(57)【要約】【課題】本の内部にて針金が綴じきらない不良を検知することができる中綴じ針金不良検査装置を提供すること。【解決手段】本搬送手段２０は、本Ｐを閉じた状態で搬送方向Ａへ搬送する。針金磁化手段１１ａ、１１ｂは、本Ｐの針金１３ａ、１３ｂを磁化する。本検知手段１４は、所定位置を通過する本Ｐを検知する。磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは、本検知手段１４により本Ｐが検知されているときに本Ｐの針金１３ａ、１３ｂの磁界強度を検出する。良否判定手段１５は、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄにより検出される磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、
前記本を閉じた状態で搬送する本搬送手段と、
前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、
所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、
前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、
前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、
を具備することを特徴とする中綴じ針金不良検査装置。
【請求項２】
所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、
前記本を閉じた状態で搬送する本搬送手段と、
前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、
所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、
前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、
前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する時間計測手段と、
前記時間計測手段により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、
を具備することを特徴とする中綴じ針金不良検査装置。
【請求項３】
所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、
前記本を開いた状態で搬送する本搬送手段と、
前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、
所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、
前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、
前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、
を具備することを特徴とする中綴じ針金不良検査装置。
【請求項４】
所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、
前記本を開いた状態で搬送する本搬送手段と、
前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、
所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、
前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、
前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する時間計測手段と、
前記時間計測手段により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、
を具備することを特徴とする中綴じ針金不良検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、中綴じ機で丁合い又は針金綴じされた本の針金綴じ不良を検査するための中綴じ針金不良検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
まず、中綴じ製本工程について説明する。中綴じ機では印刷された折丁を仕様書に指定された編成順に重ね合わせる。次に、重ねられた折丁は針金で綴じ合わされ、三方断裁機構で不要な部分を切り落とされる。
【０００３】
この綴じ合わせ工程においては、針金を折丁に向かって送り出し、貫いた針金を折り曲げて綴じる手法が多く用いられるが、針金の送り出し、折り曲げが十分でない場合に、針金が本の背部から外側に飛び出す不良や、本の内部にて針金が綴じきらない不良が発生することがある。この明細書においては、本とは、折丁を含むものである。
【０００４】
前記針金が本の背部から外側へ飛び出す不良については、投光器により上下に長い帯状のレーザー光を集積折丁の背部を含む所定の範囲に照射し、このレーザー光をＣＣＤ等の受光素子を上下に配列してなるラインセンサを有する受光器により受光してレーザー光を受光した受光素子の位置から綴針金の飛び出しを検出する装置の提案がある（特許文献１参照）。また、紙片又は折丁と綴じ具との間隔を測定し、前記間隔が一定値以外となった場合の綴じ具を不良と判定する装置が提案されている（特許文献２参照）。
【０００５】
