(57)【要約】【課題】スペクトラムアナライザを用いた測定において，スペクトラムアナライザによる測定結果の周波数精度を向上させる技術を提供する。【解決手段】スペクトラムアナライザの周波数校正において，実周波数取得部１２１は，信号発生装置の出力信号の実周波数を取得する。測定周波数取得部１２２は，スペクトラムアナライザが信号発生装置の出力信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された測定周波数を取得する。周波数補正データ生成部１２３は，実周波数と測定周波数との関係から，スペクトラムアナライザの測定周波数を補正するための周波数補正データを生成する。スペクトラムアナライザを用いた予備測定において，測定データ取得部１３１は，スペクトラムアナライザの測定データを取得する。周波数補正部１３４は，測定データに含まれるスペクトラムアナライザの測定周波数を，周波数補正データを用いて補正する。【選択図】図７
2010217060.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スペクトラムアナライザを用いる周波数に応じた物理量の測定を制御する測定制御装置であって，
信号発生装置が出力する信号の周波数である実周波数を取得する実周波数取得部と，
前記スペクトラムアナライザが前記信号発生装置が出力する信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された周波数である測定周波数を取得する測定周波数取得部と，
前記取得された実周波数と前記取得された測定周波数との関係から，前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を補正するための情報である周波数補正情報を生成する周波数補正情報生成部と，
前記周波数補正情報を記憶する周波数補正情報記憶部と，
前記スペクトラムアナライザを用いた測定が行われた際に，前記スペクトラムアナライザから測定データを取得する測定データ取得部と，
前記取得された測定データに含まれる前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を，前記周波数補正情報記憶部に記憶された前記周波数補正情報に基づいて補正する周波数補正部とを備える
ことを特徴とする測定制御装置。
【請求項２】
スペクトラムアナライザを用いる周波数に応じた物理量の測定を制御する測定制御装置のコンピュータによる測定制御方法であって，
前記コンピュータが，
信号発生装置が出力する信号の周波数である実周波数を取得する過程と，
前記スペクトラムアナライザが前記信号発生装置が出力する信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された周波数である測定周波数を取得する過程と，
前記取得された実周波数と前記取得された測定周波数との関係から，前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を補正するための情報である周波数補正情報を生成する過程と，
前記周波数補正情報を前記コンピュータが有する記憶装置に記憶する過程と，
前記スペクトラムアナライザを用いた測定が行われた際に，前記スペクトラムアナライザから測定データを取得する過程と，
前記取得された測定データに含まれる前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を，前記記憶装置に記憶された前記周波数補正情報に基づいて補正する過程とを実行する
ことを特徴とする測定制御方法。
【請求項３】
スペクトラムアナライザを用いる周波数に応じた物理量の測定を制御する測定制御装置のコンピュータが実行するプログラムであって，
前記コンピュータに，
信号発生装置が出力する信号の周波数である実周波数を取得する手順と，
前記スペクトラムアナライザが前記信号発生装置が出力する信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された周波数である測定周波数を取得する手順と，
前記取得された実周波数と前記取得された測定周波数との関係から，前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を補正するための情報である周波数補正情報を生成する手順と，
前記周波数補正情報を前記コンピュータが有する記憶装置に記憶する手順と，
前記スペクトラムアナライザを用いた測定が行われた際に，前記スペクトラムアナライザから測定データを取得する手順と，
前記取得された測定データに含まれる前記スペクトラムアナライザにより測定された周波数を，前記記憶装置に記憶された前記周波数補正情報に基づいて補正する手順とを
実行させるための測定制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，スペクトラムアナライザを用いた測定を制御する測定制御装置，測定制御方法および測定制御プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば，ＥＭＩ（Electro-Magnetic Interference ：電磁妨害）測定による，電子・電機機器から放射される電磁波ノイズの測定など，スペクトラムアナライザを用いる周波数に応じた物理量の測定が，一般に行われている。
【０００３】
なお，スペクトラムアナライザにおいて，周波数ごとのゲインや位相を補正する技術が知られている。また，スペクトラムアナライザのダイナミックレンジの拡大すなわち測定感度の向上を，補正演算により実現する技術が知られている。また，スペクトラムアナライザにおいて，マーカの周波数精度を向上させる技術が知られている。また，光伝送における光の波長の監視において，安価な光部品の組合せで光スペクトラムアナライザの機能を代替する技術が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平７−００５２１３号公報
【特許文献２】特開２０００−３０４７８４号公報
【特許文献３】特開昭５４−０６０９７６号公報
【特許文献４】特開２００５−１９５４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
スペクトラムアナライザには，周波数スパン確度と呼ばれる性能指標がある。周波数スパン確度は，スペクトラムアナライザによる測定周波数の精度を示す性能指標である。スペクトラムアナライザの周波数精度が悪い場合には，スペクトラムアナライザを用いた測定の精度が低下するという問題がある。
【０００６】
本発明は，上記の問題点の解決を図り，スペクトラムアナライザによる測定結果の周波数精度を向上させることにより，スペクトラムアナライザを用いた測定の精度を向上させる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
スペクトラムアナライザを用いる周波数に応じた物理量の測定を制御する測定制御装置は，信号発生装置が出力する信号の周波数である実周波数を取得する実周波数取得部と，スペクトラムアナライザが信号発生装置が出力する信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された周波数である測定周波数を取得する測定周波数取得部と，取得された実周波数と取得された測定周波数との関係から，スペクトラムアナライザにより測定された周波数を補正するための情報である周波数補正情報を生成する周波数補正情報生成部と，周波数補正情報を記憶する周波数補正情報記憶部と，スペクトラムアナライザを用いた測定が行われた際に，スペクトラムアナライザから測定データを取得する測定データ取得部と，取得された測定データに含まれるスペクトラムアナライザにより測定された周波数を，周波数補正情報記憶部に記憶された周波数補正情報に基づいて補正する周波数補正部とを備える。
【発明の効果】
【０００８】
スペクトラムアナライザによる測定結果の周波数精度が向上する。よって，スペクトラムアナライザを用いた測定の精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】ＥＭＩ測定を行う測定システムの構成の一例を示す図である。
