(57)【要約】【課題】２層またはそれ以上の情報記録層を有する光学的情報記録媒体の最適な記録条件を正確に求めること。【解決手段】本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記再生専用領域または前記記録再生領域のいずれか一方が、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を含むように、前記再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方と前記テスト領域とが配置される。【選択図】図３
2010176842.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の記録層と第２の記録層とを有する情報記録媒体であって、
前記第１の記録層は、第１のテスト領域を含み、
前記第２の記録層は、第２のテスト領域を含み、
前記第１のテスト領域と前記第２のテスト領域とは、それぞれ異なる半径位置に配置されており、
前記第２の記録層は、前記第１の記録層を通過したレーザ光によって情報の記録が行われ、
前記第２の記録層は、再生専用領域を含み、前記再生専用領域は、前記第１のテスト領域が配置される半径位置内に配置されている、情報記録媒体。
【請求項２】
第１の記録層と第２の記録層とを有する情報記録媒体であって、
前記第１の記録層は、第１のテスト領域を含み、
前記第２の記録層は、第２のテスト領域を含み、
前記第１のテスト領域と前記第２のテスト領域とは、それぞれ異なる半径位置に配置されており、
前記第２の記録層は、前記第１の記録層を通過したレーザ光によって情報の記録が行われ、
前記第１の記録層は、記録禁止領域を含み、前記記録禁止領域は、前記第２のテスト領域が配置される半径位置内に配置されている、情報記録媒体。
【請求項３】
前記第２のテスト領域に近い側の前記第１のテスト領域の端の半径位置と、
前記第１のテスト領域に近い側の前記第２のテスト領域の端の半径位置とは、異なる、請求項１又は２に記載の情報記録媒体。
【請求項４】
前記第２のテスト領域は、前記第１のテスト領域よりも外周側の半径位置に配置され、
前記第１のテスト領域の外端の半径位置と、前記第２のテスト領域の内端の半径位置とは、異なる、請求項３に記載の情報記録媒体。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の情報記録媒体への記録パワーを決定する記録パワー決定方法であって、
前記第１のテスト領域を用いて、前記第１の記録層における記録パワーを決定し、
前記第２のテスト領域を用いて、前記第２の記録層における記録パワーを決定する、記録パワー決定方法。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれかに記載の情報記録媒体から情報を再生する情報再生方法であって、
前記第１のテスト領域を用いて決定された記録パワーにて前記第１の記録層に記録された情報を前記第１の記録層から再生し、
前記第２のテスト領域を用いて決定された記録パワーにて前記第２の記録層に記録された情報を前記第２の記録層から再生する、情報再生方法。
【請求項７】
請求項５に記載の記録パワー決定方法、若しくは、請求項６に記載の情報再生方法の方法を実行するためのプログラム、又は、前記プログラムを実行するための電子計算機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的に情報を記録する光学的情報記録媒体、光学的情報記録方法、光学的情報記録装置に関する。より詳細には、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体、光学的情報記録方法、光学的情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学的に情報を記録する光学的情報記録媒体として、光ディスク、光カード、光テープなどが提案・開発されている。その中でも光ディスクは、大容量かつ高密度に情報を記録する光学的情報記録媒体として注目されている。
【０００３】
書き換え型光ディスクの一つの方式に相変化型光ディスクがある。相変化型光ディスクに用いる記録膜は、レーザ光による加熱条件および冷却条件によってアモルファス状態と結晶状態のいずれかの状態に可逆的に変化する。アモルファス状態と結晶状態では記録膜の光学定数が異なるため、相変化型光ディスクでは、記録すべき情報に応じて選択的に２つの状態を記録膜に形成させて、この結果生じる光学的変化（すなわち、透過率または反射率の変化）を利用する。これにより、情報の記録および／または再生を行うことができる。上記の２つの状態を得るために、以下のような方法で情報が記録される。
【０００４】
記録膜の温度を融点以上に上昇させるパワーで光ディスクの記録膜にパルス状（これを記録パルスと呼ぶ）レーザ光を照射させると、レーザ光の通過とともに記録膜の溶融部分は急速に冷却されてアモルファス状態の記録マークになる。また、記録膜の温度を結晶化温度以上融点以下の温度まで上昇させる程度のパワーのレーザ光を集束して照射すると、そのようなレーザ光が照射された記録膜は結晶状態になる。
【０００５】
ここで、光ディスクは、光ディスク記録再生装置に対して交換可能な記録媒体であるので、光ディスク記録再生装置は異なる複数の光ディスクに対して安定に記録再生する必要がある。しかし、同一の条件で製造された光ディスクでも、製造時のばらつき、および／または、経時変化により光ディスクの熱的特性が異なると、記録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の影響が異なる。従って、光ディスクへの記録パワーおよび記録パルスの最適なエッジ位置などの記録条件が異なる可能性が生じる。
【０００６】
このような記録条件の変動に影響されずに情報を安定に記録するために、光ディスク記録再生装置は、光ディスクに情報を記録する前に記録条件を求める。具体的には、光ディスク記録再生装置は光ディスクに記録すべき情報を記録する前に、特定のデータパターン（これをテスト情報という）によるテスト記録を行った後に、そのテスト情報を再生し、その再生された信号を測定して記録条件を求める。この工程はテスト記録と呼ばれる。また、光ディスクには、テスト記録で使用するための領域が設けられており、この領域はテスト記録領域と呼ばれる。
【０００７】
書き換え型光ディスクの特定の部分には、凸凹の位相ピットからなる再生専用領域があらかじめ形成されている。再生専用領域には、光ディスク自身の情報およびアドレス情報など、書き換える必要のない情報が記録される。この領域は、エンボス領域とも呼ばれる。
【０００８】
これに対し、記録マークを形成することにより情報を記録する領域は、記録再生領域と呼ばれる。記録再生領域には、書き換えられる可能性のある情報が記録される。
【０００９】
一般的な書き換え型の光ディスクでは、データ領域をディスク中周部に設けて、データ領域の内周にリードイン領域、データ領域の外周にリードアウト領域と呼ばれる領域を設ける。また、一般に、リードイン領域およびリードアウト領域の内部には、光ディスクの管理情報を記録するための領域、および／または、テスト記録領域が設けられる。
【００１０】
近年、光ディスクの高密度化が強く要求されている。それに伴って、ディスクの厚さ方向に２層以上の情報記録層を有し、各情報記録層に対して情報を記録できる多層記録媒体が提案されている。
【００１１】
このような多層記録媒体では、それぞれの情報記録層が異なる記録特性を有することが多い。そのため、多層記録媒体では各情報記録層ごとにテスト記録を行うことが必要となる。その方法の一例が、特許文献１にて開示されている。
【００１２】
しかしながら、従来の方法では、多層記録媒体のレーザ入射面からより遠い情報記録層（以下、第２の情報記録層）にテスト記録を行う場合、第２の情報記録層は、第２の情報記録層よりも、よりレーザ入射面に近い情報記録層（以下、第１の情報記録層）の状態の影響を受けることが考慮されていなかった。
【００１３】
第２の情報記録層に情報を記録するためのレーザ光は、その光が第１の情報記録層のどのような領域を通過してきたかによって、不均一になることがある。その結果、テスト記録を行なっても正しい記録条件を求めることができないという課題を有していた。
【００１４】
また、情報記録層の記録再生領域に情報が記録されているか否かによって、その情報記録層の光の透過率が異なるため、第２の情報記録層のテスト記録のために使用されるレーザ光が通過する第１の情報記録層内のスポットに占める未記録領域と記録領域との割合によって、第２の情報記録層に到達するレーザ光の光量が変化してしまうために、正しい記録条件が求まらないという課題を有していた。
【００１５】
また、記録再生領域中の未記録領域の透過率と再生専用領域の透過率は同等とみなせるが、記録再生領域中の記録領域の透過率は、再生専用領域の透過率と異なる。従って、第２の情報記録層でテスト記録を行う場合、第１の情報記録層のレーザ光のスポットに占める再生専用領域と記録再生領域（さらには、記録再生域内の記録領域と未記録領域）との割合によっても、第２の情報記録層に到達するレーザ光の光量が変化するという課題を有していた。
【００１６】
さらに、テスト記録だけでなく、第２の情報記録層の記録再生領域に情報（例えば、ユーザデータ情報）を記録する場合もテスト記録の場合と同様に、第１の情報記録層の状態の影響を受けるため、正確な情報を記録することができず、記録した情報を再生する際の信号品質が低下する課題を有していた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１７】
【特許文献１】特開平１１−３５５０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
本発明はこれら従来の課題を解決するもので、２層またはそれ以上の情報記録層を有する光学的情報記録媒体の最適な記録条件を正確に求めることを目的とする。あるいは、２層またはそれ以上の情報記録層を有する光学的情報記録媒体の情報記録層に正確に情報を記録することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
（発明の開示）
本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記再生専用領域または前記記録再生領域のいずれか一方が、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を含むように、前記再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方と前記テスト領域とが配置される。
【００２０】
