(57)【要約】【課題】撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止する。【解決手段】撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像部と、撮像部より得られる異物検出用画像信号から、撮像部の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出部と、撮像部により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出部と、異物情報に基づいて、焦点検出部に撮像部の撮像面上で異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御部と、を備える。【選択図】図１１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段と、
前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出手段と、
前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段と、
前記異物情報に基づいて、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記撮像光学系の絞り値が所定の値よりも小さい場合には、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせ、前記撮像光学系の絞り値が前記所定の値以上である場合には、前記焦点検出手段に前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記異物の大きさが所定の大きさよりも小さい場合には、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせ、前記異物の大きさが所定の大きさ以上である場合には、前記焦点検出手段に前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段を備える撮像装置を制御する方法であって、
前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出工程と、
前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出工程と、
前記異物情報に基づいて、前記焦点検出工程において前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御工程と、
を備えることを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項５】
請求項４に記載の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラ等の撮像装置におけるオートフォーカス技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の撮像装置におけるオートフォーカスの方式には、ＴＶＡＦ方式（コントラスト検出方式）、位相差検出方式等があり、レンズ交換式一眼レフカメラの焦点検出装置は、主として位相差検出方式である。
【０００３】
しかし近年、レンズ交換式一眼レフカメラでも、撮像素子からの画像をリアルタイムに表示し続ける、いわゆるライブビュー状態での撮影機能が追加され始めている。ライブビュー状態では、レンズからの光束は画像生成に使用されるため、従来のレンズ交換式一眼レフカメラで広く行われてきた、光束をセンサーに導くことによる位相差検出方式による焦点検出を同時に行うことはできない。
【０００４】
そのため、ライブビュー状態を終了して位相差検出方式を使用するか、あるいは撮像面上の画像を用いて焦点検出を行う、ＴＶＡＦ方式を使用する必要がある。
【０００５】
ここで、ＴＶＡＦ方式では、例えば特許文献１に示されるように、撮像素子による光電変換によって得られた被写体の映像信号に基づき、画像の鮮鋭度であるＡＦ評価値を算出する。そして、ＡＦ評価値が最大となるようにフォーカスレンズを駆動することにより焦点調節を行う。
【０００６】
上記のＡＦ評価値は、バンドパスフィルタにより抽出された映像信号の高周波成分に基づいて算出され、通常、図１に示されるようにＡＦ評価値（コントラスト）が最大になるフォーカスレンズ位置が合焦点となる。
【特許文献１】特開平６−６２３０４号公報
