(57)【要約】【課題】原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間を短縮することができる情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムを得る。【解決手段】情報処理装置１２は、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得する取得部５０と、複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を導出する導出部５６と、を備える。【選択図】図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基材層と、荷電粒子が透過することにより、前記荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって前記原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得する取得部と、
前記複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、前記飛跡記録層の前記厚み方向の端部の位置を導出する導出部と、
を備えた情報処理装置。
【請求項２】
前記導出部は、前記厚み方向に沿った前記黒点の数の分布に基づいて、前記端部の位置を導出する
請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記導出部は、前記黒点の数の最大値に、予め定められた比率を乗じて得られた閾値と各断層画像の前記黒点の数とを比較することによって、前記端部の位置を導出する
請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記導出部は、導出した前記厚み方向の一方の前記端部の位置と他方の前記端部の位置とを用いて、前記飛跡記録層の厚みを更に導出する
請求項１から請求項３の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記基材層は、２つの前記飛跡記録層に挟まれた層であり、
前記導出部は、前記２つの前記飛跡記録層の各々について導出した前記基材層側の端部の位置を用いて、前記基材層の厚みを更に導出する
請求項１から請求項４の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記複数の断層画像は、前記原子核乾板の一部の領域について撮影して得られた画像であり、
前記導出部は、前記断層画像が分割された複数の領域の各々について、前記黒点の数から前記端部の位置を導出し、かつ導出した端部の位置を用いて、次に前記撮影装置により撮影対象とする領域における前記厚み方向の撮影位置を導出する
請求項１から請求項５の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記導出部は、前記断層画像の対角線上の領域について導出した端部の位置から、２つの対角線それぞれの３次元直線を導出し、導出した２つの３次元直線を用いて前記撮影位置を導出する
請求項６に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記導出部は、前記断層画像が分割された複数の領域の各々について、前記黒点の数から前記端部の位置を導出し、かつ導出した各領域の前記端部の位置を用いて前記飛跡記録層の表面の形状を導出する
請求項１から請求項７の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記複数の断層画像の各々に対して２値化する画像処理を行って得られた２値化画像を用いて前記断層画像に含まれる黒点を特定する特定部
を更に備えた請求項１から請求項８の何れか１項に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記特定部は、前記断層画像が、コントラストが低い条件として定められた条件を満たす場合、前記断層画像に対して最大値フィルタを適用して得られた画像から前記断層画像を減算し、減算して得られた画像に対して２値化する画像処理を行って得られた２値化画像を用いて前記断層画像に含まれる黒点を特定する
請求項９に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
基材層と、荷電粒子が透過することにより、前記荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって前記原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得し、
前記複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、前記飛跡記録層の前記厚み方向の端部の位置を導出する
処理をコンピュータが実行する情報処理方法。
【請求項１２】
基材層と、荷電粒子が透過することにより、前記荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって前記原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得し、
前記複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、前記飛跡記録層の前記厚み方向の端部の位置を導出する
処理をコンピュータに実行させるための情報処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
原子核乾板を用いて、宇宙線に含まれるミュー粒子等の荷電粒子の飛跡を抽出する技術が開示されている（特許文献１参照）。この技術では、焦点面の深さを変えながら感材層を連続的に撮像することによって複数の断層画像を取得し、取得した複数の断層画像を用いて荷電粒子の飛跡を抽出する。
【０００３】
また、焦点位置を変えながら細胞を複数回撮影して得られた複数の画像を、焦点方向についての複数の深さ範囲で分類する技術が開示されている（特許文献２参照）。この技術では、複数の深さ範囲の各々に属する複数の画像を、複数の深さ範囲毎に合成する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１０１６７６号公報
【特許文献２】特開２００６−３００６８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出するために、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板が、撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影される。そして、この撮影を行って得られた複数の断層画像から荷電粒子の飛跡が抽出される。
【０００６】
図２０に示すように、荷電粒子の飛跡の抽出漏れを抑制するために、断層画像を取得する際、原子核乾板の厚み方向の端部からある程度の距離のマージンを加味して断層画像が取得される。このように、取得した全ての断層画像に対して解析処理を行って荷電粒子の飛跡を抽出する処理には、比較的長い時間がかかってしまう。
