(57)【要約】【課題】長周期ノイズの見逃しによる最大電界強度位置の検出精度の低下を抑制しつつ、放射妨害波の総測定時間が長くなってしまうことを抑制することができる放射妨害波測定装置を提供する。【解決手段】放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布に基づいて、最大電界強度位置を検出する放射妨害波測定装置であって、制御装置を備え、制御装置は、第１確率についての第１許容値と、放射妨害波の発生周期とを受け付け、第２確率と第１確率とを対応付ける第１式と、第１許容値とに基づいて、第１確率が第１許容値である場合における第２確率を第２許容値として算出し、サンプリング時間と第２確率と当該発生周期とを対応付ける第２式と、算出した第２許容値とに基づいて、第２確率が第２許容値である場合におけるサンプリング時間を算出する、放射妨害波測定装置。【選択図】図３
2020051920.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、前記メディアンフィルタを適用した後の前記電界強度分布に基づいて、前記面上において電界強度が最大となる最大電界強度位置を検出する放射妨害波測定装置であって、
制御装置を備え、
前記制御装置は、
前記メディアンフィルタを適用した後の前記電界強度分布にスパイクノイズが残存する第１確率についての第１許容値と、前記放射妨害波の発生周期とを受け付け、
長周期ノイズが測定されない第２確率と前記第１確率とを対応付ける第１式と、受け付けた前記第１許容値とに基づいて、前記第１確率が前記第１許容値である場合における前記第２確率を第２許容値として算出し、
前記面上に設定される複数の測定点のそれぞれにおいて前記放射妨害波を測定するサンプリング時間と前記第２確率と前記発生周期とを対応付ける第２式と、算出した前記第２許容値とに基づいて、前記第２確率が前記第２許容値である場合における前記サンプリング時間を算出する、
放射妨害波測定装置。
【請求項２】
前記制御装置は、
算出した前記サンプリング時間に基づいて、前記放射妨害波を受信するアンテナの移動速度を算出する、
請求項１に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項３】
前記第１式は、以下に示した式（１）及び式（２）によって表され、
Ｐ（Ｘ）は、前記第１確率を示し、
Ｎｓは、前記電界強度分布に含まれる前記スパイクノイズの数を示し、
Ｎｍは、前記測定点の数を示し、
Ｘは、前記第２確率を示す、
【数１】
2020051920.tif 000010
【数２】
2020051920.tif 000011
請求項１又は２に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項４】
前記第２式は、以下に示した式（３）によって表され、
Ｔｓは、前記サンプリング時間を示し、
Ｔｎは、前記長周期ノイズの発生周期を示し、
Ｘは、前記第２確率を示す、
【数３】
2020051920.tif 000012
請求項１から３のうちいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項５】
前記放射妨害波を受信するアンテナと、
前記アンテナを前記放射源に対して相対的に移動させる移動装置と、
を備え、
前記制御装置は、
算出した前記サンプリング時間に基づいて前記移動装置を制御し、前記複数の前記測定点のそれぞれに前記アンテナを移動させて前記放射妨害波を測定し、
前記放射妨害波を測定した結果に基づいて、前記電界強度分布を生成し、
生成した前記電界強度分布に前記メディアンフィルタを適用し、
前記メディアンフィルタを適用した後の前記電界強度分布に基づいて、前記最大電界強度位置を検出する、
請求項１から４のうちいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射妨害波測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、放射妨害波を測定する放射妨害波測定装置を用いた放射妨害波試験が行われている。放射妨害波は、電子機器等の放射源から放射される電磁波のことである。放射妨害波試験では、最大電界強度位置において、放射妨害波の電界強度が一定時間測定される。そして、放射妨害波測定試験では、測定された電界強度が、国際的に定められた規格の許容値以下であるか否か確認される。ここで、最大電界強度位置は、測定対象となる放射妨害波の電界強度（電界の強さ）が最大となる位置のことである。
【０００３】
このような放射妨害波試験では、３０−１０００ＭＨｚの周波数帯域の各周波数について最大電界強度位置を検出する必要がある。このため、放射妨害波測定試験では、広帯域にスペクトルを測定可能なスペクトルアナライザが用いられる。
【０００４】
広帯域にスペクトルを測定可能なスペクトルアナライザの一例として、一般的な掃引型のスペクトルアナライザ（例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ）が挙げられる。一般的な掃引型のスペクトルアナライザは、所定のサンプリング時間（又は滞留時間）毎に、測定できる周波数を所定の分解能帯域幅において掃引しながら、周波数スペクトルを測定する。そのため、当該スペクトルアナライザでは、ある周波数をサンプリングしている最中において当該周波数以外の周波数の放射妨害波が発生した場合、当該放射妨害波を捕捉することができない。
【０００５】
一方、広帯域にスペクトルを測定可能なスペクトルアナライザの一例として、ＦＦＴ（Fast  Fourier  Transform）方式のスペクトルアナライザも挙げられる。ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザは、ＦＦＴ処理中においてサンプリングを行わない。このため、当該スペクトルアナライザでは、ＦＦＴ処理中に発生した放射妨害波を捕捉することができない。ここで、ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザは、サンプリング時間の時間波形を取得し、取得した時間波形のＦＦＴ処理を行い、周波数スペクトルを得るスペクトルアナライザのことである。
【０００６】
このように、放射妨害波の発生周期がスペクトルアナライザのサンプリング時間を超える場合、放射妨害波の捕捉率は、１００％未満となる。このため、当該場合、スペクトルアナライザによって測定して得られた電界強度分布には、放射妨害波を捕捉できた測定点と、放射妨害波を捕捉できない測定点とが含まれることになる。その結果、スペクトルアナライザによって測定して得られた電界強度分布からは、最大電界強度位置を正しく検出することができず、正しい試験の結果を得られないことがある。すなわち、放射妨害波試験では、当該電界強度分布を用いた場合、規格不適合品を見逃してしまう可能性がある。
【０００７】
この問題を解決するため、長周期ノイズの測定を複数回行うことにより長周期ノイズの捕捉率を向上させる方法が提案されている（特許文献１参照）。ここで、長周期ノイズは、発生周期がサンプリング時間を超える放射妨害波のことである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２０１７−１８１１０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、このような方法では、測定を複数回行うため、放射妨害波の総測定時間が長くなってしまうという問題があった。ここで、放射妨害波の総測定時間は、放射妨害波試験において放射妨害波を測定する測定時間の総計のことである。
