(57)【要約】【課題】分電盤の中性相から基準信号を取り込むための接続作業を簡単に行うことができる接続アダプタを提供する。【解決手段】接続アダプタ３０は、プローブ３４、支持ピン３５、支持体３９、端子３７、電線３２、及び磁石３８を備える。プローブ３４は、分岐ブレーカ１０の絶縁測定孔１３に差し込まれると先端が中性相に接続される。支持ピン３５は、プローブ３４が絶縁測定孔１３に差し込まれると、絶縁測定孔１４に挿入される。電線３２は、プローブ３４及び端子３７を接続する。磁石３８は、支持体３９を分電盤５の側面９ａに固定可能である。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
分電盤の内部に設けられた分岐ブレーカからＩＧＲ探査器に基準信号を取り入れるための接続アダプタであって、
前記分岐ブレーカに形成された中性相用の第１絶縁測定孔に差し込まれると先端が前記中性相に接続されるプローブと、
絶縁体であり、前記プローブが前記第１絶縁測定孔に差し込まれると、前記第１絶縁測定孔に隣接する第２絶縁測定孔に挿入される支持ピンと、
絶縁体である支持体と、
前記支持体に支持された端子と、
前記プローブ及び前記端子を接続する電線と、
前記支持体を前記分電盤の側面に固定可能な固定手段と、
を備えた接続アダプタ。
【請求項２】
前記プローブは、先端部のみが露出するように絶縁体によって覆われた請求項１に記載の接続アダプタ。
【請求項３】
前記支持ピンは前記プローブより短く、
前記プローブの先端が前記中性相に接続された状態で、前記支持ピンのうち前記第２絶縁測定孔に差し込まれた部分が前記分岐ブレーカの内部の導体に接触しない請求項１又は請求項２に記載の接続アダプタ。
【請求項４】
前記端子は板状であり、
前記端子の縁のうち直線状の一辺のみが前記支持体から露出する請求項１から請求項３の何れか一項に記載の接続アダプタ。
【請求項５】
前記支持体は、
第１切り欠きが形成された第１絶縁板と、
第２切り欠きが形成された第２絶縁板と、
を備え、
前記端子は、前記一辺が前記第１切り欠き及び前記第２切り欠きから露出するように、前記第１絶縁板と前記第２絶縁板とによって挟まれた請求項４に記載の接続アダプタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＩＧＲ探査器に基準信号を取り入れるために用いられる接続アダプタに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１に、ＩＧＲ探査器が記載されている。ＩＧＲ探査器は、絶縁不良を起こしている回路を調査する際に使用される。特許文献１に記載されたＩＧＲ探査器は、基準信号を入力するためのコードを備える（図１５参照）。このコードは、導体を挟むための接続クリップを備える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−３６１２４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＩＧＲ探査器を用いて調査を行う場合に、分電盤から基準信号を取り込むことがある。例えば、特許文献１に記載されたＩＧＲ探査器を用いて調査を行う場合は、基準信号を取り込むために、接続クリップを分電盤内の中性相に接続しなければならない。しかし、分電盤の内部には接続クリップを接続できる箇所が限られている。更に、接続クリップを取り付けることが可能な金属板は、感電防止用のカバーで覆われていることが多い。このため、カバーの取り外しが必要になり、ＩＧＲ探査器を分電盤の中性相に接続する作業に時間が掛かるといった問題があった。
【０００５】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされた。この発明の目的は、分電盤の中性相から基準信号を取り込むための接続作業を簡単に行うことができる接続アダプタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係る接続アダプタは、分岐ブレーカに形成された中性相用の第１絶縁測定孔に差し込まれると先端が中性相に接続されるプローブと、絶縁体であり、プローブが第１絶縁測定孔に差し込まれると、第１絶縁測定孔に隣接する第２絶縁測定孔に挿入される支持ピンと、絶縁体である支持体と、支持体に支持された端子と、プローブ及び端子を接続する電線と、支持体を分電盤の側面に固定可能な固定手段と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
この発明によれば、分電盤の中性相から基準信号を取り込むための接続作業を簡単に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】監視システムの例を示す図である。
