(57)【要約】      （修正有）【課題】コストを抑え簡単な構成で自動的に電流成分や熱成分の増加を防止することが可能なゲイン調整装置、ゲイン調整方法、及びゲイン調整プログラムを提供する。【解決手段】所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、サーボループにおける誤差信号に基準参照信号を加える加算手段と、基準参照信号が加えられた誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、基準参照信号の位相とフィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、位相差検出手段により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいてゲインを調整するゲイン調整手段と、を備え、ゲイン調整手段は、目標位相値を、−９０度以下で、且つ、ゲインの変化に対する位相差の変化量が、位相差検出手段に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定する。【選択図】図８
2010231870.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整装置であって、
所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、
前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、
前記位相差検出手段により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整手段と、
を備え、
前記ゲイン調整手段は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記位相差検出手段により検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、当該位相差検出手段に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定することを特徴とするゲイン調整装置。
【請求項２】
請求項１に記載のゲイン調整装置において、
前記フィルタ手段は、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差が任意の固定ゲイン値で前記飽和位相値になるように中心周波数を設定することを特徴とするゲイン調整装置。
【請求項３】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整方法であって、
所定周波数の基準参照信号を発生する工程と、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える工程と、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分をフィルタ手段に通過させる工程と、
前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出工程と、
前記位相差検出工程により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整工程と、
を備え、
前記ゲイン調整工程は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、前記サーボループに入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定することを特徴とするゲイン調整方法。
【請求項４】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整装置が含まれるコンピュータを、
所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段、
前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段、及び、
前記位相差検出手段により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整手段として機能させ、
前記ゲイン調整手段は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記位相差検出手段により検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、当該位相差検出手段に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定するように機能させることを特徴とするゲイン調整プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
光ディスク等の情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループのゲインを調整するゲイン調整装置等の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、例えば光ディスク記録再生装置において、安定したサーボ制御を行うために、サーボループのゲイン調整を行う技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。ところが、例えば光ディスク再生動作時、サーボループにサーボ帯域に対して高い周波数成分の外乱ノイズが印加されると、サーボの抑圧制御が効かず電流成分や熱成分の増加となってしまうという問題があった。
【０００３】
このような問題の解決手段として、電流検出回路を設け、所定値以上の電流を検出した場合には、ゲインを下げ、電流、発熱を下げることが有効であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平５−１４４０２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来の方法では、電流検出回路と、これにより検出された電流の大きさに応じてゲインを調整するソフト処理が別途必要であり、コストがかかるなどの問題があった。