【００１０】
本発明は、このような事情を考慮してなされたもので、長周期ノイズの見逃しによる最大電界強度位置の検出精度の低下を抑制しつつ、放射妨害波の総測定時間が長くなってしまうことを抑制することができる放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の一態様は、放射妨害波の放射源を囲む面上に形成される電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、前記メディアンフィルタを適用した後の前記電界強度分布に基づいて、前記面上において電界強度が最大となる最大電界強度位置を検出する放射妨害波測定装置であって、制御装置を備え、前記制御装置は、前記メディアンフィルタを適用した後の前記電界強度分布にスパイクノイズが残存する第１確率についての第１許容値と、前記放射妨害波の発生周期とを受け付け、長周期ノイズが測定されない第２確率と前記第１確率とを対応付ける第１式と、受け付けた前記第１許容値とに基づいて、前記第１確率が前記第１許容値である場合における前記第２確率を第２許容値として算出し、前記面上に設定される複数の測定点のそれぞれにおいて前記放射妨害波を測定するサンプリング時間と前記第２確率と前記発生周期とを対応付ける第２式と、算出した前記第２許容値とに基づいて、前記第２確率が前記第２許容値である場合における前記サンプリング時間を算出する、放射妨害波測定装置である。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、長周期ノイズの見逃しによる最大電界強度位置の検出精度の低下を抑制しつつ、放射妨害波の総測定時間が長くなってしまうことを抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施形態に係る放射妨害波測定装置１の構成の一例を示す図である。
【図２】ある時間Ｔ１における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。
【図３】時間Ｔ１よりも後の時間Ｔ２における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。
【図４】時間Ｔ２より後の時間Ｔ３における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。
【図５】放射妨害波測定装置１が備える制御装置１０の機能構成の一例を示す図である。
【図６】放射源５０を囲む面上に設定された複数の測定点を例示する図である。
【図７】放射妨害波測定装置１が最大電界強度位置を検出する処理の流れの一例を示す図である。
【図８】放射妨害波の捕捉率が１００％未満である場合における電界強度分布の一例を示す図である。
【図９】メディアンフィルタを適用する前の画像Ｐに含まれる９個の点のそれぞれを例示する図である。
【図１０】図９に示したスパイクノイズに対してメディアンフィルタを適用した結果の一例を示す図である。
【図１１】放射妨害波の発生周期Ｔｎに対する移動時間Ｔｍ１、サンプリング時間Ｔｓ１、処理時間Ｔｄ１それぞれの相対的な長さを示す図である。
【図１２】発生周期Ｔｎに対する移動時間Ｔｍ２、サンプリング時間Ｔｓ２、処理時間Ｔｄ２それぞれの相対的な長さを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
＜実施形態＞
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１５】
＜放射妨害波測定装置の構成＞
まず、図１を参照し、実施形態に係る放射妨害波測定装置１の構成について説明する。図１は、実施形態に係る放射妨害波測定装置１の構成の一例を示す図である。
【００１６】
放射妨害波測定装置１は、制御装置１０と、アンテナ昇降機構２１と、回転機構２２と、アンテナ３０と、測定器４０を備える。なお、アンテナ昇降機構２１及び回転機構２２は、移動装置の一例である。
【００１７】
放射妨害波測定装置１は、例えば、電波暗室の内部に配置される。電波暗室は、金属製の床面と、電波吸収体が貼り付けられた壁面を有する暗室である。金属製の床面は、グランドプレーンである。
【００１８】
放射妨害波測定装置１は、例えば、ＥＭＣ（ElectroMagnetic  Compatibility）規格、シスプル（ＣＩＳＰＲ）１６−２−３規格等の規格に従って、放射源５０から放射される放射妨害波を測定する。放射源５０は、例えば、コンピューター、携帯電話端末等の電子機器である。なお、放射源５０は、放射妨害波を放射する他の装置、放射妨害波を放射する他の機器であってもよい。
【００１９】
より具体的には、放射妨害波測定装置１は、ＥＭＣ規格、シスプル１６−２−３規格等の規格に従って、回転機構２２によって放射源５０を回転させながら、放射源５０から放射される放射妨害波の測定を行う。ここで、放射妨害波測定装置１は、アンテナ昇降機構２１及び回転機構２２によってアンテナ３０と放射源５０との相対的な位置を変更させる。以下では、説明の便宜上、アンテナ昇降機構２１及び回転機構２２によってアンテナ３０と放射源５０との相対的な位置を変更させることを、単にアンテナ３０を移動させると称して説明する。
【００２０】
アンテナ昇降機構２１は、アンテナ３０を支持する。アンテナ昇降機構２１は、図１に示したアンテナマストＭに取り付けられる。アンテナマストＭは、アンテナマストＭが設置される面に対して垂直方向に配置される支柱である。アンテナマストＭが設置される面は、例えば、前述の電波暗室の床面である。なお、アンテナマストＭが設置される面は、電波暗室の壁面等の他の面であってもよい。
【００２１】
アンテナ昇降機構２１は、制御装置１０により行われる制御に基づいて、アンテナマストＭに沿ってアンテナ３０を昇降（移動）させる。すなわち、アンテナ３０は、アンテナ昇降機構２１の駆動によって、電波暗室の床面に対して垂直方向に昇降する。以下では、一例として、当該床面が平面である場合について説明する。また、以下では、一例として、当該床面に対して垂直な方向が重力の方向及び重力の反対方向と一致している場合について説明する。また、以下では、説明の便宜上、重力の方向を下又は下方向と称し、重力の反対方向を上又は上方向と称して説明する。なお、アンテナマストＭが設置される面と、アンテナ３０の昇降方向との位置関係には、他の位置関係が用いられてもよい。
【００２２】
回転機構２２は、制御装置１０により行われる制御に基づいて、回転機構２２の上に配置される物体を回転させる。回転機構２２は、例えば、回転テーブルである。本実施形態では、回転機構２２の上には、図１に示した台Ｂが配置される。そして、台Ｂの上に、測定器４０により測定を行う対象となる放射源５０が配置される。なお、放射源５０は、台Ｂを介さずに、回転機構２２の上に配置される構成であってもよい。
【００２３】
回転機構２２は、制御装置１０により行われる制御に基づいて、電波暗室の床面と直交する方向（垂直方向）に沿った回転軸ＡＸの周りに、台Ｂ及び放射源５０を回転させる。回転機構２２は、回転軸ＡＸとアンテナマストＭとが平行（又は略平行）となるように配置されることが好ましい。以下では、一例として、回転機構２２が、回転軸ＡＸとアンテナマストＭとが平行（又は略平行）となるように配置されている場合について説明する。
【００２４】
