(57)【要約】【課題】操作性を向上させること。【解決手段】実施形態に係るＸ線診断装置は、制御部と、保存部とを備える。制御部は、被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御する。保存部は、前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存する。【選択図】図１
2020130757.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御する制御部と、
前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存する保存部と、
を備える、Ｘ線診断装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記被検体に対する一連の撮像における前記機構系の配置を前記関連情報と比較し、前記関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置での撮像において、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態が前記関連情報にて関連付けられた状態となるように制御する、請求項１に記載のＸ線診断装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記被検体に対する一連の撮像における前記機構系の配置が前記関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態を前記関連情報にて関連付けられた状態に制御する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記被検体に対する一連の撮像における前記機構系の配置が前記関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、前記機構系の配置の変化に追従して、前記関連情報にて関連付けられた状態において前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方が挿入された領域に対して前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方が挿入されるように制御する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記被検体に対する一連の撮像において、前記機構系の配置が前記関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタを退避させる、請求項１〜４のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記被検体に対する一連の撮像において、前記機構系の配置が前記関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態を継続させる、請求項１〜４のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項７】
前記被検体に対する一連の撮像において収集された位置ごとのＸ線画像を合成した合成Ｘ線画像を生成する生成部と、
前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態が制御されて収集された部分Ｘ線画像と、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方が挿入された領域に対応する合成Ｘ線画像の領域とを合成した合成画像を出力させる出力部と、
をさらに備える、請求項２〜６のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項８】
前記保存部は、前記Ｘ線を照射するＸ線管及び前記Ｘ線を検出するＸ線検出器を支持するアーム及び前記被検体が横臥する天板を含む機構系の配置と、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を前記記憶部に保存する、請求項１〜７のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項９】
前記保存部は、自動位置決め機能で決定された機構系の配置と、当該機構系の配置で設定されたＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を前記記憶部に保存する、請求項１〜８のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記Ｘ線を照射するＸ線管と前記被検体との距離に応じて、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態を調整する、請求項１〜９のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項１１】
前記制御部は、前記被検体に対する撮像において、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方を撮像領域に挿入して透視する部分透視モードと、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタを退避して透視する通常透視モードとを制御し、
前記保存部は、前記部分透視モードにおいて、前記関連情報を前記記憶部に保存する、請求項１〜１０のいずれか１つに記載のＸ線診断装置。
【請求項１２】
前記部分透視モードを実行させるための第１のスイッチと、前記通常透視モードを実行させるための第２のスイッチとを有する入力部をさらに備える、請求項１１に記載のＸ線診断装置。
【請求項１３】
被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御する制御部と、
前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存し、前記関連情報に含まれる機構系の配置において、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態が変更されるごとに、前記記憶部における関連情報を更新する保存部と、
を備える、Ｘ線診断装置。
【請求項１４】
被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御し、
前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存する、
各処理をコンピュータに実行させる、制御プログラム。
【請求項１５】
被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御し、
前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存し、
前記関連情報に含まれる機構系の配置において、前記Ｘ線絞り及び前記フィルタのうち少なくとも一方の状態が変更されるごとに、前記記憶部における関連情報を更新する、
各処理をコンピュータに実行させる、制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置及び制御プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、Ｘ線診断装置においては、Ｘ線の照射範囲を絞り込むＸ線絞りや、曝射されるＸ線を調節するフィルタによって被曝低減が行われている。このようなＸ線絞りやフィルタを用いた被曝低減の技術としては、例えば、部分透視と呼ばれるＸ線撮像技術が知られている。部分透視では、比較的広範囲に透視をした後、より小さな範囲の関心領域（ＲＯＩ／Ｒｅｇｉｏｎ  Ｏｆ  Ｉｎｔｅｒｅｓｔ）を設定し、関心領域における透視像（「部分透視像」や「ＲＯＩ透視像」等と呼ぶことがある）をラストイメージホールド（ＬＩＨ／Ｌａｓｔ  Ｉｍａｇｅ  Ｈｏｌｄ）画像等と合成して表示する。
【０００３】
