(57)【要約】【課題】試料が有する複屈折の３次元的な分布により、照明光の照射方向に応じて試料からの偏光の状態が変化する点を考慮して測定を行う。【解決手段】観察装置は、試料に偏光を照射する光源部と、試料に対する偏光の照射方向を変更する変更部と、偏光が照射された試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させる光学系と、を備える。【選択図】図１
2020091320.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料に偏光を照射する光源部と、
前記試料に対する前記偏光の照射方向を変更する変更部と、
前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させる光学系と、
を備える観察装置。
【請求項２】
請求項１に記載の観察装置において、
前記変更部は、前記試料に対する前記偏光の照射方位と照射角度との少なくとも一方を変化させて、前記照射方向を変更する、観察装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の観察装置において、
複数の偏光状態の前記偏光を生成する偏光生成部を有する、観察装置。
【請求項４】
請求項１から３までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記変更部は、前記光学系の光軸と交差する平面において前記光源部を移動させる、観察装置。
【請求項５】
請求項４に記載の観察装置において、
前記変更部は、前記光源部を、前記光軸を中心とする円の周方向および径方向の少なくとも一方に沿って移動させて前記照射方向を変更する、観察装置。
【請求項６】
請求項１から５までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記光源部は、前記光学系を介して前記偏光を前記試料へ照射する、観察装置。
【請求項７】
請求項４に記載の観察装置において、
前記光源部からの前記偏光を前記試料へ導く照明光学系をさらに備え、
前記変更部は、前記照明光学系を前記光源部とともに前記光軸の中心とする円の周方向に移動させる、観察装置。
【請求項８】
請求項７に記載の観察装置において、
前記光源部からの前記偏光を前記試料へ導く照明光学系をさらに備え、
前記変更部は、前記照明光学系の傾斜角度を変更して前記照射方向を変更する、観察装置。
【請求項９】
請求項１から３までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記光源部は、前記光学系の光軸を中心としたリング状の照射領域を有する照明光を照射し、
前記光源部からの前記照明光のうち、一部を透過する透過領域を有する遮光部材をさらに備え、
前記変更部は、前記透過領域を透過した前記照明光が前記試料を照明する位置を前記光軸の周りに回転させる、観察装置。
【請求項１０】
請求項３に従属する請求項９に記載の観察装置において、
前記遮光部材は、前記透過領域に前記偏光生成部を有する、観察装置。
【請求項１１】
請求項１または２に記載の観察装置において、
前記光学系の光軸を中心として周方向および径方向の少なくとも一方に沿って複数の前記光源部を有し、
前記変更部は、前記複数の光源部のそれぞれのオン／オフを制御する、観察装置。
【請求項１２】
請求項１から３までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記変更部は、前記試料を載置した試料台を前記光学系の光軸の周りに回転させる、観察装置。
【請求項１３】
請求項１から１２までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記変更部は、前記試料を載置する試料台の傾度を変更する、観察装置。
【請求項１４】
請求項１から１３までのいずれか一項に記載の観察装置において、
前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方の計測に基づいて、前記試料の状態を判定する判定部と、
前記判定部により判定された結果を示す画像を表示する表示部と、を備える観察装置。
【請求項１５】
請求項１４に記載の観察装置において、
前記判定部は、予め少なくとも１つの前記照射方向で計測された試料の偏光特性および試料の状態の関係と、実測した前記試料の偏光特性との比較に基づいて、実測した前記試料の状態を判定する、観察装置。
【請求項１６】
請求項１から１１までのいずれか一項に記載の観察装置を有する内視鏡装置。
【請求項１７】
請求項１から１５までのいずれか一項の観察装置と、
前記偏光のうち前記試料で散乱した散乱光を検出する検出部と、を備える顕微鏡装置。
【請求項１８】
請求項１７に記載の顕微鏡装置において、
複数の前記照射方向から照射された前記偏光のうち前記検出部により検出した前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方に基づいて、前記試料の状態を判定する判定部を備える、顕微鏡装置。
【請求項１９】
請求項１８に記載の顕微鏡装置において、
前記判定部は、予め少なくとも１つの前記照射方向で計測された試料の偏光特性および試料の状態の関係と、実測した前記試料の偏光特性との比較に基づいて、実測した前記試料の状態を判定する、顕微鏡装置。
【請求項２０】
請求項１８または１９に記載の顕微鏡装置において、
前記判定部により判定された結果を示す画像を表示する表示部、を備える顕微鏡装置。
【請求項２１】
試料に偏光を照射することと、
前記試料に対する前記偏光の照射方向を変更することと、
前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させることと、を含む観察方法。
【請求項２２】
請求項２１に記載の観察方法において、
前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方の計測に基づいて、前記試料の状態を判定することを含む観察方法。
【請求項２３】
請求項２２に記載の観察方法において、
