(57)【要約】【課題】放射線撮影装置において撮影中に発生するオフセット成分の経時的な変化に起因した画質の劣化を低減する技術を提供する。【解決手段】画像処理装置は、放射線量に応じた画素値を得るための第一の画素群と、放射線の照射時においてもオフセット値を得るための第二の画素群とを含む複数の画素がマトリクス状に配置された撮像センサから得られる画像を処理する。画像処理装置は、放射線の非照射時の撮影動作により複数の画素から得られる暗画像に基づいて、放射線の照射時の撮影動作により複数の画素から得られる放射線画像をオフセット補正する第一の補正部と、第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動に基づいて、第一の補正部により補正された、第一の画素群から得られた画素値を補正する第二の補正部と、を備える。【選択図】図１
2020149237.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線量に応じた画素値を得るための第一の画素群と、放射線の照射時においてもオフセット値を得るための第二の画素群とを含む複数の画素がマトリクス状に配置された撮像センサから得られる画像を処理する画像処理装置であって、
放射線の非照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる暗画像に基づいて、放射線の照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる放射線画像をオフセット補正する第一の補正手段と、
前記第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動に基づいて、前記第一の補正手段により補正された、前記第一の画素群から得られた画素値を補正する第二の補正手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記第二の補正手段は、
前記第一の補正手段により補正された前記放射線画像のうち、前記第二の画素群から得られた画素値の統計値を演算する演算手段を備え、
前記第一の補正手段により補正された前記放射線画像のうちの前記第一の画素群から得られた画素値を、前記統計値に基づいて補正することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記演算手段は、前回の放射線撮影までで得られた統計値と今回の放射線撮影で得られた統計値とを重みづけを用いた演算により統合して、前記第二の補正手段が用いる統計値を得るリカーシブ処理を行うことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記演算手段は、前記第一の補正手段によるオフセット補正のための画像の取得からの経過時間に基づいて、前記重みづけの重み値を変更することを特徴とする請求項３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記第二の補正手段は、前記第一の画素群から得られた画素値を大きくするように補正することを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記第二の補正手段は、前記統計値を前記第一の画素群から得られた画素値に前記統計値の絶対値を加算することを特徴とする請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記第二の補正手段は、前記統計値が正の閾値よりも大きい場合に前記第一の画素群から得られた画素値から前記正の閾値を減算し、前記統計値が負の閾値よりも小さい場合に前記第一の画素群から得られた画素値に前記負の閾値の絶対値を加算することを特徴とする請求項５または６に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記第二の補正手段による補正を実行するか否かを判定する判定手段をさらに備えることを特徴とする請求項２乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記判定手段は、前記第一の補正手段によるオフセット補正のための画像の取得からの経過時間が所定値を超える場合に、前記第二の補正手段による補正を実行すると判定することを特徴とする請求項８記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記判定手段は、前記統計値が所定の閾値よりも小さい場合に、前記第二の補正手段による補正を実行すると判定することを特徴とする請求項８または９に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記第二の補正手段は、前記統計値の絶対値が所定の閾値より大きい場合に、前記所定の閾値を用いて補正を実行し、前記統計値の絶対値が所定の閾値以下の場合に、前記統計値を用いて補正を実行することを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
前記演算手段は、前記第一の画素群の領域ごとに統計値を算出し、前記領域ごとの統計値をもとに前記統計値を算出することを特徴とする請求項２乃至１１のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項１３】
請求項２乃至１２のいずれか１項に記載の画像処理装置と、
前記撮像センサと、を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項１４】
前記第一の画素群は、有効画素領域にマトリックス状に配置された複数の光電変換素子を含み、
前記第二の画素群は、前記有効画素領域の周囲に配置された、遮光部材によって覆われた複数の光電変換素子を含むことを特徴とする請求項１３に記載の放射線撮影装置。
【請求項１５】
前記有効画素領域の一部を用いた部分読出駆動を行う駆動手段をさらに備え、
前記駆動手段は、前記第二の画素群のうち、前記部分読出駆動において読み出される領域を含む行に配置されている画素群の画素値を前記演算手段に提供することを特徴とする請求項１４記載の放射線撮影装置。
【請求項１６】
放射線量に応じた画素値を得るための第一の画素群と、放射線の照射時においてもオフセット値を得るための第二の画素群とを含む複数の画素がマトリクス状に配置された撮像センサから得られる画像を処理するための画像処理方法であって、
