(57)【要約】【課題】回路の内部構成が不明なカスタムマクロ回路であっても、効率的かつ高精度にリーク電流分布を検証可能にすること。【解決手段】リーク電流分布検証支援装置１００では、カスタムマクロ回路全体のリーク電流のばらつきを表す演算式（以下、「リーク電流モデル」という）を構成する。つぎに構成した回路全体のリーク電流モデルから回路内の各セルについて、セルごとのばらつきの独立性を考慮したリーク電流モデルを構成する。最後に、構成した各セルのリーク電流モデルを用いてマクロ全体のリーク電流分布を計算することによって、従来では、多大な処理時間を要したカスタムマクロ回路のリーク電流分布を効率的かつ高精度に求めることができる。【選択図】図１
2010128562.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータを、
内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβとを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得手段、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得手段によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβとを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成手段、
前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定手段、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力手段、
として機能させることを特徴とするリーク電流分布検証支援プログラム。
【請求項２】
前記コンピュータを、さらに、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式によって実行した前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布シミュレーションの結果から当該カスタムマクロ回路のリーク電流分布を算出する算出手段、として機能させ、
前記出力手段は、前記算出手段によって算出されたリーク電流分布を出力することを特徴とする請求項１に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【請求項３】
前記生成手段は、前記取得手段によって、前記カスタムマクロ回路を分割した部分回路ごとに前記第１の演算式と、当該部分回路内のセルの推定数Ｌを取得した場合、当該部分回路ごとに前記第２の演算式を生成し、
前記設定手段は、前記生成手段によって生成された前記部分回路ごとの第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された前記部分回路ごとの第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記部分回路ごとの第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定することを特徴とする請求項１または２に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【請求項４】
前記コンピュータを、さらに、
前記取得手段によってカスタムマクロ回路の配線に関する物理情報が受け付けられた場合、当該物理情報を用いて、前記第１の演算式と、当該カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを求めるマクロ解析手段として機能させ、
前記生成手段は、前記マクロ解析手段によって求められた推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成し、
前記設定手段は、前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記マクロ解析手段によって求められた第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【請求項５】
前記マクロ解析手段では、前記コンピュータを、
前記取得手段によって前記カスタムマクロ回路の物理情報を取得した場合、当該物理情報を用いて当該カスタムマクロ回路のネットリストを作成する作成手段、
前記作成手段によって作成されたネットリストに対して動作シミュレーションをおこなうシミュレーション実行手段、として機能させ、当該シミュレーション実行手段による実行結果を用いて、前記第１の演算式と、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを求めることを特徴とする請求項４に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【請求項６】
内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβとを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得手段と、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得手段によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成手段と、
前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定手段と、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力手段と、
を備えることを特徴とするリーク電流分布検証支援装置。
【請求項７】
コンピュータが、
内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得工程と、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得工程によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成工程と、
前記生成工程によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得工程によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定工程と、
前記設定工程によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力工程と、
を実行することを特徴とするリーク電流分布検証支援方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、内部構成が不明なカスタムマクロ回路を含んだ電子回路を対象としたリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、電子回路の性能向上のためにリーク電流分布解析が求められてきた。リーク電流とは、電子回路上の配線や素子などの本来電流が流れるように設計した箇所以外に流れてしまう電流である。このようなリーク電流が流れることによって電子回路では消費電力増加や、過度な発熱が起こり、回路性能の低下を招く原因となっていた。したがって、誤動作のない高性能な電子回路の設計には、回路設計時に回路内のリーク電流の分布を正確に見積もり、リーク電流への適切な対応策を施す必要がある。
