(57)【要約】【課題】放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮すること。【解決手段】電磁波測定点算出プログラムは、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体と、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の測定を実行するアンテナとの相対的な位置関係に基づいて、前記アンテナの高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能と、前記補正係数を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能と、をコンピュータに実行させる。【選択図】図１
2020159905.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射妨害波を放射する放射源を含む供試体と前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の測定を実行するアンテナとの相対的な位置関係及び前記供試体が載置されている床面における前記放射妨害波の反射係数に基づいて、前記アンテナの高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能と、
前記補正係数を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能と、
をコンピュータに実行させる電磁波測定点算出プログラム。
【請求項２】
前記補正係数算出機能は、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最短距離、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最長距離、前記供試体が載置されている床面から前記供試体までの最短距離及び前記供試体が載置されている前記床面から前記供試体までの最長距離の少なくとも二つを使用して前記補正係数を算出する機能である、
請求項１に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項３】
前記補正係数算出機能は、次の式（１）又は式（２）と、式（３）とを使用して前記補正係数を算出し、
前記測定高さ算出機能は、次の式（４）を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する、
請求項２に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【数１】
2020159905.tif 000029
【数２】
2020159905.tif 000030
【数３】
2020159905.tif 000031
Ｋｈｍａｘ：補正係数
ｈｒｘ    ：アンテナの高さ
ｄｍｉｎ  ：供試体とアンテナとの水平方向の最短距離
ｄｍａｘ  ：供試体とアンテナとの水平方向の最長距離
ｈｍｉｎ  ：供試体が載置されている床面から供試体までの最短距離
ｈｍａｘ  ：供試体が載置されている床面から供試体までの最長距離
Δｈｒｘ    ：アンテナの高さの変化量
【数４】
2020159905.tif 000032
ｈｒｘ＿ｍｉｎ：アンテナの高さの最小値
【請求項４】
前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、
前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、前記式（１）を使用して前記補正係数を算出する、
請求項３に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項５】
前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、
前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、前記式（２）を使用して前記補正係数を算出し、又は前記補正係数の算出を中止する、
請求項３に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項６】
前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、前記式（２）を使用して補正係数を算出する、
請求項３に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項７】
前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値以下である場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項４に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項８】
前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値を超えている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項５に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項９】
前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値以下の前記反射係数に対応している場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項４に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項１０】
前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、
前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、
をコンピュータに更に実行させ、
前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値を超える前記反射係数に対応にしている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項５に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項１１】
前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式（５）を満たす場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項４に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【数５】
2020159905.tif 000033
【請求項１２】
前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式（６）を満たさない場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項５に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【数６】
2020159905.tif 000034
【請求項１３】
前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式（７）を満たす場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項４に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【数７】
