(57)【要約】【課題】半導体チップの箇所による電気的特性ばらつきを判別できるようにする。【解決手段】駆動信号を出力する複数の出力パッド１６を、半導体チップ１０の一辺に沿って配置する。また、ＰＮ接合ダイオード２０ａで互いに接続された２つの第１及び第２測定パッド２０ｂ，２０ｃをそれぞれ有した複数の観測端子部２０を形成する。そして、少なくとも２つの観測端子部２０は、互いに離間して、出力パッド１６が配置された一辺に沿って配置する。【選択図】図１
2010217682.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体チップ上に集積されて、複数の画素データからなる表示データを所定電位レベルの駆動信号に変換する表示駆動装置であって、
前記駆動信号を出力する複数の出力パッドと、
ＰＮ接合ダイオードで互いに接続された２つの測定パッドをそれぞれ有した複数の観測端子部と、
を備え、
前記複数の出力パッドは、前記半導体チップの一辺に沿って配置され、
少なくとも２つの前記観測端子部は、互いに離間して、前記一辺に沿って配置されていることを特徴とする表示駆動装置。
【請求項２】
請求項１の表示駆動装置において、
前記測定パッドは、何れかの出力パッドと兼用されていることを特徴とする表示駆動装置。
【請求項３】
請求項１の表示駆動装置において、
少なくとも２つの前記観測端子部は、互いに連続して配置されていることを特徴とする表示駆動装置。
【請求項４】
請求項１の表示駆動装置において、
前記駆動信号として、プラズマディスプレイパネル用の駆動信号を出力することを特徴とする表示駆動装置。
【請求項５】
請求項１の表示駆動装置と、
前記表示駆動装置を実装する基板と、
前記基板に配置されて、前記２つの測定パッドに配線接続された複数の測定用端子と、
を備えていることを特徴とするモジュールパッケージ。
【請求項６】
請求項５のモジュールパッケージにおいて、
前記基板には、前記表示駆動装置の出力パッドと接続される表示出力信号接合端子部が設けられていることを特徴とするモジュールパッケージ。
【請求項７】
請求項５のモジュールパッケージにおいて、
前記基板には、前記表示駆動装置の観測端子部と配線接続される専用端子が設けられていることを特徴とするモジュールパッケージ。
【請求項８】
請求項１の表示駆動装置と、
表示パネルと、
を備えたことを特徴とする画像表示装置。
【請求項９】
請求項８の画像表示装置において、
前記表示パネルは、プラズマディスプレイパネルであることを特徴とする画像表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の画素データからなる表示データを所定電位レベルの駆動信号に変換し、該駆動信号で表示パネルを駆動する表示駆動装置、その表示駆動装置を用いたモジュールパッケージ、及び画像表示装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、例えばプラズマディスプレイパネル等の表示パネルでは、大画面化、高精細化、高輝度化が進んでいる。それに伴い、表示パネルのデータ電極を駆動する表示駆動装置も多出力化、高電圧駆動化が必要となってきている。そして、多出力化や高電圧駆動化に伴い、表示駆動装置では、表示駆動装置の出力端子間の出力差異の抑制や、異なる表示駆動装置間の出力差異の抑制が重要になってきている。このような出力差異を抑制するには、例えば、表示駆動装置の電気的特性を測定して管理することが考えられる。
【０００３】
従来の表示駆動装置では、ＰＮ接合の順方向電圧の温度特性を利用して電気的特性を測定する方法がある（例えば、特許文献１を参照）。この文献に記載された方法では、入力端子に入力電圧を印加しない状態で、ＰＮ接合の順方向電圧を測定し、これを温度換算して初期ＩＣチップ温度とする。同時に、この初期温度時の電気的特性を測定する。次に、入力端子に入力電圧を印加した状態で、ＩＣチップの温度をモニタする。同時にこの入力電圧印加時の温度における電気的特性を測定する。更に、ＩＣパツケ−ジの外囲温度を強制的に変え、この状態で電気的特性を測定する。次に，各温度における電気的特性から特性変化率や熱抵抗を算出する。
