(57)【要約】【課題】コネクター部材を損傷させず、かつ、多大なコストをかけずに、コネクター付き装置の電気的な検査を行うことのできるコネクター付き装置の検査方法、コネクター付き装置の製造方法、およびコネクター付き装置用検査装置を提供することにある。【解決手段】コネクター付き装置１の配線基板５０には、雄コネクター部材６２と結合してコネクター６０を構成する雌コネクター部材６１が実装されている。コネクター付き装置１の電気的な検査を行う際、検査部材６３として、雌コネクター部材６１と対をなす雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材を用いる。また、検査部材６３と雌コネクター部材６１と結合させる際、スペーサー７によって結合を浅くする。【選択図】図４
2010225351.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１コネクター部材と結合してコネクターを構成する第２コネクター部材が基板上に実
装されたコネクター付き装置の検査方法であって、
前記第２コネクター部材に検査部材を結合させて前記コネクター付き装置の電気的な検
査を行うにあたって、
前記検査部材として前記第１コネクター部材と同一構成のコネクター部材を用い、
前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる際、前記検査部材側と前記第２
コネクター部材側との間に、前記検査部材と前記第２コネクター部材との結合を浅くする
スペーサーを介在させることを特徴とするコネクター付き装置の検査方法。
【請求項２】
前記コネクターは、基板対基板用のコネクターであることを特徴とする請求項１に記載
のコネクター付き装置の検査方法。
【請求項３】
前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる際、
前記検査部材を支持する第１支持体において前記検査部材を支持する面側と、前記第２
コネクター部材を支持する第２支持体において前記第２コネクター部材を支持する面側と
の間に前記スペーサーを配置した状態で、前記第１支持体と前記第２支持体とを接近させ
ることを特徴とする請求項１または２に記載のコネクター付き装置の検査方法。
【請求項４】
前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる際、前記第１支持体と前記第２
支持体との間、前記第１支持体と前記検査部材との間、および前記第２支持体と前記第２
コネクター部材との間のうちの少なくとも１箇所に、前記第１支持体と前記第２支持体と
を接近させた際に圧縮される弾性部材を配置しておくことを特徴とする請求項３に記載の
コネクター付き装置の検査方法。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか一項に記載のコネクター付き装置の検査方法によって前記コネ
クター付き装置の電気的な検査を行う検査工程を有することを特徴とするコネクター付き
装置の製造方法。
【請求項６】
前記コネクター付き装置は電気光学装置であって、
前記基板は、画素電極が形成された素子基板、あるいは当該素子基板に接続された配線
基板であることを特徴とする請求項５に記載のコネクター付き装置の製造方法。
【請求項７】
第１コネクター部材と結合してコネクターを構成する第２コネクター部材が基板上に実
装されたコネクター付き装置を、前記第２コネクター部材に検査部材を結合させて電気的
に検査するためのコネクター付き装置用検査装置であって、
前記検査部材として前記第１コネクター部材と同一構成のコネクター部材を支持する第
１支持体と、
前記第２コネクター部材を支持する第２支持体と、
前記第１支持体において前記検査部材を支持する面側と前記第２支持体において前記第
２コネクター部材を支持する面側との間に配置され、前記第１支持体と前記第２支持体と
を接近させて前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる際の結合深さを浅く
するスペーサーと、
を有することを特徴とするコネクター付き装置用検査装置。
【請求項８】
前記第１支持体と前記第２支持体との間、前記第１支持体と前記検査部材との間、およ
び前記第２支持体と前記第２コネクター部材との間のうちの少なくとも１箇所に設けられ
た弾性部材を有し、
当該弾性部材は、前記第１支持体と前記第２支持体とを接近させて前記検査部材と前記
第２コネクター部材とを結合させる際に圧縮されることを特徴とする請求項７に記載のコ
ネクター付き装置用検査装置。
【請求項９】
前記スペーサーは、前記検査部材側に固定されていることを特徴とする請求項７または
