(57)【要約】      （修正有）【課題】作業環境測定におけるアスベスト、遊離珪酸の分析の効率化を図る分析装置を提供する。【解決手段】本発明の一実施形態のＸ線回折装置は、多数の既知の物質の標準的なＸ線回折パターンが収録されているデータベース２２と、試料を分析することで得られた実測のＸ線回折パターンと、データベースに収録されている各物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的なＸ線回折パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部２４，２５と、候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、実測のＸ線回折パターンを表示する波形表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部４に表示させる表示処理部２６と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を分析することで得られた波形パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定する分析装置であって、
多数の既知の物質の標準的な波形パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測の波形パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的な波形パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的な波形パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備える分析装置。
【請求項２】
試料をＸ線回折分析することで得られたＸ線回折パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定するＸ線回折装置であって、
多数の既知の物質の標準的なＸ線回折パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測のＸ線回折パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的なＸ線回折パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、前記実測のＸ線回折パターンを表示する波形表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備えるＸ線回折装置。
【請求項３】
前記特定の一又は複数の物質は、アスベスト及び遊離珪酸に分類される物質である、請求項２に記載のＸ線回折装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料に含まれる特定の物質を同定するための分析装置及びＸ線回折装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
粉塵が発生する職場環境の下で作業する労働者の健康障害を防止するため、我が国では、健康障害を生じさせる可能性がある特定の物質について、作業環境測定を実施することが義務付けられている。そうした物質の中で、遊離珪酸及びアスペスト（石綿）の定性分析及び定量分析には、Ｘ線回折装置が利用されている（非特許文献１、２参照）。
【０００３】
Ｘ線回折装置では、粉体等の試料に所定波長のＸ線を照射し、試料を構成する原子に所属する電子により散乱したり干渉したりして発生した回折Ｘ線を検出器で検出する。このときの回折角度は物質の格子面間隔に、回折強度は原子や分子の配列状態及び原子種に依存する。そこで、既知波長のＸ線を試料に照射し、それに対して試料から得られる回折Ｘ線の回折角度とＸ線強度との関係を求めると、所定の回折角度付近でＸ線強度のピークが観測されるＸ線回折パターンが得られる。こうした実測により得られたＸ線回折パターンを既知物質のＸ線回折パターンと比較することにより、試料に含まれる物質を同定することができる（特許文献１等参照）。
【０００４】
非特許文献２等に記載された実際のＸ線回折装置では、コンピュータ上で動作する同定用ソフトウェアにより、実測のＸ線回折パターンとデータベースに収録されている様々な物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性が評価され、類似性が高いと判定された物質が同定候補として表示部の画面上に一覧リストで表示されるようになっている。ユーザーは例えばその同定候補の物質のＸ線回折パターンと実測のＸ線回折パターンとの一致性を画面上で確認し、さらに分析対象の試料についての知識や経験などに基づいて、試料に含有されている物質を同定する、つまりはその同定候補が正解の物質であるか否かを判断する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１８−２１８３６号公報
