(57)【要約】【課題】  ＰＤセンサで検出された回転多面鏡で反射されたレーザ光と予め測定されたＰＤセンサの出力値との比較で、回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを判断して画像形成装置を停止していた。このため画像形成装置のダウンタイムが長くなるという課題がある。【解決手段】  回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備える。【選択図】  図５
2010145847.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
反射面を有し回転する回転多面鏡にレーザ光を反射させて感光体に静電潜像を形成する光走査装置において、
前記回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、
前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備えることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記検知手段は、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された第１の反射光量と第２の反射光量との差分が所定値以上である場合に前記回転多面鏡の反射面に汚れのばらつきがあると判断することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記検知手段は、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値を比較し、前記比較した検出値の差分が所定値以上となる反射面があった場合に前記回転多面鏡の反射面に汚れのばらつきがあると判断することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記検知手段は、前記検出値の最大値と最小値の差分に基づいて、前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知することを特徴とする請求項３に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記光走査装置を備えた画像形成装置であって、
通知手段を備え、
前記通知手段は、前記検知手段で反射面の汚れのばらつきを検知すると警告表示すると共に、前記警告表示する内容は、前記最大値と最小値の差分値に応じて切り替えることを特徴とする請求項４記載の光走査装置を備えた画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置に関し、さらに詳しくは、レーザプリンタ等のレーザ光で像担持体上を走査して画像を形成する光走査装置及び画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置で使用する光走査装置では、入力された画像データに応じてレーザ光源を駆動してレーザ光を出射し、複数の反射面を備える回転多面鏡（ポリゴンミラー）等の偏向部材で偏向走査している。この偏向走査されるレーザ光により画像形成装置が備える像担持体としての感光体の主走査方向（感光体の軸方向）に静電潜像を形成する。また光走査装置では、回転多面鏡により偏向走査されたレーザ光が光検出センサ（フォトダイオードで構成され、ＢＤセンサともいう）に入射され、光検出センサから出力される主走査同期信号をもとに感光体上への静電潜像を形成する開始タイミングを制御する。
【０００３】
このような光走査装置では一般的に画像形成装置内の粉塵等で反射面が汚れないように粉塵等が入りにくい構造としているが、粉塵等が入ってしまうと回転多面鏡は高速で回転しており、反射面が粉塵等の巻き込みで汚れることが知られている。
【０００４】
図９に示すように、回転多面鏡３３の回転する方向Ａ’と反対方向に気流Ｂ’が発生する。このため回転多面鏡３３の反射面で偏向走査の開始側（同図の太線部分）に気流の巻き込みが起こり、回転多面鏡の反射面内では走査開始側から汚れ始める。
