(57)【要約】【課題】クリップが実際の使用時に受ける応答周波数に応じて、高周波数での動的な疲労シミュレーションを行うことができる、鉄道レールのファスナーのためのクリップ用高周波数疲労・動態負荷試験機を提供する。【解決手段】フレーム（１）、モーター（２）、伝動軸機構（３）、負荷用ロッド機構（４）、負荷用ブロック（５）、クリップホルダー機構（６）、保護囲い（７）およびラック台面（８）を備え、小プーリ（２１）と大プーリ（３３）とが歯付ベルトより伝動連結され、前記大プーリ（３３）とカム（３４）とが前記カム軸（３１）に取り付けられ、前記負荷用ロッド機構（４）は、一端が前記カム（３４）に突き当てられ、他端が、前記負荷用ブロック（５）と連結され、前記負荷用ブロック（５）が、前記クリップホルダー機構（６）に装着されるクリップ試片（６２）と接触する。【選択図】図１
2020109404.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
鉄道レールのファスナーのためのクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機であって、ラック（１）、モーター（２）、伝動軸機構（３）、負荷用ロッド機構（４）、負荷用ブロック（５）、クリップホルダー機構（６）、保護囲い（７）、及びラック台面（８）を備え、
前記伝動軸機構（３）は、モーター（２）の出力軸に備えられる小プーリ（２１）と、カム軸（３１）と、大プーリ（３３）と、カム（３４）とを有し、小プーリ（２１）と大プーリ（３３）とは歯付ベルトにより伝動連結され、前記大プーリ（３３）とカム（３４）は前記カム軸（３１）に取り付けられ、前記負荷用ロッド機構（４）は、一端が前記カム（３４）と接触し、他端が、前記負荷用ブロック（５）と連結され、前記負荷用ブロック（５）は、前記クリップホルダー機構（６）に装着されるクリップ試片（６２）に連結されており、
使用時に、モーター（２）により、その出力軸上に備えられる小プーリ（２１）を回転駆動させることにより、大プーリ（３３）、カム軸（３１）及びカム（３４）が回転駆動され、カム（３４）により負荷用ロッド機構（４）を高周波数の周期で駆動し、負荷用ブロック（５）を介して、高周波数の振幅励起を、クリップホルダー機構（６）に装着されたクリップ試片（６２）に引き起こすことにより、クリップ試片（６２）に対して、高周波数の振幅励起、及び疲労負荷を行うことを特徴とするクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項２】
前記カム（３４）は偏心カムであり、偏心距離ｄ１は０ｍｍ〜５ｍｍであり、負荷用周波数及び負荷用振幅に応じて、カム（３４）の偏心距離を調整することにより、第１段階の低周波ｆ１及び振幅ｄ１での動的負荷を行うことが可能であり、ｆ１の範囲は０〜５０Ｈｚであり、ｆ１＝モーター回転数/伝動比ｉ、伝動比ｉ＝(主動輪の回転数)／(従動輪の回転数)＝（(従動輪の径)／(主動輪の径)）／（１−ベルトスリップ率）であり、ここで、主動輪は小プーリ(２１)であり、従動輪は大プーリ(３３)であることを特徴する請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項３】
前記カム（３４）は円形または楕円形であり、その外周面に均一に分布される径方向突起の数がｎであって、均一な波長と波深さｄ２の凹凸を有する径方向突起より、第二段階の高周波数の動的負荷を行うことが可能であり、ｎの範囲は０〜２００であり、高周波数での負荷周波数はｆ２であり、ｄ２の範囲は０〜１ｍｍであるならば、高周波数での負荷周波数ｆ２について、ｆ２＝ｎ・ｆ１となり、高周波数での負荷周波数ｆ２の範囲は０〜５００Ｈｚであり、
