(57)【要約】【課題】防止機器を効率的に試験することが可能となる試験冶具、及び試験装置を提供すること。【解決手段】外部から印加される磁界を検出するホールＩＣ１２１と、ホールＩＣ１２１による磁界の検出状態に基づいて、自己の試験を行う試験部１５１とを備える感知器１を試験するための試験冶具２２であり、感知器１に近接されて用いられる試験冶具２２であって、感知器１と近接する近接面と、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力するマグネット２２２と、を備え、マグネット２２２は、近接面における複数個所に固定して設けられており、試験冶具２２と感知器１との相互間の向きに関わらず、感知器１のホールＩＣ１２１に対して所定レベル以上の磁界を印加する。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部から印加される磁界を検出する検出手段と、前記検出手段による磁界の検出状態に基づいて、自己の試験を行う試験手段とを備える防止機器であって、防災又は防犯のために用いられる前記防止機器を試験するための試験冶具であり、前記防止機器に近接されて用いられる前記試験冶具であって、
前記防止機器と近接する近接面と、
前記近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力する出力手段と、
を備える試験冶具。
【請求項２】
前記出力手段は、前記近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネットである、
請求項１に記載の試験冶具。
【請求項３】
前記防止機器の前記検出手段は、複数設けられており、
前記防止機器の前記試験手段は、複数の前記検出手段のうちの何れが磁界を検出したかに基づいて、複数種類の試験のうちの少なくとも１種類の試験を選択し、選択した前記少なくとも１種類の試験を行い、
前記試験冶具の前記複数のマグネットは、複数の前記検出手段が設けられている箇所に対応する箇所に設けられており、
前記防止機器と近接した状態の前記試験冶具の前記防止機器に対する回動位置が変更されることにより、前記試験冶具の前記複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、前記防止機器の複数の前記検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加する、
請求項２に記載の試験冶具。
【請求項４】
前記防止機器の前記試験手段は、前記検出手段が所定レベル以上の磁界を検出した場合に前記防止機器の試験を行い、
前記出力手段は、複数個固定して設けられており、
複数の前記出力手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具と前記防止機器との相互間の向きに関わらず、前記防止機器の前記検出手段に対して前記所定レベル以上の磁界を印加する、
請求項１又は２に記載の試験冶具。
【請求項５】
前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、
前記試験冶具は、空洞部を有する筒形状であり、
前記防止機器の前記発光手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具の空洞部を介して露出する、
請求項１から４の何れか一項に記載の試験冶具。
【請求項６】
前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、
前記試験冶具は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の光を受光する受光手段と、
前記受光手段の受光結果に基づいて、前記防止機器に関する処理を行う処理手段と、を備える、
請求項１から５の何れか一項に記載の試験冶具。
【請求項７】
前記処理手段は、前記防止機器の試験結果を判定する処理を行う、
請求項６に記載の試験冶具。
【請求項８】
前記処理手段は、前記防止機器の前記発光手段による発光態様を識別する処理を行う、
請求項６又は７に記載の試験冶具。
【請求項９】
支持棒と、
請求項１〜８の何れか一項に記載の前記試験冶具であって、前記支持棒の先端側に設けられている前記試験冶具と、
を備える試験装置。
【請求項１０】
前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、
前記試験装置は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の発光状況を前記支持棒における前記先端側とは反対側に対して出力する状況出力手段、を備える、
請求項９に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験冶具、及び試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、天井等に設置されて火災を検出する感知器が知られていた（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１８−１２８８７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、特許文献１の感知器を含めて、一般的に、感知器について、当該感知器が正常に動作するか否かを確認するために試験を行う技術が提案されていた。
【０００５】
すなわち、例えば、感知器の構成要素としてホールＩＣを設けた上で、磁石が１個のみ設けられている試験冶具の当該磁石を感知器のホールＩＣに近接させて、ホールＩＣに対して磁界を印加することにより、当該感知器に試験を開始させる技術が提案されていた。この技術においては、感知器のホールＩＣに対して試験冶具の磁石を近接させる必要があったので、例えば、ユーザは、感知器の外観の一部（例えば、表示灯の位置等）、及び試験冶具の一部（例えば、位置合わせ用の印等）を基準にして目視にて位置合わせ又は角度合わせを行い、感知器のホールＩＣに対して試験冶具の磁石を近接させていた。
【０００６】
しかしながら、感知器におけるホールＩＣの位置（例えば、表示灯に対する角度等）は、基板実装上のスペースの問題などで、機種毎に異なる場合があり、感知器に対する試験冶具の位置決めが手間となる可能性があった。
【０００７】