【０００３】
近年では、電子回路のさらなる高集積化が求められているため、プロセス・ルール（最小加工寸法）として、チップの配線幅としては６５ｎｍや４５ｎｍが採用されるなど、回路設計の微細化が進んでいる。このような電子回路の微細化により、プロセス・ルールに起因するリーク電流のばらつきが増大している傾向にある。そのためばらつきを考慮し、より正確に回路リーク電流を見積もる統計的解析が求められている。
【０００４】
図１４は、統計的リーク解析の概要を示す説明図である。統計的リーク解析によって対象チップ１４００の回路リーク電流を見積もるには、図１４のように、まず、各セルのリーク電流ばらつきを表すモデル（たとえば、下記（１）のような演算式）を構成する。その後、各セルのリーク電流のばらつきを表すモデルの総和を用いて対象チップ１４００全体のリーク分布を求めることができる。
【０００５】
リーク電流Ｉ＝ｅｘｐ（ａ＋ｂ＊αn＋ｃ＊β＋ｐ＊αn2＋ｑ＊αn＊β＋ｒ＊β2）…（１）
α：各セルに依存したばらつきパラメータ
β：回路全体に依存したばらつきパラメータ
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−０７１３６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、近年のチップ内にはカスタムマクロ回路と呼ばれる、多数のセルを含むが、その内部構成が不明な回路が含まれている。図１５は、カスタムマクロ回路のリーク電流分布解析処理の手順を示す説明図である。図１５のように、カスタムマクロ回路１５００を含んだ電子回路のリーク電流分布を解析するには、まず、カスタムマクロ解析ツール１５１０によってカスタムマクロ回路１５００を等価回路１５２０に変換する作業が必要となる。その後、変換された等価回路１５２０について、ＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ  Ｐｒｏｇｒａｍ  ｗｉｔｈ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｅｍｐｈａｓｉｓ）シミュレーションの反復するモンテカルロシミュレーションによってリーク電流分布を算出する。
【０００８】
ところが、上述のようなカスタムマクロ解析ツール１５１０による等価回路の変換処理や、等価回路によるモンテカルロシミュレーションの実行には多大な処理時間が費やされる。したがって、実際の回路設計時のリーク電流分布検証用のツールとして利用することは困難であるという問題があった。
【０００９】
上述した従来技術による問題点を解消するため、回路の内部構成が不明なカスタムマクロ回路であっても、効率的かつ高精度にリーク電流分布を検証できるようなリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法は、コンピュータによって、内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する処理と、前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得手段によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する処理と、生成された第２の演算式の演算結果が、取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する処理と、係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する処理とを含むことを要件とする。
【００１１】
このリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法によれば、カスタムマクロ回路内の各セル固有のばらつきの影響を考慮してカスタムマクロ回路全体のリーク電流ばらつきを求める演算式（第２の演算式）が出力される。ここで出力された第２の演算式に含まれる多項式のパラメータ（αn，β）をまんべんなくばらつかせるような回数、すなわち、容易に実行可能な回数のシミュレーションを実行させるだけで、その実行結果を用いてセル固有のばらつきを考慮したカスタムマクロ回路全体のリーク電流分布を求めることができる。
【発明の効果】
【００１２】
このリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法によれば、回路の内部構成が不明なカスタムマクロ回路であっても、効率的かつ高精度にリーク電流分布を検証できるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下に添付図面を参照して、このリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法の好適な実施の形態を詳細に説明する。このリーク電流分布検証支援プログラム、リーク電流分布検証支援装置およびリーク電流分布検証支援方法では、カスタムマクロ回路全体のリーク電流のばらつきを表す演算式（以下、「リーク電流モデル」という）を構成する。つぎに、先ほど構成した回路全体のリーク電流モデルから回路内の各セルについて、セルごとのばらつきの独立性を考慮したリーク電流モデルを構成する。最後に、構成した各セルのリーク電流モデルを用いてマクロ全体のリーク分布を計算することによって、従来では、多大な処理時間を要したカスタムマクロ回路のリーク電流分布を効率的かつ高精度に求めることができる。
【００１４】
（リーク電流分布検証支援の概要）
まず、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援の概要について説明する。図１は、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援の概要を示す説明図である。図１のように、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置１００には、リーク電流分布検証支援プログラム１１０が搭載され、このプログラムを用いて内部構成が不明なカスタムマクロ回路を含んだ対象チップ１０１のリーク電流分布を計算する。
【００１５】
リーク電流分布検証支援プログラム１１０の処理について順番に説明すると、まず、対象チップ１０１の回路データ１０２が入力されると、リーク電流分布の検証対象となるカスタムマクロ回路物理情報１０３が取得される。そして、カスタムマクロ回路物理情報１０３を用いて数回のコーナーシミュレーションを実行することによってカスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルを求める（ステップＳ１１１）。
【００１６】
その後、ステップＳ１１１によって求められたモデルからカスタムマクロ回路内の各セルのリーク電流モデルを求める（ステップＳ１１２）。このとき、先に求めたカスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルの値と、各セルのリーク電流モデルの値の総和とが等しくなるように各セルのリーク電流モデルの係数を設定する。
