(57)【要約】【課題】減衰力特性を滑らかにすることが可能となる緩衝器を提供する。【解決手段】第１通路１３０で減衰力を発生させる第１減衰力発生機構４１と、内部に第２通路１４０が形成されるハウジング５６と、ハウジング５６の底部７１との間にハウジング内室１０２を形成する区画ディスク６９と、を有し、第１減衰力発生機構４１は、第１メインバルブ１２１と、第１メインバルブ１２１に閉弁方向に圧力を作用させる第１パイロット室４０１と、を備え、第１パイロット室４０１から下流室２０への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２減衰力発生機構４４１が設けられ、第２減衰力発生機構４４１は、第１パイロット室４０１から下流室２０への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２メインバルブ５２と、第２メインバルブ５２に閉弁方向に圧力を作用させる第２パイロット室１０１と、を備えている。【選択図】図３
2020016288.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
作動流体が封入されるシリンダと、
前記シリンダの内部に摺動可能に設けられ前記シリンダ内に２室を画成するピストンと、
一端側部分が前記シリンダの内部で前記ピストンに固定され他端側部分が前記シリンダの外部にロッドガイドを介して突出するピストンロッドと、
前記ピストンの移動により前記シリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、
前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、
前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる第１減衰力発生機構と、
内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、
前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、
を有し、
前記第１減衰力発生機構は、
前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第１メインバルブと、
前記第１メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第１パイロット室と、
を備え、
前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２減衰力発生機構が設けられ、
前記第２減衰力発生機構は、
前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２メインバルブと、
前記第２メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第２パイロット室と、
を備えていることを特徴とする緩衝器。
【請求項２】
前記第２パイロット室は、前記ハウジングと前記ディスクと前記第２メインバルブとで構成されていることを特徴とする請求項１に記載の緩衝器。
【請求項３】
前記第２パイロット室は、前記ハウジングとは別のケースと前記第２メインバルブとで構成されていることを特徴とする請求項１に記載の緩衝器。
【請求項４】
前記ハウジングの筒部は、底部から前記ディスク側に離れるほど内径が大となるテーパ形状であることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の緩衝器。
【請求項５】
作動流体が封入されるシリンダと、
前記シリンダの内部に摺動可能に設けられ前記シリンダ内に２室を画成するピストンと、
一端側部分が前記シリンダの内部で前記ピストンに固定され他端側部分が前記シリンダの外部にロッドガイドを介して突出するピストンロッドと、
前記ピストンの移動により前記シリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、
前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、
前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる減衰力発生機構と、
内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、
前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、
を有し、
前記減衰力発生機構は、
前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブと、
前記メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室と、
を備え、
前記ハウジングの筒部は、底部から前記ディスク側に離れるほど内径が大となるテーパ形状であることを特徴とする緩衝器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、緩衝器に関する。
【背景技術】
【０００２】
緩衝器には、周波数に感応して減衰力が可変となるものがある（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２０１７／０４７６６１号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
緩衝器において、減衰力特性を滑らかにすることが求められている。
【０００５】
したがって、本発明は、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる緩衝器の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明の一の態様は、ピストンの移動によりシリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる第１減衰力発生機構と、内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、を有し、前記第１減衰力発生機構は、前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第１メインバルブと、前記第１メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第１パイロット室と、を備え、前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２減衰力発生機構が設けられ、前記第２減衰力発生機構は、前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２メインバルブと、前記第２メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第２パイロット室と、を備えている。
【０００７】
本発明の別の態様は、ピストンの移動によりシリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる減衰力発生機構と、内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、を有し、前記減衰力発生機構は、前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブと、前記メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室と、を備え、前記ハウジングの筒部は、底部から前記ディスク側に離れるほど内径が大となるテーパ形状である。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明に係る第１実施形態の緩衝器を示す断面図である。
【図２】本発明に係る第１実施形態の緩衝器のピストン周辺を示す部分断面図である。
【図３】本発明に係る第１実施形態の緩衝器の要部を示す片側断面図である。
【図４】本発明に係る第１実施形態の緩衝器の油圧回路図である。
【図５】本発明に係る第１実施形態の緩衝器の減衰力特性を示す特性線図である。
【図６】本発明に係る第２実施形態の緩衝器の要部を示す片側断面図である。
【図７】本発明に係る第２実施形態の緩衝器の周波数感応部周辺を示す片側断面図である。
【図８】本発明に係る第２実施形態の緩衝器のケース部材の筒部が区画ディスクのシール部から受ける緊迫力の圧力負荷に対する特性線図である。
【図９】本発明に係る第３実施形態の緩衝器の要部を示す片側断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［第１実施形態］
本発明に係る第１実施形態を図１〜図５に基づいて説明する。なお、以下においては、説明の便宜上、図面における上側を「上」とし、図面における下側を「下」として説明する。
【００１１】
第１実施形態の緩衝器１は、図１に示すように、いわゆる複筒型の油圧緩衝器であり、作動流体としての油液（図示略）が封入されるシリンダ２を備えている。シリンダ２は、円筒状の内筒３と、この内筒３よりも大径で内筒３を覆うように同心状に設けられた有底円筒状の外筒４と、外筒４の上部開口側を覆って設けられたカバー５とを有しており、内筒３と外筒４との間にリザーバ室６が形成されている。
【００１２】
外筒４は、円筒状の胴部材１１と、胴部材１１の下部側に嵌合固定されて胴部材１１の下部を閉塞する底部材１２とからなっている。底部材１２には、胴部材１１とは反対の外側に取付アイ１３が固定されている。
【００１３】
カバー５は、筒状部１５と筒状部１５の上端側から径方向内方に延出する内フランジ部１６とを有している。カバー５は、胴部材１１の上端開口部を内フランジ部１６で覆い胴部材１１の外周面を筒状部１５で覆うように胴部材１１に被せられており、この状態で、筒状部１５の一部が径方向内方に加締められて胴部材１１に固定されている。
【００１４】
緩衝器１は、シリンダ２の内筒３の内部に摺動可能に設けられたピストン１８を備えている。このピストン１８は、内筒３内に一方のシリンダ内室である上室１９と、他方のシリンダ内室である下室２０の２つの室を画成している。内筒３内の上室１９および下室２０内には作動流体としての油液が封入され、内筒３と外筒４との間のリザーバ室６内には作動流体としての油液とガスとが封入されている。
【００１５】
緩衝器１は、一端側部分がシリンダ２の内筒３の内部に配置されてピストン１８に連結固定されると共に他端側部分がシリンダ２の外部に突出するピストンロッド２１を備えている。ピストンロッド２１は、上室１９内を貫通しており、下室２０は貫通していない。よって、上室１９は、ピストンロッド２１が貫通するロッド側室であり、下室２０はシリンダ２の底側のボトム側室である。
【００１６】
ピストン１８およびピストンロッド２１は一体に移動する。ピストンロッド２１がシリンダ２からの突出量を増やす緩衝器１の伸び行程において、ピストン１８は上室１９側へ移動することになり、ピストンロッド２１がシリンダ２からの突出量を減らす緩衝器１の縮み行程において、ピストン１８は下室２０側へ移動することになる。
【００１７】
内筒３および外筒４の上端開口側には、ロッドガイド２２が嵌合されており、外筒４にはロッドガイド２２よりもシリンダ２の外部側である上側にシール部材２３が装着されている。ロッドガイド２２とシール部材２３との間には摩擦部材２４が設けられている。ロッドガイド２２、シール部材２３および摩擦部材２４は、いずれも環状をなしており、ピストンロッド２１は、これらロッドガイド２２、摩擦部材２４およびシール部材２３のそれぞれの内側に摺動可能に挿通されてシリンダ２の内部から外部に延出されている。ピストンロッド２１は、一端側部分がシリンダ２の内部でピストン１８に固定され他端側部分がシリンダ２の外部にロッドガイド２２、摩擦部材２４およびシール部材２３を介して突出する。
【００１８】
ロッドガイド２２は、ピストンロッド２１を、その径方向移動を規制しつつ軸方向移動可能に支持して、このピストンロッド２１の移動を案内する。シール部材２３は、その外周部で外筒４に密着し、その内周部で、軸方向に移動するピストンロッド２１の外周部に摺接して、内筒３内の油液と、外筒４内のリザーバ室６の高圧ガスおよび油液とが外部に漏洩するのを防止する。摩擦部材２４は、その内周部でピストンロッド２１の外周部に摺接して、ピストンロッド２１に摩擦抵抗を発生させる。なお、摩擦部材２４は、シールを目的とするものではない。
【００１９】
ロッドガイド２２は、その外周部が、下部よりも上部が大径となる段差状をなしており、小径の下部において内筒３の上端の内周部に嵌合し大径の上部において外筒４の上部の内周部に嵌合する。外筒４の底部材１２上には、下室２０とリザーバ室６とを画成するベースバルブ２５が設置されており、このベースバルブ２５に内筒３の下端の内周部が嵌合されている。外筒４の上端部は、図示せぬ一部が径方向内方に加締められており、この加締め部分とロッドガイド２２とがシール部材２３を挟持している。
【００２０】
ピストンロッド２１は、主軸部２７と、これより小径の取付軸部２８とを有している。ピストンロッド２１は、主軸部２７が、ロッドガイド２２、シール部材２３および摩擦部材２４に摺動可能に嵌合され、取付軸部２８がシリンダ２内に配置されてピストン１８等に連結されている。主軸部２７の取付軸部２８側の端部は、軸直交方向に広がる軸段部２９となっている。取付軸部２８の外周部には、軸方向の中間位置に軸方向に延在する通路溝３０が形成されており、軸方向の主軸部２７とは反対側の先端位置にオネジ３１が形成されている。通路溝３０は、取付軸部２８の周方向に間隔をあけて複数形成されており、ピストンロッド２１の中心軸線に直交する面での断面の形状が長方形、正方形、Ｄ字状のいずれかをなすように形成されている。
【００２１】
ピストンロッド２１には、主軸部２７のピストン１８とロッドガイド２２との間の部分に、いずれも円環状のストッパ部材３２および緩衝体３３が設けられている。ストッパ部材３２は、内周側にピストンロッド２１を挿通させており、主軸部２７の径方向内方に凹む固定溝３４に加締められて固定されている。緩衝体３３も、内側にピストンロッド２１を挿通させており、ストッパ部材３２とロッドガイド２２との間に配置されている。
