(57)【要約】【課題】放射妨害波試験で測定された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定すること。【解決手段】放射妨害波測定装置は、放射妨害波の放射源を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度を第１サンプリング時間で測定することにより、前記面上における電界強度分布を測定する第１測定部と、複数の前記測定点のうち所定の電界強度が測定された前記測定点において、第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定することにより、電界強度時間波形を測定する第２測定部と、前記電界強度分布にメディアンフィルタを適用する演算部と、前記メディアンフィルタが適用された前記電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率を算出し、前記電界強度時間波形に基づいて長周期ノイズが測定された確率を算出する算出部と、前記長周期ノイズが測定された確率が前記許容率以下であるか否かを判定する判定部と、を備える。【選択図】図１
2020051919.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射妨害波の放射源を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度を第１サンプリング時間で測定することにより、前記面上における電界強度分布を測定する第１測定部と、
複数の前記測定点のうち所定の電界強度が測定された前記測定点において、第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定することにより、電界強度時間波形を測定する第２測定部と、
前記電界強度分布にメディアンフィルタを適用する演算部と、
前記メディアンフィルタが適用された前記電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率を算出し、前記電界強度時間波形に基づいて長周期ノイズが測定された確率を算出する算出部と、
前記長周期ノイズが測定された確率が前記許容率以下であるか否かを判定する判定部と、
を備える放射妨害波測定装置。
【請求項２】
前記算出部は、前記許容率と前記第２測定部が前記第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定する回数との積である回数閾値を算出し、
前記判定部は、前記第２測定部により測定された前記第２サンプリング時間ごとの電界強度と、前記第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値との差が所定の差分閾値を超える回数が、前記回数閾値以下であるか否かを判定する、
請求項１に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項３】
前記算出部は、次の式（１）を使用して前記許容率を算出する、
請求項１又は請求項２に記載の放射妨害波測定装置。
【数１】
2020051919.tif 000007
Ｘ      ：長周期ノイズが測定される確率
Ｐ（Ｘ）：スパイクノイズがＮＳ個以下観測される確率
Ｎｍ    ：測定点の総数
【請求項４】
前記所定の電界強度は、複数の前記測定点において測定された電界強度の中で最大の電界強度である、
請求項１から請求項３のいずれか一つに記載の放射妨害波測定装置。
【請求項５】
前記所定の電界強度が測定された前記測定点は、前記第１測定部により測定された電界強度が所定の電界強度閾値を超えている前記測定点である、
請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項６】
前記第２サンプリング時間は、前記第１サンプリング時間と同一の長さである、
請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項７】
前記第２測定部の周波数分解能帯域幅は、前記第１測定部の周波数分解能帯域幅と同一である、
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【請求項８】
前記第２測定部が電界強度を測定する検波方式は、前記第１測定部が前記電界強度分布を測定する検波方式と同一である、
請求項１から請求項７のいずれか一項に記載の放射妨害波測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射妨害波測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、電子機器は、周囲の電子機器や通信機器に影響を及ぼす放射妨害波を放射することがある。このため、現在では、電子機器が市場へ出荷される前に、放射妨害波の電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であることを確認する放射妨害波試験を行う必要がある。例えば、特許文献１には、放射妨害波の電界強度を測定する電磁界測定装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第４９１５０５０号公報
