(57)【要約】【課題】温度変化によって光源の光量変動や受光素子の特性変動などが生じ、それに起因して取得データに変動が生じる場合があり、その様な取得データの変動は、汚れでないにも拘わらず汚れであるとの誤判定を招く虞がある。【解決手段】画像読取装置は、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、前記読取値を処理する制御手段と、前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備え、前記記憶手段には、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データと、温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データと、が記憶されており、前記制御手段は、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データと、前記記憶手段から読み出した前記第１データ及び前記第２データと、をもとにして各画素の異常の有無を判定する。【選択図】図１７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、
前記読取値を処理する制御手段と、
前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備え、
前記記憶手段には、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データと、
温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データと、が記憶されており、
前記制御手段は、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データと、前記記憶手段から読み出した前記第１データ及び前記第２データと、をもとにして各画素の異常の有無を判定する、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像読取装置において、前記第２データは、複数の前記画像読取装置を用いて画素毎に得られた、前記読取値の温度変動幅の平均値に、前記温度変動幅の標準偏差の２倍以上の値を加算して得られた算出値或いは当該算出値をもとに得られるデータである、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記第１データと前記第３データとのレベルを合わせ後の前記第１データと前記第３データとの差分が、前記第２データをもとに設定された閾値を越えた場合に前記画素の異常ありと判定し、前記閾値未満である場合に前記画素の異常なしと判定する、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の画像読取装置において、前記読取手段は、前記主走査方向において第１方向の端部に位置する光源と、
前記主走査方向に延設され、前記光源から前記主走査方向に出射された光を前記読取基準面方向に導くライトガイドと、を有し、
前記第２データは、前記主走査方向において前記第１方向の端部から、前記第１方向とは反対の第２方向に向かって所定の範囲内にある画素に対応したデータである、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行し、
前記異常画素範囲は、異常画素が連続する連続異常画素範囲と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在し、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲と、を含む、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項６】
請求項５に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、前記主走査方向における全画素の異常の有無に基づき前記異常画素範囲を画定する、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項７】
請求項５に記載の画像読取装置において、前記制御手段は、最初に前記異常画素範囲を画定した後、次の前記異常画素範囲を探すことなく前記異常処理に移る、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項８】
請求項５から請求項７のいずれか一項に記載の画像読取装置において、前記第１判定値は、第１設定値と、前記第１設定値よりも大きい第２設定値と、を含み、前記制御手段が前記第１設定値及び前記第２設定値のいずれかを選択する、
ことを特徴とする画像読取装置。
【請求項９】
原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、
前記読取値を処理する制御手段と、
前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備えた画像読取装置において、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行する異常検出プログラムであって、
前記記憶手段に記憶された、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データ、及び温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データを読み出し、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データをもとにして各画素の異常の有無を判定する処理と、
異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲を前記異常画素範囲とする処理と、
を含むことを特徴とする異常検出プログラム。
【請求項１０】
原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、
前記読取値を処理する制御手段と、
前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備えた画像読取装置において、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行する異常検出方法であって、
前記記憶手段に記憶された、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データ、及び温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データを読み出し、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データをもとにして各画素の異常の有無を判定する処理と、
異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲を前記異常画素範囲とする処理と、
を含むことを特徴とする異常検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿画像を読み取る画像読取装置、並びに異常検出プログラム及び異常検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