放射線の非照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる暗画像に基づくオフセット画像を用いて、放射線の照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる放射線画像をオフセット補正する第一の補正工程と、
前記第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動に基づいて、前記第一の補正工程で補正された、前記第一の画素群から得られた画素値を補正する第二の補正工程と、を備えることを特徴とする画像処理方法。
【請求項１７】
コンピュータを、請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮影素子を使用する放射線撮影装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線等の放射線による医療画像診断や非破壊検査に用いる放射線撮影装置として、ＴＦＴ（薄膜トランジスタ）等のスイッチと光電変換素子等の変換素子とを組み合わせた画素がマトリクス状に配された放射線撮影装置が実用化されている。この種の放射線撮影装置においては、製造ばらつき、温度等の環境ばらつきなどによって、照射を全く行なわない時の出力（即ちオフセット出力）の値に画素毎にばらつきが生じる。従って、これらのばらつきを補正するためにオフセット補正が行われる。
【０００３】
上述のオフセット補正の一つとして、撮影前に放射線を照射せずに複数枚の画像を撮影し、それらの各画素の平均値をオフセット信号（オフセット画像）として用いて、撮影時の出力との差分をとる方法が用いられている。このオフセット補正方法は、放射線撮影の前後にオフセット画像を撮影することが不要なため、フレームレートが要求される動画撮影などの高速撮影に適している。また、複数枚の撮影画像からオフセット画像が作成されるため、オフセット画像中のノイズが減少するという利点もある。
【０００４】
特許文献１には、各画素に放射線信号を取得するための光電変換素子以外に、オフセット信号を取得する為の遮光されたオプティカルブラック画素をもち、その出力を利用する方法が開示されている。特許文献１では、有効画素領域内のオプティカルブラック画素の出力から有効画素領域のオフセット信号のシェーディングを把握することにより、有効画素領域から得られる画像に生じるシェーディングを抑制する機能を備えた放射線検出装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−０１９８２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したオフセット補正方法では、オフセット画像の取得時と撮影時で時間差が生じ、この時間差により装置内の発熱体の近傍の領域と発熱体から遠い領域とで温度差のある温度分布が生じる。この温度分布はオフセット出力を変化させるため、画素マトリクスの面内においてオフセット値のずれが生じ、画像アーチファクトとして視認される。近年、放射線撮影装置は薄型軽量化が進んでおり、放射線撮影装置筐体内の電源や高密度電気部品といった発熱体の影響が増える傾向にある。特許文献１には、シェーディングのオフセット補正に関する記載はあるが、上述したような時間的なオフセット成分の変化に関して何等記載されていない。
【０００７】
本発明は、放射線撮影装置において撮影中に発生するオフセット成分の経時的な変化に起因した画質の劣化を低減する技術を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様による放射線撮影装置は以下の構成を備える。すなわち、
放射線量に応じた画素値を得るための第一の画素群と、放射線の照射時においてもオフセット値を得るための第二の画素群とを含む複数の画素がマトリクス状に配置された撮像センサから得られる画像を処理する画像処理装置であって、
放射線の非照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる暗画像に基づいて、放射線の照射時の撮影動作により前記複数の画素から得られる放射線画像をオフセット補正する第一の補正手段と、
前記第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動に基づいて、前記第一の補正手段により補正された、前記第一の画素群から得られた画素値を補正する第二の補正手段と、を備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、放射線撮影装置において撮影中に発生するオフセット成分の経時的な変化に起因した画質の劣化を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】Ｘ線撮影装置の構成例を示すブロック図。
【図２】Ｘ線撮影処理の例を示すフローチャート。
【図３】第二のオフセット補正処理の例を示すフローチャート。
【図４】Ｘ線検出装置の構成例を説明する図。
【図５】光遮蔽素子から得られる画素値の統計処理を示すフローチャート。
【図６】光遮蔽素子から得られる画素値の統計処理を説明する図。
【図７】Ｘ線透視撮影における画質劣化の例を示す図。
【図８Ａ】照射野を絞って撮影された場合のオフセット補正を説明する図。
【図８Ｂ】照射野を絞って撮影された場合のオフセット補正を説明する図。
【図８Ｃ】照射野を絞って撮影された場合のオフセット補正を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照して実施形態を詳しく説明する。尚、以下の実施形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。実施形態には複数の特徴が記載されているが、これらの複数の特徴の全てが発明に必須のものとは限らず、また、複数の特徴は任意に組み合わせられてもよい。さらに、添付図面においては、同一若しくは同様の構成に同一の参照番号を付し、重複した説明は省略する。
【００１２】
なお、以下の本発明の各実施形態の説明では、本発明に係る放射線撮影装置として、放射線の一種であるＸ線を用いて被写体の撮影を行うＸ線撮影装置を例示して説明を行う。但し、本発明は、Ｘ線撮影装置に限られるものではなく、例えば、他の放射線（例えば、α線、β線、γ線等）を用いて被写体の撮影を行う放射線撮影装置に適用することが可能である。
【００１３】
＜第１実施形態＞