【０００７】
これに対し、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を特定することができれば、飛跡記録層を撮影して得られた断層画像群を特定することができる結果、荷電粒子の飛跡を抽出する処理に用いる断層画像の数を絞り込むことができる。すなわち、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を特定することができれば、荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間を短縮することができ、好ましい。
【０００８】
しかしながら、特許文献１及び特許文献２に記載の技術では、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を特定することについては考慮されていない。
【０００９】
本開示は、以上の事情を鑑みてなされたものであり、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間を短縮することができる情報処理装置、情報処理方法、及び情報処理プログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本開示の情報処理装置は、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得する取得部と、複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を導出する導出部と、を備える。
【００１１】
これにより、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間を短縮することができる。
【００１２】
なお、本開示の情報処理装置は、導出部が、厚み方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、端部の位置を導出してもよい。
【００１３】
これにより、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を精度良く特定することができる。
【００１４】
また、本開示の情報処理装置は、導出部が、黒点の数の最大値に、予め定められた比率を乗じて得られた閾値と各断層画像の黒点の数とを比較することによって、端部の位置を導出してもよい。
【００１５】
これにより、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を精度良く特定することができる。
【００１６】
また、本開示の情報処理装置は、導出部が、導出した厚み方向の一方の端部の位置と他方の端部の位置とを用いて、飛跡記録層の厚みを更に導出してもよい。
【００１７】
これにより、専用の部材を設けなくても、飛跡記録層の厚みを導出することができる。
【００１８】
また、本開示の情報処理装置は、基材層が、２つの飛跡記録層に挟まれた層であり、導出部は、２つの飛跡記録層の各々について導出した基材層側の端部の位置を用いて、基材層の厚みを更に導出してもよい。
【００１９】
これにより、専用の部材を設けなくても、基材層の厚みを導出することができる。
【００２０】
また、本開示の情報処理装置は、複数の断層画像が、原子核乾板の一部の領域について撮影して得られた画像であり、導出部が、断層画像が分割された複数の領域の各々について、黒点の数から端部の位置を導出し、かつ導出した端部の位置を用いて、次に撮影装置により撮影対象とする領域における厚み方向の撮影位置を導出してもよい。
【００２１】
これにより、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間をより短縮することができる。
【００２２】
また、本開示の情報処理装置は、導出部が、断層画像の対角線上の領域について導出した端部の位置から、２つの対角線それぞれの３次元直線を導出し、導出した２つの３次元直線を用いて撮影位置を導出してもよい。
【００２３】
これにより、次の撮影位置を精度良く特定することができる。
【００２４】
また、本開示の情報処理装置は、導出部が、断層画像が分割された複数の領域の各々について、黒点の数から端部の位置を導出し、かつ導出した各領域の端部の位置を用いて飛跡記録層の表面の形状を導出してもよい。
【００２５】
これにより、専用の部材を設けなくても、飛跡記録層の表面の形状を導出することができる。
【００２６】
また、本開示の情報処理装置は、複数の断層画像の各々に対して２値化する画像処理を行って得られた２値化画像を用いて断層画像に含まれる黒点を特定する特定部を更に備えてもよい。
【００２７】
これにより、断層画像に含まれる黒点を簡易に特定することができる。
【００２８】
また、本開示の情報処理装置は、特定部が、断層画像が、コントラストが低い条件として定められた条件を満たす場合、断層画像に対して最大値フィルタを適用して得られた画像から断層画像を減算し、減算して得られた画像に対して２値化する画像処理を行って得られた２値化画像を用いて断層画像に含まれる黒点を特定してもよい。
【００２９】
これにより、断層画像に含まれる黒点を精度良く特定することができる。
【００３０】
また、本開示の情報処理方法は、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得し、複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を導出する処理をコンピュータが実行するものである。
【００３１】
また、本開示の情報処理プログラムは、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得し、複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を導出する処理をコンピュータに実行させるためのものである。
【００３２】
また、本開示の情報処理装置は、コンピュータに実行させるための命令を記憶するメモリと、記憶された命令を実行するよう構成されたプロセッサと、を備え、プロセッサは、基材層と、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層とが積層された原子核乾板を撮影装置によって原子核乾板の厚み方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得し、複数の断層画像の各々における黒点の数に基づいて、飛跡記録層の厚み方向の端部の位置を導出する。
【発明の効果】
【００３３】
本開示によれば、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】各実施形態に係る情報処理システムの構成の一例を示す概略図である。
【図２】各実施形態に係る原子核乾板の一例を示す側面断面図である。
【図３】焦点位置の変更経路を説明するための側面図である。
【図４】焦点位置の変更経路を説明するための平面図である。
【図５】一つの視野で撮影される複数の断層画像の一例を示す図である。
【図６】断層画像の一例を示す図である。
【図７】各実施形態に係る情報処理装置のハードウェア構成の一例を示すブロック図である。