前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層とを分離する分離層をさらに備え、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記テスト記録領域に対応する領域の端から前記テスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記テスト記録領域に集束するための対物レンズの開口率であってもよい。
【００２１】
前記第２の情報記録層は、前記テスト記録領域の端から少なくとも前記長さδまで離れた領域に配置されるデータ記録領域を有してもよい。
【００２２】
前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記テスト記録領域の対応する領域の端から前記テスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００２３】
前記第２の情報記録層は、前記テスト記録領域の端から少なくとも前記長さδ’まで離れた領域に配置されるデータ記録領域を有してもよい。
【００２４】
本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、所定の領域を含み、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記所定の領域が、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を含むように、前記所定の領域および前記テスト領域は配置され、前記所定の領域は全て記録状態または全て未記録状態のいずれかである。
【００２５】
前記未記録状態である所定の領域は、記録禁止領域であってもよい。
【００２６】
前記未記録状態である所定の領域は、ミラー領域であってもよい。
【００２７】
前記未記録状態である所定の領域は、リードイン領域であってもよい。
【００２８】
前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層を分離する分離層をさらに備え、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記テスト記録領域に対応する領域の端から前記テスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記テスト記録領域に集束するための対物レンズの開口率であってもよい。
【００２９】
前記第２の情報記録層は、前記テスト記録領域の端から少なくとも前記長さδまで離れた領域に配置されるデータ記録領域を有してもよい。
【００３０】
前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記テスト記録領域の対応する領域の端から前記テスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００３１】
前記第２の情報記録層は、前記テスト記録領域の端から少なくとも前記長さδ’まで離れた領域に配置されるデータ記録領域を有してもよい。
【００３２】
本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、テスト記録領域と記録再生領域とを含み、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域の透過率が、前記記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域の透過率と異なり、前記テスト記録領域または前記記録再生領域の少なくとも一方の最適な記録条件を算出するための情報が、前記第１の情報記録層および第２の情報記録層のうちのいずれかの特定の領域に記録されている。
【００３３】
本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、再生専用領域および第１の記録再生領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、第２の記録再生領域を含み、前記再生専用領域または前記第１の記録再生領域のうちのいずれか一方が、前記第２の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を含むように、前記再生専用領域および前記第１の記録再生領域との少なくとも一方と前記第２の記録再生領域とが配置される。
【００３４】
前記第１の情報記録層と前記第２の情報分離層とを分離する分離層をさらに備え、前記記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域に対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記第２の記録再生領域に集束するための対物レンズの開口率であってもよい。
【００３５】
前記記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域の対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００３６】
前記第１の情報記録層の再生専用領域の面積がゼロであってもよい。
【００３７】
本発明の光学的情報記録媒体は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層と、前記第１の情報記録層と前記第２の情報分離層とを分離する分離層と、を備えた光学的情報記録媒体であって、前記第１の情報記録層は、第１のテスト記録領域と不均一光防止領域とを含み、前記第２の情報記録層は、第２のテスト記録領域を含み、前記第１のテスト記録領域と前記第２のテスト記録領域との間隔が長さδより大きくなり、かつ、前記不均一光防止領域が、前記第２のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を含むように、前記不均一光防止領域と第１のテスト記録領域と第２のテスト記録領域とは配置され、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記第２のテスト記録領域に集束するための対物レンズの開口率である。
【００３８】
前記第１の情報記録層は、第１のリードイン領域および第１のリードアウト領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、第２のリードイン領域および第２のリードアウト領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第１のリードイン領域および前記第２のリードイン領域、または、前記第１のリードアウト領域および前記第２のリードアウト領域のいずれか一方が、前記第１のテスト記録領域および第２のテスト記録領域をそれぞれ含んでもよい。  前記第１の情報記録層の前記不均一光防止領域は、再生専用領域であってもよい。
【００３９】
前記不均一光防止領域は、再生専用領域と記録禁止領域とミラー領域とからなる群の少なくとも１つからなる領域であってもよい。
【００４０】
前記第２のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第２のテスト記録領域の対応する領域の端から前記第２のテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００４１】
前記第２のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第２のテスト記録領域の対応する領域の端から前記第２のテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００４２】
本発明の光学的情報記録方法は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体のための光学的情報記録方法であって、前記第１の情報記録層は、再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記光学的情報記録方法は、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域に、予め情報を記録するステップと、前記予め情報を記録するステップの後に、前記テスト記録領域に情報を記録するステップと、を包含する。
【００４３】
前記第１の情報記録層と前記第２の情報分離層とを分離する分離層をさらに備え、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域に対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記第２のテスト記録領域に集束するための対物レンズの開口率であってもよい。
【００４４】
前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域の対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００４５】
前記予め記録する情報は、ダミー情報を変調することにより得られる情報であってもよい。
【００４６】
前記予め情報を記録するステップは、サーティファイ工程を用いて記録するステップを包含してもよい。
【００４７】
本発明の光学的情報記録方法は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体のための光学的情報記録方法であって、前記第１の情報記録層は、再生専用領域および記録再生領域のうちの少なくとも一方を含み、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記光学的情報記録方法は、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域が、前記再生専用領域または前記記録再生領域のうちの未記録状態の領域であるか、もしくは、前記記録再生領域のうちの記録状態の領域であるかを判定するステップと、前記テスト記録領域においてテスト記録を実行し、記録条件を求めるステップと、前記判定の結果および求められた前記記録条件に基づいて、第２の情報記録層に対する最適な記録条件を算出するステップと、を包含する。
【００４８】
前記光学的情報記録媒体は、前記第１の情報記録層と前記第２の情報分離層とを分離する分離層をさらに備え、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域に対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、前記長さδは、
δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表され、ここで、ｄは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との厚さ方向の距離であり、ｎは、前記分離層の屈折率であり、ＮＡは、前記レーザ光を前記第２の記録再生領域に集束するための対物レンズの開口率であってもよい。
