(57)【要約】【課題】コストや時間を掛けずに、適切に残像を除去する。【解決手段】Ｘ線画像撮像システム１０は、ＦＰＤ１４やプロセッサ装置１５を備える。プロセッサ装置１５は、ＣＰＵ２１，残像除去部３７、補正係数テーブル４３、補間部２７を備える。ＣＰＵ２１は、ＦＰＤ１４で得た撮影画像を取得する。残像除去部３７は、ＦＰＤ１４に残留する前回の撮影時の残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた残像の減衰を算出して、撮影画像から残像を除去する。補正係数テーブル４３は、減衰カーブの変動要因となるパラメータに対応する複数の補正係数が予め格納する。補間部２７は、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する補正係数が補正係数テーブル４３にない場合に、補正係数テーブル４３に格納されている補正係数に基づいて、撮影時点のパラメータに対応する補正係数を補間により算出する。【選択図】図２
2010131223.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像手段で得た撮影画像を取得する画像取得手段と、
前記撮像手段に残留する前回の撮影時の残像を、前記撮影画像から除去する残像除去手段と、
前記残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出手段と、
前記減衰算出手段により参照され、前記減衰カーブの変動要因となるパラメータに対応する複数の補正係数が予め格納された補正係数テーブルと、
今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間手段と、
を備え、
前記減衰率算出手段は、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補間手段により算出された前記補正係数を用いて、前記残像の減衰を算出することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記補正係数テーブルには、第１及び第２の２種類のパラメータが含まれており、前記補間手段は、第１及び第２の２種類のパラメータに基づいて補間することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記補間手段は、前記第１及び第２のパラメータによって補間する場合に、前記第１のパラメータの値を固定し、前記第２のパラメータを変化させたときの複数の補正係数からなるデータ列を求め、前記データ列の中から第２のパラメータの値に対応する補正係数を求める一次元補間を行うことを特徴とする請求項２記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記補間手段は、前記第１及び第２のパラメータによって補間する場合に、前記第１及び第２のパラメータの周辺のパラメータに対応する複数の補正係数から、二次元補間を行うことを特徴とする請求項２記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記補間手段は、補間によって求めた前記補正係数を前記補正係数テーブルに追加登録することを特徴とする請求項１ないし４いずれかに記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記パラメータは、環境条件又は撮影条件のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項１ないし５いずれかに記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記環境条件は、前記撮像素子の温度を含むことを特徴とする請求項６記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記撮影条件は、前記撮像手段の蓄積時間を含むことを特徴とする請求項６又は７記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記補間手段は、今回の撮影時点における撮像手段の温度に対応する補正係数が前記補正係数テーブルにない場合において、前回と今回の撮影時点における前記撮像手段の温度の変動量を予め定められた閾値と比較し、前記変動量が前記閾値よりも大きいときに、補間によって今回の撮像手段の温度に対応する補正係数を求め、前記変動量が前記閾値以下の場合には、前回の補正係数を流用することを特徴とする請求項７または８記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記撮像手段は、放射線を直接電荷に変換する光導電膜を有する直接変換型のフラットパネルディテクタであることを特徴とする請求項１ないし９いずれかに記載の画像処理装置。
【請求項１１】
撮像手段で得た撮影画像から前回の撮影時の残像を除去する画像処理方法であって、
残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブの変動要因となるパラメータに応じた複数の補正係数が予め格納された補正テーブルを参照して、撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間ステップと、
補間ステップで得た前記補正係数を適用した前記減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出ステップと、
算出した減衰に応じた前記残像を前記撮影画像から除去する残像除去ステップと、
を含むことを特徴とする画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮影した画像に残る残像を除去する画像処理装置及び画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療分野では、Ｘ線を利用して、人体（被写体）の内部構造を撮影するＸ線画像撮影システムが広く普及している。Ｘ線は多くの物質に対して高い透過性を示すが、被写体の厚さや材質によって吸収率や散乱率が異なるため、被写体を透過したＸ線は被写体の内部構造を反映して減衰する。これを利用して、旧来のＸ線画像撮影システムは、Ｘ線源と感光剤が塗布されたフィルムを、被写体を挟んで対向配置し、被写体を透過したＸ線をフィルムに記録することで、被写体の内部構造のＸ線画像（以下、単に画像という）を取得する。
【０００３】
また、近年、フィルムの替わりに、輝尽性の蛍光体（いわゆるイメージングプレート）によって潜像を一時的に記録し、これをレーザ光で読み取ることにより、デジタルな画像を取得するＣＲ（コンピューテッドラジオグラフィ）装置が普及している。さらに、ＦＰＤ（フラットパネルディテクタ）を利用して、被写体を透過したＸ線をリアルタイムで電気信号に変換してデジタルな画像を取得するものが普及しつつある。
【０００４】
