(57)【要約】【課題】端子の設計が検査対象のコネクタに影響されないコネクタ検査装置を提供する。【解決手段】コネクタ検査装置１００は、第１本体部１０１と端子１０３とコネクタモジュール２００を含む。コネクタモジュール２００は、第２本体部２０１と接触部とコネクタ２５０を含む。コネクタ２５０は、検査対象であるコネクタの相手方コネクタである。コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられている状態で、端子１０３と接触部が互いに接触し、且つ、端子１０３は接触部を経由してコネクタ２５０のコンタクトピンと電気的に接続している。【選択図】図１
2020191170.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタ検査装置であって、
第１本体部と、
前記第１本体部に含まれる１個以上の端子と、
前記第１本体部に取り付けられるモジュールと
を含み、
前記モジュールは、
第２本体部と、
１個以上の接触部と、
前記第２本体部に固定されており、１個以上のコンタクトピンを持ち、且つ、検査対象であるコネクタの相手方である、コネクタと
を含み、
前記モジュールが前記第１本体部に取り付けられている状態で、前記１個以上の端子と前記１個以上の接触部が互いに接触しており、且つ、前記１個以上の端子は前記１個以上の接触部を経由して前記１個以上のコンタクトピンと電気的に接続している
コネクタ検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載のコネクタ検査装置であって、
前記１個以上の接触部は、前記１個以上のコンタクトピンの一部である
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載のコネクタ検査装置であって、
前記１個以上の接触部は、前記１個以上のコンタクトピン以外の有体物であり、
前記１個以上のコンタクトピンは、前記１個以上の接触部と電気的に接続している
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のコネクタ検査装置であって、
前記モジュールが前記第１本体部に取り付けられている状態で、前記１個以上の端子と前記１個以上の接触部は、互いに半田付けされていない
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載のコネクタ検査装置であって、
さらに、前記１個以上の端子と前記１個以上の接触部との接触力を向上させる弾性構造を含む
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれかに記載のコネクタ検査装置であって、
前記第２本体部は平板形状を持ち、
前記相手方コネクタは前記第２本体部の一方の面側に位置しており、
前記１個以上の接触部は前記第２本体部の他方の面側に位置している
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項７】
請求項１から請求項６のいずれかに記載のコネクタ検査装置であって、
前記１個以上の接触部は、２個以上の接触部であり、
前記１個以上のコンタクトピンは、２個以上のコンタクトピンであり、
前記検査対象コネクタと接触することになる前記２個以上のコンタクトピンの部位と、前記２個以上の接触部と、の間の電気的な距離は互いに等しい
ことを特徴とするコネクタ検査装置。
【請求項８】
コネクタモジュールであり、
前記コネクタモジュールを前記コネクタモジュール以外の有体物に固定できる構造を持つ本体部と、
１個以上の接触部と、
前記本体部に固定されており、且つ、１個以上のコンタクトピンを持つ、コネクタと
を含み、
前記１個以上の接触部は前記１個以上のコンタクトピンの一部である、
または、
前記１個以上の接触部は前記１個以上のコンタクトピン以外の有体物であり、前記１個以上のコンタクトピンは前記１個以上の接触部と電気的に接続している
コネクタモジュール。
【請求項９】
請求項８に記載のコネクタモジュールであって、
前記有体物は、前記コネクタモジュールが固定された状態で前記コネクタの相手方であるコネクタを検査するコネクタ検査装置として機能するデバイスである
ことを特徴とするコネクタモジュール。
【請求項１０】
請求項８または請求項９に記載のコネクタモジュールであって、
前記１個以上の接触部は、２個以上の接触部であり、
前記１個以上のコンタクトピンは、２個以上のコンタクトピンであり、
