(57)【要約】【課題】被検証回路が有する複数の機能回路のうち選択した複数を接続した回路を検証することができる回路検証装置を提供する。【解決手段】回路検証装置は、複数の機能回路を有する被検証回路と、機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路とに接続し、被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う対向回路の出力とを比較して、被検証回路に含まれる機能回路が正常か否かを判定し、被検証回路に含まれる機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、
を備え、
前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証装置。
【請求項２】
前記接続部は、
前記機能回路を直列に接続した第一直列回路を構成する前記被検証回路と、
前記第一直列回路における前記機能回路の直列の順番と、それら機能回路に対応する対向回路を前記第一直列回路における対応する前記機能回路の順番と逆の順番で直列に接続した第二直列回路を構成する前記検証対向回路と、
に接続する
請求項１に記載の回路検証装置。
【請求項３】
前記解析回路は、前記被検証回路の出力と、前記検証対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する
請求項１または請求項２に記載の回路検証装置。
【請求項４】
前記機能回路は、当該機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる対向機能を更に有し、入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と、入力した前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行し、
前記解析回路は、前記被検証回路の出力を前記被検証回路に前記出力値を入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、前記検証対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する
請求項１から請求項３の何れか一項に記載の回路検証装置。
【請求項５】
前記解析回路は、前記機能回路の出力を当該機能回路に入力したとき前記対向機能による出力と、当該機能回路に対応する前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する
請求項４に記載の回路検証装置。
【請求項６】
前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力を当該複数の機能回路による直列の回路に入力したときの前記対向機能による出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
請求項４または請求項５に記載の回路検証装置。
【請求項７】
複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路とに接続し、
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、
前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路検証装置、回路検証方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図９に検証対向回路１２０を用いた検証環境１０を示す。当該検証環境１０において、機能検証データ生成回路１１０は機能検証データを生成する。検証対向回路１２０は、被検証回路２０を検証するために設けられた回路であり、被検証回路２０が値ａを入力した場合に値ｂを出力する回路である場合、検証対向回路１２０は値ｂを入力した場合に値ａを出力する回路である。
【０００３】
今、機能検証データ生成回路１１０が値ａを生成して検証対向回路１２０へ出力したとする。この場合、検証対向回路１２０は値ａを入力して、被検証回路２０と解析回路１３０へ値ｂを出力する。被検証回路２０は値ｂを入力して値ａを出力する。解析回路１３０は、検証対向回路１２０から入力した値ｂと、被検証回路２０から入力した値ａとの関係が正しいかを判定し、正しい場合に、被検証回路２０の動作が正しいと判定する。表示装置３０は解析回路１３０の判定結果を出力する。このような検証環境１０の場合、被検証回路２０に入力された値と、被検証回路２０が出力した値の関係が正しいか否かの解析（判定）しか行えない。このため、回路規模が大きく、複数の機能が組み込まれた回路を検証する場合、被検証回路２０内の機能誤りの箇所を特定するのに時間を要していた。
【０００４】
特許文献１には、機能を検証する対象となる被検証回路が有する複数の機能回路それぞれの対向機能回路を用いて、被検証回路の各機能回路それぞれの機能を検証する機能検証方法が記載されている。
また特許文献２には、被検証回路のインタフェース障害を検出可能とする診断回路が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−０４４５３９号公報
