(57)【要約】【課題】検査時間の増大が抑制され、かつ信頼性の高いズームノイズ検査方法を提供する。【解決手段】摺動部１１と、摺動部１１上の第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部１１に接しながらスライドする接点部１２とを備えるスイッチブロック１を検査対象とするズームノイズ検査方法であって、検査入力電圧が印加された接点部１２を第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部上をスライドさせながら、第１設定点１１１における第１検査出力電圧及び第２設定点１１２における第２検査出力電圧をそれぞれ連続して測定するステップと、同時刻に測定された第１検査出力電圧と第２検査出力電圧の電圧和を検査入力電圧と比較して、スイッチブロック１にズームノイズが発生しているか否かを判定するステップとを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
摺動部と、前記摺動部上の第１設定点から第２設定点まで前記摺動部に接しながらスライドする接点部とを備えるスイッチブロックを検査対象とするズームノイズ検査方法であって、
検査入力電圧が印加された前記接点部を前記第１設定点から前記第２設定点まで前記摺動部上をスライドさせながら、前記第１設定点における第１検査出力電圧及び前記第２設定点における第２検査出力電圧をそれぞれ連続して測定するステップと、
同時刻に測定された前記第１検査出力電圧と前記第２検査出力電圧の電圧和を前記検査入力電圧と比較して、前記スイッチブロックにズームノイズが発生しているか否かを判定するステップと
を含むことを特徴とするズームノイズ検査方法。
【請求項２】
前記電圧和と前記検査入力電圧との差が基準値より大きい場合に、前記スイッチブロックにズームノイズが発生していると判定することを特徴とする請求項１に記載のズームノイズ検査方法。
【請求項３】
前記摺動部が炭素皮膜抵抗であることを特徴とする請求項１又は２に記載のズームノイズ検査方法。
【請求項４】
前記接点部が、一端が前記摺動部に接する金属ばねであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のズームノイズ検査方法。
【請求項５】
前記接点部の他端が金属皮膜に接することを特徴とする請求項４に記載のズームノイズ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ズームノイズ検査方法に係り、特にデジタル家電製品のスイッチブロックのズームノイズ検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像レンズの設定を調整するズーム機能が搭載されたデジタルスチールカメラやデジタルビデオカメラ等のデジタル家電が製品化されている。撮像レンズのズーム操作に使用されるズームスイッチには、カーボン抵抗等からなる摺動部上で金属ばね等からなる接点部をスライドさせることにより変化する出力電圧を利用したスイッチブロック等が採用されている。このスイッチブロックを操作することにより、接点部が摺動部上をスライドして電圧降下量が調整され、ズーム制御用信号として出力電圧が設定される。そして、設定された出力電圧に応じてズーム量が調整される。
【０００３】
上記のようなスイッチブロックを使用したズームスイッチでは、ズーム操作に応じて摺動部上を接点部がスライドする際に出力電圧が滑らかに変化することが必要である。これは、摺動部上での接点部のスライド動作によって出力電圧にノイズが発生した場合、このノイズによってズーム機構が誤動作するおそれがあるためである（例えば、特許文献１参照。）。このため、ズーム機能を作動させるためにスイッチブロックを操作する際にノイズが出力電圧に発生するか否かが検査される。このスイッチブロックを操作する際に出力電圧に発生するノイズを、以下において「ズームノイズ」という。
【０００４】
従来のズームノイズ検出方法では、テレ（ＴＥＬＥ）端からワイド（ＷＩＤＥ）端までスイッチブロックを操作しながら出力電圧を測定する。そして、一連の出力電圧測定後に出力電圧データを解析することによって、出力電圧の変異量等に基づきズームノイズの発生を検出していた。なお、「ＴＥＬＥ端」では撮像レンズが最大望遠焦点距離に設定され、「ＷＩＤＥ端」では最大広角焦点距離に設定される。
【特許文献１】特開２００７−１７８７９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記のズームノイズ検査方法では、検査者がスイッチブロックを操作する速度が速すぎて出力電圧の解析が間に合わず、本来良品であるスイッチブロックの測定データがノイズの発生している測定データと誤判定される場合がある。このため、良品が不良品として扱われてしまい、検査の信頼性が低下するという問題があった。更に、検査結果の正確さが検査者のスキルに依存し、再検査が必要になって検査時間が増大するという問題も生じていた。
【０００６】
