(57)【要約】【課題】内部に配置された光量測定装置を用いて、容易に被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定を行うことが可能な光画像計測装置を提供する。【解決手段】低コヒーレンス光源２０１により発生されるレーザー光の光量を調整する光量調整部と、被検眼Ｅに照射されるレーザー光の光路の外に配置され、光量を測定可能なフォトダイオード１０５と、を備え、ガルバノミラー１７０Ｂの向きを変更してレーザー光をフォトダイオード１０５に入力し、フォトダイオード１０５は、入力されたレーザー光の光量を測定し、光量調整部は、光量の所定範囲を予め記憶しており、フォトダイオード１０５により測定される光量が所定範囲に含まれるように、低コヒーレンス光源２０１により発生されるレーザー光の光量を調整する。【選択図】図１
2010243280.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光を発生する光源と、
前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する光量調整手段と、
ガルバノミラーの向きを変更して被測定物体に対する前記レーザー光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記レーザー光を走査する走査手段と、
前記被測定物体により反射された前記レーザー光を検出する検出手段と、
前記検出手段によって得られた検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
前記被測定物体に照射される前記レーザー光の光路の外に配置され、光量を測定可能な光量測定手段と、
前記被測定物体の画像を形成する画像形成モード、及び、前記レーザー光の光量を測定する光量測定モードの２つの動作モードを択一的に切り替えるモード切替手段と、
を備え、
前記モード切替手段により前記光量測定モードに切り替えられたときに、
前記走査手段は、前記ガルバノミラーの向きを変更して前記レーザー光を前記光量測定手段に入力し、
前記光量測定手段は、前記入力されたレーザー光の光量を測定し、
前記光量調整手段は、光量の所定範囲を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定される光量が前記所定範囲に含まれるように、前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【請求項２】
前記光量調整手段は、前記所定範囲として光量の上限値及び下限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値及び前記下限値のそれぞれとを比較し、前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに前記光源により発生されるレーザー光の光量を下げ、前記測定された光量が前記下限値を下回っているときに前記光源により発生されるレーザー光の光量を上げることを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項３】
前記光量調整手段は、前記所定範囲として前記レーザー光の光量の上限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値とを比較し、
前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに、警告を報知する警告手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項４】
前記光量調整手段は、前記所定範囲として前記レーザー光の光量の上限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値とを比較し、
前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに、前記レーザー光の前記被測定物体への照射を禁止する照射禁止手段をさらに備える、
ことを特徴とする請求項１に記載の光画像計測装置。
【請求項５】
前記画像形成手段により形成された画像の最大輝度を取得する最大輝度取得手段をさらに備え、
前記光量調整手段は、前記所定範囲として画像の最大輝度の下限の最大輝度閾値をさらに予め記憶しており、前記最大輝度取得手段により取得された最大輝度と前記最大輝度閾値とを比較し、前記最大輝度が前記最大輝度閾値を下回っているときに、前記光源により発生されるレーザー光の光量を、前記所定範囲に含まれるように調整することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一つに記載の光画像計測装置。
【請求項６】
前記被測定物体への前記レーザー光の照射を開始させるための操作手段をさらに備え、
前記モード切替手段は、前記操作手段が操作されたことに対応して前記光量測定モードに切り替えて前記光量測定手段に前記レーザー光の光量を測定させ、その後、前記光量測定手段により最初に測定された光量が前記所定範囲に含まれる場合、又は前記光量調整手段により前記レーザー光の光量が調整された場合に、前記画像形成モードに切り替えて前記被測定物体の画像の形成を開始させることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか一つに記載の光画像計測装置。
【請求項７】
レーザー光を発生する光源と、
前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する光量調整手段と、
前記低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査し、前記被測定物体により反射された前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、
前記干渉光検出手段によって得られた検出結果に基づいて前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、
前記被測定物体に照射される前記信号光の光路の外に配置され、光量を測定可能な光量測定手段と、
前記被測定物体の画像を形成する画像形成モード、及び、前記信号光の光量を測定する光量測定モードの２つの動作モードを択一的に切り替えるモード切替手段と、
を備え、
前記モード切替手段により前記光量測定モードに切り替えられたときに、
前記干渉光検出手段は、前記ガルバノミラーの向きを変更して前記信号光を前記光量測定手段に入力し、
前記光量測定手段は、前記入力された信号光の光量を測定し、
前記光量調整手段は、光量の所定範囲を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定される光量が前記所定範囲に含まれるように、前記光源により発生される低コヒーレンス光の光量を調整する、
ことを特徴とする光画像計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被測定物体をレーザー光で走査し、その反射光を用いて被測定物体の画像を形成する光画像計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザー光源等からの光ビームで被測定物体を走査し、その被測定物体の表面形態や内部形態を表す画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。この光画像計測技術は、Ｘ線ＣＴ装置のような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医用分野における応用の展開が期待されている。
【０００３】