ＦＰＤは、大面積のガラス基板上に、アモルファスセレン等の半導体材料を積層して構成され、入射したＸ線を信号電荷に変換する。また、ＦＰＤは、画素に対応する検出素子を有しており、信号電荷は検出素子毎に蓄積される。ＦＰＤに蓄積された信号電荷は、撮像信号として出力され、種々の画像処理等を経てデジタルな画像が取得される。
【０００５】
ＦＰＤは、デジタルカメラ等に用いられるＣＣＤやＣＭＯＳといった撮像素子と比べて極めて大面積であるため、全ての検出素子の特性を完全に均一に製造することは難しい。また、各検出素子は、Ｘ線の曝射履歴や使用環境等に応じて、特性の劣化度合いが異なることが知られている。このため、ＦＰＤで画像を取得するときには、検出素子の欠陥やＦＰＤの経時劣化を反映した画像データをキャリブレーションにより取得しておき、これを撮影した画像から減算することで、検出素子の欠陥やＦＰＤの使用履歴に応じた経時劣化に依存するノイズ成分（以下、オフセットノイズという）を除去する。オフセットノイズは、ＦＰＤの経時劣化によるものであるため、一度発生すると撮影間隔によらず、以後撮影する画像に継続的に現れる。
【０００６】
したがって、ＦＰＤで信頼性の高い画像を撮影するためには、撮影時に近いタイミングでキャリブレーションを行い、できるだけ正確なオフセット画像を用いることが好ましい。このため、例えば、ＦＰＤの劣化に関連する電源投入からの経過時間や、前回のキャリブレーションからの経過時間、撮影回数に応じて、自動的にキャリブレーションし、できるだけ正確なオフセット画像を得るようにしたＸ線画像撮影システムが知られている（特許文献１）。
【０００７】
また、ＦＰＤは、検出素子の不純物準位に信号電荷がトラップされるなどして、前回撮影した画像の信号電荷が、撮影後のＦＰＤに残留してしまうことがある。信号電荷が残留すると、前回撮影した画像の成分が新たに撮影した画像に残像として重畳されてしまうことがある。残像は、撮影間隔が長時間あけば減衰するが、短い撮影間隔で連続的に撮影する場合には、残像が減衰しきらないうちに次の撮影が行われてしまうため、問題となる。
【０００８】
残像は、ＦＰＤに限らず、特許文献２に記載されたＸ線画像撮影システムのように、撮像デバイスとしてイメージングプレートを用いたものでも問題となる。このＸ線画像撮影システムでは、前回の撮影時から今回の撮影時までの経過時間に応じた減衰量を考慮して、今回撮影した撮影画像から前回の撮影画像の残像を除去している。
【０００９】
また、特許文献３に記載のＸ線画像撮影装置では、残像を適切に除去するために、Ｘ線撮像デバイスの温度といった環境条件、Ｘ線の線量といった撮影条件等、様々な条件に応じた残像補正用の補正係数を予め複数用意しておき、これらの補正係数の中から実際の撮影時の条件に合致する補正係数を用いて残像を除去することが記載されている。
【特許文献１】特開２００１−１４９３５５号公報
【特許文献２】特開２００５−２８３７９８号公報
【特許文献３】特開２００６−１３５７４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上述のとおり、残像の減衰量は、前回から今回の撮影までの経過時間（撮影間隔）、Ｘ線撮像デバイスの環境条件、撮影条件といった様々な条件をパラメータとして変化する。特許文献３には、これらのパラメータに応じた補正係数を複数用意しておくことが記載されているが、具体的な内容については一切記載されていない。しかも、パラメータに応じた補正係数を予め用意するといっても、パラメータのあらゆる組み合わせに対応する補正係数は無数にあり、これらをすべて用意しておくことは現実的ではない。
【００１１】
まず、第１に、無数にある補正係数を記憶させておくためのメモリ容量が膨大なものになり、ハードウエアリソースのコストが増加する。第２に、パラメータのあらゆる組み合わせに応じた補正係数のデータを得るためには、パラメータの値に対応する様々な条件を整えながら補正係数の測定を行う必要がある。こうした測定作業にかかる負荷は、コスト的にも時間的にも膨大である。
【００１２】
また、Ｘ線撮像デバイスの温度や蓄積時間といった１種類のパラメータを考えても、その値は連続的に変化するため、すべてのパラメータの値に対応する補正係数は無数にあり、それらの補正係数をすべて用意しておくことは、複数種類のパラメータの場合と同様の理由から現実的ではない。
【００１３】
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、コストや時間を掛けずに、適切に残像を除去することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の画像処理装置は、撮像手段で得た撮影画像を取得する画像取得手段と、前記撮像手段に残留する前回の撮影時の残像を、前記撮影画像から除去する残像除去手段と、前記残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出手段と、前記減衰算出手段により参照され、前記減衰カーブの変動要因となるパラメータに対応する複数の補正係数が予め格納された補正係数テーブルと、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間手段と、を備え、前記減衰率算出手段は、今回の撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補間手段により算出された前記補正係数を用いて、前記残像の減衰を算出することを特徴とする。
【００１５】
また、前記補正係数テーブルには、第１及び第２の２種類のパラメータが含まれており、前記補間手段は、第１及び第２の２種類のパラメータに基づいて補間することを特徴とする。
【００１６】
また、前記補間手段は、前記第１及び第２のパラメータによって補間する場合に、前記第１のパラメータの値を固定し、前記第２のパラメータを変化させたときの複数の補正係数からなるデータ列を求め、前記データ列の中から第２のパラメータの値に対応する補正係数を求める一次元補間を行うことを特徴とする。
【００１７】
また、前記補間手段は、前記第１及び第２のパラメータによって補間する場合に、前記第１及び第２のパラメータの周辺のパラメータに対応する複数の補正係数から、二次元補間を行うことを特徴とする。
【００１８】
また、前記補間手段は、補間によって求めた前記補正係数を前記補正係数テーブルに追加登録することを特徴とする。
【００１９】
また、前記パラメータは、環境条件又は撮影条件のうち少なくとも１つを含むことを特徴とする。
【００２０】
また、前記環境条件は、前記撮像素子の温度を含むことを特徴とする。
【００２１】
また、前記撮影条件は、前記撮像手段の蓄積時間を含むことを特徴とする。
【００２２】
また、前記補間手段は、今回の撮影時点における撮像手段の温度に対応する補正係数が前記補正係数テーブルにない場合において、前回と今回の撮影時点における前記撮像手段の温度の変動量を予め定められた閾値と比較し、前記変動量が前記閾値よりも大きいときに、補間によって今回の撮像手段の温度に対応する補正係数を求め、前記変動量が前記閾値以下の場合には、前回の補正係数を流用することを特徴とする。
