(57)【要約】      （修正有）【課題】１つ以上の対象検体と複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正できる誤差補正装置を提供する。【解決手段】取得した測定結果を用いて、１つ以上の対象検体及び管理用検体の測定結果の誤差要因となる分析装置のメンテナンス、経時変化等による誤差を質量電荷比の強度比を固定することによって補正する第１の補正部３０３、及び／又は取得した測定結果を用いて、１つ以上の対象検体の測定結果の誤差要因となる飽和による誤差を、飽和状態を調整することによって補正する第２の補正部９０１を有する。【選択図】図１３
2020112509.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象となる１つ以上の対象検体と、測定品質を管理するための複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得部と、
前記取得部が取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体及び前記管理用検体の測定結果の誤差要因となる測定装置のメンテナンス及び／又は経時変化による誤差を、質量電荷比の強度比を固定することによって補正する第１の補正部と、
を有する、誤差補正装置。
【請求項２】
前記第１の補正部は、
第１の検体群における前記管理用検体の測定結果を用いて、前記管理用検体の質量電荷比の基準強度を決定する基準強度決定部と、
第２の検体群における各管理用検体の測定結果が前記基準強度となるように、前記第２の検体群における各管理用検体の補正倍率を算出する算出部と、
を有し、
前記補正倍率を用いて前記第２の検体群における前記１つ以上の対象検体の測定結果を補正する、請求項１に記載の誤差補正装置。
【請求項３】
前記第１の補正部は、
前記１つ以上の対象検体のうち、一の対象検体より前に測定した第１の管理用検体の前記補正倍率と、前記一の対象検体より後に測定した第２の管理用検体の前記補正倍率とを用いて、前記一の対象検体の測定結果を補正する補正倍率を決定する、請求項２に記載の誤差補正装置。
【請求項４】
測定対象となる１つ以上の対象検体を含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得部と、
前記取得部が取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体の測定結果の誤差要因となる飽和による誤差を、飽和状態を調整することによって補正する第２の補正部と、
を有する、誤差補正装置。
【請求項５】
前記第２の補正部は、予め定められた非線形変換モデルを用いて、前記１つ以上の対象検体における測定結果の飽和状態を補正する、請求項４に記載の誤差補正装置。
【請求項６】
前記非線形変換モデルは、
【数１】
2020112509.tif 000008
で表され、
ｘは補正前の測定結果を示し、
ｘ'は補正後の測定結果を示し、
ａ、ｂ、ｃ、ｄは、パラメータを示す、請求項５に記載の誤差補正装置。
【請求項７】
前記第２の補正部は、
【数１】
2020112509.tif 000009
と、予め定められた前記パラメータとを用いて、前記１つ以上の対象検体における測定結果の飽和状態を補正する、請求項６に記載の誤差補正装置。
【請求項８】
前記第２の補正部は、
前記１つ以上の対象検体の測定結果と、他の測定方式による測定結果と、
【数２】
2020112509.tif 000010
に示す制約条件とを用いて前記パラメータを決定するパラメータ決定部を有し、
前記パラメータ決定部が決定した前記パラメータを用いて前記１つ以上の対象検体における測定結果の飽和状態を補正する、請求項６に記載の誤差補正装置。
【請求項９】
測定対象となる１つ以上の対象検体と、測定品質を管理するための複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得処理と、
前記取得処理で取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体及び前記管理用検体の測定結果の誤差要因となる測定装置のメンテナンス及び／又は経時変化による誤差を、質量電荷比の強度比を固定することによって補正する第１の補正処理と
をコンピュータが実行する、誤差補正方法。
【請求項１０】
測定対象となる１つ以上の対象検体を含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得処理と、
前記取得処理で取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体における測定結果の誤差要因となる飽和による誤差を、飽和状態を調整することによって補正する第２の補正処理と
をコンピュータが実行する、誤差補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、誤差補正装置、及び誤差補正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
分析対象となる検体を分析して、検体に含まれる１つ以上の物質の量を数値化するガスクロマトグラフィ質量分析装置、液体クロマトグラフィ質量分析装置等のクロマトグラフィ質量分析装置が知られている。このようなクロマトグラフィ質量分析装置では、同一の検体を測定した場合でも、様々な要因によって、測定する毎に測定値が大きく変化してしまうという問題があり、様々な測定値の補正方法が提案されている。
【０００３】
例えば、測定対象となる検体に所定の量の標準物質を入れて測定し、標準物質の測定結果に基づいて、測定対象となる物質の測定結果を検体単位で補正する補正方法（以下、内標法と呼ぶ）が知られている（例えば、特許文献１、２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−２３２８４４
【特許文献２】特開２００９−２５７９６１
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、内標法は、少数の標準物質の測定結果に基づいて測定対象となる少数の物質の測定結果を補正することに用いられるのが一般的であり、１つの検体から多数の物質の量を測定する場合、少数の標準物質の測定結果だけで、物質毎に異なる測定結果の変動を正しく補正することは困難である。
【０００６】
これに対して、例えば、測定対象となる１つ以上の対象検体と、測定対象となる物質を所定の量だけ有する管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定し、管理用検体の各物質の測定結果を用いて、対象検体の各物質の測定結果を補正する方法が考えられる。
【０００７】
しかし、この方法だけでは、管理用検体の測定結果が、例えば、分析装置のメンテナンスや経時変化等の誤差要因によって変動した場合、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正することができないという問題がある。
【０００８】
本発明の各実施形態は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、１つ以上の対象検体と複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正できるようにする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題を解決するため、本発明の一実施形態に係る誤差補正装置は、後述する分析装置の後段に設置され、測定対象となる１つ以上の対象検体と、測定品質を管理するための複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得部と、前記取得部が取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体及び前記管理用検体の測定結果の誤差要因となる測定装置のメンテナンス及び／又は経時変化による誤差を、質量電荷比の強度比を固定することによって補正する第１の補正部と、を有する。
【００１０】
これにより、１つ以上の対象検体と複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果における分析装置のメンテナンスや経時変化等の誤差を正しく補正できるようになる。
【００１１】
また、本発明の別の実施形態に係る誤差補正装置は、測定対象となる１つ以上の対象検体を含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を取得する取得部と、前記取得部が取得した測定結果を用いて、前記１つ以上の対象検体の測定結果の誤差要因となる飽和による誤差を、飽和状態を調整することによって補正する第２の補正部と、を有する。飽和状態とは、測定強度の限界付近において正しく測定できない状態を言い、ピーク形状が台形のような頭打ちの形になる場合もあれば、そうでなく綺麗な山型のままの場合もある。
