(57)【要約】【課題】地中線路における複数の絶縁低下点を効率よく発見できるようにする。【解決手段】本発明の代表的な実施の形態に係る探査方法は、地中線路（２００）の同一相における絶縁性能が最も低い分岐部（Ｊ１〜Ｊｎ）を検出する第１ステップ（Ｓ２）と、第１ステップにおいて検出した分岐部に所定の抵抗値を有する基準抵抗（Ｒｆ）を接続する第２ステップ（Ｓ３）と、基準抵抗が接続されていない分岐部に信号（Ｓｇ１，Ｓｇ２）を入力する第３ステップ（Ｓ４）と、基準抵抗が接続された分岐部を基準点とし、地中線路において、基準点に対して信号が入力される側を上流側としその反対側を下流側としたとき、第３ステップにおける信号の入力により、前記同一相において基準点から下流側に流れる電流（Ｉｄｓ）と基準点から基準抵抗側に流れる電流（Ｉｆ）とを測定する第４ステップ（Ｓ５）とを含むことを特徴とする。【選択図】図１
2020060370.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の分岐部を有する地中線路の同一相における絶縁低下点を探査する探査方法であって、
前記地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い前記分岐部を検出する第１ステップと、
前記第１ステップにおいて検出した前記分岐部に所定の抵抗値を有する基準抵抗を接続する第２ステップと、
前記複数の分岐部のうち前記基準抵抗が接続されていない前記分岐部に信号を入力する第３ステップと、
前記地中線路において、前記基準抵抗が接続された前記分岐部を基準点とし、前記基準点に対して前記信号が入力される側を上流側とし、その反対側を下流側としたとき、前記第３ステップにおける前記信号の入力により、前記同一相において前記基準点から前記下流側に流れる電流と前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流とを測定する第４ステップとを含む
ことを特徴とする探査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の探査方法において、
前記第４ステップにおいて前記下流側に流れる電流が前記基準抵抗側に流れる電流よりも大きい場合に、前記同一相において、前記基準抵抗を、前記第２ステップで前記基準抵抗を接続した前記分岐部より前記下流側に存在する前記分岐部に接続して、前記基準点を変更する第５ステップと、
前記第５ステップで変更された前記基準点以外の前記分岐部に前記信号を入力する第６ステップと、
前記第６ステップにおける前記信号の入力により、前記第５ステップにおいて変更された前記基準点から前記同一相における前記下流側に流れる電流と前記第５ステップにおいて変更された前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流とを測定する第７ステップとを更に含む
ことを特徴とする探査方法。
【請求項３】
請求項２に記載の探査方法において、
前記地中線路は、複数の相を含み、
前記複数の相は、前記分岐部をそれぞれ有し、
前記第１ステップの前に、前記複数の相のうち絶縁抵抗が基準値より低い相を検出する第８ステップを更に含み、
前記第３ステップおよび前記第６ステップは、前記信号として、所定の周波数の第１探査信号を前記第８ステップで検出されなかった正常な相である健全相の前記分岐部に入力するとともに、前記第１探査信号と１８０度の逆位相の第２探査信号を、前記複数の相のうち前記第８ステップで検出された絶縁抵抗が基準値より低い相である低下相の前記分岐部に入力するステップを含み、
前記第４ステップおよび前記第７ステップは、
前記第１探査信号および前記第２探査信号により生じた磁界の検出結果に基づいて、前記低下相において前記基準点から前記下流側に流れる電流と、前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流とをそれぞれ推定するステップを含む
ことを特徴とする探査方法。
【請求項４】
請求項３に記載の探査方法において、
前記第１ステップは、
前記第１探査信号を、前記健全相に入力するとともに、前記第２探査信号を、前記第８ステップで検出された前記低下相に入力し、当該第１探査信号および当該第２探査信号により生じた磁界の変化量が最も大きい前記分岐部を探査するステップを含む
ことを特徴とする探査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、線路の絶縁性能が低下した箇所を探査する探査方法であって、例えば、地中埋設等の絶縁状態で敷設された線路の絶縁性能が低下した箇所を探査する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、地中に埋設された線路（以下、「地中線路」とも称する。）における絶縁性能が低下した箇所を探査する技術として、従来のマーレーループ法や静電容量法に代わる新たな探査技術が普及しつつある。例えば、特許文献１，２には、二本の配電線から成る低圧地中線路と大地との間に互いに位相が１８０度異なる（互いに逆位相の）二つの高周波信号を注入し、それらの高周波信号によって生じる磁界の検出結果に基づいて、低圧地中線路において、絶縁性能が低下した箇所（以下、「絶縁低下点」とも称する。）を探査する技術が開示されている。
【０００３】
なお、地中線路の絶縁低下点には、電気設備技術基準に基づく絶縁性能を満たしておらず、除去しなければならない不良箇所と、電気設備技術基準に基づく絶縁性能を満たしており、必ずしも除去しなくてもよい箇所が含まれる。本明細書では、絶縁低下点のうち上記不良箇所を「事故点」と称する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２７９０３１号公報
【特許文献２】特開２０１３−２１７８３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来、低圧地中線路の地絡事故により停電等が発生した場合には、先ず、上述した探査技術によって低圧地中線路の事故点の有無を探査し、事故点が見つかった場合には、その事故点の周囲を掘削・改修を行って事故点を除去する。
【０００６】
しかしながら、上述した従来の探査技術は、線路に存在する一箇所の絶縁低下点を探査することを前提とした技術であるため、例えば低圧地中線路の同一相に複数の事故点が存在する場合には、事故点の探査、掘削、および改修の作業を、事故点毎に行うことが発生し、作業効率が非常に悪いという事象が顕在化してきている。
今後、設備全体の経年劣化により線路の絶縁性能が低下する可能性が高くなることを鑑みると、短時間で、複数の絶縁低下点を発見して改修できるようにすることが望まれる。
【０００７】