カム（３４）は、異なる直径、及び異なる径方向突起の数を有することができ、カム（３４）の直径をφとし、負荷用ロッド（４３）とクリップ試片（６２）との接触点から固定端までの距離をＬ１とし、負荷用ロッド（４３）とクリップ試片（６２）との接触点から活動端までの距離をＬ２とするならば、クリップの振幅ｄについて、ｄ＝ｄ２・Ｌ１／（Ｌ１＋Ｌ２）となることを特徴する請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項４】
前記カム軸（３１）は、両端にある、ころがり軸受け基台（３５）を介してラック台面（８）に固定されており、
カム軸（３１）の一端に、マニュアル転動ハンドル（１１）を取り付けることができ、マニュアルで、モーター（２）の小プーリ（２１）及び大プーリ（３３）と歯付ベルトとの噛み合いを調整することができることを特徴する請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項５】
前記負荷用ロッド機構（４）は、軸受け基台（４１）、軸受け（４２）、負荷用ロッド４３、及びころがり軸受け（４４）を備え、前記負荷用ロッド（４３）は、一端にころがり軸受け（４４）が備えられ、他端が、軸受け（４２）を介して軸受け基台（４１）に固定されており、ころがり軸受け（４４）はカム（３４）に突き当てられており、軸受け基台（４１）がラック台面（８）に固定されており、前記負荷用ブロック（５）が負荷用ロッド（４３）に連結されていることを特徴する請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項６】
前記ころがり軸受け（４４）は、カム（３４）のまわりを周方向に高周波数で転がり動き、負荷用ロッド（４３）には高周波数の励起振幅を発生させ、この高周波数の振幅を負荷用ブロック（５）に伝えるのであり、ころがり軸受け（４４）とカム（３４）とが転がり動きつつ接触する際の硬度を互いに合わせるように、ころがり軸受け（４４）とカム（３４）の材料に対し、調質及び焼き入れの処理が行われていることを特徴する請求項５に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項７】
前記負荷用ブロック（５）は、試験の際に、カム（３４）に与えられた高周波数振動を受けるとともに、クリップ試片（６２）に与えられたプレロード力を受け、プレロード力の範囲は０〜２０ＫＮであることを特徴とする請求項５に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項８】
前記クリップホルダー機構（６）は、ホルダー基台（６１）、ボルト（６３）、及びナット（６４）を備え、前記クリップ試片（６２）は、通常の使用状態のようにしてホルダー基台（６１）に装着され、ホルダー基台（６１）に実装されるボルト（６３）及びナット（６１）のねじ込み力によりプレロード力を調節していることを特徴とする請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項９】
前記クリップホルダー機構（６）は、相異なるクリップの試片を実装して疲労試験を行うことができ、クリップ試片は、「ω」型、「ｅ」型、ＦＣ型、および弾性ロッド、及び弾性板を含むことを特徴とする請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労・動負荷試験機。
【請求項１０】
前記負荷用ブロック（５）及びクリップ試片（６２）には、歪片とセンサが取り付けられ、記録システムにより、クリップの振幅と周波数の変化を記録することを特徴とする請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労動負荷試験機。
【請求項１１】
