(57)【要約】【課題】接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供すること。【解決手段】メスハウジング２０を保持する保持部７２と、保持部７２に保持されたメスハウジング２０に対して相対的に近接及び離間される導通検査部７３と、導通検査部７３に支持され、メスハウジング２０に導通検査部７３が近接されることで、メス端子２５の箱部３１の端部に接触して導通する接触子８２を有する導通検査プローブ８０と、を備え、接触子８２は、箱部３１へ近接する方向へ向かって次第に箱部３１の中心軸Ｘから離れる方向へ傾斜した接触面８３を有する。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位を有する接続端子をハウジングに収容したコネクタに対して、前記接続端子の導通検査を行う導通検査装置であって、
前記ハウジングを保持する保持部と、
前記保持部に保持された前記ハウジングに対して相対的に近接及び離間される導通検査部と、
前記導通検査部に支持され、前記ハウジングに前記導通検査部が近接されることで、前記接続端子の前記筒状部位の端部に接触して導通する接触子を有する導通検査プローブと、
を備え、
前記接触子は、前記筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
【請求項２】
前記接触子は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする請求項１に記載の導通検査装置。
【請求項３】
前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部であり、
前記接触子の前記接触面は、前記箱部の先端における角部に当接される
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の導通検査装置。
【請求項４】
前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブであり、
前記接触子の前記接触面は、前記タブの先端における角部に当接される
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の導通検査装置。
【請求項５】
前記導通検査プローブは、一対の前記接触子を有し、それぞれの前記接触子の前記接触面が互いに対向位置に配置され、前記接触面が前記タブの先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする請求項４に記載の導通検査装置。
【請求項６】
前記一対の接触子は、前記タブを挟持可能とされている
ことを特徴とする請求項５に記載の導通検査装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか一項に記載の導通検査装置を用いて前記接続端子の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部に前記ハウジングを保持させ、
前記保持部に保持させた前記ハウジングに対して前記導通検査部を近接させ、
前記接続端子の前記筒状部位の端部に前記導通検査プローブの前記接触子に設けられた前記接触面を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、導通検査装置及び導通検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コネクタのハウジングに収容されている接続端子の導通検査を行う装置として、弾性部材によって前方へ付勢された導通検査ピンを、コネクタのハウジングの端子収容室に収容された接続端子に突き当てて導通させるものが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第３７９４６０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、相手側の接続端子と電気的に接続される電気接続部が中空の筒状に形成された接続端子を備えるコネクタに対して上記の導通検査装置で導通検査を行う場合、導通検査ピンを電気接続部である筒状部位に突き当てた際に、軸方向に作用する押圧力によって筒状部位が軸方向に変形して開いてしまうおそれがある。すると、相手側コネクタとの接続時における相手側の接続端子との接続信頼性が低下するおそれがある。
【０００５】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前述した目的を達成するために、本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法は、下記（１）〜（７）を特徴としている。
