(57)【要約】【課題】投光部からの照射光を被溶接物の溶接面に斜めに入射させることでヘッドと被溶接物との変位計測を精度良く行いつつ、その投光部が固定されるヘッドの横幅を小さく抑えること。【解決手段】変位計測装置は、被溶接物に第１波長のレーザ光を導く第１光路を形成する溶接ヘッドに固定され、第２波長のレーザ光を被溶接物へ照射する投光部と、投光部からのレーザ光を被溶接物へ反射する反射ミラーと、被溶接物で反射した投光部からのレーザ光を所定方向へ導くダイクロイックミラーと、ダイクロイックミラーにより導かれたレーザ光を受光する受光部と、受光部で受光されたレーザ光に基づいて被溶接物と溶接ヘッドとの変位を計測する計測部と、を備える。反射ミラーは、被溶接物に入射する第２波長のレーザ光の第２光路が第１光路に対してなす角度が、投光部の照射口と被溶接物とを結ぶ線分が第１光路に対してなす角度よりも大きくなる位置に配置される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被溶接物と、前記被溶接物に第１波長のレーザ光を導く第１光路を形成する溶接ヘッドとの変位を計測する変位計測装置であって、
前記溶接ヘッドに固定された、前記第１波長とは異なる第２波長のレーザ光を前記被溶接物に向けて照射する投光部と、
前記溶接ヘッドに固定された、前記投光部から照射された前記第２波長のレーザ光を前記被溶接物に向けて反射する反射ミラーと、
前記溶接ヘッドに設けられ、前記投光部から前記反射ミラーを介して前記被溶接物に入射しかつ前記被溶接物で反射した前記第２波長のレーザ光を所定方向へ導くように少なくとも前記第２波長のレーザ光を反射するダイクロイックミラーと、
前記溶接ヘッドに固定され、前記ダイクロイックミラーによって導かれた前記第２波長のレーザ光を受光する受光部と、
前記受光部で受光された前記第２波長のレーザ光に基づいて前記変位を計測する計測部と、
を備え、
前記反射ミラーは、前記被溶接物に入射する前記第２波長のレーザ光の第２光路が前記第１光路に対してなす角度が、前記投光部の照射口と前記被溶接物とを結ぶ線分が前記第１光路に対してなす角度よりも大きくなる位置に配置される第１反射ミラーを含む、変位計測装置。
【請求項２】
前記第１反射ミラーは、前記投光部の照射口よりも前記第１光路の中心からの径方向距離が大きくなる位置に配置されている、請求項１に記載の変位計測装置。
【請求項３】
前記反射ミラーは、前記投光部から照射された前記第２波長のレーザ光が入射されかつ入射光を前記第１反射ミラーに向けて反射する第２反射ミラーを含む、請求項１又は２に記載の変位計測装置。
【請求項４】
前記ダイクロイックミラーは、前記第１光路上に配置され、前記第１波長のレーザ光を透過する、請求項１乃至３の何れか一項に記載の変位計測装置。
【請求項５】
前記ダイクロイックミラーは、前記第２波長のレーザ光及び可視光を反射するミラーであり、
前記受光部は、前記被溶接物のレーザ溶接加工点を観測する画像センサを兼ねている、請求項１乃至４の何れか一項に記載の変位計測装置。
【請求項６】
前記計測部により計測された前記変位に基づいて、前記被溶接物と前記溶接ヘッドとの距離が一定に保たれるように倣い動作を行う位置制御部を備える、請求項１乃至５の何れか一項に記載の変位計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被溶接物と、その被溶接物にレーザ光を導く光路を形成する溶接ヘッドとの変位を計測するうえで好適な変位計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、レーザ溶接装置によるレーザ溶接のトーチ位置を制御する制御装置が知られている（例えば、特許文献１）。特許文献１記載の制御装置は、投光部と、受光部と、画像処理部と、位置制御部と、を備えている。投光部は、被溶接物にハロゲンランプ等の広がりのある光を照射する。受光部は、ＣＣＤカメラ等からなり、投光部から照射される光が斜めに入射する被溶接物の表面で反射した光を受光する。画像処理部は、受光部が撮像した画像を画像処理して、レーザ溶接装置のヘッドから被溶接物までの変位量を計測する。ヘッドに対して被溶接物が移動すると、受光部での反射光の受光位置が変化する。