(57)【要約】【課題】マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることができる有機電界発光表示装置及びそのマザー基板を提供すること。【解決手段】有機電界発光素子を含む複数の画素２２５と、画素に選択的に走査信号を印加する複数の走査線Ｓ１〜Ｓｎと、走査線と交差するように形成されて画素にデータ信号を印加する複数のデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍと、走査線に走査信号を印加する走査駆動部２３０と、走査駆動部と電気的に連結される少なくとも１つの第１回路部２８０と、を含み、第１回路部の一側端は、走査駆動部と電気的に連結されて、第１回路部の他側端は、電気的に断線されたことを特徴とする、有機電界発光表示装置が提供される。【選択図】図２
2010181895.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の有機電界発光表示装置を含むマザー基板において、
前記有機電界発光表示装置の外郭領域において、第１方向に形成された第１配線グループと；
前記有機電界発光表示装置の外郭領域において、第２方向に形成された第２配線グループと；
を含み、
前記有機電界発光表示装置それぞれは、
有機電界発光素子を含む複数の画素と；
前記画素に選択的に走査信号を印加する複数の走査線と；
前記走査線と交差するように形成されて前記画素にデータ信号を印加する複数のデータ線と；
前記走査線に前記走査信号を印加する走査駆動部と；
前記走査駆動部と前記第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された少なくとも１つの第１回路部と；
を含み、
前記第１回路部は検査用回路であり、前記走査駆動部に供給される前記走査信号の中で少なくとも１つの信号を独立的に制御し、
前記走査駆動部は、
前記第１回路部から供給される制御信号と；
前記第１又は第２配線グループから供給される電源及び信号に対応した前記走査信号と；
を生成することを特徴とする、有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項２】
前記第１回路部は、前記有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）から３００μｍ以内の領域に位置されたことを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項３】
前記第１回路部は、前記有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）と、前記有機電界発光表示装置の第２ライン（グラインディングライン）との間に位置されたことを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項４】
前記有機電界発光表示装置それぞれは、外部から駆動信号の供給を受けるためのパッド部をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項５】
前記第１回路部は、前記パッド部と前記有機電界発光表示装置のスクライビングラインとの間に位置されたことを特徴とする、請求項４に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項６】
前記第１回路部は、検査用回路であることを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項７】
前記第１回路部は、前記第１及び第２配線グループに属した所定の配線から供給される信号に対応して、前記走査駆動部を制御することを特徴とする、請求項６に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項８】
前記複数の走査線のうちいずれか１つと、前記第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された第２回路部をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項９】
前記第２回路部は、測定用回路であることを特徴とする、請求項８に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１０】
前記第２回路部は、前記接続された走査線から供給された前記走査信号と、第１又は第２配線グループから供給された電源及び信号とに対応する出力信号を、前記第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線に出力することを特徴とする、請求項８に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１１】
前記第２回路部は、前記有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）から３００μｍ以内の領域に位置されたことを特徴とする、請求項８に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１２】
前記第２回路部は、前記有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）と、前記有機電界発光表示装置の第２ライン（グラインディングライン）との間に位置されたことを特徴とする、請求項８に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１３】
前記有機電界発光表示装置は、前記データ線の一側端と前記第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された複数のトランジスタを具備するトランジスタグループをさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１４】
前記トランジスタグループに具備された前記トランジスタは、前記第１又は第２配線グループから供給される検査制御信号に対応して同時にターンオンされることを特徴とする、請求項１３に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【請求項１５】
前記トランジスタグループは、前記検査制御信号に対応して前記第１又は第２配線グループから供給される検査信号を前記データ線に出力することを特徴とする、請求項１４に記載の有機電界発光表示装置のマザー基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機電界発光表示装置及びそのマザー基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、有機電界発光表示装置の作成は、複数の有機電界発光表示装置（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｓｐｌａｙ  Ｄｅｖｉｃｅ）が、１つのマザー基板（ｍｏｔｈｅｒ  ｓｕｂｓｔｒａｔｅ）上に形成された後、スクライビング（ｓｃｒｉｂｉｎｇ）されて、個々の有機電界発光表示装置に分離することで行われる。このような有機電界発光表示装置に対する検査は、スクライビングが完了した有機電界発光表示装置それぞれで、別々に遂行される。
【０００３】
図１は、スクライビングが完了した一般的な従来の有機電界発光表示装置を示す図面である。図１に示すように、一般的な有機電界発光表示装置１１０は、走査駆動部１２０、データ駆動部１３０、データ分配部１４０及び画素部１５０を備える。
【０００４】
走査駆動部１２０は、走査信号を生成する。走査駆動部１２０から生成された走査信号は、走査線Ｓ１〜Ｓｎに順次供給される。
【０００５】
データ駆動部１３０は、データ信号を生成する。データ駆動部１３０から生成されたデータ信号は、出力線Ｏ１〜Ｏｍに供給される。
【０００６】
データ分配部１４０は、データ駆動部１３０それぞれの出力線Ｏ１〜Ｏｍから供給されるデータ信号を少なくとも２つのデータ線Ｄに供給する。このようなデータ分配部１４０は、データ駆動部１３０のチャンネル数を減少させて、高解像度の表示装置において有用に用いられる。
【０００７】
画素部１５０は、有機電界発光素子を具備した複数の画素（図示せず）を含む。このような画素部１５０は、外部から供給される第１及び第２電源ＥＬＶＤＤ、ＥＬＶＳＳと、走査駆動部１２０から供給された走査信号と、データ分配部１４０から供給されたデータ信号と、に対応して所定の映像を表示する。
【０００８】
【特許文献１】特開２００３−２１８１７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このような有機電界発光表示装置１１０に対する検査は、個々の有機電界発光表示装置を検査する検査装備で遂行される。しかし、有機電界発光表示装置１１０を構成する回路配線が変更されたり有機電界発光表示装置１１０の大きさが変更される場合、検査装備を変更するか、検査のために要求されるジグ（ｊｉｇ）を変更しなければならないという問題点が発生する。
【００１０】
また、それぞれの有機電界発光表示装置１１０等を別個に検査しなければならないので、検査時間が長くなって費用が上昇するなど、検査の効率性も低下するという問題があった。したがって、スクライビング以前にマザー基板上で元板単位（Ｓｈｅｅｔ  Ｕｎｉｔ）で複数の有機電界発光表示装置１１０等に対する検査を遂行する必要がある。