【００２３】
また、前記撮像手段は、放射線を直接電荷に変換する光導電膜を有する直接変換型のフラットパネルディテクタであることを特徴とする。
【００２４】
本発明の画像処理方法は、撮像手段で得た撮影画像から前回の撮影時の残像を除去する画像処理方法であって、残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブの変動要因となるパラメータに応じた複数の補正係数が予め格納された補正テーブルを参照して、撮影時点におけるパラメータに対応する前記補正係数が前記補正係数テーブルにない場合に、前記補正係数テーブルに格納されている補正係数に基づいて、前記パラメータに対応する補正係数を補間する補間ステップと、補間ステップで得た前記補正係数を適用した前記減衰カーブに基づいて、前回の撮影時点から今回の撮影時点までの経過時間に応じた前記残像の減衰を算出する減衰算出ステップと、算出した減衰に応じた前記残像を前記撮影画像から除去する残像除去ステップと、を含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、コストや時間を掛けずに、適切に残像を除去することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
［第１実施形態］
図１に示すように、Ｘ線画像撮影システム（放射線画像撮影システム）１０は、被写体ＨにＸ線を曝射して、被写体Ｈの体内の様子を撮影するシステムであり、Ｘ線源１１、Ｘ線撮影装置１２、プロセッサ装置１５等から構成される。また、Ｘ線撮影装置１２は、Ｘ線撮影台１３、ＦＰＤ１４等から構成される。
【００２７】
Ｘ線源１１は、陰極のフィラメントからタングステンやモリブデン等のターゲットに電子を加速して入射させることによりＸ線を発生させるＸ線管である。Ｘ線源１１から曝射されるＸ線の線質や線量は、陰極に流す電流（管電流）や加速電圧（管電圧）を調節することにより、撮影する被写体Ｈや被写体Ｈの撮影部位に応じて適宜調節される。
【００２８】
また、Ｘ線源１１は、支持アーム（図示しない）によりＸ線撮影室の天井に据え付けられている。支持アームは、Ｘ線撮影台１３の周囲で上下左右に移動自在にＸ線源１１を支持するとともに、Ｘ線源１１がＸ線を曝射する向きを変えられるように、所定角度内で回転自在にＸ線源１１を支持している。これにより、Ｘ線源１１は、Ｘ線撮影台１３上に横たわった被写体Ｈの任意の部分に向けてＸ線を曝射できるようになっている。また、Ｘ線源１１は手動で移動自在に設けられているとともに、Ｘ線撮影台１３が昇降されたときには、これに追従してＦＰＤ１４との距離を一定に保ちながら上下方向に移動される。
【００２９】
Ｘ線撮影台１３は、床からの高さが調節できるように伸縮する可動性の支柱によってＸ線撮影室の床に据え付けられている。また、被写体Ｈが横たわる部分は、Ｘ線源１１から曝射されるＸ線が略完全に透過する材料からつくられており、撮影したＸ線画像にＸ線撮影台１３が映り込まないようになっている。
【００３０】
ＦＰＤ１４は、入射したＸ線を可視光に変換せずに、直接的に電荷に変換する直接変換型フラットパネルディテクタであり、撮像面を上（Ｘ線源１１のある方向）に向けてＸ線撮影台１３の背面に配置されている。ＦＰＤ１４は、Ｘ線撮影台１３の長手方向（図１では横方向）に移動自在に設けられており、Ｘ線源１１の移動や向きの変更に追従して、Ｘ線源１１からのＸ線を効率良く受けられる位置に移動される。
【００３１】
ＦＰＤ１４は、被写体Ｈの胸部全体をカバーする程度の面積を持つ。ＦＰＤ１３は、例えば、ＴＦＴが形成されたガラス基板上に、画素毎に形成された画素電極、光導電膜、及びバイアス電極が積層された構造となっている。
【００３２】
光導電膜は、アモルファスセレン等からなり、Ｘ線の入射により、Ｘ線の線質や線量に応じた電荷を発生する。バイアス電極と画素電極との間にはバイアス電圧が印加され、バイアス電圧によって光導電膜内に電界が生じ、光導電膜内で発生した電荷が画素電極に収集される。画素電極は、収集した電荷を蓄積するコンデンサ上部の電極を構成する。画素電極はＴＦＴに接続されており、コンデンサに蓄積された電荷はＴＦＴを介して読み出される。ＦＰＤ１４は、ＴＦＴで読み出した電荷をＡ／Ｄ変換器によってデジタルな撮像信号に変換してプロセッサ装置１５に出力する。
【００３３】
プロセッサ装置１５は、Ｘ線画像撮影システム１０の動作を統括的に制御する。例えば、プロセッサ装置１５は、キーボードやマウス等からなる操作部１６からの入力を受けて、Ｘ線源１１の管電流や管電圧を調節することにより、Ｘ線源１１から曝射するＸ線の線質や線量を調節する。また、ＦＰＤ１４から出力された撮像信号に基づいて種々の画像処理を施した画像を生成し、モニタ１７に表示する。
【００３４】
図２に示すように、プロセッサ装置１５は、ＣＰＵ２１、ＤＳＰ２４、ノイズ除去部２６、補間部２７、ストレージ２８等から構成される。
【００３５】
ＣＰＵ２１は、システムバス２９を介してプロセッサ装置１５の各部と制御信号やデータ等を送受信することにより、プロセッサ装置１５の各部を統括的に制御する。例えば、ＣＰＵ２１は、操作部１６からの操作信号を受けて、前述のようなＸ線源１１の位置や、Ｘ線の線量や線質、ＦＰＤ１４の移動等を制御させる。また、ＣＰＵ２１は、Ｘ線源１１の管電流や管電圧を制御し、被写体Ｈに曝射するＸ線の線量や線質を調節するとともに、Ｘ線源１１に接続された位置センサ３１からＸ線源１１の位置や向きを示す情報信号を受け、これに基づきＦＰＤ１４の位置を制御する。
【００３６】
また、ＣＰＵ２１は、図示しない通信Ｉ／Ｆ等とともに画像取得手段を構成する。ＣＰＵ２１は、通信Ｉ／Ｆを介してＦＰＤ１４と通信することにより、ＦＰＤ１４の各種動作を制御し、ＦＰＤ１４から画像を取得する。例えば、ＣＰＵ２１は、図示しないタイミングジェネレータに所定の駆動信号を生じさせ、これをＦＰＤ１４に入力することにより、ＦＰＤ１４の信号電荷の蓄積や、撮像信号の読み出しを制御する。さらに、ＣＰＵ２１は、ＦＰＤ１４の撮像面の温度を計測する温度センサ３２に接続されている。ＣＰＵ２１は、温度センサ２３から受けるＦＰＤ１４の撮像面の温度情報を、ノイズ除去部２６や補間部２７に入力することにより、これらをＦＰＤ１４の撮像面の温度に応じて駆動させる。ＦＰＤ１４の撮像面の温度は、例えば、Ｘ線撮影室の室温等の環境条件によって変化する。
【００３７】
ＤＳＰ２４には、ＦＰＤ１４から撮像信号が入力される。ＤＳＰ２４は、入力された撮像信号に、階調調節、ガンマ補正等の各種画像処理を施し、モニタ１７への表示に適した画像を生成する。また、ＤＳＰ２４で各種画像処理が施された画像（以下、単に画像または撮影した画像という）は、メモリやＨＤＤ等で構成されたストレージ２８に記憶される。
【００３８】