【０００６】
そこで、本願は、以上の点に鑑みてなされたものであり、その課題の一例は、コストを抑え簡単な構成で自動的に電流成分や熱成分の増加を防止することが可能なゲイン調整装置、ゲイン調整方法、及びゲイン調整プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整装置であって、所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、前記位相差検出手段により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整手段と、を備え、前記ゲイン調整手段は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記位相差検出手段により検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、当該位相差検出手段に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定することを特徴とする。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整方法であって、所定周波数の基準参照信号を発生する工程と、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える工程と、前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分をフィルタ手段に通過させる工程と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出工程と、前記位相差検出工程により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整工程と、を含み、前記ゲイン調整工程は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、前記サーボループに入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定することを特徴とする。
【０００９】
請求項４に記載の発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置におけるサーボループのゲインを調整するゲイン調整装置が含まれるコンピュータを、所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段、前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段、及び、前記位相差検出手段により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて前記ゲインを調整するゲイン調整手段として機能させ、前記ゲイン調整手段は、前記目標位相値を、−９０度以下で、且つ、前記位相差検出手段により検出される前記位相差であってゲインの変化に対する位相差の変化量が、当該位相差検出手段に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定するように機能させることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の概要構成の一例を示す図である。
【図２】ゲイン判定ウインドウ入出力特性の一例を示す図である。
【図３】（Ａ）は、クローズドループゲイン特性を示す図であり、（Ｂ）は、クローズドループ位相特性を示す図である。
【図４】外乱ノイズが無い場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【図５】外乱ノイズが有る場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【図６】ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である。
【図７】ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力位相特性の一例を示す図である。
【図８】外乱ノイズが有る場合の位相特性において、目標位相値と飽和位相値との関係の一例を示す図である。
【図９】図８に示す場合よりも外乱ノイズの量が多い場合の位相特性において、目標位相値と飽和位相値との関係の一例を示す図である。
【図１０】ゲイン補正量（ゲインを下げる量）と外乱ノイズの量との関係を示す図である。
【図１１】目標位相値設定及びゲイン調整処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本願の実施形態について詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、ＣＤ（Compact Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc），ＢＤ（Blu-ray Disc），ＨＤＤＶＤ等の光ディスク記録再生装置に対して本願を適用した場合の実施形態である。
【００１２】
先ず、本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成及び機能について、図１を用いて説明する。
【００１３】
