(57)【要約】【課題】めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有するコイル部品を提供する。【解決手段】金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第１側面および第２側面と、互いに対向する第３側面および第４側面とを有する略直方体形状であり、上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第１側面を構成する金属磁性体粒子および第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。【選択図】図１
2020161718.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属磁性体粒子を含む素体と、該素体の内部に配置されたコイル導体と、前記素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
前記素体は、前記コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第１側面および第２側面と、互いに対向する第３側面および第４側面とを有する略直方体形状であり、
前記上面を構成する金属磁性体粒子、前記下面を構成する金属磁性体粒子、前記第１側面を構成する金属磁性体粒子および前記第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。
【請求項２】
前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の上端に接する面と前記素体の上面との間の領域、および前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の下端に接する面と前記素体の下面との間の領域はそれぞれ、前記巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成される、請求項１に記載のコイル部品。
【請求項３】
前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、前記素体の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
前記巻回軸に略直交する面であって前記巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、前記素体の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項１に記載のコイル部品。
【請求項４】
前記コイル導体が、前記巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含み、
前記上面を構成する金属磁性体粒子、前記下面を構成する金属磁性体粒子、前記第１側面を構成する金属磁性体粒子および前記第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記巻回軸方向に隣り合う前記導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、請求項１〜３のいずれか１項に記載のコイル部品。
【請求項５】
前記コイル導体の巻回部と前記第１側面との間の領域に、前記第１側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
前記コイル導体の巻回部と前記第２側面との間の領域に、前記第２側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項１〜４のいずれか１項に記載のコイル部品。
【請求項６】
前記第３側面を構成する金属磁性体粒子および前記第４側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、前記巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、請求項１〜５のいずれか１項に記載のコイル部品。
【請求項７】
前記コイル導体の巻回部と前記第３側面との間の領域に、前記第３側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
前記コイル導体の巻回部と前記第４側面との間の領域に、前記第４側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、請求項６に記載のコイル部品。
【請求項８】
前記金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有し、隣接する前記金属磁性体粒子は前記酸化膜を介して互いに接合している、請求項１〜７のいずれか１項に記載のコイル部品。
【請求項９】
前記コイル部品は積層型コイル部品である、請求項１〜８のいずれか１項に記載のコイル部品。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コイル部品に関する。
【背景技術】
【０００２】
インダクタ等のコイル部品を構成する磁性体として、金属磁性体粒子が用いられている。特許文献１には、素体の内部あるいは表面にコイルを有するコイル型電子部品であって、素体は、鉄、ケイ素および鉄より酸化しやすい元素を含有する軟磁性合金の粒子群から構成され、各軟磁性合金粒子の表面には当該粒子を酸化して形成した酸化層が生成され、当該酸化層は当該合金粒子に比較して鉄より酸化しやすい元素を多く含み、粒子同士は当該酸化層を介して結合されていることを特徴とするコイル型電子部品が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１１−２４９７７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
コイル部品の外部電極をめっきにより形成する場合、めっきの異常析出（いわゆるめっき伸び）が発生してしまうことがある。一方、コイル部品は高いインダクタンス値を有することが求められている。
【０００５】
本発明者は、金属磁性体粒子を用いて製造したコイル部品において、めっき伸びの発生を抑制することと、高いインダクタンス値とを両立することが困難であることを見出した。
【０００６】
本発明の目的は、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有するコイル部品を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者は、コイル部品に含まれる金属磁性体粒子の粒径に着目し、金属磁性体粒子の粒径および配置を制御することにより、めっき伸びの発生がより抑制され、かつより高いインダクタンス値を達成し得ることを見出し、本発明を完成させるに至った。
【０００８】
本発明の一の要旨によれば、金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第１側面および第２側面と、互いに対向する第３側面および第４側面とを有する略直方体形状であり、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第１側面を構成する金属磁性体粒子および第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品が提供される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係るコイル部品は、上記特徴を有することにより、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有する。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品を模式的に示す透過斜視図である。
