(57)【要約】【課題】強い反射光を発するメタルシールの表面の傷等の有無を確実に検査する方法を提供する。【解決手段】円環状シール（Ｓ）の真上位置に撮像カメラ（５）を配設し、かつ、円環状のリング照明器（10）を、昇降自在に設け、この昇降によって、シール（Ｓ）を複数の照射高さから照射して、シール（Ｓ）の被検査面部に存在する傷の有無を検査する。【選択図】図１
2020160003.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
円環状シール（Ｓ）を水平面状に保持し、
上記シール（Ｓ）の真上位置に撮像カメラ（５）を配設し、
さらに、上記シール（Ｓ）の真上位置に、円環状のリング照明器（10）を昇降自在に設け、
上記リング照明器（10）を昇降させて、複数の照射高さから、上記シール（Ｓ）を、順次照射して、該シール（Ｓ）の被検査面部（Ｚ）の全幅域（Ｗz ）にわたって、欠陥（Ｙ）を検出することを特徴とするシール外観検査方法。
【請求項２】
横断面が凸曲面状の被検査面部（Ｚ）を有する円環状シール（Ｓ）を水平面状に保持し、
上記被検査面部（Ｚ）の上方に、撮像カメラ（５）と円環状のリング照明器（10）を、配設して、上記シール（Ｓ）を照射し、反射光（Ｆ2 ）を上記カメラ（５）にて撮影し、上記被検査面部（Ｚ）の欠陥（Ｙ）を検出するシール外観検査方法に於て、
上記リング照明器（10）を、昇降させて、複数の照射高さ（Ｈ1 ）（Ｈ2 ）から上記被検査面部（Ｚ）を照射して、
明るさがカメラ露光量をオーバーした超明度帯部（14）と、カメラ露光量が適正な中間明度帯部（15）と、カメラ露光量の不足した暗帯部（16）と、から成るカメラ撮影画像（Ｇ）における上記中間明度帯部（15）のラジアル方向（Ｒg ）の位置及び／又は幅寸法を、上記リング照明器（10）の上記昇降によって、順次変更しつつ、上記被検査面部（Ｚ）の全幅域（Ｗz ）にわたって、上記欠陥（Ｙ）を検出することを特徴とするシール外観検査方法。
【請求項３】
被検査エッジ部（Ｅ）を有する円環状シール（Ｓ）を、水平面状に保持し、
上記シール（Ｓ）の真上位置に撮像カメラ（５）を配設し、
さらに、上記シール（Ｓ）の真上位置に、円環状のリング照明器（10）を昇降自在に設け、
上記リング照明器（10）を、昇降させつつ、上記シール（Ｓ）の被検査エッジ部（Ｅ）を照射し、該エッジ部（Ｅ）に存在する欠陥（Ｙe ）を検出することを特徴とするシール外観検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シール外観検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、Ｏリング等のゴム製シールの表面の傷や欠けや汚れ等の検査は、図12に示すように、同軸落射照明55をゴム製シール51の表面に当て、反射する光58を、同軸上の真上に設けた固体撮像素子カメラ52にて取り込み、白色リング状の画像を画像処理して２値化し、図13に例示したような同心円の複数個の表面傷検出用ウィンドＷ1 ，Ｗ2 ，Ｗ3 ，Ｗ4 ，Ｗ5 等を対応させ、ウィンドＷ1 ，Ｗ2 ，Ｗ3 ，Ｗ4 ，Ｗ5 上における白色リング状画像が途切れていないか否かにより、シール51の表面傷等の欠陥Ｙの有する方法が知られている（特許文献１参照）。
【０００３】