【００４９】
前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域は、前記第１の情報記録層のうちの、前記第２の記録再生領域の対応する領域の端から前記第２の記録再生領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、前記長さδ’は、
δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ
であり、ここで、δｍは、前記第１の情報記録層と前記第２の情報記録層との最大の位置ずれ量であってもよい。
【００５０】
前記最適な記録条件の算出に関する情報が、前記第１の情報記録層および前記第２の情報記録層のうちの特定の領域に記録されていてもよい。
【００５１】
本発明の光学的情報記録装置は、レーザ光によって情報が記録される第１の情報記録層と、前記第１の情報記録層を通過したレーザ光によって情報が記録される第２の情報記録層とを備えた光学的情報記録媒体のための光学的情報記録装置であって、前記第２の情報記録層は、テスト記録領域を含み、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域を判別する干渉領域判別部と、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域が、記録状態か未記録状態かを判別する記録状態判別部と、前記干渉領域判別部と前記記録状態判別部との判別結果に基づいて、前記テスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する前記第１の情報記録層内の領域に信号を記録する記録部と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】図１は、本発明に係る光学的情報記録媒体の外観図を示す。
【図２】図２は、本発明に係る光学的情報記録媒体の断面図を示す。
【図３】図３は、本発明の実施の形態１に係る第１の情報記録層および第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図４】図４は、比較例の第１の情報記録層および第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図５】図５は、本発明に係る第１の情報記録層でのスポットの長さ（すなわち、第１の情報記録層を通過する領域）を説明する図である。
【図６】図６は、実施の形態１の変形例に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層とのフォーマット図である。
【図７】図７は、本発明の実施の形態２に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態３に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図９】図９は、本発明の実施の形態３に係る光学的情報記録媒体を作成するための光学的情報記録装置のブロック図である。
【図１０】図１０は、本発明の実施の形態４に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施の形態５に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施の形態６に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施の形態７に係る複数の情報記録層のフォーマット図である。
【図１４】図１４は、実施の形態８に係る第１の情報記録層と第２の情報記録層のフォーマット図である。
【発明を実施するための形態】
【００５３】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態を説明する。
【００５４】
（実施の形態１）
本実施の形態は、テスト記録で正確な記録条件を求めることが可能な光学的情報記録媒体に関する。
【００５５】
図１は、本発明に係る光学的情報記録媒体１００の外観図を示す。以下、光学的情報記録媒体１００の具体例として、光ディスク１００を説明する。
【００５６】
図２は、本発明に係る光学的記録情報媒体１００の断面図を示す。光ディスク１００は多層記録媒体の構造を示す。図２に示されるように、光ディスク１００は、入射面１１０と、第１の情報記録層１２０と、第２の情報記録層１３０と、第１の情報記録層１２０と第２の情報記録層１３０とを分離する分離層１５０とを備える。
【００５７】
第１の情報記録層１２０と第２の情報記録層１３０は、それぞれ第１の基板１４０と第２の基板１４５に、溝または位相ピットを予め形成し、その上に保護膜、記録膜、反射膜などを成膜していくことで作成される。成膜した第１の基板１４０及び成膜した第２の基板１４５を紫外線硬化樹脂等によって接着し、分離層１５０を形成する。分離層１５０によって、第１の情報記録層１２０と第２の情報記録層１３０とは分離されている。
【００５８】
レーザ光１７０は、対物レンズ１６０によって集束されたレーザ光１７０が入射面１１０側から入射し、レーザ光１７０によって情報記録層に情報が記録される。図２は、第１の情報記録層１２０を通過したレーザ光１７０によって情報が第２の情報記録層１３０に記録される様子を示している。
【００５９】
次に、本実施の形態で用いる光ディスク１００のフォーマットについて説明する。
【００６０】
図３は、第１の情報記録層１２０および第２の情報記録層１３０のフォーマット図である。図３では、光ディスク１００のディスクの中心から半径方向に沿ったフォーマットを示している。光ディスク１００の中心を半径方向０で示す。半径方向は、光ディスク１００の中心からの距離を示す。図の左方向が光ディスク１００の内周側、右方向が光ディスク１００の外周側を示す。図３において、図の下方向からレーザ光を照射する場合を想定している。
【００６１】
第１の情報記録層１２０は、第１の再生専用領域（ＲＯＭ）１２２と、第１の記録再生領域（ＲＡＭ）１２４とを含む。第１の記録再生領域１２４は、第１のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）１２６と第１のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）１２８とを含む。図３において、第１の情報記録層１２０は、内周から、第１の再生専用領域１２２、第１のテスト記録領域１２６、第１のデータ記録領域１２８の順に配置されている。
【００６２】
第２の情報記録層１３０は、第２の再生専用領域（ＲＯＭ）１３２と、第２の記録再生領域（ＲＡＭ）１３４とを含む。第２の記録再生領域１３４は、第２のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）１３６と第２のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）１３８とを含む。第２の再生専用領域１３２と第２のテスト記録領域１３６との間の領域１３３は、例えば、使用しない未使用領域である。図３において、第２の情報記録層１３０は、内周から、第２の再生専用領域１３２、未使用領域１３３、第２のテスト記録領域１３６、第２のデータ記録領域１３８の順に配置されている。
【００６３】
第１の再生専用領域１２２および第２の再生専用領域１３２には、情報を示す位相ピット列が形成される。第１の記録再生領域１２４および第２の記録再生領域１３４には、情報を示す溝が形成される。
【００６４】
本明細書において、再生専用領域は、光ディスク自身の情報およびアドレス情報など、書き換える必要がない情報が記録されることを想定している。それに対し、記録再生領域は、書き換えられる可能性の高い情報が記録されることを想定している。このように、再生専用領域と記録再生領域とは、情報の性質が異なることから、上述したように異なる形態で情報を記録する。再生専用領域は書きかえられる必要性がない情報が記録されるので、位相ピット列によって、基板の成形と同時に情報を記録する。一方、記録再生領域は、書きかえられる可能性の高い情報が記録されるので、溝の上に成膜された記録膜に情報が記録マークの形態で記録される。
【００６５】
本明細書において、テスト記録領域は、そのテスト記録領域を含む情報記録層のテスト記録を行なうために使用される。データ記録領域は、ユーザデータ情報を記録するために使用される。
【００６６】
本実施の形態では、第１の情報記録層１２０および第２の情報記録層１３０は、ディスク中心からお互いに実質的に平行に、かつ、実質的に同じ長さで設けられている。
【００６７】
なお、本明細書全体に亘って、発明の理解を容易にするために、光学的情報記録媒体の情報記録層が２層の場合、光学的情報記録媒体の入射側により近い情報記録層を第１の情報記録層とよび、光学的情報記録媒体の入射側からより遠い情報記録層を第２の情報記録層とよぶ。ただし、以下に詳述するように、本発明の光学的情報記録媒体の情報記録層は２層に限定されるものでない。本発明は、複数の情報記録層を有する光学的情報記録媒体にも適用可能である。
【００６８】
再び、図３を参照して、光ディスク１００のフォーマットを説明する。
【００６９】
第１の記録再生領域１２４は、第１の情報記録層１２０において、光ディスク１００の中心から半径ｒ１の位置から外周に亘って設けられる。
【００７０】
第２のテスト記録領域１３６は、第２の情報記録層１３０において、半径ｒ２の位置から長さａの領域を有するように設けられる。
【００７１】
第１の記録再生領域１２４の半径方向における開始点は、第２のテスト記録領域１３６の半径方向における開始点と比べて長さδだけ短い。本明細書において、開始点とは、ある領域のうちの最も半径が短い地点、終了点とは、ある領域のうちの最も半径が長い地点を示す。
【００７２】
ここで、第２の情報記録層１３０のテスト記録を行なうために、第２のテスト記録領域１３６に情報を記録することを想定する。
【００７３】
第２のテスト記録領域１３６に情報を記録するためのレーザ光１７０は、第１の情報記録層１２０を通過する。レーザ光１７０は集束されて入射されるため、レーザ光１７０が通過する第１の情報記録層内の領域（スポット）１７５は、第２のテスト記録領域１３６より広い。本実施の形態では、光ディスク１００は、第１の記録再生領域１２４が、第２のテスト記録領域１３６に情報を記録するためのレーザ光１７０が通過する第１の情報記録層内の領域１７５を含むように構成される。このために、第１の記録再生層１２４の開始点を、第２のテスト記録再生領域の開始点より、上述した長さδだけ短くしている。図３では、第２のテスト記録領域１３６の内周側のみを考慮しているが、この構成においては、第１のテスト記録領域１２６の開始点より外周側は、すべて第１の記録再生領域１２４が配置されているため、第２のテスト記録領域１３６の外周側に入射されるレーザ光１７０を考慮しなくてもよい。
