(57)【要約】【課題】新たなＡＤ変換回路の追加を行わずに、評価回路のバラツキの影響を受けにくく正確なテストを簡易にかつ高速に行う。【解決手段】カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータＶＣＭを制御するＶＣＭ制御回路２または２Ａが内蔵され、このＶＣＭ制御回路２または２Ａ内のＤＡ変換回路１０１または１０１Ａのテスト出力端子Ｔｏｕｔを複数のカラムＡＤ変換回路４の全部または一部の複数の入力端にそれぞれ接続可能に構成し、出力回路５からのデジタル信号により、このＶＣＭ制御回路２または２ＡのＤＡ変換回路１０１または１０１Ａの性能評価テストを行う。【選択図】図１
2010193113.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射光を光電変換する複数の受光部が配列された画素部と、該画素部からの各撮像信号をＡＤ変換する複数のカラムＡＤ変換回路と、該複数のカラムＡＤ変換回路からの各デジタル信号をそれぞれ順次出力する出力回路とを有するイメージセンサにおいて、
カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータを制御する制御回路が内蔵され、該制御回路内のＤＡ変換回路のテスト出力端子を該複数のカラムＡＤ変換回路の全部または一部の複数の入力端に接続可能に構成し、該出力回路からのデジタル信号により、該制御回路のＤＡ変換回路の性能評価テストを行うことが可能なイメージセンサ。
【請求項２】
前記ＤＡ変換回路は電流出力型であり、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型である請求項１に記載のイメージセンサ。
【請求項３】
前記ＤＡ変換回路は電圧出力型であり、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電圧出力型である請求項１に記載のイメージセンサ。
【請求項４】
前記複数のカラムＡＤ変換回路に対するテスト用入力端子が設けられ、該テスト用入力端子から入力される信号と画素部から入力される信号とを、該複数のカラムＡＤ変換回路への入力信号として切り替え可能に構成した請求項１に記載のイメージセンサ。
【請求項５】
前記テスト用入力端子に対して、チップ外部からの入力と前記制御回路内のＤＡ変換回路のテスト出力端子からの入力とを切り替えるスイッチ手段が設けられている請求項４に記載のイメージセンサ。
【請求項６】
前記ＤＡ変換回路が電流出力型で、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型の場合に、該テスト出力端子からの出力が、電流電圧変換回路により電圧に変換されて前記複数のカラムＡＤ変換回路に入力可能とされている請求項５に記載のイメージセンサ。
【請求項７】
前記電流電圧変換回路は、前記制御回路から離れた位置にある前記複数のカラムＡＤ変換回路に入力するために、該カラムＡＤ変換回路の直近または前記テスト用入力端子の直近に設けられている請求項６に記載のイメージセンサ。
【請求項８】
前記電流電圧変換回路は、プルダウン抵抗またはプルアップ抵抗により構成されている請求項６または７に記載のイメージセンサ。
【請求項９】
前記複数のカラムＡＤ変換回路のうち、前記ＤＡ変換回路の評価テスト時に、前記画素部以外のダミー列の全部または一部に接続された複数のカラムＡＤ変換回路を用いてＡＤ変換する請求項６に記載のイメージセンサ。
【請求項１０】
前記ＤＡ変換回路の評価テスト時に、前記画素部からの列と該画素部以外のダミー列の両方に接続された複数のカラムＡＤ変換回路を用いてＡＤ変換する請求項６に記載のイメージセンサ。
【請求項１１】
前記ＤＡ変換回路の評価テスト時に用いる複数のカラムＡＤ変換回路からのデジタル出力を平均化して評価テストを行う請求項９または１０に記載のイメージセンサ。
【請求項１２】
前記ＤＡ変換回路が電流出力型で、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型の場合に、前記テスト出力端子以降の受け側の前記複数のカラムＡＤ変換回路の入力レンジに応じた出力電流の向きおよび電流値を調整するための電流調整回路が前記制御回路に設けられている請求項１に記載のイメージセンサ。
【請求項１３】
前記電流調整回路は、入力端子と出力端子が配線で直接接続されているかまたは、該入力端子と該出力端子が増幅用トランジスタで接続されている請求項１２に記載のイメージセンサ。
【請求項１４】
前記電流調整回路は、入力端子と出力端子間に１段または複数段のカレントミラー回路が設けられている請求項１２に記載のイメージセンサ。
【請求項１５】
請求項１〜１４のいずれかに記載のイメージセンサを画像入力デバイスとして撮像部に用いた電子情報機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、オートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を制御するＤＡ変換回路が設けられたイメージセンサおよび、このイメージセンサを画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばデジタルビデオカメラおよびデジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、監視カメラなどの画像入力カメラ、スキャナ装置、ファクシミリ装置、テレビジョン電話装置、カメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の従来のイメージセンサのオートフォーカス機構は、被写体に対して最も焦点の合う位置にレンズを自動的に移動させる合焦点機構である。この合焦点機構を実現するためのアクチュエータ（コイル）は、ボイスコイルモータＶＣＭ、ＤＣモータ、ステッピングモータやピエゾモータなど、数種類のアクチュエータが知られているが、制御方法の簡易さとコスト面からボイスコイルモータＶＣＭが用いられることが多い。
【０００３】
このボイスコイルモータＶＣＭは、永久磁石の磁界中にコイルを置きコイルに電流を流すと磁界と電流に垂直方向に力が発生する「フレミングの左手の法則」に従った動電型の振動装置の一種である。この振動によってレンズユニットを微動させてレンズと個体撮像素子との距離を合焦点位置に移動制御することができる。
【０００４】
上記ボイスコイルモータＶＣＭの制御回路として用いられる電流出力型のＤＡ変換回路を、図１１を用いて具体的に説明する。
【０００５】
図１１は、従来のイメージセンサのオートフォーカス機構用のボイスコイルモータを制御するためのＶＣＭ制御回路の要部構成例を示す回路図である。
【０００６】
