(57)【要約】【課題】簡単な操作により部品の外観上の特徴に応じたライブラリデータを作成する。【解決手段】ＣＡＤデータに基づき、基板上の同一の型式の部品の１つを代表部品として選択して、代表部品を含む範囲のモデル画像が表示された画面を立ち上げる。この画面には、部品種アイコンのリストの表示欄１０２が設けられており、代表部品に対応する部品種を選択すると、隣の表示欄１０８に、選択された部品種に属するサブ部品種のサンプル画像が表示される。ユーザがサンプル画像を選択する操作と、画像表示領域１００内の部品本体領域Ｗを代表部品に合わせる操作とを行うと、選択中のサブ部品種の設定ルールに基づく検査領域が代表部品に設定され、表示される。この表示に対する確定操作に応じて、表示された検査領域に適合するように基本ライブラリデータの設定ルールを修正したものを、選択中のサブ部品種の下位のバリエーションとして登録する。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
部品実装基板用の外観検査装置に検査データを教示する際に検査対象の各部品に適用されるライブラリデータを、コンピュータを用いて作成する方法であって、
あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、前記各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとを前記コンピュータに登録し、
実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力するステップＡ、
前記基板設計情報に基づき、前記良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の１つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された前記良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示するステップＢ、
前記模式図として表示された部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを前記良品基板の画像と並列表示するステップＣ、
前記良品基板の画像の表示領域において、前記代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付けるステップＤ、
前記サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、前記ステップＤで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定するステップＥ、
前記ステップＥで設定された検査領域を前記画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、前記選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを、当該サブ部品種の新規のバリエーションのライブラリデータとして、代表部品の型式名称に対応づけて保存するステップＦ、の各ステップを、実行することを特徴とする基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。
【請求項２】
前記ステップＥでは、電極の数および部品本体に対する電極の配置が複数とおり想定されるタイプのサブ部品種が選択されたとき、前記代表部品の電極の数および電極の配置状態について入力を受け付けるステップを実行した後に、前記選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールをこの入力内容に合わせて、電極およびはんだ検査用の検査領域を設定する、請求項１に記載された基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。
【請求項３】
前記ステップＡでは、前記良品基板の部品が実装される前の画像をさらに入力し、
前記ステップＥでは、前記ステップＣで指定された代表部品の範囲および代表部品の向き、ならびに前記選択されたサブ部品種のはんだ検査用の検査領域の設定ルールに基づき、前記部品が実装される前の画像から代表部品に対応するランドを抽出し、前記設定ルールに基づくはんだ検査用の検査領域を抽出されたランドに適合するように調整する、請求項１に記載された基板外観検査用のライブラリデータの作成方法。
【請求項４】
部品実装基板用の外観検査装置に教示する検査データを、コンピュータを用いて作成する方法であって、
あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、前記各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとを前記コンピュータに登録し、
実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力するステップＡ、
前記基板設計情報に基づき、前記良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の１つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された前記良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示するステップＢ、
前記模式図として表示された部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを前記良品基板の画像と並列表示するステップＣ、
前記良品基板の画像の表示領域において、前記代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付けるステップＤ、
前記サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、前記ステップＤで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定するステップＥ、
前記ステップＥで設定された検査領域を前記画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、前記選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを、当該サブ部品種の新規のバリエーションのライブラリデータとして代表部品の型式名称に対応づけて保存するステップＦ、
前記ステップＦで保存された新規のライブラリデータに対応づけられた型式名称により前記基板設計情報が示す各部品に、それぞれその部品の位置および向きに合わせて前記ライブラリデータを適用するステップＧ、