【００１７】
そして、ステップＳ１１２によって求められた各セルのリーク電流モデルからカスタムマクロ回路全体のリーク電流分布１０４を計算して（ステップＳ１１３）、一連の処理を終了する。ステップＳ１１３の処理によって求められたリーク電流分布１０４は、リーク電流分布検証支援装置１００内で、対象チップ１０１の設定にフィードバックされてもよいし、外部ツールによってリーク電流分布検証に用いられてもよい。
【００１８】
このように、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援では、リーク電流分布検証の対象となったカスタムマクロ回路についての回路全体と各セルとの双方のばらつきを考慮したリーク電流モデルを生成することができる。
【００１９】
なお、ステップＳ１１３によってリーク電流モデルを用いてリーク電流分布１０４を計算しているが、計算処理自体は、モンテカルロシミュレーションによってパラメータの値をばらつかせることによって求められており公知技術である。したがって、ステップＳ１１２の処理までを本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援の独自の処理として電流分布検証支援装置１００に実行させ、回路全体と各セルとの双方のばらつきを考慮したリーク電流モデルを外部のシミュレーション装置に提供するような構成であってもよい。
【００２０】
（リーク電流分布検証支援装置のハードウェア構成）
図２は、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。図２において、リーク電流分布検証支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ‐Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、磁気ディスクドライブ２０４と、磁気ディスク２０５と、光ディスクドライブ２０６と、光ディスク２０７と、ディスプレイ２０８と、Ｉ／Ｆ（ＩｎｔｅｒＦａｃｅ）２０９と、キーボード２１０と、マウス２１１と、スキャナ２１２と、プリンタ２１３と、を備えている。また、各構成部はバス２００によってそれぞれ接続されている。
【００２１】
ここで、ＣＰＵ２０１は、リーク電流分布検証支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、リーク電流分布検証プログラムや、ブートプログラムなどのプログラムを記憶している。ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。磁気ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって磁気ディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。磁気ディスク２０５は、磁気ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。
【００２２】
光ディスクドライブ２０６は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがって光ディスク２０７に対するデータのリード／ライトを制御する。光ディスク２０７は、光ディスクドライブ２０６の制御で書き込まれたデータを記憶したり、光ディスク２０７に記憶されたデータをコンピュータに読み取らせたりする。
【００２３】
ディスプレイ２０８は、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、検証結果を表す文書、画像などのデータを表示する。このディスプレイ２０８は、たとえば、ＣＲＴ、ＴＦＴ液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどを採用することができる。
【００２４】
インターフェース（以下、「Ｉ／Ｆ」と略する。）２０９は、通信回線を通じてＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、ＷＡＮ（Ｗｉｄｅ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）、インターネットなどのネットワーク２１４に接続され、このネットワーク２１４を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０９は、ネットワーク２１４と内部のインターフェースを司り、外部装置からの対象チップ１０１に関するデータや、リーク電流分布の検証結果のなどの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０９には、たとえばモデムやＬＡＮアダプタなどを採用することができる。
【００２５】
キーボード２１０は、文字、数字、各種指示などの入力のためのキーを備え、データの入力をおこなう。また、タッチパネル式の入力パッドやテンキーなどであってもよい。マウス２１１は、カーソルの移動や範囲選択、あるいはウィンドウの移動やサイズの変更などをおこなう。ポインティングデバイスとして同様に機能を備えるものであれば、トラックボールやジョイスティックなどであってもよい。
【００２６】
スキャナ２１２は、画像を光学的に読み取り、リーク電流分布検証支援装置１００内に画像データを取り込む。なお、リーク電流分布検証支援装置１００の場合、スキャナ２１２では、画像を取り込む機能より、ＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒ  Ｒｅａｄｅｒ）機能によるデータの読み込みが主な用途となる。また、プリンタ２１３は、検証結果を表す文書、画像などのデータを印刷する。プリンタ２１３には、たとえば、レーザプリンタやインクジェットプリンタを採用することができる。
【００２７】
なお、図２に示したハードウェア構成は、リーク電流分布検証支援装置１００を実現するための一例であり、上述したすべてのハードウェアを具備する必要はないし、各ハードウェアが同一装置内に搭載されている必要もない。
【００２８】
（リーク電流分布検証支援装置の機能的構成）
つぎに、リーク電流分布検証支援装置１００の機能的構成について説明する。図３は、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。リーク電流分布検証支援装置１００は、取得部３０１と、生成部３０２と、設定部３０３と、出力部３０４と、算出部３０５と、分割部３０６と、解析部３０７、が含まれている。この制御部となる機能（取得部３０１〜解析部３０７）は、具体的には、たとえば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７などの記憶領域に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０９により、その機能を実現する。
【００２９】