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、地中線路の同一相における複数の絶縁低下点の有無を効率よく判断できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の代表的な実施の形態に係る、複数の分岐部を有する地中線路の同一相における絶縁低下点を探査する探査方法は、前記地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い前記分岐部を検出する第１ステップと、前記第１ステップにおいて検出した前記分岐部に所定の抵抗値を有する基準抵抗を接続する第２ステップと、前記複数の分岐部のうち前記基準抵抗が接続されていない前記分岐部に信号を入力する第３ステップと、前記地中線路において、前記基準抵抗が接続された前記分岐部を基準点とし、前記基準点に対して前記信号が入力される側を上流側とし、その反対側を下流側としたとき、前記第３ステップにおける前記信号の入力により、前記同一相において前記基準点から前記下流側に流れる電流と前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流とを測定する第４ステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る探査方法によれば、地中線路の同一相における複数の絶縁低下点の有無を効率よく判断することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施の形態に係る、地中線路に存在する複数の絶縁低下点を探査するための探査方法の流れを示すフロー図である。
【図２】地中線路の概略構成を示す図である。
【図３】探査装置の概略構成を示す図である。
【図４】探査装置の内部構成を示すブロック図である。
【図５】地中線路における探査対象の一つの相を模式的に示す図である。
【図６Ａ】図５に示した地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【図６Ｂ】図５に示した地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【図７Ａ】図５に示した地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【図７Ｂ】図５に示した地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【図７Ｃ】図５に示した地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【図８】本実施の形態に係る探査方法による、多方向に分岐した地中線路の同一相における複数の絶縁低下点の有無を探査する探査手順の一例を示す図である。
【図９Ａ】３箇所の絶縁低下点を有する地中線路の復旧作業において、従来の探査方法を採用した場合の一連の作業工程を示す図である。
【図９Ｂ】３箇所の絶縁低下点を有する地中線路の復旧作業において、本実施の形態に係る探査方法を採用した場合の一連の作業工程を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。なお、以下の説明では、一例として、発明の構成要素に対応する図面上の参照符号を、括弧を付して記載している。
【００１２】
〔１〕本発明の代表的な実施の形態に係る、複数の分岐部（Ｊ１〜Ｊｎ）を有する地中線路（２００，２００Ａ）の同一相における絶縁低下点を探査する探査方法は、前記地中線路の同一相における絶縁性能が最も低い前記分岐部を検出する第１ステップ（Ｓ２）と、前記第１ステップにおいて検出した前記分岐部に所定の抵抗値を有する基準抵抗（Ｒｆ）を接続する第２ステップ（Ｓ３）と、前記複数の分岐部のうち前記基準抵抗が接続されていない前記分岐部に信号（Ｓｇ１，Ｓｇ２）を入力する第３ステップ（Ｓ４）と、前記地中線路において、前記基準抵抗が接続された前記分岐部を基準点とし、前記基準点に対して前記信号が入力される側を上流側とし、その反対側を下流側としたとき、前記第３ステップにおける前記信号の入力により、前記同一相において前記基準点から前記下流側に流れる電流（Ｉｄｓ）と前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流（Ｉｆ）とを測定する第４ステップ（Ｓ５）とを含むことを特徴とする。
【００１３】
〔２〕上記探査方法において、前記第４ステップにおいて前記下流側に流れる電流が前記基準抵抗側に流れる電流よりも大きい場合（Ｉｄｓ＞Ｉｆ）に、前記同一相において、前記基準抵抗を、前記第２ステップで前記基準抵抗を接続した前記分岐部より前記下流側に存在する前記分岐部に接続して、前記基準点を変更する第５ステップ（Ｓ８）と、前記第５ステップで変更された前記基準点以外の前記分岐部に信号を入力する第６ステップ（Ｓ９）と、前記第６ステップにおける前記信号の入力により前記第５ステップにおいて変更された前記基準点から前記同一相における前記下流側に流れる電流（Ｉｄｓ）と、前記第５ステップにおいて変更された前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流（Ｉｆ）とを測定する第７ステップ（Ｓ１０）とを更に含んでもよい。
【００１４】
〔３〕上記探査方法において、前記地中線路は、複数の相（２０１〜２０３）を含み、前記複数の相は、前記分岐部をそれぞれ有し、前記第１ステップの前に、前記複数の相のうち絶縁抵抗が基準値より低い相を検出する第８ステップ（Ｓ１）を更に含み、前記第３ステップおよび前記第６ステップは、前記信号として、所定の周波数の第１探査信号（Ｓｇ１）を前記第８ステップで検出されなかった正常な相である健全相の前記分岐部に入力するとともに、前記第１探査信号と１８０度の逆位相の第２探査信号（Ｓｇ２）を、前記複数の相のうち前記第８ステップで検出された絶縁抵抗が基準値より低い相である低下相の前記分岐部に入力するステップを含み、前記第４ステップおよび前記第７ステップは、前記第１探査信号および前記第２探査信号により生じた磁界の検出結果に基づいて、前記第８ステップで検出された前記低下相において前記基準点から前記下流側に流れる電流と、前記基準点から前記基準抵抗側に流れる電流とをそれぞれ推定するステップを含んでもよい。
【００１５】
〔４〕上記探査方法において、前記第１ステップは、前記第１探査信号を、前記健全相に入力するとともに、前記第２探査信号を、前記第８ステップで検出された前記低下相に入力し、当該第１探査信号および当該第２探査信号により生じた磁界の変化量が最も大きい前記分岐部を探査するステップを含んでもよい。
【００１６】
２．実施の形態の具体例
以下、本発明の実施の形態の具体例について図を参照して説明する。なお、以下の説明において、各実施の形態において共通する構成要素には同一の参照符号を付し、繰り返しの説明を省略する。また、図面は模式的なものであり、各要素の寸法の関係、各要素の比率などは、現実と異なる場合があることに留意する必要がある。図面の相互間においても、互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれている場合がある。
【００１７】
図１は、本発明の一実施の形態に係る探査方法の流れを示すフロー図である。
図１に示される探査方法は、地中線路に存在する複数の絶縁低下点を探査するための方法であって、例えば、事故点に加えて事故点以外の絶縁低下点を探査する方法である。
先ず、本実施の形態に係る探査方法による探査対象の地中線路について説明する。
【００１８】
図２は、地中線路の概略構成を示す図である。
図２に示すように、探査対象の地中線路２００は、例えば電力ケーブルである。具体的に、地中線路２００は、電線としての導電性部材を被覆する絶縁部材の外側にシールド（遮蔽）が施されていない電力ケーブルであって、例えば、低圧用ＣＶケーブルや低圧用ＳＶケーブルである。
