【事件の表示】
　特許第６５５７２２９号発明「断層像撮影装置」の特許異議申立事件について、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第６５５７２２９号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正することを認める。
　特許第６５５７２２９号の請求項１、２、４、５に係る特許を維持する。
　特許第６５５７２２９号の請求項３に係る特許についての特許異議の申立てを却下する。
【理　由】
第１　手続の経緯
　特許第６５５７２２９号の請求項１〜５に係る特許についての出願は、２０１５年（平成２７年）６月３０日（国内優先権主張　平成２６年７月１日）を国際出願日とする出願であって、令和元年７月１９日にその特許権の設定登録がされ、同年８月７日に特許掲載公報が発行されたところ、特許掲載公報の発行の日から６月以内である令和２年２月７日に特許異議申立人小林勝（以下「申立人」という。）により特許異議の申立てがされ、同年４月１日付けで取消理由が通知され、同年６月４日付けで意見書の提出及び訂正請求がされ、同年７月２２日付けで、申立人から意見書が提出され、さらに、同年８月２１日付けで取消理由（決定の予告）が通知され、同年１０月２２日付けで意見書の提出及び訂正請求がされ、同年１２月２日付けで申立人から意見書が提出されたものである。
第２　訂正の適否についての判断
１　訂正の内容
　令和２年１０月２２日付けの訂正請求（以下「本件訂正請求」という。また、その訂正を「本件訂正」という。）は、特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正特許請求の範囲のとおり、訂正後の請求項１ないし５について訂正することを求めるものであって、以下の訂正事項１ないし訂正事項４からなる（なお、下線は、請求人が付したものである。）。
（１）訂正事項１
　特許請求の範囲の請求項１に、
「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影する断層像撮影装置であって、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査であることを特徴とする断層像撮影装置。」
と記載されているのを、
「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影
し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査であ
り、
　前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整が、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作と、を含む
に訂正する（請求項１の記載を引用する請求項２、４及び５も同様に訂正する）。
（２）訂正事項２
　特許請求の範囲の請求項３を削除する。
（３）訂正事項３
　特許請求の範囲の請求項４に、
「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示する表示手段を更に備え、
　前記表示手段が、前記第２撮影モードにおいて、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみを表示する第１表示モードと、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像を順に表示する第２表示モードとを切り替え可能に構成されており、
　前記第１表示モードで表示された断層画像に基づいて第１調整操作を行った後、前記第２表示モードで表示された断層画像に基づいて第２調整操作が行われることを特徴とする、請求項１又は２に記載の断層像撮影装置。」
と記載されているのを、
「
　前
　前記第１表示モードで表示された断層画像に基づいて
前記
前記
に訂正する。
（４）訂正事項４
　特許請求の範囲の請求項５に、
「前記第２撮影モードで撮影された断層像を記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする、請求項１〜４のいずれか１項に記載の断層像撮影装置。」
と記載されているのを、
「前記第２撮影モードで撮影された断層像を記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする、請求項１
、２及び
に訂正する。
２　訂正の目的、新規事項の有無、特許請求の範囲の拡張・変更の存否及び一群の請求項
（１）訂正事項１について
ア　訂正の目的の適否について
　訂正前の請求項１に係る特許発明は、「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影する断層像撮影装置」について、「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モード」と、「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モード」とを備え、「前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短」いこと、「前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ」ること、「前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であ」ること、「前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査である」ことを特定している。
　これに対し、訂正後の請求項１は、「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影
し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示
　したがって、訂正事項１は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる「特許請求の範囲の減縮」を目的とする訂正である。
イ　新規事項の有無について
　訂正前の請求項４に
「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示する表示手段を更に備え、
　前記表示手段が、前記第２撮影モードにおいて、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみを表示する第１表示モードと、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像を順に表示する第２表示モードとを切り替え可能に構成されており、
　前記第１表示モードで表示された断層画像に基づいて第１調整操作を行った後、前記第２表示モードで表示された断層画像に基づいて第２調整操作が行われることを特徴とする、請求項１又は２に記載の断層像撮影装置。」
との記載があり、この記載は、訂正事項１に係る構成を含む記載である。
　よって、訂正事項１は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否について
　上記アのとおり、訂正事項１は、訂正前の請求項１に係る発明における「断層像撮影装置」が「表示手段」を備えていることを具体的に特定し、また、「前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整」について具体的に特定するものであり、特許請求の範囲を拡張するものでなく、当該訂正により訂正前の請求項１に係る発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではない。また、訂正前の請求項１を引用する２、４及び５に係る発明についても同様である。
　したがって、訂正事項１は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。
（２）訂正事項２について
ア　訂正の目的の適否について
　訂正事項２は、請求項３を削除するものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　新規事項の有無について
　訂正事項２は、請求項３を削除するものであるから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否について
　訂正事項２は、請求項３を削除するものであるから、特許請求の範囲を拡張するものでなく、当該訂正により訂正前の請求項１に係る発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではない。
　したがって、訂正事項２は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。
（３）訂正事項３について
ア　訂正の目的の適否について
　訂正事項３は、訂正事項１によって請求項１が訂正されたことに伴い、訂正後の請求項１と重複する記載を訂正後の請求項４から削除するとともに、訂正後の請求項４における「第１調整操作」及び「第２調整操作」を訂正後の請求項１で特定した「第１調整操作」及び「第２調整操作」を引用した記載とするものであるから、特許法第１２０条の５第２項ただし書第３号に掲げる明瞭でない記載の釈明を目的とするものである。
イ　新規事項の有無について
　訂正事項３は、上記アのとおり、訂正後の請求項１と重複する記載を訂正後の請求項４から削除するとともに、訂正後の請求項４における「第１調整操作」及び「第２調整操作」が訂正後の請求項１で規定した「第１調整操作」及び「第２調整操作」を引用するものであり、何ら実質的な内容の変更を伴うものでないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否について
　訂正事項３は、上記アのとおり、訂正後の請求項１と重複する記載を訂正後の請求項４から削除するとともに、訂正後の請求項４における「第１調整操作」及び「第２調整操作」が訂正後の請求項１で特定した「第１調整操作」及び「第２調整操作」を引用するものであり、特許請求の範囲を拡張するものでなく、当該訂正により訂正前の請求項１に係る発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではない。
　したがって、訂正事項３は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。
（４）訂正事項４について
ア　訂正の目的の適否について
　訂正事項４は、訂正前の請求項５が請求項１〜４の記載を引用する記載であるところ、請求項３を引用しないものとするための訂正であって、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
イ　新規事項の有無について
　訂正事項４は、上記アのとおり、何ら実質的な内容の変更を伴うものでないから、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第５項に適合するものである。
ウ　特許請求の範囲の拡張・変更の存否について
　訂正事項４は、上記アのとおり、何ら実質的な内容の変更を伴うものでないから、特許請求の範囲を拡張するものでなく、当該訂正により訂正前の請求項１に係る発明のカテゴリーや対象、目的を変更するものではない。
　したがって、訂正事項４は、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものには該当せず、特許法第１２０条の５第９項で準用する特許法第１２６条第６項に適合するものである。
（５）一群の請求項について
　訂正前の請求項１〜５について、請求項２〜５はそれぞれ請求項１を直接的又は間接的に引用しているものであるから、請求項１〜５は一群の請求項である。そして、上記訂正事項１〜４は、その一群の請求項に対してなされているものであるから、特許法第１２０条の５第４項に規定する一群の請求項ごとにされたものである。
