(57)【要約】      （修正有）【課題】電流検出回路を設けることなく、サーボループの外乱ノイズを精度よく検出できる外乱ノイズ判定装置を提供する。【解決手段】所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる位相制御手段と、前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、外乱ノイズが有と判定する外乱ノイズ判定手段と、を備える。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定する外乱ノイズ判定装置であって、
所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、
前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる位相制御手段と、
前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する外乱ノイズ判定手段と、
を備えることを特徴とする外乱ノイズ判定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の外乱ノイズ判定装置において、
前記位相制御手段は、前記フィルタ手段の設定位相値を減少する方向に段階的に変更させ、且つ、前記フィルタ手段の設定位相値を増加する方向に段階的に変更させるものであって、
前記外乱ノイズ判定手段は、前記フィルタ手段の設定位相値が減少する方向に段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときの前記フィルタ手段の設定位相値を保持し、且つ、前記フィルタ手段の設定位相値が増加する方向に段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときの前記フィルタ手段の設定位相値を保持し、前記保持された２つの前記設定位相値との位相幅が所定幅以下であるときに、前記外乱ノイズが有と判定することを特徴とする外乱ノイズ判定装置。
【請求項３】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定する外乱ノイズ判定方法であって、
所定周波数の基準参照信号を発生する工程と、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える工程と、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段を通過した誤差信号の位置と、前記基準参照信号の位相との位相差を検出する工程と、
前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる工程と、
前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する工程と、
を備えることを特徴とする外乱ノイズ判定方法。
【請求項４】
情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定するコンピュータであって、
所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、
前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、
前記基準参照信号が加えられた前記誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、
前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、を備えるコンピュータを、
前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる位相制御手段、及び、
前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する外乱ノイズ判定手段として機能させることを特徴とする外乱ノイズ判定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
光ディスク等の情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定する外乱ノイズ判定装置等の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、例えば光ディスク記録再生装置において、安定したサーボ制御を行うために、サーボループのゲイン調整を行う技術が知られている。ところが、例えば光ディスク再生動作時、サーボループにサーボ帯域に対して高い周波数成分の外乱ノイズが印加されると、サーボの抑圧制御が効かず電流成分や熱成分の増加となってしまうという問題があった。
【０００３】
このような問題の解決手段として、電流検出回路を設け、所定値以上の電流を検出した場合に、ゲイン調整を中止したり、再生動作を停止する等の処理を行う方法が知られている。しかし、この方法の場合、電流検出回路として負荷に対してシリーズに低抵抗を接続する必要があり、動作範囲が狭くなる等のサーボ動作に影響する問題があった。また、駆動電圧を検出し、負荷抵抗から電流を算出する方法もあるが負荷抵抗のばらつきが大きい場合は精度が悪いという欠点があった。
