(57)【要約】【課題】光学測定のみによって表示パネルにおける画素毎の輝度を正確に測定すること。【解決手段】輝度測定装置４０のＣＣＤカメラ４１で、ＥＬディスプレイパネル１の表示部３０を撮像して得られた画像信号から、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓ毎の輝度値を有する輝度データを取得し、その取得した輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分して輝度順に並べた後、その高輝度側から所定数（具体的には、全画素数に対する画素Ｐの開口率以下に相当する数）の輝度データを抽出して、抽出した輝度データに基づいて各画素Ｐの輝度値を算出するようにして、出射領域Ｒ１と非出射領域Ｒ２とからなる画素Ｐにおける出射領域Ｒ１のみに対応する輝度値を確実に測定することを可能にした。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示データの階調値に応じた輝度の光が視野側に出射される出射領域と、光が出射されない非出射領域とを有する画素が複数配列された表示領域を備える表示パネルを、前記複数の画素の配列間隔より狭い間隔で複数の撮像点がマトリクス状に配列された撮像素子で撮像することによって前記各画素の輝度を測定する輝度測定方法であって、
全ての前記画素の前記出射領域から前記表示データの階調値に応じた輝度の光を出射させて、前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を、前記撮像素子で前記視野側から撮像し、前記撮像点毎の輝度値を有する輝度データを取得するステップと、
取得した前記撮像点毎の前記輝度データにおける前記各画素に対応する画素対応領域毎の前記各撮像点の前記輝度データを、輝度値毎に昇順或いは降順に並べるステップと、
前記画素対応領域毎の前記輝度値毎に並べられた前記輝度データの高輝度側から、予め設定された所定数の前記輝度データを抽出するステップと、
前記画素対応領域毎に抽出された高輝度側の前記輝度データに基づいて前記各画素の輝度値を算出するステップと、
を有することを特徴とする表示パネルの輝度測定方法。
【請求項２】
前記輝度データの高輝度側から所定数の輝度データを抽出するステップにおいて、前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合以下となる数であることを特徴とする請求項１に記載の表示パネルの輝度測定方法。
【請求項３】
前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域に対する前記出射領域の割合の５０％以下となる数であることを特徴とする請求項２に記載の表示パネルの輝度測定方法。
【請求項４】
前記所定数は、一つの前記画素の前記出射領域に含まれる前記撮像点の数から前記非出射領域に隣接する位置に配置される前記撮像点を排除した数であることを特徴とする請求項１に記載の表示パネルの輝度測定方法。
【請求項５】
表示データの階調値に応じた輝度の光が視野側に出射される出射領域と、光が出射されない非出射領域とを有する画素が複数配列された表示領域を備える表示パネルの輝度測定装置であって、
前記複数の画素の配列間隔より狭い間隔で複数の撮像点がマトリクス状に配列されて、前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を撮像する撮像素子と、
全ての前記画素の前記出射領域から前記表示データの階調値に応じた輝度の光を出射させた状態で、前記撮像素子で前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を撮像し、前記撮像点毎の輝度値を有する輝度データを取得する輝度値取得制御部と、
取得した前記撮像点毎の輝度データにおける前記各画素に対応する画素対応領域毎の前記撮像点の前記輝度データを輝度値毎に昇順或いは降順に並べる輝度値順列制御部と、
前記輝度値毎に並べられた前記輝度データの高輝度側から、予め設定された所定数の前記輝度データを抽出する輝度値抽出制御部と、
前記画素対応領域毎に抽出された高輝度側の前記輝度データに基づいて前記各画素の輝度値を算出する輝度値算出部と、
を備えることを特徴とする表示パネルの輝度測定装置。
【請求項６】
前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合以下となる数であることを特徴とする請求項５に記載の表示パネルの輝度測定装置。