【特許文献２】特開２００３−３３７２８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、デジタルカメラ等の撮像装置では、通常撮像素子の前方に光学ローパスフィルタ等の光学素子が配置されている。そして、この光学ローパスフィルタ等の光学素子にごみ等の異物が付着する場合がある。このような異物は、撮像素子で生成される画像信号に影として写り込む。
【０００８】
このような状態でＴＶＡＦ方式によるオートフォーカスを行うと、撮像素子上に投影されたゴミのコントラストも検出することなり、オートフォーカス動作に支障をきたす場合がある。
【０００９】
より具体的には、ＴＶＡＦ方式の焦点検出装置では、撮像素子上にゴミやほこりが投影されることにより、映像信号の高周波成分が増加し、被写体によるＡＦ評価値が相対的に低下するために動作時間が長くなってしまうという問題がある。
【００１０】
レンズ交換式の一眼レフカメラでは、特にレンズ交換時にカメラのマウント側から入った異物が撮像素子の前方に配置された光学素子上に付着しやすい上に、カメラ内部でシャッター由来の切削ゴミが上記の光学素子上に付着することもある。
【００１１】
この問題の対策として、特許文献２には、ＴＶＡＦ方式のＡＦ装置において、ＡＦ光学系近傍に浮遊するゴミやちりに合焦しないようにする方法が提案されている。
【００１２】
しかし、この技術では、撮像面上のゴミの影響を軽減するためには、被写体位置をずらしたり、ＡＦ駆動に使用する撮像面の位置を変えたりしなければならず、制御が複雑になるという問題がある。また、ゴミにより撮像面の高周波成分が相対的に少なくなるため、検知時間が長くなってしまうという問題があった。
【００１３】
従って、本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止することである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段と、前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出手段と、前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出手段と、前記異物情報に基づいて、前記焦点検出手段に前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする。
【００１５】
また、本発明に係わる撮像装置の制御方法は、撮像光学系により結像された被写体像を光電変換して画像信号を生成する撮像手段を備える撮像装置を制御する方法であって、前記撮像手段より得られる異物検出用画像信号から、前記撮像手段の撮像画面内における異物の少なくとも位置及び大きさの情報である異物情報を検出する異物検出工程と、前記撮像手段により生成された画像信号のコントラストの情報に基づいて焦点検出を行う焦点検出工程と、前記異物情報に基づいて、前記焦点検出工程において前記撮像手段の撮像面上で前記異物の存在する領域も含めた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるか、前記異物の存在する領域を除いた領域の画像信号を用いて焦点検出を行わせるかを制御する制御工程と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、撮像面の信号を使用した焦点検出方法において、撮像素子の前方に配置された光学素子に付着した異物による焦点誤検知や焦点検知時間の増加を防止することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の好適な一実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００１８】
図２は、本発明の一実施形態に係わる撮像装置としてのデジタルカメラの回路構成を示すブロック図である。
【００１９】
図２において、１は撮像光学系、２はＣＣＤ等の撮像素子（光電変換素子）、３は撮像して得られたアナログ画像信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路、４はガンマ補正等の公知の画像処理を行う画像処理回路である。５は画像データの圧縮・伸長を行い、外部メモリからの信号の授受を行うメモリ制御部（記録再生部）、６は画像の展開やカメラの制御に使用するメモリ、７は画像を記録する外部メモリである。８は画像表示用の画像表示メモリ（バッファメモリ）、９は撮像画像を表示する画像表示部、１０はＣＰＵ等からなるシステム制御回路、１１は撮像光学系のフォーカスレンズを駆動するレンズ駆動制御部である。１２はシャッター速度や絞り値等を表示する撮影情報表示部、１３はカメラに撮影を指示する撮影指示スイッチ（レリーズスイッチ）である。さらに、１４はカメラに画像表示を行うよう指示する画像表示スイッチ、１５はカメラに設定変更のメニュー画面を表示するように指示する設定変更スイッチである。なお、撮像素子２の前方には、光学ローパスフィルター等の光学素子２ａが配置されており、ゴミ等の異物がこの光学素子２ａの表面に付着する。この付着した異物の影が、撮像素子２の画面内に写り込み、ＡＦ（オートフォーカス）動作に影響を与える。