取得部３０１は、リーク電流分布検証に必要な情報を取得する。具体的には、後述するが、取得部３０１によってどのような情報が取得されたかに応じて、リーク電流分布検証支援装置１００によるリーク電流分布検証の処理手順が異なる。なお、取得部３０１では、あらかじめリーク電流分布検証支援装置１００内部の記録領域（ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、磁気ディスク２０５、光ディスク２０７など）に記録されていた情報を取得してもよいし、Ｉ／Ｆ２０９を介して外部から取得してもよいし、キーボード２１０やスキャナ２１２によってユーザから入力された情報を取得してもよい。
【００３０】
たとえば、取得部３０１が、カスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルとして、カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項とを備えた多項式を含んだデータ３１０（第１の演算式ならびにカスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌ３１０）を取得したとする。
【００３１】
上述のような場合、すでに回路全体のリーク電流モデルならびに各セルの推定数Ｌがデータ３１０として用意されたため、つぎに、生成部３０２によって、セルごとのリーク電流モデルを生成する。具体的に説明すると、生成部３０２では、カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表すリーク電流モデルとして、取得部３０１によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項（このパラメータβは、上記のパラメータβと同一）とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する。
【００３２】
設定部３０３は、生成部３０２によって生成された第２の演算式の演算結果が、取得部３０１によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する。
【００３３】
出力部３０４は、設定部３０３によって係数が設定された第２の演算式３２０をカスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用のリーク電流モデルとして出力する。すなわち、回路全体と各セルとの双方が考慮されたリーク電流モデルが出力されることになる。上述したように、第２の演算式３２０のみを出力してもよいが、リーク電流分布検証支援装置１００内でリーク電流分布まで計算したい場合には、さらに算出部３０５を利用する。
【００３４】
算出部３０５は、設定部３０３によって係数が設定された第２の演算式３２０によって実行したカスタムマクロ回路のリーク電流分布シミュレーションの結果から当該カスタムマクロ回路のリーク電流分布３３０を算出する。具体的には、たとえば、第２の演算式３２０を用いて、カスタムマクロ回路のリーク電流分布のモンテカルロシミュレーションをおこなうことによってカスタムマクロ回路のリーク電流分布３３０を算出してもよい。このように、算出部３０５によってリーク電流分布３３０が算出された場合には、出力部３０４からは、リーク電流分布３３０が出力される。
【００３５】
また、上述した手順では、対象チップ１０１に含まれているカスタムマクロ回路についてまとめ処理を施していたが、実際にはカスタムマクロ回路内には数千以上のセルが含まれており、場合によっては処理負荷が大きくボトルネックになるおそれがある。したがって、カスタムマクロ回路を複数の部分回路に分割して、個々の処理負荷を軽減させることもできる。
【００３６】
部分回路ごとに処理する場合、取得部３０１によって、カスタムマクロ回路を分割した部分回路ごとにリーク電流モデルと、部分回路内のセルの推定数Ｌとが取得される。したがって、生成部３０２では、部分回路ごとに第２の演算式を生成し、設定部３０３でも、部分回路ごとの第２の演算式の演算結果が、取得部３０１によって取得された部分回路ごとの電流モデルによる演算結果と等しくなるように、第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する。なお、取得部３０１によって、カスタムマクロ回路の配線に関する物理情報３４０が取得された場合には、分割部３０６によってカスタムマクロ回路を複数の部分回路に変換することもできる。
【００３７】
分割部３０６は、取得部３０１によってカスタムマクロ回路の配線に関する物理情報が取得された場合、この物理情報３４０を用いて、カスタムマクロ回路を複数の部分回路に分割する。具体的な、カスタムマクロ回路の分割の手法としては、たとえば、物理情報３４０から取得した階層情報に基づいて、機能別の部分回路に分割してもよいし、物理情報３４０に基づいて単純に所定数のセルごとの部分回路に分割してもよい。このように分割された部分回路の場合も、上述したカスタムマクロ回路全体の処理と同様に、回路内のセルごとにリーク電流モデルが生成され、各セルのリーク電流モデルを合成して、カスタムマクロ回路のリーク電流モデル（第２の演算式）が生成される。
【００３８】
また、取得部３０１によって、リーク電流モデルが生成されていないカスタムマクロ回路の回路データ１０２が直接取得されることもある。回路データ１０２とは、具体的には、カスタムマクロ回路の配線に関する物理情報３４０である。このような場合には、解析部３０７を利用する。解析部３０７は、取得部３０１によってカスタムマクロ回路の物理情報３４０が受け付けられた場合、この物理情報３４０を用いて、カスタムマクロ回路のリーク電流モデルを生成するとともに、カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌを求める。
【００３９】
解析部３０７によって生成された、カスタムマクロ回路のリーク電流モデルと推定数Ｌとは、生成部３０２に出力され、上述した第１の演算式ならびにカスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌ３１０と同様の処理によって第２の演算式３２０の生成に利用される。
【００４０】
以上説明したように、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置１００では、取得部３０１によって取得された情報の状態（３１０や３４０）に応じて、それぞれ必要な機能部を経由して第２の演算式３２０を生成するための処理が施される。また、リーク電流分布検証支援装置１００では、出力部３０４からどのような状態の情報（３２０や３３０）として出力させるかを、ユーザの指示に応じて適宜選択することができる。以下に、上述した構成を備えたリーク電流分布検証支援装置１００における具体的なリーク電流分布検証支援の処理手順についての実施の形態１，２の２つの例を説明する。
【００４１】
（実施の形態１）
実施の形態１では、リーク電流分布検証をおこなう対象チップ１０１に含まれているカスタムマクロ回路ごとに、リーク電流分布検証を支援する。図４は、実施の形態１のリーク電流分布検証支援装置の構成を示すブロック図である。図４のように、実施の形態１では、実行される処理は、カスタムマクロ解析部４００と、マクロ全体リーク電流モデル構成部４１０と、各セルリーク電流モデル構成部４２０と、マクロリーク電流分布計算部４３０とに大別することができる。