以下、画像読取装置の一例であるスキャナーを例に説明する。スキャナーにおいては、ＣＩＳ（Ｃｏｎｔａｃｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｓｅｎｓｏｒ）方式やＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅｓ）方式に代表されるイメージセンサーが用いられ、原稿画像の読み取りが行われる。  
しかしながら原稿読み取り面に、指紋、紙粉、鉛筆粉、修正液、糊、結露などの付着物があると、読み取り結果に異常となって表れる。例えばイメージセンサーを移動させずに原稿をイメージセンサーに対して副走査方向に移動させて読み取りを行うタイプのスキャナーでは、上記の様な付着物の存在は副走査方向つまり原稿搬送方向に延びる縦筋として読み取り結果に表れてしまう。  
このため、上記の様な付着物を検出する技術が従来から知られており、その一例が特許文献１に示されている。尚、以下では上記付着物を汚れと称する場合もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−７０１６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１記載の画像読取装置では、汚れが付着していない状態で基準板を読み取った際の初期データと、汚れによる影響を受けた可能性のある状態で基準板を読み取った際の読取データとの比率をもとに、各画素が汚れの影響を受けたか否かを判断している。  
しかしながら、温度変化によって光源の光量変動や受光素子の特性変動などが生じ、それに起因して取得データに変動が生じる場合があり、その様な取得データの変動は、汚れでないにも拘わらず汚れであるとの誤判定を招く虞がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決する為の、本発明の画像読取装置は、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、前記読取値を処理する制御手段と、前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備え、前記記憶手段には、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データと、温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データと、が記憶されており、前記制御手段は、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データと、前記記憶手段から読み出した前記第１データ及び前記第２データと、をもとにして各画素の異常の有無を判定することを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本発明に係るスキャナーを示す外観斜視図。
【図２】本発明に係るスキャナーにおける原稿搬送経路を示す側断面図。
【図３】本発明に係るスキャナーの制御系統を示すブロック図。
【図４】第１読取部と第２読取部の構成を模式的に示す図。
【図５】製品出荷前に取得する第１データと、製品出荷後にユーザー使用環境で取得される第３データと、の一例であって、第３データが正常値を示すグラフ。
【図６】製品出荷前に取得する第１データと、製品出荷後にユーザー使用環境で取得される第３データと、の一例であって、第３データが異常値を示すグラフ。
【図７】光源の一例であるＬＥＤモジュールとライトガイドとの位置関係を模式的に示す図。
【図８】１０℃環境での読取値と３５℃環境での読取値の一例を示すグラフ。
【図９】複数の装置で取得した画素毎の読取値の変動幅と、その平均値＋４σの一例を示すグラフ。
【図１０】画素の異常判定フローを示すフローチャート。
【図１１】異常検出プログラムのメインフローを示すフローチャート。
【図１２】異常検出プログラムのサブフローを示すフローチャート。
【図１３】異常検出プログラムのサブフローを示すフローチャート。
【図１４】異常検出プログラムのサブフローを示すフローチャート。
【図１５】連続異常画素範囲の一例を模式的に示す図
【図１６】連続異常画素範囲の一例を模式的に示す図
【図１７】不連続異常画素範囲の一例を模式的に示す図
【図１８】不連続異常画素範囲の一例を模式的に示す図
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、本発明を概略的に説明する。  
本発明の第１の態様に係る画像読取装置は、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、前記読取値を処理する制御手段と、前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備え、前記記憶手段には、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データと、温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データと、が記憶されており、前記制御手段は、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データと、前記記憶手段から読み出した前記第１データ及び前記第２データと、をもとにして各画素の異常の有無を判定することを特徴とする。
【０００８】
本態様によれば、前記制御手段は、温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データを利用して各画素の異常の有無を判定するので、各画素の異常の有無の判定に際し温度変化に起因する誤判定を抑制できる。  
尚、以降において画素の異常とは、読み取り面の付着物に起因して、前記読取値が本来とるべき範囲を超えた異常値となることを意味する。
【０００９】
本発明の第２の態様は、第１の態様において、前記第２データは、複数の前記画像読取装置を用いて画素毎に得られた、前記読取値の温度変動幅の平均値に、前記温度変動幅の標準偏差の２倍以上の値を加算して得られた算出値或いは当該算出値をもとに得られるデータであることを特徴とする。
【００１０】
本態様によれば、前記第２データは、複数の前記画像読取装置を用いて画素毎に得られた、前記読取値の温度変動幅の平均値に、前記温度変動幅の標準偏差の２倍以上の値を加算して得られた算出値或いは当該算出値をもとに得られるデータであるので、温度変化に起因する上記誤判定をより確実に抑制できる。
【００１１】
本発明の第３の態様は、第１のまたは第２の態様において、前記制御手段は、前記第１データと前記第３データとのレベルを合わせ後の前記第１データと前記第３データとの差分が、前記第２データをもとに設定された閾値を越えた場合に前記画素の異常ありと判定し、前記閾値未満である場合に前記画素の異常なしと判定することを特徴とする。
【００１２】
本発明の第４の態様は、第１から第３の態様のいずれかにおいて、前記読取手段は、前記主走査方向において第１方向の端部に位置する光源と、前記主走査方向に延設され、前記光源から前記主走査方向に出射された光を前記読取基準面方向に導くライトガイドと、を有し、前記第２データは、前記主走査方向において前記第１方向の端部から、前記第１方向とは反対の第２方向に向かって所定の範囲内にある画素に対応したデータであることを特徴とする。
【００１３】