【００２０】
次に、上記のように構成されるデジタルカメラの動作について説明する。
【００２１】
まず、撮影者により操作スイッチ１３、１４、１５のいずれかが操作されたことをシステム制御回路１０が検出し、他の各回路ブロックおよび撮像光学系への電源供給を開始して、各ブロックを使用できる状態にする。
【００２２】
また、撮影者が撮影指示スイッチ１３の操作により、撮影動作を行った場合には、システム制御回路１０からの制御信号によって撮像光学系１が作動し、撮像素子２上に被写体像を結像させる。この撮像素子２からの電気信号は、各画素毎に順にＡ／Ｄ変換回路３を介してデジタル信号に変換された後、画像処理回路４へ入力される。画像処理回路４では、撮像素子２の各画素データを基にＲＧＢの各色信号を生成する。次にこれら各画素データをメモリ６内に記憶する。
【００２３】
メモリ６に記憶された画像データは、画像表示メモリ８へ転送されることで、画像表示部９を通して表示される。
【００２４】
また、システム制御回路１０は、メモリ６に記憶された画像データから、ＡＦフレーム領域のコントラスト成分が最大になるように、フォーカスレンズを駆動するレンズ駆動制御部１１を制御する。これにより、焦点合わせを行う。なお、上記のＡＦフレームとは、図３に示すように、撮像素子２の画面１００上に複数（図３では例えば９個）配置された焦点検出を行う領域１０２を示す。以降、１０２をＡＦフレームと呼ぶ。
【００２５】
撮影結果を保存する場合は、このフレームメモリ６内のデータを、メモリ制御部５により所定の圧縮フォーマットに基づいて圧縮し、圧縮したデータを外部メモリ７（通常フラッシュメモリ等の不揮発性メモリ）に記録する。
【００２６】
また、撮影者が設定変更スイッチ１５の操作により、カメラの設定を変更する場合には、システム制御回路１０の指示により、画像表示メモリ８を通して画像表示部９に設定変更画面（メニュー等のユーザーインターフェース）が表示される。
【００２７】
（ゴミ検出処理）
本実施形態では、まず、撮像素子２の前方に配置された光学素子２ａに付着したゴミ（異物）の情報（撮像面内のゴミの情報）であるゴミ情報（異物情報）を得るためのゴミ検出用画像（異物検出用画像信号）を撮影する。そして、ゴミデータを抽出し、ゴミ補正データ（ゴミ情報プロファイル）を生成しておく。ここでゴミ検出用画像は、できるだけ均一な輝度面を撮影した画像が望ましいが、身近な場所で容易に撮影できることが望ましいため、厳密な均一性を要求するものではない。例えば、青空や白い壁面を撮影することを想定している。
【００２８】
まず、光学素子２ａに付着したゴミの位置を検出する処理の例を、図４のフローチャートを用いて説明する。
【００２９】
ゴミ検出処理は、ゴミ検出用画像を撮像することにより行われる。ゴミ検出処理を行う場合、面光源装置の射出面や白い壁などの均一な色を持つ面に撮像光学系１の撮影光軸を向けてカメラを設置し、ゴミ検出の準備を行なう。
【００３０】
準備が終了した後、例えば撮影指示スイッチ１３からゴミ検出処理の開始が指示されると、システム制御回路１０は、まず絞りの設定を行う。撮像素子近傍のゴミはレンズの絞り値によって結像状態が変わり、レンズの瞳位置によって位置が変化する。したがって、ゴミ補正データにはゴミの位置や大きさに加え、検出時の絞り値とレンズの瞳位置を保持する必要がある。なお、ここで瞳位置とは、射出瞳の撮像面（焦点面）からの距離をいう。
【００３１】
ここでは、例えばＦ２２を指定する（ステップＳ２１）。
【００３２】
次にシステム制御回路１０はレンズ駆動制御部１１に対し、撮像光学系１の絞り羽根制御を行わせ、ステップＳ２１で指定された絞り値に絞りを設定する（ステップＳ２２）。さらに、フォーカス位置を無限遠に設定する（ステップＳ２３）。
【００３３】
撮像光学系１の絞り値とフォーカス位置が設定されると、ゴミ検出モードでの撮影を実行する（ステップＳ２４）。ステップＳ２４で行う撮像処理ルーチンの詳細に関しては図９を用いて後に説明する。撮影された画像データは、メモリ６に格納される。
【００３４】