８に記載のコネクター付き装置用検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板上にコネクター部材が実装されたコネクター付き装置の検査方法、製造
方法、および検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子機器においては、組立作業の効率化やモジュール交換の容易化を図ることを目的に
、機器側の基板に実装された第１コネクター部材とモジュール側の基板に実装された第２
コネクター部材と結合させた構造が採用されることが多い。かかる構成を採用した場合、
例えば、モジュール側の基板に実装された第２コネクター部材に、コネクター状の検査部
材（検査用コネクター部材）を結合すれば、検査部材を介してモジュール側の電気的な検
査を行なうことができる（特許文献１参照）。
【０００３】
かかる検査部材としては、従来、モジュール側の基板に実装された第２コネクター部材
の構造に合わせて検査専用のコネクター部材が用いられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２６５９２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
コネクターに関しては、モジュールや機器の種類によって、端子の本数、ピッチ、コネ
クターハウジングの形状等が最適なものが用いられる。このため、検査部材（検査専用コ
ネクター）についても、多くの種類を準備しておく必要があるため、従来は、検査部材の
費用やその管理に多大なコストがかかるという問題点がある。
【０００６】
ここに本願発明者は、検査部材として、検査専用のコネクター部材に代えて、コネクタ
ー部材と対をなす相手側コネクター部材自身を検査部材として用いることを提案するもの
である。かかる方法によれば、検査専用のコネクター部材を準備しなくてもよいので、コ
ストを低減することができる。
【０００７】
しかしながら、コネクター部材同士を係合するとコネクターハウジング間や端子間で係
合が起こるため、検査後にコネクター部材を抜くと、コネクターハウジングや端子などが
変形していることがある。かかる変形がモジュール側のコネクター部材に発生すると、機
器本体側のコネクターと結合する際に電気的な不具合が発生しやすい。また、検査部材と
して用いたコネクター部材では、結合が何度も行なわれるため、短時間のうちに変形し、
適正な検査が行なえなくなる。
【０００８】
以上の問題に鑑みて、本発明の課題は、コネクター部材を損傷させず、かつ、多大なコ
ストをかけずに、コネクター付き装置の電気的な検査を行うことのできるコネクター付き
装置の検査方法、コネクター付き装置の製造方法、およびコネクター付き装置用検査装置
を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記問題を解決するために、本発明は、第１コネクター部材と結合してコネクターを構
成する第２コネクター部材が基板上に実装されたコネクター付き装置の検査方法であって
、前記第２コネクター部材に検査部材を結合させて前記コネクター付き装置の電気的な検
査を行うにあたって、前記検査部材として前記第１コネクター部材と同一構成のコネクタ
ー部材を用い、前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる際、前記検査部材
側と前記第２コネクター部材側との間に、前記検査部材と前記第２コネクター部材との結
合を浅くするスペーサーを介在させることを特徴とする。
【００１０】
本発明では、第１コネクター部材と結合してコネクターを構成する第２コネクター部材
に結合させる検査部材として、第１コネクター部材と同一構成のコネクター部材を用いる
。このため、専用の検査部材を準備する必要がないので、検査に要するコストを低減する
ことができる。また、本発明では、検査部材と第２コネクター部材とを結合させる際、ス
ペーサーによって結合を浅くするため、検査後に結合を解除しても、コネクターハウジン
グや端子などに変形が発生することがない。すなわち、第１コネクター部材と同一構成の
検査部材を用いると、検査部材と第２コネクター部材とが深く係合してしまい、第２コネ
クター部材を検査部材から抜くと、コネクターハウジングや端子が変形しているおそれが
あるが、本発明では、スペーサーによって結合を浅くするため、かかる変形が発生しない
。それ故、機器本体側の第１コネクター部材とコネクター付き装置側の第２コネクターと
を結合する際に電気的な不具合が発生しない。また、検査部材では、第２コネクター部材
との結合が何度も行なわれが、結合が浅いので、短時間のうちに変形することがなく、長
