(57)【要約】【課題】  ラインＣＣＤのピクセル配列密度が低く抑えられても、サブピクセルレベルで判定できるようにして、検査精度を高くする。【解決手段】  光源２と光感知器３との間に被検査電線端末を通し、ラインＣＣＤ４を繰り返しラインスキャンして検査を行う。その際、黒ピクセル数が初めて０でなくなる位置から所定範囲内のピクセルにおいて、黒ピクセル数の増分が最大になるピクセルを求め、その前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値として、ピクセルの位置番号の加重平均値を求めて電線の先端位置を判定する。さらに、ストリップ位置より後方の部分について、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求める。さらに、その前後各１ピクセル分ずらした場合の一致度及びずれ量をも用いて、サブピクセルレベルでのずれ量を求め、防水シール挿入位置を判定する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を照射する光源と、該光源に対向配置され、多数のピクセルが一直線状に配列された光感知器とを備え、前記光源と光感知器との間を横切るように、電線端末を、前記ピクセルの配列方向と平行な状態で、水平移動させながら、各ピクセルのラインスキャンを繰り返し行い、電線により光が遮られた回数（以下、「黒ピクセル数」という）を前記各ピクセル毎に検知することにより電線端末の検査を行う電線端末検査装置であって、
電線の先端側の端に位置するピクセルから他端に向かって、黒ピクセル数を順に検索し、黒ピクセル数が初めて０でなくなるピクセルを求め、該ピクセルから他端側に向かって所定の範囲内で、各ピクセルにおける、直前のピクセルからの黒ピクセル数の増分を求め、増分が最大になるピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値として、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線の先端位置として判定することを特徴とする電線端末検査装置。
【請求項２】
電線の先端所定長の絶縁被覆が剥ぎ取られ、かつ、端部の絶縁被覆周上に防水シールが取り付けられた電線端末の検査に適用される請求項１に記載の電線端末検査装置であって、
前記先端位置として判定された位置の後方のピクセルについて、直前のピクセルからの黒ピクセル数の増分を求め、前記先端位置として判定された位置から後方に向かって順に検索し、予め定めたしきい値以上の増分を示すピクセルを求め、該ピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値とし、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線のストリップ位置として判定することを特徴とする電線端末検査装置。
【請求項３】
前記ストリップ位置として判定された位置より後方の部分について、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求め、該一致度及びずれ量と、該位置より前後に各１ピクセル分ずらした場合の一致度及びずれ量とに基づいて演算処理をすることにより、サブピクセルレベルでの最大一致ずれ量を求め、防水シール挿入位置を判定することを特徴とする請求項２に記載の電線端末検査装置。
【請求項４】
前記防水シールの最大径に対して所定の割合の径になる位置を、前記基準データ群の該当位置と比較することによりずれ量を求め、該ずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットし、その前後所定範囲において、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求めることを特徴とする請求項３に記載の電線端末検査装置。
【請求項５】
前記割合を複数種類設定し、該当する複数の位置でずれ量を求め、最もずれ量が小さい位置でのずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットすることを特徴とする請求項４に記載の電線端末検査装置。
【請求項６】
正規化相関により基準データ群との一致度を算出することを特徴とする請求項３，４又は５に記載の電線端末検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、先端部の被覆を剥ぎ取って導体を所定の長さだけ露出させ、かつ、端部の絶縁被覆周上に防水シールを取り付けた電線の品質検査を行うための電線端末検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図７は、検査対象の電線端部の一例を示す図である。図７において、１１は導体、１２は絶縁被覆、１３は樹脂製の防水シールである。導体１１と絶縁被覆１２とよりなる絶縁電線の端部の絶縁被覆１２を所定長Ｓだけストリップし、さらに、ストリップ位置から一定幅Ｗだけずらして、絶縁被覆１２の周上に、防水シール１３を取り付けている。
