(57)【要約】      （修正有）【課題】電池の封止構造において、長期使用に耐える十分な耐久性を確保する。【解決手段】電池の封止構造は、金属蓋（2）と、高分子成形体（3）と、電極（11）とを備える。金属蓋（2）の裏面（2c）は、貫通孔の周囲であって高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第１突起部（51）を備えている。電極（11）の板部の表面（11c）は、貫通孔の周囲であって高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第２突起部（52）を備える。第１突起部（51）及び第２突起部（52）の高さをそれぞれｈ１及びｈ２、第１突起部（51）及び第２突起部（52）間の距離をｄ、高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとしたときに、下記式（１）で表されるα及びβの値が、所定の関係を満たす。α＝（ｈ１＋ｈ２）／Ｈ，β＝ｄ／Ｈ・・・（１）【選択図】図１４
2020187878.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
貫通孔（2a）を有した板状の部材（2）と、
前記貫通孔（2a）の周縁（2b）の全周に沿って設けられた筒部（3a）と、該筒部（3a）に設けられた基部（3b）と、を有した高分子成形体（3）と、
前記筒部（3a）の内周（3g）側に配置された柱部（11a）と、該柱部（11a）に設けられた板部（11b）と、を有した電極（11）と、
を備え、
前記部材（2）の裏面（2c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の表面（3e）と接触しており、
前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の裏面（3f）と接触しており、
前記部材（2）の裏面（2c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第１突起部（51）を備えており、
前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第２突起部（52）を備えており、
前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）の高さをそれぞれｈ１及びｈ２、前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）間の距離をｄ、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとしたときに、下記式（１）で表されるα及びβの値が、下記式（２）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
α＝（ｈ１＋ｈ２）／Ｈ，β＝ｄ／Ｈ  ・・・（１）
【数１】
2020187878.tif 000009
【請求項２】
請求項１において、
前記α及び前記βの値は下記式（３）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
【数２】
2020187878.tif 000010
【請求項３】
請求項２において、
前記α及び前記βの値は下記式（４）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
０．１≦α≦０．７，β≧１．０  ・・・（４）
【請求項４】
請求項２において、
前記α及び前記βの値は下記式（５）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
０．１５≦α≦０．７，β≧０．５  ・・・（５）
【請求項５】
請求項４において、
前記α及び前記βの値は下記式（６）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
０．２≦α≦０．７，０．５≦β≦１０  ・・・（６）
【請求項６】
請求項５において、
前記α及び前記βの値は下記式（７）を満たすことを特徴とする電池の封止構造。
０．２≦α≦０．７，１．０≦β≦５  ・・・（７）
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項において、
前記高分子成形体（3）の原料は、非接着性の樹脂であることを特徴とする電池の封止構造。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１項において、
前記高分子成形体（3）の原料は、フッ素系の樹脂であることを特徴とする電池の封止構造。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項において、
前記電池（10）はリチウムイオン電池であることを特徴とする電池の封止構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、電池の封止構造に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、電池では、電解液等の漏れを抑制する目的で、電極外部端子と封口板との間に絶縁性のガスケットを介在させて封止性を確保することがある（例えば、特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２５１２１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１では、長期使用時の封止構造の耐久性について検討されていない。
【０００５】
本開示は、電池の封止構造において、長期使用に耐える十分な耐久性を確保することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記の課題を解決するため、第１の態様に係る電池の封止構造は、貫通孔（2a）を有した板状の部材（2）と、
前記貫通孔（2a）の周縁（2b）の全周に沿って設けられた筒部（3a）と、該筒部（3a）に設けられた基部（3b）と、を有した高分子成形体（3）と、
前記筒部（3a）の内周（3g）側に配置された柱部（11a）と、該柱部（11a）に設けられた板部（11b）と、を有した電極（11）と、
を備え、
前記部材（2）の裏面（2c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の表面（3e）と接触しており、
前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の裏面（3f）と接触しており、