（６）独立特許要件について
　本件においては、訂正前の全ての請求項１〜５について特許異議の申立てがされているので、訂正事項１〜４に関して、特許法第１２０条の５第９項で読み替えて準用する同法第１２６条第７項に規定される独立特許要件は課されない。
３　訂正の適否についてのまとめ
　以上のとおりであるから、本件訂正請求による訂正は、特許法第１２０条の５第２項ただし書第１号及び第３号に掲げる事項を目的とするものに該当し、かつ、同条第４項の規定、並びに、同条第９項で準用する同法第１２６条第５項から第６項までの規定に適合するので、本件訂正後の請求項〔１〜５〕について訂正を認める。
第３　本件発明
　上記第２のとおり、本件訂正の訂正事項１ないし４による訂正を認めるから、本件特許の請求項１ないし５に係る発明（以下順に「本件発明１」ないし「本件発明５」という。）は、本件訂正により訂正された訂正特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載されている事項により特定されるとおりのものであり、その本件発明１ないし５は以下に記載したとおりのものである。なお、下線部は、訂正箇所を示す。
【請求項１】
　光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影
し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査であ
り、
　前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整が、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作と、を含む
【請求項２】
　前記第２撮影モードにおける走査領域が、前記第１撮影モードにおける走査領域中の注目領域を含む領域であることを特徴とする、請求項１に記載の断層像撮影装置。
【請求項３】
（削除）
【請求項４】
　前
　前記第１表示モードで表示された断層画像に基づいて
前記
前記
【請求項５】
　前記第２撮影モードで撮影された断層像を記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする、請求項１
、２及び４
　　
第４　取消理由の概要
１　令和２年８月２１日付け取消理由（決定の予告）の概要
　令和２年６月４日付け訂正請求で訂正された請求項１〜５に係る特許に対して、同年８月２１日付けで特許権者に通知した取消理由（決定の予告）の概要は、次のとおりである。
（１）（サポート要件）本件特許は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第３６条第６項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであり、取り消されるべきものである。
（２）（実施可能要件）本件特許は、その発明の詳細な説明が同法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであり、取り消されるべきものである。
　　　　　　　　　　　　　　　　記
ア　第１調整操作と第２調整操作の関係について（サポート要件）
　第１調整操作と第２調整操作について、本件発明１では、第１調整操作は第２調整操作に含まれる関係であるのに対し、発明の詳細な説明の記載では、別々の調整操作であり、食い違いを生じている。
　したがって、本件発明１は、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
　本件発明２、５についても本件発明１と同様に、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
イ　表示について（サポート要件）（実施可能要件）
　本件発明１は、発明の詳細な説明に記載されていない、選択表示モードや連続表示モードを使うことなく調整操作することを含む発明であるといえるから、本件発明１は、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
　本件発明２、５についても本件発明１と同様に、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
　また、表示に関する構成が特定されていない本件発明１に対し、発明の詳細な説明には、選択表示モードや連続表示モードを使うことなく調整操作することは記載されていない。
　してみると、発明の詳細な説明は、本件発明１を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない。
　また、発明の詳細な説明は、本件発明１と同様に本件発明２、５についても、実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない。
ウ　順番について（サポート要件）
　本件発明１は、発明の詳細な説明に記載されていない、第１調整操作及び第２調整操作を同時に行ったり、逆の順番で行う態様を含む発明であるといえるから、本件発明１は、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
　本件発明２、５についても本件発明１と同様に、発明の詳細な説明に記載したものとはいえない。
２　令和２年４月１日付け取消理由の概要
　訂正前の請求項１〜５に係る特許に対して、当審が令和２年４月１日付けで特許権者に通知した取消理由の概要は、次のとおりである。
　　
（１）（新規性）２９条１項３号
　本件特許の下記の請求項に係る発明は、本件特許の出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明であって、特許法第２９条第１項第３号に該当するから、下記の請求項に係る特許は、特許法第２９条第１項の規定に違反してされたものである。
（２）（進歩性）２９条２項
　本件特許の下記の請求項に係る発明は、本件特許の出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、下記の請求項に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものである。
　　　　　　　　　　　　　　　　　　記
ア　本件発明
　本件の請求項１ないし５に係る発明を、以下それぞれ請求項の番号に応じて「本件発明１」などという。
（なお、ここで「本件発明１」などとは、上記訂正前の発明のことである。）
イ　引用文献等
甲第１号証：特開２００８−２６７８９１号公報（以下「甲１」という。）
甲第２号証：特開２０１２−１９２２６０号公報（以下「甲２」という。）
甲第３号証：特開２０１４−８７５８１号公報（以下「甲３」という。）
甲第４号証：特開２００８−１５４９３９号公報（以下「甲４」という。）
ウ（新規性、進歩性：本件発明１，２，５：甲１）
　本件発明１，２，５と甲１発明との間に相違点はなく、本件発明１，２，５は甲１発明である。または、本件発明１，２，５は、甲１発明に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。
エ（進歩性：本件発明３：甲１ないし甲４）
　本件発明３は、甲１発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に想到することができた発明である。
オ（新規性、進歩性：本件発明１，２，５：甲２）
　本件発明１，２，５と甲２発明との間に相違点はなく、本件発明１，２，５は甲２発明である。または、本件発明１，２，５は、甲２発明に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。
第５　甲号証の記載
１　甲１について
（１）甲１には、以下の記載がある。なお、下線は当審で付与した。以下同じ。
（甲１−ア）
「【００３２】
［全体構成］
　
眼底観察装置１は、
眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成され
（甲１−イ）
「【００５８】
　ＯＣＴユニット１５０は、従来の光画像計測装置とほぼ同様の光学系を備えている。すなわち、
ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出する。この検出結果（検出信号）は演算制御装置２００に入力される。演算制御装置２００は、この検出信号を解析して被検眼の断層画像を形成する
【００５９】
　低コヒーレンス光源１６０は、低コヒーレンス光Ｌ０を出力するスーパールミネセントダイオード（ＳＬＤ：Ｓｕｐｅｒ　Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ　Ｄｉｏｄｅ）や発光ダイオード（ＬＥＤ：Ｌｉｇｈｔ　Ｅｍｉｔｔｅｄ　Ｄｉｏｄｅ）等の広帯域光源により構成される。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長の光を含み、かつ、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する光とされる。
【００６０】
　低コヒーレンス光Ｌ０は、眼底カメラユニット１Ａの照明光（波長約４００ｎｍ〜８００ｎｍ）よりも長い波長、たとえば約８００ｎｍ〜９００ｎｍの範囲に含まれる波長を有する。
【００６１】
　低コヒーレンス光源１６０から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１６１を通じて光カプラ１６２に導かれる。光ファイバ１６１は、たとえばシングルモードファイバないしはＰＭファイバ（Ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ　ｍａｉｎｔａｉｎｉｎｇ　ｆｉｂｅｒ；偏波面保持ファイバ）等によって構成されている。光カプラ１６２は、低コヒーレンス光Ｌ０を参照光ＬＲと信号光ＬＳとに分割する。」
（甲１−ウ）
「【００９６】
（制御部）
　眼底観察装置１の制御系は、
演算制御装置２００の制御部２１０
【００９７】
　制御部２１０は、制御プログラム２０４ａに基づいて動作するマイクロプロセッサ２０１により前述の制御を行う。制御部２１０
には、主制御部２１１、記憶部２１２、走査設定部２１３及びキャプチャ部２１４が設けられ
（甲１−エ）
「【０１０２】
　キャプチャ部２１４は、表示部２４０Ａに表示された画像等の表示情報をキャプチャ（ｃａｐｔｕｒｅ）する。たとえば、キャプチャ部２１４は、眼底Ｅｆの断層動画像が表示部２４０Ａに表示されているときに、この断層動画像のフレーム（静止画像）を選択的に記録するように動作する。キャプチャ部２１４は、この発明の「記録手段」の一例である。」
（甲１−オ）
「【０１１９】
　図６（Ａ）に示すように、
信号光ＬＳは、あらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内
走査される
走査領域Ｒ内には、ｘ方向に複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されている
　なお、上記「図６（Ａ）」は、「図７（Ａ）」の誤記である。
（甲１−カ）図７として、以下の図が記載されている。
（甲１−キ）
「【０１４２】
［使用形態］
　眼底観察装置１の使用形態について説明する。図９のフローチャートは、眼底
観察装置１の使用形態の例を表している。
【０１４３】
　まず、被検眼Ｅを所定の計測位置（対物レンズ１１３に対峙する位置）に配置させ、被検眼Ｅと装置とのアライメントを行う（Ｓ１）。アライメントが完了したら、オペレータは、操作部２４０Ｂを操作して検査の開始を要求する（Ｓ２）。このとき、主制御部２１１は、必要に応じてＬＣＤ１４０を制御し、被検眼Ｅに対して内部固視標を呈示させる。
【０１４４】
　この要求を受けた主制御部２１１は、観察光源１０１及び撮像装置１２（又は、撮影光源１０３及び撮像装置１０）を制御し、眼底Ｅｆの眼底画像Ｅｆ′を撮影させるとともに（Ｓ３）、撮影された眼底画像Ｅｆ′を表示部２４０Ａに表示させる（Ｓ４）。
【０１４５】
