(57)【要約】【課題】プリント基板上に実装された電解コンデンサの劣化度を容易に測定し、かつ、エレベータが運行している状態でプリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定可能とする。【解決手段】プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定することでプリント基板の寿命を監視する基板寿命監視装置であって、プリント基板に通電された状態において、電解コンデンサに装着されたループアンテナを介して電解コンデンサから放射される放射ノイズの大きさに対応した直流電圧値を検出する直流電圧検出部と、直流電圧検出部により検出された直流電圧値があらかじめ設定された閾値よりも大きい場合に、電解コンデンサの劣化が進行したと判定する判定部とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定することで前記プリント基板の寿命を監視する基板寿命監視装置であって、
前記プリント基板に通電された状態において、前記電解コンデンサに装着されたループアンテナを介して前記電解コンデンサから放射される放射ノイズの大きさに対応した直流電圧値を検出する直流電圧検出部と、
前記直流電圧検出部により検出された前記直流電圧値が、あらかじめ設定された閾値よりも大きい場合に、前記電解コンデンサの劣化が進行したと判定する判定部と
を備える基板寿命監視装置。
【請求項２】
前記直流電圧検出部は、
前記電解コンデンサから放射される放射ノイズの大きさに対応したアナログ電圧の最大値を保持する最大値保持部と、
予め設定された周波数のローパスフィルタにより、保持された前記アナログ電圧の最大値に含まれるノイズを除去し、前記放射ノイズの大きさに対応した前記直流電圧値を出力するノイズ除去部と
を有する請求項１に記載の基板寿命監視装置。
【請求項３】
前記判定部により前記電解コンデンサの劣化が進行したと判定されたことを報知する発報部
をさらに備える請求項１または２に記載の基板寿命監視装置。
【請求項４】
前記発報部は、発光素子および警報器の少なくともいずれか一方により構成されている
請求項３に記載の基板寿命監視装置。
【請求項５】
前記判定部は、
前記直流電圧検出部で検出された前記直流電圧値をデジタル値に変換するアナログ−デジタル変換部と、
前記デジタル値と前記閾値とを比較し、前記デジタル値が前記閾値よりも大きい場合に、前記電解コンデンサの劣化が進行したと判定し、判定結果を出力する処理部と
を有する請求項１から４のいずれか１項に記載の基板寿命監視装置。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の基板寿命監視装置と、
前記基板寿命監視装置による検出結果を遠隔監視する情報センターと
を備える基板寿命遠隔監視システムであって、
前記基板寿命監視装置は、
前記判定部による判定結果を送信する送信部をさらに備え、
前記情報センターは、
前記送信部から送信された前記判定結果を受信し、前記電解コンデンサの劣化が進行したか否かを遠隔監視する受信部を備える
基板寿命遠隔監視システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定することにより、プリント基板の寿命を監視する基板寿命監視装置および基板寿命遠隔監視システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
プリント基板の寿命を監視する装置およびシステムとして、以下のような従来技術がある（例えば、特許文献１参照）。特許文献１では、電解コンデンサに並列に接続された２種類の抵抗をリレーによって切り替えた後に、一定の時間間隔により電解コンデンサの端子電圧を測定する。そして、特許文献１では、その測定された端子電圧の最大値と最小値との差からリプル電圧を算出している。
【０００３】
さらに、特許文献１では、算出したリプル電圧値をデジタル値に変換した後、点検用ＣＰＵにより設定された判定値と比較して、算出したリプル電圧値が設定された判定値よりも大きいときに、電解コンデンサが寿命末期と判定して発報している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−８６８１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に係る従来の検出方法では、電解コンデンサがプリント基板に実装されている場合に、基板寿命監視装置のリプル電圧検出回路を、予め電解コンデンサとともにプリント基板上に実装しておくか、または電解コンデンサの電極端子に後からリプル電圧検出回路を装着する必要がある。そのため、前者の場合は、プリント基板上の回路部品点数が多くなり、リプル電圧検出回路を実装する面積が大きくなるという課題がある。
【０００６】
また、電解コンデンサのリード部分は、プリント基板にはんだ付けされている。このため、後者の場合は、電解コンデンサの端子に後からリプル電圧検出回路を装着することは容易ではなく、作業性が悪かった。
【０００７】
さらに、特許文献１は、電解コンデンサに並列に接続された２種類の抵抗をリレーによって切り替えることでリプル電圧を検出している。このため、エレベータが運行している状態では、リプル電圧を検出することはできない。