撮影が終了すると、撮影時の絞り値とレンズ瞳位置を取得（レンズ情報取得）する（ステップＳ２５）。
【００３５】
画像処理回路４にメモリ６に記憶されている撮影画像の各画素に対応するデータを呼び出す（ステップＳ２６）。
【００３６】
画像処理回路４は、図６に示す処理を行い、ゴミが存在する画素の位置と大きさを取得する（ステップＳ２７）。
【００３７】
ステップＳ２７で取得したゴミが存在する画素の位置と大きさ、およびステップＳ２５で取得した絞り値とレンズ瞳位置情報を、メモリ６に登録する（ステップＳ２８）。
【００３８】
ここで、ステップＳ２８において、予めメモリ６に記録されている製造時からの不良画素（画素欠陥）の位置と、読み出した画素データの位置を比べて画素欠陥であるかどうかを確認する。そして、画素欠陥によるものでは無いと判断された領域のみ、メモリ６に位置を登録しても良い。
【００３９】
メモリ６に格納されるゴミ補正データのデータ形式例を図５に示す。図５に示した通り、ゴミ補正データには、検出用画像撮影時の、レンズ情報とゴミの位置、大きさの情報が格納される。
【００４０】
具体的には、検出用画像撮影時のレンズ情報として、検出用画像撮影時における実際の絞り値（Ｆ値）と、そのときのレンズ瞳位置を格納する。続いて記憶領域に検出したゴミ領域の数（整数値）を格納し、これに続き、個々の具体的なゴミ領域のパラメータを、ゴミ領域の数だけ繰返して格納する。ゴミ領域のパラメータは、ゴミの半径（例えば２バイト）、有効画像領域における中心のｘ座標（例えば２バイト）、おなじく中心のｙ座標（例えば２バイト）の３つの数値のセットである。
【００４１】
メモリ６の大きさ等によりゴミ補正データサイズに制限がある場合、ステップＳ２７で得たゴミ領域の先頭から優先してデータを格納する。これは、ステップＳ２７のゴミ領域取得ルーチン内では、後述するようにゴミ領域を、目立つゴミの順にソートするからである。
【００４２】
（ゴミ領域取得ルーチン）
次に、図６から図８を用いて、ステップＳ２７で行うゴミ領域取得ルーチンの詳細について説明する。
【００４３】
図７に示すように、呼び出した画像データをメモリ６上に展開し、予め定められたブロック単位で処理を行う。これは、レンズやセンサ特性に起因する周辺減光に対応するためである。周辺減光とは、レンズの中央部に比べ周辺部の輝度が落ちてしまう現象であり、レンズの絞りを小さくすることである程度軽減されることが知られている。しかし、絞りを絞った状態でも、撮影画像に対して予め定められたスレッショルド値でゴミ位置の判定を行うと、レンズによっては周辺部のゴミが正確に検出できなくなるという問題がある。そこで、画像をブロック分割して周辺減光の影響を軽減する。
【００４４】
単純にブロック分割すると、ブロックとブロックの間でスレッショルド値が異なる場合、ブロック間をまたぐゴミの検出結果がずれてしまうという問題がある。そこで、ブロック間をオーバーラップさせ、オーバーラップ領域を構成するブロックのいずれかでゴミと判定された画素をゴミ領域として扱う。
【００４５】
ブロック内のゴミ領域判定は、図６に示す処理の流れで行う。まず、ブロック内の最大輝度Ｌmax、平均輝度Ｌaveを算出し、次式を用いてブロック内のスレッショルド値Ｔ１を算出する。
【００４６】
Ｔ１＝Ｌave×０.６＋Ｌmax×０.４
次に、スレッショルド値を超えない画素をゴミ画素とし（ステップＳ６１）、ゴミ画素によって構成される孤立領域を各々一つのゴミ領域ｄｉ（ｉ＝０，１，…，ｎ）とする（ステップＳ６２）。図８に示すように、ゴミ領域毎に、ゴミ領域を構成する画素の水平方向の座標の最大値Ｘmaxおよび最小値Ｘmin、垂直方向の座標の最大値Ｙmaxおよび最小値Ｙminを求め、ゴミ領域ｄｉのサイズを表す半径ｒｉを次式によって算出する（ステップＳ６３）。
【００４７】
ｒｉ＝√[｛（Ｘmax−Ｘmin）／２｝2−｛（Ｙmax−Ｙmin）／２｝2]
Ｘmax、Ｘmin、Ｙmax、Ｙminとｒｉの関係を、図８に示す。
【００４８】
その後ステップＳ６４で、ゴミ領域毎の平均輝度値を算出する。
【００４９】
メモリ６のサイズによる制限などにより、ゴミ補正データのデータサイズが制限されている場合がある。このような場合に対応するために、ゴミ位置情報を、大きさやゴミ領域の平均輝度値によってソートする（ステップＳ６５）。本実施形態では、ｒｉの大きい順にソートする。ｒｉが等しい場合、平均輝度値の低い順にソートする。このようにすることで、目立つゴミを優先してゴミ補正データに登録することが出来る。なお、ソート済みのゴミ領域をＤｉ、ゴミ領域Ｄｉの半径をＲｉとする。
【００５０】
（撮像処理ルーチン）
次に、図９に示すフローチャートを用いて、図４のステップＳ２４で行われる撮像処理ルーチンの詳細について説明する。