【００１２】
これにより、１つ以上の対象検体を含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の飽和による誤差を正しく補正できるようになる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の各実施形態によれば、１つ以上の対象検体、又は１つ以上の対象検体と複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】第１の実施形態に係る測定システムのシステム構成の例を示す図である。
【図２】第１の実施形態に係る誤差補正装置のハードウェア構成の例を示す図である。
【図３】第１の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。
【図４】第１の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。
【図５】第１の実施形態に係るｍ／ｚ補正部の処理の例を示すフローチャートである。
【図６】第１の実施形態に係る補正倍率の算出について説明するための図である。
【図７】第１の実施形態に係る補正倍率の適用について説明するための図である。
【図８】第２の実施形態に係る測定システムのシステム構成の例を示す図である。
【図９】第２の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。
【図１０】第２の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。
【図１１】第２の実施形態に係る飽和補正部の処理の例を示すフローチャートである。
【図１２】第２の実施形態に係る飽和補正のイメージを示す図である。
【図１３】第３の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。
【図１４】第３の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。なお、以下で説明する実施の形態は一例であり、本発明が適用される実施の形態は、以下の実施の形態に限られない。
【００１６】
＜ＭＳについて＞
本発明の実施形態に係る誤差補正装置について説明する前に、本発明の前提となるＭＳについて、簡単に説明する。なお、ＭＳとは以下に詳細に説明する各種分析方法の総称である。
【００１７】
ガスクロマトグラフィ質量分析法（ＧＣ／ＭＳ：Gas Chromatography - Mass Spectrometry）、及び液体クロマトグラフィ質量分析法（ＬＣ／ＭＳ：Liquid Chromatography - Mass Spectrometry）は、代謝物を含む一般的な物質を分析してその量を数値化する測定方法である。ＧＣ／ＭＳは、ＧＣとＭＳとを組み合わせて測定を行い、ＬＣ／ＭＳは、ＬＣとＭＳとを組み合わせて測定を行う。
【００１８】
ＧＣは、検体を誘導体化により気化してから分析する手法であり、ＬＣは、検体を液体の状態で分析する手法である。ＧＣ及びＬＣは、どちらも、カラムという長い管に検体試料を通す。このとき、検体内の各物質は、それぞれの分子量の差、電荷等によってカラムの検出口に到達する時間が異なる。この時間差を利用して物質を分離するのがＧＳ及びＬＣである。また、この到達までの時間をＲＴ（Retention Time、到達時間）と呼ぶ。
【００１９】
ＭＳは、カラムの検出口に到達した代謝物（物質）の分子をイオン化し、その質量電荷比ｍ／ｚ（代謝物が測定過程でイオン化されたときの質量ｍと電荷ｚの比）単位の濃度（例えば、イオン強度）を測定することでイオンや分子の量を測定する方法である。例えば代謝物Ａの分子量が１４７．１３であるが、これが誘導体化されるとｍ／ｚが２４６．１１の質量を持つ場合、ｍ／ｚ＝２４６．１の質量電荷比となるイオンを検出することで代謝物Ａの量を測定することができる。
【００２０】
さらに、ＧＣ／ＭＳ／ＭＳのように、ＭＳでの最初のイオン選択（以下、Ｑ１と呼ぶ）後にビームを照射してイオンを分裂させ（以下、Ｑ２と呼ぶ）、細分化されたイオンを再度ＭＳでイオン選択（以下、Ｑ３と呼ぶ）して定量することで、物質の測定精度をあげる方法がある。例えば、代謝物ＡはＱ１のＭＳでｍ／ｚ＝２４６．１であるが、もしかすると他の物質でも同じ質量電荷比ｍ／ｚ＝２４６．１を持つ代謝物Ｂ等があるかも知れない。
【００２１】
この場合、代謝物Ａと代謝物Ｂの量を分離できないため、代謝物Ａの量を正しく測定することは困難である。そこで、Ｑ１のＭＳではｍ／ｚ＝２４６．１のイオンに絞り、さらにそれらに対してＱ２でのビーム照射により小さいイオン群に分離する。代謝物Ａは分離されると、ｍ／ｚ＝７３、ｍ／ｚ＝１２８．１等の他のｍ／ｚになるが、例えば、他の代謝物Ｂが取り得ないｍ／ｚ＝７３に着目して、Ｑ３のＭＳでｍ／ｚ＝７３となるイオンを選択してその量を測ることにより、代謝物Ｂを除外して代謝物Ａの量を測定することができる。なお、同様にして、ＬＣ／ＭＳ／ＭＳにより、代謝物の量を測定することができる。
【００２２】
以下の説明において、上記のＧＣ／ＭＳ、ＬＣ／ＭＳ、ＧＣ／ＭＳ／ＭＳ、及びＬＣ／ＭＳ／ＭＳ等の分析方法を総称してＭＳと呼ぶ。また、ＭＳに用いられる装置を、分析装置と呼ぶ。
【００２３】
＜誤差補正装置について＞
ＭＳで、例えば、血漿や尿などの代謝物量を測定する場合、たとえ同一の検体を測定していた場合であっても、測定環境（例えば、装置の消耗品劣化度、測定までに要する時間による誘導体化の変動、感度変動、装置のチューニングパラメータ、温度、湿度、装置の変更、検体の濃度、検体のｐＨ、マトリックス効果等）のバイアスによって測定値が大きく変化する場合がある。
【００２４】
誤差補正装置は、このような測定値の誤差を補正する装置である。このような測定値の誤差を補正する方法には、測定前の補正方法と、測定後の補正方法がある。
【００２５】
（測定後の補正方法）
測定後の補正方法として、例えば、検体のある１種類又は数種類の代謝物を測定するために、対応する１種類又は数種類の内部標準物質を一定量入れ、内部標準物質の測定値に基づいて測定対象の代謝物の測定値を補正する方法（以下、内標法と呼ぶ）がある。内標法では、例えば、測定対象の代謝物に対応する測定値（ピーク面積等）を、内部標準物質に対応する測定値で割ることにより補正を行い、各測定対象の代謝物量のバイアスをある程度除去することができる。
【００２６】
しかし、この内標法では、例えば、１つの検体において数百もの代謝物を同時に測定する場合、１種類又は数種類の少数の内部標準物質では代謝物毎に異なるバイアスに対して精度良く補正することができないという問題がある。
【００２７】
これに対して、品質を制御するための同一の検体（以下、ＱＣ検体と呼ぶ）を、測定対象となる一連の検体群の前後や間に入れ込むことで、ＱＣ検体の測定値に基づいて、測定対象の測定値を補正する方法（以下、ＱＣ補正法と呼ぶ）がある。ＱＣ補正法では、測定対象となる１つ以上の検体（以下、対象検体と呼ぶ）と、複数のＱＣ検体とを含む検体群（以下、バッチと呼ぶ）において、ＱＣ検体の当該代謝物の測定値を用いて、測定対象となる対象検体の当該代謝物の測定値を補正する。
【００２８】
例えば、測定対象となる１つ以上の対象検体を対象検体１、対象検体２、・・・とし、測定品質を管理するための複数のＱＣ検体をＱＣ検体１、ＱＣ検体２、・・・とする。また、例えば、ＱＣ検体１、対象検体１、対象検体２、・・・、対象検体１０、ＱＣ検体２、対象検体１１、対象検体１２、・・・、対象検体２０、ＱＣ検体３等の順番で並べられた検体群（バッチ）を、分析装置を用いて順次に測定し、測定結果を取得する。ここで、ＱＣ検体１、２、３は、全て同一の検体である。
【００２９】
ＱＣ補正では、取得した測定結果を用いて、例えば、対象検体１〜１０の代謝物Ａの測定値を、対象検体１〜１０の前後で測定した、ＱＣ検体１における代謝物Ａの測定値とＱＣ検体２における代謝物Ａの測定値とを用いて補正する（ＱＣ補正）。これにより、実検体の代謝物Ａの測定値を精度良く補正することができる。
【００３０】
（測定前の補正方法）
測定前に実施できる補正方法としては、ＤＦＴＰＰ（Decafluorotriphenylphosphine）チューニングという方法がある。所定のチューニング用試薬を事前に測定し、例えば、ｍ／ｚ＝６９をベースのイオンとして、ｍ／ｚ＝５０、１３１、２１９、４１４、５０２のイオン強度が、ｍ／ｚ＝６９に対して、それぞれ、１％、４５％、５５％、２．４％、２％となるように、ｍ／ｚ強度比を一定にチューニングする方法である。このｍ／ｚ強度比の一定化により、内標法での内部標準物質と測定対象となる代謝物の測定値との対応を固定化でき、内標法の補正の精度を向上させることができる。