【００４２】
カスタムマクロ解析部４００は、図３にて説明した解析部３０７によって実行される処理に相当する。リーク電流モデルを生成するための準備処理となり、対象チップ１０１の物理情報を利用してカスタムマクロ回路におけるリーク電流モデルとセルの推定数Ｌを求めるため、カスタムマクロ回路に対してコーナーシミュレーションを実行する。
【００４３】
コーナーシミュレーションは、公知技術であるため詳細な説明は省略するが、本実施の形態の場合、たとえば、Ｓｔａｒ−ＲＣＸＴ（日本シノプス株式会社、＜参考ＵＲＬ：ｈｔｔｐ：／／ｗｗｗ．ｓｙｎｏｐｓｙｓ．ｃｏ．ｊｐ／ｐｒｏｄｕｃｔｓ／Ｓｔａｒ−ＲＣＸＴ／ｄｅｔａｉｌ．ｈｔｍｌ＞）といったツールを用いている。簡単な手順を説明すると、まず、カスタムマクロ回路の配線情報などを含む物理情報に基づいて、カスタムマクロ回路内部のトランジスタや容量・抵抗を抽出し、等価回路としてネットリストを作成する。ネットリストとは、回路の素子やその接続を記述したファイルである。なお、カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌは、ここで抽出されたトランジスタの個数から決定することができる。決定した推定数Ｌは、マクロ内総セル数データ（Ｌ）格納部４０２に格納される。
【００４４】
上述のように作成されたネットリストに対しＳＰＩＣＥなどのシミュレーションプログラムによってコーナーシミュレーションをおこなう。なお、このシミュレーション結果は、マクロリーク電流コーナーシミュレーション結果格納部４０１に格納される。図５−１は、マクロリーク電流コーナーシミュレーション結果のデータ構成例を示す図表である。カスタムマクロ解析部４００によって求められたマクロリーク電流コーナーシミュレーション結果は、テーブル５１０のように格納される。テーブル５１０では、Ｋ回のコーナーシミュレーションを実行した場合を示している。
【００４５】
マクロ全体リーク電流モデル構成部４１０は、図３にて説明した解析部３０７の機能をおこない、マクロリーク電流コーナーシミュレーション結果を用いて、下記（２）式のようなカスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルを構成する。そして、マクロ全体リーク電流モデル構成部４１０によって構成されマクロリーク電流モデルは、マクロリーク電流モデルデータ格納部４１１に格納される。
【００４６】
リーク電流Ｉ＝ｅｘｐ（ａ＋ｂ＊α＋ｃ＊β＋ｐ＊α2＋ｑ＊α＊β＋ｒ＊β2）…（２）
【００４７】
図５−２は、マクロリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。マクロ全体リーク電流モデル構成部４１０によって構成されたマクロ全体リーク電流モデルは、上記（２）式の各係数の値を表すテーブル５２０として格納されている。通常、パラメータαは各セルに依存してばらつき、パラメータβはカスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表す。したがって、本来であれば、αはセルごとの独立性があるが、上記（２）式の場合、αは共通であり、セルごとの独立性が無視されてしまっている。
【００４８】
そこで、つぎに、各セルリーク電流モデル構成部４２０によって、各セルのリーク電流モデルを構成する。各セルリーク電流モデル構成部４２０は、上述した生成部３０２および設定部３０３の機能をおこない、マクロ全体リーク電流モデル構成部４１０によって構成されたマクロ全体リーク電流モデルを用いて各セルのリーク電流モデルを構成する。具体的には、下記（３）式のように、マクロ全体リーク電流モデルと、各セルのリーク電流モデルの総和とが等しくなるように係数を設定する。
【００４９】
ｅｘｐ（ａ＋ｂ＊α＋ｃ＊β＋ｐ＊α2＋ｑ＊α＊β＋ｒ＊β2）
＝ｅｘｐ（ａ1＋ｂ1＊α1＋ｃ1＊β＋ｐ1＊α12＋ｑ1＊α1＊β＋ｒ1＊β2）
＋ｅｘｐ（ａ2＋ｂ2＊α2＋ｃ2＊β＋ｐ2＊α22＋ｑ2＊α2＊β＋ｒ2＊β2）
＋…
＋ｅｘｐ（ａn＋ｂn＊αn＋ｃn＊β＋ｐn＊αn2＋ｑn＊αn＊β＋ｒn＊β2）…（３）
ｎ＝１，２，…，Ｌ
【００５０】
なお、各セルのリーク電流モデルを設定する際に、各種演算ツールを用いてもよいし、一般的にカスタムマクロ回路内には様々な係数をもったセルが均等に分布している傾向を利用して、各セルのリーク電流モデルが等しくマクロ全体リーク電流モデルの１／Ｌになっているものと見なして、上記（３）式を満たす係数を設定してもよい。このような場合、各セルのリーク電流モデルを下記（４）式のように表すこともできる。
【００５１】
各セルのリーク電流モデルの総和
＝ｅｘｐ（ａ−ｌｏｇ（Ｌ）＋ｂ＊αi＋ｃ＊β＋ｐ＊αi2＋ｑ＊αi＊β＋ｒ＊β2）…（４）
【００５２】
各セルリーク電流モデル構成部４２０によって構成された各セルのセルリーク電流モデルは、セルリーク電流モデルデータ格納部４２１に格納される。図５−３は、セルリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。セルリーク電流モデルデータ格納部４２１において各セルのセルリーク電流モデルは、セルごとに上記（３）式の各係数の値を表すテーブル５３０として格納されている。
【００５３】
そして、マクロリーク電流分布計算部４３０は、上述した算出部３０５の機能をおこない、セルリーク電流モデルデータ格納部４２１に格納されている各セルのセルリーク電流モデルを用いて、マクロリーク電流分布を計算する。マクロリーク電流分布計算部４３０では、モンテカルロシミュレーションによって上記（３）式のパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ），βの値をばらつかせることによって、カスタムマクロ回路リーク電流分布を計算する。
【００５４】
マクロリーク電流分布計算部４３０によって計算されマクロリーク電流分布は、回路リーク電流分布データ格納部４３１へ格納される。図５−４は、回路リーク電流ＣＤＦのデータ構成例を示す図表である。回路リーク電流分布データ格納部４３１には、マクロリーク電流分布計算部４３０によって実行された、離散化されたリークＣＤＦ（Ｃｕｍｕｌａｔｉｖｅ  ｐｒｏｂａｂｉｌｉｔｙ  Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ  Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）グラフを表すテーブル５４０が格納されている。
【００５５】
＜実施の形態１におけるリーク電流分布検証支援処理の手順＞
つぎに、上述した構成におけるリーク電流分布検証支援処理の手順について説明する。図６は、実施の形態１のリーク電流分布検証支援処理の手順を示すフローチャートである。図６のフローチャートにおいて、まず、対象チップ１０１のカスタムマクロ回路の解析をおこなう（ステップＳ６０１）。カスタムマクロ回路の解析とは具体的には、カスタムマクロ解析部４００によっておこなわれるマクロ全体のリーク電流コーナーシミュレーションと、カスタムマクロ回路内の総セル数（Ｌ）の推定処理とを指す。
【００５６】
