(57)【要約】【課題】超音波探傷の精度を向上させる。【解決手段】超音波プローブ部２０のセンサ部は、被計測物と対向する状態で、超音波探傷により被計測物の状態を計測する。永久磁石列１４，１６が被計測物に設けられ、電磁石２４，２６が超音波プローブ部２０に設けられている。そして、制御部５４が、電磁石２４，２６への通電を切替えることで、永久磁石列１４の磁力と電磁石２４，２６の磁力とにより、超音波プローブ部２０のセンサ部を被計測物１２上の計測位置へ移動させた後に、超音波プローブ部２０のセンサ部を被計測物１２上の計測位置と対向する状態で保持させる。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被計測物と対向する状態で超音波探傷により前記被計測物の状態を計測するプローブと、
前記被計測物及び前記プローブの一方に設けられた永久磁石と、
前記被計測物及び前記プローブの他方に設けられた電磁石と、
前記電磁石への通電を切替えることで、前記永久磁石の磁力と前記電磁石の磁力とにより、前記プローブを前記被計測物上の計測位置へ移動させた後に、前記プローブを前記計測位置と対向する状態で保持させる制御部と、
を含む超音波探傷装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は超音波探傷装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、矩形の板状に成形されたフレキシブルゲルの上面に、磁石片が埋め込まれた一対のフレキシブルレールが固定され、超音波探触子の取付治具に取り付けられた磁石片の磁力によって超音波探触子を保持する構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−１５９３２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載の技術は、超音波探触子の移動を手動で行う構成であるため、超音波探触子による計測位置が正確さに欠けており、被計測物の欠陥などが検知された場合に、検知された欠陥の位置を正確に特定することが困難である。
【０００５】
本発明は上記事実を考慮して成されたもので、超音波探傷の精度を向上できる超音波探傷装置を得ることが目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１記載の発明に係る超音波探傷装置は、被計測物と対向する状態で超音波探傷により前記被計測物の状態を計測するプローブと、前記被計測物及び前記プローブの一方に設けられた永久磁石と、前記被計測物及び前記プローブの他方に設けられた電磁石と、前記電磁石への通電を切替えることで、前記永久磁石の磁力と前記電磁石の磁力とにより、前記プローブを前記被計測物上の計測位置へ移動させた後に、前記プローブを前記計測位置と対向する状態で保持させる制御部と、を含んでいる。
【０００７】
請求項１記載の発明では、被計測物及びプローブの一方に永久磁石が設けられ、他方に電磁石が設けられている。そして制御部は、電磁石への通電を切替えることで、永久磁石の磁力と電磁石の磁力とにより、プローブを被計測物上の計測位置へ移動させた後に、プローブを計測位置と対向する状態で保持させる。このように、電磁石への通電を切替えることで、計測位置へのプローブの移動及びプローブの保持が行われるので、計測位置へのプローブの位置決め精度を向上させることができ、超音波探傷の精度を向上させることができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、超音波探傷の精度を向上できる、という効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態に係る超音波探傷装置を示す斜視図である。
【図２】被計測物の計測面に配置された永久磁石列を示す平面図である。
【図３】超音波プローブ部の平面図及び超音波探傷装置の側面図である。
【図４】第１実施形態に係る超音波探傷処理を示すフローチャートである。
【図５】第１実施形態に係る超音波探傷処理の過程での超音波プローブ部の移動を示す概略図である。
【図６】第２実施形態に係る超音波探傷処理を示すフローチャートである。
【図７】第２実施形態に係る超音波探傷処理の過程での超音波プローブ部の移動を示す概略図である。
【図８】他の態様における超音波探傷装置の側面図である。
【図９】他の態様における超音波探傷装置の側面図である。
【図１０】他の態様における超音波探傷装置の側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明の実施形態の一例を詳細に説明する。
【００１１】
〔第１実施形態〕
図１には第１実施形態に係る超音波探傷装置１０が示されている。超音波探傷装置１０は、超音波プローブ部２０と、被計測物１２の計測面１２Ａ側に配置された永久磁石列１４，１６と、を含んでいる。永久磁石列１４，１６は、その長手方向に沿ってＮ極とＳ極とが交互にかつ一定ピッチ（２α）で配置されている。また、永久磁石列１４，１６は、所定の間隔を隔てて平行となるように被計測物１２の計測面１２Ａに接着されている。