2020159905.tif 000035
【請求項１４】
前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式（８）を満たさない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である、
請求項５に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【数８】
2020159905.tif 000036
【請求項１５】
前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値以上の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である、
請求項４に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項１６】
前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値未満の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるいと判定する機能である、
請求項５に記載の電磁波測定点算出プログラム。
【請求項１７】
請求項１から請求項１６のいずれか一つに記載の電磁波測定点算出プログラムを実行するコンピュータを備える放射妨害波測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器は、周囲の電子機器や通信機器に影響を及ぼす電磁波である放射妨害波を放射することがある。このため、現在では、電子機器が市場へ出荷される前に、放射妨害波の電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であることを確認する放射妨害波試験を行う必要がある。
【０００３】
放射妨害波試験では、放射妨害波の放射源を基準としたアンテナの高さ及び放射源を基準としたアンテナの方位を変化させながらアンテナにより電界強度を測定し、電界強度が最大となる位置を探索する。そして、電界強度が最大となる位置において、放射妨害波の電界強度が一定時間測定され、この電界強度の測定値が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。
【０００４】
このような放射妨害波試験を行うための装置として、例えば、特許文献１に記載された放射妨害波測定装置が挙げられる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１７−１８１１０４号公報
【０００６】
電界強度が最大となる位置を探索するためには、アンテナの高さ及び供試体が載置されたターンテーブルの角度を逐一変更して電界分布を測定する必要がある。このため、放射妨害波試験では、膨大な数の測定点ごとに電界強度を測定する必要がある。例えば、情報通信機器の周波数帯域である３０ＭＨｚから４０ＧＨｚが測定対象の周波数の範囲である放射妨害波測定を一例として挙げると、アンテナの高さを１ｍから４ｍまで変化させ、供試体が載置されたターンテーブルの角度を０度から３６０度に変化させる必要がある。この場合、アンテナの高さを１ｃｍ間隔、ターンテーブルの角度を１度間隔として放射妨害波試験を実施する場合、測定点の数が約１４万と膨大になり、放射妨害波試験の実施に必要な時間が非常に長くなってしまう。
【０００７】
また、このような放射妨害波試験では、広い周波数帯域について最大電界強度位置を検出する必要があるため、広い周波数帯域のスペクトルを測定することができるスペクトルアナライザが使用される。このようなスペクトルアナライザとしては、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴ（Fast  Fourier  Transform）方式のスペクトルアナライザが挙げられる。ところが、広い周波数帯域のスペクトルを測定することにより、放射妨害波試験の実施に必要な時間が更に長くなってしまう。
【０００８】
このように、電界強度が最大となるアンテナの高さ及びターンテーブルの角度を探索する作業は、多大な時間を必要とする。このため、特許文献１に開示されている放射妨害波測定装置は、放射妨害波の波長の１／２以下の測定間隔で設定された測定点における放射妨害波の電界強度分布を測定し、これらの測定点の間における電界強度を補間することにより、測定点数を削減し、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮している。
【０００９】
ところが、特許文献１に開示されている放射妨害波測定装置は、測定点の間隔の最適化を実行しないため、放射妨害波試験の実施に必要な時間を十分に短縮し得ないことがある。また、放射妨害波の周波数が高い場合、放射妨害波の波長が短くなる。このため、例えば、放射妨害波の周波数が１０ＧＨｚであり、アンテナと供試体との水平方向の距離が３ｍであり、アンテナの高さを１ｍから４ｍまで変化させ、供試体が載置されたターンテーブルの角度を０度から３６０度に変化させて放射妨害波試験を実施する場合、測定点の数は、約２５万と膨大になり、放射妨害波試験の実施に必要な時間が非常に長くなってしまう。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
そこで、本発明は、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の一態様は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体と前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の測定を実行するアンテナとの相対的な位置関係及び前記供試体が載置されている床面における前記放射妨害波の反射係数に基づいて、前記アンテナの高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能と、前記補正係数を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能と、をコンピュータに実行させる電磁波測定点算出プログラムである。
【００１２】
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最短距離、前記供試体と前記アンテナとの水平方向の最長距離、前記供試体が載置されている床面から前記供試体までの最短距離及び前記供試体が載置されている前記床面から前記供試体までの最長距離の少なくとも二つを使用して前記補正係数を算出する機能である。
【００１３】
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、次の式（１）又は式（２）と、式（３）とを使用して前記補正係数を算出し、前記測定高さ算出機能は、次の式（４）を使用して前記測定が実行される場合における前記アンテナの高さを順次算出する。
【００１４】
【数１】
2020159905.tif 000003
【００１５】
【数２】
2020159905.tif 000004
【００１６】
【数３】
2020159905.tif 000005
Ｋｈｍａｘ：補正係数
ｈｒｘ    ：アンテナの高さ
ｄｍｉｎ  ：供試体とアンテナとの水平方向の最短距離
ｄｍａｘ  ：供試体とアンテナとの水平方向の最長距離
ｈｍｉｎ  ：供試体が載置されている床面から供試体までの最短距離
ｈｍａｘ  ：供試体が載置されている床面から供試体までの最長距離
Δｈｒｘ    ：アンテナの高さの変化量
【００１７】
【数４】
2020159905.tif 000006
ｈｒｘ＿ｍｉｎ：アンテナの高さの最小値
【００１８】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、前記式（１）を使用して前記補正係数を算出する。
