(57)【要約】      （修正有）【課題】パフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行う画像形成装置を提供する。【解決手段】画像形成装置は、半導体メモリからなる第１記憶手段（ＳＳＤ１２０）と、第１記憶手段と異なる第２記憶手段（ＤＲＡＭ１０３）と、第１記憶手段の温度情報を取得する取得手段（温度センサ１２５）と、取得手段で取得した温度情報と閾値を比較する比較手段と、温度情報が閾値未満であることに基づいて、第１記憶手段にデータを記憶させ、温度情報が閾値以上であることに基づいて、第１記憶手段にデータを記憶させずに第２記憶手段にデータの記憶させる制御手段（ＣＰＵ１０１）と、を有する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体メモリからなる第１記憶手段と、
前記第１記憶手段と異なる第２記憶手段と、
前記第１記憶手段の温度情報を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得した温度情報と閾値を比較する比較手段と、
前記温度情報が前記閾値未満であることに基づいて、前記第１記憶手段にデータを記憶させ、前記温度情報が前記閾値以上であることに基づいて、前記第１記憶手段にデータを記憶させずに前記第２記憶手段にデータの記憶させる制御手段と、を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記温度情報が前記閾値未満であることに基づいて、前記制御手段は、前記第２記憶手段に記憶させたデータを前記第１記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記第１記憶手段にデータを記憶させる際には、ライトベリファイ動作を実行させ、前記第２記憶手段にデータを記憶させる際には、ライト動作のみを実行させることを特徴とする請求項１または２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記第２記憶手段は、ＲＡＭであることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
半導体メモリからなる第１記憶手段と、
前記第１記憶手段にデータの記憶させる制御手段と、
前記第１記憶手段の温度情報を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得した温度情報と閾値を比較する比較手段と、
前記温度情報が前記閾値以上であることに基づいて、前記制御手段は、前記第１記憶手段に第１動作でデータを記憶させ、
前記温度情報が前記閾値未満であることに基づいて、前記制御手段は、前記第１記憶手段に第２動作でデータを記憶させることを特徴とする画像形成装置。
【請求項６】
前記第１動作は、ライト動作のみであり、
前記第２動作は、ライトベリファイ動作であることを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記第１記憶手段は、
前記第１記憶手段の温度を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出した温度と、前記閾値とは異なる閾値とを比較する比較手段と、
前記検出した温度が前記異なる閾値以上であることに基づいて、前記制御手段からのアクセスを制限するアクセス制御手段と、を有することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記閾値は、前記異なる閾値よりも低いことを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
ジョブを受け付ける受け付け手段を有し、
前記取得手段は、前記受け付け手段がジョブを受け付けることに基づいて、前記第１記憶手段の温度情報を取得することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
ジョブを受け付ける受け付け手段と、
前記閾値を設定する設定手段と、を有し、
前記設定手段は、前記受け付け手段がジョブを受け付けることに基づいて、前記閾値を設定することを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記ジョブは、印刷ジョブであり、
