(57)【要約】【課題】スキャン中に被検眼の移動や瞬きが発生した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得可能な眼底観察装置を提供する。【解決手段】眼底観察装置１は、信号光ＬＳの走査しつつ眼底Ｅｆの断層像及び３次元画像を形成する機能と、ＯＣＴ計測中における眼底Ｅｆの動画像（観察画像Ｋ）を形成する機能とを有する。更に、眼底観察装置１は、観察画像Ｋに基づいて、３次元画像の眼底表面方向における位置を補正するｘ補正部２３１及びｙ補正部２３２と、別途に走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光ＬＣの検出結果に基づく眼底Ｅｆの断層像Ｇｉに基づいて、３次元画像の眼底深度方向における位置を補正するｚ補正部２３３とを有する。【選択図】図３
2010264225.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼の眼底を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出する光学系と、
前記眼底に対して前記信号光を走査して複数の走査点に順次に前記信号光を照射させる走査手段と、
前記光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記複数の走査点のそれぞれにおいて前記眼底の深度方向に延びる１次元画像を形成する画像形成手段と、
前記信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で前記眼底の位置を検出する検出手段と、
前記検出された前記眼底の位置の時間変化に基づいて、前記眼底表面方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する演算手段と、
を備えることを特徴とする眼底観察装置。
【請求項２】
前記所定の時間間隔は、前記複数の走査点のうちの一の走査点に前記信号光が照射されてから次の走査点に前記信号光が照射されるまでの走査時間間隔の略整数倍とされ、
前記走査手段により前記複数の走査点に順次に前記信号光が照射されているときに、前記検出手段は、当該整数個の走査点が前記走査される度毎に前記眼底の位置を検出し、
前記演算手段は、前記複数の１次元画像を当該整数個毎の１次元画像群に分割し、各１次元画像群に対応する当該整数個の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果に基づいて各１次元画像群の位置を特定し、前記特定された各１次元画像群の位置に基づいて前記位置ズレ量を算出する、
ことを特徴とする請求項１に記載の眼底観察装置。
【請求項３】
前記整数は１であり、
前記１次元画像群は一つの１次元画像からなり、
前記演算手段は、前記複数の１次元画像のそれぞれについて、当該１次元画像に対応する走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果に基づいて当該１次元画像の位置を特定し、該特定された前記複数の位置に基づいて前記位置ズレ量を算出する、
ことを特徴とする請求項２に記載の眼底観察装置。
【請求項４】
前記整数は２以上であり、
前記１次元画像群は二つ以上の１次元画像からなり、
前記演算手段は、一の前記１次元画像群に対応する二つ以上の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果と、次の前記１次元画像群に対応する二つ以上の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果とに基づいて、前記一の１次元画像群及び／又は前記次の１次元画像群に含まれる１次元画像の前記位置ズレ量を推定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の眼底観察装置。
【請求項５】
前記検出手段は、前記走査手段により前記信号光が走査されているときの前記眼底を前記所定の時間間隔で撮影して動画像を形成する撮影手段と、前記動画像を形成する各静止画像における前記眼底の特徴部位の画像領域を特定する画像領域特定手段とを含み、前記各静止画像における前記画像領域の位置を前記眼底の位置として求める、
ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項６】
前記演算手段は、前記画像領域特定手段により前記画像領域が特定されない静止画像があったときに、当該静止画像に対応する１次元画像の走査点を特定する走査点特定手段を含み、
前記走査手段は、該特定された走査点に前記信号光を再度照射し、
前記画像形成手段は、該再度照射された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな１次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項５に記載の眼底観察装置。
【請求項７】
前記演算手段は、前記算出された前記位置ズレ量に基づいて、前記眼底表面方向における前記複数の１次元画像の位置を補正する第１補正手段を含む、
ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項８】
前記信号光が走査されているときに、前記演算手段は、前記所定の時間間隔で順次に前記検出される前記眼底の位置に基づいて前記位置ズレ量を順次に算出し、
前記順次に算出される前記位置ズレ量に基づき前記走査手段を制御して前記眼底に対する前記信号光の照射位置を補正する制御手段を備える、
ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項９】
前記複数の走査点は所定の走査線に沿って配列され、
前記走査手段は、前記所定の走査線に沿って前記信号光を反復走査し、
前記画像形成手段は、前記反復走査に応じて前記複数の走査点に対応する前記複数の１次元画像を反復形成し、
前記演算手段は、前記反復形成に応じて前記位置ズレ量を反復算出し、
前記反復算出される各位置ズレ量が所定の許容範囲に含まれるか判断する判断手段と、
前記所定の許容範囲に含まれると前記判断された位置ズレ量に対応する前記複数の１次元画像の組を、各走査点に対応する１次元画像毎に重ね合わせる画像重畳手段と、
を備え、
前記画像形成手段は、前記重ね合わせにより形成された新たな複数の１次元画像を前記複数の走査点の配列に応じて並べることにより、前記所定の走査線に沿う断層像を形成する、
ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項１０】
前記演算手段は、前記算出された前記位置ズレ量が所定値以上である１次元画像を特定する画像特定手段を含み、
前記走査手段は、前記画像特定手段により特定された各１次元画像に対応する走査点に向けて前記信号光を再度照射し、
前記画像形成手段は、前記再度照射された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて当該走査点における新たな１次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項１１】
前記複数の走査点は所定の走査線に沿って配列され、
前記演算手段は、前記算出された位置ズレ量に基づき、前記複数の走査点のそれぞれについて、前記複数の１次元画像のうち当該走査点の本来の位置に最も近い１次元画像を選択する画像選択手段を含み、
前記画像形成手段は、前記選択された１次元画像を前記複数の走査点の配列に応じて並べることにより、前記所定の走査線に沿う断層像を形成する、
ことを特徴とする請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項１２】
前記演算手段は、前記走査手段により別途に走査された信号光と参照光との干渉光の検出結果に基づき前記画像形成手段により形成された前記別途の走査の方向に並ぶ別途の１次元画像群に基づいて、前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する、
ことを特徴とする請求項１〜請求項１１のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項１３】
前記走査手段は、前記別途の走査として、前記複数の走査点の配列方向に交差する走査線に沿う所定数の走査点に順次に前記信号光を照射させ、
前記画像形成手段は、前記所定数の走査点のそれぞれにおける前記１次元画像を形成し、該形成された前記所定数の１次元画像に基づいて前記走査線に対応する断層像を形成し、
前記演算手段は、前記断層像における前記眼底の特徴層の画像領域を特定し、前記複数の走査点を並べて形成される断層像における前記特徴層の画像領域を特定し、前記走査線に対応する前記画像領域と前記複数の走査点に対応する前記画像領域との前記深度方向における変位を算出し、該算出された変位に基づいて前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する、
ことを特徴とする請求項１２に記載の眼底観察装置。
【請求項１４】
前記演算手段は、前記算出された前記深度方向における前記位置ズレ量に基づいて、前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置を補正する第２補正手段を含む、
ことを特徴とする請求項１２又は請求項１３に記載の眼底観察装置。
【請求項１５】
低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼の眼底を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出する光学系と、
前記眼底に対して前記信号光を２次元的に走査する走査手段と、
前記干渉光の検出結果に基づいて、前記信号光が２次元的に走査された前記眼底の領域に対応する３次元画像を形成する画像形成手段と、
前記信号光が２次元的に走査されているときの前記眼底の動画像を形成する撮影手段と、
該形成された動画像に基づいて前記３次元画像の眼底表面方向における位置を補正し、かつ、前記走査手段により別途に走査された信号光と参照光との干渉光の検出結果に基づき前記画像形成手段により形成された前記眼底の断層像に基づいて、前記３次元画像の眼底深度方向における位置を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする眼底観察装置。
【請求項１６】
前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、
前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、
前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、
前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記算出された位置ズレ量に基づいて前記複数の断層像の相対位置を補正することにより前記３次元画像の前記眼底表面方向における位置を補正する、
ことを特徴とする請求項１５に記載の眼底観察装置。
【請求項１７】
前記補正手段は、前記相対位置が補正された後の前記複数の断層像の間隔を算出し、
前記画像形成手段は、該算出された間隔及び前記複数の断層像に基づいて、等間隔に並ぶ複数の断層像を形成し、該形成された等間隔の断層像に基づいて３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１６に記載の眼底観察装置。
【請求項１８】
前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、
前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、
前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、
前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記算出された位置ズレ量が所定値以上であるか判断し、
前記位置ズレ量が所定値以上であると判断されたときに、前記走査手段は、前記位置ズレ量が所定値以上と判断された静止画像に対応する断層像の走査線の近傍領域に位置する走査線に沿うように前記信号光を再度走査し、
前記画像形成手段は、前記再度走査された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな断層像を形成し、前記新たな断層像に基づいて前記近傍領域に対応する３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１５に記載の眼底観察装置。
【請求項１９】
前記画像形成手段は、前記位置ズレ量が所定値未満と判断された前記静止画像に対応する断層像と前記新たな断層像とに基づいて前記３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１８に記載の眼底観察装置。
【請求項２０】
前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、
前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、
前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、
前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記複数の走査線のそれぞれについて、前記算出された位置ズレ量に基づき、前記複数の断層像のうち当該走査線の本来の位置に最も近い断層像を選択し、
前記画像形成手段は、前記選択された断層像に基づいて前記３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１５に記載の眼底観察装置。