温度変化に起因して前記ライトガイドに対する前記光源の姿勢が変化した場合、前記主走査方向において前記ライトガイドに近い位置にある画素の光量変動が大きくなる場合がある。本態様によれば、温度変化に基づく前記読取値の変動幅を示す第２データは、前記主走査方向において前記第１方向の端部即ち前記ライトガイドに近い側から、前記第１方向とは反対の第２方向に向かって所定の範囲内にある画素に対応したデータであるので、温度変化に起因する上記誤判定を適切に抑制できる。
【００１４】
本発明の第５の態様は、第１から第４の態様のいずれかにおいて、前記制御手段は、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行し、前記異常画素範囲は、異常画素が連続する連続異常画素範囲と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在し、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲と、を含むことを特徴とする。
【００１５】
異常画素のまとまりが或る程度大きいと、ユーザーにとって視認可能な画像不良となるが、この異常画素のまとまりは異常画素が連続する場合のみならず、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合であって、前記正常画素の数が少ない場合にも、ユーザーにとって視認可能な画像不良として表れる。  
本態様によれば、異常画素範囲を画定して当該異常画素範囲の画素数が予め定められた第１判定値を越えた場合に異常処理を実行するに際し、前記異常画素範囲に、異常画素が連続する連続異常画素範囲と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在し、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲と、を含めるので、ユーザーにとって視認可能な画像不良をより一層網羅することができる。
【００１６】
本発明の第６の態様は、第５の態様において、前記制御手段は、前記主走査方向における全画素の異常の有無に基づき前記異常画素範囲を画定することを特徴とする。  
本態様によれば、前記制御手段は、前記主走査方向における全画素の異常の有無に基づき前記異常画素範囲を画定する、即ち、前記主走査方向の全範囲における全ての前記異常画素範囲を拾い出すので、異常の状況を適切に把握することができる。
【００１７】
本発明の第７の態様は、第５の態様において、前記制御手段は、最初に前記異常画素範囲を画定した後、次の前記異常画素範囲を探すことなく前記異常処理に移ることを特徴とする。  
本態様によれば、前記制御手段は、最初に前記異常画素範囲を画定した後、次の前記異常画素範囲を探すことなく前記異常処理に移るので、処理の高速化を図ることができる。
【００１８】
本発明の第８の態様は、第５から第７の態様のいずれかにおいて、前記第１判定値は、第１設定値と、前記第１設定値よりも大きい第２設定値と、を含み、前記制御手段が前記第１設定値及び前記第２設定値のいずれかを選択することを特徴とする。
【００１９】
本態様によれば、前記第１判定値は、第１設定値と、前記第１設定値よりも大きい第２設定値と、を含み、前記制御手段が前記第１設定値及び前記第２設定値のいずれかを選択するので、異常の検出感度を調整することができる。
【００２０】
本発明の第９の態様に係る異常検出プログラムは、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、前記読取値を処理する制御手段と、前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備えた画像読取装置において、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行する異常検出プログラムであって、前記記憶手段に記憶された、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データ、及び温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データを読み出し、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データをもとにして各画素の異常の有無を判定する処理と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲を前記異常画素範囲とする処理とを含むことを特徴とする。  
本態様によれば、上述した第５の態様と同様な作用効果が得られる。
【００２１】
本発明の第１０の態様に係る異常検出方法は、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段と、前記読取値を処理する制御手段と、前記制御手段が参照する情報が記憶された記憶手段と、を備えた画像読取装置において、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行する異常検出方法であって、前記記憶手段に記憶された、前記読取基準面の読取値であって基準となる第１データ、及び温度変化に基づく前記読取値の変動幅に係わる第２データを読み出し、前記第１データの取得時より後に前記読取基準面を読み取って得られた第３データをもとにして各画素の異常の有無を判定する処理と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値未満である不連続異常画素範囲を前記異常画素範囲とする処理とを含むことを特徴とする。  
本態様によれば、上述した第５の態様と同様な作用効果が得られる。  
以下、本発明を具体的に説明する。
【００２２】
以下では、本発明に係る画像読取装置の一実施形態、並びに本発明に係る異常検出プログラム及び異常検出方法の一実施例について図面に基づき説明する。本実施形態では画像読取装置の一例として、媒体の一例である原稿（以下、原稿Ｐと言う）の表面及び裏面の少なくとも一面を読み取り可能なドキュメントスキャナー（以下、単にスキャナー１Ａと称する）を例に挙げる。
【００２３】
尚、各図において示すＸ−Ｙ−Ｚ座標系はＸ方向が装置幅方向であり原稿幅方向、Ｙ方向が原稿搬送方向である。Ｚ方向はＹ方向と交差する方向であって、概ね搬送される原稿の面と直交する方向を示している。また、＋Ｙ方向側を装置前面側とし、−Ｙ方向側を装置背面側とする。また、装置前面側から見て左側を＋Ｘ方向、右側を−Ｘ方向とする。また、＋Ｚ方向を装置上方（上部、上面等を含む）とし、−Ｚ方向側を装置下方（下部、下面等を含む）とする。また、原稿Ｐが給送されていく方向（＋Ｙ方向側）を「下流」といい、これと反対の方向（−Ｙ方向側）を「上流」という場合がある。
【００２４】
■■■スキャナーの概要■■■
スキャナー１Ａは、原稿Ｐの画像を読み取る読取部２０（図２）を内部に備える装置本体２を備えている。  
装置本体２は、下部ユニット３及び上部ユニット４を備えて構成されている。上部ユニット４は下部ユニット３に対して原稿搬送方向下流側を回動支点として開閉可能に設けられており、上部ユニット４を装置前面側に回動して開き、原稿Ｐの原稿搬送経路を露呈させて原稿Ｐのジャムの処理を容易に行うことができる様に構成されている。
【００２５】
装置本体２の背面側には、給送される原稿Ｐを載置する載置面１１ａを有する原稿載置部１１が設けられている。原稿載置部１１は、装置本体２に対して着脱可能に設けられている。  
また、原稿載置部１１には、原稿Ｐの給送方向（Ｙ軸方向）と交差する幅方向（Ｘ軸方向）の側縁をガイドする左右一対のエッジガイド１２、１２が設けられている。