予め少なくとも１つの前記照射方向で計測された試料の偏光特性および試料の状態の関係と、実測した前記試料の偏光特性との比較に基づいて、実測した前記試料の状態を判定する観察方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、観察装置、内視鏡装置、顕微鏡装置および観察方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、偏光を試料に照射して、試料で反射した偏光を集光して画像を記録する落射照明式の偏光顕微鏡が知られている（たとえば、特許文献１）。しかしながら、実際の資料の複屈折には３次元的な分布が存在し、照明光の照射方向によって試料からの偏光の状態が変化するが、このことを考慮した計測を行うものではなかった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−３５６２７６号公報
【発明の概要】
【０００４】
第１の態様によると、観察装置は、試料に偏光を照射する光源部と、前記試料に対する前記偏光の照射方向を変更する変更部と、前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させる光学系と、を備える。
第２の態様によると、観察方法は、試料に偏光を照射することと、前記試料に対する前記偏光の照射方向を変更することと、前記偏光が照射された前記試料からの反射光および散乱光の少なくとも一方を検出部に結像させることと、を含む。
【図面の簡単な説明】
【０００５】
【図１】第１の実施の形態による観察装置を有する顕微鏡装置の要部構成を模式的に示すブロック図である。
【図２】照明光の照射方向を変更するための移動機構の構成を模式的に示す図である。
【図３】試料に対する照明光の照射方位と照明光の照射角度との変更について説明する図である。
【図４】第２の実施の形態による観察装置を有する顕微鏡装置の要部構成を模式的に示すブロック図である。
【図５】第３の実施の形態による観察装置を有する顕微鏡装置の要部構成を模式的に示すブロック図である。
【図６】第３の実施の形態において、照明光の照射方向を変更するための移動機構の構成を模式的に示す図である。
【図７】第３の実施の形態の他の例による観察装置を有する顕微鏡装置の要部構成を模式的に示すブロック図である。
【図８】第３の実施の形態の他の例による観察装置の光源の配置を模式的に示す図である。
【図９】内視鏡に観察装置を組み込んだ構成を模式的に示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【０００６】
−第１の実施の形態−
図面を参照して、本実施の形態における観察装置を有する顕微鏡装置を一例に挙げて説明を行う。図１は、観察装置１を有する顕微鏡装置５の要部構成の一例を模式的に示すブロック図である。なお、図１に示すように、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸からなる直交座標系を用いて以下の説明を行う。図１では、Ｘ軸を図１の紙面に対して垂直方向、Ｙ軸を図１の紙面の水平方向、Ｚ軸を図１の紙面の上下方向に設定した場合を示す。
【０００７】
顕微鏡装置５は、観察装置１と、試料２を載置する試料台２１と、検出部３と、演算装置４とを有する。観察装置１は試料２へＺ方向＋側から偏光を照明光として照射する。すなわち、観察装置１は試料２を落射照明する。観察装置１は、光源部１１と、観察光学系１２と、光源部１１をＸＹ平面内で移動させる移動機構１３とを有する。光源部１１は、照明光を発生する光源１１１と、照明光から偏光を生成する偏光生成部１１２とを有する。偏光生成部１１２は、例えば偏光板と波長板とが照明光の進行方向（Ｚ方向）に沿って配置され、照明光がこの偏光板と波長板とを通過することにより電場の振動方向が調整されて、所望の偏光が生成される。偏光生成部１１２の偏光板と波長板とは、それぞれ、照明光の光路への挿抜や光軸を中心とする回転を機械的に行うことができる。例えば、直線偏光板のみを照明光の光路に挿入し、光軸周りの向きを制御することにより、照射光の電場の向きが設定される。すなわち、直線偏光の透過光軸が設定される。また、直線偏光板と１/４波長板とを挿入し、これらの光軸周りの向きを制御することにより、進相軸と遅相軸の向きが設定されて、円偏光の回転方向が設定される。なお、偏光板と波長板との機能をそれぞれ電気的に制御することが可能な素子を用いることにより、所望の偏光を電気的に生成することも可能である。偏光生成部１１２の偏光状態は、後述する演算装置４の制御部４１により偏光板と波長板とが制御されて設定される。
なお、光源部１１を、複数の光源１１１により構成し、それぞれの光源１１１に対して、偏光板と位相板とをその組み合わせが異なるように配置する。複数の光源１１１のそれぞれから出射された照明光は、それぞれの偏光生成部１１２により、互いに異なる偏光状態の偏光となる。この複数の光源１１１のうちオンとなる光源１１１を適宜切り替えるごとに、光源部１１からは異なる偏光状態の偏光が出射される。これにより、試料２に対して、異なる方向から異なる種類の偏光を照射することができる。なお、オンとする光源１１１の切り替えは、後述する演算装置４により制御するとよい。
【０００８】
偏光の偏光状態はストークスベクトルで記述することができる。このストークスベクトルは以下の式（１）のように４行１列で表したものである。
【数１】
2020091320.tif 000003
…（１）
ここで、ストークス行列の各成分（ストークス成分）は、Ｓ０が光強度、Ｓ１がｘ−ｙ直線偏光、Ｓ２が４５°直線偏光、Ｓ３が円偏光を示す。水平直線偏光は［１１００］（「Ｓ１＋」と示す）、垂直直線偏光は［１−１００］（「Ｓ１−」と示す）、４５°直線偏光は［１０１０］（「Ｓ２＋」と示す）、−４５°直線偏光は［１０−１０］「Ｓ２−」と示す）、右回り円偏光は［１００１］（「Ｓ３＋」と示す）、左回り円偏光は［１００−１］（「Ｓ３−」と示す）で表す。すなわち、光源部１１は、偏光生成部１１２の透過軸および進相軸方位の組み合わせに応じて、上記の６種類の異なる偏光状態の偏光を照明光として照射する。
本実施の形態では、光源部１１から出射した照明光は、観察光学系１２の光路内の一部を通過して試料２を照射する。なお、光源部１１から照射された光の波長帯域および帯域幅は、後述する検出部３により検出すべき解像度、すなわち、検出部３のイメージセンサ３２上に結像させようとする干渉縞の必要本数及び必要な幅によって定められることが好ましい。
【０００９】
