(57)【要約】【課題】周辺光量落ちに関するデータの像高に対して実際の撮像素子上での像高がずれても良好な周辺光量補正を行う。【解決手段】画像処理装置１は、撮像光学系１０からの光を光電変換する撮像素子１２の出力を用いて画像データを生成する。該装置は、周辺光量落ちに関する第１のデータを取得する取得手段１ａと、画像データに対する周辺光量補正を行う補正手段１ｂとを有する。撮像素子は、撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有する。補正手段は、第１の光と第２の光の光量比に所定の変化が生ずる第１の像高を検出し、該第１の像高と第１のデータとを用いて周辺光量補正を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像光学系からの光を光電変換する撮像素子の出力を用いて画像データを生成する画像処理装置であって、
周辺光量落ちに関する第１のデータを取得する取得手段と、
前記画像データに対する周辺光量補正を行う補正手段とを有し、
前記撮像素子は、前記撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有し、
前記補正手段は、前記第１の光と前記第２の光の光量比に所定の変化が生ずる第１の像高を検出し、該第１の像高と前記第１のデータとを用いて前記周辺光量補正を行うことを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記所定の変化は、像高の単位変化量に対する前記光量比の変化量が所定値より大きい変化であることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記第１のデータは、該第１のデータ上での像高と前記撮像素子上での像高とにずれがないとしたときのデータであることを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記補正手段は、前記周辺光量補正において、前記第１の像高と前記第１のデータとを用いて前記周辺光量落ちに関する第２のデータを作成し、該第２のデータを用いて前記画像データを補正することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記第１のデータは、前記光量比に前記所定の変化が生ずる第２の像高を有しており、
前記補正手段は、前記第１の像高が前記第２の像高より低い場合は、
前記第２のデータにおける前記第１の像高のデータを、前記第１のデータのうち前記第１の像高より低い像高と高い像高でのデータを用いた補間により作成し、
前記第２のデータにおける前記第１の像高より高い像高範囲のデータを、前記補間より作成した前記第１の像高でのデータと前記第１のデータにおける前記第２の像高より高い第３の像高でのデータとを用いた補間により作成することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第１のデータは、前記光量比に前記所定の変化が生ずる第２の像高を有しており、
前記補正手段は、前記第１の像高が前記第２の像高より高い場合は、
前記第２のデータにおける前記第１の像高でのデータを、前記第１のデータのうち前記第１の像高より低い像高範囲のデータの外挿により生成し、
前記第２のデータにおける前記第１の像高より高い像高範囲のデータを、前記外挿により作成した前記第１の像高でのデータと前記第１のデータにおける前記第２の像高より高い第３の像高でのデータとを用いた補間により作成することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記第１のデータは、前記撮像光学系のＦ値に応じて異なるデータであり、
前記補正手段は、前記画像データを生成するための撮像時における前記Ｆ値に応じた前記第１のデータを用いて前記周辺光量補正を行うことを特徴とする請求項１から６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