【００１９】
地中線路２００は、複数の相を含んで構成されている。例えば、地中線路２００は、配電方式（例えば、単相２線式、単相３線式、三相３線式、三相４線式等）に対応した複数の配線（相）を有している。
【００２０】
ここでは、地中線路２００が、電圧が供給される非接地側の２つの相２０１，２０２と接地される相２０３とを含む単相３線式のＣＶケーブルである場合を例にとり、説明する。
【００２１】
地中線路２００、すなわち地中線路２００を構成する各相２０１〜２０３は、複数の分岐部Ｊ１〜Ｊｎ（ｎは２以上の整数）をそれぞれ有している。
【００２２】
ここで、分岐部Ｊ１〜Ｊｎは、地中線路２００を伝送する電力を分岐させる部分である。例えば、分岐部Ｊ１〜Ｊｎは、単に地中において相（配線）２０１〜２０３を分岐させる部分のみならず、相２０１〜２０３を外部（地上）の電気設備に接続するための部分（引き出し接続部）も含む。
【００２３】
地中線路の故障に関する統計によれば、地中線路を構成する要素（例えば、電力ケーブル、分岐部、端末、機器、およびヒューズ等）のうち、絶縁低下（劣化）が最も発生し易い要素は、“分岐部”である。これは、分岐部の施工不良や材料の不備等が原因と考えられる。一方で、電力ケーブルそのものは、外部から衝撃が加わる等しない限り絶縁低下が起こり難い傾向がある。
そこで、本実施の形態では、絶縁性能の低下が発生している箇所（絶縁低下点）が“分岐部”である場合を例にとり、説明する。
【００２４】
地中線路２００は、分岐装置（ＬＳ）３００に接続されている。分岐装置３００は、変圧器（図示せず）が接続される入力部（図示せず）と複数の幹線（地中線路２００）が接続される出力部とを有しており、出力部に地中線路２００の各相２０１〜２０３の先端部３１０が接続されている。分岐装置３００は、変圧器から入力部に供給された電力を出力部に接続された複数の地中線路２００（幹線）にそれぞれ出力する。分岐装置３００は、例えば配電塔である。
【００２５】
地中線路２００の各相２０１〜２０３の端部は、図示されていないヒューズ（図示せず）を介して分岐装置３００の出力部に接続されている。以下、地中線路２００の各相２０１〜２０３における端部のうち、分岐装置３００の出力部に接続されている端部を「先端部３１０」、その他の端部を「末端部」とも称する。
【００２６】
また、地中線路２００の各相２０１〜２０３の分岐部Ｊ１〜Ｊｎは、地中引込線２１０がそれぞれ接続されている。これにより、分岐装置３００から地中線路２００の先端部３１０に供給された電力は、各分岐部Ｊ１〜Ｊｎに接続された地中引込線２１０を介して取り出すことが可能となる。例えば、図２に示すように、地中線路２００を構成する各相２０１〜２０３の分岐部Ｊ１〜Ｊｎは、地中引込線２１０を介して、街灯４０１，４０２や信号機４０３等の電気設備における受電点３０１に接続されている。これにより、変圧器から分岐装置３００を介して地中線路２００に供給された電力を、街灯４０１，４０２や信号機４０３等の電気設備に供給することができる。
【００２７】
次に、本実施の形態に係る探査方法について具体的に説明する。
例えば、地中線路２００の地絡事故により停電等が発生した場合、停電が発生している地中線路２００を探査する。具体的には、先ず、分岐装置３００の出力部に接続されている複数の地中線路２００の中から絶縁性能が低下した相を探索する（ステップＳ１）。
【００２８】
具体的には、分岐装置３００の出力部に接続されている複数の地中線路２００の中からヒューズの切れた地中線路２００を発見し、その地中線路２００を構成するそれぞれの相２０１〜２０３の絶縁抵抗をテスタを用いて測定する。そして、測定した絶縁抵抗が基準値（例えば、電気設備技術基準で定められた絶縁性能の基準値）より低い一相を、探査対象の相として認定する。
【００２９】
以下の説明では、絶縁抵抗の測定値が基準値よりも低い相を「低下相」、絶縁抵抗の測定値が基準値よりも高い相を「健全相」とも称する。
本実施の形態では、相２０２の絶縁抵抗の測定値が基準値よりも低く、相２０３の絶縁抵抗の測定値が基準値よりも高いことから、相２０２が探査対象である低下相、相２０１，２０３が健全相として認定された場合を例にとり説明する。
【００３０】
ステップＳ１において探査対象の一つの相（低下相）が決定した後、探査対象の低下相において絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）を探査（検出）する（ステップＳ２）。
【００３１】
具体的には、ステップＳ１において検出されなかった健全相に所定の周波数の第１探査信号を入力するとともに、ステップＳ１で検出された探査対象の低下相に、第１探査信号Ｓｇ１と１８０度の逆位相の第２探査信号を入力し、当該第１探査信号および当該第２探査信号により生じた磁界の変化量が最も大きい分岐部Ｊ１〜Ｊｎを探索する。
【００３２】
より具体的には、所定の探査装置（例えば、株式会社戸上電機製作所製の地中線地絡事故点探査装置『ＬＵＰＩＮ（登録商標）』）を準備する。そして、その探査装置を地中線路２００に接続して、第１探査信号Ｓｇ１を健全相である相２０３に、第２探査信号Ｓｇ２を低下相である探査対象の相２０２にそれぞれ入力して、探査対象の相２０２において第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２により生じた磁界の変化量が最も大きい分岐部Ｊ１〜Ｊｎを絶縁性能が最も低い分岐部Ｊ１〜Ｊｎとする。
【００３３】
ここで、ステップＳ２において用いられる探査装置について説明する。
図３は、探査装置の概略構成を示す図である。図４は、探査装置の内部構成を示すブロック図である。
【００３４】
図３に示すように、ステップＳ２において用いられる探査装置５００は、三つの相２０１〜２０３からなる地中線路（地中に埋設された電力ケーブル）２００の二つの相２０２，２０３と大地（接地）との間に互いに１８０度の逆位相の二つの高周波の第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を各々注入する探査信号注入部１と、各相２０２、２０３を伝搬する第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２により生じる磁界を検出する磁界センサ２と、探査信号注入部１のフィードバック信号を入力し第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を制御するとともにその値を表示する制御・表示部３と、を備えている。
【００３５】
図４に示すように、探査信号注入部１は、電源回路１１、信号電圧生成回路１２、信号電圧昇圧回路１３、電流検出回路１４、および表示装置１５を有する。電源回路１１は、直流電圧又は交流電圧を出力する回路である。信号電圧生成回路１２は、制御・表示部３からの制御信号に基づいて、電源回路１１から出力された直流電圧又は交流電圧から所定の高周波信号電圧を生成する回路である。信号電圧昇圧回路１３は、信号電圧生成回路１２によって生成された高周波信号電圧を所定値に昇圧するとともに、出力信号を計測し、その値をフィードバック信号Ｓｇ６として制御・表示部３に帰還する回路である。電流検出回路１４は、信号電圧昇圧回路１３によって昇圧された高周波信号電圧を第１探査信号Ｓｇ１として出力すると共に、この第１探査信号Ｓｇ１の逆位相の高周波信号電圧を第２探査信号Ｓｇ２として出力し、前記高周波信号の電流を検出してフィードバック信号Ｓｇ３として制御・表示部３に帰還する回路である。表示装置１５は、後述する演算制御回路３２から制御信号Ｓｇ４として出力された信号電圧または信号電流および位相等の情報を表示する装置である。
