(57)【要約】【課題】より安定した活線検出が可能な活線検出装置を提供する。【解決手段】２本の光ファイバ１，１の一端部同士を接続するときに両光ファイバ１，１の光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバ１のコア１１内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバ１のクラッド１２へ漏光させる漏光発生部３と、漏光発生部３から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層４を介して上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面に接着され漏光発生部３から漏れた光を検出可能な受光素子チップ５とを備える。受光素子チップ５と漏光発生部３との間で漏光発生部３からの漏れ光が透明接着層４を通して空気中へ漏れないように、透明接着層４において上記他方の光ファイバ１のクラッド１２と接する領域を制限してある。【選択図】      図１
2010032272.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２本の光ファイバの一端部同士を接続して形成する光線路が活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、２本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該２本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部と、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記他方の光ファイバのクラッドの外周面に接着され漏光発生部から漏れた光を検出可能な受光素子チップとを備え、前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で漏光発生部からの漏れ光が透明接着層を通して空気中へ漏れないように、透明接着層において前記他方の光ファイバのクラッドと接する領域を制限してあることを特徴とする活線検出装置。
【請求項２】
前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で前記他方の光ファイバの外周面に、漏光発生部で発生した漏れ光を反射する金属膜からなり前記領域の漏光発生部側の境界を規定する反射部が被着されてなることを特徴とする請求項１記載の活線検出装置。
【請求項３】
前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で前記他方の光ファイバの外周面に、漏光発生部で発生した漏れ光を全反射させる多孔質ガラス膜からなり前記領域の漏光発生部側の境界を規定する反射部が被着されてなることを特徴とする請求項１記載の活線検出装置。
【請求項４】
反射部は、前記光軸方向において透明接着層と漏光発生部との間の全体に亘って形成されてなることを特徴とする請求項２または請求項３記載の活線検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２本の光ファイバの一端部同士を接続して形成した光線路が活線状態（光線路を光が正常に伝送されている状態）にあるか否かを検出する活線検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光ファイバ通信技術の分野において、局内、ビル内、宅内などに設置される光成端箱などに収納され光通信用の光ファイバにより形成される光線路が活線状態か否かを検出する活線検出装置として、光ファイバを屈曲させる必要のない活線検出装置が提案されており（例えば、特許文献１参照）、この種の活線検出装置は、光ファイバを屈曲させることなく、光線路が活線状態にあるか否かを検出することができるので、光ファイバを屈曲させることによる光ファイバの折損や、一時的な伝送損失の増加による伝送エラーの発生などの問題がないという特徴がある。
【０００３】
ここにおいて、上記特許文献１には、上述の活線検出装置として、図８に示すように、２本の光ファイバ１’，１’を接続して形成した光線路Ａ’における２本の光ファイバ１’，１’の一端部同士の融着部２’を保護するとともに融着部２’から漏れる光を漏洩させる融着補強スリーブ４２’と、融着補強スリーブ４２’を収納するとともに各光ファイバ１’，１’が導出されるケース４０’と、ケース４０’の開口部に嵌入され融着部２’から融着補強スリーブ４２’を通して漏れた光を検出する受光素子（図示せず）を有する光検出部５０’とを備えたものが提案されている。
【特許文献１】特開２００７−８５９３４号公報（段落〔００８９〕−〔００９６〕、および図４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、２本の光ファイバ１’，１’の一端部同士を融着する場合には、当該２本の光ファイバ１’，１’の光軸の軸ずれ、角度ずれなどに起因した接続損失が最小となるように融着するのが普通であり、上述の融着部２’での接続損失は波長１３１０ｎｍで０．２ｄＢ程度となっている。