【請求項７】
前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合の５０％以下となる数であることを特徴とする請求項６に記載の表示パネルの輝度測定装置。
【請求項８】
前記所定数は、一つの前記画素の前記出射領域に含まれる前記撮像点の数から前記非出射領域に隣接する位置に配置される前記撮像点を排除した数であることを特徴とする請求項５に記載の表示パネルの輝度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネルの輝度測定方法及び表示パネルの輝度測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬ（Electro Luminescence）素子は、アノードとカソードとの間に電子注入層、有機化合物層、正孔注入層が介在した積層構造を成している発光素子である。アノードとカソードの間に順バイアス電圧が印加されると、電子注入層から有機化合物層に電子が注入され、正孔注入層から有機化合物層に正孔が注入され、有機化合物層内で電子と正孔が再結合を引き起こして有機化合物層が発光する。そして、それぞれ赤、緑、青に発光する複数の有機ＥＬ素子をサブピクセル（画素）として基板上にマトリクス状に配列し、画像表示を行うＥＬディスプレイパネルが実現化されている。
【０００３】
ＥＬディスプレイパネルにおける赤、緑、青の画素に異なる有機化合物層の原料を含む溶液を塗布し溶媒を除去することで、赤、緑、青の画素毎に異なる有機化合物層を形成することができる。塗布により有機化合物層を形成する場合、有機化合物層の厚さを均一にすることが難しく、層の厚さの違いに起因した輝度ムラや色度ムラが生じやすい。
【０００４】
そのため、ＥＬディスプレイパネルにおける画素毎の輝度ムラの情報を取得し、それによって輝度ムラを補正するように有機ＥＬ素子を駆動する方式が開発されている。
この画素毎の輝度ムラの情報を取得する方法として、ＥＬディスプレイパネルをＣＣＤ（Charge Coupled Device）で光学測定することによって輝度ムラの情報を取得しようとした場合には、ＥＬディスプレイパネルの各画素の配置間隔とＣＣＤの各撮像素子の配置間隔との関係でモアレと呼ばれる撮像ノイズが発生することがあり、更に、ＣＣＤの各撮像素子とＥＬディスプレイパネルの各画素との僅かな位置ずれによってモアレの状態が変化するため、光学測定のみで正確な輝度ムラを検出することが難しかった。そのため、例えば、光学測定と電流測定を併用し、ＣＣＤによる光学測定によって輝度ムラのあるエリアを特定し、特定されたエリア内の画素毎の電流を測定することで、画素毎の正確な輝度ムラの情報を取得するようにした技術がある（例えば、特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１８８７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述のように、従来の光学測定ではＥＬディスプレイパネルにおける画素毎の輝度を正確に測定することが困難であったため、画素毎の輝度ムラを正確に測定するためには、例えば画素毎の電流測定を併用する必要があり、多大の手間と時間がかかっていた。
しかも、画素毎の電流値は、画素に含まれるトランジスタや有機ＥＬ素子の素子特性の変動の影響を受けるため、画素毎の輝度値に対応しているとは限らない。このため、光学測定に電流測定を併用したとしても、正確な輝度ムラの情報を得ることができないことがあった。
また、表示パネルの画面全体に輝度ムラがあると、表示パネル上の全画素の電流測定をしなければならず、その処理に膨大な時間を要してしまうことがあるという問題があった。
【０００７】
本発明の目的は、光学測定のみによって表示パネルにおける画素毎の輝度を正確に測定することができるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
以上の課題を解決するため、本発明の一の態様は、
表示データの階調値に応じた輝度の光が視野側に出射される出射領域と、光が出射されない非出射領域とを有する画素が複数配列された表示領域を備える表示パネルを、前記複数の画素の配列間隔より狭い間隔で複数の撮像点がマトリクス状に配列された撮像素子で撮像することによって前記各画素の輝度を測定する輝度測定方法であって、