【０００４】
また、例えば特開平５−１７３６４１号公報には、サーボループ中の信号の飽和を検出した場合に異常状態と判断しゲイン調整を中断する技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平５−１７３６４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、サーボループ中の信号の飽和を検出する方法では、当該信号の振幅情報を例えばマイコンに取り込むことが必要であるが、この振幅情報の精度は高くないため、限界がある。精度の高い振幅情報を得るためには、電流検出回路が必要であるものの上述したような問題がある。
【０００７】
そこで、本願は、以上の点に鑑みてなされたものであり、その課題の一例は、電流検出回路を設けることなく、精度よく外乱ノイズを検出することが可能な外乱ノイズ判定装置、外乱ノイズ判定方法、及び外乱ノイズ判定プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定する外乱ノイズ判定装置であって、所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、前記サーボループにおける誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる位相制御手段と、前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する外乱ノイズ判定手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定する外乱ノイズ判定方法であって、所定周波数の基準参照信号を発生する工程と、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える工程と、前記サーボループにおける誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段を通過した誤差信号の位置と、前記基準参照信号の位相との位相差を検出する工程と、前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる工程と、前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する工程と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項４に記載の外乱ノイズ判定プログラムの発明は、情報記録媒体から情報読み取り可能な装置のサーボループにおける外乱ノイズの有無を判定するコンピュータであって、所定周波数の基準参照信号を発生する基準参照信号発生手段と、前記サーボループにおける誤差信号に前記基準参照信号を加える加算手段と、前記サーボループにおける誤差信号の前記所定周波数成分を通過させるフィルタ手段と、前記基準参照信号の位相と前記フィルタ手段を通過した誤差信号の位相との位相差を検出する位相差検出手段と、を備えるコンピュータを、前記フィルタ手段の設定位相値を段階的に変更させることにより、当該フィルタ手段を通過する前記誤差信号の位相を段階的に変更させる位相制御手段、及び前記フィルタ手段の設定位相値が段階的に変更される過程において前記位相差検出手段により複数回検出された前記位相差に相当する値の変化量が所定量以下になったときに、前記外乱ノイズが有と判定する外乱ノイズ判定手段として機能させることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の概要構成の一例を示す図である。
【図２】外乱ノイズが無い場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【図３】外乱ノイズが有る場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【図４】ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である。
【図５】ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力位相特性の一例を示す図である。
【図６】外乱ノイズが有る場合において、ＢＰＦ特性を変えたときの位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係の一例を示す図である。
【図７】ＢＰＦ特性を変えたときの位相特性を示す図である。
【図８】バンドパスフィルタ９を通過する誤差信号の位相が段階的に変更される過程における位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である。
【図９】実施例１において、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１０】実施例１における外乱ノイズ判定処理において、位相比較器１０により検出される位相差とサーボループにおけるゲインとの関係の一例を示す図である。
【図１１】実施例１において、位相比較器１０により検出される位相差と、バンドパスフィルタ９における設定位相値との関係を示す図である。
【図１２】実施例２において、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の一例を示すフローチャートである。