【図２】図２は、図１に示すコイル部品を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図３】図３は、図１に示すコイル部品を模式的に示すＬＷ面に平行な断面図である。
【図４】図４は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第１変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図５】図５は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第２変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図６】図６は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第３変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図７】図７は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第４変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図８】図８は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第５変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図９】図９は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第６変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図１０】図１０は、第６変形例のコイル部品を模式的に示すＬＷ面に平行な断面図である。
【図１１】図１１は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第７変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図１２】図１２は、本発明の一の実施形態に係るコイル部品の第８変形例を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図１３】図１３は、比較例１のコイル部品を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図１４】図１４は、比較例１のコイル部品を模式的に示すＬＷ面に平行な断面図である。
【図１５】図１５は、比較例２のコイル部品を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図である。
【図１６】図１６は、めっき伸びの判定方法を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態に係るコイル部品について、図面を参照しながら詳細に説明する。ただし、本発明に係るコイル部品およびその各構成要素の形状および配置等は、以下に説明する実施形態および図示される構成に限定されるものではない。
【００１２】
本発明の一の実施形態に係るコイル部品１の透過斜視図を図１に示し、コイル部品１の断面図を図２および図３に模式的に示す。コイル部品１は、金属磁性体粒子を含む素体２と、素体２の内部に配置されたコイル導体３と、素体２の表面に配置された複数の外部電極５とを備える。図２および図３に示すように、素体２は、コイル導体３の巻回軸に対して略直交する上面２０１および下面２０２と、互いに対向する第１側面２０３および第２側面２０４と、互いに対向する第３側面２０５および第４側面２０６とを有する略直方体形状である。なお、本明細書において、「略直交」は、９０°±１０°の範囲内であることを意味し、「直方体」は立方体を含む。本明細書において、コイル部品１の長さを「Ｌ」、幅を「Ｗ」、厚み（高さ）を「Ｔ」とよぶことがある（図１を参照のこと）。また、本明細書において、コイル部品１の長さＬに平行な方向を「Ｌ方向」、幅Ｗに平行な方向を「Ｗ方向」、厚みＴに平行な方向を「Ｔ方向」とよび、Ｌ方向およびＴ方向に平行な平面を「ＬＴ面」、Ｗ方向およびＴ方向に平行な平面を「ＷＴ面」、Ｌ方向およびＷ方向に平行な平面を「ＬＷ面」とよぶことがある。
【００１３】
素体２は金属磁性体粒子を含む。素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、素体２の下面２０２を構成する金属磁性体粒子、素体２の第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および素体２の第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。図１〜図３に示す構成例において、素体２は、第１磁性体層２１と、第２磁性体層２２で構成されている。素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４はそれぞれ、第１磁性体層２１で構成され、コイル導体３の巻回部の内側は、第２磁性体層２２で構成されている。第１磁性体層２１に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。ここで、金属磁性体粒子の「平均粒径」は、広義には、素体２の断面において測定した金属磁性体粒子の粒径の平均値を意味し、狭義には、素体２の断面をＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）で撮影し、得られた画像を解析することにより金属磁性体粒子の断面形状を抽出して円相当径を求め、この円相当径から算出した平均値を意味する。金属磁性体粒子の平均粒径の測定方法の詳細については後述する。
【００１４】
図１に示すコイル部品１において、外部電極５は、素体２の第３側面２０５および第４側面２０６にそれぞれ設けられている。外部電極５の一方は、素体２の第３側面２０５の全面を覆い、かつ上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４の一部に延在している。外部電極５の他方は、素体２の第４側面２０６の全面を覆い、かつ上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４の一部に延在している。一方、素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４はそれぞれ、一部が露出した状態となっている。そのため、コイル部品１の外部電極５をめっきにより形成する場合、素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４の露出部分において、めっきの異常析出（いわゆるめっき伸び）が発生してしまうおそれがある。めっき伸びとは、めっきが、意図しためっき幅を超えて部分的（または局所的）に大きく形成されることをいう。めっき伸びの一例としては、図１６に示すように、外部電極５を構成するめっきが外部電極５を形成するべき領域（符号ａで示す）を超えて、コイル部品１の中央に向かって伸びる現象（符号ｂで示す）が挙げられる。めっき伸びが発生すると、コイル部品１を実装する際に実装不良が発生してしまう可能性がある。
【００１５】
これに対し、本実施形態に係るコイル部品１は、素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、素体２の下面２０２を構成する金属磁性体粒子、素体２の第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および素体２の第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいことにより、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を有する。