このような光画像計測装置の例として、ＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置や、眼科で使用される走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）などがある。走査型レーザー検眼鏡とは、レーザー光を高速走査して眼球内に投影し、眼底からの反射光を高感度な光検出素子で検出して、画像を形成する装置である。以下では光画像計測装置として特にＯＣＴ装置を例に説明を行う。
【０００４】
特許文献１には、光画像計測技術の一例が開示されている。この装置は、測定腕が回転式転向鏡（ガルバノミラー）により物体を走査し、参照腕に参照ミラーが設置されており、さらにその出口では、計測腕及び参照腕からの光束の干渉によって現れる光の強度が分光器で分析されるという干渉器が利用されていて、参照腕には参照光光束位相を不連続な値で段階的に変える装置が設けられた構成である。
【０００５】
特許文献１の光画像計測装置は、いわゆる「フーリエドメインＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）」の手法を用いるものである。すなわち、被測定物体に対して低コヒーレンス光のビームを照射し、その反射光と参照光との干渉光のスペクトル強度分布を求め、それをフーリエ変換することにより、被測定物体の深度方向（ｚ方向）の形態を画像化するものである。
【０００６】
更に、特許文献１に記載の光画像計測装置は、光ビーム（信号光）を走査するガルバノミラーを備え、それにより被測定物体の所望の測定対象領域の画像を形成するようになっている。この装置においては、ｚ方向に直交する１方向（ｘ方向）にのみ光ビームを走査するように構成されているので、この装置により形成される画像は、光ビームの走査方向（ｘ方向）に沿った深度方向（ｚ方向）の２次元断層像となる。
【０００７】
特許文献２には、信号光を走査方向（ｘ方向）及び垂直方向（ｙ方向：ｘ方向及びｚ方向に直交する方向）に走査することにより走査方向（ｘ方向）の２次元断層画像を複数形成し、これら複数の断層画像に基づいて測定範囲の３次元の断層情報を取得して画像化する技術が開示されている。この３次元画像化としては、例えば、複数の断層画像を垂直方向（ｙ方向）に並べて表示させる方法や（スタックデータなどと呼ばれる）、複数の断層画像にレンダリング処理を施して３次元画像を形成する方法などが考えられる。
【０００８】
特許文献３には、他のタイプの光画像計測装置の一例として、被測定物体に照射される光の波長を走査し、各波長の光の反射光と照射光とを重ね合わせて得られる干渉光に基づいてスペクトル強度分布を取得し、それに対してフーリエ変換を施すことにより被測定物体の形態を画像化する光画像計測装置が記載されている。このような光画像計測装置は、スウェプトソース（Ｓｗｅｐｔ  Ｓｏｕｒｃｅ）タイプなどと呼ばれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】特開２００２−１３９４２１号公報
【特許文献３】特開２００７−２４６７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、上述したように、光画像計測装置は、様々な精密光学デバイス及び光ファイバを含む光学部品により構成されているため、使用環境、特に温度環境の影響を受けやすく、その現象として被測定物体に照射される光量が低下する。また、時間経過による光源の劣化（経時劣化）によっても被測定物体に照射される光量が低下する。この様な被測定物体に照射される光量の低下が発生すると、形成される各断層画像を形成する信号が低くなり、不明瞭な画像になってしまうおそれがある。
【００１１】
また、ＳＬＤなどの光源に故障が発生し被測定物体に照射されるレーザー光の光量が必要以上に高くなると、被測定物体に対し強いレーザー光が照射されることになる。この様に強いレーザー光が照射されると、眼を被測定物体としている場合（被測定物体としての眼を以下では「被検眼」という。）には、その被検眼を傷めてしまうという危険性もある。
【００１２】
この点、従来の光画像計測装置では、被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定にあたっては、光量測定用の機器を用意し被測定物体の位置にその測定機器を配置して被測定物体に照射されるレーザー光の光量を測定することが行われてきた。しかし、このような方法では、被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定を実施しようとする都度、光量測定用の機器を用意する必要があり、被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定及びその光量の調整におけるオペレータの作業を煩雑にしていた。また、被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定を容易に行えないことから、間違って被測定物体に強いレーザー光を照射してしまう等の危険があった。
【００１３】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、光画像計測装置の内部に配置された光量測定装置を用いて、容易に被測定物体に照射されるレーザー光の光量の測定を行うことが可能な光画像計測装置を提供することに目的がある。また、特に医療分野においては安全性の高い光画像計測装置を提供することに目的がある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の光画像計測装置は、レーザー光を発生する光源と、前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する光量調整手段と、ガルバノミラーの向きを変更して被測定物体に対する前記レーザー光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記レーザー光を走査する走査手段と、前記被測定物体により反射された前記レーザー光を検出する検出手段と、前記検出手段によって得られた検出結果に基づいて前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、前記被測定物体に照射される前記レーザー光の光路の外に配置され、光量を測定可能な光量測定手段と、前記被測定物体の画像を形成する画像形成モード、及び、前記レーザー光の光量を測定する光量測定モードの２つの動作モードを択一的に切り替えるモード切替手段と、を備え、前記モード切替手段により前記光量測定モードに切り替えられたときに、前記走査手段は、前記ガルバノミラーの向きを変更して前記レーザー光を前記光量測定手段に入力し、前記光量測定手段は、前記入力されたレーザー光の光量を測定し、前記光量調整手段は、光量の所定範囲を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定される光量が前記所定範囲に含まれるように、前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する、ことを特徴とするものである。
【００１５】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記光量調整手段は、前記所定範囲として光量の上限値及び下限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値及び前記下限値のそれぞれとを比較し、前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに前記光源により発生されるレーザー光の光量を下げ、前記測定された光量が前記下限値を下回っているときに前記光源により発生されるレーザー光の光量を上げることを特徴とするものである。
【００１６】
請求項３に記載の光画像計測装置は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記光量調整手段は、前記所定範囲として前記レーザー光の光量の上限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値とを比較し、前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに、警告を報知する警告手段をさらに備える、ことを特徴とするものである。