前記部材（2）の裏面（2c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第１突起部（51）を備えており、
前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第２突起部（52）を備えており、
前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）の高さをそれぞれｈ１及びｈ２、前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）間の距離をｄ、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとしたときに、下記式（１）で表されるα及びβの値が、下記式（２）を満たすことを特徴とする。
【０００７】
α＝（ｈ１＋ｈ２）／Ｈ，β＝ｄ／Ｈ  ・・・（１）
【０００８】
【数１】
2020187878.tif 000003
【０００９】
この構成では、長期使用に耐える十分な耐久性を確保することができる。
【００１０】
第２の態様は、第１の態様において、
前記α及び前記βの値は下記式（３）を満たすことを特徴とする。
【００１１】
【数２】
2020187878.tif 000004
【００１２】
第３の態様は、第２の態様において、
前記α及び前記βの値は下記式（４）を満たすことを特徴とする。
【００１３】
０．１≦α≦０．７，β≧１．０  ・・・（４）
第４の態様は、第２の態様において、
前記α及び前記βの値は下記式（５）を満たすことを特徴とする。
【００１４】
０．１５≦α≦０．７，β≧０．５  ・・・（５）
第５の態様は、第４の態様において、
前記α及び前記βの値は下記式（６）を満たすことを特徴とする。
【００１５】
０．２≦α≦０．７，０．５≦β≦１０  ・・・（６）
第６の態様は、第５の態様において、
前記α及び前記βの値は下記式（７）を満たすことを特徴とする。
【００１６】
０．２≦α≦０．７，１．０≦β≦５  ・・・（７）
第７の態様は、第１〜６の態様のいずれか１項において、
前記高分子成形体（3）の原料は、非接着性の樹脂であることを特徴とする。
【００１７】
第８の態様は、第１〜７の態様のいずれか１項において、
前記高分子成形体（3）の原料は、フッ素系の樹脂であることを特徴とする。
【００１８】
第９の態様は、第１〜８の態様のいずれか１項において、
前記電池（10）はリチウムイオン電池であることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、リチウムイオン電池の封止構造を例示する。
【図２】図２は、金属蓋の底面図を示す。
【図３】図３は、シミュレーションに用いた封止構造の軸対称モデルの断面図を示し、図１の封止構造の拡大図に相当する。
【図４】図４は、図３の符号ＩＶで示す部分の拡大図を示す。
【図５】図５は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率ｈ／Ｈにおける「アスペクト比（ｈ／ｗ）」と１０年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。
【図６】図６は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率ｈ／Ｈにおける「アスペクト比（ｈ／ｗ）」と１０年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。
【図７】図７は、シミュレーションによって得られた、種々の圧縮率ｈ／Ｈにおける「アスペクト比（ｈ／ｗ）」と１０年経過後の「押圧力」との関係を例示する。
【図８】図８は、図４の突起部の変形例を示す。
【図９】図９は、シミュレーションによって得られた、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．６ｍｍの突起部（51）の断面（51a）の輪郭（51b）を正多角形で表現したときの「内角（51c）」と「シール面圧」との関係を例示する。
【図１０】図１０は、シミュレーションによって得られた、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．６ｍｍの突起部（51）の断面（51a）の輪郭（51b）を正多角形で表現したときの「内角（51c）」と「最大主ひずみ」との関係を例示する。
【図１１】図１１は、図４の突起部の変形例を示す。
【図１２】図１２は、シミュレーションによって得られた、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．４ｍｍの突起部のＲの違いによる「経過時間」と「シール面圧」との関係を例示する。
【図１３】図１３は、シミュレーションによって得られた、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．４ｍｍの突起部のＲの違いによる「経過時間」と「最大主ひずみ」との関係を例示する。
【図１４】図１４は、実施形態２の封止構造の図３相当図を示す。
【図１５】図１５は、実験例１のシミュレーションによって得られた、「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。
【図１６】図１６は、実験例１のシミュレーションによって得られた、「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。
【図１７】図１７は、実験例１のシミュレーションによって得られた、「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「押圧力」との関係を例示する。
【図１８】図１８は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「シール面圧」との関係を例示する。
【図１９】図１９は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「最大主ひずみ」との関係を例示する。
【図２０】図２０は、シミュレーションによって得られた、圧縮率の違いによる「ｄ関連値β  （ｄ／Ｈ）」と１０年経過後の「押圧力」との関係を例示する。
【図２１】図２１は、圧縮率αとｄ関連値βとの関係を例示する。
【図２２】図２２は、他の実施形態に係る封止構造の図１相当図である。
【図２３】図２３は、他の実施形態に係る封止構造の図１相当図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
《実施形態１》
〈方向〉
図１，図２に示すように、金属蓋（2）の貫通孔（2a）の軸（A1）方向を貫通方向（A）、径方向を径方向（B）と称する。便宜的に、図１の上側を上側、下側を下側とする。上側及び下側は、それぞれ表側及び裏側ともいう。
