(57)【要約】【課題】磁性層とバックコート層とを有し、磁性層に六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される粒子体積が小さい強磁性粉末を含む磁気テープであって、繰り返し走行での記録再生品質に優れる磁気テープを提供すること。【解決手段】非磁性支持体の一方の表面側に平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を含む磁性層を有し、他方の表面側に非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、上記強磁性粉末は六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末であり、上記磁性層の比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．００５０〜０．２０の範囲である磁気テープ。この磁気テープを含む磁気テープカートリッジおよび磁気記録再生装置。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
非磁性支持体の一方の表面側に平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を含む磁性層を有し、他方の表面側に非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
前記強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末であり、
前記磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇと、前記バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比、ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ、が０．００５０〜０．２０の範囲である磁気テープ。
【請求項２】
前記バックコート層の表面の３μｍピッチのＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃと、前記バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比、ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ、が０．０５０〜０．７５の範囲である、請求項１に記載の磁気テープ。
【請求項３】
前記磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇと、前記バックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃとの積、Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ、が７．０〜２０．０の範囲である、請求項１または２に記載の磁気テープ。
【請求項４】
前記磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇと、前記バックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃとが、Ｒｋｕｍａｇ＜Ｒｋｕｂｃ、の関係にある、請求項３に記載の磁気テープ。
【請求項５】
前記磁性層の表面のスキューネスＲｓｋｍａｇおよび前記バックコート層の表面のスキューネスＲｓｋｂｃの少なくとも一方が０以上である、請求項１〜４のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項６】
前記バックコート層の表面のスキューネスＲｓｋｂｃが０以上である、請求項５に記載の磁気テープ。
【請求項７】
前記六方晶フェライト粉末は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末である、請求項１〜６のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか１項に記載の磁気テープを含む磁気テープカートリッジ。
【請求項９】
請求項１〜７のいずれか１項に記載の磁気テープと、
磁気ヘッドと、
を含む磁気記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気記録媒体にはテープ状のものとディスク状のものがあり、データバックアップ、アーカイブ等のデータストレージ用途には、テープ状の磁気記録媒体、即ち磁気テープが主に用いられている。磁気テープについては、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、バックコート層を設けることが行われている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−３０８７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
磁気テープの磁性層には、強磁性粉末が含まれる。強磁性粉末としては、近年、高密度記録適性等の観点から、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末が注目を集めている。また、磁気テープには、高記録密度化が常に望まれている。磁気テープの記録密度を高めるための手段としては、磁性層に含まれる強磁性粉末として粒子体積が小さいものを用いることが挙げられる。
しかし、以上に鑑み本発明者が、磁性層とバックコート層とを有し、磁性層に六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される粒子体積が小さい強磁性粉末を含む磁気テープについて検討したところ、磁気テープを繰り返し走行させたときの記録品質および／または再生品質（以下、「繰り返し走行での記録再生品質」と記載する。）について改善が望まれることが明らかとなった。繰り返し走行での記録再生品質とは、例えば、磁気テープを繰り返し走行させた後に磁気テープにデータ（情報）を記録する際、磁気テープの長手方向に安定にデータを記録し続けることができる場合、繰り返し走行での記録再生品質に優れるということができる。
【０００５】
本発明の一態様は、磁性層とバックコート層とを有し、磁性層に六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される粒子体積が小さい強磁性粉末を含む磁気テープであって、繰り返し走行での記録再生品質に優れる磁気テープを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、
非磁性支持体の一方の表面側に平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を含む磁性層を有し、他方の表面側に非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
上記強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末であり、
上記磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇと、上記バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．００５０〜０．２０の範囲である磁気テープ、
に関する。「ＰＳＤ」とは、パワースペクトル密度（Ｐｏｗｅｒ  Ｓｐｅｃｔｒｕｍ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）である。
【０００７】
一態様では、上記バックコート層の表面の３μｍピッチのＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃと、上記バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．０５０〜０．７５の範囲であることができる。
【０００８】
一態様では、上記磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇと、上記バックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃとの積（Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ）は、７．０〜２０．０の範囲であることができる。
【０００９】
一態様では、上記磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇと、上記バックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃとが、Ｒｋｕｍａｇ＜Ｒｋｕｂｃ、の関係にあることができる。
【００１０】
一態様では、上記磁性層の表面のスキューネスＲｓｋｍａｇおよび上記バックコート層の表面のスキューネスＲｓｋｂｃの少なくとも一方は、０以上であることができる。
【００１１】
一態様では、上記バックコート層の表面のスキューネスＲｓｋｂｃは、０以上であることができる。
【００１２】
一態様では、上記六方晶フェライト粉末は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末であることができる。
【００１３】
本発明の一態様は、上記磁気テープを含む磁気テープカートリッジに関する。
【００１４】
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気記録再生装置に関する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の一態様によれば、磁性層とバックコート層とを有し、磁性層に六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される粒子体積が小さい強磁性粉末を含み、繰り返し走行での記録再生品質に優れる磁気テープを提供することができる。また、本発明の一態様によれば、かかる磁気テープを含む磁気テープカートリッジおよび磁気記録再生装置を提供することができる。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
［磁気テープ］
本発明の一態様は、非磁性支持体の一方の表面側に平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を含む磁性層を有し、他方の表面側に非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、上記強磁性粉末は、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末であり、上記磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇと、上記バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．００５０〜０．２０の範囲である磁気テープに関する。
以下、上記磁気テープについて、更に詳細に説明する。
【００１７】
＜磁性層およびバックコート層の表面形状＞
（比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ））
例えば、１０μｍピッチのＰＳＤは、以下の方法により求められる。
非接触光干渉式表面粗さ機を用いてＰＳＤの測定を行う。例えば、Ｂｒｕｋｅｒ社、ＷＹＫＯ社、ＺＹＧＯ社製の非接触光干渉式表面粗さ機を用いることができる。測定時には、高倍率（例えば５０倍程度）の対物レンズを用いることが好ましい。サンプリング長が５０ｎｍ〜３００ｎｍの範囲となるように、対物レンズと中間レンズの倍率を設定し、測定対象表面のプロファイルデータを計測する。
磁気テープの長手方向のＰＳＤを算出する。非接触光干渉式表面粗さ機の搭載機能により長手方向のプロファイルデータがフーリエ変換され、これを平均化したものがＰＳＤとして算出される。
このＰＳＤから、各波長でのＰＳＤ値を算出して１０μｍピッチにあたるＰＳＤ値を求める。こうして求められるＰＳＤ値を、１０μｍピッチのＰＳＤとする。その他のピッチのＰＳＤについても同様である。ＰＳＤの測定方法の具体的態様については、後述の実施例を参照できる。  
【００１８】
以上の方法により求められるＰＳＤは、測定対象の層の表面のうねり成分の存在状態の指標となり得る値である。本発明者は鋭意検討を重ねる中で、非磁性支持体の一方の表面側に平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を含む磁性層を有し、他方の表面側に非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープにおいて、比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．００５０〜０．２０の範囲となるように磁性層とバックコート層の表面のうねり成分の存在状態を制御することにより、繰り返し走行での記録再生品質を向上させることが可能となることを見出すに至った。この点について、以下に更に説明する。
