(57)【要約】【課題】光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化する。【解決手段】本開示に係るデータ処理装置１０は、光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器１の測定データに基づき、光ファイバにおけるイベントを検出するイベント検出部１２１と、検出されたイベントごとに、イベントが検出された測定データに基づく、イベントに関する情報を示すテーブルを生成するテーブル生成部１２２と、を備え、テーブル生成部１２２は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、同じ位置にあるイベントを１つのイベントとしてテーブルに登録する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出するイベント検出部と、
前記イベント検出部により検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成するテーブル生成部と、を備え、
前記テーブル生成部は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載のデータ処理装置において、
前記テーブル生成部は、前記複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録した場合、該イベントが検出された複数の測定データそれぞれに基づく前記イベントに関する情報を前記テーブルに登録することを特徴とするデータ処理装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載のデータ処理装置において、
前記テーブル生成部により生成されたテーブルを表示部に表示する表示制御部をさらに備えることを特徴とするデータ処理装置。
【請求項４】
光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データを処理するデータ処理装置におけるデータ処理方法であって、
前記測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出するステップと、
前記検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成するステップと、を含み、
１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録することを特徴とするデータ処理方法。
【請求項５】
コンピュータに、
光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出する処理と、
前記検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成する処理と、
１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録する処理とを実行させるデータ処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、データ処理装置、データ処理方法およびデータ処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
敷設された光通信用の光ファイバの試験を行うための測定器として、測定対象の光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化（例えば、長手方向の損失分布）を測定する光パルス試験器（ＯＴＤＲ:Optical Time Domain Reflectometer）がある（例えば、特許文献１参照）。光ファイバの断線などの故障点、光ファイバ同士の接続点、分岐点、融着点、曲げ点および終端点など（以下、「イベント」と称する）は、光ファイバにおける光の伝搬に影響を及ぼす。そのため、光ファイバの敷設・保守時などに、光パルス試験器の測定データの解析により、イベントの検出などが一般的に行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−０５３５４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記のような光パルス試験器の測定データの解析においては、複数の測定データに基づく解析が簡易化されれば有益である。
【０００５】
上記のような問題点に鑑みてなされた本開示の目的は、光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができるデータ処理装置、データ処理方法およびデータ処理プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
幾つかの実施形態に係るデータ処理装置は、光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出するイベント検出部と、前記イベント検出部により検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成するテーブル生成部と、を備え、前記テーブル生成部は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録する。
