(57)【要約】【課題】構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態を迅速に診断することができる塗膜の劣化状態の診断方法を提供する。【解決手段】金属部材の表面に形成された塗膜であって、上記金属部材を含む構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態の診断方法であって、上記構造物の上記隙間に第１電解質溶液を充満させるステップと、上記隙間に充満された上記第１電解質溶液に第１電極を電気的に接続するステップと、上記第１電極を用いて、上記塗膜の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得するステップと、上記劣化状態情報に基づいて、上記塗膜の劣化状態を診断するステップと、を備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属部材の表面に形成された塗膜であって、前記金属部材を含む構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態の診断方法であって、
前記構造物の前記隙間に第１電解質溶液を充満させるステップと、
前記隙間に充満された前記第１電解質溶液に第１電極を電気的に接続するステップと、
前記第１電極を用いて、前記塗膜の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得するステップと、
前記劣化状態情報に基づいて、前記塗膜の劣化状態を診断するステップと、を備える
塗膜の劣化状態の診断方法。
【請求項２】
前記隙間に充満された前記第１電解質溶液に第２電極を接触させるステップと、
前記第２電極から前記第１電解質溶液に交流電圧を印加するステップと、をさらに備える
請求項１に記載の塗膜の劣化状態の診断方法。
【請求項３】
金属部材の表面に形成された塗膜であって、前記金属部材を含む構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態の診断に用いられる測定用プローブであって、
内部空間を有する筒状部材と、
前記内部空間に配置される第１電極であって、前記構造物の前記隙間に充満された第１電解質溶液に電気的に接続するように構成された第１電極と、を備える
測定用プローブ。
【請求項４】
前記内部空間には、塩橋が充填され、且つ、前記塩橋の上方に第２電解質溶液が貯留されており、
前記第１電極は、前記第２電解質溶液と接触するように前記内部空間に配置される
請求項３に記載の測定用プローブ。
【請求項５】
前記測定用プローブは、前記筒状部材の先端側開口を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材をさらに備え、
前記先端側閉止部材は、前記内部空間と前記測定用プローブの外部とを連絡するように構成された連絡路が形成され、前記連絡路には塩橋が充填されるように構成された
請求項３又は４に記載の測定用プローブ。
【請求項６】
前記内部空間および前記連絡路の少なくとも一方に充填された前記塩橋とは絶縁され、且つ、前記隙間に充満された前記第１電解質溶液に電気的に接続するように、前記測定用プローブに装着された第２電極をさらに備える
請求項４又は５に記載の測定用プローブ。
【請求項７】
前記測定用プローブは、前記筒状部材の先端側開口を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材をさらに備え、
前記先端側閉止部材は、前記内部空間と前記測定用プローブの外部とを連絡するように構成された連絡路が形成され、前記連絡路には塩橋が充填されるように構成され、
前記先端側閉止部材の外周面に周方向に沿って設けられた外周溝部に前記第２電極が配置されるように構成された
請求項６に記載の測定用プローブ。
【請求項８】
前記筒状部材の先端側外周縁部に親水性コーティングが施された
請求項３乃至７の何れか１項に記載の測定用プローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、金属部材の表面に形成された塗膜の劣化状態の診断方法、および上記塗膜の劣化状態を診断するために用いられる測定用プローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば鋼材などの金属部材の表面に形成された塗膜は、紫外線や水分などの影響を受けて経時的に劣化する。表面に形成された塗膜が劣化すると下地である金属部材が腐食する虞がある。このため、金属部材の適切な保護を図るために、交流インピーダンス測定などの電気化学測定による測定結果から、塗膜の劣化状態を定量的に評価して、塗膜の劣化状態を診断することが定期的に行われている（例えば特許文献１）。
【０００３】
特許文献１には、シリンダと、シリンダの内部に充填された電解質溶液と、上記電解質溶液に浸された対極および参照電極と、シリンダの先端部から突出するように設けられるとともに、電解質溶液を含んだスポンジと、を備える測定用プローブが開示されている。また、特許文献１には、測定用プローブの先端のスポンジを塗膜の表面に接触させた状態で、測定用プローブと金属部材との間に交流電圧を印可して、測定用プローブと金属部材との間に電流を流すことにより、交流インピーダンスを測定することが開示されている。
【０００４】
また、交流インピーダンス測定に用いる測定用セルとして、塗膜の上に開口端部が乗せられる筒状体と、筒状体の内部に充填される電解質溶液と、上記電解質溶液に浸された対極および参照電極と、を備えるものが知られている。上記測定用セルは、測定対象である塗膜に電解質溶液を接触させた状態で、対極と金属部材との間に交流電圧を印可して、対極と金属部材との間に電流を流すようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第５９０２００２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、例えばフランジ締結された管継手のフランジ面間に形成された隙間のような、構造物に設けられた隙間に面するように塗膜が形成されている場合には、上述した測定用プローブや上述した測定用セルの電解質溶液を、隙間に面するように形成された塗膜に接触させることが困難であるため、上記塗膜の劣化状態を診断できない虞がある。
【０００７】
上記フランジ面の表面に形成された塗膜の劣化状態を診断するためには、フランジ締結を解除して隙間を広げる作業が必要となり、診断に労力や時間がかかるという問題がある。また、金属部材のみにより形成された隙間は、広げること自体が困難であるため、上記隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態を診断できない虞がある。
【０００８】
上述した事情に鑑みて、本発明の少なくとも一実施形態の目的は、構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態を迅速に診断することができる塗膜の劣化状態の診断方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
（１）本発明の少なくとも一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法は、
金属部材の表面に形成された塗膜であって、上記金属部材を含む構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態の診断方法であって、
上記構造物の上記隙間に第１電解質溶液を充満させるステップと、
上記隙間に充満された上記第１電解質溶液に第１電極を電気的に接続するステップと、
上記第１電極を用いて、上記塗膜の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得するステップと、
上記劣化状態情報に基づいて、上記塗膜の劣化状態を診断するステップと、を備える。
【００１０】