【００２１】
〈封止構造〉
図１は、リチウムイオン電池（10）の封止構造（10a）を例示する。封止構造（10a）は、封止部材（1）と、電極（11）とを備える。
【００２２】
〈封止部材の構成〉
封止部材（1）は、前記の部材（2）に該当する金属部材である金属蓋（2）と、高分子成形体（3）とを備えている。金属蓋（2）と高分子成形体（3）とは、非接着状態で互いに固定されている。
【００２３】
−金属蓋−
図２は、金属蓋（2）の底面図を示す。この金属蓋（2）は、例えばアルミニウム等の金属で形成される。この例では、図２に示すように、金属蓋（2）は、貫通孔（2a）を有した板状の部材である。より具体的には、金属蓋（2）は、円形の貫通孔（2a）を有した円形ワッシャ状の形態を有している。
【００２４】
−高分子成形体−
高分子成形体（3）は、図１に示すように、筒状の部分（以下、筒部（3a）という）と、下側の板状の部分（以下、基部（3b）という）と、上側の板状の部分（以下、上部（3c））とを備えている。筒部（3a）は、貫通孔（2a）の周縁（2b）の全周に沿って設けられている。筒部（3a）は、貫通孔（2a）と同軸の孔（3d）を有する。基部（3b）は、筒部（3a）の一端側に設けられている。上部（3c）は、筒部（3a）の他端側に設けられている。高分子成形体（3）は、軸（A1）周りに回転対称な軸対称形状（回転体形状）である。軸対称形状は例示であり、非軸対称形状の高分子成形体（3）でもかまわない。
【００２５】
高分子成形体（3）は、貫通孔（2a）の周縁（2b）に固定されている（図１参照）。具体的に、本実施形態では、インサート成形によって封止部材（1）が形成されている。インサート成形では、成形用の金型内に挿入された金属蓋（2）の周りに、高分子成形体（3）の原料である樹脂が注入されて、金属蓋（2）と高分子成形体（3）とが一体化される。換言すると、金属蓋（2）と高分子成形体（3）とは一体成形品である。この例では、金属蓋（2）と高分子成形体（3）とは、非接着状態で互いに固定されている。この例では、高分子成形体（3）の原料には、フッ素系の樹脂、より具体的には、テトラフルオロエチレンとパーフルオロアルキルビニルエーテルの共重合体（略称：ＰＦＡ）を用いている。高分子成形体（3）の原料としてこの樹脂を採用した理由については後述する。
【００２６】
〈電極の構成〉
電極（11）は、柱状の部分（以下、柱部（11a）という）と、板状の部分（以下、板部（11b）という）とを有する。柱部（11a）は、筒部（3a）の孔（3d）の内周（3g）側に配置されている。板部（11b）は、柱部（11a）の一端側に設けられている。柱部（11a）の他端側には、ワッシャ（以下、外ワッシャ（12）という）が固定されている。図１に示すように、このリチウムイオン電池（10）では、封止部材（1）が外ワッシャ（12）と電極（11）の板部（11b）との間に挟み込まれている。リチウムイオン電池（10）では、この封止部材（1）によって、当該リチウムイオン電池（10）のケーシング（図示を省略）の内部に封入されている電解液（L）が封止される。この封止部材（1）は、大気中からの水分のリチウムイオン電池（10）のケーシングの内部への流入を防止する。
【００２７】
封止部材（1）では、電極（11）と金属蓋（2）とが接触しないように、高分子成形体（3）が両者の間に介在している（図１等を参照）。高分子成形体（3）の原料として採用したＰＦＡは、絶縁性を有している。高分子成形体（3）は、金属蓋（2）と電極（11）とを電気的に絶縁する機能を有している。
【００２８】
〈封止構造のシール機能〉
金属蓋（2）の表面（2d）は、高分子成形体（3）の上部（3c）の裏面（3j）と接触している。金属蓋（2）の裏面（2c）は、高分子成形体（3）の基部（3b）の表面（3e）と接触している。金属蓋（2）の貫通孔（2a）の周縁（2b）は高分子成形体（3）の筒部（3a）の外周（3h）と接触している。これらの接触部分を第１接触部分（S1）と称する。
【００２９】
電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、高分子成形体（3）の基部（3b）の裏面（3f）と接触している。電極（11）の柱部（11a）の外側面（11d）は、高分子成形体（3）の筒部（3a）の孔（3d）の内周（3g）と接触している。外ワッシャ（12）の裏面（12a）は、高分子成形体（3）の上部（3c）の表面（3k）と接触している。これらの接触部分を第２接触部分（S2）と称する。
【００３０】
封止構造（10a）は、２箇所のシール面においてシールを行う。一つ目のシール面は、上述の第１接触部分（S1）である。もう一つのシール面は、上述の第２接触部分（S2）である（図３を参照）。封止構造（10a）では、封止部材（1）が外ワッシャ（12）と板部（11b）に接し、外ワッシャ（12）によって押圧される（図１参照）。封止構造（10a）では、十分なシール性（十分なシール面圧）を発揮できる。
【００３１】
〈突起部〉
図２〜図４に示すように、金属蓋（2）の裏面（2c）には、貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の突起部（51）が形成されている。
【００３２】
本実施形態に係る封止構造（10a）は、突起部（51）のサイズ及び形状に特徴がある。
【００３３】
−突起部のサイズについて−
図３に示すように、突起部（51）の高さ、すなわち突起部（51）の貫通方向（A）の高さをｈとする。突起部（51）の幅、すなわち突起部（51）の径方向（B）の長さをｗとする。高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さ、すなわち貫通方向（A）の高さをＨとする。ｈ／Ｈは、高分子成形体（3）の圧縮率を表している。ｈ／ｗは突起部（51）のアスペクト比である。
【００３４】
以下、圧縮率ｈ／Ｈ及びアスペクト比ｈ／ｗについて、シミュレーションにより検討した結果を説明する。
【００３５】
具体的には、図３に示すように、軸（A1）周りの回転体形状である軸対称モデルを作成した。図３の軸対称モデルについて、圧縮率ｈ／Ｈを変化させたときのアスペクト比ｈ／ｗと、シール面圧（ＭＰａ）、最大主ひずみ、及び押圧力（ｋＮ）との関係を算出した。シミュレーションでは、図４に示す突起部（51）の断面（51a）において、輪郭（51b）は、円弧、又は、円弧及び直線を含む滑らかな曲線である半円形又は半円形に近い形状に設定した（図４及び図１１参照）。断面（51a）において、後述する断面（51a）の面積のｈ・ｗに対する割合が約８０％となるように設定した。シミュレーションでは、電極（11）を固定し、金属蓋（2）に下方向、大きさｈの強制変位を与えた。シミュレーションでは、Ｍｉｓｅｓ降伏条件を満たす弾塑性モデルと修正時間硬化型クリープモデルを用いて、常温締結後、常温にて９０，０００時間（約１０年間）保持した高分子成形体（3）の挙動を求めた。結果を図５〜図７に示す。シミュレーションに用いた数値は以下のとおりである。
