(57)【要約】【課題】物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する第１温度値を決定することができる物質評価装置、物質評価方法及び相関図を提供する。【解決手段】物質評価装置１００は、測定装置１０と、粒子計測装置２０と、連通部３０と、制御部４０とを備える。連通部３０は、測定装置１０と粒子計測装置２０とを連通する。制御部４０は、測定装置１０と粒子計測装置２０とを制御する。測定装置１０は、物質を加熱し物質から粒子群を発生させる加熱部１１と、物質の温度値を検出する温度検出部１４とを有する。粒子計測装置２０は、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出する粒子検出部２１を有する。制御部４０は、温度値及び粒子検出部２１の検出結果に基づいて、第１温度値を決定する第１決定部４４を有する。第１温度値は、物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である。【選択図】図１
2020051857.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定装置と、
粒子計測装置と、
前記測定装置と前記粒子計測装置とを連通する連通部と、
前記測定装置と前記粒子計測装置とを制御する制御部と
を備え、
前記測定装置は、物質を加熱し前記物質から粒子群を発生させる加熱部と、前記物質の温度値を検出する温度検出部とを有し、
前記粒子計測装置は、前記粒子群の内、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出する粒子検出部を有し、
前記制御部は、前記温度値及び前記粒子検出部の検出結果に基づいて、第１温度値を決定する第１決定部を有し、
前記第１温度値は、前記物質から前記所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である、物質評価装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記所定範囲の上限値と下限値との少なくとも一方を受け付ける入力部を更に有し、
前記粒子検出部は、前記入力部で受け付けられた前記所定範囲の粒子径を有する粒子を検出する請求項１に記載の物質評価装置。
【請求項３】
前記測定装置は、前記物質の重量値を検出する重量検出部を更に有し、
前記制御部は、前記温度値及び前記重量値に基づいて、第２温度値を決定する第２決定部を更に有し、
前記第２温度値は、前記物質が蒸発する温度値である、請求項１又は請求項２に記載の物質評価装置。
【請求項４】
前記測定装置は、
炉と、
前記炉内にオゾンを発生させるオゾン発生装置と
を更に有し、
前記炉内に前記物質が配置される、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の物質評価装置。
【請求項５】
物質を加熱し前記物質から粒子群を発生させるステップと、
前記物質の温度値を検出するステップと、
前記粒子群の内、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出するステップと、
前記温度値及び前記検出するステップの検出結果に基づいて、第１温度値を決定するステップと
を含み、
前記第１温度値は、前記物質から前記所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である、物質評価方法。
【請求項６】
温度値と飽和蒸気圧値との関係を示す相関図であって、
前記相関図は、
所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する領域を示す第１領域と、
物質が蒸発しない領域を示す第２領域と、
前記物質が蒸発する領域であって、前記所定範囲の粒子径を有する粒子が発生しない領域を示す第３領域と
を含む、相関図。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物質評価装置、物質評価方法及び相関図に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、１次粒子径が１００ｎｍ以下の微粒子の排出に対する規制が強化されている。１次粒子径が１００ｎｍ以下の微粒子は、超微粒子：ＵＦＰ（Ｕｌｔｒａ  Ｆｉｎｅ  Ｐａｒｔｉｃｌｅ）と呼ばれる。そのため、ＵＦＰの排出に対する対策が求められている。