　オペレータは、操作部２４０Ｂを操作し、表示された眼底画像Ｅｆ′上に断面位置を指定する（Ｓ５）。ここで指定される断面位置は、眼底Ｅｆの断層静止画像の計測位置である。断層静止画像とは、眼底Ｅｆの診断において参照される断層画像である。なお、前述の
断層動画像は、断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定に利用される断層画像である
【０１４６】
　ステップ５において、オペレータは、眼底Ｅｆの注目部位や観察方法等に応じて、断面位置を指定できる。たとえば、眼底Ｅｆの注目部位の３次元画像を観察したいときには、３次元スキャンを指定できる。また、注目部位を通過する断面を観察したいときには、水平スキャンや垂直スキャンや十字スキャンや放射スキャンに相当する断面位置を指定できる。また、眼底の或る注目点（中心窩や乳頭中心等）の周囲の状態を観察したいときには、円スキャンや同心円スキャンや螺旋スキャンに相当する断面位置を指定できる。なお、同心円スキャンや螺旋スキャンは、走査線の間隔を小さくすることにより、３次元画像を形成するために適用することができる。
【０１４７】
　また、ステップ５において、断面位置を設定する代わりに走査線の本数やスキャン態様を指定するようにしてもよい。また、断面位置等とともに、走査線の間隔や走査点の間隔など、信号光ＬＳの走査に関する各種の条件を設定することも可能である。なお、画像形成用の断面位置が決定されることは、図７にも示したように、信号光ＬＳが照射される走査点を決定することと同義と言える。
【０１４８】
　さて、断層静止画像の計測用の断面位置が指定されると、走査設定部２１３は、眼底Ｅｆの断層動画像を取得するための断面位置を設定する（Ｓ６）。
【０１４９】
　ステップ６の具体例を説明する。走査設定部２１３は、断層動画像計測用の走査点の個数を、断層静止画像計測用の走査点の個数よりも少なく設定する。たとえば、走査設定部２１３は、断層静止画像計測用の走査点を間引きすることにより、断層動画像計測用の走査点を設定する。
【０１５０】
　また、ステップ５で２つ以上の断面位置（走査線）が指定された場合、走査設定部２１３は、それより少ない本数の走査線を断層動画像計測用として設定することができる。たとえば、断層静止画像計測用に放射スキャンが指定された場合、水平スキャンや垂直スキャンや十字スキャンを設定できる。このとき、スキャンの中心位置は同じとされる。
【０１５１】
　また、断層静止画像計測用の断面位置と、断層動画像計測用の断面位置は、一方が他方を含んでいる必要はない。たとえば、前者として十字スキャンを適用し、後者として３次元スキャンを適用することも可能である。
【０１５２】
　オペレータは、操作部２４０Ｂを操作して断層動画像の計測を要求する（Ｓ７）。この要求を受けた主制御部２１１は、低コヒーレンス光源１６０やミラー駆動機構２４１、２４２を制御し、ステップ６で設定された各断面位置に沿って信号光ＬＳを反復走査させる。ＣＣＤ１８４は、各走査点に対応する干渉光ＬＣを検出して検出信号を出力する。画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４からの検出信号に基づいて、各断面位置の断層画像を反復して形成する。それにより、各断面位置について、所定の時間間隔毎に断層画像が得られる。
主制御部２１１は、各断面位置について反復して形成される断層画像を所定のフレームレートで表示部２４０Ａに表示させることにより、各断面位置における断層動画像を表示させる
【０１５３】
　ステップ８の具体例を説明する。この例では、図７に示す３次元スキャンにおいて、
奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査
（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）
を実行することにより、走査線Ｒ１に沿った断層画像、走査線Ｒ３に沿った断層画像、走査線Ｒ５に沿った断層画像、・・・を逐次にかつ反復して取得
取得される断層画像を、各走査線Ｒｉ（ｉ＝１、３、５、・・・）毎に所定のフレームレート（たとえば各走査線Ｒｉを走査する時間間隔）で更新表示させることにより、各走査線Ｒｉにおける断層動画像を表示させる
【０１５４】
　オペレータは、表示部２４０Ａに表示される断層動画像を観察する。そして、オペレータは、操作部２４０Ｂを操作し、断層静止画像の計測範囲や計測タイミングを指定する（Ｓ９）。ここで、
計測範囲の指定
表示されている断層動画像中の画像領域
指定する
指定される画像領域として
注目部位に対応する注目領域
【０１５５】
　眼底観察装置１は、ステップ９で
指定された計測範囲や計測タイミングに応じた断層静止画像を計測する
【０１５６】
　ステップ１０の具体例を説明する。上記のステップ８の具体例が適用された場合、
信号光ＬＳは、
各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査され
【０１５７】
　主制御部２１１は、ステップ１０で取得された断層静止画像を表示部２４０Ａに表示させる（Ｓ１１）。なお、眼底Ｅｆの３次元画像が形成された場合、画像処理部２３０は、レンダリング処理を施して擬似的な３次元画像を形成し、この擬似的な３次元画像が表示される。また、３次元画像が形成された場合、所定の断面位置における断層画像が表示される。この所定の断面位置としては、たとえば、前述の断層動画像の断面位置や、オペレータが新たに指定した断面位置などがある。
【０１５８】
　オペレータは、表示された断層静止画像を観察して診断等を行う。また、この断層静止画像は、記憶部２１２等に格納される。
【０１５９】
　この使用形態のステップ５では任意個数の断面位置を指定できるが、その指定個数は余り多くない方が望ましい（たとえば数本程度であることが望ましい）。その理由としては、たとえば、多数の断面位置を指定した場合、表示部２４０Ａに多数の断層画像が表示され、各断層画像の表示サイズが小さくなったり、表示される断層画像の数が多くなったりして、観察が困難になるおそれがある。また、多数の断面位置を指定すると、信号光ＬＳで全断面位置を一通り走査するのに時間が掛かるため、各断層動画像のフレームレートが小さくなり、好適な動画像を得られないおそれがある。
【０１６０】
［作用・効果］
　眼底観察装置１の作用及び効果について説明する。
【０１６１】
　眼底観察装置１は、指定された各断面位置に沿って信号光ＬＳを反復走査し、各断面位置における断層画像を反復して形成することにより、各断面位置における断層動画像を表示するように作用する。
【０１６２】
　したがって、オペレータは、断層動画像を観察して被測定物体（眼底Ｅｆ）の計測範囲を指定することができる。それにより、眼底観察装置１によれば、被測定物体の計測範囲を高精度で設定することが可能である。
【０１６３】
　また、オペレータは、断層動画像を観察して被測定物体の計測タイミングを指定できる。それにより、眼底観察装置１によれば、所望のタイミングで被測定物体の画像を取得することが可能である。
【０１６４】
　更に、計測範囲や計測タイミングが指定されたことに対応し、眼底観察装置１は、その指定内容に応じて信号光ＬＳを走査して断層静止画像を取得するようになっている。それにより、高精度で設定された計測範囲の画像を取得でき、また、所望の計測タイミングの画像を取得できる。
【０１６５】
　また、眼底観察装置１によれば、断層動画像を計測するための走査点の個数を、断層静止画像を計測するための走査点の個数よりも少なく設定するようになっている。したがって、診断等に供される断層静止画像については高分解能で計測を行えるとともに、その準備作業に供される断層動画像については好適な表示サイズ及び好適なフレームレートを実現することができる。特に、断層動画像の走査線の本数を、断層静止画像の走査線の本数よりも少なく設定することにより、この効果は顕著となる。」
（甲１−ク）
「【０１８４】
　眼底観察装置１のキャプチャ部２１４を用いた使用形態を説明する（図６参照）。表示部２４０Ａに断層動画像が表示されているときに、オペレータは、所望のタイミングで操作部２４０Ｂを操作する。この操作を受けた
主制御部２１１は、キャプチャ部２１４を制御し、操作時に表示されている断層動画像のフレームを記憶部２１２に記憶させる
（２）甲１に記載された発明
ア　甲１の【００３２】の「
眼底観察装置１は、
眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成され
「眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成される眼底観察装置１」の技術事項が読み取れる。
イ　甲１の【００５８】の記載から、
「ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出し、この検出結果（検出信号）は演算制御装置２００に入力され、演算制御装置２００は、この検出信号を解析して被検眼の断層画像を形成する」との技術事項が読み取れる。
ウ　甲１の【００９６】の「眼底観察装置１の制御系は、
演算制御装置２００の制御部２１０
には、主制御部２１１、記憶部２１２、走査設定部２１３及びキャプチャ部２１４が設けられ
主制御部２１１は、キャプチャ部２１４を制御し、操作時に表示されている断層動画像のフレームを記憶部２１２に記憶させる
「演算制御装置２００の制御部２１０には、主制御部２１１、記憶部２１２、走査設定部２１３及びキャプチャ部２１４が設けられ、主制御部２１１は、キャプチャ部２１４を制御し、操作時に表示されている断層動画像のフレームを記憶部２１２に記憶させる」との技術事項が読み取れる。
エ　甲１の【０１１９】の「
信号光ＬＳは、あらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内
走査される
走査領域Ｒ内には、ｘ方向に複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されている
「信号光ＬＳが走査されるあらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内には、ｘ方向に複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されている」との技術事項が読み取れる。
オ　甲１の【０１５３】の記載から、
「奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）を実行することにより、走査線Ｒ１に沿った断層画像、走査線Ｒ３に沿った断層画像、走査線Ｒ５に沿った断層画像、・・・を逐次にかつ反復して取得し、取得される断層画像を、各走査線Ｒｉ（ｉ＝１、３、５、・・・）毎に所定のフレームレート（たとえば各走査線Ｒｉを走査する時間間隔）で更新表示させることにより、各走査線Ｒｉにおける断層動画像を表示させる」との技術事項が読み取れる。
カ　甲１の【０１４５】の記載から、
「断層動画像は、断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定に利用される断層画像である」との技術事項が読み取れる。
キ　甲１の【０１５４】の「
計測範囲の指定
表示されている断層動画像中の画像領域
指定する
指定される画像領域として
注目部位に対応する注目領域
「表示されている断層動画像中の画像領域（注目部位に対応する注目領域）を指定することで、計測範囲の指定をする」との技術事項が読み取れる。
ク　甲１の【０１５５】の「眼底観察装置１は、ステップ９で
指定された計測範囲や計測タイミングに応じた断層静止画像を計測する
信号光ＬＳは、
各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査される
「指定された計測範囲や計測タイミングに応じ、信号光ＬＳは各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査され、断層静止画像を計測する」との技術事項が読み取れる。
ケ　上記アないしクを踏まえると、甲１には、以下の甲１発明が記載されているものと認められる。