ｈ＝０．０６ｍｍ、０．１２ｍｍ、０．１８ｍｍ、０．２４ｍｍ、０．３０ｍｍ、０．３６ｍｍ、０．４２ｍｍ
ｗ＝０．０６ｍｍ、０．１２ｍｍ、０．１８ｍｍ、０．２４ｍｍ、０．３０ｍｍ、０．３６ｍｍ、０．４２ｍｍ
Ｈ＝０．６ｍｍ
ａ＝３．３ｍｍ
ｂ＝０．５ｍｍ
「シール面圧」は、図３に示す第１接触部分（S1）及び第２接触部分（S2）に生じる最大シール面圧のうちで最も小さいものである。例えば、第１接触部分（S1）の最大シール面圧及び第２接触部分（S2）の最大シール面圧のうち小さい方が本明細書における「シール面圧」である。９０，０００時間経過後（本明細書では、「１０年経過後」ともいう。）のシール面圧は、好ましくは１．１ＭＰａ以上、より好ましくは２ＭＰａ以上、特に好ましくは５ＭＰａ以上である。シール面圧が１．１ＭＰａ未満では十分なシール性を確保することができない。
【００３６】
図５に示すように、圧縮率ｈ／Ｈが０．１以上０．７以下の全てのポイントにおいて１０年経過後のシール面圧は１．１ＭＰａ以上となることが判った。図５の結果から、本実施形態の封止構造（10a）では、突起部（51）を設けたことによって十分なシール面圧を得られることが判る。
【００３７】
本実施形態に係る封止構造（10a）では、１０年経過後においても十分なシール面圧が得られることが判ったが、耐久性の観点から、１０年経過後の最大主ひずみについても考慮する必要がある。
【００３８】
本明細書において、「最大主ひずみ」は、高分子成形体（3）に生じる主ひずみの最大値である。１０年経過後の最大主ひずみは、好ましくは１．７以下、より好ましくは１．６以下、特に好ましくは１．５以下であることが望ましい。最大主ひずみが１．７を超えると、高分子成形体（3）の十分な耐久性が確保できない。
【００３９】
図６に示すように、圧縮率ｈ／Ｈの増加に伴い、１０年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。アスペクト比ｈ／ｗが約０．５以上では、アスペクト比ｈ／ｗの増加に伴い、１０年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。アスペクト比ｈ／ｗが約０．５未満では、１０年経過後の最大主ひずみは、いずれの圧縮率ｈ／Ｈにおいても極小値を有する。アスペクト比ｈ／ｗがその極小値より大きい領域では、アスペクト比ｈ／ｗの減少に伴って１０年経過後の最大主ひずみは減少傾向にある。アスペクト比ｈ／ｗがその極小値より小さい領域では、アスペクト比ｈ／ｗの減少に伴って１０年経過後の最大主ひずみは増加傾向にある。
【００４０】
突起部（51）は高分子成形体（3）に局所的な変形をもたらし得るから、押圧力についても考慮することが望ましい。「押圧力」は、金属蓋（2）が高分子成形体（3）を押圧する力である。１０年経過後の押圧力は、限定されるものではないが、好ましくは１ｋＮ以下、より好ましくは０．６ｋＮ以下、特に好ましくは０．３ｋＮ以下である。１０年経過後の押圧力が１ｋＮを超えると、初期の押圧力が大きくなりすぎ、金属蓋（2）が曲げ変形する虞がある。
【００４１】
例えば、図７に示すように、圧縮率ｈ／Ｈが０．５以下では、１０年経過後の押圧力は１ｋＮ以下である。例えば、圧縮率ｈ／Ｈが０．６以上では、アスペクト比ｈ／ｗが約０．４以上であれば、１０年経過後の押圧力は１ｋＮ以下となる。
【００４２】
図５〜図７の結果から、本実施形態に係る封止構造（10a）では、圧縮率ｈ／Ｈは、０．１以上０．７以下、好ましくは０．１５以上０．６５以下、より好ましくは０．２以上０．６以下、特に好ましくは０．２以上０．５５以下、特により好ましくは０．２５以上０．５以下である。圧縮率ｈ／Ｈが０．１未満では、封止構造（10a）の十分なシール性を確保することが困難となる虞がある。圧縮率ｈ／Ｈが０．７超では、封止構造（10a）の十分な耐久性を確保することが困難となる虞がある。
【００４３】
公差、組付け工程の誤差の影響を抑制する観点から、圧縮率ｈ／Ｈの下限値は大きい方が望ましい。
【００４４】
１０年経過後の最大主ひずみを低下させる観点から、圧縮率ｈ／Ｈの上限値は小さい方が望ましい。特に、図６のアスペクト比ｈ／ｗが約０．３近傍における各圧縮率ｈ／Ｈの最大主ひずみの値を比較すると、圧縮率ｈ／Ｈ＝０．１〜０．５の値に比べて圧縮率ｈ／Ｈ＝０．６，０．７では最大主ひずみの値の増加量が大きい。公差、組付け工程の誤差を考えると、全体の設計の安定性を確保する観点から、圧縮率ｈ／Ｈは０．５以下が好ましい。
【００４５】
図５〜図７の結果から、本実施形態に係る封止構造（10a）では、アスペクト比ｈ／ｗは、０．１以上１．０以下、好ましくは０．１以上０．９以下、より好ましくは０．２以上０．８以下、より好ましくは０．２５以上０．７５以下、より好ましくは０．３以上０．７以下、より好ましくは０．３５以上０．６５以下、より好ましくは０．４以上０．６以下である。アスペクト比ｈ／ｗが０．１未満では、１０年経過後において、圧縮率の変化に伴う高分子成形体（3）に生じる最大主ひずみの変化が大きくなりすぎ、封止構造（10a）の設計が不安定となる。アスペクト比ｈ／ｗが１．０超では、１０年経過後において、最大主ひずみが大きくなりすぎ、高分子成形体（3）の十分な耐久性が確保できない虞がある。図５に示すように、アスペクト比ｈ／ｗが小さいほど１０年経過後のシール面圧は増加傾向であるから、この点からも、アスペクト比ｈ／ｗは１．０以下であることが望ましい。長期に亘って十分なシール性及び耐久性を確保する観点から、アスペクト比ｈ／ｗの上限は小さい方が望ましい。１０年経過後の最大主ひずみの値を抑制する観点から、アスペクト比ｈ／ｗの下限値は大きい方が望ましい。圧縮率ｈ／Ｈの変化に対する最大主ひずみの変化の割合を抑制することにより、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を確保する観点から、アスペクト比ｈ／ｗの下限値は大きい方が望ましい。
【００４６】
−突起部の形状について−
図４、図８及び図１１は、突起部（51）の形状の例を示している。
【００４７】
［輪郭］
以下、図４、図８〜図１１を参照して、突起部（51）の輪郭（51b）について説明する。
【００４８】
突起部（51）の断面（51a）において、突起部（51）の輪郭（51b）は、滑らかな曲線及び複数の直線の少なくとも一方である。
【００４９】
本明細書において、滑らかな曲線とは、例えば、円弧（図４参照）、波形、一部直線で繋がれた円弧（図１１参照）等である。輪郭（51b）が複数の直線とは、輪郭（51b）の全体又は一部が多角形の一部からなること（図８参照）等をいう。