【請求項２１】
前記特徴部位の画像領域が特定されない前記静止画像があったときに、前記補正手段は、当該静止画像に対応する断層像の走査線を特定し、
前記走査手段は、該特定された走査線に沿うように前記信号光を再度走査し、
前記画像形成手段は、該再度走査された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな断層像を形成し、前記新たな断層像に基づいて当該走査線に対応する領域の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１６〜請求項２０のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項２２】
前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれにおける所定の端部領域に相当する当該断層像中の画像領域を除く中央部分のみに基づいて前記眼底の３次元画像を形成する、
ことを特徴とする請求項１６〜請求項２１のいずれか一項に記載の眼底観察装置。
【請求項２３】
前記走査手段は、前記別途の走査として、前記複数の走査線に交差する所定数の補正用走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、
前記画像形成手段は、前記補正用走査線のそれぞれに対応する補正用断層像を形成し、
前記補正手段は、該形成された前記所定数の補正用断層像における前記眼底の特徴層の画像領域を特定し、前記特定された画像領域と前記複数の断層像のそれぞれにおける前記特徴層の画像領域との深度位置を合わせるように前記複数の断層像のそれぞれを前記眼底深度方向に移動させることにより前記３次元画像の前記眼底深度方向における位置を補正する、
ことを特徴とする請求項１５に記載の眼底観察装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）を用いて眼底の画像を形成する眼底観察装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光コヒーレンストモグラフィが注目を集めている。光コヒーレンストモグラフィは、Ｘ線ＣＴ装置のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。
【０００３】
特許文献１には、光コヒーレンストモグラフィを適用した装置が開示されている。この装置は、測定腕が回転式転向鏡（ガルバノミラー）により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、その出口に計測腕及び参照腕からの光束の干渉光の強度を分光器で分析する干渉器が設けられている。更に、参照腕は、参照光光束位相を不連続な値で段階的に変えるように構成されている。
【０００４】
特許文献１の装置は、いわゆる「フーリエドメインＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光と参照光とを重ね合わせて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル強度分布を取得してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の深度方向（ｚ方向）の形態を画像化するものである。なお、このタイプの手法は、スペクトラルドメイン（Ｓｐｅｃｔｒａｌ  Ｄｏｍａｉｎ）とも呼ばれる。
【０００５】
更に、特許文献１に記載の装置は、光ビーム（信号光）を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成するようになっている。この装置においては、ｚ方向に直交する１方向（ｘ方向）にのみ光ビームを走査するように構成されているので、この装置により形成される画像は、光ビームの走査方向（ｘ方向）に沿った深度方向（ｚ方向）の２次元断層像となる。
【０００６】
特許文献２には、信号光を水平方向（ｘ方向）及び垂直方向（ｙ方向）に走査することにより水平方向の２次元断層像を複数形成し、これら複数の断層像に基づいて測定範囲の３次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この３次元画像化としては、たとえば、複数の断層像を垂直方向に並べて表示させる方法や（スタックデータなどと呼ばれる）、複数の断層像にレンダリング処理を施して３次元画像を形成する方法などが考えられる。
【０００７】
特許文献３、４には、他のタイプのＯＣＴ装置が開示されている。特許文献３には、被測定物体に照射される光の波長を走査し、各波長の光の反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光に基づいてスペクトル強度分布を取得し、それに対してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の形態を画像化するＯＣＴ装置が記載されている。このようなＯＣＴ装置は、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）タイプなどと呼ばれる。なお、スウェプトソースタイプはフーリエドメインタイプの一例である。
【０００８】
また、特許文献４には、所定のビーム径を有する光を被測定物体に照射し、その反射光と参照光とを重ね合わせて得られる干渉光の成分を解析することにより、光の進行方向に直交する断面における被測定物体の画像を形成するＯＣＴ装置が記載されている。このようなＯＣＴ装置は、フルフィールド（ｆｕｌｌ−ｆｉｅｌｄ）タイプ、或いはエンフェイス（ｅｎ−ｆａｃｅ）タイプなどと呼ばれる。
【０００９】
特許文献５には、光コヒーレンストモグラフィを眼科分野に適用した構成が開示されている。この眼底観察装置によれば、眼底の断層像や３次元画像を取得できる。なお、ＯＣＴ装置が眼科分野に応用される以前には、眼底カメラ等の眼底観察装置が利用されていた（たとえば特許文献６を参照）。
【００１０】
光コヒーレンストモグラフィを用いた眼底観察装置は、眼底を前方から撮影するだけの眼底カメラと比較して、眼底の断層像や３次元画像を取得できるという利点がある。そのため、診断精度の向上や病変の早期発見への寄与が期待されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】特開２００２−１３９４２１号公報
【特許文献３】特開２００７−２４６７７号公報
【特許文献４】特開２００６−１５３８３８号公報
【特許文献５】特開２００８−７３０９９公報
【特許文献６】特開平９−２７６２３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
眼底の３次元画像を取得する際には信号光を２次元的にスキャン（走査）させて計測を行う。このスキャンには数秒程度の時間が掛かる。よって、スキャン中に被検眼が移動したり（固視ズレなど）、瞬きをしてしまったりするおそれがある。そうすると、３次元画像が歪んでしまったり、計測対象領域の一部の画像が得られなくなったりするなど、画像の確度が低下してしまう。
【００１３】
この発明は、以上のような問題を解決するためになされたもので、その目的は、信号光のスキャン中に被検眼の移動や瞬きが発生した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能な眼底観察装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼の眼底を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出する光学系と、前記眼底に対して前記信号光を走査して複数の走査点に順次に前記信号光を照射させる走査手段と、前記光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて、前記複数の走査点のそれぞれにおいて前記眼底の深度方向に延びる１次元画像を形成する画像形成手段と、前記信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で前記眼底の位置を検出する検出手段と、前記検出された前記眼底の位置の時間変化に基づいて、前記眼底表面方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する演算手段と、を備えることを特徴とする眼底観察装置である。
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の眼底観察装置であって、前記所定の時間間隔は、前記複数の走査点のうちの一の走査点に前記信号光が照射されてから次の走査点に前記信号光が照射されるまでの走査時間間隔の略整数倍とされ、前記走査手段により前記複数の走査点に順次に前記信号光が照射されているときに、前記検出手段は、当該整数個の走査点が前記走査される度毎に前記眼底の位置を検出し、前記演算手段は、前記複数の１次元画像を当該整数個毎の１次元画像群に分割し、各１次元画像群に対応する当該整数個の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果に基づいて各１次元画像群の位置を特定し、前記特定された各１次元画像群の位置に基づいて前記位置ズレ量を算出する、ことを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の眼底観察装置であって、前記整数は１であり、前記１次元画像群は一つの１次元画像からなり、前記演算手段は、前記複数の１次元画像のそれぞれについて、当該１次元画像に対応する走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果に基づいて当該１次元画像の位置を特定し、該特定された前記複数の位置に基づいて前記位置ズレ量を算出する、ことを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、請求項２に記載の眼底観察装置であって、前記整数は２以上であり、前記１次元画像群は二つ以上の１次元画像からなり、前記演算手段は、一の前記１次元画像群に対応する二つ以上の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果と、次の前記１次元画像群に対応する二つ以上の走査点が前記走査されていたときの前記眼底の位置の検出結果とに基づいて、前記一の１次元画像群及び／又は前記次の１次元画像群に含まれる１次元画像の前記位置ズレ量を推定する、ことを特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記検出手段は、前記走査手段により前記信号光が走査されているときの前記眼底を前記所定の時間間隔で撮影して動画像を形成する撮影手段と、前記動画像を形成する各静止画像における前記眼底の特徴部位の画像領域を特定する画像領域特定手段とを含み、前記各静止画像における前記画像領域の位置を前記眼底の位置として求める、ことを特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、請求項５に記載の眼底観察装置であって、前記演算手段は、前記画像領域特定手段により前記画像領域が特定されない静止画像があったときに、当該静止画像に対応する１次元画像の走査点を特定する走査点特定手段を含み、前記走査手段は、該特定された走査点に前記信号光を再度照射し、前記画像形成手段は、該再度照射された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな１次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項７に記載の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記演算手段は、前記算出された前記位置ズレ量に基づいて、前記眼底表面方向における前記複数の１次元画像の位置を補正する第１補正手段を含む、ことを特徴とする。
また、請求項８に記載の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記信号光が走査されているときに、前記演算手段は、前記所定の時間間隔で順次に前記検出される前記眼底の位置に基づいて前記位置ズレ量を順次に算出し、前記順次に算出される前記位置ズレ量に基づき前記走査手段を制御して前記眼底に対する前記信号光の照射位置を補正する制御手段を備える、ことを特徴とする。
