(57)【要約】      （修正有）【課題】小型で可搬性に優れ、試験および測定結果の視認性に優れたテストプラグの判定装置を提供する。【解決手段】ヒンジ部４を介して連結した一方の部材２と他方の部材３との先端部でテストプラグ３０の電源側の各導体３５Ｂ〜３５Ｎと負荷側の各導体４５Ｂ〜４５Ｎとを挟持し得るように構成した装置本体１と、テストプラグの挟持時に、電源側の各導体と負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように一方の部材２の内側面と他方の部材３の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｎ及び検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｎと、荷電用端子に選択的に電圧を印加するための切替手段と、荷電用端子に印加された電圧により検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示部９とを有する。【選択図】図１
2010133878.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の導体にそれぞれ接触する電源側の導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の導体にそれぞれ接触する負荷側の導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定装置であって、
ヒンジ部を介して一方の部材と他方の部材とを連結することにより前記一方の部材と前記他方の部材との先端部を開口して前記テストプラグの前記電源側の各導体と前記負荷側の各導体とを挟持し得るように構成した装置本体と、
前記テストプラグの挟持時に、前記テストプラグの電源側の各導体と前記テストプラグの負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように前記一方の部材の内側面と前記他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子と、
前記荷電用端子に選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、
前記荷電用端子に印加された電圧により前記検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、
前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、
前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【請求項２】
請求項１に記載するテストプラグの性能判定装置において、
前記一方の部材の内側面には、前記テストプラグの装着時に、ＣＴ用のテストプラグに固有の凸部を検出する接点と、ＰＴ用のテストプラグに固有の凸部を検出するための接点とを配設したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載するテストプラグの性能判定装置において、
前記制御手段は、他の荷電用端子に対する荷電により、すでに荷電状態が検出された検電実績のある荷電用端子を記憶しておき、検電実績のある荷電用端子はスキップして次の荷電用端子に対する荷電を行うよう前記切替手段の切替制御を行うように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
許容されない結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【請求項５】
請求項１乃至請求項３の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
使用頻度の高い結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、
測定感度が異なる複数のモードを有し、前記テストプラグの電源側又は負荷側で何れかの相間に接続される電圧計の内部抵抗を介して前記相間が接続されていることを検出し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はテストプラグの性能判定装置に関し、特にテストターミナルに挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの導通試験や絶縁性能試験を行う際に用いて有用なものである。
【背景技術】
【０００２】
電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うためテストプラグが利用されている。この種のテストプラグは、負荷側の継電器等の点検作業を行うに当たり、配電盤に配設されて系統の電源側と負荷側との間に接続されているテストターミナルに挿入して使用するものである。ここで、テストターミナルには電源側がＣＴ（変流器）に接続されているＣＴ用のテストターミナルと、電源側がＰＴ（計器用変圧器）に接続されているＰＴ用のテストターミナルとが存在する。そこで、これに対応してテストプラグにもＣＴ用のテストターミナルに挿入して使用されるＣＴ用のテストプラグと、ＰＴ用のテストターミナルに挿入して使用されるＰＴ用のテストプラグの二種類が用意されている。