前記２個以上のコンタクトピンの所定部位と、前記２個以上の接触部と、の間の電気的な距離は互いに等しい
ことを特徴とするコネクタモジュール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示はコネクタ検査装置とコネクタモジュールに関する。
【背景技術】
【０００２】
コネクタの検査、例えばコネクタの欠陥または特性の検査、に使用されるコネクタ検査装置が知られている。先行技術として特許文献１，２を例示できる。これらのコネクタ検査装置は、コネクタのコンタクトピンと接触する端子（特許文献１で言及される符号１６と特許文献２で言及される符号１１を参照）を含む。本願明細書の図５は特許文献１の図８Ｂの複写であり、本願明細書の図６は特許文献２の図３の複写である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開WO2018/116568号公報
【特許文献２】日本国特開2004-170182号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
コネクタ検査装置は特定のコネクタのために設計される。例えば、コネクタ検査装置の端子の配置は、検査対象であるコネクタのコンタクトピンの配置を考慮して決定される。したがって、通常、同一のコネクタ検査装置は、異なるコンタクトピンの配置を持つ異なるコネクタに対して共通して使用できない。つまり、検査対象のコネクタの変更に応じて、コネクタ検査装置を新たに設計する必要がある。
【０００５】
さらに、コンタクトピンとの適切な接触を実現する観点から、コネクタ検査装置の端子は、通常、スプリング構造と連結するプランジャである。したがって、検査対象であるコネクタのコンタクトピンの間隔が狭い場合、スプリング構造と連結するプランジャとしての端子を、コンタクトピンの間隔の狭さに応じて適切に設計することは困難である。
【０００６】
このような技術背景に基づいて、端子の設計が検査対象のコネクタに影響されないコネクタ検査装置、および、コネクタモジュールが提供される。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
開示されるコネクタ検査装置は、第１本体部と、第１本体部に含まれる１個以上の端子と、第１本体部に取り付けられるモジュールを含む。モジュールは、第２本体部と、１個以上の接触部と、コネクタを含む。このコネクタは、第２本体部に固定されており、１個以上のコンタクトピンを持ち、且つ、検査対象であるコネクタの相手方コネクタである。モジュールが第１本体部に取り付けられている状態で、１個以上の端子と１個以上の接触部が互いに接触しており、且つ、１個以上の端子は１個以上の接触部を経由して１個以上のコンタクトピンと電気的に接続している。
【０００８】
開示されるコネクタモジュールは、コネクタモジュール以外の有体物に固定できる構造を持つ本体部と、１個以上の接触部と、コネクタを含む。このコネクタは、本体部に固定されており、且つ、１個以上のコンタクトピンを持つ。１個以上の接触部は、１個以上のコンタクトピンの一部である、または、１個以上のコンタクトピン以外の有体物である。接触部がコンタクトピン以外の有体物である場合、１個以上のコンタクトピンは１個以上の接触部と電気的に接続している。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、コネクタ検査装置において、端子を含む第１本体部は、検査対象のコネクタと接触する相手方のコネクタが固定されている第２本体部から独立した部品であるので、端子の設計は検査対象のコネクタに影響されない。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】コネクタモジュールが取り付けられていない状態のコネクタ検査装置を示す図。
【図２】図１に示すコネクタモジュールの背面を示す図。
【図３】コネクタモジュールに固定されているコネクタを示す図。
【図４】コネクタモジュールが取り付けられたコネクタ検査装置を示す図。
【図５】特許文献１の図８Ｂ。
【図６】特許文献２の図３。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
図１〜４を参照して、実施形態のコネクタ検査装置１００の構造およびコネクタ検査装置１００の構成要素になり得るコネクタモジュール２００の構造を説明する。
【００１２】