図１は、本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の概要構成の一例を示す図である。図１に示すように、光ディスク記録再生装置Ｓは、ドライバ１、スピンドルモータ２、光ピックアップ３、ＲＦアンプ４、ゲイン可変アンプ５、加算器６（加算手段の一例）、位相補償イコライザ７、発振器８（基準参照信号発生手段の一例）、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）９（フィルタ手段の一例）、位相比較器１０（位相差検出手段の一例）、ゲイン判定ウインドウ１１、音声／映像信号処理メモリコントロール１２、メモリ１３、ＤＡＣ（デジタル／アナログコンバータ）１４、表示制御部１５、及びマイクロコンピュータ１６等を備えて構成されている。なお、ドライバ１、光ピックアップ３、ＲＦアンプ４、ゲイン可変アンプ５、加算器６、及び位相補償イコライザ７は、サーボ制御におけるサーボループを構成する。また、ゲイン可変アンプ５及びゲイン判定ウインドウ１１はゲイン調整手段を構成する。また、マイクロコンピュータ１６は、上記各部を統括制御するとともに、内部メモリに記憶されたゲイン調整プログラムを実行することにより目標位相値設定手段として機能する。
【００１４】
ドライバ１は、位相補償イコライザ７からの駆動信号にしたがってスピンドルモータ２及び光ピックアップ３を駆動制御する。光ピックアップ３は、回転駆動している光ディスクＤに光ビーム照射して該光ディスクＤから記録情報を読み取り、その読取信号をＲＦアンプ４に供給する。
【００１５】
ＲＦアンプ４は、光ピックアップ３からの読取信号を増幅した後、音声／映像信号処理メモリコントロール１２に供給するとともに、当該読取信号に基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号等の誤差信号を抽出しゲイン可変アンプ５及びバンドパスフィルタ９に供給する。
【００１６】
音声／映像信号処理メモリコントロール１２は、メモリ１３を用いて、ＲＦアンプ４からの読取信号の復調及び誤り訂正等を行って音声信号及び映像信号を生成し、当該音声信号をＤＡＣ１４に供給し、当該映像信号を表示制御部１５に供給する。ＤＡＣ１４は、音声／映像信号処理メモリコントロール１２からの音声信号（デジタル信号）をアナログ信号に変換して図示しないアンプを介してスピーカに出力する。また、表示制御部１５は、音声／映像信号処理メモリコントロール１２からの映像信号に描画処理を施し図示しないディスプレイに出力する。
【００１７】
一方、ゲイン可変アンプ５は、ゲイン判定ウインドウ１１からのゲイン調整指令にしたがってサーボループのゲイン（利得）を調整する。
【００１８】
発振器８は、マイクロコンピュータ１６からの発生指令に応じて、所定周波数の正弦波の基準参照信号（外乱信号ともいう）を発生し、当該基準参照信号を加算器６及び位相比較器１０に供給する。加算器６は、ゲイン可変アンプ５からの誤差信号と発振器８からの基準参照信号とを加算、つまり、サーボループにおける誤差信号に基準参照信号を加えて位相補償イコライザ７に供給する。位相補償イコライザ７は、加算器６からの信号の位相調整をなし駆動信号としてドライバ１に供給する。
【００１９】
バンドパスフィルタ９は、加算器６により基準参照信号が加えられた誤差信号であってサーボループを一巡してきた誤差信号の所定周波数（基準参照信号と同一の周波数）成分を通過させて位相比較器１０に供給する。
【００２０】
位相比較器１０は、例えばＥＸＯＲ回路からなり、発振器８からの基準参照信号の位相とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号（つまり、基準参照信号がサーボループを一巡した信号）の位相とを比較して、それらの位相差を検出し、ゲイン判定ウインドウ１１に供給する。ゲイン判定ウインドウ１１は、位相比較器１０により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいて、ゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与える。より具体的には、ゲイン判定ウインドウ１１は、位相比較器１０により検出された位相差と目標位相値との差分に応じたゲイン補正（変更）量（ｄＢ）を示すゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与える。これにより、ゲイン可変アンプ５は、ゲイン調整指令に示されるゲイン補正量（ｄＢ）だけゲイン調整（上げ又は下げ）を行うことになる。
【００２１】
図２は、ゲイン判定ウインドウ入出力特性の一例を示す図である。図２に示すように、ゲイン判定ウインドウ１１は、検出位相差の変化量が−１８０deg〜１８０degの範囲内でゲインを調整させることができる。
【００２２】
図３（Ａ）は、クローズドループゲイン特性を示す図であり、図３（Ｂ）は、クローズドループ位相特性を示す図である。図３（Ｂ）に示すように、ゲイン調整時の目標位相値は、通常、−φ＝−９０deg付近に設定される。
【００２３】
ここで、位相比較器１０により検出された位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係について説明する。
【００２４】
図４は、外乱ノイズが無い場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図であり、図５は、外乱ノイズが有る場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【００２５】
図４に示すように、外乱ノイズが無い場合、位相比較器１０により検出された位相差−９０deg（つまり、基準参照信号に対して誤差信号が位相９０度遅れている）を基準として、ゲインに対し当該位相差が増加及び減少する方向にリニアに変化するリニア特性になっている。
【００２６】
一方、図５に示すように、外乱ノイズが有る、つまり、サーボループに外乱ノイズが印加された場合、位相比較器１０により検出された位相差−９０degを基準として、当該位相差が増加する方向における飽和位相値（飽和点）以上（斜線部）と、当該位相差が減少する方向における飽和位相値（飽和点）以下（斜線部）は位相差が飽和する特性になっている（位相差−９０degを中心として上下対象の特性）。これは、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の特性によるものであり、ランダムなノイズ成分が位相比較器１０に入力されると、位相情報が−９０degに近づくことによる特性である。