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】「作業環境測定ガイドブック１ 鉱物性粉じん・石綿・ＲＣＦ」、公益社団法人日本作業環境測定協会、平成３０年９月２５日第６版発行
【非特許文献２】「XRD-6100 作業環境中の遊離珪酸および石綿（アスベスト）の定性・定量分析に最適。」、［online］、株式会社島津製作所、［2019年3月26日検索］、インターネット＜URL: https://www.an.shimadzu.co.jp/surface/xd/use04.htm＞
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来のＸ線回折装置では次のような問題がある。
一般に、Ｘ線回折における物質同定のためのデータベースに収録されている物質の数は非常に多い。例えば、アスベスト等の同定に使用される代表的な粉末Ｘ線回折用データベースである「ICDD PDF-2 2018」の鉱物サブファイルには、約３万もの膨大な数の物質が収録されている。また、そうした膨大な数の物質のＸ線回折パターンには、かなり波形形状が類似しているものも多い。そのため、通常、同定用ソフトウェアでの自動検索の結果として、かなり多数の候補が表示されることになる。
【０００８】
建築資材等の粉体試料に含まれるアスベストや遊離珪酸を分析する場合、該試料にはそれら目的物質以外の多種多様な夾雑物が含まれる。そのため、物質候補のリストには、目的物質のほかに夾雑物の候補が多数挙げられる。ユーザーはこうした多数の候補について一つずつＸ線回折パターンを確認しながら同定作業を行う必要があるため、その作業は非常に煩雑で時間を要する。また、リストに挙げられる物質の候補の数を制限してしまうと、アスベストや遊離珪酸などの目的物質の候補がリストから漏れてしまう場合もある。
【０００９】
また特にアスベストは、通常、建築現場から出る粉塵などに含まれていたとしてもその含有量が少ないことが多い。そのため、Ｘ線回折において物質を特徴付ける３強線（相対強度が高い順に３番目までのピーク）が小さいことがしばしばあり、それ故にデータベースに収録されている正解の物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性が低くなって、アスベストであると同定することが難しい場合がある。
【００１０】
本発明は上記課題を解決するために成されたものであり、その目的とするところは、Ｘ線回折パターンなどの分析結果に基づいてアスベストや遊離珪酸などの特定の物質を同定する際に、ユーザーによる煩雑な手間を軽減し、効率良く且つ高い精度で以て物質を同定することができる分析装置及びＸ線回折装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために成された本発明に係る分析装置の第１の態様は、試料を分析することで得られた波形パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定する分析装置であって、
多数の既知の物質の標準的な波形パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測の波形パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的な波形パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的な波形パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備えるものである。
【００１２】
上記課題を解決するために成された本発明に係るＸ線回折装置の第１の態様は、試料を分析することで得られたＸ線回折パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定するＸ線回折装置であって、
多数の既知の物質の標準的なＸ線回折パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測のＸ線回折パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的なＸ線回折パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、前記実測のＸ線回折パターンを表示する波形表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備えるものである。
