(57)【要約】【課題】複数のＦＥＴのゲートリーク電流をまとめて測定することができる。【解決手段】電流計３８の他端を、モータ駆動回路１０の端子２８及び３０と接続した状態で、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２に接触させると、検査用パッド４２を介して、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加される。Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂの各々のゲート・ソース間を流れ、端子２８及び３０を介して電流計へ流れ、電流計によってゲートリーク電流が検出され、ゲートリーク電流の大きさが正常時のゲートリーク電流値より大きいか否かを判断することにより、モータ駆動回路を検査することができる。【選択図】図１
2010075025.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
モータの一方の電極に接続される一対の第１の電界効果トランジスタ、及び該モータの他方の電極に接続される一対の第２の電界効果トランジスタを備えるインバータ回路と、
前記一対の第１の電界効果トランジスタ及び前記一対の第２の電界効果トランジスタのゲートの各々に、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの各々をオンオフさせるための制御信号を入力するように接続された制御回路と、
各々一端が前記第１の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第１の素子と、
各々一端が前記第２の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第２の素子と、
を含むモータ駆動回路。
【請求項２】
前記第１の素子及び前記第２の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、コレクタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつエミッタが前記ゲートに接続されると共にコレクタが共通に接続されたトランジスタで構成した請求項１記載のモータ駆動回路。
【請求項３】
前記第１の素子及び前記第２の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、エミッタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつコレクタが前記ゲートに接続されると共にエミッタが共通に接続されたトランジスタで構成した請求項１記載のモータ駆動回路。
【請求項４】
前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側をパッドまたは端子に接続した請求項１〜請求項３のいずれか１項記載のモータ駆動回路。
【請求項５】
請求項１〜請求項４のいずれか１項記載のモータ駆動回路の前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側の少なくとも１つと前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加し、
前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側の少なくとも１つから前記第１の素子及び前記第２の素子の少なくとも１つを介して、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲートからソース方向に電流を流すことにより、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタを検査するモータ駆動回路の検査方法。
【請求項６】
モータの第１の電機子巻線に接続される一対の第１の電界効果トランジスタ、モータの第２の電機子巻線に接続される一対の第２の電界効果トランジスタ、及びモータの第３の電機子巻線に接続される一対の第３の電界効果トランジスタを備えるインバータ回路と、
前記一対の第１の電界効果トランジスタ、前記一対の第２の電界効果トランジスタ、及び前記一対の第３の電界効果トランジスタのゲートの各々に、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの各々をオンオフさせるための制御信号を入力するように接続された制御回路と、
各々一端が前記第１の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第１の素子と、
各々一端が前記第２の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第２の素子と、
各々一端が前記第３の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第３の素子と、
を含むモータ駆動回路。
【請求項７】
前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、コレクタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつエミッタが前記ゲートに接続されると共にコレクタが共通に接続されたトランジスタで構成した請求項６記載のモータ駆動回路。
【請求項８】
前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、エミッタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつコレクタが前記ゲートに接続されると共にエミッタが共通に接続されたトランジスタで構成した請求項６記載のモータ駆動回路。
【請求項９】
前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側をパッドまたは端子に接続した請求項６〜請求項８のいずれか１項記載のモータ駆動回路。
【請求項１０】
請求項６〜請求項９のいずれか１項記載のモータ駆動回路の前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側の少なくとも１つと前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加し、
