(57)【要約】【課題】簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることが可能な分光光度計を提供する。【解決手段】処理部は、分析部の検出信号に基づいて試料のスペクトルデータ３０をディスプレイ２２に表示することが可能である。処理部は、スペクトルデータ３０に対してデータ処理を施すこと、データ処理を項目ごとに記録したデータ履歴３１を保存する。処理部は、分析部および処理部の動作を項目ごとに記録する装置履歴３２を保存する。処理部は、データ履歴３１および装置履歴３２のうちの第１の履歴３１がディスプレイ２２に表示された状態で、第１の履歴３１中の第１の項目３１１が入力機器４０により選択された場合において、第１の項目３１１と対応する第２の項目３２１が第２の履歴３２中にあるときには、第２の項目３２１を含む第２の履歴３２をディスプレイ２２に表示する。【選択図】図４
2020144031.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光を試料に照射し、前記照射によって前記試料から放出される信号を検出するように構成された分析部と、
前記分析部、入力機器およびディスプレイの各々と通信可能に構成され、前記分析部の検出信号に基づいて前記試料のスペクトルデータを前記ディスプレイに表示することが可能なように構成された処理部とを備え、
前記処理部は、前記スペクトルデータに対してデータ処理を施すこと、前記データ処理を項目ごとに記録したデータ履歴を保存すること、および、前記データ履歴を前記ディスプレイに表示することが可能なように構成され、
前記処理部は、前記分析部および前記処理部の動作を項目ごとに記録する装置履歴を保存すること、および、前記装置履歴を前記ディスプレイに表示することが可能なように構成され、
前記処理部は、前記データ履歴および前記装置履歴のうちの第１の履歴が前記ディスプレイに表示された状態で、前記第１の履歴中の第１の項目が前記入力機器により選択された場合において、前記第１の項目と対応する前記第２の項目が前記第２の履歴中にあるときには、前記第２の項目を含む前記第２の履歴を前記ディスプレイに表示するように構成される分光光度計。
【請求項２】
前記処理部は、前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の項目を含む前記第２の履歴を前記ディスプレイに表示するときに、前記第２の項目を強調して表示するように構成される請求項１に記載の分光光度計。
【請求項３】
前記装置履歴が前記第１の履歴であり、前記データ履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴中の前記第２の項目を強調して表示するときには、前記第２の項目に関連する前記スペクトルデータも表示するように構成される、請求項１または２に記載の分光光度計。
【請求項４】
前記第２の項目は、前記第１の項目と処理の日時および操作内容が対応する項目である、請求項１〜３のいずれか１項に記載の分光光度計。
【請求項５】
前記データ履歴が前記第１の履歴であり、前記装置履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴から、前記第１の項目に関連する前記スペクトルデータに関連する項目を第２の項目として強調して表示するように構成される、請求項１〜３のいずれか１項に記載の分光光度計。
【請求項６】
前記装置履歴が前記第１の履歴であり、前記データ履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴中の前記第２の項目を強調して表示するときには、前記第１の履歴から、前記第１の項目に関連する前記スペクトルデータに関連する前記第１の項目と異なる第３の項目も強調して表示するように構成される、請求項１〜５のいずれか１項に記載の分光光度計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、分光光度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
赤外分光光度計、紫外可視光分光光度計は、紫外線、可視光線および赤外線等の光を試料に照射し、この照射によって試料から発生する信号を検出することによって、試料を定性的および定量的に測定することが可能に構成されている。例えば、特開２０１５−２１９５６号公報（特許文献１）には、赤外光源の光から、干渉計によって干渉光を生成し、その干渉光を試料に照射したときの透過光もしくは反射光の強度を検出器で検出し、試料による光の吸収を計測することにより、試料に含まれる成分を分析するフーリエ変換赤外分光光度計が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−２１９５６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような分光光度計を、コンピュータ上のソフトウェアを用いて制御する構成が知られている。このようなソフトウェア（以下、「制御ソフトウェア」とも称する）は、一般的に、試料の分光測定、分光測定により得られたスペクトルデータの生成、スペクトルデータのディスプレイへの表示、定性・定量分析のためのデータ処理が可能なように構成される。さらに、制御ソフトウェアは、このようなデータ処理を各項目として記録した履歴を、データ処理を行なったスペクトルデータと関連付けて保存する機能も有する構成が知られている。このデータ処理の履歴を、以下「データ履歴」とも称する。