【０００５】
そこで回転多面鏡の反射面が汚れているか否かを判別する光走査装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。具体的には、回転多面鏡で反射されたレーザ光を光検知センサ（ＰＤセンサ）で検知し、予め測定されたＰＤセンサの出力値と回転多面鏡の汚れ量との関係とに基づいて反射面が汚れていることを判別する。
【特許文献１】特開２００６−０１１３００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
反射面が汚れると反射面毎に反射光量がばらつくという傾向があることがわかっており、反射面毎に偏向走査の開始側部分近傍での反射光量が大きくばらつくと光検出センサの検出精度にばらつきが大きく生じる。その結果、書き出し位置がずれ画像揺らぎが生じ画像品質を大きく劣化させる。このような状況が発生した場合には、サービスマンがメンテナンスを行う必要があり、またサービスマンが到着するまで画像形成装置を停止させた方が好ましい。
【０００７】
一方、反射光量の低下があったとしても、反射面にかかわらず反射光量が一様に低下しているのであれば、例え書き出し位置に変動が生じていても一様に変動するため画像品質の劣化は目立ち難い。このような場合には、サービスマンがメンテナンスを行う必要があっても、サービスマンがメンテナンスに到着するまで画像形成装置を停止させずに稼動させた方が画像形成装置を使用できなくなる時間が短縮されるため好ましい。
【０００８】
しかし上記特許文献１で提案された方法では、ＰＤセンサで検出された回転多面鏡で反射されたレーザ光と予め測定されたＰＤセンサの出力値との比較で、回転多面鏡の反射面の汚れを判断している。つまり反射面が汚れたことは検出するが、反射面内での反射光量のばらつきを考慮しておらず、汚れたことを検知した時点で画像形成装置を停止していた。従って、画像形成装置のダウンタイムが長くなるという課題がある。
【０００９】
そこで、本発明は、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することができる光走査装置及び画像形成装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明はかかる課題を解決するために、反射面を有し回転する回転多面鏡にレーザ光を反射させて感光体に静電潜像を形成する光走査装置において、前記回転多面鏡の反射面で反射されたレーザ光を検出する光検出手段と、前記回転多面鏡の異なる反射面で各々反射され前記光検出手段で検出された検出値の比較に基づいて前記回転多面鏡の反射面の汚れのばらつきを検知する検知手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、精度よく、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、図面を参照して、この発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。
【００１３】
図１は、本発明の一実施形態としての画像形成装置全体の概略断面図である。画像形成装置１００の基本的な動作について図１を用いて説明する。原稿給紙装置１上に積載された原稿は、１枚ずつ順次原稿台ガラス２のガラス面上に搬送される。原稿が原稿台ガラス２のガラス面上に搬送されると、読取りユニット４のランプ部３が点灯し、かつ読取りユニット４が図中の矢印方向に移動ながら原稿を照射する。原稿からの反射光はミラー５，６，７を介してレンズ８を通過し、その後、イメージセンサー部９に入力される。イメージセンサー部９に入力された画像信号は、一旦、画像データ生成部２００に記憶され、再び読み出された後、光走査装置としてのスキャナユニット１０に入力される。スキャナユニット１０が発生させる照射光によって像担持体である感光体１１上に作られた静電潜像は、電位センサ３０によって、感光体１１上の電位が所望の値になっているか監視され、次いで、現像器１３によって現像される。