(57)【要約】      （修正有）【課題】リード／ライト処理の精度を向上する磁気ディスク装置を提供する。【解決手段】磁気ディスク装置１は、ディスク１０と、ディスク１０に対してデータをライトするライトヘッド１５Ｗと、ディスクからデータをリードする第１リードヘッド１５Ｒ１及び第２リードヘッド１５Ｒ２とを有するヘッド１５と、ディスク１０の半径方向の各位置における第１リードヘッド１５Ｒ１及び第２リードヘッド１５Ｒ２の半径方向の第１間隔に基づいてディスク１０の各トラックに対応する各トラックピッチの第１誤差を検出し、第１誤差を補正する第１補正値に基づいてサーボパターンをディスク１０にライトし、サーボパターンに基づいてヘッド１５を位置決めするコントローラ１３０とを備える。【選択図】図１
2020042875.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクと、
前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、
前記ディスクの半径方向の各位置における前記第１リードヘッド及び前記第２リードヘッドの前記半径方向の第１間隔に基づいて前記ディスクの各トラックに対応する各トラックピッチの第１誤差を検出し、前記第１誤差を補正する第１補正値に基づいてサーボパターンを前記ディスクにライトし、前記サーボパターンに基づいて前記ヘッドを位置決めするコントローラと、を備える磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記コントローラは、前記半径方向の第１位置に前記ヘッドを位置決めした際の前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第２位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第３位置の第１距離と、前記半径方向の第２位置に前記ヘッドを位置決めした際の前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第４位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第５位置の第２距離とに基づいて前記第１間隔を算出する、請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記コントローラは、前記半径方向の各位置における前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第１検出位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第２検出位置の第１差分値と前記第１間隔とに基づいて前記第１誤差を算出する、請求項１又は２に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記コントローラは、前記第１誤差の逆数を前記第１補正値として算出する、請求項１乃至３のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記コントローラは、前記サーボパターンに基づいて前記半径方向の各位置に前記ヘッドを位置決めした際の前記第１リードヘッド及び前記第２リードヘッドの前記半径方向の第２間隔に基づいて前記ディスクの各トラックに対応する各トラックピッチの第２誤差を検出し、前記第２誤差を補正する第２補正値を前記サーボパターンにライトし、前記サーボパターンに基づいて前記ヘッドの位置決めをする、請求項１乃至４のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記コントローラは、前記第２補正値を前記サーボパターンのポストコードにライトする、請求項５に記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記コントローラは、前記半径方向の第６位置に前記ヘッドを位置決めした際の前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第７位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第８位置の第３距離と、前記半径方向の第２位置に前記ヘッドを位置決めした際の前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第９位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第１０位置の第４距離とに基づいて前記第２間隔を算出する、請求項５又は６に記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記コントローラは、前記半径方向の各位置における前記第１リードヘッドでリードした前記半径方向の第３検出位置及び前記第２リードヘッドでリードした前記半径方向の第４検出位置の第２差分値と前記第２間隔とに基づいて前記第２誤差を算出する、請求項５乃至７のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記コントローラは、前記第２誤差の逆数を前記第２補正値として算出する、請求項５乃至８のいずれか１項に記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
サーボパターンをライトする処理、例えばSelf Servo Write（ＳＳＷ）を実行する磁気ディスク装置がある。ＳＳＷによりサーボパターンをライトする場合、磁気ディスク装置は、試験的なサーボパターンをディスクにライトする。試験的なサーボパターンをライトした後に、磁気ディスク装置は、試験的なサーボパターンを最適にリード可能なディスクの半径方向の位置を検出することでトラックピッチの誤差を推定している。一方で、近年、複数のリードヘッドを有する２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置が開発されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】米国特許第９５８３１３１号明細書
【特許文献２】米国特許第９２８６９２６号明細書
