(57)【要約】【課題】簡単な構成で、パウチの異常集積を素早く検知でき、集積されたパウチの検査時間を少なくするとともに、製造ラインの再稼働までの時間を短縮可能な搬送集積装置を提供すること。【解決手段】パウチＰを集積し次工程へ搬送する集積部１１０を有する搬送集積装置１００であって、搬送集積装置１００は検出部をさらに有し、集積部１１０は、受台１１１と受台１１１に集積したパウチＰを整列する押え部１１２とを有し、押え部１１２は、受台１１１に集積したパウチＰの側方から進退移動可能に構成された整列用ハンド１１３と、受台１１１を挟んで整列用ハンド１１３に対向配置された突き当て壁部１１５とを有し、整列用ハンド１１３の端部には、下方に開放した櫛状の接触櫛部１１４が設けられ、検出部は、接触櫛部１１４を境に集積部の反対側から検知可能に構成されていること。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
製袋装置の上流側コンベアから搬送されたパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置であって、
前記搬送集積装置は、パウチを検知する検出部をさらに有し、
前記集積部は、昇降可能に構成された受台と、前記受台に集積したパウチを整列する押え部とを有し、
前記押え部には、前記受台に集積したパウチの側方から進退移動可能に構成された整列用ハンドと、前記受台を挟んで前記整列用ハンドに対向配置された突き当て壁部とが設けられ、
前記整列用ハンドの前記突き当て壁部側の端部には、下方に開放した櫛状の接触櫛部が前記突き当て壁部に対向するように設けられ、
前記検出部は、前記接触櫛部を境に前記集積部の反対側から検知可能に構成されていることを特徴とする搬送集積装置。
【請求項２】
前記検出部は、レーザセンサで構成され、
前記レーザセンサは、前記レーザセンサから照射される照射光が前記接触櫛部の隙間を通過可能な位置に配置されていることを特徴とする請求項１に記載の搬送集積装置。
【請求項３】
前記レーザセンサは、回帰反射式レーザセンサと回帰反射型ミラーとで構成され、
前記回帰反射式レーザセンサは、前記接触櫛部を挟んで前記突き当て壁部に対向する位置に設けられ、前記回帰反射型ミラーは、前記突き当て壁側の前記回帰反射式レーザセンサに対向する位置に設けられていることを特徴とする請求項２に記載の搬送集積装置。
【請求項４】
前記検出部の信号で前記集積部への正常集積を判定する集積確認手段をさらに有することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の搬送集積装置。
【請求項５】
前記集積確認手段は、前記検出部から取得したパウチの検知情報を基に、パウチの異常集積の有無を判定する状態判定部を有することを特徴とする請求項４に記載の搬送集積装置。
【請求項６】
前記集積確認手段は、前記状態判定部から取得したパウチの異常集積の有無の判定情報を基に、前記製袋装置および前記搬送集積装置の稼働または停止を実施する装置停止部を有することを特徴とする請求項５に記載の搬送集積装置。
【請求項７】
前記集積確認手段は、パウチの搬送タイミングを取得する搬送確認部を有することを特徴とする請求項４乃至請求項６のいずれかに記載の搬送集積装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製袋装置の上流側コンベアから搬送されたパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置であって、特に、薄く変形しやすいパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、製袋装置の上流側コンベアから搬送されたパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置として、順次排出されてくる袋を所定の枚数に集積すると共に、バンドにて結束して梱包するものが公知である。
【０００３】