ノイズ除去部２６は、オフセット除去部３６と残像除去部３７（残像除去手段，減衰算出手段）からなり、撮影した画像に含まれるノイズ成分を除去する。撮影した画像に重畳されるノイズ成分は、オフセットノイズと残像に大別され、ノイズ除去部２６はオフセット除去部３６により、撮影した画像に重畳されたオフセットノイズを除去し、残像除去部３７により、撮影した画像に重畳された残像を除去する。
【００３９】
オフセットノイズは、ＦＰＤ１４の検出素子の欠陥や使用履歴等に起因するものであり、撮影間隔によらず、一度発生すると継続的に発生する。また、残像は、比較的短い期間で連続して複数回撮影したときに、先に撮影した画像（以下、第１画像という）の成分が、後に撮影した画像（以下、第２画像という）に重畳されてしまうことにより生じる。このため、残像の量は時間とともに減少し、第１画像取得時から第２画像取得時までに十分な時間間隔があいていれば、第１画像の残像は第２画像に殆ど重畳されない。
【００４０】
オフセット除去部３６は、撮影した画像からオフセット画像４１を減算することにより、撮影した画像に重畳されたオフセットノイズを除去する。オフセット画像４１は、ダーク画像から生成される。ダーク画像は、Ｘ線画像撮影システム１０のキャリブレーション時に、ＦＰＤ１４にＸ線を曝射しない状態で、所定時間間隔で連続して複数取得される。オフセット画像４１は、例えば１６枚程度のダーク画像を平均して生成される。また、こうしたダーク画像からのオフセット画像４１の生成は、キャリブレーション時に行われる。
【００４１】
残像除去部３７は、ＦＰＤ１４で比較的短い期間に連続して複数回撮影したときに、後から撮影した第２画像に重畳される第１画像の残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブに基づいて、撮像時点における残像の減衰率を算出する。そして、残像除去部３７は、第１画像の画素値に対して算出した減衰率を乗算し、第２画像から減算することにより、第２画像から第１画像の残像を除去する。
【００４２】
残像は、前述のように、時間に関して指数関数的に減少する。第２画像取得時点で残留する第１画像取得時点から経時的に減衰した第１画像のある画素の画素値をｙ１´、取得した第１画像の同画素の画素値をｙ１、第１画像取得時から第２画像取得時までの経過時間をΔｔとすると、ｙ１´＝ｅｘｐ（ＣΔｔ）×ｙ１の関係を満たす。このため、画素値ｙ１の値によらず、残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブは、ｙ１´／ｙ１＝ｅｘｐ（Ｃｔ）で表される。ここで補正係数Ｃは、減衰カーブの変動要因となる補正係数であり、ＦＰＤ１４の蓄積時間（撮影条件）やＦＰＤ１４の温度（環境条件）等、撮影時のパラメータに応じて変化する。以下では、残像を除去するときに第１画像に乗ずることになる値「ｅｘｐ（ＣΔｔ）」を「減衰率」という。
【００４３】
残像除去部３７は、ＣＰＵ２から受ける第２画像取得時のＦＰＤ１４の蓄積時間（以下、単に蓄積時間という）や、第２画像取得時のＦＰＤ１４の温度（以下、単にＦＰＤ温度という）の情報に基づき、第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度に応じた適切な補正係数を補正係数テーブル４３（後述）から選択する。次いで、残像除去部３７は、曝射したＸ線の線質や線量、選択した補正係数、第１画像の取得時から第２画像の取得時までの経過時間Δｔに基づいて、第１画像に乗算する減衰率を算出する。そして、残像除去部３７は、算出した減衰率を第１画像に乗じて、第２画像から減算することにより第２画像に重畳された残像を除去する。
【００４４】
上述のように残像除去部３７が参照する補正係数テーブル４３には、第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度の複数の組み合わせに対応する、複数の補正係数が予め格納されている。また、減衰率テーブル４３に格納される補正係数は、Ｘ線画像撮影システム１０のキャリブレーション時に定められる。補正係数は、被写体Ｈの無い状態で、ＦＰＤ１４に所定線質，所定線量のＸ線をＦＰＤ１４に曝射した後に、連続して複数の画像を取得し、これらの画像の画素値が時間経過で減衰する様態から求められる。この演算処理は、例えば、補間部２７（後述）によって行われる。
【００４５】
一方、残像除去部３７は、補正係数テーブル４３に適切な補正係数が格納されていないときには、後述する補間部２７に、第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度に対してともに適切な補正係数を算出させ、これを用いて上述と同様に第２画像に重畳された第１画像の残像を補正する。すなわち、残像除去部３７は、補間部２７に算出させた補正係数Ｃを用いることで、減衰カーブを第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度に応じた様態に補正された第２画像の残像を除去する。
【００４６】
補間部２７は、残像除去部３７からの指示に応じて、補正係数テーブル４３に格納されていない撮影時のパラメータ（第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度）に対応した補正係数を算出する。具体的には、補間部２７は、第２画像取得時の蓄積時間に対応する補正係数が補正係数テーブル４３に格納されていないときに、第２画像取得時のＦＰＤ温度に対応する減衰率を補正係数テーブル４３から複数読み出して、この蓄積時間に対応する補正係数を補間により算出する。これにより、補間部２７は、減衰カーブの様態を撮影時のパラメータに適した様態に補正する。こうして補正された減衰カーブを用いることにより、残像除去部３７は撮影時のパラメータに応じて適切に第２画像から残像を除去する。
【００４７】
また、補間部２７は、第２画像取得時のＦＰＤ温度に対応する補正係数が補正係数テーブル４３に格納されていないときに、蓄積時間に対応する減衰率の列を補正係数テーブル４３から複数読み出して、このＦＰＤ温度に対応する補正係数を補間により算出する。
【００４８】
さらに、補間部２７は、第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度とが、何れも補正係数テーブル４３に格納された補正係数に対応しない場合には、まず、複数のＦＰＤ温度について個々に、第２画像取得時の蓄積時間に対応する補正係数を補間により算出する。そして、算出したＦＰＤ温度が各々異なる補正係数から、第２画像取得時のＦＰＤ温度に対応する補正係数を補間により算出する。
【００４９】
ストレージ２８は、プロセッサ装置１５の各部で使用されるデータ等を記憶するメモリであり、例えば、ＦＰＤ１４で撮影された画像や、被写体Ｈのデータ、オフセット画像４１、補正係数テーブル４３等が記憶される。ＣＰＵ２１、ノイズ除去部２６、補間部２７は、ストレージ２８からワークメモリ（図示せず）にデータを読み出して各種処理を実行する。