前記モーター（２）は周波数変換モーターであり、クリップ試片（６２）の使用要求に応じた周波数を負荷するように応答周波数を調整することができ、周波数の範囲は０Ｈｚ〜１００Ｈｚであり、伝動軸（３）、及び負荷用ロッド機構（４）を介して、負荷用ブロック（５）が、相異なる負荷周波数を出力することができることを特徴とする請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労動負荷試験機。
【請求項１２】
試験の安全性を確保するために、試験時に、試験台が保護囲い（７）により確実に取り囲まれており、前記保護囲い（７）には、透明な観察面が設けられ、随時に試験状況を観察し、前記ラック（１）に備えられる４つの支持脚（９）により、試験機の水平状態を調整することができることを特徴とする請求項１に記載のクリップ用高周波数疲労動負荷試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、鉄道分野に使われるファスナー用クリップの疲労試験機に関し、特には、クリップに対し、高周波数で疲労動態負荷を施すための試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
ファスナー機構は、鉄道の軌道構造における重要な部品として、特にレールと軌道をつなぐクリップは、列車の安全運行に重要な役割を果たしている。
【０００３】
従来、ファスナーにおけるクリップの疲労試験機は、２０Ｈｚ以下の低周波での疲労試験しか実行できなかった。列車の運行速度の向上、特に高速鉄道などの大量の路線の開通と運行に伴い、低周波でのクリップの試験方法は、クリップの設計と応用の要求を満たすことができなくなっている。複数の文献によると、特に高速鉄道で使われるクリップは、５００Ｈｚ〜７００Ｈｚの高周波数で疲労により損傷されやすく、実験で高周波数の負荷の形態をシミュレートすることは重要となっているが、既存の低周波試験機又は通常の高周波数振動試験基台では、上記負荷状態をシミュレートすることができなかった。したがって、高周波数（≧２０Ｈｚ）でのクリップの疲労試験システムが求められていた。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来技術の問題点を鑑みて、本発明は、クリップが実際の使用時に受ける応答周波数に応じて、高周波数での動的な疲労シミュレーションを行うことができる鉄道ファスナーにおけるクリップ用高周波数疲労動態負荷試験機を提供することを目的としている。
【０００５】
本発明の目的を達するために、本発明のクリップ用高周波数疲労動負荷試験機は、ラック、モーター、伝道軸機構、負荷用ロッド機構、負荷用ブロック、クリップホルダー機構、保護囲み及びラック台面を備え、前記伝動軸機構は、モーターの出力軸に備えられる小プーリと、カム軸と、大プーリと、カムとを備え、小プーリと大プーリとが歯付ベルトにより伝動連結され、前記の大プーリとカムがカム軸に取り付けられ、前記の負荷用ロッド機構は、一端がカムに突き当てられ、他端が負荷用ブロックに連結され、前記の負荷用ブロックは、クリップホルダー機構に実装される、試片としてのクリップ試片に連結されている。
【０００６】
使用時に、モーターにより、出力軸上に備えられる小プーリを回転駆動させることにより、大プーリ、カム軸及びカムが回転駆動され、カムによりロッド機構を高周波数の周期で駆動し、負荷用ブロックを介して高周波数の振動を引き起こすことで、ホルダー機構に装着されたクリップ試片に、高周波数の振幅及び疲労負荷を与える。
【０００７】
さらに、前記カムは偏心カムであり、偏心距離ｄ１は０ｍｍ〜５ｍｍであり、負荷周波数及び負荷振幅に応じて、カムの偏心距離を調整することにより、第１段階の低周波ｆ１及び振幅ｄ１での動的負荷（ダイナミックローディング）を行うことが可能である。ｆ１の範囲は０〜５０Ｈｚであり、ｆ１＝モーター回転数／伝動比ｉであり、伝動比ｉ＝(主動輪の回転数)／(従動輪の回転数)＝（従動輪の径/主動輪の径）／（１−ベルトスリップ率）であり、ここで、主動輪は小プーリであり、従動輪は大プーリである。
