(57)【要約】【課題】光ファイバが実際に設置された位置を容易に解析できる温度測定システム及び光ファイバ敷設状態解析方法を提供する。【解決手段】光ファイバ１２に複数のタグ１３を取り付ける。測定用サーバー１６は、タグ１３を順番に選択し、通信基地局１４を介して測位処理要求信号を送信する。選択されたタグ１３は、測位処理要求信号を受信すると加熱部を動作させて光ファイバ１２を加熱するとともに、パルス信号を出力する。測定用サーバー１６は、各通信基地局１４におけるパルス信号受信時刻と、各通信基地局１４の位置と、パルス信号の伝搬速度とから、タグ１３の２次元又は３次元座標上の位置を検出する。この位置情報は、光ファイバ温度測定装置１１により検出される光ファイバ１２の長さ方向におけるタグ１３の位置情報とともに、位置データベース１７に記録される。【選択図】図１
2010276439.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバと、
前記光ファイバに接続されて前記光ファイバの長さ方向の温度分布を測定する光ファイバ温度測定装置と、
前記光ファイバに相互に離隔して取り付けられる複数のタグと、
前記タグとの間で通信を行う複数の通信基地局と、
前記光ファイバ温度測定装置から前記温度分布の測定結果を入力するとともに、前記タグから送信される測位信号の受信時刻の情報を前記複数の通信基地局から入力して、それらの情報と前記通信基地局の位置情報とから前記タグの２次元又は３次元座標上の位置を検出する位置検出装置とを有し、
前記タグは、前記光ファイバを部分的に加熱する加熱部と、
前記通信基地局に前記測位信号を送信する通信部と、
タグ毎に固有の識別コードが記録された識別コード記録部と、
前記加熱部、前記通信部、及び前記識別コード記録部を制御する制御部とを有する
ことを特徴とする温度測定システム。
【請求項２】
前記タグと前記通信基地局との間は、ＵＷＢ（Ultra Wide Band：超広帯域）信号、超音波、光又はマイクロ波により通信を行うことを特徴とする請求項１に記載の温度測定システム。
【請求項３】
前記位置検出装置は、前記通信基地局を介して前記複数のタグに識別コードを含む測位処理要求信号を送信し、
前記タグの前記制御部は、前記通信部を介して前記測位処理要求信号を受信すると、該測位処理要求信号に含まれる識別コードと前記識別コード記録部に記録されている識別コードとを比較し、両者が一致しているときに前記加熱部を制御して前記光ファイバを加熱する
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の温度測定システム。
【請求項４】
前記測位信号には、前記識別コード記録部から読み出された前記識別コードが付加されていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の温度測定システム。
【請求項５】
前記位置検出装置は、前記光ファイバ温度検出装置により認識される前記光ファイバの長さ方向における前記タグの位置と、前記タグの２次元又は３次元座標上の位置とから、前記光ファイバの２次元又は３次元空間における敷設状態を解析することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の温度測定システム。
【請求項６】
前記加熱部は、ＰＩＤ（Proportional-Integral-Derivative）制御されることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の温度測定システム。
【請求項７】
光ファイバ温度測定装置に接続された光ファイバに通信機能及び加熱機能を有する複数のタグを相互に離隔して取り付ける工程と、
前記複数のタグを順番に作動させて、前記光ファイバを加熱するとともに測位信号を送信する工程と、
複数の通信基地局により前記測位信号を受信する工程と、
位置検出装置により、前記複数の通信基地局で前記測位信号を受信した時刻と、前記複数の通信基地局の位置情報とから、前記測位信号を送信したタグの２次元又は３次元座標上の位置を演算する工程と、
前記位置検出装置において、前記光ファイバ温度検出装置により認識される前記光ファイバの長さ方向における前記複数のタグの位置と、前記複数のタグの２次元又は３次元座標上の位置とから、前記光ファイバの２次元又は３次元座標空間における敷設状態を解析する工程と
