(57)【要約】【課題】多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる検査装置を提供すること。【解決手段】多極コネクタの特性を検査するための検査装置は、第１多極コネクタと第２多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、第１コネクタと、第２コネクタと、第１コネクタおよび第２コネクタに接触して一対の基板を保持する治具と、を備え、一対の基板を平面視したときに、治具は、第１多極コネクタおよび第２多極コネクタに重ならない位置に設けられており、第１多極コネクタおよび第２多極コネクタに重なる位置に空気層を設けている。【選択図】図１
2020091980.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、
オス型の第１多極コネクタが実装された第１基板と、メス型の第２多極コネクタが実装された第２基板とを有し、前記第１多極コネクタと前記第２多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、
前記第１基板に取り付けられたコネクタであって、前記第１基板に形成された伝送線を通じて前記第１多極コネクタに導通した第１コネクタと、
前記第２基板に取り付けられたコネクタであって、前記第２基板に形成された伝送線を通じて前記第２多極コネクタに導通した第２コネクタと、
前記第１コネクタおよび前記第２コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、
前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置。
【請求項２】
前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込む形状を有し、前記空気層は、前記一対の基板に対して少なくとも一方側に設けられている、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込んで前記第１コネクタおよび前記第２コネクタに接触する一対の板部と、前記一対の板部を貫通して互いに接続するネジ部とを備える、請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、環状に形成される環状部を備え、前記環状部の内側に前記空気層が形成される、請求項１から３のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項５】
前記治具は、前記基板よりも誘電率の低い材料で形成される、請求項１から４のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項６】
前記第１コネクタは、前記第１基板の端部を両側から挟むように前記第１基板に取り付けられ、前記第２コネクタは、前記第２基板の端部を両側から挟むように前記第２基板に取り付けられる、請求項１から５のいずれか１つに記載の検査装置。
【請求項７】
前記第１コネクタおよび前記第２コネクタをそれぞれ複数設けた、請求項１から６のいずれか１つに記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、多極コネクタの特性を検査するための検査装置が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１の検査装置は、多極コネクタの複数の端子の接点部の位置狂いの有無を検査するための装置である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−３２０７２７
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような検査装置に関して、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる技術の開発が求められている。
【０００６】
従って、本発明の目的は、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の検査装置は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第１多極コネクタが実装された第１基板と、メス型の第２多極コネクタが実装された第２基板とを有し、前記第１多極コネクタと前記第２多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第１基板に取り付けられたコネクタであって、前記第１基板に形成された伝送線を通じて前記第１多極コネクタに導通した第１コネクタと、前記第２基板に取り付けられたコネクタであって、前記第２基板に形成された伝送線を通じて前記第２多極コネクタに導通した第２コネクタと、前記第１コネクタおよび前記第２コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重なる位置に空気層を設けている。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の検査装置によれば、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施の形態における検査システムの概略構成を示す図
