(57)【要約】【課題】簡易な処理で高速に下地除去閾値を決定できる画像処理装置を提供する。【解決手段】原稿を読み取って得られた画像データを所定単位で読込んで、濃度ごとの画素数を示すヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、原稿の下地濃度を推定する下地濃度推定手段と、推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、小さくなる傾向で下地除去基準値を設定する下地除去基準値設定手段と、推定された下地濃度と設定された下地除去基準値とに基づいて、読込んだ所定単位の画像データの下地を除去する下地除去手段とを備えた画像処理装置。【選択図】  図３
2010114677.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿を読み取って得られた画像データを所定単位で読込んで、濃度ごとの画素数を示すヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、
前記ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定する下地濃度推定手段と、
前記推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、小さくなる傾向で下地除去基準値を設定する下地除去基準値設定手段と、
前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値とに基づいて、前記読込んだ所定単位の画像データの下地を除去する下地除去手段と
を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置であって、
前記下地濃度推定手段は、所定の閾値を超えるハイライト側の最初の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項２に記載の画像処理装置であって、
前記所定の閾値は、ハイライト側の所定の範囲に第１の閾値が定められ、それ以外の範囲には、第１の閾値よりも小さい第２の閾値が定められていることを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の画像処理装置であって、
前記所定単位は、ライン単位であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項４に記載の画像処理装置であって、
前記下地除去手段は、前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値との合計値と、前のラインの下地除去閾値とを、両者の比重を定める係数を用いて重み付けして足し合わせることで前記読込んだラインにおける下地除去閾値を決定し、白から前記下地除去閾値までの濃度の画素を除去することを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
原稿を読み取って得られた画像データを所定単位で読込んで、濃度ごとの画素数を示すヒストグラムを作成するヒストグラム作成ステップと、
前記ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定する下地濃度推定ステップと、
前記推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、小さくなる傾向で下地除去基準値を設定する下地除去基準値設定ステップと、
前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値とに基づいて、前記読込んだ所定単位の画像データの下地を除去する下地除去ステップと
を含むことを特徴とする下地除去方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置に係り、特に、原稿を読み取って得られた画像データから原稿の下地を除去する際の除去閾値を設定する画像処理装置および下地除去方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像読取装置で原稿を読み取って印刷を行なう複写処理では、様々な種類の用紙が原稿として用いられる。原稿として用いられる用紙の中には、新聞、再生紙、色付き用紙等の下地濃度が比較的濃いものがある。このような下地濃度が濃い原稿の読取りを行なう場合には、従来から下地を除去する処理が行なわれている。これにより、複写された原稿の文字をはっきりと読みやすくするのに加えて、印刷の際にインクやトナーの消費量を削減することができる。