【００１７】
請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の光画像計測装置であって、前記光量調整手段は、前記所定範囲として前記レーザー光の光量の上限値を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定された光量と前記上限値とを比較し、前記測定された光量が前記上限値を上回っているときに、前記レーザー光の前記被測定物体への照射を禁止する照射禁止手段をさらに備える、ことを特徴とするものである。
【００１８】
請求項５に記載の発明は、請求項１乃至請求項４のいずれか一つに記載の光画像計測装置であって、前記画像形成手段により形成された画像の最大輝度を取得する最大輝度取得手段をさらに備え、前記光量調整手段は、前記所定範囲として画像の最大輝度の下限の最大輝度閾値をさらに予め記憶しており、前記最大輝度取得手段により取得された最大輝度と前記最大輝度閾値とを比較し、前記最大輝度が前記最大輝度閾値を下回っているときに、前記光源により発生されるレーザー光の光量を、前記所定範囲に含まれるように調整することを特徴とするものである。
【００１９】
請求項６に記載の発明は、請求項１乃至請求項５のいずれか一つに記載の光画像計測装置であって、前記被測定物体への前記レーザー光の照射を開始させるための操作手段をさらに備え、前記モード切替手段は、前記操作手段が操作されたことに対応して前記光量測定モードに切り替えて前記光量測定手段に前記レーザー光の光量を測定させ、その後、前記光量測定手段により最初に測定された光量が前記所定範囲に含まれる場合、又は前記光量調整手段により前記レーザー光の光量が調整された場合に、前記画像形成モードに切り替えて前記被測定物体の画像の形成を開始させることを特徴とするものである。
【００２０】
請求項７に記載の光画像計測装置は、レーザー光を発生する光源と、前記光源により発生されるレーザー光の光量を調整する光量調整手段と、前記低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、ガルバノミラーの向きを変更し被測定物体に対する前記信号光の照射位置を変更しながら前記被測定物体に対して前記信号光を走査し、前記被測定物体により反射された前記信号光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成し、前記干渉光を検出する干渉光検出手段と、前記干渉光検出手段によって得られた検出結果に基づいて前記被測定物体の断層画像を形成する断層画像形成手段と、前記被測定物体に照射される前記信号光の光路の外に配置され、光量を測定可能な光量測定手段と、前記被測定物体の画像を形成する画像形成モード、及び、前記信号光の光量を測定する光量測定モードの２つの動作モードを択一的に切り替えるモード切替手段と、を備え、前記モード切替手段により前記光量測定モードに切り替えられたときに、前記干渉光検出手段は、前記ガルバノミラーの向きを変更して前記信号光を前記光量測定手段に入力し、前記光量測定手段は、前記入力された信号光の光量を測定し、前記光量調整手段は、光量の所定範囲を予め記憶しており、前記光量測定手段により測定される光量が前記所定範囲に含まれるように、前記光源により発生される低コヒーレンス光の光量を調整する、ことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２１】
この発明によれば、被測定物体に向かうレーザー光の進路をガルバノミラーで変更することで、装置内部に配置された光量測定手段により被測定物体に向かうレーザー光の光量を測定することができる。これにより、光量を測定するための光量測定機器を別に用意することなく、容易に被測定物体に向かうレーザー光の光量を測定することが可能となり、作業の煩雑さを軽減することが可能となる。
【００２２】
また、この発明によれば、装置内部に配置された光量測定手段によって測定された光量に基づいて、被測定物体に向かうレーザー光の光量の調整を自動で行うことができる。これにより、被測定物体に向かうレーザー光の光量の調整における作業の煩雑さを軽減することが可能となり、光源の経時劣化や環境による変化などに容易に対応することができる。
【００２３】
また、この発明によれば、被測定物体に向かうレーザー光の光量が調整可能な値を超えた場合に、警告を報知することができる。これにより、オペレータはレーザー光の光量の調整を行えない状態であることを容易に把握でき、装置の安全性を向上することができる。
【００２４】
さらに、この発明によれば、被測定物体に向かうレーザー光の光量が調整可能な値を超えた場合に、被測定物体へのレーザー光の照射を禁止することができる。これにより、レーザー光の光量の調整を行えない状態での被測定物体へのレーザー光の照射が行われることがなくなり、装置の安全性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の全体構成の一例を表す概略構成図である。
【図２】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の制御系の構成の一例を表す概略図である。
【図３】この発明に係る光画像計測装置の実施形態の動作の一例を表すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
〔第１の実施形態〕
この発明に係る光画像計測装置は、被測定物体をレーザー光で走査し、その反射光を用いて被測定物体の画像を形成する装置であり、その例としては走査型レーザー検眼鏡やＯＣＴなどがある。
【００２７】
以下の説明では、この発明に係る光画像計測装置の実施形態の一例について、図面を参照しながら詳細に説明する。この実施形態では、眼科分野において使用され、生体眼のＯＣＴ画像を取得する装置について説明する。なお、生体眼以外の被測定物体のＯＣＴ画像を取得する場合においても、同様の構成により同様の作用及び効果を得ることが可能である。また、走査型レーザー検眼鏡などの他の光画像計測装置においても、同様の構成により同様の作用及び効果を得ることが可能である。
【００２８】
この実施形態では、フーリエドメインタイプの手法を適用する構成について詳しく説明する。なお、他の構成を適用する場合においても、この実施形態と同様の構成を適用することにより同様の作用及び効果が得られる。たとえば、スウェプトソースタイプのように信号光を走査（スキャン）する任意のタイプのＯＣＴ技術に対して、この実施形態に係る構成を適用することが可能である。
【００２９】
［構成］
光画像計測装置１は、図１に示すように、眼底カメラユニット１００、ＯＣＴユニット２００及び演算制御装置３００を含んで構成される。これら各部は、複数の筐体内に分散して設けられていてもよいし、単一の筐体内にまとめて設けられていてもよい。眼底カメラユニット１００は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。眼底カメラは、眼底を撮影する装置である。また、眼底カメラは、眼底血管の形態の撮影に利用される。ＯＣＴユニット２００は、眼底ＥｆのＯＣＴ画像を取得するための光学系を格納している。演算制御装置３００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００３０】
眼底カメラユニット１００とＯＣＴユニット２００とは、ファイバーケーブルを介して光学的に接続されている。演算制御装置３００は、眼底カメラユニット１００及びＯＣＴユニット２００のそれぞれと、電気信号を伝達する通信線を介して接続されている。さらに、光画像計測装置１は、光量調整モードと画像形成モードという２つの動作モードを有している。ここで、光量調整モードとは、光源から出力されるレーザー光の光量を測定するモードである。また、画像形成モードとは、被測定物体の断層画像を形成するモードである。