【００３６】
ここで、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２は、例えばパルス信号または正弦波信号等の一定の周波数を有する周期信号であって、その周波数は、例えば、４００Ｈｚから５００Ｈｚの範囲の値である。
【００３７】
磁界センサ２は、探査信号周波数を受信した場合、受信感度に応じたレベル表示を行う可般型の受信器である。磁界センサ２は、地中線路２００の２本の相２０２，２０３に第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を注入した際に生じる地中線路２００の磁界を検出する検出部と、検出した磁界のレベルに応じた情報を表示する表示部とを備えている。
【００３８】
制御・表示部３は、演算制御回路３２、および位相制御回路３３を備える。演算制御回路３２は、探査信号注入部１の電流検出回路１４からのフィードバック信号Ｓｇ３に基づいて地中線路２００の電流変動を演算して地絡事故点の有無を特定するととともに、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を生成するための制御信号Ｓｇ４を出力する回路である。位相制御回路３３は、制御信号Ｓｇ４に基づいて第２探査信号Ｓｇ２の位相を第１探査信号Ｓｇ１の逆位相となるように信号電圧を制御して逆位相制御信号Ｓｇ５を出力する回路である。
【００３９】
次に、探査装置５００を用いたステップＳ２の手順について詳細に説明する。
ステップＳ２において、先ず、探査信号注入部１が、地中線路２００における健全相のうちの一相と大地との間に第１探査信号Ｓｇ１を注入するとともに、地中線路２００の低下相である探査対象の一相と大地との間に第２探査信号Ｓｇ２を注入する。
【００４０】
上述の例の場合、相２０２が探査対象の一相であり、相２０１，２０３が健全相である。したがって、例えば、探査信号注入部１は、健全相の一つである相２０３と大地との間に第１探査信号Ｓｇ１を注入し、低下相である探査対象の相２０２と大地との間に第２探査信号を注入する。より具体的には、図３に示すように、分岐部３００の出力部に接続される相２０２，２０３の先端部３１０に探査装置５００を接続して、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を相２０３，２０２の先端部３１０からそれぞれ注入する。
【００４１】
以下、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２が注入される点を信号入力点とも称する。
【００４２】
次に、信号入力点（先端部３１０）の近傍における地中線路２００を磁界センサ２で探査する。この探査により磁界が検出されたか否かを磁界センサ２に配置したレベル表示器で表示させる。信号入力点から磁界が検出された地中線路２００の延出方向に沿って、磁界センサ２を移動させて探査する。
【００４３】
第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２は、信号入力点から延出する地中線路２００を各々伝搬する。これにより、地中線路２００の相２０２，２０３には、電流ｉ１，ｉ２が流れる。例えば、図３に示すように、信号入力点から延出する地中線路２００の健全相（絶縁抵抗が低下していない相）において、相２０２には電流ｉ１が、相２０３には電流−ｉ１が、互いに逆位相で流れるのみであることから、電流ｉ１と電流−ｉ１とが相殺し、各電流ｉ，−ｉにより発生する各磁界も打消し合って磁界センサ２では磁界が検出されず未反応領域となる。
【００４４】
一方、図３に示すように、信号入力点から延出する地中線路２０２の地絡により絶縁抵抗が低下している線路部分は、互いに逆位相で流れる電流ｉ１，−ｉ１と、大地に流れ込む電流ｉ２とが発生する。その結果、互いに逆位相の電流ｉ１と電流−ｉ１とは相殺され、電流ｉ２により発生する磁界が磁界センサ２によって検出される。
【００４５】
磁界センサ２の移動探査により、大きな値として検出される検出磁界が大きく減衰したか否かを磁界センサ２の受信レベルで判断する。すなわち、磁界センサ２によって、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２により生じた磁界の変化量が最も大きい地点（分岐部）を探索し、その地点を絶縁性能が最も低い分岐部（事故点）として特定して探査を終了する。
【００４６】
ここで、ステップＳ２における絶縁性能が最も低い分岐部の探査手順について、具体的に説明する。
【００４７】
図５は、地中線路における探査対象の一つの相を模式的に示す図である。
同図には、地中線路２００の一例として、分岐部Ｊ１〜Ｊ６（ｎ＝６）を有する低下相である探査対象の相（相２０２）のみが簡略化されて図示され、地中線路２００の他の健全相２０１，２０３については図示を省略している。また、ここでは、一例として、地中線路２００の相２０２において、分岐部Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４が絶縁低下点であって、そのうち分岐部Ｊ３が最も絶縁抵抗が低い事故点であるとする。
【００４８】
また、同図において、吹き出し内の数値は、探査装置５００を地中線路２００における相２０２，２０３の先端部３１０に接続して上述のように第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を入力したときに、磁界センサ２によって検出されるとともに表示された磁界のレベルを示す数値である。この数値が大きいほど、磁界が大きい、すなわち電流が大きいことを示している。
【００４９】
ステップＳ２において、例えば相２０２，２０３の先端部３１０に第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を入力した状態において、信号入力点から地中線路２００の延出方向に沿って磁界センサ２を移動させて磁界の検出レベルを順次調べる。
【００５０】
このとき、例えば、図５に示すように、先端部３１０と分岐部Ｊ１との間で検出された磁界のレベルが“８”、分岐部Ｊ１と分岐部Ｊ２との間の磁界のレベルが“７”、分岐部Ｊ２と分岐部Ｊ３との間の磁界のレベルが“７”、分岐部Ｊ３と分岐部Ｊ４との間の磁界のレベルが“２”であったとする。この場合、分岐部Ｊ３を境にして検出される磁界が大きく減少している（磁界の変化量が大きい）ので、分岐部Ｊ３が最も絶縁性能が低下した地点であると判断することができる。
【００５１】
以上のように、ステップＳ２において、第１探査信号Ｓｇ１を健全相である相２０３に入力するとともに、第２探査信号Ｓｇ２を探査対象の低下相である相２０２に入力し、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２により生じた磁界の変化量が最も大きい分岐部を探索することにより、地中線路２００における絶縁性能が最も低い分岐部（事故点）を発見することが可能となる。