【００５０】
以下では、上述のように構成されるＸ線画像撮影システム１０で被写体Ｈの画像を撮影する様態を説明する。図３に示すように、Ｘ線画像撮影システム１０を起動したときや、定期メンテナンス時には、Ｘ線画像撮影システム１０のキャリブレーションが行われる。
【００５１】
Ｘ線画像撮影システム１０のキャリブレーションでは、まず、Ｘ線画像システム１０が起動されると、ＦＰＤ１４にＸ線を曝射しない状態でダーク画像が取得される（ステップＳ１０）。オフセット除去部３６は、取得されたダーク画像からオフセット画像４１を生成し、ストレージ２８に格納する（ステップＳ１１）。これにより、Ｘ線画像撮像システム１０が起動される度に、オフセット画像４１が自動更新される。
【００５２】
一方、定期メンテナンス時には、こうしたオフセット画像４１の更新に加え、必要に応じて補正係数テーブル４３が更新される（ステップＳ２０〜Ｓ２７）。
【００５３】
オフセット画像４１が更新された後に、モニタ１７に表示されるメニュー等にしたがって、補正係数テーブル４３の校正（キャリブレーション）が指示されると（ステップＳ２０）、ＦＰＤコントローラ２３は冷却ファンや空調（必要に応じてヒータ等を用いても可）によりＦＰＤ１４の温度を所定温度になるように調節する（ステップＳ２１）。ＦＰＤ１４の温度が所定温度になると、ＦＤＰ１４の蓄積時間が所定の蓄積時間に設定され（ステップＳ２２）、被写体Ｈの無い状態で、Ｘ線源１１から所定線質，所定線量のＸ線が曝射される（ステップＳ２３）。このとき、ＦＰＤコントローラ２３は、ＦＰＤ１４により連続して複数の画像を取得し、ストレージ２８に一時的に格納する（ステップＳ２４）。
【００５４】
そして、補間部２７は、こうして取得された複数の画像から、設定された蓄積時間及び温度に対応する補正係数を算出し（ステップＳ２５）、これを補正係数テーブル４３に格納する。これにより、補正係数テーブル４３に格納された補正係数が更新される（ステップＳ２６）。
【００５５】
また、上述の補正係数の更新（ステップＳ２１〜Ｓ２６）は、ＦＰＤ１４の温度及び蓄積時間を他の所定値に変えながら複数回行われ、ＦＰＤ１４の温度及び蓄積時間の種々の組み合わせに各々対応する補正係数が算出，更新される。
【００５６】
ここでは、補正係数テーブル４３には、図４に示すように、Ａ１〜Ａ５の５種類の蓄積時間と、Ｂ１〜Ｂ４の４種類のＦＰＤ温度の組み合わせの２０の点について、補正係数が上述のキャリブレーションにより予め定められるものとする。以下では、蓄積時間Ａｉ（ｉ＝１〜５），ＦＰＤ温度Ｂｊ（ｊ＝１〜４）の各条件の補正係数をＣｉｊで表す。また、キャリブレーションにより定められた各補正係数と残像の経時的な減衰状況を表す減衰カーブとの対応関係は、図５に示すようになっており、同じＦＰＤ温度Ｂｊで撮影しても、蓄積時間Ａｉが長いほど取得画像に重畳される残像による信号の成分が累積的に大きくなり、同じ蓄積時間Ａｉで撮影しても、第２画像取得時のＦＰＤ温度Ｂｊが大きいほど長時間にわたって残像が残る。このため、減衰カーブは、図５に示すように、補正係数Ｃｉｊに応じて曲率が各々異なる。
【００５７】
被写体Ｈの撮影は、キャリブレーションにより、オフセット画像４１や補正係数が取得，更新されたあとに行われる。図６に示すように、被写体Ｈを撮像するときには、まず、撮影部位の大きさや形状といった被写体Ｈの特徴に応じて、曝射するＸ線の線質や線量が設定される（ステップＳ４０）。さらに、被写体Ｈの特徴や、設定したＸ線の線質や線量に応じてＦＰＤ１４の蓄積時間が設定される（ステップＳ４１）。こうした条件設定入力が終わると、Ｘ線源１１から設定された線質，線量の条件でＸ線が曝射され、被写体Ｈが撮像される（ステップＳ４２）。このとき、ＣＰＵ２１は、温度センサ３２から撮影時のＦＰＤ１４の温度を取得する（ステップＳ４３）。
【００５８】
これに続き、ノイズ除去部２６は、ＦＰＤ１４から取得した画像からオフセットノイズや残像を必要に応じて除去する（ステップＳ４４，Ｓ５０〜Ｓ５３）。まず、オフセット除去部３６は、画像からオフセット画像４１を減算し、画像に重畳されているオフセットノイズを除去する（ステップＳ４４）。
【００５９】
撮影した被写体Ｈの画像が、Ｘ線画像撮影システム１０を起動してから２枚目以降に撮影された画像であるときには、残像除去部３７は、撮影した画像の残像を除去する（ステップＳ５０〜Ｓ５３）。このとき、残像除去部３７は、第２画像取得時の蓄積時間とＦＰＤ温度（以下、まとめて撮影時のパラメータという）に対応する補正係数が補正係数テーブル４３にあるか否かを確認する（ステップＳ５０）。
【００６０】
補正係数テーブル４３に撮影時のパラメータに対応する補正係数が格納されているときには、残像除去部３７は、補正係数テーブル４３から撮影時のパラメータに対応した補正係数を選択して、減衰率を算出する（ステップＳ５１）。そして、第１画像に、算出した減衰率を乗算したものを、第２画像から減算することにより残像を除去する（ステップＳ５３）。
【００６１】
一方、撮影時のパラメータに対応する補正係数が補正係数テーブル４３に格納されていないときには、残像除去部３７は、補間部２７に撮影時のパラメータに対応する補正係数を算出させる（ステップＳ５２）。そして、残像除去部３７は、補間部２７によって算出された補正係数を用いて減衰率を算出し、第１画像に乗算したものを、第２画像から減算することにより残像を除去する（ステップＳ５３）。
【００６２】
補間部２７による補正係数の算出（Ｓ５２）は、撮影時のパラメータの様態により異なる。例えば、補正係数テーブル４３に、ＦＰＤ温度に合致せず、蓄積時間にのみ合致する補正係数が格納されているときには、蓄積時間の合致する各温度の補正係数から、撮影時のＦＰＤ温度に対応する補正係数を補間により算出する。逆に、補正係数テーブル４３に、蓄積時間に合致せず、第２画像取得時のＦＰＤ温度にのみ合致する補正係数が格納されているときには、第２画像取得時のＦＰＤ温度に合致する各蓄積時間の減衰率から、撮影時のＦＰＤ１４の蓄積時間に対応する補正係数を補間により算出する。
【００６３】
一方、補正係数テーブル４３に格納された補正係数に、撮影時のパラメータの何れとも合致するものがないときには、補間部２７は、図７〜図９に示すように、２回の１次元補間により撮影時のパラメータに対応する補正係数を算出する。
【００６４】
図７に示すように、例えば、第２画像取得時の蓄積時間αが、キャリブレーション時に補正係数が算出された蓄積時間Ａ２，Ａ３の間にあり、第２画像取得時のＦＰＤ温度βが、キャリブレーション時に補正係数が算出された温度Ｂ２，Ｂ３の間にあるとする。このとき、撮影時のパラメータの点γ（蓄積時間α，ＦＰＤ温度β）に合致する補正係数は、補正係数テーブル４３に格納されておらず、近隣の撮影時のパラメータの補正係数Ｃ２２，Ｃ３２，Ｃ２３，Ｃ３３とは異なる値となる。
【００６５】