の各ステップを実行することを特徴とする基板外観検査用の検査データ作成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、部品実装基板の自動外観検査を行う検査装置に検査データを教示する際に使用される部品単位のライブラリデータを、コンピュータを用いて作成する方法、および検査データの作成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
基板外観検査のための検査データには、一般に、検査領域の設定データ（検査領域の数および各検査領域の設定位置および大きさを示すもの）や、各検査領域で被検査部位を抽出するための２値化しきい値、各検査領域における測定処理のロジック、判定基準値などが含まれる。具体的な検査の内容は、部品の外観に応じて異なるため、従来の基板外観検査装置では、ティーチング作業の負荷を軽減するために、検査対象基板の各部品に「ライブラリデータ」と呼ばれる標準の検査データを適用し、適用された検査データを必要に応じて調整するようにしている。
【０００３】
出願人が提供する基板外観検査装置では、各種部品を、それぞれの外観に基づき、複数の部品種に分類し、さらに各部品種を、部品の色彩や電極の数の違いなどに基づき細分類することにより、複数種の「バリエーション」を設定して、バリエーション単位でライブラリデータを登録している。この場合、一般的なティーチング処理では、検査対象基板の良品モデルを撮像して、各部品の画像を表示し、表示された部品に適合する部品種およびバリエーションをユーザに選択させることによって、各部品にライブラリデータを対応づける。
【０００４】
さらに基板上の各部品にライブラリデータを簡単に対応づけられるようにすることを目的とした発明を開示した文献として、以下の特許文献１，２をあげる。
【０００５】
特許文献１には、検査対象基板のモデルの画像と当該基板の基板設計情報とを用いて、基板設計情報が示す各部品に対応するバリエーションを特定する方法が開示されている。具体的にこの方法では、基板設計情報が示す座標位置にある部品を撮像し、生成された画像に各バリエーションのライブラリデータを順に適用して被検査部位（部品本体およびランド）を抽出し、抽出された被検査部位とその部位の検査に用いる検査領域とが重なる部分の面積を算出する。そして、この重なり面積が最も大きかったバリエーションを処理対象の部品に対応するものとして特定する。
【０００６】
さらにこの特許文献１には、特定されたバリエーションの名称と基板設計情報が示す処理対象部品の部品型式とを対応づけた部品コード変換テーブルを作成することによって、基板設計情報が示す各種部品の実装位置にそれぞれ該当するライブラリデータを自動的に適用できる状態にすることが、記載されている。
【０００７】
一方、特許文献２には、個々の部品の外観情報をユーザ自身に入力させて、入力された外観情報に適合するライブラリデータをデータベースから読み出す方法により、各部品に対応するライブラリデータを特定することが記載されている。また、外観情報を入力する際に、教示対象部品の具体的な画像と、この部品に対応する部品種について入力すべき項目とを表示し、各項目につき、所定数の外観情報の選択肢の中から表示中の部品に該当するものを選択させることが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許３９０６７８０号公報
【特許文献２】特開２００８−３２５２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ライブラリデータは、基板検査のエキスパートのノウハウに基づいて設定されるので、各部品に適切なライブラリデータを対応づけることができれば、後は、適用されたデータによる検査領域や検査用パラメータを個々の部品に応じて調整することによって、精度の良い検査を行えるように設定することができる。
【００１０】
しかし、基板の良品モデルの画像を参照しながら各部品に該当する部品種やバリエーションを選択する作業や、ライブラリデータの適用により設定された検査データを調整する作業には、知識や経験が必要であり、初心者に任せるのは困難である。
【００１１】
また特許文献１のバリエーションを自動判別する方法でも、２値化処理により本来の外観の特徴が十分反映されない２値パターンが生成された場合には、バリエーションを正しく特定できない可能性がある。たとえば、チップ抵抗などでは、製造上、部品全体に占める電極の割合にかなりのばらつきが見られるが、バリエーションの特定においては、このばらつきを考慮する必要は殆どない。しかし、特許文献１の方法では、電極部分を除く部品本体部を２値化により抽出して検査領域とを比較するので、部品全体に占める電極の割合が大きくなると、検査領域に対する部品本体部の一致度が下がってしまい、バリエーションを正しく特定できない可能性がある。
【００１２】
また、チップ部品には部品本体の色彩の違いに基づきバリエーションが設定されるが、部品本体の２値化処理では、本体表面の印刷パターンの影響により２値化により抽出される面積が小さくなることがある。このような場合には、適合するバリエーションとの照合で部品本体用の検査領域と２値化により抽出された部品本体との重なり面積が小さくなり、バリエーションの特定に誤りが生じる可能性がある。
【００１３】
特許文献２による方法では、実際の部品の画像表示を参考にして部品やはんだ部分などの外観をユーザに指定させるが、この種の入力の内容はユーザの主観によって異なる可能性がある。またはんだ付け部位などについて微妙な色彩の違いを判断させると、かえってユーザの負荷が増えてしまう。
【００１４】
本発明では、上記の各問題点を考慮して、簡単な操作により個々の部品の外観上の特徴に応じたライブラリデータを作成できるようにすることによって、経験が乏しいユーザでも、外観検査用の検査データを容易かつ適切に作成できるようにすることを、課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明のライブラリデータの作成方法では、あらかじめ、各種部品をそれぞれの外観に基づき分類することにより設定した複数の部品種を、それぞれ検査用パラメータに影響を及ぼす外観の差異に基づき所定数のサブ部品種に細分類して、サブ部品種毎に検査領域の設定ルールと各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた基本ライブラリデータを設定し、各部品種および各サブ部品種の階層関係と、各サブ部品種の基本ライブラリデータとをコンピュータに登録する。そして、このコンピュータにおいて、以下のステップＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆを実行する。
【００１６】
