(57)【要約】【課題】  良好な広範囲のＯＣＴデータを簡単な構成で取得できる。【解決手段】  ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路とに光分割器によって分割し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出器により検出するためのＯＣＴ光学系と、前記スペクトル干渉信号を処理して前記ＯＣＴデータを生成する画像処理手段と、を備え、前記画像処理手段は、前記スペクトル干渉信号を検出する際の光路長 が異なる複数のＯＣＴデータに基づいて、ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複領域に対して少なくとも補完処理を行い 、補完処理が施されたＯＣＴデータを生成することを特徴とする。【選択図】      図７
2020022723.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路とに光分割器によって分割し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出器により検出するためのＯＣＴ光学系と、
前記スペクトル干渉信号を処理して前記ＯＣＴデータを生成する画像処理手段と、を備え、
前記画像処理手段は、前記スペクトル干渉信号を検出する際の光路長 が異なる複数のＯＣＴデータに基づいて、ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複領域に対して少なくとも補完処理を行い 、補完処理が施されたＯＣＴデータを生成することを特徴とするＯＣＴ装置。
【請求項２】
測定光路と参照光路の少なくともいずれかの光路長を変更する光路長変更手段と、
前記光路長変更手段を制御し、前記光路長が異なる複数のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を順次取得する制御手段と、を備えることを特徴とする請求項１のＯＣＴ装置。
【請求項３】
前記被検眼に導かれる前記測定光を被検眼上で走査させるための走査手段を備え、
前記制御手段は、前記走査手段及び前記光路長変更手段を制御し、
第１の光路長にて複数の走査ラインの各々に関して測定光を走査させる第１の走査制御と、
第１の走査制御が行われた後、前記第１の光路長とは異なる第２の光路長にて複数の走査ラインの各々に関して測定光を走査させる第２の走査制御と、を行うことを特徴とする請求項２のＯＣＴ装置。
【請求項４】
前記画像処理手段は、
前記補完処理として、前記複数のＯＣＴデータの代表値に基づいて合成ＯＣＴデータを生成することを特徴とする請求項１〜３のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項５】
前記画像処理手段は、
前記補完処理として、
前記ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複部分が、実像と虚像との重複部分が異なる他のＯＣＴデータに置き換えられたＯＣＴデータを生成することを特徴とする請求項１〜４のいずれかのＯＣＴ装置。 
【請求項６】
前記画像処理手段は、
光路長が異なる複数のＯＣＴデータ間の位置ずれを補正するためのマッチング処理を行うことを特徴とする請求項１〜５のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項７】
前記画像処理手段は、
前記ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域のいずれか一方を検出し、いずれか一方の領域のＯＣＴデータを除外して前記補完処理を行うことを特徴とする請求項１〜６のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項８】
前記画像処理手段は、
前記ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを前記複数のＯＣＴデータに基づいて検出し、検出結果に基づいて実像領域又は虚像領域のＯＣＴデータを除外して前記補完処理を行うことを特徴とする請求項１〜７のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項９】
前記画像処理手段は、
前記ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを検出する処理において、前記複数のＯＣＴデータ間の実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを一致させる処理を含むことを特徴とする請求項８のＯＣＴ装置。
【請求項１０】
前記画像処理手段は、
前記補完処理と、前記ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域のいずれか一方の領域のＯＣＴデータを除外する除外処理と、を行い、
補完処理と除外処理が施されたＯＣＴデータを生成することを特徴とする請求項１〜９のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項１１】
前記画像処理手段は、
前記ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを前記ＯＣＴデータに基づいて検出し、検出結果に基づいて実像領域又は虚像領域のＯＣＴデータを除外して補完処理を行うことを特徴とする請求項１０のＯＣＴ装置。
【請求項１２】
前記スペクトル干渉信号に基づいて生成されるＯＣＴデータを表示手段に出力可能な表示制御手段であって、眼底中心部でのＯＣＴデータを得るための第１の撮影モードと、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータを得るための第２の撮影モードとの間で表示手段の表示状態を切り換える表示制御手段を備え、
前記表示制御手段は、前記第２の撮影モードに設定された場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を表示手段に出力すると共に、前記画像処理手段によって前記補完処理が施されたＯＣＴデータを表示手段に出力することを特徴とする請求項１〜１１のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項１３】
前記画像処理手段は、実像と虚像の重複が発生しているＯＣＴデータに対して補完処理を行うことを特徴とする請求項１〜１２のいずれかのＯＣＴ装置。
【請求項１４】
請求項１〜１３のいずれかに記載のＯＣＴ装置の画像処理手段としてコンピュータを機能させるためのＯＣＴ画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検眼のＯＣＴデータを得るＯＣＴ装置、ＯＣＴ画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼のＯＣＴデータを得るＯＣＴ装置として、例えば、ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを取得可能な装置が知られている。
【０００３】
ところで、広範囲のＯＣＴデータを得るための技術として、追加のハードウェアにより虚像（鏡像ともいう）を除去するフルレンジ化技術が知られている（例えば、非特許文献１参照）。一方、特許文献１には、追加のハードウェアを用いずにソフトウェアで補正する技術が開示されており、ゼロディレイ位置の両側に延びる少なくとも一つの組織表面をセグメント化し、組織表面をセグメント化したものを用いて選択的に虚像を除去している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特表２０１５−５０６７７２号公報
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】Wojtkowski, M. et al. (2002) Full range complex spectral optical coherence tomography technique in eye imaging, Optics Letters, 27(16), p. 1415.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１の構成の場合、虚像が選択的に除去されたとしても、実像と虚像が重複する領域においては、虚像によるＯＣＴデータが実像に残存することとなり、検者にとって観察・診断・解析等がしづらい可能性があった。
【０００７】
本開示は、上記問題点を鑑み、良好な広範囲のＯＣＴデータを簡単な構成で取得できるＯＣＴ装置、ＯＣＴ画像処理プログラムを提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
（１）  ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路とに光分割器によって分割し、前記測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と前記参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出器により検出するためのＯＣＴ光学系と、
前記スペクトル干渉信号を処理して前記ＯＣＴデータを生成する画像処理手段と、を備え、