例えば、特許文献１に記載の製袋機用スタッカーバンドラーの搬送集積装置（揃え積重ね装置５）は、区分け搬送装置４の搬送終端部に設けられており、モータ３０にて回転するねじ杆３１によって、区分け搬送装置４の上流側コンベア（搬送ライン）より低い積み重ね位置からこれより下方の押し出し搬送位置にわたって昇降するようにしたすのこ状の受け台３２と、この受け台３２の幅方向中央で、かつ区分け搬送装置４による区分け間隔に対応する位置に設けられた区分け板３３と、積み重ね位置にある受け台３２の搬送方向上流側端部と幅方向両側端部に対向して設けられた搬送方向上流側の揃え板３４、幅方向両側の揃え板３５ａ、３５ｂと、搬送方向上流側の揃え板３４の下側に位置し、かつ押し出し位置にある受け台３２の搬送方向上流端部に対向して設けられた押し出し板３６と、積み重ね位置にある受け台３２の搬送方向下流側に対応して上下方向に設けた突き当て部材３８と、受け台３２上に落下する製品を一時的に受ける仮受け部材３９とで構成されている。
【０００４】
この特許文献１に記載の搬送集積装置（揃え積重ね装置５）は、上流側コンベア（搬送ライン）から送られてきたパウチを積み重ね位置で受け台に集積した後、受け台を押し出し搬送位置に降下させ、押し出し板で受け台に積み重ねたパウチを側方から押して横送り装置６の下流側コンベア（第１の横送りコンベヤ８）へ移動させ、積み重ねたパウチを結束機７へ搬送するものである。
【０００５】
また、製袋装置の上流側コンベアから搬送されたパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置として、図５および図６に示すものも公知である。
この公知の搬送集積装置２００の集積部２１０は、昇降可能に構成された受台２１１と、受台２１１に集積したパウチＰを整列する押え部２１２と、受台２１１に集積したパウチＰを受け取り次工程へ搬送する搬送部２２０と、受台２１１が搬送部２２０にパウチＰを移載している間に受台２１１の代わりにパウチＰを集積する仮受け部材２１６とを有している。
【０００６】
押え部２１２には、受台２１１に集積したパウチＰの側方から進退移動可能に構成された整列用ハンド２１３と、受台２１１を挟んで整列用ハンド２１３に対向配置された突き当て壁部２１５とが設けられ、整列用ハンド２１３の突き当て壁部２１５側の端部には、下方に開放した櫛状の接触櫛部２１４が突き当て壁部２１５に対向するように設けられている。
搬送部２２０には、受台２１１に集積したパウチＰを受け取る移送部材２２１と、移送部材２２１からパウチＰを受け取り次工程へ搬送する下流側コンベア２２３と、移送部材２２１に載せたパウチＰを下流側コンベア２２３上に移す対向板２２２とが設けられている。
【０００７】
この公知の搬送集積装置２００は、図６乃至図１０に示すように、受台２１１または仮受け部材２１６を昇降させることで、常に同じ高さ（以下、「集積高さ」という。）でパウチＰを集積でき、パウチＰが上流側コンベアＣから受台２１１または仮受け部材２１６上に集積されるまでの振る舞いを安定化できるものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特許第２９５８７６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところが、これらの公知の搬送集積装置には未だ改善の余地があった。
【００１０】
すなわち、上記特許文献等で公知の搬送集積装置２００は、図１１および図１２に示すように、エラーパウチＰＳが突き当て壁部２１５に引っかかって正常に集積されないこと（以下、「異常集積」という。）が稀にあり、搬送物が段ボール等の所定の厚みや硬さを有するものを集積する場合は、異常集積が発生しても搬送物がつっかえる等して上流側の搬送物をせき止める等するため、すぐに異常集積を検知することができるが、パウチ等の薄く変形しやすい搬送物を集積する場合は、異常集積が発生すると、図１２乃至図１４に示すように、次に上流側コンベアＣから送られてきたパウチＰがエラーパウチＰＳを側方から突き上げ、エラーパウチＰＳの表裏が逆転された状態で集積されてしまい、異常集積が検知されずに集積作業が継続されてしまう虞があった。
これによって、ロット番号等の印字位置の不良等、次工程で実施する作業でトラブルが発生する虞や、集積された後のパウチの表裏を全数目視検査する等、作業量が大幅に増え、作業コストが大幅に増加してしまう虞や、パウチの製造ラインやパウチに製品を充填する製造ライン等を長時間止めてしまう虞があった。