全ての前記画素の前記出射領域から前記表示データの階調値に応じた輝度の光を出射させて、前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を、前記撮像素子で前記視野側から撮像し、前記撮像点毎の輝度値を有する輝度データを取得するステップと、
取得した前記撮像点毎の前記輝度データにおける前記各画素に対応する画素対応領域毎の前記各撮像点の前記輝度データを、輝度値毎に昇順或いは降順に並べるステップと、
前記画素対応領域毎の前記輝度値毎に並べられた前記輝度データの高輝度側から、予め設定された所定数の前記輝度データを抽出するステップと、
前記画素対応領域毎に抽出された高輝度側の前記輝度データに基づいて前記各画素の輝度値を算出するステップと、
を有することを特徴としている。
好ましくは、前記輝度データの高輝度側から所定数の輝度データを抽出するステップにおいて、前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合以下となる数である。
また、好ましくは、前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域に対する前記出射領域の割合の５０％以下となる数である。
また、好ましくは、前記所定数は、一つの前記画素の前記出射領域に含まれる前記撮像点の数から前記非出射領域に隣接する位置に配置される前記撮像点を排除した数である。
【０００９】
また、本発明の他の態様は、
表示データの階調値に応じた輝度の光が視野側に出射される出射領域と、光が出射されない非出射領域とを有する画素が複数配列された表示領域を備える表示パネルの輝度測定装置であって、
前記複数の画素の配列間隔より狭い間隔で複数の撮像点がマトリクス状に配列されて、前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を撮像する撮像素子と、
全ての前記画素の前記出射領域から前記表示データの階調値に応じた輝度の光を出射させた状態で、前記撮像素子で前記表示パネルの前記表示領域の全範囲を撮像し、前記撮像点毎の輝度値を有する輝度データを取得する輝度値取得制御部と、
取得した前記撮像点毎の輝度データにおける前記各画素に対応する画素対応領域毎の前記撮像点の前記輝度データを輝度値毎に昇順或いは降順に並べる輝度値順列制御部と、
前記輝度値毎に並べられた前記輝度データの高輝度側から、予め設定された所定数の前記輝度データを抽出する輝度値抽出制御部と、
前記画素対応領域毎に抽出された高輝度側の前記輝度データに基づいて前記各画素の輝度値を算出する輝度値算出部と、
を備えることを特徴としている。
好ましくは、前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合以下となる数である。
また、好ましくは、前記所定数は、前記画素対応領域毎の前記輝度データの全数に対する前記所定数の割合が、前記画素の全領域中の前記出射領域の割合の５０％以下となる数である。
また、好ましくは、前記所定数は、一つの前記画素の前記出射領域に含まれる前記撮像点の数から前記非出射領域に隣接する位置に配置される前記撮像点を排除した数である。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、光学測定のみによって表示パネルにおける画素毎の輝度を正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】ＥＬディスプレイパネルを示す概略図である。
【図２】ＥＬディスプレイパネルの表示部を示す説明図である。
【図３】ＥＬディスプレイパネルの一画素に相当する駆動回路を示す回路図である。
【図４】輝度測定装置を示す説明図である。
【図５】ＥＬディスプレイパネルの表示部の各領域に対応するＣＣＤの撮像点に関する説明図である。
【図６】表示部における画素部分の拡大図であり、画素中の出射領域内に対応しつつ非出射領域に隣接する撮像点を排除した、開口部中央側の撮像点に関する説明図である。
【図７】長さ「Ｌ」の範囲に「ｎ」個の撮像点が入る状態を示し、その範囲に最も多くの撮像点が入る場合（ａ）と、その範囲に最も少なく撮像点が入る場合（ｂ）についての説明図である。
【図８】輝度測定における本発明における効果を説明するための図である。
