(57)【要約】【課題】本質的に問題のない商品が所定割合以上検出されるようになった場合、この本質的に問題のない商品を不良品として扱わないようにすることが可能なＸ線検査装置を得る。【解決手段】Ｘ線検査装置１０は、物品を搬送させながらＸ線を使用して物品の検査を行う装置であって、物品を搬送するコンベアと、Ｘ線照射器１３と、Ｘ線ラインセンサ１４と、制御コンピュータ２０とを備えている。制御コンピュータ２０は、Ｘ線を使用して物品のＸ線画像データを作成するＸ線画像作成制御、Ｘ線画像データから不良品・不良品を検出する不良品・不良品検出制御、不良品を検出する品質検査の停止・解除を制御する品質検査停止・解除制御を行う。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品を搬送させながらＸ線を使用して物品の検査を行うＸ線検査装置であって、
前記物品を搬送する搬送機構と、
前記Ｘ線を前記物品に照射するＸ線源と、
前記Ｘ線を検出するＸ線センサと、
前記Ｘ線センサの検出信号から前記物品のＸ線透過画像データを作成するＸ線画像作成手段と、
前記Ｘ線透過画像データを用いて複数の検査基準に基づき前記物品の検査を行う検査手段と、
前記検査手段によって不良品として検出された物品の数と前記検査を行った物品の全体数との比率である不良品比率を算出する算出手段と、
前記不良品比率が所定値以上となった後に前記検査手段において検出された不良品を、良品として処理する良品処理手段と、を備えていることを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
前記良品処理手段が、前記検査手段による複数の検査基準のうち少なくとも１種の検査基準による検査を停止する検査停止手段であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記検査手段によって検査された物品を良品と不良品とに振り分ける振分機構を備え、
前記不良品比率が所定値以上になった際、前記良品処理手段が、前記振分機構における前記不良品を振り分ける動作を停止するものであることを特徴とする請求項１記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記検査停止手段による前記複数の検査基準ごとの検査の停止について優先順位を設定する設定手段をさらに備え、
前記検査停止手段が、前記優先順位に基づき前記停止を行うことを特徴とする請求項２に記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
前記優先順位が、前記不良品比率を前記複数の検査基準ごとに設定することによって決定されていることを特徴とする請求項４に記載のＸ線検査装置。
【請求項６】
前記算出手段が、前記検査手段による前記複数の検査基準ごとの検出結果に基づき、前記複数の検査基準ごとの不良品の数と前記物品の全体数との比率である前記複数の検査基準ごとの不良品比率をそれぞれ算出するものであり、
前記複数の検査基準ごとの前記不良品比率が前記複数の検査基準ごとに設定した各所定値になった際、前記停止手段が、前記複数の検査基準ごとに検査を停止させるものであることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載のＸ線検査装置。
【請求項７】
前記停止手段の動作後、前記不良品比率が前記所定値以上になってから他の所定値まで変化した際、前記停止手段の動作を解除する解除手段を備えていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１項に記載のＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置、特に、物品を搬送させながらＸ線を使用して物品の検査を行うＸ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
食品などの商品の生産ラインにおいては、商品への異物混入や商品の割れ欠けがある場合にそのような商品を出荷しないために、Ｘ線検査装置により検査が為されることがある。このＸ線検査装置には、例えば下記特許文献１に挙げられるものがある。