【０００４】
しかし、この電磁界測定装置は、電磁波の最大値を取得した際の受信アンテナ高さを、周波数及び偏波別にデータベース化された電波伝搬特性と照合し、その照合結果に基づいて、最大値が適切に取得できたか否かの信頼性を検証する。このため、この電磁界測定装置は、データベースが完全でない場合、放射妨害波試験で測定された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定し得ないことがある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明は、放射妨害波試験で測定された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定することができる放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、放射妨害波の放射源を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度を第１サンプリング時間で測定することにより、前記面上における電界強度分布を測定する第１測定部と、複数の前記測定点のうち所定の電界強度が測定された前記測定点において、第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定することにより、電界強度時間波形を測定する第２測定部と、前記電界強度分布にメディアンフィルタを適用する演算部と、前記メディアンフィルタが適用された前記電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率を算出し、前記電界強度時間波形に基づいて長周期ノイズが測定された確率を算出する算出部と、前記長周期ノイズが測定された確率が前記許容率以下であるか否かを判定する判定部と、を備える放射妨害波測定装置である。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、放射妨害波試験で測定された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例を示す図である。
【図２】実施形態に係る放射妨害波測定装置が測定した電界強度分布の一例を示す図である。
【図３】実施形態に係る放射妨害波測定装置が測定した電界強度時間波形の一例を示す図である。
【図４】実施形態に係る制御部のハードウエア構成の一例を示す図である。
【図５】実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
［実施形態］
図１から図４を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例について説明する。図１は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例を示す図である。
【００１０】
図１に示した放射妨害波測定装置１は、例えば、ＥＭＣ規格に従って、供試体である放射源１００から放射される放射妨害波を測定する放射妨害波試験に利用される装置である。放射妨害波測定装置１は、グランドプレーンを形成している金属床面を備える電波暗室内に配置される。電波暗室の内壁のうち金属床面を除いた壁面には、電波吸収体が貼り付けられている。また、ここで言う放射源１００は、例えば、放射妨害波を放射する電子機器である。
【００１１】
図１に示すように、放射妨害波測定装置１は、アンテナ１１と、アンテナマスト１２と、ターンテーブル１３と、駆動制御部１４と、第１測定部２１と、第２測定部２２と、制御部３０とを備える。
【００１２】
アンテナ１１は、放射源１００が放射する放射妨害波を受信する。また、アンテナ１１は、アンテナマスト１２に昇降可能な形態で支持されており、放射源１００から所定の間隔をおいて配置される。ターンテーブル１３は、グランドプレーンに設けられた円盤状の回転台であり、グランドプレーンに垂直な軸を中心として回転することができる。放射源１００は、ターンテーブル１３に載置されたテーブル２００の上に載置される。駆動制御部１４は、アンテナマスト１２を駆動することにより、アンテナ１１を昇降させ、ターンテーブル１３を駆動することにより、放射源１００及びテーブル２００を回転させる。
【００１３】
第１測定部２１は、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴベースのスペクトルアナライザである。第１測定部２１は、放射妨害波の放射源１００を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度を第１サンプリング時間で測定することにより、面上における電界強度分布を測定する。
【００１４】