【００１１】
一方、元板単位の検査を遂行する時、マザー基板上に不良が発生した有機電界発光表示装置が含まれた場合には、正常な有機電界発光表示装置１１０に対する検査さえまともに遂行されないこともあるという問題があった。したがって、元板単位で検査を遂行する時、検査の信頼性及び効率性を高めるために、他の有機電界発光表示装置１１０等の検査に影響を及ぼさないように、不良が発生された特定有機電界発光表示装置をオフさせるなど、特定有機電界発光表示装置に供給される所定の信号を独立的に制御する必要がある。
【００１２】
また、これを制御するための回路の損傷を防止して特定有機電界発光表示装置に供給される所定の信号を効果的に制御する必要がある。
【００１３】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることが可能な、新規かつ改良された有機電界発光表示装置及びそのマザー基板を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、有機電界発光素子を含む複数の画素と、画素に選択的に走査信号を印加する複数の走査線と、走査線と交差するように形成されて画素にデータ信号を印加する複数のデータ線と、走査線に走査信号を印加する走査駆動部と、走査駆動部と電気的に連結される少なくとも１つの第１回路部と、を含み、第１回路部の一側端は、走査駆動部と電気的に連結されて、第１回路部の他側端は、電気的に断線されたことを特徴とする、有機電界発光表示装置が提供される。
【００１５】
また、外部から駆動信号の供給を受けるためのパッド部をさらに含んでもよい。
【００１６】
また、第１回路部は、パッド部を通じて走査駆動部と電気的に連結されて、有機電界発光表示装置の最下端に位置されてもよい。
【００１７】
また、第１回路部は、有機電界発光表示装置の一側端から３００μｍ以内の領域に位置されてもよい。
【００１８】
また、第１回路部は、検査用回路であってもよい。
【００１９】
また、第１回路部は、少なくとも１つの論理ゲートを含んでもよい。
【００２０】
また、論理ゲートは、少なくとも１つのノアゲートを含んでもよい。
【００２１】
また、論理ゲートは、少なくとも１つのバッファーを含んでもよい。
【００２２】
また、論理ゲートは、少なくとも１つのインバータを含んでもよい。
【００２３】
また、インバータは、三相インバータであってもよい。
【００２４】
また、有機電界発光表示装置の最下端に位置された第２回路部をさらに含んでもよい。
【００２５】
また、第２回路部の一側端は、複数の走査線のうち、いずれか１つに電気的に連結されて、第２回路部の他側端は、電気的に断線されてもよい。
【００２６】
また、第２回路部は、少なくとも１つの論理ゲートを含んでもよい。
【００２７】
また、論理ゲートは、少なくとも１つのインバータを含んでもよい。
【００２８】
また、インバータは、三相インバータであってもよい。
【００２９】
また、データ線の一側端に接続された複数のトランジスタを具備するトランジスタグループをさらに含んでもよい。
【００３０】
また、トランジスタグループに具備されたトランジスタは、外部から供給される制御信号に対応してターンオフ状態を維持してもよい。
【００３１】
また、データ線にデータ信号を供給するためのデータ駆動部と、データ駆動部とデータ線の他側端との間に接続され、データ駆動部の出力線のうち、少なくともいずれか１つに供給されるデータ信号を複数のデータ線に供給するためのデータ分配部と、をさらに含んでもよい。
【００３２】
また、有機電界発光素子の下部に位置された支持基板と、有機電界発光素子の上部に位置された密封用基板と、を含んでもよい。
【００３３】
また、支持基板と密封用基板との間に形成されて、有機電界発光素子の外側に形成される密封材を含んでもよい。
【００３４】
また、密封材は、転移金属及びフィラーのうち、少なくとも１つを含んでもよい。
【００３５】
また、密封材は、フリットであってもよい。
【００３６】
また、密封用基板は、第１回路部と重畳されないように位置されてもよい。
【００３７】
また、外郭領域において、第１方向に形成された第１配線グループ及び第２方向に形成された第２配線グループのうち、少なくとも１つをさらに含んでもよい。
【００３８】
また、第１及び第２配線グループの端部は、電気的に断線されてもよい。
【００３９】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、複数の有機電界発光表示装置を含むマザー基板において、有機電界発光表示装置の外郭領域において、第１方向に形成された第１配線グループと、有機電界発光表示装置の外郭領域において、第２方向に形成された第２配線グループと、を含み、有機電界発光表示装置それぞれは、有機電界発光素子を含む複数の画素と、画素に選択的に走査信号を印加する複数の走査線と、走査線と交差するように形成されて画素にデータ信号を印加する複数のデータ線と、走査線に走査信号を印加する走査駆動部と、走査駆動部と第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された少なくとも１つの第１回路部と、を含み、走査駆動部は、第１回路部から供給される制御信号と、第１又は第２配線グループから供給される電源及び信号に対応した走査信号と、を生成することを特徴とする、有機電界発光表示装置のマザー基板が提供される。
【００４０】
また、第１回路部は、有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）から３００μｍ以内の領域に位置されてもよい。
【００４１】
また、第１回路部は、有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）と、有機電界発光表示装置の第２ライン（グラインディングライン）との間に位置されてもよい。
【００４２】
また、有機電界発光表示装置それぞれは、外部から駆動信号の供給を受けるためのパッド部をさらに含んでもよい。
【００４３】
また、第１回路部は、パッド部と有機電界発光表示装置のスクライビングラインとの間に位置されてもよい。
【００４４】
また、第１回路部は、検査用回路であってもよい。
【００４５】
また、第１回路部は、第１及び第２配線グループに属した所定の配線から供給される信号に対応して、走査駆動部を制御してもよい。
【００４６】
また、複数の走査線のうちいずれか１つと、第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された第２回路部をさらに含んでもよい。
【００４７】
また、第２回路部は、測定用回路であってもよい。
【００４８】
また、第２回路部は、接続された走査線から供給された走査信号と、第１又は第２配線グループから供給された電源及び信号とに対応する出力信号を、第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線に出力してもよい。
【００４９】
また、第２回路部は、有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）から３００μｍ以内の領域に位置されてもよい。
【００５０】
また、第２回路部は、有機電界発光表示装置を分離するための第１ライン（スクライビングライン）と、有機電界発光表示装置の第２ライン（グラインディングライン）との間に位置されてもよい。
【００５１】
また、有機電界発光表示装置は、データ線の一側端と第１又は第２配線グループに含まれた所定の配線との間に接続された複数のトランジスタを具備するトランジスタグループをさらに含んでもよい。
【００５２】
また、トランジスタグループに具備されたトランジスタは、第１又は第２配線グループから供給される検査制御信号に対応して同時にターンオンされてもよい。
【００５３】
また、トランジスタグループは、検査制御信号に対応して第１又は第２配線グループから供給される検査信号をデータ線に出力してもよい。
【発明の効果】
【００５４】
以上説明したように本発明によれば、マザー基板に形成された複数の有機電界発光表示装置に対する検査を元板単位で行うことができ、検査時間を減らし、コストを低減し、検査の効率性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】スクライビングが完了した一般的な従来の有機電界発光表示装置を示す図面である。
【図２】本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置のマザー基板を示す図面である。
【図３】図２に示された有機電界発光表示装置を示す図面である。
【図４】図２に示されたマザー基板のＡ−Ａ’線による断面図である。
【図５】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの一例を示す図面である。
【図６】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面である。
【図７】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面である。
【図８】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面である。
【図９】図２のＢ部分に図８の論理ゲートが形成されたレイアウトの一例を示す図面である。
【図１０】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面である。