この特許文献１には、物品を搬送するコンベアと、Ｘ線照射器と、Ｘ線ラインセンサと、Ｘ線画像作成制御、物品不良判定制御及び自動パラメータ設定制御を行う制御コンピュータとを備え、Ｘ線画像作成制御では、Ｘ線を使用して物品のＸ線画像データを作成し、物品不良判定制御では、Ｘ線画像データから物品不良の判定を行い、自動パラメータ設定制御では、通常運転の前に、予め検査対象となる物品をコンベアによって搬送させて、画像処理パラメータを自動的に設定するものが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−１４８２１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１のものは、例えば形状などの検査において所定の基準値を設定した場合であって、本質的に問題のない商品（例えば、外観のみに問題があるものの、味及び安全性などに問題のない食品など）がある程度含まれてもいい場合に、この本質的に問題のない商品が所定の基準値を満たさない不良品として多数検出されてしまい、Ｘ線検査装置の稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加という問題が発生することがあった。また、このとき、単に所定の基準値を変更して解決することも考えられるが、そうすると、例えば商品がスナック類などであって、検査が形状に関するものである場合、形状に関しての不良品が多数になってしまい、該不良品が少量であれば損なわれなかった商品全体の美観を、大きく損なってしまうことなどがあった。
【０００５】
上記課題に鑑み、本発明の目的は、本質的に問題のない商品が検査した物品に対して所定割合以上検出されるようになった場合、この本質的に問題のない商品を不良品として扱わないようにすることが可能なＸ線検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
（１）本発明は、物品を搬送させながらＸ線を使用して物品の検査を行うＸ線検査装置であって、前記物品を搬送する搬送機構と、前記Ｘ線を前記物品に照射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出するＸ線センサと、前記Ｘ線センサの検出信号から前記物品のＸ線透過画像データを作成するＸ線画像作成手段と、前記Ｘ線透過画像データを用いて複数の検査基準に基づき前記物品の検査を行う検査手段と、前記検査手段によって不良品として検出された物品の数と前記検査を行った物品の全体数との比率である不良品比率を算出する算出手段と、前記不良品比率が所定値以上となった後に前記検査手段において検出された不良品を、良品として処理する良品処理手段と、を備えているものである。
【０００７】
上記（１）の構成によれば、本質的に問題のない商品が検査した物品に対して所定割合以上検出されるようになった場合、この本質的に問題のない商品を不良品として扱わないようにすることが可能なＸ線検査装置を提供できる。
【０００８】
（２）  上記（１）のＸ線検査装置においては、前記良品処理手段が、前記検査手段による複数の検査基準のうち少なくとも１種の検査基準による検査を停止する検査停止手段であることが好ましい。
【０００９】
上記（２）の構成によれば、前記不良品比率が所定値以上になった際、必要に応じて、前記検査手段による複数の検査基準のうち少なくとも１種の検査基準による検査を停止するＸ線検査装置を提供できる。例えば、本発明のＸ線検査装置を使用すれば、前記物品の異物検査を継続しつつ、必要に応じて、本質的に問題がない物品を所定数以上不良品として扱わないようにすることもできるので、Ｘ線検査装置の稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加を抑制できる。これにより、例えば商品がスナック類などであって、検査が形状に関するものである場合、形状に関しての不良品を少量にでき、商品全体の美観を損なわないようにすることなども可能である。なお、検査の例としては、異物検査、物品内部の空洞検査、割れ検査、欠け検査、形状検査、質量が標準的なものであるかどうかを検査する質量検査、物品同士が貼り付いて塊になっているかどうかの検査などが挙げられるが、これらに限られない。また、本質的に問題がない物品としては、例えば、外観についての不良部分又は食感に影響を与えるような部分を有しているものの、味などの品質及び安全性に全く問題のない食品などが挙げられる。
【００１０】
（３）  上記（１）のＸ線検査装置においては、前記検査手段によって検査された物品を良品と不良品とに振り分ける振分機構を備え、前記不良品比率が所定値以上になった際、前記良品処理手段が、前記振分機構における前記不良品を振り分ける動作を停止するものであってもよい。
【００１１】
上記（３）の構成によれば、前記不良品比率が所定値以上になっている際、必要に応じて、前記振分機構における前記不良品を振り分ける動作を停止するＸ線検査装置を提供できる。例えば、本発明のＸ線検査装置を使用すれば、本質的に問題がない物品を所定数以上不良品として扱わないようにできるので、Ｘ線検査装置の稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加を抑制できる。
