(57)【要約】【課題】現像ローラー上の現像剤の帯電量を好適に推測することができる画像処理装置を提供する。【解決手段】画像形成部２は、感光体４と、現像ローラー６と、電圧印加部１０と、測定部１２と、制御部１４とを含む。感光体４は、静電潜像ｓｅが形成される。現像ローラー６は、現像剤ｇにより感光体４の静電潜像ｓｅを現像する。電圧印加部１０は、現像ローラー６に現像バイアス電圧Ｖを印加する。測定部１２は、現像剤ｇの帯電量Ｑと現像バイアス電圧Ｖとに基づく現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。制御部１４は、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加したときの、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づいて、現像バイアス電圧Ｖが印加されていないときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇを推測する。【選択図】図２
2020177047.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
静電潜像が形成される感光体と、
現像剤により前記感光体の前記静電潜像を現像する現像ローラーと、
前記現像ローラーに現像バイアス電圧を印加する電圧印加部と、
前記現像剤の帯電量と前記現像バイアス電圧とに基づく現像電流の電流値を測定する測定部と、
前記現像ローラーに複数の互いに異なる電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧が印加されていないときの前記現像電流の推測電流値を推測する制御部と
を備える、画像処理装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記現像ローラーに前記複数の互いに異なる前記電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて近似式を導出し、前記近似式に基づいて前記推測電流値を推測する、請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記感光体および前記現像ローラーを駆動する駆動部をさらに備え、
前記駆動部は、複数の線速比で前記感光体と前記現像ローラーとを駆動し、
前記電圧印加部は、前記複数の線速比ごとに、前記現像ローラーに前記複数の互いに異なる前記電圧値の前記現像バイアス電圧を印加し、
前記測定部は、前記複数の線速比ごとに、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値を測定し、
前記制御部は、前記複数の線速比ごとに前記近似式を導出し、複数の前記近似式に基づいて前記推測電流値を推測する、請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記推測電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧を補正する補正部をさらに備える、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記測定部が前記感光体と前記現像ローラーとの前記複数の線速比ごとに測定したそれぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値から、前記現像剤の前記帯電量を算出し、所定の印字枚数ごとの前記帯電量の比の変化から、前記現像剤の状態を推定する、請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記所定の印字枚数ごとの前記帯電量の比の変化から、前記所定の印字枚数と前記帯電量の比との関係を表す予測式を導出し、前記推定を行う間隔を変更する、請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記予測式に対し、前記測定部が測定した前記現像電流の前記電流値に基づく前記帯電量の比が閾値の範囲外であった場合、前記予測式の修正を行うか否かを判定する、請求項６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記現像剤は、一成分トナーである、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記現像剤は、二成分トナーである、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、電流検知回路で検出した電流を電流積分回路で積分し、基準トナーパターンを転写するときに移動したトナーの総電荷量を求める。そして、トナーの総電荷量と転写トナーパターンの単位面積あたりのトナー付着量とからトナー帯電量を求めている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平６−４３７１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に記載されたトナー帯電量の検出装置は、トナーの総電荷量の算出において、現像バイアス電圧による電荷が注入されていることを考慮していない。特に、一成分現像剤を使用する現像装置においては、現像バイアス電圧に起因する電荷が現像電流に含まれるため、現像ローラー上の現像剤の帯電量を正確に計測できないという課題がある。