前記受け付け手段が前記印刷ジョブのうち１ページのデータを受け付けることに基づいて、前記取得手段が前記温度情報を取得することを特徴とする請求項９または１０に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
前記第１記憶手段は、ＳＳＤであることを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、組み込み装置においてＨＤＤに代わり、ＳＳＤを搭載する装置が増えている。ＨＤＤではなくＳＳＤを搭載することによって、装置の小型が可能となり、装置の小型化が進んでいる。
【０００３】
またＳＳＤの記憶領域は、メモリ素子配線の微細化により、メモリ素子の単位面積当たりの記憶容量が増加している。一方、ＳＳＤのパフォーマンス帯域の向上に伴い、消費電力も増加している。
【０００４】
上記によりＳＳＤの動作時に発生する単位面積当たりの熱量が増加している。そのためＳＳＤの記憶領域に記憶されたデータが熱によって破壊される可能性がある。熱によって破壊されたデータがシステムデータであった場合、組み込み装置がシステム障害で動作しなくなる可能性がある。このような状況を防止するため、ＳＳＤ内に温度センサを設けて温度をモニタリングしつつ、ＳＳＤ内部のコントローラが記憶領域へのアクセス制御を行うことで温度上昇を防ぐ手段（サーマルスロットリング機能）が備えられている。
【０００５】
特許文献１には、前記に記載した温度センサを備えたＳＳＤについて記載されている。同文献によれば、メモリ近傍に温度センサが設けられ、その温度センサにより検出された温度に基づいて、メモリコントローラがメモリに格納されたデータアクセスを制御することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−１０３１４７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
画像形成装置の制御部のストレージ領域としてＳＳＤを接続した場合には、ＳＳＤの大容量化によるＳＳＤの筐体内に占める半導体デバイスの集積度、密度が高くなる。さらに、データアクセスに関するパフォーマンスがより高速化になると消費電力が増加する。
【０００８】
そのためＳＳＤを接続した画像形成装置においても、ＳＳＤから多くの熱が発生し、過熱によるデータ障害を防止することが困難になる可能性がある。
【０００９】
そこでＳＳＤ内部の制御部では、データの信頼性の向上とデバイスの寿命を延ばすために、サーマルスロットリング機能を実行する。具体的には、ある温度に達すると自動的にＳＳＤ内部の記憶領域へのデータアクセスを制限し、デバイス自体の発熱量を抑える制御を行う。
【００１０】
しかしながら、ＳＳＤ内部の制御部がサーマルスロットリング機能を実行するタイミングを画像形成装置の制御部からは予知することが出来ない。そのため、画像処理装置がデータ処理中にもかかわらずパフォーマンスが大幅に低下してしまうおそれがある。
【００１１】
本発明は、画像形成装置のパフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、半導体メモリからなる第１記憶手段と、第１記憶手段と異なる第２記憶手段と、第１記憶手段の温度情報を取得する取得手段と、取得手段で取得した温度情報と閾値を比較する比較手段と、温度情報が前記閾値未満であることに基づいて、第１記憶手段にデータを記憶させ、温度情報が前記閾値以上であることに基づいて、制御手段は、第１記憶手段にデータを記憶させずに第２記憶手段にデータの記憶させる制御手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、画像形成装置のパフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】画像形成装置の構成図
【図２】ＳＳＤのアクセスに伴う温度変化とパフォーマンスの関係図
【図３】データスプールの経路を示した図
【図４】処理の流れを示したフロー図
【図５】データスプールの経路を示した図
【図６】ＳＳＤのアクセスに伴う温度変化とパフォーマンスの関係図
【図７】処理の流れを示したフロー図
【発明を実施するための形態】
【００１５】