前記画像処理手段は、前記スペクトル干渉信号を検出する際の光路長 が異なる複数のＯＣＴデータに基づいて、ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複領域に対して少なくとも補完処理を行い 、補完処理が施されたＯＣＴデータを生成することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本開示によれば、良好な広範囲のＯＣＴデータを簡単な構成で取得できる。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本開示の実施形態の一例について図面に基づいて説明する。図１〜図１０は本実施形態の実施例に係る図である。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立又は関連して利用されうる。
【００１１】
本実施形態に係るＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光学系を備え、ＯＣＴ光学系の検出器から出力されるスペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを取得可能であってもよい。この場合、ＯＣＴ光学系は、例えば、フーリエドメインＯＣＴ光学系（ＳＳ−ＯＣＴ光学系、ＳＤ−ＯＣＴ光学系）であってもよく、ＯＣＴ光学系は、ＯＣＴ光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための光分割器を有し、測定光路を介して被検物に導かれた測定光と参照光路からの参照光とのスペクトル干渉信号を検出してもよい。
【００１２】
ＯＣＴ光学系は、光走査部を備えてもよい。光走査部は、被検眼に導かれる測定光を被検眼上で走査させるために設けられてもよい。ＯＣＴ光学系としては、光走査部を備えた構成に限定されず、フルフィールドＯＣＴ光学系が用いられてもよい。
【００１３】
また、ＯＣＴ装置は、画像処理器を備えてもよく、画像処理器は、ＯＣＴ光学系から出力されるスペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを取得可能であってもよい。
【００１４】
＜眼底広角撮影＞
ＯＣＴ光学系は、例えば、ＯＣＴ光源からの光を、光分割器によって測定光路と参照光路に分割し、測定光路を介して被検眼眼底に導かれた測定光と参照光路からの参照光との干渉信号を、検出器によって検出するものであってもよい。
【００１５】
ＯＣＴ光学系は、測定光が眼底上を横断する一つの横断方向に関して眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域に測定光を導くことが可能なＯＣＴ光学系であってもよい。この場合、広角領域としては、例えば、特定の横断方向（例えば、水平方向）に関して測定光が眼底上で横断する場合、眼底中心部と眼底周辺部の両方に横断するように広い角度領域であってもよい。また、測定光が横断する横断領域に関して、例えば、眼底中心部での横断領域と眼底周辺部での横断領域は、横断方向に関して連続してもよい。広角領域としては、例えば、眼底上において１８ｍｍ以上の領域であってもよい。もちろん、広角領域が１８ｍｍよりも狭い領域を得る場合に用いられてもよく、本実施形態の装置は、眼底の湾曲度が大きい被検眼の周辺領域を撮像する場合に特に有用である。
【００１６】
眼底中心部としては、例えば、少なくとも眼底の黄斑部及び乳頭部を含む領域が設定され、眼底周辺部として、一つの横断方向に関して眼底中心部の両端部よりも外側の領域をそれぞれ含む領域が設定されてもよい。もちろんこれに限定されず、例えば、眼底中心部として、少なくとも眼底の黄斑部を含む領域が設定され、眼底周辺部として、一つの横断方向に関して眼底中心部の両端部よりも外側の領域をそれぞれ含む領域が設定されてもよい。
【００１７】
眼底の広角領域に測定光を導くことが可能なＯＣＴ光学系として、例えば、対物レンズ光学系が用いられてもよいし、凹面ミラーを用いた対物ミラー光学系が用いられてもよい。また、対物レンズ光学系に、アタッチメント光学系が取り付けられた（挿入された）構成であってもよい。
【００１８】
＜表示状態の切換＞
ＯＣＴ装置は、制御部を備えてもよい。制御部は、例えば、スペクトル干渉信号に基づいて取得されるＯＣＴデータを表示部に出力可能な制御部であってもよい。また、制御部は、例えば、ＯＣＴ光学系を制御し、ＯＣＴデータを取得してもよい。
【００１９】
ＯＣＴデータを得るための撮影モードとしては、眼底中心部でのＯＣＴデータを得るための第１の撮影モードと、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータを得るための第２の撮影モードとが設定可能であってもよい。
【００２０】
制御部は、眼底中心部でのＯＣＴデータを得るための第１の撮影モードと、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータを得るための第２の撮影モードとの間で表示部の表示状態を切り換えてもよい。これによって、広角領域のＯＣＴデータを容易に観察することができる。
【００２１】
表示状態を切り換える場合、制御部は、表示部の画面上へのＯＣＴデータの出力範囲を変更するようにしてもよい（例えば、図３、図４参照）。例えば、第１の撮影モードに設定された場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後いずれか一方の画像領域を表示部に出力し、第２の撮影モードに設定された場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を表示部に出力するようにしてもよい。これによって、眼底中心部でのＯＣＴデータと、広角領域のＯＣＴデータとをそれぞれ好適に観察することができる。もちろん上記に限定されず、例えば、第１の撮影モードに設定された場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後いずれか一方の画像領域全体と、他方の画像領域の一部を表示部に出力し、第２の撮影モードに設定された場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域全体を表示部に出力するようにしてもよい。
【００２２】
なお、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を表示部に出力する場合、制御部は、実像と虚像の両方を含むＯＣＴデータを表示部に表示してもよい。この場合、実像と虚像の一方が除去される処理が行われた後、一方の画像が表示部に表示されてもよい。
【００２３】
制御部は、第１の撮影モードにて取得された眼底中心部でのＯＣＴデータと、第２の撮影モードにて取得された眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータとを合成し、合成ＯＣＴデータを表示部に表示してもよい。これによれば、広角領域でのＯＣＴデータにおける眼底中心部のＯＣＴデータの画質を向上できるので、より精度の高い観察が可能となる。
【００２４】
なお、第１の撮影モードと第２の撮影モードとの間のモード切換は、検者の手動操作によって切り換えられてもよいし、自動的に切り換えられてもよい。さらに、制御部は、撮影モードの切換に応じて、表示部の表示状態を切り換えるようにしてもよい。
【００２５】
例えば、制御部は、ＯＣＴ光学系への広角アタッチメントの挿脱による撮影モードの切換に応じて、表示部の表示状態を切り換えてもよい。また、眼底上への測定光の走査範囲の変更による撮影モードの切換に応じて、表示部の表示状態を切り換えてもよい。
【００２６】
例えば、制御部は、眼底上での測定光の走査範囲が所定範囲内であれば、第１の撮影モードに設定し、眼底上での測定光の走査範囲が所定範囲を超えた場合、第２の撮影モードに設定してもよい。なお、制御部は、撮影モードのモード切換信号をトリガとして、表示部の画面へのＯＣＴデータの出力範囲を切り換えるようにしてもよい。
【００２７】
上記のようにすれば、撮影モードに応じた表示部の表示状態の切換をスムーズに行うことができる。各ＯＣＴデータの観察をよりスムーズに行うことが可能となる。
【００２８】
なお、上記説明においては、撮影モードに応じて表示部の表示状態を切り換えるものとしたが、これに限定されない。例えば、制御部は、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後いずれか一方の画像領域を表示部に出力する第１の表示モードと、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を表示部に出力する第２の表示モードとを切り換え可能であってもよい。なお、第１の表示モードと第２の表示モードの切換において、前述の第１の撮影モードと第２の撮影モードとの間の切換手法と同様の手法が用いられてもよい。また、後述される実施例に記載された切換手法が用いられてもよい。
【００２９】
＜ソフトウェア分散補正＞
ＯＣＴ装置は、記憶部を備えてもよい。記憶部は、例えば、ＯＣＴデータにおける分散を補正するための分散補正データを記憶する記憶部であってもよい。制御部は、記憶部から取得される分散補正データを用いてスペクトル干渉信号を補正し、補正されたスペクトル干渉信号をフーリエ解析してＯＣＴデータを取得してもよい。これによって、実像と虚像とが判別可能となり、ゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域が表示部に出力する場合であっても、ＯＣＴデータを容易に観察することが可能となる。
【００３０】
＜解析処理＞
ＯＣＴ装置は、解析処理部を備えてもよい。解析処理部は、例えば、ＯＣＴデータを解析処理して解析結果を得る解析処理部であってもよい。前述の制御部が解析処理部を兼用してもよいし、制御部とは別に解析処理部が設けられてもよい。
【００３１】