しかし、このような従来の装置においては、本の内部にて針金が綴じきらない不良を検知することができない。本の内部にて針金が綴じきらず立っている場合、その針金の綴じ足が人の手を傷つける事故の原因となりえることがあり、重大な不良である。そのような針金綴じ不良の流出を防止するためには、人が一部ずつ本を開いて目視で検査する工程が必要であり、多大な時間と費用を要している。また、人による目視検査工程においては人的作業ミスにより針金綴じ足不良が流出してしまう恐れがある。
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−５８８５４号公報
【特許文献２】特開２０００−２３８４６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発の目的は、本の内部にて針金が綴じきらない不良を検知することができる中綴じ針金不良検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１の発明に係る中綴じ針金不良検査装置は、所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、前記本を閉じた状態で搬送する本搬送手段と、前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、を具備することを特徴とする。
【０００９】
請求項２の発明に係る中綴じ針金不良検査装置は、所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、前記本を閉じた状態で搬送する本搬送手段と、前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する時間計測手段と前記時間計測手段により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、を具備することを特徴とする。
【００１０】
請求項３の発明に係る中綴じ針金不良検査装置は、所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、前記本を開いた状態で搬送する本搬送手段と、前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、を具備することを特徴とする。
【００１１】
請求項４の発明に係る中綴じ針金不良検査装置は、所定の方向に搬送されている針金綴じの本の針金綴じ足不良を検知する中綴じ針金不良検査装置であって、前記本を開いた状態で搬送する本搬送手段と、前記本の針金を磁化する針金磁化手段と、所定位置を通過する前記本を検知する本検知手段と、前記本検知手段により前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出する磁界強度検出手段と、前記磁界強度検出手段により検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する時間計測手段と、前記時間計測手段により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う良否判定手段と、を具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、本の針金を磁化し所定位置を通過する前記本を検知して、前記本が検知されているときに当該本の針金の磁界強度を検出することにより、本の内部にて針金が綴じきらない不良を検知することができる。
【００１３】
また、本発明によれば、本の内部にて針金が綴じきらない不良を検知することができるため、その針金の綴じ足が人の手を傷つける事故の原因となりえる重大不良の流出を防止することができ、人が一部ずつ本を開いて行う目視検査工程を省略することができ、また、検査時間の短縮と検査に必要な費用の削減を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態を図面基づいて詳細に説明する。
【００１５】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略図である。本発明の実施の形態１に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本搬送手段２０と、針金磁化手段１１ａ、１１ｂと、本検知手段１４と、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと、良否判定手段１５とを具備している。
【００１６】
本搬送手段２０は、本Ｐを閉じた状態で搬送方向Ａへ搬送する。
詳細には、閉じた本Ｐは、針金１３ａ、１３ｂで綴じられた背あるいは小口を搬送方向Ａの下流側に向けて表表紙あるいは裏表紙が本搬送手段２０の載置面に載置された状態で本搬送手段２０によって搬送方向Ａへ搬送される。なお、本実施の形態の中綴じ針金不良検査装置が、中綴じ製本機上の本Ｐの搬送経路上に設置され本Ｐが上記のような状態で搬送されている場合には、中綴じ製本機の本搬送手段を本搬送手段２０として利用することも可能である。
針金磁化手段１１ａ、１１ｂは、本Ｐの針金１３ａ、１３ｂを磁化する。本検知手段１４は、所定位置を通過する本Ｐを検知する。磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは、本検知手段１４により本Ｐが検知されているときに本Ｐの針金１３ａ、１３ｂの磁界強度を検出する。良否判定手段１５は、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄにより検出される磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う。
【００１７】