このため、図８に示すように、補間部２７は、ＦＰＤ温度Ｂ１に対応する補正係数Ｃ１ｊ（ｊ＝１〜５）のデータ列５６から、補間により、ＦＰＤ温度Ｂ１及び蓄積時間αに対応する補正係数Ｄ１を算出する。ＦＰＤ温度Ｂ２〜Ｂ４についても同様に、ＦＰＤ温度Ｂ２〜Ｂ４に対応する各データ列Ｃ２ｊ，Ｃ３ｊ，Ｃ４ｊから、ＦＰＤ温度Ｂ２〜Ｂ４に対応し、かつ蓄積時間αに対応する補正係数Ｄ２〜Ｄ４を算出する。そして、図９に示すように、補間部２７は、算出した補正係数Ｄ１〜Ｄ４から、撮影時のパラメータ（α，β）に対応する補正係数γを補間により算出する。
【００６６】
ノイズ除去部２６によるオフセットノイズや残像の除去は、図１０に示すようにして行われる。各種ノイズ除去前の第２画像６２ａには、撮影した被写体Ｈの像（実線）だけでなく、破線で示すように、前回撮影した第１画像６１ａの残像が重畳されている。また、第２画像６２ａには、オフセットノイズが重畳されている。このため、オフセット除去部３６は、オフセットノイズからなるオフセット画像４１を第２画像６２ａから減算し、オフセットノイズが除去された第２画像６２ｂを生成する（図６のＳ４４）。
【００６７】
一方、残像除去部３７は、撮影時のパラメータに適切に対応する補正係数γから算出した減衰率を、撮影時に残像やオフセットノイズが除去されている第１画像６１ａに乗算して、第２画像６２ｂに重畳された第１画像６１ａの残像画像６１ｂを生成する。
【００６８】
そして、残像除去部３７は、第２画像６２ｂから残像画像６１ｂを減算することにより第２画像６２ｃを生成する。こうしてノイズ除去部２６によってノイズ成分が除去された第２画像６２ｃは、モニタ１７に表示され、診断に利用される。
【００６９】
上述のように、Ｘ線画像撮影システム１０は、補正係数テーブル４３に適切な補正係数が格納されていない場合にも、適切な補正係数を補間によって算出し、これを用いて残像を除去する。このため、Ｘ線画像撮影システム１０は、補正係数テーブル４３に想定される全ての撮影時のパラメータに対応する補正係数を格納しておかなくても、補間が可能な程度の数の補正係数を持っておくだけで、常に最適な残像を除去することができる。また、Ｘ線画像撮影システム１０は、頻繁なキャリブレーション作業を伴わないので、診断を中断させることも無く、撮影スタッフに不都合を感じさせずに最適な残像除去を行うことができる。
【００７０】
上述の第１実施形態では、撮影時のパラメータ（蓄積時間α，ＦＰＤ温度β）の両方に合致する補正係数が、補正係数テーブル４３にない場合に、ＦＰＤ温度Ｂ１〜Ｂ４について補間して蓄積時間αに対応する補正係数Ｄ１〜Ｄ４を算出し、この補正係数Ｄ１〜Ｄ４をさらに補間してＦＰＤ温度βにも対応する補正係数γを算出しているが、逆順に補間して撮影時のパラメータに適した補正係数を算出しても良い。
【００７１】
例えば、図１１に示すように、まず、蓄積温度Ａ１に対応する補正係数Ｃ１ｊ（ｊ＝１〜４）のデータ列６６を補間して、ＦＰＤ温度βに対応する蓄積時間Ａ１の補正係数Ｅ１を算出する。同様にして、各蓄積時間Ａ２〜Ａ５に各々対応する補正係数のデータ列から、温度βに対応する各蓄積時間Ａ２〜Ａ５の補正係数Ｅ２〜Ｅ５を算出する。そして、図１２に示すように、算出した温度βに対応する補正係数Ｅ１〜Ｅ５から、蓄積時間α及びＦＰＤ温度βに対応する補正係数γを算出する。
【００７２】
また、撮影時のパラメータ（蓄積温度α，ＦＰＤ温度β）の両方に合致する補正係数が、補正係数テーブル４３にない場合の補間方法としては、１次元補間を２回行う方法の他、例えば、図１３に示すように、求めたい補正係数γの周囲の補正係数（ハッチングした領域内の補正係数）から、２次元補間により、１回の演算で、補正係数γを算出するようにしても良い。２次元補間の方法としては、多項式による重回帰分析を用いることができ、撮影時のパラメータに合致する補正係数は、例えば、例えば、Ａ（ｘ，ｙ）＝ａ・ｘ２＋ｂ・ｙ２＋ｃ・ｘｙ＋ｄ・ｘ＋ｅ・ｙ＋ｆという２元２次関数で最小二乗近似することにより好適に算出される。こうして２次元補間によって、撮影時のパラメータに対応する補正係数γを算出するときには、補正係数テーブル４３に予め定めておく補正係数は、蓄積温度Ａ１〜Ａ５，ＦＰＤ温度Ｂ１〜Ｂ４といった決まった値について定められている必要は無く、図１４に示すように、任意の撮影時のパラメータについて予め定められていても良い。
【００７３】
なお、上述の第１実施形態のＸ線画像撮影システム１０は、補間部２７が算出した補正係数を補正係数テーブル４３に追加登録するようにしてあることが好ましい。このように、算出した補正係数を補正係数テーブル４３に順次追加登録することで、以後の撮影で取得する画像の残像を除去するときに、新たに補正係数を算出しなければならないケースが軽減される。また、新たに補正係数を算出する場合にも、補正係数テーブル４３のデータ数が増加することで、より正確な補正係数を算出することができるようになる。さらに、最終的に残像除去部３７で用いられる補正係数（例えば図９点の補正係数γ）だけでなく、これを算出するために中間的に算出された補正係数（例えば、図８のＤ１〜Ｄ４や図１１のＥ１〜Ｅ５）も補正係数テーブル４３に登録することが好ましい。
【００７４】
［第２実施形態］
Ｘ線画像撮影システム１０では、様々な様態の被写体Ｈを、これに応じた様々な条件下で撮影することになる。このため、撮影時のパラメータが、補正係数テーブル４３の補正係数の条件（蓄積時間及びＦＰＤ温度）に合致することは稀であり、多くの場合、補間部２７が補正係数を補間により算出することになる。撮影毎に補正係数を算出するとなると、プロセッサ装置１５に比較的高いマシンパワーが要求される。これを軽減するＸ線画像撮影システムの例を、以下に、第２実施形態として説明する。なお、第１実施形態と同じものには、Ｘ線画像撮影システム１０と同様の符号を付し、説明を省略する。
【００７５】
図１５に示すように、Ｘ線画像撮影システム７１は、閾値７２がストレージ２８に予め格納されており、この点が第１実施形態のＸ線画像撮影システム１０と相違する。閾値７２は、第１画像取得時から第２画像取得時のＦＰＤ１４の温度の変化量と比較される閾値であり、補間部７３で用いられる。
【００７６】
補間部７３は、第１実施形態の補間部２７と同様に残像除去部３７からの指示に基づき、撮影時のパラメータに適した補正係数を算出する。但し、補間部７３は、ＦＰＤ１４の蓄積時間が第１画像取得時から第２画像取得時にかけて変更されたか否かを判別する。そして、蓄積時間の変更が無い場合には、第１画像取得時から第２画像取得時のＦＰＤ温度の変化量を算出し、閾値７２と比較する。
【００７７】
ＦＰＤ温度の変化量が閾値７２よりも大きい場合には、補間部７３は、撮影時のパラメータに適した補正係数を新たに算出する。一方、ＦＰＤ温度の変化量が閾値７２以下の値の場合には、補正係数を新たに算出することはせず、以前（第１画像取得時）に算出した補正係数を残像除去部３７に出力する。なお、第１画像取得時から第２画像取得時にかけて蓄積時間が変更された場合には、補間部７３は、前述の第１実施形態と同様に、ＦＰＤ温度の変化量によらず、新たな撮影時のパラメータに適した補正係数を算出する。