【００１６】
めっき伸びの発生をより抑制することと、より高いインダクタンス値とを両立することができる理由は、特定の理論に拘束されるものではないが、以下に説明するメカニズムによるものであると推測される。素体を構成する金属磁性体粒子の粒径が大きいほど、素体の透磁率が高くなるので、コイル部品のインダクタンス値を高くすることができる。しかしながら、素体に含まれる金属磁性体粒子の粒径が大きいほど、高い抵抗を有する粒界の数が減少するので、素体の体積抵抗率は低下する傾向にある。素体の体積抵抗率が低いほど、めっき伸びが発生しやすくなる。一方、素体を構成する金属磁性体粒子の粒径が小さいほど、素体の体積抵抗率は増大し、めっき伸びの発生を抑制することができるが、素体の透磁率は低下してしまうので、コイル部品のインダクタンス値は低くなってしまう傾向にある。そのため、めっき伸びの発生を抑制することと、高いインダクタンス値を達成することとを両立することは困難である。
【００１７】
これに対し、本実施形態に係るコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子をコイル導体３の巻回部の内側（すなわち磁芯部）に配置し、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４（すなわち素体２の表面）に配置している。例えば、図１〜図３に示す構成例においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が磁芯部に配置され、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１が第２磁性体層２２の外側に配置されて素体２の表面を構成している。このように、コイル部品１のインダクタンス値に対する寄与が大きい磁芯部に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を配置することにより、磁芯部における透磁率が向上し、その結果、コイル部品１のインダクタンス値をより高くすることができる。さらに、めっき伸びが発生するおそれのある素体２の表面に、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を配置することにより、素体２の表面における抵抗を高くすることができ、その結果、より高いインダクタンス値を確保しつつ、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
【００１８】
コイル部品１の素体２において、上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子、および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子はそれぞれ、平均粒径が同じであってよく、あるいは平均粒径が互いに異なっていてもよい。素体２の各表面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径が互いに異なっている場合であっても、各表面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、磁芯部に存在する金属磁性体粒子の平均粒径よりも小さければ、めっき伸びの発生の抑制とインダクタンス値の向上との両立という効果を奏することができる。また、素体２の一の表面において、その表面を構成する金属磁性体粒子の粒径は、その表面全体にわたって略均一であってよく、あるいは異なる粒径を有する金属磁性体粒子が分布していてもよい。尤も、素体２の一の表面において、金属磁性体粒子の粒径の分布が均一であるほど、その表面におけるめっき伸びの発生を抑制する効果が高くなるので好ましい。
【００１９】
コイル部品１のインダクタンス値は、例えば、周波数１０ＭＨｚでインダクタンス値を測定することによって評価することができる。コイル部品１におけるめっき伸びの有無は、コイル部品１の外観を目視で観察することによって評価することができる。具体的には、図１６に示すように、外部電極５の幅（符号ａで示す）よりも大きくめっきが成長した（符号ｂで示す）ものをめっき伸びによる不良品と評価することができる。
【００２０】
コイル部品１において、素体２の第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子および第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいことが好ましい。例えば、図１〜図３に示す構成例においては、コイル部品１の素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３および第２側面２０４に加えて、第３側面２０５および第４側面２０６もまた、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１で構成されており、コイル導体３の巻回部の内側は、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２で構成されている。このような構成により、外部電極５の形状および位置によらず、めっき伸びの発生をより一層抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。また、このような構成は、製造がより容易であるという利点も有する。外部電極５の形状および位置については後述する。素体２の第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子および第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子、および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径と同じであってよく、あるいは、素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３、第２側面２０４、第３側面２０５、第４側面２０６はそれぞれ、平均粒径が異なる金属磁性体粒子で構成されていてもよい。
【００２１】
コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体２の上面２０１との間の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体２の下面２０２との間の領域はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成されることが好ましい。例えば、図１〜図３に示す構成例においては、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体２の上面２０１との間の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体２の下面２０２との間の領域はそれぞれ、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１で構成されており、コイル導体３の巻回部の内側は、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２で構成されている。このような構成により、コイル部品１の強度が向上し得る。
【００２２】