上記（１）の方法によれば、塗膜の劣化状態の診断方法は、構造物の隙間に第１電解質溶液を充満させるステップと、上記隙間に充満された第１電解質溶液に第１電極を電気的に接続するステップと、を備える。上記の二つのステップにより、第１電極は、構造物の隙間に充満された第１電解質溶液を介して、隙間に面するように形成された塗膜に電気的に接続されるので、第１電極を用いた電気化学測定が可能となる。金属部材の塗膜が形成されていない部分および第１電極の夫々にリード線などの導電性部材を介して電気的に接続された測定装置により、第１電極に対する金属部材（作用電極）の電位などを上述した劣化状態情報として取得可能であり、取得された劣化状態情報から塗膜の劣化状態を診断することができる。
【００１１】
上記（１）の方法によれば、従来の方法とは異なり、測定用プローブや測定用セルを塗膜に接触させたり、構造物の隙間を開放させたりすることなく、電気化学測定が可能となる。このため、上記の方法によれば、従来の方法に比べて、構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態を迅速に診断することができる。また、従来の方法は、測定用プローブや測定用セルが接触した部分の塗膜の劣化状態を診断していたのに対して、上記の方法によれば、隙間に充満された第１電解質溶液に接触した塗膜の劣化状態を診断することができるので、従来の方法よりも広範囲を一度に診断することができる。
【００１２】
（２）幾つかの実施形態では、上記（１）に記載の塗膜の劣化状態の診断方法は、上記隙間に充満された上記第１電解質溶液に第２電極を接触させるステップと、上記第２電極から上記第１電解質溶液に交流電圧を印加するステップと、をさらに備える。
【００１３】
上記（２）の方法によれば、構造物の隙間に面するように形成された塗膜が、隙間に充満された第１電解質溶液を介して、第２電極に電気的に接続される。第２電極から第１電解質溶液に交流電圧を印可することで、第２電極と金属部材との間に電流を流すことができる。上述した測定装置は、第２電極にリード線などの導電性部材を介して電気的に接続させることで、第１電極を参照電極、第２電極を対極、金属部材を作用電極として交流インピーダンス測定により、交流インピーダンスなどを上述した劣化状態情報として取得可能である。上記の方法によれば、第１電極を用いた電気化学測定に比べて、より多種の劣化状態情報を取得することができるので、塗膜の劣化状態をより精度よく診断することができる。
【００１４】
（３）本発明の少なくとも一実施形態にかかる測定用プローブは、
金属部材の表面に形成された塗膜であって、上記金属部材を含む構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態の診断に用いられる測定用プローブであって、
内部空間を有する筒状部材と、
上記内部空間に配置される第１電極であって、上記構造物の上記隙間に充満された第１電解質溶液に電気的に接続するように構成された第１電極と、を備える。
【００１５】
上記（３）の構成によれば、測定用プローブの第１電極が、構造物の隙間に充満された第１電解質溶液を介して、隙間に面するように形成された塗膜に電気的に接続するようになっているので、測定用プローブの第１電極を用いた電気化学測定が可能となる。金属部材の塗膜が形成されていない部分および第１電極の夫々にリード線などの導電性部材を介して電気的に接続された測定装置により、第１電極に対する金属部材（作用電極）の電位などを上述した劣化状態情報として取得可能であり、取得された劣化状態情報から塗膜の劣化状態を診断することができる。
【００１６】
（４）幾つかの実施形態では、上記（３）に記載の測定用プローブであって、上記内部空間には、塩橋が充填され、且つ、上記塩橋の上方に第２電解質溶液が貯留されており、上記第１電極は、上記第２電解質溶液と接触するように上記内部空間に配置される。
【００１７】
上記（４）の構成によれば、第１電極は、内部空間に貯留された第２電解質溶液、および内部空間に充填された塩橋を介して、隙間に充満された第１電解質溶液に電気的に接続される。塩橋により、第１電解質溶液と第２電解質溶液と電気的に接続するとともに、第１電解質溶液と第２電解質溶液とが混ざることを抑制することができる。
【００１８】
（５）幾つかの実施形態では、上記（３）又は（４）に記載の測定用プローブは、上記筒状部材の先端側開口を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材をさらに備え、上記先端側閉止部材は、上記内部空間と上記測定用プローブの外部とを連絡するように構成された連絡路が形成され、上記連絡路には塩橋が充填されるように構成された。
【００１９】
上記（５）の構成によれば、先端側閉止部材は、内部空間と測定用プローブの外部とを連結するように構成された連絡路が形成され、連絡路には塩橋が充填されている。連絡路に充填された塩橋は、筒状部材の内部空間に配置された第１電極に電気的に接続されている。また、測定用プローブを用いて塗膜の劣化状態を診断する際には、連絡路に充填された塩橋は、連絡路の外部開口部近傍において、第１電解質溶液に接触するようになっている。上記連絡路を測定用プローブの先端側に位置する先端側閉止部材に設けることで、仮に連絡路が筒状部材に設けられる場合に比べて、第１電解質溶液が充満した隙間の近くに配置させ易いので、測定作業の効率化が図れる。
【００２０】
（６）幾つかの実施形態では、上記（４）又は（５）に記載の測定用プローブは、上記内部空間および上記連絡路の少なくとも一方に充填された上記塩橋とは絶縁され、且つ、上記隙間に充満された上記第１電解質溶液に電気的に接続するように、上記測定用プローブに装着された第２電極をさらに備える。
【００２１】
上記（６）の構成によれば、測定用プローブの第２電極が、構造物の隙間に充満された第１電解質溶液を介して、隙間に面するように形成された塗膜に電気的に接続するようになっているので、第１電極と第２電極を用いた電気化学測定が可能となる。また、第２電極から第１電解質溶液に交流電圧を印可することで、第２電極と金属部材との間に電流を流すことができる。第２電極にリード線などの導電性部材を介して上述した測定装置を電気的に接続することで、第１電極を参照電極、第２電極を対極、金属部材を作用電極として交流インピーダンス測定により、交流インピーダンスなどを上述した劣化状態情報として取得可能である。上記の構成によれば、第１電極のみを備える測定用プローブに比べて、より多種の劣化状態情報を取得することができるので、塗膜の劣化状態をより精度よく診断することができる。
【００２２】
（７）幾つかの実施形態では、上記（６）に記載の測定用プローブは、上記筒状部材の先端側開口を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材をさらに備え、上記先端側閉止部材は、上記内部空間と上記測定用プローブの外部とを連絡するように構成された連絡路が形成され、上記連絡路には塩橋が充填されるように構成され、上記先端側閉止部材の外周面に周方向に沿って設けられた外周溝部に上記第２電極が配置されるように構成された。
【００２３】
上記（７）の構成によれば、第２電極を測定用プローブの先端側に位置する先端側閉止部材の外周溝部に配置することで、第２電極を第１電解質溶液が充満した隙間の近くに配置させ易いので、測定作業の効率化が図れる。
また、上記（７）の構成によれば、連絡路に充填された塩橋と第２電極とを近くに配置することができる。ここで、測定用プローブを用いて塗膜の劣化状態を診断する際に、連絡路に充填された塩橋および第２電極を第１電解質溶液に接触させる必要がある。連絡路に充填された塩橋と第２電極とを近くに配置することで、連絡路に充填された塩橋および第２電極を第１電解質溶液に接触させる作業を容易に行うことができる。
【００２４】
（８）幾つかの実施形態では、上記（３）〜（７）の何れかに記載の測定用プローブであって、上記筒状部材の先端側外周縁部に親水性コーティングが施された。
【００２５】
上記（８）の構成によれば、筒状部材の先端側外周縁部に親水性コーティングを施すことにより、筒状部材の先端側外周に第１電解質溶液を保水させることができるため、塩橋と第１電解質溶液とが電気的に接続している状態を安定的に保持させることができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明の少なくとも一実施形態によれば、構造物に設けられた隙間に面するように形成された塗膜の劣化状態を迅速に診断することができる塗膜の劣化状態の診断方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法のフロー図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法に用いられる診断システムの全体構成を概略的に示す概略構成図である。