このような構成を有するデータ処理装置によれば、使用者は、解析対象の測定データを切り替えることなく、複数の測定データから検出されたイベントについて、そのイベントに関する情報の比較などを行うことができる。そのため、光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができる。
【０００７】
一実施形態において、前記テーブル生成部は、前記複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録した場合、該イベントが検出された複数の測定データそれぞれに基づく前記イベントに関する情報を前記テーブルに登録する。
このような構成により、複数の測定データそれぞれに基づき検出された、同じ位置にあるイベントを１つのイベントとしてイベントテーブルに登録した場合にも、複数の測定データそれぞれに基づくイベントに関する情報を使用者が容易に確認することができる。
【０００８】
一実施形態において、データ処理装置は、前記テーブル生成部により生成されたテーブルを表示部に表示する表示制御部をさらに備える。
このような構成により、生成されたテーブルを表示部に表示することで、使用者が容易に測定データの解析結果を確認することができる。
【０００９】
幾つかの実施形態に係るデータ処理方法は、光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データを処理するデータ処理装置におけるデータ処理方法であって、前記測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出するステップと、前記検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成するステップと、を含み、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録する。
このような構成を有するデータ処理方法によれば、使用者は、解析対象の測定データを切り替えることなく、複数の測定データから検出されたイベントについて、そのイベントに関する情報の比較などを行うことができる。そのため、光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができる。
【００１０】
幾つかの実施形態に係るデータ処理プログラムは、コンピュータに、光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器の測定データに基づき、前記光ファイバにおけるイベントを検出する処理と、前記検出されたイベントごとに、該イベントが検出された測定データに基づく、前記イベントに関する情報を示すテーブルを生成する処理と、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の前記測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、該同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして前記テーブルに登録する処理とを実行させる。
このような構成を有するデータ処理プログラムによれば、使用者は、解析対象の測定データを切り替えることなく、複数の測定データから検出されたイベントについて、そのイベントに関する情報の比較などを行うことができる。そのため、光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本開示に係るデータ処理装置、データ処理方法およびデータ処理プログラムによれば、光パルス試験器の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本開示の一実施形態に係るデータ処理装置の構成例を示す図である。
【図２】図１に示すテーブル生成部による接続損失の計算方法について説明するための図である。
【図３】従来のデータ処理装置におけるデータ処理方法について説明するためのフローチャートである。
【図４】従来のデータ処理装置における解析結果の表示例を示す図である。
【図５】図１に示すテーブル生成部が生成するテーブルリストの構成例を示す図である。
【図６】図１に示すデータ処理装置における、ファイルの読み込みに伴うデータ処理方法について説明するためのフローチャートである。
【図７】図１に示すデータ処理装置における、解析対象のファイルの選択に伴うデータ処理方法について説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本開示を実施するための形態について、図面を参照しながら説明する。各図中、同一符号は、同一または同等の構成要素を示している。
【００１４】
図１は、本開示の一実施形態に係るデータ処理装置１０の構成例を示す図である。本実施形態に係るデータ処理装置１０は、測定対象である光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化（例えば、長手方向の損失分布）を測定する光パルス試験器１の測定データを処理（解析）する。測定対象の光ファイバは、例えば、敷設された光ファイバである。データ処理装置１０は、例えば、図１に示すように、有線通信または無線通信を介して、光パルス試験器１から測定データを取得し、取得した測定データを処理する。
