(57)【要約】【課題】  被検眼の測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供する。【解決手段】  被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、被検眼の自覚式測定中における第１前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、第１前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備える。【選択図】      図１
2020137915.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、
前記被検眼の自覚式測定中における第１前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、
前記第１前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、
前記細目情報に関する情報を出力する出力手段と、
を備えることを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項２】
請求項１の自覚式検眼装置において、
前記前眼部画像取得手段は、前記被検眼が開瞼した状態の第２前眼部画像を基準画像として取得するとともに、前記自覚式測定中における前記第１前眼部画像を参照画像として取得し、
前記細目情報取得手段は、前記基準画像と前記参照画像を比較することによって、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項３】
請求項２の自覚式検眼装置において、
前記細目情報取得手段は、前記基準画像及び前記参照画像から前記被検眼の瞳孔の形状変化に関する瞳孔情報を取得し、前記瞳孔情報を比較することによって、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかの自覚式検眼装置において、
前眼部画像取得手段は、所定の時間以上で連続的に前記第１前眼部画像を取得し、
前記細目情報取得手段は、前記所定の時間以上で連続的に取得された前記第１前眼部画像に基づいて、前記細目情報を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかの自覚式検眼装置において、
前記前眼部画像取得手段により取得された前記第１前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを判定する判定手段を備え、
前記細目情報取得手段は、前記細目情報として、前記判定手段の判定結果を取得することを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかの自覚式検眼装置において、
前記細目情報取得手段により取得された前記細目情報に基づいて、前記自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を取得する判定情報取得手段を備え、
前記出力手段は、前記細目情報とともに、前記判定情報を出力することを特徴とする自覚式検眼装置。
【請求項７】
被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムであって、
前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、
前記被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を取得する前眼部画像取得ステップと、
前記前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得ステップと、
前記細目情報に関する情報を出力する出力ステップと、
を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする自覚式検眼プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置、及び、自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
自覚式検眼装置として、被検者の眼前に光学部材（例えば、球面レンズ、円柱レンズ、等）を配置し、この光学部材を介した視標を呈示することによって、被検眼の光学特性を測定するものが知られている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１７６８９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
自覚式測定時において、被検者は、呈示された視標を観察する際に、眼を細めることがある。被検者が眼を細めた状態と眼を細めていない状態では、視標の見え方が変化してしまうため、検者は被検眼の測定結果を正確に得られない場合があった。
【０００５】
本開示は、上記従来技術に鑑み、被検眼の測定結果を正確に得ることができる自覚式検眼装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本開示は、以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００７】
（１）本開示の第１態様に係る自覚式検眼装置は、被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置であって、前記被検眼の自覚式測定中における第１前眼部画像を取得する前眼部画像取得手段と、前記第１前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得手段と、前記細目情報に関する情報を出力する出力手段と、を備えることを特徴とする。
【０００８】
（２）本開示の第２態様に係る自覚式検眼プログラムは、被検眼に向けて視標光束を投影する投光光学系の光路中に配置され、前記視標光束の光学特性を変化させる矯正光学系を有し、前記被検眼の光学特性を自覚的に測定する自覚式検眼装置にて用いる自覚式検眼プログラムであって、前記自覚式検眼装置のプロセッサに実行されることで、前記被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を取得する前眼部画像取得ステップと、前記前眼部画像に基づいて、前記被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する細目情報取得ステップと、前記細目情報に関する情報を出力する出力ステップと、を前記自覚式検眼装置に実行させることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】検眼装置の外観図である。
【図２】測定部を示す図である。
【図３】検眼装置の内部を正面方向から見た概略構成図である。
【図４】検眼装置の内部を側面方向から見た概略構成図である。
【図５】検眼装置の内部を上面方向から見た概略構成図である。
【図６】検眼装置の制御系を示す図である。
【図７】基準画像の一例である。
【図８】参照画像の一例である。
【図９】被検眼の細目状態とまばたき状態の時間経過にともなう参照画像の変化を示す図である。
【図１０】被検眼の矯正度数と細目情報の変化を表すグラフの一例である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜概要＞
本開示の実施形態に係る自覚式検眼装置（以下、検眼装置と省略する）の概要について説明する。以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。
【００１１】
本実施形態における検眼装置は、被検眼の光学特性を自覚的に測定する。被検眼の光学特性は、被検眼の眼屈折度（例えば、被検眼の球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等）、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能、等）、等の少なくともいずれかであってもよい。
【００１２】
また、本実施形態における検眼装置は、被検眼の自覚式測定中に、被検眼が眼を細めた状態（細目状態）か否かを示す細目情報を取得する。被検眼は、開瞼した状態（言い換えると、自然に眼を開いた自然視の状態）で視標を観察するが、まばたきをした状態（まばたき状態）、眼を細めた状態（細目状態）、眼を見開いた状態（見開き状態）、等になることがある。例えば、まばたき状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼が閉じて開き、瞳孔が瞬間的に認識できなくなる状態である。例えば、細目状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼の位置は下がるが閉じはせず、瞳孔を持続して認識できる状態である。例えば、見開き状態は、被検眼の開瞼状態を基準に、瞼の位置が上がり、瞳孔を持続して認識できる状態である。本実施形態では、被検眼のまばたきと区別して、被検眼の細目情報が取得されてもよい。
【００１３】
＜投光光学系＞
検眼装置は、投光光学系（例えば、投光光学系３０）を備えてもよい。投光光学系は、被検眼に向けて視標光束を投影する。投光光学系は、被検眼に向けて視標光束を投影するための視標呈示手段を有してもよい。例えば、視標呈示手段には、ディスプレイ（例えば、ディスプレイ３１）を用いてもよい。ディスプレイは、ＬＣＯＳ（Liquid crystal on silicon）、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）等であってもよい。また、例えば、視標呈示手段には、光源とＤＭＤ（Digital Micromirror Device）、視標呈示用の可視光源と視標板、等を用いてもよい。投光光学系は、被検眼に視標呈示手段から出射した視標光束を導光する少なくとも１つの光学部材を有してもよい。
【００１４】
なお、本実施形態において、検眼装置は必ずしも投光光学系を備えなくてもよく、検眼装置とは別に、投光光学系を備える装置を設ける構成としてもよい。すなわち、検眼装置は少なくとも後述の矯正光学系を備える構成であってもよい。
【００１５】
＜矯正光学系＞
検眼装置は、矯正光学系（例えば、投光光学系３０、矯正光学系６０）を備える。矯正光学系は、投光光学系の光路中に配置され、視標光束の光学特性を変化させる。視標光束の光学特性は、視標光束の球面度数、円柱度数、乱視軸角度、等の少なくともいずれかであってもよい。
【００１６】
矯正光学系は、視標光束の光学特性を変更可能な構成であればよい。例えば、矯正光学系は、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更可能としてもよい。光学素子は、球面レンズ、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、ロータリプリズム、波面変調素子、可変焦点レンズ、等の少なくともいずれかであってもよい。もちろん、これらの光学素子とは異なる光学素子であってもよい。
【００１７】
また、例えば、矯正光学系は、被検眼に対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更することで、被検眼の球面度数を矯正してもよい。この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成としてもよい。また、この場合、視標の呈示位置を光学的に変更するために、光路中に配置された光学素子（例えば、球面レンズ等）を光軸方向に移動させる構成としてもよい。
