(57)【要約】【課題】ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成を可能にする。【解決手段】誤り率測定装置１は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Ｗに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、被測定物Ｗを規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被測定物Ｗから受信する入力データのビット誤り率を測定するものであり、規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面５ｃを表示する表示部５と、オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面５ａに切り替えて表示するように表示部５を制御する制御部６とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
リンク状態管理機構を搭載した被測定物（Ｗ）に対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置（１）であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面（５ｃ）を表示する表示部（５）と、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面（５ａ）に切り替えて表示するように前記表示部を制御する制御部（６）とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項２】
前記制御部（６）は、前記オーダードセット編集画面（５ａ）におけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面（５ｂ）を表示するように前記表示部（５）を制御することを特徴とする請求項１に記載の誤り率測定装置。
【請求項３】
リンク状態管理機構を搭載した被測定物（Ｗ）に対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面（５ｃ）を表示するステップと、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面（５ａ）に切り替えて表示するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【請求項４】
前記オーダードセット編集画面（５ａ）におけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面（５ｂ）を表示するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被測定物を信号パターン折り返しのステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を被測定物を送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば下記特許文献１に開示されるように、誤り率測定装置は、固定データを含む既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信した被測定信号と基準となる参照信号とをビット単位で比較してビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する装置として従来から知られている。
【０００３】
ところで、ＵＳＢやＰＣＩｅなどのハイスピードシリアルバス（High Speed Serial Bus ）の規格では、ＬＴＳＳＭ（Link Training ＆Status State Machine、以下、リンク状態管理機構と言う）と呼ばれるステートマシーンを持ち、これによりデバイス間の通信の初期化やリンク速度の調整などを管理している。
【０００４】
また、従来の誤り率測定装置は、パルスパターン発生器（ＰＰＧ）から規格が定める特定パターンを高速に切り替えることによってＰＣＩｅ  Ｇｅｎ１〜４，ＵＳＢ３．１のリンク状態管理機構を制御し、特定のステートに遷移させる機能（シーケンスパターン機能）を備えている。なお、被測定物（ＤＵＴ）をステート遷移させるパターンは、規格で定められており、それらのパターンの出力順をシーケンスパターン機能により組み合わせて出力できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−２７４４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、規格で定められたパターンは多岐にわたり、パターンの中の特定ビットにより性質が変わるものもあり、これら全てのパターンを網羅したプリセットデータとして装置に持たせ、かつユーザーの操作性を保つことが難しかった。
【０００７】
このため、バイナリベースまたはヘキサベースのエディタによりパターン編集を行う既存のパターン編集機能を流用することが考えられるが、この場合、ユーザが変更したい特定ビットが２進数や１６進数の羅列のどこに含まれているかを判別するのが非常に困難であり、パターンの編集に時間がかかるだけでなく、設定ミスを生じるおそれもあった。