【０００３】
下地除去を行なう際には、画像処理を行なって原稿の下地濃度を推定し、その濃度に応じた除去閾値以下の画素を除去するようにしているが、一般に、原稿の下地濃度を推定し、下地除去閾値を決定することは容易ではない。下地除去閾値を決定する技術としては、例えば、特許文献１に、プリスキャン時に原稿を読み取って得られた入力画像データから原稿の下地濃度範囲内のヒストグラムを作成して下地除去の閾値を決定し、メインスキャン時の入力画像データに対して下地除去を行なうことが記載されている。また、特許文献２には、１ページごとに下地除去閾値を決定することが記載されている。さらに、特許文献３には、ヒストグラムを用いて下地除去閾値を決定する方法として、ヒストグラムの山と山とがどれだけ離れているかを分散計算で求め、そこから下地除去閾値を決定することが記載されている。
【特許文献１】特開平４−３１３７７４号公報
【特許文献２】特開２０００−１０１８３９号公報
【特許文献３】特開平７−３０３１８８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１および特許文献２に記載された技術は、ページ単位で下地除去閾値を決定するものである。このため、プリスキャンを行なった後、あるいは、１ページ分のデータを読み取った後に下地除去閾値を決定することになり、下地除去処理が遅くなるという問題がある。また、特許文献３に記載された技術は、ヒストグラムに基づいて分散を算出しなければならず、処理が煩雑になるという問題がある。
【０００５】
本発明は、このような状況を鑑みてなされたものであり、簡易な処理で高速に下地除去閾値を決定できる画像処理装置および下地除去方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、本発明の第１の態様である画像処理装置は、原稿を読み取って得られた画像データを所定単位で読込んで、濃度ごとの画素数を示すヒストグラムを作成するヒストグラム作成手段と、前記ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定する下地濃度推定手段と、前記推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、小さくなる傾向で下地除去基準値を設定する下地除去基準値設定手段と、前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値とに基づいて、前記読込んだ所定単位の画像データの下地を除去する下地除去手段とを備える。
【０００７】
本発明によれば、ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定するため、簡易な処理で高速に下地除去閾値決定処理を行なうことができる。また、一般に、前記推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、ヒストグラムの山の先鋭度が高くなり下地濃度のブレが少なく、この割合が小さいほど、ヒストグラムの山の先鋭度が低くなり下地濃度のブレが大きくなると考えられる。このため、推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、前記下地除去基準値が小さくなる傾向で下地除去基準値を設定することで下地除去の精度を高めることができる。
【０００８】
ここで、前記下地濃度推定手段は、所定の閾値を超えるハイライト側の最初の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定することができる。これにより、画素数の少ない極大値を原稿の下地濃度と誤認識してしまうことを防ぐことができる。
【０００９】
所定の閾値は、ハイライト側の所定の範囲に第１の閾値が定められ、それ以外の範囲には、第１の閾値よりも小さい第２の閾値が定められていることが望ましい。これにより、画像データに原稿台カバーの画像が含まれている場合の下地濃度の誤認識を防ぐことができる。
【００１０】
また、前記所定単位は、ライン単位とすることができる。ライン単位で下地除去閾値を設定することで、下地除去閾値決定処理を一層高速に行なうことができる。