【特許文献３】米国特許第８９０２５３６号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の実施形態が解決しようとする課題は、リード／ライト処理の精度を向上することが可能な磁気ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本実施形態に係る磁気ディスク装置は、ディスクと、前記ディスクに対してデータをライトするライトヘッドと、前記ディスクからデータをリードする第１リードヘッド及び第２リードヘッドとを有するヘッドと、前記ディスクの半径方向の各位置における前記第１リードヘッド及び前記第２リードヘッドの前記半径方向の第１間隔に基づいて前記ディスクの各トラックに対応する各トラックピッチの第１誤差を検出し、前記第１誤差を補正する第１補正値に基づいてサーボパターンを前記ディスクにライトし、前記サーボパターンに基づいて前記ヘッドを位置決めするコントローラと、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、実施形態に係るディスクに対するヘッドの配置の一例を示す模式図である。
【図３】図３は、本実施形態に係る磁気ディスク装置の幾何学的配置の一例を示す図である。
【図４】図４は、本実施形態に係るＲ／Ｗチャネル及びＭＰＵの構成例を示すブロック図である。
【図５】図５は、サーボパターンの一例を示す模式図である。
【図６】図６は、クロストラックギャップに対応する理論値の変化の一例を示す図である。
【図７】図７は、ダウントラックギャップに対応する理論値の変化の一例を示す図である。
【図８】図８は、対象値の変化の一例を示す図である。
【図９】図９は、トラックピッチ誤差の検出方法の一例を示す模式図である。
【図１０】図１０は、トラックピッチの変化の一例を示す図である。
【図１１】図１１は、トラックピッチ誤差の検出方法の一例を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、本実施形態のヘッドの位置決め方法の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、変形例１に係るサーボパターンの一例を示す模式図である。
【図１４】図１４は、本実施形態のヘッドの位置決め方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図面は、一例であって、発明の範囲を限定するものではない。  
（実施形態）  
図１は、実施形態に係る磁気ディスク装置１の構成を示すブロック図である。  
磁気ディスク装置１は、後述するヘッドディスクアセンブリ（ＨＤＡ）と、ドライバＩＣ２０と、ヘッドアンプ集積回路（以下、ヘッドアンプＩＣ、又はプリアンプ）３０と、揮発性メモリ７０と、バッファメモリ（バッファ）８０と、不揮発性メモリ９０と、１チップの集積回路であるシステムコントローラ１３０とを備える。また、磁気ディスク装置１は、ホストシステム（ホスト）１００と接続される。磁気ディスク装置１は、例えば、２次元記録（Two-Dimensional Magnetic Recording : TDMR）方式の磁気ディスク装置である。
【０００８】
ＨＤＡは、磁気ディスク（以下、ディスク）１０と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１２と、ヘッド１５を搭載しているアーム１３と、ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１４とを有する。ディスク１０は、スピンドルモータ１２に取り付けられ、スピンドルモータ１２の駆動により回転する。アーム１３及びＶＣＭ１４は、アクチュエータを構成している。アクチュエータは、ＶＣＭ１４の駆動により、アーム１３に搭載されているヘッド１５をディスク１０の所定の半径方向の位置（以下、単に半径位置と称する）まで移動制御する。ディスク１０およびヘッド１５は、２つ以上の数が設けられてもよい。なお、ディスク１０以外の所定の半径方向の位置を半径位置と称する場合もある。
【０００９】
ディスク１０は、その記録領域に、ユーザから利用可能なユーザデータ領域１０ａと、システム管理に必要な情報をライトするシステムエリア１０ｂとが割り当てられている。以下、ディスク１０の円周に沿う方向を円周方向と称し、円周方向に交差する方向を半径方向と称する。以下、ディスク１０のトラックにライトされたデータ、ディスク１０の所定の半径位置や、ディスク１０の所定のトラックの半径方向の幅（以下、単に、トラック幅と称する）の中心位置（以下、トラックセンタと称する）や、ディスク１０の所定のトラックのトラック幅内の所定の半径位置等を単にトラックと称する場合もある。
【００１０】
ヘッド１５は、スライダを本体として、当該スライダに実装されているライトヘッド１５Ｗとリードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２とを備える。ライトヘッド１５Ｗは、ディスク１０にデータをライトする。リードヘッド１５Ｒ１、１５Ｒ２は、ディスク１０に記録されているデータをリードする。リードヘッド１５Ｒ１は、例えば、ライトヘッド１５Ｗから最も離れた位置に設けられている。リードヘッド１５Ｒ２は、例えば、ライトヘッド１５Ｗからリードヘッド１５Ｒ１の次に離れた位置に設けられている。言い換えると、リードヘッド１５Ｒ２は、ライトヘッド１５Ｗ及びリードヘッド１５Ｒ１の間に位置している。なお、リードヘッドは、３つ以上設けられていてもよい。以下、磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１を基準としてヘッド１５をディスク１０の所定の半径位置又は所定のトラックに位置決めするものとして説明する。なお、磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１以外のリードヘッド、例えば、リードヘッド１５Ｒ２を基準としてヘッド１５を所定の半径位置又は所定のトラックに位置決めしてもよい。以下、磁気ディスク装置１において、複数のリードトラックの内のヘッド１５の位置決めの際に基準となるリードヘッドを基準リードヘッドと称する。
【００１１】
図２は、実施形態に係るディスク１０に対するヘッド１５の配置の一例を示す模式図である。図２に示すように、半径方向においてディスク１０の外周に向かう方向を外方向（外側）と称し、外方向と反対方向を内方向（内側）と称する。また、図２には、ディスク１０の回転方向を示している。なお、回転方向は逆向きであってもよい。図２において、ユーザデータ領域１０ａは、内方向に位置する内周領域ＩＲと、外方向に位置する外周領域ＯＲと、内周領域ＩＲと外周領域ＯＲとの間に位置する中周領域ＭＲとに区分されている。図２に示した例では、半径位置ＩＲＰ、半径位置ＲＰ０、及び半径位置ＯＲＰを示している。半径位置ＩＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも内方向の位置であり、半径位置ＯＲＰは、半径位置ＲＰ０よりも外方向の位置である。図２に示した例では、半径位置ＲＰ０は、中周領域ＭＲにあり、半径位置ＯＲＰは、外周領域ＯＲにあり、半径位置ＩＲＰは、内周領域ＩＲにある。なお、半径位置ＲＰ０は、外周領域ＯＲにあってもよいし、内周領域ＩＲにあってもよい。