(57)【要約】【課題】光ペンの出力を測定する測定器を使用しない箔押し装置の出力の確認方法を提供する。【解決手段】  本発明に係る箔押し装置１０の出力の確認方法は、光ペン６０を備えた箔押し装置１０において光ペン６０が照射する光の出力を確認する方法であって、第１工程と第２工程とを含む。第１工程では、光を照射することで発熱する発熱素材９１と、加えられた熱に対応して変色する感熱素材９２とが少なくとも重ねられたテストピース９０に対して光ペン６０で光を照射して感熱素材９２を変色させ、感熱素材９２にテストパターンを形成する。第２工程では、テストパターンの変色レベルを、予め採取しておいたレファレンスと比較する。【選択図】図１
2020023138.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ペンを備えた箔押し装置において光ペンが照射する光の出力を確認する方法であって、
光を受けて発熱する発熱素材と、加えられた熱に対応して変色する感熱素材とが少なくとも重ねられたテストピースに対して前記光ペンで光を照射して前記感熱素材を変色させ、前記感熱素材にテストパターンを形成する第１工程と、
前記テストパターンの変色レベルを、予め採取しておいたレファレンスと比較する第２工程と、
を含む、
箔押し装置の出力の確認方法。
【請求項２】
前記レファレンスは、感熱素材に形成され、前記第１工程と同じ工程で形成されたテストパターンを含む、
請求項１に記載の箔押し装置の出力の確認方法。
【請求項３】
前記テストパターンは、第１出力で光を照射して変色させた領域と、第２出力で光を照射して変色させた領域とを含む、
請求項２に記載の箔押し装置の出力の確認方法。
【請求項４】
前記テストパターンは、第１の時間だけ光を照射して変色させた領域と、第２の時間だけ光を照射して変色させた領域とを含む、
請求項２または３に記載の箔押し装置の出力の確認方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一つに記載の箔押し装置の出力の確認方法を含み、
前記テストパターンの変色レベルを前記レファレンスに近づけるように、前記光ペンの出力を調整する第３工程をさらに含む、
箔押し装置の出力調整方法。
【請求項６】
ワークを保持する保持台と、
前記保持台上に光を照射する光ペンと、
前記保持台上の画像のデータを読み取るセンサーと、
制御装置と、
を備え、
前記制御装置は、
前記保持台に、ワークとして、光を照射することで発熱する発熱素材と、加えられた熱に対応して変色する感熱素材とが少なくとも重ねられたテストピースが保持されたとき、前記光ペンを制御して前記発熱素材に光を照射することで前記感熱素材を変色させ、前記感熱素材にテストパターンを形成するテストパターン形成部と、
前記センサーを制御して、前記テストパターンのデータを読み取らせるセンサー制御部と、
前記センサーによって読み取られた前記テストパターンのデータを取得するデータ取得部と、
予め採取しておいたレファレンスデータを記憶する記憶部と、
前記データ取得部で取得したデータにおける前記テストパターンの変色レベルを前記レファレンスデータと比較する比較部と、
前記比較部による比較結果に基づいて前記光ペンの出力が正常か否かを判定する判定部と、
を備えている、
箔押し装置。
【請求項７】
前記レファレンスデータは、前記テストパターンと同じ条件で形成されたテストパターンを含むパターンを、前記センサーによって読み取ったデータである、
請求項６に記載の箔押し装置。
【請求項８】
前記テストパターンは、第１出力で光を照射して変色させた領域と、第２出力で光を照射して変色させた領域とを含む、
請求項７に記載の箔押し装置。
【請求項９】
前記テストパターンは、第１の時間だけ光を照射して変色させた領域と、第２の時間だけ光を照射して変色させた領域とを含む、
請求項７または８に記載の箔押し装置。
【請求項１０】
前記制御装置は、前記テストパターンの変色レベルを前記レファレンスデータに近づけるように、前記光ペンの出力を調整する出力調整部を備えている、
請求項６〜９のいずれか一つに記載の箔押し装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、箔押し装置の出力の確認方法、箔押し装置の出力の調整方法、および箔押し装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、熱転写箔を利用した箔押しの方法が知られている。箔押しでは、被転写物上に熱転写箔を重ね、箔押し用ツールで熱転写箔を上から押圧しながら加熱する。これにより、被転写物の表面に画像を転写することができる。例えば、特許文献１には、箔押し用ツールとして、レーザー光を照射する光ペンを備えた箔押し装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−２１５５９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、光ペンが実際に出す出力は、指令値を変えない場合であっても、例えば、経年劣化等により変動することがある。そこで、より安定した箔押しのためには、光ペンが実際に出している出力を適時測定し、調整することが望ましい。光ペンの出力は、例えば、光パワーメータのような測定器で測定することができる。しかし、このような測定器は概ね高価である。