【図２】実施の形態における検査システムにおいて治具を省略した概略構成を示す図
【図３】実施の形態における検査装置において治具を省略した斜視図（嵌合後）
【図４】実施の形態における検査装置において治具を省略した斜視図（嵌合前）
【図５】図３の概略平面図
【図６Ａ】第１多極コネクタを示す斜視図
【図６Ｂ】第２多極コネクタを示す斜視図
【図６Ｃ】第１多極コネクタと第２多極コネクタが嵌合した状態を示す斜視図
【図７】治具を含む検査装置の斜視図
【図８】治具を含む検査装置の平面図
【図９】治具を含む検査装置の分解斜視図
【図１０】治具と信号線の位置関係を示す平面図
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の第１態様によれば、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であって、オス型の第１多極コネクタが実装された第１基板と、メス型の第２多極コネクタが実装された第２基板とを有し、前記第１多極コネクタと前記第２多極コネクタを互いに嵌合させた、一対の基板と、前記第１基板に取り付けられたコネクタであって、前記第１基板に形成された伝送線を通じて前記第１多極コネクタに導通した第１コネクタと、前記第２基板に取り付けられたコネクタであって、前記第２基板に形成された伝送線を通じて前記第２多極コネクタに導通した第２コネクタと、前記第１コネクタおよび前記第２コネクタに接触して前記一対の基板を保持する治具と、を備え、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重ならない位置に設けられており、前記第１多極コネクタおよび前記第２多極コネクタに重なる位置に空気層を設けた、検査装置を提供する。
【００１１】
このような構成によれば、治具によって一対の基板を保持することで、基板に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具に空気層を設けて、治具が多極コネクタと対向しない箇所を設けることで、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタの特性をより精度良く検査することができる。
【００１２】
本発明の第２態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込む形状を有し、前記空気層は、前記一対の基板に対して少なくとも一方側に設けられている、第１態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具によって基板をより強固に保持することができる。
【００１３】
本発明の第３態様によれば、前記治具は、前記一対の基板を両側から挟み込んで前記第１コネクタおよび前記第２コネクタに接触する一対の板部と、前記一対の板部を貫通して互いに接続するネジ部とを備える、第２態様に記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、板部によって一対の基板を強固に保持しつつ、板部とネジ部による簡単な構成で治具を実現することができる。
【００１４】
本発明の第４態様によれば、前記一対の基板を平面視したときに、前記治具は、環状に形成される環状部を備え、前記環状部の内側に前記空気層が形成される、第１態様から第３態様のいずれか１つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、環状部によって空気層を設けながら一対の基板をより強固に保持することができる。
【００１５】
本発明の第５態様によれば、前記治具は、前記基板よりも誘電率の低い材料で形成される、第１態様から第４態様のいずれか１つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、治具と多極コネクタの間で電気的な容量結合が生じるのをさらに抑制することができる。
【００１６】
本発明の第６態様によれば、前記第１コネクタは、前記第１基板の端部を両側から挟むように前記第１基板に取り付けられ、前記第２コネクタは、前記第２基板の端部を両側から挟むように前記第２基板に取り付けられる、第１態様から第５態様のいずれか１つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、コネクタを挟むように治具を配置することができ、一対の基板をより強固に保持することができる。
【００１７】
本発明の第７態様によれば、前記第１コネクタおよび前記第２コネクタをそれぞれ複数設けた、第１態様から第６態様のいずれか１つに記載の検査装置を提供する。このような構成によれば、多極コネクタの端子の数が多くなっても端子の数に応じて特性検査を実施することができる。
【００１８】
以下に、本発明にかかる実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００１９】
（実施の形態）
図１、図２は、実施の形態における検査システム１および検査装置２の概略構成を示す図である。図２では、検査装置２の治具１３を省略した状態を示す。
【００２０】