【００１１】
この場合、前記下地除去手段は、前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値との合計値と、前のラインの下地除去閾値とを、両者の比重を定める係数を用いて重み付けして足し合わせることで前記読込んだラインにおける下地除去閾値を決定し、白から前記下地除去閾値までの濃度の画素を除去することができる。これにより、ラインごとに下地除去閾値が大きく変動してしまうことを防ぐことができる。
【００１２】
上記課題を解決するため、本発明の第２の態様である下地除去方法は、原稿を読み取って得られた画像データを所定単位で読込んで、濃度ごとの画素数を示すヒストグラムを作成するヒストグラム作成ステップと、前記ヒストグラムのハイライト側の極大値に基づいて、前記原稿の下地濃度を推定する下地濃度推定ステップと、前記推定された下地濃度に対応する画素数の全画素数に対する割合が大きいほど、小さくなる傾向で下地除去基準値を設定する下地除去基準値設定ステップと、前記推定された下地濃度と前記設定された下地除去基準値とに基づいて、前記読込んだ所定単位の画像データの下地を除去する下地除去ステップとを含む。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、簡易な処理で高速に下地除去閾値を決定できる画像処理装置および下地除去方法が提供される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本発明に係る画像処理装置の一形態である画像読取装置１０のハードウェア構成を示すブロック図である。本図に示すように画像読取装置１０は、コントローラ２０と画像読取機構３０とを備えており、画像読取機構３０で読み取った原稿の画像データから原稿の下地を除去して外部装置に出力する処理を行なう。
【００１５】
コントローラ２０は、ＣＰＵ２１、ＲＯＭ２２、ＲＡＭ２３、インタフェース２４を備えている。ＣＰＵ２１がＲＯＭ２２に記録されたプログラムにしたがって処理を行なうことで、画像読取機構３０の原稿読取動作を制御するとともに、読み取った画像データから原稿の下地を除去する画像処理を行なう。ＲＡＭ２３は、この際の作業領域として用いられる。インタフェース２４はＵＳＢ等の所定のプロトコルを用いて外部装置と通信を行なう。
【００１６】
画像読取機構３０は、受光素子であるＣＣＤ、光源、原稿台、原稿台カバー、ＣＣＤを走査させる駆動モータ、ＣＣＤの出力信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータ等を備えており、原稿台に載置された原稿に光を照射し、その反射光をＣＣＤで読み取ることにより、原稿の画像データを取得する。原稿台カバーは、原稿台に載置された原稿を押さえるとともに外光を遮断する役割を担っており、ＣＣＤの読取り範囲よりも原稿が小さい場合に画像データへの影響を少なくするために原稿台側は白色となっている。また、原稿台カバーにオートシードフィーダ機能を備えさせるようにしてもよい。
【００１７】
図２は、本実施形態に係る画像読取装置１０の下地除去処理に関する処理機能部を説明するブロック図である。本図に示すように画像読取装置１０には、画像読取部１１０、画像データ格納部１２０、下地除去閾値設定部１３０、下地除去部１４０、画像出力部１５０が形成される。これらの処理機能部は、図１に示したコントローラ２０、画像読取機構３０の各部が、単体で、あるいは協同的に処理を行なうことで、ソフトウェア的あるいはハードウェア的に実現される。
【００１８】
画像読取部１１０は、原稿台に載置された原稿を読み取って画像データを生成する。画像データ格納部１２０は、画像読取部１１０が読み取った画像データを記憶する。また、画像データから下地を除去する際の作業領域としても用いられる。下地除去閾値設定部１３０は、画像データ格納部１２０から画像データを１ラインずつ読み取って、そのラインにおける下地除去閾値を設定する。すなわち、本実施形態では、下地除去閾値はライン単位で定められ、ライン単位で下地除去が行なわれるようにしている。このため、高速に下地除去を行なうことができる。下地除去部１４０は、下地除去閾値設定部１３０が設定した下地除去閾値に基づいて画像データ格納部１２０に格納された画像データから下地除去をライン単位で行なう。画像出力部１５０は、下地が除去された画像データを外部装置に出力する。
【００１９】
