(57)【要約】【課題】車両に搭載される直流電源のグランドラインと車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値の低下を検知する漏電検知回路の故障を漏電検知回路自身で検知する。【解決手段】発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、漏電検知回路１が故障していないときに算出される第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
車両に搭載される直流電源のグランドラインと前記車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値の低下を検知する漏電検知回路であって、
漏電検知用発振信号、前記漏電検知用発振信号の周波数より高い周波数の浮遊容量測定用発振信号、または、第１の故障検知用発振信号を出力する発振回路と、
前記発振回路と前記グランドラインに接続されるカップリングコンデンサとの間に接続される検出抵抗と、
前記検出抵抗に接続される絶縁抵抗測定回路と、
前記検出抵抗に接続される浮遊容量測定回路と、
前記発振回路から前記漏電検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が閾値以下である場合、前記絶縁抵抗の抵抗値が低下していることを検知し、前記発振回路から前記浮遊容量測定用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値により前記絶縁抵抗に並列接続される浮遊容量の容量値を求める検知部と、
当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第１の対応関係から、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第２の対応関係までの対応関係の変動傾向を記憶する記憶部と、
を備え、
前記検知部は、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第３の対応関係が前記第１の対応関係から前記第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路が故障していることを検知する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項２】
請求項１に記載の漏電検知回路であって、
前記浮遊容量測定回路は、前記発振回路から前記浮遊容量測定発振信号が出力されているときに前記検出抵抗にかかる電圧を減衰させない
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項３】
請求項１に記載の漏電検知回路であって、
前記絶縁抵抗、前記浮遊容量、前記カップリングコンデンサ、及び、前記検出抵抗により構成されるローパスフィルタのカットオフ周波数は、前記漏電検知用発振信号の周波数より高く、前記浮遊容量測定用発振信号の周波数より低く、
前記絶縁抵抗測定回路に備えられるローパスフィルタのカットオフ周波数は、前記漏電検知用発振信号の周波数より高く、
前記浮遊容量測定回路に備えられるローパスフィルタのカットオフ周波数は、前記浮遊容量測定用発振信号の周波数より高い
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項４】
請求項１に記載の漏電検知回路であって、
前記検知部は、前回の故障検知処理において取得した、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値及び前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、今回の故障検知処理において取得した、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値及び前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とを比較し、前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値が変化せず、前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が一定値以上変化した場合、前記絶縁抵抗測定回路のみが故障していることを検知し、前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が変化せず、前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値が一定値以上変化した場合、前記浮遊容量測定回路のみが故障していることを検知する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項５】
請求項１に記載の漏電検知回路であって、
前記第１の対応関係から前記第２の対応関係までの対応関係の変動傾向は、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値を一方の軸とし、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を他方の軸とする第１の２次元直交座標において、前記第１の対応関係に相当する点と、前記第２の対応関係に相当する点とを通る第１の直線であり、
前記検知部は、前記第３の対応関係に相当する点が前記第１の直線から一定値以上離れている場合、前記第３の対応関係が前記第１の対応関係から前記第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項６】
請求項１に記載の漏電検知回路であって、
前記記憶部は、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号の周波数より高い周波数の第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第４の対応関係から、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第５の対応関係までの対応関係の変動傾向を記憶し、
前記検知部は、前記第３の対応関係が前記第１の対応関係から前記第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合で、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、前記発振回路から前記第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第６の対応関係が前記第４の対応関係から前記第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、前記検出抵抗または前記発振回路が故障していることを検知する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項７】
請求項６に記載の漏電検知回路であって、
前記第４の対応関係から前記第５の対応関係までの対応関係の変動傾向は、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を一方の軸とし、前記発振回路から前記第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を他方の軸とする第２の２次元直交座標において、前記第４の対応関係に相当する点と、前記第５の対応関係に相当する点とを通る第２の直線であり、
前記検知部は、前記第６の対応関係に相当する点が前記第２の直線から一定値以上離れている場合、前記第６の対応関係が前記第４の対応関係から前記第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項８】
請求項５に記載の漏電検知回路であって、
模擬絶縁抵抗と、
前記カップリングコンデンサと前記模擬絶縁抵抗とが互いに接続されていない第１の状態、及び、前記カップリングコンデンサと前記模擬絶縁抵抗とが互いに接続されている第２の状態のどちらか一方の状態に切り替えるスイッチと、
を備え、
前記検知部は、前記第１の２次元直交座標において、前記第１の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、前記第１の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点と、前記第２の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、前記第２の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点とにより前記第１の直線を算出する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項９】
請求７に記載の漏電検知回路であって、
模擬絶縁抵抗と、
前記カップリングコンデンサと前記模擬絶縁抵抗とが互いに接続されていない第１の状態、及び、前記カップリングコンデンサと前記模擬絶縁抵抗とが互いに接続されている第２の状態のどちらか一方の状態に切り替えるスイッチと、
を備え、
前記検知部は、前記第２の２次元直交座標において、前記第１の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、前記第１の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点と、前記第２の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、前記第２の状態になるように前記スイッチの動作を制御しているときで、かつ、前記発振回路から前記第２の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点とにより前記第２の直線を算出する
ことを特徴とする漏電検知回路。
【請求項１０】
漏電検知用発振信号、前記漏電検知用発振信号の周波数より高い周波数の浮遊容量測定用発振信号、または、第１の故障検知用発振信号を出力する発振回路と、
前記発振回路と車両に搭載される直流電源のグランドラインに接続されるカップリングコンデンサとの間に接続される検出抵抗と、
前記検出抵抗に接続される絶縁抵抗測定回路と、
前記検出抵抗に接続される浮遊容量測定回路と、
前記発振回路から前記漏電検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が閾値以下である場合、前記グランドラインと前記車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値が低下していることを検知し、前記発振回路から前記浮遊容量測定用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値により前記絶縁抵抗に並列接続される浮遊容量の容量値を求める検知部と、
当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第１の対応関係から、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、当該漏電検知回路が故障していないときで、かつ、前記絶縁抵抗の抵抗値が前記第２の抵抗値であるときで、かつ、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第２の対応関係までの対応関係の変動傾向を記憶する記憶部とを備える漏電検知回路の故障検知方法であって、
前記検知部は、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、前記発振回路から前記第１の故障検知用発振信号が出力されているときに前記浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第３の対応関係が前記第１の対応関係から前記第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、前記絶縁抵抗測定回路または前記浮遊容量測定回路が故障していることを検知する
ことを特徴とする故障検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、漏電検知回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
漏電検知回路として、車両に搭載される直流電源のグランドラインにカップリングコンデンサを介して検出抵抗を接続するとともに、グランドラインと車両のボディアースとの間に発振信号を出力し、検出抵抗にかかる電圧の波高値が閾値以下であるとき、絶縁抵抗の抵抗値が低下していること、すなわち、漏電が発生していることを検知するものがある。
【０００３】
関連する技術として、例えば、特許文献１がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−１５５３２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記漏電検知回路は、漏電検知回路が故障することで検出抵抗にかかる電圧の波高値が、漏電検知回路が故障していない場合に比べて高くなると、実際には漏電が発生しているにもかかわらず、漏電が発生していないと誤検知してしまうおそれがある。そのため、漏電検知回路の故障を検知して、ユーザに漏電検知回路の修理を促すことが必要である。
【０００６】
本発明の一側面に係る目的は、車両に搭載される直流電源と車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値の低下を検知する漏電検知回路の故障を漏電検知回路自身で検知することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る一つの形態である漏電検知回路は、車両に搭載される直流電源のグランドラインと車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値の低下を検知する漏電検知回路であって、発振回路と、検出抵抗と、検出抵抗に接続される絶縁抵抗測定回路と、検出抵抗に接続される浮遊容量測定回路と、検知部と、記憶部とを備える。
【０００８】
発振回路は、漏電検知用発振信号、漏電検知用発振信号の周波数より高い周波数の浮遊容量測定用発振信号、または、第１の故障検知用発振信号を出力する。
【０００９】
検出抵抗は、発振回路とグランドラインに接続されるカップリングコンデンサとの間に接続される。
【００１０】
検知部は、発振回路から漏電検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が閾値以下である場合、絶縁抵抗の抵抗値が低下していることを検知し、発振回路から浮遊容量測定用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値により絶縁抵抗に並列接続される浮遊容量の容量値を求める。
【００１１】
記憶部は、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第１の対応関係から、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第２の対応関係までの対応関係の変動傾向を記憶する。
【００１２】
また、検知部は、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路が故障していることを検知する。
【００１３】
漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が変化しているとき、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との対応関係の変動傾向、すなわち、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向は、絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路が故障しているときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が変化しているとき、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との対応関係の変動傾向と異なる。そのため、検知部は、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路が故障していることを検知することができる。これにより、漏電検知回路は、自身が故障していることを検知することができる。
