(57)【要約】【課題】繰り返される同様な処理の監視をより適切に行えるようにすること。【解決手段】情報処理装置は、登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する抽出部と、前記抽出部により抽出された情報に基づく情報を表示させる表示制御部と、を有する。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する抽出部と、
前記抽出部により抽出された情報に基づく情報を表示させる表示制御部と、
を有する情報処理装置。
【請求項２】
前記抽出部は、
前記登録パターンと、前記各期間におけるパターンとの少なくとも一方を時間方向に伸縮させて前記類似度を算出する、
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記表示制御部は、
前記登録パターンに含まれる複数のパターンのうち、前記類似度が前記閾値以上であるパターンを表示させる、
請求項１または２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記表示制御部は、
前記各期間のうち、前記類似度が前記閾値以上である期間以外の期間を特定し、特定した期間における前記測定データの履歴を表示させる、
請求項１から３のいずれか一項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記表示制御部は、
前記各期間のうち、前記類似度が前記閾値以上である期間以外の複数の期間を特定し、特定した各期間における前記測定データの周期性の度合いを算出し、
算出した周期性の度合いが前記閾値以上でない場合、特定した各期間における前記測定データを第１表示態様で表示させ、
算出した周期性の度合いが前記閾値以上である場合、特定した各期間における前記測定データを第２表示態様で表示させる、
請求項４に記載の情報処理装置。
【請求項６】
情報処理装置が、
登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する処理と、
抽出された情報に基づく情報を表示させる処理と、
を実行する情報処理方法。
【請求項７】
情報処理装置に、
登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する処理と、
抽出された情報に基づく情報を表示させる処理と、
を実行させるプログラム。
【請求項８】
登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する抽出部と、
前記登録パターンと、前記抽出部により抽出された情報に基づいて異常を判定する判定部と、
前記判定部により異常であると判定された場合、異常を報知する報知部と、
を有する異常診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び異常診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、原料、中間製品、設備、機器、装置等の各種の監視対象について、センサ等により温度、圧力、撹拌速度、流量、電流、電圧等の状態量を測定（計測）し、監視を行う技術が知られている。
【０００３】
鉄鋼、鋳造、食品、半導体等の分野の製造プロセスでは、原料や中間製品の一定量を製造単位としてまとめて、製造単位毎に繰り返し製造処理を行う。このような製造プロセスはバッチプロセスと称される。
【０００４】
特許文献１には、基準となる最良のバッチプロセスで測定されたデータを基準バッチデータとし、監視対象のバッチプロセスで測定されたデータ（運用のバッチデータ）と基準バッチデータとの差異が信頼区間幅を超えたときに基準から外れていることを通知することにより不具合を早期発見する技術が開示されている。
【０００５】
従来、監視対象のバッチプロセスで測定されたデータは、例えば、センサ等で測定されたデータのログから、管理者の目視により抽出されていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１０−２１１６７１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来技術では、監視対象のバッチプロセスで測定されたデータとして管理者により抽出されたデータは、例えば、バッチプロセスの開始時点や終了時点の設定が適切でない場合があるという問題がある。
【０００８】
そこで、一側面では、繰り返される同様な処理の監視をより適切に行えるようにする技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