【００１３】
なお、本発明に係るＸ線回折装置において、予め決められた特定の一又は複数の物質は、アスベスト及び遊離珪酸に分類される物質であるものとすることができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係る第１の態様の分析装置又はＸ線回折装置では、例えばアスベストや遊離珪酸などの検査対象である目的物質を第２表示欄に表示するように予め定めておくことで、そうした目的物質に比べて、波形パターン（Ｘ線回折パターン）の類似性がより高い夾雑物の候補物質が多く抽出された場合であっても、ユーザーは第２表示欄で目的物質の類似性評価の結果を確認することができる。それにより、目的物質の類似性評価の結果から、必要に応じて波形パターンの一致性の確認を迅速に実行し、目的物質の同定、つまりは試料に目的物質が含まれるか否かを少ない手間で効率良く確認することができる。
【００１５】
また、実測の波形パターンと目的物質の標準的な波形パターンとの類似性が相対的に低く、それを第１表示欄に表示するとすれば、かなり下位に表示されたり或いは表示数の制約上表示されなかったりするような場合であっても、本発明によれば、目的物質は第２表示欄に表示されるので高い精度で同定を行うことができる。さらにまた、目的物質以外の夾雑物などについても、第１表示欄に表示されている情報に基づいて、従来と同様に詳細な同定作業を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態であるＸ線回折装置の要部の構成図。
【図２】本実施形態のＸ線回折装置における自動検索結果の表示処理の説明図。
【図３】本実施形態のＸ線回折装置における自動検索結果の表示画面の一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の一実施形態であるＸ線回折装置について添付図面を参照して説明する。
【００１８】
図１は、本実施形態のＸ線回折装置の要部の構成図である。
本実施形態のＸ線回折装置は、図１に示すように、Ｘ線回折測定部１、データ処理部２、入力部３、及び表示部４、を備える。
【００１９】
Ｘ線回折測定部１は、Ｘ線管を含むＸ線照射部１１、ゴニオメータ１２、試料ホルダ１３、及びＸ線検出部１４を含む。試料１５はその表面がゴニオメータ１２の中心になるように設置されている。ゴニオメータ１２は、Ｘ線照射部１１から試料１５に入射するＸ線と試料１５の表面（結晶面）との成す角度θと、試料１５の表面とＸ線検出部１４に向かう出射Ｘ線との成す角度θとが常に等しくなる関係を保つように、試料ホルダ１３及びＸ線検出部１４をそれぞれ回動させる。このような角度走査を行い、回転角度２θとＸ線強度との関係を求めるとＸ線回折パターンを得ることができる。
なお、Ｘ線回折測定部１は、このような角度走査型のＸ線回折装置ではなく、エネルギー分散型のＸ線回折装置でもよい。
【００２０】
データ処理部２は、機能ブロックとして、Ｘ線回折パターン作成部２１、同定用データベース２２、特定物質情報記憶部２３、物質検索処理部２４、パターン類似性評価部２５、検索結果表示処理部２６、などを含む。同定用データベース２２は分析対象の物質の種類等に応じたものを用いればよく、後述するアスベスト・遊離珪酸を分析する際には、同定用データベース２２として例えば上述した「ICDD PDF-2 2018」の鉱物サブファイルを用いることができる。図１では、同定用データベース２２はデータ処理部２に含まれるが、データ処理部２からアクセス可能であるように、その外部に同定用データベース２２が設けられている構成でもよい。
【００２１】
なお、通常、データ処理部２の実体は、専用のデータ処理用ソフトウェアがインストールされたパーソナルコンピュータであり、該ソフトウェアをコンピュータ上で動作させることにより、上記各機能ブロックの機能が達成されるものとすることができる。
【００２２】
次に、本実施形態のＸ線回折装置を用いてアスベスト・遊離珪酸を分析する場合の特徴的な処理動作について、図１及び図２を参照しつつ説明する。図２は、本実施形態のＸ線回折装置における自動検索結果の表示処理の説明図である。
【００２３】
Ｘ線回折測定部１では、分析対象である試料１５についてのＸ線回折が実行され、Ｘ線検出部１４により得られたデータがデータ処理部２に入力される。データ処理部２においてＸ線回折パターン作成部２１は、横軸を回折角度、縦軸をＸ線強度としたＸ線回折パターンの波形グラフを作成する。さらにＸ線回折パターン作成部２１は、該グラフにおいて所定のピーク検出アルゴリズムに従ってピーク検出を実行し、検出された各ピークに対応する線ピークを求める。線ピークの位置は回折角度を示し、線ピークの高さはその回折角度におけるＸ線強度を示す。
【００２４】