【００１８】
なお、矯正光学系は、光学素子を制御する構成と、視標呈示手段を光軸方向に移動させる構成と、光路中に配置された光学素子を光軸方向に移動させる構成と、を組み合わせた構成であってもよい。
【００１９】
本実施形態において、矯正光学系は、被検眼の眼前に光学素子を配置する眼屈折力測定ユニット（フォロプタ）であってもよい。例えば、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズを有し、可変焦点レンズの屈折力を変化させる構成であってもよい。また、例えば、眼屈折力測定ユニットは、複数の光学素子が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるための駆動手段（例えば、モータ）と、を有し、駆動手段の駆動によって、光学素子を電気的に切り換える構成であってもよい。もちろん、眼屈折力測定ユニットは、可変焦点レンズと、レンズディスク及び駆動手段と、を有する構成であってもよい。これらの構成を備える場合、被検眼に向けた視標光束は、眼屈折力測定ユニットを介して投影される。
【００２０】
また、本実施形態において、矯正光学系は、投光光学系が備える視標呈示手段と、被検眼に視標呈示手段から出射した視標光束を導光するための光学部材と、の間に光学素子を配置して、光学素子を制御することで、視標光束の光学特性を変更する構成であってもよい。すなわち、矯正光学系は、ファントムレンズ屈折計（ファントム矯正光学系）の構成であってもよい。この場合、矯正光学系によって矯正された視標光束が、光学部材を介して被検眼に導光される。
【００２１】
＜前眼部画像取得手段＞
検眼装置は、前眼部画像取得手段（例えば、制御部７０）を備える。前眼部画像取得手段は、被検眼の前眼部画像を取得する。前眼部画像取得手段は、被検眼の自覚式測定中における前眼部画像（第１前眼部画像）を取得してもよい。なお、前眼部画像は、左被検眼の前眼部画像あるいは右被検眼の前眼部画像のいずれかでもよい。また、前眼部画像は、左被検眼及び右被検眼の前眼部画像でもよい。
【００２２】
検眼装置は、検眼装置とは別に、被検眼の前眼部を撮像するための装置を備えてもよい。この場合、前眼部画像取得手段は、被検眼の前眼部を撮像するための装置が撮像した前眼部画像を受信することによって、前眼部画像を取得してもよい。一例として、被検眼の前眼部を撮像するための装置は、ウェアラブルデバイス（例えば、眼鏡型ウェアラブル端末、ヘッドマウントディスプレイ、等）であってもよい。
【００２３】
検眼装置は、前眼部撮像手段（例えば、前眼部撮像光学系１００）を備えてもよい。前眼部撮像手段は、被検眼の自覚式測定中における前眼部画像を撮像する。この場合、前眼部画像取得手段は、前眼部撮像手段によって撮像された前眼部画像を取得してもよい。
【００２４】
本実施形態において、前眼部画像取得手段は、被検眼が開瞼した状態の前眼部画像（第２前眼部画像）を、基準画像として取得する。被検眼が開瞼した状態の前眼部画像とは、被検眼が自然に眼を開いた自然視の状態の前眼部画像である。言い換えると、被検眼が通常ものを見ている状態の前眼部画像である。例えば、被検眼が開瞼状態でも眼が細い場合等、被検眼によって基準となる状態は都度異なるため、基準画像を取得することで、後述の細目情報を精度よく得ることができる。
【００２５】
このような基準画像は、被検眼に対して自覚式測定を実施するよりも先に取得する構成であってもよい。例えば、基準画像とする前眼部画像を事前に受信することで取得しておいてもよい。また、例えば、被検眼の前眼部を、自覚式測定以前に実施する動作の所定のタイミングで撮像することで、基準画像を取得してもよい。一例として、被検眼と検眼装置のアライメント（位置合わせ）を開始または終了するタイミング、被検眼に対する他覚式測定を開始または終了するタイミング、であってもよい。
【００２６】
また、このような基準画像は、被検眼に対する自覚式測定の実施中に取得する構成であってもよい。例えば、被検眼の前眼部を、自覚式測定における所定のタイミングで撮像することで、基準画像を取得してもよい。一例として、自覚式測定を開始または終了するタイミング、等であってもよい。
【００２７】
また、このような基準画像は、被検眼に対して自覚式測定を実施した後に取得する構成であってもよい。例えば、基準画像とする前眼部画像を事後に受信することで取得してもよい。また、例えば、自覚式測定中に取得された前眼部画像（すなわち、後述する参照画像）における適切な前眼部画像を、基準画像として取得してもよい。
【００２８】
本実施形態において、前眼部画像取得手段は、自覚式測定中における前眼部画像を、参照画像として取得する。自覚式測定中における前眼部画像は、被検眼が開瞼した状態の前眼部画像、被検眼が眼を細めた状態の前眼部画像、被検眼がまばたきした状態の前眼部画像、等を含んでいてもよい。
【００２９】
前眼部画像取得手段は、被検眼の参照画像を、所定の時間以上で連続的に取得してもよい。例えば、前眼部画像手段は、被検眼の参照画像を、自覚式測定を開始してから終了するまでの間、連続的に取得してもよい。また、例えば、前眼部画像取得手段は、被検眼の参照画像を、自覚式測定中の特定のタイミングにて、連続的に取得してもよい。一例としては、被検眼の矯正度数を変更したタイミング、等でもよい。なお、所定の時間とは、被検眼の細目状態とまばたき状態を区別することができる時間であればよい。
【００３０】
＜細目情報取得手段＞
検眼装置は、細目情報取得手段（例えば、制御部７０）を備える。細目情報取得手段は、被検眼の前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得する。細目情報は、被検眼が眼を細めた状態を示す情報、被検眼が眼を細めていない状態を示す情報（例えば、開瞼状態、まばたき状態、見開き状態、等）の少なくともいずれかであってもよい。
【００３１】
細目情報は、被検眼が眼を細めた状態か否かを示すことができる情報であればよい。例えば、細目情報は、前眼部画像取得手段による取得結果（すなわち、被検眼の前眼部画像）であってもよい。この場合、細目情報取得手段は、細目情報として、基準画像と参照画像をともに取得してもよい。また、例えば、細目情報は、被検眼の前眼部画像に基づいて取得される細目の程度等であってもよい。この場合、細目の程度は数値的に表されてもよい。一例として、被検眼の開瞼状態を基準とした眼の開き具合を、比率等の数値で表してもよい。また、この場合、細目の程度は、細目の程度を評価するための評価指標で表されてもよい。一例として、評価指標が所定の閾値以上であれば細目であることを表す評価指標を付け、評価指標が所定の閾値未満であれば細目でないことを表す評価指標を付けてもよい。なお、評価指標に対する閾値は、いくつ設定されてもよい。
【００３２】
本実施形態において、細目情報取得手段は、被検眼の基準画像と参照画像を比較することによって、細目情報を取得する。なお、被検眼の基準画像と参照画像の比較では、被検眼の開瞼の基準に対する開瞼の変化が比較されればよく、これによって、細目情報が、被検眼の細目状態、見開き状態、等を示す情報として取得されてもよい。例えば、被検眼の開瞼状態と、細目状態あるいは見開き状態と、をこのような比較から容易に区別することができる。
【００３３】
被検眼の基準画像と参照画像は、解析処理により比較されてもよい。例えば、基準画像及び参照画像における輝度の立ち上がりや立ち下がりによるエッジの検出により比較されてもよい。また、例えば、基準画像及び参照画像における輝度の差分処理（例えば、減算、除算、等）により比較されてもよい。なお、輝度値に限定されず、彩度、色相、等による比較でもよい。
【００３４】
被検眼の基準画像と参照画像の比較には、被検眼が眼を細めた状態か否かを検出できる特徴部分の情報が用いられてもよい。一例としては、被検眼の輪郭、被検眼の睫毛の位置、被検眼の虹彩情報（例えば、虹彩の形状、虹彩の面積、等）、被検眼の瞳孔情報（例えば、瞳孔の形状、瞳孔の面積、等）、等が挙げられる。
【００３５】
本実施形態では、細目情報取得手段が、基準画像及び参照画像から被検眼の瞳孔の形状変化に関する瞳孔情報を取得し、瞳孔情報を比較することによって、細目情報を取得する。例えば、被検眼の前眼部画像が赤外線カメラ等により撮像された画像である場合、被検眼の輪郭、睫毛、虹彩、等に比べて、瞳孔はコントラストが強く観察されるため、瞳孔情報を用いることで、基準画像と参照画像はより比較しやすくなる。
【００３６】
本実施形態においては、検眼装置が、判定手段（例えば、制御部７０）を備えていてもよい。判定手段は、前眼部画像取得手段により取得された第１前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを判定する。例えば、判定手段は、基準画像に対して参照画像が一致するか否かを判定してもよい。一例としては、被検眼の瞳孔情報が一致するか否か等を判定してもよい。より詳細には、被検眼の瞳孔形状が円形状であるか否か、等を判定してもよい。このような場合、細目情報取得手段は、判定手段による判定結果を、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報として取得してもよい。細目情報取得手段は、判定手段による判定結果を用いることで、被検眼の細目情報を容易に取得できる。
【００３７】
細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像（第１前眼部画像）に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。例えば、細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像の変化に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。一例として、細目情報取得手段は、前眼部画像取得手段によって所定の時間以上で連続的に取得された参照画像における瞳孔情報の変化に基づいて、被検眼の細目情報を取得してもよい。
【００３８】
例えば、被検眼の細目状態は経過時間に対して継続されることが多いが、まばたき状態は経過時間に対して一瞬で終了するため、これらの経過時間の違いを所定の時間以上で連続的に取得された参照画像から検出することで、後述の細目情報を適切に取得することができる。
【００３９】
＜判定情報取得手段＞
検眼装置は、判定情報取得手段（例えば、制御部７０）を備える。判定情報取得手段は、細目情報取得手段により取得された被検眼の細目情報に基づいて、被検眼に対する自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を取得する。判定情報は、被検眼に対する自覚式測定の測定結果が適切であることを示す情報、被検眼に対する自覚式測定の測定結果が不適切であることを示す情報、の少なくともいずれかであってもよい。
【００４０】
判定情報は、自覚式測定の測定結果が適切か否かを示すことができる情報であればよい。例えば、判定情報は、被検眼の細目情報に基づいて、自覚式測定の測定結果が適切であるか否かを、測定結果の適否を評価するための評価指標で示した情報であってもよい。例えば、評価指標は、被検眼の細目情報に基づく判定結果を、所定の基準に基づいて分類した評価記号（例えば、Ａ評価、Ｂ評価、…、ｎ評価、等）として示すものであってもよい。なお、所定の基準はいくつ設定されてもよい。また、例えば、評価指標は、被検眼の細目情報に基づく判定結果を、自覚式測定の測定結果の信頼度として示すものであってもよい。信頼度は、予め実験やシミュレーション等から設定されたテーブルや演算式を用いることで求められてもよい。
【００４１】