を有することを特徴とする光ファイバ敷設状態解析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバを温度センサとして用いる温度測定システム及び光ファイバ敷設状態解析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、顧客の情報を管理・運用するデータセンターや自社の多量のジョブ（ＪＯＢ）を扱う計算機センターなど（以下、これらをまとめて「データセンター」という）のように、多数の計算機（サーバー等）を同一室内に設置して一括管理することが多くなっている。
【０００３】
データセンターでは、室内に多数のラックを設置し、各ラックにそれぞれ複数の計算機を収納している。このような状況下では、計算機から多量の熱が発生してラック内の温度が上昇し、誤動作や故障の原因となる。このため、ファン等により室内の冷気をラック内に取り込んで計算機を冷却しつつ、ラックから排出される熱により室内の温度が上昇しないように空調機を用いて室内の温度を管理している。
【０００４】
ところで、熱による計算機の誤動作や故障を回避しつつデータセンターで消費する電力を削減するためには、データセンター内の温度分布を随時測定し、その測定結果に応じて空調設備等を適宜制御する必要がある。データセンター内の温度分布を測定するためには、例えばラック内外に熱電対、サーミスター又は白金抵抗測温体等の温度センサを多数設置することが考えられる。しかし、その場合は、温度センサの数が膨大になり、温度センサの設置や保守管理に要する費用が高くなるという問題がある。また、温度センサの数が多くなると故障が発生する割合も高くなるため、信頼性が十分でないという問題もある。
【０００５】
そのため、従来から、データセンター、工場及びオフィス等において多数の箇所（測定ポイント）の温度を測定する際に、温度センサとして光ファイバを用いることが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１４５５４号公報
【特許文献２】特開２００３−５７１２６号公報
【特許文献３】特開昭６２−１１０１６０号公報
【特許文献４】特開平７−１２６５５号公報
【特許文献５】特開２００９−４７４５７号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】株式会社富士通研究所 PRESS RELEASE 「データセンター向けリアルタイム多点温度測定技術を開発」 2008年4月4日
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
光ファイバをセンサとした温度測定装置（以下、光ファイバ温度測定装置という）では、光ファイバの長さ方向に沿った温度分布が検出される。そのため、データセンターやオフィス又は工場内に光ファイバを敷設した場合、どの位置にどのように光ファイバを敷設したのかを把握し、かつ、光ファイバ温度測定装置で認識される測定ポイントと実際の測定ポイントとを対応付けておくことが重要である。
【０００９】
測定ポイント数が少ない場合は、例えばオペレータが光ファイバを加熱して光ファイバ温度測定装置で認識される測定ポイントの位置と実際の測定ポイントの位置とを対応付けてデータ化することが考えられる。しかし、測定ポイントの数が多い場合は、上記の方法では作業時間が膨大になり、現実的ではない。また、データセンターではその時々の需要に応じて設備の変更が行われるが、上記の方法では設備の変更に容易に対応することができない。
【００１０】
以上から、光ファイバが実際に設置された位置を容易に解析できる温度測定システム及び光ファイバ敷設状態解析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
一観点によれば、光ファイバと、前記光ファイバに接続されて前記光ファイバの長さ方向の温度分布を測定する光ファイバ温度測定装置と、前記光ファイバに相互に離隔して取り付けられる複数のタグと、前記タグとの間で通信を行う複数の通信基地局と、前記光ファイバ温度測定装置から前記温度分布の測定結果を入力するとともに、前記タグから送信される測位信号の受信時刻の情報を前記複数の通信基地局から入力して、それらの情報と前記通信基地局の位置情報とから前記タグの２次元又は３次元座標上の位置を検出する位置検出装置とを有し、前記タグは、前記光ファイバを部分的に加熱する加熱部と、前記通信基地局に前記測位信号を送信する通信部と、タグ毎に固有の識別コードが記録された識別コード記録部と、前記加熱部、前記通信部、及び前記識別コード記録部を制御する制御部とを有する温度測定システムが提供される。
【発明の効果】
【００１２】