測定器４０は、アンテナ３０が受信した電磁波（例えば、前述の放射妨害波）の測定を行う。より具体的には、測定器４０は、アンテナ３０が受信した電磁波の電界強度の周波数スペクトルを測定する。これにより、測定器４０は、放射源５０を囲む面上に形成される電界強度分布を測定する。測定器４０は、測定した周波数スペクトルを制御装置１０に出力する。より具体的には、測定器４０は、制御装置１０により行われる制御に基づいて、放射源５０を囲む面上に設定された複数の測定点のそれぞれにおいて、制御装置１０により設定されたサンプリング時間だけ周波数スペクトルを測定する。例えば、測定器４０は、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザである。以下では、説明の便宜上、放射源５０を囲む面上に設定された複数の測定点のそれぞれを、単に測定点と称して説明する。
【００２５】
例えば、図２〜図４に示すように、測定器４０は、制御装置１０により算出されたサンプリング時間毎に、測定できる周波数を所定の分解能帯域幅３００において掃引しながら（変化させながら）、周波数スペクトルを測定する。図２は、ある時間Ｔ１における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。図３は、時間Ｔ１よりも後の時間Ｔ２における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。図４は、時間Ｔ２より後の時間Ｔ３における測定器４０の分解能帯域幅３００の一例を示す図である。この場合、サンプリング時間は、掃引時間を掃引ポイント数で割った時間である。
【００２６】
なお、測定器４０は、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザに限定されず、例えば、ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザであってもよい。この場合、サンプリング時間は、時間波形のサンプリング時間である。
【００２７】
制御装置１０は、放射妨害波測定装置１の全体を制御する。ここで、図５を参照し、制御装置１０の機能構成について説明する。図５は、放射妨害波測定装置１が備える制御装置１０の機能構成の一例を示す図である。
【００２８】
制御装置１０は、主制御部１００と、入力部１１０と、出力部１２０と、通信部１３０と、記憶部１４０を備える。制御装置１０が備えるこれらの機能部は、バスを介して互いに通信可能に接続されている。
【００２９】
入力部１１０は、例えば、キーボード、マウス、タッチパッド等の入力装置である。例えば、入力部１１０には、放射妨害波測定装置１のユーザーから受け付けた操作によって、各種の情報が入力される。例えば、入力部１１０には、放射源５０から放射される放射妨害波の測定についての各種の測定条件が入力される。測定条件については、後述する。
【００３０】
出力部１２０は、例えば、液晶ディスプレイパネル、有機ＥＬ（ElectroLuminescence）ディスプレイパネル等を含む表示装置である。出力部１２０は、放射源５０から放射される放射妨害波の測定結果等を示す情報を出力する。また、出力部１２０は、例えば、ネットワークを介して各種の情報を収集する収集装置と接続されており、当該収集装置に対して当該測定結果等を示す情報を出力する構成であってもよい。
【００３１】
通信部１３０は、例えば、ＵＳＢ等のデジタル入出力ポートやイーサネット（登録商標）ポート等を含んで構成される。ここで、制御装置１０は、通信部１３０を介して、アンテナ昇降機構２１、回転機構２２、測定器４０のそれぞれと通信を行う。
【００３２】
主制御部１００は、制御装置１０の全体を制御する。主制御部１００は、駆動制御部１０１と、電界強度分析部１０２と、演算処理部１０３を備える。主制御部１００が備えるこれらの機能部は、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）等のプロセッサーが、記憶部１４０に記憶された各種の指令（例えば、プログラム、プログラムに含まれる各コマンド等）を実行することにより実現される。また、当該機能部のうちの一部又は全部は、ＬＳＩ（Large  Scale  Integration）、ＡＳＩＣ（Application  Specific  Integrated  Circuit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable  Gate  Array）、ＧＰＵ（Graphics  Processing  Unit）等のハードウェアによって実現される構成であってもよく、ソフトウェアとハードウェアの協働によって実現される構成であってもよい。
【００３３】
駆動制御部１０１は、アンテナ昇降機構２１と回転機構２２との少なくとも一方を駆動させ、アンテナ３０を移動させる。より具体的には、駆動制御部１０１は、演算処理部１０３による演算結果に基づいて回転機構２２を制御し、回転機構２２を回転させる。また、駆動制御部１０１は、アンテナ回転機構２３を制御し、アンテナ３０を上昇又は下降させる。
【００３４】
なお、駆動制御部１０１は、制御装置１０に備えられる構成に代えて、制御装置１０、アンテナ昇降機構２１、回転機構２２のそれぞれと通信可能に接続される駆動制御装置に備えられる構成であってもよい。この場合、放射妨害波測定装置１は、当該駆動制御装置を更に備える。
【００３５】
電界強度分析部１０２は、測定器４０から取得された周波数スペクトルに基づいて、放射源５０から放射された放射妨害波の電界強度の分析を行う。例えば、電界強度分析部１０２は、取得された周波数スペクトルに基づいて、当該放射妨害波の電界強度分布を生成する。電界強度分析部１０２は、生成した電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、メディアンフィルタを適用する前の当該電界強度分布に含まれるスパイクノイズの少なくとも一部を除去する。スパイクノイズについては、後述する。電界強度分析部１０２は、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布に基づいて、最大電界強度位置を検出する。ここで、最大電界強度位置は、放射源５０を囲む面上において電界強度が最大となる位置のことである。
【００３６】
演算処理部１０３は、入力部１１０を介して、第１確率についての第１許容値を受け付ける。ここで、第１確率は、電界強度分析部１０２が生成した電界強度分布にメディアンフィルタを適用した後に、当該電界強度分布にスパイクノイズが残存してしまう確率のことである。第１許容値は、ユーザーが所望する検出精度と最大電界強度位置の検出精度とを一致させた場合において、第１確率の値として許される値のうちの最大の値のことである。
【００３７】
演算処理部１０３は、受け付けた第１許容値に基づいて、サンプリング時間Ｔｓを算出する。サンプリング時間Ｔｓは、複数の測定点のそれぞれにおいて測定器４０に放射妨害波を測定させる時間のことである。
【００３８】