【０００８】
さらに、上記のカムは円形または楕円形であり、その円周面に均一に分布される径方向突起の数がｎであり、均一な波長と波深さ（振幅）ｄ２の凹凸を有する径方向突起により第二段階の高周波数の動的負荷（ダイナミックローディング）を行うことが可能であり、ｎの範囲は０〜２００であり、高周波数での負荷周波数はｆ２であり、ｄ２の範囲は０〜１ｍｍであり、この場合に、高周波数での負荷周波数ｆ２についてｆ２＝ｎ・ｆ１となり、高周波数でのローディング周波数ｆ２の範囲は０〜５００Ｈｚであり、カムは、相異なる直径及び径方向突起の数を有することができ、カムの直径をφとし、負荷用ロッドとクリップ試料との接触点から固定端までの距離をＬ１とし、負荷用ロッドとクリップ試料との接触点から活動端までの距離をＬ２とすると、クリップの振幅ｄは、ｄ＝ｄ２・Ｌ１／（Ｌ１＋Ｌ２）となる。
【０００９】
さらに、前記カム軸は、両端にて、ころがり軸受け基台を介してラック台面に固定され、カム軸の一端に手動ハンドルを取り付けることができ、マニュアルでモーターの小プーリ及び大プーリと歯付きベルトとの噛み合いを調整する。
【００１０】
さらに、前記負荷用ロッド機構は、軸受け基台、軸受け、負荷用ロッド４３、及びころがり軸受けを備え、前記負荷用ロッドは、一端にころがり軸受けが備えられ、他端が、軸受けを介して軸受け基台に固定され、ころがり軸受けはカムに突き当てられ、軸受け基台がラック基台に固定されており、前記負荷用ブロックが負荷用ロッドに連結されている。
【００１１】
さらに、前記ころがり軸受けは、カムのまわりを周方向に高周波数で転がり動き、負荷用ロッドに、高周波数の励起振幅を発生させ、ころがり軸受けとカムとが転がり動きつつ接触する際の硬度を互いに合わせるように、ころがり軸受けとカムの材料に対して、調質及び焼き入れの処理が行われている。
【００１２】
さらに、前記負荷用ブロックは、試験の際にカムに与えられた高周波数振動を受けるとともに、クリップ試料に与えられたプレロード力を受け、プレロード力の範囲は０〜２０ＫＮである。
【００１３】
さらに、前記クリップホルダー機構６は、ホルダー基台、ボルト、及びナットを備え、前記クリップ試料は、通常の使用状態のようにしてホルダー基台に装着され、ホルダー基台に実装されるボルト及びナットのねじ込み力により、プレロード力を調節する。
【００１４】
さらに、上記のクリップホルダー機構は、相異なるクリップの試片を実装して疲労試験を行うことができ、クリップ試片は、「ω」型、「ｅ」型、ＦＣ（fast clip; 快速クリップ）型、弾性ロッド、及び弾性板（板バネ）を含む。
【００１５】
さらに、前記負荷用ブロック及びクリップ試片には、歪片とセンサが取り付けられ、記録システムにより、クリップの振幅と周波数の変化を記録する。
【００１６】
さらに、前記モーターは周波数変換モーターであり、クリップ試片の使用の要求に応じて周波数を負荷するように応答周波数を調整することができ、周波数の範囲は０Ｈｚ〜１００Ｈｚであり、伝動軸、及び負荷用ロッド機構を介して、負荷用ブロックが、相異なるローディング周波数を出力することができる。
【００１７】
さらに、試験の安全性を確保するために、試験時に、試験台が保護囲いにより確実に取り囲まれるようになっており、前記保護囲いには、透明な観察面が設けられる。
【００１８】
本発明の試験機は、従来の技術と比較して、複数の突起と溝を有する特殊な構造の偏心カムを設計することにより、モーターが偏心カムを回転駆動する際に、この偏心カムの表面に接触する負荷用ロッドに、高周波数の駆動振幅が与えられ、負荷用ロッドを介して、負荷用ブロックが、クリップホルダーに装着されたクリップ試片に高周波数の振幅励振を加える。負荷用ブロックにより出力された負荷の周波数は５０００Ｈｚに達することができる。また、試験中に、保護囲いにより確実な保護状態を実現することで、試験安全を確保するのであり、保護囲いには、透明な観察面を設置することで、随時に試験状況を観察することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の全体構成の概略斜視図である。
