(57)【要約】【課題】従来の試験システムにおいては、試験システムの構成を再構築して、各測定器や各被試験器を変更する場合は、電子機器の配置位置を表示するソフトウェアの修正が必要であった。本発明は、各測定器や各被試験器を変更しても、ソフトウェアの修正を必要としない電子機器の配置位置表示装置を提供する。【解決手段】電子機器の格納スペースの位置に関する格納スペース位置情報と、サーバのポートと格納スペース位置情報とを対応付けるポート位置情報と、電子機器の識別子と名称とを対応付ける機器情報とを記憶し、電子機器がポートに接続されると、該接続された電子機器の識別子を読み取り、前記格納スペース位置情報、前記ポート位置情報、前記機器情報に基づいて、電子機器が配置された格納スペースに対応する表示位置に、該電子機器の名称を表示させる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の格納スペースのそれぞれに配置される電子機器の位置を表示する電子機器の配置位置表示装置であって、
外部とデータを入出力するための複数の接続アドレスを有する制御手段と、
前記複数の接続アドレスとそれぞれ接続されており、前記格納スペースのそれぞれに設けられ、前記格納スペースに配置される電子機器と接続するための複数の接続手段と、
前記制御手段に接続され、電子機器の位置を表示する表示手段とを備え、
前記制御手段は、
前記複数の格納スペースの位置に関する情報を格納スペース位置情報として記憶する格納スペース位置情報記憶部と、
前記接続アドレスと、該接続アドレスに接続された接続手段が設けられた格納スペースの位置情報とを対応付けて、接続アドレス位置情報として記憶する接続アドレス位置情報記憶部と、
電子機器の識別子と名称とを対応付けて、機器情報として記憶する機器情報記憶部と、
前記接続手段を介して前記接続アドレスに電子機器が接続された状態で、該接続された電子機器の識別子を取得する接続機器情報取得部と、
前記電子機器が接続された接続アドレスと、前記取得された電子機器の識別子とを対応付けて、接続機器情報を作成する接続機器情報作成部と、
前記作成した接続機器情報を記憶する接続機器情報記憶部と、
前記格納スペース位置情報、前記接続アドレス位置情報、前記機器情報、前記接続機器情報に基づいて、前記表示手段の前記電子機器が配置された格納スペースに対応する表示位置に、該電子機器の名称を表示させる表示制御部と、
を備えることを特徴とする電子機器の配置位置表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の配置位置表示装置に関し、特に、試験システムを構成する複数の測定器や、該測定器により測定や試験が行われる被試験器の配置位置を表示可能な配置位置表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
所定の試験手順に従って測定器等の動作を制御し、試験対象である被試験器からの出力信号を測定する試験システムが知られている（例えば特許文献１参照）。この試験システムでは、試験システムの制御部が、各測定器や各被試験器の構成配置図を有しており、該構成配置図に基づいて、各測定器に関する表示や各被試験器の測定結果に関する表示を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２９２７２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の従来の試験システムにおいては、制御部の保存する各測定器や各被試験器の構成配置図は固定されており、かつ、各測定器や各被試験器と制御部の入出力ポートとの接続関係も固定されていた。そのため、試験システムの構成を再構築して、各測定器や各被試験器を変更する場合や、各測定器や各被試験器の配置を変更する場合は、制御部の内蔵する構成配置図と実際の構成配置が異なるので、制御部ソフトウェアの修正が必要となるという課題があった。