より具体的には、サンプリング時間Ｔｓは、第１測定点から第２測定点までのアンテナ３０の先端が移動している間において、測定器４０に放射妨害波を測定させる時間のことである。すなわち、サンプリング時間Ｔｓは、第１測定点から第２測定点までアンテナ３０の先端が移動している時間以下の時間である。ここで、第１測定点は、複数の測定点のうち、測定器４０が放射妨害波を測定する対象となる測定点のことである。第２測定点は、アンテナ３０の先端が第１測定点と一致した直後にアンテナ３０の先端が一致する測定点のことである。例えば、駆動制御部１０１がアンテナ３０の先端を測定点Ｔ１１、測定点Ｔ１２、測定点Ｔ１３の順に測定点Ｔ１１、測定点Ｔ１２、測定点Ｔ１３のそれぞれと一致させるようにアンテナ３０を移動させる場合、測定点Ｔ１１が最初の第１測定点であり、測定点Ｔ１２が最初の第２測定点である。この場合、演算処理部１０３は、アンテナ３０の先端が測定点Ｔ１１と一致してからサンプリング時間Ｔｓが経過するまでの間、測定器４０に放射妨害波の測定を開始させる。演算処理部１０３は、アンテナ３０の先端が測定点Ｔ１１と一致してからサンプリング時間Ｔｓが経過した後、測定器４０に放射妨害波の測定を終了させる。また、演算処理部１０３は、アンテナ３０の先端が測定点Ｔ１２と一致するまでの間において、測定器４０が測定した放射妨害波の周波数スペクトルを測定器４０から取得する。本実施形態では、この際に測定器４０から取得した周波数スペクトルを、測定点Ｔ１１において測定した周波数スペクトルと称する。そして、アンテナ３０の先端が測定点Ｔ１２と一致した場合、測定点Ｔ１２が２番目の第１測定点となり、測定点Ｔ１３が２番目の第２測定点となる。このような第１測定点の入れ替わりと第２測定点の入れ替わりを繰り返しながら、演算処理部１０３は、複数の測定点のそれぞれにおいて、測定器４０に放射妨害波を測定させる。
【００３９】
演算処理部１０３により算出されるサンプリング時間Ｔｓは、第１許容値に応じて決まる時間である。換言すると、演算処理部１０３により算出されるサンプリング時間Ｔｓは、最大電界強度位置の検出精度のうちのユーザーが所望する検出精度に適した時間である。演算処理部１０３によるサンプリング時間の算出方法については、後述する。
【００４０】
演算処理部１０３は、算出したサンプリング時間Ｔｓに基づいて、放射妨害波を受信するアンテナ３０の移動速度を算出する。当該移動速度は、回転機構２２が放射源５０を回転させる回転速度（角速度）のことである。また、当該移動速度は、前述の演算処理部１０３による演算結果の一例である。
【００４１】
記憶部１４０は、記憶装置である。記憶部１４０は、情報を記憶できる装置であれば、如何なる装置であってもよい。例えば、記憶部１４０は、ハードディスク装置、光ディスク装置等である。また、記憶部１４０は、主制御部１００からの要求に応じて、コンピューターが読み取り可能な記録媒体１４１に対して情報を記録する。また、記憶部１４０は、主制御部１００からの要求に応じて、記録媒体１４１から情報を読み出す。
【００４２】
記録媒体１４１は、例えば、ハードディスク、光ディスク等である。記録媒体１４１は、主制御部１００が実行する各種のプログラムを記録した記録媒体であってもよい。
【００４３】
＜放射源を囲む面上に設定される複数の測定点＞
以下、放射源５０を囲む面上に設定された複数の測定点について説明する。図６は、放射源５０を囲む面上に設定された複数の測定点を例示する図である。放射源５０を囲む面は、実施形態では、図６に示したように、回転機構２２の回転軸ＡＸを中心とした所定半径ｒの円筒領域の円周面のことである。
【００４４】
図６に示したように、放射源５０を囲む面上には、当該面上における上下方向及び周方向に沿って等間隔に複数の測定点が設定される。図６に示した複数の黒丸のそれぞれは、このような複数の測定点の一例である。そして、図６に示した測定点ＭＰは、このような複数の測定点のうちの１つである。なお、放射源５０を囲む面上に設定される複数の測定点の一部又は全部は、等間隔に並ぶように設定される構成に代えて、等間隔と異なる配置で並ぶように設定される構成であってもよく、不規則に並ぶように設定される構成であってもよい。
【００４５】
図６に示したような複数の測定点は、放射源５０を囲む面上に位置する仮想的な点として制御装置１０に記憶される構成であってもよく、当該面上の位置のうち測定器４０が放射妨害波の測定を開始するタイミングにおいてアンテナ３０の先端が位置する位置として制御装置１０に記憶される構成であってもよい。
【００４６】
ここで、アンテナ３０は、回転機構２２の回転軸ＡＸから所定半径ｒだけ離れた位置に先端が位置するように、アンテナ昇降機構２１により支持される。この場合、アンテナ３０の先端は、放射源５０を囲む面上に位置する。これにより、制御装置１０は、アンテナ昇降機構２１と回転機構２２の少なくとも一方を制御し、アンテナ３０の先端が予め決められた順に複数の測定点のそれぞれと一致するように移動させることができる。
【００４７】
＜放射妨害波測定装置が最大電界強度位置を検出する処理＞
以下、図７を参照し、放射妨害波測定装置１が最大電界強度位置を検出する処理について説明する。図７は、放射妨害波測定装置１が最大電界強度位置を検出する処理の流れの一例を示す図である。以下では、一例として、ステップＳ１１０の処理が行われる前のタイミングにおいて、アンテナ３０の先端の高さが、測定高範囲の下限値と一致している場合について説明する。測定高範囲は、上下方向にアンテナ３０の先端が動く範囲のことである。
【００４８】
駆動制御部１０１は、入力部１１０を介して、前述の測定条件を受け付ける（ステップＳ１１０）。測定条件には、少なくとも、前述の第１許容値と、放射妨害波の発生周期Ｔｎが含まれる。以下では、一例として、測定条件に、第１許容値及び放射妨害波の発生周期Ｔｎに加えて、放射妨害波を測定する周波数帯域と、測定高範囲と、測定高範囲内において設定される複数の測定点の間隔と、測定角度範囲と、測定角度範囲内において設定される複数の測定点の間隔と、検波方式と、ＲＢＷ（Resolution  Band  Width）とが含まれる場合について説明する。ここで、測定角度範囲は、回転機構２２が放射源５０を回転させることが可能な回転角度の範囲のことである。また、放射妨害波の発生周期Ｔｎは、放射妨害波測定装置１によって測定する対象となる放射妨害波の発生周期としてユーザーが想定している最大の周期のことである。
【００４９】
次に、演算処理部１０３は、ステップＳ１１０において駆動制御部１０１が受け付けた測定条件に基づいて、最大電界強度位置の検出精度のうちのユーザーが所望する検出精度に適したサンプリング時間Ｔｓを算出する（ステップＳ１２０）。より具体的には、ステップＳ１２０では、演算処理部１０３は、当該測定条件に含まれている第１許容値に基づいて、サンプリング時間Ｔｓを算出する。
【００５０】
ここで、ステップＳ１２０において演算処理部１０３がサンプリング時間Ｔｓを算出する方法について説明する。
【００５１】
放射妨害波の捕捉率が１００％未満である場合、電界強度分布には、電界強度のレベルが非線形的に低くなる（落ち込む）点が含まれてしまう。前述したスパイクノイズは、このような点のことである。そこで、以下では、当該点のことを、スパイクノイズと称して説明する。ここで、電界強度のレベルが非線形的に低くなるとは、電界強度のレベルの変化率が所定の閾値以上であることを意味する。スパイクノイズの定義については、公知であるため、これ以上の詳細な説明を省略する。
【００５２】
図８は、放射妨害波の捕捉率が１００％未満である場合における電界強度分布の一例を示す図である。図８に示したグラフの横軸は、放射源５０を囲む面上の位置のうち当該面上の周方向の位置を示す。当該位置は、放射源５０を囲む面上の位置のうち回転軸ＡＸからアンテナ３０の先端が位置していた位置に向かう方位角によって表されている。また、当該グラフの縦軸は、放射源５０を囲む面上の位置のうち高さ方向（すなわち、上下方向）の位置を示す。当該位置は、アンテナ３０の先端が位置していた高さによって表されている。当該グラフの各格子点は、当該面上に設定された複数の測定点のそれぞれを示す。また、当該グラフに含まれる矩形状の点は、スパイクノイズを示す。図８に示したように、放射妨害波の捕捉率が１００％未満である場合における電界強度分布には、スパイクノイズが含まれている。