【００２２】
緩衝器１は、例えばピストンロッド２１のシリンダ２からの突出部分が上部に配置されて車体により支持され、シリンダ２側の取付アイ１３が下部に配置されて車輪側に連結される。これとは逆に、シリンダ２側が車体により支持され、ピストンロッド２１が車輪側に連結されるようにしても良い。車輪が走行に伴って振動すると該振動に伴ってシリンダ２とピストンロッド２１との位置が相対的に変化するが、上記変化はピストン１８およびピストンロッド２１の少なくともいずれか一方に形成された流路の流体抵抗により抑制される。以下で詳述するごとくピストン１８およびピストンロッド２１の少なくともいずれか一方に形成された流路の流体抵抗は振動の速度や振幅により異なるように作られており、振動を抑制することにより、乗り心地が改善される。上記シリンダ２とピストンロッド２１との間には、車輪が発生する振動の他に、車両の走行に伴って車体に発生する慣性力や遠心力も作用する。例えばハンドル操作により走行方向が変化することにより車体に遠心力が発生し、この遠心力に基づく力が上記シリンダ２とピストンロッド２１との間に作用する。以下で説明するとおり、緩衝器１は車両の走行に伴って車体に発生する力に基づく振動に対して良好な特性を有しており、車両走行における高い安定性が得られる。
【００２３】
図２に示すように、ピストン１８は、ピストンロッド２１に支持される金属製のピストン本体３５と、ピストン本体３５の外周面に一体に装着されて内筒３内を摺動する円環状の合成樹脂製の摺動部材３６とによって構成されている。
【００２４】
ピストン本体３５には、上室１９と下室２０とを連通させる複数（図２では断面とした関係上一カ所のみ図示）の通路穴３７と、上室１９と下室２０とを連通させる複数（図２では断面とした関係上一カ所のみ図示）の通路穴３９とが設けられている。複数の通路穴３７は、ピストン本体３５の円周方向において、それぞれ間に一カ所の通路穴３９を挟んで等ピッチで形成されており、通路穴３７，３９のうちの半数を構成する。複数の通路穴３７は、ピストン１８の軸方向一側（図２の上側）が径方向外側に軸方向他側（図２の下側）が径方向内側に開口している。
【００２５】
これら通路穴３７内の通路部３８には、通路部３８を開閉して減衰力を発生させる減衰力発生機構４１（第１減衰力発生機構）が設けられている。減衰力発生機構４１は、ピストン１８の軸方向の一端側である下室２０側に配置されて、ピストンロッド２１に取り付けられている。減衰力発生機構４１が下室２０側に配置されることで、複数の通路部３８は、ピストン１８の上室１９側への移動、つまり伸び行程において上流側となる上室１９（上流室）から下流側となる下室２０（下流室）に向けて作動流体としての油液が流れ出す通路となる。これらの通路部３８に対して設けられた減衰力発生機構４１は、伸び側の通路部３８から下室２０への油液の流動を抑制して減衰力を発生させる伸び側の減衰力発生機構となっている。
【００２６】
図２に示す残りの半数を構成する通路穴３９は、円周方向において、それぞれ間に一カ所の通路穴３７を挟んで等ピッチで形成されており、ピストン１８の軸線方向他側（図２の下側）が径方向外側に軸線方向一側（図２の上側）が径方向内側に開口している。
【００２７】
そして、これら通路穴３９内の通路部４０には、通路部４０を開閉して減衰力を発生させる減衰力発生機構４２が設けられている。減衰力発生機構４２は、ピストン１８の軸方向の他端側である上室１９側に配置されて、ピストンロッド２１に取り付けられている。減衰力発生機構４２が上室１９側に配置されることで、複数の通路部４０は、ピストン１８の下室２０側への移動、つまり縮み行程において上流側となる下室２０から下流側となる上室１９に向けて油液が流れ出す通路となる。これらの通路部４０に対して設けられた減衰力発生機構４２は、縮み側の通路部４０から上室１９への油液の流動を抑制して減衰力を発生させる縮み側の減衰力発生機構となっている。
【００２８】
以上により、複数の通路穴３７内の通路部３８と複数の通路穴３９内の通路部４０とが、ピストン１８の移動により上室１９と下室２０との間を作動流体である油液が流れるように連通することになり、通路部３８は、ピストンロッド２１およびピストン１８が伸び側（図２の上側）に移動するときに油液が通過し、通路部４０は、ピストンロッド２１およびピストン１８が縮み側（図２の下側）に移動するときに油液が通過する。
【００２９】
ピストン本体３５は、略円板形状をなしており、その径方向の中央には、軸方向に貫通して、ピストンロッド２１の取付軸部２８を挿通させるための挿通穴４４が形成されている。挿通穴４４は、ピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる軸方向一側の小径穴部４５と、小径穴部４５よりも大径の軸方向他側の大径穴部４６とを有している。
【００３０】
ピストン本体３５の軸方向の下室２０側の端部には、通路穴３７の下室２０側の開口よりも径方向外側に、減衰力発生機構４１の一部を構成する環状のバルブシート部４７が形成されている。挿通穴４４は、大径穴部４６が小径穴部４５よりも軸方向のバルブシート部４７側に設けられている。また、ピストン本体３５の軸方向の上室１９側の端部には、通路穴３９の上室１９側の開口よりも径方向外側に、減衰力発生機構４２の一部を構成する環状のバルブシート部４８が形成されている。
【００３１】
ピストン本体３５において、バルブシート部４７の挿通穴４４とは反対側は、バルブシート部４７よりも軸線方向高さが低い段差状をなしており、この段差状の部分に縮み側の通路穴３９内の通路部４０の下室２０側の開口が配置されている。また、同様に、ピストン本体３５において、バルブシート部４８の挿通穴４４とは反対側は、バルブシート部４８よりも軸線方向高さが低い段差状をなしており、この段差状の部分に伸び側の通路穴３７内の通路部３８の上室１９側の開口が配置されている。
【００３２】
図３に示すように、ピストン１８のバルブシート部４７側には、軸方向のピストン１８側から順に、一枚のディスク５０と、一枚のディスク５１と、一枚のパイロットバルブ３５２と、一枚のディスク３５３と、一枚のディスク３５５と、一つのケース部材３５６と、一枚のパイロットバルブ５２（第２メインバルブ）と、複数枚のディスク５３と、一枚のバネディスク５４と、一枚のディスク５５と、一つのケース部材５６（ハウジング）と、複数枚のディスク５７と、一枚のディスク５８と、一枚のディスク５９と、一つの環状部材６０とが、ピストンロッド２１の取付軸部２８をそれぞれの内側に嵌合させて設けられている。ディスク５０，５１，５３，５５，５７〜５９，３５３，３５５、バネディスク５４、ケース部材５６，３５６および環状部材６０は、いずれも金属製である。ディスク５０，５１，５３，５５，５７〜５９，３５３，３５５および環状部材６０は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしている。バネディスク５４、パイロットバルブ５２，３５２およびケース部材５６，３５６は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な円環状をなしている。
【００３３】
ケース部材３５６は、有底筒状で環状であり、厚さ方向に貫通する貫通孔３７０が径方向の中央に形成された有孔円板状の底部３７１と、底部３７１の内周縁部から、底部３７１の軸方向に沿って両側に突出する円筒状の内側円筒状部３７２と、底部３７１の外周縁部から、底部３７１の軸方向に沿って一側に突出する円筒状の外側円筒状部３７３と、底部３７１の径方向における中間位置から、底部３７１の軸方向に沿って外側円筒状部３７３とは反対側に突出する環状のバルブシート部３７４と、を有している。ケース部材３５６の貫通孔３７０をピストンロッド２１の取付軸部２８が貫通している。底部３７１と内側円筒状部３７２と外側円筒状部３７３とバルブシート部３７４とは同軸状に配置されており、これらの中心軸線がケース部材３５６の中心軸線となっている。
【００３４】
底部３７１には、その径方向における外側円筒状部３７３およびバルブシート部３７４と、内側円筒状部３７２との間に、底部３７１の軸方向に沿って貫通する貫通穴３６７が形成されている。底部３７１には、貫通穴３６７が、底部３７１の周方向に間隔をあけて複数（図３では部分断面とした関係上一カ所のみ図示）形成されている。なお、貫通穴３６７は底部３７１に少なくとも一つ設けられていれば良い。
【００３５】
内側円筒状部３７２の内周の貫通孔３７０は、軸方向のバルブシート部３７４側に、ピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる小径穴部３７５が形成されており、軸方向のバルブシート部３７４とは反対側に、小径穴部３７５よりも大径の大径穴部３７６が形成されている。貫通孔３７０に挿通されたピストンロッド２１の取付軸部２８は、その一部が軸方向においてケース部材３５６内に配置されることになる。ピストン本体３５の大径穴部４６内と、取付軸部２８の通路溝３０内と、ケース部材３５６の大径穴部３７６内とが常時連通しており、これらが中間室８５を構成している。
【００３６】
ディスク５０は、バルブシート部４７の内径よりも小径の外径となっている。ディスク５０には、ピストンロッド２１の取付軸部２８に嵌合する内周縁部から径方向外側に延在する切欠８１が形成されている。切欠８１内の通路部８２は、一方でピストン１８の通路部３８に常時連通しており、他方で中間室８５に常時連通している。切欠８１内の通路部８２は、通路部３８に常時連通する上室１９と中間室８５との間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。
【００３７】
ディスク５１は、ピストン１８のバルブシート部４７の外径と略同等の外径となっている。ディスク５１は、バルブシート部４７に当接しており、バルブシート部４７に対し離間および当接することでピストン１８に形成された通路部３８の開口を開閉する。ディスク５１には、外周側に切欠９１が形成されており、切欠９１は、バルブシート部４７を径方向に横断している。よって、切欠９１の内側が、通路部３８を下室２０に常時連通させる固定オリフィス９２となっている。
【００３８】
パイロットバルブ３５２は、金属製のディスク３９５と、ディスク３９５に固着されるゴム製のシール部材３９６とからなっている。ディスク３９５は、内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしており、ディスク５１の外径よりも若干大径の外径となっている。シール部材３９６は、ディスク３９５の軸方向のピストン１８とは反対の外周側に固着されており、円環状をなしている。言い換えれば、パイロットバルブ３５２は、その外周部に環状のシール部材３９６を有している。
【００３９】
シール部材３９６は、ケース部材３５６の外側円筒状部３７３の内周面に全周にわたり摺動可能かつ液密的に嵌合しており、パイロットバルブ３５２と外側円筒状部３７３との隙間を常時シールする。言い換えれば、パイロットバルブ３５２は、シール部材３９６をケース部材３５６の外側円筒状部３７３に摺動可能かつ密に嵌合させている。
【００４０】
パイロットバルブ３５２とケース部材３５６と後述するパイロットバルブ５２との間が、パイロットバルブ３５２の背圧室となるパイロット室４０１（第１パイロット室）となる。パイロット室４０１は、貫通穴３６７内の通路部４０３を含んでいる。バルブシート部３７４は、パイロット室４０１のピストン１８とは反対側の開口部を囲んでいる。
【００４１】
ディスク３５３は、パイロットバルブ３５２のシール部材３９６の最小内径よりも小径の外径となっている。また、ディスク３５３は、ケース部材３５６の内側円筒状部３７２の先端面の外径と同等径かつ大径穴部３７６の内径よりも大径の外径となっている。
【００４２】
ディスク３５５は、パイロットバルブ３５２のシール部材３９６の最小内径よりも小径の外径となっている。また、ディスク３５５は、ケース部材３５６の内側円筒状部３７２の先端面の外径よりもよりも大径の外径となっている。ディスク３５５には、ピストンロッド２１の取付軸部２８に嵌合する内周縁部から径方向外側に延在する切欠４１５が形成されている。切欠４１５内の通路部４１６は、一方でパイロット室４０１に常時連通しており、他方で中間室８５に常時連通している。よって、パイロット室４０１は、この切欠４１５内の通路部４１６を介して中間室８５に常時連通している。切欠４１５内の通路部４１６は、パイロット室４０１と中間室８５との間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。パイロット室４０１は、ディスク３５５の通路部４１６と、中間室８５と、ディスク５０の通路部８２と、ピストン１８の通路部３８とを介して上室１９に常時連通している。
【００４３】
ケース部材５６は、有底筒状で環状であり、厚さ方向に貫通する貫通孔７０が径方向の中央に形成された有孔円板状の底部７１と、底部７１の内周縁部から、底部７１の軸方向に沿って両側に突出する円筒状の内側円筒状部７２と、底部７１の外周縁部から、底部７１の軸方向に沿って一側に突出する円筒状の外側円筒状部７３と、底部７１の径方向における中間位置から、底部７１の軸方向に沿って外側円筒状部７３とは反対側に突出する環状のバルブシート部７４と、を有している。ケース部材５６の貫通孔７０をピストンロッド２１の取付軸部２８が貫通している。底部７１と内側円筒状部７２と外側円筒状部７３とバルブシート部７４とは同軸状に配置されており、これらの中心軸線がケース部材５６の中心軸線となっている。
【００４４】
底部７１には、その軸方向の外側円筒状部７３側であって径方向の外側円筒状部７３側に、底部７１の中心軸線に対し直交する平坦な円環状のシート面６１を有するディスク当接部６２が形成されている。このディスク当接部６２の径方向の中間位置には、シート面６１から軸方向に凹むストッパ面６３を有する円環状の凹部６４が形成されている。凹部６４は深さが深くなるほど径方向の幅が狭くなる形状である。ストッパ面６３は、底部７１の中心軸線を含む面での断面が周方向位置によらず一定の円弧状をなしている。
【００４５】