検査システム１は、多極コネクタの特性検査を行うためのシステムである。検査システム１は、検査装置２と、複数のケーブル４と、ネットワークアナライザ６とを備える。
【００２１】
検査装置２は、多極コネクタの特性検査を行うための検査装置である。検査装置２の内部に、検査対象である多極コネクタが設けられている。ケーブル４は、検査装置２とネットワークアナライザ６を電気的に接続する部材である。検査装置２は、複数のケーブル４を介してネットワークアナライザ６に接続されている。ネットワークアナライザ６に接続することにより、検査対象の多極コネクタの電気特性を検査することができる。
【００２２】
検査装置２は、一対の基板８と、複数のコネクタ１０、１２（図２）と、治具１３（図１）とを備える。
【００２３】
検査装置２の構成について、図３、図４、図５を用いて説明する。図３、図４は、検査装置２において治具１３を省略した斜視図であり、図５は、図３の概略平面図である。図３、図５では、一対の基板８が互いに嵌合した状態を示し、図４では、嵌合する前の状態を示す。
【００２４】
図３、図４に示すように、一対の基板８は、第１基板８Ａと、第２基板８Ｂとを備える。第１基板８Ａ、第２基板８Ｂはともに、多極コネクタの特性を検査するための検査用の回路基板である。図４に示すように、第１基板８Ａの裏面には、第１多極コネクタ１４が実装されている。同様に、第２基板８Ｂの表面には、第２多極コネクタ１６が実装されている。
【００２５】
第１多極コネクタ１４、第２多極コネクタ１６を図６Ａ、図６Ｂ、図６Ｃに示す。図６Ａは、第１多極コネクタ１４を示す斜視図であり、図６Ｂは、第２多極コネクタ１６を示す斜視図である。図６Ｃは、第１多極コネクタ１４と第２多極コネクタ１６が嵌合した状態を示す斜視図である。
【００２６】
実施の形態では、図６Ａに示す第１多極コネクタ１４はオス型の多極コネクタであり、図６Ｂに示す第２多極コネクタ１６はメス型の多極コネクタである。
【００２７】
第１多極コネクタ１４は複数の端子１５を有している。図６Ａに示すように、複数の端子１５は２列に並べられている。同様に、図６Ｂに示す第２多極コネクタ１６は複数の端子１７を有しており、端子１７は２列に並べられている。
【００２８】
図６Ｃに示す嵌合状態では、第１多極コネクタ１４の端子１５と第２多極コネクタ１６の端子１７とが互いに接触して導通している。
【００２９】
図３、図４等に示すように、第１基板８Ａには複数の第１コネクタ１０が取り付けられている。第１コネクタ１０は、第１多極コネクタ１４の端子１５を前述したケーブル４に電気的に接続するためのコネクタである。
【００３０】
同様に、第２基板８Ｂには複数の第２コネクタ１２が取り付けられている。第２コネクタ１２は、第２多極コネクタ１６の端子１７を前述したケーブル４に電気的に接続するためのコネクタである。
【００３１】
図５に示すように、第１基板８Ａには複数の伝送線１８が形成されている。伝送線１８は、第１多極コネクタ１４と第１コネクタ１０を電気的に接続する配線である。全ての伝送線１８が第１多極コネクタ１４に接続されており、それぞれの伝送線１８が１つの第１コネクタ１０に接続されている。
【００３２】
第２基板８Ｂにも同様に複数の伝送線２０が形成されている。伝送線２０は、第２多極コネクタ１６と第２コネクタ１２を電気的に接続する配線である。複数の伝送線２０は全て第２多極コネクタ１６に接続されており、それぞれの伝送線２０が１つの第２コネクタ１２に接続されている。
【００３３】
実施の形態では、第１コネクタ１０、第２コネクタ１２はともに、エンドランチコネクタである。具体的には、第１コネクタ１０は、第１基板８Ａの端部を両側から挟み込むように取り付けられており、第２コネクタ１２は、第２基板８Ｂの端部を両側から挟み込むように取り付けられている。
【００３４】
図示の例では、コネクタ１０、１２がそれぞれ４つずつ設けられているが、コネクタ１０、１２の個数は４つに限らず、任意の個数であってもよい。
【００３５】
このような構成において、多極コネクタ１４、１６の特性を検査する際には、図２に示すようにコネクタ１０、１２にはケーブル４が接続された状態で行う。このような状態では、ケーブル４から検査装置２に対してテンションがかかり、特に、基板８を湾曲させる曲げモーメントが生じる。この曲げモーメントによって、第１多極コネクタ１４と第２多極コネクタ１６の嵌合が解除されてしまう場合があり、多極コネクタ１４、１６の特性を精度良く検査できない場合がある。
【００３６】
これに対して、実施の形態の検査装置２では、第１多極コネクタ１４と第２多極コネクタ１６の嵌合を維持するための治具１３（図１）を設けている。治具１３の詳細な構成について、図７、図８、図９を用いて説明する。
【００３７】
図７は、治具１３を含む検査装置２の斜視図であり、図８は、同検査装置２の平面図であり、図９は、同検査装置２の分解斜視図である。
【００３８】
図７、図９などに示すように、治具１３は、第１の板部２１と、接続部２２と、第２の板部２３とを備える。第１の板部２１、接続部２２、第２の板部２３のいずれも、少なくとも１つのブロック体から構成されている。
【００３９】
第１の板部２１と第２の板部２３は、一対の基板８を両側から挟みこむように構成された一対の板状の部材である。第１の板部２１は、コネクタ１０、１２に一方側から接触して一対の基板８を保持し、第２の板部２３は、コネクタ１０、１２に対して他方側から接触して一対の基板８を保持する。