図１は、第１実施形態に係る放射線撮影装置の一例としてのＸ線撮影装置１００の全体構成を示す図である。Ｘ線撮影装置１００は、特に医療用として使用される。Ｘ線撮影装置１００は、Ｘ線発生装置１０１、Ｘ線検出装置１０４、撮影制御装置１０２を有する。医療従事者などのユーザ（以下、単にユーザという）は、撮影制御装置１０２の操作パネル１１１を通して撮影条件を設定する。設定された撮影条件は、ＣＰＵ１１０および記憶部１１３を有する撮影制御装置１０２から、Ｘ線発生装置１０１とＸ線検出装置１０４とに設定される。Ｘ線発生装置１０１は被写体１００３にＸ線１００２を照射する。被写体１００３は例えば人体である。Ｘ線検出装置１０４は、撮像センサ１５１を有し、Ｘ線画像データ及びオフセット信号を生成する。撮像センサ１５１は、例えば、大平面ウエハ上に多数の画素を並べた平面検出器（ＦＰＤ（Flat Panel Detector））である。駆動部１５２は、撮像センサ１５１を駆動し、各画素から信号を読み出し、画像データ（放射線画像）を出力する。
【００１４】
図４は、Ｘ線検出装置１０４の構成例を示す図である。上述したように、Ｘ線検出装置１０４は、撮像センサ１５１と駆動部１５２を有する。撮像センサ１５１は、放射線量に応じた画素値を得るための第一の画素群と、放射線の照射時においてもオフセット値を得るための第二の画素群とを含む複数の画素がマトリクス状に配置された検出パネルを有する。駆動部１５２は、ゲート駆動回路４８２、電源回路４８３、読出し回路４８４、信号変換回路４８５を有する。以下、より詳細に説明する。
【００１５】
撮像センサ１５１の有効画素領域４０１は、二次元に配列した約３０００行×約３０００列の光電変換素子を有し、有効画素領域４０１に到達したＸ線量の二次元分布を検出し、Ｘ線画像データを生成する。有効画素領域４０１内における、光が遮蔽されていない光電変換素子（以下、有効素子４２１）は、上述の第一の画素群を構成する。有効画素領域４０１の周囲には無効画素領域４０２が設けられている。無効画素領域４０２には、遮光部材が設けられた光電変換素子（以下、光遮蔽素子４２０）が存在する。なお、光遮蔽素子４２０は有効画素領域４０１に存在してもよい。これら光遮蔽素子４２０は上述の第二の画素群を構成する。なお、無効画素領域４０２におけるすべての光電変換素子が光遮蔽素子４２０であってもよい。また、図示のように、光遮蔽素子４２０は有効画素領域４０１内にも設けられ得る。光遮蔽素子４２０は、Ｘ線検出装置１０４で生成されたＸ線画像データに含まれるオフセット信号を検出する。
【００１６】
また、動画撮影の際には複数画素をまとめて読み出すビニング読み出しが行われることもある。例えば、３×３ビニングの場合は全体の画像サイズは約１０００行×約１０００列となる。また、動画撮影ではＸ線照射範囲４５０が有効画素領域４０１よりも狭く設定されることがある。動画撮影では、放射線が長時間照射されることにより線量が累積されるため、空間的に絞りを小さくすることで被ばく量を低減することが行われる。また、全面読み出し駆動だけではなく、操作パネル１１１によって事前設定されたトリミング駆動範囲４５１を含む範囲に応じて撮像センサ１５１の駆動を制限する事により、高フレームレート化や、省電力化を図ることができる。
【００１７】
各画素の信号を読み出すため、ゲート駆動回路４８２は、撮像センサ１５１の複数画素からなマトリクスにおける行を選択的に駆動する。読出し回路４８４は、ゲート駆動回路４８２により選択され、駆動された行に接続されている有効素子４２１と光遮蔽素子４２０のアナログ信号を読み出し、信号変換回路４８５に送信する。読出し回路４８４は、有効素子４２１及び光遮蔽素子４２０から出力されるアナログ信号を増幅するアンプを有する。信号変換回路４８５は、読出し回路４８４で増幅されたアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器を有する。Ｘ線検出装置１０４は、駆動部１５２により得られたデジタル信号を情報処理装置に送信する。アンプおよびＡ／Ｄ変換器は、Ｘ線検出装置１０４内にある発熱部材の例である。
【００１８】
図１に戻り、Ｘ線検出装置１０４に入射したＸ線１００２は蛍光体により可視光に変換される。可視光は有効素子４２１において光電変換され電気信号となる。一方、光遮蔽素子４２０は蛍光体と光電変換素子の間、および隣接画素の一部までがメタル等の遮光部材によって遮光されており、光遮蔽素子４２０に照射されたＸ線や可視光は光電変換素子には届かない。以上のようにしてＸ線検出装置１０４によって得られたＸ線画像は、撮影制御装置１０２のデータ収集部１０６へ送信される。
【００１９】
撮影制御装置１０２は、例えば、パーソナルコンピュータなどの情報処理装置により構成され得る。照射制御部１０５は、Ｘ線発生装置１０１によるＸ線の照射を制御する。データ収集部１０６は、Ｘ線検出装置１０４から送信されるＸ線画像を受信する。前処理部１０８は、データ収集部１０６がＸ線検出装置１０４から受信したＸ線画像に対してオフセット処理などを施す。前処理部１０８の各部の動作については、図２のフローチャートの参照により後述する。画像処理部１０９は、前処理部１０８により前処理されたＸ線画像に対して、階調処理、強調処理などのＱＡ処理を施して、診断用画像を生成する。ＣＰＵ１１０は、記憶部１１３に記憶されている所定のプログラムを実行することにより、撮影制御装置１０２の各機能部（前処理部１０８、画像処理部１０９、照射制御部１０５、データ収集部１０６、ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０など）を実現する。操作パネル１１１は、各種のユーザ操作を受け付ける。表示部１１２は、ＣＰＵ１１０の制御下で各種表示を行う。例えば、表示部１１２は、画像処理部１０９により生成された診断用画像を表示する。記憶部１１３は、ＣＰＵ１１０が実行する各種プログラムを記憶する。
【００２０】
前処理部１０８にて前処理されたＸ線画像は、ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０にも送られる。ＡＢＣは「Auto Brightness Control」であり、ＡＥＣは「Auto Exposure Control」である。操作パネル１１１を通して、あらかじめ、ある一定のＸ線量にてＸ線発生装置１０１の照射を止めるように設定され得る。ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０のＡＥＣ機能は、画像信号からＸ線量が一定のＸ線量を超えたと判定すると、ばく射許可の終了信号を照射制御部１０５に送り、Ｘ線発生装置１０１によるＸ線照射を停止する。或いは、ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０は、操作パネル１１１を通して、あらかじめ、ある一定の輝度が得られた場合にＸ線発生装置１０１の照射を止めるように設定され得る。ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０のＡＢＣ機能は、画像信号の輝度が設定された輝度を超えたと判定されると、ばく射許可の終了信号を照射制御部１０５に送り、Ｘ線発生装置１０１によるＸ線照射を停止する。こうして、Ｘ線の照射量が適切に制御される。
