(57)【要約】【課題】  キャパシターの容量値の測定を容易に実現できる回路装置、電気光学装置及び電子機器等の提供。【解決手段】  回路装置１０は、アンプ回路ＡＭＰ１と、第１電圧入力ノードＮＶ１と第１ノードＮ１の間の第１スイッチ回路ＳＷ１１と、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩと第１ノードＮ１の間の第２スイッチ回路ＳＷ１２と、第２ノードＮ０と入力ノードＮＡＭＰＩの間の第３スイッチ回路ＳＷ１３と、第２電圧入力ノードＮＶ０と第２ノードＮ０の間の第４スイッチ回路ＳＷ０を含む。初期化期間において、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオン、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオフになる。測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定期間において、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオフ、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになる。【選択図】      図３
2020013006.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アンプ回路と、
第１電圧が入力される第１電圧入力ノードと、測定対象キャパシターの一端が接続される第１ノードとの間に設けられる第１スイッチ回路と、
前記アンプ回路の入力ノードと、前記第１ノードとの間に設けられる第２スイッチ回路と、
基準キャパシターの一端が接続される第２ノードと、前記アンプ回路の前記入力ノードとの間に設けられる第３スイッチ回路と、
第２電圧が入力される第２電圧入力ノードと、前記第２ノードとの間に設けられる第４スイッチ回路と、
を含み、
初期化期間において、前記第１スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオンになり、前記第２スイッチ回路がオフになり、
前記測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、前記第１スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオフになり、前記第２スイッチ回路がオンになることを特徴とする回路装置。
【請求項２】
請求項１に記載の回路装置において、
前記アンプ回路の出力ノードに接続される測定用端子を含むことを特徴とする回路装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の回路装置において、
前記基準キャパシターを含むことを特徴とする回路装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記アンプ回路は、電気光学パネルを駆動するアンプ回路であり、
前記測定対象キャパシターの測定時には、前記第３スイッチ回路がオンになり、前記電気光学パネルを駆動する駆動時には、前記第３スイッチ回路がオフになることを特徴とする回路装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記第１スイッチ回路は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成され、
前記第２スイッチ回路は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成されることを特徴とする回路装置。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の回路装置において、
第２アンプ回路と、
第３電圧が入力される第３電圧入力ノードと、第２測定対象キャパシターの一端が接続される第３ノードとの間に設けられる第５スイッチ回路と、
前記第２アンプ回路の入力ノードと、前記第３ノードとの間に設けられる第６スイッチ回路と、
前記第２ノードと、前記第２アンプ回路の前記入力ノードとの間に設けられる第７スイッチ回路と、
を含み、
初期化期間において、前記第５スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオンになり、前記第６スイッチ回路がオフになり、
前記第２測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、前記第５スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオフになり、前記第６スイッチ回路がオンになることを特徴とする回路装置。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記アンプ回路は、ボルテージフォロワー接続された演算増幅器であり、
前記アンプ回路の前記入力ノードは、サミングノードであることを特徴とする回路装置。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記第１電圧入力ノードと、第３測定対象キャパシターの一端が接続される第４ノードとの間に設けられる第８スイッチ回路と、
前記アンプ回路の前記入力ノードと、前記第４ノードとの間に設けられる第９スイッチ回路と、
を含み、
初期化期間において、前記第８スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオンになり、前記第９スイッチ回路がオフになり、
前記第３測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、前記第８スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオフになり、前記第９スイッチ回路がオンになることを特徴とする回路装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電気光学装置。
【請求項１０】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路装置、電気光学装置及び電子機器等に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、キャパシターを内蔵する回路装置が広く知られている。例えば特許文献１には、電気光学パネルを駆動するドライバーが開示されている。特許文献１のドライバーは、アンプ回路を用いてデータ電圧を出力する電圧駆動において、補助用キャパシター駆動回路を用いることによって、アンプ回路の出力のセトリング時間を短縮する手法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−９０８８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
回路装置に内蔵されるキャパシターの容量値の測定においては、当該回路装置にサイン波を入力し、波形の位相遅延や減衰具合に基づいて演算を行う手法が知られている。従来手法では、専用の測定環境が必要であり、測定時間が長いという課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様は、アンプ回路と、第１電圧が入力される第１電圧入力ノードと、測定対象キャパシターの一端が接続される第１ノードとの間に設けられる第１スイッチ回路と、前記アンプ回路の入力ノードと、前記第１ノードとの間に設けられる第２スイッチ回路と、基準キャパシターの一端が接続される第２ノードと、前記アンプ回路の前記入力ノードとの間に設けられる第３スイッチ回路と、第２電圧が入力される第２電圧入力ノードと、前記第２ノードとの間に設けられる第４スイッチ回路と、を含み、初期化期間において、前記第１スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオンになり、前記第２スイッチ回路がオフになり、前記測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、前記第１スイッチ回路及び前記第４スイッチ回路がオフになり、前記第２スイッチ回路がオンになる回路装置に関係する。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】ドライバーの構成例。