【０００４】
また、ＰＮ接合を有する温度測定用の能動素子と、この能動素子の所定電流密度における電圧降下の測定用に測定用外部端子とを備えた半導体チップがある（例えば、特許文献２を参照）。
【特許文献１】特開昭５５−１４７３６２号公報
【特許文献２】特開平１−２４１１５７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、前記文献に記載された試験方法は、電圧の変化を温度変化に換算するなど、処理が煩雑であった。また、上記文献に開示された何れの技術も、半導体チップの特定部位の特性を求めるものであって、半導体チップの箇所による特性ばらつきを判別することはできない。そのため、出力端子間の出力差異を求めるのは困難である。
【０００６】
本発明は上記の問題に着目してなされたものであり、半導体チップの箇所による電気的特性ばらつき（例えば出力端子間のばらつき）を判別できるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため、本発明の一態様は、
半導体チップ上に集積されて、複数の画素データからなる表示データを所定電位レベルの駆動信号に変換する表示駆動装置であって、
前記駆動信号を出力する複数の出力パッドと、
ＰＮ接合ダイオードで互いに接続された２つの測定パッドをそれぞれ有した複数の観測端子部と、
を備え、
前記複数の出力パッドは、前記半導体チップの一辺に沿って配置され、
少なくとも２つの前記観測端子部は、互いに離間して、前記一辺に沿って配置されていることを特徴とする。
【０００８】
この構成により、２つの測定パッドに電圧を印加すれば、観測端子部における電気的特性を測定できる。そして、この表示駆動装置では、複数箇所に観測端子部が設けられているので、半導体チップの複数の箇所での電気的特性の測定が可能になる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、半導体チップの複数の箇所での電気的特性の測定が可能になるので、半導体チップの箇所による電気的特性ばらつきを判別できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態は、本質的に好ましい例示であって、本発明、その適用物、あるいはその用途の範囲を制限することを意図するものではない。
【００１１】
《発明の実施形態１》
以下では、本発明の実施形態として、表示パネル（例えばプラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel、以下ではＰＤＰと略記する場合もある））を駆動するデータドライバ（表示駆動装置）について説明する。このデータドライバは、複数の画素データからなる表示データを所定電位レベルの駆動信号に変換する。
【００１２】
《データドライバの構成》
図１は、本発明の実施形態１に係るデータドライバ１の構成を示す図である。同図に示すように、このデータドライバ１は、入力パッド１１、シフトレジスタ部１２、ラッチ部１３、レベルシフト部１４、駆動出力部１５、出力パッド１６、及び観測端子部２０を備え、半導体チップ１０上に集積されている。この半導体チップ１０は、図１に示に示すように、その平面形状が長方形に形成されている。以下では、半導体チップ１０の２つの長辺をそれぞれ第１長辺１０ａ、第２長辺１０ｂと呼ぶ。また、半導体チップ１０の２つの短辺をそれぞれ第１短辺１０ｃ、第２短辺１０ｄと呼ぶことにする。
【００１３】
〈入力パッド１１〉
