(57)【要約】【課題】被試験デバイス（ＤＵＴ）の試験時間を短縮する。【解決手段】試験測定システム４００は、ＤＵＴ４２６の試験で生じる波形を取得し、これら波形夫々の解析を少なくとも部分的に並列に行う。また、システムは、ＤＵＴ４２６の第１試験で生じる第１波形をオシロスコープ４２２で取得し、次いで、第１波形を解析するのと少なくとも部分的に並行して第２波形を取得する。更に、システムは、ネットワーク上の複数の試験装置の目録情報を使用して複数の試験用資産の記録と付けると共に、遠隔ユーザが、全体的な分析を行えるように、クラウド・コンピューティング・システム上に格納された装置ログと、波形夫々の解析結果にアクセスできるようにする。【選択図】図４
2020190556.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験測定システムにおいて被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法であって、
上記ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を取得する処理と、
上記ＤＵＴに対して上記第１試験を行った結果生じた上記第１波形を取得する処理に応じて、上記ＤＵＴに対して上記第１試験を行った結果生じた上記第１波形の解析を始める処理と、
上記ＤＵＴに対して上記第１試験を行った結果生じた上記第１波形を解析しながら、上記ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じた第２波形の取得を開始する処理と、
上記ＤＵＴに対して上記第２試験を行った結果生じた上記第２波形を取得する処理に応じて、上記ＤＵＴに対して上記第１試験を行った結果生じた上記第１波形を解析しながら、上記ＤＵＴに対して上記第２試験を行った結果生じた上記第２波形の解析を開始する処理と
を具える被試験デバイスの試験方法。
【請求項２】
上記ＤＵＴに対して追加試験を行った結果生じる追加波形を取得する処理と、
上記ＤＵＴに対して上記追加試験を行った結果生じる上記追加波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行して行う処理と
を更に具える請求項１の被試験デバイスの試験方法。
【請求項３】
上記ＤＵＴに対して上記追加試験を行うことにより生じる１つ以上の上記追加波形の取得を、少なくとも部分的に、上記１つ以上の追加波形以外の波形夫々の解析と並行して行う請求項２の被試験デバイスの試験方法。
【請求項４】
アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を介して、オシロスコープ上で動作する波形取得エンジンから上記追加波形を受ける処理と、
遠隔ユーザのシステムに遠隔からアクセスできる集中型データ・サーバ上のデータベースに、受けた上記追加波形を格納する処理と
を更に具える請求項２又は３の被試験デバイスの試験方法。
【請求項５】
クラウド・コンピューティング・システム上に、上記ＤＵＴに対する上記追加試験から得られた試験装置の装置ログを格納する処理と
上記装置ログに、上記遠隔ユーザがアクセスできるようにする処理と
更に具える請求項２から４のいずれかの被試験デバイスの試験方法。
【請求項６】
上記オシロスコープと上記クラウド・コンピューティング・システムに接続されたネットワーク上の上記オシロスコープを含む複数の試験用資産のインベントリ情報を、上記クラウド・コンピューティング・システム上に格納する処理を更に具える被試験デバイスの試験方法。
【請求項７】
上記試験測定システムの少なくとも１つの上記プロセッサによって実行された場合に、少なくとも１つの上記プロセッサが、請求項１から６のいずれかの方法を実行するコンピュータ・プログラム。
【請求項８】
試験測定システムであって、
少なくとも１つのメモリと、
少なくとも１つの上記メモリに結合される少なくとも１つのプロセッサと
を具え、
少なくとも１つの上記メモリにコンピュータ実行可能な命令が記憶されており、実行されると、少なくとも１つの上記プロセッサに、
被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して試験を行った結果生じる波形を取得させ、
上記ＤＵＴに対して試験を行うことにより生じた上記波形夫々の解析を少なくとも部分的に並列で実行させる試験測定システム。
【請求項９】
ＤＵＴに対する試験を行うことにより生じる１つ以上の追加波形の取得を、ＤＵＴに対する試験を行うことにより生じる波形夫々の解析と少なくとも部分的に並行して行う請求項８の試験測定システム。
【請求項１０】
アプリケーション・プログラミング・インタフェース（ＡＰＩ）を介して、オシロスコープ上で動作する波形取得エンジンから上記追加波形を受ける処理と、
遠隔ユーザのシステムに遠隔からアクセスできる集中型データ・サーバ上のデータベースに受けた上記追加波形を格納する処理と
を更に具える請求項８又は９の試験測定システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験測定システムに関し、特に並列波形解析のための試験測定システムと被試験デバイスの試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
集積回路（シリコン・チップ又は単に「チップ」）の検証と試験には、その製造されたチップの設計／構造について、試験所でセットアップして、全ての機能が正常であるかを試験する工程がある。これは、試験ボード又は基準ボード上に組み立てられたチップを、このチップ用に設計されたシステムの他のコンポーネントと共に使用して行われることがある。その目的は、顧客が結果として実際の利用であり得るチップの全ての使用事例を検証し、その設計をこれら全ての使用モデルに適したものにすることである。このような検証は、ガリウム・ヒ素、リン化インジウムなど他の半導体の試験にも適用されることがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平８−３０４４８２号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ編集部編、「ディジタル・オシロスコープ活用ノート」、「５−２  トリガ回路のしくみ」、第８５〜８７頁、図２（回路ブロック図）、トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ  ｆｏｒ  フレッシャーズ  Ｎｏ．９９、ＣＱ出版株式会社、２００７年７月１日発行
【非特許文献２】「任意波形ジェネレータ」の紹介サイト、特に、ＡＷＧシリーズを紹介、テクトロニクス、［online］、［２０２０年５月１１日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/arbitrary-waveform-generator>
【非特許文献３】「任意波形／ファンクション・ジェネレータ」の紹介サイト、特に、ＡＦＧシリーズを紹介、テクトロニクス、［online］、［２０２０年５月１１日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/arbitrary-function-generator>
【非特許文献４】「ビット・エラー・レート・テスタ」の紹介サイト、特に、ＢＥＲＴＳｃｏｐｅ（登録商標）を紹介、テクトロニクス、［online］、［２０２０年５月１１日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/bit-error-rate-tester>
【非特許文献５】「TekVISAとは何ですか。」、テクトロニクスのＦＡＱ、テクトロニクス、［online］、［２０２０年５月１２日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/faq/1126567>
【非特許文献６】「Virtual instrument software architecture (VISA)」の記事、Wikipedia 英語版、［online］、［２０２０年５月１２日検索］、インターネット<https://en.wikipedia.org/wiki/Virtual_instrument_software_architecture>
【非特許文献７】「データ・レイク」の記事、Wikipedia 日本語版、［online］、［２０２０年５月１３日検索］、インターネット<https://ja.wikipedia.org/wiki/データ・レイク>
【非特許文献８】「リポジトリ」の記事、Wikipedia 日本語版、［online］、［２０２０年５月１３日検索］、インターネット<https://ja.wikipedia.org/wiki/リポジトリ>
【非特許文献９】「MSO/DPO70000シリーズオシロスコープ」の紹介サイト、ＤＰＯ７３３０４Ｄ型デジタル・フォスファ・オシロスコープも掲載、テクトロニクス、［online］、［２０２０年５月１３日検索］、インターネット<https://jp.tek.com/datasheet/digital-and-mixed-signal-oscilloscopes>
【非特許文献１０】「Publish-subscribe pattern」の記事、Wikipedia 英語版、［online］、［２０２０年５月１３日検索］、インターネット<https://en.wikipedia.org/wiki/Publish-subscribe_pattern>
【非特許文献１１】「Docker」の記事、Wikipedia 英語版、［online］、［２０２０年５月１４日検索］、インターネット<https://ja.wikipedia.org/wiki/Docker>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、シリコン・チップその他の半導体は、ムーアの法則に従い、半導体の新しい設計に基づいて、トランジスタの数が増加し続け、急速なペースで複雑さが増加し続けている。この複雑さの増大に伴って、全体として試験時間を短縮し、試験スループットを向上させながら、次世代のハードウェアを検証する顧客の試験需要も増大している。特に、シリコン・チップの複雑さが増大するのに伴って、試験するシナリオの数が増加し、同時に、これらシナリオ夫々における組み替えも増加している。これによって、シリコン・チップその他の半導体の検証に関して、非常に大きな困難が生じている。例えば、シリコン・チップの検証は、デバッグ、特性測定、コンプライアンス試験及び工場での試験について、歴史的に試験装置（例えば、オシロスコープ、任意波形発生装置（ＡＷＧ）、任意関数発生装置（ＡＦＧ）、ビット・エラー・レート・テスタ（ＢＥＲＴ）、等）に頼っている。この試験装置は、従来、２つの高レベル・タスクを実行する。最初のタスクは、試験中にオシロスコープによって生成された波形を取り込むこと（アクイジション）であり、２番目のタスクは、デジタル信号処理（ＤＳＰ）のアルゴリズムを使用して波形を解析し、そのアナログ信号を検証することである。通常、両方のタスクは順番に行われる。特に、従来のオシロスコープは、メモリに波形を取り込むための専用ハードウェアを有しており、波形は、次に、オシロスコープ内に組み込まれたＣＰＵ（中央処理装置）によって解析される。これらタスクは順次実行されるため、検証及び試験されるシリコン・チップの複雑さが増加するほど、全体的な試験時間が増加する。
