(57)【要約】【課題】チップの異常の有無と、チップの異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定することができる画像形成装置を提供する。【解決手段】画像形成装置１００は、装着部５１と、画像形成部６と、制御部１０とを備える。装着部５１には、消耗品を収容する交換部品Ｃが着脱自在に装着される。画像形成部６は、消耗品を消費して、シートＳに画像を形成する。交換部品Ｃには、チップＣ１が設けられる。制御部１０は、チップＣ１に対してテスト処理を実行し、テスト処理の結果に基づいて、チップＣ１の異常の有無と、チップＣ１の異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
消耗品を収容する交換部品が着脱自在に装着される装着部と、
前記消耗品を消費して、シートに画像を形成する画像形成部と、
前記画像形成部を制御する制御部と
を備え、
前記交換部品には、チップが設けられ、
前記チップは、前記消耗品に関するデータを記憶するチップ記憶部を有し、
前記制御部は、前記チップに対してテスト処理を実行し、前記テスト処理の結果に基づいて、前記チップの異常の有無と、前記チップの異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定する、画像形成装置。
【請求項２】
前記テスト処理は、第１テスト処理を含み、
前記第１テスト処理は、
前記制御部が前記チップ記憶部にテスト用データを記憶させる記憶処理と、
前記制御部が前記チップ記憶部に記憶させた前記テスト用データを前記チップ記憶部から読み取る読取処理と
を含む、請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記記憶処理により前記チップ記憶部に記憶させた前記テスト用データが、前記読取処理により読み取った前記テスト用データと異なっていた場合、又は、前記読取処理が所定期間内に完了しなかった場合に、前記チップに異常があると判定する、請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記チップは、所定の処理を行うチップ処理部をさらに有し、
前記テスト処理は、第２テスト処理を含み、
前記第２テスト処理は、前記制御部が前記チップ処理部に前記所定の処理を行わせて、前記チップ処理部が前記所定の処理を開始してから完了させるまでに要した処理時間を前記制御部がカウントする処理を含む、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記処理時間が所定時間よりも長い場合、前記チップに異常の前兆があると前記制御部が判定する、請求項４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記テスト処理は、第３テスト処理を含み、
前記第３テスト処理は、前記制御部が前記チップに対して所定の上限電圧、又は、所定の下限電圧を印加した状態で、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取る処理を含む、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取れなかった場合、前記チップに異常の前兆があると判定する、請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記テスト処理は、第３テスト処理を含み、
前記第３テスト処理は、
前記制御部が前記チップに対して所定の上限電圧を印加した状態で、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取る第１処理と、
前記制御部が前記チップに対して所定の下限電圧を印加した状態で、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取る第２処理と
を含む、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記制御部は、前記第１処理において、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取れなかった場合、又は、前記第２処理において、前記チップ記憶部に記憶されている所定データを読み取れなかった場合、前記チップに異常の前兆があると判定する、請求項８に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に記載の画像形成装置は、プリンター本体と、トナー残量測定部と、ＣＰＵとを備える。カートリッジがプリンター本体にセットされると、トナー残量測定部によってカートリッジのトナー残量が測定される。カートリッジには、チップが設けられる。チップは、カートリッジメモリーを有する。カートリッジメモリーには、前回測定したときのトナー残量が記憶されている。ＣＰＵは、今回測定したトナー残量と、カートリッジメモリーから読みだした前回のトナー残量とを比較する。