ＬＩＨ画像は、部分透視用関心領域の周囲（背景）の状態を示す静止画像であり、部分透視前の透視における最後の画像（フレーム）である。部分透視では、このようなＬＩＨ画像等を背景として利用しつつ、特に注目する範囲に絞って透視を継続するので、必要のない部分にＸ線を照射せずに済み、被検体の被曝量の低減が可能となる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−７０９８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明が解決しようとする課題は、操作性を向上させることである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施形態に係るＸ線診断装置は、制御部と、保存部とを備える。制御部は、被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御する。保存部は、前記Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報を記憶部に保存する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成の一例を示す図である。
【図２】図２は、第１の実施形態にかかる機構系の一例を示す図である。
【図３】図３は、第１の実施形態に係る保存機能による処理の一例を説明するための図である。
【図４】図４は、第１の実施形態に係る保存機能によって生成される関連情報の一例を示す図である。
【図５】図５は、第１の実施形態に係る制御機能による処理を説明するための図である。
【図６Ａ】図６Ａは、第１の実施形態に係る制御機能によるＸ線絞り器の制御の一例を示す図である。
【図６Ｂ】図６Ｂは、第１の実施形態に係る制御機能によるＸ線絞り器の制御の一例を示す図である。
【図７】図７は、第１の実施形態に係る制御機能による処理の一例を説明するための図である。
【図８】図８は、第１の実施形態に係る生成機能によって生成される合成Ｘ線画像の一例を示す図である。
【図９】図９は、第１の実施形態に係る制御機能による制御の一例を説明するための図である。
【図１０】図１０は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、その他の実施形態に係る保存機能によって生成される関連情報の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、Ｘ線診断装置及び制御プログラムの実施形態について詳細に説明する。なお、本願に係るＸ線診断装置及び制御プログラムは、以下に示す実施形態によって限定されるものではない。
【０００９】
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０の構成の一例を示す図である。図１に示すように、Ｘ線診断装置１０は、Ｘ線高電圧装置１０１と、Ｘ線管１０２と、Ｘ線絞り器１０３と、天板１０４と、Ｃアーム１０５と、Ｘ線検出器１０６と、メモリ１０７と、ディスプレイ１０８と、入力インターフェース１０９と、処理回路１１０とを備える。
【００１０】
Ｘ線高電圧装置１０１は、処理回路１１０による制御の下、Ｘ線管１０２に高電圧を供給する。例えば、Ｘ線高電圧装置１０１は、変圧器（トランス）及び整流器等の電気回路を有し、Ｘ線管１０２に印加する高電圧を発生する高電圧発生装置と、Ｘ線管１０２が照射するＸ線に応じた出力電圧の制御を行うＸ線制御装置とを有する。なお、高電圧発生装置は、変圧器方式であってもよいし、インバータ方式であってもよい。
【００１１】
Ｘ線管１０２は、熱電子を発生する陰極（フィラメント）と、熱電子の衝突を受けてＸ線を発生する陽極（ターゲット）とを有する真空管である。Ｘ線管１０２は、Ｘ線高電圧装置１０１から供給される高電圧を用いて、陰極から陽極に向けて熱電子を照射することにより、Ｘ線を発生する。
【００１２】
Ｘ線絞り器１０３は、Ｘ線管１０２により発生されたＸ線の照射範囲を絞り込むＸ線絞りと、Ｘ線管１０２から曝射されたＸ線を調節するフィルタとを有する。
【００１３】
Ｘ線絞り器１０３におけるＸ線絞りは、例えば、スライド可能な４枚の絞り羽根を有する。Ｘ線絞りは、絞り羽根をスライドさせることで、Ｘ線管１０２が発生したＸ線を絞り込んで被検体Ｐに照射させる。ここで、絞り羽根は、鉛などで構成された板状部材であり、Ｘ線の照射範囲を調整するためにＸ線管１０２のＸ線照射口付近に設けられる。
【００１４】
Ｘ線絞り器１０３におけるフィルタは、被検体Ｐに対する被曝線量の低減とＸ線画像データの画質向上を目的として、その材質や厚みによって透過するＸ線の線質を変化させ、被検体Ｐに吸収されやすい軟線成分を低減したり、Ｘ線画像データのコントラスト低下を招く高エネルギー成分を低減したりする。また、フィルタは、その材質や厚み、位置などによってＸ線の線量及び照射範囲を変化させ、Ｘ線管１０２から被検体Ｐへ照射されるＸ線が予め定められた分布になるようにＸ線を減衰させる。
【００１５】
例えば、Ｘ線絞り器１０３は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１０による制御の下、駆動機構を動作させることによりＸ線の照射を制御する。例えば、Ｘ線絞り器１０３は、処理回路１１０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、Ｘ線絞りの絞り羽根の開度を調整して、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。また、例えば、Ｘ線絞り器１０３は、処理回路１１０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、フィルタの位置を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の線量の分布を制御する。
【００１６】
天板１０４は、被検体Ｐを載せるベッドであり、図示しない寝台の上に配置される。なお、被検体Ｐは、Ｘ線診断装置１０に含まれない。例えば、寝台は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、天板１０４の移動・傾斜を制御する。例えば、寝台は、処理回路１１０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、天板１０４を移動させたり、傾斜させたりする。
【００１７】
Ｃアーム１０５は、Ｘ線管１０２及びＸ線絞り器１０３と、Ｘ線検出器１０６とを、被検体Ｐを挟んで対向するように保持する。例えば、Ｃアーム１０５は、モータ及びアクチュエータ等の駆動機構を有し、後述する処理回路１１０による制御の下、駆動機構を動作させることにより、回転したり移動したりする。例えば、Ｃアーム１０５は、処理回路１１０から受け付けた制御信号に応じて駆動電圧を駆動機構に付加することにより、Ｘ線管１０２及びＸ線絞り器１０３と、Ｘ線検出器１０６とを被検体Ｐに対して回転・移動させ、Ｘ線の照射位置や照射角度を制御する。なお、図１では、Ｘ線診断装置１０がシングルプレーンの場合を例に挙げて説明しているが、実施形態はこれに限定されるものではなく、バイプレーンの場合であってもよい。
【００１８】
Ｘ線検出器１０６は、例えば、マトリクス状に配列された検出素子を有するＸ線平面検出器（Flat  Panel  Detector：ＦＰＤ）である。Ｘ線検出器１０６は、Ｘ線管１０２から照射されて被検体Ｐを透過したＸ線を検出して、検出したＸ線量に対応した検出信号を処理回路１１０へと出力する。なお、Ｘ線検出器１０６は、グリッド、シンチレータアレイ及び光センサアレイを有する間接変換型の検出器であってもよいし、入射したＸ線を電気信号に変換する半導体素子を有する直接変換型の検出器であっても構わない。
【００１９】
メモリ１０７は、例えば、ＲＡＭ、フラッシュメモリ等の半導体メモリ素子、ハードディスク、光ディスク等により実現される。例えば、メモリ１０７は、処理回路１１０によって収集されたＸ線画像データを受け付けて記憶する。また、メモリ１０７は、処理回路１１０の処理によって生成される関連情報や、マップ像などを記憶する。なお、関連情報及びマップ像については、後に詳述する。
【００２０】
また、メモリ１０７は、処理回路１１０によって読み出されて実行される各種機能に対応するプログラムを記憶する。なお、メモリ１０７は、Ｘ線診断装置１０とネットワークを介して接続されたサーバ群（クラウド）により実現されることとしてもよい。また、メモリ１０７は、記憶部の一例である。