【００２６】
原稿載置部１１は、第１ペーパーサポート８及び第２ペーパーサポート９を備えている。第１ペーパーサポート８及び第２ペーパーサポート９は、原稿載置部１１の内部に収納可能であり、且つ、図１に示す様に原稿載置部１１から引き出し可能に構成され、載置面１１ａの長さを調整可能になっている。
【００２７】
装置本体２は、上部ユニット４の装置前面側に、各種読み取り設定や読み取り実行の操作を行ったり、読み取り設定内容等を示すユーザインタフェース（ＵＩ）が実現される操作パネル７を備えている。操作パネル７は、本実施形態では表示と入力の双方が行える所謂タッチパネルであり、各種操作を行う為の操作部と、各種情報を表示する為の表示部とを兼用する。  
上部ユニット４の上部には装置本体２内部に連なる給送口６が設けられており、原稿載置部１１に載置される原稿Ｐは、給送口６から装置本体２内部に設けられる読取部２０に向けて送られる。  
また、下部ユニット３の装置前面側には、排出される原稿Ｐを受ける排紙トレイ５が設けられている。
【００２８】
■■■スキャナーにおける原稿搬送経路について■■■
次に、主として図２を参照して、スキャナー１Ａにおける原稿搬送経路について説明する。  
図２において符号Ｔで示す実線は、原稿搬送経路（換言すれば、原稿Ｐの通過軌跡）を示している。原稿搬送経路Ｔは、下部ユニット３と、上部ユニット４とによって挟まれた空間である。
【００２９】
原稿搬送経路Ｔの最も上流側には、原稿載置部１１が設けられており、原稿載置部１１の下流側には、原稿載置部１１の載置面１１ａに載置された原稿Ｐを読取部２０に向けて送る給送ローラー１４と、給送ローラー１４との間で原稿Ｐをニップして分離する分離ローラー１５が設けられている。
【００３０】
給送ローラー１４は、原稿載置部１１の載置面１１ａに載置された原稿Ｐのうち、最下位のものと接する。従って、スキャナー１Ａにおいて複数枚の原稿Ｐを原稿載置部１１にセットした場合には、載置面１１ａ側の原稿Ｐから順に下流側に向けて給送される。  
尚、原稿載置部１１には、原稿載置部１１上に原稿Ｐが存在するか否かを検出する為のセンサー（不図示）が設けられている。
【００３１】
給送ローラー１４は、給送ローラー用モーター４５（図３）により回転駆動される。給送ローラー用モーター４５から回転トルクを得て、給送ローラー１４は図２において反時計回り方向に回転する。  
分離ローラー１５には、搬送ローラー用モーター４６（図３）から、不図示のトルクリミッタを介して回転トルクが伝達される。
【００３２】
給送ローラー１４と分離ローラー１５との間に原稿Ｐが介在しない場合、或いは１枚のみ介在する場合、分離ローラー１５は、不図示のトルクリミッタにおいて滑りが生じることにより、搬送ローラー用モーター４６から受ける回転トルクに拘わらず従動回転する（図２において時計回り方向）。  
給送ローラー１４と分離ローラー１５との間に、給送されるべき原稿Ｐに加えて更に２枚目以降の原稿Ｐが入り込むと、原稿間で滑りが生じることにより、分離ローラー１５は搬送ローラー用モーター４６から受ける回転トルクにより、図２の反時計回り方向に回転する。これにより、原稿Ｐの重送が防止される。
【００３３】
給送ローラー１４の下流側には、搬送ローラー対１６と、画像を読み取る読取部２０と、排出ローラー対１７とが設けられている。搬送ローラー対１６は、搬送ローラー用モーター４６（図３）により回転駆動される搬送駆動ローラー１６ａと、従動回転する搬送従動ローラー１６ｂとを備えて成る。  
給送ローラー１４及び分離ローラー１５によりニップされて下流側に給送された原稿Ｐは搬送ローラー対１６にニップされて、搬送ローラー対１６の下流側に位置する読取部２０に搬送される。
【００３４】
給送ローラー１４の下流側には、第１原稿検出部３１が設けられている。第１原稿検出部３１は、一例として光学式センサーとして構成され、原稿搬送経路Ｔを挟んで対向配置される発光部３１ａと、受光部３１ｂとを備えて成り、受光部３１ｂが制御部４０（図３）に検出光の強度を示す電気信号を送信する。搬送される原稿Ｐが発光部３１ａから発せられる検出光を遮ることにより、前記検出光の強度を示す電気信号が変化し、これにより制御部４０は、原稿Ｐの先端或いは後端の通過を検知できる。
【００３５】
また、第１原稿検出部３１の下流側には、原稿Ｐの重送を検出する重送検出部３０が配置されている。重送検出部３０は、原稿搬送経路Ｔを挟んで対向配置される超音波発信部３０ａと、超音波を受信する超音波受信部３０ｂとを備えて成り、超音波受信部３０ｂが制御部４０（図３）に検出した超音波の強度を示す電気信号を送信する。原稿Ｐの重送が生じると、前記超音波の強度を示す電気信号が変化し、これにより制御部４０は、原稿Ｐの重送を検知できる。
【００３６】
また、重送検出部３０の下流側には、第２原稿検出部３２が設けられている。第２原稿検出部３２は、レバーを有する接触式センサーとして構成されており、原稿Ｐの先端或いは後端の通過に伴いレバーが回動すると、第２原稿検出部３２から制御部４０（図３）に送られる電気信号が変化し、これにより制御部４０は、原稿Ｐの先端或いは後端の通過を検知できる。  
制御部４０は、上述した第１原稿検出部３１及び第２原稿検出部３２により、原稿搬送経路Ｔにおける原稿Ｐの位置を把握することができる。
【００３７】
次に、第２原稿検出部３２の下流側に設けられた読取部２０は、上部ユニット４側に設けられた上部読取センサー２０Ａと、下部ユニット３側に設けられた下部読取センサー２０Ｂとを備えている。本実施形態において、上部読取センサー２０Ａ及び下部読取センサー２０Ｂは一例として密着型イメージセンサーモジュール（ＣＩＳＭ）として構成されている。  
尚、読取部２０の構成については、後に更に説明する。
【００３８】
原稿Ｐは、読取部２０において原稿Ｐの表面及び裏面の少なくとも一方の面の画像を読み取られた後、読取部２０の下流側に位置する排出ローラー対１７にニップされて、下部ユニット３の装置前面側に設けられた排出口１８から排出される。  
排出ローラー対１７は、搬送ローラー用モーター４６（図３）により回転駆動される排出駆動ローラー１７ａと、従動回転する排出従動ローラー１７ｂとを備えて成る。
【００３９】
■■■スキャナーにおける制御系統について■■■
以下、図３を参照しつつスキャナー１Ａにおける制御系統について説明する。図３は本発明に係るスキャナー１Ａの制御系統を示すブロック図である。  
図３において、制御手段としての制御部４０は原稿Ｐの送り制御及び読み取り制御を含め、その他スキャナー１Ａの各種制御を行う。制御部４０には操作パネル７からの信号が入力され、また、操作パネル７の表示、特にユーザインタフェース（ＵＩ）を実現する為の信号が制御部４０から操作パネル７に送信される。  
制御部４０は、給送ローラー用モーター４５と搬送ローラー用モーター４６を制御する。上述したように給送ローラー用モーター４５は、給送ローラー１４の駆動源であり、搬送ローラー用モーター４６は、分離ローラー１５、搬送ローラー対１６、排出ローラー対１７、のこれらの駆動源である。  
制御部４０には、読取部２０からの読み取りデータが入力され、また、読取部２０を制御する為の信号が制御部４０から読取部２０に送信される。  
制御部４０には、重送検出部３０、第１原稿検出部３１、第２原稿検出部３２、のこれら検出手段からの検出信号も入力され、これら検出信号に基づき必要な制御を行う。
【００４０】