【００１５】
図１に示すデータ処理装置１０は、操作受付部１１と、演算部１２と、表示部１３と、制御部１４とを備える。データ処理装置１０は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）ならびに各種プログラムおよびデータを格納するメモリなどを備えるコンピュータ（例えば、パーソナルコンピュータ）で実現可能である。データ処理装置１０がコンピュータで実現される場合には、演算部１２および制御部１４は、メモリに格納されたデータ処理プログラムをＣＰＵが読み出して実行することにより実現される。
【００１６】
操作受付部１１は、ユーザによる操作入力を受け付け、入力された操作に応じた信号を制御部１４に出力する。操作受付部１１は、例えば、ボタン、スイッチ、ダイヤルノブなどで構成される。また、操作受付部１１は、表示部１３の表示面上にタッチセンサのタッチ面を配置したタッチパネルとして構成されてもよい。
【００１７】
演算部１２は、光パルス試験器１の測定データに基づいて種々の演算を行い、測定データを解析する。演算部１２は、イベント検出部１２１と、テーブル生成部１２２とを備える。
【００１８】
イベント検出部１２１は、光パルス試験器１の測定データから、光パルス試験器１による測定対象の光ファイバにおけるイベントを検出する。具体的には、イベント検出部１２１は、光パルス試験器１により測定された光パルスの戻り光の強度波形からイベントを検出する。
【００１９】
テーブル生成部１２２は、イベント検出部１２１により検出されたイベントごとに、そのイベントが検出された測定データに基づく、イベントに関する情報を示すイベントテーブルを生成する。イベントに関する情報としては、例えば、イベントの位置、イベントにおける接続損失（Splice Loss）、および、イベントにおける反射減衰量（Return Loss）などがある。これらの情報は、イベントが検出された測定データに基づく所定の演算により算出することができる。
【００２０】
図２は、光パルス試験器１により検出された光パルスの戻り光の強度波形の一例を示す図である。図２において、横軸は、光パルス試験器１と光ファイバとの接続点（始点Ｓ）からの距離を示し、縦軸は戻り光の強度を示す。始点Ｓからの距離は、パルス光の入射後、戻り光が検出されるまでの時間と、光ファイバにおける光の伝搬速度とから求めることができる。
【００２１】
図２においては、始点Ｓと光ファイバの終端点Ｅとの間に（図２において、番号「１」、「２」が付された位置に）、２つのイベントが検出された例を示している。また、これらの２つのイベントとは別に、終端点Ｅがイベントとして検出される。
【００２２】
テーブル生成部１２２は、図２に示す強度波形に基づき、所定の演算式に従い、接続損失および反射減衰量などを算出する。接続損失および反射減衰量などの演算式は、公知のものであってよく、ここでは詳細な説明は省略する。本明細書では、一例として、接続損失の演算を行う場合について説明する。
【００２３】
テーブル生成部１２２は、始点Ｓにおけるピークの立ち下がり位置とイベント１（図２において、番号「１」が付された位置に存在するイベント）におけるピークの立ち上がり位置とを結ぶ第１の近似直線と、イベント１におけるピークの立ち下がり位置と終端点Ｅにおけるピークの立ち上がり位置とを結ぶ第２の近似直線とを求める。そして、テーブル生成部１２２は、イベント１におけるピークの立ち上がり位置での、第１の近似直線の値と第２の近似直線の値との差を、イベント１における接続損失として演算する。
【００２４】
図１を再び参照すると、表示部１３は、制御部１４の制御に従い、測定データの解析結果などを表示する。表示部１３は、ファイル一覧表示部１３１と、波形表示部１３２と、解析結果表示部１３３とを備える。
【００２５】
ファイル一覧表示部１３１は、光パルス試験器１からデータ処理装置１０に読み込まれた測定データのファイル（例えば、ＳＯＲファイル）の一覧を表示する。
【００２６】
波形表示部１３２は、操作受付部１１を介して選択されたファイルの測定データから得られる、戻り光の強度波形を表示する。
【００２７】
解析結果表示部１３３は、演算部１２による測定データに基づく演算により得られた解析結果を表示する。例えば、解析結果表示部１３３は、テーブル生成部１２２により生成されたイベントテーブルを表示する。
【００２８】
制御部１４は、操作受付部１１を介した操作入力に応じて、データ処理装置１０全体の動作を制御する。例えば、制御部１４は、ユーザにより選択されたファイルの測定データの解析を演算部１２に行わせ、その結果を表示部１３に表示する。制御部１４は、ファイル制御部１４１と、演算制御部１４２と、表示制御部１４３とを備える。
【００２９】
ファイル制御部１４１は、データ処理装置１０に読み込まれた測定データのファイルを管理する。
【００３０】