物質検索処理部２４は同定用データベース２２に収録されている化合物の情報を順に読み出し、パターン類似性評価部２５により、各化合物に対応付けられている標準的なＸ線回折パターンを上記実測により得られたＸ線回折パターンと比較し、所定のアルゴリズムに従って波形形状又は線ピークのパターンの類似性を示す指標値（以下「類似度」という）を算出する。類似性が高いほど類似度は大きな値となる。従来のＸ線回折装置では、例えば同定用データベース２２に収録されている全ての化合物の中で類似度が所定の閾値以上である化合物が選択され、候補物質として類似度が大きい順にリスト化されて表示部４の画面上に表示される。これに対し、本実施形態の装置では、次のような特徴的な処理を実施する。
【００２５】
図２（ａ）に示すように、同定用データベース２２には、膨大な数の化合物について、化合式などの関連情報や標準的なＸ線回折パターンなどの情報が収録されている。一方、特定物質情報記憶部２３には、同定用データベース２２に収録されている化合物の中で、アスベスト・遊離珪酸分析に対応して予め指定された特定の化合物の情報が記憶される。この特定物質情報記憶部２３に記憶される情報は、同定用データベース２２に収録されている情報との紐付けが可能であればよいから、例えば化合物名のみ、或いは各化合物を特定する番号（一例としては後述する図３中に記載のカード番号）のみが記憶されていてもよい。或いは、図２（ｂ）に示すように、指定された特定の化合物について、同定用データベース２２に収録されている情報と同じものが記憶されるようにしてもよい。
【００２６】
なお、上記特定の化合物はアスベスト・遊離珪酸分析などの分析の目的によって異なるから、例えば本装置のメーカー又はデータ処理用ソフトウェアを提供するメーカーがその分析目的毎に予め特定の化合物を定めておくようにすればよい。その場合、ユーザーが分析目的に応じたアプリケーションソフトウェアを使用する等により分析目的を間接的に又は直接的に選択すると、それに適合する特定の化合物が自動的に選択されるようにするとよい。また、ユーザーが新たに特定の化合物を指定したり、既に登録されている特定の化合物の一部を削除したり追加したりできるようにしてもよい。
【００２７】
一例としてアスベスト・遊離珪酸分析の場合には、非特許文献１に記載されているような化合物を特定の化合物として定めればよい。具体的には、遊離珪酸に分類される化合物（物質）として、石英（Q）、クリストバライト（Cr）、トリジマイト（Tr）などが含まれる。また、アスベストに分類される化合物（物質）として、  クリソタイル（Chr）、クロシドライト（Cro）、アモサイト（Amo）、トレモライト（Tre）、アクチノライト（Act）、アンソフィライト（Ant）、セピオライト（Se）などが含まれる。
【００２８】
物質検索処理部２４及びパターン類似性評価部２５は従来の装置と同様に、同定用データベース２２に収録されている各化合物に対応付けられている標準的なＸ線回折パターンを実測のＸ線回折パターンと比較し、所定のアルゴリズムに従って波形形状又は線ピークのパターンの類似度を算出する。したがって、同定用データベース２２に収録されている化合物毎に類似度が求まる。
【００２９】
検索結果表示処理部２６は、図２（ｃ）に示すような検索結果表示画面１００を作成する。検索結果表示画面１００には、プロファイル表示欄１０１、処理後グラフ表示欄１０２、特定化合物リスト表示欄１０３、及び、一般化合物リスト表示欄１０４が配置されている。プロファイル表示欄１０１には、実測により得られたＸ線回折パターンの波形グラフ（プロファイル）が表示される。このプロファイルは物質検索処理部２４による処理の実行前に得られているから、検索結果表示画面１００において同定処理対象の試料等が指定されると、プロファイル表示欄１０１にプロファイルが表示される。
【００３０】
特定化合物リスト表示欄１０３には、上述した特定の化合物についての化合物関連情報や類似度を一覧で示すリストが表示される。なお、物質検索処理部２４による処理が終了しないと類似度は求まらないが、特定化合物リスト表示欄１０３に表示されるリスト中の化合物は定まっているから、上述したようにプロファイル表示欄１０１にプロファイルが表示されるのと同時に、特定化合物リスト表示欄１０３に、類似度の情報を除いて他の化合物関連情報が掲載されたリストを表示するようにしてもよい。
【００３１】
一般化合物リスト表示欄１０４には、同定用データベース２２中に収録されている全ての化合物の中で類似度が所定の閾値以上である化合物について、化合物関連情報や類似度を一覧で示すリストが表示される。このリストに表示される化合物は、物質検索処理部２４による処理が終了して類似度が求まるまで確定しない。そのため、当該リストは、物質検索処理部２４による処理が終了して類似度が求まった時点以降に表示される。
【００３２】