【００５３】
スパイクノイズを除去する方法としては、画像処理の分野において、メディアンフィルタを用いる方法が知られている。図示しないある画像Ｐに対して適用するメディアンフィルタは、画像Ｐに含まれる複数の点（例えば、画素によって表される点）のうちメディアンフィルタを適用する対象となる第１点の値（例えば、第１点の明度値等）と、当該複数の点のうち第１点と隣接する第２点（第２点には、１以上の点が該当する）の値（例えば、第２点の明度値等）との中央値を算出し、算出した中央値を第１点の値に置き換える処理を行うフィルタである。
【００５４】
図９は、メディアンフィルタを適用する前の画像Ｐに含まれる９個の点のそれぞれを例示する図である。図９に示した例では、当該９個の点には、１個のスパイクノイズが含まれている。図１０は、図９に示したスパイクノイズに対してメディアンフィルタを適用した結果の一例を示す図である。図９及び図１０に示したグラフの横軸は、画像Ｐ上の位置を示す。また、当該グラフの縦軸は、画像Ｐ上の点の値（例えば、明度値等）を示す。図９に示した点Ｐ１は、画像Ｐに含まれるスパイクノイズの一例を示す。図１０に示した点Ｐ４は、図９に示した点Ｐ１に対してメディアンフィルタを適用した後の結果の一例を示す。図９及び図１０に示した点Ｐ２、点Ｐ３のそれぞれは、点Ｐ１の周囲の点を示す。
【００５５】
図９及び図１０に示したように、図９に示した点Ｐ１にメディアンフィルタを適用した場合、当該点Ｐ１の値は、図１０に示した点Ｐ４の値のように、図９に示した点Ｐ１、点Ｐ２、点Ｐ３の３つの点の中央値に置き換えられる。メディアンフィルタは、このような点Ｐ１の値の中央値への置き換えを、画像Ｐに含まれる全ての点に対して行う。メディアンフィルタは、既知のフィルタであるため、これ以上の詳細な説明を省略する。
【００５６】
メディアンフィルタを適用した後の画像Ｐに含まれる点は、前述の第１点の値が、第１点と隣接する第２点の値と同じ値に置き換えられる可能性がある。このため、画像Ｐに代えて電界強度分布にメディアンフィルタを適用した場合、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布は、電界強度のレベルが非線形に変化する滑らかではない分布となることがある。しかしながら、電界強度分布を十分な分解能によって測定した場合（例えば、測定点の間隔を放射妨害波の半波長程度とした場合）、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布は、平滑フィルタを更に適用することによって、電界強度のレベルが線形に変化する滑らかな分布となる。このようにメディアンフィルタ及び平滑フィルタの適用によって滑らかな分布として得られた電界強度分布は、放射妨害波の補足率が１００％である場合において得られる電界強度分布とほぼ同じ分布となる。従って、放射妨害波測定装置１は、放射妨害波の補足率を１００％未満である場合に得られた電界強度分布に対してメディアンフィルタと平滑化フィルタとの両方を適用することにより、放射妨害波の補足率を１００％に近づけた場合とほぼ同様の電界強度分布を生成することができる。
【００５７】
一方、電界強度分布におけるスパイクノイズの発生は、放射妨害波の捕捉率が１００％未満であることに起因している。より具体的には、当該スパイクノイズの発生は、放射妨害波測定装置１に設定されたサンプリング時間よりも発生周期が長い長周期ノイズが、放射妨害波測定装置１によって測定されないことに起因している。これは、電界強度分布にスパイクノイズが発生する確率を、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されない確率によって近似可能であることを意味している。そこで、以下では、電界強度分布にスパイクノイズが発生する確率を、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されない確率によって近似する。ここで、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されない確率をＸによって示し、測定点の総数をＮｍによって示した場合、測定によって得られた電界強度分布においてＮ個のスパイクノイズが発生する確率（すなわち、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されない確率）は、二項分布を用いて以下の式（１）のように表される。なお、確率Ｘは、第２確率の一例である。
【００５８】
【数１】
2020051920.tif 000003
【００５９】
また、電界強度分布に１次元のメディアンフィルタを適用する場合、電界強度分布に含まれる点のうちメディアンフィルタを適用する対象となる点と当該点に隣接する２つの点との３つの点それぞれのレベルの中央値を算出する必要がある。このため、電界強度分布に含まれる複数のスパイクノイズ同士が隣接していなければ、当該複数のスパイクノイズは、メディアンフィルタによって電界強度分布から除去される。ここで、電界強度分布において発生したＮ個のスパイクノイズが隣接している確率は、前述のＮｍ及びＮを用いた順列によって、以下の式（２）のように表すことができる。
【００６０】
【数２】
2020051920.tif 000004
【００６１】
上記の式（１）と式（２）との積は、以下の式（３）のようになり、電界強度分布においてＮ個のスパイクノイズが発生し、且つ、電界強度分布において発生したＮ個のスパイクノイズが隣接している確率を表す。
【００６２】
【数３】
2020051920.tif 000005
【００６３】
ここで、電界強度分布において発生したスパイクノイズが隣接している場合、メディアンフィルタを電界強度分布に適用したとしても、電界強度分布から全てのスパイクノイズを除去することはできない。このことから、上記の式（３）は、電界強度分布においてＮ個のスパイクノイズが発生し、且つ、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布にスパイクノイズが残存する確率を表している。
【００６４】
従って、１〜Ｎｓ個のうちのいずれかの個数のスパイクノイズが電界強度分布において発生し、且つ、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布にスパイクノイズが残存する確率Ｐ（Ｘ）は、以下の式（４）のように表される。なお、確率Ｐ（Ｘ）は、前述の第１確率の一例である。
【００６５】
【数４】
2020051920.tif 000006
【００６６】
ここで、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されない確率Ｘは、測定点の総数Ｎｍと、電界強度分布において発生するスパイクノイズの数Ｎｓとを用いて、以下の式（５）のように表すこともできる。
【００６７】
【数５】
2020051920.tif 000007
【００６８】
確率Ｐ（Ｘ）がある値に決められた場合、電界強度分布において発生するスパイクノイズの数Ｎｓは、上記の式（４）と式（５）に基づく数値計算によって算出される。そして、確率Ｘは、算出された当該数Ｎｓと上記の式（５）に基づいて算出される。これはすなわち、当該場合、上記の式（４）と式（５）によって確率Ｘが一意に決まることを意味している。なお、当該数値計算を行う方法は、各種の最適化手法であってもよく、モンテカルロシミュレーションであってもよく、他の数値計算の方法であってもよい。