【図８】複数の位置の各々を焦点位置として撮影された断層画像の一例を示す図である。
【図９】黒点の数の一例を示すグラフである。
【図１０】各実施形態に係る情報処理装置の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
【図１１】断層画像の輝度値のヒストグラムの一例を示すグラフである。
【図１２】断層画像の輝度値のヒストグラムの一例を示すグラフである。
【図１３】乳剤層の厚み方向の端部の特定処理を説明するためのグラフである。
【図１４】第１実施形態に係る撮影処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】一方の対角線の３次元直線を導出する処理を説明するための図である。
【図１６】他方の対角線の３次元直線を導出する処理を説明するための図である。
【図１７】第２実施形態に係る次の視野における撮影位置を導出する処理を説明するための図である。
【図１８】第２実施形態に係る撮影処理の一例を示すフローチャートである。
【図１９】乳剤層の表面の形状を導出する処理を説明するための図である。
【図２０】撮影範囲を説明するための原子核乾板の側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００３５】
以下、図面を参照して、本開示の技術を実施するための形態例を詳細に説明する。
【００３６】
［第１実施形態］
まず、図１を参照して、本実施形態に係る情報処理システム１０の構成を説明する。図１に示すように、情報処理システム１０は、情報処理装置１２、撮影装置１４、ＸＹステージ２２、及び光源２４を含む。情報処理装置１２及び撮影装置１４は、通信可能に接続される。ＸＹステージ２２には、原子核乾板ＮＰが載せられる。なお、以下では、原子核乾板ＮＰの厚み方向をＺ方向とし、厚み方向に交差（本実施形態では、直交）する平面上の第１の方向（例えば、原子核乾板ＮＰの長辺の方向）をＸ方向とする。また、以下では、上記平面上で第１の方向に交差（本実施形態では、直交）する第２の方向（例えば、原子核乾板ＮＰの短辺の方向）をＹ方向とする。また、以下では、Ｘ軸とＹ軸とで形成される平面をＸＹ平面という。
【００３７】
撮影装置１４は、イメージセンサ等を有するカメラ本体１６、ピエゾステージ１８、及び対物レンズ２０を備えている。ピエゾステージ１８は、ピエゾアクチュエータによって対物レンズ２０をＺ方向に沿って往復移動させる。従って、撮影装置１４は、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら撮影を行うことが可能とされている。なお、図示は省略しているが、撮影装置１４は、Ｚステージを有し、大まかなＺ方向の位置合わせも可能とされている。前述した原子核乾板ＮＰの厚み方向とは、撮影装置１４のカメラ本体１６が有するイメージセンサの撮像面に対して垂直な方向であり、対物レンズ２０の光軸に沿った方向である。
【００３８】
ＸＹステージ２２は、アクチュエータによってＸ方向及びＹ方向のそれぞれに沿って往復移動することが可能とされている。光源２４は、ＸＹステージ２２を挟んで撮影装置１４の反対側に設けられており、撮影装置１４に向かって光を照射する。
【００３９】
次に、図２を参照して、原子核乾板ＮＰについて説明する。図２に示すように、本実施形態に係る原子核乾板ＮＰは、フィルムベースＦＢの両面に、乳剤層ＥＬが塗布されている。すなわち、原子核乾板ＮＰは、乳剤層ＥＬ、フィルムベースＦＢ、及び乳剤層ＥＬの順に積層されている。フィルムベースＦＢは、例えば、プラスチック製であり、厚みが３００μｍとされる。乳剤層ＥＬは、例えば、ハロゲン化銀を含み、現像前の厚みが６０μｍとされる。フィルムベースＦＢが、開示の技術に係る基材層の一例であり、乳剤層ＥＬが、荷電粒子が透過することにより、荷電粒子の飛跡が潜像として記録される飛跡記録層の一例である。なお、飛跡記録層に含まれるハロゲン化銀以外の飛跡記録材料として、例えば、シュウ酸第二鉄塩を含む鉄塩感光材料、又は芳香族ジアゾニウム塩を含むジアゾ感光材を用いることも可能である。
【００４０】
宇宙線に含まれるミュー粒子が原子核乾板ＮＰを透過すると、乳剤層ＥＬ内での電離作用によって発生した電子により、乳剤層ＥＬ内にミュー粒子の飛跡Ｔに沿った潜像が記録される。なお、図２の例では、飛跡Ｔのうち、乳剤層ＥＬ内に潜像として記録される部分を実線で示し、乳剤層ＥＬ内に潜像として記録される部分以外の部分を破線で示している。ミュー粒子が開示の技術に係る荷電粒子の一例である。なお、荷電粒子は、ミュー粒子に限定されない。例えば、荷電粒子は、γ線又は中性子線等から２次的に発生した電子又は陽子でもよい。
【００４１】
原子核乾板ＮＰを用いた非破壊検査では、検査対象物の周辺に原子核乾板ＮＰを設置し、数週間等の予め定められた期間の経過後に、原子核乾板ＮＰを回収する。次に、回収した原子核乾板ＮＰを現像し、現像後の原子核乾板ＮＰを撮影装置１４によって撮影して得られた複数の断層画像から、原子核乾板ＮＰに記録されたミュー粒子の飛跡Ｔを抽出する。そして、抽出した飛跡Ｔを用いた解析処理によって検査対象物の密度分布等が得られる。
【００４２】
次に、図３及び図４を参照して、撮影装置１４による原子核乾板ＮＰの撮影処理について説明する。図３に示すように、撮影装置１４は、１つの視野２６について、予め定められた間隔（例えば、１μｍ）毎に、対物レンズ２０をＺ方向に沿って原子核乾板ＮＰに近づくように移動させながら原子核乾板ＮＰを撮影する。この際のＺ方向に沿った撮影範囲は、乳剤層ＥＬの撮影漏れを防止するために、余裕を持たせた範囲となっている。すなわち、予め原子核乾板ＮＰの厚みと現像後の乳剤層ＥＬの厚みとが厳密には分かっていないとしても、１つの視野２６内における乳剤層ＥＬのＺ方向の全体が撮影範囲に含まれるように、余裕を持ったマージンが加味されている。これにより、撮影装置１４により、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら複数の断層画像が撮影される。
【００４３】
１つの視野２６について断層画像の撮影が終わると、ＸＹステージ２２がＸ方向又はＹ方向に沿って１視野分移動することによって、撮影装置１４による撮影範囲が隣の視野２６に移動する。そして、次の視野２６では、撮影装置１４は、上記間隔毎に、対物レンズ２０をＺ方向に沿って原子核乾板ＮＰから遠ざかるように移動させながら原子核乾板ＮＰを撮影する。
【００４４】
図４に示すように、撮影装置１４は、以上の撮影処理を各視野２６について実行する。なお、図３では、Ｚ方向に沿った焦点位置の変更経路を一点鎖線の矢印で示し、図３及び図４では、Ｘ方向及びＹ方向に沿った焦点位置の変更経路を破線の矢印で示している。従って、一例として図５に示すように、各視野２６について、撮影装置１４による撮影により複数の断層画像が得られる。なお、ここでいう視野２６とは、撮影装置１４によるＸＹ平面上での１つの撮影領域を意味する。また、隣接する視野２６は、一部の領域が重複している。例えば、一つの視野２６は１ｍｍ角の矩形の領域であり、一つの視野２６において撮影装置１４による撮影により得られる断層画像は、解像度が５１２０×５１２０ピクセルで、８ビットのグレースケールの画像である。
【００４５】