【００３１】
〔眼底カメラユニット〕
眼底カメラユニット１００は、眼底表面の形態を表す２次元画像を形成するための光学系を有する。ここで、眼底表面の２次元画像には、眼底表面を撮影したカラー画像やモノクロ画像、更には蛍光画像（フルオレセイン蛍光画像、インドシアニングリーン蛍光画像等）などが含まれる。
【００３２】
眼底カメラユニット１００には、従来の眼底カメラと同様に、各種のユーザインターフェイスが設けられている。このユーザインターフェイスの例として、操作パネル、コントロールレバー（ジョイスティック）、撮影スイッチ、合焦ハンドル、ディスプレイなどがある。眼底カメラユニット１００の被検者側の位置（前面）には、被検者の顔を保持するための顎受けや額当てが設けられている。
【００３３】
眼底カメラユニット１００には、従来の眼底カメラと同様に、照明光学系及び撮影光学系を含む観察・撮影光学系１１０が設けられている。この観察・撮影光学系１１０の構造は従来の眼底カメラユニットにおける構造と同様の構造を有する。具体的には、観察・撮影光学系１１０は、例えば約４００ｎｍ〜８００ｎｍの波長の照明光を照射する光源や、撮像装置（いずれも不図示）を有する。
【００３４】
光源から出力された照明光は、観察・撮影光学系１１０に含まれる各種光学素子を通過してダイクロイックミラー１０３に到達する。更に、この照明光はダイクロイックミラー１０３で反射され、集光レンズ系１０２を通過することで集光される。集光された照明光は、対物レンズ１０１を介して被検眼Ｅに入射して眼底Ｅｆを照明する。
【００３５】
ダイクロイックミラー１０３は、観察・撮影光学系１１０からの照明光の眼底反射光（約４００ｎｍ〜８００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する）を反射する。また、ダイクロイックミラー１０３は、ＯＣＴユニット２００からの信号光ＬＳ（たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する）を透過させる。
【００３６】
眼底カメラユニット１００に含まれる撮像装置は、照明光の眼底反射光を受光して映像信号を出力する。
【００３７】
また、眼底カメラユニット１００には、フォトダイオード１０５が設けられている。フォトダイオード１０５は、光を検出して光電変換し、その電気信号の電流又は電圧を基に検出された光の光量を測定する。このフォトダイオード１０５が本発明における「光量測定手段」にあたる。ただし、この光量測定手段はフォトダイオードに限らず、光量を測定する他の機構を用いてもよい。
【００３８】
そして、フォトダイオード１０５は、被検眼Ｅに向かう信号光ＬＳの光路から外れた位置に配置される。逆にいうと、フォトダイオード１０５は、光路上、眼底Ｅｆと共役な位置に配置された絞り１１１の光を通す絞り孔の外側に配置され、フォトダイオード１０５に向かった光がその絞り孔に光が照射されない位置に配置されればよい。さらに、絞り１１１と共役な位置に配置すれば、別途光量測定用の光学系を追加することもなく、より簡素に光量測定系を構成できる。
【００３９】
また、眼底カメラユニット１００には、走査ユニット１０７が設けられている。走査ユニット１０７は、ＯＣＴユニット２００から出力される信号光ＬＳの眼底Ｅｆに対する照射位置を走査する。
【００４０】
走査ユニット１０７は、画像形成モードの場合に、図１に示すｘｙ平面上において信号光ＬＳを走査する。そのために、走査ユニット１０７には、たとえば、ｘ方向への走査用のガルバノミラー１０７Ａと、ｙ方向への走査用のガルバノミラー１０７Ｂとが設けられている。ガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂは、電圧をかけることによって向きが変更される。そして、ガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂは、電圧が０Ｖのときに予め設定された基準位置に配置される。この基準位置は例えば絞りの中心を通過する光路になるように設定されている。被検眼Ｅの走査はおおよそＹ方向に±６．５ｍｍ程度のスキャンを行えればよいため、被検眼Ｅの走査を行うにあたっては、本実施形態ではガルバノミラー１０７Ｂの向き（Ｙ方向の向き）はおおよそ３．５度変更される。絞り１１１は、このガルバノミラー１０７Ｂが基準位置から向きを３．５度変更した状態の光路を通る光が通過できる大きさの絞り孔を有する。さらに、本実施形態ではガルバノミラー１０７Ｂの最大の可動角度は２０度程度である。
【００４１】
さらに、走査ユニット１０７は、光量測定モードの場合に、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを変更してフォトダイオード１０５に信号光ＬＳを照射させる。このフォトダイオード１０５へ向かう信号光ＬＳの光路が図１の点線で表わされる光路Ｌである。このとき、ガルバノミラー１０７Ａは基準の位置に向けておく。本実施形態では、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを基準位置から５．５度変更することで、光路Ｌを通ってフォトダイオード１０５に信号光ＬＳが照射される。ここで、上述したように、絞り１１１は、ガルバノミラー１０７Ｂの向きが基準位置から３．５度変更された状態での信号光ＬＳを通せばよいように構成されているので、ガルバノミラー１０７Ｂの向きが５．５度変更された状態での信号光ＬＳの光路Ｌは絞り１１１を通過しない。したがって、信号光ＬＳがフォトダイオード１０５に照射する光路Ｌを通過する場合には、信号光ＬＳは被検眼Ｅに照射されない。
【００４２】
ここで、本実施形態では、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを変更することでＹ方向に光路を動かしてフォトダイオード１０５に光を照射させたが、実際には、フォトダイオード１０５の位置は、これに照射される信号光ＬＳが被検眼Ｅに照射されない位置であればどこでもよい。たとえば、フォトダイオード１０５に信号光ＬＳを照射するために、ガルバノミラー１０７Ａの向きを変更したときに信号光ＬＳが向かう位置にフォトダイオード１０５を配置する構成でもよく、さらには、ガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂの両方の向きを変えたときに信号光ＬＳが向かう位置にフォトダイオード１０５を配置する構成でもよい。
【００４３】
〔ＯＣＴユニットの構成〕
次に、ＯＣＴユニット２００の構成について説明する。ＯＣＴユニット２００は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様の光学系を備えている。すなわち、ＯＣＴユニット２００は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼Ｅの眼底Ｅｆで反射された信号光と参照物体を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出して検出信号を生成する光学系を備えている。この検出信号は演算制御装置３００に送られる。
【００４４】
低コヒーレンス光源２０１は、広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する広帯域光源である。この広帯域光源としては、たとえば、スーパールミネセントダイオード（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ：ＳＬＤ）や、発光ダイオード（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ：ＬＥＤ）などを用いることができる。この低コヒーレンス光が本発明における「レーザー光」にあたり、低コヒーレンス光源２０１が本発明における「光源」にあたる。低コヒーレンス光源２０１から出力される低コヒーレンス光Ｌ０の光量を増減することで、それに応じて信号光ＬＳの光量も増減する。すなわち、信号光ＬＳの光量が増えると、被検眼Ｅに照射される光の強度が増すことになる。そして被検眼Ｅへ照射される信号光ＬＳの光量は７００μＷを超えると危険である。すなわち、被検眼Ｅへ照射される信号光ＬＳの光量は７００μＷ以下であることが好ましい。ここで、通常は光量とは所定時間当たりに照射される光の量を指すが、慣用的に光量を光の強度を指す意味で使用することから、ここでも光量を光の強度を指す意味で用いる。