このため、画像処理部での画像処理によりレーザ溶接装置のヘッドから被溶接物までの変位量を計測することができる。位置制御部は、計測した画像処理部での変位量に基づいて、レーザ溶接装置のヘッドから被溶接物までの変位が基準距離に保たれるようにヘッドを相対移動させて倣い動作を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−４２１１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、投光部及び受光部は、被溶接物の溶接面に対してほぼ直交する平面内に位置するように配置されている。投光部は、照射光が被溶接物の溶接面に鋭角な角度で斜めに入射するように指向されている。受光部は、被溶接物の溶接面に対してほぼ直交する鉛直上方に配置されている。投光部の照射した光は、被溶接物の表面で反射した後に受光部に受光される。このように、投光部の照射した光が被溶接物の溶接面に斜めに入射される構造において、その入射が投光部から被溶接物の溶接面に直接になされるものとすると、投光部の配置位置がレーザ溶接装置のヘッド本体から径方向外方に大きく離間する。このため、投光部が固定されるヘッド全体の横幅が増大し、そのヘッドが溶接治具などへ干渉し易くなる。
【０００５】
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、投光部からの照射光を被溶接物の溶接面に斜めに入射させることでヘッドと被溶接物との変位計測を精度良く行いつつ、その投光部が固定されるヘッドの横幅を小さく抑えることが可能な変位計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、被溶接物と、前記被溶接物に第１波長のレーザ光を導く第１光路を形成する溶接ヘッドとの変位を計測する変位計測装置であって、前記溶接ヘッドに固定された、前記第１波長とは異なる第２波長のレーザ光を前記被溶接物に向けて照射する投光部と、前記溶接ヘッドに固定された、前記投光部から照射された前記第２波長のレーザ光を前記被溶接物に向けて反射する反射ミラーと、前記溶接ヘッドに設けられ、前記投光部から前記反射ミラーを介して前記被溶接物に入射しかつ前記被溶接物で反射した前記第２波長のレーザ光を所定方向へ導くように少なくとも前記第２波長のレーザ光を反射するダイクロイックミラーと、前記溶接ヘッドに固定され、前記ダイクロイックミラーによって導かれた前記第２波長のレーザ光を受光する受光部と、前記受光部で受光された前記第２波長のレーザ光に基づいて前記変位を計測する計測部と、を備え、前記反射ミラーは、前記被溶接物に入射する前記第２波長のレーザ光の第２光路が前記第１光路に対してなす角度が、前記投光部の照射口と前記被溶接物とを結ぶ線分が前記第１光路に対してなす角度よりも大きくなる位置に配置される第１反射ミラーを含む、変位計測装置である。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】一実施形態に係るレーザ溶接装置の模式的な構成図である。
【図２】実施形態の変位計測装置が組み込まれたレーザ溶接装置の構成図である。
【図３】実施形態のレーザ溶接装置の一側方から見た透過図である。
【図４】実施形態のレーザ溶接装置の他の側方から見た透過図である。
【図５】実施形態の変位計測装置の変位計測を説明するための図である。
【図６】変形形態に係るレーザ溶接装置の一側方から見た透過図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、本発明に係る変位計測装置の具体的な実施の形態について、図面を用いて説明する。
【０００９】
一実施形態の変位計測装置１０は、レーザ溶接装置１に組み込まれる装置である。レーザ溶接装置１は、図１に示す如く、例えば金属製の二つの被溶接物２ａ，２ｂ同士を突き合わせ或いは重ね合わせた部位を、レーザ光（以下、このレーザ光を溶接用レーザ光３と称す。）の照射により溶接する装置である。尚、溶接は、二つの被溶接物２ａ，２ｂの側面同士が突き合わされた状態でその突き合わされた面に沿って平行にその被溶接物２ａ，２ｂを貫通してなされる溶接（すなわち、突き合わせ貫通溶接）、その被溶接物２ａ，２ｂを非貫通でなされる溶接（すなわち、突き合わせ非貫通溶接）、二つの被溶接物２ａ，２ｂが積層方向に重ね合わされた状態でその重ね合わされた面に垂直にその被溶接物２ａ，２ｂを貫通してなされる溶接（すなわち、重ね合わせ貫通溶接）、及びその被溶接物２ａ，２ｂを非貫通でなされる溶接（すなわち、重ね合わせ非貫通溶接）の何れであってもよい。