期間にわたった適正な検査を継続して行なうことができる。
【００１１】
本発明において、前記コネクターは、例えば基板対基板用のコネクターである。
【００１２】
本発明において、「前記検査部材側と前記第２コネクター部材側との間」とは、検査部
材自身と第２コネクター部材自身との間を意味する他、以下の形態も含む意味である。本
発明において、前記検査部材を支持する第１支持体において前記検査部材を支持する面側
と、前記第２コネクター部材を支持する第２支持体において前記第２コネクター部材を支
持する面側との間に前記スペーサーを配置した状態で、前記第１支持体と前記第２支持体
とを接近させて、前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させる構成を採用して
もよい。
【００１３】
かかる方法を実施するための検査装置は以下の構成を有する。すなわち、本発明は、第
１コネクター部材と結合してコネクターを構成する第２コネクター部材が基板上に実装さ
れたコネクター付き装置を、前記第２コネクター部材に検査部材を結合させて電気的に検
査するためのコネクター付き装置用検査装置において、前記検査部材として前記第１コネ
クター部材と同一構成のコネクター部材を支持する第１支持体と、前記第２コネクター部
材を支持する第２支持体と、前記第１支持体において前記検査部材を支持する面側と前記
第２支持体において前記第２コネクター部材を支持する面側との間に配置され、前記第１
支持体と前記第２支持体とを接近させて前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合
させる際の結合深さを浅くするスペーサーと、を有することを特徴とする。
【００１４】
本発明に係る検査方法において、前記検査部材と前記第２コネクター部材とを結合させ
る際、前記第１支持体と前記第２支持体との間、前記第１支持体と前記検査部材との間、
および前記第２支持体と前記第２コネクター部材との間のうちの少なくとも１箇所に、前
記第１支持体と前記第２支持体とを接近させた際に圧縮される弾性部材を配置しておくこ
とが好ましい。
【００１５】
すなわち、本発明に係る検査装置においては、前記第１支持体と前記第２支持体との間
、前記第１支持体と前記検査部材との間、および前記第２支持体と前記第２コネクター部
材との間のうちの少なくとも１箇所に設けられた弾性部材を有し、当該弾性部材は、前記
第１支持体と前記第２支持体とを接近させて前記検査部材と前記第２コネクター部材とを
結合させた際に圧縮される構成を採用することが好ましい。
【００１６】
かかる構成を採用すると、第１支持体と第２支持体とを接近させて検査部材と第２コネ
クター部材を結合させる際、結合が緩やかに行なわれるので、検査部材および第２コネク
ター部材に損傷が発生しない。
【００１７】
本発明において、前記スペーサーは、前記検査部材側に固定されていることが好ましい
。かかる構成によれば、スペーサーをその都度配置する工数を省くことができる。
【００１８】
本発明に係るコネクター付き装置の検査方法は、コネクター付き装置の製造方法におい
て、前記コネクター付き装置の電気的な検査を行う検査工程に利用することができる。
【００１９】
本発明において、前記コネクター付き装置は電気光学装置として構成される場合があり
、この場合、前記基板は、画素電極が形成された素子基板、あるいは当該素子基板に接続
された配線基板である。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明が適用されるコネクター付き装置の説明図である。
【図２】本発明が適用されるコネクター付き装置に用いられるコネクターの説明図である。
【図３】本発明が適用されるコネクター付き装置に用いられるコネクターの構成を模式的に示す断面図である。
【図４】本発明の実施の形態１に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法の説明図である。
【図５】本発明の実施の形態１に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法を模式的に示す断面図である。
【図６】本発明の実施の形態２に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法を模式的に示す断面図である。
【図７】本発明の実施の形態３に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法を模式的に示す断面図である。
【図８】本発明の実施の形態４に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法を模式的に示す断面図である。