撮像光学系からの光を光電変換する撮像素子であって、前記撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有する撮像素子と、
請求項１から７のいずれか一項に記載の画像処理装置とを有することを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
前記撮像光学系を有するレンズユニットが前記撮像装置に対して着脱可能であり、
前記第１のデータを前記レンズユニットの識別情報に関連付けて記憶する記憶手段を有することを特徴とする請求項８に記載の撮像装置。
【請求項１０】
撮像光学系からの光を光電変換する撮像素子の出力を用いて画像データを生成する画像処理方法であって、
周辺光量落ちに関する第１のデータを取得するステップと、
前記画像データに対する周辺光量補正を行う補正ステップとを含み、
前記撮像素子は、前記撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有しており、
前記補正ステップにおいて、前記第１の光と前記第２の光の光量比に所定の変化が生ずる第１の像高を検出し、前記第１の像高と前記第１のデータとを用いて前記周辺光量補正を行うことを特徴とする画像処理方法。
【請求項１１】
コンピュータに、請求項１０に記載の画像処理方法に従う処理を実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像により得られる画像の周辺光量補正に関する。
【背景技術】
【０００２】
周辺光量補正とは、撮像光学系の絞りによるけられ等によって生ずる撮像画像の中心部に対する周辺部の光量落ちを補正する処理である。予め像高ごとにデータとして記憶された周辺光量の逆数を各像高の輝度値に乗ずることで、画像全体の明るさを均一にすることができる。
【０００３】
ただし、記憶された周辺光量のデータにおける像高と実際の撮像素子上での像高とが撮像装置の製造誤差等でずれることがある。図１４は、周辺光量（実施例で説明するＡＢ光量比）のデータの例を示す。このデータにおける像高に対して実際の撮像素子上での像高にずれがなければ、図１５に実線で示すように良好に周辺光量補正が行われる。一方、＋０．１ｍｍおよび−０．１ｍｍだけでも実際の像高がずれると、図１５に破線および一点鎖線によりそれぞれ示すように、図１４において周辺光量が急激に減少する像高である±１４〜２２ｍｍ付近で過補正や補正不足が発生する。
【０００４】
良好な周辺光量補正を行う方法として、特許文献１には、均一輝度の輝度箱を撮像して得られた輝度箱画像と照明光源の明るさが異なる複数の白色チャートを撮像して得られた複数のチャート画像とを用いて周辺光量落ちを補正する方法が開示されている。また特許文献２には、撮像画像の輝度を同心円状に平均化したデータから像高と周辺光量との関係を算出し、それを用いて周辺光量補正を行う方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１５-１２５５３７号公報
【特許文献２】特開２０１３-０１３０４３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示された方法では、輝度箱を撮像したときの撮像条件（焦点距離、物体距離および絞り値）においては正確な補正結果が得られるが、それ以外の撮像条件では誤差が生じる。また特許文献２に開示された方法では、同心円状の領域を平均化しているため、光量が最も多い部分から放射状に同じ補正値を用いる。このため、製造誤差によって左右で周辺光量落ちが異なる場合に対応することができない。
【０００７】