図１１において、従来のＶＣＭ制御回路１００は、ＶＣＭ制御信号であるデジタル信号Ｄｉｎを入力として入力デジタル信号に応じた電流Ｉｄａｃを出力する電流出力型ＤＡＣ１０１と、電流出力型ＤＡＣ１０１からの出力電流Ｉｄａｃを電圧に変換する電圧変換用抵抗Ｒ１０２と、電流出力型ＤＡＣ１０１の出力端が正入力端子に接続されたバッファアンプ１０３と、このバッファアンプ１０３の出力端がゲートに接続された出力ＭＯＳトランジスタ１０４と、この出力ＭＯＳトランジスタ１０４に直列に接続され、出力電流値を決定するセンス抵抗Ｒ１０５とから構成されている。
【０００７】
このＶＣＭ制御回路１００の出力端子１０６は、内部で出力ＭＯＳトランジスタ１０４の一方駆動端に接続されていると共に、外部でボイスコイルモータＶＣＭのコイルを介して電源ＶＤＤに接続されている。また、ＶＣＭ制御回路１００のＧＮＤ端子は、センス抵抗Ｒ１０５を介して出力ＭＯＳトランジスタ１０４の他方駆動端に接続されていると共に、電圧変換用抵抗Ｒ１０２を介してバッファアンプ１０３の正入力端子に接続されている。また、バッファアンプ１０３の負入力端子は出力ＭＯＳトランジスタ１０４の他方駆動端に接続されている。さらに、電源入力端子ＤＡＣＶＤＤから電流出力型ＤＡＣ１０１およびバッファアンプ１０３に電力供給が為されている。
【０００８】
上記構成の電流出力型ＤＡＣ１０１からの出力電流Ｉｄａｃは、数１００μＡ〜１ｍＡ程度であるが、ボイスコイルモータＶＣＭを制御するためには数１０ｍＡ〜１００ｍＡ程度の電流が必要である。このため、電流出力型ＤＡＣ１０１からの出力電流Ｉｄａｃを、バッファアンプ１０３および出力ＭＯＳトランジスタ１０４を介してセンス抵抗Ｒ１０５で１００倍程度に増幅する。この増幅した電流Ｉｓｉｎｋを、ボイスコイルモータＶＣＭを制御するためＶＣＭ制御電流として出力端子１０６から出力する。
【０００９】
オートフォーカス機能を実現するためのＶＣＭ制御回路１００は、ボイスコイルモータＶＣＭと同様にディスクリートな部品でも実現されるが、携帯電話装置などの小型携帯機器においては部品点数を削減して小型化、低コスト化するため、イメージセンサチップ内に内蔵する例も増えている。
【００１０】
イメージセンサ内にＶＣＭ制御回路を内蔵すると、イメージセンサチップ内のその他回路テストと同様にＶＣＭ制御回路のテストも前半テストとして行って、量産に対応する必要がある。
【００１１】
量産時のテストにおいて、出力値がアナログ出力のテスト項目は、アナログの特性を出すのに十分なセトリング時間をおいて評価する必要性や、ノイズの影響を軽減するために複数のサンプルの平均化処理をする必要性などから、一般的にデジタル出力のテスト項目に比べてテストに時間がかかる傾向がある。テストに必要な時間はそのまま製品のコストに影響するため、ＶＣＭ制御に用いる電流出力ＤＡ変換回路（電流出力型ＤＡＣ１０１）のようなアナログ出力のテスト項目は極力少なくする方がテスト時間を節約することができてよい。
【００１２】
ＶＣＭ制御回路１００のテストについて、従来のテスト環境を図１２を用いて詳細に説明する。
【００１３】
図１２は、図１１のＶＣＭ制御回路１００が内蔵されたイメージセンサの要部構成例を示すブロック図である。
【００１４】
図１２において、従来のイメージセンサ１１０は、前述したように部品点数を削減して小型化、低コスト化するために図１１のＶＣＭ制御回路１００を内蔵している。
【００１５】
このＶＣＭ制御回路１００の主要構成回路である電流出力型ＤＡＣ１０１のテストは、外部に電流出力型ＤＡＣ１０１より高精度のＡＤ変換回路１１１を準備して、その出力であるデジタル化したデジタル信号ＴＥＳＴＤｏｕｔ１をテストする方法や、被評価回路である電流出力型ＤＡＣ１０１より高精度のＡＤ変換回路１１２を別途内蔵して電流出力型ＤＡＣ１０１からのＤＡ変換出力を直接入力してデジタル信号ＴＥＳＴＤｏｕｔ２を出力し、その出力デジタル信号ＴＥＳＴＤｏｕｔ２をテストする方法や、特許文献１に開示されているような通信システムのＬＳＩでは受信用のＡＤ変換回路を用いて送信用のＤＡ変換回路を評価する方法がある。
【００１６】
なお、このイメージセンサ１１０には、ＶＣＭ制御回路１００の他に、撮像用の画素部１２０と、画素部１２０からの各撮像信号をそれぞれＡＤ変換するカラムＡＤ変換回路１２１と、このカラムＡＤ変換回路１２１からの各デジタル画像信号を出力する出力回路１２２とを有している。このカラムＡＤ変換回路１２１は、ランプジュネレータ、コンパレータ、ラッチ回路および列選択回路からなっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１７】
【特許文献１】特開２００３−２５８６３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
しかしながら、被評価回路のＤＡ変換回路よりも高精度のＡＤ変換回路を評価回路として別途用意するにはコストがかかるという問題があった。また、被評価回路のＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路の評価を行うのに、ＡＤ変換回路を別途用意してそのデジタル出力を用いて性能評価テストを行う場合には何十という評価項目の中に入れて自動で一挙に素早く正確に行うことができるのに比べて、被評価回路のＤＡ変換回路からのアナログ出力を用いて性能評価テストを行う場合には、ＶＣＭ制御回路の性能評価だけで時間がかかるので、ＶＣＭ制御回路の性能評価項目を別途設けて、単独でする必要がある。したがって、被評価回路のＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路の評価を行う際に、ＡＤ変換回路を別途用意せず、アナログ出力を用いて性能評価テストを行う場合には、性能評価テストに多大な時間が必要になる。
【００１９】
例えば、アナログ出力を用いて性能評価テストを行う場合に比べて、デジタル出力を用いて何十という評価項目の中に入れて自動で一挙に性能評価テストを行う場合には、その消費時間が１／１００以上短縮されることも多い。
【００２０】
また、特許文献１に開示されているような通信用のケーブルモデムＬＳＩ内に１個づつ内蔵されている受信側のＡＤ変換回路を評価回路として用いて、送信側のＤＡ変換回路を被評価回路としてテストすると、評価回路である受信側のＡＤ変換回路の特性バラツキにより、被評価回路である送信側のＤＡ変換回路の出力結果が正確に得られず、テストが困難になるという問題があった。
【００２１】