【０００５】
一方、制御ソフトウェアは、測定に使用する分光光度計および制御ソフトウェア自体の動作を各項目として記録した履歴（例えば分光光度計の調整、制御ソフトウェアの設定の変更）を保存する機能も有する。このような履歴を、以下「装置履歴」とも称する。
【０００６】
このような制御ソフトウェアにおいて、データ履歴および装置履歴は別々に保存、閲覧される構成が知られている。すなわち、データ履歴と装置履歴は各々独立したリストとしてディスプレイに表示される。よって、ユーザがデータ履歴中の所定の項目に関連する装置履歴の項目、または、装置履歴中の所定の項目に関連するデータ履歴の項目を確認したい場合、困難が生じる場合が考えられる。すなわち、例えばユーザが所定のスペクトルデータにそれ以前のスペクトルデータと異なる特徴を見いだしたとき、装置履歴にその原因があるかを調査するとき等に手間がかかる可能性がある。
【０００７】
本発明は、かかる課題を解決するためになされたものであり、その目的は、簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることが可能な分光光度計を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の態様によれば、分光光度計は、分析部と、処理部とを備える。分析部は、光を試料に照射し、照射によって試料から放出される信号を検出するように構成される。処理部は、分析部、入力機器およびディスプレイの各々と通信可能に構成され、分析部の検出信号に基づいて試料のスペクトルデータをディスプレイに表示することが可能なように構成される。処理部は、スペクトルデータに対してデータ処理を施すこと、データ処理を項目ごとに記録したデータ履歴を保存すること、および、データ履歴をディスプレイに表示することが可能なように構成される。処理部は、分析部および処理部の動作を項目ごとに記録する装置履歴を保存すること、および、装置履歴をディスプレイに表示することが可能なように構成される。処理部は、データ履歴および装置履歴のうちの第１の履歴がディスプレイに表示された状態で、第１の履歴中の第１の項目が入力機器により選択された場合において、第１の項目と対応する第２の項目が第２の履歴中にあるときには、第２の項目を含む第２の履歴をディスプレイに表示するように構成される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることが可能な分光光度計を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施の形態に従う分光光度計の構成例を説明する概略図である。
【図２】図１に示したコンピュータの構成を概略的に示す図である。
【図３】スペクトルデータおよびデータ履歴を表示した場合のディスプレイを例示する図である。
【図４】図３のデータ履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイを例示する図である。
【図５】図３のデータ履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイの別の例を示す図である。
【図６】装置履歴を表示した場合のディスプレイを例示する図である。
【図７】図６の装置履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイを例示する図である。
【図８】図６の装置履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイの別の例を示す図である。
【図９】データ履歴において第１の項目を選択した場合の処理を例示するフローチャートである。
【図１０】装置履歴において第１の項目を選択した場合の処理を例示するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中の同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００１２】
図１は、本発明の実施の形態に従う分光光度計の構成例を説明する概略図である。本実施の形態に従う分光光度計１００は、紫外線、可視光線および赤外線等の光を試料に照射し、この照射によって試料から発生する信号を検出して試料の分析を行なうように構成される。分光光度計１００は例えばフーリエ変換赤外分光光度計である。
【００１３】
図１を参照して、本実施の形態に従う分光光度計１００は、分析部５０、コンピュータ２０、入力機器２１およびディスプレイ２２を備える。
【００１４】
分析部５０は、マイケルソン型干渉計５１、試料室７、放物面鏡８、楕円面鏡９、検出器１０、アンプ１１およびＡ／Ｄ変換器１２を備える。
【００１５】
マイケルソン型干渉計５１は、赤外光源１、集光鏡２、コリメータ鏡３、ビームスプリッタ４、固定鏡５および移動鏡６を有する。マイケルソン型干渉計（以下、単に「干渉計」とも称する）５１は、赤外光源１からの赤外光から干渉光を生成する。
【００１６】
赤外光源１から出射された赤外光は、集光鏡２およびコリメータ鏡３により平行光束に形成された後にビームスプリッタ４に照射され、ここで固定鏡５と移動鏡６にそれぞれ向かう光路に２分割される。固定鏡５および移動鏡６でそれぞれ反射した赤外光はビームスプリッタ４によって再び合成され、試料室７へと向かう。この間、移動鏡６は図中Ｍ１で示す矢印に沿って前後に動き、これにより、ビームスプリッタ４で合成された赤外光が、時間的に振幅が変化する干渉光（インターフェログラム）となる。
【００１７】