本発明は上記問題に鑑みてなされたもので、防止機器を効率的に試験することが可能となる試験冶具、及び試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１に記載の試験冶具は、外部から印加される磁界を検出する検出手段と、前記検出手段による磁界の検出状態に基づいて、自己の試験を行う試験手段とを備える防止機器であって、防災又は防犯のために用いられる前記防止機器を試験するための試験冶具であり、前記防止機器に近接されて用いられる前記試験冶具であって、前記防止機器と近接する近接面と、前記近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力する出力手段と、を備える。
【０００９】
また、請求項２に記載の試験冶具は、請求項１に記載の試験冶具において、前記出力手段は、前記近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネットである。
【００１０】
また、請求項３に記載の試験冶具は、請求項２に記載の試験冶具において、前記防止機器の前記検出手段は、複数設けられており、前記防止機器の前記試験手段は、複数の前記検出手段のうちの何れが磁界を検出したかに基づいて、複数種類の試験のうちの少なくとも１種類の試験を選択し、選択した前記少なくとも１種類の試験を行い、前記試験冶具の前記複数のマグネットは、複数の前記検出手段が設けられている箇所に対応する箇所に設けられており、前記防止機器と近接した状態の前記試験冶具の前記防止機器に対する回動位置が変更されることにより、前記試験冶具の前記複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、前記防止機器の複数の前記検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加する。
【００１１】
また、請求項４に記載の試験冶具は、請求項１又は２に記載の試験冶具において、前記防止機器の前記試験手段は、前記検出手段が所定レベル以上の磁界を検出した場合に前記防止機器の試験を行い、前記出力手段は、複数個固定して設けられており、複数の前記出力手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具と前記防止機器との相互間の向きに関わらず、前記防止機器の前記検出手段に対して前記所定レベル以上の磁界を印加する。
【００１２】
また、請求項５に記載の試験冶具は、請求項１から４のいずれか一項に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験冶具は、空洞部を有する筒形状であり、前記防止機器の前記発光手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具の空洞部を介して露出する。
【００１３】
また、請求項６に記載の試験冶具は、請求項１から５の何れか一項に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験冶具は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光結果に基づいて、前記防止機器に関する処理を行う処理手段と、を備える。
【００１４】
また、請求項７に記載の試験冶具は、請求項６に記載の試験冶具において、前記処理手段は、前記防止機器の試験結果を判定する処理を行う。
【００１５】
また、請求項８に記載の試験冶具は、請求項６又は７に記載の試験冶具において、前記処理手段は、前記防止機器の前記発光手段による発光態様を識別する処理を行う。
【００１６】
また、請求項９に記載の試験装置は、支持棒と、請求項１〜８の何れか一項に記載の前記試験冶具であって、前記支持棒の先端側に設けられている前記試験冶具と、を備える。
【００１７】
また、請求項１０に記載の試験装置は、請求項９に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験装置は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の発光状況を前記支持棒における前記先端側とは反対側に対して出力する状況出力手段、を備える。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の試験冶具によれば、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を軽減することができるので、防止機器を効率的に試験することが可能となる。
【００１９】
請求項２に記載の試験冶具によれば、近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネットを備えることにより、例えば、試験冶具に対してマグネットが固定されているので、防止機器の検出部に対して固定された位置から安定的に磁気を出力することができ、防止機器の試験を確実に行うことが可能となる。
【００２０】
請求項３に記載の試験冶具によれば、防止機器と近接した状態の試験冶具の防止機器に対する回動位置が変更されることにより、試験冶具の複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、防止機器の複数の検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加することにより、例えば、１個の試験冶具を用いて、複数種類の試験をユーザの意図する所望のタイミングで行うことが可能となる。
【００２１】
請求項４に記載の試験冶具によれば、試験冶具と防止機器との相互間の向きに関わらず、防止機器の検出手段に対して所定レベル以上の磁界を印加することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を更に軽減することができるので、防止機器を更に効率的に試験することが可能となる。
【００２２】
請求項５に記載の試験冶具によれば、防止機器の発光手段は試験冶具の空洞部を介して露出することにより、例えば、試験装置を用いて試験を行っているユーザに対して発光手段を視認させることができるので、当該ユーザに対して防止機器の試験に関する状況を認識させることが可能となる。
【００２３】
請求項６に記載の試験冶具によれば、防止機器の発光手段の光を受光する受光手段の受光結果に基づいて、防止機器に関する処理を行うことにより、例えば、ユーザによる防止機器の試験作業を支援することができるので、利便性を向上させることが可能となる。