半径位置ＩＲＰは、内周領域ＩＲの所定のトラックのトラックセンタＩＩＬに相当し、半径位置ＲＰ０は、中周領域ＭＲの所定のトラックのトラックセンタＩＬ０に相当し、半径位置ＯＲＰは、外周領域ＯＲの所定のトラックのトラックセンタＯＩＬに相当する。トラックセンタＩＩＬは、所定のトラック、例えば、内周領域ＩＲの所定のトラックにおけるヘッド１５の目標とする軌跡又は経路（以下、目標軌跡又は目標経路と称する場合もある）に相当する。トラックセンタＩＬ０は、所定のトラック、例えば、中周領域ＭＲの所定のトラックにおけるヘッド１５の目標経路（目標軌跡）に相当する。トラックセンタＯＩＬは、所定のトラック、例えば、外周領域ＯＲの所定のトラックにおけるヘッド１５の目標経路（目標軌跡）に相当する。例えば、トラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬは、それぞれ、真円である。トラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬは、ディスク１０に対して同心円状に配置されている。このようにディスク１０に対して同心円状に配置されているトラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬを目標トラックと称する場合もある。また、図２には、繰り返しランナウト（Repeatable Run Out : RRO）に起因してトラックセンタＩＩＬ、ＩＬ０、及びＯＩＬに対してそれぞれずれたヘッド１５の経路ＩＳＬ、ＳＬ０、及びＯＳＬを示している。
【００１２】
ディスク１０は、複数のサーボパターンＳＶを有している。以下、サーボパターンＳＶをサーボセクタやサーボ領域と称する場合もある。複数のサーボパターンＳＶは、ディスク１０の半径方向に放射状に延出して円周方向に所定の間隔を空けて離散的に配置されている。サーボパターンＳＶは、ヘッド１５をディスク１０の所定の半径位置に位置決めするためのサーボデータとＲＲＯ補正データとを含んでいる。  
サーボデータは、例えば、サーボマーク（Servo Mark）、アドレスデータ、及びバーストデータ等を含んでいる。アドレスデータは、所定のトラックのアドレス（シリンダアドレス）と、所定のトラックのサーボセクタのアドレスとから構成される。バーストデータは、所定のトラックのトラックセンタに対するヘッド１５の半径方向の位置ずれ（位置誤差）を検出するために使用されるデータ（相対位置データ）であり、所定の周期の繰り返しパターンから構成される。バーストデータは、対外に隣接するトラックに跨って千鳥状にライトされている。バーストデータは、サーボデータをディスクにライトをしたときのディスク１０の回転に同期したブレ（繰り返しランナウト）によって生じる目標トラックに対するトラックの歪みに起因する誤差を含む。以下、説明の便宜上、ＲＲＯによって生じる目標トラックに対するトラックの歪みに起因する誤差を単にＲＲＯと称する。
【００１３】
複数のサーボパターンＳＶは、それぞれ、ＲＲＯを補正するためのＲＲＯ補正データを構成するパターン（以下、単に、ＲＲＯ補正データと称する）がライトされている。ＲＲＯ補正データは、サーボデータの一種の付加データである。ＲＲＯ補正データは、サーボデータ（より詳細には、サーボデータ中のサーボバーストデータ）のＲＲＯを補正、すなわち、目標トラックに対するヘッド１５の経路の歪みを補正するために使用される。このＲＲＯの補正を真円補正と称する場合もある。  
ＲＲＯ補正データは、ＲＲＯプリアンブルパターン、同期パターン、及び補正量を符号化したデジタルデータ（以下、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）と称する）を含む。ＲＲＯプリアンブルパターン、及び同期パターンは、後続の領域にライトされる補正量を符号化したデジタルデータのリード開始タイミングを検出するために使用される。このとき、ＲＲＯ補正符号（RRO Code）は、ＲＲＯ補正データの主要部を構成する。このようなＲＲＯ補正データを、RRO bit、又はPost Code（ポストコード）と称する場合もある。
【００１４】
ヘッド１５が半径位置ＲＰ０に位置する場合、スキュー角は、例えば、０°となる。以下、半径位置ＲＰ０を基準位置ＲＰ０と称する場合もある。ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、正の値となる。ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角は、例えば、負の値となる。なお、ヘッド１５が半径位置ＯＲＰに位置する場合、スキュー角が負の値であってもよい。また、ヘッド１５が半径位置ＩＲＰに位置する場合、スキュー角が正の値であってもよい。  
図２に示した例では、半径位置ＲＰ０にヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボパターンＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＳＬ０からトラックセンタＩＬ０上を通るように動作を補正される。半径位置ＯＲＰにヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボパターンＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＯＳＬからトラックセンタＯＩＬ上を通るように動作を補正される。半径位置ＩＲＰにヘッド１５を位置決めした場合、ヘッド１５は、ディスク１０上のサーボパターンＳＶのサーボデータに基づいて、経路ＩＳＬからトラックセンタＩＩＬ上を通るように動作を補正される。
【００１５】
図３は、本実施形態に係る磁気ディスク装置１の幾何学的配置の一例を示す図である。図３は、ディスク１０、ＳＰＭ１２、アーム１３、及びヘッド１５（リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２）の幾何学的配置の一例を示している。図３には、ディスク１０の中心（以下、ディスク中心と称する）ＤＣと、アーム１３の回転中心（ヘッド１５の回転中心）ＰＣと、を示している。図３において、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２は、半径方向に互いにずれている。図３には、ディスク中心ＤＣと回転中心ＰＣとの距離ｄ０と、リードヘッド１５Ｒ１の中心部と回転中心ＰＣとの距離ｄ１と、リードヘッド１５Ｒ２の中心部と回転中心ＰＣとの距離ｄ２と、リードヘッド１５Ｒ１の中心部とディスク中心ＤＣとの距離ｒ１と、リードヘッド１５Ｒ２の中心部とディスク中心ＤＣとの距離ｒ２と、リードヘッド１５Ｒ１の中心部とリードヘッド１５Ｒ２の中心部との間の円周方向に交差するクロストラック方向のギャップＧｃと、リードヘッド１５Ｒ１の中心部とリードヘッド１５Ｒ２の中心部との間のクロストラック方向に直交するダウントラック方向のギャップＧｃとを示している。