具体的には、第１測定部２１は、それぞれの測定点において、第１サンプリング時間ごとに電界強度を測定する周波数帯域を掃引しながら、電界強度の周波数スペクトルを測定する。ここで、第１サンプリング時間は、各周波数帯域における電界強度の測定時間であり、電界強度を測定する周波数帯域の数で全ての周波数帯域を掃引するために必要な時間を割った時間である。そして、第１測定部２１は、各周波数帯域について、電界強度を横軸がターンテーブル１３の方位角であり縦軸がアンテナ１１の高さである平面上にマッピングする。これにより、第１測定部２１は、例えば、図２に示した電界強度分布を測定する。
【００１５】
図２は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が測定した電界強度分布の一例を示す図である。図２に示した電界強度分布は、電界強度が等しい点を連ねた線により、放射源１００を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度を表示している。これらの測定点は、図２に示した格子点各々に対応する。また、第１測定部２１は、図２に示した電界強度分布と同種の電界強度分布を周波数帯域ごとに測定する。
【００１６】
また、図２に示した電界強度分布に複数表示されている正方形Ｓは、当該測定点において、スパイクノイズが測定されたことを示している。ここで言うスパイクノイズは、第１測定部２１又は後述する第２測定部２２により測定することができないことが稀にあるノイズであり、第１測定部２１又は後述する第２測定部２２による放射妨害波の測定に失敗した場合に測定される。
【００１７】
スパイクノイズは、メディアンフィルタにより除去され得る。メディアンフィルタは、フィルタを適用する注目点の値及び当該注目点と隣接する点の値の中央値を抽出し、当該注目点の値を当該中央値に置き換えるフィルタである。
【００１８】
第２測定部２２は、第２サンプリング時間ごとに連続して電界強度を測定可能な測定装置、例えば、リアルタイムスペクトルアナライザ、ゼロスパンモードに設定されたスペクトルアナライザ、ＥＭＩレシーバーである。第２測定部２２は、予め定められた時間の間、複数の測定点のうち所定の電界強度が測定された測定点において、第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定することにより、電界強度時間波形を測定する。この予め定められた時間は、監視時間とも呼ばれる。
【００１９】
ここで言う所定の電界強度は、例えば、これら複数の測定点において測定された電界強度の中で最大の電界強度であり、所定の閾値を超える大きさの電界強度であってもよい。また、ここで言う所定の電界強度が測定された測定点は、第１測定部２１により測定された電界強度が所定の電界強度閾値を超えている測定点である。なお、第１測定部２１により測定された電界強度が所定の電界強度閾値以下である測定点は、ヌル点とも呼ばれる。さらに、第２サンプリング時間は、第１サンプリング時間と同一の長さであることが好ましい。
【００２０】
図３は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が測定した電界強度時間波形の一例を示す図である。例えば、図３に示すように、電界強度時間波形は、電界強度が約６０ｄＢμＶ／ｍとなっている点と電界強度が２０〜２５ｄＢμＶ／ｍとなっている点とを含む。電界強度が約６０ｄＢμＶ／ｍとなっている点は、第２測定部２２を使用してノイズを測定することに成功している点である。一方、電界強度が２０〜２５ｄＢμＶ／ｍとなっている点は、第２測定部２２を使用してノイズを測定することに失敗している点、すなわち第２測定部２２がスパイクノイズを測定している点である。
【００２１】
なお、第２測定部２２の周波数分解能帯域幅は、第１測定部２１の周波数分解能帯域幅と同一であることが好ましい。また、第２測定部２２が電界強度を測定する検波方式は、第１測定部２１が電界強度分布を測定する検波方式と同一であることが好ましい。
【００２２】
制御部３０は、演算部３０１と、算出部３０２と、判定部３０３とを備える。
【００２３】
演算部３０１は、第１測定部２１により測定された電界強度分布にメディアンフィルタを適用する。例えば、演算部３０１は、この電界強度分布の各測定点にメディアンフィルタを適用する。また、演算部３０１は、第１測定部２１により測定された電界強度分布に平滑化フィルタを適用する。平滑化フィルタは、例えば、ローパスフィルタ、移動平均フィルタであり、補足率を上げた場合に比肩する線形で正確な電界強度分布を得るために適用される。
【００２４】
算出部３０２は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率を算出する。具体的には、算出部３０２は、次に説明する原理に基づいて当該許容率を算出する。
【００２５】