しかし、図12，図13に示す検査方法を、メタルシール（金属シール）に適用した場合、メタルシール（金属製シール）の表面の高反射率によって、図13に例示したウィンドＷ5 を中心とする円環状帯部53上の欠陥Ｙ5 を検出困難であった。即ち、この帯部53は、カメラ露光量をオーバーした超明度帯部となって、傷や汚れ等の欠陥Ｙ5 を検出困難であった。逆に、ウィンドＷ3 ，Ｗ4 を含む円環状帯部54，54は、カメラ露光量の不足した暗帯部となり、欠陥Ｙ3 ，Ｙ4 を見ることが困難であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平６−１２９５３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、同軸落射照明55を用いた検査方法を、高反射率のメタルシールに適用した場合に、ラジアル方向の中央の円環状帯部53が、カメラ露光量をオーバーした超明度帯部となり、欠陥Ｙ5 の検出が困難であったため、本発明者は、さらに、図14に示すような、リング照明器60を、上方に固定された個体撮像素子カメラ52と、下方の水平面56に設置した金属シール57との間に固設し、小径の金属シール57の全周に対して、又は、大径の金属シールでは分割した円弧部に対して順次、斜め方向から照明光59を当てて、金属シール57の表面傷や汚れ等の欠陥Ｙを検出する方法を検討した。
【０００６】
しかしながら、図15に示す如く、ラジアル方向中央の円環状帯部63は欠陥が見えるが、その帯部63に隣り合うラジアル方向内側・外側の帯部64，64は、カメラ露光量をオーバーした超明度帯部となる。
従って、２本の超明度の帯部64，64の領域に、傷や汚れ等の欠陥Ｙ6 ，Ｙ7 （図15に×印にて示す）が存在していても、検出できず、見落としてしまう虞があることが、判明した。
【０００７】
そこで、本発明は、金属シールに光を照射した際、金属光沢の強い反射光を発する箇所（領域）と、ほとんど光を反射しない箇所（領域）に、存在した表面傷や汚れ等の欠陥を、見ることが困難であるという、上述した従来の問題を簡易な構成によって、解決して、画像処理による外観検査を可能とすることを、目的とする。さらに、エッジ（角部）を有する金属シールにおけるエッジの切欠き傷等の欠陥をも、確実に見付けることをも目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
そこで、本発明は、円環状シールを水平面状に保持し、上記シールの真上位置に撮像カメラを配設し、さらに、上記シールの真上位置に、円環状のリング照明器を昇降自在に設け、上記リング照明器を昇降させて、複数の照射高さから、上記シールを、順次照射して、該シールの被検査面部の全幅域にわたって、欠陥を検出するシール外観検査方法である。
【０００９】
また、横断面が凸曲面状の被検査面部を有する円環状シールを水平面状に保持し、上記被検査面部の上方に、撮像カメラと円環状のリング照明器を、配設して、上記シールを照射し、反射光を上記カメラにて撮影し、上記被検査面部の欠陥を検出するシール外観検査方法に於て、上記リング照明器を、昇降させて、複数の照射高さから上記被検査面部を照射して、明るさがカメラ露光量をオーバーした超明度帯部と、カメラ露光量が適正な中間明度帯部と、カメラ露光量の不足した暗帯部と、から成るカメラ撮影画像における上記中間明度帯部のラジアル方向の位置及び／又は幅寸法を、上記リング照明器の上記昇降によって、順次変更しつつ、上記被検査面部の全幅域にわたって、上記欠陥を検出するシール外観検査方法である。
【００１０】
また、被検査エッジ部を有する円環状シールを、水平面状に保持し、上記シールの真上位置に撮像カメラを配設し、さらに、上記シールの真上位置に、円環状のリング照明器を昇降自在に設け、上記リング照明器を、昇降させつつ、上記シールの被検査エッジ部を照射し、該エッジ部に存在する欠陥を検出するシール外観検査方法である。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、高い光反射率を有する金属製等のシールの表面傷，汚れ等の欠陥を、確実に検出できる。これによって、シールの密封性能等の品質が常に安定する。かつ、照明のために複雑な機構を要さず、簡易な照明機構で済む。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明に係る検査方法を説明するための構成説明図である。