上記一観点によれば、加熱部及び通信部を有する複数のタグを光ファイバに取り付け、それらのタグに、光ファイバを部分的に加熱するとともに測位信号を出力する処理を実行させる。測位信号を複数の通信基地局で受信し、それらの通信基地局で測位信号を受信した時刻を比較することにより、２次元又は３次元座標上におけるタグの位置を検出することができる。また、光ファイバ温度測定装置では、タグにより加熱された部分を検出することにより、光ファイバの長手方向におけるタグの位置を検出することができる。これらの情報から、光ファイバの２次元又は３次元空間における敷設状態を解析することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、実施形態に係る温度測定システムを示す模式図である。
【図２】図２は、光ファイバ温度測定装置の構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、タグの構成を示すブロック図である。
【図４】図４は、後方散乱光のスペクトルを示す図である。
【図５】図５は、ラマン散乱光の強度の時系列分布の一例を示す図である。
【図６】図６は、図５のラマン散乱光の強度の時系列分布を基にＩ1／Ｉ2比を時間毎に計算し、且つ図４の横軸（時間）距離に換算し、縦軸（信号強度）を温度に換算した結果を示す図である。
【図７】図７は、実施形態に係る温度測定システムの動作（測位処理）を示すフローチャートである。
【図８】図８は、位置データベースに記録された各タグの測位結果の例を示す図である。
【図９】図９（ａ）は、データセンターにおける光ファイバの敷設例を示す模式図、図９（ｂ）は光ファイバ温度測定装置で認識された光ファイバの長さ方向における各タグの位置を示す模式図、図９（ｂ）は測定用サーバーで検出した各タグの位置（２次元座標上の位置）を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、実施形態について、添付の図面を参照して説明する。
【００１５】
図１は、実施形態に係る温度測定システムを示す模式図である。また、図２は光ファイバ温度測定装置の構成を示すブロック図、図３は光ファイバに取り付けるタグの構成を示すブロック図である。
【００１６】
図１に示すように、本実施形態に係る温度測定システムは、光ファイバ温度測定装置１１と、光ファイバ１２と、複数のタグ１３と、複数の通信基地局１４と、測位ネットワーク１５と、測定用サーバー１６と、位置データベース１７とを有している。
【００１７】
データセンターには多数のラック１０が例えばマトリクス状に配置されており、光ファイバ１２は複数のラック１０内を所定の順路で通るように敷設される。光ファイバ１２の端部は、光ファイバ温度測定装置１１と接続される。
【００１８】
光ファイバ温度測定装置１１は、図２に示すように、レーザ光源２１と、ビームスプリッタ２２と、波長フィルタ２３と、光検出器２４とを有している。
【００１９】
レーザ光源２１から出射されるレーザパルス（レーザ光）は、ビームスプリッタ２２を透過して光ファイバ１２に入射する。レーザパルスが光ファイバ１２内を通るときに、光ファイバ１２中の分子によりレーザパルスが後方散乱されて、後方散乱光が発生する。
【００２０】
後方散乱光には、図４に示すように、レイリー（Rayleigh）散乱光と、ブリルアン（Brillouin）散乱光と、ラマン（Raman）散乱光とが含まれる。レイリー散乱光は入射光と同一波長の光であり、ブリルアン散乱光及びラマン散乱光は入射波長からシフトした波長の光である。
【００２１】
ラマン散乱光には、入射光よりも長波長側にシフトしたストークス光と、入射光よりも短波長側にシフトした反ストークス光とがある。ストークス光及び反ストークス光の強度はいずれも温度により変化するが、ストークス光は温度による変化量が小さく、反ストークス光は温度による変化量が大きい。すなわち、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きいということができる。
【００２２】
図２に示すように、光ファイバ１２内で発生したラマン散乱光は、光ファイバ１２を戻って端部から出射する。そして、ビームスプリッタ２２で反射され、波長フィルタ２３を介して光検出器２４に入射する。
【００２３】
図５は、横軸に時間をとり、縦軸に信号強度をとって、ラマン散乱光（ストークス光及び反ストークス光）の強度（信号強度）の時系列分布の一例を示す図である。
【００２４】
