(57)【要約】【課題】湾曲部をより円滑に検査することが可能な渦電流探傷プローブを提供する。【解決手段】渦電流探傷プローブ１００は、励磁コイル及び検出コイルを有する組コイルを含むプローブヘッドと、プローブヘッドに接続されたチューブ４０と、チューブ４０内に設けられた回路基板６１，６２，６３と、を備える。この構成によれば、配管の湾曲部をより円滑に検査することが可能な渦電流探傷プローブ、探傷方法を提供ことができる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
励磁コイル及び検出コイルを有する組コイルを複数有する検出部を含むプローブヘッドと、
該プローブヘッドに接続されたチューブと、
前記チューブ内に設けられた回路基板と、
を備える渦電流探傷プローブ。
【請求項２】
前記チューブの外径寸法は、前記検出部の外径寸法よりも小さい請求項１に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項３】
前記回路基板は、前記チューブ内に、前記チューブの延在方向に間隔をあけて複数設けられる請求項１又は２に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項４】
前記チューブは、検査対象の配管の湾曲に追従して曲げることが可能なフレキシブル部を含み、
少なくとも一つの前記回路基板は、前記フレキシブル部内に設けられている請求項１から３のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項５】
前記プローブヘッドの前記延在方向の長さをＬ１とし、前記プローブヘッドの前記チューブ側の端部から、最も前記プローブヘッド側に設けられる前記回路基板の前記プローブヘッド側の端部までの距離をＬ２としたとき、Ｌ２／Ｌ１の値が１以上２５以下の範囲である請求項１から４のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項６】
前記回路基板は複数設けられており、
各前記回路基板は、
前記励磁コイルが発生させる磁束に乱れが生じた場合に、当該磁束の乱れを電圧量の変化として前記検出コイルが検出した前記電圧量の変化を増幅する増幅回路と、
前記複数の検出コイルから、動作させる前記検出コイルを選択する選択回路と、
前記増幅回路及び前記選択回路に電源を供給する電源回路と、
のうちいずれか一つを有する請求項１から５のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項７】
前記複数の回路基板は、それぞれ独立した回路ケースに収められており、前記回路ケースは前記チューブ内に設けられる請求項１から６のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項８】
前記チューブは、内径が前記チューブの内径よりも大きい凹部を内側に有しており、
前記回路ケースは、前記凹部に前記チューブの内側から接触可能な爪部を有する請求項７に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項９】
前記プローブヘッドは、マルチコイル型の前記検出部を含む請求項１から８のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブ。
【請求項１０】
励磁コイル及び検出コイルを有する組コイルを複数含むプローブヘッドと、
該プローブヘッドに接続されて、前記プローブヘッドを有するチューブと、
前記プローブヘッドの延在方向において、前記チューブ側に設けられた一つ以上の回路基板と、
を備え、
前記回路基板の少なくとも一辺の長さが前記チューブの内径寸法以下であるとともに、
前記プローブヘッドの前記延在方向の長さをＬ１とし、前記プローブヘッドの前記チューブ側の端部から、最もプローブヘッド側に設けられる前記回路基板のプローブヘッド側の端部までの距離をＬ２としたとき、Ｌ２／Ｌ１の値が１以上２５以下の範囲である渦電流探傷プローブ。