放物面鏡８は、試料室７の前段に設けられており、干渉計５１により生成されたインターフェログラムを集光し、試料室７に導入する。
【００１８】
バックグラウンド測定に際しては、試料室７内に試料Ｓ１を配置しない状態で、干渉光が試料室７内を透過して試料室７外へと導かれ、楕円面鏡９で集光された後に検出器１０によってその刻々の強度が検出される。
【００１９】
一方、試料測定に際しては、試料室７内の規定位置に試料Ｓ１を配置することによって干渉光が試料Ｓ１に照射され、その透過光もしくは反射光が楕円面鏡９で集光されて検出器１０によりその刻々の強度が検出される。
【００２０】
アンプ１１は、検出器１０の出力、すなわち、インターフェログラムの検出出力を増幅する。Ａ／Ｄ変換器１２は、アンプ１１の出力をデジタル化する。Ａ／Ｄ変換器１２の出力は、コンピュータ２０に入力される。
【００２１】
以上のように、分析部５０は、光を試料に照射し、照射によって試料から放出される信号（試料Ｓ１の透過光もしくは反射光）を検出するように構成される。
【００２２】
コンピュータ２０は、分析部５０、入力機器２１およびディスプレイ２２と通信可能に有線または無線で接続される。コンピュータ２０は、内蔵するプログラム及びテーブルに従って、分析部５０の各部の動作を制御するための制御信号を生成し、生成した制御信号を分析部５０へ出力する。また、コンピュータ２０は分析部５０から得た検出信号に基づく定性分析および／または定量分析を行なう。
【００２３】
具体的には、コンピュータ２０は、Ａ／Ｄ変換器１２の出力であるインターフェログラムデータをフーリエ変換してパワースペクトルに変換する。また、コンピュータ２０は、バックグラウンド測定時に変換したパワースペクトルを記憶する。さらに、コンピュータ２０は、試料測定時に変換したパワースペクトルをバックグラウンドのパワースペクトルで除算して、試料Ｓ１による赤外光吸収スペクトルを算出する。さらに、バックグラウンド測定時に入力されたインターフェログラムデータを記憶する。以上の機能はコンピュータ２０にインストールされているプログラムに従って実行される。コンピュータ２０については図２で詳細に説明する。
【００２４】
分光光度計１００は、分析結果等の各種情報を分析者に提供するための出力機器として、ディスプレイ２２を有する。ディスプレイ２２はコンピュータ２０と通信可能に構成される。ディスプレイ２２は、分析部５０の制御および分析部５０で得られたデータに関する処理の情報を表示するための表示部を構成する。
【００２５】
入力機器２１は、コンピュータ２０に有線または無線で接続されており、コンピュータ２０と通信可能に構成されている。入力機器２１は、分析者の指令をコンピュータ２０に入力するために用いられる。入力機器２１は、例えばマウス等のポインティングデバイス、キーボードおよびタッチパネル等である。
【００２６】
すなわち、分析部５０は、紫外線、可視光線および赤外線等の光を試料に照射し、試料から放出される検出信号を検出するように構成される。検出信号には、試料の光学的特性を反映する反射光および透過光が含まれる。分光光度計１００では、検出された反射光および透過光の波長および／または強度を分析することにより、試料の定量的または定性的特性を明らかにすることができる。
【００２７】
図２は、コンピュータ２０の構成を概略的に示す図である。
図２を参照して、コンピュータ２０は、ＣＰＵ２３と、メモリ２４と、入力インターフェイス（以下、「入力Ｉ／Ｆ」とも称する）２５と、表示コントローラ２６と、通信インターフェイス（以下、「通信Ｉ／Ｆ」とも称する）２７とを備える。
【００２８】
コンピュータ２０は、メモリ２４に格納されるプログラムに従って動作するように構成される。メモリ２４は、図示しないＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）およびＨＤＤ（Hard  Disk  Drive）を含む。
【００２９】
ＲＯＭは、ＣＰＵ２３にて実行されるプログラムを格納することができる。プログラムには、分析部５０の制御、および、分析部５０で検出されたデータの処理に関するプログラムが含まれる。ＲＡＭは、ＣＰＵ２３におけるプログラムの実行中に利用されるデータを一時的に格納することができ、作業領域として利用される一時的なデータメモリとして機能することができる。ＨＤＤは、不揮発性の記憶装置であり、分析部５０による検出信号およびその分析結果等の情報を格納することができる。ＨＤＤに加えて、あるいは、ＨＤＤに代えて、フラッシュメモリなどの半導体記憶装置を採用してもよい。
【００３０】
ＣＰＵ２３は、分析部５０および分光光度計１００全体を制御する。ＣＰＵ２３は、メモリ２４のＲＯＭに格納されているプログラムをＲＡＭ等に展開して実行する。
【００３１】
入力Ｉ／Ｆ２５は、入力機器２１に有線または無線で接続される。入力Ｉ／Ｆ２５は、コンピュータ２０が入力機器２１と通信するためのインターフェイスであり、入力機器２１から各種信号を受信する。
【００３２】
表示コントローラ２６は、ディスプレイ２２に有線または無線で接続される。表示コントローラ２６はディスプレイ２２に、ディスプレイ２２の表示内容を指令する信号を出力する。ディスプレイ２２がタッチパネルを備えるディスプレイである場合、表示コントローラ２６はディスプレイ２２から、ディスプレイ２２への分析者のタッチ操作を示す信号を受信する。
【００３３】
通信Ｉ／Ｆ２７は、分析部５０に有線または無線で接続される。通信Ｉ／Ｆ２７は、コンピュータ２０が分析部５０と通信するためのインターフェイスであり、分析部５０との間で各種信号を入出力する。
【００３４】