本発明は、周辺光量落ちに関するデータの像高に対して実際の撮像素子上での像高がずれても良好な周辺光量補正を行うことができるようにした画像処理装置および撮像装置等を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一側面としての画像処理装置は、撮像光学系からの光を光電変換する撮像素子の出力を用いて画像データを生成する。該画像処理装置は、周辺光量落ちに関する第１のデータを取得する取得手段と、画像データに対する周辺光量補正を行う補正手段とを有する。撮像素子は、撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有する。補正手段は、第１の光と第２の光の光量比に所定の変化が生ずる第１の像高を検出し、該第１の像高と第１のデータとを用いて周辺光量補正を行うことを特徴とする。
【０００９】
なお、上記画像処理装置を有する撮像装置も、本発明の他の一側面を構成する。
【００１０】
また、本発明の他の一側面としての画像処理方法は、撮像光学系からの光を光電変換する撮像素子の出力を用いて画像データを生成する方法である。該画像処理方法は、周辺光量落ちに関する第１のデータを取得するステップと、画像データに対する周辺光量補正を行う補正ステップとを含む。撮像素子は、撮像光学系の射出瞳における互いに異なる領域を通過した第１の光および第２の光をそれぞれ光電変換する少なくとも２つの光電変換部を画素ごとに有する。補正ステップにおいて、第１の光と第２の光の光量比に所定の変化が生ずる第１の像高を検出し、第１の像高と第１のデータとを用いて周辺光量補正を行うことを特徴とする。
【００１１】
なお、上記画像処理方法に従う処理をコンピュータに実行させるコンピュータプログラムも、本発明の他の一側面を構成する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、周辺光量落ちに関する第１のデータの像高に対して実際の撮像素子上での像高がずれても良好な周辺光量補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の実施例１における周辺光量補正処理を示すフローチャート。
【図２】実施例１の撮像装置の構成を示すブロック図。
【図３】実施例１における第１の像高を検出する処理を示すフローチャート。
【図４】撮像面ＡＦに用いられる撮像素子の撮像面の拡大図。
【図５】周辺光量落ちを生じさせるレンズ枠によるケラレについて説明する図。
【図６】実施例１におけるＡ像とＢ像の光量の像高に応じた変化を示す図。
【図７】（ａ）実施例１におけるＡ像とＢ像の光量比を示す図および（ｂ）該光量比を二回微分を示す図。
【図８】実施例１における周辺光量比データを補正する処理を示すフローチャート。
【図９】実施例１においてＨＧＴ＞ｈｇｔのときの周辺光量比データの補正を示す図。
【図１０】実施例１においてＨＧＴ＜ｈｇｔのときの周辺光量比データの補正を示す図。
【図１１】補正された周辺光量比データを用いることの効果を示す図。
【図１２】本発明の実施例２における周辺光量比データを補正する処理を示すフローチャート。
【図１３】実施例２における補正前後の周辺光量比データを比較する図。
【図１４】周辺光量比データの例を示す図。
【図１５】図１４の周辺光量比データを用いた場合の周辺光量の過補正と補正不足を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００１５】
図１は、本発明の実施例１である撮像装置の構成を示す。撮像光学系１０は、複数のレンズと絞り１１とを含み、不図示の被写体からの光を結像させる。撮像素子１２は、ＣＭＯＳセンサ等により構成され、撮像光学系１０により形成された被写体像を撮像（光電変換）する。
【００１６】
画像処理装置としての画像処理部１は、入力部（取得手段）１ａを通じて撮像素子１２から取得した撮像信号（アナログ信号）をデジタル信号に変換し、該デジタル信号に対して各種画像処理を行って画像データを生成する。この際、画像処理部１は、周辺光量補正部（補正手段）１ｂにおいて画像データに対して後述する周辺光量補正を行う。撮像装置は、後述する第１のデータとしての設計ＡＢ光量比データを記憶したメモリ（記憶手段）２を有する。画像処理部１（周辺光量補正部１ｂ）は、メモリ２から設計ＡＢ光量比データを取得し、該設計ＡＢ光量比データを用いて周辺光量補正を行う。画像処理部１は、ＣＰＵやＧＰＵ等のマイクロコンピュータにより構成されている。