【０００８】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ユーザが自由に編集して直感的な送信パターンの作成が可能な誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Ｗに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置１であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面５ｃを表示する表示部５と、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面５ａに切り替えて表示するように前記表示部を制御する制御部６とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記制御部６は、前記オーダードセット編集画面５ａにおけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面５ｂを表示するように前記表示部５を制御することを特徴とする。
【００１１】
請求項３に記載された誤り率測定方法は、リンク状態管理機構を搭載した被測定物Ｗに対してハイスピードシリアルバスの規格に基づくオーダードセットを用い、前記被測定物を前記規格が定めるステートに遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って前記被測定物から受信する入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法であって、
前記規格が定めるステートに遷移させるためのパターンをバイナリベースまたはヘキサベースで編集可能なパターン編集画面５ｃを表示するステップと、
前記オーダードセットをシンボル単位で編集可能なオーダードセット編集画面５ａに切り替えて表示するステップとを含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項４に記載された誤り率測定方法は、請求項３の誤り率測定装置において、
前記オーダードセット編集画面５ａにおけるオーダードセットのシンボルを指定し、指定されたシンボルをビット単位で編集可能なシンボル編集画面５ｂを表示するステップを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ＰＣＩｅ，ＵＳＢなどの各規格のエンコード規則に則り、オーダードセットの所望のシンボル単位または指定したシンボルをビット単位でユーザーが自由に編集することができる。その結果、バイナリベースやヘキサベースのエディタでは実現できなかった直感的な送信パターンの作成が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】ＵＳＢ  Ｇｅｎ２のオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面の一例を示す図である。
【図３】図２のオーダードセット編集画面の所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示す図である。
【図４】ＵＳＢ  Ｇｅｎ１のＳＫＰオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面の一例を示す図である。
【図５】図４のオーダードセット編集画面の所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示す図である。
【図６】（ａ），（ｂ）オーダードセットの編集方法のフローチャートである。
【図７】パターン編集画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法は、例えばＵＳＢ、ＰＣＩｅなどのハイスピードシリアルバス（以下、ＨＳＢと略称する）の規格試験において、リンク状態管理機構を搭載した被測定物に対して規格に基づくオーダードセット（物理層パケット）を用い、被測定物を信号パターン折り返しのステート（ループバック）に遷移させた状態で既知パターンのテスト信号を被測定物に送信し、このテスト信号の送信に伴って被測定物から折り返して受信する入力データのビット誤り率を測定するものである。
【００１７】
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、設定操作部２、記憶部３、測定部４、表示部５、制御部６を備えて概略構成される。
【００１８】
設定操作部２は、ユーザによって操作されるものであり、例えば表示部５の表示画面（図２や図４のオーダードセット編集画面５ａ、図３や図５のシンボル編集画面５ｂ、図７のパターン編集画面５ｃ）上の各種ソフトキー、カーソルキー、矢印キーの他、装置本体に設けられるキー、スイッチ、ボタンなどで構成される。
【００１９】
設定操作部２は、被測定物Ｗへの特定パターンやテスト信号の送信開始や停止の指示、被測定物Ｗの誤り率の測定開始や停止の指示、図２や図４のオーダードセット編集画面５ａ、図３や図５のシンボル編集画面５ｂでのシンボル単位またはビット単位によるオーダードセットの編集、図７のパターン編集画面５ｃでのバイナリベースまたはヘキサベースによるパターンの編集などを行う際に操作される。