（１）  導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位を有する接続端子をハウジングに収容したコネクタに対して、前記接続端子の導通検査を行う導通検査装置であって、
前記ハウジングを保持する保持部と、
前記保持部に保持された前記ハウジングに対して相対的に近接及び離間される導通検査部と、
前記導通検査部に支持され、前記ハウジングに前記導通検査部が近接されることで、前記接続端子の前記筒状部位の端部に接触して導通する接触子を有する導通検査プローブと、
を備え、
前記接触子は、前記筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
（２）  前記接触子は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする（１）に記載の導通検査装置。
（３）  前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部であり、
前記接触子の前記接触面は、前記箱部の先端における角部に当接される
ことを特徴とする（１）または（２）に記載の導通検査装置。
（４）  前記筒状部位は、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブであり、
前記接触子の前記接触面は、前記タブの先端における角部に当接される
ことを特徴とする（１）または（２）に記載の導通検査装置。
（５）  前記導通検査プローブは、一対の前記接触子を有し、それぞれの前記接触子の前記接触面が互いに対向位置に配置され、前記接触面が前記タブの先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする（４）に記載の導通検査装置。
（６）  前記一対の接触子は、前記タブを挟持可能とされている
ことを特徴とする（５）に記載の導通検査装置。
（７）  （１）から（６）のいずれか一つに記載の導通検査装置を用いて前記接続端子の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部に前記ハウジングを保持させ、
前記保持部に保持させた前記ハウジングに対して前記導通検査部を近接させ、
前記接続端子の前記筒状部位の端部に前記導通検査プローブの前記接触子に設けられた前記接触面を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
【０００７】
上記（１）の構成の導通検査装置によれば、接続端子の筒状部位に接触する接触子が、筒状部位へ近接する方向へ向かって次第に筒状部位の中心軸から離れる方向へ傾斜した接触面を有する。したがって、接続端子の導通検査を行うために接触子の接触面を接続端子の筒状部位に接触させた際に、筒状部位が接触面から受ける押圧力の一部が、筒状部位の中心軸へ向かう分力となって筒状部位に作用することとなる。したがって、筒状部位に対して軸方向に作用する押圧力を低減させることができ、軸方向に作用する押圧力によって筒状部位を構成する板材が軸方向に変形して筒状部位が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制できる。また、単に筒状部材の端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面が筒状部位に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。つまり、接続端子の変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことができる。
上記（２）の構成の導通検査装置によれば、接触子が湾曲した板状に形成されているので、接続端子の筒状部位に当接される際の押圧力を接触子が弾性変形することによって吸収することができ、接続端子の筒状部位の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子からの弾性力によって接続端子の筒状部位に対して接触面を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。