【００１７】
また撮像装置は、画像処理部１により生成された画像データを表示するＬＣＤ等の表示部５を有し、さらに画像データを半導体メモリ等の不図示の記憶媒体に記憶する。
【００１８】
図４は、撮像素子１２の撮像面の一部を拡大して示している。撮像素子１２の複数の画素２１１にはベイヤー配列のカラーフィルタが設けられている。具体的には、奇数行の画素には左から順に緑（Ｇ）と赤（Ｒ）のカラーフィルタが交互に、偶数行の画素には左から順に青（Ｂ）と緑（Ｇ）のカラーフィルタが交互に配置されている。
【００１９】
１つの画素２１１に対して１つのオンチップマイクロレンズ２１１ｉが設けられており、オンチップマイクロレンズ２１１ｉの下にはＸ方向に分割された２つの光電変換部２１１ａ，２１１ｂが設けられている。撮像素子１２は、各画素２１１の各光電変換部から独立して光電変換信号を出力可能であるとともに、同画素内の２つの光電変換部からの光電変換信号の和である加算信号を出力可能である。加算信号から一方の光電変換部からの光電変換信号（Ａ信号）を減じることで、他方の光電変換部からの光電変換信号（Ｂ信号）に相当する信号を得ることができる。Ａ信号とＢ信号は後述するＡ像信号とＢ像信号の生成に用いられ、Ａ像信号とＢ像信号は撮像面位相差ＡＦや周辺光量補正に用いられる。また加算信号は、撮像信号に用いられる。なお、本実施例では、各画素２１１に２つの光電変換部２１１ａ，２１１ｂが設けられている場合について説明するが、４つ等、２つ以上の光電変換部が設けられていればよい。
【００２０】
図２のフローチャートは、画像処理部１（周辺光量補正部１ｂ）がコンピュータプログラムに従って実行する周辺光量補正処理（画像処理方法）を示している。ステップＳ００１では、画像処理部１は、撮像光学系１０内の絞り１１のＦ値を初期値（例えば開放Ｆ値）に設定する。
【００２１】
次にステップＳ００２では、画像処理部１は、撮像素子１２から撮像信号を取得し、撮像素子１２における複数の画素２１１の光電変換部２１１ａからのＡ信号をつなぎ合わせたＡ像信号と光電変換部２１１ｂからのＢ信号をつなぎ合わせたＢ像信号とを生成する。なお、撮像素子１２から取得された撮像信号はＲＧＢ等の色（カラーフィルタ）ごとの信号であるため、カラーフィルタの単位配列（例えばベイヤ配列におけるＲ，Ｇ，Ｇ，Ｂ）に含まれるＲＧＢ信号を加算した疑似的な輝度信号を用いてＡ像信号とＢ像信号を生成する。
【００２２】
次にステップＳ００３では、画像処理部１は、ステップＳ００２で生成されたＡ像信号とＢ像信号の輝度値から、撮像素子１２における全像高でのＡＢ光量比（以下、測定ＡＢ光量比という）を算出する。ＡＢ光量比は、像高ごとのＡ像信号とＢ像信号の輝度比、言い換えればＡ像とＢ像の光量比（Ａ像の光量をＢ像の光量で除した値）である。ＡＢ光量比の例を前述した図１４に示している。
【００２３】
次にステップＳ００４では、画像処理部１は、測定ＡＢ光量比において像高の単位変化量に対する測定ＡＢ光量比の変化量が所定値より大きい変化（所定の変化：以下、急峻な変化という）が生じる像高（第１の像高：以下、測定光量落ち像高という）ｈｇｔを検出する。
【００２４】
測定光量落ち像高ｈｇｔの検出方法について説明する。図５は、撮像光学系１０を通過して撮像素子１２上の像高ａ，ｂ，ｃに入射する光線を示している。撮像光学系１０には、図中に両矢印で示すレンズと、二重線で示す絞り１１やレンズを保持する部材等のレンズ枠とが含まれている。実線は各像高に結像する光の上光線と下光線であり、破線は撮像光学系１０の射出瞳の中心を通過する主光線である。撮像素子１２の各画素（２つの光電変換部）は、射出瞳のうち主光線よりも上側の瞳領域ＥＰＡを通過する上光線と下側の瞳領域ＥＰＢを通過する下光線とを分割して受光する。
【００２５】