【０００６】
そこで、本発明は、上述の技術的課題と、現在知られているシステムの限界を解決しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願で開示するシステム及び方法では、上述した、波形をメモリに取り込む（アクイジション）のタスクと、取り込んだ波形を解析するタスクとを分離する。
【０００８】
実施形態の一例において、本願記載のシステム及び方法は、被試験デバイス（ＤＵＴ）について試験を実行した結果生じる波形を取得すると共に、ＤＵＴについて試験を実行した結果生じる波形夫々の解析を、少なくとも部分的に並行して実行する。本願記載のシステム及び方法は、また、ＤＵＴについて第１試験を行う結果生じる第１波形をオシロスコープで取り込み、そして、ＤＵＴについて第２試験を行う結果生じる第２波形をオシロスコープで取り込むのと少なくとも一部分は並行しながら、第１波形の解析を実行する。このような改善により、試験のスループットが向上し、試験時間全体が短縮される。
【０００９】
実施形態の一例において、試験測定システムにおいて被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法は、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じるＤＵＴからの第１波形を電子的に取り込む処理と、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じる第１波形を取り込む処理に応答して、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じる第１波形の電子的な解析を開始する処理と、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じる第１波形を解析しながら、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じる第２波形の電子的な取り込みを開始する処理とを有している。この方法は、更に、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じる第２波形を取り込む処理に応答して、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じる第１波形を解析しながら、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じる第２波形の電子的な解析を開始する処理と、ＤＵＴに対して第３試験を行った結果生じる第３波形の電子的な取り込みを開始する処理とを有している。
【００１０】
本発明の様々な実施形態によれば、非一時的なコンピュータ可読記憶媒体は、コンピュータ実行可能命令を記憶し、これは、少なくとも１つのプロセッサによって実行された場合、少なくとも１つのプロセッサが上記の方法の１つ以上を実行する。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、従来のオシロスコープの波形取得及び解析のタイミング図である。
【図２】図２は、本発明の様々な実施形態例によるオシロスコープの波形取得及び解析のタイミング図である。
【図３】図３は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムのネットワーク・アーキテクチャを示すブロック図である。
【図４】図４は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムの一例アーキテクチャにおける並列解析コンポーネントを示すブロック図である。
【図５】図５は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムにおける操作例を示すシーケンス図である。
【図６】図６は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムにおけるロギング及び監視アーキテクチャの例を示すブロック図である。
【図７】図７は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムにおける資産管理及び制御アーキテクチャの例を示すブロック図である。
【図８】図８は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムが動作できる試験自動化プラットフォーム・アーキテクチャの例を示すブロック図である。
【図９】図９は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムの実施形態が実施できる試験システムのコンピューティング装置の例を示す概要ブロック図である。
【図１０】図１０は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムにおける並列波形解析のための例示的なコンピュータ制御による方法のフロー図である。
【図１１】図１１は、本発明の様々な実施形態例による並列波形解析のための試験測定システムにおける並列波形解析のための別の例示的なコンピュータ制御による方法のフロー図である。
【図１２】図１２は、本発明の様々な実施形態例による第１波形の解析を少なくとも部分的に第２波形の取得と並行して行う処理を含む並列波形解析のための試験測定システムにおける並列波形解析のための例示的なコンピュータ制御による方法のフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
本願の図面中のコンポーネントは、必ずしも互いに同一縮尺とは限らない。複数の図面を通して類似する符号は、対応するコンポーネントであることを示す。
【００１３】
本開示技術の様々な実施形態は、シリコン・チップその他の半導体の検証及び試験のためのシステム及び方法を提供するものであり、これは、波形をメモリに取り込むタスクと、取り込んだ波形を解析するタスクとを分離する。実施形態の一例では、本願記載のシステム及び方法は、被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して試験を実行した結果生じる波形を取得すると共に、ＤＵＴに対して試験を行うことにより生じる波形夫々の解析（分析）を、少なくとも一部分は並行して行う。本願記載のシステム及び方法は、また、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形をオシロスコープで取得し、ＤＵＴに対して第２試験を行うことにより得られる第２波形をオシロスコープで取得するのと少なくとも一部分は並行して第１波形の解析を行う。このような改善により、試験のスループットが向上し、試験時間全体が短縮される。
【００１４】
図１は、従来技術によるオシロスコープの波形の取得及び解析のタイミング図１００である。タイミング図１００の縦軸にされているのは、４つの試験例（試験番号１、試験番号２、試験番号３、試験番号４）である。
【００１５】
半導体検証で行われる試験には、任意波形発生装置（ＡＷＧ）などによる試験信号の生成の処理と、この試験信号をＤＵＴに印可する処理とがある。オシロスコープは、ＤＵＴに特定の試験信号を印可することによって生じる波形を取得する。次いで、システムは、ＤＵＴに特定の試験信号を印可した結果生じる波形を解析する。このように、各試験には、波形取得（アクイジション又は波形取り込み）部分と、波形解析部分とがある。従来のシステムは、先行する試験の波形取得部分及び波形解析部分を完了してから、その後に続く試験の波形取得部分と波形解析部分とを開始する。
【００１６】
具体的には、図１に示す従来技術例では、試験番号１は、波形取得部分１０２及び波形解析部分１０４を有する。試験番号２は、波形取得部分１０６と波形解析部分１０８を有する。試験番号３は、波形取得部分１１０と波形解析部分１１２を有する。最後に、試験番号４は、波形取得部分１１４と波形解析部分１１６を有する。タイミング図１００は、各試験の各部分が、他の試験と比較し、どの（いつの）時期にかけて行われるかを示す。図示のように、従来のシステムは、各試験の波形取得部分及び波形解析部分を完了した後に、その後に続く試験の波形取得部分及び波形解析部分を開始する。図示するように、試験番号１の波形取得部分１０２と波形解析部分１０４の両方が完了した後に、試験番号２の波形取得部分１０６と波形解析部分１０８が開始している。試験番号２の波形取得部分１０６と波形解析部分１０８の両方が完了した後に、試験番号３の波形取得部分１１０と波形解析部分１１２が開始している。最後に、試験番号３の波形取得部分１１０と波形解析部分１１２の両方が完了した後に、試験番号４の波形取得部分１１４と波形解析部分１１６が開始している。このシーケンシャル（順次型）プロセスは、非常に多数の追加試験があっても継続できるが、結果として、ＤＵＴに関する全体的な試験時間が非常に長いものとなる。
【００１７】
図２は、本発明の様々な実施例によるオシロスコープの波形取得及び解析のタイミング図２００である。
【００１８】
図１のタイミング図１００に示す半導体の試験と検証を順次行うシステムから生じる問題を解決するために、図２は、ＤＵＴに対して試験を行った結果生じた波形を取り込み（アクイジションし）、ＤＵＴに対して試験を行った結果生じた波形夫々の解析を少なくとも一部分は並行して行う処理を示している。具体的には、図２に示す例では、試験番号１には、波形取得部分２０２と波形解析部分２０４とがある。試験番号２には、波形取得部分２０６と波形解析部分２０８とがある。試験番号３には、波形取得部分２１０と波形解析部分２１２とがある。最後に、試験番号４には、波形取得部分２１４と波形解析部分２１６とがある。タイミング図２００は、各試験の各部分が、他の試験と比較して、どの（いつの）時期にかけて行われるかを示す。図示するように、本願記載の種々の実施形態によるシステムは、少なくとも部分的に並行して、ＤＵＴに対して試験を行うことで得られた取得波形夫々の解析／分析を行う。具体的には、試験番号１の波形解析部分２０４、試験番号２の波形解析部分２０８、試験番号３及び波形解析部分２１２及び試験番号４の波形解析部分２１６の全てが、少なくとも部分的には並行して行われる（ただし、実施形態によっては、ある試験の取得波形の解析が終わってから、別の試験の取得波形の解析が開始されることがある）。
【００１９】