【００２０】
例えば図２や図４のオーダードセット編集画面５ａでは、操作設定部２のソフトキーとして、「Ａｄｄ」、「Ｃｏｐｙ」、「Ｃｕｔ」、「Ｐａｓｔｅ」、「Ｃｌｅａｒ  Ａｌｌ」、「ＯＫ」、「Ｃａｎｃｅｌ」、「Ｓａｖｅ」、「Ｌｏａｄ」、「Ｐａｔｔｅｒｎ  Ｅｄｉｔ」のソフトキー２ａ，２ｂ，２ｃ，２ｄ，２ｅ，２ｆ，２ｇ，２ｈ，２ｉ，２ｊが表示される。
【００２１】
そして、上記ソフトキーを適宜操作することにより、ブロック分けされたオーダードセットのシンボル（＃０〜＃１５）単位の編集、シンボル単位で編集されたオーダードセットの記憶部３への設定情報の保存、記憶部３に保存されたオーダードセットの設定情報の読み出しを行うことができる。
【００２２】
また、オーダードセット編集画面５ａにおいて、ブロック分けされたオーダードセットの複数のシンボルの中から編集したいシンボルを指定して「Ｐａｔｔｅｒｎ  Ｅｄｉｔ」のソフトキー２ｊを押下すると、表示画面が例えば図３や図５の表示形式のシンボル編集画面５ｂに切り替わる。
【００２３】
図３や図５のシンボル編集画面５ｂでは、上記ソフトキーを適宜操作することにより、オーダードセット編集画面５ａで指定されたオーダードセットのシンボルのビット単位での編集の他、ビット単位で編集されたオーダードセットの設定情報の記憶部３への保存、記憶部３に保存されたオーダードセットの設定情報の読み出しを行うことができる。
【００２４】
なお、図示の例では、表示部５の表示画面上のソフトキーを設定操作部２の一部として構成しているが、誤り率測定装置１とは別体に設けられる外部入力装置を設定操作部２として用いることもできる。
【００２５】
記憶部３は、編集画面（オーダードセット編集画面５ａ、シンボル編集画面５ｂ、パターン編集画面５ｃ）での編集に基づく特定パターンやオーダードセットの各種情報（シンボル番号、スペシャルシンボル、１２８ビットデータ、Ｋコード、８ビットデータなどの情報）、既知のテスト信号の情報、被測定物Ｗの誤り率の測定条件や測定結果に関する各種情報を記憶する。
【００２６】
測定部４は、パターン発生部４ａとエラー検出部４ｂを備え、設定操作部２の操作情報や記憶部３の記憶情報に基づく制御部６の制御により被測定物ＷのＨＳＢの規格試験を含む各種測定を行う。
【００２７】
パターン発生部４ａは、設定情報（オーダードセット編集画面５ａ、シンボル編集画面５ｂ、パターン編集画面５ｃでの編集を反映した情報）に基づく特定パターン、被測定物Ｗの各種測定を行うための既知パターンのテスト信号を発生する。
【００２８】
エラー検出部４ｂは、パターン発生部４ａにて発生した特定パターンにより被測定物Ｗを信号パターン折り返しのステート（ループバック）に遷移させた状態でパターン発生部４ａからのテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返される入力データのエラーを検出し、被測定物ＷのＨＳＢの規格試験を含む各種測定を行う。
【００２９】
表示部５は、例えば装置本体に装備された液晶表示器などで構成される。表示部５は、制御部６の制御により、オーダードセット編集画面５ａ、シンボル編集画面５ｂ、パターン編集画面５ｃを選択的に表示画面上に表示したり、不図示の特定パターンの設定画面の表示、被測定物Ｗへのテスト信号の送信に伴って被測定物Ｗから折り返される入力データのエラーの検出に基づく各種測定の結果の表示を行う。
【００３０】
ここで、図２はＵＳＢ  Ｇｅｎ２のオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面５ａの一例を示している。このオーダードセット編集画面５ａでは、オーダードセットをＵＳＢ  Ｇｅｎ２（規格）が定めるシンボルごとにブロック分けしてシンボルの番号順（Ｓｙｍｂｏｌ  ｎｏ．）にオーダードセットを一覧表示する。具体的には、ＵＳＢ  Ｇｅｎ２のオーダードセットがシンボルの番号順の＃０，＃１，＃２，＃３，＃４，＃５，＃６，＃７，＃８，＃９，＃１０，＃１１，＃１２，＃１３，＃１４，＃１５の１６個のブロックに分けられ、各ブロックのシンボルの説明（Ｓｙｍｂｏｌ  Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ）、１２８ビットデータをオーダードセット編集画面５ａに一覧表示する。
【００３１】
また、図４はＵＳＢ  Ｇｅｎ１のＳＫＰオーダードセットを一覧表示するオーダードセット編集画面５ａの一例を示している。このオーダードセット編集画面５ａでは、ＵＳＢ  Ｇｅｎ１のオーダードセットがシンボルの番号順（Ｓｙｍｂｏｌ  ｎｏ．）の＃０，＃１，＃２，＃３，＃４の５個のブロックに分けられ、各ブロックのシンボルの説明（Ｓｙｍｂｏｌ  Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ）、Ｋコード、８ビットデータを一覧表示する。
【００３２】
なお、初期時には、ＨＳＢの所定の規格（例えばＵＳＢ  Ｇｅｎ１）が定めるオーダードセットのプリセットデータがオーダードセット編集画面５ａに表示される。また、２回目以降は、前回終了時のオーダードセットがオーダードセット編集画面５ａに表示される。
【００３３】