ステップＡでは、実装される各部品の型式および実装位置ならびに部品の向きを表す基板設計情報と、この基板設計情報に基づき製作された良品基板の画像とを入力する。ステップＢでは、基板設計情報に基づき、良品基板に実装されている型式名称が同一の部品の中の１つを代表部品として選択して、この代表部品が識別表示された良品基板の画像を、各部品種の模式図のリストとともに表示する。なお、代表部品を識別する表示には、表示される部品を代表部品のみに限定して表示する処理が含まれる。
【００１７】
ステップＣでは、模式図として表示された部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択された部品種に属するサブ部品種の外観の特徴を模式したサンプル画像のリストを良品基板の画像と並列表示する。ステップＤでは、良品基板の画像の表示領域において、代表部品に対応する範囲を指定する操作を受け付ける。
【００１８】
ステップＥでは、サンプル画像として表示されたサブ部品種の中のいずれか１つを選択する操作を受け付けて、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基づき、ステップＤで指定された範囲および代表部品の向きに適合するように所定数の検査領域を設定する。
【００１９】
ステップＦでは、ステップＥで設定された検査領域を画像の表示領域に重ね表示し、この表示後に確定操作が行われたとき、選択されたサブ部品種の基本ライブラリデータを確定操作時に表示されている検査領域に基づき修正したものを当該サブ部品種のバリエーションのライブラリデータとして、代表部品の型式名称に対応づけて保存する。
【００２０】
上記の方法では、事前に、部品種毎に、部品本体部の色彩や電極の形状などの想定できる差異に基づき複数のサブ部品種を設定し、サブ部品種毎に基本ライブラリデータを作成する。ただし、ここでいう「サブ部品種毎の基本ライブラリデータ」は、必ずしもサブ部品種毎に独立させる必要はなく、同一部品種内のサブ部品種に共通で設定することができる情報を、上位の部品種の基本ライブラリデータとして共有し、各サブ部品種には他のサブ部品種とは異なる情報のみを設定してもよい。
【００２１】
上記の方法によれば、ユーザは、処理対象の型式名称の代表部品の画像を、各部品種の模式図のリストやサブ部品種のサンプル画像のリストと照合することによって、代表部品に該当する部品種およびサブ部品種を容易に選択することができる。また代表部品の画像に対する範囲指定操作により、代表部品に対応する範囲を容易に指定することができる。
【００２２】
コンピュータでは、上記の各操作を受け付けることによって、ユーザが選択したサブ部品種の基本ライブラリデータに含まれる設定ルールを、代表部品に対応する範囲や代表部品の向きに合わせて適用することで所定数の検査領域を設定し、これらの検査領域を代表部品の画像に重ね表示する。さらにこの表示によりユーザが検査領域が適正であると判断して確定操作を行うと、選択中のサブ部品種のライブラリデータを確定操作時の検査領域に適合するように修正したものを代表部品のライブラリデータとして、当該部品の型式名称に対応づけて保存する。
【００２３】
上記によれば、部品の型式毎に、その型式に適したサブ部品種を選択する操作や、当該サブ部品種には定義されていない外観の特徴を入力する処理を容易に行って、ライブラリデータを作成することができる。また登録されるライブラリデータには、そのライブラリデータを適用する部品の型式名称が対応づけられるので、以後は、この形式名称により基板設計情報への対応づけを自動的に行うことができる。
【００２４】
つぎに、上記方法の好ましい一実施態様では、ステップＥにおいて、電極の数および部品本体に対する電極の配置が複数とおり想定されるタイプのサブ部品種が選択されたとき、代表部品の電極の数および電極の配置状態について入力を受け付けるステップを実行した後に、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールをこの入力内容に合わせて、電極およびはんだ検査用の検査領域を設定する。
【００２５】
上記の態様によれば、ＩＣ，ＳＯＰなどのリード電極を具備する部品について、実際の部品の電極の数や電極の配置に応じた検査領域を設定するためのライブラリデータを、容易に作成することができる。
【００２６】
他の好ましい実施態様では、ステップＡにおいて、良品基板の部品が実装される前の画像をさらに入力する。またステップＥにおいて、ステップＣで指定された代表部品の範囲および代表部品の向き、ならびに選択されたサブ部品種のはんだ検査用の検査領域の設定ルールに基づき、部品が実装される前の画像から代表部品に対応するランドを抽出する。さらに、設定ルールに基づくはんだ検査用の検査領域を抽出されたランドに適合するように調整する。
【００２７】
上記の態様によれば、実際の部品実装前の基板の画像から抽出されたランドに基づいて、はんだ検査用の検査領域を調整し、調整後の検査領域に応じた設定ルールを含むライブラリデータを作成することが可能になる。よって、このライブラリデータを実際の基板に適用して作成される検査データでも、はんだ検査用の検査領域が基板のランドに対応する範囲に設定される確度が高まり、検査データを修正する頻度を減らすことができる。
【００２８】
さらに本発明では、上記のステップＡ〜Ｆの実行後に、ステップＦで保存された新規のライブラリデータに対応づけられた型式名称により前記基板設計情報に登録されている全ての部品に、それぞれその部品の位置および向きに合わせて前記ライブラリデータを適用するステップＧを実行することにより、実装部品毎の検査データを容易に作成することが可能になる。
【発明の効果】
【００２９】
上記のとおり、本発明では、同じ型式の部品毎に、代表の部品の画像を部品種の模式図リストやサブ部品種のサンプル画像のリストとともに表示し、当該型式に最も適合するサブ部品種をユーザが容易に選択できるようにした。また選択されたサブ部品種には定義されていない外観の特徴についても、簡単な操作で適切に入力することができるので、検査データの設定に慣れていないユーザでも、実装される部品に適したライブラリデータを容易に作成することが可能になる。
【００３０】
また、本発明で作成されるライブラリデータには型式名称が対応づけられているので、この型式名称に基づき基板設計情報中の該当部品にライブラリデータを適用することができる。また、このライブラリデータは、既に、実際の部品の画像に合わせて検査領域の設定ルールが調整されているので、個々の部品に対する検査領域の調整を不要または簡易にすることができ、検査データの作成を効率良く行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】基板外観検査装置の構成を検査データ作成用のコンピュータとの関係とともに示す図である。
【図２】検査データ作成システムが提示する基本の設定画面を示す図である。