このデータドライバ１は複数の入力パッド１１を有している。これらの入力パッド１１は、シリアルデータＳ１（具体的には画素データ）、画素クロックＣＬＫ、水平同期信号Ｓ２、その他の制御信号等の信号入力に使用される。本実施形態では、これらの入力パッド１１は、半導体チップ１０の第２長辺１０ｂに沿って配置されている。
【００１４】
〈シフトレジスタ部１２、ラッチ部１３〉
シフトレジスタ部１２は、シリアルデータ用の入力パッド１１から入力されたシリアルデータＳ１をパラレルデータに変換してラッチ部１３に出力する。具体的には、このシフトレジスタ部１２は、複数のレジスタ１２ａを備え、シリアルデータＳ１、画素クロックＣＬＫ、及び水平同期信号Ｓ２が入力されている。このシフトレジスタ部１２は、画素クロックＣＬＫに同期して、シリアルデータＳ１を取り込む。取り込んだデータは、レジスタ１２ａによって順次シフトさせて、所定画素数分の画素データを取得する。そして、シフトレジスタ部１２は、１ライン毎に入力される水平同期信号Ｓ２に同期して、取り込んだ画素データをラッチ部１３に出力する。ラッチ部１３は、画素クロックＣＬＫと水平同期信号Ｓ２が入力されており、これらの信号に同期して、シフトレジスタ部１２から入力されたパラレルデータを保持する。
【００１５】
〈レベルシフト部１４、駆動出力部１５〉
レベルシフト部１４は、ラッチ部１３に格納された画素データを、前記表示パネルを駆動するのに最適な電位レベルに変換する。また、駆動出力部１５は、レベルシフト部１４が変換した信号を、表示パネルを駆動する駆動信号として出力する。
【００１６】
〈出力パッド１６〉
このデータドライバ１は複数の出力パッド１６を有している。各出力パッド１６は、駆動出力部１５の出力（駆動信号）を前記表示パネルへ出力するために使用される。具体的に、本実施形態では、これらの出力パッド１６は、図１に示すように、第１長辺１０ａに沿って配置されている。また、これらの出力パッド１６は、配線など（図示せず）によって前記表示パネルと電気的に接続される。
【００１７】
〈観測端子部２０〉
観測端子部２０は、データドライバ１の電気特性ばらつきの測定に使用され、その測定時に、ばらつき測定装置（後述）が接続される。本実施形態では、２つの観測端子部２０は、互いに離間して、配置されている。より具体的には、これらの観測端子部２０は、図１に示すように、第１長辺１０ａに沿って配置された出力パッド１６（出力パッド列）の両端に配置されている。なお、図１や以下の説明では、２つの観測端子部２０の符号の末尾に枝番（１，２）を付記して両者を区別している。
【００１８】
図２は、観測端子部２０の構成を詳細に示した図である。それぞれの観測端子部２０は、図２に示すように、ＰＮ接合ダイオード２０ａ、第１測定パッド２０ｂ、及び第２測定パッド２０ｃを備えている。これらの測定パッド２０ｂ，２０ｃは、互いに隣接して配置され、ＰＮ接合ダイオード２０ａによって電気的に接続されている。
【００１９】
《データドライバ１の動作》
次にデータドライバ１における動作について説明する。このデータドライバ１では、シリアルデータ用の入力パッド１１に、画素データがシリアル信号として入力されると、シフトレジスタ部１２が画素クロックＣＬＫに同期して、そのシリアル信号を取り込む。詳しくは、シフトレジスタ部１２では、レジスタ１２ａが、シリアル信号をシフトさせながら所定画素数分の画素データを順次取り込む。そして、画素データの取り込みが終わると、次にシフトレジスタ部１２は、１ライン毎に入力される水平同期信号Ｓ２に同期して、その画素データをパラレルデータとしてラッチ部１３に出力する。ラッチ部１３は、入力されたパラレルデータを保持する。レベルシフト部１４は、ラッチ部１３が保持しているパラレルデータを、表示パネルを駆動するのに最適な電位レベルに変換し、駆動出力部１５に出力する。駆動出力部１５は、出力パッド１６を介して、入力された信号を表示パネル（例えば前記ＰＤＰ）に出力する。これにより、表示パネルは駆動される。
【００２０】
《データドライバ１における電気特性ばらつきの測定》