【００４５】
低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。低コヒーレンス光Ｌ０は、眼底カメラユニット１Ａの照明光（波長約４００ｎｍ〜８００ｎｍ）よりも長い波長、たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲の波長を含んでいる。
【００４６】
低コヒーレンス光源２０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバを通じてアイソレータ２０２に導かれる。
【００４７】
アイソレータ２０２は、低コヒーレンス光Ｌ０を低コヒーレンス光源２０１に戻さない役目を果たし、低コヒーレンス光源２０１の保護を図っている。
【００４８】
アイソレータ２０２から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバを通じて光カプラ２０３に導かれる。光カプラ２０３は、低コヒーレンス光Ｌ０を参照光ＬＲと信号光ＬＳとに分割する。
【００４９】
なお、光カプラ２０３は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を重畳する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「光カプラ」と称する。
【００５０】
光カプラ２０３により生成された参照光ＬＲは、光ファイバにより導光されてそのファイバ端面から出射される。更に、参照光ＬＲは、集光レンズ系２０７により集光され、参照ミラー２０８により反射される。
【００５１】
参照ミラー２０８により反射された参照光ＬＲは、再び集光レンズ系２０７を経由し、さらに、光ファイバを通じて光カプラ２０３に導かれる。
【００５２】
参照ミラー２０８及び集光レンズ系２０７は、所定の駆動機構により、参照光ＬＲの進行方向に移動される。それにより、被検眼Ｅの眼軸長やワーキングディスタンス（対物レンズ１０１と被検眼Ｅとの間の距離）などに応じて、参照光ＬＲの光路長を確保できる。
【００５３】
他方、光カプラ２０３により生成された信号光ＬＳは、光ファイバにより導光されて眼底カメラユニット１００に案内される。更に、光画像計測装置１が画像形成モードの場合、信号光ＬＳは、集光レンズ系１０９、偏向ミラー１０８、走査ユニット１０７、集光レンズ系１０６、偏向ミラー１０４、絞り１１１、ダイクロイックミラー１０３、集光レンズ系１０２、対物レンズ１０１を経由して眼底Ｅｆに照射される。また、光画像計測装置１が光量測定モードの場合、信号光ＬＳは、集光レンズ系１０９、偏向ミラー１０８、走査ユニット１０７、集光レンズ系１０６、偏向ミラー１０４を経由してフォトダイオード１０５に照射される。
【００５４】
被検眼Ｅに入射した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆ上にて結像し反射される。このとき、信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面で反射されるだけでなく、眼底Ｅｆの深部領域にも到達して屈折率境界において散乱される。したがって、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳは、眼底Ｅｆの表面形態を反映する情報と、眼底Ｅｆの深層組織の屈折率境界における後方散乱の状態を反映する情報とを含んでいる。この光を単に「信号光ＬＳの眼底反射光」と呼ぶことがある。
【００５５】
信号光ＬＳの眼底反射光は、被検眼Ｅに向かう信号光ＬＳと同じ経路を逆方向に案内されてＯＣＴユニット２００に入射し、光カプラ２０３に戻ってくる。
【００５６】
光カプラ２０３は、眼底Ｅｆを経由して戻ってきた信号光ＬＳと、参照ミラー２０８にて反射された参照光ＬＲとを重ね合わせて干渉光ＬＣを生成する。
【００５７】
干渉光ＬＣは、光ファイバを通じて回折格子２０４に導かれる。回折格子２０４は、透過型でも反射型でもよい。干渉光ＬＣは、回折格子２０４によって分光（スペクトル分解）される。
【００５８】
分光された干渉光ＬＣは、集光レンズ系２０５によってラインＣＣＤ２０６（以下では、単に「ＣＣＤ２０６」という。）の撮像面上に結像される。ＣＣＤ２０６は、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤ２０６は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤ２０６は、この検出信号を演算制御装置３００に送る。また、ＣＣＤ２０６に代えて、ＣＭＯＳ等の他の光検出素子（ラインセンサ又はエリアセンサ）を用いることも可能である。
【００５９】
この発明に係る「走査手段」は、走査ユニット１０７を含んで構成されるものである。
【００６０】
また、この発明に係る「検出手段」は、たとえば、光カプラ２０３と、干渉光ＬＣの光路上の光学部材（つまり光カプラ２０３とＣＣＤ２０６の間に配置された光学部材）と、参照光ＬＲの光路上の光学部材（つまり光カプラ２０３と参照ミラー２０８との間に配置された光学部材）とを含んで構成され、特に、光カプラ２０３、光ファイバ及び参照ミラー２０８を具備する干渉計を含み、さらにＣＣＤ２０６を有するものである。
【００６１】
また、この「走査手段」に当たる部分と、「検出手段」にあたる部分を合わせたものが本発明における「干渉光検出手段」にあたる。
【００６２】
なお、この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。
【００６３】
〔演算制御装置〕
演算制御装置３００の構成について説明する。演算制御装置３００は、ＣＣＤ２０６から入力される検出信号を解析して眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプの光画像計測装置と同様である。
【００６４】
また、演算制御装置３００は、眼底カメラユニット１００及びＯＣＴユニット２００の各部を制御する。
【００６５】
眼底カメラユニット１００の制御として、演算制御装置３００は、照明光の出力制御、絞り１１１の絞り値の制御などを行う。また、演算制御装置３００は、ガルバノミラー１０７Ａ、１０７Ｂの動作制御を行い信号光ＬＳを走査させる。
【００６６】
また、ＯＣＴユニット２００の制御として、演算制御装置３００は、低コヒーレンス光源２０１による低コヒーレンス光Ｌ０の出力制御、参照ミラー２０８の移動制御、ＣＣＤ２０６による電荷蓄積時間や電荷蓄積タイミングや信号送信タイミングの制御などを行う。
【００６７】
演算制御装置３００は、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、キーボード、マウス、ディスプレイ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブには、光画像計測装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。また、演算制御装置３００は、ＣＣＤ２０６からの検出信号に基づいてＯＣＴ画像を形成する専用の回路基板を備えていてもよい。
【００６８】
〔制御系〕
光画像計測装置１の制御系の構成について図２を参照しつつ説明する。なお、図２において、ＣＣＤ２０６はＯＣＴユニット２００と別途に記載されているが、実際には上述したように、ＣＣＤ２０６はＯＣＴユニット２００に搭載されている。
【００６９】
（制御部）