本発明の目的は、上記の課題を解決し、各測定器や各被試験器を変更したり、各測定器や各被試験器の配置を変更しても、制御部ソフトウェアの修正を必要としない電子機器の配置位置表示装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するため、本願発明においては、次のように電子機器の配置位置表示装置を構成した。すなわち、
複数の格納スペースのそれぞれに配置される電子機器の位置を表示する電子機器の配置位置表示装置であって、
外部とデータを入出力するための複数の接続アドレスを有する制御手段と、
前記複数の接続アドレスとそれぞれ接続されており、前記格納スペースのそれぞれに設けられ、前記格納スペースに配置される電子機器と接続するための複数の接続手段と、
前記制御手段に接続され、電子機器の位置を表示する表示手段とを備え、
前記制御手段は、
前記複数の格納スペースの位置に関する情報を格納スペース位置情報として記憶する格納スペース位置情報記憶部と、
前記接続アドレスと、該接続アドレスに接続された接続手段が設けられた格納スペースの位置情報とを対応付けて、接続アドレス位置情報として記憶する接続アドレス位置情報記憶部と、
電子機器の識別子と名称とを対応付けて、機器情報として記憶する機器情報記憶部と、
前記接続手段を介して前記接続アドレスに電子機器が接続された状態で、該接続された電子機器の識別子を取得する接続機器情報取得部と、
前記電子機器が接続された接続アドレスと、前記取得された電子機器の識別子とを対応付けて、接続機器情報を作成する接続機器情報作成部と、
前記作成した接続機器情報を記憶する接続機器情報記憶部と、
前記格納スペース位置情報、前記接続アドレス位置情報、前記機器情報、前記接続機器情報に基づいて、前記表示手段の前記電子機器が配置された格納スペースに対応する表示位置に、該電子機器の名称を表示させる表示制御部と、
を備えることを特徴とする電子機器の配置位置表示装置。
【発明の効果】
【０００６】
本願発明に係る電子機器の配置位置表示装置によれば、測定器や被試験器を変更しても、ソフトウェアの修正をすることなく、電子機器の配置位置を表示することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明に係る電子機器の配置位置表示装置の構成例を示す図である。
【図２】本発明に係るメインサーバの制御部の機能ブロックの構成例を示す図である。
【図３】本発明に係る中継サーバの制御部の機能ブロックの構成例を示す図である。
【図４】本発明に係る機器情報の構成例を示す図である。
【図５】本発明に係るポート位置情報の構成例を示す図である。
【図６】本発明に係るメインサーバと中継サーバの接続状態を示す接続中継サーバ情報の構成例を示す図である。
【図７】本発明に係る中継サーバと測定器の接続状態を示す接続測定器情報の構成例を示す図である。
【図８】本発明に係る中継サーバと被試験器の接続状態を示す接続被試験器情報の構成例を示す図である。
【図９】中継サーバで作成され、中継サーバと電子機器の接続状態を示す中継接続機器情報の構成例を示す図である。
【図１０】メインサーバで実行される処理例を示すフローチャートである。
【図１１】中継サーバで実行される処理例を示すフローチャートである。
【図１２】測定器と被試験器の配置位置表示の画面例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、本発明に係る電子機器の配置位置表示装置の実施例について、図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る電子機器の配置位置表示装置の構成例を示すブロック図である。図１の例では、配置位置表示装置は、メインサーバ１、複数の中継サーバ7、中継サーバ７と測定器８や被試験器（試験対象である電子機器）９とを接続するための接続手段としての接続器１０とを備えている。メインサーバ１と中継サーバ7との間、及び中継サーバ7と測定器８や被試験器９との間は、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ｅｒｅａ  Ｎｅｔｏｗｏｒｋ）としての例えば１００ＢＡＳＥ−ＴＸ、あるいはＧＰ―ＩＢ（Ｇｅｎｅｒａｌ  Ｐｕｒｐｏｓｅ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｂｕｓ）によりケーブル接続され、通信可能となっている。