【図１１】図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートのまた他の例を示す図面である。
【図１２】図２及び図３に示された第２回路部に含まれた論理ゲートの一例を示す図面である。
【図１３】図２及び図３に示された画素の一例を示す図面である。
【図１４】図１３に示された画素回路を駆動させるための駆動信号を示す波形図である。
【発明を実施するための形態】
【００５６】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００５７】
（有機電界表示装置のマザー基板の構成）
まず、図２を参照して、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置のマザー基板の構成について詳しく説明する。
【００５８】
図２は、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置のマザー基板を示す図面である。図２に示すように、本発明の実施形態による有機電界発光表示装置のマザー基板２００は、マトリックス形態に配列された複数の有機電界発光表示装置２１０と、有機電界発光表示装置２１０の外郭領域に形成された第１及び第２配線グループ５００、６００と、有機電界発光表示装置２１０のスクライビングライン（第１ライン、３１０）とグラインディングライン（第２ライン、３２０）との間の領域に位置された第１及び第２回路部２８０、２９０と、を含む。
【００５９】
それぞれの有機電界発光表示装置２１０は、画素部２２０と、走査駆動部２３０と、データ駆動部２４０と、データ分配部２５０と、複数のトランジスタＭ１〜Ｍ３ｍを含んだトランジスタグループ２６０と、外部から駆動信号の供給を受けるためのパッド部２７０と、を含む。
【００６０】
画素部２２０は、有機電界発光素子を含む複数の画素２２５と、画素２２５に選択的に走査信号を印加する複数の走査線Ｓ１〜Ｓｎと、画素２２５に選択的に発光制御信号を印加する複数の発光制御線ＥＭ１〜ＥＭｎと、走査線Ｓ１〜Ｓｎ及び発光制御線ＥＭ１〜ＥＭｎと交差するように形成されて画素２２５に検査信号又はデータ信号を印加する複数のデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍと、を含む。
【００６１】
このような画素部２２０は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第１配線グループ５００の第１配線５１０と第２配線グループ６００の第１４配線６４０とから供給される第１及び第２電源ＥＬＶＤＤ、ＥＬＶＳＳと、走査駆動部２３０から供給される走査信号及び発光制御信号と、トランジスタグループ２６０から供給される検査信号と、に対応して所定の映像を表示する。この時、画素部２２０は、画素２２５に含まれた画素回路の構成によって初期化電源Ｖｉｎｉｔなどの供給をさらに受けてもよい。
【００６２】
一方、画素部２２０は、マザー基板２００上に形成された有機電界発光表示装置２１０に対する検査が完了し、それぞれの有機電界発光表示装置２１０がスクライビングされた後には、トランジスタグループ２６０から供給される検査信号ではなく、データ分配部２５０から供給されるデータ信号に対応して、所定の映像を表示する。
【００６３】
走査駆動部２３０は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第１配線グループ５００の第３配線５３０、第４配線５４０及び第５配線５５０から供給される第３電源ＶＤＤ、第４電源ＶＳＳ及び走査制御信号の供給を受けて、第１回路部２８０から制御信号の供給を受ける。
【００６４】
このような走査駆動部２３０は、供給された電源及び信号に対応して、ハイレベル又はローレベルの走査信号及び発光制御信号を生成する。走査駆動部２３０から生成された走査信号及び発光制御信号は、それぞれ走査線Ｓ１〜Ｓｎと、発光制御線ＥＭ１〜ＥＭｎとに印加されて、画素部２２０に供給される。
【００６５】
一方、走査駆動部２３０は、マザー基板２００上でそれぞれの有機電界発光表示装置２１０等がスクライビングされた後には、外部の印刷回路基板などからパッド部２７０を通じて供給される第３及び第４電源ＶＤＤ、ＶＳＳと走査制御信号に対応して走査信号及び発光制御信号を生成する。
【００６６】
ここで、便宜上画素部２２０の一側に位置された１つの走査駆動部２３０を示したが、本発明はこれに限定されるのではない。例えば、二つの走査駆動部２３０が画素部２２０の両側に位置されてもよく、発光制御信号を生成する発光制御駆動部が別に形成されてもよい。
【００６７】
データ駆動部２４０は、それぞれの有機電界発光表示装置２１０がマザー基板２００からスクライビングされた後、外部からパッド部２７０を通じて供給されるデータに対応してデータ信号を生成する。データ駆動部２４０から生成されたデータ信号は、データ分配部２５０を経由してデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍに供給される。
【００６８】
データ分配部２５０は、データ駆動部２４０とデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍとの間に接続されて、データ駆動部２４０の出力線Ｏ１〜Ｏｍの中で少なくともいずれか１つに供給されるデータ信号を複数のデータ線Ｄに供給する。
【００６９】
このために、データ分配部２５０は、それぞれの有機電界発光表示装置２１０がマザー基板２００からスクライビングされた後、パッド部２７０からＣＬＲ、ＣＬＧ、ＣＬＢなどの選択信号の供給を受ける。
【００７０】
このようなデータ分配部２５０は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第２配線グループ６００の第１３配線６３０から供給されるバイアス信号Ｖｂｉａｓによってオフされるように設定される。これは、検査信号がデータ分配部２５０を経由して供給される場合、第１又は第２配線グループ５００、６００を通じてデータ分配部２５０に供給されなければならないＣＬＲ、ＣＬＧ、ＣＬＢなどの選択信号に遅延が発生して、画素回路でデータ電圧を充電する時間が充分に確保されず正しい画像が表示されないか、ＣＬＲ、ＣＬＧ、ＣＬＢなどの選択信号を同期化することを困難にし得るからである。
【００７１】
これを防止するために、本実施形態では、マザー基板２００上で検査を遂行する際、検査信号がデータ分配部２５０を経由しないようにする代わりに、それぞれの有機電界発光表示装置２１０等に検査信号を供給するためのトランジスタグループ２６０が、マザー基板２００に別途配置される。このようなトランジスタグループ２６０は、データ分配部２５０が接続されたデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍの他側端部に接続される。すなわち、データ分配部２５０とトランジスタグループ２６０とは、互いにデータ線Ｄ１〜Ｄ３ｍの異なる側端部に接続され形成される。
【００７２】
トランジスタグループ２６０は、ゲート電極が第２配線グループ６００の第１５配線６５０に共通に接続された複数のトランジスタＭ１〜Ｍ３ｍを備える。
【００７３】
各トランジスタＭ１〜Ｍ３ｍのソース電極は、第２配線グループ６００の第１６配線〜第１８配線６６０〜６８０の中でいずれか１つに接続されて、ドレイン電極は、データ線Ｄ１〜Ｄ３ｍの中でいずれか１つに接続される。ここで、第１８配線６８０に接続されたトランジスタＭ１、Ｍ４、…、Ｍ３ｍ−２は、赤色サブピクセルのデータ線Ｄ１、Ｄ４、…、Ｄ３ｍ−２に接続されて、第１７配線６７０に接続されたトランジスタＭ２、Ｍ５、…、Ｍ３ｍ−１は、緑色サブピクセルのデータ線Ｄ２、Ｄ５、Ｄ３ｍ−１に接続されて、第１６配線６６０に接続されたトランジスタＭ３、Ｍ６、…、Ｍ３ｍは、青色サブピクセルのデータ線Ｄ３、Ｄ６、…、Ｄ３ｍに接続される。
【００７４】
このようなトランジスタグループ２６０は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、トランジスタＭ１〜Ｍ３ｍのゲート電極に接続された第１５配線６５０から供給される検査制御信号によって同時にターンオンされ、ソース電極に接続された配線から供給される検査信号をデータ線Ｄに供給する。
【００７５】
一方、トランジスタグループ２６０は、それぞれの有機電界発光表示装置２１０がマザー基板２００からスクライビングされた後には、外部から供給される制御信号に対応してターンオフ状態を維持する。
【００７６】
パッド部２７０は、外部から供給される電源及び信号をそれぞれの有機電界発光表示装置２１０へ伝達する。例えば、パッド部２７０は、印刷回路基板などから供給される電源及び駆動信号を画素部２２０、走査駆動部２３０、データ駆動部２４０及びデータ分配部２５０の中で少なくともいずれか１つへ伝達する。このために、パッド部２７０は、複数のパッドを備える。
【００７７】
第１回路部２８０は、検査用回路で、マザー基板２００上で少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際、有機電界発光表示装置２１０に供給される所定の信号を独立的に制御する機能をする。特に、第１回路部２８０は、走査駆動部２３０に供給される走査制御信号の中で少なくとも１つの信号を独立的に制御する。
【００７８】