【００２１】
また、図１では、前処理部１０８がＸ線検出装置１０４の外部に実装されている例を示したが、Ｘ線検出装置１０４の内部に実装されてもよい。Ｘ線検出装置１０４の外部に前処理部１０８が実装されることのメリットとしては、空間的なスペースが十分にあるため、メモリ部１７０や記憶部１１３を多めに取る事が可能であり、前処理のための画像保存や逐次的な補正処理が可能になることがあげられる。一方、Ｘ線検出装置１０４の内部に前処理部１０８が実装される場合のメリットとしては、前処理をＸ線検出装置１０４内で実施することで、処理後の適正な信号だけを後段で扱えば良いので、信号の扱いをシンプルにできることがあげられる。また、補正後のＸ線画像を送信することになるため、Ｘ線画像を圧縮して転送することが可能になり、通信にかかる負荷を軽減できる。なお、前処理部１０８の一部をＸ線検出装置１０４の内部に実装し、他の一部をＸ線検出装置１０４の外部に実装する形態としてもよい。
【００２２】
また、前処理部１０８、画像処理部１０９などの各機能部は、ＣＰＵ１１０が記憶部１１３に記憶されているプログラムを実行することで実現されてもよいし、専用のハードウエアにより実現されてもよいし、それらの協働により実現されてもよい。また、前処理部１０８以外の機能部についても、それらの実装場所が、撮影制御装置１０２の中であっても、撮影制御装置１０２の外部であってもよい。例えば、ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０がＸ線検出装置１０４の内部にＦＰＧＡ（field-programmable gate array）として実装されていても良い。
【００２３】
以下、図２のフローチャートを用いて、第１実施形態に係る被写体の撮影開始から前処理部１０８による前処理の終了までの動作を説明する。第一の補正部１８１は、放射線の非照射時の撮影動作で得られた複数の画素から得られた暗画像を用いて、放射線の照射時の撮影動作で得られた前記複数の画素から得られる放射線画像をオフセット補正する（第一のオフセット補正）。
【００２４】
まず、第一の補正部１８１は、第一のオフセット補正に用いられるオフセット画像を生成するために、被写体撮影前に、放射線の非照射の状態でＸ線検出装置１０４による撮影を実行して暗画像を取得する（ステップＳ２０１）。取得された暗画像はメモリ部１７０に保存される。第一の補正部１８１は、所定の枚数の暗画像を取得すると（ステップＳ２０２）、取得された暗画像を平均する（ステップＳ２０３）。こうして、第一の補正部１８１は、所定枚数の暗画像を平均して得られた画像をオフセット画像として用いて第一のオフセット補正を行う。一例として、第一の補正部１８１は、３２枚の暗画像の平均によりオフセット画像を取得する。なお、取得されたオフセット画像には、光遮蔽素子４２０から得られる画素値についてのオフセット補正値が含まれる。
【００２５】
ステップＳ２０１〜Ｓ２０３によるオフセット画像の生成はＸ線撮影が開始されるまでに完了しなければならない。第一の補正部１８１は、所定枚数の暗画像の取得およびオフセット画像の生成が終わるまでの間、「起動中」などのメッセージを表示部１１２に表示させて操作者によるＸ線撮影を許可しないように制御する。得られたオフセット画像はメモリ部１７０に保存される。また、上記「起動中」の間（ステップＳ２０１〜Ｓ２０３を実行している間）に、第三の補正部１８５は、Ｘ線検出装置１０４からゲイン補正に用いるゲイン画像と、欠損補正に用いる欠損マップをロードし、メモリ部１７０に保存しておく。
【００２６】
オフセット画像の取得が終了すると、対称のＸ線撮影が可能となり、操作者の操作によってＸ線画像の取得が開始される。Ｘ線撮影が実行されると、当該撮影により得られたＸ線画像がデータ収集部１０６から前処理部１０８に送信され（ステップＳ２０４）、ステップＳ２０５以降の前処理が施される。
【００２７】
第一の補正部１８１は、ステップＳ２０１〜Ｓ２０３で取得したオフセット画像を用いて、Ｘ線画像に第一のオフセット補正を行う（ステップＳ２０５）。次に、第二の補正部１８２、判定部１８３、演算部１８４が、第一のオフセット補正済みとなったＸ線画像に対して、第二のオフセット補正を行う（ステップＳ２０６）。第二のオフセット補正の詳細については、図３のフローチャートの参照により後述する。
【００２８】
次に、第三の補正部１８５は、オフセット一律加算を行う（ステップＳ２０７）。このオフセット一律加算を行うことにより、光電変換素子の出力に基づいた統計処理によるオフセット補正では対応が難しい部分がある画像内の局所的な落ち込みによる負値の発生を抑制できる。本処理では、例えば、５０ＬＳＢ程度のオフセット値を一律加算する。加算されるオフセット値が大きいほど負値の発生の確率を減少することができるメリットがある。一方、加算されるオフセット値が大きいと、線量がゼロの際に画素値がゼロになる事を前提とした画像処理が前処理部１０８または画像処理部１０９でて行われる場合に、キャリブレーションでの逆像の発生やコントラストの低下等のデメリットが生じやすい。キャリブレーションでの逆像は、線量ゼロの時に、画素値がプラスになることで生じる可能性がある。このため、例えば５０ＬＳＢ程度の少なめのオフセット値を一律加算することが望ましい。或いは、臨床現場での使用方法などに基づいて、一律加算されるオフセット値をユーザが選択できるようにしてもよい。なお、オフセット一律加算はオプションであり、省略されてもよい。
【００２９】
次に、第三の補正部１８５は、負値クリップを行う（ステップＳ２０８）。負値クリップでは、画素値が負値または０の画素を、例えば画素値が１ＬＳＢ等の最小の固定値にクリップする。例えば、前処理部１０８または画像処理部１０９において割算が使用される場合に、分母に画素値ゼロがあると不具合を起こす可能性がある。また、画素値をログ変換する際にも負値があると不具合を起こす可能性がある。したがって、負値クリップにより、負値または０の画素値を１ＬＳＢに固定する。本実施形態では、この負値クリップを実施する前に、負値になる画素値を低減するように第二のオフセット処理（ステップＳ２０６）や、オフセット一律加算（ステップＳ２０７）を行っている。これらの処理により、被写体を透過した分布情報を有する画像領域において、画素値が負値になる可能性が低減する。