上記問題点を鑑み、本発明は、検査時間の増大が抑制され、かつ信頼性の高いズームノイズ検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、摺動部と、摺動部上の第１設定点から第２設定点まで摺動部に接しながらスライドする接点部とを備えるスイッチブロックを検査対象とするズームノイズ検査方法であって、（イ）検査入力電圧が印加された接点部を第１設定点から第２設定点まで摺動部上をスライドさせながら、第１設定点における第１検査出力電圧及び第２設定点における第２検査出力電圧をそれぞれ連続して測定するステップと、（ロ）同時刻に測定された第１検査出力電圧と第２検査出力電圧の電圧和を検査入力電圧と比較して、スイッチブロックにズームノイズが発生しているか否かを判定するステップとを含むズームノイズ検査方法が提供される。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、検査時間の増大が抑制され、かつ信頼性の高いズームノイズ検査方法を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。ただし、図面は模式的なものであることに留意すべきであり、具体的な回路や寸法等は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。
【００１０】
又、以下に示す実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の技術的思想は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
【００１１】
本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法は、図１に示すように、摺動部１１と、摺動部１１上の第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部１１に接しながらスライドする接点部１２とを備えるスイッチブロック１を検査対象とするズームノイズ検査方法である。スイッチブロック１の摺動部１１には、炭素皮膜抵抗（カーボン抵抗）等の皮膜抵抗が採用可能である。また、接点部１２には、金属ばね等が採用可能である。
【００１２】
本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法を説明する前に、スイッチブロック１について説明する。図１に示すスイッチブロック１では、接点部１２の一方の端部である第１端部１２１が摺動部１１表面に接し、他方の端部である第２端部１２２が電圧出力部２０の表面に接する。電圧出力部２０には、例えば金属皮膜等が採用可能である。そして、第１端部１２１が第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部１１上をスライドするのに伴って、第２端部１２２が電圧出力部２０上をスライドする。摺動部１１及び電圧出力部２０に皮膜抵抗等を使用することにより、スイッチブロック１をメンブレンスイッチ（シートスイッチ）にすることが可能である。
【００１３】
スイッチブロック１は、デジタル家電に搭載されるズームスイッチ等に採用可能である。スイッチブロック１をズームスイッチとして機能させる場合には、例えば、第１設定点１１１と第２設定点１１２のいずれか一方にズーム機構を制御するための制御電圧ＶCNTが印加され、他方が接地される。そして、第１端部１２１の摺動部１１上の位置に応じて制御電圧ＶCNTを抵抗分割した出力電圧ＶOUTが、ズーム設定端子２０１からズーム制御用信号として出力される。図１に示した例では、摺動部１１の両端部がそれぞれ第１設定点１１１と第２設定点１１２である。第１設定点１１１は第１設定端子１０１と電気的に接続し、第２設定点１１２は第２設定端子１０２と電気的に接続する。
【００１４】
例えば、図２（ａ）、図２（ｂ）に示すように、第２設定端子１０２を介して第２設定点１１２に制御電圧ＶCNT（例えば２．８Ｖ）が印加され、第１設定端子１０１を介して第１設定点１１１が接地される。ここで、接点部１２の第１端部１２１が第１設定点１１１に接している場合が、ズーム位置がＴＥＬＥ端である場合に対応する。つまり、出力電圧ＶOUTが最小である状態が、ズーム設定が最大望遠焦点距離である状態に対応する。一方、接点部１２の第１端部１２１が第２設定点１１２に接している場合が、ズーム位置がＷＩＤＥ端である場合に対応する。つまり、出力電圧ＶOUTが最大である状態が、ズーム設定が最大広角焦点距離である状態に対応する。
【００１５】
