(57)【要約】【課題】電極表面やその周囲を傷つけることなく、しかも短時間で、接触子と電極表面との導通を確実なものとすることができる検査装置を提供すること。【解決手段】電気回路に先端を電気的に接触させる接触子と、この接触子を支持する支持体と、接触子に電気的に接続された検査機とを備える検査装置であって、前記接触子を振動させる振動発生手段を設ける。検査開始前に前記接触子を振動させて塵埃や錆びを落として、確実に両者の導通を図ることができる。しかも、この両者を物理的にこすりあわせるわけではないから、その傷付きも防止することができる。また、振動に要する時間はわずかでよいから、生産効率の低下を招くこともない。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気回路に先端を電気的に接触させる接触子と、この接触子を支持する支持体と、接触子に電気的に接続された検査機とを備える検査装置において、
前記接触子を振動させる振動発生手段を備えることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記振動発生手段が、１００〜５００ｍｓｅｃの範囲で振動するものであることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記接触子の先端の及びその周囲に向けて気体を吹き付けるダクトを備えることを特徴とする請求項１または２記載の検査装置。
【請求項４】
前記接触子を電極表面に押圧する付勢手段を有することを特徴とする請求項１〜３のいずれかにに記載の検査装置。
【請求項５】
前記付勢手段が接触子を５〜５０ｇｆの圧力で前記電極を押圧するものであることを特徴とする請求項４に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気回路の電気特性や機能の検査に利用する検査装置に関する。この検査装置は、例えば、電極を有するＩＣカード、いわゆる接触型ＩＣカードの検査に利用することができる。また、この他、プリント配線板などの検査に利用することもできる。
【背景技術】
【０００２】
これら電気回路の電気特性や機能を検査する場合には、これら電気回路の電極に検査用接触子の先端を接触させて導通をとり、接触子の反対側を検査機に接続させ、検査機から接触子を通じて入力した電圧や電気信号に対する反応を検査して、その電気特性や機能を評価することが一般である。このとき、電気回路の電極と接触子の先端とが確実に導通していることが重要であり、仮にこの導通が不十分な場合には、良品である電気回路を誤って不良品と判断してしまう結果となる。
【０００３】
そこで、電気回路の電極と接触子の先端との接触を確実なものとするため、従来、さまざまな工夫が重ねられてきた。例えば、ばね圧を利用して接触子を電気回路の電極に押圧し、この押圧によって両者の導通を確実なものとするものである。しかし、この方法によっても、接触子と電極との間に電気絶縁性の異物がある場合には、両者の導通をとることはできない。例えば、電極表面がわずかに錆びている場合にも導通をとることができないのである。
【０００４】
また、特許文献１は、ばね圧を利用して接触子を電気回路の電極に押圧するとともに、検査の前または検査しながら接触子を摺動させて、両者の間に介在する異物をクリーニングするものである。この技術によれば、塵埃が接触子と電極との間にある場合はもちろん、電極表面がわずかに錆びている場合にも、この錆びを落として接触子と電極との導通をとることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６３−３０１３８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、前記特許文献１の技術によれば、接触子と電極表面とを互いに摺動させるため、電極表面やその周囲を傷つけることがあるという問題があった。
【０００７】
また、検査に際して摺動によるクリーニング工程を必要とするため、その分検査に時間を要し、また、電気回路の種類によってはその生産効率を低下させるという問題もあった。
【０００８】
本発明は、このような事情のもとになされたもので、電極表面やその周囲を傷つけることなく、しかも短時間で、接触子と電極表面との導通を確実なものとすることができる検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
すなわち、請求項１に記載の発明は、電気回路に先端を電気的に接触させる接触子と、この接触子を支持する支持体と、接触子に電気的に接続された検査機とを備える検査装置において、
前記接触子を振動させる振動発生手段を備えることを特徴とする検査装置である。
【００１０】
この発明によれば、接触子と電極表面とを接触させて、その検査開始前に前記接触子を振動させることができるため、この振動によって塵埃や錆びを落として、確実に両者の導通を図ることができる。しかも、この両者を物理的にこするあわせるわけではないから、その傷付きも防止することができる。また、振動に要する時間はわずかでよいから、生産効率の低下を招くこともない。