本発明は、上記従来の問題を解決するもので、ＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路のテストにおいて、新たなＡＤ変換回路の追加を行わずに、評価回路のバラツキの影響を受けにくく正確なテストを簡易かつ高速に行うことができるイメージセンサおよび、このイメージセンサを画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばカメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明のイメージセンサは、入射光を光電変換する複数の受光部が配列された画素部と、該画素部からの各撮像信号をＡＤ変換する複数のカラムＡＤ変換回路と、該複数のカラムＡＤ変換回路からの各デジタル信号をそれぞれ順次出力する出力回路とを有するイメージセンサにおいて、カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータを制御する制御回路が内蔵され、該制御回路内のＤＡ変換回路のテスト出力端子を該複数のカラムＡＤ変換回路の全部または一部の複数の入力端に接続可能に構成し、該出力回路からのデジタル信号により、該制御回路のＤＡ変換回路の性能評価テストを行うことが可能なものであり、そのことにより上記目的が達成される。
【００２３】
また、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路は電流出力型であり、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型である。
【００２４】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路は電圧出力型であり、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電圧出力型である。
【００２５】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける複数のカラムＡＤ変換回路に対するテスト用入力端子が設けられ、該テスト用入力端子から入力される信号と画素部から入力される信号とを、該複数のカラムＡＤ変換回路への入力信号として切り替え可能に構成している。
【００２６】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるテスト用入力端子に対して、チップ外部からの入力と前記制御回路内のＤＡ変換回路のテスト出力端子からの入力とを切り替えるスイッチ手段が設けられている。
【００２７】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路が電流出力型で、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型の場合に、該テスト出力端子からの出力が、電流電圧変換回路により電圧に変換されて前記複数のカラムＡＤ変換回路に入力可能とされている。
【００２８】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける電流電圧変換回路は、前記制御回路から離れた位置にある前記複数のカラムＡＤ変換回路に入力するために、該カラムＡＤ変換回路の直近または前記テスト用入力端子の直近に設けられている。
【００２９】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける電流電圧変換回路は、プルダウン抵抗またはプルアップ抵抗により構成されている。
【００３０】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける複数のカラムＡＤ変換回路のうち、前記ＤＡ変換回路の評価テスト時に、前記画素部以外のダミー列の全部または一部に接続された複数のカラムＡＤ変換回路を用いてＡＤ変換する。
【００３１】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路の評価テスト時に、前記画素部からの列と該画素部以外のダミー列の両方に接続された複数のカラムＡＤ変換回路を用いてＡＤ変換する。
【００３２】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路の評価テスト時に用いる複数のカラムＡＤ変換回路からのデジタル出力を平均化して評価テストを行う。
【００３３】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおけるＤＡ変換回路が電流出力型で、該ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型の場合に、前記テスト出力端子以降の受け側の前記複数のカラムＡＤ変換回路の入力レンジに応じた出力電流の向きおよび電流値を調整するための電流調整回路が前記制御回路に設けられている。
【００３４】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける電流調整回路は、入力端子と出力端子が配線で直接接続されているかまたは、該入力端子と該出力端子が増幅用トランジスタで接続されている。
【００３５】
さらに、好ましくは、本発明のイメージセンサにおける電流調整回路は、入力端子と出力端子間に１段または複数段のカレントミラー回路が設けられている。
【００３６】
本発明の電子情報機器は、本発明の上記イメージセンサを画像入力デバイスとして撮像部に用いたものであり、そのことにより上記目的が達成される。
【００３７】
上記構成により、以下、本発明の作用を説明する。
【００３８】
本発明においては、カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータを制御する制御回路が内蔵され、この制御回路内のＤＡ変換回路のテスト出力端子を複数のカラムＡＤ変換回路の全部または一部の複数の入力端に接続可能に構成し、出力回路からのデジタル信号により、この制御回路のＤＡ変換回路の性能評価テストを行う。
【００３９】
これによって、ＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路の性能評価テストにおいて、新たなＡＤ変換回路を追加せずに、イメージセンサ内の既存の多数のカラムＡＤ変換回路を用いて、ＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路からの出力をデジタル画像信号に変換した後に性能評価テストを行うので、多数のカラムＡＤ変換回路からの各デジタル出力を平均化すれば、評価回路のバラツキの影響を受けにくく、より正確な評価テストを簡易かつ高速に行うことが可能となる。これによって、ＶＣＭ制御回路内のＤＡ変換回路の正確な性能評価テストで不良になったものを精度よく省くことができるため、フォーカス制御で焦点が正確に合うイメージセンサだだけが選択される。
【００４０】