【０００５】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、現像ローラー上の現像剤の帯電量を好適に推測することができる画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一局面によれば、画像処理装置は、感光体と、現像ローラーと、電圧印加部と、測定部と、制御部とを備える。前記感光体は、静電潜像が形成される。前記現像ローラーは、現像剤により前記感光体の前記静電潜像を現像する。前記電圧印加部は、前記現像ローラーに現像バイアス電圧を印加する。前記測定部は、前記現像剤の帯電量と前記現像バイアス電圧とに基づく現像電流の電流値を測定する。前記制御部は、前記現像ローラーに複数の互いに異なる電圧値の前記現像バイアス電圧を印加したときの、それぞれの前記電圧値における前記現像電流の前記電流値に基づいて、前記現像バイアス電圧が印加されていないときの前記現像電流の推測電流値を推測する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、現像ローラー上の現像剤の帯電量を好適に推測することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の本実施形態に係る画像処理装置を示す図である。
【図２】本実施形態に係る画像処理装置の画像形成部を示す図である。
【図３】本実施形態に係る画像処理装置の第１具体例および第２具体例を示す図である。
【図４】本実施形態に係る画像処理装置の第３具体例を示す図である。
【図５】本実施形態に係る画像処理装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】本実施形態に係る画像処理装置の変形例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、図中、同一または相当部分については同一の参照符号を付して説明を繰り返さない。
【００１０】
まず、図１を参照して、本実施形態に係る画像処理装置１００について説明する。図１は、画像処理装置１００を示す図である。
【００１１】
図１に示すように、画像処理装置１００は、読取部２２と、給送部２４と、搬送部２６と、画像形成部２と、定着装置２８と、排出部３０とを備える。
【００１２】
読取部２２は、原稿Ｇの画像を読み取る。読取部２２は、読み取った画像から画像データを生成する。給送部２４は、複数のシートＳを収容し、搬送部２６へシートＳを給送する。シートＳは、例えば、紙製または合成樹脂製のシートである。搬送部２６は、複数の搬送ローラー対を含み、画像形成部２にシートＳを搬送する。
【００１３】
画像形成部２は、現像剤ｇによりシートＳに画像を形成する。現像剤ｇは、例えば、トナーである。現像剤ｇは、一成分トナーであってもよく、二成分トナーであってもよい。しかし、本実施形態に係る画像処理装置１００においては、二成分トナーよりも一成分トナーの方がより好適に後述する効果を奏する。二成分トナーよりも一成分トナーの方が、後述する現像バイアス電圧Ｖの影響をより大きく受けるからである。以降の本実施形態に係る画像処理装置１００では、現像剤ｇは、一例として一成分トナーであることを前提に説明する。
【００１４】
画像形成部２は、電子写真方式によってシートＳにトナー像を形成する。具体的には、画像形成部２は、感光体ドラムと、帯電装置と、露光装置と、現像装置と、補給装置と、転写装置と、クリーニング装置と、除電装置とを含む。
【００１５】
トナー像は、例えば、原稿Ｇの画像を示す。定着装置２８は、トナー像を加熱および加圧して、シートＳにトナー像を定着させる。搬送部２６は、トナー像の定着されたシートＳを排出部３０に搬送する。排出部３０は、画像処理装置１００の外部にシートＳを排出する。
【００１６】
次に、図２を参照して、画像処理装置１００に備えられた画像形成部２の詳細を説明する。図２は、画像形成部２を示す図である。
【００１７】
図２に示すように、画像処理装置１００は、画像形成部２を備える。画像形成部２は、感光体４と、現像ローラー６と、帯電部材８と、電圧印加部１０と、測定部１２と、制御部１４とを含む。感光体４には、静電潜像ｓｅが形成される。現像ローラー６は、現像剤ｇにより感光体４の静電潜像ｓｅを現像する。帯電部材８は、現像剤ｇを帯電させる。電圧印加部１０は、現像ローラー６に現像バイアス電圧Ｖを印加する。測定部１２は、現像剤ｇの帯電量Ｑと現像バイアス電圧Ｖとに基づく現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。制御部１４は、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加したときの、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づいて、現像バイアス電圧Ｖが印加されていないときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇを推測する。