例えば、第１回路部２８０は、マザー基板２００上に位置された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０等を検査する過程において、一部の有機電界発光表示装置２１０が信号遅延などによって誤作動する場合、誤作動する有機電界発光表示装置２１０を独立的にオフさせる機能をすることができる。
【００７９】
このために、第１回路部２８０は、第１又は第２配線グループ５００、６００に属する所定の配線と走査駆動部２３０との間に接続される。例えば、第１回路部２８０は、第１配線グループ５００の第２配線５２０、第３配線５３０及び第４配線５４０、第２配線グループ６００の第１１配線６１０と走査駆動部２３０との間に接続されうる。
【００８０】
このような第１回路部２８０は、第２配線５２０、第３配線５３０、第４配線５４０及び第１１配線６１０から供給される電源及び信号に対応して所定の制御信号を生成し、これを走査駆動部２３０に出力することで走査駆動部２３０を制御する。このために、第１回路部２８０は、制御信号を生成するための少なくとも１つの論理ゲートを含む。第１回路部２８０に含まれた論理ゲートの具体的な例は、後述する。
【００８１】
一方、第１回路部２８０は、マザー基板２００上で遂行される少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査が完了されて、個々の有機電界発光表示装置２１０等がスクライビングされた後には、有機電界発光表示装置２１０の動作に影響を及ぼさないようにしなければならない。
【００８２】
このために、第１回路部２８０は、スクライビングライン（第１ライン、３１０）とグラインディングライン（第２ライン、３２０）の間に位置されて、第１回路部２８０と第１及び第２配線グループ５００、６００の電気的接続点は、スクライビングライン３１０の外部に位置される。
【００８３】
ここで、スクライビングライン３１０は、マザー基板２００上でそれぞれの有機電界発光表示装置２１０等を分離するためのラインを指す。そして、グラインディングライン３２０は、スクライビングされた後、有機電界発光表示装置２１０のモデルによって追加的に粉砕を遂行するラインを指すが、一般的にグラインディングライン３２０の位置は、パッド部２７０の下端に設定される。以後、スクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間の領域を面取り領域という。換言すれば、第１回路部２８０は、面取り領域、すなわち、パッド部２７０とスクライビングライン３１０との間に位置される。
【００８４】
このような面取り領域の幅Ｗ（図３参照。）は、有機電界発光表示装置２１０のモデルによって変わることがあるが、一般的に面取り領域は、スクライビングライン３１０を基準として±３００μｍの間に位置される。すなわち、第１回路部２８０は、スクライビングライン３１０から３００μｍ以内の領域に位置されうる。
【００８５】
第２回路部２９０は、測定用回路で、マザー基板２００上で少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、それぞれの有機電界発光表示装置２１０の走査駆動部２３０から生成されて画素部２２０に供給される走査信号の供給を受けてこれを測定するための回路である。
【００８６】
このために、第２回路部２９０は、複数の走査線の中でいずれか１つと、第１又は第２配線グループ５００、６００に含まれた所定の配線との間に接続されて、少なくとも１つの論理ゲートを含む。例えば、第２回路部２９０は、第ｎ走査線Ｓｎと、第１配線グループ５００の第３配線５３０及び第４配線５４０と、第２配線グループ６００の第１２配線６２０との間に接続されうる。また、第１回路部２８０からシフト制御信号が生成される場合、第２回路部２９０は、第１回路部２８０に接続されて第１回路部２８０からシフト制御信号の供給を受ける。
【００８７】
このような第２回路部２９０は、第ｎ走査線Ｓｎに出力される走査信号と、第３配線５３０及び第４配線５４０から供給される第３及び第４電源ＶＤＤ、ＶＳＳと、第１回路部２８０から供給されるシフト制御信号に対応する走査測定信号と、を第１２配線６２０に出力する。すると、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第１２配線６２０から出力される信号を測定して走査信号が正常に発生されたかどうかを検査することができる。
【００８８】
ここで、第２回路部２９０も第１回路部２８０と同様に、スクライビングされた後、有機電界発光表示装置２１０の動作に影響を及ぼさないようにするために、スクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間に位置されて、第２回路部２９０と第１及び第２配線グループ５００、６００との電気的接続点は、スクライビングライン３１０の外部に位置されて形成されてもよい。すなわち、第２回路部２９０も、スクライビングライン３１０から３００μｍ以内の領域に位置される。
【００８９】
一方、第２回路部２９０は、それぞれの有機電界発光表示装置２１０の走査駆動部２３０から生成されて画素部２２０に供給される発光制御信号の供給を受けて、これを測定する機能をしてもよい。この場合、第２回路部２９０は、複数の発光制御線Ｅの中でいずれか１つと、第１又は第２配線グループ５００、６００に含まれた所定の配線との間に接続されうる。また、走査信号及び発光制御信号をすべて測定するために、二つの第２回路部２９０がマザー基板２００に具備されてもよい。
【００９０】
第１配線グループ５００は、有機電界発光表示装置２１０の外郭領域に第１方向（例えば、図２の上下方向）に延長形成される。より具体的に、第１配線グループ５００は、マザー基板２００上の同じ列に位置された有機電界発光表示装置２１０等に共通に接続されて形成されうる。
【００９１】
このような第１配線グループ５００は、第１電源ＥＬＶＤＤの供給を受ける第１配線５１０、垂直制御信号ＶＣの供給を受ける第２配線５２０、第３電源ＶＤＤの供給を受ける第３配線５３０、第４電源ＶＳＳの供給を受ける第４配線５４０、及び走査制御信号の供給を受ける第５配線５５０を含む。
【００９２】
第１配線５１０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される第１電源ＥＬＶＤＤを、接続された有機電界発光表示装置２１０の画素部２２０に供給する。
【００９３】
第２配線５２０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される垂直制御信号ＶＣを、接続された第１回路部２８０に供給する。
【００９４】
第３配線５３０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される第３電源ＶＤＤを、接続された有機電界発光表示装置２１０の走査駆動部２３０、第１回路部２８０、及び第２回路部２９０に供給する。
【００９５】
第４配線５４０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される第４電源ＶＳＳを、接続された有機電界発光表示装置２１０の走査駆動部２３０、第１回路部２８０、及び第２回路部２９０に供給する。
【００９６】
第５配線５５０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される走査制御信号ＳＣＳ等を、接続された有機電界発光表示装置２１０の走査駆動部２３０に供給する。
【００９７】
走査制御信号には、走査駆動部２３０のクロック信号、出力イネーブル信号、及びスタートパルス等が含まれてもよい。実際に、走査駆動部２３０に供給される走査制御信号の数は、走査駆動部２３０の回路構成によって多様に設定されてもよい。これによって、第５配線５５０に含まれる配線の数は、多様に設定されることが可能であるが、便宜上本実施形態では、第５配線５５０は、３本の配線を含むとする。一方、図には示されなかったが、第５配線５５０の中で少なくともいずれか１つは、第１回路部２８０にクロック信号等をさらに供給してもよい。
【００９８】
第２配線グループ６００は、有機電界発光表示装置２１０の外郭領域に、第２方向（例えば、図２の左右方向）に延長形成される。より具体的に、第２配線グループ６００は、マザー基板２００上の同じ行に位置された有機電界発光表示装置２１０等に共通に接続されて形成されうる。
【００９９】
このような第２配線グループ６００は、水平制御信号ＨＣの供給を受ける第１１配線６１０、走査測定信号を出力する第１２配線６２０、バイアス電圧Ｖｂｉａｓの供給を受ける第１３配線６３０、第２電源ＥＬＶＳＳの供給を受ける第１４配線６４０、検査制御信号の供給を受ける第１５配線６５０、青色検査信号の供給を受ける第１６配線６６０、緑色検査信号の供給を受ける第１７配線６７０、及び赤色検査信号の供給を受ける第１８配線６８０を含む。
【０１００】
第１１配線６１０は、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される水平制御信号ＨＣを、接続された有機電界発光表示装置２１０の第１回路部２８０に供給する。
【０１０１】
第１２配線６２０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、第２回路部２９０から供給される走査測定信号を出力する。
【０１０２】
第１３配線６３０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給されるバイアス電圧Ｖｂｉａｓを、接続された有機電界発光表示装置２１０のデータ分配部２５０に供給する。
【０１０３】