長周期ノイズが測定される確率をＸ、放射源１００を囲む面上に設定された測定点の数をＮｍとした場合、長周期ノイズがＮ個測定される確率は、次の式（１）で表される。ここで言う長周期ノイズは、第１測定部２１又は第２測定部２２により測定することができることが稀にあるノイズであり、発生する周期が第１測定部２１の第１サンプリング時間よりも長い。また、式（１）は、メディアンフィルタが適用される前の電界強度分布にスパイクノイズがＮ個測定される確率とも解釈され得る。
【００２６】
【数１】
2020051919.tif 000003
【００２７】
一次元のメディアンフィルタを使用した場合、演算部３０１は、注目点及び当該注目点に隣接する点の値の中央値を抽出し、当該注目点の値を当該中央値に置き換える。このため、演算部３０１は、スパイクノイズが隣接していない場合、スパイクノイズを除去することができる。ここで、スパイクノイズが隣接する確率は、次の式（２）で表される。
【００２８】
【数２】
2020051919.tif 000004
【００２９】
第１測定部２１により測定された電界強度分布にスパイクノイズがＮ個発生し、かつ、スパイクノイズが隣接する確率は、次の式（３）で表される。式（３）は、式（１）と式（２）との積である。
【００３０】
【数３】
2020051919.tif 000005
【００３１】
演算部３０１によりメディアンフィルタが適用された電界強度分布において、スパイクノイズがＮＳ個以下測定される確率Ｐ（Ｘ）は、次の式（４）で表される。
【００３２】
【数４】
2020051919.tif 000006
【００３３】
算出部３０２は、スパイクノイズがＮＳ個以下測定される確率Ｐ（Ｘ）が与えられている場合、式（４）を使用した数値計算により、長周期ノイズが測定される確率Ｘをメディアンフィルタが適用された電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率Ｘとして算出する。
【００３４】
また、算出部３０２は、第２測定部２２により測定された電界強度時間波形に基づいて長周期ノイズが測定された確率Ｘｍを算出する。例えば、算出部３０２は、監視時間の間に第２サンプリング時間ごとに電界強度をＮＰ回測定する場合、ＮＰ回分の電界強度の測定値の統計値、例えば、平均値、中央値を算出する。また、ここでは、第２サンプリング時間ごとに測定された電界強度が当該統計値から所定の閾値を超えて外れている場合にスパイクノイズが発生していると判定することを目的としている。このため、算出部３０２は、例えば、当該所定の閾値を当該統計値の１／２の値に設定する。そして、算出部３０２は、監視時間の間に第２サンプリング時間ごとに電界強度をＮＰ回測定した際に電界強度が当該所定の閾値以下となった回数ＮＳＰを計数し、長周期ノイズが測定された確率Ｘｍ＝ＮＳＰ／ＮＰを算出する。
【００３５】
この場合、判定部３０３は、長周期ノイズが測定された確率Ｘｍが許容率Ｘ以下であるか否かを判定する。長周期ノイズが測定された確率Ｘｍが許容率Ｘ以下であると判定された場合、第１測定部２１により測定された電界強度分布は、最大放射位置の推定に使用され得る。一方、長周期ノイズが測定された確率Ｘｍが許容率Ｘを超えていると判定された場合、第１測定部２１により測定された電界強度分布は、最大放射位置の推定に使用され得ない。
【００３６】
さらに、算出部３０２は、第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値、第２サンプリング時間ごとの電界強度と当該統計値との差及び許容率Ｘと第２測定部２２が第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定する回数ＮＰとの積である回数閾値を算出してもよい。ここで言う統計値は、例えば、平均値、中央値である。また、ここでは、第２サンプリング時間ごとに測定された電界強度が当該統計値から所定の閾値を超えて外れている場合にスパイクノイズが発生していると判定することを目的としている。このため、算出部３０２は、第２サンプリング時間ごとの電界強度と当該統計値との差に対する差分閾値を当該統計値の１／２の値に設定する。
【００３７】
この場合、判定部３０３は、第２測定部２２により測定された第２サンプリング時間ごとの電界強度と、第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値との差が所定の差分閾値を超える回数が、回数閾値以下であるか否かを判定する。この差が所定の差分閾値を超える回数が、回数閾値以下であると判定された場合、第１測定部２１により測定された電界強度分布は、最大放射位置の推定に使用され得る。一方、この差が所定の差分閾値を超える回数が、回数閾値を超えていると判定された場合、第１測定部２１により測定された電界強度分布は、最大放射位置の推定に使用され得ない。
【００３８】
図４は、実施形態に係る制御部のハードウエア構成の一例を示す図である。図４に示すように、制御部３０は、主制御部３１０と、入力装置３２０と、出力装置３３０と、記憶装置３４０と、バス３５０とを備える。
【００３９】