図６は、各像高でのＡＢ光量比を示している。像高ａに結像する光はレンズ枠にけられることなく撮像素子１２に到達する。像高ｂに結像する光のうち主光線より上側の部分だけ撮像素子１２に近い側のレンズ枠によってけられている。像高ｃに結像する光は、主光線より上側の部分と下側の部分が撮像素子１２から遠い側（被写体側）のレンズ枠と撮像素子１２に近い側のレンズ枠の両方によってけられている。
【００２６】
ＡＢ光量比は、上述した上光線（第１の光）と下光線（第２の光）の光量比であり、上光線と下光線のうち一方がけられるとＡＢ光量比が変化する。ＡＢ光量比の急峻な変化は、上光線と下光線がレンズ枠によってけられ始める像高付近で生じる。
【００２７】
ここで、Ａ像信号とＢ像信号のうち一方のみの輝度値からも周辺光量落ちを測定することは可能である。しかし、実際の被写体は均一な輝度面であることは少ない。このため、Ａ像信号とＢ像信号のうち一方の輝度値だけではどの像高でけられ方が変化したかを検出することができない。したがって、本実施例では、ＡＢ光量比のデータを、撮像光学系１０から撮像素子１２までの系における周辺光量落ちに関するデータとして用いる。そして本実施例では、測定ＡＢ光量比の像高による変化から、上述した急峻な変化が生じる測定光量落ち像高を検出する。
【００２８】
図３のフローチャートは、ステップＳ００４において測定光量落ち像高ｈｇｔを検出する処理を示している。ステップＳ１００１では、画像処理部１は、図７（ａ）に示す像高ごとの測定ＡＢ光量比をその像高によって二回微分する。図７（ａ）には、例としての具体的な像高の値を示している。二回微分の結果を図７（ｂ）に示す。
【００２９】
次にステップＳ１００２では、画像処理部１は、図７（ｂ）に示す二回微分の結果から測定ＡＢ光量比に急峻な変化が生じる測定光量落ち像高ｈｇｔを検出する。そして図１のステップＳ００５に進む。
【００３０】
ステップＳ００５では、画像処理部１は、メモリ２からＦ値ごとに記憶された設計ＡＢ光量比データを読み出す。設計ＡＢ光量比データは、撮像光学系１０から撮像素子１２までの系における周辺光量落ちに関するデータであり、より詳しくは、撮像光学系１０の像面上の像高と撮像素子１２上の像高とにずれがない理想状態での（すなわち設計値としての）ＡＢ光量比である設計ＡＢ光量比を示すデータである。本実施例において、設計ＡＢ光量比データは、離散的に選択された複数の代表像高での設計ＡＢ光量比を示すデータである。そして画像処理部１は、メモリ２から読み出した設計ＡＢ光量比データにおいて上述した急峻な変化が生じる像高である設計光量落ち像高（第２の像高）ＨＧＴを取得する。
【００３１】
次にステップＳ００６では、画像処理部１は、設計光量落ち像高ＨＧＴおよびステップＳ００４で検出した測定光量落ち像高ｈｇｔを用いて設計ＡＢ光量比データを補正して第２のデータとしての補正ＡＢ光量比データを作成する。言い換えれば、設計光量落ち像高ＨＧＴ、測定光量落ち像高ｈｇｔおよび設計ＡＢ光量比データを用いて補正ＡＢ光量比データを作成する。補正ＡＢ光量比データは、上記複数の代表像高と測定光量落ち像高ｈｇｔでの補正ＡＢ光量比を示すデータである。
【００３２】
図８のフローチャートは、ステップＳ００５およびステップＳ００６において設計光量落ち像高ＨＧＴを取得して補正ＡＢ光量比データを作成する処理を示している。ここでは上述した複数の代表像高を低い像高から順に、ＨＧＴ１，ＨＧＴ２，・・・ＨＧＴｎとする。
【００３３】
ステップＳ５００１では、画像処理部１は、測定ＡＢ光量比データが測定光量落ち像高ｈｇｔを含むか否かを判定し、含むときはステップＳ５００２に進み、含まないときはステップＳ５００３に進む。
【００３４】
ステップＳ５００２では、画像処理部１は、測定光量落ち像高ＨＧＴがｋ（＝１〜ｎ）番目の代表像高であるＨＧＴｋとｋ＋１番目の代表像高であるＨＧＴｋ＋１との間にあるか否かを判定し、そうであるときはステップＳ５００４に進み、そうでないときはステップＳ５００５に進む。
【００３５】