【００１８】
現像電流Ｉは、電荷ｑが印加された現像剤ｇが、現像ローラー６から感光体４へ転移することによって生じる。現像電流Ｉが変化するということは、現像ローラー６から感光体４への現像剤ｇの転移量が変化することを意味する。例えば、現像剤ｇの帯電量Ｑが減少すると、現像ローラー６から感光体４への現像剤ｇの転移量が減少するため、印字濃度が減少する。従って、印字濃度を適切に制御するため、現像電流Ｉを知ることは重要である。
【００１９】
一方で、現像ローラー６には現像バイアス電圧Ｖが印加されているため、現像剤ｇの帯電量Ｑを直接計測することはできない。つまり、現像ローラー６上の帯電量Ｑｍには、現像バイアス電圧Ｖが現像ローラー６に印加されて発生する電界による注入電荷Ｑｃが加わり、Ｑ＝Ｑｍ＋Ｑｃとなる。そのため、感光体４に流れる現像電流Ｉを測定部１２で測定することにより、帯電量Ｑを推測することが一般に行われている。
【００２０】
すなわち、現像ローラー６の現像剤ｇで感光体４の静電潜像ｓｅを現像しないときは現像電流Ｉが流れないため、測定部１２で現像電流Ｉを測定することはできない。一方で、現像ローラー６の現像剤ｇで感光体４の静電潜像ｓｅを現像するときは、電圧印加部１０により現像ローラー６に現像バイアス電圧Ｖが印加されている。その結果、測定部１２は、現像剤ｇに帯電した電荷ｑに起因する電流Ｉｑに加えて、現像バイアス電圧Ｖに起因する電流Ｉｂも重畳された現像電流Ｉを測定する。従って、現像剤ｇに帯電した電荷ｑに起因する電流Ｉｑのみを測定することは困難である。
【００２１】
本実施形態では、電圧印加部１０が、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加する。測定部１２は、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。制御部１４は、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの組み合わせを複数取得し、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの複数の組み合わせに基づいて、現像バイアス電圧Ｖが印加されていないときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇを推測する。推測電流値Ｉｇに基づいて、現像ローラー６上の現像剤ｇの帯電量Ｑを推測することができる。
（実施例）
【００２２】
具体的には、以下のような条件で実験を行うことにより、本発明を実証できる。
【００２３】
画像形成速度：４０枚／ｍｉｎ、感光体４の収束：２４０．２８ｍｍ／ｓｅｃ、感光体４の径：３０ｍｍ、感光体４から現像ローラー６までの距離：０．３０ｍｍ、感光体４の材質：アモルファスシリコン、感光体４の表面電位：２２０ｖ、現像ローラー６の径：２０ｍｍ、現像ローラー６の表面形状：ブラスト、現像ローラー６の印加電圧：１３５Ｖ、現像ローラー６の線速：３８４ｍｍ／ｓｅｃ、および現像剤ｇ：６．８μｍ、正帯電性。
【００２４】
本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像ローラー６上の現像剤ｇの帯電量Ｑを好適に推測することができる。
【００２５】
（第１具体例）
次に、図３を参照して、制御部１４が現像剤ｇの帯電量Ｑを推測する第１具体例を説明する。図３は、画像処理装置１００の第１具体例を示す図である。第１具体例では、制御部１４は、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加したときの、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づいて近似式ｆを導出し、近似式ｆに基づいて推測電流値Ｉｇを推測する。
【００２６】
電圧印加部１０は、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加する。測定部１２は、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。
【００２７】
制御部１４は、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの組み合わせを複数取得し、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの複数の組み合わせに基づいて、近似式ｆを導出する。近似式ｆは、一般に近似曲線または近似直線を表す。
【００２８】
近似式ｆを用いることにより、近似式ｆにおいて、現像バイアス電圧Ｖの電圧値Ｖｎが０のときの電流値Ｉｎを、現像バイアス電圧Ｖが印加されていないときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇとして算出できる。近似式ｆを用いて算出された推測電流値Ｉｇに基づいて、現像ローラー６上の現像剤ｇの帯電量Ｑをさらに好適に推測することができる。