また、ＤＡ変換回路はボイスコイルモータＶＣＭを素早くかつ正確に制御するために電流出力型を採用しており、ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型であれば、テスト出力端子はチップ上で離れた位置にあるＡＤ変換回路に入力するために配線長による電圧降下を避ける効果がある。
【００４１】
さらに、既に設けられているカラムＡＤ変換回路用のテスト用入力端子を、前述した制御回路のＤＡ変換回路の評価テストに兼用することが可能となり、新たな回路の追加が少なくて済む。
【００４２】
さらに、カラムＡＤ変換回路用のテスト用入力端子に、スイッチ手段１個の追加だけで制御回路のＤＡ変換回路のテスト出力端子を接続可能にできて、制御回路のＤＡ変換回路の評価テストにも兼用することが可能となる。
【００４３】
さらに、ＤＡ変換回路が電流出力型で、ＤＡ変換回路のテスト出力端子も電流出力型の場合に、制御回路の出力を電流電圧変換回路により電圧に変換して前記カラムＡＤ変換回路にされることを特徴とする。
【００４４】
さらに、この電流電圧変換回路は、ＶＣＭ制御回路から離れた位置にある複数のカラムＡＤ変換回路に入力するために、カラムＡＤ変換回路の直近またはテスト用入力端子の直近に設けられているため、配線長による電圧降下を避ける効果がある。
【００４５】
さらに、評価テスト時に、複数のカラムＡＤ変換回路のうち、画素部以外のダミー列に対応した複数のカラムＡＤ変換回路を使用することにより、画素部に接続されたＡＤ変換回路のテスト系に影響を与えることなく、制御回路のＤＡ変換回路を評価テストすることが可能となる。
【００４６】
さらに、評価テスト時に、画素部からの列と画素部以外のダミー列の両方に対応した複数のカラムＡＤ変換回路を使用することにより、より多数のＡＤ変換結果を得ることが可能となって、評価テストの信頼性を向上させることが可能である。
【００４７】
さらに、多数の列のＡＤ変換結果を平均化することにより、カラムＡＤ変換回路の列毎の特性バラツキをキャンセルしてより正確に評価テストを行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００４８】
以上により、本発明によれば、本発明のイメージセンサは、カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータＶＣＭを制御するＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路を内蔵し、このＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路の一つの出力端子からの出力を多数のカラムＡＤ変換回路に入力することで、ＶＣＭ制御回路、特に、電流出力型ＤＡ変換回路や電圧出力型ＤＡ変換回路の性能評価テストにおいて、新たにＡＤ変換回路の追加がなく、テスト結果をデジタル化して出力することができる。これによって、ＤＡ変換回路の性能評価テストを簡易かつ高速に行うことができる。
【００４９】
また、カラムＡＤ変換回路の複数のカラムＡＤ変換の結果を平均化することにより、ＤＡ変換回路の性能バラツキの影響を受けにくいより正確で精度のよいテスト環境を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の実施形態１におけるＶＣＭ制御回路を内蔵したイメージセンサの要部回路構成例を示すブロック図である。
【図２】図１のイメージセンサにおける画素部、カラムＡＤ変換回路およびＶＣＭ制御回路のテスト信号の接続関係を示すブロック図である。
【図３】図１のＶＣＭ制御回路の要部構成例を示す回路図である。
【図４】図３の電流出力型ＤＡＣの要部構成例を示すブロック図である。
【図５】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ、図３のＶＣＭ制御回路のテスト回路および電流電圧変換回路（ＩｔｏＶ）における具体例を示す回路図である。
【図６】（ａ）および（ｂ）はそれぞれ、図３のＶＣＭ制御回路のテスト回路および電流電圧変換回路（ＩｔｏＶ）における別の具体例を示す回路図である。
【図７】（ａ）および（ｂ）は、図３のＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路の性能評価テストの説明図である。
【図８】本発明の実施形態２におけるイメージセンサに内蔵されたＶＣＭ制御回路の要部構成例を示す回路図である。
【図９】本実施形態２のイメージセンサにおける画素部、カラムＡＤ変換回路およびＶＣＭ制御回路のテスト信号の接続関係を示すブロック図である。
【図１０】本発明の実施形態３として、本発明の実施形態１または２のイメージセンサを撮像部に用いた電子情報機器の概略構成例を示すブロック図である。
【図１１】従来のイメージセンサのオートフォーカス機構用のボイスコイルモータを制御するためのＶＣＭ制御回路の要部構成例を示す回路図である。
【図１２】図１１のＶＣＭ制御回路が内蔵されたイメージセンサの要部構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００５１】
以下に、本発明のイメージセンサの実施形態１、２および、このイメージセンサの実施形態１または２を画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばカメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器の実施形態３について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００５２】
（実施形態１）
図１は、本発明の実施形態１におけるＶＣＭ制御回路を内蔵したイメージセンサの要部回路構成例を示すブロック図である。
【００５３】
図１において、本実施形態１のイメージセンサ１は、カラムＡＤＣ型のイメージセンサチップであり、カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータＶＣＭを制御するＶＣＭ制御回路２（制御回路）と、入射光を光電変換する複数の受光部が行列方向に配列された画素部３と、複数の受光部の列毎にＡＤ変換処理を行う多数（例えば数百〜２０００または２０００を超えて３０００程度、さらに今後、高画素化が進めば３０００以上の列数）のカラムＡＤ変換回路４と、画素部３からの撮像信号がＡＤ変換されて、列毎の各デジタル画像信号が列選択回路によって順次選択されて外部に出力する出力回路５とを有している。なお、このイメージセンサ１は、この他に、位相同期回路（ＰＬＬ）、タイミング生成回路、後処理用の各種のロジック回路、高速出力のためのＬＶＤＳや参照電圧発生回路などが内蔵されることもあるが、本発明においてはこれらは本質的な部分でないのでここでは図示していない。
