(57)【要約】【課題】表示領域内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置において、額縁領域の小面積化を図る。【解決手段】本開示の表示装置は、表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、前記表示領域において、第１の方向に延伸する複数の第１の配線と、前記複数の第１の配線の一端に電気的に接続された第１の駆動回路と、  前記複数の第１の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第１の検査用配線と、前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第２の検査用配線と、前記第２の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、前記第１の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、を含み、前記第２の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第１の方向に延伸する。【選択図】図２
2020086150.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、
前記表示領域において、第１の方向に延伸する複数の第１の配線と、
前記複数の第１の配線の一端に電気的に接続された第１の駆動回路と、
前記複数の第１の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第１の検査用配線と、
前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第２の検査用配線と、
前記第２の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、
前記第１の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、
を含み、
前記第２の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第１の方向に延伸する、
表示装置。
【請求項２】
前記表示領域において、前記第１の方向と交差する第２の方向に延伸する複数の第２の配線と、
前記複数の第２の配線に電気的に接続された第２の駆動回路と、
前記表示領域において、前記第１の方向に延伸し、前記複数の第２の配線のそれぞれと、前記第２の駆動回路と、を電気的に接続する複数の引出線と、
を更に含み、
前記検査用駆動回路が、前記第２の駆動回路に含まれた、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
複数の前記第１の検査用配線と、
複数の前記第２の検査用配線と、
前記表示領域において、前記第１の方向及び前記第２の方向に配列された複数の画素電極と、
を更に含み、
前記複数の画素電極が、
前記第２の方向に互いに隣り合う第１の画素電極と第２の画素電極と、
前記第２の方向に互いに隣り合う第３の画素電極と第４の画素電極と、を含み、
前記複数の引出線のいずれかが、平面視で、前記第１の画素電極と前記第２の画素電極との間を延伸し、
前記複数の第２の検査用配線のいずれかが、平面視で、前記第３の画素電極と前記第４の画素電極との間を延伸し、
前記第１の画素電極と前記第２の画素電極との間においては、前記複数の第２の検査用配線のいずれも配置されず、
前記第３の画素電極と前記第４の画素電極との間においては、前記複数の引出線のいずれも配置されない、
請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記複数の第２の検査用配線の少なくとも１つが、平面視で、前記複数の引出線の内、互いに隣り合う二つの引出線の間を延伸する、
請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記複数の画素電極が、
前記第２の方向に互いに隣り合う第５の画素電極と第６の画素電極を更に含み、
前記複数の第１の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第１の方向に延伸し、
前記複数の第１の検査用配線のいずれかが、平面視で、前記第５の画素電極と前記第６の画素電極との間を延伸し、
前記第１の画素電極と前記第２の画素電極との間、及び前記第３の画素電極と前記第４の画素電極との間においては、前記複数の第１の検査用配線のいずれも配置されず、
前記第５の画素電極と前記第６の画素電極との間においては、前記複数の第２の検査用配線、及び前記複数の引出線のいずれも配置されない、