【請求項１１】
蒸気発生器の伝熱管を内側から探傷する探傷方法であって、
前記伝熱管は、直線状に延びる一対の直管部と、
該一対の直管部同士の間を接続するとともに湾曲して延びる湾曲部と、
を有し、
前記直管部の一端から、請求項１から１０のいずれか一項に記載の渦電流探傷プローブを挿入して、前記一対の直管部及び前記湾曲部を探傷し、前記直管部の前記一端から前記渦電流探傷プローブを取り出す工程を含む探傷方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、渦電流探傷プローブ、探傷方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
加圧水型原子力発電所では、高温高圧の蒸気を発生させるために、蒸気発生器と呼ばれる装置が用いられる。蒸気発生器では、Ｕ字状に湾曲した伝熱管が複数並べられている。伝熱管内には高温高圧の一次冷却水が流通することから、当該伝熱管に応力腐食割れを含む種々の劣化や傷が生じる可能性がある。
【０００３】
そこで、このような劣化や傷を検出するための技術が必要となる。このような技術の一例として、下記特許文献１に記載された細管検査用プローブが知られている。この細管検査用プローブは、探傷用コイルと、このコイルを保持するコイル保持部と、コイル保持部に接続されて、ケーブル（リード線）を収めるナイロンチューブと、を備えている。このプローブを細管内に徐々に挿入しながら、細管の劣化部位や傷の発生箇所を検知することができる。具体的には、コイルに通電することで渦電流を発生させるとともに、コイルから複数の磁束を発生させる。劣化や傷が存在するとこれらの磁束に乱れが生じる。これにより、劣化部位や傷の発生箇所を検知することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−２８５８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、蒸気発生器の伝熱管は、上述のようにＵ字状に湾曲している。特に、内側に配置された伝熱管では、曲率半径の小さい湾曲部位が存在する。このため、上記特許文献１に記載された装置では、湾曲部位を円滑に通過することができず、探傷検査を行うに当たって困難が生じる可能性がある。
【０００６】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、湾曲部をより円滑に検査することが可能な渦電流探傷プローブ、探傷方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様に係る渦電流探傷プローブは、励磁コイル及び検出コイルを有する組コイルを複数有する検出部を含むプローブヘッドと、該プローブヘッドに接続されたチューブと、前記チューブ内に設けられた回路基板と、前記チューブ内で、前記励磁コイル及び検出コイルをいずれかの回路基板に接続する配線と、を備える。
【０００８】
上記構成によれば、複数の回路基板が、チューブ内に設けられている。したがって、渦電流探傷プローブ全体の径をチューブの径に合わせて小さくできる。これにより、曲率半径の小さな伝熱管であっても、プローブヘッド及びチューブを円滑に通過させることができる。
【０００９】
上記渦電流探傷プローブでは、前記チューブの外径寸法は、前記検出部の外径寸法よりも小さくてもよい。
【００１０】
上記構成によれば、検出部の外径寸法よりもチューブの外径寸法が小さいことから、チューブを検査対象の配管の中で曲げても配管と接しづらくなるため、配管内でチューブを自在に取り回すことができる。これにより、曲率半径の小さな伝熱管において、検出部及びチューブを円滑に通過させることができる。
【００１１】
上記渦電流探傷プローブでは、前記回路基板は、前記チューブ内に、前記チューブの延在方向に間隔をあけて複数設けられてもよい。
【００１２】
上記構成によれば、回路基板を複数設けることで、回路毎に機能を分けることができる。