【００５４】
ＶＣＭ制御回路２は、出力端子Ｖｓｉｎｋをチップ外部のボイスコイルモータＶＣＭのコイルに接続し、出力端子Ｖｓｉｎｋを介した電流によって駆動されるボイスコイルモータＶＣＭによる振動によって、レンズユニットの位置を制御してレンズと画素部３との距離を合焦点位置に制御することができる。また、ここでのＶＣＭ制御回路２のテスト電流出力端子Ｔｏｕｔは、各列毎の複数のカラムＡＤ変換回路４に接続されている。即ち、ＶＣＭ制御回路２内のＤＡ変換回路のテスト電流出力端子ＴｏｕｔをカラムＡＤ変換回路４の入力端に接続可能に構成し、出力回路５からのデジタル信号を用いて、ＶＣＭ制御回路２内のＤＡ変換回路の性能評価テストを行うことができる。
【００５５】
図２は、図１のイメージセンサにおける画素部３、カラムＡＤ変換回路４およびＶＣＭ制御回路２のテスト信号の接続関係を示すブロック図である。
【００５６】
図２において、画素部３からの各列毎の撮像信号はそれぞれ、通常動作時は、各列毎のカラムＡＤ変換回路４にそれぞれ入力され、有効カラムＡＤ変換回路を構成する多数のカラムＡＤ変換回路４によるデジタル化処理後に、各列毎のデジタル画像信号が列選択回路により順次選択されて出力回路５から各デジタル画像信号として直列化して（列毎に並列の信号を直列に並べて）外部に出力されるが、画素部３からの各撮像信号の出力を止め（転送信号の出力を止め）、外部切替えスイッチ１３をオンすることにより、アナログ値を外部から入力するアナログ入力モードになり、端子ｔｅｓｔＩＮからの入力アナログ信号のＡＤ変換結果として、出力回路５からのデジタル信号をモニタ可能となる。
【００５７】
この外部アナログ入力の機能は、列毎の多数のカラムＡＤ変換回路４自体（画素部からの有効部分およびダミー部分も含む）を評価テストするために既に設けられている。
【００５８】
カラムＡＤ変換回路４は、一定時間で電圧値が順次上昇していくランプ信号を発生するランプジェネレータ４１（ランプ信号発生器）と、このランプ信号と列毎の入力アナログ信号とをそれぞれ比較する列毎の各コンパレータ４２と、各入力アナログ信号がランプ信号によって反転するまでの時間を保持する列毎の各ラッチ回路４３と、出力回路６からシリアルに画像信号を出力するために、列毎の各ラッチ回路４３を順次選択する列選択回路４４とから構成され、多数のカラムＡＤ変換回路４によってそれぞれＡＤ変換された各デジタル信号は出力回路６を通して外部にそれぞれ出力される。この各出力をＡＤ変換結果として、画素部３からの撮像信号の場合と同様にモニタして性能評価テストをすることができる。
【００５９】
要するに、画素部３の列毎に多数配設されたカラムＡＤ変換回路４自体が、性能評価テストが行われる被評価回路であり、性能評価テストで良品であった各カラムＡＤ変換回路４の全てまたは一部を用いて、本実施形態１のＶＣＭ制御回路２の電流出力型ＤＡＣ１０１の性能評価テストが行われる。
【００６０】
ＶＣＭ制御回路２のテスト出力端子としてのテスト電流出力端子Ｔｏｕｔから配線１０に出力された出力電流は、電流電圧変換回路１１（ＩｔｏＶ）により電圧変換されて端子ＶＣＭｔｅｓｔＩＮから出力され、スイッチ手段としてのテスト切替えスイッチ１２の１端子に入力される。ＶＣＭテストモード時には、テスト切替えスイッチ１２を切り替えて、外部テスト端子ｔｅｓｔＩＮ（テスト用入力端子）に端子ＶＣＭｔｅｓｔＩＮ側を電気的に接続し、外部切替えスイッチ１３を通して列毎の多数のカラムＡＤ変換回路４に入力し、多数のカラムＡＤ変換回路４の各ＡＤ変換結果が、画素部３からの撮像信号の場合と同様にモニタ可能となる。なお、このＶＣＭテストモード時には画素部３からの列毎の各撮像信号の転送が停止されている。
【００６１】
電流電圧変換回路１１は、ＶＣＭ制御回路２から離れた位置にある複数のカラムＡＤ変換回路４に入力するために、カラムＡＤ変換回路４の直近または外部テスト端子ｔｅｓｔＩＮ（テスト用入力端子）の直近に設けられている必要があるが、ここでは、電流電圧変換回路１１は外部テスト端子ｔｅｓｔＩＮ（テスト用入力端子）のＶＣＭ制御回路２側の直近に設けられている。これによって、配線長による電圧降下を避ける効果がある。
【００６２】
ここで、本発明のために新たに設けるのは、カラムＡＤ変換回路４の周辺において、配線１０、電流電圧変換回路１１およびテスト切替えスイッチ１２であり、外部切替えスイッチ１３は、カラムＡＤ変換回路４自体の性能評価テストのために既に設けられているものである。
【００６３】
図３は、図１のＶＣＭ制御回路２の要部構成例を示す回路図である。なお、図９の従来のＶＣＭ制御回路の構成部材と同様の作用効果を奏する構成部材には同様の符号を付してその説明を省略する。
【００６４】
図３に示すように、ＶＣＭ制御回路２は、これに内蔵された電流出力型ＤＡＣ１０１の電流出力ノードを、出力アンプ１０３の正側入力端子側から切り離し、テスト出力端子Ｔｏｕｔ以降の受け側のＡＤ変換回路の入力レンジに応じた出力電流の向きおよび倍数（電流値）を調整するための電流調整回路としてのテスト回路２１側に切り替え可能とするスイッチＳＷＩ２２とそのテスト回路２１とが図９のＶＣＭ制御回路１００に追加されており、更に新たに追加されたテスト出力端子Ｔｏｕｔからの出力がイメージセンサ１の列毎の多数のカラムＡＤ変換回路４にそれぞれ入力される。また、受け側のカラムＡＤ変換回路４の入力レンジに、電流電圧変換回路１１の抵抗値により合わせることもできる。受け側のカラムＡＤ変換回路４の入力レンジいっぱいに入力側を負わせれば、より精度のよいＡＤ変換出力（デジタル出力）が得られて、本実施形態１の性能評価テストがより正確なものになる。
【００６５】
ここで、本発明のために新たに設けるのは、ＶＣＭ制御回路２において、テスト回路２１、スイッチＳＷＩ２２およびテスト出力端子Ｔｏｕｔであり、また、前述したように、カラムＡＤ変換回路４の周辺において、配線１０、電流電圧変換回路１１およびテスト切替えスイッチ１２であるが、この方が、従来のように被評価回路のＤＡ変換回路よりも高精度のＡＤ変換回路を別途設ける場合に比べてチップ占有面積的にも簡易になる。
【００６６】
なお、このＶＣＭ制御回路２において、参照電圧発生回路や、デジタル電源とアナログ電源の動作レベルを調整するレベルシフタ、更には各種設定を少ない端子数で実現するＩ２Ｃシリアルインターフェースなどが内蔵されることも多いが、これらは本発明において本質的な部分ではないのでここでは図示していない。また、リセット信号などの制御信号についても本発明において本質的な部分ではないのでここでは図示していない。
【００６７】
図４は、図３の電流出力型ＤＡＣ１０１の要部構成例を示すブロック図である。
【００６８】