請求項３に記載の表示装置。
【請求項６】
前記複数の第１の検査用配線の少なくとも１つが、平面視で、前記複数の引出線の内、互いに隣り合う二つの引出線の間を延伸する、
請求項５に記載の表示装置。
【請求項７】
前記第１の駆動回路が、前記額縁領域を構成する第１の端辺領域に配置され、
前記第２の駆動回路が、前記第１の端辺領域に配置されるか、又は前記額縁領域を構成し前記第１の端辺領域と対向する第２の端辺領域に配置された、
請求項２に記載の表示装置。
【請求項８】
前記第１の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第１の方向に延伸する、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項９】
前記第２の検査用配線が、前記複数の検査用薄膜トランジスタに含まれる二以上の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記第１の検査用配線が、前記複数の検査用薄膜トランジスタに含まれる二以上の検査用薄膜トランジスタに電気的に接続された、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記検査用駆動回路が、前記額縁領域を構成する第１の端辺領域に配置され、
前記複数の検査用薄膜トランジスタが、前記額縁領域を構成し前記第１の端辺領域と対向する第２の端辺領域に配置され、
前記第２の検査用配線の少なくとも一部が、前記第２の端辺領域に配置された、
請求項１に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記検査用駆動回路が、前記額縁領域を構成する第１の端辺領域に配置され、
前記検査用回路が、前記第１の端辺領域に配置された、
請求項１に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載の表示装置は、ゲート線及びデータ線の断線を検査するために接続された複数の検査用トランジスタを有している。断線検査工程においては、検査用トランジスタをオン状態にし、当該検査用トランジスタを介して流れる電流量や、電荷量を測定することにより、ゲート線及びデータ線の断線を検査することが可能な構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−０１８１４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記従来の表示装置では、表示装置の表示領域の周囲に配置された額縁領域の面積が大きくなってしまうことが課題となっていた。即ち、上記従来の構成においては、検査用トランジスタをオン状態とするための配線を配置する面積に応じて、額縁領域の面積が大きくなってしまっていた。
【０００５】
本開示は、上記実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、表示領域内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置において、額縁領域の小面積化を図ることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本開示に係る表示装置は、表示領域と、前記表示領域の周囲に配置された額縁領域と、を備えた表示装置であって、前記表示領域において、第１の方向に延伸する複数の第１の配線と、前記複数の第１の配線の一端に電気的に接続された第１の駆動回路と、前記複数の第１の配線の他端のそれぞれに、複数の検査用薄膜トランジスタを介して電気的に接続された第１の検査用配線と、前記複数の検査用薄膜トランジスタのゲート電極に接続された第２の検査用配線と、前記第２の検査用配線に電気的に接続された検査用駆動回路と、前記第１の検査用配線に電気的に接続された検査用回路と、を含み、前記第２の検査用配線の少なくとも一部が、前記表示領域内において、前記第１の方向に延伸する。
【発明の効果】
【０００７】
本開示に係る表示装置によれば、額縁領域の小面積化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】図１は第１の実施形態に係る表示装置の概略構成を示す模式図である。
【図２】図２は第１の実施形態に係る表示装置における各種配線の配置関係を示す模式図である。
【図３】図３は第１の実施形態に係る表示装置の概略構成を示す等価回路図である。
【図４】図４は第１の実施形態の他の実施例に係る表示装置の概略構成を示す模式図である。
【図５】図５は第１の実施形態の他の実施例に係る表示装置における各種配線の配置関係を示す模式図である。
