(57)【要約】【課題】データバンドの増加に容易に対応することができるサーボパターン記録方法を提供する。【解決手段】本技術の一形態に係るサーボパターン記録方法は、５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する方法であって、複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を、それぞれ同位相で記録する。【選択図】図３
2020071897.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を、それぞれ同位相で記録する
サーボパターン記録方法。
【請求項２】
請求項１に記載のサーボパターン記録方法であって、
隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドが決定される
サーボパターン記録方法。
【請求項３】
請求項１に記載のサーボパターン記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するべき第３のサーボバンドをさらに決定する
サーボパターン記録方法。
【請求項４】
請求項１に記載のサーボパターン記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
サーボパターン記録方法。
【請求項５】
５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する装置であって、
前記複数のサーボバンドに対応して配置された複数の記録部を有するサーボライトヘッドと、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドに対応する第１の記録部に対して前記第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を出力し、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドに対応する第２の記録部に対して前記第２のサーボバンド識別情報を前記第１のサーボバンド識別情報と同位相で記録するための第２の記録信号を出力する駆動部と
を具備するサーボパターン記録装置。
【請求項６】
請求項５に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記サーボライトヘッドは、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
サーボパターン記録装置。
【請求項７】
請求項５に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記複数の記録部は、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、それぞれ前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能な磁気ギャップをそれぞれ有し、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
サーボパターン記録装置。
【請求項８】
５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報をそれぞれ同位相で記録する
テープ状磁気記録媒体の製造方法。
【請求項９】
５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を具備し、
前記複数のサーボバンドは、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも３つの第１のサーボバンドと、
前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも２つの第２のサーボバンドと
を有する
テープ状記録媒体。
【請求項１０】
請求項９に記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、互いに同位相で記録される
テープ状記録媒体。
【請求項１１】
請求項９に記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに記録される
テープ状磁気記録媒体。
【請求項１２】
請求項９に記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２の識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
テープ状記録媒体。
【請求項１３】
請求項９に記載のテープ状記録媒体であって、
前記複数のサーボバンドは、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が記録された第３のサーボバンドをさらに有する
テープ状記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、磁性層へサーボパターンを書き込むためのサーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、並びに、サーボパターンが記録された磁性層を有するテープ状磁気記録媒体及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子データのバックアップなどの用途で磁気記録媒体が広く利用されている。磁気記録媒体の一つとして、例えば磁気テープカートリッジは、大容量・長期保存が可能なことから、ビッグデータ等の蓄積媒体としてますます注目が集まっている。
【０００３】
例えば、ＬＴＯ（Linear Tape Open）規格の磁気テープにおける磁性層には、テープ長手方向に平行な複数のデータバンドが設けられており、これら複数のデータバンド内の複数の記録トラックに対してデータが記録される。さらに当該磁気テープには、テープ長手方向に平行な複数のサーボバンドが設けられており、各データバンドは複数のサーボバンド間に挟み込まれるように磁性層に配置される。各サーボバンドには、各記録トラックに対する記録再生ヘッドの位置決め（トラッキング）制御を実行し、更には、テープ情報やデータバンドを特定するためのサーボバンド識別情報が埋め込まれた所定形状のサーボパターンが記録されている。
【０００４】
ＬＴＯ規格で採用されるタイミングベースサーボ方式のドライブシステムにおいては、非平行サーボパターンと時間変数または距離変数を使用してヘッド位置を識別するサーボ技術が用いられる。非平行サーボパターンとしては、典型的には、テープ長手方向に配列される２つの異なる方位角傾斜（azimuthal slope）を含む。この種のドライブシステムは、サーボパターンを読み取ることで、位置誤差信号（ＰＥＳ：Position Error Signal）を生成し、記録トラックに対してドライブヘッドを適切に位置決めする。
【０００５】
さらに、複数のデータバンドから任意のデータバンドを特定する技術して、例えば特許文献１には、サーボパターンの記録位置をサーボバンド間においてテープ走行方向にずらす技術が記載されている。この技術によれば、サーボパターンを読み取ることで得られるサーボパターンの再生波形の位相が各サーボバンド間で相違するため、隣り合う２つのサーボバンド間の再生波形の位相差をＰＥＳから取得することで、記録再生するべきデータバンドの位置の特定が可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特表２０１１−５２３４８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、ＰＥＳにも位相差を有するため、ＰＥＳ信号平均化による精度向上の誤差、並びにドライブヘッドのアジマス調整の誤差が生じるという問題がある。特に、近年における磁気テープの高記録密度化の要請に伴って、データバンドの数がさらに増加した場合、サーボバンドの数も増加するため、それに伴いサーボバンド間における再生波形の位相差を多数設けることは、サーボバンド位置を安定に検出することが困難になる。
【０００８】
以上のような事情に鑑み、本技術の目的は、データバンドの増加に容易に対応することができるサーボパターン記録方法、サーボパターン記録装置、テープ状磁気記録媒体の製造方法及びテープ状磁気記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本技術の一形態に係るサーボパターン記録方法は、５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を、それぞれ同位相で記録する。
【００１０】
前記サーボパターン記録方法にあっては、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドが決定されてもよい。
【００１１】
前記サーボパターン記録方法は、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するべき第３のサーボバンドをさらに決定してもよい。
【００１２】
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有してもよい。この場合、前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する。
【００１３】
本技術の一形態に係るサーボパターン記録装置は、５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する装置であって、サーボライトヘッドと、駆動部とを具備する。
前記サーボライトヘッドは、前記複数のサーボバンドに対応して配置された複数の記録部を有する。
前記駆動部は、複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドに対応する第１の記録部に対して前記第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を出力し、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドに対応する第２の記録部に対して前記第２のサーボバンド識別情報を前記第１のサーボバンド識別情報と同位相で記録するための第２の記録信号を出力する。
【００１４】
前記サーボライトヘッドは、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を記録するように構成されてもよい。
【００１５】
前記複数の記録部は、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、それぞれ前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能な磁気ギャップをそれぞれ有してもよい。この場合、前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する。
【００１６】
本技術の一形態に係るテープ状磁気記録媒体の製造方法は、５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１の識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報をそれぞれ同位相で記録する。
【００１７】
本技術の一形態に係るテープ状磁気記録媒体は、５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を具備し、前記複数のサーボバンドは、複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１の識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも２つの第２のサーボバンドとを有する。
【００１８】
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、互いに同位相で記録されてもよい。
【００１９】
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに記録されてもよい。
【００２０】
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有してもよい。この場合、前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する。
【００２１】
前記複数のサーボバンドは、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が記録された第３のサーボバンドをさらに有してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録装置を示す正面図である。
【図２】上記サーボパターン記録装置の一部を示す部分拡大図である。