【００３１】
上記の各補正方法のうち、内標法は検体単位での補正であり、ＱＣ補正法はバッチ単位の補正である。また、ＤＦＴＰＰチューニングは、ｍ／ｚ強度比の一定化による検体単位での調整を行うと共に、長期なメンテナンス単位（カラム交換など、チューニングが大きく変化する単位）での補正の両面を持ち、それぞれの組み合わせにより、さらに測定精度を向上させることができる。
【００３２】
＜問題点＞
ＤＦＴＰＰチューニングは、測定前に実施する必要があり、測定後のデータに対する補正はできないという問題がある。また、バッチ毎にＤＦＴＰＰチューニングを実施するのはコスト的に非現実的であり、一定期間は同じチューニングで測定することになる。従って、長期的な測定を行う場合には、チューニングがずれている状態で測定を行うことがあり、ＤＦＴＰＰチューニングの効果が限定的になるという問題がある。
【００３３】
また、設備や費用等の問題等でＤＦＴＰＰチューニングを実施しないで測定されたデータも多く存在する、従って、このようなデータを測定後に正しく補正する誤差補正方法が望まれている。
【００３４】
測定後の補正においては、上記の内標法、ＱＣ補正法を用いても、ｍ／ｚ強度比が変動するなどの誤差要因が残り、バイアスを正しく除去しきれないという問題がある。例えば、試験用の検体（全て同一検体）を内標法、ＱＣ補正法で補正した場合、理想的には一連の試験用検体中における全ての代謝物は同じ測定値を持つはずであるが、実際には代謝物によって経時的なバイアスが残ってしまうことがある。例えば、後に測定した検体ほど測定値が大きくなったり、消耗品交換のタイミングで測定値が変わったりする場合があり、このような場合、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正することができないという問題がある。特に、半年など長期に亘ってＭＳ分析を継続した場合には、分析装置のメンテナンス、部品交換、チューニングなどが幾度となく発生し、ｍ／ｚ強度比が変動する等、これらのバイアスの影響が大きくなる。
【００３５】
そこで、第１の実施形態では、測定結果の測定後に、対象検体の測定結果における経時的なバイアス（誤差）を正しく補正できるようにする誤差補正装置について説明する。
【００３６】
［第１の実施形態］
＜システム構成＞
図１は、第１の実施形態に係る測定システムのシステム構成の例を示す図である。測定システム１００は、前述した、ＧＣ／ＭＳ、ＬＣ／ＭＳ、ＧＣ／ＭＳ／ＭＳ、ＬＣ／ＭＳ／ＭＳ等の分析を行い、測定結果（分析結果）１０４を出力する分析装置１２０と、分析装置１２０から測定結果と分析装置の機器設定値１０５を取得し、測定結果の誤差を補正する誤差補正装置１１０とを含む。
【００３７】
分析装置１２０は、測定対象となる１つ以上の対象検体１０２と、測定品質を管理するための複数のＱＣ検体（管理用検体）１０１−１〜１０１−３とを含む検体群（以下、バッチと呼ぶ）の各質量電荷比のイオン強度（各ｍ／ｚの強度）を順次に測定する。例えば、分析装置１２０は、バッチ１０３に含まれる各検体を、ＱＣ検体１０１−１から順番に分析し、各ｍ／ｚにおける一定期間のピーク（ＭＳの検出器の信号強度）を測定する。また、分析装置１２０は、測定結果１０４、機器設定値１０５等の情報を誤差補正装置１１０に出力する。
【００３８】
なお、図１に示すＱＣ検体の数「３」は一例である。ここでは、説明用の一例として、ＱＣ検体の数が「３」であるものとして以下の説明を行うが、ＱＣ検体の数は、２つ以上の他の数であっても良い。また、以下の説明の中で、複数のＱＣ検体１０１−１〜１０１−３のうち、任意のＱＣ検体を示す場合、「ＱＣ検体１０１」を用いる。
【００３９】
誤差補正装置１１０は、分析装置１２０から出力された測定結果１０４を取得し、取得した測定結果１０４から代謝物を特定した後、例えば、前述した内標法、ＱＣ補正法等を用いて測定値を補正する。さらに、本実施形態に係る誤差補正装置１１０は、取得した測定結果１０４から、内標法、ＱＣ補正法を用いても除去しきれない、ｍ／ｚ強度比の変動等のバイアスを補正するｍ／ｚ補正機能を有している。
【００４０】
例えば、誤差補正装置１１０は、基準となるバッチ（以下、バッチ０と呼ぶ）の測定結果から、複数のＱＣ検体１０１の測定結果（各ｍ／ｚのイオン強度）を、例えば、平均化してｍ／ｚ毎の基準強度を決定する。
【００４１】
また、誤差補正装置１１０は、測定対象となる対象検体１０２相当を含むバッチ（以下、バッチ１と呼ぶ）において、複数のＱＣ検体１０１におけるｍ／ｚ毎のイオン強度が、基準強度となるように補正倍率を算出する。なお、バッチ０とバッチ１は、異なるバッチであっても良いし、同じバッチであっても良い。
【００４２】
さらに、誤差補正装置１１０は、算出した補正倍率をバッチ１の各検体に適用することにより、ｍ／ｚ毎のイオン強度を補正する。例えば、誤差補正装置１１０は、バッチ１の対象検体に対して、対象検体より前に測定したＱＣ検体の補正倍率と、対象検体より後に測定したＱＣ検体の補正倍率とから当該対象検体の補正倍率を計算する。また、誤差補正装置１１０は、計算した補正倍率を適用して、対象検体のｍ／ｚ毎のイオン強度を補正する。これにより、バッチ１のＱＣ検体１０１−１〜１０１−３におけるｍ／ｚ毎のイオン強度、及び対象検体１０２におけるｍ／ｚ毎のイオン強度の誤差（バイアス）を除去、又は低減することができる。
【００４３】
誤差補正装置１１０は、このｍ／ｚ補正によってバイアスが除去されたバッチ１の測定結果を用いて、例えば、内標法、ＱＣ補正法等の誤差補正を行う。
【００４４】
このように、誤差補正装置１１０は、測定後の補正において、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる分析装置１２０のメンテナンス、及び／又は経時変化による誤差（バイアス）を、ｍ／ｚ（質量電荷比）の強度比を固定する（一定にする）ことにより補正する。
【００４５】
また、測定前にＤＦＴＰＰチューニングを行う場合と比べても、ＤＦＴＰＰチューニングが、前述したように、５つのｍ／ｚをチューニングするのに対して、本実施形態に係るｍ／ｚ補正では、検体に含まれるさらに多くのｍ／ｚに対して補正を行うことができる。さらに、本実施形態に係るｍ／ｚ補正では、バッチ０から算出した基準強度を用いて、任意のバッチに対してｍ／ｚ強度を固定化することができるので、他の全てのバッチに対しても測定精度を向上させることができる。
【００４６】
＜ハードウェア構成＞
（誤差補正装置のハードウェア構成）
図２は、第１の実施形態に係る誤差補正装置のハードウェア構成の例を示す図である。誤差補正装置１１０は、物理的には、プロセッサ２０１、メモリ２０２、ストレージ２０３、入力装置２０４、出力装置２０５、通信装置２０６、及びバス２０７等を含むコンピュータとして構成されても良い。なお、以下の説明では、「装置」という文言は、回路、デバイス、ユニット等に読み替えることができる。
【００４７】
プロセッサ２０１は、例えば、オペレーティングシステムを動作させてコンピュータ全体を制御する。プロセッサ２０１は、周辺装置とのインタフェース、制御装置、演算装置、レジスタ等を含む中央処理装置（ＣＰＵ：Central Processing Unit）で構成されても良い。
【００４８】
また、プロセッサ２０１は、プログラム（プログラムコード）、ソフトウェアモジュールやデータを、ストレージ２０３及び／又は通信装置２０６からメモリ２０２に読み出し、これらに従って各種の処理を実行する。プログラムとしては、誤差補正装置１１０の動作の少なくとも一部をコンピュータに実行させるプログラムが用いられる。誤差補正装置１１０において実行される各種処理は、１つのプロセッサ２０１で実行されても良いし、２以上のプロセッサ２０１により同時又は逐次に実行されても良い。プロセッサ２０１は、１以上のチップで実装されても良い。なお、プログラムは、電気通信回線を介してネットワークから送信されても良い。
【００４９】
メモリ２０２は、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体であり、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable ＲＯＭ）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の少なくとも１つで構成されても良い。メモリ２０２は、レジスタ、キャッシュ、メインメモリ（主記憶装置）等と呼ばれても良い。メモリ２０２は、本発明の各実施の形態に係る誤差補正方法を実施するために実行可能なプログラム（プログラムコード）、ソフトウェアモジュール等を保存することができる。
【００５０】