底部７１には、軸方向の外側円筒状部７３側であって径方向のディスク当接部６２よりも内側に、径方向内側ほどシート面６１からの高さが高くなるテーパ面６５を有するテーパ部６６が形成されている。テーパ部６６は底部７１の径方向における内側円筒状部７２側の端部に設けられている。ディスク当接部６２と凹部６４とテーパ部６６とは、ケース部材５６の中心軸線と同軸状に配置されている。
【００４６】
底部７１には、凹部６４の最も深い底位置、すなわち凹部６４の径方向の幅の中央位置に、底部７１の軸方向に沿って貫通する貫通穴６７が形成されている。底部７１には、貫通穴６７が、底部７１の周方向に間隔をあけて複数（図３では部分断面とした関係上一カ所のみ図示）形成されている。なお、貫通穴６７は底部７１に少なくとも一つ設けられていれば良い。貫通穴６７は、底部７１の径方向において、バルブシート部７４よりも外側に配置されている。貫通穴６７内の通路部１０３は下室２０に常時連通する。
【００４７】
ケース部材５６内には、底部７１に対向して円環状の区画ディスク６９（ディスク）が配置されている。区画ディスク６９は、金属製の平板であり、その外径が、ディスク当接部６２のシート面６１の最大径、言い換えれば外側円筒状部７３の内径よりも若干小径かつストッパ面６３の最大径よりも大径であり、その内径が、ディスク当接部６２のシート面６１の最小径よりも若干大径かつストッパ面６３の最小径よりも小径となっている。これにより、区画ディスク６９は、ケース部材５６に対し、径方向移動が規制されるように外側円筒状部７３で案内されて軸方向に移動可能であり、凹部６４の径方向両側のシート面６１に面接触してストッパ面６３の全体を覆うようになっている。ピストンロッド２１の取付軸部２８は、区画ディスク６９も貫通している。
【００４８】
底部７１の凹部６４の最深位置に形成された貫通穴６７は、この区画ディスク６９と径方向の位置を合わせ軸方向に対向して設けられている。区画ディスク６９は、シート面６１に面接触することで貫通穴６７を閉塞し、シート面６１から離れることで貫通穴６７を開放する。また、区画ディスク６９は、凹部６４内に入り込むように弾性変形可能であり、その際に、ストッパ面６３とシート面６１との径方向両側の境界周縁部、あるいはストッパ面６３の全面に当接して、貫通穴６７の閉塞状態を維持する。
【００４９】
底部７１には、テーパ部６６の径方向の中間位置に、ケース部材５６の軸方向に沿って貫通する貫通穴６８が形成されている。貫通穴６８は底部７１の周方向に間隔をあけて複数（図３では部分断面とした関係上一カ所のみ図示）形成されている。貫通穴６８は、底部７１の径方向において、バルブシート部７４と内側円筒状部７２との間に配置されている。貫通穴６８は、ケース部材５６の径方向すなわち底部７１の径方向において貫通穴６７よりも内側に設けられている。
【００５０】
内側円筒状部７２の中央の貫通孔７０は、軸方向のバルブシート部７４側に、ピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる小径穴部７５が形成されており、軸方向のバルブシート部７４とは反対側に、小径穴部７５よりも大径の大径穴部７６が形成されている。この大径穴部７６内は、取付軸部２８の通路溝３０内と常時連通している。よって、大径穴部７６内も、ピストン本体３５の大径穴部４６、取付軸部２８の通路溝３０およびケース部材３５６の大径穴部３７６とともに中間室８５を構成している。貫通孔７０に挿通されたピストンロッド２１の取付軸部２８は、その一部が軸方向においてケース部材５６内に配置されることになる。
【００５１】
パイロットバルブ５２は、金属製のディスク９５と、ディスク９５に固着されるゴム製のシール部材９６とからなっている。ディスク９５は、内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしており、ケース部材３５６のバルブシート部３７４の外径と略同等の外径となっている。シール部材９６は、ディスク９５の軸方向のケース部材３５６とは反対の外周側に固着されており、円環状をなしている。言い換えれば、パイロットバルブ５２は、その外周部に環状のシール部材９６を有している。
【００５２】
シール部材９６は、ケース部材５６の外側円筒状部７３の内周面に全周にわたり摺動可能かつ液密的に嵌合しており、パイロットバルブ５２と外側円筒状部７３との隙間を常時シールする。言い換えれば、パイロットバルブ５２は、シール部材９６をケース部材５６の外側円筒状部７３に摺動可能かつ密に嵌合させている。
【００５３】
区画ディスク６９が貫通穴６７内の通路部１０３を閉塞した状態で、パイロットバルブ５２とケース部材５６と区画ディスク６９との間が、パイロットバルブ５２の背圧室となるパイロット室１０１（第２パイロット室）となる。言い換えれば、パイロット室１０１は、ケース部材５６と区画ディスク６９とパイロットバルブ５２とで構成されている。また、この状態で、ケース部材５６の底部７１の凹部６４と区画ディスク６９との間が、下室２０と連通する可変室１０２（ハウジング内室）となる。言い換えれば、区画ディスク６９は、ケース部材５６の底部７１との間に可変室１０２を形成している。よって、これら２つのパイロット室１０１および可変室１０２は、ケース部材５６内に区画ディスク６９により画成されて設けられている。
【００５４】
可変室１０２は通路部１０３に連通しており、通路部１０３を介して下室２０に常時連通している。パイロット室１０１、可変室１０２およびこれらを区画する区画ディスク６９は、ピストン１８の往復動の周波数（以下、ピストン周波数と称す）に感応して減衰力を可変とする周波数感応部１０４を構成している。
【００５５】
区画ディスク６９は、その内周側および外周側が共に全周にわたってディスク当接部６２のシート面６１に面接触で当接する状態と、その内周側および外周側が共に全周にわたってシート面６１とストッパ面６３との両側境界縁部に当接する状態と、全周にわたってストッパ面６３に接触する状態とにおいて、パイロット室１０１と可変室１０２との間の油液の流通を遮断する。また、区画ディスク６９は、底部７１から離間する状態では、パイロット室１０１と可変室１０２との間の油液の流通を許容する。バネディスク５４は、区画ディスク６９をシート面６１に当接するように付勢することになり、よって、バネディスク５４と、区画ディスク６９と、ケース部材５６のディスク当接部６２および凹部６４とが、パイロット室１０１側から可変室１０２側すなわち下室２０側への油液の流れを規制する一方、可変室１０２側すなわち下室２０側からパイロット室１０１側への油液の流れを許容するチェック弁１０５を構成している。
【００５６】
チェック弁１０５の弁体である区画ディスク６９は、その全体が、軸方向にクランプされることはなく、いずれの部品にも固定されていない。区画ディスク６９は、バネディスク５４に当接し、ケース部材５６の底部７１に対して当接および離間する。区画ディスク６９は、その全体が軸方向に移動可能なフローティングタイプのフリーバルブである。区画ディスク６９は、液圧以外の付勢がバネディスク５４のみでされてシート面６１に対し近接および離間する。チェック弁１０５の区画ディスク６９およびバネディスク５４は、いずれも金属のみからなり、ゴムシールを使っていない。区画ディスク６９およびバネディスク５４は、いずれもプレス加工で一体成形されている。
【００５７】
なお、バネディスク５４の付勢力を、区画ディスク６９が、パイロット室１０１および可変室１０２の圧力状態にかかわらず、パイロット室１０１および可変室１０２間の油液の流通を常時遮断するように設定しても良い。つまり、区画ディスク６９は、パイロット室１０１および可変室１０２間の両方向の流通を含む、少なくとも一方向への作動流体の流通を遮断すれば良い。
【００５８】
底部７１に凹部６４が形成されていることから、区画ディスク６９はケース部材５６内の作動流体により撓み可能であり、パイロット室１０１の圧力が可変室１０２の圧力よりも高くなると、パイロット室１０１と可変室１０２との連通を遮断しつつ、上記のように凹部６４内に入り込むように撓んでパイロット室１０１の容積を拡大させ、可変室１０２の容積を減少させるように変形する。また、この状態から、パイロット室１０１の圧力と可変室１０２の圧力との圧力差が小さくなると、区画ディスク６９は、パイロット室１０１と可変室１０２との連通を遮断しつつ、凹部６４内への入り込みを減らして可変室１０２の容積を増加させ、パイロット室１０１の容積を減少させるように変形する。また、可変室１０２の圧力がパイロット室１０１の圧力よりもバネディスク５４の付勢力分を越えて高くなると、区画ディスク６９は、バネディスク５４の付勢力に抗してシート面６１から離座して可変室１０２とパイロット室１０１とを連通させる。
【００５９】
複数枚のディスク５３は、同外径であり、パイロットバルブ５２のシール部材９６の最小内径よりも小径の外径となっている。また、複数枚のディスク５３は、ケース部材５６の内側円筒状部７２の外径よりも小径かつ大径穴部７６の内径よりも大径の外径となっている。
【００６０】
バネディスク５４は、ディスク５３の外径よりも大径でパイロットバルブ５２のシール部材９６の最小内径よりも小径の外径を有する平板状の基板部１１１と、基板部１１１から延出する押圧板部１１２とを有している。基板部１１１は円環状であり、押圧板部１１２は、基板部１１１の外周縁部から軸方向一側かつ径方向外方に傾斜しつつ延出している。押圧板部１１２は、基板部１１１の円周方向に間隔をあけて複数（図３では断面とした関係上一カ所のみ図示）形成されており、区画ディスク６９側に延出している。バネディスク５４は、複数の押圧板部１１２が、区画ディスク６９のパイロットバルブ５２側の面に当接して区画ディスク６９をシート面６１側に付勢してシート面６１に当接させる。
【００６１】
ディスク５５は、バネディスク５４の基板部１１１の外径よりも小径かつケース部材５６の内側円筒状部７２の外径よりも大径の外径となっている。ディスク５５には、ピストンロッド２１の取付軸部２８に嵌合する内周縁部から径方向外側に延在する切欠１１５が形成されている。切欠１１５内の通路部１１６は、一方でパイロット室１０１に常時連通しており、他方で中間室８５に常時連通している。よって、パイロット室１０１は、この切欠１１５内の通路部１１６を介して、中間室８５に常時連通している。ディスク５５の通路部１１６は、パイロット室１０１と中間室８５との間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。
【００６２】
ディスク５１は、上述したように、ピストン１８のバルブシート部４７に着座可能である。ディスク５１およびパイロットバルブ３５２が、メインバルブ１２１（第１メインバルブ）を構成している。メインバルブ１２１は、ピストン１８に形成された通路穴３７内の通路部３８に設けられてピストン１８の伸び側（図３の上側）への摺動によって生じる、一方の上流側の上室１９（上流室）から他方の下流側の下室２０（下流室）への油液の流れを抑制して減衰力を発生させる。
【００６３】
メインバルブ１２１は、ピストン１８のバルブシート部４７と共に減衰力発生機構４１（第１減衰力発生機構）を構成している。メインバルブ１２１は、そのディスク５１がバルブシート部４７から離座して開くと、通路部３８からの油液をピストン１８とケース部材３５６の外側円筒状部３７３との間で径方向に広がる通路部１２５を介して下室２０に流す。複数の通路穴３７のそれぞれの内側に形成された通路部３８と、メインバルブ１２１とバルブシート部４７との間と、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５とが通路１３０（第１通路）を構成している。この通路１３０は、ピストン１８の上室１９側への移動、つまり伸び行程においてシリンダ２内の上流室である上室１９から下流室である下室２０に向けて作動流体としての油液が流れ出す伸び側の通路となる。バルブシート部４７とメインバルブ１２１とからなる伸び側の減衰力発生機構４１は、この通路１３０に設けられており、メインバルブ１２１でこの通路１３０を開閉して油液の流動を抑制することにより減衰力を発生させる。減衰力発生機構４１は、ピストン１８の軸方向の一端側である下室２０側に配置されて、ピストンロッド２１に取り付けられている。
【００６４】
パイロットバルブ３５２とケース部材３５６とパイロットバルブ５２との間のパイロット室４０１は、メインバルブ１２１に、ピストン１８の方向、つまりディスク５１をバルブシート部４７に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。メインバルブ１２１は、このパイロット室４０１の圧力により開弁が調整される。すなわち、メインバルブ１２１を含む減衰力発生機構４１は、パイロット室４０１の圧力により開弁が調整される圧力制御型の減衰力発生機構である。
【００６５】
ディスク５０の通路部８２と、中間室８５と、ディスク３５５の通路部４１６とが、ピストン１８の通路部３８とパイロット室４０１とを常時連通させて通路部３８からパイロット室４０１に油液を導入する。
【００６６】
ケース部材３５６、メインバルブ１２１、ディスク３５３、ディスク３５５およびパイロットバルブ５２が、通路部３８と通路部８２と中間室８５と通路部４１６とを介して上室１９に連通するパイロット室４０１を有してメインバルブ１２１に背圧を付与してその開弁を制御する開弁制御機構４２７を構成している。
【００６７】
パイロットバルブ５２は、ディスク９５をケース部材３５６のバルブシート部３７４に着座させる。パイロットバルブ５２は、ケース部材３５６のバルブシート部３７４と共に減衰力発生機構４４１（第２減衰力発生機構）を構成している。パイロットバルブ５２は、バルブシート部３７４に離着座することで、パイロット室４０１を開閉して減衰力を発生させる。ピストン１８の上室１９側への移動、つまり伸び行程においてシリンダ２内の上流室である上室１９から通路部３８と通路部８２と中間室８５と通路部４１６とを介してパイロット室４０１に油液が流れることになり、パイロットバルブ５２は、そのディスク９５がバルブシート部３７４から離座して開くと、パイロット室４０１からの油液を、ケース部材３５６とケース部材５６との間で径方向に広がる通路部４２５を介して下流室である下室２０に流す。その際に、減衰力発生機構４４１は、そのパイロットバルブ５２が油液の流動を抑制して減衰力を発生させる。減衰力発生機構４４１は、減衰力発生機構４１のピストン１８とは反対側に配置されて、ピストンロッド２１に取り付けられている。
【００６８】