本実施形態においては、判定情報取得手段が、所定の時間以上で連続的に取得された参照画像に対する各々の細目情報に基づいて、被検眼に対する自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を取得する。例えば、判定情報取得手段は、連続的に取得された参照画像から、連続した所定の時間以上（所定の枚数以上）で細目であることを示す細目情報が得られた場合に、自覚式測定の測定結果を不適切とする判定情報を取得してもよい。また、例えば、判定情報取得手段は、連続的に取得された参照画像から、所定の回数以上で細目であることを示す細目情報が得られた場合に、自覚式測定の測定結果を不適切とする判定情報を取得してもよい。
【００４２】
判定情報取得手段は、このような判定情報を、自覚式測定の全体の測定結果が適切か不適切かを示す情報として取得してもよい。また、判定情報取得手段は、このような判定情報を、自覚式測定の一部の測定結果が適切か不適切かを示す情報として取得してもよい。一例として、被検眼の矯正状態毎に、自覚式測定の測定結果が適切か不適切かを示す判定情報を取得してもよい。
【００４３】
＜出力手段＞
検眼装置は、出力手段（例えば、制御部７０）を備える。出力手段は、被検眼の細目情報に関する情報を出力する。本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、被検眼が眼を細めた状態を示す細目情報に関する情報のみを出力してもよい。また、本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、被検眼が眼を細めた状態を示す細目情報に関する情報と、被検眼が眼を細めていない状態を示す細目情報に関する情報と、を出力してもよい。
【００４４】
出力手段は、細目情報に関する情報を、表示手段（例えば、モニタ４）への表示による出力、音声ガイドの発生による出力、メモリやサーバ等への保存による出力、プリンタ等への印刷による出力、等の少なくともいずれかによって出力してもよい。細目情報に関する情報が出力されることで、検者は被検眼が自覚式測定においてどのような状態で視標を観察しているかを把握することができる。また、検者は適切な指示や動作を行いやすく、被検眼の測定結果をより正確に得ることができる。
【００４５】
本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、細目情報そのものを出力してもよい。例えば、細目情報が前眼部画像取得手段による取得結果であった場合、出力手段は基準画像と参照画像をともに出力してもよい。また、例えば、細目情報が細目の程度等であった場合、出力手段は細目の程度を表す数値や評価指標を出力してもよい。これによって、検者は、細目情報から、被検眼が細目状態であるか否かを容易に判断できる。
【００４６】
また、本実施形態において、出力手段は、細目情報に関する情報として、細目情報に基づいた情報を出力してもよい。例えば、細目情報に基づいた検者を誘導するための誘導情報を出力してもよい。一例として、誘導情報は、検者の次の動作を示す情報、被検者への指示内容を示す情報、等でもよい。これによって、検者は、細目情報に基づく情報から、適切な指示や動作を容易に行うことができる。
【００４７】
なお、本実施形態において、判定情報取得手段により自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報が取得される場合、出力手段は、被検眼の細目情報に関する情報とともに、判定情報を出力してもよい。この場合、出力手段は、判定情報取得手段により取得された判定情報を、前述の評価記号、信頼度、等として出力してもよい。また、この場合、出力手段は、判定情報取得手段により取得された判定情報を、前述の評価記号、信頼度、等に基づいて色分けしたグラフ等として出力してもよい。これによって、検者は、被検眼に対する自覚式測定が適切であるかを容易に判断することができるようになる。
【００４８】
なお、本開示は、本実施形態に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。
【００４９】
＜実施例＞
以下、典型的な実施形態の１つである実施例について説明する。
【００５０】
図１は、検眼装置１の外観図である。例えば、検眼装置１は、筐体２、呈示窓３、モニタ４、顎台５、基台６、前眼部撮像光学系１００、等を備える。筐体２は、基台６に固定される。筐体２の内部には、後述する測定部７が設けられる。呈示窓３は、被検者の眼（被検眼Ｅ）に視標を呈示するために用いる。モニタ４は、被検眼Ｅの光学特性の測定結果等を表示する。モニタ４は、タッチパネル機能をもつディスプレイである。すなわち、モニタ４が操作部（コントローラ）として機能する。なお、モニタ４はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ４と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウス、ジョイスティック、キーボード、携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いてもよい。モニタ４から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部７０に出力される。顎台５は、基台６に固定される。顎台５は、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つために用いる。なお、顎台５に限定されず、額当て、顔当て、等を用いて、被検眼Ｅと検眼装置１との距離を一定に保つ構成としてもよい。
【００５１】
前眼部撮像光学系１００は、被検者の前眼部を撮像するために用いる。前眼部撮像光学系１００は、図示なき撮像素子とレンズで構成される。前眼部撮像光学系１００は、被検眼Ｅの左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの少なくとも一方を撮像して、その前眼部画像を取得する。前眼部撮像光学系１００による前眼部の撮像は、後述する制御部７０に制御される。また、前眼部撮像光学系１００により取得された前眼部画像は、後述する制御部７０に解析される。
【００５２】
＜測定部＞
測定部７からの視標光束は、呈示窓３を介して被検眼Ｅに導光される。測定部７は、左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒを備える。測定部７は、左右一対の後述する自覚式測定部と、左右一対の後述する他覚式測定部と、を有する。本実施例における左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒは、同一の部材で構成される。もちろん、左眼用測定部７Ｌと右眼用測定部７Ｒは、その少なくとも一部が異なる部材で構成されてもよい。
【００５３】
図２は、測定部７を示す図である。図２では、測定部７として、左眼用測定部７Ｌを例に挙げる。右眼用測定部７Ｒは、左眼用測定部７Ｌと同様の構成であるため省略する。例えば、左眼用測定部７Ｌは、自覚式測定光学系２５、他覚式測定光学系１０、第１指標投影光学系４５、第２指標投影光学系４６、観察光学系５０、等を備える。
【００５４】
＜自覚式測定光学系＞
自覚式測定光学系２５は、被検眼Ｅの光学特性を自覚的に測定する自覚式測定部の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する自覚式測定部を例に挙げる。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、コントラスト感度、両眼視機能（例えば、斜位量、立体視機能、等）、等であってもよい。例えば、自覚式測定光学系２５は、投光光学系（視標投光系）３０、矯正光学系６０、及び、補正光学系９０、で構成される。
【００５５】
＜投光光学系＞
投光光学系３０は、被検眼Ｅに向けて視標光束を投影する。例えば、投光光学系３０は、ディスプレイ３１、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、等を備える。
【００５６】
ディスプレイ３１には、視標（固視標、検査視標、等）が表示される。ディスプレイ３１から出射した視標光束は、投光レンズ３３、投光レンズ３４、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、の順に光学部材を経由して、被検眼Ｅに投影される。
【００５７】
＜矯正光学系＞
矯正光学系６０は、投光光学系３０の光路中に配置される。また、矯正光学系６０は、ディスプレイ３１から出射した視標光束の光学特性を変化させる。例えば、矯正光学系６０は、乱視矯正光学系６３、駆動機構３９、等を備える。
【００５８】
乱視矯正光学系６３は、被検眼Ｅの円柱度数や乱視軸角度を矯正するために用いる。乱視矯正光学系６３は、投光レンズ３３と投光レンズ３４の間に配置される。乱視矯正光学系６３は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂで構成される。円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂは、回転機構６２ａと回転機構６２ｂの駆動によって、光軸Ｌ２を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、乱視矯正光学系６３として、円柱レンズ６１ａと円柱レンズ６１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。乱視矯正光学系６３は、円柱度数、乱視軸角度、等を矯正できる構成であればよい。一例としては、投光光学系３０の光路に矯正レンズを出し入れしてもよい。
【００５９】
駆動機構３９は、モータ及びスライド機構からなる。駆動機構３９は、後述する駆動ユニット９５を光軸Ｌ２方向に移動させることで、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向に移動させる。他覚式測定では、ディスプレイ３１を移動させることで、被検眼Ｅに雲霧をかけることができる。自覚式測定では、ディスプレイ３１を移動させることで、被検眼Ｅに対する視標の呈示位置（呈示距離）を光学的に変更し、被検眼Ｅの球面度数を矯正することができる。すなわち、本実施例では、ディスプレイ３１の位置を変更することで、被検眼Ｅの球面度数を矯正する球面矯正光学系が構成されている。なお、球面矯正光学系の構成は、本実施例とは異なっていてもよい。例えば、多数の光学素子を光路中に配置することで、球面度数を矯正してもよい。また、例えば、レンズを光路中に配置し、レンズを光軸方向に移動させることで、球面度数を矯正してもよい。
【００６０】
なお、本実施例では、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度を矯正する矯正光学系が例示されている。しかし、矯正光学系は、他の光学特性（例えば、プリズム値、等）を矯正してもよい。プリズム値が矯正されることで、被検眼が斜位眼であっても、被検眼に視標光束が適切に投影される。
【００６１】
また、本実施例では、円柱度数及び乱視軸角度を矯正する乱視矯正光学系６３と、球面度数を矯正する駆動機構３９が別で設けられている。しかし、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が同一の構成によって矯正されてもよい。例えば、波面を変調させる光学系によって、球面度数、円柱度数、及び乱視軸角度が矯正されてもよい。また、複数の光学素子（例えば、球面レンズ、円柱レンズ、および分散プリズム等の少なくともいずれか）が同一円周上に配置されたレンズディスクと、レンズディスクを回転させるアクチュエータが、矯正光学系として用いられてもよい。この場合、レンズディスクが回転されて、光軸Ｌ２上に位置する光学素子が切り替えられることで、種々の光学特性が矯正される。また、光軸Ｌ２上に配置された光学素子（例えば、円柱レンズ、クロスシリンダレンズ、およびロータリプリズム等の少なくともいずれか）が、アクチュエータによって回転されてもよい。