【図３】本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法に用いた試験片の模式図である。
【図４】図３に示される試験片を用いた塗膜の劣化状態の測定試験の結果を示すグラフである。
【図５】本発明の一実施形態にかかる測定用プローブの軸線方向に沿った概略断面図である。
【図６】図５に示される測定用プローブの先端側を拡大して示す概略部分拡大断面図である。
【図７】図６に示される先端側閉止部材の概略正面図である。
【図８】図７に示される先端側閉止部材の概略上面図である。
【図９】本発明の他の一実施形態にかかる測定用プローブの軸線方向に沿った概略断面図である。
【図１０】図９に示される先端側閉止部材の概略正面図である。
【図１１】図１０に示される先端側閉止部材の概略上面図である。
【図１２】図１０に示される先端側閉止部材の概略下面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、添付図面を参照して本発明の幾つかの実施形態について説明する。ただし、実施形態として記載されている又は図面に示されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対的配置等は、本発明の範囲をこれに限定する趣旨ではなく、単なる説明例にすぎない。
例えば、「ある方向に」、「ある方向に沿って」、「平行」、「直交」、「中心」、「同心」或いは「同軸」等の相対的或いは絶対的な配置を表す表現は、厳密にそのような配置を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の角度や距離をもって相対的に変位している状態も表すものとする。
例えば、「同一」、「等しい」及び「均質」等の物事が等しい状態であることを表す表現は、厳密に等しい状態を表すのみならず、公差、若しくは、同じ機能が得られる程度の差が存在している状態も表すものとする。
例えば、四角形状や円筒形状等の形状を表す表現は、幾何学的に厳密な意味での四角形状や円筒形状等の形状を表すのみならず、同じ効果が得られる範囲で、凹凸部や面取り部等を含む形状も表すものとする。
一方、一の構成要素を「備える」、「含む」、又は、「有する」という表現は、他の構成要素の存在を除外する排他的な表現ではない。
なお、同様の構成については同じ符号を付し説明を省略することがある。
【００２９】
図１は、本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法のフロー図である。図２は、本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法に用いられる診断システムの全体構成を概略的に示す概略構成図である。以下、塗膜の劣化状態の診断方法１について、図２に示される診断システム２を使用した場合を例に挙げて説明する。
【００３０】
塗膜の劣化状態の診断方法１は、図２に示されるような、金属部材１０の表面に形成された塗膜１１であって、金属部材１０を含む構造物１２に設けられた隙間１３に面するように形成された塗膜１１の劣化状態を診断するための方法である。
【００３１】
幾つかの実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法１は、図１に示されるように、構造物１２の隙間１３に第１電解質溶液Ｅ１を充満させるステップＳ１と、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第１電極３１を電気的に接続するステップＳ２と、第１電極３１を用いて、塗膜１１の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得するステップＳ５と、上記劣化状態情報に基づいて、塗膜１１の劣化状態を診断するステップＳ６と、を備える。
【００３２】
図示される実施形態では、塗膜の劣化状態の診断方法１は、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第２電極３２を接触させるステップＳ３と、第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印可するステップＳ４と、をさらに備える。図１に示される実施形態では、塗膜の劣化状態の診断方法１は、ステップＳ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ４、Ｓ５、Ｓ６の順に行われる。
【００３３】
図示される実施形態では、上述した構造物１２は、図２に示されるように、上述した金属部材１０と、金属部材１０とは異なる第２の金属部材１４と、を備える。第２の金属部材１４の表面には塗膜１５が形成されている。第２の金属部材１４は、第２の金属部材１４に形成された貫通孔１４１が、金属部材１０に形成された貫通孔１０１に連通するような位置に配置されている。上述した隙間１３は、図２に示されるように、金属部材１０および第２の金属部材１４の互いに対向する対向面１０２、１４２の間に形成されている。或る実施形態では、上述した隙間１３は、互いにフランジ締結された金属材料からなる継手の締結面同士の間に形成される。
なお、他の幾つかの実施形態では、上述した隙間１３は、金属部材１０と非金属材料からなる部材との間に形成されてもよいし、金属部材１０単体により形成されてもよい。
【００３４】
診断システム２は、図２に示されるように、測定用プローブ４と、測定装置６と、測定用プローブ４と測定装置６とを電気的に接続する第１リード線７Ａ（第１導電性部材）と、金属部材１０の塗膜１１が設けられていない露出部１０３と測定装置６とを電気的に接続する第２リード線７Ｂ（第２導電性部材）と、第２リード線７Ｂに設けられる作用電極８と、を備える。金属部材１０の露出部１０３と測定装置６は、第２リード線７Ｂおよび作用電極８を介して、電気的に接続される。
図示される実施形態では、金属部材１０の露出部１０３は、上述した対向面１０２とは異なる表面に設けられる。
なお、他の幾つかの実施形態では、金属部材１０の露出部１０３は、上述した対向面１０２の対向面１４２に対向していない部分に設けてもよい。また、他の幾つかの実施形態では、第２リード線７Ｂが接続される金属部材１０を作用電極としてもよい。この場合には、診断システム２は、上記作用電極８を備えていなくてもよい。
【００３５】
上述したステップＳ１では、図２に示されるように、構造物１２の隙間開口１２１に向かって、第１電解質溶液Ｅ１を注ぎ入れて、上述した隙間１３に第１電解質溶液Ｅ１を充満させることが行われる。第１電解質溶液Ｅ１は、隙間１３に充満した後に、隙間１３の外側に溢れ出すことがある。
図示される実施形態では、隙間開口１２１は、貫通孔１０１の内壁と対向面１０２との間の境界縁部、および貫通孔１４１の内壁と対向面１４２との間の境界縁部により画定されている。隙間１３は、隙間開口１２１を介して隙間１３内に導入された第１電解質溶液Ｅ１に毛細管現象（表面張力）を作用させ、隙間１３における第１電解質溶液Ｅ１が導入された隙間開口１２１側とは離れた側に、第１電解質溶液Ｅ１を送り込むようになっている。
なお、他の幾つかの実施形態では、隙間開口１２１は、貫通孔１０１の内壁以外の対向面１０２に連続する面と対向面１０２との間の境界縁部、および貫通孔１４１の内壁以外の対向面１４２に連続する面と対向面１４２との間の境界縁部により画定されていてもよい。つまり、測定用プローブ４を、貫通孔１０１、１４１に挿入せずに電気化学測定を行うようにしてもよい。
【００３６】
図示される実施形態では、上述したステップＳ１は、図２に示されるように、測定用プローブ４の先端部４０を、構造物１２の隙間開口１２１の近傍に配置した後に行われる。測定用プローブ４の先端部４０は、測定用プローブの長さ方向（図２中上下方向）における中央よりも先端側（図中下側）に位置している。このため、測定用プローブ４の先端部４０を貫通孔１０１、１４１に挿入した状態で、第１電解質溶液Ｅ１は、貫通孔１０１、１４１に注ぎ込まれる。この場合には、第１電解質溶液Ｅ１は、測定用プローブ４の先端部４０を伝わり、隙間１３の内部に入り込むので、測定用プローブ４の先端部４０を貫通孔１０１、１４１に挿入する前に、第１電解質溶液Ｅ１を注ぎ込むのに比べて、第１電解質溶液Ｅ１を隙間１３の内部に迅速に送り込むことができる。