【００１４】
また、浮遊容量測定回路は、発振回路から浮遊容量測定用発振信号が出力されているときに検出抵抗にかかる電圧を減衰させない。
【００１５】
これにより、浮遊容量測定回路から出力される電圧を精度良く取得することができるため、浮遊容量の容量値を精度良く求めることができる。
【００１６】
また、絶縁抵抗、浮遊容量、カップリングコンデンサ、及び、検出抵抗により構成されるローパスフィルタのカットオフ周波数は、漏電検知用発振信号の周波数より高く、浮遊容量測定用発振信号の周波数より低く、絶縁抵抗測定回路に備えられるローパスフィルタのカットオフ周波数は、漏電検知用発振信号の周波数より高く、浮遊容量測定回路に備えられるローパスフィルタのカットオフ周波数は、浮遊容量測定用発振信号の周波数より高いものとする。
【００１７】
また、検知部は、前回の故障検知処理において取得した、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値及び浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、今回の故障検知処理において取得した、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値及び浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とを比較し、浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値が変化せず、絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が一定値以上変化した場合、絶縁抵抗測定回路のみが故障していることを検知し、絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値が変化せず、浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値が一定値以上変化した場合、浮遊容量測定回路のみが故障していることを検知するように構成してもよい。
【００１８】
これにより、絶縁抵抗測定回路及び浮遊容量測定回路のうち、故障している方のみに対して、ユーザに修理を促すことができる。
【００１９】
また、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向は、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値を一方の軸とし、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を他方の軸とする第１の２次元直交座標において、第１の対応関係に相当する点と、第２の対応関係に相当する点とを通る第１の直線であり、検知部は、第３の対応関係に相当する点が第１の直線から一定値以上離れている場合、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断するように構成してもよい。
【００２０】
このように、所定値を考慮して、第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値に含まれるノイズの影響や波高値の測定誤差などにより絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路の故障の誤検知を低減することができるため、絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路の故障検知精度を向上させることができる。
【００２１】
また、記憶部は、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号の周波数より高い周波数の第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第４の対応関係から、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第５の対応関係までの対応関係の変動傾向を記憶し、検知部は、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合で、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、検出抵抗または発振回路が故障していることを検知するように構成してもよい。
【００２２】
漏電検知回路が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が変化しているとき、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との対応関係の変動傾向、すなわち、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向は、漏電検知回路（検出抵抗、発振回路、絶縁抵抗測定回路、及び、浮遊容量測定回路の少なくとも１つ）の故障状態が変化しているときで、かつ、絶縁抵抗の抵抗値が一定であるとき、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値との対応関係の変動傾向と異なる。そのため、検知部は、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合（絶縁抵抗測定回路及び浮遊容量測定回路が故障していないことを検知した場合）で、かつ、第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合（検出抵抗、発振回路、絶縁抵抗測定回路、及び、浮遊容量測定回路の少なくとも１つが故障していることを検知した場合）、検出抵抗または発振回路が故障していることを検知することができる。これにより、漏電検知回路は、自身が故障していることを検知することができる。
【００２３】
また、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向は、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を一方の軸とし、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値を他方の軸とする第２の２次元直交座標において、第４の対応関係に相当する点と、第５の対応関係に相当する点とを通る第２の直線であり、検知部は、第６の対応関係に相当する点が第２の直線から一定値以上離れている場合、第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断するように構成してもよい。
【００２４】
このように、所定値を考慮して、第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値に含まれるノイズの影響や波高値の測定誤差などにより検出抵抗または発振回路の故障の誤検知を低減することができるため、検出抵抗または発振回路の故障検知精度を向上させることができる。
【００２５】
また、漏電検知回路は、模擬絶縁抵抗と、カップリングコンデンサと模擬絶縁抵抗とが互いに接続されていない第１の状態、及び、カップリングコンデンサと模擬絶縁抵抗とが互いに接続されている第２の状態のどちらか一方の状態に切り替えるスイッチとを備え、検知部は、第１の２次元直交座標において、第１の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、第１の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点と、第２の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路から出力される電圧の波高値と、第２の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点とにより第１の直線を算出するように構成してもよい。
【００２６】
このように、模擬絶縁抵抗を用いて擬似的に漏電状態をつくり、その擬似的な漏電状態において第１の直線を算出することにより、その算出した第１の直線式を漏電検知回路で実際に漏電が発生したときに算出される第１の直線式に近づけることができるため、漏電検知回路を構成する素子や回路の製造時の特性バラツキにより絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路の故障を検知する精度が低下することを抑制することができる。
【００２７】
また、検知部は、第２の２次元直交座標において、第１の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、第１の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点と、第２の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第１の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値と、第２の状態になるようにスイッチの動作を制御しているときで、かつ、発振回路から第２の故障検知用発振信号が出力されているときに絶縁抵抗測定回路または浮遊容量測定回路から出力される電圧の波高値とが対応する点とにより第２の直線を算出するように構成してもよい。
【００２８】
このように、模擬絶縁抵抗を用いて擬似的に漏電状態をつくり、その擬似的な漏電状態において第２の直線を算出することにより、その算出した第２の直線式を漏電検知回路で実際に漏電が発生したときに算出される第２の直線式に近づけることができるため、漏電検知回路を構成する素子や回路の製造時の特性バラツキにより検出抵抗または発振回路の故障を検知する精度が低下することを抑制することができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、車両に搭載される直流電源と車両のボディアースとの間の絶縁抵抗の抵抗値の低下を検知する漏電検知回路の故障を漏電検知回路自身で検知することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】実施形態の漏電検知回路の一例を示す図である。
【図２】ローパスフィルタの周波数特性の一例を示す図である。
【図３】第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向を示す図である。
【図４】第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向を示す図である。
【図５】故障検知処理実行時の検知部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点の一例を示す図である。
【図７】波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点の一例を示す図である。
【図８】波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点の一例を示す図である。
【図９】波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点の一例を示す図である。
【図１０】変形例１における故障検知処理実行時の検知部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１１】第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向を示す図である。
【図１２】波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点の一例を示す図である。
【図１３】波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点の一例を示す図である。
【図１４】波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点の一例を示す図である。
【図１５】波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点の一例を示す図である。
【図１６】実施形態の漏電検知回路の変形例２を示す図である。
【図１７】直線算出処理実行時の検知部の動作の一例を示すフローチャートである。
【図１８】直線算出処理実行時の検知部の動作の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下図面に基づいて実施形態について詳細を説明する。
図１は、実施形態の漏電検知回路の一例を示す図である。
【００３２】
直流電源Ｐは、直列接続される複数の電池（例えば、リチウムイオン電池またはニッケル水素電池）により構成される高圧バッテリであって、ハイブリッド車や電気自動車などの車両に搭載され、走行用モータを駆動するインバータ回路などの負荷Ｌｏに電力を供給する。
【００３３】
漏電検知回路１は、直流電源ＰのグランドラインＧＬと車両のボディアースＢＥとの間の絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値の低下を検知するものであって、発振回路２と、検出抵抗Ｒｄと、絶縁抵抗測定回路３と、浮遊容量測定回路４と、記憶部５と、検知部６とを備える。
【００３４】
発振回路２は、矩形波などの発振信号ＳをグランドラインＧＬとボディアースＢＥとの間に出力する。なお、発振信号Ｓは、漏電検知用発振信号Ｓｄ、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃ、第１の故障検知用発振信号Ｓ１、または、第２の故障検知用発振信号Ｓ２とする。浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２は、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１より高いものとする。第２の故障検知用発振信号Ｓ２の周波数は、第１の故障検知用発振信号Ｓ１の周波数より高いものとする。また、第１の故障検知用発振信号Ｓ１の周波数は特に限定されないが、後述するローパスフィルタＬＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃ１及びローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２より低く、第１の故障検知用発振信号Ｓ１の波高値がローパスフィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２により減衰されないような周波数が望ましい。第１の故障検知用発振信号Ｓ１の周波数は、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１と同一であってもよい。また、第２の故障検知用発振信号Ｓ２の周波数は特に限定されないが、後述するローパスフィルタＬＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃ１及びローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２の少なくとも一方より低く、第１の故障検知用発振信号Ｓ１の波高値がローパスフィルタＬＰＦ１、ＬＰＦ２の少なくとも一方により減衰されないような周波数が望ましい。第２の故障検知用発振信号Ｓ２の周波数は、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２と同一であってもよい。
【００３５】
検出抵抗Ｒｄは、グランドラインＧＬに接続されるカップリングコンデンサＣｃと発振回路２との間に接続される。
【００３６】
絶縁抵抗測定回路３は、ローパスフィルタＬＰＦ１（不図示）を備え、検出抵抗ＲｄのカップリングコンデンサＣｃ側と検知部６との間に接続される。また、絶縁抵抗測定回路３は、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄが入力され、電圧Ｖ１を検知部６に出力する。ローパスフィルタＬＰＦ１は、電圧Ｖ１に含まれるノイズ（高周波成分）を減衰させる。