上記静電潜像とタイミングを合わせて転写部材積載部１４、あるいは１５より転写部材が搬送され、転写部１６に於いて、上記現像されたトナー像が転写部材上に転写される。転写されたトナー像は定着部１７にて転写部材に定着された後、排紙部１８より装置外部に排出される。転写後の感光体１１の表面をクリーナ２５で清掃し、クリーナ２５で清掃された感光体１１の表面を補助帯電器２６で除電して１次帯電器２８において良好な帯電を得られるようにする。その上で、感光体１１上の残留電荷を前露光ランプ２７で消去し、１次帯電器２８で感光体１１の表面を帯電し、この工程を繰り返すことで複数枚の画像形成を行う。
【００１４】
図２は、光走査装置としてのスキャナユニット１０の概略構成図である。まず図２において光走査装置としてのスキャナユニット１０は、概略的には、半導体レーザであるレーザ光源４３を有するレーザ駆動装置３１、絞り３２、回転多面鏡３３、ｆ−θレンズ３４、コリメータレンズ３５、光検知センサであるＢＤセンサ３６を備える。スキャナユニット１０を制御するシーケンスコントローラ４７、汚れのばらつき検知部３００を備える。また画像形成装置１００は、感光体１１と表示部４００を備える。回転多面鏡３３は、複数の反射面（本実施形態では６つの反射面）を有しレーザ光源４３で出射したレーザ光を像担持体である感光体１１に主走査方向（感光体の軸方向）に偏向走査させるものである。
【００１５】
レーザ光源４３から出射されたレーザ光はコリメータレンズ３５及び絞り３２によりほぼ平行光となり、所定のビーム径で回転多面鏡３３に入射される。複数の反射面を有する回転多面鏡３３は矢印Ａの方向に等角速度の回転を行っており、この回転に伴って、入射したレーザ光が連続的に角度を変える偏向ビームとなって反射される。偏向ビームとなったレーザ光はｆ−θレンズ３４により集光作用を受ける。一方、ｆ−θレンズ３４は同時に走査の時間的な直線性を保証するような歪曲収差の補正を行う為に、レーザ光は、像担持体としての感光体１１上に図の矢印Ｂの方向に等速で走査される。回転多面鏡３３からの反射光を検出するＢＤセンサ３６（光検出手段）は、回転多面鏡３３の反射面毎の走査開始側のレーザ光を検知する位置に配置されている。この光検出手段であるＢＤセンサ３６の検出信号Ｓ３６は回転多面鏡３３の回転と画像データ生成部２００からの画像データの感光体１１への書き込み開始との同期をとるための同期信号として用いられる。検出信号Ｓ３６は、シーケンスコントローラ４７に入力され、更に汚れのばらつき検知部３００にも入力される。汚れのばらつき検知部３００にはシーケンスコントローラ４７から回転多面鏡３３の反射面に関する面情報Ｓ３００も入力され、面毎の光量ばらつきデータＳ３１０がシーケンスコントローラ４７に出力される。シーケンスコントローラ４７は面毎の光量ばらつきデータＳ３１０を受け、このデータに基づいて表示部４００に警告表示を指示する。
【００１６】
次に、通常の画像形成を実施する場合で説明する。図２にて、シーケンスコントローラ４７により画像データ生成部２００に対して画像形成開始信号Ｓ２０１が発せられ、そして、シーケンスコントローラ４７よりレーザ駆動装置３１に対しレーザ制御信号Ｓ４７を発してレーザ光源４３の光量制御を実施する。また回転多面鏡３３を駆動するスキャナモータ（不図示）へスキャナモータ制御信号を発して回転多面鏡３３を安定回転させる。回転多面鏡３３によってレーザ光源４３より出射されたレーザ光が偏向走査されることによりレーザ光がＢＤセンサ３６を通過する。レーザ光がＢＤセンサ３６に到達したときにＢＤセンサ３６からＢＤ信号Ｓ３６がシーケンスコントローラ４７に発せられる。シーケンスコントローラ４７は、ＢＤ信号Ｓ３６を検知する周期に基づいてスキャナモータを安定回転させるようにスキャナモータ制御信号をスキャナモータへ発する。また、ＢＤセンサ３６にレーザ光が導かれた際には、ＢＤ信号Ｓ３６が画像データ生成部２００にも発せられる。そのＢＤ信号Ｓ３６が入力するタイミングに基づいて所定の画像データ信号Ｓ２をレーザ駆動装置３１に発して、レーザ光源４３を駆動して、像担持体としての感光体１１上に画像を形成する。