なお、他の幾つかの実施形態では、上述したステップＳ１を、測定用プローブ４の先端部４０を貫通孔１０１、１４１に挿入する前に行うようにしてもよい。
【００３７】
測定用プローブ４は、図２に示されるように、内部空間４２を有する筒状部材４１と、内部空間４２に配置される第１電極３１と、を備える。筒状部材４１は、絶縁性を有する。第１電極３１は、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続するように構成されている。
図示される実施形態では、図２に示されるように、内部空間４２に塩橋ＳＢが充填されている。また、内部空間４２における塩橋ＳＢの上方に、つまり測定用プローブ４における塩橋ＳＢよりも基端側（図中上側）に、第２電解質溶液Ｅ２が貯留されている。第１電極３１は、第２電解質溶液Ｅ２と接触するように内部空間４２に配置され、内部空間４２に貯留された第２電解質溶液Ｅ２、および内部空間４２に充填された塩橋ＳＢを介して、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続するように構成されている。
【００３８】
図示される実施形態では、測定用プローブ４の先端部４０は、図２に示されるように、測定用プローブ４の外部と内部空間４２とを連絡するように構成された連絡路４３が形成されている。連絡路４３には塩橋ＳＢが充填されており、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢは、内部空間４２に充填された塩橋ＳＢや第２電解質溶液Ｅ２、第１電極３１に電気的に接続されている。また、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢは、先端部４０の外周面４４に形成された連絡路４３の外部開口４５を介して、測定用プローブ４の外部に存在する第１電解質溶液Ｅ１に接触することで、第１電解質溶液Ｅ１と電気的に接続される。
【００３９】
上述したステップＳ２では、図２に示されるように、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第１電極３１を電気的に接続することが行われる。
図示される実施形態では、図２に示されるように、測定用プローブ４の先端部４０を隙間１３から溢れ出した第１電解質溶液Ｅ１に浸して、第１電解質溶液Ｅ１と連絡路４３に充填された塩橋ＳＢとを接触させることで、第１電極３１が塩橋ＳＢを介して第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続される。この場合には、仮に測定用プローブ４の先端部４０を隙間１３に存在する第１電解質溶液Ｅ１に浸して、第１電解質溶液Ｅ１と連絡路４３に充填された塩橋ＳＢとを接触させる場合に比べて、容易に行うことができる。
【００４０】
上述したステップＳ５では、少なくとも第１電極３１を用いて、塗膜１１の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得することが行われる。
【００４１】
図示される実施形態では、測定用プローブ４は、図２に示されるように、先端部４０に装着された第２電極３２をさらに備える。第２電極３２は、内部空間４２に充填された塩橋ＳＢとは絶縁されている。また、第２電極３２は、測定用プローブ４の外部に露出しており、測定用プローブ４の外部に存在する第１電解質溶液Ｅ１に接触することで、第１電解質溶液Ｅ１と電気的に接続される。
【００４２】
図示される実施形態では、第１リード線７Ａは、図２に示されるように、第１電極３１に一端が接続されるリード線７Ｃ、第２電極３２に一端が接続される他端がリード線７Ｃの他端に合流するリード線７Ｄ、およびリード線７Ｃとリード線７Ｄの合流部と測定装置６とを接続するリード線７Ｅを含む。
【００４３】
この場合には、第２電極３２を、作用電極８（金属部材１０）との間に閉回路を構成し、且つ、作用電極８との間に電流を流すことが可能な対極とし、第１電極３１を、第２電極３２および作用電極８の電位測定時における電位の基準となる参照電極とすることができる。上述した測定用プローブ４に電気的に接続された測定装置６は、第１電極３１、第２電極３２および作用電極８の三つの電極を用いた電気化学測定を行うことができる。該電気化学測定では、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位、交流インピーダンス抵抗値、塗膜抵抗、損失係数などを測定することができる。
【００４４】
図示される実施形態では、塗膜の劣化状態の診断方法１は、図１に示されるように、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第２電極３２を接触させた後に（ステップＳ３）、測定装置６により、第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印可することで（ステップＳ４）、上述した測定装置６により、上述したステップＳ５における劣化状態情報として、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位、交流インピーダンス抵抗値、塗膜抵抗、損失係数などを取得することができる。
【００４５】
他の幾つかの実施形態では、測定用プローブ４は、図２に示されるような上述した第２電極３２を備えない。この場合には、測定用プローブ４の構造を簡単なものにすることができるとともに、測定用プローブ４の小型化を図ることができる。該測定用プローブ４に電気的に接続された測定装置６は、第１電極３１および作用電極８の二つの電極を用いた電気化学測定を行うことができる。該電気化学測定では、交流インピーダンス抵抗値などを取得できないが、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位を測定することができる。
【００４６】
他の幾つかの実施形態では、塗膜の劣化状態の診断方法１は、上述したステップＳ１、Ｓ２、Ｓ５およびＳ６を備えるが、上述したステップＳ３およびＳ４を備えない。この場合には、上述した測定装置６により、上述したステップＳ５における劣化状態情報として、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位を取得することができる。
なお、幾つかの実施形態では、測定装置６は、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位を測定する前に、第１電極３１に対して交流電圧を印可し、第１電極３１と金属部材１０との間に交流電流を流してもよい。
【００４７】
図示される実施形態では、測定装置６は、図２に示されるように、第１電極３１や第２電極３２に対して交流電圧を印可するように構成された印可部６１と、電気化学測定（電位測定および交流インピーダンス測定など）を行うように構成された測定部６２と、測定部６２における測定により取得された塗膜の劣化状態情報を記憶するように構成された記憶部６３と、記憶部６３に記憶された劣化状態情報に基づいて、塗膜の劣化状態を診断するように構成された診断部６４と、を備える。
上述したステップＳ４では、印可部６１が、第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印可する。上述したステップＳ５では、測定部６２が、電気化学測定を行い、塗膜の劣化状態情報を取得する。上述したステップＳ５で取得された塗膜の劣化状態情報は記憶部６３に記憶される。
【００４８】
図３は、本発明の一実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法に用いた試験片の模式図である。
試験片９（９Ａ〜９Ｅ）は、図３に示されるように、中央に厚さ方向に沿って貫通する貫通孔９１を有する平板板状に形成された金属材料からなる。
試験片９Ａ〜９Ｅの夫々には、予め第２リード線７Ｂが接続される露出部を除く全ての外面に塗膜が形成されている。
【００４９】
試験片９Ｂおよび９Ｃの夫々には、金属材料に腐食処理が施されており、試験片９Ｃには、試験片９Ｂよりも強い腐食処理に金属材料に対して施されている。
