(57)【要約】【課題】蓄電部を電源として用いる発光装置において所望の波高値を維持して検出光を連続照射できるようにすること。【解決手段】物体検出用の発光装置１１０が提供される。発光装置１１０は、蓄電部２３と、蓄電部２３に蓄電されている電力を用いて、設定された照射タイミングにて検出光を照射する発光部２０と、発光部２０により照射される検出光の波高値を示す測定値を取得する測定値取得部３０と、測定値取得部３０により取得された測定値を用いて、波高値が予め定められた基準値を維持するように次回の照射タイミングを設定する照射制御部１１と、を備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体検出用の発光装置（１１０）であって、
蓄電部（２３）と、
前記蓄電部に蓄電されている電力を用いて、設定された照射タイミングにて検出光を照射する発光部（２０）と、
前記発光部により照射される前記検出光の波高値を示す測定値を取得する測定値取得部（３０、２４、２５）と、
前記測定値取得部により取得された前記測定値を用いて、前記波高値が予め定められた基準値を維持するように次回の照射タイミングを設定する照射制御部（１１）と、を備える、物体検出用の発光装置。
【請求項２】
請求項１に記載の物体検出用の発光装置はさらに、
前記発光部により照射された前記検出光の波高値を測定する波高値測定器（３０）を備え、
前記照射制御部は、前記波高値測定器により測定された前記検出光の波高値を用いて、前記次回の照射タイミングを設定する、物体検出用の発光装置。
【請求項３】
請求項１に記載の物体検出用の発光装置はさらに、
前記蓄電部から前記発光部に流れる電流値を測定する電流測定噐（２４）を備え、
前記照射制御部は、前記電流測定器によって測定された電流値を用いて、前記次回の照射タイミングを設定する、物体検出用の発光装置。
【請求項４】
請求項１に記載の物体検出用の発光装置はさらに、
前記発光部の温度を測定する温度測定部（２５）を備え、
前記照射制御部は、前記温度測定部により測定された前記発光部の温度を用いて、前記次回の照射タイミングを設定する、物体検出用の発光装置。
【請求項５】
物体検出装置（１００）であって、
請求項１から４のいずれか一項に記載の物体検出用の発光装置（１１０）と、
入射光を受光する受光部（３０）と、
前記受光部において受光された前記入射光の強度を用いて物体を識別する識別部（１１）と、
を備える物体検出装置。
【請求項６】
物体検出用の発光制御方法であって、
蓄電部に蓄電されている電力を用いて、設定された照射タイミングにて発光部によって検出光を照射し、
前記発光部により照射される前記検出光の波高値を示す測定値を取得し、
取得した前記測定値を用いて、前記波高値が予め定められた基準値を維持するように次回の照射タイミングを設定することを備える、物体検出用の発光制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は物体を検出するために用いられるレーザ光を用いる発光装置の制御技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
電源としてコンデンサを用いてレーザダイオードを発光させ、検出光を照射して、物体を検出する技術が提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−１５２３３６号公報
【特許文献２】特開２０１０−１３９２９５号公報
【０００４】
しかしながら、コンデンサを初めとする蓄電部を電源として用いる場合、レーザダイオードが連続発光されると、コンデンサが十分に充電される前に放電が実行され、所望の波高値を維持して検出光を連続照射できないという問題がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
したがって、蓄電部を電源として用いる発光装置において所望の波高値を維持して検出光を連続照射できることが求められている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示は、以下の態様として実現することが可能である。
【０００７】
第１の態様は、物体検出用の発光装置を提供する。第１の態様に係る物体検出用の発光装置は、蓄電部と、前記蓄電部に蓄電されている電力を用いて、設定された照射タイミングにて検出光を照射する発光部と、前記発光部により照射される前記検出光の波高値を示す測定値を取得する測定値取得部と、前記測定値取得部により取得された前記測定値を用いて、前記波高値が予め定められた基準値を維持するように次回の照射タイミングを設定する照射制御部と、を備える。
【０００８】