制御部４０は、ＣＰＵ４１、ＲＯＭ４２、メモリ４３を備えている。ＣＰＵ４１はＲＯＭ４２に格納されたプログラム４４に従って各種演算処理を行い、スキャナー１Ａ全体の動作を制御する。記憶部の一例であるメモリ４３は読み出し及び書き込みが可能な不揮発性メモリであり、後述する異常検出に必要なデータ類は全てメモリ４３に記憶されている。また、必要に応じて制御部４０が所定のデータをメモリ４３に書き込む。  
ＲＯＭ４２に格納されたプログラム４４は、必ずしも一つのプログラムを意味するものではなく、複数のプログラムで構成され、それには後述する本発明に係る異常検出プログラム、操作パネル７に表示するＵＩを制御するプログラム、原稿の搬送及び読み取りに必要な各種制御プログラム、などが含まれる。
【００４１】
またスキャナー１Ａは外部コンピュータ６０と接続可能に構成されており、制御部４０には、外部コンピュータ６０から情報が入力される。外部コンピュータ６０は、表示部６２を備えている。表示部６２には、外部コンピュータ６０が備える不図示の記憶手段に格納された制御プログラムによりユーザインタフェース（ＵＩ）が実現される。
【００４２】
■■■読取部について■■■
図４を参照して読取部２０について詳説する。尚、読取部２０は上部読取センサー２０Ａと下部読取センサー２０Ｂとを備えているが、この２つのセンサーの基本的な構成は同じであり、以下では下部読取センサー２０Ｂの構成に着目して説明する。  
下部読取センサー２０Ｂは、透過板２１、基準板２２、ライトガイド２３、レンズ２４、ラインセンサ２５、のこれらを備えている。  
下部読取センサー２０Ｂは主走査方向（Ｘ方向）に長い形状を成しており、透過板２１、基準板２２、ライトガイド２３、レンズ２４、ラインセンサ２５、のこれらも主走査方向に延びる形状を成している。
【００４３】
透過板２１は、無色透明のガラスや、無色透明のアクリル板等の樹脂板により形成することができ、外面即ち上部読取センサー２０Ａと対向する面が原稿搬送経路Ｔを形成する。また、外面が原稿Ｐを読み取る読取面となる。  
基準板２２は、シェーディング補正の為に、対向する上部読取センサー２０Ａのラインセンサ２５により読み取られる基準板で、上部読取センサー２０Ａと対向する面が読取基準面２２ａであり、例えば白色、灰色、黒色等の樹脂板または白色、灰色、黒色等に塗装された金属板等を用いることができる。
【００４４】
ライトガイド２３は、原稿Ｐ或いは基準板２２に向けて光を照射する為の導光部材であり、光源の一例であるＬＥＤモジュール２６（図７）から主走査方向に発せられた光を対向する上部読取センサー２０Ａの方向に導く。  
照射された光は原稿Ｐ或いは上部読取センサー２０Ａの読取基準面２２ａで反射し、レンズ２４を介してラインセンサ２５に到達し、ラインセンサ２５で測光される。
【００４５】
ラインセンサ２５は主走査方向に沿って光電変換素子の一例であるフォトダイオードが配列されて成り、１つの光電変換素子が１つの画素に対応し、光電変換素子が測光した読取データを出力する。  
尚、本実施形態において光源はＬＥＤモジュール２６で構成されるが、これに限らず、蛍光ランプ等の他の光源を適用しても良い。  
また、本実施形態においてラインセンサ２５はＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサーを用いるが、これに限らず、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）で構成されるラインセンサやエリアセンサ等の、他の固体撮像素子を用いても良い。
【００４６】
■■■温度変動幅を考慮した読取値の補正について■■■
続いて、図５〜図９を参照しつつ、温度変動幅を考慮した読取値の補正について説明する。  
図５及び図６において横軸は画素であり左端が１画素、右端がｎ画素であり、例えばＡ４サイズ原稿の短辺を６００ｄｐｉで読み取る場合、ｎ＝５１００となる。尚、１画素目及びｎ画素目は必ずしもラインセンサ２５の両端部の画素とは限らない。また、画素数ｎは、原稿サイズに比べて多少のマージンを考慮した値とするのが好ましい。  
また、図５及び図６において縦軸は画素の読取値であり、受光強度を示している。
【００４７】
図５及び図６において破線で示すデータＲｉ（ｉ＝１〜ｎ）は「第１データ」の一例であり、スキャナー１Ａの製造工程において、即ち製品出荷前に、透過板２１に汚れが付着していない状態で基準板２２を読み取った基準データである。  
また、データＬｉ（ｉ＝１〜ｎ）は「第３データ」の一例であり、ユーザー使用環境で、即ち製品出荷後に、透過板２１に汚れが付着している虞がある状態で基準板２２を読み取ったデータであり、所謂シェーディング補正用のデータとなる。  
透過板２１に汚れが付着していない状態では、データＬｉは図５に示す様なデータとなる。これに対し透過板２１に汚れが付着した場合、データＬｉは図６において符号Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４で示す様な特異点が現れる。
【００４８】
従って基本的な考え方として画素Ｘｉ（ｉ＝１〜ｎ）について、データＲｉとデータＬｉとの差分が、設定された閾値Ｓｈｉ（ｉ＝１〜ｎ）未満であれば、当該画素Ｘｉは後述する汚れ検出幅Ｘｗ１、Ｘｗ２のカウントの対象とせず、上記差分が閾値Ｓｈｉを越えていれば、当該画素Ｘｉは後述する汚れ検出幅Ｘｗ１、Ｘｗ２のカウントの対象とする。そして詳しくは後述するが、本実施例では汚れ検出幅Ｘｗ１、Ｘｗ２が所定幅以上となった場合に、透過板２１に汚れが付着していると判断する。尚、本明細書では便宜上、後述する汚れ検出幅Ｘｗ１、Ｘｗ２のカウントの対象とする画素を「異常のある画素」或いは「汚れのある画素」と位置づけ、汚れ検出幅のカウントの対象とならない画素を「異常のない画素」或いは「汚れのない画素」と位置づける。  
尚、本実施例において上記差分は絶対値であって正の値をとり、閾値Ｓｈｉも同様に正の値をとるが、いずれも正負が区別された値であっても良い。
【００４９】
上記のデータＲｉは、例えばメモリ４３（図３）に記憶されている。閾値Ｓｈｉは、予め設定した上でメモリ４３に記憶するか、或いはその都度計算により算出し、設定することができる。計算により算出する場合、計算式及びそれに用いるパラメータがメモリ４３に記憶されている。本実施例では、閾値Ｓｈｉは計算により都度算出する。そして前記計算に用いるパラメータが「第２データ」の一例となる。  
第３データとしてのデータＬｉも、必要に応じてその都度メモリ４３に書き込んで保持するようにしても良い。
【００５０】
尚、図５及び図６に示す様にデータＲｉとデータＬｉのレベルが、例えばデータ取得時のＬＥＤモジュール２６（図７）からの照射光レベル差によって異なる場合には、データＲｉとデータＬｉとのレベル合わせ即ち比率調整を行い、その上でデータＲｉとデータＬｉの差分を求めることが好ましい。  
この様なレベル合わせは、例えば画素Ｘｉ毎にデータＲｉとデータＬｉとの比率を求め、全画素での前記比率の平均値を求め、当該平均値をデータＲｉの全画素或いはデータＬｉの全画素に乗じることで行うことができる。  
本実施例では、データＲｉをデータＬｉのレベルに合わせるものとする。データＬｉに対してレベル合わせが行われた後のデータＲｉを、データＲＲｉとする。また、データＲＲｉとデータＬｉとの差分を、差分Ｄｉ（ｉ＝１〜ｎ）とする。このデータＲＲｉ及び差分Ｄｉについては、以降の説明において用いる。
【００５１】
そして本実施例においては、「第２データ」をもとに閾値Ｓｈｉを計算により求める。そして上記差分Ｄｉと閾値Ｓｈｉとを対比し、画素Ｘｉの異常の有無を判定する。「第２データ」は、温度変化に基づく読み取り値の変動幅に係わるデータであり、即ち本実施例では閾値Ｓｈｉの設定に際して温度変化に基づく読み取り値の変動を考慮する。
