(57)【要約】【課題】  計測結果に基づいて被試験装置の故障要因を精度よく推定すると共に、多くの被試験装置の試験結果を一括して分かりやすく表示することができる試験装置及びそのプログラムを提供する。【解決手段】交換可能なモジュールを複数備えた機器を１つ又は複数有する複数の被試験器２について、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験器２に対して機器毎に複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、それらをデータベースに記憶しておき、帳票出力の際に特定期間が指定されると、データベースを参照して、特定期間における複数の被試験器２の試験結果として、機器毎の故障要因毎の異常発生件数を含む試験結果履歴表で一覧表示する試験装置及びプログラムである。【選択図】        図２
2020134418.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して前記機器毎に試験を実施する試験装置であって、
試験信号を出力して、前記被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、
前記測定器のいずれかと前記被試験器とを接続する切替部と、
前記複数の測定器からの計測結果を入力して解析する制御部とを備え、
前記制御部が、前記機器毎に行われた試験の結果として前記複数の測定器からの計測結果を入力し、前記計測結果に基づいて前記機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶しておき、
特定期間に行った複数の前記被試験器に対する試験について、前記被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、前記複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示することを特徴とする試験装置。
【請求項２】
制御部が、機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、前記パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備え、
任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、前記分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、
表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、前記選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示することを特徴とする請求項１記載の試験装置。
【請求項３】
交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して前記機器毎に試験を実施する試験装置で動作するプログラムであって、
制御部を、前記被試験器からの出力を計測する複数の測定器のいずれかと前記被試験器とを接続するよう切替部に切り替えさせ、前記機器毎に行われた試験の結果として、前記複数の測定器からの計測結果を入力し、前記計測結果に基づいて前記機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶し、特定期間に行った複数の前記被試験器に対する試験について、前記被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、前記複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示するよう機能させることを特徴とするプログラム。
【請求項４】
機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、前記パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備えた制御部を、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、前記分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、前記選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示するよう機能させることを特徴とする請求項３記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、無線機等の電子機器の性能を自動測定する試験装置及びそのプログラムに係り、特に計測結果に基づいて故障要因を精度よく推定すると共に、多くの被試験器の試験結果を一括して分かりやすく表示することができる試験装置及びそのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
［先行技術の説明］