ストレージ２０３は、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体であり、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc ＲＯＭ）等の光ディスク、ハードディスクドライブ、フレキシブルディスク、光磁気ディスク（例えば、コンパクトディスク、デジタル多用途ディスク、Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標）ディスク）、スマートカード、フラッシュメモリ（例えば、カード、スティック、キードライブ）、フロッピー（登録商標）ディスク、磁気ストリップ、ＳＳＤ（Solid State Drive）、その他不揮発性メモリ等の少なくとも１つで構成されても良い。ストレージ２０３は、補助記憶装置と呼ばれても良い。上述の記憶媒体は、例えば、メモリ２０２及び／又はストレージ２０３を含むデータベース、サーバその他の適切な媒体であっても良い。
【００５１】
入力装置２０４は、外部からの入力を受け付ける入力デバイス（例えば、キーボード、マウス、マイクロフォン、スイッチ、ボタン、センサ等）である。出力装置２０５は、外部への出力を実施する出力デバイス（例えば、ディスプレイ、スピーカ、ＬＥＤランプ等）である。なお、入力装置２０４及び出力装置２０５は、一体となった構成（例えば、タッチパネルディスプレイ）であっても良い。
【００５２】
通信装置２０６は、有線及び／又は無線ネットワークを介してコンピュータ間の通信を行うためのハードウェア（送受信デバイス）であり、例えばネットワークデバイス、ネットワークコントローラ、ネットワークカード、通信モジュール等ともいう。また、通信装置２０６は、近距離無線通信により、外部装置と直接通信を行う機能を有していても良い。
【００５３】
上記のプロセッサ２０１やメモリ２０２等の各装置は、情報を通信するためのバス２０７で接続される。バス２０７は、単一のバスで構成されても良いし、装置間で異なるバスで構成されても良い。また、バスは有線で接続されても良いし、無線で接続されても良い。
【００５４】
なお、分析装置１２０は、一般的なＧＣ／ＭＳ、ＬＣ／ＭＳ、ＧＣ／ＭＳ／ＭＳ、及びＬＣ／ＭＳ／ＭＳ等の分析装置を利用することができる。
【００５５】
＜機能構成＞
（誤差補正装置の機能構成）
図３は、第１の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。誤差補正装置１１０は、例えば、図２のプロセッサ２０１で所定のプログラムを実行することにより、測定結果取得部３０１、代謝物特定部３０２、ｍ／ｚ補正部３０３、内標補正部３０４、ＱＣ補正部３０５、及び記憶部３０６等を実現している。なお、上記の各機能構成のうち、少なくとも一部は、ハードウェアによって実現されるものであっても良い。
【００５６】
測定結果取得部（取得部）３０１は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現される。測定結果取得部３０１は、分析装置１２０から、測定対象となる１つ以上の対象検体１０２と、複数のＱＣ検体１０１とを含む検体群（バッチ１０３）の各質量電荷比のイオン強度を測定した測定結果１０４、機器設定値１０５等を取得する。
【００５７】
別の一例として、測定結果取得部３０１は、分析装置１２０が測定した測定結果を記憶するサーバ、データベース等から、測定結果１０４、機器設定値１０５等を取得しても良い。なお、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４、機器設定値１０５等は、例えば、記憶部３０６等に記憶される。
【００５８】
代謝物特定部３０２は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現される。代謝物特定部３０２は、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４から、測定対象となる代謝物毎に予め定義されたｍ／ｚと保持時間とにより、該当するピークを特定し、ピーク面積、ピーク高さ等から、代謝物に対応する測定値を特定する。なお、代謝物特定部３０２の機能は、ＭＳ分析を行う一般的な分析装置、誤差補正装置等に備えられている機能と同様で良い。
【００５９】
ｍ／ｚ補正部（第１の補正部）３０３は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現される。ｍ／ｚ補正部３０３は、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４から、ｍ／ｚ強度比の変動等のバイアスを補正するｍ／ｚ補正処理を実行する。ｍ／ｚ補正部３０３は、例えば、図３に示すように、基準強度決定部３１１、補正倍率算出部３１２、及び測定値補正部３１３等を含む。
【００６０】
基準強度決定部３１１は、基準となるバッチ（バッチ０）の測定結果１０４に含まれる、複数のＱＣ検体１０１の測定結果から、ｍ／ｚ毎の基準強度を決定する。例えば、基準強度決定部３１１は、バッチ０における複数のＱＣ検体１０１の測定結果を用いて、ｍ／ｚ毎にイオン強度を平均化することにより、ｍ／ｚ毎の基準強度を決定する。
【００６１】
補正倍率算出部（算出部）３１２は、測定対象となる対象検体１０２を含むバッチ（バッチ１）において、複数のＱＣ検体１０１におけるｍ／ｚ毎のイオン強度が、基準強度決定部３１１が決定した基準強度となるように補正する補正倍率を算出する。
【００６２】
測定値補正部３１３は、補正倍率算出部３１２が算出した補正倍率をバッチ１の各検体に適用することにより、ｍ／ｚ毎のイオン強度を補正する。例えば、測定値補正部３１３は、バッチ１に含まれる各対象検体に対して、当該対象検体より前に測定したＱＣ検体（第１の管理用検体）の補正倍率と、当該対象検体より後に測定したＱＣ検体（第２の管理用検体）の補正倍率とを用いて、当該対象検体の補正倍率を計算する。また、測定値補正部３１３は、計算した当該対象検体の補正倍率を用いて、当該対象検体のｍ／ｚ毎のイオン強度を補正する。なお、具体的な補正方法については後述する。
【００６３】
上記の構成により、ｍ／ｚ補正部３０３は、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４において、誤差要因となる分析装置１２０のメンテナンス、経時変化等による誤差（バイアス）を、質量電荷比の強度比を固定する（一定にする）ことによって補正する。
【００６４】
内標補正部３０４は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現され、ｍ／ｚ補正部３０３が補正した測定結果を、前述した内標法により検体毎の補正を行う。なお、内標補正部３０４が実行する内標法による補正は、ＭＳ分析を行う一般的な分析装置、誤差補正装置等と同様で良い。
【００６５】
ＱＣ補正部３０５は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現される。ＱＣ補正部３０５は、ｍ／ｚ補正部３０３が補正した測定結果を、前述したＱＣ補正法により、検体単位かつ代謝物単位の補正を行う。なお、ＱＣ補正部３０５が実行するＱＣ補正法による補正は、ＭＳ分析を行う一般的な分析装置、誤差補正装置等と同様で良い。
【００６６】
記憶部３０６は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラム、及びメモリ２０２、ストレージ２０３等によって実現され、例えば、取得した測定結果、補正後の測定結果等の様々なデータ、情報等を記憶する。
【００６７】
なお、図３に示す誤差補正装置１１０の機能構成は一例である。例えば、図３に示す各機能構成は、複数のコンピュータに分散されて設けられていても良い。また、図３に示す各機能構成のうち、少なくとも一部は、分析装置１２０に含まれていても良い。
【００６８】
＜処理の流れ＞
続いて、第１の実施形態に係る誤差補正方法の処理の流れについて説明する。
【００６９】
（誤差補正装置の処理）
図４は、第１の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。この処理は、第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０が実行する処理の全体の流れを示している。ここでは、誤差補正装置１１０は、前述した内標法、及びＱＣ補正法を用いて、分析装置１２０から取得した測定結果１０４を補正するものとする。また、本実施形態に係る誤差補正装置１１０は、内標法、及びＱＣ補正法による補正を行う前に、誤差要因となる分析装置１２０のメンテナンス、経時変化等による誤差（バイアス）を補正するｍ／ｚ補正を実行する。
【００７０】
なお、図４に示す処理の開始時点において、誤差補正装置１１０の測定結果取得部３０１は、分析装置１２０から測定結果１０４を取得する取得処理を実行済であり、取得した測定結果１０４が記憶部３０６に記憶されているものとする。