この例では、システムは、試験番号１に関する波形取得２０２を実行し、次いで、その取得波形に基づいて試験番号１の解析部分２０４を実行する。しかし、試験番号１の解析部分２０４が完了する前に、システムは試験番号２の波形取得２０６を実行し始める。また、試験番号２の解析部分２０８が完了する前に、システムは試験番号３の波形取得２１０を実行し始める。更に、試験番号３の解析部分２１２が完了する前に、システムは試験番号４の波形取得２１４を実行し始める。
【００２０】
上記の並列処理（又は並行処理）は、非常に多数の追加の試験について継続でき、このために、試験スループットが大幅に向上し、ＤＵＴに関する全体的な試験時間が短縮される。
【００２１】
図３は、本発明の様々な実施例による並列波形解析のための試験測定システムのネットワーク・アーキテクチャ３００を示すブロック図である。
【００２２】
ネットワーク・アーキテクチャ３００を示すブロック図の左側には、テスト・ベンチ３０４を含めた顧客３０６に関する例示的なシリコン・チップその他の半導体の検証試験所（Lab：ラボ）の構成要素が示されている。テスト・ベンチ３０４を含む検証試験所には、パーソナル・コンピュータ（ＰＣ）３０８があるが、これは、実施形態によっては、代わりに、他のコンピューティング・システム、処理装置又はコンピュータ・サーバがあっても良い。ＰＣ３０８に接続されているのは、様々な試験測定装置であり、オシロスコープ３１４、ＡＷＧ３１６、アナライザ（スペクトル、ベクトル・ネットワーク、パラメータ、モジュレーション、パワーなど各種のアナライザ）３１８、電圧計３１２及びビット・エラー・レート・テスタ（ＢＥＲＴ）３１０などが含まれても良い。様々な実施形態における例示的な追加の装置としては、任意関数（ファンクション）発生装置（ＡＦＧ）やプローブを含んでも良い。
【００２３】
試験装置は、１つ以上の形式のネットワークや通信を介した接続によってＰＣ３０８に接続されて良く、こうした接続形態としては、例えば、１０Ｇ（ギガ）イーサネット（登録商標）接続、ＵＳＢ（universal serial bus）接続及びＧＰＩＢ（general-purpose interface bus）接続を含むが、これらに限定されない。このような試験装置が、直接的又は間接的にＤＵＴ３２０に接続されても良い。ある例では、ＰＣ３０８は、ＤＵＴ３２０の特性を測定したり、シリコン・チップその他の半導体をＤＵＴ３２０とするために運搬して所定位置に配置したりと、ＤＵＴ３２０に関する試験を、ある程度まで自動化するための動作を実行し、制御するように構成される。このようなプロセスは、シリコン・チップその他の半導体の検証及び試験に含まれており、また、ＤＵＴ３２０である半導体の全ての機能／特徴の系統的な試験が含まれていても良い。例えば、ＤＵＴ３２０に適用される各試験のために、ＡＷＧ３１６は試験信号を生成し、この試験信号はＤＵＴ３２０に印可される。次いで、オシロスコープ３１４は、ＤＵＴ３２０に各特定の試験信号を印加した結果生じる波形を取得しても良い。ＰＣ３０８は、ＤＵＴ３２０に対する複数の試験の実行を含め、このプロセスを開始し、制御することができる。
【００２４】
ＰＣ３０８は、オンプレミス（自社運用型、自前の）ネットワーク（又は「試験所ネットワーク」）３２２（これは、例えば、ローカル・エリア・ネットワーク（ＬＡＮ）から構成されていても良い）に接続され、試験所ネットワーク３２２上のローカル・コントローラ又はサーバとして機能できる。試験所ネットワーク３２２は、ファイアウォール３２６を介して、１つ以上の他のパブリック・ネットワーク又はプライベート・ネットワークから分離されていても良い。更に、試験所ネットワーク３２２に接続されているものとしては、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４がある。ＰＣ３０８は、複数の異なる試験のために取得した波形を、試験所ネットワーク３２２を介してオンプレミス（社内）クラウド・コンピューティング・サーバ３２４に電子的に伝達するなどによって、取得した波形を、分散型不揮発性メモリ（disaggregated persistent memory）３３４に格納できる。オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４は、複数の取得波形の並列解析を可能にして実行できる。複数の取得波形は、夫々がテスト・ベンチ３０４でＤＵＴ３２０に対して異なる試験を行った結果として生じたものである。例えば、クラウド・コンピューティング・サーバ３２４は、テスト・ベンチ３０４でＤＵＴ３２０に対して試験を行った結果生じた取得波形夫々の解析を、少なくとも部分的に並列に実行する。各試験の波形を取得するのにテスト・ベンチ３０４でＰＣ３０８、ＡＷＧ３１６及びオシロスコープ３１４を使用し、また、こうした波形の解析を行うのにクラウド・コンピューティング・サーバ３２４を使用することで、上述した、メモリへ波形を取り込むタスクと、取得波形を解析するタスクとを分離する。また、ＤＵＴ３２０対して新たな試験を実行する結果として生じる新たな波形をオシロスコープ３１４が取り込むのと少なくとも部分的には並行して、クラウド・コンピューティング・サーバ３２４が、１つの波形の解析を実行しても良い。このような改善により、試験のスループットが向上し、試験時間全体が短縮される。
【００２５】
実施形態によっては、ＰＣ３０８やオンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４を、オプションでパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８に接続しても良い。例えば、このようなパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８には、クラウド・コンピューティング・サーバがあっても良く、これは、ファイアウォール３２６を通してインターネットに接続されている試験所ネットワーク３２２を介してアクセス可能である。このような実施形態において、ＰＣ３０８やオンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４は、ＤＵＴ３２０に対して行われた複数の異なる試験に関して取得した波形を、インターネットのようなパブリック・ネットワークに接続された試験所ネットワーク３２２を通して、パブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８に電子的に伝送する。パブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８は、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４に加えて、又は、これの代わりに、複数の取得波形の並列な解析が可能で、実行できる。このとき、これら複数の取得波形の夫々は、テスト・ベンチ３０４でＤＵＴ３２０に対して異なる試験を行った結果である。また、遠隔ユーザ３３２のような遠隔にいるユーザの別のコンピューティング・システム又はデバイス３３０が、パブリック・ネットワークを介してパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８にアクセスし、関連する試験結果、装置のログ及び試験用資産管理データにアクセスできても良い。
【００２６】
実施形態によっては、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８は、ＤＵＴ３２０に対する試験を実施した結果生じる試験及び検証データを、そうしたシステムに実装されたデータ・レイクに格納することができる（非特許文献７参照）。本願で用いられるデータ・レイクは、集中型（centralized）リポジトリであり、これは、データを格納し、こうしたデータを、セキュリティ・ポリシーに基づいて異なる場所にいる異なる複数のユーザ（例えば、遠隔ユーザ３３２のような遠隔にいるユーザのデバイス３３０）と共有する。データ・レイクには、関係データ（relational data）と非関係データ（non-relational data）を格納でき、これによって、データを最初に構造化しなくても、さまざまな試験機器やデータ源（source）のデータをそのまま記憶できる。例えば、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８は、更に、検証試験所の様々な機器（例えば、オシロスコープ３１４、ＡＷＧ３１６、アナライザ３１８、電圧計３１２及びＢＥＲＴ３１０を含む）からのログ（log）を記憶するのに加えて、ネットワーク３２２上の全ての機器（装置）の記録を付けるための機器資産目録（Inventory：インベントリ）情報と、オプションで他のネットワークの情報とを格納しても良い。データ・レイクに格納された結果は、深い解析及び相関を実行するために使用されても良い。解析機能を使用すると、試験結果と機器ログについて、ユーザが高度な解析・分析を行うことができる。
【００２７】
様々な実施形態において、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８のデータ・レイクは、顧客３０６及び他の遠隔ユーザが、試験結果全体を通した分析を行うために、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８上に格納された波形夫々の解析結果にアクセスすることを電子的に可能にする。ＤＵＴ３２０に対する試験の結果生じた試験装置（例えば、オシロスコープ３１４、ＡＷＧ３１６、アナライザ３１８、電圧計３１２及びＢＥＲＴ３１０を含む）の装置ログも、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４上やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８上に保存されても良い。オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８上の試験装置の装置ログを記憶することによって、顧客３０６及び遠隔ユーザ（例えば、遠隔ユーザ３３２などの遠隔にいるユーザの他のコンピューティング・システム又はデバイス３３０）が、装置ログにアクセスし、装置ログを使用した解析が可能になる。
【００２８】
ＤＵＴ３２０に対する試験の結果生じる複数の試験用資産（例えば、オシロスコープ３１４、ＡＷＧ３１６、アナライザ３１８、電圧計３１２及びＢＥＲＴ３１０を含む）の機器資産目録（インベントリ）情報も、オンプレミスのクラウド・コンピューティング・サーバ３２４上やパブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８上に保存されて良い。これにより、さまざまなシステム（例えば、ＰＣ３０８やそ他のコンピューティング・システム又は遠隔ユーザ３３２などの遠隔にいるユーザのデバイス３３０）が、ネットワーク３２２上の複数の試験装置のインベントリ情報を使用して、複数の試験用資産の記録をつける（経過を追いかける）ことができる。