【０００３】
ＵＦＰの排出に対する対策が施された画像形成装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に記載の画像形成装置は、通常の定着温度制御モードと、超微粒子発生温度制御モードとを有する。超微粒子発生温度制御モードは、加熱状態と加熱停止状態とを有する。加熱状態では、定着ローラーの表面温度を定着上限温度よりも１０℃以上高い超微粒子制御上限温度に保持する。加熱停止状態では、定着ローラーの加熱を停止する。画像形成装置は、加熱状態と加熱停止状態とを交互に繰り返して定着ロールからの揮発有機物を熱処理で除去する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−０５８６５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の画像形成装置では、画像形成装置の製造後にＵＦＰの排出に対する対策を施すために、超微粒子発生温度制御モードを設定している。つまり、画像形成装置を製造する前に、定着ローラーに用いられた物質についてＵＦＰが発生する温度値は決定されていなかった。
【０００６】
本発明は、物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する第１温度値を決定することができる物質評価装置、物質評価方法及び相関図を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る物質評価装置は、測定装置と、粒子計測装置と、連通部と、制御部とを備える。連通部は、測定装置と粒子計測装置とを連通する。制御部は、測定装置と粒子計測装置とを制御する。測定装置は、物質を加熱し物質から粒子群を発生させる加熱部と、物質の温度値を検出する温度検出部とを有する。粒子計測装置は、粒子群の内、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出する粒子検出部を有する。制御部は、第１温度値を決定する第１決定部を有する。第１温度値は、物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である。
【０００８】
本発明に係る物質評価方法は、物質を加熱し物質から粒子群を発生させるステップと、物質の温度値を検出するステップと、粒子群の内、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出するステップと、温度値及び検出するステップの検出結果に基づいて、第１温度値を決定するステップとを含む。第１温度値は、物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である。
【０００９】
本発明に係る相関図は、温度値と飽和蒸気圧値との関係を示す相関図である。相関図は、所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する領域を示す第１領域と、物質が蒸発しない領域を示す第２領域と、物質が蒸発する領域であって、所定範囲の粒子径を有する粒子が発生しない領域を示す第３領域とを含む。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の物質評価装置によれば、物質から所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する第１温度値を決定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態に係る物質評価装置のブロック図である。
【図２】測定物質Ｓ１の測定結果を示すグラフである。
【図３】測定物質Ｓ２の測定結果を示すグラフである。
【図４】本実施形態に係る物質評価方法を示すフローチャートである。
【図５】本実施形態に係る相関図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一又は相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
【００１３】