前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側の少なくとも１つから前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の少なくとも１つを介して、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲートからソース方向に電流を流すことにより、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタを検査するモータ駆動回路の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、モータ駆動回路及びモータ駆動回路の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のスイッチ回路装置では、ＦＥＴ（電界効果トランジスタ）のゲート端子とソース端子との間に測定器を接続し、ゲート・ソース間に電圧を印加することで、ゲートリーク電流を測定することが行われている（特許文献１）。
【特許文献１】特開２００４−２５４０８６
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、特許文献１に記載のスイッチ回路装置では、各ＦＥＴのゲートリーク電流を個別に測定しているため、検査用パッド又は検査用端子の数が増加すると共に検査工数が増加して時間がかかる、という問題がある。
【０００４】
本発明は、上記の問題点を解決するためになされたもので、複数のＦＥＴのゲートリーク電流をまとめて測定することができるモータ駆動回路及びモータ駆動回路の検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために請求項１記載の発明に係るモータ駆動回路は、モータの一方の電極に接続される一対の第１の電界効果トランジスタ、及び該モータの他方の電極に接続される一対の第２の電界効果トランジスタを備えるインバータ回路と、前記一対の第１の電界効果トランジスタ及び前記一対の第２の電界効果トランジスタのゲートの各々に、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの各々をオンオフさせるための制御信号を入力するように接続された制御回路と、各々一端が前記第１の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第１の素子と、各々一端が前記第２の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第２の素子と、を含んで構成されている。
【０００６】
また、請求項２記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子及び前記第２の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、コレクタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつエミッタが前記ゲートに接続されると共にコレクタが共通に接続されたトランジスタで構成されている。
【０００７】
また、請求項３記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子及び前記第２の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、エミッタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつコレクタが前記ゲートに接続されると共にエミッタが共通に接続されたトランジスタで構成されている。
【０００８】
また、請求項４記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側をパッドまたは端子に接続している。
【０００９】
また、請求項５記載の発明に係るモータ駆動回路の検査方法は、請求項１〜請求項４のいずれか１項記載のモータ駆動回路の前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側の少なくとも１つと前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加し、前記第１の素子及び前記第２の素子の共通接続された側の少なくとも１つから前記第１の素子及び前記第２の素子の少なくとも１つを介して、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲートからソース方向に電流を流すことにより、前記第１の電界効果トランジスタ及び前記第２の電界効果トランジスタを検査する。
【００１０】
また、請求項６記載の発明に係るモータ駆動回路は、モータの第１の電機子巻線に接続される一対の第１の電界効果トランジスタ、モータの第２の電機子巻線に接続される一対の第２の電界効果トランジスタ、及びモータの第３の電機子巻線に接続される一対の第３の電界効果トランジスタを備えるインバータ回路と、前記一対の第１の電界効果トランジスタ、前記一対の第２の電界効果トランジスタ、及び前記一対の第３の電界効果トランジスタのゲートの各々に、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの各々をオンオフさせるための制御信号を入力するように接続された制御回路と、各々一端が前記第１の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第１の素子と、各々一端が前記第２の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第２の素子と、各々一端が前記第３の電界効果トランジスタのゲートに接続されると共に、他端が共通に接続され、前記ゲートに流入する方向に流れる電流を通過させ、前記ゲートから流出する方向に流れる電流の通過を阻止する一対の第３の素子と、を含んで構成されている。
【００１１】
また、請求項７記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、コレクタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつエミッタが前記ゲートに接続されると共にコレクタが共通に接続されたトランジスタで構成されている。
【００１２】
また、請求項８記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の各々を、カソードが前記ゲートに接続されたダイオード、または、エミッタとベースとが短絡するようにダイオード接続され、かつコレクタが前記ゲートに接続されると共にエミッタが共通に接続されたトランジスタで構成されている。
【００１３】
また、請求項９記載の発明に係るモータ駆動回路は、前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側をパッドまたは端子に接続している。
【００１４】