つぎに、リーク電流コーナーシミュレーションの結果からカスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルを構成する（ステップＳ６０２）。そして、カスタムマクロ回路全体のリーク電流モデルから各セルのリーク電流モデルを構成し（ステップＳ６０３）、最後に、各セルのリーク電流モデルを用いたマクロのリーク電流分布を計算して（ステップＳ６０４）、一連の処理を終了する。
【００５７】
（実施の形態２）
実施の形態２では、リーク電流分布検証をおこなう対象チップ１０１に含まれているカスタムマクロ回路をさらに、複数の部分回路に分割し、部分回路を対象としてリーク電流モデルを生成する。図７は、実施の形態２のリーク電流分布検証支援装置の構成を示すブロック図である。図７のように、実施の形態２では、実行される処理は、カスタムマクロ解析部７００と、部分回路リーク電流モデル構成部７１０と、各部分回路リーク電流モデル構成部７２０と、マクロリーク電流分布計算部４３０とに大別することができる。
【００５８】
カスタムマクロ解析部７００は、図３にて説明した分割部３０６および解析部３０７の機能をおこない、分割された各部分回路についてのリーク電流コーナーシミュレーションを実行する。このシミュレーションの実行結果が部分回路リーク電流コーナーシミュレーション結果格納部７０１に格納されている。また、各部分回路内総セル数データ格納部７０２には、部分回路ごとに部分回路内のセルの推定数が格納されている。
【００５９】
ここで、図８−１は、部分回路リーク電流コーナーシミュレーション結果のデータ構成例を示す図表であり、図８−２は、部分回路内のセル数のデータ構成例を示す図表である。カスタムマクロ解析部７００によって求められたマクロリーク電流コーナーシミュレーション結果は、テーブル５１０のように格納される。カスタムマクロ解析部７００によって求められたマクロリーク電流コーナーシミュレーション結果は、テーブル８１０のように格納され、求められた推定数は部分回路ごとにテーブル８２０のように格納される。
【００６０】
部分回路リーク電流モデル構成部７１０は、図３にて説明した解析部３０７の機能をおこない、部分回路のリーク電流コーナーシミュレーション結果を用いて、部分回路全体のリーク電流モデルを構成する。そして、部分回路リーク電流モデル構成部７１０によって構成され部分回路リーク電流モデルは、部分回路リーク電流モデルデータ格納部７１１に格納される。
【００６１】
図８−３は、部分回路リーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。部分回路リーク電流モデル構成部７１０によって構成された部分回路リーク電流モデルは、部分回路ごとに各係数の値を表すテーブル８３０として格納されている。
【００６２】
そして、実施の形態１と同様に、各部分回路リーク電流モデル構成部７２０において、全体のリーク電流モデルから各セルのリーク電流モデルを構成する。ただし、実施の形態２では、部分回路ごとに全体のリーク電流モデルから各セルのリーク電流モデルを構成する。各部分回路リーク電流モデル構成部７２０によって構成された各セルのセルリーク電流モデルは、セルリーク電流モデルデータ格納部７２１に格納される。
【００６３】
図８−４は、セルリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。セルリーク電流モデルデータ格納部７２１において各セルのセルリーク電流モデルは、セルごとに（３）式の各係数の値を表すテーブル８４０として格納されている。テーブル８４０に格納された各セルのセルリーク電流モデルは、実施の形態１にて説明したマクロリーク電流分布計算部４３０によって計算される。計算されたマクロリーク電流分布は、回路リーク電流分布データ格納部４３１へ格納される。
【００６４】
＜実施の形態２におけるリーク電流分布検証支援処理の手順＞
つぎに、上述した構成における電流分布検証支援処理の手順について説明する。図９は、実施の形態２のリーク電流分布検証支援処理の手順を示すフローチャートである。図９のフローチャートにおいて、まず、対象チップ１０１のカスタムマクロ回路の部分回路の解析をおこなう（ステップＳ９０１）。
【００６５】
つぎに、リーク電流コーナーシミュレーションの結果から部分回路全体のリーク電流モデルを構成する（ステップＳ９０２）。そして、部分回路全体のリーク電流モデルから各セルのリーク電流モデルを構成し（ステップＳ９０３）、最後に、各セルのリーク電流モデルを用いてマクロのリーク電流分布を計算して（ステップＳ９０４）、一連の処理を終了する。
【００６６】
以上説明したように、検証対象となるカスタムマクロ回路の規模に応じて、実施の形態１，２いずれかの手法を利用することができる。また、上述した全体のリーク電流モデルや、各セルのリーク電流モデル、また、係数が設定されたリーク電流モデルを用いたリーク電流分布の処理例について説明する。以下、入力値、出力値としては、実施の形態２で挙げた各情報を利用するが、当然のことながら実施の形態１にも適用可能なものである。
【００６７】
（モデル式フィッテング処理）
まず、ステップＳ６０２，Ｓ９０２における全体のリーク電流モデルの構成手順について説明する。図１０は、モデル式フィッテング処理を示す説明図である。また、図１１は、部分回路のリーク電流分布モデルの一例を示す図表である。ここでは、全体のリーク電流モデルを表すモデル式の、シミュレーション結果（図表１１００）によってパラメータをばらつかせ、最小自乗法を用いることよって各係数（ａ，ｂ，ｃ，ｐ，ｑ，ｒ）を求めることができる。
【００６８】
（リーク電流モデル構成処理）
つぎに、ステップＳ６０３，９０３におけるセルごとのリーク電流モデルの構成について説明する。図１２は、各セルのリーク電流モデル構成処理を示す説明図である。各部分回路リーク電流モデル構成部７２０では、１〜Ｌ（推定数）ごとに各係数について、総和が全体のリーク電流モデルの１／Ｌとなるように設定する。
【００６９】
（マクロリーク電流分布の算出処理）
つぎに、マクロリーク電流分布の算出処理について実施例を挙げて説明する。図１３は、モンテカルロシミュレーションによるマクロリーク電流分布の算出処理を示す説明図である。図１３のように、マクロリーク電流分布計算部４３０では、モンテカルロシミュレーションによって、パラメータαとパラメータβとの値をばらつかせることによってマクロリーク電流分布を計算する。
【００７０】
以上説明したように、本実施の形態によれば、カスタムマクロ回路内の各セル固有のばらつきの影響を考慮してカスタムマクロ全体のリーク電流モデルが出力される。ここで出力されたリーク電流モデルに含まれる多項式のパラメータ（αn，β）をまんべんなくばらつかせるように所定回のモンテカルロシミュレーションを実行させる。そして、その実行結果を用いてセル固有のばらつきを考慮したカスタムマクロ回路全体のリーク電流分布を求めることができる。したがって、本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援処理を適用することによって、回路の内部構成が不明なカスタムマクロ回路であっても、効率的かつ高精度にリーク電流分布を検証できる。
【００７１】