本搬送手段２０は、例えば、搬送ベルト等で構成されている。針金磁化手段１１ａ、１１ｂ、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは、搬送される本Ｐの下方に配置され、本Ｐの背の天側と地側に対応する箇所に位置するように設置され、本Ｐの２つの針金１３ａ、１３ｂを磁化する。針金磁化手段１１ａ、１１ｂは、例えば、永久磁石、電磁石等で構成さている。本検知手段１４は、例えば、光電センサ等で構成されている。
【００１８】
磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは、例えば、ホール素子、磁気インピーダンス素子、フラックスゲート素子又はＭＲ素子等で構成されている。磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは、本Ｐの搬送方向Ａの磁界成分を感度良く検出できるように配置されている。磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂは、その中央と地側の針金１３の中央が一致するように配置されている。磁界強度検出手段１２ｃ、１２ｄは、その中央と天側の針金１３の中央が一致するように配置されている。良否判定手段１５は、例えば、マイクロコンピュータで構成されている。
【００１９】
この中綴じ針金不良検査装置においては、以下のようにして針金１３の綴じ足不良を検知することができる。ただし、図１の場合では、本Ｐは長方形状で、本Ｐの辺Ｂ１が搬送方向Ａと平行になるように搬送されているものとする。
【００２０】
搬送方向Ａの向きに搬送されている本Ｐの搬送方向Ａの前方の辺Ｂ０が本検知手段１４に達すると、本検知手段１４は本Ｐを検知する。本検知手段１４が本Ｐを検知しているときに、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄは連続的に磁界強度を検出する。
【００２１】
ここで、良否判定手段１５による針金の綴足形状の良否判定動作について説明する。図２（Ａ）は針金１３ａ、１３ｂの正常な綴足の形状を示した模式図である。図２（Ｂ）は針金１３ａの片足の綴不良品を示す模式図である。図２（Ｃ）は針金１３ａの両足の綴不良品を示す模式図である。
【００２２】
図２（Ａ）の針金１３ａ、１３ｂの正常品の場合に、針金１３ａ、１３ｂの中央を中心にその形状はほぼ対称となる。そのため、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂが検出する磁界強度のピーク値はほぼ等しくなる。また、磁界強度検出手段１２ｃ、１２ｄが検出する磁界強度のピーク値もほぼ等しい。そのため、（磁界強度検出手段１２ａが検出する磁界強度のピーク値）−（磁界強度検出手段１２ｂが検出する磁界強度のピーク値）≒０、かつ、（磁界強度検出手段１２ｃが検出する磁界強度のピーク値）−（磁界強度検出手段１２ｄが検出する磁界強度のピーク値）≒０である。
【００２３】
図２（Ｂ）の針金１３ａの片足の綴不良品を検査した場合、針金１３ｂａの中央を中心に非対称となるため、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂが検出する磁界強度のピーク値に違いが生じる。このピーク値の差とあらかじめ設定する閾値を用いて、良否判定手段１５は、（磁界強度検出手段１２ａが検出する磁界強度のピーク値）−（磁界強度検出手段１２ｂが検出する磁界強度のピーク値）｝＞閾値であるか否か、及び、｛（磁界強度検出手段１２ｃが検出する磁界強度のピーク値）−（磁界強度検出手段１２ｄが検出する磁界強度のピーク値）｝＞閾値であるか否かによって、針金１３の片足の綴不良を判別することができる。
【００２４】
図２（Ｃ）の針金１３ａの両足の綴不良品を検査した場合、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄが検出する磁界強度のピーク値は針金１３の正常品よりも大きくなる。この磁界強度のピーク値とあらかじめ設定する閾値を用いて、良否判定手段１５は、（磁界強度検出手段１２ａが検出する磁界強度のピーク値）＞閾値であるか否か、（磁界強度検出手段１２ｂが検出する磁界強度のピーク値）＞閾値であるか否か、（磁界強度検出手段１２ｃが検出する磁界強度のピーク値）＞閾値であるか否か、及び、（磁界強度検出手段１２ｄが検出する磁界強度のピーク値）＞閾値であるか否かによって、針金１３の両足の綴不良を判別することができる。
【００２５】
良否判定手段１５により不良と判断された本Ｐは、不良品排出手段（図示せず）により正常品の搬送経路から排出される。
【００２６】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２を図面を参照して詳細に説明する。図３は、本発明の実施の形態２に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略図である。本発明の実施の形態２においては、本発明の実施の形態１と同じ構成要素には同じ参照符号を付してその説明を省略する。
【００２７】
本発明の実施の形態２に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本発明の実施の形態１において、良否判定手段１５の代わりに時間計測手段１６及び良否判定手段１７を具備している。すなわち、本発明の実施の形態２に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本搬送手段２０と、針金磁化手段１１ａ、１１ｂと、本検知手段１４と、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄと、時間計測手段１６と、良否判定手段１７とを具備している。