第１の態様に係る物体検出用の発光装置によれば、蓄電部を電源として用いる発光装置において所望の波高値を維持して検出光を連続照射できる。
【０００９】
第２の態様は、物体検出用の発光制御方法を提供する。第２の態様に係る物体検出用の発光制御方法は、蓄電部に蓄電されている電力を用いて、設定された照射タイミングにて発光部によって検出光を照射し、前記発光部により照射される前記検出光の波高値を示す測定値を取得し、取得した前記測定値を用いて、前記波高値が予め定められた基準値を維持するように次回の照射タイミングを設定することを備える。
【００１０】
第２の態様に係る物体検出用の発光制御方法によれば、蓄電部を電源として用いる発光装置において所望の波高値を維持して検出光を連続照射できる。なお、本開示は、物体検出用の発光制御プログラムまたは当該プログラムを記録するコンピュータ読み取り可能記録媒体としても実現可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１の実施形態に係る物体検出装置および発光装置の概略構成を示す説明図。
【図２】第１の実施形態に係る物体検出装置および発光装置の制御部の機能的構成を示すブロック図。
【図３】第１の実施形態に係る物体検出装置および発光装置によって実行される発光制御処理の処理フローを示すフローチャート。
【図４】連続照射により波高値が低下する従来例を示す波高値の経時変化の説明図。
【図５】第１の実施形態に係る物体検出装置および発光装置による波高値と照射タイミングの関係を示す説明図。
【図６】第１の実施形態に係る物体検出装置および発光装置による波高値と照射タイミングの関係を示す説明図。
【図７】第３および第４の実施形態に係る物体検出装置および発光装置の制御部の機能的構成を示すブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本開示に係る物体検出用の発光装置、物体検出装置および発光制御方法について、実施形態に基づいて以下説明する。
【００１３】
第１の実施形態：
第１の実施形態においては、物体検出用の発光装置１１０が物体検出装置１００に備えられている例を用いて説明する。図１に示すように、第１の実施形態に係る物体検出装置１００は、制御部１０、発光部２０、受光部３０および電動駆動部４０を備える。本実施形態において、物体検出用の発光装置１１０は、物体検出装置１００の一部を構成しており、制御部１０、発光部２０および波高値測定器として機能し得る受光部３０によって構成される。本実施形態において、制御部１０は、発光装置１１０および物体検出装置１００で共用されており、発光制御処理および物体識別処理の双方を実行する。なお、制御部１０は、物体検出用の発光装置１１０のみを制御するための制御部であっても良く、この場合、制御部１０は発光制御のみを実行し、物体識別に伴う処理を実行せず、物体検出装置１００は物体識別処理を実行するための制御部を別途備える。物体検出装置１００は、例えば、車両に搭載され、車両周囲の物体を検出するために用いられる。物体の検出結果は、例えば、駆動力制御、制動支援、操舵支援といった運転支援の判定パラメータとして用いられる。物体検出装置１００は、少なくとも制御部１０、発光部２０および受光部３０を備えていれば良い。物体検出装置１００は、例えば、Ｌｉｄａｒ（Light Detection and Ranging）であり、電動駆動部４０によって回転駆動される走査機構３５、発光部２０から照射されるレーザ光を透過し、入射光を反射するハーフミラー３６を備えている。
【００１４】
制御部１０は、演算部としての中央処理装置（ＣＰＵ）１１、記憶部としてのメモリ１２、入出力部としての入出力インタフェース１３および図示しないクロック発生器を備えている。ＣＰＵ１１、メモリ１２、入出力インタフェース１３およびクロック発生器は内部バス１４を介して双方向に通信可能に接続されている。メモリ１２は、波高値を基準波高値に維持して検出光の照射を実行するための発光制御処理プログラムＰ１を不揮発的且つ読み出し専用に格納するメモリ、例えばＲＯＭと、ＣＰＵ１１による読み書きが可能なメモリ、例えばＲＡＭとを含んでいる。この他に、物標としての物体を検出するための物体検出処理プログラムが不揮発的且つ読み出し専用に格納するメモリに格納されている。メモリ１２のうち不揮発的且つ読み出し専用なメモリまたは領域には、発光部２０の発光制御に際して予め定められた基準波高値が維持されるように次回の照射タイミングを設定するために用いられる照射タイミングテーブルＴ１が格納されている。メモリ１２のうち読み書き可能なメモリまたは領域には、取得された検出光の波高値に応じて設定された次回の照射タイミング、すなわち、次回の照射タイミングまでの照射タイミング間隔Ｔｉが格納されている。照射タイミングテーブルＴ１は、波高値と照射タイミングとを関連付けるテーブルであり、波高値が小さくなるにつれて、照射タイミング間隔Ｔｉが大きくなる特性、または、予め定められた複数の照射タイミング群間の期間が大きくなる特性を有している。ＣＰＵ１１はメモリ１２に格納されている発光制御処理プログラムＰ１を読み書き可能なメモリに展開して実行することによって照射制御部として機能し、物体検出処理プログラムを実行することによって識別部として機能する。なお、ＣＰＵ１１は、単体のＣＰＵであっても良く、各プログラムを実行する複数のＣＰＵであっても良く、あるいは、複数のプログラムを同時実行可能なマルチタスクタイプのＣＰＵであっても良い。