図１を参照して、本発明の実施形態を示す物質評価装置１００について説明する。図１は、本発明の実施形態に係る物質評価装置１００のブロック図である。
【００１４】
物質評価装置１００は、測定物質Ｓの第１温度値及び測定物質Ｓの第２温度値を決定する。測定物質Ｓの第１温度値（以下、測定物質Ｓの第１温度値を「ＵＦＰ発生開始点」ともいう）は、測定物質Ｓから所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する温度値である。所定範囲の粒子径を有する粒子は、任意の範囲の粒子径を有する粒子であり、例えば、装置固有の最大検出可能粒子径範囲の内から選択される任意の範囲の粒子径を有する粒子であり、ＵＦＰであってもよい。測定物質Ｓの第２温度値（以下、測定物質Ｓの第２温度値を「蒸発開始点」ともいう）は、測定物質Ｓが蒸発する温度値である。なお、標準物質Ｂは、測定温度範囲で粒子を発生させず、かつ、蒸発しない物質であり、例えば、酸化アルミニウムである。
【００１５】
図１に示すように、物質評価装置１００は、測定装置１０と、粒子計測装置２０と、連通部３０と、制御装置４０とを備える。
【００１６】
測定装置１０は、測定物質Ｓを加熱し測定物質Ｓから粒子群を発生させる。測定装置１０は、加熱炉１３と、加熱部１１と、重量検出部１２と、温度検出部１４とを有する。測定物質Ｓと標準物質Ｂと加熱部１１とは、加熱炉１３内に配置される。重量検出部１２と温度検出部１４とは、加熱炉１３外に配置される。
【００１７】
測定物質Ｓと標準物質Ｂとは、ユーザーによって加熱炉１３内に配置される。なお、オートサンプラーを使用して測定物質Ｓと標準物質Ｂとを配置してもよい。
【００１８】
加熱部１１は、ヒーターと、示差熱流検出器とを備える。ヒーターは、加熱炉１３の温度を一定速度で上昇させる。示差熱流検出器は、測定物質Ｓと標準物質Ｂとの温度差を検出して、温度差値を制御装置４０に出力する。
【００１９】
温度検出部１４は、加熱炉１３の温度を検出して、温度値を制御装置４０に出力する。温度検出部１４は、例えば、熱電対である。なお、温度検出部１４は、測定物質Ｓ自体の温度を検出してもよい。
【００２０】
重量検出部１２は、測定物質Ｓと標準物質Ｂとの重量差を検出して、重量値（以下、重量値を「サンプル重量」ともいう）を制御装置４０に出力する。
【００２１】
粒子計測装置２０は、例えば、帯電した粒子群を電気移動度の違いを利用して粒子径毎に分級する。粒子計測装置２０は、例えば、ＵＦＰ測定装置である。
【００２２】
粒子計測装置２０は、通路管２２と、粒子検出部２１とを有する。粒子検出部２１は、帯電機構と、分級電極と、測定電極と、電流検出器とを備える。
【００２３】
通路管２２は、粒子群を設定方向に流通させる。設定方向は、例えば、下方向である。
【００２４】
帯電機構は、通路管２２内の設定方向上流部の中央部に配置されている。通路管２２内に粒子群が流通すると、帯電機構は粒子群を帯電する。
【００２５】
分級電極は、通路管２２の設定方向中流部で通路管２２内に配置されている。測定電極は、分級電極に対向して通路管２２の内周面に配置されている。測定電極は、トラップ電極と測定用電極とを有する。設定方向において上方からトラップ電極と測定用電極とが並んでいる。
【００２６】
電流検出器は、測定用電流検出器を有する。
【００２７】
トラップ電極はアースされている。測定用電極は、測定用電流検出器と接続されている。測定用電流検出器は、測定用電極に流れる電流値（検出結果）を検出して制御装置４０に出力する。
【００２８】
分級電極と測定電極との間に電界が形成されたときに、通路管２２に帯電した粒子群が流通すると、粒子群が測定電極に吸引される。従って、各粒子がトラップ電極と測定用電極との内のいずれか１個の電極にそれぞれ到達する。電気移動度が大きくなればなるほど、粒子は電界の影響を受けるので、粒子は設定方向における手前の配置位置の電極に到達する。その結果、例えば、所定範囲の下限値未満の粒子径を有する粒子はトラップ電極に到達する。所定範囲の粒子径を有する粒子は測定用電極に到達する。
【００２９】
粒子が測定電極に到達する量が多くなればなるほど、電荷量が大きくなる。電荷量が大きくなると、電流値が大きくなる。すなわち、ＵＦＰ個数濃度が濃くなれば、測定用電流検出器で検出される電流値は大きくなる。
【００３０】