【図２】スペクトラムアナライザにより測定された電界強度レベルの例を示す図である。
【図３】周波数ごとのレベル補正値の例を示す図である。
【図４】ＥＭＩ測定における予備測定処理フローチャートである。
【図５】ＥＭＩ測定における最終測定処理フローチャートである。
【図６】本実施の形態による測定システムの例を示す図である。
【図７】本実施の形態による測定制御装置の構成例を示す図である。
【図８】本実施の形態による周波数校正の例を説明する図である。
【図９】本実施の形態による周波数補正データの例を示す図である。
【図１０】本実施の形態によるスペクトラムアナライザにより測定された周波数の補正の例を説明する図である。
【図１１】本実施の形態の測定制御装置による周波数校正処理フローチャートである。
【図１２】本実施の形態の測定制御装置による予備測定処理フローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下，本実施の形態について，図を用いて説明する。
【００１１】
以下では，電磁波ノイズの測定を行うＥＭＩ測定を例として，スペクトラムアナライザを用いた測定の説明を行う。
【００１２】
図１は，ＥＭＩ測定を行う測定システムの構成の一例を示す図である。
【００１３】
図１に示す測定システムでは，スペクトラムアナライザ２０を用いて，電子・電気機器などの被測定装置７０から主に空間中に放射される電磁波ノイズの測定を行う。以下では，電磁波ノイズを，単にノイズとも呼ぶ。
【００１４】
図１において，被測定装置７０は，３６０度回転する回転台６０上に設置される。被測定装置７０の放射ノイズを受信するアンテナ５０は，高さが１ｍ〜４ｍに可変するアンテナ台５１に取り付けられている。アンテナ５０の高さや，非測定装置７０からアンテナ５０までの距離などは，規定されている。アンテナ５０で受信されたノイズの信号は，測定ケーブル５２を介して，スペクトラムアナライザ２０に送られ，スペクトラムアナライザ２０による測定が行われる。
【００１５】
測定制御装置９０は，測定システムが有する各装置の制御や，測定に必要な諸計算，測定データの記録／保存などを行う。測定制御装置９０は，コンピュータが備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアと，ソフトウェアプログラムとにより実現される。
【００１６】
ＥＭＩ測定では，測定制御装置９０は，アンテナ台５１を制御してアンテナ５０を１ｍ〜４ｍまで上下させ，回転台６０を制御して被測定装置７０を０°〜３６０°回転させ，スペクトラムアナライザ２０に被測定装置７０から放射される周波数ごとの最大ノイズを測定させる。スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数ごとの最大ノイズは，電界強度のレベル値で表現される。以下では，電界強度のレベル値を電界強度レベルとも呼ぶ。
【００１７】
しかし，スペクトラムアナライザ２０により測定されたノイズの電界強度の測定レベル値は，アンテナ５０の受信感度レベルや，測定ケーブル５２での電圧減衰により，正確な値とはならない。
【００１８】
図２は，スペクトラムアナライザにより測定された電界強度レベルの例を示す図である。
【００１９】
図１に示す測定システムにおいて，スペクトラムアナライザ２０は，被測定装置７０から発生するノイズの周波数ごとの電界強度の最大レベルを測定する。
【００２０】
図２において，実線は，実際に被測定装置７０から発生するノイズの周波数ごとの電界強度の最大レベルを示す。破線は，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数ごとの電界強度の最大レベルを示す。
【００２１】
図２に示すように，スペクトラムアナライザ２０により測定された電界強度レベルの測定値は，実際に被測定装置７０から放射されたノイズの電界強度レベルよりも低い値となる。
【００２２】
測定制御装置９０は，電磁波ノイズの測定において，各ノイズの発生周波数における電界強度の最大レベルを精度良く測定するために，スペクトラムアナライザ２０で実測したノイズの発生周波数ごとの電界強度レベルの測定値に対し，補正を行う。
【００２３】
以下では，周波数ごとのアンテナ５０の受信感度レベルに応じた補正値をアンテナファクタと呼ぶ。また，測定に用いるすべての測定ケーブル５２の周波数ごとの電圧減衰値をケーブルロスと呼ぶ。
【００２４】
アンテナファクタやケーブルロスの補正値は，あらかじめ校正により用意しておく。アンテナファクタは，例えば周波数ごとのアンテナ５０の受信感度を測定して，求めることができる。また，ケーブルロスは，例えば信号発生器から発生された信号が測定ケーブル５２を通過したときの電圧減衰を測定することにより，求めることができる。
【００２５】
図３は，周波数ごとのレベル補正値の例を示す図である。
【００２６】
図３において，一点鎖線はアンテナファクタを示し，破線はケーブルロスを示す。図３において，実線で示される周波数ごとのレベル補正値は，アンテナファクタをＡ，ケーブルロスをＢとした場合に，Ａ＋Ｂで表される。このようなレベル補正値は，例えば，周波数ごとのレベル補正値のテーブルデータとして用意される。以下では，周波数ごとのレベル補正値のデータをレベル補正データと呼ぶものとする。
【００２７】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０で測定された周波数ごとの電界強度レベルの測定値に対し，図３に示すようなアンテナファクタとケーブルロスから求められたレベル補正値による補正を行う。なお，あらかじめ用意されたレベル補正データに，補正したい周波数のレベル補正値のデータがない場合には，測定制御装置９０は，例えば，補正したい周波数の前後の，データが存在する周波数のレベル補正値から，補正したい周波数のレベル補正値を補完する。
【００２８】
以下，図４，図５を用いて，図１に示す測定システムによるＥＭＩ測定の一例を説明する。ここで説明するＥＭＩ測定では，最初に予備測定によってノイズが発生している周波数を絞り込み，予備測定により絞り込まれた周波数の前後で詳細な最終測定を行う。
【００２９】
図４は，ＥＭＩ測定における予備測定処理フローチャートである。
【００３０】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０に測定周波数帯を設定する（ステップＳ１００）。
【００３１】
例えば，測定制御装置９０は，規定の測定周波数範囲３０ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚを，２つの周波数帯３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚ，３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚに分けて予備測定を実行する。測定周波数範囲の分割は任意であるが，測定周波数範囲はあらかじめ規定されている。測定制御装置９０は，まず，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚに設定して予備測定を行い，次に，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚに設定して予備測定を行う。
【００３２】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０の検波モードを尖頭値モードに設定する（ステップＳ１０１）。尖頭値モードは，ピークモードとも呼ばれ，ノイズスペクトラムのピーク値を測定するモードである。正弦波信号の場合には，実効値が測定される。
【００３３】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０のトレースをマックスホールドモード（Max Hold Mode ）に設定する（ステップＳ１０２）。マックスホールドモードは，スペクトラムアナライザ２０の管面に，常に変化量の最大値を表示する機能である。ここでは，スペクトラムアナライザ２０の画面を管面と呼ぶ。アンテナ５０の高さ，回転台６０の角度などの測定条件や時間などにより，ノイズスペクトラムのレベルは変動する。マックスホールドモードでは，スペクトラムアナライザ２０は，変動するノイズスペクトラムのレベルの最大値を保持する。