【図２】ドライバーの構成例。
【図３】回路装置の第１構成例。
【図４】回路装置の具体的な構成例。
【図５】回路装置の第２構成例。
【図６】回路装置の第３構成例。
【図７】回路装置の第４構成例。
【図８】回路装置の第４構成例の変形例。
【図９】ドライバーである回路装置を含む電気光学装置の構成例。
【図１０】回路装置を含む電子機器の構成例。
【図１１】回路装置を含む移動体の構成例。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
【０００８】
１．回路装置
１．１  測定対象キャパシターを含む回路装置の例
図１、図２は、キャパシターを含む回路装置の一例であって、電気光学パネルを駆動するドライバーの構成例を説明する図である。ドライバー１００は、キャパシター回路１５、キャパシター駆動回路２０、データ電圧出力端子ＴＶＱを含む。なお以下では、キャパシターの容量値を表す符号として、そのキャパシターの符号と同一の符号を用いる。
【０００９】
ドライバーにおける駆動手法として、キャパシターの電荷再分配により電気光学パネルを駆動する手法が知られている。以下、この駆動手法を容量駆動と表記する。キャパシター回路１５及びキャパシター駆動回路２０は、容量駆動を行う回路である。キャパシター回路１５は、第１〜第ｎのキャパシターＣＡ１〜ＣＡｎを含む。ここでｎは２以上の自然数である。またキャパシター駆動回路２０は、第１〜第ｎの駆動部ＤＲ１〜ＤＲｎを含む。なお以下では、ｎ＝１０の場合を例にとって説明するが、ｎは２以上の自然数であればよい。例えばｎは、階調データのビット数と同数に設定すればよい。
【００１０】
キャパシターＣＡ１〜ＣＡ１０の容量値は、階調データＧＤ［１０：１］のビットＧＤ１〜ＧＤ１０の桁に応じた２の累乗で重み付けされている。そして、駆動部ＤＲ１〜ＤＲ１０が、ビットＧＤ１〜ＧＤ１０に応じて第１電圧レベル又は第２電圧レベルを出力することで、その電圧によりキャパシターＣＡ１〜ＣＡ１０が駆動される。第１電圧レベルは例えば０Ｖであり、第２電圧レベルは例えば１５Ｖである。この駆動によってキャパシターＣＡ１〜ＣＡ１０と電気光学パネル側容量ＣＰとの間で電荷再分配が生じ、その結果としてデータ電圧出力端子ＴＶＱにデータ電圧が出力される。電気光学パネル側容量ＣＰは、基板容量ＣＰ１とパネル容量ＣＰ２によって決定される。なおドライバー１００は、特許文献１に開示されているように、可変容量回路を含んでもよい。可変容量回路を設けることによって、電気光学パネル側容量ＣＰが異なる種々の電気光学パネルを適切に駆動することが可能になる。
【００１１】
ただし、電荷再分配を用いる容量駆動では、自在に電荷を供給できるアンプ回路に比べてデータ電圧の精度が低下するという課題がある。よって図２のドライバー１００は、容量駆動による高速な駆動を開始した後に更にアンプ回路により高精度なデータ電圧を出力する。アンプ回路により高精度なデータ電圧を出力する駆動手法を、以下では電圧駆動と表記する。この場合、階調データに対応した電圧をアンプ回路に出力するＤ／Ａ変換回路が設けられる。
【００１２】
ドライバー１００は、基準電圧生成回路６０、Ｄ／Ａ変換回路７０、電圧駆動回路８０、補助用電圧設定回路８５を含む。補助用電圧設定回路８５は、データ電圧に対応する電圧を電圧駆動回路８０の入力ノードＮＡＭＩに設定する回路である。具体的には、補助用電圧設定回路８５は、補助用キャパシター回路８２と、補助用キャパシター駆動回路８４と、バランス用キャパシターＣＳＢと、を含む。
【００１３】
補助用キャパシター回路８２は、第１〜第１０の補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０と、スイッチ回路ＳＷＳと、を含む。また補助用キャパシター駆動回路８４は、第１〜第１０の補助用駆動部ＤＳ１〜ＤＳ１０を含む。
【００１４】
補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０の第ｉの補助用キャパシターＣＳｉの一端は、補助用キャパシター駆動ノードＮＤＳｉに接続され、第ｉの補助用キャパシターＣＳｉの他端はノードＮＳＱに接続される。ここで、ｉはｎ以下の自然数である。補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０は、２の累乗で重み付けされた容量値を有している。具体的には第ｉの補助用キャパシターＣＳｉの容量値は２（ｉ−１）×ＣＳ１である。
【００１５】
第１〜第１０の補助用駆動部ＤＳ１〜ＤＳ１０の第ｉの補助用駆動部ＤＳｉの入力ノードには、階調データＧＤ［１０：１］の第ｉのビットＧＤｉが入力される。第ｉの補助用駆動部ＤＳｉの出力ノードは、第ｉの補助用キャパシター駆動ノードＮＤＳｉである。
【００１６】
第ｉの補助用駆動部ＤＳｉは、ビットＧＤｉが第１論理レベル“０”の場合に第１電圧レベルを出力し、ビットＧＤｉが第２論理レベル“１”の場合に第２電圧レベルを出力する。
【００１７】
バランス用キャパシターＣＳＢは、その一端がノードＮＳＱに接続され、他端が低電位側電源ＶＳＳのノードに接続される。バランス用キャパシターＣＳＢの容量と電圧駆動回路８０の入力ノードＮＡＭＩの寄生容量との加算値をＣＳＢ’とする場合、例えばＣＳＢ’＝２ＣＳＯとなるように、バランス用キャパシターＣＳＢの容量が設定される。ここで、ＣＳＯ＝ＣＳ１＋ＣＳ２＋・・・＋ＣＳ１０である。これにより、容量駆動と同じ原理で階調データＧＤ［１０：１］に対応する電圧がノードＮＡＭＩに出力される。ノードＮＡＭＩの寄生容量は、例えばプロセスパラメーターやレイアウト等から見積もればよい。或いは、シミュレーション結果に基づいて見積もればよい。
【００１８】
基準電圧生成回路６０は、階調データの各値に対応する基準電圧を生成する回路である。例えば、１０ビットの階調データＧＤ［１０：１］に対応して１０２４階調の基準電圧ＶＲ１〜ＶＲ１０２４を生成する。具体的には、基準電圧生成回路６０は、高電位側電源と初期化電圧ＶＣのノードとの間に直列接続された第１〜第１０２４の抵抗素子ＲＤ１〜ＲＤ１０２４を含む。そして、抵抗素子ＲＤ１〜ＲＤ１０２４のタップから、電圧分割により得られた第１〜第１０２４の基準電圧ＶＲ１〜ＶＲ１０２４を出力する。
【００１９】
Ｄ／Ａ変換回路７０は、基準電圧生成回路６０からの複数の基準電圧の中から、階調データＧＤ［１０：１］に対応する基準電圧を選択する回路である。選択された基準電圧は電圧駆動回路８０の入力ノードＮＡＭＩに入力電圧として出力される。スイッチ素子ＳＷＤ１〜ＳＷＤ１０２４のうち、いずれか１つが階調データＧＤ［１０：１］に対応してオンになり、そのスイッチ素子に供給される基準電圧が電圧として出力される。
【００２０】
電圧駆動回路８０は、Ｄ／Ａ変換回路７０からの電圧を増幅し、その増幅した電圧をデータ電圧出力端子ＴＶＱへ出力する。電圧駆動回路８０は、アンプ回路ＡＭＶＤ、電圧駆動用スイッチ回路ＳＷＡＭを含む。アンプ回路ＡＭＶＤは演算増幅回路を有し、その演算増幅回路は例えばボルテージフォロアに構成される。そのボルテージフォロアの入力には、Ｄ／Ａ変換回路７０からの電圧が入力される。電圧駆動用スイッチ回路ＳＷＡＭは、アンプ回路ＡＭＶＤの出力とデータ電圧出力ノードＮＶＱの接続・遮断を行う回路である。
【００２１】
補助用キャパシター回路８２及び補助用キャパシター駆動回路８４を用いることによって、電圧駆動回路８０の入力を高速にセトリングでき、電圧駆動においてアンプ回路の出力のセトリング時間を短縮することが可能となる。
【００２２】