（甲１発明）
「眼底カメラユニット１Ａ、ＯＣＴユニット１５０及び演算制御装置２００を含んで構成される眼底観察装置１であって、
　ＯＣＴユニット１５０は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出し、この検出結果（検出信号）は演算制御装置２００に入力され、
　演算制御装置２００は、この検出信号を解析して被検眼の断層画像を形成し、
　演算制御装置２００の制御部２１０には、主制御部２１１、記憶部２１２、走査設定部２１３及びキャプチャ部２１４が設けられ、主制御部２１１は、キャプチャ部２１４を制御し、操作時に表示されている断層動画像のフレームを記憶部２１２に記憶させ、
　信号光ＬＳが走査されるあらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内には、ｘ方向に複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されており、
　奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）を実行することにより、走査線Ｒ１に沿った断層画像、走査線Ｒ３に沿った断層画像、走査線Ｒ５に沿った断層画像、・・・を逐次にかつ反復して取得し、取得される断層画像を、各走査線Ｒｉ（ｉ＝１、３、５、・・・）毎に所定のフレームレート（たとえば各走査線Ｒｉを走査する時間間隔）で更新表示させることにより、各走査線Ｒｉにおける断層動画像を表示させ、
　断層動画像は、断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定に利用される断層画像であり、
　表示されている断層動画像中の画像領域（注目部位に対応する注目領域）を指定することで、計測範囲の指定をし、
　指定された計測範囲や計測タイミングに応じ、信号光ＬＳは各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査され、断層静止画像を計測する、
　眼底観察装置１。」
２　甲２について
（１）甲２には、以下の記載がある。
（甲２−ア）
「【０００３】
　図５に、眼底におけるＯＣＴの計測範囲及び対応する網膜の断層像の模式図を示す。図５において、５０１は眼底像、ＲＸＹは眼底の平面（ｘ軸：水平方向、ｙ軸：垂直方向）におけるＯＣＴの２次元の計測範囲を表す。図５の例では、ＲＸＹは矩形領域である。そして、Ｔ１〜Ｔｎは計測範囲ＲＸＹに対して網膜の奥行き方向を撮像して得られる黄斑部の２次元断層像（Ｂ−Ｓｃａｎ像）である。一つの断層像は、複数の網膜の奥行き方向をスキャンするスキャンライン（以降Ａ−スキャンラインと呼ぶ）で構成される。ｚ軸は、このＡ−スキャンの方向を表し、ＲＺはｚ軸方向におけるＯＣＴの奥行き方向の１次元の計測範囲を表す。
ＯＣＴの撮像では、眼底に対して設定された計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンする（ｘ軸方向のスキャンを主走査、ｙ軸方向のスキャンを副走査と呼ぶ）ことで、これらの断層像群として３次元データを一度に取得できる
（甲２−イ）
「【００１５】
　次に、図１のブロック図と、図３のフローチャートを参照して、本実施形態の
断層像撮像装置１０
【００１６】
　ステップＳ３０１において、計測範囲取得部１０１は、指示取得部１００から被験者の眼底に対する２次元の計測範囲ＲＸＹを設定するための操作者による指示情報を取得し、計測範囲ＲＸＹを特定する。この指示情報は、断層像撮像装置１０に備えられた不図示のキーボードやマウスを介して、操作者によって入力される。眼底上の計測範囲ＲＸＹの指示として、例えば、断層像取得対象の眼底上の部位や位置の指定などの指示（これを指示１と定義する）を取得する。そして、この指示１の内容に基づき矩形の計測範囲ＲＸＹを特定する。特定された計測範囲ＲＸＹは、断層像取得位置設定部１０２へと送信される。
【００１７】
　ステップＳ３０２において、
断層像取得位置設定部１０２は、計測範囲取得部１０１から計測範囲ＲＸＹを取得し、この計測範囲の中から断層像を取得する位置（以降、断層像取得位置Ｐと呼ぶ）を設定する。断層像取得位置Ｐには、診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置が設定される
断層像取得位置Ｐとして、例えば計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定する
【００１８】
　図６の（ａ）は、計測範囲ＲＸＹにおける断層像取得位置Ｐを示す図である。６０１は眼底像を表し、眼底像６０１内のＲＸＹは２次元の計測範囲を表す。計測範囲ＲＸＹ内のＣは、計測範囲ＲＸＹの中心を通り図中のｘ軸に平行な線分（以降、中央部と呼ぶ）、Ｕは計測範囲ＲＸＹの上辺（以降、上端部と呼ぶ）、Ｌは計測範囲ＲＸＹの下辺（以降、下端部と呼ぶ）、をそれぞれ表す。本実施形態では、計測範囲ＲＸＹの中央部と両端部を示す位置として、計測範囲ＲＸＹの中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌの３つの位置を適用する。これらの位置は、図１３の（ａ）に相当する（１３０２〜１３０４）。以降で説明する断層像取得時には、中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌの位置に対して、ｚ軸方向に計測範囲ＲＺの領域をスキャンした断層像を取得することになる。しかし、前述の通り、計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置はこれに限定されず、図１３の（ｂ）〜（ｆ）のような位置であっても良い。こうして、設定された断層像取得位置Ｐ（中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌ）は、断層像取得部１０３へと送信される。
【００１９】
　ステップＳ３０３において、
移動量設定部１０９は、指示取得部１００から網膜の深度方向の計測位置を手動設定するための操作者による指示情報を取得する
計測位置を設定するための指示として、
深度方向（ｚ軸方向）への計測位置の移動量（以降、深度方向移動量Ｄと呼ぶ）を取得する
設定した深度方向移動量Ｄの値は、断層像取得部１０３へと送信される
【００２０】
　ステップＳ３０４において、
断層像取得部１０３は断層像取得位置設定部１０２から取得した断層像取得位置Ｐ及び、移動量設定部１０９から取得した深度方向移動量Ｄに基づき、被験眼の断層像を撮像する
【００２１】
　断層像取得部１０３は、本実施形態ではフーリエドメイン方式のＯＣＴからなる。図２に、断層像取得部１０３の機能及び装置構成を示す。
断層像取得部１０３は、断層像取得位置Ｐに従ってガルバノミラー駆動機構２０３を制御し
信号光を主走査及び副走査方向（図６のｘ軸及びｙ軸方向）にスキャンするようにガルバノミラー２０４を駆動する
【００２２】
　そして、
低コヒーレンス光源２００からの光ビームは、ハーフミラー２０１により、対物レンズ２１０を経由して被測定物体２１１に向かう信号光と参照ミラー２０２に向かう参照光とに分割される。次に、被測定物体２１１及び参照ミラー２０２によりそれぞれ反射された信号光及び参照光を重畳することにより干渉光が生成される。この干渉光は回折格子２０５によって波長λ１〜λｎの波長成分に分光され、各波長成分が１次元光センサアレイ２０６によって検出される。１次元光センサアレイ２０６を構成する各光センサは、検出した波長成分の光強度の検出信号を画像再構成部２０８に出力する
【００２３】
　
画像再構成部２０８は
網膜の断層像を再構成する
【００２４】
　図６の（ｂ）は、
中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌにおいて取得された断層像
撮像された断層像の画像データは、記憶部１０４へと送信される
（甲２−ウ）　図６として、以下の図が記載されている。
（甲２−エ）
「【００２５】
　次に、ステップＳ３０５において、
表示方法設定部１０５は、記憶部１０４に記憶された断層像の画像データを取得し、断層像の画像データを並べて同時に表示する
（甲２−オ）
「【００４４】
　ステップＳ３１２において、表示部１０６は、表示方法設定部１０５から表示方法１のデータを取得し、不図示のモニタ上に表示するよう表示制御する。そして、ステップＳ３１３において、指示取得部１００は、断層像撮像装置１０による断層像の解析・表示処理を終了するか否かの指示を外部から取得する。
この指示は、不図示のユーザーインターフェイスを用いて、操作者によって入力される。処理を終了せずに、眼底像上の注目箇所の指定を行った場合、処理はステップＳ３０１に戻る
（甲２−カ）
「【００５７】
　以上、述べた構成によれば、網膜の３次元形状は楕円体に近似できるため、
被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になる
網膜層の途切れが検出された場合に、
網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整する
【００５８】
　一方、網膜層の途切れが検出された場合に、撮影者が自動調整の指示を与えないときは計測深度の手動入力を取得できるようにする。このように構成することで、撮影者は網膜層の途切れを示す警告表示を参照しながら、
手動で計測深度の位置合わせ（参照ミラー２０２の位置合わせ）を行う
（甲２−キ）
「【００６４】
　以上説明したように、上記実施形態によれば、
被験眼の計測範囲における中央と端部の位置の断層像を実時間で並べて表示されるため、その後撮像する３次元データに網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判別可能になる
（２）甲２に記載された発明
ア　【００１５】以降に、「断層像撮像装置１０」の構成及び処理の具体的処理の手順が記載されている。
イ　【００１６】の「ステップＳ３０１において、計測範囲取得部１０１は、指示取得部１００から被験者の眼底に対する２次元の計測範囲ＲＸＹを設定するための操作者による指示情報を取得し、計測範囲ＲＸＹを特定する。」及び【００４４】の「この指示は、不図示のユーザーインターフェイスを用いて、操作者によって入力される。処理を終了せずに、眼底像上の注目箇所の指定を行った場合、処理はステップＳ３０１に戻る。」との記載から、
「計測範囲取得部１０１は、指示取得部１００から被験者の眼底に対する２次元の計測範囲ＲＸＹを設定するための操作者による眼底像上の注目箇所の指定の指示情報を取得し、計測範囲ＲＸＹを特定する」との技術事項が読み取れる。
ウ　【００１７】の「断層像取得位置設定部１０２は、計測範囲取得部１０１から計測範囲ＲＸＹを取得し、この計測範囲の中から断層像を取得する位置（以降、断層像取得位置Ｐと呼ぶ）を設定する。断層像取得位置Ｐには、診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置が設定される。」、「断層像取得位置Ｐとして、例えば計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定する。」との記載から、
「断層像取得位置設定部１０２は、計測範囲取得部１０１から計測範囲ＲＸＹを取得し、この計測範囲の中から診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置（以降、断層像取得位置Ｐと呼ぶ）として、計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定する」との技術事項が読み取れる。
エ　【００１９】の記載から、
「移動量設定部１０９は、指示取得部１００から網膜の深度方向の計測位置を手動設定するための操作者による指示情報を取得（計測位置を設定するための指示として、深度方向（ｚ軸方向）への計測位置の移動量（以降、深度方向移動量Ｄと呼ぶ）を取得）し、設定した深度方向移動量Ｄの値は、断層像取得部１０３へと送信される」との技術事項が読み取れる。