【００１５】
入出力インタフェース１３には、発光制御部２１、受光制御部３１および電動機ドライバ４１がそれぞれ制御信号線を介して接続されている。発光制御部２１に対しては発光制御信号が送信され、受光制御部３１からは入射光強度信号が受信され、電動機ドライバ４１に対しては回転速度指示信号が送信される。
【００１６】
発光部２０は、発光制御部２１および発光素子２２を備え、検出光を照射する。発光制御部２１は、発光用の電源である蓄電部としてコンデンサ２３を備える。発光素子２２は、例えば、赤外レーザダイオードであり、検出光として赤外レーザ光を出射する。発光制御部２１は、コンデンサ２３に蓄電されている電力を用いて、入出力インタフェース１３を介して制御部１０から入力される発光制御信号に応じた発光強度にて赤外レーザ光を照射するよう発光素子２２を駆動する。発光素子２２は１つでも良く複数であっても良く、複数の場合には、例えば、垂直方向への走査を省略することができる。蓄電部としては、コンデンサ２３の他に、所望の電力を短時間に放電可能な二次電池が用いられても良い。
【００１７】
受光部３０は、受光制御部３１および受光素子アレイ３２を備える。受光素子アレイ３２は、複数の画素が縦横方向に配列されている平板状の光センサであり、例えば、ＳＰＡＤ（Single Photon Avalanche Diode）、その他のフォトダイオードが各画素を構成する。本実施形態では、受光部３０は、発光装置１１０が備える波高値測定器としても機能する。したがって、受光素子アレイ３２の一部は、検出光の波高値、すなわち、物体において反射された検出光の反射光の波高値を測定するための波高値検出素子として機能し、受光部３０は、波高値を示す測定値を直接的に取得する測定値取得部および波高値測定器として機能する。受光制御部３１は、各画素に入射された入射光量または入射光強度に応じた各画素値を入射光強度信号として出力する。具体的には、受光制御部３１は、各画素において入射光量に応じて発生する電流を電圧に変換して画素値、例えば、輝度値や明度を示す入射光強度信号として制御部１０へ出力する。受光制御部３１は、本実施形態に係る発光装置１１０の照射タイミングを決定する際に、波高値検出素子として機能する受光素子アレイ３２の画素に入射された入射波の最大振幅値あるいは、入射光強度の最大値を、波高値として出力する。波高値は、例えば、電圧値（Ｖ）または電流値（Ａ）によって表され得る。なお、波高値測定器は、受光部３０とは別に専用の受光部として備えられていても良い。
【００１８】
電動駆動部４０は、電動機ドライバ４１および電動機４２を備える。電動機ドライバ４１は、制御部１０からの回転速度指示信号を受けて電動機４２に対する印加電圧を変更して電動機４２の回転速度を制御する。電動機４２は、例えば、ブラシレスモータ、ブラシモータである。電動機４２の出力軸の先端部には、走査機構３５が取り付けられている。走査機構３５は、発光素子２２から出射されたレーザ光を水平方向に走査させる反射体、すなわち、鏡体であり、電動機４２によって回転駆動されることによって水平方向への走査が実現される。走査機構３５はさらに、水平方向に加えて垂直方向への走査を実現するために多面鏡体、例えば、ポリゴンミラーであっても良く、あるいは、垂直方向へ揺動される機構を備える単面鏡体、あるいは、垂直方向へ揺動される別の単面鏡体を備えていても良い。
【００１９】
発光部２０から照射されたレーザ光は、ハーフミラー３６を透過し、走査機構３５を介して、例えば、水平方向の予め定められた走査範囲、すなわち、回転角にわたり走査される。物体によって反射されたレーザ光は、照射光と同一の光経路を通り、ハーフミラー３６によって反射され受光部３０に入射される。この結果、所望の走査範囲にわたって、物体を検出するための走査が可能となる。発光部２０および受光部３０は走査機構３５と共に電動機４２によって回転されても良く、走査機構３５とは別体であり、電動機４２によって回転されなくても良い。さらに、走査機構３５が備えられることなく、アレイ状に配置された複数の発光素子２２および受光素子アレイ３２を備え、レーザ光を外界に対して直接照射し、反射光を直接受光する構成を備えていても良い。