【図２】本発明の伝動構造の概略斜視図である。
【図３】本発明のカム軸伝動構造の概略斜視図である。
【図４】本発明のカム構造の概略斜視図である。
【図５】本発明の負荷用ロッドの構造の概略斜視図である。
【図６】本発明の振幅計算原理の概略図である。
【図７】実施形態１に係るクリップホルダーの構造の概略斜視図である。
【図８】実施形態２に係るクリップホルダーの構造の概略斜視図である。
【図９】実施形態３に係るクリップホルダーの構造の概略斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、添付図面及び具体的な実施形態に従って、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００２１】
＜実施形態１＞
図１〜図２に示すように、本発明による鉄道レールクリップ用高周波数・疲労動態・負荷試験機は、ラック１、モーター２、伝動軸機構３、負荷用ロッド機構４、負荷用ブロック５、クリップホルダー機構６、保護囲い７、およびラック台面８を備える。図３〜４に示すように、前記伝動軸機構３は、モーター２の出力軸に備えられる小プーリ２１と、カム軸３１軸と、大プーリ３３と、カム３４とを備えており、小プーリ２１と大プーリ３３とは、歯付ベルトにより伝動連結され、前記大プーリ３３とカム３４は、前記カム軸３１に取り付けられている。また、前記カム軸３１は、両端に備えられる転がり軸受け基台３５を介して、ラック台面８に据え付けられており、カム軸３１と、転がり軸受け基台３５との間には、カム軸用軸受け３２が備えられており、前記カム軸３１の一端には、マニュアル転動ハンドル１１を取り付けて、マニュアル（手動）により、モーター２の出力用小プーリ２１及び大プーリ３３と、歯付ベルトとの噛み合いを調整するようになる。
【００２２】
図５に示すように、前記負荷用ロッド機構４は、軸受け基台４１、軸受け４２、負荷用ロッド４３、および、ころがり軸受け４４を含み、この負荷用ロッド４３は、一端に、ころがり軸受け４４を備え、他端は、軸受４２を介して、軸受け基台４１に固定されている。また、ころがり軸受４４は、カム３４の外周面に突き当てられており、軸受け基台４１は、ラック台面８に固定されている。前記負荷用ブロック５は、負荷用ロッド４３と連結されている。前記ころがり軸受け４４は、カム３４の外周面に沿って、周方向に転がりながら、径方向に高周波数の振動を生成し、負荷用ロッド４３を経て、負荷用ブロック５に該高周波数の振幅を伝達することにより、負荷用ブロック５が駆動される。負荷用ブロック５は、該振幅が加えられて、クリップ試片６２に、動態的な負荷を加える。ころがり軸受４４とカム３４とは、互いにころがり接触しながら、高周波数で互いに突き当てられるので、硬度を合わせるように、両者の材料に、調質や焼き入れ処理をすることが好ましい。
【００２３】
図２及び６に示すように、上記クリップホルダー機構６は、ホルダー基台６１と、ボルト６３と、ナット６４とを備え、前記クリップ試片６２は、通常の使用状態のようにしてホルダー基台６１に固定され、ホルダー基台６１に実装されるボルト６３及びナット６１のねじ込み力によりプレロード力を調節する。試験時に、負荷用ブロック５は、カム３４からの高周波数振動だけでなく、クリップ試料６２に作用したプレロード力を受ける。プレロード力は０〜２０ｋＮの範囲、特には、０.１〜２０ｋＮ、１〜２０ｋＮまたは２〜２０ｋＮの範囲内である。前記クリップホルダー機構６により「ω」字形のクリップ試片の実装及び疲労試験を行うことができる。