磁気テープは、通常、磁気テープカートリッジのリールに巻かれて磁気テープカートリッジ内に収容される。磁気テープカートリッジを磁気記録再生装置（ドライブと呼ばれる。）に装着し、ドライブ内で磁気テープを磁気テープカートリッジのリールから磁気テープを送り出し、また磁気テープカートリッジのリールへ巻き取ることによって、ドライブ内で磁気テープを走行させることができる。このリールへの巻き取り時に磁性層表面とバックコート層表面との巻きずれが生じることは、磁性層表面に傷が発生する原因になると考えられる。そして磁性層表面の傷は、磁気テープへのデータの記録および／または記録されたデータの再生のために磁気テープを磁気ヘッドと接触させ摺動させる際、磁性層表面と磁気ヘッドとのスペーシングの変動を引き起こし得る。この点に関し、磁性層に含まれる強磁性粉末の粒子体積が小さいほど、強磁性粉末を構成する強磁性粒子に対する結合剤分子数は少なくなるため、磁性層が脆くなり易く、傷が生じ易くなると推察される。また、ε−酸化鉄粉末を含む磁性層は、一般的に異方性磁界Ｈｋが高くなる傾向があるため、データ記録時等にスペーシング変動の影響を受け易いと推察される。また、六方晶フェライト粉末の中でも六方晶ストロンチウムフェライト粉末を含む磁性層は、一般に異方性磁界Ｈｋが高い傾向があるため、同様のことがいえる。
これに対し、比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．００５０〜０．２０の範囲となるように磁性層とバックコート層の表面のうねり成分の存在状態を制御することにより、リールへの巻き取り時に磁性層表面とバックコート層表面との間で所謂くさび効果を働かせることができると考えられる。このことが、リールへの巻き取り時に磁性層表面とバックコート層表面との巻きずれが生じることを抑制することにつながり、繰り返し走行での記録再生品質を向上させることが可能になると推察される。ただし、以上は推察であって、本発明を限定するものではない。また、本明細書に記載の他の推察にも、本発明は限定されない。
【００１９】
上記磁気テープにおいて、比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．００５０以上であり、記録再生品質の更なる向上の観点からは、０．０１０以上であることが好ましく、０．０２０以上であることがより好ましく、０．０３０以上であることが更に好ましい。また、上記磁気テープにおいて、比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．２０以下であり、記録再生品質の更なる向上の観点からは、０．１５以下であることが好ましく、０．１０以下であることがより好ましく、０．０８０以下であることが更に好ましく、０．０６０以下であることが一層好ましい。
【００２０】
上記磁気テープでは、比（ＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が上記範囲であればよく、磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇおよびバックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃは限定されるものではない。磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇは、例えば、３．００Ｅ＋０２ｎｍ３以上であることができ、６．００Ｅ＋０２ｎｍ３以上であることが好ましく、１．００Ｅ＋０３ｎｍ３以上であることがより好ましい。また、磁性層の表面の５μｍピッチのＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇは、例えば、１．５０Ｅ＋０４ｎｍ３以下であることができ、９．００Ｅ＋０３ｎｍ３以下であることが好ましく、３．００Ｅ＋０３ｎｍ３以下であることがより好ましい。バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃは、例えば１．００Ｅ＋０４ｎｍ３以上であることができ、３．００Ｅ＋０４ｎｍ３以上であることが好ましく、５．００Ｅ＋０４ｎｍ３以上であることがより好ましい。また、バックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃは、例えば、５．００Ｅ＋０５ｎｍ３以下であることができ、３．００Ｅ＋０５ｎｍ３以下であることが好ましく、１．００Ｅ＋０５ｎｍ３以下であることがより好ましい。一態様では、ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃは、２．００Ｅ＋０４〜８．００Ｅ＋０４ｎｍ３の範囲であることもできる。また、一態様では、磁性層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｍａｇは、８．００Ｅ＋０２〜１．００Ｅ＋０４ｎｍ３の範囲であることができる。なお、「Ｅ」は周知の通り指数表記であり、例えば「Ｅ＋０３」は、「×１０３」（１０の３乗）を示す。
【００２１】
（比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ））
上記磁気テープにおいて、更なる繰り返し走行での記録再生品質の向上の観点からは、バックコート層の表面の３μｍピッチのＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃとバックコート層の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃとの比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．０５０〜０．７５の範囲であることが好ましい。比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．０５０以上であることは、リールへの巻き取り時に磁性層表面とバックコート層表面との巻きずれが生じることをより一層抑制することに寄与すると考えられる。また、比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）がより小さいことは、バックコート層表面の微小領域での粗さ変化がより小さくなることを意味すると考えられる。かかる粗さ変化が小さくなるほど、バックコート層表面の粗さに起因して磁性層表面が傷付きにくくなると推察される。これに対し、比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）が０．７５以下であることは、バックコート層の粗さに起因する磁性層表面の傷の発生を低減することにつながると考えられる。繰り返し走行での記録再生品質のより一層の向上の観点から、比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．０７０以上であることがより好ましく、０．１０以上であることが更に好ましく、０．２０以上であることが一層好ましく、０．３０以上であることがより一層好ましい。また、同様の観点から、比（ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃ／ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ）は、０．７０以下であることがより好ましく、０．６０以下であることが更に好ましい。バックコート層の表面の３μｍピッチのＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃは、例えば１．００Ｅ＋０３〜  １．００Ｅ＋０５ｎｍ３の範囲であることができる。
【００２２】
（積（Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ））
上記磁気テープにおいて、繰り返し走行での記録再生品質の更なる向上の観点からは、磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇとバックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃとの積（Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ）は、７．０〜２０．０の範囲であることが好ましい。クルトシスＲｋｕは、非接触光干渉式表面粗さ機を用いて、測定対象の層の表面の面積１６７μｍ×１２５μｍの領域について得られた磁気テープの長手方向の表面粗さのプロファイルデータから、ＪＩＳ  Ｂ  ０６０１：２０１３にしたがい求められる値である。ＲｋｕｍａｇおよびＲｋｕｂｃの測定方法の具体的態様については、後述の実施例を参照できる。クルトシスＲｋｕは、表面の高さ分布の鋭さを表し、「Ｒｋｕ＝３」とは、高さ分布が正規分布であることを示し、「Ｒｋｕ＞３」とは、表面に鋭い凹凸が多いことを示し、「Ｒｋｕ＜３」とは、表面に鋭い凹凸が少なく表面が平坦であることを示す。磁性層表面および／またはバックコート層表面に鋭い凹凸が多いほど所謂くさび効果をより一層働かせることができ、リールへの巻き取り時に磁性層表面とバックコート層表面との巻きずれが生じることをより一層抑制することができると考えられる。この観点から、積（Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ）は、７．０以上であることが好ましく、８．０以上であることがより好ましく、９．０以上であることが更に好ましい。また、凸部により磁性層表面および／またはバックコート層表面に傷が生じやすくなることを抑制する観点から、積（Ｒｋｕｍａｇ×Ｒｋｕｂｃ）は、２０．０以下であることが好ましく、１８．０以下であることがより好ましく、１６．０以下であることが更に好ましく、１４．０以下であることが一層好ましく、１２．０以下であることがより一層好ましい。磁性層表面に傷が生じやすくなることをより一層抑制する観点からは、磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇがバックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃより小さいこと、即ち、Ｒｋｕｍａｇ＜Ｒｋｕｂｃ、の関係を満たすことが好ましい。磁性層の表面のクルトシスＲｋｕｍａｇは、２．００〜６．００の範囲であることが好ましく、２．５０〜４．００の範囲であることがより好ましい。また、バックコート層の表面のクルトシスＲｋｕｂｃは、２．００〜６．００の範囲であることが好ましく、２．５０〜５．００の範囲であることがより好ましい。
【００２３】
（Ｒｓｋｍａｇ、Ｒｓｋｂｃ）
上記磁気テープにおいて、繰り返し走行での記録再生品質のより一層の向上の観点からは、磁性層の表面のスキューネスＲｓｋｍａｇおよびバックコート層の表面のスキューネスＲｓｋｂｃの少なくとも一方が、０以上であることが好ましい。スキューネスＲｓｋは、非接触光干渉式表面粗さ機を用いて、測定対象の層の表面の面積１６７μｍ×１２５μｍの領域について得られた磁気テープの長手方向の表面粗さのプロファイルデータから、ＪＩＳ  Ｂ  ０６０１：２０１３にしたがい求められる値である。ＲｓｋｍａｇおよびＲｓｋｂｃの測定方法の具体的態様については、後述の実施例を参照できる。スキューネスＲｓｋは、表面の高さ分布の対称性を表し、「Ｒｓｋ＝０」とは、高さ分布（縦軸が高さ）が上下に対称であることを示し、「Ｒｓｋ＞０」（即ちＲｓｋが正の値）とは、凸部が多い表面であることを示し、「Ｒｓｋ＜０」（即ちＲｓｋが負の値）とは、凹部が多い表面であることを示す。所謂くさび効果をより一層働かせる観点からは、ＲｓｋｍａｇおよびＲｓｋｂｃの少なくとも一方が０以上であることが好ましく、０超であることがより好ましい。Ｒｓｋｍａｇは、例えば−０．７５〜０．７５（即ち＋０．７５）の範囲であることができ、Ｒｓｋｂｃは、例えば−０．５０〜１．００（即ち＋１．００）の範囲であることができる。一態様では、ＲｓｋｍａｇおよびＲｓｋｂｃが０以上または０超であることができる。また、高密度記録化の観点からは、磁性層表面の凸部を低減することが好ましいため、Ｒｓｋｍａｇは０未満であることも好ましい。Ｒｓｋｂｃは、０以上、０超または０未満であることができ、０以上または０超であることが好ましく、０超であることがより好ましい。
【００２４】
以上記載した磁性層およびバックコート層の表面形状の制御方法については、後述する。
【００２５】
＜磁性層＞
（強磁性粉末）
平均粒子体積
上記磁気テープは、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を磁性層に含む。平均粒子体積は、後述する方法によって求められる平均粒子サイズから、球相当体積として求められる値である。平均粒子体積が２５００ｎｍ３以下の強磁性粉末を磁性層に含むことは、記録密度向上の観点から好ましい。この観点から、平均粒子体積は、２３００ｎｍ３以下であることが好ましく、２０００ｎｍ３以下であることがより好ましく、１５００ｎｍ３以下であることが更に好ましい。一方、磁化の安定性の観点からは、平均粒子体積は、５００ｎｍ３以上であることが好ましく、６００ｎｍ３以上であることがより好ましく、６５０ｎｍ３以上であることが更に好ましく、７００ｎｍ３以上であることが一層好ましい。上記磁気テープの磁性層は、六方晶フェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末を一種単独または二種以上含むことができる。
【００２６】
六方晶フェライト粉末
上記磁気テープは、一態様では、磁性層に六方晶フェライト粉末を含むことができる。六方晶フェライト粉末の詳細については、例えば、特開２０１１−２２５４１７号公報の段落００１２〜００３０、特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１３４〜０１３６、特開２０１２−２０４７２６号公報の段落００１３〜００３０および特開２０１５−１２７９８５号公報の段落００２９〜００８４を参照できる。
【００２７】