例えば、航空機等に搭載される電子機器が故障すると、電子機器を構成する交換可能な複数のモジュールのうち、どのモジュールが故障したかが特定（要因解析）され、特定された故障モジュールの調整、修理又は交換が行われる。
そして、電子機器の機能試験を実施して試験結果が不良であると判定された場合には、作業者が自身の経験等に基づいて要因解析を行い、故障モジュールを推定していた。
【０００３】
このような方法では、作業者の判断によって要因解析結果にばらつきが生じてしまう。
そこで、従来、複数のモジュールを備えた機器の試験において、複数の試験結果の良否の組み合わせに基づいて故障モジュールを特定する試験装置が提案されている（特許文献１）。
【０００４】
［従来の試験装置］
従来の試験装置として、特許文献１の試験装置について説明する。
特許文献１の試験装置は、故障モジュール候補を特定するための判断基準情報として、試験結果パターン表と、故障モジュール予測順位表とを備えている。
［試験結果パターン表：図８］
まず、試験結果パターン表について図８を用いて説明する。図８は、試験結果パターン表の説明図である。
試験結果パターン表は、複数の試験の結果についてそれらの良否の組み合わせをパターンとして規定するものである。
図８の例では、試験Ａ〜試験Ｅの５種類の試験を行った場合に、試験Ａの結果が「否」で試験Ｂ〜Ｅの結果が「良」であるものを「試験結果パターンNo.１」、試験Ｂの結果が「否」で試験Ａ及び試験Ｃ〜Ｅの結果が「良」であるものを「試験結果パターンNo.２」、…と規定している。
【０００５】
［故障モジュール予測順位表：図９］
故障モジュール予測順位表について図９を用いて説明する。図９は、故障モジュール予測順位表の説明図である。
故障モジュール予測順位表は、図８に示した試験結果パターンのそれぞれについて、故障していると予測されるモジュールの順位を示すものである。
図９の例では、ある被試験器について試験Ａ〜Ｅを実施した結果、「試験結果パターンNo.１」が得られた場合（つまり試験Ａの結果が「否」で試験Ｂ〜Ｅの結果が「良」である場合）は、モジュールＭ１の故障モジュール予測順位が１位となる。
また、試験結果が「試験結果パターンＮｏ.６」に該当する場合（つまり試験Ｂ，Ｃの結果が「否」であり、試験Ａ，Ｄ，Ｅの結果が「良」である場合）は、モジュールＭ２の故障モジュール予測順位が１位であり、モジュールＭ３の故障モジュール予測順位が２位となる。
【０００６】
試験結果パターン表及び故障モジュール予測順位表は、予め設計仕様に基づいて被試験器ごとに作成されて、試験装置に記憶されている。
そして、従来の試験装置では、試験を行った場合に、制御部が試験結果パターン表及び故障モジュール予測順位表を参照して、故障モジュールを特定するようになっていた。
これにより、特許文献１の試験装置では、作業者によらず、故障モジュールを精度良く特定することができるものである。
更に、従来の試験装置では、被試験器毎に、試験結果や故障モジュールの候補の順位を表示するようになっていた。
【０００７】
［関連技術］
尚、試験装置に関する従来技術としては、特開２０１２−５８１２０号公報「試験装置」（特許文献１）、特開２０１３−１８６７１７号公報「試験装置」（特許文献２）がある。
特許文献１には、上述した試験装置が記載されている。
特許文献２には、試験結果に基づいてモジュール毎の平均故障期間を算出し、復旧作業予算を求め、更に校正検定予算を算出して、特定期間内の保守予算を算出することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２０１２−５８１２０号公報
【特許文献２】特開２０１３−１８６７１７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、従来の試験装置では、被試験装置（被試験器）毎若しくは機器毎に試験結果を表示するものはあるものの、多くの被試験装置に対して行った試験について、試験結果を一括して表示するものではなく、全ての被試験装置での異常検出の状況を一目で把握することはできず不便であるという問題点があった。
【００１０】
尚、特許文献１及び特許文献２には、多くの被試験装置について、異常検出の件数を一覧表示画面で表示することや、一覧表示画面において特定の機器が選択された場合に、当該機器の異常について、より詳細な情報を表示することは記載されていない。
【００１１】
本発明は上記実状に鑑みて為されたもので、多くの被試験装置に対して行った試験について、異常検出の状況を一覧画面で表示すると共に、必要に応じて詳細な情報を表示することができる試験装置及びそのプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記従来例の問題点を解決するための本発明は、交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して機器毎に試験を実施する試験装置であって、試験信号を出力して、被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、測定器のいずれかと被試験器とを接続する切替部と、複数の測定器からの計測結果を入力して解析する制御部とを備え、制御部が、機器毎に行われた試験の結果として複数の測定器からの計測結果を入力し、計測結果に基づいて機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶しておき、特定期間に行った複数の被試験器に対する試験について、被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示することを特徴としている。