演算制御部１４２は、演算部１２による測定データの解析処理を制御する。具体的には、演算制御部１４２は、操作受付部１１を介して解析対象のファイルを選択する操作を受け付けると、選択されたファイルの測定データの解析を演算部１２に指示する。例えば、演算制御部１４２は、イベント検出部１２１に、選択された測定データからイベントを検出させる。また、演算制御部１４２は、テーブル生成部１２２に、イベント検出部１２１により検出されたイベントごとに、選択された測定データに基づき、イベントに関する情報を示すテーブルを生成させる。
【００３１】
表示制御部１４３は、表示部１３の表示を制御する。例えば、表示制御部１４３は、ファイル制御部１４１で管理される、データ処理装置１０に読み込まれた測定データのファイルの一覧を表示部１３に表示させる。また、表示制御部１４３は、測定データに示される戻り光の強度波形を表示部１３に表示させる。また、表示制御部１４３は、テーブル生成部１２２により生成されたイベントテーブルを表示部１３に表示させる。
【００３２】
次に、本実施形態に係るデータ処理装置１０におけるデータ処理方法について説明する。まず、比較のために、従来のデータ処理装置におけるデータ処理方法について説明する。
【００３３】
図３は、従来のデータ処理装置におけるデータ処理方法について説明するためのフローチャートである。
【００３４】
光パルス試験器１からデータ処理装置に、測定データのファイルの読み込みが行われる（ステップＳ１１）。
【００３５】
次に、読み込まれたファイルの中から、解析対象のファイルを選択する操作が受け付けられると（ステップＳ１２）、選択されたファイルは解析済みであるか否かの判定が行われる（ステップＳ１３）。
【００３６】
選択されたファイルが解析済みである場合には（ステップＳ１３：ＹＥＳ）、選択されたファイルの測定データの解析結果が表示される（ステップＳ１４）。
【００３７】
選択されたファイルが解析済みでない場合には（ステップＳ１３：ＮＯ）、選択されたファイルの測定データの解析が実行され（ステップＳ１５）、その後、ステップＳ１４の処理に進み、解析結果が表示される。
【００３８】
図４は、従来のデータ処理装置における測定データの解析結果の表示例を示す図である。
【００３９】
図４に示すように、従来のデータ処理装置においては、データ処理装置に読み込まれたファイルの一覧リスト２０１が表示される。使用者は、一覧リスト２０１からファイルを選択することで、解析対象のファイルを選択することができる。一覧リスト２０１において、選択されたファイルは、例えば、他のファイルとは異なる態様で表示される。図４においては、ファイル名「００２．ＳＯＲ」のファイルが解析対象として選択された状態を示している。
【００４０】
解析対象のファイルが選択されると、そのファイルの測定データから得られる、光パルス試験器１とデータ処理装置との接続点からの距離に応じた戻り光の強度を示す波形２０２が表示される。また、イベントを示すマーカ２０３が表示される。
【００４１】
また、解析対象として選択されたファイルの測定データから検出されたイベントごとに、その測定データに基づく、イベントに関する情報（イベントの位置、イベントにおける接続損失および反射減衰量など）を示すイベントテーブル２０４が表示される。
【００４２】
このように、従来のデータ処理装置においては、解析対象として選択された１つのファイルの測定データに基づく解析結果しか表示されなかった。そのため、複数の測定データに基づく解析のためには、解析対象の測定データを順次切り替えるといった作業が必要となり、複数の測定データの解析の煩雑化を招いていた。また、１本の光ファイバについて、複数の条件での測定、あるいは、過去の測定データと比較しながらの測定が行われる場合がある。このような場合、異なる測定データそれぞれに基づきイベントが検出された場合、同じ位置のイベントは１つのイベントとして取り扱われることが望ましい。また、複数の光ファイバが束ねて敷設された場合にも、同じ位置のイベントは１つのイベントとして取り扱われることが望ましい。しかしながら、従来のデータ処理装置においては、上述したように、１つの測定データに基づく測定結果しか表示されないため、複数の測定データの解析の煩雑化を招いていた。
【００４３】
そこで、本実施形態に係るデータ処理装置１０においては、テーブル生成部１２２は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、その同じ位置にあるイベントを１つのイベントとしてイベントテーブルに登録する。
【００４４】
図５は、テーブル生成部１２２が生成するイベントテーブル３００の構成例を示す図である。
【００４５】
テーブル生成部１２２は、イベント検出部１２１により検出されたイベントにイベント番号３０１を付して、イベントテーブル３００に登録する。テーブル生成部１２２は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合（光パルス試験器１と光ファイバとの接続点からの距離が等しい場合）、その同じ位置にあるイベントを１つのイベントとして、すなわち、同じイベント番号のイベントとして、イベントテーブル３００に登録する。
【００４６】
また、テーブル生成部１２２は、イベント番号を付したイベントごとに、そのイベントの位置、具体的には、光パルス試験器１と光ファイバとが接続された始点Ｓからイベントまでの距離３０２をイベントテーブル３００に含める。
【００４７】
また、テーブル生成部１２２は、読み込んだファイルの測定データごとの番号を示す測定データ番号３０３をイベントテーブル３００に登録する。