【図９】本発明を適用したコネクター付き装置を搭載した電子機器の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明では、本発明を適
用したコネクター付き装置を電気光学装置として構成した場合を説明する。
【００２２】
［実施形態１］
（全体構成）
図１は、本発明が適用されるコネクター付き装置の説明図であり、図１（ａ）、（ｂ）
は各々、このコネクター付き装置と機器本体側とをコネクターを介して接続した状態の説
明図、およびコネクター付き装置と機器本体側との接続を解除した状態の説明図である。
図２は、本発明が適用されるコネクター付き装置に用いられるコネクターの説明図であり
、図２（ａ）、（ｂ）は各々、雄コネクター部材を斜め下方からみたときの説明図、およ
び雌コネクター部材を斜め上方からみたときの説明図である。図３は、本発明が適用され
るコネクター付き装置に用いられるコネクターの構成を模式的に示す断面図であり、図３
（ａ）、（ｂ）は各々、雄コネクター部材と雌コネクター部材とを結合する前の状態を示
す模式的に示す断面図、および雄コネクター部材と雌コネクター部材とを結合させた状態
を模式的に示す断面図である。
【００２３】
図１に示すコネクター付き装置１（電気光学装置）は、電気光学パネル１００と、電気
光学パネル１００に一方の端部５８が接続された配線基板５０とを有している。配線基板
５０はフレキシブル配線基板からなり、配線基板５０の他方の端部５９には雌コネクター
部材６１が実装されている。かかるコネクター付き装置１が用いられる機器において、機
器本体側の配線基板２５０には雄コネクター部材６２が実装されており、かかる雄コネク
ター部材６２と雌コネクター部材６１とは、基板対基板（ＢtoＢ／Board to Board）用の
コネクター６０を構成している。配線基板２５０は、フレキシブル配線基板あるいはリジ
ッド基板からなる。本形態では、雄コネクター部材６２が「第１コネクター部材」に相当
し、雌コネクター部材６１が「第２コネクター部材」に相当する。
【００２４】
電気光学パネル１００は、例えば液晶パネルであり、素子基板１１と対向基板１２とが
シール材（図示せず）を介して貼り合わされた構造を有している。電気光学パネル１００
において、素子基板１１と対向基板１２との間には液晶（図示せず）が保持されている。
素子基板１１は、対向基板１２よりも大きく、素子基板１１において対向基板１２の端部
から張り出した張り出し領域には、走査線駆動回路やデータ線駆動回路が構成された駆動
用ＩＣ１３が実装されている。また、配線基板５０の長さ方向の途中位置には電気光学パ
ネル１００に対する制御回路（図示せず）が構成されており、かかる制御回路は封止樹脂
１４で封止されている。
【００２５】
図２（ａ）および図３（ａ）、（ｂ）に示すように、コネクター６０に用いた雄コネク
ター部材６２は、矩形の板状部６２５および直方体状の突部６２６を備えたコネクターハ
ウジング６２７と、コネクターハウジング６２７に保持された端子６２０とを備えている
。端子６２０は、板状部６２５から露出する外部端子６２３と、突部６２６の側壁に沿っ
て露出するコンタクト用端子６２１とを備えており、外部端子６２３は、機器本体側の配
線基板２５０に形成された配線層（図示せず）に接続されている。
【００２６】
図２（ｂ）および図３（ａ）、（ｂ）に示すように、コネクター６０に用いた雌コネク
タ部材６１は、雄コネクター部材６２の突部６２６が内側に嵌る凹部６１６を備えたコネ
クターハウジング６１５と、コネクターハウジング６１５に保持された端子６１０とを備
えている。端子６１０は、コネクターハウジング６１５の外側で露出する外部端子６１３
と、凹部６１６の内側壁に沿って露出するコンタクト用端子６１１とを備えており、外部
端子６１３は、コネクター付き装置１（電気光学装置）側の配線基板５０に形成された配
線層（図示せず）に接続されている。
【００２７】
このような構成のコネクター６０においては、図３（ｂ）に示すように、雄コネクター
部材６２の突部６２６を雌コネクター部材６１の凹部６１６の奥まで嵌めると、コンタク
ト用端子６２１とコンタクト用端子６１１とが接触する。ここで、コンタクト用端子６１
１の先端部（下端部）には湾曲部分６１１ａが設けられ、コンタクト用端子６２１の先端
部（下端部）にも湾曲部分６２１ａが設けられている。このため、雄コネクター部材６２
の突部６２６を雌コネクター部材６１の凹部６１６の奥まで嵌めると、コンタクト用端子
６２１およびコンタクト用端子６１１は弾性をもって変形し、コンタクト用端子６２１の
湾曲部分６２１ａとコンタクト用端子６１１の湾曲部分６１１ａとが係合する。