【００３４】
測定制御装置９０は，アンテナ台５１を制御し，アンテナ５０の偏波面の設定を行う（ステップＳ１０３）。例えば，測定制御装置９０は，まず，アンテナの偏波面を水平に設定して予備測定を行い，次に，アンテナの偏波面を垂直に設定して予備測定を行う。
【００３５】
測定制御装置９０は，アンテナ台５１を制御し，アンテナ５０の高さを１ｍ〜４ｍの間で変更する。また，測定制御装置９０は，回転台６０を制御し，被測定装置７０を０°〜３６０°回転させる。このような状況で，測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０に被測定装置７０から放射されるノイズを測定させる（ステップＳ１０４）。
【００３６】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０から測定データを取得する（ステップＳ１０５）。例えば，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数が４０１ドットであれば，測定制御装置９０は，測定周波数帯域内の４０１個の測定周波数に応じた電界強度レベルを，測定データとして得る。
【００３７】
測定制御装置９０は，あらかじめ用意されたレベル補正データに基づいて，周波数ごとの測定データに含まれる電界強度のレベル値を補正する（ステップＳ１０６）。レベル補正データには，周波数ごとのアンテナファクタとケーブルロスから得られたレベル補正値のデータが記録されている。例えば，測定制御装置９０は，上記の４０１個の周波数ごとの電界強度レベルに，レベル補正データから得られたレベル補正値を加算する。
【００３８】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０のマックスホールドモードを解除する（ステップＳ１０７）。
【００３９】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０に補正された周波数ごとの電界強度のデータを送り，スペクトラムアナライザ２０の管面に補正された電界強度を再表示させる（ステップＳ１０８）。また，測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０の管面に規定されたノイズのレベル限度値を表示させる（ステップＳ１０９）。被測定装置７０から放射されるノイズのレベル限度値は，規定されている。
【００４０】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０のマーカピークサーチ機能を用い，ノイズのレベル限度値に対してマージンが少ない順に，所定数の周波数における測定データを取得する（ステップＳ１１０）。例えば，測定制御装置９０は，ノイズのレベル限度値に対してマージンが少ない順に３０個のノイズについて，その周波数と補正された電界強度レベルとを含む測定データを取得する。スペクトラムアナライザ２０において，マーカは，ノイズスペクトラムの周波数とレベルのデータを読み取る機能を持つ。マーカピークサーチ機能は，スペクトラムアナライザ２０の管面に表示された各スペクトラムのレベルの高い順に，データを読み取る機能である。
【００４１】
測定制御装置９０は，ステップＳ１１０で取得された各測定データについて，周波数，補正された電界強度レベル，アンテナ５０の偏波面等の予備測定結果データを保存する（ステップＳ１１１）。例えば，測定制御装置９０は，上記の３０個の測定データについて，周波数，補正された電界強度のレベル値，アンテナ５０の偏波面が水平か垂直か等のデータのレコードを生成し，予備測定結果データのファイルに保存する。
【００４２】
測定制御装置９０は，偏波面を変えて測定を行ったかを判定する（ステップＳ１１２）。
【００４３】
まだ，偏波面を変えて測定を行っていなければ（ステップＳ１１２のＮＯ），測定制御装置９０は，ステップＳ１０３に戻り，アンテナ台５１を制御してアンテナ５０の偏波面を変更し（ステップＳ１０３），さらに予備測定を行う（ステップＳ１０４）。例えば，測定制御装置９０は最初にアンテナの偏波面を水平に設定して予備測定を行っていれば，次にアンテナの偏波面を垂直に変更して予備測定を行う。
【００４４】
偏波面を変えた測定を行っていれば（ステップＳ１１２のＹＥＳ），測定制御装置９０は，全測定周波数範囲について測定が終了したかを判定する（ステップＳ１１３）。
【００４５】
全測定周波数範囲について測定が終了していなければ（ステップＳ１１３のＮＯ），測定制御装置９０は，ステップＳ１００に戻り，スペクトラムアナライザ２０を制御して，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を次の測定周波数帯に設定し（ステップＳ１００），さらに予備測定を行う。例えば，測定制御装置９０は，上記の測定周波数範囲を２つに分けた例の場合に，最初に３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚの測定周波数帯で予備測定を行っていれば，次に３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚの測定周波数帯に変更して予備測定を行う。
【００４６】
全測定周波数範囲について測定が終了していれば（ステップＳ１１３のＹＥＳ），測定制御装置９０は，予備測定を終了する。
【００４７】
図５は，ＥＭＩ測定における最終測定処理フローチャートである。
【００４８】
測定制御装置９０は，予備測定で得られた予備測定結果データから，規定されたレベル限度値に対してマージンが少ないノイズの周波数のデータを選択する（ステップＳ１２０）。例えば，測定制御装置９０は，予備測定結果データから，規定されたレベル限度値に対するマージンが所定の閾値以下の周波数のデータを選択する。
【００４９】
測定制御装置９０は，予備測定結果データから選択された周波数のデータを保持する（ステップＳ１２１）。例えば，測定制御装置９０は，予備測定結果データから選択された周波数のデータとして，選択された周波数と，測定時の偏波面の情報とをファイルに保存する。
【００５０】
測定制御装置９０は，保持された選択された周波数のデータを１つ決定し（ステップＳ１２２），データを呼び出す。
【００５１】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０の中心周波数と，スパン幅とを設定する（ステップＳ１２３）。具体的には，例えば，測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０の中心周波数をステップＳ１２２で決定された周波数に設定し，スパン幅を予備測定で設定された測定周波数帯の周波数誤差（例えば，±５％）の５０％に設定する。
【００５２】
測定制御装置９０は，アンテナ台５１を制御し，アンテナ５０の高さを，周波数に応じて規定された高さに設定する（ステップＳ１２４）。このとき，測定制御装置９０は，決定された周波数のデータに含まれる偏波面の情報に従って，アンテナの偏波面の設定も行う。この状態で，測定制御装置９０は，回転台６０を制御して回転台を０〜３６０°回転させ，最大レベルのノイズが測定される角度に，回転台６０の角度を設定する（ステップＳ１２５）。
【００５３】
測定制御装置９０は，アンテナ台５１を制御してアンテナ５０の高さを１ｍ〜４ｍの間で変更し，最大レベルのノイズが測定される高さに，アンテナ５０の高さを設定する（ステップＳ１２６）。
【００５４】
測定制御装置９０は，スペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０の検波モードを準尖頭値モードに設定し（ステップＳ１２７），スペクトラムアナライザ２０にノイズの電界強度レベルを測定させる（ステップＳ１２８）。
【００５５】
測定制御装置９０は，ステップＳ１２８の測定により得られた最大の電界強度レベル，その電界強度レベルが得られた周波数，アンテナ５０の偏波面等のデータを，最終測定結果データとして保存する（ステップＳ１２９）。