【００１２】
（４）  上記（２）のＸ線検査装置においては、前記検査停止手段による前記複数の検査基準ごとの検査の停止について優先順位を設定する設定手段をさらに備え、前記検査停止手段が、前記優先順位に基づき前記停止を行うものであってもよい。
【００１３】
上記（４）の構成によれば、各検査が停止される場合、例えばオペレータによって予め設定された優先順位に従って停止されるので、不良品の中でも比較的不良程度の低い物品から良品として扱うようにすることが可能なＸ線検査装置を提供できる。
【００１４】
（５）  上記（４）のＸ線検査装置においては、前記優先順位が、前記不良品比率の前記所定値を前記複数の検査基準ごとに設定することによって決定されているものであってもよい。
【００１５】
上記（５）の構成によれば、容易に各検査の停止の優先順位を設定できるＸ線検査装置を提供できる。
【００１６】
（６）  上記（１）〜（３）のＸ線検査装置においては、前記算出手段が、前記検査手段による前記複数の検査基準ごとの検出結果に基づき、前記複数の検査基準ごとの不良品の数と前記物品の全体数との比率である前記複数の検査基準ごとの不良品比率をそれぞれ算出するものであり、前記複数の検査基準ごとの前記不良品比率が前記複数の検査基準ごとに設定した各所定値になった際、前記停止手段が、前記複数の検査基準ごとに検査を停止させるものであってもよい。
【００１７】
上記（６）の構成によれば、前記複数の検査基準ごとの前記不良品比率が前記複数の検査基準ごとに設定した各所定値になった際、前記複数の検査基準ごとに検査を停止させることが可能なＸ線検査装置を提供できる。例えば、本発明のＸ線検査装置を使用することで、前記複数の検査基準ごとに細かく不良品の検出を停止でき、必要に応じて、本質的に問題がない物品を所定数以上不良品として扱わないようにできるので、Ｘ線検査装置の稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加を抑制できる。
【００１８】
（７）  上記（１）〜（６）のＸ線検査装置においては、前記停止手段の動作後、前記不良品比率が前記所定値以上になってから他の所定値まで変化した際、前記停止手段の動作を解除する解除手段を備えているものであってもよい。
【００１９】
上記（７）の構成によれば、前記停止手段の解除によって、停止されていた検査についての不良品を再検出し始めること、又は、振り分け機構における停止されていた不良品を振り分ける動作の再始動が可能なＸ線検査装置を提供できる。つまり、稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加をより抑制するＸ線検査装置を提供できる。また、前記不良品が良品群に混合される割合を所定の範囲内にすることも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施形態に係るＸ線検査装置の概略構成図である。
【図２】図１のＸ線検査装置におけるシールドボックス内部の簡易構成図である。
【図３】Ｘ線検査の原理を示す模式図である。
【図４】図１のＸ線検査装置と該Ｘ線検査装置の前後部分との構成を示す図である。
【図５】図１のＸ線検査装置における制御コンピュータのブロック構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を用いて、本発明の実施形態に係るＸ線検査装置について説明する。
【００２２】
Ｘ線検査装置１０は、Ｘ線検査部１０ａと振分機構１０ｂとを備えている。Ｘ線検査部１０ａは、上部筐体１、シールドボックス１１、及び下部筐体３を備えている。上部筐体１には、タッチパネル機能付きのＬＣＤモニタ３０（表示部）が設けられている。また、シールドボックス１１内には、Ｘ線照射器１３とＸ線ラインセンサ１４とが設けられているとともに、シールドボックス１１内を貫通するようにコンベア１２が配設されている。Ｘ線照射器１３は、コンベア１２上の被検査物品である商品８に対してＸ線を照射する。Ｘ線ラインセンサ１４は、コンベア１２の内部に設けられており、Ｘ線照射器１３から照射されて商品８を透過したＸ線を検出する。シールドボックス１１は、Ｘ線が外部に漏洩することを防止する機能を有する。下部筐体３内には、Ｘ線検査部１０ａ及び振分機構１０ｂの動作制御及びデータ処理を行うための制御コンピュータ２０が配設されている。
【００２３】