【００４８】
また、テーブル生成部１２２は、イベント番号が付されたイベントごとに、そのイベントが検出された測定データに基づき、そのイベントの位置における解析結果３０４をイベントテーブル３００に含める。テーブル生成部１２２は、イベントの位置における解析結果３０４として、イベントにおける接続損失（Splice Loss）および反射減衰量（Return Loss）などのイベントに関する情報をイベントテーブル３００に含める。
【００４９】
テーブル生成部１２２は、複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントを１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録した場合、そのイベントが検出された複数の測定データそれぞれに基づくイベントに関する情報をイベントテーブル３００に登録する。例えば、イベント番号「４」のイベントが、測定データ番号「２」の測定データと、測定データ番号「３」の測定データとから検出されたとする。この場合、テーブル生成部１２２は、イベント番号「４」のイベントに対して、測定データ番号「２」の測定データに基づく解析結果と、測定データ番号「３」の測定データに基づく解析結果とをイベントテーブル３００に含める。
【００５０】
なお、テーブル生成部１２２は、解析が済んでいない測定データについては、解析結果を空欄とする（つまり、データを入力しない）。こうすることで、解析が済んでいない測定データを使用者が容易に把握することができる。また、テーブル生成部１２２は、ある測定データについて、他の測定データに基づき検出されたイベントが検出されなかった場合、そのイベントに対する、その測定データに基づく解析結果を空欄とする。
【００５１】
次に、本実施形態に係るデータ処理装置１０におけるデータ処理方法について、図６および図７に示すフローチャートを参照して説明する。なお、上述したように、データ処理装置１０は、光パルス試験器１から読み込んだファイルの一覧および測定データに示される戻り光の強度波形なども表示部１３に表示する。以下では、これらの表示については説明を省略し、イベントテーブル３００の生成および表示について説明する。
【００５２】
図６は、光パルス試験器１からのファイルの読み込みに伴うデータ処理を示すのフローチャートである。
【００５３】
演算制御部１４２は、光パルス試験器１から測定データのファイルを読み込むと（ステップＳ２１）と、イベントテーブル３００の生成をテーブル生成部１２２に指示する。なお、光パルス試験器１から読み込まれるファイルは、１または束ねられた複数の光ファイバの測定データのファイルである。このようなファイルは、例えば、使用者により選択されて、データ処理装置１０に読み込まれる。
【００５４】
テーブル生成部１２２は、演算制御部１４２の指示を受けて、読み込んだファイルの測定データごとに測定データ番号を付して、イベントテーブル３００の末尾に追加する（ステップＳ２２）。
【００５５】
次に、テーブル生成部１２２は、読み込んだファイルの測定データは解析済みであるか否かを判定する（ステップＳ２３）。
【００５６】
読み込んだファイルの測定データは解析済みではないと判定した場合には（ステップＳ２３：ＮＯ）、後述するステップＳ２６の処理に進む。
【００５７】
読み込んだファイルの測定データは解析済みであると判定した場合には（ステップＳ２３：ＹＥＳ）、イベント検出部１２１は、その測定データに基づき、イベントを検出する。また、テーブル生成部１２２は、イベント検出部１２１により検出されたイベントをイベントテーブル３００に登録する（ステップＳ２４）。ここで、テーブル生成部１２２は、上述したように、複数の測定データから検出されたイベントが同じ位置にある場合には、それらのイベントを１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録する。
【００５８】
次に、テーブル生成部１２２は、イベントテーブル３００に登録したイベントごとに、そのイベントにおける解析結果、すなわち、イベントの位置、イベントにおける接続損失およびイベントにおける反射減衰量などのイベントに関する情報をイベントテーブル３００に登録する（ステップＳ２５）。
【００５９】
次に、表示制御部１４３は、テーブル生成部１２２により生成されたイベントテーブル３００を表示部１３に表示させる（ステップＳ２６）。ここで、表示制御部１４３は、読み込んだファイルの測定データが解析済みではない場合には、測定データごとの測定データ番号の追加だけが行われたイベントテーブル３００を表示部１３に表示させる。
【００６０】
図７は、解析対象のファイルの選択に伴う処理を示すフローチャートである。
【００６１】
演算制御部１４２は、操作受付部１１を介して、解析対象のファイルを選択する操作を受け付けると（ステップＳ３１）、その選択されたファイルの測定データの解析を演算部１２に指示する。
【００６２】
イベント検出部１２１およびテーブル生成部１２２は、演算制御部１４２の指示を受けて、選択されたファイルの測定データの解析を実行する（ステップＳ３２）。具体的には、イベント検出部１２１は、選択されたファイルの測定データに基づき、イベントを検出する。また、テーブル生成部１２２は、イベント検出部１２１により検出されたイベントごとに、イベントに関する情報を演算する。