別の構成例として、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体２の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体２の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してもよい。例えば、図５〜図１０に示すコイル部品１において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２は、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。このような構成により、コイル部品１のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
【００２３】
また、コイル導体３は、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含んでよい。このとき、素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さくてよい。換言すると、コイル導体３を構成する導体層間に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子が配置されてよい。例えば、図４、５、８、９および１０に示すコイル部品１において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２は、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、巻回軸方向に隣り合う導体層間にも配置されている。このような構成により、コイル部品１のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
【００２４】
また、コイル導体３の巻回部と素体２の第１側面２０３との間の領域に、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回部と第２側面２０４との間の領域に、第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してよい。さらに、素体２の第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子および第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい場合、コイル導体３の巻回部と第３側面２０５との間の領域に、第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回部と第４側面２０６との間の領域に、第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在してよい。換言すると、コイル導体３の巻回部の外側に、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子が配置されてよい。例えば、図９および１０に示す構成例において、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２は、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回部と素体２の第１側面２０３との間の領域、巻回部と第２側面２０４との間の領域、巻回部と第３側面２０５との間の領域、および巻回部と第４側面２０６との間の領域にも配置されている。このような構成により、コイル部品１のインダクタンス値をより一層高くすることができる。
【００２５】
次に、コイル部品１の各構成要素の詳細について以下に説明する。
【００２６】
（素体２）
素体２は、図１〜図３に示すように略直方体形状であり、金属磁性体粒子を含む。素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい。図１〜図３に示す構成例においては、素体２の上面２０１、下面２０２、第１側面２０３、第２側面２０４、第３側面２０５および第４側面２０６はそれぞれ、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１で構成され、コイル導体３の巻回部の内側は平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２で構成されている。図１〜図３に示す構成例において、素体２は第１磁性体層２１および第２磁性体層２２で構成されているが、素体２は、第１磁性体層２１および第２磁性体層２２に加えて、第１磁性体層２１および第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子とは異なる種類の金属磁性体粒子を含む１以上の磁性体層をさらに有してもよい。
【００２７】
金属磁性体粒子を構成する金属磁性材料は特に限定されるものではなく、例えば、Ｆｅ、Ｆｅ−Ｓｉ系合金、Ｆｅ−Ｓｉ−Ｃｒ系合金、Ｆｅ−Ｓｉ−Ａｌ系合金、Ｆｅ−Ｎｉ系合金、Ｆｅ−Ｎｉ−Ａｌ系合金、Ｆｅ−Ｃｒ−Ａｌ系合金、アモルファス等またはこれらの組み合わせであってよい。第１磁性体層２１に含まれる金属磁性体粒子と、第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子とは、同じ組成を有するものであってよく、異なる組成を有するものであってもよい。また、第１磁性体層２１および第２磁性体層２２はそれぞれ、１種類の金属磁性体粒子を含んでよく、２種類以上の金属磁性体粒子を含んでもよい。
【００２８】
素体２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は特に限定されるものではなく、所望の特性および用途等に応じて適宜設定することができる。素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径の１０％以上８０％以下であることが好ましい。より具体的には、素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、１μｍ以上１２μｍ以下であることが好ましい。コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径は、３μｍ以上１４μｍ以下であることが好ましい。図１〜図３に示す構成例においては、第１磁性体層２１に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、１μｍ以上１２μｍ以下であることが好ましく、第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、３μｍ以上１４μｍ以下であることが好ましい。
【００２９】
素体２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径は、以下に説明する手順で測定することができる。まず、コイル部品１を切断して断面を形成する。断面は、コイル部品１の幅Ｗの１／２の位置においてＬＴ面に平行に切断した面、またはコイル部品１の長さＬの１／２の位置においてＷＴ面に平行に切断した面とする。得られた断面について鏡面研磨を行う。鏡面研磨後の断面において倍率１０００倍のＳＥＭ画像を取得する。なお、ＳＥＭ画像の倍率は、測定する金属磁性体粒子のサイズに応じて適宜変更してよい。素体２の表面（上面２０１、下面２０２、第１側面２０３、第２側面２０４、第３側面２０５または第４側面２０６）を構成する金属磁性体粒子の平均粒径を測定する場合には、その表面近傍の任意の箇所においてＳＥＭ画像を取得する。コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径を測定する場合には、巻回部の内側の任意の箇所においてＳＥＭ画像を取得する。図１〜図３に示すように素体２が複数の磁性体層で構成される場合、磁性体層の界面近傍以外の箇所でＳＥＭ画像を取得するようにする。画像解析ソフトを用いてＳＥＭ画像を二値化し、金属磁性体粒子の輪郭を抽出する。このとき、金属磁性体粒子の輪郭の全体がＳＥＭ画像内に収まっているもののみを解析対象とする。抽出した金属磁性体粒子の円相当径を求め、その平均値を金属磁性体粒子の平均粒径とする。なお、素体２の断面において粒径を測定する場合、金属磁性体粒子が切断される箇所によっては、実際の粒径よりも小さい測定値となることがあるが、それぞれの磁性体層間での金属磁性体粒子の相対的な大小関係は素体２の断面から求めた平均粒径で判別可能である。