試験片９Ｄおよび９Ｅの夫々は、上述した塗膜の剥離処理が施されている。試験片９Ｄの対向面９２における図３に二点鎖線で示される円９３よりも内側の領域には塗膜が形成されていない。また、試験片９Ｅの対向面９２における図３に二点鎖線で示される円９４であって、上記円９３よりも外径が大きい円９４よりも内側の領域には塗膜が形成されていない。
試験片９Ａは、上述した腐食処理および塗膜の剥離処理が施されていない健全な試験片である。
【００５０】
図４は、図３に示される試験片を用いた塗膜の劣化状態の測定試験の結果を示すグラフである。測定試験では、図２に示されるような診断システム２を用い、試験片９Ａ〜９Ｅの夫々を金属部材１０とし、第１電極３１および第２電極３２を備える測定用プローブ４を用いた。そして、測定試験では、上述したステップＳ１〜Ｓ５を順番に行い、第１電極３１に対する試験片９（９Ａ〜９Ｅ）の電位、および交流インピーダンス抵抗値を測定した。交流インピーダンス抵抗値は、測定装置６により第２電極３２に交流電圧を印可して、第２電極３２と試験片９との間に電流を流すことにより取得した。
【００５１】
腐食処理を施した試験片９Ｂ、９Ｃの夫々は、図４に示されるように、健全な試験片９Ａに比べて金属材料の絶縁抵抗が低下しているので、健全な試験片９Ａよりも電位および交流インピーダンス抵抗値が低下する傾向が見られた。また、試験片９Ｂよりも強い腐食処理を施した試験片９Ｃは、試験片９Ｂよりも電位および交流インピーダンス抵抗値が低下する傾向が見られた。なお、塗膜の劣化がある程度進行すると、塗膜が形成された金属材料の腐食が進行することが知られている。
塗膜の剥離処理が施された試験片９Ｄ、９Ｅの夫々は、図４に示されるように、健全な試験片９Ａおよび劣化処理を施した試験片９Ｂ、９Ｃに比べて塗膜抵抗が低下しているので、健全な試験片９Ａおよび劣化処理を施した試験片９Ｂ、９Ｃよりも電位および交流インピーダンス抵抗値が低下する傾向が見られた。また、試験片９Ｄよりも広い面積を剥離した試験片９Ｅは、試験片９Ｄよりも交流インピーダンス抵抗値が低下する傾向が見られたが、電位は同値となった。つまり、電位のみの測定では、塗膜の剥離面積の大小を把握することはできない。
【００５２】
上述したステップＳ６では、上述したステップＳ５で取得された劣化状態情報（第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極８）の電位、交流インピーダンス抵抗値など）に基づいて、塗膜１１の劣化状態を診断する。
図示される実施形態では、劣化状態情報に対応する健全時における情報、予め蓄積された劣化状態情報、又は、予め蓄積された劣化状態情報から決定された閾値などの診断に関する情報である診断情報が記憶部６３に記憶されている。診断部６４は、取得された劣化状態情報と記憶部６３に記憶されている診断情報とを比較することで、塗膜１１の劣化状態を診断する。
他の幾つかの実施形態では、上述した診断部６４は、測定装置６とは異なる診断装置が備え、ステップＳ６における診断を上記診断装置が行うようにしてもよいし、ステップＳ６における診断を装置ではなく人が行うようにしてもよい。
【００５３】
上述した幾つかの実施形態では、上述した測定装置６の印可部６１は、第１電極３１や第２電極３２に対して交流電圧を印可するように構成されていたが、他の幾つかの実施形態では、上述した測定装置６の印可部６１は、第１電極３１や第２電極３２に対して直流電圧を印可するように構成されていてもよい。
【００５４】
上述したように、幾つかの実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法１は、図１に示されるように、構造物１２の隙間１３に第１電解質溶液Ｅ１を充満させる上述したステップＳ１と、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第１電極３１を電気的に接続する上述したステップＳ２と、第１電極３１を用いて、塗膜１１の劣化状態に関する情報である劣化状態情報を取得する上述したステップＳ５と、劣化状態情報に基づいて、塗膜１１の劣化状態を診断する上述したステップＳ６と、を備える。
【００５５】
上記の方法によれば、塗膜の劣化状態の診断方法１は、構造物１２の隙間１３に第１電解質溶液Ｅ１を充満させる上述したステップＳ１と、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第１電極３１を電気的に接続する上述したステップＳ２と、を備える。上述した二つのステップ（Ｓ１およびＳ２）により、第１電極３１は、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１を介して、隙間１３に面するように形成された塗膜１１に電気的に接続されるので、第１電極３１を用いた電気化学測定が可能となる。金属部材１０の塗膜１１が形成されていない部分（露出部１０３）および第１電極３１の夫々にリード線（第１リード線７Ａ、第２リード線７Ｂ）などの導電性部材を介して電気的に接続された測定装置６により、第１電極３１に対する金属部材１０（作用電極）の電位などを上述した劣化状態情報として取得可能であり、取得された劣化状態情報から塗膜の劣化状態を診断することができる。
【００５６】
また、上記の方法によれば、従来の方法とは異なり、測定用プローブや測定用セルを塗膜１１に接触させたり、構造物１２の隙間１３を開放させたりすることなく、電気化学測定が可能となる。このため、上記の方法によれば、従来の方法に比べて、構造物１２に設けられた隙間１３に面するように形成された塗膜１１の劣化状態を迅速に診断することができる。また、従来の方法は、測定用プローブや測定用セルが接触した部分の塗膜１１の劣化状態を診断していたのに対して、上記の方法によれば、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に接触した塗膜１１の劣化状態を診断することができるので、従来の方法よりも広範囲を一度に診断することができる。
【００５７】
上述したように、幾つかの実施形態にかかる塗膜の劣化状態の診断方法１は、図１に示されるように、上述したステップＳ１、Ｓ２、Ｓ５、Ｓ６の夫々と、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に第２電極３２を接触させるステップＳ３と、第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印加するステップＳ４と、を備える。
【００５８】
上記の方法によれば、構造物１２の隙間１３に面するように形成された塗膜１１が、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１を介して、第２電極３２に電気的に接続される。第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印可することで、第２電極３２と金属部材１０との間に電流を流すことができる。上述した測定装置６は、第２電極にリード線などの導電性部材を介して電気的に接続させることで、第１電極を参照電極、第２電極を対極、金属部材を作用電極として交流インピーダンス測定により、交流インピーダンスなどを上述した劣化状態情報として取得可能である。上記の方法によれば、第１電極３１を用いた電気化学測定に比べて、より多種の劣化状態情報を取得することができるので、塗膜の劣化状態をより精度よく診断することができる。
【００５９】
図５は、本発明の一実施形態にかかる測定用プローブの軸線方向に沿った概略断面図である。図６は、図５に示される測定用プローブの先端側を拡大して示す概略部分拡大断面図である。図７は、図６に示される先端側閉止部材の概略正面図である。図８は、図７に示される先端側閉止部材の概略上面図である。図９は、本発明の他の一実施形態にかかる測定用プローブの軸線方向に沿った概略断面図である。図１０は、図９に示される先端側閉止部材の概略正面図である。図１１は、図１０に示される先端側閉止部材の概略上面図である。図１２は、図１０に示される先端側閉止部材の概略下面図である。
【００６０】
上述したように、幾つかの実施形態にかかる測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）は、図２、５、９に示されるように、内部空間４２を有する筒状部材４１と、内部空間４２に配置される第１電極３１であって、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続するように構成された第１電極３１と、を備える。