観察光学系１２において、光源部１１から試料２に照射した偏光のうち、試料２からの反射光（偏光）や散乱光（偏光）を、後述する検出部３により受光する。なお、本実施の形態においては、観察光学系１２の光軸ＡＸの方向にＺ軸を設定している。移動機構１３は、観察光学系１２と、後述する検出部３との間に設けられる。移動機構１３は、光源部１１を、観察光学系１２の光軸ＡＸと交わる面内（たとえばＸＹ平面内）で、光源部１１を移動させる。本実施の形態においては、移動機構１３は、観察光学系１２の光軸ＡＸを中心とする円の周方向と、上記円の径方向とに移動させるための構成を有する。移動機構１３の詳細については、説明を後述する。
【００１０】
検出部３は、偏光分離部３１と、イメージセンサ３２とを有し、観察装置１の光源部１１から試料２に照射した偏光のうち、試料２からの反射光や散乱光を受光する。偏光分離部３１は、例えば、２枚のサバール板と、これらのサバール板の間に配置された１／２波長板とを有する。本実施の形態では、サバール板は、複屈折性を有する一軸結晶からなる１枚の平行平面板（例えば、方解石（ＣａＣｏ３）やイットリウム・バナデート（ＹＶＯ４））と、これら平行平面板の間に配置された１／２波長板とを有する。サバール板は、複屈折性を有する一対の平行平板を、その光学軸が９０°異なるように貼り合わせて形成される。サバール板に入射する偏光（すなわち試料２からの反射光や散乱光）は、サバール板の固有偏光に分けられ、さらに空間的に分離して出射される。サバール板から出射した光は、イメージセンサ３２の試料２の光学像を撮像面上に結像させるレンズ（不図示）を通り、検光子である偏光板（不図示）を通過してイメージセンサ３２に入射する。
【００１１】
イメージセンサ３２は、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子により構成され、その撮像面上の試料２の光学像に試料２からの反射光や散乱光に依存した光の干渉縞が重畳する。イメージセンサ３２は、撮像面上に結像された干渉縞の画像を画像信号として演算装置４へ出力する。本実施の形態のイメージセンサ３２は、撮像面上に生成（形成）された干渉縞を撮像するため、微細な干渉縞が明瞭に撮像可能な解像度を有している。イメージセンサ３２の撮像面上に生成（形成）された干渉縞の本数および幅は、上述したように、観察装置１の光源部１１から出射する光の波長帯域および帯域幅に依存する。
【００１２】
演算装置４は、プロセッサーやその他の周辺回路を有する演算回路であり、記憶部（不図示）に格納されているプログラムを読み出し、このプログラムを実行することにより顕微鏡装置５の動作に必要な各種の演算を行う。演算装置４は、制御部４１と、照射方向制御部４２と、画像処理／判定部４３とを機能として備える。制御部４１は、顕微鏡装置５の各部の動作を制御する。照射方向制御部４２は、光源部１１からの照明光（すなわち偏光）が試料２を照射する際の偏光の照射方向を制御するために、上述した移動機構１３の動作を制御する。なお、照射方向とは、後述するように、試料２を照明する偏光の照射方位と、試料２を照明する照明光が試料台２１（すなわちＸＹ平面）となす照射角度との少なくとも一方を意味する。画像処理／判定部４３は、イメージセンサ３２から出力された画像信号を用いて、試料２の画像データを生成する。画像処理／判定部４３は、生成した画像データを用いて、試料２の状態を判定する。
【００１３】
画像処理／判定部４３によるストークス成分Ｓ０〜Ｓ３の測定原理（すなわち、試料２の状態の判定）について説明する（K. Oka and N. Saito, "Snapshot complete imaging polarimeter using Savart plates", Proc. SPIE 6295, 629508 (2006)参照）。
【００１４】
イメージセンサ３２により撮像された光の強度分布をＩ（ｘ，ｙ）とする。イメージセンサ３２に入射した反射光や散乱光に含まれる各ストークス成分の２次元分布をそれぞれＳ０（ｘ，ｙ）、Ｓ１（ｘ，ｙ）、Ｓ２（ｘ，ｙ）、Ｓ３（ｘ，ｙ）とすると、これらのストークス成分の２次元分布を用いて光強度分布を表すと次式のようになる。
【数２】
2020091320.tif 000004
ここで、Ｓ１３（σ）＝Ｓ１（σ）＋ｉＳ３（σ）であり、ａｒｇは複素数の偏角を示す関数であり、Ｕ１及びＵ２は、それぞれ２枚のサバール板により導入される空間キャリア周波数である。
【００１５】
上式におけるＳ０（ｘ，ｙ）、Ｓ２（ｘ，ｙ）及びＳ１３（ｘ，ｙ）は、これら（特にＳ１３（ｘ，ｙ）については実数成分及び虚数成分）がそれぞれ異なる４つの空間キャリア周波数ｆｙ＝０、Ｕ２、Ｕ２−Ｕ１、Ｕ２＋Ｕ１を有し、光強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）を空間周波数フィルタリングすることにより得られる。従って、これらのストークス成分の２次元分布は、抽出された成分の振幅及び位相から得ることができる。その際、空間周波数フィルタリング及び振幅、位相の変調は、ストークス成分の２次元分布の変調に適した形にされたフーリエ変換技術により一度に行うことができる。
【００１６】
画像処理／判定部４３は、イメージセンサ３２から出力される画像信号の強度の２次元分布を取得し、この強度の２次元分布をフーリエ変換することで、試料２からの光の偏光状態、具体的にはストークス成分Ｓ０〜Ｓ３の２次元分布を得る。このストークス成分Ｓ０〜Ｓ３の２次元分布を用いて、試料２の偏光特性を求めることができ、この偏光特性に基づいて、例えば試料２の粘膜層の厚みを算出し、これにより、がんの浸潤度等を判定することができる。
【００１７】
試料２への入射光のストークス行列をＳ＝（Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３）とし、この試料２からの光のストークス行列をＳ′＝（Ｓ′０，Ｓ′１，Ｓ′２，Ｓ′３）とすると、これらのストークス行列の関係は、以下に示す４行４列のミュラー行列Ｍを用いた下記の式（２）により表される。ミュラー行列Ｍは試料２の偏光特性に相当する。
【数３】
2020091320.tif 000005
ここで、ミュラー行列Ｍの全１６の要素ｍ００〜ｍ３３の各要素と偏光の物理的特性との厳密な対応は難しいが、おおまかな関係として次のように表すことができる。要素ｍ０１、ｍ０２、ｍ１０及びｍ２０は二色性（直線複吸収）を表し、要素ｍ00、ｍ０３及びｍ３０は円二色性（円複吸収）を表し、要素ｍ１１、ｍ１２、ｍ２１及びｍ２２は旋光性（円複屈折）を表し、要素ｍ１１〜ｍ１３、ｍ２１〜ｍ２３及びｍ３１〜ｍ３３は複屈折性（直線複屈折）を表すものである。
【００１８】