また、集積部２１１のパウチの集積状況を、集積されたパウチＰの上方や整列用ハンド２１３のない正面方向からセンサ等を使用して監視する方法も考えられるが、集積部の上方から監視する場合は、パウチの材質やパウチ表面の状態によって集積されたパウチに照明等が反射してセンサが集積状況を誤検知する虞があり、集積部の正面方向から監視する場合は、エラーパウチＰＳの面を捉えることができないため、センサ等ではエラーパウチＰＳを検知できない虞があった。
【００１１】
本発明は、これらの問題点を解決するものであり、簡単な構成で、パウチ等の薄く変形しやすいものを集積する際にも、異常集積を素早く検知でき、集積されたパウチの検査時間を少なくするとともに、製造ラインの再稼働までの時間を短縮可能な搬送集積装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の搬送集積装置は、製袋装置の上流側コンベアから搬送されたパウチを集積し次工程へ搬送する集積部を有する搬送集積装置であって、前記搬送集積装置は、パウチを検知する検出部をさらに有し、前記集積部は、昇降可能に構成された受台と、前記受台に集積したパウチを整列する押え部とを有し、前記押え部には、前記受台に集積したパウチの側方から進退移動可能に構成された整列用ハンドと、前記受台を挟んで前記整列用ハンドに対向配置された突き当て壁部とが設けられ、前記整列用ハンドの前記突き当て壁部側の端部には、下方に開放した櫛状の接触櫛部が前記突き当て壁部に対向するように設けられ、前記検出部は、前記接触櫛部を境に前記集積部の反対側から検知可能に構成されていることにより、前記課題を解決するものである。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１にかかる発明の搬送集積装置は、パウチを検知する検出部を有しており、検出部は、整列ハンドの突き当て壁部側の端部に設けられた接触櫛部を境に集積部の反対側から検知可能に構成されているため、検出部がパウチに接触したり、集積部の動作を妨げたりすることなく、異常集積の発生源となるエラーパウチを検知できる。
また、検出部は整列ハンドの突き当て壁部の端部に設けられた接触櫛部を境に集積部の反対側からパウチを検知するため、検出部の設置に必要な空間を確実に確保できるとともに、エラーパウチの面を捉えることができるため、検出部は確実にエラーパウチを検知できる。
【００１４】
請求項２に記載の構成によれば、検出部は、レーザセンサで構成され、レーザセンサは、レーザセンサから照射される照射光が接触櫛部の隙間を通過可能な位置に配置されているため、レーザセンサは照射光を接触櫛部の隙間に通過可能な位置であれば設置場所を選ぶことがなく、照射光の反射状況をレーザセンサが読み取ることで、暗室等可視光が乏しい環境でもパウチの集積部への集積状態を確認し、より一層確実に異常集積を検知できる。
請求項３に記載の構成によれば、レーザセンサは、回帰反射式レーザセンサと回帰反射型ミラーとで構成されているため、回帰反射式レーザは回帰反射型ミラーへ照射したレーザが回帰反射したもののみを検知する特性を用いて、回帰反射式レーザセンサと回帰反射型ミラーとの間にパウチの集積部が位置するように配置すれば、外乱光に妨げられることなくパウチの集積部への集積状態を確認できるとともに誤検知を防止でき、さらに一層確実に異常集積を検知できる。
【００１５】
請求項４に記載の構成によれば、検出部の信号で集積部への正常集積を判定する集積確認手段をさらに有するため、作業人員の操作を介することなく、集積確認手段によってパウチの集積状態を自動で迅速に検知することができる。
請求項５に記載の構成によれば、集積確認手段は、検出部から取得したパウチの集積状態の情報を基に、パウチの異常集積の有無を判定する状態判定部を有するため、検出部と状態判定部とを連携させることで、作業人員の操作を介することなく、パウチの異常集積の有無の判定を自動で迅速に実施できる。
【００１６】