主制御部３１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）及びＲＡＭ（Random  Access  Memory）を備えており、入力装置３２０、出力装置３３０及び記憶装置３４０の間でのデータの送受信を制御し、出力装置３３０及び記憶装置３４０の動作を制御する。
【００４０】
入力装置３２０は、放射妨害波測定装置１の操作に必要なデータを入力するために使用される装置、例えば、キーボード、マウス、タッチパネルである。
【００４１】
出力装置３３０は、放射妨害波測定装置１の動作に関連する情報を出力するために使用される装置、例えば、ディスプレイである。
【００４２】
記憶装置３４０は、データを記憶させるために使用される装置、例えば、ハードディスク装置、光ディスク装置である。また、記憶装置３４０は、記憶媒体３４５を備えており、記憶媒体３４５にデータを格納し、記憶媒体３４５からデータを読み出す。記憶媒体３４５は、データを記憶させるために使用される記憶媒体、例えば、ハードディスク、光ディスクである。また、記憶媒体３４５は、演算部３０１、算出部３０２及び判定部３０３それぞれを実現するプログラムを記憶していてもよい。この場合、主制御部３１０は、これらのプログラムを読み出して実行することにより、演算部３０１、算出部３０２及び判定部３０３それぞれの機能を実現させる。
【００４３】
バス３６０は、主制御部３１０、入力装置３２０、出力装置３３０及び記憶装置３４０を相互に通信可能に接続している。
【００４４】
次に、図５及び図６を参照しながら実施形態に係る放射妨害波測定装置の動作の一例を説明する。図５及び図６は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【００４５】
ステップＳ１０において、制御部３０は、第１測定部２１により電界強度分布を測定する際の測定条件の入力を受け付ける。ここで言う測定条件は、例えば、電界強度分布を測定する周波数帯域、グランドプレーンを基準とする高さ方向の測定範囲、高さ方向における測定点の間隔、方位角方向の測定範囲、方位角方向における測定点の間隔、第１サンプリング時間、第２サンプリング時間、第１測定部２１及び第２測定部２２それぞれの検波方式、周波数分解能帯域幅及び監視時間、メディアンフィルタが適用された電界強度分布において許容されるスパイクノイズの数ＮＳ、スパイクノイズがＮＳ個以下測定される確率Ｐ（Ｘ）、差分閾値である。
【００４６】
ステップＳ２０において、算出部３０２は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率Ｘを算出する。この場合、算出部３０２は、ステップＳ１０で入力を受け付けたメディアンフィルタが適用された電界強度分布において許容されるスパイクノイズの数ＮＳ及びスパイクノイズがＮＳ個以下測定される確率Ｐ（Ｘ）を当該算出に使用する。
【００４７】
ステップＳ３０において、制御部３０は、ステップＳ１０で入力を受け付けた第１サンプリング時間、検波方式及び周波数分解能帯域幅で電界強度分布の測定を実行するように第１測定部２１を設定する。
【００４８】
ステップＳ４０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御してアンテナマスト１２を駆動させ、ステップＳ１０で入力が受け付けられた高さ方向の測定範囲の下限の測定点の電界強度を測定することができる位置にアンテナ１１を移動させる。また、ステップＳ４０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御し、ステップＳ１０で入力が受け付けられた方位角方向の測定範囲の下限の測定点の電界強度を測定することができる方位角までターンテーブル１３を回転させる。
【００４９】
ステップＳ５０において、制御部３０は、現在のアンテナ１１の高さを示すデータ及びターンテーブル１３の方位角を示すデータを駆動制御部１４から取得し、第１測定部２１により測定された電界強度を取得する。ステップＳ５０で取得されたアンテナ１１の高さを示すデータ、ターンテーブル１３の方位角を示すデータ及び電界強度は、相互に対応付けられて記憶装置３４０に記憶される。
【００５０】
ステップＳ６０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御し、ステップＳ１０で入力が受け付けられた方位角方向における測定点の間隔分だけターンテーブル１３を回転させる。
【００５１】
ステップＳ７０において、制御部３０は、現在のターンテーブル１３の方位角を示すデータを駆動制御部１４から取得し、現在のターンテーブル１３の方位角がステップＳ１０で入力が受け付けられた方位角方向の測定範囲の上限であるか否かを判定する。制御部３０は、現在のターンテーブル１３の方位角が方位角方向の測定範囲の上限であると判定した場合（ステップＳ７０：Ｙｅｓ）、処理をステップＳ８０に進め、現在のターンテーブル１３の方位角が方位角方向の測定範囲の上限ではないと判定した場合（ステップＳ７０：Ｎｏ）、処理をステップＳ５０に戻す。
【００５２】
