(57)【要約】【課題】絶縁状態を検査する際の検査コストを低減する。【解決手段】検査対象体の所定部位に検査用電圧を供給する電圧供給部と、所定部位に所定電圧値の検査用電圧が供給されている状態においてその絶縁状態を検査する検査部と、電圧供給部を制御して所定部位に検査用電圧を供給させると共に検査部を制御して検査対象体の絶縁状態を検査させる絶縁検査処理２０を実行する制御部と、所定部位に対する検査用電圧の供給によって検査対象体において発生する部分放電を検出する検出部とを備え、制御部は、絶縁検査処理２０時において、電圧供給部を制御して所定部位に供給させる検査用電圧の電圧値を所定電圧値まで徐々に上昇させると共に（ステップ２２）、検出部によって検出された部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに（ステップ２４）電圧供給部を制御して検査用電圧の供給を停止させる（ステップ２５）。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象体の所定部位に検査用電圧を供給する電圧供給部と、前記所定部位に所定電圧値の前記検査用電圧が供給されている状態において前記検査対象体の絶縁状態を検査する検査部と、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に前記検査用電圧を供給させると共に前記検査部を制御して前記検査対象体の絶縁状態を検査させる検査処理を実行する制御部とを備えた絶縁検査装置であって、
前記所定部位に対する前記検査用電圧の供給によって前記検査対象体において発生する部分放電を検出する検出部を備え、
前記制御部は、前記検査処理時において、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に供給させる前記検査用電圧の電圧値を前記所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、前記検出部によって検出された前記部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに当該電圧供給部を制御して当該検査用電圧の供給を停止させる絶縁検査装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記検査処理時において、前記電圧供給部を制御して前記検査用電圧の電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させる請求項１記載の絶縁検査装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記検査処理時において、前記検査用電圧の供給開始から前記所定電圧値まで上昇させるのに要する時間を分割した複数の単位時間毎に前記部分放電の発生回数をカウントして、いずれかの当該単位時間内において当該部分放電の発生回数が規定回数に達したときに前記所定条件が満たされたとして前記検査用電圧の供給を停止させる請求項１または２記載の絶縁検査装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記部分放電の発生回数が前記所定条件を満たして前記検査用電圧の供給を停止させたときに、当該所定条件を満たした前記検査対象体に絶縁不良が生じているとする請求項１から３のいずれに記載の絶縁検査装置。
【請求項５】
検査対象体の所定部位に所定電圧値の検査用電圧を供給した状態において当該検査対象体の絶縁状態を検査する絶縁検査方法であって、
前記所定部位に供給する前記検査用電圧の電圧値を前記所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、当該所定部位に対する当該検査用電圧の供給によって前記検査対象体において発生する部分放電を検出し、当該部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに前記検査用電圧の供給を停止する絶縁検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象体に検査用電圧を供給してその絶縁状態を検査する絶縁検査装置および絶縁検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の絶縁検査装置として、特許３５４６０４６号公報に開示された絶縁検査装置が知られている。