【図３】サーボパターンの一部を構成するサーボバンド識別情報を示す磁気テープの上面図である。
【図４】（Ａ）はサーボパターンに埋め込まれるＬＰＯＳワードのデータ構造を示す図であり、（Ｂ）は製造業者ワードを説明する図である。
【図５】（Ａ）は上記サーボパターンの配置例を示す概略図であり、（Ｂ）はその再生波形を示す図である。
【図６】比較例に係るサーボパターンの配置例を示す概略図である。
【図７】第１のサーボバンド識別情報及び第２のサーボバンド識別情報の構成例を示す概略図である
【図８】上記第１のサーボバンド識別情報及び第２のサーボバンド識別情報の再生波形を示す図である。
【図９】５ｃｈ（チャンネル）のサーボバンドの割り当て例を示す模式図である。
【図１０】７ｃｈ、９ｃｈ及び１１ｃｈのサーボバンドの割り当て例を示す模式図である。
【図１１】上記サーボパターン記録装置におけるサーボライトヘッドの構成を概略的に示す斜視図である。
【図１２】上記サーボライトヘッドを駆動する駆動部の構成を示すブロック図である。
【図１３】上記サーボライトヘッドに入力される第１のパルス信号及び第２のパルス信号の波形の一部を示す模式図である。
【図１４】本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録方法を説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本技術に係る実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００２４】
図１は、本技術の一実施形態に係るサーボパターン記録装置１００を示す正面図である。図２は、サーボパターン記録装置１００の一部を示す部分拡大図である。図３は、サーボパターン６が記録された磁気テープ１を示す上面図である。
【００２５】
［磁気テープの構成］
まず、図２を参照して磁気テープ１の構成について説明する。磁気テープ１は、テープ状の磁気記録媒体であり、長尺状の基材（基体）４１と、基材４１の一方の主面（第１の主面）上に設けられた下地層４２と、下地層４２上に設けられた磁性層４３と、基材４１の他方の主面（第２の主面）上に設けられたバック層４４とを備える。なお、下地層４２およびバック層４４は、必要に応じて備えられるものであり、無くてもよい。磁気テープ１は、垂直記録型の磁気記録媒体であってもよいし、長手記録型の磁気記録媒体であってもよい。
【００２６】
磁気テープ１は長尺のテープ状を有し、記録再生の際には長手方向に走行される。なお、磁性層４３の表面が、図示しない記録再生装置が備える磁気ヘッドが走行される表面となる。磁気テープ１は、記録用ヘッドとしてリング型ヘッドを備える記録再生装置で用いられることが好ましい。磁気テープ１は、１５００ｎｍ以下または１０００ｎｍ以下のデータトラック幅でデータを記録可能に構成された記録再生装置に用いられることが好ましい。
【００２７】
（基材）
基材４１は、下地層４２および磁性層４３を支持する非磁性支持体である。基材４１は、長尺のフィルム状を有する。基材４１の平均厚みの上限値は、好ましくは４．２μｍ以下、より好ましくは３．８μｍ以下、さらにより好ましくは３．４μｍ以下である。基材４１の平均厚みの上限値が４．２μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。基材４１の平均厚みの下限値は、好ましくは３μｍ以上、より好ましくは３．２μｍ以上である。基材４１の平均厚みの下限値が３μｍ以上であると、基材４１の強度低下を抑制することができる。
【００２８】
基材４１の平均厚みは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープ１を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。続いて、サンプルの基材４１以外の層（すなわち下地層４２、磁性層４３およびバック層４４）をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプル（基材４１）の厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、基材４１の平均厚みを算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
【００２９】
基材４１は、ポリエステルを含む。基材４１がポリエステルを含むことで、基材４１の長手方向のヤング率を低減することができる。したがって、走行時における磁気テープ１の長手方向のテンションを記録再生装置により調整することで、磁気テープ１の幅を一定またはほぼ一定に保つことができる。
【００３０】
ポリエステルは、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリブチレンナフタレート（ＰＢＮ）、ポリシクロヘキシレンジメチレンテレフタレート（ＰＣＴ）、ポリエチレン−ｐ−オキシベンゾエート（ＰＥＢ）およびポリエチレンビスフェノキシカルボキシレートのうちの少なくとも１種を含む。基材４１が２種以上のポリエステルを含む場合、それらの２種以上のポリエステルは混合されていてもよいし、共重合されていてもよいし、積層されていてもよい。ポリエステルの末端および側鎖の少なくとも一方が変性されていてもよい。
【００３１】
基材４１にポリエステルが含まれていることは、例えば、次のようにして確認される。まず、基材４１の平均厚みの測定方法と同様にして、サンプルの基材４１以外の層を除去する。次に、赤外吸収分光法（Infrared Absorption Spectrometry：ＩＲ）によりサンプル（基材４１）のＩＲスペクトルを取得する。このＩＲスペクトルに基づき、基材４１にポリエステルが含まれていることを確認することができる。
【００３２】
基材４１は、ポリエステル以外に、例えば、ポリアミド、ポリイミドおよびポリアミドイミドのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよいし、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリオレフィン類、セルロース誘導体、ビニル系樹脂、およびその他の高分子樹脂のうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ポリアミドは、芳香族ポリアミド（アラミド）であってもよい。ポリイミドは、芳香族ポリイミドであってもよい。ポリアミドイミドは、芳香族ポリアミドイミドであってもよい。
【００３３】
基材４１が、ポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、基材４１はポリエステルを主成分とすることが好ましい。ここで、主成分とは、基材４１に含まれる高分子樹脂のうち、最も含有量（質量比率）が多い成分を意味する。基材４１がポリエステル以外の高分子樹脂を含む場合、ポリエステルと、ポリエステル以外の高分子樹脂は、混合されていてもよいし、共重合されていてもよい。
【００３４】
基材４１は、長手方向および幅方向に二軸延伸されていてもよい。基材４１に含まれる高分子樹脂は、基材４１の幅方向に対して斜め方向に配向されていることが好ましい。
【００３５】
（磁性層）
磁性層４３は、信号を磁化パターンにより記録するための記録層である。磁性層４３は、垂直記録型の記録層であってもよいし、長手記録型の記録層であってもよい。磁性層４３は、例えば、磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む。磁性層４３が、必要に応じて、帯電防止剤、研磨剤、硬化剤、防錆剤および非磁性補強粒子等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいて
もよい。
【００３６】
磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａは、２．５ｎｍ以下、好ましくは２．２ｎｍ以下、より好ましくは１．９ｎｍ以下である。算術平均粗さＲａが２．５ｎｍ以下であると、スペーシングロスによる出力低下を抑制することができるため、優れた電磁変換特性を得ることができる。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの下限値は、好ましくは１．０ｎｍ以上、より好ましくは１．２ｎｍ以上、さらにより好ましくは１．４ｎｍ以上である。磁性層４３の表面の算術平均粗さＲａの下限値が１．０ｎｍ以上であると、摩擦の増大による走行性の低下を抑制することができる。
【００３７】
算術平均粗さＲａは次のようにして求められる。まず、磁性層４３の表面をＡＦＭ（Atomic Force Microscope）により観察し、４０μｍ×４０μｍのＡＦＭ像を得る。ＡＦＭとしてはDigital Instruments社製、Nano Scope IIIa D3100を用い、カンチレバーとしてはシリコン単結晶製のものを用い(注１)、タッピング周波数として、２００〜４００Ｈｚのチューニングにて測定を行う。次に、ＡＦＭ像を５１２×５１２（＝２６２，１４４）個の測定点に分割し、各測定点にて高さＺ（ｉ）（ｉ：測定点番号、ｉ＝１〜２６２，１４４）を測定し、測定した各測定点の高さＺ（ｉ）を単純に平均（算術平均）して平均高さ（平均面）Ｚave（＝（Ｚ（１）＋Ｚ（２）＋・・・＋Ｚ（２６２，１４４））／２６２，１４４）を求める。続いて、各測定点での平均中心線からの偏差Ｚ"（ｉ）（＝Ｚ（ｉ）−Ｚave）を求め、算術平均粗さＲａ［ｎｍ］（＝（Ｚ"（１）＋Ｚ"（２）＋・・・＋Ｚ"（２６２，１４４））／２６２，１４４）を算出する。この際には、画像処理として、Flattenorder2、ならびに、planefit order 3 XYによりフィルタリング処理を行ったものをデータとして用いる。
(注１)Nano World社製SPMプローブNCH ノーマルタイプPointProbe L
(カンチレバー長)＝１２５μｍ
【００３８】
磁性層４３の平均厚みｔmの上限値は、８０ｎｍ以下、好ましくは７０ｎｍ以下、より好ましくは５０ｎｍ以下である。磁性層４３の平均厚みｔmの上限値が８０ｎｍ以下であると、記録ヘッドとしてはリング型ヘッドを用いた場合に、反磁界の影響を軽減できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
【００３９】
磁性層４３の平均厚みｔmの下限値は、好ましくは３５ｎｍ以上である。磁性層４３の平均厚みｔmの下限値が３５ｎｍ以上であると、再生ヘッドとしてはＭＲ型ヘッドを用いた場合に、出力を確保できるため、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
【００４０】
磁性層４３の平均厚みｔmは以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
【００４１】
得られた薄片化サンプルの上記断面を、透過型電子顕微鏡（TransmissionElectron Microscope：ＴＥＭ）により、下記の条件で観察し、ＴＥＭ像を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。
装置：ＴＥＭ（日立製作所製Ｈ９０００ＮＡＲ）
加速電圧：３００ｋＶ
倍率：１００，０００倍
【００４２】
次に、得られたＴＥＭ像を用い、磁気テープ１の長手方向の少なくとも１０点以上の位置で磁性層４３の厚みを測定する。得られた測定値を単純に平均（算術平均）して得られた平均値を磁性層４３の平均厚みｔm［ｎｍ］とする。なお、上記測定が行われる位置は、試験片から無作為に選ばれるものとする。
【００４３】
（磁性粉）
磁性粉は、複数の磁性粒子を含む。磁性粒子は、例えば、六方晶フェライトを含む粒子（以下「六方晶フェライト粒子」という。）、イプシロン型酸化鉄（ε酸化鉄）を含む粒子（以下「ε酸化鉄粒子」という。）またはＣｏ含有スピネルフェライトを含む粒子（以下「コバルトフェライト粒子」という。）である。磁性粉は、磁気テープ１の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向していることが好ましい。
【００４４】
（六方晶フェライト粒子）
六方晶フェライト粒子は、例えば、六角板状等の板状を有する。本明細書において、六角坂状は、ほぼ六角坂状を含むものとする。六方晶フェライトは、好ましくはＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種、より好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種を含む。六方晶フェライトは、具体的には例えばバリウムフェライトまたはストロンチウムフェライトであってもよい。バリウムフェライトは、Ｂａ以外にＳｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。ストロンチウムフェライトは、Ｓｒ以外にＢａ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
【００４５】