【０００５】
しかしながら、光通信では光ファイバを伝搬する光のパワー（以下、光パワーと称する）の範囲が広く、光パワーが小さい場合には−２０ｄＢｍ程度の場合もあり、融着部２’から漏れる漏光の光パワーが小さくなることや、融着補強スリーブ４２’外に設置される上記受光素子と融着部２’との距離が離れているため上記受光素子での受光効率が低く、上記受光素子の受光面に到達する光量も少なくなるので、Ｓ／Ｎ比が小さくなり、活線検出が困難となってしまうことがあった。
【０００６】
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、より安定した活線検出が可能な活線検出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１の発明は、２本の光ファイバの一端部同士を接続して形成する光線路が活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、２本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該２本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部と、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記他方の光ファイバのクラッドの外周面に接着され漏光発生部から漏れた光を検出可能な受光素子チップとを備え、前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で漏光発生部からの漏れ光が透明接着層を通して空気中へ漏れないように、透明接着層において前記他方の光ファイバのクラッドと接する領域を制限してあることを特徴とする。
【０００８】
この発明によれば、２本の光ファイバの前記一端部同士を接続するときに当該２本の光ファイバの光軸方向に直交する断面の屈折率分布を前記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバのコア内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバのクラッドへ漏光させる漏光発生部を備えているので、２本の光ファイバの前記一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、漏れる光の絶対光量を増やすことができ、また、漏光発生部から漏れた光を検出可能な受光素子チップが、漏光発生部から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層を介して前記他方の光ファイバのクラッドの外周面に接着されているので、受光素子チップとクラッドの外周面との距離を短くでき、しかも、受光素子チップと前記他方の光ファイバのクラッドの外周面との間に空気が介在する場合に比べて、空気よりも大きい屈折率を有する透明接着層にクラッドから多くの漏れ光が入射して、漏れ光の受光素子チップへの到達効率が向上し、さらに、前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で漏光発生部からの漏れ光が透明接着層を通して空気中へ漏れないように、透明接着層において前記他方の光ファイバのクラッドと接する領域を制限してあるので、漏れ光の受光素子チップへの到達効率がより向上するから、より安定した活線検出が可能となる。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１の発明において、前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で前記他方の光ファイバの外周面に、漏光発生部で発生した漏れ光を反射する金属膜からなり前記領域の漏光発生部側の境界を規定する反射部が被着されてなることを特徴とする。
【００１０】
この発明によれば、漏光発生部で発生した漏れ光を金属膜からなる反射部により反射するので、受光素子チップへの漏れ光の到達効率をより一層向上でき、しかも、製造時に前記接着剤が漏光発生部側へ拡がってしまった場合でも反射部により前記領域の漏光発生部側の境界が規定されるので、受光素子チップへの漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【００１１】
請求項３の発明は、請求項１の発明において、前記光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で前記他方の光ファイバの外周面に、漏光発生部で発生した漏れ光を全反射させる多孔質ガラス膜からなり前記領域の漏光発生部側の境界を規定する反射部が被着されてなることを特徴とする。
【００１２】
この発明によれば、漏光発生部で発生した漏れ光を多孔質ガラス膜からなる反射部により全反射するので、受光素子チップへの漏れ光の到達効率をより一層向上でき、しかも、製造時に前記接着剤が漏光発生部側へ拡がってしまった場合でも反射部により前記領域の漏光発生部側の境界が規定されるので、受光素子チップへの漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【００１３】