【００３７】
浮遊容量測定回路４は、ローパスフィルタＬＰＦ２（不図示）を備え、検出抵抗ＲｄのカップリングコンデンサＣｃ側と検知部６との間に接続される。また、浮遊容量測定回路４は、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄが入力され、電圧Ｖ２を検知部６に出力する。ローパスフィルタＬＰＦ２は、電圧Ｖ２に含まれるノイズ（高周波成分）を減衰させる。
【００３８】
記憶部５は、例えば、ＲＡＭ（Random Access Memory）またはＲＯＭ（Read Only Memory）などにより構成され、後述する、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向や第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向などを記憶する。
【００３９】
なお、第１の対応関係は、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４）が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との対応関係とする。
【００４０】
また、第２の対応関係は、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との対応関係とする。
【００４１】
また、第４の対応関係は、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＬと、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨとの対応関係とする。このとき、第２の故障検知用発振信号Ｓ２が減衰されないローパスフィルタＬＰＦ１，ＬＰＦ２を介して取得された電圧Ｖ１，Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＨとして用いることが望ましい。
【００４２】
また、第５の対応関係は、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＬと、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨとの対応関係とする。このとき、第２の故障検知用発振信号Ｓ２が減衰されないローパスフィルタＬＰＦ１，ＬＰＦ２を介して取得された電圧Ｖ１，Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＨとして用いることが望ましい。
【００４３】
検知部６は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、マルチコアＣＰＵ、またはプログラマブルなデバイス（ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＰＬＤ（Programmable Logic Device））などにより構成される。
【００４４】
また、検知部６は、発振回路２から漏電検知用発振信号Ｓｄを出力させているとき、絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値が閾値Ｖｔｈ以下である場合、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下していること、すなわち、漏電が発生していることを検知する。なお、閾値Ｖｔｈは、実験やシミュレーションなどにより求められ記憶部５に記憶されているものとし、例えば、漏電になる直前の電圧Ｖ１の波高値とする。
【００４５】
また、検知部６は、発振回路２から浮遊容量測定用発振信号Ｓｃを出力させているとき、浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値により浮遊容量Ｃｆの容量値を求める。なお、検知部６は、浮遊容量Ｃｆの容量値を用いて、閾値Ｖｔｈを補正してもよい。例えば、検知部６は、浮遊容量Ｃｆの容量値が増加するほど、閾値Ｖｔｈを低下させる。これにより、浮遊容量Ｃｆの容量値の増加に伴う電圧Ｖｄ（電圧Ｖ１）の波高値の低下に合わせて、閾値Ｖｔｈも低下させることができる。そのため、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値の低下よりも浮遊容量Ｃｆの容量値の増加の影響を受けて電圧Ｖｄ（電圧Ｖ１）の波高値が低くなっているにもかかわらず、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が小さいと誤検知してしまうことを抑えることができる。
【００４６】
また、検知部６は、故障検知処理を実行することにより、漏電検知回路１が故障しているか否かを検知する。なお、漏電検知回路１の故障とは、発振回路２、検出抵抗Ｒｄ、絶縁抵抗測定回路３、及び浮遊容量測定回路４の少なくとも１つが故障している状態とする。発振回路２が故障している状態とは、例えば、発振回路２から出力される発振信号Ｓの波高値が予め決められている波高値より高いまたは低い状態とする。また、検出抵抗Ｒｄが故障している状態とは、例えば、検出抵抗Ｒｄが断線している状態、または、検出抵抗Ｒｄの両端が互いに接続されている状態とする。また、絶縁抵抗測定回路３が故障している状態とは、例えば、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが初期値（漏電検知回路１の製造時の絶縁抵抗測定回路３のインピーダンス）より高いまたは低い状態とする。また、浮遊容量測定回路４が故障している状態とは、例えば、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが初期値（漏電検知回路１の製造時の浮遊容量測定回路４のインピーダンス）より高いまたは低い状態とする。
【００４７】
図２（ａ）は、絶縁抵抗Ｒｉに仮想的に並列接続される浮遊容量Ｃｆ、カップリングコンデンサＣｃ、及び検出抵抗Ｒｄにより構成されるローパスフィルタＬＰＦの周波数特性（実線）を示す図である。なお、図２（ａ）に示す２次元直交座標の横軸は発振信号Ｓの周波数［Ｈｚ］を示し、縦軸はローパスフィルタＬＰＦのゲイン［ｄＢ］を示す。また、図２（ａ）に示す破線は、浮遊容量Ｃｆの容量値が増加した後のローパスフィルタＬＰＦの周波数特性を示している。
【００４８】
図２（ａ）に示すように、ローパスフィルタＬＰＦのカットオフ周波数ｆｃは、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１より高く、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２より低いものとする。
【００４９】
図２（ｂ）は、ローパスフィルタＬＰＦ１の周波数特性（一点鎖線）及びローパスフィルタＬＰＦ２の周波数特性（二点鎖線）を示す図である。なお、図２（ｂ）に示す２次元直交座標の横軸は発振信号Ｓの周波数［Ｈｚ］を示し、縦軸はローパスフィルタＬＰＦ１またはローパスフィルタＬＰＦ２のゲイン［ｄＢ］を示す。また、ローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２は、ローパスフィルタＬＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃ１より高いものとする。
【００５０】
図２（ｂ）に示すように、ローパスフィルタＬＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃ１は、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１より高く、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２より低いものとする。
【００５１】
また、ローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２は、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２より高いものとする。
【００５２】
図２（ａ）に示すように、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１はローパスフィルタＬＰＦのカットオフ周波数ｆｃより低いため、漏電検知用発振信号ＳｄはローパスフィルタＬＰＦにより減衰されない。そのため、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下していないときで、かつ、発振回路２から漏電検知用発振信号Ｓｄが出力されているとき、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値は、漏電検知用発振信号Ｓｄの波高値と同じまたは略同じになる。
【００５３】
また、図２（ｂ）に示すように、漏電検知用発振信号Ｓｄの周波数ｆ１はローパスフィルタＬＰＦ１のカットオフ周波数ｆｃ１より低いため、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧ＶｄはローパスフィルタＬＰＦ１により減衰されない。そのため、絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値は、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値と同じまたは略同じになる。
【００５４】
また、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下するほど、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値が低下する。すなわち、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下するほど、電圧Ｖ１の波高値が低下する。
【００５５】
これにより、検知部６は、発振回路２から漏電検知用発振信号Ｓｄを出力させているとき、電圧Ｖ１の波高値が閾値Ｖｔｈ以下である場合、漏電が発生していることを検知することができる。
【００５６】
また、図２（ａ）に示すように、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２はローパスフィルタＬＰＦのカットオフ周波数ｆｃより高いため、浮遊容量測定用発振信号ＳｃはローパスフィルタＬＰＦにより減衰される。そのため、浮遊容量Ｃｆの容量値が増加してローパスフィルタＬＰＦのカットオフ周波数ｆｃが低くなるほど、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２に対応するローパスフィルタＬＰＦのゲインが小さくなり、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃがさらに減衰される。すなわち、浮遊容量Ｃｆの容量値が増加するほど、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値が低下する。
【００５７】
また、図２（ｂ）に示すように、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２はローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２より低いため、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧ＶｄはローパスフィルタＬＰＦ２により減衰されない。そのため、浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値は、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値と同じまたは略同じになる。
【００５８】
すなわち、浮遊容量Ｃｆの容量値が増加するほど、電圧Ｖ２の波高値が低下する。
これにより、検知部６は、発振回路２から浮遊容量測定用発振信号Ｓｃを出力させているとき、電圧Ｖ２の波高値と浮遊容量Ｃｆの容量値とが対応付けられている情報を参照して、電圧Ｖ２の波高値に対応する浮遊容量Ｃｆの容量値を求めることができる。
【００５９】
また、浮遊容量測定用発振信号Ｓｃの周波数ｆ２がローパスフィルタＬＰＦ２のカットオフ周波数ｆｃ２より低いため、発振回路２から浮遊容量測定用発振信号Ｓｃを出力させているときに検出抵抗Ｒｄにかかる電圧ＶｄをローパスフィルタＬＰＦ２により減衰させないようにすることができる。これにより、検知部６は、電圧Ｖ２を精度良く取得することができるため、浮遊容量Ｃｆの容量値を精度良く求めることができる。
【００６０】
なお、電圧Ｖ２に含まれるノイズの影響が比較的小さい場合、ローパスフィルタＬＰＦ２を省略してもよい。
【００６１】
図３は、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスの変化に伴う、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向の変化の一例を示す図である。なお、浮遊容量Ｃｆの容量値、発振回路２から出力される発振信号Ｓの波高値、検出抵抗Ｒｄの抵抗値、及び、浮遊容量測定回路４のインピーダンスは変化しないものとする。また、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下するほど、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１及び浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２がそれぞれ低下するものとする。
【００６２】
図３に示す直線Ｌ１（第１の直線）は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１を横軸とし、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２を縦軸とする２次元直交座標（第１の２次元直交座標）において、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐１と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐１とが対応する点ｐ１と、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐２と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐２とが対応する点ｐ２とを通る直線である。
【００６３】
この直線Ｌ１を、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４のそれぞれのインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【００６４】
なお、絶縁抵抗測定回路３の第１のインピーダンスＺ１とは、例えば、漏電検知回路１の製造時における絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスとする。
【００６５】
また、浮遊容量測定回路４の第１のインピーダンスＺ２とは、例えば、漏電検知回路１の製造時における浮遊容量測定回路４のインピーダンスとする。
【００６６】
また、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１は、ＶｐｐＬ２＝（（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２）／（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２））×（ＶｐｐＬ１−ＶｐｐＬ１‐１）＋ＶｐｐＬ２‐１、または、ＶｐｐＬ１＝（（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２）／（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２））×（ＶｐｐＬ２−ＶｐｐＬ２‐１）＋ＶｐｐＬ１‐１とする。
【００６７】
また、図３に示す２次元直交座標の横軸と縦軸を入れ替えてもよい。