【図９】輝度測定装置において行うＥＬディスプレイパネルの輝度測定の処理の流れを示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本発明を実施するための好ましい形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい種々の限定が付されているが、発明の範囲を以下の実施形態及び図示例に限定するものではない。
【００１３】
図１は表示パネルであるＥＬディスプレイパネル１を示す概略図であり、図２はＥＬディスプレイパネル１の表示部３０を示す説明図であり、図３はＥＬディスプレイパネル１の一画素（１ピクセル）内に設けられる駆動回路１２の一例を示す回路図である。なお、実際には、より多くの行数及び列数分の画素が配列されている。
このＥＬディスプレイパネル１は、アクティブマトリクス駆動方式で動作するカラーディスプレイである。
【００１４】
ＥＬディスプレイパネル１は、例えば、図１に示すように、複数の画素がマトリクス状に配列されてなる表示部３０と、表示部３０外に設けられた制御部２０と、表示部３０の図中左側に設けられた走査ドライバ２２と、表示部３０の図中上側に設けられたデータドライバ２３と、表示部３０の図中右側に設けられた供給ドライバ２４とを備えている。
制御部２０はメモリ２１を備え、外部から入力される映像信号に所定の処理をした後、走査ドライバ２２、データドライバ２３及び供給ドライバ２４に信号を出力する。メモリ２１には、制御部２０による入力信号の処理に必要なパラメータ等が保存されている。
【００１５】
このＥＬディスプレイパネル１の表示部３０には、走査ドライバ２２から引き出された複数の走査線２と、データドライバ２３から引き出された複数の信号線３と、供給ドライバ２４から引き出された複数の供給線４とが配されている。
走査線２は互いに平行となるよう配列され、信号線３は走査線２と直交するよう配列され、供給線４は隣り合う走査線２の間において走査線２と平行になるように配列されている。
【００１６】
また、表示部３０は、図２に示すように、出射領域Ｒ１と、その出射領域Ｒ１の周囲を囲う非出射領域Ｒ２とを有する画素Ｐがマトリクス状に配列されてなる表示領域である。
図１における走査線２と信号線３と供給線４とによって囲まれた略矩形領域が図２における画素Ｐに相当している。非出射領域Ｒ２は画素Ｐ間に設けられる隔壁Ｂや、画素内の駆動回路を構成する薄膜トランジスタや配線領域からなる。隔壁Ｂ等によって囲われてなる略矩形状の開口部が出射領域Ｒ１である。この開口部内に所定の発光層（例えば、電子注入層、有機化合物層、正孔注入層などからなる積層体）が成膜されて出射領域Ｒ１となる。
なお、隣接する画素Ｐの開口部内に「赤、緑、青」の３色の発光層が成膜されてなる複数の画素Ｐがマトリクス状に配列されて、その隣接する「赤、緑、青」の３色の画素Ｐが組を成し、表示画素の１単位となる。
【００１７】
駆動回路１２は、例えば、図３示すように、薄膜トランジスタ５，６，７及びキャパシタ８を有し、当該回路に接続されている有機ＥＬ素子１０を駆動する。以下、薄膜トランジスタ５をスイッチトランジスタ５と称し、薄膜トランジスタ６を保持トランジスタ６と称し、薄膜トランジスタ７を駆動トランジスタ７と称する。また、有機ＥＬ素子１０は、アノードとカソードとの間に所定の発光層が介在する積層構造を成す発光素子である。
【００１８】
それぞれの画素Ｐでは、スイッチトランジスタ５のゲートが走査線２に接続され、スイッチトランジスタ５のドレインとソースのうちの一方が信号線３に接続され、スイッチトランジスタ５のドレインとソースのうちの他方が有機ＥＬ素子１０のアノード、キャパシタ８の一方の電極８２及び駆動トランジスタ７のソースとドレインのうちの一方に接続されている。駆動トランジスタ７のソースとドレインのうちの他方が供給線４に接続され、駆動トランジスタ７のゲートがキャパシタ８の他方の電極８１及び保持トランジスタ６のドレインとソースのうちの一方に接続されている。保持トランジスタ６のドレインとソースのうちの他方が供給線４に接続され、保持トランジスタ６のゲートが走査線２に接続されている。
【００１９】
全ての画素Ｐにおける有機ＥＬ素子１０はカソードを共通電極とし、カソードが例えば接地されることにより一定電圧Ｖcomに保たれている。有機ＥＬ素子１０の発光色については、例えば、同一の行の有機ＥＬ素子１０は赤、緑、青の順に配列され、同一の列の有機ＥＬ素子１０は同じ色となっている。
【００２０】
そして、ＥＬディスプレイパネル１の周囲において走査線２が走査ドライバ２２に接続され、供給線４が供給ドライバ２４に接続され、信号線３がデータドライバ２３に接続され、これらドライバによってＥＬディスプレイパネル１がアクティブマトリクス駆動方式で駆動される。