距離ｒ１は、リードヘッド１５Ｒ１の半径位置に相当し、距離ｒ２は、リードヘッド１５Ｒ２の半径位置に相当する。そのため、距離ｒ１を半径位置ｒ１と称し、距離ｒ２を半径位置ｒ２と称する場合もある。距離Ｇｃをクロストラックギャップ又はCross Track Separation（CTS）と称し、距離Ｇｄをダウントラックギャップ又はDown Track Separation(DTS)と称する場合もある。以下、説明の便宜上、リードヘッドの中心部を単にリードヘッドと称し、ライトヘッドの中心部を単にライトヘッドと称する場合もある。また、図３には、ディスク中心ＤＣ及び回転中心ＰＣを結ぶ直線Ｌｄ０と、回転中心ＰＣ及びリードヘッド１５Ｒ１を結ぶ直線Ｌｄ１と、回転中心ＰＣ及びリードヘッド１５Ｒ２を結ぶ直線Ｌｄ２と、直線Ｌｄ０に対する直線Ｌｄ１の角度α１と、直線Ｌｄ０に対する直線Ｌｄ２の角度α２とを示している。クロストラック方向は、例えば、直線Ｌｄ１に直交する方向である。なお、クロストラック方向は、直線Ｌｄ２に直交する方向であってもよい。
【００１６】
図３において、距離ｄ０、距離ｄ１、距離ｄ２、クロストラックギャップＧｃ、ダウントラックギャップＧｄ、角度（α２−α１）等は、ディスク１０、ＳＰＭ１２、アーム１３、及びヘッド１５（リードヘッド１５Ｒ１及びリードヘッド１５Ｒ２）等の幾何学的な配置に基づいて取得することができる。幾何学的な配置に対応するこれらの値（以下、設定値と称する）を用いて、ｃоｓ（α２−α１）は、以下の式で表される。  
ｃоｓ（α２−α１）  
＝｛ｄ１＾２＋ｄ２＾２−（Ｇｃ２＾２＋Ｇｄ＾２）｝／２ｄ１×ｄ２  式（１）  
また、半径位置ｒ１及びｒ２は、以下の式で表される。  
ｒ１＝√（ｄ０＾２＋ｄ１＾２―２ｄ０×ｄ１×ｃоｓα１）  式（２）  
ｒ２＝√（ｄ０＾２＋ｄ２＾２―２ｄ０×ｄ２×ｃоｓα２）  式（３）
半径位置ｒ１と半径位置ｒ２との差分値Ｕｔｒは、以下の式で表される。  
Ｕｔｒ＝ｒ２−ｒ１  式（４）  
例えば、差分値Ｕｔｒは、ｒ１の関数Ｕｔｒ（ｒ１）である。なお、差分値Ｕｔｒは、ｒ２の関数Ｕｔｒ（ｒ２）であってもよい。以下、差分値Ｕｔｒのように設定値に基づいて算出したリードヘッド１５Ｒ１とリードヘッド１５Ｒ２との半径方向のずれを理論値Ｕｔｒと称する場合もある。また、設定値に基づいて算出したリードヘッド１５Ｒ１の半径位置ｒ１とリードヘッド１５Ｒ２の半径位置ｒ２とを理論位置と称する場合もある。理論値Ｕｔｒは、ディスク１０の所定の半径位置にヘッド１５を位置決めした場合におけるリードヘッド１５Ｒ１でリードしたトラックとリードヘッド１５Ｒ２でリードしたトラックとの半径方向の間隔に相当する。以下で、ディスク１０の所定の半径位置にヘッド１５を位置決めした場合におけるリードヘッド１５Ｒ１でリードしたトラックとリードヘッド１５Ｒ２でリードしたトラックとの半径方向の間隔をリードトラック間隔と称する。
【００１７】
ドライバＩＣ２０は、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するＭＰＵ６０）の制御に従って、ＳＰＭ１２およびＶＣＭ１４の駆動を制御する。  
ヘッドアンプＩＣ（プリアンプ）３０は、リードアンプ及びライトドライバを備えている。リードアンプは、ディスク１０からリードされたリード信号を増幅して、システムコントローラ１３０（詳細には、後述するリード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル５０）に出力する。ライトドライバは、Ｒ／Ｗチャネル５０から出力されるライトデータに応じたライト電流をヘッド１５に出力する。
【００１８】
揮発性メモリ７０は、電力供給が断たれると保存しているデータが失われる半導体メモリである。揮発性メモリ７０は、磁気ディスク装置１の各部での処理に必要なデータ等を格納する。揮発性メモリ７０は、例えば、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）、又はＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）である。
【００１９】
バッファメモリ８０は、磁気ディスク装置１とホスト１００との間で送受信されるデータ等を一時的に記録する半導体メモリである。なお、バッファメモリ８０は、揮発性メモリ７０と一体に構成されていてもよい。バッファメモリ８０は、例えば、ＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ（Static Random Access Memory）、ＳＤＲＡＭ、ＦｅＲＡＭ（Ferroelectric Random Access memory）、又はＭＲＡＭ（Magnetoresistive Random Access Memory）等である。
【００２０】
不揮発性メモリ９０は、電力供給が断たれても保存しているデータを記録する半導体メモリである。不揮発性メモリ９０は、例えば、ＮＯＲ型またはＮＡＮＤ型のフラッシュＲＯＭ（Flash Read Only Memory :ＦＲＯＭ）である。
システムコントローラ（コントローラ）１３０は、例えば、複数の素子が単一チップに集積されたSystem-on-a-Chip(ＳｏＣ)と称される大規模集積回路（ＬＳＩ）を用いて実現される。システムコントローラ１３０は、ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）４０と、リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル５０と、マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）６０と、を含む。ＨＤＣ４０、Ｒ／Ｗチャネル５０、及びＭＰＵ６０は、それぞれ、互いに電気的に接続されている。システムコントローラ１３０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ヘッドアンプＩＣ６０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０、及びホストシステム１００等に電気的に接続されている。
【００２１】
ＨＤＣ４０は、後述するＭＰＵ６０からの指示に応じて、ホスト１００とＲ／Ｗチャネル５０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ４０は、例えば、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に電気的に接続されている。  