第１４配線６４０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される第２電源ＥＬＶＳＳを、接続された有機電界発光表示装置２１０の画素部２２０に供給する。
【０１０４】
第１５配線６５０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される検査制御信号を、接続された有機電界発光表示装置２１０のトランジスタグループ２６０に供給する。
【０１０５】
第１６配線６６０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される青色検査信号を、接続された有機電界発光表示装置２１０のトランジスタグループ２６０に供給する。
【０１０６】
第１７配線６７０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される緑色検査信号を、接続された有機電界発光表示装置２１０のトランジスタグループ２６０に供給する。
【０１０７】
第１８配線６８０はマザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、供給される赤色検査信号を、接続された有機電界発光表示装置２１０のトランジスタグループ２６０に供給する。
【０１０８】
このようなマザー基板２００上に形成されたそれぞれの有機電界発光表示装置２１０は、元板単位の検査が完了すれば、個々の有機電界発光表示装置２１０等にスクライビングされる。ここで、スクライビングライン３１０は、第１配線グループ５００及び第２配線グループ６００と、画素部２２０、走査駆動部２３０、データ駆動部２４０、データ分配部２５０及びトランジスタグループ２６０とが、スクライビングされた後に電気的に隔離されるように位置される。すなわち、第１配線グループ５００及び第２配線グループ６００と、画素部２２０、走査駆動部２３０、データ駆動部２４０、データ分配部２５０及びトランジスタグループ２６０との電気的接続点は、有機電界発光表示装置２１０のスクライビングライン外郭に位置される。これによって、外部から第１配線グループ５００及び第２配線グループ６００に流入される静電気のようなノイズは、画素部２２０、走査駆動部２３０、データ駆動部２４０、データ分配部２５０及びトランジスタグループ２６０に供給されない。
【０１０９】
一方、前述のマザー基板２００上に形成された有機電界発光表示装置２１０は、支持基板４１０と、支持基板４１０の少なくとも一領域と重畳されるように位置された密封用基板４２０との間に形成された密封材４３０によって、酸素及び水気などから保護されるが、これに対する詳細な説明は、後述する。
【０１１０】
前述の有機電界発光表示装置２１０のマザー基板２００によれば、第１及び第２配線グループ５００、６００を備えることで、マザー基板２００上に形成された複数の有機電界発光表示装置２１０等をスクライビングしない状態で、少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行することができる。
【０１１１】
また、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第１及び第２電源ＥＬＶＤＤ、ＥＬＶＳＳを供給する配線を互いに異なる方向に形成して、特定の有機電界発光表示装置２１０に対する検査のみを遂行することができる。
【０１１２】
また、第１及び第２回路部２８０、２９０を備えることで、特定の有機電界発光表示装置に供給される所定の信号を独立的に制御することができる。これによって、複数の有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、特定の有機電界発光表示装置をオフさせるなど、それぞれの有機電界発光表示装置２１０等を独立的に制御することが可能になる。
【０１１３】
また、第１及び第２回路部２８０、２９０をスクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間に位置させて、第１及び第２回路部２８０、２９０と第１及び第２配線グループ５００、６００との電気的接続点をスクライビングライン３１０の外部に位置させることで、スクライビングされた後、個々の有機電界発光表示装置２１０等が完全に独立的に駆動できるようにすることは勿論、配線干渉による誤作動も防止することができる。
【０１１４】
（スクライビング後の有機電界発光表示装置）
次に、図３を参照して、スクライビング後の本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置について詳しく説明する。
【０１１５】
図３は、図２に示された有機電界発光表示装置を示す図面である。図３に示すように、それぞれの有機電界発光表示装置２１０は、スクライビングされた後、第１及び第２配線グループ５００、６００と電気的に断線されることで、第１及び第２配線グループ５００、６００の配線干渉などによる誤作動の問題なしに、完全に独立的に駆動されうる。すなわち、第１及び第２配線グループ５００、６００の端部は、電気的に断線されて、有機電界発光表示装置２１０を駆動するための電源及び信号は、パッド部２７０に接続された印刷回路基板などの外部回路（図示せず）から供給される。
【０１１６】
また、第１回路部２８０及び第２回路部２９０は、パッド部２７０と有機電界発光表示装置２１０の一側端との間、すなわち、有機電界発光表示装置２１０の最下端に位置される。例えば、パッド部２７０と有機電界発光表示装置２１０の一側端との間の領域幅が３００μｍで設定される場合、第１及び第２回路部２８０、２９０は、有機電界発光表示装置２１０の一側端から３００μｍ以内の領域に位置される。ここで、第１回路部２８０の一側端は、走査駆動部２３０と電気的に連結されるが、他側端は、電気的に断線される。そして、第２回路部２９０の一側端は、複数の走査線Ｓの中でいずれか１つ、例えば、第ｎ走査線Ｓｎに電気的に連結されて、他側端は、電気的に断線される。
【０１１７】
一方、図３では、スクライビングされた後、粉砕工程が遂行されなかった有機電界発光表示装置２１０を示したが、本発明は、これに限定されるのではない。例えば、グラインディングライン３２０に沿って粉砕工程が追加遂行される場合、グラインディングライン３２０の外部に位置された第１及び第２回路部２８０、２９０は、有機電界発光表示装置２１０から分離することができる。
【０１１８】
また、本実施形態では、特定の有機電界発光表示装置に供給される所定の信号を独立的に制御して測定するための第１及び第２回路部２８０、２９０を、スクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間のみに位置させたが、本発明は、これに限定されるのではない。例えば、第１及び第２回路部２８０、２９０の一部は、スクライビングライン３１０の外部に位置させることもできる。すなわち、本発明では、第１及び第２回路部２８０、２９０の少なくとも一部がスクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間に位置されることを特徴とする。
【０１１９】
（有機電界発光表示装置の密封）
次に、図４を参照して、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置の密封について詳しく説明する。
【０１２０】
図４は、図２に示されたマザー基板のＡ−Ａ’線による断面図である。図４を図２と結付して説明すれば、マザー基板２００に形成された有機電界発光表示装置２１０それぞれは、有機電界発光素子を含む画素部２２０及び走査駆動部２３０などの下部に位置された支持基板４１０と、支持基板４１０の上部に位置された密封用基板４２０と、支持基板４１０と密封用基板４２０との間に形成された密封材４３０と、を含む。
【０１２１】
より具体的に、密封用基板４２０は、酸素及び水気などの浸透から有機電界発光素子を保護するために、画素部２２０の上部に位置されて密封材４３０によって支持基板４１０に接着される。すなわち、密封用基板４２０及び密封材４３０によって密封される領域は、少なくとも画素部２２０を含む。例えば、密封用基板４２０は、画素部２２０と走査駆動部２３０との上部に位置されて、密封材４３０は、密封用基板４２０の端に沿って塗布されて支持基板４１０と密封用基板４２０とを接着させる。すなわち、密封材４３０は、有機電界発光素子を含む画素部２２０の外側に形成される。
【０１２２】
一方、データ駆動部２４０などは、密封以後にチップなどの形態で実装されうるので、密封用基板４２０は、データ駆動部２４０及びデータ分配部２５０とは重畳されないように形成されうる。
【０１２３】
また、グラインディングライン３２０に沿って追加的な粉砕工程が遂行される場合の粉砕装置等及び密封工程中に照射されるレーザ等から、第１及び第２回路部２８０、２９０を保護するために、密封用基板４２０は、第１及び第２回路部２８０、２９０と重畳されないように位置されて、密封材４３０は、第１及び第２回路部２８０、２９０から所定の距離ほど離隔されて形成されてもよい。
【０１２４】
ここで、密封材４３０としてフリットを利用すれば、支持基板４１０と密封用基板４２０との間を完全に密封することができ、吸湿材などを具備せず、密封領域内部（特に、画素部２２０）に酸素及び水気などが侵透することを効果的に遮断することができる。より具体的に、溶融されたフリットを硬化させて密封することで、２つの基板の間は、完全に密封されうる。
【０１２５】