【００７１】
ステップｓ４０１において、誤差補正装置１１０の代謝物特定部３０２は、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４から、測定対象となる代謝物の測定値（例えばイオン強度）を特定する。例えば、代謝物特定部３０２は、測定対象となる代謝物毎に予め定義されたｍ／ｚ、及び保持時間に基づいて該当するピークを探し当て、ピーク面積、ピーク高さ等から代謝物の測定値を算出する。
【００７２】
ステップｓ４０２において、誤差補正装置１１０のｍ／ｚ補正部３０３は、各検体のｍ／ｚ強度を補正することで、各検体の各代謝物の測定値を補正するｍ／ｚ補正を行う。なお、ｍ／ｚ補正の具体的な処理内容については後述する。
【００７３】
ステップｓ４０３において、誤差補正装置１１０の内標補正部３０４は、例えば、ｍ／ｚ補正部３０３が補正した補正結果を用いて、検体内の内部標準物質を用いた検体毎の補正（内標法による補正）を行う。
【００７４】
ステップｓ４０４において、誤差補正装置１１０のＱＣ補正部３０５は、例えば、ｍ／ｚ補正部３０３が補正した補正結果を用いて、バッチ１０３内の複数のＱＣ検体１０１を用いた検体単位かつ代謝物単位の補正（ＱＣ補正法による補正）を行う。
【００７５】
上記の処理により、誤差補正装置１１０は、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる分析装置１２０のメンテナンス、及び／又は経時変化による誤差を排除して、内標法、ＱＣ補正法等の補正を行うことができる。
【００７６】
なお、図４に示すフローチャートは一例であり、矛盾のない限り、処理順序を入れ替えても良い。例えば、ステップｓ４０４の処理は、ステップｓ４０３の処理より前に実行しても良い。また、ｓ４０３やｓ４０４を省略しても良い。
【００７７】
（ｍ／ｚ補正部の処理）
ここでは、図４のステップｓ４０２において、誤差補正装置１１０のｍ／ｚ補正部が実行する、ｍ／ｚ補正処理について説明する。ｍ／ｚ補正処理は、経時的に発生するｍ／ｚ変動のバイアスを補正するために、各バッチのＱＣ検体のｍ／ｚ強度比を固定化する（一定にする）ことで、バッチ内の各検体における代謝物の測定値を補正する。
【００７８】
例えば、図１において、ＧＣ／ＭＳ、及びＬＣ／ＭＳでは、ＭＳのｍ／ｚ強度比を固定化する。また、前述したＧＣ／ＭＳ／ＭＳ、及びＬＣ／ＭＳ／ＭＳでは、Ｑ１のＭＳでｍ／ｚ強度比を固定化する場合と、Ｑ３のＭＳでｍ／ｚ強度比を固定化する場合とがあるが、そのどちらで固定化しても良い。ここでは、Ｑ１のＭＳでｍ／ｚ強度比を固定化するものとして、以下の説明を行う。
【００７９】
本来は、同じ検体を測定した場合、その測定感度が経時的に変化したとしても、ｍ／ｚ強度比は変わらないはずである。例えば、時期Ｔ１に測定した検体でｍ／ｚ強度群が 、（ｍ／ｚ＝６９）：（ｍ／ｚ＝２１９）：（ｍ／ｚ＝２０２）＝１２０：８０：４０であったものとする。なお、ここでは、説明を容易にするため、ｍ／ｚの数が３つであるものとして説明するが、実際には、数百個のｍ／ｚの強度比を固定する。
【００８０】
また同じ検体を時期Ｔ２に測定したとき、例えば、分析装置１２０の感度劣化等によるバイアスにより測定値が変化したとしても、理想的には、１２０：８０：４０の感度比は変わらず、例えば、６０：４０；２０等となることが望ましい。
【００８１】
ここで、ｍ／ｚ強度比ではなく、ｍ／ｚ強度群という用語を用いているのは、ベースとなるｍ／ｚ＝６９を、例えば、１と固定することなく、バッチ１とバッチ０のｍ／ｚ＝６９の強度を比較できるようにするためである。つまり、ｍ／ｚ強度比とした場合では、ｍ／ｚ＝６９を１として、例えば、（ｍ／ｚ＝６９）：（ｍ／ｚ＝２１９）：（ｍ／ｚ＝２０２）＝１２０／１２０：８０／１２０：４０／１２０となり、ｍ／ｚ＝６９の場合の強度情報が失われる。一方、ｍ／ｚ強度群とした場合では、例えば、（ｍ／ｚ＝６９）：（ｍ／ｚ＝２１９）：（ｍ／ｚ＝２０２）＝１２０：８０：４０となり、ｍ／ｚ強度比の情報に加えて、ｍ／ｚ＝６９の強度情報を保持できるため、この強度情報を他のバッチ１におけるそれと容易に比較できることになる。
【００８２】
しかし、実際には様々な影響により、この比がずれる場合がある。例えば、５０：３０；１０等になる場合がある。そこで、たとえｍ／ｚ強度群が５０：３０：１０と測定されたとしても、１２０：８０：４０で測定された場合に相当するように補正する、というのが本発明に係るｍ／ｚ補正法であり、それを実装したものがｍ／ｚ補正処理である。本発明に係るｍ／ｚ補正法を行うためにも、この強度情報が必要となる。
【００８３】
続いて、ｍ／ｚ補正処理の具体的な処理の流れについて説明する。
【００８４】
図５は、第１の実施形態に係るｍ／ｚ補正部の処理の例を示すフローチャートである。この処理は、図４のステップｓ４０２において、ｍ／ｚ補正部３０３が実行するｍ／ｚ補正処理（第１の補正処理）の例を示している。
【００８５】
ステップｓ５０１において、ｍ／ｚ補正部３０３の基準強度決定部３１１は、補正の基準となるバッチ０（第１の検体群）を１つ決定する。また、基準強度決定部３１１は、バッチ０内の複数のＱＣ検体１０１において、例えば、ｍ／ｚ毎にピーク面積（または高さ）を積算し、平均化（ＱＣ検体の数で割る）することで、ｍ／ｚ毎の基準強度を決定する。なお、ｍ／ｚの数は、例えば、数百個ほどある。
【００８６】
ステップｓ５０２において、ｍ／ｚ補正部３０３の補正倍率算出部３１２は、測定対象となる実検体（対象検体１０２）を測定したバッチ１（第２の検体群）において、バッチ１内の各ＱＣ検体１０１−１〜１０１−ａ（例えばａ＝３）が持つ各ｍ／ｚについて各強度が基準強度になるように補正倍率を計算し、保存する。
【００８７】
図６は、第１の実施形態に係る補正倍率の算出について説明するための図である。例えば、図６において、バッチ０のＱＣ検体１０１から算出したｍ／ｚ強度群の基準強度と、補正対象のバッチ１のＱＣ検体１０１から算出したｍ／ｚ強度群を計算し、その計算結果から各ｍ／ｚにおける補正倍率を算出し、保存する。
【００８８】
例えば、上述したように、ｍ／ｚ強度群５０：３０：１０を、基準となるｍ／ｚ強度群の１２０：８０：４０にしたい場合、（ｍ／ｚ＝６９）：（ｍ／ｚ＝２１９）：（ｍ／ｚ＝２０２）＝１２０／５０：８０／３０：４０／１０＝２．４：２．６７：４と補正倍率を計算する。
【００８９】
ステップｓ５０３において、ｍ／ｚ補正部３０３の測定値補正部３１３は、計算した補正倍率を各検体に適用する。
【００９０】
図７は、第１の実施形態に係る補正倍率の適用について説明するための図である。測定値補正部３１３は、バッチ１の対象検体に対して、当該対象検体の前後で測定されたＱＣ検体の補正倍率を用いて補正を行う。例えば、図７において、ＱＣ検体１とＱＣ検体２との間に、ｎ個（ｉ＝１〜ｎ、ｎは２以上の整数）の対象検体が含まれる場合、対象検体ｉにおけるｍ／ｚ＝Ａ（例えばｍ／ｚ＝６９）の補正倍率ｆ（ｉ，Ａ）は、次のように計算される。
ｆ（ｉ，Ａ）＝ｉ（ａ２−ａ１）／ｎ＋ａ１
なお、上記の式において、ａ１は、ｍ／ｚ＝ＡにおけるＱＣ検体１の補正倍率であり、ａ２は、ｍ／ｚ＝ＡにおけるＱＣ検体２の補正倍率を示す。
【００９１】
同様に、対象検体ｉにおけるｍ／ｚ＝Ｂ（例えば、ｍ／ｚ＝１００）の補正倍率ｆ（ｉ，Ｂ）は、ｍ／ｚ＝ＢにおけるＱＣ検体１の補正倍率をｂ１、ＱＣ検体２の補正倍率をｂ２とすると、ｆ（ｉ，Ｂ）＝ｉ（ｂ２―ｂ１）／ｎ＋ｂ１で計算される。対象検体ｉにおけるｍ／ｚ＝Ｃ（例えば、ｍ／ｚ＝１３１）の補正倍率ｆ（ｉ，Ｃ）についても同様である。
【００９２】
上記の処理により、測定値補正部３１３は、ステップｓ５０２で算出したＱＣ検体の補正倍率を、各対象検体に適用することができる。
【００９３】
このように、誤差補正装置１１０は、対象検体１０２を含むバッチ１における複数のＱＣ検体１０１の強度が基準強度となるように補正し、補正に用いた補正倍率を対象検体１０２に適用する。これにより、誤差補正装置１１０は、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる分析装置１２０のメンテナンス、及び／又は経時変化による誤差（バイアス）を除去、又は低減させることができる。
【００９４】
従って、本実施形態に係る誤差補正装置１１０によれば、１つ以上の対象検体と複数のＱＣ検体（管理用検体）とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正できるようになる。
【００９５】
［第２の実施形態］
第２の実施形態では、誤差補正装置１１０が、分析装置１２０の測定結果１０４の飽和状態を補正する飽和補正を行う場合の例について説明する。
【００９６】
＜問題点＞