【０００３】
このような電線の製造工程においては、所定の長さに切断した絶縁電線を、製造ライン上を搬送しながら、絶縁被覆１２のストリップ作業、防水シール１３の挿入作業を行った後、先端に露出した導体１１に端子金具を圧着する工程を一連で行う。その際、絶縁被覆１２のストリップ作業、防水シール１３の挿入作業が終わって、端子金具を圧着する前に、ライン上を搬送しながら、電線端末検査装置で電線の加工状況の検査を行うようにしている。
【０００４】
検査の結果、「不良」と判定された電線は、製造ラインから取り除かれて、次の工程を行わないようにしている。検査で電線が「不良」と判定される例としては、図８（Ａ）に示すような、電線先端位置のずれ、図８（Ｂ）に示すような、ストリップ位置のずれ、図８（Ｃ）に示すような、防水シールの挿入位置のずれ、図８（Ｄ）に示すような、防水シールの逆挿入、図８（Ｅ）に示すような、防水シール先端部の切断、さらに、図８（Ｆ）に示すような、防水シールの挿入もれ等がある。
【０００５】
このような加工不良を検出して不良なものを排除する必要があるが、従来、この種の電線端末検査装置として、例えば、特許文献１に示されるような電線端末検査装置があった。その電線端末検査装置は、被検査電線の搬送路の上側にレーザ光源、該搬送路を挟んだ下側対向位置に光感知素子がライン状に配列されたセンサ装置を設けている。そして、被検査電線がレーザ光源とセンサ装置との間を通過する際に、レーザ光の一部が遮られてできるシルエットをラインスキャンして２次元画像データを取得し、その２次元画像データに基づいて、電線の加工状況の良否を判定するようにしている。
【特許文献１】米国特許第６８８５４６３号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そのような電線端末検査装置において、検査精度を上げるためには、得られる２次元画像データの解像度をできるだけ高める必要があるが、２次元画像データの解像度は、センサ装置のライン状に配列された光感知素子の配列密度とラインスキャンレートによって解像度が決定される。すなわち、光感知素子のライン方向の解像度は、光感知素子の配列密度を上げるほど高くなり、電線搬送方向の解像度は、ラインスキャンレートを上げるほど高くなる。
【０００７】
しかしながら、光感知素子の配列密度を上げると、光感知素子のコストが増大する上、ライン当たりの画像取得時間が長くなる関係上、ラインスキャンレートが制限されるという問題が生じる。また、ラインスキャンレートを上げるには、高速に画像取得できる光感知素子を採用する必要があって、光感知素子のコスト増大と、画像処理時間の増大という問題が生じる。
【０００８】
そのような関係上、現状では、光感知素子の配列密度をある程度抑えることにより、必要なスキャンレートを得るようにせざるを得ない。具体的には、１６ｍｍの視野に対して１２８画素のＣＣＤを使用しており、１画素の大きさは０．１２５ｍｍになっている。その結果、検査精度は、０．１２５ｍｍが限度になっていた。
【０００９】
ところが、製品の規格公差は０．１ｍｍ単位で設定されていることがほとんどで、従来の電線端末検査装置の０．１２５ｍｍの検査精度では、きめ細やかな公差の管理ができず、良品を不良判定する原因にもなるという問題点があった。
【００１０】
本発明は、そのような問題点に鑑み、光感知素子の配列密度が低く抑えられても、１ピクセル未満のサブピクセルレベルで判定できるようにして、検査精度を高くすることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記課題を解決するため、本願の請求項１にかかる発明は、光を照射する光源と、該光源に対向配置され、多数のピクセルが一直線状に配列された光感知器とを備え、前記光源と光感知器との間を横切るように、電線端末を、前記ピクセルの配列方向と平行な状態で、水平移動させながら、各ピクセルのラインスキャンを繰り返し行い、電線により光が遮られた回数（以下、「黒ピクセル数」という）を前記各ピクセル毎に検知することにより電線端末の検査を行う電線端末検査装置であって、電線の先端側の端に位置するピクセルから他端に向かって、黒ピクセル数を順に検索し、黒ピクセル数が初めて０でなくなるピクセルを求め、該ピクセルから他端側に向かって所定の範囲内で、各ピクセルにおける、直前のピクセルからの黒ピクセル数の増分を求め、増分が最大になるピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値として、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線の先端位置として判定することを特徴とする。