より具体的には、六方晶フェライトは、一般式ＭＦｅ12Ｏ19で表される平均組成を有する。但し、Ｍは、例えばＢａ、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａのうちの少なくとも１種の金属、好ましくはＢａおよびＳｒのうちの少なくとも１種の金属である。Ｍが、Ｂａと、Ｓｒ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。また、Ｍが、Ｓｒと、Ｂａ、ＰｂおよびＣａからなる群より選ばれる１種以上の金属との組み合わせであってもよい。上記一般式においてＦｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。
【００４６】
磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは３０ｎｍ以下、より好ましくは１２ｎｍ以上２５ｎｍ以下、さらにより好ましくは１５ｎｍ以上２２ｎｍ以下、特に好ましくは１５ｎｍ以上２０ｎｍ以下、最も好ましくは１５ｎｍ以上１８ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが３０ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが１２ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
【００４７】
磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上２．５以下、より好ましくは１．０以上２．１以下、さらにより好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上２．５以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
【００４８】
磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
【００４９】
得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から、観察面の方向に側面を向けており、且つ、粒子の厚みが明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。その厚みを明らかに確認できる選択された５０個の粒子それぞれの最大板厚ＤＡを測定する。このようにして求めた最大板厚ＤＡを単純に平均（算術平均）して平均最大板厚ＤＡaveを求める。続いて、各磁性粉の板径ＤＢを測定する。粒子の板径ＤＢを測定するために、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の板径が明らかに確認できる粒子を５０個選び出す。選択された５０個の粒子それぞれの板径ＤＢを測定する。このようにして求めた板径ＤＢを単純平均（算術平均）して平均板径ＤＢaveを求める。平均板径ＤＢaveが、平均粒子サイズである。そして、平均最大板厚ＤＡaveおよび平均板径ＤＢaveから粒子の平均アスペクト比（ＤＢave／ＤＡave）を求める。
【００５０】
磁性粉が六方晶フェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５９００ｎｍ3以下、より好ましくは５００ｎｍ3以上３４００ｎｍ3以下、さらにより好ましくは１０００ｎｍ3以上２５００ｎｍ3以下、特に好ましくは１０００ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下、最も好ましくは１０００ｎｍ3以上１５００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が５９００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを３０ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを１２ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
【００５１】
磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法に関して述べた通り、平均長軸長ＤＡaveおよび平均板径ＤＢaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
【数１】
2020071897.tif 000003
【００５２】
（ε酸化鉄粒子）
ε酸化鉄粒子は、微粒子でも高保磁力を得ることができる硬磁性粒子である。ε酸化鉄粒子は、球状を有しているか、または立方体状を有している。本明細書において、球状は、ほぼ球状を含むものとする。また、立方体状には、ほぼ立方体状を含むものとする。ε酸化鉄粒子が上記のような形状を有しているため、磁性粒子としてε酸化鉄粒子を用いた場合、磁性粒子として六角板状のバリウムフェライト粒子を用いた場合に比べて、磁気テープ１の厚み方向における粒子同士の接触面積を低減し、粒子同士の凝集を抑制することができる。したがって、磁性粉の分散性を高め、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
【００５３】
ε酸化鉄粒子は、コアシェル型構造を有する。具体的には、ε酸化鉄粒子は、コア部と、このコア部の周囲に設けられた２層構造のシェル部とを備える。２層構造のシェル部は、コア部上に設けられた第１シェル部と、第１シェル部上に設けられた第２シェル部とを備える。
【００５４】
コア部は、ε酸化鉄を含む。コア部に含まれるε酸化鉄は、ε−Ｆｅ2Ｏ3結晶を主相とするものが好ましく、単相のε−Ｆｅ2Ｏ3からなるものがより好ましい。
【００５５】
第１シェル部は、コア部の周囲のうちの少なくとも一部を覆っている。具体的には、第１シェル部は、コア部の周囲を部分的に覆っていてもよいし、コア部の周囲全体を覆っていてもよい。コア部と第１シェル部の交換結合を十分なものとし、磁気特性を向上する観点からすると、コア部の表面全体を覆っていることが好ましい。
【００５６】
第１シェル部は、いわゆる軟磁性層であり、例えば、α−Ｆｅ、Ｎｉ−Ｆｅ合金またはＦｅ−Ｓｉ−Ａｌ合金等の軟磁性体を含む。α−Ｆｅは、コア部に含まれるε酸化鉄を還元することにより得られるものであってもよい。
【００５７】
第２シェル部は、酸化防止層としての酸化被膜である。第２シェル部は、α酸化鉄、酸化アルミニウムまたは酸化ケイ素を含む。α酸化鉄は、例えばＦｅ3Ｏ4、Ｆｅ2Ｏ3およびＦｅＯのうちの少なくとも１種の酸化鉄を含む。第１シェル部がα−Ｆｅ（軟磁性体）を含む場合には、α酸化鉄は、第１シェル部に含まれるα−Ｆｅを酸化することにより得られるものであってもよい。
【００５８】
ε酸化鉄粒子が、上述のように第１シェル部を有することで、熱安定性を確保するためにコア部単体の保磁力Ｈｃを大きな値に保ちつつ、ε酸化鉄粒子（コアシェル粒子）全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できる。また、ε酸化鉄粒子が、上述のように第２シェル部を有することで、磁気テープ１の製造工程およびその工程前において、ε酸化鉄粒子が空気中に暴露されて、粒子表面に錆び等が発生することにより、ε酸化鉄粒子の特性が低下することを抑制することができる。したがって、磁気テープ１の特性劣化を抑制することができる。
【００５９】
ε酸化鉄粒子が単層構造のシェル部を有していてもよい。この場合、シェル部は、第１シェル部と同様の構成を有する。但し、ε酸化鉄粒子の特性劣化を抑制する観点からすると、上述したように、ε酸化鉄粒子が２層構造のシェル部を有していることが好ましい。
【００６０】
ε酸化鉄粒子が、上記コアシェル構造に代えて添加剤を含んでいてもよいし、コアシェル構造を有すると共に添加剤を含んでいてもよい。この場合、ε酸化鉄粒子のＦｅの一部が添加剤で置換される。ε酸化鉄粒子が添加剤を含むことによっても、ε酸化鉄粒子全体としての保磁力Ｈｃを記録に適した保磁力Ｈｃに調整できるため、記録容易性を向上することができる。添加剤は、鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。
【００６１】
具体的には、添加剤を含むε酸化鉄は、ε−Ｆｅ2-xＭxＯ3結晶（但し、Ｍは鉄以外の金属元素、好ましくは３価の金属元素、より好ましくはＡｌ、ＧａおよびＩｎのうちの少なくとも１種、さらにより好ましくはＡｌおよびＧａのうちの少なくとも１種である。ｘは、例えば０＜ｘ＜１である。）である。
【００６２】
磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、例えば２２．５ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズ（平均最大粒子サイズ）は、好ましくは２２ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２２ｎｍ以下、さらにより好ましくは１２ｎｍ以上２２ｎｍ以下、特に好ましくは１２ｎｍ以上１５ｎｍ以下、最も好ましくは１２ｎｍ以上１４ｎｍ以下である。磁気テープ１では、記録波長の１／２のサイズの領域が実際の磁化領域となる。このため、磁性粉の平均粒子サイズを最短記録波長の半分以下に設定することで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子サイズが２２ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１（例えば４４ｎｍ以下の最短記録波長で信号を記録可能に構成された磁気テープ１）において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
【００６３】
磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。
【００６４】
磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズおよび平均アスペクト比は、以下のようにして求められる。まず、測定対象となる磁気テープ１をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護層としてカーボン層およびタングステン層を形成する。当該カーボン層は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン層は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿うかたちで行って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
【００６５】
得られた薄片サンプルの上記断面を、透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を撮影する。次に、撮影したＴＥＭ写真から、粒子の形状を明らかに確認することができる５０個の粒子を選び出し、各粒子の長軸長ＤＬと短軸長ＤＳを測定する。ここで、長軸長ＤＬとは、各粒子の輪郭に接するように、あらゆる角度から引いた２本の平行線間の距離のうち最大のもの（いわゆる最大フェレ径）を意味する。一方、短軸長ＤＳとは、粒子の長軸（ＤＬ）と直交する方向における粒子の長さのうち最大のものを意味する。続いて、測定した５０個の粒子の長軸長ＤＬを単純に平均（算術平均）して平均長軸長ＤＬaveを求める。このようにして求めた平均長軸長ＤＬaveを磁性粉の平均粒子サイズとする。また、測定した５０個の粒子の短軸長ＤＳを単純に平均（算術平均）して平均短軸長ＤＳaveを求める。そして、平均長軸長ＤＬaveおよび平均短軸長ＤＳaveから粒子の平均アスペクト比（ＤＬave／ＤＳave）を求める。
【００６６】
磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは５６００ｎｍ3以下、より好ましくは２５０ｎｍ3以上５６００ｎｍ3以下、さらにより好ましくは９００ｎｍ3以上５６００ｎｍ3以下、特に好ましくは９００ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下、最も好ましくは９００ｎｍ3以上１５００ｎｍ3以下である。一般的に磁気テープ１のノイズは粒子個数の平方根に反比例（すなわち粒子体積の平方根に比例）するため、粒子体積をより小さくすることで、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。したがって、磁性粉の平均粒子体積が５６００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２２ｎｍ以下とする場合と同様に、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子体積が２５０ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。