【図１３】実施例２において、位相比較器１０により検出される位相差と、バンドパスフィルタ９における設定位相値との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面を参照して本願の実施形態について詳細に説明する。なお、以下に説明する実施の形態は、ＣＤ（Compact Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc），ＢＤ（Blu-ray Disc），ＨＤＤＶＤ等の光ディスク記録再生装置に対して本願を適用した場合の実施形態である。
【００１３】
先ず、本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成及び機能について、図１を用いて説明する。
【００１４】
図１は、本実施形態に係る光ディスク記録再生装置の概要構成の一例を示す図である。図１に示すように、光ディスク記録再生装置Ｓは、ドライバ１、スピンドルモータ２、光ピックアップ３、ＲＦアンプ４、ゲイン可変アンプ５、加算器６（加算手段の一例）、位相補償イコライザ７、発振器８（基準参照信号発生手段の一例）、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）９（フィルタ手段の一例）、位相比較器１０（位相差検出手段の一例）、ゲイン判定ウインドウ１１、音声／映像信号処理メモリコントロール１２、メモリ１３、ＤＡＣ（デジタル／アナログコンバータ）１４、表示制御部１５、及びマイクロコンピュータ１６等を備えて構成されている。なお、ドライバ１、光ピックアップ３、ＲＦアンプ４、ゲイン可変アンプ５、加算器６、及び位相補償イコライザ７は、サーボ制御におけるサーボループを構成する。また、マイクロコンピュータ１６は、上記各部を統括制御するとともに、内部メモリに記憶された外乱ノイズ判定プログラムを実行することにより位相制御手段及び外乱ノイズ判定手段として機能する。
【００１５】
ドライバ１は、位相補償イコライザ７からの駆動信号にしたがってスピンドルモータ２及び光ピックアップ３を駆動制御する。光ピックアップ３は、回転駆動している光ディスクＤに光ビーム照射して該光ディスクＤから記録情報を読み取り、その読取信号をＲＦアンプ４に供給する。
【００１６】
ＲＦアンプ４は、光ピックアップ３からの読取信号を増幅した後、音声／映像信号処理メモリコントロール１２に供給するとともに、当該読取信号に基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号等の誤差信号を抽出しゲイン可変アンプ５及びバンドパスフィルタ９に供給する。
【００１７】
音声／映像信号処理メモリコントロール１２は、メモリ１３を用いて、ＲＦアンプ４からの読取信号の復調及び誤り訂正等を行って音声信号及び映像信号を生成し、当該音声信号をＤＡＣ１４に供給し、当該映像信号を表示制御部１５に供給する。ＤＡＣ１４は、音声／映像信号処理メモリコントロール１２からの音声信号（デジタル信号）をアナログ信号に変換して図示しないアンプを介してスピーカに出力する。また、表示制御部１５は、音声／映像信号処理メモリコントロール１２からの映像信号に描画処理を施し図示しないディスプレイに出力する。
【００１８】
一方、ゲイン可変アンプ５は、ゲイン判定ウインドウ１１からのゲイン調整指令にしたがってサーボループのゲイン（利得）を調整する。
【００１９】
発振器８は、所定周波数の正弦波の基準参照信号（外乱信号ともいう）を発生し、当該基準参照信号を加算器６及び位相比較器１０に供給する。加算器６は、ゲイン可変アンプ５からの誤差信号と発振器８からの基準参照信号とを加算、つまり、サーボループにおける誤差信号に基準参照信号を加えて位相補償イコライザ７に供給する。位相補償イコライザ７は、加算器６からの信号の位相調整をなし駆動信号としてドライバ１に供給する。
【００２０】
バンドパスフィルタ９は、加算器６により基準参照信号が加えられた誤差信号であってサーボループを一巡してきた誤差信号の所定周波数（基準参照信号と同一の周波数）成分を通過させて位相比較器１０に供給する。
【００２１】
位相比較器１０は、例えばＥＸＯＲ回路からなり、発振器８からの基準参照信号の位相とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号（つまり、基準参照信号がサーボループを一巡した信号）の位相とを比較して、それらの位相差を検出し、ゲイン判定ウインドウ１１及びマイクロコンピュータ１６に供給する。ゲイン判定ウインドウ１１は、位相比較器１０により検出された位相差と、予め設定された目標位相値との差分に基づいてゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与える。より具体的には、ゲイン判定ウインドウ１１は、上記位相差と目標位相値との差分に応じたゲイン変更量（ｄＢ）を示すゲイン調整指令をゲイン可変アンプ５に与える。これにより、ゲイン可変アンプ５は、ゲイン調整指令に示されるゲイン変更量（ｄＢ）だけゲイン調整（上げ又は下げ）を行うことになる。
【００２２】
ここで、位相比較器１０により検出された位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係について説明する。
【００２３】