【００１２】
超音波プローブ部２０は、概略形状が扁平な長尺状とされており、超音波プローブ部２０の一端部から順に、支持部２２、センサ部２８、支持部３０、接続部３６及び回路収納部３８が設けられている（図３も参照）。
【００１３】
センサ部２８は、被計測物１２と対向する状態で超音波探傷により被計測物１２の状態を計測するプローブの一部が可撓性を有している。これにより、センサ部２８は可撓性を有しており、被計測物１２の計測面１２Ａが曲面であっても、センサ部２８が計測面１２Ａの曲面に倣って撓むことで被計測物１２の超音波探傷を行うことが可能とされている。センサ部２８はプローブの一例である。
【００１４】
支持部２２は、超音波プローブ部２０の幅方向に沿って配列され、超音波プローブ部２０の下側へ突出するように設けられた２個の電磁石２４，２６を支持している。また、支持部３０は、超音波プローブ部２０の幅方向に沿って配列され、超音波プローブ部２０の下側へ突出するように設けられた２個の電磁石３２，３４を支持している。
【００１５】
支持部２２，３０の間隔（センサ部２８の長さ）は、永久磁石列１４，１６の間隔とほぼ同じとされている。被計測物１２の超音波探傷を行う場合、超音波プローブ部２０は、図２に示すように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６が永久磁石列１４に対応し、支持部３０の２個の電磁石３２，３４が永久磁石列１６に対応するように配置される。そして、後述する電磁石２４，２６，３２，３４の通電を切替えることで、超音波プローブ部２０は、図２の矢印Ａで示す移動方向へ間欠的に移動する。
【００１６】
超音波プローブ部２０の回路収納部３８には、図３に示す電源部５０、スイッチ部５２及び制御部５４を含む回路が収納されており、図示しない外部機器と電気配線で接続されている。また接続部３６には、回路収納部３８に収納された回路と電磁石２４，２６，３２，３４やセンサ部２８のプローブを接続する配線などが設けられている。なお、制御部５４はＣＰＵ、メモリ及び不揮発性の記憶部を含んでいる。なお、回路収納部はプローブと一体とせず外部に設置し、超音波プローブ部と配線で接続されていてもよい。
【００１７】
スイッチ部５２は、個々の電磁石２４，２６，３２，３４に対応して各々設けられたスイッチを含んでいる。スイッチ部５２の個々のスイッチは、対応する電磁石に第１方向の電流を流して電磁石を第１方向に磁化する状態、対応する電磁石に第２方向の電流を流して電磁石を第２方向に磁化する状態、及び、対応する電磁石への通電を停止する状態の何れかに切替可能とされている。被計測物１２の超音波探傷を行う場合、制御部５４は、スイッチ部５２の個々のスイッチの状態を切り替える。
【００１８】
次に第１実施形態の作用を説明する。被計測物１２の超音波探傷を行う場合、超音波プローブ部２０は、前述のように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６が永久磁石列１４に対応し、支持部３０の２個の電磁石３２，３４が永久磁石列１６に対応するように配置される。また、超音波プローブ部２０のセンサ部２８と被計測物１２の計測面１２Ａとの空隙は、図３に示すように接触媒質５６で満たされる。接触媒質５６は液体でもよいし、粘性材料でもよいし、弾性体（例えばゴム等のエラストマー）でもよい。ここで、接触媒質５６は材料の音速が水に近い特性を持つ液体、粘性材料、弾性体である。そして制御部５４は、図４に示す超音波探傷処理を行う。
【００１９】
超音波探傷処理のステップ１００において、制御部５４は、計測位置を表す変数ｎに０を設定する。またステップ１０２において、制御部５４は、図５（Ａ）に示すように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６のうち超音波プローブ部２０の移動方向の上流側に位置している電磁石（以下、上流側電磁石という）２４が第１方向（例えば上流側電磁石２４の先端側がＳ極となる方向）に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、図示は省略するが、支持部３０の２個の電磁石３２，３４のうち上流側電磁石３２が第２方向（例えば上流側電磁石３２の先端側がＮ極となる方向）に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００２０】
これにより、図５（Ａ）,（Ｂ）に示すように、上流側電磁石２４の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、図示は省略するが、上流側電磁石３２の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着されることで、超音波プローブ部２０は、図５（Ａ）,（Ｂ）に示す位置へ移動して保持される。
【００２１】