ただし、補助用キャパシター回路８２に含まれる補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０に短絡不良又は開放不良が発生している場合、ノードＮＡＭＩに出力される電圧が適切な値にならず、セトリング時間の短縮効果が損なわれる。また、補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０の容量値が、設計値から大きく乖離する場合も、セトリング時間の短縮効果が損なわれる。
【００２３】
従来、回路装置に対してサイン波の信号を入力し、波形の位相遅延や減衰具合に基づいて、当該回路装置の出力端子に内蔵されたキャパシターの容量値を測定する手法が知られている。この場合、複数出力を有する駆動回路の容量値を測定する場合、測定時間が長くなってしまう。例えば図９を用いて後述する８相の相展開駆動等を用いるドライバー１００の例であれば、少なくとも８つの出力端子に対応するキャパシターの容量値を測定する必要がある。また従来手法においては、容量値を測定するために専用の測定環境が必要となってしまう。例えば、容量値の測定にはインピーダンスアナライザー等が必要となる。特に出荷検査においては、上記専用の測定環境を用いることが難しい。例えば出荷検査においては、広く用いられるテスターによって短絡不良を検出することは可能であるが、容量値の測定及び開放不良の検出は困難であった。
【００２４】
また、以上では補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０の検査について説明したが、容量値が適切に設定されない場合に、セトリング時間の短縮効果が損なわれるという点は、キャパシター回路１５に含まれるキャパシターＣＡ１〜ＣＡ１０についても同様である。そして、キャパシターＣＡ１〜ＣＡ１０についても、容量値の測定が容易でない。
【００２５】
またここでは電気光学パネルを駆動するドライバー１００について説明したが、他の回路装置においても、当該回路装置に含まれるキャパシターの容量値の測定が容易でないという課題は同様である。
【００２６】
１．２  回路装置の第１構成例
図３は、上記の課題を解決できる本実施形態の回路装置の第１構成例を示す図である。回路装置１０は、アンプ回路ＡＭＰ１と、第１スイッチ回路ＳＷ１１と、第２スイッチ回路ＳＷ１２と、第３スイッチ回路ＳＷ１３と、第４スイッチ回路ＳＷ０と、を含む。
【００２７】
第１スイッチ回路ＳＷ１１は、第１電圧Ｖ１が入力される第１電圧入力ノードＮＶ１と、測定対象キャパシターＣ１の一端が接続される第１ノードＮ１との間に設けられる。測定対象キャパシターＣ１の他端は低電位側電源ＶＳＳのノードに接続される。以下、低電位側電源ＶＳＳがグラウンドである例について説明する。ただし、図２の補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０と同様に、測定対象キャパシターＣ１の他端がバッファーによって駆動されてもよい。
【００２８】
第２スイッチ回路ＳＷ１２は、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰ１と、第１ノードＮ１との間に設けられる。第３スイッチ回路ＳＷ１３は、基準キャパシターＣ０の一端が接続される第２ノードＮ０と、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰ１との間に設けられる。第４スイッチ回路ＳＷ０は、第２電圧Ｖ０が入力される第２電圧入力ノードＮＶ０と、第２ノードＮ０との間に設けられる。なお、回路装置１０は、第２ノードＮ０と接続される共通ノード端子Ｔ０を含む。基準キャパシターＣ０は、回路装置１０の外部に設けられ、一端が共通ノード端子Ｔ０に接続され、他端がグラウンドに接続される。
【００２９】
そして初期化期間において、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになり、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオフになる。さらに測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定期間において、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになり、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになる。なお、回路装置１０は不図示のスイッチ信号出力回路を含む。スイッチ信号出力回路は、回路装置１０に含まれるスイッチ回路のオン／オフの制御、より具体的にはスイッチ回路に含まれるスイッチ素子のオン／オフの制御を行う制御信号を出力する。
【００３０】
本実施形態の手法によれば、初期化期間において測定対象キャパシターＣ１と基準キャパシターＣ０に蓄積された電荷が、測定期間において再配分される。よって再配分後の状態を測定することによって、測定対象キャパシターＣ１と基準キャパシターＣ０の容量比が求められる。基準キャパシターＣ０の容量値が既知であれば、測定対象キャパシターＣ１の容量値を測定することが可能である。例えば、測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定は、所与のノードの電圧値の測定によって実現できるため、専用の検査環境を用いる必要がなく、サイン波を入力する従来手法に比べて検査時間を短くすることが可能である。例えば、本実施形態の手法は出荷検査に適用でき、出荷品質の向上が可能になる。
【００３１】
図３に示したように、本実施形態の回路装置１０は、アンプ回路ＡＭＰ１の出力ノードに接続される測定用端子Ｔ１を含む。このようにすれば、測定用端子Ｔ１を用いた検査が可能であるため、検査を容易に、短時間で行うことが可能である。具体的には、本実施形態の回路装置１０の検査においては、検査装置によって測定用端子Ｔ１と所定電位との電位差が測定される。ここでの所定電位とは例えばグラウンドであるが、他の電位であってもよい。
【００３２】
なお、本実施形態の手法に対する比較例として、検査装置内のキャパシターと測定対象キャパシターＣ１とをリレーなどを介して接続し、２つのキャパシターによって電荷再配分を行う手法が考えられる。ただしこの場合、検査装置自体の容量誤差及び寄生容量がノイズ要因となる。そして検査装置の容量誤差及び寄生容量を所望の値となるように管理することは容易でない。その点、本実施形態の手法によれば、電圧値を測定する検査装置とは別に、基準キャパシターＣ０が設けられる。つまり本実施形態の手法は、上記比較例に比べて、検査装置の容量誤差及び寄生容量の影響を受けにくいという点で利点がある。
【００３３】
またアンプ回路ＡＭＰ１は、ボルテージフォロワー接続された演算増幅器であり、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩは、サミングノードである。このようにすれば、容量比を求めるための電圧値の測定において、検査装置の容量誤差及び寄生容量による影響をさらに抑制し、精度の高い容量値の測定を実現することが可能である。電圧値の測定とは、上述した通り、狭義には測定用端子Ｔ１を用いた電圧値の測定である。
【００３４】
また、第１スイッチ回路ＳＷ１１は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成され、第２スイッチ回路ＳＷ１２は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成される。具体的には、第１スイッチ回路ＳＷ１１は、直接接続された２個のスイッチ素子ＳＷ１１１及びＳＷ１１２によって構成される。第２スイッチ回路ＳＷ１２は、直接接続された２個のスイッチ素子ＳＷ１２１及びＳＷ１２２によって構成される。
【００３５】
スイッチ回路が１つのスイッチ素子から構成される場合、スイッチ素子のオフ後に電圧が変動することによって、スイッチ素子がオフにも関わらず、リーク電流や容量カップリングによって測定誤差が生じるおそれがある。その点、本実施形態の手法によれば、リーク電流や容量カップリングによる測定誤差を抑制し、精度の高い容量値の測定を実現できる。