コンピュータ２０は、一般的な機能を持つコンピュータに、分析部５０の制御、および、分析部５０で検出されたデータの処理に関するソフトウェア（以下、「制御ソフトウェア」とも称する）をインストールし、メモリ２４に専用のプログラムおよびデータを格納することで実現することができる。具体的には、コンピュータ２０ではＯＳと呼ばれる基本ソフトウェアプログラムが常時動作している。この基本ソフトウェアプログラムは、ディスプレイ２２への表示、入力機器２１への操作入力の処理およびメモリ２４へのアクセス等を受け持ち、並列的に処理可能である。
【００３５】
一方、分析部５０の制御、および、分析部５０で検出されたデータの処理に関する制御ソフトウェアプログラムは、基本ソフトウェアプログラムの上で実行される。制御ソフトウェアプログラム（以下、「制御ソフトウェア」とも称する）は、コンピュータ２０のメモリ２４に外部から供給され、ＣＰＵ２３が該供給されたプログラムコードを読み出して実行することにより実現される。
【００３６】
制御ソフトウェアは、分光光度計を制御して試料の分光測定を行ない、分光測定により得られた試料のパワースペクトルのデータ（以下、「スペクトルデータ」とも称する）を、データファイルとして保存するように構成される。制御ソフトウェアは、当該スペクトルデータをディスプレイに表示することが可能なように構成される。制御ソフトウェアは、また、スペクトルデータに様々なデータ処理を施して、試料の定性および定量に役立てる機能も有する。
【００３７】
また、制御ソフトウェアは、このスペクトルデータに対する処理を項目毎に記録した履歴（試料の分光測定から、その後のデータ処理内容を含む）をスペクトルデータと関連付けて保存する機能を有する。以下、このようなスペクトルデータに対する処理の履歴を「データ履歴」とも称する。
【００３８】
また同様に、制御ソフトウェアは、測定に使用する分光光度計および制御ソフトウェア（すなわちコンピュータ）自体についての動作を項目毎に記録する履歴を保存する機能も有する。以下、このような履歴を「装置履歴」とも称する。分光光度計の装置履歴とは、例えば、制御用コンピュータに通信して初期化を実行すること、調整機能の実行、付属品の脱着、測定の実行等のイベントの記録である。制御ソフトウェアの装置履歴とは、例えば、設定の変更、アップデートモジュールの追加等のイベントの記録である。
【００３９】
なお、制御ソフトウェアにおいては、このようなデータ履歴と装置履歴の保存を自動で行なうように構成すると、分析者による履歴の保存忘れを防ぐことができるので、好ましい。
【００４０】
また、制御ソフトウェアは、データ履歴および装置履歴の各々を、コンピュータに有線または無線で接続されるディスプレイ等の表示機器に表示することが可能に構成される。このような構成により、分析者はデータ履歴または装置履歴を目視で確認することで、各々の履歴の内容を確認することができる。
【００４１】
一般に、分光光度計では、このようなデータ履歴および装置履歴は、別々に保存、閲覧される構成がとられる。そのため、分析者にとって両履歴の関連を確認することが難しい状況が起こりうることが懸念された。例えば、データ履歴において着目する測定の直前に、装置またはソフトウェアにおいてどのような変更または調整が行なわれたかは表示されない。よって、分析者はデータ履歴に加えて装置履歴もディスプレイに表示し、着目する測定に時間的に近い装置履歴の項目を分析者自らが検索して確認する等の作業が必要であった。また、逆に装置履歴から対応するスペクトルデータおよびデータ履歴を表示するためには、装置履歴に表示されるスペクトルデータのデータファイルの名前を分析者が確認して、当該スペクトルデータおよびデータ履歴をロードする作業を行なう手間がかかることがある。
【００４２】
これらのことは、例えば、スペクトルデータに以前のデータと異なる特徴が見られた場合に、その原因が装置およびソフトウェアの変更・調整によるものなのかを調査するとき等に不便となる可能性が考えられる。
【００４３】
そのため、本実施の形態に従う分光光度計においては、データ履歴および装置履歴の閲覧機能を双方向に連動させるようにして、データ履歴および装置履歴の間で対応する項目を比較しやすくする。よって、簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることが可能な分光光度計を提供することができる。
【００４４】
次に、図３〜図８を参照して、本発明の実施の形態に従う分光光度計における、スペクトルデータおよびデータ履歴と、装置履歴との閲覧機能の連動を説明する。
【００４５】
図３は、スペクトルデータおよびデータ履歴を表示した場合のディスプレイを例示する図である。コンピュータ２０の起動後に、分析者により、スペクトルデータおよび当該スペクトルデータに関するデータ履歴の表示が指示されると、図３のようにディスプレイ２２にスペクトルデータ３０および当該スペクトルデータに関するデータ履歴３１が表示される。
【００４６】
スペクトルデータ３０は、試料の反射光または透過光の波長（横軸）とその強度（縦軸）の関係を示すグラフである。グラフ中の実線は測定値、または、測定値にスムージング等の処理を行なった後の値を示す。分析者はスペクトルデータ３０を目視により確認することで、試料の光学的特性を直感的に把握することができる。
【００４７】
データ履歴３１は、スペクトルデータに対する処理の履歴を示す表である。データ履歴３１においては、１つの処理を１項目として、項目毎に処理を実行した日付、時刻および操作内容が時系列順にリスト形式で表示されている。そのため、分析者はデータ履歴３１を目視により確認することで、当該スペクトルデータ３０に対してどのような処理がいつ行なわれたかを把握することができる。