【００４０】
接続部２２は、第１の板部２１と第２の板部２３を接続するための部分である。接続部２２は、第１の板部２１と第２の板部２３の両方に接触するように第１の板部２１と第２の板部２３の間に配置される。接続部２２には、複数のねじ部２４、２６が挿通される。
【００４１】
ねじ部２４、２６は、第１の板部２１と第２の板部２３を互いに接続するための部材である。ねじ部２４は、第１の板部２１と接続部２２に挿通される。これにより、第１の板部２１と接続部２２が互いに接続される。ねじ部２６は、接続部２２と第２の板部２３に挿通される。これにより、接続部２２と第２の板部２３が互いに接続される。
【００４２】
接続部２２およびねじ部２４、２６によって、第１の板部２１と第２の板部２３を互いに接続して固定することができる。このように固定された第１の板部２１と第２の板部２３によって、一対の基板８を両側から挟み込み、強固に保持することができる。
【００４３】
上述した治具１３によれば、一対の基板８およびコネクタ１０、１２を含む検査装置２の各構成部材を位置決めして強固に固定することができる。前述したように一対の基板８に対してケーブル４による曲げモーメントが生じた場合でも、第１多極コネクタ１４と第２多極コネクタ１６の嵌合状態を維持することができ、多極コネクタ１４、１６の特性検査を精度良く実施することができる。
【００４４】
また図７等に示すように、実施の形態における第１の板部２１は、対向する一対の板状の部材により構成されている。図７、図８に示すように、一対の第１の板部２１の間の空間は空気層２８として形成される。空気層２８は、図７の矢印Ａで示すように一対の基板８を平面視したときに、一対の基板８を外側に露出させる開口である。空気層２８は特に、図８に示すように、一対の基板８を平面視したときに第１多極コネクタ１４、１６に重なる位置に設けられている。このような位置に空気層２８を設けることで、一対の基板８を一方側から平面視したときに、治具１３は多極コネクタ１４、１６と重ならないように配置される。治具１３と多極コネクタ１４、１６を対向させないようにすることで、治具１３と第１多極コネクタ１４、１６の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。
【００４５】
一方で、図９に示すように、第２の板部２３には開口が設けられておらず、一対の基板８を露出させる空気層は形成されていない。すなわち、実施の形態の検査装置２では、一対の基板８に対して片側のみに空気層２８が設けられている。
【００４６】
さらに実施の形態では、第１の板部２１および接続部２２は、Ａ方向から見た際に環状に形成されている。すなわち、第１の板部２１および接続部２２は、周方向に連続的につながった環状部を構成している。第１の板部２１および接続部２２による環状部の内側の開口として、空気層２８が設けられている。このような構成によれば、簡単な構成で空気層２８を設けつつ一対の基板８を強固に保持することができる。
【００４７】
また、実施の形態における治具１３は、誘電率の低い材料で形成されている。具体的には、治具１３を構成する材料はポリアセタール（ＰＯＭ）である。ポリアセタールの誘電率は約３．６である。このような誘電率の低い材料で治具１３を構成することにより、治具１３と第１多極コネクタ１４、１６の電気的な容量結合をより抑制することができる。
【００４８】
なお、治具１３の材料を選択する際には、例えば誘電率が３．６以下の材料を選択するようにしてもよい。あるいは、基板８よりも誘電率が低い材料を選択してもよい。実施の形態における基板８の材料はＭＥＧＴＲＯＮ６であり、誘電率は約３．７である。
【００４９】
次に、治具１３と信号線１８、２０の位置関係を図１０に示す。図１０に示すように、一対の基板８を平面視したときに、治具１３と信号線１８、２０が重なる領域（外側）と、重ならない領域（内側）が存在する。実施の形態では、治具１３と信号線１８、２０が重ならない領域が、重なる領域よりも大きくなるように空気層２８を設けている。このような配置によれば、治具１３と多極コネクタ１４、１６の間の電気的な容量結合だけでなく、治具１３と信号線１８、２０の間の電気的な容量結合を抑制することができる。これにより、多極コネクタ１４、１６の特性検査をより精度良く実施することができる。
【００５０】
上述したように、実施の形態の検査装置２は、多極コネクタ１４、１６の特性を検査するための装置であって、一対の基板８と、第１コネクタ１０と、第２コネクタ１２と、治具１３とを備える。一対の基板８は、オス型の第１多極コネクタ１４が実装された第１基板８Ａと、メス型の第２多極コネクタ１６が実装された第２基板８Ｂとを有し、第１多極コネクタ１４と第２多極コネクタ１６を互いに嵌合させている。第１コネクタ１０は、第１基板８Ａに取り付けられたコネクタであって、第１基板８Ａに形成された伝送線１８を通じて第１多極コネクタ１４に導通している。第２コネクタ１２は、第２基板８Ｂに取り付けられたコネクタであって、第２基板８Ｂに形成された伝送線２０を通じて第２多極コネクタ１６に導通している。治具１３は、第１コネクタ１０および第２コネクタ１２に接触して一対の基板８を保持する部材である。このような構成において、一対の基板８を平面視したときに、治具１３は、第１多極コネクタ１４および第２多極コネクタ１６に重ならない位置に設けられている。また、一対の基板８を平面視したときに、第１多極コネクタ１４および第２多極コネクタ１６に重なる位置に空気層２８を設けている。