【０００５】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、その目的は、光ペンの出力を測定する測定器を使用しない箔押し装置の出力の確認方法および出力の調整方法を提供することである。また、光ペンの出力が正常かどうかを判定できる箔押し装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
ここに開示される箔押し装置の出力の確認方法は、光ペンを備えた箔押し装置において光ペンが照射する光の出力を確認する方法であって、第１工程と第２工程とを含む。前記第１工程では、光を照射することで発熱する発熱素材と、加えられた熱に対応して変色する感熱素材とが少なくとも重ねられたテストピースに対して光ペンで光を照射して前記感熱素材を変色させ、前記感熱素材にテストパターンを形成する。前記第２工程では、前記テストパターンの変色レベルを、予め採取しておいたレファレンスと比較する。
【０００７】
また、ここに開示される箔押し装置は、ワークを保持する保持台と、前記保持台上に光を照射する光ペンと、前記保持台上の画像のデータを読み取るセンサーと、制御装置とを備える。前記制御装置は、テストパターン形成部と、センサー制御部と、データ取得部と、記憶部と、比較部と、判定部とを備えている。前記テストパターン形成部は、前記保持台に、ワークとして、光を照射することで発熱する発熱素材と、加えられた熱に対応して変色する感熱素材とが少なくとも重ねられたテストピースが保持されたとき、前記光ペンを制御して前記発熱素材に光を照射することで前記感熱素材を変色させ、前記感熱素材にテストパターンを形成する。前記センサー制御部は、前記センサーを制御して、前記テストパターンのデータを読み取らせる。前記データ取得部は、前記センサーによって読み取られた前記テストパターンのデータを取得する。前記記憶部は、予め採取しておいたレファレンスデータを記憶する。前記比較部は、前記データ取得部で取得したデータにおける前記テストパターンの変色レベルを前記レファレンスデータと比較する。前記判定部は、前記比較部による比較結果に基づいて前記光ペンの出力が正常か否かを判定する。
【０００８】
上記箔押し装置の出力の確認方法によれば、光ペンの出力を測定する測定器を使用しなくとも、光ペンの出力を確認することができる。また、上記箔押し装置によれば、光ペンの出力が正常かどうかを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１実施形態に係る箔押し装置を模式的に示す一部破断斜視図である。
【図２】光ペンの構成を模式的に示す縦断面図である。
【図３】第１実施形態に係る箔押し装置のブロック図である。
【図４】第１実施形態における光ペンの出力調整のプロセスを示すフローチャートである。
【図５】テストパターンの一例を示す模式図である。
【図６】第２実施形態に係るヘッドの側面図である。
【図７】第２実施形態に係る箔押し装置のブロック図である。
【図８】第２実施形態における光ペンの出力調整のプロセスを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、適宜図面を参照しながら、本発明の一実施形態について説明する。なお、ここで説明される実施形態は、当然ながら特に本発明を限定することを意図したものではない。また、同じ作用を奏する部材・部位には同じ符号を付し、重複する説明は適宜省略または簡略化する。
【００１１】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る箔押し装置１０を模式的に示す一部破断斜視図である。以下の説明では、左、右、上、下とは、箔押し装置１０の正面にいるユーザーから見た場合の左、右、上、下をそれぞれ意味することとする。また、ユーザーが箔押し装置１０に近づく方を後方、遠ざかる方を前方とする。図面中の符号Ｆ、Ｒｒ、Ｌ、Ｒ、Ｕ、Ｄは、それぞれ前、後、左、右、上、下を表す。本実施形態に係る箔押し装置１０は、相互に直交する軸をＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸としたときに、Ｘ軸とＹ軸とで構成される平面に置かれるものとする。ここでは、Ｘ軸は、左右方向に延びる。Ｙ軸は、前後方向に延びる。Ｚ軸は、上下方向に延びる。ただし、これらは説明の便宜上の方向に過ぎず、箔押し装置１０の設置態様を何ら限定するものではない。
【００１２】