上記（３）の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられたタブが挿し込まれる箱部を有する接続端子に対して、その箱部の先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、箱部を軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記（４）の構成の導通検査装置によれば、接続相手の接続端子に設けられた箱部に挿し込まれるタブを有する接続端子に対して、そのタブの先端における角部に接触子の接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなく良好に導通検査を行うことができる。
上記（５）の構成の導通検査装置によれば、タブの先端における角部に対して導通検査プローブの一対の接触子のそれぞれの接触面を当接させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに確実に導通検査を行うことができる。
上記（６）の構成の導通検査装置によれば、導通検査プローブの一対の接触子によってタブを挟持させることで、タブを軸方向へ変形させることなくさらに良好に導通検査を行うことができる。
上記（７）の導通検査方法によれば、接続端子の筒状部位に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブの接触子を接触させることができる。これにより、筒状部位を構成する板材が軸方向に変形して筒状部位が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、接続端子の軸方向への変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことが可能な導通検査装置及び導通検査方法を提供できる。
【０００９】
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態（以下、「実施形態」という。）を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本実施形態に係る導通検査装置及び導通検査方法が適用されるコネクタのメスハウジングとオスハウジングの斜視図である。
【図２】図２は、メスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。
【図３】図３は、メスハウジングの一部の縦断面図である。
【図４】図４は、メス端子の電気接続部の斜視図である。
【図５】図５は、導通検査装置の全体構成を示す斜視図である。
【図６】図６は、導通検査装置の導通検査プローブとメスハウジングとの位置関係を示すメスハウジングの一部の縦断面図である。
【図７】図７は、導通検査プローブを示す図であって、図７（ａ）は側面図、図７（ｂ）は先端側から視た斜視図である。
【図８】図８は、導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
【図９】図９は、変形例１に係る導通検査プローブを示す図であって、図９（ａ）は側面図、図９（ｂ）は先端側から視た斜視図である。
【図１０】図１０は、変形例１に係る導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
【図１１】図１１は、オスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。
【図１２】図１２は、オスハウジングの一部の縦断面図である。
【図１３】図１３は、オス端子の電気接続部の斜視図である。
【図１４】図１４は、変形例１に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明するオス端子のタブの縦断面図である。
【図１５】図１５は、変形例２に係る導通検査プローブを示す図であって、図１５（ａ）は平面図、図１５（ｂ）は先端側から視た斜視図である。
【図１６】図１６は、変形例２に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明する図であって、図１６（ａ）及び図１６（ｂ）は、それぞれタブ及び導通検査プローブの平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法の実施の形態の例を、図面を参照して説明する。
まず、本実施形態に係る導通検査装置によって導通検査が行われるコネクタの一例を説明する。
図１は、本実施形態に係る導通検査装置及び導通検査方法が適用されるコネクタのメスハウジングとオスハウジングの斜視図である。
【００１２】