【００３６】
次に測定対象キャパシターＣ１の容量値を測定する手順について詳細に説明する。測定は、大きく初期化期間と測定期間に分けられる。初期化期間において、基準キャパシターＣ０の初期化、アンプ回路ＡＭＰ１の入力の初期化、電圧初期値の測定、測定対象キャパシターＣ１の充電が行われる。
【００３７】
具体的には、まず第１スイッチ回路ＳＷ１１がオンになり、第２スイッチ回路ＳＷ２がオフになる。具体的には、スイッチ素子ＳＷ１１１及びＳＷ１１２がオンになり、スイッチ素子ＳＷ１２１及びＳＷ１２２がオフになる。これにより、測定対象キャパシターＣ１が第１電圧Ｖ１によって充電される。
【００３８】
さらに、第３スイッチ回路ＳＷ１３及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになる。第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになるため、基準キャパシターＣ０が第２電圧Ｖ０で充電されることによって初期化される。さらに第３スイッチ回路ＳＷ１３がオンになることによって、アンプ回路ＡＭＰ１の入力が初期化される。初期化後に、第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになる。なおアンプ回路ＡＭＰ１の入力の初期化は、スイッチ回路ＳＷ１４を用いて行われてもよい。スイッチ回路ＳＷ１４は、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩと、グラウンドとの間に設けられる。
【００３９】
第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになった後に、測定用端子Ｔ１を用いて電圧を測定し、電圧初期値を求める。アンプ回路ＡＭＰ１がボルテージフォロワー接続された演算増幅器である場合、アンプ回路ＡＭＰ１の入力電圧と、測定した電圧の差分であるオフセット電圧Ｖｏｆｆが求められる。
【００４０】
以上で初期化期間が終了し、測定期間に移行する。測定期間ではまず第１スイッチ回路ＳＷ１１がオフにされることで、一旦、第１スイッチ回路ＳＷ１１と第２スイッチ回路ＳＷ１２の両方がオフになる。その後、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになる。第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになることによって、測定対象キャパシターＣ１と基準キャパシターＣ０の電荷が再配分される。電荷再配分後、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩに入力される電圧をＶｉｎとした場合、下式（１）が成り立つ。
Ｃ０×Ｖ０＋Ｃ１×Ｖ１＝（Ｃ０＋Ｃ１）×Ｖｉｎ  …（１）
【００４１】
また第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになった後、測定用端子Ｔ１の電圧が測定される。測定された電圧を出力電圧Ｖｏｕｔとした場合、下式（２）が成り立つ。
Ｖｏｕｔ＝Ｖｉｎ＋Ｖｏｆｆ
＝（Ｃ０×Ｖ０＋Ｃ１×Ｖ１）／（Ｃ０＋Ｃ１）＋Ｖｏｆｆ  …（２）
【００４２】
ここで、第１電圧Ｖ１、第２電圧Ｖ０、基準キャパシターＣ０の容量値は既知である。また、オフセット電圧Ｖｏｆｆは初期化期間に測定され、出力電圧Ｖｏｕｔは測定期間に測定される。即ち、上式（２）に基づいて、測定対象キャパシターＣ１の容量値を演算することが可能である。また、基準キャパシターＣ０の容量値が確定していない場合であっても、測定対象キャパシターＣ１の欠陥による開放不良の検出が可能である。
【００４３】
本実施形態の回路装置１０は、例えば図２に示した電気光学パネル１５０を駆動するドライバー１００である。図３に示した測定対象キャパシターＣ１は、例えば図２に示した補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０又はバランス用キャパシターＣＳＢである。図３の回路装置１０に含まれる各構成は、図２に示した構成とは別途設けられてもよい。例えば、第１電圧Ｖ１を供給する電圧源、第２電圧Ｖ０を供給する電圧源、アンプ回路ＡＭＰ１は、図２の構成とは異なる検査専用の構成として設けられる。この場合、電圧源とアンプ回路ＡＭＰ１を結ぶ配線も図２の構成とは異なる検査用の配線として設けられ、第１のスイッチ回路ＳＷ１１、第２のスイッチ回路ＳＷ１２、第３のスイッチ回路ＳＷ１３は、当該検査用の配線上に設けられる。
【００４４】
図４は、電気光学パネル１５０を駆動する構成と、検査用の構成が別途設けられる場合の回路装置１０の構成例である。図４に示すように、測定対象キャパシターである補助用キャパシターＣＳ１０の一端であるノードＮＡ１は、スイッチ素子ＳＷＡ１を介して第１ノードＮ１に接続される。また補助用キャパシターＣＳ１０の他端であるノードＮＡ２は、スイッチ素子ＳＷＡ２を介してグラウンドに接続される。ノードＮＡ１とスイッチ回路ＳＷＳの間にスイッチ素子ＳＷＢ１が設けられ、ノードＮＡ２と補助用駆動部ＤＳ１０との間にスイッチ素子ＳＷＢ２が設けられる。
【００４５】
補助用キャパシターＣＳ１０の容量値を検査する際には、スイッチ素子ＳＷＡ１及びＳＷＡ２がオンになり、スイッチ素子ＳＷＢ１及びＳＷＢ２がオフになる。これにより、電気光学パネル１５０を駆動する構成と補助用キャパシターＣＳ１０が切り離されるため、適切な容量値の測定が可能になる。また、電気光学パネル１５０を駆動する際には、スイッチ素子ＳＷＢ１及びＳＷＢ２がオンになり、スイッチ素子ＳＷＡ１及びＳＷＡ２がオフになる。これにより、検査用の構成と補助用キャパシターＣＳ１０が切り離されるため、電気光学パネル１５０の適切な駆動が可能になる。
【００４６】
ただし、電気光学パネル１５０の駆動に用いる構成を、容量値の測定に流用することも可能である。例えば、アンプ回路ＡＭＰ１は、電気光学パネル１５０を駆動するアンプ回路であってもよい。電気光学パネル１５０を駆動するアンプ回路とは、例えば図２の電圧駆動回路８０に含まれアンプ回路ＡＭＶＤである。例えば、図４の構成において、スイッチ素子ＳＷ１２２の一端及び第３スイッチ回路ＳＷ１３の一端が接続されるノードを、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩから、アンプ回路ＡＭＶＤの入力ノードＮＡＭＩに変更し、アンプ回路ＡＭＰ１を省略する。なおこの場合、不図示のスイッチ素子を追加することによって、検査時と駆動時とで、アンプ回路ＡＭＶＤの入力を適切に切り替えることが望ましい。不図示のスイッチ素子とは、Ｄ／Ａ変換回路７０とアンプ回路ＡＭＶＤの入力ノードＮＡＭＩの間に設けられ、検査時にオフとなり駆動時にオンとなる素子である。また不図示のスイッチ素子とは、スイッチ素子ＳＷ１２２の一端及び第３スイッチ回路ＳＷ１３の一端と入力ノードＮＡＭＩの間に設けられ、検査時にオンとなり駆動時にオフとなる素子である。このようにすれば、回路装置１０の動作時の構成を、キャパシターの容量値の測定にも利用できるため、回路規模の増大を抑制することが可能になる。また、第１電圧Ｖ１の電圧源として、図２に示した基準電圧生成回路６０及びＤ／Ａ変換回路７０を用いることも妨げられない。
【００４７】
基準キャパシターＣ０は、容量値を測定するための構成であり、回路装置１０の動作時、具体的には電気光学パネル１５０の駆動時に用いることは想定されない。よって測定対象キャパシターＣ１の測定時には、第３スイッチ回路ＳＷ１３がオンになり、電気光学パネル１５０を駆動する駆動時には、第３スイッチ回路ＳＷ１３がオフになる。このようにすれば、容量値の測定を基準キャパシターＣ０を用いて適切に行いつつ、電気光学パネル１５０の駆動時には基準キャパシターＣ０による影響を抑制することが可能になる。なお、測定対象キャパシターＣ１の測定時とは、上記初期化期間及び測定期間に対応する期間を表す。第３スイッチ回路ＳＷ１３は、例えば初期化期間の開始タイミングから、測定期間の終了タイミングまでの期間においてオンになる。ただし、初期化期間の開始から、アンプ回路ＡＭＰ１の入力の初期化を行うタイミングまでの期間では第３スイッチ回路ＳＷ１３がオフでもよく、具体的なオン／オフのタイミングは種々の変形実施が可能である。