図１に示すように、箔押し装置１０は箱状に形成されている。図１に示すように、箔押し装置１０は、前方が開口された筐体１１を備えている。筐体１１内には、ヘッド２０と、ヘッド２０を移動させるＺ軸方向移動機構３０、Ｙ軸方向移動機構４０、およびＸ軸方向移動機構５０と、ヘッド２０に搭載された光ペン６０と、保持台７０とを備えている。筐体１１の各部は、例えば鋼板によって構成されている。
【００１３】
図１に示すように、保持台７０は、筐体１１の底部１２に設けられている。保持台７０は、ワークを保持する部材である。保持台７０は、例えばバイスである。保持台７０は、底部１２に着脱自在に取り付けられている。ただし、保持台７０は、底部１２に着脱不能に固定されていてもよい。
【００１４】
ワークは、箔押し装置１０が箔押し作業を行う対象である。ワークは、例えば、被転写物と熱転写箔とを重ねたものである。被転写物への転写は、熱転写箔に熱を加えながら熱転写箔を被転写物に押しつけることにより行われる。しかし、ここでは、ワークが光ペン６０の出力を調整するためのテストピース９０である場合について説明する。テストピース９０は、光吸収フィルム９１と、感熱紙９２とが重ねられたものである。ただし、その他のものがさらに重ねられていてもよい。光吸収フィルム９１は、光を照射することで発熱する発熱素材の一例である。感熱紙９２は、加えられた熱に対応して変色する感熱素材の一例である。
【００１５】
光吸収フィルム９１は、光ペン６０の光源６２（図２参照）から照射される所定の波長帯の光（レーザー光）を効率よく吸収して、光エネルギーを熱エネルギーに変換するフィルムである。光吸収フィルム９１は、例えばポリイミドのような樹脂で構成されている。光吸収フィルム９１は、例えば１００〜２００℃での耐熱性を有している。
【００１６】
感熱紙９２は、熱を加えることによって、熱が加えられた部分が変色するシートである。感熱紙９２は、例えば、加えられた熱量に対応して変色する。ここでは、感熱紙９２は、多くの熱量が加えられると、それだけ濃い色に変色する。しかし、感熱紙９２の種類は特に限定されない。感熱紙９２は、例えば、加えられた熱量に対応して色が変化する（例えば、青系統の色から赤系統の色に変化する）感熱紙であってもよい。テストピース９０は、ここでは、載置台９３の上面に載置される。載置台９３は、テストピース９０を載置するとともに、保持台７０に保持される部材である。載置台９３は、それ以外には特に限定されない。
【００１７】
筐体１１の内部空間には、Ｚ軸方向移動機構３０と、Ｙ軸方向移動機構４０と、Ｘ軸方向移動機構５０とが設けられている。Ｚ軸方向移動機構３０は、ヘッド２０と、ヘッド２０に設けられた光ペン６０とを、保持台７０に対して鉛直方向に移動させる。Ｙ軸方向移動機構４０は、ヘッド２０と光ペン６０とを、保持台７０に対して前後方向に移動させる。Ｘ軸方向移動機構５０は、ヘッド２０と光ペン６０とを、保持台７０に対して左右方向に移動させる。ヘッド２０は、Ｚ軸方向移動機構３０、Ｙ軸方向移動機構４０およびＸ軸方向移動機構５０により、保持台７０に対して三次元的に移動される。Ｚ軸方向移動機構３０、Ｙ軸方向移動機構４０およびＸ軸方向移動機構５０は、いずれも保持台７０よりも上方に配置されている。
【００１８】
図１に示すように、Ｚ軸方向移動機構３０は、Ｚ軸方向送りネジ棒３１と、Ｚ軸方向移動用モータ３２と、スライドシャフト３３と、送りナット３４とを備えている。Ｚ軸方向送りネジ棒３１は、Ｚ軸に沿って延びている。Ｚ軸方向移動用モータ３２は、制御装置１００に接続されている。Ｚ軸方向移動用モータ３２は、Ｚ軸方向送りネジ棒３１を回転させる。スライドシャフト３３は、Ｚ軸方向送りネジ棒３１と平行に配置されている。スライドシャフト３３には、昇降ベース３５がＺ軸方向に摺動可能に係合している。昇降ベース３５には、送りナット３４が設けられている。送りナット３４は、Ｚ軸方向送りネジ棒３１に噛み合っている。Ｚ軸方向移動用モータ３２が駆動されると、昇降ベース３５は、Ｚ軸方向送りネジ棒３１の回転により、スライドシャフト３３に沿って上下方向に移動する。Ｙ軸方向移動機構４０およびＸ軸方向移動機構５０は、昇降ベース３５に連結されている。このため、Ｙ軸方向移動機構４０およびＸ軸方向移動機構５０は、昇降ベース３５の上下方向への移動に伴って上下方向に一体的に移動する。
【００１９】
Ｙ軸方向移動機構４０は、ヘッド２０をＹ軸方向（前後方向）に移動させる。Ｙ軸方向移動機構４０は、Ｙ軸方向送りネジ棒４１と、Ｙ軸方向移動用モータ４２と、スライドシャフト４３と、送りナット４４とを備えている。Ｙ軸方向送りネジ棒４１は、Ｙ軸に沿って延びている。Ｙ軸方向送りネジ棒４１は、昇降ベース３５に設けられている。Ｙ軸方向送りネジ棒４１の後端部は、Ｙ軸方向移動用モータ４２に連結されている。Ｙ軸方向移動用モータ４２は、制御装置１００に接続されている。Ｙ軸方向移動用モータ４２は、Ｙ軸方向送りネジ棒４１を回転させる。２本のスライドシャフト４３は、Ｙ軸方向送りネジ棒４１と平行に配置されている。スライドシャフト４３には、スライドベース４５がＹ軸方向に摺動可能に係合している。スライドベース４５には、送りナット４４が設けられている。送りナット４４は、Ｙ軸方向送りネジ棒４１のネジ溝に噛合っている。Ｙ軸方向移動用モータ４２が駆動されると、スライドベース４５は、Ｙ軸方向送りネジ棒４１の回転により、スライドシャフト４３に沿って前後方向に移動する。