【００５１】
この撮像処理ルーチンが実行されると、ステップＳ２０１でシステム制御回路１０は、不図示のクイックリターンミラーを作動させ、いわゆるミラーアップを行い、撮影光路外にクイックリターンミラーを退避させる。
【００５２】
次に、ステップＳ２０２で撮像素子２での電荷蓄積を開始し、次のステップＳ２０３では不図示のシャッターを走行させて露光を行う。そして、ステップＳ２０４で撮像素子２の電荷蓄積を終了し、次のステップＳ２０５で撮像素子２から画像信号を読み出してＡ／Ｄ変換回路３および画像処理回路４で処理した画像データをメモリ６に一次記憶する。
【００５３】
次のステップＳ２０６で撮像素子２から全ての画像信号の読み出しが終了すると、ステップＳ２０７でクイックリターンミラーをミラーダウンし、一連の撮像動作を終了する。
【００５４】
ステップＳ２０８にて、通常撮影かゴミ検出用画像撮影かを判断し、通常撮影時にはステップＳ２０９へ進んで、撮影した画像が外部メモリ７に記録される。
【００５５】
以上の動作により、光学素子２ａに付着したゴミの位置及び大きさの情報を取得することができる。
【００５６】
図１０は、本実施形態に係るデジタルカメラにおけるＴＶＡＦ方式による焦点検出処理を説明するフローチャートである。
【００５７】
焦点検出は、ライブビュー状態において連続してメモリ６に取り込まれる画像をもとに行われる。
【００５８】
なお、焦点検出に使用するコントラスト信号は、メモリ６内にある画像全体から生成しても良いし、メモリ６内にある画像全体から一部分を取り出したＡＦフレーム１０２（図３参照）から生成しても良い。
【００５９】
まず、焦点検出に使用するコントラスト信号を取得する。取得する方法は、後に図１１を参照してより詳しく説明する（ステップＳ３１）。
【００６０】
ステップＳ３１で取得したコントラスト信号と、これまで取得したコントラスト信号の履歴を元に、撮像光学系１を駆動する方向と駆動量を判定する（ステップＳ３２）。コントラスト信号の履歴が無い場合は、あらかじめ決定してある方向と駆動量を使用する。
【００６１】
ステップＳ３３で、レンズ駆動制御部１１に対して、フォーカス位置をステップＳ３２で算出した位置に設定する。
【００６２】
最新のコントラスト信号を、コントラスト信号の履歴に移動し、ステップＳ３１で行ったサブルーチンを再度実行し、コントラスト信号を取得する（ステップＳ３４）。
【００６３】
ステップＳ３４で取得したコントラスト信号と、これまで取得したコントラスト信号の履歴を元に、コントラスト信号の頂点を検出する。
【００６４】
コントラスト信号の頂点を検出できなかった場合、ステップＳ３２に戻って焦点検出を続行し、コントラスト信号の頂点を検出した場合は次のステップへ進む（ステップＳ３５）。
【００６５】
検出したコントラスト信号の頂点位置にフォーカス位置を移動し、合焦完了とする（ステップＳ３６）。
【００６６】
図１１は、本実施形態に係るデジタルカメラにおける図１０の焦点検出処理において、コントラスト信号を検出するサブルーチンを説明するフローチャートである。
【００６７】
まず、ステップＳ４１おいて、メモリ６内にある画像上の、焦点検出領域（ＡＦフレーム１０２）の位置と大きさを取得する。
【００６８】
次に、ステップＳ４２おいて、図４のフローチャートの手順によって取得した撮像面上のゴミの情報により、メモリ６内にある画像上の、ゴミの位置と大きさを取得する。
【００６９】
次に、ステップＳ４３において、コントラスト検出モードの選択を行う。
【００７０】
例えば、ステップＳ４１で取得した焦点検出領域内に、ステップＳ４２で取得したゴミが存在するかどうかの判定を行い、焦点検出領域内にゴミが存在しなかった場合は通常検出を行うステップＳ４４に進む。また、焦点検出領域内にゴミが存在した場合はゴミを除いて焦点検出を行うステップＳ４５に進む。
【００７１】
なお、焦点検出領域内にゴミが存在した場合でも、レンズの絞り値が小さい場合（例えばＦ５．６以下）であれば、ゴミの写り込みは無視できるものとして、ステップＳ４４に進む構成でも良い。この場合、レンズの絞り値が所定値以上である場合には、ステップＳ４５に進む。
【００７２】
また、焦点検出領域内にゴミが存在した場合でも、ゴミの大きさが小さい場合（例えば焦点検出領域の５％以下）の大きさであれば、ゴミの写り込みは無視できるものとして、ステップＳ４４に進む構成でも良い。この場合、ゴミの大きさが所定の大きさ以上である場合には、ステップＳ４５に進む。
【００７３】