【００４８】
なお、スペクトルデータ３０および当該スペクトルデータ３０に関するデータ履歴３１は、分析者により同時に確認を所望されることが多いと考えられる。そのため、スペクトルデータ３０および当該スペクトルデータ３０に関するデータ履歴３１の少なくとも一方の表示が指示されると、スペクトルデータ３０と当該スペクトルデータに関するデータ履歴３１の両方がコンピュータ２０によりディスプレイ２２に自動で表示されるように構成することが好ましい。
【００４９】
図４は、図３のデータ履歴３１において第１の項目３１１を選択した場合のディスプレイ２２を例示する図である。図４は、図３においてデータ履歴３１がディスプレイ２２に表示された状態で、データ履歴３１中の第１の項目３１１が、入力機器２１により操作されるポインタ４０により選択された後のディスプレイ２２を示す。このように、データ履歴３１中の第１の項目３１１が選択された場合、第１の項目３１１と対応する第２の項目３２１が装置履歴３２中にあるときには、コンピュータ２０は、ディスプレイ２２上に第２の項目３２１を含む装置履歴３２を表示する。換言すると、コンピュータ２０は、ディスプレイ２２上に、装置履歴３２中の第２の項目３２１を含む部分を表示する。
【００５０】
装置履歴３２は、いわゆる装置の動作ログであり、分光光度計の分析部５０および制御ソフトウェアの動作、変更および調整等のイベントの履歴を示す表である。装置履歴３２においては、１つのイベントを１項目として、項目毎に実行した日付、時刻および操作内容が時系列順にリスト形式で表示されている。そのため、分析者は装置履歴３２を目視により確認することで、分析部５０およびコンピュータ２０において、分析部５０および制御ソフトウェアに関するどのような動作がいつ行なわれたかを把握することができる。
【００５１】
データ履歴中の第１の項目を選択することで、装置履歴中の第２の項目を含む部分が表示されるので、分析者は着目したデータ履歴中の項目に対応する装置履歴中の項目を容易に把握することができる。また、このデータ履歴中の第１の項目が選択されることにより、第２の項目を含む装置履歴をディスプレイに表示するときに、図４のように第２の項目を強調して表示すると、さらに容易に第２の項目が把握することができるので好ましい。加えて、分析者は、着目するデータ履歴中の項目より前に行なわれた装置履歴の内容を容易に把握することもできる。そのため、例えばあるスペクトルデータに何らかの異常が確認された場合、分析者は当該スペクトルデータが取得されたときの、または、処理される前の装置履歴を容易に確認することができる。これによると、上記のスペクトルデータの異常が、装置の変更（例えば、分析部の付属品の脱着、制御ソフトウェアの設定の変更）等によるものか否かを確認することができるため、異常の原因を突き止めることに役立つ。
【００５２】
より具体的には、あるスペクトルデータにはノイズが多いという特性が見られたが、データ履歴には指定の測定パラメータにより測定を実行したことしか記録されておらず、ノイズの原因が分からない場合がありうる。このような場合、装置履歴の当該スペクトルデータの測定を示す項目およびその項目に時間的に近い項目を参照すると、分析部において特定の付属機器を外した後に必要とされる自動調整機能が実行されていないことが判明し、そのため入射光強度が低くなり、ノイズが多くなったと判断できる可能性がある。
【００５３】
また、図４のように、データ履歴３１中の第１の項目３１１を選択した時点で、第１の項目３１１も強調して表示されるように構成すると、第１の項目３１１と対応する第２の項目３２１の比較がさらに容易になるので好ましい。
【００５４】
さらに、図４の状態で、第１の項目３１１と異なる別の項目が分析者により選択された場合、コンピュータ２０が、第２の項目３２１の表示の強調をとりやめ、加えて当該別の項目と対応する項目が装置履歴３２中にあるときには、当該対応する項目を代わりに強調して表示するような構成が好ましい。このように構成すると、データ履歴３１中の各項目と装置履歴３２中の各項目との関連の視認性がさらによくなるため、分析者の履歴確認時の作業効率の向上が期待される。
【００５５】
なお、図４では、装置履歴３２中の第２の項目３２１はデータ履歴３１中の第１の項目３１１と日付、時刻、操作内容が対応する（図４では同一である）例を開示しているが、第２の項目は第１の項目に対応する項目であればよく、上記の例に限定されない。例えば、第２の項目を、第１の項目と同一の項目に加え、第１の項目が取得された時刻から当該時刻より所定の時間だけ前の時刻までの時間範囲に含まれる履歴としてもよいし、第１の項目より所定のイベント数だけ前のイベントまでの範囲に含まれる履歴としてもよい。
【００５６】
また、第２の項目は、第１の項目に関連するスペクトルデータに対応する項目であってもよい。図５は、図３のデータ履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイの別の例を示す図である。図５は、図３においてデータ履歴３１中の第１の項目３１１が、入力機器２１により操作されるポインタ４０により選択された直後の図４とは別の例を示す。この場合、データ履歴３１中の第１の項目３１１が選択されることにより、装置履歴３２から、第１の項目３１１に関連するスペクトルデータ３０に関連する項目３２１および３２１ａを第２の項目として強調してディスプレイ２２に表示するように構成される。この一連の処理はコンピュータ２０により指令される。なお、通常、第２の項目３２１および３２１ａは、第１の項目３１１および第１の項目３１１と同じデータ履歴中の項目３１１ａと同一である。