【０００３】
ＣＴ用のテストターミナルとＰＴ用のテストターミナルの基本的な構造は同じであり、またＣＴ用のテストプラグとＰＴ用のテストプラグの基本的な構造も同じであるが、間違ってＣＴ用のテストターミナルにＰＴ用のテストプラグを挿入しないように、また逆にＰＴ用のテストターミナルにＣＴ用のテストプラグを挿入しないように構造的な工夫がしてある。この点に関しては後に詳述する。
【０００４】
図６はＣＴ用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。同図に示すように、ＣＴ用のテストプラグ３０は、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相（図にはＢ相，Ｗ相，Ｒ相及びＮ相（接地相）の４相の場合を示している。）に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の電源側の導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ及び負荷側の導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。ここで、隣接する各相間（Ｂ−Ｗ相間，Ｗ−Ｒ相間，Ｒ−Ｎ相間）は絶縁部材３３で絶縁されている。また、両端部の相間（Ｂ−Ｗ相間，Ｒ−Ｎ相間）を絶縁する絶縁部材３３の先端部にはＣＴ用のテストプラグ３０に固有の凸部３４１，３４２が形成してある。
【０００５】
かかるテストプラグ３０は、ＣＴの各相（Ｂ相，Ｗ相，Ｒ相）の２次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片３８により４個の端子３７間を連結接続して電源側の導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ間を短絡するとともに、他の端子４７に試験装置（図示せず）等を接続して所定の試験乃至測定に供している。
【０００６】
一方、電力系統には、事故時等における電源側の異常な電圧降下を検出するためのＰＴも通常設けてあり、かかるＰＴも、前述の如く配電盤に配設したＰＴ用のテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。
【０００７】
図７はＰＴ用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。同図に示すように、ＰＴ用のテストプラグ４０では、中央の相間（Ｗ−Ｒ相間）を絶縁する絶縁部材４３の先端部にＰＴ用のテストプラグ４０に固有の凸部４４を設けてあり、両端部の相間（Ｂ−Ｗ相間，Ｒ−Ｎ相間）を絶縁する絶縁部材４３の先端部にはＣＴ用のテストプラグ３０が有する凸部３４１，３４２は設けられていない。かかるテストプラグ４０において、絶縁部材４３及び凸部４４以外は、図６に示すテストプラグ３０と全く同一の構成であるので、対応する部分には同一番号を付して重複する説明は省略する。
【０００８】
図８はＣＴ用のテストターミナルの凸部とＣＴ用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図、図９はＰＴ用のテストターミナルの凸部とＰＴ用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。
【０００９】
図８（ａ）に示すテストターミナル５０において、同図（ｂ）に示すテストプラグ３０の凸部３４１，３４２に対応する位置には凸部が形成されておらず、テストプラグ４０の凸部４４に対応する位置に凸部５１が形成されている。一方、図９（ａ）に示すテストターミナル６０において、同図（ｂ）に示すテストプラグ４０の凸部４４に対応する位置には凸部が形成されておらず、テストプラグ３０の凸部３４１，３４２に対応する位置に凸部６１１，６１２が形成されている。
【００１０】
かくして、ＣＴ用のテストターミナル５０に間違ってＰＴ用のテストプラグ４０を挿入しようとしても凸部５１と凸部４４とが干渉し、またＰＴ用のテストターミナル６０に間違ってＣＴ用のテストプラグ３０を挿入しようとしても凸部６１１，６１２と凸部３４１，３４２とが干渉して何れも挿入できないようになっている。
【００１１】
ところで、上述の如きテストプラグ３０，４０は、テストターミナル５０，６０に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。例えば相間の絶縁抵抗が十分でないテストプラグ３０，４０を挿入した場合には不測の短絡事故に繋がり、所定の導通が取れていない場合には正確な動作試験ができない等の不都合を生起するからである。
【００１２】
このため、テストプラグ３０，４０は所定の絶縁測定及び導通試験を行う必要がある。元々かかる絶縁測定乃至導通試験は、作業者がテスタ乃至メガーを用いて手作業で行っていた。すなわち、テスタ乃至メガーのプローブを測定点である端子３７，４７、電源側の導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎ、負荷側の導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎの所定位置に接触させて、一つ一つ行っていた。そこで、４端子のテストプラグ３０，４０における所定の試験乃至測定においては、導通試験で最高１６回、絶縁試験で１６回同様の作業を行うことが必要な場合がある。このため、上記試験乃至測定に多大な時間を要していた。また、試験乃至測定の回数が多いこととも相俟って錯誤により試験乃至測定を行わなかったり、重複して行ったりという人間系の間違いも生じ易いという問題があった。