【００１０】
レーザ溶接装置１は、熱源として溶接用レーザ光３を発生すると共に集光して溶接対象の被溶接物２に照射し、その被溶接物２を局部的に溶融及び凝固させることにより、被溶接物２同士を接合する。レーザ溶接装置１は、図１及び図２に示す如く、レーザ発振器２０と、光ファイバ３０と、溶接ヘッド４０と、駆動部５０と、アライメント用カメラ６０と、コントローラ７０と、を有している。
【００１１】
レーザ発振器２０は、溶接用レーザ光３を発振する装置である。レーザ発振器２０は、例えば、高出力化が可能なＣＯ２レーザやＹＡＧレーザ，ファイバーレーザ，半導体レーザなどを用いて構成されている。レーザ発振器２０で発生した溶接用レーザ光３は、光ファイバ３０を通じて溶接ヘッド４０の光学系へ導かれる。この溶接用レーザ光３は、第１波長（例えば１０７０ｎｍの波長）を有する光である。尚、レーザ溶接装置１は、光ファイバ３０による伝送に代えて、ミラーによる折返し伝送を行うこととしてもよい。
【００１２】
光ファイバ３０の出口側は、溶接ヘッド４０の上端に接続されている。溶接ヘッド４０は、上下に延在する筒状に形成された部材である。溶接ヘッド４０は、光ファイバ３０から伝送された溶接用レーザ光３を鉛直下方に導く。溶接ヘッド４０には、コリメーションレンズ４１と、ダイクロイックミラー４２と、集光レンズ４３と、が配設されている。コリメーションレンズ４１は、溶接ヘッド４０の上部に配置されている。コリメーションレンズ４１、ダイクロイックミラー４２、及び集光レンズ４３は、光ファイバ３０の出口と被溶接物２との間の光路上にその順に配置されている。
【００１３】
光ファイバ３０の出口から出力された溶接用レーザ光３は、放射状に広がりながら進行する。コリメーションレンズ４１は、放射状に広がりながら進行する光ファイバ３０からの溶接用レーザ光３を、平行に進行する溶接用レーザ光３に変換するレンズである。ダイクロイックミラー４２は、光ファイバ３０から照射される溶接用レーザ光３を透過する一方、可視光域の光及び後述の投光部から照射される近赤外光である第２波長（例えば８５０ｎｍの波長）のレーザ光（以下、このレーザ光を測距用レーザ光４と称す。）を反射するミラーである。集光レンズ４３は、ダイクロイックミラー４２を透過した溶接用レーザ光３を被溶接物２の溶接面上の加工点Ｐ（すなわち、溶接位置）に集光するレンズである。レーザ溶接装置１は、レーザ発振器２０の生成した溶接用レーザ光３を適切なサイズに集光して被溶接物２へ照射することにより二つの被溶接物２を溶接する。
【００１４】
駆動部５０は、溶接ヘッド４０を、被溶接物２が載置される台座５に対して移動させる装置である。被溶接物２は、台座５に治具を用いて固定される。溶接ヘッド４０は、台座５の上方に配置されている。駆動部５０による溶接ヘッド４０の移動方向は、水平方向及び上下方向である。駆動部５０は、溶接ヘッド４０を上下方向に移動させる上下移動用モータ５１と、溶接ヘッド４０を水平方向に移動させる水平移動用モータ５２と、を有している。
【００１５】
上下移動用モータ５１は、固定部５３に取り付けられている。固定部５３には、第１ガイド５４を介して可動部５５が取り付けられている。第１ガイド５４は、上下方向に延びている。可動部５５は、固定部５３に対して第１ガイド５４に沿って上下方向に移動可能である。上下移動用モータ５１は、駆動により可動部５５を固定部５３に対して上下方向に移動させる。
【００１６】
水平移動用モータ５２は、可動部５５に取り付けられている。可動部５５には、第２ガイド５６を介して溶接ヘッド４０が取り付けられている。第２ガイド５６は、水平方向に延びている。溶接ヘッド４０は、可動部５５に対して第２ガイド５６に沿って水平方向に移動可能である。水平移動用モータ５２は、駆動により溶接ヘッド４０を可動部５５に対して水平方向に移動させる。
【００１７】