図１に示すように、コネクタ１０は、メスハウジング２０と、メスハウジング２０が嵌合されるオスハウジング５０とを備えている。メスハウジング２０及びオスハウジング５０は、それぞれ合成樹脂から成形されている。メスハウジング２０は接続部２０ａを有し、オスハウジング５０は嵌合部５０ａを有している。コネクタ１０は、メスハウジング２０の接続部２０ａをオスハウジング５０の嵌合部５０ａに嵌合させることで、メスハウジング２０とオスハウジング５０とが互いに接合される。メスハウジング２０は、その上部にロック部２１を有しており、ロック部２１は、嵌合したオスハウジング５０の上部に設けられた係止部５１を係止する。これにより、メスハウジング２０とオスハウジング５０との接合状態が維持される。
【００１３】
図２は、メスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。図３は、メスハウジングの一部の縦断面図である。図４は、メス端子の電気接続部の斜視図である。
【００１４】
図２及び図３に示すように、メスハウジング２０は、複数の端子収容室２２を有している。これらの端子収容室２２には、電線２３の端部に接続されたメス端子２５が収容されており、電線２３は、メスハウジング２０の後端から引き出されている。端子収容室２２に収容されたメス端子２５は、ランス２４によって係止されている。これにより、端子収容室２２に収容されたメス端子２５は、メスハウジング２０の後端側への移動が規制されて端子収容室２２に収容された状態に維持される。
【００１５】
メスハウジング２０の前面には、端子収容室２２の前方側に、端子収容室２２と連通する開口部２７が形成されている。また、メスハウジング２０の前面には、開口部２７の上方位置に、端子収容室２２と連通する窓部２８が形成されている。
【００１６】
メス端子２５には、電線２３が圧着されて接続されている。メス端子２５は、例えば、銅または銅合金等の導電性金属材料からなる板材を加工することで形成されたもので、電気接続部２６を有している。電気接続部２６には、オスハウジング５０の嵌合部５０ａにメスハウジング２０の接続部２０ａが嵌合されることで、オスハウジング５０に設けられた後述するオス端子５５のタブ６２が挿し込まれる。これにより、メスハウジング２０のメス端子２５とオスハウジング５０のオス端子とが電気的に接続される。
【００１７】
図３及び図４に示すように、メス端子２５の電気接続部２６は、中空の角筒状に形成された箱部３１を備えている。箱部３１は、底板部３２と、側板部３３，３４と、上板部３５と、固定板部３６とを備えている。側板部３３，３４は、底板部３２の両側縁から立ち上げられている。上板部３５は、側板部３３，３４の上端を繋ぐように設けられている。固定板部３６は、上板部３５における箱部３１の内側に沿って設けられている。
【００１８】
底板部３２には、二つの接点４０が隆起形成されている。上板部３５は、箱部３１の先端において、箱部３１の軸方向に沿う中心である中心軸Ｘへ向けて屈曲された屈曲部３５ａを有している。固定板部３６には、箱部３１の先端側に、バネ接点４２が連設されている。バネ接点４２は、箱部３１の先端において、固定板部３６に対して箱部３１の内側へ屈曲され、箱部３１の後端側へ折り返されている。そして、このバネ接点４２は、箱部３１内において、底板部３２との対向位置に配置されている。バネ接点４２は、底板部３２側へ向かって突出する押圧接点４３を有している。
【００１９】
そして、メスハウジング２０とオスハウジング５０とを接合することで、オスハウジング５０のオス端子５５のタブ６２が開口部２７からメス端子２５の箱部３１内に挿し込まれる。すると、タブ６２は、固定板部３６のバネ接点４２の付勢力によって接点４０とバネ接点４２の押圧接点４３とで挟まれる。これにより、タブ６２に対して接点４０及び押圧接点４３が接触し、メス端子２５とオス端子とが電気的に接続される。
【００２０】
次に、本実施形態に係る導通検査装置について説明する。
ここでは、上記のメスハウジング２０のメス端子２５に対して導通検査を行う場合について説明する。
図５は、導通検査装置の全体構成を示す斜視図である。図６は、導通検査装置の導通検査プローブとメスハウジングとの位置関係を示すメスハウジングの一部の縦断面図である。
【００２１】
図５に示すように、導通検査装置７０は、フレーム７１に設けられた保持部７２と、保持部７２に対して進退自在に配置された導通検査部７３と、リンク７４を介して導通検査部７３を駆動する操作レバー７５とを備えている。
【００２２】
保持部７２は、コネクタ１０のメスハウジング２０を保持する。メスハウジング２０は、保持部７２に保持されることで、接続部２０ａが導通検査部７３へ向けられた状態に配置される。
【００２３】
導通検査部７３は、保持部７２側に嵌合室７６を有している。図６に示すように、嵌合室７６内には、メスハウジング２０に設けられたメス端子２５に対応した複数の導通検査プローブ８０が支持されている。導通検査プローブ８０は、図示しないバネによって先端方向である保持部７２側に付勢されている。