請求項４の発明は、請求項２または請求項３の発明において、反射部は、前記光軸方向において透明接着層と漏光発生部との間の全体に亘って形成されてなることを特徴とする。
【００１４】
この発明によれば、前記光軸方向において透明接着層と漏光発生部との間で前記他方の光ファイバのクラッド表面に結露が生じるのを防止でき、当該クラッドと水滴とが直接接するのを防止できるから、漏光発生部で発生した漏れ光が水滴を通して空気中へ漏れるのを防止でき、受光素子チップへの漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１の発明は、２本の光ファイバの一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、コアから漏れる光の絶対光量を増やすことができ、しかも、受光素子チップと光ファイバのクラッドの外周面との間に空気が介在する場合に比べて、漏れ光の受光素子チップへの到達効率が向上し、さらに、２本の光ファイバの光軸方向における受光素子チップと漏光発生部との間で漏光発生部からの漏れ光が透明接着層を通して空気中へ漏れないように、透明接着層において他方の光ファイバのクラッドと接する領域を制限してあり、漏れ光の受光素子チップへの到達効率がより向上するから、より安定した活線検出が可能となるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
（実施形態１）
本実施形態の活線検出装置は、図１（ａ）に示すように、２本の光ファイバ１，１の一端部同士を接続して形成する光線路Ａが活線状態にあるか否かを検出する活線検出装置であって、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ１，１の光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせることにより形成され一方の光ファイバ１（図示例では、右側の光ファイバ１）のコア１１内を伝搬してきた光の一部を他方の光ファイバ１（図示例では、左側の光ファイバ）のクラッド１２へ漏光させる漏光発生部３と、漏光発生部３から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層４を介して上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面（つまり、コア１１とクラッド１２とで構成される素線１０の外周面）に接着され漏光発生部３から漏れた光を検出可能な受光素子チップ５とを備えている。なお、本実施形態では、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を融着することで接続してあり、当該２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士の融着部２に漏光発生部３が形成されている。また、図１中の太線の矢印は光の伝搬方向を示している。
【００１７】
また、本実施形態の活線検出装置は、受光素子チップ５の出力電流をオペアンプを用いた電流−電圧変換回路により電圧信号に変換し、上記電流−電圧変換回路から出力される電圧信号に基づいて光線路Ａが活線状態にあるか否かをマイクロコンピュータにより判別して判別結果をディスプレイに表示させたり、あるいは、抵抗器、コンデンサ、増幅回路を内蔵したＩＣなどを用いた判別回路による判別結果を発光ダイオードなどの表示手段に表示させるようになっている。
【００１８】
各光ファイバ１としては、各種の光ファイバの中で伝搬損失、伝送帯域幅および機械的強度などの耐環境性などに優れている石英ガラスファイバを用いている。ここで、本実施形態の光ファイバ１として用いる石英ガラスファイバとしては、シングルモードファイバを採用しているが、シングルモードファイバに限らず、ステップインデックス型（ＳＩ型）マルチモードファイバや、グレーデッドインデックス型（ＧＩ型）マルチモードファイバ、その他の特殊ファイバなど漏光発生部３を形成可能なファイバを採用してもよい。なお、各光ファイバ１としては、石英ガラスファイバに限らず、多成分ガラスファイバやプラスチックファイバなどを用いてもよい。
【００１９】
また、各光ファイバ１は、上記一端部側において被覆１３が除去され素線１０の外周面（つまり、クラッド１２の外周面）が露出しており、受光素子チップ５は、受光面が上記他方の光ファイバ１のクラッド１２側となる形で透明接着層４を介して上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面に接着されている。ここで、各光ファイバ１において素線１０の外周面が露出した部分の長さは１０ｍｍ程度であり、受光素子チップ５は、上記他方の光ファイバ１の光軸方向において漏光発生部３から規定長さ（例えば、２〜５ｍｍ程度）だけ離れて配置されている。
【００２０】
光ファイバ１を伝搬する光としては、例えば波長が１３１０ｎｍの光や波長が１５５０ｎｍの光や波長が８５０ｎｍの光を想定しており、透明接着層４は、これらの波長の光に対して透明な接着剤であるエポキシ系樹脂やアクリル系樹脂などにより形成すればよい。なお、透明接着層４は、必ずしもクラッド１２よりも屈折率が高い材料で形成する必要はなく、空気とクラッド１２との中間の屈折率を有する材料で形成してもよい。
