(57)【要約】【課題】電子部品の性能ばらつきに依存しないで、電子機器寿命を確実に判定できるようにすること。【解決手段】本電子機器寿命検知方法は、電断時にその充電電圧を電子機器の内部回路に動作電圧として供給するコンデンサを備えた電子機器に対し、当該電子機器の寿命を検知する方法であって、電断時に上記コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に、不揮発性のメモリに所定のデータを書き込むデータ書き込み処理と、電源投入時に上記電断時でのメモリへのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、を実施する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電断時にその充電電圧を電子機器の内部回路に動作電圧として供給するコンデンサを備えた電子機器に対し当該電子機器の寿命を検知する方法であって、
電断時に上記コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に不揮発性のメモリに所定のデータを書き込むデータ書き込み処理と、
電源投入時に上記電断時でのメモリへのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、
を実施する、ことを特徴とする電子機器寿命検知方法。
【請求項２】
上記寿命判定処理は、
電源投入時に上記メモリからデータを読み出すステップと、
上記読み出しデータにより、上記メモリに書き込みデータの有無を判定するステップと、
上記判定がメモリに書き込みデータ無しのときは電子機器の寿命到来を表示するステップと、
を含む、ことを特徴とする請求項１に記載の電子機器寿命検知方法。
【請求項３】
上記寿命判定処理は、
電源供給時に上記メモリからデータを読み出すステップと、
上記読み出したデータにより、上記メモリへのデータの書き込み状態を検出するステップと、
データ書き込み量に応じて電子機器の残り寿命を表示するステップと、
を含む、ことを特徴とする請求項１に記載の電子機器寿命検知方法。
【請求項４】
上記データ書き込み処理は、
電断時に上記コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に不揮発性のメモリに、一定時間経過ごとにデータ書込みのためのアドレスを変更して各アドレスにデータを書き込むステップを含み、
上記寿命判定処理は、
メモリのどのアドレスまでデータが書き込まれたかにより電子機器の残り寿命を判定するステップを、
含むことを特徴とする請求項１に記載の電子機器寿命検知方法。
【請求項５】
寿命判定処理後に、メモリに記憶するデータをクリアし、そのクリア状態から、メモリの状態を判定するメモリ状態判定処理を含む請求項１ないし４のいずれかに記載の電子機器寿命検知方法。
【請求項６】
電断時にその充電電圧を電子機器の内部回路に動作電圧として供給するコンデンサを備えた電子機器において、
上記コンデンサの充電電圧を検出する電圧検出部と、電圧検出部の出力に基づいて当該電子機器の寿命検知処理を実行するＣＰＵと、上記寿命検知処理のためのプログラムを格納するプログラムメモリと、上記ＣＰＵにより寿命検知に用いるデータが書込まれる不揮発性のデータ書込みメモリとを備え、
上記ＣＰＵは、上記電圧検出部の検出出力から電断したか電源投入されたかを判定し、電断時に上記コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでにデータ書込みメモリに所定のデータを書き込むデータ書き込み処理を実施し、電源投入時には、上記電断時におけるデータ書込みメモリへのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、を実施することができるようになっている、ことを特徴とする電子機器。
【請求項７】
上記ＣＰＵは、寿命判定処理後のメモリからそれに記憶するデータをクリアし、そのクリア状態から、メモリの状態を判定するメモリ状態判定処理を実施することができるようになっている請求項６に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器内部に電源電圧を充電するコンデンサを備えた電子機器に対して当該電子機器の寿命を検知する方法および寿命検知機能付き電子機器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