Ｘ線検査部１０ａでの異物検査及びその他の品質検査の判定結果は、Ｘ線検査部１０ａの下流側に配置される振分機構１０ｂに送られる。振分機構１０ｂは、商品８がＸ線検査部１０ａにおいて良品と判定された場合には商品８を正規のラインコンベア８０へと送り、商品８がＸ線検査部１０ａにおいて不良品と判定された場合には商品８をコンベア９０へと振り分ける（図４参照）。
【００２４】
コンベア１２は、シールドボックス１１内において被検査物品を搬送するものであり、図５に示すコンベアモータ１２ａにより駆動する。コンベア１２による搬送速度は、制御コンピュータ２０によるコンベアモータ１２ａのインバータ制御により、細かく制御される。
【００２５】
また、コンベアモータ１２ａは、正逆回転の切り替えが可能であり、この切り替えも制御コンピュータ２０によって制御される。
【００２６】
Ｘ線照射器１３は、図２に示すように、コンベア１２の上方に配置されており、下方のＸ線ラインセンサ１４に向けて扇状のＸ線（図２の斜線範囲１５を参照）を照射する。
【００２７】
Ｘ線ラインセンサ１４は、コンベア１２の下方に配置されており、商品８又はコンベア１２を透過してくるＸ線を検出する。このＸ線ラインセンサ１４は、図３に示すように、コンベア１２による搬送方向に直交する向きに一直線に配置された多くの画素１４ａから構成されている。
【００２８】
ＬＣＤモニタ３０は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。このＬＣＤモニタ３０には、商品８のＸ線画像や検査結果などが表示される。また、ＬＣＤモニタ３０は、タッチパネル機能も有しており、使用者からの手入力を受け付ける。
【００２９】
制御コンピュータ２０は、図５に示すように、ＣＰＵ２１を搭載するとともに、このＣＰＵ２１が制御する主記憶部としてＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、及びＨＤＤ（ハードディスク）２５を搭載している。また、制御コンピュータ２０は、フロッピー（登録商標）ディスクとの入出力を行うＦＤＤ（フロッピーディスクドライブ）２４も有している。
【００３０】
さらに、制御コンピュータ２０は、ＬＣＤモニタ３０に対するデータ表示を制御する表示制御回路、ＬＣＤモニタ３０のタッチパネルからのキー入力データを取り込むキー入力回路、図示しないプリンタにおけるデータ印字の制御等を行うためのＩ／Ｏポート等を備えている。
【００３１】
そして、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、ＦＤＤ２４、ＨＤＤ２５などは、アドレスバス，データバス等のバスラインを介して相互に接続されている。また、制御コンピュータ２０は、コンベアモータ１２ａ、ロータリーエンコーダ１２ｂ、光電センサ１６ａ，１６ｂ、Ｘ線照射器１３、Ｘ線ラインセンサ１４等と接続されている。
【００３２】
ロータリーエンコーダ１２ｂは、コンベアモータ１２ａに装着され、コンベア１２の搬送スピードを検知して制御コンピュータ２０に送る。光電センサ１６ａ，１６ｂは、被検査物品である商品８がＸ線ラインセンサ１４の位置にくるタイミングを検知するための同期センサであり、それぞれ、コンベアを挟んで配置される一対の投光器及び受光器から構成されている。光電センサ１６ａは、Ｘ線ラインセンサ１４の前段コンベア６０側に配置されており、コンベア１２が正方向に商品８を搬送しているときに、Ｘ線透視像信号（図３参照）の取得開始の基になる信号を制御コンピュータ２０に送る。また、商品８を振分機構１０ｂで振り分ける際のタイミングの基にもなる。光電センサ１６ｂは、Ｘ線ラインセンサ１４の振分機構１０ｂ側に配置されており、コンベア１２が逆方向に商品８を搬送しているときに、Ｘ線透視像信号の取得開始の基になる信号を制御コンピュータ２０に送る。
【００３３】
＜制御コンピュータによる不良品判定＞
〔Ｘ線画像作成〕
制御コンピュータ２０は、光電センサ１６ａあるいは光電センサ１６ｂからの信号を受け、商品８が扇状のＸ線照射部（図２参照）を通過するときに、Ｘ線ラインセンサ１４によるＸ線透視像信号（図３参照）を細かい時間間隔で取得して、それらのＸ線透視像信号を基にして商品８のＸ線画像データを作成する。そして、このＸ線画像データを画像処理することにより、Ｘ線画像を得る。
【００３４】
〔不良品検出制御〕
制御コンピュータ２０は、商品８について、得られたＸ線画像から複数の判断方式によって、良品、異物が入っている不良品、味などに問題はないが大きさ、形状などの品質が所定基準に満たない不良品のいずれであるかなどを、複数の検査基準（異物検査及びその他の品質検査など）によって判定し、検出する検査手段でもある。なお、上記その他の品質検査における不良品の判定には、商品８の質量が目標範囲内（許容範囲内）であるか否かの判定、商品８に割れや欠けが生じていないかの判定、商品８の内部空洞の大きさが標準的なものであるか否かの判定、商品８の形状のいびつさ又は大きさが目標範囲内（許容範囲内）であるか否かの判定等が含まれる。以下、各検査における不良品の判定について詳述する。