【００２９】
図４は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムの例示的なアーキテクチャ４００における並列解析コンポーネント４１２ａ〜４１２ｅを示すブロック図である。
【００３０】
図４に示すのは、並列波形解析のための試験測定システムのユーザ４０２のコンピューティング・システム４０４である。例えば、ユーザ４０２は、図３の顧客３０６であっても良い。本実施形態例では、コンピューティング・システム４０４は、ワールド・ワイド・ウェブ・アプリケーション（Web App）４０６をフロントエンド・インタフェースとして用いることで、取得した波形の並列解析を制御する実行エンジン４０８と連結され、相互に通信を行う。このため、ウェブ・アプリケーション（Web App）４０６を介して、取得した波形の並列解析の実行が、波形が取得された検証試験所から遠隔で行われても良い。例えば、コンピューティング・システム４０４は、図３のＰＣ３０８又は遠隔ユーザ３３２の１つ以上のデバイス３３０であっても良い。
【００３１】
この実施形態例では、コンピューティング・システム４０４は、RESTful又はREST（Representational State Transfer）アプリケーション・プログラミング・インタフェース（API）を介してウェブ・アプリケーション（Web App）４０６を使うことで、実行エンジン３０８と連結される。REST APIはオープンAPIであり、既存のプロトコルを活用するように設計されている。RESTは、ほぼ全てのプロトコルで使用できるため、開発者は、REST APIの仕組みを利用するのに、ライブラリや追加のソフトウェアをインストールする必要がない。SOAP（Simple Object Access Protocol）と異なり、RESTは、拡張マークアップ言語（XML）に制約されないが、代わりに、クライアントが要求する内容に応じて、XML、JSON（JavaScript Object Notation）その他の形式を返すことができる。RESTを使用すると、RPC（Remote Procedure Call）と異なり、ユーザとシステムは、特定の命令におけるプロシージャ名や特定のパラメータを知る必要がない。
【００３２】
図４の例では、実行エンジン４０８との通信で実行可能なものとして、波形取得（アクイジション）サービス４１８も示されている。この波形取得サービス４１８は、ＤＵＴ４２６に対して個々の試験を行うことにより得られるＤＵＴ４２６（例えば、集積回路）からの波形を、インターフェース・フィクスチャ４２８（例えば、ＰＣＩｅ４フィクスチャ）介して取得するものである。例えば、波形取得サービス４１８は、オシロスコープ４２２（例えば、テクトロニクス社製の高速デジタル・フォスファ・オシロスコープであるＤＰＯ７３３０４Ｄ型）によって提供又は実施されるサービスであっても良い。一方、実行エンジン４０８は、REST APIを介して、こうした波形取得処理を起動して、いつ波形取得を行うかを制御できる。本実施形態例では、波形取得サービス４１８は、ＡＷＧ４３２（例えば、テクトロニクス社製のＡＷＧ７１２２Ｃ型任意波形発生装置）との通信で実行可能となっており、これは、ＤＵＴ４２６に対して各種個別試験を行うために、ＤＵＴ４２６に接続されたインタフェース・フィクスチャ４２８に印可される試験信号を生成する。また、波形取得サービス４１８は、電力制御ユニット４２４との通信で実行可能となっており、これは、ＤＵＴ４２６に対する各種個別の試験を行うための、ＤＵＴ４２６に接続されたインターフェース・フィクスチャ４２８に印可される電力制御信号を生成する。実施形態の一例では、波形取得サービス４１８は、ＶＩＳＡ（Virtual Instrument Software Architecture：仮想測定器ソフトウェア・アーキテクチャ：非特許文献６参照）接続によって、ＡＷＧ４３２及び電力制御ユニット４２４に接続されても良い。
【００３３】
波形取得サービス４１８は、ＤＵＴ４２６に対する試験を実行して取得した波形をＡＰＩサービス４１６によってデータベース４１４に転送する。データベース４１４は、波形に関する取得波形及び関連するメタデータの記録を保持する集中型（centralized）データ・サーバであっても良い。並列波形解析の実行は、マイクロサービス・アーキテクチャに基づいていても良い。例えば、特定の試験に関する各波形のＡＰＩサービス４１６によるデータベース４１４への転送によって、実行エンジン４０８がトリガされ、波形解析アプリケーションの独立した並列インスタンスを、波形を解析するためのマイクロサービスとして作成するか又は開始しても良い。実行エンジン４０８は、波形解析アプリケーションの独立した並列インスタンスを、REST APIを介して、マイクロサービスとして開始しても良い。例えば、各波形の取得に応答して、個々の波形解析アプリケーションが起動され、対応する波形が、データベース４１４から波形解析アプリケーションに伝送されても良い。この例では、ＤＵＴ４２６に対する夫々異なる試験を実行することで生じる夫々の波形をデータベース４１４で受けるのに応答して、複数の波形解析アプリケーション４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ、４１２ｄ、４１２ｅ及び４１２ｆのインスタンスが作成される。複数の波形解析アプリケーション４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ、４１２ｄ、４１２ｅ及び４１２ｆの夫々は、少なくとも部分的に互いに並行して実行される。複数の波形解析アプリケーション４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ、４１２ｄ、４１２ｅ及び４１２ｆから生じる解析結果も、更なる解析のために、データベース４１４に格納されても良い。
【００３４】
実行エンジン４０８は、取得波形の並列解析を実装するのに、出版−購読型モデルのメッセージング・パターン（publish-subscribe messaging pattern：非特許文献１０参照）に使用されるイベント通知バスを利用して動作しても良い。出版−購読型モデルのメッセージング・パターンは、メッセージの送信者（出版側と呼ばれる）が、特定の受信者（購読側と呼ばれる）にメッセージを直接送るようにはプログラムされず、代わりに、（イベント通知バス上のイベントとして）出版（発行）されたメッセージは、存在する可能性のある購読者を知ることなし、クラス分けされる。同様に、購読側は、出版側について知ることなしに、興味のある１つ以上のクラスを示して、そのクラスに属するメッセージだけを受け取って読む。波形が取得されると、実行エンジン４０８は、こうした測定結果をイベント通知バス上でメッセージとして受け取り、これに応じて、複数の解析アプリケーション（例えば、４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ、４１２ｄ、４１２ｅ及び４１２ｆ）のインスタンス作成をトリガするというようにして、波形取得サービス４１８や実行エンジン４０８は、イベント通知バス上で、購読者又は出版者として自己を登録する。ＡＰＩサービス４１６は、このような出版−購読型モデル・メッセージング・システムをサポートするように構成される。しかし、実施形態によっては、別のそのようなメッセージ・キュー（queue：待ち行列）モデルが使用され、ＡＰＩサービス４１６によってサポートされる。様々な実施形態において、マイクロサービス・アーキテクチャや出版−購読型モデル・メッセージング・パターンを使うことによって、ウェブ・アプリケーション（Web App）４０６、実行エンジン４０８、ＡＰＩサービス４１６及びデータベース４１４が、夫々異なる個別のコンピュータ、サーバ、ＰＣ又は他のコンピューティング・システム上で、独立して動作又は実行（run）可能となる。実施形態によっては、ウェブ・アプリケーション（Web App）４０６、実行エンジン４０８、ＡＰＩサービス４１６、データベース４１４並びに波形解析アプリケーション４１２ａ、４１２ｂ、４１２ｃ、４１２ｄ、４１２ｅ及び４１２ｆが、並列解析システム４３０を構成しても良く、更に、この並列解析システム４３０が、オシロスコープ４２２及びユーザ４０２のコンピューティング・システム４０４から遠隔に配置されていても良い。実施形態によっては、ウェブ・アプリケーション４０６と、実行エンジン４０８と、ＡＰＩサービス４１６と、データベース４１４とが、１つのLinux（登録商標）／Windows（登録商標）システムを用いて実現されても良い。また、波形解析アプリケーション４１２a、４１２b、４１２c、４１２d、４１２e及び４１２fが、１つのLinux（登録商標）／Windows（登録商標）システムを用いて実現されても良い。
【００３５】
図５は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムにおける例示的な動作５００を示すシーケンス図である。
【００３６】
図５に示す例示的な動作５００は、図４の例示的なアーキテクチャ４００に示す各種の並列解析コンポーネントによって実行されることがある動作である。具体的には、ユーザ４０２は、ウェブ・アプリケーション（Web App）４０６を使用して、最初に実行する特定の測定を選択し、ＤＵＴを試験するための試験装置を設定できる。ユーザ４０２は、次にウェブ・アプリケーション４０６を使用して、実行される特定の複数の測定に従って、対応する試験順列（複数の試験の中から選択された試験から構成される試験の順番）を有する複数の測定から構成されるグループ（試験グループ）を開始する。対応する試験順列に基づいて、実行エンジン４０８は、波形取得サービス４１８に、第１波形（波形１）の取得を開始するを通知するメッセージを送信する。波形取得サービス４１８は、ＡＰＩサービス４１６に波形１を送信すると、次いで、ＡＰＩサービス４１６はデータベース４１４と結合されて、波形１をデータベース４１４に送信する。すると、データベース４１４は、波形１が捕捉され、解析の準備ができたことを、実行エンジン４０８に通知するメッセージを送信する。
【００３７】