【００２８】
（検査装置）
図４は、本発明の実施の形態１に係るコネクター付き装置の検査装置および検査方法の
説明図である。図５は、本発明の実施の形態１に係るコネクター付き装置１の検査装置お
よび検査方法を模式的に示す断面図であり、図５（ａ）、（ｂ）は各々、検査部材と雌コ
ネクター部材とを結合する前の状態を示す模式的に示す断面図、および検査部材と雌コネ
クター部材とを結合させた状態を模式的に示す断面図である。
【００２９】
図１から図３を参照して説明したコネクター付き装置１の製造工程では、図１に示すコ
ネクター付き装置１（電気光学装置）を組み立てた後、図４および図５に示すように、雌
コネクター部材６１に検査部材６３を結合させて、電気光学パネル１００の動作確認など
の検査工程が行なわれる。
【００３０】
かかる検査工程を行なうにあたって、本形態では、検査部材６３として、図２および図
３を参照して説明した雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材を用いる。すな
わち、本形態では、雌コネクター部材６１とともに市販されている雄コネクター部材６２
を検査部材６３として用いる。
【００３１】
図４（ａ）に示すように、検査部材６３は検査用基板６４に実装されており、検査用基
板６４には、電気光学パネル１００の動作確認用の信号などを供給するためのフレキシブ
ル基板やケーブルなどの配線部材６４０が接続されている。
【００３２】
図４（ａ）および図５（ａ）、（ｂ）に示すように、コネクター付き装置１の検査装置
９０は、検査用基板６４や配線部材６４０とともに検査部材６３を支持する第１支持体９
６（図４（ａ）には図示せず）と、雌コネクター部材６１を含むコネクター付き装置１を
支持するステージ状の第２支持体９７とを備えている。かかる検査装置９０では、第１支
持体９６を図５（ａ）に示す位置から図５（ｂ）に示す位置まで降下させて検査部材６３
と雌コネクター部材６１とを結合させる。あるいは、第２支持体９７を図５（ａ）に示す
位置から図５（ｂ）に示す位置まで上昇させて検査部材６３と雌コネクター部材６１とを
結合させる。第２支持体９７には、コネクター付き装置１を所定の位置に配置するための
位置合わせ部（図示せず）が形成されており、かかる位置合わせ部は、コネクター付き装
置１の外周縁に当接する位置決め突起や、コネクター付き装置１を収容する凹部などによ
り構成することができる。
【００３３】
また、検査装置９０は、検査部材６３と雌コネクター部材６１とを結合させる際、検査
部材６３の側と雌コネクター部材６１の側との間に介在して検査部材６３と雌コネクター
部材６１との結合を浅くするスペーサー７を備えている。かかるスペーサー７は、金属製
あるいは樹脂製であり、本形態では、検査部材６３（雄コネクター部材６２）のコネクタ
ーハウジング６２７や雌コネクター部材６１のコネクターハウジング６１５よりも強度が
大きな樹脂製である。
【００３４】
スペーサー７については、検査部材６３と雌コネクター部材６１との間に配置すること
も可能である。但し、かかる構成は、検査部材６３および雌コネクター部材６１が比較的
大きな場合には可能であるが、本形態のように、検査部材６３および雌コネクター部材６
１が小型である場合、検査部材６３と雌コネクター部材６１との間にスペーサー７を配置
できるスペースが存在しない。そこで、本形態では、第１支持体９６において検査部材６
３を支持する面側と、第２支持体９７において雌コネクター部材６１を支持する面側との
間にスペーサー７が配置されている。より具体的には、スペーサー７は、第２支持体９７
において雌コネクター部材６１を支持する面側に配置されている。なお、本形態では、雌
コネクター部材６１の周りには配線基板５０が存在するので、スペーサー７は、配線基板
５０の上に配置されている。
【００３５】
かかるスペーサー７は、例えば、図４（ａ）に示すように、雌コネクター部材６１の周
りを囲む矩形枠状部材であり、その厚さ寸法は、雌コネクター部材６１の厚さ寸法より大
である。また、スペーサー７としては、図４（ｂ）に示すように、雌コネクター部材６１
の１つの長辺部分と２つの短辺部分とに隣接する部分を有する形状のもの、図４（ｃ）に
示すように、雌コネクター部材６１の２つの長辺部分と１つの短辺部分とに隣接する部分
を有する形状のものなどを用いることができ、いずれの場合も、雌コネクター部材６１を
間に挟む両側に位置することが好ましい。さらに、スペーサー７としては、雌コネクター
部材６１の厚さ寸法より厚い平板に対して雌コネクター部材６１が配置される部分に開口
部を設けたプレートや、雌コネクター部材６１の厚さ寸法より厚い厚さ寸法をもって雌コ