【図２】絶縁不良が発生している回路を特定するための調査方法を説明するための図である。
【図３】分岐ブレーカの例を示す図である。
【図４】実施の形態１における接続アダプタの例を示す図である。
【図５】接続部が分岐ブレーカに接続された状態を示す図である。
【図６】図５のＣ−Ｃ断面を示す図である。
【図７】中継部が分電盤に取り付けられた状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
添付の図面を参照し、本発明を説明する。重複する説明は、適宜簡略化或いは省略する。各図において、同一の符号は同一の部分又は相当する部分を示す。
【００１０】
実施の形態１．
図１は、監視システムの例を示す図である。ビル１の電気室２に、配電盤３が設けられる。配電盤３は、ビル１内に電力を分配する。図１は、配電盤３がビル１内の各店舗４に電力を分配する例を示す。店舗４に、分電盤５が設けられる。
【００１１】
監視装置６は、ビル１に備えられた回路の絶縁状態を監視する。例えば、監視装置６は、監視用の基準信号を出力し、回路に絶縁不良、即ち漏電が発生しているか否かを判定する。監視装置６は、絶縁不良を検出すると、外部のコントロールセンター７に検出信号を送信する。コントロールセンター７では、監視装置６から検出信号を受信すると、保守員を派遣して調査を行わせる。
【００１２】
監視装置６には、例えば絶縁不良が発生している回路が接続された分電盤５の情報が表示される。保守員は、監視装置６の表示を見て、調査すべき分電盤５を特定する。保守員は、調査すべき分電盤５の設置場所に到着すると、絶縁不良が発生している回路をより詳細に特定するための作業を開始する。
【００１３】
図２は、絶縁不良が発生している回路を特定するための調査方法を説明するための図である。図２は、分電盤５の蓋８が開けられた状態を示す。分電盤５の筐体９の内部には、複数の分岐ブレーカ１０が設けられる。分岐ブレーカ１０には、店舗４に設置された負荷が接続される。店舗４内の各負荷には、分岐ブレーカ１０を介して電力が供給される。
【００１４】
図３は、分岐ブレーカ１０の例を示す図である。分岐ブレーカ１０は、内部に、負荷からの電線が接続された導体１１及び１２を備える。例えば、導体１１は中性相（Ｎ相）である。導体１２は、Ｒ相である。分岐ブレーカ１０には、例えば絶縁抵抗値を測定する際にプローブが挿入される導体１１用の絶縁測定孔１３と導体１２用の絶縁測定孔１４とが形成される。絶縁測定孔１４は、絶縁測定孔１３に隣接する。図３は、絶縁測定孔１４が絶縁測定孔１３の上方に配置される例を示す。
【００１５】
分電盤５の設置場所に到着した保守員は、ＩＧＲ探査器２０を用いて調査を行う。例えば、保守員は、ＩＧＲ探査器２０によって漏れ電流を測定する。上記調査を行うためには、ＩＧＲ探査器２０に監視用の基準信号を取り込む必要がある。このため、ＩＧＲ探査器２０には、ＧＮＤ線２１と基準信号線２２とが備えられる。保守員は、基準信号線２２を接続アダプタ３０を介して分電盤５内の分岐ブレーカ１０に接続する。これにより、分岐ブレーカ１０からの基準信号が接続アダプタ３０を介してＩＧＲ探査器２０に取り込まれる。
【００１６】
図４は、実施の形態１における接続アダプタ３０の例を示す図である。接続アダプタ３０は、例えば接続部３１、電線３２、及び中継部３３を備える。接続部３１は、分岐ブレーカ１０に接続される。中継部３３に、ＩＧＲ探査器２０の基準信号線２２が接続される。接続部３１と中継部３３とは、電線３２によって接続される。
【００１７】
接続部３１は、例えばプローブ３４、支持ピン３５、及び保持部３６を備える。プローブ３４は、円柱形状の導体である。プローブ３４は、保持部３６に固定される。プローブ３４は、先端部のみが露出するように絶縁体３４ａによって覆われる。図５は、接続部３１が分岐ブレーカ１０に接続された状態を示す図である。図５は、図３のＡ−Ａ断面に相当する図である。
【００１８】
プローブ３４は、絶縁測定孔１３に差し込まれると先端が導体１１に接触する。即ち、プローブ３４が中性相に接続される。プローブ３４の直径は、絶縁測定孔１３の直径より小さい。また、プローブ３４は、絶縁測定孔１３に差し込まれた際に先端が導体１１に接触できるだけの特定の長さを有する。電線３２は、プローブ３４に接続される。
【００１９】
支持ピン３５は、棒状の絶縁体である。支持ピン３５は、保持部３６に固定される。支持ピン３５は、プローブ３４が保持部３６から突出する方向と同じ方向に保持部３６から突出する。図５に示すように、支持ピン３５は、プローブ３４が絶縁測定孔１３に差し込まれると、絶縁測定孔１４に挿入される。支持ピン３５は、プローブ３４より短い。このため、プローブ３４の先端が導体１１に接触しても、支持ピン３５は導体１２に接触しない。支持ピン３５は、分岐ブレーカ１０の内部の如何なる導体にも接触しない。