また、請求項１０記載の発明に係るモータ駆動回路の検査方法は、請求項６〜請求項９のいずれか１項記載のモータ駆動回路の前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側の少なくとも１つと前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加し、前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の共通接続された側の少なくとも１つから前記第１の素子、前記第２の素子、及び前記第３の素子の少なくとも１つを介して、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲートからソース方向に電流を流すことにより、前記第１の電界効果トランジスタ、前記第２の電界効果トランジスタ、及び前記第３の電界効果トランジスタを検査する。
【００１５】
請求項１〜請求項５の発明によれば、一対の第１の素子及び一対の第２の素子の共通接続された側の少なくとも１つと一対の第１の電界効果トランジスタ及び一対の第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加することで、一対の第１の電界効果トランジスタ及び一対の第２の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流をまとめて測定することができる。
【００１６】
請求項１〜請求項５の発明では、一対の第１の素子及び一対の第２の素子の共通接続された側と一対の第１の電界効果トランジスタ及び一対の第２の電界効果トランジスタのソースとの間に電圧を印加することで、一対の第１の電界効果トランジスタ及び一対の第２の電界効果トランジスタの両方を同時に測定することが好ましい。
【００１７】
請求項６〜請求項１０の発明によれば、一対の第１の素子、一対の第２の素子、及び一対の第３の素子の共通接続された側の少なくとも１つと一対の第１の電界効果トランジスタ、一対の第２の電界効果トランジスタ、及び一対の第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのソースとの間に電圧を印加することで、一対の第１の電界効果トランジスタ、一対の第２の電界効果トランジスタ、及び一対の第３の電界効果トランジスタの少なくとも１つのゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流をまとめて測定することができる。
【００１８】
請求項６〜請求項１０の発明では、一対の第１の素子、一対の第２の素子、及び一対の第３の素子の共通接続された側と一対の第１の電界効果トランジスタ、一対の第２の電界効果トランジスタ、及び一対の第３の電界効果トランジスタのソースとの間に電圧を印加することで、一対の第１の電界効果トランジスタ、一対の第２の電界効果トランジスタ、及び一対の第３の電界効果トランジスタをまとめて測定することが好ましい。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００２０】
図１及び図２に示すように、第１の実施の形態に係るモータ駆動回路１０は、モータ制御部１２と駆動回路１４とインバータ回路１６とで構成されている。
【００２１】
モータ制御部１２は、図示しない演算装置であるＣＰＵや記憶装置であるＲＡＭ，ＲＯＭ等を含んだマイクロコンピュータ等で構成されている。
【００２２】
モータ制御部１２の出力端は、駆動回路１４の入力端と接続され、モータ制御部１２の入力端は、ボンディングパッド１８を介してリードフレーム２０と接続されている。
【００２３】
リードフレーム２０は、例えば図示しない操作スイッチや各種センサと接続されている。
【００２４】
駆動回路１４の出力端は、インバータ回路１６と４個のダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、及び２２Ｄと接続されている。
【００２５】
インバータ回路１６は、電力変換素子として、２つのＰチャンネル型のＭＯＳＦＥＴ（以下、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴという。）２４Ａ及び２４Ｂと、２つのＮチャンネル型のＭＯＳＦＥＴ（以下、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴという。）２６Ａ及び２６Ｂとを備えており、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子の各々は、駆動回路１４の出力端と接続されている。
【００２６】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂのソース端子は、端子２８と接続され、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのソース端子は、端子３０と接続されている。
【００２７】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａのドレイン端子は、ＤＣモータ４６のプラス端子４８Ａに接続された端子３２Ａに接続され、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂのドレイン端子は、ＤＣモータ４６のマイナス端子４８Ｂに接続された端子３２Ｂに接続されている。
【００２８】
ダイオード２２Ａ及び２２Ｃのカソードの各々は、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂのゲート端子に接続され、ダイオード２２Ｂ及び２２Ｄのカソードの各々は、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に接続されている。
【００２９】
また、ダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、及び２２Ｄの各々のアノードは、検査用パッド４２に共通に接続されている。
【００３０】
次に、本実施の形態のモータ駆動回路１０のゲートリーク電流の検査方法について説明する。
【００３１】
ゲートリーク電流検査時は、ゲートリーク電流検査装置３４を使用する。
【００３２】
ゲートリーク電流検査装置３４は、直流を出力する検査用電源３６と電流計３８と検査用探針４０とで構成されている。
【００３３】
検査用電源３６のマイナス端子は、電流計３８の一端と接続され、プラス端子は、検査用探針４０の一端と接続される。
【００３４】
電流計３８の他端を、モータ駆動回路１０の端子２８及び３０と接続した状態で、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２に接触させると、検査用パッド４２を介して、ダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、及び２２Ｄを介して、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加される。