一つの案では、情報処理装置は、登録されている登録パターンと、物理量が測定された測定データの履歴に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、前記測定データの履歴のうち、算出した類似度が閾値以上である期間の情報を抽出する抽出部と、前記抽出部により抽出された情報に基づく情報を表示させる表示制御部と、を有する。
【発明の効果】
【００１０】
一側面によれば、繰り返される同様な処理の監視をより適切に行えるようにすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施形態に係る監視システムの構成例を示す図である。
【図２】実施形態に係るバッチプロセス監視装置のハードウェア構成例を示す図である。
【図３】実施形態に係るバッチプロセス監視装置の機能ブロック図である。
【図４】実施形態に係る異常判定設定データの一例を示す図である。
【図５】実施形態に係るバッチプロセス監視装置の処理の一例を示すフローチャートである。
【図６】実施形態に係る基準バッチの登録を受け付ける処理の一例を示すフローチャートである。
【図７Ａ】実施形態に係る周期性の度合いの表示例について説明する図である。
【図７Ｂ】実施形態に係る周期性の度合いの表示例について説明する図である。
【図８】実施形態に係る状態量の測定データのログの一例について説明する図である。
【図９】実施形態に係る各基準バッチを時間方向に伸縮する処理の一例について説明する図である。
【図１０】実施形態に係る各基準バッチに類似する期間のデータを抽出する処理の一例について説明する図である。
【図１１】実施形態に係る各基準バッチと類似しないパターンを表示する処理の一例について説明する図である。
【図１２】連続プロセスとバッチプロセスについて説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面を参照しながら本開示の実施形態を説明する。図１は、実施形態に係る監視システムの構成例を示す図である。図１において、監視システム１は、バッチプロセス監視装置１０（「情報処理装置」、及び「異常診断装置」の一例。）、測定装置２０、及び機器３０を含む。
【００１３】
図１に示す監視システム１は、バッチプロセス監視装置１０と、１台以上の測定装置（機器制御装置）２０とが通信可能に接続されている。また、測定装置２０には、１台以上の機器３０が接続されている。
【００１４】
バッチプロセス監視装置１０と測定装置２０とは、ＬＡＮ（Local Area Network）、無線ＬＡＮ、インターネット等の通信回線Ｎによって通信可能に接続される。
【００１５】
バッチプロセス監視装置１０は、例えば、サーバ、ＰＣ（Personal Computer）、タブレット型端末、スマートフォン等の端末である。バッチプロセス監視装置１０は、機器３０の異常を判定すると、アラームや画面表示等によりユーザに異常を報知する。
【００１６】
測定装置２０は、機器３０における温度、圧力、撹拌速度、流量、電流、電圧等の状態量を測定し、測定結果をバッチプロセス監視装置１０に通知するセンサである。
【００１７】
機器３０は、プラント等における製造設備や、産業用・民生用の設備であり、同様な処理（以下「バッチプロセス」と称する。）を繰り返し行う機器である。機器３０には、例えば、同一設備を使用して多品種の製品を製造する、化学・石油・繊維・食品・飲料・鉄鋼・非鉄・パルプ・薬品・ガラス・セメント・半導体・繊維などのプラントの設備、往復動という反復した動きを繰り返す往復動式のポンプや圧縮機、所定間隔毎に除霜を行う冷蔵・冷凍庫や冷蔵・冷凍ショーケース等が含まれる。
【００１８】
図２は、実施形態に係るバッチプロセス監視装置１０のハードウェア構成例を示す図である。図２のバッチプロセス監視装置１０は、それぞれバスＢで相互に接続されているドライブ装置１００、補助記憶装置１０２、メモリ装置１０３、ＣＰＵ１０４、インタフェース装置１０５、表示装置１０６、及び入力装置１０７等を有する。
【００１９】
バッチプロセス監視装置１０での処理を実現するバッチプロセス監視プログラムは、記録媒体１０１によって提供される。バッチプロセス監視プログラムを記録した記録媒体１０１がドライブ装置１００にセットされると、バッチプロセス監視プログラムが記録媒体１０１からドライブ装置１００を介して補助記憶装置１０２にインストールされる。但し、バッチプロセス監視プログラムのインストールは必ずしも記録媒体１０１より行う必要はなく、ネットワークを介して他のコンピュータよりダウンロードするようにしてもよい。補助記憶装置１０２は、インストールされたバッチプロセス監視プログラムを格納すると共に、必要なファイルやデータ等を格納する。
【００２０】
メモリ装置１０３は、プログラムの起動指示があった場合に、補助記憶装置１０２からプログラムを読み出して格納する。ＣＰＵ１０４は、メモリ装置１０３に格納されたプログラムに従ってバッチプロセス監視装置１０に係る機能を実現する。インタフェース装置１０５は、ネットワークに接続するためのインタフェースとして用いられる。表示装置１０６はプログラムによるＧＵＩ（Graphical User Interface）等を表示する。入力装置１０７はキーボード及びマウス等、またはタッチパネル及びボタン等で構成され、様々な操作指示を入力させるために用いられる。