さらに、図３は図２のオーダードセット編集画面５ａの所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示している。このシンボル編集画面５ｂでは、図２のオーダードセット編集画面５ａで指定されたシンボルの各フィールド（Ｆｉｅｌｄ）のデータ（「０」または「１」、ビットの内容説明）をビット単位で編集可能に一覧表示する。
【００３４】
また、図５は図４のオーダードセット編集画面５ａの所定のシンボルを指定してビット単位で編集するときのシンボル編集画面の一例を示している。このシンボル編集画面５ｂでは、図４のオーダードセット編集画面５ａで指定されたシンボルの各フィールド（Ｆｉｅｌｄ）のデータ（「０」または「１」）をビット単位で編集可能に一覧表示する。
【００３５】
制御部６は、設定操作部２の操作情報や記憶部３の記憶情報に基づいて測定部４を制御して被測定物Ｗの各種測定を行うために各部を統括制御するもので、オーダードセットをシンボル単位またはビット単位で編集を行う際に表示部５を制御する表示制御手段６ａを含む。
【００３６】
さらに説明すると、表示制御手段６ａは、オーダードセットをシンボル単位で編集を行うときに、図２や図４のオーダードセット編集画面５ａを表示するように表示部５を制御する。
【００３７】
また、表示制御手段６ａは、図２や図４のオーダードセット編集画面５ａにおいて編集したいオーダードセットのシンボルを指定して「Ｐａｔｔｅｒｎ  Ｅｄｉｔ」のソフトキー２ｊが押下されると、図３や図５のシンボル編集画面５ｂを表示するように表示部５を制御する。
【００３８】
さらに、表示制御手段６ａは、特に図示はしないが、被測定物Ｗの測定結果を表示するためのソフトキーが押下されると、エラー検出部４ｂの検出結果に基づく被測定物Ｗの測定結果画面を表示するように表示部５を制御する。
【００３９】
次に、上記のように構成される誤り率測定装置１によるオーダードセットの編集方法について図６（ａ），（ｂ）を参照しながら説明する。
【００４０】
図６（ａ）に示すように、オーダードセットをシンボル単位で編集する場合には、図２や図４のオーダードセット編集画面５ａを表示する（ＳＴ１）。そして、このオーダードセット編集画面５ａにおいて、「Ａｄｄ」、「Ｃｏｐｙ」、「Ｃｕｔ」、「Ｐａｓｔｅ」、「Ｃｌｅａｒ  Ａｌｌ」、「ＯＫ」、「Ｃａｎｃｅｌ」のソフトキー２ａ〜２ｇを含む設定操作部２の操作により、オーダードセットをシンボル単位で自由に編集を行う（ＳＴ２）。
【００４１】
図６（ｂ）に示すように、オーダードセット編集画面５ａで指定したオーダードセットのシンボルをビット単位で編集する場合には、図２や図４のオーダードセット編集画面５ａを表示する（ＳＴ１１）。そして、このオーダードセット編集画面５ａから編集したいシンボルを選択し、「Ｐａｔｔｅｒｎ  Ｅｄｉｔ」のソフトキーを押下し（ＳＴ１２）、図３や図４のシンボル編集画面５ｂを表示する（ＳＴ１３）。そして、このシンボル編集画面５ｂにおいて、「Ａｄｄ」、「Ｃｏｐｙ」、「Ｃｕｔ」、「Ｐａｓｔｅ」、「Ｃｌｅａｒ  Ａｌｌ」、「ＯＫ」、「Ｃａｎｃｅｌ」のソフトキー２ａ〜２ｇを含む設定操作部２の操作により、オーダードセットのシンボルをビット単位で自由に編集を行う（ＳＴ１４）。
【００４２】
なお、上述したオーダードセット編集画面５ａやシンボル編集画面５ｂでシンボル単位やビット単位で編集されたオーダードセットのデータは、「Ｓａｖｅ」のソフトキー２ｈを押下することで記憶部３に保存される。
【００４３】
また、オーダードセット編集画面５ａにおいて、「Ｌｏａｄ」のソフトキー２ｉを押下して記憶部３に保存されたオーダードセットのデータ一覧（不図示）を表示させ、このデータ一覧から編集したいオーダードセットのデータを指定して読み出すこともできる。
【００４４】
このように、本実施の形態では、オーダードセット編集画面５ａやシンボル編集画面５ｂにより、ＰＣＩｅ，ＵＳＢなどの各規格のエンコード規則に則り、オーダードセットの所望のシンボル単位または指定したシンボルをビット単位でユーザーが自由に編集することができる。これにより、ユーザーは、編集したいオーダードセットのシンボルを指定し、指定したシンボル中の特定のビットを変更して編集することができる。その結果、バイナリベースやヘキサベースのエディタでは実現できなかった直感的な送信パターンの作成が可能になる。
【００４５】
以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述および図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例および運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【００４６】
１  誤り率測定装置
２  設定操作部
２ａ〜２ｊ  ソフトキー
３  記憶部
４  測定部
４ａ  パターン発生部
４ｂ  エラー検出部
５  表示部
５ａ  オーダードセット編集画面
５ｂ  シンボル編集画面
５ｃ  パターン編集画面
６  制御部
Ｗ  被測定物（ＤＵＴ）
【図１】
2020136727.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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