【００２１】
また、受光素子チップ５としては、フォトダイオードチップを用いている。ここで、光ファイバ１を伝搬する光（つまり、光通信用の光）の波長が１μｍ帯波長領域（例えば１３１０ｎｍや１５５０ｎｍ）の場合には当該１μｍ帯波長領域で受光感度の高いＩｎＧａＡｓフォトダイオードチップを採用し、光の波長が０．８μｍ帯波長領域（例えば８５０ｎｍ）の場合には当該０．８μｍ帯波長領域で受光感度の高いＳｉフォトダイオードチップを採用すればよく、例えば１μｍ帯波長領域の光および０．８μｍ帯波長領域の光が光線路Ａ内を伝搬される場合には、各波長領域それぞれにおいて受光感度の高い受光素子チップ５を各別に設ければよい。
【００２２】
ここで、上述の光線路Ａの屈折率分布について図２を参照しながら説明する。なお、図２（ｂ）〜（ｄ）は上記光軸方向に直交する方向をｘ方向（横方向）としたときの上記光軸方向に直交する断面の屈折率分布を示している。
【００２３】
図２は、各光ファイバ１，１がシングルモードファイバの場合の屈折率分布の説明図であり、同図（ａ）が上記光軸方向に沿った概略断面図、（ｂ）が（ａ）のＣ−Ｃ’断面（上記他方の光ファイバ１１のＣ−Ｃ’断面）における屈折率分布図、（ｃ）が（ａ）の融着部２における屈折率分布図、（ｄ）が（ａ）のＢ−Ｂ’断面（上記一方の光ファイバ１１のＢ−Ｂ’断面）における屈折率分布図である。ここで、図２（ｂ），（ｄ）は両光ファイバ１，１を融着する際に溶融されない部位であって両光ファイバ１，１本来の階段状の屈折率分布を有している。これに対して、図２（ｃ）は中心から離れるにつれて屈折率が徐々に小さくなっていき且つ屈折率がコア１１の屈折率ｎ１よりも低くクラッド１２の屈折率ｎ２よりも高い領域の径が両光ファイバ１，１本来のコア径よりも大きくなる屈折率分布を有している。なお、各光ファイバ１，１がＳＩ型マルチモードファイバの場合の屈折率分布も図２と同様である。
【００２４】
また、各光ファイバ１，１がＧＩ型マルチモードファイバの場合を例示した図３（ａ）での屈折率分布は図３（ｂ）〜（ｄ）のようになる。ここで、図３（ｂ），（ｄ）は両光ファイバ１，１を融着する際に溶融されない部位であって両光ファイバ１，１本来の屈折率が中心から外に向かって２乗分布をもって徐々に小さくなっている屈折率分布を有している。これに対して、図３（ｃ）は屈折率がコア１１の中心の屈折率ｎ１よりも低くクラッド１２の屈折率ｎ２よりも高い領域の径が両光ファイバ１，１本来のコア径よりも大きくなる屈折率分布を有している。
【００２５】
また、漏光発生部３は、図２に示すように、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ１，１の上記光軸方向に直交する断面において当該２本の光ファイバ１，１それぞれの上記他の部位におけるクラッド１２の屈折率ｎ２よりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア１１の屈折率ｎ１よりも屈折率が低い中間屈折率領域１１ａを有するように融着することで形成されている。ここにおいて、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を融着する際には、両光ファイバ１，１の上記一端部側の端面を突き合わせ、アーク放電などによって加熱溶融させてから冷却することにより２本の光ファイバ１，１を接続しているので、加熱溶融させたときにコア１１およびクラッド１２が短時間ではあるが固相から液相に相変化して混じり合いコア１１とクラッド１２との中間的な屈折率を有する領域ができるから、融着する際の条件（温度、時間など）を、接続損失が最小となるような条件から適宜変更することにより、所望の中間屈折率領域１１ａを積極的に形成すればよい。
【００２６】
上述の漏光発生部３で発生した漏れ光のうちクラッド１２と空気との境界でも入射補角が全反射臨界補角よりも大きな光線はクラッド１２からも漏れて外部に出てしまうが、全反射臨界補角よりも小さな光線は図１（ａ）中に太線の矢印で示したようにクラッド１２と空気との境界で全反射する。ここで、本実施形態のように両光ファイバ１，１として石英ガラスファイバを用いている場合には、クラッド１２と空気との屈折率差が大きいので、漏光発生部３で発生した漏れ光についてはクラッド１２と空気との境界で全反射される割合が高く、漏光発生部３で発生した漏れ光の多くは全反射を繰り返しながら素線１０内を伝搬するが、クラッド１２と透明接着層４との屈折率差はクラッド１２と空気との屈折率差よりも小さいので、クラッド１２と透明接着層４との界面で全反射される光の割合が少なく、クラッド１２と透明接着層４との界面を通過して受光素子チップ５の受光面に到達する。なお、受光素子５の受光面に到達する光線Ｐ３は、クラッド１２と空気との境界で１回だけ全反射された後、クラッド１２と透明接着層４との界面を通過して受光素子チップ５の受光面に到達する光は、クラッド１２と空気との境界で複数回全反射された後、クラッド１２と透明接着層４との界面を通過して受光素子チップ５の受光面に到達する。
【００２７】