コネクタ検査装置１００は、第１本体部１０１と、第１本体部１０１が含むＬ個の導電性の端子１０３と、第１本体部１０１に取り付けられ得るコネクタモジュール２００を含む。Ｌは１以上の予め定められた整数である。この実施形態では、Ｌ個のロッド状の端子１０３は、柱状の第１本体部１０１の下面に形成されている凹部１０１ａの底面１０１ｂから突出している。また、この実施形態では、底面１０１ｂから２個の位置決めピン１０５が突出している。
【００１３】
＜第１本体部＞
第１本体部１０１は、コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられた状態で検査対象のコネクタを検査するコネクタ検査装置として機能するデバイスである。念のために述べると、この命題の否定は必ずしも真ではない。つまり、第１本体部１０１は、必ずしも「コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられていない状態ではコネクタ検査装置として機能しないデバイス」ではない。
【００１４】
つまり、第１本体部１０１は、例えば、先行技術のコネクタ検査装置そのものでもよい。この場合、第１本体部１０１が含む端子１０３は、先行技術のコネクタ検査装置が持つ既述の端子に相当する。既述のとおり、当該端子は、先行技術では、検査対象のコネクタのコンタクトピンと接触する部位である。しかし、後述するとおり、第１本体部１０１が含む端子１０３は、検査対象のコネクタ（図示せず）のコンタクトピンと直接に接触しない。この実施形態では、第１本体部１０１が先行技術のコネクタ検査装置そのものであっても、第１本体部１０１が単独で検査対象のコネクタの検査に使用されないことに注意されたい。第１本体部１０１は、先行技術のコネクタ検査装置に限定されず、コネクタモジュール２００の構造を考慮して設計されたデバイスでもよい。
【００１５】
この実施形態では、第１本体部１０１は先行技術のコネクタ検査装置であり、Ｌ個の端子１０３のそれぞれはプランジャである。プランジャが連結されるスプリング構造、および、プランジャとスプリング構造とのコンビネーションを内蔵する先行技術のコネクタ検査装置の構造は良く知られているので、詳しい説明を省略する。第１本体部１０１がコネクタモジュール２００をしっかりと保持できる構造を持つこと以外に、第１本体部１０１の構造に限定は無い。
【００１６】
＜コネクタモジュール＞
コネクタモジュール２００は、第２本体部２０１と、Ｍ個の接触部２０３と、コネクタ２５０を含む。Ｍは１以上の予め定められた整数である。
【００１７】
第２本体部２０１は、コネクタモジュール２００以外の有体物に、つまり、第１本体部１０１に第２本体部２０１を固定できる構造を持つ。この実施形態では、第２本体部２０１は矩形平板状の基板である。第２本体部２０１は２個の貫通孔２０５を持つ。コネクタ２５０は第２本体部２０１の一方の面側に位置している。
【００１８】
コネクタ２５０は、第２本体部２０１に固定されており、且つ、Ｎ個のコンタクトピン２５１を持つ。Ｎは１以上の予め定められた整数である。コネクタ２５０は、検査対象であるコネクタ（図示せず）の相手方コネクタである。この実施形態では、コネクタ２５０はプラグコネクタであり、検査対象であるコネクタはコネクタ２５０と嵌合することのできるレセプタクルコネクタである。
【００１９】
上述のＬ，Ｍ，Ｎについて、Ｍ≦Ｎ、Ｍ≦Ｌが成立する。Ｍは、検査において使用され得る導通経路の総数である。Ｍ≦Ｎの条件は、検査において必ずしも全てのコンタクトピンが使用されない事情に基づく。Ｍ≦Ｌの条件は、Ｍ≦Ｌを満たす先行技術のコネクタ検査装置を第１本体部１０１として使用できることを表わしている。この実施形態では、Ｌ＝４，Ｍ＝４，Ｎ＝１０である。
【００２０】
この実施形態では、Ｍ個の接触部２０３は第２本体部２０１の他方の面側に位置している。Ｍ個の接触部２０３のそれぞれは、１個のコンタクトピン２５１の一部、または、コンタクトピン２５１以外の有体物である。
【００２１】
接触部２０３がコンタクトピン２５１以外の有体物である場合、この有体物は例えば薄い平板状の端子である（図２参照）。この場合、検査で使用され得るＭ個のコンタクトピン２５１はＭ個の接触部２０３と電気的に１対１で接続している。具体例として、Ｍ個のコンタクトピン２５１の端部（ただし、検査対象のコネクタのコンタクトピンと接触する端部の反対側の端部である）は、第２本体部２０１の他方の面に形成された導電線２１１と必要であれば第２本体部２０１に形成されたスルーホール２１３を経由して、第２本体部２０１の他方の面に形成された或いは設置されたＭ個の接触部２０３と接続している。