【００４８】
また、本実施形態における測定対象キャパシターは１つに限定されない。例えば図９を用いて後述する８相の相展開駆動等を用いるドライバー１００の例であれば、少なくとも８つの出力端子に対応するキャパシターの容量値を測定する必要がある。
【００４９】
本実施形態の回路装置１０は、図３に示すように、第２アンプ回路ＡＭＰ２と、第５スイッチ回路ＳＷ２１と、第６スイッチ回路ＳＷ２２と、第７スイッチ回路ＳＷ２３を含む。
【００５０】
第５スイッチ回路ＳＷ２１は、第３電圧Ｖ２が入力される第３電圧入力ノードＮＶ２と、第２測定対象キャパシターＣ２の一端が接続される第３ノードＮ２との間に設けられる。第５スイッチ回路ＳＷ２１は、直接接続された複数のスイッチ素子で構成され、例えばスイッチ素子ＳＷ２１１及びＳＷ２１２を含む。
【００５１】
第６スイッチ回路ＳＷ２２は、第２アンプ回路ＡＭＰ２の入力ノードＮＡＭＰＩ２と、第３ノードＮ２との間に設けられる。第６スイッチ回路ＳＷ２２は、直接接続された複数のスイッチ素子で構成され、例えばスイッチ素子ＳＷ２２１及びＳＷ２２２を含む。
【００５２】
第７スイッチ回路ＳＷ２３は、第２ノードＮ０と、第２アンプ回路ＡＭＰ２の入力ノードＮＡＭＰＩ２との間に設けられる。図３からわかるように、第２ノードＮ０は、複数のアンプ回路の入力ノードに共通して接続可能な共通ノードである。
【００５３】
初期化期間において、第５スイッチ回路ＳＷ２１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになり、第６スイッチ回路ＳＷ２２がオフになる。第２測定対象キャパシターＣ２の容量値の測定期間において、第５スイッチ回路ＳＷ２１及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになり、第６スイッチ回路ＳＷ２２がオンになる。第７スイッチ回路ＳＷ２３は、第２測定対象キャパシターＣ２の測定時にオンになり、回路装置１０の動作時、例えば電気光学パネル１５０の駆動時にオフになる。
【００５４】
第５スイッチ回路ＳＷ２１は第１スイッチ回路ＳＷ１１に対応する。第６スイッチ回路ＳＷ２２は第２スイッチ回路ＳＷ１２に対応する。第７スイッチ回路ＳＷ２３は第３スイッチ回路ＳＷ１３に対応する。即ち、測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定と同様の手順によって、第２測定対象キャパシターＣ２の容量値の測定が可能である。具体的には、初期化期間において第２測定対象キャパシターＣ２と基準キャパシターＣ０の充電が行われ、測定期間において第２測定対象キャパシターＣ２と基準キャパシターＣ０による電荷再配分が行われる。電荷再配分の後に、第２アンプ回路ＡＭＰ２の出力ノードに接続される測定用端子Ｔ２の電圧を測定することによって、第２測定対象キャパシターＣ２の容量値を求めることが可能である。なお、初期化期間における第２アンプ回路ＡＭＰ２の入力の初期化は、スイッチ回路ＳＷ２４を用いて行われてもよい。スイッチ回路ＳＷ２４は、第２アンプ回路ＡＭＰ２の入力ノードＮＡＭＰＩ２と、グラウンドとの間に設けられる。
【００５５】
第２測定対象キャパシターＣ２の容量値を測定する際も、基準キャパシターＣ０の容量値を高い精度で測定しておけば、基準キャパシターＣ０との容量比を用いて精度よく容量値を測定することが可能である。即ち、本実施形態の手法によれば、測定対象キャパシターの数によらず、検査コストの低減が可能である。
【００５６】
上述した図４の例であれば、第２測定対象キャパシターＣ２は、補助用キャパシターＣＳ９に対応する。補助用キャパシターＣＳ９の容量値を検査する際には、スイッチ素子ＳＷＡ３及びＳＷＡ４がオンになり、スイッチ素子ＳＷＢ３及びＳＷＢ４がオフになる。電気光学パネル１５０を駆動する際には、スイッチ素子ＳＷＢ３及びＳＷＢ４がオンになり、スイッチ素子ＳＷＡ３及びＳＷＡ４がオフになる。
【００５７】
なお、測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定と、第２測定対象キャパシターＣ２の容量値の測定は時分割で行われる。例えば、測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定時は、第３スイッチ回路ＳＷ１３がオンになり、第７スイッチ回路ＳＷ２３がオフになる。そして、第２測定対象キャパシターＣ２の容量値の測定時は、第７スイッチ回路ＳＷ２３がオンになり、第３スイッチ回路ＳＷ１３がオフになる。このようにすれば、複数の測定対象キャパシターの容量値を順次測定することが可能である。ただし、Ｃ１とＣ２の合計の容量値が測定できれば十分な場合等においては、第３スイッチ回路ＳＷ１３と第７スイッチ回路ＳＷ２３が同時にオンになってもよい。
【００５８】
１．３  回路装置の第２構成例
図５は、本実施形態の回路装置１０の第２構成例を示す図である。回路装置１０は、図３の構成に加えて、上記基準キャパシターＣ０を内部に含む。基準キャパシターＣ０は一端が第２ノードＮ０に接続され、他端がグラウンドに接続される。
【００５９】
図５の回路装置１０は、基準キャパシターＣ０を内蔵するため、当該基準キャパシターＣ０の容量値を測定する必要がある。基準キャパシターＣ０の容量値の測定は、例えばサイン波を入力する従来手法が用いられる。或いは、回路装置１０の設計や組み立ての段階で基準キャパシターＣ０の容量値が測定され、当該容量値が維持されていると仮定して測定対象キャパシターＣ１の容量値が測定されてもよい。
【００６０】
基準キャパシターＣ０の容量値が取得された後の手順については、上述した例と同様である。具体的には、まず第１スイッチ回路ＳＷ１１がオンになり、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオフになる。これにより、測定対象キャパシターＣ１が第１電圧Ｖ１によって充電される。さらに、第３スイッチ素子ＳＷ１３及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになる。これにより、基準キャパシターＣ０が第２電圧Ｖ０で充電されることによって初期化される。さらに第３スイッチ回路ＳＷ１３がオンになることによって、アンプ回路ＡＭＰ１の入力が初期化される。初期化後に、第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになる。第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになった後に、測定用端子Ｔ１を用いて電圧を測定し、電圧初期値を求める。
【００６１】
測定期間では、まず第１スイッチ回路ＳＷ１１がオフにされることで、一旦、第１スイッチ回路ＳＷ１１と第２スイッチ回路ＳＷ１２の両方がオフになる。その後、第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになる。第２スイッチ回路ＳＷ１２がオンになることによって、測定対象キャパシターＣ１と基準キャパシターＣ０の電荷が再配分される。その後、測定用端子Ｔ１を用いて電圧を測定し、上式（２）を用いて測定対象キャパシターＣ１の容量値を求める。
【００６２】
図５に示した第２構成例を用いる場合も、測定対象キャパシターＣ１の容量値を容易に測定することが可能である。また、第１構成例と同様に、回路装置１０が複数の測定対象キャパシターを含み、各測定対象キャパシターに対して容量値の測定が行われてもよい。
【００６３】
１．４  回路装置の第３構成例