ところで、本実施形態の活線検出装置では、受光素子チップ５の受光面のサイズが受光素子チップ５のチップサイズと略同じであり、透明接着層４を受光素子チップ５のチップサイズよりもやや大きなサイズに形成してあるが、図１（ｂ）に示す比較例のように、透明接着層４が２本の光ファイバ１，１の上記光軸方向において漏光発生部３側へ大きく拡がっていると、上記光軸方向における受光素子チップ５と漏光発生部３との間で漏光発生部３からの漏れ光の一部が受光素子チップ５よりも漏光発生部３側で透明接着層４を通して外部（空気中）へ漏れてしまい、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率が低下してしまう。
【００２８】
これに対して、本実施形態の活線検出装置は、図１（ａ）に示すように、上記光軸方向における受光素子チップ５と漏光発生部３との間で漏光発生部３からの漏れ光が透明接着層４を通して空気中へ漏れないように、透明接着層４において上記他方の光ファイバ１のクラッド１２と接する領域を制限してある。なお、本実施形態では、透明接着層４となる接着剤の塗布量および受光素子チップ５を接着する際の荷重を適宜設定することにより上記領域を制限している。ここで、本実施形態では、透明接着層４を受光素子チップ５のチップサイズよりもやや大きなサイズに形成してあるが、受光素子チップ５の受光面と同じサイズ以上であればよく、受光素子チップ５のチップサイズと同じサイズに形成してもよい。
【００２９】
以上説明した本実施形態の活線検出装置では、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を接続するときに上記光軸方向に直交する断面の屈折率分布を上記光軸方向の他の部位とは異ならせる（要するに、光線路Ａの途中で屈折率分布を局所的に異ならせる）ことにより形成され上記一方の光ファイバ１のコア１１内を伝搬してきた光の一部を上記他方の光ファイバ１のクラッド１２へ漏光させる漏光発生部３を備えているので、図８に示した従来例のように２本の光ファイバ１’，１’の上記一端部同士を接続損失が最小となるように融着したものに比べて、漏れる光の絶対光量を増やすことができ、また、漏光発生部３から漏れた光を検出可能な受光素子チップ５が、漏光発生部３から漏れる光に対して透明な接着剤からなる透明接着層４を介して上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面に接着されているので、図８に示した従来例のように融着補強スリーブ４２’などが介在する場合に比べて受光素子チップ５とクラッド１２の外周面との距離を短くでき、しかも、受光素子チップ５と上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面との間に空気が介在する場合に比べて、空気よりも大きい屈折率を有する透明接着層４にクラッド１２から多くの漏れ光が入射して、漏れ光の受光素子チップ５への到達効率が向上し、さらに、上記光軸方向における受光素子チップ５と漏光発生部３との間で漏光発生部３からの漏れ光が透明接着層４を通して空気中へ漏れないように、透明接着層４において上記他方の光ファイバ１のクラッド１２と接する領域を制限してあるので、漏れ光の受光素子チップ５への到達効率がより向上するから、光線路Ａを伝搬する光の光パワーの大小によらず活線検出が可能となる。要するに、光線路Ａを伝搬する光の光パワーが大きいときは勿論、光パワーが小さい場合であっても活線検出が可能となり、より安定した活線検出が可能となる。
【００３０】
なお、本実施形態の活線検出装置では、受光素子チップ５が上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の外周面に透明接着層４を介して接着されているが、上記他方の光ファイバ１の光軸方向において受光素子チップ５と漏光発生部３との距離が近すぎると、漏光発生部３から漏れる光の光強度分布が受光素子チップ５の出力電流にそのまま影響するので、受光素子チップ５の出力電流がばらつくことが考えられる。これに対して、本実施形態では、上述のように受光素子チップ５が、上記光軸方向において漏光発生部３から規定長さ（例えば、２〜５ｍｍ程度）だけ離れて配置されているので、漏光発生部３で発生した光が全反射を繰り返すことで光強度分布が平均化され、受光素子チップ５の出力電流がばらつくのを抑制することができ、受光素子チップ５の安定した出力を得ることが可能となる。
【００３１】