【０００８】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、プリント基板上に実装された電解コンデンサの劣化度を容易に測定し、かつ、エレベータが運行している状態でプリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定可能とする基板寿命監視装置および基板寿命遠隔監視システムを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る基板寿命監視装置は、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定することでプリント基板の寿命を監視する基板寿命監視装置であって、プリント基板に通電された状態において、電解コンデンサに装着されたループアンテナを介して電解コンデンサから放射される放射ノイズの大きさに対応した直流電圧値を検出する直流電圧検出部と、直流電圧検出部により検出された直流電圧値が、あらかじめ設定された閾値よりも大きい場合に、電解コンデンサの劣化が進行したと判定する判定部とを備えるものである。
【００１０】
また、本発明に係る基板寿命遠隔監視システムは、本発明の基板寿命監視装置と、基板寿命監視装置による検出結果を遠隔監視する情報センターとを備える基板寿命遠隔監視システムであって、基板寿命監視装置は、判定部による判定結果を送信する送信部をさらに備え、情報センターは、送信部から送信された判定結果を受信し、電解コンデンサの劣化が進行したか否かを遠隔監視する受信部を備えるものである。
【発明の効果】
【００１１】
上記の基板寿命監視装置および基板寿命遠隔監視システムによれば、プリント基板上に実装された電解コンデンサの劣化度を容易に測定し、かつ、エレベータが運行している状態でプリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を測定可能とする基板寿命監視装置および基板寿命遠隔監視システムを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施の形態１に係る、電解コンデンサの劣化度測定による基板寿命監視装置を示す構成図である。
【図２】本発明の実施の形態２に係る、電解コンデンサの劣化度測定による基板寿命遠隔監視システムを示す構成図である。
【図３】本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板の平面図である。
【図４】本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板の側面図である。
【図５】本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板の回路図である。
【図６】本発明の実施の形態２において、動作周波数を１．２ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。
【図７】本発明の実施の形態２において、動作周波数を１２ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。
【図８】本発明の実施の形態２において、動作周波数を１２０ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。
【図９】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に電解コンデンサのリプル電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１．２ｋＨｚ）。
【図１０】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に電解コンデンサのリプル電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２ｋＨｚ）。
【図１１】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に電解コンデンサのリプル電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２０ｋＨｚ）。
【図１２】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸にループアンテナにより検出された電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１．２ｋＨｚ）。
【図１３】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸にループアンテナにより検出された電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２ｋＨｚ）。
【図１４】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸にループアンテナにより検出された電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２０ｋＨｚ）。
【図１５】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に直流電圧変換部の出力電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１．２ｋＨｚ）。
【図１６】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に直流電圧変換部の出力電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２ｋＨｚ）。