Ｒ／Ｗチャネル５０は、ＭＰＵ６０からの指示に応じて、リードデータ及びライトデータの信号処理を実行する。Ｒ／Ｗチャネル５０は、リードデータの信号品質を測定する回路、又は機能を有している。Ｒ／Ｗチャネル５０は、例えば、ヘッドアンプＩＣ３０等に電気的に接続されている。
【００２２】
ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部を制御するメインコントローラである。ＭＰＵ６０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、ヘッド１５の位置決めを行なうサーボ制御を実行する。ＭＰＵ６０は、ディスク１０へのデータのライト動作を制御すると共に、ホスト１００から転送されるライトデータの保存先を選択する。また、ＭＰＵ６０は、ディスク１０からのデータのリード動作を制御すると共に、ディスク１０からホスト１００に転送されるリードデータの処理を制御する。ＭＰＵ６０は、磁気ディスク装置１の各部に接続されている。ＭＰＵ６０は、例えば、ドライバＩＣ２０、ＨＤＣ４０、及びＲ／Ｗチャネル５０等に電気的に接続されている。
【００２３】
図４は、本実施形態に係るＲ／Ｗチャネル５０及びＭＰＵ６０の構成例を示すブロック図である。図４おいて、ディスク１０、アーム１３、ＶＣＭ１４、及びヘッド１５等は省略している。  
Ｒ／Ｗチャネル５０は、第１復調部５１０と、第２復調部５２０とを備えている。例えば、第１復調部５１０は、リードヘッド１５Ｒ１でリードしたデータ、例えば、サーボデータを復調し、復調したサーボデータをＭＰＵ６０等に出力する。第１復調部５１０と同様に、第２復調部は５２０、リードヘッド１５Ｒ２でリードしたサーボデータを復調し、復調したサーボデータをＭＰＵ６０等に出力する。なお、３つ以上のリードヘッドが設けられている場合、Ｒ／Ｗチャネル５０は、これらのリードヘッドにそれぞれ対応する３つ以上の復調部を備えていてもよい。
【００２４】
ＭＰＵ６０は、リード／ライト制御部６１０と、推定部６２０と、誤差検出部６３０、サーボデータ制御部６４０とを備えている。ＭＰＵ６０は、これら各部、例えば、リード／ライト制御部６１０、推定部６２０、誤差検出部６３０、及びサーボデータ制御部６４０等の処理をファームウェア上で実行する。なお、ＭＰＵ６０は、これら各部を回路として備えていてもよい。  
リード／ライト制御部６１０は、ホスト１００からのコマンドに従って、データのリード処理及びライト処理を制御する。リード／ライト制御部６１０は、ドライバＩＣ２０を介してＶＣＭ１４を制御し、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の少なくとも一方を基準リードヘッドとしてディスク１０の所定の半径位置にヘッド１５を位置決めし、リード処理又はライト処理を実行する。リード／ライト制御部６１０は、サーボデータやＲＲＯ補正データに基づいてヘッド１５の位置決めする。
【００２５】
推定部６２０は、ディスク１０の半径方向におけるリードトラック間隔の変化（以下、リードトラック間隔の変化と称する）を推定する。なお、リードトラック間隔の変化を単にリードトラック間隔と称する場合もある。推定部６２０は、例えば、所定の設定値に対応するディスク１０の半径方向における理論値の変化（以下、理論値の変化と称する）を算出し、算出線に基づいて現在リード／ライト処理を実行するディスク１０及びヘッド１５に関連する設定値（以下、現在の設定値と称する）に対応する半径方向における理論値の変化（以下、対象値の変化と称する）を推定する。なお、理論値の変化を単に理論値と称し、対象値の変化を単に対象値と称する場合もある。推定部６２０は、理論値の変化や対象値の変化を記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、不揮発性メモリ９０等に記録していてもよい。
【００２６】
図５は、サーボパターンＳＳＶの一例を示す模式図である。図５において、サーボパターンＳＳＶは、スパイラル状に配置されている。なお、サーボパターンＳＳＶは、スパイラル状に配置されていなくともよい。サーボパターンＳＳＶは、サーボデータとＲＲＯ補正データとを含んでいる。  
図５に示したサーボパターンＳＳＶは、例えば、ディスク装置１の製造工程でライトされる。例えば、磁気ディスク装置１は、図５に示したサーボパターンＳＳＶを用いて図２に示したSelf Servo Write（ＳＳＷ）によりサーボパターンＳＶをライトする。
【００２７】
図６は、クロストラックギャップＧｃに対応する理論値の変化の一例を示す図である。図６において、横軸は、所定のディスクの半径位置を示し、縦軸は、理論値を示している。図６の横軸には、基準位置ＲＰ０を示している。横軸において、外方向の矢印の向かう方向に進むに従って所定のディスクの外周に向かい、内方向の矢印の向かう方向に進むに従って所定のディスクの内周に向かう。縦軸において、正の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値が大きくなり、負の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値が小さくなる。言い換えると、縦軸において、正の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値の絶対値が大きくなり、負の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値の絶対値が大きくなる。図６において、線ＧｃＬ１は、クロストラックギャップＧｃ＝０の場合の理論値の変化を示している。線ＧｃＬ２は、クロストラックギャップＧｃ＞０の場合の理論値の変化を示している。線ＧｃＬ３は、クロストラックギャップＧｃ＜０の場合の理論値の変化を示している。図６に示すように理論値の変化を示す線を理論値線と称する場合もある。
【００２８】
図６に示した例では、理論値線ＧｃＬ１、ＧｃＬ２、及びＧｃＬ３は、それぞれ、内方向に進むに従って正の値の方向に大きくなり、外方向に進むに従って負の値の方向に小さくなっている。図６において、基準位置ＲＰ０よりも外方向では、理論値線ＧｃＬ２は、理論値線ＧｃＬ１よりも負の値の方向に位置し、理論値線ＧｃＬ３は、理論値線ＧｃＬ１よりも正の値の方向に位置している。基準位置ＲＰ０よりも内方向では、理論値線ＧｃＬ２は、理論値線ＧｃＬ１よりも正の値の方向に位置し、理論値線ＧｃＬ３は、理論値線ＧｃＬ１よりも負の値の方向に位置している。言い換えると、スキュー角が＜０では、理論値線ＧｃＬ２の内の所定の半径位置における理論値は、理論値線ＧｃＬ１の内のこの半径位置における理論値よりも小さく、理論値線ＧｃＬ３の内の所定の半径位置における理論値は、理論値線ＧｃＬ１の内のこの半径位置における理論値よりも大きい。スキュー角が＞０では、理論値線ＧｃＬ２の内の所定の半径位置の理論値は、理論値線ＧｃＬ１の内のこの半径位置の理論値よりも大きく、理論値線ＧｃＬ３の内の所定の半径位置の理論値は、理論値線ＧｃＬ１の内のこの半径位置の理論値よりも小さい。