【特許文献２】特開平１１−０６４４６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ここで、特許文献１に記載の技術では被検証回路内の複数の機能回路それぞれについての検証をすることはできるが、被検証回路が有する複数の機能回路のうち選択した複数の回路により構成される回路群を一度に検証することができない。すなわち、選択した複数の機能回路を接続して１つの回路とみなし、その回路を一度に検証することができない。よって被検証回路が有する複数の回路のうち任意の複数接続された機能回路の連携による入力と出力の関係の正しさを一度に確認することができない。
【０００７】
そこでこの発明は、上述の課題を解決する回路検証装置、回路検証方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の態様によれば、回路検証装置は、複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、を備え、前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。
【０００９】
本発明の第２の態様によれば、回路検証方法は、複数の機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路とに接続し、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、被検証回路が有する複数の機能回路のうち選択した複数を接続した回路を検証することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態による回路検証装置を備えた回路検証システムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による回路検証装置の処理フローを示す第一の図である。
【図３】本発明の一実施形態による各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第一の図である。
【図４】本発明の一実施形態による回路検証装置の処理フローを示す第二の図である。
【図５】本発明の一実施形態による各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第二の図である。
【図６】本発明の一実施形態による回路検証装置の処理フローを示す第三の図である。
【図７】本発明の一実施形態による各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第三の図である。
【図８】本発明の一実施形態による回路検証装置の最小構成を示す図である。
【図９】関連する検証環境を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の一実施形態による回路検証装置を図面を参照して説明する。
図１は同実施形態による回路検証装置を備えた回路検証システムの構成を示すブロック図である。
図１で示すように回路検証システム１００は、一例としては、回路検証装置１、被検証回路２、第１表示装置３、第２表示装置４を含んで構成される。
【００１３】
被検証回路２は、機能を検証する対象となる機能検証対象回路の一例である。被検証回路２は、機能Ａを実行する機能Ａ回路２１Ａと、機能Ｂを実行する機能Ｂ回路２１Ｂと、機能Ｃを実行する機能Ｃ回路２１Ｃとの複数の機能回路、第１セレクタ２４、及び第２セレクタ２５を有する。また被検証回路２は、機能Ａ回路２１Ａと、機能Ｂ回路２１Ｂと、機能Ｃ回路２１Ｃとをその順番で直列に接続した第一直列回路を構成する。以下、説明の便宜を図るため、機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃを総称して機能回路２１と称することがある。
【００１４】
機能回路２１（機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃ）は、入力した入力値を他の値である出力値に変換する変換機能に加えて、当該変換機能の入力値と出力値のうちの当該出力値を入力した場合には当該出力値を変換して当該入力値を出力する機能（以下、「対向機能」とする。）を更に有する。つまり機能回路２１の変換機能が値ａを第一入力部において入力し、その値ａを変換して第一出力部から値ｂを出力する場合、機能回路２１は第二入力部において値ｂを入力して第二出力部から値ａを出力する対向機能を有する。なお本実施形態において機能回路２１（機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃ）は、回路図中、回路検証装置側（図中左側）から第一入力部（Ａ１１，Ｂ１１，Ｃ１１）において入力した値を他方側（図中右側）の第一出力部（Ａ１２，Ｂ１２，Ｃ１２）から出力する際に変換機能によりデータを変換し、解析回路１３側（図中右側）から第二入力部（Ａ２１，Ｂ２１，Ｃ２１）において入力した値を回路検証装置１側（図中左側）の第二出力部（Ａ２２，Ｂ２２，Ｃ２２）からに出力する際に対向機能によりデータを変換する。
【００１５】
第１セレクタ２４は、機能Ａ回路２１Ａの第二入力部Ａ２１へ折り返し入力するデータを選択するセレクタ回路である。第１セレクタ２４が選択するデータは、スイッチ制御により切り替えることができる。本実施形態では、一例として機能Ａ回路２１Ａが変換機能により変換し第一出力部Ａ１２から出力したデータ、または機能Ｂ回路２１Ｂが対向機能により変換し第二出力部Ｂ２２から出力したデータの何れかを選択する。第１セレクタ２４は、機能Ａ回路２１Ａが変換機能により変換し第一出力部Ａ１２から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能Ａ回路２１Ａの第二入力部Ａ２１へ出力する。また第１セレクタ２４は、機能Ｂ回路２１Ｂが対向機能により変換し第二出力部Ｂ２２から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能Ａ回路２１Ａへの第二入力部Ａ２１へ出力する。なお第１セレクタ２４が選択したデータは、第１解析回路１３１にも出力される。