【００１３】
また、本発明は、上記試験装置において、制御部が、機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備え、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示することを特徴としている。
【００１４】
また、本発明は、交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して機器毎に試験を実施する試験装置で動作するプログラムであって、制御部を、被試験器からの出力を計測する複数の測定器のいずれかと前記被試験器とを接続するよう切替部に切り替えさせ、機器毎に行われた試験の結果として、複数の測定器からの計測結果を入力し、計測結果に基づいて機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶し、特定期間に行った複数の被試験器に対する試験について、被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示するよう機能させることを特徴としている。
【００１５】
また、本発明は、上記プログラムにおいて、機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備えた制御部を、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、当該分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示するよう機能させることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して機器毎に試験を実施する試験装置であって、試験信号を出力して、被試験器からの出力を計測する複数の測定器と、測定器のいずれかと被試験器とを接続する切替部と、複数の測定器からの計測結果を入力して解析する制御部とを備え、制御部が、機器毎に行われた試験の結果として複数の測定器からの計測結果を入力し、計測結果に基づいて機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶しておき、特定期間に行った複数の被試験器に対する試験について、被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示する試験装置としているので、特定期間における複数の被試験器の試験結果を一括して表示でき、異常検出の多寡や故障要因が一目で分かるように帳票出力することができる効果がある。
【００１７】
また、本発明によれば、制御部が、機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備え、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示する上記試験装置としているので、故障モジュール推定の精度を向上させると共に、故障モジュール候補を機器毎に分かりやすく表示することができ、モジュールの交換作業を容易にすることができる効果がある。
【００１８】
また、本発明によれば、交換可能なモジュールを複数備えた機器を複数有する被試験器に対して機器毎に試験を実施する試験装置で動作するプログラムであって、制御部を、被試験器からの出力を計測する複数の測定器のいずれかと前記被試験器とを接続するよう切替部に切り替えさせ、機器毎に行われた試験の結果として、複数の測定器からの計測結果を入力し、計測結果に基づいて機器の正常／異常を検出し、異常であれば故障要因を分析して記憶し、特定期間に行った複数の被試験器に対する試験について、被試験器に含まれる機器毎の異常検出件数と故障要因とを読み出して、複数の被試験器の機器毎の試験結果を試験結果履歴表として表示部に一覧表示するよう機能させるプログラムとしているので、特定期間における複数の被試験器の試験結果を一括して表示でき、異常検出の多寡や故障要因が一目で分かるように帳票出力することができる効果がある。
【００１９】
また、本発明によれば、機器毎に、複数の測定器での計測における計測結果の良／否の組み合わせのパターンと、パターン毎に対応する故障モジュールの候補を記憶した故障分離マトリックスを備えた制御部を、任意の機器の故障要因を分析する際に、当該機器の故障分離マトリックスに基づいて、入力された計測結果の良／否のパターンに対応する故障モジュールの候補を特定して、当該分析対象の機器のシリアル番号に対応して記憶しておき、表示された試験結果履歴表において、異常検出件数が１以上の機器が選択されると、選択された機器で異常が検出された試験毎に、故障した機器のシリアル番号と、故障モジュール候補とを読み出して、故障モジュール推定表として表示部に表示するよう機能させる上記プログラムとしているので、故障モジュール推定の精度を向上させると共に、故障モジュール候補を機器毎に分かりやすく表示することができ、モジュールの交換作業を容易にすることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本試験装置の概略構成図である。