【図１７】本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサの等価直列抵抗、縦軸に直流電圧変換部の出力電圧をプロットしたグラフである（動作周波数１２０ｋＨｚ）。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の基板寿命監視装置および基板寿命遠隔監視システムの好適な実施の形態につき、図面を用いて説明する。
【００１４】
実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１に係る、電解コンデンサ４の劣化度測定による基板寿命監視装置９を示す構成図である。エレベータ制御盤２内のプリント基板３は、電解コンデンサ４およびループアンテナ５を備えて構成されている。プリント基板３に実装された電解コンデンサ４には、ループアンテナ５が装着されている。
【００１５】
ループアンテナ５は、絶縁電線を電解コンデンサ４に周回することで、リプル電圧７に伴って電解コンデンサ４から放射される放射ノイズ８の大きさに応じた電圧値を検出する検出部として動作するように形成されている。ループアンテナ５は、電解コンデンサ４側である一端部側が何も接続されず、他端部側が基板寿命監視装置９内の増幅部１０に接続されている。
【００１６】
プリント基板３が通電されている状態において、電解コンデンサ４の両端端子には、リプル電圧７が発生する。リプル電圧７は、電解コンデンサ４のリプル電流６と相関関係がある。また、リプル電流６の発生に伴う電磁誘導作用によって、電解コンデンサ４から放射ノイズ８が発生する。
【００１７】
電解コンデンサ４の劣化が進行するにつれて、等価直列抵抗（Ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ  Ｓｅｒｉｅｓ  Ｒｅｓｉｓｔａｎｃｅ：ＥＳＲ）が増加し、リプル電圧７が増加する。リプル電圧７の増加に伴って、電解コンデンサ４からの放射ノイズ８も大きくなるため、ループアンテナ５により検出された電圧も大きくなる。
【００１８】
基板寿命監視装置９は、増幅部１０、直流電圧変換部１１、判定部１４、および発報部１５を備えて構成されている。放射ノイズ８は、ループアンテナ５により電圧として検出される。そして、増幅部１０は、ループアンテナ５により検出された電圧を増幅する。
【００１９】
直流電圧変換部１１は、入力された電圧の最大値を保持する最大値保持部１２と、保持された電圧からノイズ成分を除去するノイズ除去部１３とを備える。増幅部１０により増幅されたアナログ電圧は、時間幅の短いパルス状の波形を有している。このため、最大値保持部１２は、アナログ電圧の最大値をパルス状波形の最大値として保持する。
【００２０】
最大値保持部１２により保持された電圧に含まれているノイズは、ローパスフィルタにより構成されたノイズ除去部１３により、１００Ｈｚ以上の周波数である高周波ノイズが除去されて、パルス状波形の大きさに応じた直流電圧に変換される
【００２１】
判定部１４は、あらかじめ設定された閾値と直流電圧変換部１１により変換された直流電圧値とを比較する。そして、判定部１４は、直流電圧変換部１１により変換された直流電圧値が閾値よりも大きい場合には、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、プリント基板３が故障する直前の状態であると判定し、プリント基板３が故障する直前の状態であることを識別するための判定結果信号を出力する。
【００２２】
発報部１５は、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）により構成されている。発報部１５は、判定部１４から出力された判定結果信号に応じてＬＥＤを点灯させることにより、プリント基板３が寿命末期か否かを発報する。なお、発報部１５は、ＬＥＤの代わりにブザーにより構成することも可能である。製品に組み込まれたプリント基板３に基板寿命監視装置９を取り付ける際に、ＬＥＤが見づらいような場合には、音により認識できるブザーが好適である。さらに、発報部１５は、ＬＥＤおよびブザーの両方を備えて構成し、判定結果を報知させることもできる。
【００２３】
ＬＥＤは、発光素子として機能すればよく、光により外部へ判定結果信号を伝達できれば、どのような光学系素子でもよい。ブザーは、警報器として機能すればよく、音により外部へ判定結果信号を伝達できれば、どのような機器でもよい。
【００２４】
以上のように、実施の形態１によれば、図１に示した構成を備えることで、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を非接触により測定することができる。また、実施の形態１によれば、リプル電圧検出回路の測定シーケンスをあらかじめ組み込むことなく、エレベータが運行している状態においても、電解コンデンサの劣化測定が可能となる。さらに、実施の形態１によれば、リプル電圧を定量的に評価することで、プリント基板の寿命を正確に判定することができる。また、実施の形態１によれば、判定結果を外部に発報でき、保守点検作業の効率化を実現できる。
【００２５】
なお、図１に示した回路構成はあくまでも一例であり、増幅部１０および直流電圧変換部１１を１つにまとめ、直流電圧検出部として構成することも可能である。また、ループアンテナ５により検出された電圧を増幅する必要がない場合には、増幅部１０を省略する構成を採用することもできる。また、増幅部１０の機能を最大値保持部１２に持たせる構成を採用することもできる。
【００２６】
実施の形態２．
図２は、本発明の実施の形態２に係る、電解コンデンサ４の劣化度測定による基板寿命遠隔監視システム１７を示す構成図である。
【００２７】
図２の構成は、先の図１における判定部１４および発報部１５による構成を、アナログ−デジタル変換部１８と処理部１９、および遠隔監視通信部２０による構成に変更している。その他の構成に関しては、図１と図２とで同一である。従って、実施の形態１と重複する説明は省略し、上述した相違点を中心に以下に説明する。