また、本実施形態では、各断層画像に対応する断層のＺ方向に沿った位置（以下、「Ｚ位置」という）は、予め定められた対物レンズ２０の基準位置からの移動量（例えば、ステップ数）によって表される。例えば、図５の例において、一番上に図示されたＺ位置が２６０の断層画像は、対物レンズ２０を、ピエゾアクチュエータによって基準位置から２６０ステップ分移動させた位置で撮影された画像であることを表している。
【００４６】
また、一例として図６に示すように、以上のように得られた断層画像において、飛跡Ｔは、黒点として記録される。
【００４７】
次に、図７を参照して、本実施形態に係る情報処理装置１２のハードウェア構成を説明する。図７に示すように、情報処理装置１２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３０、一時記憶領域としてのメモリ３１、及び不揮発性の記憶部３２を含む。また、情報処理装置１２は、液晶ディスプレイ等の表示部３３、キーボードとマウス等の入力部３４、ネットワークに接続されるネットワークＩ／Ｆ（InterFace）３５、及び撮影装置１４が接続される外部Ｉ／Ｆ３６を含む。ＣＰＵ３０、メモリ３１、記憶部３２、表示部３３、入力部３４、ネットワークＩ／Ｆ３５、及び外部Ｉ／Ｆ３６は、バス３７に接続される。情報処理装置１２の例としては、パーソナルコンピュータ又はサーバコンピュータ等が挙げられる。
【００４８】
記憶部３２は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）、ＳＳＤ（Solid State Drive）、及びフラッシュメモリ等によって実現される。記憶媒体としての記憶部３２には、情報処理プログラム４０が記憶される。ＣＰＵ３０は、記憶部３２から情報処理プログラム４０を読み出してからメモリ３１に展開し、展開した情報処理プログラム４０を実行する。
【００４９】
ところで、一例として図８及び図９に示すように、断層のＺ位置によって、各断層画像に含まれる黒点の数が変動する。乳剤層ＥＬからＺ方向に比較的離れた位置を焦点位置として撮影された断層画像には黒点が含まれない。また、焦点位置が乳剤層ＥＬに近付くにつれて断層画像に含まれる黒点の数は増加する。そして、乳剤層ＥＬ内のうち、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部から一定の距離以上離れたＺ位置を焦点位置とする断層画像においては、黒点の数の変動が比較的小さくなる。以上の傾向は、各断層画像には、近接する断層画像の黒点も写りこんでしまうこと等に起因すると考えられる。
【００５０】
そこで、本実施形態に係る情報処理装置１２は、断層画像の黒点の数に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。
【００５１】
次に、図１０を参照して、本実施形態に係る情報処理装置１２の機能的な構成について説明する。図１０に示すように、情報処理装置１２は、取得部５０、画像処理部５２、特定部５４、導出部５６、及び撮影制御部５８を含む。ＣＰＵ３０が情報処理プログラム４０を実行することで、取得部５０、画像処理部５２、特定部５４、導出部５６、及び撮影制御部５８として機能する。
【００５２】
取得部５０は、原子核乾板ＮＰを撮影装置１４によってＺ方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得する。この複数の断層画像は、各視野２６に対応して得られる。
【００５３】
画像処理部５２は、取得部５０により取得された各断層画像に対して、断層画像内の黒点を抽出する処理の前処理としての画像処理を行う。
【００５４】
具体的には、画像処理部５２は、断層画像が、コントラストが高い条件として定められた条件を満たすか、又はコントラストが低い条件として定められた条件を満たすかによって、処理を切り替える。図１１及び図１２を参照して、コントラストの高低について説明する。図１１及び図１２ともに、断層画像の輝度値のヒストグラムを示している。
【００５５】
一例として図１１に示すように、断層画像のコントラストが比較的高い場合、黒点の部分の平均輝度値ｇ１と背景の部分の平均輝度値ｇ２とにそれぞれ頻度のピークが存在する。これに対し、一例として図１２に示すように、断層画像のコントラストが比較的低い場合、２つの頻度のピークが存在しない。従って、画像処理部５２は、断層画像の輝度値のヒストグラムにおいて、２つの頻度のピークが存在する場合に、断層画像が、コントラストが高い条件として定められた条件を満たすと判定する。また、画像処理部５２は、断層画像の輝度値のヒストグラムにおいて、２つの頻度のピークが存在しない場合に、断層画像が、コントラストが低い条件として定められた条件を満たすと判定する。
【００５６】
画像処理部５２は、断層画像が、コントラストが高い条件として定められた条件を満たす場合、平均輝度値ｇ１と平均輝度値ｇ２との間の輝度値を閾値ｇＴＨ１として、断層画像に対して２値化する画像処理を行う。
【００５７】
一方、画像処理部５２は、断層画像が、コントラストが低い条件として定められた条件を満たす場合、断層画像に対して最大値フィルタを適用し、適用して得られた画像から、元の断層画像を減算する。以下では、この元の断層画像を減算することによって得られた画像を「差分画像」という。断層画像に対して最大値フィルタを適用すると、黒点に相当する部分の画素は周囲の背景の画素の輝度値で上書きされる。また、断層画像における黒点に相当する部分の画素は輝度値が小さいため、断層画像に対して最大値フィルタを適用して得られた画像から、元の断層画像を減算すると、差分画像における黒点に相当する部分の画素では輝度値が大きくなる。
【００５８】
この場合、画像処理部５２は、予め定められた閾値ｇＴＨ２を用いて、差分画像に対して２値化する画像処理を行う。この場合の閾値ｇＴＨ２としては、差分画像における黒点に相当する部分を抽出可能な輝度値として実験等により予め得られた値を適用することができる。
【００５９】
以下では、画像処理部５２によって２値化する画像処理を行って得られた画像を「２値化画像」という。なお、画像処理部５２は、コントラストが低い条件として定められた条件を満たす場合、差分画像に対して最大値フィルタを適用し、適用して得られた画像に対して２値化する画像処理を行ってもよい。
【００６０】
特定部５４は、画像処理部５２によって２値化する画像処理を行って得られた２値化画像に基づいて、領域ラベリング処理を行うことによって黒点の領域を抽出する。この抽出によって、特定部５４は、断層画像に含まれる黒点を特定する。
【００６１】
導出部５６は、特定部５４によって特定された断層画像のＺ方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。本実施形態では、導出部５６は、黒点の数の最大値に、予め定められた比率を乗じて得られた閾値と各断層画像の黒点の数とを比較することによって、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。図１３を参照して、導出部５６による乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置の導出処理について具体的に説明する。なお、図１３は、１つの視野２６についての断層画像のＺ方向に沿った黒点の数の分布を示し、縦軸が黒点の数を示し、横軸がＺ位置を示す。