上述したように、本実施の形態の光源部１１は、６種類の互いに偏光状態の異なる偏光を試料２に照射する。すなわち、異なるストークス成分（このストークス成分は全て既知である）を有するストークス行列により表される偏光を試料２に照射し、それぞれの偏光が試料２からの光のストークス成分を検出する。試料２に照射する６種類の偏光は、水平直線偏光［１１００］（「Ｓ１＋」と示す）、垂直直線偏光［１−１００］（「Ｓ１−」と示す）、４５°直線偏光［１０１０］（「Ｓ２＋」と示す）、−４５°直線偏光［１０−１０］（「Ｓ２−」と示す）、右回り円偏光［１００１］（「Ｓ３＋」と示す）、左回り円偏光［１００−１］（「Ｓ３−」と示す）とする。また、これらの照射偏光に対応する試料２からの戻り偏光をそれぞれ、「Ｓ’１＋、Ｓ’１−、Ｓ’２＋、Ｓ’２−、Ｓ’３＋、Ｓ’３−」とする。例えば、水平直線偏光に関しては、（Ｓ’１＋）＝Ｍ（Ｓ１＋）からミュラー行列Ｍの各成分を求めることができる。他の偏光についても同様にミュラー行列Ｍの各成分を求めることができる。すなわち、本実施の形態において、４種類の偏光状態に相当する偏光生成部１１２の透過軸および進相軸方位の組み合わせを用いて、４種類の偏光状態についての行列式を解くことでミュラー行列Ｍの各成分は一意に定まる。また、６種類の偏光状態に相当する偏光生成部１１２の透過軸および進相軸方位の組み合わせを用いて、６種類の偏光状態について最小二乗法を用いてミュラー行列Ｍの各成分を求めることができる。
【００１９】
試料２からの光のストークス行列Ｓ′＝（Ｓ′０，Ｓ′１，Ｓ′２，Ｓ′３）のストークス成分の２次元分布が明らかになるので、ミュラー行列Ｍの各成分の２次元分布も求めることができる。すなわち、試料２の偏光特性の２次元分布を求めることができる。その結果、例えば試料２の偏光特性の２次元分布に基づいて試料２の粘膜層の厚みの２次元分布を算出し、これにより、例えば、がんの浸潤度を判定することができる。
【００２０】
次に、本実施の形態の移動機構１３について説明する。
図２は、移動機構１３を下部（Ｚ方向−側）から見た場合の外観を模式的に示す図である。移動機構１３は、例えば、光源部１１を保持する保持部１３１と、保持部１３１に設けられ、光源部１１を移動させるための案内部１３２とを有する。保持部１３１は、例えば、開口１３１ａを有するリング状の部材である。保持部１３１の中心（すなわち開口１３１ａの中心）は観察光学系１２の光軸ＡＸ上に設けられ、保持部１３１は、観察光学系１２の光軸ＡＸを中心として、例えばモータ等の駆動部により回転可能に観察装置１内の支持部（不図示）により支持される。
【００２１】
案内部１３２は、保持部１３１のＺ軸方向−側に設けられ、保持部１３１の径方向（光軸ＡＸから放射方向）に沿って延びる、例えばガイドレールである。光源部１１は、この案内部１３２上に設けられる。光源部１１は、例えばモータ等の駆動部により案内部１３２に沿って、開口１３１ａ側端部（第１端部１３２ａ）と保持部１３１の外縁側端部（第２端部１３２ｂ）との間を移動する。上記の構成により、保持部１３１が観察光学系１２の光軸ＡＸ周りに回転することにより、案内部１３２上に設けられた光源部１１も観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転する。光源部１１が案内部１３２に沿って移動することにより、観察光学系１２の光軸ＡＸから径方向に移動する。なお、保持部１３１に案内部１３２を設けるものに代えて、保持部１３１が、例えばガイドレール等に沿って観察光学系１２の光軸ＡＸから放射方向に移動可能に配置されてもよい。
なお、開口１３１ａは、試料２により反射、散乱されて観察光学系１２を透過した反射光や散乱光を、検出部３に入射させるために設けられる。
【００２２】
光源部１１が上記のように観察光学系１２の光軸ＡＸの周りの回転と、径方向に沿った移動とを行うことにより、試料２を照射する照明光（偏光）の照射方位と照射角度とが変更される。すなわち、照射方向を変更することができる。照射方位は、試料２をＺ軸＋側から見たときに、試料２を照射する照明光の光軸をＸＹ平面に投影した際に試料２へ向かう光軸の方向である。照射角度は、試料２を照明する照明光が試料台２１（すなわちＸＹ平面）となす角度である。
【００２３】
図３を参照して、照射方位と照射角度との変更について説明する。図３（ａ）は、保持部１３１をＺ方向＋側から見た図であり、保持部１３１のＺ方向−側の面に設けられた光源部１１を破線で示す。光源部１１が位置Ｐ１にあるときには、光源部１１からの照明光の照射方位は、Ｙ方向＋側からＹ方向−側に向かう方向である。保持部１３１が、例えば時計回りに回転して、光源部１１が図の位置Ｐ２に移動したとする。この場合、光源部１１からの照明光の照射方位は、Ｘ方向−側からＸ方向＋側に向かう方向に変化する。このように、保持部１３１が観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転することにより、光源部１１からの照明光が試料２を照射する照射方向（照射方位）は変更される。
【００２４】
次に、照明光が試料２を照射する角度の変更について説明する。図３（ｂ）に示すように、光源部１１が、保持部１３１の観察光学系１２の光軸ＡＸに近い側の位置Ｐ３にある場合の、光源部１１から試料２までの照明光の光路をＬ１で表す。この場合、照明光は、観察光学系１２を通過して、ＸＹ平面に対して角度θ１にて試料２を照射する。すなわち、照射角度はθ１である。光源部１１が案内部１３２に沿って位置Ｐ３から、保持部１３１の周辺側の位置Ｐ４に移動した場合の、光源部１１から試料２までの照明光の光路をＬ２で示す。この場合、照明光は、観察光学系１２を通過して、ＸＹ平面に対して角度θ２にて試料２を照射する。すなわち、照射角度はθ２である。このように、光源部１１が案内部１３２に沿って観察光学系１２の光軸ＡＸに近い側から径方向に移動することにより、光源部１１からの照明光が試料２を照射する照射方向（照射角度）は変更される。
【００２５】
なお、上述した図２や図３に示す保持部１３１や案内部１３２は、移動機構１３の構成としての一例を示すものであり、移動機構１３は図２に示す構成や形状等に限定されるものではなく、光源部１１を観察光学系１２の光軸ＡＸの周りと径方向とに移動可能な他の構成や形状等を取り得る。
また、上述した説明では、移動機構１３は、光源部１１をＸＹ平面上において、光軸ＡＸを中心とする円の周方向および径方向に移動させる場合を例に挙げたが、光源部１１を光軸ＡＸを中心とする円の周方向または径方向のいずれかに移動させてもよい。