本例では、メインサーバ１は、無線機等の被試験器９に対し、予め決められた測定項目について自動的に試験を行い、試験で得た測定値に基づいて被試験器９の動作が正常であるか否かを判定し、その判定結果を、被試験器９の実際の配置位置に対応させて表示する。測定器８や被試験器９は、例えば、ラック等に多段に配置されており、図１２のように表示される。図１２は、測定器と被試験器の配置位置表示の画面例を示す図である。
なお、本実施例では、メインサーバ１と測定器８や被試験器９との間に中継サーバ7を設けているが、中継サーバ7を省略し、メインサーバ１と測定器８や被試験器９とを直接接続するようにすることもできる。
【０００９】
メインサーバ１は、本実施例においては、配置位置表示装置全体の制御、測定結果の良否判定や表示制御等を行う制御部（コンピュータ）２と、測定器８や被試験器９の配置位置等を表示する表示手段としての表示部３と、キーボードやマウスなどの操作部４などを備えている。
制御部２は、本実施例においては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  ＰｒｏｃｅｓｓｉｎｇＵｎｉｔ）５とメモリ６をハードウェア構成として備え、さらに中継サーバ７を介して測定器８や被試験器９との間でデータを入出力するための接続アドレスとして、複数のＩＰ（Ｉｎｔｅｒｎｅｔ  Ｐｒｏｔｃｏｌ）アドレスやポート（図示せず）を備えている。中継サーバ7を省略する場合は、前記制御部２の接続アドレスは、接続器１０を介して、直接、測定器８や被試験器９と接続される。
メモリ６には、被試験器９の試験手順が記述された試験プログラムや、測定器８や被試験器９のそれぞれを表す画像を測定器８や被試験器９の実際の配置位置に対応させて表示させる表示動作の処理手順が記述された配置位置表示プログラムや、後述する格納スペース位置情報２６、機器情報４１などが記憶されている。
メモリ６に記憶された各プログラムは、ＣＰＵ５に読み込まれて実行される。表示部３には、ＣＰＵ５で実行されるプログラム処理に応じ、測定項目や測定結果、配置位置状態などの情報が表示される。操作部４は、操作者による各種の指示入力等を受け付けるものであり、タッチパネルのように表示部３と一体に構成してもよい。
【００１０】
本実施例におけるメインサーバ１の制御部２の機能ブロック図を図２に示す。図２は、本発明に係るメインサーバ１の制御部２の機能ブロックの構成例を示す図である。図２の構成例では、メインサーバ１の制御部２は、主制御部２１と、接続機器情報取得部２２と、接続機器情報作成部２３と、表示制御部２４と、記憶部２５とを備えている。主制御部２１は、制御部２全体の動作を統括制御する。接続機器情報取得部２２は、中継サーバ７を介してメインサーバ１に接続された電子機器である測定器８や被試験器９の識別子（ＩＤ）を取得する。識別子を取得する方法については後述する。接続機器情報作成部２３は、前記取得した電子機器の識別子と中継サーバ7のポート番号とを対応付けて、接続機器情報を作成する。表示制御部２４は、表示部３への表示データを作成して表示させ、表示内容を制御する。
【００１１】
記憶部２５は、格納スペース位置情報２６と、ポート位置情報５１と、機器情報４１と、接続機器情報としての接続測定器情報７１及び接続被試験器情報８１と、メインサーバ１と中継サーバ７との接続状態を示す接続中継サーバ情報６１を記憶する。
格納スペース位置情報２６は、複数の電子機器格納スペースの位置情報であり、例えば、表示部３の表示画面上における、電子機器を格納するラックの外観表示図データと、該ラック表示図内における複数の格納スペースの位置を示す位置アドレスデータと、後述するスペース番号データとを有し、位置アドレスデータとスペース番号データとは対応付けられている。格納スペース位置情報は、オペレータにより操作部４から入力され、あるいは記憶媒体から読み込まれて登録される。
【００１２】