本発明および本明細書において、「六方晶フェライト粉末」とは、Ｘ線回折分析によって、主相として六方晶フェライト型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。主相とは、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが帰属する構造をいう。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが六方晶フェライト型の結晶構造に帰属される場合、六方晶フェライト型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。Ｘ線回折分析によって単一の構造のみが検出された場合には、この検出された構造を主相とする。六方晶フェライト型の結晶構造は、構成原子として、少なくとも鉄原子、二価金属原子および酸素原子を含む。二価金属原子とは、イオンとして二価のカチオンになり得る金属原子であり、ストロンチウム原子、バリウム原子、カルシウム原子等のアルカリ土類金属原子、鉛原子等を挙げることができる。本発明および本明細書において、六方晶ストロンチウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がストロンチウム原子であるものをいい、六方晶バリウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がバリウム原子であるものをいう。主な二価金属原子とは、この粉末に含まれる二価金属原子の中で、原子％基準で最も多くを占める二価金属原子をいうものとする。ただし、上記の二価金属原子には、希土類原子は包含されないものとする。本発明および本明細書における「希土類原子」は、スカンジウム原子（Ｓｃ）、イットリウム原子（Ｙ）、およびランタノイド原子からなる群から選択される。ランタノイド原子は、ランタン原子（Ｌａ）、セリウム原子（Ｃｅ）、プラセオジム原子（Ｐｒ）、ネオジム原子（Ｎｄ）、プロメチウム原子（Ｐｍ）、サマリウム原子（Ｓｍ）、ユウロピウム原子（Ｅｕ）、ガドリニウム原子（Ｇｄ）、テルビウム原子（Ｔｂ）、ジスプロシウム原子（Ｄｙ）、ホルミウム原子（Ｈｏ）、エルビウム原子（Ｅｒ）、ツリウム原子（Ｔｍ）、イッテルビウム原子（Ｙｂ）、およびルテチウム原子（Ｌｕ）からなる群から選択される。
【００２８】
以下に、六方晶フェライト粉末の一態様である六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、更に詳細に説明する。
【００２９】
熱揺らぎの低減、換言すれば熱的安定性の向上の指標としては、異方性定数Ｋｕを挙げることができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、好ましくは１．８×１０５Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができ、より好ましくは２．０×１０５Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができる。また、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のＫｕは、例えば２．５×１０５Ｊ／ｍ３以下であることができる。ただしＫｕが高いほど熱的安定性が高いことを意味し好ましいため、上記例示した値に限定されるものではない。なお異方性定数Ｋｕの単位に関して、１ｅｒｇ／ｃｃ＝１．０×１０−１Ｊ／ｍ３である。
【００３０】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含んでいてもよく、含まなくてもよい。六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、鉄原子１００原子％に対して、０．５〜５．０原子％の含有率（バルク含有率）で希土類原子を含むことが好ましい。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一態様では、希土類原子表層部偏在性を有することができる。本発明および本明細書における「希土類原子表層部偏在性」とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により部分溶解して得られた溶解液中の鉄原子１００原子％に対する希土類原子含有率（以下、「希土類原子表層部含有率」または希土類原子に関して単に「表層部含有率」と記載する。）が、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により全溶解して得られた溶解液中の鉄原子１００原子％に対する希土類原子含有率（以下、「希土類原子バルク含有率」または希土類原子に関して単に「バルク含有率」と記載する。）と、
希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０
の比率を満たすことを意味する。後述の六方晶ストロンチウムフェライト粉末の希土類原子含有率とは、希土類原子バルク含有率と同義である。これに対し、酸を用いる部分溶解は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部を溶解するため、部分溶解により得られる溶解液中の希土類原子含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部における希土類原子含有率である。希土類原子表層部含有率が、「希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０」の比率を満たすことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在（即ち内部より多く存在）していることを意味する。本発明および本明細書における表層部とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面から内部に向かう一部領域を意味する。
【００３１】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、希土類原子含有率（バルク含有率）は、鉄原子１００原子％に対して０．５〜５．０原子％の範囲であることが好ましい。上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることは、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することに寄与すると考えられる。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末が上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることにより、異方性定数Ｋｕを高めることができるためと推察される。異方性定数Ｋｕは、この値が高いほど、いわゆる熱揺らぎと呼ばれる現象の発生を抑制すること（換言すれば熱的安定性を向上させること）ができる。熱揺らぎの発生が抑制されることにより、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の粒子表層部に希土類原子が偏在することが、表層部の結晶格子内の鉄（Ｆｅ）のサイトのスピンを安定化することに寄与し、これにより異方性定数Ｋｕが高まるのではないかと推察される。
また、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末を磁性層の強磁性粉末として用いることは、磁気ヘッドとの摺動によって磁性層表面が削れることを抑制することにも寄与すると推察される。即ち、磁気テープの走行耐久性の向上にも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末が寄与し得ると推察される。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面に希土類原子が偏在することが、粒子表面と磁性層に含まれる有機物質（例えば、結合剤および／または添加剤）との相互作用の向上に寄与し、その結果、磁性層の強度が向上するためではないかと推察される。
繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点および／または走行耐久性の更なる向上の観点からは、希土類原子含有率（バルク含有率）は、０．５〜４．５原子％の範囲であることがより好ましく、１．０〜４．５原子％の範囲であることが更に好ましく、１．５〜４．５原子％の範囲であることが一層好ましい。
【００３２】
上記バルク含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる含有率である。なお本発明および本明細書において、特記しない限り、原子について含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められるバルク含有率をいうものとする。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子として一種の希土類原子のみ含んでもよく、二種以上の希土類原子を含んでもよい。二種以上の希土類原子を含む場合の上記バルク含有率とは、二種以上の希土類原子の合計について求められる。この点は、本発明および本明細書における他の成分についても同様である。即ち、特記しない限り、ある成分は、一種のみ用いてもよく、二種以上用いてもよい。二種以上用いられる場合の含有量または含有率とは、二種以上の合計についていうものとする。
【００３３】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、含まれる希土類原子は、希土類原子のいずれか一種以上であればよい。繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点から好ましい希土類原子としては、ネオジム原子、サマリウム原子、イットリウム原子およびジスプロシウム原子を挙げることができ、ネオジム原子、サマリウム原子およびイットリウム原子がより好ましく、ネオジム原子が更に好ましい。
【００３４】
希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、偏在の程度は限定されるものではない。例えば、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は１．０超であり、１．５以上であることができる。「表層部含有率／バルク含有率」が１．０より大きいことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在（即ち内部より多く存在）していることを意味する。また、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は、例えば、１０．０以下、９．０以下、８．０以下、７．０以下、６．０以下、５．０以下、または４．０以下であることができる。ただし、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、上記の「表層部含有率／バルク含有率」は、例示した上限または下限に限定されるものではない。
【００３５】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の部分溶解および全溶解について、以下に説明する。粉末として存在している六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、部分溶解および全溶解する試料粉末は、同一ロットの粉末から採取する。一方、磁気テープの磁性層に含まれている六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、磁性層から取り出した六方晶ストロンチウムフェライト粉末の一部を部分溶解に付し、他の一部を全溶解に付す。磁性層からの六方晶ストロンチウムフェライト粉末の取り出しは、例えば、特開２０１５−９１７４７号公報の段落００３２に記載の方法によって行うことができる。
上記部分溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認できる程度に溶解することをいう。例えば、部分溶解により、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子について、粒子全体を１００質量％として１０〜２０質量％の領域を溶解することができる。一方、上記全溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認されない状態まで溶解することをいう。
上記部分溶解および表層部含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。ただし、下記の試料粉末量等の溶解条件は例示であって、部分溶解および全溶解が可能な溶解条件を任意に採用できる。
試料粉末１２ｍｇおよび１ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度７０℃のホットプレート上で１時間保持する。得られた溶解液を０．１μｍのメンブレンフィルタでろ過する。こうして得られたろ液の元素分析を誘導結合プラズマ（ＩＣＰ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｐｌａｓｍａ）分析装置によって行う。こうして、鉄原子１００原子％に対する希土類原子の表層部含有率を求めることができる。元素分析により複数種の希土類原子が検出された場合には、全希土類原子の合計含有率を、表層部含有率とする。この点は、バルク含有率の測定においても、同様である。
一方、上記全溶解およびバルク含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。
試料粉末１２ｍｇおよび４ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度８０℃のホットプレート上で３時間保持する。その後は上記の部分溶解および表層部含有率の測定と同様に行い、鉄原子１００原子％に対するバルク含有率を求めることができる。
【００３６】
