(57)【要約】【課題】従来よりも簡易な構成で、見口の汚れを検知可能な技術を提供する。【解決手段】検眼装置は、見口と、光源と、受光系と、制御部と、を備える。光源は、見口を介して被検眼の角膜に測定光を照射するように構成される。受光系は、見口を介して角膜からの反射光を受光するセンサを備える。制御部は、センサからの受光信号に含まれる角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、被検眼の角膜厚を測定するように構成される（Ｓ１３０）。制御部は更に、角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、見口が汚れているか否かを判定するように構成される（Ｓ１４０）。【選択図】図４
2020039701.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
見口と、
前記見口を介して被検眼の角膜に測定光を照射するように構成される光源と、
前記見口を介して前記角膜からの反射光を受光するセンサを備える受光系と、
前記センサからの受光信号に含まれる角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、前記被検眼の角膜厚を測定するように構成される制御部と、
を備え、前記制御部は更に、前記角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、前記見口が汚れているか否かを判定するように構成される検眼装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記見口が汚れていると判定したときに、前記見口が汚れていることを、表示器を介して報知する請求項１記載の検眼装置。
【請求項３】
前記検眼装置は、前記被検眼の眼圧を測定するための測定系を備え、パキメータ及びトノメータとして機能し、
前記見口には、前記眼圧の測定時に圧縮空気が送出される開口部が設けられている請求項１又は請求項２記載の検眼装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記角膜内皮の信号波形から前記角膜上皮の信号波形までの前記受光信号の波形変化に基づき、前記見口が汚れているか否かを判定する請求項１〜請求項３のいずれか一項記載の検眼装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記角膜内皮の信号波形が示す第一のピークと前記角膜上皮の信号波形が示す第二のピークとの間の谷部の高さ、前記第二のピークの幅、前記第二のピークの面積、前記第一のピークのピークエンドから前記第二のピークのピークトップまでの区間の近似直線の傾き、前記近似直線の前記角膜上皮の信号波形からの乖離度、前記第一のピークのピークエンドから前記第二のピークのピークトップまでの区間の局所ピークの数の少なくとも一つに基づき、前記見口が汚れているか否かを判定する請求項１〜請求項４のいずれか一項記載の検眼装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記角膜内皮の信号波形が示す第一のピークと前記角膜上皮の信号波形が示す第二のピークとの間の谷部の高さ、及び、前記第二のピークの幅に基づき、前記見口が汚れているか否かを判定する請求項１〜請求項４のいずれか一項記載の検眼装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、検眼装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼に対向する見口の汚れを検知する機能を備えた検眼装置が既に知られている（例えば、特許文献１参照）。例えば、検眼装置は、被検眼の角膜に所定の位置関係を有する複数の指標を投影し、角膜に投影された複数の指標の光量レベルに基づき、見口周辺の光学部材の汚れを検知する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−２１０４１３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来装置は、光学部材を通る光の光量レベル、及び、光学部材を通らない光の光量レベルに基づき、光学部材の汚れを検知するため、汚れ検知のための構造が複雑であった。