ポート位置情報５１は、中継サーバ7のポートの番号と、該ポートに接続された接続器１０が設けられた格納スペースの位置情報とを対応付ける情報である。ポート位置情報５１の構成例を図５に示す。図５の例では、中継サーバ７（１）〜（Ｎ）のポート番号と、各ポートに接続された接続器１０が設けられた格納スペースの位置情報であるスペース番号が、対応付けられている。接続器１０は、図５の例では、コネクタ等から構成される。ポート位置情報５１は、オペレータにより操作部４から入力され、あるいは記憶媒体から読み込まれて登録される。
【００１３】
機器情報４１は、電子機器の識別子（ＩＤ）と名称とを対応付ける情報である。機器情報４１の構成例を図４に示す。図４の例では、測定器８や被試験器９の識別子（ＩＤ）と、測定器８や被試験器９のＩＰアドレスと、測定器８や被試験器９の名称とが、対応付けられている。例えば、最上行は、識別子（ＩＤ）が「ＡＮＡ００１」、ＩＰアドレスが「１９２．１６８．１．２」、名称が「測定器（１）」の測定器である。これらの機器情報は、オペレータにより操作部４から入力され、あるいは記憶媒体から読み込まれて登録される。
【００１４】
接続機器情報としての接続測定器情報７１及び接続被試験器情報８１は、前記接続器１０を介して前記中継サーバ7のポートに電子機器が接続された状態で取得された電子機器の識別子と、中継サーバ7のポート番号とを対応付ける情報である。接続測定器情報７１の構成例を図７に示し、接続被試験器情報８１の構成例を図８に示す。
図７の例では、接続測定器情報７１は、共通部格納架の中継サーバ（１）（ＲＥＬＡＹ００１）に接続されている各測定器８のテーブルであって、中継サーバ（１）の各ポート番号と、各ポート番号に接続される各測定器８のＩＰアドレスとＩＤと名称とを対応付けて記憶している測定器テーブルである。接続測定器情報７１は、前記機器情報４１と、中継サーバ（１）が作成した中継接続機器情報９１とに基づいて、メインサーバ１により作成される。中継接続機器情報９１については後述する。
図８の例では、接続被試験器情報８１は、各試験使用架の中継サーバ（２）（ＲＥＬＡＹ００２）に接続されている各被試験器９のテーブルであって、中継サーバ（２）の各ポート番号と、各ポート番号に接続される各被試験器９のＩＰアドレスとＩＤと名称とを対応付けて記憶している被試験器テーブルである。中継サーバ（３）〜（Ｎ）についても、同様の被試験器テーブルを有する。接続被試験器情報８１は、前記機器情報４１と、中継サーバ（２）〜（Ｎ）が作成した中継接続機器情報９１とに基づいて、メインサーバ１により作成される。
【００１５】
接続中継サーバ情報６１は、各中継サーバ７（１）〜（Ｎ）の接続先であるメインサーバ１の接続アドレスとしてのＩＰアドレスあるいはポート番号と、各中継サーバ７の識別子（ＩＤ）と、各中継サーバ７が設置されている架の架名称とを対応付ける情報である。接続中継サーバ情報６１の構成例を図６に示す。図６の例では、接続中継サーバ情報６１は、中継サーバ（１）〜（Ｎ）の接続先であるメインサーバ１のＩＰアドレスと、中継サーバ（１）〜（Ｎ）のＩＤと、中継サーバ（１）〜（Ｎ）が設置されている架の架名称とを対応付けて記憶している接続中継サーバ情報テーブルである。メインサーバ１は、中継サーバ（１）〜（Ｎ）がメインサーバ１に接続されると、メインサーバ１のＩＰアドレスに接続されている中継サーバ（１）〜（Ｎ）のＩＤと、架名称とを読み取り、接続中継サーバ情報６１を作成し記憶する。架名称は、必ずしも必要なものではない。
【００１６】
図１の例のように中継サーバ７を使用する場合は、前記課題を解決するための手段で述べた、データを入出力するための複数の接続アドレスを有する前記制御手段は、メインサーバ１と中継サーバ７（１）〜（Ｎ）から構成される。また、前記接続アドレスと該接続アドレスに接続された接続手段が設けられた格納スペースの位置情報とを対応付けられた接続アドレス位置情報は、前記ポート位置情報５１と前記接続中継サーバ情報６１の両者から構成される。