【００５６】
測定制御装置９０は，ステップＳ１２０で選択されたすべての周波数について最終測定が終了したかを判定する（ステップＳ１３０）。
【００５７】
選択されたすべての周波数について最終測定が終了していなければ（ステップＳ１３０のＮＯ），測定制御装置９０は，ステップＳ１２２に戻り，次の周波数のデータを１つ決定して最終測定を行う。
【００５８】
選択されたすべての周波数について最終測定が終了していれば（ステップＳ１３０のＹＥＳ），測定制御装置９０は，保存された最終測定結果データのリストを印刷装置（図示省略）に印刷させ（ステップＳ１３１），最終測定を終了する。
【００５９】
測定作業者は，最終測定結果データのリストを確認し，スペクトラムアナライザ２０の周波数誤差によりノイズが測定されていないデータをピックアップして，手動測定による測定を行う。
【００６０】
ここまで説明したＥＭＩ測定の例では，測定の精度に問題がある。
【００６１】
スペクトラムアナライザ２０には，周波数スパン確度と呼ばれる性能指標がある。周波数スパン確度は，スペクトラムアナライザ２０による測定周波数の精度を示している。スペクトラムアナライザ２０による測定周波数の精度が低い場合には，実際のノイズの周波数と，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数との間に大きな誤差が発生する可能性がある。
【００６２】
実周波数と測定周波数との間の誤差が大きい場合には，例えば，図４のステップＳ１０６における測定周波数に応じたレベル補正の精度も低くなってしまい，予備測定の精度が低くなってしまうという問題が発生する。
【００６３】
予備測定の精度は，最終測定にも大きく影響する。
【００６４】
例えば，予備測定において，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯として３０ＭＨｚ〜１００ＭＨｚが設定されたものとする。また，例えば，３０ＭＨｚ〜１００ＭＨｚの測定周波数帯の周波数スパン角度が５％であるものとする。このとき，測定周波数帯のスパン幅は７０ＭＨｚであり，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数の誤差は最大で３．５ＭＨｚとなる。
【００６５】
３．５ＭＨｚもの誤差が発生すると，図５に示す最終測定のステップＳ１２３におけるスペクトラムアナライザ２０の中心周波数，スパン幅の設定によっては，ノイズスペクトラムがスペクトラムアナライザ２０の管面から外れてしまう可能性がある。スペクトラムアナライザ２０は管面に表示された周波数帯のみしか測定を行わないので，ノイズスペクトラムが管面から外れてしまうと，ノイズスペクトラムの測定ができないという問題が発生する。
【００６６】
また，図５に示す最終測定のステップＳ１２３におけるスペクトラムアナライザ２０の中心周波数，スパン幅の設定において，スパン幅を広げてしまうと，ターゲットとしないノイズを測定してしまうなどの問題が発生する。
【００６７】
すなわち，スペクトラムアナライザ２０による測定周波数の精度が低いと，測定制御装置９０によるＥＭＩ自動測定の精度が極端に低くなり，最終測定後の測定作業者による手動測定の手間が多くなってしまう。これでは，ＥＭＩ測定を測定制御装置９０によって自動化した意味がなくなってしまう。
【００６８】
以下では，スペクトラムアナライザ２０を用いた測定の問題を解決するための，本実施の形態によるスペクトラムアナライザ２０を用いた測定システムについて説明する。
【００６９】
図６は，本実施の形態による測定システムの例を示す図である。
【００７０】
図６に示す測定システムにおいて，スペクトラムアナライザ２０，アンテナ５０，アンテナ台５１，測定ケーブル５２，回転台６０，非測定装置７０については，図１に示す測定システムと同様であるので，説明を省略する。
【００７１】
図６に示す測定システムにおいて，信号発生装置３０は，任意の周波数，任意の出力レベルの信号を出力する装置である。
【００７２】
スイッチ４０により，アンテナ５０に接続された測定ケーブル５２と，信号発生装置３０とで，スペクトラムアナライザ２０への入力が切り換えられる。
【００７３】
測定制御装置１０は，スペクトラムアナライザ２０，信号発生装置３０，アンテナ台５１，回転台６０を制御し，スペクトラムアナライザ２０を用いた自動測定を制御する装置である。測定制御装置１０は，コンピュータが備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアと，ソフトウェアプログラムとにより実現される。
【００７４】
図７は，本実施の形態による測定制御装置の構成例を示す図である。
【００７５】
測定制御装置１０は，信号発生装置制御部１１０，スペクトラムアナライザ制御部１１１，アンテナ台制御部１１２，回転台制御部１１３，周波数校正処理部１２０，予備測定処理部１３０，最終測定処理部１４０，周波数補正データ記憶部１５０，予備測定結果データ記憶部１６０，最終測定結果データ記憶部１７０を備える。
【００７６】
信号発生装置制御部１１０は，信号発生装置３０の自動制御を行う。スペクトラムアナライザ制御部１１１は，スペクトラムアナライザ２０の自動制御を行う。アンテナ台制御部１１２は，アンテナ台５１の自動制御を行う。回転台制御部１１３は，回転台６０の自動制御を行う。
【００７７】
周波数校正処理部１２０は，スペクトラムアナライザ２０の周波数校正を行い，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を補正するための周波数補正データを生成する。周波数校正処理部１２０は，実周波数取得部１２１，測定周波数取得部１２２，周波数補正データ生成部１２３を備える。
【００７８】
スペクトラムアナライザ２０の周波数校正は，スイッチ４０が信号発生装置３０側に切り換えられ，スペクトラムアナライザ２０と信号発生装置３０とが接続された状態で行われる。
【００７９】
周波数校正処理部１２０は，信号発生装置制御部１１０を介して信号発生装置３０を制御し，信号発生装置３０に信号を出力させる。また，周波数校正処理部１２０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介してスペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０に信号発生装置３０から出力された信号の測定を行わせる。
【００８０】
実周波数取得部１２１は，信号発生装置３０が出力する信号の周波数を取得する。ここでは，信号発生装置３０が出力する信号の周波数を，実周波数と呼ぶ。
【００８１】
測定周波数取得部１２２は，スペクトラムアナライザ２０が信号発生装置３０が出力する信号を測定した際に，最大のレベル値が測定された周波数を取得する。ここでは，スペクトラムアナライザ２０において最大のレベル値が測定された周波数を，測定周波数と呼ぶ。
【００８２】
周波数補正データ生成部１２３は，取得された実周波数と取得された測定周波数との関係から，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を補正するための周波数補正データを生成する。周波数補正データ生成部１２３は，生成された周波数補正データを周波数補正データ記憶部１５０に保存する。
【００８３】
周波数補正データ記憶部１５０は，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を補正するための情報である周波数補正データを記憶する記憶装置である。
【００８４】
図８は，本実施の形態による周波数校正の例を説明する図である。
【００８５】
図８ではスペクトラムアナライザ２０の管面をイメージしており，縦線はスペクトラムアナライザ２０の管面のドットの中心を表している。実際には，スペクトラムアナライザ２０の測定結果の管面表示はドットの点灯／消灯により行われるが，図８では，スペクトラムアナライザ２０の測定結果を太線で表現している。
【００８６】