波形１が捕捉されたことを実行エンジン４０８に通知するメッセージがトリガとなって、実行エンジン４０８は、波形取得サービス４１８に第２波形（波形２）の取得の開始を通知するメッセージを送信する。こうして、波形１が捕捉されると、システムは、波形２の捕捉を開始する。次に、波形取得サービス４１８が、ＡＰＩサービス４１６に波形２を送信すると、次いで、ＡＰＩサービス４１６はデータベース４１４と結合されて、波形２をデータベース４１４に送信する。少なくとも部分的に波形２の取得と並行して、システムは、波形１の解析を開始する。例えば、実行エンジン４０８は、波形１のDocker（登録商標、非特許文献１１参照）インスタンスを作成するが、これは、図４の自己完結型波形解析アプリケーション（例えば、４１２ａ）のインスタンスの一例であって、このようなインスタンスを含む解析サービス４１２全体の一部を構成し、実行エンジン４０８が波形１について測定を実行することを可能にする。Docker（登録商標）は、米国ドッカー社（Docker, Inc.）が提供するソフトウェア・プラットフォームであり、アプリケーションと、その全ての依存関係をソフトウェア・コンテナの形でパッケージ化できる。Docker（登録商標）のこのコンテナ化の態様によって、アプリケーション（波形解析アプリケーション４１２ａなど）が、あらゆる環境で動作することが保証される。ただし、他のコンテナ化プラットフォームやソフトウェア実装を使用しても良い。こうして、波形２を捕捉しながら、波形１の測定結果の解析が開始される。測定結果解析が波形１について行われている間に、データベース４１４は、波形２が捕捉され、解析の準備ができたことを実行エンジン４０８に通知するメッセージを送信する。
【００３８】
実行エンジン４０８に波形２が捕捉されたことを知らせるメッセージに応答して、実行エンジン４０８は、波形２のDocker（登録商標）インスタンスを作成するが、これは、図４の自己完結型波形解析アプリケーション（例えば、４１２ｂ）のインスタンスの一例であって、このようなインスタンスを含む解析サービス４１２全体の一部を構成し、実行エンジン４０８が、波形２についての測定を実行することを可能にする。波形２の測定結果解析が行われている間に、実行エンジン４０８は、波形取得サービス４１８に、第３波形（波形３）の取得の開始を通知するメッセージを送信する。波形取得サービス４１８は、次に、ＡＰＩサービス４１６に波形３を送信し、ＡＰＩサービス４１６は、データベース４１４と結合して、データベース４１４に波形３を送信する。データベース４１４が捕捉すると、データベース４１４は、波形３が捕捉され、解析の準備ができたことを実行エンジン４０８に知らせるメッセージを送信する。上記のプロセスは、追加の波形について継続しても良く、このとき、１つのオシロスコープでＤＵＴについて行われる異なる複数の試験の実行の結果生じる異なる複数の波形夫々の解析を、少なくとも部分的には並行して実行するのに加えて、このオシロスコープでＤＵＴについて行われる異なる複数の試験の実行の結果生じる異なる複数の波形夫々を取得しながら、このオシロスコープでＤＵＴについて行われる異なる複数の試験の実行の結果生じる異なる複数の波形夫々の解析を少なくとも部分的には並行して実行する。
【００３９】
図６は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムにおける例示的なロギング及び監視アーキテクチャ６００を示すブロック図である。
【００４０】
図６に示す１つ以上の試験装置６０２には、資産サブシステム６０４、解析サブシステム６０６、資産サブシステム６０８及び構成設定サブシステム６１０があっても良い。試験装置６０２は、ＲＥＳＴを使用し、ＡＰＩゲートウェイ６１２を介して、遠隔ロギング及び監視システム６１４のロギング（logging）ＡＰＩ６１６及び試験監視（モニタリング）ＡＰＩ６２０と通信できる。また、図３の顧客３０６や図４のユーザ４０２のような顧客のコンピューティング・システムのログ可視化ウェブ・アプリケーション（Web App）６２６も示されており、これは、ＲＥＳＴを使用し、ＡＰＩゲートウェイ６３０を介して、遠隔ロギング及び監視システム６１４のログ・データ解析ＡＰＩ６２２と通信できる。種々の実施形態において、試験装置６０２は、図３の顧客３０６の例示的な検証試験所の試験測定装置や、遠隔ユーザ３３２のデバイス３３０であるか、こうしたものを含んでいても良い。種々の実施形態において、試験装置６０２は、図４のオシロスコープ４２２及びＡＷＧ４３２のような試験測定装置であるか、こうしたものを含んでいても良い。ウェブ・アプリケーション（Web App）６２６は、取得波形の並列解析を制御する図４の実行エンジン４０８へのフロント・エンド・インターフェースであり、実行エンジン４０８との通信を可能にする図４のウェブ・アプリケーション（Web App）４０６であるか、こうしたものを含んでいても良い。
【００４１】
ログ・リポジトリ６１８は、試験装置６０２から、ログンギＡＰＩ６１６介して対応するログ・データを受信し、試験監視ＡＰＩ６２０を介して試験監視データを受信する。また、ログ・リポジトリ６１８は、ログ・データ解析ＡＰＩ６２２を介して、ログ視覚化ウェブ・アプリケーション（Web App）６２６から伝送される対応するログ・データ解析データを受信する。遠隔ロギング及び監視システム６１４（これは、クラウド・コンピューティング・システムであっても良い）は、ＤＵＴに対して実行される試験から得られる試験装置６０２の装置ログをログ・リポジトリ６１８に格納する。遠隔ロギング及び監視システム６１４は、ユーザ４０２のような遠隔ユーザが、例えば、ＡＰＩゲートウェイ６３０を介して、機器ログにアクセスし、装置ログを用いた解析を実行できるようにする。
【００４２】
ログ・リポジトリ６１８に格納されたデータを用いて、ログ及び監視解析エンジン６２８は、試験装置６０２や対応するソフトウェア・レイヤなどの試験測定装置における活動の詳細なログを捕捉する。ログ・リポジトリ６１８に格納されるログのカテゴリの例としては、エラー、警告、情報及びデバッグ・ログがある。ログ及び監視解析エンジン６１８は、装置及び試験ログを監視し、動作中の任意の時点における、中央処理装置（ＣＰＵ）の指標（Metric：メトリック)、メモリの指標、及び特定のサービスのインスタンスの個数（例えば、並列分析コンポーネント４１２の個数）を含むシステムの指標を捕捉するか、又は、捕捉可能にする。ログ及び監視解析エンジン６１８によって実行される試験の監視も、試験中のイベントを捕捉できる。また、ログ及び監視解析エンジン６１８による試験の監視により、試験における各活動（アクティビティ）に要した時間など、試験の実行に関する詳細も提供できる。
【００４３】
図７は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムにおける資産管理及び制御アーキテクチャ７００の例を示すブロック図である。
【００４４】
図７は、複数の装置が含まれる複数の試験用資産を示している。例えば、第１装置（装置１）７０２及び第２装置（装置２）７０４は、試験装置の任意の２つの異なる部分、例えば、オシロスコープ、ＤＵＴ、電圧計、プローブ、試験ソフトウェアなどの仮想資産、１つ以上の信号発生装置（ＡＷＧやＡＦＧなど）とすることができる。様々な実施形態において、第１装置７０２又は第２装置７０４は、図３の顧客３０６の例示的な検証試験所の任意の試験測定装置や、遠隔ユーザ３３２のデバイス３３０であるか、こうしたものを含んでいても良い。この例では、第１機器７０２については、装置データ及びログ・ストリーミングＡＰＩ７０６、装置制御ＡＰＩ７０８及び装置ロケータ（locator：位置探知）及び検証ＡＰＩ７１０があるとする。また、第２機器７０４については、装置ログ・ストリーミングＡＰＩ７２８、装置ロケータ及び検証ＡＰＩ７１４及び装置制御ＡＰＩ７１２があるとする。
【００４５】
また、図７には、資産ロケータ・エンジン７２０（資産管理ＡＰＩ７２４に資産ロケータデータを提供する）を含む遠隔資産管理システム７３０、資産コントローラ７２２及び資産リポジトリ７２６も示されている。機器データ及びログ・ストリーミングＡＰＩ７０６及び機器ログ・ストリーミングＡＰＩ７２８は、ＡＰＩゲートウェイ７１８を介して、資産管理システム７３０の資産管理ＡＰＩ７２４と結合されて、装置データ及びログ・データを資産管理システム７３０の資産管理ＡＰＩ７２４に伝送する。資産リポジトリ７２６は、ＡＰＩゲートウェイ７１８及び資産管理ＡＰＩ７２４を介して伝えられる、装置７０２及び信号発生装置７０４を管理するための装置７０２及び信号発生装置７０４に関するデータ（例えば、資産目録（インベントリ）情報、装置の状況、機器の使用状況、機器の位置等）を格納するが、これには、ＤＵＴを試験するためのソフトウェアのインスタンスが含まれる。資産管理システム７３０は、資産リポジトリ７２６に格納されたこのような情報を使用して、装置７０２及び信号発生装置７０４と、図３及び図４に示す各種装置を含む複数の試験用資産の記録を付ける。
【００４６】
また、資産コントローラ７２２は、資産コントローラ７２２及び資産ロケータ・エンジン７２０を介して、装置７０２の装置制御ＡＰＩ７０８と装置ロケータ及び検証ＡＰＩ７１０の夫々と、信号発生装置７０４の装置制御ＡＰＩ７１２と装置ロケータ及び検証ＡＰＩ７１４の夫々とへ送信される制御信号によって、装置７０２及び信号発生装置７０４を制御し、試験用資産の夫々においてアクション（活動）を実行させる。例えば、資産コントローラ７２２は、装置７０２及び信号発生装置７０４を含む複数の試験用資産の自動ソフトウェア・アップグレードを管理し、また、そのような資産のライセンスを管理できる。加えて、資産リポジトリ７２６に格納されたデータを用いて、資産管理システム７３０は、ユーザによるリソースの使用の最適化を補助するために、複数の試験用資産の使用パターンを決定できる。
【００４７】
図８は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムが動作しても良い試験自動化プラットフォーム・アーキテクチャ８００の例を示すブロック図である。
【００４８】
図８に示す試験自動化プラットフォーム８０６は、ＡＰＩを介して、ＤＵＴ８１０の自動試験を提供する外部試験自動化フレームワーク８０２と通信を行う。試験自動化プラットフォーム８０６は、ＤＵＴ８１０を試験するための、オシロスコープ８０８、カスタム試験スクリプト及びコード８１２、環境制御システム８１４及びＡＷＧ８１６と通信すると共に、これらを制御しても良い。このような試験自動化は、オープンＡＰＩを介して、外部試験自動化フレームワーク８０２によって、リモートで設定、起動、アップデート、又は、制御されても良い。物理的ハードウェアに依存しない試験スイート（suites：一通りの試験の組が複数）、レポート・テンプレート及び装置の管理も、外部試験自動化フレームワーク８０２と通信する試験自動化プラットフォーム８０６を介して提供されても良い。種々の実施形態において、外部試験自動化フレームワーク８０２は、ソフトウェア・フレームワークであり、Python、Java及びC#を含む様々なプログラミング言語で構築又は実現されても良い。また、構造化された標準化データのデータベース８０４も示されており、試験自動化プラットフォーム８０６は、データベース８０４を、試験と試験装置に関する物理的ハードウェアに依存しない試験スイート、レポート・テンプレート、装置管理データ及び他のデータでアップデートしても良い。
【００４９】