【００２１】
ディスプレイ１０８は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ１０８は、処理回路１１０による制御の下、操作者の指示を受け付けるためのＧＵＩや、各種のＸ線画像（例えば、部分透視像等）を表示する。例えば、ディスプレイ１０８は、液晶ディスプレイやＣＲＴディスプレイである。なお、ディスプレイ１０８はデスクトップ型でもよいし、処理回路１１０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。
【００２２】
入力インターフェース１０９は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路１１０に出力する。例えば、入力インターフェース１０９は、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチスクリーン、光学センサを用いた非接触入力回路、音声入力回路等により実現される。例えば、入力インターフェース１０９は、部分透視モードを実行するためのスイッチや、通常透視モードを実行するためのスイッチを含む。なお、入力インターフェース１０９は、入力部の一例である。
【００２３】
ここで、入力インターフェース１０９は、処理回路１１０と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。また、入力インターフェース１０９は、マウスやキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、Ｘ線診断装置１０とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路１１０へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース１０９の例に含まれる。
【００２４】
処理回路１１０は、制御機能１１０ａ、出力機能１１０ｂ、保存機能１１０ｃ及び生成機能１０ｄを実行することで、Ｘ線診断装置１０全体の動作を制御する。ここで、制御機能１１０ａは、制御部の一例である。また、出力機能１１０ｂは、出力部の一例である。また、保存機能１１０ｃは、保存部の一例である。また、生成機能１１０ｄは、生成部の一例である。
【００２５】
例えば、処理回路１１０は、メモリ１０７から制御機能１１０ａに相当するプログラムを読み出して実行することにより、Ｘ線画像データを収集する。例えば、制御機能１１０ａは、Ｘ線高電圧装置１０１を制御し、Ｘ線管１０２に供給する電圧を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線量やオン／オフを制御する。
【００２６】
また、例えば、制御機能１１０ａは、Ｘ線絞り器１０３の動作を制御し、Ｘ線絞りが有する絞り羽根の開度を調整することで、被検体Ｐに対して照射されるＸ線の照射範囲を制御する。具体的には、制御機能１１０ａは、Ｘ線絞りにおける複数の絞り羽根をスライドさせることにより、複数の絞り羽根で形成される開口部の形状、サイズ、位置を任意に変化させることができる。例えば、制御機能１１０ａは、入力インターフェース１０９を介してユーザが設定したＲＯＩのみにＸ線が照射されるように、絞り羽根をスライド移動させる。すなわち、制御機能１１０ａは、ユーザによって指定されたＲＯＩの形状、サイズ及び位置となるように、絞り羽根をスライド移動させる。
【００２７】
また、制御機能１１０ａは、Ｘ線絞り器１０３の動作を制御し、フィルタの位置を調整することで、Ｘ線の線量の分布を制御する。例えば、制御機能１１０ａは、入力インターフェース１０９を介してユーザが設定した位置にフィルタを移動させて、Ｘ線の線量の分布を制御する。また、制御機能１１０ａは、Ｃアーム１０５の動作を制御することで、Ｃアーム１０５を回転させたり、移動させたりする。また、例えば、制御機能１１０ａは、寝台の動作を制御することで、天板１０４を移動させたり、傾斜させたりする。
【００２８】
なお、制御機能１１０ａは、メモリ１０７によって記憶される関連情報に基づいて、Ｘ線絞りにおける絞り羽根の位置や、フィルタの位置を制御することができる。この点については、後に詳述する。
【００２９】
また、制御機能１１０ａは、Ｘ線検出器１０６から受信した検出信号に基づいて投影データを生成し、生成した投影データをメモリ１０７に格納する。また、制御機能１１０ａは、メモリ１０７が記憶する投影データに対して各種画像処理を行なうことで、Ｘ線画像を生成する。また、制御機能１１０ａは、Ｘ線画像に対して、例えば、画像処理フィルタによるノイズ低減処理や、散乱線補正を実行する。また、制御機能１１０ａは、回転撮影によって収集した投影データを用いてボリュームデータを再構成し、再構成したボリュームデータからＸ線画像を生成する。
【００３０】
また、処理回路１１０は、メモリ１０７から出力機能１１０ｂに相当するプログラムを読み出して実行することにより、ディスプレイ１０８にＧＵＩやＸ線画像を表示させる。例えば、出力機能１１０ｂは、制御機能１１０ａの制御によって収集された部分透視像などをディスプレイ１０８に表示させる。
【００３１】
図１に示すＸ線診断装置１０においては、各処理機能がコンピュータによって実行可能なプログラムの形態でメモリ１０７へ記憶されている。処理回路１１０は、メモリ１０７からプログラムを読み出して実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路１１０は、読み出したプログラムに対応する機能を有することとなる。なお、図１においては、制御機能１１０ａ、出力機能１１０ｂ、保存機能１１０ｃ及び生成機能１０ｄの各処理機能が単一の処理回路１１０によって実現される場合を示したが、実施形態はこれに限られるものではない。例えば、処理回路１１０は、複数の独立したプロセッサを組み合わせて構成され、各プロセッサが各プログラムを実行することにより各処理機能を実現するものとしても構わない。また、処理回路１１０が有する各処理機能は、単一又は複数の処理回路に適宜に分散又は統合されて実現されてもよい。
【００３２】
上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＧＰＵ（Graphics  Processing  Unit）、あるいは、特定用途向け集積回路（Application  Specific  Integrated  Circuit：ＡＳＩＣ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple  Programmable  Logic  Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex  Programmable  Logic  Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field  Programmable  Gate  Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサはメモリ１０７に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。
【００３３】
なお、図１においては、メモリ１０７が各処理機能に対応するプログラムを記憶するものとして説明した。しかしながら、複数のメモリ１０７を分散して配置し、処理回路１１０は、個別のメモリ１０７から対応するプログラムを読み出す構成としても構わない。また、メモリ１０７にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。
【００３４】
以上、Ｘ線診断装置１０の全体構成について説明した。かかる構成のもと、Ｘ線診断装置１０は、処理回路１１０による処理によって、操作性を向上させる。具体的には、Ｘ線診断装置１０は、Ｘ線絞り器１０３が制御された状態でＸ線画像が収集されるごとに、Ｘ線絞り器１０３の状態と、Ｘ線画像を収集するための機構系の配置とを関連付けて保存することで、同様の配置で再度Ｘ線画像を収集する際に、ユーザによるＸ線絞り器１０３の設定を省略させ、操作性を向上させることを可能にする。
