(57)【要約】【課題】Ｘ線検出器11に焼きつき現象が発生しても、画像から残像を除去できる残像除去装置31を提供する。【解決手段】Ｘ線検出器11に対するＸ線の照射がオフされた時刻から経過時間ｔをカウントするとともに、Ｘ線検出器11からのＸ線照射オフ時の画像を平均化処理する。残像の減衰が経過時間ｔをα乗した１／ｔαに比例することに基づき、経過時間ｔに応じて残像の減衰量を求める。平均化処理された画像と残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める。Ｘ線検出器11からのＸ線照射時の画像から補正画像を減算し、比較的強い強度のＸ線が入射してＸ線検出器に焼きつき現象が発生しても、画像から残像を除去する。【選択図】図１
2010172424.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするカウント工程と、
前記放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、前記放射線検出器からの放射線照射オフ時の画像を平均化処理する平均化処理工程と、
前記平均化処理された画像と前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める補正画像演算工程と、
前記放射線検出器からの放射線照射時の画像から、前記補正画像を減算する減算工程と
を具備していることを特徴とする放射線検出器の残像除去方法。
【請求項２】
前記平均化処理工程では、リカーシブル演算および移動平均処理演算のいずれか一方が用いられる
ことを特徴とする請求項１に記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項３】
補正画像演算工程は、前記平均化処理された画像と、前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量と、空間フィルタとを掛け合わせた補正画像を求める
ことを特徴とする請求項１に記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項４】
前記αの値は、画素毎に異なっている
ことを特徴とする請求項１ないし３いずれかに記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項５】
前記αの値が、０．５≦α≦２である
ことを特徴とする請求項１ないし４いずれかに記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項６】
前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以内では、前記αの値が０．５≦α≦２であり、前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以上では、前記αの値がα＝０となる
ことを特徴とする請求項１ないし４いずれかに記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項７】
前記平均化処理手段で平均化処理する平均画像数が予め定めた規定値以上では、前記αの値が０．５≦α≦２であり、前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以内では、前記αの値がα＝０となる
ことを特徴とする請求項１ないし４いずれかに記載の放射線検出器の残像除去方法。
【請求項８】
放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするカウント手段と、
前記放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、前記放射線検出器からの放射線照射オフ時の画像を平均化処理する平均化処理手段と、
前記平均化処理された画像と前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める補正画像演算手段と、
前記放射線検出器からの放射線照射時の画像から、前記補正画像を減算する減算手段と
を具備していることを特徴とする放射線検出器の残像除去装置。
【請求項９】
前記平均化処理手段には、リカーシブル演算および移動平均処理演算のいずれか一方が用いられる
ことを特徴とする請求項８に記載の放射線検出器の残像除去装置。
【請求項１０】