【００６９】
ここで、確率Ｐ（Ｘ）には、前述の第１許容値を代入することができる。確率Ｐ（Ｘ）に第１許容値を代入した場合、上記の式（４）と式（５）によって決まる確率Ｘは、第２許容値と解釈することができる。第２許容値は、ユーザーが所望する検出精度と最大電界強度位置の検出精度が一致する場合において、確率Ｘとして許される値のうち最大の値のことである。換言すると、第２許容値は、当該場合において、放射妨害波測定装置１によって長周期ノイズが測定されなくてもよい確率である。すなわち、ユーザーが所望する第１許容値が確率Ｐ（Ｘ）として与えられた場合、確率Ｘは、上記の式（４）と式（５）を用いることにより第２許容値として算出される。なお、上記の式（４）及び式（５）を合わせた式は、第１確率と第２確率とを対応付ける第１式の一例である。
【００７０】
一方、確率Ｘは、サンプリング時間Ｔｓと、前述の放射妨害波の発生周期Ｔｎとを用いて、以下の式（６）によって表すことができる。
【００７１】
【数６】
2020051920.tif 000008
【００７２】
ここで、測定したい放射妨害波の発生周期Ｔｎの最大値は、測定点間をアンテナ３０が移動する毎に放射妨害波が測定されるため、測定点間を移動するアンテナ３０の移動時間Ｔｍである。すなわち、移動時間Ｔｍは、測定条件として制御装置１０が受け付けた発生周期Ｔｎによって決まる。そして、移動時間Ｔｍは、サンプリング時間Ｔｓと、アンテナ３０が測定点間を移動している間にアンテナ３０が受信した放射妨害波に基づいて各種の処理（例えば、周波数スペクトルを生成する処理、周波数スペクトルを制御装置１０に出力する処理等）を測定器４０が行う処理時間Ｔｄとの加算値以上の値となる。なお、移動時間Ｔｍの最小値は、処理時間Ｔｄが０である場合、サンプリング時間Ｔｓとなる。
【００７３】
ここで、以下の式（７）は、上記の式（６）をサンプリング時間Ｔｓについて解いた式である。
【００７４】
【数７】
2020051920.tif 000009
【００７５】
確率Ｘが前述の第２許容値である場合、サンプリング時間Ｔｓは、上記の式（７）と、ステップＳ１１０において制御装置１０が受け付けた測定条件に含まれている放射妨害波の発生周期Ｔｎとに基づいて算出することができる。
【００７６】
ここで、以下では、説明の便宜上、電界強度分布にメディアンフィルタを適用しない場合におけるサンプリング時間Ｔｓを、サンプリング時間Ｔｓ１と称し、電界強度分布にメディアンフィルタを適用する場合におけるサンプリング時間Ｔｓを、サンプリング時間Ｔｓ２と称して説明する。サンプリング時間Ｔｓ１は、例えば、ユーザーによるトライアンドエラーによって決められる時間のことである。サンプリング時間Ｔｓ２は、すなわち、ステップＳ１２０において演算処理部１０３によって算出されるサンプリング時間Ｔｓのことである。
【００７７】
電界強度分布にメディアンフィルタを適用しない場合において電界強度分布に含まれるスパイクノイズの数は、電界強度分布にメディアンフィルタを適用する場合において電界強度分布に含まれるスパイクノイズの数よりも多い。このため、当該場合における確率Ｘは、当該場合における当該スパイクノイズの数に応じて、第２許容値よりも大きくなる。これはすなわち、サンプリング時間Ｔｓ１をサンプリング時間Ｔｓ２よりも長くしなければ、最大電界強度位置の検出精度が、ユーザーが所望する検出精度よりも悪くなってしまうことを意味する。
【００７８】
従来では、メディアンフィルタを電界強度分布に適用する場合であっても、好適な長さのサンプリング時間を知る方法が無かったため、トライアンドエラーによってサンプリング時間Ｔｓ１を決める（最適化する）しかなかった。
【００７９】
一方、ステップＳ１２０においてサンプリング時間Ｔｓ２を算出する方法では、ユーザーが第１許容値を与えることによってサンプリング時間Ｔｓ２が算出される。このため、放射妨害波測定装置１は、トライアンドエラーを行うことなく、最適化されたサンプリング時間Ｔｓ２を算出することができる。
【００８０】
以上のような方法により、演算処理部１０３は、ステップＳ１２０において、ステップＳ１１０において駆動制御部１０１が受け付けた測定条件に含まれる第１許容値と、上記の式（４）と、上記の式（５）とに基づいて、確率Ｐ（Ｘ）が第１許容値である場合における確率Ｘを第２許容値として算出する。そして、演算処理部１０３は、算出した第２許容値と、上記の式（７）と、ステップＳ１１０において駆動制御部１０１が受け付けた測定条件に含まれる発生周期Ｔｎとに基づいて、確率Ｘが当該第２許容値である場合におけるサンプリング時間Ｔｓを、サンプリング時間Ｔｓ２として算出する。
【００８１】
なお、放射妨害波測定装置１では、サンプリング時間Ｔｓ２をサンプリング時間Ｔｓ１よりも短くすることができるため、測定器４０が測定するデータ量が小さくなる。その結果、サンプリング時間Ｔｓ１によって測定器４０が測定を行う場合における測定器４０の処理時間Ｔｄも短くすることができる。
【００８２】
ここで、以下では、説明の便宜上、サンプリング時間Ｔｓ１によって測定器４０が測定を行う場合における測定器４０の処理時間Ｔｄを、処理時間Ｔｄ１と称して説明する。また、以下では、説明の便宜上、サンプリング時間Ｔｓ２によって測定器４０が測定を行う場合における測定器４０の処理時間Ｔｄを、処理時間Ｔｄ２と称して説明する。また、以下では、説明の便宜上、Ｔｓ１とＴｄ１とを加算した移動時間Ｔｍを、移動時間Ｔｍ１と称して説明する。また、以下では、説明の便宜上、Ｔｓ２とＴｄ２とを加算した移動時間Ｔｍを、移動時間Ｔｍ２と称して説明する。
【００８３】
図１１は、放射妨害波の発生周期Ｔｎに対する移動時間Ｔｍ１、サンプリング時間Ｔｓ１、処理時間Ｔｄ１それぞれの相対的な長さを示す図である。また、図１２は、発生周期Ｔｎに対する移動時間Ｔｍ２、サンプリング時間Ｔｓ２、処理時間Ｔｄ２それぞれの相対的な長さを示す図である。
【００８４】
図１１及び図１２に示したように、放射妨害波測定装置１は、ステップＳ１２０において演算処理部１０３が算出するサンプリング時間Ｔｓ２を用いることにより、放射妨害波の総測定時間を短くすることができる。ここで、放射妨害波の総測定時間は、放射妨害波測定装置１が放射妨害波を測定する測定時間の総計のことである。また、図１１及び図１２に示したように、サンプリング時間Ｔｓ２と処理時間Ｔｄ２との関係が予め分かっている場合、ユーザーは、最適なアンテナ３０の移動時間Ｔｍ２を算出することができる。
【００８５】
ステップＳ１２０の処理が行われた後、演算処理部１０３は、前述のアンテナ３０の移動速度を算出する（ステップＳ１３０）。例えば、演算処理部１０３は、ステップＳ１１０において駆動制御部１０１が受け付けた測定条件と、ステップＳ１２０において算出したサンプリング時間Ｔｓ２とに基づいて、アンテナ３０の移動速度を算出する。ここで、演算処理部１０３は、ステップＳ１３０において、当該サンプリング時間Ｔｓ２と、前述の処理時間Ｔｄ２とに基づいて、アンテナ３０の移動時間Ｔｍ２を算出する。演算処理部１０３は、算出した移動時間Ｔｍ２によって、当該測定条件に含まれる複数の測定点の間隔を除することにより、アンテナ３０の移動速度を算出する。当該複数の測定点の間隔は、測定角度範囲内において設定される複数の測定点の間隔のことである。
【００８６】
次に、電界強度分析部１０２は、ステップＳ１１０において受け付けた測定条件に含まれる検波方法とＲＢＷとを測定器４０に設定するとともに、ステップＳ１２０において算出したサンプリング時間Ｔｓ２を測定器４０に設定する（ステップＳ１４０）。
【００８７】