【図６】図６は第１の実施形態の他の実施例に係る表示装置における各種配線の配置関係を示す模式図である。
【図７】図７は第１の実施形態の他の実施例に係る表示装置における各種配線の配置関係を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本開示の第１の実施形態について、図面を用いて以下に説明する。なお、本実施形態では、表示装置として、液晶表示装置を例に挙げるが、本発明はこれに限定されず、例えば有機ＥＬ表示装置等であってもよい。
【００１０】
図１は、本実施形態の表示装置１００の概略構成を示す平面図である。図１に示すように、本実施形態の表示装置１００は、画像を表示する表示領域１０と、この表示領域１０の周囲に配置された額縁領域２０と、を備えている。額縁領域２０には、第１の駆動回路３０と、検査用回路５０と、検査用駆動回路６０と、が配置されている。第１の駆動回路３０は、例えばソース線駆動回路、又はゲート線駆動回路であり、本実施形態においては、第１の駆動回路３０がソース線駆動回路である例を用いて説明する。
【００１１】
図２は、本実施形態の表示装置１００における各種配線の配置関係を示す模式図である。図２に示すように、表示装置１００は、表示領域１０において、第１の方向に延伸する複数の第１の配線３１を有している。第１の配線３１は、例えばソース線、又はゲート線であり、本実施形態においては、第１の配線３１がソース線である例について説明する。これら複数の第１の配線３１の一端は、図１に示した第１の駆動回路３０と、電気的に接続されている。
【００１２】
図２に示すように、複数の第１の配線３１の他端のそれぞれには、複数の検査用薄膜トランジスタ５３が配置されており、この検査用薄膜トランジスタ５３を介して、複数の第１の配線３１が、第１の検査用配線５１と接続される構成となっている。第１の検査用配線５１の他端は、図１に示した検査用回路５０に電気的に接続されている。
【００１３】
また、図２に示すように、複数の検査用薄膜トランジスタ５３のゲート電極には第２の検査用配線５２が接続されている。第２の検査用配線の一端は、図１に示した検査用駆動回路６０に接続され、第２の検査用配線５２の少なくとも一部が、表示領域１０内において、第１の方向に延伸する構成としている。
【００１４】
このような構成とすることにより、表示領域１０内を延伸する配線の検査機能を有する表示装置１００において、図１に示した額縁領域２０の小面積化を図ることができる。即ち、本開示の表示装置１００においては、検査用薄膜トランジスタ５３をオン状態とするための信号を伝達する第２の検査用配線５２の少なくとも一部が、表示領域１０内に配置される構成としているため、額縁領域２０において第２の検査用配線５２を配置するスペースを小さくすることが可能となり、その結果として、額縁領域２０の小面積化を図ることが可能となる。
【００１５】
以下、本実施形態の表示装置１００のより具体的な構成について、図面を用いて説明する。
【００１６】
図１に示すように、本実施形態の表示装置１００は、額縁領域２０において、上述した第１の駆動回路３０、検査用回路５０に加えて、第２の駆動回路４０が配置されている。図１に示す例においては、検査用回路５０、及び検査用駆動回路６０が、額縁領域２０における第１の端辺領域２０Ａに配置される構成としている。また、額縁領域２０における、第１の駆動回路３０が配置された第１の端辺領域２０Ａと交差する端辺領域２０Ｃにおいて、第２の駆動回路４０が配置される構成としている。第２の駆動回路４０は、例えばゲート線駆動回路、又はソース線駆動回路であり、本実施形態においては、第２の駆動回路４０がゲート線駆動回路である例を用いて説明する。
【００１７】
図２に示すように、表示装置１００は、表示領域１０において、第１の方向と交差する第２の方向に延伸する複数の第２の配線４１を有している、第２の配線４１は、例えばゲート線、又はソース線であり、本実施形態においては、第２の配線４１がゲート線である例について説明する。これら複数の第２の配線４１は、図１に示した第２の駆動回路４０と、電気的に接続されている。
【００１８】
図３は、本実施形態の表示装置１００の概略構成を示す等価回路図である。図２を用いて上述した通り、表示装置１００には、第１の方向に延伸する複数の第１の配線３１としてのソース線と、第２の方向に延伸する複数の第２の配線４１としてのゲート線とが設けられている。各ソース線と各ゲート線との各交差部には、薄膜トランジスタ１３が設けられている。
【００１９】
