(57)【要約】【課題】本発明は、回路構成に依存せず、好適に診断手法を制御することにより、コストの増加を招くことなく異常を診断する仕組みを提供する。【解決手段】本異常診断装置であって、コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板を備える。また、本異常診断装置は、第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの診断モードの指示に応じて、診断モードに応じた波形を第１基板へ出力する第２基板を備える。第１基板は、異常診断を行う回路に応じて、診断モードを選択して異常診断を指示するＣＰＵを備える。また、第１基板は、ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路のＲＣフィルタ及びバッファＩＣを通過した第２基板からの出力波形を検知し、検知した出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣを備える。【選択図】  図３
2020106503.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
異常診断装置であって、
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、
前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの診断モードの指示に応じて、該診断モードに応じた波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備え、
前記第１基板は、
異常診断を行う回路に応じて、前記診断モードを選択して異常診断を指示するＣＰＵと、
前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタ及び前記バッファＩＣを通過した前記第２基板からの出力波形を検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣと
を備えることを特徴とする異常診断装置。
【請求項２】
前記診断モードには、前記第２基板からの前記出力波形に応じたパルスの立ち上がりタイミングを検知する第１診断モードと、前記第２基板からの前記出力波形に応じたパルスのパルス幅を検知する第２診断モードとが含まれることを特徴とする請求項１に記載の異常診断装置。
【請求項３】
前記第２診断モードは、通常時と異常時とでパルスの立ち上がりタイミングに差異がでない回路の異常診断を行う場合に選択されることを特徴とする請求項２に記載の異常診断装置。
【請求項４】
前記制御ＩＣは、検知した前記出力波形の測定値が、設計値の０．８倍より大きく、かつ、設計値の１．２倍より小さい範囲内であれば正常と判断し、それ以外の場合には異常と判断することを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の異常診断装置。
【請求項５】
異常診断装置であって、
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、
前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの異常診断の指示に応じて、所定の波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備え、
前記第１基板は、
異常診断を行う回路に応じて、サンプリング周波数を選択して異常診断を指示するＣＰＵと、
前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタを通過した前記第２基板からの出力波形であって、前記バッファＩＣへ入力される前の出力波形を、前記サンプリング周波数を用いてアナログ的に検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣと
を備えることを特徴とする異常診断装置。
【請求項６】
前記サンプリング周波数は、異常診断を行う回路に含まれる前記ＲＣフィルタの時定数に応じて選択されることを特徴とする請求項５に記載の異常診断装置。
【請求項７】
前記制御ＩＣは、検知した前記出力波形の立ち上がり時間が、設計値の０．８倍より大きく、かつ、設計値の１．２倍より小さい範囲内であれば正常と判断し、それ以外の場合には異常と判断することを特徴とする請求項５又は６に記載の異常診断装置。
【請求項８】
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、
前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの診断モードの指示に応じて、該診断モードに応じた波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備える異常診断装置の異常診断方法であって、