【００１１】
なお、振動発生手段は接触子に直接接続されてこの接触子を振動させるものであってもよく、また、前記支持体に接続されて、この支持体を振動させることにより間接的に接触子を振動させるものであってもよい。振動の周波数は、比較的低いものでよく、例えば、２〜１００Ｈｚでよい。なお、傷つきを防止する観点から、振動距離は０．０１〜０．５ｍｍの短距離が望ましい。
【００１２】
次に、請求項２の発明は、生産効率の低下を防ぐため、接触子を振動させる時間を限定したものである。すなわち、請求項２の発明は、前記振動発生手段が、１００〜５００ｍｓｅｃの範囲で振動するものであることを特徴とする請求項１に記載の検査装置である。
【００１３】
次に、請求項３の発明は、前記振動によって接触子の表面や電極の表面から遊離した微細な異物を除去する手段を備えるものである。すなわち、請求項３に記載の発明は、前記接触子の先端の及びその周囲に向けて気体を吹き付けるダクトを備えることを特徴とする請求項１または２記載の検査装置である。
【００１４】
なお、接触子の振動によって塵埃や錆びを確実に落とすためには、この接触子が一定範囲の力で電極表面に押圧されていることが望ましい。
【００１５】
請求項４及び５の発明はこのような事情でなされたもので、すなわち、請求項４の発明は、前記接触子を電極表面に押圧する付勢手段を有することを特徴とする請求項１〜３のいずれかにに記載の検査装置である。また、請求項５の発明は、前記付勢手段が接触子を５〜５０ｇｆの圧力で前記電極を押圧するものであることを特徴とする請求項４に記載の検査装置である。
【発明の効果】
【００１６】
以上のように、本発明によれば、電極表面やその周囲を傷つけることなく、しかも短時間で、接触子と電極表面との導通を確実なものとすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の第一の実施形態に係る検査状態を示す正面図
【図２】本発明の第一の実施形態に係る検査状態を示す側面図
【図３】本発明の第一の実施形態に係るフローチャート
【図４】本発明の第二の実施形態に係る検査状態を示す正面図
【図５】本発明の第二の実施形態に係る検査状態を示す側面図
【図６】本発明の第二の実施形態に係るダクトの構造を示す透視図
【図７】本発明の第二の実施形態に係る第一のフローチャート
【図８】本発明の第二の実施形態に係る第二のフローチャート
【図９】本発明の第三の実施形態に係る検査状態を示す正面図
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００１９】
（第一の実施形態）
図１は、本発明の第一の実施形態に係る検査状態を示す正面図、図２はその側面図である。
【００２０】
すなわち、この実施形態に係る検査装置は、複数本の接触子と、これら接触子を鉛直状態に整列させて支持する接触子支持体と、図示しない検査機と、前記支持体を介して間接的に接触子を振動させる振動発生手段とで構成されている。そして、それぞれの接触子は検査機に接続されている。
【００２１】
接触子の下に図示されているのは、検査対象物であり、図示の例では接触型ＩＣカードである。すなわち、このＩＣカードは、カード基材にＩＣモジュールが埋め込まれており、その表面に複数の電極が露出している。そして、図示しない付勢手段によって、複数本の前記接触子の先端は、それぞれ、検査対象物の電極に押圧している。
【００２２】
接触子の材質は、前記電極と検査機との導通を可能とするものであればよいが、接触子の先端はリン青銅等の銅系のものが望ましく、さらに、その先端表面に耐食性、耐摩耗性のよいロジウムメッキ、あるいは金メッキを施したものが望ましい。また、接触子の先端は曲率半径が０．０５〜０．５ｍｍの半球形状であることが望ましい。
【００２３】
次に、前記付勢手段としては公知のばねが使用できる。この付勢手段により接触子を５〜５０ｇｆの圧力で前記電極を押圧することが望ましい。これより小さい圧力の場合には、接触子を振動させても電極との導通がとれないことがある。また、これより大きい圧力の場合にも、振動による異物の除去が困難となって電極との導通がとれないことがある。
【００２４】
また、前記振動発生手段としては、例えば、ソレノイドが利用できる。このソレノイドに複数本の前記接触子に直接固定して、これら複数本の接触子を直接振動させることもできるが、図示の例では、支持体にソレノイドと複数本の前記接触子とを共に支持体に固定して、ソレノイドによって支持体を振動させ、この支持体の振動を介して間接的に複数本の前記接触子を振動させている。そして、この接触子により、接触子先端と検査対象物の電極との間に介在する異物や錆びを遊離させ、両者の導通を確実なものとすることができる。
【００２５】