【００３０】
次に、第三の補正部１８５は、メモリ部１７０に保存されているゲイン画像を用いてゲイン補正を行う（ステップＳ２０９）。通常、ゲイン補正は割算やログ変換後の引算にて行われることがある。次に、第三の補正部１８５は、メモリ部１７０に保存されている欠損マップを用いて欠損補正を行う（ステップＳ２１０）。なお、これらゲイン補正、欠損補正には既知の方法を用いることができる。
【００３１】
ＣＰＵ１１０は、操作パネル１１１の状態を確認し、曝射の継続有無を判定する。撮影を終了する場合は、Ｘ線発生装置１０１の曝射も同時に終了する。断層画像撮影時は、操作パネル１１１の状態を確認する代わりにあらかじめ記憶部１１３に保存された撮影指示に基づきコンピュータが撮影の継続を判断する。前処理部１０８は、撮影を終了するか否かを判断し、終了しないと判断された場合、処理をステップＳ２０３に戻し、次のＸ線画像について上述した処理を行う（ステップＳ２１１でＮＯ）。Ｘ線撮影を終了すると判定された場合、本処理を終了する（ステップＳ２１１でＹＥＳ）。
【００３２】
次に、ステップＳ２０６における第二のオフセット補正について説明する。図３は、第１実施形態による第二のオフセット補正処理を説明するフローチャートである。
【００３３】
静止画撮影のような場合は、撮影毎に放射線を照射する撮影と照射しない撮影を行いその差分を算出することで第一のオフセット補正を行うことができる。すなわち、静止画撮影では、撮影時に近いタイミングで取得されたオフセット画像を用いることができるので、本実施形態の第二のオフセット補正処理は必要性が低い。しかし、動画撮影などの高速撮影においてはフレームレートを稼ぐために、動画撮影中はステップＳ２０１〜Ｓ２０２で取得したオフセット画像を繰り返し用いて第一のオフセット補正を行う。すなわち、動画撮影前に放射線を照射しない状態で複数枚の画像を撮り、それらの平均値をオフセット画像として保持し、動画撮影時の出力とオフセット画像の差分をとることによりオフセット補正が行われる。
【００３４】
動画撮影は一般に低線量で撮影される。上述した第一のオフセット補正によれば、複数枚の暗画像でオフセット画像を作成することより、ノイズが減少するという利点がある。一方、動画撮影では、オフセット画像の取得時と撮影時で時間差が生じる。この時間差により、装置内の発熱体が配置されている近傍と発熱体から遠い領域で温度が異なる温度分布が生じる。温度の変化はオフセット出力を変化させるので、撮影時間が長くなると、温度分布により面内でオフセット値にずれが生じ、画像アーチファクトの要因となる。第二の補正部１８２は、第二のオフセット補正処理を行って、温度分布によるオフセット値のずれを低減する。
【００３５】
まずステップＳ３０１において、判定部１８３は、第二のオフセット補正処理を行うか否かを判定する。上述したように、第一のオフセット補正用の画像取得時間からの経過時間が長くなると、温度分布が、第一のオフセット画像の取得時から異なってくるため、オフセット出力の分布も異なってくる。したがって、判定部１８３は、例えば、Ｘ線検出装置１０４内の電気基板等に設けられた温度センサの値または画像取得時間からの経過時間を元に、第二のオフセット補正を実行するか否かを判定する。
【００３６】
例えば、判定部１８３は、第一のオフセット補正用の画像取得時の温度センサの出力値と被写体撮影中の温度センサの出力値とを比較する。そして、それらの出力値が所定値（例えば２°Ｃ）以上異なる場合、判定部１８３は第二のオフセット補正を実施すると判定し、所定値未満である場合は第二のオフセット補正を実施しないと判定する。また例えば、判定部１８３は、第一のオフセット補正用の画像取得時間からの経過時間が所定値（例えば３０分）を超える場合には、第二のオフセット補正を実施すると判定し、超えない場合は第二のオフセット補正を実施しないと判定する。なお、電源ＯＮ直後や充電開始または充電速度変更後は、温度変化が短時間で発生することが多い。そのため、これらのタイミングでは、上記時間を３０分ではなく、例えば１０分等の短い時間に変更して判定されるようにしてもよい。なお、温度センサの値による判定と経過時間による判定の両方を用いて第二のオフセット補正処理を実行するか否かが判定されてもよい。
【００３７】
判定部１８３により第二のオフセット補正を実行すると判定された場合（ステップＳ３０１でＹＥＳ）、ステップＳ３０２以降に示される第二のオフセット補正が実行される。第二のオフセット補正では、まず、演算部１８４が、第一の補正部１８１により補正された放射線画像（Ｘ画像）のうち、第二の画素群から得られた画素値の統計値を演算する。第二の画素群とは、光遮蔽素子４２０からなる画素群である。本実施形態の演算部１８４は、前回の放射線撮影（Ｘ線撮影）までに得られた統計値と今回の放射線撮影（Ｘ線撮影）で得られた統計値とを重みづけを用いて統合して、第二の補正部１８２により用いられる統計値を得るリカーシブ処理を行う。
【００３８】
より具体的には、まず、演算部１８４は、第一のオフセット補正後の光遮蔽素子の値を用いて、前回のＸ線撮影により光遮蔽素子から得られた画素値の統計値Ａｎ−１を計算する（ステップＳ３０２）。ステップＳ３０２の統計値には、例えば、第二の画素群を構成する光遮蔽素子４２０から得られる画素値の平均値が用いられ得る。なお、ステップＳ３０２で用いられる統計値は、メディアン（中央値）、モード（最頻値）、あるいは上位％値などであってもよい。ステップＳ３０２における統計値の計算の詳細は、図５のフローチャートの参照により後述する。なお、ステップＳ２０４で撮影された補正対象の画像（ｎ）に対して、ステップＳ３０２では、１つ前の画像（ｎ−１）の統計値Ａｎ−１を取得している。これは、フレームレートの関係により、統計値の取得が間に合わなくなるためである。
【００３９】
次に、演算部１８４はリカーシブ処理Ａｎ−１＝αＡｎ−１＋（１−α）Ａｎ−２を実施する（ステップＳ３０３）。ここで、統計値Ａｎ−２は、前回のＸ線撮影におけるリカーシブ処理（ステップＳ３０３）で得られた統計値である。なお、リカーシブ処理を用いるのは、動画撮影においては時間周期により数枚おきに画素値が変動するフリッカ等が起きる場合があり、複数画像における光遮蔽素子４２０の値を用いた方が、信頼性が高いためである。なお、ステップＳ３０１の判定結果に関わらず、ステップＳ３０２〜Ｓ３０３による統計値の算出が実行されるようにしてもよい。
【００４０】