以上では、１つのアンプ回路に対して１つの測定対象キャパシターが存在する場合について考えた。ただし、１つのアンプ回路に対して複数の測定対象キャパシターが存在してもよい。例えば図２に示したドライバー１００においては、補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０及びバランス用キャパシターＣＳＢが測定対象キャパシターとなりうる。電圧駆動回路８０のアンプ回路ＡＭＶＤを、測定用のアンプ回路ＡＭＰ１とする場合、当該アンプ回路ＡＭＰ１に対して、複数の測定対象キャパシターが接続された状態となる。
【００６４】
図６は、本実施形態の回路装置の第３構成例を示す図である。第３構成例は、１つのアンプ回路に対して複数の測定対象キャパシターが存在する場合に対応する回路装置１０の構成例である。
【００６５】
回路装置１０は、第８スイッチ回路ＳＷ１５と、第９スイッチ回路ＳＷ１６を含む。第８スイッチ回路ＳＷ１５は、第１電圧入力ノードＮＶ１と、第３測定対象キャパシターＣ３の一端が接続される第４ノードＮ３との間に設けられる。第８スイッチ回路ＳＷ１５は、直接接続された複数のスイッチ素子で構成され、例えばスイッチ素子ＳＷ１５１及びＳＷ１５２を含む。第９スイッチ回路ＳＷ１６は、アンプ回路ＡＭＰ１の入力ノードＮＡＭＰＩと、第４ノードＮ３との間に設けられる。第９スイッチ回路ＳＷ１６は、直接接続された複数のスイッチ素子で構成され、例えばスイッチ素子ＳＷ１６１及びＳＷ１６２を含む。
【００６６】
測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定と、第３測定対象キャパシターＣ３の容量値の測定は時分割に行われてもよい。例えば、測定対象キャパシターＣ１の容量値の測定時において、第８スイッチ回路ＳＷ１５及び第９スイッチ回路ＳＷ１６がオフになる。そして上述した手順に従って、第１スイッチ回路ＳＷ１１、第２スイッチ回路ＳＷ１２、第４スイッチ回路ＳＷ０のオン／オフが切り替えられることによって、測定対象キャパシターＣ１の容量値が測定される。
【００６７】
第３測定対象キャパシターＣ３の容量値の測定時には、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第２スイッチ回路ＳＷ１２がオフになる。そして、まず第８スイッチ回路ＳＷ１５がオンになり、第９スイッチ回路ＳＷ１６がオフになる。これにより、第３測定対象キャパシターＣ３が第１電圧Ｖ１によって充電される。さらに、第３スイッチ素子ＳＷ１３及び第４スイッチ回路ＳＷ０がオンになる。これにより、基準キャパシターＣ０が第２電圧Ｖ０で充電されることによって初期化される。さらに第３スイッチ回路ＳＷ１３がオンになることによって、アンプ回路ＡＭＰ１の入力が初期化される。初期化後に、第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになる。第４スイッチ回路ＳＷ０がオフになった後に、測定用端子Ｔ１を用いて電圧を測定し、電圧初期値を求める。なおアンプ回路ＡＭＰ１の入力の初期化については実行する必要があるが、電圧初期値については、測定対象キャパシターＣ１の測定時に取得されたオフセット電圧Ｖｏｆｆをそのまま用いてもよい。
【００６８】
測定期間では、まず第８スイッチ回路ＳＷ１５がオフにされることで、一旦、第８スイッチ回路ＳＷ１５と第９スイッチ回路ＳＷ１６の両方がオフになる。その後、第９スイッチ回路ＳＷ１６がオンになる。これによって、第３測定対象キャパシターＣ３と基準キャパシターＣ０の電荷が再配分される。その後、測定用端子Ｔ１を用いて電圧を測定し、第３測定対象キャパシターＣ３の容量値を求める。具体的には、上式（２）のＣ１をＣ３に置き換えて演算を行うことによって、第３測定対象キャパシターＣ３の容量値が求められる。
【００６９】
このようにすれば、１つのアンプ回路ＡＭＰ１に接続された複数の測定対象キャパシターＣ１及びＣ３の容量値を個別に測定することが可能になる。ただし、図６では省略しているが、図３及び図５において第２アンプ回路ＡＭＰ２を例示したとおり、回路装置１０が複数のアンプ回路を含む場合がある。また、補助用キャパシターＣＳ１〜ＣＳ１０に示したとおり、１つのアンプ回路に接続される測定対象キャパシターは３つ以上であってもよい。測定対象キャパシターの数が多い場合、それぞれの容量値を個別に測定することによって、検査時間が長くなる。例えば本実施形態の手法を出荷検査に適用する場合、検査時間が長くなることで生産性が低下するおそれがある。
【００７０】
よって、生産性を向上させるため、複数の測定対象キャパシターが同時に測定対象となってもよい。例えば、初期化期間では、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第８スイッチ回路ＳＷ１５がオンになることによって、測定対象キャパシターＣ１の充電と第３測定対象キャパシターＣ３の充電が行われる。測定期間では、第１スイッチ回路ＳＷ１１及び第８スイッチ回路ＳＷ１５がオフになった後、第２スイッチ回路ＳＷ１２及び第９スイッチ回路ＳＷ１６がオンになる。これにより、測定対象キャパシターＣ１、第３測定対象キャパシターＣ３、及び基準キャパシターＣ０で電荷が再配分される。この場合、測定用端子Ｔ１の電圧を測定することによって、２つの測定対象キャパシターの合成容量値Ｃ１＋Ｃ３が求められる。また、１つのアンプ回路に接続される３つ以上の測定対象キャパシターが同時に測定対象となることも妨げられない。
【００７１】
１．５  回路装置の第４構成例
以上では、検査装置を用いて測定用端子Ｔ１の電圧を測定することによって、測定対象キャパシターＣ１の容量値を求める手法を説明した。ただし回路装置１０の内部において、容量値が適正か否かを判定してもよい。
【００７２】
図７は、本実施形態の回路装置１０の第４構成例を示す図である。回路装置１０は、図５に示した構成に加えて、コンパレーターＣＭと、参照電圧ＶＲＥＦが入力される参照電圧入力ノードＮＶＲＥＦを含む。コンパレーターＣＭの一方の入力ノードは、第２ノードＮ０と接続される。コンパレーターＣＭの他方の入力ノードは、参照電圧入力ノードＮＶＲＥＦと接続される。
【００７３】
即ち、コンパレーターＣＭは、上式（１）に示したアンプ回路ＡＭＰ１の入力電圧Ｖｉｎと、参照電圧ＶＲＥＦを比較し、比較結果を出力する。例えば検査において合格と判定される測定対象キャパシターＣ１の容量値が範囲が決まっていれば、当該範囲に基づいて、入力電圧Ｖｉｎの許容範囲も決定される。よって参照電圧ＶＲＥＦを当該許容範囲の端点の電圧に設定する。このようにすれば、コンパレーターＣＭの出力に基づいて、測定対象キャパシターＣ１の容量値が適正か否かを判定できる。なお、合格と判定される測定対象キャパシターＣ１の容量値が上限と下限を有する場合、参照電圧ＶＲＥＦが、上限に対応する電圧と下限に対応する電圧の２つ電圧の間で切り替え可能に構成されてもよい。
【００７４】
或いは、コンパレーターＣＭの出力をフィードバックすることによってＶＲＥＦを変更してもよい。例えばフィードバック制御によって、ＶＲＥＦ＝Ｖｉｎと判定される参照電圧ＶＲＥＦを決定する。この場合、上式（１）と決定された参照電圧ＶＲＥＦとに基づいて、測定対象キャパシターＣ１の容量値を求めることが可能である。
【００７５】
図７の構成において、回路装置１０は、コンパレーターＣＭの比較結果を外部に出力してもよい。或いは、コンパレーターＣＭの比較結果が回路装置１０の制御回路に入力され、制御回路が比較結果に基づく処理を行った結果が、回路装置１０の外部に出力されてもよい。制御回路における処理とは、例えば検査が合格か否かの判定処理であってもよいし、測定対象キャパシターＣ１の容量値の演算処理であってもよい。
【００７６】
図７に示した通り、回路装置１０の内部で比較処理を行う場合、共通ノードである第２ノードＮ０の電圧を直接利用可能である。アンプ回路ＡＭＰ１の出力を用いる必要がないため、オフセット電圧Ｖｏｆｆを考慮する必要がない。
【００７７】