【００６１】
上記の構成によれば、測定用プローブ４の第１電極３１が、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１を介して、隙間１３に面するように形成された塗膜１１に電気的に接続するようになっているので、測定用プローブ４の第１電極３１を用いた電気化学測定が可能となる。金属部材１０の塗膜１１が形成されていない部分である露出部１０３および第１電極３１の夫々にリード線（第１リード線７Ａ、第２リード線７Ｂ）などの導電性部材を介して電気的に接続された測定装置６により、第１電極３１に対する金属部材１０の電位などを上述した劣化状態情報として取得可能であり、取得された劣化状態情報から塗膜１１の劣化状態を診断することができる。
【００６２】
幾つかの実施形態では、図２、５、９に示されるように、上述した内部空間４２には、上述した塩橋ＳＢが充填され、且つ、塩橋ＳＢの上方に第２電解質溶液Ｅ２が貯留されており、上述した第１電極３１は、第２電解質溶液Ｅ２と接触するように内部空間４２に配置される。上記の構成によれば、第１電極３１は、内部空間４２に貯留された第２電解質溶液Ｅ２、および内部空間４２に充填された塩橋ＳＢを介して、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続される。塩橋ＳＢにより、第１電解質溶液Ｅ１と第２電解質溶液Ｅ２と電気的に接続するとともに、第１電解質溶液Ｅ１と第２電解質溶液Ｅ２とが混ざることを抑制することができる。
【００６３】
幾つかの実施形態では、上述した第１電極３１は、銀／塩化銀電極（Ａｇ／ＡｇＣｌ電極）であり、上述した第２電極３２は、白金電極である。
また、幾つかの実施形態では、上述した第１電解質溶液Ｅ１は、上述した第２電解質溶液Ｅ２とは種類が異なる溶液である。図示される実施形態では、第２電解質溶液Ｅ２は、飽和ＫＣｌ溶液（塩化カリウム溶液）であり、塩橋ＳＢは、寒天等により固めたＫＣｌ溶液からなり、第１電解質溶液Ｅ１は、硫酸ナトリウム溶液である。この場合には、隙間１３に飽和ＫＣｌ溶液（第２電解質溶液Ｅ２）を充満させないので、飽和ＫＣｌ溶液が隙間１３に入り込み、金属部材１０や塗膜１１に悪影響を与えることを防止することができる。
なお、他の幾つかの実施形態では、第２電解質溶液Ｅ２は、硫酸ナトリウム溶液のほか、例えば、リン酸ナトリウム、リン酸水素ナトリウム、三リン酸五ナトリウム、炭酸ナトリウム、五ホウ酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム等の、リン酸塩、炭酸塩、ホウ酸塩、ケイ酸塩の水溶液であってもよいし、これらの水溶液に防錆剤を添加したものであってもよい。また、塩橋ＳＢは、これらの水溶液を寒天等により固めたものであってもよい。
【００６４】
測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）は、図５、９に示されるように、長さ方向（図中上下方向）に沿って延在して絶縁性を有する上述した筒状部材４１と、上述した第１電極３１と、上述した第２電極３２と、上述した連絡路４３と、筒状部材４１の先端側（図中下側）開口を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材４６（５１、５５）と、筒状部材４１の基端側（図中上側）開口を閉止するように構成された絶縁性を有する基端側閉止部材４７（５２、５６）と、を備える。図５、９に示される実施形態では、上述した連絡路４３は、先端側閉止部材４６に設けられ、外部開口４５は、先端側閉止部材４６の外周面に形成されている。
【００６５】
図５に示される実施形態では、外部開口４５は、測定用プローブ４Ａの長さ方向における第２電極３２Ａよりも基端側に設けられている。
【００６６】
測定用プローブ４Ａの筒状部材４１は、図５に示されるように、絶縁性を有するガラス材料からなり、先端側筒状部４１Ａと、先端側筒状部４１Ａよりも基端側に位置し、且つ先端側筒状部４１Ａよりも大径に形成された基端側筒状部４１Ｂと、長さ方向における先端側筒状部４１Ａの基端側端部と基端側筒状部４１Ｂの先端側端部との間を接続するように、基端側筒状部４１Ｂの先端側端部から先端側筒状部４１Ａの基端側端部に向かうにつれて、内径および外径の夫々が徐々に小さくなるテーパ筒状部４１Ｃと、を含む。この場合には、基端側筒状部４１Ｂに第１電極３１を配置することで、第１電極３１を電極面積の広いものにすることができる。
【００６７】
測定用プローブ４Ａの先端側閉止部材５１（先端側閉止部材４６）は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、図７、８に示されるように、測定用プローブ４Ａの長さ方向に沿って貫通する貫通孔５１１を中央に有する円板状に形成されている。先端側閉止部材５１は、図７に示されるように、基端側平面５１２よりも凹んで形成され、且つ、測定用プローブ４Ａの長さ方向に直交（交差）する方向に沿って四方に延在する４つの溝部５１３を有する。先端側閉止部材５１は、基端側平面５１２が、図６に示されるように、筒状部材４１の先端面４１２に当接することで、筒状部材４１の先端側開口４１３を閉止する。４つの溝部５１３が上述した連絡路４３となり、４つの溝部５１３の外周開口縁が上述した外部開口４５となる。
【００６８】
測定用プローブ４Ａの第２電極３２（３２Ａ）は、図６に示されるように、測定用プローブ４Ａの長さ方向に沿って貫通する雌ネジ孔３２１を有する円板状に形成されている。
【００６９】
測定用プローブ４Ａは、図６に示されるように、第２電極３２Ａよりも先端側に位置する先端側絶縁部材４８と、第２電極３２Ａを測定用プローブ４Ａの長さ方向における先端側閉止部材５１と先端側絶縁部材４８との間に挟持する支持棒部材４９と、を備える。
先端側絶縁部材４８は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、図６に示されるように、基端側の面の中央から測定用プローブ４Ａの長さ方向に沿って凹んで形成される非貫通の雌ネジ孔４８１を有する。
【００７０】
支持棒部材４９は、導電性を有する鋼材（金属材料）からなり、図６に示されるように、測定用プローブ４Ａの長さ方向に沿って延在する棒状に形成されている。支持棒部材４９は、図６に示されるように、外周に雄ネジ部が形成された先端部４９１を有し、先端部４９１に第２電極３２Ａおよび先端側絶縁部材４８の夫々を螺合することで、先端側閉止部材５１と先端側絶縁部材４８との間に第２電極３２Ａを挟持している。また、支持棒部材４９は、先端部４９１を介して第２電極３２Ａに電気的に接続されている。
図６に示されるように、測定用プローブ４Ａの長さ方向における先端側閉止部材５１と第２電極３２Ａとの間、および第２電極３２Ａと先端側絶縁部材４８との間に、中央に貫通孔５０１を有する円板状のガスケット５０を挟むようにしてもよい。
【００７１】
また、支持棒部材４９は、図６に示されるように、先端側閉止部材５１の貫通孔５１１および溝部５１３、並びに内部空間４２を挿通している部分である挿通部４９２の外周面が、絶縁性を有する樹脂材料からなる被覆部材５４に被覆されている。挿通部４９２は、先端部４９１よりも基端側に位置する。このため、支持棒部材４９は、被覆部材５４により、先端側閉止部材５１や内部空間４２に充填された塩橋ＳＢや、内部空間４２に貯留された第２電解質溶液Ｅ２、内部空間４２に配置された第１電極３１に対して絶縁されている。
【００７２】
測定用プローブ４Ａの基端側閉止部材５２（基端側閉止部材４７）は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、図５に示されるように、先端側平面５２１から凹んで設けられる閉止凹部５２２に、基端側筒状部４１Ｂの基端側端部を嵌合することで、筒状部材４１の基端側開口４１４を閉止している。また、先端側閉止部材５１は、図５に示されるように、第１電極３１を基端側から挿入させるための貫通孔５２３と、支持棒部材４９を挿通させるための挿通孔５２４と、第２電解質溶液Ｅ２を内部空間４２に導入するための導入孔５２５と、を有する。
【００７３】