パイロットバルブ５２とケース部材５６と区画ディスク６９との間のパイロット室１０１は、ピストン１８の通路部３８と、ディスク５０の通路部８２と、中間室８５と、ディスク５５の通路部１１６とを介して上室１９に連通している。パイロット室１０１は、パイロットバルブ５２に、ケース部材３５６の方向、つまりディスク９５をバルブシート部３７４に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。減衰力発生機構４４１は、パイロット室１０１を含んでいる。減衰力発生機構４４１は、そのパイロットバルブ５２が、パイロット室１０１の圧力により開弁が調整される圧力制御型の減衰力発生機構である。すなわち、パイロットバルブ５２を含む減衰力発生機構４４１は、パイロット室１０１の圧力により開弁が調整される。
【００６９】
ケース部材５６、パイロットバルブ５２、複数枚のディスク５３、バネディスク５４、ディスク５５および区画ディスク６９が、制御機構部１２８を構成している。制御機構部１２８は、通路部３８と通路部８２と中間室８５と通路部１１６とを介して上室１９に常時連通するパイロット室１０１を有してパイロットバルブ５２に背圧を付与してその開弁を制御する開弁制御機構１２７を含んでいる。また、制御機構部１２８は、ピストン周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応部１０４を含んでおり、パイロット室１０１側から可変室１０２側すなわち下室２０側への油液の流れを規制する一方、可変室１０２側すなわち下室２０側からパイロット室１０１側への油液の流れを許容するチェック弁１０５を含んでいる。
【００７０】
複数枚のディスク５７は、同外径であり、バルブシート部７４の外径よりも若干大径の外径となっている。複数枚のディスク５７が、バルブシート部７４に離着座可能なディスクバルブ１３１を構成している。ディスクバルブ１３１は、バルブシート部７４から離座することで、貫通穴６８内の通路部１３５を介してパイロット室１０１と下室２０とを連通させると共にこれらの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生させる。ケース部材５６の底部７１には、このディスクバルブ１３１と対向して貫通穴６８が設けられている。通路部１３５は、貫通穴６７内の通路部１０３と並列に設けられてパイロット室１０１と下室２０とを連通可能となっている。
【００７１】
ディスク５８は、外径がバルブシート部７４よりも小径であり、ディスク５９は外径がバルブシート部７４と同径である。環状部材６０は外径がディスクバルブ１３１よりも大径であり、剛性がディスクバルブ１３１よりも高い。ディスク５９および環状部材６０は、ディスクバルブ１３１の開方向への変形時にディスクバルブ１３１に当接してディスクバルブ１３１の開方向への規定以上の変形を規制する。
【００７２】
ピストン１８の通路部３８と、ディスク５０の通路部８２と、中間室８５と、ディスク５５の通路部１１６と、パイロット室１０１と、ケース部材５６の通路部１３５と、ディスクバルブ１３１とバルブシート部７４との間と、可変室１０２と、ケース部材５６の通路部１０３とが、通路１４０（第２通路）を構成している。よって、パイロット室１０１を内部に有するハウジングとなるケース部材５６には、内部に通路１４０の少なくとも一部が形成されている。通路１４０は、通路１３０とは一部異なるルートで上室１９と下室２０とを結んでいる。
【００７３】
通路１４０は、上室１９側の通路部３８が通路１３０と共通であり、通路部３８よりも下室２０側が通路１３０と並列に設けられている。すなわち、通路１４０の通路部８２、中間室８５、通路部１１６、パイロット室１０１、通路部１０３および通路部１３５からなる並列通路１４１と、通路１３０の通路部１２５と、が並列している。また、通路部８２、中間室８５、通路部４１６、パイロット室４０１および通路部４２５と、通路１３０の通路部１２５と、が並列している。通路部８２と中間室８５と通路部１１６とが、通路１３０とパイロット室１０１とを連通させている。通路部８２と中間室８５と通路部４１６とが、通路１３０とパイロット室４０１とを連通させている。
【００７４】
上記したバネディスク５４と区画ディスク６９とケース部材５６の底部７１とからなるチェック弁１０５は、通路１４０の並列通路１４１に設けられて、伸び行程でのパイロット室１０１から下室２０への油液の流れを規制する一方、縮み工程での下室２０からパイロット室１０１への油液の流れを許容する。下室２０からチェック弁１０５を開いてパイロット室１０１へ導入された油液は、パイロット室１０１を含む通路１４０を介して上室１９に流れる。
【００７５】
ディスクバルブ１３１は、パイロット室１０１内の圧力が所定圧力に達した時にバルブシート部７４から離座する。ディスクバルブ１３１は、バルブシート部７４と共に、パイロット室１０１内の圧力が所定圧力に達した時に開弁して減衰力を発生させるハードバルブである減衰力発生機構１４５を構成している。減衰力発生機構１４５は、通路１４０のうちの通路１３０と並列する並列通路１４１に設けられており、パイロット室１０１と下室２０とを連通する通路部１３５に設けられている。減衰力発生機構１４５は、ケース部材５６の外側に設けられており、そのディスクバルブ１３１がケース部材５６の底部７１に対向して配置されている。ケース部材５６の底部７１には、減衰力発生機構１４５のディスクバルブ１３１と対向して貫通穴６８が設けられている。
【００７６】
図２に示すように、縮み側の減衰力発生機構４２は、軸方向のピストン１８側から順に、一枚のディスク１６１と、一枚のディスク１６２と、複数枚のディスク１６３と、複数枚のディスク１６４と、一枚のディスク１６５と、一枚のディスク１６６と、一枚の環状部材１６７とを有している。ディスク１６１〜１６６および環状部材１６７は、金属製であり、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしている。
【００７７】
ディスク１６１は、ピストン１８のバルブシート部４８の内径よりも小径の外径となっている。ディスク１６２は、ピストン１８のバルブシート部４８の外径と略同等の外径となっており、バルブシート部４８に着座可能となっている。ディスク１６２には、外周側に切欠１７１が形成されており、切欠１７１はバルブシート部４８を径方向に横断している。
【００７８】
複数枚のディスク１６３は、同外径であり、ディスク１６２の外径と同径の外径となっている。複数枚のディスク１６４は、同外径であり、ディスク１６３の外径よりも小径の外径となっている。ディスク１６５は、ディスク１６４の外径よりも小径の外径となっている。ディスク１６６は、ディスク１６４の外径よりも大径かつディスク１６３の外径よりも小径の外径となっている。環状部材１６７は、ディスク１６６の外径よりも小径の外径となっており、ディスク１６１〜１６６よりも厚く高剛性となっている。この環状部材１６７は、ピストンロッド２１の軸段部２９に当接している。
【００７９】
ディスク１６２〜１６４が、バルブシート部４８に離着座可能なディスクバルブ１７２を構成している。ディスクバルブ１７２は、バルブシート部４８から離座することで、通路穴３９内の通路部４０を上室１９に連通させると共にこれらの間の油液の流れを抑制して減衰力を発生させる。ディスク１６２の切欠１７１の内側は、ディスク１６２がバルブシート部４８に当接状態にあっても上室１９と下室２０とを連通させる固定オリフィス１７３となっている。ディスク１６６および環状部材１６７はディスクバルブ１７２の開方向への規定以上の変形を規制する。
【００８０】
本実施形態では、伸び側のディスクバルブ１３１および縮み側のディスクバルブ１７２をいずれも内周クランプのディスクバルブの例を示したが、これに限らず、減衰力を発生する機構であればよく、例えば、ディスクバルブをコイルバネで付勢するリフトタイプのバルブとしてもよく、また、ポペット弁であってもよい。
【００８１】
上述したように、ケース部材５６、パイロットバルブ５２、複数枚のディスク５３、バネディスク５４、ディスク５５および区画ディスク６９を含む制御機構部１２８は、開弁制御機構１２７と周波数感応部１０４とチェック弁１０５とを含んでいる。図３に示すように、周波数感応部１０４は、その区画ディスク６９が、凹部６４内で変形可能であり、凹部６４内で変形することでパイロット室１０１の容量を変化させる。区画ディスク６９は、ピストン１８の往復動の周波数に応じて変形して、上室１９に常時連通するパイロット室１０１の容量と、下室２０に常時連通する可変室１０２の容量とを変化させる。
【００８２】
図２に示すように、ピストンロッド２１には、取付軸部２８をそれぞれの内側に挿通させて、軸段部２９に、環状部材１６７、ディスク１６６、ディスク１６５、複数枚のディスク１６４、複数枚のディスク１６３、ディスク１６２、ディスク１６１、ピストン１８、ディスク５０、ディスク５１、パイロットバルブ３５２、ディスク３５３、ディスク３５５、ケース部材３５６、パイロットバルブ５２、複数枚のディスク５３、バネディスク５４、ディスク５５、ケース部材５６、複数枚のディスク５７、ディスク５８、ディスク５９、環状部材６０が、この順に重ねられる。その際に、図３に示すように、ケース部材５６の底部７１とバネディスク５４との間に区画ディスク６９が配置される。また、このとき、ケース部材３５６は、パイロットバルブ３５２のシール部材３９６を外側円筒状部３７３に嵌合させ、ケース部材５６は、パイロットバルブ５２のシール部材９６を外側円筒状部７３に嵌合させる。
【００８３】
図２に示すように、このように部品が配置された状態で、環状部材６０よりも突出する取付軸部２８のオネジ３１にナット１８５が螺合されている。これにより、上記のように重ねられた環状部材１６７から環状部材６０までの部品は、それぞれ内周側または全部がピストンロッド２１の軸段部２９とナット１８５とに挟持されて軸方向にクランプされている。その際に、区画ディスク６９は、軸方向にクランプされることはなく、バネディスク５４とケース部材５６とに挟持される。
【００８４】
図１に示すように、外筒４の底部材１２と内筒３との間には、上記したベースバルブ２５が設けられている。このベースバルブ２５は、下室２０とリザーバ室６とを仕切るベースバルブ部材１９１と、このベースバルブ部材１９１の下側つまりリザーバ室６側に設けられるディスク１９２と、ベースバルブ部材１９１の上側つまり下室２０側に設けられるディスク１９３と、ベースバルブ部材１９１にディスク１９２およびディスク１９３を取り付ける取付ピン１９４とを有している。
【００８５】
ベースバルブ部材１９１は、円環状をなしており、径方向の中央に取付ピン１９４が挿通される。ベースバルブ部材１９１には、下室２０とリザーバ室６との間で油液を流通させる複数の通路穴１９５と、これら通路穴１９５よりもベースバルブ部材１９１の径方向の外側にて、下室２０とリザーバ室６との間で油液を流通させる複数の通路穴１９６とが形成されている。リザーバ室６側のディスク１９２は、下室２０から通路穴１９５を介するリザーバ室６への油液の流れを許容する一方でリザーバ室６から下室２０への通路穴１９５を介する油液の流れを抑制する。ディスク１９３は、リザーバ室６から通路穴１９６を介する下室２０への油液の流れを許容する一方で下室２０からリザーバ室６への通路穴１９６を介する油液の流れを抑制する。
【００８６】
ディスク１９２は、ベースバルブ部材１９１とによって、緩衝器１の縮み行程において開弁して下室２０からリザーバ室６に油液を流すとともに減衰力を発生させる縮み側の減衰バルブ機構１９７を構成している。ディスク１９３は、ベースバルブ部材１９１とによって、緩衝器１の伸び行程において開弁してリザーバ室６から下室２０内に油液を流すサクションバルブ機構１９８を構成している。なお、サクションバルブ機構１９８は、主としてピストンロッド２１のシリンダ２からの伸び出しにより生じる液の不足分を補うようにリザーバ室６から下室２０に実質的に減衰力を発生させることなく油液を流す機能を果たす。
【００８７】
以上の第１実施形態の緩衝器１の油圧回路図は、図４に示すようになっている。すなわち、上室１９と中間室８５とが通路部８２を介して連通し、パイロット室４０１と中間室８５とが通路部４１６を介して連通し、パイロット室１０１と中間室８５とが通路部１１６を介して連通している。上室１９と下室２０とは、減衰力発生機構４１および減衰力発生機構４２を介して連通可能である。また、パイロット室４０１が減衰力発生機構４４１を介して下室２０に連通可能であり、パイロット室１０１が減衰力発生機構１４５を介して下室２０に連通可能である。パイロット室４０１の圧力で減衰力発生機構４１の開弁が制御され、パイロット室１０１の圧力で減衰力発生機構４４１の開弁が制御される。パイロット室１０１は、チェック弁１０５を介して可変室１０２に連通可能であり、可変室１０２は、下室２０に連通している。ここで、いずれも中間室８５に連通するオリフィスである、通路部８２、通路部４１６、通路部１１６は、流路面積が、通路部１１６よりも通路部８２の方が大きく、通路部８２よりも通路部４１６の方が大きくなっている。
【００８８】
第１実施形態の緩衝器１において、ピストンロッド２１が伸び側に移動する伸び行程では、図２に示す上室１９の圧力が上昇し下室２０の圧力が下がるため、上室１９からピストン１８の通路部３８を介して下室２０に向けて油液が流れる。この伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、図３に示す通路部３８から、ピストン１８のバルブシート部４７、メインバルブ１２１および固定オリフィス９２を含む減衰力発生機構４１を通り、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を通って下室２０へ流れる流路がある。この流れは、通路１３０を通る流れである。
【００８９】
また、伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、上記と並列して、通路部３８から、ディスク５０の通路部８２を流れ、中間室８５を通り、ディスク３５５の通路部４１６を介してメインバルブ１２１の背圧室であるパイロット室４０１へ流れ、パイロット室４０１から、ケース部材３５６のバルブシート部３７４およびパイロットバルブ５２を含む減衰力発生機構４４１を通り、ケース部材３５６とケース部材５６との間の通路部４２５を通って下室２０へ流れる流路がある。ここで、中間室８５とパイロット室４０１とは、間の絞りとなる通路部４１６が十分に広いため、同圧となる。