【００２４】
請求項７に記載の試験冶具によれば、防止機器の試験結果を判定することにより、例えば、試験結果をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。
【００２５】
請求項８に記載の試験冶具によれば、発光手段による発光態様を識別することにより、例えば、発光手段の発光態様をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。
【００２６】
請求項９に記載の試験装置によれば、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を軽減することができるので、防止機器を効率的に試験することが可能となる。また、例えば、試験冶具が支持棒の先端側に設けられているので、ユーザから離れた位置に設置されている防止機器を試験することが可能となる。
【００２７】
請求項１０に記載の試験装置によれば、防止機器の発光手段の発光状況を支持棒における先端側とは反対側に対して出力することにより、例えば、ユーザの手元にて防止機器の発光状況を視認させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の実施の形態における感知器の試験を行っている場合の側面図である。
【図２】感知器を示すブロック図である。
【図３】天井に取り付けられている感知器の底面図である。
【図４】試験冶具の斜視図である。
【図５】試験冶具の斜視図である。
【図６】試験冶具の底面図である。
【図７】天井の感知器に近接された状態の試験冶具の底面図である。
【図８】図７に対して回動位置が変更された場合の試験冶具の底面図である。
【図９】天井の感知器に近接された状態の試験冶具の底面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下に、本発明に係る試験冶具、及び試験装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
【００３０】
〔実施の形態の基本的概念〕
まずは、実施の形態の基本的概念について説明する。実施の形態は、概略的に、試験冶具、及び試験装置に関するものである。
【００３１】
「試験装置」とは防止機器の試験を行うための機器であり、例えば、支持棒、及び試験冶具を備え、任意で状況出力手段を備えるものである。「防止機器」とは、防災又は防犯のために用いられる機器であり、例えば、感知器、人体検出器、あるいは、感知器及び人体検出器以外の任意の装置を含む概念である。
【００３２】
「感知器」とは、防災のために用いられる防災機器であり、また、監視領域の異常を検出する機器であり、具体的には、監視領域の検出対象を検出することにより、火災、又はガス漏れ等の異常を検出する機器であり、例えば、煙感知器、熱感知器、火災感知器、及びガス感知器、あるいは、これらの各感知器の機能を組み合わせたコンベンショナル感知器等を含む概念である。また、「感知器」とは、例えば、検出手段、及び試験手段を備え、任意で発光手段を備えるものである。
【００３３】
「人体検出器」とは、防犯のために用いられる防犯機器であり、また、監視領域の異常を検出する機器であり、具体的には、監視領域への人の侵入又は監視領域内の人（例えば不審者等）の存在を検出する機器であり、例えば、人感センサ等を用いて構成することができる機器等を含む概念である。
【００３４】
「監視領域」とは、防止機器による監視の対象となっている領域であり、具体的には、一定の広がりを持った空間であり、例えば、建築物の部屋（例えば、１階の部屋Ａ、１階の部屋Ｂ等）、廊下、階段等を含む概念である。また、「監視領域の異常」とは、監視領域の状態が通常とは異なっている状態であることであり、具体的には、火災発生、ガス漏れ、人（例えば不審者等）の侵入又は存在等を含む概念である。
【００３５】
「検出手段」とは、防止機器の外部から印加される磁界を検出する手段であり、例えば、１個のみ設けられるもの、あるいは、複数個設けられるもの等を含む概念である。なお、「磁界を検出する」とは、例えば、磁界の存在を検出すること、及び磁界の変化を検出すること等を含む概念である。
【００３６】
「試験手段」とは、検出手段による磁界の検出状態に基づいて、防止機器の試験を行う手段であり、例えば、検出手段が所定レベル以上の磁界を検出した場合に防止機器の試験を行う手段等を含む概念であり、また、複数の検出手段のうちの何れが磁界を検出したかに基づいて、複数種類の試験のうちの少なくとも１種類の試験を選択し、選択した少なくとも１種類の試験を行う手段等を含む概念である。
【００３７】
「試験」とは、防止機器の機能が正常であるか否かを検査する試験であり、例えば、感度試験、発報試験、及び障害試験等を含む概念である。「感度試験」とは、防止機器の異常を検出する感度を検査する試験であり、例えば、防止機器のゼロ点が正常であるか否かを検査する試験等を含む概念である。「ゼロ点」とは、例えば、火災が発生していない場合における防止機器である感知器による火災に関連する物理量の検出値に対応する概念である。「発報試験」とは、防止機器が異常を検出した場合の動作を検査する試験であり、例えば、想定通り発報信号を出力するか否かを検査する試験等を含む概念である。「障害試験」とは、防止機器自体の障害を検査する試験であり、例えば、防止機器の構成要素が正常に動作するか否か又は断線していないか否か等を検査する試験等を含む概念である。
【００３８】
「発光手段」とは、防止機器の外部に対して発光する手段であり、具体的には、防止機器の試験に関する状況を報知するために発光するものであり、例えば、任意の光源（一例としては、ＬＥＤ等）を有するもの等を含む概念である。なお、「試験に関する状況」とは、例えば、防止機器の試験を行うための信号である試験信号を受け付けたこと、防止機器で行われた試験の種類、又は、防止機器で行われた試験の結果等を含む概念である。
【００３９】
「支持棒」とは、試験冶具を支持する支持手段である。
【００４０】
「試験冶具」とは、防止機器を試験するための冶具であり、具体的には、防止機器に近接されて用いられるものであり、例えば、支持棒の先端側に設けられているもの等を含む概念である。「試験冶具」とは、例えば、空洞部を有する筒形状のもの等を含む概念であり、また、近接面、及び出力手段を備え、任意で、受光手段、及び処理手段を備える。