【００２０】
Ｘ軸方向移動機構５０は、ヘッド２０をＸ軸方向（左右方向）に移動させる。Ｘ軸方向移動機構５０は、Ｘ軸方向送りネジ棒５１と、Ｘ軸方向移動用モータ５２と、スライドシャフト５３とを備えている。Ｘ軸方向送りネジ棒５１は、Ｘ軸に沿って延びている。Ｘ軸方向送りネジ棒５１の一端は、Ｘ軸方向移動用モータ５２に連結されている。Ｘ軸方向移動用モータ５２は、制御装置１００に接続されている。Ｘ軸方向移動用モータ５２は、Ｘ軸方向送りネジ棒５１を回転させる。Ｘ軸方向送りネジ棒５１のネジ溝には、ヘッド２０に設けられた送りナット（図示せず）が噛合っている。スライドシャフト５３は、Ｘ軸方向送りネジ棒５１と平行に配置されている。スライドシャフト５３には、ヘッド２０がＸ軸方向に摺動可能に係合している。Ｘ軸方向移動用モータ５２が駆動されると、ヘッド２０は、Ｘ軸方向送りネジ棒５１の回転により、スライドシャフト５３に沿って左右方向に移動する。
【００２１】
光ペン６０は、ヘッド２０に保持されている。光ペン６０は、保持台７０の上方に設けられている。光ペン６０は、保持台７０に光を照射するとともに、保持台７０上のワークを押圧する。図２は、光ペン６０の構成を模式的に示す縦断面図である。図２に示すように、光ペン６０は、ペン本体６１と、光源６２と、光ファイバ６３とを備えている。
【００２２】
光源６２は、光を照射する。光源６２は、ここでは、レーザー光を照射する。光源６２は、筐体１１の内部に配置されている。本実施形態では、光源６２は、レーザーダイオード（ＬＤ）と光学系とを備えている。光源６２は、制御装置１００に接続されている。光源６２は、制御装置１００に制御されている。
【００２３】
ペン本体６１は、長尺の円筒形状に形成されている。ペン本体６１は、長手方向が上下方向に一致するように配置されている。ペン本体６１の軸心は、上下方向に延びている。ペン本体６１は、ホルダ６１ａと、押圧体６１ｂと、フェルール６１ｃとを有している。
【００２４】
ホルダ６１ａは、ペン本体６１の下端部に取り付けられている。ホルダ６１ａは、押圧体６１ｂをペン本体６１の下端に保持する。押圧体６１ｂは、ホルダ６１ａに着脱可能に構成されている。押圧体６１ｂは、硬質な材料から構成されている。押圧体６１ｂの硬度は厳密には限定されないものの、例えば、ビッカース硬さで１００Ｈｖ０．２以上（例えば、５００Ｈｖ０．２以上）の材料により構成される。押圧体６１ｂは球体状に形成されている。押圧体６１ｂは、また、光源６２から発せられる光を透過する材料から形成されている。押圧体６１ｂは、例えば、合成石英ガラスにより構成されている。
【００２５】
フェルール６１ｃは、ペン本体６１の内部に収容されている。フェルール６１ｃは、円筒形に構成されている。フェルール６１ｃは、円筒軸が上下方向に一致するように配置されている。フェルール６１ｃには、円筒軸に沿って貫通孔６１ｃ１が設けられている。貫通孔６１ｃ１の下端は、ホルダ６１ａの下端の押圧体６１ｂを保持する部分まで延びている。
【００２６】
光ファイバ６３は、光源６２から照射された光を伝送するファイバ状の光伝送媒体である。光ファイバ６３は、光が通過するコア部（図示せず）と、コア部の周囲を覆い光を反射させるクラッド部（図示せず）とを備えている。光ファイバ６３の一方の端部６３ａは、光源６２に接続されている。光ファイバ６３の他方の端部６３ｂは、フェルール６１ｃの貫通孔６１ｃ１に挿入されている。そこで、光源６２から照射されたレーザー光は、光ファイバ６３を経由して押圧体６１ｂに到達し、押圧体６１ｂを透過してワークに照射される。
【００２７】
箔押し装置１０の動作は、制御装置１００によって制御されている。図３は、本実施形態に係る箔押し装置１０のブロック図である。図３に示されるように、制御装置１００は、Ｚ軸方向移動用モータ３２と、Ｙ軸方向移動用モータ４２と、Ｘ軸方向移動用モータ５２と、光源６２とに電気的に接続されており、それらを制御可能に構成されている。制御装置１００は、典型的にはコンピュータである。制御装置１００は、例えば、ホストコンピュータ等の外部機器からの印刷データ等を受信するインターフェイス（Ｉ／Ｆ）と、制御プログラムの命令を実行する中央演算処理装置（ＣＰＵ）と、ＣＰＵが実行するプログラムを格納したＲＯＭと、プログラムを展開するワーキングエリアとして使用されるＲＡＭと、上記プログラムや各種データを格納するメモリなどの記憶装置とを備えている。
【００２８】