ここでは，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンは，３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚであるものとする。また，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数は，４０１ドットであるものとする。このとき，ドット間の周波数差ΔＦは，０．６７５ＭＨｚとなる。
【００８７】
図８において，ｎはドット番号を示す。ドット番号は，スペクトラムアナライザ２０の管面の左端のドットを１とし，スペクトラムアナライザ２０の管面の右端のドットを４０１とする。スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンが３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚであれば，ドット番号ｎ＝１の周波数は３０ＭＨｚであり，以降ドット番号が１増えるごとに０．６７５ＭＨｚずつ周波数が増え，ドット番号ｎ＝４０１の周波数が３００ＭＨｚとなる。
【００８８】
図８には，信号発生装置３０から出力された信号の測定結果がスペクトラムアナライザ２０の管面に表示された例が示されている。図８に示す例では，ドット番号ｎ＝７で，最大のレベル値が測定されている。すなわち，測定周波数取得部１２２が取得する測定周波数ＦSAは，３４．０５ＭＨｚとなる。
【００８９】
このとき，信号発生装置３０が３４．３０ＭＨｚの信号を出力しているものとする。すなわち，実周波数取得部１２１が取得する実周波数ＦSGは，３４．３０ＭＨｚとなる。
【００９０】
このことは，スペクトラムアナライザ２０が，周波数３４．３０ＭＨｚの信号を測定した際に，その信号の測定結果として３４．０５ＭＨｚを出力していることを意味する。
【００９１】
本実施の形態では，周波数補正データ生成部１２３は，取得された実周波数ＦSGと取得された測定周波数ＦSAとから，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を補正するための周波数補正値ＣＦを求めるものとする。例えば，周波数補正値ＣＦは，次の式（１）により求められる。
【００９２】
周波数補正値ＣＦ＝実周波数ＦSG−測定周波数ＦSA        （１）
例えば，図８に示すように実周波数ＦSGが３４．３０ＭＨｚ，測定周波数ＦSAが３４．０５ＭＨｚである場合に，周波数補正データ生成部１２３は，上記の式（１）から，周波数補正値ＣＦ＝０．２５ＭＨｚを得る。周波数補正データ生成部１２３は，測定周波数３４．０５ＭＨｚと周波数補正値０．２５ＭＨｚとの対応を，周波数補正データ記憶部１５０に記憶された周波数補正データに記録する。
【００９３】
図９は，本実施の形態による周波数補正データの例を示す図である。
【００９４】
図９に示す周波数補正データは，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンが３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚである場合の周波数補正データの例である。図９に示す周波数補正データでは，スペクトラムアナライザ２０の管面のドット番号ｎごとに，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数ＦSAと，実周波数ＦSGから測定周波数ＦSAを差し引くことにより得られた周波数補正値ＣＦとの対応が記録されている。
【００９５】
本実施の形態による周波数校正では，周波数校正処理部１２０により，図９に示すような周波数補正データが，スペクトラムアナライザ２０を用いた測定を行う測定周波数帯ごとに用意される。例えば，同じ測定周波数３００ＭＨｚでも，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯が３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚである場合と３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚである場合とでは，誤差が異なるために実周波数が異なる。測定時には，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンが測定周波数帯に設定されて測定が行われ，その測定周波数帯に応じた周波数補正データを用いて，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数の補正が行われる。    
【００９６】
なお，本実施の形態の周波数補正データは，図９に示すようにスペクトラムアナライザ２０により測定された周波数と周波数補正値との対応情報であるが，周波数補正データが測定周波数ＦSAと実周波数ＦSGとの対応情報であってもよい。
【００９７】
図７において，予備測定処理部１３０は，ＥＭＩ測定における予備測定を行う。本実施の形態による予備測定では，周波数補正データ記憶部１５０に記憶された周波数補正データを用いて，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数の補正が行われる。予備測定処理部１３０は，測定データ取得部１３１，電界強度レベル補正部１３２，レベル補正データ記憶部１３３，周波数補正部１３４を備える。
【００９８】
予備測定は，スイッチ４０がアンテナ５０側に切り換えられ，測定ケーブル５２を介してスペクトラムアナライザ２０とアンテナ５０とが接続された状態で行われる。
【００９９】
予備測定処理部１３０は，アンテナ台制御部１１２を介してアンテナ５０の高さを変化させ，回転台制御部１１３を介して被測定装置７０が設置された回転台６０を回転させる。この状態で，予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介してスペクトラムアナライザ２０を制御し，スペクトラムアナライザ２０に被測定装置７０が放射するノイズの測定を行わせる。
【０１００】
測定データ取得部１３１は，スペクトラムアナライザ２０により測定されたノイズの測定結果である測定データを取得する。
【０１０１】
電界強度レベル補正部１３２は，レベル補正データ記憶部１３３に記憶されたレベル補正データを用いて，測定データに含まれる電界強度のレベル値を補正する。
【０１０２】
レベル補正データ記憶部１３３には，周波数ごとの電界強度のレベル補正値が記録されたレベル補正データが記憶されている。
【０１０３】
周波数補正部１３４は，周波数補正データ記憶部１５０に記憶された周波数補正データを用いて，測定データに含まれるスペクトラムアナライザ２０により測定された周波数の補正を行う。
【０１０４】
予備測定処理部１３０は，予備測定の結果を予備測定結果データとして，予備測定結果データ記憶部１６０に保存する。
【０１０５】
予備測定結果データ記憶部１６０は，予備測定処理部１３０により得られた予備測定結果データを記憶する記憶装置である。
【０１０６】
図１０は，本実施の形態によるスペクトラムアナライザにより測定された周波数の補正の例を説明する図である。
【０１０７】
図１０ではスペクトラムアナライザ２０の管面をイメージしており，縦線はスペクトラムアナライザ２０の管面のドットの中心を表している。実際には，スペクトラムアナライザ２０の測定結果の管面表示はドットの点灯／消灯により行われるが，図１０では，スペクトラムアナライザ２０の測定結果を太線で表現している。
【０１０８】
ここでは，図８と同様に，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンは，３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚであるものとする。また，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数は，４０１ドットであるものとする。このとき，ドット間の周波数差ΔＦは，０．６７５ＭＨｚとなる。
【０１０９】