【０００５】
そこで、本開示の一側面によれば、従来よりも簡易な構成で、見口の汚れを検知可能な検眼装置を提供できることが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示の一側面に係る検眼装置は、見口と、光源と、受光系と、制御部と、を備える。光源は、見口を介して被検眼の角膜に測定光を照射するように構成される。受光系は、見口を介して角膜からの反射光を受光するセンサを備える。制御部は、センサからの受光信号に含まれる角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、被検眼の角膜厚を測定するように構成される。制御部は更に、角膜内皮の信号波形と角膜上皮の信号波形とに基づき、見口が汚れているか否かを判定するように構成される。
【０００７】
この検眼装置によれば、角膜厚測定に用いる光学系からの受光信号に基づいて、見口が汚れているか否かを判定することができる。従って、本開示の一側面によれば、従来よりも簡易な構成で、見口の汚れを検知可能な検眼装置を提供することができる。
【０００８】
本開示の一側面によれば、制御部は、見口が汚れていると判定したときに、見口が汚れていることを、表示器を介して報知してもよい。
【０００９】
本開示の一側面によれば、検眼装置は、被検眼の眼圧を測定するための測定系を備え、パキメータ及びトノメータとして機能してもよい。見口には、眼圧の測定時に圧縮空気が送出される開口部が設けられていてもよい。トノメータとして機能する検眼装置によれば、圧縮空気を被検眼に当てる際に、見口が汚れやすい。この見口の汚れを、角膜厚の測定のための構成を用いて検知することは、検眼装置の簡素化に貢献する。
【００１０】
本開示の一側面によれば、制御部は、角膜内皮の信号波形から角膜上皮の信号波形までの受光信号の波形変化に基づき、見口が汚れているか否かを判定してもよい。
【００１１】
例えば、制御部は、角膜内皮の信号波形が示す第一のピークと角膜上皮の信号波形が示す第二のピークとの間の谷部の高さ、第二のピークの幅、第二のピークの面積、第一のピークのピークエンドから第二のピークのピークトップまでの区間の近似直線の傾き、近似直線の角膜上皮の信号波形からの乖離度、第一のピークのピークエンドから第二のピークのピークトップまでの区間の局所ピークの数の少なくとも一つに基づき、見口が汚れているか否かを判定してもよい。
【００１２】
見口の汚れは、センサまでの光伝播に影響を与え、第二のピークの立ち上がりに影響を与える。従って、上述したパラメータを用いることで、見口が汚れているか否かを良好に判定することができる。
【００１３】
本開示の一側面によれば、制御部は、角膜内皮の信号波形が示す第一のピークと角膜上皮の信号波形が示す第二のピークとの間の谷部の高さ、及び、第二のピークの幅に基づき、見口が汚れているか否かを判定してもよい。この判定手法によれば、比較的簡単に、見口の汚れを判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】検眼装置の外観構成を表す図である。
【図２】検眼装置の内部構成を表すブロック図である。
【図３】光学系の構成を表す図である。
【図４】制御装置が実行する角膜厚測定に関する処理のフローチャートである。
【図５】角膜からの反射光成分を含む受光信号の波形グラフであって、下段に見口が汚れていないときの波形を表し、上段に見口が汚れているときの波形を表すグラフである。
【図６】制御装置が実行する汚れ判定に関する処理のフローチャートである。
【図７】図７Ａ及び図７Ｂは、汚れ判定に用いるパラメータを説明した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下に、本開示の例示的実施形態を、図面を参照しながら説明する。