図６に示すように、制御装置１００は、箔押し制御部１１０と、テストパターン形成部１２０と、出力調整部１３０とを備えている。箔押し制御部１１０は、Ｚ軸方向移動用モータ３２と、Ｙ軸方向移動用モータ４２と、Ｘ軸方向移動用モータ５２と、光源６２とを制御して、箔押しを行う。その際、箔押し制御部１１０は、水平方向に光ペン６０を移動させる走査速度、光ペン６０をワークに押しつける圧力、光源６２の出力などを制御する。テストパターン形成部１２０は、テストピース９０が保持されたとき、光ペン６０を制御して、テストピース９０にテストパターンを形成する。テストパターンの詳細については後述する。出力調整部１３０は、光源６２の出力を調整する。ユーザーは、テストパターンの評価結果をもとに、出力調整部１３０で光源６２の出力を調整する。出力調整部１３０は、例えば、光ペン６０の出力を調整可能な操作画面を、箔押し装置１０に接続された外部の表示装置などに表示させるとよい。なお、制御装置１００は上記したもの以外の制御部を備えていてもよいが、図示および説明は省略する。
【００２９】
以下では、簡単に箔押しのプロセスを説明した後に、テストピース９０へのテストパターンの形成、テストパターンの評価、および光源６２の出力調整について説明する。箔押しのプロセスでは、ユーザーは、光吸収フィルムと熱転写箔とが載置された被転写物を保持台７０に保持させる。
【００３０】
被転写物の材料や形状は、特に限定されない。被転写物は、例えば、アクリル、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリカーボネート（ＰＣ）等の樹脂類であってもよいし、普通紙、画用紙、和紙等の紙類、ゴム類や、金、銀、銅、プラチナ、真鍮、アルミ、鉄、チタン、ステンレス等の金属類等であってもよい。
【００３１】
熱転写箔は、加熱および押圧されることにより、被転写物の表面に画像を転写する箔である。ここでは、熱転写箔は、光ペン６０の光源６２が照射する光のエネルギーによって熱転写を行う。光ペン６０が照射する光のエネルギーは、光吸収フィルムによって熱に変換される。熱転写箔としては、例えば、熱転写用に一般に市販されている転写箔を特に限定なく用いることができる。熱転写箔は、一般的には、基材と、装飾層と、接着層とがこの順に積層されている。熱転写箔における装飾層は、例えば、金箔、銀箔等のメタリック箔や、ハーフメタリック箔、顔料箔、多色印刷箔、ホログラム箔、静電気破壊対策箔等を包含する。なお、光吸収フィルムと熱転写箔とは別体であってもよいが、熱転写箔内に光吸収フィルムと同等の働きをもつ光吸収材が形成されていてもよい。その場合には、光吸収フィルムは使用されなくてもよい。
【００３２】
箔押しのプロセスでは、光ペン６０が光吸収フィルムを介してワークを押圧する。また、光ペン６０は、下端の押圧体６１ｂから、光吸収フィルムにレーザー光を照射する。光吸収フィルムのうち、光ペン６０からのレーザー光が照射された部分は、レーザー光を吸収する。それにより、光エネルギーが熱エネルギーに変換される。光吸収フィルムは、レーザー光を受けて発熱し、その熱が熱転写箔の接着層に伝導する。これにより接着層が軟化し、接着性を発現する。接着層は、装飾層と被転写物との表面に付着し、装飾層と被転写物とを密着させる。その後、光ペン６０が移動して、当該照射部分への光エネルギーの供給が終了すると、接着層は放熱により冷却されて、硬化する。これにより、装飾層と被転写物の表面とが固着され、当該部分における箔転写が完成する。この作業を水平方向の位置を変えて続けることにより、被転写物への箔転写が完成する。
【００３３】
このとき、光ペン６０の出力は、画像や箔押し条件に応じて設定された指令値に制御される。この指令値は、箔押しのプロセス全体を通じて一定であってもよいし、画像の箇所によって変わってもよい。しかし、光ペン６０が実際に出す出力は、指令値を変えない場合であっても、例えば、経年劣化や何らかの原因による調子の変化により変動することがある。そこで、より安定した箔押しのためには、光ペン６０が実際に出している出力を適時測定し、調整することが望ましい。
【００３４】
光ペン６０の出力は、例えば、光源６２に流す電流によって調整される。この場合、例えば、所定の電流値（第１の電流値とする。）の電流を流したときの光ペン６０の出力を１００％と設定する。その後、例えば、経年劣化によって光源６２の出力が落ちたとすると、新たに第１の電流値よりも大きい第２の電流値を設定し、第２の電流値の電流を光源６２に流したときの出力を１００％に設定し直す。第２の電流値を決定するために、テストパターンを描画して光源６２の実際の出力を評価する。なお、光ペン６０の出力は、光源６２に流す直流電流の電流値だけでなく、例えば、光源６２に流すパルス状電流のパルス幅や周期によっても調整できる。光ペン６０の出力を調整する方法は、特に限定されない。
【００３５】