【図２】帳票出力処理の概要を示すフローチャートである。
【図３】故障要因分析処理を示すフローチャートである。
【図４】試験結果テーブルの説明図である。
【図５】試験結果履歴表の説明図である。
【図６】故障モジュール推定表の一例を示す説明図である。
【図７】帳票出力結果のグラフ表示の例を示す図である。
【図８】試験結果パターン表の説明図である。
【図９】故障モジュール予測順位表の説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
本発明の実施の形態について図面を参照しながら説明する。
［実施の形態の概要］
本発明の実施の形態に係る試験装置（本試験装置）及びそのプログラム（本プログラム）は、交換可能なモジュールを複数備えた機器を１つ又は複数有する複数の被試験装置に対して、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験装置について複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、特定期間における複数の被試験装置の試験結果（異常検出状況）を一覧画面で表示するものであり、故障要因を精度よく推定すると共に、試験結果を一目で分かりやすく表示でき、利便性を向上させることができるものである。
【００２２】
また、本試験装置及び本プログラムは、一覧画面に表示された情報から、特定の機器が選択されると、当該機器で異常が検出された試験について、機器のシリアル番号を付して故障モジュール候補を含む詳細な情報を表示するものであり、作業者は、故障モジュールを容易に認識することができるものである。
【００２３】
［本試験装置の構成：図１］
本試験装置の構成について図１を用いて説明する。図１は、本試験装置の概略構成図である。
図１に示すように、試験装置１は、被試験器（被試験装置）２とネットワークにより接続され、各種の試験を実施するものである。
試験装置１は、試験コントローラ２０と、各種の計測を行うｎ台の測定器１０-1，１０-2，…〜１０-n（測定器１０と記載することもある）と、切替部３０とを備えている。
【００２４】
測定器１０-1，１０-2，…〜１０-nは、試験コントローラ２０の指示に従って、切替部３０を介して試験信号を被試験器２に出力し、被試験器２からの出力信号を受信して計測し、計測結果を試験コントローラ２０に出力する。
切替部３０は、試験コントローラ２０と切替部制御ラインによって接続され、試験コントローラ２０からの切替制御信号に従って、被試験器２に接続する測定器１０を切り替える。
【００２５】
試験コントローラ２０は、試験全体の制御を行うコンピュータであり、基本的に、処理を行う制御部と、処理プログラムやデータを記憶する記憶部と、ネットワーク等に接続するインタフェース部とを備えている。また、試験コントローラ２０は、表示部及び入力部を備えている。尚、試験コントローラ２０は、請求項に記載した制御部に相当している。
後述する実施の形態で説明する各種の処理は、制御部が、記憶部に記憶された処理プログラムを起動することによって実行されるものである。
【００２６】
試験コントローラ２０は、ネットワークを介して測定器１０、切替部３０、及び被試験器２と接続されている。
また、試験コントローラ２０は、試験結果を蓄積するデータベース（図示せず）に接続され、データベースへのデータの書き込み／読み出しを行う。
【００２７】
被試験器２は、たとえば航空機等に搭載される電子機器であって、試験装置１によって実行される試験の対象となる機器である。また、被試験器２は、１つ又は複数の機器を備え、更に各機器は、交換可能な複数のモジュールを備えている。
被試験器２は、ネットワークを介して試験コントローラ２０に接続し、試験に必要な情報の送受信を行う。
例えば、試験コントローラ２０は、被試験器２に各種の試験条件を設定し、被試験器２は、応答を送信する。
【００２８】
そして、本試験装置の特徴として、試験コントローラ２０は、多くの被試験器２について実施された試験で得られた試験ログに基づいて、複数の被試験器２の試験結果を一覧表示として表示部に帳票出力するものである。
【００２９】
具体的には、試験コントローラ２０は、被試験器２を構成する複数の機器ごとに試験ログとして得られるCSVデータを取得して良否を判定し、異常がある場合には、その原因を分析して、故障の可能性が高いモジュールを推定する。
そして、複数の被試験器２を構成する複数の機器について、異常検出の件数や故障モジュールの情報を一覧表示するものである。
【００３０】
［帳票出力処理の概要：図２］
次に、本試験装置における帳票出力処理の概要について図２を用いて説明する。図２は、帳票出力処理の概要を示すフローチャートである。