表示装置１００には、各ソース線と各ゲート線との各交差部に対応して、複数の画素１４が第１の方向及び第２の方向に配列されている。なお、図示はしないが、表示装置１００は、薄膜トランジスタ基板と、カラーフィルタ基板と、両基板間に挟持された液晶層とを含んでいる。薄膜トランジスタ基板には、各画素１４に対応して、複数の画素電極１５が設けられている。カラーフィルタ基板には、各画素１４に共通する共通電極１６が設けられている。なお、共通電極１６は薄膜トランジスタ基板に設けられてもよい。
【００２０】
各ソース線（第１の配線３１）には、図１に示した第１の駆動回路３０からソース信号が供給される。各ゲート線（第２の配線４１）には、図１に示した第２の駆動回路４０からゲートオン電圧が供給される。共通電極１６には、共通電極駆動回路（図示せず）から共通配線１７を介して共通電圧が供給される。ゲートオン電圧がゲート線に供給されると、ゲート線に接続された薄膜トランジスタ１３がオン状態となり、薄膜トランジスタ１３に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極１５に供給される。画素電極１５に供給されたソース電圧と、共通電極１６に供給された共通電圧との差により電界が生じる。表示装置１００は、この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。なお、カラー表示を行う場合は、ストライプ状のカラーフィルタで形成された赤色、緑色、青色に対応するそれぞれの画素１４の画素電極１５に接続されたそれぞれのソース線に、所望のソース電圧を供給することにより実現される。
【００２１】
続いて、本実施形態における、検査方法の一例について説明する。
【００２２】
まず、図１に示した検査用駆動回路６０から検査用ゲートオン電圧が出力され、当該検査用ゲートオン電圧が、図２に示す第２の検査用配線５２を介して、第２の端辺領域２０Ｂ（図１参照）に配置された検査用薄膜トランジスタ５３のゲート電極に供給され、当該検査用ゲートオン電圧が供給された検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となる。本実施形態においては、図２に示すように、複数の第２の検査用配線５２の内の一つが、二つ以上の検査用薄膜トランジスタ５３に接続されているため、一つの第２の検査用配線５２に検査用ゲートオン電圧が供給されると、二以上の検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となる。例えば、図２において左から２番目に配置された第２の検査用配線５２Ｂに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図２において左から１番目から９番目に配置された９個の検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となる。
【００２３】
図２において左から１番目から９番目に配置された９個の検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となると、例えば、左から１番目、４番目、７番目に配置された第１の配線３１と、第２の方向に延伸する配線５４Ａとが、３つの検査用薄膜トランジスタ５３を介して導通する。図２に示すように、第２の方向に延伸する配線５４Ａと第１の検査用配線５１Ａとは電気的に接続されているため、第１の検査用配線５１Ａには、左から１番目、４番目、７番目に配置された第１の配線３１からの信号が伝達される。そして、第１の検査用配線５１Ａに接続された検査用回路５０により電圧値、又は電流値などを測定することにより、左から１番目、４番目、７番目に配置された第１の配線３１における、例えばショートなどの不具合の有無を検査することが可能である。このように、本実施形態においては、複数の第１の検査用配線５１の内の一つが、二以上の検査用薄膜トランジスタ５３と電気的に接続されており、当該二以上の検査用薄膜トランジスタ５３に接続された二以上の第１の配線３１の検査を、一つの第１の検査用配線５１を用いて行うことができる。このような構成とすることにより、第１の検査用配線５１の本数を削減することができ、表示領域１０内の限られたスペースに、この複数の第１の検査用配線５１を配置することが可能となる。
【００２４】
同様に、左から２番目、５番目、８番目に配置された第１の配線３１における、不具合の有無については、３つの検査用薄膜トランジスタ５３、及び配線５４Ｂを介して電気的に接続された第１の検査用配線５１Ｂの電圧値、電流値を、検査用回路５０により測定することで、検査することが可能である。また、左から３番目、６番目、９番目に配置された第１の配線３１における不具合の有無については、３つの検査用薄膜トランジスタ５３、及び配線５４Ｃを介して電気的に接続された第１の検査用配線５１Ｃの電圧値、電流値を、検査用回路５０により測定することで、検査することが可能である。
【００２５】