図４は、光ペン６０の出力調整のプロセスを示すフローチャートである。光ペン６０の出力調整は、３つのステップから構成されている。第１ステップＳ０１では、光を照射することで発熱する光吸収フィルム９１と、加えられた熱に対応して変色する感熱紙９２とが重ねられたテストピース９０に対して光ペン６０で光を照射して、感熱紙９２を変色させ、テストパターンを形成する。テストパターンの形成においては、箔押しのときと同様に、光ペン６０が光吸収フィルム９１を介して感熱紙９２を押圧する。光ペン６０は、設定された出力の光を照射する。光吸収フィルム９１は、光ペン６０から照射される光を吸収して発熱し、感熱紙９２がその熱を受けて変色する。光ペン６０は、感熱紙９２に所定のテストパターンを描画するように、水平方向に走査される。
【００３６】
図５は、テストパターンの一例を示す模式図である。図５に示すテストパターンＰは、縦１０個、横１０個のマトリクスをなす１００個のサブパターンから構成されている。テストパターンＰの一番上の行は、サブパターンＰ０１〜Ｐ１０から構成されている。サブパターンＰ０１は、光ペン６０の出力１００％に対して、１０％の出力で光ペン６０を動作させて描画したサブパターンである。サブパターンＰ０２は、光ペン６０の出力１００％に対して、２０％の出力で光ペン６０を動作させて描画したサブパターンである。以下同様に、１０％刻みで１００％までの８個のサブパターンＰ０３〜Ｐ１０が設定されている。サブパターンＰ０１〜Ｐ１０として描画する画像は特に限定されないが、図４の例では、それぞれ出力値の数字（１０〜１００）が白抜きになった矩形の図形が描画されている。サブパターンＰ０１〜Ｐ１０は、同じ走査速度で光ペン６０を走査させながら描画されたものである。
【００３７】
テストパターンＰの上から２番目の行は、サブパターンＰ１１〜Ｐ２０（Ｐ１１のみ図示）から構成されている。Ｐ１１から始まる２番目の行のサブパターンも、１行目と同様、右に向かって１０％刻みで出力を上げながら描画される。２行目のサブパターンは、１行目のサブパターンよりも速い走査速度で光ペン６０を走査させながら描画されたものである。以下、３行目から１０行目に向かうにつれて、より速い走査速度で描画されたサブパターンになっている。
【００３８】
このように、テストパターンＰは、第１出力〜第１０出力で光を照射して変色させた領域を含んでいる。ここでは、第１出力は１０％出力であり、第１出力で変色された感熱紙９２上の領域は、マトリクスの左端の列の領域である。これらの領域には、サブパターンＰ０１〜Ｐ９１が形成されている。また、第１０出力は１００％出力であり、第１０出力で変色された感熱紙９２上の領域は、マトリクスの右端の列の領域である。
【００３９】
また、テストパターンＰは、第１走査速度〜第１０走査速度で光ペン６０を走査させながら光を照射して変色させた領域を含んでいる。ここでは、第１走査速度は中で最も遅い走査速度であり、第１走査速度で変色された感熱紙９２上の領域は、マトリクスの一番上の行の領域である。これらの領域には、サブパターンＰ０１〜Ｐ１０が形成されている。また、第１０走査速度は中で最も速い走査速度であり、第１０走査速度で変色された感熱紙９２上の領域は、マトリクスの一番下の行の領域である。
【００４０】
走査速度は、光の照射時間と言い換えてもよい。走査速度が遅いほど、各サブパターンを描画するときの光の照射時間は長くなる。そこで、サブパターンの変色レベルは大きくなる。
【００４１】
なお、複数のサブパターンは、ここでは、マトリクス状に配置されているが、それぞれ異なる場所に形成されていれば、マトリクス状でなくてもよい。
【００４２】
図４に示すように、第２ステップＳ０２では、ユーザーは、第１ステップＳ０１で変色させた感熱紙９２の変色レベルを、予め採取しておいたレファレンスと比較する。ここで、「変色レベル」とは、熱によって色の濃淡が変わる感熱紙の場合には、加熱前の状態と比較した場合の色の濃淡の差を意味する。また、変色レベルとは、熱によって色が変わる（例えば、青系統の色から赤系統の色に色が変わる）感熱紙の場合には、加熱前の状態と比較した場合の色の差を意味する。レファレンスは、例えば、箔押し装置１０の使用開始当初などに、図５に示したテストパターンＰと同じ工程で作成したテストパターンである。そこで、レファレンスは、１行に、第１出力（出力１０％）に対応するサブレファレンスから第１０出力（出力１００％）に対応するサブレファレンスまでの１０個のサブレファレンスを含んでいる。さらに、行が１０行作成され、縦１０個、横１０個のマトリクス状となっている。レファレンスの構成は、テストパターンＰと同じなので、詳しい説明および図示は省略する。
【００４３】
第２ステップＳ０２では、第１ステップＳ０１で形成したテストパターンＰの画像の濃さがレファレンスと異なっているかどうかをユーザーが判定する。テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスと異なっている場合には、第２ステップＳ０２の結果はＹＥＳとなり、第３ステップＳ０３に進む。テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスと同じであると判定された場合には、第２ステップＳ０２の結果はＮＯとなり、光ペン６０の出力調整なしにプロセスは終了する。