【００７４】
第２のテスト記録領域１３６に集束されるレーザ光１７０が通過する第１の情報記録層１２０内の領域１７５の長さは、第２のテスト記録領域１３６と対応する長さａと、第２のテスト記録領域１３６の対応する領域のそれぞれの端から内周側および外周側への長さδとの和に相当する。すなわち、領域１７５の長さは、長さδ＋ａ＋δで表される。上述したように長さδは、第１の情報記録層１２０においてレーザ光１７０が広がっていることに起因する。第１の記録再生領域１２４が少なくともこの領域１７５を含むように、第１の記録再生領域１２４および第２のテスト記録領域１３６を配置すれば、第２のテスト記録領域１３６を用いてテスト記録を行なう際に、レーザ光１７０は第１の情報記録層１２０のうちの第１の記録再生領域１２４のみを通過する。
【００７５】
第２の情報記録層１３０のテスト記録を行なう際に、第１の情報記録層１２０のうちの第１の記録再生領域１２４のみをレーザ光１７０が通過するように、第１の記録再生領域１２４および第２のテスト記録領域１３６を配置するのは、以下の理由による。
【００７６】
記録再生領域と再生専用領域とは異なる形態で形成されるため、記録再生領域の透過率が、再生専用領域の透過率と異なる場合が発生し得る。このとき、レーザ光が情報記録層の再生専用領域と記録再生領域との両方を通過すると、それぞれの領域を通過して第２の情報記録層に到達する光量に差が生じてしまう。
【００７７】
一般に、記録再生領域のうちの未記録領域の透過率は、再生専用領域の透過率と同等とみなせるが、記録再生領域に情報が記録されている場合、記録再生領域のうちの記録領域の透過率は、再生専用領域の透過率と異なる。その結果、第１の情報記録層の記録再生領域が記録状態である場合に、第１の情報記録層１２０の再生専用領域１２２と記録再生領域１２４とで透過率が異なるためである。
【００７８】
記録再生領域は、記録マーク（アモルファス）の形成される。記録マークが形成されると、記録再生領域の透過率が増大する場合と減少する場合があるが、以下では増大する場合について説明する。このときには、記録再生領域における透過光量は再生専用領域よりも大きくなる。
【００７９】
比較のため、図４に、第１の情報記録層のフォーマットが、第２の情報記録層のフォーマットと同一である光ディスク４００のフォーマット図を示す。
【００８０】
光ディスク４００は、第１の情報記録層４２０と、第２の情報記録層４３０と、第１の情報記録層４２０と第２の情報記録層４３０とを分離する分離層４５０とを備える。
【００８１】
第１の情報記録層４２０は、第１の再生専用領域（ＲＯＭ）４２２と、第１の記録再生領域（ＲＡＭ）４２４とを含む。第１の記録再生領域４２４は、第１のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）４２６と第１のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）４２８とを含む。
【００８２】
第２の情報記録層４３０は、第２の再生専用領域（ＲＯＭ）４３２と、第２の記録再生領域（ＲＡＭ）４３４とを含む。第２の記録再生領域４３４は、第２のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）４３６と第２のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）４３８とを含む。
【００８３】
比較例において、第１の情報記録層４２０のフォーマットは、第２の情報記録層４３０のフォーマットと同一であるため、第１の記録再生領域４２４の開始点ｒ１’は、第２のテスト記録領域４３６の開始点ｒ２’と等しい。
【００８４】
この場合、第２の情報記録層４３０のテスト記録のために第２のテスト記録領域４３６の最内周側（すなわち、図４に示されるように第２のテスト記録領域４３６の左端）にレーザ光４７０が照射されると、レーザ光４７０の第１の情報記録層４２０内のスポットの半分は第１の再生専用領域４２２を透過している。
【００８５】
その結果、第１の情報記録層４２０を通過して第２の情報記録層４３０に到達するレーザ光４７０の光量は第１の再生専用領域４２２および第２の記録再生領域４２４の両方を通過する際に差が生じるため、正確なテスト記録を行なうことができない。例えば、記録再生領域の光の透過率が、再生専用領域の光の透過率よりも大きい場合、再生専用領域を通過するレーザ光の記録パワーをより高くした結果を所望の記録パワーと判断する。
【００８６】
従って、第２のテスト記録領域４３６の最内周（すなわち、図４の第２のテスト記録領域４３６の左端）でパワー学習のためのテスト記録を行うと、適正な記録パワーよりも高い記録パワーをテスト記録結果としてしまうので、実際のデータ情報の記録の際に、過大なパワーで記録することになる。
【００８７】
しかも、第２のテスト記録領域４３６に情報を記録するためのレーザ光４７０全体に対する第１の再生専用領域４２２を透過するレーザ光の割合によって、第２の情報記録層４３０まで到達するレーザ光４７０の光量は変化する。その結果、第２のテスト記録領域４３６のうちの情報を記録する位置によってテスト記録結果が異なってしまう。
【００８８】
これに対し、図３に示す本実施の形態でのフォーマットは、第２のテスト記録領域１３６のいずれの場所でテスト記録を行っても、レーザ光１７０が第１の再生専用領域１２２の影響を受けることはない。従って、テスト記録により正確な記録条件を求めることが可能となる。
【００８９】
以下、図５を用いて、第１の情報記録層１２０でのスポット１７５の広がりについてより詳細に説明する。図５は、第２の情報記録層１３０にレーザ光１７０を集束したときの、第１の情報記録層１２０におけるスポット１７５の長さを説明する図である。ここでは、説明を簡略化するために、第２の情報記録層１３０の集束点１７２に、レーザ光１７０を集束する場合を示している。このとき、集束点１７２にレーザ光が集束される角度θは、
θ＝ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ）
となる。第１の情報記録層１２０と第２の情報記録層１３０との厚さ方向の距離をｄ、対物レンズ１６０の開口率をＮＡ、分離層１５０の屈折率をｎとすると、第１の情報記録層１２０におけるスポット１７５の半径δは、
δ＝ｄ・ｔａｎθ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
と表される。
【００９０】
このことから、図３における第１のテスト記録領域１２６の開始点は、第２のテスト記録領域１３６の開始点よりも、少なくとも上式で示す長さδだけ離れていれば、第１の記録再生領域１２４は、レーザ光１７０による第１の情報記録層１２０内のスポット１７５を含む。従って、テスト記録により正確な記録条件を求めることができる。
【００９１】
以上述べたように、本実施の形態に係る光学的情報記録媒体１００は、第１の記録再生領域１２４が、第２のテスト記録領域１３６に情報を記録するレーザ光１７０が通過する第１の情報記録層１２０内の領域１７５を含むように構成されているので、テスト記録により正確な記録条件を求めることが可能となる。
【００９２】
なお、図３では、第２の再生専用領域１３２と第２のテスト記録領域１３６との間を未使用領域１３３としたが、本発明はこれに限定されない。
【００９３】
例えば、図６に示すように未使用領域１３３を第３のデータ記録領域１３７に置き換えてもよい。このとき、第３のデータ記録領域１３７の長さは少なくとも長さδ設けることができる。図６に示される光ディスク６００は、未使用領域１３３を第３のデータ記録領域１３７に置き換えた点を除いて、図３に示した光ディスク１００のフォーマットと同じである。このフォーマットのように構成することで、図３に示される光ディスク１００と比較してデータ記録領域を増加させることができる。
【００９４】
（実施の形態２）
本実施の形態において、２つの情報記録層の中心がずれて配置される場合を説明する。
【００９５】
実際に多層記録媒体を作製する場合、複数の情報記録層を接着する工程で情報記録層の位置にずれが生じることがある。このように情報記録層間の位置ずれに起因して、テスト記録領域の開始点にずれが生じる場合、実施の形態１で考慮したずれの長さδだけでは不足してしまう。本実施の形態を適用することにより、２つの情報記録層が光ディスクの中心からずれて配置されてしまう場合にも、本発明の効果を得ることができる。
【００９６】
図７は、第１の情報記録層７２０と第２の情報記録層７３０との間にδｍの位置ずれが存在する場合の光ディスク７００のフォーマット図である。
【００９７】
光ディスク７００は、第１の情報記録層７２０と、第２の情報記録層７３０と、第１の情報記録層７２０と第２の情報記録層７３０とを分離する分離層７５０とを備える。
【００９８】
第１の情報記録層７２０は、第１の再生専用領域（ＲＯＭ）７２２と、第１の記録再生領域（ＲＡＭ）７２４とを含む。第１の記録再生領域７２４は、第１のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）７２６と第１のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）７２８とを含む。図７において、第１の情報記録層７２０は、内周から、第１の再生専用領域７２２、第１のテスト記録領域７２６、第１のデータ記録領域７２８の順に配置されている。
【００９９】
第２の情報記録層７３０は、第２の再生専用領域（ＲＯＭ）７３２と、第２の記録再生領域（ＲＡＭ）７３４とを含む。第２の情報記録層７３０は、未使用領域７３３を含んでもよい。第２の記録再生領域７３４は、第２のテスト記録領域（ＴＥＳＴ）７３６と第２のデータ記録領域（ＤＡＴＡ）７３８とを含む。図７において、第１の情報記録層７３０は、内周から、第２の再生専用領域７３２、未使用領域７３３、第２のテスト記録領域７３６、第２のデータ記録領域７３８の順に配置されている。
【０１００】
この図において、第１の情報記録層７２０および第２の情報記録層７３０のディスク中心を基準に定義した場合の第１の記録再生領域７２４、第２のテスト記録領域７３６の開始点のずれδ’は、
δ’＝ｒ２−ｒ１＝δ＋δｍ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍと表される。これは、第１の実施の形態で示したような第１の情報記録層７２０におけるスポット７２５の長さδに、第１の情報記録層７２０および第２の情報記録層７３０との位置ずれの長さδｍを加えた値を表している。
【０１０１】
従って、第１の記録再生領域７２４の開始点は、第２のテスト記録領域７３６の開始点よりも、少なくとも上式で示す長さδ’だけ離れていれば、第１の情報記録層７２０と第２の情報記録層７３０との間に長さδｍの位置ずれが生じていても、第１の記録再生領域７２４は、第１の情報記録層７２０におけるレーザ光７７０のスポット７７５を含む。