トナー残量が増量している場合には、ＣＰＵは、プリンター本体にセットされたカートリッジが、トナーが詰め替えられた不適正なカートリッジであると判定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１００５３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の画像形成装置は、カートリッジに設けられるチップ自体の異常の有無を考慮することなく、チップが正常に動作していることを前提として、不適正なカートリッジを検出する。しかし、チップの異常の有無、及び／又は、チップの異常の前兆の有無を判定したいとする要望があった。理由は、チップに異常又は異常の前兆がある状態でカートリッジが使用されると、画像形成装置のＣＰＵがチップとデータの送受信を正確にできなくなる可能性があるからである。
【０００５】
本発明は、チップの異常の有無と、チップの異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定することができる画像形成装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一局面によれば、画像形成装置は、装着部と、画像形成部と、制御部とを備える。前記装着部には、消耗品を収容する交換部品が着脱自在に装着される。前記画像形成部は、前記消耗品を消費して、シートに画像を形成する。前記制御部は、前記画像形成部を制御する。前記交換部品には、チップが設けられる。前記チップは、前記消耗品に関するデータを記憶するチップ記憶部を有する。前記制御部は、前記チップに対してテスト処理を実行し、前記テスト処理の結果に基づいて、前記チップの異常の有無と、前記チップの異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、チップの異常の有無と、チップの異常の前兆の有無とのうちの少なくとも１つを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施形態に係る画像形成装置の模式的断面図である。
【図２】画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図３】テスト処理を示す表である。
【図４】第１テスト処理の手順を示すフロー図である。
【図５】第２テスト処理の手順を示すフロー図である。
【図６】第３テスト処理の手順を示すフロー図である。
【図７】テスト処理の手順を示す第１の図である。
【図８】テスト処理の手順を示す第２の図である。
【図９】制御部の動作モードを示す表である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一又は相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
【００１０】
図１を参照して、本発明の実施形態に係る画像形成装置１００について説明する。図１は、画像形成装置１００の模式的断面図である。本発明の実施形態では、画像形成装置１００は、複合機である。
【００１１】
図１に示すように、画像形成装置１００は、読取部１と、入力部２と、収容部３と、搬送部４と、補給部５と、画像形成部６と、排出部７と、筐体８と、カバー部材１３とを備える。収容部３、搬送部４、補給部５、画像形成部６、及び排出部７は、筐体８の内部に収容される。カバー部材１３は、筐体８に設けられた開口部を開閉する。
【００１２】
読取部１は、読取シートに形成された画像を走査して、読取シートに形成された画像を読み取る。その結果、読取部１は、画像を示す画像データを取得する。
【００１３】
読取部１は、例えば、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）のような発光部と、イメージセンサーのような撮像部とを含む。読取部１は、発光部、及び撮像部を用いて、読取シートに形成された画像を走査する。
【００１４】
入力部２は、画像形成装置１００に対するユーザーからの指示を受け付ける。入力部２は、ユーザーからの指示を受け付けると、ユーザーからの指示を示す信号を出力する。
【００１５】
入力部２は、例えば、シートＳに画像を形成する画像形成ジョブを示す情報を受け付ける。
【００１６】
入力部２は、タッチパネル２１及び複数の操作キー２２を含む。タッチパネル２１は、表示部２１ａ及びタッチセンサーを含む。
【００１７】
表示部２１ａは、各種画面を表示する。各種画面は、待ち受け画面を含む。待ち受け画面は、例えば、各種処理の実行を指示するためのメニューボタンを含む。表示部２１ａは、例えば、液晶表示部又は有機ＥＬ表示部（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ  Ｄｉｓｐｌａｙ）である。
【００１８】
収容部３には、複数のシートＳが収容される。収容部３は、収容された複数のシートＳを一枚ずつ送出する。
【００１９】
搬送部４は、収容部３から送出されたシートＳを排出部７まで搬送する。
【００２０】
補給部５は、画像形成部６へ消耗品を補給する。本発明の実施形態において、消耗品は、トナーである。
【００２１】