【００６７】
ε酸化鉄粒子が球状を有している場合には、磁性粉の平均粒子体積は以下のようにして求められる。まず、上記の磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様にして、平均長軸長ＤＬaveを求める。次に、以下の式により、磁性粉の平均体積Ｖを求める。
Ｖ＝（π/６）×ＤＬave 3
【００６８】
ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合、磁性粉の平均体積は以下のようにして求められる。磁気テープ１をＦＩＢ（Focused Ion Beam）法等により加工して薄片化を行う。ＦＩＢ法を使用する場合には、後述の断面のＴＥＭ像を観察する前処理として、保護膜としてカーボン膜およびタングステン薄膜を形成する。当該カーボン膜は蒸着法により磁気テープ１の磁性層４３側の表面およびバック層４４側の表面に形成され、そして、当該タングステン薄膜は蒸着法またはスパッタリング法により磁性層４３側の表面にさらに形成される。当該薄片化は磁気テープ１の長さ方向（長手方向）に沿って行われる。すなわち、当該薄片化によって、磁気テープ１の長手方向および厚み方向の両方に平行な断面が形成される。
【００６９】
得られた薄片サンプルを透過電子顕微鏡（日立ハイテクノロジーズ社製H-9500）を用いて、加速電圧：200kV、総合倍率500,000倍で磁性層４３の厚み方向に対して磁性層４３全体が含まれるように断面観察を行い、ＴＥＭ写真を得る。なお、装置の種類に応じて、倍率および加速電圧は適宜調整されてよい。次に、撮影したＴＥＭ写真から粒子の形状が明らかである５０個の粒子を選び出し、各粒子の辺の長さＤＣを測定する。続いて、測定した５０個の粒子の辺の長さＤＣを単純に平均（算術平均）して平均辺長ＤＣaveを求める。次に、平均辺長ＤＣaveを用いて以下の式から磁性粉の平均体積Ｖave（粒子体積）を求める。
Ｖave＝ＤＣave 3
【００７０】
（コバルトフェライト粒子）
コバルトフェライト粒子は、一軸結晶異方性を有することが好ましい。コバルトフェライト粒子が一軸結晶異方性を有することで、磁性粉を磁気テープ１の厚み方向（垂直方向）に優先的に結晶配向させることができる。コバルトフェライト粒子は、例えば、立方体状を有している。本明細書において、立方体状は、ほぼ立方体状を含むものとする。Ｃｏ含有スピネルフェライトが、Ｃｏ以外にＮｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種をさらに含んでいてもよい。
【００７１】
Ｃｏ含有スピネルフェライトは、例えば以下の式で表される平均組成を有する。
ＣｏxＭyＦｅ2ＯZ
（但し、式中、Ｍは、例えば、Ｎｉ、Ｍｎ、Ａｌ、ＣｕおよびＺｎのうちの少なくとも１種の金属である。ｘは、０．４≦ｘ≦１．０の範囲内の値である。ｙは、０≦ｙ≦０．３の範囲内の値である。但し、ｘ、ｙは（ｘ＋ｙ）≦１．０の関係を満たす。ｚは３≦ｚ≦４の範囲内の値である。Ｆｅの一部が他の金属元素で置換されていてもよい。）
【００７２】
磁性粉がコバルトフェライト粒子粉を含む場合、磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは２５ｎｍ以下、より好ましくは８ｎｍ以上２３ｎｍ以下、さらにより好ましくは８ｎｍ以上１２ｎｍ以下、特に好ましくは８ｎｍ以上１１ｎｍ以下である。磁性粉の平均粒子サイズが２５ｎｍ以下であると、高記録密度の磁気テープ１において、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。一方、磁性粉の平均粒子サイズが８ｎｍ以上であると、磁性粉の分散性がより向上し、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。磁性粉の平均粒子サイズの算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均粒子サイズの算出方法と同様である。
【００７３】
磁性粉の平均アスペクト比が、好ましくは１．０以上３．０以下、より好ましくは１．０以上２．５以下、さらにより好ましくは１．０以上２．１以下、特に好ましくは１．０以上１．８以下である。磁性粉の平均アスペクト比が１．０以上３．０以下の範囲内であると、磁性粉の凝集を抑制することができる。また、磁性層４３の形成工程において磁性粉を垂直配向させる際に、磁性粉に加わる抵抗を抑制することができる。したがって、磁性粉の垂直配向性を向上することができる。磁性粉の平均アスペクト比の算出方法は、磁性粉がε酸化鉄粒子粉を含む場合における磁性粉の平均アスペクト比の算出方法と同様である。
【００７４】
磁性粉の平均粒子体積は、好ましくは１５０００ｎｍ3以下、より好ましくは５００ｎｍ3以上１２０００ｎｍ3以下、特に好ましくは５００ｎｍ3以上１８００ｎｍ3以下、最も好ましくは５００ｎｍ3以上１５００ｎｍ3以下である。磁性粉の平均粒子体積が１５０００ｎｍ3以下であると、磁性粉の平均粒子サイズを２５ｎｍ以下とする場合と同様の効果が得られる。一方、磁性粉の平均粒子体積が５００ｎｍ3以上であると、磁性粉の平均粒子サイズを８ｎｍ以上とする場合と同様の効果が得られる。磁性分の平均粒子体積の算出方法は、ε酸化鉄粒子が立方体状を有している場合の平均粒子体積の算出方法と同様である。
【００７５】
（結着剤）
結着剤としては、例えば、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、反応型樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂としては、例えば、塩化ビニル、酢酸ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、塩化ビニル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニル−塩化ビニリデン共重合体、アクリル酸エステル−アクリロニトリル共重合体、アクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニリデン共重合体、メタクリル酸エステル−塩化ビニル共重合体、メタクリル酸エステル−エチレン共重合体、ポリフッ化ビニル、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、ポリアミド樹脂、ポリビニルブチラール、セルロース誘導体（セルロースアセテートブチレート、セルロースダイアセテート、セルローストリアセテート、セルロースプロピオネート、ニトロセルロース）、スチレンブタジエン共重合体、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹脂、合成ゴム等が挙げられる。
【００７６】
熱硬化性樹脂としては、例えば、フェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリウレタン硬化型樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、アルキッド樹脂、シリコーン樹脂、ポリアミン樹脂、尿素ホルムアルデヒド樹脂等が挙げられる。
【００７７】
上記の全ての結着剤には、磁性粉の分散性を向上させる目的で、−ＳＯ3Ｍ、−ＯＳＯ3Ｍ、−ＣＯＯＭ、Ｐ＝Ｏ（ＯＭ）2（但し、式中Ｍは水素原子またはリチウム、カリウム、ナトリウム等のアルカリ金属を表す）や、−ＮＲ１Ｒ２、−ＮＲ１Ｒ２Ｒ３+Ｘ-で表される末端基を有する側鎖型アミン、＞ＮＲ１Ｒ２+Ｘ-で表される主鎖型アミン（但し、式中Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３は水素原子または炭化水素基を表し、Ｘ-はフッ素、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン元素イオン、無機イオンまたは有機イオンを表す。）、さらに−ＯＨ、−ＳＨ、−ＣＮ、エポキシ基等の極性官能基が導入されていてもよい。これら極性官能基の結着剤への導入量は、１０-1〜１０-8モル／ｇであるのが好ましく、１０-2〜１０-6モル／ｇであるのがより好ましい。
【００７８】
（潤滑剤）
潤滑剤は、例えば脂肪酸および脂肪酸エステルから選ばれる少なくとも１種、好ましくは脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含む。磁性層４３が潤滑剤を含むことが、特には磁性層４３が脂肪酸および脂肪酸エステルの両方を含むことが、磁気テープ１の走行安定性の向上に貢献する。より特には、磁性層４３が潤滑剤を含み且つ細孔を有することによって、良好な走行安定性が達成される。当該走行安定性の向上は、磁気テープ１の磁性層４３側表面の動摩擦係数が上記潤滑剤により、磁気テープ１の走行に適した値へ調整されるためと考えられる。
【００７９】
脂肪酸は、好ましくは下記の一般式（１）または（２）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸として下記の一般式（１）により示される化合物および一般式（２）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
【００８０】
また、脂肪酸エステルは、好ましくは下記一般式（３）または（４）により示される化合物であってよい。例えば、脂肪酸エステルとして下記の一般式（３）により示される化合物および一般式（４）により示される化合物の一方が含まれていてよく、または両方が含まれていてもよい。
【００８１】
潤滑剤が、一般式（１）に示される化合物および一般式（２）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、一般式（３）に示される化合物および一般式（４）に示される化合物のいずれか一方若しくは両方と、を含むことによって、磁気テープ１を繰り返しの記録または再生による動摩擦係数の増加を抑制することができる。
【００８２】
ＣＨ3（ＣＨ2）kＣＯＯＨ ・・・（１）
（但し、一般式（１）において、ｋは１４以上２２以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
【００８３】
ＣＨ3（ＣＨ2）nＣＨ＝ＣＨ（ＣＨ2）mＣＯＯＨ ・・・（２）
（但し、一般式（２）において、ｎとｍとの和は１２以上２０以下の範囲、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数である。）
【００８４】
ＣＨ3（ＣＨ2）pＣＯＯ（ＣＨ2）qＣＨ3 ・・・（３）
（但し、一般式（３）において、ｐは１４以上２２以下、より好ましくは１４以上１８以下の範囲から選ばれる整数であり、且つ、ｑは２以上５以下の範囲、より好ましくは２以上４以下の範囲から選ばれる整数である。）
【００８５】
ＣＨ3（ＣＨ2）rＣＯＯ−（ＣＨ2）sＣＨ（ＣＨ3）2 ・・・（４）
（但し、一般式（４）において、ｒは１４以上２２以下の範囲から選ばれる整数であり、ｓは１以上３以下の範囲から選ばれる整数である。）
【００８６】
（帯電防止剤）
帯電防止剤としては、例えば、カーボンブラック、天然界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、カチオン性界面活性剤等が挙げられる。
【００８７】
（研磨剤）
研磨剤としては、例えば、α化率９０％以上のα−アルミナ、β−アルミナ、γ−アルミナ、炭化ケイ素、酸化クロム、酸化セリウム、α−酸化鉄、コランダム、窒化珪素、チタンカ−バイト、酸化チタン、二酸化珪素、酸化スズ、酸化マグネシウム、酸化タングステン、酸化ジルコニウム、窒化ホウ素、酸化亜鉛、炭酸カルシウム、硫酸カルシウム、硫酸バリウム、２硫化モリブデン、磁性酸化鉄の原料を脱水、アニール処理した針状α酸化鉄、必要によりそれらをアルミおよび／またはシリカで表面処理したもの等が挙げられる。
【００８８】
（硬化剤）
硬化剤としては、例えば、ポリイソシアネート等が挙げられる。ポリイソシアネートとしては、例えば、トリレンジイソシアネート（ＴＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の芳香族ポリイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート（ＨＭＤＩ）と活性水素化合物との付加体等の脂肪族ポリイソシアネート等が挙げられる。これらポリイソシアネートの重量平均分子量は、１００〜３０００の範囲であることが望ましい。
【００８９】
（防錆剤）
防錆剤としては、例えばフェノール類、ナフトール類、キノン類、窒素原子を含む複素環化合物、酸素原子を含む複素環化合物、硫黄原子を含む複素環化合物等が挙げられる。
【００９０】
（非磁性補強粒子）
非磁性補強粒子として、例えば、酸化アルミニウム（α、βまたはγアルミナ）、酸化クロム、酸化珪素、ダイヤモンド、ガーネット、エメリー、窒化ホウ素、チタンカーバイト、炭化珪素、炭化チタン、酸化チタン（ルチル型またはアナターゼ型の酸化チタン）等が挙げられる。