続いて、図２において左から１番目に配置された第２の検査用配線５２Ａに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図２において左から１０番目から１８番目に配置された９個の検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となり、これらに接続された９本の第１の配線３１における不具合の有無について検査することができる。
【００２６】
このように、各エリアに対応した複数の第２の検査用配線５２から、検査用ゲートオン電圧を供給することにより、この第２の検査用配線５２にゲート電極が接続された複数の検査用薄膜トランジスタ５３をオン状態とさせる。そして、オン状態となった複数の検査用薄膜トランジスタ５３に接続された複数の第１の配線３１における不具合の有無を、第１の検査用配線５１を介して伝達された電流値、電圧値等を測定することにより、検査することができる。
【００２７】
なお、図１に示す例においては、額縁領域２０における、第１の駆動回路３０が配置された第１の端辺領域２０Ａと交差する端辺領域２０Ｃにおいて、第２の駆動回路４０が配置される構成を示したが、図４に示すように、第２の駆動回路４０が、第１の駆動回路３０が配置された第１の端辺領域２０Ａに配置されるか、又は額縁領域２０を構成し第１の端辺領域２０Ａと対向する第２の端辺領域２０Ｂに配置された構成としても構わない。図４、５に示す例においては、第２の駆動回路４０が、第１の駆動回路３０が配置された第１の端辺領域２０Ａに配置される例を示している。
【００２８】
この実施例においては、図５に示すように、表示装置１００は、表示領域１０において、第１の方向に延伸する複数の引出線４２を含む構成としている。複数の引出線４２は、複数の第２の配線４１のそれぞれと、第２の駆動回路４０と、を電気的に接続する。第２の駆動回路４０から、複数の引出線４２にゲートオン電圧が供給されると、引出線４２に接続された第２の配線４１にゲートオン電圧が供給され、図３を用いて上述した薄膜トランジスタ１３がオン状態となる。
【００２９】
この図４、５に示す実施例においては、図１、２を用いて上述した検査用駆動回路６０と、第２の駆動回路４０とが同じ第１の端辺領域２０Ａに配置されるため、検査用駆動回路６０を、第２の駆動回路４０に含ませる構成とすることが可能である。
【００３０】
以下、この図４、５に示す実施例における、表示領域１０における画像表示と、第１の配線３１の検査に関する一連の動作の一例について説明する。
【００３１】
まず、検査用駆動回路６０を含む第２の駆動回路４０は、引出線４２Ａにゲートオン電圧を供給する。ゲートオン電圧が引出線４２Ａに供給されると、引出線４２Ａを介して、第２の配線４１Ａにゲートオン電圧が供給される。このデート電圧供給に伴い、第２の配線４１Ａに接続された薄膜トランジスタ１３（図３参照）がオン状態となり、薄膜トランジスタ１３に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極１５に供給される。画素電極１５に供給されたソース電圧と、共通電極１６に供給された共通電圧との差により電界が生じる。この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。
【００３２】
続いて、第２の駆動回路４０は、引出線４２Ｂにゲートオン電圧を供給する。このゲートオン電圧の供給により、引出線４２Ｂに電気的に接続された薄膜トランジスタ１３をオン状態にし、薄膜トランジスタ１３に接続されたソース線を介して、ソース信号であるソース電圧が画素電極１５に供給する。
【００３３】
この動作を、第２の駆動回路４０が、引出線４２Ａに対するゲートオン電圧の供給から引出線４２Ｇに対するゲートオン電圧の供給まで、順に繰り返すことにより、表示領域１０において画像を表示させることができる。
【００３４】
表示領域１０に一つの画像を表示した後、次の画像を表示するまでのブランクタイムの間に、検査用駆動回路６０を含む第２の駆動回路４０は、第１の配線３１の検査を行う。
【００３５】
具体的には、第２の駆動回路４０は、引出線４２Ａ〜４２Ｇに対するゲートオン電圧の供給の後、第２の検査用配線５２Ａ〜５２Ｅに検査用ゲートオン電圧を供給する。例えば、図５において左から２番目に配置された第２の検査用配線５２Ｂに検査用ゲートオン電圧が供給されると、図５において左から１番目から９番目に配置された９個の検査用薄膜トランジスタ５３がオン状態となる。
【００３６】
その後の検査の流れは、図２を用いて上述した通りである。
【００３７】
このように、図４、５に示す構成によれば、第２の駆動回路４０が検査用駆動回路６０を含む構成とすることができ、表示領域１０に一つの画像を表示した後、次の画像を表示するまでのブランクタイムの間に、第１の配線３１の検査を行うことが可能となる。