各種電子機器の一例である温度調節器では、内部に、温度調節用のアプリケーションプログラム（温調プログラム）等が格納されるプログラムメモリ、このプログラムメモリに格納してある温調プログラムに従い、各種温調処理を実行するＣＰＵ、その他の各種回路、等を内蔵している。
【０００３】
この温度調節器においては、内部回路に動作電圧を供給する電源部を内蔵している。
【０００４】
このような温度調節器においては、電断が発生して、ＣＰＵ上で動作する温調プログラムが突然終了すると、設定データが破壊されてしまうことがある。このような場合、再起動した際に正常に温調プログラムが動作しなくなる。その際、そうした設定データは、例えばメインメモリに格納されているために、電断すると、メインメモリから記憶内容が消去される。そこで、このようなデータの保護のために、プログラム終了時にメインメモリのデータを不揮発性メモリに退避させる処理を行うことが必要となる。
【０００５】
この場合、不揮発性メモリにデータを退避させるまでの間に、電断後即座に動作電圧が動作に必要な下限電圧以下に低下しないように、電源部内の電解コンデンサの充電電圧を利用している。上記電解コンデンサは、電断後、徐々に充電電圧が低下するので、電源部は、電解コンデンサの充電電圧が電断後からリセット電圧に低下するまでは、電子機器の内部回路に動作電圧を供給することができるようにしている。
【０００６】
そして、電源部が電断後も電子機器の内部回路に動作電圧を供給することができるまでの間に、メインメモリのデータを不揮発性メモリに退避させる処理を行うことにより、データを保護することができるようにしている。
【０００７】
したがって、電解コンデンサが容量抜けするなどして寿命が到来した場合では、電解コンデンサ寿命を電子機器の寿命として、表示するなどした従来技術がすでに提案されている。
【０００８】
そうした従来技術の多くは、例えば特許文献１では、電断後に放電により電解コンデンサ電圧が低下するが、この電解コンデンサ電圧が電断後に基準電圧に低下するまでの時間（寿命測定判定用時間）が一定時間以内か否かにより電解コンデンサ寿命ないしは電子機器寿命を判定する技術である。
【０００９】
しかしながら、このような従来技術の場合、電解コンデンサ以外の周辺の電子部品の性能ばらつきを考慮していない。すなわち、電解コンデンサ電圧が電断後に基準電圧に低下するまでの時間が一定時間以内であったとしても、メインメモリのデータを不揮発性メモリに退避処理させるための電子部品の性能ばらつき等により、退避処理ができなくなる場合がある。この場合、退避処理ができないので、電子機器の寿命といわざるを得ないにもかかわらず、電解コンデンサは寿命が到来していないために、寿命正常であると誤判定してしまう。
【００１０】
なお、特許文献１以外で、特許文献１と同様の技術が開示されている特許文献も下記する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２００２−２８１７３５号公報
【特許文献２】特開平７−１６３０４５号公報
【特許文献３】特開平６−２０６２６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明においては、電解コンデンサを含め、周辺の電子部品の性能ばらつきに依存しないで、電子機器寿命を確実に判定できるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明第１による電子機器寿命検知方法は、電断時に、コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に、不揮発性のメモリに所定のデータを書き込むデータ書き込み処理と、電源投入時に上記電断時でのメモリへのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、を実施することを特徴とするものである。
【００１４】
上記電断、電源投入は、交流、直流を問わない。
【００１５】