【図２】本発明に係る検査方法を説明するための構成説明図である。
【図３】被検査用シールの一例を示し、（Ａ）は自由状態の要部拡大断面図、（Ｂ）は使用状態を示す要部拡大断面図である。
【図４】被検査用シールの他の例を示し、（Ａ）は自由状態の要部拡大断面図、（Ｂ）は使用状態を示す要部拡大断面図である。
【図５】被検査用シールの別の例を示し、（Ａ）は自由状態の要部拡大断面図、（Ｂ）は使用状態を示す要部拡大断面図である。
【図６】高い位置にあるリング照明器から円環状シールを照射した際の、円環状シールの被検査面部の明るさを、説明するための図であって、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は（Ａ）に表示の明るさを説明する明暗図である。
【図７】図６の要部拡大図である。
【図８】中間の高さ位置にあるリング状照明器から照射した場合の円環状シールの被検査面部の明るさを説明するための要部拡大図である。
【図９】低い高さ位置にあるリング状照明器から照射した場合の円環状シールの被検査面部の明るさを説明するための要部拡大図である。
【図１０】リング照明器がシールを照射する高さ位置によって、カメラ露光量をオーバーした超明度帯部が、シールの被検査面部を移動してゆくことを示した説明図であって、（Ａ）は高い位置にあるリング照明器から照射した場合の説明図，（Ｂ）は低い位置から照射した場合の説明図である。
【図１１】被検査エッジ部に存在する欠陥（切欠傷）を検出する方法の説明図であり、（Ａ）は平面視説明図、（Ｂ）は要部拡大断面説明図である。
【図１２】同軸落射を利用した従来のシール外観方法説明図である。
【図１３】図12のシール外観方法によって得られる、円環状シールの被検査面部の２値化した画像を説明した図である。
【図１４】従来のシール外観検査方法説明図である。
【図１５】一定高さ位置に固定された従来のリング照明器によって得られる被検査面部の明るさの分布を説明した明暗図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図示の実施の形態に基づき本発明を詳説する。
図１と図２に示すように、円環状シールＳを水平面状に保持する。１は水平面状の載置面である。このシールＳは、例えば、ステンレス鋼、真鍮、アルミニウム等の金属であり、本発明の説明では、金属シール又はメタルシールと呼ぶ。メタルシールは、一般に表面が鏡面に近く、金属光沢をもって、照射光を強く反射するという特性を有している。
【００１４】
図３に示した円環状（メタル）シールＳは、同図（Ａ）のように自由状態では横断面円環状のＯリング型であって、図３（Ｂ）に示した使用状態下では、平行なニ平面２，３の間に介装され、横断面形状がやや楕円型に弾性変形して密封作用をなす。
そして、表面傷や汚れ等の欠陥が存在すれば、流体漏洩等の密封性能上重大な問題を生ずる部位として、特に欠陥の有無を検査せねばならない被検査面部を、図３に於て、符号Ｚをもって示している。
【００１５】
また、図４に示した円環状（メタル）シールＳは、横断面形状が、矩形状基部31と、該矩形状基部31の平行な長辺32，32に突設された一対の丸山形突部33，33と、から成り、しかも、一対の丸山形突部33，33の一方は、内径寄りとして、他方は外径寄りに、配設された形状である。図４（Ｂ）に示した使用状態下では、平行なニ平面２，３の間に介装され、この二平面２，３の相互接近に伴って、矢印Ｍs のように回転（捩り）弾性変形しつつ、丸山形突部33，33は平面２，３に弾発的に圧接して、密接作用をなす。