【００２４】
操作レバー７５は、フレーム７１に対して回動可能に支持されている。操作レバー７５は、リンク７４を介して導通検査部７３に連結されている。導通検査部７３は、操作レバー７５が回動されることで、その回動力がリンク７４を介して伝達されてスライドされる。つまり、操作レバー７５を回動させることで、導通検査部７３が保持部７２に対して近接及び離間される。
【００２５】
この導通検査装置７０では、保持部７２にコネクタ１０のメスハウジング２０を保持させた状態で、操作レバー７５を回動させると、導通検査部７３が保持部７２へ向かって移動する。すると、メスハウジング２０の先端が嵌合室７６内に嵌合され、これにより、導通検査プローブ８０がメスハウジング２０の窓部２８に挿し込まれ、メス端子２５の箱部３１に接触して導通し、メス端子２５の導通検査が行われる。
【００２６】
図７は、導通検査プローブを示す図であって、図７（ａ）は側面図、図７（ｂ）は先端側から視た斜視図である。
図７（ａ）及び図７（ｂ）に示すように、本実施形態に係る導通検査装置７０に設けられた導通検査プローブ８０は、プローブ本体８１と、このプローブ本体８１の先端に設けられた接触子８２とを有している。接触子８２は、その先端部に接触面８３が設けられており、この接触面８３がメス端子２５の箱部３１に当接される。この接触子８２の接触面８３は、箱部３１へ近接する方向へ向かって次第に箱部３１の中心軸Ｘから離れる方向へ傾斜したテーパ面とされている。
【００２７】
図８は、導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
図８に示すように、接触面８３を有する接触子８２を備えた導通検査プローブ８０では、接触子８２がメスハウジング２０の窓部２８に挿し込まれることで、テーパ面からなる接触面８３がメス端子２５の箱部３１の先端における角部の屈曲部３５ａに当接される。すると、中心軸Ｘに沿う接触子８２からの押圧力は、その一部が、箱部３１の中心軸Ｘへ向かう分力となって箱部３１に作用することとなる。なお、窓部２８に挿し込まれた導通検査プローブ８０の接触子８２は、テーパ面からなる接触面８３が箱部３１の角部に当接され、先端部８２ａが、箱部３１と端子収容室２２の内面との隙間Ｇに導かれる。したがって、接触子８２の先端部８２ａが箱部３１の先端に突き当たることはない。また、箱部３１と端子収容室２２の内面とに隙間Ｇを有することで、接触子８２の先端部８２ａが端子収容室２２の内面に接触することによる損傷が抑制される。
【００２８】
以上、説明したように、本実施形態に係る導通検査装置７０及び導通検査方法によれば、メス端子２５の箱部３１に接触する接触子８２が、箱部３１へ近接する方向へ向かって次第に箱部３１の中心軸Ｘから離れる方向へ傾斜した接触面８３を有する。したがって、メス端子２５の導通検査を行うために接触子８２の接触面８３をメス端子２５の箱部３１に接触させた際に、箱部３１が接触面８３から受ける押圧力の一部が、箱部３１の中心軸Ｘへ向かう分力となって箱部３１に作用することとなる。したがって、箱部３１に対して軸方向に作用する押圧力を低減させることができ、軸方向に作用する押圧力によって箱部３１を構成する板材が軸方向に変形して箱部３１が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制できる。また、単に箱部３１の先端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面８３が箱部３１に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。つまり、メス端子２５の変形を抑えつつ良好に導通検査を行うことができる。
【００２９】
次に、変形例について説明する。
（変形例１）
図９は、変形例１に係る導通検査プローブを示す図であって、図９（ａ）は側面図、図９（ｂ）は先端側から視た斜視図である。図１０は、変形例１に係る導通検査プローブによるメス端子の導通検査の仕方を説明するメスハウジングの一部の縦断面図である。
【００３０】
図９（ａ）及び図９（ｂ）に示すように、変形例１では、導通検査装置７０が、導電性金属材料からなる板材から形成された導通検査プローブ９０を備えている。この導通検査プローブ９０は、角筒状に形成されたプローブ本体９１と、このプローブ本体９１の先端から延びる接触子９２とを有している。接触子９２は、板状に形成されており、その先端部分が湾曲されている。そして、この湾曲部分の先端側が接触面９３とされている。
【００３１】