分析装置１２０には、補正前のピーク強度が一定値を超えると測定可能範囲を超えて飽和状態となり通常のピーク強度よりも低く測定されるというバイアス要因があり、前述した内標法、ＱＣ補正法等を用いてもバイアスを正しく除去しきれず、測定値が正確でなくなるという問題がある。
【００９７】
例えば、分析装置１２０が測定した測定値のピーク強度が測定限界を超えると、ピーク形状が台形のようになり飽和状態（つまりピーク強度が測定可能範囲を超えて測定値が不正確となる状態）であることが分かる。しかし、ピーク形状が通常の山形のまま、飽和状態となっている場合も多くあり、そのような場合は飽和状態であることを判断できないため、正確でない測定値のまま従来の補正を行いデータ解析に使用してしまう恐れがある。
【００９８】
そこで、第２の実施形態では、測定結果の測定後に、分析装置１２０の測定結果１０４の飽和状態を補正できるようにする誤差補正装置１１０について説明する。
【００９９】
＜システム構成＞
図８は、第２の実施形態に係る測定システムのシステム構成の例を示す図である。第２の実施形態に係る測定システム１００は、図１に示す第１の実施形態に係る測定システム１００と同様に、誤差補正装置１１０と分析装置１２０とを含む。
【０１００】
分析装置１２０は、第１の実施形態と同様に、測定対象となる１つ以上の対象検体１０２と、測定品質を管理するための複数のＱＣ検体（管理用検体）１０１とを含むバッチ（検体群）１０３の各質量電荷比のイオン強度（各ｍ／ｚの強度）を順次に測定する。なお、本実施形態では、複数のＱＣ検体１０１は必須ではない。
【０１０１】
誤差補正装置１１０は、第１の実施形態と同様に、分析装置１２０から出力された測定結果１０４を取得し、取得した測定結果１０４を、例えば、前述した内標法、ＱＣ補正法等を用いて補正する。さらに、本実施形態に係る誤差補正装置１１０は、取得した測定結果１０４の飽和状態を補正する飽和補正機能を有している。
【０１０２】
例えば、誤差補正装置１１０は、一定の強度以上のピークにおいて、徐々に実際の強度と測定された強度との間に乖離が発生するという特徴に基づき、非線形の変換を行うことで測定結果１０４の飽和状態を補正する。
【０１０３】
このように、誤差補正装置１１０は、測定後の補正において、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる測定装置１２０測定結果１０４における飽和状態を、非線形変換モデルを用いて補正する。
【０１０４】
好ましくは、誤差補正装置１１０は、任意の情報として、他の測定方式による測定結果を取得し、分析装置１２０から取得した測定結果１０４の補正に利用することができる。
【０１０５】
ここで、他の測定方式には、ＮＭＲ（Nuclear Magnetic Resonance）、酵素法、ＥＬＩＳＡ（Enzyme-Linked Immuno Sorbent Assay）法等が含まれ得る。また、分析装置１２０が、前述した複数のＭＳのうち、例えば、ＧＣ／ＭＳ又はＧＣ／ＭＳ／ＭＳで測定を行う場合、他の測定方式には、他のＭＳである、ＬＣ／ＭＳ、及びＬＣ／ＭＳ／ＭＳ等が含まれ得る。なお、他の測定方式は、上記以外の測定方式であっても良い。
【０１０６】
なお、第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０のハードウェア構成は、例えば、図２に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０のハードウェア構成と同様で良い。
【０１０７】
＜機能構成＞
図９は、第２の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０は、図３に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０のｍ／ｚ補正部３０３に代えて、飽和補正部９０１を有している。
【０１０８】
また、第２の実施形態に係る測定結果取得部３０１は、分析装置１２０による測定結果１０４を取得する機能に加えて、前述した他の測定方式による測定結果８０１を取得する機能を有している。なお、他の測定方式による測定結果８０１を取得する機能は、必須ではない。
【０１０９】
飽和補正部（第２の補正部）９０１は、例えば、図２のプロセッサ２０１で実行されるプログラムによって実現され、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４における飽和による誤差を、予め定められた非線形モデルを用いて飽和状態を調整することにより補正する。飽和補正部９０１は、例えば、図９に示すように、パラメータ決定部９１１、及び飽和データ補正部９１２等を有する。
【０１１０】
なお、非線形モデルには、例えば、次の式（１）を適用することができる。
【０１１１】
【数１】
2020112509.tif 000003
なお、式（１）において、ｘは変換前の測定値、ｘ'は変換後の測定値、ａ〜ｄはパラメータを示している。また、式（１）のｘ＝ｄにおいて、ｘとｘ'とが連続となるように、次の式（２）に示す制約を設ける。
【０１１２】
【数２】
2020112509.tif 000004
この式（１）、（２）は、他の測定方式による測定結果とＭＳによる測定結果の散布図（例えば図１２の１２０１）から得た、次のような仮説に基づいて作成したものである。
（仮説１）特定の点Ａ（イオン強度）を起点として、飽和が顕在化する（点Ａ以下のイオン強度では、ほぼ線形）。
（仮説２）点Ａ以降の飽和のしかたが、Ｎ次関数的になる。
【０１１３】
また、式（１）、（２）を用いて、実際の補正における相関関係を検証し、相関関係が改善すること、すなわち、上記の仮説が妥当であることを確認した。
【０１１４】
パラメータ決定部９１１は、式（１）、（２）に適用する飽和補正のための非線形変換モデルのパラメータａ〜ｄを決定する。
【０１１５】
一例として、パラメータ決定部９１１は、他の測定方式による測定結果８０１がある場合、飽和補正のための非線形変換モデルのパラメータａ〜ｄを、他の測定方式による測定結果８０１から学習して決定する。
【０１１６】
例えば、パラメータａ〜ｄは、式（２）の制約条件のもとで複数の値を取り得るが、パラメータ決定部９１１は、次の選択基準１及び／又は選択基準２を用いて、パラメータａ〜ｄを決定する。なお、ここでは、測定値ｘをｘ'に変換した後に、内標法、ＱＣ補正法等の他の補正をかけた測定値群を「変換補正群」とし、他の測定方式による測定結果８０１を「他測定群」として、以下の説明を行う。
選択基準１：変換補正群と他測定群との相関係数が最も高くなるパラメータａ〜ｄを選択する。
選択基準２：横軸を変換補正群、縦軸を他測定群として各測定値をプロットし、ｘ≦ｄとｘ＞ｄとで、それぞれ近似直線を作成した場合に、２つの近似直線の傾きと切片とが、最も近くなるパラメータａ〜ｄを選択する。
【０１１７】
なお、選択基準１と選択基準２は、どちらか一方を採用しても良いし、それぞれに重みをつけて両方を採用しても良い。
【０１１８】
別の一例として、パラメータ決定部９１１は、記憶部３０６等に予め記憶されたパラメータａ〜ｄのデフォルト値を取得して、パラメータａ〜ｄを決定しても良い。なお、パラメータａ〜ｄのデフォルト値としては、例えば、ａ＝０、ｂ＝３、ｃ＝１０００万×１０００万、ｄ＝１０００万等を適用することができる。
【０１１９】
なお、パラメータ決定部９１１は、他の測定方式による測定結果８０１がないときに、パラメータａ〜ｄのデフォルト値を採用しても良い。
【０１２０】
飽和データ補正部９１２は、パラメータ決定部９１１が決定したパラメータａ〜ｄを式（１）に代入して、変換前の測定値ｘを、変換後の測定値ｘ'に補正する。
【０１２１】
なお、第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０の上記以外の機能構成については、第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０の機能構成と同様で良い。
【０１２２】
＜処理の流れ＞
続いて、第２の実施形態に係る誤差補正方法の処理の流れについて説明する。
【０１２３】
（誤差補正装置の処理）
図１０は、第２の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。この処理は、第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０が実行する処理の全体の流れを示している。なお、図１０に示す処理のうち、ステップｓ４０１、ｓ４０３、ｓ４０４の処理については、図４に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置の処理と同様なので、ここでは、これらの処理に対する詳細な説明は省略する。
【０１２４】
ステップｓ４０１において、誤差補正装置１１０の代謝物特定部３０２は、測定結果取得部３０１が取得した測定結果１０４から、測定対象となる代謝物の測定値を特定する。
