(57)【要約】【課題】被検眼の測定時に撮影状態に異常が生じていたか否かを判別する。【解決手段】眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼に照射すると共に被検眼からの反射光を導く測定光学系と、光源からの光を案内して参照光とする参照光学系と、光路長が所定の長さに調整されており、光源からの光を案内して異常検出光とする異常検出光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により案内された参照光とを合波した測定用干渉光と、異常検出光学系により案内された異常検出光と参照光学系により案内された参照光とを合波した異常検出用干渉光とを受光する受光素子と、異常検出用干渉光を受光したときに受光素子から出力される異常検出用干渉信号の波形に基づいて、受光素子で受光した測定用干渉光の異常を判定する演算装置と、を備えている。【選択図】図１
2020039609.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、
前記光源からの光を被検眼に照射すると共に、前記被検眼からの反射光を導く測定光学系と、
前記光源からの光を案内して参照光とする参照光学系と、
光路長が所定の長さに調整されており、前記光源からの光を案内して異常検出光とする異常検出光学系と、
前記測定光学系により導かれた前記反射光と前記参照光学系により案内された前記参照光とを合波した測定用干渉光と、前記異常検出光学系により案内された前記異常検出光と前記参照光学系により案内された前記参照光とを合波した異常検出用干渉光とを受光する受光素子と、
前記異常検出用干渉光を受光したときに前記受光素子から出力される異常検出用干渉信号の波形に基づいて、前記受光素子で受光した前記測定用干渉光の異常を判定する演算装置と、を備えている、眼科装置。
【請求項２】
前記受光素子は、前記異常検出用干渉光から異常検出用干渉信号を前記演算装置に出力し、
前記演算装置は、前記異常検出用干渉信号の深さ方向の位置及び波形の形状の少なくとも一方が所定範囲外であるときに、前記受光素子で受光した前記異常検出用干渉光及び前記測定用干渉光を異常と判定する、請求項１に記載の眼科装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書に開示する技術は、眼科装置に関する。詳細には、光干渉を用いて被検眼を測定する眼科装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼の内部の断層画像を撮影する眼科装置が開発されている。例えば、特許文献１に記載の眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。測定の際には、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合波した干渉光から、被検眼の断層画像を生成する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１６−４１２１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１のような眼科装置を用いて被検眼を測定する際には、干渉光から得られる干渉信号に異常が生じることがある。これは、例えば、振動や衝撃等によって干渉信号に異常が生じたり、光源を駆動する電流の変化や光源の温度が変化することによって発振波長が変化（いわゆる、モードホップ）したりする場合を挙げることができる。このような異常が生じている状態では、被検眼を正確に測定することができない。しかしながら、被検眼を測定した測定光からの干渉信号が正常な状態と比較して乱れている場合に、撮影状態に問題があるために異常が生じたのか、被検眼に病変等の異常あるために干渉信号が乱れているのかを判別することが難しいという問題があった。本明細書は、被検眼の測定時に撮影状態に異常が生じていたか否かを判別する技術を開示する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本明細書に開示する眼科装置は、光源と、光源からの光を被検眼に照射すると共に被検眼からの反射光を導く測定光学系と、光源からの光を案内して参照光とする参照光学系と、光路長が所定の長さに調整されており、光源からの光を案内して異常検出光とする異常検出光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により案内された参照光とを合波した測定用干渉光と、異常検出光学系により案内された異常検出光と参照光学系により案内された参照光とを合波した異常検出用干渉光とを受光する受光素子と、異常検出用干渉光を受光したときに受光素子から出力される異常検出用干渉信号の波形に基づいて、受光素子で受光した測定用干渉光の異常を判定する演算装置と、を備えている。
【０００６】
上記の眼科装置では、測定光学系とは別個に異常検出光学系を備えることによって、被検眼を測定する際に測定用干渉光と同時に異常検出用干渉光が生成される。異常検出光学系の光路長は既知であるため、異常検出用干渉光による信号と測定用干渉光による信号とを区別することができる。また、異常検出用干渉光は被検眼の状態とは関係がなく既知であるため、その信号波形に基づいて異常検出用干渉光に異常が生じているか否かを判定することができる。測定用干渉光と異常検出用干渉光は同時に取得されるため、異常検出用干渉光の異常を検出することによって、測定時の撮影状態の異常を判定することができ、これによって、測定用干渉光にも異常があると判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】実施例に係る眼科装置の光学系の概略構成を示す図。