この絶縁検査装置は、回路基板に形成された配線パターン間に出力電圧を印加したときに、電圧計で検出される配線パターン間の電圧値と、電流計で検出された配線パターン間を流れる電流値とに基づいて配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値が閾値以上であるか否かを判別することで、回路基板の良否を判定可能に構成されている。また、この絶縁検査装置は、検査用電圧の印加に伴って配線パターン間でスパーク（放電）が発生したか否かを、電圧計から出力される電圧信号に基づいて検出するスパーク検出回路を備えて構成されている。この場合、この絶縁検査装置では、スパーク検出回路によってスパークの発生が検出されたときには、配線パターン間の抵抗値が閾値以上であるか否かに拘わらず検査対象の回路基板を不良と判定している。
【特許文献１】特許３５４６０４６号公報（第５−９頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記の絶縁検査装置には、以下の問題点がある。すなわち、従来の絶縁検査装置では、電圧計から出力される電圧信号に基づいてスパークが発生したか否かを判別して、スパークの発生が検出されたときには、その回路基板を不良と判定する構成を採用している。この場合、検査用電圧の印加に伴って配線パターン間でスパークが発生したときには、回路基板に対して検査用電圧を印加するための検査用プローブ（検査用治具）に破損や汚損が生じる。具体的には、スパークの発生時に大電流が導通することに起因して検査用プローブの先端部が炭化したり、大電流の導通によって炭化した回路基板（炭化した配線パターンやレジスト）が検査用プローブに付着したりする。この場合、その後の絶縁検査処理時において破損や汚損が生じた検査用プローブを使用した場合には、絶縁状態を正確に検査するのが困難となる。したがって、破損や汚損の状態に応じて検査用プローブ（検査用治具）を短期間で交換する必要が生じる。このため、従来の絶縁検査装置では、高価な検査用プローブの交換サイクルが短いことに起因して、回路基板の検査コストが高騰しているという問題点がある。
【０００４】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、検査対象体の絶縁状態を検査する際の検査コストを十分に低減し得る絶縁検査装置および絶縁検査方法を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の絶縁検査装置は、検査対象体の所定部位に検査用電圧を供給する電圧供給部と、前記所定部位に所定電圧値の前記検査用電圧が供給されている状態において前記検査対象体の絶縁状態を検査する検査部と、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に前記検査用電圧を供給させると共に前記検査部を制御して前記検査対象体の絶縁状態を検査させる検査処理を実行する制御部とを備えた絶縁検査装置であって、前記所定部位に対する前記検査用電圧の供給によって前記検査対象体において発生する部分放電を検出する検出部を備え、前記制御部は、前記検査処理時において、前記電圧供給部を制御して前記所定部位に供給させる前記検査用電圧の電圧値を前記所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、前記検出部によって検出された前記部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに当該電圧供給部を制御して当該検査用電圧の供給を停止させる。
【０００６】
請求項２記載の絶縁検査装置は、請求項１記載の絶縁検査装置において、前記制御部が、前記検査処理時において、前記電圧供給部を制御して前記検査用電圧の電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させる。
【０００７】
請求項３記載の絶縁検査装置は、請求項１または２記載の絶縁検査装置において、前記制御部が、前記検査処理時において、前記検査用電圧の供給開始から前記所定電圧値まで上昇させるのに要する時間を分割した複数の単位時間毎に前記部分放電の発生回数をカウントして、いずれかの当該単位時間内において当該部分放電の発生回数が規定回数に達したときに前記所定条件が満たされたとして前記検査用電圧の供給を停止させる。
【０００８】