具体的には、図２（ａ）に示すように、接点部１２の第１端部１２１が第１設定点１１１に接している状態では、出力電圧ＶOUTは０Ｖである。一方、図２（ｂ）に示すように、接点部１２の第１端部１２１が第２設定点１１２に接している状態では、出力電圧ＶOUTは制御電圧ＶCNTである。ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までズーム操作することに対応して、第１設定点１１１から第２設定点１１２まで第１端部１２１が摺動部１１上をスライドする。そして、第１端部１２１の摺動部１１上の位置に対応した出力電圧ＶOUTがズーム設定端子２０１から出力される。このように設定された出力電圧ＶOUTに応じてズーム量が調整される。図３に、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までズーム操作した場合の出力電圧ＶOUTの例を示す。図３の横軸は、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までのズーム位置Ｐである。
【００１６】
以下に、図１に示したスイッチブロック１を検査対象とする本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法を説明する。
【００１７】
先ず、ズーム設定端子２０１を介して電圧出力部２０にズームノイズ検査用の検査入力電圧ＶINが印加される。検査入力電圧ＶINは、スイッチブロック１を製品として使用する場合にズーム機構を制御するための制御電圧ＶCNTの最大電圧程度であることが望ましい。電圧出力部２０に接点部１２の第２端部１２２が接触しているため、接点部１２に検査入力電圧ＶINが印加される。
【００１８】
次に、検査入力電圧ＶINが印加された接点部１２を第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部１１上をスライドさせながら、第１設定端子１０１及び第２設定端子１０２を介して、第１設定点１１１での第１検査出力電圧Ｖ１OUT及び第２設定点１１２での第２検査出力電圧Ｖ２OUTをそれぞれ連続して測定する。測定結果を図４に示す。図４の縦軸は、同時刻に測定された第１検査出力電圧Ｖ１OUTと第２検査出力電圧Ｖ２OUTの和（以下において、「検査出力電圧和ＶＳ」という。）である。図４の横軸は、第１検査出力電圧Ｖ１OUTと第２検査出力電圧Ｖ２OUTを測定した各時点における摺動部１１上の接点部１２の位置に対応するズーム位置Ｐである。つまり、図４に示すズーム位置Ｐは、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までのいずれかの位置である。
【００１９】
スイッチブロック１にズームノイズが発生していない場合には、ズーム位置Ｐにかかわらず検査出力電圧和ＶＳは一定であり、検査入力電圧ＶINと等しい。このため、同時刻に測定された第１検査出力電圧Ｖ１OUTと第２検査出力電圧Ｖ２OUTとの検査出力電圧和ＶＳを検査入力電圧ＶINと比較することにより、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までのいずれかのズーム位置Ｐでスイッチブロック１にズームノイズが発生したか否かを判定できる。つまり、各ズーム位置Ｐにおける検査出力電圧和ＶＳのそれぞれについて検査入力電圧ＶINと比較し、検査出力電圧和ＶＳと検査入力電圧ＶINとの差が一定値以上であれば、そのズーム位置Ｐでズームノイズが発生したと判断される。
【００２０】
例えば、図４に示すようにズーム位置Ｐが位置Ｚの時にズームノイズが発生すると、検査出力電圧和ＶＳが変動する。このとき、検査出力電圧和ＶＳと検査入力電圧ＶINとの差である変位量ｄＶが基準値ＶSTより大きい場合に、スイッチブロック１にズームノイズが発生していると判断する。ズームノイズが発生していると判断されたスイッチブロック１を不良品と判定することにより、ズーム機能に不具合がある製品の出荷を防止できる。基準値ＶSTは、例えば、ズームノイズの発生によりズーム機能が誤動作しない大きさに予め設定される。
【００２１】
ここで、関連技術によるズームノイズ検査方法の例を説明する。関連技術では、例えば図５に示すように、製品の実使用時と同様に、第２設定点１１２に検査入力電圧ＶINが印加され、第１設定点１１１が接地される。そして、接点部１２の第１端部１２１を第１設定点１１１から第２設定点１１２まで摺動部１１上をスライドさせて、電圧出力部２０における検査出力電圧ＶMESを測定する。このため、ズームをＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端まで作動させると、検査出力電圧ＶMESは０Ｖから検査入力電圧ＶINまでリニアに増大する。
【００２２】
上記の関連技術による検査出力電圧ＶMESの測定結果を図６に示す。図６の横軸は、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までのズーム位置Ｐである。図６の縦軸は、検査出力電圧ＶMESである。図６に示すように、ズームノイズが発生すると検査出力電圧ＶMESは滑らかに変化しない。このため、ＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端までにおける一連の検査出力電圧の測定が終了した後、検査出力電圧ＶMESのピーク−ピーク間の変異量Ｖｐ１を算出する。そして、変位量Ｖｐ１が一定値以上の場合に、ズームノイズが発生したと判定する。