図１に示す本実施形態の検眼装置１は、被検眼Ｅの角膜の厚みを測定するパキメータ、及び、眼圧を測定するトノメータとして機能するように構成される。この検眼装置１は、ヘッド部３と、本体部５と、支持構造７と、ディスプレイ９とを備える。
【００１６】
ヘッド部３は、本体部５に対してＸＹＺ（左右、上下、前後）方向に相対移動可能に取り付けられている。支持構造７は、被検者の顔、特には、被検者の顎を支持するように構成され、本体部５に固定される。ディスプレイ９は、ヘッド部３の被検者と向き合う前部とは反対側の後部に設けられる。検眼時には、被検者の顔が支持構造７に配置される。これにより、被検眼Ｅの位置は、被検者の顔が支持構造７に支えられることにより安定する。検眼時には、更に、ヘッド部３が本体部５に対してＸＹＺ方向に相対移動して、ヘッド部３に内蔵される光学系が、被検眼Ｅに位置合わせされる。
【００１７】
図２に示すように、ヘッド部３は、アライメント光学系１００、観察光学系３００、固視光学系４００、第一測定光学系５００、及び第二測定光学系６００を上記光学系として備える。
【００１８】
本体部５は、制御装置７００、記憶装置７１０、ＸＹＺ駆動制御系７２０、及び操作系７４０を備える。制御装置７００は、検眼装置１の全体を統括制御し、被検眼Ｅの測定データを処理するように構成される。制御装置７００は、例えば、プロセッサ７０１及び一時記憶メモリ７０３を備え、記憶装置７１０が記憶するプログラムに従う処理をプロセッサ７０１が実行するように構成される。記憶装置７１０は、例えばフラッシュメモリ等の、電気的にデータ書換可能な不揮発性メモリで構成される。
【００１９】
ＸＹＺ駆動制御系７２０は、制御装置７００からの指示に基づき、ヘッド部３を本体部５に対してＸＹＺ方向に相対移動させるように構成される。操作系７４０は、検査者からの操作を受け付けるために、ジョイスティック７４１を備える。更に、タッチパネル（図示せず）が、操作系７４０の一部として、ディスプレイ９の画面上に設けられてもよい。ディスプレイ９は、制御装置７００に制御されて、被検眼Ｅの画像、並びに、測定された眼圧及び角膜厚等の各種情報を検査者に向けて表示するように構成される。
【００２０】
図３に示すように、ヘッド部３に内蔵されるアライメント光学系１００は、光源１０１、ホットミラー１０２、対物レンズ１０３、及びホットミラー１０４を備える。光源１０１は、アライメント光を出力するように構成される。
【００２１】
光源１０１からのアライメント光は、ホットミラー１０２で反射され、対物レンズ１０３を通り、ホットミラー１０４で反射された後、見口２００を通って、被検眼Ｅの角膜に向けて照射される。光源１０１は、例えば、赤外光を出力するＬＥＤである。
【００２２】
見口２００は、ノズル２０１及び平面ガラス２０５を備える。ノズル２０１は、被検眼Ｅと対向する透明な窓部材２０１ａと、窓部材２０１ａの中央に噴射口２０１ｂを形成する圧縮空気の噴射路としての開口部２０１ｃと、を備え、眼圧測定時には、この開口部２０１ｃを通じて噴射口２０１ｂから被検眼Ｅに向けて圧縮空気が送出される。上記ホットミラー１０４で反射されたアライメント光は、見口２００の平面ガラス２０５及びノズル２０１の開口部２０１ｃを通って、被検眼Ｅに照射される。
【００２３】
被検眼Ｅの角膜で反射された光は、主光軸Ｏ１上に配置された、観察光学系３００の二次元撮像素子（ＣＣＤ）３０６で受光される。これにより、アライメント光に対応する反射光は、二次元撮像素子３０６で撮影される。反射光の撮影画像を含む二次元撮像素子３０６からの画像信号は、制御装置７００で処理される。制御装置７００は、この画像信号に含まれる反射光に基づいて、被検眼Ｅの角膜頂点のＸＹ方向の位置を検出する。ＸＹＺ駆動制御系７２０は、検出されたＸＹ方向の位置に基づき、ヘッド部３を被検眼Ｅに対してＸＹ方向に位置合わせするように移動させる。
【００２４】
観察光学系３００は、光源３０１、光源３０２、対物レンズ３０３、ダイクロイックミラー３０４、結像レンズ３０５、及び二次元撮像素子３０６を備える。光源３０１及び光源３０２は、被検眼Ｅの前眼部領域を照明するように設けられる。光源３０１及び光源３０２には、アライメント用の光源１０１よりも短波長の赤外光を出力するＬＥＤが採用される。以下では、光源３０１及び光源３０２からの光を観察光と表現する。