本発明第１では、データ書き込み処理で、電断により上記コンデンサが放電して、その充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に不揮発性のメモリに所定のデータを書き込むので、コンデンサが性能劣化していたり、その周辺の電子部品が性能劣化しているような場合では、所定データをメモリに書き込むための時間を確保できず、データを書き込めない。そして寿命判定処理では、メモリへのデータ書き込み状態から電子機器の寿命状態を判定するので、例えば、メモリに所定データのすべてが書き込まれている場合では、電子機器残り寿命は十分に有ると判定でき、所定データの一部だけが書き込まれている場合では、電子機器の残り寿命は十分ではないと判定でき、所定データが何ら書き込まれていない場合では、電子機器の残り寿命は無いと判定できるようになる。
【００１６】
そして、本発明では、メモリへのデータ書込み状態により、電子機器寿命を判定するようになっているので、上記コンデンサやその周辺の電子部品の性能ばらつきとは無関係に電子機器寿命の判定が可能となり、従来のコンデンサの性能ばらつきによる電子機器寿命の誤判定を無くし、正確に電子機器寿命を判定することができるようになる。
【００１７】
本発明第１において、好ましい態様は、上記寿命判定処理が、電源投入時に上記メモリからデータを読み出すステップと、上記読み出しデータにより、上記メモリに書き込みデータの有無を判定するステップと、上記判定がメモリに書き込みデータ無しのときは電子機器の寿命到来を表示するステップと、を含むことである。この態様では、電子機器寿命到来を表示することでユーザにはそのことが容易に認識できるようになって好ましい。
【００１８】
本発明第１において、別の好ましい態様は、上記寿命判定処理が、電源供給時に上記メモリからデータを読み出すステップと、上記読み出したデータにより、上記メモリへのデータの書き込み状態を検出するステップと、データ書き込み量に応じて電子機器の残り寿命を表示するステップと、を含むことである。この態様では、電子機器寿命の表示状態からユーザには電子機器の残り寿命を容易に認識できるようになって好ましい。
【００１９】
本発明第１において、さらに別の好ましい態様は、上記データ書き込み処理が、電源が供給停止される電断時に上記コンデンサの充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に、不揮発性のメモリに一定時間経過ごとにデータ書込みのためのアドレスを変更して各アドレスにデータを書き込むステップを含み、上記寿命判定処理が、メモリのどのアドレスまでデータが書き込まれたかにより電子機器の残り寿命を判定するステップを、含むことである。この態様では、電子機器寿命の表示としてユーザには電子機器の残り寿命をより具体的に段階的に表示させることができ、より容易に残り寿命を認識できるようになって好ましい。
【００２０】
本発明第１において、さらに別の好ましい態様は、上記データ書き込み処理が、寿命判定処理後に、メモリに記憶するデータをクリアし、そのクリア状態から、メモリの状態を判定するメモリ状態判定処理を含むことである。この態様では、メモリにデータを書き込むことができない原因が、電子機器寿命以外に、メモリそれ自体が異常なことに起因していることが判るようになって好ましい。
【００２１】
本発明第２による電子機器は、コンデンサの充電電圧を検出する電圧検出部と、電圧検出部の出力に基づいて当該電子機器の寿命検知処理を実行するＣＰＵと、上記寿命検知処理のためのプログラムを格納するプログラムメモリと、上記ＣＰＵにより寿命検知に用いるデータが書込まれる不揮発性のデータ書込みメモリとを備え、上記ＣＰＵは、上記電圧検出部の検出出力から電断したか電源投入されたかを判定し、電断時には、上記コンデンサの充電電圧が、所定電圧だけ低下するまでにデータ書込みメモリに所定のデータを書き込むデータ書き込み処理を実施し、電源投入時には、上記電断時におけるデータ書込みメモリへのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、を実施することができるようになっていることを特徴とするものである。
【００２２】
本発明第２において、好ましい態様は、上記ＣＰＵが、寿命判定処理後のメモリからそれに記憶するデータをクリアし、そのクリア状態から、メモリの状態を判定するメモリ状態判定処理を実施することができるようになっていることである。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、コンデンサを含め、周辺の電子部品の性能ばらつきに依存しないで、電子機器寿命を確実に判定できる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】図１は本発明の実施の形態にかかる電子機器の概略構成を示す図である。