【００１９】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能をコンピュータに更に実行させ、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、前記式（２）を使用して前記補正係数を算出し、又は前記補正係数の算出を中止する。
【００２０】
また、本発明の一態様において、前記補正係数算出機能は、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、前記式（２）を使用して補正係数を算出する。
【００２１】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値以下である場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
【００２２】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の許容値を超えている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
【００２３】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値以下の前記反射係数に対応している場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
【００２４】
また、本発明の一態様において、電磁波測定点算出プログラムは、前記放射妨害波の電界及び磁界の少なくとも一方の分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電磁界分布を取得する第一電磁界分布取得機能と、前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さにおける電界又は磁界をシミュレーション又は実測により取得し、ローパスフィルタを使用して前記測定高さ算出機能により算出された前記アンテナの高さと異なる前記アンテナの高さにおける電界又は磁界を補間することにより得られた第二電磁界分布を取得する第二電磁界分布取得機能と、をコンピュータに更に実行させ、前記判定機能は、前記第一電磁界分布における電界又は磁界の最大値と、前記第二電磁界分布における電界又は磁界の最大値との偏差を算出し、前記偏差が所定の閾値を超える前記反射係数に対応にしている場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
【００２５】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式（５）を満たす場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
【００２６】
【数５】
2020159905.tif 000007
【００２７】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記反射係数、前記放射妨害波の周波数及び前記放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が次の式（６）を満たさない場合、前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
【００２８】
【数６】
2020159905.tif 000008
【００２９】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式（７）を満たす場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
【００３０】
【数７】
2020159905.tif 000009
【００３１】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、電界及び磁界の少なくとも一方の測定が実行される前記放射妨害波の周波数に対する前記床面の吸収特性が次の式（８）を満たさない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があると判定する機能である。
【００３２】
【数８】
2020159905.tif 000010
【００３３】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値以上の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要がないと判定する機能である。
【００３４】
また、本発明の一態様において、前記判定機能は、前記床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値未満の電波吸収体が前記床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、前記前記床面で反射される前記放射妨害波を考慮する必要があるいと判定する機能である。
【００３５】
また、本発明の一態様において、放射妨害波測定装置は、上述した電磁波測定点算出プログラムのいずれか一つを実行するコンピュータを備える。
【発明の効果】
【００３６】
本発明によれば、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の例を示す図である。
【図２】実施形態に係る供試体を囲む面上に位置する測定点の例を示す図である。
【図３】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、床面から供試体までの最短距離が１０ｃｍである場合におけるシミュレーションにより再現された第一電界分布及び当該第一電界強度分布にローパスフィルタを適用して補間することにより取得された第二電界分布の例を示す図である。
【図４】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図５】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図６】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図７】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図８】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図９】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１０】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１１】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１２】実施形態に係る床面の反射係数と、電界強度を測定する放射妨害波の周波数をサンプリング周波数で規格化して得られる量との関係の例を示す図である。
【図１３】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１４】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１５】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１６】実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【図１７】実施形態に係る補間前電界強度分布の一部の例を示す図である。
【図１８】実施形態に係る補間後電界強度分布の一部の例を示す図である。
【図１９】実施形態に係る制御部のハードウエア構成の例を示す図である。