【００４４】
また、ある走査速度ではテストパターンＰとレファレンスとの間に差異が認められないにもかかわらず、他の走査速度では差異が認められる場合には、走査速度に異常がある可能性があることが分かる。この場合、ユーザーは、箔押し装置１０の、例えば、Ｙ軸方向移動機構４０とＸ軸方向移動機構５０とを検査する。
【００４５】
第３ステップＳ０３では、ユーザーは、感熱紙９２の変色レベルをレファレンスに近づけるように、光ペン６０の出力を調整する。この調整は、例えば、出力調整部１３０が表示させる操作画面を操作して行う。ここでは、光ペン６０の出力調整は、光ペン６０の出力１００％に対応する電流値を増減することで行われる。例えば、テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスよりも薄いと判定された場合には、１００％相当の電流値は上げられる。テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスよりも濃いと判定された場合には、１００％相当の電流値は下げられる。このとき、複数のサブパターンと複数のサブレファレンスを比較することで、電流値の増減幅を推定することができる。例えば、サブパターンＰ１０の濃さが、出力９０％で描画されたレファレンスの濃さとほぼ同じ場合、電流値の上げ幅は１０％程度と推定できる。なお、光ペン６０の出力の調整を電流値の調整によって行う方法は１つの例示であり、光ペン６０の出力の調整方法は、これに限定されない。
【００４６】
第３ステップＳ０３が終了すると、ステップは第１ステップＳ０１の前に戻る。そして、第１ステップＳ０１〜第３ステップＳ０３が、テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスと同じと判定されるまで（第２ステップＳ０２の結果がＮＯになるまで）繰り返される。
【００４７】
このように、本実施形態に係る方法によれば、光パワーメータなどの光の出力を測定する測定器を使わなくても光ペン６０の出力を確認できる。また、確認結果をもとに出力を調整することもできる。テストパターンに出力の異なる複数のサブパターンを形成し、レファレンスにも対応する複数のサブレファレンスを描画しておくことで、出力の増減幅を推定することもできる。テストパターンに走査速度の異なる複数のサブパターンを形成し、レファレンスにも対応する複数のサブレファレンスを描画しておくことで、走査速度に異常がある可能性を知ることもできる。
【００４８】
（第２実施形態）
第２実施形態は、光ペンの出力調整を箔押し装置が自動で行う実施形態である。その他の点に関しては、第２実施形態に係る箔押し装置は、第１実施形態に係るものと共通である。そこで、第２実施形態の説明でも、第１実施形態と共通する部材には同じ符号を付すものとし、重複する説明は省略または簡略化する。
【００４９】
図６は、第２実施形態に係るヘッド２０の側面図である。図６に示すように、ヘッド２０は、センサー８０を備えている。センサー８０は、保持台７０上の画像のデータを読み取る装置である。画像のデータとは、ここでは、画像の色（波長などにより特定される色）または色の濃淡を表すデータである。センサー８０は、例えば、カメラや二次元イメージセンサである。センサー８０は、ここでは、保持台７０上の画像を撮影する。ただし、センサー８０は、テストパターンの変色レベルを電気信号に変換できるデバイスであればよく、必ずしも画像を取得しなくてもよい。センサー８０は、例えば、測色計などでもよい。
【００５０】
また、図７は、本実施形態に係る箔押し装置１０のブロック図である。図７に示すように、本実施形態に係る制御装置１００は、さらに、センサー制御部１４０と、データ取得部１５０と、記憶部１６０と、比較部１７０と、判定部１８０と、警告部１９０とを備えている。また、出力調整部１３０Ａは、第１実施形態と仕様が異なっている。
【００５１】
センサー制御部１４０は、センサー８０を制御して、テストパターンＰのデータを読み取らせる。データ取得部１５０は、センサー８０によって読み取られたテストパターンＰのデータを取得する。記憶部１６０は、予め採取しておいたレファレンスデータを記憶している。比較部１７０は、データ取得部１５０で取得したデータにおけるテストパターンＰの変色レベルをレファレンスデータと比較する。判定部１８０は、比較部１７０による比較結果に基づいて光ペン６０の出力が正常か否かを判定する。より詳しくは、判定部１８０は、光ペン６０の出力が正常の範囲か、異常であるが調整すればよい範囲か、交換等が必要な範囲の異常であるかを判定する。出力調整部１３０Ａは、テストパターンＰの変色レベルをレファレンスデータに近づけるように、光ペン６０の出力を調整する。出力調整部１３０Ａは、光ペン６０の出力の自動調整機能の他に、第１実施形態のようなマニュアル調整機能を備えていてもよい。警告部１９０は、光ペン６０の出力が交換等が必要な範囲の異常であった場合に、その旨を警告する。