【００２８】
時間計測手段１６は、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄに接続されている。時間計測手段１６は、磁界強度検出手段１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄにより検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する。良否判定手段１７は、時間計測手段１６に接続されている。良否判定手段１７は、時間計測手段１６により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う。
【００２９】
ここで、良否判定手段１７による針金１３の綴足形状の良否判定動作について説明する。図２（ａ）の針金１３の正常品を検査した場合に比べて、図２（ｂ）の針金１３ａの片足の綴不良品、及び、図２（ｃ）の針金１３ａの両足の綴不良品を計測する場合には、針金１３が磁界強度検出手段の真上を通過する時間が長くなる。この磁界強度があらかじめ設定した所定の閾値以上である時間とあらかじめ設定する時間を用いて、次のように中綴じ針金の綴足不良を判別することができる。
【００３０】
良否判定手段１７は、磁界強度検出手段１２ａが検出する磁界強度が所定の閾値以上である時間＞あらかじめ設定する時間であるか否か、磁界強度検出手段１２ｂが検出する磁界強度が所定の閾値以上である時間＞あらかじめ設定する時間であるか否か、磁界強度検出手段１２ｃが検出する磁界強度が所定の閾値以上である時間＞あらかじめ設定する時間であるか否か、及び、磁界強度検出手段１２ｄが検出する磁界強度が所定の閾値以上である時間＞あらかじめ設定する時間であるか否かによって中綴じ針金の綴足不良を判別することができる。
【００３１】
良否判定手段１７により不良と判断された本Ｐは、不良品排出手段（図示せず）により正常品の搬送経路から排出される。
【００３２】
（実施の形態３）
次に、本発明の実施の形態３を図面を参照して詳細に説明する。図４は、本発明の実施の形態３に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略正面図である。図５は、本発明の実施の形態３に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略側面図である。本発明の実施の形態３においては、本発明の実施の形態１と同じ構成要素には同じ参照符号を付してその説明を省略する。
【００３３】
図４及び図５に示すように、本発明の実施の形態３に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本搬送手段２１と、針金磁化手段１１と、本検知手段１４と、磁界強度検出手段１２と、良否判定手段２３とを具備している。
【００３４】
本搬送手段２１は、本Ｐを開いた状態で搬送方向Ａへ搬送する。
詳細には、閉いた本Ｐは、針金１３で綴じられた背を上に、小口を下にして本文の間に折り丁保持部材２２ａ、２２ｂが挿入され、本Ｐは折り丁保持部材２２ａ、２２ｂで保持される。
折り丁保持部材２２ａ、２２ｂの内側には搬送チェーン２１ａ、２１ｂが連結されており、搬送チェーン２１ａ、２１ｂの移動により本Ｐは折り丁保持部材２２ａ、２２ｂと共に搬送方向Ａの下流側に向けて搬送される。
針金磁化手段１１は、本Ｐの針金１３を磁化する。本検知手段１４は、所定位置を通過する本Ｐを検知する。磁界強度検出手段１２は、本検知手段１４により本Ｐが検知されているときに本Ｐの針金１３の磁界強度を検出する。良否判定手段２３は、磁界強度検出手段１２により検出される磁界強度が正常範囲内であるかにより良否判定を行う。
針金磁化手段１１および磁界強度検出手段１２は、折り丁保持部材２２ａ、２２ｂの内側に配置される。
【００３５】
本搬送手段２１は、搬送チェーン２１ａ、２１ｂと、折り丁保持部材２２ａ、２２ｂと具備し、折り丁保持部材２２ａ、２２ｂにより本Ｐを開いた状態で搬送チェーン２１ａ、２１ｂにより搬送方向Ａへ搬送する。
なお、図５において符号２１０２は折り丁保持部材２２ａ、２２ｂに設けられた位置決め部材を示し、この位置決め部材２１０２は、折り丁保持部材２２ａ、２２ｂと共に移動する。
本実施の形態の中綴じ針金不良検査装置が中綴じ製本機上の本Ｐの搬送経路上に設置され、かつ、中綴じ製本機が本搬送手段２１のような構成の搬送手段を有し、本Ｐが上記のような状態で搬送されている場合には、中綴じ製本機の本搬送手段を本搬送手段２１として利用することも可能である。中綴じ製本機の本搬送手段２１においては、搬送チェーン２１ａ、２１ｂは、たいていギャザリングチェーンで構成されている。
【００３６】
針金磁化手段１１は、例えば、永久磁石、電磁石等で構成さている。磁界強度検出手段１２は、例えば、ホール素子、磁気インピーダンス素子、フラックスゲート素子又はＭＲ素子等で構成されている。磁界強度検出手段１２は、本Ｐの搬送方向前方の辺Ｂ０と平行な方向の磁界成分を感度良く検出できるように配置されている。磁界強度検出手段１２は、例えば、ホール素子、磁気インピーダンス素子、フラックスゲート素子又はＭＲ素子などで構成されている。
【００３７】
この本発明の実施の形態２に係る中綴じ針金不良検査装置においては、以下のようにして針金１３の綴じ足不良を検知することができる。ただし、図４、５の場合では、本Ｐは折り丁保持部材２２ａ、２２ｂにより開かれた状態で搬送されているものとする。
【００３８】
搬送方向Ａの向きに搬送されている本Ｐの搬送方向Ａの前方の辺Ｂ０が本検知手段１４に達すると、本検知手段１４は本Ｐを検知する。本検知手段１４が本Ｐを検知しているときに、磁界強度検出手段１２は連続的に磁界強度を検出する。
【００３９】