【００１２】
また、本願の請求項２にかかる発明は、請求項１にかかる発明において、電線の先端所定長の絶縁被覆が剥ぎ取られ、かつ、端部の絶縁被覆周上に防水シールが取り付けられた電線端末の検査に適用される請求項１に記載の電線端末検査装置であって、前記先端位置として判定された位置の後方のピクセルについて、直前のピクセルからの黒ピクセル数の増分を求め、前記先端位置として判定された位置から後方に向かって順に検索し、予め定めたしきい値以上の増分を示すピクセルを求め、該ピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値とし、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線のストリップ位置として判定することを特徴とする。
【００１３】
また、本願の請求項３にかかる発明は、請求項２にかかる発明において、前記ストリップ位置として判定された位置より後方の部分について、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求め、該一致度及びずれ量と、該位置より前後に各１ピクセル分ずらした場合の一致度及びずれ量とに基づいて演算処理をすることにより、サブピクセルレベルでの最大一致ずれ量を求め、防水シール挿入位置を判定することを特徴とする。
【００１４】
また、本願の請求項４にかかる発明は、請求項３にかかる発明において、前記防水シールの最大径に対して所定の割合の径になる位置を、前記基準データ群の該当位置と比較することによりずれ量を求め、該ずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットし、その前後所定範囲において、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求めることを特徴とする。
【００１５】
また、本願の請求項５にかかる発明は、請求項４にかかる発明において、前記割合を複数種類設定し、該当する複数の位置でずれ量を求め、最もずれ量が小さい位置でのずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットすることを特徴とする。
【００１６】
また、本願の請求項６にかかる発明は、請求項３，４又は５にかかる発明において、正規化相関により基準データ群との一致度を算出することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の電線端末検査装置は、次のような効果を奏する。
すなわち、請求項１にかかる発明においては、電線の先端側から他端に向かって、黒ピクセル数が初めて０でなくなるピクセルを求め、そこから所定の範囲内で、各ピクセルにおける、黒ピクセル数の増分を求め、増分が最大になるピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値として、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線の先端位置として判定するようにした。その結果、光感知素子の配列密度が低く抑えられても、電線の先端位置が、１ピクセル未満のサブピクセルレベルで判定できるようになり、検査精度を高くすることができる。
【００１８】
また、請求項２にかかる発明においては、請求項１にかかる電線端末検査装置において、先端位置として判定された位置の後方のピクセルについて、黒ピクセル数の増分を求め、先端位置から後方に向かって順に検索し、予め定めたしきい値以上の増分を示すピクセルを求め、該ピクセルを中心とする前後所定個数のピクセルにおける増分を荷重値とし、各ピクセルに対応するライン番号の加重平均値を求め、該加重平均値を電線のストリップ位置として判定するようにした。その結果、電線のストリップ位置の直後に防水シールがあっても、ストリップ位置が、１ピクセル未満のサブピクセルレベルで判定できるようになり、検査精度を高くすることができる。
【００１９】
また、請求項３にかかる発明においては、請求項２にかかる電線端末検査装置において、ストリップ位置より後方の部分について、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求め、該一致度及びずれ量と、該位置より前後に各１ピクセル分ずらした場合の一致度及びずれ量とに基づいて演算処理をすることにより、サブピクセルレベルでの最大一致ずれ量を求め、防水シール挿入位置を判定するようにした。その結果、様々な形状をした防水シールが挿入されていても、防水シール挿入位置が、１ピクセル未満のサブピクセルレベルで判定できるようになり、検査精度を高くすることができる。
【００２０】