【００２１】
次に、ＥＬディスプレイパネル１の輝度を測定する輝度測定装置について説明する。
【００２２】
輝度測定装置４０は、図４に示すように、ＥＬディスプレイパネル１を撮像するＣＣＤカメラ４１と、ＣＣＤカメラ４１に接続されたコンピュータ４２とを備えている。なお、コンピュータ４２は、ＥＬディスプレイパネル１の制御部２０にも接続されている。
【００２３】
ＣＣＤカメラ４１は、撮像素子であるＣＣＤ４１ａを備え、ＥＬディスプレイパネル１の表示部３０の全範囲を撮像するように、その表示部３０に対向して配置されており、撮像した画像信号をコンピュータ４２に出力する。このＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａには、複数の撮像点Ｓがマトリクス状に配列されている。そして、ＣＣＤカメラ４１でＥＬディスプレイパネル１の表示部３０の全範囲を撮像した場合、図５に示すように、表示部３０の全範囲に亘って各撮像点Ｓが対応するポイントにおける、複数の輝度データを取得することが可能になっている。なお、ＣＣＤ４１ａの撮像点Ｓの間隔は、表示部３０の画素Ｐの間隔よりも短いものであり、撮像点Ｓは画素Ｐ中の出射領域Ｒ１および非出射領域Ｒ２に相当する部分に対応し、各領域の輝度データを取得することとなる。
【００２４】
ここで、ＣＣＤカメラ４１とＥＬディスプレイパネル１の表示部３０とは、例えば表示部３０に予め設定された基準点をＣＣＤカメラ４１で撮像する等の方式を用いることによって、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａの各撮像点Ｓと表示部３０の各画素Ｐとが一定の位置関係になるように位置決めされている。なお、後述するように、本発明における輝度測定方法においては、各画素Ｐの輝度値を求めるのにＣＣＤ４１ａの各撮像点Ｓの座標を指定するのではなく、１画素Ｐに対応する輝度データ群から高輝度側の所定の個数の輝度データを抽出する方式としているため、ＣＣＤ４１ａの各撮像点Ｓと表示部３０の各画素Ｐとの間に有る程度の位置ずれがあっても画素Ｐ毎の輝度値を正確に測定することが可能である。そのため、ＣＣＤ４１ａの各撮像点Ｓと各画素Ｐとの位置決め精度は比較的低くてもよい。
コンピュータ４２は、各種データやプログラムが記憶されるメモリ４２ａと、各種処理を実行する制御処理部４２ｂとを備えている。
【００２５】
メモリ４２ａは、コンピュータ４２（制御処理部４２ｂ）における各種処理を実行するためのプログラムを格納するとともに、ＣＣＤカメラ４１で撮像された画像信号に基づく輝度データ（例えば、輝度値）を記録する。
制御処理部４２ｂは、メモリ４２ａに格納されたプログラムに基づき、輝度データに関する各種処理を実行する。
【００２６】
具体的に、制御処理部４２ｂは、例えば、輝度値取得制御プログラムに基づき、ＣＣＤカメラ４１により表示部３０を撮像して得られた画像信号から、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓ毎の複数の輝度データを取得する処理を実行し、輝度値取得制御部として機能する。
また、制御処理部４２ｂは、例えば、輝度値順列制御プログラムに基づき、取得した撮像点Ｓ毎の複数の輝度データを表示部３０の各画素Ｐに対応する領域（以下、画素対応領域Ｐｓとする）毎に区分する.ここで、ＣＣＤ４１ａの各撮像点Ｓと各画素Ｐとは上述のように位置決めされており、また、１画素Ｐの形状寸法は予め分かっているため、制御処理部４２ｂは撮像点Ｓ毎の輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分することが可能である。そして、制御処理部４２ｂは、画素対応領域Ｐｓ毎の撮像点Ｓの輝度データを、各輝度データの輝度値毎に、昇順或いは降順に並べる処理を実行し、輝度値順列制御部として機能する。
【００２７】
また、制御処理部４２ｂは、例えば、輝度値抽出制御プログラムに基づき、画素対応領域Ｐｓ毎の輝度値の順に並べられた輝度データの高輝度側から、所定数の輝度値を抽出する処理を実行し、輝度値抽出制御部として機能する。なお、ここでの所定数は、画素対応領域Ｐｓ毎に区分された輝度データの全数に対する、画素Ｐの全領域（Ｒ１及びＲ２）中の出射領域（Ｒ１）の割合以下となる数であり、例えば、画素Ｐの全領域に対する開口部である出射領域Ｒ１の割合（つまり、隔壁Ｂにおける開口部の開口率）の半分程度の数であることが好ましい。
【００２８】