図１０において，ｎはドット番号を示す。ドット番号は，スペクトラムアナライザ２０の管面の左端のドットを１とし，スペクトラムアナライザ２０の管面の右端のドットを４０１とする。スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンが３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚであれば，ドット番号ｎ＝１の周波数は３０ＭＨｚであり，以降ドット番号が１増えるごとに０．６７５ＭＨｚずつ周波数が増え，ドット番号ｎ＝４０１の周波数が３００ＭＨｚとなる。
【０１１０】
図１０には，被測定装置７０から放射されたノイズの測定結果がスペクトラムアナライザ２０の管面に表示された例が示されている。また，図１０に示すスペクトラムアナライザ２０の管面の表示例には，レベル限度値が表示されている。レベル限度値は，被測定装置７０から放射されるノイズの限度値として規定されている。予備測定では，レベル限度値に対するマージンが少ないノイズの周波数が抽出される。
【０１１１】
図１０に示す例では，ドット番号ｎ＝７で，レベル限度値に対するマージンが少ないノイズが測定されている。すなわち，測定データ取得部１３１が取得する測定データの周波数は，３４．０５ＭＨｚとなる。周波数補正部１３４は，測定データに含まれる，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数３４．０５ＭＨｚを補正する。
【０１１２】
例えば，周波数補正部１３４は，図９に示す周波数補正データから，ドット番号ｎ＝７の周波数補正値ＣＦ＝０．２５ＭＨｚを取得する。取得された周波数補正値ＣＦ＝０．２５ＭＨｚは，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数が３４．０５ＭＨｚである場合の周波数補正値ＣＦである。
【０１１３】
例えば，補正後の周波数は，次の式（２）により求められる。
【０１１４】
補正後の周波数＝測定された周波数＋周波数補正値ＣＦ        （２）
すなわち，図１０においてドット番号ｎ＝７の補正後の周波数は，式（２）により，
３４．０５ＭＨｚ＋０．２５ＭＨｚ＝３４．３０ＭＨｚ
となる。
【０１１５】
電界強度レベル補正部１３２は，レベル補正データ記憶部１３３に記憶されたレベル補正データを用いて，測定データに含まれる電界強度のレベル値を補正する。このとき，電界強度レベル補正部１３２は，レベル補正データに基づいて補正後の周波数に応じたレベル補正値を求め，求められたレベル補正値で電界強度のレベル値を補正する。
【０１１６】
このように，本実施の形態では，補正後の周波数に応じたレベル補正値を用いて，スペクトラムアナライザ２０により測定された電界強度レベルの補正が行われるので，より精度が高いノイズの電界強度レベルの測定が可能となる。
【０１１７】
なお，ここでは，スペクトラムアナライザ２０の管面のドットごとの周波数補正値を有する周波数補正データを用いた補正の例を説明した。１ドット置きの周波数補正値が有する周波数補正データなどの場合には，周波数補正値がない周波数が測定された際に，測定された周波数の前後の周波数における周波数補正値からの補完により，測定された周波数に応じた周波数補正値を求め，測定された周波数の補正を行うようにすればよい。
【０１１８】
また，本実施の形態の周波数補正データは，図９に示すように測定周波数と周波数補正値との対応情報であるが，周波数補正データが測定周波数ＦSAと実周波数ＦSGとの対応情報であってもよい。周波数補正データが測定周波数ＦSAと実周波数ＦSGとの対応情報である場合には，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を，周波数補正データに基づいて，実周波数ＦSGに置き換えるようにすればよい。
【０１１９】
図７において，最終測定処理部１４０は，予備測定結果データ記憶部１６０に記憶された予備測定結果データの各周波数について，より詳細な最終測定を行う。最終測定処理部１４０は，最終測定の結果を最終測定結果データとして，最終測定結果データ記憶部１７０に保存する。
【０１２０】
最終測定結果データ記憶部１７０は，最終測定処理部１４０により得られた最終測定結果データを記憶する記憶装置である。
【０１２１】
予備測定結果データの周波数は，予備測定処理部１３０の周波数補正部１３４によって，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数が補正されたものである。すなわち，本実施の形態による最終測定処理部１４０は，より精度が高い予備測定の結果を用いてターゲットとするノイズ周波数を正確に選択することにより，より正確な最終測定を行うことができる。
【０１２２】
図１１は，本実施の形態の測定制御装置による周波数校正処理フローチャートである。
【０１２３】
ここでは，図１１を用いて，予備測定における測定周波数帯ごとの周波数補正データ生成の例を説明する。図１１に示す処理の例では，測定周波数帯ごとに，スペクトラムアナライザ２０の管面の一番左側のドットから順番に，ドット単位で周波数校正を行う。
【０１２４】
測定作業者は，まず，スイッチ４０を信号発生装置３０側に切り換え，スペクトラムアナライザ２０と信号発生装置３０とを接続する。
【０１２５】
測定制御装置１０において，周波数校正処理部１２０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンを設定する（ステップＳ１０）。
【０１２６】
例えば，規定の測定周波数範囲３０ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚが，２つの測定周波数帯３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚ，３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚとに分けられて，予備測定が実行されるものとする。ここでは，周波数校正処理部１２０は，周波数スパンを３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚと３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚとに設定して，それぞれ周波数補正データの生成を実行する。周波数校正処理部１２０は，まず，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンを３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚに設定して周波数校正を行い，次に，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンを３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚに設定して周波数校正を行う。
【０１２７】
周波数校正処理部１２０は，設定された測定周波数帯における，スペクトラムアナライザ２０の管面のドット間の周波数差を算出する（ステップＳ１１）。例えば，３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚの周波数スパンで，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数が４０１ドットであれば，ドット間の周波数差ΔＦは，０．６７５ＭＨｚとなる。また，３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚの周波数スパンで，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数が４０１ドットであれば，ドット間の周波数差ΔＦは，１．７５ＭＨｚとなる。
【０１２８】
周波数校正処理部１２０は，初期設定として，ドット番号ｎを１に設定する（ステップＳ１２）。例えば，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数が４０１ドットである場合に，管面の一番左側のドットのドット番号ｎを１とし，管面の一番右側のドットのドット番号ｎを４０１とする。
【０１２９】