また、請求項４にかかる発明においては、請求項３にかかる電線端末検査装置において、防水シールの最大径に対して所定の割合の径になる位置を、前記基準データ群の該当位置と比較することによりずれ量を求め、該ずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットし、その前後所定範囲において、検出されたデータ群を、ピクセル単位で前後に順次ずらせ、それぞれの位置で、基準電線から取得した基準データ群との一致度を算出して、一致度が最大となるずれ量を求めるようにした。その結果、一致度が最大となるずれ量を、効率よく検出することができる。
【００２１】
また、請求項５にかかる発明においては、請求項４にかかる電線端末検査装置において、前記割合を複数種類設定し、該当する複数の位置でずれ量を求め、最もずれ量が小さい位置でのずれ量だけ、検出されたデータ群をオフセットするようにしたので、一致度が最大となるずれ量を、より一層効率よく検出することができる。
【００２２】
また、請求項６にかかる発明においては、請求項３，４又は５にかかる電線端末検査装置において、正規化相関により基準データ群との一致度を算出するようにしたので、一致度を、精度よく、かつ、簡単に算出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
【実施例１】
【００２４】
図１は、本発明の一実施例に係る電線端末検査装置の外観図である。図１において、１は電線端末検査装置、２はレーザ光源、３は光感知器、４は光感知器３のラインＣＣＤ、５は制御部、６，７は接続線、８はケーブルである。
【００２５】
電線端末検査装置１の先端下部の光源収納部１ａにレーザ光源２が設けられ、それと空間部１ｃを挟んで先端上部に配置された光感知器収納部１ｂに、レーザ光源２と対向するように光感知器３を設けている。光感知器３は、多数のピクセルが一直線状に配列されたラインＣＣＤ４により構成されている。そのラインＣＣＤ４としては、例えば、ピクセルの数が、１２８のものを用いることができる。レーザ光源２は、光感知器３に向けてレーザ光線Ｌを照射する。
【００２６】
そのような電線端末検査装置１において、空間部１ｃの中で、図２に示すように、検査対象となる電線端部を、ラインＣＣＤ４のピクセル配列方向と平行な状態で、水平方向に移動させる。その時、制御部５は、ラインＣＣＤ４の各ピクセルを高速で繰り返しラインスキャンして、各ラインスキャン時に、各ピクセルから、レーザ光を感知したか、感知しなかったかのデータを受けて、電線端末の２次元イメージを取得し、それに基づいて電線端末の検査を行う。なお、この電線端末検査装置１は、検査対象となる電線の製造過程の搬送路の途中に設置される。
【００２７】
図３は、電線端末検査装置により検出される２次元イメージを示す図である。図３の横軸は、ラインＣＣＤ４の各ピクセルの位置に対応し、各ピクセルには、電線の先端側の端に位置するピクセルから他端に向かって順にライン番号０〜１２７が割り当てられている。また、縦軸は、ラインスキャンのスキャン順を示しており、得られるイメージの幅は、電線の移動速度に依存することになる。
【００２８】
前述したように、このような電線端末検査装置では、検査精度が、ラインＣＣＤ４のピクセルの大きさで制限される。そこで、本発明では、以下に説明するようにして、サブピクセルのレベルで検査できるようにした。
【００２９】
（電線の先端位置の求め方）
制御部５は、レーザ光源２と光感知器３の間を、検査対象の電線が通過したら、ライン毎に、光線が遮られた回数（以下、「黒ピクセル数」という）Ｈ（０）〜Ｈ（１２７）を計数する。そして、電線の先端側の端に位置するラインから他端に向かって順に検索し、黒ピクセル数が初めて０でなくなるラインを求める。そして、該ラインから後方へ、所定の範囲内で、直前のラインからの黒ピクセル数の増分Ｄ（ｐ）＝Ｈ（ｐ）−Ｈ（ｐ−１）を求め、増分Ｄ（ｐ）が最大になるラインＬｐを求める。
【００３０】
次に、該ラインＬｐを中心として、前後ｎ個のラインについて、直前のラインからの黒ピクセル数の増分を求める。すなわち、上記ラインＬｐの黒ピクセル数をＨ（ｐ）とすると、その前後ｎラインの範囲内で増分Ｄ（ｐ−ｎ）〜Ｄ（ｐ＋ｎ）を、
Ｄ（ｐ−ｎ）＝Ｈ（ｐ−ｎ）−Ｈ（ｐ−ｎ−１）
Ｄ（ｐ−ｎ＋１）＝Ｈ（ｐ−ｎ＋１）−Ｈ（ｐ−ｎ）
・・・
Ｄ（ｐ）＝Ｈ（ｐ）−Ｈ（ｐ−１）
・・・
Ｄ（ｐ＋ｎ−１）＝Ｈ（ｐ＋ｎ−１）−Ｈ（ｐ＋ｎ−２）
Ｄ（ｐ＋ｎ）＝Ｈ（ｐ＋ｎ）−Ｈ（ｐ＋ｎ−１）
のように求める。
【００３１】
そのようにして各増分を求めたら、それらの増分値Ｄ（ｉ）を荷重値とし、ライン番号ｉの加重平均を求め、該加重平均値を電線の先端位置として判定する。すなわち、
【数１】
2010019651.tif 000003
とする。
【００３２】