また、制御処理部４２ｂは、例えば、輝度平均算出制御プログラムに基づき、画素Ｐ毎に抽出された高輝度側の輝度データの輝度値の平均値を算出する処理を実行し、輝度算出部として機能する。
そして、輝度算出部としての制御処理部４２ｂにより算出された輝度データの輝度値の平均値を各画素Ｐの輝度値とする。このように、ＥＬディスプレイパネル１（表示部３０）の全画素Ｐの輝度を測定する。
なお、上記において、制御処理部４２ｂは、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓ毎の複数の輝度データを取得した後、取得した撮像点Ｓ毎の複数の輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分するとしたが、この処理順序に限るものではなく、例えば、撮像点Ｓ毎の複数の輝度データを取得する時点で、画素対応領域Ｐｓ毎に輝度データを区分しながら、輝度データを取得するものであってもよい。
また、上記において、制御処理部４２ｂは、画素Ｐ毎に抽出された高輝度側の輝度データの輝度値の平均値を算出して、これを各画素Ｐの輝度値とすることとしたが、各画素Ｐの輝度値は、輝度データの輝度値の平均値に限るものではない。例えば、各輝度データの輝度値のバラツキが大きいときには、各輝度データの輝度値の中央値（メジアン）を用いるようにしてもよく、更に、他の統計処理手法に基づく演算方法によって算出された値を用いるようにしてもよい。
【００２９】
ここで、輝度値抽出制御部としての制御処理部４２ｂによって、画素Ｐ毎に並べられた全輝度値の高輝度側から輝度値を抽出する所定数を、画素Ｐの全領域（Ｒ１及びＲ２）中の出射領域（Ｒ１）の割合（開口率）以下となる数、特に、画素Ｐの全領域に対する開口部である出射領域Ｒ１の割合（開口率）の半分程度の数とすることについて考察する。
【００３０】
ＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓは画素Ｐ中の出射領域Ｒ１および非出射領域Ｒ２に相当する部分に対応しているので、画素対応領域Ｐｓ毎に輝度値の順に並べられた輝度データにおける高輝度側には、出射領域Ｒ１に対応した撮像点Ｓにより得られた、比較的高い輝度値を有する輝度データが選択的に並べられていることとなる。
そのため、全輝度値の高輝度側から出射領域Ｒ１の割合（開口率）以下となる数の輝度データを抽出すれば、出射領域Ｒ１に対応する輝度データを選択的に得ることができるといえる。具体的に例えば、全輝度データが１００個であって開口率が４０％の場合、高輝度側から４０個以下の輝度データを抽出すれば、その抽出した輝度データは理論上、出射領域Ｒ１に対応するものである。
但し、ＣＣＤカメラ４１による表示部３０の撮像範囲にずれがあったり、ＣＣＤ４１ａの撮像点Ｓ毎の輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分する際に誤差があったりすると、例えば、出射領域Ｒ１と非出射領域Ｒ２とに跨る撮像点Ｓにより得られた輝度データが高輝度側に含まれてしまう場合もあり、その結果、出射領域Ｒ１のみに対応する輝度値を確実に得ることができなくなる。そのため、出射領域Ｒ１のみに対応する輝度値を確実に得るためには、出射領域Ｒ１と非出射領域Ｒ２の境界付近に対応する撮像点Ｓに応じた輝度値を排除することが好ましい。
【００３１】
そして、例えば、図６に示すように、画素Ｐの全領域のサイズが「Ｘ×Ｙ」、その画素Ｐの出射領域Ｒ１のサイズが「Ａ×Ｂ」であり、ＣＣＤ４１ａの撮像点Ｓの間隔が「ｄ」であるとする。
【００３２】
また、例えば、長さ「Ｌ」の範囲に「ｎ」個の撮像点Ｓが入るとした場合、図７（ａ）に示すように、その範囲に最も多くの撮像点Ｓが入るとき、以下の式（１）、式（２）が成り立つ。
（ｎ−１）×ｄ＜Ｌ  …  式（１）
ｎ＜（Ｌ＋ｄ）／ｄ  …  式（２）
また、図７（ｂ）に示すように、その範囲に最も少なく撮像点Ｓが入るとき、以下の式（３）、式（４）が成り立つ。
Ｌ＜（ｎ＋１）×ｄ  …  式（３）
（Ｌ−ｄ）／ｄ＜ｎ  …  式（４）
【００３３】
この式（２）、式（４）に基づき、画素Ｐにおける出射領域Ｒ１に対応しつつ、非出射領域Ｒ２に隣接する撮像点Ｓを排除した撮像点Ｓ（図６中の白丸で示される撮像点Ｓ）の数「Ｎ」は、以下の式（５）、式（６）で表すことができる。
｛［（Ａ−ｄ）／ｄ］−２｝×｛［（Ｂ−ｄ）／ｄ］−２｝＜Ｎ  …  式（５）
Ｎ＜｛［（Ａ＋ｄ）／ｄ］−２｝×｛［（Ｂ＋ｄ）／ｄ］−２｝  …  式（６）