【図２】図２は図１の電子機器が備える平滑用コンデンサがその劣化状態に応じた、その充電電圧の変化特性を示す図である。
【図３】図３は電断検知による動作説明のためのフローチャートを示す図である。
【図４】図４は電源投入による動作説明のためのフローチャートを示す図である。
【図５】図５は電断後にデータを書き込むメモリのアドレスとそれに書き込むデータとを示す図である。
【図６】図６はメモリへのデータ書込みから書込み終了までの当該メモリのアドレスとそれに書き込むデータとを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、添付した図面を参照して、本発明の実施の形態に係る電子機器の寿命検知方法およびそれを実施する寿命検知機能付き電子機器を詳細に説明する。実施の形態の電子機器は、特に限定されず、例えば温度調節器や、その他の制御装置を含むことができる。また、実施の形態では、説明の都合で、電源としてスイッチング電源としたが、これに限らず、直流電源でもよい。
【００２６】
図１を参照して、実施の形態の電子機器は、電源部１と、電圧検出部３と、ＣＰＵ５と、不揮発性のデータ書込みメモリ７と、プログラムメモリ９と、ワークメモリ１１と、表示部１３とを備える。電源部１は、例えば、スイッチング電源により構成され、商用交流電源１５から電子機器内各部へ供給する直流電圧を生成する。スイッチング電源は、一次側整流回路１ａと、一次側平滑回路１ｂと、スイッチング回路１ｃと、トランス１ｄと、二次側整流回路１ｅと、二次側平滑回路１ｆと、制御回路１ｇと、を含む。スイッチング回路１ｃはトランス１ｄの二次側電圧を検出する制御回路１ｇからの制御信号によりスイッチング制御される。以上のスイッチング電源は周知の構成であり、その詳細は略する。
【００２７】
こうした電源部１においては、二次側平滑回路１ｆに大容量の電解コンデンサ（以下、単にコンデンサと称する）１７を含む。この平滑回路１ｆ内のコンデンサ１７は、電断時に徐々に充電電圧がリセット電圧にまで低下するまでの間は、ＣＰＵ５等の回路手段に対して動作電圧を供給することができるようになっている。
【００２８】
電圧検出部３は、コンデンサ１７の充電電圧を検出する。このコンデンサ１７の充電電圧を、図２を参照して説明する。図２は横軸に時間、縦軸に電子機器内部電圧をとり、電断後のコンデンサ１７の放電によりその内部電圧の低下を性能劣化後のコンデンサ１７と、性能劣化前のコンデンサ１７とのそれぞれで比較したものである。性能劣化後のコンデンサ１７の場合、内部電圧の変化は実線で、性能劣化前のコンデンサ１７の場合の内部電圧の変化は破線で示す。この場合の内部電圧は、電源部１のコンデンサ１７の充電電圧に対応する。
【００２９】
電源部１においては、電断後の内部電圧は、コンデンサ１７の充電電圧により生成されるが、その内部電圧は、コンデンサ１７の放電により次第に低下してくることとなる。電圧検出部３は、このような電源部１におけるコンデンサ１７の充電電圧の変化を検出するものであり、その検出出力をＣＰＵ５に入力する。
【００３０】
プログラムメモリ９は、電子機器のシステムプログラム以外に、電子機器寿命検知処理プログラムが格納されているメモリである。プログラムメモリ９は、電子機器が例えば温度調節器であれば、そのシステムプログラム以外に、アプリケーションプログラムとして温調プログラムを格納すると共に、本実施の形態における電子機器寿命検知処理プログラムを格納する。電子機器が温度調節器である場合において、この温調プログラムの説明は略する。ワークメモリ１１はＣＰＵ５が各種作業の実行に用いるメモリである。そしてＣＰＵ５は、プログラムメモリ９に格納されている電子機器寿命検知処理プログラムに従い、図３ないし図６で説明するような電子機器の寿命検知を行う。
【００３１】
ＣＰＵ５は、電圧検出部３の検出出力から、コンデンサ１７の充電電圧が電断検知電圧にまで低下すると、電断であると判定し、また、コンデンサ１７の充電電圧がさらにリセット電圧にまで低下すると、コンデンサ１７の充電電圧は電子機器内部回路に動作電圧を供給できなくなるとして、電子機器内部をリセット処理する。
【００３２】
