(57)【要約】【課題】検出対象物のサンプルのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができるＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法を提供する。【解決手段】Ｘ線検査装置１による検出対象物を代用するサンプルが組み込まれた試験体１０であって、検出対象物の大きさの異なる複数のサンプル１１ａ〜１１ｆと、これらに対応する複数の保持穴１２ａ〜１２ｆが形成され、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの穴径方向に位置決め可能な基板１２と、基板１２により位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを基板１２と一体に包み込む透明または半透明の樹脂製のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂとを有している。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線検査装置による検出対象物を代用するサンプルが組み込まれた試験体であって、
前記検出対象物の大きさの異なる複数のサンプルと、
前記複数のサンプルに対応する複数の穴が形成され、前記複数のサンプルを前記複数の穴の径方向に位置決め可能な基板と、
前記基板により位置決めされた前記複数のサンプルを前記基板と一体に包み込むフィルムと、を有していることを特徴とするＸ線検査装置用の試験体。
【請求項２】
前記基板が、前記複数のサンプルのいずれよりも低密度の発泡性材料で構成されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置用の試験体。
【請求項３】
前記複数の穴が、それぞれ前記基板のＸ線透過方向に貫通していることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置用の試験体。
【請求項４】
Ｘ線検査装置による検出対象物を代用する複数のサンプルが組み込まれた試験体の製造方法であって、
大きさの異なる前記複数のサンプルと、前記複数のサンプルを保持可能な基板と、前記基板を包み込み可能なフィルムと、を準備し、
前記基板に前記複数のサンプルに対応する複数の穴を形成した後、
前記複数のサンプルを前記基板により前記複数の穴の径方向に位置決めさせ、
前記基板により位置決めされた前記複数のサンプルを前記フィルムにより前記基板と一体に包み込むことを特徴とするＸ線検査装置用の試験体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置用の試験体およびその製造方法に関し、特に食品や医薬品等の製造ラインにおいて使用されるＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、食品や医薬品等の製造ラインにおいて、Ｘ線検査装置を用い、搬送中の製品のＸ線透過量の分布を示す画像データ等（以下、単にＸ線透過画像という）を基に、製品に混入した異物の検出を行ったり包装容器内の特定構成物品の欠品を検出したりする物品検査が広く行われている。
【０００３】
そして、このようなＸ線検査装置による物品検査の能力をチェックするために、異物等の検出対象物を代用するサンプルとして基板材料に装着した試験体を使用することがある。
【０００４】
この種の試験体としては、例えば異なる複数サイズのサンプルを基板材料の異なる位置に装着することで、Ｘ線透過画像データを基に異物等の検出対象物に対するＸ線検査装置の検出能力を端的にチェックできるようにしたものが知られている（例えば、特許文献１、２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−００２３６６号公報
【特許文献２】特開２００９−０３１１４９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来のＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法にあっては、検出対象物のサンプルをシート状の基板材料に接着剤により接着する構成となっていた。
【０００７】
そのため、接着剤の影響等により透過Ｘ線の減衰率にばらつきが生じ易くなり、サイズの近いサンプル間で、特に異物片が骨等の非金属である場合に、接着剤による影響が顕著になることがあり、Ｘ線検査装置による物品検査の能力を精度良くチェックすることができなくなるという問題があった。
【０００８】
本発明は、上述のような従来の課題を解決すべくなされたものであり、検出対象物のサンプルのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができるＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係るＸ線検査装置用の試験体は、上記目的達成のため、Ｘ線検査装置による検出対象物を代用するサンプルが組み込まれた試験体であって、前記検出対象物の大きさの異なる複数のサンプルと、前記複数のサンプルに対応する複数の穴が形成され、前記複数のサンプルを前記複数の穴の径方向に位置決め可能な基板と、前記基板により位置決めされた前記複数のサンプルを前記基板と一体に包み込むフィルムとを有していることを特徴とする。
【００１０】
この構成により、本発明では、複数のサンプルが基板によりその複数の穴の径方向に位置決め可能となり、基板により位置決めされた複数のサンプルがフィルムによって基板と一体に包み込まれて、試験体となる。したがって、検出対象物のサンプルを試験体の基板に接着する必要が無くなり、試験体各部のＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができる。
【００１１】
本発明に係るＸ線検査装置用の試験体においては、前記基板が、前記複数のサンプルのいずれよりも低密度の発泡性材料で構成されているとよい。この場合、前記基板の厚みを大きくできるので、基板の複数の穴内に複数のサンプルを収納することが可能となる。なお、ここにいう発泡性材料は、例えば発泡スチロールとすることができる。