【００３５】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂの各々のゲート・ソース間を流れ、端子２８を介して電流計へ流れる。
【００３６】
また、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂの各々のゲート・ソース間を流れ、端子３０を介して電流計へ流れ、電流計によってゲートリーク電流が検出され、ゲートリーク電流の大きさが正常時のゲートリーク電流値より大きいか否かを判断することにより、モータ駆動回路を検査することができる。
【００３７】
次に、本実施の形態の検査終了後のモータ駆動回路１０を用いてモータ駆動するときの動作について説明する。
【００３８】
モータ駆動時は、モータ駆動回路１０の端子３２Ａ及び３２Ｂ間にＤＣモータ４６のプラス端子４８Ａ及びマイナス端子４８Ｂを接続し、端子２８に図示しない直流電源（例えば、車載用バッテリー）のプラス端子を接続し、端子３０に直流電源のマイナス端子を接続する。
【００３９】
駆動回路１４は、モータ制御部１２から出力された制御信号が入力されると、制御信号に基いてスイッチング信号を生成し、生成したスイッチング信号をインバータ回路１６のＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び２６Ｂのゲート端子に入力する。
【００４０】
ＤＣモータ４６を正転させるときは、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂをオン状態にし、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａをオフ状態とするスイッチング信号を入力する。
【００４１】
また、逆転させるときは、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａをオン状態にし、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂをオフ状態とするスイッチング信号を入力する。
【００４２】
このとき、ダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、及び２２Ｄが設けられているため、オン状態にするスイッチング信号が、オフ状態にするＦＥＴに入力されることはない。
【００４３】
以上説明したように、本実施の形態に係るモータ駆動回路は、４個のダイオードの各々のアノードを１個の検査用パッドに接続することで４個のＦＥＴの各々のゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流の全てを１度に測定することができるので、検査用パッドの削減及び測定工数を低減し、測定時間を短縮することができる。
【００４４】
また、第１の実施の形態において、図３及び図４に示すように、第１の実施の形態の検査用パッド４２に代えて検査用端子４４を用いてもよい。
【００４５】
次に、第２の実施の形態について説明する。なお、第１の実施の形態と対応する部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【００４６】
図５に示すように、本実施の形態に係るモータ駆動回路１０は、第１の実施の形態の検査用パッド４２に代えて検査用パッド４２Ａ及び４２Ｂが用いられており、ダイオード２２Ａ及び２２Ｂのアノードが、検査用パッド４２Ａに接続され、ダイオード２２Ｃ及び２２Ｄのアノードが、検査用パッド４２Ｂに接続されている。
【００４７】
次に、本実施の形態に係るモータ駆動回路１０のゲートリ−ク電流検査方法について説明する。
【００４８】
まず、ゲートリーク電流検査装置３４の電流計３８の他端を、モータ駆動回路１０の端子２８及び３０と接続した状態で、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２Ａに接触させると、検査用パッド４２Ａを介して、ダイオード２２Ａ及び２２Ｂを介して、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａのゲート端子に電圧が印加される。
【００４９】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａのゲート端子及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａのゲート・ソース間を流れ、端子２８及び端子３０を介して電流計へ流れる。
【００５０】
これにより、電流計の値を読み取ることにより、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａを検査することができる。
【００５１】
次に、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２Ｂに接触させると、検査用パッド４２Ｂに検査用電源３６から電圧が印加され、上記と同様にＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂを検査することができる。
【００５２】
本実施の形態の検査終了後のモータ駆動回路１０を用いてモータ駆動するときの動作は、第１の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。
【００５３】
以上説明したように、本実施の形態に係るモータ駆動回路は、１個の検査用パッドでＦＥＴの各々のゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流を１対のＦＥＴ毎に測定しているので、第１の実施の形態に比べ、検査精度を上げることができる。
【００５４】
また、第２の実施の形態において、図６に示すように、第２の実施の形態の検査用パッド４２Ａ及び４２Ｂに代えて検査用端子４４Ａ及び４４Ｂを用いてもよい。
【００５５】
次に、第３の実施の形態について説明する。なお、第１の実施の形態と対応する部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【００５６】
図７に示すように、第３の実施の形態に係るモータ駆動回路１０は、第１の実施の形態のＤＣモータ４６に代えてブラシレスモータ５０を制御する回路である。
【００５７】
駆動回路１４の出力端は、インバータ回路１６と６個のダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、２２Ｄ、２２Ｅ、及び２２Ｆと接続されている。
【００５８】