【００２９】
具体的には、図３に示すように、電圧印加部１０は、現像ローラー６に、電圧値Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、・・・、の電圧を印加する。このとき、Ｖ１＜Ｖ２＜Ｖ３＜・・・＜Ｖｎである。測定部１２は、電圧値Ｖ１の時の電流値Ｉ１、電圧値Ｖ２の時の電流値Ｉ２、電圧値Ｖ３の時の電流値Ｉ３、・・・、を測定する。制御部１４は、Ｖ１とＩ１、Ｖ２とＩ２、Ｖ３とＩ３、・・・、の組み合わせを取得する。
【００３０】
そして、制御部１４は、Ｖ１とＩ１、Ｖ２とＩ２、Ｖ３とＩ３、・・・、の組み合わせから近似式ｆを導出する。図３に示す例では、近似式ｆは、ＶｎとＩｎとの一次関数の直線である。すなわち、制御部１４は、Ｖ１とＩ１、Ｖ２とＩ２、Ｖ３とＩ３、・・・、の組み合わせから、一次関数の傾きをａ、Ｉｎ軸の切片をｂとする近似式ｆ：Ｉ＝ｆ（Ｖ）＝ａＶ＋ｂの一次関数式を導出する。但し、近似式ｆは、一次関数に限られない。二次関数、または三次以上の次元のｎ次元関数であってもよい。
【００３１】
制御部１４は、現像バイアス電圧Ｖ＝０のときのｆ（０）＝ｂを導出する。ｂの値は、現像バイアス電圧Ｖ＝０のときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇである。現像電流Ｉは、現像剤ｇに帯電した電荷ｑを時間積分して得られるから、推測電流値Ｉｇを時間で微分することにより、現像剤ｇの帯電量Ｑを算出することができる。
【００３２】
本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像ローラー６上の現像剤ｇの帯電量Ｑをさらに好適に推測することができる。
【００３３】
（第２具体例）
引き続き、図３を参照して、制御部１４が現像剤ｇの帯電量Ｑを推測する第２具体例を説明する。
【００３４】
第２具体例では、画像処理装置１００の画像形成部２は、感光体４および現像ローラー６を駆動する駆動部１６をさらに備える。
【００３５】
駆動部１６は、複数の線速比Ｖｓｎで感光体４と現像ローラー６とを駆動する。電圧印加部１０は、複数の線速比Ｖｓｎごとに、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加する。
【００３６】
測定部１２は、複数の線速比Ｖｓｎごとに、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。
【００３７】
制御部１４は、複数の線速比Ｖｓｎごとに近似式ｆｎを導出し、複数の近似式ｆｎに基づいて推測電流値Ｉｇを推測する。
【００３８】
制御部１４は、感光体４と現像ローラー６との線速比Ｖｓｎを複数設定する。具体的には、線速比Ｖｓ１と線速比Ｖｓ２（Ｖｓ１＞Ｖｓ２）を設定する。
【００３９】
電圧印加部１０は、線速比Ｖｓ１において、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加する。
【００４０】
駆動部１６は、線速比Ｖｓ１で感光体４と現像ローラー６とを駆動する。
【００４１】
測定部１２は、線速比Ｖｓ１において、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加したときの、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。
【００４２】
制御部１４は、線速比Ｖｓ１において、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの組み合わせを複数取得し、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの複数の組み合わせに基づいて、近似式ｆ１を導出する。
【００４３】
次に、電圧印加部１０は、線速比Ｖｓ２において、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加する。
【００４４】
駆動部１６は、線速比Ｖｓ２で感光体４と現像ローラー６とを駆動する。
【００４５】
測定部１２は、線速比Ｖｓ２において、現像ローラー６に複数の互いに異なる電圧値Ｖｎの現像バイアス電圧Ｖを印加したときの、それぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。
【００４６】
制御部１４は、線速比Ｖｓ２において、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの組み合わせを複数取得し、電圧値Ｖｎと電流値Ｉｎとの複数の組み合わせに基づいて、近似式ｆ２を導出する。
【００４７】
制御部１４は、近似式ｆ１と近似式ｆ２とにおいて、電流値Ｉｎが一致する電圧値Ｖｎを算出する。すなわち、近似式ｆ１に基づく近似曲線と近似式ｆ２に基づく近似曲線との交点を導出する。その電圧値Ｖｎにおける電流値Ｉｎを推測電流値Ｉｇと推測する。
【００４８】
または、制御部１４は、複数の近似式ｆｎを導出して、それぞれの推測電流値Ｉｇｎを導出し、複数の推測電流値Ｉｇｎの平均値、中央値などを推測電流値Ｉｇとしてもよい。