【００３５】
まず、異物検査における不良品の判定について説明する。Ｘ線照射器１３から照射されて商品８を透過したＸ線（透過Ｘ線）は、複数の画素１４ａを有するＸ線ラインセンサ１４によって検出される。ここで、商品８内に異物が混入していない場合は、複数の画素１４ａによって検出される透過Ｘ線の強度分布は、ほぼ一定である。一方、商品８内に異物が混入している場合は、異物の混入箇所においてＸ線の透過量が減少するため、異物の混入箇所に対応して、透過Ｘ線の強度分布に負のピークが発生する。したがって、ＣＰＵ２１は、Ｘ線ラインセンサ１４から送信されたＸ線検出データに基づいて、透過Ｘ線の強度分布にピークが発生しているか否かを判定することによって、商品８への異物の混入の有無を判定する。異物が混入していると判定され検出された商品８は、後述の質量検査、形状検査などの各検査が行われることなく、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００３６】
次に、他の品質検査の不良品の判定について説明する。まず、質量に関する品質検査の判定について説明する。制御コンピュータ２０は、図２に示したＸ線ラインセンサ１４によって検出された透過Ｘ線のＸ線量に基づいて商品８の質量を推定し、推定質量Ｍに関するデータを出力する。詳細には以下の通りである。Ｘ線照射器１３から照射されて商品８を透過した透過Ｘ線のＸ線量が、Ｘ線ラインセンサ１４によって検出される。具体的には、Ｘ線ラインセンサ１４が備える各画素１４ａが、透過Ｘ線の明るさＩ０をそれぞれ検出する。ここで、各画素１４ａは、例えば、最高輝度の白を「２５５」、最低輝度の黒を「０」とする２５６階調の検出階調数で、明るさＩ０をそれぞれ検出する。ＣＰＵ２１は、明るさＩ０に関する検出値を各画素１４ａから入力し、質量を推定するための以下の式（１）に基づいて、明るさＩ０から推定質量ｍを算出する。
【００３７】
ｍ＝ｃｔ＝−ｃ／μ×ｌｎ（Ｉ／Ｉ０）＝−αｌｎ（Ｉ／Ｉ０）
・・・（１）
ここで、ｃは物質の厚さを質量に変換するための係数、ｔは物質の厚さ、Ｉは物質がないときの明るさ、Ｉ０は物質を透過したときの明るさ、μは線吸収係数である。また、αはｃ／μで与えられるパラメータであり、質量が判明している複数のサンプルを用いた事前の検査によって、商品８の種類毎に適切な値が予め求められて、その値が図５に示したＨＤＤ２５に記憶されている。
【００３８】
ＣＰＵ２１は、上記の式（１）に基づいて、各画素（つまり各画素１４ａ）毎に、明るさＩ０を推定質量ｍに換算する。そして、コンベア１２によって商品８が搬送されつつ、画素１４ａによる明るさＩ０の検出と、明るさＩ０から推定質量ｍへの換算とが繰り返し実行される。これにより、商品８の全画素に対応する推定質量ｍがそれぞれ求められ、これら全ての推定質量ｍを合計することにより、商品８の全体の推定質量Ｍが求められる。そして、商品８の推定質量が所定範囲内にあるかどうか判定され、該所定範囲内でないと判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００３９】
次に、割れに関する品質検査の判定について説明する。ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データに基づいて商品８の形状の正常／異常を判定し、その判定結果に関するデータを出力する。一例として、良品の周囲長の上限値及び下限値に関するデータが、図５に示したＨＤＤ２５に予め記憶されている。そして、ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データで表される商品８のＸ線透過画像からエッジを抽出し、抽出したエッジの合計長と、上記の上限値及び下限値とを比較し、エッジの合計長が上限値以下かつ下限値以上である場合、その商品８の形状が正常であると判定し、一方、エッジの合計長が上限値より大きい又は下限値より小さい場合、その商品８の形状が異常であると判定する。なお、例えば商品８に割れが生じている場合、エッジの合計長は長くなるため、エッジの合計長が上記の上限値より大きくなることにより、割れが生じている商品８を発見することができる。そして、割れが生じていると判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００４０】
