(57)【要約】【課題】スライドテーブルのスライド機構の摩耗を精度良く検知できる金型スライド装置の摩耗検知方法を提供する。【解決手段】  金型スライド装置（２）のスライドテーブル（１０）は、レール（１７）とスライダーブロック（１８）とからなるスライド機構（１２）によって固定盤（３）に設けられている。スライダーブロック（１８）にはバネ体（１９）が設けられ、型開時にスライダーブロック（１８）は固定盤（３）から浮上し、型締時にはスライドテーブル（１０）は固定盤（３）に密着する。摩耗検知方法は準備工程と監視工程とからなる。準備工程は型開時のスライドテーブル（１０）の高さ位置を金型毎に測定して金型毎の標準位置として記録する。監視工程は、成形サイクルの型開時にスライドテーブル（１０）の高さ位置を測定し、対応する金型の標準位置と比較する。偏差が所定の大きさに達したらスライド機構（１２）が摩耗していると判定する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定盤上に所定のスライド機構を介してスライド可能に設けられ、その上に金型が載置されるようになっているスライドテーブルを備えた竪型射出成形機の金型スライド装置において、前記スライド機構の摩耗を検知する摩耗検知方法であって、
前記スライド機構はレールと該レールにガイドされてスライドするスライダーブロックとからなり、
前記スライドテーブルが型開時には前記スライダーブロックに設けられている所定のバネ体によって前記固定盤から所定の隙間を開けて浮上し、型締時には前記固定盤に密着するようになっており、
前記摩耗検知方法は、予め実施する準備工程と、成形サイクル毎に実施する監視工程とからなり、
前記準備工程は、型開時における前記スライドテーブルの高さ位置を金型毎に測定して金型毎の標準位置として記録するようにし、
前記監視工程は、成形サイクルの型開時に前記スライドテーブルの高さ位置を測定し、前記スライドテーブルに取付けられている金型に対応する前記標準位置と比較して、偏差が所定の大きさに達したら前記スライド機構が摩耗していると判定することを特徴とする、金型スライド装置の摩耗検知方法。
【請求項２】
請求項１に記載の摩耗検知方法において、前記スライドテーブルの高さ位置は、前記スライドテーブルにおける離間した複数箇所においてそれぞれ測定するようにすることを特徴とする、金型スライド装置の摩耗検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、竪型射出成形機の固定盤上でスライドするスライドテーブルを備え、該スライドテーブル上に取付けられる下側金型をスライドさせて、上可動盤に取付けられる上側金型と整合する型締位置と、整合しない退避位置とに交互に移動させるようになっている金型スライド装置の摩耗検知方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
竪型射出成形機は従来周知であり、一対の金型を上下方向に型開閉する型締装置、型締めされた金型に溶融樹脂を射出する射出装置とから概略構成されている。型締装置がトグル式からなる場合には、型締装置は固定盤と、上可動盤と下可動盤と、複数本のタイバーと、トグル機構とからなる。固定盤はベッドの天板に固定されており、タイバーが固定盤を貫通している。そして、それらのタイバーの上端部に上可動盤が、下端部に下可動盤が設けられている。トグル機構が下可動盤と固定盤の間に設けられ、トグル機構を駆動すると固定盤に対して上可動盤と下可動盤とが駆動される。すなわち型開閉される。トグル機構と下可動盤はベッド内に収納されており、射出装置は上可動盤の上部に設けられている。上可動盤に上側金型が、そして固定盤に下側金型が取付けられる。型締装置を駆動すると、金型が型開閉される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−３３７９７７号公報
【特許文献２】特開２００２−１７５６号公報
【０００４】