【００２６】
演算装置４の照射方向制御部４２は、移動機構１３に駆動指示信号を出力して、保持部１３１の回転量（すなわち光源部１１の周方向の移動量）と、光源部１１の案内部１３２上の移動量（すなわち光源部１１の径方向の移動量）とを制御する。照射方向制御部４２は、例えば、時計回りにて保持部１３１を所定角度（例えば、３０°や４０°や６０°等）ごとに移動させて、光源部１１を案内部１３２上において、円周上の異なる複数の照明位置に移動させることができる。また、照射方向制御部４２は、光源部１１を案内部１３２に沿って径方向に移動させて、例えば、第１端部１３２ａ（図２参照）と、第２端部１３２ｂ（図２参照）と、それらの中間位置に順次移動させる。すなわち、案内部１３２上での一つの照明位置において光源部１１から出射された照明光が試料２により反射、散乱されて検出部３のイメージセンサ３２にて撮像されるごとに、照射方向制御部４２は、保持部１３１を上記の所定角度にて回転させるか、案内部１３２に沿って径方向に移動するように駆動指示信号を出力する。すなわち、移動機構１３は、試料２に対する照明光の照射方向を変更する変更部として機能する。上記の例の場合、移動機構１３により試料２に対する照明光の照射方位と照射角度とが変更される。
なお、照射方向制御部４２が光源部１１をある照明位置から他の照明位置に移動させるタイミングとして、イメージセンサ３２により検出される試料２からの反射および／または散乱された光の光量が、所定の値（例えば、露出時間に基づいて決まる値）を超えたときを一例とすることができる。
【００２７】
異なる照射方向ごとに、試料２からの光を撮像したイメージセンサ３２から出力された画像信号を用いて、画像処理／判定部４３は、試料２の判定を行う。すなわち、画像処理／判定部４３は、上述した式（２）に基づいて、試料２のミュラー行列を算出する。画像処理／判定部４３は、算出した試料２のミュラー行列と、予め異常を有するサンプルを実測して得られたミュラー行列（サンプルミュラー行列）とを比較して、比較結果に基づいて、試料２の異常の有無を判定する。この場合、サンプルミュラー行列（偏光特性）とサンプルの状態（異常の種類や異常の程度）とが予め関連付けされている。画像処理／判定部４３は、比較の結果、試料２を実測して得られた実測結果のミュラー行列（偏光特性）との類似度が高いサンプルミュラー行列に関連付けされた状態を、実測した試料２の状態として判定する。なお、上記のサンプルミュラー行列は、異なる照射方位、異なる照射角度ごとに取得されたミュラー行列であり、予め記憶部に記憶されている。画像処理／判定部４３は、複数のサンプルミュラー行列の中から、算出したミュラー行列の照射方位と照射角度とが同一のサンプルミュラー行列を読み出し、比較を行う。制御部４１は、画像処理／判定部４３による判定の結果（すなわち試料２の異常の結果）をモニタ（不図示）に表示させたり、記憶媒体に記憶させる。
サンプルミュラー行列を一つの照射方位および照射角度で取得し、実測した複数のミュラー行列のそれぞれとサンプルミュラー行列とを比較することにより、試料２の異常の有無を判定してもよい。
【００２８】
試料２に空間的な屈折率異方性が存在する場合、試料２からの反射光、散乱光の偏光状態は、試料２に照射する偏光の照射方向により影響を受ける。すなわち、同じ試料２であっても、試料２に対して異なる角度や方向から照明光を照射した場合に、試料２からの光の偏光状態は変化する。例えば、試料２に対して、ある照射方向により偏光を照射した場合には異常と判定されず、別の照射方向により同一種類の偏光を照射した場合には異常と判定されることが起こり得る。本実施の形態では、上記のようにして、異なる照射方向から試料２に偏光を照射して、それぞれの場合における、試料２からの反射光、散乱光の偏光状態に基づいて試料２の状態を判定する。従って、本実施の形態の観察装置１によれば、試料２の判定精度を向上させることができる。
【００２９】
上述した第１の実施の形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）移動機構１３は、試料２に対する偏光の照射方向を変更する変更部として機能する。これにより、空間的な屈折率異方性を有するような試料２の正常または異常の判定精度を向上させることができる。
【００３０】
（２）偏光生成部１１２は、複数の偏光状態の偏光を生成する。これにより、照明光の照射方位や照射角度ごとに、複数の偏光状態の偏光を照射することができるので、各照射方位や各照射角度ごとに、異なる偏光の照射に伴うミュラー行列を得て、試料２の異常の判定を高精度に行うことが可能となる。
【００３１】
（３）移動機構１３は、観察光学系１２の光軸ＡＸと交わる平面（たとえばＸＹ平面）において、光源部１１を移動させる。これにより、試料２と光源部１１との相対的な位置関係を変更して、試料２を照明する偏光の照射方位と照射角度との少なくとも一方を変更することができる。
【００３２】
（４）移動機構１３は、光源部１１を、光軸ＡＸを中心とする円の周方向および径方向の少なくとも一方に沿って移動させて、照射方向を変更する。これにより、試料２への照射方位と照射角度とを変更することができるように、光源部１１を移動させることができる。
（５）画像処理／判定部４３は、複数の照射方向から照射された偏光のうち、検出部３により検出した試料２からの反射光および散乱光の少なくとも一方に基づいて、試料に含まれる異常を判定する。複数の照射方向による実測結果に基づいて判定を行うので、空間的な屈折率異方性を有するような試料２の正常または異常の判定精度を向上させることができる。
（６）画像処理／判定部４３は、サンプルの異常と関連付けされたサンプルミュラー行列と、試料２を実測して得られたミュラー行列とを比較した結果に基づいて、試料２の状態を判定する。これにより、試料２の状態（異常の種類や異常の状態等）を判定することができる。
【００３３】
−第２の実施の形態−
図面を参照して、第２の実施の形態による観察装置を有する顕微鏡装置について説明を行う。以下の説明では、第１の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付し、相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１の実施の形態と同様である。本実施の形態においては、観察装置の光源部が観察光学系の光路外に配置される点が第１の実施の形態と異なる。