【００５２】
温度変動に起因する読み取り値の変動は、一例として図７に示す様にＬＥＤモジュール２６の、ライトガイド２３に対する姿勢変化に起因して発生する。図７においてＬＥＤモジュール２６及びライトガイド２３は基板２７に設けられているが、ライトガイド２３と基板２７の熱膨張係数の差に起因して、ライトガイド２３に対するＬＥＤモジュール２６の姿勢が変化する場合がある。例えば、高温環境（一例として３５℃）では図７の上の図で示す様にＬＥＤモジュール２６からの出射光が主走査方向に平行になっていたものが、低温環境（一例として１０℃）になると図７の下の図で示すようにライトガイド２３に対するＬＥＤモジュール２６の姿勢が変化し、その結果ＬＥＤモジュール２６側から所定の範囲Ｗａの読取値が、温度変動要因を含んでしまうこととなる。  
図８において横軸は画素、縦軸は受光強度であり、実線は高温環境で取得した読取値であり、破線は低温環境で取得した読取値であって、図示するようにＬＥＤモジュール２６側から所定の範囲Ｗａの画素の読取値が、温度によって異なる値をとる。
【００５３】
上記所定の範囲Ｗａを１〜ｋ画素とすると、本実施例では、閾値Ｓｈｉを範囲Ｗａ内と範囲Ｗａ外とで別々に設定する。具体的には、一例として以下の式（１）、（２）により求める。  
＜画素Ｘｉが範囲Ｗａ内（ｉ＝１〜ｋ）の場合＞  
閾値Ｓｈｉ＝データＲＲｉ×第３補正値Ｅｉ＋第２補正値Ｇｉ＋第１補正値Ｆｉ・・・（１）  
＜画素Ｘｉが範囲Ｗａ外（ｉ＞ｋ）の場合＞  
閾値Ｓｈｉ＝データＲＲｉ×第３補正値Ｅｉ＋第２補正値Ｇｉ・・・（２）
【００５４】
ここで、第１補正値Ｆｉ（ｉ＝１〜ｋ）は、上述した、ライトガイド２３に対する姿勢変化に起因して生じる読取値の変動幅であり、「第２データ」の一例となる。  
第２補正値Ｇｉ（ｉ＝１〜ｎ）は、光源の光量が目標とする光量からずれることに起因して生じる読取値の変動幅である。  
第３補正値Ｅｉ（ｉ＝１〜ｎ）は、レンズ周期むらに起因して発生する読取値の変動幅であり、単位はパーセンテージである。このレンズ周期むらは、レンズ２４（図４）がＸ方向に移動することによって生じる。このレンズ周期むらは、所定の範囲Ｗａに限られず、全画素Ｘｉにおいて生じるものである。
【００５５】
第１補正値Ｆｉ、及びそれを適用する画素範囲を示すパラメータｋは、例えば以下の方法により求めることができる。先ず、複数のスキャナー１Ａを用いて画素Ｘｉ毎に温度変動幅Ｑｉ（ｉ＝１〜ｎ）を求める。図９には、二つのスキャナー１Ａを用いて得られた温度変動幅Ｑｉの一例が示されている。  
図９において横軸は画素、縦軸は変動幅を示している。図示するように温度変動幅Ｑｉは、ＬＥＤモジュール２６側から所定の範囲Ｗａの画素Ｘ１〜画素Ｘｋで或る程度の大きさがあり、範囲Ｗａより右側の領域の画素Ｘｋ＋１〜画素Ｘｎでは温度変動幅がほぼない状態となる。
【００５６】
次いで、温度変動幅Ｑｉの平均値Ａｉ（ｉ＝１〜ｋ）と標準偏差σｉ（ｉ＝１〜ｋ）を求めた上で、第１補正値Ｆｉを、Ｆｉ＝Ａｉ＋４σｉで求める。図９で示すＦｉ＿１は、この様にして得られた第１補正値Ｆｉの一例を示している。この場合の第１補正値Ｆｉは、メモリ４３（図２）に記憶しておくことができる。
【００５７】
尚、平均値Ａｉは、或るスキャナー１Ａでの画素間の平均値という意味ではなく、或る画素Ｘｉに着目した場合の、装置間での平均値という意味である。  
尚、平均値Ａｉに加算する値は標準偏差の４倍の値のみならず、２倍の値、或いは３倍の値であっても構わない。  
また、第１補正値Ｆｉを算出する為の元になる温度変動幅Ｑｉは、複数のスキャナー１Ａを用いてデータを採取した場合の全てのスキャナー１Ａのデータであっても良いし、その中で温度変動幅の大きいものを任意にピックアップしても良い。
【００５８】
また、第１補正値Ｆｉは、上述したように画素Ｘｉ毎に予め定められた値ではなく、計算によりその都度求めることもできる。本実施例では、この方式を用いる。例えば、上記のＡｉ＋４σｉにおいて任意の２値を結ぶ直線を表す一次関数式により求めることができる。任意の２値は、例えば突発値を用いることができる。図９において破線で示す直線Ｆｉ＿２は、その一例を示しており、データＦｉ＿１において突発値となる点である点ｄ１と点ｄ２の２点を結ぶ直線である。この場合第１補正値Ｆｉは、一次関数式Ｆｉ＝−ａｘ＋ｂで表現でき、この一次関数式が、第２データとしてメモリ４３（図２）に記憶されている。
【００５９】
以上説明したように、本実施例において閾値Ｓｈｉの設定には、第２補正値Ｇｉ及び第３補正値Ｅｉと、「第２データ」の一例である第１補正値Ｆｉが加味される。尚、第１補正値Ｆｉ、及びこれを求める為の一次関数式Ｆｉ＝−ａｘ＋ｂのいずれも、第２データの一例となる。  
尚、異常検出の感度を下げたい場合には、更にこれに加えて所定のマージン値を加えた値を閾値Ｓｈｉに設定することもできる。
【００６０】
図１０は画素Ｘｉ毎の異常の有無を判定するフローを示すものであり、制御部４０は、データＲｉの読み出しを行い（ステップＳ１１）、データＬｉを取得し（ステップＳ１２）、データＲｉ、Ｌｉのレベル調整を行う（ステップＳ１３）。本実施例では上述したようにデータＲｉをデータＬｉのレベルに合わせ、データＲＲｉとする。  
そして、上述した方法により閾値Ｓｈｉの算出を行う（ステップＳ１４）。  
次いで、データＲＲｉ、Ｌｉの差分Ｄｉを求め（ステップＳ１６）、この差分Ｄｉを閾値Ｓｈｉと対比する（ステップＳ１７）。差分Ｄｉが閾値Ｓｈｉ未満であれば（ステップＳ１７においてＮｏ）、画素Ｘｉは異常なしとし（ステップＳ１９）、差分Ｄｉが閾値Ｓｈｉを越えていれば（ステップＳ１７においてＹｅｓ）、画素Ｘｉは異常ありとする（ステップＳ１８）。  
以上の判断処理を、１番目の画素からｎ番目の画素まで行う（ステップＳ１５、Ｓ２０、Ｓ２１）。
【００６１】
尚、以上の例では閾値Ｓｈｉの設定に際して温度変動要因を加味したが、閾値Ｓｈｉには温度変動要因を加味せず、データＲＲｉとデータＬｉの差分Ｄｉに対して温度変動要因を加えて差分ＤＤｉとし、それにより得られた差分ＤＤｉと閾値Ｓｈｉとを対比するようにしても良い。
【００６２】
以上の通り本実施例に係るスキャナー１Ａは、原稿及び読取基準面を読み取って主走査方向に沿って並ぶ画素のそれぞれに対応する読取値を出力する読取手段の一例である読取部２０と、読取値を処理する制御手段の一例である制御部４０と、制御部４０が参照する情報が記憶された記憶手段の一例であるメモリ４３と、を備えている。メモリ４３には、読取基準面の読取値であって基準となる第１データの一例であるデータＲｉと、温度変化に基づく読取値の変動幅に係わる第２データの一例である第１補正値Ｆｉ、より具体的にはこの第１補正値Ｆｉを求める為の一次関数式Ｆｉ＝−ａｘ＋ｂが記憶されている。そして制御部４０は、データＲｉの取得時より後に読取基準面を読み取って得られた第３データの一例であるデータＬｉと、メモリ４３から読み出したデータＲｉ及び上記第２データと、をもとにして各画素の異常の有無を判定するので、各画素Ｘｉの異常の有無の判定に際し温度変化に起因する誤判定を抑制できる。
【００６３】
また上記実施例において算出値である第１補正値Ｆｉを算出する為の一次関数式Ｆｉ＝−ａｘ＋ｂは、複数のスキャナー１Ａを用いて画素毎に得られた、読取値の温度変動幅Ｑｉの平均値Ａｉに、温度変動幅Ｑｉの標準偏差σｉの２倍以上の値を加算したデータをもとに得られるので、温度変化に起因する上記誤判定をより確実に抑制できる。
【００６４】