ネクター部材６１を間に挟む両側で延在する棒材などを用いることができる。
【００３６】
（検査方法）
図４および図５を参照して説明した検査装置９０を用いてコネクター付き装置１の検査
を行うには、まず、ステージ状の第２支持体９７上にコネクター付き装置１を配置する。
その際、検査部材６３については予め、検査用基板６４や配線部材６４０とともに第１支
持板９６に保持された状態にしておく。
【００３７】
次に、配線基板５０の上面において、雌コネクター部材６１の近傍にスペーサー７を配
置する。
【００３８】
この状態で、手動あるいは電動により、第１支持体９６を第２支持体９７に向けて下降
させ、検査部材６３を雌コネクター部材６１に結合させる。なお、手動あるいは電動によ
り、第２支持体９７を第１支持体９６に向けて上昇させて、検査部材６３を雌コネクター
部材６１に結合させてもよい。
【００３９】
ここで、第１支持体９６と第２支持体９７との間にはスペーサー７が配置されている。
このため、第１支持体９６の下降や第２支持体９７の上昇は、第１支持体９６とスペーサ
ー７との当接によって制限されるので、検査部材６３と雌コネクター部材６１との結合が
浅い。従って、検査部材６３のコンタクト用端子（雄コネクター部材６２のコンタクト用
端子６２１）と雌コネクター部材６１のコンタクト用端子６１１とは接触するが、コンタ
クト用端子６２１の湾曲部分６２１ａとコンタクト用端子６１１の湾曲部分６１１ａとが
係合することはない。
【００４０】
かかる状態で、図４（ａ）に示す配線部材６４０から電気光学パネル１００の動作確認
用の信号などを供給すると、かかる信号は、検査用基板６４、検査部材６３、雌コネクタ
ー部材６１および配線基板５０を介して電気光学パネル１００に供給される。従って、電
気光学パネル１００での点灯検査などといった電気的な検査を行なうことができる。
【００４１】
しかる後には、第１支持体９６と第２支持体９７を離間させ、検査部材６３を雌コネク
ター部材６１から抜く。その際、検査部材６３と雌コネクター部材６１とは浅く結合して
いただけあるので、コネクター付き装置１を抑えなくても、検査部材６３を雌コネクター
部材６１から容易に抜くことができる。
【００４２】
なお、本実施の形態および後述する実施の形態では、スペーサー７を雌コネクター部材
６１の近傍に配置していた。但し、スペーサー７については、検査部材６３の近傍、すな
わち検査装置９０側に固定しておく構成とすることもできる。このような構成によれば、
スペーサー７をその都度配置する工数を省くことができる。
【００４３】
（本形態の主な効果）
以上説明したように、本形態では、雄コネクター部材６２と結合してコネクター６０を
構成する雌コネクター部材６１に対して検査部材６３を結合させて検査を行なう。ここで
、検査部材６３は、雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材である。このため
、専用の検査部材を準備する必要がないので、検査に要するコストを低減することができ
る。
【００４４】
また、検査部材６３と雌コネクター部材６１と結合させる際、スペーサー７によって結
合を浅くするため、検査後に結合を解除しても、コネクターハウジングや端子などに変形
が発生することがない。すなわち、雄コネクター部材６２と同一構成の検査部材６３を用
いると、検査部材６３と雌コネクター部材６１とが深く係合してしまい、雌コネクター部
材６１を検査部材６３から抜くと、コネクターハウジング６１５、６２７、や端子が変形
しているおそれがあるが、本発明では、スペーサー７によって結合を浅くするため、かか
る変形が発生しない。それ故、機器本体側の雄コネクター部材６２と、コネクター付き装
置１側の雌コネクター部材６１と結合する際に電気的な不具合が発生しない。また、検査
部材６３では、雌コネクター部材６１との結合が何度も行なわれるが、結合が浅いので、
短時間のうちに変形することがなく、長期間にわたった適正な検査を継続して行なうこと
ができる。
【００４５】
［実施の形態２］
図６は、本発明の実施の形態２に係るコネクター付き装置１の検査装置９０および検査
方法を模式的に示す断面図であり、図６（ａ）、（ｂ）は各々、検査部材６３と雌コネク
ター部材６１とを結合する前の状態を示す模式的に示す断面図、および検査部材６３と雌
コネクター部材６１とを結合させた状態を模式的に示す断面図である。なお、本形態の基
本的な構成は実施の形態１と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれ
らの説明を省略する。
【００４６】
図６（ａ）、（ｂ）に示すように、本形態でも、実施の形態１と同様、検査部材６３と
して雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材を用いる。また、検査部材６３と
雌コネクター部材６１とを結合させる際、スペーサー７によって結合を浅くする。ここで
、雌コネクター部材６１と第２支持体９７との間には、ゴムシートからなる弾性部材９８
ａが配置されている。より具体的には、雌コネクター部材６１が実装された配線基板５０
と第２支持体９７との間にゴムシートからなる弾性部材９８ａが配置されている。このた
め、図６（ｂ）に示すように、第１支持体９６と第２支持体９７とを接近させて検査部材
６３と雌コネクター部材６１とを結合させる際、弾性部材９８ａが圧縮する。従って、検
査部材６３と雌コネクター部材６１とを結合させる際、結合が緩やかに行なわれるので、
検査部材６３および雌コネクター部材６１に損傷が発生しない。
【００４７】
［実施の形態３］
図７は、本発明の実施の形態３に係るコネクター付き装置１の検査装置９０および検査
方法を模式的に示す断面図であり、図７（ａ）、（ｂ）は各々、検査部材６３と雌コネク
ター部材６１とを結合する前の状態を示す模式的に示す断面図、および検査部材６３と雌
コネクター部材６１とを結合させた状態を模式的に示す断面図である。なお、本形態の基
本的な構成は実施の形態１と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれ
らの説明を省略する。
【００４８】
図７（ａ）、（ｂ）に示すように、本形態でも、実施の形態１と同様、検査部材６３と
して雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材を用いる。また、検査部材６３と
雌コネクター部材６１とを結合させる際、スペーサー７によって結合を浅くする。ここで
、検査部材６３と第１支持体９６との間には、ゴムシートからなる弾性部材９８ｂが配置
されている。より具体的には、検査部材６３が実装された検査用基板６４と第１支持体９
６との間にゴムシートからなる弾性部材９８ｂが配置されている。このため、図７（ｂ）
に示すように、第１支持体９６と第２支持体９７とを接近させて検査部材６３と雌コネク
ター部材６１とを結合させる際、弾性部材９８ｂが圧縮する。従って、検査部材６３と雌
コネクター部材６１とを結合させる際、結合が緩やかに行なわれるので、検査部材６３お
よび雌コネクター部材６１に損傷が発生しない。
【００４９】
［実施の形態４］
図８は、本発明の実施の形態３に係るコネクター付き装置１の検査装置９０および検査
方法を模式的に示す断面図であり、図８（ａ）、（ｂ）は各々、検査部材６３と雌コネク
ター部材６１とを結合する前の状態を示す模式的に示す断面図、および検査部材６３と雌
コネクター部材６１とを結合させた状態を模式的に示す断面図である。なお、本形態の基
本的な構成は実施の形態１と同様であるため、共通する部分には同一の符号を付してそれ
らの説明を省略する。
【００５０】
図８（ａ）、（ｂ）に示すように、本形態でも、実施の形態１と同様、検査部材６３と
して雄コネクター部材６２と同一構成のコネクター部材を用いる。また、検査部材６３と
雌コネクター部材６１とを結合させる際、スペーサー７によって結合を浅くする。ここで
、第１支持体９６と第２支持体９７との間には、コイルバネなどからなる弾性部材９８ｃ
が配置されている。より具体的には、第１支持体９６において雄コネクター部材６２が配
置されている面側と、雌コネクター部材６１が実装された配線基板５０との間にコイルバ
ネなどからなる弾性部材９８ｃが配置されている。このため、図８（ｂ）に示すように、
第１支持体９６と第２支持体９７とを接近させて検査部材６３と雌コネクター部材６１と
を結合させる際、弾性部材９８ｃが圧縮する。従って、検査部材６３と雌コネクター部材
６１とを結合させる際、結合が緩やかに行なわれるので、検査部材６３および雌コネクタ
ー部材６１に損傷が発生しない。
【００５１】
また、第１支持体９６と第２支持体９７とを離間させて検査部材６３と雌コネクター部
材６１との結合を解除する際、弾性部材９８ｃの形状復帰力によって、配線基板５０には
、第２支持体９７に向けて押し付ける力が作用する。このため、配線基板５０が浮き上が
ろうとするのを防止することができる。
【００５２】
なお、弾性部材９８ｃを配置するにあたっては、図４に示すスペーサー７の一部に切り
欠きを設け、かかる切り欠き内に弾性部材９８ｃを配置した構成を採用すればよい。また
、弾性部材９８ｃについては、第１支持体９６の側において、スペーサー７と重ならない
位置に設けてよい。また、弾性部材９８ｃはコイルバネに限るものではなく、板バネ、ゴ
ム、その他、弾性を有するものであれば適用できる。