請求項６に記載の構成によれば、集積確認手段は、状態判定部から取得したパウチの異常集積の有無の判定情報を基に、製袋装置および搬送集積装置の稼働または停止を実施する装置停止部を有するため、状態判定部と装置停止部とを連携させることで、パウチの異常集積が発生した場合、作業人員の操作を介することなく、迅速且つ確実に製袋装置および搬送集積装置を自動で停止することができる。
さらに、異常集積の判定から搬送集積装置を停止するまでの時間を短くできるため、異常集積が発生したパウチの上に集積される他のパウチを最低限に抑えることができ、集積したパウチの検品作業に要する時間が減り、製袋装置および搬送集積装置を再稼働させるまでの時間を短縮できる。
請求項７に記載の構成によれば、集積確認手段は、パウチの搬送タイミングを取得する搬送確認部を有するため、搬送確認部と検出部とを連携させることで、正常集積時にパウチの集積が完了するタイミングでのみ検出部を作動させることができ、検出部の作動時間を短くすることで、省エネルギー化できる。
さらに、搬送確認部と状態判定部とを連携させたり、搬送確認部と装置停止部とを連携させることで、検出部が取得したパウチの集積状態の情報のうち、パウチの異常集積の有無を判定可能な情報が取得できるタイミングでのみ状態判定部を作動させたり、状態判定部による異常集積の有無の判定情報が取得できるタイミングでのみ装置停止部を作動させることもでき、状態判定部や装置停止部の作動時間も短くすることで、より一層省エネルギー化できる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態に係る搬送集積装置１００を示す斜視図。
【図２】本発明の一実施形態に係る搬送集積装置１００を示す概略断面図。
【図３】本発明の一実施形態に係る搬送集積装置１００の、正常集積状態での回帰式レーザセンサ１３０による検出動作を示す概略断面図。
【図４】本発明の一実施形態に係る搬送主席装置１００の、異常集積状態での回帰式レーザセンサ１３０による検出動作を示す概略断面図。
【図５】従来の搬送集積装置２００の一例を示す斜視図。
【図６】従来の搬送集積装置２００の一例の搬送集積工程１を示す概略断面図。
【図７】従来の搬送集積装置２００の一例の搬送集積工程２を示す概略断面図。
【図８】従来の搬送集積装置２００の一例の搬送集積工程３を示す概略断面図。
【図９】従来の搬送集積装置２００の一例の搬送集積工程４を示す概略断面図。
【図１０】従来の搬送集積装置２００の一例の搬送集積工程５を示す概略断面図。
【図１１】従来の搬送集積装置２００の一例の異常集積過程１を示す概略断面図。
【図１２】従来の搬送集積装置２００の一例の異常集積過程１を示すＡ部拡大図。
【図１３】従来の搬送集積装置２００の一例の異常集積過程２を示すＡ部拡大図。
【図１４】従来の搬送集積装置２００の一例の異常集積過程３を示すＡ部拡大図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明の一実施形態である搬送集積装置１００は、製袋装置（図示しない）の上流側コンベアＣから搬送されたパウチＰを集積し次工程へ搬送する集積部１１０を有するものであり、図１に示すように、搬送集積装置１００は、パウチＰの集積部１１０への正常集積を判定可能な１対の回帰反射式レーザセンサ１３０および回帰反射型ミラー１３１で構成された検出部を有している。
集積部１１０は、昇降可能に構成された受台１１１と、受台１１１に集積したパウチＰを整列する押え部１１２と、受台１１１に集積したパウチＰを受け取り次工程へ搬送する搬送部１２０と、受台１１１が搬送部１２０にパウチＰを移載している間に受台１１１の代わりにパウチＰを集積する仮受け部材１１６とを有している。
【００１９】
押え部１１２には、受台１１１に集積したパウチＰの側方から進退移動可能に構成された整列用ハンド１１３と、受台１１１を挟んで整列用ハンド１１３に対向配置された突き当て壁部１１５とが設けられており、整列用ハンド１１３の突き当て壁部１１５側の端部には、下方に開放した櫛状の接触櫛部１１４が突き当て壁部１１５に対向するように設けられている。
搬送部１２０には、受台１１１に集積したパウチＰを受け取る移送部材１２１と、移送部材１２１からパウチＰを受け取り次工程へ搬送する下流側コンベア１２３と、移送部材１２１に載せたパウチＰを下流側コンベア１２３上へ移す対向板１２２とが設けられている。
【００２０】