また、請求項９に記載の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記複数の走査点は所定の走査線に沿って配列され、前記走査手段は、前記所定の走査線に沿って前記信号光を反復走査し、前記画像形成手段は、前記反復走査に応じて前記複数の走査点に対応する前記複数の１次元画像を反復形成し、前記演算手段は、前記反復形成に応じて前記位置ズレ量を反復算出し、前記反復算出される各位置ズレ量が所定の許容範囲に含まれるか判断する判断手段と、前記所定の許容範囲に含まれると前記判断された位置ズレ量に対応する前記複数の１次元画像の組を、各走査点に対応する１次元画像毎に重ね合わせる画像重畳手段と、を備え、前記画像形成手段は、前記重ね合わせにより形成された新たな複数の１次元画像を前記複数の走査点の配列に応じて並べることにより、前記所定の走査線に沿う断層像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項１０に記載の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記演算手段は、前記算出された前記位置ズレ量が所定値以上である１次元画像を特定する画像特定手段を含み、前記走査手段は、前記画像特定手段により特定された各１次元画像に対応する走査点に向けて前記信号光を再度照射し、前記画像形成手段は、前記再度照射された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて当該走査点における新たな１次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項１１に記載の発明は、請求項１〜請求項６のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記複数の走査点は所定の走査線に沿って配列され、前記演算手段は、前記算出された位置ズレ量に基づき、前記複数の走査点のそれぞれについて、前記複数の１次元画像のうち当該走査点の本来の位置に最も近い１次元画像を選択する画像選択手段を含み、前記画像形成手段は、前記選択された１次元画像を前記複数の走査点の配列に応じて並べることにより、前記所定の走査線に沿う断層像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項１２に記載の発明は、請求項１〜請求項１１のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記演算手段は、前記走査手段により別途に走査された信号光と参照光との干渉光の検出結果に基づき前記画像形成手段により形成された前記別途の走査の方向に並ぶ別途の１次元画像群に基づいて、前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する、ことを特徴とする。
また、請求項１３に記載の発明は、請求項１２に記載の眼底観察装置であって、前記走査手段は、前記別途の走査として、前記複数の走査点の配列方向に交差する走査線に沿う所定数の走査点に順次に前記信号光を照射させ、前記画像形成手段は、前記所定数の走査点のそれぞれにおける前記１次元画像を形成し、該形成された前記所定数の１次元画像に基づいて前記走査線に対応する断層像を形成し、前記演算手段は、前記断層像における前記眼底の特徴層の画像領域を特定し、前記複数の走査点を並べて形成される断層像における前記特徴層の画像領域を特定し、前記走査線に対応する前記画像領域と前記複数の走査点に対応する前記画像領域との前記深度方向における変位を算出し、該算出された変位に基づいて前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置ズレ量を算出する、ことを特徴とする。
また、請求項１４に記載の発明は、請求項１２又は請求項１３に記載の眼底観察装置であって、前記演算手段は、前記算出された前記深度方向における前記位置ズレ量に基づいて、前記深度方向における前記複数の１次元画像の位置を補正する第２補正手段を含む、ことを特徴とする。
また、請求項１５に記載の発明は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被検眼の眼底を経由した前記信号光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記生成された干渉光を検出する光学系と、前記眼底に対して前記信号光を２次元的に走査する走査手段と、前記干渉光の検出結果に基づいて、前記信号光が２次元的に走査された前記眼底の領域に対応する３次元画像を形成する画像形成手段と、前記信号光が２次元的に走査されているときの前記眼底の動画像を形成する撮影手段と、該形成された動画像に基づいて前記３次元画像の眼底表面方向における位置を補正し、かつ、前記走査手段により別途に走査された信号光と参照光との干渉光の検出結果に基づき前記画像形成手段により形成された前記眼底の断層像に基づいて、前記３次元画像の眼底深度方向における位置を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする眼底観察装置である。
また、請求項１６に記載の発明は、請求項１５に記載の眼底観察装置であって、前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記算出された位置ズレ量に基づいて前記複数の断層像の相対位置を補正することにより前記３次元画像の前記眼底表面方向における位置を補正する、ことを特徴とする。
また、請求項１７に記載の発明は、請求項１６に記載の眼底観察装置であって、前記補正手段は、前記相対位置が補正された後の前記複数の断層像の間隔を算出し、前記画像形成手段は、該算出された間隔及び前記複数の断層像に基づいて、等間隔に並ぶ複数の断層像を形成し、該形成された等間隔の断層像に基づいて３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項１８に記載の発明は、請求項１５に記載の眼底観察装置であって、前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記算出された位置ズレ量が所定値以上であるか判断し、前記位置ズレ量が所定値以上であると判断されたときに、前記走査手段は、前記位置ズレ量が所定値以上と判断された静止画像に対応する断層像の走査線の近傍領域に位置する走査線に沿うように前記信号光を再度走査し、前記画像形成手段は、前記再度走査された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな断層像を形成し、前記新たな断層像に基づいて前記近傍領域に対応する３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項１９に記載の発明は、請求項１８に記載の眼底観察装置であって、前記画像形成手段は、前記位置ズレ量が所定値未満と判断された前記静止画像に対応する断層像と前記新たな断層像とに基づいて前記３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項２０に記載の発明は、請求項１５に記載の眼底観察装置であって、前記走査手段は、前記２次元的な走査として、互いに平行な複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれに対応する断層像を形成し、該形成された複数の断層像に基づいて前記３次元画像を形成し、前記撮影手段は、前記複数の走査線のそれぞれに沿うように前記信号光が走査されているときの静止画像を形成することにより前記動画像を形成し、前記補正手段は、前記複数の静止画像のそれぞれにおける前記眼底の特徴部位の画像領域を特定し、前記複数の静止画像における前記画像領域の位置ズレ量を算出し、前記複数の走査線のそれぞれについて、前記算出された位置ズレ量に基づき、前記複数の断層像のうち当該走査線の本来の位置に最も近い断層像を選択し、前記画像形成手段は、前記選択された断層像に基づいて前記３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項２１に記載の発明は、請求項１６〜請求項２０のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記特徴部位の画像領域が特定されない前記静止画像があったときに、前記補正手段は、当該静止画像に対応する断層像の走査線を特定し、前記走査手段は、該特定された走査線に沿うように前記信号光を再度走査し、前記画像形成手段は、該再度走査された前記信号光と前記参照光との干渉光の検出結果に基づいて新たな断層像を形成し、前記新たな断層像に基づいて当該走査線に対応する領域の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項２２に記載の発明は、請求項１６〜請求項２１のいずれか一項に記載の眼底観察装置であって、前記画像形成手段は、前記複数の走査線のそれぞれにおける所定の端部領域に相当する当該断層像中の画像領域を除く中央部分のみに基づいて前記眼底の３次元画像を形成する、ことを特徴とする。
また、請求項２３に記載の発明は、請求項１５に記載の眼底観察装置であって、前記走査手段は、前記別途の走査として、前記複数の走査線に交差する所定数の補正用走査線のそれぞれに沿うように前記信号光を走査し、前記画像形成手段は、前記補正用走査線のそれぞれに対応する補正用断層像を形成し、前記補正手段は、該形成された前記所定数の補正用断層像における前記眼底の特徴層の画像領域を特定し、前記特定された画像領域と前記複数の断層像のそれぞれにおける前記特徴層の画像領域との深度位置を合わせるように前記複数の断層像のそれぞれを前記眼底深度方向に移動させることにより前記３次元画像の前記眼底深度方向における位置を補正する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
この発明に係る眼底観察装置によれば、信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で前記眼底の位置を検出し、検出された眼底の位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向における複数の１次元画像の位置ズレ量を算出することができる。この位置ズレ量に基づいて複数の１次元画像の位置を補正することで、信号光のスキャン中に被検眼の移動や瞬きが発生した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能である。
【００１６】
また、この発明に係る眼底観察装置によれば、眼底の動画像に基づいて眼底の３次元画像の眼底表面方向における位置を補正し、かつ、走査手段により別途に走査された信号光と参照光との干渉光の検出結果に基づく眼底の断層像に基づいて３次元画像の眼底深度方向における位置を補正することができるので、信号光のスキャン中に被検眼の移動や瞬きが発生した場合であっても高確度な３次元画像（ＯＣＴ画像）を取得することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の構成の一例を表す概略図である。
【図２】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の構成の一例を表す概略図である。
【図３】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図４】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【図５】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【図６】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の動作の一例を説明するための概略図である。
【図７】眼底の深度方向に延びる１次元画像（Ａスキャン像）の位置ズレについて説明するための概略図である。
【図８】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図９】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例による１次元画像（Ａスキャン像）の位置ズレ量を推定する処理を説明するための概略図である。
【図１０】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図１１】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【図１２】この発明に係る眼底観察装置の実施形態の変形例の構成の一例を表す概略ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
この発明に係る眼底観察装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１９】
この発明に係る眼底観察装置は、光コヒーレンストモグラフィを用いて眼底の断層像を形成する。この眼底観察装置には、フーリエドメインタイプやスウェプトソースタイプなど、信号光の走査を伴う任意のタイプの光コヒーレンストモグラフィを適用することが可能である。なお、光コヒーレンストモグラフィによって取得される画像をＯＣＴ画像と呼ぶことがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。
【００２０】
以下の実施形態では、フーリエドメインタイプを適用した構成について詳しく説明する。特に、この実施形態では、特許文献５に開示された装置と同様に、眼底の断層像及び撮影画像の双方を取得可能な眼底観察装置を取り上げる。
【００２１】
＜第１の実施形態＞
［構成］
図１及び図２に示すように、眼底観察装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。ＯＣＴユニット１００には、眼底のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００２２】
〔眼底カメラユニット〕
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）を形成するための光学系が設けられている。眼底像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像である。なお、眼底カメラユニット２は、これら以外の画像、たとえばフルオレセイン蛍光画像やインドシアニングリーン蛍光画像を取得可能に構成されていてもよい。
【００２３】
眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、被検者の顔が動かないように支えるための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の眼底反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを眼底Ｅｆに導くとともに、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳをＯＣＴユニット１００に導く。