そして、表面傷や汚れ等の欠陥が存在すれば、流体漏洩等の密封性能上重大な問題を生ずる部位として、欠陥の有無を検査せねばならない、被検査面部Ｚは、丸山形突部33の頂部域が該当する。
また、図４に示した円環状（メタル）シールＳは、符号Ｅ，Ｅにて示した被検査エッジ部を有している。つまり、前記矩形状基部31の対角位置に角部が被検査エッジ部Ｅである。
【００１６】
また、図５に例示の円環状（メタル）シールＳの横断面形状は、Ｓ字を上下に延ばした緩やかなＳ字状とすると共に、横断面全体を傾斜した（ひねった）形状である。
図５（Ｂ）に示した使用状態下では、平行な二平面２，３の間に介装され、この二平面２，３の相互接近に伴って、矢印Ｍs のように回転（捩り）弾性変形しつつ、内径端・外径端の弯曲凸面部34，34は平面２，３に弾発的に圧接して、密封作用をなす。
図５に示す円環状（メタル）シールＳでは、前述した被検査面部Ｚは、弯曲凸面部34が該当する。
【００１７】
また、図５に示した円環状（メタル）シールＳは、被検査エッジ部Ｅ，Ｅを有する。特に、図５（Ｂ）からも判るように、弯曲凸面部34の端部の角部は、平面２，３に接触する可能性が特に高く、この角部は、傷や欠けや汚れ等の有無を検査せねばならない被検査エッジ部Ｅであると言える。
本発明に係る外観検査方法が適用できる円環状（メタル）シールとしては、図３，図４，図５に図示したものに限らず、種々のその他の横断面形状のものであっても良い。
【００１８】
図１と図２にもどって説明すると、水平面状として保持したシールＳに対し、その真上位置に撮像カメラ５を配設する。
小径のシールＳの場合について、まず説明すれば、シールＳの上方に、カメラ光軸Ｌ5 と、水平面状シールＳの軸心Ｌs とを、一致させるように、撮像カメラ５を配設する。
さらに、水平面状に保持したシールＳの真上位置であって、カメラ５よりも下方に、円環状のリング照明器10を昇降自在に配設する。
つまり、前記カメラ光軸Ｌ5 と円環状のリング照明器10の軸心Ｌ10とを、一致させた状態で、リング照明器10を、昇降させて、複数の照射高さから、下方位置に設置されているシールＳを、順次照射する。
【００１９】
リング照明器10の昇降手段は、（図示省略するが）例えば、リング照明器10を上下スライド自在にガイドする案内杆、及び、電動モータと、（このモータにて）回転駆動されるスクリューシャフト・ナット機構等の簡易な昇降手段で十分である。あるいは、リング照明器10の重量を保持するだけの上方押上力を有するガススプリング、及び、上下スライド自在にリング照明器10をガイドする案内杆、及び、（検査員が手又は足にてＯＮ−ＯＦＦさせる）昇降ストッパ等にて構成した簡易な昇降手段でも十分である。
リング照明器10は、図１，図２に示したように、軸心Ｌ10廻りに円環状の傾斜照射面11を有し、この傾斜照射面11の内部には、多数のＬＥＤが配設されている。
そして、リング照明器10を昇降させて、図１，図２に例示するように、複数の照射高さから、下方のシールＳを順次照射して、シールＳの被検査面部Ｚ（図３，図４，図５参照）の全幅域Ｗz にわたって、欠陥Ｙ（Ｙ10〜Ｙ14）を検出する（図７，図８，図９参照）。
【００２０】
まず、小径のシールＳについての検査方法を図示した図１，図２から、具体的に説明すれば、カメラ光軸Ｌ5 を中心とする貫孔12を有するリング照明器10を上記シールＳの上方位置に設けて、シールＳを矢印Ｆ1 のように照射し、シールＳからの反射光（矢印）Ｆ2 をカメラ５で受光して撮影し、被検査面部Ｚに存在する欠陥Ｙを検出する際、（図１のように）比較的大きな照射高さＨ1 の位置でシールＳを照射Ｆ1 すると、カメラ５で受光する反射光Ｆ2 の強さが（図６，図７に示す如く）ラジアル方向Ｒg の各位置で相違して、明暗差の大きい同心円環状帯部模様が、カメラ５で撮像される。