【００２１】
なお、記録媒体１０１の一例としては、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤディスク、又はＵＳＢメモリ等の可搬型の記録媒体が挙げられる。また、補助記憶装置１０２の一例としては、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）又はフラッシュメモリ等が挙げられる。記録媒体１０１及び補助記憶装置１０２のいずれについても、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に相当する。
【００２２】
＜機能構成＞
次に、図３を参照し、実施形態に係るバッチプロセス監視装置１０の機能構成について説明する。図３は、バッチプロセス監視装置１０の機能ブロック図である。バッチプロセス監視装置１０は、測定データ取得部１２、抽出部１３、表示制御部１４、異常判定部１５、及び報知部１６を有する。これら各部は、バッチプロセス監視装置１０にインストールされた１以上のプログラムが、バッチプロセス監視装置１０のＣＰＵ１０４に実行させる処理により実現される。
【００２３】
また、バッチプロセス監視装置１０は、記憶部１１を有する。記憶部１１は、例えば、補助記憶装置１０２等を用いて実現される。
【００２４】
記憶部１１は、異常判定設定データ１１１を記憶する。図４は、実施形態に係る異常判定設定データ１１１の一例を示す図である。異常判定設定データ１１１には、バッチプロセスＩＤ、基準バッチ（、ゴールデンバッチ、「登録パターン」の一例）が含まれる。バッチプロセスＩＤは、各種のバッチプロセスの識別情報である。基準バッチは、バッチプロセスにおける各バッチ内における標準的な状態量の時間変化を示すデータである。基準バッチには、例えば、以下のデータが、ユーザの設定操作に応じて、または異常判定部１５により自動で設定される。
・ユーザに設定されたプロファイルの理論上の設計値。
・以前に測定されたバッチプロセスの測定データ（プロファイル）のうち最良の動きをしているもの。
・正常なバッチプロセスのプロファイルの平均値（以前に測定された複数の測定データのうち異常判定部１５により異常であると判定されなかったデータの各時間に対する平均値）。
【００２５】
測定データ取得部１２は、測定装置２０にて測定された、バッチプロセスの各時間における機器３０の温度等の状態量を示す測定データ（計測データ）を取得する。
【００２６】
抽出部１３は、異常判定設定データ１１１に登録されている各基準バッチと、測定データ取得部１２により取得された測定データのログ（履歴）に含まれる各期間におけるパターンとの類似度を算出し、当該測定データのログのうち、算出した類似度が所定の閾値以上である期間の情報を抽出する。
【００２７】
表示制御部１４は、抽出部１３により抽出された情報に基づく情報を画面に表示させる。異常判定部１５は、異常判定設定データ１１１に登録されている各基準バッチと、抽出部１３により抽出された期間の測定データとに基づいて、各バッチプロセスが異常であるか否かを判定する。
【００２８】
報知部１６は、異常判定部１５の指示に応じて、バッチプロセス監視装置１０の画面、パトランプ、予め登録されているメールアドレス等に、異常の報知（通知）を行う。
【００２９】
＜処理＞
次に、図５を参照し、実施形態に係るバッチプロセス監視装置１０の処理について説明する。図５は、実施形態に係るバッチプロセス監視装置１０の処理の一例を示すフローチャートである。
【００３０】
ステップＳ１において、抽出部１３、及び表示制御部１４は、基準バッチの登録を受け付ける処理を行う。この処理については後述する。
【００３１】
続いて、測定データ取得部１２は、測定装置２０より測定された測定データのログを取得する（ステップＳ２）。ここで、測定データ取得部１２は、例えば、所定周期（例えば、１分）で測定されたデータを、所定期間（例えば、１時間）分取得する。なお、測定データのログは、測定装置２０に記憶されていてもよいし、バッチプロセス監視装置１０にて記憶しておいてもよい。
【００３２】
続いて、異常判定部１５は、測定データ取得部１２により取得されたログに基づいて、異常判定を行う（ステップＳ３）。ここで、異常判定部１５は、後述する図６のステップＳ１０７からステップＳ１０９の処理と同様の処理を行い、当該ログから、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチに類似する期間のデータを抽出する。そして、例えば、当該ログ基準バッチとの差異が所定の閾値を超えた場合は以上であると判定してもよい。
【００３３】