【００１７】
図３は、光走査装置としてのスキャナユニット１０が備えるレーザ駆動装置３１とシーケンスコントローラ４７の詳細構成図である。まず図３において、レーザ駆動装置３１は、比較器４０、バイアス電流源４１、パルス電流源４２、レーザ光源４３、電流／電圧（Ｉ／Ｖ）変換器４４、増幅器４５、ＡＰＣ回路４６、変調部４８、スイッチ４９を備える。
【００１８】
同図のシーケンスコントローラ４７により生成されたレーザ制御信号Ｓ４７に基づいてレーザ駆動装置３１のレーザ光源４３が駆動されると、レーザ光源４３からレーザ光が出射される。尚、レーザ制御信号Ｓ４７は、後述するＢＤ検出用フル点灯信号ＦＵＬＬとサンプル／ホールド信号Ｓ／Ｈと基準電圧ＶＲＥＦを指す信号のことである。
【００１９】
レーザ光源４３の内部（後述）にはレーザ光の一部を検出するＰＤセンサが設けられ、ＰＤセンサの検出信号を用いてレーザダイオードのＡＰＣ制御（自動光量制御の意味）を行う。レーザ光源４３は半導体レーザであり、レーザダイオード４３Ａ、ＰＤセンサ４３Ｂから構成されるレーザチップである。また、レーザダイオード４３Ａのバイアス電流源４１、レーザダイオード４３Ａのパルス電流源４２を備え、不図示の画像メモリ等から入力された画像信号である画像データは変調部４８において画素変調される。この信号とシーケンスコントローラ４７からのＢＤ検出用フル点灯信号ＦＵＬＬとを論理素子４０で論理和演算した信号がスイッチ４９をＯＮ／ＯＦＦ動作させる。
【００２０】
スイッチ４９がＯＮの時には１走査毎に制御されるバイアス電流源４１による電流と１走査中に複数回可変制御されるパルス電流源４２による電流の和でレーザダイオード４３Ａは発光制御される。つまり、スイッチ４９がＯＦＦの時にはバイアス電流源４１による電流のみでレーザダイオード４３Ａは発光される。
【００２１】
ＢＤセンサ３６を通過する前後の時間帯ではフル点灯発光をさせてＢＤ検出用のフル点灯発光時の光量をモニターする。このモニターした時のＰＤセンサ４３Ｂの出力信号は、電流／電圧（Ｉ／Ｖ）変換器４４で電圧信号に変換され、増幅器４５で増幅されＡＰＣ回路４６に入力される。
【００２２】
図４は、ＡＰＣ回路４６の詳細構成図である。まず図４において、ＡＰＣ回路４６は、抵抗３７、アナログスイッチ３８、コンデンサー３９と比較器４０を備える。
【００２３】
増幅されたＰＤセンサー出力ＶＰＤをアナログスイッチ３８を使って、シーケンスコントローラ４７からのサンプル／ホールド信号Ｓ／Ｈでサンプルし、抵抗３７とコンデンサー３９とで決まる時定数でこの電圧値（ＶＳＨ）を１走査の間ホールドする。それと共に、このＶＳＨと予め設定された基準電圧ＶＲＥＦとを比較器４０で比較することで、その差信号ＶＡＰＣを出力する。図３に示されるように、この差信号ＶＡＰＣがバイアス電流源４１の電流を制御する。即ち、基準電圧ＶＲＥＦとして設定されている目標のバイアス発光値となるように、走査毎にバイアス電流源４１の電流が制御され、レーザダイオード４３Ａのバイアス光量が所望の光量にＡＰＣ制御される。
【００２４】
次に、汚れのばらつき検知部（検知手段）３００の動作を図５の構成図及び図６のタイムチャートを用いて説明する。
【００２５】
図５は汚れのばらつき検知部３００の詳細構成図である。まず、図５において汚れのばらつき検知部３００は、アナログスイッチ３０１、ピークホールド回路（保持手段）３０２〜３０７、アナログデジタル変換器３０８、最大値検出器３０９、最小値検出器３１０、差分検出器３１１を備える。
【００２６】
アナログスイッチ３０１は、ＢＤセンサ３６から出力されるＢＤ信号Ｓ３６を選択的にピークホールド回路３０２〜３０７のいずれかに出力する。アナログスイッチ３０１は、シーケンスコントローラ４７から出力される回転多面鏡３３の反射面に関する面情報Ｓ３００に応じて選択的にピークホールド回路３０２〜３０７のいずれかにＢＤ信号Ｓ３６を出力する。回転多面鏡３３の異なる反射面で各々偏向走査されてＢＤセンサ３６で検出された検出結果（検出値）を出力する。つまりピークホールド回路３０２〜３０７は、回転多面鏡３３の反射面毎に入力される各ＢＤ信号Ｓ３０１〜Ｓ３０６のピーク電圧を保持するピークホールド回路である。