【００６２】
＜補正光学系＞
補正光学系９０は、対物レンズ１４と偏向ミラー８１（後述）の間に配置される。補正光学系９０は、自覚式測定で生じる光学収差（例えば、非点収差、等）を補正するために用いる。補正光学系９０は、円柱度数と乱視軸角度を調整することで、非点収差を補正する。補正光学系９０は、焦点距離の等しい、２枚の正の円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂで構成される。円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂは、回転機構９２ａと回転機構９２ｂの駆動によって、光軸Ｌ３を中心として、各々が独立に回転する。なお、本実施例では、補正光学系９０として、２枚の正の円柱レンズ９１ａと円柱レンズ９１ｂを用いる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。補正光学系９０は、非点収差を矯正できる構成であればよい。例えば、この場合には、光軸Ｌ３に補正レンズを出し入れしてもよい。
【００６３】
＜他覚式測定光学系＞
他覚式測定光学系１０は、被検眼の光学特性を他覚的に測定する他覚式測定部の構成の一部として用いられる（詳細は後述する）。本実施例では、被検眼Ｅの光学特性として、被検眼Ｅの眼屈折力を測定する他覚式測定部を例に挙げて説明する。なお、被検眼Ｅの光学特性は、眼屈折力の他、眼軸長、角膜形状、等であってもよい。例えば、他覚式測定光学系１０は、投影光学系１０ａ、受光光学系１０ｂ、及び、補正光学系９０、で構成される。
【００６４】
投影光学系（投光光学系）１０ａは、被検眼Ｅの瞳孔中心部を介して、被検眼Ｅの眼底にスポット状の測定指標を投影する。例えば、投影光学系１０ａは、光源１１、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、等を備える。
【００６５】
光源１１は、測定光束を出射する。光源１１は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。ホールミラー１３のホール部は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な関係となっている。プリズム１５は、光束偏向部材である。プリズム１５は、被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置から外れた位置に配置され、プリズム１５を通過する測定光束を光軸Ｌ１に対して偏心させる。プリズム１５は、光軸Ｌ１を中心として、駆動部（モータ）２３により回転駆動される。ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光路と、後述する自覚式測定光学系２５の光路と、を共通にする。すなわち、ダイクロイックミラー３５は、他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１と、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と、を同軸にする。ダイクロイックミラー２９は、光路分岐部材である。ダイクロイックミラー２９は、投影光学系１０ａによる測定光束と、自覚式測定光学系２５による測定光束と、を反射して被検眼Ｅに導く。
【００６６】
受光光学系１０ｂは、被検眼Ｅの眼底で反射された眼底反射光束を、被検眼Ｅの瞳孔周辺部を介してリング状に取り出す。例えば、受光光学系１０ｂは、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２、等を備える。リングレンズ２０は、リング状に形成されたレンズ部と、レンズ部以外の領域に遮光用のコーティングを施した遮光部と、から構成される。リングレンズ２０は、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置関係となっている。受光絞り１８と撮像素子２２は、被検眼Ｅの眼底と共役な関係となっている。撮像素子２２からの出力は、制御部７０に入力される。
【００６７】
本実施例において、投影光学系１０ａが備える光源１１と、受光光学系１０ｂが備える受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、及び撮像素子２２と、投光光学系３０が備えるディスプレイ３１と、は駆動機構３９により光軸方向に一体的に移動可能となっている。つまり、光源１１、受光絞り１８、コリメータレンズ１９、リングレンズ２０、撮像素子２２、及び、ディスプレイ３１、が駆動ユニット９５として同期し、駆動機構３９がこれらを一体的に移動させる。例えば、駆動機構３９が移動した移動位置は、図示なきポテンショメータによって検出される。
【００６８】
駆動ユニット９５は、外側のリング光束が各経線方向に関して撮像素子２２上に入射するように、他覚式測定光学系１０の一部を光軸方向に移動させる。すなわち、他覚式測定光学系１０の一部を被検眼Ｅの球面屈折誤差（球面屈折力）に応じて光軸Ｌ１方向に移動させることで、球面屈折誤差を補正し、被検眼Ｅの眼底に対して光源１１、受光絞り１８及び撮像素子２２が光学的に共役になるようにする。なお、ホールミラー１３とリングレンズ２０は、駆動ユニット９５の移動量にかかわらず、被検眼Ｅの瞳と一定の倍率で共役になるように配置されている。
【００６９】
上記の構成において、光源１１から出射された測定光束は、リレーレンズ１２、ホールミラー１３、プリズム１５、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４、を経て被検眼Ｅの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３におけるホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。眼底に投影された点光源像は、反射・散乱されて被検眼Ｅから射出し、対物レンズ１４によって集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、高速回転するプリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７を介して受光絞り１８の位置に再び集光され、コリメータレンズ１９とリングレンズ２０とによって撮像素子２２にリング状の像が結像する。
【００７０】
例えば、プリズム１５は、投影光学系１０ａと受光光学系１０ｂの共通光路に配置されている。例えば、眼底からの反射光束は投影光学系１０ａと同じプリズム１５を通過するため、それ以降の光学系では、あたかも瞳孔上における投影光束・反射光束（受光光束）の偏心がなかったかのように逆走査される。
【００７１】
なお、本実施例において、他覚式測定部の構成は変更することが可能である。例えば、他覚式測定部は、瞳孔周辺部から眼底にリング状の測定指標を投影し、瞳孔中心部から眼底反射光を取り出し、撮像素子２２にリング状の眼底反射像を受光させる構成を備えていてもよい。また、他覚式測定部はシャックハルトマンセンサを備えていてもよいし、スリットを投影する位相差方式の構成を備えていてもよい。
【００７２】
＜第１指標投影光学系及び第２指標投影光学系＞
例えば、本実施例においては、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、補正光学系９０と、偏向ミラー８１との間に配置される。もちろん、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６の配置位置は、これに限定されない。例えば、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６は、筐体２のカバーに備えられていてもよい。例えば、この場合には、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６が、呈示窓３の周囲に配置される構成が挙げられる。
【００７３】
例えば、第１指標投影光学系４５は、光軸Ｌ３を中心に配置されたリング状の赤外光源を備える。例えば、第１指標投影光学系４５は、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標を投影するための近赤外光を発する。例えば、第２指標投影光学系４６は、第１指標投影光学系４５とは異なる位置に配置されたリング状の赤外光源を備える。なお、図２では、便宜上、第１指標投影光学系４５と第２指標投影光学系４６におけるリング状の赤外光源の一部（断面部分）のみが図示されている。本実施例において、第１指標投影光学系４５は、被検者眼の角膜に無限遠のアライメント指標を投影する。また、第２指標投影光学系４６は、被検者眼の角膜に有限遠のアライメント指標を投影する。なお、第２指標投影光学系４６から出射されるアライメント光は、観察光学系５０によって被検眼の前眼部を撮影するための前眼部撮影光としても用いられる。また、第１指標投影光学系４５および第２指標投影光学系４６の光源は、リング状の光源に限定されず、複数の点状の光源、またはライン状の光源等であってもよい。
【００７４】
＜観察光学系＞
観察光学系（撮像光学系）５０は、対物レンズ１４、ダイクロイックミラー２９、撮像レンズ５１、撮像素子５２、等を備える。ダイクロイックミラー２９は、前眼部観察光及びアライメント光を透過する。撮像素子５２は、被検眼Ｅの前眼部と略共役な位置に配置された撮像面をもつ。撮像素子５２からの出力は、制御部７０に入力される。これによって、被検眼Ｅの前眼部画像は撮像素子５２により撮像され、モニタ４上に表示される。なお、この観察光学系５０は、第１指標投影光学系４５及び第２指標投影光学系４６によって、被検眼Ｅの角膜に形成されるアライメント指標像を検出する光学系を兼ね、制御部７０によってアライメント指標像の位置が検出される。
【００７５】
＜検眼装置内部構成＞
以下、検眼装置１の内部構成について説明する。図３は、本実施例に係る検眼装置１の内部を正面方向（図１のＡ方向）から見た概略構成図である。図４は、本実施例に係る検眼装置１の内部を側面方向（図１のＢ方向）から見た概略構成図である。図５は、本実施例に係る検眼装置１の内部を上面方向（図１のＣ方向）から見た概略構成図である。なお、図４及び図５では、説明の便宜上、左眼用測定部７Ｌの光軸のみを示している。
【００７６】
例えば、検眼装置１は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、を備える。例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌに一致する光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。また、例えば、自覚式測定部及び他覚式測定部において、測定部７からの視標光束は、光学部材（例えば、後述する凹面ミラー８５）の光軸Ｌから外れた光路を通過して被検眼Ｅに導光されてもよい。例えば、本実施例において、光軸Ｌは凹面ミラー８５の球中心に向かう軸である。なお、以下では、測定部７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた経路を通過する構成を例に挙げる。すなわち、測定部７からの視標光束が凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射され、その反射光束が被検眼Ｅに導光される。