請求項４記載の絶縁検査装置は、請求項１から３のいずれかに記載の絶縁検査装置において、前記制御部が、前記部分放電の発生回数が前記所定条件を満たして前記検査用電圧の供給を停止させたときに、当該所定条件を満たした前記検査対象体に絶縁不良が生じているとする。
【０００９】
請求項５記載の絶縁検査方法は、検査対象体の所定部位に所定電圧値の検査用電圧を供給した状態において当該検査対象体の絶縁状態を検査する絶縁検査方法であって、前記所定部位に供給する前記検査用電圧の電圧値を前記所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、当該所定部位に対する当該検査用電圧の供給によって前記検査対象体において発生する部分放電を検出し、当該部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに前記検査用電圧の供給を停止する。
【発明の効果】
【００１０】
請求項１記載の絶縁検査装置および請求項５記載の絶縁検査方法によれば、検査対象体の所定部位に供給する検査用電圧の電圧値を所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、所定部位に対する検査用電圧の供給によって検査対象体において発生する部分放電を検出し、部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに検査用電圧の供給を停止することにより、検査対象体の所定部位等に絶縁不良が生じている場合において、検査用電圧の電圧値の上昇に伴って部分放電の発生頻度が高くなり、この部分放電の発生回数が所定条件を満たした時点において検査用電圧の供給が停止されて、スパークが発生するおそれのある所定の電圧値まで検査用電圧の電圧値が上昇する事態を回避することができる。したがって、請求項１記載の絶縁検査装置および請求項５記載の絶縁検査方法によれば、検査処理時におけるスパークの発生を回避することができるため、スパークの発生に起因する検査用プローブの破損や汚損を回避することができる結果、検査用プローブの交換サイクルを十分に長期間として、検査対象体の絶縁状態を検査する際の検査コストを十分に低減することができる。
【００１１】
また、請求項２記載の絶縁検査装置によれば、検査用電圧の電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させることにより、検査用電圧の電圧値を段階的に徐々に上昇させる構成および方法とは異なり、スパークが発生するおそれのある電圧値まで検査用電圧の電圧値が一気に上昇させられる事態を回避することができるため、検査処理時におけるスパークの発生を確実に回避することができる。
【００１２】
さらに、請求項３記載の絶縁検査装置によれば、単位時間内における部分放電の発生回数が規定回数に達したときに上記の所定条件が満たされたとして検査用電圧の供給を停止することにより、例えば、部分放電の発生回数が規定回数に達するのに要した時間が所定時間以下のときに所定条件が満たされたとして検査用電圧の供給を停止する構成とは異なり、部分放電の発生時刻を記録する煩雑な処理を行うことなく、検査用電圧の電圧値の上昇に伴って部分放電の発生頻度が高くなったときに、検査用電圧の供給を確実に停止させて、スパークの発生を確実に回避することができる。
【００１３】
また、請求項４記載の絶縁検査装置によれば、部分放電の発生回数が上記の所定条件を満たして検査用電圧の供給を停止したときに、所定条件を満たした検査対象体に絶縁不良が生じているとすることにより、絶縁不良が生じて検査処理時にスパークが発生するおそれのある検査対象体が再検査されることで再検査時に発生したスパークによって検査用プローブに破損や汚損が生じる事態を回避することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係る絶縁検査装置および絶縁検査方法の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１５】
最初に、絶縁検査装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１６】