磁気テープに記録された情報を再生する際の再生出力を高める観点から、磁気テープに含まれる強磁性粉末の質量磁化σｓが高いことは望ましい。この点に関して、希土類原子を含むものの希土類原子表層部偏在性を持たない六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含まない六方晶ストロンチウムフェライト粉末と比べてσｓが大きく低下する傾向が見られた。これに対し、そのようなσｓの大きな低下を抑制するうえでも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末は好ましいと考えられる。一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のσｓは、４５Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることができ、４７Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることもできる。一方、σｓは、ノイズ低減の観点からは、８０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることが好ましく、６０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることがより好ましい。σｓは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。本発明および本明細書において、特記しない限り、質量磁化σｓは、磁場強度１５ｋＯｅで測定される値とする。１［ｋＯｅ］＝１０６／４π［Ａ／ｍ］である。
【００３７】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の構成原子の含有率（バルク含有率）に関して、ストロンチウム原子含有率は、鉄原子１００原子％に対して、例えば２．０〜１５．０原子％の範囲であることができる。一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、この粉末に含まれる二価金属原子がストロンチウム原子のみであることができる。また他の一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、ストロンチウム原子に加えて一種以上の他の二価金属原子を含むこともできる。例えば、バリウム原子および／またはカルシウム原子を含むことができる。ストロンチウム原子以外の他の二価金属原子が含まれる場合、六方晶ストロンチウムフェライト粉末におけるバリウム原子含有率およびカルシウム原子含有率は、それぞれ、例えば、鉄原子１００原子％に対して、０．０５〜５．０原子％の範囲であることができる。
【００３８】
六方晶フェライトの結晶構造としては、マグネトプランバイト型（「Ｍ型」とも呼ばれる。）、Ｗ型、Ｙ型およびＺ型が知られている。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、いずれの結晶構造を取るものであってもよい。結晶構造は、Ｘ線回折分析によって確認することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、Ｘ線回折分析によって、単一の結晶構造または二種以上の結晶構造が検出されるものであることができる。例えば一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、Ｘ線回折分析によってＭ型の結晶構造のみが検出されるものであることができる。例えば、Ｍ型の六方晶フェライトは、ＡＦｅ１２Ｏ１９の組成式で表される。ここでＡは二価金属原子を表し、六方晶ストロンチウムフェライト粉末がＭ型である場合、Ａはストロンチウム原子（Ｓｒ）のみであるか、またはＡとして複数の二価金属原子が含まれる場合には、上記の通り原子％基準で最も多くをストロンチウム原子（Ｓｒ）が占める。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の二価金属原子含有率は、通常、六方晶フェライトの結晶構造の種類により定まるものであり、特に限定されるものではない。鉄原子含有率および酸素原子含有率についても、同様である。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、少なくとも、鉄原子、ストロンチウム原子および酸素原子を含み、更に希土類原子を含むこともできる。更に、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、これら原子以外の原子を含んでもよく、含まなくてもよい。一例として、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、アルミニウム原子（Ａｌ）を含むものであってもよい。アルミニウム原子の含有率は、鉄原子１００原子％に対して、例えば０．５〜１０．０原子％であることができる。繰り返し再生における再生出力低下をより一層抑制する観点からは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子を含み、これら原子以外の原子の含有率が、鉄原子１００原子％に対して、１０．０原子％以下であることが好ましく、０〜５．０原子％の範囲であることがより好ましく、０原子％であってもよい。即ち、一態様では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子以外の原子を含まなくてもよい。上記の原子％で表示される含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる各原子の含有率（単位：質量％）を、各原子の原子量を用いて原子％表示の値に換算して求められる。また、本発明および本明細書において、ある原子について「含まない」とは、全溶解してＩＣＰ分析装置により測定される含有率が０質量％であることをいう。ＩＣＰ分析装置の検出限界は、通常、質量基準で０．０１ｐｐｍ（ｐａｒｔｓ  ｐｅｒ  ｍｉｌｌｉｏｎ）以下である。上記の「含まない」とは、ＩＣＰ分析装置の検出限界未満の量で含まれることを包含する意味で用いるものとする。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一態様では、ビスマス原子（Ｂｉ）を含まないものであることができる。
【００３９】
上記磁気テープが磁性層に六方晶ストロンチウムフェライト粉末を含む場合、磁性層の異方性磁界Ｈｋは、１４ｋＯｅ以上であることが好ましく、１６ｋＯｅ以上であることがより好ましく、１８ｋＯｅ以上であることが更に好ましい。また、上記磁性層の異方性磁界Ｈｋは、９０ｋＯｅ以下であることが好ましく、８０ｋＯｅ以下であることがより好ましく、７０ｋＯｅ以下であることが更に好ましい。
本発明および本明細書における異方性磁界Ｈｋとは、磁化困難軸方向に磁界を印加したときに、磁化が飽和する磁界をいう。異方性磁界Ｈｋは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末を含む磁性層において、磁性層の磁化困難軸方向は、面内方向である。
【００４０】
ε−酸化鉄粉末
本発明および本明細書において、「ε−酸化鉄粉末」とは、Ｘ線回折分析によって、主相としてε−酸化鉄型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークがε−酸化鉄型の結晶構造に帰属される場合、ε−酸化鉄型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。ε−酸化鉄粉末の製造方法としては、ゲーサイトから作製する方法、逆ミセル法等が知られている。上記製造方法は、いずれも公知である。また、Ｆｅの一部がＧａ、Ｃｏ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｒｈ等の置換原子によって置換されたε−酸化鉄粉末を製造する方法については、例えば、Ｊ．  Ｊｐｎ．  Ｓｏｃ．  Ｐｏｗｄｅｒ  Ｍｅｔａｌｌｕｒｇｙ  Ｖｏｌ．  ６１  Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ，  Ｎｏ．  Ｓ１，  ｐｐ．  Ｓ２８０−Ｓ２８４、Ｊ．  Ｍａｔｅｒ．  Ｃｈｅｍ．  Ｃ，  ２０１３，  １，  ｐｐ．５２００−５２０６等を参照できる。ただし、上記磁気テープの磁性層において強磁性粉末として使用可能なε−酸化鉄粉末の製造方法は、ここで挙げた方法に限定されない。
【００４１】
熱揺らぎの低減、換言すれば熱的安定性の向上の指標としては、異方性定数Ｋｕを挙げることができる。ε−酸化鉄粉末は、好ましくは３．０×１０４Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができ、より好ましくは８．０×１０４Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができる。また、ε−酸化鉄粉末のＫｕは、例えば３．０×１０５Ｊ／ｍ３以下であることができる。ただしＫｕが高いほど熱的安定性が高いことを意味し、好ましいため、上記例示した値に限定されるものではない。
【００４２】
磁気テープに記録された情報を再生する際の再生出力を高める観点から、磁気テープに含まれる強磁性粉末の質量磁化σｓが高いことは望ましい。この点に関して、一態様では、ε−酸化鉄粉末のσｓは、８Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることができ、１２Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることもできる。一方、ε−酸化鉄粉末のσｓは、ノイズ低減の観点からは、４０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることが好ましく、３５Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることがより好ましい。
【００４３】
上記磁気テープが磁性層にε−酸化鉄粉末を含む場合、磁性層の異方性磁界Ｈｋは、１８ｋＯｅ以上であることが好ましく、３０ｋＯｅ以上であることがより好ましく、３８ｋＯｅ以上であることが更に好ましい。また、磁性層の異方性磁界Ｈｋは、１００ｋＯｅ以下であることが好ましく、９０ｋＯｅ以下であることがより好ましく、７５ｋＯｅ以下であることが更に好ましい。ε−酸化鉄粉末を含む磁性層において、磁性層の磁化困難軸方向は、面内方向である。
【００４４】
本発明および本明細書において、特記しない限り、各種粉末の平均粒子サイズは、透過型電子顕微鏡を用いて、以下の方法により測定される値とする。
粉末を、透過型電子顕微鏡を用いて撮影倍率１０００００倍で撮影し、総倍率５０００００倍になるように印画紙にプリントするか、ディスプレイに表示する等して、粉末を構成する粒子の写真を得る。磁気記録媒体の磁性層に含まれる粉末については、以下の方法により作製した切削片を用いて撮影を行い、上記の粒子の写真を得ることができる。磁気記録媒体を樹脂ブロック等に接着し、ミクロトーム等を用いて切削片を作製し、作製した切削片を透過型電子顕微鏡を用いて観察して磁性層部分を特定して撮影を行う。例えば磁気テープについては、磁気テープを長手方向に切削して切削片を作製することができる。
得られた粒子の写真から目的の粒子を選びデジタイザーで粒子の輪郭をトレースし粒子（一次粒子）のサイズを測定する。一次粒子とは、凝集のない独立した粒子をいう。
以上の測定を、無作為に抽出した５００個の粒子について行う。こうして得られた５００個の粒子の粒子サイズの算術平均を、粉末の平均粒子サイズとする。上記透過型電子顕微鏡としては、例えば日立製透過型電子顕微鏡Ｈ−９０００型を用いることができる。また、粒子サイズの測定は、公知の画像解析ソフト、例えばカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ−４００を用いて行うことができる。後述の実施例に示す平均粒子サイズは、特記しない限り、透過型電子顕微鏡として日立製透過型電子顕微鏡Ｈ−９０００型、画像解析ソフトとしてカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ−４００を用いて測定された値であり、強磁性粉末の平均粒子体積は、こうして求められた平均粒子サイズから球相当体積として算出された値である。本発明および本明細書において、粉末とは、複数の粒子の集合を意味する。例えば、強磁性粉末とは、複数の強磁性粒子の集合を意味する。また、複数の粒子の集合とは、集合を構成する粒子が直接接触している態様に限定されず、後述する結合剤、添加剤等が、粒子同士の間に介在している態様も包含される。粒子との語が、粉末を表すために用いられることもある。
【００４５】
粒子サイズ測定のために磁気テープから試料粉末を採取する方法としては、例えば特開２０１１−０４８８７８号公報の段落００１５に記載の方法を採用することができる。
【００４６】
本発明および本明細書において、特記しない限り、粉末を構成する粒子のサイズ（粒子サイズ）は、上記の粒子写真において観察される粒子の形状が、
（１）針状、紡錘状、柱状（ただし、高さが底面の最大長径より大きい）等の場合は、粒子を構成する長軸の長さ、即ち長軸長で表され、
（２）板状または柱状（ただし、厚みまたは高さが板面または底面の最大長径より小さい）の場合は、その板面または底面の最大長径で表され、
（３）球形、多面体状、不特定形等であって、かつ形状から粒子を構成する長軸を特定できない場合は、円相当径で表される。円相当径とは、円投影法で求められるものを言う。
【００４７】
