(57)【要約】【課題】ノイズが測定されない事態の発生を抑制すること。【解決手段】放射妨害波測定装置は、アンテナの放射源を基準とした高さを変更する高さ変更部と、当該高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定部と、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、調整時間の長さを調整することにより、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、剰余がサンプリング時間以下となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更部と、サンプリング時間変更部により開始時点が変更されたサンプリング時間の間、高さ変更部により変更されたアンテナの放射源を基準とした高さで測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定部と、を備える。【選択図】図１
2020106355.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、前記剰余が前記サンプリング時間以下となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。
【請求項２】
前記高さ変更処理を実行し、前記判定処理を実行し、前記サンプリング時間変更処理を実行し、前記測定処理を実行する処理を次の式（１）を満たす回数繰り返す繰返し部を更に備える、
請求項１に記載の放射妨害波測定装置。
【数１】
2020106355.tif 000007
ｎ  ：回数
ＴＶ：サンプリング時間の変更幅
Ｔ  ：サンプリング周期
ＴＳ：サンプリング時間
【請求項３】
放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余で前記サンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅が前記サンプリング時間以上となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。
【請求項４】
放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、
前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、
前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを無作為に変更することにより、前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、
前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、
を備える放射妨害波測定装置。
【請求項５】
前記サンプリング時間変更部は、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅を前記サンプリング時間よりも長くする条件の下で前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更する、
請求項４に記載の放射妨害波測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射妨害波測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器は、周囲の電子機器や通信機器に影響を及ぼす電磁波である放射妨害波を放射することがある。このため、現在では、電子機器が市場へ出荷される前に、放射妨害波の電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であることを確認する放射妨害波試験を行う必要がある。
【０００３】
放射妨害波試験では、放射妨害波の放射源を基準としたアンテナの高さ及び放射源を基準としたアンテナの方位を変化させながらアンテナにより電界強度を測定し、電界強度が最大となる位置を探索する。そして、電界強度が最大となる位置において、放射妨害波の電界強度が一定時間測定され、この電界強度の測定値が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。
【０００４】
また、このような放射妨害波試験では、広い周波数帯域について最大電界強度位置を検出する必要があるため、広い周波数帯域のスペクトルを測定することができるスペクトルアナライザが使用される。このようなスペクトルアナライザとしては、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴ（Fast  Fourier  Transform）方式のスペクトルアナライザが挙げられる。
【０００５】
スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザは、掃引型のスペクトルアナライザの一種であり、サンプリング時間ごとに測定する放射妨害波の周波数を所定の分解能帯域幅で掃引しながら放射妨害波の周波数スペクトルを測定する。このため、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザが使用された場合、サンプリング周期がサンプリング時間よりも長くなる。
【０００６】
ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザは、サンプリング時間に測定した放射妨害波の波形にＦＦＴ処理を施すことにより放射妨害波の周波数スペクトルを取得する。ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザは、放射妨害波の波形にＦＦＴ処理を施している間、放射妨害波の電界強度の測定を実行しない。このため、ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザが使用された場合、サンプリング周期がサンプリング時間よりも長くなる。
【０００７】
上述したスペクトルアナライザで放射妨害波測定が実行される場合、サンプリング周期が長くなることにより放射妨害波試験に要する時間が長くなってしまうことがある。したがって、放射妨害波試験に要する時間を短くするために、周波数ごとのサンプリング時間を短くし、上述した許容値付近の電界強度が測定された周波数において長いサンプリング時間で電界強度を測定し、この測定により最大の電界強度が測定された位置で電界強度を一定時間測定する。また、放射妨害波試験に要する時間を更に短くするために、スペクトルアナライザを連続的に動作させながら各周波数における電界強度が測定されることもある。さらに、放射妨害波試験では複数の放射妨害波の測定が同時に実行されるため、トリガーが使用されない。
【０００８】
しかし、上述した測定方法では、放射妨害波が発生するタイミングとサンプリング時間とがずれており、かつ、放射妨害波が発生する周期とサンプリング周期が等しい場合、放射妨害波が一度も測定されなくなってしまうことがある。このような事態を回避するために、例えば、非特許文献１には、掃引を開始する時間を変化させることが記載されているが、掃引を開始する時間を変化させる時間の長さや変化させるタイミングによっては放射妨害波が一度も測定されなくなってしまうことがある。また、非特許文献１には、掃引する時間を変化させることが記載されているが、サンプリング時間が変化してしまうことにより、特許文献１に記載された測定方法が使用できなくなってしまうことがある。
【０００９】
なお、特許文献１に開示されている測定方法は、第１の測定器と、第２の測定器と、制御装置とを備える放射妨害波測定装置が開示されている。第１の測定器は、放射源を囲む面上に設定された複数の測定点において、アンテナで受信される電界強度の周波数スペクトルを第１の滞留時間で測定することで電界強度分布を測定する。第２の測定器は、第１の測定器により測定された電界強度分布のうち、所定の周波数における所定の電界強度が得られた測定点において、アンテナで受信される所定の周波数の電界強度を、第２の滞留時間ごとにリアルタイムで測定するものである。また、制御装置は、第２の測定器で測定された電界強度に基づいて、第１の測定器で測定された電界強度分布が正しく測定されたか否かを判定する。また、第２の滞留時間は、第１の滞留時間と同一の値に設定される。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１０】
【非特許文献１】平成２０年度  情報通信審議会答申  諮問第３号「国際無線障害特別委員会（ＣＩＳＰＲ）の諸規格について」のうち「無線周波妨害波およびイミュニティ測定法の技術的条件」  第２部第３編  放射妨害波の測定法
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開２０１８−１６９２００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
そこで、本発明は、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる放射妨害波測定装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、前記剰余が前記サンプリング時間以下となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。
【００１４】
また、本発明の一態様において、放射妨害波測定装置は、前記高さ変更処理を実行し、前記判定処理を実行し、前記サンプリング時間変更処理を実行し、前記測定処理を実行する処理を次の式（１）を満たす回数繰り返す繰返し部を更に備える。
【００１５】
【数１】
2020106355.tif 000003
ｎ  ：回数
ＴＶ：サンプリング時間の変更幅
Ｔ  ：サンプリング周期
ＴＳ：サンプリング時間
【００１６】
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余で前記サンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅が前記サンプリング時間以上となるように前記サンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。
【００１７】