【０１２５】
ステップｓ１００１において、誤差補正装置１１０の飽和補正部９０１は、各検体の各代謝物の測定値に非線形変換を行い、飽和状態の補正を行う。なお、飽和状態の補正の具体的な処理内容については後述する。
【０１２６】
ステップｓ４０３において、誤差補正装置１１０の内標補正部３０４は、例えば、飽和補正部９０１が補正した補正結果を用いて、検体内の内部標準物質を用いた検体毎の補正（内標法による補正）を行う。
【０１２７】
ステップｓ４０４において、誤差補正装置１１０のＱＣ補正部３０５は、例えば、飽和補正部９０１が補正した補正結果を用いて、バッチ１０３内の複数のＱＣ検体１０１を用いた検体単位かつ代謝物単位の補正（ＱＣ補正法による補正）を行う。
【０１２８】
上記の処理により、誤差補正装置１１０は、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる分析装置１２０の測定結果１０４における飽和状態を補正して、内標法、ＱＣ補正法等の補正を行うことができる。
【０１２９】
なお、図１０に示すフローチャートは、矛盾のない限り、順序を入れ替えても良い。例えば、ステップｓ４０４の処理は、ステップｓ４０３の処理より前に実行しても良い。また、ｓ４０３やｓ４０４を省略しても良い。
【０１３０】
（飽和補正部の処理）
図１１は、第２の実施形態に係る飽和補正部の処理の例を示すフローチャートである。この処理は、図１０のステップＳ１００１において、誤差補正装置１１０の飽和補正部９０１が実行する飽和状態を補正する処理（第２の補正処理）の例を示している。
【０１３１】
飽和補正部９０１は、ステップＳ１１０１〜Ｓ１１０６において、分析装置１２０から取得した測定結果１０４を用いて、測定対象となる代謝物Ｃ毎に、ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０５の処理を実行する。
【０１３２】
ステップＳ１１０２において、飽和補正部９０１のパラメータ決定部９１１は、測定結果取得部３０１が取得した、他の測定方式による代謝物Ｃの測定結果があるか否かを判断する。
【０１３３】
他の測定方式による代謝物Ｃの測定結果がある場合、パラメータ決定部９１１は、ステップＳ１１０３の処理を実行する。一方、他の測定方式による代謝物Ｃの測定結果がない場合、パラメータ決定部９１１は、ステップＳ１１０４の処理を実行する。
【０１３４】
ステップＳ１１０３に移行すると、パラメータ決定部９１１は、例えば、分析装置１２０から取得した測定結果１０４と、他の測定方式による測定結果との相関係数が高くなるように、非線形変換モデルのパラメータａ〜ｄを決定する。例えば、パラメータ決定部９１１は、前述したように、式（２）の制約条件を満たすパラメータａ〜ｄのうち、変換補正群と他測定群との相関係数が最も高くなるパラメータａ〜ｄを選択する（選択条件１）。
【０１３５】
或いは、パラメータ決定部９１１は、横軸を変換補正群、縦軸を他測定群として各測定値をプロットし、ｘ≦ｄとｘ＞ｄとで、それぞれ近似直線を作成した場合に、２つの近似直線の傾きと切片とが、最も近くなるパラメータａ〜ｄを選択しても良い（選択条件２）。
【０１３６】
一方、ステップＳ１１０４に移行すると、パラメータ決定部９１１は、非線形変換モデルのパラメータａ〜ｄとして、他の代謝物で決定したパラメータａ〜ｄ（例えば、前回までのループで決定したパラメータａ〜ｄ等）を利用する。或いは、パラメータ決定部９１１は、記憶部３０６に予め記憶したパラメータａ〜ｄのデフォルト値を、非線形変換モデルのパラメータａ〜ｄとして利用しても良い。
【０１３７】
ステップＳ１１０５に移行すると、飽和データ補正部９１２は、式（１）にステップＳ１１０３、又はＳ１１０４で決定したパラメータａ〜ｄを代入した非線形変換モデルを用いて、全検体の代謝物Ｃの測定値に対して補正を行う。
【０１３８】
上記の処理を、代謝物Ｃ毎に実行することにより、飽和補正部９０１は、例えば、他の測定方式による測定結果８０１に基づいて、分析装置１２０から取得した測定結果１０４の飽和状態を補正することができる。
【０１３９】
ただし、これに限られず、飽和補正部９０１は、記憶部３０６に予め記憶したパラメータａ〜ｄを用いて、分析装置１２０から取得した測定結果１０４の飽和状態を補正しても良い。これにより、飽和補正部９０１は、他の測定方式による測定結果８０１によらずに、分析装置１２０から取得した測定結果１０４の飽和状態を補正することができるようになる。
【０１４０】
図１２は、第２の実施形態に係る飽和補正のイメージを示す図である。図１２のグラフ１２０１は、ある代謝物Ｃにおける、内標法、ＱＣ補正法による補正前のデータ（測定結果）を示している。なお、グラフ１２０１〜１２０３の横軸は分析装置１２０で測定した測定結果１０４を示し、縦軸は他の測定方式による測定結果８０１を示している。
【０１４１】
グラフ１２０１に示すように、分析装置１２０がＭＳで測定した測定結果１０４は、所定の閾値１（グラフ１２０１の例では、１．２５×１０７前後）を超えると飽和状態となり、他の測定方式による測定結果８０１との乖離が大きくなる。
【０１４２】
グラフ１２０２は、飽和補正部９０１による飽和状態の補正を行わずに、内標法、ＱＣ補正法による補正を行った場合のデータを示している。グラフ１２０２では、所定の閾値２（グラフ１２０１の例では、１．３×１０７前後）を超えると、測定結果が２つの群に分離している。この２つの群は、補正前の測定値が所定の値を超えた群と、所定の値を超えなかった群とを表しており、相関係数ｒ２は、０．８３５２となっている。なお、図１２の例では、閾値１と閾値２との差が分かり難いが、閾値１と閾値２とは異なる値となる場合もある。
【０１４３】
グラフ１２０３は、飽和補正部９０１による飽和状態の補正を行った後に、内標法、ＱＣ補正法による補正を行った場合のデータを示している。グラフ１２０３において、黒色のドットは補正前にｘ≦ｄであった測定値群を示しており、白抜きのドットは補正前にｘ＞ｄであった測定値群を示している。このように、飽和状態を補正した後に内標法、ＱＣ補正法による補正を行うと、測定結果が２つの群に分離せず、相関係数ｒ２が０．９８３２まで向上しており、飽和補正部９０１による補正の効果が現れていることが分かる。
【０１４４】
このように、誤差補正装置１１０は、測定結果１０４の補正において、内標法、ＱＣ補正法等の誤差要因となる分析装置１２０の測定結果１０４の飽和状態を、予め定められた非線形変換モデルを用いて補正する。
【０１４５】
従って、本実施形態に係る誤差補正装置１１０によれば、１つ以上の対象検体と複数のＱＣ検体（管理用検体）とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を正しく補正できるようになる。
【０１４６】
［第３の実施形態］
図１３は、第３の実施形態に係る誤差補正装置の機能構成の例を示す図である。誤差補正装置１１０は、図１３に示すように、第１の実施形態で説明したｍ／ｚ補正部３０３と、第２の実施形態で説明した飽和補正部９０１と有していても良い。
【０１４７】
例えば、誤差補正装置１１０は、図２のプロセッサ２０１で所定のプログラムを実行することにより、図１３に示すように、測定結果取得部３０１、代謝物特定部３０２、飽和補正部９０１、ｍ／ｚ補正部３０３、内標補正部３０４、ＱＣ補正部３０５、及び記憶部３０６を実現しても良い。なお、上記の各機能構成のうち、少なくとも一部は、ハードウェアによって実現されるものであっても良い。
【０１４８】
なお、第３の実施形態に係る誤差補正装置１１０のハードウェア構成は、例えば、図２に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０のハードウェア構成と同様で良い。
【０１４９】
図１４は、第３の実施形態に係る誤差補正装置の処理の例を示すフローチャートである。なお、図１４に示す処理のうち、ステップｓ４０１、及びステップｓ４０２〜ｓ４０４の処理は、図４に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置の処理と同様である。また、図１４に示す処理のうち、ステップｓ１００１の処理は、図１０に示す第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０の処理と同様である。なお、図１４に示すフローチャートは、矛盾のない限り、順序を入れ替えても良い。例えば、ステップｓ４０４の処理は、ステップｓ４０３の処理より前に実行しても良い。また、ｓ４０３やｓ４０４を省略しても良い。
【０１５０】
このように、ステップｓ４０２において、ｍ／ｚ補正部３０３がｍ／ｚ補正処理を行う前に、ステップｓ１００１において、飽和補正部９０１が測定結果１０４の飽和状態を補正することにより、誤差補正装置１１０の補正精度をさらに向上させることができる。