図３は、下地除去閾値設定部１３０の詳細な構成を示すブロック図である。本図に示すように下地除去閾値設定部１３０は、ヒストグラム作成部１３１、ヒストグラム平滑部１３２、下地濃度Ｄ推定部１３３、下地濃度Ｄ画素数正規化部１３４、下地除去基準値α設定部、下地除去閾値決定部１３６、下地除去閾値初期値記憶部１３７、前ライン下地除去閾値記憶部１３８を備えている。
【００２０】
ヒストグラム作成部１３１は、画像データ格納部１２０に格納されている画像データを１ラインごとに読み取ってヒストグラムを作成する。すなわち、１ページ分ではなく１ライン分の画素値を対象としたヒストグラムを作成する。
【００２１】
ヒストグラムは、例えば、読み取った画像データの各画素値を輝度データに変換して作成してもよいが、ここでは、ＲＧＢデータのうち、輝度データに近いＧ（グリーン）データの値でヒストグラムを作成するものとする。各画素についてＧが８ビットで表わされているとすると、横軸が０〜２５５の濃度を表わし、縦軸が画素数を表わすヒストグラムとなる。画素の総数は、１ラインを構成する画素数に等しい。ここで、濃度は０が最も薄い状態（ハイライト）を表わし、２５５が最も濃い状態（シャドー）を表わしている。図４（ａ）は、８ビット入力のヒストグラムの一例を示している。
【００２２】
ヒストグラム平滑部１３２は、ヒストグラム作成部１３１が作成した８ビット入力のヒストグラムの山を平滑化する。ここでは、図４（ｂ）に示すように、８ビットデータの上位５ビットを用いてヒストグラムを再構成することで平滑化を行なう。後述するように、本実施形態では、ヒストグラムの最もハイライト側の山（極大値）を検出して下地濃度を推定する。このため、ヒストグラムのアップダウン変化が敏感だと、下地濃度が誤検出されるおそれがあるからである。また、５ビットとしたのは、入力８ビットの２５５段階に対して８刻みの３２段階の精度となり、実際上十分な平滑化ができることと、２５５段階に対する８程度の誤差は実際上問題ないと考えられるからである。一方、上位６ビットの４刻みにすると、十分な平滑化ができなくなり、上位４ビットの１６刻みとすると下地濃度として誤差が大きくなると考えられる。
【００２３】
下地濃度Ｄ推定部１３３は、平滑化されたヒストグラムに基づいて下地濃度Ｄを推定する。基本的には、ヒストグラムのハイライト側から最初の山（極大値）に対応する濃度を下地濃度Ｄと推定する。このため、簡易な処理で下地濃度Ｄを推定することができる。例えば、図５（ａ）に示すような、下地濃度が薄く白に近い原稿から得られたヒストグラムにおいて、最初の山であるＰｋ１に対応する濃度を下地濃度Ｄと推定する。また、図５（ｂ）に示すような、新聞等の下地が濃い原稿から得られたヒストグラムにおいても、最初の山であるＰｋ２に対応する濃度を下地濃度Ｄと推定する。
【００２４】
しかしながら、図５（ｃ）に示すように画素数が少ない山（Ｐｋ１）ができてしまった場合に、Ｐｋ１に対応する濃度を下地濃度Ｄと誤判定してしまうことになる。そこで、図５（ｄ）に示すように、画素数の閾値Ｔｈを定めて、閾値Ｔｈ以下の画素数は山として認識しないようにすることで誤判定を防ぐようにする。この場合、ハイライト側から閾値Ｔｈを最初に超えたＰｋ２が山として検出されることになる。
【００２５】
ところで、原稿がＣＣＤの読取範囲よりも小さい場合等には、画像データは原稿台カバーの画像を含むことになる。原稿台カバーの画像が画像データに含まれると、ヒストグラムにおいて原稿台カバーの色に対応する濃度の画素数が多くなる。原稿台カバーは、読み取った画像データへの影響を少なくするために白色をしているので、図５（ｅ）に示すようにハイライト側に閾値Ｔｈを超える山ができる場合がある。この山は、原稿の下地とは無関係であるため、検出対象から外す必要がある。
【００２６】
そこで、図５（ｆ）に示すように、画素数の閾値としてＴｈ１、Ｔｈ２（ただし、Ｔｈ１＞Ｔｈ２）の２つ用意して、原稿台カバーの色に対応するハイライト側からＷｔの範囲は、閾値Ｔｈ１を適用し、それ以外の範囲は閾値Ｔｈ１より小さい値の閾値Ｔｈ２を適用するものとする。これにより、原稿台カバーの色に基づくＰｋ１が山として認識されずに、ハイライト側から閾値Ｔｈ２を最初に超えたＰｋ２が山として検出されることになる。
【００２７】
ここで、閾値Ｔｈは、ヒストグラムの総画素数に対するパーセンテージで指定することができる。例えば、閾値Ｔｈを全画素に対するｎ％として指定する場合、閾値Ｔｈ＝（１ラインの画素数×ｎ）／１００で求めることができる。ただし、どのようなｎを用いるかについては、閾値Ｔｈ１、閾値Ｔｈ２ごとに実験的に定めておくようにする。また、閾値Ｔｈ１を適用する幅Ｗｔについても、原稿台カバーの色等に基づいてあらかじめ設定しておくようにする。