また、粉末の平均針状比は、上記測定において粒子の短軸の長さ、即ち短軸長を測定し、各粒子の（長軸長／短軸長）の値を求め、上記５００個の粒子について得た値の算術平均を指す。ここで、特記しない限り、短軸長とは、上記粒子サイズの定義で（１）の場合は、粒子を構成する短軸の長さを、同じく（２）の場合は、厚みまたは高さを各々指し、（３）の場合は、長軸と短軸の区別がないから、（長軸長／短軸長）は、便宜上１とみなす。
そして、特記しない限り、粒子の形状が特定の場合、例えば、上記粒子サイズの定義（１）の場合、平均粒子サイズは平均長軸長であり、同定義（２）の場合、平均粒子サイズは平均板径である。同定義（３）の場合、平均粒子サイズは、平均直径（平均粒径、平均粒子径ともいう）である。
【００４８】
磁性層における強磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０〜９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０〜９０質量％の範囲である。磁性層は、強磁性粉末を含み、結合剤を含むことができ、一種以上の更なる添加剤が含まれ得る。磁性層において強磁性粉末の充填率が高いことは、記録密度向上の観点から好ましい。
【００４９】
（結合剤、硬化剤）
上記磁気テープは塗布型の磁気テープであることができ、磁性層に結合剤を含むことができる。結合剤は、一種以上の樹脂である。結合剤としては、塗布型磁気記録媒体の結合剤として通常使用される各種樹脂を用いることができる。例えば、結合剤としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン、アクリロニトリル、メチルメタクリレート等を共重合したアクリル樹脂、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアルキラール樹脂等から選ばれる樹脂を単独で用いるか、または複数の樹脂を混合して用いることができる。これらの中で好ましいものはポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、セルロース樹脂、および塩化ビニル樹脂である。これらの樹脂は、ホモポリマーでもよく、コポリマー（共重合体）でもよい。これらの樹脂は、後述する非磁性層および／またはバックコート層においても結合剤として使用することができる。
以上の結合剤については、特開２０１０−２４１１３号公報の段落００２８〜００３１を参照できる。磁性層の結合剤の含有量は、強磁性粉末１００．０質量部に対して、例えば１．０〜３０．０質量部であることができる。結合剤として使用される樹脂の平均分子量は、重量平均分子量として、例えば１０，０００以上２００，０００以下であることができる。本発明および本明細書における重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）によって、下記測定条件により測定された値をポリスチレン換算して求められる値である。後述の実施例に示す結合剤の重量平均分子量は、下記測定条件によって測定された値をポリスチレン換算して求めた値である。
ＧＰＣ装置：ＨＬＣ−８１２０（東ソー社製）
カラム：ＴＳＫ ｇｅｌ Ｍｕｌｔｉｐｏｒｅ ＨＸＬ−Ｍ（東ソー社製、７．８ｍｍＩＤ(Ｉｎｎｅｒ  Ｄｉａｍｅｔｅｒ)×３０．０ｃｍ）
溶離液：テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）
【００５０】
また、結合剤として使用可能な樹脂とともに硬化剤を使用することもできる。硬化剤は、一態様では加熱により硬化反応（架橋反応）が進行する化合物である熱硬化性化合物であることができ、他の一態様では光照射により硬化反応（架橋反応）が進行する光硬化性化合物であることができる。硬化剤は、磁性層形成工程の中で硬化反応が進行することにより、少なくとも一部は、結合剤等の他の成分と反応（架橋）した状態で磁性層に含まれ得る。この点は、他の層を形成するために用いられる組成物が硬化剤を含む場合に、この組成物を用いて形成される層についても同様である。好ましい硬化剤は、熱硬化性化合物であり、ポリイソシアネートが好適である。ポリイソシアネートの詳細については、特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１２４〜０１２５を参照できる。磁性層形成用組成物の硬化剤の含有量は、結合剤１００．０質量部に対して例えば０〜８０．０質量部であることができ、磁性層の強度向上の観点からは５０．０〜８０．０質量部であることができる。
【００５１】
（添加剤）
磁性層には、必要に応じて一種以上の添加剤が含まれていてもよい。添加剤としては、一例として、上記の硬化剤が挙げられる。また、磁性層に含まれる添加剤としては、非磁性粉末（例えば無機粉末、カーボンブラック等）、潤滑剤、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、酸化防止剤等を挙げることができる。例えば、潤滑剤については、特開２０１６−１２６８１７号公報の段落００３０〜００３３、００３５および００３６を参照できる。後述する非磁性層に潤滑剤が含まれていてもよい。非磁性層に含まれ得る潤滑剤については、特開２０１６−１２６８１７号公報の段落００３０〜００３１、００３４、００３５および００３６を参照できる。分散剤については、特開２０１２−１３３８３７号公報の段落００６１および００７１を参照できる。分散剤を非磁性層形成用組成物に添加してもよい。非磁性層形成用組成物に添加し得る分散剤については、特開２０１２−１３３８３７号公報の段落００６１を参照できる。また、磁性層に含まれ得る非磁性粉末としては、研磨剤として機能することができる非磁性粉末、磁性層表面に適度に突出する突起を形成する突起形成剤として機能することができる非磁性粉末（例えば非磁性コロイド粒子等）等が挙げられる。また、磁性層にカーボンブラックを含有させることもできる。カーボンブラックとしては、例えば、平均粒子サイズが５〜３００ｎｍのものを使用することができる。磁性層のカーボンブラック含有量は、例えば強磁性粉末１００．０質量部あたり、０．１〜３０．０質量部とすることができる。一態様では、磁性層のカーボンブラック含有量を調整することによって、磁性層の表面形状を制御することができる。添加剤は、所望の性質に応じて市販品を適宜選択して、または公知の方法で製造して、任意の量で使用することができる。研磨剤を含む磁性層に研磨剤の分散性を向上するために使用され得る添加剤の一例としては、特開２０１３−１３１２８５号公報の段落００１２〜００２２に記載の分散剤を挙げることができる。
【００５２】
以上説明した磁性層は、非磁性支持体表面上に直接、または非磁性層を介して間接的に、設けることができる。
【００５３】
＜非磁性層＞
次に非磁性層について説明する。上記磁気テープは、非磁性支持体表面上に直接磁性層を有していてもよく、非磁性支持体表面上に非磁性粉末を含む非磁性層を介して磁性層を有していてもよい。非磁性粉末の平均粒子サイズは、５〜５００ｎｍの範囲であることが好ましく、１０〜２００ｎｍの範囲であることがより好ましい。非磁性層に使用される非磁性粉末は、無機粉末でも有機粉末でもよい。また、カーボンブラック等も使用できる。無機粉末としては、例えば金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、金属硫化物等の粉末が挙げられる。これらの非磁性粉末は、市販品として入手可能であり、公知の方法で製造することもできる。その詳細については、特開２０１１−２１６１４９号公報の段落０１４６〜０１５０を参照できる。非磁性層に使用可能なカーボンブラックについては、特開２０１０−２４１１３号公報の段落００４０〜００４１も参照できる。非磁性層における非磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０〜９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０〜９０質量％の範囲である。
【００５４】
非磁性層は、非磁性粉末を含み、非磁性粉末とともに結合剤を含むこともできる。非磁性層の結合剤、添加剤等のその他詳細は、非磁性層に関する公知技術が適用できる。また、例えば、結合剤の種類および含有量、添加剤の種類および含有量等に関しては、磁性層に関する公知技術も適用できる。
【００５５】
本発明および本明細書において、非磁性層には、非磁性粉末とともに、例えば不純物として、または意図的に、少量の強磁性粉末を含む実質的に非磁性な層も包含されるものとする。ここで実質的に非磁性な層とは、この層の残留磁束密度が１０ｍＴ以下であるか、保磁力が１００Ｏｅ以下であるか、または、残留磁束密度が１０ｍＴ以下であり、かつ保磁力が１００Ｏｅ以下である層をいうものとする。非磁性層は、残留磁束密度および保磁力を持たないことが好ましい。
【００５６】
＜バックコート層＞
上記磁気テープは、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する。バックコート層には、カーボンブラックおよび無機粉末のいずれか一方または両方が含有されていることが好ましい。例えば、バックコート層の非磁性粉末として、粒子サイズが異なる非磁性粉末を使用することにより、バックコート層の表面形状を制御することができる。例えば、平均粒子サイズが１５〜５０ｎｍのカーボンブラック（以下、「微粒子カーボンブラック」と記載する。）と、平均粒子サイズが７５〜５００ｎｍのカーボンブラック（以下、「粗粒子カーボンブラック」と記載する。）とを併用し、両カーボンブラックの混合比率を調整することによって、上記の突起の個数を制御することができる。また、バックコート層のカーボンブラックの含有量は、結合剤１００．０質量部に対して、好ましくは５０．０〜２００．０質量部の範囲であり、より好ましくは７５．０〜１５０．０の範囲である。
【００５７】
バックコート層は、好ましくはカーボンブラックとともに、一種以上の無機粉末を含むことができる。無機粉末とカーボンブラックとの混合比は、無機粉末：カーボンブラック（質量基準）として、９：１〜７：３とすることが好ましい。無機粉末としては、例えば、平均粒子サイズが８０〜２５０ｎｍでモース硬度が５〜９の無機粉末が挙げられる。無機粉末としては、一般に非磁性層に使用される非磁性粉末、一般に磁性層に研磨剤として使用される非磁性粉末等を挙げることができ、中でもα−酸化鉄、α−アルミナ等が好ましい。バックコート層の無機粉末の含有量は、結合剤１００．０質量部に対して、好ましくは３００．０〜７００．０質量部の範囲であり、より好ましくは４００．０〜５００．０の範囲である。
【００５８】
バックコート層は、非磁性粉末を含み、結合剤を含むことができ、一種以上の添加剤を含むこともできる。バックコート層の結合剤および添加剤については、バックコート層に関する公知技術を適用することができ、磁性層および／または非磁性層の処方に関する公知技術を適用することもできる。例えば、特開２００６−３３１６２５号公報の段落００１８〜００２０および米国特許第７，０２９，７７４号明細書の第４欄６５行目〜第５欄３８行目の記載を、バックコート層について参照できる。
【００５９】
＜非磁性支持体＞
次に、非磁性支持体について説明する。非磁性支持体（以下、単に「支持体」とも記載する。）としては、二軸延伸を行ったポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、芳香族ポリアミド等の公知のものが挙げられる。これらの中でもポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミドが好ましい。これらの支持体には、あらかじめコロナ放電、プラズマ処理、易接着処理、加熱処理等を行ってもよい。支持体として、磁性層が形成される側の表面および／またはバックコート層が形成される側の表面のＰＳＤが異なるものを使用することにより、磁性層の表面形状および／またはバックコート層の表面形状を変えることができる。支持体の磁性層が形成される側の表面の５μｍピッチのＰＳＤ（以下、「磁性面側５μｍＰＳＤ」と記載する。）は、例えば２．００Ｅ＋０２〜１．２０Ｅ＋０４ｎｍ３の範囲であることができ、バックコート層が形成される側の表面の１０μｍピッチのＰＳＤ（以下、「バック面側１０μｍＰＳＤ」と記載する。）は、例えば５．００Ｅ＋０２〜３．００Ｅ＋０６ｎｍ３の範囲であることができる。支持体を公知の方法により製造する場合、支持体に含有させる非磁性粉末のサイズおよび含有量によって、支持体の表面形状を調整することができる。また、支持体の片側またが両側の表面に放射線硬化型樹脂等を用いて平滑化層を形成することにより、その上に磁性層またはバックコート層が形成される表面の表面形状を調整することもできる。
【００６０】
＜各種厚み＞
非磁性支持体の厚みは、例えば３．０〜５０．０μｍであり、好ましくは３．０〜１０．０μｍであり、好ましくは３．０〜５．０μｍである。
磁性層の厚みは、用いる磁気ヘッドの飽和磁化量、ヘッドギャップ長、記録信号の帯域等により最適化することができ、一般には１０〜１５０ｎｍであり、高密度記録化の観点から、好ましくは２０〜１２０ｎｍであり、更に好ましくは３０〜１００ｎｍである。磁性層は少なくとも一層あればよく、磁性層を異なる磁気特性を有する二層以上に分離してもかまわず、公知の重層磁性層に関する構成が適用できる。二層以上に分離する場合の磁性層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。
非磁性層の厚みは、例えば０．１〜１．５μｍであり、０．１〜１．０μｍであることが好ましい。
バックコート層の厚みは、０．９μｍ以下が好ましく、０．１〜０．７μｍが更に好ましい。
磁気テープの各層および非磁性支持体の厚みは、公知の膜厚測定法により求めることができる。一例として、例えば、磁気テープの厚み方向の断面を、イオンビーム、ミクロトーム等の公知の手法により露出させた後、露出した断面において走査型電子顕微鏡を用いて断面観察を行う。断面観察において１箇所において求められた厚み、または無作為に抽出した２箇所以上の複数箇所、例えば２箇所、において求められた厚みの算術平均として、各種厚みを求めることができる。または、各層の厚みは、製造条件から算出される設計厚みとして求めてもよい。