図４において、電流出力型ＤＡＣ１０１は、デジタル入力Ｄｉｎをデコードするデコーダ１０１ａと、デコードされた信号により電流セルマトリックス１０１ｂの各電流ユニット１０１ｃから出力されるユニット電流Ｉｕｎｉｔを、デコーダ１０１ａの出力信号に応じて必要数だけ合計して電流Ｉｄａｃとして出力する。なお、この場合の電流ユニット１０１ｃの回路は一例であり、オン時にユニット電流を流す仕組みの回路全てが適用されることになる。
【００６９】
具体例として、４ビットの電流出力型ＤＡＣ１０１で電流ユニット１０１ｃが１５個のケースを考える。デジタル入力Ｄｉｎ＝｛０００１｝のときには１個の電流ユニット１０１ｃのみの入力信号Ｖｓｉｇ側の入力ＭＯＳトランジスタがオン、残りの１４個の電流ユニットで入力信号Ｖｓｉｇｘ側の入力ＭＯＳトランジスタがオンとなり、１個分のユニット電流のみが出力される。また、デジタル入力Ｄｉｎ＝｛１１１１｝のときには１５個の電流ユニット１０１ｃが全てが入力信号Ｖｓｉｇ側の入力ＭＯＳトランジスタがオンとなり、１５個分のユニット電流の合計が外部に出力されることになる。
【００７０】
図３を参照すると、電流出力型ＤＡＣ１０１からの出力電流は、通常動作時には、スイッチＳＷＩ２２がバッファアンプ１０３の正側入力端子に接続されて、Ｖｓｉｎｋ端子１０６から電流Ｉｓｉｎｋを引き込んでボイスコイルモータＶＣＭを制御してレンズユニットを合焦点位置に移動させる。一方、テスト時には、スイッチＳＷＩ２２をテスト回路２１側に切り替える。図４に示すように、電流出力型ＤＡＣ１０１の電流ユニット１０１ｃは、電流出力端Ｉｄａｃ（＝ΣＩｕｎｉｔ）がグランドに向けて出力される。
【００７１】
図５（ａ）および図５（ｂ）はそれぞれ、図３のＶＣＭ制御回路２のテスト回路２１および電流電圧変換回路１１（ＩｔｏＶ）における具体例を示す回路図である。
【００７２】
図５（ａ）および図５（ｂ）において、テスト回路２１１は、入力端子Ｔｉｎと出力端子Ｔｏｕｔが配線で直接接続されており、出力端子Ｔｏｕｔからそのまま出力された電流は、電流電圧変換回路１１１（ＩｔｏＶ）のグランドに接続されたプルダウン抵抗の抵抗Ｒｖｉに流れ込むことによってアナログ入力電圧に変換され、その変換されたアナログ入力電圧がカラムＡＤ変換回路４のコンパレータ部４２に入力される。カラムＡＤ変換回路４では、このアナログ入力電圧をデジタル出力に変換して出力するが、性能評価テスト時に有効なカラム（列）を列選択回路４４により順次選択して出力する。
【００７３】
この際に、図５（ａ）のハッチ部のように画素部３からの撮像信号を変換するカラム（列）およびその両側のダミーカラム（列）を含む全カラムを使用して性能評価テストを実施してもよいが、図５（ｂ）のように例えば画素部３からのカラム（列）以外のダミーカラム（列）の全部または一部を使用してテストしても構わない。さらには、画素部３からの撮像信号を変換するカラム（列）の全カラムまたは一部カラムを使用して性能評価テストを実施してもよい。何れにせよ、より多くの複数のカラムを使用する効果は、個々のカラムＡＤ変換回路４が持つランダムなノイズ成分を平均化してノイズを低減し真の値に近づけることができることである。
【００７４】
図６（ａ）および図６（ｂ）はそれぞれ、図３のＶＣＭ制御回路２のテスト回路２１および電流電圧変換回路１１（ＩｔｏＶ）における別の具体例を示す回路図である。
【００７５】
図６（ａ）および図６（ｂ）において、テスト回路２１２は、カレントミラー回路を構成しており、入力端子ＴｉｎがＮＭＯＳトランジスタ７１のドレインに接続され、このＮＭＯＳトランジスタ７１は、ソースが接地され、ドレインとゲートが接続されたダイオード接続となっており、このＮＭＯＳトランジスタ７１のゲートは、ＮＭＯＳトランジスタ７２のゲートにも接続されている。このカレントミラー構造により、入力端子Ｔｉｎに入力された電流がミラーされて出力端子Ｔｏｕｔから電流出力される。
【００７６】
この出力端子Ｔｏｕｔに引き込まれる電流は、電流電圧変換回路１１２の電源電圧ＶＤＤに接続されたプルアップ抵抗の抵抗Ｒｖｉから流れ込むことにより、抵抗Ｒｖｉでアナログ入力電圧に変換され、この変換されたアナログ入力電圧が多数のカラムＡＤ変換回路４の各コンパレータ部４２に入力される。各カラムＡＤ変換回路４では、このアナログ電圧入力をデジタル出力に変換して出力するが、性能評価テスト時に有効なカラム（列）を列選択回路４４により順次選択して性能評価テスト結果として外部にデジタル出力する。
【００７７】
この際に、図６（ａ）のハッチ部のように画素部３からの撮像信号を変換するカラム（列）およびその両側のダミーカラム（列）を含む全カラムを使用して性能評価テストをしても、図６（ｂ）のように例えば画素部３以外のダミーカラムの全部または一部を使用して性能評価テストしても構わない。このように、より多い複数のカラムを使用する効果は、個々のカラムＡＤ変換回路４が持つランダムなノイズ成分を平均化してノイズを低減し真の値に近づけて正確なテストをすることができることである。
【００７８】
図７（ａ）および図７（ｂ）は、図３のＶＣＭ制御回路２のＤＡ変換回路の性能評価テストの説明図である。
【００７９】
この性能評価テストは、まず、カラムＡＤ変換回路４の性能評価テストとして、信号発生器により外部（ＣＡＤＣｔｅｓｔＩＮ）から順次増加するランプ波形のアナログ信号を入力し、図７（ａ）に示すように、この入力アナログ信号（入力アナログ値）に対する出力デジタル値（例えば１０または１２ビット）が所定の基準値の範囲Ｅ内かどうかを評価する。この場合、各カラムＡＤ変換回路４毎に多数の出力デジタル値が得られる。この多数の出力デジタル値を評価して、各カラムＡＤ変換回路４の性能をそれぞれ評価することができる。
【００８０】
このような多数のカラムＡＤ変換回路４の性能をそれぞれ評価する構成を利用して、次に、ＶＣＭ制御回路２の電流出力型ＤＡＣ１０１の性能評価テストとして、信号発生器により外部（ＶＣＭ制御回路２のＤｉｎ）から順次増加するランプ波形のデジタル値（例えば１０または１２ビット）を入力し、このＶＣＭ制御回路２の電流出力型ＤＡＣ１０１によって入力デジタル値がアナログ値に変換され、次のカラムＡＤ変換回路４でアナログ値がデジタル値に変換されてテスト結果として外部にデジタル出力される。
【００８１】
図７（ａ）に示すように、この入力デジタル値（例えば１０または１２ビット）に対する出力デジタル値（例えば１０または１２ビット）が所定の基準値の範囲Ｅ内かどうかを評価することができる。この場合、各カラムＡＤ変換回路４毎に多数の出力デジタル値が得られるが、図７（ａ）および図７（ｂ）に示すように、列の位置毎の出力デジタル値（実際の出力値Ｙ）を平均した出力デジタル値と基準中心値Ｘとの差が所定の基準値の範囲Ｅ内かどうかを評価することができる。カラムＡＤ変換回路４の数が多いほど、電流出力型ＤＡＣ１０１の性能評価テストの精度が高くなる。これによって、カラムＡＤ変換回路４の個体差が解消できてより正確な性能評価テストが可能となる。