【００５０】
以下、図８〜図１０を参照して、輪郭（51b）が複数の直線からなる場合の内角（51c）について説明する。本明細書において、内角（51c）は０°以上３６０°未満の角度を意味する。
【００５１】
突起部（51）の輪郭（51b）として、円形（図４参照）を正多角形（図８参照）で表現したときの、内角（51c）と１０年経過後のシール面圧及び最大主ひずみとの関係をシミュレーションにより求めた。結果を図９及び図１０に示す。
【００５２】
シミュレーションの条件は、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．６ｍｍ、Ｈ＝０．６ｍｍ（圧縮率ｈ／Ｈ＝０．５、アスペクト比ｈ／ｗ＝０．５）とした以外は、上述の図５〜図７のシミュレーションと同一の条件である。
【００５３】
図９に示すように、１０年経過後のシール面圧は、内角（51c）が約１５０°以上で安定的となることが判る。図１０に示すように、１０年経過後の最大ひずみは、内角（51c）が１６０°以上で安定することが判る。シミュレーション結果より、１０年経過後のシール面圧及び最大主ひずみの双方の安定性を確保する観点から、内角（51c）は、１６０°以上であることが望ましいことが判る。
【００５４】
図９及び図１０の結果から、本実施形態に係る封止構造（10a）では、複数の直線の内角（51c）は、１６０°以上３６０°未満である。内角（51c）が１６０°未満では、１０年経過後の最大主ひずみの安定性を確保することが難しくなる。
【００５５】
輪郭（51b）は、滑らかな曲線と内角（51c）が１６０°以上３６０°未満の複数の直線との組合せであってもよい。
【００５６】
［断面積］
以下、図１１〜図１３を参照して、突起部（51）の断面（51a）の面積（本明細書において、突起部（51）の断面積ともいう。）について説明する。
【００５７】
図１１に示すように、突起部（51）の輪郭（51b）を直線と半径Ｒの円弧とにより構成した例を考える。半径Ｒの円弧は、断面（51a）において、突起部（51）の下側の２箇所の角に配置されている。
【００５８】
半径Ｒの大きさを変化させると、削る領域（51d）の大きさが変化し、延いては断面（51a）の面積が変化する。ｈ・ｗに対する削る領域（51d）の大きさの割合（百分率）は、［２（Ｒ２−Ｒ２π／４）／ｈ・ｗ］×１００で表される。ｈ・ｗに対する断面（51a）の面積の割合（百分率）は、［１−２（Ｒ２−Ｒ２π／４）／ｈ・ｗ］×１００で表される。
【００５９】
Ｒの大きさを０．０５から０．２０の範囲で変化させたときの、経過時間とシール面圧及び最大主ひずみとの関係をシミュレーションにより求めた。結果を図１２及び図１３に示す。図１２及び図１３において、右端は１０年経過後に相当する。
【００６０】
シミュレーションの条件は、ｈ＝０．３ｍｍ、ｗ＝０．４ｍｍ、Ｈ＝０．６ｍｍ（圧縮率ｈ／Ｈ＝０．５、アスペクト比ｈ／ｗ＝０．７５）とした以外は、上述の図５〜図７のシミュレーションと同一である。
【００６１】
図１２に示すように、時間経過とともに、全体としてシール面圧は低下傾向であり、Ｒの大きさの違いによるシール面圧の違いは小さくなる。１０年経過後のシール面圧はＲの大きさによらず１０ＭＰａ以上あり、断面（51a）の面積の違いが１０年経過後のシール面圧に与える影響は小さい。
【００６２】
図１３に示すように、Ｒの大きさの違いにより最大主ひずみは大きく異なる。時間経過とともに、全体として最大主ひずみは上昇傾向である。Ｒ≧０．１０であれば、最大主ひずみは、１０年経過後においても１．７以下である。Ｒ≧０．１０を満たす断面（51a）の面積のｈ・ｗに対する割合（百分率）は、９６％以下である。図１３においてＲ≧０．１１であれば、１０年経過後の最大主ひずみは、１．５以下であることが予測される。Ｒ≧０．１１を満たす断面（51a）の面積のｈ・ｗに対する割合（百分率）は、９５％以下である。
【００６３】
突起部（51）の断面積は、ｈとｗとの積で表される値ｈ・ｗの５０％以上９６％以下、好ましくは５０％以上９５％以下である。ｈ・ｗに対する断面（51a）の面積の割合が５０％未満では、断面（51a）の面積が小さすぎ、突起部（51）の先端が細くなりすぎる虞がある。図１３から、突起部（51）の断面（51a）の面積のｈ・ｗに対する割合が９６％超では、１０年経過後における最大主ひずみが１．７を超え、高分子成形体（3）の十分な耐久性が確保できない虞がある。
【００６４】
〈実施形態１の効果〉
本実施形態のリチウムイオン電池（10）の封止構造（10a）は、貫通孔（2a）を有した板状の金属蓋（2）を備える。封止構造（10a）は、前記貫通孔（2a）の周縁（2b）の全周に沿って設けられた筒部（3a）と、該筒部（3a）に設けられた基部（3b）と、を有した高分子成形体（3）を備える。封止構造（10a）は、前記筒部（3a）の内周（3g）側に配置された柱部（11a）と、該柱部（11a）に設けられた板部（11b）と、を有した電極（11）を備える。前記金属蓋（2）の裏面（2c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の表面（3e）と接触している。前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の裏面（3f）と接触している。前記金属蓋（2）の裏面（2c）及び前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）の少なくとも一方は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の突起部（51）を備える。前記突起部（51）の高さをｈ、前記突起部（51）の幅をｗ、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとしたときに、ｈ／Ｈは０．１以上０．７以下であり且つｈ／ｗは０．１以上１．０以下である。前記突起部（51）の断面（51a）において、該突起部（51）の輪郭（51b）は、滑らかな曲線及び内角（51c）が１６０°以上３６０°未満の複数の直線の少なくとも一方である。前記突起部（51）の前記断面（51a）の面積は、前記ｈと前記ｗとの積で表される値ｈ・ｗの５０％以上９６％以下である。
【００６５】
上記構成によれば、例えば１０年という長期に亘る使用に対しても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造（10a）をもたらすことができる。
【００６６】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．１５以上０．６５以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．１以上０．９以下であることが望ましい。