【００９１】
（下地層）
下地層４２は、基材４１の表面の凹凸を緩和し、磁性層４３の表面の凹凸を調整するためのものである。下地層４２は、非磁性粉、結着剤および潤滑剤を含む非磁性層である。下地層４２は、磁性層４３の表面に潤滑剤を供給する。下地層４２が、必要に応じて、帯電防止剤、硬化剤および防錆剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。
【００９２】
下地層４２の平均厚みは、好ましくは０．３μｍ以上２．０μｍ以下、より好ましくは０．５μｍ以上１．４μｍ以下である。なお、下地層４２の平均厚みは、磁性層４３の平均厚みと同様にして求められる。但し、ＴＥＭ像の倍率は、下地層４２の厚みに応じて適宜調整される。下地層４２の平均厚みが２．０μｍ以下であると、外力による磁気テープ１の伸縮性がさらに高くなるため、テンション調整による磁気テープ１の幅の調整がさらに容易となる。
【００９３】
（非磁性粉）
非磁性粉は、例えば無機粒子粉または有機粒子粉の少なくとも１種を含む。また、非磁性粉は、カーボンブラック等の炭素粉を含んでいてもよい。なお、１種の非磁性粉を単独で用いてもよいし、２種以上の非磁性粉を組み合わせて用いてもよい。無機粒子は、例えば、金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物または金属硫化物等を含む。非磁性粉の形状としては、例えば、針状、球状、立方体状、板状等の各種形状が挙げられるが、これらの形状に限定されるものではない。
【００９４】
（結着剤、潤滑剤）
結着剤および潤滑剤は、上述の磁性層４３と同様である。
【００９５】
（添加剤）
帯電防止剤、硬化剤および防錆剤はそれぞれ、上述の磁性層４３と同様である。
【００９６】
（バック層）
バック層４４は、結着剤および非磁性粉を含む。バック層４４が、必要に応じて潤滑剤、硬化剤および帯電防止剤等のうちの少なくとも１種の添加剤をさらに含んでいてもよい。結着剤および非磁性粉は、上述の下地層４２と同様である。
【００９７】
非磁性粉の平均粒子サイズは、好ましくは１０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、より好ましくは１５ｎｍ以上１１０ｎｍ以下である。非磁性粉の平均粒子サイズは、上記の磁性粉の平均粒子サイズと同様にして求められる。非磁性粉が、２以上の粒度分布を有する非磁性粉を含んでいてもよい。
【００９８】
バック層４４の平均厚みの上限値は、好ましくは０．６μｍ以下である。バック層４４の平均厚みの上限値が０．６μｍ以下であると、磁気テープ１の平均厚みが５．６μｍ以下である場合でも、下地層４２や基材４１の厚みを厚く保つことができるので、磁気テープ１の記録再生装置内での走行安定性を保つことができる。バック層４４の平均厚みの下限値は特に限定されるものではないが、例えば０．２μｍ以上である。
【００９９】
バック層４４の平均厚みｔbは以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１の平均厚みｔTを測定する。平均厚みｔTの測定方法は、以下の「磁気テープの平均厚み」に記載されている通りである。続いて、サンプルのバック層４４をＭＥＫ（メチルエチルケトン）または希塩酸等の溶剤で除去する。次に、Mitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔB［μｍ］を算出する。その後、以下の式よりバック層４４の平均厚みｔb［μｍ］を求める。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
ｔb［μｍ］＝ｔT［μｍ］−ｔB［μｍ］
【０１００】
バック層４４は、多数の突部が設けられた表面を有している。多数の突部は、磁気テープ１をロール状に巻き取った状態において、磁性層４３の表面に多数の孔部を形成するためのものである。多数の孔部は、例えば、バック層４４の表面から突出された多数の非磁性粒子により構成されている。
【０１０１】
（磁気テープの平均厚み）
磁気テープ１の平均厚み（平均全厚）ｔTの上限値が、５．６μｍ以下、好ましくは５．０μｍ以下、より好ましくは４．６μｍ以下、さらにより好ましくは４．４μｍ以下である。磁気テープ１の平均厚みｔTが５．６μｍ以下であると、１データカートリッジ内に記録できる記録容量を一般的な磁気テープよりも高めることができる。磁気テープ１の平均厚みｔTの下限値は特に限定されるものではないが、例えば３．５μｍ以上である。
【０１０２】
磁気テープ１の平均厚みｔTは以下のようにして求められる。まず、１／２インチ幅の磁気テープ１を準備し、それを２５０ｍｍの長さに切り出し、サンプルを作製する。次に、測定装置としてMitutoyo社製レーザーホロゲージ（LGH-110C）を用いて、サンプルの厚みを５点以上の位置で測定し、それらの測定値を単純に平均（算術平均）して、平均値ｔT［μｍ］を算出する。なお、測定位置は、サンプルから無作為に選ばれるものとする。
【０１０３】
（保磁力Ｈｃ）
磁気テープ１の長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の上限値が、好ましくは２０００Ｏｅ以下、より好ましくは１９００Ｏｅ以下、さらにより好ましくは１８００Ｏｅ以下である。長手方向における磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が２０００Ｏｅ以下であると、高記録密度であっても十分な電磁変換特性を有することができる。
【０１０４】
磁気テープ１の長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２の下限値が、好ましくは１０００Ｏｅ以上である。長手方向に測定した磁性層４３の保磁力Ｈｃ２が１０００Ｏｅ以上であると、記録ヘッドからの漏れ磁束による減磁を抑制することができる。
【０１０５】
上記の保磁力Ｈｃ２は以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープ１の長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、振動試料型磁力計（Vibrating Sample Magnetometer：ＶＳＭ）を用いて磁気テープ１の長手方向（走行方向）に対応する測定サンプル（磁気テープ１全体）のＭ−Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基材４１のみが残される。そして、得られた基材４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）が作製される。その後、ＶＳＭを用いて基材４１の垂直方向（磁気テープ１の垂直方向）に対応する補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが測定される。
【０１０６】
測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループ、補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。
【０１０７】
測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループおよび補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループから補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。得られたバックグラウンド補正後のＭ−Ｈループから保磁力Ｈｃ２が求められる。なお、この計算には、「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。なお、上記のＭ−Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ−Ｈループを磁気テープ１の長手方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。
【０１０８】
（角形比）
磁気テープ１の垂直方向（厚み方向）における磁性層４３の角形比Ｓ１が、好ましくは６５％以上、より好ましくは７０％以上、さらにより好ましくは７５％以上、特に好ましくは８０％以上、最も好ましくは８５％以上である。角形比Ｓ１が６５％以上であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
【０１０９】
垂直方向における角形比Ｓ１は以下のようにして求められる。まず、磁気テープ１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、測定サンプルが作製される。この際に、磁気テープ１の長手方向（走行方向）が認識できるように、磁性を持たない任意のインクでマーキングを行う。そして、ＶＳＭを用いて磁気テープ１の垂直方向（厚み方向）に対応する測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループが測定される。次に、アセトンまたはエタノール等が用いられて塗膜（下地層４２、磁性層４３およびバック層４４等）が払拭され、基材４１のみが残される。そして、得られた基材４１が両面テープで３枚重ね合わされた後、φ６．３９ｍｍのパンチで打ち抜かれて、バックグラウンド補正用のサンプル（以下、単に「補正用サンプル」）とされる。その後、ＶＳＭを用いて基材４１の垂直方向（磁気テープ１の垂直方向）に対応する補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが測定される。
【０１１０】
測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループ、補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループの測定においては、東英工業社製の高感度振動試料型磁力計「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」が用いられる。測定条件は、測定モード：フルループ、最大磁界：１５ｋＯｅ、磁界ステップ：４０ｂｉｔ、Time constant of Locking amp：０．３ｓｅｃ、Waiting time：１ｓｅｃ、ＭＨ平均数：２０とされる。
【０１１１】
測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループおよび補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが得られた後、測定サンプル（磁気テープ１の全体）のＭ−Ｈループから補正用サンプル（基材４１）のＭ−Ｈループが差し引かれることで、バックグラウンド補正が行われ、バックグラウンド補正後のＭ−Ｈループが得られる。このバックグラウンド補正の計算には、「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられる。
【０１１２】
得られたバックグラウンド補正後のＭ−Ｈループの飽和磁化Ｍｓ（ｅｍｕ）および残留磁化Ｍｒ（ｅｍｕ）が以下の式に代入されて、角形比Ｓ１（％）が計算される。なお、上記のＭ−Ｈループの測定はいずれも、２５℃にて行われるものとする。また、Ｍ−Ｈループを磁気テープ１の垂直方向に測定する際の"反磁界補正"は行わないものとする。なお、この計算には、「ＶＳＭ−Ｐ７−１５型」に付属されている測定・解析プログラムが用いられ
る。
角形比Ｓ１（％）＝（Ｍｒ／Ｍｓ）×１００
【０１１３】
磁気テープ１の長手方向（走行方向）における磁性層４３の角形比Ｓ２が、好ましくは３５％以下、より好ましくは３０％以下、さらにより好ましくは２５％以下、特に好ましくは２０％以下、最も好ましくは１５％以下である。角形比Ｓ２が３５％以下であると、磁性粉の垂直配向性が十分に高くなるため、さらに優れた電磁変換特性（例えばＳＮＲ）を得ることができる。
【０１１４】
長手方向における角形比Ｓ２は、Ｍ−Ｈループを磁気テープ１および基材４１の長手方向（走行方向）に測定すること以外は角形比Ｓ１と同様にして求められる。
【０１１５】
（バック面の表面粗度Ｒb）
バック面の表面粗度（バック層４４の表面粗度）Ｒbが、Ｒb≦６．０［ｎｍ］であることが好ましい。バック面の表面粗度Ｒbが上記範囲であると、さらに優れた電磁変換特性を得ることができる。
【０１１６】
［サーボパターン記録装置の構成］
続いて、サーボパターン記録装置の構成について説明する。
図３に示すように、磁性層４３は、複数のデータバンドｄ（データバンドｄ０〜ｄ３）と、幅方向（Ｙ軸方向）でデータバンドｄを挟み込む位置に配置される複数のサーボバンドｓ（サーボバンドｓ０〜ｓ４）とを含む。データバンドｄは、長手方向に長い複数の記録トラック５を含み、この記録トラック５毎にデータが記録される。サーボバンドｓは、サーボパターン記録装置１００によって記録される所定パターンのサーボパターン６を含む。例えば、電子データ等の各種のデータを記録する記録装置（図示せず）の記録ヘッドは、磁気層４に記録されたサーボパターン６を読み取って記録トラック５の位置を認識する。