【００６２】
一例として図１３に示すように、導出部５６は、次に示す（１）式に従って、乳剤層ＥＬのそれぞれについて、黒点の数の最大値ｄｐＭａｘに、予め定められた１未満の比率τを乗算することによって、閾値ｄｐＴＨを導出する。
ｄｐＴＨ＝ｄｐＭａｘ×τ・・・（１）
なお、比率τは、実験等により予め定められた値であり、例えば０．４以上０．９以下の値とされ、本実施形態では、０．７５とされている。
【００６３】
そして、導出部５６は、閾値ｄｐＴＨと各断層画像の黒点の数とを比較することによって、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。具体的には、導出部５６は、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに等しい断層画像が表す断層のＺ位置を乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置として導出する。具体的には、導出部５６は、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに等しい断層画像が表す断層のうち、上層側の断層のＺ位置を乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置として導出する。また、導出部５６は、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに等しい断層画像が表す断層のうち、下層側の断層のＺ位置を乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置として導出する。なお、ここでいう上層とは、撮影装置１４側の層を意味し、下層とは、光源２４側の層を意味する。
【００６４】
以下では、図１３に示すように、上層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の端部のうち、上層側の端部の位置をＺａ１と表し、下層側の端部の位置をＺｂ１と表す。また、同様に、下層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の端部のうち、上層側の端部の位置をＺａ２と表し、下層側の端部の位置をＺｂ２と表す。
【００６５】
なお、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに等しい断層画像が存在しない場合、導出部５６は、例えば、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに最も近い断層画像が表す断層のＺ位置を乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置として導出してもよい。また、黒点の数が閾値ｄｐＴＨに等しい断層画像が存在しない場合、導出部５６は、黒点の数が閾値ｄｐＴＨを間に挟む２つの断層画像が表す断層のＺ位置を用いた補間処理によって、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出してもよい。
【００６６】
また、導出部５６は、導出した上層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の一方の端部の位置Ｚａ１と他方の端部の位置Ｚｂ１とを用いて、次の（２）式に従って、上層側の乳剤層ＥＬの厚みＨ１を導出する。なお、（２）式におけるＺＳｔｅｐは、対物レンズ２０のＺ方向に沿った１ステップの移動量（例えば、１μｍ）を表し、ｎ１λは、上層側の乳剤層ＥＬの光屈折係数を表す。
Ｈ１＝（Ｚｂ１−Ｚａ１＋１）×ＺＳｔｅｐ×ｎ１λ・・・（２）
【００６７】
また、導出部５６は、導出した下層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の一方の端部の位置Ｚａ２と他方の端部の位置Ｚｂ２とを用いて、次の（３）式に従って、下層側の乳剤層ＥＬの厚みＨ２を導出する。なお、（３）式におけるｎ２λは、下層側の乳剤層ＥＬの光屈折係数を表す。
Ｈ２＝（Ｚｂ２−Ｚａ２＋１）×ＺＳｔｅｐ×ｎ２λ・・・（３）
【００６８】
また、導出部５６は、２つの乳剤層ＥＬの各々ついて導出したフィルムベースＦＢ側の端部の位置Ｚｂ１、Ｚａ２を用いて、次の（４）式に従って、フィルムベースＦＢの厚みＨ３を導出する。なお、（４）式におけるｎ３λは、フィルムベースＦＢの光屈折係数を表す。
Ｈ３＝（Ｚａ２−Ｚｂ１＋１）×ＺＳｔｅｐ×ｎ３λ・・・（４）
【００６９】
導出部５６は、導出した乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を用いて、次に撮影装置１４により撮影対象とする領域（すなわち、次の視野２６）におけるＺ方向の撮影位置を導出する。導出部５６は、上層側の乳剤層ＥＬに対してはＺ方向の撮影位置として、次の（５）式に従って、撮影開始位置ＳＴ１及び撮影終了位置ＥＤ１を導出する。
ＳＴ１＝Ｚａ１−ΔＭ１、ＥＤ１＝Ｚｂ１＋ΔＭ２・・・（５）
【００７０】
また、導出部５６は、下層側の乳剤層ＥＬに対してはＺ方向の撮影位置として、次の（６）式に従って、撮影開始位置ＳＴ２及び撮影終了位置ＥＤ２を導出する。
ＳＴ２＝Ｚａ２−ΔＭ３、ＥＤ２＝Ｚｂ２＋ΔＭ４・・・（６）
なお、（５）式及び（６）式におけるΔＭ１〜ΔＭ４は、マージンであり、例えば、１０μｍを適用することができる。このマージンは、導出部５６により導出された乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置に対するものであるため、最初の視野２６における余裕を持ったマージンに比較して微小な量とすることができる。
【００７１】
撮影制御部５８は、最初の視野２６について、撮影装置１４を制御し、初期値として予め定められたマージンを加味して、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら原子核乾板ＮＰを撮影させる。このマージンは、乳剤層ＥＬの撮影漏れを防止するための値として、余裕を持たせて予め定められている。
【００７２】
また、撮影制御部５８は、２つ目以降の視野２６については、撮影装置１４を制御し、撮影開始位置ＳＴ１から撮影終了位置ＥＤ１までの範囲、及び撮影開始位置ＳＴ２から撮影終了位置ＥＤ２までの範囲を、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら撮影させる。
【００７３】
次に、図１４を参照して、本実施形態に係る情報処理装置１２の作用を説明する。ＣＰＵ３０が情報処理プログラム４０を実行することによって、図１４に示す撮影処理が実行される。例えば、ユーザによって入力部３４を介して撮影開始の指示が入力されると、図１４に示す撮影処理が実行される。
【００７４】
図１４のステップＳ１０で、撮影制御部５８は、撮影対象の視野２６が撮影対象の原子核乾板ＮＰにおける最初の視野２６であるか否かを判定する。この判定が否定判定となった場合は、処理はステップＳ１４に移行し、肯定判定となった場合は、処理はステップＳ１２に移行する。
【００７５】