光ファイバ１２にレーザパルスを入射した直後から一定の期間、光検出器２４にはストークス光及び反ストークス光が検出される。光ファイバ１２の全長にわたって温度が均一の場合、レーザパルスが光ファイバ１２に入射した時点を基準とすると、信号強度は時間の経過とともに減少する。この場合、横軸の時間は光ファイバ１２の光源側端部から後方散乱が発生した位置までの距離を示しており、信号強度の経時的な減少は光ファイバ１２による光の減衰を示している。
【００２５】
光ファイバ１２の長さ方向にわたって温度が均一でない場合、例えば長さ方向に沿って高温部及び低温部が存在する場合は、ストークス光及び反ストークス光の信号強度は一様に減衰するのではなく、図５に示すように信号強度の経時変化を示す曲線に山及び谷が現れる。前述したように、ストークス光は温度依存性が小さく、反ストークス光は温度依存性が大きいので、両者の比により後方散乱が発生した位置の温度を評価することができる。図５において、ある時間ｔにおける反ストークス光の強度をＩ1、ストークス光の強度をＩ2とする。
【００２６】
図６は、図５のラマン散乱光の強度の時系列分布を基にＩ1／Ｉ2比を時間毎に計算し、且つ図５の横軸（時間）を距離に換算し、縦軸（信号強度）を温度に換算した結果を示す図である。この図６に示すように、時間毎に反ストークス光とストークス光との強度比（Ｉ1／Ｉ2）を計算することにより、光ファイバ１２の長さ方向における温度分布を得ることができる。
【００２７】
なお、光検出器２４では、一定の周期でラマン散乱光をサンプリングしている。従って、光ファイバ温度測定装置１１で認識される測定ポイントの位置は、光検出器２４のサンプリング周期により決まる。光検出器２４において平均化に要する時間等の実用的な計測時間を考慮すると、測定ポイントの間隔は１０〜５０ｃｍ程度になる。
【００２８】
図１に示すように、光ファイバ１２の所定の位置にはタグ１３が取り付けられている。図１では各ラック１０内の光ファイバ１２にそれぞれタグ１３が取り付けられている場合を図示しているが、複数のラック１０に対し１つのタグ１３を取り付けるようにしてもよい。また、１つのラック１０に対し複数のタグ１３を取り付けるようにしてもよい。
【００２９】
光ファイバ１２には基準点（例えば光ファイバ１２の端部）からの距離を示すメーターマークが光ファイバ１２の長さ方向に沿って一定の間隔（例えば２０ｃｍ毎）で設けられている。これにより、タグ１３が取り付けられた位置（光ファイバ１２の長さ方向の位置）がわかるようになっている。
【００３０】
図３に示すように、タグ１３は、ＵＷＢ（Ultra Wide Band：超広帯域）送受信部（通信部）３１と、ＩＤコード記録部３２と、温度調節部３３と、制御部３４と、加熱部３５と、電源３６とを有している。
【００３１】
ＵＷＢ送受信部３１は通信基地局１４との間で通信を行うときに使用され、非常に広い周波数にわたる極めて小さい電力スペクトラム密度（周波数当たりの電力）の電波を送受信する。
【００３２】
ＩＤコード記録部３２には、タグ１３毎に固有のＩＤコード（識別コード）が記録されている。制御部３４は、所定のタイミングでＩＤコード記録部３２からＩＤコードを読み出す。
【００３３】
加熱部３５は、光ファイバ１２の周面に接触して配置される。温度調節部３３は、制御部３４からの信号に基づき、加熱部３５をＰＩＤ（Proportional-Integral-Derivative）制御して所望温度（目標温度）に発熱させる。ＰＩＤ制御により加熱部３５を発熱させることにより、短時間に所望温度にまで加熱することができる。その結果、加熱に要する時間が短縮され、消費電力を削減できるという利点がある。なお、電源に十分な余裕がある場合は、ＰＩＤ制御方式でない温度調節部を使用してもよい。また、本実施形態では加熱部３５としてシリコンラバーヒータを用いているが、電熱抵抗素子やペルチェ素子を使用してもよい。
【００３４】
電源３６は、ＵＷＢ送受信部３１、ＩＤコード記録部３２、温度調節部３３及び制御部３４に駆動電力を供給する。本実施形態では、電源３６が、光により電力を発生する太陽電池３６ａと、太陽電池３６ａで発生した電力を蓄積する二次電池３６ｂ（例えばＮｉ−Ｃｄ電池：蓄電素子）とを有している。太陽電池３６ａは、データセンター内に設置された蛍光灯又は白熱電球等で発生した光を受光できる位置に設置される。
【００３５】
二次電池３６ｂに替えて、キャパシタ（蓄電キャパシタ：蓄電素子）を使用してもよい。また、太陽電池３６ａ及び二次電池３６ｂからなる電源３６に替えてボタン電池等の一次電池を使用してもよく、二次電池を随時充電可能な環境であれば二次電池のみで電源３６を構成してもよい。更に、電源３６に替えて、ラック１０内に配置された電源ラインからタグ１３に駆動電力を供給するようにしてもよい。