なお、ステップＳ３０１において用いられた、オフセット画像を取得してからの経過時間や温度センサ出力値を用いて、ステップＳ３０３で用いられる重み値αを動的に変更するようにしてもよい。例えば、第一のオフセット補正用の画像取得時間からの経過時間が短い場合は重み値αを大きくすることで、特性変化が急激な際に適切に補正できるとういメリットが得られる。また経過時間が長い場合は、重み値αを小さくすることで、特性が安定している中で、より多くの撮影から得られた画像値を用いて補正を行うことができる。さらに、温度センサの出力値を用いた補正に関しても同様で、温度変化が大きい場合は重み値αを大きくすることで、急激に温度が変化した際に、適切に補正できるというメリットが得られる。また温度変化が小さい場合は、温度が安定している中で、より多くの撮影から得られた画像値を用いて補正を行うことができる。
【００４１】
次に、判定部１８３は、光遮蔽素子の統計値Ａｎ−１の正負判定を行う（ステップＳ３０４）。第一のオフセット補正の結果として、統計値Ａｎ−１が負値となる場合がある。光遮蔽素子の統計値が負になるということは、特に線量が低い場合には、多くの画素において負値となり、後の負値クリップ（ステップＳ２０８）において、被写体の画像信号が一定値に削られてしまう可能性があることを示唆している。また統計値Ａｎ−１が正である場合には、Ｘ線無照射時に画素値がゼロであることを前提とした画像処理が行われることでコントラストが低い画像が得られてしまうといった課題が生じる可能性がある。光遮蔽素子の統計値Ａｎ−１の値が負の場合には処理はステップＳ３０５に進み、正の場合にはステップＳ３０８に進む。
【００４２】
第二の補正部１８２は、第一の補正部１８１により補正された放射線画像（Ｘ線画像）のうちの第一の画素群（有効素子４２１）から得られた画素値を、統計値に基づいてオフセット補正する。以下、ステップＳ３０５〜Ｓ３１０の参照により、第二の補正部１８２の動作をより具体的に説明する。なお、本実施形態では、統計値の絶対値が所定の閾値より大きい場合には当該閾値を用いて第二のオフセット補正を実行し、統計値の絶対値が所定の閾値以下の場合には当該統計値を用いて第二のオフセット補正を実行する。
【００４３】
統計値Ａｎ−１の値が負の場合、第二の補正部１８２は、その統計値Ａｎ−１の絶対値が所定の閾値Ｂ（Ｂ＞０）よりも大きいか否かを判定する（ステップＳ３０５）。統計値Ａｎ−１の絶対値が閾値Ｂよりも大きい場合（｜Ａｎ−１｜＞Ｂ、すなわちＡｎ−１＜−Ｂの場合）は、配線が外れているなど何らかの異常が起きている可能性がある。
【００４４】
統計値Ａｎ−１＜−Ｂの場合（ステップＳ３０５でＹＥＳ）、第二の補正部１８２は、リミッタ値であるＢを全ての有効画素の画素値に加算する（ステップＳ３０６）。これにより、画像中の一部において異常が発生した場合などでも、画像全体に影響をおよぼす事に対して一定のリミッタとなる。他方、統計値Ａｎ−１≧−Ｂの場合（ステップＳ３０５でＮＯ）、統計値Ａｎ−１の値は適正範囲であると判断し、第二の補正部１８２は、統計値Ａｎ−１を全有効画素に一律に加算する（ステップＳ３０７）。
【００４５】
一方、ステップＳ３０４において統計値Ａｎ−１が０または正であると判定された場合、第二の補正部１８２は、統計値Ａｎ−１が所定の閾値Ｃよりも大きいか否かを判定する（ステップＳ３０８）。ある一定値以上に正の値が大きいという場合は、配線が外れているなど何らかの異常が起きている可能性がある。統計値Ａｎ−１が閾値Ｃよりも大きい場合、処理はステップＳ３１０に進む。統計値Ａｎ−１が閾値Ｃ以下の場合、処理はステップＳ３０９に進む。
【００４６】
統計値Ａｎ−１が閾値Ｃ以下の場合（ステップＳ３０８でＮＯ）、第二の補正部１８２は、統計値Ａｎ−１が適正範囲であると判定し、統計値Ａｎ−１を全有効画素から一律に減算する（ステップＳ３０９）。一方、統計値Ａｎ−１が閾値Ｃよりも大きい場合（ステップＳ３０８でＹＥＳ）、第二の補正部１８２は、リミッタ値であるＣを全有効画素から減算する（ステップＳ３１０）。このことで、画像中の一部において異常が発生した場合などでも、画像全体に影響をおよぼす事に対して一定のリミッタとなる。
【００４７】
なお、第二のオフセット補正を説明する図３のフローチャートにおいて、ステップＳ３０８〜Ｓ３１０を省略した構成としても良い。この場合、判定部１８３は、統計値Ａｎ−１が所定の閾値より小さい場合（本例では統計値Ａｎ−１が負値の場合）にのみ第二のオフセット補正を実施するように判定することになる。この構成によれば、画像が低線量でクリップされることを抑制することができ、かつ構成がシンプルになるというメリットが得られる。
【００４８】
また、上記ステップＳ３０２で、今回の撮影画像（ｎ）における統計値Ａｎの計算がステップＳ３０３のリカーシブ処理に間に合うのであれば、統計値Ａｎを用いるようにしてもよい。この場合、上述したステップＳ３０２〜Ｓ３０５、Ｓ３０７〜Ｓ３０９におけるＡｎ−１をＡｎとし、ステップＳ３０３におけるＡｎ−２をＡｎ−１に読み替えればよい。また、動画のフレームレートからステップＳ３０２で取得する統計値をＡｎにするかＡｎ−１にするか切り替えるようにしてもよい。すなわち、ステップＳ３０２において、フレームレートが所定値より大きい場合には統計値Ａｎ−１を取得するようにし、フレームレートが所定値以下の場合には統計値Ａｎを取得するように制御してもよい。
【００４９】
図５は、演算部１８４による統計処理を説明するフローチャートである。なお、以下に説明する演算部１８４の統計処理では、メモリ部１７０に保存された、第一のオフセット補正がなされ画像を用いるが、これに限られるものではない。統計処理は動画撮影中に実行されるため、読出し回路４８４による読み出し動作と並行して実行されるようにしてもよい。その場合、行ごとに第一のオフセット補正が実行され、統計処理が行われる。なお、統計処理は、Ｘ線検出装置１０４において、例えばＦＰＧＡにより実行されるようにしてもよい。前処理部１０８の多くをＸ線検出装置１０４内で実施することにより、例えば、第二の画素群の情報を撮影制御装置１０２に転送する必要がなくなり、より効率的な転送が行える。演算部１８４がＸ線検出装置１０４に設けられた場合も、以下に説明する統計処理を実現できることは当業者には明らかである。但し、Ｘ線検出装置１０４に演算部１８４が設けられた構成では、読出し回路４８４が読み出す行ごとに、第一のオフセット補正と統計処理を行うことが好ましい。
【００５０】