【図２】実施例に係る眼科装置の制御系を示すブロック図。
【図３】ゼロ点と参照光路長と測定光路長と異常検出光路長との関係の一例を示す図。
【図４】被検眼を測定したときの測定状態の異常を検出する処理の一例を示すフローチャート。
【図５】干渉信号波形を処理する手順を説明するための図。
【図６】異常検出用干渉信号のピーク形状を示す図であり、（ａ）は異常検出用干渉信号が正常である場合のピーク形状を示し、（ｂ）は異常検出用干渉信号が異常である場合のピーク形状の一例を示す。
【図７】ゼロ点と参照光路長と測定光路長と異常検出光路長との関係の他の一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。
【０００９】
（特徴１）本明細書が開示する眼科装置では、受光素子は、異常検出用干渉光から異常検出用干渉信号を演算装置に出力してもよい。演算装置は、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置及び波形の形状の少なくとも一方が所定範囲外であるときに、受光素子で受光した異常検出用干渉光及び測定用干渉光を異常と判定してもよい。このような構成によると、被検眼の測定時において、撮影状態に異常が生じていると、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置にずれが生じたり、異常検出用干渉信号の波形の形状に乱れが生じたりする。このため、異常検出用干渉信号が所定範囲外であるときに、撮影状態が異常であると判定することができ、受光した干渉光（異常検出用干渉光及び測定用干渉光）に異常が生じていると判定することができる。
【実施例】
【００１０】
以下、実施例に係る眼科装置１について説明する。図１に示すように、眼科装置１は、被検眼１００を検査するための測定部１０を備えている。測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。
【００１１】
干渉光学系１４は、光源装置１２と、測定光学系と、参照光学系と、異常検出光学系と、受光素子２６によって構成されている。測定光学系は、光源装置１２からの光を被検眼１００の内部に照射すると共にその反射光を導く光学系である。参照光学系は、光源装置１２からの光を参照面２２ａに照射すると共にその反射光を導く光学系である。異常検出光学系は、光源装置１２からの光を反射面７０ａに照射すると共にその反射光を導く光学系である。受光素子２６は、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した測定用干渉光と、異常検出光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した異常検出用干渉光とを受光する。
【００１２】
光源装置１２は、波長掃引型の光源装置であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源装置１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。
【００１３】
測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ビームスプリッタ２８と、焦点調整機構４０と、ガルバノスキャナ４６と、ホットミラー４８によって構成されている。光源装置１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４、ビームスプリッタ２８、焦点調整機構４０、ガルバノスキャナ４６、及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ガルバノスキャナ４６、焦点調整機構４０、ビームスプリッタ２８、及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。
【００１４】
焦点調整機構４０は、光源装置１２側に配置される凸レンズ４２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ４４と、凸レンズ４２に対して凸レンズ４４を光軸方向に進退動させる第２駆動装置５６（図２に図示）を備えている。凸レンズ４２と凸レンズ４４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。第２駆動装置５６が凸レンズ４４を図１の矢印Ａの方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化し、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が調整される。
【００１５】
ガルバノスキャナ４６は、ガルバノミラー４６ａと、ガルバノミラー４６ａを傾動させる第３駆動装置５８（図２参照）を備えている。第３駆動装置５８がガルバノミラー４６ａを傾動することで、被検眼１００への測定光の照射位置が走査される。
【００１６】
参照光学系は、ビームスプリッタ２４と、参照ミラー２２によって構成されている。光源装置１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２の参照面２２ａに照射され、参照ミラー２２の参照面２２ａによって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置１では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。