【０１０２】
すなわち第１の情報記録層７２０および第２の情報記録層７３０のディスク中心を基準に定義して考えると、第１の記録再生領域７２４が、領域７７５を含むことが必要である。ここで、領域７７５は、第２のテスト記録領域７３６に情報を記録するためのレーザ光７７０が通過する第１の情報記録層７２０内の領域である。領域７７５の長さは、第２のテスト記録領域７３６に対応する長さａと、第２のテスト記録領域７３６の端のそれぞれからの長さδ’との和が必要である（すなわち、第１の情報記録層７２０における長さδ’＋ａ＋δ’）。第１の記録再生領域７２４が領域７７５を含むように、第１の記録再生領域７２４と第２のテスト記録領域７３６を配置すれば、テスト記録により正確な記録条件を求めることができる。
【０１０３】
（実施の形態３）
本実施の形態において、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層内の領域が記録状態領域である具体例を説明する。
【０１０４】
図８は、本実施の形態における光ディスク８００のフォーマット図である。
【０１０５】
光ディスク８００は、第１の情報記録層８２０と、第２の情報記録層８３０と、第１の情報記録層８２０と第２の情報記録層８３０とを分離する分離層８５０とを備える。
【０１０６】
第１の情報記録層８２０は、第１の再生専用領域８２２と、第１の記録再生領域８２４とを含む。第１の記録再生領域８２４は、第１のテスト記録領域８２６と第１のデータ記録領域８２８とを含む。図８において、第１の情報記録層８２０は、内周から、第１の再生専用領域８２２、第１のテスト記録領域８２６、第１のデータ記録領域８２８の順に配置されている。
【０１０７】
第２の情報記録層８３０は、第２の再生専用領域８３２と、第２の記録再生領域８３４とを含む。第２の記録再生領域８３４は、第２のテスト記録領域８３６と第２のデータ記録領域８３８とを含む。第２の再生専用領域８３２と第２のテスト記録領域８３６との間の領域８３３は、例えば、使用しない未使用領域としてもよい。図８において、第２の情報記録層８３０は、内周から、第２の再生専用領域８３２、未使用領域８３３、第２のテスト記録領域８３６、第２のデータ記録領域８３８の順に配置されている。
【０１０８】
また、光ディスク８００では、第１の記録再生領域８２４は、第２のテスト記録領域８３６に情報を記録するためのレーザ光８７０が通過する第１の情報記録層８２０内の記録状態領域８７５を含む。記録状態領域８７５は、領域内のすべてが記録状態である。記録状態領域８７５の長さは、第２のテスト記録領域８３６に対応する長さａと、第２のテスト記録領域８３６の端のそれぞれの位置から長さδとの和（すなわち、第１の情報記録層８２０における長さδ＋ａ＋δの領域）である。
【０１０９】
記録状態領域８７５は、例えば、第２のテスト記録領域８３６を使用する前に、第１の記録再生領域８２４のうちの領域８７５全体に予め情報を記録することによって、形成される。
【０１１０】
これにより、レーザ光８７０を第２のテスト記録領域８３６のどの部分に集束させても、第１の記録再生領域８２４のうちのレーザ光８７０が通過する部分（すなわち、領域８７５）の透過率を等しくすることができる。第１の記録再生領域８２４に情報が記録されているか否かによって光の透過率が異なるが、領域８７５は全て記録状態であるからである。従って、図８に示される記録状態領域８７５に何らかの情報を記録しておけば、第２のテスト記録領域８３６でテスト記録を行う際に到達するレーザ光８７０の光量が等しくなる。その結果、正しい記録条件を求めることが可能となる。
【０１１１】
本実施の形態において、第１の情報記録層８２０と第２の情報記録層８３０と間に位置ずれが生じる場合には、実施の形態２で説明したのと同様に、記録状態領域８７５の長さδ’＋ａ＋δ’にあらかじめ情報を記録してもよい。
【０１１２】
また、記録する情報は、データ情報に基づいてデータ情報を変調して得られた情報であっても、ダミーデータ情報を変調して得られた情報であってもよい。
【０１１３】
また、記録状態領域８７５への記録は、光ディスク製造後のサーティファイ時に行えば、記録装置でこの記録工程を行う必要性がなくなるため、新しい光ディスクを記録装置に導入する際に起動時間が短縮できる点でより好ましい。
【０１１４】
次に、本実施の形態に係る光学的情報記録媒体に記録を行なう光学的記録装置を説明する。
【０１１５】
図９は、本実施の形態に係る光学的情報記録媒体を作成するための光学的情報記録装置９００である。以下、図９を用いてこの光学的情報記録装置９００の動作を説明する。
【０１１６】
光学的情報記録装置９００は光ディスク８００を回転させるスピンドルモーター９０７と、レーザ光源（図示せず）を備えて光ディスク８００の所望の情報記録層の所望の箇所にレーザ光を集束させる光ヘッド９０３とを備えている。この光学的情報記録装置９００全体の動作は、システム制御部９０１によって制御される。この時点で、光ディスク８００の記録状態領域８７５は、完全に記録された状態であることを意図しない。
【０１１７】
光学的情報記録装置９００は、さらに、データ情報を変調して得られた情報に応じて、光ヘッド９０３内のレーザ光源の光強度を変調する記録部９０２と、光ディスク８００からの反射光に基づく再生信号の波形処理を行い再生情報を復調するための再生部９０４を備えている。また、第１の情報記録層８２０で、第２のテスト記録領域８３６への記録時にレーザ光８７０の光路となり得る領域か否か（すなわち、第２のテスト領域８３６に情報を記録するためのレーザ光が通過する領域８７５であるか否か）を判別する干渉領域判別部９０５と、その第２のテスト領域８３６に情報を記録するためのレーザ光が通過する領域８７５を再生して、再生結果に基づいて領域８７５が記録状態か未記録状態かを判別する記録状態判別部９０６とを含む。
【０１１８】
以下、図８と図９を用いて、本実施の形態による光学的情報記録装置９００の動作について説明する。まず、システム制御回路９０１がスピンドルモーター９０７を回転させ、光ヘッド９０３が光ディスク８００上の第１の情報記録層８２０上にレーザ光８７０を集束して、第１の情報記録層８２０を再生する。再生部９０４からのアドレス再生情報に基づいて、干渉領域判別部９０５は、再生している領域が領域８７５であるか否かを判断する。この判断結果に基づき、システム制御部９０１は領域８７５内のある領域まで光ヘッド９０３をシークし、領域８７５内のある領域を再生する。
【０１１９】
そして再生部９０４からの再生情報に基づき、領域８７５内のある領域で再生しているトラックが記録状態か未記録状態かを記録状態判別部９０６で判断する。この判断結果に基づき、未記録状態の場合には領域８７５内のある領域のトラックに何らかの情報を記録し、領域８７５のある領域を記録状態にする。あるいは、記録状態判別部９０６の判断結果に基づき、既に記録状態の場合には、領域８７５内の再生したある領域が既に記録状態であることを確認する。これらの動作を領域８７５全体にわたって行う。
【０１２０】
このようにすれば、領域８７５は全て記録状態となり、したがって、記録状態領域として機能する。レーザ光８７０を第２のテスト記録領域８３６のどの部分に集束させたときでも、第２のテスト記録領域８３６に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層内の領域８７５の光の透過率を等しくすることができる。従って、第２の情報記録層のテスト記録領域８３６中のどの部分でテスト記録を行うときでも到達するレーザ光の光量が等しくなり、正しい記録条件を求めることが可能となる。
【０１２１】
（実施の形態４）
実施の形態３では、第２のテスト記録領域８３６に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層内の領域８７５を記録状態領域にする動作を説明した。それに対し、本実施の形態では、第２のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層内の領域をすべて未記録状態にする具体例を説明する。
【０１２２】
図１０は、本発明による実施の形態４に係る光ディスク１０００のフォーマット図である。
【０１２３】
光ディスク１０００は、第１の情報記録層１０２０と、第２の情報記録層１０３０と、第１の情報記録層１０２０と第２の情報記録層１０３０とを分離する分離層１０５０とを備える。
【０１２４】
第１の情報記録層１０２０は、第１の再生専用領域１０２２と、第１の記録再生領域１０２４とを含む。第１の記録再生領域１０２４は、第１のテスト記録領域１０２６と第１のデータ記録領域１０２８とを含む。図１０において、第１の情報記録層１０２０は、内周から、第１の再生専用領域１０２２、第１のテスト記録領域１０２６、第１のデータ記録領域１０２８の順に配置されている。
【０１２５】
第２の情報記録層１０３０は、第２の再生専用領域１０３２と、第２の記録再生領域１０３４とを含む。第２の記録再生領域１０３４は、第２のテスト記録領域１０３６と第２のデータ記録領域１０３８とを含む。第２の再生専用領域１０３２と第２のテスト記録領域１０３６との間の領域１０３３は、例えば、使用しない未使用領域としてもよい。図１０において、第２の情報記録層１０３０は、内周から、第２の再生専用領域１０３２、未使用領域１０３３、第２のテスト記録領域１０３６、第２のデータ記録領域１０３８の順に配置されている。
【０１２６】
また、光ディスク１０００では、第１の記録再生領域１０２４は、第２のテスト記録領域１０３６に情報を記録するためのレーザ光１０７０が通過する第１の情報記録層１０２０内の未記録領域１０７５を含む。未記録領域１０７５は、領域全体が未記録な領域である。未記録領域１０７５の長さは、第２のテスト記録領域１０３６に対応する長さａと、第２のテスト記録領域１０３６の端のそれぞれの位置からの長さδとの和（すなわち、第１の情報記録層１０２０における長さδ＋ａ＋δの領域）である。
【０１２７】
図１０に示すように第１の記録再生領域１０２４については、第２のテスト記録領域１０３６に対応する領域と、第２のテスト記録領域１０３６の端のそれぞれの位置からδ離れた位置までの範囲（すなわち、第１の情報記録層１０２０におけるδ＋ａ＋δの範囲）は、テスト記録時には未記録としておく。
【０１２８】
また、テスト記録結果をもとに最適な記録条件を算出するための情報を、第１の情報記録層１０２０および第２の情報記録層１０３０のうちの任意の領域に記録してもよい。この場合、最適な記録条件を算出するための情報は、例えば、未記録状態と記録状態での透過光量の差から、未記録状態での記録条件に一定の係数を乗じるための情報である。本実施の形態においては、第２のテスト記録領域１０３６に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層１０２０内の領域はすべて未記録状態である。したがって、この条件で求めた記録条件は、情報が記録された第１の情報記録層１０２０を通過したレーザ光によって第２のデータ記録領域１０３８において記録を行なう際に最適でない可能性がある。