ステップＳ１２で、撮影制御部５８は、前述したように、最初の視野２６について、撮影装置１４を制御し、初期値として予め定められたマージンを加味して、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら原子核乾板ＮＰを撮影させる。ステップＳ１４で、撮影制御部５８は、２つ目以降の視野２６について、撮影装置１４を制御し、撮影開始位置ＳＴ１から撮影終了位置ＥＤ１までの範囲、及び撮影開始位置ＳＴ２から撮影終了位置ＥＤ２までの範囲を、Ｚ方向に沿った焦点位置を変えながら撮影させる。この導出された撮影開始位置ＳＴ１、ＳＴ２、及び撮影終了位置ＥＤ１、ＥＤ２は、直前のステップＳ３８で導出されたものである。
【００７６】
ステップＳ１６で、取得部５０は、ステップＳ１２又はステップＳ１４の処理により原子核乾板ＮＰを撮影装置１４によってＺ方向に沿った焦点位置を変えながら撮影して得られた複数の断層画像を取得する。以下のステップＳ１８からステップＳ２８までの処理は、ステップＳ１６の処理により取得された全ての断層画像の各々に対して実行される。
【００７７】
ステップＳ１８で、画像処理部５２は、前述したように、断層画像が、コントラストが高い条件として定められた条件を満たすか否かを判定する。この判定が否定判定となった場合は、処理はステップＳ２２に移行し、肯定判定となった場合は、処理はステップＳ２０に移行する。
【００７８】
ステップＳ２０で、画像処理部５２は、前述したように、断層画像の平均輝度値ｇ１と平均輝度値ｇ２との間の輝度値を閾値ｇＴＨ１として、断層画像に対して２値化する画像処理を行う。ステップＳ２２で、画像処理部５２は、断層画像に対して最大値フィルタを適用する。ステップＳ２４で、画像処理部５２は、ステップＳ２２の処理により得られた画像から元の断層画像を減算する。ステップＳ２６で、画像処理部５２は、前述したように、閾値ｇＴＨ２を用いて、ステップＳ２４の処理により得られた差分画像に対して２値化する画像処理を行う。
【００７９】
ステップＳ２８で、特定部５４は、前述したように、ステップＳ２０又はステップＳ２６の処理により得られた２値化画像に基づいて、領域ラベリング処理を行うことにより黒点の領域を抽出することによって、断層画像に含まれる黒点を特定する。
【００８０】
ステップＳ３０で、導出部５６は、前述したように、ステップＳ２８の処理により特定された断層画像のＺ方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置Ｚａ１、Ｚｂ１、Ｚａ２、Ｚｂ２を導出する。
【００８１】
ステップＳ３２で、導出部５６は、ステップＳ３０の処理により導出した上層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の一方の端部の位置Ｚａ１と他方の端部の位置Ｚｂ１とを用いて、上記（２）式に従って、上層側の乳剤層ＥＬの厚みＨ１を導出する。また、導出部５６は、ステップＳ３０の処理により導出した下層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の一方の端部の位置Ｚａ２と他方の端部の位置Ｚｂ２とを用いて、上記（３）式に従って、下層側の乳剤層ＥＬの厚みＨ２を導出する。
【００８２】
ステップＳ３４で、導出部５６は、ステップＳ３０の処理により２つの乳剤層ＥＬの各々ついて導出したフィルムベースＦＢ側の端部の位置Ｚｂ１、Ｚａ２を用いて、上記（４）式に従って、フィルムベースＦＢの厚みＨ３を導出する。ステップＳ３６で、撮影制御部５８は、撮影対象の視野２６が撮影対象の原子核乾板ＮＰにおける最後の視野２６であるか否かを判定する。この判定が否定判定となった場合は、処理はステップＳ３８に移行する。
【００８３】
ステップＳ３８で、導出部５６は、ステップＳ３０の処理により導出した端部の位置Ｚａ１、Ｚｂ１、Ｚａ２、Ｚｂ２を用いて、上記（５）式、及び（６）式に従って、次の視野２６におけるＺ方向の撮影開始位置ＳＴ１、ＳＴ２及び撮影終了位置ＥＤ１、ＥＤ２を導出する。ステップＳ４０で、撮影制御部５８は、撮影装置１４が撮影対象とする領域が次の視野２６となるように、ＸＹステージ２２を移動させる。ステップＳ４０の処理が終了すると、処理はステップＳ１０に戻る。一方、ステップＳ３６の判定が肯定判定となった場合は、本撮影処理が終了する。
【００８４】
以上説明したように、本実施形態によれば、レーザー変位計等の専用の部材を設けなくても、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を特定することができる。
【００８５】
以上のように特定された乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置Ｚａ１からＺｂ１までの断層画像、及びＺａ２からＺｂ２までの断層画像を用いて、飛跡Ｔが抽出される。この飛跡Ｔの抽出は、例えば、特開２０１０−１０１６７６号公報に記載の手法のように、複数の断層画像を飛跡Ｔの角度に応じたシフト量でシフトさせながら重ね合わせて行われる。
【００８６】
本実施形態では、飛跡Ｔの抽出処理の処理対象とする断層画像の数を低減している。従って、本実施形態によれば、全ての断層画像を処理対象とする場合に比較して、原子核乾板ＮＰから荷電粒子の飛跡Ｔを抽出する処理の所要時間を短縮することができる。
【００８７】
［第２実施形態］
開示の技術の第２実施形態を説明する。なお、本実施形態に係る情報処理システム１０の構成（図１参照）及び情報処理装置１２のハードウェア構成（図７参照）は、第１実施形態と同様であるため、説明を省略する。
【００８８】
次に、図１０を参照して、本実施形態に係る情報処理装置１２の機能的な構成について説明する。第１実施形態に係る各機能部と同一の機能を有する機能部については、同一の符号を付して説明を省略する。図１０に示すように、情報処理装置１２は、取得部５０、画像処理部５２、特定部５４、導出部５６Ａ、及び撮影制御部５８を含む。ＣＰＵ３０が情報処理プログラム４０を実行することで、取得部５０、画像処理部５２、特定部５４、導出部５６Ａ、及び撮影制御部５８として機能する。
【００８９】
導出部５６Ａは、第１実施形態に係る導出部５６が有する機能に加え、以下の機能を有する。導出部５６Ａは、一例として図１５に示すように、断層画像を複数の領域に分割する。以下では、断層画像が分割された各領域を「分割領域」という。分割領域は、例えば、解像度が２５６×２５６ピクセルとされる。
【００９０】
図１５に示すように、導出部５６Ａは、断層画像の一方の対角線上の分割領域毎に、Ｚ方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。この端部の位置の導出処理は、対象の領域が断層画像全体から分割領域となること以外は第１実施形態と同様であるため、説明を省略する。また、図１５に示すように、本実施形態では、各分割領域の中心のｘｙ座標をｘｉ、ｙｉで表す。また、本実施形態では、上層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の端部のうち、上層側の端部の位置をｚＡｊと表し、下層側の端部の位置をｚＢｊと表す。また、本実施形態では、下層側の乳剤層ＥＬのＺ方向の端部のうち、上層側の端部の位置をｚＣｊと表し、下層側の端部の位置をｚＤｊと表す。また、図１５の例では、一方の対角線上の分割領域として、正面視左上から右下への対角線上の分割領域を灰色で塗りつぶしている。