【図３】基本の設定画面について、部品種アイコンの選択を変更した後の表示例を示す図である。
【図４】バリエーションの作成画面の初期状態の表示例を示す図である。
【図５】部品本体領域を調整したときの作成画面を示す図である。
【図６】サブ部品種の選択を変更したときの作成画面を示す図である。
【図７】検査領域の設定表示に表示が切り替えられた状態を示す図である。
【図８】処理対象の型式が変更されたときの作成画面を示す図である。
【図９】部品本体領域を調整したときの作成画面を示す図である。
【図１０】部品種の選択を変更したときの作成画面を示す図である。
【図１１】電極数の入力が完了したときの作成画面を示す図である。
【図１２】検査領域の設定表示に表示が切り替えられた状態を示す図である。
【図１３】既存バリエーションの確認用のウィンドウが表示された状態を示す図である。
【図１４】検査データ作成システムの基本の処理手順を示すフローチャートである。
【図１５】バリエーションの作成処理に関する詳細な処理手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
図１は、部品実装基板の自動外観検査を行う検査装置１の主要構成を、この検査装置１に接続されるパーソナルコンピュータ７ととともに示す。
【００３３】
この実施例の検査装置１は、はんだの印刷工程、部品の実装工程、およびリフロー工程により製作された完成体の基板Ｓを対象にした検査を実行するためのもので、カラー撮影用のカメラ２、照明部３、基板ステージ４、および制御処理部５などにより構成される。
【００３４】
基板ステージ４には、基板Ｓを支持するためのテーブル部４１や、このテーブル部４１をＸ，Ｙの各軸方向に移動させるための移動機構４２などが設けられる。カメラ２は、基板ステージ４の上方に、撮像面を下方に向け、かつ光軸を鉛直方向に合わせた状態で配備される。
【００３５】
照明部３には、赤、緑、青の各色彩光をそれぞれ発する円環状光源３Ｒ，３Ｇ，３Ｂが含まれており、基板ステージ４とカメラ３との間に配置される。各光源３Ｒ，３Ｇ，３Ｂは、それぞれ径が異なり、また各中心部をカメラ２の光軸に合わせた状態で配備される。これにより、基板Ｓに対し、赤、緑、青の各光が、それぞれ仰角が異なる方向から照射されるので、はんだフィレットやリード電極などの鏡面反射性の高い部位の傾斜状態を各照明光の色彩パターンにより表現した画像を生成することができる。
【００３６】
制御処理部５には、コンピュータによる制御部５０のほか、画像入力部５１、撮像制御部５２、照明制御部５３、ＸＹステージ制御部５４、メモリ５５、表示部５６、入力部５７、通信インターフェース５８などが設けられる。
【００３７】
画像入力部５１には、カメラ２からの画像をディジタル変換するためのＡ／Ｄ変換回路などが含まれる。撮像制御部５２は、カメラ２に対し、撮像を指示するタイミング信号を出力し、照明制御部５３は、各光源３Ｒ，３Ｇ，３Ｂの点消灯動作や光量を制御する。ＸＹステージ制御部５４は、基板ステージ４の移動のタイミングやＸ，Ｙの各軸方向における移動量を制御する。
【００３８】
メモリ５５には、検査を実行するための一連の処理手順が記述されたプログラムや検査データ格納用のデータベース（以下、「検査用データベース」という。）が格納される。検査用データベースには、検査対象の基板Ｓに実装される部品毎に、設定すべき検査領域の位置および大きさ、各検査領域で被検査部位の色彩を検出するための２値化しきい値、被検査部位の測定値（主として面積）の適否を判定するための判定ロジックや判定基準値など、複数種の検査データが設定される。
【００３９】
本明細書では、上記の検査データのうち、被検査部位の色彩を抽出するための２値化しきい値を「色パラメータ」と呼び、判定ロジックや判定基準値を「検査基準データ」と総称する。また、色パラメータおよび検査基準データをひとくくりにして、「検査用パラメータ」という場合もある。
【００４０】
検査用データベースには、さらに基板Ｓに対するカメラ２の視野の割り付けに関するデータが格納されている。制御部５０は、このデータに基づきＸＹステージ制御部５４を介して基板ステージ４の移動を制御することにより、カメラ２を割り付けられた撮像対象領域に順に位置合わせし、撮像を行う。毎時の撮像により生成されたカラー画像は、画像入力部５１を介して制御部５０に入力され、その内部のメモリ（ＲＡＭなど）に格納される。制御部５０は、この内部メモリに格納された画像中の部品に順に着目し、着目部品に対し、その検査データに基づき、検査領域の設定、２値化、計測、良否判定の各処理を順に実行する。
【００４１】
制御部５０は、通信インターフェース５８および通信回線６を介して、図中のパーソナルコンピュータ７や図示しない上位機器に接続されている。制御部５０は、１枚の基板Ｓの検査が終了する都度、その基板Ｓに対する検査の結果や検査に用いられた画像などを、上位機器に出力する。また、検査結果や画像は、表示部５６にも表示される。
【００４２】
この実施例のパーソナルコンピュータ７には、上記の検査装置で使用される検査データを作成するためのシステム（以下、「検査データ作成システム」または単に「システム」という。）が組み込まれている。この検査データ作成システムには、複数の部品種にそれぞれサブ部品種を対応づけた階層構造データが登録されている。部品種は、想定され得る各種部品の外観を、主として部品本体の形状の違いにより分類することで設定されたものである。サブ部品種は、各部品種を、部品の色彩や電極の形状などの違いに基づき細分類することで設定されたものである。
【００４３】
さらに各部品種には、当該部品種に適した検査領域の基本の設定ルールが登録されている。また各サブ部品種には、上位の部品種の検査領域の設定ルールへのリンク情報と、サブ部品種の外観の特徴に応じた検査用パラメータとを含む基本ライブラリデータが登録されている。
【００４４】
この検査データ作成システムでは、基板Ｓの良品モデルの画像（以下、「モデル画像」という。）や基板ＳのＣＡＤデータを入力し、これらの入力情報と上記の基本ライブラリデータとを用いて、ＣＡＤデータが表す部品の型式毎に、その型式に適したサブ部品種を特定し、特定されたサブ部品種にリンクする検査用パラメータを使用して、当該型式に対応するバリエーションのライブラリデータ（以下、単に「バリエーション」という。）を作成して登録する（既にバリエーションが登録されている型式については、この処理は不要である。）。登録処理が終了すると、ＣＡＤデータが示す各部品にそれぞれその型式に応じたバリエーションを適用して、各部品の検査データを作成する。
【００４５】
さらにこの検査データ作成システムには、作成された検査データによりモデル画像に対するテスト検査を実行する機能や、この検査で不良と判定された部品の検査データを修正する機能などが設けられる。また、後記する部品種アイコンやサンプル画像など、ユーザインターフェースの設定に関わる画像データもシステム内に登録される。