解析処理部は、第１の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータを解析する場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後いずれか一方の画像領域を解析することによって解析結果を取得してもよい。解析処理部は、第２の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータを解析する場合、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を解析することによって解析結果を取得してもよい。これによって、取得されるＯＣＴデータの撮影モードに応じた解析処理を行うことが可能となる。
【００３２】
＜実像と虚像との重複領域に関する補完処理＞
ＯＣＴ装置は、画像処理器を備えてもよい。画像処理器は、スペクトル干渉信号を処理してＯＣＴデータを生成してもよい。前述の制御部が画像処理器を兼用してもよいし、制御部とは別に画像処理器が設けられてもよい。また、本実施形態は、眼科画像処理プログラムとして適用されてもよい。
【００３３】
画像処理器は、例えば、スペクトル干渉信号を検出する際の光路長が異なる複数のＯＣＴデータに基づいて、ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複領域に対して少なくとも補完処理を行い、補完処理が施されたＯＣＴデータを生成してもよい（例えば、図５〜図１０参照）。
【００３４】
これによれば、例えば、実像と虚像が重複する領域において良好なＯＣＴデータが得られる。したがって、良好な広範囲のＯＣＴデータを簡単な構成で取得することができる。本実施形態における補完処理は、例えば、ゼロディレイ位置を跨ぐような広範囲のＯＣＴデータを表示する際に有効である。なお、実像と虚像の重複は、反射散乱特性を有する組織（例えば、眼底）がゼロディレイ位置に配置された際、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置及びその近傍で発生する。つまり、本実施形態における補完処理は、実像と虚像の重複が発生しているＯＣＴデータに対して行うことで、ゼロディレイ位置に相当する領域を含めてＯＣＴデータを良好に取得できる。
【００３５】
本実施形態に係る補完処理は、例えば、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータに対して適用可能であり、良好な広角領域での眼底ＯＣＴデータを簡単な構成で取得できる。また、本実施形態に係る補完処理は、角膜領域と水晶体領域を含む広範囲の前眼部ＯＣＴデータに対して適用可能であり、良好な広範囲の前眼部ＯＣＴデータを簡単な構成で取得できる。
【００３６】
＜補完処理＞
例えば、画像処理器は、補完処理として、光路長が異なる複数のＯＣＴデータの代表値に基づいて合成ＯＣＴデータを生成するようにしてもよい（例えば、図１０参照）。これによれば、例えば、データ全体において良好なＯＣＴデータが得られると共に、実像と虚像とが重複する領域に関しても信頼性の高いＯＣＴデータを得ることができる。また、代表値を得る処理によれば、ＯＣＴデータに含まれる虚像を減少させることも可能である。
【００３７】
この場合、ＯＣＴデータの代表値としては、例えば、複数のＯＣＴデータの平均値であってもよく、複数のＯＣＴデータに基づく加算平均ＯＣＴデータが得られる。なお、平均を用いる場合、外れ値を除外して平均を計算する処理（例えば、トリム平均）を行うことで、虚像を確実に減少させるようにしてもよい。なお、平均値以外のＯＣＴデータの代表値としては、例えば、複数のＯＣＴデータの中央値であってもよいし、複数のＯＣＴデータの最頻値であってもよい。
【００３８】
例えば、画像処理器は、補完処理として、ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複領域を、実像と虚像との重複領域が異なる他のＯＣＴデータに置き換えることによって、重複領域が他のＯＣＴデータに置き換えられたＯＣＴデータを生成するようにしてもよい。これによれば、実像と虚像とが重複する領域が、他のＯＣＴデータにおける良好なデータと置き換えられ、実像と虚像とが重複する領域に関しても信頼性の高いＯＣＴデータを得ることができる。
【００３９】
なお、補完処理を行う場合、例えば、画像処理器は、光路長が異なる複数のＯＣＴデータ間の位置ずれを補正するためのマッチング処理を行うようにしてもよい。これによって、例えば、光路長が異なることによるＯＣＴデータ間のずれを適正に補正することができる。
【００４０】
なお、補完処理を行う場合、例えば、画像処理器は、ゼロディレイ位置を基準とする所定のデータ領域（ゼロディレイ位置を含む）に関して補完処理を行うようにしてもよい。もちろんこれに限定されず、画像処理器は、実像と虚像の重複領域を含むデータ領域を検出し、検出されたデータ領域を補完領域として設定するようにしてもよい。
【００４１】
複数のＯＣＴデータに基づいて補完処理を行う場合、例えば、少なくとも一つのＯＣＴデータは、ゼロディレイ位置に対して前後両方のＯＣＴデータが用いられ、ゼロディレイ位置及びゼロディレイ位置の近傍に生じる重複領域に関して補完処理が行われてもよい。これによって、ＯＣＴデータ全体を有効に活用することができ、広範囲のＯＣＴデータをスムーズに取得できる。
【００４２】
＜虚像除外処理＞
画像処理器は、ＯＣＴデータにおける虚像領域を検出し、虚像領域のＯＣＴデータを除外して補完処理を行うようにしてもよい（例えば、図８参照）。これによれば、例えば、虚像が除外されることで、虚像が適切に除外されたＯＣＴデータを得ることができる。なお、除外処理としては、虚像に対応するＯＣＴデータが減少（抑制）されればよく、これらがすべて除外される必要は必ずしもない。
【００４３】
補完処理において虚像領域のＯＣＴデータを除外する手法としては、例えば、画像処理によって虚像領域のＯＣＴデータを予め除去してもよいし、補完処理が行われたＯＣＴデータを得る際、虚像領域のＯＣＴデータをデータ上で除外し、実像領域のＯＣＴデータに関して補完処理を行うようにしてもよい。
【００４４】
なお、虚像領域のＯＣＴデータを除外する手法としては、虚像領域を検出する必要は必ずしもない。なお、前述のように、光路長が異なる複数のＯＣＴデータの代表値を求めることによって、結果として、虚像領域のＯＣＴデータを減少させることができる。これは、光路長が異なるＯＣＴデータにおいては、実像と虚像とが重複する領域が異なるので、マッチング処理後、これらの代表値を求めることで、結果として、虚像領域のＯＣＴデータの影響が軽減されるからである。
【００４５】
なお、本実施形態においては、虚像領域を検出し、虚像領域のＯＣＴデータを除外して補完処理を行う例を示したが、これに限定されず、画像処理器は、ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域のいずれか一方を検出し、いずれか一方の領域のＯＣＴデータを除外して補完処理を行うことができる。つまり、ＯＣＴ装置において、ゼロディレイ位置に対して、実像と虚像が画質を含めて対称に生成される場合、必ずしも虚像を除外する必要はなく、実像を除外して虚像を残存させる処理であってもよく、同様の効果が得られるからである。また、虚像を除去する手法としては、上記手法に限定されず、例えば、特表２０１５−５０６７７２号公報の手法が用いられてもよい。
【００４６】
画像処理器は、ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを、光路長が異なる複数のＯＣＴデータに基づいて検出し、検出結果に基づいて実像領域又は虚像領域のＯＣＴデータを除外して補完処理を行うようにしてもよい（例えば、図１１〜図１４参照）。これによって、例えば、互いに共通する領域の検出結果を、光路長が異なる各ＯＣＴデータに展開できるので、各ＯＣＴデータ単位で実像領域／虚像領域が別々に検出されるよりも、除外処理を精度よく行うことができる。
【００４７】
この場合、例えば、除外対象となる領域が検出され、当該領域のＯＣＴデータが除外されてもよい。また、残存対象となる領域が検出され、当該領域のＯＣＴデータとは異なる他方の領域のＯＣＴデータが除外されてもよい。また、これらの処理が併用されてもよい。
【００４８】
なお、画像処理器は、ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを複数のＯＣＴデータに基づいて検出する処理において、複数のＯＣＴデータ間の実像領域と虚像領域の少なくともいずれかを一致させる処理を含むようにしてもよい。これによって、例えば、実像領域と虚像領域の少なくともいずれかをスムーズに検出できる。
【００４９】
なお、画像処理器は、実像領域と虚像領域の一方をＯＣＴデータから除外するためのマスクを生成してもよく、画像処理器は、実像領域と虚像領域の一方が除外されたＯＣＴデータを、当該マスクを用いて取得するようにしてもよい。これによって、実像領域と虚像領域の一方を精度よく除外することができる。マスクは、複数のＯＣＴデータに基づいて生成されてもよい。
【００５０】
なお、補完処理として、光路長が異なる複数のＯＣＴデータの代表値に基づいて合成ＯＣＴデータを生成する場合、画像処理器は、ＯＣＴデータにおける実像領域と虚像領域とにおいて、除外対象となる領域と残存対象となる領域とで、重みづけの係数を異ならせるようにしてもよい。例えば、複数のＯＣＴデータの加算平均画像を得る場合、残存対象となる領域の重みづけ係数を大きくし、除外対象となる領域の重みづけ係数を小さくしてもよい。これによって、実像領域と虚像領域の一方を精度よく除外することができる。
【００５１】
＜光路長が異なる複数のＯＣＴデータの取得＞
光路長が異なる複数のＯＣＴデータとしては、例えば、スペクトル干渉信号を検出する際の測定光路と参照光路の少なくともいずれかの光路長が互いに異なる複数のＯＣＴデータであってもよい（例えば、図７参照）。この場合、光路長が異なる複数のＯＣＴデータは、各ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して被検眼の所定部位（例えば、眼底）の光路長差が異なる。よって、被検眼の所定部位に対応するＯＣＴデータは、ゼロディレイ位置に対する相対位置が深さ方向に関して異なる。複数のＯＣＴデータは、少なくとも２フレーム以上のＯＣＴデータであればよい。各ＯＣＴデータは、例えば、測定光の一次元走査（例えば、ラインスキャン）によって得られるＢスキャンＯＣＴデータであってもよいし、測定光の二次元走査（例えば、ラスタースキャン）によって得られる３次元ＯＣＴデータであってもよい。