【００１６】
第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂの第二入力部Ｂ２１へ折り返し入力するデータを選択するセレクタ回路である。第２セレクタ２５が選択するデータは、スイッチ制御により切り替えることができる。本実施形態では、第２セレクタ２５は、一例として機能Ｂ回路２１Ｂが変換機能により変換し第一出力部Ｂ１２から出力したデータ、または機能Ｃ回路２１Ｃが対向機能により変換し第二出力部Ｃ２２から出力したデータの何れかを選択する。第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂが変換機能により変換し第一出力部Ｂ１２から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能Ｂ回路２１Ｂの第二入力部Ｂ２１へ出力する。また第２セレクタ２５は、機能Ｃ回路２１Ｃが対向機能により変換し第二出力部Ｃ２２から出力したデータを選択した場合、そのデータを機能Ｂ回路２１Ｂの第二入力部Ｂ２１へ出力する。なお第２セレクタ２５が選択したデータは、第１解析回路１３１にも出力される。
【００１７】
回路検証装置１は、複数の機能回路２１を有する被検証回路２の機能を検証する。回路検証装置１は、機能検証データ生成回路１１と、検証対向回路１２と、解析回路１３と、接続部１４とを含んで構成される。
【００１８】
機能検証データ生成回路１１は、被検証回路２を検証するための機能検証データを生成する。機能検証データは、例えば単純な数字列等のテストパターン等であってもよい。機能検証データ生成回路１１は、生成した機能検証データを検証対向回路１２及び第１解析回路１３１に出力する。
【００１９】
検証対向回路１２は、被検証回路２が有する機能Ｃ回路２１Ｃの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能ｃ（機能Ｃの対向機能）を有する機能ｃ対向回路１２１ｃと、機能Ｂ回路２１Ｂの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能ｂ（機能Ｂの対向機能）を有する機能ｂ対向回路１２１ｂと、機能Ａ回路２１Ａの入力値を変換して出力値を出力する場合の逆変換を行う機能ａ（機能Ａの対向機能）を有する機能ａ対向回路１２１ａと、を有する。以下、説明の便宜を図るため、機能ｃ対向回路１２１ｃ、機能ｂ対向回路１２１ｂ、及び機能ａ対向回路１２１ａを総称して対向回路１２１と称することがある。また検証対向回路１２は、被検証回路２の第一直列回路における機能回路２１の直列の順番と、それら機能回路２１に対応する対向回路１２１を第一直列回路における対応する機能回路２１の順番と逆の順番で直列に接続した第二直列回路を構成する。すなわち検証対向回路１２は、機能ｃ対向回路１２１ｃと、機能ｂ対向回路１２１ｂと、機能ａ対向回路１２１ａとをその順番で直列に接続した第二直列回路を構成する。
【００２０】
検証対向回路１２に入力された機能検証データは、機能ｃ対向回路１２１ｃに入力される。機能ｃ対向回路１２１ｃは、機能検証データに対して機能Ｃの対向機能を実行し、実行結果を機能ｂ対向回路１２１ｂ及び第１解析回路１３１に出力する。
機能ｂ対向回路１２１ｂは、機能ｃ対向回路１２１ｃから入力されたデータに対して機能Ｂの対向機能を実行し、実行結果を機能ａ対向回路１２１ａ及び第１解析回路１３１に出力する。
機能ａ対向回路１２１ａは、機能ｂ対向回路１２１ｂから入力されたデータに対して機能Ａの対向機能を実行し、実行結果を被検証回路２、第１解析回路１３１及び第２解析回路１３２に出力する。
【００２１】
解析回路１３は、第１解析回路１３１、及び第２解析回路１３２を備える。
第１解析回路１３１は、被検証回路２の各機能回路２１の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う対向回路１２１の出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能回路２１が正常か否かを判定する。また、第１解析回路１３１は、被検証回路２に含まれる機能回路２１の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の機能回路２１の出力と、それら機能回路２１の各対向回路１２１が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路２１による直列の回路が正常か否かを判定する。また、第１解析回路１３１は、被検証回路２の出力を被検証回路２に折り返し入力したときの出力と、検証対向回路１２の出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能回路２１が正常か否かを判定する。また、第１解析回路１３１は、機能回路２１の出力を当該機能回路２１に折り返して入力したときの出力と、当該機能回路２１に対応する対向回路１２１の出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能回路２１が正常か否かを判定する。また、第１解析回路１３１は、被検証回路２に含まれる機能回路２１の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の機能回路２１の出力を当該複数の機能回路２１による直列の回路に第２入力したときの出力と、それら機能回路２１の各対向回路１２１が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路２１による直列の回路が正常か否かを判定する。