【００２５】
光源３０１及び光源３０２からの観察光は、被検眼Ｅで反射する。その反射光は、ホットミラー１０４を透過し、対物レンズ３０３、ダイクロイックミラー３０４、結像レンズ３０５を通って、二次元撮像素子（ＣＣＤ）３０６で受光される。この受光動作により、被検眼Ｅの前眼部領域は、二次元撮像素子３０６で撮影され、二次元撮像素子３０６からは、その撮影画像を表す画像信号が出力される。制御装置７００は、この二次元撮像素子３０６からの画像信号に基づき、被検眼Ｅの前眼部画像を、ディスプレイ９に表示させるように、ディスプレイ９を制御する。
【００２６】
この他、固視光学系４００は、光源４０１、リレーレンズ４０３、及び反射ミラー４０４を備える。光源４０１は、被検者の固視を促す光（以下、固視光と表現する。）を照射するように動作する。この固視光は、リレーレンズ４０３を通り、反射ミラー４０４で反射した後、ダイクロイックミラー３０４で反射して主光軸Ｏ１を通り、対物レンズ３０３、ホットミラー１０４を通って、被検眼Ｅの網膜上で結像する。この固視光により、被検眼Ｅは、眼圧検査などの眼特性を検査可能な固視状態に置かれる。光源４０１には、被検者が視認可能な可視光を出力するＬＥＤが採用される。
【００２７】
眼圧測定用の第一測定光学系５００は、光源５０１、ハーフミラー５０２、集光レンズ５０３、及び受光素子５０４を備える。光源５０１からの光（以下、第一測定光と表現する。）は、ハーフミラー５０２を透過後、ホットミラー１０２及び対物レンズ１０３を透過し、ホットミラー１０４で反射して主光軸Ｏ１を通り、平面ガラス２０５、ノズル２０１の開口部２０１ｃを通って、被検眼Ｅの角膜に照射される。
【００２８】
被検眼Ｅの角膜に照射した光は、角膜で反射し、往路を戻るように、ノズル２０１の開口部２０１ｃ及び平面ガラス２０５を通り、ホットミラー１０４で反射し、対物レンズ１０３及びホットミラー１０２を通り、ハーフミラー５０２で反射し、集光レンズ５０３を通って、受光素子５０４で受光される。
【００２９】
眼圧検査時には、ノズル２０１から圧縮空気が被検眼Ｅの角膜に向けて噴射される。圧縮空気が噴射されると被検眼Ｅの角膜が変位変形し、これにより受光素子５０４で受光される光量が変化する。被検眼Ｅの眼圧は、この光量の変化の度合いから算出される。
【００３０】
光源５０１には、観察光より長波長で、且つ、アライメント光より短波長の赤外光を出力するＬＥＤが採用される。このように、アライメント光、観察光、固視光、第一測定光の波長が設定され、ホットミラー１０２、１０４及びダイクロイックミラー３０４の反射／透過特性が適宜設定されることにより、これら４つの光は適切な光路に沿って伝播する。
【００３１】
角膜厚測定用の第二測定光学系６００は、光源６０１、レンズ６０２、円柱レンズ６０３、及び受光素子６０４を備える。光源６０１からの光（以下、第二測定光と表現する。）は、レンズ６０２により平行光に変換された後、見口２００の透明な窓部材２０１ａを通って被検眼Ｅの角膜に照射される。角膜に照射された第二測定光は、被検眼Ｅの角膜内皮および角膜上皮で反射する。これらの反射光は、見口２００の透明な窓部材２０１ａを通って円柱レンズ６０３を通り受光素子６０４で受光される。光源６０１には、例えば、可干渉性を有するスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）が採用される。光源６０１には、ＳＬＤに限らずレーザーダイオード（ＬＤ）のように可干渉性をもつ光源（ダイオード）が採用されてもよい。
【００３２】
光源６０１として可干渉性光源を用いた場合には、スペックルノイズが発生し、角膜厚の測定精度が低下する可能性があるが、上記のように被検眼Ｅの角膜内皮および角膜上皮で反射された第二測定光を、円柱レンズ６０３を通しライン状の光とすることにより、スペックルノイズを低減することができる。
【００３３】
受光素子６０４からの受光信号は、制御装置７００で処理される。制御装置７００は、この受光信号から特定される被検眼Ｅの角膜内皮からの反射光と、角膜上皮からの反射光との受光面上の受光位置の差に基づき、被検眼Ｅの角膜厚を測定するように動作する。