【００５３】
［他の実施の形態］
上記実施形態では、機器本体側の配線基板２５０に対して第１コネクター部材として雄
コネクター部材６２が実装され、コネクター付き装置１（電気光学装置）側の配線基板５
０に第２コネクター部材として雌コネクター部材６１が実装されていた。但し、機器本体
側の配線基板２５０に対して第１コネクター部材として雌コネクターが実装され、コネク
ター付き装置１（電気光学装置）側の配線基板５０に第２コネクター部材として雄コネク
ターが実装されている場合に本発明を適用してもよい。
【００５４】
また、上記実施形態では、機器本体側の配線基板２５０に対して第１コネクター部材が
実装され、コネクター付き装置１（電気光学装置）側の配線基板５０に第２コネクター部
材が実装されていた。但し、電気光学パネル１００に用いた素子基板１１に第２コネクタ
ー部材が実装されている場合に本発明を適用してもよい。
【００５５】
上記実施形態では、電気光学パネル１００として液晶パネルが配線基板５０に接続され
ていたが、有機エレクトロルミネッセンス表示パネルやプラズマ表示パネルなどの電気光
学パネル１００に配線基板５０が接続されているコネクター付き装置１（電気光学装置）
に本発明を適用してもよい。
【００５６】
［電子機器への搭載例］
次に、上述した実施形態に係るコネクター付き装置１（電気光学装置）を用いた電子機
器について説明する。図９（ａ）に、コネクター付き装置１を備えたモバイル型のパーソ
ナルコンピューターの構成を示す。パーソナルコンピューター２０００は、表示ユニット
としてのコネクター付き装置１と本体部２０１０を備える。本体部２０１０には、電源ス
イッチ２００１及びキーボード２００２が設けられている。図９（ｂ）に、コネクター付
き装置１を備えた携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３
００１及びスクロールボタン３００２、並びに表示ユニットとしてのコネクター付き装置
１を備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、コネクター付き装置１
の電気光学パネル１００に表示される画面がスクロールされる。図９（ｃ）に、コネクタ
ー付き装置１を適用した情報携帯端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成
を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１及び電源スイッチ４００２
、並びに表示ユニットとしてのコネクター付き装置１を備える。電源スイッチ４００２を
操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報がコネクター付き装置１の電気
光学パネル１００の電気光学パネル１００に表示される。
【００５７】
なお、コネクター付き装置１（電気光学装置）が適用される電子機器としては、図９に
示すものの他、デジタルスチールカメラ、液晶テレビ、ビューファインダー型、モニター
直視型のビデオテープレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳、電
卓、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、銀行端末など
の電子機器などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した
コネクター付き装置１（電気光学装置）が適用可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１・・コネクター付き装置（電気光学装置）、１１・・素子基板、５０・・コネクター付
き装置の配線基板、６０・・コネクター、６１・・雌コネクター部材（第２コネクター部
材）、６２・雄コネクター部材（第１コネクター部材）、６３・・検査部材、９０・・検
査装置、９６・・第１支持体、９７・・第２支持体、９８ａ、９８ｂ、９８ｃ・・弾性部
材、１００・・電気光学パネル、２５０・・機器本体側の配線基板、６１１、６２１・・
コンタクト用端子
【図１】
2010225351.tif 000003
【図２】
2010225351.tif 000004
【図３】
2010225351.tif 000005
【図４】
2010225351.tif 000006
【図５】
2010225351.tif 000007
【図６】
2010225351.tif 000008
【図７】
2010225351.tif 000009
【図８】
2010225351.tif 000010
【図９】
2010225351.tif 000011