【００３０】
コイル部品１は、後述するように素体２を熱処理して製造することができる。この場合、素体２に含まれる金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有する。この酸化膜は、金属磁性体粒子に由来するものであり、熱処理により形成される。素体２において、隣接する金属磁性体粒子は酸化膜を介して互いに接合している。換言すると、金属磁性体粒子同士がネッキングしている。熱処理を行うと、金属磁性体粒子は焼結によってこのように強固に接合することになる。熱処理により製造したコイル部品１は、めっき伸びの問題がより顕著になる場合がある。本実施形態のコイル部品１は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、コイル部品１を熱処理により製造した場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
【００３１】
本実施形態のコイル部品１は、積層型コイル部品であってよい。熱処理により製造される積層型コイル部品は、金属磁性体粒子とコイル導体３との間の絶縁性を、金属磁性体粒子の表面に存在する酸化膜によって確保する。そのため、熱処理を行う前にプレスで高圧を印加することにより、素体２における金属磁性体粒子の密度を高くすることができる。積層型コイル部品は、めっき伸びの問題がより顕著になる場合がある。本実施形態のコイル部品１は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、コイル部品１が積層型コイル部品である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができる。
【００３２】
（コイル導体３）
コイル導体３は、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含む。コイル導体３の一端は、素体２の表面に引き出されて引出導体４を介して外部電極５の１つと電気的に接続し、コイル導体３の他端は、素体２の表面に引き出されて引出導体４を介して外部電極５の別の１つと電気的に接続する。コイル導体３の両端を引き出す位置は、外部電極５を設ける位置に応じて適宜変更することができる。コイル導体３は、一般的に積層型素子に用いられている金属材料で構成されてよく、例えば、Ａｇ、Ａｇ−Ｐｄ、ＣｕおよびＰｔ等で構成されてよい。なお、図１〜図３に示す構成例において、コイル部品１はコイル導体３を１つのみ備えているが、コイル部品１は２以上のコイル導体３を備えていてもよい。
【００３３】
（外部電極５）
コイル部品１は複数の外部電極５を備える。外部電極５は、素体２の内部に配置されるコイル導体３と外部との電気的接続を行うために設けられる。外部電極５の数は、コイル部品１が備えるコイル導体３の数に応じて変化する。図１〜図３に示す構成例において、コイル部品１は２つの外部電極５を備える。外部電極５の形状および配置する位置は特に限定されるものではなく、用途等に応じて適宜設定することができる。例えば、外部電極５は、図１〜図３に示すように素体２の両端に設けてよい。あるいは、外部電極５は、図１１に示すように素体２の下面２０２と、下面２０２と隣り合う第３側面２０５または第４側面２０６にまたがって設けられたＬ字型電極であってよく、図１２に示すように素体２の下面２０２に設けられた底面電極であってもよい。図１１に示すように外部電極５がＬ字型電極である場合、外部電極５が設けられている素体２の下面２０２を構成する金属磁性体粒子の平均粒径、第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子の平均粒径および第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいと、めっき伸びの発生をより抑制し、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。図１２に示すように外部電極５が底面電極である場合、外部電極５が設けられている素体２の下面２０２を構成する金属磁性体粒子の平均粒径が、コイル導体３の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さいと、めっき伸びの発生をより抑制し、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。外部電極５は、金属（ＡｇおよびＣｕ等）等の導電性材料およびガラス成分を含んでよい。
【００３４】
次に、本実施形態に係るコイル部品１の変形例について以下に説明する。ただし、本実施形態に係るコイル部品１の構成は、以下の変形例に限定されるものではない。以下に説明する第１変形例〜第８変形例のコイル部品１はいずれも、めっき伸びの発生がより抑制され、かつ、より高いインダクタンス値を有する。
【００３５】
［第１変形例］
図４に、第１変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第１変形例のコイル部品１は、素体２の上面２０１を構成する金属磁性体粒子、下面２０２を構成する金属磁性体粒子、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子および第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子の平均粒径がそれぞれ、コイル導体３の巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい点で、図１〜図３のコイル部品１と相違する。換言すると、第１変形例のコイル部品１においては、コイル導体３を構成する導体層間にも、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が配置されている。第１変形例のコイル部品１は、図１〜図３に示すコイル部品１と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。また、第１変形例のコイル部品１は、異なる材料同士が接する面が少なく、構造が複雑でないため、製造が容易であり、図１〜図３に示すコイル部品１と同等の強度を有する。
【００３６】
［第２変形例］
図５に、第２変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第２変形例のコイル部品１は、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体２の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体２の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第１変形例のコイル部品１と相違する。換言すると、第２変形例のコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第２変形例のコイル部品１は、第１変形例のコイル部品１と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。また、第２変形例のコイル部品１は構造が複雑でないため、製造が容易であり、第１変形例のコイル部品１と同等の強度を有する。なお、第２変形例のコイル部品１においては、図５に示すように、コイル導体３の巻回部の上端および下端を覆うように第２磁性体層２２が設けられている。そのため、第２変形例のコイル部品１は、後述する第５変形例のコイル部品１よりも第２磁性体層２２の占める体積が大きく、したがってより高いインダクタンス値を有する。