フリットは本来、添加剤が含まれたパウダー形態の硝子原料を意味するが、硝子技術の分野においては、通常的にフリットが溶融されて形成された硝子を同時に意味する。よって、本実施形態において、フリットは、上記の両者をすべて意味することにする。このようなフリットは、転移金属を含み、レーザ又は赤外線によって溶融されてから硬化されながら支持基板４１０及び密封用基板４２０に接着され、これらの基板の間を完全に密封することで、２つの基板の間に酸素及び水気の流入を遮断する。
【０１２６】
より具体的に、フリットは、レーザ又は赤外線を吸収する吸湿材と、熱膨脹係数を減少させるためのフィラー（ｆｉｌｌｅｒ）とを含むフリットペースト状態で密封用基板４２０に塗布された後、焼成されてペーストに含まれた水気や有機バインダーが除去され、その後、硬化される。ここで、フリットペーストは、硝子粉末に酸化物粉末及び有機物を添加してゲル状態に作ったものである。
【０１２７】
ただし、フリットを利用して密封を遂行する場合、支持基板４１０と密封用基板４２０との間に位置されたフリットにレーザなどを照射しなければならない。よって、フリット４３０下部に回路素子が位置される場合、熱によってこの回路素子に損傷が発生することがあり得る。
【０１２８】
したがって、本実施形態では、第１及び第２回路部２８０、２９０をフリットが形成されない面取り領域に位置させて、第１及び第２回路部２８０、２９０がフリットから所定の距離ほど離隔して形成されることで、第１及び第２回路部２８０、２９０の損傷を防止することができる。この時、マザー基板２００上のｎ＋１（ｎは自然数）番目の行に位置した有機電界発光表示装置２１０の密封用基板４２０は、ｎ番目の行に位置した有機電界発光表示装置２１０とのスクライビングライン３１０からも所定距離ほど離隔して形成されてもよい。
【０１２９】
すなわち、第１及び第２回路部２８０、２９０は、フリットから所定の距離ほど離隔されて形成される。よって、本実施形態は、密封領域内においてスペーサと他の部材との間で起こりうるショートによる欠陥やレーザによる熱損傷を防止することができる。これによって、マザー基板２００上で検査を遂行する際に、特定の有機電界発光表示装置２１０に供給される所定の信号を独立的に制御して測定するための第１及び第２回路部２８０、２９０は、回路の変形や損傷なしに本来の機能を効果的に遂行することができる。
【０１３０】
（第１回路部の論理ゲート）
次に、図５及び図６を参照して、第１回路部に含まれた論理ゲートの一例及び他の例について詳細に説明する。
【０１３１】
図５は、図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの一例を示す図面である。そして、図６は、図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面で、図５に示された論理ゲートを含む。
【０１３２】
図５及び図６に示すように、第１回路部２８０は図５に示したようなノアゲートを含むことができる。
【０１３３】
ノアゲートは、第３電源ＶＤＤと、第３電源ＶＤＤより低い電圧値を持つ第４電源ＶＳＳとの間に接続された第１〜第４トランジスタＴ１〜Ｔ４を備える。
【０１３４】
より具体的に、第１及び第２トランジスタＴ１、Ｔ２は、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に直列接続されてＰタイプトランジスタに設定されて、第３及び第４トランジスタＴ３、Ｔ４は、第２トランジスタＴ２と第４電源ＶＳＳとの間に並列接続されて、Ｎタイプトランジスタに設定される。ここで、第１及び第４トランジスタＴ１、Ｔ４のゲート電極は、第１１配線６１０に接続されて水平制御信号ＨＣの供給を受けて、第２及び第３トランジスタＴ２、Ｔ３のゲート電極は、第２配線５２０に接続されて垂直制御信号ＶＣの供給を受ける。
【０１３５】
このようなノアゲートは、供給される水平制御信号ＨＣ及び垂直制御信号ＶＣがすべてローレベルの場合のみに、第３電源ＶＤＤに相応するハイレベルの電圧値を持つ信号を出力する。
【０１３６】
前述のノアゲートは、所定の水平制御信号ＨＣ及び垂直制御信号ＶＣに対応して所定レベルを持つ信号を出力することで、シフト制御信号を生成するのに利用されうる。
【０１３７】
例えば、図６に示すように、ノアゲートの出力信号を第１シフト制御信号ＳＣＴとして利用することができる。そして、ノアゲートの出力端にインバータＩＮを接続させて第１シフト制御信号ＳＣＴＬを反転させることで、第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢが、生成されうる。ここで、インバータＩＮは、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳの間に直列接続されて、ゲート電極がノアゲートの出力端に接続された互いに異なるタイプの第５及び第６トランジスタＴ５、Ｔ６で形成されうる。
【０１３８】
このような図５及び図６に示された論理回路から出力された第１シフト制御信号ＳＣＴＬ及び第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢは、走査駆動部２３０を制御するシフトクロック信号を生成するのに利用されうる。これに対する詳細な説明は後述する。
【０１３９】
次に、図７及び図８を参照して、第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例について詳細に説明する。
【０１４０】
図７及び図８は、図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートの他の例を示す図面である。ここで、図８に示された論理ゲートは、図７に示された論理ゲートを含む。
【０１４１】
図７及び図８に示すように、第１回路部２８０は、三相インバータ（Ｔｒｉｓｔａｔｅ  ｉｎｖｅｒｔｅｒ）Ｔ＿ＩＮと、制御トランジスタＴｃと、インバータＩＮ１を具備した第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ生成回路と、を含む。
【０１４２】
三相インバータＴ＿ＩＮは、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に直列接続された第１１〜第１４トランジスタＴ１１〜Ｔ１４を含む。ここで、第１１及び第１２トランジスタＴ１１、Ｔ１２は、Ｐタイプトランジスタに設定されて、第１３及び第１４トランジスタＴ１３、Ｔ１４は、Ｎタイプトランジスタに設定される。そして、第１１トランジスタＴ１１のゲート電極は、図５及び図６に示されたノアゲートの出力端に接続されて第１シフト制御信号ＳＣＴＬの供給を受ける。
【０１４３】
第１２及び第１３トランジスタＴ１２、Ｔ１３のゲート電極は、走査制御信号の供給を受ける第５配線５５０の中でいずれか１つに接続されて第１クロック信号ＣＬＫ１の供給を受ける。第１４トランジスタＴ１４のゲート電極は、図６に示されたノアゲートとインバータの組合論理ゲートの出力端に接続されて第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢの供給を受ける。
【０１４４】
制御トランジスタＴｃは、三相インバータＴ＿ＩＮの出力端である第１ノードＮ１と第４電源ＶＳＳとの間に接続されて、Ｎタイプトランジスタに設定される。そして、制御トランジスタＴｃのゲート電極は、図５及び図６に示されたノアゲートの出力端に接続されて第１シフト制御信号ＳＣＴＬの供給を受ける。
【０１４５】
インバータＩＮ１は、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に直列接続された第１５及び第１６トランジスタＴ１５、Ｔ１６を備える。ここで、第１５及び第１６トランジスタＴ１５、Ｔ１６のゲート電極は、第１ノードＮ１に共通に接続される。
【０１４６】
このような第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ生成回路は、ハイレベルの第１シフト制御信号ＳＣＴＬとローレベルの第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢとが供給される場合、第１クロック信号ＣＬＫ１に関係なく、ハイレベルの第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫを生成する。そして、それ以外の場合、例えばローレベルの第１シフト制御信号ＳＣＴＬとハイレベルの第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢとの供給を受ける場合、第１クロック信号ＣＬＫ１と同一波形の第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫを生成する。
【０１４７】
一方、第１回路部２８０は、図８に示すように、第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫＢ生成部をさらに含む論理ゲートで構成されうる。
【０１４８】
ここで、図８に示された論理ゲートは、図７に示された第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ生成回路の第１クロック信号ＣＬＫ１入力端に二つのインバータＩＮ２、ＩＮ３、すなわち、バッファーＢＵがさらに具備されて、第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫＢの第１及び第２シフト制御信号ＳＣＴＬ、ＳＣＴＬＢ入力端が逆さまになったことを除き、図７に示された論理ゲートと同じなので、これに対する具体的な説明は略する。