竪型射出成形機には、下側金型を移動する金型移動機構が設けられることも多く、金型移動機構として例えば固定盤上で回転するターンテーブルが周知である。下側金型はターンテーブルに載置されて回転し、上側金型と整合する型締位置と、上側金型と整合しない退避位置とに移動されるようになっている。金型移動機構として、例えば特許文献１、２に記載されているような、金型スライド装置も周知である。金型スライド装置は、固定盤上を直線的にスライドするスライドテーブルを備えている。スライドテーブルはボールネジ機構、サーボモータ等の駆動機構によって駆動するようになっており、その上に下側金型が載置されるようになっている。スライドテーブルをスライドさせることによって、下側金型は上側金型と整合して型締めされる型締位置と、整合しない退避位置とに移動するようになっている。下側金型は成形品の取出し時やインサート成形におけるインサート品の挿入時に退避位置に移動するようにしている。また、金型の保守においても下側金型を退避位置に移動している。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
金型スライド装置は、竪型射出成形機において成形品の取出しやインサート成形におけるインサート品の挿入を容易にすることができるし、金型のメンテナンスも容易にでき優れている。従って、金型スライド装置については特に問題はない。しかしながら、金型スライド装置はスライドテーブルが固定盤上を頻繁にスライドするのでスライド機構が摩耗する。この摩耗を検出する方法がない。スライド機構として、レールと、該レール上をスライドするスライダーブロックとからなる、いわゆるＬＭガイド（登録商標）が採用される場合、次のように構成する。まずスライドテーブルの一方と他方の端部にフランジ部を形成する。これらの一対のフランジ部の間隔と等しくなるように、固定盤上に一対のレールを設ける。そしてこれらのレール上をスライドする一対のスライダーブロックに載置するようにする。スライダーブロックには所定のバネ体が内蔵されており、このバネ体は比較的弾性力が大きいので、下側金型がスライドテーブルに設けられていてもスライドテーブルは固定盤から所定の隙間を開けて浮く。従って、スライドテーブルはスライダーブロックによって滑らかにスライドさせることができる。一方、スライドテーブルを型締位置にして上側金型と下型金型とを型締めすると、バネ体が圧縮されてスライドテーブルが固定盤に接触する。これによって適切に型締力が作用することになる。ところで、このようなスライド機構は、長期間の使用により摩耗する。適宜スライド機構を交換すればいいが、このような摩耗に気づかず交換が遅れると、やがてスライドテーブルが固定盤から適切に浮かせられない状態になる。この状態でスライドテーブルをスライドさせるとスライドテーブルと固定盤とが摩耗してしまう。ところで型締力が発生していないときの隙間を監視するようにすれば、スライド機構の摩耗を検出できるかも知れない。しかしながら、隙間は下側金型の重さによっても影響を受ける。さらにはそのキャビティの形状によって下側金型毎に重心位置が異なり、これも隙間に影響する。つまり単純に隙間を監視しても摩耗を適切に監視できないという問題がある。
【０００６】
本発明は、上記したような問題点を解決した、竪型射出成形機の金型スライド装置の摩耗を検知する摩耗検知方法を提供することを目的としており、具体的には、取付けられる下側金型が交換されて異なる下側金型が取付けられても、スライドテーブルのスライド機構の摩耗を精度良く検知でき、それによって適切にスライド機構を交換でき、固定盤やスライドテーブルを傷つけることがない、金型スライド装置の摩耗検知方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、上記目的を達成するために、固定盤上をスライドするスライドテーブルを備えた金型スライド装置のうち、所定のスライド機構が設けられている金型スライド装置を対象としてスライド機構の摩耗を検知するようにする。具体的には、スライド機構はレールと、該レールにガイドされてスライドするスライダーブロックとからなるものを対象とする。スライドテーブルには金型が載置されるようになっており、型開時にはスライダーブロックに設けられているバネ体によって固定盤から所定の隙間を開けて浮上してスライド可能になる。一方型締時にはスライドテーブルは固定盤に密着する。摩耗検知方法は、予め実施する準備工程と、成形サイクル毎に実施する監視工程とから構成する。準備工程は、型開時における前記スライドテーブルの高さ位置を金型毎に測定して金型毎の標準位置として記録しておく。監視工程は、成形サイクルの型開時にスライドテーブルの高さ位置を測定し、スライドテーブルに取付けられている金型に対応する標準位置と比較して、偏差が所定の大きさに達したらスライド機構が摩耗していると判定する。