周波数校正処理部１２０は，目標測定周波数を決定する（ステップＳ１３）。目標測定周波数は，校正対象のドット番号ｎに応じて，例えば次の式（３）により決定される。
【０１３０】
目標測定周波数＝周波数スパンの最小周波数＋（ｎ−１）×ΔＦ        （３）
例えば，周波数スパンが３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚである場合に，ドット番号ｎ＝７であれば，式（３）により，
目標測定周波数＝３０［ＭＨｚ］＋（７−１）×０．６７５［ＭＨｚ］
＝３４．０５［ＭＨｚ］
となる。
【０１３１】
周波数校正処理部１２０は，信号発生装置制御部１１０を介して，信号発生装置３０の出力信号の周波数を目標測定周波数に設定する（ステップＳ１４）。例えば，周波数校正処理部１２０は，校正対象のドット番号ｎ＝７であれば，信号発生装置３０に，上記の目標測定周波数３４．０５［ＭＨｚ］を出力信号の周波数として設定する。また，周波数校正処理部１２０は，信号発生装置３０に，出力信号の出力レベルとして，例えば６０［ｄＢμＶ］を設定する。
【０１３２】
周波数校正処理部１２０は，スペクトラムアナライザ２０において，目標測定周波数でレベル値が最大となるように，信号発生装置３０の出力信号の周波数を設定する（ステップＳ１５）。
【０１３３】
具体的には，周波数校正処理部１２０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０のマーカピークサーチ機能を利用し，最大のレベル値が測定された周波数を監視する。また，周波数校正処理部１２０は，信号発生装置制御部１１０を介して，信号発生装置３０の出力信号の周波数を目標測定周波数の前後に少しずつ変化させる。
【０１３４】
周波数校正処理部１２０において，実周波数取得部１２１は，スペクトラムアナライザ２０において最大のレベル値が目標測定周波数で測定されたときの，信号発生装置３０の出力信号の周波数を実周波数ＦSGとして取得する（ステップＳ１６）。また，測定周波数取得部１２２は，スペクトラムアナライザ２０において最大のレベル値が測定された周波数すなわち目標測定周波数を，測定周波数ＦSAとして取得する（ステップＳ１６）。
【０１３５】
周波数校正処理部１２０において，周波数補正データ生成部１２３は，実周波数ＦSGと測定周波数ＦSAとから，上記の式（３）により，スペクトラムアナライザ２０により測定された周波数を補正するための周波数補正値ＣＦを算出する（ステップＳ１７）。
【０１３６】
周波数補正データ生成部１２３は，校正対象のドット番号ｎと，測定周波数ＦSAと，周波数補正値ＣＦ等のデータを有するレコードを生成し，周波数補正データ記憶部１５０に記憶された該当周波数スパンの周波数補正データに記録する（ステップＳ１８）。
【０１３７】
周波数校正処理部１２０は，すべてのドットについて校正処理が終了したかを判定する（ステップＳ１９）。
【０１３８】
まだ全ドットについて校正処理が終了していなければ（ステップＳ１９のＮＯ），周波数校正処理部１２０は，ドット番号ｎをインクリメントし（ステップＳ２０），ステップＳ１３の処理に戻り，次の目標測定周波数を決定する。
【０１３９】
全ドットについて校正処理が終了していれば（ステップＳ１９のＹＥＳ），周波数校正処理部１２０は，全周波数スパンについて測定が終了したかを判定する（ステップＳ２１）。
【０１４０】
全周波数スパンについて測定が終了していなければ（ステップＳ２１のＮＯ），周波数校正処理部１２０は，ステップＳ１０に戻り，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の周波数スパンを次の周波数スパンに設定し，さらに周波数校正を行う。例えば，周波数校正処理部１２０は，上記の２つの周波数スパンで周波数校正を行う例の場合に，最初に３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚの周波数スパンで周波数校正を行っていれば，次に３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚの周波数スパンに変更して周波数校正を行う。
【０１４１】
全周波数スパンについて測定が終了していれば（ステップＳ２１のＹＥＳ），周波数校正処理部１２０は，周波数校正を終了する。
【０１４２】
このような周波数校正処理により生成された周波数補正データを用いて，以下で説明するような予備測定処理を行う。
【０１４３】
図１２は，本実施の形態の測定制御装置による予備測定処理フローチャートである。
【０１４４】
測定作業者は，まず，スイッチ４０をアンテナ５０側に切り換え，スペクトラムアナライザ２０とアンテナ５０とを，測定ケーブル５２を介して接続する。
【０１４５】
測定制御装置１０において，予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を設定する（ステップＳ３０）。
【０１４６】
例えば，予備測定処理部１３０は，規定の測定周波数範囲３０ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚを，２つの周波数帯３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚ，３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚに分けて予備測定を実行する。予備測定処理部１３０は，まず，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚに設定して予備測定を行い，次に，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚに設定して予備測定を行う。
【０１４７】
予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の検波モードを尖頭値モードに設定する（ステップＳ３１）。また，予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０のトレースをマックスホールドモードに設定する（ステップＳ３２）。
【０１４８】
予備測定処理部１３０は，アンテナ台制御部１１２を介してアンテナ台５１を制御し，アンテナ５０の偏波面の設定を行う（ステップＳ３３）。例えば，予備測定処理部１３０は，まず，アンテナの偏波面を水平に設定して予備測定を行い，次に，アンテナの偏波面を垂直に設定して予備測定を行う。
【０１４９】
予備測定処理部１３０は，アンテナ台制御部１１２を介してアンテナ台５１を制御し，アンテナ５０の高さを１ｍ〜４ｍの間で変更する。また，予備測定処理部１３０は，回転台制御部１１３を介して回転台６０を制御し，被測定装置７０を０°〜３６０°回転させる。このような状況で，予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ２０に被測定装置７０から放射されるノイズを測定させる（ステップＳ３４）。
【０１５０】
予備測定処理部１３０において，測定データ取得部１３１は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０から測定データを取得する（ステップＳ３５）。例えば，スペクトラムアナライザ２０の管面の周波数方向のドット数が４０１ドットであれば，測定データ取得部１３１は，測定周波数帯域内の４０１個の測定周波数に応じた電界強度レベルを，測定データとして得る。
【０１５１】
予備測定処理部１３０において，電界強度レベル補正部１３２は，レベル補正データ記憶部１３３に記憶された周波数ごとのレベル補正データに基づいて，周波数ごとの測定データに含まれる電界強度のレベル値を補正する（ステップＳ３６）。レベル補正データには，周波数ごとのアンテナファクタとケーブルロスから得られたレベル補正値のデータが記録されている。例えば，電界強度レベル補正部１３２は，上記の４０１個の周波数ごとの電界強度レベルに，レベル補正データから得られたレベル補正値を加算する。
【０１５２】
予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０のマックスホールドモードを解除する（ステップＳ３７）。