ステップＳ４４では、図１２に示すように、メモリ６内にある画像データの焦点検出領域（ＡＦフレーム）１０２の信号を図中の矢印が示す方向の順に走査し、走査した信号をバンドパスフィルタに通すことにより、焦点検出領域のコントラスト信号を得る。
【００７４】
ステップＳ４５では、図１３に示すように、焦点検出領域（ＡＦフレーム）１０２をゴミ領域とそれ以外の領域に分割する。
【００７５】
なお、ゴミ領域が、例えば焦点検出領域の５０％以上の大きさである場合は、正しくコントラスト検出ができないものとして、処理を終了する構成でも良い。
【００７６】
ステップＳ４６では、ステップＳ４５で分割したゴミ以外の領域である、図１３の第１の領域７１、第２の領域７２、第３の領域７３、第４の領域７４をそれぞれステップＳ４４で説明した方法で走査し、それぞれのコントラスト信号を得る。
【００７７】
ステップＳ４７では、ステップＳ４６で得られたコントラスト信号を、それぞれの領域の面積比により合成し、焦点検出領域のコントラスト信号を得る。
【００７８】
なお、ステップＳ４６で、高速化のため、ゴミ以外の領域のうち、例えば焦点検出領域全体の１０％以下の小さな領域である第３の領域７３、第４の領域７４の走査を省略する構成でも良い。
【００７９】
以上説明したように、上記の実施形態によれば、撮像素子の前方に配置された光学素子にごみ等の異物が付着していた場合でも、焦点の誤検出を防止でき、焦点検出にかかる時間が長くなることも防止できる。
【００８０】
（他の実施形態）
また、各実施形態の目的は、次のような方法によっても達成される。すなわち、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体（または記録媒体）を、システムあるいは装置に供給する。そして、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行する。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、本発明には次のような場合も含まれる。すなわち、プログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム（ＯＳ）などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
【００８１】
さらに、次のような場合も本発明に含まれる。すなわち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張カードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張カードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される。
【００８２】
本発明を上記記憶媒体に適用する場合、その記憶媒体には、先に説明した手順に対応するプログラムコードが格納されることになる。
【図面の簡単な説明】
【００８３】
【図１】ＡＦ評価値を説明するための図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るデジタルカメラの回路構成を示すブロック図である。
【図３】ＡＦフレームを示す図である。
【図４】一実施形態に係わるデジタルカメラにおけるゴミ検出処理を説明するフローチャートである。
【図５】ゴミ補正データのデータ形式例を示す図である。
【図６】図４のステップＳ２７で行われるゴミ領域取得ルーチンの詳細を説明するフローチャートである。
【図７】図６のステップＳ６２で行われるゴミ領域判定処理の処理単位を示す図である。
【図８】図６のステップＳ６３で行われるゴミ領域サイズ算出の概要を示す図である。
【図９】図４のステップＳ２４で行われる撮像処理ルーチンの詳細を説明するフローチャートである。
【図１０】一実施形態に係るデジタルカメラにおけるＴＶＡＦ方式による焦点検出処理を説明するフローチャートである。
【図１１】一実施形態に係るデジタルカメラにおける図１０の焦点検出処理において、コントラスト信号を検出するサブルーチンを説明するフローチャートである。
【図１２】一実施形態に係るデジタルカメラにおける図１０のコントラスト取得サブルーチンにおいて、コントラスト信号を検出する走査の方法を説明する図である。
【図１３】一実施形態に係るデジタルカメラにおける図１０のコントラスト取得サブルーチンにおいて、焦点検出領域からゴミ領域を分離する方法を説明する図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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