【００３５】
ここで、本実施形態に係るＸ線診断装置１０における機構系について説明する。機構系は、被検体における撮像位置を設定するために、被検体を移動させたり、Ｘ線管１０２を移動させたりする可動部である。図２は、第１の実施形態にかかる機構系の一例を示す図である。例えば、機構系は、図２に示すように、被検体が載置される天板１０４と、Ｘ線管１０２及びＸ線検出器１０６を保持するＣアーム１０５と、Ｃアーム１０５を支持する支持器とを有する。
【００３６】
例えば、Ｃアーム１０５は、天板１０４を挟んで対向する位置にＸ線管１０２とＸ線検出器１０６とをそれぞれ支持する。そして、Ｃアーム１０５は、図２に示すように、水平方向を回転軸として矢印３１の方向に回転可能に軸支される。すなわち、Ｃアーム１０５が矢印３１の方向に回転することで、Ｘ線管１０２及びＸ線検出器１０６が矢印３４の方向に回転することとなる。ここで、支持器は、鉛直方向を回転軸として矢印３２の方向に回転可能に構成される。すなわち、Ｃアーム１０５は、支持器によって、鉛直方向を回転軸として矢印３２の方向に回転可能に軸支される。さらに、Ｃアーム１０５は、図２に示すように、矢印３３の方向にスライド移動することができる。さらに、支持器は、矢印３５に沿って床回転可能に構成される。
【００３７】
また、天板１０４は、図２に示すように、長手方向、短手方向、及び、上下方向にそれぞれ移動可能に構成される。なお、図示していないが、天板１０４は、長手方向及び短手方向に傾けることも可能である。
【００３８】
制御機能１１０ａは、上述したように機構系を種々の方向に移動させることで、天板１０４上に横臥する被検体の種々の位置に対して様々な角度からＸ線を曝射させることができ、被検体の種々の位置における様々な角度のＸ線画像を収集することができる。
【００３９】
本実施形態に係るＸ線診断装置１０では、Ｘ線絞り器１０３を制御してＸ線画像を収集した際に、Ｘ線絞り器１０３の状態と機構系の配置とを関連付けて記憶する。具体的には、制御機能１１０ａがＸ線絞り器１０３のＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方を制御した状態でＸ線画像を収集した場合に、保存機能１１０ｃは、当該Ｘ線画像を収集した際のＸ線絞り器１０３の状態と機構系の配置とを関連付けた関連情報を生成する。そして、保存機能１１０ｃは、生成した関連情報をメモリ１０７に保存する。すなわち、保存機能１１０ｃは、Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報をメモリ１０７に保存する。
【００４０】
図３は、第１の実施形態に係る保存機能１１０ｃによる処理の一例を説明するための図である。ここで、図３においては、部分透視が実行された際の関連情報の生成について示す。例えば、図３に示すように、制御機能１１０ａが、まず、全ての絞り羽根を全開にした状態の撮像領域である撮像可能領域Ｒ１においてＸ線画像を収集する。その後、制御機能１１０ａが、撮像可能領域Ｒ１に対して４枚の絞り羽根をそれぞれ挿入した状態の撮像領域である撮像領域Ｒ２において部分透視像を収集すると、保存機能１１０ｃは、部分透視像が収集されている際の機構系の配置と、４枚の絞り羽根の状態とを関連付けた関連情報を生成する。そして、保存機能１１０ｃは、生成した関連情報をメモリ１０７に保存する。また、保存機能１１０ｃは、撮像可能領域Ｒ１において収集されたＸ線画像を、各関連情報にさらに関連付けて保存することもできる。
【００４１】
ここで、保存機能１１０ｃは、Ｘ線絞り器１０３の状態が変更されるごとに、メモリ１０７における関連情報を更新する。すなわち、保存機能１１０ｃは、関連情報に含まれる機構系の配置において、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態が変更されるごとに、メモリ１０７における関連情報を更新する。例えば、図３に示す撮像可能領域Ｒ１の位置が変化することなく、撮像領域Ｒ２の位置やサイズが変更された場合に、保存機能１１０ｃは、保存済みの関連情報における４枚の絞り羽根の状態を、変更後の４枚の絞り羽根の状態に更新する。
【００４２】
ここで、保存機能１１０ｃは、機構系の配置ごとに関連情報を生成する場合でもよいが、撮像可能領域Ｒ１ごとに関連情報を生成する場合でもよい。すなわち、保存機能１１０ｃは、機構系の配置が変化した場合でも撮像可能領域Ｒ１の位置が実質変化しない場合に、変更前後の機構系の配置に対して１つの関連情報をメモリ１０７に格納する。
【００４３】
なお、図３における部分透視では、例えば、出力機能１１０ｂが、撮像可能領域Ｒ１において収集された過去画像（ＬＩＨ画像等）と、撮像領域Ｒ２において収集された部分透視像とを合成した合成画像をディスプレイ１０８にて表示させる。すなわち、出力機能１１０ｂは、撮像領域Ｒ２における部分透視像が収集されるごとに、合成画像における部分透視像の領域を新たに収集された部分透視像に更新した動画像をディスプレイ１０８にて表示させる。また、上述した例では、Ｘ線絞りのみを制御してＸ線画像を収集する部分透視について説明したが、実施形態はこれに限定されるものではなく、フィルタのみ、或いは、Ｘ線絞りとフィルタの両方が制御されてＸ線画像が収集されるその他の撮像の場合でもよい。
【００４４】
上述したように、保存機能１１０ｃは、Ｘ線絞り器１０３が制御された撮像において、関連情報を生成する。以下、関連情報の一例について、図４を用いて説明する。図４は、第１の実施形態に係る保存機能１１０ｃによって生成される関連情報の一例を示す図である。例えば、保存機能１１０ｃは、図４に示すように、機構系とＸ線絞り器とを対応付けた関連情報を生成する。ここで、保存機能１１０ｃによって生成される関連情報は、例えば撮像系の情報に、「寝台」における「位置」及び「傾き」と、「アーム」における「ＬＡＯ（Left  Anterior  Oblique）／ＲＡＯ（Right  Anterior  Oblique）」及び「ＣＲＡ（CRANIAL）／ＣＡＵ（CAUDAL）」と、「Ｘ線検出器」における「回転角度」と、「Ｘ線管」における「位置」が含まれる。
【００４５】
ここで、「寝台」における「位置」とは、天板１０４の長手方向、短手方向及び高さ方向の位置を示す。上述したように、天板１０４は、被検体が載置された状態で長手方向、短手方向及び高さ方向に移動可能である。保存機能１１０ｃは、撮像時のこれらの情報を取得して、関連情報に格納する。また、「寝台」における「傾き」とは、天板１０４の長手方向及び短手方向の傾きを示す。上述したように、天板１０４は、被検体が載置された状態で長手方向及び短手方向に傾けることが可能である。保存機能１１０ｃは、撮像時のこれらの情報を取得して、関連情報に格納する。
【００４６】
また、「アーム」における「ＬＡＯ／ＲＡＯ」とは、Ｃアーム１０５のラテラル方向の角度を示す。また、「アーム」における「ＣＲＡ／ＣＡＵ」とは、Ｃアーム１０５の頭足方向の角度を示す。保存機能１１０ｃは、撮像時のこれらの情報を取得して、関連情報に格納する。
【００４７】
また、「Ｘ線検出器」における「回転角度」とは、Ｘ線検出器１０６の回転角度を示す。図２において説明したように、Ｘ線検出器１０６は、矢印３６の方向に回転することができる。保存機能１１０ｃは、撮像時のこの情報を取得して、関連情報に格納する。
【００４８】
また、「Ｘ線管」における「位置」とは、Ｃアーム１０５に支持された状態でのＸ線管１０２の位置を示す。保存機能１１０ｃは、撮像時のこの情報を取得して、関連情報に格納する。
【００４９】
また、「Ｘ線絞り器」における「Ｘ線絞り」とは、Ｘ線しぼりに含まれる絞り羽根の状態を示す。例えば、「Ｘ線絞り器」における「Ｘ線絞り」には、４枚の絞り羽根それぞれの開閉状態（開度）が保存される。また、「Ｘ線絞り器」における「フィルタ」とは、Ｘ線の線質を調整するフィルタの移動後の位置を示す。保存機能１１０ｃは、撮像時のこれらの情報を取得して、機構系の情報と関連付けた関連情報に格納する。
【００５０】
保存機能１１０ｃは、被検体に対する一連の撮像において、機構系の配置ごと（撮像位置ごと）に、図４に示すような関連情報を生成して、メモリ１０７に保存する。なお、図４に示す関連情報はあくまでも一例であり、実施形態はこれに限定されるものではない。すなわち、機構系の配置の情報として、その他種々の情報を含む場合でもよく、図４に示す情報の一部が省略される場合でもよい。