【００６７】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．２以上０．６以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．２以上０．８以下であることが望ましい。
【００６８】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．２以上０．５５以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．２５以上０．７５以下であることが望ましい。
【００６９】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．２５以上０．５以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．３以上０．７以下であることが望ましい。
【００７０】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．３以上０．５以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．３５以上０．６５以下であることが望ましい。
【００７１】
本実施形態の封止構造（10a）において、前記ｈ／Ｈは０．３以上０．５以下であり且つ前記ｈ／ｗは０．４以上０．６以下であることが望ましい。
【００７２】
圧縮率ｈ／Ｈの下限値は大きい方が、公差、組付け工程の誤差の影響を効果的に抑制できる。圧縮率ｈ／Ｈの上限値は小さい方が、１０年経過後の最大主ひずみを効果的に低下できる。特に、圧縮率ｈ／Ｈは０．５以下では、公差、組付け工程の誤差の影響を低減し、全体の設計の安定性を効果的に確保できる。
【００７３】
アスペクト比ｈ／ｗの上限は小さい方が、長期に亘って十分なシール性及び耐久性をより効果的に確保できる。アスペクト比ｈ／ｗの下限値は大きい方が、１０年経過後の最大主ひずみの値を効果的に抑制できる。アスペクト比ｈ／ｗの下限値は大きい方が、圧縮率ｈ／Ｈの変化に対する最大主ひずみの変化の割合を効果的に抑制でき、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を効果的に確保できる。
【００７４】
《実施形態２》
以下、図１４〜図２１を参照して、実施形態２に係るリチウムイオン電池（10）の封止構造（10a）について説明する。
【００７５】
図１４に示すように、実施形態２に係る封止構造（10a）は、突起部（51）を２つ備えている点で、実施形態１の封止構造（10a）と異なる。具体的に、実施形態２の封止構造（10a）は、突起部（51）としての第１突起部（51）及び第２突起部（52）を備える。
【００７６】
〈第１突起部及び第２突起部〉
図１４に示すように、本実施形態に係る封止構造（10a）は、金属蓋（2）の裏面（2c）に設けられた第１突起部（51）を備えている。第１突起部（51）は、図３に示す実施形態１の突起部（51）と同様の構成である。本実施形態に係る封止構造（10a）は、電極（11）の板部（11b）の表面（11c）に設けられた第２突起部（52）を備える。第２突起部（52）は、貫通孔（2a）の周囲に環状に設けられており、高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられている。
【００７７】
−第１突起部及び第２突起部の位置関係−
第２突起部（52）は、第１突起部（51）に比べて、径方向（B）の外側に設けられている。第１突起部（51）及び第２突起部（52）の高さｈを、それぞれｈ１及びｈ２とする。第１突起部（51）及び第２突起部（52）間の距離をｄとする。第１突起部（51）及び第２突起部（52）間の距離ｄは、第１突起部（51）及び第２突起部（52）の頂点間の距離とした。第１突起部（51）及び第２突起部（52）の頂点とは、それぞれ高さｈ１及びｈ２の基準となる点である。高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとする。
【００７８】
本実施形態に係る封止構造（10a）は、下記式（１）で表されるα及びβの値が、所定の関係を満たすことを特徴とする。
【００７９】
α＝（ｈ１＋ｈ２）／Ｈ，β＝ｄ／Ｈ  ・・・（１）
αは、第１突起部（51）及び第２突起部（52）による高分子成形体（3）の「圧縮率」を示している。圧縮率αは理論上０＜α≦２の値を取り得るが、０．１以上１．４以下であることが望ましい。圧縮率αが０．１未満では、突起部の形成が極めて困難となる虞がある。圧縮率αが１．４超では、高分子成形体（3）の形状の変化が大きすぎ、最大主ひずみが大きくなりすぎる虞がある。
【００８０】
βは、第１突起部（51）及び第２突起部（52）間の距離ｄを高分子成形体（3）の厚さＨで除したものである。βは、距離ｄの高分子成形体（3）に対する影響を高分子成形体（3）の厚さＨに関連づけて評価するためのものである。本明細書において、βを便宜的に「ｄ関連値」と称する。
【００８１】
以下、圧縮率α及びｄ関連値βとの関係について、シミュレーションを用いて検討した結果を説明する。
【００８２】
具体的には、図１４の軸対称モデルを作成した。図１４の軸対称モデルは、軸（A1）周りの回転体形状を有する。第１突起部（51）の断面（51a）において、輪郭（51b）は、円弧、又は、円弧及び直線を含む滑らかな曲線である半円形又は半円形に近い形状とした。第１突起部（51）の断面（51a）において、断面（51a）の面積のｈ・ｗに対する割合が約８０％となるように設定した。第２突起部（52）の断面の形状及びサイズは、第１突起部（51）と同一とした。
【００８３】
図１４の軸対称モデルについて、αを一定としたとき及びαを変化させたときのβと１０年経過後のシール面圧（ＭＰａ）、最大主ひずみ、及び押圧力（ｋＮ）との関係を算出した。シミュレーションでは、電極（11）を固定し、金属蓋（2）に下方向、大きさ２ｈ１（＝ｈ１＋ｈ２、但しｈ１＝ｈ２）の強制変位を与えた。シミュレーションでは、Ｍｉｓｅｓ降伏条件を満たす弾塑性モデルと修正時間硬化型クリープモデルを用いて、常温締結後、常温にて１０年間保持した高分子成形体（3）の挙動を求めた。結果を図１５〜図２０に示す。シミュレーションに用いた数値は表１及び以下に示すとおりである。
【００８４】
【表１】
2020187878.tif 000005
【００８５】
ｄ＝０〜２．０ｍｍ、０．１ｍｍ毎
Ｈ＝０．６ｍｍ
ａ＝３．３ｍｍ
ｂ＝０．５ｍｍ
βの変化については以下の（Ａ）〜（Ｃ）の３種類について検討した。
（Ａ）図１４において、第２突起部（52）の位置を固定し、第１突起部（51）の位置を内側から外側に向かって移動させることにより、ｄの値を減少させてβの値を減少させる。