また上記実施例において制御部４０は、データＲｉをデータＬｉに対しレベルを合わせたデータＲＲｉとデータＬｉとの差分Ｄｉが、第２データをもとに設定された閾値Ｓｈｉを越えた場合に画素Ｘｉの異常ありと判定し、閾値Ｓｈｉ未満である場合に画素Ｘｉの異常なしと判定する。
【００６５】
また上記実施例において読取部２０は、主走査方向において第１方向、即ち図７において左方向の端部に位置する光源の一例であるＬＥＤモジュール２６と、主走査方向に延設され、ＬＥＤモジュール２６から主走査方向に出射された光を読取基準面方向即ち図７において上方向に導くライトガイド２３と、を有している。そして第２データは、主走査方向において第１方向の端部から、第１方向とは反対の第２方向即ち図７において右方向に向かって所定の範囲Ｗａ内にある画素、即ち温度変化に起因して読取値の変動が大きい範囲Ｗａ内にある画素に対応したデータであるので、温度変化に起因する上記誤判定を適切に抑制できる。
【００６６】
■■■異常画素範囲の検出について■■■
続いて図１１以降を参照しつつ、異常画素範囲の検出について説明する。本発明に係る異常検出プログラム及び異常検出方法は、図１１〜図１４に示されるフローチャートによって表現されている。  
制御部４０は、上述した各画素の異常判定結果をもとにして異常画素範囲を検出し、その結果に応じてユーザーに対して異常処理の一例である汚れアラートを出す。この汚れアラートは、読み取り面に汚れが付着していることをユーザーに警告するメッセージであり、このメッセージは、例えば操作パネル７や、外部コンピュータ６０（図３）の表示装置に表示することができる。
【００６７】
具体的には、制御部４０は図１１に示す様に「第１判定値」としての汚れ幅判定値Ｓｗを読み出し（ステップＳ１０１）、「第２判定値」としての続きの汚れを探す幅Ｓｅを読み出し（ステップＳ１０２）、その上で異常画素範囲の検出即ち汚れ判定処理を行う（ステップＳ１０３）。汚れ判定処理の結果、汚れありと判断した場合には（ステップＳ１０４においてＹｅｓ）、上述した汚れアラートを出す（ステップＳ１０５）。
【００６８】
以下、汚れ判定処理（ステップＳ１０３）について図１２以降を参照して詳説する。図１２〜図１４は、汚れ判定処理（ステップＳ１０３）の具体的内容を示すものである。  
汚れ判定処理は、大略的には各画素Ｘｉの異常の有無に基づき画素数が予め定められた第１判定値を越えている異常画素範囲を検出し、アラートを出す。  
そして本実施例における特徴は、上記異常画素範囲が、異常画素が連続する連続異常画素範囲と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在し、正常画素の数が予め定められた第２判定値である「続きの汚れを探す幅Ｓｅ」未満である不連続異常画素範囲と、を含む点にある。
【００６９】
より詳しくは、制御部４０は、画素Ｘ１、Ｘ２、・・・の順に異常画素の有無をサーチする。例えば、図１５において画素Ｘ５が汚れ開始位置Ｘａであり、画素Ｘ５〜Ｘ８が連続する汚れ画素範囲であって、その画素数が汚れ検出幅Ｘｗ１であり、図１５の例では汚れ検出幅Ｘｗ１＝４となる。汚れ幅判定値Ｓｗ＝５に設定されていれば、図１５の例では、汚れ検出幅Ｘｗ１は汚れ幅判定値Ｓｗ未満であるので、画素Ｘ５〜Ｘ８は異常画素範囲ではなく、アラートを出す要因にはならない。
【００７０】
これに対し図１６は、画素Ｘ５〜Ｘ１１が連続する汚れ画素範囲であって、汚れ検出幅Ｘｗ１＝７となる。この場合、汚れ幅判定値Ｓｗ＝５に設定されていれば、汚れ検出幅Ｘｗ１が汚れ幅判定値Ｓｗを越えているので、画素Ｘ５〜Ｘ１１は連続異常画素範囲となり、アラートを出す要因になる。
【００７１】
ここまでの判断の流れを、図１２に示すフローチャートで説明すると、制御部４０は汚れ検出幅Ｘｗ１、Ｘｗ２、汚れ間隔Ｘｔ、汚れ開始位置Ｘａ、のこれら変数を初期化、即ちゼロにする（ステップＳ２０１）。汚れ検出幅Ｘｗ２及び汚れ間隔Ｘｔについては後に説明する。  
次いで、汚れ開始位置Ｘａをサーチし（ステップＳ２０２）、データ終端即ち画素Ｘｎまでサーチしても汚れ画素を発見しない場合には（ステップＳ２０３においてＮｏ）、図１１に示すメインフローに戻る。
【００７２】
一方、汚れ画素を発見した場合（ステップＳ２０３においてＹｅｓ）、汚れ末尾位置をサーチし、汚れ検出幅Ｘｗ１を取得する（ステップＳ２０４）。そして取得した汚れ検出幅Ｘｗ１が予め定めた汚れ幅判定値Ｓｗを越えていれば（ステップＳ２０５においてＹｅｓ）、連続異常画素範囲を検出したものとして、図１４に示すステップＳ２１６に移る。  
ステップＳ２１６において汚れ開始位置Ｘａ及び汚れ検出幅Ｘｗ１をメモリ４３に記憶し、汚れ検出を続けて行う場合には（ステップＳ２１８においてＹｅｓ）、図１２のステップＳ２０１から再び処理を行う。  
汚れ検出処理を終了する場合には（ステップＳ２１８においてＮｏ）、図１１のメインフローに戻る。  
尚、ステップＳ２１６、即ち汚れ開始位置Ｘａと汚れ検出幅Ｘｗ１のデータ保存処理は省略しても構わない。
【００７３】
続いて、不連続異常画素範囲について説明する。ユーザーにとって視認可能な画像不良は、連続した異常画素のまとまり即ち連続異常画素範囲のみならず、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、即ち不連続異常画素範囲であっても、正常画素の数が少ない場合には、ユーザーにとって視認可能な画像不良である場合がある。
【００７４】
そこで、異常画素と次の異常画素との間に介在する正常画素の数に対する判定値である「続きの汚れを探す幅Ｓｅ」を設定し、正常画素の幅が幅Ｓｅ未満であれば、その様な汚れ検出範囲は不連続異常画素範囲とし、アラートを出す対象とする。逆に正常画素の幅が幅Ｓｅを越えていれば、その様な汚れ検出範囲は不連続異常画素範囲とせず、アラートを出す対象とはしない。  
例えば、図１７の例では、画素Ｘ５が汚れ開始位置Ｘａであり、異常画素Ｘ６及びＸ８の間に正常画素Ｘ７が含まれているので、正常画素の数つまり汚れ間隔Ｘｔ＝１となる。「続きの汚れを探す幅Ｓｅ」を”１０”に設定するとすれば、汚れ間隔Ｘｔは幅Ｓｅ未満であるので、画素Ｘ５〜画素Ｘ８の範囲が不連続異常画素範囲の候補となる。尚、図１７の例では画素Ｘ５〜画素Ｘ８の範囲は汚れ幅判定値Ｓｗを越えていないので、この時点では不連続異常範囲は確定しておらず、更に続きの汚れを探すこととなる。
【００７５】
そして図１７の例では、異常画素Ｘ８と、次の異常画素Ｘ−７との間の正常画素の数が多く、汚れ間隔Ｘｔが幅Ｓｅを越えているので、画素Ｘ５〜Ｘ−６の範囲は汚れ画素のまとまりとはならないから、画素Ｘ５〜画素Ｘ８の範囲が最終的な汚れ検出幅Ｘｗ２となる。尚、汚れ検出幅Ｘｗ２は、不連続異常画素範囲を探す際に用いる変数であり、本実施例では連続異常画素範囲を探す際に用いる変数Ｘｗ１とは異なるものである。
【００７６】
図１７の例では、画定された汚れ検出幅Ｘｗ２は”４”であり、汚れ幅判定値Ｓｗ＝５に設定するとすれば、汚れ検出幅Ｘｗ２が汚れ幅判定値Ｓｗ未満となるので、アラートを出す対象とはしない。  
次に、図１８の例では同様な判定方法によって画定された汚れ検出範囲は画素Ｘ５〜Ｘ１１であり、即ち汚れ検出幅Ｘｗ２は”７”となり、汚れ検出幅Ｘｗ２が汚れ幅判定値Ｓｗを越えるので、画素Ｘ５〜Ｘ１１は不連続異常画素範囲となり、アラートを出す対象となる。
【００７７】