また、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４のそれぞれのインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向の他の例として、直線Ｌ１の波高値ＶｐｐＬ‐１と波高値ＶｐｐＬ‐２との対応関係を示す２次元マップを採用してもよい。
【００６８】
また、図３に示す直線Ｌ２は、２次元直交座標において、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１より高い第２のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐３と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐１とが対応する点ｐ３と、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第２のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐４と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐２とが対応する点ｐ４とを通る直線である。
【００６９】
この直線Ｌ２を、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１より高く、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【００７０】
また、図３に示す直線Ｌ３は、２次元直交座標において、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１より低い第３のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐５と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐１とが対応する点ｐ５と、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第３のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐６と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐２とが対応する点ｐ６とを通る直線である。
【００７１】
この直線Ｌ３を、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１より低く、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【００７２】
このように、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスの変化に伴って直線Ｌ１が波高値ＶｐｐＬ１の軸方向にシフトするため、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が直線Ｌ１に含まれていない場合、少なくとも絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１に比べて変化していると判断することができる。
【００７３】
図４は、浮遊容量測定回路４のインピーダンスの変化に伴う、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向の変化の一例を示す図である。なお、浮遊容量Ｃｆの容量値、発振回路２から出力される発振信号Ｓの波高値、検出抵抗Ｒｄの抵抗値、及び、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスは変化しないものとする。また、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が低下するほど、絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１及び浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２もそれぞれ低下するものとする。また、図４に示す直線Ｌ１は、図３に示す直線Ｌ１と同じとする。
【００７４】
図４に示す直線Ｌ４は、２次元直交座標において、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐１と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２より高い第２のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐３とが対応する点ｐ７と、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐２と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第２のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐４とが対応する点ｐ８とを通る直線である。
【００７５】
この直線Ｌ４を、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２より高く、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【００７６】
また、図４に示す直線Ｌ５は、２次元直交座標において、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐１と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２より低い第３のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐５とが対応する点ｐ９と、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ１であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１‐２と、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第３のインピーダンスＺ２であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２‐６とが対応する点ｐ１０を通る直線である。
【００７７】
この直線Ｌ５を、浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２より低く、絶縁抵抗測定回路３のインピーダンスが初期値であるときの第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【００７８】
このように、浮遊容量測定回路４のインピーダンスの変化に伴って直線Ｌ１が波高値ＶｐｐＬ２の軸方向にシフトするため、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が直線Ｌ１に含まれていない場合、少なくとも浮遊容量測定回路４のインピーダンスが第１のインピーダンスＺ２に比べて変化していると判断することができる。
【００７９】
すなわち、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が図３または図４に示す直線Ｌ１に含まれていない場合、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４のインピーダンスが変化していると、すなわち、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していると判断することができる。
【００８０】
図５は、故障検知処理実行時の検知部６の動作の一例を示すフローチャートである。
まず、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１を出力させる（ステップＳ１１）。
【００８１】
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１及び浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２を取得する（ステップＳ１２）。
【００８２】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合（ステップＳ１３：Ｎｏ）、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する（ステップＳ１４）。
【００８３】
一方、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知する（ステップＳ１５）。
【００８４】
ここで、故障検知処理実行時、図６に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐７を取得し、波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐７を取得した場合を想定する。
【００８５】
（波高値ＶｐｐＬ１の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ１＝（（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２）／（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２））×（ＶｐｐＬ２−ＶｐｐＬ２‐１）＋ＶｐｐＬ１‐１）のＶｐｐＬ２に波高値ＶｐｐＬ２‐７を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ２‐７に対応する波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐８を求める。
【００８６】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１‐７が波高値ＶｐｐＬ１‐８より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ１‐８から一定値Ｖ１を減算した結果である閾値Ｖｔｈ１を求める。
【００８７】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐７が閾値Ｖｔｈ１以下である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７とが対応する点ｐ１１が直線Ｌ１から一定値Ｖ１以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。
【００８８】
なお、閾値Ｖｔｈ１を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐７が波高値ＶｐｐＬ１‐８より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７とが対応する点ｐ１１が直線Ｌ１から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知するように構成してもよい。
【００８９】
また、検知部６は、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−８及び波高値ＶｐｐＬ２−７を記憶部５に記憶し、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−８及び波高値ＶｐｐＬ２−７と、今回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−７及び波高値ＶｐｐＬ２−７とを比較し、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向の値が変化せず、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向の値が一定値Ｖ１以上変化したと判断すると、絶縁抵抗測定回路３のみが故障していることを検知するように構成してもよい。これにより、故障している絶縁抵抗測定回路３のみに対して、ユーザに修理を促すことができる。
【００９０】
また、一定値Ｖ１は、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ１を考慮して、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などによる絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の誤検知を低減することができるため、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障検知精度を向上させることができる。
【００９１】
（波高値ＶｐｐＬ２の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ２＝（（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２）／（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２））×（ＶｐｐＬ１−ＶｐｐＬ１‐１）＋ＶｐｐＬ２‐１）のＶｐｐＬ１に波高値ＶｐｐＬ１‐７を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ１‐７に対応する波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐８を求める。
【００９２】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐７が波高値ＶｐｐＬ２‐８より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ２‐８に一定値Ｖ２を加算した結果である閾値Ｖｔｈ２を求める。
【００９３】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐７が閾値Ｖｔｈ２以上である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７とが対応する点ｐ１１が直線Ｌ１から一定値Ｖ２以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。
【００９４】
なお、閾値Ｖｔｈ２を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐７が波高値ＶｐｐＬ２‐８より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７とが対応する点ｐ１１が直線Ｌ１から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐７と波高値ＶｐｐＬ２‐７との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知するように構成してもよい。
【００９５】
また、検知部６は、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−７及び波高値ＶｐｐＬ２−８を記憶部５に記憶し、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−７及び波高値ＶｐｐＬ２−８と、今回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−７及び波高値ＶｐｐＬ２−７とを比較し、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向の値が変化せず、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向の値が一定値Ｖ２以上変化したと判断すると、浮遊容量測定回路４のみが故障していることを検知するように構成してもよい。これにより、故障している浮遊容量測定回路４のみに対して、ユーザに修理を促すことができる。
【００９６】