【００３６】
図１に矢印で示すように、通信基地局１４はタグ１３との間でＵＷＢ信号を送受信する。通信基地局１４はデータセンター内の複数の箇所に配置されており、測位ネットワーク１５を介して測定用サーバー１６に接続される。通信基地局１４は、タグ１３（ＵＷＢ送受信部３１）との間に通信の障害となる構造物が介在しない場所に配置することが重要である。
【００３７】
なお、タグ１３の位置を２次元座標（ＸＹ座標）上で取得する場合には、通信基地局１４が３以上必要である。また、タグ１３の位置を３次元座標（ＸＹＺ座標）上で取得する場合には、通信基地局１４が４以上必要である。
【００３８】
ここでは、図１に示すように、データセンター内に４台の通信基地局１４が設置されているものとする。また、各通信基地局１４の位置（ＸＹＺ座標）は、予め判明しているものとする。更に、光ファイバ１２の基準点（例えば、光ファイバ１２の端部）から各タグ１３までの光ファイバ１２の長さ方向の位置、及び各タグ１３が配置されたラック１０の番号も予めわかっているものとする。
【００３９】
本実施形態では、ＴＤＯＡ（Time Difference Of Arrival）方式の測位技術を使用してタグ１３の位置（３次元座標）を検出する。以下、ＴＤＯＡ方式の測位技術について簡単に説明する。
【００４０】
ＴＤＯＡ方式の測位技術では、測位対象（この例ではタグ１３）からパルス信号（測位信号）を送信する。通信基地局１４では、測定対象から送信されたパルス信号を受信すると、受信時刻を測定用サーバー１６に送信する。測定用サーバー１６は、各通信基地局１４でパルス信号を受信した時刻の差と、各通信基地局１４の位置（座標）と、パルス信号の伝搬速度とから、測定対象の位置を算出する。前述したように、通信基地局１４の数が３の場合は２次元座標（ＸＹ座標）上の位置しかわからないが、通信基地局１４の数が４以上の場合は３次元座標（ＸＹＺ座標）上の位置を知ることができる。
【００４１】
ＴＤＯＡ方式の測位技術では、各通信基地局１４の位置が正確に判明していることが重要であるとともに、各通信基地局１４の時計（タイマ）が高い精度で一致していることが重要である。このため、通信基地局１４のうちの一つを基準局とし、基準局から他の通信基地局１４に基準パルスを送信して、各通信基地局１４の時計を一致させている。以下の説明では、通信基地局１４のうち基準局となる通信基地局を、基準局１４ａという。
【００４２】
なお、基準局から基準パルスの送信方法としては、定期的に基準パルスを送信する方法と、測定対象からパルス信号を受信したときに基準パルスを送信する方法とがある。ＵＷＢタグを用いた測位システムの詳細については、例えば特許文献５に記載されている。また、特許文献５には、通信基地局の一部の座標が未知であっても測位が可能な測位システムが記載されている。
【００４３】
以下、本実施形態に係る温度測定システムの動作（測位処理）について、図７に示すフローチャートを参照して説明する。なお、測定用サーバー１６には、予めデータセンター内に設置された全ての測位対象のタグ１３のＩＤコードと、光ファイバ１２の長さ方向におけるタグ１３の取り付け位置とが登録されているものとする。また、測定用サーバー１６は、予め設定されたスケジュールにしたがって、例えば毎日定時に測位処理を開始するものとする。
【００４４】
測定用サーバー１６は、測位処理開始の時間になると、登録されているタグ１３のうちの１つを選択し、測位ネットワーク１５を介して選択したタグ１３のＩＤコードを基準局１４ａに送信する。ＩＤコードを受信した基準局１４ａは、ＩＤコードを含む測位処理要求信号（ＵＷＢ信号）をタグ１３に送信する（ステップＳ１１）。
【００４５】
タグ１３の制御部３４では、ＵＷＢ送受信部３１により測位処理要求信号を受信する（ステップＳ１２）と、測位処理要求信号に含まれるＩＤコードとＩＤコード記録部３２に記録されている自身のＩＤコードとを比較する（ステップＳ１３）。そして、ＩＤコードが一致する場合（ステップＳ１３でＹＥＳの場合）は測位処理を開始し、一致していない場合（ステップＳ１３でＮＯの場合）は測位処理要求信号を無視する。このようにして、複数のタグ１３のうちＩＤコードが一致する１つのタグ１３のみが測位処理を開始する。以下、ＩＤコードが一致したタグ１３の動作について説明する。
【００４６】