【００７７】
例えば、自覚式測定部は、測定部７、偏向ミラー８１、駆動機構８２、駆動部８３、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、自覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく、凸レンズを配置した構成であってもよい。
【００７８】
例えば、他覚式測定部は、測定部７、偏向ミラー８１、反射ミラー８４、凹面ミラー８５で構成される。なお、他覚式測定部はこの構成に限定されない。例えば、反射ミラー８４を有しない構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束が、偏向ミラー８１を介した後に凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向から照射されてもよい。また、例えば、ハーフミラーを有する構成であってもよい。この場合には、測定部７からの視標光束を、ハーフミラーを介して凹面ミラー８５の光軸Ｌに対して斜め方向に照射し、その反射光束を被検眼Ｅに導光してもよい。なお、本実施例では凹面ミラー８５を配置しているが、凹面ミラー８５ではなく凸レンズを配置した構成であってもよい。
【００７９】
例えば、検眼装置１は、左眼用駆動部９Ｌと右眼用駆動部９Ｒとを有し、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７ＲをそれぞれＸ方向に移動することができる。例えば、左眼用測定部７Ｌ及び右眼用測定部７Ｒが移動されることによって、偏向ミラー８１と測定部７との間の距離が変更され、Ｚ方向における視標光束の呈示位置が変更される。これによって、矯正光学系６０によって矯正された視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系６０によって矯正された視標光束の像が被検眼Ｅの眼底に形成されるように、測定部７をＺ方向に調整することができる。
【００８０】
例えば、偏向ミラー８１は、左右一対にそれぞれ設けられた、右眼用の偏向ミラー８１Ｒと左眼用の偏向ミラー８１Ｌとを有する。例えば、偏向ミラー８１は、矯正光学系６０と被検眼Ｅとの間に配置される。すなわち、本実施例における矯正光学系６０は、左右一対に設けられた左眼用矯正光学系と右眼用矯正光学系とを有しており、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは左眼用矯正光学系と左被検眼ＥＬの間に配置され、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは右眼用矯正光学系と右被検眼ＥＲの間に配置される。例えば、偏向ミラー８１は、瞳の共役位置に配置されることが好ましい。
【００８１】
例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左眼用測定部７Ｌから投影される光束を反射し、左被検眼ＥＬに導光する。また、例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌは、左被検眼ＥＬで反射された反射光を反射し、左眼用測定部７Ｌに導光する。例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右眼用測定部７Ｒから投影される光束を反射し、右被検眼ＥＲに導光する。また、例えば、右眼用の偏向ミラー８１Ｒは、右被検眼ＥＲで反射された反射光を反射し、右眼用測定部７Ｒに導光する。なお、本実施例においては、測定部７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材として、偏向ミラー８１を用いる構成を例に挙げて説明しているがこれに限定されない。偏向部材は、測定部７から投影される光束を反射し、被検眼Ｅに導光する偏向部材であればよい。例えば、偏向部材としては、プリズムやレンズ等が挙げられる。
【００８２】
例えば、駆動機構８２は、モータ（駆動部）等からなる。例えば、駆動機構８２は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動機構８２Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動機構８２Ｒと、を有する。例えば、駆動機構８２の駆動によって、偏向ミラー８１は回転移動する。例えば、駆動機構８２は、水平方向（Ｘ方向）の回転軸、及び鉛直方向（Ｙ方向）の回転軸に対して偏向ミラー８１を回転させる。すなわち、駆動機構８２は偏向ミラー８１をＸＹ方向に回転させる。なお、偏向ミラー８１の回転は、水平方向又は鉛直方向の一方であってもよい。
【００８３】
例えば、駆動部８３は、モータ等からなる。例えば、駆動部８３は、左眼用の偏向ミラー８１Ｌを駆動するための駆動部８３Ｌと、右眼用の偏向ミラー８１Ｒを駆動するための駆動部８３Ｒと、を有する。例えば、駆動部８３の駆動によって、偏向ミラー８１はＸ方向に移動する。例えば、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒが移動されることによって、左眼用の偏向ミラー８１Ｌ及び右眼用の偏向ミラー８１Ｒとの間の距離が変更され、被検眼Ｅの瞳孔間距離にあわせて、左眼用光路と右眼用光路との間のＸ方向における距離を変更することができる。
【００８４】
なお、例えば、偏向ミラー８１は、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて複数設けられてもよい。例えば、左眼用光路と右眼用光路とのそれぞれにおいて、２つの偏向ミラーが設けられる（例えば、左眼用光路で２つの偏向ミラー等）構成が挙げられる。この場合、一方の偏向ミラーがＸ方向に回転され、他方の偏向ミラーがＹ方向に回転されてもよい。例えば、偏向ミラー８１が回転移動されることによって、矯正光学系６０の像を被検眼の眼前に形成するためのみかけの光束を偏向させることにより、像の形成位置を光学的に補正することができる。
【００８５】
例えば、凹面ミラー８５は、右眼用測定部７Ｒと左眼用測定部７Ｌとで共有される。例えば、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、で共有される。すなわち、凹面ミラー８５は、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、を共に通過する位置に配置されている。もちろん、凹面ミラー８５は、右眼用光路と左眼用光路とで共有される構成でなくてもよい。すなわち、右眼用矯正光学系を含む右眼用光路と、左眼用矯正光学系を含む左眼用光路と、でそれぞれ凹面ミラーが設けられる構成であってもよい。例えば、凹面ミラー８５は、矯正光学系を通過した視標光束を被検眼Ｅに導光し、矯正光学系を通過した視標光束の像を被検眼Ｅの眼前に形成する。なお、本実施例においては凹面ミラー８５を用いる構成を例に挙げて説明したが、これに限定されず、種々の光学部材を用いることができる。例えば、光学部材としては、レンズや平面ミラー等を用いることができる。
【００８６】
例えば、凹面ミラー８５は、自覚式測定部と、他覚式測定部と、で兼用される。例えば、自覚式測定光学系２５から投影された視標光束は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光は、凹面ミラー８５を介して、被検眼Ｅに投影される。また、例えば、他覚式測定光学系１０から投影された測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される。なお、本実施例においては、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光が、凹面ミラー８５を介して、他覚式測定光学系１０の受光光学系１０ｂに導光される構成を例に挙げているがこれに限定されない。例えば、他覚式測定光学系１０による測定光の反射光は、凹面ミラー８５を介さない構成であってもよい。
【００８７】
より詳細には、例えば、本実施例においては、自覚式測定部における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、他覚式測定部における凹面ミラー８５から被検眼Ｅまでの間の光軸と、が少なくとも同軸で構成されている。例えば、本実施例においては、ダイクロイックミラー３５によって、自覚式測定光学系２５の光軸Ｌ２と他覚式測定光学系１０の光軸Ｌ１とが合成され、同軸となっている。
【００８８】
＜自覚式測定部の光路＞
以下、自覚式測定部の光路について説明する。例えば、自覚測定部は、矯正光学系６０を通過した視標光束を、凹面ミラー８５によって被検眼方向に反射することで被検眼Ｅに視標光束を導光し、矯正光学系６０を通過した視標光束の像を光学的に所定の検査距離となるように被検眼Ｅの眼前に形成する。例えば、このとき、矯正光学系６０を通過した視標光束は、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過して凹面ミラー８５へ入射し、凹面ミラー８５の光軸Ｌから外れた光路を通過するように反射されて、被検眼Ｅに導光される。例えば、被検者から見た視標は、被検眼Ｅからディスプレイ３１までの実際の距離よりも遠方にあるように見える。すなわち、凹面ミラー８５を用いることで被検眼Ｅに対する視標の呈示距離を延長し、所定の検査距離の位置に視標光束の像が見えるように、被検者に視標を呈示することができる。
【００８９】
より詳細に説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の自覚測定部において、左眼用測定部７Ｌのディスプレイ３１から投影された視標光束は、投光レンズ３３を介して、乱視矯正光学系６３に入射する。乱視矯正光学系６３を通過した視標光束は、反射ミラー３６、ダイクロイックミラー３５、ダイクロイックミラー２９、対物レンズ１４を経由して、補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した視標光束は、左眼用測定部７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて導光される。左眼用測定部７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された視標光束は、反射ミラー８４により凹面ミラー８５に向けて反射される。例えば、ディスプレイ３１から出射した視標光束は、このように光学部材を経由することで左被検眼ＥＬに到達する。
【００９０】
これによって、左被検眼ＥＬの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、矯正光学系６０により矯正された視標が左被検眼ＥＬの眼底上に形成される。従って、乱視矯正光学系６３があたかも眼前に配置されたことと、球面度数の矯正光学系（本実施例においては、駆動機構３９の駆動）による球面度数の調整が眼前で行われたことと、が等価になっており、被検者は凹面ミラー８５を介して自然な状態で視標の像を視準することができる。なお、本実施例においては、右眼用光路においても、左眼用光路と同様の構成であり、左被検眼ＥＬ及び右被検眼ＥＲの眼鏡装用位置（例えば、角膜頂点位置から１２ｍｍ程度）を基準として、左右一対の矯正光学系６０により矯正された視標が、両被検眼の眼底上に形成されるようになっている。このようにして、被検者は自然視の状態で視標を直視しつつ検者に対する応答を行い、視標が適正に見えるまで矯正光学系６０による矯正を図り、その矯正値に基づいて自覚的に被検眼の光学特性の測定を行う。