連通部３０は、測定装置１０と粒子計測装置２０とを連通する。連通部３０は、容器３１を備える。容器３１には、第１チューブ３１ａと、第２チューブ３１ｂとが連結されている。具体的には、第１チューブ３１ａの一端は、容器３１の両端のうちの一端に連結される。第２チューブ３１ｂの一端は、容器３１の両端のうちの他端に連結される。
【００３１】
第１チューブ３１ａの他端は、加熱炉１３に連結される。第１チューブ３１ａを介して容器３１が加熱炉１３内に連通する。加熱炉１３内から容器３１へ所定の排出速度で気体が排出されるように、例えば測定装置１０の排出機構に排出条件が設定されている。その結果、加熱炉１３内の粒子群が、第１チューブ３１ａを介して容器３１に所定の排出速度で流入する。
【００３２】
第２チューブ３１ｂの他端は、通路管２２の壁部に連結される。第２チューブ３１ｂを介して容器３１が通路管２２内に連通する。容器３１から通路管２２内へ所定の吸引速度で気体が吸引されるように、例えば粒子計測装置２０の吸引機構に吸引速度が装置固有の固定値として予め設定されている。測定装置１０の排出機構には、容器３１が負圧にならない排出速度が設定される。その結果、容器３１内の粒子群が、第２チューブ３１ｂを介して通路管２２内に所定の吸引速度で流入する。
【００３３】
制御装置４０は、測定装置制御部４１と、計測装置制御部４２と、連結制御部４３とを備える。なお、測定装置制御部４１及び計測装置制御部４２は、連結制御部４３と一体化されていてもよい。
【００３４】
測定装置制御部４１は、測定装置１０の各要素を制御する。測定装置制御部４１は、制御部４１ａと、入力部４１ｂと、記憶部４１ｃとを備える。
【００３５】
入力部４１ｂは、測定装置１０に対する指示を受け付ける。入力部４１ｂは、表示部と、操作キー群とを含む。表示部は、種々の情報を表示する。表示部は、例えば、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）、又は、有機ＥＬＤ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ  Ｄｉｓｐｌａｙ）である。表示部は、タッチパネルであってもよい。
【００３６】
記憶部４１ｃは、記憶装置を含む。記憶装置は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、及び、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）のような主記憶装置（例えば、半導体メモリー）を含み、補助記憶装置（例えば、ハードディスクドライブ）を更に含んでもよい。
【００３７】
制御部４１ａは、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）及びＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）のようなプロセッサーを含む。
【００３８】
制御部４１ａのプロセッサーは、入力部４１ｂに入力された情報に基づいて、記憶装置に記憶されたコンピュータープログラムを実行することにより、加熱部１１と、重量検出部１２とを制御する。入力された情報は、例えば、ヒーターの昇温条件を含む。
【００３９】
計測装置制御部４２は、粒子計測装置２０の各要素を制御する。計測装置制御部４２は、制御部４２ａと、入力部４２ｂと、記憶部４２ｃとを備える。
【００４０】
入力部４２ｂは、粒子計測装置２０に対する指示を受け付ける。入力部４２ｂは、表示部と、操作キー群とを含む。表示部は、種々の情報を表示する。表示部は、例えば、ＬＣＤ又は有機ＥＬＤである。表示部は、タッチパネルであってもよい。
【００４１】
記憶部４２ｃは、記憶装置を含む。記憶装置は、ＲＯＭ及びＲＡＭのような主記憶装置を含み、補助記憶装置を更に含んでもよい。
【００４２】
制御部４２ａは、ＣＰＵ及びＭＰＵのようなプロセッサーを含む。制御部４２ａのプロセッサーは、入力部４２ｂに入力された情報に基づいて、記憶装置に記憶されたコンピュータープログラムを実行することにより、粒子検出部２１を制御する。入力された情報は、例えば、分級電極と測定電極との間に形成する電界条件を含む。また、入力された情報は、例えば、所定範囲の上限値と下限値との少なくとも一方を含む。具体的には、入力された情報は、粒子計測装置２０固有の最大検出可能粒子径範囲（例えば、５．６ｎｍ以上の粒子径範囲）の内から選択され、所定範囲の上限値のみであってもよく、所定範囲の下限値のみであってもよく、所定範囲の上限値及び下限値の両方であってもよい。従って、様々な範囲の粒子径を有する粒子について評価することができる。制御部４２ａのプロセッサーは、所定範囲の上限値と下限値との少なくとも一方に基づいて、分級電極と測定電極との間に形成する電界条件を制御する。