次に、駆動制御部１０１は、ステップＳ１１０において受け付けた測定条件に基づいて回転機構２２を制御し、回転機構２２の回転角度が開始角度と一致するまで回転機構２２を回転させる（ステップＳ１５０）。ここで、回転機構２２の回転角度は、回転機構２２によって基準となる位置から放射源５０が回転した角度のことである。当該開始角度は、測定角度範囲における下限値である。なお、測定角度範囲は、前述した通り、ステップＳ１１０において駆動制御部１０１が受け付けた測定条件に含まれている。
【００８８】
次に、電界強度分析部１０２は、放射妨害波の測定を測定器４０に開始させるとともに、測定器４０からの周波数スペクトルの取得を開始する（ステップＳ１６０）。ここで、電界強度分析部１０２は、測定器４０から取得した周波数スペクトルを、現在のアンテナ３０の高さと、直前に回転機構２２を回転させ始めたタイミングにおける回転機構２２の回転角度とのそれぞれと対応付けて記憶部１４０に記憶させる。すなわち、電界強度分析部１０２は、当該周波数スペクトルを、アンテナ３０の先端が直前に一致していた測定点を示す情報と対応付けて記憶部１４０に記憶させる。
【００８９】
次に、駆動制御部１０１は、回転機構２２の回転を開始させる（ステップＳ１７０）。この際、駆動制御部１０１は、回転機構２２の回転速度を、ステップＳ１３０において算出されたアンテナ３０の移動速度と一致させる。ここで、回転機構２２の回転を開始させるとは、回転機構２２による放射源５０の回転を回転機構２２に開始させることを意味する。また、回転機構２２の回転速度は、回転機構２２によって回転する放射源５０の回転速度のことを意味する。
【００９０】
次に、電界強度分析部１０２は、測定器４０から周波数スペクトルの取得を開始したタイミングのうち直前に当該取得を開始したタイミングから、ステップＳ１２０において算出されたサンプリング時間Ｔｓ２が経過するまで待機する（ステップＳ１８０）。
【００９１】
電界強度分析部１０２は、サンプリング時間Ｔｓ２が経過したと判定した場合（ステップＳ１８０−ＹＥＳ）、放射妨害波の測定を測定器４０に終了させるとともに、測定器４０からの周波数スペクトルの取得を終了する（ステップＳ１９０）。
【００９２】
次に、駆動制御部１０１は、回転機構２２の回転角度が、前述の測定角度範囲における上限値と一致しているか否かを判定する（ステップＳ２００）。
【００９３】
駆動制御部１０１は、回転機構２２の回転角度が、測定角度範囲における上限値と一致していないと判定した場合（ステップＳ２００−ＮＯ）、アンテナ３０の先端が測定点と一致するまで待機する（ステップＳ２１０）。ステップＳ２１０においてアンテナ３０の先端が測定点と一致しているか否かを判定する方法は、如何なる方法であってもよいため、詳細な説明を省略する。
【００９４】
電界強度分析部１０２は、アンテナ３０の先端が測定点と一致したと駆動制御部１０１が判定した場合（ステップＳ２１０−ＹＥＳ）、放射妨害波の測定を測定器４０に開始させるとともに、測定器４０からの周波数スペクトルの取得を開始する（ステップＳ２２０）。ここで、電界強度分析部１０２は、測定器４０から取得した周波数スペクトルを、現在のアンテナ３０の高さと、直前に回転機構２２を回転させ始めたタイミングにおける回転機構２２の回転角度とのそれぞれと対応付けて記憶部１４０に記憶させる。すなわち、電界強度分析部１０２は、当該周波数スペクトルを、アンテナ３０の先端が直前に一致していた測定点を示す情報と対応付けて記憶部１４０に記憶させる。そして、電界強度分析部１０２は、ステップＳ１８０に遷移し、測定器４０から周波数スペクトルの取得を開始したタイミングのうち直前に当該取得を開始したタイミングから、ステップＳ１２０において算出されたサンプリング時間Ｔｓ２が経過するまで再び待機する。
【００９５】
一方、駆動制御部１０１は、回転機構２２の回転角度が、測定角度範囲における上限値と一致したと判定した場合（ステップＳ２００−ＹＥＳ）、現在のアンテナ３０の先端の高さが、前述の測定高範囲の上限値と一致しているか否かを判定する（ステップＳ２３０）。
【００９６】
駆動制御部１０１は、現在のアンテナ３０の先端の高さが、測定高範囲の上限値と一致していないと判定した場合（ステップＳ２３０−ＮＯ）、アンテナ昇降機構２１を制御し、アンテナ３０の先端の高さを、測定高範囲内において設定される複数の測定点の間隔だけ上昇させる（ステップＳ２４０）。なお、測定高範囲は、ステップＳ１１０において受け付けた測定条件に含まれている。そして、ステップＳ２４０の処理が行われた後、駆動制御部１０１は、ステップＳ１５０に遷移し、回転機構２２の回転角度が開始角度と一致するまで回転機構２２を再び回転させる。
【００９７】
一方、アンテナ３０の先端の高さが、測定高範囲の上限値と一致したと駆動制御部１０１が判定した場合（ステップＳ２３０−ＹＥＳ）、電界強度分析部１０２は、測定器４０から取得した全ての周波数スペクトル（すなわち、記憶部１４０に記憶された全ての周波数スペクトル）に基づいて、放射源５０を囲む面上に形成される電界強度分布を生成する（ステップＳ２５０）。ステップＳ２５０における電界強度分布の生成方法は、既知の方法であってもよく、これから開発される方法であってもよい。
【００９８】
次に、電界強度分析部１０２は、ステップＳ２５０において生成した電界強度分布に、メディアンフィルタを適用する。そして、電界強度分析部１０２は、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布に、前述の平滑化フィルタを適用する（ステップＳ２６０）。これにより、電界強度分析部１０２は、電界強度分布に含まれるスパイクノイズの少なくとも一部を除去することができる。その結果、放射妨害波測定装置１は、長周期ノイズの見逃しによる最大電界強度位置の検出精度の低下を抑制することができる。
【００９９】
次に、電界強度分析部１０２は、ステップＳ２６０において平滑化フィルタを適用した後の電界強度分析に基づいて、前述の最大電界強度位置を検出し（ステップＳ２７０）、処理を終了する。
【０１００】
＜実証実験の結果＞
以下、放射妨害波測定装置１によるサンプリング時間Ｔｓ２の算出の妥当性を検証するために実施した実証実験について説明する。
【０１０１】
実証実験では、送信源とアンテナ３０との水平距離を３ｍとし、送信源の高さを国際規格ＣＩＳＲＰで審議されている３ｍ距離での放射源の最大高さを１．５ｍとし、アンテナ３０を１ｍから４ｍまで半波長で掃引し、解析を行った。解析方法は、フリスの公式を用い、解析周波数は、１０００ＭＨｚとした。更に、実証実験では、電界強度分布上にスパイクノイズをランダム（一様分布で）に発生させ、２０００回解析を行い、最大電界強度が得られる位置から計算した電界強度のメディアンフィルタ適用前後間の偏差を解析回数毎に算出した。
【０１０２】
また、実証実験では、スパイクノイズの発生確率を変えながら上記の解析手順を行い、算出された偏差が１ｄＢ以上となる確率（以下、評価確率と称する）が９９．７３％（正規分布を仮定した場合３σとなる確率）となるスパイクノイズの発生確率、スパイクノイズが残存している確率を計算した。
【０１０３】
解析の結果、実証実験では、評価確率が９９．７３％となるスパイクノイズの発生率は３０％、スパイクノイズが残存している確率が２０％となった。
【０１０４】
ここで、スパイクノイズが残存している確率に基づいて、メディアンフィルタ適用前の評価確率が９９．７３％となる条件と、メディアンフィルタ適用後の評価確率が９９．７３％となる条件との比較を行った。
【０１０５】