【００３４】
具体的に、Ｘ＝Ｙ＝１５０μｍ、Ａ＝Ｂ＝１００μｍ、ｄ＝１０μｍであるとすると、その撮像点Ｓの数（Ｎ）は、４９＜Ｎ＜８１である。
なお、同様に、画素Ｐに含まれる撮像点Ｓの全数（Ｎｐ）は、
｛［（Ｘ−ｄ）／ｄ］｝×｛［（Ｙ−ｄ）／ｄ］｝＜Ｎｐ＜｛［（Ｘ＋ｄ）／ｄ］｝×｛［（Ｙ＋ｄ）／ｄ］に基づき、１９６＜Ｎｐ＜２５６である。
つまり、画素Ｐの全領域に入る撮像点Ｓの数（Ｎｐ）が最小である１９６個に対し、出射領域Ｒ１内に対応しつつ、非出射領域Ｒ２に隣接する撮像点Ｓを排除した撮像点Ｓの数「Ｎ」の割合は、Ｎ＝４９個では２５％、Ｎ＝８１個では４１％に相当する。
また、画素Ｐの全領域に入る撮像点Ｓの数（Ｎｐ）が最大である２５６個に対し、出射領域Ｒ１内に対応しつつ、非出射領域Ｒ２に隣接する撮像点Ｓを排除した撮像点Ｓの数「Ｎ」の割合は、Ｎ＝４９個では１９％、Ｎ＝８１個では３２％に相当する。
そして、この画素Ｐの開口率（（Ａ×Ｂ）×１００／（Ｘ×Ｙ））は４４．４％であるので、画素Ｐの全領域に入る撮像点Ｓの数（Ｎｐ）に対し、開口率以下の数であれば、出射領域Ｒ１に対応する輝度データを選択的に得ることができるといえる。
更に、その開口率の半分程度の数であれば、より確実に出射領域Ｒ１のみに対応する輝度データを得ることができるといえる。
【００３５】
次に、本発明による効果について説明する。図８は、輝度測定における本発明の効果を説明するための図である。図８（ａ）は本発明の場合の、１画素ＰとＣＣＤ４１ａに設定される１画素対応領域Ｐｓとの関係を示すものであり、図８（ｂ）は、従来の光学測定においてＣＣＤに設定される１画素の輝度検出領域Ｐｘと１画素Ｐとの関係を示すものである。本発明においてＣＣＤ４１ａに設定される１画素対応領域Ｐｓは１画素Ｐと同じ大きさに設定されている。そして、図８（ａ）に示すように、１画素対応領域Ｐｓが１画素Ｐに対して横方向にＸａ、縦方向にＹａだけずれた場合でも、１画素対応領域Ｐｓ内に出射領域Ｒ１が含まれている場合には、出射領域Ｒ１に対応する輝度データを抽出することができる。
一方、従来の光学測定においてＣＣＤに設定される１画素の輝度検出領域Ｐｘは、出射領域Ｒ１から出射された光の輝度を測定するために、出射領域Ｒ１の寸法より小さいサイズに設定される。そして、この場合、図８（ａ）に示した場合と同様に、横方向にＸａ、縦方向にＹａだけずれた場合、輝度検出領域Ｐｘの一部は出射領域Ｒ１外の非出射領域Ｒ２にかかってしまうことになる。この場合、輝度検出領域ＰｘのＣＣＤで測定される輝度値を平均した値は本来の出射領域Ｒ１の輝度より低くなってしまう。
【００３６】
このように、従来の光学測定における構成ではＣＣＤと画素Ｐとの位置ずれによる影響が比較的大きいため、各画素Ｐの正確な輝度測定を行うにはＣＣＤと画素Ｐとの位置決めを厳密に行う必要があった。また、これが困難であるために、正確な輝度ムラを測定するために、例えば電流測定を併用するようなことが必要であった。これに対し、本発明における構成においては、上記のように、従来の構成に比して、位置ずれに対する許容範囲が比較的大きい。このため、本発明においては、ＣＣＤと画素Ｐとの位置決め精度を比較的低くしてもよく、位置決めに係わる構成を簡易化することができる。更に、本発明においてはＣＣＤによる光学測定のみで各画素Ｐの正確な輝度を測定することが可能であるため、電流測定を併用するようなことは不要となり、表示パネルの全面の輝度ムラを測定する場合においても、その測定に要する時間を従来より短縮することができるものである。
【００３７】
次に、上述の輝度測定装置４０を用いる、ＥＬディスプレイパネル１の輝度測定方法について説明する。図９は、輝度測定装置４０において行うＥＬディスプレイパネル１の輝度測定の処理の流れを示したフローチャートである。
【００３８】
まず、全画素Ｐを所定の基準階調で発光させたＥＬディスプレイパネル１の表示部３０の全範囲を輝度測定装置４０のＣＣＤカメラ４１で撮像し、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓ毎の輝度データを制御処理部４２ｂによって取得し、メモリ４２ａに記録する（ステップＳ１０１）。ここで、基準階調は例えば最高階調であってもよいし、中間階調であってもよい。
次いで、制御処理部４２ｂは、取得しメモリ４２ａに記録された撮像点Ｓ毎の輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分する（ステップＳ１０２）。