添付図面を参照して本発明の各実施例を詳しく説明する。以下の実施例は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではなく、また各実施例で説明されている特徴の組み合わせすべてが発明の解決手段に必須の構成とは限らない。なお、以下の実施例では、情報処理装置の例として画像処理装置を用いる。
【００１６】
（実施例１）
図１は本発明の第１の実施形態における画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【００１７】
主制御部１１１は、ＣＰＵ１０１、ＲＯＭ１０２、ＤＲＡＭ１０３、ＳＡＴＡＨＯＳＴ１０７、ＨＯＳＴＩ／Ｆ１０５、画像処理部１１４を有する。これらは、内部バスで接続されている。
【００１８】
ＣＰＵ１０１は、画像形成装置を制御するマイクロコンピュータである。ＲＯＭ１０２は、画像形成装置の制御プログラムが格納されており、起動の際に使用される。
【００１９】
ＤＲＡＭ１０３は、ＣＰＵ１０１で実行されるプログラムが格納されるメモリであり、ＣＰＵ１０１が演算処理に用いるデータを一時的に格納する為のワークメモリとしても使用される。
【００２０】
画像処理部１１４は、印字するデータの色補正、諧調補正、文字のエッジスムージング処理、ハーフトーン処理などの各種画像処理を行うモジュールである。
【００２１】
プリンタエンジン１３１は、プリンタＩ／Ｆ１３０を介して入力された画像データに基づいて、画像を用紙に印刷する。スキャナー１３３は、原稿を読み取って画像データを生成し、スキャナーＩ／Ｆを介してＤＲＡＭ１０３に画像データを入力する。
【００２２】
操作部１０４は、操作者がコマンドを入力するためのタッチパネル画面などを備え、画像形成装置のステータス情報、各種設定項目を表示させるユニットである。なお、操作部１０４で入力された情報は、不図示の操作部Ｉ／Ｆを介してＣＰＵ１０１に伝達される。ＨＯＳＴ  Ｉ／Ｆ１０５は、装置の外部へ接続するローカルエリアネットワーク回線１０６を介して図示していない外部機器や、ホストＰＣとのデータの送受信を行うためのインターフェースである。
【００２３】
ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７は、ＳＳＤ１２０を制御するホストコントローラであり、Ｄａｔａ  Ｂｕｆｆｅｒ１０８、アクセス制御設定部１０９、温度閾値設定部１１０を有する。Ｄａｔａ  Ｂｕｆｆｅｒ１０８はアクセスしたときのデータを一時的に格納するためのバッファ用のメモリである。アクセス制御設定部１０９はＳＳＤ１２０へのデータｗｒｉｔｅ，  ｒｅａｄの制御方法を設定する制御部である。温度閾値設定部１１０はアクセス制御設定部１０９が制御方法を変化させる分岐点となる温度の閾値を保持する制御部である。
【００２４】
ＳＳＤ１２０は、画像形成装置の制御に関するソフトウェアや各種設定、保存された文書等を格納、および、ＣＰＵ１０１の処理データの書き込みや、画像データを一時的にスプールするためのストレージである。
【００２５】
ＳＳＤ１２０は、ＳＡＴＡ  Ｉ／Ｆ  Ｌｏｇｉｃ  １２１、ＳＳＤコントローラ１２３、ＤＲＡＭ１２２、ＦＬＡＳＨ１２４、温度センサ１２５を有する。
【００２６】
ＳＡＴＡ  Ｉ／Ｆ  Ｌｏｇｉｃ  １２１は、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７と通信するためのインターフェース回路である。ＳＳＤコントローラ１２３はＳＳＤ内の主制御部である。ＤＲＡＭ１２２は、ＳＳＤ１２０のｃａｃｈｅメモリであり、ＳＳＤへの書き込みがあると一時的にデータを保持する。ＦＬＡＳＨ１２４はデータを格納する半導体メモリであり、ＳＳＤコントローラ１２３の指示を受けてＤＲＡＭ１２２上のデータを書き込む。温度センサ１２５はＳＳＤ１２０内部の温度を検出するセンサであり、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７から温度をモニタリングすることが可能である。
【００２７】
図２はＳＳＤのアクセスに伴うＳＳＤ内部の温度変化とパフォーマンスの関係を示す図である。
【００２８】
横軸は時間を示し、右の縦軸は、ＳＳＤ１２０内部の温度センサ１２５が検出する温度を示す。時間と温度の関係は、曲線２０１である。
【００２９】
左の縦軸は、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７がデータのｗｒｉｔｅ／ｒｅａｄをする時のデータ帯域、パフォーマンスを示す。時間とパフォーマンスの関係は、棒グラフ２０２である。