前記第１基板において、
異常診断を行う回路に応じて、前記診断モードを選択して異常診断を指示する工程と、
前記異常診断の指示に従って、計時を開始する工程と、
所定の回路の前記ＲＣフィルタ及び前記バッファＩＣを通過した前記第２基板からの出力波形を検知する工程と、
検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する工程と
を含むことを特徴とする異常診断方法。
【請求項９】
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、
前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの異常診断の指示に応じて、所定の波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備える異常診断装置の異常診断方法であって、
前記第１基板において、
異常診断を行う回路に応じて、サンプリング周波数を選択して異常診断を指示する工程と、
前記異常診断の指示に従って、計時を開始する工程と、
所定の回路の前記ＲＣフィルタを通過した前記第２基板からの出力波形であって、前記バッファＩＣへ入力される前の出力波形を、前記サンプリング周波数を用いてアナログ的に検知する工程と、
検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する工程と
を含むことを特徴とする異常診断方法。
【請求項１０】
異常診断回路であって、
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路であって、それぞれが異なる負荷に接続された前記複数の回路と、
異常診断を行う回路に応じて、診断モードを選択して、対応する負荷に異常診断を指示するＣＰＵと、
前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタ及び前記バッファＩＣを通過した前記対応する負荷からの出力波形を検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣと
を備える異常診断回路。
【請求項１１】
異常診断回路であって、
コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路であって、それぞれが異なる負荷に接続された前記複数の回路と、
異常診断を行う回路に応じて、サンプリング周波数を選択して、対応する負荷に異常診断を指示するＣＰＵと、
前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタを通過した前記負荷からの出力波形であって、前記バッファＩＣへ入力される前の出力波形を、前記サンプリング周波数を用いてアナログ的に検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣと
を備えることを特徴とする異常診断回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異常診断装置、異常診断方法、及び異常診断回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置に限らず、例えば基板実装や基板チェッカーなどの現場では、基板内の実装ミスや過電圧などといった外的要因によって素子の容量が変化し制御が成り立たず、不具合を引き起こすことがあった。該当箇所によっては、ぎりぎりで制御が成り立ってしまい不安定ながらも動き続けることも考えられる。特許文献１には、電圧検出部によって検出された電圧の時間的変化における時定数に基づいて、導電路の中間端子での実装不良を検知することが提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１８５０５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来技術には以下に記載する課題がある。例えば、上記従来技術では、ＲＣなどのフィルタ後の信号の電圧を検知できるシステムにおいては異常を診断することが可能である。しかし、ＲＣのフィルタ後にバッファＩＣなどといった信号を出し直すＩＣなどがあると電圧の時間的変化では差が発生せず、異常を判断することができなくなるという課題があった。
【０００５】
本発明は、上述の問題の少なくとも一つに鑑みて成されたものであり、回路構成に依存せず、好適に診断手法を制御することにより、コストの増加を招くことなく異常を診断する仕組みを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、例えば、装置であって、コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの診断モードの指示に応じて、該診断モードに応じた波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備え、前記第１基板は、異常診断を行う回路に応じて、前記診断モードを選択して異常診断を指示するＣＰＵと、前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタ及び前記バッファＩＣを通過した前記第２基板からの出力波形を検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣとを備えることを特徴とする。