ただし、アンプ回路ＡＭＰ１の出力を比較処理に用いてもよい。図８は、回路装置１０の第４構成例の変形例を示す図である。回路装置１０は、第１０スイッチ回路ＳＷ１７と、第１１スイッチ回路ＳＷ２５を含む。第１０スイッチ回路ＳＷ１７は、コンパレーターＣＭの一方の入力ノードと、アンプ回路ＡＭＰ１の出力ノードの間に設けられる。第１１スイッチ回路ＳＷ１７は、コンパレーターＣＭの一方の入力ノードと、第２アンプ回路ＡＭＰ２の出力ノードの間に設けられる。
【００７８】
第１０スイッチ回路ＳＷ１７がオンになり、第１１スイッチ回路ＳＷ２５がオフになることによって、アンプ回路ＡＭＰ１の出力と参照電圧ＶＲＥＦの比較が行われる。即ち、測定対象キャパシターＣ１と基準キャパシターＣ０の電荷再配分後に、第１０スイッチ回路ＳＷ１７がオンになることによって、上式（２）のＶｏｕｔと、参照電圧ＶＲＥＦの比較が行われる。そのため、コンパレーターＣＭでの比較結果は、測定対象キャパシターＣ１の測定結果に対応する。
【００７９】
同様に、第１１スイッチ回路ＳＷ２５がオンになり、第１０スイッチ回路ＳＷ１７がオフになることによって、第２アンプ回路ＡＭＰ２の出力と参照電圧ＶＲＥＦの比較が行われる。即ち、第２測定対象キャパシターＣ２と基準キャパシターＣ０の電荷再配分後に、第１１スイッチ回路ＳＷ２５がオンになることによって、第２測定対象キャパシターＣ２の測定結果に対応する比較結果が出力される。
【００８０】
２．ドライバー、電気光学装置、電子機器、移動体
図１、図２を用いて上述したように、本実施形態の回路装置１０は、電気光学パネルを駆動するドライバーであってもよい。
【００８１】
図９に、電気光学パネル１５０と、回路装置１０であるドライバー１００と、を含む電気光学装置１６０の構成例を示す。ドライバー１００は電気光学パネル１５０を駆動する。
【００８２】
電気光学パネル１５０は、例えばアクティブマトリックス型の液晶表示パネルである。例えばドライバー１００はフレキシブル基板に実装され、そのフレキシブル基板が電気光学パネル１５０に接続され、フレキシブル基板に形成された配線によってドライバー１００の画像信号出力端子と電気光学パネル１５０の画像信号入力端子とが接続される。或いは、ドライバー１００はリジッド基板に実装され、リジッド基板と電気光学パネル１５０とがフレキシブル基板により接続され、フレキシブル基板に形成された配線によってドライバー１００の画像信号出力端子と電気光学パネル１５０の画像信号入力端子とが接続されてもよい。
【００８３】
ドライバー１００は、制御回路４０、第１〜第ｋのデータ線駆動回路ＤＤ１〜ＤＤｋを含む。ここでｋは２以上の自然数である。データ線駆動回路ＤＤ１〜ＤＤｋは、それぞれ図１、図２に示したキャパシター回路１５、キャパシター駆動回路２０、Ｄ／Ａ変換回路７０、電圧駆動回路８０、補助用電圧設定回路８５を含む。なお以下ではｋ＝８の場合を例に説明する。
【００８４】
制御回路４０は、データ線駆動回路ＤＤ１〜ＤＤ８の各データ線駆動回路に対して、対応する階調データを出力する。また制御回路４０は、制御信号を電気光学パネル１５０に出力する。データ線駆動回路ＤＤ１〜ＤＤ８は、階調データをデータ電圧に変換し、そのデータ電圧を出力電圧ＶＱ１〜ＶＱ８として電気光学パネル１５０のデータ線ＤＬ１〜ＤＬ８へ出力する。
【００８５】
電気光学パネル１５０は、データ線ＤＬ１〜ＤＬ８、スイッチ素子ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ（ｔｋ）、ソース線ＳＬ１〜ＳＬ（ｔｋ）を含む。ｔは２以上の自然数である。以下ではｔ＝１６０の場合を例に説明する。即ちｔｋ＝１６０×８＝１２８０である。
【００８６】
スイッチ素子ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ１２８０のうちスイッチ素子ＳＷＥＰ（（ｊ−１）×ｋ＋１）〜ＳＷＥＰ（ｊ×ｋ）の一端は、データ線ＤＬ１〜ＤＬ８に接続される。ｊはｔ＝１６０以下の自然数である。例えばｊ＝１の場合にはスイッチ素子ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ８である。スイッチ素子ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ１２８０は、例えばＴＦＴ（Thin Film Transistor）等で構成され、ドライバー１００からの制御信号に基づいて制御される。例えば、電気光学パネル１５０は不図示のスイッチ制御回路を含み、そのスイッチ制御回路が制御回路４０からの制御信号に基づいてスイッチ素子ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ１２８０のオン・オフを制御する。
【００８７】
図１０に本実施形態の回路装置１０を含む電子機器３００の構成例を示す。電子機器３００は、本実施形態の回路装置１０、電気光学パネル１５０、表示コントローラー１１０、処理装置３１０、メモリー３２０、操作インターフェース３３０、通信インターフェース３４０を含む。表示ドライバーである回路装置１０と電気光学パネル１５０とにより、電気光学装置１６０が構成される。電子機器３００の具体例としては、例えばメーターパネルなどのパネル機器やカーナビゲーションシステム等の車載機器、プロジェクター、ヘッドマウントディスプレイ、印刷装置、携帯情報端末、携帯型ゲーム端末、ロボット、或いは情報処理装置などの種々の電子機器がある。
【００８８】
処理装置３１０は、電子機器３００の制御処理や、種々の信号処理等を行う。処理装置３１０は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＭＰＵ（Micro-processing unit）等のプロセッサー、或いはＡＳＩＣ（application specific integrated circuit）等により実現できる。メモリー３２０は、例えば操作インターフェース３３０や通信インターフェース３４０からのデータを記憶したり、或いは、処理装置３１０のワークメモリーとして機能する。メモリー３２０は、例えばＲＡＭ（Random Access Memory）やＲＯＭ（Read only memory）等の半導体メモリー、或いはハードディスクドライブ等の磁気記憶装置により実現できる。操作インターフェース３３０は、ユーザーからの種々の操作を受け付けるユーザーインターフェースである。例えば操作インターフェース３３０は、ボタンやマウスやキーボード、或いは電気光学パネル１５０に装着されたタッチパネル等により実現できる。通信インターフェース３４０は、画像データや制御データの通信を行うインターフェースである。通信インターフェース３４０の通信処理は、有線の通信処理であってもよいし、無線の通信処理であってもよい。
【００８９】
図１１に、本実施形態の回路装置１０を含む移動体の構成例を示す。移動体は、例えばエンジンやモーター等の駆動機構、ハンドルや舵等の操舵機構、各種の電子機器を備えて、地上や空や海上を移動する機器又は装置である。本実施形態の移動体として、例えば、車、飛行機、バイク、船舶、或いはロボット等を想定できる。図１１は移動体の具体例としての自動車２０６を概略的に示している。自動車２０６は、車体２０７や車輪２０９を有する。自動車２０６には、回路装置１０を有する表示装置２２０と、自動車２０６の各部を制御する制御装置２１０が組み込まれている。制御装置２１０は例えばＥＣＵ（Electronic Control Unit）などを含むことができる。表示装置２２０は電気光学装置１６０により実現されるものであり、例えばメーターパネル等のパネル機器である。制御装置２１０は、ユーザーに提示するための画像を生成し、その画像を表示装置２２０に送信する。表示装置２２０は、受信した画像を表示装置２２０の表示部に表示する。例えば車速や燃料残量、走行距離、各種装置の設定等の情報が画像として表示される。
【００９０】