図２に示すように、試験コントローラ２０は、まず、当該被試験器２を構成する任意の機器を選択する（Ｓ１）。そして、当該機器について既に行われた試験について良否判定結果を取得する（Ｓ２）。
【００３１】
そして、試験コントローラ２０は、取得した試験結果が「良」であるか「否」であるかを判定する（Ｓ３）。尚、ここでは、「良」とは当該機器に関する全ての計測項目について結果が正常であった場合であり、「否」とは正常でなかった計測項目があった場合を示している。
また、本実施の形態では、便宜上、被試験装置２に対して実施される複数の計測全体を「試験」と称し、試験に含まれる個々の測定や動作確認を「計測」と称するものする。
【００３２】
試験コントローラ２０は、処理Ｓ２で「否」であった場合、故障要因を分析する故障要因分析処理を行う（Ｓ４）。故障要因分析処理は、本試験装置の特徴部分であり、後述する。
故障要因分析処理が終了すると、試験コントローラ２０は、当該被試験器２に次の機器があるかどうかを判断し（Ｓ５）、ある場合には処理Ｓ１に戻って次の機器を選択して同様の処理行う。
【００３３】
また処理Ｓ３で、試験結果が「良」であった場合には、当該機器は正常であるため、故障要因の分析は行わず、処理Ｓ５に移行する。
処理Ｓ５において、次の機器がなかった場合には、試験コントローラ２０は、故障要因分析結果を帳票出力する（Ｓ５）。帳票出力の表示例については、後述する。
このようにして、本試験装置における帳票出力処理が行われるものである。
【００３４】
複数の被試験器２がある場合には、全ての被試験器２について処理Ｓ１〜処理Ｓ６を繰り返す。若しくは、全ての被試験器２について処理Ｓ１〜Ｓ５を繰り返して、全ての被試験器２の故障要因分析結果が出そろってから処理Ｓ６で帳票出力するようにしてもよい。
【００３５】
［故障要因分析処理：図３］
次に、図２のＳ４に示した故障要因分析処理について図３を用いて説明する。図３は、故障要因分析処理を示すフローチャートである。
故障要因分析処理は、図２の処理Ｓ３で試験結果が「否」であった場合、つまり、試験に含まれるいずれかの計測の結果に異常があった場合に行われ、その異常の要因がどこにあるかを分析して、故障モジュールを推定する処理である。
故障要因分析処理を行うことによって、作業員に依存した要因判定のばらつきをなくし、精度よく異常の要因を特定することが可能となる。
【００３６】
図３に示すように、故障要因分析が開始されると、試験コントローラ２０は、まず、電源投入前試験計測結果を参照し、その結果が「良」か「否」かを判断する（１０２）。結果が「否」であった場合には、試験コントローラ２０は、当該機器の故障は「電源ライン異常」と判断して（１０４）、処理１２０に移行する。電源ライン異常の場合、当該機器に対して他の試験は行われていないので、故障要因の分析もそれ以上行わない。
【００３７】
また、処理１０２において電源投入前試験計測結果が「良」であった場合には、試験コントローラ２０は、電源投入試験計測結果を参照し、結果が「良」か「否」かを判断する（１０６）。
電源投入試験計測結果が「否」であった場合には、試験コントローラ２０は、当該機器の故障は「Ｐ−ＢＩＴ（Power ON BIT）異常」と判断して（１０８）、処理１２０に移行する。Ｐ−ＢＩＴ異常の場合もそれ以上の試験は行われていないためである。
【００３８】
また、処理１０６において、電源投入試験計測結果が「良」であった場合、試験コントローラ２０は、次に自己診断機能確認試験計測結果を参照し、結果が「良」か「否」かを判断する（１１０）。
自己診断機能確認試験計測結果が「否」であった場合には、試験コントローラ２０は、当該機器の故障は「Ｉ−ＢＩＴ（Initiate-BIT）異常」と判断して(１１２)、処理１１４に移行して、機能確認試験の結果を参照する（１１４）。
処理１１０において結果が「良」であった場合には、そのまま処理１１４に移行する。
【００３９】
そして、処理１１４で機能確認試験（計測Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，…）の結果が「否」であれば、試験コントローラ２０は、「機能試験異常」と判断し（１１６）、処理１０４，１０８，１１２，１１６で判断された故障要因分析結果をデータベースの試験結果テーブルに記憶する（１２０）。試験結果テーブルについては後述する。
【００４０】
更に、試験コントローラ２０は、故障分離マトリックスを参照して、故障モジュールを推定する（１２２）。本試験装置における故障モジュールの推定方法は、特許文献1に記載された方法と同様であり、故障分離マトリックスについては後述する。
【００４１】
そして、試験コントローラ２０は、故障モジュール推定結果をデータベースの試験結果テーブルに記憶し（１２４）、処理を終了する。
また、処理１１４で機能確認試験結果が「良」であった場合にも、試験コントローラ２０は、故障要因分析処理を終了する。
このようにして、本試験装置における故障要因分析処理が行われるものである。
【００４２】
［故障分離マトリックス］
故障分離マトリックスは、図８に示した試験結果パターン表と、図９に示した故障モジュール予測順位表に相当している。