【００５１】
上述したように、保存機能１１０ｃによって関連情報がメモリ１０７に格納されると、制御機能１１０ａは、関連情報を参照してＸ線絞り器１０３を制御する。具体的には、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置を関連情報と比較し、関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置での撮像において、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態が関連情報にて関連付けられた状態となるように制御する。
【００５２】
例えば、被検体に対する一連の撮像において、操作者は、１度ＲＯＩを設定して部分透視を実行した後に、その他の撮像部位に対する位置合せや、一時的な退避の目的で、機構系を操作する（例えば、天板１０４や、Ｃアームを移動させる）ことがある。このような場合、例えば、機構系の移動中の視野を確保するために、操作者は、Ｘ線絞り器１０３を退避させる。そして、再度、同一のＲＯＩの部分透視を実行する際には、操作者は、ＲＯＩの再設定を行う。このように、Ｘ線絞り器１０３を制御した一連の撮像においては、機構系を操作するごとに操作者がＸ線絞り器１０３も操作することとなり、操作者に負荷がかかり、操作性が低下する。
【００５３】
そこで、本実施形態では、制御機能１１０ａが、関連情報を参照し、機構系の配置に応じてＸ線絞り器１０３を自動制御することで、操作者の負荷を低減し、操作性を向上させる。すなわち、制御機能１１０ａは、関連情報が記憶されている機構系の配置（撮像領域の位置）において、再度撮像が実施される際に、Ｘ線絞り器１０３の状態を関連情報に記憶された状態となるように制御する。
【００５４】
図５は、第１の実施形態に係る制御機能１１０ａによる処理を説明するための図である。ここで、図５においては、被検体における２つの領域においてＲＯＩが設定されて部分透視像が収集された場合について示す。例えば、被検体に対する一連の撮像において、図５に示す２つの撮像領域で部分透視像が収集されると、保存機能１１０ｃは、図５の左側の図に示す過去撮像領域１における関連情報と過去撮像領域２における関連情報をそれぞれ生成して、メモリ１０７に格納する。
【００５５】
その後、操作者によって機構系が操作されて、過去撮像領域１及び過去撮像領域２に対応する機構系の配置ではなくなると、制御機能１１０ａは、図５の右側の図に示すように、絞り羽根を退避させることでＸ線絞りが全開の状態となるように制御する。すなわち、制御機能１１０ａは、図５の右側の図に示すように、撮像領域Ｒ２の形状及びサイズが撮像可能領域Ｒ１と同一となるように、Ｘ線絞りを制御する。
【００５６】
そして、操作者が引き続き機構系を操作して、過去撮像領域１に対応する機構系の配置となると、制御機能１１０ａは、過去撮像領域１の関連情報に含まれるＸ線絞りの状態となるように絞り羽根を制御する。また、操作者が引き続き機構系を操作して、過去撮像領域２に対応する機構系の配置となると、制御機能１１０ａは、過去撮像領域２の関連情報に含まれるＸ線絞りの状態となるように絞り羽根を制御する。
【００５７】
ここで、機構系の操作は、操作者によって実行されるため、制御機能１１０ａは、ある程度のずれを考慮して、機構系の配置が関連情報に記憶されている配置（撮像領域の位置）に近づいた場合に、Ｘ線絞り器１０３の状態を制御する。具体的には、制御機能１１０ａは、機構系の配置が機構系の配置が関連情報に記憶されている配置に近づいたか否かを判定し、近づいたと判定した場合に、Ｘ線絞り器１０３の状態を制御する。
【００５８】
例えば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態を関連情報にて関連付けられた状態に制御する。図６Ａは、第１の実施形態に係る制御機能１１０ａによるＸ線絞り器１０３の制御の一例を示す図である。なお、図６Ａでは、図５における過去撮像領域１における部分透視像を再度収集する際の処理について示す。
【００５９】
例えば、制御機能１１０ａは、図６Ａの上段の図に示すように、過去撮像領域１に対して制御対象領域Ｒ３を設定する。ここで、制御対象領域Ｒ３は、例えば、撮像可能領域Ｒ１より周囲５ｃｍ程度大きく設定される。そして、制御機能１１０ａは、入力インターフェース１０９を介して移動されている機構系の移動情報（例えば、天板１０４の移動情報）に基づいて、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入ったか否かを判定する。すなわち、制御機能１１０ａは、機構系の配置が、制御対象領域Ｒ３に含まれる位置を撮像することが可能となる配置となったか否かを判定する。
【００６０】
ここで、制御機能１１０ａは、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入った場合に、図６Ａの下段に示すように、過去撮像領域１におけるＸ線絞りの状態と同一になるように、絞り羽根を制御する。なお、制御機能１１０ａは、撮像可能領域Ｒ１の全てが制御対象領域Ｒ３に入った場合に、Ｘ線絞り器３を制御する場合でもよく、或いは、撮像可能領域Ｒ１の一部が制御対象領域Ｒ３に入った場合に、Ｘ線絞り器３を制御する場合でもよい。操作者は、図６Ａの下段に示すように絞り羽根が挿入された状態で収集される部分透視画像を参照しながら、撮像領域Ｒ２が過去撮像領域１と略同一の位置となるように、機構系を操作する。なお、制御機能１１０ａは、図６Ａの上段の図に示すように、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入るまで、Ｘ線絞りの開度を全開にした状態を継続させる。
【００６１】
また、例えば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、機構系の配置の変化に追従して、関連情報にて関連付けられた状態においてＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が挿入された領域に対してＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が挿入されるように制御する。図６Ｂは、第１の実施形態に係る制御機能１１０ａによるＸ線絞り器１０３の制御の一例を示す図である。なお、図６Ｂでは、図５における過去撮像領域１における部分透視像を再度収集する際の処理について示す。
【００６２】
例えば、制御機能１１０ａは、図６Ｂの上段の図に示すように、過去撮像領域１に対して制御対象領域Ｒ３を設定する。ここで、制御対象領域Ｒ３は、例えば、撮像可能領域Ｒ１より周囲５ｃｍ程度大きく設定される。そして、制御機能１１０ａは、入力インターフェース１０９を介して移動されている機構系の移動情報（例えば、天板１０４の移動情報）に基づいて、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入ったか否かを判定する。すなわち、制御機能１１０ａは、機構系の配置が、制御対象領域Ｒ３に含まれる位置を撮像することが可能となる配置となったか否かを判定する。
【００６３】
ここで、制御機能１１０ａは、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入った場合に、過去撮像領域１に相当する領域以外に絞り羽根が挿入されるように制御する。例えば、制御機能１１０ａは、図６Ｂの中段に示すように、撮像可能領域Ｒ１において過去撮像領域１と重なっている領域のみが撮像領域Ｒ２となるように、絞り羽根を挿入する。そして、制御機能１１０ａは、図６Ｂの下段に示すように、機構系の移動に追従して、撮像可能領域Ｒ１において過去撮像領域１と重ねっている領域のみが撮像領域Ｒ２となるように、絞り羽根の状態を徐々に変化させる。操作者は、図６Ａの下段に示すように絞り羽根が挿入された状態で収集される部分透視画像を参照しながら、撮像領域Ｒ２が過去撮像領域１と略同一の位置となるように、機構系を操作する。なお、制御機能１１０ａは、図６Ａの上段の図に示すように、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入るまで、Ｘ線絞りの開度を全開にした状態を継続させる。