駆動部５０は、溶接ヘッド４０を水平方向及び上下方向に移動させることにより被溶接物２の加工点Ｐを変化させる。尚、駆動部５０は、溶接ヘッド４０の移動に代えて或いは溶接ヘッド４０の移動と共に、台座５を移動させるものであってもよい。
【００１８】
アライメント用カメラ６０は、溶接用レーザ光３が照射される被溶接物２の加工点Ｐを撮像する装置である。アライメント用カメラ６０は、図３に示す如く、溶接ヘッド４０にブラケット１５を介して取り付け固定されている。アライメント用カメラ６０の撮像は、溶接ヘッド４０の光学系から照射される溶接用レーザ光３の光軸と同軸で行われる。アライメント用カメラ６０は、反射ミラー６１を介して被溶接物２の加工点Ｐに指向されている。反射ミラー６１は、ダイクロイックミラー４２で反射された可視光域の光及び測距用レーザ光４をアライメント用カメラ６０に向けて導くミラーである。
【００１９】
アライメント用カメラ６０は、撮像レンズ６２と、ノッチフィルタ６３と、バンドパスフィルタ６４と、画像センサ６５と、を有している。撮像レンズ６２は、被溶接物２の加工点Ｐに焦点を合わせるためのレンズである。ノッチフィルタ６３は、溶接用レーザ光３が有する第１波長近傍の光を吸収するフィルタである。ノッチフィルタ６３は、溶接ヘッド４０の光学系や被溶接物２の加工点Ｐで散乱・反射した第１波長近傍の光を画像センサ６５に入射させないために設けられている。バンドパスフィルタ６４は、近赤外光である第２波長近傍の光を透過するフィルタである。バンドパスフィルタ６４は、不要な可視光を画像センサ６５に入射させないために設けられている。
【００２０】
画像センサ６５は、ＣＣＤやＣＭＯＳなどの受光部である。画像センサ６５は、ダイクロイックミラー４２及び反射ミラー６１で反射すると共にノッチフィルタ６３及びバンドパスフィルタ６４を通過した近赤外光を受光することが可能である。尚、画像センサ６５は、バンドパスフィルタ６４が設けられていないときは、近赤外光と共に可視光をも受光することが可能となる。画像センサ６５は、受光した光を光電変換することで画像を生成する。尚、画像センサ６５で生成される画像は、二次元平面画像を縦横で所定ピクセル数ずつに分割した領域ごとの輝度を所定数の階調で表現したものであってよい。
【００２１】
コントローラ７０は、レーザ発振器２０、駆動部５０、及びアライメント用カメラ６０に電気的に接続されている。コントローラ７０は、レーザ発振器２０による溶接用レーザ光３の照射を出力制御すると共に、駆動部５０による溶接ヘッド４０の移動制御を行う制御部である。また、コントローラ７０は、アライメント用カメラ６０で撮像した可視光を含む画像をモニタに表示させる制御や、被溶接物２の加工点Ｐでの溶接状態を判定する制御などを行うことが可能である。
【００２２】
ところで、被溶接物２を溶接するうえでは、被溶接物２と、その被溶接物２に溶接用レーザ光３を照射するレーザ溶接装置１の溶接ヘッド４０との変位（距離）が一定に保たれることが重要である。そこで、レーザ溶接装置１には、変位計測装置１０が組み込まれている。変位計測装置１０は、溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位（すなわち、基準変位との間の高さズレ）を計測する装置である。変位計測装置１０は、投光部１１と、反射ミラー１２と、上記のダイクロイックミラー４２と、上記の画像センサ６５と、を有している。投光部１１及び反射ミラー１２は、図４に示す如く、例えば同じ筐体１３内に収容されており、ブラケット１４を介して溶接ヘッド４０に取り付け固定されている。
【００２３】
投光部１１は、測距用レーザ光４を発振する装置である。投光部１１は、筒状（例えば、円筒状）に形成されており、軸方向に所定長さ（例えば３０ｍｍ―７０など）を有している。投光部１１は、低出力である半導体レーザを用いて構成されている。投光部１１は、下方に指向されている。投光部１１で発生した測距用レーザ光４は、反射ミラー１２を通じて被溶接物２の加工点Ｐ近傍に導かれる。測距用レーザ光４は、レーザ発振器２０が発生する第１波長の溶接用レーザ光３とは異なる、近赤外光である第２波長を有する光である。投光部１１は、測距用レーザ光４を被溶接物２の加工点Ｐ近傍に線状や格子状に照射する。
【００２４】