【００２０】
図３を参照して、発光装置１１０、より具体的には、制御部１０によって実行される、検出光の波高値を基準波高値に維持するための照射タイミングで実行される発光制御処理について説明する。図３に示す処理フローは、例えば、発光装置１１０が起動された後、予め定められた間隔、例えば、数msec単位で繰り返し実行される。発光装置１１０が物体検出装置１００の一部として車両に搭載されている場合には、車両のシステムが起動された後、システムが終了されるまでの期間、あるいは、物体検出装置１００の作動スイッチがオンされている期間、予め定められた間隔、例えば、数msec単位で繰り返し実行される。本実施形態において、発光装置１１０は物体検出装置１００の一部として備えられているので、図３に示す処理フローは、物体識別処理の一部として実行され得る。なお、発光装置１１０が物体検出装置１００とは別体、すなわち、単独で用いられる場合には、図３に示す処理フローは、発光装置１１０が備える制御部１０によって、発光の目的に応じて、予め定められた間隔で繰り返し実行される。
【００２１】
制御部１０は、メモリ１２を参照して現在設定されている照射タイミングを取得する（ステップＳ１００）。後述する、基準波高値を維持するための照射タイミング間隔Ｔｉが未設定の場合には、メモリ１２に格納されている初期値としての間隔が照射タイミング間隔Ｔｉとして取得される。基準波高値は、受光部３０において、物体の識別、例えば、物体検出装置１００と物体との間の距離の測距に際して十分なＳＮ比を得ることができる強度の反射光の入射を実現できる波高値である。制御部１０は、前回の照射タイミングから積算されたクロック発生器のカウント値を用いて、照射タイミング間隔Ｔｉが経過したか、すなわち、現在時刻が照射タイミングであるか否かを判定する（ステップＳ１０２）。制御部１０は、照射タイミングが到来するまで待機し（ステップＳ１０２：Ｎｏ）、現在時刻が照射タイミングであると判定すると（ステップＳ１０２：Ｙｅｓ）、発光部２０に対して発光制御信号を出力する（ステップＳ１０４）。発光制御信号は、発光制御部２１に対して発光を指示する矩形波形の信号であっても良く、あるいは、発光部２０によって出力されるべき一群の発光パターンを指示する複数の矩形波を含む信号であっても良い。
【００２２】
制御部１０は、発光部２０による検出光の照射に応じて、物体から反射される反射光を受光する受光部３０から出力される波高値を取得し（ステップＳ１０６）、波高値が基準波高値に維持されるように次回の照射タイミングを設定して（ステップＳ１０８）、本処理ルーチンを終了する。本実施形態においては、メモリ１２に格納されている照射タイミングテーブルＴ１を用いて、取得された波高値に応じて、基準波高値を維持するための次回の照射タイミング、すなわち、照射タイミング間隔Ｔｉが設定される。検出光に応じた波高値は、既述のように、波高値検出素子に入射した反射光に応じて、受光制御部３１から電圧値または電流値として出力される。なお、基準波高値の維持には、例えば、基準波高値に対する±５％程度の変動幅が含まれ得る。
【００２３】
発光部２０により連続して発光が実行される場合や発光間隔が短い場合には、コンデンサ２３の十分な充電が完了する前に次の発光のための放電が実行され、図４に示すように、時間ｔの経過に伴って波高値が低下する。なお、コンデンサ２３の十分な充電とは、コンデンサ２３の端子電圧が、図４に示す、基準波高値Ｗｖを実現可能な電圧値以上となるようにコンデンサ２３に対して電流を流して電荷を蓄積することを意味する。第１の実施形態における制御部１０は、取得された波高値が低下すると、照射タイミングテーブルＴ１に従って、照射タイミング間隔Ｔｉを増大させる。一時的な波高値の低下、例えば、照射タイミングよりも十分な充電に要する充電期間が長い場合には、図５に示すように、充電期間経過後に発光するように同一長さで増大された照射タイミング間隔Ｔｉに設定され、基準波高値Ｗｖが維持される。波高値の低下が続く場合、例えば、熱劣化によって発光素子２２の発光効率または発光特性の低下が続く場合には、図６に示すように、発光素子２２の冷却に求められる、または、より高い発光素子２２の駆動電圧を実現するために求められる、異なる長さで増大された照射タイミング間隔Ｔｉに設定され、所望の基準波高値Ｗｖが維持される。
【００２４】