メディアンフィルタ適用前の条件として、放射妨害波の発生周期Ｔｎが１００ｍｓ、サンプリング時間Ｔｓ１が８０ｍｓ、処理時間Ｔｄ１が０．２５×Ｔｓ１、移動時間Ｔｍが１００ｍｓという条件を選択すると、サンプリング時間Ｔｓ１は、７０ｍｓとなり、処理時間Ｔｄ１は、１７．５ｍとなった。従って、実証実験では、電界強度分布にメディアンフィルタを適用すると、移動時間を１２．５ｍｓ短くすることができ、１２．５％高速化できることが分かった。
【０１０６】
以上より、放射妨害波測定装置１を用いることにより、アンテナ３０の移動時間を短縮化することができ、放射妨害波の測定時間を短縮することができる。
【０１０７】
＜放射妨害波測定装置によって得られる他の効果＞
例えば、測定器４０としてリアルタイムスペクトルアナライザ等を用いて放射妨害波の補足率を１００％に近づけた場合、サンプリング時間Ｔｓ、発生周期Ｔｎ、移動時間Ｔｍのそれぞれをほぼ一致させる必要がある。しかし、測定器４０のスペック、回転機構２２のスペックによっては、サンプリング時間Ｔｓ、移動時間Ｔｍの設定分解能が、足りない場合がある。例えば、発生周期１００ｍｓに対して、サンプリング時間を９９．８ｍｓで設定する必要がある場合、測定器４０の設定分解能が１％以下では、このような設定を行うことができない。この場合、放射妨害波測定装置１がサンプリング時間を算出する方法を用いることにより、サンプリング時間Ｔｓ、移動時間Ｔｍの設定分解能が低い場合であっても、放射妨害波の補足率を１００％に近づけることができる。その結果、サンプリング時間を短縮することができ、条件によっては、当該設定分解能でも測定を行うことが可能となる。
【０１０８】
以上のように、実施形態に係る放射妨害波測定装置（上記において説明した例では、放射妨害波測定装置１）は、放射妨害波の放射源（上記において説明した例では、放射源５０）を囲む面上に形成される電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布に基づいて、当該面上において電界強度が最大となる最大電界強度位置を検出する放射妨害波測定装置であって、制御装置（上記において説明した例では、制御装置１０）を備え、制御装置は、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布にスパイクノイズが残存する第１確率（上記において説明した例では、確率Ｐ（Ｘ））についての第１許容値と、放射妨害波の発生周期（上記において説明した例では、放射妨害波の発生周期Ｔｎ）とを受け付け、長周期ノイズが測定されない第２確率（上記において説明した例では、確率Ｘ）と第１確率とを対応付ける第１式（上記において説明した例では、式（４）及び式（５））と、受け付けた第１許容値とに基づいて、第１確率が第１許容値である場合における第２確率を第２許容値として算出し、当該面上に設定される複数の測定点のそれぞれにおいて放射妨害波を測定するサンプリング時間（上記において説明した例では、サンプリング時間Ｔｓ）と第２確率と当該発生周期とを対応付ける第２式（上記において説明した例では、式（７））と、算出した第２許容値とに基づいて、第２確率が第２許容値である場合におけるサンプリング時間（上記において説明した例では、サンプリング時間Ｔｓ２）を算出する。これにより、放射妨害波測定装置１は、長周期ノイズの見逃しによる最大電界強度位置の検出精度の低下を抑制しつつ、放射妨害波の総測定時間が長くなってしまうことを抑制することができる。
【０１０９】
また、放射妨害波測定装置は、制御装置は、算出したサンプリング時間に基づいて、放射妨害波を受信するアンテナ（上記において説明した例では、アンテナ３０）の移動速度を算出する、構成が用いられてもよい。
【０１１０】
また、放射妨害波測定装置は、第１式は、上記に示した式（４）及び式（５）によって表され、Ｐ（Ｘ）は、第１確率を示し、Ｎｓは、電界強度分布に含まれるスパイクノイズの数を示し、Ｎｍは、測定点の数を示し、Ｘは、第２確率を示す、構成が用いられてもよい。
【０１１１】
また、放射妨害波測定装置は、第２式は、上記に示した式（７）によって表され、Ｔｓは、サンプリング時間を示し、Ｔｎは、長周期ノイズの発生周期を示し、Ｘは、第２確率を示す、構成が用いられてもよい。
【０１１２】
また、放射妨害波測定装置は、放射妨害波を受信するアンテナと、アンテナを放射源に対して相対的に移動させる移動装置（上記において説明した例では、アンテナ昇降機構２１及び回転機構２２）と、を備え、制御装置は、算出したサンプリング時間に基づいて移動装置を制御し、複数の測定点のそれぞれにアンテナを移動させて放射妨害波を測定し、放射妨害波を測定した結果（上記において説明した例では、測定器４０が測定した周波数スペクトル）に基づいて、電界強度分布を生成し、生成した電界強度分布にメディアンフィルタを適用し、メディアンフィルタを適用した後の電界強度分布に基づいて、最大電界強度位置を検出する、構成が用いられてもよい。
【０１１３】
以上、この発明の実施形態を、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない限り、変更、置換、削除等されてもよい。
【０１１４】
また、以上に説明した装置（例えば、制御装置１０）における任意の構成部の機能を実現するためのプログラムを、コンピューター読み取り可能な記録媒体に記録し、そのプログラムをコンピューターシステムに読み込ませて実行するようにしてもよい。なお、ここでいう「コンピューターシステム」とは、ＯＳ（Operating  System）や周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ（Compact  Disk）−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピューターシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピューター読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバーやクライアントとなるコンピューターシステム内部の揮発性メモリー（ＲＡＭ）のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
【０１１５】
また、上記のプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピューターシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピューターシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
また、上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、上記のプログラムは、前述した機能をコンピューターシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【符号の説明】
【０１１６】
１…放射妨害波測定装置、１０…制御装置、２１…アンテナ昇降機構、２２…回転機構、２３…アンテナ回転機構、３０…アンテナ、４０…測定器、５０…放射源、１００…主制御部、１０１…駆動制御部、１０２…電界強度分析部、１０３…演算処理部、１１０…入力部、１２０…出力部、１３０…通信部、１４０…記憶部、１４１…記録媒体、３００…分解能帯域幅、Ｍ…アンテナマスト
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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