【００４１】
「近接面」とは、防止機器と近接する面である。
【００４２】
「出力手段」とは、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力して磁界を発生させる手段であり、例えば、１個のみ又は複数個設けられているもの等を含む概念であり、また、近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネット等を含む概念であり、また、試験冶具が防止機器に近接された場合に、試験冶具と防止機器との相互間の向きに関わらず、防止機器の検出手段に対して所定レベル以上の磁界を印加する手段等を含む概念である。なお、「近接面における複数個所」とは、近接面自体の複数個所、あるいは、近接面の近傍の複数個所等を含む概念である。
【００４３】
「マグネット」とは、磁気を出力して磁界を発生させるものであり、例えば、１個のみのもの、あるいは、複数のもの等を含む概念であり、また、防止機器における複数の検出手段が設けられている箇所に対応する箇所に設けられているもの等を含む概念である。そして、例えば、防止機器と近接した状態の試験冶具の防止機器に対する回動位置が変更されることにより、試験冶具の複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、防止機器の複数の検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加することになる。
【００４４】
「空洞部」とは、例えば、試験冶具における貫通して空洞となっている部分であり、また、試験冶具が防止機器に近接された場合に、防止機器の発光手段を露出させる部分等を含む概念である。
【００４５】
「受光手段」とは、試験冶具が防止機器に近接された場合に、防止機器の発光手段の光を受光する手段である。「処理手段」とは、受光手段の受光結果に基づいて、防止機器に関する処理を行う手段であり、例えば、防止機器の試験結果を判定する処理を行う手段等を含む概念であり、また、防止機器の発光手段による発光態様を識別する処理を行う手段等を含む概念である。「発光態様」とは、発光手段による発光のあり様であり、例えば、発光する色である発光色、及び発光するパターンである発光パターン等を含む概念である。
【００４６】
「状況出力手段」とは、試験冶具が防止機器に近接された場合に、防止機器の発光手段の発光状況を支持棒における先端側とは反対側に対して出力する手段であり、例えば、防止機器の発光手段の光を支持棒における先端側とは反対側に対して導光して当該発光手段の発光状況を出力する手段（一例としては、光ファイバーを用いて実現される構成要素等）を含む概念であり、また、前述の受光部の受光結果に基づいて発光手段の発光状況を電気的に把握して出力する手段等（一例としては、受光部の受光結果に基づいて発光状況に関する情報を表示するディスプレイ等）を含む概念である。
【００４７】
そして、以下に示す実施の形態では、「防止機器」が感知器であり、また、「試験装置」が支持棒及び試験冶具を備えており、また、「試験冶具」が近接面、及び出力手段を備えている場合について説明し、他のバリエーションについては、変形例において適宜説明する。
【００４８】
［実施の形態の具体的内容］
次に、実施の形態の具体的内容について説明する。
【００４９】
（構成−感知器）
まず、本実施の形態に係る試験装置が適用される感知器の構成について説明する。図１は、本発明の実施の形態における感知器の試験を行っている場合の側面図であり、図２は、感知器を示すブロック図であり、図３は、天井に取り付けられている感知器の底面図である。なお、図１及び図３では、Ｚ軸が垂直方向を示しており、Ｚ軸と直交するＸ軸及びＹ軸が垂直方向を示していることとして説明する。また、図１において、感知器１の一部は実際には試験冶具２２に隠れて見えない状態となっているが、便宜上、実線にて描かれている。図１の感知器１は、防止機器であり、具体的には、防災機器であり、例えば、天井に設けられているものであり、一例としては、図２の物理量検出部１１、磁界検出部１２、情報出力部１３、記録部１４、及び制御部１５を備える。
【００５０】
（構成−感知器−物理量検出部）
図２の物理量検出部１１は、異常である火災に関連する物理量を検出する物理量検出手段である。この物理量検出部１１の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、検煙空間、当該検煙空間に入り込んだ煙の濃度を検出する煙検出手段を用いて構成することができる。なお、煙検出手段としては、少なくとも、ＬＥＤ等の発光部と、当該発光部からの光に基づく光を受光するフォトダイオード等の受光部とを用いて、散乱光式又は減光式のものとして構成することができる。
【００５１】
（構成−感知器−磁界検出部）
図２の磁界検出部１２は、感知器１の外部から印加される磁界を検出する磁界検出手段である。この磁界検出部１２の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、図３のホールＩＣ１２１を備えて構成することができる。「ホールＩＣ」１２１とは、前述の検出手段であり、例えば、感知器１のカバーの内部に設けられているものであり、また、ホール素子を用いて構成することができる。
【００５２】
（構成−感知器−情報出力部）
図２の情報出力部１３は、感知器１に関連する情報を出力する情報出力手段である。この情報出力部の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、図３の表示灯１３１等を備えて構成することができる。表示灯１３１は、感知器１の外部に対して発光する発光手段であり、例えば、ＬＥＤ等の光源を用いて構成することができる。
【００５３】
（構成−感知器−記録部）
図２の記録部１４は、感知器１の動作に必要なプログラム及び各種のデータを記録する記録手段であり、例えば、フラッシュメモリを用いて構成させている。ただし、フラッシュメモリに代えて任意の記録媒体を用いることができる。
【００５４】
（構成−感知器−制御部）
図２の制御部１５は、感知器１を制御する制御手段であり、具体的には、ＣＰＵ、当該ＣＰＵ上で解釈実行される各種のプログラム（ＯＳなどの基本制御プログラムや、ＯＳ上で起動され特定機能を実現するアプリケーションプログラムを含む）、及びプログラムや各種のデータを格納するためのＲＡＭの如き内部メモリを備えて構成されるコンピュータである。特に、実施の形態に係る制御プログラムは、任意の記録媒体又はネットワークを介して感知器１にインストールされることで、制御部１５の各部を実質的に構成する。