【図２０】実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の例を示すフローチャートである。
【図２１】実施形態に係る放射妨害波測定装置が補正係数を算出する式を選択する処理の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３８】
［実施形態］
図１から図２１を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置について説明する。図１は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の例を示す図である。
【００３９】
図１に示した放射妨害波測定装置１は、例えば、ＥＭＣ規格に従って、供試体である供試体１００から放射される放射妨害波を測定する放射妨害波試験に利用される装置である。この放射妨害波試験は、試験条件及び試験方法が国際的に定められている。放射妨害波測定装置１は、グランドプレーンを形成している金属床面を備える電波暗室内に配置される。電波暗室の内壁のうち金属床面を除いた壁面には、電波吸収体が貼り付けられている。また、供試体１００は、例えば、電子機器であり、放射妨害波を放射する放射源を含んでいる。
【００４０】
図１に示すように、放射妨害波測定装置１は、アンテナ１１と、アンテナマスト１２と、ターンテーブル１３と、電波吸収体１４と、コントローラ１５と、制御部２０と、受信部３０とを備える。
【００４１】
アンテナ１１は、供試体１００を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の放射妨害波を受信する。図２は、実施形態に係る供試体を囲む面上に位置する測定点の例を示す図である。この面は、例えば、中心軸がグランドプレーンに垂直であり、内部に供試体１００及び台２００を含む円筒の側面である。図２に白丸で示されているように、各測定点は、当該円筒の底面の円の円周方向に沿っている第一軸及び当該円筒の中心軸に平行な軸である第二軸により規定される二次元直交座標上に配置されている。第一軸は、供試体１００を基準とした各測定点の高さを示している。第二軸は、供試体１００を基準とした各測定点の角度を示している。また、図２に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向において等間隔に配置されている。ただし、図２に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向の少なくとも一方において任意の間隔で配置されていてもよい。
【００４２】
アンテナマスト１２は、アンテナ１１を昇降可能な形態で支持しており、供試体１００から所定の間隔をおいて配置される。ターンテーブル１３は、グランドプレーンに設けられた円盤状の回転台であり、グランドプレーンに垂直な軸を中心として回転することができる。供試体１００は、ターンテーブル１３に載置された台２００の上に載置される。電波吸収体１４は、グランドプレーンに敷設された角錐状の構造物であり、放射妨害波を吸収する材料、例えば、発泡材により作製されている。
【００４３】
コントローラ１５は、高さ変更部１５１と、方位変更部１５２とを備える。高さ変更部１５１は、供試体１００が放射する放射妨害波を受信するアンテナ１１の供試体１００を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する。具体的には、高さ変更部１５１は、アンテナマスト１２を駆動してアンテナ１１を昇降させ、アンテナ１１を所定の高さに固定する。方位変更部１５２は、供試体１００を基準としたアンテナ１１の方位を変更する方位変更処理を実行する。具体的には、方位変更部１５２は、高さ変更部１５１によりアンテナ１１が所定の高さに固定された後、ターンテーブル１３を駆動して供試体１００及び台２００を３６０度回転させる。
【００４４】
制御部２０は、判定機能２０１と、補正係数算出機能２０２と、測定高さ算出機能２０３と、第一電磁界分布取得機能２０４と、第二電磁界分布取得機能２０５とを備える。
【００４５】
判定機能２０１は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する機能である。判定機能２０１が床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する場合の具体例及び床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する場合の具体例については後述する。
【００４６】
補正係数算出機能２０２は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体１００と放射妨害波の電界強度の測定を実行するアンテナ１１との相対的な位置関係及び供試体１００が載置されている床面における放射妨害波の反射係数に基づいて、アンテナ１１の高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する機能である。具体的には、補正係数算出機能２０２は、供試体１００とアンテナ１１との相対的な位置関係として、供試体１００とアンテナ１１との水平方向の最短距離、供試体１００とアンテナ１１との水平方向の最長距離、供試体１００が載置されている床面から供試体１００までの最短距離及び供試体１００が載置されている床面から供試体１００までの最長距離の少なくとも二つを使用する。例えば、補正係数算出機能２０２は、以下に説明する原理に基づいて補正係数を算出する。
【００４７】
任意の点における電界Ｅは、次の式（９）で表される。
【００４８】
【数９】
2020159905.tif 000011
【００４９】
電界強度の二乗は、式（９）を考慮すると次の式（１０）で表される。式（１０）は、放射源を示す引数ｎ、ｍ、アンテナ１１と放射源との距離ｒｎ、ｒｍ、係数ａｎ、ａｍ、ｂｎ、ｂｍ、波数ｋ、供試体１００の個数Ｎを含んでいる。また、式（１０）は、電界強度がｒｎ−ｒｍに対して振動する正弦波の和となることを示している。
【００５０】
【数１０】
2020159905.tif 000012
【００５１】
また、波数ｋは、２πを測定周波数で除算したものである。このため、放射妨害波測定装置１は、サンプリング定理に基づいた次の式（１１）の条件を満たす間隔で放射妨害波の電界強度を測定することにより、電界強度分布を完全に再現することができる。ここで、λは、放射妨害波測定装置１が電界強度を測定する放射妨害波の波長である。
【００５２】
【数１１】
2020159905.tif 000013
【００５３】
また、アンテナ１１と放射源との距離ｒｎ、ｒｍをアンテナ１１の高さｈｒｘの関数として表すと次の式（１２）及び式（１３）のようになる。式（１２）は、アンテナ１１と放射源ｎとの距離ｒｎがアンテナ１１と放射源ｎとの水平方向の距離ｄｎ、放射源ｎの高さ方向の位置ｈｎ及びアンテナ１１の高さｈｒｘで表されることを示している。同様に、式（１３）は、アンテナ１１と放射源ｍとの距離ｒｍがアンテナ１１と放射源ｍとの水平方向の距離ｄｍ、放射源ｍの高さ方向の位置ｈｍ及びアンテナ１１の高さｈｒｘで表されることを示している。
【００５４】
【数１２】
2020159905.tif 000014
【００５５】
【数１３】
2020159905.tif 000015
【００５６】
また、放射源ｎの高さ方向の位置ｈｎ及び放射源ｍの高さ方向の位置ｈｍは、床面で反射される放射妨害波がある場合、鏡像原理により正負の値をとり、床面で反射される放射妨害波がない場合、正の値のみをとる。なお、以下の説明では、放射源ｎの高さ方向の位置ｈｎが放射源ｍの高さ方向の位置ｈｍよりも低いものとする。
【００５７】
一方、ｒｎ−ｒｍの変化量Δ（ｒｎ−ｒｍ）とアンテナの高さｈｒｘとの関係は、次の式（１４）及び式（１５）で表される。ここで、Δｈｒｘは、アンテナの高さｈｒｘの変化量である。また、Ｋｈは、補正係数である。
【００５８】
【数１４】