【００３８】
なお、複数の第２の検査用配線５２の配置場所としては、複数の引出線４２が配置されていない画素電極間に配置することが望ましい。具体例としては、図５に示すように、第２の方向に互いに隣り合う第１の画素電極１５Ａと第２の画素電極１５Ｂとの間に引出線４２Ｇが配置されている場合には、第１の画素電極１５Ａと第２の画素電極１５Ｂとの間には、第２の検査用配線５２を配置しない構成とすることが望ましい。また、互いに隣り合う第３の画素電極１５Ｃと第４の画素電極１５Ｄとの間に第２の検査用配線５２Ａを配置する場合には、第３の画素電極１５Ｃと第４の画素電極１５Ｄとの間には、引出線４２が配置されない構成とすることが望ましい。更に、第２の検査用配線５２、引出線４２の配置は、一つの画素に含まれるサブ画素の構成に応じて決定することが望ましい。一つの画素に、例えばＲＧＢのように３つのサブ画素が第２の方向に並べて配置される場合、３本の第１の配線３１に対して、１本の第２の検査用配線５２、又は１本の引出線４２が配置される構成とすることが望ましい。また、一つの画素に、例えばＲＧＢＷのように４つのサブ画素が第２の方向に並べて配置される場合、２本、又は４本の第１の配線３１に対して、１本の第２の検査用配線５２、又は１本の引出線４２が配置される構成とすることが望ましい。
【００３９】
このような構成とすることにより、表示装置１００に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。即ち、このような構成とすることにより、一つの画素を横切る、第２の検査用配線５２、引出線４２の合計本数が不均一となることを抑制することができるため、表示装置１００に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。
【００４０】
また、図５に示すように、複数の第１の検査用配線５１の少なくとも一部が、表示領域１０内において、第１の方向に延伸する構成とすることにより、額縁領域２０において第１の検査用配線５１を配置するスペースを小さくすることが可能となり、その結果として、更なる額縁領域２０の小面積化を図ることができ望ましい。
【００４１】
このように、複数の第１の検査用配線５１の少なくとも一部を表示領域１０内に配置する構成においては、複数の第１の検査用配線５１が、複数の第２の検査用配線５２、及び複数の引出線４２が配置されていない画素電極間に配置することが望ましい。具体例としては、図５に示すように、第２の方向に互いに隣り合う第５の画素電極１５Ｅと第６の画素電極１５Ｆとの間に第１の検査用配線５１Ａが配置されている場合には、第５の画素電極１５Ｅと第６の画素電極１５Ｆとの間には、第２の検査用配線５２、及び引出線４２を配置しない構成とすることが望ましい。また、引出線４２Ｇが配置された第１の画素電極１５Ａ、第２の画素電極１５Ｂ間においては、第１の検査用配線５１を配置しないことが望ましい。同様に、第２の検査用配線５２Ａが配置された第３の画素電極１５Ｃ、第４の画素電極１５Ｄ間においても、第１の検査用配線５１を配置しないことが望ましい。更に、第１の検査用配線５１、第２の検査用配線５２、及び引出線４２の配置は、一つの画素に含まれるサブ画素の構成に応じて決定することが望ましい。一つの画素に、例えばＲＧＢのように３つのサブ画素が第２の方向に並べて配置される場合、３本の第１の配線３１に対して、１本の第１の検査用配線５１、１本の第２の検査用配線５２、及び１本の引出線４２の内のいずれか一つが配置される構成とすることが望ましい。また、一つの画素に、例えばＲＧＢＷのように４つのサブ画素が第２の方向に並べて配置される場合、２本、又は４本の第１の配線３１に対して、１本の第１の検査用配線５１、１本の第２の検査用配線５２、及び１本の引出線４２の内のいずれか一つが配置される構成とすることが望ましい。
【００４２】
このような構成とすることにより、表示装置１００に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。即ち、このような構成とすることにより、一つの画素を横切る、第１の検査用配線５１、第２の検査用配線５２、及び引出線４２の合計本数が不均一となることを抑制することができるため、表示装置１００に含まれる複数の画素間の開口率の不均一を抑制することができる。
【００４３】
なお、図５に示した例においては、複数の第２の検査用配線５２と、複数の引出線４２とが、それぞれ別の領域に配置される構成、即ち、図５における左側の領域に複数の引出線４２が配置され、中央から右側の領域に複数の第２の検査用配線５２が配置される構成を示したが、本開示はこのような例に限定されない。
【００４４】