【００２２】
接触部２０３がコンタクトピン２５１の一部である場合（図示せず）、検査で使用され得るＭ個のコンタクトピン２５１のそれぞれは、残りのＮ−Ｍ個のコンタクトピンよりも長い全長を持つ。これらＭ個のコンタクトピン２５１の端部（ただし、検査対象のコネクタのコンタクトピンと接触する端部の反対側の端部である）が、Ｍ個の接触部２０３である。具体例として、第２本体部２０１の他方の面から突出するＭ個のコンタクトピン２５１は折り曲げられ、Ｍ個のコンタクトピン２５１の端部が第２本体部２０１の他方の面上に位置し、または、他方の面の近くに位置する。
【００２３】
＜コネクタ検査装置＞
コネクタモジュール２００は、この実施形態では、第１本体部１０１の下面に形成されている凹部１０１ａに取り付けられる。この際、２個の位置決めピン１０５が２個の貫通孔２０５に挿入することによって、コネクタモジュール２００の位置決めが実現する。
【００２４】
取付方法に限定は無く、例えば接着剤を用いてコネクタモジュール２００を第１本体部１０１に取り付けてもよい。この場合、第１本体部１０１がコネクタモジュール２００を保持できる構造は接着剤が塗布される凹部１０１ａの底面１０１ｂであり、第２本体部２０１を第１本体部１０１に固定できる構造は接着剤が塗布される第２本体部２０１の他方の面である。また、例えば、ネジを用いてコネクタモジュール２００を第１本体部１０１に取り付けてもよい。この場合、第１本体部１０１がコネクタモジュール２００を保持できる構造は凹部１０１ａの底面１０１ｂに形成されたネジ穴（図示せず）であり、第２本体部２０１を第１本体部１０１に固定できる構造は第２本体部２０１に形成されたネジ穴（図示せず）である。さらに、例えば、係止部と被係止部を用いてコネクタモジュール２００を第１本体部１０１に取り付けてもよい。この場合、第１本体部１０１がコネクタモジュール２００を保持できる構造は凹状の被係止部（図示せず）であり、第２本体部２０１を第１本体部１０１に固定できる構造は爪状の係止部（図示せず）である。
【００２５】
コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられている状態で、Ｍ個の接触部２０３と検査で使用され得るＭ個の端子１０３は互いに１対１で直接に接触している。つまり、コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられている状態で、Ｍ個の接触部２０３とこれらのＭ個の端子１０３は、互いに半田付けされていない。上述のとおり、この実施形態では、コネクタモジュール２００が第１本体部１０１に取り付けられている状態で、検査で使用され得るＭ個の端子１０３はＭ個の接触部２０３を経由してＭ個のコンタクトピン２５１と電気的に１対１で接続している。
【００２６】
この実施形態から明らかなとおり、コネクタ検査装置１００において、端子１０３は検査対象のコネクタと接触しない。さらに、コネクタ検査装置１００において、端子１０３を含む第１本体部１０１は、検査対象のコネクタと接触する相手方のコネクタが固定されている第２本体部２０１から独立した部品である。したがって、端子１０３の設計は検査対象のコネクタに影響されない。つまり、検査対象であるコネクタのコンタクトピンの間隔あるいは配置に応じて端子１０３の設計を変更する必要が無い。さらに、コネクタモジュール２００を第１本体部１０１から取り外しできる構成の場合、ユーザは、検査対象のコネクタの変更に応じて、端子１０３と検査対象のコネクタとの間に介在するコネクタモジュール２００を変更するだけよい。接触部２０３とコンタクトピン２５１との間の電気的導通は、プリント基板技術あるいはコンタクトピン２５１の成形などの既存の技術で達成できるので、コネクタモジュール２００の製造は容易である。
【００２７】
検査対象のコネクタが高周波信号の伝送に用いられる高周波コネクタである場合、この実施形態によると、半田が原因である通過特性の乱れが全く無い。また、検査対象のコネクタが高周波コネクタである場合、好ましくは、検査対象のコネクタと接触することになるＭ個のコンタクトピン２５１の接触部位と、Ｍ個の接触部２０３と、の間の電気的な距離が互いに等しい。接触部２０３が上述のとおり端子である場合、検査対象のコネクタと接触することになるＭ個のコンタクトピン２５１の接触部位とＭ個の接触部２０３との間の配線が等遅延配線あるいは等長配線である。接触部２０３がコンタクトピン２５１の一部である場合、検査対象のコネクタと接触することになるＭ個のコンタクトピン２５１のそれぞれにおけるコンタクトピン２５１の接触部位から接触部２０３までの電気長が互いに等しい。