なお、本実施の形態で説明したリーク電流分布検証支援方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーションなどのコンピュータで実行することにより実現することができる。このプログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、インターネットなどのネットワークを介して配布することが可能な媒体であってもよい。
【００７２】
また、本実施の形態で説明したリーク電流分布検証支援装置１００は、スタンダードセルやストラクチャードＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）などの特定用途向けＩＣ（以下、単に「ＡＳＩＣ」と称す。）やＦＰＧＡなどのＰＬＤ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｌｏｇｉｃ  Ｄｅｖｉｃｅ）によっても実現することができる。具体的には、たとえば、上述したリーク電流分布検証支援装置１００の機能（取得部３０１〜解析部３０７）をＨＤＬ記述によって機能定義し、そのＨＤＬ記述を論理合成してＡＳＩＣやＰＬＤに与えることにより、リーク電流分布検証支援装置１００を製造することができる。
【００７３】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００７４】
（付記１）コンピュータを、
内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβとを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得手段、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得手段によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成手段、
前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定手段、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力手段、
として機能させることを特徴とするリーク電流分布検証支援プログラム。
【００７５】
（付記２）前記コンピュータを、さらに、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式によって実行した前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布シミュレーションの結果から当該カスタムマクロ回路のリーク電流分布を算出する算出手段、として機能させ、
前記出力手段は、前記算出手段によって算出されたリーク電流分布を出力することを特徴とする付記１に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００７６】
（付記３）前記算出手段は、前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式を用いて、前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布のモンテカルロシミュレーションをおこなうことによって前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布を算出することを特徴とする付記２に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００７７】
（付記４）前記生成手段は、前記取得手段によって、前記カスタムマクロ回路を分割した部分回路ごとに前記第１の演算式と、当該部分回路内のセルの推定数Ｌを取得した場合、当該部分回路ごとに前記第２の演算式を生成し、
前記設定手段は、前記生成手段によって生成された前記部分回路ごとの第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された前記部分回路ごとの第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記部分回路ごとの第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定することを特徴とする付記１〜３のいずれか一つに記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００７８】
（付記５）前記取得手段は、前記カスタムマクロ回路の機能別に分割された部分回路ごとの第１の演算式と、当該部分回路内のセルの推定数Ｌとを取得することを特徴とする付記４に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００７９】
（付記６）前記取得手段は、前記カスタムマクロ回路によって実行される処理順に所定のセル数ごとに分割された部分回路ごとの第１の演算式と、当該部分回路内のセルの推定数Ｌとを取得することを特徴とする付記４に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８０】
（付記７）前記コンピュータを、さらに、
前記取得手段によってカスタムマクロ回路の配線に関する物理情報が受け付けられた場合、当該物理情報を用いて、前記第１の演算式と、当該カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを求めるマクロ解析手段として機能させ、
前記生成手段は、前記マクロ解析手段によって求められた推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成し、
前記設定手段は、前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記マクロ解析手段によって求められた第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定することを特徴とする付記１〜６のいずれか一つに記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８１】
（付記８）前記コンピュータを、さらに、
前記取得手段によってカスタムマクロ回路の配線に関する物理情報が取得された場合、当該物理情報を用いて、当該カスタムマクロ回路を複数の部分回路に分割する分割手段として機能させ、
前記マクロ解析手段は、前記分割手段によって分割された部分回路ごとに第１の演算式と当該部分回路内のセルの推定数Ｌとを求めることを特徴とする付記７に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８２】
（付記９）前記分割手段は、前記取得手段によって取得されたカスタムマクロ回路の物理情報から取得した階層情報に基づいて、当該カスタムマクロ回路を機能別の部分回路に分割することを特徴とする付記８に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８３】
（付記１０）前記分割手段は、前記取得手段によって取得されたカスタムマクロ回路の物理情報に基づいて当該カスタムマクロ回路を所定数のセルごとの部分回路に分割することを特徴とする付記８に記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８４】