【００５２】
光路長が異なる複数のＯＣＴデータを得るための構成としては、例えば、光路長変更部が設けられてもよい。光路長変更部は、例えば、測定光路と参照光路の少なくともいずれかの光路長を変更するために設けられてもよい。光路長変更部は、測定光路と参照光路の少なくともいずれかに配置された光学部材を駆動部により移動させることによって光路長を変更してもよいし、被検眼と装置との間の作動距離を調整することによって光路長を変更してもよい。
【００５３】
制御部は、例えば、光路長変更部を制御し、光路長が異なる複数のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を順次取得してもよい（例えば、図８参照）。これによって、補完処理に用いるための複数のＯＣＴデータであって互いに光路長が異なる複数のＯＣＴデータを簡単な構成でスムーズに得ることができる。なお、ＯＣＴデータが生成されるタイミングとしては、例えば、各スペクトル干渉信号が取得された毎にＯＣＴデータが生成されてもよいし、全てのスペクトル干渉信号が取得された後に、各スペクトル干渉信号に対応するＯＣＴデータが生成されてもよく、特に限定されない。
【００５４】
この場合、制御部は、第１の光路長にて第１のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を取得した後、光路長変更部を制御することによって光路長を変更し、第２の光路長にて第２のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を取得してもよい。なお、制御部は、第１の光路長にてスペクトル干渉信号を取得した後、光路長変更部を自動的に制御することによって光路長を自動的に変更するようにしてもよい。もちろん、光路長はマニュアル操作によって変更されてもよい。追加的には、制御部は、第３の光路長にて第３のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を取得してもよい。
【００５５】
画像処理器は、光路長が異なる複数の３次元ＯＣＴデータに基づいて、３次元ＯＣＴデータにおける実像と鏡像との重複領域に関して補完処理を行うようにしてもよい。これによれば、実像と鏡像が重複する領域において良好な３次元ＯＣＴデータが得られる。したがって、良好な広範囲の３次元ＯＣＴデータを簡単な構成で取得することができる。
【００５６】
この場合、例えば、制御部は、光路長変更部を制御することによって、第１の光路長にて第１の３次元ＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を得るための第１の制御と、第１の制御が行われた後、第１の光路長とは異なる第２の光路長にて第２の３次元ＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を得るための第２の制御と、を行うようにしてもよい。
【００５７】
画像処理器は、第１の制御にて得られたスペクトル干渉信号に基づく第１の３次元ＯＣＴデータと、第２の制御にて得られたスペクトル干渉信号に基づく第２の３次元ＯＣＴデータとに基づいて、３次元ＯＣＴデータにおける実像と虚像との重複部分に関して補完処理を行うようにしてもよい。
【００５８】
上記第１の制御と第２の制御の一例として、例えば、制御部は、光路長変更部と光走査部を制御することによって、第１の光路長にて複数の走査ラインの各々に関して測定光を走査させる第１の走査制御と、第１の走査制御が行われた後、第１の光路長とは異なる第２の光路長にて複数の走査ラインの各々に関して測定光を走査させる第２の走査制御と、を行うようにしてもよい。これによれば、各走査ライン単位で光路長が変更されるのに対して、光路長を変更させる回数が少なくて済み、補完処理に用いるための各走査ラインの複数のＯＣＴデータを簡単な構成でスムーズに得ることができる。この場合、第１の走査制御と第２の走査制御との間で互いに対応する各走査ラインのＯＣＴデータを用いて補完処理が行われてもよい。
【００５９】
なお、上記走査制御は、３次元ＯＣＴデータを得る場合に限定されず、例えば、走査位置が互いに異なる複数の走査ラインのＯＣＴデータを複数の光路長にて取得し、各走査ラインのＯＣＴデータに関して補完処理を行う場合に有効である。各走査制御の走査パターンとしては、例えば、ラスタースキャン、互いに離間した複数の走査ラインを走査するマルチスキャン、複数の走査ラインが互いに走査するクロススキャン、複数の走査ラインが放射状に形成されるラジアルスキャン等が考えられる。
【００６０】
なお、第１の走査制御と第２の走査制御との間での各走査ラインの位置は同一であってもよい。これによって、各走査ラインに関するＯＣＴデータの補完処理をより精密に行うことが可能となる。また、第１の走査制御と第２の走査制御との間での各走査ラインの位置は互いに隣接してもよい。例えば、ラスタースキャンに対応する各走査ライン（例えば、５１２ライン）において、第１の走査制御において、奇数列の走査ラインに関する走査制御を行い、第２の走査制御において、偶数列の走査ラインに関する走査制御を行うようにしてもよい。互いに隣接する走査ラインであれば、補完処理を行うことが可能であり、さらに、１回の走査制御での走査ライン数を減らすことで撮影時間を短縮させることができる。
【００６１】
なお、各ＯＣＴデータに関する走査範囲は、例えば、同一領域であってもよい。もちろん、これに限定されず、補完処理が可能な範囲において走査範囲が重複していればよく、必ずしも同一でなくてもよい。例えば、ＯＣＴデータのパノラマ撮影において、本実施形態に係る補完処理が用いられてもよい。
【００６２】
＜広角眼底ＯＣＴデータへの適用＞
眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータを得るための第２の撮影モードに設定された場合、表示制御部は、ＯＣＴデータ上のゼロディレイ位置に対して前後両方の画像領域を表示部に出力すると共に、画像処理器によって補完処理が施されたＯＣＴデータを表示部に出力するようにしてもよい。これによれば、良好な広範囲のＯＣＴデータをスムーズに表示させることができる。
【００６３】
以下に、広角領域のＯＣＴデータを得るためのＯＣＴ光学系の実施形態の一例を以下に説明する。もちろん、本実施形態に係るＯＣＴ光学系は、下記の構成に限定されない。
【００６４】
＜画角切換光学系＞
ここで、以下では、測定光路上に配置された導光光学系へ画角切換光学系が挿脱可能であり、挿入状態と退避状態との間で、眼底上における測定光の走査範囲を示す画角の大きさが異なる場合について説明する。このとき、本実施形態では、画角の大きさは、退避状態よりも挿入状態の方が増大される。勿論、これに限られるものではなく、上記画角の大きさが、退避状態よりも挿入状態の方が減少されてもよい。
【００６５】
導光光学系は、測定光路上に形成されている。導光光学系は、少なくとも光走査部（光スキャナ）を含み、更には、対物光学系を含んでいてもよい。導光光学系は、光分割器からの測定光を光走査部によって偏向することで、光走査部の動作に基づいて測定光が旋回される旋回点を被検眼の前眼部に形成し、旋回点を経た測定光を眼底へ導く。光走査部の動作に伴って、測定光は旋回点を中心として眼底上で走査される。
【００６６】
対物光学系は、導光光学系のうち光走査部と被検眼との間に配置される光学系であって、旋回点を形成するために用いられる。対物光学系に関して光走査部と共役な位置に旋回点は形成される。この旋回点を、「第１旋回点」ともいう。なお、対物光学系は、レンズを含む屈折系であってもよいし、ミラーを含む反射系であってもよいし、両者を組み合わせたものであってもよい。
【００６７】
導光光学系は、少なくとも１つのレンズを含む画角切換光学系が、測定光路上で挿脱される。ここでは、導光光学系に対して画角切換光学系が挿入された状態を、「挿入状態」と称し、退避された状態を、「退避状態」と称している。挿入状態では、眼底における測定光の走査範囲を示す画角の大きさが、退避状態とは異なっていてもよい。
【００６８】
以下では、画角切換光学系が導光光学系に挿入された挿入状態において、画角が増大される場合について説明する。この場合、画角切換光学系の挿入状態において、眼底の広角領域に測定光が導かれるように、画角が退避状態から増大される。
【００６９】
画角切換光学系は、導光光学系に含まれる対物光学系と、被検眼と、の間において挿脱されてもよい。このとき、より好ましい画角切換光学系のレンズ配置は、画角切換光学系において主要なパワーを持つレンズが、第１旋回点と被検眼との間で挿脱されるような配置である。このような配置の場合、対物光学系と第１旋回点との間に主要なパワーを持つレンズが配置される場合に比べて、より長い作動距離を確保しやすくなる。
【００７０】
画角切換光学系において主要なパワーを持つレンズが、第１旋回点と被検眼との間で挿入される場合、画角切換光学系は、挿入状態において、第1旋回点をリレーし、第２旋回
点を形成する。詳細には、挿入状態において画角切換光学系が第１旋回点を経由した測定光を光軸に向けて折り曲げることによって、第２旋回点が形成される。挿入状態では、第２旋回点が前眼部に位置することで、測定光が眼底上で走査される。
【００７１】
なお、本開示において、眼底上における測定光の走査範囲の大きさを「画角」と表現している。ここでいう「画角」は、光スキャナよりも被検眼側に配置される光学系の性能に依存するものであり、光スキャナは最大の画角が実現されるように適宜動作するものと仮定した値である。