【００１３】
そこで、上述の如き所定の測定に必要な繰り返し作業の回数を可及的に少なくするとともに、人間系の間違いを可及的に排除することを目的としてテストプラグの所定の性能を判定するための装置が提案されている（特許文献１乃至特許文献６参照）。
【００１４】
【特許文献１】特許第３０９１９９４号公報
【特許文献２】特開平１０−１９９６１号公報
【特許文献３】特開２００１−２３１１５３号公報
【特許文献４】実登第２１００９８１号公報
【特許文献５】特開２００７−２１２３０８号公報
【特許文献６】特開２００７−２８５９３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
上述の特許文献１乃至特許文献６に開示する従来技術は、テストプラグ３０，４０を挿入するためのテストターミナル５０，６０と同様の挿入口を備えるものとなっており、しかも中にはＣＴ用とＰＴ用に対応させた二種類の挿入口を備えたものもある。
【００１６】
この結果、装置自体が大型化してしまい、簡便性に乏しく運搬や保管に問題が残るものとなっていた。また、試験乃至測定結果を視覚的に表示する表示部を備えていないか、又は備えていても不十分なものとなっていた。すなわち、導通状態乃至絶縁状態を表示する機能を有する場合でも、何れの部分の導通等が不十分であるのかを一目で視認できるような構造となっていないので、試験結果の迅速な視認という点で難がある。
【００１７】
本発明は、上記従来技術に鑑み、小型で可搬性に優れ、同時に試験乃至測定結果の視認性にも優れたテストプラグの判定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記目的を達成する本発明の第１の態様は、電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の導体にそれぞれ接触する電源側の導体と、負荷側の各相に接続された前記テストターミナルの同数の導体にそれぞれ接触する負荷側の導体とが各相毎に絶縁部材の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定装置であって、ヒンジ部を介して一方の部材と他方の部材とを連結することにより前記一方の部材と前記他方の部材との先端部を開口して前記テストプラグの前記電源側の各導体と前記負荷側の各導体とを挟持し得るように構成した装置本体と、前記テストプラグの挟持時に、前記テストプラグの電源側の各導体と前記テストプラグの負荷側の各導体とにそれぞれ接触し得るように前記一方の部材の内側面と前記他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子と、前記荷電用端子に選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、前記荷電用端子に印加された電圧により前記検電用端子を介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段と、前記検電手段に基づく検電結果を個別に表示する表示手段とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００１９】
本態様によれば、一方の部材と他方の部材の端部を手で摘むことにより両部材がヒンジ部を介して回動することにより反対側の端部が開口する。かかる状態で前記開口にテストプラグの各導体を挿入することで装置本体に対するテストプラグの装着が完了する。
【００２０】
したがって、この装着作業を非常に簡便に行うことができる。また、装置本体も小型化することができるので、可搬性及び収納性にも優れるものとなる。
【００２１】
さらに、試験乃至測定に際しては、装置本体でテストプラグを挟持させた状態で一方の部材の内側面と他方の部材の内側面とにそれぞれ一対づつ配設した荷電用端子及び検電用端子のうち、荷電用端子に順次電圧を印加して各場合における検電用端子の荷電状態を検出するだけで自動的にテストプラグにおける結線構造を明らかにすることができる。
【００２２】
したがって、所定の試験乃至測定を迅速簡便に行うことができる。
【００２３】
本発明の第２の態様は、第１の態様に記載するテストプラグの性能判定装置において、前記一方の部材の内側面には、前記テストプラグの装着時に、ＣＴ用のテストプラグに固有の凸部を検出する接点と、ＰＴ用のテストプラグに固有の凸部を検出するための接点とを配設したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００２４】
本態様によれば、ＣＴ用乃至ＰＴ用のテストプラグの何れであるかを容易に判定し得る。この結果、上述の結線構造が、ＣＴ用又はＰＴ用として適正なものか否か等を判断する場合に適用することにより当該判断を迅速に行うことができる。
【００２５】
本発明の第３の態様は、第１又は第２の態様に記載するテストプラグの性能判定装置において、前記制御手段は、他の荷電用端子に対する荷電により、すでに荷電状態が検出された検電実績のある荷電用端子を記憶しておき、検電実績のある荷電用端子はスキップして次の荷電用端子に対する荷電を行うよう前記切替手段の切替制御を行うように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００２６】