≪基準バッチの登録処理≫
次に、図６から図１１を参照し、図５のステップＳ１の基準バッチの登録を受け付ける処理について説明する。図６は、実施形態に係る基準バッチの登録を受け付ける処理の一例を示すフローチャートである。図７Ａ、及び図７Ｂは、実施形態に係る周期性の度合いの表示例について説明する図である。図８は、実施形態に係る状態量の測定データのログの一例について説明する図である。図９は、実施形態に係る各基準バッチを時間方向に伸縮する処理の一例について説明する図である。図１０は、実施形態に係る各基準バッチに類似する期間のデータを抽出する処理の一例について説明する図である。図１１は、実施形態に係る各基準バッチと類似しないパターンを表示する処理の一例について説明する図である。
【００３４】
ステップＳ１０１において、抽出部１３は、測定装置２０により測定された温度、圧力、撹拌速度、流量、電流、電圧等の各状態量（変数）の測定データのログに基づいて、各状態量（変数）の周期性の度合いを判定する。ここで、抽出部１３は、例えば、各状態量の測定データのログについて、自己相関関数（自己相関係数）を算出する。または、各状態量の測定データのログについて、特徴点の周期の分散等を算出してもよい。
【００３５】
続いて、表示制御部１４は、各状態量の周期性の度合いを表示させる（ステップＳ１０２）。ここで、表示制御部１４は、例えば、各状態量について、ステップＳ１０１で算出した自己相関関数の値等のグラフを表示させる。ここで、表示制御部１４は、例えば、図７Ａ、及び図７Ｂのグラフを表示させる。図７Ａ、及び図７Ｂの例では、一の状態量について、縦軸を自己相関関数の値、横軸を時間として、曲線７０２、及び曲線７１２がそれぞれ示されている。
【００３６】
図７Ａの曲線７０２は、時間７０３、時間７０３の２倍付近の時間７０４、及び時間７０３の３倍付近の時間７０５等で自己相関関数の値が大きくなっているため、管理者は、周期性の度合いが高いと判断することができる。一方、図７Ｂの曲線７１２は、所定の周期毎に自己相関関数の値が大きくなるものではないため、管理者は、周期性の度合いが低いと判断することができる。
【００３７】
続いて、抽出部１３は、状態量を指定する操作を管理者から受け付ける（ステップＳ１０３）。続いて、表示制御部１４は、管理者に指定された状態量の測定データのログを表示させる（ステップＳ１０４）。例えば、図７Ａのグラフが管理者により選択された場合、表示制御部１４は、図８のように、図７Ａのグラフの基となった物理量の測定データを表示させる。
【００３８】
図８の例では、縦軸を温度等の物理量の大きさとし、横軸を時間とした、温度等の物理量の測定データのログの線８０２が示されている。図８の例では、第１種別のバッチプロセスが期間８１１、期間８１２、期間８１３で３回実行され、第２種別のバッチプロセスが期間８２１、期間８２２、期間８２３で３回実行され、第３種別のバッチプロセスが期間８３１、期間８３２、期間８３３で３回実行され、第４種別のバッチプロセスが期間８４１、期間８４２、期間８４３で３回実行され、第５種別のバッチプロセスが期間８５１、期間８５２、期間８５３で３回実行された場合の測定データのログが示されている。
【００３９】
続いて、抽出部１３は、各種のバッチプロセスに対する基準バッチの指定を管理者から受け付ける（ステップＳ１０５）。ここで、例えば、図８のグラフにおいて、期間８１１の測定データ８１０、期間８２１の測定データ８２０、期間８３１の測定データ８３０、期間８４１の測定データ８４０が、それぞれ、第１種別から第４種別のバッチプロセスの基準バッチとして指定されたものとする。
【００４０】
続いて、記憶部１１は、各種のバッチプロセスに対して指定された基準バッチを、異常判定設定データ１１１にそれぞれ登録する（ステップＳ１０６）。
【００４１】
続いて、抽出部１３は、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチと、指定された状態量の測定データのログとの各期間（時間帯）における類似度を算出する（ステップＳ１０７）。ここで、抽出部１３は、例えば、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチと、指定された状態量の測定データのログとの相関係数ｒを以下の式（１）により算出する。
【００４２】
【数１】
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式（１）において、ｘは基準バッチの時系列データ、ｙは測定データのログの時系列データ、Ｓｘｙはｘとｙの共分散、Ｓｘはｘの標準偏差、Ｓｙはｙの標準偏差、Ｔｓａｍｐｌｅは基準バッチの周期（時間長）、ｔ´は切り出し開始時点（０≦ｔ´≦Ｔ−Ｔｓａｍｐｌｅ）、Ｔは指定された状態量の測定データの最後の時点、ｘバーはｘの平均値、ｙバーはｙの平均値である。なお、時点ｔ´の値は１ずつインクリメントされる。これにより、時点ｔ´＝０から時点ｔ´＝Ｔ−Ｔｓａｍｐｌｅまでの区間での相関係数ｒが算出される。