【００２０】
図５に示すように接続部３１を配置した後に保守員が接続部３１から手を離すと、電線３２が保持部３６から垂れ下がり、接続部３１に対して矢印Ｂに示す方向の力が作用する。これにより、支持ピン３５が絶縁測定孔１４の縁に当たり、接続部３１が分岐ブレーカ１０に固定される。図６は、図５のＣ−Ｃ断面を示す図である。図６に示すように、支持ピン３５は、保持部３６に近づくに従って幅が徐々に大きくなるように形成されても良い。これにより、保守員が接続部３１から手を離した時のがたつきを抑制し、接続部３１を分岐ブレーカ１０により強固に固定することができる。
【００２１】
中継部３３は、例えば端子３７、磁石３８、及び支持体３９を備える。端子３７は、例えば板状の導体である。図４は、端子３７が四角形状の金属板である例を示す。端子３７は、支持体３９に支持される。端子３７に、電線３２が接続される。即ち、電線３２は、プローブ３４と端子３７とを電気的に接続する。端子３７には、ＩＧＲ探査器２０の基準信号線２２に設けられたクリップが取り付けられる。
【００２２】
磁石３８は、支持体３９に支持される。図７は、中継部３３が分電盤５に取り付けられた状態を示す図である。図７は、図２のＤ部を拡大した図に相当する。図７に示す例では、磁石３８は、分電盤５の筐体９の外側の側面９ａに固定される。磁石３８は、支持体３９を分電盤５の側面９ａに固定可能な手段の一例である。
【００２３】
支持体３９は、絶縁体である。支持体３９が絶縁体であるため、端子３７と分電盤５との絶縁性が確保される。本実施の形態に示す例では、支持体３９は、絶縁板４０及び４１を備える。絶縁板４０に、Ｕ字形状の切り欠き４０ａが形成される。絶縁板４１に、Ｕ字形状の切り欠き４１ａが形成される。切り欠き４１ａの形状は、切り欠き４０ａの形状と同じである。
【００２４】
端子３７は、絶縁板４０と絶縁板４１とによって挟まれ、一部のみが支持体３９から露出する。例えば、端子３７は、四方の縁のうち直線状の一辺の一部のみが切り欠き４０ａ及び切り欠き４１ａから露出する。端子３７は、露出する部分が切り欠き４０ａ及び４１ａによって形成された凹状の空間から突出することがないように、絶縁板４０と絶縁板４１とによって保持される。
【００２５】
保守員は、ＩＧＲ探査器２０を用いた調査を行う際に、先ず、磁石３８を筐体９の側面９ａに固定し、中継部３３を分電盤５の外側に取り付ける。次に、保守員は、支持ピン３５が絶縁測定孔１４に挿入されるように、プローブ３４を絶縁測定孔１３に差し込む。これにより、接続部３１を分岐ブレーカ１０に取り付け、端子３７と分岐ブレーカ１０内の中性相とを電気的に接続する。その後、保守員はＩＧＲ探査器２０の基準信号線２２に設けられたクリップで端子３７を挟み、監視用の基準信号を分電盤５からＩＧＲ探査器２０に取り込む。
【００２６】
監視装置６が絶縁不良を検出した場合、保守員は、早急な調査を要求されることが多い。本実施の形態に示す例であれば、分電盤５の中性相から基準信号を取り込むための接続作業を簡単に且つ短時間で行うことができる。即ち、接続アダプタ３０を用いることにより、分電盤５の内部に備えられたカバー等の部品を取り外すことなく上記接続作業を行うことができる。
【００２７】
また、保守員は、基準信号線２２に設けられたクリップを端子３７に取り付けた後、ＩＧＲ探査器２０を用いた調査を行う。この調査では、ＩＧＲ探査器２０を頻繁に動かすため、基準信号線２２に設けられたクリップが端子３７から外れ易い。本実施の形態に示す例では、中継部３３が分電盤５の側面９ａに取り付けられている。このため、仮にクリップが端子３７から外れても、クリップは、分電盤５の外に落下する。本実施の形態に示す例であれば、端子３７から外れたクリップによって短絡事故が発生することを抑制できる。
【符号の説明】
【００２８】
１  ビル、  ２  電気室、  ３  配電盤、  ４  店舗、  ５  分電盤、  ６  監視装置、  ７  コントロールセンター、  ８  蓋、  ９  筐体、  ９ａ  側面、  １０  分岐ブレーカ、  １１  導体、  １２  導体、  １３  絶縁測定孔、  １４  絶縁測定孔、  ２０  ＩＧＲ探査器、  ２１  ＧＮＤ線、  ２２  基準信号線、  ３０  接続アダプタ、  ３１  接続部、  ３２  電線、  ３３  中継部、  ３４  プローブ、  ３４ａ  絶縁体、  ３５  支持ピン、  ３６  保持部、  ３７  端子、  ３８  磁石、  ３９  支持体、  ４０  絶縁板、  ４０ａ  切り欠き、  ４１  絶縁板、  ４１ａ  切り欠き
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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