【００９１】
＜他覚式測定部の光路＞
次いで、他覚式測定部の光路について説明する。なお、以下の説明においては左眼用光路を例に挙げて説明するが、右眼用光路においても左眼用光路と同様の構成となっている。例えば、左眼用の他覚測定部において、他覚式測定光学系１０における投影光学系１０ａの光源１１から出射された測定光は、リレーレンズ１２から対物レンズ１４までを介して補正光学系９０に入射する。補正光学系９０を通過した測定光は、左眼用測定部７Ｌから左眼用の偏向ミラー８１Ｌに向けて投影される。左眼用測定部７Ｌから出射されて左眼用の偏向ミラー８１で反射された測定光は、反射ミラー８４によって凹面ミラー８５に向けて反射される。凹面ミラーによって反射された測定光は、反射ミラー８４を透過して左被検眼ＥＬに到達し、左被検眼ＥＬの眼底上にスポット状の点光源像を形成する。このとき、光軸周りに回転するプリズム１５によって、ホールミラー１３のホール部の瞳投影像（瞳上での投影光束）は高速に偏心回転される。
【００９２】
左被検眼ＥＬの眼底上に形成された点光源像の光は、反射・散乱されて被検眼Ｅを射出し、測定光が通過した光路を経由して対物レンズ１４により集光され、ダイクロイックミラー２９、ダイクロイックミラー３５、プリズム１５、ホールミラー１３、リレーレンズ１６、ミラー１７までを介する。ミラー１７までを介した反射光は、受光絞り１８の開口上で再び集光され、コリメータレンズ１９にて略平行光束（正視眼の場合）とされ、リングレンズ２０によってリング状光束として取り出され、リング像として撮像素子２２に受光される。受光したリング像を解析することによって、他覚的に被検眼Ｅの光学特性を測定することができる。
【００９３】
＜制御部＞
図６は、本実施例に係る検眼装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部７０には、モニタ４、不揮発性メモリ７５（以下、メモリ７５）、測定部７が備える光源１１、撮像素子２２、ディスプレイ３１、撮像素子５２等の各種部材が電気的に接続されている。また、例えば、制御部７０には、駆動部９、駆動機構３９、回転機構６２ａと６２ｂ、駆動部８３、回転機構９２ａと９２ｂがそれぞれ備える図示なき駆動部が電気的に接続されている。
【００９４】
例えば、制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等を備える。例えば、ＣＰＵは、検眼装置１における各部材の制御を司る。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、検眼装置１の動作を制御するための各種プログラム、各種検査のための視標データ、初期値等が記憶されている。なお、制御部７０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。
【００９５】
例えば、メモリ７５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、メモリ７５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、ＵＳＢメモリ、等を使用することができる。例えば、メモリ７５には、自覚式測定部及び他覚式測定部を制御するための制御プログラムが記憶されている。
【００９６】
＜制御動作＞
検眼装置１の制御動作について説明する。
【００９７】
検者は、被検眼Ｅに固視標を呈示するとともに、被検眼Ｅの角膜にアライメント指標像を投影して被検眼Ｅと測定部７のアライメントを完了させると、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施する。
【００９８】
自覚式測定では、被検眼Ｅを様々な矯正度数で矯正し、検査視標の見え具合を確認しながら、測定が進められる。通常、被検者は、被検眼Ｅが開瞼した開瞼状態にて、呈示された検査視標を観察する。言い換えると、被検者は、被検眼Ｅが自然に眼を開いた自然視の状態にて、呈示された検査視標を観察する。被検眼Ｅが開瞼状態にあるときは、被検眼Ｅに投影した視標光束が瞼に遮られることなく入射する。
【００９９】
しかし、被検者は、検査視標が見にくかったとき等、被検眼Ｅを細めた細目状態にて、呈示された検査視標を観察していることがある。被検眼Ｅが細目状態にあると、被検眼Ｅに投影する視標光束の一部が瞼に遮られて入射する。被検眼Ｅの眼屈折度は被検眼Ｅの角膜形状等により異なるが、瞼に遮られた視標光束の一部は角膜形状等の影響を受けなくなる。
【０１００】
このため、被検眼Ｅが開瞼状態にあるか細目状態にあるかによって、視標光束の結像状態が変化し、検査視標の見え方が異なってしまう。一例として、被検眼が乱視（特に、直乱視）である場合には、細目状態になることで検査視標の見え方が大きく変わり、測定結果が不正確になりやすい。
【０１０１】
そこで、本実施例では、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施している間、被検眼Ｅが開瞼した開瞼状態か、被検眼Ｅが眼を細めた細目状態か、を示す細目情報を取得し、細目情報をモニタ４に表示する。これによって、検者は、被検者に対して適切な指示を出すこと、再測定するか否かを判断すること、等を容易に行うことができる。
【０１０２】
以下、本実施例における自覚式測定について、詳細に説明する。
【０１０３】
＜第１前眼部画像（基準画像）の取得＞
検者は、被検眼Ｅに対する自覚式測定を開始する前に、被検眼Ｅの開瞼状態における前眼部画像（第１前眼部画像）を、後述する細目情報の取得の際に用いる基準画像として取得する。検者は、モニタ４から被検眼Ｅの基準画像を取得するための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて、前眼部撮像光学系１００を制御し、被検眼Ｅの前眼部を撮像させる。また、制御部７０は、撮影された前眼部画像をモニタ４に表示する。
【０１０４】
検者は、前眼部画像を観察し、被検眼Ｅが開瞼状態（自然視状態）であるかを、被検眼Ｅの周囲（例えば、目元、目尻、等）や眉間にしわを寄せていないか、人間の上瞼から下瞼までの平均的な幅と同程度に開いているか、等から判断してもよい。被検眼Ｅが見開いた状態や半目状態であった場合は、基準画像を取得するための操作信号を再度入力してもよい。制御部７０は、検者に適切と判断された前眼部画像を、被検眼Ｅの基準画像としてメモリ７５に記憶させる。
【０１０５】
もちろん、制御部７０は、撮影された前眼部画像の適否を自動判定し、適切な前眼部画像を、被検眼Ｅの基準画像としてメモリ７５に記憶させてもよい。
【０１０６】
＜基準画像の解析＞
制御部７０は、取得された基準画像を解析処理することで、基準画像における被検眼Ｅの瞳孔の形状に関する瞳孔情報を取得する。例えば、瞳孔情報は、瞳孔の形状、瞳孔の面積、等であってもよい。本実施例では、瞳孔情報として、瞳孔の形状を取得する場合を例に挙げる。
【０１０７】
図７は、基準画像１１０の一例である。制御部７０は、基準画像１１０の輝度値を検出し、輝度の立ち上がりや立ち下がりから、基準画像１１０における瞳孔の中心位置Ｋ１と、瞳孔のエッジＰ１を検出する。例えば、制御部７０は、瞳孔の中心位置Ｋ１を基準に、各動径角における瞳孔のエッジＰ１の位置座標（ピクセル座標）を求める。瞳孔のエッジＰ１の位置座標は、後述する細目情報の取得の際に用いられる。また、例えば、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔のエッジＰ１の形状を、基準画像１１０における瞳孔の形状（以下、瞳孔形状Ｐ１と称す）として、メモリ７５に記憶させる。本実施例において、基準画像１１０における瞳孔形状Ｐ１は円形状である。
【０１０８】
＜自覚式測定の開始＞
検者は、被検眼Ｅの基準画像１１０を取得すると、被検眼Ｅに対する自覚式測定を開始する。検者は、モニタ４から自覚式測定を開始するための操作信号を入力する。制御部７０は、操作信号に応じて前眼部撮像光学系１００を制御し、被検眼Ｅの前眼部の撮像を開始する。また、制御部７０は、操作信号に応じてディスプレイ３１に検査視標を表示させ、被検眼Ｅに検査視標を投影する。また、制御部７０は、操作信号に応じて自覚式測定光学系２５における投光光学系３０と矯正光学系６０の少なくともいずれかを制御し、被検眼Ｅの眼屈折度を所定のディオプタ値（例えば、０Ｄ等）に矯正する。
【０１０９】
例えば、制御部７０は、予め取得した被検眼Ｅの他覚式測定における光学特性（すなわち、他覚値）、被検眼Ｅの自覚式測定における光学特性（すなわち、自覚値）、等に基づき、ディスプレイ３１を光軸Ｌ２方向へ移動させて、被検眼Ｅの球面度数を矯正してもよい。また、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの他覚値、自覚値、等に基づき、円柱レンズ６１ａと６１ｂを光軸Ｌ２周りに回転させて、被検眼Ｅの円柱度数と乱視軸角度の少なくともいずれかを矯正してもよい。これによって、被検眼Ｅの眼屈折度は所定のディオプタ値（例えば、０Ｄ等）に矯正されるとともに、被検眼Ｅの眼屈折度が所定のディオプタ値となる矯正度数が取得される。
【０１１０】
＜自覚式測定中における第２前眼部画像（参照画像）の取得＞
検者は、被検者に表示した検査視標の向き（例えば、ランドルト環視標のすき間の向き）を問い、被検者の回答を考慮しながら、被検眼Ｅを矯正する矯正度数が適切であるかを確認する。被検眼Ｅを矯正する矯正度数が不適切であれば、矯正度数を変更し、再度、適切であるかを確認する。
【０１１１】
本実施例では、被検眼Ｅを矯正する矯正度数を変更し、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施している間、被検眼Ｅの前眼部画像（第２前眼部画像）が、後述する細目情報の取得の際に用いる参照画像として、順次に取得される。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部を、自覚式測定の開始から終了まで、所定のフレームレート（例えば、３０ｆｐｓ）で、連続的に撮像させてもよい。また、制御部７０は、連続的に撮像された各々の前眼部画像を、被検眼Ｅの参照画像（第１参照画像、第２参照画像、…、第ｎ参照画像）として、順次メモリ７５に記憶させる。
【０１１２】
＜参照画像の解析＞
制御部７０は、連続的に撮像された各々の参照画像を解析処理することで、各々の参照画像における被検眼Ｅの瞳孔の形状に関する瞳孔情報を取得する。本実施例では、基準画像１１０と同様、参照画像においても、瞳孔情報として瞳孔の形状が取得される。
【０１１３】
図８は、参照画像１２０の一例である。制御部７０は、参照画像１２０の輝度値を検出し、輝度の立ち上がりや立ち下がりから、参照画像１２０における瞳孔の中心位置Ｋ２と、瞳孔のエッジＰ２を検出してもよい。例えば、制御部７０は、瞳孔の中心位置Ｋ２を基準に、各動径角における瞳孔のエッジＰ２の位置座標（ピクセル座標）を求める。瞳孔のエッジＰ２の位置座標は、後述する細目情報の取得の際に用いられる。また、例えば、制御部７０は、参照画像１２０における瞳孔のエッジＰ２の形状を、参照画像１２０における瞳孔の形状（以下、瞳孔形状Ｐ２と称す）として、メモリ７５に記憶させる。本実施例において、参照画像１２０における瞳孔形状Ｐ２は、円の上部と下部が平坦となった形状である。
【０１１４】
＜細目情報の取得＞
制御部７０は、基準画像１１０と参照画像１２０に基づいて、被検眼が開瞼状態か細目状態かを示す細目情報を取得する。本実施例では、制御部７０が、基準画像１１０と参照画像１２０を比較し、基準画像１１０の瞳孔形状Ｐ１に対して参照画像１２０の瞳孔形状Ｐ２が変化したか否かを検出することで、細目情報が取得される。