【００２８】
なお、下地濃度Ｄ推定部１３３は、図６に示すように閾値を超える山が検出できないときは、下地濃度Ｄが検出できない旨を下地除去閾値決定部１３６に出力する。後述するように、閾値を超える山が検出できないラインは、前ラインと同じ下地除去値を用いて下地除去を行なう（図１０処理Ｓ１０８参照）。このため、下地濃度Ｄが検出できなかったラインについてはその旨を下地除去閾値決定部１３６に出力するようにしている。
【００２９】
下地濃度Ｄ画素数正規化部１３４は、下地濃度Ｄ推定部１３３により推定された下地濃度Ｄに対応する画素数を正規化する。１ラインに含まれる画素数は、解像度、原稿幅に応じて変わるため、下地削除量を定めるにあたり下地濃度Ｄに対応する画素数を正規化しておく。ここでは、以下の式により、画素数を０〜１０００の範囲で正規化するものとする。すなわち、正規化下地濃度Ｄ画素数＝下地濃度Ｄ画素数×１０００／１ラインに含まれる画素数とする。
【００３０】
下地除去基準値α設定部１３５は、下地濃度Ｄに対して下地除去閾値の基準となる下地除去基準値αを設定する。ここで、下地除去基準値αは、図７（ａ）、図７（ｂ）に示すように、下地濃度Ｄからシャドー側に広げた量である。下地濃度Ｄに下地除去基準値αを加えた値（下地濃度Ｄ＋α）がそのラインの仮下地除去閾値となる。仮としたのは、後述するように最終的な下地除去閾値は、前のラインの下地除去閾値との関係で定められるからである。ただし、処理を一層簡素化するために、下地濃度Ｄに下地除去基準値αを加えた値（下地濃度Ｄ＋α）をそのラインの下地除去閾値としてもよい。
【００３１】
ここで、下地除去基準値αは、正規化下地濃度Ｄ画素数が大きいほど小さくなり、正規化下地濃度Ｄ画素数が小さいほど大きくなる傾向をもつように定める。一般に、正規化下地濃度Ｄ画素数が大きいほど、図７（ａ）に示すように、山の先鋭度が高くなり下地濃度のブレが少なく、正規化下地濃度Ｄ画素数が小さいほど、図７（ｂ）に示すように、山の先鋭度が低くなり下地濃度のブレが大きくなると考えられるからである。
【００３２】
図８は、下地除去基準値αの設定方法の一例を示す図である。本例では、正規化下地濃度Ｄ画素数に応じて下地除去基準値αが定められる関数を用いている。この関数は、正規化下地濃度Ｄ画素数がｘ１未満の場合は、下地除去基準値αはｙ１となり、正規化下地濃度Ｄ画素数がｘ２以上の場合は、下地除去基準値αはｙ２となり（ただし、ｘ１＜ｘ２、ｙ１＞ｙ２）、正規化下地濃度Ｄ画素数がｘ１以上ｘ２未満の場合は、下地除去基準値αが（（ｙ２−ｙ１）×正規化下地濃度Ｄ画素数＋ｙ１×ｘ２−ｙ２×ｘ１）／（ｘ２−ｘ１）となるように定められている。ここで、ｘ１、ｘ２、ｙ１、ｙ２は、開発段階において実験的に定めておくようにする。
【００３３】
下地除去閾値決定部１３６は、そのラインＮの仮下地除去閾値（下地濃度Ｄ＋α）と、前のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ−１）とから、そのラインＮの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）を決定する。なお、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）は、８ビットあるいは５ビットのＧデータの濃度で定められ、その濃度以下の画素が下地除去部１４０によって除去されることになる。すなわち、平滑化前のヒストグラムを用いてもよいし、平滑化後のヒストグラムを用いてもよい。
【００３４】
前のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ−１）は、前ライン下地除去閾値記憶部１３８に記憶されている。ただし、１行目のラインの場合は、その前のラインの下地除去閾値が存在しないため、下地除去閾値初期値記憶部１３７に格納された初期値をＣｕｔ（０）として用いて下地除去閾値Ｃｕｔ（１）を決定する。このため、下地除去閾値初期値記憶部１３７には、あらかじめ下地除去閾値の標準的な初期値を格納しておく。ただし、下地除去閾値初期値記憶部１３７を用いずに、１行目のラインの仮下地除去閾値だけを用いて、下地除去閾値Ｃｕｔ（１）を決定するようにしてもよい。
【００３５】