【００３７】
［第３変形例］
図６に、第３変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第３変形例のコイル部品１は、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体２の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体２の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、図１〜図３に示すコイル部品１と相違する。換言すると、第３変形例のコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第３変形例のコイル部品１は、図１〜図３に示すコイル部品１と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。なお、第３変形例のコイル部品１においては、図６に示すように、コイル導体３の巻回部の上端および下端を覆うように第２磁性体層２２が設けられている。そのため、第３変形例のコイル部品１は、後述する第４変形例のコイル部品１よりも第２磁性体層２２の占める体積が大きく、したがってより高いインダクタンス値を有する。
【００３８】
［第４変形例］
図７に、第４変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第４変形例のコイル部品１は、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体２の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体２の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、図１〜図３に示すコイル部品１と相違する。換言すると、第４変形例のコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第４変形例のコイル部品１は、図１〜図３に示すコイル部品１と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。
【００３９】
［第５変形例］
図８に、第５変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第５変形例のコイル部品１は、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体２の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体２の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第１変形例のコイル部品１と相違する。換言すると、第５変形例のコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域、およびコイル導体３の巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域にも配置されている。第５変形例のコイル部品１は、第１変形例のコイル部品１と比較して、インダクタンス値が更に高くなるという利点を有する。
【００４０】
［第６変形例］
図９および図１０に、第６変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図およびＬＷ面に平行な断面図を示す。第６変形例のコイル部品１は、コイル導体３の巻回部と素体２の第１側面２０３との間の領域に、第１側面２０３を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回部と第２側面２０４との間の領域に、第２側面２０４を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回部と第３側面２０５との間の領域に、第３側面２０５を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、コイル導体３の巻回部と第４側面２０６との間の領域に、第４側面２０６を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する点で、第２変形例のコイル部品１と相違する。換言すると、第６変形例のコイル部品１においては、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２は、コイル導体３の巻回部の内側だけでなく、コイル導体３の巻回部と素体２の第１側面２０３との間の領域、巻回部と第２側面２０４との間の領域、巻回部と第３側面２０５との間の領域、および巻回部と第４側面２０６との間の領域にも配置されている。第６変形例のコイル部品１は、図１〜図３に示すコイル部品１および第１変形例〜第５変形例のコイル部品１と比較して、第２磁性体層２２の占める体積が最も大きいので、最も高いインダクタンス値を有する。
【００４１】
［第７変形例］
図１１に、第７変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第７変形例のコイル部品１は、外部電極５がＬ字型電極である点で、図１〜図３に示すコイル部品１と相違する。第７変形例のコイル部品１において、素体２の表面は全て、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１で構成されている。そのため、外部電極５が図１１に示すようなＬ字型電極である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。
【００４２】
［第８変形例］
図１２に、第８変形例のコイル部品１を模式的に示すＬＴ面に平行な断面図を示す。第８変形例のコイル部品１は、外部電極５が底面電極である点で、図１〜図３に示すコイル部品１と相違する。第８変形例のコイル部品１において、素体２の表面は全て、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１で構成されている。そのため、外部電極５が図１２に示すような底面電極である場合であっても、めっき伸びの発生をより抑制することができ、かつより高いインダクタンス値を達成することができる。
【００４３】
［コイル部品１の製造方法］
次に、本発明の実施形態に係るコイル部品１の製造方法について、図１〜図３に示すコイル部品１の製造方法を例として以下に説明する。ただし、コイル部品１の製造方法は、以下に説明する方法に限定されるものではない。
【００４４】
（第１磁性体層２１用ペーストおよび第２磁性体層２２用ペーストの調製）