【００８２】
以上により、本実施形態１によれば、ＶＣＭ制御回路２内のＤＡ変換回路の性能評価テストにおいて、新たなＡＤ変換回路を追加せずに、イメージセンサ１内の既存の多数のカラムＡＤ変換回路４を用いて、ＶＣＭ制御回路２のＤＡ変換回路としての電流出力型ＤＡＣ１０１からの電流出力をデジタル信号に変換してデジタル出力した後に、これをモニタして性能評価テストを行う。このため、評価回路である多数のカラムＡＤ変換回路４からの各デジタル出力を平均化すれば、評価回路のバラツキの影響を受けにくく、より正確なテストを簡易かつ高速に行うことができる。これによって、ＶＣＭ制御回路２内のＤＡ変換回路の性能評価テストで不良になったものを効率よく正確に省くことができるため、フォーカス制御で焦点が正確に合うイメージセンサが効率よく正確にしかも素早く選択される。
【００８３】
なお、図６（ａ）および図６（ｂ）のテスト回路２１２内の１段目のカレントミラー回路に限らず、１段目のカレントミラー回路の出力端子Ｔｏｕｔに２段目のカレントミラー回路の入力端子Ｔｉｎを接続することを繰り返して、複数のミラー回路を連続して接続するようにしてもよい。例えば一つのカレントミラー回路を連続して２段接続する場合、１段目のカレントミラー回路の出力端子Ｔｏｕｔに２段目のカレントミラー回路の入力端子Ｔｉｎを接続するが、１段目のカレントミラー回路でＧＮＤに接続されていた２端子に対応する２端子が、２段目のカレントミラー回路では、電源ＶＤＤの出力側に接続される。このカレントミラー回路の出力電流の倍数は制御できる。なお、電流ミラー倍数はミラー元のＭＯＳトランジスタのサイズとミラー先のＭＯＳトランジスタのサイズの比で決定される。または、出力電流を増加させるために、図６（ａ）および図６（ｂ）のテスト回路２１２内のカレントミラー回路に代えて、入力端子Ｔｉｎと出力端子Ｔｏｕｔ間に増幅用のＭＯＳトランジスタの各駆動端子をそれぞれ接続するようにしてもよい。
【００８４】
また、本実施形態１では、ボイスコイルモータＶＣＭを素早くかつ精度よく制御するために、ＶＣＭ制御回路２に電流出力型ＤＡＣ１０１を用いたが、これに限らず、電圧出力型ＤＡＣを用いてもよい。電流出力型ＤＡＣ１０１を用いる場合、電圧発生用の抵抗Ｒ１０２からＧＮＤに電流を流して電圧を得ているが、電圧出力型ＤＡＣを用いる場合には、電圧発生用の抵抗Ｒ１０２は不要で、電流も流す必要がないため、低消費電力化することができる。ＶＣＭ制御回路に電圧出力型ＤＡＣを用いる場合について、次の実施形態２で詳細に説明する。
【００８５】
（実施形態２）
図８は、本発明の実施形態２におけるイメージセンサに内蔵されたＶＣＭ制御回路の要部構成例を示す回路図である。なお、図３のＶＣＭ制御回路の構成部材と同様の作用効果を奏する構成部材には同様の符号を付して説明する。
【００８６】
図８において、本実施形態２のＶＣＭ制御回路２Ａは、ＶＣＭ制御信号であるデジタル信号Ｄｉｎを入力として入力デジタル信号に応じた電圧Ｖｄａｃを出力する電圧出力型ＤＡＣ１０１Ａと、この電圧出力型ＤＡＣ１０１Ａからの出力電圧Ｖｄａｃを、バッファアンプ１０３の正入力端子側と出力端子Ｔｏｕｔとに選択的に切り替えるスイッチＳＷＩ２２と、バッファアンプ１０３と、このバッファアンプ１０３の出力端がゲートに接続された出力ＭＯＳトランジスタ１０４と、この出力ＭＯＳトランジスタ１０４に直列に接続され、出力電流値を決定するセンス抵抗Ｒ１０５とから構成されている。
【００８７】
このＶＣＭ制御回路２ＡのＶｓｉｎｋ出力端子１０６は、内部で出力ＭＯＳトランジスタ１０４の一方駆動端に接続されていると共に、外部でボイスコイルモータＶＣＭのコイルを介して電源ＶＤＤに接続されている。また、ＶＣＭ制御回路２ＡのＧＮＤ端子は、センス抵抗Ｒ１０５を介して、出力ＭＯＳトランジスタ１０４の他方駆動端とバッファアンプ１０３の負入力端子に接続されている。さらに、電源入力端子ＤＡＣＶＤＤから電圧出力型ＤＡＣ１０１Ａおよびバッファアンプ１０３に電力供給が為されている。
【００８８】
図９は、本実施形態２のイメージセンサにおける画素部３、カラムＡＤ変換回路４およびＶＣＭ制御回路２Ａのテスト信号の接続関係を示すブロック図である。なお、図２の場合と同様の作用効果を奏する構成部材には同様の符号を付して説明する。
【００８９】
図９において、本実施形態２のイメージセンサ１Ａにおいて、画素部３からの各列毎の撮像信号はそれぞれ、通常動作時は、各列毎のカラムＡＤ変換回路４にそれぞれ入力され、有効カラムＡＤ変換回路を構成する多数のカラムＡＤ変換回路４によるデジタル化処理後に、各列毎のデジタル画像信号が列選択回路４４により順次選択されて出力回路５から各デジタル信号として外部に順次デジタル出力されるが、画素部３からの各撮像信号の出力を止め（転送信号の出力を停止）、外部切替えスイッチ１３をオンすることにより、アナログ値を外部から入力するアナログ入力モードになり、端子ｔｅｓｔＩＮからの入力アナログ信号のＡＤ変換結果として、出力回路５からのデジタル信号をモニタ可能となる。
【００９０】
この外部アナログ入力の機能は、前述したが、多数のカラムＡＤ変換回路４自体をテストするために既に設けられている。
【００９１】
カラムＡＤ変換回路４は、一定時間で電圧値が順次上昇していくランプ信号を発生するランプジェネレータ４１（ランプ信号発生器）と、このランプ信号と列毎の入力アナログ信号とをそれぞれ比較する列毎の各コンパレータ４２と、各入力アナログ信号がランプ信号によって反転するまでの時間を保持する列毎の各ラッチ回路４３と、出力回路６からシリアルにデジタル信号をデジタル出力するために、列毎のラッチ回路４３を順次選択する列選択回路４４とから構成されており、多数のカラムＡＤ変換回路４によってそれぞれＡＤ変換された各デジタル信号は出力回路６を通して外部にそれぞれデジタル出力される。この各デジタル出力をＡＤ変換結果として、画素部３からの撮像信号の場合と同様にモニタして性能評価テストをすることができる。
【００９２】
要するに、画素部３の列毎に多数配設されたカラムＡＤ変換回路４自体が、性能評価テストが行われるものであり、この性能評価テストで良品であった多数のカラムＡＤ変換回路４を用いて、ＶＣＭ制御回路２Ａの電圧出力型ＤＡＣ１０１Ａの性能評価テストが行われる。
【００９３】
ＶＣＭ制御回路２Ａのテスト電圧出力端子Ｔｏｕｔから配線１０に出力された出力アナログ電圧は、端子ＶＣＭｔｅｓｔＩＮに出力され、テスト切替えスイッチ１２の１端子に入力される。ＶＣＭテストモード時には、テスト切替えスイッチ１２を切り替えて、外部テスト端子ｔｅｓｔＩＮに端子ＶＣＭｔｅｓｔＩＮ側を電気的に接続し、テスト電圧出力端子Ｔｏｕｔからの出力アナログ電圧は、外部切替えスイッチ１３を通して列毎の多数のカラムＡＤ変換回路４に入力し、多数のカラムＡＤ変換回路４の各ＡＤ変換結果が、画素部３からの撮像信号の場合と同様にモニタ可能となる。