【００５５】
図２の制御部１５は、機能概念的には、例えば、試験部１５１を備える。試験部１５１は、ホールＩＣ１２１による磁界の検出状態に基づいて、感知器１の試験を行う試験手段である。なお、この制御部１５の各部により行われる処理については、後述する。
【００５６】
（構成−試験装置）
次に、本実施の形態に係る試験装置２の構成について説明する。図１の試験装置２は、試験を行うために感知器１に対して磁界を印加する装置であり、例えば、支持棒２１、及び試験冶具２２を備える。
【００５７】
（構成−試験装置−支持棒）
図１の支持棒２１は、試験冶具２２を支持する支持手段である。この支持棒２１の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、長尺状のものとして構成することができる。
【００５８】
（構成−試験装置−試験冶具）
図４及び図５は、試験冶具の斜視図であり、図６は、試験冶具の底面図であり、図７は、天井の感知器に近接された状態の試験冶具の底面図であり、図８は、図７に対して回動位置が変更された場合の試験冶具の底面図である。なお、図４〜図６においては、説明の便宜上、図１に示すように試験冶具２２が感知器１に近接された場合の座標系と同様な座標系を用いて説明する。また、図７においては、試験冶具２２については外形のみが図示されており、詳細形状の図示は省略されている。なお、図８においては、図７の試験冶具２２において当該試験冶具２２の中心を基準にして時計回りに僅かに回動した状態を図示している。
【００５９】
図１の試験冶具２２は、感知器１に近接されて用いられるものである。この試験冶具２２の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、支持棒２１の先端に任意の手法（例えば、取付用の金具を用いて取付手法等）で取り付けられているものであり、また、筒形状のものであり、また、樹脂製等の磁界を通す材料にて形成されるものであり、また、図４の取付穴２２１、マグネット２２２、近接面２２３、及び空洞部２２４を備えるものである。
【００６０】
（構成−試験装置−試験冶具−取付穴）
取付穴２２１は、試験冶具２２に対してマグネット２２２を取り付ける取付手段であり、例えば、図４及び図５に示すように、試験冶具２２の外周側に設けられるものであり、また、図６に示すように、４個設けられているものであり、また、試験冶具２２の中心を基準にして隣接する２個の取付穴２２１と当該中心とで形成される角度が９０度となる位置に設けられているものであり、マグネット２２２を内部に保持するものである。なお、マグネット２２２を保持する手法は任意であるが、例えば、内部のマグネット２２２が取付穴２２１から外れ落ちることを防止する係止片等を用いる手法等を用いることができる。
【００６１】
（構成−試験装置−試験冶具−マグネット）
マグネット２２２は、近接面２２３における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力して磁界を発生させる出力手段である。このマグネット２２２の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、取付穴２２１の内部に保持されることにより、試験冶具２２に取り付けられて固定されるものであり、また、図６に示すように、４個設けられているものであり、また、任意の強度レベルの磁界を発生させる永久磁石を用いることができる。なお、マグネット２２２が発生させる磁界の強度レベルは任意であるが、例えば、試験冶具２２を用いる場合、図１に示すように感知器１に近接させて用いることになるが、この場合、図７及び図８に示すように、感知器１に対する試験冶具２２の回動位置（試験冶具２２の周方向における相対位置）が様々な想定される。この想定を考慮して、感知器１に対する試験冶具２２の位置が何れの相対位置となったとしても、感知器１に対して試験冶具２２を近接させた場合に、感知器１のホールＩＣ１２１が所定レベル（感知器１の試験部１５１に対して試験を開始させることが可能となるレベル）以上の強度レベルの磁界を検出できるように、各マグネット２２２が発生させる磁界の強度レベルを決定することとする。
【００６２】
（構成−試験装置−試験冶具−近接面）
図４及び図５の近接面２２３は、感知器１と近接する面である。この近接面２２３の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、感知器１の外形に対応する形状となっているものである。
【００６３】
（構成−試験装置−試験冶具−空洞部）
図４及び図５の空洞部２２４は、試験冶具２２を貫通している部分である。この空洞部２２４の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、図１の感知器１における下側（−Ｚ方向）の部分に設けられている図７の表示灯１３１を視認可能に露出させるものである。
【００６４】
（試験）
次に、このように構成される試験装置２を用いて行われる感知器１の試験について説明する。
【００６５】
まず、図１のユーザが、試験装置２の支持棒２１を保持して、試験冶具２２を感知器１に押し当てることにより近接させる。この場合、試験冶具２２の周方向における感知器１に対する試験冶具２２の相対位置は、例えば、図７や図８等に示すように様々想定されるが、４個のマグネット２２２のうちの少なくとも１個のマグネット（一例としては、ホールＩＣ１２１からの最も距離が近い１個又は２個のマグネット）から出力された磁気により発生する磁界がホールＩＣ１２１に印加されて、当該ホールＩＣ１２１は、前述の相対位置が何れの位置となった場合であっても、所定レベル以上の磁界を検出することになる。そして、感知器１の試験部１５１は、ホールＩＣ１２１が所定レベル以上の磁界を検出するので、試験を行うが、この場合、表示灯１３１の発光態様（発光色及び又は発光パターン）を任意に変更して、試験に関する状況（感知器１が試験信号を受け付けたこと、感知器１で行われた試験の種類、又は、感知器１で行われた試験の結果）を報知する。なお、この場合、ユーザは図７の空洞部２２４を介して表示灯１３１を視認することにより、試験に関する状況を把握することが可能となる。
【００６６】