【００４６】
上記の各機能により完成した検査データは、検査装置１に送信され、メモリ５５内の検査用データベースに格納される。ただし、この検査データ作成システムを検査装置１内に導入し、検査装置１に直接教示作業を行うことも可能である。
【００４７】
以下、検査データの作成に用いるバリエーションを作成する処理について、ユーザインターフェースの機能を中心に説明する。
【００４８】
図２〜１２は、検査データ入力システムがバリエーションの作成処理を行う際にモニタ１７（図１に示す。）に提示する画面を、提示の順に示したものである。まず、図２は、バリエーションの作成画面に進む前の基本の設定画面であって、画面の左側には、モデル画像を表示するための画像表示領域１００が設けられる。また右側には、ユーザに処理を進めさせるための処理領域１０１が設けられる。
【００４９】
処理領域１０１には、「部品登録」「検査基準」「テストランニング」「検査画像」の４つのタブが設けられ、選択されたタブに応じた処理用の表示が展開される。バリエーションの作成処理を行う場合には、「部品登録」のタブが選択される。このときの処理領域１０１には、部品種アイコンの表示欄１０２、部品種の階層構造の表示欄１０３、ＣＡＤデータの読み出し用のボタン１０４、自動貼り付けボタン１０５などが表示される。
【００５０】
各部品種アイコンは、登録されている部品種につき１つずつ設定される。各部品種アイコンは、対応する部品種の部品に共通する外観を模式したマークとして構成される。また表示欄１０３には、選択されたアイコンに対応する部品種の階層構造が表示される。初期状態では、一番左上のアイコンが自動選択されているが、図３に示すように、アイコンの選択を変更すると、表示欄１０３の階層構造の表示もこれに連動して変更される。
【００５１】
処理領域１０１の下方には、基板未登録リスト１０６が表示され、その下方に、全貼り付けボタン１０７が設けられる。
【００５２】
基板未登録リスト１０６は、バリエーションが登録されていない部品を、型式が同一のものが連続するように順序づけて表示したものである。この実施例では、ＣＡＤデータから読み出された品番名称（部品の型式の名称に相当する。）、部品ＩＤ（個々の部品に固有に設定された識別コードである。）、実装位置を表す座標、部品の向きを表す角度が表示されている。この一覧表示は、読み出しボタン１０４の操作に応じてＣＡＤデータが読み込まれたことに応じて行われる。
【００５３】
全貼り付けボタン１０７は、読み込まれているＣＡＤデータが示す各部品に、それぞれ部品型式に対応するバリエーションを対応づけるためのものである。基板未登録リスト１０６に未登録の部品が表示されている場合には、先にこれらの部品のバリエーションを作成して、登録し、その後に全貼り付けボタン１０７を操作する必要がある。
【００５４】
図２に示す画像表示領域１００には、部品実装後基板のモデル画像のうち、基板未登録リスト１０６で選択中の部品（図示例では４番目の部品）を含む範囲が表示されている。またこの画像には、２種類の検査領域Ｗ，Ｒが、それぞれ異なる色彩により表示される（図では、色彩の代わりに一点鎖線および点線で各領域Ｗ，Ｒを表現している。）。
【００５５】
検査領域Ｗは、部品の本体部に対応する範囲を示すものである。以下では、この検査領域Ｗを「部品本体領域Ｗ」という。
部品本体領域Ｗは、他の検査領域を設定するための基準として用いられるもので、範囲を表す矩形枠の一辺に三角形状のマークＭが設定されている。ユーザは、マークＭがどの方向を向いているかによって、部品の向きを認識することができる。たとえば、マークＭが右向きであれば部品の向きは０度であり、マークＭが上向きであれば、部品の向きは９０度である。なお、部品本体領域Ｗの向きは、ＣＡＤデータが示す部品の向きに基づき設定される。
【００５６】
検査領域Ｒは、具体的な検査に使用される。検査領域Ｒの数、大きさ、形状、設定位置は、部品種毎に外観の特徴に応じて定められる。
各検査領域Ｗ，Ｒは、処理領域１０１で選択されている部品種の設定ルールに基づき、選択中の部品に対して設定されるが、現在の設定は、選択中の部品に適合していない。
【００５７】
ここで、選択中の部品に対応する部品種（チップ部品）の部品種アイコンを操作すると、図３に示すように、部品本体領域Ｗはチップ部品用の設定ルールに基づくものに変化し、検査領域Ｒは、４つの検査領域Ｒ１〜Ｒ４に変化する。しかし、この段階の検査領域Ｗ，Ｒ１〜Ｒ４も、部品種に登録されているデフォルトの大きさに基づくため、表示中の部品には適合していない。
【００５８】
本実施例では、ここでユーザが自動貼り付けボタン１０５を操作する。この操作は、バリエーションの作成処理の開始を指示するものである。この操作が行われると、図４に示すようなバリエーションの作成画面が立ち上がる。
【００５９】
この画面にも、画像表示領域１００や部品種アイコンの表示欄１０２が設けられる。この表示欄１０２では、自動貼り付けボタン１０５が操作されていたときの選択が維持されている。
【００６０】
さらに表示欄１０２の右手には、サブ部品種のサンプル画像の表示欄１０８が設けられる。なお、この画面では、ユーザが認識しやすいように、各サンプル画像を「サンプル部品」という名称で提示している。
【００６１】
各サンプル画像は、対応するサブ部品種の外観の特徴を模式したもので、表示欄１０８には、部品種アイコンの表示欄１０２で選択されている部品種（チップ部品）に属する８種類のサンプル画像が表示されている。これらのサンプル画像にもアイコンの機能が設定されている。
【００６２】
さらに、画面の右上の表示欄１０９には、選択中の型式の部品名称および品番名称や、選択されている部品種およびサブ部品種の属性情報が表示され、その横手に、選択中のサンプル画像が表示される（この画像にはアイコンの機能は設定されていない。）。
【００６３】
画面の右下の「ランド数」の見出しを付けた表示欄１１０にも、選択中のサブ部品種のサンプル画像が表示され、その上下左右には、電極数を入力するための入力ボックス（符号省略）が設けられる。ただし、この入力ボックスは、リード電極を具備するタイプの部品種が選択されているときのみ有効化されるため、図４では点線により示している。
【００６４】
さらにこの表示欄１１０にある矢印入りのボタン１１１は、ＣＡＤデータによる部品の向きの定義が検査データの定義と異なる場合に、これを変更するためのもので、ユーザには、部品本体領域Ｗの向きを変更するためのウィンドウとして認識される。
【００６５】
さらに、表示欄１１０の下方には、実行ボタン１１２、一段階前の画面への復帰ボタン１１３、キャンセルボタン１１４が設けられる。また、画像表示領域１００の下方には、表示倍率の設定領域１１５や、部品の選択を切り替えるためのボタン１１６，１１７などが設けられる。
【００６６】