【００２７】
図６は、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である。図６に示す例において、Ａは基準参照信号波形を示し、Ｂはバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号波形を示し、ＣはＡとＢとの位相差に相当する出力信号波形を示す。なお、この位相比較器１０では、基準参照信号波形及び誤差信号波形を方形波に整形した後にＥＸＯＲ回路に入力している。図６に示す例では、ＡとＢのとの論理が異なる時、Ｃの論理がハイレベルになる。そして、例えばＡとＢのとの位相差が０degの時はＣのデューティが０％となり、−９０degの時はＣのデューティが５０％となり、−１８０degの時はＣのデューティが１００％となる。ところが、Ａにノイズが重畳されると、Ｃのデューティは５０％に近づく方向にオフセットすることになる。
【００２８】
図７は、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力位相特性の一例を示す図である。図７に示す例において、入力位相差（真の値）は、ＡとＢの真（計算上）の位相差を示し、出力位相差は、ＡとＢを位相比較器１０に入力したときに検出される位相差（Ｃに相当）を示す。図７に示すように、出力位相差は、ノイズ量に応じて入力位相差（真の値）からデューティが５０％に近づき、−９０degに近づく方向にオフセットする。
【００２９】
これにより、図５に示すように、位相比較器１０により検出される位相差の飽和位相値は、外乱ノイズの量が多いほど−９０degに近づき（図中矢印方向）、位相特性がリニア特性となる範囲が狭くなる。したがって、外乱ノイズの影響を受けにくくする、つまり、外乱ノイズが入力されても、位相特性がリニア特性となる範囲を利用するために、従来は、ゲイン判定ウインドウ１１で設定される目標位相値を−９０deg付近にするとともに、基準参照信号とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号との位相差が任意の固定ゲイン値で−９０deg付近になるようにバンドパスフィルタ９の中心周波数（位相値）を設定していた。しかし、このようにしても、サーボループに高い周波数成分の外乱ノイズが印加されると、ゲインが大きくなりすぎて電流成分や熱成分の増加となってしまうという問題があった。
【００３０】
そこで、本実施形態において、ゲイン判定ウインドウ１１は、上記目標位相値を、−９０deg以下で、且つ、ゲインの変化に対する位相差（位相比較器１０により検出される位相差）の変化量が、当該位相比較器１０に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める（つまり、ゲイン対位相特性が非リニア特性になり始める）飽和位相値（飽和開始位相値）よりも小さい値に設定する。また、これに合わせて、バンドパスフィルタ９は、基準参照信号とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号との位相差が任意の固定ゲイン値で上記飽和位相値になるように中心周波数（設定位相値）を設定する。これは、例えばバンドパスフィルタ９の中心周波数は目標位相値のずらし量に応じてサーボループが適正ゲインなるような値に決める必要があるためである。例えばバンドパスフィルタ９のずらし無し時のゲイン調整の適正目標位相値がφdegであるとき、目標位相値をφ−４５degに設定した場合はバンドパスフィルタ９ずらし量も０deg−４５degとする必要がある。
【００３１】
なお、これらの飽和位相値の設定は、マイクロコンピュータ１６が、ゲイン判定ウインドウ１１及びバンドパスフィルタ９に設定指令をバンドパスフィルタ９に与えることで行われる。
【００３２】
図８は、外乱ノイズが有る場合の位相特性において、目標位相値と飽和位相値との関係の一例を示す図である。図８に示すように、外乱ノイズが有り、位相比較器１０により検出された位相差が飽和位相値αである時には、ゲイン判定ウインドウ１１は、目標位相値になるようにゲインを調整（ゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与えることにより調整）するので、適正ゲインより下げることになる(ゲインが適正に補正される)。すなわち、位相目標値を−９０deg以下で、且つゲインを下げたい外乱ノイズの飽和位相値αより敢えて小さい値に設定することにより、飽和位相値α以上の時はゲインを下げる動作となり何らかの外乱ノイズが入って通常の目標位相値ならゲインが大きくなりすぎて電流が増加してしまう場合でも、本実施形態によれば、自動的にゲインを下げるので電流増加を防止できる調整が実現できる。また、目標位相値のとり方（大きさ）によってゲインを下げる量を変えることができる。
【００３３】
図９は、図８に示す場合よりも外乱ノイズの量が多い場合の位相特性において、目標位相値と飽和位相値との関係の一例を示す図である。図９に示す例では、図８に示す例よりも、外乱ノイズの量が大きいので、位相特性がリニア特性となる範囲が狭くなり、飽和位相値βは、図８に示す場合における飽和位相値αよりも−９０degに近づいている。そして、この場合、位相比較器１０により検出された位相差が飽和位相値βである時には、ゲイン判定ウインドウ１１は、目標位相値になるようにゲインを調整することにより、図８に示す場合によりも更にゲインを下げることになる。すなわち、外乱ノイズの量によってゲイン補正量が自動的に変化する動作となり、外乱ノイズが増すほどゲインを大きく下げられ、電流がある値以上に増加することを防止することができる。また、目標位相値を変えることによりどの外乱ノイズ以上でどれだけゲインを下げ始めるかの閾値を設定することができる。
【００３４】
図１０は、ゲイン補正量（ゲインを下げる量）と外乱ノイズの量との関係を示す図である。図１０に示すように、目標位相値が小さい方がゲイン補正量が大きくなっている。
【００３５】
次に、光ディスク記録再生装置Ｓの目標位相値設定及びゲイン調整処理について、図１１を用いて説明する。