図１に示す絶縁検査装置１は、本発明に係る絶縁検査装置の一例であって、本発明に係る絶縁検査方法に従って回路基板１００等の絶縁状態を検査可能に構成されている。具体的には、絶縁検査装置１は、プローブ機構２、電圧供給部３、測定部４、検出部５、操作部６、表示部７、制御部８および記憶部９を備えている。この場合、回路基板１００は、本発明における検査対象体の一例であって、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ・・等の複数の導体パターン１１０が形成されている。プローブ機構２は、回路基板１００における各導体パターン１１０上に規定された各検査ポイントの位置に応じて図示しないプローブ保持部に植設された複数の検査用プローブ２ａ，２ａ・・と、制御部８の制御に従ってプローブ保持部を移動させることによって各検査用プローブ２ａ，２ａを回路基板１００（各検査ポイント）に対して接触または離間させる移動機構２ｂとを備えている。
【００１７】
電圧供給部３は、本発明における電圧供給部の一例であって、制御部８の制御に従って上記の検査用プローブ２ａ，２ａを介して回路基板１００（導体パターン１１０）に検査用電圧（直流電圧）Ｖを供給する。測定部４は、電圧測定部４ａおよび電流測定部４ｂを備えて、制御部８と相俟って本発明における検査部を構成する。電圧測定部４ａは、検査用電圧Ｖの供給によって生じる導体パターン１１０と接地電位との間の電圧（電位差）を検出して、その電圧値を示す測定データＤｖを制御部８に出力する。電流測定部４ｂは、検査用電圧Ｖの供給によって導体パターン１１０，１１０間を導通する電流を検出して、その電流値を示す測定データＤｉを制御部８に出力する。
【００１８】
検出部５は、本発明における検出部の一例であって、アンテナ１１、アンプ１２、フィルタ１３、タイマ１４およびカウンタ１５を備えている。アンテナ１１は、検査用電圧Ｖの供給によって回路基板１００に部分放電が発生したときに生じる電磁波Ｓｅを検出して検出信号Ｓｄを出力する。アンプ１２は、アンテナ１１から出力された検出信号Ｓｄを増幅する。フィルタ１３は、一例としてバントパスフィルタで構成されてアンプ１２によって増幅された検出信号Ｓｄからノイズ等を除去して出力する。タイマ１４は、タイマ信号Ｓｔをカウンタ１５に出力する。カウンタ１５は、フィルタ１３を通過した検出信号Ｓｄとタイマ１４から出力されるタイマ信号Ｓｔとに基づき、後述するようにして、検査用電圧Ｖの供給開始から電圧値Ｖ１（本発明における所定電圧値）まで上昇させるのに要する時間を分割した複数の単位時間毎に部分放電の発生回数をカウントしてカウントデータＤｃを生成し、生成したカウントデータＤｃを制御部８に出力する。操作部６は、電源スイッチや検査開始スイッチ等の各種のスイッチを備えて構成されて、各スイッチの操作に対応する操作信号を出力する。表示部７は、制御部８の制御に従って検査結果等の各種の画像を表示する。記憶部９は、制御部８によって算出（測定）される抵抗値を記憶する。
【００１９】
制御部８は、本発明における制御部の一例であって、絶縁検査装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部８は、操作部６から出力される操作信号に従って図２に示す絶縁検査処理２０を実行することにより、回路基板１００（導体パターン１１０，１１０間）の絶縁状態を検査する。より具体的には、制御部８は、後述するようにして、電圧供給部３を制御して回路基板１００に検査用電圧Ｖを供給させる。また、制御部８は、測定部４を制御して測定処理を実行させ、電圧測定部４ａから出力される測定データＤｖと電流測定部４ｂから出力される測定データＤｉとに基づいて導体パターン１１０，１１０の間の抵抗値を演算する。さらに、制御部８は、検出部５のカウンタ１５から出力されたカウントデータＤｃに基づき、いずれかの単位時間内において部分放電の発生回数が規定回数に達したと判別したときに、電圧供給部３を制御して回路基板１００に対する検査用電圧Ｖの供給を停止させる。また、制御部８は、演算した抵抗値と基準抵抗値とを比較して回路基板１００の良否（各導体パターン１１０，１１０の間の絶縁状態）を検査する。記憶部９は、制御部８の動作プログラム（検査処理手順のデータ）や絶縁検査処理において用いられる検査用基準値（基準抵抗値）などを記憶する。
【００２０】
次に、絶縁検査装置１を用いて回路基板１００の絶縁状態を検査する絶縁検査方法およびその際の絶縁検査装置１の動作について、図面を参照して説明する。なお、本発明についての理解を容易とするために、回路基板１００における各導体パターン１１０のうちの導体パターン１１０ａ，１１０ｂの間（図１参照）の絶縁状態を検査する例について以下に説明する。
【００２１】
