイ３０を通電用支持クリップ３１の上に載せ、電子部品２０を前記電子部品トレイ３０の電子部品挿入口３６に１個ずつ配置し、電極２１の先端を電子部品トレイ３０の電極挿入口３７の下端部から表出させる。
すると、電極２１は、図６の左半部に示すように、抜け止め突起１６の接触端子１８，１８間に挿入される。
【００３６】
この状態で、電子部品トレイ３０を押下げると、通電用クリップ支持ケース３１は、常開タイプの通電用クリップ１ｂとともに下方に移動するがばね３５は充分大きな抗力を有するので、クサビ体取付け枠３３及びクサビ体３４は移動しない。このため、前記突出部３，３間にクサビ体３４が圧入されて、トーションばね１３に抗して突出部３，３側が開くので、反対側の接触端子１８，１８間が閉じ、図６の右半部のように、接触端子１８，１８によって電極２１が挟着されて電気的に接続される。
尚、前記常開タイプの通電用クリップ１ｂは、突出部３，３間にクサビ体３４が食込み、接触端子１８，１８間が密着すると、クサビ体３４もクサビ体取付け枠３３とともに下降する。クサビ体３４が突出部３，３間に食込んだ分だけ、ばね３５で吸収される。
【００３７】
試験装置のコネクタ６２に接続された外部電源や検出器等は、リード線５４、コネクタ５３、常開タイプの通電用クリップ１ｂのリード線接続端子１７、接触端子１８を経て、電子部品２０の電極２１に接続され、電子部品の給放電や信号検出等を行う。
ここで、電子部品トレイ３０による下方への押圧を除くと、再び図６の左半部のような元の状態に戻る。
【００３８】
第２実施例（自動試験装置）
第２実施例の試験装置は、電子部品トレイ３０を固定にしておき、常開タイプの通電用クリップ１ｂの上下と、この常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１８の開閉を自動的に行い、電子部品２０の試験を行うためのもので、自動的に可動する機構以外の主な構成は前記第１実施例とほぼ同一である。すなわち、図８に示すように、固定ケース３２の上部に電子部品トレイ３０をセットする。又、固定ケース３２の内部には通電用クリップ支持ケース３１を上下動自在に設け、この通電用クリップ支持ケース３１には、更に、クサビ体取付け枠３３を上下動自在に設ける。
又、前記第１実施例と同様に、前記電子部品トレイ３０の内側に複数個の電子部品２０を収納する。
特に、この第２実施例では、クサビ体３４及び常開タイプの通電用クリップ１ｂを移動するための手段として、通電用クリップ支持ケース３１と固定ケース３２の間に、上下の２個のシリンダ５１、５２からなる上下動用の通電用クリップ用シリンダ４９を設ける。又、常開タイプの通電用クリップ１ｂを開閉するためにクサビ体用シリンダ４８を設置する。
【００３９】
各部の詳細な構成について以下に説明する。
電子部品２０を収納する電子部品トレイ３０、クサビ体３４、クサビ体取付け枠３３，常開タイプの通電用クリップ１ｂ、通電用クリップ支持ケース３１及び固定ケース３２の形状は、第１実施例とほぼ同様である。
【００４０】
前記クサビ体用シリンダ４８の内部には、ピストン５５及びロッド５６が収納されて、油圧又は空気圧によりシリンダ４８が上下動する。このクサビ体用シリンダ４８のロッド５６の上端部は、通電用クリップ支持ケース３１の上端部に連結され、クサビ体用シリンダ４８は、クサビ体取付け枠３３に固着されている。このため、クサビ体用シリンダ４８が上下動することによりクサビ体３４も上下動し、常開タイプの通電用クリップ１ｂの開閉動作を行う。
前記通電用クリップ用シリンダ４９は、２個のシリンダ（上シリンダ５１と下シリンダ５２）を縦方向に直結させてなる。
すなわち、下シリンダ５２の上板と上シリンダ５１の底板との間を貫通孔で連通し、この貫通孔に、下シリンダ５２のピストン５５に連結されたロッド５６を挿通させ、上シリンダ５１のピストン５５の下面に臨ませられている。又、上シリンダ５１のストロークＳ１が下シリンダ５２のストロークＳ２よりやや長く（例えば１ｍｍ）設定されている。
上シリンダ５１のピストン５５に連結されたロッド５６は、上板を貫通して上方に伸び、上端が、通電用クリップ支持ケース３１に固着された取付け部材５７を貫通し、ロッド５６の頭部５８が係止している。
又、取付け部材５７とロッド５６の途中のばね支持部５９との間には、前記ばね３５と同一な目的を有するばね６０が介在されている。
【００４１】
次に、自動試験装置による試験方法を説明する。