【００６３】
次に、テーブル生成部１２２は、イベント検出部１２１により検出されたイベントをイベントテーブル３００に登録する（ステップＳ３３）。ここで、テーブル生成部１２２は、上述したように、複数の測定データから検出されたイベントが同じ位置にある場合には、それらのイベントを１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録する。
【００６４】
次に、テーブル生成部１２２は、イベントテーブル３００に登録されたイベントごとに、そのイベントにおける解析結果、すなわち、イベントの位置、イベントにおける接続損失およびイベントにおける反射減衰量などのイベントに関する情報を、イベントテーブル３００に登録する（ステップＳ３４）。
【００６５】
次に、表示制御部１４３は、テーブル生成部１２２により生成されたイベントテーブル３００を表示部１３に表示させる（ステップＳ３５）。
【００６６】
このように本実施形態においては、データ処理装置１０は、光パルス試験器１の測定データに基づき、光ファイバにおけるイベントを検出するイベント検出部１２１と、イベント検出部１２１により検出されたイベントごとに、そのイベントが検出された測定データに基づく、イベントに関する情報を示すイベントテーブル３００を生成するテーブル生成部１２２と、を備える。テーブル生成部１２２は、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、その同じ位置にあるイベントを１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録する。
【００６７】
また、本実施形態においては、データ処理装置１０におけるデータ処理方法は、測定データに基づき、光ファイバにおけるイベントを検出するステップ（ステップＳ３２）と、検出されたイベントごとに、そのイベントが検出された測定データに基づく、イベントに関する情報を示すイベントテーブル３００を生成するステップ（ステップＳ３３およびステップＳ３４）とを含む。そして、データ処理装置１０におけるデータ処理方法においては、１または束ねられた複数の光ファイバに対する複数の測定データそれぞれに基づき検出されたイベントが同じ位置にある場合、その同じ位置にあるイベントが１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録される。
【００６８】
複数の測定データそれぞれに基づき検出された、同じ位置にあるイベントを１つのイベントとしてイベントテーブル３００に登録することで、使用者は、解析対象の測定データを切り替えることなく、複数の測定データから検出されたイベントについて、そのイベントに関する情報の比較などを行うことができる。そのため、光パルス試験器１の複数の測定データに基づく解析を簡易化することができる。
【００６９】
以上、データ処理装置１０について説明したが、データ処理装置１０として機能させるために、コンピュータを用いることも可能である。そのようなコンピュータは、データ処理装置１０の各機能を実現する処理内容を記述したデータ処理プログラムを、該コンピュータの記憶部に格納しておき、該コンピュータのＣＰＵによってこのデータ処理プログラムを読み出して実行させることで実現することができる。
【００７０】
また、データ処理プログラムは、コンピュータが読取り可能な記録媒体に記録されていてもよい。このような記録媒体を用いれば、データ処理プログラムをコンピュータにインストールすることが可能である。ここで、データ処理プログラムが記録された記録媒体は、非一過性の記録媒体であってもよい。非一過性の記録媒体は、特に限定されるものではないが、例えば、ＣＤ−ＲＯＭおよびＤＶＤ−ＲＯＭなどの記録媒体であってもよい。
【００７１】
上述の実施形態は代表的な例として説明したが、本開示の趣旨および範囲内で、多くの変更および置換が可能であることは当業者に明らかである。したがって、本開示は、上述の実施形態によって制限するものと解するべきではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形および変更が可能である。例えば、実施形態の構成図に記載の複数の構成ブロックを１つに組み合わせたり、あるいは１つの構成ブロックを分割したりすることが可能である。
【符号の説明】
【００７２】
１    光パルス試験器
１０    データ処理装置
１１    操作受付部
１２    演算部
１３    表示部
１４    制御部
１２１    イベント検出部
１２２    テーブル生成部
１３１ファイル一覧表示部
１３２    波形表示部
１３３    解析結果表示部
１４１    ファイル制御部
１４２    演算制御部
１４３    表示制御部
【図１】
2020051848.tif 000003
【図２】
2020051848.tif 000004
【図３】
2020051848.tif 000005
【図４】
2020051848.tif 000006
【図５】
2020051848.tif 000007
【図６】
2020051848.tif 000008
【図７】
2020051848.tif 000009