【００２２】
第２解析回路１３２は、被検証回路２の出力と、検証対向回路１２の出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能回路２１が正常か否かを判定する。
【００２３】
第１表示装置３は、液晶ディスプレイや有機ＥＬ（Electro-Luminescence）ディスプレイ等であり、第１解析回路１３１における検証結果（ＯＫまたはＮＧ）を表示する。
第２表示装置４は、液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイ等であり、第２解析回路１３２における検証結果（ＯＫまたはＮＧ）を表示する。
【００２４】
図２は回路検証装置の処理フローを示す第一の図である。
図３は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第一の図である。
次に、回路検証装置１による処理を説明する。
まず、被検証回路２が有する各機能回路２１それぞれを個別に検証する場合について説明する。ここで第１セレクタ２４のスイッチは機能Ａ回路２１Ａの第一出力部Ａ２１から出力されるデータを選択し、第２セレクタ２５のスイッチは、機能Ｂ回路２１Ｂの第一出力部Ｂ１２から出力されるデータを選択している。
【００２５】
まず機能検証データ生成回路１１が、機能検証データＤ０を生成する（ステップＳ１０１）。続いて機能検証データ生成回路１１は、機能検証データＤ０を検証対向回路１２の機能ｃ対向回路１２１ｃに入力する（ステップＳ１０２）。また機能検証データ生成回路１１は、機能検証データＤ０を第１解析回路１３１に出力する。
【００２６】
機能ｃ対向回路１２１ｃは、機能検証データＤ０に対して機能Ｃの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ１を機能ｂ対向回路１２１ｂ及び第１解析回路１３１に出力する。機能ｂ対向回路１２１ｂは、入力データＤ１に対して機能Ｂの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ２を機能ａ対向回路１２１ａ及び第１解析回路１３１に出力する。機能ａ対向回路１２１ａは、入力データＤ２に対して機能Ａの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３を被検証回路２、第１解析回路１３１及び第２解析回路１３２に出力する。すなわち、検証対向回路１２は、機能検証データＤ０を入力とする出力データＤ３を被検証回路２に入力する（ステップＳ１０３）。
【００２７】
検証対向回路１２の出力データＤ３は、被検証回路２の機能Ａ回路２１Ａに入力される。機能Ａ回路２１Ａは、入力データＤ３に対して機能Ａを実行し、実行結果である出力データＤ１０を機能Ｂ回路２１Ｂ及び第１セレクタ２４に出力する。第１セレクタ２４は、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０を第１解析回路１３１に出力する。また第１セレクタ２４は、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０を機能Ａ回路２１Ａに折り返し入力する。機能Ａ回路２１Ａは、折り返し入力されたデータＤ１０に対して機能Ａの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ１１を第１解析回路１３１に出力する。
【００２８】
機能Ｂ回路２１Ｂは、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０に対して機能Ｂを実行し、実行結果である出力データＤ２０を機能Ｃ回路２１Ｃ及び第２セレクタ２５に出力する。第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０を第１解析回路１３１に出力する。また第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０を機能Ｂ回路２１Ｂに折り返し入力する。機能Ｂ回路２１Ｂは、折り返し入力されたデータＤ２０に対して機能Ｂの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ２１を第１セレクタ２４に出力する。第１セレクタ２４は、機能Ｂ回路２１Ｂから入力されたデータＤ２１を第１解析回路１３１に出力する。
【００２９】
機能Ｃ回路２１Ｃは、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０に対して機能Ｃを実行し、実行結果である出力データＤ３０を第２解析回路１３２に出力する。第２解析回路１３２は、機能Ｃ回路２１Ｃの出力データＤ３０を第１解析回路１３１に出力する。
【００３０】
また第２解析回路１３２は、被検証回路２の出力データＤ３０を被検証回路２に折り返し入力する（ステップＳ１０４）。被検証回路２の機能Ｃ回路２１Ｃは、折り返し入力されたデータＤ３０に対して機能Ｃの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３１を第２セレクタ２５に出力する。第２セレクタ２５は、機能Ｃ回路２１Ｃから入力されたデータＤ３１を第１解析回路１３１に出力する。
【００３１】