【００７２】
＜光路長差の変動を補償＞
導光光学系において画角切換光学系が挿脱されると、測定光路の光路長が変化し、参照光との光路長差の変動を生じ得る。例えば、対物光学系によって形成される旋回点をリレーする画角切換光学系は、大型化しやすく、光路長が長くなってしまい易いので、挿脱に伴う光路長差の変化も大きくなってしまうことが考えられる。ここで、例えば、従来より、眼底撮影用のＯＣＴの検査窓に、アタッチメント光学系を装着して前眼部撮影を可能とするものが知られている（例えば、本出願人による「特開２０１１−１４７６１２号公報」等を参照されたい）。このような装置において、アタッチメント光学系の着脱の前後で測定光路の光路長が変化したが、アタッチメント光学系自体の光路長が短く、更に、撮影部位が前眼部へ切換わることで、眼球内における測定光路の光路長が短くなるので、眼軸長（≒３２ｍｍ）程度のスケールの変化量を補償すれば足りるものであった。これに対し、本実施形態のような画角切換光学系の光路長は、眼軸長よりも長くなってしまう。本実施形態では、例えば、眼軸長相当量に対して３倍〜８倍程度の変化量を補償することが必要となる場合がありうる。例えば、６０°程度の画角を実現するＯＣＴ装置に、１００°程度の画角を実現する画角切換光学系の一設計例では、画角切換光学系は、１７０ｍｍ程度となった。このように、本実施形態における画角切換光学系の挿脱にともなう測定光路の光路長の変化は、従来の構成で対応できるものではなかった。
【００７３】
そこで、ＯＣＴ光学系は、挿入状態と退避状態との間において、測定光路の光路長差の変化量を補償する補償部（本実施形態における補償手段）を備えてもよい。
【００７４】
補償部として、ＯＣＴ光学系は複数の参照光路を備えてもよい。例えば、参照光路が第１分岐光路と第２分岐光路との少なくとも２つに分岐していてもよい。ここでいう第１分岐光路は、退避状態における測定光路の光路長と対応した第１光路長を持ち、第２分岐光路は、挿入状態における測定光路の光路長と対応した第２光路長を持つ。第１分岐光路と、第２分岐光路とにおける光路長差は、予め定められていてもよく、詳細には、画角切換光学系の光路長と略同一の長さであってもよい。
【００７５】
ＯＣＴ光学系は、検出器によって、第１分岐光路からの参照光による干渉信号と、第２分岐光路からの参照光による干渉信号とを、同時に検出可能であってもよい。また、いずれか一方を、選択的に検出可能であってもよい。
【００７６】
光分割器からの参照光が第１分岐光路および第２分岐光路とに同時に導光されることによって、第１分岐光路および第２分岐光路のそれぞれの光路からの参照光による干渉信号が、検出器によって同時に検出可能となる。但し、この場合において、第１分岐光路を経た参照光と測定光との光路長差、および、第２分岐光路を経た参照光と測定光との光路長差は、画角切換光学系の挿脱に基づいて、略０と、略画角切換光学系の光路長分、との間で互いに入れ替わる。このため、参照光路の経路が互いに異なる２種類の干渉信号のうち、導光光学系の状態（挿入状態／退避状態）に対応した一方の干渉信号の強度が、残り一方に比べて明らかに強くなる。そして、画角切換光学系の光路長が十分長い場合において、残り一方の干渉信号の強度は、問題とならないレベルとなる。退避状態においては、第１分岐光路を経た参照光による干渉信号が、第２分岐光路を経た参照光による干渉信号に比べて信号強度の大きな信号であり、挿入状態においては、その逆になる。ＯＣＴ光源からの光は、光分割器によって測定光と参照光とに分割されるが、被検眼のように光を大きく減衰させる要素は、参照光路側において必須とはならないので、第１分岐光路と第２分岐光路とに参照光をさらに分岐させたとしても、干渉信号を得るうえで十分な光量を確保できる。このため、測定光路および参照光路のいずれか一方の光路長を、画角切換光学系の挿脱に応じて切り替える構成を持たなくても、検出器によって検出される干渉信号に基づいて、ＯＣＴデータを良好に得ることができる。
【００７７】
ＯＣＴ光学系は、光分割器からの参照光が導かれる光路を、第１分岐光路と第２分岐光路との間で切り替えるスイッチ（駆動部の一例）を、補償部の一部として有してもよい。これにより、検出器において、第１分岐光路からの参照光による干渉信号と、第２分岐光路からの参照光による干渉信号と、のうち一方を選択的に検出できるようになる。スイッチは、例えば、ＯＣＴ装置の制御部によって、導光光学系の状態（挿入状態／退避状態）に応じて切り替えられてもよい。すなわち、退避状態においては、光分割器からの参照光が第１分岐光路へ導かれ、挿入状態においては、光分割器からの参照光が第２分岐光路へ導かれるように、スイッチが駆動制御されてもよい。このような測定光路における光路長変化量の補償方法は、上記のスイッチを設けない方式に対し、画角切換光学系の光路長が比較的短い場合などにおいて、特に有利と考えられる。
【００７８】
また、上記のような分岐した参照光路は必ずしも必須ではない。この場合、例えば、補償部は、測定光路と参照光路とのうち、少なくとも一方の長さを調整するものであってもよい。  例えば、補償部が参照光路の光路長を調整する場合、補償部は、光分割器からの参照光が導かれる参照光路の光路長を、退避状態における測定光路の光路長と対応した第１光路長と、挿入状態における測定光路の光路長と対応した第２光路長と、の間で切換えてもよい。また、補償部が測定光路の光路長を調整する場合、補償部は、測定光路において、光分割器と光走査部との間における光路長を変更することで、上記の画角切換光学系の挿脱に伴う光路長の変化量を補償してもよい。
【００７９】
＜分散補正＞
また、本実施形態のＯＣＴ装置は、測定光路と参照光路との間における光学系の分散量を補正（補償）する分散補正部（分散補償部）を有することで、良好なＯＣＴデータを得ることができる。分散補正部は、分散量を光学的に補正するものであってもよいし、信号処理的（信号処理および演算の少なくともいずれかを含む）に補正するものであってもよい。前者の場合、分散補正部は、ＯＣＴ光学系の一要素であって、後者の場合、分散補正部は、検出器と接続される電子回路（専用回路でもよいし、画像処理器でもよい）である。
【００８０】
ところで、本実施形態では、導光光学系において画角切換光学系が挿脱されることにより、少なくとも測定光路と参照光路との間における光学系の分散量が変化してしまう。そこで、本実施形態のＯＣＴ装置は、分散補正部における分散量の補正値が、互いに異なる値で複数設定されていてもよい。少なくとも、退避状態における分散量を補正するための第１補正値と、挿入状態における分散量を補正するための第２補正値と、が設定されていることで、画角切換光学系が挿脱の前後いずれの場合においても、良好なＯＣＴデータを取得できる。
【００８１】
また、分散補正部の補正値は、更に細分化されていてもよい。例えば、光走査部の走査角度毎に、測定光路と参照光路との間における光学系の分散量が異なり得るので、第１補正値、第2補正値、または、その両方は、光走査部の走査角度毎に異なる値が設定されて
いてもよい。特に、画角切換光学系の挿入状態において、走査範囲が広角化された場合に、眼底中心部へ照射される測定光に関する分散量と、眼底周辺部へ照射される測定光に関する分散量と、に有意な差が生じる場合が考えられる。そこで、分散補正部は、少なくとも眼底中心部と眼底周辺部との間において互いに異なる補正値が設定されていてもよい。
【００８２】
＜光束径変更部＞
また、本実施形態のＯＣＴ装置は、導光光学系において画角切換光学系が挿脱されると、測定光の光束径が大きくなることで眼底上における測定光のスポットサイズが大きくなり、画像解像力が退避状態に対して低減することが考えられる。これに対し、本実施形態のＯＣＴ装置は、光束径変更部を有していてもよい。ここでいう、光束径変更部は、被検眼へ照射される測定光の光束径を調整するものである。ＯＣＴ装置の制御部等によって光束径変更部が導光光学系の状態（挿入状態／退避状態）に応じて切換えられることによって、光学アタッチメントの挿脱の前後における画像解像力の変化を抑制可能となる。より詳細には、制御部は、退避状態から挿入状態へ切り替えられる場合には、測定光の光束径が縮小されるように光束径変更部を駆動させる。また、挿入状態から退避状態へ切り替えられる場合には、測定光の光束径が拡大されるように光束径変更部を駆動させる。これによって、測定光のスポットサイズの変化が補正される。なお、スポットサイズは、画角に略比例するので、挿入状態と退避状態との間の画角（走査範囲）の比に応じた補正量分だけ、光束径変更部が駆動されることが好ましい。
【００８３】
＜実施例＞
以下、実施例として、図１，図２に示される光コヒーレンストモグラフィー（ＯＣＴ）装置を説明する。本実施例に係るＯＣＴ装置は、例えば、スペクトルドメイン式ＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）を基本的構成としている。
【００８４】
ＯＣＴ装置１は、光源１０２、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００、および、演算制御器（演算制御部）７０（図２参照）を含む。その他、ＯＣＴ装置には、メモリ７２、表示部７５、図示無き正面像観察系及び固視標投影系が設けられてもよい。演算制御器（以下、制御部）７０は、光源１０２、干渉光学系１００、メモリ７２、表示部７５に接続されている。
【００８５】
干渉光学系１００は、導光光学系１５０によって測定光を眼Ｅに導く。干渉光学系１００は、参照光学系１１０に参照光を導く。干渉光学系１００は、眼Ｅによって反射された測定光と参照光との干渉、によって取得される干渉信号光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。なお、干渉光学系１００は、図示無き筐体（装置本体）内に搭載され、ジョイスティック等の操作部材を介して周知のアライメント移動機構により眼Ｅに対して筐体を３次元的に移動させることによって被検眼に対するアライメントが行われてもよい。