【００３０】
ＳＳＤ１２０の内部の温度は、ＳＳＤ１２０へのデータアクセス頻度が増加すると、時間が経過するにつれて上昇していく。
【００３１】
そして、温度センサ１２５が検出する温度が閾値Ｔａを過ぎるとＳＳＤコントローラ１２３がサーマルスロットル機能をＯｎにする。そして、サーマルスロットル機能によって、ＳＳＤ１２０へのアクセスが制限され、ＳＳＤ１２０のパフォーマンスは、低下し始める。
【００３２】
パフォーマンスが低下することによってＦＬＡＳＨ１２４へのデータアクセス頻度が低下し、結果としてＳＳＤ１２０内部の温度センサ１２５に検出された温度が徐々に低下する。そして、温度センサ１２５の温度が再び閾値Ｔａを下回るようになると、サーマルスロットル機能がＯｆｆになりＦＬＡＳＨ１２４へのデータアクセス頻度が増加する。
【００３３】
これに伴い、再び時間が経過するにつれて再び温度センサ１２５に検出された温度は、上昇する。以上のように、ＳＳＤコントローラ１２３は温度センサ１２５によって検出された温度に応じて、サーマルスロットル機能のＯｎ／Ｏｆｆを繰り返す制御を行っている。
【００３４】
図３はホストＰＣからジョブを受信して印字するときの、画像形成装置内のデータの流れを示した図の一例である。
【００３５】
不図示の外部装置（例えば、ＰＣ）から印字要求を受けると、ＣＰＵ１０１はＨｏｓｔ  Ｉ／Ｆ１０５を経由してＰＤＬ言語で記載された印字データを外部装置から受信し、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７を介してＳＳＤ１２０内部のＦＬＡＳＨ１２４へ格納させる。
【００３６】
外部装置から１ページ分の印字データを受信すると、ＣＰＵ１０１はＦＬＡＳＨ１２４に格納されたデータを読み出す。そして、ＣＰＵ１０１は、ＲＯＭ１０２に格納されているＰＤＬ言語からビットマップに変換するレンダリングプログラムに従いビットマップデータをＤＲＡＭ１０３に展開する。この際に、１ページ分のＰＤＬ言語のデータを一度にビットマップに展開するとデータ量が多くなるため、１ページを複数のバンドに分割した１バンドごとのデータをＣＰＵ１０１がＤＲＡＭ１０３に書き込む。
【００３７】
１バンド分のデータが貯まると、ＣＰＵ１０１はＤＲＡＭ１０３からビットマップデータを読み出して、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７を介してＳＳＤ１２０内部のＦＬＡＳＨ１２４へ格納する。上記の処理を１ページの最終バンドのデータ展開まで、ＣＰＵ１０１が繰り返して処理を行う。
【００３８】
ＣＰＵ１０１による１ページ分のビットマップデータの展開が終了すると、ＣＰＵ１０１はＦＬＡＳＨ１２４からそのデータを読み出して、画像処理部１１４へデータを転送する。ビットマップデータは画像処理部１１４で、文字の輪郭スムージングやハーフトーン処理などの各種画像処理を行った後、プリンタエンジンＩ／Ｆ  １３０を経由してプリンタエンジン１３１へされる。これら一連の処理を印字データの最終頁のビットマップデータの処理が終わるまで、ＣＰＵ１０１がページ単位で繰り返し同じ処理を行う。
【００３９】
図４に本実施例の制御フローの一例を示す。図４では、ＳＳＤの温度に基づいて、アクセス方法を変更することにより、パフォーマンスの低下を防止する。
【００４０】
ステップＳ４０１において、ＣＰＵ１０１は、不図示の外部装置からジョブが投入されたか否かを確認する。ジョブが投入されていない場合には、ステップＳ４０１に戻る。ジョブが投入された場合にはステップＳ４０２に遷移する。
【００４１】
ステップＳ４０２において、ＣＰＵ１０１は、閾値を設定する。ここで設定する閾値は、後述のステップＳ４０３で検出する温度と比較するものである。なお、ここで設定する閾値は、ＳＳＤ１２０のサーマルスロットル機能のＯｎ／Ｏｆｆを切り替える閾値よりも低く設定する。ステップＳ４０２を終えるとステップＳ４０３に遷移する。
【００４２】
ステップＳ４０３において、ＣＰＵ１０１は、Ｓ．Ｍ．Ａ．Ｒ．Ｔ．情報をＳＳＤ１２０から取得し、温度センサ１２５によって温度（温度情報）を検出する。ステップＳ４０２を終えると、ステップＳ４０４に遷移する。
【００４３】