前記補正画像演算手段は、前記平均化処理された画像と、前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量と、空間フィルタとを掛け合わせた補正画像を求める
ことを特徴とする請求項８に記載の放射線検出器の残像除去装置。
【請求項１１】
前記αの値は、画素毎に異なっている
ことを特徴とする請求項８ないし１０いずれかに記載の放射線検出器の残像除去装置。
【請求項１２】
前記αの値は、０．５≦α≦２である
ことを特徴とする請求項８ないし１１いずれかに記載の放射線検出器の残像除去装置。
【請求項１３】
前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以内では、前記αの値が０．５≦α≦２であり、前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以上では、前記αの値がα＝０となる
ことを特徴とする請求項８ないし１１いずれかに記載の放射線検出器の残像除去装置。
【請求項１４】
前記平均化処理手段で平均化処理する平均画像数が予め定めた規定値以上では、前記αの値が０．５≦α≦２であり、前記経過時間ｔが予め定めた規定時間以内では、前記αの値がα＝０となる
ことを特徴とする請求項８ないし１１いずれかに記載の放射線検出器の残像除去装置
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線検出器に放射線が入射した場合に残る残像を除去する放射線検出器の残像除去方法およびその装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、放射線検出器として、平面形のＸ線検出器がある。
【０００３】
このＸ線検出器にＸ線が入射されると、少なからず残像が発生する。この残像は、比較的、信号レベルが低い状態では、指数関数的に減衰していくことが知られており、その残像を除去する方法がある。
【０００４】
この残像除去方法では、１つのＸ線画像の計測時間当たりの残像の減衰比を算出し、今回の計測によるＸ線画像を（所定数＋１）倍した値から、１回前に計測されたＸ線画像を所定数倍した値を減算することにより、残像成分を減算するようにしている（例えば、特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−５２６８７号公報（第６頁、図１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したように、Ｘ線検出器で発生する残像は、残像の信号レベルが比較的低い場合には、残像が時間とともに指数関数的に減衰していくことが知られており、その残像を除去する方法もある。
【０００７】
しかしながら、Ｘ線検出器に比較的強い強度のＸ線が照射された場合には、残像が時間とともに指数関数的に減衰するのではなく、残像が３０秒から１分という長い時定数で減衰してなかなか消えることがない。この現象は、Ｘ線検出器の焼きつき現象と云われている。
【０００８】
Ｘ線検出器に焼きつき現象が一旦起きてしまうと、従来の残像除去方法では残像を除去できないため、例えば被写体が動いた場合には焼きつき現象の発生した部分に残像が残っているために、実際の画像と異なってしまう問題がある。
【０００９】
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、放射線検出器に焼きつき現象が発生しても、画像から残像を除去できる放射線検出器の残像除去方法およびその装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の放射線検出器の残像除去方法は、放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするカウント工程と、前記放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、前記放射線検出器からの放射線照射オフ時の画像を平均化処理する平均化処理工程と、前記平均化処理された画像と前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める補正画像演算工程と、前記放射線検出器からの放射線照射時の画像から、前記補正画像を減算する減算工程とを具備しているものである。
【００１１】