【０００８】
かくして、請求項１に記載の発明は、上記目的を達成するために、固定盤上に所定のスライド機構を介してスライド可能に設けられ、その上に金型が載置されるようになっているスライドテーブルを備えた竪型射出成形機の金型スライド装置において、前記スライド機構の摩耗を検知する摩耗検知方法であって、前記スライド機構はレールと該レールにガイドされてスライドするスライダーブロックとからなり、前記スライドテーブルが型開時には前記スライダーブロックに設けられている所定のバネ体によって前記固定盤から所定の隙間を開けて浮上し、型締時には前記固定盤に密着するようになっており、前記摩耗検知方法は、予め実施する準備工程と、成形サイクル毎に実施する監視工程とからなり、前記準備工程は、型開時における前記スライドテーブルの高さ位置を金型毎に測定して金型毎の標準位置として記録するようにし、前記監視工程は、成形サイクルの型開時に前記スライドテーブルの高さ位置を測定し、前記スライドテーブルに取付けられている金型に対応する前記標準位置と比較して、偏差が所定の大きさに達したら前記スライド機構が摩耗していると判定することを特徴とする、金型スライド装置の摩耗検知方法として構成される。
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の摩耗検知方法において、前記スライドテーブルの高さ位置は、前記スライドテーブルにおける離間した複数箇所においてそれぞれ測定するようにすることを特徴とする、金型スライド装置の摩耗検知方法として構成される。
【発明の効果】
【０００９】
以上のように、本発明は、固定盤上に所定のスライド機構を介してスライド可能に設けられ、その上に金型が載置されるようになっているスライドテーブルを備えた竪型射出成形機の金型スライド装置において、スライド機構の摩耗を検知する摩耗検知方法として構成される。スライド機構はレールと該レールにガイドされてスライドするスライダーブロックとからなり、スライドテーブルが型開時にはスライダーブロックに設けられている所定のバネ体によって固定盤から所定の隙間を開けて浮上し、型締時には固定盤に密着するようになっている。このような金型スライド装置において、スライド機構の摩耗検知方法は、予め実施する準備工程と、成形サイクル毎に実施する監視工程とからなる。準備工程は、型開時におけるスライドテーブルの高さ位置を金型毎に測定して金型毎の標準位置として記録するようにする。そして監視工程は、成形サイクルの型開時にスライドテーブルの高さ位置を測定し、スライドテーブルに取付けられている金型に対応する標準位置と比較して、偏差が所定の大きさに達したらスライド機構が摩耗していると判定するように構成される。本発明はこのように構成されているので、成形サイクル毎にスライド機構の摩耗の有無を確認し、許容量を超えたら摩耗であると判断できる。これによって適切にスライド機構を交換でき、固定盤やスライドテーブルを傷つける虞がない。ところでスライドテーブルは型開時にはスライダーブロックに設けられているバネ体によって固定盤から浮上するようになっているが、浮上する隙間は取付けられる金型の重さによってわずかに変化する。本発明においては金型毎に標準位置として記録しておき、そして成形サイクル毎の型開時に測定するスライドテーブルの高さ位置は、現在取付けられている金型に対応する標準位置と比較されるので、スライドテーブルに取付けられる金型が交換されても精度良くスライド機構の摩耗を検知できる。他の発明によるとスライドテーブルの高さ位置は、スライドテーブルにおける離間した複数箇所においてそれぞれ測定するように構成されている。金型はそのキャビティの形状によって重心の位置が変化するので、取付ける金型によっては、型開時におけるスライドテーブルの浮上がわずかに傾くことがある。このような場合であっても、スライドテーブルの離間した２箇所以上の複数箇所において高さ位置を測定するようにするので、それぞれの高さ位置を１組の標準位置として記録し、成形サイクル毎に測定される２箇所の高さ位置、あるいはさらに３箇所の高さ位置を、これらの標準位置と比較すれば確実にスライド機構の摩耗を検知できる。そして、一般的にスライド機構は２組設けられることが多いが、一方のスライド機構だけ摩耗が進行する場合もある。この発明によると、スライドテーブルの離間した複数箇所において高さ位置を測定するようにするので、一方のスライド機構だけ摩耗しても、これを確実に検知できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】竪型射出成形機に設けられている、本発明の実施の形態に係る金型スライド装置を示す斜視図である。