オ　【００２０】の記載から、
「断層像取得部１０３は断層像取得位置設定部１０２から取得した断層像取得位置Ｐ及び、移動量設定部１０９から取得した深度方向移動量Ｄに基づき、被験眼の断層像を撮像する」との技術事項が読み取れる。
カ　【００２１】、【００２２】の記載から、
「断層像取得部１０３は、断層像取得位置Ｐに従ってガルバノミラー駆動機構２０３を制御し、信号光を主走査及び副走査方向（ｘ軸及びｙ軸方向）にスキャンするように駆動し、低コヒーレンス光源２００からの光ビームは、ハーフミラー２０１により、対物レンズ２１０を経由して被測定物体２１１に向かう信号光と参照ミラー２０２に向かう参照光とに分割され、被測定物体２１１及び参照ミラー２０２によりそれぞれ反射された信号光及び参照光を重畳することにより干渉光が生成され、干渉光は回折格子２０５によって波長λ１〜λｎの波長成分に分光され、各波長成分が１次元光センサアレイ２０６によって検出され、１次元光センサアレイ２０６を構成する各光センサは、検出した波長成分の光強度の検出信号を画像再構成部２０８に出力する」との技術事項が読み取れる。
キ　【００２３】ないし【００２５】の記載から、
「画像再構成部２０８は、中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌにおいて取得された断層像を再構成し、断層像の画像データは、記憶部１０４へと送信され、表示方法設定部１０５は、記憶部１０４に記憶された断層像の画像データを取得し、断層像の画像データを並べて同時に表示する」との技術事項が読み取れる。
ク　【００５７】の「被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になる」との記載のうち「３次元データ」は、【０００３】の「ＯＣＴの撮像では、眼底に対して設定された計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンする（ｘ軸方向のスキャンを主走査、ｙ軸方向のスキャンを副走査と呼ぶ）ことで、これらの断層像群として３次元データを一度に取得できる」との記載を踏まえると、計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得する３次元データである。
　よって、【００５７】及び【０００３】から、
「被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得する３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になり、網膜層の途切れが検出された場合に、網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整、又は、手動で計測深度の位置合わせ（参照ミラー２０２の位置合わせ）を行う」との技術事項が読み取れる。
ケ　上記アないしクを踏まえると、甲２には、以下の甲２発明が記載されているものと認められる。
（甲２発明）
「断層像撮像装置１０であって、
　計測範囲取得部１０１は、指示取得部１００から被験者の眼底に対する２次元の計測範囲ＲＸＹを設定するための操作者による眼底像上の注目箇所の指定の指示情報を取得し、計測範囲ＲＸＹを特定し、
　断層像取得位置設定部１０２は、計測範囲取得部１０１から計測範囲ＲＸＹを取得し、この計測範囲の中から診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置（以降、断層像取得位置Ｐと呼ぶ）として、計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定し、
　移動量設定部１０９は、指示取得部１００から網膜の深度方向の計測位置を手動設定するための操作者による指示情報を取得（計測位置を設定するための指示として、深度方向（ｚ軸方向）への計測位置の移動量（以降、深度方向移動量Ｄと呼ぶ）を取得）し、設定した深度方向移動量Ｄの値は、断層像取得部１０３へと送信され、
　断層像取得部１０３は断層像取得位置設定部１０２から取得した断層像取得位置Ｐ及び、移動量設定部１０９から取得した深度方向移動量Ｄに基づき、被験眼の断層像を撮像するものであり、
　断層像取得部１０３は、断層像取得位置Ｐに従ってガルバノミラー駆動機構２０３を制御し、信号光を主走査及び副走査方向（ｘ軸及びｙ軸方向）にスキャンするように駆動し、低コヒーレンス光源２００からの光ビームは、ハーフミラー２０１により、対物レンズ２１０を経由して被測定物体２１１に向かう信号光と参照ミラー２０２に向かう参照光とに分割され、被測定物体２１１及び参照ミラー２０２によりそれぞれ反射された信号光及び参照光を重畳することにより干渉光が生成され、干渉光は回折格子２０５によって波長λ１〜λｎの波長成分に分光され、各波長成分が１次元光センサアレイ２０６によって検出され、１次元光センサアレイ２０６を構成する各光センサは、検出した波長成分の光強度の検出信号を画像再構成部２０８に出力し、
　画像再構成部２０８は、中央部Ｃ、上端部Ｕ、下端部Ｌにおいて取得された断層像を再構成し、断層像の画像データは、記憶部１０４へと送信され、
　表示方法設定部１０５は、記憶部１０４に記憶された断層像の画像データを取得し、断層像の画像データを並べて同時に表示し、
　被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得するする３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になり、網膜層の途切れが検出された場合に、網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整、又は、手動で計測深度の位置合わせ（参照ミラー２０２の位置合わせ）を行う、
　装置。」
３　甲３について
（１）甲３には、以下の記載がある。
「【００８０】
〔信号光の走査およびＯＣＴ画像について〕
　ここで、信号光ＬＳの走査およびＯＣＴ画像について説明しておく。
【００８１】
　眼科観察装置１による信号光ＬＳの
スキャンモードとしては、たとえば、水平スキャン
【００８２】
　水平スキャンは、信号光ＬＳを水平方向（ｘ方向）に走査させるものである。
水平スキャンには、垂直方向（ｙ方向）に配列された複数の水平方向に延びる走査線に沿って信号光ＬＳを走査させる態様も含まれる
「【０１２０】
（Ｓ１３：ＯＣＴ計測を開始する）
　主制御部２１１は、ＯＣＴユニット１００、光路長変更部４１、ガルバノスキャナ４２等を制御して、
眼底ＥｆのＯＣＴ計測を開始する。このＯＣＴ計測は、眼底Ｅｆの実質的に同一の断面に対して反復的に行われる。すなわち、このＯＣＴ計測は、ＯＣＴ動画像を取得するための動作モードで行われる
【０１２１】
（Ｓ１４：ＯＣＴ動画像を用いたフォーカス調整を行う）
　
ユーザまたは眼科観察装置は、ＯＣＴ動画像を用いた詳細なフォーカス調整を行う
【０１２２】
（Ｓ１５：眼底の断層像を取得する）
　ステップ１４の詳細な
フォーカス調整が完了したことを受けて
眼底ＥｆのＯＣＴ計測を行う。このＯＣＴ計測は、予め設定されたスキャンモードで実行される
４　甲４について
（１）甲４には、以下の記載がある。
「【０２１９】
　図１５に示す処理を行う前の準備段階の処理を説明する。まず、眼底画像Ｅｆ′を撮影して表示部２４０Ａに表示させる。眼底画像Ｅｆ′は、表示部２４０Ａの表示画面２４００の眼底画像表示部２４０１に表示される。
【０２２０】
　次に、検者は、表示された眼底画像Ｅｆ′を観察しつつ、ＯＣＴ画像を取得する領域（走査領域Ｒ）を設定する。走査領域Ｒは、たとえば、その中心位置が眼底Ｅｆの視神経乳頭（図１６の眼底画像Ｅｆ′中に円形状に示す部分）の中心に配置されるように設定される。なお、図１６に示す符号Ｒｃは、走査線Ｒ１〜Ｒｍのうち視神経乳頭の中心位置を通過する走査線を表している。以下、図１５に示す処理に移行する。
【０２２１】
　検者は、操作部２４０Ｂを操作し、
眼底画像Ｅｆ′上における視神経乳頭の中心位置（注目部位）を指定
指定された位置を通過する走査線Ｒｃ
に沿って信号光ＬＳを繰り返し走査させる
この繰り返し走査により順次に得られる断層画像Ｇｃ
をリアルタイムで更新表示
【０２２２】
　なお、ＯＣＴ画像表示部２４０２の表示範囲は、フレームＦと同じ範囲に設定されている。ただし、ＯＣＴ画像を拡大表示させる場合などには、フレームＦ内の一部の範囲の画像のみがＯＣＴが像表示部２４０２に表示されることとなる。
【０２２３】
　次に、検者は、操作部２４０Ｂを操作して、フレームＦ内におけるＯＣＴ画像の位置を決定する（Ｓ３２）。そのために、検者は、
ＯＣＴ画像表示部２４０２に表示される断層画像Ｇｃの位置を確認しながら参照ミラー１７４の位置を調整することにより
ＯＣＴが像表示部２４０２内の所望の位置に断層画像Ｇｃを表示させる
【０２２４】
　このとき、ＯＣＴ画像表示部２４０２における特定位置Ｆ０の位置を示す情報を表示して、位置調整を支援するようにしてもよい。また、前述の使用形態と同様に、ＯＣＴ画像の位置合わせを自動的に行うようにしてもよい。
【０２２５】
　
ＯＣＴ画像の位置合わせが終了したら
【０２２６】
　画像形成部２２０は、ＣＣＤ１８４から順次に入力される検出信号に基づいて、各走査点Ｒ１１〜Ｒ１ｎにおける深度方向の画像Ｇ１１〜Ｇ１ｎを形成して断層画像Ｇ１を形成する（Ｓ３５）。
【０２２７】
　ここで、制御部２１０は、
走査線Ｒ１〜Ｒｍに対する計測
第６　当審の判断
１　第１調整操作と第２調整操作の関係について（サポート要件）
　第１調整操作と第２調整操作について、訂正前の本件発明１では、第１調整操作は第２調整操作に含まれる関係であるのに対し、発明の詳細な説明の記載では、別々の調整操作であり、食い違いを生じていたが、本件訂正により、それぞれの調整操作が、発明の詳細な説明に記載された別々の調整操作である「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作」及び「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作」と訂正されたことから、本件発明１、２及び５に対する、第１調整操作と第２調整操作の関係について（サポート要件）の取消理由は解消した。
２　表示について（サポート要件）（実施可能要件）
　訂正前の本件発明１は、発明の詳細な説明に記載されていない、選択表示モードや連続表示モードを使うことなく調整操作することを含む発明であるといえるから、訂正前の本件発明１、２及び５は、発明の詳細な説明に記載したものとはいえず、また、表示に関する構成が特定されていない訂正前の本件発明１に対し、発明の詳細な説明には、選択表示モードや連続表示モードを使うことなく調整操作することは記載されていないという、表示について（サポート要件）（実施可能要件）の取消理由があったが、本件訂正により、「
撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示
３　順番について（サポート要件）
　訂正前の本件発明１は、発明の詳細な説明に記載されていない、第１調整操作及び第２調整操作を同時に行ったり、逆の順番で行う態様を含む発明であるといえるから、訂正前の本件発明１、２及び５は、発明の詳細な説明に記載したものとはいえないという、順番について（サポート要件）の取消理由があったが、本件訂正により、「
前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作と、を含む
４（新規性、進歩性：本件発明１，２，５：甲１）
（１）本件発明１について
ア　本件発明１と甲１発明との対比
（ア）甲１発明の「低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成してこれを検出」することにおいて、「参照光」と「信号光」は、本件発明１の「光源からの光を測定光と参照光に分割」することにおける「参照光」と「測定光」に相当し、「被検眼」と「参照物」は、本件発明１の「対象物体」と「参照物体」に相当する。これらの相当関係を踏まえると、甲１発明の「低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、被検眼を経由した信号光と参照物体を経由した参照光とを重畳させて」「生成し」た「干渉光」は、本件発明１の「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光」に相当する。