次に、欠けに関する品質検査の判定について説明する。図５に示したＨＤＤ２５には、良品の上面積の上限値及び下限値に関するデータが予め記憶されている。ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データで表されるＸ線透過画像から商品８の上面積を求め、求めた上面積の値と、上記の上限値及び下限値とを比較し、上面積の値が上限値以下かつ下限値以上である場合、その商品８の形状が正常であると判定し、一方、上面積の値が上限値より大きい又は下限値より小さい場合、その商品８の形状は異常であると判定する。なお、例えば商品８に欠けが生じている場合、上面積が小さくなるため、上面積の値が上記の下限値より小さくなることにより、欠けが生じている商品８を発見することができる。そして、欠けが生じていると判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００４１】
他の例として、割れ、欠け両方に関する品質検査の判定について説明する。図５に示したＨＤＤ２５には、良品の輪郭形状に関するテンプレート画像の画像データが予め記憶されている。ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データで表される商品８のＸ線透過画像内において、上記のテンプレート画像を用いたテンプレートマッチング処理を行い、商品８とテンプレート画像との類似度が所定レベル以上である場合、その商品８の形状は正常であると判定し、一方、類似度が所定レベルより低い場合、その商品８の形状は異常であると判定する。なお、例えば商品８に割れ又は欠けが生じている場合、良品の輪郭形状との差異が大きくなるため、類似度が上記の所定レベルより低くなることにより、割れ又は欠けが生じている商品８を発見することができる。そして、割れ又は欠けが生じていると判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００４２】
次に、大きさに関する品質検査の判定について説明する。図５に示したＨＤＤ２５には、所定形状の良品の大きさに関するテンプレート画像の画像データが予め記憶されている。ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データで表される商品８のＸ線透過画像内において、上記のテンプレート画像を用いたテンプレートマッチング処理を行い、商品８とテンプレート画像との類似度が所定レベル以上である場合、その商品８の大きさは正常であると判定し、一方、類似度が所定レベルより低い場合、その商品８の大きさは異常であると判定する。なお、例えば商品８が大きすぎる又は小さすぎる場合、所定形状の良品の大きさとの差異が大きくなるため、類似度が上記の所定レベルより低くなることにより、大きさの差が大幅に生じている商品８を発見することができる。そして、大きさの差が大幅に生じていると判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００４３】
さらに別の例として、良品の濃淡パターン（濃淡ピーク・濃淡偏差など）に関するテンプレート画像の画像データが、図５に示したＨＤＤ２５に予め記憶されている。そして、ＣＰＵ２１は、上記Ｘ線画像データで表される商品８のＸ線透過画像内において、上記のテンプレート画像を用いたテンプレートマッチング処理を行う。具体的には、まず、全体領域もしくは所定領域内の画像よりも狭い上記のテンプレート画像と個々の商品８のＸ線透過画像とを比較して、類似性を判断する。そして、領域内に基準画像と類似もしくは合致するものがいくつあるのかをカウントする。ＣＰＵ２１は、商品８とテンプレート画像との類似度が所定レベル以上である場合は、その商品８の形状は正常であると判定し、一方、類似度が所定レベルより低い場合は、その商品８の形状は異常であると判定する。例えば商品８に割れや欠けが生じている又は内部空洞の大きさが標準的でない場合、良品の濃淡パターンとの差異が大きくなるため、類似度が上記の所定レベルより低くなることにより、割れや欠けが生じている又は内部空洞の大きさが標準的でない商品８を発見することができる。そして、割れや欠けが生じている又は内部空洞の大きさが標準的でないと判定され検出された商品８は、振分機構１０ｂによって不良品として振り分けられる。
【００４４】
＜制御コンピュータによる品質検査停止・解除制御＞
制御コンピュータ２０は、上述の検出結果に基づき検出された不良品の数と検査した商品の全体数との比率である不良品比率を算出することができる算出手段でもあり、前記不良品比率が予めＨＤＤ２５に記憶された基準パラメータファイル２５ａ内の第１の所定値以上になった後に検出された不良品を、良品として処理する良品処理手段でもある。ここでは、良品処理手段の一例である、全検査又は各検査を個別に停止する停止手段を用いている。