第１解析回路１３１は、各機能回路２１の出力データと、対応する各対向回路１２１への入力データとを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ１０５）。より具体的には、第１解析回路１３１は、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０と、機能ａ対向回路１２１ａへの入力データＤ２（機能ｂ対向回路１２１ｂの出力データＤ２）とを比較し、一致する場合に機能Ａ回路２１Ａの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ａ回路２１Ａの検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０と、機能ｂ対向回路１２１ｂへの入力データＤ１（機能ｃ対向回路１２１ｃの出力データＤ１）とを比較し、一致する場合に機能Ｂ回路２１Ｂの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｂ回路２１Ｂの検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｃ回路２１Ｃの出力データＤ３０と、機能ｃ対向回路１２１ｃへの入力データＤ０（機能検証データＤ０）とを比較し、一致する場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＮＧとする。
【００３２】
さらに第１解析回路１３１は、各機能回路２１の出力データを当該機能回路２１に折り返し入力したときの出力データ（以下、「折り返し出力データ」とする。）と、対応する各対向回路１２１の出力データとを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ１０６）。より具体的には、第１解析回路１３１は、機能Ａ回路２１Ａの折り返し出力データＤ１１と、機能ａ対向回路１２１ａの出力データＤ３とを比較し、一致する場合に機能Ａ回路２１Ａの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ａ回路２１Ａの検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｂ回路２１Ｂの折り返し出力データＤ２１と、機能ｂ対向回路１２１ｂの出力データＤ２とを比較し、一致する場合に機能Ｂ回路２１Ｂの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｂ回路２１Ｂの検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｃ回路２１Ｃの折り返し出力データＤ３１と、機能ｃ対向回路１２１ｃの出力データＤ１とを比較し、一致する場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＮＧとする。
【００３３】
また第２解析回路１３２は、検証対向回路１２の出力データＤ３（被検証回路２への入力データ）と、被検証回路２の出力データＤ３０とを比較し、その結果を第２表示装置４に表示することにより通知する（ステップＳ１０７）。例えば、第２解析回路１３２には、被検証回路２への入力データに対する出力データが予め設定されている。第２解析回路１３２は、設定されている情報に基づいて検証を行う。その後処理を終了する。
【００３４】
上述の処理により、第１解析回路１３１は、被検証回路２に含まれる機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃの出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う機能ｃ対向回路１２１ｃ、機能ｂ対向回路１２１ｂ、及び機能ａ対向回路１２１ａの出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃそれぞれを個別に正常か否かを判定する。すなわち、被検証回路２を構成する機能回路２１ごとに動作判定が可能になる。これにより、被検証回路２を構成する機能の誤り箇所（機能回路２１）を特定することが容易になる。また、解析回路１３が出力データの検証を自動で行うため、被検証回路２の出力データを人が解析する必要がない。
【００３５】
また、検証対向回路１２及び被検証回路２を構成する各回路の出力を機能検証（解析）のためのデータとして適用することができるため、被検証回路２に含まれる各機能回路２１を検証するためのデータをそれぞれ新たに作成する必要がない。
【００３６】
図４は回路検証装置の処理フローを示す第二の図である。
図５は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第二の図である。
続いて、被検証回路２に含まれる機能Ａ回路２１Ａ、機能Ｂ回路２１Ｂ、及び機能Ｃ回路２１Ｃの総数３のうち、選択した２の直列に接続された機能回路２１による直列の回路が正常か否かを検証する場合について説明する。以下、機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路を検証する場合を例に説明する。ここで被検証回路２は、第１セレクタ２４のスイッチは機能Ｂ回路２１Ｂの第二出力部Ｂ２２から出力されたデータを選択し、第２セレクタ２５のスイッチは機能Ｂ回路２１Ｂの第一出力部Ｂ１２から出力されたデータを選択するよう制御する。
【００３７】
ステップＳ２０１〜ステップＳ２０３までの処理は、上述したステップＳ１０１〜ステップＳ１０３までの処理と同様であるため、その説明を省略する。
【００３８】