【００４３】
連結制御部４３は、測定装置１０で検出された温度値及び重量値を取得するとともに、粒子計測装置２０で検出された電流値を取得する。連結制御部４３は、制御部４３ａと、入力部４３ｂと、記憶部４３ｃとを備える。
【００４４】
入力部４３ｂは、連結制御部４３に対する指示を受け付ける。入力部４３ｂは、表示部と、操作キー群とを含む。表示部は、種々の情報を表示する。表示部は、例えば、ＬＣＤ又は有機ＥＬＤである。表示部は、タッチパネルであってもよい。
【００４５】
記憶部４３ｃは、記憶装置を含む。記憶装置は、ＲＯＭ及びＲＡＭのような主記憶装置を含み、補助記憶装置を更に含んでもよい。
【００４６】
制御部４３ａは、第１決定部４４及び第２決定部４５を有する。第１決定部４４及び第２決定部４５は、ＣＰＵ及びＭＰＵのようなプロセッサーを含む。第１決定部４４及び第２決定部４５は、記憶装置に記憶されたコンピュータープログラムを実行する。
【００４７】
第１決定部４４は、測定物質Ｓの第１温度値を決定する。具体的には、粒子計測装置２０で所定範囲の粒子径を有する粒子が検出された時、測定装置１０で検出された温度値を第１温度値として決定する。すなわち、粒子検出部２１の測定用電流検出器で電流値が検出された時、温度検出部１４で検出された温度値が第１温度値となる。
上記の方法に限らず、他の決定方法でもよい。第１温度値を自動で決定する手段でもよく、表示部に表示させてユーザーが入力して第１温度値を決定する手段でもよい。例えば、温度と粒子数との関係を表示部に表示させてもよい。別の手段では、粒子計測装置２０により時間と粒子数とを表示させる手段と、粒子の発生する時間を決定する手段とを有し、決定された時間から第１温度値が決定される方法でもよい。また、表示させる手段を有する場合、温度検出部１４に設置されたタイマーを有し、設置されているタイマーによる時間と粒子数との関係を表示部に表示させる。温度検出部１４にタイマーが設置されているので、粒子が発生する時間がわかれば第１温度値も決定される。
【００４８】
第２決定部４５は、測定物質Ｓの第２温度値を決定する。具体的には、測定装置１０で測定物質Ｓの重量が減少した時、測定装置１０で検出された温度値を第２温度値として決定する。すなわち、重量検出部１２で検出された重量値が変化した時、温度検出部１４で検出された温度値が第２温度値となる。
上記の方法に限らず、他の決定方法でもよい。自動で決定する手段でもよく、表示部に表示させてユーザーが入力して決定する手段でもよい。例えば、表示させる手段を有する場合、温度検出部１４に設置されたタイマーを有し、タイマーが設置されているので、重量値が変化した時間をユーザーが入力すると第２決定部４５は第２温度値を決定する。
【００４９】
図２と図３とを参照して、測定物質Ｓの測定結果を説明する。図２は、測定物質Ｓ１の測定結果を示すグラフである。図３は、測定物質Ｓ２の測定結果を示すグラフである。図２と図３とのグラフにおいて、左側の縦軸は、ＵＦＰ個数濃度を表し、ＵＦＰ個数濃度変化が直線で示される。ＵＦＰ個数濃度変化は、粒子検出部２１の測定用電流検出器で検出された電流値の変化である。図２と図３とのグラフにおいて、右側の縦軸は、サンプル重量変化を表し、測定物質Ｓの重量変化が点線で示される。サンプル重量変化は、重量検出部１２で検出された重量値の変化である。図２と図３とのグラフにおいて、横軸は、温度値を表す。温度値は、温度検出部１４で検出された温度値である。
【００５０】
図２に示すように、ＵＦＰ個数濃度が１９０℃で０個／ｃｍ3でなくなる。従って、測定物質Ｓ１の第１温度値（ＵＦＰ発生開始点）は、１９０℃である。また、サンプル重量が１９０℃で減少し始める。従って、測定物質Ｓ１の第２温度値（蒸発開始点）は、１９０℃である。測定物質Ｓ１の第１温度値と測定物質Ｓ１の第２温度値とが一致している。
【００５１】
図３に示すように、ＵＦＰ個数濃度が２０５℃で０個／ｃｍ3でなくなる。従って、測定物質Ｓ２の第１温度値（ＵＦＰ発生開始点）は、２０５℃である。また、サンプル重量が１７５℃で減少し始める。従って、測定物質Ｓ２の第２温度値（蒸発開始点）は、１７５℃である。測定物質Ｓ２の第１温度値と測定物質Ｓ２の第２温度値とが一致していない。