【００２４】
照明光学系１０の観察光源１１は、たとえばハロゲンランプにより構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９、及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、対物レンズ２２を経由して眼底Ｅｆを照明する。
【００２５】
観察照明光の眼底反射光は、対物レンズ２２により屈折され、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ダイクロイックミラー３２により反射される。更に、この眼底反射光は、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、たとえば所定のフレームレートで眼底反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された眼底反射光に基づく画像（観察画像）Ｋが表示される。
【００２６】
撮影光源１５は、たとえばキセノンランプにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って眼底Ｅｆに照射される。撮影照明光の眼底反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された眼底反射光に基づく画像（撮影画像）Ｈが表示される。なお、観察画像Ｋを表示する表示装置３と撮影画像Ｈを表示する表示装置３は、同一のものであってもよいし、異なるものであってもよい。
【００２７】
ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用視標を表示する。固視標は、被検眼Ｅを固視させるための視標であり、眼底撮影時や断層像形成時などに使用される。視力測定用視標は、たとえばランドルト環のように、被検眼Ｅの視力値を測定するために用いられる視標である。なお、視力測定用視標を単に視標と称することがある。
【００２８】
ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー４０にて反射され、ダイクロイックミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。
【００２９】
ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更することが可能である。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。
【００３０】
更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、アライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための視標（アライメント視標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための視標（スプリット視標）を生成する。
【００３１】
アライメント光学系５０のＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜に投影される。
【００３２】
アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ダイクロイックミラー３２により反射され、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント視標）は、観察画像Ｋとともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント視標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい。
【００３３】
フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット視標板６３により二つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、対物レンズ２２により眼底Ｅｆに結像される。
【００３４】
フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット視標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット視標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う。また、スプリット視標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。
【００３５】
ダイクロイックミラー３２の後方には、ミラー４１、コリメータレンズ４２、及びガルバノミラー４３、４４を含む光路が設けられている。この光路はＯＣＴユニット１００につながっている。
【００３６】
ガルバノミラー４４は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳをｘ方向に走査する。ガルバノミラー４３は、信号光ＬＳをｙ方向に走査する。これら二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。
【００３７】
〔ＯＣＴユニット〕
図２に示すＯＣＴユニット１００には、眼底Ｅｆの断層像を取得するための光学系が設けられている。この光学系は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、眼底を経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するようになっている。この検出結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。
【００３８】
光源ユニット１０１は低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、人眼には検出できない波長からなる光（不可視光）である。更に、低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば１０５０〜１０６０ｎｍ程度の中心波長を有する近赤外光である。光源ユニット１０１は、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、ＳＯＡ（Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）等の光出力デバイスを含んで構成される。
【００３９】
光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。なお、ファイバカプラ１０３は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を合成する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「ファイバカプラ」と称する。
【００４０】
信号光ＬＳは、光ファイバ１０４により導光され、コリメータレンズユニット１０５により平行光束となる。更に、信号光ＬＳは、各ガルバノミラー４４、４３により反射され、コリメータレンズ４２により集光され、ミラー４１により反射され、ダイクロイックミラー３２を透過し、ＬＣＤ３９からの光と同じ経路を通って眼底Ｅｆに照射される。信号光ＬＳは、眼底Ｅｆにおいて散乱、反射される。この散乱光及び反射光をまとめて信号光ＬＳの眼底反射光と称することがある。信号光ＬＳの眼底反射光は、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。
【００４１】
参照光ＬＲは、光ファイバ１０６により導光され、コリメータレンズユニット１０７により平行光束となる。更に、参照光ＬＲは、ミラー１０８、１０９、１１０により反射され、ＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ１１１により減光され、ミラー１１２に反射され、コリメータレンズ１１３により参照ミラー１１４の反射面に結像される。参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲは、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。なお、分散補償用の光学素子（ペアプリズム等）や、偏光補正用の光学素子（波長板等）を、参照光ＬＲの光路（参照光路）に設けてもよい。
【００４２】
ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの眼底反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波する。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ１１５により導光されて出射端１１６から出射される。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１７により平行光束とされ、回折格子１１８により分光（スペクトル分解）され、集光レンズ５７により集光されてＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影される。
【００４３】
ＣＣＤイメージセンサ１２０は、たとえばラインセンサであり、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この検出信号を演算制御ユニット２００に送る。
【００４４】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、たとえばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサを用いることが可能である。
【００４５】
〔演算制御ユニット〕
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。
【００４６】
また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。
【００４７】
眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行う。
【００４８】
また、ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、参照ミラー１１４及びコリメータレンズ１１３の移動制御、ＣＣＤイメージセンサ１２０の動作制御などを行う。
【００４９】
演算制御ユニット２００は、たとえば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、眼底観察装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいてＯＣＴ画像を形成する専用の回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。
【００５０】
眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、それぞれ別体として構成されていてもよい。
【００５１】
〔制御系〕
眼底観察装置１の制御系の構成について図３を参照しつつ説明する。
【００５２】
（制御部）
眼底観察装置１の制御系は、演算制御ユニット２００の制御部２１０を中心に構成される。制御部２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
【００５３】
制御部２１０には、主制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。主制御部２１１は、前述の各種制御を行う。特に、主制御部２１１は、眼底カメラユニット２の走査駆動部７０及び合焦駆動部８０、更にＯＣＴユニット１００の参照駆動部１３０を制御する。
【００５４】
走査駆動部７０は、たとえばサーボモータを含んで構成され、ガルバノミラー４３、４４の向きを各々独立に変更する。走査駆動部７０は、ガルバノミラー４３、４４とともに、この発明の「走査手段」の一例を構成する。
【００５５】
合焦駆動部８０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、眼底Ｅｆに向かう光の合焦位置が変更される。
【００５６】
参照駆動部１３０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、参照光ＬＲの進行方向に沿って、コリメータレンズ１１３及び参照ミラー１１４を一体的に移動させる。
【００５７】
また、主制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。
【００５８】
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。
【００５９】
（画像形成部）
画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。この処理には、従来のフーリエドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。
【００６０】
画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板や通信インターフェイス等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて呈示される「画像」とを同一視することがある。
【００６１】
（画像処理部）
画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。
【００６２】