【００３４】
付言すれば、第二測定光学系６００は、検眼前にＺアライメント光学系としても利用される。受光素子６０４における反射光の受光位置は、被検眼Ｅの角膜のＺ方向の位置に応じて変化する。制御装置７００は、この受光位置に基づき、被検眼Ｅの角膜のＺ方向の位置を検出する。ＸＹＺ駆動制御系７２０は、この検出位置に基づき、被検眼Ｅに対するヘッド部３のＺ方向の位置を調整する。
【００３５】
検眼装置１において、被検眼Ｅに対するヘッド部３のＺ方向の位置合わせは、例えばジョイスティック７４１を用いて手動で粗く行われ（粗アライメント）、その後、第二測定光に基づいて、自動で精度よく行われる（精アライメント）。上述したように、被検眼Ｅに対するヘッド部３のＸＹ方向の位置合わせも同様に、例えば、ジョイスティック７４１を用いて手動で粗く行われ（粗アライメント）、その後、アライメント光に基づいて、自動で精度よく行われる（精アライメント）。
【００３６】
続いて、制御装置７００が角膜厚の測定時に実行する処理の詳細を、図４を用いて説明する。制御装置７００は、操作系７４０を通じて検査者から角膜厚の測定指示が入力されると、図４に示す処理を開始する。
【００３７】
図４に示す処理を開始すると、制御装置７００は、測定前処理を実行する（Ｓ１１０）。測定前処理では、角膜厚の測定のための準備動作が制御装置７００の制御の下、検眼装置１内で行われる。
【００３８】
具体的に、制御装置７００は、検眼装置１内各部を制御し、観察用の光源３０１、３０２、アライメント用の光源１０１、固視用の光源４０１及び角膜厚測定用の光源６０１を点灯させる。
【００３９】
更に、制御装置７００は、検査者によるジョイスティック７４１の操作に応じて、ヘッド部３をＸＹＺ方向に粗アライメントする。制御装置７００は、粗アライメントによりヘッド部３が自動アライメント可能な位置に調整されると、ＸＹＺ駆動制御系７２０と協働して、ヘッド部３を自動で精度よく位置合わせする（精アライメント）。また、光源４０１からの固視光の照射により、被検眼Ｅの固視状態を形成する。
【００４０】
その後、制御装置７００は、光源６０１から第二測定光を被検眼Ｅの角膜に照射する（Ｓ１２０）。この照射により、角膜からの反射光が、受光素子６０４で受光される。制御装置７００は、この受光信号を受光素子６０４から取得し、取得した受光信号を解析する（Ｓ１３０）。受光信号には、角膜内皮からの反射光成分及び角膜上皮からの反射光成分が含まれる。
【００４１】
具体的に、受光信号は、受光素子６０４の受光面における受光強度の一次元空間分布を表す画像信号である。受光素子６０４は、反射光の一次元空間分布を測定可能なラインセンサであり、被検眼Ｅを通るＺ軸を中心に、光源６０１とは対照的な位置に存在する。
【００４２】
角膜内皮及び角膜上皮は、角膜内皮及び角膜上皮のＺ方向の位置が異なることから、角膜内皮及び角膜上皮からの反射光は、受光素子６０４の受光面上の異なる位置で受光される。このため、横軸を受光位置、縦軸を受光強度に設定したグラフに、受光信号が示す各受光位置（画素）の受光強度をプロットしたとき、角膜内皮からの反射光成分及び角膜上皮からの反射光成分は、横軸上の異なる位置に急峻な山を形成するピーク信号波形として現れる。
【００４３】
Ｓ１３０において、制御装置７００は、角膜内皮からの反射光に対応するピーク信号波形Ｐ１と、角膜上皮からの反射光に対応するピーク信号波形Ｐ２との受光位置の差Ｄを計算することにより、角膜厚を測定する。図５の下段に示す受光強度のグラフは、正常時の受光信号の波形の例を示す。図５下段に示すグラフから理解できるように、正常時の受光信号には、角膜内皮に対応するピーク信号波形Ｐ１と、角膜上皮に対応するピーク信号波形Ｐ２と、が急峻なピーク信号波形として現れる。
【００４４】
これに対し、図５の上段に示す受光強度のグラフは、見口２００の窓部材２０１ａに汚れが付着しているときの受光信号の波形の例を示す。光源６０１からの第二測定光は、窓部材２０１ａを透過して被検眼Ｅの角膜に照射され、その反射光も窓部材２０１ａを透過して受光素子６０４で受光される。
【００４５】