受台１１１は、上流側コンベアＣから搬送されるパウチＰを、集積高さＨで常に集積するように昇降可能に構成されているため、上流側コンベアＣから受台１１１に集積するまでのパウチＰの振る舞いを安定させることができる。
また、受台１１１は、接触櫛部１１４が通過可能な下方と側方を開放された溝を有しており、接触櫛部１１４を受台１１１の溝に通過させながらパウチＰに向かって細かく進退移動することで、受台１１１に集積されたすべてのパウチＰを確実に突き当て壁部１１５とで挟んで位置を揃えることができる。
【００２１】
仮受け部材１１６は、接触櫛部１１４を通過可能な櫛状に形成されているため、受台１１１が移送部材１２１にパウチＰを受け渡す間、仮受け部材１１６は接触櫛部１１４を通過して集積高さＨに移動して、受台１１１の代わりにパウチＰを集積する。
移送部材１２１は、受台１１１の溝を通過可能な櫛状に形成されているため、移送部材１２１が受台１１１の溝を側方から通過した後、受台１１１が下降して移送部材１２１が相対的に上方に移動することで、受台１１１に集積したパウチＰを移送部材１２１へ受け渡すことができる。
【００２２】
対向板１２２は、下流側コンベア１２３の中央を挟んで受台１１１と反対側に設けられており、対向板１２２の下部は、移送部材１２１が通過可能な櫛状に形成されている。
これによって、受台１１１から集積されたパウチＰを受け取った移送部材１２１が下流側コンベア１２３上を通り対向板１２２の下部を通過する際、集積されたパウチＰを対向板１２２が相対的に移送部材１２１上から押し出すことで、集積されたパウチＰを下流側コンベア１２３に移送することができる。
【００２３】
回帰反射式レーザセンサ１３０は対向板１２２の上部に設けられるとともに、照射レーザＬの送受信部を集積高さＨよりも上方且つ突き当て壁部１１５に対向する方向に向けて設置される。
また、回帰反射型ミラー１３１は、突き当て壁部１１５上の、回帰反射式レーザセンサ１３０から照射される照射レーザＬを回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部に反射可能な位置に設置される。
【００２４】
このとき、回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部を、照射レーザＬが接触櫛部１１４の隙間を通過可能な位置に設置することで、対向板１２２側に回帰反射式レーザセンサ１３０を設置していても、接触櫛部１１４越しに照射レーザＬを回帰反射型ミラー１３１に照射でき、また、回帰反射型ミラー１３１で反射した照射レーザＬを回帰反射式レーザセンサ１３０が受信できる。
【００２５】
上記構成の他に、説明のため図示しないが、搬送集積装置１００の構成として、検出部と、製袋機（図示しない）から搬送されるパウチＰの搬送タイミングを取得する搬送確認部と、パウチＰの異常集積の有無を判定する状態判定部と、製袋装置（図示しない）および搬送集積装置１００の稼働または停止を実施する装置停止部とを有した集積確認手段が設けられている。
また、集積確認手段は、搬送確認部が取得したパウチＰの搬送タイミングの情報を検出部に送信可能に構成され、且つ、検出部が取得したパウチＰの集積状態の情報を状態判定部に送信可能に構成され、且つ、状態判定部が取得したパウチＰの異常集積の有無の情報を装置停止部に送信可能に構成されている。
【００２６】
次に、本発明の搬送集積装置１００の、受台１１１に集積されるパウチＰの正常集積判定および異常集積判定の手順と動作について、図３および図４を用いて説明する。
まず、受台１１１を集積高さＨに合わせて昇降させ、上流側コンベアＣから搬送されるパウチＰを集積する準備をする。
【００２７】
次に、搬送確認部は、パウチＰが受台１１１に集積される前から、製袋装置（図示しない）の上流側から一定の間隔を保って間欠送りで搬送されるパウチＰの搬送タイミングを読み取り始める。
集積確認手段は、搬送確認部が取得したパウチＰの搬送タイミングの情報を検出部へ送信し、検出部はパウチＰの搬送タイミングを基に受台１１１上へのパウチＰの集積タイミングを算出し、パウチＰの集積タイミングに合わせて回帰反射式レーザセンサ１３０から照射レーザＬを照射する。
【００２８】