【００７８】
また、補間部７３は、補正係数を算出したときには、算出した減衰率を補正係数テーブル４３に登録する。この補間部７３が補正係数テーブル４３に登録する補正係数は、最終的に残像除去部３７で用いられる補正係数（例えば図９点の補正係数γ）だけでなく、これを算出するために中間的に算出された補正係数（例えば、図８のＤ１〜Ｄ４や図１１のＥ１〜Ｅ５）も補正係数テーブル４３に登録する。
【００７９】
Ｘ線画像撮影システム７１による撮影及びノイズ除去の手順を、図１６に示す。Ｘ線画像撮影システム７１においても、第１実施形態のＸ線画像撮影システム１０と同様の手順で、被写体Ｈを撮影する（ステップＳ４０〜Ｓ４２）。また、撮影した画像に対するオフセットノイズの除去も同様に行う（ステップＳ４３）。
【００８０】
一方、残像の除去は、第１実施形態のＸ線撮影システム１０とは異なり、ＦＰＤ温度の変化量を加味し、以下の手順で行われる。上述のように、撮影した画像にオフセットノイズの除去が行われると、残像除去部３７は撮影時のパラメータに適切な補正係数が補正係数テーブル４３に格納されているか否かを確認する（ステップＳ５０）。撮影時のパラメータに合致する補正係数が補正係数テーブル４３に格納されていないときには、残像除去部３７は補間部７３に撮影時のパラメータに合致する補正係数を算出させる。
【００８１】
このとき、補間部７３は、蓄積時間が第１画像取得時から変更されたか否かを判断する（ステップＳ６０）。蓄積時間が変更されていた場合には、前述の第１実施形態と同様、撮影時のパラメータに適した補正係数を算出する（ステップＳ５２）。そして、第１実施形態とは異なり、補間部７３は、算出した補正係数や、これを求める過程で中間的に算出した補正係数を補正係数テーブル４３に登録する（ステップＳ６２）。
【００８２】
一方、蓄積時間の変更がない場合には、補間部７３は、第１画像取得時から第２画像取得時にかけてのＦＰＤ温度の変化量を算出し、これを閾値７２と比較する（ステップＳ６１）。
【００８３】
ＦＰＤ温度の変化量が閾値７２よりも大きい場合には、上述の第１実施形態と同様に、撮影時のパラメータに合致する補正係数を算出する（ステップＳ５２）。さらに、補間部７３は、ここで算出した補正係数や、これを求める過程で中間的に算出した補正係数を補正係数テーブル４３に登録する（ステップＳ６２）。そして、算出した補正係数を残像除去部３７に出力し、取得した第２画像の残像を除去させる（ステップＳ５３）。
【００８４】
一方、ＦＰＤ温度の変化量が閾値７２以下の値の場合には、新たに補正係数を算出することはせずに、前回の補正係数を選択し、これを残像除去部３７に出力する（ステップＳ６３）。残像除去部３７は、第１画像取得時の補正係数を用いて、第１実施形態のＸ線画像撮影システム１０と同様に残像を除去する（ステップＳ５３）。
【００８５】
このように、Ｘ線画像撮影システム７１は、蓄積時間の変更が無いときに、ＦＰＤ温度の変化量が小さい場合（に応じて新たに補正係数を算出するようにしたから、極めて値の近い補正係数を繰り返し算出しなおすことなく、前回算出した減衰率を流用する。このため、Ｘ線画像撮影システム７１は、短い期間に同じ条件で連続して撮影する場合や動画を撮影する場合のプロセッサ装置１５の動作を軽減することができる。これにより、マシンパワーの小さいプロセッサ装置１５でも本発明のＸ線画像撮影システム７１に用いることができるようになる。
【００８６】
なお、上述の第１，第２実施形態では、補正係数テーブル４３の補正係数から撮影時のパラメータに対応した補正係数を算出するときに、単に補間するものと説明したが、ここで行う補間は、線形補間であっても良く、また非線形補間であっても良い。
【００８７】
なお、上述の第１，第２実施形態では、補間部２７，７３が減衰率を算出し、残像除去部３７が算出した減衰率を第１画像に乗じて、第２画像から減算する残像の量を算出するが、残像を補正する例を説明したが、補間部２７，７３で補正係数だけでなく、残像量を算出するようにすることで、補間部２７，７３で残像の減衰を算出し、残像補正部３７で第２画像から算出した残像の量を減算するようにしても良い。
【００８８】
なお、上述の第１，第２実施形態では、第１画像と第２画像を連続して撮影し、第２画像から第１画像の残像を除去する例を説明したが、これに限らず、３以上の複数の画像を撮影する場合には、最後に取得した画像にはそれ以前に撮影した画像の残像がそれぞれ重畳されるので、最後に取得した画像から、それ以前に撮影した画像の残像を上述の第１，第２実施形態と同様にして除去することが好ましい。
【００８９】
なお、上述の第１，第２実施形態では、蓄積時間及びＦＰＤ温度の２つのパラメータに応じて補正係数を算出する例を説明したが、蓄積時間のみ、あるいは、ＦＰＤ温度のみというように、１つのパラメータに応じて補正係数を算出するようにしても良い。また、補正係数が、蓄積時間やＦＰＤ温度以外のパラメータ（例えば撮影回数，Ｘ線画像撮影システムを起動してからの経過時間，管電圧，管電流等）に応じて変動する場合には、これらに応じて、上述の第１，第２実施形態と同様にして、その条件に応じた補正係数を算出するようにすることが好ましい。
【００９０】
さらに、上述の第１，第２実施形態では、減衰カーブ４６を定める式の値Ａは、Ｘ線の線質，線量から一義的に定まるものとしたが、比例関係のような単純な関係でない場合には、値Ａについても上述の第１，第２実施形態と同様にして、撮影時のＸ線の線質，線量に適した値を算出することが好ましい。
【００９１】
なお、上述の第１，第２実施形態では、オフセットノイズがＦＰＤ温度等に依存せず、一定のノイズ成分であるものとして扱うが、これに限らず、オフセットノイズがＦＰＤ１４の温度等に応じて変動する場合には、上述の第１，第２実施形態の残像除去と同様に、キャリブレーション時にＦＰＤ温度等の撮影時のパラメータに応じた補正係数を予め複数用意しておき、このデータを補間して撮影時のパラメータに適した補正係数及び減衰率を算出し、これを用いてオフセットノイズを除去するようにしても良い。
【００９２】
また、上述の第１，第２実施形態では、オフセットノイズと残像を明確に区別し、これらのノイズ除去を各々行うが、これに限らず、オフセットノイズの除去と残像除去を同時に行うようにしても良い。例えば、図１７に示すように、オフセットノイズや残像を除去する前の第１画像８１ａに上述の第１，第２実施形態と同様にして算出した減衰率を乗算してノイズ成分の画像８１ｂを生成し、これをノイズ除去前の第２画像６２から減算することにより、第２画像６２ａのオフセットノイズと残像を同時に除去した画像６２ｃを生成するようにしても良い。また、上述の第１，第２実施形態では、オフセットノイズを除去した後に、残像除去を行うが、これに限らず、残像除去を行った後にオフセットノイズを除去しても良い。
【００９３】