なお、ここで行われる具体的な試験は任意であり、例えば、ホールＩＣ１２１が磁界を検出し続けた時間に応じて、試験部１５１が、複数種類の試験（例えば、感度試験、発報試験、障害試験）のうちの何れか１種類を選択し、選択した１種類の試験を行うように構成されている場合、図１のユーザは、感知器１に近接している試験冶具２２を当該感知器１から遠ざけるタイミングを調整することにより、所望の種類の試験を行うことが可能となる。これにて、試験の説明を終了する。
【００６７】
（実施の形態の効果）
このように本実施の形態によれば、近接面２２３における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力することにより、例えば、感知器１に対する試験冶具２２の位置決めの手間を軽減することができるので、感知器１を効率的に試験することが可能となる。
【００６８】
また、近接面２２３における複数個所に固定して設けられている複数のマグネット２２２を備えることにより、例えば、試験冶具２２に対してマグネット２２２が固定されているので、感知器１のホールＩＣ１２１に対して固定された位置から安定的に磁気を出力することができ、感知器１の試験を確実に行うことが可能となる。
【００６９】
また、試験冶具２２と感知器１との相互間の向きに関わらず、感知器１のホールＩＣ１２１に対して所定レベル以上の磁界を印加することにより、例えば、感知器１に対する試験冶具２２の位置決めの手間を更に軽減することができるので、感知器１を更に効率的に試験することが可能となる。
【００７０】
また、感知器１の表示灯１３１は試験冶具２２の空洞部２２４を介して露出することにより、例えば、試験装置２を用いて試験を行っているユーザに対して表示灯１３１を視認させることができるので、当該ユーザに対して感知器１の試験に関する状況を認識させることが可能となる。
【００７１】
〔実施の形態に対する変形例〕
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明の具体的な構成及び手段は、特許請求の範囲に記載した各発明の技術的思想の範囲内において、任意に改変及び改良することができる。以下、このような変形例について説明する。
【００７２】
（解決しようとする課題や発明の効果について）
まず、発明が解決しようとする課題や発明の効果は、上述の内容に限定されるものではなく、発明の実施環境や構成の詳細に応じて異なる可能性があり、上述した課題の一部のみを解決したり、上述した効果の一部のみを奏したりすることがある。
【００７３】
（分散や統合について）
また、上述した構成は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散や統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部または一部を、任意の単位で機能的または物理的に分散又は統合して構成できる。本出願における「システム」とは、複数の装置によって構成されたものに限定されず、単一の装置によって構成されたものを含む。また、本出願における「装置」とは、単一の装置によって構成されたものに限定されず、複数の装置によって構成されたものを含む。
【００７４】
（マグネットについて）
また、上記実施の形態では、図６のマグネット２２２を４個用いる場合について説明したが、これに限らない。例えば、２個、あるいは、５個以上用いてもよい。また、マグネット２２２は、取付穴２２１の位置に関わらず、試験冶具２２の周方向における任意の位置に設けられるように構成してもよい。また、例えば、マグネット２２２の代わりに、あるいは、当該マグネット２２２と共に電磁石を出力手段として用いてもよい。
【００７５】
（複数のホールＩＣを有する感知器について）
また、上記実施の形態では、図７の感知器１が１個のホールＩＣ１２１を備える場合について説明したが、例えば、ホールＩＣを複数備えている感知器も想定され、当該感知器の試験のための試験冶具を構成してもよい。図９は、天井の感知器に近接された状態の試験冶具の底面図である。図９の感知器３は、特記する場合を除いて感知器１と同様に構成されていることとする。感知器３は、防止機器であり、具体的には、防災機器であり、例えば、２個のホールＩＣ３２１、３２２を備える。そして、感知器３の不図示の試験部は、ホールＩＣ３２１、３２２ののうちの何れが所定レベル以上の磁界を検出したかに基づいて、複数種類の試験のうちの少なくとも１種類の試験を選択し、選択した少なくとも１種類の試験を行うように構成されていることとする。例えば、当該試験部は、ホールＩＣ３２１のみが所定レベル以上の磁界を検出した場合に感度試験を行い、ホールＩＣ３２２のみが所定レベル以上の磁界を検出した場合に発報試験を行い、ホールＩＣ３２１、３２２の両方が所定レベル以上の磁界を検出した場合に障害試験を行うこととする。
【００７６】
図９の試験装置４の試験冶具４２は、マグネット４２１１、４２１２が２個のみ設けられている点以外は、図７の試験装置２の試験冶具２２と同様である。そして、これらのマグネット４２１１、４２１２は、例えば、各ホールＩＣ３２１、３２２と対向する位置に設けられた場合に、対向しているホールＩＣのみが所定レベル以上の磁界を検出するよう磁化されていることとする。このように構成された試験装置４を利用することにより、例えば、感知器３に対する試験冶具４２の回動位置（試験冶具４２の周方向における相対位置）を変更することにより、所望の試験を行うことが可能となる。例えば、図９の試験冶具４２を、当該試験冶具４２の中心を基準にして、約８０度程度時計回りに回動させた場合、マグネット４２１２がホールＩＣ３２１と対向し、ホールＩＣ３２２とは何れのマグネット４２１２、４２１１も対向しないことになる。この場合、ホールＩＣ３２１のみが所定レベル以上の磁界を検出するので、感知器３の試験部は、各試験のうちの感度試験を選択して行うことになる。また、例えば、図９の試験冶具４２を適宜回動させることにより、ホールＩＣ３２２のみが所定レベル以上の磁界を検出した場合に、感知器３の試験部は、発報試験を選択して行うことになる。また、例えば、図９の試験冶具４２を適宜回動させることにより、ホールＩＣ３２１、３２２の両方が所定レベル以上の磁界を検出した場合に、障害試験を選択して行うことになる。このようにして、ユーザが試験装置４の不図示の支持棒にて、試験冶具４２を感知器３に近接させた状態で適宜回動させることにより、所望の試験を行うことが可能となる。このように構成することにより、感知器３と近接した状態の試験冶具４２の感知器３に対する回動位置が変更されることにより、試験冶具４２の複数のマグネット４２１１、４２１２のうちの１つ以上のマグネットは、感知器３の複数のホールＩＣ３２１、３２２のうちの１つ以上のホールＩＣに対して選択的に磁界を印加することにより、例えば、１個の試験冶具４２を用いて、複数種類の試験をユーザの意図する所望のタイミングで行うことが可能となる。