【００６４】
上述したように、制御機能１１０ａは、機構系の配置に応じて、Ｘ線絞り器１０３の状態を制御する。ここで、上述した例では、撮像可能領域Ｒ１が制御対象領域Ｒ３に入ったか否かを判定する２次元の判定について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、撮像空間における撮像対象部位の位置が過去の撮像における位置と略同一となるように、機構系が配置されているか否かを判定する場合でもよい。
【００６５】
図７は、第１の実施形態に係る制御機能１１０ａによる処理の一例を説明するための図である。例えば、図７に示すように、制御機能１１０ａは、Ｃアーム１０５を移動させている際に、撮像空間における被写体（撮像対象部位）の位置が過去の撮像空間における位置と略同一となるＣアーム１０５の幾何学的な配置となっているか否かを判定する。そして、制御機能１１０ａは、Ｃアーム１０５の配置が、撮像空間における被写体の位置が過去の撮像空間における位置と略同一となる配置となっている場合に、Ｘ線絞りや、フィルタの状態を制御する。
【００６６】
上述したように、制御機能１１０ａがＸ線絞り器１０３を制御してＸ線画像を収集すると、出力機能１１０ｂは、収集されたＸ線画像と過去画像とを合成した合成画像をディスプレイ１０８に表示させる。ここで、合成画像の生成に用いられる過去画像は、過去画像同士が合成された合成Ｘ線画像が用いられる場合でもよい。
【００６７】
かかる場合には、まず、生成機能１１０ｄが、被検体に対する一連の撮像によって収集されたＸ線画像を用いて合成Ｘ線画像を生成する。具体的には、生成機能１１０ｄは、被検体の位置ごとに収集されたＸ線画像を位置情報に基づいて合成することで、合成Ｘ線画像を生成する。ここで、Ｘ線画像における位置情報は、例えば、各Ｘ線画像が収集された際の機構系の配置でもよく、或いは、各Ｘ線画像に含まれる解剖学的な特徴点でもよい。
【００６８】
図８は、第１の実施形態に係る生成機能１１０ｄによって生成される合成Ｘ線画像の一例を示す図である。例えば、生成機能１１０ｄは、図８に示すように、被検体の各位置から収集された複数の過去画像を位置情報に基づいて合成した合成Ｘ線画像を生成する。一例を挙げると、生成機能１１０ｄは、Ｘ線絞りを全開にした状態で機構系が移動されることで収集される各位置のＸ線画像を用いて合成Ｘ線画像を生成する。なお、合成Ｘ線画像において、各位置のＸ線画像間で重複する領域については、いずれかの画像の該当領域が用いられる。
【００６９】
そして、生成機能１１０ｄは、生成した合成Ｘ線画像に位置情報を関連付けてメモリ１０７に格納する。出力機能１１０ｂは、収集された部分透視像の位置情報（ＲＯＩの位置情報）に基づいて、絞り羽根が挿入された領域の位置を特定する。そして、出力機能１１０ｂは、特定した位置の領域に対応する領域を合成Ｘ線画像から抽出し、抽出した合成Ｘ線画像の領域と、収集された部分透視像とを合成した合成画像をディスプレイ１０８に表示させる。
【００７０】
一例を挙げると、出力機能１１０ｂは、図６Ａや、図６Ｂにおいて絞り羽根が挿入された領域に対応する領域を合成Ｘ線画像から抽出し、抽出した領域を撮像領域Ｒ２の部分透視像と合成した合成画像を表示させる。出力機能１１０ｂは、制御対象領域Ｒ３において撮像領域Ｒ２が移動するごとに上述した処理を実行することで、機構系の配置が変化するごとに、部分透視像及びその周辺の画像が変化する合成画像を表示させることができる。
【００７１】
また、上述した例では、機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、Ｘ線絞り及びフィルタを退避させる場合について説明した。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではなく、例えば、機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外でも、Ｘ線絞り器１０３の状態を維持する場合でもよい。かかる場合には、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像において、機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態を継続させる。
【００７２】
図９は、第１の実施形態に係る制御機能１１０ａによる制御の一例を説明するための図である。例えば、制御機能１１０ａは、図９に示すように、絞り羽根の開度を維持した状態で、撮像領域Ｒ２を移動させることができる。この場合にも、合成Ｘ線画像がメモリ１０７に記憶されていれば、出力機能１１０ｂは、絞り羽根が挿入された領域に対応する領域を合成Ｘ線画像から抽出し、抽出した領域を撮像領域Ｒ２の部分透視像と合成した合成画像を表示させることができる。
【００７３】
なお、上述した実施形態では、機構系の配置を変更している際にも、撮像を継続している場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、機構系の配置を変更している際に、撮像を停止させる場合でもよい。かかる場合においても、Ｘ線絞り器１０３は退避される場合でもよく、或いは、制御された状態が継続される場合でもよい。
【００７４】
上述したように、制御機能１１０ａは、機構系の配置に応じて、Ｘ線絞り器１０３の状態を制御する。さらに、制御機能１１０ａは、Ｘ線絞りを挿入した際に、開度に応じて自動輝度補正を実行することができる。例えば、Ｘ線絞りの開度が小さく場合（小さいＲＯＩが設定された場合）輝度が低下するため、制御機能１１０ａは、部分透視像における輝度を上げる処理を実行する。一例を挙げると、制御機能１１０ａは、Ｘ線管１０２から照射されるＸ線の線量を増加させる、或いは、部分透視像における表示ゲインを上げることで、部分透視像の輝度を上げる。
【００７５】
また、上述した実施形態では、関連情報に機構系の配置と、Ｘ線絞り器１０３の状態、過去画像とを対応付けてメモリ１０７に保存する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、さらに、Ｘ線条件が対応付けられる場合でもよい。すなわち、保存機能１１０ｃは、Ｘ線絞り器１０３を制御した際のＸ線条件を関連情報にさらに対応付けて格納する。制御機能１１０ａは、関連情報に対応付けられたＸ線条件に基づいて、Ｘ線画像を収集する。
【００７６】
また、部分透視像が参照される場合には、透視ロードマップ機能が利用される場合もある。ここで、機構系が操作されて撮像領域の位置が変化した場合、部分透視像に重畳された血管像の表示を継続すると、その後のＸ線画像の視認性が低下する。そこで、出力機能１１０ｂは、透視ロードマップ機能が利用された状態で、撮像領域の位置が変更された場合に、血管像の重畳表示を解除する。
【００７７】
また、上述した実施形態では、部分透視像を生成した際に、保存機能１１０ｃが関連情報を生成する処理を実行する場合について説明した。ここで、部分透視と通常透視は、モードを切り替えるためのスイッチによって識別させることができる。例えば、保存機能１１０ｃは、部分透視モードを実行するためのスイッチと通常透視モードを実行するためのスイッチのいずれかが押下されたかを判定することにより、部分透視と通常透視を識別することができる。
【００７８】
次に、図１０を用いて、Ｘ線診断装置１０による処理の手順の一例を説明する。図１０は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０の処理の流れを示すフローチャートである。なお、図１０においては、部分透視像が生成される際の処理について示す。ステップＳ１０１〜Ｓ１０２、Ｓ１０４、Ｓ１０７〜Ｓ１１０は、処理回路１１０が、制御機能１１０ａに対応するプログラムを読み出して実行することにより実現されるステップである。ステップＳ１０３、Ｓ１０５は、処理回路１１０が、保存機能１１０ｃに対応するプログラムを読み出して実行することにより実現されるステップである。ステップＳ１０６は、処理回路１１０が、出力機能１１０ｂ及び保存機能１１０ｃに対応するプログラムを読み出して実行することにより実現されるステップである。
【００７９】