【００１３】
上記渦電流探傷プローブでは、前記チューブは、検査対象の配管の湾曲に追従して曲げることが可能なフレキシブル部を含み、少なくとも一つの前記回路基板は、前記フレキシブル部内に設けられていてもよい。
【００１４】
上記構成によれば、フレキシブル部は湾曲に追従して曲げることができ、このフレキシブル部の中に回路基板が設けられるため、検査対象の配管が湾曲している場合であっても、湾曲部分において、チューブと共に基板を通過させることができる。
【００１５】
上記渦電流探傷プローブでは、前記プローブヘッドの前記延在方向の長さをＬ１とし、前記プローブヘッドの前記チューブ側の端部から、最も前記プローブヘッド側に設けられる前記回路基板の前記プローブ側の端部までの距離をＬ２としたとき、Ｌ２／Ｌ１の値が１以上２５以下の範囲であってもよい。
【００１６】
上記構成によれば、回路基板をプローブヘッドの近くに配置することができることにより、ノイズを低減できる。
【００１７】
上記渦電流探傷プローブでは、前記回路基板は複数設けられており、各前記回路基板は、前記励磁コイルが発生させる磁束に乱れが生じた場合に、当該磁束の乱れを電圧量の変化として検出コイルが検出した前記電圧量の変化を増幅する増幅回路と、前記複数組の検出コイルから、動作させる前記検出コイルを選択する選択回路と、前記増幅回路及び前記選択回路に電源を供給する電源回路と、のうちいずれか一つを有してもよい。
【００１８】
上記構成によれば、電源回路、増幅回路、選択回路がそれぞれ異なる回路基板に分けて配置されている。言い換えると、回路機能ごとに異なる回路基板が設けられている。したがって、回路基板の配置の自由度を高めることができる。例えば一つの回路ケースに複数の回路基板を収めた構成に比べて、一つの回路ケースの大きさを小さくすることができる。
【００１９】
上記渦電流探傷プローブでは、前記複数の回路基板は、それぞれ独立した回路ケースに収められていてもよい。
【００２０】
上記構成によれば、回路基板を回路ケースによって保護することができる。
【００２１】
上記渦電流探傷プローブでは、前記チューブは、内径が前記チューブの内径よりも大きい凹部を内側に有しており、
前記回路ケースは、前記凹部に前記チューブの内側から接触可能な爪部を有してもよい。
【００２２】
上記構成によれば、回路ケースの爪部が凹部に接触可能であることにより、チューブ内で回路ケースが軸方向に移動してしまうことを抑制できるため、回路ケースの位置を安定させることができる。
【００２３】
上記渦電流探傷プローブでは、前記プローブヘッドは、マルチコイル型の前記検出部を含んでもよい。
【００２４】
上記構成によれば、プローブヘッドによる傷や損傷の検出精度を向上させることができる。
【００２５】
本発明の一態様に係る渦電流探傷プローブは、励磁コイル及び検出コイルを有する組コイルを複数含むプローブヘッドと、該プローブヘッドに接続されて、前記プローブヘッドを有するチューブと、前記プローブヘッドの延在方向において、前記チューブ側に設けられた一つ以上の回路基板と、を備え、前記回路基板の少なくとも一辺の長さが前記チューブの内径寸法以下であるとともに、前記プローブヘッドの前記延在方向の長さをＬ１とし、前記プローブヘッドの前記チューブ側の端部から、最も前記プローブヘッド側に設けられる前記回路基板の前記プローブヘッド側の端部までの距離をＬ２としたとき、Ｌ２／Ｌ１の値が１以上２５以下の範囲である。
【００２６】
上記構成によれば、回路基板をプローブヘッドの近くに配置することができることにより、ノイズを低減できる。
【００２７】
本発明の一態様に係る探傷方法は、蒸気発生器の伝熱管を内面側から探傷する探傷方法であって、前記伝熱管は、直線状に延びる一対の直管部と、該一対の直管部同士の間を接続するとともに湾曲して延びる湾曲部と、を有し、前記直管部の一端から、上記いずれか一態様に係る渦電流探傷プローブを挿入して、前記一対の直管部及び前記湾曲部を探傷し、前記直管部の前記一端から前記渦電流探傷プローブを取り出す工程を含む。