具体的には、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）は、以下の式で決定するものとする。すなわち、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）＝（１−Ｗ）×（下地濃度Ｄ＋α）＋Ｗ×Ｃｕｔ（Ｎ−１）とする。ここで、（下地濃度Ｄ＋α）は、そのラインＮの仮下地除去閾値であるから、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）は、重み係数Ｗを用いて、そのラインの仮下地除去閾値と、前のラインの下地除去閾値とを、それぞれ（１−Ｗ）とＷとで重み付けして足し合わせた値となる。
【００３６】
すなわち、Ｗが大きいほど、前のラインの下地除去閾値の影響が大きく、Ｗが小さいほど、そのラインの仮下地除去閾値の影響が大きくなる。本実施形態では、原稿の読み始めほど、そのライン自身の影響が比較的大きく、その後は、前のラインの下除去閾値の影響が大きくなるようにＷを設定するものとする。これにより、下地除去閾値がラインごとに急激に変化しないようにしている。また、読み始めのラインは原稿の端であるため下地部分が多く、下地濃度Ｄの推定精度が高いことが期待されるため、そのライン自身の影響を大きくしている。そして、下地濃度Ｄの推定精度が落ちるおそれのある中間部では、読み始めの部分の影響が大きくなるようにしている。
【００３７】
具体的には、図９に示すようなＷを用いるものとする。本図の例では、読み始めの第１ラインをＷ＝０．５とし、Ｂ行目のラインがＷ＝１．０となるように漸次Ｗが増加し、その後は、Ｗ＝１．０となるように定められている。この０行目からＢ行目までのＢａｓｅ部分のライン数は、設計段階において実験的に定めておくようにする。
【００３８】
なお、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）が過度に大きくなることを防ぐために、下地除去閾値の閾値ＴｈＣを定めておき、算出されたＣｕｔ（Ｎ）がＴｈＣを超える場合は、下地除去閾値をＴｈＣとするようにする。
【００３９】
次に、本実施形態の下地除去閾値設定部１３０における下地除去閾値設定処理の流れについて図１０のフローチャートを参照して説明する。まず、処理対象のラインＮとして１を設定する（Ｓ１０１）。そして、画像データのＮ行目のラインを画像データ格納部１２０から読込む（Ｓ１０２）。そして、読込んだ画像データに基づいてヒストグラムを作成する（Ｓ１０３）。上述のように、本実施形態では８ビットで示されたＧの値を用いてヒストグラムを作成するものとする。
【００４０】
次いで、下地濃度Ｄの推定を行なう（Ｓ１０４）。図１１は、下地濃度Ｄ推定処理（Ｓ１０４）を説明するフローチャートである。下地濃度Ｄ推定処理（Ｓ１０４）では、まず、ヒストグラムの平滑化を行なう（Ｓ１０４１）。ヒストグラムの平滑化では、上述のように、８ビットのうち上位５ビットを用いてヒストグラムを再構成する。
【００４１】
平滑化されたヒストグラムに対して、図５（ｆ）に示したような濃度範囲別に異なる値を有する閾値を適用する（Ｓ１０４２）。具体的には、ハイライト側に閾値Ｔｈ１を設定し、それ以外にＴｈ１より低い閾値Ｔｈ２を設定する。
【００４２】
そして、この閾値を超えるハイライト側の最初の山を検出する（Ｓ１０４３）。検出された場合（Ｓ１０４３：Ｙｅｓ）はその山に対応する濃度を下地濃度Ｄと推定し（Ｓ１０４４）、検出されなかった場合（Ｓ１０４３：Ｎｏ）は、下地濃度Ｄ推定失敗（Ｓ１０４５）とする。
【００４３】
下地濃度Ｄ推定処理（Ｓ１０４）の結果、下地濃度Ｄが推定された場合（Ｓ１０５：Ｙｅｓ）は、下地除去基準値αを設定する（Ｓ１０６）。下地除去基準値αの設定では、下地濃度Ｄに対応する画素数を正規化し、図８に示したようなあらかじめ定められた関数にしたがって下地除去基準値αを設定する。上述のように下地除去基準値αは、正規化下地濃度Ｄ画素数が大きいほど小さくなり、正規化下地濃度Ｄ画素数が小さいほど大きくなる傾向をもつように定められている。
【００４４】