補給部５は、装着部５１、部品検知スイッチ５２、通信部５３、開閉検知部５４を備える。
【００２２】
開閉検知部５４は、カバー部材１３の開閉を検知するセンサーである。開閉検知部５４は、例えば、機械的スイッチ、又は、光センサーを含む。開閉検知部５４は、カバー部材１３が閉じた状態になると、カバー部材１３が閉じたことを示す信号を出力する。カバー部材１３が開いた状態になると、装着部５１が露出する。カバー部材１３は、交換部品Ｃの交換時に開閉される。カバー部材１３を開いた状態のとき、ユーザーは、交換部品Ｃを交換することができる。交換部品Ｃは、例えば、トナーコンテナである。カバー部材１３は、例えば、トナーコンテナカバーとして機能する。
【００２３】
装着部５１には、交換部品Ｃが着脱自在に装着される。交換部品Ｃは、消耗品を収容する。
【００２４】
交換部品Ｃは、チップＣ１を有する。チップＣ１は、例えば、ＩＣチップである。チップＣ１の説明は後述する。
【００２５】
部品検知スイッチ５２は、装着部５１に交換部品Ｃが装着されていることを検知する。例えば、装着部５１に交換部品Ｃが装着されると、部品検知スイッチ５２が信号を送信する。
【００２６】
以下では、装着部５１に装着中の交換部品Ｃを、装着交換部品ＣＡと記載することがある。
【００２７】
通信部５３は、チップＣ１と通信する。通信部５３は、例えば、端子を含み、チップＣ１と接触することで、チップＣ１と通信する。なお、通信部５３は、ＲＦリーダーのような近距離無線通信機を含み、チップＣ１と非接触で通信してもよい。
【００２８】
画像形成部６は、消耗品を消費して、シートＳに画像を形成する。詳細には、画像形成部６は、装着消耗品を消費して、シートＳに画像を形成する。画像は、トナー画像を示す。装着消耗品は、装着部５１に装着中の交換部品Ｃに収容される消耗品を示す。
【００２９】
画像形成部６は、感光体ドラム６ａと、現像器６ｂと、帯電器６ｃと、クリーニング器６ｄと、転写ローラー６ｅと、露光器６ｆとを含む。
【００３０】
帯電器６ｃは、感光体ドラム６ａの周面を帯電させる。露光器６ｆは、帯電器６ｃによって帯電された感光体ドラム６ａの周面に、レーザー光を照射する。レーザー光は、画像データに基づいて生成される。その結果、感光体ドラム６ａの周面には、画像データに対応する静電潜像が形成される。なお、画像データは、例えば、読取部１、又は、外部端末から取得される。外部端末は、例えば、画像形成装置１００に通信可能に接続されるＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）である。
【００３１】
現像器６ｂは、静電潜像が形成された感光体ドラム６ａの周面にトナーを供給する。装着交換部品ＣＡは、現像器６ｂへトナーを供給する。現像器６ｂがトナーを感光体ドラム６ａに供給すると、感光体ドラム６ａの周面に形成された静電潜像が現像される。その結果、感光体ドラム６ａの周面には、装着消耗品を使用した画像が形成される。
【００３２】
感光体ドラム６ａは、転写ローラー６ｅの周面に接触している。シートＳが感光体ドラム６ａと転写ローラー６ｅとの間を通過するとき、感光体ドラム６ａの担持する画像がシートＳに転写される。シートＳへ画像が転写された後に、クリーニング器６ｄは、感光体ドラム６ａの周面に残るトナーを除去する。
【００３３】
排出部７は、トナー像が定着したシートＳを、シート排出口を介して筐体８の内部から排出トレイへ排出する。
【００３４】
次に、図１及び図２を参照して、画像形成装置１００についてさらに説明する。図２は、画像形成装置１００の構成を示すブロック図である。
【００３５】
図１及び図２に示すように、画像形成装置１００は、記憶部９と、制御部１０とをさらに備える。
【００３６】
記憶部９は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、及びＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）のような主記憶装置（例えば、半導体メモリー）を含み、補助記憶装置（例えば、ハードディスクドライブ、及び不揮発性メモリー）をさらに含んでもよい。主記憶装置及び／又は補助記憶装置は、制御部１０によって実行される種々のコンピュータープログラムを記憶する。
【００３７】
制御部１０は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）及びＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）のようなプロセッサーを含む。制御部１０は、画像形成装置１００の各要素を制御する。具体的には、制御部１０のプロセッサーは、記憶部９に記憶されたコンピュータープログラムを実行することにより、読取部１と、入力部２と、搬送部４と、補給部５と、画像形成部６と、排出部７と、記憶部９とを制御する。
【００３８】
チップＣ１は、基板Ｃ１１と、チップ通信部Ｃ１２と、チップ記憶部Ｃ１３と、チップ処理部Ｃ１４とを備える。
【００３９】
基板Ｃ１１には、チップ通信部Ｃ１２と、チップ記憶部Ｃ１３と、チップ処理部Ｃ１４とが設けられる。
【００４０】