【００２４】
図１に示すように、試験の安全性を確保するために、試験時に、試験台の台面板１０が保護囲い７により確実に取り囲まれるようになっており、保護囲い７には透明な観察面が設けられており、随時に試験の状況を観察することができる。試験機の全体について、ラック１の４つの支持脚９により水平状態を調整するようになる。
【００２５】
高周波数試験機の作動原理は、モーター２が、その出力軸に備えられる小プーリ２１を駆動することにより、歯付ベルトを経て、カム軸３１に備えられる大プーリ３３が回転駆動され、所定の伝動比により、カム軸３１及びカム３４が、大プーリ３３と同期するように駆動され、負荷用ロッド機構４のころがり軸受け４４に、カム３４からの高周波数の振幅が与えられ、それに伴い、負荷用ロッド４３に高周波数の振幅が与えられる。負荷用ロッド４３に連続するローディングブロック５は、ホルダー６に装着されたクリップ６２に、高周波数の振幅及び疲労負荷を伝達するようになる。また、試験中に保護囲い７が上記構成を確実に覆うように、保護状態にある。試験機全体はフレーム１の４つの支持脚９によって水平状態を調整することになる。
【００２６】
図１及び図２によると、モーター２は、周波数変換モーター（ｖａｒｉａｂｌｅ-ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ ｍｏｔｏｒ）であり、クリップ試片６２に対する試験の要求に応じた周波数を負荷することにより、応答周波数を調整することができる。周波数は０Ｈｚ〜１００Ｈｚの範囲内で、特には、０.１Ｈｚ〜１００Ｈｚ、１Ｈｚ〜１００Ｈｚまたは１０Ｈｚ〜１００Ｈｚの範囲内で変換することができる。これにより、カム３４を含む伝達軸機構３、及び、負荷用ロッド機構４を介して、負荷用ブロック５に伝えられる負荷周波数は、５０００Ｈｚにも達しうる。駆動軸機構３におけるモーターの出力軸に備えられる小プーリ２１と、カム軸３１に備えられる大プーリ３３とは、歯付ベルトにより連結されるのであり、その伝動比ｉは、次式のとおりである：伝動比ｉ＝（主動輪の回転数）／（従動輪の回転数）＝（(従動輪の径)／(主動輪の径)）／（１−ベルトスリップ率）。ここで、主動輪は小プーリ２１であり、従動輪は大プーリ３３である。
【００２７】
図３及び図４によると、カム３４は、周面上にて高周波数の振動を励起する機能を有するようにすべく、設計時に偏心設置され、０ｍｍ〜５ｍｍの偏心距離、特には、０.１ｍｍ〜５ｍｍ、０.５ｍｍ〜５ｍｍまたは１ｍｍ〜５ｍｍの偏心距離を有することができる。また、負荷する周波数の大小、及び負荷する振幅の大小に基づき、カム３４の偏心距離を調整することができ、第１段階の低周波数ｆ１及び振幅ｄ１での動的負荷（ダイナミックローディング）を実現することができる。ｆ１は、０〜５０Ｈｚの範囲内、特には、０.０５Ｈｚ〜５０Ｈｚ、０.５Ｈｚ〜５０Ｈｚまたは５Ｈｚ〜５０Ｈｚの範囲内であり、次式のとおりである：ｆ１＝(モーターの回転数)／伝動比ｉであり、伝動比ｉ＝(主動輪の回転数)／(従動輪の回転数)＝（(従動輪の径)／(主動輪の径)）／（１−ベルトスリップ率）。ここで、主動輪は小プーリ２１であり、従動輪は大プーリ３３となっている。
【００２８】
カム３４の円周面に、ｎ個の径方向突起（特には、断面が、三角形や台形といった多角形をなす突起）を均一に分布させ、均一な波長と波深さ（振幅）ｄ２を有する凹凸をなす径方向突起の構造により、第二段階の高周波数ｆ２及び振幅ｄ２での動的負荷が実現され得る。ｎの範囲は０〜２００（特には、１〜２００、２〜２００または５〜２００）の範囲内であり、ｄ２は０〜１ｍｍ（特には、０.０３〜１ｍｍ、０.１〜１ｍｍまたは０.２〜１ｍｍ）の範囲内であり、高周波数負荷における周波数ｆ２について、ｆ２＝ｎ・ｆ１である。高周波数負荷における周波数ｆ２の範囲は０〜５００Ｈｚ（特には、０.