また、一定値Ｖ２は、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ２を考慮して、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などによる絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の誤検知を低減することができるため、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障検知精度を向上させることができる。
【００９７】
また、故障検知処理実行時、図７に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐９を取得し、波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐９を取得した場合を想定する。
【００９８】
（波高値ＶｐｐＬ１の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ‐１２）／（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２））×（ＶｐｐＬ２−ＶｐｐＬ２‐１）＋ＶｐｐＬ１‐１）のＶｐｐＬ２に波高値ＶｐｐＬ２‐９を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ２‐９に対応する波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐１０を求める。
【００９９】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐９が波高値ＶｐｐＬ１‐１０より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ１‐１０から一定値Ｖ１を減算した結果である閾値Ｖｔｈ３を求める。
【０１００】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐９が閾値Ｖｔｈ３より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９とが対応する点ｐ１２が直線Ｌ１から一定値Ｖ１以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知する。
【０１０１】
なお、閾値Ｖｔｈ３を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐９が波高値ＶｐｐＬ１‐１０と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９とが対応する点ｐ１２が直線Ｌ１から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１０２】
（波高値ＶｐｐＬ２の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ２＝（（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２）／（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２））×（ＶｐｐＬ１−ＶｐｐＬ１‐１）＋ＶｐｐＬ２‐１）のＶｐｐＬ１に波高値ＶｐｐＬ１‐９を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ１‐９に対応する波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐１０を求める。
【０１０３】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐９が波高値ＶｐｐＬ２‐１０より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ２‐１０に一定値Ｖ２を加算した結果である閾値Ｖｔｈ４を求める。
【０１０４】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐９が閾値Ｖｔｈ４未満である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９とが対応する点ｐ１２が直線Ｌ１から一定値Ｖ２以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知する。
【０１０５】
なお、閾値Ｖｔｈ４を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐９が波高値ＶｐｐＬ２‐１０と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９とが対応する点ｐ１２が直線Ｌ１から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐９と波高値ＶｐｐＬ２‐９との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１０６】
また、故障検知処理実行時、図８に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐１１を取得し、波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐１１を取得した場合を想定する。
【０１０７】
（波高値ＶｐｐＬ１の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ１＝（（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２）／（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２））×（ＶｐｐＬ２−ＶｐｐＬ２‐１）＋ＶｐｐＬ１‐１）のＶｐｐＬ２に波高値ＶｐｐＬ２‐１１を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ２‐１１に対応する波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐１２を求める。
【０１０８】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１‐１１が波高値ＶｐｐＬ１‐１２より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ１‐１２に一定値Ｖ３を加算した結果である閾値Ｖｔｈ５を求める。
【０１０９】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐１１が閾値Ｖｔｈ５以上である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１とが対応する点ｐ１３が直線Ｌ１から一定値Ｖ３以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。
【０１１０】
なお、閾値Ｖｔｈ５を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐１１が波高値ＶｐｐＬ１‐１２より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１とが対応する点ｐ１３が直線Ｌ１から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１１１】
また、検知部６は、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１２及び波高値ＶｐｐＬ２−１１を記憶部５に記憶し、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１２及び波高値ＶｐｐＬ２−１１と、今回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１１及び波高値ＶｐｐＬ２−１１とを比較し、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向の値が変化せず、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向の値が一定値Ｖ３以上変化したと判断すると、絶縁抵抗測定回路３のみが故障していることを検知するように構成してもよい。これにより、故障している絶縁抵抗測定回路３のみに対して、ユーザに修理を促すことができる。
【０１１２】
また、一定値Ｖ３は、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ３を考慮して、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などによる絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の誤検知を低減することができるため、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障検知精度を向上させることができる。
【０１１３】
（波高値ＶｐｐＬ２の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ２＝（（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２）／（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２））×（ＶｐｐＬ１−ＶｐｐＬ１‐１）＋ＶｐｐＬ２‐１）のＶｐｐＬ１に波高値ＶｐｐＬ１‐１１を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ１‐１１に対応する波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐１２を求める。
【０１１４】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２‐１１が波高値ＶｐｐＬ２‐１２より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ２‐１２から一定値Ｖ４を減算した結果である閾値Ｖｔｈ６を求める。
【０１１５】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐１１が閾値Ｖｔｈ６以下である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１とが対応する点ｐ１３が直線Ｌ１から一定値Ｖ４以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。
【０１１６】
なお、閾値Ｖｔｈ６を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐１１が波高値ＶｐｐＬ２‐１２より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１とが対応する点ｐ１３が直線Ｌ１から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１１と波高値ＶｐｐＬ２‐１１との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１１７】
また、検知部６は、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１１及び波高値ＶｐｐＬ２−１２を記憶部５に記憶し、前回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１１及び波高値ＶｐｐＬ２−１２と、今回の故障検知処理において取得した波高値ＶｐｐＬ１−１１及び波高値ＶｐｐＬ２−１１とを比較し、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向の値が変化せず、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向の値が一定値Ｖ４以上変化したと判断すると、浮遊容量測定回路４のみが故障していることを検知するように構成してもよい。これにより、故障している浮遊容量測定回路４のみに対して、ユーザに修理を促すことができる。
【０１１８】
また、一定値Ｖ４は、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ４を考慮して、第３の対応関係が第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２に含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ１、ＶｐｐＬ２の測定誤差などによる絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の誤検知を低減することができるため、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障検知精度を向上させることができる。
【０１１９】
また、故障検知処理実行時、図９に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐１３を取得し、波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐１３を取得した場合を想定する。
【０１２０】
（波高値ＶｐｐＬ１の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ１＝（（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２）／（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２））×（ＶｐｐＬ２−ＶｐｐＬ２‐１）＋ＶｐｐＬ１‐１）のＶｐｐＬ２に波高値ＶｐｐＬ２‐１３を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ２‐１３に対応する波高値ＶｐｐＬ１として波高値ＶｐｐＬ１‐１４を求める。
【０１２１】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐１３が波高値ＶｐｐＬ１‐１４より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ１‐１４に一定値Ｖ３を加算した結果である閾値Ｖｔｈ７を求める。
【０１２２】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐１３が閾値Ｖｔｈ７より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３とが対応する点ｐ１４が直線Ｌ１から一定値Ｖ３以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知する。
【０１２３】
なお、閾値Ｖｔｈ７を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１の軸方向において波高値ＶｐｐＬ１‐１３が波高値ＶｐｐＬ１‐１４と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３とが対応する点ｐ１４が直線Ｌ１から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１２４】
（波高値ＶｐｐＬ２の軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＬ２＝（（ＶｐｐＬ２‐１−ＶｐｐＬ２‐２）／（ＶｐｐＬ１‐１−ＶｐｐＬ１‐２））×（ＶｐｐＬ１−ＶｐｐＬ１‐１）＋ＶｐｐＬ２‐１）のＶｐｐＬ１に波高値ＶｐｐＬ１‐１３を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ１‐１３に対応する波高値ＶｐｐＬ２として波高値ＶｐｐＬ２‐１４を求める。
【０１２５】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２‐１３が波高値ＶｐｐＬ２‐１４より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ２‐１４から一定値Ｖ４を減算した結果である閾値Ｖｔｈ８を求める。