【００８６】
干渉光学系１００には、ＳＤ−ＯＣＴ方式が用いられる。光源１０２としては低コヒーレント長の光束を出射するものが用いられ、検出器１２０として、スペクトル干渉信号を波長成分ごとに分光して検出する分光検出器が用いられる。
【００８７】
カップラ（スプリッタ）１０４は、第１の光分割器として用いられ、光源１０２から出射された光を測定光路と参照光路に分割する。カップラ１０４は、例えば、光源１０２からの光を測定光路側の光ファイバー１５２に導光すると共に、参照光路側の参照光学系１１０に導光する。
【００８８】
＜導光光学系＞
導光光学系１５０は、測定光を眼Ｅに導くために設けられる。導光光学系１５０には、例えば、光ファイバー１５２、コリメータレンズ１５４、可変ビームエキスパンダ１５５、光スキャナ１５６、及び、対物レンズ系１５８（本実施例における対物光学系）が順次設けられてもよい。この場合、測定光は、光ファイバー１５２の出射端から出射され、コリメータレンズ１５４によって平行ビームとなる。その後、可変ビームエキスパンダ１５５によって所望の光束径となった状態で、光スキャナ１５６に向かう。光スキャナ１５６を通過した光は、対物レンズ系１５８を介して、眼Ｅに照射される。対物レンズ系１５８に関して光スキャナ１５６と共役な位置に、第１の旋回点Ｐ１が形成される。この旋回点Ｐ１に前眼部が位置することで、測定光はケラレずに眼底に到達する。また、光スキャナ１５６の動作に応じて測定光が眼底上で走査される。このとき、測定光は、眼底の組織によって散乱・反射される。
【００８９】
光スキャナ１５６は、眼Ｅ上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させてもよい。光スキャナ１５６は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構によって任意に調整される。光源１０２から出射された光束は、その反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。光スキャナ１５６としては、例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられてもよい。
【００９０】
測定光による眼Ｅからの散乱光（反射光）は、投光時の経路を遡って、光ファイバー１５２へ入射され、カップラ１０４に達する。カップラ１０４は、光ファイバー１５２からの光を、検出器１２０に向かう光路へと導く。
【００９１】
＜アタッチメント光学系＞
実施例のＯＣＴ装置においてアタッチメント光学系１６０（「画角切換光学系」の一例）は、導光光学系１５０における対物光学系１５８と、被検眼Ｅとの間において挿脱される。アタッチメント光学系を含む鏡筒が、図示無き筐体面に対して着脱されることで、対物光学系１５８と被検眼Ｅとの間において、アタッチメント光学系１６０の挿脱が行われる。
【００９２】
アタッチメント光学系１６０は複数のレンズ１６１〜１６４を含んでいてもよい。ここで、図１に示したアタッチメント光学系１６０において主要な正のパワーを持つレンズは、被検眼の眼前に置かれたレンズ１６４である。少なくともレンズ１６４の挿脱一は、対物光学系１５８によって形成される第１旋回点Ｐ１と被検眼Ｅとの間となっている。第１旋回点Ｐ１を通過した測定光を少なくともレンズ１６４が光軸Ｌに向けて折り曲げることで、アタッチメント光学系１６０および対物光学系１５８に関して光スキャナ１５６と共役な位置に第２旋回点Ｐ２が形成される。つまり、アタッチメント光学系１６０は、旋回点Ｐ１を旋回点Ｐ２へリレーする光学系である。
【００９３】
本実施例において、第２旋回点Ｐ２における測定光の立体角は、第１旋回点Ｐ１における立体角に比べて大きくなる。例えば、第２旋回点Ｐ２での立体角は、第１旋回点Ｐ１における立体角に対して２倍以上に増大される。本実施例では、退避状態においてφ６０°程度の画角で走査可能であり、挿入状態では、φ１００°程度の画角で走査可能となる。
【００９４】
可変ビームエキスパンダ１５５は、実施例における光束径調整部である。一例として、可変ビームエキスパンダ１５５は、両側テレセントリック光学系を形成する複数のレンズを有し、レンズ間隔がアクチュエータによって変化されることで、光束径を切換える構成であってもよい。可変ビームエキスパンダ１５５は、制御部７０からの指示に基づいて測定光の光束径を調整する。
【００９５】
仮に、挿入状態と退避状態との間で、可変ビームエキスパンダ１５５から光スキャナ１５６へ導かれる測定光の光束径が一定であるとすると、眼底上での測定光のスポットサイズは画角と比例するので、挿入状態では退避状態に比べて解像力が低下してしまう。そこで、本実施例では、制御部７０は、アタッチメント光学系の挿脱に応じて、可変ビームエキスパンダ１５５を駆動し、挿入状態での光束径を、退避状態に対して縮小する。挿入状態と退避状態とにおける光束径（可変ビームエキスパンダ１５５における光束径）の比は、挿入状態と退避状態とにおける画角の逆比であることで、アタッチメント光学系１６０の挿脱に基づく解像力の変化を抑制できる。
【００９６】
ところで、十分な作動距離を確保するために、アタッチメント光学系１６０は、十分な光線高さの位置から測定光が光軸Ｌに向けて折り曲げられる必要がある。また、アタッチメント光学系１６０で生じる収差を許容範囲に抑制するためには、アタッチメント光学系１６０に含まれる各々のレンズのパワーに制限がある。故に、アタッチメント光学系１６０の光路長を短くすることは困難である。
【００９７】
従来のＯＣＴ装置において、参照光と測定光との光路長差を調整する構成は存在しているものの、アタッチメント光学系１６０の挿脱に適用できるような調整範囲を持つものは存在しなかった。例えば、従来、眼底撮影ＯＣＴに、光学アダプタを装着して前眼部撮影を可能とするものが知られている（例えば、本出願人による「特開２０１１−１４７６１２号公報」等を参照されたい）。しかし、この光学アダプタは、装置本体の光学系によって形成された旋回点のリレーを行うものではなく、また、走査範囲を広角化する要請も無いので、比較的短い光路長で形成できる。更に、光学アダプタの挿入に伴い、像面の位置が眼底から前眼部へ変移する。それ故、光学アダプタの挿入に伴って、光路長差を大きく調整する必要が無かった。
【００９８】
＜参照光学系＞
参照光学系１１０は、測定光の眼底反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０を経由した参照光は、カップラ１４８にて測定光路からの光と合波されて干渉する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであってもよい。
【００９９】
図１に示す参照光学系１１０は、透過光学系によって形成されている。この場合、参照光学系１１０は、カップラ１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。これに限らず、参照光学系１１０は、例えば、反射光学系によって形成され、カップラ１０４からの光を反射光学系により反射することにより検出器１２０に導いてもよい。
【０１００】
本実施例において、参照光学系１１０は、複数の参照光路が設けられてもよい。例えば、図１では、カップラ１４０によって参照光路が、ファイバ１４１を通過する光路（本実施例における第１分岐光路）と、ファイバ１４２を通過する光路（本実施例における第２分岐光路）と、に分岐される。ファイバ１４１とファイバ１４２は、カップラ１４３に接続されており、これにより、２つの分岐光路は結合され、光路長差調整部１４５、偏波調整部１４７、を介してカップラ１４８へ入射される。
【０１０１】
本実施例において、カップラ１０４からの参照光は、カップラ１４３によってファイバ１４１とファイバ１４２との同時に導かれる。ファイバ１４１とファイバ１４２のいずれを経由した光も、カップラ１４８において測定光（眼底反射光）と合波される。
【０１０２】
ファイバ１４１とファイバ１４２との間における光路長差、つまり、第１分岐光路と第２分岐光路との間の光路長差は、固定値であってもよい。本実施例では、アタッチメント光学系１６０の光路長と略同一となるような光路長差を有する。
【０１０３】
なお、測定光路と参照光路の少なくともいずれかには、測定光と参照光との光路長差を調整するための光学部材が配置されてもよい。一例として、図１に示した光学系においては、参照光路調整部１４５が設けられており、当該箇所に、測定光と参照光との光路長差を調整するために、直交した２つの面を持つミラー１４５ａが設けられている。このミラー１４５ａがアクチュエータ１４５ｂによって矢印方向に移動されることによって、参照光路の光路長を増減することができる。勿論、測定光と参照光との光路長差が調整する構成は、これに限られるものではない。例えば、導光光学系１５０において、コリメータレンズ１５４とカップラ１５３とが一体的に移動されることで、測定光の光路長が調整され、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。
【０１０４】
ここで、本実施例では、カップラ１４３とカップラ１４８との間の光路上、つまりは、第１分岐光路と第２分岐光路との共通光路上に、参照光路調整部１４５が設けられているので、測定光路と参照光路との間の光路長差の調整であって、眼軸長の個人差に関する調整を、第１分岐光路および第２分岐光路の両方に対して、まとめて実行することが可能となる。
【０１０５】
なお、参照光路調整部１４５における光路長の調整範囲は、ファイバ１４１とファイバ１４２との光路長差（換言すれば、第１分岐光路と第２分岐光路との間における光路長差）に対して十分短く設定されることが好ましい。
【０１０６】
＜ゼロディレイ位置の製造公差を補正＞