検証対向回路１２の出力データＤ３は、被検証回路２の機能Ａ回路２１Ａに入力される。機能Ａ回路２１Ａは、入力データＤ３に対して機能Ａを実行し、第一出力部Ａ１２から実行結果である出力データＤ１０を出力する。
【００３９】
機能Ｂ回路２１Ｂは、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０に対して機能Ｂを実行し、実行結果である出力データＤ２０を機能Ｃ回路２１Ｃ及び第２セレクタ２５に出力する。第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０を第１解析回路１３１に出力する。また第２セレクタ２５は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０を機能Ｂ回路２１Ｂの第二入力部Ｂ２１へ折り返し入力する。機能Ｂ回路２１Ｂは、折り返し入力されたデータＤ２０に対して機能Ｂの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ２１を第１セレクタ２４に出力する。第１セレクタ２４は、機能Ｂ回路２１Ｂから入力されたデータＤ２１を機能Ａ回路２１Ａの第二入力部Ａ２１へ折り返し入力する。機能Ａ回路２１Ａは、折り返し入力されたデータＤ２１に対して機能Ａの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ２２を第二出力部Ａ２２から第１解析回路１３１へ出力する。
【００４０】
機能Ｃ回路２１Ｃは、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０に対して機能Ｃを実行し、実行結果である出力データＤ３０を第２解析回路１３２に出力する。第２解析回路１３２は、機能Ｃ回路２１Ｃの出力データＤ３０を第１解析回路１３１に出力する。
【００４１】
また第２解析回路１３２は、被検証回路２の出力データＤ３０を被検証回路２に折り返し入力する（ステップＳ２０４）。被検証回路２の機能Ｃ回路２１Ｃは、第二入力部Ｃ２１において折り返し入力されたデータＤ３０に対して機能Ｃの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３１を第二出力部Ｃ２２から第２セレクタ２５に出力する。第２セレクタ２５のスイッチは機能Ｂ回路２１Ｂの第一出力部Ｂ１２から出力されたデータＤ２０を選択しているため、機能Ｃ回路２１Ｃから入力されたデータＤ３１を入力しない。
【００４２】
第１解析回路１３１は、機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の出力データと、対応する機能ｂ対向回路１２１ｂ及び機能ａ対向回路１２１ａによる直列の回路への入力データとを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ２０５）。より具体的には、第１解析回路１３１は、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０と、機能ｂ対向回路１２１ｂへの入力データＤ１（機能ｃ対向回路１２１ｃの出力データＤ１）とを比較し、一致する場合に機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｃ回路２１Ｃの出力データＤ３０と、機能ｃ対向回路１２１ｃへの入力データＤ０（機能検証データＤ０）とを比較し、一致する場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＮＧとする。
【００４３】
さらに第１解析回路１３１は、機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の折り返し出力データと、対応する機能ｂ対向回路１２１ｂ及び機能ａ対向回路１２１ａによる直列の回路の出力データとを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ２０６）。より具体的には、第１解析回路１３１は、機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の折り返し出力データＤ２２と、機能ｂ対向回路１２１ｂ及び機能ａ対向回路１２１ａによる直列の回路の出力データＤ３とを比較し、一致する場合に機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路の検証ＮＧとする。また、第１解析回路１３１は、機能Ｃ回路２１Ｃの折り返し出力データＤ３１と、機能ｃ対向回路１２１ｃの出力データＤ１とを比較し、一致する場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＯＫとし、一致しない場合に機能Ｃ回路２１Ｃの検証ＮＧとする。
【００４４】
ステップＳ２０７の処理は上述したステップＳ１０７の処理と同様であるため、説明を省略する。
【００４５】
なお、上述した例では、直列に接続された機能Ａ回路２１Ａ及び機能Ｂ回路２１Ｂによる直列の回路が正常か否かを検証しているが、第１セレクタ２４のスイッチを上に設定し、第２セレクタ２５のスイッチを下に設定することにより、同様の処理で機能Ｂ回路２１Ｂ及び機能Ｃ回路２１Ｃによる直列の回路が正常か否かを検証することもできる。
【００４６】
上述の処理により、第１解析回路１３１は、被検証回路２に含まれる複数の機能回路２１が直列に接続された回路の出力と、それら機能回路２１の各対向回路１２１が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された複数の機能回路２１による直列の回路が正常か否かを判定する。これにより、選択された複数の機能回路２１による直列の回路ごとに動作判定が可能になるため、複数の機能回路２１の連携を検証することが可能になる。