（イ）甲１発明の「干渉光を生成してこれを検出し、この検出結果（検出信号）は演算制御装置２００に入力され、演算制御装置２００は、この検出信号を解析して被検眼の断層画像を形成」する「眼底観察装置１」は、本件発明１の「干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影」「する断層像撮影装置」に相当する。
　また、甲１発明の「眼底観察装置１」は、「走査線Ｒ１に沿った断層画像、走査線Ｒ３に沿った断層画像、走査線Ｒ５に沿った断層画像、・・・を逐次にかつ反復して取得し、取得される断層画像を、・・・断層動画像を表示させ」ているから、本件発明１の「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示する断層像撮影装置」に相当する。
（ウ）甲１発明は、「信号光ＬＳが走査されるあらかじめ設定された矩形の走査領域Ｒ内には、ｘ方向に複数（ｍ本）の走査線Ｒ１〜Ｒｍが設定されて」いる。
　このことを踏まえると、甲１発明の「各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査」は、本件発明１の「二次元走査」、「ラスタ走査」に相当し、甲１発明の「信号光ＬＳは各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査され、断層静止画像を計測する」ことは、本件発明１の「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モード」に相当する。
　また、甲１発明の「奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）」は、本件発明１の「二次元走査」、「ラスタ走査」に相当し、甲１発明の「奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）を実行することにより、走査線Ｒ１に沿った断層画像、走査線Ｒ３に沿った断層画像、走査線Ｒ５に沿った断層画像、・・・を逐次にかつ反復して取得し、取得される断層画像を、各走査線Ｒｉ（ｉ＝１、３、５、・・・）毎に所定のフレームレート（たとえば各走査線Ｒｉを走査する時間間隔）で更新表示させることにより、各走査線Ｒｉにおける断層動画像を表示させ」ることは、本件発明１の「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モード」に相当する。
　また、断層動画像の取得における「奇数番号の走査線Ｒ１、Ｒ３、Ｒ５、・・・に沿って信号光ＬＳを走査（偶数番号の走査線Ｒ２、Ｒ４、・・・は間引きされる）」は、断層静止画像を計測する際の「走査線Ｒ１〜Ｒｍ」と比べると、間引きした走査であるから、本件発明１の「前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査」に相当する。
　また、甲１の【０１５９】の「・・・多数の断面位置を指定すると、信号光ＬＳで全断面位置を一通り走査するのに時間が掛かるため、各断層動画像のフレームレートが小さくなり、好適な動画像を得られないおそれがある。」との記載があるように、断層動画像における指定する断面位置の多少が、走査するのに掛かる時間の多少に相関するものであり、間引きした二次元走査に要する時間は、間引きされない二次元走査に要する時間に比べ短くなることを踏まえると、甲１発明の断層動画像の取得における間引きした走査に要する時間は、断層静止画像を計測する際の走査に要する時間よりも短くなっているといえる。
　してみると、甲１発明は、本件発明１の「前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く」なっているとの構成を有しているといえる。
（エ）甲１発明の「断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定」や「計測範囲の指定」は、本件発明１の「第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整」に相当するから、甲１発明の「断層動画像は、断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定に利用される断層画像であり、表示されている断層動画像中の画像領域（注目部位に対応する注目領域）を指定することで、計測範囲の指定をし、指定された計測範囲や計測タイミングに応じ、信号光ＬＳは各走査線Ｒ１〜Ｒｍに沿って走査され、断層静止画像を計測する」ことは、本件発明１の「前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ」ることに相当する。
（オ）してみると、本件発明１と甲１発明とは、以下の一致点及び相違点を有する。
（一致点）
「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示する断層像撮影装置であって、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査である、
　断層像撮影装置。」
（相違点１）
　第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整について、本件発明１は、「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作とを含む」のに対し、甲１発明は、「断層動画像を表示させ、」「断層静止画像の計測条件（計測位置や分解能等）の設定に利用」（「第２調整操作」に相当。）してはいるものの、「対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作」「を行った後」にすることまでは特定していない点。
イ　判断
（ア）相違点１についての判断
　撮影条件の調整において、「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作とを含む」ようにすることは、甲２〜甲４に開示も示唆も記載はなく、また周知技術でもない。
　そして、本件特許明細書段落【００３７】〜【００３９】に「本実施形態における予備撮影モードと本撮影モードの切替、選択表示モードと連続表示モードの切替を用いた撮影条件の調整の流れを説明する。図４（ａ）に示すように、まず第１調整操作を予備撮影モードにて行うが、第１調整操作は特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能なものである。そのため、このときディスプレイ１８は選択表示モードに設定し、番号６の走査により撮影された断層像に基づいて生成された断層画像Ｔ６のみを繰り返し表示する。
選択表示モードにて第１調整操作を完了したら、続いて、図４（ｂ）に示すように、撮影方式は予備撮影モードのまま、表示モード切替ボタンを押してディスプレイ１８を連続表示モードに切り替え、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作を行う。連続表示モードでは、断層画像Ｔ１〜Ｔ１１が順番に繰り返し表示される。
連続表示モードにて第２調整操作を完了したら、図４（ｃ）に示すように、撮影モード切替ボタンを押して予備撮影モードから本撮影モードに切り替え、最適化された撮影条件のもと、走査領域全体を高速軸方向（ｘ方向）に全部で２５６本のラスタ走査を行い、被検眼Ｅの眼底の断層像の撮影を行う。」と記載されているように、本件発明１における撮影条件の調整によって、最適化された撮影条件とすることができるものである。
（イ）小括
　よって、本件発明１は、甲１発明ではない。また、本件発明１は、甲１発明、甲２〜４に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　したがって、本件発明１に係る特許は、甲１を主たる引用例とする新規性及び進歩性の取消理由により取り消すことはできない。
（２）本件発明２及び５について
　本件発明２及び５は、本件発明１の構成を全て含むことから、本件発明１に係る特許と同様の上記理由により、本件発明２及び５に係る特許は、甲１を主たる引用例とする進歩性の取消理由により取り消すことはできない。
５（進歩性：本件発明３：甲１ないし甲４）
　本件発明３は、本件訂正により削除された。
　よって、進歩性についての取消理由の対象であった本件発明３は、存在しないものとなった。
６（新規性、進歩性：本件発明１，２，５：甲２）
（１）本件発明１について
ア　本件発明１と甲２発明との対比・判断
（ア）光学的構成について
　甲２発明の「断層像撮像装置１０であって、」「断層像取得部１０３は、断層像取得位置Ｐに従ってガルバノミラー駆動機構２０３を制御し、信号光を主走査及び副走査方向（ｘ軸及びｙ軸方向）にスキャンするように駆動し、低コヒーレンス光源２００からの光ビームは、ハーフミラー２０１により、対物レンズ２１０を経由して被測定物体２１１に向かう信号光と参照ミラー２０２に向かう参照光とに分割され、被測定物体２１１及び参照ミラー２０２によりそれぞれ反射された信号光及び参照光を重畳することにより干渉光が生成され、干渉光は回折格子２０５によって波長λ１〜λｎの波長成分に分光され、各波長成分が１次元光センサアレイ２０６によって検出され、１次元光センサアレイ２０６を構成する各光センサは、検出した波長成分の光強度の検出信号を画像再構成部２０８に出力し」と、本件発明１の「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影する断層像撮影装置」とを対比すると、以下のとおりである。
　甲２発明の「低コヒーレンス光源２００からの光ビーム」、「信号光」、「参照光」、「被測定物体２１１」、「参照ミラー２０２」は、それぞれ、本件発明１の「光源からの光」、「測定光」、「参照光」、「対象物体」、「参照物体」に相当し、「低コヒーレンス光源２００からの光ビームは、ハーフミラー２０１により、対物レンズ２１０を経由して被測定物体２１１に向かう信号光と参照ミラー２０２に向かう参照光とに分割され」ることは、本件発明１の「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ」ることに相当する。
　甲２発明の「被測定物体２１１及び参照ミラー２０２によりそれぞれ反射された信号光及び参照光を重畳することにより干渉光が生成され」ることにおける「干渉光」は、本件発明１の「対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光」に相当する。
　甲２発明の「干渉光は回折格子２０５によって・・・検出した波長成分の光強度の検出信号を画像再構成部２０８に出力」する「断層像撮像装置１０」は、本件発明１の「干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影」「する断層像撮影装置」に相当する。
　よって、光学的構成において、本件発明１と甲２発明に相違するところはない。
（イ）表示手段について
　甲２発明の「表示方法設定部１０５は、記憶部１０４に記憶された断層像の画像データを取得し、断層像の画像データを並べて同時に表示」するものであり、甲２発明の「断層像撮像装置１０」は、表示手段を有しているといえるから、本件発明１の「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示する断層像撮影装置」に相当する。
（ウ）第１撮影モードについて
　甲２発明の「計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得する３次元データ」における「計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャン」は、本件発明１の「ラスタ走査」に相当し、甲２発明の「計測範囲ＲＸＹ」の「３次元データ」を取得は、本件発明１の「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モード」であるといえる。