【００６１】
＜製造工程＞
磁性層、非磁性層およびバックコート層を形成するための組成物は、先に説明した各種成分とともに、通常、溶媒を含む。溶媒としては、塗布型磁気記録媒体を製造するために一般に使用される各種有機溶媒を用いることができる。各層形成用組成物における溶媒量は特に限定されるものではなく、通常の塗布型磁気記録媒体の各層形成用組成物と同様にすることができる。各層形成用組成物を調製する工程は、通常、少なくとも混練工程、分散工程、およびこれらの工程の前後に必要に応じて設けた混合工程を含むことができる。個々の工程はそれぞれ２段階以上に分かれていてもかまわない。各層形成用組成物の調製に用いられる各種成分は、どの工程の最初または途中で添加してもよい。また、個々の成分を２つ以上の工程で分割して添加してもよい。
【００６２】
各層形成用組成物を調製するためには、公知技術を用いることができる。混練工程では、オープンニーダ、連続ニーダ、加圧ニーダ、エクストルーダ等の強い混練力をもつニーダを使用することが好ましい。これらの混練処理の詳細については、特開平１−１０６３３８号公報および特開平１−７９２７４号公報に記載されている。また、各層形成用組成物を分散させるためには、分散メディアとして、ガラスビーズおよびその他の分散ビーズからなる群から選ばれる一種以上の分散ビーズを用いることができる。このような分散ビーズとしては、高比重の分散ビーズであるジルコニアビーズ、チタニアビーズ、およびスチールビーズが好適である。これら分散ビーズの粒径（ビーズ径）および充填率は最適化して用いることができる。分散機は公知のものを使用することができる。各層形成用組成物は、塗布工程に付す前に公知の方法によってろ過してもよい。ろ過は、例えばフィルタろ過によって行うことができる。ろ過に用いるフィルタとしては、例えば孔径０．０１〜３μｍのフィルタ（例えばガラス繊維製フィルタ、ポリプロピレン製フィルタ等）を用いることができる。ろ過により粗大な凝集物を除去するほど、磁性層および／またはバックコート層の表面のうねり成分および／または凸部は低減される傾向がある。
【００６３】
磁性層は、磁性層形成用組成物を、例えば、非磁性支持体上に直接塗布するか、または非磁性層形成用組成物と逐次もしくは同時に重層塗布することにより形成することができる。バックコート層は、バックコート層形成用組成物を、非磁性支持体の磁性層を有する（または磁性層が追って設けられる）側とは反対側に塗布することにより形成することができる。各層形成のための塗布の詳細については、特開２０１０−２４１１３号公報の段落００５１を参照できる。
【００６４】
塗布工程後には、乾燥処理、磁性層の配向処理、表面平滑化処理（カレンダ処理）等の各種処理を行うことができる。各種工程については、例えば特開２０１０−２４１１３号公報の段落００５２〜００５７等の公知技術を参照できる。例えば、乾燥条件（温度等）によっても、各層の表面形状を制御することができる。また、例えば磁性層形成用組成物の塗布層には、この塗布層が湿潤（未乾燥）状態にあるうちに配向処理を施すことができる。配向処理については、特開２０１０−２３１８４３号公報の段落００６７の記載をはじめとする各種公知技術を適用することができる。例えば、垂直配向処理は、異極対向磁石を用いる方法等の公知の方法によって行うことができる。配向ゾーンでは、乾燥風の温度、風量および／または配向ゾーンにおける磁気テープの搬送速度によって塗布層の乾燥速度を制御することができる。また、配向ゾーンに搬送する前に塗布層を予備乾燥させてもよい。また、カレンダ処理については、カレンダ条件を強化すると、磁性層および／またはバックコート層の表面のうねり成分および／または凹凸は低減される傾向がある。カレンダ条件としては、カレンダ圧力、カレンダ温度（カレンダロールの表面温度）、カレンダ速度、カレンダロールの硬度等が挙げられ、カレンダ圧力、カレンダ温度およびカレンダロールの硬度は、これらの値を大きくするほどカレンダ処理は強化され、カレンダ速度は遅くするほどカレンダ処理は強化される。また、いずれかの層を形成するための組成物の塗布層が湿潤（未乾燥）状態にあるうちに、公知の方法によりスムージング処理を行い塗布層にせん断をかけることもできる。塗布層にせん断を加えることよって、磁性層および／またはバックコート層のうねり成分および／または凸部は低減される傾向がある。
【００６５】
製造された磁気テープには、磁気記録再生装置における磁気ヘッドのトラッキング制御、磁気テープの走行速度の制御等を可能とするために、公知の方法によってサーボパターンを形成することができる。「サーボパターンの形成」は、「サーボ信号の記録」ということもできる。以下に、サーボパターンの形成について説明する。
【００６６】
サーボパターンは、通常、磁気テープの長手方向に沿って形成される。サーボ信号を利用する制御（サーボ制御）の方式としては、タイミングベースサーボ（ＴＢＳ）、アンプリチュードサーボ、周波数サーボ等が挙げられる。
【００６７】
ＥＣＭＡ（Ｅｕｒｏｐｅａｎ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒｓ  Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）―３１９に示される通り、ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ  Ｔａｐｅ−Ｏｐｅｎ）規格に準拠した磁気テープ（一般に「ＬＴＯテープ」と呼ばれる。）では、タイミングベースサーボ方式が採用されている。このタイミングベースサーボ方式において、サーボパターンは、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（「サーボストライプ」とも呼ばれる。）が、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置されることによって構成されている。上記のように、サーボパターンが互いに非平行な一対の磁気ストライプにより構成される理由は、サーボパターン上を通過するサーボ信号読み取り素子に、その通過位置を教えるためである。具体的には、上記の一対の磁気ストライプは、その間隔が磁気テープの幅方向に沿って連続的に変化するように形成されており、サーボ信号読み取り素子がその間隔を読み取ることによって、サーボパターンとサーボ信号読み取り素子との相対位置を知ることができる。この相対位置の情報が、データトラックのトラッキングを可能にする。そのために、サーボパターン上には、通常、磁気テープの幅方向に沿って、複数のサーボトラックが設定されている。
【００６８】
サーボバンドは、磁気テープの長手方向に連続するサーボ信号により構成される。このサーボバンドは、通常、磁気テープに複数本設けられる。例えば、ＬＴＯテープにおいて、その数は５本である。隣接する２本のサーボバンドに挟まれた領域は、データバンドと呼ばれる。データバンドは、複数のデータトラックで構成されており、各データトラックは、各サーボトラックに対応している。
【００６９】
また、一態様では、特開２００４−３１８９８３号公報に示されているように、各サーボバンドには、サーボバンドの番号を示す情報（「サーボバンドＩＤ（ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）」または「ＵＤＩＭ（Ｕｎｉｑｕｅ  ＤａｔａＢａｎｄ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｍｅｔｈｏｄ）情報」とも呼ばれる。）が埋め込まれている。このサーボバンドＩＤは、サーボバンド中に複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のものを、その位置が磁気テープの長手方向に相対的に変位するように、ずらすことによって記録されている。具体的には、複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のもののずらし方を、サーボバンド毎に変えている。これにより、記録されたサーボバンドＩＤはサーボバンド毎にユニークなものとなるため、一つのサーボバンドをサーボ信号読み取り素子で読み取るだけで、そのサーボバンドを一意に（ｕｎｉｑｕｅｌｙ）特定することができる。
【００７０】
なお、サーボバンドを一意に特定する方法には、ＥＣＭＡ―３１９に示されているようなスタッガード方式を用いたものもある。このスタッガード方式では、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置された、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（サーボストライプ）の群を、サーボバンド毎に磁気テープの長手方向にずらすように記録する。隣接するサーボバンド間における、このずらし方の組み合わせは、磁気テープ全体においてユニークなものとされているため、２つのサーボ信号読み取り素子によりサーボパターンを読み取る際に、サーボバンドを一意に特定することも可能となっている。
【００７１】
また、各サーボバンドには、ＥＣＭＡ―３１９に示されている通り、通常、磁気テープの長手方向の位置を示す情報（「ＬＰＯＳ（Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ  Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）情報」とも呼ばれる。）も埋め込まれている。このＬＰＯＳ情報も、ＵＤＩＭ情報と同様に、一対のサーボストライプの位置を、磁気テープの長手方向にずらすことによって記録されている。ただし、ＵＤＩＭ情報とは異なり、このＬＰＯＳ情報では、各サーボバンドに同じ信号が記録されている。
【００７２】
上記のＵＤＩＭ情報およびＬＰＯＳ情報とは異なる他の情報を、サーボバンドに埋め込むことも可能である。この場合、埋め込まれる情報は、ＵＤＩＭ情報のようにサーボバンド毎に異なるものであってもよいし、ＬＰＯＳ情報のようにすべてのサーボバンドに共通のものであってもよい。
また、サーボバンドに情報を埋め込む方法としては、上記以外の方法を採用することも可能である。例えば、一対のサーボストライプの群の中から、所定の対を間引くことによって、所定のコードを記録するようにしてもよい。
【００７３】
サーボパターン形成用ヘッドは、サーボライトヘッドと呼ばれる。サーボライトヘッドは、上記一対の磁気ストライプに対応した一対のギャップを、サーボバンドの数だけ有する。通常、各一対のギャップには、それぞれコアとコイルが接続されており、コイルに電流パルスを供給することによって、コアに発生した磁界が、一対のギャップに漏れ磁界を生じさせることができる。サーボパターンの形成の際には、サーボライトヘッド上に磁気テープを走行させながら電流パルスを入力することによって、一対のギャップに対応した磁気パターンを磁気テープに転写させて、サーボパターンを形成することができる。各ギャップの幅は、形成されるサーボパターンの密度に応じて適宜設定することができる。各ギャップの幅は、例えば、１μｍ以下、１〜１０μｍ、１０μｍ以上等に設定可能である。
【００７４】
磁気テープにサーボパターンを形成する前には、磁気テープに対して、通常、消磁（イレース）処理が施される。このイレース処理は、直流磁石または交流磁石を用いて、磁気テープに一様な磁界を加えることによって行うことができる。イレース処理には、ＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ  Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとＡＣ（Ａｌｔｅｒｎａｔｉｎｇ  Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとがある。ＡＣイレースは、磁気テープに印加する磁界の方向を反転させながら、その磁界の強度を徐々に下げることによって行われる。一方、ＤＣイレースは、磁気テープに一方向の磁界を加えることによって行われる。ＤＣイレースには、更に２つの方法がある。第一の方法は、磁気テープの長手方向に沿って一方向の磁界を加える、水平ＤＣイレースである。第二の方法は、磁気テープの厚み方向に沿って一方向の磁界を加える、垂直ＤＣイレースである。イレース処理は、磁気テープ全体に対して行ってもよいし、磁気テープのサーボバンド毎に行ってもよい。
【００７５】
形成されるサーボパターンの磁界の向きは、イレースの向きに応じて決まる。例えば、磁気テープに水平ＤＣイレースが施されている場合、サーボパターンの形成は、磁界の向きがイレースの向きと反対になるように行われる。これにより、サーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号の出力を、大きくすることができる。なお、特開２０１２−５３９４０号公報に示されている通り、垂直ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、単極パルス形状となる。一方、水平ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、双極パルス形状となる。
【００７６】
磁気テープは、通常、磁気テープカートリッジに収容され、磁気テープカートリッジが磁気記録再生装置に装着される。
【００７７】
［磁気テープカートリッジ］
本発明の一態様は、上記磁気テープを含む磁気テープカートリッジに関する。
【００７８】
上記磁気テープカートリッジに含まれる磁気テープの詳細は、先に記載した通りである。
【００７９】