次にデータドライバ１における電気特性ばらつきの測定について説明する。図３は、ばらつきの測定装置１００の構成と、そのばらつきの測定装置１００と観測端子部２０との接続関係を示す図である。このばらつきの測定装置１００は、電源１０１と電流計１０２とを有している。具体的に、このばらつきの測定装置１００には一般的なＬＳＩ検査装置を使用できる。
【００２１】
ばらつき測定の際には、第１測定パッド２０ｂと第２測定パッド２０ｃとの間に、電源１０１により所定の電圧を印加して、ＰＮ接合ダイオード２０ａに流れる電流値を電流計１０２によって測定し、観測端子部２０における電気特性を確認する。より詳しくは、データドライバ１を動作させる直前に、２つの観測端子部２０のそれぞれについて電流値の測定を行った後、データドライバ１を動作させている状態でも２つの観測端子部２０のそれぞれについて電流値の測定を行う。そして、動作前後の測定結果（電流値）を比較することで、それぞれの観測端子部２０における動作前後の電気特性変化（例えば変化率）を求めることができる。
【００２２】
《本実施形態における効果》
本実施形態では、それぞれの観測端子部２０について求めた電気特性変化を比較すれば、データドライバ１内の箇所による特性ばらつきを判別することが可能になる。このようにデータドライバ１内の箇所によるばらつきの判別が可能になると、容易に電気的特性の管理を行うことが可能になる。そして、電気的特性の管理が容易になれば、表示パネルの大画面化、高精細化に伴ってデータドライバ１の多出力化が要求されて出力端子数が増加したり、半導体チップ１０が長尺化して細長となったりしても、データドライバの出力端子間の出力差異の抑制や、異なるデータドライバ間の出力差異の抑制が容易になる。すなわち、データドライバ（表示駆動装置）の安定した品質の確保が可能になる。
【００２３】
また、本実施形態では、従来の試験方法のように、測定結果を温度に変換する必要がないので、容易に特性を測定することが可能になる。
【００２４】
また、このデータドライバ１では、ばらつきの測定装置１００として一般的なＬＳＩ検査装置を用いることで、同時に複数箇所の観測端子部２０を測定することが可能になる。すなわち、データドライバ１の管理（例えば、ばらつきを一定の範囲内に抑える管理）を低コストで実現することが可能になる。
【００２５】
また、高電圧を出力するデータドライバでは、電気特性ばらつきが表示パネルの表示特性に大きく影響を与えるので、電気的特性の管理が特に重要である。これに対し、本実施形態の構成では、高電圧を出力するデータドライバ（表示駆動装置）でも、電気特性ばらつきを正確に測定することが可能になる。すなわち、本実施形態は、プラズマディスプレイパネル用の駆動信号のような高電圧（一般的に４０ボルトから１００ボルト）を出力するデータドライバ（表示駆動装置）への応用が有用である。
【００２６】
また、第１及び第２測定パッド２０ｂ，２０ｃが互いに隣接して配置されているので、各測定パッド２０ｂ，２０ｃからＰＮ接合ダイオード２０ａまでの配線間距離が短くなる。また、ＰＮ接合ダイオード２０ａからそれぞれの測定パッド２０ｂ，２０ｃまでの配線間距離を同一にすることが容易になる。これらにより、各観測端子部２０間の配線抵抗値のばらつきを低減することが可能になり、より精度のよい電気的特性の測定が可能になる。
【００２７】
なお、観測端子部２０の配置箇所は例示である。ばらつきを把握したい半導体チップ１０の範囲を考慮のうえ、２つの観測端子部２０の距離や位置を定めればよい。
【００２８】
《実施形態１の変形例１》
図４は、実施形態１の変形例１に係るデータドライバの構成を示す図である。本変形例に係るデータドライバは、同図に示すように、上述した２つの観測端子部２０−１，２に加え、第３の観測端子部として観測端子部２０−３を追加したものである。この観測端子部２０−３は、２つの観測端子部２０−１，２の間（例えば第１長辺１０ａの中央付近）に配置されている。