【００５２】
ここで、物質の所定温度での飽和蒸気圧値について検討する。所定温度は、使用する予定の温度であり、例えば画像形成装置では２００℃である。文献値によると、測定物質Ｓ１の所定温度での飽和蒸気圧値は、低い。一方、測定物質Ｓ２の所定温度での飽和蒸気圧値は、高い。
【００５３】
飽和蒸気圧値が低い測定物質Ｓ１において、第１温度値と第２温度値とが一致している。つまり、飽和蒸気圧値が低い測定物質Ｓ１は、凝集力が大きいため蒸発すると同時に凝集する。従って、飽和蒸気圧値が低い測定物質Ｓ１を第２温度値以下で使用すればよいことが理解できる。
【００５４】
飽和蒸気圧値が高い測定物質Ｓ２において、第１温度値と第２温度値とが一致していない。つまり、飽和蒸気圧値が高い測定物質Ｓ２は、凝集力が小さいため粒子になるには測定物質Ｓ２が所定濃度値以上で存在する必要がある。従って、測定物質Ｓ２が所定濃度値以下で蒸発する温度値以下で飽和蒸気圧値が高い測定物質Ｓ２を使用すればよいことが理解できる。
【００５５】
次に、図４を参照して、物質評価方法について説明する。図４は、本実施形態に係る物質評価方法を示すフローチャートである。物質評価方法は、ステップＳ１０１〜ステップＳ１０６を含む。
【００５６】
図４に示すように、ステップＳ１０１において、ユーザーは、測定物質Ｓと標準物質Ｂとを加熱炉１３内に配置する。測定物質Ｓと標準物質Ｂとが加熱炉１３内に配置されると、処理がステップＳ１０２に進む。
【００５７】
ステップＳ１０２において、加熱部１１は、測定物質Ｓと標準物質Ｂとを加熱する。加熱部１１が測定物質Ｓと標準物質Ｂとを加熱すると、処理がステップＳ１０３に進む。
【００５８】
ステップＳ１０３において、加熱炉１３の温度が上昇すると、測定物質Ｓから粒子群が発生する。温度検出部１４は、加熱炉１３の温度値を検出して、温度値を制御装置４０に出力する。また、重量検出部１２は、測定物質Ｓと標準物質Ｂとの重量差を検出して、重量値を制御装置４０に出力する。測定物質Ｓから粒子群が発生すると、処理がステップＳ１０４に進む。
【００５９】
ステップＳ１０４において、粒子群が連通部３０に導かれる。粒子群が連通部３０に導かれると、処理がステップＳ１０５に進む。
【００６０】
ステップＳ１０５において、粒子群が粒子計測装置２０で粒子径毎に分級される。粒子計測装置２０の測定用電流検出器は、測定用電極に流れる電流値を検出して、電流値を制御装置４０に出力する。粒子群が分級されると、処理がステップＳ１０６に進む。
【００６１】
ステップＳ１０６において、第１決定部４４は、温度値と電流値とに基づいて、第１温度値を決定する。なお、上記の方法に限らず、他の決定方法でもよい。第１温度値を自動で決定する手段でもよく、表示部に表示させてユーザーが入力して第１温度値を決定する手段でもよい。別の手段では、粒子計測装置２０により時間と粒子数とを表示させる手段と、粒子の発生する時間を決定する手段とを有し、決定された時間から第１温度値が決定される方法でもよい。また、表示させる手段を有する場合、温度検出部１４に設置されたタイマーを有し、設置されているタイマーによる時間と粒子数との関係を表示部に表示させる。温度検出部１４にタイマーが設置されているので、粒子が発生する時間がわかれば第１温度値も決定する。
第２決定部４５は、温度値と重量値とに基づいて、第２温度値を決定する。なお、上記の方法に限らず、他の決定方法でもよい。自動で決定する手段でもよく、表示部に表示させてユーザーが入力して決定する手段でもよい。例えば、表示させる手段を有する場合、温度検出部１４に設置されたタイマーを有し、タイマーが設置されているので、重量値が変化した時間をユーザーが入力すると第２決定部４５は第２温度値を決定する。
第１決定部４４及び第２決定部４５が第１温度値及び第２温度値を決定すると、処理が終了する。
【００６２】
以上、図１〜図４を参照して説明したように、本実施形態によれば、測定物質Ｓの第１温度値を決定することができる。また、測定物質Ｓの第２温度値を決定することができる。その結果、画像形成装置を製造する前に、測定物質Ｓについて評価することができる。
【００６３】