【０１２９】
以下に、未記録状態と記録状態での透過光量の差から、未記録状態での記録条件に一定の係数を乗じる具体例を説明する。
【０１３０】
未記録状態での透過光量に対して記録状態での透過光量がｓ倍になる光ディスクの場合、未記録状態でテスト記録して求めた最適記録パワーがＰｍであったとすると、記録状態での最適記録パワーＰｋは以下のように算出することができる。
【０１３１】
Ｐｋ＝Ｐｍ／ｓ
ここで、ｓを透過率補正係数と定義する。このような算出をすれば、あらかじめ第１の情報記録層１０２０の特定の領域を記録しなくても、第１の情報記録層１０２０を通過する領域が記録状態の場合の最適な記録パワーを推定することができる。そのため、実施の形態３を用いる場合に、第１の情報記録層８２０の記録状態領域８７５を作成するのに時間がかかる場合には、実施の形態３のように最適な記録条件を直接的に求めるのではなく、本実施の形態のように最適な記録条件を算出してもよい。
【０１３２】
なお、本実施の形態で第１の情報記録層１０２０と第２の情報記録層１０３０との位置にずれが生じる可能性がある場合には、実施の形態２で説明したのと同様に、長さδ’＋ａ＋δ’の未記録領域１０７５を、テスト記録時に未記録としておくことが好ましい。
【０１３３】
また本実施の形態では、最適記録パワーを決定するための透過率補正係数ｓを光ディスク１０００の特定の領域（例えば、第１の再生専用領域１０２２または第２の再生専用領域１０３２）に記録しておくことがより好ましい。この場合、光ディスク毎に透過率補正係数ｓが異なる場合でも、光ディスクを光ディスク記録装置に投入すれば、光ディスク記録装置はこの係数を即座に知ることができるので、光ディスク記録装置が、実際に情報を記録するまでの時間を短縮することができる。
【０１３４】
また、本実施の形態において、テスト記録時の未記録領域は、常に情報を記録しない記録禁止領域でもよい。あるいは、トラッキングサーボのためのガイド溝を形成しないミラー領域でもよい。
【０１３５】
（実施の形態５）
上記実施の形態１〜４において、第１の情報記録層において記録再生領域がレーザ光のスポットを含む形態を説明してきたが、本発明はこれに限定されない。本実施の形態は、第１の情報記録層の再生専用領域がレーザ光のスポットを含む形態を説明する。
【０１３６】
図１１は、本発明による実施の形態５に係る光ディスク１１００のフォーマット図である。
【０１３７】
光ディスク１１００は、第１の情報記録層１１２０と、第２の情報記録層１１３０と、第１の情報記録層１１２０と第２の情報記録層１１３０とを分離する分離層１１５０とを備える。
【０１３８】
第１の情報記録層１１２０は、第１の再生専用領域１１２２と、第１の記録再生領域１１２４とを含む。第１の記録再生領域１１２４は、第１のテスト記録領域１１２６と、第１のデータ記録領域１１２８とを含む。図１１において、第１の情報記録層１１２０は、内周から、第１の再生専用領域１１２２、第１のテスト記録領域１１２６、第１のデータ記録領域１１２８の順に配置されている。
【０１３９】
第２の情報記録層１１３０は、第２の再生専用領域１１３２と、第３の再生専用領域１１３３と、第２の記録再生領域１１３４とを含む。第２の記録再生領域１１３４は、第２のテスト記録領域１１３６と、第２のデータ記録領域１１３８とを含む。図１１において、第１の情報記録層１１３０は、内周から、第２の再生専用領域１１３２、第２のテスト記録領域１１３６、第３の再生専用領域１１３３、第２のデータ記録領域１１３８の順に配置されている。
【０１４０】
図１１に示すように、第１の再生専用領域１１２２は、第２のテスト記録領域１１３６に情報を記録するためのレーザ光１１７０が通過する第１の情報記録層１１２０の領域（スポット）１１７５を含むように構成される。領域１１７５の長さは、第２のテスト記録領域１１３６に対応する長さａと、第２のテスト記録領域１１３６の端のそれぞれ位置からの長さδとの和（すなわち、第１の情報記録層１１２０におけるδ＋ａ＋δの範囲）である。これにより、第２のテスト記録領域１１３６のいずれの位置でテスト記録を行っても、第２のテスト記録領域１１３６に情報を記録するためのレーザ光は、第１の再生専用領域１１２２を通過したレーザ光である。その結果、テスト記録を行う位置によって、求めた記録条件がばらつくことはなくなる。
【０１４１】
さらに、本実施の形態では、実施の形態４で説明したのと同様に、テスト記録結果をもとに最適な記録条件を算出することがより好ましい。これにより、記録マーク列が形成されて記録状態となっている第１の記録再生領域１１２４を通過して記録する場合の最適な記録条件を推定できる。
【０１４２】
なお、本実施の形態で第１の情報記録層１１２０と第２の情報記録層１１３０との間に位置ずれが生じる可能性がある場合、実施の形態２で上述したのと同様に、第１の再生専用領域１１２２が、第１の情報記録層１１２０における領域１１７５の長さδ’＋ａ＋δ’を含むように配置する。
【０１４３】
（実施の形態６）
上記実施の形態１〜５では、第２の情報記録層のテスト記録を行なうために第２の情報記録層内のテスト記録領域に情報を記録する具体例を説明した。しかし、上記実施の形態１〜５によって説明したようなテスト記録時だけでなく、第２の情報記録層の記録再生領域にデータを記録する場合でも、記録時にレーザ光が第１の情報記録層の再生専用領域と記録再生領域の両方を透過すると、第２の情報記録層の記録再生領域に到達するレーザ光の光量が変化するために正確な記録ができず、記録した信号を再生する際の信号品質が低下する可能性がある。
【０１４４】
本実施の形態では、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録する場合の具体例を説明する。
【０１４５】
図１２は、本発明による実施の形態６に係る光ディスク１２００のフォーマット図である。
【０１４６】
光ディスク１２００は、第１の情報記録層１２２０と、第２の情報記録層１２３０と、第１の情報記録層１２２０と第２の情報記録層１２３０とを分離する分離層１２５０とを備える。
【０１４７】
第１の情報記録層１２２０は、第１の再生専用領域１２２２と、第１の記録再生領域１２２４とを含む。図１２において、第１の情報記録層１２２０は、内周から、第１の再生専用領域１２２２、第１の記録再生領域１２２４の順に配置されている。
【０１４８】
第２の情報記録層１２３０は、第２の再生専用領域１２３２と、第２の記録再生領域１２３４とを含む。図１２において、第２の情報記録層１２３０は、内周から、第２の再生専用領域１２３２、第２の記録再生領域１２３４の順に配置されている。
【０１４９】
図１２に示すように第１の再生専用領域１２２２の面積を第２の情報記録層の再生専用領域１２３２の面積よりも小さくすることが好ましい。
【０１５０】
図１２では、第１の記録再生領域１２２４の開始点が、第２の記録再生領域１２３４の開始点より長さδだけ短いように配置される。このように構成されることにより、第２の記録再生領域１２３４のいずれの部分に情報を記録しても、第１の記録再生層１２２４は、第２の記録再生領域１２３４に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層１２２０の領域１２７５を含むので、第２の記録再生領域１２３４は、第１の記録再生領域１２２４の影響のみを受けて、第１の再生専用領域１２２２の影響を受けることはない。したがって、第２の記録再生領域１２３４に正確に情報を記録することができる。
【０１５１】
図１２の実施の形態で第１の情報記録層１２２０および第２の情報記録層１２３０の位置にずれが生じる可能性がある場合には、実施の形態２と同様に、第１の記録再生領域１２２４の開始点と第２の記録再生領域１２３４の開始点とをδ’だけずらした構成とするのが好ましい。
【０１５２】
なお、図１２において第１の再生専用領域１２２２の面積をゼロとしてもよい。これにより、第１の情報記録層１２２０の製造時に第１の再生専用領域１２２２の位相ピットを形成する必要がないので、ディスク基板の製造工程を簡略化することができる。
【０１５３】
（実施の形態７）
なお、上記実施の形態１〜６で用いられる情報記録層の数は２であったが、本発明はこれに限定されない。本発明による情報記録層の数は３層以上あってもよい。
【０１５４】
図１３は、本発明による実施の形態７に係る光ディスク１３００のフォーマット図である。
【０１５５】
光ディスク１３００は実施の形態１を拡張した別の形態の媒体である。この形態は情報記録層をＮ層設けたものであり、Ｎ層の中から３つの情報記録層ｉ、ｊ、ｋを対象として、テスト記録で正確な記録条件を求めることができるように記録再生領域を配置した場合を示している。
【０１５６】
本実施の形態では、第１の情報記録層１３１０はレーザ入射側から見てｉ番目の層であり、第２の情報記録層１３２０はｊ番目、第３の情報記録層１３３０はｋ番目である。第１の情報記録層１３１０と第２の情報記録層１３２０との間の距離をｄｉｊ、第２の情報記録層１３２０と第３の情報記録層１３３０との間の距離をｄｊｋ、第１の情報記録層１３１０と第３の情報記録層１３３０との間の距離をｄｉｋとする。
【０１５７】
第１の情報記録層１３１０は、第１の再生専用領域１３１２と、第１の記録再生領域１３１４とを含む。第１の記録再生領域１３１４は、第１のテスト記録領域１３１６と、第１のデータ記録領域１３１８とを含む。
【０１５８】
第２の情報記録層１３２０は、第２の再生専用領域１３２２と、第２の記録再生領域１３２４とを含む。第２の記録再生領域１３２４は、第２のテスト記録領域１３２６と、第２のデータ記録領域１３２８とを含む。
【０１５９】
第３の情報記録層１３３０は、第３の再生専用領域１３３２と、第３の記録再生領域１３３４とを含む。第３の記録再生領域１３３４は、第３のテスト記録領域１３３６と、第３のデータ記録領域１３３８とを含む。
【０１６０】
この場合、第１の記録再生領域１３１２の開始点は、第２のテスト記録領域１３２６の開始点から少なくともδｉｊ離れて配置し、かつ、第３のテスト記録領域１３３６の開始点から少なくともδｉｋ離れて配置する。さらに、第２の記録再生層１３２４の開始点は、第３のテスト記録領域１３３６の開始点から少なくともδｊｋ離れて配置する。ここで、
δｉｊ＝ｄｉｊ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
δｉｋ＝ｄｉｋ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
δｊｋ＝ｄｊｋ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））
で表される。ここで、ＮＡは、レーザ光１３７０を集束させる対物レンズの開口率であり、ｎは、第１の情報記録層１３１０と、第２の情報記録層１３２０と、第３の情報記録層１３３０との間の分離層の屈折率である。