パウチＰが正常集積されている場合は、図３に示すように、接触櫛部１１４の隙間を通過した照射レーザＬは回帰反射型ミラー１３１によって回帰反射された後、回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部に戻る。
集積確認手段は、検出部から回帰反射式レーザセンサ１３０が回帰反射した照射レーザＬを受信したという情報を、状態判定部へ送信する。
【００２９】
次に、状態判定部は、集積確認手段を介して検出部から受信した照射レーザーの受信情報を基に、受台１１１上へのパウチＰの集積は正常に実施されていると判定する。
集積確認手段は、状態判定部から受台１１１上へのパウチＰの集積は正常に実施されているという情報を、装置停止部へ送信する。
装置停止部は、集積確認手段を介して状態判定部から受信したパウチＰの正常集積の情報を基に、製袋装置（図示しない）および搬送集積装置１００に対して稼働を継続するよう指示する。
【００３０】
一方で、異常集積が発生した場合では、図４に示すように、異常集積されたエラーパウチＰＳは突き当て壁部１１５に引っかかるように位置し、回帰反射型ミラー１３１を隠す。
これによって、回帰反射式レーザセンサ１３０から照射された照射レーザＬは、回帰反射型ミラー１３１に到達できず、エラーパウチＰＳに当たって拡散されるため、回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部に照射レーザＬは戻ってこず、検出部は、パウチＰの集積タイミングに回帰反射式レーザセンサ１３０が回帰反射型ミラー１３１によって回帰反射した照射レーザＬを受信できなかったという情報を、集積確認手段を介して状態判定部へ送る。
【００３１】
状態判定部は、集積確認手段を介して検出部から受信した情報を基に、受台１１１上へのエラーパウチＰＳの集積に異常が発生していると判定し、集積確認手段を介して装置停止部に判定情報を送る。
装置停止部は、集積確認手段を介して状態判定部から取得したエラーパウチＰＳの異常集積の情報を基に、製袋装置（図示しない）および搬送集積装置１００に対して稼働を停止するよう指示する。
【００３２】
製袋装置（図示しない）および搬送集積装置１００を停止した後、異常集積が発生したエラーパウチＰＳと、エラーパウチＰＳが集積される直前に受台１１１上に集積されたパウチＰの集積状態を確認し、不具合を取り除く。
これによって、エラーパウチＰＳが異常集積されたまま搬送集積装置１００を稼働させていた場合に比べて、製袋装置（図示しない）および搬送集積装置１００を再稼働するまでの時間を大幅に短縮することができ、集積作業を迅速に進めることができる。
また、エラーパウチＰＳが異常集積されている箇所が明確にわかるため、異常集積されたエラーパウチＰＳを確認して正常状態に戻すために発生する作業コストも削減できる。
【００３３】
なお、パウチＰの表面が鏡面状に処理されている場合、エラーパウチＰＳが受台１１１から見て垂直に保持され、回帰反射式レーザセンサ１３０に対向するように位置しても、照射レーザＬはエラーパウチＰＳに反射して回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部に戻るが、回帰反射された照射レーザＬとは異なるため、正常集積状態として誤検知されることはない。
また、パウチＰが透明な素材で構成されている場合、照射レーザＬがエラーパウチＰＳを透過して回帰反射型ミラー１３１に到達し、回帰反射した照射レーザＬがエラーパウチＰＳを再び透過して回帰反射式レーザセンサ１３０の送受信部に戻ることがあるが、エラーパウチＰＳを透過する際に照射レーザＬの位相が変化するため、正常集積状態として誤検知されることはない。
また、仮受け部材１１６にパウチＰを集積する場合でも、集積確認手段によるパウチＰの集積確認方法は、受台１１１上にパウチＰを集積する際と同様である。
【００３４】
以上、本発明の実施形態を詳述したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明を逸脱することなく種々の設計変更を行うことが可能である。
【００３５】
なお、上述した実施形態では、パウチは製袋装置から集積部に一枚ずつ集積されるものとして説明したが、集積部の構成はこれに限定されず、例えば、複数列並んで排出されたパウチを同時に集積部に複数列集積してもよい。