チップ通信部Ｃ１２は、画像形成装置１００の通信部５３を介して制御部１０と通信する。チップ通信部Ｃ１２は、例えば、端子を含み、通信部５３と接触することで、制御部１０と通信する。
【００４１】
チップ記憶部Ｃ１３は、消耗品に関するデータを記憶する。消耗品に関するデータは、例えば、消耗品の残量を示すデータ、及び消耗品の色を示すデータを含む。チップ記憶部Ｃ１３は、例えば、不揮発性メモリーを含む。チップ記憶部Ｃ１３は、ＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）タグのような非接触タグ（電子タグ）を含んでいてもよい。
【００４２】
チップ処理部Ｃ１４は、チップ通信部Ｃ１２と、チップ記憶部Ｃ１３とを制御する。チップ処理部Ｃ１４は、例えば、演算回路を含む。
【００４３】
装着部５１に交換部品Ｃが装着されると、チップ通信部Ｃ１２が通信部５３に接触する。その結果、画像形成装置１００の制御部１０は、チップ通信部Ｃ１２を介して、チップ記憶部Ｃ１３、及びチップ処理部Ｃ１４と通信することができる。すなわち、画像形成装置１００の制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップＣ１と通信することができる。
【００４４】
装着部５１に交換部品Ｃが装着された状態で、画像形成装置１００の制御部１０が、装着交換部品ＣＡのチップ記憶部Ｃ１３にデータを記憶させることができる。
【００４５】
装着部５１に交換部品Ｃが装着された状態で、画像形成装置１００の制御部１０が、装着交換部品ＣＡのチップ記憶部Ｃ１３に記憶されたデータを読み取ることができる。
【００４６】
画像形成装置１００の制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップ処理部Ｃ１４に制御コマンドを送信することで、チップ処理部Ｃ１４を制御することができる。
【００４７】
次に、図１〜図６を参照して、テスト処理について説明する。テスト処理は、制御部１０がチップＣ１の異常の有無を判定するために行う処理である。
【００４８】
図３は、テスト処理を示す表Ｑ１である。
【００４９】
図２及び図３に示すように、テスト処理は、異常確認処理と、異常の前兆の確認処理とを含む。異常確認処理は、チップＣ１に異常が発生しているか否かを確認するための処理である。
【００５０】
異常確認処理は、第１テスト処理（ＲＥＡＤ、ＷＲＩＴＥ確認）を含む。
【００５１】
第１テスト処理は、チップ記憶部Ｃ１３がデータを正確に記憶できるか否かを確認するための処理である。
【００５２】
チップ記憶部Ｃ１３が正常である場合、チップ記憶部Ｃ１３はデータを正確に記憶できる。しかし、チップ記憶部Ｃ１３に異常がある場合、チップ記憶部Ｃ１３は、不良データを記憶するので、記憶するように指示されたデータを正確に記憶できない。不良データは、例えば、文字化けしたデータである。そこで、制御部１０は、第１テスト処理において、チップ記憶部Ｃ１３がデータを正確に記憶できたか否かを確認することで、チップＣ１の異常の有無を判定する。
【００５３】
異常の前兆の確認処理は、チップＣ１に異常が発生する前兆があるか否かを確認するための処理である。異常の前兆の確認処理は、第２テスト処理と、第３テスト処理とを含む。
【００５４】
第２テスト処理は、チップ処理部Ｃ１４の処理時間を確認する処理である。チップ処理部Ｃ１４に異常の前兆がある場合、チップ処理部Ｃ１４の処理時間が増大する。そこで、制御部１０は、第２テスト処理において、チップ処理部Ｃ１４に所定の処理を行わせて、チップ処理部Ｃ１４の処理時間を確認することで、チップＣ１の異常の前兆の有無を判定する。
【００５５】
第３テスト処理は、チップ記憶部Ｃ１３の動作を確認する処理である。チップ処理部Ｃ１４に異常の前兆がある場合、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に所定の上限電圧、又は所定の下限電圧が印加されると、チップ記憶部Ｃ１３が正常に動作しないことがある。そこで、制御部１０は、第３テスト処理において、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に所定の上限電圧、又は所定の下限電圧を印加した状態で、チップ記憶部Ｃ１３の動作を確認する処理することで、チップＣ１の異常の前兆の有無を判定する。
【００５６】
以下では、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に印加される電圧をチップ電圧と記載することがある。チップ電圧は、制御部１０により制御される。
【００５７】
所定の上限電圧は、チップＣ１の正常な動作が保証されているチップ電圧の上限値を示す。所定の下限電圧は、チップＣ１の正常な動作が保証されているチップ電圧の下限値を示す。
【００５８】
制御部１０は、例えば、画像形成装置１００の電源の供給回路を制御することで、装着交換部品ＣＡのチップＣ１にチップ電圧を印加する。
【００５９】