変形例１では、導通検査プローブ９０の接触子９２は、湾曲部分の先端側の接触面９３がメス端子２５の箱部３１に当接される。この接触子９２の接触面９３は、箱部３１へ近接する方向へ向かって次第に箱部３１の中心軸Ｘから離れる方向へ傾斜したテーパ面とされている。
【００３２】
この接触面９３を有する接触子９２を備えた導通検査プローブ９０では、図１０に示すように、接触子９２がメスハウジング２０の窓部２８に挿し込まれることで、テーパ面からなる接触面９３がメス端子２５の箱部３１の先端における角部の屈曲部３５ａに当接される。すると、接触面９３からの押圧力は、その一部が、箱部３１の中心軸Ｘへ向かう分力となって箱部３１に作用することとなる。
【００３３】
このように、変形例１の場合も、箱部３１に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブ９０の接触子９２を接触させることができる。これにより、箱部３１を構成する板材が軸方向に変形して箱部３１が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
【００３４】
特に、変形例１では、接触子９２が湾曲した板状に形成されているので、メス端子２５の箱部３１に当接される際の押圧力を接触子９２が弾性変形することによって吸収することができ、メス端子２５の箱部３１の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子９２からの弾性力によってメス端子２５の箱部３１に対して接触面９３を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。
【００３５】
なお、窓部２８に挿し込まれた導通検査プローブ９０の接触子９２は、テーパ面からなる接触面９３が箱部３１の角部に当接され、先端部９２ａが、箱部３１と端子収容室２２の内面との隙間Ｇに導かれる。したがって、接触子９２の先端部９２ａが箱部３１の先端に突き当たることはない。また、箱部３１と端子収容室２２の内面とに隙間Ｇを有することで、接触子８２の先端部８２ａが端子収容室２２の内面に接触することによる損傷が抑制される。
【００３６】
次に、コネクタ１０のオスハウジング５０の接続端子に対して導通検査プローブ９０を備えた変形例１の導通検査装置７０で導通検査を行う場合について説明する。
まず、コネクタ１０のオスハウジング５０について説明する。
図１１は、オスハウジングの接合方向に沿う縦断面図である。図１２は、オスハウジングの一部の縦断面図である。図１３は、オス端子の電気接続部の斜視図である。図１４は、変形例１に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明するオス端子のタブの縦断面図である。
【００３７】
図１１及び図１２に示すように、オスハウジング５０は、複数の端子収容室５２を有している。これらの端子収容室５２には、電線５３の端部に接続されたオス端子５５が収容されており、電線５３は、オスハウジング５０の後端から引き出されている。端子収容室５２に収容されたオス端子５５は、ランス５４によって係止されている。これにより、端子収容室５２に収容されたオス端子５５は、オスハウジング５０の後端側への移動が規制されて端子収容室５２に収容された状態に維持される。
【００３８】
オスハウジング５０の前面には、端子収容室５２の前方側に、端子収容室５２と連通する開口部５７が形成されている。なお、オスハウジング５０の前面には、開口部５７の上方位置に、端子収容室５２と連通する窓部５８が形成されている。
【００３９】
オス端子５５には、電線５３が圧着されて接続されている。オス端子５５は、例えば、銅または銅合金等の導電性金属材料からなる板材を加工することで形成されたもので、電気接続部５６を有している。電気接続部５６は、角筒状の箱部６１と、この箱部６１の先端部から前方へ突出するタブ６２とを有している。オス端子５５は、端子収容室５２に収容されることで、タブ６２がオスハウジング５０の前面に形成された開口部５７から突出される。電気接続部５６のタブ６２は、オスハウジング５０の嵌合部５０ａにメスハウジング２０の接続部２０ａが嵌合されることで、メス端子２５の電気接続部２６の箱部３１に挿し込まれる。これにより、メスハウジング２０のメス端子２５とオスハウジング５０のオス端子５５とが電気的に接続される。
【００４０】
図１２及び図１３に示すように、オス端子５５のタブ６２は、４つの側面板６４を有する角筒状に形成されている。上下の側面板６４は、前方へ突出されており、それぞれ互いに近接する方向へ屈曲されて突き合わされている。
【００４１】