【００２９】
このように、観測端子部２０−３を設けて測定箇所を増やした分、データドライバ１内の箇所によるばらつきをより正確に比較判別できる。また、ばらつき箇所を特定しやすくなり、不良解析が容易になる。
【００３０】
《実施形態１の変形例２》
図５は、実施形態１の変形例２に係る表示駆動装置の構成を示す図である。本変形例に係るデータドライバは、同図に示すように、前記変形例１のデータドライバに、第４、及び第５の観測端子部として、２つの観測端子部２０−４，５をさらに追加したものである。これらの観測端子部２０−４，５も、半導体チップ１０の第１長辺１０ａに沿って配置されており、観測端子部２０-４は、観測端子部２０-３に隣接している。また、観測端子部２０-４と観測端子部２０-５の間には、出力パッド１６が配置されている。
【００３１】
本変形例では、前記の実施形態や変形例よりもより多くの観測端子部２０が設けられているので、例えば、一部の観測端子部２０においてＰＮ接合ダイオード２０ａへ配線の短絡や断線などの不具合があっても、不具合のある観測端子部２０を測定から除外すれば、残りの観測端子部２０によって電気特性ばらつき測定ができる。すなわち、本変形例によれば、より確実に電気的特性の管理を行うことが可能になる。
【００３２】
《発明の実施形態２》
図６は、本発明の実施形態２に係るデータドライバ２の構成を示す図である。このデータドライバ２では、一部の出力パッドが測定パッドとしての機能も有している。具体的には、このデータドライバ２は、図６に示すように、実施形態１のデータドライバ１の一部の出力パッド１６を兼用観測端子部３０に置き換えて構成したものである。
【００３３】
図７は、兼用観測端子部３０の構成を詳細に示した図である。この兼用観測端子部３０は、同図に示すように、第１兼用パッド３０ａ、第２兼用パッド３０ｂ、ＰＮ接合ダイオード２０ａ、及び４つの選択スイッチＳＷ１，ＳＷ２，ＳＷ３，ＳＷ４を備えている。
【００３４】
第１兼用パッド３０ａ及び第２兼用パッド３０ｂは、半導体チップ１０の第１長辺１０ａに沿って設けられ、後述するように、これらの兼用パッド３０ａ，３０ｂは何れも、出力パッド及び測定パッドの２つの機能を有している。
【００３５】
選択スイッチＳＷ１は、第１兼用パッド３０ａと、駆動出力部１５の出力端子との接続・非接続を切り替える。また、選択スイッチＳＷ２は、第１兼用パッド３０ａとＰＮ接合ダイオード２０ａのアノードとの接続・非接続を切り替える。これらの２つの選択スイッチＳＷ１，ＳＷ２は、一方がオンの場合に他方がオフになるように構成されている。
【００３６】
一方、選択スイッチＳＷ３は、第２兼用パッド３０ｂと、駆動出力部１５の出力端子との接続・非接続を切り替える。また、選択スイッチＳＷ４は、第２兼用パッド３０ｂとＰＮ接合ダイオード２０ａのカソードとの接続・非接続を切り替える。これらの２つの選択スイッチＳＷ３，ＳＷ４も、一方がオンの場合に他方がオフになるように構成されている。また、選択スイッチＳＷ１がオンの場合には選択スイッチＳＷ３もオンになるように構成されている。
【００３７】
上記の４つの選択スイッチＳＷ１〜ＳＷ４は、測定モード選択信号Ｓ３によって、オンオフが制御される。例えば、選択スイッチＳＷ１と選択スイッチＳＷ３がオンになると、第１兼用パッド３０ａ及び第２兼用パッド３０ｂは、駆動出力部１５の出力端子とそれぞれ接続される。このとき第１及び第２兼用パッド３０ａ，３０ｂは、２つの選択スイッチＳＷ２，ＳＷ４によって、ＰＮ接合ダイオード２０ａとは非接続状態になっている。すなわち、第１兼用パッド３０ａ及び第２兼用パッド３０ｂは何れも、出力パッド１６として機能する。
【００３８】
また、選択スイッチＳＷ２と選択スイッチＳＷ４の両方がオンになると、第１兼用パッド３０ａと第２兼用パッド３０ｂは、ＰＮ接合ダイオード２０ａを介して互いに電気的に接続される。このとき第１及び第２兼用パッド３０ａ，３０ｂは、２つの選択スイッチＳＷ１，ＳＷ３によって、駆動出力部１５とは非接続状態になっている。すなわち、第１兼用パッド３０ａ、第２兼用パッド３０ｂはそれぞれ、第１測定パッド２０ｂ、第２測定パッド２０ｃとして機能する。