2020159905.tif 000016
【００５９】
【数１５】
2020159905.tif 000017
【００６０】
また、次の式（１６）、式（１７）、式（１８）及び式（１９）が成立する。
【００６１】
【数１６】
2020159905.tif 000018
【００６２】
【数１７】
2020159905.tif 000019
【００６３】
【数１８】
2020159905.tif 000020
【００６４】
【数１９】
2020159905.tif 000021
【００６５】
式（１６）、式（１７）、式（１８）及び式（１９）と、供試体１００の寸法とを考慮すると次の式（２０）が成立する。
【００６６】
【数２０】
2020159905.tif 000022
【００６７】
また、供試体１００に含まれる放射源から放射される放射妨害波の電界強度の測定を実行するアンテナ１１の高さの間隔が次の式（２１）を満たす場合、サンプリング定理が満たされる。
【００６８】
【数２１】
2020159905.tif 000023
【００６９】
さらに、供試体１００に含まれる放射源が放射妨害波を放射する方向に関する特徴を記述する次の式（２２）が成立する必要がある。式（２２）は、波数ｋがゼロであり、上述した式（９）に含まれる係数ａｎ、ａｍ、ｂｎ及びｂｍが三角関数である場合を考慮している式である。ここで、ｈｒｘ＿ｍｉｎは、アンテナ１１の高さの最小値である。
【００７０】
【数２２】
2020159905.tif 000024
【００７１】
ここまで、床面で反射される放射妨害波がない場合について説明した。一方、床面で反射される放射妨害波がある場合、放射源ｎの高さ方向の位置ｈｎ及び放射源ｍの高さ方向の位置ｈｍが正の値だけではなく、負の値もとり得ることを考慮することにより、式（１６）、式（１７）、式（１８）及び式（１９）の条件の下で補正係数Ｋｈｍａｘを算出することができる。当該条件を考慮すると、上述した式（２０）に含まれるｈｍｉｎを−ｈｍａｘで置き換えた次の式（２3）が成立する。
【００７２】
【数２３】
2020159905.tif 000025
【００７３】
つまり、補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波がない場合、上述した式（２０）を使用して補正係数Ｋｈｍａｘを算出し、床面で反射される放射妨害波がある場合、上述した式（２０）を使用して補正係数Ｋｈｍａｘを算出することが好ましい。言い換えると、補正係数算出機能２０２は、判定機能２０１により床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定された場合、式（２０）を使用して補正係数を算出することが好ましい。同様に、補正係数算出機能２０２は、判定機能２０１により床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、式（２３）を使用して補正係数を算出することが好ましい。
【００７４】
測定高さ算出機能２０３は、補正係数算出機能２０２により算出された補正係数Ｋｈｍａｘを使用して測定が実行される場合におけるアンテナ１１の高さを順次算出する。具体的には、測定高さ算出機能２０３は、次の式（２４）を使用して測定が実行される場合におけるアンテナ１１の高さを順次算出する。
【００７５】
【数２４】
2020159905.tif 000026
【００７６】
すなわち、測定高さ算出機能２０３は、上述した式（２０）、式（２１）及び式（２２）を使用することにより、又は上述した式（２３）、式（２１）及び式（２２）を使用することにより、ＫｈｍａｘΔｈｒｘ（ｈｒｘ）が一定になるように測定が実行される場合におけるアンテナ１１の高さの間隔Δｈｒｘ（ｈｒｘ）を算出する。そして、測定高さ算出機能２０３は、式（２４）を使用して各測定点の高さを算出する。
【００７７】
次に、判定機能２０１が床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する場合の具体例及び床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する場合の具体例について説明する。
【００７８】
第一電磁界分布取得機能２０４は、放射妨害波又は放射妨害波を想定して設定した放射源からの電界強度分布であり、シミュレーション又は実測により得られた第一電界分布を取得する。
【００７９】
第二電磁界分布取得機能２０５は、測定高さ算出機能２０３により算出されたアンテナ１１の高さにおける電界強度を第一の電界強度分布から取得し、ローパスフィルタを使用して測定高さ算出機能２０３により算出されたアンテナ１１の高さと異なるアンテナ１１の高さにおける電界強度を補間することにより得られた第二電界分布を取得する。
【００８０】
図３は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、床面から供試体までの最短距離が１０ｃｍである場合におけるシミュレーション又は実測により再現された第一電界分布及び当該第一電界強度分布にローパスフィルタを適用して補間することにより取得された第二電界分布の例を示す図である。この第一電界分布は、供試体１００のうち供試体１００の高さ寸法の最高高さの位置及び最低高さの位置各々に一つずつ配置されており、放射する放射妨害波の振幅及び位相が互いに等しい放射源があるという仮定の下で行われたシミュレーション又は実測により得られた分布である。図３の点線は、第一電界分布を示している。図３の実線は、第二電界分布を示している。
【００８１】
第一電界分布及び第二電界分布のいずれにおいてもアンテナ１１の高さの間隔を１ｃｍとして電界強度がプロットされている。ただし、第二電界強度分布は、４３点についてのみ第一電界分布のシミュレーション又は実測の結果を使用し、それ以外の測定点ではローパスフィルタを適用することにより補間している。
【００８２】
図３に点線で示された第一電界分布と、図３に実線で示された第二電界分布とを比較すると、ピークの高さとヌル点の高さが良好に再現されていることが分かる。ここで、ヌル点とは、電界強度が極小となるアンテナ１１の高さをいう。また、両者を比較すると、ピークの高さの電界強度の大きさも良好に再現されていることが分かる。したがって、第二電界分布は、十分に信頼できると考えられる。なお、両者を比較すると、ヌル点における電界強度の大きさが十分に再現されていない箇所もあるが、放射妨害波試験ではヌル点における電界強度の大きさは使用されないため、特に問題無い。
【００８３】
図４は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図５は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図６は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図７は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【００８４】
図４から図７は、いずれも横軸が床面の反射係数を示しており、縦軸が第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差を示している。また、図４から図７は、いずれも床面から供試体１００までの最短距離が異なる四つ又は五つのデータを示している。さらに、図４から図７は、いずれも電界強度が測定される放射妨害波の周波数とサンプリング周波数とが等しい場合の図である。
【００８５】