【００５２】
次に、絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査を行う。
ここでは、上述のステップＳ２の説明と同様に、図５に示す地中線路２００の相２０２における絶縁低下点を探査する場合を例にとり、説明する。
【００５３】
図６Ａ，図６Ｂ、および図７Ａから図７Ｃは、図５に示した地中線路２００の同一相（相２０２）における絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）以外の絶縁低下点の探査方法を説明するための図である。
【００５４】
先ず、図６Ａに示すように、ステップＳ２で発見した絶縁性能が最も低い絶縁低下点（事故点）に、所定の抵抗値を有する基準抵抗Ｒｆを接続する（ステップＳ３）。ここでは、ステップＳ２で発見した探査対象の相２０２における事故点としての分岐部Ｊ３と大地（接地）との間に、基準抵抗Ｒｆを接続する。
【００５５】
ここで、基準抵抗Ｒｆの抵抗値は、検出したい絶縁性能の低下の範囲に応じて適宜設定すればよい。例えば、電気設備技術基準に基づく絶縁性能の基準値よりも低下している箇所を検出したい場合には、基準抵抗Ｒｆを上記基準値に対応する抵抗値に設定すればよい。以下、基準抵抗Ｒｆが接続された分岐部を「基準点」とも称する。
【００５６】
次に、地中線路２００の複数の分岐部Ｊ１〜Ｊｎのうち基準抵抗Ｒｆが接続されていない分岐部（基準点以外の分岐部）または先端部３１０に信号を入力する（ステップＳ４）。
例えば、上述のステップＳ２と同様に、探査装置５００を地中線路２００の先端部３１０に接続し、探査装置５００から先端部３１０に信号を入力する。具体的には、図６Ａに示すように、探査装置５００によって、第１探査信号Ｓｇ１を健全相である相２０３の先端部３１０に入力するとともに、第２探査信号Ｓｇ２を探査対象の低下相である相２０２の先端部３１０に入力する。これにより、地中線路２００の先端部３１０から他の分岐部Ｊ１〜Ｊ６に向かって第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２が伝搬し、地中線路２００に電流が流れる。
【００５７】
次に、基準点を流れる電流を測定する（ステップＳ５）。具体的には、地中線路２００において基準点に対して信号（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２）が入力される側を上流側、その反対側を下流側としたとき、基準点から下流側に流れる電流Ｉｄｓと、基準点から基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆとを測定する。
【００５８】
例えば、図６Ａに示すように、地中線路２００の先端部３１０から信号（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２）を入力したとき、地中線路２００の探査対象の相２０２の上流側（先端部３１０側）から分岐部Ｊ３を介して下流側に流れる電流Ｉｄｓと、探査対象の相２０２の上流側から分岐部Ｊ３を介して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆとを測定する。
【００５９】
電流Ｉｄｓ，Ｉｆの測定方法は、上述したステップＳ２と同様である。すなわち、分岐部Ｊ３から地中線路２００の延出方向に沿って磁界センサ２を移動させたときに検出される磁界の大きさに基づいて電流Ｉｄｓの大きさを推定し、分岐部Ｊ３から基準抵抗Ｒｆが接続される方向に沿って磁界センサ２を移動させたときに検出される磁界の大きさに基づいて電流Ｉｆの大きさを推定する。
【００６０】
次に、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆの大きさを比較する（ステップＳ６）。
上述したように、磁界センサ２を用いることにより、電流Ｉｄｓ，Ｉｆの大きさを検出した磁界の大きさから推定することができる。そこで、電流Ｉｄｓに相当する磁界のレベルと電流Ｉｆに相当する磁界のレベルとを磁界センサ２の表示部から読み取り、それらの磁界のレベルを比較することにより、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆの大きさを比較する。
【００６１】
例えば、図６Ａに示すように、基準点（分岐部Ｊ３）から地中線路２００の下流側で検出された磁界のレベル（電流Ｉｄｓに相当）が“１０”、基準点から基準抵抗Ｒｆ側で検出された磁界のレベル（電流Ｉｆに相当）が“５”であった場合、電流Ｉｄｓが電流Ｉｆよりも大きい（Ｉｄｓ＞Ｉｆ）と判断することができる。
【００６２】
ステップＳ６において、上述の手法により電流Ｉｄｓと電流Ｉｆとを比較して、電流Ｉｄｓが電流Ｉｆよりも小さいこと（Ｉｄｓ＜Ｉｆ）が確認できた場合、相２０２の基準点より下流側に絶縁低下点が存在しないと判断することができる（ステップＳ１６）。
【００６３】
すなわち、基準点より下流側に流れる電流Ｉｄｓが基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆよりも小さいということは、基準点より下流側の相２０２の抵抗値が基準抵抗Ｒｆよりも大きいことを表している。したがって、この場合には、相２０２の基準点より下流側に、基準抵抗Ｒｆよりも抵抗値が低い絶縁低下点が存在しないと判断することができる。
【００６４】
一方、ステップＳ６において、上述の手法により電流Ｉｄｓと電流Ｉｆとを比較して、電流Ｉｄｓが電流Ｉｆよりも大きいこと（Ｉｄｓ＞Ｉｆ）が確認できた場合、相２０２の基準点より下流側に絶縁低下点が存在すると判断することができる（ステップＳ７）。
【００６５】
すなわち、基準点より下流側に流れる電流Ｉｄｓが基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆよりも大きいということは、基準点より下流側の相２０２の抵抗値が基準抵抗Ｒｆよりも小さいことを表している。したがって、この場合には、相２０２の基準点よりも下流側に、基準抵抗Ｒｆよりも抵抗値が低い絶縁低下点が存在すると判断することができる。
【００６６】
ステップＳ７において相２０２における基準点より下流側に絶縁低下点が存在すると判断した場合、基準抵抗Ｒｆの接続先を、より下流側の分岐部に変更する（ステップＳ８）。例えば、図６Ａにおいて、地中線路２００の分岐部Ｊ３より下流側において検出された磁界のレベル（電流Ｉｄｓに相当）が“１０”、基準抵抗Ｒｆ側で検出された磁界のレベル（電流Ｉｆに相当）が“５”であった場合（Ｉｄｓ＞Ｉｆ）、図６Ｂに示すように、相２０２における基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ３よりも下流側に存在する分岐部、例えば分岐部Ｊ４に変更する（分岐部Ｊ４と大地（接地）との間に基準抵抗Ｒｆを接続する）。これにより、分岐部Ｊ４が新たな基準点となる。
【００６７】