【００９４】
ここで、本発明のために新たに設けるのは、ＶＣＭ制御回路２Ａにおいて、スイッチＳＷＩ２２およびテスト出力端子Ｔｏｕｔであり、また、カラムＡＤ変換回路４の周辺において、配線１０およびテスト切替えスイッチ１２であるが、この方が、従来のように被評価回路のＤＡ変換回路よりも高精度のＡＤ変換回路を別途設ける場合に比べ、さらに上記実施形態１の場合よりもチップ占有面積的に簡易なものとなる。
【００９５】
以上により、本実施形態２によれば、上記実施形態１の場合よりもＶＣＭ制御回路２Ａにおいて低消費電力化することができる。さらに、上記実施形態１の場合よりも追加する構成がより簡易なものとすることができる。
【００９６】
（実施形態３）
図１０は、本発明の実施形態３として、本発明の実施形態１、２のイメージセンサ１または１Ａを撮像部に用いた電子情報機器の概略構成例を示すブロック図である。
【００９７】
図１０において、本実施形態３の電子情報機器９０は、上記実施形態１、２のイメージセンサ１または１Ａからの撮像信号を所定の信号処理してカラー画像信号として出力する固体撮像装置９１と、この固体撮像装置９１からのカラー画像信号を記録用に所定の信号処理した後にデータ記録可能とする記録メディアなどのメモリ部９２と、この固体撮像装置９１からのカラー画像信号を表示用に所定の信号処理した後に液晶表示画面などの表示画面上に表示可能とする液晶表示装置などの表示手段９３と、この固体撮像装置９１からのカラー画像信号を通信用に所定の信号処理をした後に通信処理可能とする送受信装置などの通信手段９４と、この固体撮像装置９１からのカラー画像信号を印刷用に所定の印刷信号処理をした後に印刷処理可能とするプリンタなどの画像出力手段９５とを有している。なお、この電子情報機器９０として、これに限らず、固体撮像装置９１の他に、メモリ部９２と、表示手段９３と、通信手段９４と、プリンタなどの画像出力手段９５とのうちの少なくともいずれかを有していてもよい。
【００９８】
この電子情報機器９０としては、前述したように例えばデジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、監視カメラ、ドアホンカメラ、車載用後方監視カメラなどの車載用カメラおよびテレビジョン電話用カメラなどの画像入力カメラ、スキャナ装置、ファクシミリ装置、カメラ付き携帯電話装置および携帯端末装置（ＰＤＡ）などの画像入力デバイスを有した電子機器が考えられる。
【００９９】
したがって、本実施形態３によれば、この固体撮像装置９１からのカラー画像信号に基づいて、これを表示画面上に良好に表示したり、これを紙面にて画像出力手段９５により良好にプリントアウト（印刷）したり、これを通信データとして有線または無線にて良好に通信したり、これをメモリ部９２に所定のデータ圧縮処理を行って良好に記憶したり、各種データ処理を良好に行うことができる。
【０１００】
なお、上記実施形態１、２で説明したが、カメラのオートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータＶＣＭを制御するＶＣＭ制御回路２または２Ａが内蔵され、このＶＣＭ制御回路２または２Ａ内のＤＡ変換回路１０１または１０１Ａのテスト出力端子Ｔｏｕｔを複数のカラムＡＤ変換回路４の全部または一部の複数の入力端にそれぞれ接続可能に構成し、出力回路５からのデジタル信号により、このＶＣＭ制御回路２または２ＡのＤＡ変換回路１０１または１０１Ａの性能評価テストを行う。これによって、新たなＡＤ変換回路の追加を行わずに、評価回路のバラツキの影響を受けにくく正確なテストを簡易にかつ高速に行うことができる本発明の目的を達成する。
【０１０１】
以上のように、本発明の好ましい実施形態１〜３を用いて本発明を例示してきたが、本発明は、この実施形態１〜３に限定して解釈されるべきものではない。本発明は、特許請求の範囲によってのみその範囲が解釈されるべきであることが理解される。当業者は、本発明の具体的な好ましい実施形態１〜３の記載から、本発明の記載および技術常識に基づいて等価な範囲を実施することができることが理解される。本明細書において引用した特許、特許出願および文献は、その内容自体が具体的に本明細書に記載されているのと同様にその内容が本明細書に対する参考として援用されるべきであることが理解される。
【産業上の利用可能性】
【０１０２】
本発明は、オートフォーカス機構を実現するボイスコイルモータ（ＶＣＭ）を制御するＤＡ変換回路が設けられたイメージセンサおよび、このイメージセンサを画像入力デバイスとして撮像部に用いた例えばデジタルビデオカメラおよびデジタルスチルカメラなどのデジタルカメラや、監視カメラなどの画像入力カメラ、スキャナ装置、ファクシミリ装置、テレビジョン電話装置、カメラ付き携帯電話装置などの電子情報機器の分野において、ＶＣＭ制御回路内のＤＡ変換回路のテストにおいて、新たなＡＤ変換回路を追加せずに、イメージセンサ内の既存の多数のカラムＡＤ変換回路を用いて、ＶＣＭ制御回路のＤＡ変換回路としての電流出力型ＤＡＣからの出力をデジタル画像信号に変換して出力した後にこれをモニタしてテストを行うため、評価回路である多数のカラムＡＤ変換回路からの各デジタル出力を平均化すれば、評価回路のバラツキの影響を受けにくく、より正確なテストを簡易にかつ高速に行うことができる。これによって、ＶＣＭ制御回路２内のＤＡ変換回路のテストで不良になったものを省くことができるため、フォーカス制御で焦点が正確に合うイメージセンサが選択される。
【符号の説明】
【０１０３】
１、１Ａ  イメージセンサ
２，２Ａ  ＶＣＭ制御回路（制御回路）
２１、２１１、２１２  テスト回路
１０１  電流出力型ＤＡＣ
１０１ａ  デコーダ
１０１ｂ  電流セルマトリックス
１０１ｃ  電流ユニット
１０１Ａ  電圧出力型ＤＡＣ
Ｒ１０２、Ｒ１０５、Ｒｉｖ  抵抗
１０４  出力ＭＯＳトランジスタ
１０３  出力アンプ
ＶＣＭ  ボイスコイルモータ
３  画素部
４  カラムＡＤ変換回路
４１  ランプ信号発生回路
４２  コンパレータ
４３  ラッチ回路
４４、４４ａ  列選択回路
５  出力回路
１０  配線
１１、１１１、１１２  電流電圧変換回路（ＩｔｏＶ）
１２  テスト切替えスイッチ
１３  外部切替えスイッチ
Ｔｏｕｔ  テスト電流出力端子（テスト出力端子）
ｔｅｓｔＩＮ  外部テスト端子（テスト用入力端子）
９０  電子情報機器
９１  固体撮像装置
９２  メモリ部
９３  表示手段
９４  通信手段
９５  画像出力手段
【図１】
2010193113.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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