ここまでの判断の流れを、図１２に示すフローチャートで説明すると、制御部４０は、連続した異常画素のまとまりの幅を示す汚れ検出幅Ｘｗ１が汚れ幅判定値Ｓｗ未満であった場合（ステップＳ２０５においてＮｏ）、次の汚れ先頭位置をサーチする（ステップＳ２０６）。その結果データ終端即ち画素Ｘｎまでサーチしても汚れ画素を発見しない場合には（ステップＳ２０７においてＮｏ）、図１１に示すメインフローに戻る。  
一方、汚れ画素を発見した場合（ステップＳ２０７においてＹｅｓ）、汚れ間隔Ｘｔが予め定めた判定値である幅Ｓｅを越えていれば（ステップＳ２０８においてＹｅｓ）、ユーザーにとって視認可能な汚れ画素のまとまりとはならないから、ステップＳ２０１から再び処理を行う。
【００７８】
逆に、汚れ間隔Ｘｔが予め定めた判定値である幅Ｓｅ未満であれば（ステップＳ２０８においてＮｏ）、ユーザーにとって視認可能な汚れ画素のまとまりになる可能性があるため、更に次の汚れ画素を探す。  
具体的には、図１３のステップＳ２０９に遷移し、一旦、汚れ検出幅Ｘｗ２＝汚れ検出幅Ｘｗ２＋汚れ検出幅Ｘｗ１＋汚れ間隔Ｘｔとした上で、汚れ検出幅Ｘｗ１を初期化即ちゼロとし（ステップＳ２１０）、汚れ末尾位置をサーチして新たな汚れ検出幅ＸＷ１を取得する（ステップＳ２１１）。  
これにより汚れ検出幅Ｘｗ２は、新たな汚れ検出幅Ｘｗ１を加算した値となる（ステップＳ２１２）。  
ステップＳ２０９終了時点での汚れ検出幅Ｘｗ２の一例が図１８の画素Ｘ５〜Ｘ１０であり、ステップＳ２１２終了時点での汚れ検出幅Ｘｗ２の一例が図１８の画素Ｘ５〜Ｘ１１である。
【００７９】
ステップＳ２１２終了時点での汚れ検出幅Ｘｗ２が、予め定めた汚れ幅判定値Ｓｗを越えていれば（ステップＳ２１３においてＹｅｓ）、不連続異常画素範囲が画定し、図１４に示すステップＳ２１７に移る。  
ステップＳ２１７において汚れ開始位置Ｘａ及び汚れ検出幅Ｘｗ２をメモリ４３に記憶し、汚れ検出を続けて行う場合には（ステップＳ２１８においてＹｅｓ）、図１２のステップＳ２０１から再び処理を行う。  
尚、ステップＳ２１７、即ち汚れ開始位置Ｘａと汚れ検出幅Ｘｗ２のデータ保存処理は省略しても構わない。
【００８０】
図１３に戻り、ステップＳ２１２終了時点での汚れ検出幅Ｘｗ２が、予め定めた汚れ幅判定値Ｓｗ未満であれば（ステップＳ２１３においてＮｏ）、更に次の汚れ画素を探すべく汚れ間隔Ｘｔ及び汚れ検出幅Ｘｗ１を初期化即ちゼロにして、図１２のステップＳ２０６から再び処理を行う。
【００８１】
以上の通り本実施例に係るスキャナー１Ａは、各画素の異常の有無に基づき、画素数が予め定められた第１判定値である汚れ幅判定値Ｓｗを越えている異常画素範囲を検出して異常処理を実行するに際し、前記異常画素範囲に、異常画素が連続する連続異常画素範囲と、異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在し、正常画素の数が予め定められた第２判定値である幅Ｓｅ未満となっている不連続異常画素範囲と、を含める。従って、ユーザーにとって視認可能な画像不良を漏れなく拾い出すことができる。
【００８２】
また本実施例に係る異常検出プログラム及び異常検出方法は、記憶手段の一例であるメモリ４３（図３）に記憶された、読取基準面２２ａ（図４）の読取値であって基準となる第１データの一例であるデータＲｉ（図５、図６）、及び温度変化に基づく前記読取値の変動幅を示す第２データの一例である温度調整値Ｆｉ（図９）を読み出し、前記第１データの取得時より後に読取基準面２２ａを読み取って得られた第３データの一例であるデータＬｉ（図５、図６）をもとにして各画素の異常の有無を判定する処理を含む。この処理は、図１０のステップＳ１１〜Ｓ２１に相当する。  
そして異常画素と次の異常画素との間に正常画素が介在する場合、前記正常画素の数が予め定められた第２判定値である幅Ｓｅ未満である不連続異常画素範囲を前記異常画素範囲とする処理を含む。この処理は、図１２のステップＳ２０８〜図１３のステップＳ２１３に相当する。
【００８３】
尚、上記実施例において制御部４０は、主走査方向における全画素の異常の有無に基づき異常画素範囲を画定する。換言すれば、主走査方向の全範囲における全ての異常画素範囲を拾い出すので、異常の状況を適切に把握することができる。
【００８４】
但し、制御部４０は、最初に異常画素範囲を検出した後、次の異常画素範囲を探すことなく異常処理に移っても構わない。これにより、処理の高速化を図ることができる。この場合、上述した実施例では、図１４に示すステップＳ２１８の判断処理を削除すれば良い。
【００８５】
また、第１判定値としての汚れ幅判定値Ｓｗは、第１設定値と、当該第１設定値よりも大きい第２設定値と、を含むように複数設定しても良い。例えば、汚れ検出感度として「低感度」、「高感度」の選択を操作パネル７（図１）からユーザーが選択できるようにし、「低感度」が選択されている場合には前記第２設定値を選択し、「高感度」が選択されている場合には前記第１設定値を選択する。これにより、汚れの検出感度を調整することができる。  
例えば、前記第１設定値として”５”を設定し、前記第２設定値として”２０”を設定することが考えられる。  
また、続きの汚れを探す幅Ｓｅについても、複数の値を設定するようにしても良い。例えば、第１の幅Ｓｅ１と、これより大きい第２の幅Ｓｅ２とを設定する。異常画素と次の異常画素との間の正常画素数が多いほど汚れは目立ち難くなるので、低感度設定の場合は、第１の幅Ｓｅ１を採用し、高感度設定の場合は第２の幅Ｓｅ２を採用する。
【００８６】
尚、以上説明した異常検出プログラムは一例であり、上記実施例に限定されないことは言うまでもない。即ち、連続した異常画素のまとまりのみならず、異常画素と異常画素との間に正常画素を含む画素のまとまりも、所定の条件を満たせば異常画素のまとまりであるとみなす処理であれば、どの様な処理であっても構わない。
【００８７】
また、以上説明した異常検出プログラムの実行は、任意のタイミングで行うことができる。例えば、スキャナー１Ａの電源オン時、スキャンジョブの開始前、終了後、所定枚数の原稿スキャン毎、などが挙げられる。また、片面読み取りの設定となっている場合には、上部読取センサー２０Ａ及び下部読取センサー２０Ｂのうち使用する一方のセンサーについてのみ実施しても良い。  
また、異常検出プログラムの実行の有無をユーザー設定可能とし、ユーザー設定に応じて異常検出プログラムを実行したり実行しなかったりする様にしても良い。
【符号の説明】
【００８８】
１Ａ…スキャナー（画像読取装置）、２…装置本体、３…下部ユニット、４…上部ユニット、５…排紙トレイ、６…給送口、７…操作パネル、８…第１ペーパーサポート、９…第２ペーパーサポート、１１…原稿載置部、１２…エッジガイド、１４…給送ローラー、１５…分離ローラー、１６…搬送ローラー対、１６ａ…搬送駆動ローラー、１６ｂ…搬送従動ローラー、１７…排出ローラー対、１７ａ…排出駆動ローラー、１７ｂ…排出従動ローラー、１８…排出口、２０…読取部、２０Ａ…上部読取センサー、２０Ｂ…下部読取センサー、
２１…透過板、２２…基準板、２３…ライトガイド、２４…レンズ、２５…ラインセンサ、２６…ＬＥＤモジュール、２７…基板、
３０…重送検出部、３０ａ…超音波発信部、３０ｂ…超音波受信部、３１…第１原稿検出部、３１ａ…発光部、３１ｂ…受光部、３２…第２原稿検出部、４０…制御部、４１…ＣＰＵ、４２…ＲＯＭ、４３…メモリ、４４…プログラム、４５…給送ローラー用モーター、４６…搬送ローラー用モーター、６０…外部コンピュータ、６２…表示部、Ｐ…原稿（媒体）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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