【００５７】
このように構成すれば、あるスペクトルデータおよびそのデータに対する処理（データ履歴）と、分光光度計および制御ソフトウェアの動作の履歴（装置履歴）との関連がより把握しやすくなる。すなわち、スペクトルデータに何らかの異常が見いだされた場合にその異常の原因を装置履歴から探るときに、装置履歴の各項目とデータ履歴の各項目との時間的な前後関係が分かりやすい。例えば、図５では、当該異常の原因がデータ測定時の設定に起因し得ると考えられる場合は、項目３２１ａ以前の項目を確認すれば足りることがわかる。
【００５８】
なお、図３〜図５ではデータ履歴は「第１の履歴」の一実施例に対応し、装置履歴は「第２の履歴」の一実施例に対応する。
【００５９】
次に、逆に装置履歴中の項目を選択することにより、対応するデータ履歴中の項目を強調して表示するように構成する場合を考える。このように構成すれば、装置履歴とデータ履歴との関連を理解することがより容易になる。
【００６０】
図６は、装置履歴を表示した場合のディスプレイを例示する図である。コンピュータ２０の起動後に、分析者により、装置履歴の表示が指示されると、図６のようにディスプレイ２２に装置履歴３２が表示される。
【００６１】
図７は、図６の装置履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイを例示する図である。図７は、図６において装置履歴３２がディスプレイ２２に表示された状態で、第１の項目３２１が、入力機器２１により操作されるポインタ４０により選択された直後を示す。このように、装置履歴３２中の第１の項目３２１が選択された場合、第１の項目３２１と対応する第２の項目３１１がデータ履歴３１中にあるときには、コンピュータ２０はディスプレイ２２上に第２の項目３１１を含むデータ履歴３１を表示する。換言すると、コンピュータ２０は、ディスプレイ２２上に、データ履歴３１中の第２の項目３１１を含む部分を表示する。
【００６２】
装置履歴３２中の第１の項目３２１を選択することで、データ履歴３１中の第１の項目を含む部分が表示されるので、分析者は着目した装置履歴中の項目に対応するデータ履歴中の項目を容易に把握できる。また、この装置履歴中の第１の項目が選択されることにより、第２の項目を含むデータ履歴をディスプレイに表示するときに、図７のように第２の項目を強調して表示すると、さらに容易に第２の項目が把握することができるので好ましい。加えて、分析者は、着目する装置履歴中の項目より後の時刻に行なわれたデータ履歴の内容を容易に把握することもできる。そのため、分析部５０または制御ソフトウェアにおいて何らかの変更が行なわれた場合、分析者はその変更がその後のスペクトルデータの測定およびデータ処理に影響しているかを容易に確認することができる。よって、例えば分析部５０の付属品の脱着、または、制御ソフトウェアの設定の変更が行なわれた場合、その後に取得されるスペクトルデータに異常が生じていないかの検証の助けになる。また、このように装置履歴３２中の第１の項目３２１が選択されることにより、データ履歴３１中の第２の項目３１１を強調して表示するときには、コンピュータ２０が、第２の項目３１１に関連するスペクトルデータ３０も表示するように構成すれば、第１の項目３２１のスペクトルデータ３０への影響も直感的に把握できるので好ましい。
【００６３】
また、装置履歴３２中の第１の項目３２１を選択した際に、第１の項目３２１と同じスペクトルデータ３０に関連する装置履歴３２中の別の項目も強調して表示するように構成してもよい。図８は、装置履歴において第１の項目を選択した場合のディスプレイの別の例を示す図である。図８は、図６において装置履歴３２中の第１の項目３２１が、入力機器２１により操作されるポインタ４０により選択された直後の図７とは別の例を示す。この場合、コンピュータ２０は、装置履歴３２中の第１の項目３２１が選択されることにより、データ履歴３１中の第２の項目３１１を強調して表示するときには、装置履歴３２から、第１の項目３２１に関連するスペクトルデータ３０に関連する第１の項目３２１と異なる第３の項目３２１ａも強調して表示するように構成される。なお、通常、第３の項目３２１ａは、第２の項目３１１と同じデータ履歴３１中の項目３１１ａと同一である。
【００６４】
このように構成すれば、あるスペクトルデータおよびそのデータ履歴と、装置履歴との関連がより把握しやすくなる。例えば、装置履歴中にデータ測定および／またはデータ処理に影響し得ると考えられる分析部５０または制御ソフトウェアにおける何らかの変更または調整が見つかった場合に、当該変更または調整と、着目するスペクトルデータの測定およびデータ処理等の各項目との時間的な前後関係を把握することが容易である。
【００６５】
第３の項目３２１ａの強調表示は、分析者の指令によって実行されるように構成してもよいし、コンピュータ２０により自動で行なわれるように構成してもよい。すなわち、第３の項目３２１ａの強調表示は、分析者により装置履歴３２中の第１の項目３２１が選択されることにより、データ履歴３１中の第２の項目３１１を強調して表示した後に、データ履歴３１中のいずれかの項目を選択した際に行なわれるように構成してもよい。このように構成すれば、分析者が装置履歴とデータ履歴との関連を詳細に確認したいときに便利である。一方、第３の項目３２１ａの強調表示は、分析者が装置履歴３２中の第１の項目３２１を選択したときに、コンピュータ２０が自動で行なうように構成してもよい。このように構成すると、分析者が装置履歴とデータ履歴との関連を常に確認したい場合、第３の項目を表示する作業が簡略化できる。