試験自動化プラットフォーム８０６及び外部試験自動化フレームワーク８０２は、ユーザ４０３がウェブ・アプリケーション（Web App）４０６を介して通信する図４の並列解析コンポーネントを含んでいるか、又はこれと統合されていても良い。また、データベース８０４は、図４のデータベース４１４、図６のログ・リポジトリ６１８又は図７の資産リポジトリ７２６であるか、又は、これらのデータを組み入れていても良い。
【００５０】
図９は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムの実施形態が実施され得る例示的なコンピューティング装置９１０を示す概略ブロック図である。
【００５１】
コンピューティング装置９１０は、本願記載の並列波形解析システムの試験測定システムであるか、これに含まれていても良いコンピューティング装置の例である。例えば、コンピューティング装置９１０は、図３のＰＣ３０８、オンプレミス・クラウド・コンピューティング・サーバ３２４、パブリック・クラウド・コンピューティング・システム３２８のコンピューティング装置や遠隔ユーザのコンピューティング・システム又はデバイス３３０であるか、これらの一部分を含んでも良い例示的なコンピューティング装置である。また、コンピューティング装置９１０のストレージ・システムは、図４のデータベース４１４、図６のログ・リポジトリ６１８、又は、図７の資産リポジトリ７２６を含んでいるか、又は、これらとして実現されても良い。
【００５２】
図示した実施形態において、試験システムのコンピューティング装置９１０には、コンピュータ・メモリ（メモリ）９０１、表示部９０２（限定するものではないが、発光ダイオード（ＬＥＤ）パネル、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）、タッチ・スクリーン・ディスプレイなど）、１つ以上の中央処理装置（ＣＰＵ）９０３、入出力（Ｉ／Ｏ）装置９０４（例えば、ボタン・パネル、キーボード、マウス、ＲＦ又は赤外線受信機、ＵＳＢポートその他の通信ポートなど）、その他のコンピュータ可読媒体９０５及び通信接続部２０６がある。本願に記載されているような並列波形解析のための試験システム・オペレーション（operations）９０２は、メモリ９０１中に存在することが図示されている。他の実施形態では、試験システム・オペレーション９０２の内容の一部と、コンポーネントの一部又は全部が、他のコンピュータ可読媒体９０５に記憶されるか、又は送信されてもよい。様々な実施形態において、クラウド・コンピューティング・システム３２８の記憶装置、分散型不揮発性メモリ（disaggregated persistent memory）３３４、データベース４１４、ログ・リポジトリ６１８、資産リポジトリ７２６やデータベース８０４が、データストレージ９２０の一部であるか、これを含むとしてしても良い。
【００５３】
試験システム・オペレーション９０２のコンポーネントは、好ましくは、１つ以上のＣＰＵ９０３上で実行され、被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して試験を実行した結果生じる波形の取得を行うか又はこれを容易に行われるように補助し、そして、ＤＵＴに対して試験を実行した結果生じる波形夫々の解析を少なくとも一部分は並行して行う。また、試験システム・オペレーション９０２は、１つ以上のＣＰＵ９０３で実行されて、ＤＵＴに対して第１試験を行うことで生じる第１波形をオシロスコープで取り込み、そして、ＤＵＴに対して第２試験を行うことで生じる第２波形をオシロスコープで取り込むのと少なくとも一部分は並行して、第１波形の解析（又は分析）を行う。
【００５４】
他の実施形態では、他の処理装置及び構成を用いても良く、これには、限定するものではないが、例えば、グラフィックス処理ユニット（ＧＰＵ）、ＡＳＩＣ及び組み込みＣＰＵ／ＧＰＵブロックがあっても良い。試験システム・オペレーション９０２は、メモリ９０１に格納された各種ソフトウェア・アプリケーションの一部として動作するか、これらのいくつかを連結させて動作させるか、又は、いくつかを協調させて動作させても良い。また、試験システム・オペレーション９０２は、通信システム９０８を介して、図３に示すコンピューティング・システム又はデバイス３３０のような遠隔ユーザのコンピューティング・システム９０４や、図３の顧客３０６に関する例示的な検証試験所の試験測定装置や遠隔ユーザ３３２のデバイス３３０のような試験装置９０６との通信を容易なものにする。
【００５５】
通信システム９０８としては、多種多様な通信媒体があって良く、これには、現在知られているか又は今後で開発されるであろう、様々な異なる物理的及び論理的な通信チャネルによって利用されるものを含む。限定するものではないが、メディア及び通信チャネルの例としては、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）、Ｗｉ-Ｆｉシステム、ＷＬＡＮシステム、近距離ワイヤレス（例えば.、Bluetooth（登録商標））システム、ピア・ツー・ピア・ネットワーク・システム、高精細マルチメディア・インターフェイス（ＨＤＭＩ（登録商標））、ハードワイヤード・システム、通信バス、コンピュータ・ネットワーク・ケーブル接続、ワイド・エリア・ネットワーク（WAN）システム、インターネット、ケーブル・システム、電話システム、光ファイバ・システム、マイクロ波システム、非同期転送モード（ＡＴＭ）システム、フレーム・リレー・システム、ＤＳＬ（digital subscriber line） システム、無線周波数（ＲＦ）システム、セルラー・システム、衛星通信システムなどがある。
【００５６】
試験システム・オペレーション９０２には、本願で説明した１つ以上のＡＰＩ（例えば、ＡＰＩ６２０、ＡＰＩサービス４１６、ＡＰＩ６１６、ＡＰＩ６２０、ＡＰＩ６２２、ＡＰＩゲートウェイ６３０など）が含まれても良く、これは、試験システム・オペレーション９０２の１つ以上の機能又はサービス（例えば、実行エンジン４０８や波形取得サービスなど）へのプログラムによるアクセスを提供する。ＡＰＩ６２０、ＡＰＩサービス４１６、ＡＰＩ６１６、ＡＰＩ６２０、ＡＰＩ６２２、ＡＰＩゲートウェイ６３０などのＡＰＩは、ユーザが起動させることができるウェブ・アプリケーション４０６、実行エンジン４０８、波形取得サービス４１８に加えて、他のプログラム９３０として表した本願で説明したような、その他のプログラム、エンジン、データベースなど、試験システム・オペレーション９０２の１つ以上の機能又はサービスへのプログラムによる接続を提供できる。
【００５７】
実施形態の一例では、試験システム・オペレーション９０２のコンポーネント／モジュールは、標準的なプログラミング技術を用いて実現される。例えば、試験システム・オペレーション９０２は、１つ以上の静的又は動的（ダイナミック）ライブラリとともに、ＣＰＵ９０３上で実行される「ネイティブ」実行可能ファイルとして実装されても良い。他の実施形態では、試験システム・オペレーション９０２が、他の複数のプログラム９３０の中の一つとして実行されるか、又は、コンテナ化プラットフォームを介して配布されるマイクロサービスとして実行される仮想マシンによって処理される命令として実現されても良い。大まかに言って、様々なプログラミング言語の実例による代表的な実現手法を含め、こうした例示的実施形態を実現するのに、幅広いプログラミング言語を利用でき、プログラミング言語の実例としては、限定するものではないが、オブジェクト指向（例えば、JSON、Java、C++、C#、Visual Basic.NET、Smalltalkなど）、機能型（例えば、ML、Lisp、Schemeなど）、手続き型（例えば、C、Pascal、Ada、Modula、など）、スクリプト型（例えば、Perl、Ruby、Scratch、Python、JavaScript、VBScript、など）又は宣言型（例えば、SQL、Prologなど）がある。
【００５８】
ソフトウェア又はファームウェアの実装において、メモリに記憶された命令は、実行時に、試験システム演算装置９１０の１つ以上のプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）が試験システム・オペレーション９０２の機能を実行するように構成される。この命令は、ＣＰＵ９０３又はＩ／Ｏコントローラ／プロセッサなどの他のプロセッサに、本願記載のプロセスを実行させる。
【００５９】
本願に記載される実施形態は、他の同期又は非同期のクライアント・サーバ・コンピューティング技術を用いても良い。しかし、様々なコンポーネントは、例えば、単一のＣＰＵのコンピュータ・システム上で実行される実行可能ファイルとして実現されるのに加えて、もっと単純なプログラミング技術を使用して実現されても良いし、これに代えて、様々なコンポーネントが、多様な構造化技術を用いて、分解されても良い。こうした構造化技術としては、限定するものではないが、夫々が１つ以上のＣＰＵ又は他のプロセッサを有する１つ以上のコンピュータ・システムで動作するマルチプログラミング、マルチスレッド、クライアント・サーバ、ピア・ツー・ピア（例えば、Bluetooth（登録商標）ワイヤレス技術）などがある。いくつかの実施形態は、同時かつ非同期的に実行され、メッセージ・パッシング（受け渡し）技術を用いて通信する。同等の同期実施形態は、試験システム・オペレーション９０２の実装によってもサポートされる。また、その他の機能も、各コンポーネント／モジュール、異なる順序、及び異なるコンポーネント／モジュールによって実装されるか又は実行でき、実施形態の機能をこれでも達成できる。
【００６０】
更に、試験システム・オペレーション９０２の一部として格納されたデータへのプログラミング・インタフェースは、C、C++、C#、及びJava API、ファイル、データベース、又はその他のデータ・リポジトリにアクセスするためのライブラリ、スクリプト言語、又は、保存されたデータ及び機械学習モデルへのアクセスを提供するWebサーバ、FTPサーバその他サーバなどを介したメカニズムによって利用できる。
【００６１】
本願記載の技術を使用するためのプログラム及びデータの様々な設定及び配置を検討する。説明した実施形態のコンポーネントを分散型の手法で実現するのに適した様々な分散型又はクラウド・コンピューティング技術があり、限定するものではないが、例えば、TCP／IP、REST、ソケット、RPC、RMI、HTTP、及びWebサービス（XML-RPC、JAX-RPC、SOAPなど）などがある。その他のバリエーションも可能である。その他の機能は、各コンポーネント／モジュールによって提供することも可能であり、既存の機能はコンポーネント／モジュール間に様々な方法で分散でき、それでも、試験システム・オペレーション９０２の機能を達成できる。
【００６２】