具体的には、試験コントローラ２０は、被試験器２を構成する機器毎に対応する故障分離マトリックスとして、試験結果パターン表と故障モジュール予測順位表とを備えている。
試験結果パターン表では、図８と同様に、自己診断機能確認試験及び機能確認試験の計測結果（良／否）の組み合わせに対応して、試験結果パターンが規定されている。
【００４３】
また、故障モジュール予測順位表では、各試験結果パターンに対応して、故障の可能性の高いモジュールの順位が記憶されている。故障モジュールの予測順位は、経験的に求められて故障モジュール予測順位表に記載されており、また、実際に故障モジュールが特定された場合には、その内容を故障モジュール予測順位表に反映させる（書き替える）ようにしてもよい。
本試験装置の故障分離マトリックスでは、故障モジュールの予測順位を３位まで記憶している。
【００４４】
［試験結果テーブル：図４］
次に、データベースに記憶された試験結果テーブルについて図４を用いて説明する。図４は、試験結果テーブルの説明図である。
試験結果テーブルは、試験の結果を装置（被試験器２）毎に記憶するものであり、特に、図３に示した故障要因分析処理の結果を記憶している。
【００４５】
図４に示すように、試験結果テーブルは、装置（装置Ａ，装置Ｂ，装置Ｃ，…）毎に、当該装置を構成する複数の機器（機器ａ，機器ｂ，…）について実施した試験毎の結果を記憶しており、試験実施日に対応して、機器のシリアル番号と、異常検出の有無、更に故障要因分析処理の結果を記憶している。
故障要因分析結果としては、電源ライン異常、Ｐ−ＢＩＴ異常、Ｉ−ＢＩＴ異常、機能試験異常の項目があり、更に故障モジュール候補も記憶する。また、試験結果テーブルの１行が、１回分の試験の解析結果となっている。
【００４６】
試験実施日は、試験実施の際に内部の時計から取得され、機器シリアル番号は、試験開始前に入力される。
機器シリアル番号は、機器の個体番号であり、例えば同じ機器ａという種類の機器であっても、複数の個体があるため、試験当日装置に実装されていた機器ａのシリアル番号を記憶しているものである。
【００４７】
「異常検出」は、図２に示した処理において、処理Ｓ３で計測結果が全て「良」であった場合には「０」、いずれかの計測結果が「否」であった場合には「１」が記憶される。
つまり、「異常検出」が「１」となっている場合には、当該試験で何らかの異常が検出されたことを示している。
【００４８】
図４の例では、装置Ａの機器ａについて、2018/5/26に実施された試験では異常が検出され、2018/5/30に実施された試験では、異常が検出されなかったことを示す。
異常が検出されなかった場合には、故障要因分析処理は行われないため、2018/5/30の試験に対応する故障要因分析結果はブランクとなっている。
【００４９】
「電源ライン異常」「Ｐ−ＢＩＴ異常」「Ｉ−ＢＩＴ異常」「機能試験異常」の項目は、図３の故障要因分析処理において、各異常が故障要因として判定された場合に「１」が記憶され、該当しない場合には「０」が記憶される。
図４の例では、機器ａの2018/5/26の試験では、故障要因はＩ−ＢＩＴ異常と判定されたことを示している。
【００５０】
更に、試験結果テーブルは、図３に示した故障要因分析処理の、処理１２２で推定された故障モジュール候補を記憶している。
図４の例では、2018/5/26の試験では、故障モジュール（１位、２位、３位）は、Ｍ（モジュール）１，Ｍ３，Ｍ５と推定されたことを示している。
図４において、電源ライン異常、Ｐ−ＢＩＴ異常、Ｉ−ＢＩＴ異常、機能試験異常、故障モジュール候補の項目が、故障要因分析結果となっている。
【００５１】
そして、本試験装置の試験コントローラ２０は、試験結果テーブルに基づいて、複数の装置の試験結果を一括して帳票出力する。
［帳票出力］
本装置における帳票出力の表示例について説明する。
［試験結果履歴表：図５］
まず、帳票出力の例として、試験結果履歴表について図５を用いて説明する。図５は、試験結果履歴表の説明図である。
試験結果履歴表は、設定された特定期間に複数の装置に対して実施された試験について、異常検出の状況を示すものである。
図５に示すように、試験結果履歴表では、実行履歴の解析件数、異常履歴の抽出件数、電源ライン異常、Ｐ−ＢＩＴ異常、Ｉ−ＢＩＴ異常、機能試験異常の各項目が設けられており、装置（被試験器２）及びその中の機器毎に、項目に該当する件数が表示される。
【００５２】
実行履歴の解析件数は、設定された期間内に試験結果を解析した件数であり、図４の試験結果テーブルにおいて、試験実施日が当該期間内であった試験の件数である。
異常履歴の抽出件数は、当該期間に該当する試験の内、「異常検出」が「１」となって抽出された試験の件数である。
そして、電源ライン異常、Ｐ−ＢＩＴ異常、Ｉ−ＢＩＴ異常、機能試験異常は、検出された異常の故障要因の内訳であり、それぞれの異常が故障要因として判定された件数、つまり試験結果テーブルで各異常に対応して「１」が記憶されている件数である。
【００５３】
図５の例では、装置Ａには機器ａ，機器ｂ，機器ｃの３つの機器が設けられ、装置Ｂには、機器ｄ及び機器ｅが設けられ、装置Ｃには機器ｆが設けられている場合の試験結果履歴表を示している。