本発明の一態様は、放射源が放射する放射妨害波を受信するアンテナの前記放射源を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する高さ変更部と、前記アンテナの前記放射源を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する判定部と、前記サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、前記高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から前記高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを無作為に変更することにより、前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行するサンプリング時間変更部と、前記サンプリング時間変更部により開始時点が変更された前記サンプリング時間の間、前記高さ変更部により変更された前記アンテナの前記放射源を基準とした高さで前記放射源を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する測定部と、を備える放射妨害波測定装置である。
【００１８】
また、本発明の一態様において、前記サンプリング時間変更部は、前記サンプリング時間の開始時点の変更幅を前記サンプリング時間よりも長くする条件の下で前記サンプリング時間の開始時点を無作為に変更する。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例を示す図である。
【図２】実施形態に係る放射源を囲む面上に位置する測定点の一例を示す図である。
【図３】実施形態に係るサンプリング時間パターンの一例を説明するための図である。
【図４】実施形態に係る制御部のハードウエア構成の一例を示す図である。
【図５】実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
［実施形態］
図１から図４を参照しながら、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成について説明する。図１は、実施形態に係る放射妨害波測定装置の構成の一例を示す図である。
【００２２】
図１に示した放射妨害波測定装置１は、例えば、ＥＭＣ規格に従って、供試体である放射源１００から放射される放射妨害波を測定する放射妨害波試験に利用される装置である。この放射妨害波試験は、試験条件及び試験方法が国際的に定められている。放射妨害波測定装置１は、グランドプレーンを形成している金属床面を備える電波暗室内に配置される。電波暗室の内壁のうち金属床面を除いた壁面には、電波吸収体が貼り付けられている。また、放射源１００は、例えば、放射妨害波を放射する電子機器である。
【００２３】
図１に示すように、放射妨害波測定装置１は、アンテナ１１と、アンテナマスト１２と、ターンテーブル１３と、駆動制御部１４と、制御部２０と、測定部３０とを備える。
【００２４】
アンテナ１１は、放射源１００を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の放射妨害波を受信する。図２は、実施形態に係る放射源を囲む面上に位置する測定点の一例を示す図である。この面は、例えば、中心軸がグランドプレーンに垂直であり、内部に放射源１００及び台２００を含む円筒の側面である。図２に白丸で示されているように、各測定点は、当該円筒の底面の円の円周方向に沿っている第一軸及び当該円筒の中心軸に平行な軸である第二軸により規定される二次元直交座標上に配置されている。第一軸は、放射源１００を基準とした各測定点の高さを示している。第二軸は、放射源１００を基準とした各測定点の方位角を示している。また、図２に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向において等間隔に配置されている。ただし、図２に示した測定点は、第一軸に平行な方向及び第二軸に平行な方向の少なくとも一方において任意の間隔で配置されていてもよい。
【００２５】
アンテナマスト１２は、アンテナ１１を昇降可能な形態で支持しており、放射源１００から所定の間隔をおいて配置される。ターンテーブル１３は、グランドプレーンに設けられた円盤状の回転台であり、グランドプレーンに垂直な軸を中心として回転することができる。放射源１００は、ターンテーブル１３に載置された台２００の上に載置される。
【００２６】
駆動制御部１４は、高さ変更部１４１と、方位変更部１４２とを備える。高さ変更部１４１は、放射源１００が放射する放射妨害波を受信するアンテナ１１の放射源１００を基準とした高さを変更する高さ変更処理を実行する。具体的には、高さ変更部１４１は、アンテナマスト１２を駆動してアンテナ１１を昇降させ、アンテナ１１を所定の高さに固定する。方位変更部１４２は、放射源１００を基準としたアンテナ１１の方位を変更する方位変更処理を実行する。具体的には、方位変更部１４２は、高さ変更部１４１によりアンテナ１１が所定の高さに固定された後、ターンテーブル１３を駆動して放射源１００及び台２００を３６０度回転させる。
【００２７】
制御部２０は、判定部２０１と、サンプリング時間変更部２０２と、繰返し部２０３とを備える。
【００２８】
判定部２０１は、アンテナ１１の放射源１００を基準とした高さが変更される場合、サンプリング周期中に設定されており、一定の長さを有するサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを測定計画に従って判定する判定処理を実行する。
【００２９】
サンプリングとは、放射妨害波測定装置１が放射妨害波の電界強度を測定する処理である。サンプリング周期は、一回のサンプリングが開始される時点から次のサンプリングが開始される時点までの時間である。また、サンプリング周期は、一定の長さを有する。サンプリング時間は、各サンプリング周期において所定の周波数帯域でサンプリング実行される時間であり、一定の長さを有する。