また、画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された断層像の間の画素を補間する補間処理を実行するなどして、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。
【００６３】
なお、３次元画像の画像データとは、３次元座標系により画素の位置が定義された画像データを意味する。３次元画像の画像データとしては、３次元的に配列されたボクセルからなる画像データがある。この画像データは、ボリュームデータ或いはボクセルデータなどと呼ばれる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、画像処理部２３０は、このボリュームデータに対してレンダリング処理（ボリュームレンダリングやＭＩＰ（Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  Ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ：最大値投影）など）を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像の画像データを形成する。表示部２４０等の表示デバイスには、この擬似的な３次元画像が表示される。
【００６４】
また、３次元画像の画像データとして、複数の断層像のスタックデータを形成することも可能である。スタックデータは、複数の走査線に沿って得られた複数の断層像を、走査線の位置関係に基づいて３次元的に配列させることで得られる画像データである。すなわち、スタックデータは、元々個別の２次元座標系により定義されていた複数の断層像を、一つの３次元座標系により表現する（つまり一つの３次元空間に埋め込む）ことにより得られる画像データである。
【００６５】
画像処理部２３０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、回路基板等を含んで構成される。
【００６６】
画像処理部２３０には、ｘ補正部２３１、ｙ補正部２３２及びｚ補正部２３３が設けられている。ｘ補正部２３１、ｙ補正部２３２及びｚ補正部２３３は、それぞれ、３次元画像のｘ方向（水平方向）、ｙ方向（垂直方向）及びｚ方向（深度方向）における位置補正を行う。ｘ方向及びｙ方向は、眼底Ｅｆの表面に沿った方向（眼底表面方向）である。また、ｚ方向は、眼底Ｅｆの深さ方向に沿った方向（眼底深度方向）である。これら補正部２３１〜２３３は、この発明の「補正手段」の一例である。以下、これら補正部２３１〜２３３が実行する処理について説明する。
【００６７】
ｘ補正部２３１は、下記の３次元スキャンによって得られた複数の断層像のｘ方向における位置を補正することにより、これら断層像に基づく３次元画像のｘ方向の位置補正を行う。３次元スキャンでは、ｙ方向に並ぶ複数の走査線に沿って信号光ＬＳを走査する。各走査線には、ｘ方向に沿って直線状に配置された複数の走査点が含まれる。３次元スキャンを行う際には、眼底Ｅｆの観察画像Ｋ（動画像）が同時に取得される。観察画像Ｋを取得する際には、各走査線に沿った走査に対応する静止画像（フレーム）が得られるようにフレームレートが設定される。それにより、各走査線（各断層像）に静止画像を対応付けることができる。
【００６８】
３次元スキャンには数秒程度の時間が掛かるので、スキャン中に被検眼Ｅが移動してしまったり（固視ズレ等）、瞬きをしてしまったりするおそれがある。
【００６９】
このような不具合がＯＣＴ計測中に生じたときに得られる複数の断層像Ｇｉ（ｉ＝ｍ）の配列状態の例を図４に示す。図４は、眼底観察装置１側から眼底Ｅｆを見たときの断層像Ｇｉの配置を表している。なお、不具合が生じない状態では、ｘ方向（各走査線Ｒｉに沿う方向）へのズレもなく、かつ、走査領域Ｒ内に等間隔で配列された断層像Ｇｉが得られる。
【００７０】
前述のように、３次元スキャンを行う際には、眼底Ｅｆの観察画像Ｋが同時に取得され、各走査線Ｒｉ（各断層像Ｇｉ）に対応する静止画像（フレーム）が得られる。ｘ補正部２３１は、各静止画像の画素値（輝度値）を解析し、当該静止画像における眼底Ｅｆの特徴部位の画像領域を特定する。この特徴部位としては、たとえば視神経乳頭、黄斑、血管、血管の分岐部、病変部などがある。
【００７１】
次に、ｘ補正部２３１は、これら静止画像における上記画像領域の位置ズレ量を算出する。この処理は、たとえば、最初の眼底像Ｇ１に対応する静止画像（基準静止画像）における上記画像領域に対する、他の各断層像Ｇ２〜Ｇｍに対応する静止画像における上記画像領域の変位を演算するものである。ここで演算される変位は、ｘ方向の変位及びｙ方向の変位である。
【００７２】
続いて、ｘ補正部２３１は、算出された位置ズレ量（変位）を打ち消すように、複数の断層像Ｇｉのｘ方向における相対位置を補正する。それにより、複数の断層像Ｇｉに基づく３次元画像のｘ方向における位置が補正される。
【００７３】
更に、ｘ補正部２３１は、走査領域Ｒの端部領域Ｒａ、Ｒｂに含まれる各断層像Ｇｉの一部（端部領域）を削除する。それにより、走査領域Ｒの中央部分（画像領域）Ｒｃの３次元画像が得られることとなる。
【００７４】
ｙ補正部２３２は、ｘ補正部２３１と同様に、静止画像に基づいて算出された上記の位置ズレ量（変位）を打ち消すように、複数の断層像Ｇｉのｙ方向における相対位置を補正する。それにより、複数の断層像Ｇｉに基づく３次元画像のｙ方向における位置が補正される。なお、位置ズレ量の算出処理をｙ補正部２３２が行ってもよい。
【００７５】
また、ｙ補正部２３２は、上記のようにして相対位置が補正された後の複数の断層像Ｇｉの間隔を調整する。この処理には、断層像が疎である部分を埋め合わせる（補完する）処理（補完処理）と、断層像が密である部分を間引く処理（間引き処理）とがある。
【００７６】
補完処理は、たとえば次のようにして行う。まず、ｙ補正部２３２は、隣接する断層像Ｇｉ、Ｇ（ｉ＋１）（ｉ＝１〜ｍ−１）の間隔を演算する。このとき、走査領域Ｒ内の所定サイズの部分領域に含まれる断層像Ｇの本数を数えて断層像Ｇｉの密度を求めるようにしてもよい。
【００７７】
次に、ｙ補正部２３２は、算出された間隔が所定値以上であるか判断する。この所定値は、たとえば、走査領域Ｒのサイズと走査線Ｒｉの本数とに基づいて設定される。なお、断層像Ｇｉの密度を求める場合には、密度が所定値以下であるか判断することになる。
【００７８】
間隔が所定値以上であると判断された場合、制御部２１０は、走査駆動部７０を制御して、所定値以上の間隔の２つの断層像に挟まれた領域内に位置する走査線に沿うように信号光ＬＳを再度走査させる。
【００７９】
画像形成部２２０は、再度走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光の検出結果に基づいて新たな断層像を形成し、画像処理部２３０は、これら新たな断層像に基づいて、上記領域に対応する３次元画像を形成する。
【００８０】
また、ｙ補正部２３２は、次のような処理を行うこともできる。まず、ｙ補正部２３２は、複数の静止画像に基づいて算出された各位置ズレ量が所定値以上であるか判断する。
【００８１】
位置ズレ量が所定値以上であると判断された場合、制御部２１０は、走査駆動部７０を制御して、位置ズレ量が所定値以上と判断された静止画像に対応する断層像の走査線の近傍領域に位置する走査線に沿うように信号光ＬＳを再度走査させる。
【００８２】
画像形成部２２０は、再度走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光の検出結果に基づいて、再度走査された走査線に沿った新たな断層像を形成する。そして、画像処理部２３０は、これら新たな断層像に基づいて、上記近傍領域に対応する３次元画像を形成する。また、画像処理部２３０は、位置ズレ量が所定値未満と判断された静止画像に対応する断層像と、新たな断層像とに基づいて３次元画像を形成することも可能である。
【００８３】
更に、ｙ補正部２３２は、次のような処理を行うこともできる。まず、ｙ補正部２３２は、複数の走査線のそれぞれについて、複数の静止画像に基づいて算出された位置ズレ量に基づいて、複数の断層像Ｇｉのうち当該走査線の本来の位置に最も近い断層像を選択する。走査線の本来の位置は、走査領域Ｒ内に設定された走査線の座標値によって表現される。この座標値（特にｙ座標値）は、走査領域Ｒのサイズと走査線の本数とに基づいて容易に得られる。ｙ補正部２３２は、この座標位置の最も近くに位置する断層像を選択する。
【００８４】
画像処理部２３０は、選択された断層像のみに基づいて３次元画像を形成する。
【００８５】
また、ｙ補正部２３２は、次のような処理を行うこともできる。複数の断層像Ｇｉの相対位置が補正された後に、ｙ補正部２３２は、これら断層像Ｇｉの間隔を算出する。画像処理部２３０は、算出された間隔及びこれら断層像Ｇｉに基づいて、等間隔に並ぶ複数の断層像を形成する。この処理は、たとえば、ｙ方向に並ぶ走査点における画素値（輝度値）に基づく線形補間処理を行って、ｙ方向に等間隔に並ぶ位置における画素値を演算する。そして、演算された画素値を用いて画像を形成することにより、等間隔に並ぶ複数の断層像が得られる。更に、画像処理部２３０は、これら等間隔に並ぶ断層像に基づいて３次元画像を形成する。
【００８６】
観察画像Ｋ（複数の静止画像）から特徴部位の画像領域が特定されないおそれがある。そうすると、上記で説明した補正処理を行えなくなってしまう。その場合、次のような処理を行うことができる。
【００８７】
特徴部位の画像領域が特定されない静止画像があった場合、ｙ補正部２３２は、この静止画像に対応する断層像の走査線を特定する。静止画像と断層像とは前述のように対応付けられており、断層像と走査線とは一対一に対応するので、当該処理は容易に行える。
【００８８】
続いて、制御部２１０は、走査駆動部７０を制御し、特定された走査線に沿うように信号光ＬＳを再度走査させる。このとき、観察画像Ｋも取得される。
【００８９】
画像形成部２２０は、再度走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光の検出結果に基づいて、特定された走査線に沿った新たな断層像を形成する。ｘ補正部２３１やｙ補正部２３２は、この新たな断層像と観察画像Ｋに基づいて、上記の補正処理を行うことが可能である。更に、画像処理部２３０は、新たな断層像に基づいて、特定された走査線に対応する領域の３次元画像を形成することができる。
【００９０】
ｚ補正部２３３は、前述のように、３次元画像（複数の断層像Ｇｉ）のｚ方向における位置を補正する。そのために、３次元スキャンとは別にスキャンを行う（別途の走査）。この別途の走査は、複数の走査線Ｒｉに交差する方向の走査である。この実施形態では、別途の走査として、複数の走査線Ｒｉに直交する所定数の走査線（補正用走査線）のそれぞれに沿うように信号光ＬＳを走査させる。
【００９１】
画像形成部２２０は、この別途の走査によって得られた干渉光ＬＣの検出結果に基づいて、各補正用走査線に対応する断層像（補正用断層像）を形成する。
【００９２】
ｚ補正部２３３は、形成された所定数の補正用断層像における眼底Ｅｆの特徴層の画像領域を特定する。この特徴層としては、たとえば高輝度で明瞭に描写される部位（組織）のように、断層像において特定が容易な部位が選択されることが望ましい。
【００９３】
続いて、ｚ補正部２３３は、補正用断層像における当該画像領域と各断層像Ｇｉにおける当該特徴層の画像領域との深度位置（ｚ座標値）を合わせるように、各断層像Ｇｉを眼底深度方向（ｚ方向）に移動させる。それにより、３次元画像の眼底深度方向における位置補正が可能となる。
【００９４】
画像形成部２２０及び画像処理部２３０（特に３次元画像を形成する部分）は、この発明の「画像形成手段」の一例である。
【００９５】
（表示部、操作部）
表示部２４０は、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスを含んで構成される。操作部２５０は、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。また、操作部２５０には、眼底観察装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。たとえば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等が操作部２５０に含まれていてもよい。また、表示部２４０は、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルモニタなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
【００９６】
なお、表示部２４０と操作部２５０は、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネルモニタのように、表示機能と操作機能とが一体化されたデバイスを用いることも可能である。
【００９７】
〔信号光の走査及びＯＣＴ画像について〕
ここで、信号光ＬＳの走査及びＯＣＴ画像について説明しておく。
【００９８】
眼底観察装置１による信号光ＬＳの走査態様としては、たとえば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋（渦巻）スキャンなどがある。これらの走査態様は、眼底の観察部位、解析対象（網膜厚など）、走査に要する時間、走査の精密さなどを考慮して適宜に選択的に使用される。
【００９９】
水平スキャンは、信号光ＬＳを水平方向（ｘ方向）に走査させるものである。水平スキャンには、垂直方向（ｙ方向）に配列された複数の水平方向に延びる走査線に沿って信号光ＬＳを走査させる態様も含まれる。この態様においては、走査線の間隔を任意に設定することが可能である。また、隣接する走査線の間隔を十分に狭くすることにより、前述の３次元画像を形成することができる（３次元スキャン）。垂直スキャンについても同様である。