【０１４９】
このような第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢ生成回路は、ハイレベルの第１シフト制御信号ＳＣＴＬとローレベルの第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢとが供給される場合、第１クロック信号ＣＬＫ１に関係なく、ハイレベルの第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢを生成する。そして、それ以外の場合、例えばローレベルの第１シフト制御信号ＳＣＴＬとハイレベルの第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢとの供給を受ける場合、第１クロック信号ＣＬＫ１と同一波形の第１シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、及びこれと相反した波形の第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫＢを生成する。
【０１５０】
前述した図５〜図８に示された論理ゲートが第１回路部２８０に含まれる場合、第１回路部２８０は、所定の水平制御信号ＨＣ及び垂直制御信号ＶＣに対応して、第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢを生成して、これを走査駆動部２３０に出力する。よって、本実施形態によれば、走査駆動部２３０を独立的に制御することができる。
【０１５１】
例えば、マザー基板２００上で複数の有機電界発光表示装置２１０等に対する検査を遂行する間において、特定の有機電界発光表示装置２１０のみをオフさせようとする場合、特定の有機電界発光表示装置２１０に接続された第２配線５２０及び第１１配線６１０にローレベルの垂直制御信号ＶＣ及びローレベルの水平制御信号ＨＣを供給することができる。すると、ローレベルの垂直制御信号ＶＣ及び水平制御信号ＨＣの供給を受けた第１回路部２８０は、第１クロック信号ＣＬＫ１に関係なくハイレベルの第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢを生成する。
【０１５２】
第１回路部２８０から生成されたハイレベルの第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢは、走査駆動部２３０に入力されて画素部２２０がターンオフされるように制御する走査信号又は発光制御信号を生成させる。ただし、これは単なる本発明の具体的な実施形態を説明するために提示した一例であり、実際には走査駆動部２３０の回路構成によって入力される信号及びその電圧レベルは多様に設定することができる。
【０１５３】
一方、第１回路部２８０の少なくとも一部は、スクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間の面取り領域に位置されるので、前述した論理ゲートは面取り領域に位置されることが望ましい。
【０１５４】
例えば、図９に示されたように三相インバータＴ＿ＩＮ、バッファーＢＵ及びインバータＩＮなどの論理ゲートは、第２配線グループ６００上端のスクライビングライン３１０とパッド部２７０下端のグラインディングライン３２０との間に位置されて、その幅Ｗがおおよそ２００μｍ〜３００μｍに設定された面取り領域に、レイアウトされる。尚、このレイアウトの一例を図９に示す。
【０１５５】
一方、図７において、制御トランジスタＴｃは、Ｎタイプトランジスタに設定されたが、図１０に示すように制御トランジスタＴｃ’は、Ｐタイプトランジスタに設定されうる。この場合、制御トランジスタＴｃ’が第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢの入力を受けることを除き、図７の論理ゲートとその構成及び動作が同じなので、残りの部分は同一符号を割り当ててこれに対する詳細な説明は略する。
【０１５６】
次に、図１１を参照して、第１回路部に含まれた論理ゲートのまた他の例について詳細に説明する。
【０１５７】
図１１は、図２及び図３に示された第１回路部に含まれた論理ゲートのまた他の例を示す図面である。図１１に示すように、第１回路部２８０は、複数のインバータＩＮを含む。
【０１５８】
それぞれのインバータＩＮは、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に直列接続された互いに異なるタイプのトランジスタを備える。この時、第１回路部２８０は、第１配線グループ５００の第５配線５５０の中でいずれか１つから走査制御信号ＳＣＳの入力を受けて、それぞれのインバータＩＮを通じて走査制御信号ＳＣＳを反復的（図１１では３度）にインバーティングして出力する。
【０１５９】
このような第１回路部２８０は、入力される信号に遅延が発生した場合、遅延を補償してくれる機能をするので、マザー基板２００上で検査を遂行する際に、第１又は第２配線グループ５００、６００から供給される走査制御信号ＳＣＳなどの遅延を補償して、有機電界発光表示装置２１０（特に、走査駆動部２３０）が誤作動することを防止するのに有用である。
【０１６０】
第１回路部２８０が、入力信号の遅延を補償するために、前述のように複数のインバータＩＮで構成される場合、第１回路部２８０は、外部から走査制御信号ＳＣＳが供給される第５配線２８０と走査駆動部２３０の間に接続される。
【０１６１】
一方、第１回路部２８０は、前述した論理ゲートの外にも送信ゲート（Ｔｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ  Ｇａｔｅ）、ＮＡＮＤゲート又はエクスクルーシブオア（ＸＯＲ）ゲートを含むこともできる。ここで、送信ゲートは、マザー基板２００上で特定有機電界発光表示装置２１０を選択的にオンさせるなどの目的で利用することができ、ＮＡＮＤゲート又はエクスクルーシブオア（ＸＯＲ）ゲートなどは、シフト制御信号ＳＣＴＬ及びシフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫなどを生成するのに利用することができる。
【０１６２】
（第２回路部の論理ゲート）
次に、図１２を参照して、第２回路部に含まれた論理ゲートの一例について詳細に説明する。
【０１６３】
図１２は、図２及び図３に示された第２回路部に含まれた論理ゲートの一例を示す図面である。図１２に示すように、第２回路部２９０は、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に接続された三相インバータを含む。
【０１６４】
三相インバータは、第３電源ＶＤＤと第４電源ＶＳＳとの間に直列接続された第２１〜第２４トランジスタＴ２１〜Ｔ２４を備える。ここで、第２１及び第２２トランジスタＴ２１、Ｔ２２は、Ｐタイプトランジスタに設定されて、第２３及び第２４トランジスタＴ２３、Ｔ２４は、Ｎタイプトランジスタに設定される。そして、第２１トランジスタＴ２１のゲート電極は、第１回路部２８０に接続されて第１シフト制御信号ＳＣＴＬの供給を受けて、第２２及び第２３トランジスタＴ２２、Ｔ２３のゲート電極は、第ｎ走査線Ｓｎに接続されて第ｎ走査信号ＳＳｎの供給を受けて、第２４トランジスタＴ２４のゲート電極は、第１回路部２８０に接続されて第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢの供給を受ける。
【０１６５】
このような第２回路部２９０は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、接続された有機電界発光表示装置２１０が正常に動作する場合（すなわち、第１シフト制御信号ＳＣＴＬがハイレベルで、第２シフト制御信号ＳＣＴＬＢがローレベルである時を除いた場合）、第ｎ走査信号ＳＳｎに対応する走査測定信号を第１２配線６２０に出力する。これによって、マザー基板２００上で検査を遂行する際、第１２配線６２０から出力される信号を測定して走査信号が正常に発生されるか否めかを検査することができる。
【０１６６】
一方、第２回路部２９０は、第１回路部２８０に第１及び第２シフト制御信号ＳＣＴＬ、ＳＣＴＬＢ生成回路が含まれない場合、第１又は第２配線グループ５００、６００から第１及び第２シフト制御信号ＳＣＴＬ、ＳＣＴＬＢの供給を受けることもできる。
【０１６７】
（画素の一例）
次に、図１３を参照して、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置が有する画素の一例について詳しく説明する。
【０１６８】
図１３は、図２及び図３に示された画素の一例を示す図面である。図１３に示すように、画素２２５は、有機電界発光素子ＯＬＥＤと、第ｎ走査線Ｓｎ、第ｎ発光制御線ＥＭｎ、第ｍデータ線Ｄｍ、第１電源ＥＬＶＤＤ、初期化電源Ｖｉｎｉｔ及び有機電界発光素子ＯＬＥＤに接続されて有機電界発光素子ＯＬＥＤを発光させるための画素回路２２７を備える。ここで、マザー基板２００上で検査が遂行される場合、初期化電源Ｖｉｎｉｔは、第１又は第２配線グループ５００、６００に属する所定の配線（図示せず）から各画素２２５に供給される。
【０１６９】
有機電界発光素子ＯＬＥＤのアノード電極は、画素回路２２７に接続されて、カソード電極は、第２電源ＥＬＶＳＳに接続される。このような有機電界発光素子ＯＬＥＤは、供給される電流に対応して所定の輝度で発光する。