【００２８】
上記の渦電流探傷プローブでは、複数の回路基板が、チューブの延在方向に間隔をあけて当該チューブ内に設けられている。したがって、渦電流探傷プローブ全体の径をチューブの径に合わせて小さくできる。これにより、曲率半径の小さな伝熱管であっても、検出部及びチューブを円滑に通過させることができる。また、一方の直管部の一端から渦電流探傷プローブを挿入したのち、湾曲部を経て他方の直管部まで渦電流探傷プローブを通過させることで、一回の操作で一つの伝熱管を検査することができる。これにより、検査に要する時間を削減することができ、原子力発電所の定期検査期間の短縮に繋がり、早期に稼働することができる。なお、この際に検査は挿入及び引抜きの少なくともどちらかで実施してもよい。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、湾曲部をより円滑に検査することが可能な渦電流探傷プローブ、探傷方法を提供ことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施形態に係る蒸気発生器の構成を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施形態に係る蒸気発生器のＵベンド部の縦断面図である。
【図３】本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの概要図である。
【図４】本発明の実施形態に係るチューブ内の構成を示す断面図である。
【図５】図４のＡ−Ａ線における断面図である。
【図６】本発明の実施形態に係る探傷方法の一例を示す説明図である。
【図７】本発明の実施形態に係る探傷方法の各工程を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブの変形例を示す図である。
【図９】本発明の実施形態に係る渦電流探傷プローブのさらなる変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
本発明の実施形態について、図１から図７を参照して説明する。本実施形態に係る渦電流探傷用プローブは、蒸気発生器１内に設けられた伝熱管１５の劣化部位や傷を検出するために用いられる。
【００３２】
蒸気発生器１は、例えば、加圧水型原子炉（ＰＷＲ：Ｐｒｅｓｓｕｒｉｚｅｄ Ｗａｔｅｒ Ｒｅａｃｔｏｒ）に用いられる。加圧水型原子炉は、原子炉冷却材及び中性子減速材として軽水を使用しており、この軽水を一次冷却材として用いる。加圧水型原子炉は、一次冷却材を、炉心全体にわたって沸騰しない高温高圧水として、蒸気発生器１に送る。
【００３３】
図１に示す蒸気発生器１は、上下方向に延在し、かつ、密閉された中空円筒形状であって、上半部に対して下半部の方が小径をなす胴部２を備えている。胴部２の下端側には水室２１が配置され、上端側には蒸気排出口２２が配置されている。下半部から上半部にかけての領域には、胴部２の内壁面に間隔をあけて配列された円筒状の管群外筒（ラッパー管）３が設けられている。この管群外筒３の下端部は、胴部２の下半部内の下方に配置された管板（不図示）まで延在している。管群外筒３内には、複数の伝熱管１５を有する熱交換器２０が設けられている。
【００３４】
この熱交換器２０は、Ｕベンド部１０を有する。Ｕベンド部１０は、複数の伝熱管１５を全体として半球状をなすように配列したものである。それぞれの伝熱管１５は、曲がり部１５Ｕを有している。すなわち、これら曲がり部１５Ｕ同士が互いに重なり合うように配列されることで、全体として半球状をなすＵベンド部１０が形成されている。Ｕベンド部１０は複数の伝熱管１５を有している。
【００３５】
各伝熱管１５は、管状をなす部材であって、それぞれ下端が図１に示す水室２１に接続された一対の直線部と、これら直線部の上端部同士を接続する曲がり部１５Ｕと、を有している。複数の伝熱管１５を配列することで、１つの伝熱管群１６が構成されている。