例えば、図６に示す構成においては、複数の第２の検査用配線５２の少なくとも１つが、平面視で、複数の引出線４２の内、互いに隣り合う二つの引出線４２の間を延伸する構成としている。具体例としては、第２の検査用配線５２Ｂは、互いに隣り合う引出線４２Ｂ、４２Ｃの間を延伸しており、また、第２の検査用配線５２Ｃは、互いに隣り合う引出線４２Ｄ、４２Ｅの間を延伸している。同様に、第２の検査用配線５２Ｄは、互いに隣り合う引出線４２Ｆ、４２Ｇの間を延伸している。
【００４５】
このような構成とすることにより、第２の方向において、複数の第２の検査用配線５２を分散して配置することが可能となるため、図４に示した第２の端辺領域２０Ｂにおける、第２の検査用配線５２の引き回しをシンプルにすることが可能となる。即ち、複数の第２の検査用配線５２のそれぞれを、それらが対応するエリアに近い位置に配置することが可能となるため、第２の端辺領域２０Ｂにおける、第２の検査用配線５２の引き回しをシンプルにすることが可能となる。
【００４６】
なお、上記図６に示す構成例においては、上述したブランクタイムの間に、検査用駆動回路６０を含む第２の駆動回路４０が、第１の配線３１の検査を行う構成としてもよいが、表示領域１０に一つの画像を表示する間に、複数の第１の配線３１の検査を行う構成としても構わない。具体例としては、第２の駆動回路４０が、図６に示す第２の方向において、左から順番に、第２の検査用配線５２Ａ、引出線４２Ａ、４２Ｂ、第２の検査用配線５２Ｂ、引出線４２Ｃ、４２Ｄ、・・・第２の検査用配線５２Ｅの順に、ゲートオン電圧、または検査用ゲートオン電圧を供給する構成とし、表示領域１０に一つの画像を表示する間に、複数の第１の配線３１の検査を行ってもよい。
【００４７】
なお、図２、５、６に示した例においては、複数の第１の検査用配線５１が、例えば図２、５、６における右側の領域にまとめて配置される構成を示したが、本開示はこのような例に限定されない。
【００４８】
例えば、図７に示す構成においては、複数の第１の検査用配線５１の少なくとも１つが、平面視で、複数の引出線４２の内、互いに隣り合う二つの引出線４２の間を延伸する構成としている。具体例としては、第１の検査用配線５１Ａは、互いに隣り合う引出線４２Ｂ、４２Ｃの間を延伸しており、また、第１の検査用配線５１Ｂは、互いに隣り合う引出線４２Ｆ、４２Ｇの間を延伸している。
【００４９】
このような構成とすることにより、第２の方向において、複数の第１の検査用配線５１を分散して配置することが可能となるため、図４に示した第２の端辺領域２０Ｂにおける、第２の検査用配線５２の引き回しを、さらにシンプルにすることが可能となる。即ち、第１の検査用配線５１がまとめて配置される領域を無くすことで、第１の検査用配線５１がまとめて配置されていた領域に、第２の検査用配線５２を配置することが可能となる。そのため、複数の第２の検査用配線５２のそれぞれを、それらが対応するエリアに、より近い位置に配置することが可能となり、第２の端辺領域２０Ｂにおける、第２の検査用配線５２の引き回しをシンプルにすることが可能となる。
【００５０】
即ち、図２、５、６に示した構成においては、第２の端辺領域２０Ｂ（図４参照）において、第２の検査用配線５２の一部が引き回される構成となっているが、図７に示す構成においては、この第２の検査用配線５２の引き回しをシンプルにすることが可能となり、額縁領域２０のさらなる小面積化を図ることが可能となる。
【００５１】
以上、本開示の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で上記実施形態から当業者が適宜変更した形態も本発明の技術的範囲に含まれることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００５２】
１０  表示領域、１３  薄膜トランジスタ、１４  画素、１５  画素電極、１５Ａ  第１の画素電極、１５Ｂ  第２の画素電極、１５Ｃ  第３の画素電極、１５Ｄ  第４の画素電極、１５Ｅ  第５の画素電極、１５Ｆ  第６の画素電極、１６  共通電極、１７  共通配線、２０  額縁領域、２０Ａ  第１の端辺領域、２０Ｂ  第２の端辺領域、２０Ｃ  端辺領域、３０  第１の駆動回路、３１  第１の配線、４０  第２の駆動回路、４１  第２の配線、４２  引出線、５０  検査用回路、５１  第１の検査用配線、５２  第２の検査用配線、５３  検査用薄膜トランジスタ、５４Ａ  配線、５４Ｂ  配線、５４Ｃ  配線、６０  検査用駆動回路、１００  表示装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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