【００４９】
本実施形態によれば、１つの近似式ｆを用いるよりも、複数の近似式ｆｎを用いる方が、現像バイアス電圧Ｖが印加されていないときの現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇをより正確に算出できる。
【００５０】
また、本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像ローラー６上の現像剤ｇの帯電量Ｑをさらに好適に推測することができる。
（第３具体例）
【００５１】
次に、図４を参照して、画像処理装置１００の第３具体例を説明する。図４は、画像処理装置１００の第３具体例を示す図である。図４は、横軸に画像形成枚数をとり、縦軸に感光体４上に形成された現像剤ｇによる画像濃度（ＩＤ：Ｉｍａｇｅ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）をとり、画像形成枚数と画像濃度の実測値との関係を表している。
【００５２】
第３具体例では、画像処理装置１００の画像形成部２は、推測電流値Ｉｇに基づいて、現像バイアス電圧Ｖを補正する補正部１８をさらに備える。
【００５３】
一般に、現像剤ｇの帯電量Ｑと感光体４上の現像剤ｇの濃度とは比例関係にある。すなわち、現像剤ｇの帯電量Ｑが低下すると、感光体４上の現像剤ｇの濃度は低下する。別言すれば、現像剤ｇの帯電量Ｑと現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇとは正比例の関係にある。従って、現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇが低下すると、感光体４上の現像剤ｇの濃度は低下する。
【００５４】
補正部１８は、推測電流値Ｉｇが減少していることを検知し、現像バイアス電圧Ｖを増加させるよう補正する。現像バイアス電圧Ｖを増加するよう補正することによって、図４に示すように、感光体４上の現像剤ｇの濃度が補正され、現像剤ｇの濃度の低下が抑制される。
【００５５】
本実施形態によれば、感光体４上の現像剤ｇの濃度の低下を抑えることができる。
【００５６】
次に、図５を参照して、画像処理装置１００の動作を説明する。図５は、画像処理装置１００の動作を示すフローチャートである。図５に示すように、処理はステップＳ１０からステップＳ２０を含む。具体的には次の通りである。
【００５７】
図５に示すように、まず、ステップＳ１０において、感光体４に静電潜像ｓｅが形成される。処理は、ステップＳ１２に進む。
【００５８】
ステップＳ１２において、現像ローラー６は、感光体４の静電潜像ｓｅを現像する。処理は、ステップＳ１４に進む。
【００５９】
ステップＳ１４において、帯電部材８は、現像剤ｇを帯電させる。処理は、ステップＳ１６に進む。
【００６０】
ステップＳ１６において、電圧印加部１０は、現像ローラー６に現像バイアス電圧Ｖを印加する。処理は、ステップＳ１８に進む。
【００６１】
ステップＳ１８において、測定部１２は、現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。処理は、ステップＳ２０に進む。
【００６２】
ステップＳ２０において、制御部１４は、近似式ｆを導出する。処理は、ステップＳ２２に進む。
【００６３】
ステップＳ２２において、制御部１４は、現像電流Ｉの推測電流値Ｉｇを推測する。処理は、ステップＳ２４に進む。
【００６４】
ステップＳ２４において、補正部１８は、推測電流値Ｉｇに基づいて、現像バイアス電圧Ｖを補正することによって、現像剤ｇの濃度を補正する。そして、処理は終了する。
【００６５】
（第１変形例）
次に、図６を参照して、本実施形態に係る画像処理装置１００の第１変形例を説明する。図６は、第１変形例を示す図である。図６は、横軸に印字枚数をとり、縦軸に感光体４と現像ローラー６との複数の線速比Ｖｓｎごとに算出された複数の帯電量Ｑの比（ＱＨ／ＱＬ）をとる。図６は、所定の印字枚数ごとに測定部１２によって実測された現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づいて算出された帯電量Ｑの比（ＱＨ／ＱＬ）の変化を示す。
【００６６】
感光体４と現像ローラー６との線速比Ｖｓｎに対する現像剤ｇの挙動の違いから感光体４上の現像剤ｇの濃度が変化する。感光体４上の現像剤ｇの濃度が変化することによって、現像電流Ｉが変化することを利用して、現像剤ｇの状態推定が可能である。
【００６７】
第１変形例では、制御部１４は、測定部１２が感光体４と現像ローラー６との複数の線速比Ｖｓｎごとに測定したそれぞれの電圧値Ｖｎにおける現像電流Ｉの電流値Ｉｎから、現像剤ｇの帯電量Ｑを算出し、所定の印字枚数ごとの帯電量Ｑの比の変化から、現像剤ｇの状態を推定する。
【００６８】
具体的には、駆動部１６は、線速比ＶｓＨと、線速比ＶｓＬとで、互いに異なるタイミングで、感光体４と現像ローラー６とを駆動する。測定部１２は、線速比ＶｓＨにおいて、所定の印字枚数ごとに現像電流Ｉを測定する。制御部１４は、複数の電流値Ｉｎから現像剤ｇの帯電量ＱＨを算出する。次に、測定部１２は、線速比ＶｓＬにおいて、所定の印字枚数ごとに現像電流Ｉを測定する。制御部１４は、複数の電流値Ｉｎから現像剤ｇの帯電量ＱＬを算出する。