【００２１】
図６及び図７に於て、カメラ露光量が適正な中間明度帯部15を点々でもって示す（特に図６（Ｂ）参照）。また、カメラ露光量が不足した暗帯部16を、斜線でもって示す（特に図６（Ｂ）参照）。また、カメラ露光量をオーバーした（明る過ぎる）超明度帯部14を、白紙をもって示す（特に図６（Ｂ）参照）。
【００２２】
図１に示した比較的大きい照射高さＨ1 のリング照明器10をもって、シールＳを照射Ｆ1 すると、図６（Ａ）と図７に示すような同心円環状帯部模様から成る撮影画像Ｇが、上方位置のカメラ５によって得られる。
つまり、図６（Ａ）及び図７に示すように、ラジアル方向Ｒg の中央領域に中間明度帯部15が存在し、その内縁・外縁に隣設して超明度帯部14，14が存在し、その内縁・外縁に隣設して暗帯部16，16が存在している。
【００２３】
図１のリング照明器10を下降させてゆくと、（図７から）図８のように、カメラ撮影画像Ｇが変化する。
即ち、ラジアル方向Ｒg の中央領域に存在する中間明度帯部15の（ラジアル方向の）幅寸法が、図７よりも増加し、かつ、２本の超明度帯部14，14の間隔寸法が増加する。
さらに、リング照明器10を下降させて、図２に示すように、リング照明器10を小さな照明高さＨ2 とすると、（図８から）図９にように、カメラ撮像画像Ｇが変化する。
【００２４】
即ち、図８では、中央領域に存在していた中間明度帯部15が、ラジアル内方の中間明度帯部15Ａとラジアル外方の中間明度帯部15Ｂに、分離する。なお、内方中間明度帯部15Ａの内端縁から、外方中間明度帯部15Ｂの外端縁までの（ラジアル方向Ｒg の）幅寸法は、図８の一本の中間明度帯部15の幅寸法よりも、大きい。
そして、図９に示す如く、ラジアル方向Ｒg の中央領域に新たに暗帯部16Ｃが出現する。また、超明度帯部14，14は、（図８よりも）幅寸法が減少する。
【００２５】
ところで、図７，図８，図９に於て、表面傷等の欠陥Ｙ10，Ｙ11，Ｙ12，Ｙ13，Ｙ14が、仮に、図例の如く、ラジアル方向Ｒg に相違した位置に存在した場合、いずれのラジアル方向Ｒg にあっても、本発明に係る外観検査方法によって、検出できることを、以下説明する。
【００２６】
まず、図７に示したリング照明器10が高い位置にある場合、欠陥Ｙ10のみが中間明度帯部15に有るので検出可能であり、他の欠陥Ｙ11，Ｙ12は、超明度帯部14の内に存在していて、明る過ぎて検出が困難である。さらに、別の欠陥Ｙ13，Ｙ14は、暗帯部16，16に有り、検出不可である。
ところが、リング照明器10が下降していって、図８に示した、中間高さでは、（幅寸法が増加した）中間明度帯部15の内部に、欠陥Ｙ11，Ｙ12も存在することとなって、３つの欠陥Ｙ10，Ｙ11，Ｙ12を、検出できる。
なお、図８に於て、別の欠陥Ｙ13，Ｙ14は、（図７の暗帯部16から）超明度帯部14に入り込むため、明る過ぎて、検出困難である。
【００２７】
しかしながら、リング照明器10が、さらに下降して図２に示した小さな照明高さＨ2 にある場合、図９に示したように、ラジアル方向Ｒg の最外端及び最内端に存在している欠陥Ｙ13，Ｙ14が、中間明度帯部15Ａ，15Ｂに入り込み、検出可能となる。
なお、欠陥Ｙ10は、暗帯部16Ｃに入り込むことで、検出不可となるが、図７及び図８の状態下で、検出できているので、何ら問題はない。
【００２８】
以上、図７〜図９及び図６にて説明したように、本発明のシール外観検査方法は、明るさがカメラ露光量をオーバーした超明度帯部14と、カメラ露光量が適正な中間明度帯部15と、カメラ露光量の不足した暗帯部16と、から成るカメラ撮影画像Ｇにおける中間明度帯部15のラジアル方向Ｒg の位置及び／又は幅寸法を、上記リング照明器10の昇降によって、順次変更しつつ、被検査面部Ｚの全幅域Ｗz にわたって、欠陥Ｙを検出することができる。