ステップＳ８０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御してアンテナマスト１２を駆動させ、ステップＳ１０で入力が受け付けられた高さ方向における測定点の間隔分だけアンテナ１１を上昇させる。
【００５３】
ステップＳ９０において、制御部３０は、現在のアンテナ１１の高さを示すデータを駆動制御部１４から取得し、現在のアンテナ１１の高さがステップＳ１０で入力が受け付けられた高さ方向の測定範囲の上限であるか否かを判定する。制御部３０は、現在のアンテナ１１の高さが高さ方向の測定範囲の上限であると判定した場合（ステップＳ９０：Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１００に進め、現在のアンテナ１１の高さが高さ方向の測定範囲の上限ではないと判定した場合（ステップＳ９０：Ｎｏ）、処理をステップＳ５０に戻す。
【００５４】
放射妨害波測定装置１は、上述したステップＳ１０からステップＳ９０までの処理により、放射妨害波の放射源１００を囲む面上に設定された複数の測定点における所定の周波数帯域の電界強度分布を測定する。すなわち、放射妨害波測定装置１は、最大電界強度を測定することができる位置を探索するために、アンテナ１１の高さ及びターンテーブル１３の方位角を変化させながら、放射源１００を取り囲む面上における電界強度分布を測定する。
【００５５】
ステップＳ１００において、演算部３０１は、各周波数帯域の電界強度分布にメディアンフィルタ及び平滑化フィルタを適用する。
【００５６】
ステップＳ１１０において、制御部３０は、判定周波数帯域の入力を受け付ける。ここで言う判定周波数帯域は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定する周波数帯域である。
【００５７】
ステップＳ１２０において、制御部３０は、判定周波数帯域における電界強度分布の中で最大電界強度が測定されたアンテナ１１の高さ及びターンテーブル１３の方位角を特定し、当該高さを示すデータ及び当該方位角を示すデータを記憶装置３４０に記憶させる。
【００５８】
ステップＳ１３０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御してアンテナマスト１２を駆動させ、ステップＳ１２０で特定された高さにアンテナ１１を移動させる。また、ステップＳ１３０において、制御部３０は、駆動制御部１４を制御し、ステップＳ１２０で特定された方位角までターンテーブル１３を回転させる。
【００５９】
ステップＳ１４０において、制御部３０は、ステップＳ１０で入力を受け付けた第２サンプリング時間、検波方式及び周波数分解能帯域幅で電界強度分布の測定を実行するように第２測定部２２を設定する。
【００６０】
ステップＳ１５０において、制御部３０は、第２測定部２２により、監視時間の間、第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定し、電界強度時間波形を測定する。ステップＳ１５０で測定された電界強度時間波形は、記憶装置３４０に記憶される。
【００６１】
ステップＳ１６０において、算出部３０２は、第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値、第２サンプリング時間ごとの電界強度と当該統計値との差及びステップＳ２０で算出した許容率と第２測定部２２が第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定する回数との積である回数閾値を算出する。算出部３０２が算出した統計値、差及び回数閾値は、記憶装置３４０に記憶される。
【００６２】
ステップＳ１７０において、判定部３０３は、第２測定部２２により測定された第２サンプリング時間ごとの電界強度と、第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値との差が所定の差分閾値を超える回数が、回数閾値以下であるか否かを判定する。判定部３０３は、この差が所定の差分閾値を超える回数が回数閾値以下であると判定した場合（ステップＳ１７０：Ｙｅｓ）、処理をステップＳ１８０に進め、この差が所定の差分閾値を超える回数が回数閾値を超えていると判定した場合（ステップＳ１７０：Ｎｏ）、処理をステップＳ１９０に進める。
【００６３】
ステップＳ１８０において、制御部３０は、出力装置３３０に、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得ることを示す情報を表示させ、処理を終了させる。
【００６４】
ステップＳ１９０において、制御部３０は、出力装置３３０に、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得ないことを示す情報を表示させ、処理を終了させる。
【００６５】
なお、複数の判定周波数で上述した判定を行う場合、放射妨害波測定装置１は、ステップＳ１１０からステップＳ１９０までを繰り返せばよい。
【００６６】