図２は、外乱ノイズが無い場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図であり、図３は、外乱ノイズが有る場合において、位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係（位相特性）の一例を示す図である。
【００２４】
図２に示すように、外乱ノイズが無い場合、位相比較器１０により検出された位相差−９０deg（つまり、基準参照信号に対して誤差信号が位相９０度遅れている）を基準として、ゲインに対し当該位相差が増加及び減少する方向にリニアに変化するリニア特性になっている。
【００２５】
一方、図３に示すように、外乱ノイズが有る、つまり、サーボループに外乱ノイズが印加された場合、位相比較器１０により検出された位相差−９０degを基準として、当該位相差が増加する方向における飽和位相値（飽和点）以上（斜線部）と、当該位相差が減少する方向における飽和位相値（飽和点）以下（斜線部）は位相差が飽和する特性になっている（位相差−９０degを中心として上下対象の特性）。これは、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の特性によるものであり、ランダムなノイズ成分が位相比較器１０に入力されると、位相情報が−９０degに近づくことによる特性である。
【００２６】
図４は、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である。図４に示す例において、Ａは基準参照信号波形を示し、Ｂはバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号波形を示し、ＣはＡとＢとの位相差に相当する出力信号波形を示す。なお、この位相比較器１０では、基準参照信号波形及び誤差信号波形を方形波に整形した後にＥＸＯＲ回路に入力している。図４に示す例では、ＡとＢとの論理が異なる時、Ｃの論理がハイレベルになる。そして、例えばＡとＢとの位相差が０degの時はＣのデューティが０％となり、−９０degの時はＣのデューティが５０％となり、−１８０degの時はＣのデューティが１００％となる。ところが、Ａにノイズが重畳されると、Ｃのデューティは５０％に近づく方向にオフセットすることになる。
【００２７】
図５は、ＥＸＯＲ回路を用いた位相比較器１０の入出力位相特性の一例を示す図である。図５に示す例において、入力位相差（真の値）は、ＡとＢの真（計算上）の位相差を示し、出力位相差は、ＡとＢを位相比較器１０に入力したときに検出される位相差（Ｃに相当）を示す。図５に示すように、出力位相差は、ノイズ量に応じて入力位相差（真の値）からデューティが５０％に近づき、−９０degに近づく方向にオフセットする。
【００２８】
これにより、図３に示すように、位相比較器１０により検出される位相差の飽和位相値は、外乱ノイズの量が多いほど−９０degに近づき（図中矢印方向）、位相特性がリニア特性となる範囲が狭くなる。かかる特性は、ゲインを変化させることで検出して外乱ノイズが有と判定することができるが、この場合、サーボ特性が最適でなくなり、装置動作（セットアップ動作、読み取り動作）に影響してしまう問題がある。
【００２９】
そこで、本実施形態においては、原理的には、ある固定ゲイン値でバンドパスフィルタ９の特性（以下、「ＢＰＦ特性」という）を変えることにより位相比較器１０に入力する信号の位相を操作し（位相特性を変化させる）、位相比較器１０により検出される位相差を意図的に飽和させて外乱ノイズを検出する（つまり、位相変化のリニアリティの特性により外乱ノイズを検出する）ようにした。これにより、サーボループ内の回路、設定は変更しない為、サーボ動作には影響なく外乱ノイズの検出ができる。
【００３０】
図６は、外乱ノイズが有る場合において、ＢＰＦ特性を変えたときの位相比較器１０により検出される位相差と、サーボループにおけるゲインとの関係の一例を示す図であり、図７は、ＢＰＦ特性を変えたときの位相特性を示す図である。図６及び図７に示すように、ＢＰＦ特性、具体的にはバンドパスフィルタ９における設定位相値（設定中心周波数）を変化させると、任意の固定ゲイン値で位相特性が大きく変化する。
【００３１】
具体的には、マイクロコンピュータ１６が、バンドパスフィルタ９に設定させる設定位相値（設定中心周波数）を段階的に（徐々に）変更させることにより、当該バンドパスフィルタ９を通過する上記誤差信号の位相を段階的に変更させる制御を行う。そして、マイクロコンピュータ１６は、バンドパスフィルタ９の設定位相値が段階的に変更される過程において位相比較器１０により複数回検出された位相差に相当する値を取り込み、当該位相差に相当する値の変化量が所定量（以下、「飽和検出閾値」という）以下になったときに、外乱ノイズが有と判定する。
【００３２】