【００２８】
さらに、コネクタ検査装置１００は、検査で使用され得るＭ個の端子１０３とＭ個の接触部２０３との接触力を向上させる弾性構造を含んでもよい。この実施形態では、弾性構造は、プランジャである端子１０３が連結されるスプリング構造である。接触部２０３がコンタクトピン２５１の一部である場合、弾性構造は、折り曲げられたコンタクトピン２５１自体であってもよい。つまり、この場合、折り曲げられたコンタクトピン２５１が板バネとして機能する。あるいは、接触部２０３が、弾性構造を持つ有体物、例えばプランジャおよびプランジャに連結するスプリング構造を含む器具（当業者によって、ポゴピン、スプリングピン、スプリングプローブなどと呼称される）であってもよい。
【００２９】
コネクタ２５０は、図示される基板対基板コネクタに限定されない。また、コネクタ２５０の形状と用途などに限定は無い。第２本体部２０１の形状にも限定はなく、したがって、第１本体部１０１の形状および検査における端子１０３と検査対象のコネクタとの位置関係などに応じて適宜に第２本体部２０１の形状を決定できる。よって、第２本体部２０１におけるコネクタ２５０の位置と接触部２０３の位置にも限定はない。
【００３０】
特に断りが無い限り、「接続された」という用語とこのあらゆる語形変形は、２又はそれ以上の要素間の直接的又は間接的な接続を意味し、互いに「接続」された２つの要素の間に１又はそれ以上の中間要素が存在することを含むことができる。要素と要素との接続は、物理的接続であっても、電気的接続であっても、或いはこれらの組み合わせであってもよい。
【００３１】
序数詞は、特に断りが無い限り、序数詞の定義にもかかわらず、序数詞で修飾されるまたは序数詞と結合する要素を当該要素の順序または当該要素の量で限定することを意図しない。序数詞の使用は、特段の断りが無い限り、単に、２つ以上の要素を互いに区別する便利な表現方法として使用される。したがって、例えば語句「第１のＸ」と語句「第２のＸ」は、２つのＸを区別するための表現であり、Ｘの総数が２であることを必ずしも意味せず、あるいは、第１のＸが第２のＸに先行しなければならないことを必ずしも意味しない。「第１」という用語について、必ずしも「最初」を意味するとは限らない。
【００３２】
用語「含む」とその語形変化は非排他的表現として使用されている。例えば、「ＸはＡとＢを含む」という文は、ＸがＡとＢ以外の構成要素（例えばＣ）を含むことを否定しない。また、或る文が用語「含む」またはその語形変化が否定辞と結合した語句を含む場合、当該文は用語「含む」またはその語形変化の目的語について言及するだけである。したがって、例えば「ＸはＡとＢを含まない」という文は、ＸがＡとＢ以外の構成要素を含む可能性を認めている。さらに、用語「または」は排他的論理和ではないことが意図される。
【００３３】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更と変形が許される。選択され且つ説明された実施形態は、本発明の原理およびその実際的応用を解説するためのものである。本発明は様々な変更あるいは変形を伴って様々な実施形態として使用され、様々な変更あるいは変形は期待される用途に応じて決定される。そのような変更および変形のすべては、添付の特許請求の範囲によって規定される本発明の範囲に含まれることが意図されており、公平、適法および公正に与えられる広さに従って解釈される場合、同じ保護が与えられることが意図されている。
【符号の説明】
【００３４】
１００      コネクタ検査装置
１０１      第１本体部
１０３      端子
１０５      位置決めピン
２００      コネクタモジュール
２０１      第２本体部
２０３      接触部
２０５      貫通孔
２５０      コネクタ
２５１      コンタクトピン
【図１】
2020191170.tif 000003
【図２】
2020191170.tif 000004
【図３】
2020191170.tif 000005
【図４】
2020191170.tif 000006
【図５】
2020191170.tif 000007
【図６】
2020191170.tif 000008