（付記１１）前記マクロ解析手段では、前記コンピュータを、
前記取得手段によって前記カスタムマクロ回路の物理情報を取得した場合、当該物理情報を用いて当該カスタムマクロ回路のネットリストを作成する作成手段、
前記作成手段によって作成されたネットリストに対して動作シミュレーションをおこなうシミュレーション実行手段、として機能させ、当該シミュレーション実行手段による実行結果を用いて、前記第１の演算式と、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを求めることを特徴とする付記７〜１０のいずれか一つに記載のリーク電流分布検証支援プログラム。
【００８５】
（付記１２）内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得手段と、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得手段によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成手段と、
前記生成手段によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得手段によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定手段と、
前記設定手段によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力手段と、
を備えることを特徴とするリーク電流分布検証支援装置。
【００８６】
（付記１３）コンピュータが、
内部構成が不明なカスタムマクロ回路のリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記カスタムマクロ回路の各セルに依存したばらつきを表す共通のパラメータαの項と、前記カスタムマクロ回路全体に依存したばらつきを表すパラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第１の演算式を取得するとともに、前記カスタムマクロ回路内のセルの推定数Ｌとを取得する取得工程と、
前記カスタムマクロ回路の内部構成を考慮したリーク電流ばらつきを表す演算式として、前記取得工程によって取得された推定数Ｌのセルごとに当該セルに依存したばらつきを表すパラメータαn（ｎ＝１，２，…，Ｌ）の項と、前記パラメータβの項とを備えた多項式を含んだ第２の演算式を生成する生成工程と、
前記生成工程によって生成された第２の演算式の演算結果が、前記取得工程によって取得された第１の演算式による演算結果と等しくなるように、前記第２の演算式に含まれた多項式の係数を設定する設定工程と、
前記設定工程によって係数が設定された第２の演算式を前記カスタムマクロ回路のリーク電流分布検証用の演算式として出力する出力工程と、
を実行することを特徴とするリーク電流分布検証支援方法。
【図面の簡単な説明】
【００８７】
【図１】本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援の概要を示す説明図である。
【図２】本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図３】本実施の形態にかかるリーク電流分布検証支援装置の機能的構成を示すブロック図である。
【図４】実施の形態１のリーク電流分布検証支援装置の構成を示すブロック図である。
【図５−１】マクロリーク電流コーナーシミュレーション結果のデータ構成例を示す図表である。
【図５−２】マクロリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。
【図５−３】セルリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。
【図５−４】回路リーク電流ＣＤＦのデータ構成例を示す図表である。
【図６】実施の形態１のリーク電流分布検証支援処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】実施の形態２のリーク電流分布検証支援装置の構成を示すブロック図である。
【図８−１】部分回路リーク電流コーナーシミュレーション結果のデータ構成例を示す図表である。
【図８−２】部分回路内のセル数のデータ構成例を示す図表である。
【図８−３】部分回路リーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。
【図８−４】セルリーク電流モデルのデータ構成例を示す図表である。
【図９】実施の形態２のリーク電流分布検証支援処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】モデル式フィッテング処理を示す説明図である。
【図１１】部分回路のリーク電流分布モデルの一例を示す図表である。
【図１２】各セルのリーク電流モデル構成処理を閉めず説明図である。
【図１３】モンテカルロシミュレーションによるマクロリーク電流分布の算出処理を示す説明図である。
【図１４】統計的リーク解析の概要を示す説明図である。
【図１５】カスタムマクロ回路のリーク電流分布解析処理の手順を示す説明図である。
【符号の説明】
【００８８】
１００  リーク電流分布検証支援装置
１０１  対象チップ
１０２  回路データ
１０３  カスタムマクロ回路物理情報
１０４  リーク電流分布
３０１  取得部
３０２  生成部
３０３  設定部
３０４  出力部
３０５  算出部
３０６  分割部
３０７  解析部
４００，７００  カスタムマクロ解析部
４１０  マクロ全体リーク電流モデル構成部
４２０  各セルリーク電流モデル構成部
４３０  マクロリーク電流分布計算部
７１０  部分回路リーク電流モデル構成部
７２０  各部分回路リーク電流モデル構成部
【図１】
2010128562.tif 000003
【図２】
2010128562.tif 000004
【図３】
2010128562.tif 000005
【図４】
2010128562.tif 000006
【図５−１】
2010128562.tif 000007
【図５−２】
2010128562.tif 000008
【図５−３】
2010128562.tif 000009
【図５−４】
2010128562.tif 000010
【図６】
2010128562.tif 000011
【図７】
2010128562.tif 000012
【図８−１】
2010128562.tif 000013
【図８−２】
2010128562.tif 000014
【図８−３】
2010128562.tif 000015
【図８−４】
2010128562.tif 000016
【図９】
2010128562.tif 000017
【図１０】
2010128562.tif 000018
【図１１】
2010128562.tif 000019
【図１２】
2010128562.tif 000020
【図１３】
2010128562.tif 000021
【図１４】
2010128562.tif 000022
【図１５】
2010128562.tif 000023