【００９０】
さらに、伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、上記と並列して、通路部３８から、ディスク５０内の通路部８２を流れ、中間室８５を通り、ディスク５５の通路部１１６を介してパイロットバルブ５２の背圧室であるパイロット室１０１へ流れ、パイロット室１０１から、ケース部材５６の通路部１３５から、ケース部材５６のバルブシート部７４およびディスクバルブ１３１を含む減衰力発生機構１４５を通って下室２０へ流れる流路がある。この流れは、通路１４０を通る流れである。
【００９１】
そして、緩衝器１への低周波入力（大振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部１１６を介してパイロット室１０１へ流れる油液量が大きく、よって周波数感応部１０４の区画ディスク６９の撓み量も大きくなり、区画ディスク６９はケース部材５６側の凹部６４のストッパ面６３に面接触して撓みが規制されるまで変形する。このように区画ディスク６９の撓みがストッパ面６３で規制されると、パイロット室１０１の容積が拡大できなくなるため、その後は、パイロット室１０１の圧力が上昇して高圧になり、減衰力発生機構４４１のパイロットバルブ５２の開弁圧が上がる。このパイロットバルブ５２が開くまではパイロット室４０１の圧力も上昇するため、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧力も上がる。よって、図５に実線Ｘ１で示すように、減衰力がハードな特性となる。
【００９２】
この低周波入力時において、ピストン１８およびピストンロッド２１の速度であるピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２を流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介してのみ下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる（図５のピストン速度０〜ｖ１参照）。
【００９３】
この状態から、ピストン速度を上げ、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、上室１９から通路部３８に流入する油液は、ハードバルブである減衰力発生機構１４５を開弁させて下室２０に流れる。その後、図５に示す実線Ｘ１の所定のピストン速度ｖ１において、上室１９からの油液は、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部４１６を介してパイロット室４０１へ流れ、パイロット室４０１から減衰力発生機構４４１のパイロットバルブ５２を開弁させて、ケース部材３５６とケース部材５６との間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、バルブ特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる（図５のピストン速度ｖ１〜ｖ２参照）。
【００９４】
ピストン速度をさらに上げると、図５に示す実線Ｘ１の所定のピストン速度ｖ２において、上室１９から通路部３８に流入する油液は、上記のように開弁する減衰力発生機構４４１の流れに加えて、減衰力発生機構４１を開弁させてピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度の上昇に対して減衰力の上昇率がさらに低くなる（図５のピストン速度ｖ２以降参照）。
【００９５】
緩衝器１への高周波入力（小振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部１１６を介してパイロット室１０１へ流れる油液量が小さく、周波数感応部１０４の区画ディスク６９の撓み量も小さくなり、区画ディスク６９がケース部材５６側の凹部６４のストッパ面６３に接触しない範囲で変形する。よって、パイロット室１０１への油液の流入分は区画ディスク６９の撓みで吸収できるため、パイロット室１０１の圧力は上がらず低圧となることから、減衰力発生機構４４１のパイロットバルブ５２の開弁圧は低い。また、このようにパイロットバルブ５２が低圧から開弁することにより、パイロット室４０１の圧力も上昇せず低圧となるため、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧も低い。よって、図５に実線Ｘ２で示すように、減衰力が、実線Ｘ１で示す低周波入力時に比べてソフトな特性となる。
【００９６】
この高周波入力時においても、低周波入力と同様、ピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２のみを流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介してのみ下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる（図５のピストン速度０〜ｖ３参照）。
【００９７】
この状態から、ピストン速度を上げ、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、図５に示す実線Ｘ２の所定のピストン速度ｖ３において、上室１９からの油液は、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部４１６を介してパイロット室４０１へ流れ、パイロット室４０１から減衰力発生機構４４１のパイロットバルブ５２を開弁させて、ケース部材３５６とケース部材５６との間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、バルブ特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる（図５のピストン速度ｖ３〜ｖ４参照）。
【００９８】
ピストン速度をさらに上げると、図５に示す実線Ｘ２の所定のピストン速度ｖ４において、上室１９から通路部３８に流入する油液は、上記のように開弁する減衰力発生機構４４１の流れに加えて、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１を開弁させて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度の上昇に対して減衰力の上昇率がさらに低くなる（図５のピストン速度ｖ４以降参照）。
【００９９】
上記の緩衝器１によれば、ハードな減衰力特性の低周波入力時において、図５に実線Ｘ１に示すように、開弁点が増えることになり、図５に破線Ｘ３で示す従来の開弁点が少ない緩衝器と比べて開弁時の過渡的な開弁特性の急激な変化を緩和することができる。ソフトな減衰力特性の高周波入力時においても、図５に実線Ｘ２に示すように、開弁点が増えることになり、図５に破線Ｘ４で示す従来の開弁点が少ない緩衝器と比べて開弁時の過渡的な開弁特性の急激な変化を緩和することができる。ここで、開弁時の過渡的な力の変化が車体へ伝わることで、乗り心地や車内で聞こえる異音を引き起こす原因となることから、第１実施形態の緩衝器１によって、乗り心地改善と異音発生の防止とを図ることができる。
【０１００】
なお、２つの減衰力発生機構４４１，４１による２段階圧力制御になっても、周波数特性への定性的な変化はない。低周波入力時には、ハードな減衰力特性が得られ、高周波入力時にはソフトな減衰力特性の２段切替となる。そのカットオフ周波数は、通路部１１６と通路部８２との直列２か所の合計圧力損失によって変わるため、通路部１１６，８２の流路面積に依存する。よって、通路部１１６，８２の流路面積を調整することで、カットオフ周波数を容易にチューニングすることができる。
【０１０１】
ピストンロッド２１が縮み側に移動する縮み行程では、ピストン速度が遅い時、下室２０からの油液は、図２に示す縮み側の通路穴３９内の通路部４０と、減衰力発生機構４２のディスクバルブ１７２の固定オリフィス１７３を介して上室１９に流れオリフィス特性の減衰力が発生することになる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる（図５のピストン速度０〜ｖ５参照）。
【０１０２】
また、ピストン速度が速くなると、下室２０から縮み側の通路穴３９内の通路部４０に導入された油液が、基本的に減衰力発生機構４２のディスクバルブ１７２を開きながらディスクバルブ１７２とバルブシート部４８との間を通って上室１９に流れることになり、バルブ特性の減衰力が発生する。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性はピストン速度の上昇に対して減衰力の上昇率は下がることになる（図５のピストン速度ｖ５以降参照）。
【０１０３】
ここで、周波数感応部１０４は、縮み行程のときは、下室２０の圧力が高くなって、可変室１０２の圧力の方がパイロット室１０１の圧力よりも高くなる。その結果、チェック弁１０５の弁体としての区画ディスク６９が、ディスク当接部６２のシート面６１から離座する。これにより、チェック弁１０５が通路１４０を開き、通路１４０を介して下室２０から上室１９に向けて油液を流す。その際に、区画ディスク６９は、ディスク当接部６２から離れることで差圧がなくなり、それ以上の移動が抑制される。
【０１０４】
上記した特許文献１には、周波数に感応して減衰力が可変となる緩衝器が記載されている。ところで、緩衝器において、例えば、減衰力特性が切り替わる際の特性変化が大きいと、乗り心地の低下や、異音の発生の可能性がある。このため、緩衝器において、減衰力特性を滑らかにすることが求められている。
【０１０５】
これに対して、第１実施形態の緩衝器１は、通路１３０に設けられピストン１８の摺動によって上室１９から下室２０への油液の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブ１２１と、メインバルブ１２１に閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室４０１と、を有する第１減衰力発生機構４１を有している。また、この通路１３０と並列の通路１４０の少なくとも一部が内部に形成される有底筒状のケース部材５６と、ケース部材５６に対して移動可能に設けられ、ケース部材５６の底部７１との間に可変室１０２を形成する区画ディスク６９と、を有している。これらケース部材５６および区画ディスク６９によって可変室１０２を形成することで、周波数に感応して減衰力が可変となる。そして、第１減衰力発生機構４１に加えて、パイロット室４０１から下室２０への油液の流れを抑制して減衰力を発生させるパイロットバルブ５２と、パイロットバルブ５２に閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室１０１と、を有する第２減衰力発生機構４４１を有している。これにより、ピストン速度の増加に対して減衰力を複数段に切り替えることができる。したがって、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。すなわち、緩衝器において減衰力特性が切り替わる際の特性変化を滑らかにすることができる。これにより、乗り心地の低下や異音の発生を抑制できる。
【０１０６】
また、第２減衰力発生機構４４１のパイロット室１０１を、第２減衰力発生機構４４１のパイロットバルブ５２と、周波数に感応して減衰力を可変とするためのケース部材５６および区画ディスク６９により構成しているため、部品点数を低減することができる。すなわち、開弁制御機構１２７と周波数感応部１０４とでケース部材５６およびパイロット室１０１を共用化することができるため、部品点数を低減することができる。したがって、低コスト化および軽量化することができる。
【０１０７】
［第２実施形態］
次に、第２実施形態を主に図６〜図８に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。
【０１０８】
第２実施形態においては、図６に示すように、ピストンロッド２１の取付軸部２８の通路溝３０とオネジ３１との間に、通路溝３０とは別の通路溝４９０が形成されている。通路溝４９０内は通路部４９１となっている。
【０１０９】
また、第２実施形態においては、第１実施形態の減衰力発生機構４４１にかえて、減衰力発生機構４１とほぼ同様の減衰力発生機構４１Ａ（第２減衰力発生機構）が設けられている。ここでは、減衰力発生機構４１Ａの各構成を、減衰力発生機構４１の各構成と区別するため、対応する減衰力発生機構４１の構成の符号に「Ａ」をつけて説明する。
【０１１０】
減衰力発生機構４１Ａは、ディスク５０とは一部異なるディスク５０Ａと、ディスク５１と同一部品であるディスク５１Ａと、パイロットバルブ３５２と同一部品であるパイロットバルブ３５２Ａと、ディスク３５３と同一部品であるディスク３５３Ａと、ディスク３５５と同一部品であるディスク３５５Ａと、ケース部材３５６と同一部品であるケース部材３５６Ａ（ケース）と、ディスク５００とを有している。
【０１１１】
ディスク５１Ａおよびパイロットバルブ３５２Ａがメインバルブ１２１Ａ（第２メインバルブ）を構成している。パイロットバルブ３５２Ａとケース部材３５６Ａとの間が、メインバルブ１２１Ａに閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室４０１Ａ（第２パイロット室）となっている。ケース部材３５６Ａの貫通孔３７０Ａの大径穴部３７６Ａ内は、中間室８５を構成している。ケース部材３５６Ａのバルブシート部３７４Ａにディスクバルブ１３１が当接している。
【０１１２】
ディスク５０Ａは、ケース部材３５６のバルブシート部３７４の内径よりも小径の外径となっている。ディスク５０Ａには、ディスク５０の切欠８１は形成されていない。
【０１１３】
ディスク５１Ａは、ケース部材３５６のバルブシート部３７４の外径と略同等の外径となっている。ディスク５１Ａは、バルブシート部３７４に当接しており、バルブシート部３７４に対し離間および当接することでケース部材３５６のパイロット室４０１を開閉する。ディスク５１Ａの切欠９１Ａは、バルブシート部３７４を径方向に横断している。よって、切欠９１Ａの内側が、パイロット室４０１を、通路部４２５を介して下室２０に常時連通させる固定オリフィス９２Ａとなっている。