光画像計測装置１の制御系は、演算制御装置３００の制御部３１０を中心に構成される。制御部３１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
【００７０】
制御部３１０には、主制御部３１１と記憶部３１２が設けられている。主制御部３１１は、眼底カメラユニット１００、ＯＣＴユニット２００及び演算制御装置３００の各部を制御する。
【００７１】
（主制御部）
主制御部３１１は、ミラー駆動機構１４１、１４２を制御してガルバノミラー１０７Ａ、１０７Ｂの向き（角度）を制御し、それにより、眼底Ｅｆに対する信号光ＬＳの照射位置を走査させる。
【００７２】
（記憶部）
記憶部３１２は、各種のデータを記憶する。記憶部３１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、たとえば、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報や、被検眼の診断結果・検査結果など、被検眼に関する各種の情報を含む。主制御部３１１は、記憶部３１２にデータを書き込む処理や、記憶部３１２からデータを読み出す処理を行う。
【００７３】
更に、記憶部３１２は、信号光ＬＳをフォトダイオード１０５へ入射させるためのガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂの角度を記憶している。また、記憶部３１２には、光量の所定範囲として、光量の上限の閾値及び下限の閾値を記憶している。本実施形態では、記憶部３１２は、上限の閾値として７００μＷ、下限の閾値として４００μＷを記憶している。ただし、この値は他の値を設定してもよく、運用に合わせて値を設定することが好ましい。たとえば、被検眼Ｅの安全性をより高めるためには、上限の閾値を６００μＷというようなより低い値を設定してもよく、画質をより向上させるためには、下限の値を５００μＷというようなより高い値を設定してもよい。この上限の閾値が本発明における「上限値」にあたり、下限の閾値が本発明における「下限値」にあたる。
【００７４】
また、記憶部３１２には、後述の動作（フローチャート）を実行するためのコンピュータプログラムが記憶される。主制御部３１１は、当該コンピュータプログラムに基づいて動作する。
【００７５】
（画像形成部）
画像形成部３２０は、ＣＣＤ２０６からの検出信号に基づいて眼底Ｅｆの断層画像の画像データを形成する。この画像データ形成処理には、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ技術と同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。
【００７６】
画像形成部３２０は、たとえば、前述の回路基板や通信インターフェイス等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて表示される「画像」とを同一視することがある。
【００７７】
（画像処理部）
画像処理部３３０は、眼底カメラユニット１００により取得された眼底像（眼底表面の撮影画像）や、画像形成部３２０により形成された断層画像に対して、各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部３３０は、断層画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理などを実行する。
【００７８】
また、画像処理部３３０は、画像形成部３２０により形成された断層画像の間の画素を補間する補間処理等を実行することにより、眼底Ｅｆの３次元画像の画像データを形成する。
【００７９】
以上のような構成を有する画像処理部３３０は、たとえば、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ等を含んで構成される。また、所定の画像処理や解析処理を専門に行う回路基板などを含んでいてもよい。
【００８０】
以上の画像形成部３２０及び画像処理部３３０で形成される断層画像は、被検眼Ｅに照射される信号光ＬＳの光量が４００μＷを下回ると画質が低下し、診断に用いることが困難な画像となってしまう。したがって、被検眼Ｅに照射される信号光ＬＳの光量は４００μＷ以上であることが好ましい。
【００８１】
以上で説明した断層画像の形成は、光画像計測装置１が画像形成モードの場合に実施される。
【００８２】
なお、画像形成部３２０（及び画像処理部３３０）は、この発明に係る「断層画像形成手段」の一例として機能するものである。
【００８３】
（光量調整部）
光画像計測装置１が光量測定モードの場合に、光量調整部３５１は以下の動作を行う。光量調整部３５１は、フォトダイオード１０５で測定された信号光ＬＳの光量の測定結果の入力を受ける。そして、光量調整部３５１は、記憶部３１２に記憶されている上限の閾値（７００μＷ）及び下限の閾値（４００μＷ）と、測定された信号光ＬＳの光量の測定結果を比較する。そして、測定された信号光ＬＳの光量が上限の閾値を上回っていれば、光量調整部３５１は、低コヒーレンス光源２０１の出力する低コヒーレンス光Ｌ０の光量を減らすよう制御する。また、測定された信号光ＬＳの光量が上限の閾値を下回っていれば、光量調整部３５１は、低コヒーレンス光源２０１の出力する低コヒーレンス光Ｌ０の光量を増やすよう制御する。この光量調整部３５１と記憶部３１２とを合わせたものが本発明における「光量調整手段」にあたる。
【００８４】
（モード切替部）
モード切替部３５２は、操作部３４０Ｂから新しい検査を行う旨の入力を受けると、眼底カメラユニット１００の動作モードを光量測定モードに切り替える。そして、フォトダイオード１０５で測定された信号光ＬＳの光量が上限の閾値以下かつ下限の閾値以上と光量調整部３５１で判断された場合には、モード切替部３５２は、光画像計測装置１の動作モードを画像形成モードに切り替える。また、フォトダイオード１０５で測定された信号光ＬＳの光量が上限の閾値を上回っている又は下限の閾値を下回っていると光量調整部３５１で判断された場合には、光量調整部３５１による光量の調整が行われ、フォトダイオード１０５で測定された信号光ＬＳの光量が上限の閾値以下かつ下限の閾値以上になったと光量調整部３５１で判断された後に、モード切替部３５２は、光画像計測装置１の動作モードを画像形成モードに切り替える。
【００８５】
ここで、本実施形態では安全性や断層画像の画質の向上のため新しい検査毎に光画像計測装置１を光量測定モードで動作させ、被検眼Ｅに向かう信号光ＬＳの光量の測定及び調整を行っているが、この光量測定モードでの動作のタイミングは各光画像計測装置１に対し要求される安全性や断層画像の画質を考慮して実施することが好ましい。たとえば、光画像計測装置１の電源投入時に、光画像計測装置１を光量測定モードで動作させる構成にしてよい。
【００８６】
また、光量測定モードへのモード切り替えのタイミングの他の例として、モード切替部３５２が、内部にタイマーを有し、さらに予め所定時間（例えば、３時間）を記憶しておき、その内部のタイマーで光画像計測装置１の使用時間を計測し、その計測した時間が記憶している所定時間を経過する毎に、光画像計測装置１の動作モードを光量測定モードに切り替え、自動的に光量測定を行う構成にしてもよい。ここで、所定時間が経過したタイミングに実際の検査が行われている場合（画像形成モードで動作している場合）には、その検査が終了した後に、光量測定モードに切り替え光量測定を実行する。
【００８７】
また、ここではモード切替部３５２の内部にタイマーを持たせたが、これは光画像計測装置１の使用時間を計測するための時間計測手段を別に設け、その時間計測手段が所定時間を記憶している構成にしてもよい。そのように時間計測手段を別に設けた場合には、モード切替部３５２は、時間計測手段から使用時間が所定時間を経過した旨の通知を受けたときに、光画像計測装置１の動作モードを光量測定モードに切り替える構成にすればよい。
【００８８】
（表示部、操作部）