【００３４】
図４は、第２の実施の形態による観察装置１０を有する顕微鏡装置５０の要部構成の一例を模式的に示すブロック図である。なお、図４においても、図１の場合と同様にＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸からなる直交座標系を設定する。本実施の形態の観察装置１０は、光源部１１と、観察光学系１２と、光源部１１をＸＹ平面内で移動させる移動機構１３０と、照明光学系１４とを有する。光源部１１は、観察光学系１２の光路外に設けられ、Ｚ方向−側へ向けて照明光（偏光）を出射する。移動機構１３０は、第１の実施の形態と同様の保持部１３１と、照射角度変更部１３３とを有する。光源部１１は保持部１３１のＺ方向−側に設けられ、保持部１３１がモータ等の駆動部により観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転すると、光源部１１も共に観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転移動する。照明光学系１４は、例えばプリズムである。光源部１１からＺ方向−側へ向けて出射された照明光は、照明光学系１４にて屈折されて進行方向が変わり、試料２を照射する。
【００３５】
照明光学系１４は、支持部１３４を介して移動機構１３の保持部１３１に支持される。保持部１３１が観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転すると、支持部１３４を介して保持部１３１と連接する照明光学系１４も共に観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転する。これにより、光源部１１と照明光学系１４とは、共に観察光学系１２の光軸ＡＸの周りを回転する。このような構成により、第１の実施の形態の場合と同様に、試料２を照射する照明光の照射方位を変更することができる。
【００３６】
照射角度変更部１３３は、照明光学系１４をＸ軸に平行な駆動軸を中心に回動可能に配置されており、モータ等により駆動軸を中心に回動させることができる。すなわち、図４に矢印で示すように照明光学系１４を回動させることができる。これにより、照射光に対する照明光学系１４の傾斜角度が変更され、照明光学系１４からの照射光の照射角度を変更する。照射角度変更部１３３により照明光の照射角度が変更される。すなわち、移動機構１３０は、試料２に対する偏光の照射方位と照射角度とを変更する変更部として機能する。
【００３７】
なお、光源部１１から出射された照明光は、ファイバ等のリレー光学系により照明光学系１４に導かれてもよい。この場合、リレー光学系も、移動機構１３０により、光源部１１と照明光学系１４と共に、観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転移動するように支持部１３４等により支持される。
なお、移動機構１３０は、光源部１１をＸＹ平面上において、光軸ＡＸの周方向と径方向とに移動させる場合を例に挙げたが、光源部１１を光軸ＡＸの周方向または径方向のいずれかに移動させてもよい。
【００３８】
上記の構成を有することにより、光源部１１を観察光学系１２の光路外に配置した場合であっても、第１の実施の形態と同様に、試料２を照射する照明光の照射方位と照射角度とを変更することができる。この結果、第２の実施の形態においても、試料２に対して照明光を異なる複数の照射方位と照射角度にて照明し、それぞれにおける試料２からの光に基づいて画像処理／判定部４３が判定を行うので、試料２の判定精度を向上させることができる。
【００３９】
上述した第２の実施の形態によれば、第１の実施の形態にて得られた（１）〜（４）の作用効果に加えて、次の作用効果が得られる。
（５）移動機構１３０は、光源部１１が出射した偏光を試料２へ導く照明光学系１４を光源部１１とともに光軸ＡＸを中心とする円の周方向に移動させる。これにより、観察光学系１２の光路外に配置された光源部１１が光軸ＡＸを中心とする円の周方向に移動させて、異なる照射方位で照明光を試料２に照射させることができる。
【００４０】
（６）移動機構１３０は、照明光学系１４の傾斜を変更して照射角度を変更する。これにより、観察光学系１２の光路外に光源部１１を配置した場合であっても、試料２への照明光の照射角度を変更することができる。
【００４１】
−第３の実施の形態−
図面を参照して、第３の実施の形態による観察装置を有する顕微鏡装置について説明を行う。以下の説明では、第１の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付し、相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１の実施の形態と同様である。本実施の形態においては、試料がリング照明により照明される点が第１の実施の形態と異なる。
【００４２】
図５は、第３の実施の形態による観察装置１００を有する顕微鏡装置５００の要部構成の一例を模式的に示すブロック図である。なお、図５においても、図１の場合と同様にＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸からなる直交座標系を設定する。観察装置１００は、光源部１１と、観察光学系１２と、リング照明光生成部１５と、移動機構２３と、集光部１７とを有する。本実施の形態の光源部１１は、照明光をＹ方向−側に出射するように配置される。リング照明光生成部１５は、コリメートレンズ１５１と、コリメートレンズ１５１からの照明光が通過するリング状の開口部を有する絞り１５２と、ミラー１５３とを有する。光源部１１から出射された偏光は、コリメートレンズ１５１により平行光束となり、絞り１５２に設けられたリング状の開口部を通過してリング状の光束（リング光）となる。ミラー１５３はリング状の形状を有し、ＸＹ平面に対して、たとえば４５°傾斜するように配置され、絞り１５２により生成されたリング光をＺ方向−側に向けて反射させる。ミラー１５３のうち、観察光学系１２の光路と重複する領域には、開口部が設けられ、試料２で反射、散乱された光は、ミラー１５３の開口部を通過して検出部３に入射する。
なお、観察装置１０が集光部１７を備えず、照明光を観察光学系１２により集光させてもよい。すなわち、観察光学系１２が集光部１７を兼ねるように構成されてもよい。
【００４３】