【図２】竪型射出成形機の固定盤と、本実施の形態に係る金型スライド装置のスライドテーブルとを示す正面断面図であり、その（Ａ）は型開時における、その（Ｂ）は型締時における、固定盤とスライドテーブルの正面断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本実施の形態について説明する。本実施の形態に係る金型スライド装置２は、図１に示されているように、本実施の形態に係る竪型射出成形機１に設けられている。竪型射出成形機１は、周知のように型締装置、射出装置等からなるが、図１には型締装置の一部である固定盤３とタイバー４、４、…のみが示されている。竪型射出成形機を支持するベッドに天板６が設けられ、この天板６に固定盤３が固定されている。固定盤３には４箇所の貫通孔が開けられてタイバー４、４、…が挿通している。図１には示されていないが、タイバーの下方の端部はベッドの中に設けられている下可動盤に、そして上方の端部は固定盤３の上方に配置されている上可動盤に固定されている。固定盤３と下可動盤の間に設けられているトグル機構を駆動すると、上可動盤が固定盤３に対して上下して型開閉されるようになっている。
【００１２】
金型スライド装置２は、固定盤３上をスライドするようになっているスライドテーブル１０、天板６に設けられ固定盤３とその高さが等しくなっている拡張テーブル１１、固定盤３においてスライドテーブル１０をスライド可能に支持するスライド機構１２、スライドテーブル１０を駆動する駆動機構１３、等から構成されている。スライドテーブル１０は上面形状が方形に形成され、図２の（Ａ）に示されているように、一方と他方の端部にフランジ部１５、１５が形成されている。スライドテーブル１０は、このフランジ部１５、１５において次に説明するスライド機構１２によって支持されている。駆動機構１３は、図１に示されているように、ボールネジ機構２１とモータ２２とから構成されている。モータ２２によってボールネジ機構２１のボールネジ２３を回転するとボールネジ２３に螺合しているボールナットを軸方向に駆動し、ブラケット２４を介してスライドテーブル１０をスライドさせることができる。なお、ボールナットはブラケット２４内に収納されていて図１には示されていない。
【００１３】
本実施の形態に係る金型スライド装置２には、図２の（Ａ）に示されているように、一対のスライド機構１２、１２が採用されている。スライド機構１２、１２は、レール１７、１７と、このレール１７、１７にガイドされてスライドするスライダーブロック１８、１８とからなる。スライダーブロック１８、１８内には、図に示されていないがベアリングが設けられ、滑らかにレール１７、１７をスライドできるようになっている。一対のレール１７、１７は、図１に示されているように、固定盤３と拡張テーブル１１とに渡って設けられ、それぞれのスライダーブロック１８、１８の上にスライドテーブル１０のフランジ部１５、１５が設けられている。このスライダーブロック１８、１８にはバネ体１９、１９が内蔵されている。あるいはバネ体１９、１９が外付けで設けられている。このバネ体１９、１９によってスライドテーブル１０の底面は、固定盤３から所定の隙間ｄだけ浮上することになる。一方、型締時にスライドテーブル１０に下方の押力が作用すると、バネ体１９、１９が圧縮されてスライドテーブル１０の底面が固定盤３に接触することになる。
【００１４】
本実施の形態に係る金型スライド装置２は、スライドテーブル１０の高さ位置を測定する一対のセンサ２５、２５が設けられている。本実施の形態においてセンサ２５、２５はレーザ式変位センサからなる。レーザ式変位センサはレーザをマーカに照射し、その反射光からマーカの位置を測定するようになっており、高精度で位置を測定できる。マーカ２７、２７はスライドテーブル１０の一方と他方の端部に設けられ、センサ本体２６、２６はこれらのマーカ２７、２７に向かうように天板６に設けられている。センサ２５、２５によって測定されるスライドテーブル１０の高さ位置は、竪型射出成形機１の図示されないコントローラに入力されるようになっている。