ステップＳ８において基準抵抗Ｒｆの接続先を変更した後、上述したステップＳ４およびステップＳ５と同様の処理を行う。具体的には、先ず、ステップＳ４と同様に、基準抵抗Ｒｆが接続されていない分岐部、例えば相２０２，２０３の先端部３１０に、信号（第１探査信号Ｓｇ１、第２探査信号Ｓｇ２）をそれぞれ入力する（ステップＳ９）。次に、ステップＳ５と同様に、基準点（分岐部Ｊ４）を流れる電流を測定する（ステップＳ１０）。
【００６８】
例えば図６Ｂに示すように、探査対象の相２０２の信号が入力される上流側（先端部３１０側）から分岐部Ｊ４を介して下流側に流れる電流Ｉｄｓと、探査対象の相２０２の上流側から分岐部Ｊ４を介して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆとをそれぞれ測定する。電流Ｉｄｓ，Ｉｆは、上述したステップＳ２と同様に、磁界センサ２によって検出される磁界の大きさによって推定することができる。
【００６９】
次に、ステップＳ１０で測定した電流Ｉｄｓと電流Ｉｆの大きさを比較する（ステップＳ１１）。上述したステップＳ６と同様に、探査装置５００の磁界センサ２に表示された電流Ｉｄｓと電流Ｉｆにそれぞれ相当する検出磁界のレベルを比較することにより、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆの大きさを比較する。
【００７０】
ステップＳ１１において、電流Ｉｄｓが電流Ｉｆよりも大きい（Ｉｄｓ＞Ｉｆ）ことが確認できた場合、上述したステップＳ７と同様に、相２０２の基準点より下流側に絶縁低下点が存在すると判断することができる（ステップＳ１３）。この場合には、ステップＳ８に戻り、基準抵抗Ｒｆの接続先を、更に下流側の分岐部に変更して、上述したステップＳ９〜Ｓ１１を再び実行する。
【００７１】
一方、ステップＳ１１において、電流Ｉｄｓが電流Ｉｆよりも小さいこと（Ｉｄｓ＜Ｉｆ）が確認できた場合、そのときの相２０２における基準点が絶縁低下点であると判断することができる（ステップＳ１２）。
【００７２】
すなわち、ステップＳ８において新たに基準抵抗Ｒｆが接続された変更後の基準点より下流側に流れる電流Ｉｄｓが基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆより小さいということは、相２０２における変更後の基準点より下流側に絶縁低下点が存在しないことを意味している。一方、基準抵抗Ｒｆの接続先を変更する前のステップＳ７またステップＳ１１において、相２０２における変更前の基準点よりも下流側に絶縁低下点が存在することが確認されている。
【００７３】
したがって、ステップＳ１２では、相２０２において、変更前の基準点よりも下流側に絶縁低下点が存在し、且つ変更後の基準点よりも下流側に絶縁低下点が存在しないことが確認できるので、相２０２における変更後の基準点が絶縁低下点であると判断することが可能となる。
【００７４】
例えば、図６Ｂに示すように、変更後の基準点である分岐部Ｊ４から地中線路２００の下流側で検出された磁界のレベル（電流Ｉｄｓに相当）が“０”であり、変更後の基準点（分岐部Ｊ４）から基準抵抗Ｒｆ側で検出された磁界のレベル（電流Ｉｆに相当）が“５”であったとする。この場合、相２０２における変更後の基準点（分岐部Ｊ４）よりも下流側に絶縁低下点が存在しないと判断することができる。一方、直前のステップＳ６（図６Ａ）において、相２０２における変更前の基準点である分岐部Ｊ３よりも下流側に絶縁低下点が存在することが確認できている。したがって、相２０２の分岐部Ｊ４は、基準抵抗より低い絶縁低下点であると判断することができる。
【００７５】
ステップＳ１２において絶縁低下点が特定された場合、その他の絶縁低下点の有無を探査するために、信号（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２）の入力先（信号入力点）の変更が必要か否かを判断する（ステップＳ１４）。
例えば、図６Ａおよび図６Ｂに示した探査では、図５における地中線路２００の相２０２の分岐部Ｊ３より上流側（先端部３１０側）の配線部分については、絶縁低下点の探査を行っていない。このような場合には、信号の入力先の変更が必要であると判断し（ステップＳ１４：Ｙｅｓ）、信号の入力先を変更した上で上述した探査処理を再度実行する。
【００７６】
具体的には、先ず、信号入力点（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２の入力先）を変更する（ステップＳ１５）。例えば図７Ａに示すように、探査装置５００の接続先を、ステップＳ３において基準点に設定した分岐部Ｊ３を挟んで、直前のステップＳ４で信号を入力した分岐部Ｊ１の反対側に存在する分岐部Ｊ６（末端部）に変更する。
これにより、地中線路２００において、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２が分岐部Ｊ６（末端部）から先端部３１０側に向かって伝搬する。この場合、基準点の分岐部Ｊ３から見て、分岐部Ｊ６（末端部）側が上流側、先端部３１０側が下流側となる。
【００７７】
次に、上述したステップＳ４〜ステップＳ１４と同様の探査処理を実行する。
例えば、図７Ａに示すように、基準抵抗Ｒｆが相２０２の分岐部Ｊ３に接続され、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２が分岐部Ｊ６に入力された状態において、探査対象の相２０２の分岐部Ｊ３から下流側に流れる電流Ｉｄｓと基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆとを比較する（ステップＳ４〜Ｓ６）。このとき、図７Ａに示すようにＩｄｓ＞Ｉｆであれば、相２０２における分岐部Ｊ３より下流側（先端部３１０側）に絶縁低下点が存在し（ステップＳ７）、Ｉｄｓ＜Ｉｆであれば、相２０２における分岐部Ｊ３より下流側（先端部３１０側）に絶縁低下点が存在しない（ステップＳ１６）と判断することができる。
【００７８】
次に、図７Ａに示すようにＩｄｓ＞Ｉｆであった場合には（ステップＳ７）、図７Ｂに示すように、相２０２において基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ３より下流側の分岐部Ｊ２に変更して、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆとを比較する（ステップＳ８〜Ｓ１１）。このとき、Ｉｄｓ＜Ｉｆであれば、相２０２において、分岐部Ｊ２より下流側（先端部３１０側）に絶縁低下点が存在せず、分岐部Ｊ２が基準抵抗より低い絶縁低下点であると判断することができる（ステップＳ１２）。
【００７９】
一方、図７Ｂに示すようにＩｄｓ＞Ｉｆであれば、相２０２の分岐部Ｊ２より下流側（先端部３１０側）に絶縁低下点が存在すると判断し、図７Ｃに示すように、相２０２において、基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ２より更に下流側の分岐部Ｊ１に変更して、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆとを比較する。このとき、図７Ｃに示すように、Ｉｄｓ＜Ｉｆであれば、相２０２において、分岐部Ｊ１より下流側（先端部３１０側）に絶縁低下点が存在せず、分岐部Ｊ１が絶縁低下点と判断することができる。
【００８０】