ステップＳ５００４では、画像処理部１は、設計光量落ち像高ＨＧＴをメモリ２から読み出して又は測定光量落ち像高ｈｇｔと同様に設計ＡＢ光量比データを二回微分して算出することにより取得する。そしてステップＳ５００６に進む。
【００３６】
一方、ステップＳ５００３およびステップＳ５００５では、画像処理部１は、ＨＧＴｋとＨＧＴｋ＋１の間の補正ＡＢ光量比データをＨＧＴｋとＨＧＴｋ＋１の設計ＡＢ光量比を用いた線形補間により作成する。そして後述するステップＳ５００９に進む。
【００３７】
ステップＳ５００６では、画像処理部１は、設計光量落ち像高ＨＧＴと測定光量落ち像高ｈｇｔとを比較する。画像処理部１は、ＨＧＴ＞ｈｇｔの場合はステップＳ５００７において図９（ａ），（ｂ）に示す方法により補正ＡＢ光量比データを作成し、ＨＧＴ＜ｈｇｔの場合はステップＳ５００８において図１０（ａ），（ｂ）に示す方法により補正ＡＢ光量比データを作成する。
【００３８】
図９（ａ）およびその一部を拡大した図９（ｂ）において、実線は設計ＡＢ光量比データを示し、◆は離散的な代表像高に対する設計ＡＢ光量比を示す。また、破線は補正ＡＢ光量比データを示し、▲は代表像高、ｈｇｔおよびＨＧＴでの補正ＡＢ光量比を示す。
【００３９】
図９（ｂ）では、設計光量落ち像高ＨＧＴおよび測定光量落ち像高ｈｇｔ付近の像高を３つの像高範囲ｐ，ｑ，ｓに分け、それぞれの像高範囲で以下の処理を行うことで補正ＡＢ光量比データを作成する。像高範囲ｐは測定光量落ち像高ｈｇｔより低い像高範囲、像高範囲ｑは測定光量落ち像高ｈｇｔから代表像高ＨＧＴｋ＋１までの像高範囲、像高範囲ｓは代表像高ＨＧＴｋ＋１より高い像高範囲である。測定光量落ち像高ｈｇｔでの補正ＡＢ光量比は、代表像高ＨＧＴｋとＨＧＴｋ＋１とを用いた補間により算出される。
ｐ：設計ＡＢ光量比データのままの補正ＡＢ光量比データに変換
ｑ：測定光量落ち像高ｈｇｔでの設計ＡＢ光量比と代表像高（第３の像高）ＨＧＴｋ＋１での設計ＡＢ光量比を用いた線形補間
ｓ：設計ＡＢ光量比データのままの補正ＡＢ光量比データに変換
図１０（ａ）およびその一部を拡大した図１０（ｂ）において、実線は設計ＡＢ光量比データを示し、◆は離散的な代表像高に対する設計ＡＢ光量比を示す。また、一点鎖線は補正ＡＢ光量比データを示し、●は代表像高、ｈｇｔおよびＨＧＴでの補正ＡＢ光量比を示す。図１０（ｂ）では、設計光量落ち像高ＨＧＴおよび測定光量落ち像高ｈｇｔ付近の像高を４つの像高範囲ｐ，ｑ，ｒ，ｓに分け、それぞれの像高範囲で以下の処理を行うことで補正ＡＢ光量比データを作成する。像高範囲ｐは設計光量落ち像高ＨＧＴより低い像高範囲、像高範囲ｑは設計光量落ち像高ＨＧＴから測定光量落ち像高ｈｇｔまでの像高範囲、像高範囲ｒは測定光量落ち像高ｈｇｔから代表像高ＨＧＴｋ＋１までの像高範囲、像高範囲ｓは代表像高ＨＧＴｋ＋１より高い像高範囲である。
ｐ：設計ＡＢ光量比データのままの補正ＡＢ光量比データに変換
ｑ：像高範囲ｐの設計ＡＢ光量比データを用いた外挿（延長）
ｒ：上記外挿により求めた測定光量落ち像高ｈｇｔでの補正ＡＢ光量比と代表像高ＨＧＴｋ＋１での設計ＡＢ光量比とを用いた線形補間
ｓ：設計ＡＢ光量比データのままの補正ＡＢ光量比データに変換
ステップＳ５００３，Ｓ５００５，Ｓ５００７またはＳ５００８で補正ＡＢ光量比データを作成した画像処理部１は、ステップＳ５００９にて補正ＡＢ光量比データをメモリ２に記憶（補正ＡＢ光量比データで設計ＡＢ光量比データを上書き）する。そして図２のステップＳ００７に進む。
【００４０】
ステップＳ００７では、画像処理部１は、絞り１１において設定可能な全てのＦ値に対する補正ＡＢ光量比データの作成が終了したか否かを判定し、まだ終了していない場合はステップＳ００１に戻り、絞り１１のＦ値を変更してステップＳ００２からの処理を繰り返す。全てのＦ値に対する補正ＡＢ光量比データの作成が終了した場合はステップＳ００８に進む。
【００４１】