ところで、アタッチメント光学系１６０と、ファイバ１４２との製造公差によって、アタッチメント光学系１６０の装置毎におけるゼロディレイ位置（測定光路と参照光路との光路長差がゼロになる位置）が異なってしまうことが考えられる。製造公差は、例えば、導光光学系１５０におけるコリメートレンズ１５４と視度補正レンズとの間の距離の初期距離値を調整すること補正可能である。このような製造誤差を調整するための図示無き調整機構をＯＣＴ装置１は有していてもよい。調整機構は、ＯＣＴ装置１の製品出荷後に調整可能な構成であってもよい。
【０１０７】
＜光検出器＞
検出器１２０は、測定光路からの光と参照光路からの光による干渉を検出するために設けられている。本実施例において、検出器１２０は、分光検出器であって、例えば、分光器と、ラインセンサとを含み、カップラ１４８によって合波された測定光と参照光とが、分光器で分光され、波長毎にラインセンサの異なる領域（画素）に受光される。これによって画素毎の出力が、スペクトル干渉信号として取得される。
【０１０８】
眼底の湾曲と測定光の結像面とは必ずしも一致しておらず、アタッチメント光学系１５０の挿入状態では、眼底中心部または眼底周辺部の少なくとも一方において、両者の乖離が増大するので、光検出器においては、当該乖離を考慮した十分なDepth rangeが確保さ
れていることが好ましい。例えば、ＳＤ−ＯＣＴでは、所期するDepth rangeに対して十分な画素数のラインカメラが採用されることが好ましい。また、＜変形例＞として後述する構成が更に採用されてもよい。
【０１０９】
＜深さ情報の取得＞
制御部７０は、検出器１２０によって検出されたスペクトル信号を処理（フーリエ解析）し、被検眼のＯＣＴデータを得る。
【０１１０】
スペクトル信号（スペクトルデータ）は、波長λの関数として書き換えられ、波数ｋ（＝２π／λ）に関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）に変換されてもよい。あるいは、初めから波数ｋに関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）として取得されてもよい（Ｋ―ＣＬＯＣＫ技術）。演算制御器は、波数ｋ空間でのスペクトル信号をフーリエ変換することにより深さ（Ｚ）領域におけるＯＣＴデータを得てもよい。
【０１１１】
さらに、フーリエ変換後の情報は、Ｚ空間での実数成分と虚数成分を含む信号として表されてもよい。制御部７０は、Ｚ空間での信号における実数成分と虚数成分の絶対値を求めることによりＯＣＴデータを得てもよい。
【０１１２】
ここで、カップラ１４８には、第１分岐光路を経由した参照光と、第２分岐光路を経由した参照光とが、同時に導かれており、各々が測定光と合波される。第１分岐光路と第２分岐光路との間には、アタッチメント光学系１６０の光路長と同程度という、大きな光路長差が存在していることから、第１分岐光路を経由した参照光と、第２分岐光路を経由した参照光とのうち、一方は、測定光との干渉が生じやすいものの、残り一方は、干渉が生じ難い。検出器１２０からのスペクトル干渉信号には、第１分岐光路を経由した参照光による成分と、第２分岐光路を経由した参照光による成分と、が含まれているものの、２種類の成分のうち、導光光学系１５０の状態に応じた一方が、他方に比べて際立って強い信号として得られる。結果、導光光学系１５０の状態にかかわらず、良好なＯＣＴデータを得ることができる。つまり、アタッチメント光学系１６０に対応する光路長差を持つ、複数の参照光路を有することで、実施例に係るＯＣＴ装置は、測定光路と参照光路との光路長差の変化量であって、アタッチメント光学系１６０の挿脱に伴う変化量が、導光光学系１５０の状態にかかわらず補償される。
【０１１３】
なお、参照光路調整部１４５を制御し、測定光路と参照光路との光路長差であって、被検眼Ｅの眼軸長に関する光路長差を、事前に調整しておく必要がある。本実施例では、例えば、予め定められた調整範囲でミラー１４５ａを移動させると共に、各位置での干渉信号を取得し、干渉信号の強度が最も高くなる位置を基準として、ミラー１４５ａの位置を定めるようにしてもよい。参照光路調整部１４５における光路長の調整範囲が、第１分岐光路と第２分岐光路との間における光路長差）に対して十分小さい場合は、参照光路調整部１４５の調整範囲において、干渉信号の強度ピークとなる位置は、一義的に特定されうる。
【０１１４】
なお、挿入状態において、眼底周辺部からの測定光の眼底反射光は、眼底中心部からの反射光に対して微弱になるので、測定光路と参照光路とのゼロディレイ位置が、眼底周辺部において所期する眼底組織（例えば、網膜、脈絡膜、強膜等）と重なるように、測定光路と参照光路との光路長差が参照光路調整部１４５によって調整されてもよい。
【０１１５】
＜ソフトウェアによる分散補正＞
なお、本実施例において、制御部７０は、検出器１２０から出力されるスペクトルデータに対しソフトウェアによる分散補正処理を施してもよい。制御部７０は、分散補正後のスペクトルデータに基づいてＯＣＴデータを得る。このため、実像と虚像との間で画質において差異が生じる。
【０１１６】
つまり、本実施例において、測定光路と参照光路との間における光学系の分散量の違いは、信号処理的に補正される。詳細には、予めメモリ７２に記憶された補正値を、上記のスペクトル信号の処理において適用することによって行われる。
【０１１７】
制御部７０は、検出器１２０から出力される受光信号に基づいて光のスペクトル強度を取得し、波長λの関数として書き換える。次に、スペクトル強度Ｉ（λ）を波数ｋ（＝２π／λ）に関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）に変換する。
【０１１８】
測定光と参照光との分散（dispersion）ミスマッチによる影響は、干渉成分の位相をシフトさせ、各波長の合波信号のピークを下げ、信号に拡がりを持たせる（解像度が下がる）。そこで、分散補正では、波長毎にシフトした位相を戻してやることで、干渉信号の低下による解像度の低下を補正する。この場合、波数ｋの関数としての位相ずれ量φ（ｋ）を求めておき、Ｉ（ｋ）・ｅｘｐ-iφ(k)によってｋの値毎に位相のずれを戻す。ここで、分散補正すべき位相φ（ｋ）は、キャリブレーションによって予め求めることもできるし、取得された断層画像に対応する位相φ（ｋ）を求めるようにしてもよい。そして、メモリ７２には、分散補正用のパラメータ（例えば、位相φ（ｋ））が記憶される。
【０１１９】
その後、制御部７０は、設定された分散補正データによって補正された分散補正後のスペクトル強度Ｉ（ｋ）をフーリエ変換することにより、ＯＣＴデータが得られる。
【０１２０】
例えば、実像に対する分散の影響を補正するための分散補正値として第１の分散補正値（正像用）をメモリ７２から取得し、検出器１２０から出力されるスペクトルデータを第１の分散補正値を用いて補正し、補正されたスペクトル強度データをフーリエ変換してＯＣＴデータを形成する。実像Ｒは、高感度・高解像度の画像にて取得され、虚像Ｍ（ミラーイメージ）は、分散補正値の違いにより低解像度のぼけた画像にて取得される。
【０１２１】
これにより、第１の画像領域Ｇ１において実像が取得されたとき、その実像は、高感度・高解像度の画像にて取得され、その虚像（ミラーイメージ）は、第２画像領域Ｇ２において、分散補正値の違いにより低解像度のぼけた画像にて取得される。一方、第２の画像領域Ｇ２において実像が取得されたとき、その虚像は、第１画像領域Ｇ１において、分散補正値の違いにより低解像度のぼけた画像にて取得される。
【０１２２】
もちろん、これに限定されず、虚像Ｍに対するソフトウェア分散補正が行われても良い。この場合、虚像Ｍが、高感度・高解像度の画像にて取得され、実像Ｒが低解像度のぼけた画像にて取得される。
【０１２３】
なお、上記のようにソフトウェアによって分散補正を行う手法の詳細については、米国特許第６９８０２９９号公報、特表２００８−５０１１１８号公報、等を参考にされたい。また、特開２０１０−２９６４８号公報を参考にされたい。
【０１２４】
ソフトウェアによる分散補正処理が行われる場合において、眼底中心部でのＯＣＴデータを得る際、例えば、制御部７０は、実像と虚像の画像データのうち、感度及び解像度が高い方の画像データを抽出すればよい。
【０１２５】
なお、本実施例では、退避状態に対応する第１補正値と、第１補正値とは異なる値であって挿入状態に対応する第２補正値とが予めメモリ７２に記憶されており、導光光学系の状態に応じて適用する補正値が切換えられる。結果、実施例に係るＯＣＴ装置は、測定光路と参照光路との間における分散量の変化量であって、アタッチメント光学系１６０の挿脱に伴う変化量が、導光光学系１５０の各状態で補償される。
【０１２６】
更に、本実施例では、挿入状態に対応する第２補正値が、測定光の走査位置に応じて複数設定されている。詳細には、眼底中心部用の補正値と、眼底周辺部用の補正値と、が第２補正値として、互いに異なる値で設定される。例えば、第１補正値は、眼底のφ６０°以内の領域に適用され、第２補正値は、φ６０°よりも離れた領域に適用される値として設定されていてもよい。アタッチメント光学系１６０は、全体として大きなパワーを持つので、眼底中心部を通過する光束と、眼底周辺部を通過する光束との間で、有意な分散量の違いが生じることが考えられる。これに対し、本実施例では、眼底における測定光の照射位置に応じて、分散量の補正値が変更されるので、眼底の広角領域において良好なＯＣＴデータを得ることができる。
【０１２７】
勿論、第２補正値は、更に細分化されていてもよい。例えば、眼底全体が、眼底中心部と、眼底中心部よりも外側の第１の眼底周辺部と、第１の眼底周辺部よりも外側の第２の眼底周辺部と、に分割され、眼底中心部に対応する補正値と、第１の眼底周辺部に対応する補正値と、第２の眼底周辺部に対応する補正値と、が第２補正値として、異なる値で設定されていてもよい。
【０１２８】