【００３０】
待機時間は、二つの時間から構成されている。一つ目の時間は、当該サンプリングが完了した測定点にアンテナ１１の位置が合っている状態から次のサンプリングが実行される測定点にアンテナ１１の位置が合っている状態までアンテナマスト１２又はターンテーブル１３を駆動させる時間である。二つ目の時間は、アンテナマスト１２又はターンテーブル１３の駆動が完了した後、アンテナ１１の振動が収まるまでの待ち時間及び放射妨害波測定装置１が備えるハードウエア及びソフトウエアの動作に必要な時間である。
【００３１】
調整時間は、高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から当該高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている時間である。調整時間は、サンプリング時間変更部２０２により実行されるサンプリング時間変更処理においてサンプリング時間の開始時点の変更幅を決定するためにサンプリング時間変更部２０２により長さが調整される時間であり、サンプリング時間変更処理が実行されない場合、ゼロになる。
【００３２】
測定計画は、高さ変更部１４１により複数回実行される高さ変更処理のうち当該高さ変更処理の後にサンプリング時間変更部２０２により実行されるサンプリング時間変更処理を伴う高さ変更処理を規定している。例えば、図２に示した全ての測定点について所定の周波数帯域で電界強度の測定が実行される場合、高さ変更部１４１は、高さ変更処理を九回実行する。測定計画は、この九回の高さ変更処理のうち何回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行するかについて規定しており、例えば、三回目、五回目及び八回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行することを規定している。この場合、判定部２０１は、三回目、五回目及び八回目の高さ変更処理の後にサンプリング時間変更処理を実行すると判定する。
【００３３】
なお、測定計画は、電界強度の測定が開始される前又は電界強度の測定が実行されている途中でユーザにより入力されてもよいし、放射妨害波測定装置１により自動的に生成されてもよい。
【００３４】
また、判定部２０１は、電界強度の測定が実行されていない測定点があるか否かを判定する。具体的には、判定部２０１は、アンテナ１１の高さを変更して電界強度の測定を実行すべき測定点があるか否かを判定する。
【００３５】
サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、高さ変更処理が実行される前の最後のサンプリング周期が完了した時点から当該高さ変更処理が実行された後の最初のサンプリング周期が開始する時点までの間に設けられている調整時間の長さを調整することにより、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、剰余がサンプリング時間以下となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。このサンプリング時間変更処理は、サンプリング周期Ｔ、サンプリング時間ＴＳ、サンプリング時間の開始時点の変更幅ＴＶを含む次の式（２）を満たす条件の下で実行される。
【００３６】
【数２】
2020106355.tif 000004
【００３７】
図３は、実施形態に係るサンプリング時間パターンの一例を説明するための図である。具体的には、図３（ａ）は、サンプリング時間ＴＳの開始時点がサンプリング周期Ｔの開始時点と一致している場合の一例を示す図である。図３（ｂ）は、サンプリング時間ＴＳの開始時点がサンプリング周期Ｔの開始時点からサンプリング時間ＴＳに等しい時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図３（ｃ）は、サンプリング時間ＴＳの開始時点がサンプリング周期Ｔの開始時点からサンプリング時間ＴＳの二倍の時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図３（ｄ）は、サンプリング時間ＴＳの開始時点がサンプリング周期Ｔの開始時点からサンプリング時間ＴＳの三倍の時間が経過した時点と一致している場合の一例を示す図である。図３に示した例では、サンプリング周期Ｔと測定されるべきノイズが発生するノイズ発生周期ＴＮとが等しい場合が想定されている。ただし、サンプリング周期Ｔとノイズ発生周期ＴＮとが異なっている場合であってもよい。
【００３８】
上述した式（２）を満たすサンプリング時間変更処理の一例として、図３（ａ）に示した場合、図３（ｂ）に示した場合、図３（ｃ）に示した場合、図３（ｄ）に示した場合の順にサンプリング時間ＴＳの開始時点、すなわちサンプリング時間パターンを変更していく処理が挙げられる。図３（ａ）に示した場合及び図３（ｂ）に示した場合では、サンプリング時間ＴＳとノイズＮが発生するタイミングとが重複していない。また、図３（ｃ）に示した場合では、サンプリング時間ＴＳとノイズＮが発生するタイミングとが僅かに重複しているに過ぎない。一方、図３（ｄ）に示した場合では、サンプリング時間ＴＳとノイズＮが発生するタイミングとが重複している。
【００３９】