このバリエーションの作成画面が立ち上げられた時点では、自動貼り付けボタン１０５が操作されたときに基板未登録リスト１０６で選択されていた型式の部品の中の１つが代表部品として選択され（図２，３の画面で選択されていた部品とは同一型式の別部品である。）、この部品が含まれる範囲の画像が画像表示領域１００に表示されている。また、選択された部品には部品本体領域Ｗが重ね表示されている。
【００６７】
なお、代表画面の画像の状態が良くない場合などには、この画面の左下にある「同一品番」の欄の選択用ボタン１１６を操作すれば、代表部品を切り替えることができる。また、その隣の「別品番」の欄の選択ボタン１１７を操作することで、処理対象の部品型式を変更することもできる。さらにこの段階の画面でも、表示欄１０２の部品種アイコンを選択し直すことができる。
【００６８】
上記構成の画面において、ユーザは、まず、画像表示領域１００で部品本体領域Ｗを代表部品に適合する大きさに修正する作業を行う。図５は、画像表示領域１００の表示倍率を上げて、この作業を行った状態を示す。
【００６９】
サブ部品種のサンプル画像の表示欄１０８では、初期段階では、１列目の左端にあるものが自動的に選択されている。このサンプル画像の外観は代表部品とは異なっているので、ユーザは、部品本体部の色彩や形状が代表部品に近いサンプル画像に選択を切り替える操作を行う。図６は、この切替操作後の画面を示すもので、表示欄１０８の２列目の左端のサンプル画像に選択が変更されている。この変更に応じて、画面の右上や表示欄１１０内のサンプル画像も変化し、表示欄１０９内のサブ部品種の属性情報も変更されている。
【００７０】
ここで、ユーザがサンプル画像や表示欄１０９の属性情報が適切であると判断して実行ボタン１１２を操作すると、画面は図７に示すものに切り替えられる。この画面では、画像表示領域１００内に４つの検査領域Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４が追加される。また画面の右側では、部品種やサブ部品種の表示欄１０２，１０８がなくなり、代わりに、検査領域の構成を表す表示欄１１８が設けられる。また、画面の左下には、検査領域の編集用のアイコン１２０の表示領域が設けられ、右下には、「既存バリエーション確認」用のボタン１１９が設けられる。
【００７１】
画像表示領域１００に表示された検査領域Ｒ１〜Ｒ４は、先の図３に示したものと同一機能のものであるが、部品本体領域Ｗの大きさに合わせて位置や大きさが調整されている。これらのうち、Ｒ１，Ｒ２ははんだ検査のための検査領域であり、表示欄１１８の「ランド１」「ランド２」に対応する。Ｒ３は部品の有無を検査するための検査領域であって、表示欄１１８の「実装１」に対応する。また、Ｒ４は、検査領域Ｒ１，Ｒ２の位置を微調整するために、はんだに相当する輝度の高い領域を抽出する処理の対象範囲を示すもので、表示欄１１８の「自動抽出１」に対応する。
また表示欄１１８の１番上に示されている「部品本体」は部品本体領域Ｗに相当する。
【００７２】
これらの検査領域Ｒ１〜Ｒ４は、ユーザの操作により修正された部品本体領域Ｗの範囲やそのマークＭが示す部品の向きに、選択されたサブ部品種にリンクする検査領域の設定ルールを適用することにより設定することができるが、この実施例では、検査データの修正頻度を減らすために、部品実装前のモデル画像を用いてはんだ検査用の検査領域Ｒ１，Ｒ２を調整するようにしている。
【００７３】
簡単に説明すると、部品実装前基板のモデル画像の代表部品に対応する範囲（たとえば自動抽出用の領域Ｒ４を利用する。）から、代表部品の左右の電極に対応するランドを抽出する。そして、各ランドが検査領域Ｒ１，Ｒ２に包含された状態になるように、検査領域Ｒ１，Ｒ２の位置や大きさを調整する。
【００７４】
上記の検査領域Ｒ１〜Ｒ４には、それぞれ選択中のサブ部品種の基本ライブラリデータにおいて、各領域に対して設定されている色パラメータや検査基準データが適用される。部品検査用の検査領域Ｒ３では部品本体部の色彩を抽出するが、実際の部品の色彩に近いサブ部品種を選択することで、このサブ部品種に設定されている部品抽出用の色パラメータを検査領域Ｒ３に適用することができる。また、抵抗とコンデンサとでは、撮像対象外の部品周面の電極の面積や形状が異なり、これによりはんだの濡れ上がり状態も異なるものになるが、コンデンサは角部に丸みがあるので、角部の形状によりサブ部品種を分けることができる。よって、角部の形状が実際の部品に近いサブ部品種を選択することにより、はんだ検査用の検査領域Ｒ１，Ｒ２に処理対象の部品型式のはんだフィレットの形状に適した検査基準データを設定することができる。
【００７５】
ユーザは、各検査領域Ｒ１〜Ｒ４の設定が適切であると判断すると、再び実行ボタン１１２を操作する。この操作が行われると、選択中の部品種の下位に、処理対象の型式の品番名称をバリエーション名とする新たなバリエーションが設定される。このバリエーションでは、各検査領域Ｒ１〜Ｒ４を図７の状態で設定されるように、基本ライブラリデータの設定ルールを修正して適用する。一方で、各検査領域の色パラメータおよび検査基準データについては、原則として基本ライブラリデータの内容がそのまま適用される。
【００７６】
つぎに、上記の手順で表示されていたチップ部品に対するバリエーションの作成・登録が完了すると、図８に示すように、画像表示領域１００の表示は、次の未登録の型式の代表部品を含む範囲のものに切り替えられる。また画面の右側は、最初の状態に戻り、再び部品種アイコンやサンプル画像が表示されるが、この時点では、一段階前の型式に対する選択が残っている。また、画像表示領域１００には、部品本体領域Ｗが表示されているが、この領域Ｗの大きさも前回の設定によるものである。
【００７７】
しかし、図８の例で代表部品として選択されているのは、チップ部品ではなく、リード部品である。このため、まずユーザは、図９に示すように、部品本体領域Ｗを、代表部品に合わせる作業を実行する。なお、この実施例のシステムでは、リード部品に対する部品本体領域Ｗは、電極部分を含めずに、パッケージ部分のみを対象とするように定義しているので、ユーザによる操作もこの定義に従って行われる。
【００７８】
つぎに、ユーザが、表示欄１０２で代表部品に対応する部品種アイコン（ＳＯＰ）を選択すると、図１０に示すように、表示欄１０８内の表示が切り替えられる。今回の表示欄１０８には、電極の形状の違いに基づき分類された２種類のサブ部品種のサンプル画像が表示され、そのうちの一番目のサブ部品種が自動選択されている。さらに、この表示欄１０８の変化に合わせて、画面の右上および表示欄１００内のサンプル画像の表示も更新される。また表示欄１０９内の部品種やサブ部品種の属性情報の表示も、それぞれ選択されたものに対応する表示に更新される。
【００７９】