磁気テープカートリッジでは、一般に、カートリッジ本体内部に磁気テープがリールに巻き取られた状態で収容されている。リールは、カートリッジ本体内部に回転可能に備えられている。磁気テープカートリッジとしては、カートリッジ本体内部にリールを１つ具備する単リール型の磁気テープカートリッジおよびカートリッジ本体内部にリールを２つ具備する双リール型の磁気テープカートリッジが広く用いられている。単リール型の磁気テープカートリッジは、磁気テープへのデータの記録および／または再生のために磁気記録再生装置に装着されると、磁気テープカートリッジから磁気テープが引き出されて磁気記録再生装置側のリールに巻き取られる。磁気テープカートリッジから巻き取りリールまでの磁気テープ搬送経路には、磁気ヘッドが配置されている。磁気テープカートリッジ側のリール（供給リール）と磁気記録再生装置側のリール（巻き取りリール）との間で、磁気テープの送り出しと巻き取りが行われる。この間、磁気ヘッドと磁気テープの磁性層表面とが接触し摺動することにより、データの記録および／または再生が行われる。これに対し、双リール型の磁気テープカートリッジは、供給リールと巻き取りリールの両リールが、磁気テープカートリッジ内部に具備されている。上記磁気テープカートリッジは、単リール型および双リール型のいずれの磁気テープカートリッジであってもよい。上記磁気テープカートリッジは、本発明の一態様にかかる磁気テープを含むものであればよく、その他については公知技術を適用することができる。
【００８０】
［磁気記録再生装置］
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気記録再生装置に関する。
【００８１】
本発明および本明細書において、「磁気記録再生装置」とは、磁気テープへのデータの記録および磁気テープに記録されたデータの再生の少なくとも一方を行うことができる装置を意味するものとする。かかる装置は、一般にドライブと呼ばれる。上記磁気記録再生装置は、摺動型の磁気記録再生装置であることができる。摺動型の磁気記録再生装置とは、磁気テープへのデータの記録および／または記録されたデータの再生を行う際に磁性層表面と磁気ヘッドとが接触し摺動する装置をいう。
【００８２】
上記磁気記録再生装置に含まれる磁気ヘッドは、磁気テープへのデータの記録を行うことができる記録ヘッドであることができ、磁気テープに記録されたデータの再生を行うことができる再生ヘッドであることもできる。また、上記磁気記録再生装置は、一態様では、別々の磁気ヘッドとして、記録ヘッドと再生ヘッドの両方を含むことができる。他の一態様では、上記磁気記録再生装置に含まれる磁気ヘッドは、データの記録のための素子（記録素子）とデータの再生のための素子（再生素子）の両方を１つの磁気ヘッドに備えた構成を有することもできる。以下において、データの記録のための素子および再生のための素子を、「データ用素子」と総称する。再生ヘッドとしては、磁気テープに記録されたデータを感度よく読み取ることができる磁気抵抗効果型（ＭＲ；Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）素子を再生素子として含む磁気ヘッド（ＭＲヘッド）が好ましい。ＭＲヘッドとしては、ＡＭＲ（Ａｎｉｓｏｔｒｏｐｉｃ Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド、ＧＭＲ（Ｇｉａｎｔ  Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド、ＴＭＲ（Ｔｕｎｎｅｌ Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド等の公知の各種ＭＲヘッドを用いることができる。また、データの記録および／またはデータの再生を行う磁気ヘッドには、サーボ信号読み取り素子が含まれていてもよい。または、データの記録および／またはデータの再生を行う磁気ヘッドとは別のヘッドとして、サーボ信号読み取り素子を備えた磁気ヘッド（サーボヘッド）が上記磁気記録再生装置に含まれていてもよい。例えば、データの記録および／または記録されたデータの再生を行う磁気ヘッド（以下、「記録再生ヘッド」とも呼ぶ。）は、サーボ信号読み取り素子を２つ含むことができ、２つのサーボ信号読み取り素子のそれぞれが、隣接する２つのサーボバンドを同時に読み取ることができる。２つのサーボ信号読み取り素子の間に、１つまたは複数のデータ用素子を配置することができる。
【００８３】
上記磁気記録再生装置において、磁気テープへのデータの記録および／または磁気テープに記録されたデータの再生は、磁気テープの磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることにより行うことができる。上記磁気記録再生装置は、本発明の一態様にかかる磁気テープを含むものであればよく、その他については公知技術を適用することができる。
【００８４】
例えば、データの記録および／または記録されたデータの再生の際には、まず、サーボ信号を用いたトラッキングが行われる。すなわち、サーボ信号読み取り素子を所定のサーボトラックに追従させることによって、データ用素子が、目的とするデータトラック上を通過するように制御される。データトラックの移動は、サーボ信号読み取り素子が読み取るサーボトラックを、テープ幅方向に変更することにより行われる。
また、記録再生ヘッドは、他のデータバンドに対する記録および／または再生を行うことも可能である。その際には、先に記載したＵＤＩＭ情報を利用してサーボ信号読み取り素子を所定のサーボバンドに移動させ、そのサーボバンドに対するトラッキングを開始すればよい。
【実施例】
【００８５】
以下に、本発明を実施例により更に具体的に説明する。ただし本発明は、実施例に示す態様に限定されるものではない。以下に記載の「部」および「％」は、特記しない限り、「質量部」および「質量％」を示す。下記工程および評価は、特記しない限り、２３℃±１℃の大気中で行った。以下に記載の「ｅｑ」は、当量（ ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ）であり、ＳＩ単位に換算不可の単位である。
【００８６】
後述の表１中、「ＳｒＦｅ１」および「ＳｒＦｅ２」は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を示し、「ε−酸化鉄」はε−酸化鉄粉末を示し、「ＢａＦｅ」は六方晶バリウムフェライト粉末を示す。
以下に記載の各種強磁性粉末の平均粒子体積は、先に記載の方法により求められた値である。
異方性定数Ｋｕは、各強磁性粉末について振動試料型磁力計（東英工業社製）を用いて先に記載の方法により求められた値である。
また、質量磁化σｓは、振動試料型磁力計（東英工業社製）を用いて磁場強度１５ｋＯｅで測定された値である。
また、以下に記載の磁性層の異方性磁界Ｈｋは、振動試料型磁力計ＴＭ−ＶＳＭ５０５０−ＳＭＳ型（玉川製作所製）を用いて測定された値である。
【００８７】
［強磁性粉末の作製方法］
＜六方晶ストロンチウムフェライト粉末の作製方法１＞
ＳｒＣＯ３を１７０７ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６８７ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１１２０ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を４５ｇ、ＢａＣＯ３を２４ｇ、ＣａＣＯ３を１３ｇ、およびＮｄ２Ｏ３を２３５ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３９０℃で溶融し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ローラーで圧延急冷して非晶質体を作製した。
作製した非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、昇温速度３．５℃／分にて６３５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持して六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍｌ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末（後述の表１中、「ＳｒＦｅ１」）の平均粒子体積は後述の表１に記載の値、異方性定数Ｋｕは２.２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは４９Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって部分溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子の表層部含有率を求めた。
別途、上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって全溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子のバルク含有率を求めた。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の鉄原子１００原子％に対するネオジム原子の含有率（バルク含有率）は、２．９原子％であった。また、ネオジム原子の表層部含有率は８．０原子％であった。表層部含有率とバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は２．８であり、ネオジム原子が粒子の表層に偏在していることが確認された。
【００８８】
上記で得られた粉末が六方晶フェライトの結晶構造を示すことは、ＣｕＫα線を電圧４５ｋＶかつ強度４０ｍＡの条件で走査し、下記条件でＸ線回折パターンを測定すること（Ｘ線回折分析）により確認した。上記で得られた粉末は、マグネトプランバイト型（Ｍ型）の六方晶フェライトの結晶構造を示した。また、Ｘ線回折分析により検出された結晶相は、マグネトプランバイト型の単一相であった。
ＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ  Ｘ’Ｐｅｒｔ  Ｐｒｏ回折計、ＰＩＸｃｅｌ検出器
入射ビームおよび回折ビームのＳｏｌｌｅｒスリット：０．０１７ラジアン
分散スリットの固定角：１／４度
マスク：１０ｍｍ
散乱防止スリット：１／４度
測定モード：連続
１段階あたりの測定時間：３秒
測定速度：毎秒０．０１７度
測定ステップ：０．０５度
【００８９】
＜六方晶ストロンチウムフェライト粉末の作製方法２＞
ＳｒＣＯ３を１７２５ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６６６ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１３３２ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を５２ｇ、ＣａＣＯ３を３４ｇ、ＢａＣＯ３を１４１ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３８０℃で溶融し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ロールで急冷圧延して非晶質体を作製した。
得られた非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、６４５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持し六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍｌ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末（後述の表１中、「ＳｒＦｅ２」）の平均粒子体積は後述の表１に記載の値、異方性定数Ｋｕは２.０×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは５０Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
【００９０】
＜ε−酸化鉄粉末の作製方法＞
純水９０ｇに、硝酸鉄（ＩＩＩ）９水和物８．３ｇ、硝酸ガリウム（ＩＩＩ）８水和物１．３ｇ、硝酸コバルト（ＩＩ）６水和物１９０ｍｇ、硫酸チタン（ＩＶ）１５０ｍｇ、およびポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）１．５ｇを溶解させたものを、マグネチックスターラーを用いて撹拌しながら、大気雰囲気中、雰囲気温度２５℃の条件下で、濃度２５％のアンモニア水溶液４．０ｇを添加し、雰囲気温度２５℃の温度条件のまま２時間撹拌した。得られた溶液に、クエン酸１ｇを純水９ｇに溶解させて得たクエン酸溶液を加え、１時間撹拌した。撹拌後に沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で乾燥させた。
乾燥させた粉末に純水８００ｇを加えて再度粉末を水に分散させて分散液を得た。得られた分散液を液温５０℃に昇温し、撹拌しながら濃度２５％アンモニア水溶液を４０ｇ滴下した。５０℃の温度を保ったまま１時間撹拌した後、テトラエトキシシラン（ＴＥＯＳ）１４ｍＬを滴下し、２４時間撹拌した。得られた反応溶液に、硫酸アンモニウム５０ｇを加え、沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で２４時間乾燥させ、強磁性粉末の前駆体を得た。      
得られた強磁性粉末の前駆体を、大気雰囲気下、炉内温度１０００℃の加熱炉内に装填し、４時間の加熱処理を施した。
加熱処理した強磁性粉末の前駆体を、４ｍｏｌ／Ｌの水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）水溶液中に投入し、液温を７０℃に維持して２４時間撹拌することにより、加熱処理した強磁性粉末の前駆体から不純物であるケイ酸化合物を除去した。