【００３６】
伝熱管群１６は、曲がり部１５Ｕの大きさが互いに異なる複数の伝熱管１５を、曲がり部１５Ｕの径が小さいものから順に該曲がり部１５Ｕの外側に向かって配列することで構成されている。このとき、各伝熱管１５の直線部は互いに平行をなしている。これにより、上記のように同一平面内に配列された複数の伝熱管１５を有する伝熱管群１６が形成されている。
【００３７】
熱交換器本体１１は、伝熱管群１６を複数積層することで構成される。このように伝熱管群１６が積層されることで、熱交換器本体１１の頂部では、複数の曲がり部１５Ｕが全体として半球状をなすＵベンド部を形成する。このＵベンド部１０は、熱交換器２０の上方を向くようにして配置される。
【００３８】
このような熱交換器本体１１は、胴部２の内側に固定された管支持板２３に支持されている。即ち、管支持板には、多数の貫通孔が形成されており、この貫通孔内に各伝熱管１５が非接触状態で挿通されている。言い換えれば、各伝熱管群１６における複数の伝熱管１５は、隣り合う他の伝熱管１５との間に間隙を形成するように配置されている。
【００３９】
次に、渦電流探傷プローブ１００の構成について、図３から図５を参照して説明する。渦電流探傷プローブ１００は、プローブヘッド３１と、チューブ４０と、チューブ４０の延在方向（軸方向）に沿って設けられる複数の回路ケース５０と、配線Ｃと、を有している。
【００４０】
プローブヘッド３１は、検出部３０と、この検出部３０に取り付けられた一対のスタビライザ３２と、を有している。検出部３０は円筒状をなしており、励磁コイル、及び検出コイルが取り付けられている。励磁コイル、及び検出コイルは、外部から供給された電力によって磁界を発生させる。この磁界の磁束によって誘導電流（渦電流）が発生する。例えば上述の伝熱管１５に傷や劣化部位がある場合、この磁束に乱れが生じる。この乱れを検出コイルが検知することによって、傷や劣化の生じた部位を特定することができる。なお、検出部３０に適用可能なコイル形式には、ボビン型、パンケーキ型、マルチコイル型等が含まれる。
【００４１】
本実施形態において、検出部３０の外径寸法は、（検出部３０の外径／検査対象となる伝熱管の内径寸法）２×１００で表される面積比が６０％以上となるように設定される。例えば、検査対象となる伝熱管１５の内径寸法２０ｍｍに対してプローブヘッド３１の外径を１６ｍｍに設定すると、この場合の面積比は６６％となる。
【００４２】
軸方向における検出部３０の両端部を含む部分には、それぞれ１つずつのスタビライザ３２が取り付けられている。スタビライザ３２は、検出部３０よりも大きな外径寸法を有する筒状をなしている。スタビライザ３２の外径寸法は、検査対象となる伝熱管１５の内径寸法と同一の値か、わずかに大きい値に設定されている。このため、伝熱管１５の内壁にスタビライザ３２を沿わせて渦電流探傷プローブ１００を挿入できる。また、プローブヘッド３１を伝熱管１５内で進行させるに際しては、検出部３０が伝熱管１５の中心軸に沿っている必要がある。検出部３０がこの中心軸からずれる方向に変位した場合、スタビライザ３２弾性復元力を発揮する。この弾性復元力によって、検出部３０は再び中心軸上の位置に復帰する。
【００４３】
プローブヘッド３１の一端側には、配線Ｃを収めるチューブ４０が接続されている。チューブ４０は、伝熱管１５内を通る部分を含む部材であり、チューブ４０の外径は伝熱管１５の内径よりも小さい。また、チューブ４０は、配管の湾曲に追従して湾曲部を通過することができるようになっている。例えば、チューブ４０は、伝熱管１５の内面に沿って湾曲部を通ることができるフレキシブルな部材であってもよいし、複数の剛性部材どうしをつなぐ関節部材を持つ構成としてもよい。本実施形態では、チューブ４０は、伝熱管１５の湾曲に追従して自在に曲げることが可能なフレキシブル部４０Ｆを有する。一例として、フレキシブル部４０Ｆは、径寸法が相対的に大きい大径部４１と、径寸法が相対的に小さい小径部４２とが交互に配列されることで形成されている。チューブ４０を曲げようとする力が加わった場合、大径部４１によって剛性を維持しつつ、小径部４２が大径部４１よりも大きく屈曲する。これにより、チューブ４０の曲げやすさが確保されている。また、チューブ４０は、弾性変形可能な材料（例えば樹脂材料）によって形成されている。なお、チューブ４０は、回路基板を保護するために二重構造になっていてもよい。