ユーザインターフェイス３４０は、表示部３４０Ａ及び操作部３４０Ｂで構成される。操作部３４０Ｂは、たとえばキーボードやマウスのような、入力デバイスや操作デバイスを含んで構成される。また、操作部３４０Ｂには、光画像計測装置１の筐体表面や外部に設けられた各種の入力デバイスや操作デバイスが含まれている。
【００８９】
なお、表示部３４０Ａと操作部３４０Ｂは、それぞれ個別のデバイスとして構成される必要はない。たとえばタッチパネル方式のＬＣＤのように、表示部３４０Ａと操作部３４０Ｂとが一体化されたデバイスを用いることも可能である。
【００９０】
[動作]
光画像計測装置１の動作について説明する。図３に示すフローチャートは、本実施形態に係る光画像計測装置１の使用形態の一例を表している。
【００９１】
図３のＳ１〜Ｓ７までは、準備段階であり、Ｓ８〜Ｓ１２までは実際の検査を行う段階である。この図３では説明の都合上、準備段階と実際の検査を行う段階とをつなげて記載しているが、準備段階と実際の検査を行う段階との間に時間があいてもよい。
【００９２】
まず、オペレータは、操作部３４０Ｂを操作して新しい検査を行う旨の入力を行う（Ｓ１）。
【００９３】
モード切替部３５２は、オペレータからの新しい検査を行う旨の入力を受けて、光画像計測装置１の動作モードを光量測定モードに切り替える（Ｓ２）。
【００９４】
制御部３１０は、ガルバノミラー１０７Ａを基準位置に配置させるとともに、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを変え、信号光ＬＳの光路がフォトダイオード１０５に向かうように調整する（Ｓ３）。ここで、電源投入時のようにガルバノミラー１０７Ａが基準位置に配置されている場合には、ガルバノミラー１０７Ａの向きを変更する必要はない。
【００９５】
続いて、低コヒーレンス光源２０１から低コヒーレンス光Ｌ０を出力し、フォトダイオード１０５に信号光ＬＳを照射する。フォトダイオード１０５は、照射された信号光ＬＳの光量を測定する（Ｓ４）。
【００９６】
光量調整部３５１は、フォトダイオード１０５から信号光ＬＳの光量の測定結果の入力を受けて、その入力された測定結果と、記憶部３１２に記憶されている上限の閾値及び下限の閾値とを比較する（Ｓ５）。そして、光量調整部３５１が、入力された測定結果が上限の閾値を上回っている又は下限の閾値を下回っていると判断した場合（Ｓ５でＮｏ）には、ステップ７に進む。光量調整部３５１が、入力された測定結果が上限の閾値以上且つ下限の閾値以下（つまり所定範囲内）と判断した場合（Ｓ５でＹｅｓ）には、ステップ６に進む。
【００９７】
モード切替部３５２は、光量調整部３５１から信号光ＬＳの光量が所定範囲内に含まれる旨の通知を受けたとき（Ｓ５でＹｅｓ）には、光画像計測装置１の動作モードを画像形成モードに切り替える（Ｓ６）。
【００９８】
Ｓ５でＮｏのとき、光量調整部３５１は、低コヒーレンス光源２０１から出力される低コヒーレンス光Ｌ０の光量を調整する（Ｓ７）。光量の調整後にステップ４に戻り、再度信号光ＬＳの測定及び測定結果と閾値との比較を行う。
【００９９】
被検眼Ｅを所定の計測位置（対物レンズ１０１に対峙する位置）に配置させ、被検眼Ｅと装置とのアライメントを行う（Ｓ８）。アライメントが完了すると、次に、主制御部３１１は、被検眼Ｅに対するピント合わせを行う（Ｓ９）。
【０１００】
アライメント調整及びピント調整が完了すると、オペレータは、操作部３４０Ｂを操作して検査の開始を要求する（Ｓ１０）。
【０１０１】
そして、主制御部３１１は、低コヒーレンス光源２０１、ＣＣＤ２０６等を制御するとともに、ミラー駆動機構１４１及び１４２を制御して、ガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂの向きを変更しつつ眼底Ｅｆの走査を行う（Ｓ１１）。
【０１０２】
続いて、画像形成部３２０は、ＣＣＤ２０６から出力される眼底成分の検出信号を収集し、この検出信号に基づいてスペクトルの強度分布を求め、フーリエドメインＯＣＴの手法を用いて干渉光のスペクトル強度分布をフーリエ変換することで眼底Ｅｆの深度方向（ｚ方向）の形態を画像化し断層画像を形成する（Ｓ１２）。
【０１０３】
［作用・効果］
以上のような光画像計測装置１の作用及び効果について説明する。
【０１０４】
光画像計測装置１は、ガルバノミラー１７０Ｂの向きを変更することで、被測定物体（被検眼Ｅ）に照射される信号光ＬＳの光路の外に配置されたフォトダイオード１０５にレーザー光（信号光ＬＳ）が照射され、そのフォトダイオード１０５により照射されたレーザー光の光量が測定でき、さらに、そのレーザー光の光量が所定範囲内に収まるように光源の出力を自動的に調整する構成である。
【０１０５】
このような光画像計測装置１によれば、被測定物体に向かうレーザー光の光量を測定する場合に、他の光量測定用の工具を用意せずとも容易に信号光の光量を測定することができ、光量測定における作業の煩雑さを軽減することが可能となる。また、光量の調整においても他の光量測定用の工具を用いる必要がなく、被測定物体に向かう信号光の光量の調整における作業の煩雑さも軽減することが可能となり、光源の経時劣化や環境による変化などに容易に対応することができる。
【０１０６】
また、このような光画像計測装置よれば、自動でレーザー光の光量を調整することにより、上限の閾値を用いることで被検眼の安全性が確保することができ、さらに下限の閾値を用いることで低画質の断層画像が得られてしまって再検査といった不都合を軽減できる。
【０１０７】
［変形例１］
以上に説明した構成は、この発明に係る光画像計測装置を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０１０８】
上記の実施形態では、フォトダイオードで測定されるレーザー光の光量が所定範囲に収まるように光量を自動的に調整する構成としているが、この光量の調整を行わない構成にしてもよい。この場合には、測定したレーザー光の光量を表示させ、オペレータに被測定物体に向かうレーザー光の光量を把握させることができる。
【０１０９】
本変形例においても上記実施形態と同様に、所定のタイミングで光画像計測装置１を光量測定モードで動作させる。制御部３１０は、ガルバノミラー１０７Ａ及び１０７Ｂの向きを、信号光ＬＳが光路Ｌを通過してフォトダイオード１０５に照射されるように変更する。そして、フォトダイオード１０５は照射された信号光ＬＳの光量を測定し、その測定結果を主制御部３１１が表示部３４０Ａに表示させる。
【０１１０】
以上のように本変形例に係る光画像計測装置は、測定された信号光ＬＳの光量をオペレータが把握できる構成である。これにより、オペレータは被検眼Ｅに向かう信号光ＬＳの光量を把握することができ、その測定結果を基に光源の出力を手動で調整することができる。
【０１１１】
以上で説明したように、本変形例に係る光画像計測装置は、ガルバノミラーの向きを変更することで、被測定物体（被検眼）に照射されるレーザー光の光路の外に配置されたフォトダイオードにレーザー光（信号光）を照射させ、そのフォトダイオードによりレーザー光の光量が測定でき、その測定結果を表示部に表示させる構成である。
【０１１２】
このような構成であっても、光量の上述した実施形態と同様に他の光量測定用の工具を用意しなくても、オペレータは被測定物体に向かうレーザー光の光量を把握することができ、光量測定を容易に行え、光量測定における作業の煩雑さを軽減することが可能となる。
【０１１３】
〈第２の実施形態〉
この発明に係る光画像計測装置の第２の実施形態について説明する。この実施形態は、第１の実施形態に係る光画像計測装置に加えて所定の上限値を超えていた場合に、警告を報知するとともに、被測定物体へのレーザー光の照射を禁止する構成である。
【０１１４】
本実施形態に係る光画像計測装置１は、第１の実施形態に係る光量測定装置に図２の一点鎖線で示す警告部３５３及び照射禁止部３５４を加えた構成である。また、記憶部３１２は、所定の上限値を記憶している。ここで、所定の上限値とは、第１の実施形態における上限値と同じものでもよく、また光量調整部３５１が調整可能な光量の限界値（光量の上限の閾値を上回る値）でもよい。