【００２９】
推定部６２０は、複数のクロストラックギャップＧｃにそれぞれ対応する複数の理論値線を算出する。以下、説明の便宜上、複数のクロストラックギャップＧｃにそれぞれ対応する複数の理論値線をクロストラックギャップ線群と称する。言い換えると、推定部６２０は、所定の設定値の内のクロストラックギャップＧｃを種々の値に変化させてクロストラックギャップ線群を算出する。推定部６２０は、算出したクロストラックギャップ線群を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録する。
【００３０】
図７は、ダウントラックギャップＧｄに対応する理論値の変化の一例を示す図である。図７において、横軸は、所定のディスクの半径位置を示し、縦軸は、理論値を示している。横軸において、外方向の矢印の向かう方向に進むに従って所定のディスクの外周に向かい、内方向の矢印の向かう方向に進むに従って所定のディスクの内周に向かう。縦軸において、正の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値が大きくなり、負の値の矢印の向かう方向に進むに従って理論値が小さくなる。図７において、線ＧｄＬ１は、ダウントラックギャップＧｄ＝０の場合の理論値線を示している。線ＧｄＬ２は、ダウントラックギャップＧｄ＞０の場合の理論値線を示している。線ＧｄＬ３は、ダウントラックギャップＧｄ＜０の場合の理論値線を示している。
【００３１】
図７に示した例では、理論値線ＧｄＬ１、ＧｄＬ２、及びＧｄＬ３は、それぞれ、内方向に進むに従って正の値の方向に大きくなり、外方向に進むに従って負の値の方向に小さくなっている。図７において、理論値線ＧｄＬ２は、理論値線ＧｄＬ１よりも正の方向に位置し、理論値線ＧｄＬ１を正の値の方向にシフトした位置に位置している。理論値線ＧｄＬ３は、理論値線ＧｄＬ１を負の値の方向に位置し、理論値線ＧｄＬ１を負の値の方向にシフトした位置に位置している。
【００３２】
推定部６２０は、複数のダウントラックギャップＧｄにそれぞれ対応する複数の理論値線を算出する。以下、説明の便宜上、複数のダウントラックギャップＧｄにそれぞれ対応する複数の理論値線をダウントラックギャップ線群と称する。言い換えると、推定部６２０は、所定の設定値の内のダウントラックギャップＧｄを種々の値に変化させてダウントラックギャップ線群を算出する。推定部６２０は、算出したダウントラックギャップ線群を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録する。
【００３３】
図８は、対象値の変化の一例を示す図である。図８において、横軸は、ディスク１０の半径位置を示し、縦軸は、リードトラック間隔を示している。横軸において、外方向の矢印の向かう方向に進むに従ってディスク１０の外周に向かい、内方向の矢印の向かう方向に進むに従ってディスク１０の内周に向かう。縦軸において、正の値の矢印の向かう方向に進むに従ってリードトラック間隔が大きくなり、負の値の矢印の向かう方向に進むに従ってリードトラック間隔が小さくなる。図８において、点ＰＴ１は、ディスク１０の半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めして検出したリードトラック間隔Ｕｍ１を示し、点ＰＴ２は、ディスク１０の半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めして検出したリードトラック間隔Ｕｍ２を示している。以下、ディスク１０の所定の半径位置にヘッド１５を位置決めして検出したリードトラック間隔を検出値（又は、測定値）と称する場合もある。また、所定の半径位置にヘッド１５を位置決めして検出した検出値を検出点と称する場合もある。図８に示した例では、半径位置Ｐ２は、半径位置Ｐ１よりも内方向に位置している。また、検出値Ｕｍ２は、検出値Ｕｍ１よりも大きい。図８において、線Ｌ１は、検出点ＰＴ１及びＰＴ２に基づいて推定した対象値の変化を示している。図８に示すように、検出点に基づいて推定された対象値を示す線を推定線と称する場合もある。
【００３４】
図８に示した例では、推定部６２０は、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０において、サーボパターンＳＳＶに基づいて半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めして検出値Ｕｍ１を検出する。推定部６２０は、例えば、図７に示したダウントラックギャップ線群及び検出点ＰＴ１に基づいて、半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めした場合のダウントラックギャップＧｄを検出する。  
図８に示した例では、推定部６２０は、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０の半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めして検出値Ｕｍ２を検出する。推定部６２０は、例えば、図６に示したクロストラックギャップ線群及び検出点ＰＴ２に基づいて、半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めした場合のクロストラックギャップＧｃを検出する。  
図８に示した例では、推定部６２０は、検出したダウントラックギャップＧｄ、検出したクロストラックギャップＧｃ、検出点ＰＴ１、及び検出点ＰＴ２に基づいて推定線Ｌ１を推定する。推定部６２０は、推定した推定線を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録する。
【００３５】
なお、推定部６２０は、図６に示したクロストラックギャップ線群及び検出点ＰＴ１に基づいて、半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めした場合のクロストラックギャップＧｃを検出してもよい。推定部６２０は、図７に示したダウントラックギャップ線群及び検出点ＰＴ２に基づいて、半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めした場合のダウントラックギャップＧｄを検出してもよい。推定部６２０は、図６に示したクロストラックギャップ線群及び検出点ＰＴ１に基づいて、半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めした場合のクロストラックギャップＧｃを検出してもよい。推定部６２０は、図７に示したダウントラックギャップ線群及び検出点ＰＴ１に基づいて、半径位置Ｐ１にヘッド１５を位置決めした場合のダウントラックギャップＧｄを検出してもよい。推定部６２０は、図６に示したクロストラックギャップ線群及び検出点ＰＴ２に基づいて、半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めした場合のクロストラックギャップＧｃを検出してもよい。推定部６２０は、図７に示したダウントラックギャップ線群及び検出点ＰＴ２に基づいて、半径位置Ｐ２にヘッド１５を位置決めした場合のダウントラックギャップＧｄを検出してもよい。また、推定線と検出点に基づいて、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２の配置を推定することも可能である。そのため、推定線をヘッド製造上の交差管理に用いることもできる。