なお、上述の第１，第２実施形態では、重畳された第１画像の残像を第２画像から除去するときに、第１画像の成分を直接的に第２画像から減算する例を説明したが、第２画像から第１画像の残像を除去する方法はこれに限らない。例えば、第２画像の取得直前に、非曝射状態でダーク画像を取得し、これを上述の第１，第２実施形態の第１画像の替わりに用いて、第１画像の残像を第２画像から除去するようにしても良い。第２画像の直前に取得したダーク画像には、オフセットノイズと第１画像の残像が重畳されている。このため、上述の第１，第２実施形態と同様にして、第２画像の直前に取得したダーク画像からオフセットノイズを除去し、直前のダーク画像と第２画像の時間差をΔｔとして算出した減衰率を乗じて第２画像から減算することで、第２画像から第１画像の残像を除去することができる。また、例えば、オフセットノイズと残像を同時に除去する場合には、第２画像の取得直前にオフセット画像を更新し、これを上述の第１，第２実施形態の第１画像の替わりに用いて、第１画像の残像を第２画像から除去するようにしても良い。これらの例のように、第２画像に重畳された残像を除去するときに、第２画像の直前に取得したダーク画像を用いると、より精度良く第２画像から残像を除去することができる。
【００９４】
なお、上述の第１，第２実施形態では、ＦＰＤ温度がＦＰＤ１４の撮像面内で一律であることを前提とし、ＦＰＤ１４に対して１つの補正係数となっている。しかし、ＦＰＤ１４は大面積であるため、ＦＰＤ１４の撮像面内の位置によって温度が異なることもある。このため、撮像面及び画像を複数の領域に区画し、領域毎に上述の第１，第２実施形態と同様の残像除去を行うことが好ましい。
【００９５】
なお、上述の第１，第２実施形態では、ＦＰＤによって撮影するＸ線画像撮影装置を例に説明したが、これに限らず、イメージングプレート等、他の周知の撮像手段でデジタルな画像を取得する場合にも、本発明を好適に適用することができる。但し、上述の第１，第２実施形態で説明した直接変換型のＦＰＤ１４のように、光導電膜にアモルファスセレンを用いたものは、種々の撮像手段の中でも特に温度管理が難しいので、本発明は、直接変換型のＦＰＤ１４に特に有効である。
【００９６】
なお、上述の第１，第２実施形態では、単純透視像を取得するＸ線画像撮影装置を例に説明したが、これに限らず、被写体の断層画像を取得するＣＴ装置や、トモシンセシス撮影により断層画像を取得する断層撮影装置にも本発明を好適に適用することができる。
【００９７】
なお、上述の第１，第２実施形態からわかるとおり、本発明の放射線画像撮影システムは、連続した静止画像の撮影だけでなく、動画の撮影にも好適に用いることができる。
【００９８】
なお、上述の第１，第２実施形態では、被写体ＨをＸ線撮影台１３に横たえて撮影するＸ線撮影システム１０，７１の例を説明したが、これに限らず、被写体Ｈを立たせた状態で撮影する縦置き型のＸ線撮影システムや、長尺撮影用のＸ線撮影システムにも本発明を好適に適用することができる。
【００９９】
なお、上述の第１，第２実施形態では、プロセッサ装置１５がＦＰＤ１４とは別個に設けてあるが、プロセッサ装置１５の一部機能がＦＰＤ１４（あるいはＸ線撮影装置１２）側に設けられていても良く、ＦＰＤ１４（Ｘ線撮影装置１２）とプロセッサ装置１５が一体に設けられていても良い。
【０１００】
なお、上述の第１，第２実施形態では、放射線としてＸ線を用いる例を説明したが、これに限らず、γ線や周知の粒子線といった他の放射線を用いて撮影する放射線画像撮影装置にも本発明を好適に用いることができる。また、放射線以外（可視光等）で撮影する場合にも、本発明を好適に用いることができる。
【０１０１】
なお、上述の第１，第２実施形態では、医療用の放射線画像撮影装置を例に説明したが、これに限らず、荷物検査や金属材料内部の欠陥検査といった医療用以外のいわゆる非破壊検査に用いる工業用の放射線画像撮影装置にも本発明を好適に適用することができる。但し、医療用の放射線画像撮影装置では、撮影画像に残像があると、病変の見落としや誤診につながるため、本発明は医療用の放射線画像撮影装置に特に有効である。
【図面の簡単な説明】
【０１０２】
【図１】Ｘ線撮影システムの構成を概略的に示す説明図である。
【図２】Ｘ線撮影システムの電気的構成を示すブロック図である。
【図３】Ｘ線撮影システムをキャリブレーションの手順を示すフローチャートである。
【図４】補正係数テーブルの概要を示す説明図である。
【図５】補正係数と減衰カーブの対応の例を示すグラフである。
【図６】撮影した画像からノイズを除去する手順を示すフローチャートである。
【図７】第１実施形態の撮影時のパラメータと補正係数テーブルの補正係数との対応関係の例を示す説明図である。
【図８】補正係数テーブルの補正係数に基づいて、ＦＰＤ温度を固定しながら蓄積時間αに対応する補正係数を補間により算出する様子を示す説明図である。
【図９】算出した各ＦＰＤ温度の補正係数から、撮影時のパラメータに対応する補正係数を算出する様子を示す説明図である。
【図１０】取得した画像からノイズを除去する様子を示す説明図である。
【図１１】補正係数テーブルの補正係数に基づいて、蓄積時間を固定しながらＦＰＤ温度βに対応する補正係数を算出する様子を示す説明図である。
【図１２】算出した各蓄積時間の補正係数から、撮像時のパラメータに対応する補正係数を算出する様子を示す説明図である。
【図１３】撮像時のパラメータに対応する補正係数を、２次元補間により算出する様子を示す説明図である。
【図１４】２次元補間により補正係数を算出するときに許容される補正係数テーブルの補正係数の例を示す説明図である。
【図１５】第２実施形態のＸ線撮影システムの電気的構成を示すブロック図である。
【図１６】第２実施形態のＸ線撮影システムの動作を示すフローチャートである。
【図１７】オフセットノイズと残像を同時に除去する例を示す説明図である。
【符号の説明】
【０１０３】
１０，７１  Ｘ線画像撮影システム
１１  Ｘ線源
１２  Ｘ線撮影装置
１３  Ｘ線撮影台
１４  ＦＰＤ（撮像手段）
１５  プロセッサ装置（画像処理装置）
１６  操作部
１７  モニタ
２１  ＣＰＵ
２２  Ｘ線源コントローラ
２４  ＤＳＰ
２６  ノイズ除去部
２７，７３  補間部（減衰カーブ補正手段）
２８  ストレージ
３１  位置センサ
３２  温度センサ
３６  オフセット除去部
３７  残像除去部（残像除去手段，減衰算出手段）
４１  オフセット画像
４３  補正係数テーブル
５６，６６  データ列
６１ａ〜６１ｂ，８１  第１画像
６２ａ〜６２ｃ  第２画像
７２  閾値
【図１】
2010131223.tif 000003
【図２】
2010131223.tif 000004
【図３】
2010131223.tif 000005
【図４】
2010131223.tif 000006
【図５】
2010131223.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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