見口２００の窓部材２０１ａが汚れている場合には、汚れに起因する乱反射等で、ピーク信号波形Ｐ１，Ｐ２の急峻度が弱まり、角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１のピークスタートから角膜上皮のピーク信号波形Ｐ２のピークエンドまでの受光信号の波形が、正常時とは大きく変化する。特に、ピーク信号波形Ｐ１のピークエンドからピーク信号波形Ｐ２のピークトップまでのピーク信号波形Ｐ２の立ち上がり区間における受光信号の波形が、正常時とは大きく変化する。
【００４６】
本実施形態の制御装置７００は、このような受光信号の波形の変化を検知して、見口２００の汚れを検知する。このために、制御装置７００は、Ｓ１３０において、角膜内皮に対応するピーク信号波形Ｐ１のピークエンドにおける受光強度Ａ２を特定する。受光強度Ａ２は、角膜内皮に対応するピーク信号波形Ｐ１と角膜上皮に対応するピーク信号波形Ｐ２との間の谷の高さに対応する。
【００４７】
更に、制御装置７００は、ピーク信号波形Ｐ２の立ち上がりの緩慢さを表す値として、ベースラインの受光強度Ａ１と、ピーク信号波形Ｐ２のピークトップにおける受光強度Ａ６との中間の受光強度Ａ４＝（Ａ１＋Ａ６）／２における、ピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗを算出する。幅Ｗは、ピーク信号波形Ｐ２の上昇区間において受光強度が値Ａ４を上回る受光位置から、ピーク信号波形Ｐ２の下降区間において、受光強度が値Ａ４を下回る受光位置までの距離に対応する。
【００４８】
その後、制御装置７００は、Ｓ１３０における受光信号の解析結果に基づいて、見口２００が汚れているか否かを判定する（Ｓ１４０）。汚れは、例えば、眼圧測定時に、被検眼Ｅから飛散した涙液が窓部材２０１ａの表面に付着することにより現れる。
【００４９】
Ｓ１４０において、制御装置７００は、図６に示す処理を実行することができる。図６によれば、制御装置７００は、谷の高さ（受光強度Ａ２）が、予め定められた第一の閾値以上であるか否かを判断し（Ｓ２１０）、谷の高さ（受光強度Ａ２）が第一の閾値未満であると判断すると（Ｓ２１０でＮｏ）、見口２００が汚れていないと判定する（Ｓ２４０）。
【００５０】
一方、制御装置７００は、谷の高さ（受光強度Ａ２）が第一の閾値以上であると判断すると（Ｓ２１０でＹｅｓ）、ピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗが、予め定められた第二の閾値以上であるか否かを判断する（Ｓ２２０）。そして、幅Ｗが第二の閾値未満であると判断すると（Ｓ２２０でＮｏ）、見口２００が汚れていないと判定し（Ｓ２４０）、幅Ｗが第二の閾値以上であると判断すると（Ｓ２２０でＹｅｓ）、見口２００が汚れていると判定する（Ｓ２３０）。
【００５１】
このように、制御装置７００は、ピーク信号波形Ｐ１とピーク信号波形Ｐ２との間の谷が浅く、ピーク信号波形Ｐ２の急峻度が低い場合に、見口２００が汚れていると判定し、それ以外の場合には、見口２００は汚れていないと判定する。
【００５２】
Ｓ１４０において、見口２００が汚れていないと判定すると、制御装置７００は、ディスプレイ９に、Ｓ１３０での解析結果に基づく角膜厚の測定値を表示し（Ｓ１５０）、その測定値を、正当な測定値として記憶装置７１０に保存する（Ｓ１６０）。その後、図４に示す処理を終了する。
【００５３】
一方、制御装置７００は、見口２００が汚れていると判定すると（Ｓ１４０でＹｅｓ）、ディスプレイ９を通じて、見口２００が汚れていることを検査者に報知する（Ｓ１７０）。
【００５４】
具体的には、制御装置７００は、ディスプレイ９を制御し、ディスプレイ９に、見口２００が汚れていることを知らせるメッセージと、汚れの除去を検査者に促すメッセージと、を表示させる（Ｓ１７０）。その後、図４に示す処理を終了し、角膜厚の測定値を破棄する。
【００５５】
上述した第一及び第二の閾値は、検眼装置１の製造者が、見口２００に汚れが付着している場合と付着していない場合のそれぞれの受光信号に関する複数の標本を取得し、その標本を解析することにより決定され得る。標本に基づいた閾値の決定により、見口２００の汚れを高精度に検知可能である。