【０１１７】
図１及び図２を参照して、サーボパターン記録装置１００は、磁気テープ１の搬送方向の上流側から順番に、送り出しローラ１１、前処理部１２、サーボライトヘッド１３、再生ヘッド部１４及び巻き取りローラ１５を備える。なお、サーボパターン記録装置１００は、後述するように、サーボライトヘッド１３を駆動する駆動部２０及びコントローラ３０を備えている。コントローラ３０は、サーボパターン記録装置１００の各部を統括的に制御する制御部や、制御部の処理に必要な各種のプログラムやデータが記憶された記録部、データを表示させる表示部、データを入力する入力部などを有する。
【０１１８】
送り出しローラ１１は、ロール状の磁気テープ１（サーボパターン６記録前）を回転可能に支持することが可能とされている。送り出しローラ１１は、モータなどの駆動源の駆動に応じて回転され、回転に応じて磁気テープ１を下流側に向けて送り出す。
【０１１９】
巻き取りローラ１５は、ロール状の磁気テープ１（サーボパターン６記録後）を回転可能に支持することが可能とされている。巻き取りローラ１５は、モータなどの駆動源の駆動に応じて送り出しローラ１１と同調して回転し、サーボパターン６が記録された磁気テープ１を回転に応じて巻き取っていく。送り出しローラ１１及び巻き取りローラ１５は、搬送経路上において磁気テープ１を一定の速度で移動させることが可能とされている。
【０１２０】
サーボライトヘッド１３は、例えば、磁気テープ１の上方側（磁性層４３側）に配置される。なお、サーボライトヘッド１３は、磁気テープ１の下側（基材４１側）に配置されてもよい。サーボライトヘッド１３は、矩形波のパルス信号に応じて所定のタイミングで磁界を発生し、磁気テープ１が有する磁性層４３（前処理後）の一部に対して磁場を印加する。
【０１２１】
これにより、サーボライトヘッド１３は、第１の方向に磁性層４３の一部を磁化させて磁性層４３にサーボパターン６を記録する（磁化方向は図２中、黒の矢印参照）。サーボライトヘッド１３は、サーボライトヘッド１３の下側を磁性層４３が通過するときに、５つのサーボバンドｓ０〜ｓ４に対してそれぞれサーボパターン６を記録することが可能とされている。
【０１２２】
サーボパターン６の磁化方向である第１の方向は、磁性層４３の上面に垂直な垂直方向の成分を含む。すなわち、本実施形態では、垂直配向若しくは無配向の磁性粉が磁性層４３に含まれるので、磁性層４３に記録されるサーボパターン６は、垂直方向の磁化成分を含む。
【０１２３】
前処理部１２は、例えば、サーボライトヘッド１３よりも上流側において、磁気テープ１の下側（基材４１側）に配置される。前処理部１２は、磁気テープ１の上側（磁性層４３側）に配置されてもよい。前処理部１２は、Ｙ軸方向（テープ１の幅方向）を回転の中心軸として回転可能な永久磁石１２ａを含む。永久磁石１２ａの形状は、例えば、円柱形状や、多角柱形状とされるが、これらに限られない。
【０１２４】
永久磁石１２ａは、サーボライトヘッド１３によってサーボパターン６が記録される前に、直流磁界によって磁性層４３の全体に対して磁場を印加して、磁性層４３全体を消磁する。これにより、永久磁石１２ａは、サーボパターン６の磁化方向とは反対方向の第２の方向に予め磁性層４３を磁化させることができる（図２中、白の矢印参照）。このように、２つの磁化方向をそれぞれ反対方向にさせることで、サーボパターン６を読み取ることで得られるサーボ信号の再生波形を上下方向（±）で対称とすることができる（図４（Ｂ）参照）。
【０１２５】
再生ヘッド部１４は、サーボライトヘッド１３よりも下流側において、磁気テープ１の上側（磁性層４３側）に配置される。再生ヘッド部１４は、前処理部１２によって前処理され、かつ、サーボライトヘッド１３によってサーボパターン６が記録された磁気テープ１の磁性層４３から上記サーボパターン６を読み取る。再生ヘッド部１４によって読み取られたサーボパターン６の再生波形は、表示部の画面上に表示される。典型的には、再生ヘッド部１４は、再生ヘッド部１４の下側を磁性層４３が通過するときに、サーボバンドｓの表面から発生する磁束を検出する。このとき検出された磁束がサーボ信号としてのサーボパターン６の再生波形となる。
【０１２６】
［サーボパターン］
サーボパターン６は、「ＥＣＭＡ−３１９規格」に準拠したデータ構造を有する。図４（Ａ）は、サーボパターン６に埋め込まれるＬＰＯＳワードのデータ構造を示す図であり、図４（Ｂ）は製造業者ワードを説明する図である。
【０１２７】
図４（Ａ）に示すように、サーボパターン６には、テープ長手方向に連続的に配置された複数のＬＰＯＳ（Longitudinal position）ワードＬＷが埋め込まれている。各ＬＰＯＳワードＬＷは、その先頭を意味する８ビットの同期マークＳｙ、テープ長手方向における位置（アドレス）を示す６個の４ビット（計２４ビット）からなるＬＰＯＳ値Ｌｓ、及び、４ビットの製造業者データＴｘを有する３６ビットのデータで構成される。
【０１２８】
製造業者データＴｘは、磁気テープ１上に製造業者ワードＴＷを形成する。製造業者ワードＴＷは、図４（Ｂ）に示すように、９７個の製造業者データＴｘの長さをもち、９７個のＬＰＯＳワードＬＷを連続的に読み込むことで得られる。製造業者ワードＴＷは、次のように構成される。
製造業者ワードＴＷ：Ｄ，Ａ０，Ａ１，Ａ０，Ａ１，・・・，Ａ０，Ａ１
【０１２９】
最初の製造業者データＴｘである「Ｄ」は、製造業者ワードＴＷの先頭であることを示すシンボルであり、これには所定のテーブルで変換された４ビットのデータ（典型的には、「０００１」）が書き込まれている。
【０１３０】
２番目以降の９６個の製造業者データＴｘは「Ａ０」及び「Ａ１」が交互に配列されたものからなり、隣接する２つの「Ａ０」及び「Ａ１」は一組のシンボル対を形成する。各シンボル対「Ａ０」及び「Ａ１」には、「Ｄ」以外の任意の１３個の基本シンボル（典型的には、０，１，２，３，４，５，６，７，８，９、Ａ，Ｂ，Ｃ）がそれぞれ書き込まれている。これら１３個の基本シンボルもまた、上記所定のテーブルで変換された４ビットのデータからなる。そして、当該１３個の基本シンボルのうち特定の２つの基本シンボル（上記シンボル対に相当）の組み合わせに応じて定まる１つのシンボル（以下、ＬＰＯＳ記録値ともいう）が特定される。
【０１３１】
ＬＰＯＳ記録値は、８ビットのデータからなる。シンボル対を形成する２つの基本シンボルは、同種の組み合わせ（例えば、０，０）であってもよいし、異種の組み合わせ（例えば、０，１）であってもよい。
【０１３２】
以上のように構成される９６個の製造業者データＴｘには、典型的には、ＬＰＯＳ記録値によって表せられる製造者情報、磁気テープの製造日やシリアル番号などの管理情報のほか、サーボバンドを識別するためのサーボバンド識別情報などが埋め込まれている。
【０１３３】
図５（Ａ）はサーボパターン６の配置例を示す概略平面図、図５（Ｂ）はその再生波形を示す図である。
【０１３４】
タイミングベースサーボ方式のヘッドトラッキングサーボでは、サーボパターンは、２種以上の異なる形状の複数の方位角傾斜（azimuthal slope）パターンを含む。異種の形状の２つの傾斜パターンを読み取った時間間隔と、同種の形状の２つの傾斜パターンを読み取った時間間隔とにより、サーボヘッドの位置を認識する。こうして認識されたサーボヘッドの位置に基づき、磁気テープの幅方向における磁気ヘッド（再生ヘッドあるいは記録ヘッド）の位置が制御される。
【０１３５】
図５（Ａ）に示すように、サーボパターン６は、第１サーボサブフレームＳＳＦ１と、第２サーボサブフレームＳＳＦ２とを有するサーボフレームＳＦを形成する。サーボフレームＳＦは、テープ長手方向に沿ってサーボフレームＳＦを所定の間隔をおいて連続的に配列される。各サーボフレームＳＦは、「１」又は「０」の一つのビットを符号化する。つまり、１つのサーボフレームＳＦは、１ビットに相当する。
【０１３６】
第１サーボサブフレームＳＳＦ１は、Ａバースト６ａとＢバースト６ｂとにより構成される。Ａバースト６ａは、テープ長手方向に対して第１の方向に傾斜した５本の直線パターンからなり、Ｂバースト６ｂは、テープ長手方向に上記第１の方向とは逆の第２の方向に傾斜した５本の直線パターンからなる。
【０１３７】
一方、第２サーボサブフレームＳＳＦ２は、Ｃバースト６ｃとＤバースト６ｄとにより構成される。Ｃバースト６ｃは、上記第１の方向に傾斜した４本の直線パターンからなり、Ｄバースト６ｄは、上記第２の方向に傾斜した４本の直線パターンからなる。
【０１３８】
サーボフレームＳＦ及び各サーボサブフレームＳＳＦ１，ＳＳＦ２の長さ、各バースト６ａ〜６ｄを傾斜する傾斜部の配列間隔等は、磁気テープの種類や仕様等に応じて任意に設定可能である。
【０１３９】
サーボパターン６の再生波形は、典型的には図５（Ｂ）に示すようなバースト波形を示し、信号Ｓ６ａはＡバースト６ａに、信号Ｓ６ｂはＢバースト６ｂに、信号Ｓ６ｃはＣバースト６ｃに、そして、信号Ｓ６ｄはＤバースト６ｄに、それぞれ相当する。
【０１４０】
タイミングベースサーボ方式のヘッドトラッキングサーボでは、一のデータバンドに隣接する２つのサーボバンド上のサーボパターン６を読み取ることで、位置誤差信号（ＰＥＳ：Position Error Signal）を生成し、当該データバンド内の記録トラックに対する記録再生ヘッドを適切に位置決めする。典型的には、所定速度で走行する磁気テープからサーボパターン６を読み取り、互いに同種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト６ａとＣバースト６ｃとの間の距離（時間間隔）ＡＣと、互いに異種形状の傾斜パターンの配列体であるＡバースト６ａとＢバースト６ｂとの間の距離（時間間隔）ＡＢとの比（あるいは、Ｃバースト６ｃとＡバースト６ａとの距離ＣＡと、Ｃバースト６ｃとＤバースト６ｄとの距離ＣＤとの比）を算出し、その値が記録トラックごとに定められた設定値となるように磁気ヘッドをテープ幅方向に移動させる。
【０１４１】
［データバンドの特定］
各サーボバンドｓ（ｓ０〜ｓ４）には、各データバンドについて異なる組み合わせのサーボバンド識別情報が書き込まれる。例えば、データバンドｄ０に隣接する２つのサーボバンドｓ２，ｓ３から得られるサーボバンド識別情報の組み合わせは、データバンドｄ１に隣接するサーボバンドｓ１，ｓ２から得られるサーボバンド識別情報の組み合わせと、データバンドｄ２に隣接するサーボバンドｓ３，ｓ４から得られるサーボバンド識別情報の組み合わせと、データバンドｄ３に隣接する２つのサーボバンドｓ０，ｓ１から得られるサーボバンド識別情報の組み合わせと、それぞれ異なる。このように、一のデータバンドに隣接する２つのサーボバンドから得られるサーボバンド識別情報を、他のデータバンドに隣接する２つのサーボバンドから得られるサーボバンド識別情報と異ならせることにより、個々のデータバンドの特定が可能となる。
【０１４２】
上述のようにデータバンドごとにサーボバンド識別情報の組み合わせを異ならせる方法として、図６に示すように、サーボバンド間におけるサーボパターンの再生波形の位相を異ならせる方法が知られている。図６は、比較例に係るサーボパターン６'の配置例を示す概略図である。
【０１４３】
図６に示す磁気テープ１'は、４つのデータバンドｄ０〜ｄ４と、５つのサーボバンドｓ０〜ｓ４とを有する。各サーボバンドｓ０〜ｓ４には、図５（Ａ）と同様の形態のサーボパターン６'が記録されるが、記録位置が異なる。
【０１４４】
すなわち、図６に示すように、サーボバンドｓ０〜ｓ４のうち、サーボバンドｓ０，ｓ２，ｓ４に記録されるサーボパターン６'の端部は、テープ幅方向（Ｙ軸方向）に平行な仮想線Ｐ１に整列して配置される。これに対して、サーボバンドｓ０とサーボバンドｓ２の間に位置するサーボバンドｓ１に記録されるサーボパターン６'の端部は、仮想線Ｐ１に対してテープ長手方向に所定距離シフトした仮想線Ｐ２上に配置される。さらに、サーボバンドｓ２とサーボバンドｓ４の間に位置するサーボバンドｓ３に記録されるサーボパターン６'の端部は、仮想線Ｐ２に対してテープ長手方向にさらに所定距離シフトした仮想線Ｐ３上に配置される。
【０１４５】
この方法によれば、サーボパターンの再生波形の位相差が各サーボバンド間で相違するため、隣り合う２つのサーボバンド間の再生波形の位相差から記録再生するべきデータバンドの位置の特定が可能となる。隣り合う２つのサーボバンド間の再生波形の位相差は、典型的には、トラッキング制御の際に参照されるＰＥＳから取得される。
【０１４６】
しかしながら、ＰＥＳにも位相差を有するため、ＰＥＳ信号平均化による精度向上の誤差、並びにドライブヘッドのアジマス調整の誤差が生じるという問題がある。特に、近年における磁気テープの高記録密度化の要請に伴って、データバンドの数がさらに増加した場合、サーボバンドの数も増加するため、サーボバンド間における再生波形の位相差を多数設けることは、サーボバンド位置を安定に検出することが困難になる。
【０１４７】