以上のように、本実施形態は、アンプ回路と、第１電圧が入力される第１電圧入力ノードと、測定対象キャパシターの一端が接続される第１ノードとの間に設けられる第１スイッチ回路と、アンプ回路の入力ノードと、第１ノードとの間に設けられる第２スイッチ回路と、基準キャパシターの一端が接続される第２ノードと、アンプ回路の入力ノードとの間に設けられる第３スイッチ回路と、第２電圧が入力される第２電圧入力ノードと、第２ノードとの間に設けられる第４スイッチ回路と、を含み、初期化期間において、第１スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオンになり、第２スイッチ回路がオフになり、測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、第１スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオフになり、第２スイッチ回路がオンになる回路装置に関係する。
【００９１】
本実施形態では、スイッチ回路のオン／オフに基づいて、初期化期間において測定対象キャパシター及び基準キャパシターが充電され、測定期間において電荷再配分が行われる。このようにすれば、容易な測定によって測定対象キャパシターと基準キャパシターの容量比を求めることが可能になる。基準キャパシターの容量値が既知であれば、測定対象キャパシターの容量値を専用の検査環境を用いることなく、短時間で求めることが可能である。
【００９２】
また本実施形態では、回路装置は、アンプ回路の出力ノードに接続される測定用端子を含んでもよい。
【００９３】
このようにすれば、測定用端子を用いた検査が可能になる。そのため、例えば本実施形態の回路装置の出荷検査を容易に実現することが可能になる。
【００９４】
また本実施形態では、回路装置は、基準キャパシターを含んでもよい。
【００９５】
このようにすれば、基準キャパシターを回路装置に内蔵することが可能になる。
【００９６】
また本実施形態では、アンプ回路は、電気光学パネルを駆動するアンプ回路であり、測定対象キャパシターの測定時には、第３スイッチ回路がオンになり、電気光学パネルを駆動する駆動時には、第３スイッチ回路がオフになってもよい。
【００９７】
このようにすれば、電気光学パネルを駆動するためのアンプ回路を、測定対象キャパシターの容量値の測定に用いることが可能になるため、効率的な構成により回路装置を実現できる。その際、第３スイッチ回路のオン／オフを制御することによって、電気光学パネルの駆動、及び容量値の測定の両方を適切に実行することが可能になる。
【００９８】
また本実施形態では、第１スイッチ回路は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成され、第２スイッチ回路は、直列接続された複数のスイッチ素子で構成されてもよい。
【００９９】
このようにすれば、リーク電流又は容量カップリングによって測定の精度が低下することを抑制できる。
【０１００】
また本実施形態では、第２アンプ回路と、第３電圧が入力される第３電圧入力ノードと、第２測定対象キャパシターの一端が接続される第３ノードとの間に設けられる第５スイッチ回路と、第２アンプ回路の入力ノードと、第３ノードとの間に設けられる第６スイッチ回路と、第２ノードと、第２アンプ回路の入力ノードとの間に設けられる第７スイッチ回路と、を含み、初期化期間において、第５スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオンになり、第６スイッチ回路がオフになり、第２測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、第５スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオフになり、第６スイッチ回路がオンになってもよい。
【０１０１】
このようにすれば、複数のアンプ回路のそれぞれに測定対象キャパシターが設けられる場合にも、容量値の測定を適切に行うことが可能になる。また基準キャパシターを複数の測定対象キャパシターの容量値の測定に利用できる。そのため、基準キャパシターの容量値を高い精度で求めておくことによって各測定対象キャパシターの容量値を適切に求めることが可能であり、検査コストを低減できる。
【０１０２】
また本実施形態では、アンプ回路は、ボルテージフォロワー接続された演算増幅器であり、アンプ回路の入力ノードは、サミングノードであってもよい。
【０１０３】
このようにすれば、検査装置に含まれる容量等の影響を抑制し、容量値を高い精度で測定することが可能になる。
【０１０４】
また本実施形態では、第１電圧入力ノードと、第３測定対象キャパシターの一端が接続される第４ノードとの間に設けられる第８スイッチ回路と、アンプ回路の入力ノードと、第４ノードとの間に設けられる第９スイッチ回路と、を含み、初期化期間において、第８スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオンになり、第９スイッチ回路がオフになり、第３測定対象キャパシターの容量値の測定期間において、第８スイッチ回路及び第４スイッチ回路がオフになり、第９スイッチ回路がオンになってもよい。
【０１０５】
このようにすれば、１つのアンプ回路に対して複数の測定対象キャパシターが存在する場合に、容量値を適切に測定することが可能になる。
【０１０６】
また本実施形態は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む電気光学装置に関係する。
【０１０７】
また本実施形態は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む電子機器に関係する。
【０１０８】
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また本実施形態及び変形例の全ての組み合わせも、本発明の範囲に含まれる。また回路装置、電子機器、移動体等の構成・動作も本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。
【符号の説明】
【０１０９】
１０…回路装置、１５…キャパシター回路、２０…キャパシター駆動回路、４０…制御回路、６０…基準電圧生成回路、７０…Ｄ／Ａ変換回路、８０…電圧駆動回路、８２…補助用キャパシター回路、８４…補助用キャパシター駆動回路、８５…補助用電圧設定回路、１００…ドライバー、１１０…表示コントローラー、１５０…電気光学パネル、１６０…電気光学装置、２０６…自動車、２０７…車体、２０９…車輪、２１０…制御装置、２２０…表示装置、３００…電子機器、３１０…処理装置、３２０…メモリー、３３０…操作インターフェース、３４０…通信インターフェース、ＡＭＰ１，ＡＭＰ２，ＡＭＶＤ…アンプ回路、Ｃ０…基準キャパシター、Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３…測定対象キャパシター、ＣＡ１〜ＣＡ１０…キャパシター、ＣＭ…コンパレーター、ＣＰ…電気光学パネル側容量、ＣＰ１…基板容量、ＣＰ２…パネル容量、ＣＳ１〜ＣＳ１０…補助用キャパシター、ＣＳＢ…バランス用キャパシター、ＤＤ１〜ＤＤ８…データ線駆動回路、ＤＬ１〜ＤＬ８…データ線、ＤＲ１〜ＤＲ１０…駆動部、ＤＳ１〜ＤＳ１０…補助用駆動部、Ｎ０，Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３…ノード、ＮＶ０，ＮＶ１，ＮＶ２…電圧入力ノード、ＮＶＱ…データ電圧出力ノード、ＮＶＲＥＦ…参照電圧入力ノード、ＲＤ１〜ＲＤ１０２４…抵抗素子、ＳＬ１〜ＳＬ…ソース線、ＳＷ０，ＳＷ１１〜ＳＷ１７，ＳＷ２１〜ＳＷ２５…スイッチ回路、ＳＷＡＭ…電圧駆動用スイッチ回路、ＳＷＤ１〜ＳＷＤ１０２４，ＳＷＥＰ１〜ＳＷＥＰ１２８０，ＳＷＡ１〜ＳＷＡ４，ＳＷＢ１〜ＳＷＢ４…スイッチ素子、ＳＷＳ…スイッチ回路、Ｔ１，Ｔ２…測定用端子、ＴＶＱ…データ電圧出力端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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