図３（ａ）に示したサンプリング時間パターンから図３（ｂ）に示したサンプリング時間パターンに変更される場合、調整時間は、サンプリング時間ＴＳにサンプリング周期Ｔの整数倍を加えた時間に等しくなる。これは、図３（ｂ）に示したサンプリング時間パターンから図３（ｃ）に示したサンプリング時間パターンに変更される場合についても同様である。また、例えば、図３（ａ）に示したサンプリング時間パターンから図３（ｃ）に示したサンプリング時間パターンに変更される場合、調整時間は、サンプリング時間ＴＳの二倍にサンプリング周期Ｔの整数倍を加えた時間に等しくなる。これは、図３（ｂ）に示したサンプリング時間パターンから図３（ｄ）に示したサンプリング時間パターンに変更される場合についても同様である。
【００４０】
繰返し部２０３は、高さ変更処理を実行し、判定処理を実行し、サンプリング時間変更処理を実行し、後述する測定処理を実行する処理を次の式（３）を満たす回数ｎ回繰り返すよう放射妨害波測定装置１を制御する。
【００４１】
【数３】
2020106355.tif 000005
【００４２】
測定部３０は、例えば、スーパーヘテロダイン方式のスペクトルアナライザ、ＦＦＴ方式のスペクトルアナライザである。測定部３０は、サンプリング時間変更部２０２により開始時点が変更されたサンプリング時間の間、高さ変更部１４１により変更されたアンテナ１１の放射源１００を基準とした高さで放射源１００を囲む面上に位置する測定点における所定の周波数帯域の電界強度を測定する測定処理を実行する。そして、測定部３０は、最大の電界強度が測定された測定点において電界強度を一定時間測定する。当該測定点における電界強度が国際的に定められた規格の許容値以下であるか否かが確認される。ただし、測定部３０は、測定点との位置関係に関わらずサンプリングを実行し、アンテナ１１の高さ及び方位が測定点と一致した時に電界強度の測定値を示すデータを記憶媒体に格納してもよい。
【００４３】
図４は、実施形態に係る制御部のハードウエア構成の一例を示す図である。図４に示すように、制御部２０は、主制御部２１０と、入力装置２２０と、出力装置２３０と、記憶装置２４０と、バス２５０とを備える。
【００４４】
主制御部２１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）及びＲＡＭ（Random  Access  Memory）を備えており、入力装置２２０、出力装置２３０及び記憶装置２４０の間でのデータの送受信を制御し、出力装置２３０及び記憶装置２４０の動作を制御する。
【００４５】
入力装置２２０は、放射妨害波測定装置１の操作に必要なデータを入力するために使用される装置、例えば、キーボード、マウス、タッチパネルである。
【００４６】
出力装置２３０は、放射妨害波測定装置１の動作に関連する情報を出力するために使用される装置、例えば、ディスプレイである。
【００４７】
記憶装置２４０は、データを記憶させるために使用される装置、例えば、ハードディスク装置、光ディスク装置である。また、記憶装置２４０は、記憶媒体２４５を備えており、記憶媒体２４５にデータを格納し、記憶媒体２４５からデータを読み出す。記憶媒体２４５は、データを記憶させるために使用される記憶媒体、例えば、ハードディスク、光ディスクである。また、記憶媒体２４５は、判定部２０１、サンプリング時間変更部２０２及び繰返し部２０３それぞれを実現するプログラムを記憶していてもよい。この場合、主制御部２１０は、これらのプログラムを読み出して実行することにより、判定部２０１、サンプリング時間変更部２０２及び繰返し部２０３それぞれの機能を実現させる。
【００４８】
バス２５０は、主制御部２１０、入力装置２２０、出力装置２３０及び記憶装置２４０を相互に通信可能に接続している。
【００４９】
次に、図５を参照しながら実施形態に係る放射妨害波測定装置の動作の一例を説明する。図５は、実施形態に係る放射妨害波測定装置が実行する処理の一例を示すフローチャートである。
【００５０】
ステップＳ１０において、放射妨害波測定装置１は、測定条件の入力を受け付ける。ここで言う測定条件は、例えば、電界強度を測定する周波数帯域、グランドプレーンを基準とする高さ方向の測定範囲、高さ方向における測定点の間隔、方位角方向の測定範囲、方位角方向における測定点の間隔、サンプリング時間、測定部３０の検波方式、周波数分解能帯域幅及び上述した測定計画である。
【００５１】
ステップＳ２０において、駆動制御部１４は、最も低い高さに配置されている測定点の電界強度を測定可能な高さにアンテナ１１の高さを変更し、最も方位角が小さな位置に配置されている測定点の電界強度を測定可能な角度までターンテーブル１３を回転させる。
【００５２】
ステップＳ３０において、放射妨害波測定装置１は、アンテナ１１の放射源１００を基準とした高さを維持した状態でターンテーブル１３を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
【００５３】
ステップＳ４０において、駆動制御部１４は、アンテナ１１の放射源１００を基準とした高さを変更する。
【００５４】
ステップＳ５０において、判定部２０１は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更するか否かを判定する。判定部２０１は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更すると判定した場合（ステップＳ５０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ６０に進め、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更しないと判定した場合（ステップＳ５０：ＮＯ）、処理をステップＳ７０に進める。