画像形成装置１００は、例えば、通常の電圧を供給する第１供給回路と、所定の上限電圧を供給する第２供給回路と、所定の下限電圧を供給する第３供給回路とを含む。制御部１０は、使用する回路を第１供給回路〜第３供給回路のうちのいずれかに切り替えることで、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に印加される電圧を、通常の電圧、所定の上限電圧、及び所定の下限電圧のうちのいずれかに切り換える。通常の電圧は、予め決められており、所定の下限電圧よりも大きく、所定の上限電圧よりも小さい。デフォルトでは、チップＣ１には通常の電圧が印加される。
【００６０】
図１、図２及び図４を参照して、第１テスト処理の手順について説明する。図４は、第１テスト処理の手順を示すフロー図である。
【００６１】
図１、図２及び図４に示すように、ステップＳ１０１において、制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップ記憶部Ｃ１３に、所定のテスト用データを記憶させる記憶処理を行う。
【００６２】
ステップＳ１０２において、制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップ記憶部Ｃ１３からテスト用データを読み取る読取処理を行う。
【００６３】
制御部１０は、タイマーとして機能する。制御部１０は、読取処理を開始すると、読取処理を開始してから完了するまでにかかる時間をカウントする。
【００６４】
ステップＳ１０３において、制御部１０は、読取処理が完了したか否かを判定する。読取処理が完了したと制御部１０が判定すると（ステップＳ１０３で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ１０４に移行する。読取処理が完了していないと制御部１０が判定すると（ステップＳ１０３で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０６に移行する。
【００６５】
ステップＳ１０４において、制御部１０は、記憶指示データと、読取データとを比較する。
【００６６】
記憶指示データは、記憶処理において、制御部１０が、チップ記憶部Ｃ１３に対して記憶するように指示したテスト用データを示す。読取データは、制御部１０が、読取処理を行うことで、チップ記憶部Ｃ１３から読み取ったテスト用データを示す。
【００６７】
記憶指示データが読取データと同じであると制御部１０が判定すると（ステップＳ１０４で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ１０５に移行する。
【００６８】
ステップＳ１０５において、制御部１０は、チップＣ１が正常であると判定する。その結果、第１テスト処理が終了する。
【００６９】
記憶指示データが読取データと異なっていると制御部１０が判定すると（ステップＳ１０４で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０６に移行する。
【００７０】
ステップＳ１０６において、制御部１０は、チップＣ１が異常であると判定する。
【００７１】
チップ記憶部Ｃ１３が異常な場合、読取データは、不良データであり、記憶指示データと異なる。
【００７２】
ステップＳ１０６に示す処理が終了すると、第１テスト処理が終了する。
【００７３】
ステップＳ１０７において、制御部１０は、読取処理を開始してから所定期間が経過したか否かを判定する。
【００７４】
所定期間が経過していないと制御部１０が判定すると（ステップＳ１０７で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０３に移行する。
【００７５】
所定期間が経過したと制御部１０が判定すると（ステップＳ１０７で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ１０６に移行する。その結果、第１テスト処理が終了する。
【００７６】
図１、図２及び図５を参照して、第２テスト処理の手順について説明する。図５は、第２テスト処理の手順を示すフロー図である。
【００７７】
図１、図２及び図５に示すように、ステップＳ２０１において、制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップ処理部Ｃ１４に所定の処理を行わせる。所定の処理は、テスト用の演算処理である。所定の処理では、例えば、ハッシュ関数により所定のハッシュ値が演算される。
【００７８】
制御部１０は、チップ処理部Ｃ１４に所定の処理を開始させると、チップ処理部Ｃ１４が所定の処理を開始してから完了するまでに要した処理時間をカウントする。
【００７９】
ステップＳ２０２において、制御部１０は、所定の処理が完了したか否かを判定する。所定の処理が完了すると、チップ処理部Ｃ１４から制御部１０に対して所定の処理の結果（演算結果）を示す情報が送信される。その結果、制御部１０は、チップ処理部Ｃ１４による所定の処理が完了したと判定する。
【００８０】
チップ処理部Ｃ１４による所定の処理が完了したと制御部１０が判定すると（ステップＳ２０２で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ２０３に移行する。チップ処理部Ｃ１４による所定の処理が完了していないと制御部１０が判定すると（ステップＳ２０２で、Ｎｏ）、ステップＳ２０２に示す処理が繰り返される。