【０１５３】
予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，補正された周波数ごとの電界強度のデータを送り，スペクトラムアナライザ２０の管面に補正された電界強度を再表示させる（ステップＳ３８）。また，予備測定処理部１３０は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の管面に規定されたノイズのレベル限度値を表示させる（ステップＳ３９）。
【０１５４】
予備測定処理部１３０において，測定データ取得部１３１は，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介してスペクトラムアナライザ２０のマーカピークサーチ機能を用い，ノイズのレベル限度値に対してマージンが少ない順に，所定数の周波数における測定データを取得する（ステップＳ４０）。例えば，測定データ取得部１３１は，ノイズのレベル限度値に対してマージンが少ない順に３０個のノイズについて，その周波数と補正された電界強度レベルとドット番号とを含む測定データを取得する。
【０１５５】
予備測定処理部１３０において，周波数補正部１３４は，周波数補正データ記憶部１５０に記憶された周波数補正データに基づいて，ステップＳ４０で取得された測定データの周波数を補正する（ステップＳ４１）。例えば，周波数補正部１３４は，上記の取得された３０個の測定データについて，その周波数を補正する。周波数補正データが，図９に示すようなスペクトラムアナライザ２０のドットごとの周波数の補正データである場合には，取得された測定データのドット番号で周波数補正データから補正値を取得し，その測定データの周波数に取得された補正値を加算する。
【０１５６】
予備測定処理部１３０において，電界強度レベル補正部１３２は，レベル補正データ記憶部１３３に記憶された周波数ごとのレベル補正データに基づいて，ステップＳ４０で取得された測定データに含まれる電界強度のレベル値を再補正する（ステップＳ４２）。例えば，電界強度レベル補正部１３２は，上記の３０個の測定データについて，補正された周波数に応じたレベル補正値によって，電界強度レベルの再補正を行う。すなわち，電界強度レベル補正部１３２は，補正された周波数で，レベル補正データからアンテナファクタとケーブルロスから得られたレベル補正値を取得し，取得されたレベル補正値で電界強度レベルの再補正を行う。なお，電界強度レベル補正部１３２は，ステップＳ４２における電界強度レベルの補正前に，ステップＳ３６で補正された電界強度レベルをもとの測定値に戻しておく。
【０１５７】
予備測定処理部１３０は，ステップＳ４０で取得された各測定データについて，補正された周波数，補正された電界強度レベル，アンテナ５０の偏波面等の予備測定結果データを，予備測定結果データ記憶部１６０に保存する（ステップＳ４３）。例えば，予備測定処理部１３０は，上記の３０個の測定データについて，ステップＳ４１で補正された周波数，ステップＳ４２で補正された電界強度のレベル値，アンテナ５０の偏波面が水平か垂直か等のデータのレコードを生成し，予備測定結果データ記憶部１６０に保存する。
【０１５８】
予備測定処理部１３０は，偏波面を変えて測定を行ったかを判定する（ステップＳ４４）。
【０１５９】
まだ，偏波面を変えて測定を行っていなければ（ステップＳ４４のＮＯ），予備測定処理部１３０は，ステップＳ３３に戻り，アンテナ台制御部１１２を介してアンテナ５０の偏波面を変更し（ステップＳ３３），さらに予備測定を行う（ステップＳ３４）。例えば，予備測定処理部１３０は，最初にアンテナの偏波面を水平に設定して予備測定を行っていれば，次にアンテナの偏波面を垂直に変更して予備測定を行う。
【０１６０】
偏波面を変えた測定を行っていれば（ステップＳ４４のＹＥＳ），予備測定処理部１３０は，全測定周波数範囲について測定が終了したかを判定する（ステップＳ４５）。
【０１６１】
全測定周波数範囲について測定が終了していなければ（ステップＳ４５のＮＯ），予備測定処理部１３０は，ステップＳ３０に戻り，スペクトラムアナライザ制御部１１１を介して，スペクトラムアナライザ２０の測定周波数帯を次の測定周波数帯に設定し（ステップＳ３０），さらに予備測定を行う。例えば，予備測定処理部１３０は，上記の測定周波数範囲を２つに分けた例の場合に，最初に３０ＭＨｚ〜３００ＭＨｚの測定周波数帯で予備測定を行っていれば，次に３００ＭＨｚ〜１０００ＭＨｚの測定周波数帯に変更して予備測定を行う。
【０１６２】
全測定周波数範囲について測定が終了していれば（ステップＳ４５のＹＥＳ），予備測定処理部１３０は，予備測定を終了する。
【０１６３】
なお，図１２に示す予備測定処理では，ステップＳ４０で取得された測定データに対して周波数の補正を行っているが，ステップＳ３５で取得された周波数ごとの測定データに対して，周波数補正部１３４が周波数の補正を行うようにしてもよい。
【０１６４】
このように，本実施の形態の予備測定処理部１３０による処理により，補正された精度が高い周波数と，補正された周波数に応じたレベル補正が行われた精度が高い電界強度とを有する，精度が高い予備測定結果データが得られる。
【０１６５】
その後，最終測定処理部１４０による最終測定が行われる。本実施の形態では，最終測定処理部１４０は，図１２に示す予備測定処理で得られた予備測定結果データを用いて，図５に示す最終測定処理を行う。本実施の形態による最終測定処理の流れは，基本的に図５に示す最終測定処理の流れと同様であるので，ここでは詳細な説明を省略する。
【０１６６】
このように，本実施の形態では，最終測定処理部１４０は精度が高い予備測定結果データに基づいた最終処理を行うので，より精度が高い最終測定結果データが得られる。
【０１６７】
以上説明した測定制御装置１０による処理は，コンピュータが備えるＣＰＵ，メモリ等のハードウェアとソフトウェアプログラムとにより実現することができ，そのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録することも，ネットワークを通して提供することも可能である。
【０１６８】
以上，本実施の形態について説明したが，本発明はその主旨の範囲において種々の変形が可能であることは当然である。
【０１６９】
例えば，本実施の形態による測定システムの例では，スペクトラムアナライザを用いたＥＭＩ測定の例について説明している。本実施の形態によるスペクトラムアナライザ２０の測定周波数の補正は，ＥＭＩ測定以外でも，例えば送信波信号の高調波レベルの測定など，スペクトラムアナライザを用いた，様々な周波数に応じた物理量の測定に利用可能である。
【符号の説明】
【０１７０】
１０  測定制御装置
１１０  信号発生装置制御部
１１１  スペクトラムアナライザ制御部
１１２  アンテナ台制御部
１１３  回転台制御部
１２０  周波数校正処理部
１２１  実周波数取得部
１２２  測定周波数取得部
１２３  周波数補正データ生成部
１３０  予備測定処理部
１３１  測定データ取得部
１３２  電界強度レベル補正部
１３３  レベル補正データ記憶部
１３４  周波数補正部
１４０  最終測定処理部
１５０  周波数補正データ記憶部
１６０  予備測定結果データ記憶部
１７０  最終測定結果データ記憶部
２０  スペクトラムアナライザ
３０  信号発生装置
４０  スイッチ
５０  アンテナ
５１  アンテナ台
５２  測定ケーブル
６０  回転台
７０  非測定装置
【図１】
2010217060.tif 000003
【図２】
2010217060.tif 000004
【図３】
2010217060.tif 000005
【図４】
2010217060.tif 000006
【図５】
2010217060.tif 000007
【図６】
2010217060.tif 000008
【図７】
2010217060.tif 000009
【図８】
2010217060.tif 000010
【図９】
2010217060.tif 000011
【図１０】
2010217060.tif 000012
【図１１】
2010217060.tif 000013
【図１２】
2010217060.tif 000014