以上のように、多方向から信号を入力して絶縁低下点の有無の判定が完了した場合には（ステップＳ１４：Ｎｏ）、一連の探索処理を終了する。これにより、地中線路の同一相（相２０２）における複数の絶縁低下点を発見することが可能となる。
【００８１】
なお、上述の例では、図５に示すような一方向に延在する地中線路２００の同一相における絶縁低下点を探査する方法を例示したが、これに限られず、多方向に分岐した線路を有する地中線路の同一相においても同様に、複数の絶縁低下点の有無を探査することが可能である。以下、具体例を示して説明する。
【００８２】
図８は、本実施の形態に係る探査方法による、多方向に分岐した地中線路の同一相における複数の絶縁低下点の有無を探査する探査手順の一例を示す図である。
図８に示されるように、地中線路２００Ａは、多方向に分岐した複数の相を有している。以下、地中線路２００Ａにおける絶縁低下点の探査の流れについて説明する。なお、図８では、地中線路２００Ａを構成する複数の相のうち探査対象の相のみを図示している。
【００８３】
先ず、上述した地中線路２００を探査する場合と同様に、地中線路２００Ａを構成する各相の絶縁抵抗を測定して、健全相と低下相（探査対象の一相）とを把握する（ステップＳ１）。
【００８４】
次に、地中線路２００Ａのうち一つの健全相と探査対象の一相とに探査装置５００を接続して信号を入力し、探査対象の相における絶縁性能が最も低い分岐部を探査する（ステップＳ２）。例えば、地中線路２００Ａの一つの健全相の末端部Ｔ０（分岐部Ｊ１）に第１探査信号Ｓｇ１を入力し、地中線路２００Ａの探査対象の相の末端部Ｔ０（分岐部Ｊ１）に第２探査信号Ｓｇ２を入力し、上述した手法により、地中線路２００Ａにおける絶縁性能が最も低下した分岐部を探査する。ここでは、分岐部Ｊ３が最も絶縁抵抗が低い分岐部（事故点）であったとする。
【００８５】
次に、ステップＳ２で発見した事故点の分岐部Ｊ３に基準抵抗Ｒｆを接続する（ステップＳ３）。なお、探査装置５００の接続先は変更してもよいが、ここでは、探査装置５００の接続先は変更しないものとする。
【００８６】
次に、探査装置５００から分岐部Ｊ１に信号（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２）を入力する（ステップＳ４）。その後、磁界センサ２を用いて、基準点である分岐部Ｊ３を経由して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆと分岐部Ｊ３を経由して地中線路２００Ａの下流側（分岐部Ｊ１と反対側）に流れる電流Ｉｄｓとを比較し、探査対象の相において分岐部Ｊ３より下流側に絶縁低下点が存在するか否かを判定する（ステップＳ５，ステップＳ６）。
【００８７】
ここでは、図８に示すように、分岐部Ｊ３から基準抵抗Ｒｆ側の検出磁界が“５”、分岐部Ｊ３から下流側の検出磁界が“１０”であったとする。この場合、分岐部Ｊ３の下流側に基準抵抗より低い絶縁低下点が存在すると判断することができる。（ステップＳ７）。
【００８８】
次に、分岐部Ｊ３より下流側（末端部Ｔ１〜Ｔ３側）の絶縁低下点の探索を開始する。
先ず、末端部Ｔ１側に絶縁低下点が存在するか否かを探査する。例えば、先ず、基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ３から分岐部Ｊ６に変更する（ステップＳ８）。
【００８９】
次に、探査装置５００から分岐部Ｊ１に第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を入力して、磁界センサ２を用いて分岐部Ｊ６を経由して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆと分岐部Ｊ５を経由して地中線路２００Ａの下流側（分岐部Ｊ７側）に流れる電流Ｉｄｓとを比較し、分岐部Ｊ６よりも下流側に絶縁低下点が存在するか否かを判定する（ステップＳ９〜ステップＳ１１）。
【００９０】
ここでは、図８に示すように、分岐部Ｊ６から基準抵抗Ｒｆ側の検出磁界が“５”、分岐部Ｊ６から下流側（分岐部Ｊ７側）の検出磁界が“１０”であったとする。この場合、探査対象の相において分岐部Ｊ６から更に下流側に絶縁低下点が存在すると判断することができる（ステップＳ１３）。
【００９１】
次に、分岐部Ｊ６より下流側の絶縁低下点の探索を行う。
先ず、基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ６よりも下流側の分岐部Ｊ７に変更する（ステップＳ８）。次に、探査装置５００から分岐部Ｊ１に第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を入力して、磁界センサ２を用いて基準点である分岐部Ｊ７を経由して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆと分岐部Ｊ７を経由して地中線路２００Ａの下流側（分岐部Ｊ８側）に流れる電流Ｉｄｓとを比較し、分岐部Ｊ７よりも下流側に絶縁低下点が存在するか否かを判定する（ステップＳ９〜ステップＳ１１）。
【００９２】
ここでは、図８に示すように、分岐部Ｊ７から基準抵抗Ｒｆ側の検出磁界が“５”、分岐部Ｊ７から下流側（分岐部Ｊ８側）の検出磁界が“０”であったとする。この場合、探査対象の相において分岐部Ｊ７が絶縁低下点であると判定することができる（ステップＳ１２）。
以上の探査により、末端部Ｔ１側では、分岐部Ｊ７が絶縁低下点であると判断することができる。
【００９３】
次に、末端部Ｔ２側の探査を行う。具体的には、先ず、分岐部Ｊ１１に基準抵抗Ｒｆを接続する（ステップＳ８）。次に、探査装置５００から分岐部Ｊ１に第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２を入力して、磁界センサ２を用いて、基準点である分岐部Ｊ１１を経由して基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆと分岐部Ｊ１１を経由して下流側（分岐部Ｊ１２側）に流れる電流Ｉｄｓとを比較し、分岐部Ｊ１１よりも下流側に絶縁低下点が存在するか否かを判定する（ステップＳ９〜ステップＳ１１）。
【００９４】
ここでは、図８に示すように、分岐部Ｊ１１から基準抵抗Ｒｆ側の検出磁界が“５”、分岐部Ｊ９から下流側（分岐部Ｊ１と反対側）の検出磁界が“１０”であったとする。この場合、探査対象の相において分岐部Ｊ１１から更に下流側（分岐部Ｊ１２側）に絶縁低下点が存在すると判断することができる（ステップＳ１３）。
【００９５】
次に、分岐部Ｊ１１より下流側（分岐部Ｊ１２側）の絶縁低下点の探索を行う。
先ず、基準抵抗Ｒｆの接続先を分岐部Ｊ１１から分岐部Ｊ１２に変更する（ステップＳ８）。次に、探査装置５００から分岐部Ｊ１に信号（第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２）を入力して、磁界センサ２を用いて、分岐部Ｊ１２から基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆと分岐部Ｊ１２から下流側（分岐部Ｊ１３側）に流れる電流Ｉｄｓとを比較し、分岐部Ｊ１２より下流側に絶縁低下点が存在するか否かを判定する（ステップＳ９〜ステップＳ１１）。
【００９６】