【００３９】
以上のように、このデータドライバ２では、１つのパッドを、出力パッドと測定パッドに兼用できる。したがって、本実施形態の表示駆動装置によれば、回路面積の増大を抑えつつ、電気特性ばらつきの測定が可能になる。
【００４０】
なお、選択スイッチＳＷ１〜ＳＷ４の構成は例示である。例えば、選択スイッチは必ずしも４個必要ではなく、例えば、選択スイッチＳＷ２を省略した構造などでも良い。
【００４１】
《発明の実施形態３》
実施形態３では、上記のデータドライバ（前記実施形態１、各変形例、及び実施形態２の何れでもよい）を使用した画像表示装置（例えばテレビセット）について説明する。図８は、実施形態３に係る画像表示装置３の構成を示すブロック図である。同図に示すように、この画像表示装置３は、信号処理部４０とパネルブロック５０を備えている。
【００４２】
（１）信号処理部４０
信号処理部４０は、画質ＬＳＩ４１、信号処理ＬＳＩ４２、及び小振幅作動信号送信部４３（図中では、ＬＶＤＳ−Ｔｘと略記）を備えている。画質ＬＳＩ４１と信号処理ＬＳＩ４２は、入力された映像信号に対し、ノイズの除去などの所定の画質改善などの信号処理を施すようになっている。また、小振幅作動信号送信部４３は、信号処理ＬＳＩ４２等によって処理された信号をパネルブロック５０に送信する。
【００４３】
（２）パネルブロック５０
パネルブロック５０は、表示パネル部５１、小振幅作動信号受信部７０（図中では、ＬＶＤＳ−Ｒｘと略記）、サステインドライバ７１、パワーＭＯＳＦＥＴ７２、放電制御部７３、スキャンドライバ７４、及び制御部７５を備えている。
【００４４】
〈表示パネル部５１〉
表示パネル部５１は、表示パネル５２、複数のモジュールパッケージ６０、及び信号処理制御回路５４を備えている。本実施形態の表示パネル５２にはプラズマディスプレイパネルを採用している。
【００４５】
また、モジュールパッケージ６０は、上記のデータドライバ（本実施形態ではデータドライバ１）がモジュール化されたものである。そして、それぞれのモジュールパッケージ６０は、表示パネル５２の表示領域の一部分を駆動する。図９は、それぞれのモジュールパッケージ６０が駆動する表示パネル５２上の表示領域を示す図である。この表示パネル部５１では、図９に示すように、表示領域を列方向の複数の領域（図６の例では５つの領域）に分けて、それぞれの領域を１つのモジュールパッケージ６０が駆動する。すなわち、この表示パネル部５１では、複数のモジュールパッケージ６０によって、表示パネル５２の画面の１ライン分を駆動するのである。なお、これらのモジュールパッケージ６０は、図９に示すように、表示入力共通基板５３を介して信号処理制御回路５４と接続され、信号処理制御回路５４から所定の信号が与えられるようになっている。
【００４６】
図１０は、モジュールパッケージ６０の平面形状及び断面形状を示す図である。このモジュールパッケージ６０は、図１０に示すように、フレキシブルプリント基板６１、データドライバ１、及び放熱板６３を備えている。本実施形態のモジュールパッケージ６０は、実施形態１のデータドライバ１をモジュール化したものである。
【００４７】
上記のフレキシブルプリント基板６１には、データドライバ１が固定されている。また、このデータドライバ１は、図１０に示したように、グリス６４を介して放熱板６３が熱的に接続されるともに、樹脂６２によって封止されている。
【００４８】
また、フレキシブルプリント基板６１は、複数の端子からなる表示出力信号接合端子部６５と、複数の端子からなる表示入力信号接合端子部６６を備えている。表示出力信号接合端子部６５の端子は、表示パネル５２にデータドライバ１の出力信号を出力する端子である。そのため、表示出力信号接合端子部６５の各端子は、配線Ｌ０によってデータドライバ１の出力パッド１６と接続されている。