基準局１４ａから受信した測位処理要求信号に含まれるＩＤコードとＩＤコード記録部３２に記録されているＩＤコードとが一致したタグ１３の制御部３４は、温度調節部３３に目標温度（例えば、５０℃）を設定し、加熱開始を指示する。これにより、温度調節部３３は、光ファイバ１２が目標温度になるように加熱部３５に電力を供給するとともに、加熱温度を測定する（ステップＳ１４）。
【００４７】
次に、制御部３４は、温度調節部３３からの信号により光ファイバ１２の温度が目標温度に到達したことを検出すると、ＵＷＢ送受信部３１を制御してパルス信号（ＵＷＢ信号）を出力する（ステップＳ１５）。パルス信号にＩＤコードを付加して送信してもよい。その後、制御部３４は、温度調節部３３を制御して加熱部３５への電力供給を停止する。なお、このとき同時に光ファイバ温度測定装置１１では光ファイバ１２の長さ方向の温度分布を測定している。光ファイバ測定装置１１で測定した温度分布には、光ファイバ１２を加熱したタグ１３の位置（光ファイバ１２の長さ方向における位置）及び加熱温度の情報が含まれている。
【００４８】
一方、基準局１４ａを含む通信基地局１４は、パルス信号を受信すると、測位ネットワーク１５を介して測定用サーバー１６にパルス信号の受信時刻を送信する。測定用サーバー１６は、各通信基地局１４からパルス信号の受信時刻を受信する（ステップＳ１６）と、受信時刻の差と各通信基地局１４の座標とパルス信号の伝搬速度（空気中の電波の伝搬速度）とから、パルス信号を送信したタグ１３の座標を演算する（ステップＳ１７）。そして、その演算結果を、タグ１３のＩＤコードとともに位置データベース１７に記録する（ステップＳ１８）。また、測定用サーバー１６は、光ファイバ温度測定装置１１から光ファイバ１２の長さ方向の温度分布の情報を入力し、その温度分布の情報からタグ１３による加熱位置（光ファイバ１２の長さ方向の位置）と加熱温度とを取得する。この加熱位置及び加熱温度の情報も、タグ１３のＩＤコードに関連付けて位置データベース１７に記録する。
【００４９】
次いで、測定用サーバー１６は、全ての測位対象のタグ１３の測位（位置データの取得）が完了したか否かを判定する（ステップＳ１９）。そして、全ての測位対象のタグ１３の測位が完了していないと判定した場合（ステップＳ１９でＮＯの場合）は、ステップＳ１１に戻り、次のタグ１３のＩＤコードを選択し、基準局１４ａに送信する。
【００５０】
このようにして全てのタグ１３の測位が完了すると（ステップＳ１９でＹＥＳの場合）、測定用サーバー１６は測位処理を終了する。
【００５１】
図８は、位置データベース１７に記録された各タグ１３の測位結果の例を示す図である。この図８に示すように、位置データベース１７には、タグ１３毎に、例えば空間座標（ＸＹＺ座標）と、タグ１３が配置されたラックの番号と、測位処理時に光ファイバ測定装置１１で測定された温度と、基準点から加熱部（タグ１３）までの距離（光ファイバ１２の長さ方向の位置）と、測定ポイントのリンク情報（タグ１３からその近傍の測定ポイントまでの距離）とが記録される。
【００５２】
図９（ａ）は、データセンターにおける光ファイバ１２の敷設例を示す模式図、図９（ｂ）は光ファイバ温度測定装置１１で認識された光ファイバ１２の長さ方向におけるタグ１３の位置を示す模式図、図９（ｃ）は測定用サーバー１６で検出した各タグ１３の位置（２次元座標上の位置）を示す図である。
【００５３】
ここでは、説明を簡単にするために、図９（ａ）に示すように複数のラック１０がＸ方向及びＹ方向にマトリクス状に配置されており、光ファイバ１２は各ラック１０を順番に通るように敷設されているものとする。また、各ラック１０毎に１つのタグが配置されているものとする。更に、ここでは測定用サーバー１６は各タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の２次元座標上の位置を検出するものとする。
【００５４】
光ファイバ温度測定装置１１では、図９（ｂ）に示すように、タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８により加熱された位置を検出することにより、光ファイバ１２の長さ方向における各タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の位置が判明する。
【００５５】
一方、測定用サーバー１６では、図９（ｃ）に示すように、各タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の２次元座標上の位置が検出される。各タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の光ファイバ２０の長さ方向における位置は光ファイバ温度測定装置１１で認識されているので、光ファイバ１２のうち各タグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８が配置された部分の２次元空間における位置が判明する。