所定の粒径を有する金属磁性体粒子に、所定量のＰＶＡ（ポリビニルアルコール）、ＰＶＢ（ポリビニルブチラール）および／またはエチルセルロース等のバインダーを添加し、これにＢＣＡ（ブチルカルビトールアセテート）、ＢＣ（ブチルカルビトール）および／またはターピネオール等の溶剤を加えて混練し、第１磁性体層２１用ペーストおよび第２磁性体層２２用ペーストを得る。第１磁性体層２１用ペーストに用いる金属磁性体粒子の粒径、および第２磁性体層２２用ペーストに用いる金属磁性体粒子の粒径は、完成品のコイル部品１において第１磁性体層２１に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径が、第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径よりも小さくなるように適宜選択することができる。例えば、第１磁性体層２１用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、第２磁性体層２２用ペーストに用いる金属磁性体粒子よりも体積基準のメジアン径または平均粒径が小さいものとすることができる。第１磁性体層２１用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、第２磁性体層２２用ペーストに用いる金属磁性体粒子の体積基準のメジアン径の１０％以上８０％以下であることが好ましい。より具体的には、第１磁性体層２１用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、例えば、体積基準のメジアン径が２μｍ以上１６μｍ以下であることが好ましい。第２磁性体層２２用ペーストに用いる金属磁性体粒子は、例えば、体積基準のメジアン径が５μｍ以上２０μｍ以下であることが好ましい。なお、第１磁性体層２１用ペーストおよび第２磁性体層２２用ペーストに含まれる金属磁性体粒子のメジアン径または平均粒径の相対的な大小関係と、完成品のコイル部品１における第１磁性体層２１および第２磁性体層２２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径の相対的な大小関係とは、本質的に変化しない。また、金属磁性体粒子の相対的な大小関係は、メジアン径または平均粒径のいずれによって評価しても本質的に同じであると考えて差し支えない。金属磁性体粒子を構成する金属磁性材料は特に限定されるものではなく、例えば、Ｆｅ−Ｓｉ系合金、Ｆｅ−Ｓｉ−Ｃｒ系合金、Ｆｅ−Ｓｉ−Ａｌ系合金、Ｆｅ−Ｎｉ系合金またはこれらの組み合わせであってよい。金属磁性体粒子は、市販の製品を適宜用いてよい。
【００４５】
（コイル導体用ペーストの調製）
所定の粒径を有する金属粒子に、所定量のＰＶＡ（ポリビニルアルコール）、ＰＶＢ（ポリビニルブチラール）および／またはエチルセルロース等のバインダーを添加し、これにＢＣＡ（ブチルカルビトールアセテート）、ＢＣ（ブチルカルビトール）および／またはターピネオール等の溶剤を加えて混練し、コイル導体用ペーストを得る。金属粒子の平均粒径は特に限定されず、例えば０．５μｍ以上１０μｍ以下であってよい。金属粒子を構成する金属材料は特に限定されるものではなく、例えば、Ａｇ、Ａｇ−Ｐｄ、ＣｕおよびＰｔ等の、一般的に積層型素子に用いられている金属材料であってよい。
【００４６】
（素体２およびコイル導体３の形成）
第１磁性体層２１用ペーストまたは第２磁性体層２２用ペーストと、コイル導体用ペーストとを交互に層状に印刷することにより、コイル導体３が内部に配置された素体２を形成する。スクリーン版を用いて各ペーストを印刷することにより、素体内の任意の箇所に任意の構成要素を配置することができる。得られた素体２は、大気中において所定温度で脱バインダー処理を行い、次いで６００℃以上、好ましくは６００℃以上８００℃以下で熱処理を行う。
【００４７】
（外部電極５の形成）
外部電極５は、コイル導体３および素体２を形成するときに同時に形成してよく、あるいは素体２を熱処理した後に形成してもよい。素体２を熱処理した後に外部電極５を形成する場合、例えば、熱処理後の素体２の両端に外部電極用ペーストを塗布した後、熱処理（焼付け処理）を行うことにより外部電極５を形成することができる。外部電極用ペーストとして、例えば、ＡｇおよびＣｕ等の金属ならびにガラスフリットを含むペーストを用いることができる。ガラスフリットは、素体２と外部電極５との密着性の確保を目的として加えられる。形成した外部電極５にめっきを施してよい。めっきは、コイル部品１を実装する際にはんだ付け等により外部との接続を行うために施される。目的に応じた種類のめっきを施すことができ、通常はＮｉ−ＳｎめっきまたはＣｕ−Ｓｎめっき等を施すことができる。外部電極５にめっきを施す場合、素体２に存在する空隙にめっき液が侵入するのを防止するために、素体２に樹脂を含浸させて空隙を埋めてもよい。本実施形態に係るコイル部品１は、めっき伸びの発生をより抑制することができるので、めっきの形状および寸法の精度が向上し得る。このようにして、コイル部品１を製造することができる。
【実施例】
【００４８】
（ペーストＡおよびペーストＢの調製）
以下に説明する手順で、金属磁性体粒子を含むペーストＡおよびペーストＢを調製した。ペーストＡの金属磁性体粒子として、体積基準のメジアン径Ｄ５０が１０μｍのＦｅ−Ｓｉ合金粒子を用いた。ペーストＢの金属磁性体粒子として、体積基準のメジアン径Ｄ５０が５μｍのＦｅ−Ｓｉ合金粒子を用いた。それぞれの金属磁性体粒子に、バインダーとして所定量のエチルセルロースを添加し、これに溶剤としてターピネオールを加えて混練し、ペーストＡおよびペーストＢを得た。
【００４９】
ペーストＡおよびペーストＢをそれぞれ、厚さ１ｍｍに積層して積層体を得た。比透磁率測定用の試料は、積層体を４５０ＭＰａでプレスしてトロイダル形状に加工することにより作製した。抵抗率測定用の試料は、積層体を４５０ＭＰａでプレスして板状に加工することにより作製した。プレス加工後の試料を大気中で脱バインダー処理し、次いで７００℃で熱処理を行って、比透磁率測定用の試料および抵抗率測定用の試料とした。ペーストＡを用いて作製した試料（試料Ａ）およびペーストＢを用いて作製した試料（試料Ｂ）のそれぞれについて、周波数１０ＭＨｚにおける比透磁率および抵抗率を測定した。結果を表１に示す。
【００５０】
【表１】
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【００５１】
表１に示すように、メジアン径が１０μｍの金属磁性体粒子を用いて作製した試料Ａは、メジアン径が５μｍの金属磁性体粒子を用いて作製した試料Ｂと比較して、より高い比透磁率を有し、かつより低い抵抗率を有した。
【００５２】
［実施例１］
第１磁性体層２１用ペーストとしてペーストＢ、第２磁性体層２２用ペーストとしてペーストＡを用いて、図１〜図３に示すような構造を有する実施例１のコイル部品１を作製した。コイル導体用ペーストとして、Ａｇ粒子に、バインダーとして所定量のエチルセルロースを添加し、これに溶剤としてターピネオールを加え、混練して得られたペーストを用いた。第１磁性体層２１用ペースト（ペーストＢ）または第２磁性体層２２用ペースト（ペーストＡ）と、コイル導体用ペーストとを交互に層状に印刷することにより、コイル導体３が内部に配置された素体２を形成した。得られた素体２を４５０ＭＰａでプレスした後、ダイシングにより個片化して、大気中において所定温度（４００℃）で脱バインダー処理し、次いで７００℃で熱処理を行った。熱処理をした後の素体２に、外部電極用ペーストとしてＡｇペーストを塗布し、熱処理を行って外部電極５を形成した。素体２の空隙を埋めるために、素体２にエポキシ樹脂を含浸させた。次いで、外部電極５にＮｉめっき及びＳｎめっきを施すことにより、１．６ｍｍ×０．８ｍｍ×０．８ｍｍのコイル部品１（インダクタ素子）を得た。実施例１のコイル部品１において、素体２は、図１に示すように、コイル導体の巻回部の内側に配置された第２磁性体層２２（平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む層）と、その外側に配置された第１磁性体層２１（平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む層）とで構成される。
【００５３】
［比較例１］
図１３および図１４に示すような構造を有する比較例１のコイル部品１を作製した。比較例１のコイル部品１は、ペーストＡのみを用いて素体２を形成した以外は、実施例１と同様の手順で作製した。比較例１のコイル部品１において、素体２は、図１３および図１４に示すように、第２磁性体層２２（平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む層）のみで構成される。
【００５４】
［比較例２］