【００４９】
また、表示入力信号接合端子部６６の端子は、シリアルデータＳ１、画素クロックＣＬＫ、水平同期信号Ｓ２（実施形態１を参照）や、その他の制御信号が主に入力される端子である。具体的には、この例の表示入力信号接合端子部６６はフレキシブルプリント基板６１の一辺に沿って一列に配置され、配線Ｌ０によってデータドライバ１の入力パッド１１と接続されている。また、表示入力信号接合端子部６６の各端子は、表示入力共通基板５３に接続されている。そして、これらの表示入力信号接合端子部６６の端子には、この表示入力共通基板５３を介して、シリアルデータＳ１、画素クロックＣＬＫ、水平同期信号Ｓ２（実施形態１を参照）、その他の制御信号が入力される。
【００５０】
また、表示入力信号接合端子部６６の端子のなかには、観測端子部２０の測定パッド２０ｂ，２０ｃとそれぞれ接続されたものもある。具体的には、図１０における左端の２つの端子は、第１及び第２配線Ｌ１，Ｌ２を介して、データドライバ１の一方の観測端子部２０の測定パッド２０ｂ，２０ｃに接続されている。また、右端の２つの端子は、第３及び第４配線Ｌ３，Ｌ４を介して、もう一方の観測端子部２０の測定パッド２０ｂ，２０ｃに接続されている。
【００５１】
なお、信号処理制御回路５４は、モジュールパッケージ６０に入力する信号（上記のシリアルデータＳ１など）の制御や、放電制御部７３の制御を行う。
【００５２】
〈パネルブロック５０のその他の構成要素〉
小振幅作動信号受信部７０は、小振幅作動信号送信部４３からの信号を所定レベルの信号に変換して、表示パネル部５１に出力する。サステインドライバ７１とパワーＭＯＳＦＥＴ７２は、表示パネル５２のサステイン電極（図示は省略）に所定の電圧を印加する。また、放電制御部７３及びスキャンドライバ７４は、表示パネル５２の複数のスキャン電極（図示は省略）に書き込みパルスを順に印加する。また、制御部７５は、小振幅作動信号送信部４３、サステインドライバ７１、放電制御部７３、スキャンドライバ７４等の上記動作を制御する。これにより、該当する表示パネル５２の放電セルにおいて、アドレス放電が行われる。
【００５３】
《本実施形態における電気特性ばらつきの測定》
本実施形態では、モジュールパッケージ６０を表示パネル部５１に組み込む前に、予めモジュールパッケージ６０の単位で電気的特性のばらつきを測定する。具体的には、測定対象のモジュールパッケージ６０において、一方の観測端子部２０の測定パッド２０ｂ，２０ｃに、表示入力信号接合端子部６６の端子を介して、ばらつきの測定装置１００を接続する。そして、ばらつきの測定装置１００の電源１０１によって所定の電圧を２つの測定パッド２０ｂ，２０ｃに印加し、ＰＮ接合ダイオード２０ａに流れる電流値を電流計１０２によって測定する。この測定は、それぞれの観測端子部２０に対して行う。これにより、それぞれの観測端子部２０における電気特性を確認できる。
【００５４】
《本実施形態における効果》
以上のように、本実施形態では複数のモジュールパッケージ６０で１つの表示パネル５２を駆動する。そのため、それぞれのモジュールパッケージ６０（データドライバ）の電気的特性がばらつくと、表示パネル部５１全体（延いては画像表示装置３）としての品質が低下する。そして、この電気的特性のばらつきは、画面の大型化、高精細化、高輝度化が進むほど顕著になると考えられる。これに対し本実施形態では実施形態１等で説明したように、それぞれのデータドライバ１の電気的特性の差が小さくなるように管理することが可能になる。それゆえ、本実施形態では、表示パネル５２の画面の大型化、高精細化、高輝度化が進んでも、表示パネル部５１全体としての電気的特性（品質）の管理及び確保が容易になる。
【００５５】
《実施形態３の変形例》