読出し回路４８４は、ゲート駆動回路４８２により駆動された行に接続されている光電変換素子から出力信号を読み出す。この際、読出し回路４８４は、有効画素領域４０１だけではなく無効画素領域４０２の光電変換素子の出力信号も読み出す。すなわち、有効素子からなる第一の画素群と光遮蔽素子４２０からなる第二の画素群からの出力信号が読み出される。信号変換回路４８５は、読出し回路４８４が読み出した出力信号をデジタルの画素値に変換して出力する。演算部１８４は、信号変換回路４８５が出力する各行の画素値を取得する。上述したように、第一の補正部１８１は、信号変換回路４８５から得られた画素値に対して、オフセット画像を用いたオフセット補正を行い、補正後の画素値をメモリ部１７０に保存する。
【００５１】
演算部１８４は、光遮蔽素子４２０から得られた複数画素の出力に対して統計処理を開始すると、メモリ部１７０に保存されている第一のオフセット補正後の画像の各行の画素値を得る（ステップＳ５０１）。演算部１８４は、ステップＳ５０１で取得した各行の画素値のうち、光遮蔽素子４２０から得られた画素値をメモリ部１７０に保存する（ステップＳ５０２）。例えば、光電変換素子からの出力信号は、有効素子４２１からの出力信号と、左側の光遮蔽素子４２０、右側の光遮蔽素子４２０からの出力信号に分けられる。有効素子４２１からの出力信号は各位置の画素値として用いられ、画像化される。一方、有効画素領域４０１の外の光遮蔽素子４２０は、第二のオフセット補正を実施するために用いられる。
【００５２】
次に、演算部１８４は、光遮蔽素子４２０から得られた画素値に対して第一の統計処理を行う（ステップＳ５０３）。第一の統計処理では、光遮蔽素子４２０で構成される領域を複数の領域に分けて統計処理が行われる。例えば、図６において、Ｐ列が読み出された際は、演算部１８４は、Ｐ行、Ｐ−１行、Ｐ−２行、Ｐ−３行、Ｐ−４行の左側の光遮蔽素子４２０から、横３画素×縦５画素の合計１５画素（領域６０１）を抽出し、メディアン値を算出する。同様に、演算部１８４は、領域６０２の１５画素についてメディアン値を算出する。演算部１８４は、得られたこれらの統計値（この例ではメディアン値）を第一の統計値としてメモリ部１７０に保存する（ステップＳ５０４）。予定領域の全ての行について上記処理が実行されるまで、ステップＳ５０１〜Ｓ５０４の処理が繰り返される（ステップＳ５０５）。第一の統計処理により、有効画素領域４０１の左側の光遮蔽素子４２０と有効画素領域４０１の右側の光遮蔽素子４２０について複数の第一の統計値が得られる。
【００５３】
予定領域について第一の統計処理を終えると、演算部１８４は、メモリ部１７０に保存された複数の第一の統計値について第二の統計処理を行う（ステップＳ５０６）。本実施形態では、演算部１８４は、複数の第一の統計値についてメディアン処理を行い、第二の統計値（Ａｎ）を算出する。第二の統計処理を行うことによって、局所的に出力が上がりすぎる、下がりすぎるといった課題に対応することができる。なお、第二の統計処理において複数種類の統計処理が用いられてもよい。例えば、第二の統計処理が、図４に示した無効画素領域４０２の上下左右の４つの領域のそれぞれで第一の統計値をメディアン処理して４つのメディアン値を取得し、得られた４つのメディアン値を平均処理して統計値（Ａｎ）を算出するようにしてもよい。
【００５４】
また、図４に示されるように上下の無効画素領域４０２においては、中央に有効画素領域４０１が存在しないが、左右の無効画素領域４０２と同様に、左右端の領域を用いて統計処理を行うようにしてもよい。このようにすれば、上下の無効画素領域と左右の無効画素領域で統計処理に使用する領域を変更する必要がなくなり、演算部１８４による演算処理がシンプルになり、ＦＰＧＡの回路規模を抑えることができる。
【００５５】
なお、上記において、第一の統計処理および第二の統計処理としてメディアン処理を例示したが、これに限定されるものではない。ＦＰＧＡで順次計算する際は割算の無いメディアン処理やモード処理が好適であるが、例えばＣＰＵを含む情報処理装置を用いた場合には、第一の統計処理および第二の統計処理で平均値を用いるようにしてもよい。
【００５６】
なお、上述した演算部１８４は行毎に統計処理を行うが、これに限られるものではない。例えば、第一の統計処理において、演算部１８４は左側の光遮蔽素子４２０全体と右側の光遮蔽素子４２０全体でそれぞれ統計処理を行うようにしてもよい。この場合、密度比推定などのより複雑な統計処理が行われてもよい。
【００５７】
図７は、本実施形態による第二のオフセット補正を適用しない場合に起こり得る課題を説明する図である。図７では、動画で胃透視を行った場合の画像が示されている。Ｘ線検出装置１０４の読出し回路４８４は、光電変換素子から読み出した信号を増幅するアンプＩＣを含む。アンプＩＣは、発熱しやすい部品であるが、増幅前に信号経路においてノイズが混入する事を避けるため、Ｘ線検出装置１０４内にマトリックス状（アレイ状）に配置された光電変換素子の近くに配置される。例えばアンプＩＣが撮像センサ１５１の上端部付近に配置された場合、撮像センサ１５１の上端部の温度が上昇する。結果、暗画像における画素値（オフセット）も大きく変化してしまう。
【００５８】
図７の（ａ）は、撮影開始直後の胃透視の画像である。被写体撮影前に、第一のオフセット画像が取得されてメモリ部１７０に保存されている。胃透視の画像は、第一のオフセット画像の取得がされてから時間の経過は少ないため、撮影開始時は、第二のオフセット補正を適用しなくても画像内のオフセット分布を適切に補正できる。
【００５９】
図７の（ｂ）は、撮影開始から１時間後の胃透視の画像である。アンプＩＣといった発熱度の大きい部品に近い画像上部において、撮像センサ１５１の温度が高くなることにより、画素値が低くなる。その結果、第一の補正部１８１により事前取得されたオフセット画像を撮影画像から減算すると（オフセット補正を実行すると）、画素値が負の値をとる画素値が現れる。画素値が負になると、負値クリップなどの画像処理によって画素値が一定になり、実質的に画像信号が損なわれることになる。本実施形態によれば、上述した第二のオフセット補正を適用することにより、画像信号が損なわれることを低減することができ、図７に示したような課題を解決することができる。
【００６０】
なお、本実施形態において、放射線の照射時においてもオフセット値が得られる第二の画素群が、光が遮蔽された光電変換素子（光遮蔽素子）で構成される例を示したが、これに限られるものではない。第二の画素群を構成する画素として、光電変換部分をなくした素子が用いられてもよい。本実施形態のオプティカルブラック画素は、光電変換素子を遮光した画素であってもよいし、光電変換素子が除去された画素（キャパシタのみで構成される画素）であってもよい。
【００６１】
＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態について説明する。第２実施形態では、撮影速度を高速にすること、被ばく線量を低減することを目的として駆動方法を変更することで、より適切に温度や環境変化によるオフセットの面内変化を補正可能とする。なお、第２実施形態によるＸ線撮影装置１００の構成は第１実施形態（図１）と同様である。以下、主に第１実施形態との差分について説明する。
【００６２】
図８Ａ〜図８Ｃは、第２実施形態における、照射野を絞って撮影された場合の第二のオフセット補正のバリエーションを説明する図である。図８Ａ〜図８Ｃにおいて、Ｘ線照射範囲４５０は、Ｘ線検出装置１０４の撮像センサ１５１において放射線が照射される範囲である。ユーザが操作パネル１１１を介して撮影領域を９インチ□、１２インチ□などのように指定することで、トリミング駆動範囲４５１が設定される。トリミング駆動範囲４５１が設定されると、ゲート駆動回路４８２と読出し回路４８４は、トリミング駆動範囲４５１を含む行を駆動して画素値を読み出す、部分読出駆動を行う。以下、第２実施形態として、３つの例を示す。
【００６３】
まず、第一の駆動方法の例について図８Ａを用いて説明する。第一の駆動方法では、ゲート駆動回路４８２にて駆動された範囲の横方向にある光遮蔽素子を用いて、第二のオフセット補正を行う。ゲート駆動回路４８２は、指定されたトリミング駆動範囲４５１を含む行のゲート線８２０を駆動し、他のゲート線８２１を駆動しない。演算部１８４は、ゲート駆動回路４８２により駆動されるゲート線に存在する光遮蔽素子４２０からなる右領域８１０および左領域８１１について、上述した第一の統計処理、第二の統計処理を行う。この第一の駆動方法によるメリットとしては、駆動するゲート線の本数が少なくなるため、フレームレートを速くできる点であげられる。またトリミング駆動範囲４５１に基づいて駆動変更の分岐を少なくすることができ、ＦＰＧＡなどの駆動制御もシンプルにできる。
【００６４】
次に第二の駆動方法について図８Ｂを用いて説明する。第二の駆動方法では、上述した第一の駆動方法に対し、第二のオフセット補正処理に使用する光遮蔽素子４２０の領域として、上領域８１２と下領域８１３が追加されている。このため、第二の駆動方法では、ゲート駆動回路４８２がトリミング駆動範囲４５１に加えて、撮像センサ１５１の上端および下端のゲート線も駆動する。第二の駆動方法によれば、特性が変化しやすい端部に関して、各辺を均等の方法で把握できるため、方向依存で方法が異なる事に依る齟齬が発生しにくいというメリットがある。
【００６５】
次に、第三の駆動方法について図８Ｃを用いて説明する。第三の駆動方法では、第二の駆動方法において、オフセット補正処理に使用する光遮蔽素子の領域である上領域８１２と下領域８１３の部分領域が用いられる。すなわち、左領域８１１と右領域８１０に加えて、左上領域８５１、右上領域８５２、右下領域８５３、左下領域８５４が用いられる。第三の駆動方法では、左上領域８５１、右上領域８５２、右下領域８５３、左下領域８５４の行方向の幅（画素数）を左領域８１１と右領域８１０の行方向の幅に合わせることで、第一の統計処理において行方向の光遮蔽素子の数が固定される。そのため、第三の駆動方法によれば、上述した第二の駆動方法と比較して、ＦＰＧＡの演算がシンプルにできる点がメリットとして挙げられる。一方、図８Ｃの横方向に特性が分布している時には、第三の駆動方法よりも第二の駆動方法が優れている。読出し回路４８４が発熱の主要因であり、左右方向には温度分布に差が少ないことが、様々な環境試験において明らかな場合、この第三の駆動方法が好適である。
【００６６】
なお、第二のオフセット補正に用いられる補正値の用途は、画像信号の補正に限られるものではない。例えば、ＡＢＣ／ＡＥＣ部１２０に提供される画素値の補正としても用いられてもよい。第二のオフセット補正により得られた画素値を用いることで、ＡＢＣ／ＡＥＣの制御精度が向上し、出力変動に伴う過剰照射、過少照射を防ぐことができる。
【００６７】
また、第二のオフセット補正では、光遮蔽素子４２０からなる第二の画素群の画素値に第一のオフセット補正処理を施して統計値の演算に用いている（ステップＳ２０５、Ｓ２０６）がこれに限られるものではない。第二の画素群の画素値に第一のオフセット補正を適用しているのは、第一のオフセット補正に用いられるオフセット画像の取得時からの第二の画素群の画素値の変動を評価するためである。すなわち、第二のオフセット補正では、第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動に基づいて、ステップＳ３０２〜Ｓ３１０の処理を行うことができればよく、第一のオフセット補正の結果を用いることに限定されない。例えば、「第二の画素群から得られる画素値の時間的な変動」は、ステップＳ２０１〜Ｓ２０２繰り返し取得される暗画像のうちの一つから取得するようにしても構わない。
【００６８】
また、上記実施形態では、無効画素領域４０２に存在する光遮蔽素子４２０の画素値が用いられているが、これに限られるものではない。例えば、図４の有効画素領域４０１に配置されている光遮蔽素子４２０の画素値が上述した統計値の演算に用いられてもよい。
【００６９】
また、Ｘ線撮影装置１００（Ｘ線発生装置１０１とＸ線検出装置１０４）は、多種多様の撮影システムに取り付けることができる。例えば、頭部撮影装置、ブッキー立位撮影台、天板昇降式のブッキーテーブルＤ、Ｕアラーム型ブッキー撮影装置等に取り付けることができる。
【００７０】
＜他の実施形態＞
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【００７１】
発明は上記実施形態に制限されるものではなく、発明の精神及び範囲から離脱することなく、様々な変更及び変形が可能である。従って、発明の範囲を公にするために請求項を添付する。
【符号の説明】
【００７２】
１０１：Ｘ線発生装置、１０４：Ｘ線検出装置、１０５：照射制御部、１０８：前処理部、１１０：ＣＰＵ、１１１：操作パネル、１１２：表示部、１１３：記憶部、２００：撮影制御装置
【図１】
2020149237.tif 000003
【図２】
2020149237.tif 000004
【図３】
2020149237.tif 000005
【図４】
2020149237.tif 000006
【図５】
2020149237.tif 000007
【図６】
2020149237.tif 000008
【図７】
2020149237.tif 000009
【図８Ａ】
2020149237.tif 000010
【図８Ｂ】
2020149237.tif 000011
【図８Ｃ】
2020149237.tif 000012