以上、実施形態に係る放射妨害波測定装置１について説明した。放射妨害波測定装置１は、例えば、上述した式（４）を使用してメディアンフィルタが適用された電界強度分布に対するスパイクノイズの許容率Ｘを算出し、電界強度時間波形に基づいて長周期ノイズが測定された確率を算出し、長周期ノイズが測定された確率が許容率Ｘ以下であるか否かを判定する。すなわち、放射妨害波測定装置１は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布との関係が明確なスパイクノイズの許容率Ｘを基準として当該判定を実行する。このため、放射妨害波測定装置１は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを正確に判定することができる。
【００６７】
また、放射妨害波測定装置１は、許容率Ｘと第２測定部２２が第２サンプリング時間ごとに電界強度を測定する回数との積である回数閾値を算出し、第２測定部２２により測定された第２サンプリング時間ごとの電界強度と、第２サンプリング時間ごとの電界強度の統計値との差が所定の差分閾値を超える回数が、回数閾値以下であるか否かを判定する。すなわち、放射妨害波測定装置１は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布との関係が明確なスパイクノイズの許容率Ｘから直接的に導出された回数閾値を基準として当該判定を実行する。このため、放射妨害波測定装置１は、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを正確に判定することができる。
【００６８】
また、放射妨害波測定装置１は、第２測定部２２により電界強度時間波形を測定する測定点として、放射源１００を囲む面上に設定された複数の測定点の中で最大の電界強度が測定された測定点を採用する。この場合、放射妨害波測定装置１は、Ｓ／Ｎ比が良好な電界強度時間波形を使用してメディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定する。このため、放射妨害波測定装置１は、当該判定を更に正確に実行することができる。
【００６９】
また、放射妨害波測定装置１は、第２測定部２２により電界強度時間波形を測定する測定点として、放射源１００を囲む面上に設定された複数の測定点の中で第１測定部２１により測定された電界強度が所定の電界強度閾値を超えている測定点を採用する。すなわち、放射妨害波測定装置１は、第２測定部２２により電界強度時間波形を測定する測定点として、上述したヌル点以外の測定点を採用する。この場合、放射妨害波測定装置１は、Ｓ／Ｎ比が悪化する測定点以外の測定点で測定された電界強度時間波形を使用してメディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かを判定する。このため、放射妨害波測定装置１は、当該判定の精度が低下してしまうことを抑制することができる。
【００７０】
また、放射妨害波測定装置１は、第１測定部２１の第１サンプリング時間と第２測定部２２の第２サンプリング時間とを同一の長さにする。或いは、放射妨害波測定装置１は、第１測定部２１の周波数分解能帯域幅と第２測定部２２の周波数分解能帯域幅とを同一にする。したがって、放射妨害波測定装置１は、第１測定部２１の設定と第２測定部２２の設定とを同一にすることにより、判定対象である電界強度分布と当該判定に使用する許容率Ｘ又は回数閾値との相関関係を高め、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かの判定を更に正確に実行することができる。
【００７１】
また、放射妨害波測定装置１は、第１測定部２１が電界強度分布を測定する検波方式と第２測定部が電界強度を測定する検波方式とを同一にする。このため、判定対象である電界強度分布と当該判定に使用する許容率Ｘ又は回数閾値との相関関係を高め、メディアンフィルタが適用された電界強度分布が最大放射位置の推定に使用され得るか否かの判定を更に正確に実行することができる。
【００７２】
以上、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明したが、具体的な構成が上述した実施形態に限られるわけではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲での設計変更等も含まれる。
【符号の説明】
【００７３】
１…放射妨害波測定装置、１１…アンテナ、１２…アンテナマスト、１３…ターンテーブル、１４…駆動制御部、２１…第１測定部、２２…第２測定部、３０…制御部、３０１…演算部、３０２…算出部、３０３…判定部、１００…放射源、２００…テーブル、３１０…主制御部、３２０…入力装置、３３０…出力装置、３４０…記憶装置、３４５…記憶媒体、３５０…バス、Ｓ…正方形
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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