【０００７】
また、本発明は、例えば、装置であって、コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板と、前記第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの異常診断の指示に応じて、所定の波形を前記第１基板へ出力する第２基板と、を備え、前記第１基板は、異常診断を行う回路に応じて、サンプリング周波数を選択して異常診断を指示するＣＰＵと、前記ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路の前記ＲＣフィルタを通過した前記第２基板からの出力波形であって、前記バッファＩＣへ入力される前の出力波形を、前記サンプリング周波数を用いてアナログ的に検知し、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣとを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、回路構成に依存せず、好適に診断手法を制御することにより、コストの増加を招くことなく異常を診断することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】一実施形態に係る全体構成を示す図。
【図２】一実施形態に係る基板の回路構成を示す図。
【図３】一実施形態に係る異常診断時におけるタイミングチャート１。
【図４】一実施形態に係る異常診断時におけるタイミングチャート２。
【図５】一実施形態に係る制御フローチャート。
【図６】一実施形態に係る異常診断時におけるタイミングチャート。
【図７】一実施形態に係る制御フローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものでない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
【００１１】
＜画像形成装置の構成＞
まず、図１を参照して、一本実施形態における画像形成装置の構成例について説明する。図１は画像形成装置の概要断面図である。
【００１２】
図１に示すように、画像形成装置は感光体ドラム１１と、一次帯電ローラ１２と、ロータリ現像ユニット１３と、中間転写ベルト１４と、転写ローラ１５と、及びクリーナ１６等を備えている。画像形成時には、感光体ドラム１１に対して、画像データに基づいてレーザーユニット１７から光が照射され、その表面に静電潜像が形成される。一次帯電ローラ１２は、レーザー光照射前に感光体ドラム１１の表面を均一に帯電するものである。ロータリ現像ユニット１３は、感光体ドラム１１の表面に形成された静電潜像にマゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）の各色トナーを付着させ、トナー像を形成する。感光体ドラム１１の表面に現像されたトナー像が中間転写ベルト１４に転写され、中間転写ベルト１４のトナー像を転写ローラ１５によって用紙Ｓに転写する。
【００１３】
用紙Ｓは、用紙カセット１８又は手差しトレイ５０から供給されるようになっている。画像形成部３の下流側には定着器１９が設けてあり、搬送される用紙Ｓ上のトナー像を定着する。この定着器１９においてトナー像が定着された用紙Ｓは、排出ローラ対２１によって、画像形成装置の機外へ排出される。
【００１４】
手差しトレイ５０からの給紙の場合、トレイ上の用紙の有無を検知する手差し用紙センサ２０１、用紙の搬送路に用紙の位置を検出する用紙センサ２０２が設けられており、そのセンサの信号を受けて用紙の有無や用紙位置が制御される。画像形成装置のステータスをユーザに促す画面が操作部１０００に表示される。ユーザは画面の指示に従い、プリント動作の実行、また異常時はエラー状況を確認することができる。
【００１５】
＜第１の実施形態＞
以下では、本発明の第１の実施形態について説明する。本実施形態の異常診断回路、異常診断装置、異常診断方法を画像形成装置に適応した実施形態について、図面を参照し説明する。なお、本実施形態では、異常診断装置として、異常診断回路を有する画像形成装置を例に説明するが、画像形成装置に限定する意図はなく、他の装置、例えば画像処理装置や情報処理装置、通信装置等に適用することができる。
【００１６】
図２を参照して、本実施形態に係る基板の回路構成を説明する。本画像形成装置は、図１に示す構成に加えて、基板１００と、基板１０１とを備える。
【００１７】