本態様によれば、重複した試験乃至測定を行うことなく迅速に所定の試験乃至測定を行うことができる。
【００２７】
本発明の第４の態様は、第１乃至第３の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、許容されない結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００２８】
本態様によれば、許可されない結線パターンであることを迅速かつ的確に検出し得る。
【００２９】
本発明の第５の態様は、第１乃至第３の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、使用頻度の高い結線パターンをあらかじめ前記制御手段に登録しておき、登録した結線パターンが検出された場合にはその状態を前記表示部に表示するように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００３０】
本態様によれば、使用頻度の高い結線パターンであることを迅速かつ的確に検出し得る。
【００３１】
本発明の第６の態様は、第１乃至第５の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定装置において、測定感度が異なる複数のモードを有し、前記テストプラグの電源側又は負荷側で何れかの相間に接続される電圧計の内部抵抗を介して前記相間が接続されていること検出し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定装置にある。
【００３２】
本態様によれば、電圧計の接続態様を容易に特定し得る。また、電圧計が実際には接続されていないにもかかわらず擬似的な電圧計の接続が検出された相間が存在する場合は、この相間の絶縁劣化として検出し得る。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、一方の部材と他方の部材の一端部を摘んでヒンジ部を介して回動することにより反対側端部が開口するので、この開口にテストプラグの各導体を挿入することで装置本体に対するテストプラグの装着が完了する。したがって、この装着作業を非常に簡便に行うことができる。また、装置本体も小型化することができるので、可搬性及び収納性にも優れるものとなる。
【００３４】
さらに、試験乃至測定に際しては、装置本体でテストプラグを挟持させた状態で荷電用端子に順次電圧を印加して各場合における検電用端子の荷電状態を検出するだけで自動的にテストプラグにおける結線構造を明らかにすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。
＜構造＞
図１は本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示す構造図で、（ａ）は平面図、（ｂ）はその一部を内側から見た内面図、（ｃ）は側面から見た側面図である。
【００３６】
図１に示すように、装置本体１はヒンジ部４を介して一方の部材２と他方の部材３とを連結することにより一方の部材２と他方の部材３との先端部を開口してテストプラグ３０の電源側の各導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎと負荷側の各導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎとを挟持し得るように構成してある。さらに詳言すると、本形態では２枚の板状の部材２，３の中央部をヒンジ部４を介して連結しているので、図中の右端部を手で摘んで矢印方向に回動することにより反対側の右端部が開口する。かかる状態で前記開口にテストプラグ３０の各導体３５Ｂ〜３５Ｎ、４５Ｂ〜４５Ｎを挿入した後、手を離すことによりヒンジ部４のバネ（図示せず）に起因する反対方向へのバネ力により装置本体１の先端部で各導体３５Ｂ〜３５Ｎ、４５Ｂ〜４５Ｎを挟持することができる。この挟持によりテストプラグ３０への当該性能判定装置の装着が完了する。かかる装着状態を図２に示す。同図（ａ）は装着状態で示す平面図、（ｂ）はその側面図である。
【００３７】
ここで、図１（ｂ）に明示するように、部材２の内側面には、テストプラグ３０の挟持時に、その導体４５Ｂ，４５Ｗ，４５Ｒ，４５Ｎと接触し得るようにそれぞれ一対づつの荷電用端子５Ｂ，５Ｗ，５Ｒ，５Ｎ及び検電用端子６Ｂ，６Ｗ，６Ｒ，６Ｎが配設してある。すなわち、Ｂ相の導体４５ＢにはＢ相の荷電用端子５Ｂ及び検電用端子６Ｂが接触するとともに、Ｗ相の導体４５ＷにはＷ相の荷電用端子５Ｗ及び検電用端子６Ｗが、Ｒ相の導体４５ＲにはＲ相の荷電用端子５Ｒ及び検電用端子６Ｒが、Ｎ相の導体４５ＮにはＮ相の荷電用端子５Ｎ及び検電用端子６Ｎがそれぞれ接触するようになっている。
【００３８】
なお、図１には明示しないが、部材３の内側面にも、図１（ｂ）に示す負荷側に対応するような関係で、テストプラグ３０の挟持時に、その導体３５Ｂ，３５Ｗ，３５Ｒ，３５Ｎと接触し得るようにそれぞれ一対づつの荷電用端子７Ｂ，７Ｗ，７Ｒ，７Ｎ及び検電用端子８Ｂ，８Ｗ，８Ｒ，８Ｎが配設してある（ただし、図１には荷電用端子７Ｎ及び検電用端子８Ｎのみを示している。）。
【００３９】