なお、図３，図４，図５に示すように、被検査面部Ｚは、シールＳの凸曲面部の全体である必要はなく、密封用接触平面２，３に圧接する可能性のある部位であれば、十分である。従って、図６〜図９に於て、被検査面部Ｚの全幅域Ｗz は、画像の全幅寸法よりは小さくても良い。
【００２９】
次に、図10は、（図１，図２に示した）リング照明器10がシールＳを照射する高さ位置Ｈ1 ，Ｈ2（図１，図２参照）によって、カメラ露光量をオーバーした超明度帯部14が、シールＳの被検査面部Ｚを移動してゆくことを示した説明図であって、（Ａ）は高い位置にあるリング照明器10から照射した場合の図７に対応した説明図、（Ｂ）は低い位置から照射した場合の図９に対応した説明図である。この図10（Ａ）（Ｂ）によって、前述の図７，図８，図９の如く、超明度帯部14，中間明度帯部15，暗帯部16が、順次、変化してゆくことが判る。
【００３０】
ところで、以上説明した図１，図２，図６等の実施形態では、シールＳは小径であって、全体を一度に撮像できる。
しかし、シールＳが大径である場合には、全周を複数個に分割して、複数の弧状範囲を順次、撮像することとなる。
大径のシールＳの場合につき、以下、具体的に説明すると、カメラ５の軸心Ｌ5 とリング照明器10の軸心Ｌ10は、一致させるが、大径のシールＳの軸心Ｌs を上記両軸心Ｌ5 ，Ｌ10から偏心させて、その被検査面部Ｚ（図３〜図５参照）を、上記両軸心Ｌ5 ，Ｌ10に略一致させて、照射し、撮像する（図10参照）。
（図６に示すような全周にわたる撮像ではなく、）全周を複数個に分割した弧状画像が得られる。そして、大径のシールＳをその周方向に、所定分割中心角度だけ、間欠送りを付与し、順次停止位置にて、弧状画像を撮影すれば、全周検査を行うことができる。上記間欠送りは、水平面状ターンテーブル等を使用すれば簡単に実施可能であり、自動・手動のいずれでも可能である。
【００３１】
次に、図11は、図４，図５に例示した被検査エッジ部Ｅの切欠等の傷や、異物の付着や、汚れ等の欠陥Ｙe を検出する外観検査方法の説明図であって、図１〜図10に於て既に述べた凸曲面状の被検査面部Ｚの検査方法と同様に、被検査エッジ部Ｅを有する円環状シールＳを、水平面状に保持し、シールＳの真上位置に撮像カメラ５を配設し、さらに、シールＳの真上位置に、円環状のリング照明器10を昇降自在に設け、リング照明器10を、昇降させつつ、シールＳの被検査エッジ部Ｅを照射し、該エッジ部Ｅに存在する欠陥Ｙe を検出する。
【００３２】
図11（Ｂ）に於て、点線で示した入射光Ｆ1 が切欠等の欠陥Ｙe で反射したとしても反射光Ｆ2 が、図外（上方）のカメラに入射せず、周囲と欠陥Ｙe のコントラスト差が小さいままで、欠陥Ｙe を検出できない。
しかし、リング照明器10が昇降することによって、実線の矢印にて示すような照射光Ｆ1 が欠陥Ｙe に当って、瞬間的にキラリッと光る。即ち、実線の矢印Ｆ2 で示すように、図外（上方）のカメラに入射する瞬間がある。
このようにして、図11（Ａ）に示したように、エッジＥに対応する円弧Ｅc の一部のみが、点状に輝き、周囲とのコントラストが明確となって、欠陥Ｙe を検出できる。
【００３３】
なお、本発明は図示の実施の形態以外にも設計変更自由であって、リング照明器10を昇降自在として、「複数の照射高さ」から順次照射するとは、「３〜１０段等の有段階の照射高さ」から照射する（間欠的停止作動の）場合と、無段階に昇降させつつ、「無段階の照射高さ」から照射する場合のいずれであっても良い。