図４の場合、床面の反射係数が約０．０１以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．３ｄＢ以下まで収束している。図５の場合、床面の反射係数が約０．０１以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．５ｄＢ以下まで収束している。図６の場合及び図７の場合も、床面の反射係数が約０．０１以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．３ｄＢ以下まで収束している。つまり、床面の反射係数が０．０１以下である場合、床面の反射係数を考慮する必要がないと判定して問題無いといえる。また、ここでは電界強度を測定する放射妨害波の周波数が６ＧＨｚについて検討を行ったが、それ以外の周波数についても、サンプリング周波数と測定周波数が、同一周波数という条件であれば、同様のことがいえると考えられる。
【００８６】
そこで、判定機能２０１は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、当該偏差が所定の許容値以下である場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能２０１は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、当該偏差が所定の許容値を超えている場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
【００８７】
次に、電界強度が測定される放射妨害波の周波数とサンプリング周波数とが異なっている場合について説明する。
【００８８】
図８は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図９は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図１０は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図１１は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が１ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【００８９】
図８から図１１のいずれの場合でも、床面の反射係数が約０．１以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．１ｄＢ以下まで収束している。
【００９０】
そこで、判定機能２０１は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電磁界分布における電界の最大値との偏差を算出し、偏差が所定の閾値以下の反射係数に対応している場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能２０１は、第一電界分布における電界の最大値と、第二電界分布における電界の最大値との偏差を算出し、偏差が所定の閾値を超える反射係数に対応している場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。例えば、判定機能２０１は、シミュレーションにより求められた図４等のグラフを使用してユーザがマウス、キーボード等を使用して入力した反射係数が当該所定の閾値以下であるか否かの判定を実行する。
【００９１】
次に、電界強度が測定される放射妨害波の周波数ｆをサンプリング周波数ｆｍａｘで規格化した量に対して偏差が収束するために必要な床面の反射係数Γについて説明する。図１２は、実施形態に係る床面の反射係数と、電界強度を測定する放射妨害波の周波数をサンプリング周波数で規格化して得られる量との関係の例を示す図である。図１２は、横軸が電界強度が測定される放射妨害波の周波数ｆをサンプリング周波数ｆｍａｘで規格化した量を示しており、縦軸が−２０＊ｌｏｇ１０Γを示している。図１２の斜線部に該当する条件が満たされている場合、すなわち次の式（２５）を満たす条件が成立している場合、上述した偏差が十分に小さな値に収束しているといえる。
【００９２】
【数２５】
2020159905.tif 000027
【００９３】
さらに、図１３から図１６を参照しながら、上述した式（２５）の信頼性について考察する。図１３は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図１４は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が１００ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図１５は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が水平偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。図１６は、実施形態に係る供試体の高さ方向の寸法が２０ｃｍ、電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚ、当該放射妨害波が垂直偏波である場合における床面の反射係数と、第一電界分布の最大値と第二電界分布の最大値との偏差との関係の例を示す図である。
【００９４】
電界強度を測定する放射妨害波の周波数が３．５ＧＨｚである場合、上述した式（２５）から算出される床面の反射係数は、０．０３１６以下となる。図１３の場合及び図１４の場合、床面の反射係数が約０．０６以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．２ｄＢ以下まで収束している。図１５の場合及び図１６の場合、床面の反射係数が約０．０６以下になると、床面から供試体１００までの最短距離に関わらず、偏差が０．６ｄＢ以下まで収束している。したがって、上述した式（２５）は、十分に信頼できるといえる。
【００９５】
ここで、判定機能２０１は、床面の反射係数、放射妨害波の周波数及び放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が上述した式（２５）を満たす場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能２０１は、床面の反射係数、放射妨害波の周波数及び放射妨害波の最大の周波数から算出されるサンプリング周波数が上述した式（２５）を満たさない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
【００９６】
これまでの説明から床面の反射係数が十分に小さい場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと考えてよいことが分かる。また、上述した通り、床面で反射される放射妨害波の周波数と、サンプリング周波数とが等しい場合、床面の反射係数が０．０１以下であることが好ましい。さらに、上述した式（２５）を床面の放射妨害波の吸収特性に変換した次の式（２６）が使用されてもよい。
【００９７】
【数２６】
2020159905.tif 000028
【００９８】
上述した式（２５）及び式（２６）を使用すると、床面で反射される放射妨害波の周波数と、サンプリング周波数とが等しい場合、床面の放射妨害波の吸収特性は、４０ｄＢ以上必要であることが分かる。また、床面で反射される放射妨害波の周波数がサンプリング周波数よりも低い場合、床面の放射妨害波の吸収特性は、当該周波数及びサンプリング周波数を上述した式（２５）に代入して算出された値以上必要であることが分かる。このような条件を満たす電波吸収体としては、例えば、上述した電波吸収体１４が挙げられる。これらを床面に敷き詰めることにより、上述した式（２６）が満たされる。
【００９９】
そこで、判定機能２０１は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数に対する床面の吸収特性が上述した式（２６）を満たす場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数に対する床面の吸収特性が上述した式（２６）を満たさない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