部材２の内側面には、ＣＴ用のテストプラグ３０の挟持時に、その凸部３４１，３４２と接触して動作するスイッチの接点Ｃ１，Ｃ２も設けてある。同様の機能を有する接点Ｐも部材２の内側面に設けてある。この接点Ｐは当該性能判定装置でＰＴ用のテストプラグ４０を挟持した時にその凸部４４と接触して動作するスイッチの接点である。
【００４０】
部材２の表面には当該性能判定装置で検出した試験乃至測定の結果を表示する表示部９、操作スイッチＳＷ１及び切替スイッチＳＷ２が配設されている。ここで、操作スイッチＳＷ１はテストプラグ３０を上述の如く当該判定装置に装着した状態で操作することにより所定の試験乃至測定を開始可能とする。切替スイッチＳＷ２は試験乃至測定のモードを切替えるためのものである。すなわち、テストプラグ３０，４０に接続する電圧計は、基本的に高抵抗回路であり、従来の試験乃至測定を行う場合（通常モード）では絶縁相当として考えて良いが、試験目的上、敢えて電圧計を接続した極を検出したい場合（絶縁確認モード）には切替スイッチＳＷ２により極間抵抗検出感度を切替えて絶縁（≒∞[Ω]）と電圧計の計器抵抗（≒数[ｋΩ]）とを区別させることも可能としたものである。なお、絶縁確認モードにおいて電圧計が使用されていない場合には絶縁不良検出に利用することができる。
【００４１】
さらに、図１には図示しないが、当該性能判定装置は、荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに選択的に電源からの電圧を印加するための切替手段と、荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに印加された電圧により検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎを介して印加される電圧により個別に動作する検電手段と、前記切替手段の切替制御を行う制御手段とを有している。これらは装置本体１内に収納されているが、個別の構成に関しては後で詳述する。
【００４２】
＜ブロック構成＞
図３は本形態に係るテストプラグの性能判定装置を示すブロック線図である。当該ブロック線図を構成する各機能は図１に示す装置本体１内に収納されている。そこで、図３中、図１及び図２と同一部分には同一番号を付している。図３に示すように、操作部１０はマン・マシンインターフェースとして機能する入力手段であり、図１の操作スイッチＳＷ１及び切替スイッチＳＷ２等が含まれる。操作部１０からは操作スイッチＳＷ１及び切替スイッチＳＷ２の動作状態を表す各出力信号をはじめ所定の出力信号が動作処理部１１に送出される。動作処理部１１はＣＰＵ機能を含むものであり、当該判定装置の全体の作動を制御する制御手段として機能する。すなわち、操作スイッチＳＷ１の作動により試験乃至測定の開始を可能とし予め定められた手順により各部の所定の制御を開始する。ここで、動作処理部１１には任意の制御機能を備えさせることが可能であるが、本形態では、例えば操作部１０を介してＣＴ用のテストプラグ３０乃至ＰＴ用のテストプラグ４０毎に使用頻度の高い接続パターンを予め記憶させることができるように構成するとともに、ＣＴ用のテストプラグ３０乃至ＰＴ用のテストプラグ４０として不適切な接続状態等が検出された場合には警報を発するように構成してある。
【００４３】
荷電切替出力部１２は、検出感度切替のための抵抗Ｒ１，Ｒ２（Ｒ１＞Ｒ２）を選択する切替接点１２Ａと、電圧を印加するための荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎを選択する接点１２Ｂとを有している。かくして、切替スイッチＳＷ２で選択した選択モードに基づき動作処理部１１から送出される制御信号により抵抗Ｒ１，Ｒ２のいずれか一方が選択されるとともに、動作処理部１１に記憶されている予め定められた手順により荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎのいずれか一つが選択される。このときの電圧は電源Ｖから動作処理部１１を介して印加される。ちなみに、通常モードでは抵抗Ｒ１が選択され、絶縁確認モードでは抵抗Ｒ２が選択される。
【００４４】
荷電入力検出部１３は検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎの荷電状態をそれぞれ個別に検出する検電手段であるセンサａ１，ｂ１，ｃ１、ｄ１，ａ２，ｂ２，ｃ２，ｄ２を有する。各センサａ１〜ｄ１，ａ２〜ｄ２の検電状態は動作処理部１１を介して表示部９に表示される。ここでセンサａ１〜ｄ１，ａ２〜ｄ２としては検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎに印加される電圧を検出し得るものであれば特に制限はない。例えば、検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎに電圧が印加されることにより動作するトランジスタ等のスイッチング素子で好適に構成し得る。
【００４５】
ＣＴ用のテストプラグ３０であるか、ＰＴ用のテストプラグ４０であるかに関する情報は接点Ｃ１，Ｃ２乃至接点Ｐの状態を検出する接点入力部１４を介して動作処理部１１に入力される。
【００４６】