【０１１５】
制御部３１０は、ガルバノミラー１０７Ａを基準位置に戻し、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを変更することで、信号光ＬＳが光路Ｌを通ってフォトダイオード１０５に照射されるように調整する。
【０１１６】
フォトダイオード１０５は、照射された信号光ＬＳの光量を測定する。そして、フォトダイオード１０５は、測定結果を光量調整部３５１、警告部３５３、及び照射禁止部３５４へ出力する。
【０１１７】
光量調整部３５１は、記憶部３１２に記憶されている上限値とフォトダイオード１０５から入力された測定結果とを比較する。光量調整部３５１は、フォトダイオード１０５から入力された測定結果が記憶部３１２に記憶されている上限値を超えていると判断した場合には、警告部３５３及び照射禁止部３５４に測定結果が上限値を超えている旨の通知を行う。そして、光量調整部３５１は、フォトダイオード１０５から入力された測定結果が上限値を超えていると判断した場合には、光量の調整が不可能なため光量の調整の動作を実施しない。
【０１１８】
警告部３５３は、光量調整部３５１から測定結果が上限値を超えている旨の通知を受けると、表示部３４０Ａに警告を表示させオペレータに警告を報知する。この警告部３５３が本発明における「警告手段」にあたる。
【０１１９】
照射禁止部３５４は、光量調整部３５１から測定結果が上限値を超えている旨の通知を受けると、被検眼Ｅ（被測定物体）への信号光ＬＳの照射を禁止するように眼底カメラユニット１００及びＯＣＴユニット２００のいずれか一方もしくは双方を制御する。ここで、被検眼Ｅへの信号光ＬＳの照射の禁止の方法は、被検眼Ｅに信号光ＬＳが入射されないようにすればどのような方法でもよく、例えば、低コヒーレンス光源２０１の出力を停止させたり、ガルバノミラー１０７Ｂの向きを信号光ＬＳがフォトダイオード１０５に向かう光路Ｌを通過するように固定したり、信号光ＬＳの光路に遮蔽物を挿入したりする構成などがある。この照射禁止部３５４が本発明における「照射禁止手段」にあたる。
【０１２０】
以上で説明したように、本実施形態に係る光画像計測装置１は、信号光ＬＳの光量が上限値を超えた場合に、オペレータに警告を報知するとともに、被検眼Ｅへの信号光ＬＳの照射を禁止する構成である。それにより、被測定物体の保護を確実にすることで安全性を向上することが可能となる。
【０１２１】
また、このような光画像計測装置１によれば、上限値を超えた場合に、警告の報知を受けたオペレータはその旨を把握でき、安全性を担保するための対応を図ることができる。
【０１２２】
以上の実施形態では警告部３５３及び照射禁止部３５４を何れも有する構成の光画像計測装置１として説明したが、光画像計測装置１は、警告部３５３及び照射禁止部３５４のいずれか一方を有する構成でも動作可能である。そして、いずれか一方を有する構成の場合でも、安全性を向上する効果を有する。
【０１２３】
以上の説明では、上限値を超えた場合に、警告部３５３による警告の報知や照射禁止部３５４による被検眼Ｅへの信号光ＬＳの照射の禁止が行われる構成として説明したが、これは、光量調整部３５１が所定の下限値を記憶しておき、信号光ＬＳの光量がその下限値を下回った場合に警告の放置や信号光ＬＳの照射の禁止が行われる構成にしてもよい。
【０１２４】
〈第３の実施形態〉
この発明に係る光画像計測装置の第３の実施形態について説明する。この実施形態は、画像形成モードにおいて、形成した断層画像の最大輝度（断層画像における画素値の最大値）を用いて、信号光ＬＳの光量を調整する構成である。そこで、この実施形態では、画像形成モードにおける、断層画像の最大輝度を用いた光量の調整について説明する。以下の説明の前提として光画像計測装置１は、モード切替部３５２によって画像形成モードに動作モードが切り替えられているものとする。
【０１２５】
本実施形態に係る光画像計測装置１は、第１の実施形態に係る光量測定装置に図２の一点鎖線で示す最大輝度取得部３５５を加えた構成である。
【０１２６】
記憶部３１２は、断層画像の最大輝度の下限の閾値（最大輝度閾値）を記憶している。
【０１２７】
最大輝度取得部３５５は、画像形成部３２０により形成された断層画像の各画素における画素値を求め、その求めた画素値の中で最大の値をその断層画像の最大輝度とする。そして、最大輝度取得部３５５は、求めた断層画像の最大輝度を光量調整部３５１に出力する。
【０１２８】
光量調整部３５１は、最大輝度取得部３５５から入力された断層画像の最大輝度と、記憶部３１２に記憶されている最大輝度閾値とを比較する。そして、光量調整部３５１は、この最大輝度が最大輝度閾値を下回っている場合には、低コヒーレンス光源２０１の光量を増加させる。
【０１２９】
さらに、警告部３５３を設けて、光量調整部３５１によって最大輝度が最大輝度閾値を下回っていると判断された場合に、警告部３５３が警告を報知するような構成にしてもよい。
【０１３０】
以上で説明したように、本実施形態に係る光画像計測装置１は、断層画像の最大輝度が、予め決められた下限の閾値（最大輝度閾値）を下回った場合に、低コヒーレンス光源２０１から出力されるレーザー光の光量を増加させる構成である。
【０１３１】
このような光画像計測装置によれば、断層画像の画質が低下することを防止するためのレーザー光の光量の調整を容易に行うことが可能となる。
【０１３２】
また、本実施形態では、一つの被検眼における断層画像の最大輝度を基に、光量の調整や警告の報知を行う構成で説明したが、被検眼の個体差を考慮して、複数の被検眼の検査における断層画像の最大輝度（この検査における断層画像の最大輝度とは、各被検眼の検査で取得した断層画像の何れか一枚の最大輝度でもよいし、各被検眼の検査における所定枚数の断層画像の平均値を求めてもよい。）を記憶部３１２に記憶しておき、光量調整部３５１は、記憶部３１２に記憶されている最新の検査における断層画像の最大輝度値から所定数前の検査における断層画像の最大輝度までの平均値を算出し、その平均値と最大輝度閾値とを比較し、その平均値が最大輝度閾値を下回ったと判断した場合に、光量調整部３５１が光量の調整を行ったり、警告部３５３が警告の報知を行ったりする構成にしてもよい。この様な構成にすることで、被検眼の個体差の影響を軽減でき、より適切に断層画像の画質の低下を回避することが可能となる。
【０１３３】
ここで、以上の各実施形態及び変形例における説明では説明の都合上、図２において、光量調整部３５１、モード切替部３５２、警告部３５３、及び照射禁止部３５４がそれぞれ別個に、且つ制御部３１０と分けて記載しているが、実際には、光量調整部３５１、モード切替部３５２、警告部３５３、及び照射禁止部３５４は制御部３１０に含まれるように構成される。また、最大輝度取得部３５５も説明の都合上、画像処理部３３０と分けて記載しているが、実際には最大輝度取得部３５５は画像処理部３３０に含まれるように構成される。
【符号の説明】
【０１３４】
１  光画像計測装置
１００  眼底カメラユニット
１０１  対物レンズ
１０２  集光レンズ系
１０３  ダイクロイックミラー
１０４  偏向ミラー
１０５  フォトダイオード
１０６  集光レンズ系
１０７  走査ユニット
１０７Ａ、１０７Ｂ  ガルバノミラー
１０８  偏向ミラー
１０９  集光レンズ系
１１０  観察・撮影光学系
２００  ＯＣＴユニット
２０１  低コヒーレンス光源
２０２  アイソレータ
２０３  光カプラ
２０４  回折格子
２０５  集光レンズ系
２０６  ラインＣＣＤ（ＣＣＤ）
２０７  集光レンズ系
２０８  参照ミラー
３００  演算制御装置
３１０  制御部
３１２  記憶部
３５１  光量調整部
３５２  モード切替部
３５３  警告部
３５４  照射禁止部
３５５  最大輝度取得部
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
【図１】
2010243280.tif 000003
【図２】
2010243280.tif 000004
【図３】
2010243280.tif 000005