【００３６】
誤差検出部６３０は、ディスク１０の各トラックにおけるトラックピッチの誤差（以下、トラックピッチ誤差と称する）を検出する。誤差検出部６３０は、例えば、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０において、所定の半径位置にヘッド１５を位置決めして検出値を検出し、図８に示した推定線及び検出点に基づいてトラックピッチ誤差を検出する。誤差検出部６３０は、ディスク１０の半径方向の各半径位置で検出値を検出し、図８に示した推定線及び検出点に基づいてディスク１０の半径方向におけるトラックピッチ誤差の変化（以下、トラックピッチ誤差の変化と称する）を検出する。なお、トラックピッチ誤差の変化を単にトラックピッチ誤差を称する場合もある。誤差検出部６３０は、検出したトラックピッチ誤差の変化を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録する。
【００３７】
図９は、トラックピッチ誤差の検出方法の一例を示す模式図である。図９には、半径方向に連続して並んでいるトラックＴＲｎ−１、ＴＲｎ、ＴＲｎ＋１、及びＴＲｎ＋２を示している。図９には、トラックＴＲｎ−１のトラックセンタＴＲＣｎ−１、トラックＴＲｎのトラックセンタＴＲＣｎ、トラックＴＲｎ＋１のトラックセンタＴＲＣｎ＋１、及びトラックＴＲｎ＋２のトラックセンタＴＲＣｎ＋２を示している。図９には、トラックＴＲｎ−１とトラックＴＲｎのトラックピッチＴＰｎ−１、トラックＴＲｎとトラックＴＲｎ＋１のトラックピッチＴＰｎ、及びトラックＴＲｎ＋１とトラックＴＲｎ＋２のトラックピッチＴＰｎ＋１と示している。トラックピッチＴＰｎ−１は、例えば、トラックセンタＴＲＣｎ−１とトラックセンタＴＲＣｎとの距離であり、トラックピッチＴＰｎは、例えば、トラックセンタＴＲＣｎとトラックセンタＴＲＣｎ＋１との距離であり、トラックピッチＴＰｎ＋１は、例えば、トラックセンタＴＲＣｎ＋１とトラックセンタＴＲＣｎ＋２との距離である。トラックセンタＴＲＣｎは、半径位置Ｐｄ０に位置している。図９には、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置して位置決めしたヘッド１５を示している。図９に示した例では、説明の便宜上、トラックセンタＴＲＣｎに対してヘッド１５が平行に配置されているが、トラックセンタＴＲＣｎに対して傾斜していてもよい。図９には、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置した場合のリードヘッド１５Ｒ２の半径位置Ｐｄ１と、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置した場合のリードヘッド１５Ｒ２の理論位置Ｐｄ２とを示している。図９には、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置した場合の理論値Ｕｔｒ９１と、リードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置した場合の検出値Ｕｍ９１とを示している。
【００３８】
図９に示した例では、誤差検出部６３０は、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０において、サーボパターンＳＳＶに基づいてリードヘッド１５Ｒ１を半径位置Ｐｄ０に配置してヘッド１５を位置決めする。誤差検出部６３０は、リードヘッド１５Ｒ１が配置されたＰｄ０とリードヘッド１５Ｒ２が配置された半径位置Ｐｄ１とに基づいて検出値Ｕｍ９１を検出する。誤差検出部６３０は、リードヘッド１５Ｒ１を配置した半径位置Ｐｄ０に対応する図８に示した推定線の内の対象値、例えば、理論値Ｕｔｒ９１を検出する。誤差検出部６３０は、検出値Ｕｍ９１及び理論値Ｕｔｒ９１に基づいてトラックピッチ誤差ＰＥを検出する。誤差検出部６３０は、ディスク１０の半径方向の各トラックで検出値を検出し、図８に示した推定線及び検出点に基づいてトラックピッチ誤差の変化を検出する。誤差検出部６３０は、検出したトラックピッチ誤差の変化を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録する。
【００３９】
サーボデータ制御部６４０は、トラックピッチ誤差の変化に基づいてディスク１０にサーボデータをライトする。サーボデータ制御部６４０は、例えば、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０において、このディスク１０に対応するトラックピッチ誤差の変化に基づいて図２に示したサーボパターンＳＶをライトする。
【００４０】
図１０は、トラックピッチの変化の一例を示す図である。図１０において、横軸は、ディスク１０の半径位置を示し、縦軸は、トラックピッチを示している。横軸において、外方向の矢印の向かう方向に進むに従ってディスク１０の外周に向かい、内方向の矢印の向かう方向に進むに従ってディスク１０の内周に向かう。縦軸において、大の矢印の向かう方向に進むに従ってトラックピッチが大きくなり、小の矢印の向かう方向に進むに従ってトラックピッチが小さくなる。図１０において、線ＴＰＬ１は、ディスク１０の半径方向において一定のトラックピッチ（以下、基準トラックピッチと称する）を示し、線ＴＰＬ２は、基準トラックピッチに対するトラックピッチ誤差の変化を示し、線ＴＰＬ３は、線ＴＰＬ２のトラックピッチ誤差の変化を基準トラックピッチに補正するための値（以下、補正値と称する）の変化（以下、補正値の変化と称する）を示している。なお、補正値の変化を単に補正値と称する場合もある。補正値の変化ＴＰＬ３は、例えば、トラックピッチ誤差の変化ＴＰＬ２の逆数に相当する。図１０に示すように、基準トラックピッチを示す線を基準トラックピッチ線と称し、トラックピッチ誤差の変化を示す線をトラックピッチ誤差線と称し、補正値の変化を示す線を補正値線と称する。
【００４１】