【００４４】
続いて、図４と図５を参照して、本実施形態のチューブ４０の構成について説明する。図４に示すように、チューブ４０には、それぞれ異なる回路基板６１，６２，６３を収める複数の独立した回路ケース５０と、これら回路基板６１，６２，６３を接続する配線Ｃとが収められている。回路ケース５０は、回路基板を収めて保護するためのものであり、一例では、ある程度の剛性を持った素材であることが望ましい。なお、従来は、それぞれ異なる回路基板をまとめて一つの回路ケースに収めていたため、回路ケースが大きくなり、渦電流探傷プローブ全体の径を小さくするのが難しかった。
【００４５】
各回路ケース５０は、チューブ４０の中心軸Ｏと同軸の円筒状をなしている（図５参照）。回路ケース５０の各寸法は以下のように設定されている。回路ケース５０の外径寸法をｄ１とし、チューブ４０の内径をｄ２とした時、ｄ１／ｄ２の値は、０．９≦ｄ１／ｄ２≦０．９９とされている。ｄ１／ｄ２をこのような範囲とすることで、チューブ４０内での回路ケース５０の径方向位置を安定させることができる。回路ケース５０の長さをＭとした時、Ｍ／ｄ２の値は、２≦Ｍ／ｄ２≦３とされている。Ｍ／ｄ２をこのような範囲とすることで、回路ケース５０に回路基板を収めると同時に、チューブ４０を曲げやすくすることができる。複数の回路ケース５０間の間隔をＰとしたとき、Ｐ／ｄ２の値は、２≦Ｐ／ｄ２≦４．５とされている。Ｐ／ｄ２をこのような範囲とすることで、チューブ４０の曲げやすさを維持しつつ、ノイズを低減することができる。
【００４６】
チューブ４０内の各回路ケース５０は、プローブヘッド側から順に、第一回路ケース５１、第二回路ケース５２、第三回路ケース５３とされている。これら回路ケース５０は、チューブ４０の延在方向に間隔をあけて配列されている。各回路ケース５０内には、それぞれ回路機能が異なる回路基板６１，６２，６３が収められている。一例として、第一回路ケース５１内には、増幅回路及び選択回路を有する回路基板６１が収められている。第二回路ケース５２内には、制御回路を有する回路基板６２が収められている。第三回路ケース５３内には、電源回路を有する回路基板６３が収められている。なお、回路ケースの数は３個に限定されず、必要に応じ適宜増減させてもよい。
【００４７】
励磁コイルの周囲に磁束が発生すると、例えば伝熱管１５に傷や劣化が存在する場合、これら傷や劣化に基づいて、磁束に乱れが生じる。この磁束の乱れは電圧量の変化として顕在化する。検出コイルは、この電圧量の変化を検出する。増幅回路は、さらにこの電圧量の変化を増幅して外部の計測装置に送出する。選択回路は、複数組の検出コイルから、電圧量の変化を検出する対象（動作させる対象）となる検出コイルを選択する。電源回路は、増幅回路及び選択回路に電源を供給する。
【００４８】
プローブヘッド３１から出た配線Ｃは、第一回路ケース５１内の回路基板６１に接続され、その後、第二回路ケース５２内の回路基板６２、第三回路ケース５３内の回路基板６３に接続されている。
【００４９】
本実施形態では、図４に示すように、チューブ４０は、内径がチューブ４０の内径ｄ２よりも大きい内径の凹部４４を内側に有している。回路ケース５０は、凹部４４にチューブ４０の内側から接触可能となるよう、径方向外側に向かって突出する爪部５０Ａを有している。これにより、爪部５０Ａが凹部４４に接触すると、チューブ４０内で回路ケース５０が軸方向に移動してしまうことを抑制できる。これにより、チューブ４０内における回路ケース５０の位置を安定させることができる。なお、図４に示す例では、一つの回路ケース５０に対して一つの爪部５０Ａが周方向に沿って延在しているが、これに限らず、爪部５０Ａは軸方向に沿って複数設けられてもよい。また、爪部５０Ａは周方向に沿って延在していなくてもよく、周方向に沿って突起が複数設けられる構成としてもよい。また、一例として、チューブは軸方向に一定の外形寸法を有していてもよく、チューブの内径よりも大きい内径の凹部をチューブの内側に有していれば、爪部５０Ａを接触可能とすることができる。