【００５１】
このような構成によれば、治具１３によって一対の基板８を保持することで、基板８に対して曲げモーメントが生じた場合でも基板８の変形を抑制することができる。これにより、多極コネクタ１４、１６同士の嵌合が解除されるのを抑制することができ、多極コネクタ１４、１６の特性をより精度良く検査することができる。さらに、治具１３に空気層２８を設けて、治具１３が多極コネクタ１４、１６に対向しない箇所を設けることで、多極コネクタ１４、１６と治具１３の間で電気的な容量結合が生じるのを抑制することができる。これにより、多極コネクタ１４、１６の特性をより精度良く検査することができる。
【００５２】
また実施の形態の検査装置２によれば、治具１３は、一対の基板８を両側から挟み込む形状を有し、空気層２８は、一対の基板８に対して少なくとも一方側に設けられている。このような構成によれば、一対の基板８を両側から挟み込むことで、より強固に保持することができる。
【００５３】
また実施の形態の検査装置２によれば、治具１３は、一対の基板８を両側から挟み込んで第１コネクタ１０および第２コネクタ１２に接触する一対の板部１８、２０と、一対の板部１８、２０を貫通して互いに接続するネジ部２４、２６とを備える。このような構成によれば、板部１８、２０によって一対の基板８をより強固に保持しつつ、板部１８、２０とネジ部２４、２６による簡単な構成で治具１３を実現することができる。
【００５４】
また実施の形態の検査装置２によれば、第１コネクタ１０は、第１基板８Ａの端部を両側から挟むように第１基板８Ａに取り付けられ、第２コネクタ１２は、第２基板８Ｂの端部を両側から挟むように第２基板８Ｂに取り付けられる。このような構成によれば、コネクタ１０、１２を挟むように治具１３を配置することができ、一対の基板８をより強固に保持することができる。
【００５５】
また実施の形態の検査装置２によれば、第１コネクタ１０および第２コネクタ１２をそれぞれ複数設けている。このような構成によれば、多極コネクタ１４、１６の端子の数が多くなった場合でも、端子の数に応じて特性検査を実施することができる。
【００５６】
以上、上述の実施の形態を挙げて本発明を説明したが、本発明は上述の実施の形態に限定されない。例えば、上記実施の形態では、治具１３が一対の基端８を両側から挟み込む場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、治具１３が基板８を片側のみから保持するようにしてもよい。
【００５７】
また、上記実施の形態では、空気層２８が一対の基板８に対して片側のみに設けられる場合について説明したが、このような場合に限らない。例えば、一対の基板８の両側に空気層２８を設けるようにしてもよい。すなわち、図９に示す第２の板部２３においても、一対の基板８を露出させる開口を設けてもよい。
【００５８】
また、上記実施の形態では、第１コネクタ１０、第２コネクタ１２がエンドランチコネクタである場合について説明したが、このような場合に限らず、任意の種類のコネクタを用いてもよい（例えば、ＳＭＡコネクタ）。
【００５９】
本開示は、添付図面を参照しながら好ましい実施の形態に関連して充分に記載されているが、この技術の熟練した人々にとっては種々の変形や修正は明白である。そのような変形や修正は、添付した特許請求の範囲による本開示の範囲から外れない限りにおいて、その中に含まれると理解されるべきである。また、各実施の形態における要素の組合せや順序の変化は、本開示の範囲及び思想を逸脱することなく実現し得るものである。
【００６０】
なお、上記様々な実施の形態および変形例のうちの任意の実施の形態あるいは変形例を適宜組み合わせることにより、それぞれの有する効果を奏するようにすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００６１】
本発明は、多極コネクタの特性を検査するための検査装置であれば適用可能である。
【符号の説明】
【００６２】
２  検査装置
４  ケーブル
６  ネットワークアナライザ
８  基板
８Ａ  第１基板
８Ｂ  第２基板
１０  第１コネクタ
１２  第２コネクタ
１４  第１多極コネクタ
１５  端子
１６  第２多極コネクタ
１７  端子
１８  伝送線
２０  伝送線
２１  第１の板部
２２  接続部
２３  第２の板部
２４  ねじ部
２６  ねじ部
２８  空気層
【図１】
2020091980.tif 000003
【図２】
2020091980.tif 000004
【図３】
2020091980.tif 000005
【図４】
2020091980.tif 000006
【図５】
2020091980.tif 000007
【図６Ａ】
2020091980.tif 000008
【図６Ｂ】
2020091980.tif 000009
【図６Ｃ】
2020091980.tif 000010
【図７】
2020091980.tif 000011
【図８】
2020091980.tif 000012
【図９】
2020091980.tif 000013
【図１０】
2020091980.tif 000014