ここで、数値を使って具体的に説明する。図４は、電線先端位置における黒ピクセルの検出例及び隣接ライン間の増分を示す図で、図４（Ａ）は、ライン毎の黒ピクセル数と直前のラインからの黒ピクセル数の増分を示し、図４（Ｂ）は、その黒ピクセル数をグラフ化したもの、図４（Ｃ）は、増分をグラフ化したものである。
【００３３】
なお、図３の２次元イメージでは、電線先端縁はきれいな直線で示しているが、実際は、小さな凹凸がある。したがって、電線の先端側の端に位置するラインからしばらくの間は、黒ピクセルが０個であるが、電線先端縁部分Ｌｔで黒ピクセルが一気に増加するのではなく、図４（Ａ），（Ｂ）に示すように、最初に１個〜数個の黒ピクセルが生じてから、徐々に増加していき、その後、増加しなくなる。
【００３４】
そして、隣接ライン間の増分は、図４（Ａ），（Ｃ）に示すように、黒ピクセルが生じ始めたラインと、増加しなくなるラインとの中間部で最大値を示す。本発明では、その最大値を示す部分が電線の先端であると判定するが、単に、増分が最大値を示すラインを電線の先端であると判定するのでは１ピクセル分の精度でしか判定できない。そこで、増分値Ｄ（ｉ）を荷重値とし、ライン番号ｉの加重平均を求め、該加重平均値を電線の先端位置として判定するようにしたのである。
【００３５】
ここで、図４（Ａ）の数値を使って計算すると、黒ピクセル数が初めて０でなくなるラインは「４０」であり、該ラインから後方へ、所定の範囲内、例えば６ラインで、直前のラインからの黒ピクセル数の増分を求めると、ライン「４２」で増分が最大になる。そして、ライン「４２」を中心として前後２個のラインについての黒ピクセル数の増分は、３，４，２３，１５，１３となるので、増分値を荷重値としてラインの加重平均値を求めると、４０×３＋４１×４＋４２×２３＋４３×１５＋４４×１３＝２４６７を３＋４＋２３＋１５＋１３＝５８で割ると、約４２．５となる。このようにして、サブピクセルレベルで電線先端位置を検出できる。
【００３６】
（ストリップ位置の求め方）
次に、絶縁被覆のストリップ位置（図３におけるＬｓの位置）の求め方を説明する。電線先端位置とは異なり、ストリップ位置では、すぐ後方に防水シールが存在する場合がある。そのため、電線先端位置を検出する場合のように、最大の変化点を求めて、そのラインを中心にして加重平均を求める方法はとれない。
【００３７】
そこで、まず、直前のラインからの黒ピクセル数の増分について、先に検出した電線先端位置から後方に検索し、予め設定した、しきい値を超えたラインを求め、そのラインを中心にして加重平均を求める処理を行う。すなわち、そのラインを中心にして前後ｎ個のラインについて、直前のラインからの黒ピクセル数の増分を求め、それらの増分値を荷重値とし、ライン番号ｉの加重平均を求め、該加重平均値をストリップ位置として判定する。
【００３８】
そして、そのようにして求めたストリップ位置から、前述の方法で求めた電線先端位置を引き算することにより、ストリップ長を求めることもできる。
【００３９】
（シール挿入位置の求め方）
次に、シール挿入位置の求め方を説明する。防水シールには様々な形状をしたものがあって、例えば、図５に示すような、先端部が絶縁被覆１２の表面から緩やかに厚みを増していくようなものもある。そのような防水シール１３においては、電線先端位置やストリップ位置を求めた、前述のような、黒ピクセル数の増分が急に増大することに基づく方法では、シール挿入位置を特定するのが困難となる。
【００４０】
そこで、シール挿入位置を求める方法としては、前述の方法とは異なる方法を採用することとした。図５は、シール挿入位置の位置ずれ量を求める方法を説明するための図である。基本的には、予め、正常な加工が施された基準電線を電線端末検査装置に通して、基準データを取得しておき、被検査電線の検査データをそれと比較することにより、防水シール１３の位置ずれを求めることにより行う。基準データと検査データとの比較は次のようにして行う。
【００４１】
便宜上、ストリップ位置より後方をすべて防水シール１３とみなして行う。その上で、ストリップ位置より先端方向の太さ（導体１１の径に相当）を、防水シール１３の最大径から差し引いて、防水シール１３の最大厚みを求める。そして、該最大厚みの所定割合の厚みとなる位置を２点選び、その２点を使って管理する。例えば、厚みが最大厚みの８０％となる位置と６０％になる位置を使う。以下、厚みが最大厚みの８０％と６０％になる位置を使う場合を例にして説明する。
【００４２】
最大厚みの８０％に導体１１の径を加えたものを８０％径と呼び、最大厚みの６０％に導体１１の径を加えたものを６０％径と呼ぶことにする。８０％径の位置Ｐ８０は、ストリップ位置から後方に検索して、始めて８０％になった点とし、同様に、６０％径の位置Ｐ６０は、ストリップ位置から後方に検索して、始めて６０％になった点とする。
【００４３】