【００６６】
なお、図６〜図８では装置履歴は「第１の履歴」の一実施例に対応し、データ履歴は「第２の履歴」の一実施例に対応する。
【００６７】
また、図３〜図８ではある項目を強調して表示する場合を、当該項目をハイライト表示するように例示したが、強調の態様はこれに限定されず、分析者にとって他の項目との目視での差別化が可能であればよい。
【００６８】
図３〜図８では第１の履歴中の第１の項目に対応する第２の項目が第２の履歴中にある場合を示したが、第２の項目が第２の履歴中にないときも考えられる。このようなときとは、例えば、他の分光光度計のコンピュータ上の制御ソフトウェアで測定したスペクトルデータをコンピュータ２０に読み込んだ場合、または、コンピュータ２０から装置履歴が既に削除されている場合に生じる。このように、第１の履歴中の第１の項目に対応する第２の項目が第２の履歴中にない場合には、分光光度計１００は、ディスプレイ２２にエラーメッセージを表示する等何らかの手段で、当該エラーを報知するように構成すると、分析者が当該エラーに気づきやすくなるという点で好ましい。
【００６９】
以下、図９および図１０を用いて本発明の実施の形態に係る分光光度計１００のコンピュータ２０による分光光度計１００の制御について説明する。図９は、データ履歴において第１の項目を選択した場合の処理を例示するフローチャートである。図９のフローチャートは、分析者がディスプレイ２２に表示されるデータ履歴および装置履歴の関連を確認するときに、コンピュータ２０により実行される。
【００７０】
図９を参照して、ステップ１０１において、分析者の入力機器２１による指示に基づいて、コンピュータ２０はスペクトルデータおよび当該スペクトルデータに対応するデータ履歴を表示する。続くステップ１０２において、コンピュータ２０はデータ履歴中に第１の項目を選択する分析者の指示があるか否かを判定する。ステップ１０２において、第１の項目を選択する分析者の指示が無い場合（ステップ１０２においてＮＯ）、コンピュータ２０は処理を終了する。ステップ１０２において、第１の項目を選択する分析者の指示がある場合（ステップ１０２においてＹＥＳ）、ステップ１０３において、コンピュータ２０はデータ履歴中の第１の項目を選択する。
【００７１】
続いてステップ１０４において、コンピュータ２０は、装置履歴中に第１の項目に対応する第２の項目があるか否かを判定する。装置履歴中に第１の項目に対応する第２の項目が無い場合（ステップ１０４においてＮＯ）、ステップ１０６において、コンピュータ２０は装置履歴中に第２の項目が無いことを示すエラーメッセージを表示し、処理を終了する。装置履歴中に第１の項目に対応する第２の項目がある場合（ステップ１０４にてＹＥＳ）、ステップ１０４において、コンピュータ２０は第２の項目を含む装置履歴を表示し、処理を終了する。
【００７２】
以上により、分析者はディスプレイ２２上で着目するデータ履歴中の項目と、対応する装置履歴中の項目との関連を把握することが容易となる。
【００７３】
一方、図１０は、装置履歴において第１の項目を選択した場合の処理を例示するフローチャートである。図１０のフローチャートは、分析者がディスプレイ２２に表示されるデータ履歴および装置履歴の関連を確認する際に、コンピュータ２０により実行される。
【００７４】
図１０を参照して、ステップ２０１において、分析者の入力機器２１による指示に基づいて、コンピュータ２０は装置履歴を表示する。続くステップ２０２において、コンピュータ２０は装置履歴中に第１の項目を選択する分析者の指示があるか否かを判定する。ステップ２０２において、第１の項目を選択する分析者の指示が無い場合（ステップ２０２においてＮＯ）、コンピュータ２０は処理を終了する。ステップ２０２において、第１の項目を選択する分析者の指示がある場合（ステップ２０２においてＹＥＳ）、ステップ２０３において、コンピュータ２０は装置履歴中の第１の項目を選択する。
【００７５】
続いてステップ２０４において、コンピュータ２０は、データ履歴中に第１の項目に対応する第２の項目があるか否かを判定する。データ履歴中に第１の項目に対応する第２の項目が無い場合（ステップ２０４においてＮＯ）、ステップ２０６において、コンピュータ２０はデータ履歴中に第２の項目が無いことを示すエラーメッセージを表示し、処理を終了する。データ履歴中に第１の項目に対応する第２の項目がある場合（ステップ２０４にてＹＥＳ）、ステップ２０４において、コンピュータ２０は第２の項目を含むデータ履歴を表示し、処理を終了する。
【００７６】
以上により、分析者はディスプレイ２２上で着目する装置履歴中の項目と、対応するスペクトルデータおよびデータ履歴中の項目との関連を把握することが容易となる。
【００７７】
このように構成すれば、分析者はスペクトルデータおよびデータ履歴と、装置履歴との関連を把握することが容易となる。よって、例えば分析者にとってスペクトルデータに何らかの異常が見いだされた場合に、関連する装置履歴を確認することの助けとなる。したがって、当該異常に分光光度計の各部の変更および調整が起因するか否かを把握することが容易である。すなわち、簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることが可能な分光光度計を提供することができる。
【００７８】
［態様］
上述した複数の例示的な実施形態は、以下の態様の具体例であることが当業者により理解される。
【００７９】