インバータ回路１６は、３つのＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ、２４Ｂ、及び２４Ｃと３つのＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、２６Ｂ、及び２６Ｃとを備えており、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ、２４Ｂ、及び２４Ｃ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、２６Ｂ、及び２６Ｃのゲート端子の各々は、駆動回路１４の出力端と接続されている。
【００５９】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ、２４Ｂ、及び２４Ｃのソース端子は、端子２８と接続され、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、２６Ｂ、及び２６Ｃのソース端子は、端子３０と接続されている。
【００６０】
Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａのドレイン端子は、端子３２Ａに接続され、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂのドレイン端子は、端子３２Ｂに接続され、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｃ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｃのドレイン端子は、端子３２Ｃに接続されている。
【００６１】
ダイオード２２Ａ、２２Ｃ、及び２２Ｅのカソードの各々は、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ、２４Ｂ、及び２４Ｃのゲート端子に接続され、ダイオード２２Ｂ、２２Ｄ、及び２２Ｆのカソードの各々は、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、２６Ｂ、及び２６Ｃのゲート端子に接続されている。
【００６２】
また、ダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、２２Ｄ、２２Ｅ、及び２２Ｆの各々のアノードは、検査用パッド４２に共通に接続されている。
【００６３】
本実施の形態のモータ駆動回路１０のゲートリーク電流の測定方法は、第１の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。
【００６４】
次に、本実施の形態の検査終了後のモータ駆動回路１０を用いてモータを駆動するときの動作について説明する。
【００６５】
モータ駆動時は、モータ駆動回路１０の端子３２Ａ、３２Ｂ、及び３２Ｃにブラシレスモータ５０の図示しないＵ相、Ｖ相、及びＷ相の３相電機子巻線を接続し、端子２８に図示しない直流電源（例えば、車載用バッテリー）のプラス端子を接続し、端子３０に直流電源のマイナス端子を接続する。
【００６６】
モータ制御部１２は、図示しない磁石回転子の位置に応じた制御信号を駆動回路１４へ出力する。
【００６７】
駆動回路１４は、モータ制御部１２から出力信号が入力されると、制御信号に基いて１２０°方形波通電のスイッチング信号を生成し、生成された１２０°方形波通電のスイッチング信号は、インバータ回路１６のＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ、２４Ｂ、及び２４Ｃ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、２６Ｂ、及び２６Ｃのゲート端子に入力される。
【００６８】
ブラシレスモータ５０は、例えば、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂをオン状態にすると、３相電機子巻線のＵ相からＶ相へ電流が流れ、３相電機子巻線のＵ相及びＶ相で回転磁界が発生する。磁石回転子は、回転磁界からトルクを受けて回転する。
【００６９】
なお、ダイオード２２Ａ及び２２Ｄが設けられているためＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及びＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ｂをオン状態にしても、Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ｂ及び２４Ｃ、並びにＮ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ、及び２６Ｃはオフ状態となる。
【００７０】
以上説明したように、本実施の形態に係るモータ駆動回路は、６個のダイオードの各々のアノードを１個の検査用パッドに接続することで６個のＦＥＴの各々のゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流の全てを１度に測定することができるので、検査用パッドの削減及び測定工数を低減し、測定時間を短縮することができる。
【００７１】
なお、本実施の形態では、検査用パッド４２を１個用いた場合を例に説明したが、３個の検査用パッド４２Ａ、４２Ｂ、及び４２Ｃを用いて、検査用パッド４２Ａにダイオード２２Ａ及び２２Ｂのアノードを接続し、検査用パッド４２Ｂにダイオード２２Ｃ及び２２Ｄのアノードを接続し、検査用パッド４２Ｃにダイオード２２Ｅ及び２２Ｆのアノードを接続し、ゲートリーク電流の測定を３箇所で行って１対のＦＥＴ毎に検査を行ってもよい。
【００７２】
また、第３の実施の形態において、図８に示すように、第３の実施の形態の検査用パッド４２に代えて検査用端子４４を用いてもよい。
【００７３】
次に、第４の実施の形態について説明する。なお、第２の実施の形態と対応する部分については、同一符号を付して説明を省略する。
【００７４】
図９に示すように、本実施の形態に係るモータ駆動回路１０は、第２の実施の形態のＰ−ＭＯＳＦＥＴ２４Ａ及び２４Ｂに代えてＮ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａ及び１２６Ｂが用いられている。
【００７５】
Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａのソース端子は、ＤＣモータ４６のプラス端子４８Ａに接続された端子３２Ａに接続され、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ｂのソース端子は、ＤＣモータ４６のマイナス端子４８Ｂに接続された端子３２Ｂに接続されている。
【００７６】
Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａ及び１２６Ｂのドレイン端子は、端子３０と接続されている。
【００７７】