【００１２】
また、本発明に係るＸ線検査装置用の試験体においては、前記複数の穴が、それぞれ前記基板のＸ線透過方向に貫通しているとよい。このようにすると、複数のサンプルのＸ線透過領域内において基板の影響をほぼ無くすことができる。
【００１３】
本発明に係るＸ線検査装置用の試験体の製造方法は、Ｘ線検査装置による検出対象物を代用する複数のサンプルが組み込まれた試験体の製造方法であって、大きさの異なる前記複数のサンプルと、前記複数のサンプルを保持可能な基板と、前記基板を包み込み可能なフィルムと、を準備し、前記基板に前記複数のサンプルに対応する複数の穴を形成した後、前記複数のサンプルを前記基板により前記複数の穴の径方向に位置決めさせ、前記基板により位置決めされた前記複数のサンプルを前記フィルムにより前記基板と一体に包み込むことを特徴とするものである。
【００１４】
この方法では、基板に複数のサンプルに対応する複数の穴を形成することで、複数のサンプルを基板により複数の穴の径方向に位置決め可能となり、それをフィルムにより包み込むことで、基板により位置決めされた複数のサンプルを接着剤を用いることなく基板と一体化することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、検出対象物のサンプルのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができるＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置用の試験体の概略正面断面図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置用の試験体の概略平面図である。
【図３】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置用の試験体の製造方法を複数のサンプルの正面断面図の変化で示すその工程説明図である。
【図４】本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置用の試験体の製造方法を複数のサンプルの平面図の変化で示すその工程説明図である。
【図５】本発明の一実施形態に係る試験体を用いるＸ線検査装置の一例の説明図である。
【図６】比較例のＸ線検査装置用の試験体を示す図で、（ａ）はその概略平面図、（ｂ）はその概略正面断面図である。
【図７】比較例のＸ線検査装置用の試験体の製造方法を複数のサンプルの正面断面図の変化で示すその工程説明図である。
【図８】比較例のＸ線検査装置用の試験体の製造方法を複数のサンプルの平面図の変化で示すその工程説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明を実施するための形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００１８】
（一実施形態）
図１ないし図５は、本発明の一実施形態に係るＸ線検査装置用の試験体の構成およびその製造方法と、これを用いるＸ線検査装置の構成を例示している。
【００１９】
まず、その試験体の構成について説明する。
【００２０】
図１および図２に示す本実施形態のＸ線検査装置用の試験体１０は、図５に示すＸ線検査装置１に使用されるものであり、Ｘ線検査装置１による検出対象物を代用するサンプル１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ、１１ｅ、１１ｆが、基板１２上に略一定の所定中心間隔を隔てつつ一列に整列して組み込まれている。
【００２１】
これら複数のサンプル１１ａ〜１１ｆは、製品中に異物として混入し得る金属、非金属、骨、ガラスその他の検出対象物を代用するものであり、そのサンプルとしての大きさ、少なくともＸ線透過方向の厚さが異なるそれぞれのサイズおよび形状を有している。
【００２２】
複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの形状は、ここでは球状を例示するが、円形もしくは非円形の平面形状や横断面形状を有する柱状、台上、板状、針金状等であってもよいし、実際の異物等の検出対象物のサンプルや破片等であってもよい。図中に示す球状のサンプル１１ａ〜１１ｆの球径ｄ１、ｄ２、ｄ３、ｄ４、ｄ５、ｄ６は、それぞれ例えば０．３ｍｍ、０．４ｍｍ、０．５ｍｍ、０．６ｍｍ、０．７ｍｍ、０．８ｍｍである。試験体１０が有する複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの情報（異物の種類やサイズ等）は、ユーザが容易に視認および理解できるよう、基板１２や後述するラミネートフィルム１３ａ、１３ｂへの印刷等で示されている。
【００２３】
基板１２には、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆに対応する複数の穴径の異なる保持穴１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅ、１２ｆ（穴）が略一定の所定中心間隔を隔てつつ一列に形成されており、これら複数の保持穴１２ａ〜１２ｆは、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの径方向に位置決め可能な凹形状を有している。
【００２４】
ここにいう凹形状は、貫通穴状あるいは有底の穴状を含む意であり、円形または非円形（例えば、多角形）の柱状穴、上面側開口径が下面側開口径より大きい逆円錐台形状の穴、複数の等角度間隔の内突起や内フランジ状の内突部を有する穴等、穴形状自体は任意である。
【００２５】
ただし、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆは、基板１２の複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの凹形状の内周部分に係合することで、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの径方向に位置決めされるものであることが必要である。複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの穴径ｄ１´、ｄ２´、ｄ３´、ｄ４´、ｄ５´、ｄ６´は、対応するサンプル１１ａ〜１１ｆの球径ｄ１〜ｄ６と略同一の値であり、サンプル１１ａ〜１１ｆを隙間嵌合させるか密着嵌合させることができる。