図８は、バンドパスフィルタ９を通過する誤差信号の位相が段階的に変更される過程における位相比較器１０の入出力波形の一例を示す図である（図中、Ａ，Ｂ，Ｃは、図４と同様）。図８（ａ）に示すように、外乱ノイズが無い場合、ＡとＢとの位相差が−９０degである初期状態のときＣのデューティが５０％であり、当該初期状態からＢの位相を−４５deg変更すると（ずらすと）Ｃのデューティが７５％（位相差＝−９０deg−４５deg）になり、さらにＢの位相を−９０deg変更すると（ずらすと）Ｃのデューティが１００％（位相差＝−９０deg−９０deg）になるというように、ＡとＢの検出位相差は−１８０degまでリニアに変化するので、マイクロコンピュータ１６は位相差に相当する値の変化量が飽和検出閾値以下であると判断しない。一方、図８（ｂ）に示すように、外乱ノイズが有る場合、ＡとＢとの位相差が−９０degである初期状態のときはＣのデューティが５０％であるものの、当該初期状態からＢの位相を−９０deg変更すると（ずらすと）Ｃのデューティが１００％＋α（ＡとＢの検出位相差は−１８０deg＋α）となり、飽和することになるので、マイクロコンピュータ１６は位相差に相当する値の変化量が飽和検出閾値以下であると判断することになる。
【００３３】
次に、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の実施例１について、図９乃至図１１を用いて説明する。
【００３４】
図９は、実施例１において、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の一例を示すフローチャートである。また、図１０は、実施例１における外乱ノイズ判定処理において、位相比較器１０により検出される位相差とサーボループにおけるゲインとの関係の一例を示す図である。また、図１１は、実施例１において、位相比較器１０により検出される位相差と、バンドパスフィルタ９における設定位相値との関係を示す図である。
【００３５】
図９に示す外乱ノイズ判定処理の前提として、マイクロコンピュータ１６は、外乱ノイズ判定の境界となる２つの閾値Ｆ１及びＦ２、並びに飽和検出閾値を設定する。図１０に示すように、閾値Ｆ１は、ゲインに対し位相差が減少する方向に設定され、閾値Ｆ２は、ゲインに対し位相差が増加する方向に設定される。なお、閾値Ｆ１，Ｆ２は、例えば検出したいレベルの外乱ノイズが印加されたときの飽和点が考慮されて決定される。これにより、装置動作上支障がない外乱ノイズは検出されないようになっている。
【００３６】
図９に示す処理が開始されると、先ず、マイクロコンピュータ１６は、バンドパスフィルタ９に設定させる設定位相値（設定中心周波数）を決め、当該設定位相値をＢＰＦ初期基準値として内部メモリに保持（記憶）するとともに、当該設定位相値を設定させる設定指令をバンドパスフィルタ９に与える（ステップＳ１）。これにより、バンドパスフィルタ９では当該設定位相値を設定し、位相比較器１０では当該設定位相値が設定されたバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号と基準参照信号との位相差を検出することになる。なお、ＢＰＦ初期基準値は、任意の固定ゲイン値で、基準参照信号とバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号との位相差が−９０degになるように設定される。
【００３７】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０により検出された位相差に相当する値を取り込み（測定）（ステップＳ２）、内部メモリに位相値αとして保持する。
【００３８】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、図１１に示すように、上記設定位相値を１ステップ（段階）分下げ（例えば、任意の下げ幅Ｘ下げる）、１ステップ分下げた設定位相値を内部メモリに保持するとともに、当該設定位相値を変更（ずらす）させる変更指令をバンドパスフィルタ９に与える（ステップＳ３）。これにより、バンドパスフィルタ９では当該設定位相値を変更し、位相比較器１０では当該設定位相値が変更されたバンドパスフィルタ９を通過した誤差信号と基準参照信号との位相差を検出することになる。
【００３９】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０により検出された変更後の位相差に相当する値を取り込み（測定）（ステップＳ４）、内部メモリに位相値βとして保持する。
【００４０】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０から取り込んだ位相値αと位相値βを用いて、位相値の変化量γを算出（γ＝｜β−α｜）する（ステップＳ５）。
【００４１】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、算出した位相値の変化量γが飽和検出閾値以下になったか否かを判別し（ステップＳ６）、当該変化量γが飽和検出閾値以下になった場合（つまり、位相差が飽和した）には（ステップＳ６：ＹＥＳ）、ステップＳ７に進み、当該変化量γが飽和検出閾値以下になっていない場合には（ステップＳ６：ＮＯ）、ステップＳ８に進む。
【００４２】
ステップＳ７では、マイクロコンピュータ１６は、外部ノイズが有と判定し、当該処理を終了する。こうして、マイクロコンピュータ１６は、外乱ノイズ有と判定（つまり、外乱ノイズ検出）すると、外乱ノイズ検出に応じた処理（例えば、ゲイン調整を中止したり、再生動作を停止する等の処理）を行うことになる。
【００４３】