本発明の放射線検出器の残像除去装置は、放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするカウント手段と、前記放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、前記放射線検出器からの放射線照射オフ時の画像を平均化処理する平均化処理手段と、前記平均化処理された画像と前記経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより前記経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める補正画像演算手段と、前記放射線検出器からの放射線照射時の画像から、前記補正画像を減算する減算手段とを具備しているものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、放射線検出器に対する放射線の照射がオフされた時刻、および放射線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするとともに、放射線検出器からの放射線照射オフ時の画像を平均化処理し、この平均化処理された画像と、経過時間ｔをα乗した１／ｔαにより経過時間ｔに応じて求められる残像の減衰量と、を掛け合わせた補正画像を求め、放射線検出器からの放射線照射時の画像から補正画像を減算することにより、比較的強い強度の放射線が入射して放射線検出器に焼きつき現象が発生しても、画像から残像を除去できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の一実施の形態を示す放射線検出器としてのＸ線検出器の残像除去装置の構成図である。
【図２】同上Ｘ線検出器の構成図である。
【図３】同上Ｘ線検出器へのＸ線照射オフからの経過時間とＸ線検出器の有効エリアでの残像平均値との関係を示すグラフである。
【図４】同上αの値と度数（画素数）との関係を示すグラフ（ヒストグラム）である。
【図５】同上残像補正していないＸ線写真である。
【図６】同上残像補正したＸ線写真である。
【図７】同上残像補正した例を示し、毎秒３０フレームでＸ線撮影した１フレーム目のＸ線写真である。
【図８】同上毎秒３０フレームでＸ線撮影した３０フレーム目のＸ線写真である。
【図９】同上毎秒３０フレームでＸ線撮影した２００フレーム目のＸ線写真である。
【図１０】同上平均化処理に用いた画像の補正枚数とノイズ重畳率との関係を示すグラフである。
【図１１】同上移動平均処理およびリカーシブル処理に用いる画像の平均枚数とノイズとの関係を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の一実施の形態を、図面を参照して説明する。
【００１５】
図２において、10は放射線検出装置としてのＸ線検出装置で、このＸ線検出装置10は、例えば、間接形のＸ線画像検出器であって、放射線検出器としてのＸ線検出器11を備えている。このＸ線検出器11は、マトリクス状に配列された複数の画素を有する光電変換基板、およびこの光電変換基板の表面に積層形成された蛍光変換膜によって構成されている。
【００１６】
光電変換基板には、画素毎に光電変換素子が配置され、これら光電変換素子で変換された電荷を取り出す画素を選択するための複数の選択線12が行方向に配列され、各画素の光電変換素子で変換された電荷を取り出すための複数の信号線13が列方向に配列されている。
【００１７】
各選択線12には駆動回路14がそれぞれ接続され、各信号線13には出力回路15がそれぞれ接続されている。
【００１８】
駆動回路14は、Ｘ線検出器11の各選択線12に接続される複数のドライバ16、およびこれらドライバ16に接続される行選択回路17を備えている。ドライバ16は、行選択回路17からの信号を受信すると、選択線12の電圧を順番に変更して画素の行を選択していく機能を有している。行選択回路17は、画像の走査方向に従って対応するドライバ16へ信号を送る機能を有している。
【００１９】
出力回路15は、Ｘ線検出器11の各信号線13に接続された複数の増幅回路としての積分アンプ18を備えている。これら積分アンプ18は、Ｘ線検出器11から出力される極めて微小な電荷信号を増幅して出力する機能を有する。積分アンプ18には、これら各積分アンプ18から出力される信号をデジタル信号へと順次変換するＡ／Ｄ変換器19が接続されている。これらＡ／Ｄ変換器19には、デジタル値となった電荷信号をＸ線検出器11に配置された画素の行と列にしたがって順次整理して画像信号として外部へ出力する画像合成回路20が接続されている。さらに、画像合成回路20には画像処理装置21が接続され、この画像処理装置21により画像のオフセット補正、ゲイン補正、残像除去などの処理が施された画像が出力される。
【００２０】