さらに、今回の設定画面では、表示欄１１０内の電極入力ボックスが有効化され、各ボックスに、デフォルトの電極数（サンプル画像が示す電極数である。）が表示される。
【００８０】
この実施例では、最初に選択されたサブ部品種が代表部品に対応するものであったので、サブ部品種の選択を変更する操作は行われないが、各入力ボックスの数値を、実際の代表部品の電極数に合うように設定する必要がある。図１１は、この入力を行った時点の設定画面を示すもので、上下の入力ボックスの数値が「４」から「７」に変更されている。
【００８１】
この入力後にユーザが実行ボタン１１２を操作すると、画面は図１２に示すものに変更される。この画面は先の図７と同様の構成のものであり、画像表示領域１００に、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールに基く検査領域が追加表示され、画面右側の表示欄１１８に検査領域の構成が表示される。
【００８２】
具体的に、図１２の例の画像表示領域１００には、４つの検査領域Ｒ１１，Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１４が設定される。これらは、電極を抽出する処理の対象範囲を表すもので、表示欄１１８内の「ＩＣ自動抽出」に相当する。また、これらの検査領域の設定ルールは、４本までの電極を１単位として、検査領域の設定範囲を分割するように設定される。さらにこの図には示していないが、この実施例の部品には、各検査領域Ｒ１１〜Ｒ１４内の個々の電極やはんだ付け部位毎に個別の検査領域が設定される。さらに、各検査領域には、それぞれ選択中のサブ部品種で定義された色パラメータおよび検査基準データが対応づけられる。
【００８３】
上記の検査領域Ｒ１１〜Ｒ１４も、代表部品に対する部品本体領域Ｗの範囲やマークＭが示す向きに、選択されたサブ部品種による検査領域の設定ルールを適用することにより設定される。さらにこの場合には、実装前基板のモデル画像から代表部品に対応するランドを抽出するほか、実装後基板のモデル画像から代表部品の電極を抽出し、これらの抽出結果に合わせて、はんだ検査用および電極検査用の各検査領域を調整する。
【００８４】
このように、リード部品を処理対象とする場合にも、チップ部品と同様の設定操作に加えて、電極の数を入力する操作を行うことによって、各種検査領域が自動設定され、その設定結果が表示される。この表示内容をユーザが適切であると判断して実行ボタン１１２を操作すると、選択中の部品種の下位に処理対象の型式の品番名称をバリエーション名とする新規バリエーションが設定される。
【００８５】
このように、本実施例では、バリエーションの作成対象の型式の部品に外観が類似するサブ部品種を選択する操作を受け付けることにより、処理対象の型式に対応するサブ部品種を特定する。また、ユーザに代表部品の画像を参照させて、サブ部品種には規定されていない外観の特徴（部品本体の大きさ、電極数）を入力させることにより、サブ部品種の検査領域の設定ルール（領域の大きさや数などを定義するもの）を処理対象の型式に合わせて修正して、新規のバリエーションを作成する。サブ部品種の選択や外観の特徴を入力する処理は、上記のとおり、画像表示を参照しながら簡単に行うことができるから、設定処理に不慣れなユーザでも、処理対象の型式に適したライブラリデータを容易に設定することが可能になる。
【００８６】
さらに上記のバリエーションの作成画面には、以下のような機能も設けられている。
まず検査領域の設定後には、画面の左下に表示されたアイコン１２０（図７，１２参照）を用いて、画像表示領域１００に表示された検査領域の位置や大きさを調整したり、コピー操作や貼り付け操作により検査領域を増やしたり、検査領域を削除するなどの編集作業を行うことができる。これにより、ユーザは、自動設定された検査領域をより詳細に調整したり、設定内容を変更した後に、実行ボタン１１２を操作することができる。
【００８７】
つぎに、ＣＡＤデータによる部品の向きの定義が検査領域の設定ルールに適合していない場合、たとえば、設定ルールで９０度と定義している部品の向きをＣＡＤデータ側で０度としているような場合には、表示欄１００内に設定される操作ボタン１１１を操作する。このボタン１１１を操作する毎に、部品本体領域Ｗの向きが９０度ずつ回転する。よって、必要な回数分の操作を行うことにより、部品本体領域Ｗの向きをシステム側の定義に合わせることができ、変更後の部品本体領域Ｗに基づいて検査領域の設定ルールを正しく適用することができる。
【００８８】
さらに、検査領域の設定後の画面の右下に設けられたボタン１１９（図７，図１２参照）を操作すると、既に登録されているバリエーションの部品を参照することができ、さらに参照した部品のライブラリデータを処理対象の型式に流用することが可能になる。
【００８９】
図１３は、図７の画面においてボタン１１９が操作された場合の表示例を示す。この例では、元の画面の上に、既存のバリエーションを確認するためのウィンドウ２００が重ね表示されている。
【００９０】
このウィンドウ２００には、部品種アイコンの表示欄２０１や、この表示欄２０１で選択されている部品種の階層構造を示す表示欄２０２が設けられる。表示欄２０１では選択中のチップ部品のアイコンが選択されており、表示欄２０２では、選択中のサブ部品種内のバリエーションの１つが選択されている。
【００９１】
さらにウィンドウ２００には、選択中のサブ部品種の属性情報を表示する欄２０３と、表示欄で選択されているバリエーションに対応する部品のサムネイル画像２０４が表示される。このサムネイル画像２０４は、対応するバリエーションの作成時の代表部品の画像である。さらに、サムネイル画像２０４の表示欄の下方には、「流用」の指定ボタン２０５や復帰ボタン２０６が設けられる。
【００９２】
上記構成のウィンドウ２００で、ユーザは、バリエーションの選択を自由に切り替えることができる。また復帰ボタン２０６を操作すれば、既存バリエーションの確認を終了し、ウィンドウ２００を閉じることもできる。これらの切り替えに応じてサムネイル画像２０４や表示欄２０３の表示も、切り替えられる。
【００９３】
ウィンドウ２００は、元の画面の画像表示領域１００を隠さない範囲に設定されるので、ユーザは、画像表示領域１００内の代表部品とサムネイル画像とを比較して、両者の外観が似ているかどうかを判断することができる。ここでユーザが、両者が類似すると判断して「流用」ボタン２０５を操作すると、その操作時点のウィンドウ２００で選択されているバリエーションのライブラリデータの検査用パラメータが処理対象の型式に流用される。この時点でウィンドウ２００は消失し、実行ボタン１１２を操作することによって、新規バリエーションに流用された検査用パラメータを含むライブラリデータが登録されることになる。
【００９４】
図１４のフローチャートは、上記の検査データ作成システムによる基本的な処理手順を示す。また図１５のフローチャートは、バリエーションの作成（図１４のＳＴ４）に関する詳細な手順を、ユーザが実行する処理（末尾に（ユーザ）と記載されているステップ）を含めて表したものである。