【００６９】
印字開始時の帯電量比を帯電量比（ＱＨ／ＱＬ）０と表わす。制御部１４は、所定の印字枚数ごとに帯電量比（ＱＨ／ＱＬ）を算出する。図６に示すように、印字枚数が増加するに従って、帯電量比（ＱＨ／ＱＬ）が増加する。すなわち、電界の変化に対する応答性が変化していることから、制御部１４は、現像剤ｇの状態が変化していることを推定することができる。
【００７０】
本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像剤ｇの状態が変化していることを推定することができる。
【００７１】
（第２変形例）
次に、引き続き、図６を参照して、第２変形例を説明する。第２変形例では、制御部１４は、所定の印字枚数ごとの帯電量Ｑの比の変化から、所定の印字枚数と帯電量Ｑの比との関係を表す予測式を導出し、推定を行う間隔を変更する。
【００７２】
図６に示すように、現像剤ｇの状態変化に基づいて、状態変化を予測することが可能である。具体的には、印字開始から所定の印字枚数までは、駆動部１６は、一定の時間間隔で感光体４を駆動させる。制御部１４は、所定の印字枚数ごとの帯電量Ｑの比の変化から、所定の印字枚数と帯電量Ｑの比との関係を表す予測式を導出する。
【００７３】
予測式が導出された後は、制御部１４は、現像剤ｇの状態推定を行う時間間隔を変化させることができる。それぞれの時間間隔ごとに現像剤ｇの状態推定を行うか否かを判定する。
【００７４】
本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像剤ｇの状態推定のタイミングを変化させ、状態推定を行うか否かを判定することもでき、現像剤ｇの状態推定を好適に行うことができる。
【００７５】
（第３変形例）
次に、引き続き、図６を参照して、第３変形例を説明する。第３変形例では、制御部１４は、予測式に対し、測定部１２が測定した現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づく帯電量Ｑの比が閾値Ｔｈの範囲外であった場合、予測式の修正を行うか否かを判定する。
【００７６】
具体的には、測定部１２は、所定の印字枚数ごとに現像電流Ｉの電流値Ｉｎを測定する。制御部１４は、予測式に対して、現像電流Ｉの電流値Ｉｎに基づく帯電量Ｑの比と閾値Ｔｈとを比較する。そして、制御部１４は、比が閾値Ｔｈの範囲外であった場合、予測式を修正するか否かを判定する。
【００７７】
また、制御部１４は、帯電量Ｑの比と閾値Ｔｈとを比較することにより、比が閾値Ｔｈの範囲を超えた場合に、劣化した現像剤ｇを現像装置から吐き出させるよう制御したり、現像装置を交換させるよう警告したり、プロセス制御を変更したりすることもできる。ここで、プロセス制御は、現像直流バイアス電圧のほか、現像交流バイアス電圧、現像交流周波数、現像デューティーなどを変更してもよい。
【００７８】
本実施形態によれば、画像処理装置１００は、現像剤ｇの状態推定をより好適に行うことができる。
【００７９】
以上、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明した。但し、本発明は、上記の実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の態様において実施することが可能である。また、上記の各実施形態に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせることによって、種々の発明の形成が可能である。例えば、本実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる本実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。図面は、理解しやすくするために、それぞれの構成要素を主体に模式的に示しており、図示された各構成要素の個数、配置位置、配置の順序等は、図面作成の都合上から実際とは異なることがある。また、上記の実施形態で示す各構成要素の材質、成分、形状等は一例であって、特に限定されるものではなく、本発明の構成から実質的に逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００８０】
本発明は、画像処理装置の分野に利用可能である。
【符号の説明】
【００８１】
１００      画像処理装置
２          画像形成部
４          感光体
６          現像ローラー
８          帯電部材
１０        電圧印加部
１２        測定部
１４        制御部
１６        駆動部
１８        補正部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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