システムを制御するＣＰＵ１０７を備えた基板１００と基板１０１の間で通信する回路構成において、ＣＰＵ１０７から指令を受けた制御ＩＣ１０２が基板１０１の制御ＩＣ１０４と通信線（信号線）を介して波形（信号）を送受信する。基板１００が受信した波形（入力波形）は通信インタフェース（Ｉ／Ｆ）回路１１０を介して制御ＩＣ１０２に入力する回路構成とする。通信インタフェース回路１１０は、ＲＣフィルタ１１３を通りバッファＩＣ１１６の出力が制御ＩＣ１０２にデジタル信号として入力される。
【００１８】
上記に示した通信とは別に、図１に示したドラムモータ２０３と制御ＩＣ１０２との間でも通信が行われる。例えば、図１に示すドラムモータ２０３として、ブラシレスモータであるモータ１０６を適用することを想定する。ブラシレスモータは回転すると回転速度を検知するための信号として周波数出力機能ＦＧ（Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ）が備わっている。モータ１０６のＦＧ信号は、インタフェースであるモータ回転検知回路１１２を介して、上記通信波形と同様に、モータ回転検知回路１１２のＲＣフィルタ１１５を介して制御ＩＣ１０２に入力される。
【００１９】
また図１に示した用紙Ｓの有無や位置を検知する用紙センサ２０１、２０２に代表されるものとしてセンサ１０５を想定する。センサ１０５の受信信号は、インタフェースであるＳＮＳ検知回路１１１を介して、上記通信波形と同様にＲＣフィルタ１１４を介して制御ＩＣ１０２に入力される。制御ＩＣ１０２は上記ＦＧ信号やセンサ信号の結果をＣＰＵ１０７に通知している。
【００２０】
＜診断モード１（第１診断モード）＞
本実施形態に係る画像形成装置の故障例として、ＲＣフィルタの定数異常を想定する。ＲＣフィルタの定数異常は例えば、実装時のつけ間違えや、抵抗の過電圧などによる抵抗焼けなどが考えられる。以下では、図３を参照して、上記異常状態を検知するための診断モードを説明していく。図３は本実施形態に係る診断モード１のタイミングチャートを示す。各タイミングチャートは、横軸に時間を示し、縦軸に信号レベルを示す。
【００２１】
３１０は、診断モード１の通常時における、基板１０１から基板１００へ入力されたａ地点の波形３−ａ、通信インタフェース回路１１０のＲＣフィルタ１１３を通過したｂ地点の波形３−ｂ、バッファＩＣ１１６を通過したｃ地点の波形３−ｃをそれぞれ示す。３−ａの波形はＲＣフィルタ１１３を通ると、波形が鈍りバッファＩＣ１１６に入力される。バッファＩＣ１１６の閾値電圧ＶＩＨを超えると、バッファＩＣ１１６からＨレベルの信号が出力される。
【００２２】
本実施形態における異常時は通常よりＲＣフィルタ１１３の時定数が大きくなった場合を想定する。３２０は、異常時におけるｂ地点、ｃ地点のタイミングチャートをそれぞれ３−ｂ１、３−ｃ１に示す。
【００２３】
診断モード１の通常時においては、制御ＩＣ１０２にてｔ＝Ｔ２のタイミングでＨレベルの信号を検知するのに対し、ＲＣフィルタ１１３が異常状態で時定数が大きくなった場合はｔ＝Ｔ３と通常よりも検知までの時間が長く掛かる。一方、ＲＣフィルタ１１３の時定数が小さくなった場合はＴ３のタイミングが通常のＴ２よりも短い時間となる（不図示）。
【００２４】
＜診断モード２（第２診断モード）＞
次に、図４を参照して、上記図３で示したＴ３がＴ２のタイミングとほぼ同時刻で、異常判定が難しい場合を想定した本実施形態に係る診断モード２のタイミングチャートについて説明する。各タイミングチャートは、横軸に時間を示し、縦軸に信号レベルを示す。
【００２５】
４１０は、診断モード２の通常時における、基板１０１から基板１００へ入力されたａ地点の波形４−ａ、通信インタフェース回路１１０のＲＣフィルタ１１３を通過したｂ地点の波形４−ｂ、バッファＩＣ１１６を通過したｃ地点の波形４−ｃをそれぞれ示す。図３の場合と同様に、４−ａの波形はＲＣフィルタ１１３を通ると、波形が鈍りバッファＩＣ１１６に入力される。バッファＩＣ１１６の閾値電圧ＶＩＨを超えると、バッファＩＣ１１６からＨ出力される。そしてＨの状態から、閾値電圧ＶＩＬに達するとバッファＩＣ１１６からＬ出力される。
【００２６】
診断モード２の波形は前段にパルス波形を入力することに特徴を有する。従って、４１０に示すように、通常のＲＣフィルタ１１３の時定数ではバッファＩＣ１１６のＶＩＨに達する前に波形が立下るのでｃ地点ではパルス波形を検知できず、次の立ち上がりを検知してｔ＝Ｔ４のタイミングで立ち上がりを検知することができる。
【００２７】
それに対し、４２０に示すように、ＲＣフィルタ１１３の時定数が小さい場合、ＲＣフィルタ１１３後の波形が急峻になりバッファＩＣ１１６のＶＩＨに達しｔ＝Ｔ２のタイミングでパルスを検知することができる。これにより、正常時と異常時でＲＣフィルタ１１３の時定数の差異が小さい場合の異常診断においても判定を容易にすることが可能となる。
【００２８】