ここでは、図８に示すように、分岐部Ｊ１２から基準抵抗Ｒｆ側の検出磁界が“５”、分岐部Ｊ１２から下流側（分岐部Ｊ１３側）の検出磁界が“０”であり、探査対象の相において分岐部Ｊ１２が絶縁低下点であると判定することができる（ステップＳ１２）。
以上の探査により、探査対象の相における末端部Ｔ２側では、分岐部Ｊ１２が絶縁低下点であると判断することができる。
【００９７】
以上、本実施の形態に係る探査方法によれば、多方向に分岐した地中線路についても同様に、同一相における複数の絶縁低下点の有無を探査することが可能となる。
【００９８】
なお、地中線路２００Ａにおいて、探査対象の相の分岐部Ｊ３より上流側（分岐部Ｊ１側）における絶縁低下点の有無を探査する場合には、分岐部Ｊ３よりも末端部Ｔ１〜Ｔ３側の何れかの分岐部に探査装置５００を接続し（ステップＳ１４、Ｓ１５）、上記と同様の探査処理を行うことにより、地中線路２００Ａにおける分岐部Ｊ３より分岐部Ｊ１側の絶縁低下点の有無を探査することができる。
【００９９】
以上、本実施の形態に係る探査方法によれば、探査対象の地中線路における絶縁性能が最も低い分岐部を基準点として基準抵抗Ｒｆを接続し、地中線路における基準点以外の分岐部から信号を入力したときに、基準点から下流側に流れる電流Ｉｄｓと基準点から基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流とを測定する。
【０１００】
これによれば、地中線路の同一相において、最も低い分岐部（事故点）以外に、絶縁低下点が存在するか否かを、効率よく判断することが可能となる。
【０１０１】
更に、上述したように、基準点から地中線路の下流側に流れる電流Ｉｄｓが基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆよりも大きい場合に、基準点（基準抵抗Ｒｆの接続先）をより下流側の分岐部に変更し、変更後の新たな基準点における電流Ｉｄｓ，Ｉｆをそれぞれ測定することにより、地中線路における絶縁低下点の位置を効率よく推定することが可能となる。すなわち、一回の探査作業によって、地中線路の同一相における複数の絶縁低下点を発見することが可能となる。
【０１０２】
例えば、事故点を含む絶縁低下点が３箇所ある地中線路の復旧作業において、従来の探査方法を採用した場合、図９Ａに示すように、探査、掘削のための工事の調整、並びに掘削および改修の各作業を３回ずつ行う必要がある。
一方、上記復旧作業において、本実施の形態に係る探査方法を採用した場合、図９Ｂに示すように、一回の探査作業で複数の絶縁低下点を発見することができるので、探査、掘削のための工事の調整、並びに掘削および改修の各作業を一回で済ますことが可能となり、地中線路の一連の復旧作業に要する時間を従来よりも大幅に削減することが可能となる。特に、絶縁低下点の数が多いほど、作業時間の削減効果が大きくなる。
このように、本実施の形態に係る探査方法によれば、問題のある地中線路の探査、掘削、および改修を、従来よりも短時間で行うことが可能となる。
【０１０３】
また、上記探査方法において、地中線路２００を構成する複数の相２０１〜２０３のうち、健全相に第１探査信号Ｓｇ１を入力し、探査対象の低下相に第１探査信号Ｓｇ１と１８０度の逆位相の第２探査信号Ｓｇ２を入力したときに、第１探査信号Ｓｇ１および第２探査信号Ｓｇ２により生じた磁界を検出して、基準点から下流側に流れる電流Ｉｄｓと基準点から基準抵抗Ｒｆ側に流れる電流Ｉｆとを推定する。
【０１０４】
これによれば、探査対象の低下相に電流計等のテスタを接続して電流Ｉｄｓおよび電流Ｉｆを測定しなくても、電流Ｉｄｓと電流Ｉｆとの大小関係を容易に判断することができるので、作業効率を大幅に向上させることが可能となる。
【０１０５】
≪実施の形態の拡張≫
以上、本発明者らによってなされた発明を実施の形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
【０１０６】
例えば、上記実施の形態では、絶縁性能の低下が発生している箇所（絶縁低下点）が“分岐部”である場合を例にとって説明したが、例えば電力ケーブルそのものの絶縁性能の低下した場合、すなわち地中線路を構成する電力ケーブルの分岐部間に絶縁低下点が存在する場合においても、同様の手順によって絶縁低下点を探査することが可能である。
【０１０７】
例えば、上述した図６Ａ，図６Ｂにおいて、地中線路２００を構成する電力ケーブルの分岐部Ｊ３と分岐部Ｊ４との間に絶縁低下点が存在する場合について考える。なお、ここでは、分岐部Ｊ４は絶縁低下点でないものとする。
【０１０８】
この場合、上述した図６Ａと同様の手順で探査を行うことにより、分岐部Ｊ３より分岐部Ｊ４側に絶縁低下点が存在し、分岐部Ｊ４より下流側（分岐部Ｊ６側）に絶縁低下点が存在しないことが判明したとする。この場合、電力ケーブルの分岐部Ｊ３と分岐部Ｊ４との間に絶縁低下点が存在すると推定することができる。
【０１０９】
以上のように、本実施の形態に係る探査方法によれば、地中線路の分岐部間に存在する絶縁低下点を推定することが可能となる。
【０１１０】
また、上記実施の形態では、本実施の形態に係る探査方法による探査対象が地中線路である場合を例示したが、これに限られない。すなわち、探査対象は複数の相を有する線路であればよく、例えば、住宅やビル等の建物や工場およびプラント等の施設に設置され、少なくとも一部が壁等によって隠蔽された、複数の分岐部を有する線路であってもよい。
【０１１１】
なお、上述のフローチャートは、動作を説明するための一例を示すものであって、これに限定されない。すなわち、フローチャートの各図に示したステップは具体例であって、このフローに限定されるものではない。例えば、一部の処理の順番が変更されてもよいし、各処理間に他の処理が挿入されてもよいし、一部の処理が並列に行われてもよい。
【符号の説明】
【０１１２】
１…探査信号注入部、２…磁界センサ、３…制御・表示部、１１…電源回路、１２…信号電圧生成回路、１３…信号電圧昇圧回路、１４…電流検出回路、１５…表示装置、３２…演算制御回路、３３…位相制御回路、２００，２００Ａ…地中線路、２０１〜２０３…相、２１０…地中引込線、３００…分岐装置（ＬＳ）、３０１…受電点、３１０…先端部、４０１，４０２…街灯、４０３…信号機、５００…探査装置、Ｊ１〜Ｊｎ…分岐部、Ｒｆ…基準抵抗、Ｓｇ１…第１探査信号、Ｓｇ２…第２探査信号、Ｓｇ３…フィードバック信号、Ｓｇ４…制御信号、Ｓｇ５…逆位相制御信号、Ｓｇ６…フィードバック信号、Ｔ０〜Ｔ３…末端部。
【図１】
2020060370.tif 000003
【図２】
2020060370.tif 000004
【図３】
2020060370.tif 000005
【図４】
2020060370.tif 000006
【図５】
2020060370.tif 000007
【図６Ａ】
2020060370.tif 000008
【図６Ｂ】
2020060370.tif 000009
【図７Ａ】
2020060370.tif 000010
【図７Ｂ】
2020060370.tif 000011
【図７Ｃ】
2020060370.tif 000012
【図８】
2020060370.tif 000013
【図９Ａ】
2020060370.tif 000014
【図９Ｂ】
2020060370.tif 000015