【０１１５】
制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔のエッジＰ１の位置座標と、参照画像１２０における瞳孔のエッジＰ２の位置座標と、が各経線方向において同一（略同一）であるかを比較し、比較結果に基づいて、瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。例えば、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔のエッジＰ１の位置座標と、参照画像１２０における瞳孔のエッジＰ２の位置座標と、がすべての経線方向において一致（略一致）した場合に、瞳孔形状Ｐ１に対して瞳孔形状Ｐ２は変化しておらず、同一形状（略同一形状）であると検出してもよい。このとき、制御部７０は、検出結果に基づいて、被検眼Ｅが開瞼状態であると判定し、被検眼Ｅが開瞼状態であることを示す第１細目情報を取得してもよい。
【０１１６】
また、例えば、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔のエッジＰ１の位置座標と、参照画像１２０における瞳孔のエッジＰ２の位置座標と、が少なくとも１つの経線方向において一致しなかった場合に、瞳孔形状Ｐ１に対して瞳孔形状Ｐ２は変化し、互いに異なる形状であると検出してもよい。一例として、図７に示す基準画像１１０から取得された瞳孔形状Ｐ１と、図８に示す参照画像１２０から取得された瞳孔形状Ｐ２と、では、動径角θｎ１〜動径角θｎ２までの範囲と、動径角θｎ３〜動径角θｎ４までの範囲と、において各々の座標位置が一致しないため、瞳孔形状Ｐ１と瞳孔形状Ｐ２が互いに異なる形状であると検出される。このとき、制御部７０は、検出結果に基づいて、被検眼Ｅは細目状態であると判定し、被検眼Ｅが細目状態であることを示す第２細目情報を取得してもよい。
【０１１７】
なお、被検眼Ｅがまばたきをすると、瞼が瞬間的に瞳孔にかかるため、基準画像１１０の瞳孔形状Ｐ１に対して参照画像１２０の瞳孔形状Ｐ２が異なる形状となり得る。このため、被検眼Ｅがまばたきをしたまばたき状態が細目状態として判定され、第２細目情報が取得される可能性がある。
【０１１８】
図９は、被検眼Ｅの細目状態とまばたき状態の時間経過にともなう参照画像１２０の変化を示す図である。被検眼Ｅの細目状態は、被検眼Ｅが所定の検査視標を観察している間、継続されることが多い。一方、被検眼Ｅのまばたき状態は、一瞬間的な速さ（例えば、１００〜１５０ミリ秒）で終了する。制御部７０は、被検眼Ｅのまばたき状態を細目状態として誤判定することを防ぐため、連続的に撮像された各々の参照画像を解析処理した際、所定の時間ｔ以上で、瞳孔形状Ｐ１に対して瞳孔形状Ｐ２が異なる形状であることを検出した際に、被検眼Ｅが細目状態であると判定し、第２細目情報を取得してもよい。所定の時間ｔは、被検眼Ｅの細目状態とまばたき状態を区別できる時間（例えば、０．５秒間以上）であればよい。
【０１１９】
なお、一例として、連続的にフレームレート３０ｆｐｓで各々の参照画像１２０を取得し、０．５秒間以上の時間で瞳孔形状Ｐ１に対する瞳孔形状Ｐ２の変化を検出するときは、連続した１５枚以上の参照画像１２０において瞳孔形状の変化が検出された場合に、被検眼Ｅが細目状態であると判定し、第２細目情報が取得されてもよい。つまり、連続的に取得される各々の参照画像１２０のうち、フレームレートに基づく所定の画像枚数以上で、瞳孔形状Ｐ１に対する瞳孔形状Ｐ２の変化が検出された場合に、被検眼Ｅが細目状態であると判定し、第２細目情報が取得されてもよい。
【０１２０】
＜細目情報に関する情報の出力＞
制御部７０は、取得した細目情報（第１細目情報あるいは第２細目情報）をモニタ４に表示する。一例として、制御部７０は、細目情報をメッセージとして表示してもよい。この場合、制御部７０は、第１細目情報を取得した際に、「眼を開けています」等のメッセージを表示してもよい。また、この場合、制御部７０は、第２細目情報を取得した際に、「眼を細めています」等のメッセージを表示してもよい。
【０１２１】
検者は、モニタ４に表示されるメッセージを確認することで、被検眼Ｅが適切に検査視標を観察しているかを確認することができる。例えば、第２細目情報を取得した際のメッセージが表示されたときには、被検者に眼を大きく開けるように指示を出してもよいし、所定の矯正度数での自覚式測定を再度実施してもよい。制御部７０は、検者が適切と判断した矯正度数を、自覚式測定における被検眼Ｅの光学特性（自覚値）として取得する。また、制御部７０は、被検眼Ｅの自覚値をメモリ７５に記憶する。
【０１２２】
以上説明したように、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼の自覚式測定中における第１前眼部画像を取得し、第１前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを示す細目情報を取得し、細目情報に関する情報を出力する。これによって、検者は、被検眼が自覚式測定においてどのような状態で視標を観察しているかを把握することができ、適切な指示や操作を行いやすく、被検眼の測定結果をより正確に得ることができる。
【０１２３】
また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、被検眼が開瞼した状態の第２前眼部画像を基準画像として取得するとともに、自覚式測定中における第１前眼部画像を参照画像として取得し、基準画像と参照画像を比較することによって、細目情報を取得する。第２前眼部画像を用いることによって、被検眼の開瞼状態と細目状態が容易に区別される。
【０１２４】
また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、基準画像及び参照画像から被検眼の瞳孔の形状変化に関する瞳孔情報を取得し、瞳孔情報を比較することによって、細目情報を取得する。基準画像及び参照画像における特徴部分として、コントラストが明確な瞳孔を検出し、その瞳孔情報を利用することで、被検眼の開瞼状態と細目状態がより区別されやすくなる。
【０１２５】
また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、所定の時間以上で連続的に第１前眼部画像を取得し、第１前眼部画像に基づいて細目情報を取得する。例えば、被検眼が細目状態になったときとまばたきをした状態は、どちらも瞼がかかるため、互いに区別し難いことがある。しかし、細目状態は長く継続される場合が多いため、このように連続的な第１前眼部画像を用いることで、細目状態を適切に取得することができる。
【０１２６】
また、例えば、本実施例における自覚式検眼装置は、第１前眼部画像に基づいて、被検眼が眼を細めた状態か否かを判定し、判定結果を細目情報として取得する。これによって、被検眼の細目状態が容易に判断され、細目情報が容易に取得される。
【０１２７】
＜変容例＞
なお、本実施例では、被検眼Ｅの基準画像１１０と参照画像１２０を比較する際、基準画像１１０と参照画像１２０から瞳孔のエッジを検出し、各エッジのすべての動径角における位置座標から瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。被検眼Ｅが細目状態になるときは、被検眼Ｅの上瞼または下瞼が移動するため、所定の動径角における位置座標のみから、瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成としてもよい。例えば、瞳孔の中心位置を基準とし、各エッジの動径角９０度及び２７０度の少なくともいずれかの位置座標から、瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。
【０１２８】
なお、本実施例では、被検眼Ｅの基準画像１１０と参照画像１２０を比較する際、基準画像１１０と参照画像１２０から瞳孔のエッジを検出し、各エッジの位置座標から瞳孔形状が変化したか否かを検出する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、基準画像１１０と参照画像１２０から瞳孔のエッジを検出し、瞳孔のエッジを近似（例えば、円近似、楕円近似、等）によりフィッティングすることで、その差分から瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。また、例えば、基準画像１１０と参照画像１２０を差分処理し、得られた差分像から瞳孔形状が変化したか否かを検出してもよい。この場合、制御部７０は、差分像にエッジが現れなかったときに、瞳孔形状Ｐ１に対して瞳孔形状Ｐ２は変化しておらず、同一形状（略同一形状）であると検出してもよい。また、この場合、制御部７０は、差分像にエッジが現れたときに、瞳孔形状Ｐ１に対して瞳孔形状Ｐ２が変化し、互いに異なる形状であると検出してもよい。
【０１２９】
なお、本実施例では、被検眼Ｅの基準画像１１０と参照画像１２０を比較する際、瞳孔情報として、瞳孔の形状を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。瞳孔情報として、瞳孔の面積（瞳孔面積）を取得する構成であってもよい。この場合、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔のエッジＰ１の位置座標から求められる図形の面積と、参照画像１２０における瞳孔のエッジＰ２の位置座標から求められる図形の面積と、が同一（略同一）であるかを比較し、比較結果に基づいて、瞳孔面積が変化したか否かを検出してもよい。例えば、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔面積と、参照画像１２０における瞳孔面積と、が一致（略一致）した場合に、被検眼Ｅが開瞼状態であると判定し、第１細目情報を取得してもよい。また、例えば、制御部７０は、基準画像１１０における瞳孔面積と、参照画像１２０における瞳孔面積と、が一致しなかった場合に、被検眼Ｅが細目状態であると判定し、第２細目情報を取得してもよい。
【０１３０】
なお、被検眼Ｅの基準画像１１０と参照画像１２０を比較する際には、前述の瞳孔形状や瞳孔面積の変化を検出するための閾値を設けてもよい。一例として、基準画像１１０における瞳孔形状Ｐ１と、参照画像１２０における瞳孔形状Ｐ２と、の類似度に予め閾値を設定してもよい。制御部７０は、所定の類似度以上のときに、瞳孔形状Ｐ１と瞳孔形状Ｐ２を一致として、被検眼Ｅが開瞼状態であると判定してもよい。所定の類似度未満のときは、瞳孔形状Ｐ１と瞳孔形状Ｐ２が異なるとして、被検眼Ｅが細目状態であると判定してもよい。また、一例として、基準画像１１０における瞳孔面積に対して予め所定の閾値を設定してもよい。制御部７０は、参照画像１２０における瞳孔面積が所定の閾値以上のときに、双方の瞳孔面積を一致として、被検眼Ｅが開瞼状態であると判定してもよい。参照画像１２０における瞳孔面積が所定の閾値未満のときは、双方の瞳孔面積が異なるとして、被検眼Ｅが細目状態であると判定してもよい。
【０１３１】
なお、本実施例では、被検眼に対する自覚式測定中に、基準画像１１０と参照画像１２０の比較に基づく細目情報が取得され、細目情報に関する情報が逐次出力される構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼に対する自覚式測定を終えた後に、基準画像１１０と参照画像１２０の比較に基づく細目情報が取得され、自覚式測定の測定結果とともに細目情報に関する情報が出力される構成としてもよい。
【０１３２】