第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０においては、処理回路１１０が、透視が開始されたか否かを判定する（ステップＳ１０１）。ここで、透視が開始されると（ステップＳ１０１肯定）、処理回路１１０は、透視像を収集して（ステップＳ１０２）、部分透視モードのスイッチが押下されたか否かを判定する（ステップＳ１０３）。なお、透視が開始されるまで、処理回路１１０は待機状態である（ステップＳ１０１否定）。
【００８０】
ステップＳ１０３において部分透視モードのスイッチが押下されていない場合（ステップＳ１０３否定）、すなわち、通常透視モードのスイッチが押下された場合、処理回路１１０は、入力インターフェース１０９を介して操作者が受け付けた操作に応じてＸ線絞り器１０３を制御して、透視像を収集する（ステップＳ１０４）。
【００８１】
一方、ステップＳ１０３において部分透視モードのスイッチが押下された場合（ステップＳ１０３肯定）、処理回路１１０は、部分透視像が収集されたか否かを判定する（ステップＳ１０５）。ここで、部分透視像が収集されると（ステップＳ１０５肯定）、処理回路１１０は、透視像と部分透視像とを合成して表示するとともに、機構系の配置とＸ線絞り器の状態とを関連付けてメモリ１０７に保存する（ステップＳ１０６）。なお、部分透視像が収集されるまで、処理回路１１０は待機状態である（ステップＳ１０５否定）。
【００８２】
そして、ステップＳ１０６において関連情報を保存すると、処理回路１１０は、撮像領域が変更されたか否かを判定する（ステップＳ１０７）。ここで、撮像領域が変更された場合（ステップＳ１０７肯定）、処理回路１１０は、Ｘ線絞り器１０３の制御を解除して（ステップＳ１０８）、機構系の配置が保存済みの状態となったか否かを判定する（ステップＳ１０９）。
【００８３】
ここで、機構系の配置が保存済みの状態となった場合（ステップＳ１０９肯定）、処理回路１１０は、Ｘ線絞り器１０３を対応する状態に制御する（ステップＳ１１０）。なお、ステップＳ１０７においては、撮像領域が変更されるまで、処理回路１１０は、Ｓ１０６における表示を継続する（ステップＳ１０７否定）。また、ステップＳ１０９においては、機構系の配置が保存済みの状態となるまで、透視像の表示を継続する（ステップＳ１０９否定）。
【００８４】
上述したように、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対してＸ線を照射させ、Ｘ線画像の収集を制御する。保存機能１１０ｃは、Ｘ線画像の収集時の機構系の配置と、当該Ｘ線画像の収集時におけるＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報をメモリ１０７に保存する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、関連情報に基づいてＸ線絞り器１０３を制御することができ、操作者の負荷を低減して、操作性を向上させることを可能にする。
【００８５】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置を関連情報と比較し、関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置での撮像において、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態が関連情報にて関連付けられた状態となるように制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、関連情報に基づいてＸ線絞り器１０３を制御することを可能にする。
【００８６】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態を関連情報にて関連付けられた状態に制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、過去の撮像領域に対して正確に合わせることなく、Ｘ線絞り器１０３を制御することができ、Ｘ線絞り器１０３の自動制御を容易に行うことを可能にする。
【００８７】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像における機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に近似した場合に、機構系の配置の変化に追従して、関連情報にて関連付けられた状態においてＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が挿入された領域に対してＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が挿入されるように制御する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、過去のＲＯＩの形状と同一の形状となるように機構系を操作することで、過去の撮像領域と略同一位置の撮像領域の決定とＲＯＩの設定を同時に行うことを可能にする。
【００８８】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像において、機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、Ｘ線絞り及びフィルタを退避させる。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、操作者による機構系の操作に合わせて、Ｘ線絞り器１０３が自動的に動き、操作者は、常にあたかも全面透視を実施しているような広い視野の画像で診断を行うことを可能にする。
【００８９】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する一連の撮像において、機構系の配置が関連情報に含まれる機構系の配置に相当する配置以外の場合に、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態を継続させる。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、被曝量を低減させることを可能にする。
【００９０】
また、第１の実施形態によれば、生成機能１１０ｄは、被検体に対する一連の撮像において収集された位置ごとのＸ線画像を合成した合成Ｘ線画像を生成する。出力機能１１０ｂは、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態が制御されて収集された部分Ｘ線画像と、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が挿入された領域に対応する合成Ｘ線画像の領域とを合成した合成画像を出力させる。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、広範囲にわたって広い視野の画像を観察させることを可能にする。
【００９１】
また、第１の実施形態によれば、保存機能１１０ｃは、Ｘ線を照射するＸ線管１０２及びＸ線を検出するＸ線検出器１０６を支持するＣアーム１０５及び被検体が横臥する天板１０４を含む機構系の配置と、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報をメモリ１０７に保存する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、機構系の種々の配置に対して関連情報を生成することができ、種々の状況での操作性を向上させることを可能にする。
【００９２】
また、第１の実施形態によれば、制御機能１１０ａは、被検体に対する撮像において、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方を撮像領域に挿入して透視する部分透視モードと、Ｘ線絞り及びフィルタを退避して透視する通常透視モードとを制御する。保存機能１１０ｃは、部分透視モードにおいて、関連情報をメモリ１０７に保存する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、部分透視モードでの操作性を向上させることを可能にする。