【００９１】
すなわち、導出部５６Ａは、一方の対角線上の各分割領域について、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置ｚＡｊ、ｚＢｊ、ｚＣｊ、ｚＤｊをそれぞれ導出する。
【００９２】
図１６に示すように、導出部５６Ａは、断層画像の他方の対角線上の分割領域毎についても同様に、Ｚ方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出する。なお、図１６の例では、他方の対角線上の分割領域として、正面視左下から右上への対角線上の分割領域を灰色で塗りつぶしている。また、以下では、２つの対角線を区別する際は、上記一方の対角線を「対角線１」といい、上記他方の対角線を「対角線２」という。
【００９３】
以上の処理により、対角線１上の各分割領域及び対角線２上の各分割領域について、２つの乳剤層ＥＬのＺ方向の４つの端部に相当する３次元座標（ｘｉ、ｙｉ、ｚＡｊ）、（ｘｉ、ｙｉ、ｚＢｊ）、（ｘｉ、ｙｉ、ｚＣｊ）、（ｘｉ、ｙｉ、ｚＤｊ）が得られる。
【００９４】
次に、導出部５６Ａは、対角線１上の各分割領域について導出した上層側の乳剤層ＥＬにおける上層側の端部に相当する３次元座標（ｘｉ、ｙｉ、ｚＡｊ）を近似することによって、３次元直線を導出する。この上層側の乳剤層ＥＬにおける上層側の面の対角線１に対応する３次元直線の方程式は、例えば、次の（７）式によって表される。
【００９５】
【数１】
2020160022.tif 000003
【００９６】
また、導出部５６Ａは、対角線１上の各分割領域について導出した上層側の乳剤層ＥＬにおける下層側の端部に相当する３次元座標（ｘｉ、ｙｉ、ｚＢｊ）を近似することによって、３次元直線を導出する。この上層側の乳剤層ＥＬにおける下層側の面の対角線１に対応する３次元直線の方程式は、例えば、次の（８）式によって表される。
【００９７】
【数２】
2020160022.tif 000004
【００９８】
また、導出部５６Ａは、対角線１上の各分割領域について導出した下層側の乳剤層ＥＬにおける上層側の端部に相当する３次元座標（ｘｉ、ｙｉ、ｚＣｊ）を近似することによって、３次元直線を導出する。この下層側の乳剤層ＥＬにおける上層側の面の対角線１に対応する３次元直線の方程式は、例えば、次の（９）式によって表される。
【００９９】
【数３】
2020160022.tif 000005
【０１００】
また、導出部５６Ａは、対角線１上の各分割領域について導出した下層側の乳剤層ＥＬにおける下層側の端部に相当する３次元座標（ｘｉ、ｙｉ、ｚＤｊ）を近似することによって、３次元直線を導出する。この下層側の乳剤層ＥＬにおける下層側の面の対角線１に対応する３次元直線の方程式は、例えば、次の（１０）式によって表される。
【０１０１】
【数４】
2020160022.tif 000006
【０１０２】
また、導出部５６Ａは、対角線２についても同様に、各分割領域について導出した端部に相当する３次元座標を近似によって、２つの乳剤層ＥＬの計４つの面それぞれの３次元直線を導出する。この３次元直線の方程式は、例えば、次の（１１）〜（１４）式によって表される。
【０１０３】
【数５】
2020160022.tif 000007
【０１０４】
【数６】
2020160022.tif 000008
【０１０５】
【数７】
2020160022.tif 000009
【０１０６】
【数８】
2020160022.tif 000010
【０１０７】
そして、導出部５６Ａは、各乳剤層ＥＬのそれぞれの端部について導出した２つの３次元直線を用いて、次の視野２６におけるＺ方向の撮影位置を導出する。
【０１０８】
具体的な一例として、図１７を参照して、上層側の乳剤層ＥＬの上層側の端部について導出した２つの３次元直線を用いて、上層側の乳剤層ＥＬに対する撮影開始位置ＳＴ１を導出する処理の詳細について説明する。この２つの３次元直線は、上記（７）式及び（１１）式により表される。
【０１０９】
図１７に示すように、導出部５６Ａは、上記（７）式に次の視野２６の中心のｘ座標及びｙ座標であるｘｎ及びｙｎを代入することによって、対角線１上のｘｎ及びｙｎに対応するｚ座標であるｚｎ１を導出する。また、導出部５６Ａは、上記（１１）式に次の視野２６の中心のｘ座標及びｙ座標であるｘｎ及びｙｎを代入することによって、対角線２上のｘｎ及びｙｎに対応するｚ座標であるｚｎ２を導出する。また、導出部５６Ａは、次の視野２６の中心のｚ座標であるｚｎａ１の推定値として、ｚｎ１及びｚｎ２の平均値を導出する。このｚｎａ１は、次の（１５）式で表される。（１５）式における「ｚ｜ｆ（ｘｎ、ｙｎ、ｚ）＝０」は、ｆ（ｘｎ、ｙｎ、ｚ）＝０に対して、ｘにｘｎを代入し、ｙにｙｎを代入して、式から求めたｚの値を表す。なお、この記載は、後述する（１７）式〜（１９）式でも同様である。
【０１１０】
【数９】
2020160022.tif 000011
【０１１１】
以上の３次元直線を得るための近似としては、例えば、最小二乗法を適用することができる。
【０１１２】
そして、導出部５６Ａは、上層側の乳剤層ＥＬに対する撮影開始位置ＳＴ１を、次の（１６）式に従って導出する。
ＳＴ１＝ｚｎａ１−ΔＭ５・・・（１６）
なお、（１６）式におけるΔＭ５は、マージンであり、例えば、５μｍを適用することができる。本実施形態では、導出部５６Ａは、前述したように、断層画像を複数の領域に分割したうえで、２つの対角線上の各分割領域について端部の位置ｚＡｊを導出し、位置ｚＡｊを用いた近似によって２つの対角線の３次元直線を導出している。また、導出部５６Ａは、２つの３次元直線を用いて次の視野２６の撮影開始位置ＳＴ１を導出している。従って、現在の視野２６の表面の歪み及び傾き等を考慮して次の視野２６の撮影開始位置ＳＴ１を導出している結果、マージンであるΔＭ５を、第１実施形態に係るマージンであるΔＭ１よりも小さい値にすることができる。この結果、撮影する断層画像の数が低減するため、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間をより短縮することができる。
【０１１３】
同様に、導出部５６Ａは、次の視野２６おける上層側の乳剤層ＥＬの下層側の端部のｚ座標であるｚｎｂ１を、次の（１７）式に従って導出する。
【０１１４】
【数１０】
2020160022.tif 000012
【０１１５】
同様に、導出部５６Ａは、次の視野２６おける下層側の乳剤層ＥＬの上層側の端部のｚ座標であるｚｎａ２を、次の（１８）式に従って導出する。
【０１１６】
【数１１】
2020160022.tif 000013
【０１１７】
同様に、導出部５６Ａは、次の視野２６おける下層側の乳剤層ＥＬの下層側の端部のｚ座標であるｚｎｂ２を、次の（１９）式に従って導出する。
【０１１８】
【数１２】
2020160022.tif 000014
【０１１９】
そして、導出部５６Ａは、上層側の乳剤層ＥＬに対する撮影終了位置ＥＤ１を、次の（２０）式に従って導出する。また、導出部５６Ａは、下層側の乳剤層ＥＬに対する撮影開始位置ＳＴ１及び撮影終了位置ＥＤ１を、次の（２１）式に従って導出する。
ＥＤ１＝ｚｎｂ１＋ΔＭ６・・・（２０）
ＳＴ２＝ｚｎａ２−ΔＭ７、ＥＤ２＝ｚｎｂ２＋ΔＭ８・・・（２１）