更に、実施形態によっては、試験システム・オペレーション９０２の一部又は全てのコンポーネントが、少なくとも部分的にファームウェアやハードウェアのような他の方法で実装又は提供されても良く、そうしたものとしては、限定するものではないが、例えば、１つ以上の特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、標準的な集積回路、コントローラ（例えば、適切な命令を実行することによる。マイクロコントローラ及び／又は組み込みコントローラを含む）、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）、ＣＰＬＤ（complex programmable logic device）などがある。システムのコンポーネントやデータ構造の一部又は全部は、コンピュータ可読媒体上に、コンテンツ（例えば、実行可能なソフトウェア命令や構造化データなど）として記憶し、コンピュータ可読媒体又は１つ以上の関連するコンピューティング・システム若しくはデバイスが、実行若しくは利用するか、又は、そのコンテンツを提供して、本願記載の技術の少なくともいくつかを実行できるようにしても良い。なお、コンピュータ可読媒体としては、例えば、ハードディスク、メモリ、コンピュータ・ネットワーク、セルラー・ワイヤレス・ネットワークその他のデータ伝送媒体、又は、適切なドライブ又は適切な接続によって読み取られるフラッシュ・メモリ装置のようなポータブル媒体製品などがある。
【００６３】
図１０は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムにおける並列波形解析のための例示的なコンピュータ制御による方法１０００のフロー図である。
【００６４】
工程１００２では、試験測定システムは、被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して第１試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第１波形を電子的に取得する。
【００６５】
工程１００４では、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形の取得に応答して、試験測定システムは、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形を電子的に解析し始める。
【００６６】
工程１００６では、同様に、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形の取得に応答して、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形を解析しながら、試験測定システムは、ＤＵＴに対して第２試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第２波形を電子的に取得し始める。
【００６７】
工程１００８では、ＤＵＴに対して第２試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第２波形を取得することに応答して、また、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形を解析しつつ、試験測定システムは、ＤＵＴに対して第２試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第２波形を電子的に解析し始める。
【００６８】
工程１０１０では、やはり、ＤＵＴに対して第２試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第２波形を取得することに応答して、試験測定システムは、ＤＵＴに対して第３試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第３波形を電子的に取得し始める。ＤＵＴに対して第３試験を行うことにより生じるＤＵＴからの第３波形を電子的に取得し始める処理は、ＤＵＴに対して第１試験を行うことにより生じる第１波形を解析しながら行われる。
【００６９】
試験測定システムは、また、ＤＵＴに対して追加の試験を行うことから生じる追加の波形を電子的に取得することができる。システムは、ＤＵＴに対して追加の試験を行うことにより生じる追加波形夫々の解析を、少なくとも部分的に並行して電子的に実行できる。ＤＵＴに対して追加の試験を行うことにより生じる１つ以上の追加波形の取得は、少なくとも部分的に、これら追加波形以外の波形夫々の解析を並行して行う。
【００７０】
図１１は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析用の試験測定システムにおける並列波形解析のための別の例示的なコンピュータ制御による方法１１００のフロー図である。
【００７１】
工程１１０２では、試験測定システムは、被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して試験を行うことにより生じる波形を取得する。例えば、試験測定システムは、オシロスコープから波形を取得し、波形を分散型不揮発性メモリに記憶しても良い。
【００７２】
工程１１０４では、試験測定システムは、ＤＵＴに対して試験を行うことにより生じる波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行して実行する。システムは、クラウド・コンピューティング・システム上に、波形それぞれの解析の結果を自動的に保存し、遠隔ユーザが、結果の分析を行えるように、クラウド・コンピューティング・システムに記憶された波形夫々の解析結果にアクセスすることを電子的に可能にする。
【００７３】
図１２は、本発明の様々な実施形態による並列波形解析のための試験測定システムにおける例示的なコンピュータ制御による方法１２００のフロー図であり、第２波形を取得するのと少なくとも部分的に並列に第１波形の解析を行う。
【００７４】
工程１２０２では、試験測定システムは、被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して第１試験を行った結果生じる第１波形をオシロスコープで取得する。
【００７５】
工程１２０４では、試験測定システムは、第１波形の解析を行うのと、少なくとも部分的に並行して、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じる第２波形をオシロスコープで取得する。例えば、実行エンジンにより、第１波形の取得に応じて、第１波形の波形解析アプリケーションのインスタンスが作成される。次に、システムは、第１波形に関する波形解析アプリケーションを実行するのと少なくとも部分的に並列して、第２波形の取得に応じて、波形解析実行エンジンによって、第２波形に関する波形解析アプリケーションのインスタンスを生成しても良い。システムは、クラウド・コンピューティング・システム上に、ＤＵＴに対する追加の試験から生じる試験装置の装置ログを保存し、遠隔ユーザが装置ログを使用して、全体的な分析を行うのために、装置ログにアクセスできるようにしても良い。
【００７６】
以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。
【００７７】
実施例１は、試験測定システムにおいて被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法であって、
ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を取得する処理と、
ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を取得する処理に応答して、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形の解析を始める処理と、
ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を解析しながら、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じた第２波形の取得を開始する処理と、
ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じた第２波形を取得する処理に応答して、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を解析しながら、ＤＵＴに対して第２試験を行った結果生じた第２波形の解析を開始する処理と
を具えている。
【００７８】
実施例２は、実施例１のＤＵＴを試験する方法であって、ＤＵＴに対して第１試験を行った結果生じた第１波形を解析しながら、ＤＵＴに対して第３試験を行った結果生じた第３波形の取得を開始する処理を更に具えている。
【００７９】
実施例３は、実施例１のＤＵＴを試験する方法であって、
ＤＵＴに対して追加の試験を行った結果生じる追加の波形を取得する処理と、
ＤＵＴに対して追加の試験を行った結果生じる追加の波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行して行う処理と
を更に具えている。
【００８０】
実施例４は、実施例３のＤＵＴを試験する方法であって、ＤＵＴに対して追加の試験を行うことにより生じる１つ以上の追加波形の取得を、少なくとも部分的に、上記１つ以上の追加波形以外の波形夫々の解析と並行して行う。
【００８１】
実施例５は、実施例３のＤＵＴを試験する方法であって、追加波形を取得する処理が、
追加波形をオシロスコープで取得する処理と、
追加波形を分散型不揮発性メモリに記憶する処理と
を有している。
【００８２】
実施例６は、実施例５のＤＵＴを試験する方法であって、追加波形を分散型不揮発性メモリに記憶する処理が、
アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を介して、オシロスコープ上で動作する波形取得エンジンから上記追加波形を受ける処理と、
遠隔ユーザのシステムに遠隔からアクセスできる集中型データ・サーバ上のデータベースに、受けた追加波形を格納する処理と
を有している。
【００８３】
実施例７は、実施例３のＤＵＴを試験する方法であって、
追加の波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行して行う処理が、追加の波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行してクラウド・コンピューティング・システム上で行う処理を有している。
【００８４】
実施例８は、実施例７のＤＵＴを試験する方法であって、
クラウド・コンピューティング・システム上で、追加波形夫々の解析結果を自動的に格納する処理と、
クラウド・コンピューティング・システム上に格納された追加波形夫々の解析結果に、遠隔ユーザがアクセスできるようにする処理と
を更に具えている。
【００８５】
実施例９は、実施例７のＤＵＴを試験する方法であって、
クラウド・コンピューティング・システム上に、ＤＵＴに対する追加試験から得られた試験装置の装置ログを格納する処理と