図６に示すように、移動機構２３は、リング光の照明光を遮光するリング形状を有する板状部材からなる遮光部１６と、遮光部１６を観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転させるモータ（不図示）等と、遮光部１６を観察光学系１２の光軸ＡＸを中心とする円の径方向に沿って移動させるスライドレール（不図示）等を有する。遮光部１６の一部には開口１６１が設けられる。開口１６１は、リング光のうちの一部が通過するための通過領域である。遮光部１６の開口１６１を通過した光（照明光）は、集光部１７により試料２に集光される。集光部１７は、試料２により反射、散乱された光が観察光学系１２に向けて伝搬できるように、中央部に開口が設けられたリング形状を有する。
なお、光源部１１に偏光生成部１１２を設ける構成に代えて、遮光部１６の開口１６１近傍に偏光生成部１１２を設けてもよい。
【００４４】
移動機構２３において、遮光部１６を回転させることにより開口１６１の位置を変更することができる。これにより、試料２に対する照明光の照射方位を変更することができる。また、遮光部１６を観察光学系１２の光軸ＡＸを中心とする円の径方向に沿って移動させることにより、試料２を照射する照明光の照射角度を変更することができる。すなわち、移動機構２３は、試料２に対する偏光の照射方向を変更する変更部として機能する。
なお、図５においては、遮光部１６をミラー１５３と集光部１７との間に配置した例を示したが、遮光部１６を、絞り１５２とミラー１５３との間に配置してもよいし、あるいは、遮光部１６を、コリメートレンズ１５１と絞り１５２との間に配置してもよい。これらの場合、移動機構２３は、遮光部１６をコリメートレンズ１５１の光軸ＡＸ’の周りに回転させるモータ等と、コリメートレンズ１５１の光軸ＡＸ’を中心とする円の径方向に沿って移動させるスライドレール等とにより構成される。
また、遮光部１６が観察光学系１２の光軸ＡＸを中心とする円の周方向と径方向とに沿って移動する場合や、コリメートレンズ１５１の光軸ＡＸ’の周方向と径方向とに移動するものに代えて、観察光学系１２の光軸ＡＸの周方向または径方向のいずれかに移動したり、コリメートレンズ１５１の光軸ＡＸ’の周方向または径方向のいずれかに移動してもよい。
【００４５】
上記の構成を有することにより、リング光の一部を試料２を照射するための照明光として用いる場合に、第１および第２の実施の形態と同様に、試料２を照射する照明光の照射方位と照射角度とを変更することができる。この結果、第３の実施の形態においても、試料２に対して照明光を異なる複数の照射方位と照射角度にて照射し、それぞれにおける試料２からの光に基づいて画像処理／判定部４３が判定を行うので、試料２の判定精度を向上させることができる。
【００４６】
なお、絞り１５２によりリング光を生成する代わりに、複数の光源１１１と偏光生成部１１２との組からなる光源部１１を円周上に配置した構成としてもよい。図７に、このような構成を有する観察装置１１０を備える顕微鏡装置５１０の要部構成の一例を模式的に示す。なお、図７においても、図１の場合と同様にＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸からなる直交座標系を設定する。観察装置１１０は、複数の光源１１１を有する光源部１１と、観察光学系１２とを有する。光源１１１は、第１の実施の形態と同様にリング状に形成された保持部１３１のＺ方向−側の面に取り付けられる。
【００４７】
図８は、光源１１１の保持部１３１上への取り付け状態を模式的に示す図であり、Ｚ方向−側から保持部１３１を見た場合を示す。図８では、一例として、保持部１３１の径方向に沿って並べられた３個一組の光源１１１を、３０°の角度ごとの等角度に配置した場合を示す。なお、光源１１１を２個一組として等角度に配置してもよいし、あるいは、４個以上を一組として等角度に配置してもよい。なお、光源１１１の各組は３０°ごとに配置されるものに限定されず、また、等角度に配置されるものにも限定されない。このように配置された光源１１１のそれぞれは、演算装置４の照射方向制御部４２によりオン／オフが制御される。
【００４８】
たとえば、照射方向制御部４２は、光源１１１−１をオンとなるように制御した状態において撮像が終了した後、光源１１１−１をオフ、光源１１１−２をオンとなるように制御して撮像を行う。これにより、試料２に対する照明光の照射方位を変更することができる。このような動作を繰り返すことにより、試料２に対して複数の照射方位により偏光の照明光を照射することができる。
【００４９】
また、照射方向制御部４２は、光源１１１−１をオンとなるように制御した状態において撮像が終了した後、光源１１１−１をオフ、光源１１１−３をオンとなるように制御して撮像を行う。これにより、試料２に対する照明光の照射角度を変更することができる。このような動作を繰り返すことにより、試料２に対して複数の照射角度により偏光の照明光を照射することができる。
照射方向制御部４２が上記のように光源１１１のオン／オフを制御することにより、試料２に対して照明光を異なる複数の照射方位および異なる複数の照射角度の組み合わせで照射し、それぞれにおいて試料２から反射、散乱された光に基づいて画像処理／判定部４３が判定を行うので、試料２の判定精度を向上させることができる。
なお、光源１１１と偏光生成部１１２とからなる光源部１１の複数個を一組として径方向に沿って光源保持部１３１に配置し、モータ等を有する移動機構が、光源保持部１３１を観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転させてもよい。この場合には、移動機構が光源保持部１３１を回転させることにより照明光の照射方位を変更し、照明方向制御部４２がオンに制御する光源１１１を選択することにより照明光の照射角度を変更することができる。
【００５０】
上述した第３の実施の形態によれば、第１の実施の形態により得られた（１）、（２）の作用効果に加えて、次の作用効果が得られる。
（７）図５、６に示す例においては、光源部１１は、観察光学系１２の光軸ＡＸを中心としたリング状の照射領域を有する照明光を照射し、遮光部１６は、光源部１１からの照明光のうち、一部を透過する開口１６１を有する。移動機構２３は、遮光部１６の開口１６１を透過する照明光が試料２を照明する位置を光軸ＡＸの周りに回転させる。開口１６１の位置を選択することにより、試料２に対する照明光の照射方向を変更することができる。
【００５１】