なお、このソレノイドは、スイッチを入れることにより、次のような振動を発生するように制御されている。すなわち、接触子の振動は、周波数２〜１００Ｈｚ、振動距離０．０１〜０．５ｍｍである。また、この振動は、接触子が検査対象物の電極に接触した時点で１００〜５００ｍｓｅｃの短時間でよい。経験則上、これ以上の時間振動させても改善されず、却ってＩＣカードの生産効率を低下させるからである。また、接触子が検査対象物の電極に接触した時点でスイッチがはいるように構成することもできる。この場合には、接触子を検査対象物表面に下降させるだけで、自動的に振動と検査とを行うことができる。
【００２６】
次に、図３はこの検査装置の使用方法に関するフローチャートである。すなわち、検査対象物を所定の位置にセットする。次に、接触子を検査対象物表面に下降させ、検査対象物の電極に接触させる。次に、１００〜５００ｍｓｅｃの間、接触子を振動させて、前記接触子と電極との間の異物を除去する。そして、検査機を駆動して、電気回路（この例ではＩＣカード中のＩＣ）を検査する。この検査の後、接触子を上昇させて検査対象物から分離して検査を終了する。
【００２７】
（第二の実施形態）
次に、第二の実施形態は、前記振動によって接触子の表面や電極の表面から発生した微
細な異物を除去する手段を備える検査装置に関するものである。
【００２８】
図４は、この第二の実施形態に係る検査状態を示す正面図、図５はその側面図である。また、図６は、そのダクトの構造を示している。
【００２９】
この検査装置は、エアー放出手段と、エアーの流路と、電磁弁とで構成される放出用ダクトを備えるほかは、第一の実施形態と同様である。すなわち、この検査装置は、複数本の接触子と、これら接触子を鉛直状態に整列させて支持する接触子支持体と、図示しない検査機と、前記支持体を介して間接的に接触子を振動させる振動発生手段と、前記放出用ダクトとで構成されている。そして、それぞれの接触子は検査機に接続されている。また、放出用ダクトはエアー放出手段と、このエアー放出手段によって発生したエアーを前記接触子の先端の及びその周囲に導く流路と、この流路を開通させまたは遮断する電磁弁とで構成されている。
【００３０】
前述のように、接触子の振動によって接触子の表面や電極の表面から微細な異物が遊離するから、この振動の後、またはこの振動が発生している間、検査の前にこの放出用ダクトからエアーを放出してこれら異物を除去して、前記接触子や電極表面に対する異物の付着を防止することができる。このため、前記第一の実施形態に係る検査装置に比較しても、さらに確実に接触子と電極との導通を図ることが可能となる。
【００３１】
なお、この放出用ダクトは、前記振動によって接触子の表面や電極の表面から遊離した微細な異物を除去するほか、接触子、検査対象物の電極、検査台への防塵機能も併せ持っている。このため、前記接触子を検査対象物の電極に接触させる前からエアーの放出を開始して、前記振動の後まで放出を続けることができる。
【００３２】
このため、この実施形態に係る検査装置を使用する際には、次の２種類の使用方法を採用することができる。図７は、この２種類の使用方法のうち、第一の方法に関するフローチャートであり、まず、検査対象物を所定の位置にセットする。次に、接触子を検査対象物表面に下降させ、検査対象物の電極に接触させる。電磁弁を開いてエアーの放出を開始する。そして、このエアーの放出を継続しながら、接触子を振動させて、前記接触子と電極との間の異物を除去する。そして、この振動の終了の後に電磁弁を閉じてエアーの放出を停止し、次に、検査機を駆動して、電気回路（この例ではＩＣカード中のＩＣ）を検査する。この検査の後、接触子を上昇させて検査対象物から分離して検査を終了する。
【００３３】
また、図８は、前記２種類の使用方法のうち、第二の方法に関するフローチャートであり、第一の方法との相違はエアーの放出開始時期である。すなわち、この方法では、まず、検査対象物を所定の位置にセットして固定する。次に、電磁弁を開いてエアーの放出を開始する。そして、このエアーの放出を継続しながら、接触子を検査対象物表面に下降させて検査対象物の電極に接触させ、接触子を振動させて、前記接触子と電極との間の異物を除去する。そして、この振動の終了の後に電磁弁を閉じてエアーの放出を停止し、次に、検査機を駆動して、電気回路（この例ではＩＣカード中のＩＣ）を検査する。この検査の後、接触子を上昇させて検査対象物から分離して検査を終了する。
【００３４】
（第三の実施形態）
次に、第三の実施形態は、前記振動発生手段が接触子に直接固定されている検査装置に係るものである。図９はこの第三の実施形態に係る検査状態を示す正面図である。なお、図９では、接触子が１本だけ図示されているが、複数本の接触子を有するものであってもよいことはもちろんである。複数本の接触子を有する場合であっても、これら複数本の接触子は各別に前記振動発生手段に固定されている。その使用方法は第一の実施形態に係る検査装置の使用方法と同様である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2010217085.tif 000009
【図８】
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【図９】
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