中継サーバ７を使用しない場合は、前記制御手段はメインサーバ１から構成され、前記接続アドレス位置情報は、メインサーバ１の接続アドレス（ＩＰアドレス、又はポート番号）と、前記格納スペースの位置情報とを対応付けて構成される。
また、中継サーバ７の使用有無に関係なく、前記制御手段に接続される表示手段は、メインサーバ１の表示部３から構成される。
【００１７】
中継サーバ７は、本実施例においては、中継サーバ７の制御等を行う制御部（コンピュータ）３０を備えている。中継サーバ７は、メインサーバ１と同様に、表示部や、キーボードやマウスなどの操作部などを備えることもできる。
中継サーバ７の制御部３０は、本実施例においては、ＣＰＵとメモリをハードウェア構成として備え、さらに外部の電子機器との間でデータを入出力するための複数のポートを備えている。中継サーバ７の制御部３０のメモリには、中継サーバ７の動作プログラムなどが記憶されている。
【００１８】
本実施例における中継サーバ７の制御部３０の機能ブロック図を図３に示す。図３の構成例では、中継サーバ７の制御部３０は、主制御部３１と、接続機器情報取得部３２と、接続機器情報作成部３３と、記憶部３４とを備えている。主制御部３１は、制御部３０全体の動作を統括制御する。接続機器情報取得部３２は、中継サーバ７のポートに接続された電子機器の識別子を取得する。接続機器情報作成部３３は、該取得した電子機器の識別子と中継サーバ７のポート番号とを対応付けて、中継接続機器情報９１を作成する。
【００１９】
記憶部３４は、中継接続機器情報９１を記憶する。中継接続機器情報９１の構成例を図９に示す。図９の例では、中継接続機器情報９１は、中継サーバ（１）が作成するテーブルであって、中継サーバ（１）の各ポート番号と、各ポート番号に接続される各測定器のＩＰアドレスとＩＤとを対応付けて記憶する中継接続機器情報テーブルである。中継サーバ（１）の接続機器情報取得部３２は、測定器８が中継サーバ（１）に接続されると、測定器８のＩＰアドレスとＩＤを読み取って取得する。該取得した情報に基づき、中継サーバ（１）の接続機器情報作成部３３は、中継接続機器情報９１を作成し、記憶部３４に記憶する。
同様に、中継サーバ（２）〜（Ｎ）も、被試験器９が中継サーバ（２）〜（Ｎ）に接続されると、各被試験器９のＩＰアドレスとＩＤを読み取って取得し、中継サーバ（２）〜（Ｎ）の各ポート番号と、各ポート番号に接続される各被試験器９のＩＰアドレスとＩＤとを対応付けて、同様の中継接続機器情報９１を作成し記憶する。
【００２０】
次に、本発明の実施形態に係る処理例を、図１０、図１１のフローチャートを用いて説明する。図１０は、メインサーバ１で実行される処理例を示すフローチャートであり、
図１１は、中継サーバ７で実行される処理例を示すフローチャートである。
先ず、メインサーバ１で実行される処理例を説明する。
図１０のＳ１ステップにおいて、メインサーバ１の制御部２がオペレータにより起動される。次に、図１０のＳ２ステップにおいて、メインサーバ１の制御部２は、測定器８や被試験器９の識別子（ＩＤ）と、測定器８や被試験器９のＩＰアドレスと、測定器８や被試験器９の名称とが、対応付けて記憶されているデータファイルを読み込み、図４の機器情報４１を作成し、記憶部２５に記憶する。また、メインサーバ１の制御部２は、中継サーバ7のポートの番号と、該ポートに接続された接続器１０が設けられた格納スペースの位置情報とが対応付けて記憶されているデータファイルを読み込み、図５のポート位置情報５１を作成し、記憶部２５に記憶する。
【００２１】
次に、図１０のＳ３ステップにおいて、メインサーバ１の制御部２の接続機器情報取得部２２は、各中継サーバ７と接続状態確認のための通信を行い、メインサーバ１の各接続アドレス（ＩＰアドレスまたはポート番号）に接続されている各中継サーバ７の識別子（ＩＤ）及び架名称を、各中継サーバ７から読み取る。
次に、図１０のＳ４ステップにおいて、メインサーバ１の制御部２の接続機器情報作成部２３は、前記Ｓ３ステップで取得した情報に基づき、メインサーバ１と各中継サーバ７の接続状態を示す接続中継サーバ情報テーブル（図６に示す接続中継サーバ情報６１）を作成し、記憶部２５に記憶する。
【００２２】