【００５６】
パキメータ及びトノメータとしての機能を有する検眼装置１では、眼圧測定時に見口２００に汚れが付着しやすく、この汚れにより角膜厚の測定精度が低下する可能性がある。しかしながら、本実施形態によれば、角膜厚の測定時に得られる受光信号と同じ受光信号に基づいて、見口２００の汚れを検知することができる。
【００５７】
即ち、本実施形態によれば、専用部品や専用の光学系を検眼装置１に設ける必要なしに、見口２００の汚れを検知することができる。従って、本実施形態によれば、従来よりも簡易な構成で、見口２００の汚れ検知を可能な検眼装置１を提供することができる。本実施形態によれば、測定時に汚れを検知することができることも有意義である。即ち、起動時や測定前など、測定時以外のタイミングで汚れ検知のための動作を行う場合と比較して、無駄なく効率的に汚れを検知することが可能である。起動時にのみ汚れを検知する従来の手法によれば、その後、複数人の眼の検査を行う間に見口が汚れても、その汚れを検知することができない。本実施形態のように、測定時に汚れを検知可能であることは、迅速に汚れを検知し、適切な検査を行うのに有利である。  
【００５８】
付言すると、見口２００の汚れの有無は、ピーク信号波形Ｐ１，Ｐ２の緩慢さとして表れる。この緩慢さについては、谷の高さ及びピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗに限定されず、様々なパラメータを用いて評価することが可能である。
【００５９】
例えば、制御装置７００は、角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１におけるピークトップの受光強度Ａ３と、角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１におけるピークエンドの受光強度Ａ２と、角膜上皮のピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗと、に基づいて、見口２００が汚れているか否かを判定してもよい。
【００６０】
例えば、制御装置７００は、Ｓ１４０において、谷の深さに対応するピーク信号波形Ｐ１のピークトップの受光強度Ａ３とピーク信号波形Ｐ１のピークエンドの受光強度Ａ２との差（Ａ３−Ａ２）が、第一の閾値以下であり、且つ、ピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗが、第二の閾値以上であるとき、見口２００が汚れていると判定し、それ以外の場合には、見口２００が汚れていないと判定してもよい。即ち、Ｓ１４０においては、谷の高さ（Ａ２）に代えて、谷の深さ（Ａ３−Ａ２）が判定に用いられてもよい。
【００６１】
更なる別例によれば、制御装置７００は、ピーク信号波形Ｐ２の幅Ｗに代えて、図７Ａに示すようにピーク信号波形Ｐ２のピークトップ周辺の面積Ｈを、Ｓ１３０で算出し、Ｓ１４０では、谷の高さ（Ａ２）が第一の閾値以上であり（又は深さ（Ａ３−Ａ２）が第一の閾値以下であり）、且つ、上記面積Ｈが第二の閾値以上であるとき、見口２００が汚れていると判定し（Ｓ１４０でＹｅｓ）、それ以外の場合には、見口２００が汚れていないと判定してもよい（Ｓ１４０でＮｏ）。上記面積Ｈは、図７Ａにおいてハッチングされた領域に対応し、予め定められた受光強度Ａ５を超えるピーク信号波形Ｐ２の部分の面積に対応する。
【００６２】
上記面積Ｈは、ピーク信号波形Ｐ２のピークトップとベースラインとの中間の受光強度Ａ４を基準に、受光強度Ａ４を超えるピーク信号波形Ｐ２の部分の面積として算出されてもよい。
【００６３】
更なる別例によれば、Ｓ１４０における判定に、角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１におけるピークエンドから、角膜上皮のピーク信号波形Ｐ２のピークトップまでのピーク信号波形Ｐ２の立ち上がり区間における局所ピークの数Ｎの情報が用いられてもよい。局所ピークは、所定以上の大きさのピーク、例えば、ピークスタートからピークトップまでの差が予め定められた基準以上のピークであってもよい。