本実施形態においては、発光装置１１０は物体検出装置１００の一部を構成し、制御部１０は発光制御処理および物体識別処理を実行するので、制御部１０は、上記の発光制御処理に加えて、発光部２０から照射された検出光が物体において反射されて得られた反射光に対応する各画素の輝度値を取得し、物体の検出、すなわち、測距結果を用いる物体の識別処理を実行する。なお、物体の識別処理においては、識別精度を向上させるために、複数回の検出結果の平均値、中央値、最頻値といった統計的な値を用いて判別処理が実行されることが望ましい。物体の識別処理の結果は、運転支援に用いられる。なお、発光装置１１０と物体検出装置１００がそれぞれ別体の制御部を備える場合、あるいは、発光装置１１０および物体検出装置１００がそれぞれ別体である場合には、発光装置１１０の制御部１０は、発光制御処理のみを実行し、物体識別処理を実行しない。
【００２５】
以上説明した、第１の実施形態に係る物体検出用の発光装置１１０によれば、コンデンサ２３により発光部２０が検出光を照射する発光装置１１０において、検出光の波高値を基準波高値に維持して検出光を連続して照射することができる。すなわち、第１の実施形態に係る物体検出用の発光装置１１０によれば、発光部２０により照射された検出光の波高値に応じて次回の照射タイミング間隔Ｔｉが決定されるので、コンデンサ２３が十分に充電される照射タイミング間隔Ｔｉにて検出光の照射が実行され、検出光の波高値を基準波高値に維持して連続照射することができる。この結果、一体または別体を問わず、第１の実施形態に係る物体検出用の発光装置１１０と共に用いられる物体検出装置１００における物体の識別処理を連続して実行することができる。
【００２６】
第２の実施形態：
第１の実施形態においては、照射タイミングテーブルＴ１を用いて次回の照射タイミングが設定される。これに対して、波高値と照射タイミングとを関係付ける関数を用いて取得された波高値に応じた照射タイミングが算出されても良い。この場合には、発光素子２２の特性に応じて照射タイミング間隔Ｔｉを容易に変更したり、波高値に対してより詳細に照射タイミング間隔Ｔｉを設定することができる。なお、第２の実施形態に係る物体検出装置１００の他の構成は、第１の実施形態における構成と同様であるから第１の実施形態において用いた符号と同一の符号を付して説明を省略する。
【００２７】
第３の実施形態：
第１の実施形態においては、波高値測定器により、発光部２０により照射された検出光の反射光を測定することによって波高値が取得されている。これに対して、図７に示すように、波高値を測定する波高値測定器として、コンデンサ２３から発光素子２２に流れる電流値を測定する電流測定噐２４が発光制御部２１に備えられ、測定された電流値を用いて照射タイミング間隔Ｔｉ、すなわち、次回の照射タイミングが設定されても良い。第３の実施形態に係る物体検出装置１００の構成は、電流測定噐２４が備えられている点を除き第１の実施形態における構成と同様であるから第１の実施形態において用いた符号と同一の符号を付して説明を省略する。なお、図３に示す処理フローにおいて、波高値を取得するステップＳ１０６および波高値に応じた照射タイミングを設定するステップＳ１０８は、それぞれ、電流値を取得するステップおよび電流値に応じた照射タイミングを設定するステップとして実現される。電流測定噐２４を用いることによって、コンデンサ２３の充電状態が基準波高値を実現可能な状態であるか否か、すなわち、コンデンサ２３から供給可能な電流値が基準波高値を実現可能な値であるか否かを判定することができる。この場合には、電流値と波高値との関係を予めテーブル化または関数化しておくことによって、電流値を用いて波高値を取得することができる。第３の実施形態によれば、コンデンサ２３の充電状態に直接基づいて次回の照射タイミングを設定することができる。
【００２８】
第４の実施形態：
第１の実施形態においては、波高値測定器により、発光部２０により照射された検出光の反射光を測定することによって波高値が取得されている。これに対して、図７に示すように、波高値を測定する波高値測定器として、発光部２０に温度測定部２５が備えられ、検出された温度を用いて照射タイミング間隔Ｔｉ、すなわち、次回の照射タイミングが設定されても良い。第４の実施形態に係る物体検出装置１００の構成は、温度測定部２５が備えられている点を除き第１の実施形態における構成と同様であるから第１の実施形態において用いた符号と同一の符号を付して説明を省略する。なお、図３に示す処理フローにおいて、波高値を取得するステップＳ１０６および波高値に応じた照射タイミングを設定するステップＳ１０８は、それぞれ、温度を取得するステップおよび温度に応じた照射タイミングを設定するステップとして実現される。温度測定部２５を用いることによって、発光部２０、特には、発光素子２２の発光性能が劣化する温度状態であるか否か、すなわち、連続発光によって発光素子２２の温度が上昇し、発光素子２２が所期の波高値の検出光を照射可能でないか否かを判定することができる。この場合には、温度と波高値との関係を予めテーブル化または関数化しておくことによって、温度を用いて波高値を取得することができる。第４の実施形態によれば、温度上昇に伴う発光素子２２の性能劣化に基づいて次回の照射タイミングを設定することができる。