そこで本実施形態では、図３に示すように、各サーボバンドに記録されるサーボパターン６がそれぞれ同位相となるように、テープ幅方向に平行な仮想線Ｐ０上に各サーボパターン６の端部が配置される。これにより、ＰＥＳが有する位相差の影響を受けることなく各サーボバンド上のサーボパターンを高精度に検出することを可能とする。
【０１４８】
ここでいう同位相とは、すべてのサーボバンドｓ０〜ｓ４に対してサーボパターン６が同時に記録されることで得られるパターンの形態をいい、サーボパターン間において実質的な位相差をもたないことをいう。
【０１４９】
さらに本実施形態においては、記録再生するべきデータバンドｄ０〜ｄ４を特定するために、２種類のサーボバンドが用いられる。上述のように、サーボバンドには、サーボバンド識別情報が埋め込まれる。サーボバンド識別情報は、複数ビットの情報であり、製造業者ワードＴＷにおける２番目以降の９６個の製造業者データＴｘの所定位置に埋め込まれる。サーボバンド識別情報は、典型的には、４ビットであるが、８ビット（シンボル対「Ａ０」及び「Ａ１」の組み合わせ）であってもよいし、４ビット及び８ビット以外の他の複数ビットであってもよい。以下、サーボバンド識別情報が４ビットである場合を例に挙げて説明する。
【０１５０】
本実施形態において、上記２種類のサーボバンドは、第１のサーボバンド識別情報が記録される第１のサーボバンドと、第２のサーボバンド識別情報が記録される第２のサーボバンドとを有する。第１のサーボバンド識別情報は、４ビットの情報（例えば「１００１」）であり、第２のサーボバンド識別情報は、第１のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば、「０１１１」）である。
【０１５１】
第１及び第２のサーボバンド識別情報を構成する符号「０」、「１」の組み合わせは、サーボパターン６の再生波形から識別される。つまり、サーボパターン６の再生波形は、符号「０」、「１」の変調波に相当し、当該再生波形を復調し、且つ、例えば４ビット組み合わせることで、第１及び第２のサーボバンド識別情報が読み出される。以下、第１及び第２のサーボバンド識別情報について、図７及び図８を参照して説明する。
【０１５２】
図７（Ａ），（Ｂ）は、第１のサーボバンド識別情報が埋め込まれるサーボパターン（以下、第１のサーボパターン６１ともいう）及び第２のサーボバンド識別情報が埋め込まれるサーボパターン（以下、第２のサーボパターン６２ともいう）の構成例を示す概略図である。同図に示すように、第１のサーボパターン６１及び第２のサーボパターン６２はいずれも、一方の符号（例えば「１」）を表すサーボフレームＳＦ１と、他方の符号（例えば「０」）を表すサーボフレームＳＦ０とを含む２種のサーボフレームＳＦの組み合わせからなる。各サーボフレームＳＦ１，ＳＦ０は、第１サーボサブフレームＳＳＦ１及び第２サーボサブフレームＳＳＦ２からなるサーボフレームＳＦを構成単位とする点で共通するが、第１サーボサブフレームＳＳＦ１（Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂ）が相互に異なる。第１及び第２のサーボバンド識別情報は、相互に異なる第１サーボサブフレームＳＳＦ１を例えば４つ組み合わせることで構成される。
【０１５３】
図７（Ａ）に示すように、符号「１」を表すサーボフレームＳＦ１においては、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂをそれぞれ構成する５本の傾斜パターンを図中左側から順に第１傾斜部、第２傾斜部、第３傾斜部、第４傾斜部及び第５傾斜部としたとき、第２、第４傾斜部がそれぞれ第１、第５傾斜部側に偏った位置に配置される。これに対して、図７（Ｂ）に示すように、符号「０」を表すサーボフレームＳＦ０においては、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂを構成する傾斜パターンの一部の配列間隔がサーボフレームＳＦ１と異なっている。図示の例では、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂをそれぞれ構成する５本の傾斜パターンは、第２、第４傾斜部がそれぞれ第３傾斜部側に偏った位置に配置される。このため、サーボフレームＳＦ０におけるＡバースト６ａ及びＢバースト６ｂについては、第２傾斜部と第３傾斜部、並びに第３傾斜部と第４傾斜部との間隔が最も小さく、第１傾斜部と第２傾斜部、並びに第４傾斜部と第５傾斜部との間隔が最も大きくなっている。
【０１５４】
図８（Ａ），（Ｂ）は、第１のサーボパターン６１及び第２のサーボパターン６２の再生波形ＳＰ１，ＳＰ２をそれぞれ示している。各サーボフレームＳＦ１，ＳＦ０の再生波形は、各バースト部６ａ〜６ｄ各々の傾斜部に対応する位置にピークを有するバースト信号で構成される。上述のように、サーボフレームＳＦ０については、Ａバースト６ａ及びＢバースト６ｂの構成がサーボフレームＳＦ１のＡバースト６ａ及びＢバースト６ｂと異なるため、その異なる傾斜部の間隔に対応してバースト信号Ｓ６ａ及びＳ６ｂのピーク位置にずれが生じる。したがって、このピーク位置のずれが生じている部位とそのずれ量、ずれ方向を検出することにより、サーボフレームＳＦに書き込まれた情報の読み出しが可能となる。ここでは例えば、図８（Ａ）に示すサーボフレームＳＦ１が１つのビット「１」を表し、図８（Ｂ）に示すサーボフレームＳＦ０が他の１つのビット「０」を表す。これら２つのサーボフレームＳＦ１，ＳＦ０を任意に例えば４ビット組み合わせることで、第１及び第２のサーボバンド識別情報を構成することができる。
【０１５５】
以上の説明では、Ａバースト及びＢバースト６ｂの第２、第４傾斜部の記録位置を異ならせたが、これに限られず、Ａバースト６ａ、Ｂバースト６ｂ、Ｃバースト６ｃ及びＤバースト６ｄの少なくとも１つを異ならせればよいし、記録位置を異ならせる傾斜部も第２、第４傾斜部に限られない。すなわち、サーボフレームＳＦを構成する２種以上の異なる複数の方位角傾斜の少なくとも一部の配列間隔が異なっていれば、ビットの識別が可能となる。これらの例えば４ビットのビット列がサーボフレームＳＦ１とサーボフレームＳＦ０との間で異なっていればよい。
【０１５６】
サーボフレームＳＦ１，ＳＦ０を構成する方位角傾斜の角度や配列間隔は特に限定されず、テープ幅やサーボバンドの数等に応じて任意に設定可能である。例えば、距離ＡＢ及びＡＣは、３０μｍ以上１００μｍ以下、各方位角傾斜のテープ幅方向に対する傾斜角は、６°以上２５°以下、各方位角傾斜のテープ幅方向における長さは、３０μｍ以上１９２μｍ以下とすることができる。
【０１５７】
本実施形態の磁気テープ１は、第１のサーボバンド識別情報が記録された３つの第１のサーボバンドＡと、第２のサーボバンド識別情報が記録された２つの第２のサーボバンドＢとを有する。図３の例では、サーボバンドｓ０，ｓ１，ｓ４が第１のサーボバンドＡに相当し、サーボバンドｓ１，ｓ２が第２のサーボバンドＢに相当する。このように、第１のサーボバンド識別情報が記録される第１のサーボバンドＡと第２のサーボバンド識別情報が記録される第２のサーボバンドＢは、隣り合う２つのサーボバンド間において第１のサーボバンド識別情報及び第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように設定される。
【０１５８】
図９は、図３に示した５ｃｈ（チャンネル）のサーボバンドを有する磁気テープ１におけるサーボバンドＡ，Ｂの割り当てを示す模式図である。同図に示すように、隣り合うサーボバンドの組がＡＡ，ＡＢ、ＢＢ及びＢＡの場合が、それぞれデータバンドｄ３，ｄ１，ｄ０及びｄ２に相当する。
【０１５９】
図１０は、７ｃｈ、９ｃｈ及び１１ｃｈのサーボバンドを有する磁気テープ１の場合における図９と同様な模式図である。
７ｃｈの場合は、第１及び第２のサーボバンドＡ，Ｂのほか、これら第１及び第２のサーボバンドＡ，Ｂとは異なるサーボバンド識別情報が記録される第３のサーボバンドＣを有する。第３のサーボバンドＣには、第３のサーボバンド識別情報として、第１及び第２のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１１０」）を含む第３のサーボパターンが記録される。
９ｃｈの場合は、第１〜第３のサーボバンドＡ〜Ｃのほか、これら第１〜第３のサーボバンドＡ〜Ｃとは異なるサーボバンド識別情報が記録される第４のサーボバンドＤを有する。第４のサーボバンドＤには、第４のサーボバンド識別情報として、第１、第２及び第３のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１０１」）を含む第４のサーボパターンが記録される。
同様に、１１ｃｈの場合は、第１〜第４のサーボバンドＡ〜Ｄのほか、これら第１〜第４のサーボバンドＡ〜Ｄとは異なるサーボバンド識別情報が記録される第５のサーボバンドＥを有する。第５のサーボバンドＥには、第５のサーボバンド識別情報として、第１、第２、第３及び第４のサーボバンド識別情報とは異なる４ビットの情報（例えば「０１００」）を含む第５のサーボパターンが記録される。
第３〜第５のサーボバンド識別情報は、サーボフレームＳＦ１及びサーボフレームＳＦ０の組み合わせを第１及び第２のサーボバンド識別情報のそれらと異ならせることで任意に設定することができる。
【０１６０】
第１〜第５のサーボバンドＡ〜Ｅの割り当て例は図１０に示す例に限られない、例えば、７ｃｈの場合において、サーボバンドを図中上からＡＡＢＢＣＣＡとする代わりに、ＡＡＢＢＣＣＢ、ＡＡＢＢＡＣＢ、ＡＡＢＢＣＢＡ等としてもよい。
【０１６１】
図９及び図１０の例から明らかなように、本実施形態によれば、サーボバンド識別情報の数は、サーボバンドの数の半分未満の数（（サーボバンド数）−１）で足り、５ｃｈの場合は２つ、７ｃｈの場合は３つ、９ｃｈの場合は４つ、１１ｃｈの場合は５つである。
【０１６２】
以上のように本実施形態の磁気テープ１は、第１のサーボバンド識別情報が記録された３つの第１のサーボバンドＡと、第２のサーボバンド識別情報が記録された２つの第２のサーボバンドとを有し、データバンドｄを挟む一対のサーボバンドの例えば４ビットからなるサーボバンド識別情報の組み合わせの相違に基づいてデータバンドが特定されるように構成される。これにより、データバンド数の増加に伴うサーボバンド識別情報の増加が抑えられ、データバンドの増加に容易に対応することが可能となる。また、個々のサーボバンドに固有のサーボバンド識別情報を付する必要がないため、サーボバンド識別情報の種類の増加が抑えられるとともに、各サーボバンドへのサーボバンド識別情報の割り当てを容易に行うことができる。
【０１６３】
［サーボパターン記録装置の詳細］
続いて、サーボパターン記録装置１００の詳細について説明する。
【０１６４】
サーボパターン記録装置１００は、図１に示すように、サーボライトヘッド１３を駆動する駆動部２０を有する。図１１は、サーボライトヘッド１３の構成を概略的に示す斜視図、図１２は、駆動部２０の構成を示すブロック図である。
【０１６５】
図１１に示すように、サーボライトヘッド１３は、磁気テープ１の各サーボバンドｓ０〜ｓ４にサーボパターン６を記録するための複数のヘッドブロックｈ０〜ｈ４を有する。各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４は、接着層ｈｓを介して相互に接合される。各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４は、磁気テープ１の各サーボバンドｓ０〜ｓ４に対応して配置された記録部を構成し、各サーボバンドにサーボパターンを記録するための磁気ギャップｇを有する。
【０１６６】
磁気ギャップｇは、相互に逆方向に傾斜する一対の直線部（「／」及び「＼」）からなり、一方の直線部「／」はＡバースト６ａ及びＣバースト６ｃを、他方の直線部「＼」はＢバースト６ｂ及びＤバースト６ｄをそれぞれ記録する。各ヘッドブロックｈ１〜ｈ５の磁気ギャップｇは、サーボライトヘッド１３の長手方向に平行な軸線上に整列するように配置される。各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４は相互に磁気的に分離されており、２つ以上のサーボバンドに同時に異なる種類のサーボパターンを記録可能に構成される。
【０１６７】
駆動部２０は、コントローラ３０（図１参照）からの出力に基づき、サーボ情報をパルス情報に変換する変換器２１と、変換器２１の出力に基づいてパルス信号を生成する信号生成部２２と、生成されたパルス信号を増幅する増幅器２３とを有する。信号生成部２２及び増幅器２３は、各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４に対応して複数ずつ設けられており、各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４に固有のパルス信号を出力することが可能に構成される。
【０１６８】