【００４７】
図６は回路検証装置の処理フローを示す第三の図である。
図７は各機能回路及び各対向回路の出力データの一例を示す第三の図である。
続いて、被検証回路２全体が正常か否かを検証する場合について説明する。ここで第１セレクタ２４のスイッチが、機能Ｂ回路２１Ｂの第二出力部Ｂ２２の出力したデータを選択し、第２セレクタ２５のスイッチが、機能Ｃ回路２１Ｃの第二出力部Ｃ２２の出力したデータを選択するよう制御されているとする。
【００４８】
ステップＳ３０１〜ステップＳ３０３までの処理は、上述したステップＳ１０１〜ステップＳ１０３までの処理と同様であるため、その説明を省略する。
【００４９】
検証対向回路１２の出力データＤ３は、被検証回路２の機能Ａ回路２１Ａに入力される。機能Ａ回路２１Ａは、第一入力部Ａ１１において入力データＤ３を入力し、とうがい入力データＤ３に対して機能Ａを実行し、実行結果である出力データＤ１０を第一出力部Ａ１２から機能Ｂ回路２１Ｂ及び第１セレクタ２４に出力する。
【００５０】
機能Ｂ回路２１Ｂは、機能Ａ回路２１Ａの出力データＤ１０を第一入力部Ｂ１１において入力し、この出力データＤ１０に対して機能Ｂを実行し、実行結果である出力データＤ２０を第一出力部Ｂ１２から機能Ｃ回路２１Ｃ及び第２セレクタ２５に出力する。
【００５１】
機能Ｃ回路２１Ｃは、機能Ｂ回路２１Ｂの出力データＤ２０を第一入力部Ｃ１１において入力し、この出力データ２０に対して機能Ｃを実行し、実行結果である出力データＤ３０を第２解析回路１３２に出力する。第２解析回路１３２は、機能Ｃ回路２１Ｃの出力データＤ３０を機能Ｃ回路２１Ｃの第二入力部Ｃ２１と第１解析回路１３１とへ出力する。
【００５２】
被検証回路２の機能Ｃ回路２１Ｃは、被検証回路２の出力データＤ３０を第二入力部Ｃ２１において折り返し入力する（ステップＳ３０４）。被検証回路２の機能Ｃ回路２１Ｃは、折り返し入力されたデータＤ３０に対して機能Ｃの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３１を第二出力部Ｃ２２から第２セレクタ２５へ出力する。第２セレクタ２５は、機能Ｃ回路２１Ｃから入力されたデータＤ３１を機能Ｂ回路２１Ｂに折り返し入力する。また第２セレクタ２５は機能Ｃ回路２１Ｃから入力されたデータＤ３１を選択し、第１解析回路１３１へ出力する。機能Ｂ回路２１Ｂは、折り返し入力されたデータＤ３１に対して機能Ｂの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３２を第１セレクタ２４に出力する。第１セレクタ２４は、機能Ｂ回路２１Ｂから入力されたデータＤ３２を機能Ａ回路２１Ａに折り返し入力する。また第１セレクタ２４は、機能Ｂ回路２１Ｂから入力されたデータＤ３２を選択して第１解析回路１３１へ出力する。機能Ａ回路２１Ａは、折り返し入力されたデータＤ３２に対して機能Ａの対向機能を実行し、実行結果である出力データＤ３３を第１解析回路１３１に出力する。
【００５３】
第１解析回路１３１は、被検証回路２の出力データＤ３０と、検証対向回路１２への入力データＤ０（機能検証データＤ０）とを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ３０５）。より具体的には、第１解析回路１３１は、被検証回路２の出力データＤ３０と、機能検証データＤ０とを比較し、一致する場合に被検証回路２全体の検証ＯＫとし、一致しない場合に被検証回路２全体の検証ＮＧとする。
【００５４】
さらに第１解析回路１３１は、被検証回路２の折り返し出力データＤ３３と、検証対向回路１２の出力データＤ３とを比較し、その結果を第１表示装置３に表示することにより通知する（ステップＳ３０６）。より具体的には、第１解析回路１３１は、被検証回路２の折り返し出力データＤ３３と、検証対向回路１２の出力データＤ３とを比較し、一致する場合に被検証回路２全体の検証ＯＫとし、一致しない場合に被検証回路２全体の検証ＮＧとする。
【００５５】
ステップＳ３０７の処理は上述したステップＳ１０７の処理と同様であるため、説明を省略する。
【００５６】
上述の処理により、第１解析回路１３１は、被検証回路２の出力と、検証対向回路１２の出力とを比較して、被検証回路２全体が正常か否かを判定する。これにより、被検証回路２全体としての動作判定が可能になる。
【００５７】
なお、上述したステップＳ１０５〜ステップＳ１０７の処理、ステップＳ２０５〜ステップＳ２０７の処理、及びステップＳ３０５〜ステップＳ３０７の処理は、この処理順でなくともよい。例えば第１解析回路１３１及び第２解析回路１３２の処理を並列に実行してもよい。
【００５８】
上述した実施形態では、被検証回路２が有する機能回路２１の総数ｎが３である場合を例に説明したが、これに限らず、被検証回路２が有する機能回路２１は複数であればよく、２であってもよいし４以上であってもよい。
【００５９】
また、上述した実施形態では、第１セレクタ２４及び第２セレクタ２５は、手動で操作可能なスイッチにより選択するデータを切り替えているが、これに限らず、例えば信号を第１セレクタ２４及び第２セレクタ２５に入力することにより選択するデータを切り替えてもよい。
【００６０】
図８は回路検証装置の最小構成を示す図である。
回路検証装置１は、少なくとも接続部１４、解析回路１３の機能を発揮する。
接続部１４は、複数の機能回路２１を有する被検証回路２と、機能回路２１の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する機能回路２１それぞれに対応する対向回路１２１を有する検証対向回路１２と、に接続する。