【００５０】
本実施形態では、図３に示すように、プローブヘッド３１の長さをＬ１とし、プローブヘッド３１のチューブ側の端部からもっともプローブヘッド側に設けられる回路基板６１のプローブヘッド側の端部までの長さをＬ２とした時、Ｌ２／Ｌ１の値は１≦Ｌ２／Ｌ１≦２５の範囲に配置される。ノイズ低減の効果を得るためには回路基板は検出部３０に近い方がよく、チューブ４０の曲げやすさを向上させるためには、回路基板とプローブヘッド３１はある程度離れていた方がよい。Ｌ２／Ｌ１は、２以上２１以下であれば好ましく、さらに、３以上１０以下であればより好ましい。
【００５１】
なお、上記の例ではチューブ４０の曲がりに追従して、回路基板６１〜６３を接続する配線Ｃが曲がる構成を採っているが、回路基板自体にフレキシブルな素材を用いることで回路基板も曲がりに追従するように構成してもよい。例えば、１枚のフレキシブルな素材の回路基板上で回路、電源回路、増幅回路等の機能を分離させてもよい。
【００５２】
次に、上記の渦電流探傷プローブ１００を用いた伝熱管１５内の探傷方法について説明する。図６に示すように、この探傷方法を説明するに当たっては、伝熱管１５が、直線状に延びる一対の直管部１５Ａと、これら一対の直管部１５Ａ同士を接続するとともに、湾曲して延びる湾曲部１５Ｂ（上述の曲がり部１５Ｕ）とを有するものとする。探傷検査を行う場合、一対の直管部１５Ａの一方の端部から、上記の渦電流探傷プローブ１００を挿入させたのち湾曲部１５Ｂ、及び他方の直管部１５Ａへ連続して挿入する。検査は、挿入の間または挿入後の引き抜きの間の少なくとも一方で実施する（挿入・引き抜き・検査工程Ｓ１）。
【００５３】
なお、従来は、伝熱管の一端側の直管部と他端側の直管部、湾曲部の３か所をそれぞれ分けて検査することがあった。この場合、一端側及び他端側のそれぞれから渦電流探傷プローブを挿入するため、一端側から他端側への渦電流探傷プローブの移動に時間を要していた。
【００５４】
以上、説明したように、上記構成によれば、複数の回路基板６１，６２，６３が、チューブ４０の延在方向に間隔をあけて当該チューブ４０内に設けられている。したがって、例えば複数の回路が一つの回路ケース収められている構成に比べて、チューブ４０の曲がりやすさを向上させることができる。これにより、曲率半径の小さな伝熱管１５において、プローブヘッド３１及びチューブ４０を円滑に通過させることができる。
【００５５】
さらに、上記構成によれば、検出部３０の外径寸法よりもチューブ４０の外径寸法が小さいことから、伝熱管１５内でチューブ４０を自在に取り回すことができる。これにより、曲率半径の小さな伝熱管１５において、プローブヘッド３１及びチューブ４０を円滑に通過させることができる。
【００５６】
上記構成によれば、複数の回路ケース５０のそれぞれに、増幅回路、選択回路、制御回路、及び電源回路が分散配置されている。言い換えると、回路機能ごとに異なる回路基板が設けられている。したがって、例えば一つの回路ケースに複数の回路基板を収めた構成に比べて、一つの回路ケースの大きさを小さくすることができる。
【００５７】
上記構成によれば、回路ケース５０が、チューブ４０と同軸の筒状をなしていることから、当該回路ケース５０がチューブ４０の曲がりやすさを妨げる可能性を低減することができる。また、チューブ４０が曲がった場合には、回路基板を回路ケース５０によって保護することができる。
【００５８】