ここで、良否判定手段２３による針金１３の綴足形状の良否判定動作について説明する。図６（Ａ）は針金１３ａ、１３ｂの正常な綴足の形状を示した模式図である。図６（Ｂ）は針金１３ｂの片足の綴不良品を示す模式図である。図６（Ｃ）は針金１３ｂの刺さり不良品を示す模式図である。
【００４０】
図６（Ａ）の針金１３ａ、１３ｂの正常品を検査した場合に比べて、図６（Ｂ）のような針金１３ｂの綴足不良品を計測した場合には磁界強度検出手段１２と針金１３ｂとの間の距離が短くなるため、磁界強度のピーク値が大きくなる。この磁界強度のピーク値とあらかじめ設定する閾値を用いて、良否判定手段２３は、（磁界強度検出手段１２が検出する磁界強度のピーク値）＞閾値であるか否かによって、針金１３の両足の綴不良を判別することができる。
【００４１】
良否判定手段２３により不良と判断された本Ｐは、不良品排出手段（図示せず）により正常品の搬送経路から排出される。
【００４２】
（実施の形態４）
次に、本発明の実施の形態４を図面を参照して詳細に説明する。図７は、本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略正面図である。図８は、本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略側面図である。本発明の実施の形態４においては、本発明の実施の形態３と同じ構成要素には同じ参照符号を付してその説明を省略する。
【００４３】
本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本発明の実施の形態３において、良否判定手段２３の代わりに時間計測手段２４及び良否判定手段２５を具備している。すなわち、本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置は、本搬送手段２１と、針金磁化手段１１と、本検知手段１４と、磁界強度検出手段１２と、時間計測手段２４と、良否判定手段２５と、を具備している。
【００４４】
時間計測手段２４は、磁界強度検出手段１２に接続されている。時間計測手段２４は、磁界強度検出手段１２により検出される前記磁界強度が所定の閾値以上である時間を計測する。良否判定手段２５は、時間計測手段２４に接続されている。良否判定手段２５は、時間計測手段２４により計測される時間が正常範囲内であるかにより良否判定を行う。
【００４５】
ここで、良否判定手段２５による針金１３の綴足形状の良否判定動作について説明する。図６（Ａ）の針金１３ａ、１３ｂの正常品を検査した場合に比べて、図６（Ｃ）のような針金１３ｂの刺さり不良品を計測した場合、磁界強度検出手段１２の真上を針金１３ｂが通過する時間が長くなる。この磁界強度があらかじめ設定した所定の閾値以上である時間とあらかじめ設定する時間を用いて、良否判定手段２５は、（磁界強度検出手段１２が検出する磁界強度の値が所定の閾値以上である時間）＞あらかじめ設定する時間であるか否かによって、中綴じ針金１３の綴足不良を判別することができる。
【００４６】
良否判定手段２５により不良と判断された本Ｐは、不良品排出手段（図示せず）により正常品の搬送経路から排出される。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の実施の形態１に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略図である。
【図２】図２（Ａ）は本発明の実施の形態１に係わる針金の正常な綴足の形状を示した模式図であり、図２（Ｂ）は本発明の実施の形態１に係わる針金の片足の綴不良品を示す模式図であり、かつ、図２（Ｃ）は本発明の実施の形態１に係わる針金の両足の綴不良品を示す模式図である。
【図３】本発明の実施の形態２に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略図である。
【図４】本発明の実施の形態３に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略正面図である。
【図５】本発明の実施の形態３に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略側面図である。
【図６】図６（Ａ）は本発明の実施の形態３に係わる針金の正常な綴足の形状を示した模式図であり、図６（Ｂ）は本発明の実施の形態３に係わる針金の片足の綴不良品を示す模式図であり、かつ、図６（Ｃ）は本発明の実施の形態３に係わる針金の刺さり不良品を示す模式図である。
【図７】本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略正面図である。
【図８】本発明の実施の形態４に係わる中綴じ針金不良検査装置を示す概略側面図である。
【符号の説明】
【００４８】
１１、１１ａ、１１ｂ  針金磁化手段
１２、１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ  磁界強度検出手段
１３、１３ａ、１３ｂ  針金
１４  本検知手段
１５，１７，２３，２５  良否判定手段
１６、２４  時間計測手段
２０、２１  本搬送手段
２１ａ、２１ｂ  搬送チェーン
２２ａ、２２ｂ  折り丁保持部材
Ｐ  本
【図１】
2010082803.tif 000003
【図２】
2010082803.tif 000004
【図３】
2010082803.tif 000005
【図４】
2010082803.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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