【００２９】
その他の実施形態：
（１）上記第１の実施形態において、照射タイミングテーブルＴ１は、以下のように実現されても良い。すなわち、照射タイミング間隔Ｔｉは、メモリ１２において、予め定められた数の波高値に応じた複数のアドレスに格納されていても良い。この場合、制御部１０は、取得された波高値に対応するアドレスを指定することによって照射タイミング間隔Ｔｉ、すなわち、次回の照射タイミングを取得することができる。加えて、制御部１０は、次回の照射タイミングを予め設定し、メモリ１２に格納しなくても良い。また、制御部１０は、波高値に対応するアドレスが用意されていない場合には、近傍アドレスに格納されている照射タイミング間隔Ｔｉを用いて次回の照射タイミングを設定して用いても良い。さらに、制御部１０は、近傍アドレスに格納されている照射タイミング間隔Ｔｉを用いる場合には、前後または複数の近傍アドレスに格納されている複数の照射タイミング間隔Ｔｉの平均または重み付け演算により得られた照射タイミング間隔Ｔｉを用いて次回の照射タイミングを設定しても良い。これらの場合には、波高値を用いてメモリ１２をアドレスすることによって、次回の照射タイミングを容易に取得することができる。
【００３０】
（２）上記第各実施形態において、波高値、電流値または温度に応じて設定された照射タイミング間隔Ｔｉに対してランダム値を加算あるいはランダム値を乗算して次回の照射タイミングが設定されても良い。この場合には、発光装置１１０の近傍、または車両の近傍に、他の物体検出装置が存在する場合に、干渉を低減または防止することができる。
【００３１】
（３）上記各実施形態においては、制御部１０がプログラムを実行することによって、ソフトウェア的に発光制御処理および物体識別処理を含む各種処理を実行する制御部が実現されているが、予めプログラムされた集積回路またはディスクリート回路によってハードウェア的に実現されても良い。すなわち、上記各実施形態における制御部およびその手法は、コンピュータプログラムにより具体化された一つまたは複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサおよびメモリを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。あるいは、本開示に記載の制御部およびその手法は、一つ以上の専用ハードウェア論理回路によってプロセッサを構成することによって提供された専用コンピュータにより、実現されてもよい。もしくは、本開示に記載の制御部およびその手法は、一つまたは複数の機能を実行するようにプログラムされたプロセッサおよびメモリと一つ以上のハードウェア論理回路によって構成されたプロセッサとの組み合わせにより構成された一つ以上の専用コンピュータにより、実現されてもよい。また、コンピュータプログラムは、コンピュータにより実行されるインストラクションとして、コンピュータ読み取り可能な非遷移有形記録媒体に記憶されていてもよい。
【００３２】
以上、実施形態、変形例に基づき本開示について説明してきたが、上記した発明の実施の形態は、本開示の理解を容易にするためのものであり、本開示を限定するものではない。本開示は、その趣旨並びに特許請求の範囲を逸脱することなく、変更、改良され得ると共に、本開示にはその等価物が含まれる。たとえば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態、変形例中の技術的特徴は、上述の課題の一部又は全部を解決するために、あるいは、上述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことが可能である。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することが可能である。
【符号の説明】
【００３３】
１０…制御部、１１…ＣＰＵ、１２…メモリ、１３…入出力インタフェース、２０…発光部、２３…コンデンサ、２４、２５、３０…測定値取得部、３０…受光部、１００…物体検出装置、１１０…発光装置。
【図１】
2020112505.tif 000003
【図２】
2020112505.tif 000004
【図３】
2020112505.tif 000005
【図４】
2020112505.tif 000006
【図５】
2020112505.tif 000007
【図６】
2020112505.tif 000008
【図７】
2020112505.tif 000009