【００８１】
ステップＳ２０３において、制御部１０は、所定の処理に要した処理時間と、所定時間とを比較する。処理時間が所定時間以下の場合（ステップＳ２０３で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ２０４に移行する。処理時間が所定時間以下でない場合（ステップＳ２０３で、Ｎｏ）、処理がステップＳ２０５に移行する。
【００８２】
ステップＳ２０４において、制御部１０は、チップＣ１に異常の前兆がないと判定する。その結果、第２テスト処理が終了する。
【００８３】
ステップＳ２０５において、制御部１０は、チップＣ１に異常の前兆があると判定する。その結果、第２テスト処理が終了する。
【００８４】
図１、図２及び図６を参照して、第３テスト処理の手順について説明する。図６は、第３テスト処理の手順を示すフロー図である。
【００８５】
ステップＳ３０１において、制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップ記憶部Ｃ１３に所定の上限電圧、又は所定の下限電圧を印加する。
【００８６】
ステップＳ３０２において、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取る。所定データは、チップ記憶部Ｃ１３に記憶されているデータであればよく、データの内容は特に限定されない。所定データは、例えば、消耗品の残量を示すデータ、及び／又は、消耗品の色を示すデータである。
【００８７】
ステップＳ３０３において、制御部１０は、所定データをチップ記憶部Ｃ１３から読み取れたか否かを判定する。所定データを読み取れたと制御部１０が判定すると（ステップＳ３０３で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ３０４に移行する。所定データを読み取れなかったと制御部１０が判定すると（ステップＳ３０３で、Ｎｏ）、処理がステップＳ３０５に移行する。
【００８８】
ステップＳ３０４において、制御部１０は、チップＣ１に異常の前兆がないと判定する。その結果、第３テスト処理が終了する。
【００８９】
ステップＳ３０５において、制御部１０は、チップＣ１に異常の前兆があると判定する。その結果、第３テスト処理が終了する。
【００９０】
次に、図１〜図９を参照して、テスト処理の手順について説明する。テスト処理は、制御部１０がチップＣ１の異常の有無を判定するために行う処理を示す。図７は、テスト処理の手順を示す第１の図である。図８は、テスト処理の手順を示す第２の図である。
【００９１】
図２及び図７に示すように、ステップＳ１において、画像形成装置１００に電源が投入される。その結果、画像形成装置１００が起動する。
【００９２】
ステップＳ２において、画像形成装置１００に電源が投入されると、制御部１０がテスト処理を開始する。
【００９３】
図２、図４、及び図７に示すように、ステップＳ３において、制御部１０が第１テスト処理を実行する。
【００９４】
ステップＳ４において、第１テスト処理の結果において、チップＣ１が正常であると制御部１０が判定した場合（ステップＳ４で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ５に移行する。第１テスト処理の結果において、チップＣ１が正常でないと制御部１０が判定した場合（ステップＳ４で、Ｎｏ）、処理が図８に示すステップＳ１３に移行する。
【００９５】
図２、図５、及び図７に示すように、ステップＳ５において、制御部１０が第２テスト処理を実行する。
【００９６】
図２、図５、及び図８に示すように、ステップＳ６において、第２テスト処理の結果において、チップＣ１に異常の前兆がないと制御部１０が判定した場合（ステップＳ６で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ７に移行する。第２テスト処理の結果において、チップＣ１に異常の前兆があると制御部１０が判定した場合（ステップＳ６で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０に移行する。
【００９７】
図２、図６、及び図８に示すように、ステップＳ７において、制御部１０が第３テスト処理を実行する。
【００９８】
ステップＳ８において、第３テスト処理の結果において、チップＣ１に異常の前兆がないと制御部１０が判定した場合（ステップＳ８で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ９に移行する。第３テスト処理の結果において、チップＣ１に異常の前兆があると制御部１０が判定した場合（ステップＳ８で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０に移行する。
【００９９】