このように、本実施形態によれば、正常時と異常時とでＲＣフィルタの時定数の差異が大きい場合は診断モード１を用いて異常診断を行い、上記差異が小さい場合は診断モード２を用いて異常診断を行うことができる。従って、異常診断時において、例えば、異常診断箇所におけるＲＣフィルタの時定数に応じて診断モードを選択して実施することが望ましい。
【００２９】
＜処理手順＞
続いて、図５を参照して、本実施形態における異常箇所特定の処理手順を説明する。以下で説明する処理は、基板診断時に行うことを想定しており、システムの異常時や基板チェックや製品チェックの際に実施可能である。
【００３０】
まず基板１００と基板１０１の通信に異常があると、ＣＰＵ１０７から基板１０１へ診断モードの指示が制御ＩＣ１０２及び制御ＩＣ１０４に送信される。ここで、ＣＰＵ１０７は、異常診断箇所のＲＣフィルタ１１３の構成や、周辺の構成、設計値となる時定数等に応じて上記診断モード１か上記診断モード２かを選択して通知する。なお、選択方法については、異常診断箇所や回路の構成に応じて選択することが望ましいが、診断モード１で診断した後に、診断モード２で診断するように順次診断を行い、何れかで異常を検知した場合には異常と判断するようにしてもよい。或いは、異常診断対象の回路の種類、例えば、回路１１０、１１１、１１２ごとに予め定められた診断モードを選択してもよい。
【００３１】
Ｓ５００で、選択された診断モードの指示を受けた制御ＩＣ１０４は、選択された診断モードに対応する診断用の波形を出力する。ここで、制御ＩＣ１０４は、診断モード１が選択された場合は、例えば、３−ａに示す診断モード１用の波形を出力し、診断モード２が選択された場合は、４−ａに示す診断モード２用の波形（パルス波形）を出力する。一方、Ｓ５０１で、並行して制御ＩＣ１０２は、内部のタイマーをスタートさせる。
【００３２】
その後、Ｓ５０２で、ＣＰＵ１０７は、出力波形を検知する。具体的には、診断モード１の場合には、制御ＩＣ１０２が波形の立ち上がりを検知すると、立ち上がりまでの時間を測定し、設計値に対しての差異を計算する。一方、診断モード２の場合には、制御ＩＣ１０２がパルス波形を検知すると、パルス幅を測定し、設計値に対しての差異を計算する。続いて、Ｓ５０３で、ＣＰＵ１０７は、設計値との差異が基準値の範囲内であるか否かを判定する。ここで、基準値の範囲とは、例えば、測定値が設計値の０．８倍より大きく、かつ、設計値の１．２倍より小さい範囲を示す。測定値が基準値の範囲内である場合は、ＣＰＵ１０７は、Ｓ５０４に進み正常と判断してＳ５０６に進む。一方、基準以外の場合は、ＣＰＵ１０７は、Ｓ５０５に進み回路に異常があると判断してＳ５０６に進む。Ｓ５０６で、ＣＰＵ１０７は、結果を操作部１０００に通知して、診断を終了する。なお、Ｓ５０３乃至Ｓ５０５の処理については、上記ではＣＰＵ１０７の処理として説明したが、制御ＩＣ１０２が実施してもよい。
【００３３】
以上が診断モード時の制御フローになる。本実施形態は、診断モードとしての例を書いたが、通常の受信波形に対して同様に診断してもよい。
【００３４】
以上説明したように、本実施形態に係る異常診断装置であって、コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板を備える。また、本異常診断装置は、第１基板と信号線を介して接続され、前記第１基板からの診断モードの指示に応じて、診断モードに応じた波形を第１基板へ出力する第２基板を備える。第１基板は、異常診断を行う回路に応じて、診断モードを選択して異常診断を指示するＣＰＵを備える。また、第１基板は、ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路のＲＣフィルタ及びバッファＩＣを通過した第２基板からの出力波形を検知し、検知した出力波形と設計値との差異から異常を診断する制御ＩＣを備える。このように、本実施形態では、異常診断を行う回路に応じて、診断モードを選択し、選択した診断モードに応じた波形を出力させることにより、診断対象の回路構成に適した診断を行うことができる。これにより、本実施形態に係る異常診断装置は、回路構成に依存せず、好適に診断手法を制御することにより、コストの増加を招くことなく異常を診断することができる。
【００３５】
＜第２の実施形態＞
以下では、本発明の第２の実施形態について説明する。なお、上記第１の実施形態と同様の構成及び制御については、同一の参照符号を付し、説明を省略する。また、本実施形態は、上記第１の実施形態と組み合わせて実施することが可能であり、例えば上記第１の実施形態のように、診断モードを選択して、選択した診断モードに対応する出力波形（又は、サンプル周波数）に切り替えて実施することが可能である。
【００３６】
まず、図６を参照して、本実施形態における回路構成と診断時のタイミングチャートについて説明する。各タイミングチャートは、横軸に時間を示し、縦軸に信号レベルを示す。
【００３７】