次に、図１０のＳ５ステップにおいて、メインサーバ１の接続機器情報取得部２２は、各中継サーバ７に対して、各中継サーバ７に接続されている電子機器（測定器８や被試験器９）に関する中継接続機器情報９１（図９に示す中継サーバと電子機器の接続状態を示す情報）を要求する。この中継接続機器情報９１は、各中継サーバ７が、該中継サーバ７に接続されている電子機器（測定器８や被試験器９）と通信を行い、各中継サーバ７のポートに接続されている各電子機器（測定器８や被試験器９）の識別子（ＩＤ）やＩＰアドレスを、各中継サーバ７から読み取って取得するものである。各中継サーバ７は、該取得した情報に基づき、図９に示す中継接続機器情報９１を作成して、記憶部３４に記憶する。
メインサーバ１の接続機器情報取得部２２が、中継サーバ７から、中継接続機器情報９１を取得できなかった場合は、Ｓ８ステップに遷移し、所定の時間が経過した後、Ｓ３ステップに戻る。メインサーバ１の接続機器情報取得部２２が、中継サーバ７から、中継接続機器情報９１を取得できた場合は、Ｓ６ステップに遷移する。
【００２３】
図１０のＳ６ステップにおいて、メインサーバ１の接続機器情報作成部２３は、Ｓ５ステップにおいて中継サーバ７から取得した中継接続機器情報９１に基づき、図７に示す接続測定器情報７１（測定器テーブル）と、図８に示す接続被試験器情報８１（被試験器テーブル）を作成し、記憶部２５に記憶する。
【００２４】
次に、図１０のＳ７ステップにおいて、メインサーバ１の表示制御部２４は、格納スペース位置情報２６と、ポート位置情報５１と、機器情報４１と、接続機器情報７１、８１と、接続中継サーバ情報６１とに基づき、図１２に示す配置位置表示図の画面表示データを作成し、表示部３に表示させる。
その後、Ｓ８ステップに遷移し、所定の時間が経過した後、Ｓ３ステップに戻り、各中継サーバ７や接各電子機器（測定器８や被試験器９）との接続状態確認、及び配置位置表示図の更新を周期的に繰り返す。
【００２５】
次に、中継サーバ７で実行される処理例を説明する。
前記メインサーバ１のＳ５ステップにおいて、メインサーバ１から各中継サーバ７に対して、各中継サーバ７に接続されている電子機器（測定器８や被試験器９）に関する中継接続機器情報９１が要求されると、図１１のＳ１１ステップにおいて、各中継サーバ７の制御部３０が起動される。なお、各中継サーバ７の起動は、メインサーバ１からの要求に応じて行われてもよいし、あるいは、メインサーバ１の処理と無関係に、周期的に行われてもよい
【００２６】
次に、図１１のＳ１２ステップにおいて、中継サーバ７の接続機器情報取得部３２は、各中継サーバ７に接続されている電子機器（測定器８や被試験器９）と、接続状態確認のための通信を行い、中継サーバ７の各ポートに接続されている各電子機器（測定器８や被試験器９）の識別子（ＩＤ）やＩＰアドレスを、各電子機器から読み取って取得する
次に、図１１のＳ１３ステップにおいて、中継サーバ７の接続機器情報作成部３３は、前記Ｓ１３ステップで取得した情報に基づき、図９に示す中継サーバと電子機器の接続状態を示す中継接続機器情報９１を作成して、記憶部３４に記憶し、Ｓ１４ステップにおいて処理を終了する。
【００２７】
なお、本発明は、本発明に係る処理を実行する装置としてだけでなく、方法やシステム、として、或いは、このような方法やシステムを実現するためのプログラムや当該プログラムを記録する記録媒体として把握することもできる。
【符号の説明】
【００２８】
１：メインサーバ、２：制御部、３：表示部、４：操作部、５：ＣＰＵ、６：メモリ、７：中継サーバ、８：測定器、９：被試験器、１０：接続器、２１：主制御部、２２：接続機器情報取得部、２３：接続機器情報作成部、２４：表示制御部、２５：記憶部、２６：格納スペース位置情報、４１：機器情報、５１：ポート位置情報、６１：接続中継サーバ情報、７１：接続測定器情報、８１：接続被試験器情報、９１：中継接続機器情報。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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