【００３６】
図１１は、目標位相値設定及びゲイン調整処理の一例を示すフローチャートである。
【００３７】
図１１に示す処理が開始されると、先ず、マイクロコンピュータ１６は、目標位相値を、−９０deg以下の飽和位相値よりも小さい値で且つゲインを下げたい補正量に応じた値に決め、当該目標位相値を設定させる設定指令をゲイン判定ウインドウ１１に与える（ステップＳ１）。これにより、ゲイン判定ウインドウ１１では当該目標位相値を設定する。
【００３８】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、基準参照信号とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号との位相差が任意の固定ゲイン値で上記飽和位相値になる中心周波数を決め、当該中心周波数を設定させる設定指令をバンドパスフィルタ９に与える（ステップＳ２）。これにより、バンドパスフィルタ９では当該中心周波数を設定し、位相比較器１０では当該中心周波数が設定されたバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号と基準参照信号との位相差を検出することになる。
【００３９】
ステップＳ１及びＳ２の２つの設定を同時に変えることによって外乱ノイズによるゲイン補正量を可変にすることができる。
【００４０】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、発振器８に対して発生指令を与えて上記基準参照信号を発生させることによりサーボループに外乱を注入する（ステップＳ３）。
【００４１】
次いで、ゲイン判定ウインドウ１１は、上記設定した目標位相値と、位相比較器１０により検出された位相差とを比較し（ステップＳ４）、当該位相差が目標位相値を含む所定範囲に入ったか否かを判定する（ステップＳ５）。そして、当該位相差が目標位相値を含む所定範囲に入っていないと判定した場合には（ステップＳ５：ＮＯ）、ゲイン判定ウインドウ１１は、当該位相差と目標位相値の差分に応じたゲイン補正量を示すゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与えて（ステップＳ６）、ステップＳ３に戻る。一方、当該位相差が目標位相値を含む所定範囲に入っていると判定した場合には（ステップＳ５：ＹＥＳ）、当該処理を終了する。
【００４２】
以上説明したように、上記実施形態によれば、ゲイン判定ウインドウ１１における目標位相値を、−９０deg以下で、且つ、ゲインの変化に対する位相差の変化量が、当該位相比較器１０に入力される外乱ノイズの影響により閾値以下になり始める飽和位相値よりも小さい値に設定するように構成したので、位相情報を用いたゲイン調整において調整時の目標位相値を適切な値に設定するだけで自動的にゲインを下げるので、既存（ＬＳＩ等で一般的に使用されている）のゲイン調整回路やシーケンスを用い、新たなソフト処理を追加することなく、コストを抑えて簡単な構成で自動的に電流成分や熱成分の増加を防止することができる。ゲイン可変アンプ５、バンドパスフィルタ９、位相差検出器１０、及びゲイン判定ウインドウ１１はともに既存の回路構成を流用することができるため、新たな構成を追加することなく実現できる。
【００４３】
また、目標位相値を変えることによりどの外乱ノイズ以上でどれだけゲインを下げ始めるかの閾値を設定することができる。
【００４４】
また、外乱ノイズの量によってゲイン補正量を自動的に変化させることができる。
【００４５】
また、サーボ動作に影響することなく、光ディスクＤから情報読み取り中でも外乱ノイズ検出ゲイン調整が可能なため、光ディスクＤの任意位置または全周で外乱ノイズ検出ゲイン調整ができる。
【００４６】
また、目標位相値によって外乱ノイズに対するゲイン補正量を可変することができるため、光ピックアップ性能、周囲温度、振動、光ディスクＤのそり等によって必要に応じてリアルタイムに設定を変えることができる。つまり、周囲温度、装置への振動、又は光ディスクＤのそり等を検出して、その大きさに応じて、飽和位相値と目標位相値との差が大きくなるように当該目標位相値を設定する。
【００４７】
なお、上記実施形態においては、光ディスク記録再生装置に対して本願のゲイン調整装置を適用した場合について説明したが、サーボループを構成するその他の情報記録又は再生装置に対しても適用可能である。本願は特に高倍速記録再生が見込まれる装置において消費電流や温度上昇を抑える手段として有効である。
【００４８】
また、上記実施形態においては、ゲイン可変アンプ５、位相差検出器１０、及びゲイン判定ウインドウ１１等はハードウェアにより構成されたものであるが、ソフトウェア的に構成してもよい。この場合、本願に係るゲイン調整プログラムにしたがって、コンピュータを、基準参照信号発生手段、加算手段、フィルタ手段、位相差検出手段、及びゲイン調整手段として機能させる。
【符号の説明】
【００４９】
１  ドライバ
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４  ＲＦアンプ
５  ゲイン可変アンプ
６  加算器
７  位相補償イコライザ
８  発振器
９  バンドパスフィルタ
１０  位相比較器
１１  ゲイン判定ウインドウ
１２  音声／映像信号処理メモリコントロール
１３  メモリ
１４  ＤＡＣ
１５  表示制御部
１６  マイクロコンピュータ
Ｓ  光ディスク記録再生装置
【図１】
2010231870.tif 000003
【図２】
2010231870.tif 000004
【図３】
2010231870.tif 000005
【図４】
2010231870.tif 000006
【図５】
2010231870.tif 000007
【図６】
2010231870.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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