【００２８】
アナログ−デジタル変換部１８は、直流電圧変換部１１により変換された直流電圧値を、アナログ値からデジタル値に変換する。
【００２９】
処理部１９は、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ等のデジタル回路により構成されている。処理部１９は、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、プリント基板３が故障する直前の状態であると判定するための判定値を、ＲＡＭ等の記憶媒体にあらかじめ記憶しておく。
【００３０】
処理部１９は、この判定値と、アナログ−デジタル変換部１８で変換されたデジタル値とを比較することにより、プリント基板３が故障する直前の状態であるか否かを判定し、判定結果をデジタル信号として出力する。
【００３１】
遠隔監視通信部２０は、処理部１９から判定結果として出力されたデジタル信号を、エレベータ機械室１の送信部２１から、保守会社の情報センター１６の受信部２２に向けて送信する。受信部２２は、送信部２１から送信された判定結果を受信する。この結果、情報センター１６は、遠隔により基板寿命監視装置による検出結果を監視し、プリント基板３が故障する直前の状態であるか否かを監視することができる。
【００３２】
以下、実際のプリント基板３を使用した試験結果に基づいて、電解コンデンサ４の劣化と、ループアンテナ５により検出された放射ノイズ８に対応する電圧の増加と、直流電圧変換部１１により変換される直流電圧値と、の関係について説明する。
【００３３】
図３は、本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板３の平面図である。図４は、本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板３の側面図である。また、図５は、本発明の実施の形態２において、実際に試験を行ったプリント基板３の回路図である。図３〜図５に示したプリント基板３は、電解コンデンサ４を充放電させることにより、電解コンデンサ４にリプル電圧を重畳させる機能を有する。
【００３４】
入力電源２３として、電源接続コネクタ２４から、ＤＣ１０Ｖが入力される。発振部２９にて、充電用スイッチ素子２５を閉路、放電用スイッチ素子２８を開路させることで、ＤＣ１０Ｖが充電抵抗２６を介して電解コンデンサ４に充電される。その後、充電用スイッチ素子２５を開路、放電用スイッチ素子２８を閉路させることで、放電抵抗２７を介して電解コンデンサ４を放電させる。ここで、発振部２９の動作周波数を、１．２ｋＨｚ、１２ｋＨｚ、１２０ｋＨｚの３通りとして、試験を実施した。
【００３５】
実際に劣化が進行し、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が増加した状態の電解コンデンサ４に対して行った試験結果について、以下に示す。電解コンデンサ４は３３ｕＦ、充電用スイッチ素子２５はＰチャネル型ＦＥＴの２ＳＪ２２１、充電抵抗２６は４７Ω、放電抵抗２７は４７Ω、放電用スイッチ素子２８はＮチャネル型ＦＥＴの２ＳＫ１３０２の部品として、発振部２９とともにプリント基板３に実装されている。
【００３６】
図１に示すように、電解コンデンサ４に装着されたループアンテナ５は、断面積２ｍｍ２の絶縁被覆付きの銅線を５回巻して構成されている。電解コンデンサ４側のループアンテナ５の一端部は何も接続されず、ループアンテナ５の他端部は、増幅部１０に接続されている。増幅部１０の出力には、最大値保持部１２とノイズ除去部１３とで構成された直流電圧変換部１１が接続されている。
【００３７】
図６は、本発明の実施の形態２において、動作周波数を１．２ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。また、図７は、本発明の実施の形態２において、動作周波数を１２ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。さらに、図８は、本発明の実施の形態２において、動作周波数を１２０ｋＨｚとしたときの試験結果をまとめたものである。
【００３８】
より具体的には、図６〜図８には、試験品Ｎｏ．として、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が増加した８種の電解コンデンサ４をサンプルとして、それぞれに対して、以下の物理量の測定結果が、試験結果としてまとめて示されている。
・電解コンデンサ４単体により等価直列抵抗（ＥＳＲ）を測定した結果
・図５に示す回路を動作させたときの電解コンデンサ４のリプル電圧７を測定した結果
・ループアンテナ５により検出された電圧を測定した結果
・直流電圧変換部１１の出力電圧を測定した結果
【００３９】
図９〜図１１は、本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサ４の等価直列抵抗（ＥＳＲ）、縦軸に電解コンデンサ４のリプル電圧７をプロットしたグラフである。なお、図９は、動作周波数が１．２ｋＨｚの場合、図１０は、周波数が１２ｋＨｚの場合、図１１は、動作周波数が１２０ｋＨｚの場合のグラフに相当する。
【００４０】
また、図１２〜図１４は、本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサ４の等価直列抵抗（ＥＳＲ）、縦軸にループアンテナ５により検出された電圧をプロットしたグラフである。なお、図１２は、動作周波数が１．２ｋＨｚの場合、図１３は、周波数が１２ｋＨｚの場合、図１４は、動作周波数が１２０ｋＨｚの場合のグラフに相当する。