なお、第１実施形態において、上流側電磁石２４と上流側電磁石３２の磁化の方向が逆になっているのは、永久磁石列１４，１６において、超音波プローブ部２０の移動方向に沿った位置が同一の磁極が異なる極性に着磁されているためである。永久磁石列１４，１６のうち超音波プローブ部２０の移動方向に沿った位置が同一の磁極が同一の極性に着磁されている場合には、上流側電磁石２４と上流側電磁石３２の磁化の方向は同じでよい。
【００２２】
ステップ１０４において、制御部５４は、センサ部２８によって被計測物１２の超音波探傷を行わせ、計測データを取得する。ステップ１０６において、制御部５４は変数ｎを１だけインクリメントする。そして、ステップ１０８において、制御部５４は、ステップ１０４で取得した計測データを、計測開始位置からの計測位置の距離を表す計測位置ｎαと共に記憶部に記憶させる。なお、これに代えて、計測データ及び計測位置ｎαを外部機器へ出力するようにしてもよい。計測位置ｎαは、対応する計測データにより被計測物１２の欠陥が検知された場合に、検知された欠陥の位置を特定するために用いられる。
【００２３】
次のステップ１１０において、制御部５４は、例として図５（Ｃ）に示すように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６のうち超音波プローブ部２０の移動方向の下流側に位置している電磁石（以下、下流側電磁石という）２６が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、図示は省略するが、支持部３０の２個の電磁石３２，３４のうち下流側電磁石３４が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００２４】
これにより、下流側電磁石２６の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極に吸引され、下流側電磁石３４の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図５（Ｃ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図５（Ｄ）に示すように、下流側電磁石２６の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、図示は省略するが、下流側電磁石３４の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００２５】
ステップ１１２において、制御部５４は、センサ部２８によって被計測物１２の超音波探傷を行わせ、計測データを取得する。ステップ１１４において、制御部５４は変数ｎを１だけインクリメントする。そして、ステップ１１６において、制御部５４は、ステップ１１２で取得した計測データを計測位置ｎαと共に記憶部に記憶させる。
【００２６】
次のステップ１１８において、制御部５４は、例として図５（Ｅ）に示すように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６のうち上流側電磁石２４が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の２個の電磁石３２，３４のうち上流側電磁石３２が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００２７】
これにより、上流側電磁石２４の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極に吸引され、上流側電磁石３２の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図５（Ｅ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図５（Ｆ）に示すように、上流側電磁石２４の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、図示は省略するが、上流側電磁石３２の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００２８】
ステップ１２０において、制御部５４は、センサ部２８によって被計測物１２の超音波探傷を行わせ、計測データを取得する。ステップ１２２において、制御部５４は変数ｎを１だけインクリメントする。そして、ステップ１２４において、制御部５４は、ステップ１２０で取得した計測データを計測位置ｎαと共に記憶部に記憶させる。
【００２９】
次のステップ１２６において、制御部５４は、例として図５（Ｇ）に示すように、支持部２２の２個の電磁石２４，２６のうち下流側電磁石２６が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の２個の電磁石３２，３４のうち下流側電磁石３４が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００３０】