なお、「無段階の照射高さ」からの照射は、（図11にて述べた）被検査エッジ部Ｅに対する欠陥Ｙe を検出する場合に、好適な方法であるといえる。
また、本発明に係る検査方法は、特に、金属光沢のあるメタルシールＳに有効である。しかしながら、光を反射しやすい表面を有するプラスチックやゴム等、及び、複数材から成るシールＳにも、適用可能であり、材質は金属に限定されないものとする。
【００３４】
本発明は、以上詳述したように、円環状シールＳを水平面状に保持し、上記シールＳの真上位置に撮像カメラ５を配設し、さらに、上記シールＳの真上位置に、円環状のリング照明器10を昇降自在に設け、上記リング照明器10を昇降させて、複数の照射高さから、上記シールＳを、順次照射して、該シールＳの被検査面部Ｚの全幅域Ｗz にわたって、欠陥Ｙを検出する方法であるので、シールＳの被検査面部Ｚの全幅域Ｗz にわたって、シール外面の欠陥Ｙを、確実に検知できる。特に、光を反射しやすい金属シールに好適である。しかも、検査装置としては、リング照明器10を、上昇・下降作動させる簡易な機構を付加するだけで済む。
【００３５】
また、本発明は、横断面が凸曲面状の被検査面部Ｚを有する円環状シールＳを水平面状に保持し、上記被検査面部Ｚの上方に、撮像カメラ５と円環状のリング照明器10を、配設して、上記シールＳを照射し、反射光Ｆ2 を上記カメラ５にて撮影し、上記被検査面部Ｚの欠陥Ｙを検出するシール外観検査方法に於て、上記リング照明器10を、昇降させて、複数の照射高さＨ1 ，Ｈ2 から上記被検査面部Ｚを照射して、明るさがカメラ露光量をオーバーした超明度帯部14と、カメラ露光量が適正な中間明度帯部15と、カメラ露光量の不足した暗帯部16と、から成るカメラ撮影画像Ｇにおける上記中間明度帯部15のラジアル方向Ｒg の位置及び／又は幅寸法を、上記リング照明器10の上記昇降によって、順次変更しつつ、上記被検査面部Ｚの全幅域Ｗz にわたって、上記欠陥Ｙを検出する方法であるので、特に光の高反射率の金属シールＳに好適であり、被検査面部Ｚについて、全幅域Ｗz にわたって、もれなく確実な検査を行い得る。
かつ、リング照明器10に、簡易な上昇・下降作動機構を付加するだけで良く、検査装置も簡単な改造で済む。
【００３６】
また、被検査エッジ部Ｅを有する円環状シールＳを、水平面状に保持し、上記シールＳの真上位置に撮像カメラ５を配設し、さらに、上記シールＳの真上位置に、円環状のリング照明器10を昇降自在に設け、上記リング照明器10を、昇降させつつ、上記シールＳの被検査エッジ部Ｅを照射し、該エッジ部Ｅに存在する欠陥Ｙe を検出する方法であるので、周囲とエッジの欠陥Ｙe のコントラスト差が著しくなる瞬間を巧妙に生ぜしめて、確実に（もれなく）エッジの欠陥Ｙe を検出できる。
かつ、リング照明器10に、簡易な上昇・下降作動機構を付加するだけで良く、検査装置も簡単な改造で済む。
【符号の説明】
【００３７】
５  撮像カメラ
10  リング照明器
14  超明度帯部
15  中間明度帯部
16  暗帯部
Ｅ  被検査エッジ部
Ｆ2   矢印（反射光）
Ｇ  カメラ撮影画像
Ｌ5   カメラ光軸
Ｌs   シールの軸心
Ｌ10  照明器軸心
Ｈ1 ，Ｈ2   照射高さ
Ｒg   ラジアル方向
Ｓ  円環状シール
Ｗz   全幅域
Ｙ  欠陥
Ｙe   エッジの欠陥
Ｚ  被検査面部
【図１】
2020160003.tif 000003
【図２】
2020160003.tif 000004
【図３】
2020160003.tif 000005
【図４】
2020160003.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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