【０１６１】
このように構成すれば、第２のテスト記録領域１３２６に情報を記録ためのレーザ光１３７０は、第１の情報記録層１３１０では第１の記録再生領域１３１４のみを通過する。また、第３のテスト記録領域１３３６に情報を記録するためのレーザ光１３７０は、第１の情報記録層１３１０では第１の記録再生領域１３１４のみ通過し、第２の情報記録層１３２０では第２の記録再生領域１３２４のみを通過する。
【０１６２】
本実施の形態のように、対象とする情報記録層が、例えば、第１の情報記録層１３１０と第２の情報記録層１３２０との間、あるいは、任意の場所に存在する場合であっても、第２の情報記録層１３２０が第１の情報記録層１３１０よりも入射面に対してより遠くに位置し、第２のテスト記録領域１３２６に情報を記録するレーザ光１３７０が通過する第１の情報記録層１３１０内の領域が、全て記録再生領域であれば、実施の形態１と同様の効果が得られる。
【０１６３】
（実施の形態８）
図１４は、本発明による実施の形態８に係る光ディスク１４００のフォーマットを説明するための断面図である。
【０１６４】
光ディスク１４００は、第１の情報記録層１４２０と、第２の情報記録層１４３０と、第１の情報記録層１４２０と第２の情報記録層１４３０とを分離する分離層１４５０とを備える。
【０１６５】
第１の情報記録層１４２０は、第１の再生専用領域１４２２と、第１の記録再生領域１４２４と、第２の再生専用領域１４２９とを含む。第１の記録再生領域１４２４は、第１のテスト記録領域１４２６と、第１のデータ記録領域１４２８とを含む。図１４において、第１の情報記録層１４２０は、内周から、第１のテスト記録領域１４２６、第１の再生専用領域１４２２、第１のデータ記録領域１４２８、第２の再生専用領域１４２９の順に配置されている。また、第１の情報記録層１４２０は、第１のリードイン領域１４２５と、第１のリードアウト領域１４２７とを含む。第１のリードイン領域１４２５は、第１のテスト記録領域１４２６と、第１の再生専用領域１４２２とを含む。第１のリードアウト領域１４２７は、第２の再生専用領域１４２９を含む。
【０１６６】
第２の情報記録層１４３０は、第３の再生専用領域１４３２と、第２の記録再生領域１４３４と、第４の再生専用領域１４３３と、第５の再生専用領域１４３９とを含む。第２の記録再生領域１４３４は、第２のテスト記録領域１４３６と、第２のデータ記録領域１４３８とを含む。図１４において、第２の情報記録層１４３０は、内周から、第３の再生専用領域１４３２、第２のテスト記録領域１４３６、第４の再生専用領域１４３３、第２のデータ記録領域１４３８、第５の再生専用領域１４３９の順に配置されている。また、第２の情報記録層１４３０は、第２のリードイン領域１４３５と、第２のリードアウト領域１４３７とを含む。第２のリードイン領域１４３５は、第３の再生専用領域１４３２、第２のテスト記録領域１４３６と、第４の再生専用領域１４３３とを含む。第２のリードアウト領域１４３７は、第５の再生専用領域１４３９を含む。
【０１６７】
本実施の形態において、光ディスク１４００の管理を容易にすることを優先する場合、光ディスク１４００に示すように第１のデータ記録領域１４２８と第２のデータ記録領域１４３８の大きさを等しくしたフォーマットにすることが好ましい。光ディスク１４００では、第１のデータ記録領域１４２８および第２のデータ記録領域１４３８の内周側に第１のリードイン領域１４２５および第２のリードイン領域１４３５、外周側に第１のリードアウト領域１４２７および第２のリードアウト領域１４３９とをそれぞれ設ける。また、第１のリードイン領域１４２５の内部に第１のテスト記録領域１４２６を設け、第２のリードイン領域１４３５の内部に第２のテスト記録領域１４３６を設ける。
【０１６８】
ここで、第１のテスト記録領域１４２６と第２のテスト記録領域１４３６の位置を長さδ以上ずらし、第１の再生専用領域１４２２は、第２のテスト記録領域１４３６に情報を記録するためのレーザ光１４７０が通過する第１の情報記録層１４１０内の不均一光防止領域１４７５を含む。領域１４７５の長さは、長さδ＋ａ＋δで表される。不均一光防止領域１４７５は、その内部に入射するレーザ光１４７０を不均一な形状で透過することを防ぐ領域である。
【０１６９】
不均一光防止領域１４７５は、例えば、再生専用領域である。
【０１７０】
あるいは、不均一光防止領域１４７５は、記録禁止領域またはミラー領域であってもよい。これにより、第２のテスト記録領域１４３６のいずれの位置でテスト記録を行っても、求めた記録条件がばらつくことがなくなる。さらに、このように形成することで、第１リードイン領域１４２５および第２のリードイン領域１４３５、第１のデータ記録領域１４２８および第２のデータ記録領域１４３８、第１のリードアウト領域１４２７および第２のリードアウト領域１４３７のそれぞれの開始点・終了点・容量を、第１の情報記録層１４２０と第２の情報記録層１４３０とで等しくすることができるので、光ディスク１４００の欠陥管理および記録情報の管理が行ないやすいという利点を有する。なお、第１のテスト記録領域１４２６、第２のテスト記録領域１４３６は、第１のリードアウト領域１４２７、第２のリードアウト領域１４３７に設けても同様の効果が得られる。
【０１７１】
さらに、上記の実施の形態で用いられる各領域の配置、ディスクの形状は上述した形態に限定されるものではなく、媒体自身や記録再生装置に応じた適切な形態とすることが可能であることは言うまでもない。
【０１７２】
（産業上の利用可能性）
以上に述べたように、本発明の光学的情報記録媒体によれば、第２の情報記録層でのテスト記録時に、第１の情報記録層の内のレーザ光が通過する領域の全て記録状態または全て未記録状態のいずれか一方とするので、テスト記録により正確な記録条件を求めることが可能となる。
【０１７３】
また、本発明の光学的情報記録媒体によれば、第２の情報記録層でのテスト記録時に、第１の情報記録層の内のレーザ光が通過する領域を全て再生専用領域または全て記録再生領域とするので、テスト記録により正確な記録条件を求めることが可能となる。
【０１７４】
また、本発明の光学的情報記録媒体によれば、第１の情報記録層の再生専用領域の面積を第２の情報記録層の再生専用領域の面積よりも小さくすることにより、第２の情報記録層の記録再生領域のいずれの部分にも正確に情報を記録することができる。
【０１７５】
本発明の光学的情報記録媒体によれば、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録する際に、第１の情報記録層の内のレーザ光が通過する領域を全て再生専用領域または全て記録再生領域とするので、記録再生領域に情報を正確に記録することが可能となる。
【０１７６】
また、本発明の光学的情報記録方法によれば、第２の情報記録層のテスト記録時に、第１の情報記録層の記録再生領域の内のレーザ光が通過する領域に、予め情報を記録しておくので、テスト記録により正確な記録条件を求めることが可能となる。
【０１７７】
また、本発明の記録再生方法によれば、第２の情報記録層のテスト記録時に、第１の情報記録層の記録再生領域のうちの、レーザ光が通過する領域が未記録状態の時には、テスト記録結果に基づいて、最適な記録条件を算出することにより、正確な記録条件を求めることが可能となる。
【０１７８】
本発明による媒体は、再生専用領域または記録再生領域の一方が、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する第１の情報記録層内の領域を含む。第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光は、再生専用領域または記録再生領域のいずれか一方を通過した光である。したがって、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光は、第１の情報記録層の再生専用領域と記録再生領域との両方を通過する場合に生じる通過光量の変化の影響を受けない。その結果、第２の情報記録層のテスト記録領域を用いて正確な記録条件を求めることができる。
【０１７９】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδは、δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向の距離をｄ、分離層の屈折率をｎ、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率をＮＡとして表すことができる。
【０１８０】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ、ここで、δｍは情報記録層の最大の位置ずれ量で表すことができる。
【０１８１】
したがって、情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合でも、第２の情報記録層でのテスト記録時に、第１の情報記録層による光量変化の影響を受けることなく、第２の情報記録層において正確な記録条件を求めることができる。
【０１８２】
また、第２の情報記録層で、少なくともテスト記録領域の端の位置からδ（各情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合にはδ’）離れた位置までの領域をデータ記録領域とすることが、データ記録領域を増加させることができる点でより好ましい。
【０１８３】
本発明による媒体は、全て記録状態または全て未記録状態の所定の領域が、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する第１の情報記録層内の領域を含む。第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が通過する第１の情報記録層の記録状態は、記録状態または全て未記録状態のいずれかである。したがって、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光は、記録状態の領域と未記録状態の領域が両方を通過する存在することよって生じる通過光量の変化の影響を受けない。その結果、第２の情報記録層のテスト記録領域を使用して正確な記録条件を求めることができる。
【０１８４】
全て未記録状態の所定の領域は、例えば、記録禁止領域、ミラー領域、リードイン領域である。
【０１８５】
また、本発明に係る第２の光学的情報記録媒体については、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδは、δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））であり、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向距離をｄ、光学的情報記録媒体の分離層の屈折率をｎ、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率をＮＡと表すことができる。