【０１５１】
以上、本発明の各実施形態によれば、１つ以上の対象検体と複数の管理用検体とを含む検体群の各質量電荷比のイオン強度を順次に測定した測定結果を用いて、対象検体の測定結果の誤差を、より正しく補正できるようになる。
【０１５２】
［変形例］
なお、上記の各実施形態の機能構成は一例である。例えば、図３に示す第１の実施形態に係る誤差補正装置１１０の機能構成のうち、ｍ／ｚ補正部３０３以外の機能構成については、任意の構成に変更しても良い。例えば、内標補正部３０４、ＱＣ補正部３０５等は、他の情報処理装置が有していても良い。また、誤差補正装置１１０は、内標法、ＱＣ補正法以外の補正方法で測定結果１０４を補正する別の補正部を有していても良い。さらに、誤差補正装置１１０のｍ／ｚ補正部３０３は、代謝物を特定せずに、質量電荷比ｍ／ｚをそのまま補正対象としても良い。
【０１５３】
同様に、図９に示す第２の実施形態に係る誤差補正装置１１０の機能構成のうち、飽和補正部９０１以外の機能構成については、任意の構成に変更しても良い。
【０１５４】
また、第２の実施形態において、非線形変換モデルを表す式（１）、（２）は、一例であり、例えば、次の式（３）、（４）等を用いて、同様の処理を行っても良い。
【０１５５】
【数３】
2020112509.tif 000005
【０１５６】
【数４】
2020112509.tif 000006
さらに、非線形変換モデルは、ｘの値に応じて、所定の対照表に沿った倍率をｘに乗算してｘ'を算出するもの等であっても良い。
【０１５７】
例えば、表１に示すようなテーブルを用いて、１０００万≦ｘ＜１１００万であれば、倍率１をかけてｘ'を作成しても良い。
【０１５８】
【表１】
2020112509.tif 000007
＜補足＞
なお、図３、９、１３の機能構成図は、機能単位のブロックを示している。これらの機能ブロックは、ハードウェア及び／又はソフトウェアの任意の組み合わせによって実現される。また、各機能ブロックの実現手段は特に限定されない。すなわち、各機能ブロックは、物理的及び／又は論理的に結合した１つの装置により実現されても良いし、物理的及び／又は論理的に分離した２つ以上の装置を直接的及び／又は間接的に（例えば、有線及び／又は無線）で接続し、これら複数の装置により実現されても良い。
【０１５９】
また、図２に示す誤差補正装置１１０のハードウェア構成は、図に示した各装置を１つ又は複数含むように構成されても良いし、一部の装置を含まずに構成されても良い。また、誤差補正装置１１０は、マイクロプロセッサ、デジタル信号プロセッサ（ＤＳＰ：Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＰＬＤ（Programmable Logic Device）、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等のハードウェアを含んで構成されても良く、当該ハードウェアにより、各機能ブロックの一部又は全てが実現されても良い。例えば、プロセッサ２０１は、これらのハードウェアの少なくとも１つで実装されても良い。
【０１６０】
本明細書で説明した各態様／実施形態の処理手順、シーケンス、フローチャート等は、矛盾のない限り、順序を入れ替えても良い。例えば、本明細書で説明した方法については、例示的な順序で様々なステップの要素を提示しており、提示した特定の順序に限定されない。
【０１６１】
入出力された情報等は特定の場所（例えば、メモリ）に保存されても良いし、管理テーブルで管理しても良い。入出力される情報等は、上書き、更新、又は追記され得る。出力された情報等は削除されても良い。入力された情報等は他の装置へ送信されても良い。
【０１６２】
判定は、１ビットで表される値（０か１か）によって行われても良いし、真偽値（Boolean：true又はfalse）によって行われても良いし、数値の比較（例えば、所定の値との比較）によって行われても良い。
【０１６３】
本明細書で説明した各態様／実施形態は単独で用いても良いし、組み合わせて用いても良いし、実行に伴って切り替えて用いても良い。また、所定の情報の通知（例えば、「Ｘであること」の通知）は、明示的に行うものに限られず、暗黙的（例えば、当該所定の情報の通知を行わない）ことによって行われても良い。
【０１６４】
ソフトウェアは、ソフトウェア、ファームウェア、ミドルウェア、マイクロコード、ハードウェア記述言語と呼ばれるか、他の名称で呼ばれるかを問わず、命令、命令セット、コード、コードセグメント、プログラムコード、プログラム、サブプログラム、ソフトウェアモジュール、アプリケーション、ソフトウェアアプリケーション、ソフトウェアパッケージ、ルーチン、サブルーチン、オブジェクト、実行可能ファイル、実行スレッド、手順、機能などを意味するよう広く解釈されるべきである。
【０１６５】
また、ソフトウェア、命令などは、伝送媒体を介して送受信されても良い。例えば、ソフトウェアが、同軸ケーブル、光ファイバケーブル、ツイストペア及びデジタル加入者回線（ＤＳＬ）などの有線技術及び／又は赤外線、無線及びマイクロ波などの無線技術を使用してウェブサイト、サーバ、又は他のリモートソースから送信される場合、これらの有線技術及び／又は無線技術は、伝送媒体の定義内に含まれる。
【０１６６】
本明細書で説明した情報、信号等は、様々な異なる技術のいずれかを使用して表されても良い。例えば、上記の説明全体に渡って言及され得るデータ、命令、コマンド、情報、信号、ビット、シンボル、チップなどは、電圧、電流、電磁波、磁界若しくは磁性粒子、光場若しくは光子、又はこれらの任意の組み合わせによって表されても良い。
【０１６７】
なお、本明細書で説明した用語及び／又は本明細書の理解に必要な用語については、同一の又は類似する意味を有する用語と置き換えても良い。
【０１６８】
また、本明細書で説明した情報、パラメータなどは、絶対値で表されても良いし、所定の値からの相対値で表されても良いし、対応する別の情報で表されてもよい。
【０１６９】
本明細書で使用する「に基づいて」という記載は、別段に明記されていない限り、「のみに基づいて」を意味しない。言い換えれば、「に基づいて」という記載は、「のみに基づいて」と「に少なくとも基づいて」の両方を意味する。
【０１７０】
「含む(ｉｎｃｌｕｄｉｎｇ)」、「含んでいる（ｃｏｍｐｒｉｓｉｎｇ）」、及びそれらの変形が、本明細書、或いは特許請求の範囲で使用されている限り、これら用語は、用語「備える」と同様に、包括的であることが意図される。さらに、本明細書、或いは特許請求の範囲において使用されている用語「または（or）」は、排他的論理和ではないことが意図される。
【０１７１】
本開示の全体において、例えば、英語でのa, an, 及びtheのように、翻訳により冠詞が追加された場合、これらの冠詞は、文脈から明らかにそうではないことが示されていなければ、複数のものを含むものとする。
【０１７２】
以上、本発明について詳細に説明したが、当業者にとっては、本発明が本明細書中に説明した実施形態に限定されるものではないということは明らかである。本発明は、特許請求の範囲の記載により定まる本発明の趣旨及び範囲を逸脱することなく修正及び変更態様として実施することができる。従って、本明細書の記載は、例示説明を目的とするものであり、本発明に対して何ら制限的な意味を有するものではない。
【符号の説明】
【０１７３】
１００      測定システム
１０１      ＱＣ検体（管理用検体）
１０２      対象検体
１０３      バッチ（検体群）
１０４      測定結果
１１０      誤差補正装置（コンピュータ）
３０１      測定結果取得部（取得部）
３０３      ｍ／ｚ補正部（第１の補正部）
３１１      基準強度決定部
３１２      補正倍率算出部（算出部）
９０１      飽和補正部（第２の補正部）
９１１      パラメータ決定部
【図１】
2020112509.tif 000011
【図２】
2020112509.tif 000012
【図３】
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【図４】
2020112509.tif 000014
【図５】
2020112509.tif 000015
【図６】
2020112509.tif 000016
【図７】
2020112509.tif 000017
【図８】
2020112509.tif 000018
【図９】
2020112509.tif 000019
【図１０】
2020112509.tif 000020
【図１１】
2020112509.tif 000021
【図１２】
2020112509.tif 000022
【図１３】
2020112509.tif 000023
【図１４】
2020112509.tif 000024