また、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生部３が、上述のように、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を接続するときに両光ファイバ１，１の上記光軸方向に直交する断面において当該２本の光ファイバ１，１それぞれの上記他の部位におけるクラッド１２，１２の屈折率よりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア１１，１１の屈折率よりも屈折率が低い中間屈折率領域１１ａを有するように融着することで形成されており、光の伝搬方向で局所的な屈折率分布の変化が存在し、融着部２を光が通過する際に光強度分布も変化し、一部の光を漏光発生部３から漏れ光としてコア１１からクラッド１２に漏れさせることができるので、両光ファイバ１，１の上記一端部同士を融着する際に中間屈折率領域１１ａの屈折率分布を制御することにより、活線検出に必要な漏れ光を得ることができる。要するに、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生用の別部材を追加することなく、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を接続するときに上記光軸方向に直交する断面において当該２本の光ファイバ１，１それぞれの上記他の部位におけるクラッド１２，１２の屈折率よりも屈折率が高く且つ上記他の部位におけるコア１１，１１の屈折率よりも屈折率が低い中間屈折率領域１１ａが形成されるように融着することで漏光発生部３を形成することができる。
【００３２】
（実施形態２）
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態１と略同じであって、図４に示すように、受光素子チップの受光面の一部のみが受光素子チップ５において受光感度を均一とみなせる有効受光領域５ａとなっており、透明接着層４のサイズを、受光素子チップ５のチップサイズよりも小さく且つ有効受光領域５ａよりも大きく設定してある点が相違するだけである。なお、他の構成は実施形態１と同じである。
【００３３】
（実施形態３）
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態１と略同じであって、図５（ａ）に示すように、２本の光ファイバ１，１の上記光軸方向における受光素子チップ５と漏光発生部３との間で上記他方の光ファイバ１の外周面に、漏光発生部３で発生した漏れ光を反射する金属膜からなり透明接着層４においてクラッド１２と接する領域の漏光発生部３側の境界を規定する反射部６が被着されている点が相違する。ここで、反射部６は、クラッド１２の周方向の全周に亘って被着されている（要するに、反射部６は、クラッド１２と同心的に形成されている）。なお、実施形態１と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００３４】
上述の反射部６を構成する金属膜の材料としては、光ファイバ１を伝搬する光に対して反射率の高い金属材料を採用すればよく、光通信で使用される光は一般的に、波長が８５０ｎｍ、１３１０ｎｍ、１５５０ｎｍなどの近赤外光なので、上記金属材料として例えば、Ａｕ、Ａｇ、Ａｌ、Ｃｕなどを採用すればよいが、耐酸化性に優れたＡｕを採用することが好ましい。
【００３５】
しかして、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生部３で発生した漏れ光を金属膜からなる反射部６により反射するので、図５（ｂ）に示す比較例のように透明接着層４においてクラッド１２と接する領域が漏光発生部３側へ大きく拡がっている場合に比べて、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率をより一層向上でき、しかも、製造時に上記接着剤が漏光発生部３側へ拡がってしまった場合でも反射部６により上記領域の漏光発生部３側の境界が規定されるので、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【００３６】
（実施形態４）
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態１と略同じであって、図６（ａ）に示すように、２本の光ファイバ１，１の上記光軸方向における受光素子チップ５と漏光発生部３との間で上記他方の光ファイバ１の外周面に、漏光発生部３で発生した漏れ光を全反射させる多孔質ガラス膜からなり透明接着層４においてクラッド１２と接する領域の漏光発生部３側の境界を規定する反射部７が被着されている点が相違する。ここで、反射部７は、クラッド１２の周方向の全周に亘って被着されている（要するに、反射部７は、クラッド１２と同心的に形成されている）。なお、実施形態１と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００３７】
上述の反射部７を構成する多孔質ガラス膜は、平均屈折率（等価屈折率）が１．０１〜１．０５程度であり、空気の屈折率である１に近い値となっている（要するに、多孔質ガラス膜は、透明接着層４の屈折率およびクラッド１２の屈折率に比べて十分小さな屈折率となっている）。ここで、多孔質ガラス膜の材料としては、例えば、シリカエアロゲルなどを採用すればよい。
【００３８】
しかして、本実施形態の活線検出装置では、漏光発生部３で発生した漏れ光を反射部７により全反射させるので、図６（ｂ）に示す比較例のように透明接着層４においてクラッド１２と接する領域が漏光発生部３側へ大きく拡がっている場合に比べて、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率をより一層向上でき、しかも、製造時に上記接着剤が漏光発生部３側へ拡がってしまった場合でも反射部７により上記領域の漏光発生部３側の境界が規定されるので、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【００３９】