【００２６】
一方、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆとそれらを複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの径方向に位置決めした基板１２とは、少なくとも外周部分の一部をヒートシール接合（熱融着）した透明または半透明の樹脂製のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂ（折り返されるかチューブ状や袋状に成形された一枚のヒートシール材の一部でもよい）によって一体に包み込まれ、被覆されている。
【００２７】
これらラミネートフィルム１３ａ、１３ｂは、図１に示すように、基板１２の上面側で複数のサンプル１１ａ〜１１ｆおよび基板１２の上面に密着する一方、基板１２の下面側では基板１２の下面に密着しており、基板１２の周囲で互いにヒートシール接合されることにより、基板１２を囲繞する外周側の接合部分１３ｃを構成している。
【００２８】
基板１２は、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆのいずれよりも低密度の発泡性材料で構成されており、この発泡性材料は、例えば発泡スチロール、すなわち、合成樹脂素材の一種で気泡を含ませたポリスチレン（ＰＳ）で構成されている。この基板１２は、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが直径が０．３ｍｍ〜０．８ｍｍの球状である場合、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆのうち最小径程度以上の厚みを有しているが、透過Ｘ線の減衰率を十分に抑制できる低密度に形成されているため、例えば２．０ｍｍ程度の厚みにすることができる。
【００２９】
ラミネートフィルム１３ａ、１３ｂは、少なくとも相互の熱融着が可能なヒートシール性を有するとともに、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆおよび基板１２を包み込む際の形状追従性および回復弾性に優れた低モジュラスのものであり、例えば厚みが０．２ｍｍ程度のものである。
【００３０】
次に、試験体１０の製造の手順を説明する。
【００３１】
図３（ａ）および図４（ａ）に示すように、まず、所定厚さのシート状の発泡スチロール材から基板１２の外径に近い短冊状のブランク２１を切り出すとともに、図３（ｂ）および図４（ｂ）に示すように、そのブランク２１に複数の保持穴１２ａ〜１２ｆに対応する複数の径違いの貫通穴または有底の穴（凹形状）を形成する。
【００３２】
このとき、本実施形態における複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの凹形状は、例えば円形の貫通穴で、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが押し込まれたときにそれぞれ保持できるように、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの直径ｄ１〜ｄ６（例えばφ０．３ｍｍ〜φ０．８ｍｍ）よりわずかに小径かゼロクリアランスに形成されている。
【００３３】
もっとも、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆは、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを径方向に実質的に位置決めできればよく、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの直径よりわずかに大径（非円形の場合は内接円の径）に形成されていてもよい。
【００３４】
次いで、図３（ｃ）および図４（ｃ）に示すように、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが基板１２の複数の保持穴１２ａ〜１２ｆに入れるように基板１２上に載置されると、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの内周縁部分によって径方向に位置決めされ、略一定の所定中心間隔を隔てつつ一列に整列する。
【００３５】
次いで、図３（ｄ）および図４（ｄ）に示すように、基板１２により位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを透明か半透明の樹脂製のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂにより上下方向に挟みつつ、基板１２の外周近傍のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂをヒートシールするように加熱および加圧しながら、基板１２の一端側からラミネートフィルム１３ａ、１３ｂの間の空気を外方に吸引・排気する真空引き作業を行う。
【００３６】
そして、上下のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂを基板１２とのその上面側に位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆとに上下から密着させた後、上下のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂを基板１２の一端側でもヒートシールすることで、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆおよび基板１２を上下のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂにより一体に包み込むとともに、それらを囲繞する接合部分１３ｃを形成する。