例えば、この場合には、被検眼Ｅの眼屈折度を矯正した矯正度数と、順次撮像される被検眼Ｅの参照画像１２０と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。また、例えば、この場合には、被検眼Ｅに呈示した検査視標の視力値と、順次撮像される被検眼Ｅの参照画像１２０と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。もちろん、被検眼Ｅの矯正度数と、被検眼Ｅに呈示した検査視標の視力値と、参照画像１２０と、を自覚式測定中に関連付けて記憶しておいてもよい。制御部７０は、自覚式測定後に、基準画像１１０と、各々の情報が関連付けられた参照画像１２０と、を比較し、細目情報に関する情報を出力してもよい。これによって、検者は、被検眼Ｅがどの矯正度数で矯正されたときに細目状態となっていたか、被検眼Ｅがどの視力値の検査視標を呈示したときに細目状態となっていたか、等を容易に認識することができる。
【０１３３】
以下、このような構成の一例について、被検眼Ｅの矯正度数と参照画像１２０を関連付けて記憶する場合を例に挙げて説明する。被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施している間、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折度を矯正した矯正度数と、前眼部撮像光学系１００により撮像される被検眼Ｅの参照画像１２０と、を関連付けて記憶する。例えば、制御部７０は、検者が被検眼Ｅの所定の矯正度数を設定したタイミング（つまり、所定の矯正度数に切り換えたタイミング）毎に、順次に取得されていく参照画像１２０を分割することで、被検眼Ｅの矯正度数と、被検眼Ｅの連続的な参照画像１２０と、を関連付けて記憶してもよい。
【０１３４】
制御部７０は、被検眼に対する自覚式測定を一通り終えると、被検眼Ｅの矯正度数に対応する参照画像１２０を解析処理し、被検眼Ｅの矯正度数毎の細目情報を取得する。制御部７０は、被検眼Ｅの基準画像１１０と、被検眼Ｅのある矯正度数に対応する連続した参照画像１２０と、をそれぞれ比較する。例えば、制御部７０は、所定の時間ｔ未満で瞳孔形状が異なることを検出した際に、被検眼Ｅがある矯正度数では開瞼状態であったと判定し、第１細目情報を取得してもよい。また、例えば、制御部７０は、所定の時間ｔ以上で瞳孔形状が異なることを検出した際に、被検眼Ｅがある矯正度数では細目状態であったと判定し、第２細目情報を取得してもよい。
【０１３５】
制御部７０は、被検眼Ｅの矯正度数毎に取得した細目情報（第１細目情報または第２細目情報）をモニタ４に表示する。一例として、制御部７０は、被検眼Ｅの矯正度数と対応する細目情報を一覧表示にしてもよい。より詳細には、被検眼Ｅの矯正度数に対して、被検眼Ｅが開瞼状態であったか細目状態であったかが、記号（例えば、開瞼状態であれば「〇」、細目状態であれば「×」、等）で表示されてもよい。
【０１３６】
なお、上記では、被検眼Ｅの矯正度数と参照画像１２０を関連付けて記憶したが、自覚式測定の時間経過に対応させて被検眼Ｅの矯正度数と参照画像１２０を関連付けて記憶してもよい。この場合、自覚式測定の時間経過にともなう被検眼の矯正度数と細目情報の変化をグラフとして表すこともできる。図１０は、被検眼の矯正度数と細目情報の変化を表すグラフの一例である。例えば、グラフの横軸は、自覚式測定の経過時間にともなう被検眼の矯正度数の変化を示している。例えば、グラフの縦軸は、被検眼Ｅの細目情報の変化を示している。本実施例においては、基準画像１１０と参照画像１２０の比較により、被検眼Ｅの細目情報として、被検眼Ｅの細目の程度１３０が表されてもよい。
【０１３７】
例えば、このように、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施した後で、被検眼Ｅの矯正度数と細目情報を確認できるような構成とすることで、検者は、被検眼がどの矯正度数のときに細目状態となったか等を容易に判断できるようになる。
【０１３８】
本実施例では、被検眼Ｅの細目情報とともに、被検眼Ｅの細目情報に基づいた自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を出力するようにしてもよい。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの細目情報に基づく判定情報として、自覚式測定の測定結果の信頼度を算出する。信頼度は、被検眼Ｅの基準画像１１０における細目の程度を基準とし、これに対する参照画像１２０毎の細目の程度を比率として表したものでもよい。
【０１３９】
制御部７０は、自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を、自覚式測定の全体の測定結果の適否を示す情報として出力してもよい。例えば、この場合、制御部７０は、自覚式測定の開始から終了までの参照画像１２０から算出した信頼度を出力してもよい。また、制御部７０は、自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を、自覚式測定の一部の測定結果の適否を示す情報として出力してもよい。例えば、自覚式測定において被検眼Ｅを矯正した矯正度数毎の測定結果の適否を示してもよい。この場合、制御部７０は、被検眼Ｅの矯正度数に対応付けられた参照画像１２０から算出した信頼度１４０を出力してもよい。
【０１４０】
なお、上記では、被検眼Ｅの細目情報に基づく判定情報として信頼度を算出する構成を例に挙げたがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの細目情報に基づく判定情報として、被検眼Ｅの連続的に取得された参照画像１２０から、所定の回数以上で細目であることを示す細目情報が得られたか否かに基づいて、自覚式測定が適切か否かを示す判定情報を出力してもよい。
【０１４１】
例えば、このように、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実施した後で、被検眼Ｅの矯正度数と細目情報に加え、さらに自覚式測定の測定結果の適否を示す判定情報を確認できるような構成とすることで、検者は、自覚式測定を一からやり直すか、あるいは、どの矯正度数での測定を再実施すべきか、等を容易に判断できるようになる。
【０１４２】
なお、本実施例では、被検眼に対する自覚式測定を開始する前に、被検眼Ｅの基準画像１１０を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼に対する自覚式測定が終了した後で、被検眼Ｅの基準画像１１０として、メモリに記憶された被検眼Ｅの参照画像１２０の中から適切な画像を選択してもよい。この場合、制御部７０は、被検眼Ｅの基準画像１１０として、被検眼Ｅの参照画像１２０から求められた瞳孔情報（瞳孔形状や瞳孔面積）が最も大きな画像を選択してもよい。また、この場合、制御部７０は、被検眼Ｅの基準画像１１０として、被検眼Ｅの参照画像１２０から求められた瞳孔情報（瞳孔形状や瞳孔面積）が最も多い画像を選択してもよい。より詳細には、例えば、被検眼Ｅの参照画像１２０から、瞳孔情報Ａの画像が１０枚、瞳孔情報Ｂの画像が１００枚、瞳孔画像Ｃの画像が５０枚得られたとき、被検眼Ｅの基準画像１１０として、瞳孔情報Ｂの画像を選択してもよい。
【０１４３】
なお、本実施例における検眼装置１では、被検者が眼鏡を装用した状態にて、被検眼Ｅに対する自覚式測定を実行してもよい。この場合、制御部７０は、被検者が眼鏡を装用した状態での基準画像を取得し、この基準画像と、順次に撮像される参照画像と、を比較することで、被検眼Ｅの細目情報を取得してもよい。また、制御部７０は、これらの基準画像と参照画像を比較することで、基準画像における被検眼Ｅと眼鏡のフレームとの位置関係と、参照画像における被検眼Ｅと眼鏡のフレームとの位置関係と、の変化を示す関係情報を、さらに取得してもよい。例えば、関係情報は、被検眼Ｅの瞳孔とフレームの位置関係を示す情報であってもよい。
【０１４４】
例えば、被検眼Ｅが呈示された検査視標を観察した際の見え方は、眼鏡のフレームに嵌め込まれたレンズの屈折力、被検眼の視線がレンズを通過した位置、等によって大きく変化することがある。一例として、被検眼Ｅが検査視標を正面から観察したときと、被検者が顔を傾けて被検眼Ｅが検査視標を見下ろすように観察したときでは、見え方が変化する。このため、例えば、細目情報に関する情報として、細目情報と関係情報を並べて表示することで、被検眼が自覚式測定において検査視標を適切に観察していたかを、容易に判断することができる。
【０１４５】
なお、本実施例における検眼装置１は、自覚式測定部を用いた自覚式測定を実行している間に、他覚式測定部を用いた他覚式測定を実行することができる。例えば、被検眼Ｅに対する自覚式測定と同時に、被検眼Ｅの眼底に反射されたリング像が撮像及び解析されることで、被検眼Ｅに対する他覚式測定が行われる。このような場合、被検眼Ｅの開瞼状態あるいは細目状態は、被検眼Ｅの他覚式測定に基づいて判定されてもよい。
【０１４６】
例えば、制御部７０は、被検眼Ｅが開瞼状態のときに得られた基準となるリング像と、自覚式測定を進めることで逐次変化するリング像と、を比較することで、被検眼Ｅの開瞼状態や細目状態を判定する構成としてもよい。一例として、制御部７０は、所定の時間以上でリング像が欠けて検出された場合に、被検眼が細目状態であると判定してもよい。また、例えば、制御部７０は、他覚式測定の測定結果の安定性から、被検眼Ｅの開瞼状態や細目状態を判定する構成としてもよい。一例として、被検眼Ｅの他覚式測定における眼屈折度のゆらぎを検出し、ゆらぎが所定の閾値以上となった場合に、被検眼が細目状態であると判定してもよい。
【０１４７】
なお、本実施例では、自覚式検眼装置として、被検眼Ｅの眼前に光学部材等を配置せず、被検眼の眼前を開放した状態で、自覚式測定を実施できるような装置を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、自覚式検眼装置は、被検眼の眼前に配置され、矯正光学系を内部に有する眼屈折力測定ユニットを備えるような装置でもよい。この場合、眼屈折力測定ユニットに被検眼Ｅの前眼部を撮像するための撮像部が設けられてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、特開２０１２−９０９５６号公報に記載のような視標呈示装置が別途設けられた装置でもよい。この場合、視標呈示装置に撮像部が設けられてもよい。また、例えば、自覚式検眼装置は、特開２００５−５２６７７号公報に記載のような視力検査装置であってもよく、視力検査装置が撮像部を備える構成としてもよい。つまり、本実施例においては、検眼装置が被検眼の前眼部画像を取得可能な構成を備えていればよい。
【符号の説明】
【０１４８】
１  検眼装置
２  筺体
４  モニタ
５  顎台
７  測定部
１０  他覚式測定光学系
２５  自覚式測定光学系
３０  投光光学系
４５  第１指標投影光学系
４６  第２指標投影光学系
５０  観察光学系
６０  矯正光学系
７０  制御部
７５  メモリ
９０  補正光学系
１００  前眼部撮像光学系
【図１】
2020137915.tif 000003
【図２】
2020137915.tif 000004
【図３】
2020137915.tif 000005
【図４】
2020137915.tif 000006
【図５】
2020137915.tif 000007
【図６】
2020137915.tif 000008
【図７】
2020137915.tif 000009
【図８】
2020137915.tif 000010
【図９】
2020137915.tif 000011
【図１０】
2020137915.tif 000012