コントローラ３０は、第１のサーボバンド識別情報を記録するべきサーボバンドの位置（本例では、ｓ０，ｓ１，ｓ４）と、第２のサーボバンド識別情報を記録するべきサーボバンドの位置（本例では、ｓ２，ｓ３）とに関するデータを格納したメモリを備える。コントローラ３０は、当該メモリに格納されたデータに基づいて、駆動部２０を制御する。
【０１６９】
変換器２１は、各サーボバンドｓ０〜ｓ４に記録するべきサーボバンド識別情報に対応する情報を各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４に対応する信号生成部２２へ個々に出力する。本実施形態では、サーボバンドｓ０、ｓ１、ｓ４に対応するヘッドブロックｈ０、ｈ１及びｈ４に第１のサーボバンド識別情報を含む第１のサーボパターン６１（図７（Ａ））を記録するための第１のパルス信号ＰＳ１（第１の記録信号）を出力し、サーボバンドｓ２，ｓ３に対応するヘッドブロックｈ２，ｈ３に第２のサーボバンド識別情報を含む第２のサーボパターン６２（図７（Ｂ））を記録するための第２のパルス信号ＰＳ２（第２の記録信号）を出力する。
【０１７０】
図１３（Ａ），（Ｂ）に、第１のパルス信号ＰＳ１及び第２のパルス信号ＰＳ２における第１サーボサブフレームＳＳＦ１の記録信号波形をそれぞれ模式的に示す。同図に示すように、第１及び第２のパルス信号ＰＳ１，ＰＳ２は、５つのパルス群からなる第１パルス群ＳＰＦ１と、４つのパルス群からなる第２パルス群ＳＰＦ２とを含む。第１パルス群ＳＰＦ１は、Ａバースト６ａの各傾斜部を記録するための信号であり、第２パルス群ＳＰＦ２は、Ｂバースト６ｂの各傾斜部を記録するための信号である。
【０１７１】
同図に示すように、第１のパルス信号ＰＳ１と第２のパルス信号ＰＳ２との間には、第１パルス群ＳＰＦ１における２番目及び４番目のパルスの立ち上がり時刻が異なっており、パルス信号ＰＳ２の方がパルス信号ＰＳ１よりも２番目のパルスの立ち上がり時刻が遅く、４番目のパルスの立ち上がり時刻が早い。これにより、図７（Ａ），（Ｂ）に示したようなＡバースト６ａの傾斜部の配列間隔の一部が相互に相違する第１サーボサブフレームＳＳＦ１が形成される。
【０１７２】
さらに、第１のパルス信号ＰＳ１と第２のパルス信号ＰＳ２は、それぞれ同位相（同一のタイミング）でヘッドブロックｈ０〜ｈ４に送信される。これにより、各ヘッドブロックｈ０〜ｈ４においてサーボバンドｓ０，ｓ１，ｓ４には第１のサーボパターン６１（第１のサーボバンド識別情報）が、サーボバンドｓ２，ｓ３には第２のサーボパターン６２（第２のサーボバンド識別情報）が同位相で記録される。
【０１７３】
図１４は、上述したサーボパターン記録方法を説明するフローチャートである。
【０１７４】
まず、サーボバンドの数（ｃｈ数）に応じたサーボパターンが決定される（ＳＴ１０１）。本実施形態では、５ｃｈのサーボバンドｓ０〜ｓ４を有する磁気テープ１にサーボパターンを記録するため、サーボバンド識別情報が相互に異なる２種類のサーボパターン（第１のサーボパターン６１及び第２のサーボパターン６２）が決定される。サーボパターンの決定は、例えば、コントローラ３０に備えられた入力部を介して入力され、上記メモリへ格納される。
【０１７５】
なお、サーボバンドが７ｃｈの場合は、例えば、相互に異なる３種類のサーボバンド識別情報（例えば、「１００１」、「０１１１」、「０１１０」）が、９ｃｈの場合は、例えば、相互に異なる４種類のサーボバンド識別情報（例えば、「１００１」、「０１１１」、「０１１０」、「０１０１」）が、１１ｃｈの場合は、例えば、相互に異なる５種類のサーボバンド識別情報（例えば、「１００１」、「０１１１」、「０１１０」、「０１０１」、「０１００」）が、それぞれ決定される（図１０参照）
【０１７６】
続いて、第１のサーボバンド識別情報が記録される第１のサーボバンドＡと、第２のサーボバンド識別情報が記録される第２のサーボバンドＢを決定する（ＳＴ１０２）。本実施形態では、上述のように、サーボバンドｓ０，ｓ１，ｓ４を第１のサーボバンドＡとして決定し、サーボバンドｓ２，ｓ３を第２のサーボバンドＢとして決定される。各サーボバンドＡ，Ｂの決定は、例えば、コントローラ３０に備えられた入力部を介して入力される。なお、サーボバンドが７ｃｈ以上の場合は、例えば図１０に示すような形態で第３〜第５サーボバンドＣ，Ｄ，Ｅがさらに決定される。
【０１７７】
続いて、駆動部２０によりサーボライトヘッド１３へ第１及び第２のパルス信号ＰＳ１，ＰＳ２が入力されることで、第１のサーボバンドＡ及び第２のサーボバンドＢに第１のサーボバンド識別情報を含む第１のサーボパターン６１及び第２のサーボバンド識別情報を含む第２のサーボパターン６２が同位相で記録される（ＳＴ１０３）。これにより、図３に示した磁気テープ１が作製される。
【０１７８】
以上のように本実施形態によれば、各サーボバンドｓ０〜ｓ４に記録されるサーボパターン６がそれぞれ同位相となるように配置されるため、ＰＥＳが有する位相差の影響を受けることなく各サーボバンドｓ０〜ｓ４上のサーボパターン６を高精度に検出することができる。これにより、データバンドの増加に伴うサーボバンドの増加にも十分に対応することが可能となる。
【０１７９】
また本実施形態によれば、サーボサブフレームＳＳＦ１内の傾斜部の一部の配列間隔を異ならせることで複数種類のサーボフレームＳＦ１，ＳＦ０を形成するようにしているため、トラッキング制御に支障を来すことなく、各サーボバンドに対応するサーボバンド識別情報を適切に取得することができる。
【０１８０】
さらに本実施形態によれば、サーボバンド識別情報の種類をサーボバンドの数の半分未満の数とすることができるため、記録情報の簡素化を図ることが可能となり、これにより、サーボバンドに関する情報の書き込み及び読み取りに必要なメモリの使用量を低減することができる。
【０１８１】
［変形例］
以上の実施形態では、サーボパターン６を構成するサーボフレームＳＦの方位角傾斜を「／」及び「＼」の２種類としたが、これらとは傾斜角が異なる方位角傾斜がサーボパターンにさらに含まれてもよい。
【０１８２】
また、以上の実施形態では、テープ状磁気記録媒体として、ＬＴＯ規格に準拠した磁気テープを例に挙げて説明したが、他の規格の磁気テープにも同様に適用可能である。
【０１８３】
なお、本技術は以下のような構成もとることができる。
（１）  ５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を、それぞれ同位相で記録する
サーボパターン記録方法。
（２）上記（１）に記載のサーボパターン記録方法であって、
隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドが決定される
サーボパターン記録方法。
（３）上記（１）又は（２）に記載のサーボパターン記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報を記録するべき第３のサーボバンドをさらに決定する
サーボパターン記録方法。
（４）上記（１）〜（４）のいずれか１つに記載のサーボパターン記録方法であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
サーボパターン記録方法。
（５）  ５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体にサーボパターンを記録する装置であって、
前記複数のサーボバンドに対応して配置された複数の記録部を有するサーボライトヘッドと、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドに対応する第１の記録部に対して前記第１のサーボバンド識別情報を記録するための第１の記録信号を出力し、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドに対応する第２の記録部に対して前記第２のサーボバンド識別情報を前記第１のサーボバンド識別情報と同位相で記録するための第２の記録信号を出力する駆動部と
を具備するサーボパターン記録装置。
（６）上記（５）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記サーボライトヘッドは、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を記録する
サーボパターン記録装置。
（７）上記（５）又は（６）に記載のサーボパターン記録装置であって、
前記複数の記録部は、前記複数のサーボバンドに２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを、それぞれ前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報として記録することが可能な磁気ギャップをそれぞれ有し、
前記駆動部は、前記第１のサーボバンド識別情報と前記第２のサーボバンド識別情報との違いに応じて、前記第１の記録信号と前記第２の記録信号とを互いに異なるパルス立ち上がり時刻で出力する
サーボパターン記録装置。
（８）  ５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を備えたテープ状磁気記録媒体の製造方法であって、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも３つの第１のサーボバンドと、前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報を記録するべき少なくとも２つの第２のサーボバンドとを決定し、
前記第１のサーボバンド及び前記第２のサーボバンドに前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報をそれぞれ同位相で記録する
テープ状磁気記録媒体の製造方法。
（９）  ５つ以上の複数のサーボバンドを有する磁性層を具備し、
前記複数のサーボバンドは、
複数ビットからなる第１のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも３つの第１のサーボバンドと、
前記第１のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第２のサーボバンド識別情報が記録された少なくとも２つの第２のサーボバンドと
を有する
テープ状記録媒体。
（１０）上記（９）に記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、互いに同位相で記録される
テープ状記録媒体。
（１１）上記（９）又は（１０）に記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報は、隣り合う２つのサーボバンド間において前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報の組み合わせが重複しないように、前記複数のサーボバンドに記録される
テープ状磁気記録媒体。
（１２）上記（９）〜（１１）のいずれか１つに記載のテープ状記録媒体であって、
前記第１のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第２のサーボバンド識別情報は、２種以上の異なる複数の方位角傾斜を含み前記第２の識別情報を符号化する複数のサーボフレームを有し、
前記第１のサーボバンド識別情報を符号化する複数のサーボフレームと、前記第２のサーボバンド識別情報を符号化するサーボフレームとを比較したとき、少なくとも一方の方位角傾斜の配列間隔の一部が相互に相違する
テープ状記録媒体。
（１３）上記（９）〜（１２）のいずれか１つに記載のテープ状記録媒体であって、
前記複数のサーボバンドは、前記第１のサーボバンド識別情報及び前記第２のサーボバンド識別情報とは異なる複数ビットからなる第３のサーボバンド識別情報が記録された第３のサーボバンドをさらに有する
テープ状記録媒体。
【符号の説明】
【０１８４】
１…磁気テープ
４…磁性層
６…サーボパターン
１３…サーボライトヘッド
２０…駆動部
３０…コントローラ
６１…第１のサーボパターン
６２…第２のサーボパターン
１００…サーボパターン記録装置
ｄ０〜ｄ３…データバンド
ｓ０〜ｓ４…サーボバンド
ＳＦ、ＳＦ１，ＳＦ０…サーボフレーム
【図１】
2020071897.tif 000004
【図２】
2020071897.tif 000005
【図３】
2020071897.tif 000006
【図４】
2020071897.tif 000007
【図５】
2020071897.tif 000008
【図６】
2020071897.tif 000009
【図７】
2020071897.tif 000010
【図８】
2020071897.tif 000011
【図９】
2020071897.tif 000012
【図１０】
2020071897.tif 000013
【図１１】
2020071897.tif 000014
【図１２】
2020071897.tif 000015
【図１３】
2020071897.tif 000016
【図１４】
2020071897.tif 000017