まず、検査対象の回路基板１００を図外の基板保持部に保持させた後に、操作部６を操作して検査開始を指示する。この際には、制御部８が、操作部６から出力された操作信号に従って、図２に示す絶縁検査処理２０を開始する。この絶縁検査処理２０では、制御部８は、移動機構２ｂに制御信号Ｓ１を出力することにより、各検査用プローブ２ａ，２ａ・・を回路基板１００上の各検査ポイント（各導体パターン１１０）に接触させる（回路基板１００に対するプロービングの実行：ステップ２１）。この際には、図１に示すように、各検査用プローブ２ａ，２ａのうちの所定の２本が導体パターン１１０ａ，１１０ｂにそれぞれ接触させられる。次いで、制御部８は、電圧供給部３に制御信号Ｓ２を出力することにより、上記の２本の検査用プローブ２ａ，２ａを介して導体パターン１１０ａ，１１０ｂ（本発明における「検査対象体の所定部位」の一例）に対する検査用電圧Ｖの供給を開始させると共に、検出部５のカウンタ１５に制御信号Ｓ３を出力することにより、回路基板１００において発生する部分放電の発生回数のカウントを開始させる（ステップ２２）。
【００２２】
この場合、この絶縁検査装置１では、図３，４に示すように、電圧供給部３が制御部８の制御に従って、検査用電圧Ｖの供給を開始した時点ｔ０から、検査用電圧Ｖが電圧値Ｖ１（導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の絶縁状態を検査するのに適した電圧値：本発明における所定電圧値の一例）に達する時点ｔ４まで検査用電圧Ｖの電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させる構成が採用されている。また、この種の検査時においては、供給する検査用電圧Ｖの電圧値の上昇に伴って導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間における部分放電の発生頻度が徐々に高くなる傾向がある。この部分放電の発生頻度は、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の絶縁状態が良好な回路基板１００の検査時（図４参照）よりも、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間に絶縁不良が生じている回路基板１００の検査時（図３参照）の方が高くなる傾向がある。さらに、検査用電圧Ｖを供給している導体パターン１１０ａ，１１０ｂの間に絶縁不良が生じているときには、図３に破線で示すように、検査用電圧Ｖの電圧値が電圧値Ｖ１に達した後の例えば時点ｔ５ａにおいて、導体パターン１１０ａ，１１０ｂの間にスパークが発生して、検査用プローブ２ａ，２ａ間に電流値Ｉｘの大電流が導通する。
【００２３】
したがって、この絶縁検査装置１では、検査用電圧Ｖの電圧値を徐々に線的に上昇させるのと並行して、時点ｔ０から時点ｔ１までの時間Ｔ、時点ｔ１から時点ｔ２までの時間Ｔ、時点ｔ２から時点ｔ３までの時間Ｔ、および時点ｔ３から時点ｔ４までの時間Ｔの各時間Ｔ内（一例として、０．５秒：本発明における単位時間内の一例）における部分放電の発生回数をカウントし、一例として、時間Ｔ内において１０回の部分放電が検出されたとき（発生回数が１０回に達したとき）に検査用電圧Ｖの供給を停止する構成が採用されている。具体的には、制御部８は、電圧供給部３から供給させている検査用電圧Ｖの電圧値が電圧値Ｖ１（規定電圧値）に達したか否か（ステップ２３）、および、上記の時間Ｔ内における部分放電の発生回数が１０回（規定回数）に達したか否かを監視する（ステップ２４）。
【００２４】
この際に、図３に示すように、例えば、時点ｔ３から時点ｔ４までの時間Ｔ内（時点ｔ３を経過してから時点ｔ４が到来するまでの間）において部分放電の発生回数が１０回に達したときには、制御部８は、カウンタ１５から出力されたカウントデータＤｃに基づき、時間Ｔ内における部分放電の発生回数が規定回数に達したと判別する（本発明における所定条件が満たされた状態の一例：ステップ２４）。この際に、制御部８は、電圧供給部３に制御信号Ｓ２を出力して検査用電圧Ｖの供給を停止させると共に（ステップ２５）、その回路基板１００（導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間）に絶縁不良が生じていると判定して（ステップ２６）、この絶縁検査処理２０を終了する。これにより、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間に供給している検査用電圧Ｖの電圧値が、スパークが発生する可能性のある電圧値Ｖ１まで上昇させられることなく絶縁検査処理２０が終了するため、検査用プローブ２ａ，２ａにスパークに起因する破損や汚損が生じる事態が回避される。