【００４３】
または、抽出部１３は、各期間における基準バッチと測定データのログとの傾きの推移の類似度を算出してもよい。この場合、抽出部１３は、例えば、基準バッチの時系列データを時間で微分することにより、基準バッチの各時点での傾きの推移を算出する。そして、抽出部１３は、測定データのログの時系列データを時間で微分することにより、測定データのログの各時点での傾きの推移を算出する。そして、抽出部１３は、測定データのログの各時点での傾きの推移のうち、基準バッチの各時点での傾きの推移と最も近いものを抽出する。そして、抽出部１３は、抽出した推移と、基準バッチの各時点での傾きの推移との差分の逆数に基づいて類似度を算出してもよい。
【００４４】
続いて、抽出部１３は、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチを時間方向に伸縮したデータと、指定された状態量の測定データのログとの各期間における類似度を算出する（ステップＳ１０８）。図９の例では、縦軸を温度等の物理量の大きさとし、横軸を時間とした、基準バッチの線９０１、当該基準バッチを時間方向に１０％が伸ばした線９０２、当該基準バッチを時間方向に１０％が縮めた線９０３示されている。抽出部１３は、ステップＳ１０８において、例えば、基準バッチのデータを所定の割合（例えば、１％）ずつ時間方向に伸ばすまたは縮めた各データについて、ステップＳ１０７の処理と同様の処理をそれぞれ行う。
【００４５】
続いて、抽出部１３は、指定された状態量の測定データのログから、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチに類似する期間のデータを抽出する（切り出す）（ステップＳ１０９）。ここで、抽出部１３は、各基準バッチについて、ステップＳ１０７及びステップＳ１０８で算出した類似度のうち最も高い類似度のデータに基づいて、各基準バッチに対応する期間のデータを、指定された状態量の測定データのログから抽出する。
【００４６】
図１０の例では、期間８１１、期間８１２、期間８１３では、第１種別のバッチプロセスの基準バッチ８１０との類似度が最も高く、期間８２１、期間８２２、期間８２３では、第２種別のバッチプロセスの基準バッチ８２０との類似度が最も高く、期間８３１、期間８３２、期間８３３では、第３種別のバッチプロセスの基準バッチ８３０との類似度が最も高く、期間８４１、期間８４２、期間８４３では、第４種別のバッチプロセスの基準バッチ８４０との類似度が最も高いことが示されている。
【００４７】
また、図１０の例では、期間８５１、期間８５２、期間８５３では、類似度が閾値１０５以上の基準バッチが異常判定設定データ１１１に登録されていないことが示されている。
【００４８】
続いて、抽出部１３は、測定データのログに、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチと類似しないパターンが存在するか否かを判定する（ステップＳ１１０）。
【００４９】
各基準バッチと類似しないパターンが存在する場合（ステップＳ１１０でＹＥＳ）、表示制御部１４は、ステップＳ１０９で抽出した各期間のデータに類似する各基準バッチと、ステップＳ１１０で判定した、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチと類似しないパターンとを表示させ（ステップＳ１１１）、ステップＳ１０５の処理に進む。
【００５０】
図１１の例では、図１０の例で期間８１１、期間８１２、期間８１３のデータを切り出した第１種別のバッチプロセスの基準バッチ８１０、期間８２１、期間８２２、期間８２３のデータを切り出した第２種別のバッチプロセスの基準バッチ８２０、期間８３１、期間８３２、期間８３３のデータを切り出した第３種別のバッチプロセスの基準バッチ８３０、期間８４１、期間８４２、期間８４３のデータを切り出した第４種別のバッチプロセスの基準バッチ８４０がそれぞれ表示されている。また、ステップＳ１１０で判定したパターンである８５０Ａ、８５０Ｂ、８５０Ｃが表示されている。
【００５１】
なお、表示制御部１４は、ステップＳ１１０で判定した各パターンである８５０Ａ、８５０Ｂ、８５０Ｃ等の未登録のパターンに周期性があれば、当該各パターンを強調表示等の表示態様で表示させてもよい。この場合、表示制御部１４は、ステップＳ１１０において、測定データのログに含まれる各期間のうち、異常判定設定データ１１１に登録された各基準バッチとの類似度が所定の閾値以上である期間以外の複数の期間を特定する。そして、表示制御部１４は、例えば、ステップＳ１０１の処理における周期性の度合いの判定方法と同様の方法により、特定した各期間における前記測定データの周期性の度合いを算出する。そして、表示制御部１４は、算出した周期性の度合いが閾値以上でない場合、特定した各期間における測定データを通常の表示態様（「第１表示態様」の一例。）で表示させ、算出した周期性の度合いが当該閾値以上である場合、特定した各期間における測定データを点滅、赤色表示等の強調表示（「第２表示態様」の一例。）で表示させてもよい。