ステップＳ９において、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３へのアクセスを許可する。その結果、テスト処理の終了後も、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３と通信可能な状態になる。すなわち、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３に記憶されるデータをチップ記憶部Ｃ１３から読み取ることができ、かつ、チップ記憶部Ｃ１３にデータを記憶させることができる状態になる。
【０１００】
ステップＳ９に示す処理が終了すると、テスト処理が終了する。
【０１０１】
ステップＳ１０において、制御部１０は、動作モードを確認する。動作モードは、制御部１０の動作モードであり、予め設定されている。動作モードは、例えば、入力部２又は外部端末から設定される。動作モードを示す情報は、記憶部９に記憶されている。
【０１０２】
図９は、制御部１０の動作モードを示す表Ｑ２である。図９を参照して、制御部１０の動作モードについて説明する。
【０１０３】
図９に示すように、制御部１０の動作モードは、第１モードと、第２モードと、第３モードとを含む。第１モードが設定されている場合、制御部１０からチップ記憶部Ｃ１３へのアクセスが禁止される。第２モードが設定されている場合、制御部１０からチップ記憶部Ｃ１３へのアクセスが許可される。第３モードが設定されている場合、チップＣ１に異常の前兆があることを示す情報がユーザーに通知され、かつ、制御部１０からチップ記憶部Ｃ１３へのアクセスを許可するか否かがユーザーによって選択される。
【０１０４】
図２及び図８に示すように、ステップＳ１０において、制御部１０の動作モードが第１モードに設定されている場合、処理がステップＳ１３に移行する。制御部１０の動作モードが第２モードに設定されている場合、処理がステップＳ９に移行する。制御部１０の動作モードが第３モードに設定されている場合、処理がステップＳ１１に移行する。
【０１０５】
ステップＳ１１において、チップＣ１に異常の前兆があることを示す情報を表示部２１ａが表示するように、制御部１０が表示部２１ａを制御する。その結果、ユーザーは、表示部２１ａを視認することで、チップＣ１に異常の前兆があることを認識できる。
【０１０６】
ステップＳ１２において、入力部２は、チップ記憶部Ｃ１３を使用するか否かの選択を受け付ける。チップ記憶部Ｃ１３を使用するか否かは、言い換えれば、制御部１０からチップ記憶部Ｃ１３へのアクセスを許可するか否かを示す。この場合、例えば、表示部２１ａは、チップ記憶部Ｃ１３を使用するか否かの選択画面を表示する。そして、ユーザーは、チップ記憶部Ｃ１３を使用するか否かの選択結果を入力部２から入力する。そして、制御部１０は、選択結果を示す情報を入力部２から取得する。
【０１０７】
チップ記憶部Ｃ１３を使用することを示す情報を入力部２が受け付けると（ステップＳ１２で、Ｙｅｓ）、処理がステップＳ９に移行する。チップ記憶部Ｃ１３を使用しないことを示す情報を入力部２が受け付けると（ステップＳ１２で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１３に移行する。
【０１０８】
ステップＳ１３において、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３へのアクセスを禁止する。その結果、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３と通信不能な状態になる。すなわち、制御部１０は、チップ記憶部Ｃ１３に記憶されるデータをチップ記憶部Ｃ１３から読み取ることができず、かつ、チップ記憶部Ｃ１３にデータを記憶させることができない状態になる。
【０１０９】
ステップＳ１３に示す処理が終了すると、テスト処理が終了する。
【０１１０】
以上、図１〜図９を参照して説明したように、制御部１０は、テスト処理を実行する。その結果、ステップＳ４において、制御部１０は、チップＣ１の異常の有無を判定することができる。また、ステップＳ６及びステップＳ８の各において、制御部１０は、チップＣ１の異常の前兆の有無を判定することができる。また、制御部１０がテスト処理を実行することで、異常又は異常の前兆のあるチップＣ１が使用されることを抑制できる。
【０１１１】
以上、図面（図１〜図９）を参照しながら本発明の実施形態について説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である（例えば、（１）〜（７））。また、上記の実施形態に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせることによって、種々の発明の形成が可能である。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。図面は、理解しやすくするために、それぞれの構成要素を主体に模式的に示しており、図示された各構成要素の個数等は、図面作成の都合から実際とは異なる場合もある。また、上記の実施形態で示す各構成要素は一例であって、特に限定されるものではなく、本発明の効果から実質的に逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【０１１２】