図１５に示すような構造を有する比較例２のコイル部品１を作製した。比較例２のコイル部品１は、ペーストＢのみを用いて素体２を形成した以外は、実施例１と同様の手順で作製した。比較例２のコイル部品１において、素体２は、図１５に示すように、第１磁性体層２１（平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む層）のみで構成される。
【００５５】
（金属磁性体粒子の平均粒径の測定）
実施例１、比較例１および比較例２のそれぞれについて、以下に説明する手順で素体２に含まれる金属磁性体粒子の平均粒径を測定した。まず、コイル部品１を切断して断面を形成した。断面は、コイル部品１の幅Ｗの１／２の位置においてＬＴ面に平行に切断した面、またはコイル部品１の長さＬの１／２の位置においてＷＴ面に平行に切断した面であった。得られた断面について鏡面研磨を行った。鏡面研磨後の断面において倍率１０００倍のＳＥＭ画像を取得した。実施例１については、コイル導体３の巻回部の内側（磁芯部）において第２磁性体層２２のＳＥＭ画像を取得し、磁芯部の外側の素体２の表面近傍において、第１磁性体層２１のＳＥＭ画像を取得した。素体２が第２磁性体層２２のみで構成される比較例１については、素体２の断面の任意の位置で第２磁性体層２２のＳＥＭ画像を取得した。素体２が第１磁性体層２１のみで構成される比較例２については、素体２の断面の任意の位置で第１磁性体層２１のＳＥＭ画像を取得した。
【００５６】
画像解析ソフト（Ａ像くん（登録商標）Ｖｅｒ  ２．５４、旭化成エンジニアリング株式会社製）を用いてＳＥＭ画像を二値化し、金属磁性体粒子の輪郭を抽出した。このとき、金属磁性体粒子の輪郭の全体がＳＥＭ画像内に収まっているもののみを解析対象とした。抽出した金属磁性体粒子の円相当径を求め、その平均値を金属磁性体粒子の平均粒径とした。結果を表２に示す。
【００５７】
（インダクタンス値および直流抵抗の測定）
実施例１、比較例１および比較例２のそれぞれについて、１０ＭＨｚにおけるインダクタンス値および直流抵抗Ｒｄｃを測定した。インダクタンス値の測定は、アジレントテクノロジー社（現キーサイトテクノロジー社）製のＥ４９９１Ａを用いて行った。直流抵抗Ｒｄｃの測定は、アジレントテクノロジー社（現キーサイトテクノロジー社）製の４３３８Ｂを用いて行った。インダクタンス値および直流抵抗Ｒｄｃの測定は、各実施例および比較例につき試料数ｎ＝５０で実施し、平均値をそれぞれインダクタンス値および直流抵抗Ｒｄｃとした、結果を表２に示す。
【００５８】
（めっき伸びの発生率の測定）
実施例１、比較例１および比較例２のそれぞれについて、コイル部品１の外観を目視で観察し、めっき伸びの有無を確認した。図１６に示すように、外部電極５の幅（符号ａで示す）よりも大きくめっきが成長した（符号ｂで示す）ものをめっき伸びによる不良品としてカウントした。外観の確認は試料数ｎ＝１００で行い、めっき伸びの発生率を求めた。結果を表２に示す。
【００５９】
【表２】
2020161718.tif 000004
【００６０】
表２に示すように、平均粒径が比較的大きい金属磁性体粒子を含む第２磁性体層２２が磁芯部に配置され、平均粒径が比較的小さい金属磁性体粒子を含む第１磁性体層２１が素体２の表面に配置された実施例１のコイル部品１は、素体２の全体を第１磁性体層２１で構成した比較例２のコイル部品１よりも高いインダクタンス値を確保しつつ、素体２の全体を第２磁性体層２２で構成した比較例１のコイル部品１よりも低いめっき伸び発生率を達成した。また、実施例１、比較例１および比較例２のコイル部品１は、ほぼ同等の直流抵抗Ｒｄｃを有した。
【００６１】
本発明は以下の態様を含むが、これらの態様に限定されるものではない。
（態様１）
金属磁性体粒子を含む素体と、素体の内部に配置されたコイル導体と、素体の表面に配置された複数の外部電極とを備えるコイル部品であって、
素体は、コイル導体の巻回軸に対して略直交する上面および下面と、互いに対向する第１側面および第２側面と、互いに対向する第３側面および第４側面とを有する略直方体形状であり、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第１側面を構成する金属磁性体粒子および第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、コイル導体の巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、コイル部品。
（態様２）
巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面と素体の上面との間の領域、および巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面と素体の下面との間の領域はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子よりも平均粒径が小さい金属磁性体粒子で構成される、態様１に記載のコイル部品。
（態様３）
巻回軸に略直交する面であって巻回部の上端に接する面よりも上側の領域に、素体の上面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
巻回軸に略直交する面であって巻回部の下端に接する面よりも下側の領域に、素体の下面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様１に記載のコイル部品。
（態様４）
コイル導体が、巻回軸方向に積層されて互いに電気的に接続した複数の導体層を含み、
上面を構成する金属磁性体粒子、下面を構成する金属磁性体粒子、第１側面を構成する金属磁性体粒子および第２側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回軸方向に隣り合う導体層の間に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、態様１〜３のいずれか１つに記載のコイル部品。
（態様５）
コイル導体の巻回部と第１側面との間の領域に、第１側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
コイル導体の巻回部と第２側面との間の領域に、第２側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様１〜４のいずれか１つに記載のコイル部品。
（態様６）
第３側面を構成する金属磁性体粒子および第４側面を構成する金属磁性体粒子の平均粒径はそれぞれ、巻回部の内側に存在する金属磁性体粒子の平均粒径より小さい、態様１〜５のいずれか１つに記載のコイル部品。
（態様７）
コイル導体の巻回部と第３側面との間の領域に、第３側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在し、
コイル導体の巻回部と第４側面との間の領域に、第４側面を構成する金属磁性体粒子よりも平均粒径が大きい金属磁性体粒子が存在する、態様６に記載のコイル部品。
（態様８）
金属磁性体粒子は表面に酸化膜を有し、隣接する金属磁性体粒子は酸化膜を介して互いに接合している、態様１〜７のいずれか１つに記載のコイル部品。
（態様９）
コイル部品は積層型コイル部品である、態様１〜８のいずれか１つに記載のコイル部品。
【産業上の利用可能性】
【００６２】
本発明に係るコイル部品は、より高いインダクタンス値を有すると同時に、めっき伸びの発生がより抑制されるので、高い実装精度を必要とする用途に幅広く利用することができる。
【符号の説明】
【００６３】
１  コイル部品
２  素体
２１  第１磁性体層
２２  第２磁性体層
２０１  上面
２０２  下面
２０３  第１側面
２０４  第２側面
２０５  第３側面
２０６  第４側面
３  コイル導体
４  引出導体
５  外部電極
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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