（Ｂ）図１４において、第１突起部（51）の位置を固定し、第２突起部（52）の位置を外側から内側に向かって移動させることにより、ｄの値を減少させてβの値を減少させる。
（Ｃ）図１４において、第１突起部（51）の位置を内側から外側、第２突起部（52）の位置を外側から内側に向かって移動させることにより、ｄの値を減少させてβの値を減少させる。
【００８６】
図１５〜図１７は、例示として、表１に示す実験例１のシミュレーション結果である。
【００８７】
図１５及び図１７に示すように、１０年経過後のシール面圧及び押圧力は、上記（Ｃ）が上記（Ａ）及び（Ｂ）の中間程度の値を示すことが判る。図１６に示すように、１０年経過後の最大主ひずみは、（Ａ）〜（Ｃ）の違いによらず、同様の挙動を示していることが判る。限定する意図ではないが、上記（Ｃ）を採用することが、１０年経過後のシール面圧、最大主ひずみ、及び押圧力に対するβの影響を検討する上で望ましいと考えられる。
【００８８】
図１８〜図２０は、上記（Ｃ）の場合について、実験例１〜５のシミュレーション結果をまとめたものである。
【００８９】
図１８に示すように、いずれの実験例においても、１０年経過後のシール面圧は５ＭＰａ以上となっており、十分なシール性を有することが判る。各実験例を比較すると、実験例１〜３では圧縮率αによらずシール面圧はほぼ同様の値を示している。実験例４，５では、圧縮率αが増加するにつれてシール面圧も増加する。実験例１〜５のいずれにおいても、βが増加するにつれて１０年経過後のシール面圧は安定化する。
【００９０】
図１９に示すように、圧縮率αが１の実験例５では、ｄ関連値βが０．９以下では、１０年経過後の最大主ひずみが１．７を超えると考えられる。圧縮率αが０．８の実験例４では、ｄ関連値βが０．２５以下で、最大主ひずみが１．７を超えると考えられる。最大主ひずみの数値を考慮すると、最大主ひずみが１．７以下の条件を満たす圧縮率α及びｄ関連値βの範囲があると考えられる。
【００９１】
実験例１〜５のシミュレーションにより得られた結果から、圧縮率αとｄ関連値βとの関係を図示すると図２１となる。
【００９２】
圧縮率αが０．１以上０．７以下の範囲では、ｄ関連値βは０以上であればよい。圧縮率αが０．７超１．４以下の範囲では、ｄ関連値βは、図２１中符号Ｘで表される直線上か当該直線よりも上の領域の値であればよい。直線Ｘは、β＝０．５＋５（α−０．７）／３＝（５α−２）／３で表される。これらをまとめると、α及びβの許容範囲は、下記式（２）の範囲、すなわち図２１のうちドットで示す範囲となる。
【００９３】
【数３】
2020187878.tif 000006
【００９４】
圧縮率αは、公差、組付け工程の誤差の影響を低減させる観点からは、大きい方が望ましく、好ましくは０．１５以上、より好ましくは０．２以上である。圧縮率αは、最大主ひずみを低減させる観点からは、小さい方が望ましく、好ましくは１以下である。
【００９５】
押圧力は、上述したように、１ｋＮ以下であることが望ましい。図２０を参照すると、圧縮率αが１の実験例５では、押圧力は、ｄ関連値βの値によらず、約１ｋＮか、１ｋＮを超えている。圧縮率αが０．８の実験例４では、押圧力は、ｄ関連値βの値によらず、１ｋＮを下回っている。圧縮率αは、押圧力を低減させる観点からは、０．８以下であることが望ましい。圧縮率αは、最大主ひずみ及び押圧力を低減させる観点からは、０．７以下であることがより好ましい。
【００９６】
図１８，図１９を参照すると、シール面圧及び最大主ひずみは、ｄ関連値βが大きいほど安定傾向にある。公差、組付け工程における誤差の影響を低減させて、全体の設計の安定性を確保する観点からは、ｄ関連値βは、好ましくは０．５以上、より好ましくは１．０以上である。ｄ関連値βは、限定されるものではないが、電極（11）の大きさと第１突起部（51）及び第２突起部（52）の機能とのバランスを考慮すると、１０以下であることが好ましい。ｄ関連値βは、上記バランスに加え、さらに高分子成形体（3）のコンパクト性を考慮すると、５以下であることがより好ましい。
【００９７】
〈実施形態２の効果〉
本実施形態に係るリチウムイオン電池（10）の封止構造（10a）は、貫通孔（2a）を有した金属蓋（2）を備える。封止構造（10a）は、前記貫通孔（2a）の周縁（2b）の全周に沿って設けられた筒部（3a）と、該筒部（3a）に設けられた基部（3b）と、を有した高分子成形体（3）を備える。前記筒部（3a）の内周（3g）側に配置された柱部（11a）と、該柱部（11a）に設けられた板部（11b）と、を有した電極（11）を備える。前記金属蓋（2）の裏面（2c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の表面（3e）と接触している。前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の裏面（3f）と接触している。前記金属蓋（2）の裏面（2c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第１突起部（51）を備えている。前記電極（11）の板部（11b）の表面（11c）は、前記貫通孔（2a）の周囲であって該高分子成形体（3）の基部（3b）に向かって凸状に設けられた環状の第２突起部（52）を備える。前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）の高さをそれぞれｈ１及びｈ２、前記第１突起部（51）及び前記第２突起部（52）間の距離をｄ、前記高分子成形体（3）の基部（3b）の厚さをＨとしたときに、下記式（１）で表されるα及びβの値が、下記式（２）を満たす。
【００９８】
α＝（ｈ１＋ｈ２）／Ｈ，β＝ｄ／Ｈ  ・・・（１）
【００９９】
【数４】
2020187878.tif 000007
【０１００】
α及びβを、上記式（２）で表される領域の範囲内とすることにより、長期に亘る使用に対しても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造（10a）をもたらすことができる。
【０１０１】
本実施形態に係る封止構造（10a）において、前記α及び前記βの値は、好ましくは下記式（３）、より好ましくは下記式（４）又は式（５）、特に好ましくは下記式（６）、特により好ましくは下記式（７）を満たすことが望ましい。これにより、１０年経過後においても、十分なシール性及び耐久性を有する封止構造（10a）をもたらすことができる。
【０１０２】
【数５】
2020187878.tif 000008
【０１０３】
０．１≦α≦０．７，β≧１．０  ・・・（４）
０．１５≦α≦０．７，β≧０．５  ・・・（５）
０．２≦α≦０．７，０．５≦β≦１０  ・・・（６）