下地除去基準値αを設定すると、Ｎ行目のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）を算出する（Ｓ１０７）。Ｎ行目のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）は、Ｎ行目のラインの仮下地除去閾値（下地濃度Ｄ＋α）とＮ−１行目のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ−１）とに基づいて定められる。この際の比重は重み係数Ｗによって定められる。係数Ｗは、原稿の読始め部分は、Ｎ行目ラインの仮下地除去閾値（下地濃度Ｄ＋α）の比重が比較的大きく、以降はＮ−１行目のラインの下地カット量の比重が大きくなるように定められている。ただし、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）は所定の閾値ＴｈＣを超えないように定められる。
【００４５】
一方、下地濃度Ｄ推定処理の結果、下地濃度Ｄが推定できなかった場合（Ｓ１０５：Ｎｏ）は、Ｎ−１行目のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ−１）をＮ行目の下地除去閾値として設定する（Ｓ１０８）。
【００４６】
Ｎ行目のラインの下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）が決定すると、決定された下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）で、前ライン下地除去閾値記憶部１３８を更新する（Ｓ１０９）。そして、決定された下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）を下地除去部１４０に通知して、下地除去部１４０がＮ行目のラインの下地除去を実行する（Ｓ１１０）。下地除去では、下地除去閾値Ｃｕｔ（Ｎ）以下の濃度の画素が除去される。
【００４７】
未処理のラインがある場合には（Ｓ１１１：Ｎｏ）、Ｎ＝Ｎ＋１として（Ｓ１１２）、次のラインに対する処理を行なう。全てのラインに対する下地除去処理を終えると（Ｓ１１１：Ｙｅｓ）、本処理を終了する。
【００４８】
以上説明したように、本実施形態によれば、簡易な処理で高速に下地除去閾値を決定できる画像処理装置が提供される。簡易な処理で下地除去閾値を決定できるため、下地除去処理に費やすＣＰＵ２１の負荷が少なくなり、他の処理に負荷を割り当てることができるようになる。また、高速に下地除去閾値を決定できるため、本実施形態に示したように１ライン毎に下地除去量を求める場合など、高速性が要求される場面に特に有効である。さらに、下地除去処理に関する処理機能部をハードウェアで実現する場合には、小規模かつ簡単な回路構成とすることができるため、開発期間および評価工数を削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】画像読取装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図２】画像読取装置の下地除去処理に関する処理機能部を説明するブロック図である。
【図３】下地除去閾値設定部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図４】ヒストグラムの平滑化について説明する図である。
【図５】下地濃度Ｄの検出について説明する図である。
【図６】下地濃度Ｄが検出できない例を示す図である。
【図７】下地除去基準値αについて説明する図である。
【図８】下地除去基準値αの設定方法について説明する図である。
【図９】重み係数Ｗを説明する図である。
【図１０】下地除去閾値設定部の下地除去閾値設定処理について説明するフローチャートである。
【図１１】下地濃度Ｄ推定処理を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００５０】
１０…画像読取装置、２０…コントローラ、２１…ＣＰＵ、２２…ＲＯＭ、２３…ＲＡＭ、２４…インタフェース、３０…画像読取機構、１１０…画像読取部、１２０…画像データ格納部、１３０…下地除去閾値設定部、１３１…ヒストグラム作成部、１３２…ヒストグラム平滑部、１３３…下地濃度Ｄ推定部、１３４…下地濃度Ｄ画素数正規化部、１３５…下地除去基準値α設定部、１３６…下地除去閾値決定部、１３７…下地除去閾値初期値記憶部、１３８…前ライン下地除去閾値記憶部、１４０…下地除去部、１５０…画像出力部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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