図１０に示した例では、サーボデータ制御部６４０は、トラックピッチ誤差線ＴＰＬ２に基づいて補正値線ＴＰＬ３を算出する。サーボデータ制御部６４０は、図５に示したサーボパターンＳＳＶがライトされたディスク１０の半径方向において、補正値線ＴＰＬ３に基づいて図２に示したサーボパターンＳＶを調整しながらライトする。補正値線ＴＰＬ３に基づいてサーボパターンＳＶをライトすることにより、サーボデータ制御部６４０は、基準トラックピッチＴＰＬ１となるサーボパターンＳＶをディスク１０にライトする。
【００４２】
図１１は、トラックピッチ誤差の検出方法の一例を示すフローチャートである。  
ＭＰＵ６０は、検出点を検出する（Ｂ１１０１）。例えば、ＭＰＵ６０は、ディスク１０の異なる２つの半径位置で検出点を検出する。ＭＰＵ６０は、クロストラックギャップＧｃ及びダウントラックギャップＧｄを検出する（Ｂ１１０２）。例えば、ＭＰＵ６０は、ダウントラックギャップ線群と１つの検出点とに基づいて、ダウントラックギャップＧｄを検出する。また、ＭＰＵ６０は、クロストラックギャップ線群ともう一方の検出点とに基づいて、クロストラックギャップＧｃを検出する。ＭＰＵ６０は、推定線を推定する（Ｂ１１０３）。例えば、ＭＰＵ６０は、検出したダウントラックギャップＧｄと、検出したクロストラックギャップＧｃと、２つの検出点とに基づいて推定線を推定する。ＭＰＵ６０は、トラックピッチ誤差を検出し（Ｂ１１０４）、処理を終了する。例えば、ＭＰＵ６０は、ディスク１０の各半径位置で検出した検出値と推定線とに基づいてトラックピッチ誤差の変化を検出し、検出したトラックピッチ誤差の変化を所定の記録領域、例えば、ディスク１０、揮発性メモリ７０、バッファメモリ８０、及び不揮発性メモリ９０等に記録し、処理を終了する。
【００４３】
図１２は、本実施形態のヘッドの位置決め方法の一例を示す図である。  
ＭＰＵ６０は、補正値を算出する（Ｂ１２０１）。例えば、ＭＰＵ６０は、トラックピッチ誤差に基づいて補正値を算出する。一例では、ＭＰＵ６０は、トラックピッチ誤差の逆数を補正値として算出する。ＭＰＵ６０は、補正値に基づいてサーボパターンＳＶをライトする（Ｂ１２０２）。ＭＰＵ６０は、サーボパターンに基づいてヘッド１５を位置決めし（Ｂ１２０３）、処理を終了する。例えば、ＭＰＵ６０は、補正値に基づいてライトされたサーボパターンＳＶに基づいてヘッド１５を位置決めし、処理を終了する。
【００４４】
本実施形態によれば、磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２を備えている。磁気ディスク装置１は、リードヘッド１５Ｒ１及び１５Ｒ２により別々に検出した異なる２つの検出点と、クロストラックギャップ線群と、ダウントラックギャップ線群とに基づいて推定線を検出する。磁気ディスク装置１は、推定線と検出点とに基づいてトラックピッチ誤差を検出する。磁気ディスク装置１は、トラックピッチ誤差に基づいて補正値を算出する。磁気ディスク装置１は、補正値に基づいてサーボパターンＳＶをライトする。磁気ディスク装置１は、補正値に基づいてライトしたサーボパターンに基づいてヘッドを位置決めする。そのため、磁気ディスク装置１は、リード／ライト処理の精度を向上することが可能である。また、磁気ディスク装置１は、リード処理のみでトラックピッチ誤差を補正することができる。したがって、トラックピッチ誤差の補正するための処理時間を短縮することができる。
【００４５】
次に、変形例に係る磁気ディスク装置について説明する。変形例において、前述の実施形態と同一の部分には同一の参照符号を付してその詳細な説明を省略する。  
（変形例１）  
変形例１の磁気ディスク装置１は、ポストコード内に補正値に関連する情報を有している点で異なる。  
図１３は、変形例１に係るサーボパターンＳＶの一例を示す模式図である。図１３では、サーボパターンＳＶは、プリアンブル（Preamble）、サーボマーク(Servo Mark)、グレイコード（Gray Code）、ＰＡＤ、Ｎバースト、Ｑバースト、及びポストコード（Post Code）等を含む。
【００４６】
ＭＰＵ６０は、図２に示したサーボパターンＳＶをライトした後に、再度トラックピッチ誤差を検出する。ＭＰＵ６０は、サーボパターンＳＶがライトされたディスク１０において、前述したように推定線を推定する。ＭＰＵ６０は、サーボパターンＳＶがライトされたディスク１０において、前述したようにトラックピッチ誤差を検出する。ＭＰＵ６０は、検出したトラックピッチ誤差に基づいて補正値を算出する。ＭＰＵ６０は、検出した補正値に関連する情報（以下、補正値情報と称する）ＣＩをサーボパターンＳＶのPost Codeにライトする。ＭＰＵ６０は、サーボパターンＳＶに基づいてヘッド１５を位置決めする。
【００４７】
図１４は、本実施形態のヘッドの位置決め方法の一例を示す図である。  
ＭＰＵ６０は、補正値を算出する（Ｂ１２０１）。ＭＰＵ６０は、補正値情報ＣＩをサーボパターンにライトする（Ｂ１４０１）。例えば、ＭＰＵ６０は、補正値情報ＣＩをポストコードにライトする。ＭＰＵ６０は、サーボパターンＳＶに基づいてヘッド１５を位置決めし（Ｂ１２０３）、処理を終了する。例えば、ＭＰＵ６０は、補正値に基づいてライトされたサーボパターンに基づいてヘッド１５を位置決めし、処理を終了する。
【００４８】
変形例１によれば、磁気ディスク装置１は、サーボパターンＳＶをライトした後に、推定線を検出し、推定線と検出点とに基づいてトラックピッチ誤差を検出し、トラックピッチ誤差に基づいて補正値を算出する。磁気ディスク装置１は、補正値情報をサーボパターンＳＶのポストコードにライトする。磁気ディスク装置１は、補正値に基づいてライトしたサーボパターンに基づいてヘッドを位置決めする。そのため、磁気ディスク装置１は、リード／ライト処理の精度を向上することが可能である
いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００４９】
１…磁気ディスク装置、１０…磁気ディスク、１０ａ…ユーザデータ領域、１０ｂ…システムエリア、１２…スピンドルモータ（ＳＰＭ）、１３…アーム、１４…ボイスコイルモータ（ＶＣＭ）、１５…ヘッド、１５Ｗ…ライトヘッド、１５Ｒ１、１５Ｒ２…リードヘッド、２０…ドライバＩＣ、３０…ヘッドアンプＩＣ、４０…ハードディスクコントローラ（ＨＤＣ）、５０…リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャネル、６０…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、７０…揮発性メモリ、８０…バッファメモリ、９０…不揮発性メモリ、１００…ホストシステム（ホスト）、１３０…システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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