また処理後グラフ表示欄１０２には、実測のＸ線回折パターンから算出された線ピークのグラフ、特定化合物リスト表示欄１０３及び一般化合物リスト表示欄１０４に表示されているリスト中で、ユーザーにより指定されている化合物の標準的なＸ線回折パターンの線ピークグラフ、上記両線ピークグラフの差を計算した結果であるピーク差分グラフ、含有されると判断された化合物全てのピークグラフの重ね合わせ、などが表示される。これらグラフは、検索の結果として抽出された候補物質のＸ線回折パターンを、ユーザーが詳細に確認して化合物を同定する作業を行う際に使用されるものである。
【００３３】
物質検索処理部２４及びパターン類似性評価部２５により、同定用データベース２２に収録されている各化合物（例えば図２（ａ）中の化合物Ａ、Ｂ、Ｃ、…）に対するＸ線回折パターンの類似度が求まると、これを受けて検索結果表示処理部２６は、全ての化合物の中で類似度が所定の閾値以上である化合物を選択し、候補物質として類似度が大きい順にリストを作成して一般化合物リスト表示欄１０４に表示する。
【００３４】
これと並行して検索結果表示処理部２６は、特定物質情報記憶部２３に記憶されている各化合物（例えば図２（ｂ）中の化合物ａ、ｂ、ｃ、…）について物質検索処理部２４及びパターン類似性評価部２５により算出された類似度を選出し、特定化合物のリストを作成して特定化合物リスト表示欄１０３に表示する。或いは、上述したように、プロファイル表示欄１０１にプロファイルが表示されるのと同時に特定化合物リスト表示欄１０３にリストが表示されている場合には、そのリストに各化合物の類似度を追加する。
【００３５】
これにより、アスベスト・遊離珪酸分析の場合、石英、クリストバライト、トリジマイト、クリソタイル、クロシドライト、アモサイト、トレモライト、アクチノライト、アンソフィライト、セピオライトなどのユーザーが着目している化合物についての化合物関連情報やＸ線回折パターンの類似度を情報として含むリストが、それ以外の化合物のリストとは別に、特定化合物リスト表示欄１０３に表示される。特定化合物リスト表示欄１０３に表示されるリストでは、類似度の値が高い順に各化合物の順番を並べ替えてもよいし、或いは、類似度の大小に拘わらず予め定めた順番で化合物を並べてもよい。いずれにしても、試料に含まれる量が微量であって実測のＸ線回折パターンと標準的なＸ線回折パターンとの類似性が低いような化合物についても、特定化合物リスト表示欄１０３中のリストにその化合物の化合物情報と類似度とが表示される。
【００３６】
図３は、実際の検索結果表示画面１００の一例を示す図である。検索結果表示画面１００中の各表示欄１０１〜１０４にはそれぞれ上述したようなグラフ又はリストが表示されている。リスト中のＲが類似度に相当する値である。
【００３７】
このように特定化合物リスト表示欄１０３に表示されているリスト中で又は一般化合物リスト表示欄１０４にリスト中でユーザーが一つの化合物を入力部３によるクリック操作等で指定すると、検索結果表示処理部２６はその指定された化合物の標準的なＸ線回折パターンから得られる線ピークグラフや、その線ピークグラフと実測のＸ線回折パターンから得られる線ピークグラフとの差を計算した結果であるピーク差分グラフを処理後グラフ表示欄１０２に表示する。ユーザーはこれらグラフを確認することで、例えば特定化合物リスト表示欄１０３に表示されているリスト中の特定の化合物が試料に含まれるか否かを詳細に検討することができる。
【００３８】
一方、一般化合物リスト表示欄１０４に表示されているリスト中には、アスベストや遊離珪酸以外の化合物も含む、様々な化合物についての化合物関連情報と類似度とがその類似度の高い順に表示される。したがって、例えば建築資材の主要物質などの、試料に含まれる夾雑物についての同定作業も従来と同様に行うことができる。アスベストや遊離珪酸以外の化合物についての分析が不要である場合には、一般化合物リスト表示欄１０４に表示されているリストは無視すればよい。
【００３９】
なお、物質検索処理部２４及びパターン類似性評価部２５は、特定物質情報記憶部２３に記憶されている各化合物の標準的なＸ線回折パターンと実測のＸ線回折パターンとの類似度を優先的に算出し、検索結果表示処理部２６は、その結果を特定化合物リスト表示欄１０３中のリストに表示し、そのあとに、同定用データベース２２に収録されている各化合物に対するＸ線回折パターンの類似度を算出するようにしてもよい。これにより、アスベスト及び遊離珪酸に分類される特定の化合物の検索結果を迅速に確認することができる。
【００４０】
なお、上記実施形態は本発明の一例であり、本発明の趣旨の範囲で適宜修正、変更、追加を行っても本願特許請求の範囲に包含されることは明らかである。
【００４１】
例えば上記実施形態の説明では、作業環境測定におけるアスベスト及び遊離珪酸の分析にＸ線回折装置を用いていたが、製品の品質管理などの他の分野における分析にＸ線回折装置を用いることも考えられる。製品の品質管理の場合には、管理対象である又は報告対象である一又は複数の化合物を特定の化合物として選択すればよく、これにより品質管理の作業効率の改善を図ることができる。