【００１７】
異常検出光学系は、ビームスプリッタ２４と、ビームスプリッタ２８と、ミラー７０によって構成されている。光源装置１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４を介してビームスプリッタ２８で反射され、ミラー７０の反射面７０ａに照射され、ミラー７０の反射面７０ａで反射される。ミラー７０で反射された光は、ビームスプリッタ２８及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。本実施例の眼科装置１では、ミラー７０の配置位置は固定されている。このため、異常検出光学系により導かれる光（以下、異常検出光ともいう）の光路長は一定で変化しない。
【００１８】
また、図３に示すように、異常検出光学系は、ゼロ点を基準にしてミラー７０の位置が設定されており、ゼロ点を被検眼１００より光源装置１２側の位置に設定した場合に、ゼロ点からの光路長Ｌ１が、ゼロ点から被検眼１００の網膜１０６までの距離よりも長くなるように設定されている。ここで、ゼロ点とは、参照光学系の光路長（参照光路長）と測定光学系の光路長（測定光路長）とが同一となる点を意味する。本実施例では、ゼロ点の位置は所定の位置（例えば、角膜１０２の前面からわずかに光源装置１２側にずれた位置）に設定されている。異常検出光学系のゼロ点からの光路長Ｌ１を、ゼロ点から被検眼１００の網膜１０６までの距離よりも長くなるように設定することによって、ミラー７０の反射面７０ａが被検眼１００の測定領域（角膜１０２前面から網膜１０６までの領域）に重なることなく検出される。このため、反射面７０ａの位置を容易に特定することができる。
【００１９】
受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した測定用干渉光と、参照光学系による導かれた光と異常検出光学系により導かれた光とを合成した異常検出用干渉光を検出する。受光素子２６は、測定用干渉光と異常検出用干渉光を受光すると、それに応じた干渉信号を出力する。すなわち、測定用干渉光による信号（測定用干渉信号）と、異常検出用干渉光による信号（異常検出用干渉信号）を出力する。これらの信号は、演算装置６４に入力される。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。
【００２０】
観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、光源装置１２からの光を反射する一方で、観察光学系５０の光源装置からの光を透過する。このため、本実施例の眼科装置１では、干渉光学系１４による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。
【００２１】
なお、本実施例の眼科装置１では、被検眼１００に対して測定部１０の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。第１駆動装置５４を駆動することで、被検眼１００に対する測定部１０の位置が調整される。
【００２２】
次に、本実施例の眼科装置１の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置１は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６４には、光源装置１２と、第１〜第３駆動装置５４〜５８と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源装置１２のオン／オフを制御し、第１〜第３駆動装置５４〜５８を制御することで位置調整機構１６、焦点調整機構４０、ガルバノスキャナ４６を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。
【００２３】
また、演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光（すなわち、測定用干渉光及び異常検出用干渉光）の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）及びミラー７０の反射面７０ａの位置を特定し、これらを用いて被検眼１００の眼軸長を算出する。
【００２４】
次に、実施例に係る眼科装置１を用いて、被検眼１００を測定したときの測定状態の異常を検出する処理について説明する。被検眼１００を測定する際に、例えば、眼科装置１に振動や衝撃等が発生することによって干渉信号に異常が生じたり、光源装置１２を駆動する電流の変化や光源装置１２の温度が変化することによって発振波長が変化（いわゆる、モードホップ）したりすると、干渉光から得られる干渉信号に異常が生じる。したがって、このような異常が生じている状態では、被検眼１００を正確に測定することができず、このような状態で被検眼１００を測定したデータを用いて断層画像を生成しても、被検眼１００の状態を正確に把握することができない。本実施例の眼科装置１は、上記のような測定時の異常を検出し、異常が生じている状態で測定したデータを排除して、正常な状態で測定したデータのみを用いて断層画像を生成する。以下に、図３〜図６を参照して、被検眼１００を測定したときの測定状態の異常を検出する処理について説明する。
【００２５】