５Ｈｚ〜５００Ｈｚ、５Ｈｚ〜５００Ｈｚまたは５０Ｈｚ〜５００Ｈｚの範囲内）であり、カム３４は、場合によって、異なる直径、及び、異なる数の径方向突起を有することができる。図６に示すように、カム３４の直径をφ、負荷用ロッド４３とクリップ試片６２との接触点から、固定端（軸受け４２）までの距離をＬ１、負荷用ロッド４３とクリップ試片６２との接触点から、活動端（ころがり軸受け４４）までの距離をＬ２とすると、クリップの振幅ｄ＝ｄ２・Ｌ１/（Ｌ１＋Ｌ２）となる。ここでの距離は、図６のような状態での水平方向の距離、すなわち、負荷用ロッド４３が延びる方向に沿った距離である。
【００２９】
所定数の均一な波長と波深さ（振幅）を有する凹凸構造にて、一周期における波長と波深さの数は、次のように計算できる。ｎ＝アナログ周波数／（(選択されたモーターの回転数)／伝動比ｉ）。ここでの伝動比ｉは、上記の伝動比ｉと同じ値である。また、カム３４の全体的な構造は、円形又は楕円形に設計することができる。
【００３０】
＜実施形態２＞
実施形態２は、実施形態１と、主な構成が同じであり、クリップホルダー機構６の点で相違している以外には実施形態１と同じである。本実施形態の説明では、実施形態１と相違する点を述べる。
【００３１】
図８によると、本実施形態において、試片としてのクリップは、ＦＣ型のクリップ（fast clip; 快速クリップ）に変更されたので、試片のクリップは、クリップホルダー６５によって基台６６に固定されており、ボルト６３とナット６４により、クリップに対するプレロード力の調整が行われる。負荷用ブロック５は、本実施形態でも、負荷用ロッド４３と接続されており、負荷用ブロック５は、直接に、試片クリップの中央部に対して高周波数の振幅を加える。
【００３２】
＜実施形態３＞
実施形態３は、実施形態１と、主な構成が同じであり、クリップホルダー機構６の点で相違している以外には実施形態１と同じである。本実施形態の説明では、実施形態１と相違する点を述べる。
【００３３】
図９によると、本実施形態において、試片としてのクリップは、「ｅ」型のクリップに変更されたので、試料のクリップは、クリップホルダー６５’によって基台６６に固定されており、ボルト６３とナット６４により、クリップに対するプレロード力の調整が行われる。負荷用ブロック５は、本実施形態でも、負荷用ロッド４３と接続されており、負荷用ブロック５は、直接に、試片のクリップの脚部（「ｅ」の字の下端部に相当する部分）に対して高周波数の振幅を加える。
【符号の説明】
【００３４】
１  ラック；  ２  モーター；  ３  伝動軸機構；  ４  負荷用ロッド機構；  
５  負荷用ブロック；  ６  クリップホルダー機構；  ７  保護囲い；  
８  ラック台面；  ９  支持脚；  １０  台面板；  
１１  マニュアル転動ハンドル；  ２１  小プーリ；  ３１  カム軸；  
３２  カム軸受け；  ３３  大プーリ；  ３４  カム；  ３５  ころがり軸受け基台；  
４１  軸受け基台；  ４２  軸受け；  ４３  負荷用ロッド；  ４４  ころがり軸受け；  
６１  ホルダー基台；  ６２  クリップの試片；  ６３  ボルト;  ６４  ナット;  
６５  クリップホルダー;  ６６  基台。
【図１】
2020109404.tif 000003
【図２】
2020109404.tif 000004
【図３】
2020109404.tif 000005
【図４】
2020109404.tif 000006
【図５】
2020109404.tif 000007
【図６】
2020109404.tif 000008
【図７】
2020109404.tif 000009
【図８】
2020109404.tif 000010
【図９】
2020109404.tif 000011