【００４５】
また、制御コンピュータ２０は、前記停止動作後、前記不良品比率が前記第１の所定値から基準パラメータファイル２５ａ内の第２の所定値まで変化した際、前記停止手段の動作を解除する解除手段でもある。ここで、前記停止、解除の一例をあげる。前記第１の所定値が０．５、前記第２の所定値が０．４に設定されており、検査した商品の数が１００に達した場合において不良品の数が５０になると、上述の検出結果に基づき検出された不良品の数と検査した商品の全体数との比は、第１の所定値である０．５と同一になるので、各検査（異物検査を除く）は停止され、見かけ上、不良品の数の増加が抑制される。続いて、商品の異物検査だけ継続された上で、検査した商品数が増加していくので、前記不良品比率はいずれ第２の所定値である０．４になる。このように前記不良品比率が前記第２の所定値になった場合、各検査を再開させる。再開後、前記不良品比率が再度第１の所定値になった場合には、各検査（異物検査を除く）を再停止するという動作を繰り返す。
【００４６】
＜制御コンピュータによるその他の制御＞
制御コンピュータ２０は、上述の検出結果のうち、推定された各不良品の質量の情報と、不良品を検出した回数の情報とをＨＤＤ２５に記憶させることもできる。
【００４７】
また、制御コンピュータ２０は、通常の検査中においては、得られた商品８のＸ線画像及び各判定に関する情報をＬＣＤモニタ３０に表示させることもできる。特に、記憶部に記憶された、各不良品の推定質量の情報、及び、不良品を検出した回数の情報をＬＣＤモニタ３０に表示させることができる。
【００４８】
また、制御コンピュータ２０は、上述の検出結果から、不良であると判定する商品８があれば、その商品８を不良品と判定する。この場合には、制御コンピュータ２０は、後段の振分機構１０ｂに振り分けの指示を送る。
【００４９】
さらに、制御コンピュータ２０は、品質検査を停止させたことをオペレータなどに報知する報知部（図示せず）を動作させることもできる。該報知は、ＬＣＤモニタ３０に表示させて行ってもよいし、警告ランプなどを用いてもよいし、警告音を発することとしてもよい。
【００５０】
本実施形態によれば、以下の効果を奏することができる。すなわち、本質的に問題のない商品が検査した物品に対して所定割合以上検出されるようになった場合、この本質的に問題のない商品を不良品として扱わないようにすることが可能なＸ線検査装置１０を提供できる。特に、不良品の数と物品の全体数との比率である不良品比率が第１の所定値になった際、商品８の異物検査を継続して行うが、必要に応じて、商品８に対する検査を停止するＸ線検査装置１０を提供できる。なお、例えば、Ｘ線検査装置１０を使用すれば、商品８の異物検査を継続しつつ、必要に応じて、本質的に問題がない商品８を所定数以上不良品として扱わないようにもできるので、Ｘ線検査装置１０の稼働率の低下、検査した商品８の歩留まりの低下及び不良品とされた商品８の後処理作業量の増加を抑制できる。これにより、例えば商品がスナック類などであって、品質検査が形状に関するものである場合、形状に関しての不良品を少量にでき、商品全体の美観を損なわないようにすることなども可能である。なお、本質的に問題がない物品としては、例えば、外観についての不良部分若しくは食感に影響を与えるような部分を有しているもの又は物品同士が貼り付いて塊になっているものの、味などの品質及び安全性に全く問題のない食品などが挙げられるが、これらに限られない。また、上記食品の具体例としては、煎餅類又はスナック類などの食品で、通常品に比べて内部に空洞が多いもの、割れた部分若しくは欠けた部分を有したもの、若しくは通常品に比べて形状がいびつなもの、質量が通常品に比べて重すぎる又は軽すぎるものなどが挙げられるが、これらに限られない。
【００５１】
また、各検査の動作が停止されたことをオペレータなどに報知できるＸ線検査装置１０を提供できる。例えば、Ｘ線検査装置１０を使用することで、不良品が良品群に混合される可能性があることをオペレータなどに報知できることになる。
【００５２】
また、各検査の停止を解除することができるので、停止されていた検査について不良品を再検出し始めることが可能なＸ線検査装置１０を提供できる。つまり、稼働率の低下、検査した商品８の歩留まりの低下及び不良品とされた商品８の後処理作業量の増加をより抑制するＸ線検査装置１０を提供できる。また、不良品が良品群に混合される割合を所定の範囲内にすることも可能である。
【００５３】
＜他の実施形態など＞