（８）図７、８に示す例においては、観察光学系１２の光軸ＡＸを中心として周方向および径方向の少なくとも一方に沿って複数の光源１１１を有し、照射方向制御部４２は、複数の光源１１１のそれぞれのオン／オフを制御する。これにより、複雑な機構を有することなく、光源１１１のオン／オフを制御することにより照明光の照射方向を変更することができる。
【００５２】
次のような変形も本発明の範囲内であり、変形例の一つ、もしくは複数を上述の実施形態と組み合わせることも可能である。
【００５３】
（１）第１〜第３の実施の形態では、試料２に対して１つの照射方位から照明光を照射する場合を例に挙げた。１つのミュラー行列を複数の領域に分割し、それぞれの領域に異なる照明光による偏光特性の変化を割り当てるために、２以上の複数の照射方位から照明光を照射してもよい。この場合、２以上の照明光の偏光状態は同じでもよいし異なっていてもよい。第１または第２の実施の形態に適用する場合には、図２に示す保持部１３１のＺ方向−側の面に、例えば、１２０°ごとに光源部１１を配置してよい。また、第３の実施の形態に適用する場合には、遮光部１６に、例えば、１２０°ごとに開口１６１を設けるとよい。また、図７、図８に示す観察装置１１０においては、保持部１３１に配置された複数の光源１１１のうち、例えば１２０°ごとの位置に配置された光源１１１をオンするように照射方向制御部４２が制御を行うとよい。これにより、試料２に対して、異なる照射方向から照明光を照射することができる。この結果、一度に複数回分の試料２からの反射光および／または散乱光を取得できるので、判定のための測定時間を短縮することが可能になる。
【００５４】
（２）光源部１１からの照明光の照射方位を変更するために、第１〜第３の実施の形態の構成に代えて、試料台２１を観察光学系１２の光軸ＡＸの周りに回転可能に配置されてよい。この場合、移動機構１３、２３、１３０は、試料台２１を回転させるためのモータ等の駆動部を有する。
また、試料台２１のＸＹ平面に対する傾斜を変更可能に構成してもよい。この場合、移動機構１３、２３、１３０は、試料台２１の傾斜を変更するために、試料台２１を駆動するモータ等の駆動部を有する。これにより、第１〜第３の実施の形態のように、光源部１１の位置を移動したり、照明光学系１４の傾斜を変更したり、複数の光源１１１のオン／オフを制御することに代えて、試料２を照射する照明光の照射角度を変更することができる。なお、第１〜第３の実施の形態の構成に試料台２１の傾斜を変更するための構成を追加することができる。この場合においても、移動機構１３、２３、１３０は、上述した試料台２１を駆動するためのモータ等の駆動部を有する。移動機構１３、２３、１３０は、駆動部を制御して、試料台２１の傾斜の変更を、試料２への照射角度の変更のために行うものに代えて、検出部３で検出される像のコントラスト（すなわちフォーカス状態）が一定になるために行う。または、移動機構１２、２３、１３０は、駆動部を制御して、試料２を照射中の照明光の照射位置が異なる照射角度ごとにずれないようにするために試料台２１の傾斜の変更を行う。
【００５５】
（３）画像処理／判定部４３は、複数の方位、角度で照射された照明光が試料２により反射、散乱された光に基づいて生成された画像信号から、試料２の深さ方向の情報も含む３次元画像を生成してもよい。これにより、試料２の異常の有無だけでなく、異常が発生した周辺の状態に関する情報を取得することができる。生成された３次元画像は、モニタ（不図示）に表示させたり、記憶媒体に記憶させてよい。
【００５６】
（４）観察装置１、１０、１００、１１０を、内視鏡装置に組み込むことができる。図９に、一例として、内視鏡装置２００に観察装置１１０に相当する構成を組み込んだ場合の概略図を示す。図９（ａ）は内視鏡装置２００の先端部２１３の外観の斜視図、図９（ｂ）は内部の断面図である。先端部２１３には、観察光学系１２と、複数の照明窓２１７等が配置される。先端部２１３は、偏光分離部３１およびイメージセンサ３２を有する検出部３と、光源１１１からの照明光から偏光を生成する偏光生成部１１２とを有する。光源１１１は、上述した図８に示すように、保持部１３１に複数配置され、照明方向制御部４２により、それぞれの光源１１１のオンとオフが制御される。光源１１１からの光は、光ファイバ等の光ガイド２２６Ａにより偏光生成部１１２に導かれ、偏光生成部１１２により偏光が生成される。そして、照明窓２１７から偏光が異なる方向から対象物へ出射する。図９に示す例では、偏光生成部１１２は、６種の異なる偏光状態の偏光を出射するように、偏光板と位相板の組み合わせによる６種類の光学系で構成されている。例えば、偏光軸が４５°刻みとなるように配置した４種類の光学系と、偏光板の偏光軸とλ／４板の進相軸とを４５°および−４５°傾けた２種類の光学系の６種類の光学系を構成する。これにより、水平直線偏光、垂直直線偏光、４５°直線偏光、−４５°直線偏光、右回り円偏光、および左回り円偏光の６種類の偏光状態の偏光を出射することができる。この６種類の光学系により、光源１１１からの光は、偏光生成部１１２により６種類のそれぞれ異なる偏光状態の光となって、照明窓２１７を介して偏光対象物に照射される。このような構成により、試料２に対して異なる照射方向により偏光による照明光を照射することができる。
【００５７】
試料２からの光は、観察光学系１２を介して検出部３に受光される。この結果、内視鏡装置２００においても、試料２に対して照明光を異なる複数の照射方位と照射角度にて照明し、それぞれにおける試料２からの光に基づいて、上述した画像処理／判定部４３が行う判定と同様の判定を行うことができるので、試料２の判定精度を向上させることができる。
【００５８】
本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。
【符号の説明】
【００５９】
１、１０、１００、１１０…観察装置
２…試料
３…検出部
４…演算装置
５、５０、５００、５１０…顕微鏡装置
１１…光源部
１２…観察光学系
１３、２３、１３０…移動機構
１４…照明光学系
１５…リング照明光生成部
１６…遮光部
２１…試料台
３２…イメージセンサ
４２…照射方向制御部
４３…画像処理／判定部
１１１…光源
１１２…偏光生成部
１３１…保持部
２００…内視鏡装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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