次に、本実施の形態に係るモータ駆動回路１０のゲートリ−ク電流検査方法について説明する。
【００７８】
まず、ゲートリーク電流検査装置３４の電流計３８の他端を、モータ駆動回路１０の端子３０、端子３２Ａ、及び３２Ｂと接続した状態で、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２Ａに接触させると、検査用パッド４２Ａを介して、ダイオード２２Ａ及び２２Ｂを介して、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａ及び２６Ａのゲート端子に電圧が印加される。
【００７９】
Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａ及び２６Ａのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ａ及び２６Ａのゲート・ソース間を流れ、端子３２Ａ及び端子３０を介して電流計へ流れる。
【００８０】
これにより、電流計の値を読み取ることにより、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ２６Ａ及び１２６Ａを検査することができる。
【００８１】
次に、検査用探針４０の他端を検査用パッド４２Ｂに接触させると、検査用パッド４２Ｂに検査用電源３６から電圧が印加され、検査用パッド４２Ｂを介して、ダイオード２２Ｃ及び２２Ｄを介して、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ｂ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加される。
【００８２】
Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ｂ及び２６Ｂのゲート端子に電圧が印加されると、ゲートリーク電流が、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ｂ及び２６Ｂのゲート・ソース間を流れ、端子３２Ｂ及び端子３０を介して電流計へ流れる。
【００８３】
これにより、電流計の値を読み取ることにより、Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ１２６Ｂ及び２６Ｂを検査することができる。
【００８４】
本実施の形態の検査終了後のモータ駆動回路１０を用いてモータ駆動するときの動作は、第１の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。
【００８５】
以上説明したように、本実施の形態に係るモータ駆動回路は、１個の検査用パッドでＦＥＴの各々のゲート・ソース間を流れるゲートリーク電流を１対のＦＥＴ毎に測定しているので、第１の実施の形態に比べ、検査精度を上げることができる。
【００８６】
なお、本実施の形態では、検査用パッド４２Ａ及び４２Ｂを用いた場合を説明したが、第１の実施の形態のように１個の検査用パッド４２又は検査用端子４４を用いて、ダイオード２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ、及び２２Ｄのアノードを検査用パッド４２又は検査用端子４４に接続してもよい。
【００８７】
また、本実施の形態において、第２の実施の形態のように検査用パッド４２Ａ及び４２Ｂに代えて検査用端子４４Ａ及び４４Ｂを用いてもよい。
【００８８】
さらに、本実施の形態において、第３の実施の形態のようにＤＣモータ４６に代えてブラシレスモータ５０を用いてもよい。
【００８９】
なお、上記第１の実施の形態〜第４の実施の形態では、ダイオードを用いた場合を説明したが、ダイオードに代えて、コレクタとベースとを短絡してダイオード接続したトランジスタ又はエミッタとベースとを短絡してダイオード接続したトランジスタを用いてもよい。コレクタとベースとを短絡してダイオード接続したトランジスタを用いる場合には、エミッタ端子をＦＥＴのゲート端子に接続し、コレクタ端子を共通接続する。また、エミッタとベースとを短絡してダイオード接続したトランジスタを用いる場合には、コレクタ端子をＦＥＴのゲート端子に接続し、エミッタ端子を共通接続する。
【図面の簡単な説明】
【００９０】
【図１】第１の実施の形態に係るモータ制御回路の回路図である。
【図２】第１の実施の形態に係るモータ制御回路の概略図である。
【図３】第１の実施の形態に係るモータ制御回路の変形例を示す回路図である。
【図４】第１の実施の形態に係るモータ制御回路の変形例を示す概略図である。
【図５】第２の実施の形態に係るモータ制御回路の回路図である。
【図６】第２の実施の形態に係るモータ制御回路の変形例を示す回路図である。
【図７】第３の実施の形態に係るモータ制御回路の回路図である。
【図８】第３の実施の形態に係るモータ制御回路の変形例を示す回路図である。
【図９】第４の実施の形態に係るモータ制御回路の回路図である。
【符号の説明】
【００９１】
１０…モータ駆動回路、１２…モータ制御部（制御回路）、１６…インバータ回路（インバータ回路）、２２Ａ…ダイオード（第１の素子）、２２Ｂ…ダイオード（第１の素子）、２２Ｃ…ダイオード（第２の素子）、２２Ｄ…ダイオード（第２の素子）、２２Ｅ…ダイオード（第３の素子）、２２Ｆ…ダイオード（第３の素子）、２４Ａ…Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ（第１の電界効果トランジスタ）、２４Ｂ…Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ（第２の電界効果トランジスタ）、２４Ｃ…Ｐ−ＭＯＳＦＥＴ（第３の電界効果トランジスタ）、２６Ａ…Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ（第１の電界効果トランジスタ）、２６Ｂ…Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ（第２の電界効果トランジスタ）、２６Ｃ…Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ（第３の電界効果トランジスタ）、４２…検査用パッド（パッド）、４４…検査用端子（端子）、４６…ＤＣモータ（モータ）、４８Ａ…プラス端子（一方の電極）、４８Ｂ…マイナス端子（他方の電極）５０…ブラシレスモータ（モータ）、１２６Ａ…Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ（第１の電界効果トランジスタ）、１２６Ｂ…Ｎ−ＭＯＳＦＥＴ（第２の電界効果トランジスタ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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