ステップＳ４０４において、ＣＰＵ１０１は、温度センサ１２５によって検出された温度と閾値を比較する。ＣＰＵ１０１は、比較結果に基づいて、ＣＰＵ１０１はＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７内にある温度閾値設定部１１０にＳＳＤへのアクセス制御を行う。温度が閾値以上である場合には、ステップＳ４０５に遷移する。
【００４４】
ステップＳ４０５において、ＣＰＵ１０１は、ＤＲＡＭ１０３に一時的にデータを格納する。そして、データの格納先をＳＳＤ１２０からＤＲＡＭ１０３に切り替える。なお、このとき、ＳＳＤ１２０にアクセスしない方がよい。また、データの書き込みは、例えば、ジョブの１ページごとに行う。ステップＳ４０５を終えるとステップＳ４０８に遷移する。以下では、１ページごとを例に挙げるが、バンド単位またはジョブ単位などでもよい。
【００４５】
ステップＳ４０８において、ＣＰＵ１０１は、ジョブが終了したか否かを判定する。ジョブが終了していない場合には、ステップＳ４０３に戻り、次のページのデータの書き込み処理を行うために、ＳＳＤの温度を検出する。ジョブが終了した場合には、フローを終了する。
【００４６】
ステップＳ４０４の説明に戻る。ステップＳ４０４において、検出された温度が閾値未満である場合には、ステップＳ４０６に遷移する。ここでは、前ページのデータがＤＲＡＭ１０３に書き込まれている状態で、次のページのデータの書き込みを行うものとして説明する。
【００４７】
ステップＳ４０６において、ＣＰＵ１０１は、ＤＲＡＭ１０３に書き込まれたデータをＳＳＤ１２０へ書き込む。さらに、次のページのデータをＳＳＤ１２０に書き込む。なお、次のページのデータは、ＳＳＤ１２０に直接書き込んでもよいし、ＤＲＡＭ１０３を経由してもよい。ステップＳ４０６を終えるとステップＳ４０７に遷移する。そして、ステップＳ４０７においてＣＰＵ１０１は、データスプールを行う先をＤＲＡＭ１０３からＳＳＤ１２０に戻す。ステップＳ４０７を終えるとステップＳ４０８に遷移する。ステップＳ４０８への説明は、前述したため省略する。
【００４８】
なお、本実施例のジョブとは、印刷ジョブ、スキャンジョブ、ＢＯＸジョブ等の画像形成に関するジョブを示す。
【００４９】
図５は、図４のステップＳ４０５を行う場合における、ホストＰＣからジョブを受信して印字するときの、画像形成装置内のデータの流れを示した図である。
【００５０】
図３との差異は、ＣＰＵ１０１がＤＲＡＭ１０３へデータをｗｒｉｔｅ／ｒｅａｄすることにより、ＳＳＤ１２０へのアクセスを行わない点である。
【００５１】
不図示の外部装置から印字要求を受けると、ＣＰＵ１０１はＨｏｓｔ  Ｉ／Ｆ１０５を経由してＰＤＬ言語で記載された印字データを受信し、ＳＡＴＡ  Ｈｏｓｔ１０７を介してＳＳＤ１２０内部のＦＬＡＳＨ１２４へ格納する。
【００５２】
ＣＰＵ１０１は、１ページ分の印字データを受信すると、ＦＬＡＳＨ１２４に格納されたデータを読み出す。ＣＰＵ１０１は、読み出したデータを用いてＲＯＭ１０２に格納されているＰＤＬ言語からビットマップに変換するレンダリングプログラムに従いビットマップデータをＤＲＡＭ１０３に展開する。この際に、ＣＰＵ１０１は、１ページを複数のバンドに分割した１バンドごとのデータをＣＰＵ１０１がＤＲＡＭ１０３に書き込む。ＣＰＵ１０１は、１ページの最終バンドのデータ展開まで繰り返して上記の処理を行う。
【００５３】
ＣＰＵ１０１による１ページ分のビットマップデータの展開が終了すると、ＣＰＵ１０１はＤＲＡＭ１０３からそのデータを読み出して、画像処理部１１４へデータを転送する。
【００５４】
画像処理部１１４は、ビットマップデータを基に文字の輪郭スムージングやハーフトーン処理などの各種画像処理を実行したデータを、プリンタエンジンＩ／Ｆ  １３０を介してプリンタエンジン１３１へ送信する。ＣＰＵ１０１は、これら一連の処理を印字データの最終頁のビットマップデータの処理が終わるまで、ページ単位で繰り返し同じ処理を行う。
【００５５】
図６は、本実施例を実行した際のＳＳＤのアクセスに伴うＳＳＤ内部の温度変化とパフォーマンスの関係を示す図である。
【００５６】
同図において、閾値Ｔｂが図３のＳ４０３で設定する閾値である。前述したように、閾値Ｔｂは、ＳＳＤ１２０のサーマルスロットル機能がＯｎになる閾値Ｔａよりも低い温度に設定される。
【００５７】