　よって、甲２発明は、「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モード」を備え、また、「前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であ」るとの構成を有している。
　よって、第１撮影モードについて、本件発明１と甲２発明に相違するところはない。
（エ）第２撮影モードについて
ａ　甲２発明の「計測範囲の中から診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置」「として、計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定し」「被験眼の断層像を撮像する」ことにおいて、「計測範囲」とは、上記「計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得する３次元データ」の計測範囲であるから、その計測範囲の中から診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置として、計測範囲ＲＸＹの中央と端部の位置を設定し被験眼の断層像を撮像することは、本件発明１の「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モード」であり、「前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査である」ことに相当する。
　そして、甲２発明の「計測範囲の中から診断用の撮影よりも少ない予め定められた複数の位置」での撮影は、その後に取得される「３次元データ」よりも少ない位置での撮影であるから、時間的にも短い撮影であるといえる。
　よって、甲２発明は、本件発明１の「前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く」なっているという構成を有しているといえる。
ｂ　甲２発明の「被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得するする３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になり、網膜層の途切れが検出された場合に、網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整、又は、手動で計測深度の位置合わせ（参照ミラー２０２の位置合わせ）を行う」ことにおいて、
甲２発明の「被験眼の計測範囲ＲＸＹにおける中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすること」は、本件発明１の「前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて」に相当し、
甲２発明は、「中央と端部の断層像」の「撮影後に」「３次元データ」を取得するものであり、甲２発明の「３次元データ全体に網膜層が収まるかどうか」「判断」され、「網膜層の途切れが検出された場合に、網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整、又は、手動で計測深度の位置合わせを行う」ことは、本件発明１の「前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ」ることに相当する。
（オ）してみると、本件発明１と甲２発明とは、以下の一致点及び相違点を有する。
（一致点）
「光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示する断層像撮影装置であって、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査である、
　断層像撮影装置。」
（相違点２）
　第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整について、本件発明１は、「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作とを含む」のに対し、甲２発明は、「中央と端部の断層像を実時間で参照可能にすることで、撮像後に得られる計測範囲ＲＸＹを順にラスタスキャンして取得するする３次元データ全体に網膜層が収まるかどうかを被験眼観察時に判断可能になり、網膜層の途切れが検出された場合に、網膜層が断層像から途切れないように網膜の奥行き方向の計測深度を自動調整、又は、手動で計測深度の位置合わせ」（「第２調整操作」に相当。）することはしているものの、「対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作」「を行った後」にすることまでは特定していない点。
イ　判断
（ア）相違点２についての判断
　相違点２は、実質的に上記相違点１と同じであり、相違点１についての判断は上述のとおりである。
（イ）小括
　よって、本件発明１は、甲２発明ではない。また、本件発明１は、甲２発明、甲１、３及び４に記載された技術事項に基づいて当業者が容易に発明することができたものではない。
　したがって、本件発明１に係る特許は、甲２を主たる引用例とする新規性及び進歩性の取消理由により取り消すことはできない。
（２）本件発明２及び５について
　本件発明２及び５は、本件発明１の構成を全て含むことから、本件発明１に係る特許と同様の上記理由により、本件発明２及び５に係る特許は、甲２を主たる引用例とする進歩性の取消理由により取り消すことはできない。
第７　取消理由通知において採用しなかった特許異議申立理由について
１（進歩性：本件発明４：甲１〜甲４）
　申立人は、本件発明４に係る特許に対して、甲１を主たる引用例とする進歩性の取消理由及び甲２を主たる引用例とする進歩性の取消理由を申し立てている。
　しかしながら、本件発明４は、本件発明１の構成を全て含むことから、本件発明１に係る特許と同様の上記理由により、本件発明４に係る特許は、甲１を主たる引用例とする進歩性の取消理由及び甲２を主たる引用例とする進歩性の取消理由により取り消すことはできない。
第８　令和２年１２月２日付け意見書（以下「意見書」という。）について
　申立人は、意見書においてサポート要件及び明確性について主張しているので以下検討する。
１　サポート要件について
（１）本件特許明細書の発明の詳細な説明には、以下の事項が記載されている。
（本１）「【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
　撮影条件の調整時においても断層像の撮影時と同様にラスタ走査エリア全体の走査を行えば、全ての撮影部位の断層画像を撮影条件の調整中に観察することができ、最適な撮影条件を決定することができるため、理想的ともいえる。しかしながら、走査エリア全体のラスタ走査には時間がかかり、撮影条件の調整にかかる時間も長くなる。実際の断層像の撮影は撮影条件の調整を行って撮影条件の最適化を行った後になるので、一連の撮影動作に時間がかかってしまい、撮影完了までに被検者に長時間の我慢を強いることによって固視微動等の外乱影響も受け易くなってしまう。大きな固視微動が発生した場合には再び撮影条件の調整が必要となってしまうため、撮影時間がより長くかかってしまう悪循環へとつながる。
【０００６】
　本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、
短時間で撮影条件の調整を完了させて最適な撮影条件を決定することができる断層像撮影装置を提供することを目的とする
（本２）「【課題を解決するための手段】
・・・
【０００９】
　上記発明（発明１）によれば、
第１撮影モードより走査に要する時間が短い二次元走査によって断層像を撮影する第２撮影モードが設けられているため、当該第２撮影モードにおいて第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条件の調整を完了させることができる
二次元走査によって行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる
・・・
【００１６】
　上記発明（発明７，８）によれば、
特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とを、それぞれ別々に行うことができるため、短時間により最適な撮影条件を決定することができる
（本３）「【発明を実施するための形態】
【００２０】
 ＜第１実施形態＞以下、本発明の第１実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
・・・
【００３６】
　本実施形態においては、
撮影条件の調整を第１調整操作及び第２調整操作の二段階に分け、前述の選択表示モードを使って第１調整操作を、連続表示モードを使って第２調整操作を行う
このように、特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とをそれぞれ別々に行うことにより、短時間により最適な撮影条件を決定することができる
・・・
【００４２】
　以上述べたように、本実施形態の断層像撮影装置によれば、
本撮影モードより走査密度の粗い二次元走査によって断層像を撮影する予備撮影モードが設けられており、予備撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、本撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短くなるため、当該予備撮影モードにおいて本撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条件の調整を完了させることができる
走査密度は粗いものの二次元走査によって行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる
　上記（本１）の記載から、本件発明の課題は、「
短時間で撮影条件の調整を完了させ
最適な撮影条件を決定する
　そして、「短時間で撮影条件の調整を完了させ」るための手段に関連して以下の記載がある。
「第１撮影モードより走査に要する時間が短い二次元走査によって断層像を撮影する第２撮影モードが設けられているため、当該第２撮影モードにおいて第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条件の調整を完了させることができる」（本２）、「本撮影モードより走査密度の粗い二次元走査によって断層像を撮影する予備撮影モードが設けられており、予備撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、本撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短くなるため、当該予備撮影モードにおいて本撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行うことにより、短時間で撮影条件の調整を完了させることができる」（本３）
　また、「最適な撮影条件を決定する」ための手段に関連して以下の記載がある。
「二次元走査によって行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる」（本２）、「走査密度は粗いものの二次元走査によって行うことにより、撮影部位のほぼ全体をカバーする断層画像を撮影条件の調整中に観察することができるため、最適な撮影条件を決定することができる」（本３）
　さらに「短時間により最適な撮影条件を決定する」ための手段に関連して以下の記載がある。