次に、図５を参照して、相関図について説明する。図５は、本実施形態に係る相関図である。図５に示すように、相関図は、温度値と飽和蒸気圧値との関係を示す。図５のグラフにおいて、縦軸は、温度を表す。図５のグラフにおいて、横軸は、飽和蒸気圧を表す。相関図は、第１領域（以下、第１領域を「ＵＦＰ発生領域」ともいう）と、第２領域（以下、第２領域を「蒸発未発生領域」ともいう）と、第３領域（以下、第３領域を「凝集不十分領域」ともいう）とを含む。
【００６４】
ここで、相関図を作成する相関図作成方法について説明する。まず、物質評価方法で複数の測定物質Ｓについて第１温度値及び第２温度値を決定する。次に、文献で複数の測定物質Ｓについて所定温度での飽和蒸気圧値を調べる。複数の測定物質Ｓについて第１温度値と第２温度値と飽和蒸気圧値とを、温度値と飽和蒸気圧値との関係に当てはめる。第１温度値を丸印で示す。第２温度値を三角印で示す。その結果、相関図上に第１領域と第２領域と第３領域とが形成される。
【００６５】
第１領域は、所定範囲の粒子径を有する粒子が発生する領域を示す。第２領域は、測定物質Ｓが蒸発しない領域を示す。第３領域は、測定物質Ｓが蒸発する領域であって、所定範囲の粒子径を有する粒子が発生しない領域を示す。
【００６６】
物質評価方法で評価する前の物質の飽和蒸気圧値と、使用する温度値とを相関図に当てはめることによって、第１領域と第２領域と第３領域との内のいずれの領域に属するかが理解できる。例えば、温度値と飽和蒸気圧値との関係が第２領域に属するときには、ＵＦＰが発生しないため、ＵＦＰの排出の点で問題がないと評価できる。また、温度値と飽和蒸気圧値との関係が第３領域に属するときにも、ＵＦＰが発生しないため、ＵＦＰの排出の点で問題がないと評価できる。一方、温度値と飽和蒸気圧値との関係が第１領域に属するときには、ＵＦＰが発生するため、ＵＦＰの排出の点で物質を使用しない方がよいと評価できる。
【００６７】
以上、図面（図１〜図５）を参照しながら本発明の実施形態を説明した。ただし、本発明は、本実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である（例えば、下記に示す（１）〜（３））。また、本実施形態で示す各構成要素の材質、形状、寸法等は一例であって、特に限定されるものではなく、本発明の構成から実質的に逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００６８】
（１）本実施形態では、測定装置１０は、加熱炉１３と、加熱部１１と、重量検出部１２と、温度検出部１４とを有した。しかし、本発明はこれに限定されない。測定装置１０は、加熱炉１３と重量検出部１２とを有さず、加熱部１１と、温度検出部１４とを有してもよい。また、測定装置１０は、加熱炉１３と重量検出部１２と温度検出部１４とを有さず、加熱部１１を有し、測定装置１０に温度検出部１４が別部材として取り付けられてもよい。
【００６９】
（２）本実施形態では、測定装置１０はオゾン発生装置を更に備えてもよい。画像形成装置ではオゾンが発生するが、測定装置１０を画像形成装置と同様の雰囲気として、測定物質Ｓの第１温度値を決定することができる。
【００７０】
（３）本実施形態では、粒子計測装置２０は、帯電した粒子群を電気移動度の違いを利用して粒子径毎に分級した。しかし、本発明はこれに限定されない。粒子計測装置２０は、所定範囲の粒子径を有する粒子を検出できればよい。
【産業上の利用可能性】
【００７１】
本発明は、物質評価装置、物質評価方法及び相関図の分野に利用可能である。
【符号の説明】
【００７２】
１０      測定装置
１１      加熱部
１２      重量検出部
１３      加熱炉
１４      温度検出部
２０      粒子計測装置
２１      粒子検出部
２２      通路管
３０      連通部
３１      容器
３１ａ    第１チューブ
３１ｂ    第２チューブ
４０      制御装置
４１      測定装置制御部
４１ａ    制御部
４１ｂ    入力部
４１ｃ    記憶部
４２      計測装置制御部
４２ａ    制御部
４２ｂ    入力部
４２ｃ    記憶部
４３      連結制御部
４４      第１決定部
４５      第２決定部
１００    物質評価装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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