【０１２６】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐１３が閾値Ｖｔｈ８より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３とが対応する点ｐ１４が直線Ｌ１から一定値Ｖ４以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知する。
【０１２７】
なお、閾値Ｖｔｈ８を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ２の軸方向において波高値ＶｐｐＬ２‐１３が波高値ＶｐｐＬ２‐１４と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３とが対応する点ｐ１４が直線Ｌ１から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ１‐１３と波高値ＶｐｐＬ２‐１３との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１２８】
また、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向として、直線Ｌ１の波高値ＶｐｐＬ‐１と波高値ＶｐｐＬ‐２との対応関係を示す２次元マップを採用した場合も、同様に絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の検知を行える。
【０１２９】
すなわち、検知部６は、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ１及び波高値ＶｐｐＬ２のうち、一方の波高値を基準として、２次元マップ上で対応する他方の波高値を取得する。
【０１３０】
そして、検知部６は、２次元マップ上で対応する他方の波高値に一定値を加算あるいは減算して閾値を求め、検知部６が取得した他方の波高値が閾値内に含まれているか否かで、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ１及び波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の有無を検知する。
【０１３１】
あるいは、検知部６は、２次元マップ上で対応する他方の波高値と検知部６が取得した他方の波高値とが同じ値または略同じ値か否かで、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ１及び波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断し、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４の故障の有無を検知する。
【０１３２】
このように、実施形態の漏電検知回路１では、絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が変化しているとき、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との対応関係の変動傾向、すなわち、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向は、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障しているときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が変化しているとき、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との対応関係の変動傾向と異なる。そのため、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１と、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知することができる。すなわち、実施形態の漏電検知回路１は、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との対応関係の変動傾向により絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障しているか否かを検知することができるため、自身が故障していることを検知することができる。これにより、漏電検知回路１の故障をユーザに通知することができるため、ユーザに漏電検知回路１の修理を促すことができる。
【０１３３】
また、本発明は、以上の実施の形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良、変更が可能である。
【０１３４】
＜変形例１＞
図１０は、実施形態の漏電検知回路１の変形例１における故障検知処理実行時の検知部６の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図１０に示すステップＳ１１〜Ｓ１４は、図５に示すステップＳ１１〜Ｓ１４と同様であるため、説明を省略する。
【０１３５】
検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１を出力させる（ステップＳ１６）。
【０１３６】
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２を波高値ＶｐｐＬとして取得する（ステップＳ１７）。
【０１３７】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２を出力させる（ステップＳ１８）。
【０１３８】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧の波高値を波高値ＶｐｐＨとして取得する（ステップＳ１９）。
【０１３９】
次に、検知部６は、ステップＳ１７で取得した波高値ＶｐｐＬとステップＳ１９で取得した波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合（ステップＳ２０：Ｎｏ）、検出抵抗Ｒｄまたは発振回路２が故障していることを検知する（ステップＳ２１）。
【０１４０】
一方、検知部６は、第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合（ステップＳ２０：Ｙｅｓ）、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４）が故障していないことを検知する（ステップＳ２２）。
【０１４１】
図１１は、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向の一例を示す図である。なお、浮遊容量Ｃｆの容量値は変化しないものとする。
【０１４２】
図１１に示す直線Ｌ６（第２の直線）は、波高値ＶｐｐＬを横軸とし、波高値ＶｐｐＨを縦軸とする２次元直交座標（第２の２次元直交座標）において、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２である波高値ＶｐｐＬ‐１と、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨ‐１とが対応する点ｐ１５と、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第１の抵抗値より低い第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２である波高値ＶｐｐＬ‐２と、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が第２の抵抗値であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨ‐２とが対応する点ｐ１６とを通る直線である。
【０１４３】
この直線Ｌ６を、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向とする。
【０１４４】
なお、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６は、ＶｐｐＨ＝（（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２）／（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２））×（ＶｐｐＬ−ＶｐｐＬ‐１）＋ＶｐｐＨ‐１、または、ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２）／（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２））×（ＶｐｐＨ−ＶｐｐＨ‐１）＋ＶｐｐＬ‐１とする。
【０１４５】
また、図１１に示す２次元直交座標の横軸と縦軸を入れ替えてもよい。
また、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向の他の例として、直線Ｌ６の波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの対応関係を示す２次元マップを採用してもよい。
【０１４６】
また、図１１に示す直線Ｌ７は、２次元直交座標において、漏電検知回路１が第１の故障状態であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が一定であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＬ‐３と、漏電検知回路１が第１の故障状態であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が一定であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨ‐３とが対応する点ｐ１７と、漏電検知回路１が第２の故障状態であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が一定であるときで、かつ、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＬ‐４と、漏電検知回路１が第２の故障状態であるときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が一定であるときで、かつ、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値である波高値ＶｐｐＨ‐４とが対応する点ｐ１８とを通る直線である。
【０１４７】
なお、第１の故障状態とは、例えば、検出抵抗Ｒｄの両端が互いに接続されている状態または発振回路２から出力される発振信号Ｓの波高値が予め決められた値より高い状態とする。
【０１４８】
また、第２の故障状態とは、例えば、検出抵抗Ｒｄが断線している状態または発振回路２から出力される発振信号Ｓの波高値が予め決められた値より低い状態とする。
【０１４９】
また、第１の故障検知用発振信号Ｓ１の周波数は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているとき、浮遊容量Ｃｆに比べて絶縁抵抗Ｒｉに電流が流れ易いような周波数になっているものとする。そのため、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているとき、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値の変化の影響を受けて波高値ＶｐｐＬが変動し易い。
【０１５０】
また、第２の故障検知用発振信号Ｓ２の周波数は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているとき、絶縁抵抗Ｒｉに比べて浮遊容量Ｃｆに電流が流れ易いような周波数になっているものとする。そのため、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているとき、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値の変化の影響をあまり受けず波高値ＶｐｐＨが変動し難い。
【０１５１】
従って、漏電検知回路１が故障していないとき、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値に応じて、波高値ＶｐｐＬが波高値ＶｐｐＨより大きく変化する。
【０１５２】
一方、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４の少なくとも１つ）が故障しているときは、発振回路２から出力される発振信号Ｓの周波数によらず、漏電検知回路１の故障状態に応じて、波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨが互いに同じように変化する。例えば、漏電検知回路１が第１の故障状態であるとき、波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨがそれぞれ高くなり、漏電検知回路１が第２の故障状態であるとき、波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨがそれぞれ低くなる。
【０１５３】
このように、漏電検知回路１が故障していないときに絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が変化する場合と、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が一定であるときに漏電検知回路１の故障状態が変化する場合とで、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの対応関係の変動傾向が互いに異なる。言い換えると、図１１に示す直線Ｌ６の傾きと直線Ｌ７の傾きとが互いに異なる。そのため、検知部６は、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４の少なくとも１つ）が故障していることを検知することができる。
【０１５４】
実施形態の漏電検知回路１の変形例１では、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との対応関係の変動傾向を用いて絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知した後、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの対応関係の変動傾向を用いて検出抵抗Ｒｄまたは発振回路２が故障しているか否かを検知する。
【０１５５】
すなわち、実施形態の漏電検知回路１の変形例１は、図３または図４に示す２次元直交座標において、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が直線Ｌ１に含まれない場合、絶縁抵抗測定回路３または浮遊容量測定回路４が故障していることを検知する。また、実施形態の漏電検知回路１の変形例１は、図３または図４に示す２次元直交座標において、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が直線Ｌ１に含まれる場合で、かつ、図１１に示す２次元直交座標において、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点が直線Ｌ６に含まれない場合、検出抵抗Ｒｄまたは発振回路２が故障していることを検知する。また、実施形態の漏電検知回路１の変形例１は、図３または図４に示す２次元直交座標において、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点が直線Ｌ１に含まれる場合で、かつ、図１１に示す２次元直交座標において、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとが対応する点が直線Ｌ６に含まれる場合、漏電検知回路１が故障していないことを検知する。
【０１５６】
ここで、故障検知処理実行時、図１２に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐５を取得し、波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐５を取得した場合を想定する。