本発明は、特許請求の範囲を逸脱しない範囲で設計変更できるものであり、上記実施形態又は変形例に限定されるものではない。例えば、上記実施形態においては、各検査を個別に停止することもできるが、この各検査の停止順に優先順位が設定されていてもよい。また、上記優先順位は、各検査について不良品比率（検査ごとの不良品の数と商品８の全体数との比率）の所定値を設定し、例えば数値の低い順に停止されていくようにしておいてもよい。このように各検査の停止の優先順位が決定されると、上記実施形態における不良品比率が所定値以上になった場合又は各検査についての不良品比率が所定値以上になった場合、制御コンピュータ２０は上記優先順位に基づき各検査を順に停止する。この優先順位の設定は、容易に各検査の停止の優先順位を設定できるように、オペレータなどがＬＣＤモニタ３０（設定手段の一例）へ手入力することによってなされるものであってもよいし、予め設定されているものであってもよい。
【００５４】
また、上記実施形態においては、制御コンピュータ２０（良品処理手段の一例である停止手段）を用いて各検査を停止し、不良品を良品として扱うようにしたが、各検査を停止させずに、制御コンピュータ２０に、振分機構１０ｂの振り分け動作を停止させるようにして不良品を良品として扱うようにしてもよい。
【００５５】
また、例えば、上記実施形態における不良品比率が第１の所定値になっている際、上記実施形態におけるＣＰＵ２１において各検査を停止させずに、振分機構１０ｂの振り分け動作を停止させて、不良品を良品として扱うこととしてもよい。これにより、異物検査及びその他の品質検査を継続しつつ、必要に応じて、本質的に問題がない物品を所定数以上不良品として扱わないようにできるので、Ｘ線検査装置の稼働率、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加を抑制できる。このとき、上記実施形態における報知部（図示せず）において、不良品を振り分ける振分機構の動作が停止されたことをオペレータなどに報知するようにしてもよい。
【００５６】
さらに、上記実施形態における不良品比率が第１の所定値になった際に、上記実施形態のように各検査を停止させずに、この代わりに振分機構１０ｂの振り分け動作を停止させて不良品を良品として扱った場合において、振り分け動作の停止後、上記実施形態における不良品比率が第２の所定値になった場合、ＣＰＵ２１によって振分機構の動作の停止を解除するように制御して、振り分け機構において停止されていた不良品の振り分け動作を再始動できるようにしてもよい。
【００５７】
また、ＣＰＵ２１は、各検査の検出結果に基づき、検査ごとの不良品の数と商品８の全体数との比率である不良品比率を検査ごとに算出するものとして、検査ごとの前記不良品比率が前記検査ごとに設定した各所定値になった際、ＣＰＵ２１が、検査ごとに検査を停止させるものであってもよい。これにより、検査ごとに細かく不良品の検出を停止でき、必要に応じて、本質的に問題がない商品８を所定数以上不良品として扱わないようにできるので、Ｘ線検査装置の稼働率の低下、検査した物品の歩留まりの低下及び不良品とされた物品の後処理作業量の増加を抑制できる。
【００５８】
また、振分機構１０ｂは、Ｘ線検査装置１０に含まれていなくともよい。なお、このときは、ＬＣＤモニタ３０に表示されたＸ線検査部１０ａの検査結果を基に、良品、不良品、不良品を手作業で振り分けたり、上記報知部によって不良品を良品として扱う報知がされた際に、不良品を良品として手作業で振り分けたりすることで対応できる。
【００５９】
また、上記実施形態におけるＸ線ラインセンサ１４の代わりに二次元センサを用いてもよい。
【００６０】
なお、上述の「不良品比率」は、（（検査を行った商品８の全体数）−（制御コンピュータ２０によって不良品として検出された商品８の数））／（検査を行った商品８の全体数）、の式を用いて算出される「良品比率」と、実質的な意味合いは同じである。
【符号の説明】
【００６１】
１    上部筐体
３    下部筐体
８    商品
１０    Ｘ線検査装置
１０ａ    Ｘ線検査部
１０ｂ    振分機構
１１    シールドボックス
１２    コンベア
１２ａ    コンベアモータ
１２ｂ    ロータリーエンコーダ
１３    Ｘ線照射器
１４    Ｘ線ラインセンサ
１４ａ    画素
１５    斜線範囲
１６ａ，１６ｂ    光電センサ
２０    制御コンピュータ
２５    ＨＤＤ
２５ａ    基準パラメータファイル
３０    モニタ
６０    前段コンベア
８０    ラインコンベア
９０    コンベア
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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