上記のオスハウジング５０のオス端子５５に対して導通検査プローブ９０を備えた導通検査装置７０によって導通検査を行う場合、保持部７２にコネクタ１０のオスハウジング５０を保持させた状態で、操作レバー７５を回動させる。すると、導通検査部７３が保持部７２へ向かって移動し、オスハウジング５０の先端が嵌合室７６内に嵌合され、図１４に示すように、オス端子５５のタブ６２に対して導通検査プローブ９０の接触子９２が近接される。すると、テーパ面からなる接触面９３がオス端子５５のタブ６２の先端における角部に当接される。これにより、オス端子５５に対して導通検査プローブ９０が導通されて導通検査が可能となる。また、接触子９２の接触面９３がオス端子５５のタブ６２の先端における角部に当接されると、接触面９３からの押圧力は、その一部が、タブ６２の中心軸Ｘへ向かう分力となってタブ６２に作用することとなる。
【００４２】
このように、変形例１の導通検査プローブ９０を備えた導通検査装置７０でオスハウジング５０のオス端子５５の導通検査を行う場合も、タブ６２に対して、その軸方向に作用する押圧力を抑えつつ導通検査プローブ９０の接触子９２を接触させることができる。これにより、タブ６２を構成する板材が軸方向に変形してタブ６２が開いて接続信頼性が低下するような不具合を抑制しつつ良好に導通検査を行うことができる。
【００４３】
しかも、オス端子５５のタブ６２に当接される際の押圧力が、接触子９２が弾性変形することによって吸収されるので、オス端子５５のタブ６２の押圧力による軸方向への変形をより抑えることができる。また、弾性変形する接触子９２からの弾性力によってオス端子５５のタブ６２に対して接触面９３を導通検査に必要十分な接触圧で接触させ、良好に導通検査を行うことができる。また、単にタブ６２の先端部に接触子を軸方向に突き合わせるものと比べ、接触面９３がタブ６２に接触して摺動するので、接触圧が小さくても良好な導通状態を得ることができる。
【００４４】
なお、オス端子５５の導通検査を行う際にも、オスハウジング５０に形成された窓部５８から導通検査プローブ９０の接触子９２を挿入し、接触面９３をオス端子５５の箱部６１の角部に接触させてもよい。この場合、接触面９３からの押圧力は、その一部が、箱部６１の中心軸へ向かう分力となって箱部６１に作用することとなり、箱部６１が広がって変形するような不具合を抑制できる。
【００４５】
（変形例２）
図１５は、変形例２に係る導通検査プローブを示す図であって、図１５（ａ）は平面図、図１５（ｂ）は先端側から視た斜視図である。図１６は、変形例２に係る導通検査プローブによるオス端子の導通検査の仕方を説明する図であって、図１６（ａ）及び図１６（ｂ）は、それぞれタブ及び導通検査プローブの平面図である。
【００４６】
図１５（ａ）及び図１５（ｂ）に示すように、変形例２では、導通検査装置７０が、一対の接触子９２を有する導通検査プローブ９０Ａを備えている。この導通検査プローブ９０Ａでは、互いに対向位置に形成された一対の接触子９２がプローブ本体９１の先端から延在されており、それぞれの接触子９２の接触面９３が互いに向き合わされて対向位置に配置されている。
【００４７】
導通検査プローブ９０Ａによってオスハウジング５０のオス端子５５に対して導通検査を行う場合、図１６（ａ）に示すように、一対の接触子９２がオスハウジング５０の幅方向に配置された導通検査プローブ９０Ａを、オス端子５５のタブ６２に対して近接させる。すると、導通検査プローブ９０Ａのそれぞれの接触子９２のテーパ面からなる接触面９３がオス端子５５のタブ６２の先端における角部に当接される。これにより、オス端子５５に対して導通検査プローブ９０Ａが導通され、導通検査が可能となる。また、一対の接触子９２の接触面９３がオス端子５５のタブ６２の先端における角部に当接されると、それぞれの接触面９３からの押圧力は、その一部が、タブ６２の中心軸Ｘへ向かう分力となってタブ６２に作用することとなる。
【００４８】
このように、変形例２によれば、タブ６２の先端における角部に対して導通検査プローブ９０Ａの一対の接触子９２のそれぞれの接触面９３を当接させることで、タブ６２を軸方向へ変形させることなくさらに確実に導通検査を行うことができる。
【００４９】
なお、導通検査プローブ９０Ａによってオス端子５５に対して導通検査を行う場合、図１６（ｂ）に示すように、接触面９３をタブ６２の先端に接触させた状態から、さらにオス端子５５側へ押し込み、一対の接触子９２によってタブ６２を挟持してもよい。
【００５０】
このように、一対の接触子９２でタブ６２を挟持することで、タブ６２を軸方向へ変形させることなく、導通検査プローブ９０Ａとオス端子５５とをさらに確実に導通させて良好に導通検査を行うことができる。この場合、一対の接触子９２によって挟持する位置としては、タブ６２におけるメス端子２５の電気接続部２６との接触位置から外れた位置とするのが好ましい。このようにすれば、タブ６２におけるメス端子２５の電気接続部２６との接触位置に対する導通検査による傷の付着を抑制できる。