【００５５】
ステップＳ６０において、サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。
【００５６】
ステップＳ７０において、放射妨害波測定装置１は、アンテナ１１の放射源１００を基準とした高さを維持した状態でターンテーブル１３を回転させながら各測定点において所定の周波数帯域で電界強度の測定を実行する。
【００５７】
ステップＳ８０において、判定部２０１は、電界強度の測定が実行されていない測定点があるか否かを判定する。判定部２０１は、電界強度の測定が実行されていない測定点があると判定した場合（ステップＳ８０：ＹＥＳ）、処理をステップＳ４０に戻し、電界強度の測定が実行されていない測定点がないと判定した場合（ステップＳ８０：ＮＯ）、処理を終了させる。
【００５８】
なお、ステップＳ４０は、ステップＳ６０と同時に実行されてもよい。また、ステップＳ４０は、ステップＳ６０とステップＳ７０の間に実行されてもよい。この場合、判定部２０１は、サンプリング周期におけるサンプリング時間の開始時点を変更しないと判定した場合（ステップＳ５０：ＮＯ）、処理をステップＳ４０又はステップＳ７０に進める。
【００５９】
以上、実施形態に係る放射妨害波測定装置１について説明した。放射妨害波測定装置１は、測定計画に従ってサンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、高さ変更処理が開始されてから終了するまでの間に、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余がゼロ以外の値となり、かつ、剰余がサンプリング時間以下となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行する。
【００６０】
このため、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させることができる。すなわち、放射妨害波測定装置１は、一度もサンプリング時間の開始時点を変更せずに図３に示した全ての測定点で電界強度の測定を実行した場合にサンプリング時間とノイズが発生するタイミングとが重複する確率に、サンプリング時間の開始時点を変更した回数に「１」を加えた数を掛けた確率でサンプリング時間とノイズが発生するタイミングとを重複させ得る。例えば、サンプリング時間の開始時点を三回変更した場合に両者が重複する確率は、図３（ａ）から図３（ｄ）に示したうちのいずれか一つのサンプリング時間パターンで図３に示した全ての測定点で電界強度の測定を実行した場合に両者が重複する確率の四倍となる。
【００６１】
したがって、放射妨害波測定装置１は、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。また、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間変更処理において、サンプリング時間の長さを一定に保つため、ノイズのサンプリング時間が長くなる事態の発生を抑制することができる。さらに、放射妨害波測定装置１は、高さ変更処理が開始されてから終了するまでの間にサンプリング時間変更処理を実行するため、アンテナ１１の放射源１００を基準とした高さが異なる測定点における電界強度の測定を効率良く実行することができる。
【００６２】
放射妨害波測定装置１は、高さ変更処理を実行し、判定処理を実行し、サンプリング時間変更処理を実行し、測定処理を実行する処理を上述した式（３）を満たす回数ｎ回繰り返すことにより、サンプリング時間全体をサンプリング時間と少なくとも一回重複させる。このため、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとを確実に重複させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
【００６３】
上述した実施形態では、高さ変更部１４１がアンテナマスト１２を駆動することにより放射源１００の高さを基準としたアンテナ１１の高さを変更する場合を例に挙げたが、これに限定されない。例えば、高さ変更部１４１は、ターンテーブル１３を昇降させることにより放射源１００の高さを基準としたアンテナ１１の高さを変更してもよい。或いは、高さ変更部１４１は、アンテナマスト１２の昇降及びターンテーブル１３の昇降の両方を実行することにより放射源１００の高さを基準としたアンテナ１１の高さを変更してもよい。
【００６４】
上述した実施形態では、サンプリング時間変更部２０２が上述した式（２）を満たすようにサンプリング時間の開始時点を変更する場合を例に挙げたが、これに限定されない。
【００６５】
サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、上述した調整時間の長さを調整することにより、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング周期で除算した剰余でサンプリング時間を除算した値がゼロ及び自然数以外の値となり、かつ、サンプリング時間の開始時点の変更幅がサンプリング時間以上となるようにサンプリング時間の開始時点を変更するサンプリング時間変更処理を実行してもよい。このサンプリング時間変更処理は、サンプリング周期Ｔ、サンプリング時間ＴＳ、サンプリング時間の開始時点の変更幅ＴＶを含む次の式（２）を満たす条件の下で実行される。