【００２３】
或いは、図７に示すように、検査出力電圧ＶMESを順次２次近似曲線にてシミュレーションしながら、この２次近似曲線のベース曲線Ｂｃからのシミュレーション値ＳMESの変位量Ｖｐ２が一定値以上の場合にズームノイズが発生していると判定する関連技術も採用されている。
【００２４】
しかしながら、上記のような関連技術では、測定データの取り込みや解析処理速度が３０〜５０ｍｓ程度であるために、素早いズーム操作にデータ処理が追従できずに良品を不良品と誤判定してしまう可能性がある。つまり、検査者がズーム動作させる操作スピードを速くすると解析処理が追随できずに、良・不良判定の信頼性が低下する場合がある。このため、ズームノイズ検査の結果が検査者のスキルに依存する等の欠点がある。また、再検査のために検査時間が増大するという問題もある。
【００２５】
一方、本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法では、ズームノイズが発生していない場合は、第１検査出力電圧Ｖ１OUTと第２検査出力電圧Ｖ２OUTとの検査出力電圧和ＶＳがズーム位置にかかわらず一定である。このため、ズーム位置をＴＥＬＥ端からＷＩＤＥ端まで素早く移動させても、検査出力電圧和ＶＳの変位量ｄＶをリアルタイムに観測することにより、ズームノイズの発生の有無を容易に、かつ高精度に確認できる。
【００２６】
図８に、関連技術と本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法とによるスイッチブロックの良・不良判定を実施した結果を比較した表を示す。図８において、機種Ａは小型ズーム単体、機種Ｂは小型ズーム組込みスイッチブロック、機種Ｃは縦型ズーム組込みスイッチブロックの検査結果である。機種Ａ、Ｂ、Ｃについてそれぞれ検査を１００回実施し、不良と判定した回数を図８に示した。図８に示すように、関連技術では１００回の検査のうち９回〜２２回程度の不良判定がなされている。これに対して、本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法によれば、機種Ａ、Ｂ、Ｃのいずれにおいても、１００回の検査で不良と判定された回数は０回である。上記のように、関連技術では良品を不良品と誤判定する可能性が高い。一方、本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法によれば、高精度にズームノイズを検出できる。このため、再検査を実施する必要もない。
【００２７】
以上に説明したように、本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法では、検査結果が検査者のスキルに依存せず、また、測定終了後の出力電圧の解析時間が短縮される。その結果、検査時間の増大が抑制され、信頼性の高いズームノイズ検査方法を実現することができる。
【００２８】
（その他の実施の形態）
上記のように、本発明は実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
【００２９】
例えば、既に述べた実施の形態の説明においては、摺動部１１はカーボン抵抗以外の金属皮膜抵抗等であってもよい。また、スイッチブロック１が、電圧出力部２０を有さず、接点部１２の第２端部１２２からズーム制御用信号を直接出力する構造であってもよい。
【００３０】
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法の検査対象のスイッチブロックの構成を示す模式図である。
【図２】図１に示したスイッチブロックの設定例を示す模式図である。
【図３】図１に示したスイッチブロックのズーム位置と出力電圧との関係を示すグラフである。
【図４】本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法によって得られる検査出力電圧和とズーム位置との関係を示すグラフである。
【図５】関連技術によるズームノイズ検査方法を説明するための模式図である。
【図６】関連技術によるズームノイズ検査方法によって得られる検査出力電圧とズーム位置との関係を示すグラフである。
【図７】関連技術によるズームノイズ検査方法によって得られる検査出力電圧のシミュレーション値とズーム位置との関係を示すグラフである。
【図８】本発明の実施の形態に係るズームノイズ検査方法と関連技術によるズームノイズ検査によるスイッチブロックの良・不良判定結果を示す表である。
【符号の説明】
【００３２】
１…スイッチブロック
１１…摺動部
１２…接点部
２０…電圧出力部
１０１…第１設定端子
１０２…第２設定端子
１１１…第１設定点
１１２…第２設定点
１２１…第１端部
１２２…第２端部
２０１…ズーム設定端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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