一方、ステップＳ８では、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になっていないと判別したときの設定位相値δ（つまり、最新の設定位相値）が閾値Ｆ１以下であるか否かを判別し、当該設定位相値δが閾値Ｆ１以下でない場合には（ステップＳ８：ＮＯ）、ステップＳ２に戻り、上記位相値の変化量γが飽和検出閾値以下になるか、或いは、設定位相値δが閾値Ｆ１以下になるまで、上記処理を繰り返す。この過程において、バンドパスフィルタ９の設定位相値が段階的に変更されることにより、当該バンドパスフィルタ９を通過する上記誤差信号の位相が段階的に変更されることになる。一方、設定位相値δが閾値Ｆ１以下である場合には（ステップＳ８：ＹＥＳ）、マイクロコンピュータ１６は、外部ノイズが無と判定し（ステップＳ９）、当該処理を終了する。
【００４４】
なお、図９に示す外乱ノイズ判定処理は、ゲインに対し位相差が減少する方向における外乱ノイズ判定処理（バンドパスフィルタ９の設定位相値を減少する方向に段階的に変更させる）であるが、ゲインに対し位相差が増加する方向における外乱ノイズ判定処理（バンドパスフィルタ９の設定位相値を増加する方向に段階的に変更させる）においても、基本的な処理の流れが同じである。ゲインに対し位相差が増加する方向における外乱ノイズ判定処理の場合、上記ステップＳ３において、マイクロコンピュータ１６は、図１１に示すように、上記設定位相値を１ステップ（段階）分上げ（例えば、任意の下げ幅Ｘ上げる）、１ステップ分上げた設定位相値を内部メモリに保持するとともに、当該設定位相値を変更（ずらす）させる変更指令をバンドパスフィルタ９に与えることになる。また、この場合、上記ステップＳ８において、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になっていないと判別したときの設定位相値εが閾値Ｆ２以上であるか否かを判別し、当該設定位相値εが閾値Ｆ２以上でない場合には、ステップＳ２に戻り、設定位相値εが閾値Ｆ２以上である場合には、ステップＳ９に移行することになる。
【００４５】
以上説明したように、上記実施例１によれば、マイクロコンピュータ１６が、バンドパスフィルタ９に設定させる設定位相値を段階的に変更させ、バンドパスフィルタ９の設定位相値が段階的に変更される過程において位相比較器１０により複数回検出された位相差に相当する値の変化量が飽和検出閾値以下になったときに、外乱ノイズが有と判定するように構成したので、電流検出回路を設けることなく、精度よく外乱ノイズを検出することができる。つまり、本実施形態によれば、サーボループの位相情報を用いるため、動作範囲が狭くなる等のサーボ動作に影響することなく、外乱ノイズの検出が可能となる。
【００４６】
また、光ディスクＤから情報読み取り中でも外乱ノイズ検出が可能なため、光ディスクＤの任意位置または全周で外乱ノイズを検出することができる。
【００４７】
また、バンドパスフィルタ９と位相差検出器１０はともに既存の回路構成を流用することができるため、新たな構成を追加することなく実現できる。
【００４８】
次に、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の実施例２について、図１２及び図１３を用いて説明する。
【００４９】
実施例２では、マイクロコンピュータ１６は、バンドパスフィルタ９の設定位相値が減少する方向に段階的に変更される過程において位相比較器１０により複数回検出された位相差に相当する値を取り込み、当該位相差の変化量が飽和検出閾値以下になったときのバンドパスフィルタ９の設定位相値を保持し、且つ、バンドパスフィルタ９の設定位相値が増加する方向に段階的に変更される過程において位相比較器１０により複数回検出されたに相当する値を取り込み、当該位相差に相当する値の変化量が飽和検出閾値以下になったときのバンドパスフィルタ９の設定位相値を保持し、上記保持された２つの設定位相値との位相幅が所定幅（以下、「飽和位相幅検出閾値」という）以下であるときに、外乱ノイズが有と判定するようになっている。これにより、外乱ノイズの検出精度を向上させることができる。
【００５０】
図１２は、実施例２において、マイクロコンピュータ１６における外乱ノイズ判定処理の一例を示すフローチャートである。また、図１３は、実施例２において、位相比較器１０により検出される位相差と、バンドパスフィルタ９における設定位相値との関係を示す図である。
【００５１】
実施例２では、図１２に示す外乱ノイズ判定処理の前提として、マイクロコンピュータ１６は、外乱ノイズ判定の境界となる２つの閾値Ｆ１及びＦ２、並びに飽和検出閾値に加えて、図１３に示すように、上記飽和位相幅検出閾値を画定するための２つの閾値Ｆ３及びＦ４を設定する。
【００５２】
なお、図１２に示す外乱ノイズ判定処理に示すステップＳ１１〜Ｓ１６の処理は、図９に示す外乱ノイズ判定処理に示すステップＳ１〜Ｓ６の処理と同様であるので、説明を省略する。
【００５３】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、ステップＳ１５で算出した位相値の変化量γが飽和検出閾値以下になった場合には（ステップＳ１６：ＹＥＳ）、ステップＳ１７に進み、当該変化量γが飽和検出閾値以下になっていない場合には（ステップＳ１６：ＮＯ）、ステップＳ１８に進む。
【００５４】
ステップＳ１７では、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になったと判別したときの設定位相値δを内部メモリに保持し、ステップＳ２０に進む。
【００５５】