図１１は、実施形態３のモジュールパッケージ６０の変形例を説明する図である。このモジュールパッケージは、電気的特性の測定用に専用の測定端子を設けている。具体的には、図１１に示すように、表示入力信号接合端子部６６とは別個に、フレキシブルプリント基板６１の両端に４つの専用端子８０〜８３が設けられている。そして、データドライバ１の一方の観測端子部２０は、各測定パッド２０ｂ，２０ｃが、第１及び第２配線Ｌ１，Ｌ２を介して専用端子８０，８１にそれぞれ配線接続されている。また、もう一方の観測端子部２０は、各測定パッド２０ｂ，２０ｃが、第３及び第４配線Ｌ３，Ｌ４を介して専用端子８２，８３にそれぞれ配線接続されている。本変形例においても、上記の実施形態３と同様に、電気的特性を測定して、その電気的特性（品質）の管理を行える。
【００５６】
なお、実施形態３及びその変形例において、データドライバとして用いたデータドライバ１は例示である。その他にも、実施形態１の変形例でそれぞれ説明したデータドライバや、実施形態２のデータドライバ２を採用してもよい。
【００５７】
《その他の実施形態》
なお、上記の各実施形態や変形例において表示パネルとして採用したプラズマディスプレイパネルは例示である。上記のデータドライバ１等はその他の形式の表示パネルの駆動にも適用できる。具体的には、例えば、液晶表示パネルや、有機ＥＬ（Electro-Luminescence）表示パネル等の駆動への採用が挙げられる。
【００５８】
また、各実施形態や変形例で説明した出力パッド１６の配置は例示である。例えば、上記の第１長辺１０ａ以外の部位にも、さらに出力パッド１６を設けることも可能である。例えば、入力パッド１１とともに第２長辺１０ｂに沿って、さらに出力パッド１６を配置したり、第１短辺１０ｃや第２短辺１０ｄに沿って出力パッド１６を配置してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明に係る表示駆動装置は、半導体チップの箇所による電気的特性ばらつきを判別できるという効果を有し、複数の画素データからなる表示データを所定電位レベルの駆動信号に変換し、該駆動信号で表示パネルを駆動する表示駆動装置、その表示駆動装置を用いたモジュールパッケージ、及び画像表示装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施形態１に係るデータドライバ１の構成を示す図である。
【図２】観測端子部２０の構成を詳細に示した図である。
【図３】ばらつきの測定装置１００の構成と、そのばらつきの測定装置１００と観測端子部２０との接続関係を示す図である。
【図４】実施形態１の変形例１に係るデータドライバの構成を示す図である。
【図５】実施形態１の変形例２に係る表示駆動装置の構成を示す図である。
【図６】本発明の実施形態２に係るデータドライバ２の構成を示す図である。
【図７】兼用観測端子部３０の構成を詳細に示した図である。
【図８】実施形態３に係る画像表示装置３の構成を示すブロック図である。
【図９】それぞれのモジュールパッケージ６０が駆動する表示パネル５２上の表示領域を示す図である。
【図１０】モジュールパッケージ６０の平面形状及び断面形状を示す図である。
【図１１】実施形態３のモジュールパッケージ６０の変形例を説明する図である。
【符号の説明】
【００６１】
１、２      データドライバ
３      画像表示装置
１０      半導体チップ
１６      出力パッド
２０      観測端子部
２０ａ    ＰＮ接合ダイオード
２０ｂ    第１測定パッド
２０ｃ    第２測定パッド
５２      表示パネル
６１      フレキシブルプリント基板
６６      表示入力信号接合端子部
８０，８１      専用端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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