【００２７】
例えば、ピークホールド回路３０２は、回転多面鏡３３の第１の反射面で入力されたＢＤ信号Ｓ３０１のピーク値をホールドする回路である。またピークホールド回路３０３は回転多面鏡３３の前記第１の反射面とは異なる反射面である第２の反射面で入力されたＢＤ信号Ｓ３０２のピーク値をホールドする回路である。以下同様にして、ピークホールド回路３０７は回転多面鏡３３の第６の反射面で入力されたＢＤ信号Ｓ３０６のピーク値をホールドする回路になっている。
【００２８】
反射面毎に各ピークホールド回路でピークホールドされたピークホールド信号Ｓ３０１Ｐ〜Ｓ３０６Ｐは、アナログデジタル変換器３０８に入力される。アナログデジタル変換器３０８は、基準電圧Ｖｒｅｆに対してアナログデジタル変換され、面情報Ｓ３００に応じて時系列にピーク検出値Ｓ３０７をＢＤセンサ３６の検出結果（検出値）として出力する。
【００２９】
アナログデジタル変換器３０８から出力された各反射面に応じたピーク検出値Ｓ３０７は最大値検出器３０９と最小値検出器３１０に入力され、それぞれで最大値（第１の反射光量）Ｓ３０８と最小値（第２の反射光量）Ｓ３０９が検出される。検出された最大値Ｓ３０８と最小値Ｓ３０９は差分値を出力する差分検出器３１１に入力され、差分検出器３１１は最大値Ｓ３０８と最小値Ｓ３０９の差分値である差分データＳ３１０をシーケンスコントローラ４７に出力する。
【００３０】
図６は、図５の汚れのばらつき検知部３００のタイミングチャートである。
【００３１】
基準電圧Ｖｒｅｆは、例えば、工場出荷時の回転多面鏡３３の反射面が汚れていない時（ＢＤセンサ３６での検出値が最も高い値の時）に検出される電圧値である。この電圧値に対し、反射面が汚れ始めるとＳ３６に示すように反射面毎に検出されるＢＤセンサ３６の出力電圧にばらつきが生じる。Ｓ３００はＢＤセンサ３６からの信号がどの面に対するものかを示す面情報であり、シーケンスコントローラ４７から汚れのばらつき検知部３００に出力される。
【００３２】
本実施形態では、回転多面鏡３３の反射面が６面のものを用いた例を示したものである。各々異なる反射面での反射光の検出値は、第１の反射面での反射光の検出電圧がＶｒｅｆの９５％にまで下がっており、第２の反射面での反射光の検出電圧がＶｒｅｆの８５％にまで下がっているとする。また同様に第３面目は７０％、第４面目は８５％、第５面目は８０％、第６面目は９０％に下がっているとする。次の第１面目は再度９５％になっている例を示している。
【００３３】
このＢＤ信号Ｓ３６がアナログスイッチ３０１に入力され、面情報Ｓ３００で切り替えられて出力された信号がＳ３０１〜Ｓ３０６である。それぞれの信号はピークホールド回路３０２〜３０７でピークホールドされてＳ３０１Ｐ〜Ｓ３０６Ｐで示す電圧レベルが保持される。この保持された電圧レベルがアナログデジタル変換器３０８に面情報Ｓ３００に応じて時系列に入力され、Ｖｒｅｆ電圧に対してアナログデジタル変換される。アナログデジタル変換器３０８は本実施形態では８ビットであり、入力された電圧がＶｒｅｆと等しい場合にＦＦＨを出力し、０Ｖであれば００Ｈを出力するものとする。
【００３４】
従って、本実施形態では第１の反射面に入力された電圧レベルがＶｒｅｆの９５％であるため、第１の反射面に対応して出力されるデジタル値はＦＦＨ×９５％＝Ｆ２Ｈとなる。同様に第２の反射面はＦＦＨ×８５％＝Ｄ８Ｈ、第３面目はＦＦＨ×７０％＝Ｂ２Ｈ、第４面目はＦＦＨ×８５％＝Ｄ８Ｈ、第５面目はＦＦＨ×８０％＝ＣＣＨ、第６面目はＦＦＨ×９０％＝Ｅ５Ｈとなる。
【００３５】
このように、面情報に応じて時系列に出力されるデジタル値Ｓ３０７が次段の最大値検出器３０９に入力される。最大値検出器３０９では、１つ前の面情報を入力したときに保持されたデジタル値と今回の面情報時に入力されたデジタル値を比較して大きい方の値を保持する。面情報が次面に進むと、今回保持されたデジタル値と新たに入力されたデジタル値を比較して大きい方の値を保持する。最大値検出器３０９は、こうして前回保持された値と新たに入力された値を常に比較して大きい方を保持するため、最大値を保持することになり、本実施例では最大値Ｆ２Ｈが保持される。この最大値Ｆ２Ｈは第１の反射面で偏向走査されて光検出手段としてのＢＤセンサ３６で検出された第１の検出結果に相当する。