つまり、ＳＳＤ１２０へのデータアクセス頻度が増加することによってＳＳＤ１２０の内部の温度が上昇すると、ＳＳＤ１２０のサーマルスロットル機能がＯｎする前に、ＣＰＵ１０１が、ＳＳＤ１２０へのデータアクセスを減少させる。これによって、ＳＳＤ１２０の内部の温度の上昇を抑制することが可能である。また、ＣＰＵ１０１は、ＳＳＤ１２０へのデータのアクセスを減少した際に、ＤＲＡＭ１０３にデータをスプールするため、パフォーマンスの低下を抑制することが可能である。
【００５８】
以上のことから、本実施例の構成によれば、画像形成装置のパフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行うことが可能となる。
【００５９】
なお、本実施例において、ＳＳＤ１２０およびＤＲＡＭ１０３へ書き込みのみ（ライト動作）を行う構成を示した。しかし、ＳＳＤ１２０は、ｖｅｒｉｆｙ（ライトベリファイ動作）を行ってもよい。ｖｅｒｉｆｙとはＳＳＤ１２０へデータが正しく書き込まれたことを確実にするため、ＳＳＤコントローラ１２３が行う制御である。具体的には、書き込み処理を行い、書き込んだデータを読出し、正しく書き込みができたか確認する処理である。
【００６０】
（実施例２）
実施例１ではデータスプールの経路を変更するものあったが、本実施例ではＳＳＤ１２０へのデータアクセス制御の変更について記載する。図４と同様のステップには同様の符号を付して説明を省略する。また、図１〜図３、図６については、実施例１と同様であるため説明を省略する。
【００６１】
図７に本実施例の制御フローを示す。図７では、ＳＳＤの温度に基づいて、ベリファイを行うか否かを変更する。Ｖｅｒｉｆｙは、前述したようにデータが正しく書き込まれたことを確実にする動作であるため、装置の信頼性を高めることが可能である。しかし、ＦＬＡＳＨ１２４へのアクセスがｗｒｉｔｅのみ（ｗｒｉｔｅ動作）の場合と比較して増えるためＳＳＤ１２０の温度が上昇しやすくなる。そこで、本実施例では、ＳＳＤの温度に基づいて、Ｖｅｒｉｆｙまたはｗｒｉｔｅのみの制御を使い分ける。
【００６２】
ステップＳ４０４において、ＣＰＵ１０１は、ＳＳＤ１２０の温度が温度閾値以上か否かを確認する。ＳＳＤ１２０の温度が閾値以上であった場合には、ステップＳ７０５に遷移する。
【００６３】
ＳＳＤ１２０の温度が閾値以上になった場合、ステップＳ７０５において、ＣＰＵ１０１は、ＳＳＤコントローラ１２３に、ｗｒｉｔｅ動作を行わせる。具体的には、ＣＰＵ１０１は、ＳＡＴＡＨＯＳＴ１０７からＳＳＤコントローラ１２３にｗｒｉｔｅコマンドを送信する。ステップＳ７０５を終えるとステップＳ４０８に遷移する。
【００６４】
一方、ＳＳＤ１２０の温度が閾値未満になった場合、ステップＳ７０６において、ＣＰＵ１０１は、ＳＳＤコントローラ１２３にｖｅｒｉｆｙを行わせる。具体的には、ＣＰＵ１０１は、ＳＡＴＡＨＯＳＴ１０７からＳＳＤ１２０にｖｅｒｉｆｙコマンドを送信する。ステップＳ７０６を終えるとステップＳ４０８に遷移する。
【００６５】
このような構成においても、常にＳＳＤ１２０にｖｅｒｉｆｙを行わせる構成に比べて、ＳＳＤ１２０のＦＬＡＳＨ１２４へのアクセス頻度が低下するので、ＳＳＤ１２０内部の温度上昇を抑えることが可能となる。
【００６６】
以上のことから、本実施例の構成においても、画像形成装置のパフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行うことが可能となる。
【００６７】
なお、実施例１および実施例２のどちらも、ＳＳＤ１２０の温度が閾値を超えた場合に、対応した制御を実行することでＳＳＤ１２０へのアクセスが減り温度が徐々に低下し設定した閾値未満となる。そしてＳＳＤ１２０の温度が閾値未満となったら通常の制御を実行する。これにより、画像形成装置のパフォーマンスの低下を抑制しつつ、デバイスの発熱量を抑える制御を行うことが可能としている。
【００６８】
（その他の実施形態）
以上、本発明の様々な例と実施形態を示して説明したが、本発明の趣旨と範囲は、本明細書内の特定の説明に限定されるものではない。
【００６９】
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００７０】
１０１  ＣＰＵ
１０３  ＤＲＡＭ
１２０  ＳＳＤ
１２４  ＦＬＡＳＨ
１２５  温度センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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