上記装置ログに、遠隔ユーザがアクセスできるようにする処理と
を更に具えている。
【００８６】
実施例１０は、実施例７のＤＵＴを試験する方法であって、
オシロスコープとクラウド・コンピューティング・システムに接続されたネットワーク上のオシロスコープを含む複数の試験用資産の目録（インベントリ）情報を、クラウド・コンピューティング・システム上に格納する処理を更に具えている。
【００８７】
実施例１１は、実施例１０のＤＵＴを試験する方法であって、
試験測定システムの少なくとも１つのコンピュータ・プロセッサによって、ネットワーク上の複数の試験装置のインベントリ情報の少なくとも一部を使用して、複数の試験用資産のうちの少なくとも１つの記録を付ける処理を更に有している。
【００８８】
実施例１２は、実施例１１のＤＵＴを試験する方法であって、複数の試験用資産は、ビット・エラー・レート・テスタ（ＢＥＲＴ）、任意波形発生装置（ＡＷＧ）、任意関数発生装置（ＡＦＧ）、電圧計、ＤＵＴ、プローブ、及び試験ソフトの中の１つ以上を更に有している。
【００８９】
実施例１３は、実施例１１のＤＵＴを試験する方法であって、
試験測定システムの少なくとも１つのコンピュータ・プロセッサによって、複数の試験用資産の使用パターンを求める処理を更に具えている。
【００９０】
実施例１４は、実施例１１のＤＵＴを試験する方法であって、
試験測定システムの少なくとも１つのコンピュータ・プロセッサによって、複数の試験用資産の自動ソフトウェア・アップグレードを管理する処理を更に具えている。
【００９１】
実施例１５は、試験測定システムであって、
少なくとも１つのメモリと、
少なくとも１つのメモリに結合される少なくとも１つのプロセッサと
を具え、
少なくとも１つのメモリにコンピュータ実行可能な命令が記憶されており、実行されると、少なくとも１つのプロセッサに、
被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して試験を行った結果生じる波形を取得させ、
ＤＵＴに対して試験を行うことにより生じた波形夫々の解析を少なくとも部分的に並列で実行させる。
【００９２】
実施例１６は、実施例１５の試験測定システムであって、ＤＵＴに対する試験を行うことにより生じる１つ以上の追加波形の取得を、ＤＵＴに対する試験を行うことにより生じる波形夫々の解析と少なくとも部分的に並行して行う。
【００９３】
実施例１７は、実施例１５の試験測定システムであって、
波形を取得する処理が、
オシロスコープを使用して波形を取得する処理と、
波形を分散型不揮発性メモリに記憶する処理と
を含んでいる。
【００９４】
実施例１８は、実施例１７の試験測定システムであって、波形を分散型不揮発性メモリに記憶する処理が、
アプリケーション・プログラミング・インタフェース（ＡＰＩ）を介して、オシロスコープ上で動作する波形取得エンジンから追加波形を受ける処理と、
遠隔ユーザのシステムに遠隔からアクセスできる集中型データ・サーバ上のデータベースに受けた追加波形を格納する処理と
を有している。
【００９５】
実施例１９は、実施例１５の試験測定システムであって、少なくとも部分的に並行する波形夫々の解析の実行は、クラウド・コンピューティング・システム上のＤＵＴの位置で特定された波形夫々の解析を少なくとも部分的に並行して行うことを含む。
【００９６】
実施例２０は、実施例１９の試験測定システムであって、コンピュータ実行可能な命令が実行されると、少なくとも１つのプロセッサが、
クラウド・コンピューティング・システム上に、波形夫々の解析結果を自動的に保存させ、
クラウド・コンピューティング・システム上に保存されている波形夫々の解析結果に遠隔ユーザがアクセスできるようにする。
【００９７】
実施例２１は、コンピュータ実行可能な命令を格納する非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、上記コンピュータ実行可能な命令は、少なくとも１つのプロセッサによって実行されると、少なくとも１つのプロセッサが、
被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して第１試験を行った結果生じる第１波形をオシロスコープで取得させ、
第１波形の解析を行わせるのと少なくとも部分的に並行してＤＵＴに対して第２試験を行うことにより生じる第２波形をオシロスコープで取得させる。
【００９８】
実施例２２は、実施例２１の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、コンピュータ実行可能な命令は、少なくとも１つのプロセッサによって実行された場合に、少なくとも１つのプロセッサが、第１波形の解析を行わせるのと少なくとも部分的に並行して第２波形の解析を行わせる。
【００９９】
実施例２３は、実施例２１の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、コンピュータ実行可能な命令が、少なくとも１つのプロセッサによって実行された場合、少なくとも１つのプロセッサに、更に、
ＤＵＴに対する追加試験から生じる試験装置の装置ログをクラウド・コンピューティング・システム上に保存させ、
遠隔ユーザが装置ログにアクセスできるようにする。
【０１００】
実施例２４は、実施例２１の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、第１波形の解析を行うのと少なくとも部分的に並行して第２波形の解析を行う処理が、
第２波形の取得に応答して、波形解析実行エンジンによって、第２波形に関する波形解析アプリケーションのインスタンスを作成する処理と少なくとも部分的に並行して第１波形に関する波形解析アプリケーションを実行する処理を含み、このとき、第１波形の取得に応答して、波形解析実行エンジンによって、第１波形に関する波形解析アプリケーションのインスタンスが作成される。
【０１０１】
実施例２５は、実施例２４の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、第１波形の波形解析アプリケーション及び第２波形の波形解析アプリケーションが、互いに遠隔に位置する異なるコンピューティング・システム上で独立して実行できるサービスである。
【０１０２】
実施例２６は、実施例２４の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、波形解析実行エンジンは、１つ以上のコンピューティング・システムとは異なるコンピューティング・システム上で独立して遠隔に第１波形の波形解析アプリケーション及び第２波形の波形解析アプリケーションを実行するサービスである。
【０１０３】
実施例２７は、実施例２１の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、コンピュータ実行可能な命令が、少なくとも１つのプロセッサによって実行された場合に、少なくとも１つのプロセッサに、更に、
アプリケーション・プログラミング・インタフェース（ＡＰＩ）によって、第１波形及び第２波形を、オシロスコープの波形取得エンジンから、遠隔ユーザのシステムに遠隔にアクセス可能な集中型データ・サーバ上のデータベースへ転送させ、
集中型データ・サーバ上のデータベースと通信して、第１波形の解析を行わせるのと少なくとも部分的に並行して第２波形の解析を行わせる。
【０１０４】
実施例２８は、実施例２７の非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、第２波形の解析及び第１波形の解析を、集中型データサーバから遠隔のシステム上で行わせる。
【０１０５】
様々な実施形態を説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、形態及び詳細の種々の変更が可能なことが理解できよう。
【符号の説明】
【０１０６】
２０２  波形取得部分
２０４  波形解析部分
２０６  波形取得部分
２０８  波形解析部分
２１０  波形取得部分
２１２  波形解析部分
２１４  波形取得部分
２１６  波形解析部分
３００  試験測定システムのネットワーク・アーキテクチャ
３０４  テスト・ベンチ
３０６  顧客
３２０  被試験デバイス（ＤＵＴ）
３２２  オンプレミス・ネットワーク
３２８  パブリック・クラウド・コンピューティング・システム
３３０  遠隔ユーザのコンピューティング・システム又はデバイス
４００  試験測定システムのアーキテクチャの例
４０２  ユーザ
４０４  コンピューティング・システム
４０６  ウェブ・アプリケーション
４０８  実行エンジン
４１２ａ〜ｆ  解析サービス
４１４  データベース
４１６  ＡＰＩサービス
４１８  波形取得サービス
４２２  オシロスコープ
４２６  ＤＵＴ
４３０  並列解析システム
４３２  任意波形発生装置（ＡＷＧ）
６１２  ＡＰＩゲートウェイ
６１４  遠隔ロギング及び監視システム
６１６  ロギングＡＰＩ
６１８  ログ・リポジトリ
６２０  試験監視ＡＰＩ
６２６  ログ視覚化ウェブ・アプリケーション（Web App）
６２８  ログ及び監視解析エンジン
６３０  ＡＰＩゲートウェイ
７２０  資産ロケータ・エンジン
７０２  第１装置
７０４  第２装置
７０６  装置データ及びログ・ストリーミングＡＰＩ
７０８  装置制御ＡＰＩ
７１０  装置ロケータ及び検証ＡＰＩ
７１２  装置制御ＡＰＩ
７１４  装置ロケータ及び検証ＡＰＩ
７１８  ＡＰＩゲートウェイ
７２０  資産ロケータ・エンジン
７２２  資産コントローラ
７２４  資産管理ＡＰＩ
７２６  資産リポジトリ
７２８  装置ログ・ストリーミングＡＰＩ
７３０  遠隔資産管理システム
８００  試験自動化プラットフォーム・アーキテクチャ
８０２  外部試験自動化フレームワーク
８０４  構造化した標準化データのデータベース
８０６  試験自動化プラットフォーム
８０８  オシロスコープ
８１０  ＤＵＴ
８１６  信号発生装置
９０２  試験システムのオペレーション
９０４  遠隔ユーザのコンピューティング・システム
９０６  複数の試験装置
９０８  通信システム
９１０  コンピューティング装置
【図１】
2020190556.tif 000003
【図２】
2020190556.tif 000004
【図３】
2020190556.tif 000005
【図４】
2020190556.tif 000006
【図５】
2020190556.tif 000007
【図６】
2020190556.tif 000008
【図７】
2020190556.tif 000009
【図８】
2020190556.tif 000010
【図９】
2020190556.tif 000011
【図１０】
2020190556.tif 000012
【図１１】
2020190556.tif 000013
【図１２】
2020190556.tif 000014