【００５２】
図８は、本実施形態における光ペン６０の出力調整のプロセスを示すフローチャートである。本実施形態の第１ステップＳ１１では、テストパターンＰが感熱紙９２上に描画される。第１ステップＳ１１は、第１実施形態の第１ステップＳ０１と同様でよい。
【００５３】
第２ステップＳ１２では、センサー８０によってテストパターンＰの変色レベルが読み取られる。センサー８０は、ヘッド２０に搭載されている。そこで、ヘッド２０は所定の読み取りポイントにセンサー８０を配置するように移動する。ただし、センサー８０はヘッド２０に搭載されなくてもよく、例えば、保持台７０に対して固定されていてもよい。
【００５４】
第３ステップＳ１３では、読み取った変色レベルのデータが制御装置１００に取り込まれる。第４ステップＳ１４では、読み取ったテストパターンＰの変色レベルを、記憶してあるレファレンスデータの変色レベルと比較する。テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスデータの濃さと所定の第１閾値以上に異なっている場合には、第４ステップＳ１４の結果はＹＥＳとなり、第５ステップＳ１５に進む。テストパターンＰの濃さとレファレンスデータの濃さとの差が第１閾値以下であると判定された場合には、第４ステップＳ１４の結果はＮＯとなり、光ペン６０の出力調整なしにプロセスは終了する。
【００５５】
第５ステップＳ１５では、テストパターンＰの濃さがレファレンスデータの濃さと所定の第２閾値以上に異なっているかどうかが判定される。第２閾値は、第１閾値よりも大きい。テストパターンＰの濃さがレファレンスデータの濃さと第２閾値以上に異なっている場合には、第５ステップＳ１５の結果はＹＥＳとなり、第６ステップＳ１６に進む。テストパターンＰの画像の濃さとレファレンスデータの濃さとの差が第２閾値よりも小さいと判定された場合には、第５ステップＳ１５の結果はＮＯとなり、ステップＳ１７に進む。
【００５６】
第６ステップＳ１６では、箔押し装置１０は、光ペン６０の劣化は調整範囲を超えており、光源６２の交換または修理が必要であることを警告する。
【００５７】
第７ステップＳ１７では、テストパターンＰの変色レベルをレファレンスデータに近づけるように、光ペン６０の出力を調整する。ここでも、光ペン６０の出力調整は、光ペン６０の出力１００％に対応する電流値を増減することで行われる。例えば、テストパターンＰの濃さがレファレンスデータよりも薄いと判定された場合には、１００％相当の電流値は上げられる。テストパターンＰの画像の濃さがレファレンスデータよりも濃いと判定された場合には、１００％相当の電流値は下げられる。
【００５８】
第７ステップＳ１７が終了すると、ステップは第１ステップＳ１１の前に戻る。そして、第１ステップＳ１１〜第７ステップＳ１７が、テストパターンＰの濃さがレファレンスデータとほぼ同じと判定されるまで（第４ステップＳ１４の結果がＮＯになるまで）繰り返される。
【００５９】
なお、光ペン６０の出力調整は、一定周期で行われるように設定されていてもよく、ユーザーの指示に基づいて行われてもよい。
【００６０】
以上、本発明の好適な実施形態について説明した。しかし、上記した実施形態は例示に過ぎず、本発明は他の種々の形態で実施することができる。例えば、上記した実施形態では、光を照射することで発熱する発熱素材は光吸収フィルム９１であり、加えられた熱に対応して変色する感熱素材は感熱紙９２であったが、これらには限定されない。また、光ペンは、必ずしもレーザー光源を備えるものに限定されず、他の種類の光を発する光源を備えていてもよい。
【００６１】
また、上記した実施形態では、テストパターンには、出力の指令値および光の照射時間が異なる複数のサブパターンが形成されていたが、例えば、出力の指令値が異なる複数のサブパターンだけが形成されてもよい。あるいは、１つの出力の指令値に対応する１つのテストパターンだけが形成されてもよい。テストパターンの形態は、特に限定されない。
【符号の説明】
【００６２】
１０      箔押し装置
６０      光ペン
７０      保持台
８０      センサー
９０      テストピース
９１      光吸収フィルム（発熱素材）
９２      感熱紙（感熱素材）
１００    制御装置
１２０    テストパターン形成部
１３０    出力調整部（第１実施形態）
１３０Ａ  出力調整部（第２実施形態）
１４０    センサー制御部
１５０    データ取得部
１６０    記憶部
１７０    比較部
１８０    判定部
Ｐ        テストパターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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