【０１００】
十字スキャンは、互いに直交する２本の直線状の軌跡（直線軌跡）からなる十字型の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。放射スキャンは、所定の角度を介して配列された複数の直線軌跡からなる放射状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。なお、十字スキャンは放射スキャンの一例である。
【０１０１】
円スキャンは、円形状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査させるものである。同心円スキャンは、所定の中心位置の周りに同心円状に配列された複数の円形状の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査させるものである。円スキャンは同心円スキャンの特殊例と考えられる。螺旋スキャンは、回転半径を次第に小さく（又は大きく）させながら螺旋状（渦巻状）の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査するものである。
【０１０２】
走査ユニット１４１は、前述のような構成により、信号光ＬＳをｘ方向及びｙ方向にそれぞれ独立に走査できるので、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査することが可能である。それにより、上記のような各種の走査態様を実現できる。
【０１０３】
上記のような態様で信号光ＬＳを走査することにより、走査線（走査軌跡）に沿った深度方向（ｘ方向）の断層像を形成することができる。また、特に走査線の間隔が狭い場合には、前述の３次元画像を形成することができる。
【０１０４】
上記のような信号光ＬＳの走査対象となる眼底Ｅｆ上の領域を、前述のように走査領域と呼ぶ。たとえば３次元スキャンにおける走査領域は、複数の水平スキャンが配列された矩形の領域である（図４の走査領域Ｒを参照）。また、同心円スキャンにおける走査領域は、最大径の円スキャンの軌跡により囲まれる円盤状の領域である。また、放射スキャンにおける走査領域は、各スキャンラインの両端位置を結んだ円盤状（或いは多角形状）の領域である。
【０１０５】
［作用・効果］
以上のような眼底観察装置１の作用及び効果について説明する。
【０１０６】
眼底観察装置１によれば、図４に示すような断層像Ｇｉが得られたとしても、観察画像Ｋに基づいて、断層像Ｇｉ（３次元画像）のｘ方向及びｙ方向における位置を補正することができる。
【０１０７】
また、眼底観察装置１によれば、断層像Ｇｉ（走査線Ｒｉ）が疎な領域について、再度スキャンを行って断層像を補完することができる。それにより、図５に示すように、疎な領域Ｒｄにおける走査線Ｒｋに沿った新たな断層像Ｊｋが取得され、これら断層像Ｊｋに基づいて疎な領域Ｒｄの３次元画像を形成できる。
【０１０８】
更に、眼底観察装置１によれば、断層像Ｇｉが密な部分について、断層像Ｇｉを間引きすることができる。
【０１０９】
このような補完や間引きを行うことにより、好適な間隔で配置された複数の断層像を取得でき、好適な３次元画像が得られる。
【０１１０】
また、眼底観察装置１によれば、図６に示すように、走査領域Ｒの端部領域Ｒａ、Ｒｂに含まれる各断層像Ｇｉの一部（端部領域）を削除することができるので、走査領域Ｒの中央部分（画像領域）Ｒｃの３次元画像が得られる。
【０１１１】
また、眼底観察装置１によれば、３次元スキャンとは別途に走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光ＬＣの検出結果に基づく断層像（補正用断層像）に基づいて、３次元画像の眼底深度方向における位置を補正することができる。
【０１１２】
また、眼底観察装置１によれば、相対位置が補正された後の複数の断層像Ｇｉの間隔を算出し、算出された間隔及び複数の断層像Ｇｉに基づいて、等間隔に並ぶ複数の断層像を形成し、これら等間隔の断層像に基づいて３次元画像を形成することができる。
【０１１３】
また、眼底観察装置１によれば、観察画像Ｋを構成する各静止画像における眼底Ｅｆの特徴部位の画像領域を特定し、これら画像領域の位置ズレ量を算出し、位置ズレ量が所定値以上であると判断された場合には、位置ズレ量が所定値以上と判断された静止画像に対応する断層像の走査線の近傍領域に位置する走査線に沿うように信号光ＬＳを再度走査して新たな断層像を形成し、この新たな断層像に基づいて上記近傍領域に対応する３次元画像を形成することができる。
【０１１４】
また、眼底観察装置１によれば、各走査線Ｒｉについて、上記で算出された位置ズレ量に基づき、複数の断層像Ｇｉのうち当該走査線Ｒｉの本来の位置に最も近い断層像を選択し、選択された断層像に基づいて３次元画像を形成することができる。
【０１１５】
また、眼底観察装置１によれば、特徴部位の画像領域が特定されない静止画像があったときに、この静止画像に対応する断層像の走査線を特定し、特定された走査線に沿うように信号光ＬＳを再度走査して新たな断層像を形成し、この新たな断層像に基づいて当該走査線に対応する領域の３次元画像を形成することができる。
【０１１６】
このように作用する眼底観察装置１によれば、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅの移動や瞬きが発生した場合であっても高確度な３次元画像を取得することが可能である。
【０１１７】
＜第２の実施形態＞
第１の実施形態では断層像毎に位置ズレを補正する技術を説明した。前述のように、各走査線は複数の走査点により構成されている。第２の実施形態では、一つ以上の走査点を単位として位置ズレ量を求める技術を説明する。求められた位置ズレ量は、第１の実施形態と同様に位置ズレの補正に用いることもできるし、他の目的に用いることもできる。他の目的の一例として、第２の実施形態では、眼底の同一部位を走査して得られた二以上の画像を重ね合わせて高精度の画像を形成する技術への応用を説明する。
【０１１８】
この実施形態の眼底観察装置は、第１の実施形態と同様の計測を実行して、各走査点において眼底の深度方向に延びる１次元画像を形成する。この１次元画像をＡスキャン像と呼ぶことにする。断層像は、複数の走査点の配列に応じて当該複数のＡスキャン像を配列させることにより形成される。
【０１１９】
更に、この眼底観察装置は、信号光が走査されているときに、所定の時間間隔で眼底の位置を検出し、検出された眼底の位置の時間変化に基づいて眼底表面方向（ｘｙ方向）における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。
【０１２０】
ここで、Ａスキャン像の位置ズレについて図７を参照しつつ説明する。図７（Ａ）は、複数の走査点Ｒｉｊ（ｉ＝１〜ｍ、ｊ＝１〜ｎ）の配列の一例を表している。信号光ＬＳは各走査点Ｒｉｊに向けて照射される。しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、図７（Ｂ）に示すように、信号光ＬＳの実際の照射位置Ｔｉｊが本来の走査点Ｒｉｊの位置からずれてしまう。
【０１２１】
そうすると、走査点Ｒｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するべきＡスキャン像の位置がずれてしまう（つまり、実際の照射位置Ｔｉｊに対応する眼底Ｅｆの位置を描写するＡスキャン像が得られてしまう）。これが、Ａスキャン像の位置ズレである。この実施形態では、このようなＡスキャン像の位置ズレの量（位置ズレ量）を求める。
【０１２２】
このとき、各Ａスキャン像の位置ズレ量を求めるようにしてもよいし、連続する所定数のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるようにしてもよい。なお、第１の実施形態は、各走査線Ｒｉ上のｎ個のＡスキャン像の位置ズレ量をまとめて求めるものであり、後者の処理の一例である。
【０１２３】
Ａスキャン像の位置ズレ量はベクトル量である。つまり、この位置ズレ量には、走査点Ｒｉｊに対する実際の照射位置Ｔｉｊの変位方向を表す情報（ズレ方向情報）と変位量を表す情報（ズレ量情報）とが含まれる。
【０１２４】
［構成］
上記のような処理を実現するために、この実施形態に係る眼底観察装置は次のような構成を有する。まず、この眼底観察装置は、第１の実施形態と同様のハードウェア構成を有する。つまり、この眼底観察装置は、図１及び図２に示した構成を有する。以下、これら図面を適宜に参照して説明する。
【０１２５】
〔制御系〕
この眼底観察装置の制御系の構成について説明する。この眼底観察装置の制御系は、第１の実施形態のそれ（図３を参照）と一部が共通である。この眼底観察装置の制御系の構成の一例を図８に示す。なお、図８に示す構成要素において、第１の実施形態と共通のものには同じ符号が付してある。
【０１２６】
画像処理部２３０以外の構成は第１の実施形態と同様である。画像処理部２３０には、特徴部位特定部２６１、演算部２６２、走査点特定部２６５及び補正部２６６が設けられている。以下、眼底表面方向における位置ズレ量の演算処理と、眼底Ｅｆの深度方向における位置ズレ量の演算処理とに分けて説明する。
【０１２７】
特徴部位特定部２６１について説明する。この眼底観察装置は、観察光源１１やＣＣＤイメージセンサ３５を用いて眼底Ｅｆの観察画像Ｋ（動画像）を形成する。観察画像Ｋは、所定のフレームレートで眼底Ｅｆを撮影することにより得られる。このフレームレートの逆数は、この発明の「所定の時間間隔」に相当する。
【０１２８】
特に、この眼底観察装置は、信号光ＬＳが走査されているときの眼底Ｅｆを撮影して観察画像Ｋを形成する。観察画像Ｋを形成するための構成（照明光学系１０や撮影光学系３０）は、この発明の「撮影手段」の一例である。
【０１２９】
特徴部位特定部２６１は、観察画像Ｋを形成する各静止画像を解析して、眼底Ｅｆの特徴部位に画像領域を特定する。この処理については第１の実施形態で説明した。特徴部位特定部２６１は、この発明の「画像領域特定手段」の一例である。
【０１３０】
更に、特徴部位特定部２６１は、各静止画像における特徴部位の画像領域の位置を眼底Ｅｆの位置として求める。つまり、各静止画像には２次元座標系が予め定義されており、特徴部位特定部２６１は、この２次元座標系における当該画像領域の座標値を眼底Ｅｆの位置とする。ここで、当該画像領域の座標値としては、たとえば、当該画像領域内の特徴点（中心点、重心点等）の座標値を用いることができる。なお、各静止画像は眼底表面方向（ｘｙ平面方向）に広がる画像であるから、この２次元座標系とｘｙ座標系とは互いに座標変換可能に対応付けられている。特に、この２次元座標系としてｘｙ座標系自体を用いることも可能である。
【０１３１】
このような撮影手段及び画像領域特定手段は、この発明の「検出手段」の一例を構成する。
【０１３２】
次に、演算部２６２について説明する。演算部２６２は、特徴部位特定部２６１により求められた眼底Ｅｆの位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。演算部２６２は、補正部２６６とともに、この発明の「演算手段」の一例を構成する。上記処理を実行するために、演算部２６２には位置特定部２６３と位置ズレ量算出部２６４が設けられている。
【０１３３】
ここで、眼底Ｅｆの位置検出を行う時間間隔（位置検出間隔）と、信号光ＬＳの走査時間間隔との関係について説明する。走査時間間隔とは、一の走査点Ｒｉｊに信号光ＬＳが照射されてからその次の走査点Ｒｉ（ｊ＋１）に信号光ＬＳが照射されるまでの時間間隔を意味する。
【０１３４】
なお、一の走査線Ｒｉの最後の走査点Ｒｉｎに信号光ＬＳが照射されてから、次の走査線Ｒ（ｉ＋１）の最初の走査点Ｒ（ｉ＋１）１に信号光ＬＳが照射されるまでの時間間隔（走査線替え時間間隔）は、上記走査時間間隔と等しくてもよいし異なってもよい。異なる場合、走査線替え時間間隔に合わせて位置検出間隔を制御してもよい。また、位置検出間隔を制御する代わりに、走査線替え時間間隔を走査時間間隔の整数倍の値にすればよい。
【０１３５】
この実施形態では、位置検出間隔は、走査時間間隔の整数（Ｑ≧１）倍に設定される。つまり、この眼底観察装置は、複数の走査点Ｒｉｊに順次に信号光ＬＳを照射しつつ、Ｑ個の走査点を走査する度毎に眼底Ｅｆの位置を検出する。
【０１３６】
具体例として、Ｑ＝１の場合、この眼底観察装置は、各走査点Ｒｉｊに信号光ＬＳが照射される度に眼底Ｅｆの位置を検出する。また、Ｑ＝２の場合、この眼底観察装置は、２個の走査点が走査される度に（つまり走査点１つおきに）眼底Ｅｆの位置を検出する。また、Ｑ＝ｎ（一の走査線Ｒｉ上の走査点の個数）の場合が第１の実施形態に相当する。
【０１３７】
一般に、この眼底観察装置は、走査点Ｑ個おきに眼底Ｅｆの位置を検出する。このような動作は、ＣＣＤイメージセンサ３５の蓄積時間の制御と、走査駆動部７０の制御とを同期させることにより実現される。
【０１３８】
このような制御が実行されているときに、演算部２６２は、順次に形成される複数のＡスキャン像をＱ個毎のＡスキャン像群に分割する。この「分割」とは、複数のＡスキャン像をＱ個毎に実際に分ける（たとえば各Ａスキャン像群を別々に記憶する）ものであってもよいし、識別情報を付すなどして各Ａスキャン像群を識別可能にするものであってもよい。いずれにしても、以降の処理において個々のＡスキャン像群に対して処理を実行できるものであれば十分である。よって、位置検出間隔と走査時間間隔との比率（Ｑ）を記憶しておき、以降の処理において複数のＡスキャン像をＱ個毎に処理するような場合なども「分割」に包含される。以上の処理により、Ｑ個のＡスキャン像群と、Ｑ個の走査点群と、一つの眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられる。
【０１３９】