【００２５】
一方、図４に示すように、各時間Ｔ内における部分放電の発生回数が１０回に達することなく、検査用電圧Ｖの電圧値が電圧値Ｖ１（規定電圧値）に達したときには（ステップ２３）、制御部８は、電圧値Ｖ１の検査用電圧Ｖの供給を維持させつつ、予め規定された時間Ｔ１（一例として、１秒）だけ待機した後に（ステップ２７）、測定部４から出力された測定データＤｖ，Ｄｉに基づいて、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の抵抗値（絶縁抵抗値）を演算する（ステップ２８）。この際に、検査用電圧Ｖの電圧値が電圧値Ｖ１に達した時点ｔ４から時点ｔ５ｂまでの時間Ｔ１に亘って電圧値Ｖ１の検査用電圧Ｖを供給した状態を維持することにより、電圧値や電流値が十分に安定した状態において測定部４による測定処理が実行されるため、絶縁状態についての検査精度を十分に高めることができる。次いで、制御部８は、電圧供給部３に制御信号Ｓ２を出力して検査用電圧Ｖの供給を停止させると共に（ステップ２９）、演算した絶縁抵抗値と、記憶部９に記憶されている基準抵抗値（検査用基準値）とを比較して、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の絶縁状態を検査する（ステップ３０）。
【００２６】
この際に、演算した絶縁抵抗値が基準抵抗値以上のときには、制御部８は、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の絶縁状態が良好と判定して（ステップ３１）、この絶縁検査処理２０を終了する。一方、演算した絶縁抵抗値が基準抵抗値に満たないときには、制御部８は、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間に絶縁不良が生じていると判定して（ステップ２６）、この絶縁検査処理２０を終了する。この後、制御部８は、他の導体パターン１１０，１１０間についても上記の一連の検査処理と同様に検査すると共に、すべての検査処理時において導体パターン１１０，１１０間の絶縁状態が良好と判定したときに、その回路基板１００が良品の回路基板１００であると判定する。
【００２７】
このように、この絶縁検査装置１および絶縁検査装置１による絶縁検査方法によれば、検査対象の回路基板１００における所定部位（この例では、導体パターン１１０ａ，１１０ｂ）に供給する検査用電圧Ｖの電圧値を所定電圧値まで徐々に上昇させると共に、導体パターン１１０ａ，１１０ｂに対する検査用電圧Ｖの供給によって回路基板１００において発生する部分放電を検出し、部分放電の発生回数が予め規定された所定条件を満たしたときに検査用電圧Ｖの供給を停止することにより、絶縁不良が生じている導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間の検査時において、検査用電圧Ｖの電圧値の上昇に伴って部分放電の発生頻度が高くなり、この部分放電の発生回数が所定条件を満たした時点において検査用電圧Ｖの供給が停止されて、スパークが発生するおそれのある電圧値Ｖ１まで検査用電圧Ｖの電圧値が上昇する事態を回避することができる。したがって、この絶縁検査装置１および絶縁検査装置１による絶縁検査方法によれば、検査処理時におけるスパークの発生を回避することができるため、スパークの発生に起因する検査用プローブ２ａ，２ａ・・の破損や汚損を回避することができる結果、検査用プローブ２ａ，２ａ・・の交換サイクルを十分に長期間として、回路基板１００の絶縁状態を検査する際の検査コストを十分に低減することができる。
【００２８】
また、この絶縁検査装置１および絶縁検査装置１による絶縁検査方法によれば、検査用電圧Ｖの電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させることにより、検査用電圧Ｖの電圧値を段階的に徐々に上昇させる構成および方法とは異なり、スパークが発生するおそれのある電圧値まで検査用電圧Ｖの電圧値が一気に上昇させられる事態を回避することができるため、検査処理時におけるスパークの発生を確実に回避することができる。
【００２９】