０．２≦α≦０．７，１．０≦β≦５  ・・・（７）
《その他の実施形態》
封止構造（10a）の用途は、リチウムイオン電池には限定されない。封止構造（10a）は、リチウムイオン電池以外の、例えば鉛蓄電池、ニッケルカドミウム電池、ナトリウム硫黄電池、ナトリウムイオン電池等の二次電池にも適用できる。封止構造（10a）は、非水電解液二次電池に好適である。
【０１０４】
高分子成形体（3）の原料（ＰＦＡ）は例示である。高分子成形体（3）用の原料として、ＰＦＡ以外のフッ素系の樹脂の採用が可能であるし、フッ素系の樹脂とは異なる種類の樹脂及びポリマー組成物の採用も可能である。フッ素系の樹脂としては、上述のＰＦＡに加え、ポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）、テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロエチレン共重合体（ＦＥＰ）、エチレンテトラフルオロエチレン共重合体（ＥＴＦＥ）、テトラフルオロエチレン−クロロトリフルオロエチレン−パフルオロビニルエーテル共重合体、エチレン−テトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロプロピレン共重合体、ポリフッ化ビニリデン（ＰＶＤＦ）、フッ化ビニリデンーテトラフルオロエチレン−ヘキサフルオロエチレン共重合体等が例示される。フッ素系の樹脂とは異なる種類の樹脂及びポリマー組成物としては、ポリエチレン系の樹脂、ポリアミド系の樹脂、ポリエステル系の樹脂、ポリウレタン樹脂、ゴム類等が例示される。ポリエチレン系の樹脂は、例えばリニア低密度ポリエチレン（ＬＬＰＥ）、低密度ポリエチレン（ＬＰＥ）、高密度ポリエチレン（ＨＤＰＥ）、エチレン−酢酸ビニル共重合体（ＥＶＡ）等である。ポリアミド系の樹脂は、例えばＰＡ６、ＰＡ１２、ＰＡ６６等である。ポリエステル系の樹脂は、例えばポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）等である。ゴム類は、例えばブチルゴム（イソブチエン・イソプレンゴム（ＩＩＲ））、エチレン・プロピレンゴム（ＥＰＭ）、エチレン・プロピレン・ジエンゴム（ＥＰＤＭ）、ウレタンゴム（Ｕ）、シリコーンゴム（Ｓｉ，Ｑ）、フッ素ゴム（ＦＫＭ）等である。高分子成形体（3）の原料として、上記例示の樹脂及びポリマー組成物の１種又は２種以上を採用することができる。
【０１０５】
高分子成形体（3）の原料は、非接着性の樹脂及び非接着性のポリマー組成物であることが望ましい。
【０１０６】
封止部材（1）の耐久性能を向上させる観点から、高分子成形体（3）用原料の「破断伸び」を、より望ましくは１５０％以上、更に望ましくは２００％以上とするのがよい。
【０１０７】
金属蓋（2）は、円板状のものには限定されないし、貫通孔（2a）も円形には限定されない。例えば、金属蓋（2）の外形は方形であってもよい。
【０１０８】
金属蓋（2）の貫通孔（2a）も例えば方形であってもよい（この場合は、高分子成形体（3）も貫通方向（A）から見ると方形である）。
【０１０９】
部材（2）として、金属蓋（2）を例示したが、金属蓋（2）は、金属以外の材料のものに置き換えてもよい。一例として、樹脂の蓋の採用も可能である。
【０１１０】
金属蓋（2）の材料としてアルミニウムを例示したが、金属蓋（2）の材料は、封止構造（10a）の用途などに応じて適宜選択すればよい。金属蓋（2）の材料としては、例えば、上述のアルミニウムに加え、アルミニウム合金、銅、銅合金、鉄、ステンレススチール、ニッケル等の金属を採用できる。
【０１１１】
封止部材（1）はインサート成形以外の方法により製造されてもよい。金属蓋（2）と高分子成形体（3）とは一体成形品でなくてもよい。高分子成形体（3）は、分割構造を有していてもよい。図２２及び図２３は、分割構造の例を示している。図２２に示す高分子成形体（3）では、筒部（3a）、基部（3b）及び上部（3c）が、分割面（PL1,PL2）で互いに分割され、３つの部品により構成されている。図２３に示す高分子成形体（3）では、筒部（3a）が分割面（PL3）で分割され、２つの部品により構成されている。２つの部品は、筒部（3a）の下側部分と基部（3b）とを含む部品、及び、筒部（3a）の上側部分と上部（3c）とを含む部品である。高分子成形体（3）に分割構造を採用する場合には、分割されてなる複数の部分をそれぞれ異なる材料で形成してもよい。こうすることで、種々のバリエーション展開が可能になる。分割されてなる複数の部分は互いの分割面において非接着状態であってもよいし、接着状態であってもよい。
【０１１２】
実施形態１の突起部（51）は、電極（11）の板部（11b）の表面（11c）に設けられていてもよい。突起部（51）は、金属蓋（2）の裏面（2c）及び電極（11）の板部（11b）の表面（11c）のいずれか又は両方のそれぞれに複数設けられていてもよい。実施形態２は、金属蓋（2）の裏面（2c）及び電極（11）の板部（11b）の表面（11c）の両方に１つずつ突起部（51）（第１突起部（51）及び第２突起部（52））が設けられた一例である。実施形態２では、図１４に示すように、第１突起部（51）が第２突起部（52）よりも径方向（B）内側に配置される構成であったが、第１突起部（51）が第２突起部（52）よりも径方向（B）外側に配置される構成であってもよい。
【０１１３】
以上、実施形態および変形例を説明したが、特許請求の範囲の趣旨および範囲から逸脱することなく、形態や詳細の多様な変更が可能なことが理解されるであろう。以上の実施形態および変形例は、本開示の対象の機能を損なわない限り、適宜組み合わせたり、置換したりしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１１４】
本開示は、電池の封止構造について有用である。
【符号の説明】
【０１１５】
２        金属蓋（部材）
２ａ      貫通孔
２ｂ      周縁
２ｃ      （金属蓋の）裏面（部材の裏面）
３        高分子成形体
３ａ      筒部
３ｂ      基部
３ｅ      （基部の）表面
３ｆ      （基部の）裏面
３ｇ      内周
１０      リチウムイオン電池（電池）
１１      電極
１１ａ    柱部
１１ｂ    板部
１１ｃ    （板部の）表面
５１      突起部、第１突起部
５１ａ    断面
５１ｂ    輪郭
５１ｃ    内角
５２      第２突起部（突起部）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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