表示部９は動作処理部１１が送出する制御信号により試験乃至測定結果に関する所定の情報を表示するものである。所定の情報とはテストプラグ３０，４０の接続状態、絶縁状態、各種の警告に関する情報等であり、動作処理部１１が処理して送出する情報であれば特別な制限はない。また、表示素子としてはＬＥＤ等の発光素子を好適に用いることができる。この場合には、テストプラグ３０，４０の導体３５Ｂ〜３５Ｎ，４５Ｂ〜４５Ｎ、荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎ及び検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎの位置を含めこれらを模した表示として実際の接続状態等を視覚的に表示することもできる。
【００４７】
＜試験乃至測定の原理＞
上述の図１乃至図３に図４を追加して本形態における試験乃至測定の原理を説明する。図４は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用時における結線態様の一例を示す結線図である。ただし、同図はあくまで回路検出の考え方を説明するための結線例を示しており、実際に使用するか否かということとは無関係である。
【００４８】
図４において付した符号は図１乃至図３において使用した符号に対応させてあり、同一部分には同一番号を付してある。図４に示す結線では、導体４５Ｂ，４５Ｗ，３５Ｂ、導体４５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｒ、導体４５Ｎ、３５Ｎがそれぞれ相互に接続されている状態を示している。同時に、荷電用端子５Ｂ，検電用端子６Ｂ，導体４５Ｂ，センサａ１が負荷側のＢ相として一つのグループとなっており、同様に負荷側のＷ，Ｒ，Ｎ相及び電源側のＢ，Ｗ，Ｒ，Ｎ相に関し、図４に示すような７つのグループがそれぞれ形成されている状態を示している。また、図４は、選択的に電源Ｖに接続されているのは荷電用端子５Ｂであり、切替接点１２Ａで抵抗Ｒ１が選択された通常モードであることを示している。
【００４９】
ｉ）テストプラグがＣＴ用乃至ＰＴ用の何れであるかの検出
本形態においては、図４には明示しないが、先ずＣＴ用のテストプラグ３０であるか、ＰＴ用のテストプラグ４０であるが判定される。これは図３の接点入力部１４に入力される接点Ｃ１，Ｃ２乃至接点Ｐの状態に基づき検出される。接点Ｃ１，Ｃ２が何れもオン状態のときにはＣＴ用のテストプラグ３０、接点Ｐがオン状態のときにはＰＴ用のテストプラグ４０であると判断する。
【００５０】
ii）端子間の接続（導通）乃至開放（絶縁）の検出原理
当該試験乃至測定の際の荷電を荷電用端子５Ｂ，５Ｗ・・・の順に荷電用端子７Ｎまで行う。このように荷電用端子５Ｂから荷電を行うと、これと接続状態にある各極の検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎを介してセンサａ１〜ｄ１，ａ２〜ｄ２で荷電状態を確認することができる。荷電が検出されたセンサａ１〜ｄ１，ａ２〜ｄ２を「１」と表し、検出されないセンサａ１〜ｄ１，ａ２〜ｄ２を「０」と表すと、図４の結線例では、「１１００  １０００」となる（図４においてａ１，ｂ１，ｃ１，ｄ１，ａ２，ｂ２，ｃ２，ｄ２の順に考える）。
【００５１】
続いて、他の荷電用端子５Ｗ・・・を順次選択して荷電していくが、先の荷電によりセンサｂ１には検電履歴があるので荷電検査済みとして処理しても構わない。したがって、図４に示す結線例では最終的に３回の荷電試験で次のようなグループを形成して接続されていることが分かる。これらの各グループを「島」と称する。
【００５２】
［ａ１］−［ｂ１］−［ａ２］・・・１１００  １０００・・・Ｃ８（１６進数表現）
［ｃ１］−［ｂ２］−［ｃ２］・・・００１０  ０１１０・・・２６（１６進数表現）
［ｄ１］−［ｄ２］          ・・・０００１  ０００１・・・１１（１６進数表現）
【００５３】
このように、極間接続状況は数値的に表現できるため、表示部９での表示方法も、端子番号列記の他、マトリクス表示法等、単純なロジック処理で操作者が視認し易い任意の表示方法を容易に採用し得る。
【００５４】
iii）テストプラグ３０，４０において使用される結線か否かの判定
イ）ＣＴ用のテストプラグ３０の場合
電源側（ＣＴの二次側）を開放してはならないので、２桁の１６進数表現において下桁に対応するセンサａ２〜ｄ２の状態は「Ｅ」（１１１０），「Ｆ」（１１１１）の何れかでなければならず、それ以外は許容されない。
【００５５】
ロ）ＰＴ用のテストプラグ４０の場合
導体３５Ｂ，４５Ｂ間等、同相間の接続乃至開放は使用されるが、電源側における導体３５Ｂ〜３５Ｎ同士乃至負荷側における導体４５Ｂ〜４５Ｎ同士の接続（短絡）は行ってはならない。したがって、２桁の１６進数表現において上桁及び下桁とも「０」，「１」，「２」，「４」，「８」以外は許容されない。すなわち使用される接続は以下の１２パターンである。
【００５６】
１０００  １０００−（１６進数・８８）  ００００  １０００−（１６進数・０８）
１０００  ００００−（１６進数・８０）  ０１００  ０１００−（１６進数・４４）
００００  ０１００−（１６進数・０４）  ０１００  ００００−（１６進数・４０）
００１０  ００１０−（１６進数・２２）  ００００  ００１０−（１６進数・０２）
００１０  ００００−（１６進数・２０）  ０００１  ０００１−（１６進数・１１）
００００  ０００１−（１６進数・０１）  ０００１  ００００−（１６進数・１０）