電子部品２０を電子部品トレイ３０の内側に配置する。
尚、この第２実施例では、電子部品トレイ３０の底板の下面から、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８の上端部までの間隔が、通電用クリップ用シリンダ４９における上シリンダのストロークＳ１よりも、やや大きめ（例えば１ｍｍ）の空間をもって配置されている。
【００４２】
ここで、まず、通電用クリップ用シリンダ４９の上シリンダ５１と下シリンダ５２に実線方向に油圧、空気圧等を加えて同時に上昇させ、通電用クリップ支持ケース３１に組込まれた常開タイプの通電用クリップ１ｂとクサビ体３４とを一体にＳ１（２０ｍｍ）上昇させる。すると、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１８は、これらの間の隙間で、電子部品２０の電極２１を挟み込む位置まで上昇する。
このとき、上シリンダ５１のピストン５５の下面と下シリンダ５２のロッド５６の上端間に、Ｓ１−Ｓ２＝１ｍｍの隙間が生じる。
【００４３】
この状態でクサビ用シリンダ４８に実線方向に圧を加えると、ピストン５５は固定であるから、シリンダ４８が上昇する。これに伴い、クサビ体３４も上昇する。
この上昇により、クサビ体３４の上部が常開タイプの通電用クリップ１ｂの突出部３，３間に圧入され、反対側の線接触端子１８，１８が閉じ、その間に位置する電極２１と挟着して、電気的に接続する。
【００４４】
上記のように圧接した状態で、前記下シリンダ５２には実線方向に圧を加えて上昇させたまま、前記上シリンダ５１のみに点線方向に圧を加えて下降させる。
すると、上シリンダ５１は、下シリンダ５２とのストロークの差、すなわち１ｍｍだけ下降し、それに伴って常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１８及びクサビ体３４も、挟着状態を保ったまま１ｍｍ下降する。このため、接触端子１８，１８は、電極２１の表面を１ｍｍ圧接摺動することとなる。
【００４５】
上記の結果、常開タイプの通電用クリップ１ｂの接触端子１８，１８を、電極２１の両面に、より確実に接続することができる。従って、給放電や信号検出等の試験は、上記のような、圧接摺動による確実な電気的接続状態で行われる。
【００４６】
試験終了後は、まず、クサビ用シリンダ４８に点線方向の圧を加えて下降させる。これに伴い、常開タイプの通電用クリップ１ｂは、突出部３，３間に圧入されていたクサビ体３４が下降して接触端子１８，１８間が開くので、電極２１から離反する。
その後、通電用クリップ用シリンダ４９の上シリンダ５１及び下シリンダ５２にも点線方向に圧を加えて下降させ、通電用クリップ支持ケース３１を元に戻す。
【符号の説明】
【００４７】
１…通電用クリップ、１ａ…常閉タイプの通電用クリップ、１ｂ…常開タイプの通電用クリップ、２…クリップ体、３…突出部、４…凹部、５…電極材、６…指、７…シャフト、８…シャフト受突起、９…シャフト受係合部、１０…シャフト孔、１１…半円部、１２…間隔、１３…トーションばね、１４…コイル部、１５…抜け止め頭部、１６…抜け止め突起、１７…リード線接続端子、１８…接触端子、１９…コイル収納部、２０…電子部品、２１…電極、２２…＋極、２３…−極、２４…接触ピン、２５…絶縁ボード、２６…わに口クリップ、２７…凹部、２８…クリップ部、２９…先端部（接触ピン）、３０…電子部品トレイ、３１…通電用クリップ支持ケース、３２…固定ケース、３３…クサビ体取付け枠、３４…クサビ体、３５…ばね、３６…電子部品挿入口、３７…電極挿入口、３８…クサビ体ガイド棒、３９…抜け止め突起、４０…ばね、４１…クサビガイド孔、４２…通電用クリップ支持ケース本体部、４３…押下げ鍔部、４４…長孔、４５…固定ケース本体部、４６…コネクタ接続部、４７…コネクタ接続口、４８…クサビ体用シリンダ、４９…通電用クリップ用シリンダ、５１…上シリンダ、５２…下シリンダ、５３…コネクタ、５４…リード線、５５…ピストン、５６…ロッド、５７…取付け部材、５８…頭部、５９…ばね支持部、６０…ばね、６１…コネクタ取付け孔、６２…コネクタ、６３…軸孔、６４…丸孔。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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