これにより、下流側電磁石２６の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極に吸引され、下流側電磁石３４の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図５（Ｇ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図５（Ｈ）に示すように、下流側電磁石２６の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、図示は省略するが、下流側電磁石３４の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００３１】
ステップ１２８において、制御部５４は、センサ部２８によって被計測物１２の超音波探傷を行わせ、計測データを取得する。ステップ１３０において、制御部５４は変数ｎを１だけインクリメントする。そして、ステップ１３２において、制御部５４は、ステップ１２８で取得した計測データを計測位置ｎαと共に記憶部に記憶させる。
【００３２】
次のステップ１３４において、制御部５４は、被測定物の超音波探傷が終了したか否か判定する。ステップ１３４の判定が否定された場合はステップ１０２に戻り、ステップ１３４の判定が肯定される迄、ステップ１０２〜ステップ１３４を繰り返す。そして、ステップ１３４の判定が肯定されると超音波探傷処理を終了する。
【００３３】
上述したように、第１実施形態では、超音波プローブ部２０のセンサ部２８が、被計測物１２と対向する状態で、超音波探傷により被計測物１２の状態を計測する。永久磁石列１４，１６が被計測物１２に設けられ、電磁石２４，２６，３２，３４が超音波プローブ部２０に設けられている。そして、制御部５４が、電磁石２４，２６，３２，３４への通電を切替えることで、永久磁石列１４，１６の磁力と電磁石２４，２６，３２，３４の磁力とにより、超音波プローブ部２０のセンサ部２８を被計測物１２上の計測位置へ移動させた後に、超音波プローブ部２０のセンサ部２８を被計測物１２上の計測位置と対向する状態で保持させる。これにより、超音波探傷の精度を向上させることができる。
【００３４】
また、第１実施形態では電磁石２４，２６，３２，３４の磁化の切替回数（変数ｎ）を記憶し、変数ｎに基づき計測開始位置からの移動距離（計測位置ｎα）を算出するので、各回の計測位置を正確に把握することができる。これにより、超音波探傷により得られた計測データから被計測物１２の欠陥などが検知された場合に、検知された欠陥などの位置を正確に特定することができる。
【００３５】
また、第１実施形態では、永久磁石列１４，１６は、Ｎ極とＳ極とが交互にかつ一定ピッチ（２α）で配置されているので、電磁石２４，２６，３２，３４の磁化を１回切り替える度に超音波プローブ部２０が移動する距離を一定距離αとすることができる。これにより、被計測物１２の計測面１２Ａに対して均一な計測間隔（α）で超音波探傷を行うことができる。
【００３６】
また、第１実施形態では、永久磁石列１４，１６は、被計測物１２の計測面１２Ａに接着されているので、被計測物１２が磁性体でない場合にも、超音波プローブ部２０の移動及び保持を行うことができる。
【００３７】
〔第２実施形態〕
次に本発明の第２実施形態について説明する。なお、第１実施形態と同一の部分には同一の符号を付し、説明を省略する。
【００３８】
図７（Ａ）に示すように、第２実施形態では、支持部２２に４個の電磁石６０，６２，６４，６６が設けられている。また、図７（Ａ）に符号のみ示すが、支持部３０には４個の電磁石６８，７０，７２，７４が設けられている。
【００３９】
図６に示すように、第２実施形態に係る超音波探傷処理では、第１実施形態で説明したステップ１０２に代えてステップ１０３の処理を行う。すなわち、ステップ１０３において、制御部５４は、支持部２２の４個の電磁石６０，６２，６４，６６のうち超音波プローブ部２０の移動方向の上流側から２番目の電磁石（以下、第２電磁石という）６４が第１方向に磁化し、超音波プローブ部２０の移動方向の上流側から４番目の電磁石（以下、第４電磁石という）６０が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の４個の電磁石６８，７０，７２，７４のうち第２電磁石７２が第２方向に磁化し、第４電磁石６８が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００４０】
これにより、図７（Ａ）,（Ｂ）に示すように、第２電磁石６４の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、第４電磁石６０の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、図示は省略するが、第２電磁石７２の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着され、第４電磁石６８の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着されることで、超音波プローブ部２０は、図７（Ａ）,（Ｂ）に示す位置へ移動して保持される。