そして、制御処理部４２ｂは、画素対応領域Ｐｓ毎の撮像点Ｓ毎の輝度データを、輝度値毎に昇順或いは降順に並べる（ステップＳ１０３）。
次いで、制御処理部４２ｂは、画素対応領域Ｐｓ毎の、輝度値の順に並べられた撮像点Ｓ毎の輝度データから、高輝度側から予め設定された所定数（例えば、画素Ｐの全数（Ｎｐ）に対する、画素Ｐの開口率以下に相当する数（Ｎ））の輝度データを抽出する（ステップＳ１０４）。ここで抽出された輝度データは、画素Ｐにおける出射領域Ｒ１内に対応した撮像点Ｓにより得られたものであって、出射領域Ｒ１と非出射領域Ｒ２とに跨る撮像点Ｓや、非出射領域Ｒ２に対応する撮像点Ｓによるものは排除されたものとなっている。
次いで、制御処理部４２ｂは、画素対応領域Ｐｓ毎に抽出された高輝度側の輝度データの輝度値の平均値を各画素Ｐの輝度値とする（ステップＳ１０５）。
こうして、全画素Ｐ毎の輝度値であって、画素Ｐにおける出射領域Ｒ１内のみに対応する輝度を確実に測定して得ることができる。
【００３９】
つまり、輝度測定装置４０のＣＣＤカメラ４１で、ＥＬディスプレイパネル１の表示部３０を撮像して得られた画像信号から、ＣＣＤカメラ４１のＣＣＤ４１ａにおける撮像点Ｓ毎の輝度データを取得し、その取得した輝度データを画素対応領域Ｐｓ毎に区分し、画素対応領域Ｐｓ毎に輝度順に並べた後、画素対応領域Ｐｓ毎の輝度データの高輝度側から所定数（具体的には、全画素数に対する画素Ｐの開口率以下に相当する数）の輝度データを抽出し、抽出した輝度データの輝度値の平均値を算出することで、出射領域Ｒ１と非出射領域Ｒ２とからなる画素Ｐにおける出射領域Ｒ１に対応する輝度値を正確に測定することができるようになっている。
【００４０】
このように、本発明に係る輝度測定方法によれば、輝度測定装置４０を用い、ＣＣＤカメラ４１でＥＬディスプレイパネル１の表示部３０を撮像することによって、画素Ｐにおける出射領域Ｒ１内のみに対応する輝度データを選択的に抽出し、画素Ｐ毎の正確な輝度値を得る測定を容易に行うことができる。
【００４１】
そして、得られた輝度値に基づき、画素Ｐ毎の輝度値に輝度ムラがあることを、輝度測定装置４０のコンピュータ４２の制御処理部４２ｂが判断した場合、その制御処理部４２ｂは、ＥＬディスプレイパネル１の表示部３０における表示輝度を均一なものとするための補正データを作成し、その作成した補正データをＥＬディスプレイパネル１の制御部２０に出力し、ＥＬディスプレイパネル１のメモリ２１に記憶させる処理を実行する。
そして、ＥＬディスプレイパネル１は、メモリ２１に格納された補正データに応じて、その輝度ムラを補正するように、表示部３０の有機ＥＬ素子１０を駆動させるようになっている。
【００４２】
なお、以上の実施の形態においては、開口部である出射領域Ｒ１が矩形である場合を例に説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その他の形状の出射領域Ｒ１であっても画素Ｐ毎に並べられた全輝度値の高輝度側から輝度値を抽出する所定数を適宜設定するなどして、出射領域Ｒ１のみに対応する輝度値を得るようにすればよい。
【００４３】
また、輝度測定装置４０による測定で得られた画素Ｐ毎の輝度値に対し「赤、緑、青」の色別に輝度ムラを判定するようにしてもよい。
更に、上記実施形態においては、本発明をＥＬディスプレイパネル１に対して適用した場合について説明したが、本発明はこれに限るものではなく、表示部３０において各画素Ｐの出射領域Ｒ１から表示データの階調値に応じた輝度の光を出射するものに対して適用することができて、例えば、バックライトからの光の透過率を制御する透過型の液晶表示パネルに対しても好適に適用することができる。
【００４４】
また、その他、具体的な細部構造等についても適宜に変更可能であることは勿論である。
【符号の説明】
【００４５】
１      ＥＬディスプレイパネル（表示パネル）
３０    表示部
４０    輝度測定装置
４１    ＣＣＤカメラ
４１ａ  ＣＣＤ（撮像素子）
４２    コンピュータ
４２ａ  メモリ
４２ｂ  制御処理部（輝度値取得制御部、輝度値順列制御部、輝度値抽出制御部、輝度算出部）
Ｂ      隔壁
Ｐ      画素
Ｒ１    出射領域
Ｒ２    非出射領域
Ｓ      撮像点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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