【００５６】
ここで、例えば各ラック１０内における光ファイバ１２の敷設順路とタグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の取り付け位置（光ファイバ１２の長さ方向における位置）とが予め判明しているものとする。そうすると、３次元座標空間におけるタグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の位置、及びそれらのタグＴｇ１，Ｔｇ２…Ｔｇ８の近傍の測定ポイントの位置がわかるので、光ファイバ１２の３次元座標空間における敷設状態も判明する。
【００５７】
本実施形態によれば、タグ１３及び通信基地局１４を用いてデータセンター内のラック１０の配置状態及び光ファイバ１２の敷設状態を短時間で解析することができる。例えば、５台の通信基地局１４を使用し、１０００ｍ2のフロア面積に３５０台のサーバーラックを設置して敷設状態を解析する場合、３０分程度で解析が終了すると考えられる。
【００５８】
以上説明したように、本実施形態によれば、測定用サーバー１６により各タグ１３の２次元又は３次元座標上の位置と、光ファイバ１２の長さ方向におけるタグ１３の取り付け位置とが、タグ１３が配置されたラック１０に自動的に関連付けされる。これにより、データセンター内における光ファイバ１２の敷設状態が容易に解析できる。また、タグ１３の２次元又は３次元座標上の位置データを以前のデータと比較することにより、ラック１０の移動や光ファイバ１２の敷設状態の変更の有無を判断することができる。
【００５９】
更に、ラック１０を撤去した場合や増設した場合も、位置データベース１７に記録されたタグ１３の情報を更新することにより、撤去又は増設後の各ラック１０の配置状態及び光ファイバ１２の敷設状態を容易に確認することができる。
【００６０】
更にまた、本実施形態によれば、データセンター内の光ファイバ１２の３次元空間における敷設状態がわかるので、光ファイバ温度測定装置１１により測定された温度分布と組み合わせてデータデンター内の３次元空間における温度分布がわかる。これにより、空調設備による冷却を最適化することができ、データセンターで消費する電力を削減することができる。
【００６１】
（その他の実施形態）
上記した例では基準局１４ａから送信される測位処理要求信号により所定のタグ１３が測位処理を開始する場合について説明したが、各タグ１３がそれぞれ一定の時間毎に測位処理を開始するようにしてもよい。この場合、各タグ１３を識別するためにパルス信号にＩＤコードを付加して送信する。なお、この方法では、複数のタグ１３から送信されるパルス信号が通信基地局１４に同時に到達して測位処理が失敗することが考えられる。しかし、実際にはパルス信号の送信に要する時間は極めて短いので、複数のタグ１３から送信されるパルス信号が通信基地局１４に同時に到達する可能性は極めて少ない。
【００６２】
また、上記した例ではタグ１３から送信されるパルス信号がＵＷＢの場合について説明したが、パルス信号として超音波、光又はマイクロ波を使用してもよい。パルス信号として超音波を使用する場合は、温度により伝搬速度が比較的大きく変化するので、温度を測定してパルス信号の伝搬速度を補正することが好ましい。
【００６３】
更に、上記実施形態ではデータセンター内に設置された光ファイバ温度測定装置の光ファイバの敷設状態を解析する場合について説明したが、上記に開示した技術を工場又はオフィス等に設置された光ファイバ温度測定装置の光ファイバの敷設状態を解析する場合に適用してもよい。
【符号の説明】
【００６４】
１０…ラック、１１…光ファイバ温度測定装置、１２…光ファイバ、１３…タグ、１４…通信基地局、１４ａ…基準局、１５…測位ネットワーク、１６…測定用サーバー、１７…位置データベース、２１…レーザ光源、２２…ビームスプリッタ、２３…波長フィルタ、２４…光検出器、３１…ＵＷＢ送受信部、３２…ＩＤコード記録部、３３…温度調節部、３４…制御部、３５…加熱部、３６…電源、３６ａ…太陽電池、３６ｂ…二次電池。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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