【０１５７】
（波高値ＶｐｐＬの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２）／（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２））×（ＶｐｐＨ−ＶｐｐＨ‐１）＋ＶｐｐＬ‐１）のＶｐｐＨに波高値ＶｐｐＨ‐５を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＨ‐５に対応する波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐６を求める。
【０１５８】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ‐５が波高値ＶｐｐＬ‐６より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ‐６から一定値Ｖ５を減算した結果である閾値Ｖｔｈ９を求める。
【０１５９】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐５が閾値Ｖｔｈ９以下である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５とが対応する点ｐ１９が直線Ｌ６から一定値Ｖ５以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知する。
【０１６０】
なお、閾値Ｖｔｈ９を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐５が波高値ＶｐｐＬ‐６より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５とが対応する点ｐ１９が直線Ｌ６から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１６１】
また、一定値Ｖ５は、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ５を考慮して、第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などによる検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障の誤検知を低減することができるため、検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障検知精度を向上させることができる。
【０１６２】
（波高値ＶｐｐＨの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＨ＝（（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２）／（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２））×（ＶｐｐＬ−ＶｐｐＬ‐１）＋ＶｐｐＨ‐１）のＶｐｐＬに波高値ＶｐｐＬ‐５を代入することにより、直線式Ｆ１において波高値ＶｐｐＬ‐５に対応する波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐６を求める。
【０１６３】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐５が波高値ＶｐｐＨ‐６より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＨ‐６に一定値Ｖ６を加算した結果である閾値Ｖｔｈ１０を求める。
【０１６４】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐５が閾値Ｖｔｈ１０以上である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５とが対応する点ｐ１９が直線Ｌ６から一定値Ｖ６以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知する。
【０１６５】
なお、閾値Ｖｔｈ１０を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐５が波高値ＶｐｐＨ‐６より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５とが対応する点ｐ１９が直線Ｌ６から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐５と波高値ＶｐｐＨ‐５との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１６６】
また、一定値Ｖ６は、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ６を考慮して、第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などによる検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障の誤検知を低減することができるため、検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障検知精度を向上させることができる。
【０１６７】
また、故障検知処理実行時、図１３に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐７を取得し、波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐７を取得した場合を想定する。
【０１６８】
（波高値ＶｐｐＬの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２）／（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２））×（ＶｐｐＨ−ＶｐｐＨ‐１）＋ＶｐｐＬ‐１）のＶｐｐＨに波高値ＶｐｐＨ‐７を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＨ‐７に対応する波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐８を求める。
【０１６９】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐７が波高値ＶｐｐＬ‐８より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ‐８から一定値Ｖ５を減算した結果である閾値Ｖｔｈ１１を求める。
【０１７０】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐７が閾値Ｖｔｈ１１より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７とが対応する点ｐ２０が直線Ｌ６から一定値Ｖ５以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知する。
【０１７１】
なお、閾値Ｖｔｈ１１を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐７が波高値ＶｐｐＬ‐８と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７とが対応する点ｐ２０が直線Ｌ６から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１７２】
（波高値ＶｐｐＨの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ１を表す直線式Ｆ１（ＶｐｐＨ＝（（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２）／（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２））×（ＶｐｐＬ−ＶｐｐＬ‐１）＋ＶｐｐＨ‐１）のＶｐｐＬに波高値ＶｐｐＬ‐７を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＬ‐７に対応する波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐８を求める。
【０１７３】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐７が波高値ＶｐｐＨ‐８より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＨ‐８に一定値Ｖ６を加算した結果である閾値Ｖｔｈ１２を求める。
【０１７４】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐７が閾値Ｖｔｈ１２未満である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７とが対応する点ｐ２０が直線Ｌ６から一定値Ｖ６以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知する。
【０１７５】
なお、閾値Ｖｔｈ１２を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐７が波高値ＶｐｐＨ‐８と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７とが対応する点ｐ２０が直線Ｌ６から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐７と波高値ＶｐｐＨ‐７との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１７６】
また、故障検知処理実行時、図１４に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐９を取得し、波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐９を取得した場合を想定する。
【０１７７】
（波高値ＶｐｐＬの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２）／（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２））×（ＶｐｐＨ−ＶｐｐＨ‐１）＋ＶｐｐＬ‐１）のＶｐｐＨに波高値ＶｐｐＨ‐９を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＨ‐９に対応する波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐１０を求める。
【０１７８】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐９が波高値ＶｐｐＬ‐１０より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ‐１０に一定値Ｖ７を加算した結果である閾値Ｖｔｈ１３を求める。
【０１７９】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐９が閾値Ｖｔｈ１３以上である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９とが対応する点ｐ２１が直線Ｌ６から一定値Ｖ７以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知する。
【０１８０】
なお、閾値Ｖｔｈ１３を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐９が波高値ＶｐｐＬ‐１０より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９とが対応する点ｐ２１が直線Ｌ６から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１８１】
また、一定値Ｖ７は、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ７を考慮して、第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などによる検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障の誤検知を低減することができるため、検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障検知精度を向上させることができる。
【０１８２】
（波高値ＶｐｐＨの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＨ＝（（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２）／（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２））×（ＶｐｐＬ−ＶｐｐＬ‐１）＋ＶｐｐＨ‐１）のＶｐｐＬに波高値ＶｐｐＬ‐９を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＬ‐９に対応する波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐１０を求める。
【０１８３】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＨ‐９が波高値ＶｐｐＨ‐１０より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＨ‐１０から一定値Ｖ８を減算した結果である閾値Ｖｔｈ１４を求める。
【０１８４】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐９が閾値Ｖｔｈ１４以下である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９とが対応する点ｐ２１が直線Ｌ６から一定値Ｖ８以上離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知する。
【０１８５】
なお、閾値Ｖｔｈ１４を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐９が波高値ＶｐｐＨ‐１０より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９とが対応する点ｐ２１が直線Ｌ６から離れている場合、波高値ＶｐｐＬ‐９と波高値ＶｐｐＨ‐９との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていないと判断し、漏電検知回路１が故障していることを検知するように構成してもよい。
【０１８６】
また、一定値Ｖ８は、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの大きさや波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などに応じて設定されてもよい。このように、一定値Ｖ８を考慮して、第６の対応関係が第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断することにより、波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨに含まれるノイズの影響や波高値ＶｐｐＬ、ＶｐｐＨの測定誤差などによる検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障の誤検知を低減することができるため、検出抵抗Ｒｄ及び発振回路２の故障検知精度を向上させることができる。
【０１８７】
また、故障検知処理実行時、図１５に示すように、検知部６が波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐１１を取得し、波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐１１を取得した場合を想定する。