「特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とをそれぞれ別々に行うことにより、短時間により最適な撮影条件を決定することができる」（本２）、「撮影条件の調整を第１調整操作及び第２調整操作の二段階に分け、前述の選択表示モードを使って第１調整操作を、連続表示モードを使って第２調整操作を行う・・・このように、特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とを、それぞれ別々に行うことができるため、短時間により最適な撮影条件を決定することができる」（本３）
（２）本件発明１と発明の詳細な説明の記載との関係について
　本件発明１の
「測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　
前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く
　
前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて
必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　
前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査であり
発明の詳細な説明に記載された「短時間で撮影条件の調整を完了させ」るための手段及び「最適な撮影条件を決定する」ための手段に対応するものであり、
「前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整が、
前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作
発明の詳細な説明に記載された「短時間により最適な撮影条件を決定する」ための手段に対応するものであるから、
本件発明１は、課題を解決する手段が反映された発明であり、発明の詳細な説明に記載された発明であるといえる。
（３）意見書第２頁第１行〜第３頁第１２行の主張について
　申立人は、訂正発明１及び４において、表示モード切替ボタンを押してディスプレイを連続表示モードに切り替えることは何ら特定されておらず、第１調整操作の後に自動的に画面の切り替えが行われることを含みうる構成となっていることから、サポート要件に違反している旨主張している。
　まず、本件発明１は、「第１調整操作」と、「第１調整操作を行った後」の「第２調整操作」を含むものである。
　一方、発明の詳細な説明には、「短時間により最適な撮影条件を決定する」との課題を解決する手段に関連する「第１調整操作」と「第２調整操作」について、
「特定の一の断層画像のみに基づいて適切に調整可能な第１調整操作と、二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作とを、それぞれ別々に行うことができるため、短時間により最適な撮影条件を決定することができる」（【００３６】）との記載がある。
　この記載からすると、短時間により最適な撮影条件を決定するとの課題を解決するための手段は、「第１調整操作」と「第２調整操作」をそれぞれ別々に行うことであり、本件発明１は、「第１調整操作」と、「第１調整操作を行った後」の「第２調整操作」を含む発明であり、別々に行うことが反映された発明であるから、発明の詳細な説明に記載された発明であるといえる。
　してみると、本件発明１は、「第１調整操作」と、第１調整操作を行った後」の「第２調整操作」をどのようにして切り替えるかまで特定されていないからといって、発明の詳細な説明に記載された発明ではないとまではいえない。
（４）意見書第第３頁第１３行〜第４頁第１０行の主張について
　申立人は、「訂正発明１の構成ＢＢにおいて、「
前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作
異なる領域に同時に表示し
順に同一領域で繰り返し表示し
　しかしながら、当該特定事項に関して、本件特許明細書で具体的に記載されているのは、・・・複数の断層画像を順に同一領域で繰り返し表示するモード）のみである。
　したがって、訂正発明１は・・・複数の断層像を異なる領域に同時に表示することを含みうる訂正発明１の範囲まで、発明の詳細な説明に開示された内容を拡張ないし一般化できるとはいえない。」と主張している。
　
　まず、本件発明１の「前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作」において、第２調整操作は表示手段によって表示された複数の断層画像に基づいて行われるものである。
　一方、発明の詳細な説明において、第２調整操作について、
「二次元走査によって得られた複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる第２調整操作」（【００１６】【００３６】参照。）との記載がある。
　「短時間により最適な撮影条件を決定する」との課題に関連する、「複数の断層画像に基づいて調整した方がより適切に調整できる」か否かの観点からすると、第２調整操作で用いられる「表示手段によって表示された複数の断層画像」は、調整に用いられるものであればよく、複数の画像の表示形態（同時に表示か、順に表示か）の違いによって調整に用いることができなくなるものであるとまではいえない。また、複数の画像を表示する形態として、同時に表示する形態も順に表示する形態も、当業者が技術常識として認識しうる形態である。
　よって、申立人の上記主張を採用することはできない。
（５）意見書第４頁第１１行〜第５頁第７行の主張について
　申立人は、「構成Ａ’において「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示」することが特定された。・・・
　一方、本件特許明細書では、段落００２１および図１において、断層像撮影装置の全体構成にディスプレイ１８が含まれることが開示されており、ディスプレイ１８が断層画像撮影装置に含まれず、装置外に設けるようなことは何ら開示されていない。
　構成Ａ’では、断層像撮影装置が表示手段を備えていない構成まで含まれうる記載となっており、したがって、訂正発明１は特許法第３６条第６項第１号（サポート要件）に違反している。」と主張している。
　しかしながら、本件発明１は、表示手段によって「撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を」「表示する」構成を有するものであるところ、上記課題を解決する手段として、表示手段が断層像撮影装置に含まれるか、装置外に設けられるか特定されていないことが影響するものとはいえない。
　また、ディスプレイが装置本体に一体に設けられるか、コード等による接続により設けられるかは、どちらもディスプレイを設ける形態として当業者が技術常識として認識しうる形態である。
　よって、申立人の上記主張を採用することはできない。
２　明確性について
（１）意見書第５頁第７行〜第１８行の主張について
　申立人は、訂正発明１、４において、第１調整操作を行った後、表示手段によって第２調整操作のための表示を行うことが特定されていると考えられるところ、何をトリガにして表示が切り替わるのか明確ではないと主張する。
　まず、本件発明１は、「第１調整操作」と、「第１調整操作を行った後」の「第２調整操作」を含むものである。
　そして、「第１調整操作」と「第２調整操作」の間には、「第１調整操作」の完了や「第２調整操作」の開始のイベントがあることは明らかであり、これらのイベントをトリガとして、「第１調整操作」の際の表示から「第２調整操作」の際の表示に切り替えることは当業者が理解し得ることである。
　してみると、表示を切り替えるトリガについての記載がないからといって、本願発明１は明確ではないとはいえない。
（２）意見書第５頁第１９行〜第６頁第１１行の主張について
　申立人は、「訂正発明１の構成ＢＢにおいて、「前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作」が特定されているところ、当該記載では、表示手段により表示される対象が「生成された断層画像」なのか「一の断層画像」なのか明確ではない。」と主張する。
　しかしながら、特定されている事項から、第１調整操作が、表示された、対象物体の所定の注目位置を含む
一の断層画像
（３）意見書第６頁第１２行〜第１８行の主張について
　申立人は、「訂正発明１の構成ＢＢにおいて、「前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作」が特定されているところ、当該記載では、表示手段により表示される対象が「第２撮影モードで撮影された断層像」なのか「複数の断層画像」なのか明確ではない。」と主張する。
　しかしながら、特定されている事項から、第２調整操作が、表示された、第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された
複数の断層画像
第９　むすび
　以上のとおりであるから、取消理由通知及び取消理由通知（決定の予告）に記載した取消理由並びに特許異議申立書に記載した特許異議申立理由によっては、本件請求項１、２、４及び５に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件請求項１、２、４及び５に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　そして、本件請求項３に係る特許は、訂正により削除された。これにより本件特許の請求項３に対してなされた特許異議の申立ては、申立ての対象が存在しないものとなったため、特許法第１２０条の８第１項で準用する同法第１３５条の規定により却下する。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
令和３年２月１０日（２０２１．２．１０）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　光源からの光を測定光と参照光に分割して対象物体と参照物体に入射させ、対象物体で反射された測定光と参照物体で反射された参照光を重畳させて生成される干渉光に基づき対象物体の断層像を撮影
し、撮影された断層像に基づいて生成された対象物体の断層画像を表示手段によって表示
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第１撮影モードと、
　測定光を二次元走査して対象物体に入射させ、対象物体の断層像を撮影する第２撮影モードと、を備え、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査に要する時間が、前記第１撮影モードにおける二次元走査に要する時間よりも短く、
　前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて、前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整を行った後、前記第１撮影モードで断層像の撮影が行われ、
　前記第１撮影モードにおける二次元走査がラスタ走査であり、
　前記第２撮影モードにおける二次元走査が、前記第１撮影モードにおけるラスタ走査を間引きした走査であ
り、
　前記第１撮影モードで断層像の撮影をするために必要な撮影条件の調整が、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された断層画像のうち、対象物体の所定の注目位置を含む一の断層画像のみに基づいて行われる第１調整操作と、前記第１調整操作を行った後、前記表示手段によって表示された、前記第２撮影モードで撮影された断層像に基づいて生成された複数の断層画像に基づいて行われる第２調整操作と、を含む
　【請求項２】
　前記第２撮影モードにおける走査領域が、前記第１撮影モードにおける走査領域中の注目領域を含む領域であることを特徴とする、請求項１に記載の断層像撮影装置。
　【請求項３】
（削除）
　【請求項４】
　前
　前記第１表示モードで表示された断層画像に基づいて
前記
前記
　【請求項５】
　前記第２撮影モードで撮影された断層像を記憶する記憶手段を更に備えることを特徴とする、請求項１
、２及び４