さらに、この絶縁検査装置１および絶縁検査装置１による絶縁検査方法によれば、単位時間内（この例では、時間Ｔ内）における部分放電の発生回数が規定回数（一例として、１０回）に達したときに本発明における所定条件が満たされたとして検査用電圧Ｖの供給を停止することにより、例えば、部分放電の発生回数が規定回数に達するのに要した時間が所定時間以下のときに本発明における所定条件が満たされたとして検査用電圧Ｖの供給を停止する構成とは異なり、部分放電の発生時刻を記録する煩雑な処理を行うことなく、検査用電圧Ｖの電圧値の上昇に伴って部分放電の発生頻度が高くなったときに、検査用電圧Ｖの供給を確実に停止させて、スパークの発生を確実に回避することができる。
【００３０】
また、部分放電の発生回数が本発明における所定条件を満たして検査用電圧Ｖの供給を停止したときに、その回路基板１００に絶縁不良が生じているとすることにより、絶縁不良が生じて検査処理時にスパークが発生するおそれのある回路基板１００が再検査されることで再検査時に発生したスパークによって検査用プローブ２ａ，２ａ・・に破損や汚損が生じる事態を回避することができる。
【００３１】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、回路基板１００（導体パターン１１０，１１０）に対して供給する検査用電圧Ｖの電圧値を一定の上昇率で徐々に線的に上昇させる絶縁検査装置１について説明したが、本発明はこれに限定されず、回路基板１００（導体パターン１１０，１１０）に対して供給する検査用電圧Ｖの電圧値を徐々に段階的に上昇させる構成を採用することもできる。このような構成を採用する場合には、上記の例における各時点ｔ（本発明における「単位時間」の起点および終点）と、検査用電圧Ｖの電圧値を変化させる時点とを一致させることで、各電圧値の検査用電圧Ｖを供給した状態における部分放電の発生回数を正確にカウントすることができる。また、各時間Ｔ内における部分放電の発生回数が規定回数（１０回）に達した時点において本発明における所定条件が満たされたとして検査用電圧Ｖの供給を停止させる構成の絶縁検査装置１について説明したが、本発明はこれに限定されず、検査用電圧Ｖの供給開始時点からの部分放電の累積発生回数が所定回数に達した時点において検査用電圧Ｖの供給を停止させる構成を採用することもできる。
【００３２】
また、単位時間内の部分放電の発生回数が規定回数に達したとき、または、検査用電圧の供給開始からの部分放電の累積発生回数が規定回数に達したときに検査用電圧の供給を停止させる構成および方法に限定されず、部分放電の発生回数が規定回数に達するまでに要した時間が所定時間以下のときに、本発明における所定条件が満たされたとして検査用電圧の供給を停止させる構成および方法を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】絶縁検査装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】絶縁検査処理２０のフローチャートである。
【図３】絶縁不良が生じている回路基板１００についての検査処理時における検査用電圧Ｖの電圧値、検査用プローブ２ａ，２ａ間を導通する電流の電流値、および導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間で発生する部分放電の相互の関係について説明するための説明図である。
【図４】絶縁状態が良好な回路基板１００についての検査処理時における検査用電圧Ｖの電圧値、検査用プローブ２ａ，２ａ間を導通する電流の電流値、および導体パターン１１０ａ，１１０ｂ間で発生する部分放電の相互の関係について説明するための説明図である。
【符号の説明】
【００３４】
１  絶縁検査装置
２ａ  検査用プローブ
３  電圧供給部
４  測定部
５  検出部
８  制御部
１１  アンテナ
１２  アンプ
１３  フィルタ
１４  タイマ
１５  カウンタ
２０  絶縁検査処理
１００  回路基板
１１０，１１０ａ，１１０ｂ  導体パターン
Ｄｃ  カウントデータ
Ｄｖ，Ｄｉ  測定データ
Ｖ  検査用電圧
Ｖ１  電圧値
Ｓ１〜Ｓ３  制御信号
Ｓｄ  検出信号
Ｓｅ  電磁波
Ｓｔ  タイマ信号
Ｔ，Ｔ１  時間
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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