第１電極３１は、図５に示されるように、基端側閉止部材５２よりも基端側に突出した部分に、リード線７Ｃが接続されている。
支持棒部材４９は、図５に示されるように、基端側閉止部材５２に固定されることで、先端側閉止部材５１、第２電極３２Ａおよび先端側絶縁部材４８を基端側から吊り下げ支持している。支持棒部材４９は、先端側閉止部材５１よりも基端側に突出した部分に、リード線７Ｄが接続されている。
【００７４】
図９に示される実施形態では、外部開口４５は、測定用プローブ４Ｂの長さ方向における第２電極３２Ｂよりも先端側に設けられている。
【００７５】
測定用プローブ４Ｂの筒状部材４１は、例えば折り曲げなどの形状変形が可能な程度の柔軟性および形状復元性を有するフッ素樹脂材料（樹脂材料）からなり、図９に示されるように、測定用プローブ４Ｂの長さ方向に沿って延在する筒状部４１Ｄを含む。この場合には、測定用プローブ４Ｂの筒状部材４１が形状変形可能であるので、構造物１２の隙間開口１２１の近傍に、測定用プローブ４Ｂの先端部４０を配置する作業を容易且つ迅速に行うことができる。
【００７６】
測定用プローブ４Ｂの先端側閉止部材５５（先端側閉止部材４６）は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、図９、１０に示されるように、閉止部５５１と、閉止部５５１よりも基端側に閉止部５５１よりも小径に形成され、筒状部材４１の先端側開口４１３から挿入されるように構成された挿入部５５２と、閉止部５５１よりも先端側に設けられた先端部５５３と、測定用プローブ４Ｂの長さ方向における閉止部５５１と先端部５５３との間に、閉止部５５１および先端部５５３よりも小径に形成された電極装着部５５４と、を有する。閉止部５５１、挿入部５５２、電極装着部５５４および先端部５５３は、一体的に構成されている。
先端側閉止部材５５は、図９に示されるように、挿入部５５２を筒状部材４１の先端側から挿入し、筒状部材４１の先端面４１６を閉止部５５１の基端側の面に当接させることで、筒状部材４１の先端側開口４１３を閉止するようになっている。
【００７７】
測定用プローブ４Ｂの基端側閉止部材５６（基端側閉止部材４７）は、絶縁性を有する樹脂材料からなり、図９に示されるように、閉止部５６１と、閉止部５６１よりも先端側に閉止部５６１よりも小径に形成され、筒状部材４１の基端側開口４１４から挿入されるように構成された挿入部５６２と、を有する。閉止部５６１と挿入部５６２は、一体的に構成されている。また、基端側閉止部材５６は、図９に示されるように、第１電極３１の内部空間４２に配置された部分よりも小径に形成された小径部を挿通させるための挿通孔５６３を有する。
基端側閉止部材５６は、図９に示されるように、挿入部５６２を筒状部材４１の基端側から挿入し、筒状部材４１の基端面４１７を閉止部５６１の先端側の面に当接させることで、筒状部材４１の基端側開口４１４を閉止するようになっている。
【００７８】
先端側閉止部材５５は、図９に示されるように、測定用プローブ４Ｂの長さ方向における閉止部５５１の外周面と先端部５５３の外周面との間に周方向に沿って外周溝部５５４Ａを有する。
【００７９】
測定用プローブ４Ｂは、図９に示されるように、外周溝部５５４Ａ（電極装着部５５４の外周面）に螺旋状に巻回するように装着される先端部５７１と、先端部５７１の末端から基端側に向かって延在する延在部５７２を有する金属ワイヤ５７を備える。
図示される実施形態では、金属ワイヤ５７は白金からなり、先端部５７１が上述した第２電極３２（３２Ｂ）となる。
【００８０】
金属ワイヤ５７は、例えば折り曲げなどの形状変形が可能な程度の柔軟性を有する。金属ワイヤ５７の延在部５７２は、測定用プローブ４Ｂの筒状部材４１の形状変更に合わせて形状変形可能である。このような測定用プローブ４Ｂは、構造物１２の隙間開口１２１の近傍に、先端部４０を配置する作業を容易且つ迅速に行うことができる。
【００８１】
図９〜１１に示されるように、先端側閉止部材５５には、金属ワイヤ５７の延在部５７２を挿通させるために溝部５５５が設けられている。溝部５５５は、閉止部５５１の外周面および挿入部５５２の外周面から径方向内側に向かって凹んで形成されるとともに、測定用プローブ４Ｂの長さ方向に沿って延在している。
【００８２】
図９に示されるように、基端側閉止部材５６には、金属ワイヤ５７の延在部５７２を挿通させるために溝部５６４が設けられている。溝部５６４は、閉止部５６１の外周面および挿入部５６２の外周面から径方向内側に向かって凹んで形成されるとともに、測定用プローブ４Ｂの長さ方向に沿って延在している。
【００８３】
金属ワイヤ５７の延在部５７２は、図９に示されるように、溝部５５５、内部空間４２および溝部５６４を挿通している部分の外周面が、絶縁性を有する樹脂材料からなる被覆部材５８に被覆されている。このため、金属ワイヤ５７は、被覆部材５８により、内部空間４２に充填された塩橋ＳＢや、内部空間４２に貯留された第２電解質溶液Ｅ２、内部空間４２に配置された第１電極３１に対して絶縁されている。
【００８４】
第１電極３１は、図９に示されるように、基端側閉止部材５６よりも基端側に突出した部分に、リード線７Ｃが接続されている。
金属ワイヤ５７の延在部５７２は、図９に示されるように、基端側閉止部材５６よりも基端側に突出した部分であり、且つ、被覆部材５８に被覆されていない部分に、リード線７Ｄが接続されている。第２電極３２Ｂ（金属ワイヤ５７の先端部５７１）は、金属ワイヤ５７の延在部５７２を介してリード線７Ｄに電気的に接続されている。
【００８５】
先端側閉止部材５５は、図１０、１２に示されるように、基端側から挿入部５５２および閉止部５５１を貫通して、先端部５５３の途中までにわたり、測定用プローブ４Ｂの長さ方向に沿って形成された孔部５５６と、測定用プローブ４Ｂの長さ方向に直交（交差）する方向に沿って孔部５５６から四方に延在する４つの孔部５５７を有する。孔部５５６および４つの孔部５５７が上述した連絡路４３となり、先端部５５３の外周面に形成された４つの孔部５５７の外部開口５５８が上述した外部開口４５となる。
【００８６】
幾つかの実施形態では、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）は、図６、９に示されるように、上述した筒状部材４１と、上述した第１電極３１と、筒状部材４１の先端側開口４１３を閉止するように構成された筒状部材４１の先端側開口４１３を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材４６（５１、５５）を備える。先端側閉止部材４６（５１、５５）は、内部空間４２と測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の外部とを連絡するように構成された連絡路４３が形成され、連絡路４３には塩橋ＳＢが充填されるように構成された。
【００８７】
上記の構成によれば、先端側閉止部材４６（５１、５５）は、内部空間４２と測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の外部とを連絡するように構成された連絡路４３が形成され、連絡路４３には塩橋ＳＢが充填されている。連絡路４３に充填された塩橋ＳＢは、筒状部材４１の内部空間４２に配置された第１電極３１に電気的に接続されている。また、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）を用いて塗膜１１の劣化状態を診断する際には、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢは、連絡路４３の外部開口４５部近傍において、第１電解質溶液Ｅ１に接触するようになっている。連絡路４３を測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の先端側に位置する先端側閉止部材４６（５１、５５）に設けることで、仮に連絡路４３が筒状部材４１に形成される場合に比べて、第１電解質溶液Ｅ１が充満した隙間の近くに配置させ易いので、測定作業の効率化が図れる。
【００８８】
なお、他の幾つかの実施形態では、連絡路４３を筒状部材４１に形成し、外部開口４５を筒状部材４１の先端側外周縁部４１１に設けてもよい。
【００８９】