【００９５】
まず、図１４を参照して説明すると、システムでは、検査装置１から、教示対象の基板の実装後のモデル画像および実装前のモデル画像を順に入力する（ＳＴ１，２）。これによりモニタ１７には、図２に示した画面が立ち上げられる。
【００９６】
つぎに、ＣＡＤ読み込みボタン１０４の操作に応じて教示対象のＣＡＤデータを読み込み（ＳＴ３）、バリエーションが登録されていない型式を対象に、バリエーションの作成処理を開始する（ＳＴ４）。この処理については、図１５を参照して説明する。
【００９７】
この処理は、基板未登録リスト１０６に表示された部品の１つを選択する操作に応じて開始されるもので、まず、選択された部品の型式を最初の処理対象として選択する（ＳＴ１０１）。つぎに、処理対象の型式の部品の中から代表部品を選択し、この代表部品を含む範囲の画像を表示する（ＳＴ１０２）。なお、図４〜図１２に示したように、代表部品は画像表示領域１００の中央付近に位置づけられ、また部品本体領域Ｗによって識別表示されるので、ユーザは、容易に確認することができる。
【００９８】
つぎに、ユーザにより、表示された代表部品に対応する部品種を選択する操作が行われる（ＳＴ１０３）。これに応じてシステムでは、表示欄１０８に選択された部品種に所属するサブ部品種のサンプル画像を表示する（ＳＴ１０４）。
【００９９】
部品種のサンプル画像が表示されると、ユーザは、部品本体領域Ｗを調整する作業（ＳＴ１０５）、サブ部品種を選択する作業（ＳＴ１０６）、電極数を入力する作業（ＳＴ１０７）を順に実行し、実行ボタン１１２を操作する（ＳＴ１０８）。これに応じてシステムでは、選択されたサブ部品種の検査領域の設定ルールを部品本体領域Ｗに適用して、検査領域を設定する（ＳＴ１０９）。さらに、部品実装前のモデル画像からランドを抽出し（リード部品については、部品実装後のモデル画像から電極を抽出する処理も実行する。）、抽出結果に応じて検査領域を調整する（ＳＴ１１０）。
【０１００】
この後は、調整後の検査領域を画像表示領域１００に表示し（ＳＴ１１１）、ユーザによる実行ボタン１１２の操作に応じて、表示された検査領域の設定ルールと選択中のサブ部品種の検査パラメータとを組み合わせた新規のバリエーションを作成する（ＳＴ１１４）。さらにこの新規バリエーションに選択中の型式の品番名称を付けて登録する（ＳＴ１１５）。
【０１０１】
以下、未処理の型式を順に選択して同様の処理を基板未登録リスト表示がなくなるまで、同様の手順を繰り返すことにより、ＣＡＤデータに含まれる全ての型式に対応するバリエーションを作成し、登録することができる。
【０１０２】
なお、ユーザが実行するステップのうち、ＳＴ１０５とＳＴ１０６とは、順序が逆になってもよく、また繰り返し実行してもかまわない。また、図２，３の例に示すように、最初の処理対象の型式に対して、バリエーションの作成画面を立ち上げる前に部品種を選択した場合には、この型式についてのＳＴ１０３をスキップしてよい。
さらに１回目の実行ボタン１１２を操作する処理（ＳＴ１０８）より前であれば、表示欄１１０のボタン１１１を操作して、部品本体領域Ｗの向きを変更することができる。
【０１０３】
未処理の型式が全て処理されると（ＳＴ１１５が「ＮＯ」）、バリエーションの作成画面は消失し、基本の設定画面（図２，３）の表示に復帰する。
【０１０４】
バリエーションの作成処理の終了後の処理について、図１４のＳＴ５に参照を戻して説明する。ここでは、ユーザの全貼り付けボタン１０７の操作に応じて、ＣＡＤデータ中の各部品に、それぞれの実装位置および部品の向きに合わせて当該部品の品番名称によるバリエーションを適用する。これにより基板Ｓに実装される部品毎に、検査領域の具体的な設定データ（たとえば、検査領域の左上頂点および右下頂点の座標）と、各検査領域に適用する検査用パラメータとを対応づけた検査データが作成される。
【０１０５】
この実施例では、各型式につき、それぞれその型式を表す品番名称をバリエーション名とするバリエーションを登録しているので、上記のＳＴ５では、従来のように、ＣＡＤデータの表す品番名称をバリエーション名に変換する必要がなく、各部品に該当するバリエーションを簡単に読み出すことができる。
【０１０６】
検査データが作成された後は、作成された検査データによるテスト検査を実行し（ＳＴ６）、個々の品番名称について、不良と判定された検査項目を含むはんだ検査用の検査領域を対象に、検査領域の設定データを調整する（ＳＴ７）。さらに再度テスト検査を実行し（ＳＴ８）、不良と判定された個々の部品について、その不良判定がなされた検査領域に対応する色パラメータや検査基準データを調整する（ＳＴ９）。
【０１０７】
ＳＴ６，８のテスト検査は、部品実装後基板のモデル画像を対象にするもので、処理領域１０１の「テストランニング」のタブ（図２，３を参照）を選択し、必要な指定操作を行うことにより実行される。ＳＴ７の調整処理は、処理領域１０１の「検査画像」のタブを選択して実行されるもので、部品実装前基板のモデル画像を用いた自動調整処理（モデル画像からランドを抽出して、抽出されたランドに検査領域を適合させる処理）のほか、ユーザの手操作による調整を行うことができる。
【０１０８】
ＳＴ９の調整処理は、処理領域１０１の「検査基準」のタブを選択して実行される。ここでも、部品実装後のモデル画像中の調整対象の領域の画像を処理することにより、色パラメータや検査基準データを自動で調整する方法と、ユーザの手操作により調整する方法とを選択することができる。
【符号の説明】
【０１０９】
１    検査装置
２    カメラ
７    パーソナルコンピュータ
１７  モニタ
１００  画像表示領域
１０２  部品種アイコンの表示欄
１０８  サブ部品種のサンプル画像の表示欄
Ｗ    部品本体領域
Ｒ，Ｒ１、Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４，Ｒ１１，Ｒ１２，Ｒ１３，Ｒ１４  検査領域
【図１】
2010177291.tif 000003
【図２】
2010177291.tif 000004
【図３】
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【図４】
2010177291.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2010177291.tif 000013
【図１２】
2010177291.tif 000014
【図１３】
2010177291.tif 000015
【図１４】
2010177291.tif 000016
【図１５】
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