【００６６】
【数４】
2020106355.tif 000006
【００６７】
これにより、放射妨害波測定装置１は、サンプリング周期中におけるサンプリング時間の開始時点が同じになってしまうことを回避し、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。また、この場合でも、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間変更処理において、サンプリング時間の長さを一定に保つため、ノイズのサンプリング時間が長くなる事態の発生を抑制することができる。
【００６８】
或いは、サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング時間の開始時点を変更すると判定された場合、上述した調整時間の長さを無作為に変更することにより、サンプリング時間の開始時点を無作為に変更するサンプリング時間変更処理を実行してもよい。これにより、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
【００６９】
また、この場合、サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング時間の開始時点の変更幅をサンプリング時間よりも長くする条件の下でサンプリング時間の開始時点を無作為に変更することが好ましい。すなわち、サンプリング時間変更部２０２は、サンプリング周期のうち過去に電界強度を測定した時間と重複しない時間にサンプリング時間を設定することが好ましい。これにより、放射妨害波測定装置１は、サンプリング時間と測定すべきノイズが発生するタイミングとが重複する確率を更に向上させ、ノイズが測定されない事態の発生を抑制することができる。
【００７０】
また、上述した実施形態に係る駆動制御部１４、制御部２０及び測定部３０の各機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録させ、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませて実行することにより、処理を行ってもよい。
【００７１】
ここで言うコンピュータシステムとは、オペレーティング・システム（Operating  System：ＯＳ）又は周辺機器等のハードウエアを含むものであってもよい。また、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、例えば、フロッピーディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、ＤＶＤ（Digital  Versatile  Disc）等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置、ネットワーク又は通信回線を介してプログラムが送信される場合におけるサーバ又はクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように一定時間プログラムを保持しているものも含む。
【００７２】
また、上述したプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、又は、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク又は電話回線等の通信回線のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
【００７３】
また、上述したプログラムは、上述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、上述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分プログラムであってもよい。上述したプログラムは、例えば、コンピュータが備えるＣＰＵ（Central  Processing  Unit）等のプロセッサにより読み出されて実行される。
【００７４】
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の変形、置換又は設計変更を加えることができる。また、上述した実施形態に記載の構成を組み合わせてもよい。
【符号の説明】
【００７５】
１…放射妨害波測定装置、１１…アンテナ、１２…アンテナマスト、１３…ターンテーブル、１４…駆動制御部、１４１…高さ変更部、１４２…方位変更部、２０…制御部、２０１…判定部、２０２…サンプリング時間変更部、２０３…繰返し部、２１０…主制御部、２２０…入力装置、２３０…出力装置、２４０…記憶装置、２４５…記憶媒体、２５０…バス、３０…測定部、１００…放射源、２００…台
【図１】
2020106355.tif 000008
【図２】
2020106355.tif 000009
【図３】
2020106355.tif 000010
【図４】
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【図５】
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