（実施形態５）
本実施形態の活線検出装置の基本構成は実施形態３と略同じであって、図７に示すように、反射部６が両光ファイバ１，１に跨って形成されている点が相違する。ここで、本実施形態では、反射部６が、両光ファイバ１，１に跨って形成されているが、少なくとも、両光ファイバ１，１の上記光軸方向において透明接着層４と漏光発生部３との間の全体に亘って形成されていればよい。なお、実施形態３と同様の構成要素には同一の符号を付して説明を省略する。
【００４０】
ところで、実施形態３で説明した図５（ａ）の活線検出装置では、両光ファイバ１，１の上記光軸方向において反射部６と漏光発生部３との間で上記他方の光ファイバ１のクラッド１２の露出部位が存在するので、使用環境の影響で光ファイバ１，１のクラッド１２，１２表面に結露が生じることが考えられる。ここで、水の屈折率は１．３程度であるので、このような結露が生じた場合、クラッド１２と水との屈折率差がクラッド１２と空気との屈折率差よりも小さく、漏光発生部３で発生した漏れ光の一部が水滴を通して空気中へ漏れてしまい、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率が低下してしまう。
【００４１】
これに対して、本実施形態の活線検出装置では、反射部６が、両光ファイバ１，１の上記光軸方向において透明接着層４と漏光発生部３との間の全体に亘って形成されているので、上記光軸方向において透明接着層４と漏光発生部３との間で上記他方の光ファイバ１のクラッド１２表面に結露が生じるのを防止でき、当該クラッド１２と水滴とが直接接するのを防止できるから、漏光発生部３で発生した漏れ光が水滴を通して空気中へ漏れるのを防止でき、受光素子チップ５への漏れ光の到達効率が低下するのを防止することができる。
【００４２】
なお、本実施形態の反射部６に代えて、実施形態４で説明した反射部７を採用しても、同様の効果が得られる。
【００４３】
ところで、上記各実施形態における漏光発生部３の形成方法は実施形態１で説明した形成方法に限らず、例えば、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を融着する前に上記各一端部それぞれを各別に溶融させて上記各一端部の屈折率分布を上記他の部位とは異ならせてから（光ファイバ１，１本来の屈折率分布とは異ならせてから）、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を融着して融着部２を形成することで漏光発生部３を形成するようにしてもよいし、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を当該２本の光ファイバ１，１とはコア径の異なる漏光発生用の光ファイバを挟んで接続することにより漏光発生部３を形成するようにしてもよいし、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を当該２本の光ファイバ１，１とコア径が同じで当該２本の光ファイバ１，１のコア１１とは屈折率が異なる漏光発生用の光ファイバを挟んで接続することにより漏光発生部３を形成するようにしてもよいし、２本の光ファイバ１，１の上記一端部同士を当該２本の光ファイバ１，１のクラッド１２，１２と同じ材料（石英ガラス）からなり屈折率が一様なファイバを挟んで接続することにより漏光発生部３を形成するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】（ａ）は実施形態１の活線検出装置の要部概略断面図、（ｂ）は比較例の活線検出装置の要部概略断面図である。
【図２】同上を示し、（ａ）は光軸方向に沿った概略断面図、（ｂ）は（ａ）のＣ−Ｃ’断面における屈折率分布図、（ｃ）は（ａ）の融着部における屈折率分布図、（ｄ）は（ａ）のＢ−Ｂ’断面における屈折率分布図である。
【図３】同上の他の構成例を示し、（ａ）は光軸方向に沿った概略断面図、（ｂ）は（ａ）のＣ−Ｃ’断面における屈折率分布図、（ｃ）は（ａ）の融着部における屈折率分布図、（ｄ）は（ａ）のＢ−Ｂ’断面における屈折率分布図である。
【図４】実施形態２の活線検出装置の要部概略断面である。
【図５】（ａ）は実施形態３の活線検出装置の要部概略断面図、（ｂ）は比較例の活線検出装置の要部概略断面図である。
【図６】（ａ）は実施形態４の活線検出装置の要部概略断面図、（ｂ）は比較例の活線検出装置の要部概略断面図である。
【図７】実施形態４の活線検出装置の要部概略断面図である。
【図８】従来例の活線検出装置の概略構成図である。
【符号の説明】
【００４５】
１  光ファイバ
２  融着部
３  漏光発生部
４  透明接着層
５  受光素子チップ
６  反射部（金属膜）
７  反射部（多孔質ガラス膜）
１０  素線
１１  コア
１２  クラッド
１３  被覆
Ａ  光線路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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