【００６４】
例えば、制御装置７００は、第一の指標としての、谷の高さ（Ａ２）が第一の閾値以上であり（又は深さ（Ａ３−Ａ２）が第一の閾値以下であり）、且つ、第二の指標としての、上記面積Ｈが第二の閾値以上であり、且つ、第三の指標としての、局所ピークの数Ｎが予め定められた第三の閾値以上であるときに、見口２００が汚れていると判定し（Ｓ１４０でＹｅｓ）、それ以外の場合には、見口２００が汚れていないと判定してもよい（Ｓ１４０でＮｏ）。
【００６５】
更なる別例によれば、制御装置７００は、図７Ｂに示すように、第四の指標として、角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１におけるピークエンドから、角膜上皮のピーク信号波形Ｐ２のピークトップまでのピーク信号波形Ｐ２の立ち上がりの近似直線Ｌを求め、その傾きを用いて、見口２００が汚れているか否かを判定してもよい（Ｓ１４０）。制御装置７００は、第五の指標として、近似直線Ｌの傾きに代えて、又は、加えて、実際の信号波形の近似直線Ｌからの乖離量を算出し、この乖離量を用いて、見口２００が汚れているか否かを判定してもよい（Ｓ１４０）。乖離量は、実際の信号波形の近似直線Ｌからの二乗誤差和として算出されてもよい。
【００６６】
あるいは、制御装置７００は、上述した第一、第二、第三、第四、第五の指標のうちの一つ以上、二つ以上、三つ以上、四つ以上、又は五つ以上が、対応する条件を満足するときに、見口２００が汚れていると判定し（Ｓ１４０でＹｅｓ）、それ以外の場合には、見口２００が汚れていないと判定してもよい（Ｓ１４０でＮｏ）。上記谷の高さ（Ａ２）及び深さ（Ａ３−Ａ２）の両者が、Ｓ１４０における判定に用いられてもよいし、上記幅Ｗ及び面積Ｈの両者が、Ｓ１４０における判定に用いられてもよい。ピーク信号波形Ｐ１のピークトップの受光強度Ａ３及びピーク信号波形Ｐ１のピークエンドの受光強度Ａ２が、谷の深さ（Ａ３−Ａ２）ではなく、個別の指標として、Ｓ１４０における判定に用いられてもよい。
【００６７】
即ち、制御装置７００は、次のパラメータの一つ以上を指標に、見口２００が汚れているか否かを判定することができる。
（１）角膜内皮のピーク信号波形Ｐ１の高さ（Ａ３）
（２）ピーク信号波形Ｐ１と角膜上皮のピーク信号波形Ｐ２との間の谷の高さ（Ａ２）
（３）ピーク信号波形Ｐ１とピーク信号波形Ｐ２との間の谷の深さ（Ａ３−Ａ２）
（４）ピーク信号波形Ｐ２の立ち上がり区間の傾き
（５）ピーク信号波形Ｐ２の立ち上がり区間の近似直線（Ｌ）からの実信号の乖離度
（６）ピーク信号波形Ｐ２の立ち上がり区間における局所ピークの数（Ｎ）
（７）ピーク信号波形Ｐ２の幅（Ｗ）
（８）ピーク信号波形Ｐ２の面積（Ｈ）
【００６８】
以上に、本開示の例示的実施形態について説明したが、本開示は、上記実施形態に限定されるものではなく、種々の態様を採ることができる。例えば、上記実施形態における１つの構成要素が有する機能は、複数の構成要素に分散して設けられてもよい。複数の構成要素が有する機能は、１つの構成要素に統合されてもよい。上記実施形態の構成の一部は、省略されてもよい。上記実施形態の構成の少なくとも一部は、他の実施形態の構成に対して付加又は置換されてもよい。特許請求の範囲に記載の文言から特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本開示の実施形態である。
【符号の説明】
【００６９】
１…検眼装置、３…ヘッド部、５…本体部、９…ディスプレイ、１００…アライメント光学系、２００…見口、２０１ａ…窓部材、２０１ｂ…噴射口、２０１ｃ…開口部、３００…観察光学系、４００…固視光学系、５００…第一測定光学系、６００…第二測定光学系、６０１…光源、６０２…レンズ、６０３…円柱レンズ、６０４…受光素子、７００…制御装置、７１０…記憶装置、７２０…ＸＹＺ駆動制御系、７４０…操作系。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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