【０１１４】
パイロットバルブ３５２Ａとケース部材３５６Ａとディスクバルブ１３１との間が、パイロット室４０１Ａとなる。パイロット室４０１Ａは、ディスク３５５Ａの切欠４１５Ａ内の通路部４１６Ａを介して、中間室８５に常時連通している。切欠４１５Ａ内の通路部４１６Ａは、中間室８５とパイロット室４０１Ａとの間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。
【０１１５】
図７に示すように、ディスク５００は、バルブシート部３７４Ａの内径よりも小径の外径となっており、ピストンロッド２１の取付軸部２８に嵌合する内周縁部から径方向外側に延在する切欠５０１が形成されている。切欠５０１内の通路部５０２は、ピストンロッド２１の通路溝４９０内の通路部４９１に常時連通している。
【０１１６】
図６に示すように、ディスク５１Ａおよびパイロットバルブ３５２Ａからなるメインバルブ１２１Ａは、ケース部材３５６のバルブシート部３７４と共に減衰力発生機構４１Ａを構成している。メインバルブ１２１Ａは、そのディスク５１Ａがバルブシート部３７４から離座して開くと、パイロット室４０１の油液をケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間で径方向に広がる通路部４２５を介して下室２０に流す。
【０１１７】
メインバルブ１２１Ａと、ケース部材３５６Ａと、ディスクバルブ１３１およびディスク５００との間のパイロット室４０１Ａは、このメインバルブ１２１Ａに、ケース部材３５６の方向、つまりディスク５１Ａをバルブシート部３７４に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。メインバルブ１２１Ａは、このパイロット室４０１Ａの圧力により開弁が調整される。すなわち、メインバルブ１２１Ａを含む減衰力発生機構４１Ａは、パイロット室４０１Ａの圧力により開弁が調整される圧力制御型の減衰力発生機構である。
【０１１８】
ディスクバルブ１３１は、パイロット室４０１Ａ内の圧力が所定圧力に達した時にバルブシート部３７４Ａから離座する。ディスクバルブ１３１は、バルブシート部３７４Ａと共に、パイロット室４０１Ａ内の圧力が所定圧力に達した時に開弁して減衰力を発生させるハードバルブである減衰力発生機構１４５を構成している。ディスクバルブ１３１は、ケース部材３５６Ａ側の複数枚ディスクがバルブシート部３７４Ａに着座可能であり、ケース部材３５６Ａから離れるほどディスクが小径となっている。
【０１１９】
ピストンロッド２１の取付軸部２８には、ディスクバルブ１３１のケース部材３５６Ａとは反対側に、ディスクバルブ１３１の最小径のディスクよりも小径のディスク５１１と、このディスク５１１よりも大径のディスク５１２とが設けられており、このディスク５１２のディスク５１１とは反対側に隣接して、ピストン周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応部５３０が設けられている。
【０１２０】
図７に示すように、周波数感応部５３０は、軸方向のディスク５１２側から順に、ディスク５１２に当接する一つのケース部材５３１（ハウジング）と、複数枚（具体的には二枚）のディスク５３３および一枚の区画ディスク５３４（ディスク）と、一枚のディスク５３５と、一枚のディスク５３６と、一つの蓋部材５３９と、を有している。ケース部材５３１、ディスク５３３，５３５，５３６および蓋部材５３９は、金属製である。ディスク５３３，５３５，５３６は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な一定厚さの有孔円形平板状をなしている。ケース部材５３１および蓋部材５３９は、内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合可能な円環状をなしている。ケース部材５３１は、蓋部材５３９とで箱状の周波数感応部ケース５４０を構成する。ケース部材５３１には、内部にピストンロッド２１の取付軸部２８が一部配置されている。
【０１２１】
ケース部材５３１は、有孔円板状の底部５４１と、底部５４１の外周側から底部５４１の軸方向に沿って一側に突出する円筒状の筒部５４４とを有する有底筒状である。底部５４１は、有孔円板状の底部本体部５４７と、底部本体部５４７の内周側から底部本体部５４７よりも軸方向の筒部５４４側に突出する円環状の突出部５４２と、底部本体部５４７における突出部５４２と筒部５４４との間から底部本体部５４７よりも軸方向の筒部５４４側に突出する円環状の支持部５４３と、を有している。言い換えれば、底部５４１には、内周側に底部本体部５４７よりも筒部５４４と同側に突出する突出部５４２が、径方向中間位置に底部本体部５４７よりも筒部５４４と同側に突出する支持部５４３が、それぞれ形成されている。
【０１２２】
突出部５４２には、これを径方向に横断する流路溝５４８が周方向に部分的に形成されている。支持部５４３には、これを径方向に横断する流路溝５０３が周方向に部分的に形成されている。底部５４１の内周側には、軸方向の突出部５４２とは反対側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる小径穴部５４５が形成されており、軸方向の突出部５４２側に小径穴部５４５より大径の大径穴部５４６が形成されている。流路溝５４８は、大径穴部５４６に開口している。筒部５４４の底部５４１とは反対側は開口部５４９となっている。よって、ケース部材５３１は、一端に開口部５４９を有する筒部５４４と、筒部５４４の開口部５４９とは反対側から径方向内方に広がる底部５４１とからなっている。筒部５４４は、その内周面５５０が底部５４１から開口部５４９に向かうほど内径が大となるテーパ形状になっている。蓋部材５３９は、筒状のケース部材５３１の筒部５４４の開口部５４９側に設けられて周波数感応部ケース５４０をケース部材５３１とで構成する。
【０１２３】
ケース部材５３１の径方向中央を軸方向に取付軸部２８が貫通しており、ケース部材５３１内に、複数枚のディスク５３３、区画ディスク５３４、ディスク５３５およびディスク５３６が、取付軸部２８をそれぞれの内側に貫通させて配置されている。
【０１２４】
ケース部材５３１の底部５４１は、その軸方向の小径穴部５４５側の外端部でディスク５１２の内周側を支持しており、その軸方向の大径穴部５４６側の内端部である突出部５４２でディスク５３３の外周側を支持している。ケース部材５３１の支持部５４３は、その突出先端側の端部で、環状の区画ディスク５３４の径方向中間位置を支持する。支持部５４３は、流路溝５０３によって、ケース部材５３１における支持部５４３の径方向内側と径方向外側とを常時連通する。
【０１２５】
複数枚のディスク５３３は、ケース部材５３１の突出部５４２の外径よりも小径の外径となっている。流路溝５４８は、突出部５４２を径方向に横断している。
【０１２６】
区画ディスク５３４は、金属材料からなる一定厚さの有孔円形平板状の撓み可能なディスク５５５と、ディスク５５５の外周側に固着されるゴム材料からなる弾性のシール部材５５６とからなっている。区画ディスク５３４は、全体として円形状で、弾性変形可能つまり撓み可能となっている。環状のディスク５５５は、内径がディスク５３３の外径よりも大径であり、その内側にディスク５３３を径方向に隙間をもって配置可能な内径となっている。ディスク５５５は、ディスク５３３の枚数分（二枚分）の厚さよりも厚さが薄くなっている。ディスク５５５は、内径がディスク５３５の外径よりも小径であり、ディスク５３５に当接可能である。ディスク５５５は、ケース部材５３１の支持部５４３の外径よりも大径かつ筒部５４４の内径よりも小径の外径となっている。ディスク５５５は、取付軸部２８を内側に貫通させてケース部材５３１内に配置されている。ディスク５５５は、ケース部材５３１内で、底部５４１に設けられている。ケース部材５３１の筒部５４４は、底部５４１から区画ディスク５３４側に離れるほど内径が大となるテーパ形状である。
【０１２７】
シール部材５５６は、ディスク５５５の外周側に円環状をなして固着されている。シール部材５５６は、ディスク５５５と対向する面の全面がディスク５５５に全周にわたって固着されている。シール部材５５６は、ディスク５５５から軸方向の蓋部材５３９とは反対側に突出するシール部５５８と、ディスク５５５から軸方向の蓋部材５３９側に突出するストッパ部５５９とを有している。シール部５５８は、円筒状であって、ケース部材５３１の筒部５４４の内周面に全周にわたり摺動可能かつ液密的に嵌合しており、筒部５４４と区画ディスク５３４との間を常時シールする。
【０１２８】
ストッパ部５５９は、ディスク５５５の周方向に断続的に形成されている。ストッパ部５５９は、区画ディスク５３４の蓋部材５３９側への変形時に蓋部材５３９に当接して弾性変形し、最大限変形すると、区画ディスク５３４はそれ以上の変形が抑制される。シール部５５８は、ディスク５５５の外周面を覆ってストッパ部５５９に繋がっている。
【０１２９】
区画ディスク５３４は、シール部５５８がケース部材５３１の筒部５４４に全周にわたって接触することでケース部材５３１に対し芯出しされる。また、区画ディスク５３４は、そのディスク５５５がケース部材５３１の支持部５４３に当接して支持される。
【０１３０】
ケース部材５３１の突出部５４２およびディスク５３５は、区画ディスク５３４のディスク５５５の内径よりも大径の外径となっている。よって、区画ディスク５３４は、ディスク５５５の内周側が、ケース部材５３１の突出部５４２とディスク５３５との間に配置されており、これらの間の範囲内で移動可能となっている。区画ディスク５３４は、その表側と裏側とに圧力差がない状態では、ディスク５５５が、支持部５４３およびディスク５３５に当接して支持されている。ディスク５３５は、区画ディスク５３４を着座させるシート部である。
【０１３１】
区画ディスク５３４は、ディスク５５５の内周側が、ケース部材５３１の突出部５４２とディスク５３５との間にて、複数枚のディスク５３３の軸方向長の範囲で移動可能となっている。また、区画ディスク５３４は、ディスク５５５のディスク５３５による支持とは反対の非支持側である外周側にケース部材５３１との間をシールする環状のシール部５５８が設けられている。区画ディスク５３４は、その内周側が、両面側からクランプされずに片面側のみディスク５３５に支持される単純支持構造となっている。ディスク５３６は、ディスク５３５の外径よりも大径の外径となっている。
【０１３２】
蓋部材５３９は、円筒状の筒状部５６１と、筒状部５６１の外周部の軸方向の中央位置から径方向外方に広がる円板状のフランジ部５６２とを有している。筒状部５６１は、フランジ部５６２よりも軸方向両側に厚い厚肉である。蓋部材５３９は、筒状部５６１の内側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。
【０１３３】
蓋部材５３９は、フランジ部５６２が、ケース部材５３１の筒部５４４よりも軸方向外側に配置されており、筒部５４４との間に、周波数感応部ケース５４０内を下室２０に常時連通させる連通路５６５を形成している。
【０１３４】
ここで、蓋部材５３９は、軸方向の中央位置を通り軸方向に直交する面を基準とする鏡面対称形状である。言い換えれば、蓋部材５３９には、表裏の区別がなく、表裏の間違いによる誤組み付けを生じない形状となっている。蓋部材５３９は、焼結により形成することが可能である。
【０１３５】
区画ディスク５３４は、そのシール部５５８がケース部材５３１の筒部５４４の内周面５５０に全周にわたり接触して、区画ディスク５３４と筒部５４４との隙間をシールする。つまり、区画ディスク５３４はパッキンバルブである。シール部５５８は、区画ディスク５３４が周波数感応部ケース５４０内で許容される範囲で変位および変形しても、区画ディスク５３４と筒部５４４との隙間を常時シールする。区画ディスク５３４は、周波数感応部ケース５４０に嵌合されることで芯出しされ、この状態で、ディスク５５５が内周部をディスク５３５に全周に渡って接触させることにより、ディスク５３５との隙間をシールする。
【０１３６】
区画ディスク５３４は、周波数感応部ケース５４０内を、底部５４１側の容量可変なケース室５７１（ハウジング内室）と、蓋部材５３９側の容量可変なケース室５７２との２つの室に区画する。言い換えれば、２つのケース室５７１，５７２は、区画ディスク５３４により画成されて周波数感応部ケース５４０のケース部材５３１内に設けられている。ケース室５７１は、区画ディスク５３４と、ケース部材５３１の底部５４１との間に形成されている。
【０１３７】
第２実施形態においては、図６に示すディスク５０の通路部８２、中間室８５、ディスク３５５Ａの通路部４１６Ａ、パイロット室４０１Ａ、ディスク５００の通路部５０２、ピストンロッド２１の通路溝４９０内の通路部４９１、ケース部材５３１の大径穴部５４６内の通路部５８２、ケース部材５３１の流路溝５４８内の通路部５８１、ケース室５７１およびケース室５７２が、通路１４０の並列通路１４１を構成している。よって、ケース室５７１，５７２を内部に有するハウジングであるケース部材５３１には、内部に、通路１３０とは異なるルートで上室１９と下室２０とを結ぶ通路１４０の少なくとも一部が形成されている。
【０１３８】
中間室８５は、ディスク３５５Ａの通路部４１６Ａを介してパイロット室４０１Ａと常時連通しており、通路部４１６Ａは、中間室８５とパイロット室４０１Ａとの間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。パイロット室４０１Ａは、ディスク５００の通路部５０２、ピストンロッド２１の通路部４９１、ケース部材５３１の通路部５８２および通路部５８１を介して、ケース室５７１に常時連通している。ディスク５００の通路部５０２は、パイロット室４０１Ａとケース室５７１との間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。ケース室５７２は、ケース部材５３１と蓋部材５３９との間の連通路５６５を介して下室２０に常時連通している。
【０１３９】