位置特定部２６３は、各Ａスキャン像群に対応するＱ個の走査点が走査されていたときの眼底Ｅｆの位置の検出結果に基づいて各１次元画像群の位置を特定する。この処理についてより詳しく説明する。つまり、前述のように、Ａスキャン像群には走査点群と眼底Ｅｆの位置の検出結果とが対応付けられているので、位置特定部２６３は、この対応付けを参照して、各Ａスキャン像群に対応する眼底Ｅｆの位置の検出結果を特定して当該Ａスキャン像群の位置とする。この処理は、図７（Ｂ）に示す実際の照射位置Ｔｉｊを特定することに相当する。
【０１４０】
位置ズレ量算出部２６４は、位置特定部２６３により特定された各Ａスキャン像群の位置に基づいて位置ズレ量を算出する。この位置ズレ量は、図７（Ｂ）に示す走査点Ｒｉｊと実際の照射位置Ｔｉｊとの変位に相当する。なお、Ｑ＝１の場合には各Ａスキャン像について正確に位置ズレ量が求められるが、Ｑ≧２の場合には、Ａスキャン像群に含まれる或るＡスキャン像（つまり眼底Ｅｆの位置が検出された瞬間に走査された走査点に対応するＡスキャン像）については正確に位置ズレ量が求められるが、これ以外のＡスキャン像については一般に多少の誤差が介在することになる。
【０１４１】
位置ズレ量を算出する処理についてより詳細に説明する。位置ズレ量算出部２６４は、事前に設定された走査態様に応じた各走査点Ｒｉｊの位置情報（走査点位置情報）を記憶している。
【０１４２】
走査点位置情報は、たとえば前述のｘｙ座標系により定義される座標値で表される。別の例として、走査点位置情報は、複数の走査点Ｒｉｊのうちのいずれか（たとえば最初の走査点Ｒ１１）を原点とする２次元座標系により定義される座標値で表現されていてもよい。また、走査点位置情報として、複数の走査点Ｒｉｊのうちのいずれか（たとえば最初の走査点Ｒ１１）のｘｙ座標値と、隣接する走査点の間隔（ｘ方向の間隔、ｙ方向の間隔）とを記憶してもよい。更に、走査点の間隔の代わりに、各走査線の長さ、隣接する走査線の間隔、各走査線上の走査点の個数を記憶するようにしてもよい。いずれにしても、走査点位置情報は、各走査点の位置を一意的に定義するものであれば、その形態は任意である。
【０１４３】
位置ズレ量算出部２６４は、まず、各Ａスキャン像群について、これに対応する各走査点Ｒｉｊの位置（つまり各Ａスキャン像の本来の位置）を走査点位置情報から取得する。次に、位置ズレ量算出部２６４は、各Ａスキャン像群について、取得された走査点Ｒｉｊの位置と、位置特定部２６３により特定された実際の照射位置Ｔｉｊとを、各走査点Ｒｉｊ毎に比較する。それにより、走査点Ｒｉｊの位置に対する照射位置Ｔｉｊの位置ズレ量が得られる。
【０１４４】
次に、補正部２６６について説明する。補正部２６６は、位置ズレ量算出部２６４により算出された位置ズレ量に基づいて、眼底表面方向におけるＡスキャン像の位置を補正する。補正部２６６は、この発明の「第１補正手段」の一例である。
【０１４５】
Ａスキャン像の位置を補正する処理についてより詳細に説明する。前述のように、位置ズレ量算出部２６４により求められた眼底表面方向における位置ズレ量は、走査点Ｒｉｊの位置に対する照射位置Ｔｉｊの位置ズレ量に相当する。補正部２６６は、各Ａスキャン像について、これに対応する位置ズレ量を打ち消すように、つまり実際の照射位置Ｔｉｊを本来の走査点Ｒｉｊの位置に移動させるように、当該Ａスキャン像の位置を補正する。それにより、実際に取得されたＡスキャン像を本来の位置（走査点Ｒｉｊの位置）に配置させることができる。以上で、眼底表面方向における位置ズレ量の演算処理に関する説明を終了する。
【０１４６】
続いて、眼底Ｅｆの深度方向における位置ズレ量の演算処理について説明する。この演算処理は、第１の実施形態と同様にして実行される。つまり、演算部２６２は、上記の走査（複数のＡスキャン像を取得するための走査：本走査と呼ぶことにする）とは別途に走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとからなる干渉光ＬＣの検出結果に基づく１次元画像群（別途のＡスキャン像群）に基づいて、深度方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出する。
【０１４７】
別途のＡスキャン像群は、上記別途の走査の方向に配列された所定数のＡスキャン像からなる。この別途の走査の方向は本走査と異なる方向を向いている。つまり、別途の走査における所定数の走査点を結んだ走査線は、本走査における各走査線と交差しているものとする。
【０１４８】
眼底深度方向における位置ズレ量の演算処理の前提として、この眼底観察装置は、上記した別途の走査を実行して別途のＡスキャン像群を形成し、更に、これら別途のＡスキャン像群に基づいて、別途の走査における走査線に対応する断層像（基準断層像）を形成する。
【０１４９】
演算部２６２は、第１の実施形態と同様にして、基準断層像における眼底Ｅｆの特徴層の画像領域を特定するとともに、本走査で得られた断層像における当該特徴層の画像領域を特定する。
【０１５０】
続いて、演算部２６２（位置ズレ量算出部２６４）は、第１の実施形態と同様にして、基準断層像から特定された画像領域と、本走査の断層像から特定された画像領域との、深度方向における変位を算出する。更に、演算部２６２（位置ズレ量算出部２６４）は、算出された変位に基づき、第１の実施形態と同様にして、本走査で得られたＡスキャン像の深度方向における位置ズレ量を算出する。
【０１５１】
補正部２６６は、演算部２６２により算出された深度方向における位置ズレ量に基づいて、本走査で得られたＡスキャン像の深度方向における位置を補正する。この処理は、本走査で得られたＡスキャン像の深度方向における位置を、位置ズレ量を打ち消すように深度方向に移動させるようにして実行される。補正部２６６は、この発明の「第２補正手段」の一例である。以上で、深度方向における位置ズレ量の演算処理の説明を終了する。
【０１５２】
次に、走査点特定部２６５について説明する。走査点特定部２６５は、特徴部位特定部２６１により目的の画像領域が特定されない静止画像（観察画像Ｋのフレーム）があったときに動作する。走査点特定部２６５は、画像領域が特定されない各静止画像について、この静止画像に対応するＡスキャン像の走査点を特定する。この処理は、前述したＡスキャン像群と走査点群と眼底Ｅｆの位置の検出結果との対応付けと、眼底Ｅｆの位置の検出結果と静止画像との対応付け（位置検出は静止画像に基づき実行されたことに注意）とに基づいて容易に実行できる。走査点特定部２６５は、この発明の「走査点特定手段」の一例である。
【０１５３】
走査点特定部２６５により走査点が特定されると、主制御部２１１は、走査駆動部７０を制御して、この特定された走査点に対応する位置にガルバノミラー４３、４４を配置させる。更に、主制御部２１１は、観察光源１１を点灯させて観察画像Ｋを取得させるとともに、光源ユニット１０１を制御して低コヒーレンス光Ｌ０を出力させる。それにより、特定された走査点に信号光ＬＳが照射される。なお、特定された走査点が複数存在する場合には、これら走査点を信号光ＬＳで順次に走査する。
【０１５４】
画像形成部２２０は、この信号光ＬＳと参照光ＬＲとからなる干渉光ＬＣの検出結果をＣＣＤイメージセンサ１２０から受け、当該走査点に対応する新たなＡスキャン像を形成する。
【０１５５】
画像処理部２３０は、この新たなＡスキャン像と、これに対応する静止画像（観察画像Ｋのフレーム）に対して、前述した処理を実行する。更に、画像形成部２２０は、新たなＡスキャン像と、既に取得されている他の走査点とに基づいて、眼底Ｅｆの断層像を形成することができる。
【０１５６】
［作用・効果］
以上のような眼底観察装置の作用及び効果について説明する。
【０１５７】
この眼底観察装置によれば、複数の走査点Ｒｉｊに対して信号光ＬＳが走査されているときに所定の時間間隔で眼底Ｅｆの位置を検出し、検出された眼底Ｅｆの位置の時間変化に基づいて、眼底表面方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出することができる。更に、この眼底観察装置によれば、算出された位置ズレ量に基づいて複数のＡスキャン像の位置を補正することが可能である。
【０１５８】
それにより、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅの移動や瞬きが発生した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することができる。特に、所定個数（１個以上）のＡスキャン像群毎に位置を補正できるので、断層像単位で補正を行う第１の実施形態よりも高い精度での補正が可能である。
【０１５９】
また、この眼底観察装置によれば、或るＡスキャン像の位置ズレ量を取得するための特徴部位の画像領域が特定されないときに、このＡスキャン像に対応する走査点を特定し、この走査点の計測を再度実行して新たなＡスキャン像を形成することができる。それにより、位置ズレ量の取得に失敗したとしても、再度の取得を自動で行うことができるので、高い確度のＯＣＴ画像を取得することが可能である。特に、位置ズレ量の取得に失敗したＡスキャン像に対応する走査点のみを再計測するので、検査時間の短縮や患者への負担軽減も図られる。
【０１６０】
また、この眼底観察装置によれば、別途に走査された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光ＬＣの検出結果に基づく別途のＡスキャン像群に基づいて、眼底Ｅｆの深度方向における複数のＡスキャン像の位置ズレ量を算出することができる。更に、この眼底観察装置によれば、この位置ズレ量に基づいて、深度方向における複数のＡスキャン像の位置を補正することができる。
【０１６１】
それにより、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅの移動や瞬きが発生した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することができる。特に、所定個数のＡスキャン像群毎に深度方向における位置を補正できるので、断層像単位で補正を行う第１の実施形態よりも高い精度での補正が可能である。
【０１６２】
［変形例］
この実施形態に係る各種の変形例について説明する。
【０１６３】
（変形例１）
位置検出間隔が走査時間間隔の２倍以上である場合（Ｑ≧２）、上記の実施形態ではＱ個のＡスキャン像群に対して一つの位置ズレ量を求めていた。この変形例では、Ｑ個のＡスキャン像群に対して複数（Ｑ以下）の位置ズレ量を求める処理について説明する。
【０１６４】
位置ズレ量算出部２６４は、第１のＡスキャン像群に対応するＱ個の走査点が走査されていたときの眼底の位置の検出結果と、その次の第２のＡスキャン像群に対応するＱ個の走査点が走査されていたときの眼底Ｅｆの位置の検出結果とを取得する。そして、位置ズレ量算出部２６４は、これら二つの検出結果に基づいて、第１のＡスキャン像群及び／又は第２のＡスキャン像群に含まれる各Ａスキャン像の位置ズレ量を推定する。
【０１６５】
この推定処理の具体例について図９を参照しつつ説明する。この具体例ではＱ＝３とする。第１のＡスキャン像群に対応する第１の走査点群Ｕ１には３つの走査点Ｒｉ１〜Ｒｉ３が含まれ、第２のＡスキャン像群に対応する第２の走査点群Ｕ２には３つの走査点Ｒｉ４〜Ｒｉ６が含まれている。
【０１６６】
各走査点群Ｕ１、Ｕ２において、最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに眼底Ｅｆの位置を検出するものとする。つまり、画像処理部２３０は、各走査点群Ｕ１、Ｕ２における最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４が走査されているときに撮影された静止画像（観察画像Ｋのフレーム）に基づいて、各走査点群Ｕ１、Ｕ２に対応する位置ズレ量を求める。この処理については前述した。
【０１６７】
第１の走査点群Ｕ１に対応する位置ズレ量を（Δｘ１、Δｙ１）とし、第２の走査点群Ｕ２に対応する位置ズレ量を（Δｘ２、Δｙ２）とする。位置ズレ量算出部２６４は、最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４の位置ズレ量をそれぞれ（Δｘ１、Δｙ１）、（Δｘ２、Δｙ２）とする。
【０１６８】
更に、位置ズレ量算出部２６４は、これら位置ズレ量（Δｘ１、Δｙ１）、（Δｘ２、Δｙ２）に基づいて、２つの走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４に挟まれた各走査点Ｒｉ２、Ｒｉ３の位置ズレ量を次のようにして推定する。
【０１６９】
走査時間間隔は極めて短時間であるので、走査点Ｒｉ１を走査したときから走査点Ｒｉ４を走査したときまでの眼底Ｅｆの移動速度は等速度と仮定できる。更に、推定対象となる各走査点Ｒｉ２、Ｒｉ３は、走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４を結んだ線分を、それぞれ１：２、２：１に内分する点に位置する。
【０１７０】
上記条件の下、位置ズレ量算出部２６４は、（（Δｘ２−Δｘ１）／３、（Δｙ２−Δｙ１）／３）を算出し、これを走査点Ｒｉ２に対応する位置ズレ量とする。同様に、位置ズレ量算出部２６４は、（２×（Δｘ２−Δｘ１）／３、２×（Δｙ２−Δｙ１）／３）を算出し、これを走査点Ｒｉ３に対応する位置ズレ量とする。それにより、４つの走査点Ｒｉ１〜Ｒｉ４のそれぞれに対応する位置ズレ量が得られる。
【０１７１】
なお、各走査点Ｒｉ５、Ｒｉ６に対応する位置ズレ量は、第２の走査点群Ｕ２の次の走査点群に対応する位置ズレ量を参照して同様に求められる。位置ズレ量算出部２６４は、このようにして各走査点Ｒｉｊに対応する位置ズレ量を順次に求めていく。
【０１７２】