【０１００】
また、床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値以上の電波吸収体が床面に敷設されている場合、上述した条件の少なくとも一つが満たされていると考えられる。ここで、λｍｉｎは、電界強度を測定する放射妨害波の周波数の最小値に相当する波長である。また、λｍａｘは、電界強度を測定する放射妨害波の周波数の最大値であるサンプリング周波数に相当する波長である。そこで、判定機能２０１は、床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値以上の電波吸収体が床面に敷設されている場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定する。或いは、判定機能２０１は、床面を基準とした高さが０．４５λｍｉｎ及び２．８λｍａｘのうち大きい方の値未満の電波吸収体が床面に敷設されている場合又は電波吸収体が敷設されていない場合、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定する。
【０１０１】
図１７は、実施形態に係る補間前電界強度分布の一部の例を示す図である。放射妨害波測定装置１は、上述した式（２０）又は式（２３）を使用して算出した補正係数Ｋｈｍａｘに基づいて順次算出されたアンテナ１１の高さにおいて放射妨害波の電界強度を測定し、例えば、図１７に示した補間前電界強度を取得する。図１７の白丸は、この間隔で測定された電界強度を示している。図１７の黒丸は、内挿されたゼロを示している。
【０１０２】
図１８は、実施形態に係る補間後電界強度分布の一部の例を示す図である。放射妨害波測定装置１は、電界の測定が実行される放射妨害波の周波数と等しい遮断周波数を有するローパスフィルタを図１７に示した補間前電界強度に適用することにより、図１８に示した補間後電界強度を生成する。図１８の白丸は、図１７の白丸と同様の電界強度を示している。図１８の黒丸は、当該ローパスフィルタを適用して補間することにより再現された電界強度を示している。
【０１０３】
受信部３０は、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザである。受信部３０は、供試体１００を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する。そして、受信部３０は、最大の電界強度が測定された測定点において電界強度を一定時間測定する。
【０１０４】
図１９は、実施形態に係る制御部のハードウエア構成の例を示す図である。図１９に示すように、制御部２０は、主制御部２１０と、入力装置２２０と、出力装置２３０と、記憶装置２４０と、バス２５０とを備える。
【０１０５】
主制御部２１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）及びＲＡＭ（Random  Access  Memory）を備えており、入力装置２２０、出力装置２３０及び記憶装置２４０の間でのデータの送受信を制御し、出力装置２３０及び記憶装置２４０の動作を制御する。
【０１０６】
入力装置２２０は、放射妨害波測定装置１の操作に必要なデータを入力するために使用される装置、例えば、キーボード、マウス、タッチパネルである。
【０１０７】
出力装置２３０は、放射妨害波測定装置１の動作に関連する情報を出力するために使用される装置、例えば、ディスプレイである。
【０１０８】
記憶装置２４０は、データを記憶させるために使用される装置、例えば、ハードディスク装置、光ディスク装置である。また、記憶装置２４０は、記憶媒体２４５を備えており、記憶媒体２４５にデータを格納し、記憶媒体２４５からデータを読み出す。記憶媒体２４５は、データを記憶させるために使用される記憶媒体、例えば、ハードディスク、光ディスクである。また、記憶媒体２４５は、判定機能２０１、補正係数算出機能２０２、測定高さ算出機能２０３、第一電磁界分布取得機能２０４及び第二電磁界分布取得機能２０５それぞれを実現するプログラムを記憶している。この場合、主制御部２１０は、これらのプログラムを読み出して実行することにより、判定機能２０１、補正係数算出機能２０２及び測定高さ算出機能２０３それぞれの機能を実現させる。
【０１０９】
バス２５０は、主制御部２１０、入力装置２２０、出力装置２３０及び記憶装置２４０を相互に通信可能に接続している。
【０１１０】
次に、図２０を参照しながら実施形態に係る放射妨害波測定装置の動作の一例を説明する。図２０は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の例を示すフローチャートである。
【０１１１】
ステップＳ１０において、放射妨害波測定装置１は、測定条件の入力を受け付ける。ここで言う測定条件は、例えば、電界強度を測定する放射妨害波の周波数帯域、グランドプレーンを基準とする高さ方向の測定範囲、高さ方向における測定点の間隔、角度方向の測定範囲、角度方向における測定点の間隔、サンプリング時間、受信部３０の検波方式及び周波数分解能帯域幅である。
【０１１２】
ステップＳ２０において、補正係数算出機能２０２は、補正係数の算出に使用する式を選択する。ステップＳ２０の詳細は、後述する。
【０１１３】
ステップＳ３０において、測定高さ算出機能２０３は、ステップＳ２０で選択した式を使用して算出した補正係数を使用して電界を測定するアンテナの高さを算出する。
【０１１４】
ステップＳ４０において、コントローラ１５は、最も低い高さに配置されている測定点の電界強度を測定可能な高さにアンテナ１１の高さを変更し、最も角度が小さな位置に配置されている測定点の電界強度を測定可能な角度までターンテーブル１３を回転させる。
【０１１５】
ステップＳ５０において、放射妨害波測定装置１は、供試体１００を基準としたアンテナ１１の高さを維持した状態でターンテーブル１３を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
【０１１６】
ステップＳ６０において、放射妨害波測定装置１は、現在のターンテーブルの角度が上限であるか否かを判定する。放射妨害波測定装置１は、現在のターンテーブルの角度が上限であると判定した場合（ステップＳ６０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ７０に進め、現在のターンテーブルの角度が上限でないと判定した場合（ステップＳ６０：ＮＯ）、処理をステップＳ５０戻す。
【０１１７】
ステップＳ７０において、コントローラ１５は、アンテナ１１の高さを上昇させる。
【０１１８】
ステップＳ８０において、放射妨害波測定装置１は、現在のアンテナの高さが上限であるか否かを判定する。放射妨害波測定装置１は、現在のアンテナの高さが上限であると判定した場合（ステップＳ８０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ９０に進め、現在のアンテナの高さが上限でないと判定した場合（ステップＳ８０：ＮＯ）、処理をステップＳ５０戻す。
【０１１９】
ステップＳ９０において、放射妨害波測定装置１は、測定点の間の電界強度にゼロを内挿する。
【０１２０】
ステップＳ１００において、放射妨害波測定装置１は、ステップＳ９０でゼロを内挿した補間前電界強度分布にステップＳ９０で算出した遮断周波数を有するローパスフィルタを適用して補間後電界強度分布を生成する。
【０１２１】
ステップＳ１１０において、放射妨害波測定装置１は、ステップＳ１００で生成された補間後電界強度分布において最大の電界強度となるアンテナの高さ及びターンテーブルの角度を示すデータを取得する。
【０１２２】