ＣＰＵ５は、電断によりコンデンサ１７の充電電圧が電断検出電圧からリセット電圧まで低下するまでの時間内に、所定のデータをデータ書込みメモリ７に書き込む制御を行う。上記時間はデータ書込みメモリ７へのデータ書込み時間である。この場合、電子機器の寿命検知を目的とすれば、データ書込みメモリ７に書き込まれるデータは、いかなるデータでもよい。また、データ書込みメモリ７は、プログラムメモリ９からプログラムデータ、また、ワークメモリ１１から必要な作業中の各種データを書き込んで退避させるデータ退避用メモリとすることもできる。
【００３３】
電断によりコンデンサ１７の充電電圧が電断検出電圧からリセット電圧まで低下するまでのデータ書込み時間は、図２で示すように、性能劣化前のコンデンサではｔ０であり、性能劣化後のコンデンサではｔ１（＜ｔ０）である。
【００３４】
図２で明らかであるように、コンデンサ１７は性能劣化が進行してくると、データ書込み時間がより短くなってデータ書込み時間を確保できなくなってくるようになる。本実施の形態では、このデータ書込みメモリ７に書き込まれたデータを読み出し、この書込み状態から電子機器の寿命を検知できるようにしている。
【００３５】
図３のフローチャートを参照して、電断時におけるＣＰＵ５によるデータ書込み処理動作を説明する。この処理は、ステップｎ３１で電断検知すると、ステップｎ３２でデータ書込みメモリ７にデータ書込みする。ステップｎ３３でデータ書込みが終了したかを判定する。データ書込みが終了していなければ、ステップｎ３２に戻り、データ書込みを継続する。ステップｎ３３でデータ書込みが終了したと判定すると、ステップｎ３４でフラグＯＮする。
【００３６】
図４のフローチャートを参照して、電源投入時におけるＣＰＵ５による電子機器寿命判定処理動作を説明する。この処理は、電断時でのデータ書込みメモリ７へのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する処理のことである。そしてＣＰＵ５は、ステップｎ４１で、電圧検出部３の検出出力により、電源投入を検知すると、ステップｎ４２で、データ書込みメモリ７からそれの書込みデータを読み出す。そして、ＣＰＵ５はステップｎ４３で、データ書込みメモリ７からのデータ読み出しの結果、データ書込みメモリ７に所定の書き込みデータの有無を判定する。ＣＰＵ５は、ステップｎ４３で、所定の書き込みデータがすべて書き込まれてなくてフラグＯＮではないと判定すると、ステップｎ４４で、表示部１３に電子機器寿命と表示してユーザには電子機器の寿命が到来したことを知らせる制御を行う。ＣＰＵ５はステップｎ４３で所定の書込みデータ有りでフラグＯＮと判定すると、表示部１３には電子機器寿命に関する表示処理をしないことで電子機器寿命が到来していないことをユーザに知らせる制御を行う。
【００３７】
以上のステップにより電子機器寿命判定処理が終了する。
【００３８】
一方、実施の形態では、データ書込みメモリ７にデータを書き込むことができない原因としては、上記の電子機器寿命以外に、データ書込みメモリ７それ自体が異常な場合がある。このような場合、データ書込みメモリ７にデータ書込みができないことの原因がいずれにあるかを特定できなければ、電子機器寿命を検知することができなくなる。
【００３９】
そこで、実施の形態では、ステップｎ４５以降の処理を実施することで、データ書込みメモリ７にデータを書き込むことができない原因が、上記の電子機器寿命によるのか、データ書込みメモリ７それ自体が異常なことによるのかを区別できるようにしている。すなわち、ＣＰＵ５は、ステップｎ４４で、フラグＯＮであると判定すると、ステップｎ４５に移行し、このステップｎ４５で、データ書込みメモリ７に書き込まれているデータをクリア処理してフラグをＯＦＦする。
【００４０】
そして、ＣＰＵ５はステップｎ４６で、データ書込みメモリ７からデータ読み出し処理をする。ＣＰＵ５は、ステップｎ４７と、ステップｎ４５でデータクリア処理してフラグをＯＦＦにしたにもかかわらず、ステップｎ４６でデータ読み出しがあれば、クリア処理されておらずフラグＯＦＦになっていないとして、ステップｎ４８で、データ書込みメモリ７自体に異常があると判定する。一方、ステップｎ４６でデータ読み出しが無ければ、クリア処理されてフラグがＯＦＦになっているとして、ステップｎ４９で、データ書込みメモリ７自体の異常が無いとして通常動作の制御を行う。
【００４１】