【００３６】
また、デジタル値Ｓ３０７は上述した最大値検出器３０９に入力されるとともに最小値検出器３１０にも入力される。最小値検出器３１０では、１つ前の面情報を入力したときに保持されたデジタル値と今回の面情報時に入力されたデジタル値を比較して小さい方の値を保持する。面情報が次面に進むと、今回保持されたデジタル値と新たに入力されたデジタル値を比較して小さい方の値を保持する。
【００３７】
最小値検出器３１０は、こうして前回保持された値と新たに入力された値を常に比較して小さい方を保持するため、最小値を保持することになり、本実施例では入力される面情報が順次進むにつれて最小値が更新され、最終的に最小値Ｂ２Ｈが保持される。この最小値Ｂ２Ｈは第２の反射面で偏向走査されて光検出手段としてのＢＤセンサ３６で検出された第２の検出結果に相当する。
【００３８】
こうして最大値検出器３０９と最小値検出器３１０から出力された最大値Ｓ３０８（第１の反射光量）と最小値Ｓ３０９（第２の反射光量）は次段の差分検出器３１１に入力される。差分検出器３１１は入力された最大値Ｓ３０８と最小値Ｓ３０９の差分値を演算（比較）し、差分データ（比較結果）Ｓ３１０としてシーケンスコントローラ４７に出力する。回転多面鏡３３を１回転以上回転させることで、得られる差分データ（比較結果）Ｓ３１０の平均値を算出し、この安定したデータを元にシーケンスコントローラ４７の不図示のＣＰＵ等により汚れのばらつき判定される。
【００３９】
図７は、シーケンスコントローラ４７が備えるＣＰＵにより実行される汚れのばらつき判定のフローチャートを示す。
【００４０】
図８は、汚れのばらつき判定された場合の通知手段での警告表示の画面の例を示す。差分データＳ３１０が、所定値以上であるか否かを判断し、汚れのばらつき判定を行う。
【００４１】
まず上述した汚れのばらつき検知部３００からの差分データＳ３１０をシーケンスコントローラ４７の不図示のＣＰＵに入力（以下、「差分データα」という。）し、ＣＰＵは回転多面鏡３３が１回転以上回ったか判断する（Ｓ３１１）。もし１回転に満たなければ（Ｎ）、１回転以上になるまで待って（Ｙ）、汚れのばらつき判定を開始する。汚れのばらつき判定は、まず差分データ（比較結果）Ｓ３１０が所定値αより大きいか否かを判定する（Ｓ３１２）。この所定値αの値は汚れ始めたかを判断できるくらいの小さい値に設定しておく。例えば、ＢＤセンサ３６での検出電圧Ｓ３６のバラツキが５％に増えた時点で汚れのばらつき始めたと判定するならば、α＝ＦＦＨ×５％＝ＣＨにすればよい。
【００４２】
ここでＳ３１０＞α（所定値以上）の場合（Ｙ）、次にＳ３１０がβより小さいか否かを判断する（Ｓ３１３）。このβの値は汚れのばらつき始めを表すαと、後述する画像揺れ等の異常画像が発生する手前ぐらいの値であるγの中間くらいに設定しておく。例えば、ＢＤセンサ３６での検出電圧Ｓ３６のバラツキが１０％で検知できるようにβ＝ＦＦＨ×１０％＝１９Ｈにすればよい。ここでＳ３１０＜βの場合（Ｙ）、「軽微な汚れ」等の警告１表示（警告表示する内容）をして通知する（Ｓ３１４）。そしてこの段階で清掃することでサービスマンは、中度な汚れへの進行を未然に防ぐことも出来る。そして、Ｓ３１３で再びＳ３１０＜βであるか判断する。次に、汚れが進行しＳ３１０≧β（所定値以上）になると（Ｎ）、Ｓ３１０がγより小さいか判断する（Ｓ３１５）。このγの値は前述したように画像揺れ等の異常画像が発生する手前ぐらいの値に設定しておく。例えば、ＢＤセンサ３６での検出電圧Ｓ３６のバラツキが２０％で画像揺れ等の異常画像になるのであれば、１５％くらいで検知できるようにγ＝ＦＦＨ×１５％＝２６Ｈにすればよい。ここでＳ３１０＜γであれば（Ｙ）、「中度な汚れ」等の警告２表示（警告表示する内容）を表示部４００のサービスマンモード画面などで表示して通知する（Ｓ３１６）。但し、警告１や警告２は軽微・中度な汚れ警告であるため、サービスマンモード画面（表示部４００におけるサービスモード等のサービスマンしか見ることができない画面）に表示するようにし、サービスマンが定期メンテナンスの時に確認できるようにすればよい。またこの段階で清掃することでサービスマンは、さらなる汚れの進行を防ぐことも出来る。