【００９３】
また、第１の実施形態によれば、入力インターフェース１０９は、部分透視モードを実行させるための第１のスイッチと、通常透視モードを実行させるための第２のスイッチとを有する。従って、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、どちらのモードであるかを容易に識別することを可能にする。
【００９４】
（その他の実施形態）
さて、これまで第１の実施形態について説明したが、上述した第１の実施形態以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。
【００９５】
上述した実施形態では、機構系の配置とＸ線絞り器１０３の状態とを関連付けた関連情報を生成して保存する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、オートポジショニング機能（自動位置決め機能）における各位置にＸ線絞り器１０３の状態を関連付けた関連情報を生成して保存する場合でもよい。ここで、オートポジショニング機能とは、番号や画像情報などから、特定の天板、Ｃアームの位置を再現する機能である。
【００９６】
図１１は、その他の実施形態に係る保存機能１１０ｃによって生成される関連情報の一例を示す図である。ここで、図１１における「オートポジショニング番号」は、機構系における特定の配置を一意に識別するための番号であり、「１」、「２」、「３」などの各番号が、特定の機構系の配置をそれぞれ示す。
【００９７】
また、図１１における「Ｘ線絞り器」の「Ｘ線絞り」とは、Ｘ線しぼりに含まれる絞り羽根の状態を示す。例えば、「Ｘ線絞り器」における「Ｘ線絞り」には、４枚の絞り羽根それぞれの開閉状態（開度）が保存される。また、「Ｘ線絞り器」における「フィルタ」とは、Ｘ線の線質を調整するフィルタの移動後の位置を示す。
【００９８】
その他の実施形態に係る保存機能１１０ｃは、図１１に示すように、オートポジショニング番号とＸ線絞り器とを対応付けた関連情報を生成する。ここで、図１１に示す関連情報は、各オートポジショニング番号に対して、Ｘ線絞り器１０３の固定の状態が対応付けられる場合でもよい。また、図１１に示す関連情報は、各オートポジショニング番号において、最後に操作されたＸ線絞り器１０３の状態が対応付けられる場合でもよい。
【００９９】
制御機能１１０ａは、オートポジショニング番号が選択されて、オートポジショニング機能が実行された場合に、選択された番号に対応する状態となるように、Ｘ線絞り器１０３を制御する。
【０１００】
このように、その他の実施形態に係る保存機能１１０ｃは、オートポジショニング機能で決定された機構系の配置と、当該機構系の配置で設定されたＸ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態とを関連付けた関連情報をメモリ１０７に保存する。これにより、その他の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、オートポジショニング機能においても、Ｘ線絞り器１０３を自動で制御することを可能にする。
【０１０１】
また、上述した実施形態では、天板１０４や、Ｃアーム１０５の移動に応じて、Ｘ線絞り器１０３の状態を変化させる場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、例えば、Ｘ線管１０２から被写体までの距離に応じて、Ｘ線絞り器１０３の状態を変化させる場合でもよい。
【０１０２】
かかる場合には、制御機能１１０ａは、例えば、天板１０４の高さ方向の移動や、Ｘ線管１０２の移動により、Ｘ線管１０２から被写体までの距離が変化すると、距離の変化に応じて、Ｘ線絞りの開度を調整する。一例を挙げると、制御機能１１０ａは、Ｘ線管１０２から被写体までの距離が短くなった場合、撮像部位が拡大されるため、距離が変化する前のＲＯＩに含まれていた撮像部位の領域を含むように、Ｘ線絞りの開度を広げる。
【０１０３】
一方、Ｘ線管１０２から被写体までの距離が長くなった場合、撮像部位が縮小されるため、制御機能１１０ａは、距離が変化する前のＲＯＩに含まれていた撮像部位の領域にＲＯＩが設定されるように、Ｘ線絞りの開度を閉じる。
【０１０４】
このように、その他の実施形態に係る制御機能１１０ａは、Ｘ線を照射するＸ線管１０２と被検体との距離に応じて、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方の状態を調整する。これにより、その他の実施形態に係るＸ線診断装置１０は、Ｘ線管１０２から被写体までの距離に変化が生じた場合でも、適切なＲＯＩを自動で設定することを可能にする。
【０１０５】
また、上述した実施形態では、関連情報に保存するＸ線絞り器１０３の状態として、Ｘ線絞り及びフィルタのうち少なくとも一方が撮像可能領域内に挿入されている場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、Ｘ線絞り及びフィルタがともに撮像可能領域内に挿入されていない状態が関連情報に保存される場合でもよい。
【０１０６】
また、上述した実施形態では、透視が実行される際に関連情報を保存する場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、撮影が実行される際に関連情報を保存する場合であってもよい。例えば、同一の撮像部位に対して透視と撮像が実行され、それぞれでＸ線絞り器１０３の状態が異なる場合に、保存機能１１０ｃは、透視でのＸ線絞り器１０３の状態及び撮影でのＸ線絞り器１０３の状態を、機構系の配置に対応付けた関連情報を生成する。
【０１０７】
制御機能１１０ａは、その後の撮像において、透視が実行されているか、或いは、撮影が実行されているかに基づいて、Ｘ線絞り器１０３の状態を制御する。
【０１０８】
また、上述した実施形態では、Ｘ線診断装置１０がシングルプレーンである場合について説明した。しかしながら、実施形態はこれに限定されるものではなく、Ｘ線診断装置１０がバイプレーンの場合でもよい。かかる場合には、保存機能１１０ｃは、アームごとに関連情報を生成して、メモリ１０７に格納する。
【０１０９】
上述した実施形態に係る各装置の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各装置の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。更に、各装置にて行われる各処理機能は、その全部又は任意の一部が、ＣＰＵ及び当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現されうる。
【０１１０】
また、上述した実施形態で説明した制御方法は、予め用意された制御プログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することによって実現することができる。この制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。また、この制御プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク（ＦＤ）、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な非一過性の記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行することもできる。
【０１１１】
以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、操作性を向上させることができる。
【０１１２】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【０１１３】
１０  Ｘ線診断装置
１０９  入力インターフェース
１１０  処理回路
１１０ａ  制御機能
１１０ｂ  出力機能
１１０ｃ  保存機能
１１０ｄ  生成機能
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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