【００４１】
また、第２実施形態に係る超音波探傷処理では、第１実施形態で説明したステップ１１０に代えてステップ１１１の処理を行う。すなわち、ステップ１１１において、制御部５４は、支持部２２の４個の電磁石６０，６２，６４，６６のうち超音波プローブ部２０の移動方向の上流側から１番目の電磁石（以下、第１電磁石という）６６が第２方向に磁化し、超音波プローブ部２０の移動方向の上流側から３番目の電磁石（以下、第３電磁石という）６２が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の４個の電磁石６８，７０，７２，７４のうち第１電磁石７４が第１方向に磁化し、第３電磁石７０が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００４２】
これにより、第１電磁石６６の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極に吸引され、第３電磁石６２の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極に吸引され、第１電磁石７４の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極に吸引され、第３電磁石７０の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図７（Ｃ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図７（Ｄ）に示すように、第１電磁石６６の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、第３電磁石６２の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、第１電磁石７４の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着され、第３電磁石７０の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００４３】
また、第２実施形態に係る超音波探傷処理では、第１実施形態で説明したステップ１１８に代えてステップ１１９の処理を行う。すなわち、ステップ１１９において、制御部５４は、支持部２２の４個の電磁石６０，６２，６４，６６のうち第２電磁石６４が第２方向に磁化し、第４電磁石６０が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の４個の電磁石６８，７０，７２，７４のうち第２電磁石７２が第１方向に磁化し、第４電磁石６８が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００４４】
これにより、第２電磁石６４の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極に吸引され、第４電磁石６０の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極に吸引され、第２電磁石７２の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極に吸引され、第４電磁石６８の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図７（Ｅ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図７（Ｆ）に示すように、第２電磁石６４の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、第４電磁石６０の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、第２電磁石７２の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着され、第４電磁石６８の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００４５】
更に、第２実施形態に係る超音波探傷処理では、第１実施形態で説明したステップ１２６に代えてステップ１２７の処理を行う。すなわち、ステップ１２７において、制御部５４は、支持部２２の４個の電磁石６０，６２，６４，６６のうち第１電磁石６６が第１方向に磁化し、第３電磁石６２が第２方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。また制御部５４は、支持部３０の４個の電磁石６８，７０，７２，７４のうち第１電磁石７４が第２方向に磁化し、第３電磁石７０が第１方向に磁化するように、スイッチ部５２の対応するスイッチを切り替える。