そして、このＸ線検出装置10の動作を説明する。
【００２１】
Ｘ線照射装置から照射する放射線としてのＸ線が被写体を透過してＸ線検出器11の蛍光変換膜に入射すると、蛍光変換膜にてＸ線の二次元分布に対応する可視光が発生し、発生した可視光が各画素の光電変換素子に入射して電荷に変換される。
【００２２】
駆動回路14により複数の選択線12が順次選択駆動され、駆動された選択線12に並列接続されている各画素の光電変換素子で変換された電荷が複数の信号線13から出力回路15へと出力される。
【００２３】
複数の信号線13から出力回路15に出力された電荷は、積分アンプ18で増幅されるとともにＡ／Ｄ変換器19にてデジタル信号へと変換される。デジタル値となった信号は、画像合成回路20にて画素の行と列にしたがって順次整理されて画像データとされる。画像データは、画像処理装置21で画像処理が施され、外部へと出力される。
【００２４】
次に、画像処理装置21での画像処理の１つである残像除去処理について説明する。
【００２５】
Ｘ線検出器11にＸ線が入射されると、少なからず残像現象がある。この残像は比較的、信号レベルが低い状態では、指数関数的に減衰していくことが知られている。ところが、比較的強い強度のＸ線が照射されると、指数関数的に減衰するのではなく、３０秒から１分という長い時定数で減衰してなかなか残像が消えない。
【００２６】
図３には、横軸にＸ線検出器11へのＸ線照射オフからの経過時間ｔを、縦軸にＸ線検出器11の有効エリアの残像平均値（ＡＤＣ：Ａ／Ｄコンバータのカウント値）とした場合のグラフを示す。横軸、縦軸ともに対数表示してある。
【００２７】
グラフの直線１は入射線量を１．６mRとした場合、直線２は入射線量を７．７mRとした場合である。このグラフからも分かるように、入射線量が大きい７．７mRの場合は、対数グラフ上で略直線状になることが分かる。入射線量が小さい１．６mRの場合は、途中から減衰が速くなり、減衰特性がｅｘｐ減衰に変わったことを示している。そのため、比較的強い強度のＸ線が入射した場合には対数グラフ上で略直線状になる性質、つまり、１／ｔαで減衰する性質に着目し、この性質を詳しく調べた。
【００２８】
残信号が１／ｔαで減衰すると仮定し、Ｘ線がオフされてからある経過時間t1とt2とでのそれぞれの残信号をｙt1、ｙt2とすると、次の式１の関係が成り立つ。
【００２９】
ｙt2＝ｙt1(t1／t2)α    式１
【００３０】
つまり、ある経過時間t2の残信号ｙt2は、ある経過時間t1の残信号ｙt1が分かれば、t1／t2の比率から求められる。t1／t2は無名数となることから、時間（秒、分）の単位に依存せず、したがってフレームレートにも関係なく、任意に選べる。
【００３１】
これより、
α＝Logt1/t2(ｙ2／ｙ1)    式２
と表される。αはＸ線の入射線量がある値を超えると、管電流、管電圧には依存することなく、略１になる性質があることを本発明者らは見出した。
【００３２】
図４は、画像全体にわたり、このαを求めたものである。t1＝２sec、t2＝４secとし、算出したαを横軸に、画素の度数を縦軸に示したものである。この例では、平均値は１．０６と略１になる。また、このα分布は、管電圧、管電流の依存性はなく、画素毎に固有であることもわかった。αは略０．５〜２．０の間に分布している。
【００３３】
本発明は、このような性質に着目して、比較的強い強度のＸ線が入射してＸ線検出器11に焼きつき現象が発生しても、画像から残像を消去できることを見出したものである。
【００３４】
図１に、Ｘ線検出器11の残像除去装置31の構成図を示す。
【００３５】
この残像除去装置31は、画像処理装置21が備えたものであり、Ｘ線検出器11に対するＸ線の照射がオフされた時刻、およびＸ線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、経過時間ｔをカウントするカウント手段32と（カウント工程）、Ｘ線検出器11に対するＸ線の照射がオフされた時刻、およびＸ線照射オフ時に撮影モードが切り換わった時刻のいずれか一方から、Ｘ線検出器11からのＸ線照射オフ時の画像を平均化処理する平均化処理手段33と（平均化処理工程）、残像の減衰が経過時間ｔをα乗した１／ｔαに比例することに基づき、経過時間ｔに応じて残像の減衰量を求める減衰量演算手段34と（減衰量演算工程）、平均化処理手段33によって平均化処理された画像と減衰量演算手段34によって求められた残像の減衰量とを掛け合わせた補正画像を求める補正画像演算手段35と（補正画像演算工程）、Ｘ線検出器11からのＸ線照射時の画像から補正画像を減算する減算手段36と（減算工程）を具備している。