【００５１】
尚、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
【００５２】
ここで、上述した本発明に係る導通検査装置及び導通検査方法の実施形態の特徴をそれぞれ以下［１］〜［７］に簡潔に纏めて列記する。
［１］  導電性金属材料からなる板材を折り曲げることで形成された筒状部位（箱部３１，タブ６２）を有する接続端子（メス端子２５，オス端子５５）をハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）に収容したコネクタ（１０）に対して、前記接続端子（メス端子２５，オス端子５５）の導通検査を行う導通検査装置（７０）であって、
前記ハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）を保持する保持部（７２）と、
前記保持部（７２）に保持された前記ハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）に対して相対的に近接及び離間される導通検査部（７３）と、
前記導通検査部（７３）に支持され、前記ハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）に前記導通検査部（７３）が近接されることで、前記接続端子（メス端子２５，オス端子５５）の前記筒状部位（箱部３１，タブ６２）の端部に接触して導通する接触子（８２，９２）を有する導通検査プローブ（８０，９０，９０Ａ）と、
を備え、
前記接触子（８２，９２）は、前記筒状部位（箱部３１，タブ６２）へ近接する方向へ向かって次第に前記筒状部位（箱部３１，タブ６２）の中心軸（Ｘ）から離れる方向へ傾斜した接触面（８３，９３）を有する
ことを特徴とする導通検査装置。
［２］  前記接触子（８２，９２）は、湾曲した板状に形成されている
ことを特徴とする［１］に記載の導通検査装置。
［３］  前記筒状部位は、接続相手の接続端子（オス端子５５）に設けられたタブ（６２）が挿し込まれる箱部（３１）であり、
前記接触子（８２，９２）の前記接触面（８３，９３）は、前記箱部（３１）の先端における角部に当接される
ことを特徴とする［１］または［２］に記載の導通検査装置。
［４］  前記筒状部位は、接続相手の接続端子（メス端子２５）に設けられた箱部（３１）に挿し込まれるタブ（６２）であり、
前記接触子（８２，９２）の前記接触面（８３，９３）は、前記タブ（６２）の先端における角部に当接される
ことを特徴とする［１］または［２］に記載の導通検査装置。
［５］  前記導通検査プローブ（９０Ａ）は、一対の前記接触子（９２）を有し、それぞれの前記接触子（９２）の前記接触面（９３）が互いに対向位置に配置され、前記接触面（９３）が前記タブ（６２）の先端における角部にそれぞれ当接される
ことを特徴とする［４］に記載の導通検査装置。
［６］  前記一対の接触子（９２）は、前記タブ（６２）を挟持可能とされている
ことを特徴とする［５］に記載の導通検査装置。
［７］  ［１］から［６］のいずれか一つに記載の導通検査装置（７０）を用いて前記接続端子（メス端子２５，オス端子５５）の導通検査を行う導通検査方法であって、
前記保持部（７２）に前記ハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）を保持させ、
前記保持部（７２）に保持させた前記ハウジング（メスハウジング２０，オスハウジング５０）に対して前記導通検査部（７３）を近接させ、
前記接続端子（メス端子２５，オス端子５５）の前記筒状部位（箱部３１，タブ６２）の端部に前記導通検査プローブ（８０，９０，９０Ａ）の前記接触子（８２，９２）に設けられた前記接触面（８３，９３）を接触させる
ことを特徴とする導通検査方法。
【符号の説明】
【００５３】
１０：コネクタ
２０：メスハウジング（ハウジング）
２５：メス端子（接続端子）
３１：箱部（筒状部位）
５０：オスハウジング（ハウジング）
５５：オス端子（接続端子）
６２：タブ（筒状部位）
７０：導通検査装置
７２：保持部
７３：導通検査部
８０，９０，９０Ａ：導通検査プローブ
８２，９２：接触子
８３，９３：接触面
Ｘ：中心軸
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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