そのようにして前記基準データにおける８０％径の位置と６０％径の位置とを求めておき、検査時には、検査データと基準データの８０％径の位置同士と、６０％径の位置同士をそれぞれ比較し、より近い方の組を選択する。そして、近い方の組の位置の違いに基づいて、基準電線のシール位置からの被検査電線のシール位置のずれ量Ｄｆを、ピクセル単位で求める。
【００４４】
そのようにして求めたずれ量Ｄｆの分、検査データをオフセットして、基準データと検査データのシール部分が重なるようにする。その状態で、ストリップ位置より後方の形状の一致度を求める。両者の一致度は、二つのデータ群の相関をみる手段として知られている正規化相関の手法を用いて判定する。
【００４５】
例えば、ストリップ位置がライン８０であったとし、基準データにおけるそれより後方のラインの黒ピクセル数がＨｔ（８１），Ｈｔ（８２），・・・，Ｈｔ（１２７）、検査データにおけるストリップ位置より後方のラインの黒ピクセル数がＨｏ（８１），Ｈｏ（８２），・・・，Ｈｏ（１２７）であったとすると、相関値Ｃは、
【数２】
2010019651.tif 000004
となる。
【００４６】
次に、検査データを＋方向と−方向にそれぞれ１〜ｎピクセル分変化させて、それぞれの状態で一致度を求め、最大の一致度を示した位置を最大一致点Ｐとし、その位置での一致度をＦ（ｐ）とする。そして、最大一致点Ｐの前後に１ピクセル分ずらした位置での一致度Ｆ（ｐ−１）とＦ（ｐ＋１）とを比較する。
【００４７】
その結果、Ｆ（ｐ−１）よりＦ（ｐ＋１）の方が大きかったとすると、Ｆ（ｐ）とＦ（ｐ＋１）との間に、一致度が最大となるサブピクセルレベルのオフセット量が存在すると考えられる。そこで、図６に示すような手法で、一致度が最大となる位置をサブピクセルレベルで求める。
【００４８】
まず、Ｆ（ｐ−１），Ｆ（ｐ），Ｆ（ｐ＋１）を図面上にプロットし、Ｆ（ｐ−１）とＦ（ｐ）とを通る直線Ｌ１を引く。次に、直線Ｌ１と左右対称で、Ｆ（ｐ＋１）を通る直線Ｌ２を引く。そして、直線Ｌ１と直線Ｌ２との交点が、一致度が最大となるサブピクセルレベルでの位置となる。その位置でのオフセットを、前記ずれ量Ｄｆに加えたものが、基準電線のシール位置に対する被検査電線のシール位置のずれ量であるとみなすことができる。したがって、基準電線のシール位置に、このずれ量を加えた位置が、被検査電線のシール位置となる。
【００４９】
以上のようにすれば、電線の先端位置、ストリップ位置及びシール挿入位置をサブピクセルレベルで判定することができ、検査精度を高くすることができる。
【００５０】
なお、上記実施例では、シール挿入位置を検出する際に、防水シール１３の最大厚みの所定割合の厚みとなる位置を２点選び、その２点を使って管理するようにしたが、必ずしもそれに限定されず、場合によっては、１点だけで判定することもできるし、３点以上を選んで管理することもできる。また、厚みが最大厚みの８０％と６０％になる位置を使うようにしたが、それに限定されず、その他の割合を用いることも可能である。
【００５１】
また、上記実施例では、検査データと基準データとの一致度を、正規化相関の手法を用いて、二つのデータ群の相関をみることにより判定するようにしたが、必ずしもそれに限定されず、二つのデータ群の相関をみるためのその他の手段を用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の一実施例に係る電線端末検査装置の外観図である。
【図２】電線端末検査装置に電線端部を通す状態を示す図である。
【図３】電線端末検査装置により検出される２次元イメージを示す図である。
【図４】電線先端位置における黒ピクセルの検出例及び隣接ライン間の増分を示す図である。
【図５】シール挿入位置の位置ずれ量を求める方法を説明するための図である。
【図６】シール挿入位置の算出方法を説明するための図である。
【図７】検査対象の電線端部の一例を示す図である。
【図８】電線の不良状態を示す図である。
【符号の説明】
【００５３】
１  電線端末検査装置
１ａ  光源収納部
１ｂ  光感知器収納部
１ｃ  空間部
２  レーザ光源
３  光感知器
４  ラインＣＣＤ
５  制御部
６，７  接続線
８  ケーブル
１０  電線
１１  導体
１２  絶縁被覆
１３  防水シール
【図１】
2010019651.tif 000005
【図２】
2010019651.tif 000006
【図３】
2010019651.tif 000007
【図４】
2010019651.tif 000008
【図５】
2010019651.tif 000009
【図６】
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【図７】
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【図８】
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