（１）本発明の実施形態では、画像形成装置１００はトナー画像をシートＳに形成する。しかし、本発明はこれに限定されない。画像形成装置１００は、シートＳに画像を形成する機能を有していればよい。画像形成装置１００は、例えば、シートＳにインク画像を形成するインクジェット方式のプリンターであってもよい。この場合、消耗品は、インクである。また、画像形成装置１００は、プリンター単体、複写機、ファクシミリ装置、及び複合機でもよい。
【０１１３】
（２）本発明の実施形態では、制御部１０は、図７及び図８に示すテスト処理を行う際、第１テスト処理〜第３テスト処理の全ての処理を行う。しかし、本発明は、これに限定されない。制御部１０は、テスト処理を行う際、第１テスト処理〜第３テスト処理のうちの少なくとも１つの処理を行ってもよい。また、制御部１０は、テスト処理を行う際、異常確認処理として第１テスト処理を行い、異常の前兆の確認処理として第２テスト処理及び第３テスト処理のうちのいずれかの処理を行ってもよい。
【０１１４】
（３）図７及び図８に示すように、本発明の実施形態では、第１テスト処理で正常でないと判定された場合（ステップＳ４で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１３に移行する。しかし、本発明はこれに限定されない。第１テスト処理で正常でないと判定された場合、処理がステップＳ１０に移行してもよい。
【０１１５】
（４）図８に示すように、本発明の実施形態では、第２テスト処理で正常でないと判定された場合（ステップＳ６で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０に移行する。しかし、本発明はこれに限定されない。第２テスト処理で正常でないと判定された場合、処理がステップＳ１３に移行してもよい。
【０１１６】
（５）図８に示すように、本発明の実施形態では、第３テスト処理で正常でないと判定された場合（ステップＳ８で、Ｎｏ）、処理がステップＳ１０に移行する。しかし、本発明はこれに限定されない。第３テスト処理で正常でないと判定された場合、処理がステップＳ１３に移行してもよい。
【０１１７】
（６）図７に示すように、本発明の実施形態では、ステップＳ２において、画像形成装置１００に電源が投入されると、制御部１０がテスト処理を開始する。しかし、本発明はこれに限定されない。カバー部材１３（図１参照）が開かれてから閉じられたことを開閉検知部５４が検知すると、制御部１０がテスト処理を開始してもよい。
【０１１８】
（７）本発明の実施形態では、図３及び図６に示す第３テスト処理において、制御部１０は、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に所定の上限電圧、又は所定の下限電圧を印加した状態で、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取る。しかし、本発明はこれに限定されない。
【０１１９】
第３テスト処理において、制御部１０は、第１処理と、第２処理とを行ってもよい。第１処理は、制御部１０が、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に所定の上限電圧を印加した状態で、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取る処理を示す。第２処理は、制御部１０が、装着交換部品ＣＡのチップＣ１に所定の下限電圧を印加した状態で、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取る処理を示す。この場合、制御部１０は、第１処理において、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取れて、かつ、第２処理において、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取れた場合に、チップＣ１に異常の前兆がないと判定する。また、制御部１０は、第１処理において、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取れなかった場合、又は、第２処理において、チップ記憶部Ｃ１３から所定データを読み取れなかった場合に、チップＣ１に異常の前兆があると判定する。
【産業上の利用可能性】
【０１２０】
本発明は、画像形成装置の分野に利用可能である。
【符号の説明】
【０１２１】
６      画像形成部
１０    制御部
５１    装着部
１００  画像形成装置
Ｃ      交換部品
ＣＡ    装着交換部品
Ｃ１    チップ
Ｃ１３  チップ記憶部
Ｃ１４  チップ処理部
Ｓ      シート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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