【００５７】
ハ）上述の原理で、テストプラグ３０，４０において使用頻度の高い接続パターンを予め登録しておけば同様の可否判定が可能になる。
【００５８】
iv）絶縁確認モード
当該絶縁確認モードは電圧計の接続を表現するモードである。このモードでは、一旦上記ii）乃至iii）の処理で所定の「開放（絶縁）」と「接続（短絡・導通）」とを判定した後、切替スイッチＳＷ２を操作して切替接点１２Ａで抵抗Ｒ２を選択することにより高抵抗（数ｋΩ）を「導通」として検出できる感度に変更する。かかる状態で再度上記ii）乃至iii）の処理と同様の処理を行うことにより、先に確認した際に「絶縁」であった部分が「導通」になった場合に、この部分に電圧計（内部抵抗が数ｋΩ）が接続されていると判断できる。
【００５９】
例えば、各相毎に導体３５Ｂ〜３５Ｎ，４５Ｂ〜４５Ｎ同士を接続した状態でＢ相−Ｗ相間に電圧計を接続した場合、通常モードの導通確認で，１０００  １０００（８８），０１００  ０１００（４４），００１０  ００１０（２２），０００１  ０００１（１１）の４つのグループで接続されていることが分かる。
【００６０】
かかる状態で絶縁確認モードに切替え再度同様の導通確認を実施すると、１１００  １１００（ＡＡ），００１０  ００１０（２２），０００１  ０００１（１１）の３つのグループが検出される。
【００６１】
この結果、「８８」のグループと「４４」のグループ間に電圧計が接続されたことを検出し得る。これは、表示部９に、例えば「８８」−＜電圧計＞−「４４」と表示することで可視化できる。
【００６２】
なお、ここで電圧計が電源側乃至負荷側の何れに接続されているかを特定する必要はない。また、電流計の場合は短絡と等価であるため、電圧計の場合のような上述の如き必要性は生じない。
【００６３】
＜処理手順＞
図５は本形態に係るテストプラグの性能判定装置の処理手順を示すフローチャートである。同図に示すように、本形態における処理は次の手順で行う。
【００６４】
１）  先ず、ＳＴ１に示すように、テストプラグ３０，４０のチェックモードとして、ＳＴ２で、操作スイッチＳＷ１を操作して所定のチェックを開始する。
【００６５】
２）  ＳＴ３に示すように、ＰＴ・ＣＴの種別確認モードとして、ＳＴ４で、接点Ｐ乃至接点Ｃ１，Ｃ２の動作状態を確認する。この結果、ＣＴ用のテストプラグ３０乃至ＰＴ用のテストプラグ４０であることが確認された場合には、ＳＴ５で、予め定められた荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎの一つを選択する。
【００６６】
３）  ＳＴ６に示すように、選択された荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎの検電実績があるか否かを検出する。ここで、「検電実績」とはある荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに荷電を行った際、すでに荷電状態が検出された、すなわち以前に荷電された荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎとの導通実績の意である。なお、検電実績があった場合には次の荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７ＮにスキップするようＳＴ５の処理に戻る。
【００６７】
４）  検電実績がない場合には、ＳＴ７で当該荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに荷電するとともに、ＳＴ８で検電用端子６Ｂ〜６Ｎ，８Ｂ〜８Ｎの検電入力を判定し、ＳＴ９で検電結果、すなわち端子間の接続関係を記録する。
【００６８】
５）  ＳＴ１０で、全荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに対する荷電が終了するまで同様の処理を繰り返す。
【００６９】
６）  全荷電用端子５Ｂ〜５Ｎ，７Ｂ〜７Ｎに対する荷電が終了した後、ＳＴ１１で確認モードを選択する。本形態における「確認モード」は、１）接続状況、２）ＰＴ・ＣＴの使用可否、３）絶縁確認の３種類である。
【００７０】
７）  ＳＴ１１における確認モードが「接続状況」の場合には、ＳＴ１２に示すように、検出された接続状況を表示部９に表示する。
【００７１】
８）  ＳＴ１１における確認モードが「ＰＴ・ＣＴの使用可否」である場合には、ＳＴ１３に示すように、ＰＴ用、ＣＴ用で許容されない使用状態となっていないかを確認し、ＳＴ１４で、検出された接続状態及びテストプラグ３０，４０の使用の可否を表示部９に表示する。
【００７２】
９）  ＳＴ１１における確認モードが「絶縁確認」である場合には、ＳＴ１５に示すように、検電機能を高感度に切替える。具体的には切替スイッチＳＷ２を操作して切替接点１２Ａで抵抗Ｒ２を選択する。
【００７３】
１０）  ＳＴ１６に示すように、ＳＴ５乃至ＳＴ９に示す荷電試験で検出された「島」の一つを設定する。ここで、「島」とは、前述の如く、ＳＴ５乃至ＳＴ９に示す荷電試験で検出された端子同士の各グループをいう。
【００７４】
１１）  ＳＴ１７に示すように、選択された島の検電実績があるか否かを検出する。ここで、「検電実績」とは、ＳＴ６の場合と同様に、以前に荷電された島と導通実績があったことをいう。なお、検電実績があった場合には次の島にスキップするようＳＴ１６の処理に戻る。