そして、例えば、機器ａについては、当該期間において１２回の試験結果解析を行い、そのうち４回で異常が検出されたことが表示されている。
更に、その４回の異常の故障要因の内訳は、電源ライン異常が０回、Ｐ−ＢＩＴ異常が１回、Ｉ−ＢＩＴ異常が２回、機能試験異常が１回であったことが表示されている。
【００５４】
試験結果履歴表を帳票出力する際の、試験コントローラ２０の動作について簡単に説明する。
試験コントローラ２０は、帳票出力の際に特定期間が設定されると、機器毎に、試験結果テーブルから当該期間に該当する試験情報を抽出し、試験結果履歴表の項目ごとに該当する件数をカウントアップして、試験結果履歴表に１行で表示する。
これにより、多くの試験結果を一覧表示できるものであり、図５の例では、３つの装置、６つの機器について、延べ６６件の試験結果を一括表示している。
【００５５】
このように、本装置では試験結果履歴表を帳票出力することにより、複数の装置についての試験結果を一覧表示して、作業者にわかりやすく表示することができるものである。
更に、異常履歴の抽出件数と、故障要因分析結果については、着色表示を行っている。
これにより、どの機器でどのくらい異常が発生したのか、またその要因は何か、ということが一目で分かるものである。
【００５６】
そして、試験結果履歴表において、異常履歴の抽出件数が１以上となっている機器を選択すると、故障モジュール推定表が表示される。ここでは、異常履歴の抽出件数の数値を選択することで、故障モジュール推定表を表示するようにしている。
【００５７】
［故障モジュール推定表：図６］
故障モジュール推定表について図６を用いて説明する。図６は、故障モジュール推定表の一例を示す説明図である。
図６では、図５の試験結果履歴表において、機器ａの異常履歴の抽出件数「４」が選択された場合の表示例を示している。
図６に示すように、故障モジュール推定表では、抽出された４件について、試験実施日と、機器シリアル番号と、故障モジュール候補１位（一位）〜３位（三位）を表示している。
【００５８】
試験コントローラ２０は、試験結果履歴表で、「異常履歴の抽出件数」の数値が選択されると、試験結果テーブルから、該当機器の当該期間の試験結果の内、「異常検出」が「１」となった試験の情報を参照し、機器シリアル番号や故障モジュール候補を表示するものである。
これにより、作業者は、交換すべきモジュールはどれか、容易に認識できるものである。
【００５９】
［グラフ出力：図７］
また、本試験装置では、試験結果テーブルに集計されたデータをグラフ表示することも可能である。図７は、帳票出力結果のグラフ表示の例を示す図である。
図７に示すように、グラフ出力することで、異常件数の多寡や、故障要因の傾向をビジュアル的に分かりやすく表示できるものである。
【００６０】
［実施の形態の効果］
本試験装置及び本プログラムによれば、交換可能なモジュールを複数備えた機器を１つ又は複数有する複数の被試験器２（被試験装置、装置）について、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、複数の被試験器２に対して複数の計測を含む試験を実施して、個々の計測結果を取得すると、当該計測結果に基づいて故障要因を分析して、故障モジュールを特定し、それらをデータベースに記憶しておき、帳票出力の際に特定期間が指定されると、データベースを参照して、特定期間における複数の被試験器２の試験結果として、機器毎の故障要因毎の異常発生件数を含む試験結果履歴表で一覧表示するようにしているので、複数の被試験器２について、どの装置（被試験器２）でどのような異常がどの程度発生しているのか、試験結果を一目で分かりやすく表示でき、利便性を向上させることができる効果がある。
【００６１】
また、本試験装置及び本プログラムは、交換可能なモジュールを複数備えた機器を１つ又は複数有する被試験器に対して、機器毎に試験を実施する試験装置及びプログラムであって、表示された試験結果履歴表において、特定の機器が選択されると、当該機器で異常が検出された試験について、機器のシリアル番号を付して故障モジュール候補の順位を表示するようにしているので、作業者は、個別の機器毎に故障モジュールを容易に認識して、交換作業を確実に行うことができ、利便性を向上させることができる効果がある。
【００６２】
また、本試験装置及び本プログラムによれば、試験結果履歴表において、異常発生に関連する項目を着色表示したり、グラフ表示を行うようにしているので、視覚的により分かりやすくすることができる効果がある。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、計測結果に基づいて被試験装置の故障要因を精度よく推定すると共に、多くの被試験装置の試験結果を一括して分かりやすく表示することができる試験装置及びそのプログラムに適している。
【符号の説明】
【００６４】
１…試験装置、  ２…被試験器（被試験装置）、  １０…測定器、  ２０…試験コントローラ、  ３０…切替部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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