【００５２】
一方、各基準バッチと類似しないパターンが存在しない場合（ステップＳ１１０でＮＯ）、表示制御部１４は、ステップＳ１０９で抽出した各期間のデータに類似する各基準バッチを表示させ（ステップＳ１１２）、処理を終了する。
【００５３】
＜バッチプロセスの説明＞
次に、図１２を参照し、連続プロセスとバッチプロセスについて説明する。図１２は、連続プロセスとバッチプロセスについて説明する図である。
【００５４】
図１２（Ａ）は、「連続プロセス」について説明する図である。石油化学プロセスのエチレンプラント等のように、同種類の製品を連続して作り続けているプロセスは「連続プロセス」と呼ばれる。
【００５５】
図１２（Ｂ）は、本開示の「バッチプロセス」の一例について説明する図である。化学の中でも一般化学や、鉄鋼・鋳造・食品・医薬・半導体等、多くの分野の製造プロセスでは原料や中間製品の一定量を製造単位（ロット）としてこれをまとめて製造処理を行い、処理結果として得られる中間製品や製品を次工程へ移行する。このように原料や中間製品を一定量の製造単位に分割してこの製造単位ごとに処理を行い、一般に時間的に同じ設備を繰り返し使うことでこの製造単位処理を繰り返し行う製造プロセスは、上述した実施例が対象とする「バッチプロセス」に含まれる。
【００５６】
なお、連続プロセスを実現するためには大規模な設備投資が必要であることが多く、少なくとも日本国内の多くの割合を占める中小規模のプラントにおいてはバッチプロセスが大部分を占める。このようなバッチプロセスの安定操業により、製造品質を高めることは製造業全体にとって非常に重要な課題であり、バッチプロセスにおいて異常があればそれを早期に検知または予知し、それに対して迅速または望ましくは異常発生前に異常回避の対処を行うことが求められる。
【００５７】
また、一般の産業用・民生用の機器や設備においても、例えば往復動式のポンプや圧縮機は往復動という反復した動きを繰り返している。また、冷蔵・冷凍庫や冷蔵・冷凍ショーケースは一般に一定時間ごとに除霜を行っており、除霜間隔ごとに類似した動きを繰り返している。そのため、これらについても、本開示の「バッチプロセス」に含まれる。
【００５８】
バッチプロセスに関する状態量の時系列データは、各バッチの処理に応じて一定周期で繰り返した動きをしており、バッチ内の処理が進むにしたがって装置や製品の温度等の状態量が同様なパターンで変化している。
【００５９】
＜変形例＞
バッチプロセス監視装置１０は、例えば１以上のコンピュータにより構成されるクラウドコンピューティングにより、監視システムとして実現されていてもよい。また、バッチプロセス監視装置１０と測定装置２０は、一体の装置として構成してもよい。
【００６０】
バッチプロセス監視装置１０の各部の機能のうちの少なくとも一部を、専用のハードウェア回路（例えば半導体集積回路等）で実現してもよい。例えば、抽出部１３や異常判定部１５を、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）や、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等の半導体集積回路を用いて実現してもよい。
【００６１】
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は斯かる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【００６２】
１０  バッチプロセス監視装置
１１  記憶部
１１１  異常判定設定データ
１２  測定データ取得部
１３  抽出部
１４  表示制御部
１５  異常判定部
１６  報知部
２０  測定装置
３０  機器
【図１】
2020144672.tif 000004
【図２】
2020144672.tif 000005
【図３】
2020144672.tif 000006
【図４】
2020144672.tif 000007
【図５】
2020144672.tif 000008
【図６】
2020144672.tif 000009
【図７Ａ】
2020144672.tif 000010
【図７Ｂ】
2020144672.tif 000011
【図８】
2020144672.tif 000012
【図９】
2020144672.tif 000013
【図１０】
2020144672.tif 000014
【図１１】
2020144672.tif 000015
【図１２】
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