【００３７】
このように、本実施形態では、大きさの異なる複数のサンプル１１ａ〜１１ｆと、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを保持可能な基板１２と、基板１２を包み込み可能なラミネートフィルム１３ａ、１３ｂとを予め準備しておき、基板１２に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆに対応する複数の保持穴１２ａ〜１２ｆを形成した後、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを基板１２により複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの径方向に位置決めさせ、基板１２により位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを樹脂製のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂにより基板１２と一体に包み込むことで、試験体１０が作製される。
【００３８】
次に、試験体１０のＸ線検査とその検査を行う装置について説明する。
【００３９】
上述のようにして作製された試験体１０は、例えば所定の被検査物品Ｗ（図５参照）に装着された上で、その被検査物品Ｗの一部として、図５に示すＸ線検査装置１に通され、Ｘ線検査装置１内での物品検査に供される。
【００４０】
図５に示すように、本実施形態のＸ線検査装置１は、Ｘ線発生部２、Ｘ線検出部３およびＸ線検査制御部４を備えている。
【００４１】
Ｘ線発生部２は、Ｘ線管２ａと、その駆動電源回路２ｂ等を有しており、Ｘ線検出部３側にコンベア搬送されてくる被検査物品Ｗに対して上方のＸ線管２ａからＸ線を照射する。
【００４２】
Ｘ線検出部３は、Ｘ線発生部２から照射され被検査物品Ｗを透過したＸ線を検出するものであり、Ｘ線ラインセンサ３１と、被検査物品Ｗを搬送するベルトコンベア３２と、その搬送駆動用の複数のローラ３３、３４とを含んでいる。
【００４３】
Ｘ線ラインセンサ３１は、被検査物品Ｗのコンベア搬送面に沿って搬送方向と直交する方向に延びており、例えばライン状に整列配設された複数のフォトダイオードとその上方で前記延在方向に延びたシンチレータとで構成されている。また、Ｘ線ラインセンサ３１には、図示しないＡ／Ｄ変換部が設けられており、Ｘ線の透過濃度データをＸ線画像のライン画像データとしてＸ線検査制御部４側に順次出力できるようになっている。
【００４４】
Ｘ線検査制御部４は、Ｘ線ラインセンサ３１から受け取ったＸ線画像を記憶するＸ線画像記憶部４２と、Ｘ線画像記憶部４２からの読出し画像データに対して各種画像処理アルゴリズム等を適用した画像処理を施す画像処理部４３と、画像処理結果を基に被検査物品Ｗ中の混入異物の有無を判定する判定部４４と、を備えている。ここにいう画像処理アルゴリズムとは、例えば複数の画像処理フィルタや特徴抽出のための画像処理を組み合わせたものである。
【００４５】
Ｘ線検査制御部４には、さらに、各種パラメータ等の設定入力を行う設定操作部４５と、検査結果等を含むＸ線検査に関係する各種の情報を表示出力する表示部４６と、が設けられている。設定操作部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、Ｘ線検査制御部４への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。設定操作部４５と表示部４６は、例えばタッチパネル式表示器として一体構成され得る。また、表示部４６は、他の報知手段や情報出力手段であってもよい。
【００４６】
試験体１０が、所定の被検査物品Ｗに装着された上で、その被検査物品Ｗの一部としてＸ線検査装置１での物品検査に供されるとき、異物等の検出対象物に対するＸ線検査装置１の検出能力に応じて、大きさの異なる複数のサンプル１１ａ〜１１ｆのいずれかが、検出され、検出されたサンプル１１ａ〜１１ｆのいずれかのうち最小サイズを特定することで、Ｘ線検査装置１での物品検査能力を定量的に迅速かつ的確に把握可能となる。
【００４７】
次に、作用について説明する。
【００４８】
上述のように構成された本実施形態のＸ線検査装置用の試験体１０においては、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが基板１２によりその複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの穴径方向に位置決め可能となり、基板１２により位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが透明なラミネートフィルム１３ａ、１３ｂによって基板１２と一体に包み込まれて、試験体１０となる。したがって、検出対象物のサンプル１１ａ〜１１ｆを試験体１０の基板１２に接着する必要が無く、試験体１０の各サンプル１１ａ〜１１ｆ付近のＸ線透過量に対する接着剤の影響を未然に確実に除去することができる。
【００４９】
また、本実施形態では、発泡性材料からなる低密度の基板１２の厚みを大きくすることができることから、基板１２の複数の保持穴１２ａ〜１２ｆ内に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを容易に収納することが可能となる。
【００５０】
しかも、本実施形態の試験体１０では、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆが、それぞれ基板１２のＸ線透過方向に貫通しているので、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆのＸ線透過領域内において基板の影響をほぼ無くすことができる。
【００５１】