（第１項）一態様に係る前記分光光度計は、
光を試料に照射し、前記照射によって前記試料から放出される信号を検出するように構成された分析部と、
前記分析部、入力機器およびディスプレイの各々と通信可能に構成され、前記分析部の検出信号に基づいて前記試料のスペクトルデータを前記ディスプレイに表示することが可能なように構成された処理部とを備え、
前記処理部は、前記スペクトルデータに対してデータ処理を施すこと、前記データ処理を項目ごとに記録したデータ履歴を保存すること、および、前記データ履歴を前記ディスプレイに表示することが可能なように構成され、
前記処理部は、前記分析部および前記処理部の動作を項目ごとに記録する装置履歴を保存すること、および、前記装置履歴を前記ディスプレイに表示することが可能なように構成され、
前記処理部は、前記データ履歴および前記装置履歴のうちの第１の履歴が前記ディスプレイに表示された状態で、前記第１の履歴中の第１の項目が前記入力機器により選択された場合において、前記第１の項目と対応する前記第２の項目が前記第２の履歴中にあるときには、前記第２の項目を含む前記第２の履歴を前記ディスプレイに表示するように、構成されていてよい。
【００８０】
第１項に記載の分光光度計によれば、簡易な構成で分析者の履歴確認時の作業効率を向上させることができる。
【００８１】
（第２項）
第１項に記載の分光光度計において、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の項目を含む前記第２の履歴を前記ディスプレイに表示するときに、前記第２の項目を強調して表示するように構成してもよい。
【００８２】
第２項に記載の分光光度計によれば、第２の項目の視認性が高まるので、分析者の履歴確認時の作業効率をさらに向上させることができる。
【００８３】
（第３項）
第１項または第２項に記載の分光光度計において、
前記装置履歴が前記第１の履歴であり、前記データ履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴中の前記第２の項目を強調して表示するときには、前記第２の項目に関連する前記スペクトルデータも表示してもよい。
【００８４】
第３項に記載の分光光度計によれば、データ履歴としばしば同時に観察が所望されるスペクトルデータをも、データ履歴の表示に合わせて自動でディスプレイに表示させることで、分析者の手間をさらに省き、履歴確認時の作業効率をさらに向上させる。
【００８５】
（第４項）
第１〜第３項のいずれか１項に記載の分光光度計において、
前記第２の項目は、前記第１の項目と処理の日時および操作内容が同一の項目であってもよい。
【００８６】
第４項に記載の分光光度計によれば、データ履歴または装置履歴の一方において着目する項目と、他方に含まれる同一の処理の日時および操作内容である項目が強調して表示されるので、分析者にとって視認性がよく、履歴確認時の作業効率が向上する。
【００８７】
（第５項）
第１〜第３のいずれか１項に記載の分光光度計において、
前記データ履歴が前記第１の履歴であり、前記装置履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴から、前記第１の項目に関連する前記スペクトルデータ３０に関連する項目を第２の項目として強調して表示するように構成されてもよい。
【００８８】
第５項に記載の分光光度計によれば、データ履歴に対応するスペクトルデータに対応する装置履歴が強調して表示されるので、装置履歴中の他の動作の項目と視覚的に区別することが容易にできるので、履歴確認時の作業効率が向上する。
【００８９】
（第６項）
第１〜第５項のいずれか１項に記載の分光光度計において、
前記装置履歴が前記第１の履歴であり、前記データ履歴が前記第２の履歴である場合、
前記処理部は、
前記第１の履歴中の前記第１の項目が選択されることにより、前記第２の履歴中の前記第２の項目を強調して表示するときには、前記第１の履歴から、前記第１の項目に関連する前記スペクトルデータに関連する前記第１の項目と異なる第３の項目も強調して表示するように構成される、請求項１〜４のいずれか１項に記載の分光光度計。
【００９０】
第６項に記載の分光光度計によれば、データ履歴に対応するスペクトルデータに対応する装置履歴が強調して表示されるので、装置履歴中の他の動作の項目と視覚的に区別することが容易にできるので、履歴確認時の作業効率が向上する。
【００９１】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００９２】
１  赤外光源、２  集光鏡、３  コリメータ鏡、４  ビームスプリッタ、５  固定鏡、６  移動鏡、７  試料室、８  物面鏡、９  楕円面鏡、１０  検出器、１１  アンプ、１２  変換器、２０  コンピュータ、２１  入力機器、２２  ディスプレイ、２４  メモリ、２５  入力インターフェイス（入力Ｉ／Ｆ）、２６  表示コントローラ、２７  出力インターフェイス（出力Ｉ／Ｆ）３０  スペクトルデータ、３１  データ履歴、３２  装置履歴、４０  ポインタ、５０  分析部、５１  マイケルソン型干渉計、１００  分光光度計、Ｓ１  試料。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2020144031.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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