【００４３】
次に、汚れが進行しＳ３１０≧γ（所定値以上）になると（Ｎ）、「サービスマンコール」等の警告３表示（警告表示する内容）をして通知する（Ｓ３１７）。この段階では、画像揺れ等の異常画像が発生する為、画像形成装置の動作を停止させる。
【００４４】
これにより、反射面毎の反射光量のばらつきを検出することで、精度よく、早期に汚れのばらつきの状態を精度よく検知することが可能になる。警告する内容を最大値と最小値の差分値に応じて、段階的に汚れの進行状況をサービスマンに伝えることができるためサービスマンに定期的に清掃を促すことができ、サービスマンコールの発生による画像形成装置の動作停止状態を軽減することが出来る。また光検知センサを主走査方向の走査開始側に配置すると回転多面鏡の汚れ始める部分を検出しやすくなる。
【００４５】
主走査方向の走査開始側、つまりレーザ光が走査される走査線上の走査開始側に配置した光検知センサの出力信号を、主走査同期信号にも用いる。このため汚れのばらつき検出用のセンサを個別に設ける必要もなく、コストアップすることなく回転多面鏡の汚れのばらつきを検出することが可能になる。
【００４６】
上述したような汚れのばらつき判定のフローチャートによると汚れ始めたことをサービスマンはメンテナンス時に事前に知ることができ、汚れのばらつきの進行度を適切に把握することができる。
【００４７】
本願発明は、サービスマンに通知するようにしたが、サービスマンだけが確認できるものでなくてもよい。汚れ始めたことをユーザに分かるように表示することでサービスマンに連絡してもらうようにしてもよい。これにより、回転多面鏡の反射面の清掃を的確なタイミングで行うことで、サービスマンコールなどの画像形成装置の動作を停止しなければならないような状況を未然に防ぐことが出来る。またサービスマンの緊急の出動などを未然に防ぐことが出来、無駄なコストアップを防ぐことができる。また、サービスマンコールで出動する時には、スキャナユニットの反射面の汚れによるエラーが発生している可能性が高いことが事前にわかるため、迅速に行動でき、サービス性も格段に向上する。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施形態に係る画像形成装置の構成を示す概略断面図である。
【図２】図１のスキャナユニットの概略構成図である。
【図３】本発明の実施形態に係るレーザ駆動装置とシーケンスコントローラの詳細構成図である。
【図４】本発明の実施形態に係るＡＰＣ回路の詳細構成図である。
【図５】本発明の実施形態に係る汚れのばらつき検知部の詳細構成図である。
【図６】本発明の実施形態に係る汚れのばらつき検知部のタイミングチャートである。
【図７】本発明の実施形態に係るシーケンスコントローラが備えるＣＰＵにより実行される汚れのばらつき判定のフローチャートである。
【図８】本発明の実施形態に係る通知手段での警告表示の例を示す図である。
【図９】回転多面鏡の面が一様に汚れないことを示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
３６  ＢＤ
４３  レーザダイオード
４７  シーケンスコントローラ
３００  汚れのばらつき検出部
【図１】
2010145847.tif 000003
【図２】
2010145847.tif 000004
【図３】
2010145847.tif 000005
【図４】
2010145847.tif 000006
【図５】
2010145847.tif 000007
【図６】
2010145847.tif 000008
【図７】
2010145847.tif 000009
【図８】
2010145847.tif 000010
【図９】
2010145847.tif 000011