次に、図２１を参照しながら、図２０に示したステップＳ２０の詳細、すなわち実施形態に係る放射妨害波測定装置が補正係数を算出する処理の例について説明する。図２１は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が補正係数を算出する式を選択する処理の例を示すフローチャートである。
【０１２３】
ステップＳ２１０において、補正係数算出機能２０２は、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定するか否かを判定する。補正係数算出機能２０２は、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定すると判定した場合（ステップＳ２１０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ２２０に進め、補正係数の算出に使用する式を放射妨害波測定装置が判定しないと判定した場合（ステップＳ２１０：ＮＯ）、処理をステップＳ２４０に進める。
【０１２４】
ステップＳ２２０において、補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する。補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定した場合（ステップＳ２２０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ２４０に進め、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がないと判定した場合（ステップＳ２２０：ＮＯ）、処理をステップＳ２３０に進める。具体的には、補正係数算出機能２０２は、上述したいすれかの判定に基づいて当該判定を実行する。
【０１２５】
ステップＳ２３０において、補正係数算出機能２０２は、上述した式（２０）を選択する。
【０１２６】
ステップＳ２４０において、補正係数算出機能２０２は、上述した式（２３）を選択する。
【０１２７】
以上、実施形態に係る放射妨害波測定装置１について説明した。放射妨害波測定装置１は、放射妨害波を放射する放射源を含む供試体１００と、放射妨害波の電界の測定を実行するアンテナ１１との相対的な位置関係に基づいて、アンテナ１１の高さの間隔がサンプリング定理を満たす補正係数を算出する補正係数算出機能２０２と、補正係数を使用して測定が実行される場合におけるアンテナの高さを順次算出する測定高さ算出機能２０３とを備える。したがって、放射妨害波測定装置１は、電界を測定する必要があるアンテナ１１の高さを絞り込み、放射妨害波試験の実施に必要な時間を短縮することができる。
【０１２８】
また、放射妨害波測定装置１は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かを判定する判定機能２０１を実行するコンピュータを備える。したがって、放射妨害波測定装置１は、床面で反射される放射妨害波を考慮して電界を測定する必要があるか否かに応じて適切な式を選択し、正確な補正係数を算出し、上述した効果を奏することができる。
【０１２９】
なお、上述した実施形態では、放射妨害波測定装置１が測定点における電界強度を測定し、補間後電界強度分布を生成する場合を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、放射妨害波測定装置１が測定点における磁界強度を測定し、補間前磁界強度分布に上述したローパスフィルタを適用して補間後磁界強度分布を生成してもよい。或いは、放射妨害波測定装置１が電界強度ではなく上述した式（２）の一つ目の等号の右側の式の絶対値記号の中身に相当する値を測定し、当該値の分布を測定し、当該値の分布に上述したローパスフィルタを適用して補間してもよい。
【０１３０】
また、補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があると判定された場合、上述した式（２３）を使用して補正係数Ｋｈｍａｘを算出する代わりに、補正係数Ｋｈｍａｘの算出を中止してもよい。さらに、この場合、補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要がある旨を報知するよう放射妨害波測定装置１を制御してもよい。
【０１３１】
また、補正係数算出機能２０２は、床面で反射される放射妨害波を考慮する必要があるか否かに関わらず、式（２３）を使用して補正係数を算出してもよい。
【０１３２】
また、上述した放射妨害波は、供試体１００からではなく、放射妨害波を想定して設定された放射源から放射されてもよい。
【０１３３】
また、上述した実施形態に係るコントローラ１５、制御部２０及び受信部３０の各機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させ、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませて実行することにより、処理を行ってもよい。また、特に、この記録媒体は、判定機能２０１、補正係数算出機能２０２、測定高さ算出機能２０３、第一電磁界分布取得機能２０４及び第二電磁界分布取得機能２０５をコンピュータに実行させるための電磁界分布生成プログラムを記憶していてもよい。
【０１３４】
ここで言うコンピュータシステムとは、オペレーティング・システム（Operating  System：ＯＳ）又は周辺機器等のハードウエアを含むものであってもよい。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、例えば、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置、ネットワーク又は通信回線を介してプログラムが送信される場合におけるサーバ又はクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように一定時間プログラムを保持しているものも含む。
【０１３５】
また、上述したプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、又は、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク又は電話回線等の通信回線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
【０１３６】
また、上述したプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、上述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分プログラムであってもよい。上述したプログラムは、例えば、コンピュータが備えるＣＰＵ（Central  Processing  Unit）等のプロセッサにより読み出されて実行される。
【０１３７】
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変形、置換又は設計変更を加えることができる。また、上述した実施形態に記載の構成を組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【０１３８】
１…放射妨害波測定装置、１１…アンテナ、１２…アンテナマスト、１３…ターンテーブル、１４…電波吸収体、１５…コントローラ、１５１…高さ変更部、１５２…方位変更部、２０…制御部、２０１…判定機能、２０２…補正係数算出機能、２０３…測定高さ算出機能、２０４…第一電磁界分布取得機能、２０５…第二電磁界分布取得機能、２１０…主制御部、２２０…入力装置、２３０…出力装置、２４０…記憶装置、２４５…記憶媒体、２５０…バス、３０…受信部、１００…供試体、２００…台
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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