【００３６】
比較的強い強度のＸ線が照射された場合の減衰は１／ｔαに比例するものと仮定し、Ｘ線検出器11に対するＸ線の照射がオフされた時刻t0を基準とした経過時間t1での残信号をｙx,y(t1)とすれば、ある時間ｔでの残信号Ｒx,yは次の式３のようになる。
【００３７】
2010172424.tif 000003
【００３８】
したがって、この残信号を消去するための補正式は次の式４のようになる。
【００３９】
2010172424.tif 000004
【００４０】
ここで、ｙx,y(t)はＸ線検出器11に対するＸ線の照射がオフされた時刻t0を基準とした経過時間ｔでのＸ線画像で、Ｙx,y(t)は補正後のＸ線画像で、添え字ｘ，ｙは画素のアドレスである。
【００４１】
そして、この補正式に基づいた残像除去について試験により検証した。図５は補正しない場合のＸ線画像であり、図６は補正式により補正した場合のＸ線画像である。
【００４２】
試験方法としては、被写体である回転体を停止させた状態でＸ線を２．４mR／f（Ｘ線条件１）の条件で３０ショット照射した後、回転体を所定角度回転させ、Ｘ線を３．５μR／f（Ｘ線条件２）の条件で１ショット照射するとともに、毎秒３０フレームの条件で連続撮影した１フレーム目の画像である。Ｘ線条件１からＸ線条件２への切り替え時間は約２秒である。
【００４３】
図５に示すように、補正しない場合、矢印１の部分はＸ線条件１での照射時に鉛があった部分で、回転体の所定角度回転後のＸ線条件２での照射時には矢印２の位置に鉛が移動している。矢印１の部分には、鉛が移動していて実際にはその部分には存在しないのに、はっきりと残像が残っていることがわかる。
【００４４】
図６に示すように、α＝１と近似、移動平均処理の補正枚数を１０枚とし、補正式により補正した場合、矢印１の部分には、鉛があったが、画像で確認できないことがわかる。
【００４５】
また、図７は、被写体である回転体を停止させた状態でＸ線を２．４mR／f（Ｘ線条件１）の条件で３０ショット照射した後、回転体を所定角度回転させ、Ｘ線を３．５μR／f（Ｘ線条件２）の条件で１ショット照射するとともに、毎秒３０フレームの条件で連続撮影した１フレーム目のＸ線画像、さらに、図８は、回転体を所定角度回転させ、Ｘ線を３．５μR／f（Ｘ線条件２）の条件で１ショット照射するとともに、毎秒３０フレームの条件で連続撮影した３０フレーム目のＸ線画像、さらに、図９は、回転体を所定角度回転させ、Ｘ線を３．５μR／f（Ｘ線条件２）の条件で１ショット照射するとともに、毎秒３０フレームの条件で連続撮影した２００フレーム目のＸ線画像である。そして、図７、図８および図９中の矢印部分が鉛のあったところである。つまり、Ｘ線を照射する前の残信号Ｒx,yがわかっていれば、式４により残信号はきれいに補正することができる。
【００４６】
この例では、αx,y＝１として近似したが、実際には、画素ごとにαx,yが異なるので、事前に式２により、αx,yの空間分布を求めて、式４により補正を行えば、さらに誤差なく補正できる。
【００４７】
動画撮影中に万が一、比較的強い強度のＸ線が入射され、焼きついてしまった場合は、１秒から２秒Ｘ線を一旦オフしてからＸ線照射を再開すれば、残信号のない画像が得られる。
【００４８】
また、残信号Ｒx,yについては、Ｘ線照射直前の画像を用いれば、残信号の成分は誤差なく抽出が可能であるが、Ｘ線の場合はＸ線量子ノイズのために１枚のみではノイズの重畳率が高いという問題がある。
【００４９】
図１０は、平均化処理に用いた画像の補正枚数とノイズ重畳率との関係を示す理論計算結果で、補正に使用する枚数を増やすほどノイズは下がる傾向がある。平均処理に用いる枚数を多くすればノイズ重畳率は低減するが、残信号平均値とＸ線照射直前の残信号Ｒx,yとの隔たりが大きくなってしまう。
【００５０】
そこで、残信号を移動平均処理で求め、補正枚数を６〜１０枚にすれば、ノイズ重畳率は１０％以下に抑えることができ、さらに残信号平均値とＸ線照射直前の残信号Ｒx,yとの隔たりも低くすることができ、効果的に補正ができる。なお、式３により残信号Ｒx,yは予測できるので、残信号平均値からＸ線照射直前の残信号Ｒx,yの値を予測して式に代入することにより、さらに誤差を小さくすることが可能である。
【００５１】
また、移動平均処理の代わりに、リカーシブル演算処理を用いても、同様な効果が得られる。ノイズ重畳率も略同じである。
【００５２】
一般的に知られているリカーシブル演算処理は、次の式５である。