【００７７】
また、上記実施の形態で説明した感知器１と変形例で説明した感知器３の各試験部の動作を組み合わせて動作する他の感知器についても、試験装置４を用いて所望の試験を行うことが可能となる。
【００７８】
（受光部と処理部について）
また、上記実施の形態の図４及び図５の試験冶具２２に対して、受光部及び処理部を設けてもよい。「受光部」とは、試験冶具２２が感知器１に近接された場合に、感知器１の図７の表示灯１３１の光を受光する受光手段である。この受光部の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、フォトダイオード等を用いて構成することができ、また、図５の中空部の内壁における−Ｚ側寄りの一部に設けることができるものである。「処理部」とは、受光部の受光結果に基づいて、感知器１に関する処理を行う処理手段である。このような処理部の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、感知器１の制御部１５と同様にして構成することができるものであり、また、試験冶具２２の内部に設けたり、あるいは、試験冶具２２の外周側に設けたりすることができる小型のものである。そして、例えば、電池又はバッテリを試験冶具２２に実装した上で、前述の各構成要素が、当該電池又はバッテリからの電源電圧により動作するように構成する。そして、処理部は、受光部が受光した光の態様（つまり、表示灯１３１の発光態様（発光色及び又は発光パターン））を特定し、特定結果に基づいて、試験に関する状況（感知器１が試験を行うためのユーザ入力を受け付けたこと、感知器１で行われた試験の種類、又は、感知器１で行われた試験の結果）を判定したり、あるいは、当該特定した発光態様を識別したりするように構成してもよい。そして、試験冶具２２に対して、スピーカ又は通信機能を設けた上で、処理部が、当該スピーカから判定結果（つまり、感知器１で行われた試験の結果等）を音声出力したり、あるいは、通信機能を用いて他の装置に当該判定結果を出力したりするように構成してもよい。また、処理部が、当該スピーカから発光態様の識別結果（例えば、緑色の３秒間隔の点滅、あるいは、赤色の１秒間隔の点滅等）を音声出力したり、あるいは、通信機能を用いて他の装置に当該識別結果を出力したりするように構成してもよい。
【００７９】
このように構成することにより、例えば、感知器１の表示灯１３１の光を受光する受光部の受光結果に基づいて、感知器１に関する処理を行うことにより、例えば、ユーザによる感知器１の試験作業を支援することができるので、利便性を向上させることが可能となる。また、例えば、感知器１の試験結果を判定することにより、例えば、試験結果をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。また、例えば、表示灯１３１による発光態様を識別することにより、例えば、表示灯１３１の発光態様をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。
【００８０】
（状況出力部について）
また、上記実施の形態の図１の試験装置２に対して、状況出力部を設けてもよい。「状況出力部」とは、試験冶具２２が感知器１に近接された場合に、感知器１の表示灯１３１の発光状況を支持棒２１における先端側とは反対側（つまり、例えば、ユーザの持ち手側）に対して出力する状況出力手段である。状況出力部の具体的な種類や構成は任意であるが、例えば、試験冶具２２側で感知器１の表示灯１３１の光を受光し、受光した光を支持棒２１の手元側に導光する光ファイバー等を用いて構成することができる。この場合、感知器１が表示灯１３１の発光により試験に関する状況を報知した場合、当該発光による光が光ファイバーを介して支持棒２１におけるユーザの持ち手側に導光されるので、ユーザが手元側で表示灯１３１の発光態様を確認することが可能となる。このように構成することにより、例えば、感知器１の表示灯１３１の発光状況を支持棒２１における先端側とは反対側に対して出力することにより、例えば、ユーザの手元にて感知器１の発光状況を視認させることが可能となる。
【００８１】
（特徴について）
また、上記実施の形態の構成、及び変形例の特徴を、任意に組み合わせてもよい。
【００８２】
（付記）
付記１の試験冶具は、外部から印加される磁界を検出する検出手段と、前記検出手段による磁界の検出状態に基づいて、自己の試験を行う試験手段とを備える防止機器であって、防災又は防犯のために用いられる前記防止機器を試験するための試験冶具であり、前記防止機器に近接されて用いられる前記試験冶具であって、前記防止機器と近接する近接面と、前記近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力する出力手段と、を備える。
【００８３】
付記２の試験冶具は、付記１に記載の試験冶具において、前記出力手段は、前記近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネットである。
【００８４】
付記３の試験冶具は、付記２に記載の試験冶具において、前記防止機器の前記検出手段は、複数設けられており、前記防止機器の前記試験手段は、複数の前記検出手段のうちの何れが磁界を検出したかに基づいて、複数種類の試験のうちの少なくとも１種類の試験を選択し、選択した前記少なくとも１種類の試験を行い、前記試験冶具の前記複数のマグネットは、複数の前記検出手段が設けられている箇所に対応する箇所に設けられており、前記防止機器と近接した状態の前記試験冶具の前記防止機器に対する回動位置が変更されることにより、前記試験冶具の前記複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、前記防止機器の複数の前記検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加する。
【００８５】