幾つかの実施形態では、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）は、図６、９に示されるように、上述した筒状部材４１と、上述した第１電極３１と、内部空間４２および連絡路４３の少なくとも一方に充填された塩橋ＳＢとは絶縁され、且つ、隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１に電気的に接続するように、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）に装着された第２電極３２を備える。
【００９０】
上記の構成によれば、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の第２電極３２が、構造物１２の隙間１３に充満された第１電解質溶液Ｅ１を介して、隙間１３に面するように形成された塗膜１１に電気的に接続するようになっているので、第１電極３１と第２電極３２を用いた電気化学測定が可能となる。また、第２電極３２から第１電解質溶液Ｅ１に交流電圧を印可することで、第２電極３２と金属部材１０（作用電極８）との間に電流を流すことができる。第２電極３２にリード線（第１リード線７Ａ、第２リード線７Ｂ）などの導電性部材を介して測定装置６を電気的に接続することで、第１電極３１を参照電極、第２電極３２を対極、金属部材１０を作用電極として交流インピーダンス測定により、交流インピーダンスなどを上述した劣化状態情報として取得可能である。上記の構成によれば、第１電極３１のみを備える測定用プローブ４に比べて、より多種の劣化状態情報を取得することができるので、塗膜１１の劣化状態をより精度よく診断することができる。
【００９１】
幾つかの実施形態では、上述した測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）は、図９に示されるように、上述した筒状部材４１と、上述した第１電極３１と、上述した第２電極３２と、筒状部材４１の先端側開口４１３を閉止するように構成された絶縁性を有する先端側閉止部材５５を備える。先端側閉止部材５５は、内部空間４２と測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の外部とを連絡するように構成された連絡路４３が形成され、連絡路４３には塩橋ＳＢが充填されるように構成され、先端側閉止部材５５の外周面に周方向に沿って設けられた外周溝部５５４Ａに第２電極３２が配置されるように構成された。
【００９２】
上記の構成によれば、第２電極３２を測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）の先端側に位置する先端側閉止部材５５の外周溝部５５４Ａに配置することで、第２電極３２を第１電解質溶液Ｅ１が充満した隙間１３の近くに配置させ易いので、測定作業の効率化が図れる。
また、上記の構成によれば、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢと第２電極３２とを近くに配置することができる。ここで、測定用プローブ４（４Ａ、４Ｂ）を用いて塗膜１１の劣化状態を診断する際に、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢおよび第２電極３２を第１電解質溶液Ｅ１に接触させる必要がある。連絡路４３に充填された塩橋ＳＢと第２電極３２とを近くに配置することで、連絡路４３に充填された塩橋ＳＢおよび第２電極３２を第１電解質溶液Ｅ１に接触させる作業を容易に行うことができる。
【００９３】
幾つかの実施形態では、図５に示されるように、上述した筒状部材４１の先端側外周縁部４１１に親水性コーティング５３が施された。この場合には、筒状部材４１の先端側外周縁部４１１に親水性コーティング５３を施すことにより、筒状部材４１の先端側外周に第１電解質溶液Ｅ１を保水させることができるため、塩橋ＳＢと第１電解質溶液Ｅ１とが電気的に接続している状態を安定的に保持させることができる。
【００９４】
幾つかの実施形態では、図５に示されるように、上述した先端側閉止部材４６の外面に親水性コーティング５３Ａが施された。この場合には、親水性コーティング５３Ａにより、先端側閉止部材４６の外面に第１電解質溶液Ｅ１を保水させることができるため、塩橋ＳＢと第１電解質溶液Ｅ１とが電気的に接続している状態を安定的に保持させることができる。
【００９５】
幾つかの実施形態では、図５に示されるように、上述した先端側絶縁部材４８の外面に親水性コーティング５３Ｂが施された。この場合には、親水性コーティング５３Ｂにより、先端側絶縁部材４８の外面に第１電解質溶液Ｅ１を保水させることができるため、塩橋ＳＢと第１電解質溶液Ｅ１とが電気的に接続している状態を安定的に保持させることができる。
【００９６】
他の幾つかの実施形態では、図１０に示されるような、先端側閉止部材５５の閉止部５５１、電極装着部５５４および先端部５５３の少なくとも何れかに親水性コーティングを施してもよい。
【００９７】
幾つかの実施形態では、図５に示されるように、測定用プローブ４は、プローブ支持装置１６により支持される。換言すると、診断システム２は、測定用プローブ４を支持するように構成されたプローブ支持装置１６を備える。
図示される実施形態では、プローブ支持装置１６は、図５に示されるように、筒状部材４１のテーパ筒状部４１Ｃが基端側から挿入されて係止される貫通孔１７１を有する板状部材１７と、板状部材１７の貫通孔１７１の周りに形成された複数の貫通孔１７２に夫々が挿通される棒状部材１８であって、上記板状部材１７を構造物１２の上方に浮いた状態で支持するように構成された棒状部材１８と、を備える。貫通孔１７１は、先端側筒状部４１Ａよりも大径に形成され、基端側筒状部４１Ｂよりも小径に形成されている。
【００９８】
図５に示される実施形態では、棒状部材１８は、長さ方向における少なくとも一部の外周にナット１９に螺合する雄ネジ部１８１が形成されている。板状部材１７は、貫通孔１７２に棒状部材１８が挿通された状態で、棒状部材１８の長さ方向における両側から棒状部材１８の雄ネジ部１８１に螺合するナット１９により挟持されることで、構造物１２の上方に浮いた状態で支持されている。
また、図５に示される実施形態では、棒状部材１８は、先端側端部１８２が構造物１２の第２の金属部材１４の上に立設している。
【００９９】
本発明は上述した実施形態に限定されることはなく、上述した実施形態に変形を加えた形態や、これらの形態を適宜組み合わせた形態も含む。
【符号の説明】
【０１００】
１          塗膜の劣化状態の診断方法
２          診断システム
３１          第１電極
３２，３２Ａ，３２Ｂ  第２電極
４，４Ａ，４Ｂ  測定用プローブ
４０        先端部
４１        筒状部材
４１Ａ  先端側筒状部
４１Ｂ  基端側筒状部
４１Ｃ  テーパ筒状部
４１Ｄ  筒状部
４２        内部空間
４３        連絡路
４４        外周面
４５        外部開口
４６，５１，５５  先端側閉止部材
４７，５２，５６  基端側閉止部材
４８        先端側絶縁部材
４９        支持棒部材
５０        ガスケット
５３，５３Ａ，５３Ｂ  親水性コーティング
５４，５８  被覆部材
５７        金属ワイヤ
６          測定装置
６１        印可部
６２        測定部
６３        記憶部
６４        診断部
７Ａ        第１リード線
７Ｂ        第２リード線
７Ｃ〜７Ｅ  リード線
８          作用電極
９，９Ａ〜９Ｅ  試験片
１０        金属部材
１０１      貫通孔
１０２      対向面
１０３      露出部
１１，１５  塗膜
１２        構造物
１３        隙間
１４        第２の金属部材
１６        プローブ支持装置
１７        板状部材
１８        棒状部材
１９        ナット
Ｅ１        第１電解質溶液
Ｅ２        第２電解質溶液
ＳＢ        塩橋
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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