【００５３】
ｙx,y(tn)=(１−a)ｙx,y(tn)＋ａｙx,y(tn-1)    式５
【００５４】
ｙx,y(tn)はｎ番目のフレーム画像、ｙx,y(tn-1)はｎ−１番目のフレーム画像、ａは０≦ａ≦１である。出力するフレームのデータを式５で置きかえる漸化式となっている。リカーシブル演算は、移動平均処理に比べ、計算に必要なメモリのサイズを小さくする利点がある。
【００５５】
図１１は、実際の画像を用いて、移動平均処理とリカーシブル演算処理とでのノイズを比較したもので、リカーシブル演算の１／(１−ａ)が移動平均処理での処理枚数にほぼ相当する。例えば、ａ＝０．９とすれば、移動平均処理１０枚相当のノイズ重畳率（６．１％）となり、実用上問題にならない。
【００５６】
また、式４はフレームレートに因らないと説明したが、すなわち、時間ｔではなくて、フレームNO.としても同じ結果が得られる。しかし、フレームレートが遅い場合に、残像のデータを取得する時間がかかってしまう問題がある。
【００５７】
すなわち、切り替え後のモードのフレームレートが遅い場合、補正に必要なフレーム枚数を確保できない場合がある。１枚のみの画像では、ノイズが重畳してしまうことは既に説明ずみである。
【００５８】
そこで、移動平均処理またはリカーシブル演算処理をしてノイズを除去する代わりに１枚の残像に空間フィルタを掛けてノイズを低減させた画像を残信号Ｒx,yとして補正を試みた。
【００５９】
空間フィルタの例としては、式６に示すように、例えば、式３で示した残信号Ｒx,yに３×３のローパスフィルタを掛けたものをＲx,yとして用いてみた。元画像のノイズレベルが１８１０電子、ａ＝０．９としてリカーシブル演算させた場合の補正画像は１９３０els（約６．４%増加）に対し、１枚画像×空間フィルタを施した場合は、１９００電子（４．９％）とａ＝０．９よりも低い結果が得られ、補正結果も良好である。なお、空間フィルタのカーネルサイズ（横縦の行数）を大きくすれば、ノイズ除去率は上げられるが、大きくすると画像がぼけて微細構造がわかりにくくなるという欠点があるために、この点を鑑みてローパスフィルタのカーネルサイズは３×３とするのが良い。
【００６０】
2010172424.tif 000005
【００６１】
なお、Ｘ線がオフしてからの正確な時間が判れば、式４により補正が可能である。モードが切り換わってフレームレートが変更になった場合は、厳密にはフレームレートが変更になる前とフレームレートが変更になった後との合計時間を用いる必要がある。しかしながら、Ｘ線を照射した後、瞬時に別のモードに切り換えて使用する場合は、切り換え時間が短いためにモードが切り換わった時刻を基準として改めて時間をカウントし始めても大きな誤差はない。また、万が一、Ｘ線照射をオフしてからの時間が十分経過してからモードを切り換えた場合には、モード切り換え後のＲx,yは略０に漸近しているために、式４の補正を実施したとしても何ら画像には影響が出ない。
【００６２】
また、間接方式のＸ線検出器11の場合、通常の焼きつきは約６０秒で消えるために、Ｘ線照射をオフして一定時間以上経過した場合は、式３は略０に漸近していくので、補正してもなんら画像には影響が出ないが、一定時間以上経過した場合にはα＝０とすれば、オフセット補正のずれを補償することもできるので便利である。
【００６３】
また、Ｘ線照射オフ時の平均画像の値を監視し、予め定めた規定値以上になった場合に、補正を開始するようにしてもよい。
【００６４】
以上のように、Ｘ線検出装置10によれば、比較的強い強度のＸ線が入射され、Ｘ線検出器11に焼きつきが起きても、画像から残像を除去し、残像のないＸ線画像が得られる。
【符号の説明】
【００６５】
11    放射線検出器としてのＸ線検出器
31    残像除去装置
32    カウント手段
33    平均化処理手段
35    補正画像演算手段
36    減算手段
【図１】
2010172424.tif 000006
【図２】
2010172424.tif 000007
【図３】
2010172424.tif 000008
【図４】
2010172424.tif 000009
【図１０】
2010172424.tif 000010
【図１１】
2010172424.tif 000011
【図５】
2010172424.tif 000012
【図６】
2010172424.tif 000013
【図７】
2010172424.tif 000014
【図８】
2010172424.tif 000015
【図９】
2010172424.tif 000016