【００４６】
これにより、第１電磁石６６の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極に吸引され、第３電磁石６２の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極に吸引され、第１電磁石７４の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極に吸引され、第３電磁石７０の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極に吸引されることで、超音波プローブ部２０は、図７（Ｇ）に示す矢印Ａ方向に沿って移動量αだけ移動される。そして超音波プローブ部２０は、図７（Ｈ）に示すように、第１電磁石６６の先端側のＳ極が永久磁石列１４のＮ極の中心部に吸着され、第３電磁石６２の先端側のＮ極が永久磁石列１４のＳ極の中心部に吸着され、第１電磁石７４の先端側のＮ極が永久磁石列１６のＳ極の中心部に吸着され、第３電磁石７０の先端側のＳ極が永久磁石列１６のＮ極の中心部に吸着された状態で保持される。
【００４７】
上述したように、第２実施形態では、より多数（４個）の電磁石６０〜７４を支持部２２、３０に各々設けているので、電磁石によって発生する磁力がより大きくなり、超音波プローブ部２０の移動及び保持をより安定的に行うことができる。
【００４８】
次に本発明の他の態様について説明する。上記では、永久磁石列１４，１６が被計測物１２の計測面１２Ａ側に配置された態様を説明したが、図８に示す態様では、永久磁石列１４，１６が、被計測物１２のうち計測面１２Ａと反対側の裏面１２Ｂに接着されている。このように、永久磁石列１４，１６は被計測物１２の計測面１２Ａ側に設けることに限定されるものではなく、被計測物１２の裏面１２Ｂ側に設けてもよい。
【００４９】
また、上記では永久磁石列１４，１６が被計測物１２に接着（接触）された態様を説明したが、図９に示す態様では、永久磁石列１４，１６が接触媒質５６内に配置されており、永久磁石列１４，１６は、接触媒質５６の粘性などによって図９に示す位置に保持される。このように、永久磁石列１４，１６は被計測物１２と接触していることに限定されるものではなく、被計測物１２と離間していてもよい。
【００５０】
また、上記では電磁石２４，２６，３２，３４が支持部２２，３０の被計測物１２側に設けられた態様を説明したが、図９では、電磁石２４，２６，３２，３４が、支持部２２，３０の被計測物１２側と反対側に設けられている。このように、電磁石２４，２６，３２，３４は支持部２２，３０の被計測物１２側に設けられることに限定されるものではない。
【００５１】
また、上記では永久磁石列１４，１６が被計測物１２側に設けられ、電磁石２４，２６，３２，３４が超音波プローブ部２０側に設けられた態様を説明したが、これに限定されるものではなく、図示は省略するが、永久磁石列１４，１６を超音波プローブ部２０側に設け、電磁石２４，２６，３２，３４を被計測物１２側に設けてもよい。
【００５２】
また、上記では、超音波プローブ部２０のセンサ部２８と被計測物１２の計測面１２Ａとの空隙を接触媒質５６で満たすための手段について、特に説明していないが、例えば接触媒質５６が液体又は粘性材料であれば、計測面１２Ａに接触媒質５６を予め塗布しておくなどによって実現できる。但し、これに限定されるものではなく、例えば図１０に示すように、側面に形成された蛇腹によって収縮可能で側面に吐出口８０Ａが穿設された容器８０を支持部３０に設け、この容器８０内に接触媒質５６を収容しておいてもよい。なお、図１０では電磁石３２，３４の間隔が大きくされており、容器８０は電磁石３２，３４の間に配置されている。
【００５３】
図１０に示す構成では、電磁石２４，２６，３２，３４が何れも磁化されていない場合は、図１０（Ａ）に示すように、容器８０の弾性力により電磁石２４，２６，３２，３４と永久磁石列１４，１６とが離間した状態になる。また、電磁石２４，３２又は電磁石２６，３４が磁化された場合には、図１０（Ｂ）に示すように、容器８０の弾性力に抗して電磁石２４，２６，３２，３４と永久磁石列１４，１６とが接触する。これに伴い、容器８０が圧縮されて容積が小さくなることで、容器８０内に収容されていた接触媒質５６の一部が吐出口８０Ａを介してセンサ部２８と計測面１２Ａとの空隙へ供給され、センサ部２８と計測面１２Ａとの空隙が接触媒質５６で満たされる。
【符号の説明】
【００５４】
１０  超音波探傷装置
１２  被計測物
１２Ａ  計測面
１４，１６  永久磁石列（永久磁石）
２０  超音波プローブ部
２４，２６，３２，３４  電磁石
２８  センサ部（プローブ）
５４  制御部
５６  接触媒質
６０，６２，６４，６６  電磁石
６８，７０，７２，７４  電磁石
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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