図４に示すように、まず、演算装置６４は、干渉信号（すなわち、測定用干渉信号と異常検出用干渉信号）を取得する（Ｓ１２）。干渉信号の取得は、以下の手順で行われる。まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う。すなわち、演算装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。また、演算装置６４は、第２駆動装置５６を駆動して、焦点調整機構４０を調整する。これによって、光源１２から被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の所定の位置（例えば、角膜１０２の前面）となる。
【００２６】
次いで、演算装置６４は、光源装置１２から照射される光の周波数を変化させながら、受光素子２６で検出される信号を取り込む。上述したように、受光素子２６から出力される干渉信号は、図５に示すように、信号強度が時間によって変化する信号となり、この信号には被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）及びミラー７０の反射面７０ａから反射された各反射光と参照光とを合成した干渉波による信号が含まれている。そこで、演算装置６４は、受光素子２６から入力する信号をフーリエ変換することで、その信号から被検眼１００の各部（角膜１０２の前面及び後面、水晶体１０４の前面及び後面、網膜１０６の表面）及び反射面７０ａから反射された反射光による干渉信号成分を分離する（図５の下段のグラフ参照）。これにより、演算装置６４は、被検眼１００の各部の位置及び反射面７０ａの位置を特定することができる。
【００２７】
干渉信号を取得すると、演算装置６４は、異常検出用干渉信号（すなわち、反射面７０ａから反射された反射光と参照光とを合成した干渉波による信号）が正常であるか否かを判定する（Ｓ１４）。上述したように、異常検出光の光路長は一定で変化しない。このため、図５に示すように、フーリエ変換後の異常検出用干渉信号は、常に一定の深さ方向の位置に検出される。また、異常検出光学系のゼロ点からの光路長Ｌ１は、ゼロ点から被検眼１００の網膜１０６までの距離よりも長くなるように設定されている（図３参照）。これによって、反射面７０ａの位置は、被検眼１００の測定領域の範囲外（詳細には、測定領域より深い位置）に検出される。このため、測定用干渉信号と異常検出用干渉信号を含む干渉信号をフーリエ変換することで、これら干渉信号の中から、異常検出用干渉信号を特定することができる。そして、演算装置６４は、特定した異常検出用干渉信号（詳細には、フーリエ変換後の信号波形、例えば、点像分布関数信号波形）の深さ方向の位置と波形の形状（以下、ピーク形状ともいう）が正常であるか否かを判断することによって、異常検出用干渉信号が正常であるか否かを判定する。
【００２８】
詳細には、演算装置６４は、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置が所定範囲内であり、かつ、異常検出用干渉信号のピーク形状のピークの高さ及び幅が所定範囲内である場合（図６（ａ）参照）、異常検出用干渉信号が正常であると判定する。一方、演算装置６４は、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置が所定範囲外である場合や、異常検出用干渉信号のピーク形状のピークの高さ又は幅が所定範囲外である場合（図６（ｂ）参照）、異常検出用干渉信号が異常であると判定する。具体的には、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置が所定範囲外の場合は、異常検出用干渉信号のピーク形状が正常であるか否かにかかわらず、異常検出用干渉信号が異常であると判定される。一方、異常検出用干渉信号の深さ方向の位置が所定範囲である場合は、異常検出用干渉信号のピーク形状（ピーク高さ及び幅）に基づいて異常検出用干渉信号が異常か否かが判定される。例えば、異常検出用干渉信号のピーク形状のピークの高さが所定範囲であっても、ピーク形状の幅が所定範囲外の場合は、異常検出用干渉信号が異常であると判定される。同様に、異常検出用干渉信号のピーク形状の幅が所定範囲であっても、ピーク形状のピークの高さが所定範囲外の場合は、異常検出用干渉信号が異常であると判定される。なお、深さ方向の位置やピーク形状に関する上記の「所定範囲」は特に限定されるものではなく、適宜選択できる。
【００２９】
異常検出用干渉信号が正常ではない（異常である）と判定された場合（ステップＳ１４でＮＯ）、演算装置６４は、ステップＳ１２で取得した全ての干渉信号（すなわち、測定用干渉信号及び異常検出用干渉信号）が異常であると判定する（Ｓ１６）。本実施例の眼科装置１を用いて正常な状態で測定された場合、フーリエ変換後の異常検出用干渉信号は、既知の深さ方向の位置に既知のピーク形状で検出される。換言すると、フーリエ変換後の異常検出用干渉信号が正常に検出されない場合には、何らかの原因（例えば、振動や衝撃、モードホップ等）によって眼科装置１による測定が正常に行われなかったと判断できる。このように測定時に異常が生じると、異常検出用干渉信号だけでなく、同時に取得された測定用干渉信号も正常に測定されていないと判断できる。したがって、演算装置６４は、異常検出用干渉信号が異常であると判定したとき（ステップＳ１４でＮＯ）、測定用干渉信号も異常であると判定する。そして、演算装置６４は、異常と判定した全ての干渉信号（測定用干渉信号及び異常検出用干渉信号）のデータを廃棄する（Ｓ１８）。
【００３０】