通信インタフェース回路１１０は、上記第１の実施形態と同様に、制御ＩＣ１０４の出力がＲＣフィルタ１１３を介してバッファＩＣ１１６を通じ、制御ＩＣ１０２にデジタル信号として入力される経路を有する。さらに、本実施形態に係る通信インタフェース回路１１０は、上記経路とは別に、バッファＩＣ１１６の手前から分岐して直接制御ＩＣ１０２に入力する信号線１１７を備える。バッファＩＣ１１６の手前から分岐された信号線１１７による入力信号は、制御ＩＣ１０２の内部でサンプリング周波数に同期して電圧を検出することで、アナログ的に検出することができる。
【００３８】
６１０は、診断モードの通常時における、基板１０１から基板１００へ入力されたａ地点の波形６−ａ、通信インタフェース回路１１０のフィルタを介したｂ地点の波形６−ｂをそれぞれタイミングチャートに示す。
【００３９】
本実施形態の異常時は通常よりＲＣフィルタ１１３の時定数が大きくなった場合を想定する。異常時におけるｂ地点のタイミングチャートを６２０の６−ｂ１で示す。
【００４０】
通常時は、診断時に制御ＩＣ１０２にてｔ＝Ｔ２のタイミングでＨレベルの信号を検知するのに対し、ＲＣフィルタ１１３が異常状態で時定数が大きくなった場合はｔ＝Ｔ３と通常よりもＨレベル信号を検知するまでの時間が長くなる。本実施形態では、このような場合において、制御ＩＣ１０２のサンプリング周波数を大きくすることで、より精度を高く検知することを可能とする。
【００４１】
＜処理手順＞
次に、図７を参照して、本実施形態における異常箇所特定の処理手順を説明する。以下で説明する処理は基板診断時に行うことを想定しており、システムの異常時や基板チェックや製品チェックの際に実施可能である。
【００４２】
まず基板１００と基板１０１の通信に異常があると、Ｓ７００で、ＣＰＵ１０７は、ＲＣフィルタ１１３の定数に応じた制御ＩＣ１０２のサンプリング周波数を設定する。続いて、Ｓ７０１で、制御ＩＣ１０２は、設定されたサンプリング周期で入力される波形の電圧を検知し続け、入力された波形に対して所定の電圧レベルになるまでの時間を計時する。
【００４３】
Ｓ７０２で、ＣＰＵ１０７は、制御ＩＣ１０２が立ち上がりまでの時間を測定すると、設計値に対しての差異を計算し、差異が基準値の範囲内に含まれるか否かを判定する。ここで、基準値の範囲とは、例えば、測定値が設計値の０．８倍より大きく、かつ、設計値の１．２倍より小さい範囲を示す。測定値が基準値の範囲内である場合は、ＣＰＵ１０７は、Ｓ７０３に進み正常と判断してＳ７０５に進む。一方、基準以外の場合は、ＣＰＵ１０７は、Ｓ７０４に進み回路に異常があると判断してＳ７０５に進む。Ｓ７０５で、ＣＰＵ１０７は、結果を操作部１０００に通知して、診断を終了する。以上が本実施形態に係る診断時の制御フローになる。
【００４４】
本実施形態は基板間の通信異常時の例を示したが、図１に示すモータ１０６やセンサ１０５の導電路のＲＣ診断も同様に、受信した波形の立上り時間を測定し設計値と比較することで、異常診断をすることが可能となる。モータ１０６やセンサ１０５といった負荷からの受信信号はタイミングを規定できないので、常時診断や電源ＯＮ時のみといったように、定期的に診断することが望ましい。
【００４５】
以上説明したように、本実施形態に係る異常診断装置は、コンデンサ及び抵抗からなるＲＣフィルタと、バッファＩＣとをそれぞれが有する複数の回路を備える第１基板を備える。また、異常診断装置は、第１基板と信号線を介して接続され、第１基板からの異常診断の指示に応じて、所定の波形を第１基板へ出力する第２基板を備える。第１基板は、異常診断を行う回路に応じて、サンプリング周波数を選択して異常診断を指示するＣＰＵを備える。また、第１基板は、ＣＰＵからの異常診断の指示に従って、計時を開始し、所定の回路のＲＣフィルタを通過した第２基板からの出力波形であって、バッファＩＣへ入力される前の出力波形を、サンプリング周波数を用いてアナログ的に検知する制御ＩＣを備える。制御ＩＣは、さらに、検知した前記出力波形と設計値との差異から異常を診断する。このように、本実施形態によれば、ＲＣフィルタの時定数に応じたサンプリング周波数を設定し、当該サンプリング周波数を用いて波形をアナログ的に検知することにより、上記第１の実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００４６】
＜その他の実施形態＞
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【００４７】
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。
【符号の説明】
【００４８】
１００、１０１：基板、１０２、１０４：制御ＩＣ、１０５：センサ、１０６：モータ、１０７：ＣＰＵ、１１０：通信インタフェース回路、１１１：ＳＮＳ検知回路、１１２：モータ回転検知回路、１１３、１１４、１１５：ＲＣフィルタ、１１６：バッファＩＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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