解析回路１３は、被検証回路２の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う対向回路１２１の出力とを比較して、被検証回路２に含まれる機能回路２１が正常か否かを判定する。また解析回路１３は、被検証回路２に含まれる機能回路２１の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の機能回路２１の出力と、それら機能回路２１の各対向回路１２１が直列に接続された回路の出力とを比較して、選択された機能回路２１による直列の回路が正常か否かを判定する。
【００６１】
上述の回路検証装置１は内部に、コンピュータシステムを有していてもよい。そして、上述した各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。
【００６２】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【符号の説明】
【００６３】
１００・・・回路検証システム
１・・・回路検証装置
１１・・・機能検証データ生成回路
１２・・・検証対向回路
１２１ａ・・・機能ａ対向回路
１２１ｂ・・・機能ｂ対向回路
１２１ｃ・・・機能ｃ対向回路
１３・・・解析回路
１３１・・・第１解析回路
１３２・・・第２解析回路
１４・・・接続部
２・・・被検証回路
２１Ａ・・・機能Ａ回路
２１Ｂ・・・機能Ｂ回路
２１Ｃ・・・機能Ｃ回路
２４・・・第１セレクタ
２５・・・第２セレクタ
３・・・第１表示装置
４・・・第２表示装置
【図１】
2020159797.tif 000003
【図２】
2020159797.tif 000004
【図３】
2020159797.tif 000005
【図４】
2020159797.tif 000006
【図５】
2020159797.tif 000007
【図６】
2020159797.tif 000008
【図７】
2020159797.tif 000009
【図８】
2020159797.tif 000010
【図９】
2020159797.tif 000011
【手続補正書】
【提出日】令和2年6月8日(2020.6.8)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、
を備え、
前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証装置。
【請求項２】
前記接続部は、
前記機能回路を直列に接続した第一直列回路を構成する前記被検証回路と、
前記第一直列回路における前記機能回路の直列の順番と、それら機能回路に対応する対向回路を前記第一直列回路における対応する前記機能回路の順番と逆の順番で直列に接続した第二直列回路を構成する前記検証対向回路と、に接続する
請求項１に記載の回路検証装置。
【請求項３】
前記解析回路は、前記機能回路の出力を当該機能回路に入力したとき前記対向機能による出力と、当該機能回路に対応する前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する
請求項１または請求項２に記載の回路検証装置。
【請求項４】
前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力を当該複数の機能回路による直列の回路に入力したときの前記対向機能による出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
請求項１から請求項３の何れか一項に記載の回路検証装置。
【請求項５】
機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続し、
前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、
前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定する
回路検証方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の第１の態様によれば、回路検証装置は、機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続する接続部と、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定する解析回路と、を備え、前記解析回路は、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の第２の態様によれば、回路検証方法は、機能回路であって入力した入力値を出力値に変換して出力する変換機能と入力した自回路の前記出力値を前記入力値に変換して出力する対向機能とを実行する複数の前記機能回路を有する被検証回路と、前記機能回路の入力と出力の関係が逆の関係となる機能を有する前記機能回路それぞれに対応する対向回路を有する検証対向回路と、に接続し、前記被検証回路の出力と、理想的に当該出力と同じ出力を行う前記対向回路の出力とを比較して、前記被検証回路に含まれる前記機能回路が正常か否かを判定し、前記被検証回路に含まれる前記機能回路の総数ｎのうち、選択したｎ−１の数以下の直列に接続された複数の前記機能回路の出力値を当該機能回路に入力した場合に前記対向機能を用いて変換した出力と、それら機能回路の各対向回路が直列に接続された回路の出力とを比較して、前記選択された機能回路による直列の回路が正常か否かを判定することを特徴とする。