図５を参照して、電断後におけるデータ書込みメモリ７への所定のデータ書込みを説明する。図５は、データ書込みメモリ７の各アドレスへの書込みデータを示す。アドレス００００には書込みデータＡ、アドレス０００１には書込みデータＢ、…、アドレスＸＸＸＸには書込みデータＺが、それぞれ、書き込まれている。そして、実施の形態では、アドレスＸＸＸＸを電断時での所定のデータ書き込みアドレスとし、データＺをその所定の書込みデータとして書き込んでいる。ＣＰＵ５は、図３のフローチャートにおいて、ステップｎ３３での所定のデータ書き込みとしてデータ書込みメモリ７のアドレスＸＸＸＸにデータＺを書き込む。このデータＺのすべての書込みが終了したときに、フラグＯＮとされる。一方、図４のフローチャートにおいて、ステップｎ４２でのデータ読み出し処理、ステップｎ４３での所定の書込みデータ有りの判定処理、ステップｎ４５−ステップｎ４７での各処理で、データ書込みメモリ７のアドレスＸＸＸＸに書き込んだデータＺをその処理に用いる。
【００４２】
以上のデータ書込みメモリ７への所定のデータ書込みは、データのすべてが書き込まれていることが条件であったが、データ書込みメモリ７へのデータの書込み状態から電子機器の寿命を検知することもできる。図６はその場合のデータ書込みメモリ７への書き込み状態を示す。
【００４３】
図６を参照して、電断後におけるデータ書込みメモリ７への所定のデータ書込みを説明する。図６は、データ書込みメモリ７の各アドレスへの書込みデータを示す。ＣＰＵ５は、電圧検出部３の検出出力により、コンデンサ１７の充電電圧が電断後からリセット電圧にまで低下するまでの時間内にデータ書込みメモリ７に、一定時間経過ごとにデータ書込みのためのアドレスを変更して各アドレスにデータを書き込む。
【００４４】
図６（ａ）では、アドレス００００をデータ書込み開始アドレスとし、アドレスＸＸＸＸをデータ書込み終了アドレスとしている。このようにデータ書込みメモリ７のアドレス００００からアドレスＸＸＸＸまでデータ書込みが行われた場合では、所定のデータのすべてが書き込まれたこととなって、ＣＰＵ５は表示部１３上に例えば電子機器寿命十分有りとする。この場合、ＣＰＵ５により寿命演算を行わせ、その演算結果から表示部１３に具体的な寿命を表示させることも可能である。
【００４５】
図６（ｂ）では、アドレス００００をデータ書込み開始アドレスとし、アドレス００ＸＸをデータ書込み終了アドレスとしている。そして、アドレス００ＹＹからアドレスＸＸＸＸまでデータ書込みが行われていない。こうした場合では、所定のデータのすべての書き込みは終了せず、途中のアドレス００ＸＸでデータ書込みが終了しているので、ＣＰＵ５は、書き込みアドレス数を演算し、図６（ａ）と比較して表示部１３上に例えば電子機器の残り寿命を具体的に表示する。この残り寿命の表示は、言い換えれば、電子機器の寿命予知となる。
【００４６】
以上説明したように本実施の形態では、電断時にコンデンサ１７の充電電圧が所定電圧だけ低下するまでの時間内に、データ書込みメモリ７に所定のデータを書き込むデータ書き込み処理と、電源投入時に上記電断時でのデータ書込みメモリ７へのデータ書き込み状態から当該電子機器の寿命状態を判定する寿命判定処理と、を実施するようにしたので、電断時におけるデータ書込みメモリ７へのデータ書き込み処理を行うに際して、コンデンサ１７が劣化していなかったりすると、所定データをデータ書込みメモリ７に書き込むための時間を確保でき、データを書き込める。一方、コンデンサ１７が劣化していたり、その周辺の電子部品が劣化しているような場合では、所定データをデータ書込みメモリ７に書き込むための時間を確保できず、データを書き込めない。
【００４７】
そして本実施の形態では、データ書込みメモリ７へのデータ書き込み状態から電子機器の寿命状態を判定するので、コンデンサ１７やその周辺の電子部品の性能ばらつきとは無関係に電子機器寿命を検知することが可能となり、従来のコンデンサの性能ばらつきによる電子機器寿命の誤判定を無くし正確に電子機器寿命を判定することができるようになる。
【符号の説明】
【００４８】
１  電源部
１ａ  整流回路
１ｂ  平滑回路
１７  コンデンサ
３  電圧検出部
５  ＣＰＵ
７  データ書込みメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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