反射ミラー１２は、投光部１１から照射される測距用レーザ光４を全反射する薄肉のミラーである。反射ミラー１２は、投光部１１よりも下方に配置されていると共に、被溶接物２の加工点Ｐから鉛直方向に所定距離（例えば、１５０ｍｍ−３００ｍｍなど）離れて配置されている。反射ミラー１２は、一つだけ設けられている。反射ミラー１２は、鉛直方向に近い方向に広がる面を有し、その面の法線が略水平方向に向くように配置形成されている。反射ミラー１２は、投光部１１からの測距用レーザ光４を被溶接物２の加工点Ｐ近傍に向けて反射する。反射ミラー１２から被溶接物２の加工点Ｐに至る測距用レーザ光４の入射角度は、鉛直方向（具体的には、溶接用レーザ光３の光路）から所定角度α（例えば、２０°−５０°）をなす。すなわち、投光部１１から照射された測距用レーザ光４は、被溶接物２の溶接面に斜めに入射される。
【００２５】
反射ミラー１２は、被溶接物２の加工点Ｐから見て、投光部１１（より具体的には、その照射口１１ａ）よりも筒状の溶接ヘッド４０から離間する側に位置している。すなわち、反射ミラー１２は、図２及び図５に示す如く、その反射ミラー１２から被溶接物２に入射する測距用レーザ光４の光路が、溶接ヘッド４０から鉛直下方に照射されて被溶接物２に入射する溶接用レーザ光３の光路に対してなす角度αが、投光部１１の照射口１１ａと被溶接物２とを結ぶ線分６がその溶接用レーザ光３の光路に対してなす角度βよりも大きくなる位置に配置されている。更に、反射ミラー１２は、投光部１１（より具体的には、その照射口１１ａ）よりも溶接用レーザ光３の光路の中心からの径方向距離が大きくなる位置に配置されている。
【００２６】
ダイクロイックミラー４２は、光ファイバ３０から照射される溶接用レーザ光３を透過して被溶接物２の加工点Ｐに入射させる一方、被溶接物２の加工点Ｐ近傍で拡散反射した反射ミラー１２からの測距用レーザ光４を反射して反射ミラー６１ひいてはアライメント用カメラ６０の画像センサ６５に導く。画像センサ６５は、導かれた測距用レーザ光４を受光して画像生成を行う。
【００２７】
コントローラ７０は、三角測量方式で被溶接物２と溶接ヘッド４０との変位量を計測する。具体的には、コントローラ７０は、アライメント用カメラ６０で撮像した画像に基づいて、その画像上に結像される測距用レーザ光４の位置を検出して、その画像上での測距用レーザ光４の位置変化量を被溶接物２と溶接ヘッド４０との変位に変換する。コントローラ７０は、計測した被溶接物２と溶接ヘッド４０との変位量に基づいて、溶接ヘッド４０から被溶接物２までの変位が基準距離に保たれるように駆動部５０を用いて溶接ヘッド４０を移動させる倣い動作を行う。
【００２８】
このように、変位計測装置１０においては、投光部１１からの測距用レーザ光４が被溶接物２の加工点Ｐに角度αで斜めに入射される。かかる構造においては、溶接ヘッド４０から被溶接物２までの変位量が変化したとき、画像センサ６５の画像上に結像される測距用レーザ光４の位置が変化するので、その溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量を計測することができる。
【００２９】
また、投光部１１から照射された測距用レーザ光４は、反射ミラー１２で反射されて被溶接物２の加工点Ｐに鉛直方向から所定角度αをなして斜めに入射される。溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量の計測精度を向上させるためには、上記の所定角度αを０°からできるだけ大きくすることが好ましい。しかし、上記の所定角度αが大きくなるほど、投光部１１や反射ミラー１２を含む溶接ヘッド４０全体の横幅が大きくなってしまう。そこで、この所定角度αは、溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量の計測精度が良好に確保される値（例えば、２０°−５０°）に設定されている。
【００３０】
上記の如く、反射ミラー１２は、その反射ミラー１２から被溶接物２に入射する測距用レーザ光４の光路が、溶接ヘッド４０から被溶接物２に入射する溶接用レーザ光３の光路に対してなす角度αが、投光部１１の照射口１１ａと被溶接物２とを結ぶ線分６がその溶接用レーザ光３の光路に対してなす角度βよりも大きくなる位置に配置されている。かかる構造においては、投光部１１が照射した測距用レーザ光４が直接に被溶接物２の溶接面に入射する構造と比較して、投光部１１の配置位置が溶接ヘッド４０から径方向外方に離間するのを抑えることができる。