その後、遠心分離処理により、ケイ酸化合物を除去した強磁性粉末を採集し、純水で洗浄を行い、強磁性粉末を得た。
得られた強磁性粉末の組成を高周波誘導結合プラズマ発光分光分析(ＩＣＰ−ＯＥＳ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｐｌａｓｍａ−Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｅｍｉｓｓｉｏｎ  Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）により確認したところ、Ｇａ、ＣｏおよびＴｉ置換型ε−酸化鉄（ε−Ｇａ０．５８Ｆｅ１．４２Ｏ３）であった。また、先に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の作製方法１について記載した条件と同様の条件でＸ線回折分析を行い、Ｘ線回折パターンのピークから、得られた強磁性粉末が、α相およびγ相の結晶構造を含まない、ε相の単相の結晶構造（ε−酸化鉄型の結晶構造）を有することを確認した。
得られたε−酸化鉄粉末（後述の表中、「ε−酸化鉄」）の平均粒子体積は後述の表に記載の値、異方性定数Ｋｕは１．２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは１６Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
【００９１】
［実施例１］
各層形成用組成物の処方を、下記に示す。
【００９２】
＜磁性層形成用組成物の処方＞
強磁性粉末（表２参照）                                    １００．０部
ポリウレタン樹脂                                            １７．０部
分岐側鎖含有ポリエステルポリオール／ジフェニルメタンジイソシアネート系、−ＳＯ3Ｎａ＝４００ｅｑ／ｔｏｎ
α−Ａｌ2Ｏ3（平均粒子サイズ０．１５μｍ）                    ５．０部
ダイヤモンド粉末(平均粒子サイズ：６０ｎｍ)                    １．０部
カーボンブラック（平均粒子サイズ：２０ｎｍ）                  １．０部
シクロヘキサノン                                          １１０．０部
メチルエチルケトン                                        １００．０部
トルエン                                                  １００．０部
ブチルステアレート                                            ２．０部
ステアリン酸                                                  １．０部
【００９３】
＜非磁性層形成用組成物の処方＞
非磁性無機粉末  α−酸化鉄                                １００．０部
平均粒子サイズ：１０ｎｍ
平均針状比：１．９
ＢＥＴ（Ｂｒｕｎａｕｅｒ−Ｅｍｍｅｔｔ−Ｔｅｌｌｅｒ）比表面積：７５ｍ２／ｇ
カーボンブラック（平均粒子サイズ：２０ｎｍ）                ２５．０部
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂                            １８．０部
（重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基：０．２ｍｅｑ／ｇ）
ステアリン酸                                                  １．０部
シクロヘキサノン                                          ３００．０部
メチルエチルケトン                                        ３００．０部
【００９４】
＜バックコート層形成用組成物の処方＞
非磁性無機粉末（α−酸化鉄）                                ８５．０部
表面処理層：Ａｌ2Ｏ3、ＳｉＯ2
平均粒子サイズ：０．１５μｍ
タップ密度：０．８
平均針状比：７
ＢＥＴ比表面積：５２ｍ2／ｇ
ｐＨ：８
ＤＢＰ吸油量：３３ｇ／１００ｇ
微粒子カーボンブラック（平均粒子サイズ：１６ｎｍ）          ２０．０部
粗粒子カーボンブラック（平均粒子サイズ：３７０ｎｍ）      なし  
塩化ビニル共重合体（カネカ社製ＭＲ１０４）                  １３．０部
ポリウレタン樹脂（東洋紡社製バイロンＵＲ８２０                ６．０部
フェニルホスホン酸                                            ３．０部
アルミナ粉末（平均粒子サイズ：０．２５μｍ）                  ５．０部
シクロヘキサノン                                          １４０．０部
メチルエチルケトン                                        １７０．０部
ブチルステアレート                                            ２．０部
ステアリン酸                                                  １．０部
【００９５】
＜各層形成用組成物の調製＞
上記の磁性層形成用組成物、非磁性層形成用組成物およびバックコート層形成用組成物のそれぞれについて、各成分をオープンニーダで２４０分間混練した後、サンドミルで分散させた。分散時間は、磁性層形成用組成物については７２０分間とし、非磁性層形成用組成物およびバックコート層形成用組成物についてはそれぞれ１０８０分間とした。こうして得られた分散液に３官能性低分子量ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート３０４１）をそれぞれ４．０部加え、更に２０分間撹拌混合した後、０．５μｍの孔径を有するフィルタを用いてろ過した。
以上により、磁性層形成用組成物、非磁性層形成用組成物およびバックコート層形成用組成物を調製した。
【００９６】
＜磁気テープカートリッジの作製＞
厚み４．６μｍの二軸延伸ポリエチレンナフタレート製支持体（種類：表２参照）の表面上に、乾燥後の厚みが０．７μｍになるように非磁性層形成用組成物を塗布して雰囲気温度１００℃の環境下で乾燥させて非磁性層を形成し、非磁性層の表面上に乾燥後の厚みが６０ｎｍになるように磁性層形成用組成物を塗布し、磁性層形成用組成物の塗布層を形成した。この塗布層が湿潤（未乾燥）状態にあるうちに、磁場強度０.６Ｔの磁場を上記塗布層の表面に対し垂直方向に印加する垂直配向処理を施した。その後、上記塗布層を乾燥させて磁性層を形成した。上記支持体の非磁性層と磁性層とを設けた表面とは反対側の表面上に乾燥後の厚みが０.４μｍになるようにバックコート層形成用組成物を塗布して雰囲気温度（乾燥温度）１２０℃の環境下で乾燥させてバックコート層を形成した。
その後、金属ロ−ルのみから構成される７段のカレンダ機によりカレンダ速度１００ｍ／ｍｉｎ、線圧３５０ｋｇ／ｃｍ（１ｋｇ／ｃｍは０．９８ｋＮ／ｍ）、カレンダ温度（カレンダロールの表面温度）１００℃でカレンダ処理を行った。その後、雰囲気温度７０℃の環境下で２４時間の熱処理を行った後、１／２インチ幅（１インチは０．０２５４メートル）にスリットした。スリットして得られた磁気テープの磁性層を消磁した状態で、市販のサーボライターに搭載されたサーボライトヘッドによって、ＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターンを磁性層に形成した。これにより、磁性層に、ＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置でデータバンド、サーボバンド、およびガイドバンドを有し、かつサーボバンド上にＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターン（タイミングベースサーボパターン）を有する磁気テープを得た。得られた磁気テープを、磁気テープカートリッジ（ＬＴＯ  Ｕｌｔｒｉｕｍ７データカートリッジ）のリールへ巻き取り、長さ９５０ｍの磁気テープがリールに巻装された単リール型の実施例１の磁気テープカートリッジを作製した。
【００９７】
［実施例２〜７、比較例１〜４］
磁性層の強磁性粉末の種類および／または非磁性支持体の種類を表２に示すように変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープカートリッジを作製した。
【００９８】
［実施例８〜１１］
バックコート層のカーボンブラックの含有量および／または種類を表３に示すように変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープカートリッジを作製した。
【００９９】
［実施例１２〜１６］
バックコート層形成用組成物の塗布後の乾燥時間および／またはカレンダ温度を表４に示すように変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープカートリッジを作製した。
【０１００】
［実施例１７〜１９］
磁性層形成用組成物のカーボンブラックの含有量および／またはバックコート層形成用組成物の分散時間を表５に示すように変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープカートリッジを作製した。
【０１０１】
［実施例２０］
磁性層形成用組成物の強磁性粉末を、表５に示す六方晶バリウムフェライト粉末に変更した点以外、実施例１と同様に磁気テープカートリッジを作製した。
【０１０２】
［評価方法］
（１）磁性層の表面およびバックコート層の表面の各種ＰＳＤ
非接触光学式粗さ測定機を使用し、表１に示す条件にて測定を行い、後述の表に記載のＰＳＤ５μｍ−ＰＳＤｍａｇ、ＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃ、ＰＳＤ３μｍ−ＰＳＤｂｃおよびＰＳＤ１０μｍ−ＰＳＤｂｃを求めた。後述の表に示す支持体のＰＳＤは、磁気テープ作製のために使用した支持体を切り出した支持体原反から得た測定用サンプルについて、同様に求めた値である。なお、特定ピッチのＰＳＤ算出に関して、例えば１０μｍのＰＳＤを求めるにあたり、得られた測定結果の中に、例えば９．９μｍと１０．３μｍの点しかないときには、少数点以下第一位を四捨五入して１０μｍとなる点の測定値の算術平均を採用するものとする。  
【０１０３】
【表１】
2020140756.tif 000002
【０１０４】
（２）磁性層の表面およびバックコート層の表面のクルトシスおよびスキューネス
後述の表に示すクルトシスＲｋｕｍａｇ、ＲｋｕｂｃおよびスキューネスＲｓｋｍａｇ、Ｒｓｋｂｃは、上記の表１に示す条件において測定を行って得られた測定結果から、ＪＩＳ  Ｂ  ０６０１：２０１３にしたがい求めた値である。測定数についても表１の記載と同様とし、合計９つの測定値の算術平均を採用した。
【０１０５】
（３）繰り返し走行での記録再生品質の評価
表２に示す実施例および比較例の各磁気テープカートリッジをＬＴＯ  Ｕｌｔｒｉｕｍ７（ＬＴＯ７）ドライブに装着し、ＬＴＯ７ドライブにて磁気テープ全長を１０，０００回往復走行させた後、規定容量の記録ができるか確認した。規定容量は、６．０ＴＢ（テラバイト）である。記録時にエラーが発生せずに規定容量の記録ができた場合を「ＯＫ」、ドライブがエラー信号を発して停止してしまったため規定容量の記録ができなかった場合を「ＮＧ」と評価した。  
また、ＬＴＯ７ドライブでの上記評価後のテープの長手方向中央部分（テープの外側末2端から４００〜５００ｍの部分）を切出し、磁性層表面を微分干渉顕微鏡で観察を行った（観察領域：２．０ｍｍ×１．５ｍｍ）。表面に傷が確認されない場合を「ＡＡ」、傷が１〜２本の場合を「Ａ」、３〜４本の場合を「Ｂ」、５〜９本の場合を「Ｃ」、１０本以上の場合を「Ｄ」と評価した。  
また、表３〜５に示した評価結果は、往復走行回数を２０，０００回まで増やした後の評価結果である。
【０１０６】
【表２】
2020140756.tif 000003
【０１０７】
【表３】
2020140756.tif 000004
【０１０８】
【表４】
2020140756.tif 000005
【０１０９】
【表５】
2020140756.tif 000006
【０１１０】
表２〜５に示す結果から、実施例１〜２０が、比較例１〜４と比べて繰り返し走行での記録再生品質に優れることが確認できる。
なお、比較例１〜４の強磁性粉末を、実施例７等で使用した強磁性粉末（ε−酸化鉄粉末）と同様の強磁性粉末に変更した場合についても同様の評価を行ったところ、ドライブがエラー信号を発して停止してしまったため規定容量の記録ができなかった（評価結果ＮＧ）。
これに対し、比較例１〜４の強磁性粉末を、実施例２０で使用した強磁性粉末（六方晶バリウムフェライト粉末）と同様の強磁性粉末に変更した場合についても同様の評価を行ったところ、規定容量の記録は可能であったものの、記録時にエラーが発生した。
以上の結果は、繰り返し走行での記録再生品質の低下は、磁性層の強磁性粉末として、六方晶ストロンチウムフェライト粉末およびε−酸化鉄粉末からなる群から選択される強磁性粉末を使用した場合に顕在化する傾向があることを示すものと考えられる。これに対し、そのような繰り返し走行での記録再生品質の低下は、上記の表に示されているように、実施例１〜１９において抑制可能であった。
【産業上の利用可能性】
【０１１１】
本発明の一態様は、高密度記録用磁気テープの技術分野において有用である。