周波数感応部５３０は、その周波数感応部ケース５４０が、通路１４０の並列通路１４１に設けられている。よって、周波数感応部ケース５４０には、その内部に、並列通路１４１の一部である２つのケース室５７１，５７２が区画ディスク５３４により画成されて設けられている。ケース部材５３１の筒部５４４の内側に区画ディスク５３４が配置されており、ケース部材５３１の筒部５４４の内周面５５０が底部５４１よりも開口部５４９側の方が内径が大となるテーパ形状である。このため、ケース部材５３１の筒部５４４は、その内周面５５０が、底部５４１から軸方向において区画ディスク５３４側に離れるほど内径が大となるテーパ形状である。
【０１４０】
区画ディスク５３４は、内周側がケース部材５３１の突出部５４２とディスク５３５との間で移動し外周側が支持部５４３と蓋部材５３９のフランジ部５６２との間で移動する範囲で変位および変形可能となっている。ここで、区画ディスク５３４のディスク５５５の軸方向中間部を軸方向一側から支持する支持部５４３とディスク５５５の内周側を軸方向他側から支持するディスク５３５との間の軸方向の最短距離は、ディスク５５５の軸方向の厚さよりも小さくなっている。よって、ケース室５７１，５７２が同圧のとき、ディスク５５５は、若干変形した状態で支持部５４３とディスク５３５とに自身の弾性力で圧接する。
【０１４１】
区画ディスク５３４は、そのディスク５５５の内周側が全周にわたってディスク５３５に接触する状態では、並列通路１４１のケース室５７１，５７２間の油液の流通を遮断する。また、区画ディスク５３４は、そのディスク５５５の内周側がディスク５３５から離間する状態では、ケース室５７１とケース室５７２つまり下室２０との間の油液の流通を許容する。よって、区画ディスク５３４と、そのシート部としてのディスク５３５とは、並列通路１４１において、ケース室５７１からケース室５７２および下室２０への油液の流れを規制する一方、下室２０およびケース室５７２からケース室５７１への油液の流れを許容するチェック弁５９１を構成している。
【０１４２】
チェック弁５９１は、上室１９側の圧力が下室２０の圧力より高くなる伸び行程では、ピストン１８の通路部３８を介して上室１９と下室２０とを連通可能な並列通路１４１の連通を遮断する一方、上室１９側の圧力が下室２０の圧力より低くなる縮み行程では、並列通路１４１を連通状態とする。チェック弁５９１は、その弁体である区画ディスク５３４の全体が軸方向に移動可能なフリーバルブである。区画ディスク５３４は、ケース部材５３１に対して移動可能に設けられ、ケース部材５３１の底部５４１との間にケース室５７１を形成している。パイロット室４０１Ａは、このケース部材５３１とは別のケース部材３５６Ａとメインバルブ１２１Ａとで構成されている。
【０１４３】
第２実施形態において、ピストンロッド２１が伸び側に移動する伸び行程では、上室１９から図６に示すピストン１８の通路部３８を介して下室２０に向けて油液が流れる。この伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、通路部３８から、ピストン１８のバルブシート部４７、メインバルブ１２１および固定オリフィス９２を含む減衰力発生機構４１を通り、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０へ流れる流路がある。
【０１４４】
また、伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、上記と並列して、通路部３８から、ディスク５０内の通路部８２を流れ、中間室８５およびディスク３５５の通路部４１６を介してメインバルブ１２１の背圧室であるパイロット室４０１へ流れ、パイロット室４０１を介して、ケース部材３５６のバルブシート部３７４およびメインバルブ１２１Ａを含む減衰力発生機構４１Ａを通り、ケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間の通路部４２５を介して下室２０へ流れる流路がある。ここでも、中間室８５とパイロット室４０１とは、間の絞りとなる通路部４１６が十分に広いため、同圧となる。
【０１４５】
さらに、伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、上記と並列して、通路部３８から、ディスク５０内の通路部８２を流れ、中間室８５およびディスク３５５Ａの通路部４１６Ａを介してメインバルブ１２１Ａの背圧室であるパイロット室４０１Ａへ流れ、ケース部材３５６Ａのバルブシート部３７４Ａおよびディスクバルブ１３１を含む減衰力発生機構１４５を通って下室２０へ流れる流路がある。
【０１４６】
緩衝器１への低周波入力（大振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５、通路部４１６Ａ、パイロット室４０１Ａ、通路部５０２、通路部４９１、通路部５８２および通路部５８１を介して周波数感応部５３０のケース室５７１へ流れる油液量が大きく、区画ディスク５３４の撓み量も大きくなり、区画ディスク５３４は、ストッパ部５５９で蓋部材５３９のフランジ部５６２に当接して撓みが規制されるまで変形する。このように区画ディスク５３４の撓みが蓋部材５３９で規制されると、ケース室５７１の容積が拡大できなくなるため、その後は、パイロット室４０１Ａの圧力が上昇して高圧になり、減衰力発生機構４１Ａのメインバルブ１２１Ａの開弁圧が上がる。このメインバルブ１２１Ａが開くまではパイロット室４０１の圧力も上昇するため、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧力も上がる。よって、減衰力がハードな特性となる。
【０１４７】
この低周波入力時において、ピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２を流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。また、通路部３８に入った油液は、通路部８２、中間室８５、通路部４１６、パイロット室４０１から、減衰力発生機構４１Ａの閉弁状態にあるメインバルブ１２１Ａの固定オリフィス９２Ａを流れて、ケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる。
【０１４８】
この状態から、ピストン速度を上げ、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、上室１９から通路部３８に流入する油液は、ハードバルブである減衰力発生機構１４５を開弁させて下室２０に流れる。そして、所定の第１ピストン速度において、上室１９からの油液は、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部４１６を介してパイロット室４０１へ流れ、減衰力発生機構４１Ａのメインバルブ１２１Ａを開弁させて、ケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度に対する減衰力の特性は、バルブ特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる。
【０１４９】
ピストン速度をさらに上げると、所定の第２ピストン速度において、上室１９から通路部３８に流入する油液は、上記のように開弁する減衰力発生機構４１Ａの流れに加えて、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１を開弁させて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度の上昇に対して減衰力の上昇率がさらに低くなる。
【０１５０】
緩衝器１への高周波入力（小振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５、通路部４１６Ａ、パイロット室４０１Ａ、通路部５０２、通路部４９１、通路部５８２および通路部５８１を介して周波数感応部５３０のケース室５７１へ流れる油液量が小さく、区画ディスク５３４の撓み量も小さくなり、蓋部材５３９にストッパ部５５９で当接しても撓みが規制されない範囲で変形する。よって、ケース室５７１への油液の流入分は区画ディスク５３４の撓みで吸収できるため、ケース室５７１に常時連通するパイロット室４０１Ａの圧力は上がらず低圧となるため、減衰力発生機構４１Ａのメインバルブ１２１Ａの開弁圧は低い。また、このようにメインバルブ１２１Ａが低圧から開弁することにより、パイロット室４０１の圧力も上昇せず低圧となるため、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧も低い。よって、減衰力がソフトな特性となる。
【０１５１】
この高周波入力時においては、低周波入力と同様、ピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２を流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。また、通路部３８に入った油液は、通路部８２、中間室８５、通路部４１６、パイロット室４０１から、減衰力発生機構４１Ａの閉弁状態にあるメインバルブ１２１Ａの固定オリフィス９２Ａを流れて、ケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる。
【０１５２】
この状態から、ピストン速度を上げ、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、所定の第３ピストン速度において、上室１９からの油液は、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部４１６を介してパイロット室４０１へ流れ、減衰力発生機構４１Ａのメインバルブ１２１Ａを開弁させて、ケース部材３５６とケース部材３５６Ａとの間の通路部４２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、バルブ特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる。
【０１５３】
ピストン速度をさらに上げると、所定の第４ピストン速度において、上室１９から通路部３８に流入する油液は、上記のように開弁する減衰力発生機構４１Ａの流れに加えて、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１を開弁させて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度の上昇に対して減衰力の上昇率がさらに低くなる。
【０１５４】
ここで、周波数感応部５３０は、縮み行程のときは、下室２０の圧力が高くなって、ケース室５７２の圧力の方がケース室５７１の圧力よりも高くなる。その結果、チェック弁５９１の弁体としての区画ディスク５３４が、ケース部材３５６の支持部５４３を支点として変形して、チェック弁５９１の弁座としてのディスク５３５から離座する。これにより、チェック弁５９１が通路１４０を開き、通路１４０を介して下室２０から上室１９に向けて油液を流す。その際に、区画ディスク５３４は、ディスク５３５から離れることで差圧がなくなり、それ以上の移動が抑制される。
【０１５５】
第２実施形態の緩衝器１は、通路１３０に設けられピストン１８の摺動によって上室１９から下室２０への油液の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブ１２１と、メインバルブ１２１に閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室４０１と、を有する第１減衰力発生機構４１を有している。また、この通路１３０と並列の通路１４０の少なくとも一部が内部に形成される有底筒状のケース部材５３１と、ケース部材５３１に対して移動可能に設けられ、ケース部材５３１の底部５４１との間にケース室５７１を形成する区画ディスク５３４と、を有している。これらケース部材５３１および区画ディスク５３４によってケース室５７１を形成することで、周波数に感応して減衰力が可変となる。そして、第１減衰力発生機構４１に加えて、パイロット室４０１から下室２０への油液の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブ１２１Ａと、メインバルブ１２１Ａに閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室４０１Ａと、を有する第２減衰力発生機構４１Ａを有している。これにより、ピストン速度の増加に対して減衰力を複数段に切り替えることができる。したがって、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。これにより、乗り心地の低下や異音の発生を抑制できる。
【０１５６】
また、パイロット室４０１Ａが、周波数感応部５３０のケース部材５３１とは別のケース部材３５６Ａとメインバルブ１２１Ａとで構成されているため、周波数感応部５３０を、ピストンロッド２１への組み付けが容易な構造にできる。
【０１５７】
また、ケース部材５３１の筒部５４４は、底部５４１から区画ディスク５３４側に離れるほど内径が大となるテーパ形状であるため、区画ディスク５３４のシール部５５８の摺動時のフリクションを低減することができる。
【０１５８】
すなわち、区画ディスク５３４のシール部５５８は、ケース室５７１の圧力上昇時の区画ディスク５３４のリフト方向とは反対の底部５４１側に向いてディスク５５５に設けられている。このため、筒部５４４の内径がストレートであると、区画ディスク５３４がケース室５７１の圧力上昇によって底部５４１から離れる方向にリフトするにつれて、ケース室５７１の圧力で押圧されてシール部５５８の筒部５４４に対する締め代が大きくなり、シール部５５８の筒部５４４に対する摺動のフリクションが高くなってしまう。これに対し、区画ディスク５３４のリフトの方向に筒部５４４の内径が拡大するよう筒部５４４をテーパ形状にすることによって、リフト時にシール部５５８の筒部５４４に対する締め代が過大になることを防止することができ、過剰なフリクションを防止することができる。
【０１５９】