【０１８８】
（波高値ＶｐｐＬの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＬ＝（（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２）／（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２））×（ＶｐｐＨ−ＶｐｐＨ‐１）＋ＶｐｐＬ‐１）のＶｐｐＨに波高値ＶｐｐＨ‐１１を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＨ‐１１に対応する波高値ＶｐｐＬとして波高値ＶｐｐＬ‐１２を求める。
【０１８９】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐１１が波高値ＶｐｐＬ‐１２より大きいと判断すると、波高値ＶｐｐＬ‐１２に一定値Ｖ７を加算した結果である閾値Ｖｔｈ１５を求める。
【０１９０】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐１１が閾値Ｖｔｈ１５より小さい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１とが対応する点ｐ２２が直線Ｌ６から一定値Ｖ７以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知する。
【０１９１】
なお、閾値Ｖｔｈ１５を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＬの軸方向において波高値ＶｐｐＬ‐１１が波高値ＶｐｐＬ‐１２と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１とが対応する点ｐ２２が直線Ｌ６から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１９２】
（波高値ＶｐｐＨの軸方向における故障検知）
まず、検知部６は、直線Ｌ６を表す直線式Ｆ６（ＶｐｐＨ＝（（ＶｐｐＨ‐１−ＶｐｐＨ‐２）／（ＶｐｐＬ‐１−ＶｐｐＬ‐２））×（ＶｐｐＬ−ＶｐｐＬ‐１）＋ＶｐｐＨ‐１）のＶｐｐＬに波高値ＶｐｐＬ‐１１を代入することにより、直線式Ｆ６において波高値ＶｐｐＬ‐１１に対応する波高値ＶｐｐＨとして波高値ＶｐｐＨ‐１２を求める。
【０１９３】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＨ‐１１が波高値ＶｐｐＨ‐１２より小さいと判断すると、波高値ＶｐｐＨ‐１２から一定値Ｖ８を減算した結果である閾値Ｖｔｈ１６を求める。
【０１９４】
そして、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐１１が閾値Ｖｔｈ１６より大きい場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１とが対応する点ｐ２２が直線Ｌ６から一定値Ｖ８以上離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知する。
【０１９５】
なお、閾値Ｖｔｈ１６を使用しないとき、検知部６は、波高値ＶｐｐＨの軸方向において波高値ＶｐｐＨ‐１１が波高値ＶｐｐＨ‐１１と同じ値または略同じ値である場合、すなわち、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１とが対応する点ｐ２２が直線Ｌ６から離れていない場合、波高値ＶｐｐＬ‐１１と波高値ＶｐｐＨ‐１１との第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていると判断し、漏電検知回路１が故障していないことを検知するように構成してもよい。
【０１９６】
また、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向として、直線Ｌ１の波高値ＶｐｐＬ‐１と波高値ＶｐｐＬ‐２との対応関係を示す２次元マップを採用した場合も、同様に漏電検知回路１の故障の検知を行える。
【０１９７】
すなわち、検知部６は、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨのうち、一方の波高値を基準として、２次元マップ上で対応する他方の波高値を取得する。
【０１９８】
そして、検知部６は、２次元マップ上で対応する他方の波高値に一定値を加算あるいは減算して閾値を求め、検知部６が取得した他方の波高値が閾値内に含まれているか否かで、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断し、漏電検知回路１の故障の有無を検知する。
【０１９９】
あるいは、検知部６は、２次元マップ上で対応する他方の波高値と検知部６が取得した他方の波高値とが同じ値または略同じ値か否かで、検知部６が取得した波高値ＶｐｐＬ及び波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれているか否かを判断し、漏電検知回路１の故障の有無を検知する。
【０２００】
このように、漏電検知回路１が故障していないときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｉの抵抗値が変化しているとき、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬと、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＨとの対応関係の変動傾向、すなわち、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向は、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４の少なくとも１つ）の故障状態が変化しているときで、かつ、絶縁抵抗Ｒｄの抵抗値が一定であるとき、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬと、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＨとの対応関係の変動傾向と異なる。そのため、検知部６は、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合、漏電検知回路１（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４の少なくとも１つ）が故障していることを検知することができる。従って、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２との第３の対応関係が、第１の対応関係から第２の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれている場合（絶縁抵抗測定回路３及び浮遊容量測定回路４が故障していないことを検知した場合）で、かつ、波高値ＶｐｐＬと波高値ＶｐｐＨとの第６の対応関係が、第４の対応関係から第５の対応関係までの対応関係の変動傾向に含まれていない場合（検出抵抗Ｒｄ、発振回路２、絶縁抵抗測定回路３、及び、浮遊容量測定回路４の少なくとも１つが故障していることを検知した場合）、検出抵抗Ｒｄまたは発振回路２が故障していることを検知することができる。これにより、漏電検知回路１は、自身が故障していることを検知することができる。
【０２０１】
＜変形例２＞
図１６は、実施形態の漏電検知回路１の変形例２を示す図である。なお、図１に示す構成と同じ構成には同じ符号を付しその説明を省略する。
【０２０２】
図１６に示す漏電検知回路１において、図１に示す漏電検知回路１と異なる点は、絶縁抵抗Ｒｉを模擬した模擬絶縁抵抗Ｒｉ´と、スイッチＳＷとをさらに備えている点である。
【０２０３】
模擬絶縁抵抗Ｒｉ´の一方端はボディアースＢＥに接続され、模擬絶縁抵抗Ｒｉ´の他方端はスイッチＳＷの一方端に接続され、スイッチＳＷの他方端はカップリングコンデンサＣｃとグランドラインＧＬとの接続点に接続されている。
【０２０４】
スイッチＳＷは、半導体スイッチまたは電磁式リレーなどにより構成され、検知部６により動作が制御される。また、スイッチＳＷは、グランドラインＧＬとカップリングコンデンサＣｃとの接続点と模擬絶縁抵抗Ｒｉ´とが互いに接続されていない第１の状態、及び、グランドラインＧＬとカップリングコンデンサＣｃとの接続点と模擬絶縁抵抗Ｒｉ´とが互いに接続されている第２の状態のどちらか一方の状態に切り替える。
【０２０５】
なお、模擬絶縁抵抗Ｒｉ´の抵抗値は、例えば、スイッチＳＷにより第２の状態に切り替えられているとき、検出抵抗Ｒｄにかかる電圧Ｖｄの波高値が漏電時の波高値になるような抵抗値とする。
【０２０６】
図１７は、図３または図４に示す直線Ｌ１の算出処理実行時の検知部６の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図１７に示す直線Ｌ１の算出処理は、漏電検知回路１を車両及び直流電源Ｐに接続する前の状態（浮遊容量Ｃｆの容量値がゼロである状態）、または、漏電検知回路１を車両及び直流電源Ｐに接続した後の工場出荷時（車両起動後の浮遊容量Ｃｆの容量値が安定した状態）、または、工場出荷後の車両の最初の起動時（車両起動後の浮遊容量Ｃｆの容量値が安定した状態）に実行されるものとする。また、検知部６は、第１の状態になるようにスイッチＳＷの動作を制御しているものとする。
【０２０７】
まず、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１を出力させる（ステップＳ２１）。
【０２０８】
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１及び浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２を取得する（ステップＳ２２）。
【０２０９】
次に、検知部６は、第１の状態から第２の状態に切り替わるようにスイッチＳＷの動作を制御する（ステップＳ２３）。
【０２１０】
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値ＶｐｐＬ１及び浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値ＶｐｐＬ２を取得する（ステップＳ２４）。
【０２１１】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬ１を第１の軸とし波高値ＶｐｐＬ２を第２の軸とする２次元直交座標において、ステップＳ２２で取得した波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点ｐ１と、ステップＳ２４で取得した波高値ＶｐｐＬ１と波高値ＶｐｐＬ２とが対応する点ｐ２とを通る直線Ｌ１を算出する（ステップＳ２５）。
【０２１２】
そして、検知部６は、第２の状態から第１の状態に切り替わるようにスイッチＳＷの動作を制御し（ステップＳ２６）、直線Ｌ１の算出処理を終了する。
【０２１３】
図１８は、図１１に示す直線Ｌ６の算出処理実行時の検知部６の動作の一例を示すフローチャートである。なお、図１８に示す直線Ｌ６の算出処理は、漏電検知回路１を車両及び直流電源Ｐに接続する前の状態（浮遊容量Ｃｆの容量値がゼロである状態）、または、漏電検知回路１を車両及び直流電源Ｐに接続した後の工場出荷時（車両起動後の浮遊容量Ｃｆの容量値が安定した状態）、または、工場出荷後の車両の最初の起動時（車両起動後の浮遊容量Ｃｆの容量値が安定した状態）に実行されるものとする。また、検知部６は、第１の状態になるようにスイッチＳＷの動作を制御しているものとする。
【０２１４】
まず、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１を出力させる（ステップＳ３１）。
【０２１５】
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＬとして取得する（ステップＳ３２）。
【０２１６】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２を出力させる（ステップＳ３３）。
【０２１７】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＨとして取得する（ステップＳ３４）。
【０２１８】
次に、検知部６は、第１の状態から第２の状態に切り替わるようにスイッチＳＷの動作を制御する（ステップＳ３５）。
【０２１９】
次に、検知部６は、第１の故障検知用発振信号Ｓ１を出力させる（ステップＳ３６）。
次に、検知部６は、発振回路２から第１の故障検知用発振信号Ｓ１が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＬとして取得する（ステップＳ３７）。
【０２２０】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２を出力させる（ステップＳ３８）。
【０２２１】
次に、検知部６は、発振回路２から第２の故障検知用発振信号Ｓ２が出力されているときに絶縁抵抗測定回路３から出力される電圧Ｖ１の波高値または浮遊容量測定回路４から出力される電圧Ｖ２の波高値を波高値ＶｐｐＨとして取得する（ステップＳ３９）。
【０２２２】
次に、検知部６は、波高値ＶｐｐＬを第１の軸とし波高値ＶｐｐＨを第２の軸とする２次元直交座標において、ステップＳ３２で取得した波高値ＶｐｐＬとステップＳ３４で取得した波高値ＶｐｐＨとが対応する点ｐ１５と、ステップＳ３７で取得した波高値ＶｐｐＬとステップＳ３９で取得した波高値ＶｐｐＨとが対応する点ｐ１６とを通る直線Ｌ６を算出する（ステップＳ４０）。
【０２２３】
そして、検知部６は、第２の状態から第１の状態に切り替わるようにスイッチＳＷの動作を制御し（ステップＳ４１）、直線Ｌ６の直線算出処理を終了する。
【０２２４】
漏電検知回路１を構成する素子や回路の製造時の特性バラツキにより漏電検知回路１毎に直線Ｌ１、Ｌ６の傾きが異なる可能性があるため、予め決められた直線Ｌ１、Ｌ６を用いて漏電検知回路１が故障しているか否かを判断する場合、その予め決められた直線Ｌ１、Ｌ６が漏電検知回路１で実際に漏電が発生したときに算出される直線Ｌ１、Ｌ６と異なるおそれがあり、漏電検知回路１の故障を検知する精度が低下するおそれがある。
【０２２５】
そこで、図１６に示す漏電検知回路１では、模擬絶縁抵抗Ｒｉ´を用いて擬似的に漏電状態をつくり、その擬似的な漏電状態において直線Ｌ１、Ｌ６を算出している。その算出した直線Ｌ１、Ｌ６は、漏電検知回路１を構成する素子や回路の製造時の特性バラツキを含む波高値が用いられて算出されるため、漏電検知回路１で実際に漏電が発生したときに算出される直線Ｌ１、Ｌ６に近づけることができ、漏電検知回路１の故障を検知する精度が低下することを抑制することができる。
【符号の説明】
【０２２６】
１  漏電検知回路
２  発振回路
３  絶縁抵抗測定回路
４  浮遊容量測定回路
５  記憶部
６  検知部
Ｐ  直流電源
Ｌｏ  負荷
ＧＬ  グランドライン
ＢＥ  ボディアース
Ｒｉ  絶縁抵抗
Ｃｆ  浮遊容量
Ｃｃ  カップリングコンデンサ
Ｒｄ  検出抵抗
Ｒｉ´  模擬絶縁抵抗
ＳＷ  スイッチ
【図１】
2020106420.tif 000003
【図２】
2020106420.tif 000004
【図３】
2020106420.tif 000005
【図４】
2020106420.tif 000006
【図５】
2020106420.tif 000007
【図６】
2020106420.tif 000008
【図７】
2020106420.tif 000009
【図８】
2020106420.tif 000010
【図９】
2020106420.tif 000011
【図１０】
2020106420.tif 000012
【図１１】
2020106420.tif 000013
【図１２】
2020106420.tif 000014
【図１３】
2020106420.tif 000015
【図１４】
2020106420.tif 000016
【図１５】
2020106420.tif 000017
【図１６】
2020106420.tif 000018
【図１７】
2020106420.tif 000019
【図１８】
2020106420.tif 000020