【００４１】
さらに、図１５〜図１７は、本発明の実施の形態２において、横軸に電解コンデンサ４の等価直列抵抗（ＥＳＲ）、縦軸に直流電圧変換部１１の出力電圧をプロットしたグラフである。なお、図１５は、動作周波数が１．２ｋＨｚの場合、図１６は、周波数が１２ｋＨｚの場合、図１７は、動作周波数が１２０ｋＨｚの場合のグラフに相当する。
【００４２】
図９〜図１１に示したように、リプル電圧７が２Ｖ以上となったとき、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、プリント基板３が故障する直前の状態である、と仮定して以下の説明を行う。
【００４３】
動作周波数１．２ｋＨｚの場合には、図９に示すように、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が２５Ωまで増加すると、リプル電圧７は２Ｖとなる。つまり、電解コンデンサ４の等価直列抵抗（ＥＳＲ）が２５Ωまで増加すると、プリント基板３は、故障する直前の状態であることになる。
【００４４】
また、図１５に示したように、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が２５Ωのとき、直流電圧変換部１１の出力電圧は、２Ｖとなる。従って、判定部１４は、直流電圧変換部１１の出力電圧が２Ｖ未満の場合には、プリント基板３が使用可能であり、直流電圧変換部１１の出力電圧が２Ｖ以上の場合には、プリント基板３が故障する直前の状態であり、使用不可と判定できる。なお、判定部１４は、直流電圧変換部１１の出力電圧が２Ｖ未満であっても、２Ｖに近い場合には、そろそろプリント基板３の交換時期であると判定することも可能である。
【００４５】
動作周波数１２ｋＨｚの場合には、図１０に示すように、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が２５Ωまで増加すると、リプル電圧７は２Ｖとなる。また、図１６に示したように、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が２５Ωのとき、直流電圧変換部１１の出力電圧は、２Ｖである。
【００４６】
動作周波数が１．２ｋＨｚのときと同様に、動作周波数が１２ｋＨｚのとき、判定部１４は、直流電圧変換部１１の出力電圧が２Ｖ未満の場合には、プリント基板３が使用可能であり、直流電圧変換部１１の出力電圧が２Ｖ以上の場合には、プリント基板３が故障する直前の状態であり、使用不可と判定できる。
【００４７】
動作周波数１２０ｋＨｚの場合には、図１１に示すように、電解コンデンサ４の劣化が進行したことにより、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が４０Ωまで増加すると、リプル電圧７は２Ｖとなる。また、図１７に示したように、等価直列抵抗（ＥＳＲ）が４０Ωのとき、直流電圧変換部１１の出力電圧は、２．３Ｖである。
【００４８】
動作周波数が１．２ｋＨｚおよび１２ｋＨｚのときと同様に、動作周波数が１２０ｋＨｚのとき、判定部１４は、直流電圧変換部１１の出力電圧が２．３Ｖ未満の場合には、プリント基板３が使用可能であり、直流電圧変換部１１の出力電圧が２．３Ｖ以上の場合には、プリント基板３が故障する直前の状態であり、使用不可と判定できる。
【００４９】
以上の説明では、動作周波数１．２ｋＨｚにおいて、直流電圧変換部１１の出力電圧＝２Ｖを、プリント基板３が故障する直前の状態であると判定する判定値としたが、これは一例である。動作周波数が１２ｋＨｚおよび１２０ｋＨｚにおいて示したように、対象となるプリント基板３の使用条件に応じて、プリント基板３が故障する直前の状態であると判定する判定値を設定すればよい。
【００５０】
また、以上の説明では、電解コンデンサ４がプリント基板３に実装されている場合について説明した。しかしながら、本発明は、プリント基板３に実装されていない電解コンデンサ４に対しても、同様に適用することが可能である。
【００５１】
以上のように、実施の形態２によれば、プリント基板に実装された電解コンデンサの劣化度を非接触により測定することができる。また、実施の形態２によれば、リプル電圧検出回路の測定シーケンスをあらかじめ組み込むことなく、エレベータが運行している状態において、電解コンデンサの劣化度を測定することが可能となる。さらに、実施の形態２によれば、リプル電圧を定量的に評価することで、プリント基板の寿命を正確に判定することができる。また、実施の形態２によれば、判定結果を外部に発報でき、保守点検作業の効率化を実現できる。
【符号の説明】
【００５２】
１  エレベータ機械室、２  エレベータ制御盤内、３  プリント基板、４  電解コンデンサ、５  ループアンテナ、６  リプル電流、７  リプル電圧、８  放射ノイズ、９  基板寿命監視装置、１０  増幅部、１１  直流電圧変換部、１２  最大値保持部、１３  ノイズ除去部、１４  判定部、１５  発報部、１６  情報センター、１７  基板寿命遠隔監視システム、１８  アナログ−デジタル変換部、１９  処理部、２０  遠隔監視通信部、２１  送信部、２２  受信部、２３  入力電源、２４  電源接続コネクタ、２５  充電用スイッチ素子、２６  充電抵抗、２７  放電抵抗、２８  放電用スイッチ素子、２９  発振部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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