また、上述した実施形態では、検出部は回帰反射式レーザセンサと回帰反射型ミラーとで構成されているものとして説明したが、検出部の構成はこれに限定されず、例えば、透過型センサを用いて構成してもよく、ＣＣＤカメラと画像処理装置を用いて構成してもよい。
【００３６】
また、上述した実施形態では、検出部は１対設けられているものとして説明したが、検出部の数はこれに限定されず、例えば、パウチの同時集積列数の数だけ設けてもよく、１つのパウチの集積を複数の検出部で検知するように設けてもよい。
また、上述した実施形態では、集積部は、受台が搬送部にパウチを移載している間に受台の代わりにパウチを集積する仮受け部材を有するものとして説明したが、集積部の構成はこれに限定されず、例えば、仮受け部材がなくてもよい。
【００３７】
また、上述した実施形態では、仮受け部材は接触櫛部を通過可能な櫛状に形成されているものとして説明したが、仮受け部材と接触櫛部との関係はこれに限定されず、例えば、仮受け部材は板状に形成され、接触櫛部の下端と摺動可能に構成されていてもよく、接触櫛部が仮受け部材の昇降に合わせて昇降可能に構成されていてもよい。
また、上述した実施形態では、受台に集積されたパウチは、移送部材に受け渡された後下流側コンベアへ受け渡されるものとして説明したが、下流側コンベアへのパウチの受け渡し方法はこれに限定されず、例えば、移送部材や対向板を設けずに、受台上のパウチを水平方向からエアシリンダで下流側コンベアへ押し出すように構成してもよい。
【００３８】
また、上述した実施形態では、受台は、常に一定の集積高さを維持するように昇降可能に構成されているものとして説明したが、受台の構成はこれに限定されず、例えば、一定数のパウチを連続集積した後、集積高さを調整するように構成してもよい。
また、上述した実施形態では、検出部は集積確認手段を介して搬送確認部から取得したパウチの搬送タイミングの情報を基に算出したパウチの集積タイミングに合わせて、照射レーザを照射するように構成されているものとして説明したが、検出部の構成はこれに限定されず、例えば、搬送確認部からパウチの搬送タイミングの情報を取得せずに、常に照射レーザを照射するように構成されていてもよい。
【００３９】
また、上述した実施形態では、装置停止部が製袋装置および搬送集積装置に稼働および停止の指示を出すものとして説明したが、製袋装置および搬送集積装置の稼働および停止の手順はこれに限定されず、例えば、装置停止部を設けずに、状態判定部が状態判定の情報を画面に表示し、作業員が状態判定部の画面を監視して、画面に表示された状態判定結果に従って製袋装置および搬送集積装置を稼働および停止するようにしてもよい。
【００４０】
また、上述した実施形態では、パウチは、製袋装置の上流側から一定の間隔を保って間欠送りで搬送されてくるものとして説明したが、パウチの送り方法はこれに限定されず、例えば、一定の間隔を保って連続的に搬送されるように構成されていてもよい。
【符号の説明】
【００４１】
１００、２００  ・・・  搬送集積装置
１１０、２１０  ・・・  集積部
１１１、２１１  ・・・  受台
１１２、２１２  ・・・  押え部
１１３、２１３  ・・・  整列用ハンド
１１４、２１４  ・・・  接触櫛部
１１５、２１５  ・・・  突き当て壁部
１１６、２１６  ・・・  仮受け部材
１２０、２２０  ・・・  搬送部
１２１、２２１  ・・・  移送部材
１２２、２２２  ・・・  対向板
１２３、２２３  ・・・  下流側コンベア
１３０          ・・・  回帰反射式レーザセンサ
１３１          ・・・  回帰反射型ミラー
Ｃ          ・・・  上流側コンベア
Ｐ          ・・・  パウチ
ＰＳ          ・・・  エラーパウチ
Ｌ          ・・・  照射レーザ
Ｈ          ・・・  集積高さ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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