図８に、第２実施形態の筒部５４４がシール部５５８から受ける緊迫力の圧力負荷に対する特性の解析結果を示す。図８に破線Ｙ１で示すように、ケース室５７１から受ける区画ディスク５３４への圧力負荷が高くなると、シール部５５８から受ける筒部５４４の緊迫力（すなわちフリクション）は上がることになるが、図８に実線Ｙ２で示す筒部５４４の内径を一定のストレート形状とした場合と比べて、筒部５４４が受ける緊迫力を下げることができる。
【０１６０】
以上により、区画ディスク５３４が筒部５４４に対し引っ掛かりなく滑らかに動くことができるため、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。これにより、乗り心地の低下や異音の発生を抑制できる。
【０１６１】
また、区画ディスク５３４の方向に筒部５４４の内径が拡大するようケース部材５３１の筒部５４４をテーパ形状にすることによって、組み立て性を向上させることができる。すなわち、ケース部材５３１の筒部５４４を開口部５４９側が大径となるテーパ形状にすることによって、区画ディスク５３４の筒部５４４内への開口部５４９側からの嵌合が容易となる。このとき、開口部５４９の内径を区画ディスク５３４の外径よりも大きく設定することによって、区画ディスク５３４のケース部材５３１への組み込み時にシール部５５８が筒部５４４の開口部５４９で引っ掛かりにくくなり、嵌合しやすくなって、組み立て性を向上させることができる。
【０１６２】
［第３実施形態］
次に、第３実施形態を主に図９に基づいて第２実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第２実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。
【０１６３】
第３実施形態においては、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１が、ディスク５１とパイロットバルブ３５２との間に複数枚のディスク６０１を有している。また、減衰力発生機構４１は、第２実施形態のディスク３５５を有していない。また、第２実施形態の減衰力発生機構４１Ａの、ディスク５０Ａ、ディスク５１Ａ、パイロットバルブ３５２Ａ、ディスク３５３Ａ、ディスク３５５Ａおよびケース部材３５６Ａが設けられていない。また、ケース部材３５６の大径穴部３７６が軸方向のディスク３５３とは反対側に、小径穴部３７５が軸方向のディスク３５３側に形成されている。そして、ディスク５００が、ケース部材３５６とディスクバルブ１３１とに当接していて、その切欠５０１内の通路部５０２が、ケース部材３５６の大径穴部３７６内を含む中間室８５と、パイロット室４０１とを常時連通させている。ディスク５００の通路部５０２が、中間室８５とパイロット室４０１との間に設けられる絞り、すなわちオリフィスとなっている。
【０１６４】
そして、ディスクバルブ１３１のディスク５００とは反対側に、第２実施形態と同様のディスク５１１、ディスク５１２および周波数感応部５３０が設けられている。第３実施形態において、周波数感応部５３０は、ケース部材５３１の大径穴部５４６がピストンロッド２１の通路溝３０に直接連通しており、これにより、ケース室５７１が中間室８５に常時連通している。
【０１６５】
第３実施形態において、ピストンロッド２１が伸び側に移動する伸び行程では、上室１９からピストン１８の通路部３８を介して下室２０に向けて油液が流れる。この伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、通路部３８から、ピストン１８のバルブシート部４７、メインバルブ１２１および固定オリフィス９２を含む減衰力発生機構４１を通り、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０へ流れる流路がある。
【０１６６】
また、伸び行程での上室１９から通路部３８を介しての油液の流れには、上記と並列して、通路部３８から、ディスク５０内の通路部８２を流れ、中間室８５を通り、ディスク５００の通路部５０２を介してメインバルブ１２１の背圧室であるパイロット室４０１へ流れ、ケース部材３５６のバルブシート部３７４およびディスクバルブ１３１を含む減衰力発生機構１４５を通って下室２０へ流れる流路がある。
【０１６７】
緩衝器１への低周波入力（大振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５および周波数感応部５３０の通路部５８１を介してケース室５７１へ流れる油液量が大きく、区画ディスク５３４の撓み量も大きくなり、区画ディスク５３４は、ストッパ部５５９で蓋部材５３９のフランジ部５６２に当接して撓みが規制されるまで変形する。このように区画ディスク５３４の撓みが蓋部材５３９で規制された状態で、上室１９からの油液は、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部５０２を介してパイロット室４０１に流れ込む。すると、パイロット室４０１の圧力が上昇して高圧になり、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧が上がる。よって、減衰力がハードな特性となる。
【０１６８】
この低周波入力時において、ピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２を流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる。
【０１６９】
この状態から、ピストン速度を上げていくと、上室１９から通路部３８に流入する油液は、ハードバルブである減衰力発生機構１４５を開弁させて下室２０に流れる。その後、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、所定のピストン速度において、上室１９からの油液は、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１を開弁させて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。よって、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる。
【０１７０】
緩衝器１への高周波入力（小振幅入力）時は、上室１９から、通路部３８、通路部８２、中間室８５および通路部５８１を介してケース室５７１へ流れる油液量が小さく、区画ディスク５３４の撓み量も小さくなり、蓋部材５３９にストッパ部５５９で当接しても撓みが規制されない範囲で変形する。よって、ケース室５７１への油液の流入分は区画ディスク５３４の撓みで吸収できるため、ケース室５７１に常時連通するパイロット室４０１の圧力は上がらず低圧となるため、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１の開弁圧は低い。よって、減衰力がソフトな特性となる。
【０１７１】
この高周波入力時においては、低周波入力と同様、ピストン速度が微低速の微低速域では、上室１９から、通路部３８に入った油液は、減衰力発生機構４１の閉弁状態にあるメインバルブ１２１の固定オリフィス９２を流れて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、オリフィス特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が高くなる。
【０１７２】
この状態から、ピストン速度を上げ、ピストン１８の通路部３８を流れる流量を上げていくと、所定のピストン速度において、上室１９から通路部３８に流入する油液は、減衰力発生機構４１のメインバルブ１２１を開弁させて、ピストン１８とケース部材３５６との間の通路部１２５を介して下室２０に流れる。このため、ピストン速度に対する減衰力の特性は、バルブ特性となり、ピストン速度の上昇に対して比較的減衰力の上昇率が低くなる。
【０１７３】
第３実施形態の緩衝器１によれば、第２実施形態と同様、ケース部材５３１の筒部５４４は、底部５４１から軸方向の区画ディスク５３４側に離れるほど内径が大となるテーパ形状であるため、区画ディスク５３４のシール部５５８の摺動時のフリクションを低減することができる。よって、区画ディスク５３４が筒部５４４に対し引っ掛かりなく滑らかに動くことができるため、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。これにより、乗り心地の低下や異音の発生を抑制できる。
【０１７４】
また、区画ディスク５３４の方向に内径が拡大するようケース部材５３１の筒部５４４をテーパ形状にすることから、区画ディスク５３４を筒部５４４内に嵌合させやすくなり、組み立て性を向上させることができる。
【０１７５】
上記実施形態は、複筒式の油圧緩衝器に本発明を用いた例を示したが、これに限らず、外筒をなくしシリンダ２内の下室２０の上室１９とは反対側に摺動可能な区画体でガス室を形成するモノチューブ式の油圧緩衝器に用いてもよく、ディスクにシール部材を設けた構造のパッキンバルブを使用した圧力制御バルブを含むあらゆる緩衝器に用いることができる。勿論、上記した縮み側の減衰力発生機構４２に本発明を適用したり、上記したベースバルブ２５に本発明を適用することも可能である。また、シリンダ２の外部にシリンダ２内と連通する油通路を設け、この油通路に減衰力発生機構を設ける場合にも適用可能である。また、上記実施形態では、油圧緩衝器を例に示したが、流体として水や空気を用いることもできる。
【０１７６】
以上に述べた実施形態の第１の態様は、作動流体が封入されるシリンダと、前記シリンダの内部に摺動可能に設けられ前記シリンダ内に２室を画成するピストンと、一端側部分が前記シリンダの内部で前記ピストンに固定され他端側部分が前記シリンダの外部にロッドガイドを介して突出するピストンロッドと、前記ピストンの移動により前記シリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる第１減衰力発生機構と、内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、を有し、前記第１減衰力発生機構は、前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第１メインバルブと、前記第１メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第１パイロット室と、を備え、前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２減衰力発生機構が設けられ、前記第２減衰力発生機構は、前記第１パイロット室から前記下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させる第２メインバルブと、前記第２メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させる第２パイロット室と、を備えている。これにより、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。
【０１７７】
第２の態様は、第１の態様において、前記第２パイロット室は、前記ハウジングと前記ディスクと前記第２メインバルブとで構成されている。これにより、部品点数を削減でき、コストを低減することができる。
【０１７８】
第３の態様は、第１の態様において、前記第２パイロット室は、前記ハウジングとは別のケースと前記第２メインバルブとで構成されている。これにより、組み立ての容易化が可能となる。
【０１７９】
第４の態様は、第１乃至第３のいずれか一態様において、前記ハウジングの筒部は、底部から前記ディスク側に離れるほど内径が大となるテーパ形状である。これにより、ハウジングの筒部に対するディスクの移動が滑らかとなり、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。
【０１８０】
第５の態様は、作動流体が封入されるシリンダと、前記シリンダの内部に摺動可能に設けられ前記シリンダ内に２室を画成するピストンと、一端側部分が前記シリンダの内部で前記ピストンに固定され他端側部分が前記シリンダの外部にロッドガイドを介して突出するピストンロッドと、前記ピストンの移動により前記シリンダ内の一方の室から作動流体が流れ出す第１通路と、前記第１通路と並列に設けられる第２通路と、前記第１通路に設けられて減衰力を発生させる減衰力発生機構と、内部に前記第２通路の少なくとも一部が形成される有底筒状のハウジングと、前記ハウジングに対して移動可能に設けられ、前記ハウジングの底部との間にハウジング内室を形成するディスクと、を有し、前記減衰力発生機構は、前記ピストンの摺動によって上流室から下流室への作動流体の流れを抑制して減衰力を発生させるメインバルブと、前記メインバルブに閉弁方向に圧力を作用させるパイロット室と、を備え、前記ハウジングの筒部は、底部から前記ディスク側に離れるほど内径が大となるテーパ形状である。これにより、ハウジングの筒部に対するディスクの移動が滑らかとなり、減衰力特性を滑らかにすることが可能となる。
【符号の説明】
【０１８１】
１  緩衝器
２  シリンダ
１８  ピストン
１９  上室（上流室）
２０  下室（下流室）
２１  ピストンロッド
２２  ロッドガイド
４１  減衰力発生機構（第１減衰力発生機構）
４１Ａ  減衰力発生機構（第２減衰力発生機構）
５２  パイロットバルブ（第２メインバルブ）
５６  ケース部材（ハウジング）
６９  区画ディスク（ディスク）
７１  底部
１０１  パイロット室（第２パイロット室）
１０２  可変室（ハウジング内室）
１２１  メインバルブ（第１メインバルブ）
１２１Ａ  メインバルブ（第２メインバルブ）
１３０  通路（第１通路）
１４０  通路（第２通路）
３５６Ａ  ケース部材（ケース）
４０１  パイロット室（第１パイロット室）
４０１Ａ  パイロット室（第２パイロット室）
４４１  減衰力発生機構（第２減衰力発生機構）
５３１  ケース部材（ハウジング）
５３４  区画ディスク（ディスク）
５４０  周波数感応部ケース
５４１  底部
５４４  筒部
５７１  ケース室（ハウジング内室）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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