以上では、各走査点群Ｕ１、Ｕ２の最初の走査点Ｒｉ１、Ｒｉ４を基準として、これらに挟まれた走査点Ｒｉ２、Ｒｉ３に対応する位置ズレ量を推定したが、他の走査点を基準にした場合であっても、基準となる２つの走査点に挟まれた各走査点に対応する位置ズレ量を同様にして推定できる。たとえば、中間の走査点Ｒｉ２、Ｒｉ５を基準とする場合、第１の走査点群Ｕ１中の走査点Ｒｉ３と、第２の走査点群Ｕ２中の走査点Ｒｉ４のそれぞれに対応する位置ズレ量が推定される。また、最後の走査点Ｒｉ３、Ｒｉ６を基準とする場合、第２の走査点群Ｕ２中の走査点Ｒｉ４、Ｒｉ５のそれぞれに対応する位置ズレ量が推定される。
【０１７３】
補正部２６６は、求められた位置ズレ量に基づいて、複数のＡスキャン像のそれぞれの位置を補正することができる。
【０１７４】
この変形例によれば、眼底Ｅｆの位置の検出を走査点Ｑ個毎に取得しつつも、位置ズレ量を各Ａスキャン像について求めることができる。したがって、眼底Ｅｆの位置の検出間隔に制限がある場合でも、各Ａスキャン像の位置ズレ量を求めることが可能である。また、走査時間間隔を短く設定できるという利点もある。
【０１７５】
（変形例２）
上記の実施形態では、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて、既に形成されたＡスキャン像の位置を補正している。一方、この変形例では、Ａスキャン像の位置ズレ量に基づいて信号光ＬＳの走査をリアルタイムで制御する発明について説明する。
【０１７６】
信号光ＬＳが走査されているときに、画像処理部２３０は、所定の時間間隔で順次に検出される眼底Ｅｆの位置に基づいて位置ズレ量を順次に算出する。眼底Ｅｆの位置の検出は、上記実施形態と同様にして実行できる。また、各位置ズレ量を算出する処理についても上記実施形態と同様に実行される。
【０１７７】
主制御部２１１は、順次に算出される位置ズレ量に基づいて走査駆動部７０を制御し、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を補正する。主制御部２１１は、この発明の「制御手段」の一例である。
【０１７８】
信号光ＬＳの照射位置の補正処理についてより詳しく説明する。各走査点Ｒｉｊに対するガルバノミラー４３、４４の位置（ミラー位置）は、実行される走査態様に基づいて予め設定されている。主制御部２１１は、走査駆動部７０を制御して、走査点Ｒｉｊの走査順序にしたがって各ミラー位置に順次にガルバノミラー４３、４４を移動させる。
【０１７９】
しかし、計測中に被検眼Ｅが移動すると、本来の走査点Ｒｉｊの位置、つまり本来の計測位置から外れた場所に信号光ＬＳが照射されてしまう。上記の実施形態では、このようにして生じた位置ズレを、既に取得されたＡスキャン像の位置を補正することによって修正していた。
【０１８０】
一方、この変形例では、算出された位置ズレ量に応じて信号光ＬＳの照射位置を補正する。つまり、主制御部２１１は、次の走査点Ｒｉｊの本来の位置から当該位置ズレ量だけ変位した位置に信号光ＬＳを照射させるように、走査駆動部７０を制御する。
【０１８１】
この処理を順次に実行することで、被検眼Ｅ（眼底Ｅｆ）の動きに信号光ＬＳの照射位置をリアルタイムで追従させることができ、それにより、信号光ＬＳのスキャン中に被検眼Ｅが移動した場合であっても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能となる。
【０１８２】
（変形例３）
この変形例では、位置ズレが大きかった場合に再計測を行う発明について、図１０を参照しつつ説明する。
【０１８３】
演算部２６２には画像特定部２６７が設けられている。画像特定部２６７は、位置ズレ量算出部２６４により算出された各位置ズレ量を所定値と比較する。そして、画像特定部２６７は、位置ズレ量が所定値以上であるＡスキャン像を特定する。画像特定部２６７は、この発明の「画像特定手段」の一例である。
【０１８４】
主制御部２１１は、光源ユニット１０１と走査駆動部７０を制御し、特定されたＡスキャン像に対応する走査点に向けて信号光ＬＳを再度照射させる。二つ以上のＡスキャン像が特定された場合、主制御部２１１は、これらに対応する二つ以上の走査点に向けて順次に信号光ＬＳを再度照射させる。
【０１８５】
画像形成部２２０は、再度照射された信号光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光ＬＣの検出結果に基づいて、この走査点における新たなＡスキャン像を形成する。画像形成部２２０は、この新たなＡスキャン像と他の走査点に対応するＡスキャン像とに基づいて断層像を形成することができる。
【０１８６】
この変形例によれば、位置ズレが大きなＡスキャン像に対応する走査点の計測を自動的に再度実行することができるので、計測中に被検眼Ｅが大きく動いた場合であっても、再計測を自動的に行って高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能である。また、計測中に被検眼Ｅが瞬きした場合でも、位置ズレ量の算出が不可能となり（このとき位置ズレ量が所定値以上と判断される）、再度スキャンが実行されるので、高確度のＯＣＴ画像が得られる。
【０１８７】
（変形例４）
この変形例では、走査点の位置に応じてＡスキャン像を選択的に配列させる発明について、図１１を参照しつつ説明する。
【０１８８】
演算部２６２には画像選択部２６８が設けられている。画像選択部２６８は、位置ズレ量算出部２６４により算出された位置ズレ量に基づき、各走査点Ｒｉｊについて、取得された複数のＡスキャン像のうち、この走査点Ｒｉｊの本来の位置に最も近いＡスキャン像を選択する。
【０１８９】
この処理についてより詳しく説明する。前述のように各走査点Ｒｉｊの本来の位置は予め設定されている。一方、各Ａスキャン像の位置は、対応する走査点Ｒｉｊの位置と、算出された位置ズレ量とに基づいて求められる。つまり、画像選択部２６８は、走査点Ｒｉｊの位置を位置ズレ量だけ変位させた位置を、当該Ａスキャン像の位置とする。
【０１９０】
更に、画像選択部２６８は、各走査点Ｒｉｊについて、その本来の位置に最も近い位置のＡスキャン像を選択する。なお、位置ズレ量が十分に小さい場合には当該走査線Ｒｉｊに対応するＡスキャン像が選択されることになるが、位置ズレ量が大きい場合にはそれ以外のＡスキャン像が選択されることもある。画像選択部２６８は、この発明の「画像選択手段」の一例である。
【０１９１】
画像形成部２２０は、各走査点Ｒｉｊに対して選択されたＡスキャン像を、複数の走査点の配列に応じて並べることにより断層像を形成する。
【０１９２】
この変形例によれば、各走査点Ｒｉｊに最も近いＡスキャン像を選択して断層像を形成することができるので、再度スキャンを行わなくても高確度なＯＣＴ画像を取得することが可能である。
【０１９３】
（変形例５）
Ａスキャン像の位置ズレ量には、Ａスキャン像の位置補正以外の利用方法もある。この変形例では、位置補正以外の利用方法の一例を説明する。
【０１９４】
この変形例では、同じ走査線に沿って実施された複数回の走査に基づく複数の断層像を重ね合わせる処理において位置ズレ量を利用する。この重ね合わせ処理は高画質化を図るためのものである。
【０１９５】
この変形例では、前述のように所定の走査線に沿って信号光ＬＳを走査する。このときの走査態様としては、たとえば放射スキャンや円スキャンが適用される。この眼底観察装置は、所定の走査線に沿って信号光ＬＳを反復走査する。画像形成部２２０は、この反復走査に応じて、当該走査線上の複数の走査点に対応する複数のＡスキャン像を反復形成する。それにより、各走査毎の断層像が得られる。位置ズレ量算出部２６４は、反復して形成されるＡスキャン像の位置ズレ量を反復して算出する。
【０１９６】
図１２に示すように、演算部２６２には、位置ズレ量判断部２６９と画像重畳部２７０が設けられている。位置ズレ量判断部２６９は、位置ズレ量算出部２６４により反復して算出される各位置ズレ量が所定の許容範囲に含まれるか判断する。この許容範囲としては、位置ズレ量が所定値よりも小さい範囲が予め設定されている。位置ズレ量判断部２６９は、この発明の「判断手段」の一例である。
【０１９７】
画像重畳部２７０は、位置ズレ量が所定の許容範囲に含まれると判断されたＡスキャン像の組を重ね合わせる。このとき、画像重畳部２７０は、各走査点Ｒｉｊに対応するＡスキャン像の組を形成し、各組のＡスキャン像を重ね合わせる。画像重畳部２７０は、この発明の「画像重畳手段」の一例である。
【０１９８】
画像形成部２２０は、この重ね合わせ処理により形成された新たな複数のＡスキャン像を、複数の走査点Ｒｉｊの配列に応じて並べる。それにより、所定の走査線に沿う断層像が形成される。
【０１９９】
この変形例によれば、位置ズレ量が許容範囲内に収まるＡスキャン像のみを重畳することができるので、高画質の画像を容易に取得することが可能である。なお、重畳されるＡスキャン像の個数が足りない場合には、３次元スキャンと同じように再スキャンを行うことができる。
【０２００】
（その他の変形例）
上記の実施形態では、観察画像Ｋに基づいて眼底Ｅｆの位置を検出しているが、この発明の検出手段はこれに限定されるものではない。検出手段は、信号光ＬＳが走査されているときに、所定の時間間隔で眼底Ｅｆの位置を検出できるものであれば、任意の構成を適用することが可能である。
【０２０１】
たとえば次の文献に記載された手法を用いることが可能である：「Ｉｍａｇｅ  ｓｔａｂｉｌｉｚａｔｉｏｎ  ｆｏｒ  ｓｃａｎｎｉｎｇ  ｌａｓｅｒ  ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｙ」，Ｄａｎｉｅｌ  Ｘ．Ｈａｍｍｅｒ  外３名，３０  Ｄｅｃｅｍｂｅｒ  ２００２／Ｖｏｌ．１０，Ｎｏ．２６／ＯＰＴＩＣＳ  ＥＸＰＲＥＳＳ  １５４２。
【０２０２】
この文献に記載された構成は、共焦点トラッキングリフレクトメータ（ｃｏｎｆｏｃａｌ  ｔｒａｃｋｉｎｇ  ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ）と、ディザスキャナ（ｄｉｔｈｅｒ  ｓｃａｎｎｅｒ）と、トラッキングガルバノメータ（ｔｒａｃｋｉｎｇ  ｇａｌｖａｎｏｍｅｔｅｒｓ）を含む。
【０２０３】
トラッキング用のビームは眼底の特徴点を追従する。共焦点トラッキングリフレクトメータは、眼底に照射されたビームの反射光により被検眼の動きを決定できるように用いられる。ビームは、所定の共鳴周波数（８ｋＨｚ）で、かつｘ，ｙスキャナ間に９０度の位相差を付与し、ビームが円を描くようにディザスキャナを駆動する。ビームが特徴点に照射されたとき、その検出信号は上記共鳴周波数の信号を含み、その位相はビームとターゲットとの距離に比例する。ロックインアンプを用いた位相感度の検出はエラー信号を生成し、このエラー信号はＤＳＰフィードバック制御ループに印加される。この制御ループは、被検眼の動きに対して画像がロックされるように、処理されたエラー信号に応じてトラッキングガルバノメータに指示を出す。
【０２０４】
この構成により実現される眼底トラッキングで得られる眼底の動きの検出結果を用いて、上記の実施形態や変形例を実現することが可能である。
【０２０５】
上記の実施形態においては、参照ミラー１１４の位置を変更して信号光ＬＳの光路と参照光ＬＲの光路との光路長差を変更しているが、光路長差を変更する手法はこれに限定されるものではない。たとえば、被検眼Ｅに対して眼底カメラユニット２やＯＣＴユニット１００を移動させて信号光ＬＳの光路長を変更することにより光路長差を変更することができる。また、特に被測定物体が生体部位でない場合などには、被測定物体を深度方向（ｚ方向）に移動させることにより光路長差を変更することも有効である。
【０２０６】
上記の実施形態におけるコンピュータプログラムを、コンピュータのドライブ装置によって読み取り可能な任意の記録媒体に記憶させることができる。この記録媒体としては、たとえば、光ディスク、光磁気ディスク（ＣＤ−ＲＯＭ／ＤＶＤ−ＲＡＭ／ＤＶＤ−ＲＯＭ／ＭＯ等）、磁気記憶媒体（ハードディスク／フロッピー（登録商標）ディスク／ＺＩＰ等）などを用いることが可能である。また、ハードディスクドライブやメモリ等の記憶装置に記憶させることも可能である。更に、インターネットやＬＡＮ等のネットワークを通じてこのプログラムを送受信することも可能である。
【０２０７】
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【０２０８】
１  眼底観察装置
２  眼底カメラユニット
３  表示装置
１０  照明光学系
１１  観察光源
１５  撮影光源
３０  撮影光学系
３１  合焦レンズ
３５、３８  ＣＣＤイメージセンサ
３９  ＬＣＤ
４３、４４  ガルバノミラー
５０  アライメント光学系
６０  フォーカス光学系
７０  走査駆動部
８０  合焦駆動部
１００  ＯＣＴユニット
１０１  光源ユニット
１１４  参照ミラー
１１８  回折格子
１２０  ＣＣＤイメージセンサ
１３０  参照駆動部
２００  演算制御ユニット
２１０  制御部
２１１  主制御部
２１２  記憶部
２２０  画像形成部
２３０  画像処理部
２３１  ｘ補正部
２３２  ｙ補正部
２３３  ｚ補正部
２４０  表示部
２５０  操作部
２６１  特徴部位特定部
２６２  演算部
２６３  位置特定部
２６４  位置ズレ量算出部
２６５  走査点特定部
２６６  補正部
２６７  画像特定部
２６８  画像選択部
２６９  位置ズレ量判断部
２７０  画像重畳部
３００  入力装置
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
Ｋ  観察画像
Ｈ  撮影画像
Ｇ、Ｇｉ  断層像
Ｒ  走査領域
Ｒｉ  走査線
Ｒｉｊ  走査点
Ｔｉｊ  信号光の照射位置
【図３】
2010264225.tif 000003
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１】
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【図２】
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