一方、異常検出用干渉信号が正常であると判定した場合（ステップＳ１４でＹＥＳ）、演算装置６４は、ステップＳ１２で取得した全ての干渉信号（すなわち、測定用干渉信号及び異常検出用干渉信号）が正常に測定されたと判定する（Ｓ２０）。すなわち、フーリエ変換後の異常検出用干渉信号が正常に検出されているため、正常な状態で測定されたと判断される。これによって、この異常検出用干渉信号と同時に取得された測定用干渉信号についても、正常な状態で測定されたものであると判定される。そして、演算装置６４は、全ての干渉信号（測定用干渉信号及び異常検出用干渉信号）のデータをメモリ（図示省略）に記憶する（Ｓ２２）。
【００３１】
上記の処理は各走査角において実行される。これによって、異常が生じている状態で測定されたデータは廃棄されるため、正常な状態で測定したデータのみで構成される断層画像を生成することができる。断層画像内に異常な状態で測定されたデータが含まれていると、断層画像内に歪みが生じる。このような歪みがあると、被検眼１００の状態を正確に評価し難くなる。異常な状態で測定されたデータを排除して断層画像を生成することによって、測定状態の異常に起因する歪みを排除することができ、被検眼１００の状態を正確に評価することができる。
【００３２】
なお、本実施例では、ゼロ点を被検眼１００より光源装置１２側の位置に設定し、異常検出光学系のゼロ点からの光路長Ｌ１は、ゼロ点から被検眼１００の網膜１０６までの距離よりも長くなるように設定されていたが、このような構成に限定されない。反射面７０ａの位置が、被検眼１００の測定領域の範囲外に検出されるように構成されていればよく、例えば、異常検出光学系のゼロ点からの光路長は、ゼロ点から被検眼１００の角膜１０２までの距離よりも短くなるように設定されていてもよい。また、ゼロ点を被検眼１００に対して光源装置１２から離れる位置に設定し、異常検出光学系のゼロ点からの光路長Ｌ２が、ゼロ点から被検眼１００の角膜１０２までの距離よりも長くなるように設定してもよいし（図７参照）、ゼロ点から被検眼１００の網膜１０６までの距離よりも短くなるように設定してもよい。また、異常検出光学系の光路長は、光源装置１２からゼロ点までの距離より長くなるように設定してもよいし、光源装置１２からゼロ点までの距離より短くなる位置に設定してもよい。例えば、異常検出光学系の光路長がゼロ点から光路長Ｌ１分だけ長くなるように（図３に示す位置に）設定してもよいし、ゼロ点から同じ光路長Ｌ１分だけ短くなるように設定してもよい。いずれの場合であっても、ゼロ点からの距離が同じであるため、取得されたデータでは異常検出用干渉信号は同じ位置に検出される。
【００３３】
また、本実施例では、ゼロ点の位置とミラー７０の位置は予め設定された位置に固定されていたが、このような構成に限定されない。反射面７０ａの位置が被検眼１００の測定領域の範囲外に検出されるように構成されていればよく、例えば、ゼロ点の位置が調整可能に構成されていると共に、ミラー７０の位置が調整可能に構成されていてもよい。このような場合であっても、ゼロ点の位置の調整後に、ゼロ点を基準としてミラー７０の位置を調整して、異常検出光学系のゼロ点からの光路長を上述したような所定の長さに設定することによって、反射面７０ａの位置を容易に特定することができる。
【００３４】
また、本実施例の眼科装置１は、異常検出光学系がミラー７０を備えていたが、このような構成に限定されない。異常検出光学系が光路長が既知の異常検出光を導くように構成されていればよく、例えば、異常検出光学系は、ファイバ長が予め所定長さに調整された光ファイバを用いて、光路長が既知の異常検出光を導くように構成されていてもよい。また、異常検出光学系には、ミラー７０を配置する代わりに、散乱体を配置してもよい。異常検出光学系に散乱体を配置することによって、異常検出光の軸ずれを抑制することができる。
【００３５】
また、本実施例では、取得した干渉信号が正常であるか否かを判断し、異常と判断されたデータを廃棄していたが、このような構成に限定されない。例えば、演算装置６４は、各走査角における全ての干渉信号を取得（記憶）した後に、各走査角における干渉信号がそれぞれ正常であるか否かを判定してもよい。この場合、異常と判断されたデータについても廃棄せず、異常と判断されたデータを用いずに、正常と判断されたデータのみを選択して断層画像を生成してもよい。
【００３６】
また、本実施例では、眼科装置１が備える演算装置６４が上記の異常検出処理を実行するように構成されていたが、このような構成に限定されない。例えば、外部の演算装置に本実施例の眼科装置１で取得した干渉信号のデータを入力し、当該演算装置において異常検出処理を実行して断層画像を生成してもよい。
【００３７】
また、本実施例の眼科装置１は、波長掃引型の光源装置１２を備えたフーリエドメイン方式（ＳＳ−ＯＣＴ方式）の眼科装置であったが、このような構成に限定されない。例えば、眼科装置は、スペクトルドメイン方式（ＳＤ−ＯＣＴ方式）であってもよいし、タイムドメイン方式（ＴＤ−ＯＣＴ方式）であってもよい。
【００３８】
以上、本明細書に開示の技術の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。
【符号の説明】
【００３９】
１：眼科装置
１０：測定部
１２：光源装置
１４：干渉光学系
１６：位置調整機構
２２：参照ミラー
２６：受光素子
４０：焦点調整機構
４６：ガルバノスキャナ
５０：観察光学系
６４：演算装置
７０：ミラー
１００：被検眼
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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