【００１５】
このような金型スライド装置２のスライドテーブル１０には、金型２９が載置されている。この金型２９は成形品に応じて交換される。竪型射出成形機１において成形サイクルを実施する毎に、スライドテーブル１０をスライドして金型２９を拡張テーブル１１の方に移動する。これによって成形品が取り出し易くしている。あるいはインサート成形においてインサート品を挿入し易くしている。このようにスライドテーブル１０を成形サイクル毎にスライドするので、長期間の運転によってスライド機構１２、１２は摩耗する。そこで本実施の形態に係る金型スライド装置２では次のようにしてスライド機構１２、１２の摩耗を検知するようにしている。
【００１６】
摩耗検知方法は、最初に一度だけ実施する準備工程と、成形サイクル毎に実施する監視工程とからなる。準備工程は、スライド機構１２、１２が新しく、まだ摩耗していないときに実施する。スライドテーブル１０に金型２９を取付けて、型開状態にしてスライドテーブル１０の高さ位置を測定する。センサ２５、２５は２個あるので、２箇所の高さ位置が測定される。これらを第１、２の標準位置とし、金型２９と関連付けてコントローラに記録する。竪型射出成形機１において交換される金型が他にもあれば、それらの金型についてもスライドテーブル１０に取付けて、同様に第１、２の標準位置を測定する。そして、それぞれの金型と関連付けてコントローラに記録する。つまりコントローラには、竪型射出成形機１において取付けられる可能性のある全ての金型について、第１、２の標準位置が記録されることになる。
【００１７】
監視工程は成形サイクル毎に実施するが、具体的には型開時に実施する。型開時に２個のセンサ２５、２５によってスライドテーブル１０の高さ位置を測定し、第１、２の測定位置とする。現在スライドテーブル１０に取付けられている金型を元に、コントローラに記録されている該当の第１、２の標準位置を読み出す。第１、２の測定位置をそれぞれ第１、２の標準位置と比較して、第１、２の標準位置からのズレ、つまり偏差を評価する。偏差が所定のしきい値を超えたら、スライド機構１２が摩耗していると判定する。これによってスライド機構１２を早期に交換して、金型スライド装置２や固定盤３が傷つくことを防止できる。なお、第１の標準位置と第１の測定位置の偏差、第２の標準位置と第２の測定位置の偏差のいずれか一方だけがしきい値を超えてもスライド機構１２の摩耗が発生したと判断することが好ましいが、両方しきい値を超えたときにスライド機構１２の摩耗が発生したと判定してもよい。本実施の形態に係る摩耗検知方法で検知されるスライド機構１２の摩耗には、レール１７やスライダーブロック１８の摩耗の他に、バネ体１９の劣化も含まれる。
【００１８】
本実施の形態は色々な変形が可能である。例えば、センサ２５、２５とマーカ２７、２７は本実施の形態においてはそれぞれ２個ずつ設けられるように説明したが、３個ずつ以上の複数個であってもよく、あるいは１個ずつであってもよい。例えば、センサ２５、２５とマーカ２７、２７とを４個ずつ設け、スライドテーブル１０の４隅の高さ位置を測定するようにして、第１〜４の標準位置を記録し、その後、成形サイクル毎に高さ位置を測定して比較してもよい。このようにするとさらに高精度に摩耗を検知できる。
【符号の説明】
【００１９】
１      竪型射出成形機            ２      金型スライド装置
３      固定盤                    ６      天板
１０      スライドテーブル        １１      拡張テーブル
１２      スライド機構            １７      レール
１８      スライダーブロック      １９      バネ体
２１      ボールネジ機構          ２２      モータ
２５      センサ                  ２６      センサ本体
２７      マーカ                  ２９      金型
【図１】
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【図２】
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