付記４の試験冶具は、付記１又は２に記載の試験冶具において、前記防止機器の前記試験手段は、前記検出手段が所定レベル以上の磁界を検出した場合に前記防止機器の試験を行い、前記出力手段は、複数個固定して設けられており、複数の前記出力手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具と前記防止機器との相互間の向きに関わらず、前記防止機器の前記検出手段に対して前記所定レベル以上の磁界を印加する。
【００８６】
付記５の試験冶具は、付記１から４のいずれか一項に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験冶具は、空洞部を有する筒形状であり、前記防止機器の前記発光手段は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記試験冶具の空洞部を介して露出する。
【００８７】
付記６の試験冶具は、付記１から５の何れか一項に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験冶具は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光結果に基づいて、前記防止機器に関する処理を行う処理手段と、を備える。
【００８８】
付記７の試験冶具は、付記６に記載の試験冶具において、前記処理手段は、前記防止機器の試験結果を判定する処理を行う。
【００８９】
付記８の試験冶具は、付記６又は７に記載の試験冶具において、前記処理手段は、前記防止機器の前記発光手段による発光態様を識別する処理を行う。
【００９０】
付記９の試験装置は、支持棒と、付記１〜８の何れか一項に記載の前記試験冶具であって、前記支持棒の先端側に設けられている前記試験冶具と、を備える。
【００９１】
付記１０の試験装置は、付記９に記載の試験冶具において、前記防止機器は、前記防止機器の外部に対して発光する発光手段であって、前記防止機器の試験に関する状況を報知するために発光する前記発光手段、を備え、前記試験装置は、前記試験冶具が前記防止機器に近接された場合に、前記防止機器の前記発光手段の発光状況を前記支持棒における前記先端側とは反対側に対して出力する状況出力手段、を備える。
【００９２】
（付記の効果）
付記１に記載の試験冶具によれば、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を軽減することができるので、防止機器を効率的に試験することが可能となる。
【００９３】
付記２に記載の試験冶具によれば、近接面における複数個所に固定して設けられている複数のマグネットを備えることにより、例えば、試験冶具に対してマグネットが固定されているので、防止機器の検出部に対して固定された位置から安定的に磁気を出力することができ、防止機器の試験を確実に行うことが可能となる。
【００９４】
付記３に記載の試験冶具によれば、防止機器と近接した状態の試験冶具の防止機器に対する回動位置が変更されることにより、試験冶具の複数のマグネットのうちの１つ以上のマグネットは、防止機器の複数の検出手段のうちの１つ以上の検出手段に対して選択的に磁界を印加することにより、例えば、１個の試験冶具を用いて、複数種類の試験をユーザの意図する所望のタイミングで行うことが可能となる。
【００９５】
付記４に記載の試験冶具によれば、試験冶具と防止機器との相互間の向きに関わらず、防止機器の検出手段に対して所定レベル以上の磁界を印加することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を更に軽減することができるので、防止機器を更に効率的に試験することが可能となる。
【００９６】
付記５に記載の試験冶具によれば、防止機器の発光手段は試験冶具の空洞部を介して露出することにより、例えば、試験装置を用いて試験を行っているユーザに対して発光手段を視認させることができるので、当該ユーザに対して防止機器の試験に関する状況を認識させることが可能となる。
【００９７】
付記６に記載の試験冶具によれば、防止機器の発光手段の光を受光する受光手段の受光結果に基づいて、防止機器に関する処理を行うことにより、例えば、ユーザによる防止機器の試験作業を支援することができるので、利便性を向上させることが可能となる。
【００９８】
付記７に記載の試験冶具によれば、防止機器の試験結果を判定することにより、例えば、試験結果をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。
【００９９】
付記８に記載の試験冶具によれば、発光手段による発光態様を識別することにより、例えば、発光手段の発光態様をユーザに対して正確に認識させることが可能となる。
【０１００】
付記９に記載の試験装置によれば、近接面における複数個所から選択された１つ以上の箇所から磁気を出力することにより、例えば、防止機器に対する試験冶具の位置決めの手間を軽減することができるので、防止機器を効率的に試験することが可能となる。また、例えば、試験冶具が支持棒の先端側に設けられているので、ユーザから離れた位置に設置されている防止機器を試験することが可能となる。
【０１０１】
付記１０に記載の試験装置によれば、防止機器の発光手段の発光状況を支持棒における先端側とは反対側に対して出力することにより、例えば、ユーザの手元にて防止機器の発光状況を視認させることが可能となる。
【符号の説明】
【０１０２】
１  感知器
２  試験装置
３  感知器
１１  物理量検出部
１２  磁界検出部
１３  情報出力部
１４  記録部
１５  制御部
２１  支持棒
２２  試験冶具
４２  試験冶具
１２１  ホールＩＣ
１３１  表示灯
１５１  試験部
２２１  取付穴
２２２  マグネット
２２３  近接面
２２４  空洞部
３２１  ホールＩＣ
３２２  ホールＩＣ
４２１１  マグネット
４２１２  マグネット
【図１】
2020160821.tif 000003
【図２】
2020160821.tif 000004
【図３】
2020160821.tif 000005
【図４】
2020160821.tif 000006
【図５】
2020160821.tif 000007
【図６】
2020160821.tif 000008
【図７】
2020160821.tif 000009
【図８】
2020160821.tif 000010
【図９】
2020160821.tif 000011