【００３１】
従って、溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量の計測精度を精度良く行いつつ、投光部１１が固定される溶接ヘッド４０全体の横幅を小さく抑制してそのコンパクト化を図ることができる。このため、その溶接ヘッド４０が被溶接物２を固定するための溶接治具などへ干渉するのを低減することができる。また、投光部１１を溶接ヘッド４０に固定するブラケット１４などを小さくすることができるので、溶接ヘッド４０の先端重量を抑えて、溶接ヘッド４０の重心位置が先端側となるのを回避し、溶接ヘッド４０が振動し易くなるのを防止することができる。これにより、被溶接物２の溶接中における溶接ヘッド４０の倣い動作を制定性良く実施することができる。
【００３２】
また、溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量を計測するうえで投光部１１から照射される測距用レーザ光４は、近赤外光である第２波長（例えば８５０ｎｍの波長）である。コントローラ７０は、アライメント用カメラ６０の画像センサ６５に受光される第２波長の測距用レーザ光４に基づいて、溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量を計測する。画像センサ６５に受光される光は、ノッチフィルタ６３で溶接用レーザ光３が有する第１波長近傍の光を除外しかつバンドパスフィルタ６４で可視光を除外した測距用レーザ光４が有する第２波長近傍の光である。すなわち、画像センサ６５には、溶接用レーザ光３が有する第１波長近傍の光が入射されずかつ可視光が入射されない。このため、コントローラ７０が溶接ヘッド４０と被溶接物２との変位量を計測するうえで外乱光による検出ノイズが重畳するのを低減することができ、その変位量の計測精度を向上させることができる。
【００３３】
尚、上記の実施形態においては、画像センサ６５が特許請求の範囲に記載した「受光部」に、コントローラ７０が特許請求の範囲に記載した「計測部」及び「位置制御部」に、反射ミラー１２が特許請求の範囲に記載した「反射ミラー」及び「第１反射ミラー」に、それぞれ相当している。
【００３４】
ところで、上記の実施形態においては、投光部１１からの測距用レーザ光４を反射する反射ミラー１２が唯一つだけ設けられている。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。投光部１１からの測距用レーザ光４を反射する反射ミラー１２として、図６に示す如く、その測距用レーザ光４を折り返しながら反射できるように第１反射ミラー１２ａ及び第２反射ミラー１２ｂが設けられていてもよい。第１反射ミラー１２ａは、投光部１１からの第２波長の測距用レーザ光４が入射されかつその入射光を第２反射ミラー１２ｂに向けて反射する。第２反射ミラー１２ｂは、第１反射ミラー１２ａから入射された入射光を被溶接物２の加工点Ｐ近傍に向けて反射する。この変形形態の構造でも、上記の実施形態と同様の効果を得ることができる。尚、測距用レーザ光４を折り返しながら反射する反射ミラー１２は、二つに限定されるものではなく、三以上設けられていてもよい。
【００３５】
尚、本発明は、上述した実施形態や変形形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更を施すことが可能である。
【符号の説明】
【００３６】
１：レーザ溶接装置、２：被溶接物、３：溶接用レーザ光、４：測距用レーザ光、５：台座、１０：変位計測装置、１１：投光部、１１ａ：照射口、１２：反射ミラー、２０：レーザ発振器、３０：光ファイバ、４０：溶接ヘッド、４１：コリメーションレンズ、４２：ダイクロイックミラー、４３：集光レンズ、６０：アライメント用カメラ、６１：反射ミラー、６２：撮像レンズ、６５：画像センサ、７０：コントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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