【０１８６】
本発明に係る第２の光学的情報記録媒体については、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ、ここで、情報記録層の最大の位置ずれ量をδｍとして表すことができる。
【０１８７】
この媒体により、各情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合でも、第２の情報記録層でのテスト記録時に、第１の情報記録層による光量変化の影響を受けることなく、第２の情報記録層のテスト記録領域を用いて正確な記録条件を求めることができる。
【０１８８】
本発明に係る第２の光学的情報記録媒体については、第２の情報記録層で、少なくともテスト記録領域の端の位置からδ（各情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合にはδ’）離れた位置までの領域をデータ記録領域とすることが、データ記録領域を増加させることができる点でより好ましい。
【０１８９】
テスト記録領域における最適な記録条件を算出するための情報が、複数の情報記録層のうちのいずれかの特定の領域に記録されている。したがって、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域の透過率が、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域の透過率と異なっても、一方の記録条件さえ求めることができれば、他方の正確な記録条件を算出することができる。その結果、この光学的情報記録媒体を起動させる記録再生装置は、未記録状態の時と記録状態の時の透過光量の相違から決定される計算方法を即座に知ることができる。よって、記録再生装置に光学的情報記録媒体を導入した後速やかに正確な記録条件を求めることができる。
【０１９０】
この媒体により、第１の情報記録層の再生専用領域または記録再生領域の一方が、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する第１の情報記録層内の領域を含む。第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光は、再生専用領域または記録再生領域のいずれか一方を通過した光である。したがって、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光は、第１の情報記録層の再生専用領域と記録再生領域との両方を通過する場合に生じる通過光量の変化の影響を受けない。その結果、第２の情報記録層の記録再生領域に正確な記録を行なうことができる。
【０１９１】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、記録再生領域に対応する領域の端から記録再生領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδは、δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向距離をｄ、光学的情報記録媒体の分離層の屈折率をｎ、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率をＮＡと表すことができる。
【０１９２】
また、第２の情報記録層の記録再生領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、記録再生領域に対応する領域の端から記録再生領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ、ここで、δｍは情報記録層の最大の位置ずれ量として表すことができる。
【０１９３】
また、本発明の光学的情報記録再生媒体は、第１の情報記録層の再生専用領域の面積をゼロとして、第２の情報記録層の記録再生領域への記録の際に、第１の情報記録層の再生専用領域の影響を受ける部分を最小にし、第２の情報記録層に正確に情報を記録することができる。
【０１９４】
この媒体により、第１の情報記録層の製造時に再生専用領域の位相ピットを形成する必要がないので、ディスク基板の製造工程を簡略化することができる。
【０１９５】
対応する情報記録層のリードイン領域またはリードアウト領域は、第１のテスト領域と記録再生領域と第２のテスト領域とを含むので、リードイン領域またはリードアウト領域のいずれかのみで、異なる情報記録層の記録条件を求めることができる。このとき、第１の情報記録層の不均一光防止領域が、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域を含む。
【０１９６】
また、不均一光防止領域は、例えば、再生専用領域である。
【０１９７】
不均一光防止領域は、例えば、再生専用領域と記録禁止領域とミラー領域とからなる群の少なくとも１つからなる領域である。
【０１９８】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向距離をｄ、分離層の屈折率をｎ、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率をＮＡとして表すことができる。
【０１９９】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍ、ここで、δｍは情報記録層の最大の位置ずれ量で表すことができる。
【０２００】
したがって、情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合でも、第２の情報記録層でのテスト記録時に、第１の情報記録層による光量変化の影響を受けることなく、第２の情報記録層において正確な記録条件を求めることができる。
【０２０１】
本発明の方法により、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録する前に、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域に情報が格納される。したがって、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光は、第１の情報記録層に記録状態と未記録状態の領域が両方存在することに起因して光量変化の影響を受けることがなく、その結果、第２の情報記録層のテスト記録領域において正確な記録条件を求めることができる。
【０２０２】
なお、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδは、δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））で表され、ここで、ｄは、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向距離、ｎは、光学的情報記録媒体の分離層の屈折率、ＮＡは、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率である。
【０２０３】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍで表され、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層の最大の位置ずれ量をδｍである。
【０２０４】
この方法により、各情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合でも、第２の情報記録層でのテスト記録において、第１の情報記録層に記録状態と未記録状態の領域が両方存在することによる光量変化の影響を受けることのない、正確な記録条件を求めることができる。
【０２０５】
予め記録する情報は、例えば、ダミーデータを変調することにより得られる情報であってもよい。
【０２０６】
予め情報を記録する際に、サーティファイ工程で記録してもよい。
【０２０７】
本発明の方法により、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域の機能および／またはその状態に基づいて、第２の情報記録層の最適な記録条件を算出することができる。
【０２０８】
なお、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ離れた領域であり、長さδは、δ＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））で表され、ここで、ｄは、第１の情報記録層と第２の情報記録層との厚さ方向距離、ｎは、光学的情報記録媒体の分離層の屈折率、ＮＡは、レーザ光を集束するための対物レンズの開口率である。
【０２０９】
第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域は、テスト記録領域に対応する領域の端からテスト記録領域の外側方向に長さδ’離れた領域であり、長さδ’は、δ’＝ｄ・ｔａｎ（ｓｉｎ−１（ＮＡ／ｎ））＋δｍで表され、ここで、第１の情報記録層と第２の情報記録層の最大の位置ずれ量をδｍである。
【０２１０】
この方法により、各情報記録層の相対的な位置にずれや偏心が無視できない場合でも、第２の情報記録層でのテスト記録において、第１の情報記録層が未記録状態の時と記録状態の時の透過光量の差から正確な記録条件を求めることができる。
【０２１１】
また、最適な記録条件の算出に関する情報を光学的情報記録媒体の特定の領域に記録しておくことがより好ましい。
【０２１２】
これにより、媒体によって算出の方法が異なる場合でも、記録再生装置が算出の方法を即座に知ることができるので、媒体を装置に投入した後から実際に情報を記録するまでの時間を短縮することができる。
【０２１３】
また、本発明による光学的情報記録装置により、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域の中に、未記録状態の領域が存在しても、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録する前に、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が第１の情報記録層を通過する領域に情報を記録するため、第２の情報記録層のテスト記録領域に情報を記録するためのレーザ光が記録状態の領域と未記録状態の領域が両方存在する領域を通過することによって生じる光量の変化の影響を受けることがない。その結果、第２の情報記録層における正確な記録条件を求めることができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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