ステップＳ００８では、画像処理部１は、撮像により生成された画像データに対して、その撮像時のＦ値に対応する補正ＡＢ光量比データを用いた周辺光量補正を行い、周辺光量落ちが良好に補正された画像データを表示部５や記憶媒体に出力する。そして本処理を終了する。
【００４２】
図１１は、設計ＡＢ光量比データを用いた周辺光量補正の結果と本実施例の補正ＡＢ光量比データを用いた周辺光量補正の結果とを示す。設計ＡＢ光量比データを用いた周辺光量補正では、点線（ＨＧＴ＞ｈｇｔ）および実線（ＨＧＴ＜ｈｇｔ）で示すようにそれぞれ補正不足と過補正が発生している。これに対して、本実施例のように補正ＡＢ光量比データを用いた周辺光量補正では、一点鎖線で示すように中心部から周辺部まで均一な光量（ＡＢ光量比）、すなわち輝度の画像データが得られる。すなわち本実施例によれば、設計ＡＢ光量比データ上の像高と実際の撮像素子上での像高とのずれによる周辺光量補正の過補正や補正不足を抑制することができる。
【実施例２】
【００４３】
次に、本発明の実施例２について説明する。図１２のフローチャートは、本実施例において実施例１で説明した図２のステップＳ００６で行われる処理を示している。
【００４４】
ステップＳ６００１では、画像処理部１は、測定ＡＢ光量比データが測定光量落ち像高ｈｇｔを含むか否かを判定し、含むときはステップＳ６００２に進み、含まないときはステップＳ６００３に進む。
【００４５】
ステップＳ６００２では、画像処理部１は、注目像高ｈが測定光量落ち像高ｈｇｔより高いか否かを判定し、測定光量落ち像高ｈｇｔより高い場合はステップＳ６００４に進み、そうでない場合はステップＳ６００５に進む。
【００４６】
ステップＳ６００３およびステップＳ６００５では、画像処理部１は、ＨＧＴｋとＨＧＴｋ＋１の間の補正ＡＢ光量比データをＨＧＴｋとＨＧＴｋ＋１の設計ＡＢ光量比を用いた線形補間により作成する。そして後述するステップＳ６００６に進む。
【００４７】
一方、ステップＳ６００４では、画像処理部１は、ＨＧＴ１からＨＧＴｋまでの設計ＡＢ光量比を用いた外挿により測定光量落ち像高ｈｇｔより高い像高範囲の補正ＡＢ光量比データを作成する。
【００４８】
ステップＳ６００３，Ｓ６００４またはＳ６００５で補正ＡＢ光量比データを作成した画像処理部１は、ステップＳ６００６にて補正ＡＢ光量比データをメモリ２に記憶し、図２のステップＳ００７に進む。
【００４９】
図１３は、設計ＡＢ光量比データと本実施例の補正ＡＢ光量比データとの違いを示す。補正ＡＢ光量比データでは、図中に一点鎖線で示すように、設計ＡＢ光量比データのような急峻な周辺光量落ちがなくなり、最周辺部までＡＢ光量比が緩やかに低下する。この補正ＡＢ光量比データを用いることで、設計ＡＢ光量比データ上の像高と実際の撮像素子上での像高とのずれによる周辺光量補正の過補正や補正不足を抑制することができる。
【００５０】
なお、上記各実施例で説明した撮像光学系１０は、撮像素子１２を備えた撮像装置本体に対して着脱可能な交換レンズユニットに設けられていてもよい。この場合、撮像装置本体のメモリ２に、交換レンズユニットに対応する補正ＡＢ光量比データを該交換レンズユニットの識別情報（ＩＤ）に関連付けて記憶するようにしてもよい。これにより、撮像装置本体に一度装着されて補正ＡＢ光量比データが作成された交換レンズユニットに対して、再度、補正ＡＢ光量比データを作成する必要をなくすることができる。
（その他の実施例）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【００５１】
以上説明した各実施例は代表的な例にすぎず、本発明の実施に際しては、各実施例に対して種々の変形や変更が可能である。
【符号の説明】
【００５２】
１  画像処理部
１ａ  入力部
１ｂ  周辺光量補正部
１０  撮像光学系
１１  絞り
１２  撮像素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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