【００７５】
１２）  検電実績がない場合には、ＳＴ１８で島の所定の端子（若番端子）に荷電するとともに、ＳＴ１９で当該島以外の各端子における検電入力を判定し、ＳＴ２０で検電結果、すなわち島間の検電結果を記録する。
【００７６】
１３）  ＳＴ２１で、「島」の全部に荷電が終了するまで同様の処理を繰り返す。
【００７７】
１４）  全部の島に関する所定の荷電操作が修了した後、ＳＴ２２に示すように、端子間の接続状況とともに、「島」間の低絶縁表示を表示部９で可視化する。
【００７８】
１５）  前述の如くテストプラグ３０，４０において使用頻度の高い接続パターンを予め登録しておけばＳＴ１３における使用の可否判断を容易に行うことができる。この場合には、ＳＴ２３，ＳＴ２４，ＳＴ２５に示すように、所定の判定パターンを記憶させることができる。具体的には、図３の操作部１０を介して動作処理部１１にメモリに記憶させる。
【００７９】
１６）  ＳＴ４において、テストプラグ３０，４０の何れでもないと判断された場合には所定の試験乃至測定を行うことができないので、表示部９に「装着異常」の表示を行う。他にもＳＴ１１，ＳＴ１３，ＳＴ２１の動作完了時に接点Ｃ１，Ｃ２乃至接点Ｐの状態が最初に検出した状態と異なっている場合には、同様に「装着異常」の表示を行って処理を修了させる。図５中に記載する「◇」の記号はＳＴ１１，ＳＴ１３，ＳＴ２１の動作完了時に接点Ｃ１，Ｃ２乃至接点Ｐの状態が最初に検出した状態と異なっている場合にＳＴ２６の処理に向かうことを表している。
【００８０】
なお、上記実施の形態ではテストプラグ３０が４極の場合について説明したが、これに限るものでは勿論ない。２極や８極のテストプラグ用も同様の技術思想で適宜構成することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８１】
本発明は電力系統の運用、保守に関する産業分野において利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示す構造図で、（ａ）は平面図、（ｂ）はその一部を内側から見た内面図、（ｃ）は側面から見た側面図である。
【図２】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用態様を示す図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
【図３】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置を示すブロック線図である。
【図４】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の使用時における結線態様の一例を示す結線図である。
【図５】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定装置の処理手順を示すフローチャートである。
【図６】ＣＴ用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。
【図７】ＰＴ用のテストプラグを後方から見た状態で示す斜視図である。
【図８】ＣＴ用のテストターミナルの凸部とＣＴ用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。
【図９】ＰＴ用のテストターミナルの凸部とＰＴ用のテストプラグの凸部との関係を説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００８３】
１              装置本体
２              一方の部材
３              他方の部材
４              ヒンジ部
５Ｂ〜５Ｎ      （負荷側の）荷電用端子
６Ｂ〜６Ｎ      （負荷側の）検電用端子
７Ｂ〜７Ｎ      （電源側の）荷電用端子
８Ｂ〜８Ｎ      （電源側の）検電用端子
９              表示部
１０              操作部
１１              動作処理部
３０              （ＣＴ用の）テストプラグ
３２              絶縁板
３３              絶縁部材
３４１，３４２    凸部
３５Ｂ〜３５Ｎ    （電源側の）導体
４０              （ＰＴ用の）テストプラグ
４３              絶縁部材
４４              凸部
４５Ｂ〜４５Ｎ    （負荷側の）導体
５０              （ＣＴ用の）テストターミナル
５１              凸部
６０              （ＰＴ用の）テストターミナル
６１１，６１２    凸部  
【図１】
2010133878.tif 000003
【図２】
2010133878.tif 000004
【図３】
2010133878.tif 000005
【図４】
2010133878.tif 000006
【図５】
2010133878.tif 000007
【図６】
2010133878.tif 000008
【図７】
2010133878.tif 000009
【図８】
2010133878.tif 000010
【図９】
2010133878.tif 000011