加えて、上記の構成によれば、曲率半径の小さな伝熱管においても、検出部及びチューブ４０を円滑に通過させることができる。したがって、従来のように伝熱管の一端と他端からそれぞれ渦電流探傷プローブを挿入する必要がない。言い換えると、本実施形態に係る探傷方法では、一方の直管部１５Ａの一端から渦電流探傷プローブ１００を挿入したのち、湾曲部１５Ｂ及び他方の直管部１５Ａを通過させた後、渦電流探傷プローブ１００を引き戻し、挿入した一端側から渦電流探傷プローブ１００を取り出すことで、一回の操作で一つの伝熱管１５を検査することができる。これにより、検査に要する時間を削減することができ、原子力発電所の定期検査期間の短縮に繋がり、早期に稼働することができる。
【００５９】
以上、本発明の実施形態について説明した。なお、本発明の要旨を逸脱しない限りにおいて、上記の構成や方法に種々の変更や改修を施すことが可能である。例えば、上記実施形態では、伝熱管１５を探傷検査する例を説明した。しかしながら、検査対象は伝熱管１５に限定されず、比較的に内径の小さい湾曲した管材であれば、いかなるものにも上記実施形態の構成、及び方法を適用することが可能である。
【００６０】
次に、本発明の変形例について、図８と図９を参照して説明する。本変形例では、図８に示すように、プローブヘッド３１の他端側に、チューブ４０とは軸方向において反対側に向かって延在するガイド部Ｇを設けてもよい。ガイド部Ｇは、先端部Ｇ１と中間部Ｇ２とを有する。ガイド部Ｇの素材は、チューブ４０と同じでもよいし、異なっていてもよい。異なる素材とする場合、例えば樹脂製のチューブ等を用いることができる。なお、本変形例では、回路基板が収められた各回路ケース５０は、ガイド部Ｇではなくチューブ４０内に設けられている。
【００６１】
本変形例によれば、プローブヘッド３１の他端側にガイド部Ｇが設けられているため、プローブヘッド３１よりも先にガイド部Ｇを曲がり部１５Ｕ又は直管部１５Ａへと移動させることができる。これにより、伝熱管１５内でプローブヘッド３１をスムーズに案内することができる。
【００６２】
また、さらなる変形例として、チューブ４０やガイド部Ｇの外周側にガイド玉Ｇｂを設けても良い。本変形例では、ガイド玉Ｇｂは、渦電流探傷プローブ１００の延在方向に沿って間隔をあけて複数設けられており、それぞれの径がチューブ４０の径よりも大きく設定されている。ガイド玉Ｇｂの素材としては、例えばナイロン等、伝熱管１５の内壁を傷つけにくく、摺動性のある素材を用いることができる。
【００６３】
なお、図８に示す例では、ガイド部Ｇのみにガイド玉Ｇｂが設けられているが、本発明はこれに限られるものではない。例えば、図９に示すように、ガイド部Ｇだけでなくチューブ４０にもガイド玉Ｇｂを設けても良いし、図示は省略するが、チューブ４０のみにガイド玉Ｇｂを設けることもできる。
【００６４】
これらの変形例によれば、チューブ４０又はガイド部Ｇのうち少なくともどちらか一方にガイド玉Ｇｂが設けられているため、チューブ４０やガイド部Ｇが直接伝熱管１５の内壁に接触することを抑制できる。これにより、渦電流探傷プローブ１００の挿入性を向上することができる。
【符号の説明】
【００６５】
１    蒸気発生器
２    胴部
３    管群外筒
１０  Ｕベンド部
１１  熱交換器本体
１５  伝熱管
１５Ａ  直管部
１５Ｂ  湾曲部
１５Ｕ  曲がり部
１６  伝熱管群
２０  熱交換器
２１  水室
２２  蒸気排出口
２３  管支持板
３０  検出部
３１  プローブヘッド
３２  スタビライザ
４０  チューブ
４０Ｆ  フレキシブル部
４１  大径部
４２  小径部
４４  凹部
５０  回路ケース
５０Ａ  爪部
５１  第一回路ケース
５２  第二回路ケース
５３  第三回路ケース
６１，６２，６３  回路基板
１００  渦電流探傷プローブ
Ｃ  配線
Ｇ  ガイド部
Ｇ１  先端部
Ｇ２  中間部
Ｇｂ  ガイド玉Ｌ  配線
Ｏ  中心軸
Ｓ１  挿入・引抜・検査工程
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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