一方、本実施形態における製造方法では、試験体１０の製造に際して、基板１２に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆに対応する複数の保持穴１２ａ〜１２ｆを形成することで、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを基板１２により複数の保持穴１２ａ〜１２ｆの穴径方向に位置決め可能にでき、さらに、それら複数のサンプル１１ａ〜１１ｆおよび基板１２を上下のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂにより一体に包み込むことができるので、基板１２により位置決めされた複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを接着剤をまったく用いることなく、基板１２と確実に一体化することができる。
【００５２】
このように、本実施形態においては、検出対象物のサンプル１１ａ〜１１ｆのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができるＸ線検査装置用の試験体１０およびその製造方法を提供することができる。
【００５３】
（比較例）
図６ないし図８は、一実施形態の複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを従来と同様に台紙に接着するようにした比較例を示している。
【００５４】
図６に示す比較例のＸ線検査装置用の試験体１１０は、図５に示すＸ線検査装置１に使用されるものであり、Ｘ線検査装置１による検出対象物を代用するサンプル１１ａ〜１１ｆが、厚紙または樹脂板からなる基板１１２上に所定の中心間隔を隔てつつ一列に整列して組み込まれている。
【００５５】
基板１１２には、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆに対応する複数の略円径の接着座部１１４ａ、１１４ｂ、１１４ｃ、１１４ｄ、１１４ｅ、１１４ｆが所定の中心間隔を隔てつつ一列に形成されており、これら複数の接着座部１１４ａ〜１１４ｆは、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを基板１１２上に接着固定する接着剤の硬化層となっている。
【００５６】
一方、複数のサンプル１１ａ〜１１ｆが接着された基板１１２は、少なくとも外周部分の一部をヒートシール接合した透明な樹脂製のラミネートフィルム１１３ａ、１１３ｂによって一体に包み込まれ、被覆されている。
【００５７】
これらラミネートフィルム１１３ａ、１１３ｂは、基板１１２の上面側で複数のサンプル１１ａ〜１１ｆおよび基板１１２の上面に密着する一方、基板１１２の下面側では基板１２の下面に密着しており、基板１１２の周囲で互いにヒートシール接合されることにより、基板１１２を囲繞する外周側の接合部分１１３ｃを構成している。
【００５８】
比較例の試験体１１０においては、検出対象物のサンプル１１ａ〜１１ｆをシート状の基板１１２に接着剤により接着するため、接着座部１１４ａ〜１１４ｆの接着剤の影響等により透過Ｘ線の減衰率にばらつきが生じ易くなり、異物片が非金属である場合等にＸ線検査装置１による物品検査の能力を精度良くチェックできなくなる可能性がある。
【００５９】
上述の本発明の一実施形態の試験体１０では、既に述べた通り、比較例の場合のような問題がなく、検出対象物のサンプルのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができることがわかる。
【００６０】
なお、上述の一実施形態においては、試験体１０の複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを基板１２の片面側に載置する場合を例示していたが、基板１２の厚みに応じて複数のサンプル１１ａ〜１１ｆを対応する複数の保持穴１２ａ〜１２ｆ内に全体的に収納できることはいうまでもなく、その場合、試験体１０のいずれかの面に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの一部または全部が突出することがない。
【００６１】
また、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆ内における複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの中心の保持高さ（厚み方向）を特定するように、上下のラミネートフィルム１３ａ、１３ｂのラミネート時に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの保持高さを規制してもよい。
【００６２】
勿論、複数の保持穴１２ａ〜１２ｆ内に複数のサンプル１１ａ〜１１ｆの中心保持高さを特定可能な内突起等を設けてもよい。
【００６３】
以上説明したように、本発明のＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法は、検出対象物のサンプルのＸ線透過量に対する接着剤の影響を無くすことができるものであり、かかる本発明は、食品や医薬品等の製造ラインにおいて使用されるＸ線検査装置用の試験体およびその製造方法全般に有用である。
【符号の説明】
【００６４】
１  Ｘ線検査装置
２  Ｘ線発生部
２ａ  Ｘ線管
２ｂ  駆動回路
３  Ｘ線検出部
４  Ｘ線検査制御部
１０  試験体
１１ａ、１１ｂ、１１ｃ、１１ｄ、１１ｅ、１１ｆ  サンプル（複数のサンプル）
１２  基板
１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅ、１２ｆ  保持穴（複数の穴）
１３ａ、１３ｂ  ラミネートフィルム
１３ｃ  接合部分（ヒートシール接合部分）
２１  ブランク
３１  Ｘ線ラインセンサ
３２  ベルトコンベア
３３、３４  ローラ
４２  Ｘ線画像記憶部
４３  画像処理部
４４  判定部
４５  設定操作部
４６  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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