【０１７０】
画素回路２２７は、第１〜第６トランジスタＭ１〜Ｍ６と保存用キャパシタＣｓｔとを備える。図１３において、第１〜第６トランジスタＭ１〜Ｍ６は、Ｐタイプトランジスタとして示したが、本発明は、これに限定されるのではない。
【０１７１】
第１トランジスタＭ１の第１電極は、第２ノードＮ２に接続されて、第２電極は、第３ノードＮ３に接続される。そして、第１トランジスタＭ１のゲート電極は、第１ノードＮ１に接続される。このような第１トランジスタＭ１は、保存用キャパシタＣｓｔに保存（充電）された電圧に対応する電流を第３ノードＮ３に供給する。
【０１７２】
第２トランジスタＭ２の第１電極は、第ｍデータ線Ｄｍに接続されて、第２電極は、第３ノードＮ３に接続される。そして、第２トランジスタＭ２のゲート電極は、第ｎ走査線Ｓｎに接続される。このような第２トランジスタＭ２は、第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される時ターンオンされて、第ｍデータ線Ｄｍに供給されるデータ信号を第３ノードＮ３に供給する。
【０１７３】
第３トランジスタＭ３の第１電極は、第２ノードＮ２に接続されて、第２電極は、第１ノードＮ１に接続される。そして、第３トランジスタＭ３のゲート電極は、第ｎ走査線Ｓｎに接続される。このような第３トランジスタＭ３は、第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される時ターンオンされて、第１トランジスタＭ１をダイオード形態で接続させる。
【０１７４】
第４トランジスタＭ４の第１電極は、初期化電源Ｖｉｎｉｔに接続されて、第２電極は、第１ノードＮ１に接続される。そして、第４トランジスタＭ４のゲート電極は、第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に接続される。このような第４トランジスタＭ４は、第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号が供給される時ターンオンされて、保存用キャパシタＣｓｔ及び第１トランジスタＭ１のゲート端子を初期化する。このために、初期化電源Ｖｉｎｉｔの電圧値は、データ信号の電圧値より低く設定される。
【０１７５】
第５トランジスタＭ５の第１電極は、第１電源ＥＬＶＤＤに接続されて、第２電極は、第２ノードＮ２に接続される。そして、第５トランジスタＭ５のゲート電極は、第ｎ発光制御線ＥＭｎに接続される。このような第５トランジスタＭ５は、第ｎ発光制御線ＥＭｎに発光制御信号が供給されない時ターンオンされて、第１電源ＥＬＶＤＤの電圧を第２ノードＮ２へ伝達する。
【０１７６】
第６トランジスタＭ６の第１電極は、第３ノードＮ３に接続されて、第２電極は、有機電界発光素子ＯＬＥＤのアノード電極に接続される。そして、第６トランジスタＭ６のゲート電極は、第ｎ発光制御線ＥＭｎに接続される。このような第６トランジスタＭ６は、第ｎ発光制御線ＥＭｎに発光制御信号が供給されない時ターンオンされて、第３ノードＮ３と有機電界発光素子ＯＬＥＤとを電気的に接続させる。
【０１７７】
保存用キャパシタＣｓｔの一側端子は第１電源ＥＬＶＤＤ及び第５トランジスタＭ５の第１電極に接続されて、他側端子は第１ノードＮ１に接続される。このような保存用キャパシタＣｓｔは第ｎ走査線Ｓｎで走査信号が供給される時データ信号と第１トランジスタＴ１の閾値電圧Ｖｔhに対応される電圧を充電して、充電された電圧を一フレームの間維持する。
【０１７８】
（画素の動作過程）
そして、図１３及び図１４を参照して、図１３に示された画素の動作過程を詳しく説明する。図１４は、図１３に示された画素回路を駆動させるための駆動信号を示す波形図である。
【０１７９】
図１４に示すように、まずｔ１期間において、第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給されて、第ｎ発光制御線ＥＭｎに発光制御信号ＥＭＩが供給される。第ｎ発光制御線ＥＭｎに発光制御信号ＥＭＩが供給されれば、第５及び第６トランジスタＭ５、Ｍ６がターンオフされる。そして、第ｎ−１走査線Ｓｎ−１に走査信号ＳＳが供給されれば、第４トランジスタＭ４がターンオンされる。
【０１８０】
第４トランジスタＭ４がターンオンされれば、保存用キャパシタＣｓｔ及び第１トランジスタＭ１のゲート端子が初期化電源Ｖｉｎｉｔに接続される。保存用キャパシタＣｓｔ及び第１トランジスタＭ１のゲート端子が、初期化電源Ｖｉｎｉｔに接続され、保存用キャパシタＣｓｔ及び第１トランジスタＭ１のゲート端子に、初期化電源Ｖｉｎｉｔが供給されて初期化される。
【０１８１】
その後、ｔ２期間において、第ｎ走査線Ｓｎに走査信号が供給される。第ｎ走査線Ｓｎに走査信号ＳＳが供給されれば、第２及び第３トランジスタＭ２、Ｍ３がターンオンされる。第３トランジスタＭ３がターンオンされれば、第１トランジスタＭ１がダイオード形態で接続される。そして、第２トランジスタＭ２がターンオンされれば、第ｍデータ線Ｄｍに供給されるデータ信号が、第３ノードＮ３へ伝達される。この時、第１トランジスタＭ１のゲート端子は、初期化電源Ｖｉｎｉｔによってデータ信号よりさらに低い電圧値に初期化されたので、第３ノードＮ３に供給された電圧、は第１及び第３トランジスタＭ１、Ｍ３を経由して第１ノードＮ１に供給される。すると、保存用キャパシタＣｓｔには第１トランジスタＭ１の閾値電圧Ｖｔhとデータ信号とに対応される電圧が保存される。
【０１８２】
以後、第ｎ発光制御線ＥＭｎで発光制御信号ＥＭＩが供給されなければ第５及び第６トランジスタＭ５、Ｍ６がターンオンされる。第５及び第６トランジスタＭ５、Ｍ６がターンオンされれば、データ信号に対応される電流が、第１電源ＥＬＶＤＤから有機電界発光素子ＯＬＥＤに流れ、有機電界発光素子ＯＬＥＤからデータ信号に対応した光が生成される。
【０１８３】
前述の画素２２５は、マザー基板２００上で検査を遂行する際、所定の垂直制御信号ＶＣ及び水平制御信号ＨＣによって有機電界発光表示装置２１０がオフされるように設定される場合、第１回路部２８０から所定の第１及び第２シフトクロック信号ＳＦＴＣＬＫ、ＳＦＴＣＬＫＢの供給を受けた走査駆動部２３０からスイッチングトランジスタＭ２〜Ｍ６をすべてターンオフさせるよう制御する走査信号ＳＳ及び発光制御信号ＥＭＩの供給を受けて、ターンオフされる。
【０１８４】
以上、詳しく説明したように、本発明の実施形態に係る有機電界発光表示装置及びそのマザー基板によれば、第１及び第２配線グループ５００、６００を備えることで、スクライビング以前に、マザー基板２００に形成された複数の有機電界発光表示装置２１０に対する元板単位の検査を遂行することができる。これによって、検査時間を減らすことができ、コストを低減することができるため、検査の効率性を高めることができる。
【０１８５】
また、第１及び第２回路部２８０、２９０を備えることで、マザー基板２００上に形成された少なくとも１つの有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、特定の有機電界発光表示装置２１０に供給される所定の信号を独立的に制御することができる。これによって、複数の有機電界発光表示装置２１０に対する検査を遂行する際に、誤作動する特定の有機電界発光表示装置２１０をオフさせることができるなど、それぞれの有機電界発光表示装置２１０を独立的に制御して測定することが可能になる。また、これを制御するための回路の損傷を防止することができる。
【０１８６】
また、第１及び第２回路部２８０、２９０を、スクライビングライン３１０とグラインディングライン３２０との間に位置させて、密封材４３０、特に、フリットから所定の距離離隔されるように形成することで、密封を行う際に第１及び第２回路部２８０、２９０に変形や損傷が発生することを防止することができる。よって、第１及び第２回路部２８０、２９０が有機電界発光表示装置を効果的に制御できる。
【０１８７】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【符号の説明】
【０１８８】
２００    有機電界発光表示装置のマザー基板    
２１０    有機電界発光表示装置
２２０    画素部
２２５    画素
２３０    走査駆動部
２４０    データ駆動部
２５０    データ分配部
２６０    トランジスタグループ
２７０    パッド部
２８０    第１回路部
２９０    第２回路部
３１０    スクライビングライン
３２０    グラインディングライン
４１０    支持基板
４２０    密封用基板
４３０    密封材
５００    第１配線グループ
６００    第２配線グループ
【図１】
2010181895.tif 000003
【図２】
2010181895.tif 000004
【図３】
2010181895.tif 000005
【図４】
2010181895.tif 000006
【図５】
2010181895.tif 000007
【図６】
2010181895.tif 000008
【図７】
2010181895.tif 000009
【図８】
2010181895.tif 000010
【図９】
2010181895.tif 000011
【図１０】
2010181895.tif 000012
【図１１】
2010181895.tif 000013
【図１２】
2010181895.tif 000014
【図１３】
2010181895.tif 000015
【図１４】
2010181895.tif 000016