なお、（２０）式及び（２１）式におけるΔＭ６〜ΔＭ８は、マージンであり、例えば、５μｍを適用することができる。これらのマージンのΔＭ６〜ΔＭ８も、ΔＭ５と同様に、第１実施形態に係るマージンであるΔＭ２〜ΔＭ４よりも小さい値にすることができる。
【０１２０】
次に、図１８を参照して、本実施形態に係る情報処理装置１２の作用を説明する。ＣＰＵ３０が情報処理プログラム４０を実行することによって、図１８に示す撮影処理が実行される。例えば、ユーザによって入力部３４を介して撮影開始の指示が入力されると、図１８に示す撮影処理が実行される。なお、図１８における図１４と同一の処理を実行するステップについては、同一の符号を付して説明を省略する。
【０１２１】
図１８のステップＳ３６の判定が否定判定となった場合、処理はステップＳ３７Ａに移行する。ステップＳ３７Ａで、導出部５６Ａは、ステップＳ１６の処理により取得された断層画像を複数の領域に分割する。
【０１２２】
ステップＳ３７Ｂで、導出部５６Ａは、前述したように、断層画像の２つの対角線上の各々の分割領域毎に、Ｚ方向に沿った黒点の数の分布に基づいて、乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置ｚＡｊ、ｚＢｊ、ｚＣｊ、ｚＤｊを導出する。
【０１２３】
ステップＳ３７Ｃで、導出部５６Ａは、前述したように、ステップＳ３７Ｂの処理により導出された端部の位置ｚＡｊ、ｚＢｊ、ｚＣｊ、ｚＤｊを用いた近似により、２つの乳剤層ＥＬの４つのＺ方向の端部の面それぞれについて、２つの対角線に対応する３次元直線を導出する。
【０１２４】
ステップＳ３８Ａで、導出部５６Ａは、前述したように、各乳剤層ＥＬのそれぞれの端部について導出した２つの３次元直線を用いて、次の視野２６におけるＺ方向の撮影位置を導出する。ステップＳ３８Ａが終了すると、処理はステップＳ４０に移行する。ステップＳ４０では、ステップＳ３８Ａで導出された撮影開始位置ＳＴ１、ＳＴ２及び撮影終了位置ＥＤ１、ＥＤ２が用いられる。
【０１２５】
以上説明したように、本実施形態によれば、原子核乾板から荷電粒子の飛跡を抽出する処理の所要時間をより短縮することができる
【０１２６】
なお、上記第２実施形態において、導出部５６Ａは、分割領域の各々について、黒点の数から乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を導出し、導出した各分割領域の乳剤層ＥＬのＺ方向の端部の位置を用いて乳剤層ＥＬの表面の形状を導出してもよい。この場合、例えば、図１９に示すように、導出部５６Ａは、隣接する３つの分割領域のＺ方向の端部の位置を含む３次元座標を結んだ三角形のパッチと、その三角形の法線ベクトルにより、視野２６の表面の形状を導出する。各視野２６について表面の形状が導出されることによって、乳剤層ＥＬ全体の表面の形状が導出される。なお、ここでいう表面とは、乳剤層ＥＬから見た表面であり、乳剤層ＥＬにおける原子核乾板ＮＰの外側の面だけではなく、フィルムベースＦＢ側の面も含まれる。
【０１２７】
この形態例において、例えば、情報処理装置１２は、導出された乳剤層ＥＬの表面の形状が、許容されない程度に歪んでいる場合に、エラーメッセージを表示部３３に出力してもよい。このエラーは、例えば、原子核乾板ＮＰの製造工程にフィードバックされる。また、情報処理装置１２は、導出された乳剤層ＥＬの表面の形状が、許容されない程度に歪んでいる場合は、飛跡Ｔを抽出する処理及び解析処理等の以降の処理を中止してもよい。この場合の許容範囲は、例えば、要求される非破壊検査の解析精度等に応じて予め定めておけばよい。
【０１２８】
また、上記各実施形態において、例えば、取得部５０、画像処理部５２、特定部５４、導出部５６、５６Ａ、及び撮影制御部５８といった各種の処理を実行する処理部（processing unit）のハードウェア的な構造としては、次に示す各種のプロセッサ（processor）を用いることができる。上記各種のプロセッサには、前述したように、ソフトウェア（プログラム）を実行して各種の処理部として機能する汎用的なプロセッサであるＣＰＵに加えて、ＦＰＧＡ等の製造後に回路構成を変更可能なプロセッサであるプログラマブルロジックデバイス（Programmable Logic Device：PLD）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）等の特定の処理を実行させるために専用に設計された回路構成を有するプロセッサである専用電気回路等が含まれる。
【０１２９】
１つの処理部は、これらの各種のプロセッサのうちの１つで構成されてもよいし、同種又は異種の２つ以上のプロセッサの組み合わせ（例えば、複数のＦＰＧＡの組み合わせや、ＣＰＵとＦＰＧＡとの組み合わせ）で構成されてもよい。また、複数の処理部を１つのプロセッサで構成してもよい。
複数の処理部を１つのプロセッサで構成する例としては、第１に、クライアント及びサーバ等のコンピュータに代表されるように、１つ以上のＣＰＵとソフトウェアの組み合わせで１つのプロセッサを構成し、このプロセッサが複数の処理部として機能する形態がある。第２に、システムオンチップ（System On Chip：SoC）等に代表されるように、複数の処理部を含むシステム全体の機能を１つのＩＣ（Integrated Circuit）チップで実現するプロセッサを使用する形態がある。このように、各種の処理部は、ハードウェア的な構造として、上記各種のプロセッサの１つ以上を用いて構成される。
【０１３０】
更に、これらの各種のプロセッサのハードウェア的な構造としては、より具体的には、半導体素子などの回路素子を組み合わせた電気回路（circuitry）を用いることができる。
【０１３１】
また、上記各実施形態では、情報処理プログラム４０が記憶部３２に予め記憶（インストール）されている態様を説明したが、これに限定されない。情報処理プログラム４０は、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＤＶＤ−ＲＯＭ（Digital Versatile Disc Read Only Memory）、及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ等の記録媒体に記録された形態で提供されてもよい。また、情報処理プログラム４０は、ネットワークを介して外部装置からダウンロードされる形態としてもよい。
【符号の説明】
【０１３２】
１０  情報処理システム
１２  情報処理装置
１４  撮影装置
１６  カメラ本体
１８  ピエゾステージ
２０  対物レンズ
２２  ＸＹステージ
２４  光源
２６  視野
３０  ＣＰＵ
３１  メモリ
３２  記憶部
３３  表示部
３４  入力部
３５  ネットワークＩ／Ｆ
３６  外部Ｉ／Ｆ
３７  バス
４０  情報処理プログラム
５０  取得部
５２  画像処理部
５４  特定部
５６、５６Ａ  導出部
５８  撮影制御部
ＥＬ  乳剤層
ＦＢ  フィルムベース
ＮＰ  原子核乾板
Ｔ  飛跡
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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