一方、ステップＳ１８では、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になっていないと判別したときの設定位相値δが閾値Ｆ１以下であるか否かを判別し、当該設定位相値δが閾値Ｆ１以下でない場合には（ステップＳ１８：ＮＯ）、ステップＳ１２に戻り、上記処理を繰り返す。一方、設定位相値δが閾値Ｆ１以下である場合には（ステップＳ１８：ＹＥＳ）、マイクロコンピュータ１６は、当該設定位相値δが閾値Ｆ１以下であると判別したときの設定位相値δを上記閾値Ｆ１として内部メモリに保持し（ステップＳ１９）、ステップＳ２０に進む。
【００５６】
ステップＳ２０では、バンドパスフィルタ９に設定させる設定位相値を上記ＢＰＦ初期基準値に戻し、当該設定位相値を設定させる設定指令をバンドパスフィルタ９に与える。
【００５７】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０により検出された位相差に相当する値を取り込み（測定）（ステップＳ２１）、内部メモリに位相値αとして保持する。
【００５８】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、上記設定位相値を１ステップ分上げ、１ステップ分上げた設定位相値を内部メモリに保持するとともに、当該設定位相値を変更（ずらす）させる変更指令をバンドパスフィルタ９に与える（ステップＳ２２）。
【００５９】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０により検出された変更後の位相差に相当する値を取り込み（ステップＳ２３）、内部メモリに位相値βとして保持する。
【００６０】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、位相比較器１０から取り込んだ位相値αと位相値βを用いて、位相値の変化量γを算出（γ＝｜β−α｜）する（ステップＳ２４）。
【００６１】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、上記算出した位相値の変化量γが飽和検出閾値以下になったか否かを判別し（ステップＳ２５）、当該変化量γが飽和検出閾値以下になった場合には（ステップＳ２５：ＹＥＳ）、ステップＳ２６に進み、当該変化量γが飽和検出閾値以下になっていない場合には（ステップＳ２５：ＮＯ）、ステップＳ２７に進む。
【００６２】
ステップＳ２６では、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になったと判別したときの設定位相値εを内部メモリに保持し、ステップＳ２９に進む。
【００６３】
一方、ステップＳ２７では、マイクロコンピュータ１６は、変化量γが飽和検出閾値以下になっていないと判別したときの設定位相値εが閾値Ｆ２以上であるか否かを判別し、当該設定位相値εが閾値Ｆ２以上でない場合には（ステップＳ２７：ＮＯ）、ステップＳ２１に戻り、上記処理を繰り返す。一方、設定位相値εが閾値Ｆ２以上である場合には（ステップＳ２７：ＹＥＳ）、マイクロコンピュータ１６は、当該設定位相値εが閾値Ｆ２以上であると判別したときの設定位相値εを上記閾値Ｆ２として内部メモリに保持し（ステップＳ２８）、ステップＳ２９に進む。
【００６４】
ステップＳ２９では、マイクロコンピュータ１６は、上記ステップＳ１９で保持した設定位相値δと、上記ステップＳ２８で保持した設定位相値εを用いて、位相幅Ｗを算出（Ｗ＝｜ε−δ｜）する。
【００６５】
次いで、マイクロコンピュータ１６は、上記算出した位相幅Ｗが、閾値Ｆ３とＦ４から確定される飽和位相幅検出閾値以下であるか否かを判別し（ステップＳ３０）、位相幅Ｗが飽和位相幅検出閾値以下である場合には（ステップＳ３０：ＹＥＳ）、外部ノイズが有と判定し（ステップＳ３１）、位相幅Ｗが飽和位相幅検出閾値以下でない場合には（ステップＳ３０：ＮＯ）、外部ノイズが無と判定し（ステップＳ３２）、当該処理を終了する。
【００６６】
以上説明したように、上記実施例２によれば、上記実施例１の効果に加えて、負荷抵抗，ＡＣＴ感度等がばらついて初期ゲインがばらついても位相のリニアな範囲（幅）はゲインばらつきには依存しないため検出精度を向上することができる。つまり、初期ゲインが変わっても上下の幅を見ることによって初期ゲインばらつきが相殺できる。
【００６７】
なお、上記実施形態においては、光ディスク記録再生装置に対して本願の外乱ノイズ判定装置を適用した場合について説明したが、サーボループを構成するその他の情報記録又は再生装置に対しても適用可能である。本願は特に高倍速記録再生が見込まれる装置において消費電流や温度上昇を抑える手段として有効である。
【符号の説明】
【００６８】
１  ドライバ
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４  ＲＦアンプ
５  ゲイン可変アンプ
６  加算器
７  位相補償イコライザ
８  発振器
９  バンドパスフィルタ
１０  位相比較器
１１  ゲイン判定ウインドウ
１２  音声／映像信号処理メモリコントロール
１３  メモリ
１４  ＤＡＣ
１５  表示制御部
１６  マイクロコンピュータ
Ｓ  光ディスク記録再生装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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