【００４２】
また上記実施形態は本発明に係る分析装置をＸ線回折装置に適用したものであるが、本発明は、試料を分析することにより、何らかの波形形状を示すグラフ、例えばＸ線吸収スペクトル、吸光スペクトル、マススペクトル、或いはクロマトグラムを取得し、その波形形状やピークの位置などを既知物質の標準的なグラフと比較して類似性を評価し、その結果に基づいて物質を同定するような、他の分析装置にも適用が可能である。
【００４３】
［種々の態様］
上述した例示的な実施形態が以下の態様の具体例であることは、当業者には明らかである。
【００４４】
本発明に係る分析装置の第１態様は、試料を分析することで得られた波形パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定する分析装置であって、
多数の既知の物質の標準的な波形パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測の波形パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的な波形パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的な波形パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備えるものである。
【００４５】
また本発明に係るＸ線回折装置の第１態様は、試料をＸ線回折分析することで得られたＸ線回折パターンを利用して前記試料に含まれる物質を同定するＸ線回折装置であって、
多数の既知の物質の標準的なＸ線回折パターンが収録されているデータベースと、
試料を分析することで得られた実測のＸ線回折パターンと、前記データベースに収録されている各物質の標準的なＸ線回折パターンとの類似性を評価し、類似性が高い標準的なＸ線回折パターンを示す物質を同定候補として抽出する候補抽出部と、
前記候補抽出部により抽出された一又は複数の同定候補の情報を表示する第１表示欄と、前記データベースに収録されている物質の中で予め決められた特定の一又は複数の物質について前記候補抽出部での類似性の評価結果を含めた該物質の情報を表示する第２表示欄と、前記実測のＸ線回折パターンを表示する波形表示欄と、が配置された表示画面を作成し、表示部に表示させる表示処理部と、
を備えるものである。
【００４６】
第１の態様に係る分析装置又はＸ線回折装置によれば、特定の一又は複数の物質を分析目的等に応じて適切に定めておくことで、そうした特定の物質に比べて波形パターン（Ｘ線回折パターン）の類似性がより高い夾雑物の候補物質が多く抽出された場合であっても、ユーザーは第２表示欄に表示された情報から、特定の物質の類似性評価の結果を確認することができる。それにより、目的とする物質の同定、つまりは試料にその目的の物質が含まれるか否かを少ない手間で効率良く確認することができる。即ち、試料中の物質同定のためのユーザーの作業の負荷を軽減し、作業時間を短縮することができる。
【００４７】
また、試料中の目的の物質の量が微量であるために、波形パターン（Ｘ線回折パターン）の類似性が低いような場合であっても、そうした物質についても漏れなく物質の候補として同定作業を行うことができる。それにより、高い精度で以て試料中の物質同定を行うことができる。もちろん、目的の物質以外の夾雑物などについても、従来と同様に詳細な同定作業を行うことができる。
【００４８】
本発明の第２の態様に係るＸ線回折装置は、第１の態様のＸ線回折装置において、前記特定の一又は複数の物質は、アスベスト及び遊離珪酸に分類される物質であるものとすることができる。
【００４９】
この第２の態様によれば、作業環境測定におけるアスベスト及び遊離珪酸の定性分析及び定量分析を効率的に遂行することができる。
【符号の説明】
【００５０】
１…Ｘ線回折測定部
１１…Ｘ線照射部
１２…ゴニオメータ
１３…試料ホルダ
１４…Ｘ線検出部
１５…試料
２…データ処理部
２１…Ｘ線回折パターン作成部
２２…同定用データベース
２３…特定物質情報記憶部
２４…物質検索処理部
２５…パターン類似性評価部
２６…検索結果表示処理部
３…入力部
４…表示部
１００…検索結果表示画面
１０１…プロファイル表示欄
１０２…処理後グラフ表示欄
１０３…特定化合物リスト表示欄
１０４…一般化合物リスト表示欄
【図１】
2020201148.tif 000003
【図２】
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【図３】
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