＜制御系＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ等を備えてもよい（図２参照）。例えば、制御部７０のＣＰＵは、ＯＣＴ装置の制御を司ってもよい。ＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、ＯＣＴ装置の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されてもよい。
【０１２９】
制御部７０には、記憶部としての不揮発性メモリ（以下、メモリに省略する）７２、表示部７５等が電気的に接続されてもよい。メモリ７２には、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体が用いられてもよい。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、ＯＣＴ装置に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等をメモリ７２として使用することができる。メモリ７２には、ＯＣＴデータの取得及びＯＣＴ画像の撮影を制御するための制御プログラムが記憶されてもよい。また、メモリ７２には、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像の他、撮影に関する各種情報が記憶されてもよい。表示部７５は、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像を表示してもよい。
【０１３０】
なお、アタッチメント光学系１６０が導光光学系に挿入されているか否かを自動的に検出する挿脱検出部が設けられていてもよく、検出部からの検出信号に基づいて、制御部は、ＯＣＴ光学系１００における各部の制御、処理を実行してもよい。例えば、上記した、可変ビームエキスパンダ１５５による光束径の切換制御、参照光路調整部１４５によるゼロディレイ位置の設定制御、測定光路と参照光との間における光学系の分散量の変更処理、等が適宜実行されてもよい。挿入検出部としては、対物光学系１５８の近傍に配置されたセンサであってもよい。
【０１３１】
勿論、検者が、ＯＣＴ装置のＵＩ（ユーザインターフェース）に対して、導光光学系の状態（アタッチメント光学系の挿入状態／退避状態）を特定する情報を入力することで、当該情報に基づいて、制御部がＯＣＴ光学系１００における各部の制御、処理を実行してもよい。
【０１３２】
＜撮影モードの設定＞
本実施例に係るＯＣＴ装置において、眼底中心部でのＯＣＴデータを得るための第１の撮影モードと、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域でのＯＣＴデータを得るための第２の撮影モードと、が設定可能であってもよい。この場合、例えば、第１の撮影モードにおいては、眼底上での測定光の走査範囲が眼底中心部に設定され、第２の撮影モードにおいては、眼底上での測定光の走査範囲が眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域に設定されてもよい。
【０１３３】
この場合、例えば、制御部７０は、検者によって操作される操作部からの操作信号に基づいて、第１の撮影モードと第２の撮影モードとを切り換えてもよい。また、制御部７０は、第１の撮影モードと第２の撮影モードとを自動的に切換えてもよい。また、制御部７０は、第１の撮影モードと第２の撮影モードとの間での切換を促すガイド表示を行うようにしてもよい。
【０１３４】
制御部７０は、前述の挿脱検出部からの検出信号に基づいて、第１の撮影モードと第２の撮影モードとを自動的に切り換えてもよい（ガイド表示を行ってもよい）。制御部７０は、測定光の走査範囲が所定範囲内であれば、第１の撮影モードに設定し、測定光の走査範囲が所定範囲を超えた場合、第２の撮影モードに設定してもよい。モード切換は、自動的に行われてもよいし、ガイド表示を介して行われてもよい。
【０１３５】
制御部７０は、測定光と参照光との間の光路長差を自動的に調整した後、第１の画像領域Ｇ１におけるＯＣＴデータの実像Ｒがゼロディレイに掛かる場合（又は第２の画像領域Ｇ２においてもＯＣＴデータの実像Ｒが検出される場合）、第２の撮影モードに自動的に切り換える、又はガイド表示を行うようにしてもよい。光路長差が自動的に調整される場合、眼底中心部のＯＣＴデータにおける網膜部分が第１の画像領域Ｇ１に形成されるように調整されてもよい。
【０１３６】
＜撮影モードに応じたＯＣＴデータの表示状態の切換＞
制御部７０は、第１の撮影モードと第２の撮影モードとの間で、表示部７５上でのＯＣＴデータの表示状態を切り換えてもよい（例えば、図３、図４参照）。この場合、例えば、制御部７０は、撮影モードに応じて、表示部７５の表示画面上のＯＣＴデータの出力範囲を変更してもよい。制御部７０は、第１の撮影モードに設定された場合、深さ方向に関するＯＣＴデータの出力範囲を第１の出力範囲に設定し、第２の撮影モードに設定された場合、第２の撮影モードに設定された場合、深さ方向に関するＯＣＴデータの出力範囲を第１の出力範囲よりも広い第２の出力範囲に設定してもよい。この場合、第２の出力範囲は、眼底中心部から眼底周辺部まで表示部７５の表示画面に出力されるように出力範囲が設定されてもよい。
【０１３７】
なお、制御部７０は、撮影モードに応じて、表示部７５の表示画面上のＯＣＴデータの表示倍率を変更してもよい。この場合、制御部７０は、縦倍率を変更するようにしてもよいし、縦倍率と横倍率の少なくともいずれかを変更するようにしてもよい。また、制御部７０は、表示部７５の表示画面上のＯＣＴデータの表示範囲を変更してもよい。この場合、制御部７０は、縦方向の表示範囲を変更するようにしてもよいし、縦方向と横方向の少なくともいずれかの表示範囲を変更するようにしてもよい。
【０１３８】
図３、図４はＯＣＴ光学系１００によって取得されるＯＣＴデータの一例と表示部での出力例を示す図である。ゼロディレイ位置Ｚは、ＯＣＴデータにおいて参照光の光路長に対応する位置であり、測定光と参照光の光路長が一致する位置に相当する。ＯＣＴデータは、ゼロディレイ位置Ｓより奥側に対応する第１画像領域Ｇ１と、ゼロディレイ位置Ｚより手前側に対応する第２画像領域Ｇ２と、から形成される。第１画像領域Ｇ１と第２画像領域Ｇ２は、例えば、ゼロディレイ位置Ｚに関して互いに対称な関係となる。
【０１３９】
図３（ａ）は第１の撮影モードにて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図であり、図３（ｂ）は第１の撮影モードにて取得されるＯＣＴデータの表示部での出力例を示す図である。
【０１４０】
例えば、制御部７０は、眼底中心部における網膜表面がゼロディレイ位置Ｚより奥側に形成される、あるいは、眼底中心部における脈絡膜裏面がゼロディレイ位置Ｚより前側に形成されるように、測定光と参照光との光路長差を調整してもよい。
【０１４１】
眼底中心部における網膜表面がゼロディレイ位置Ｚより奥側に形成される場合（網膜モード）、第１画像領域と第２画像領域において形成される各断層像は、互いに向かい合った状態となる（図２（ａ）参照）。第１画像領域Ｇ１において実像Ｒが取得され、第２画像領域Ｇ２において虚像Ｍ（ミラーイメージ）が取得される。
【０１４２】
図示を略すが、眼底中心部における脈絡膜裏面がゼロディレイ位置Ｚより前側に形成される場合（脈絡膜モード）、第１画像領域Ｇ１と第２画像領域Ｇ２において形成される各断層像は、互いに反対方向を向いた状態となる。第１画像領域Ｇ１において虚像Ｍが取得され、第２画像領域Ｇ２において実像Ｒが取得される。
【０１４３】
制御部７０は、例えば、ＯＣＴデータにおける第１画像領域Ｇ１又は第２画像領域Ｇ２のいずれか一方の画像データを抽出し、表示部７５の画面上に表示してもよい（図２（ｂ）参照）。この結果として、例えば、表示部７５上には、実像Ｒのみが表示され、虚像Ｍは表示されない。これにより、例えば、検者は、眼底中心部の断層像を単一の断層像として観察できる。なお、眼底中心部のＯＣＴデータとしては、例えば、黄斑と乳頭の少なくともいずれかを含むＯＣＴデータが取得されてもよい。
【０１４４】
なお、画像データを抽出して表示する場合、制御部７０は、例えば、画像データをＯＣＴデータから切り出してもよいし、画像データに対応する情報から画像データを改めて作成してもよい。
【０１４５】
図４（ａ）は第２の撮影モードにて取得されるＯＣＴデータの一例を示す図であり、図４（ｂ）は、第２の撮影モードにて取得されるＯＣＴデータの表示部での出力例を示す図である。この場合、例えば、制御部７０は、眼底中心部における網膜表面がゼロディレイ位置Ｚより奥側に形成され、さらに、眼底周辺部における脈絡膜裏面がゼロディレイ位置Ｚより前側に形成されるように、測定光と参照光との光路長差を調整してもよい。
【０１４６】
眼底中心部でのＯＣＴデータの少なくとも一部に関して、第１画像領域と第２画像領域において形成される各断層像は、互いに向かい合った状態となる。第１画像領域Ｇ１において実像Ｒが取得され、第２画像領域Ｇ２において虚像Ｍ（ミラーイメージ）が取得される。
【０１４７】
眼底周辺部でのＯＣＴデータの少なくとも一部に関して、第１画像領域と第２画像領域において形成される各断層像は、反対方向を向いた状態となる。第１画像領域Ｇ１において虚像Ｍが取得され、第２画像領域Ｇ２において実像Ｒが取得される。
【０１４８】
なお、眼底中心部と眼底周辺部は相対的であり、境界が明確に規定されないが、少なくとも、眼底周辺部のＯＣＴデータにおける両端部を含んだ領域は、反対方向を向いた状態となる。この場合、眼底周辺部のＯＣＴデータの一部（眼底中心部側）は、互いに向かい合った状態となりえる。
【０１４９】
制御部７０は、例えば、ＯＣＴデータにおける第１画像領域Ｇ１及び第２画像領域Ｇ２の両方の画像データを抽出し、表示部７５の画面上に表示してもよい。この結果として、例えば、表示部７５上には、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域の断層像が表示される。これにより、例えば、検者は、眼底の広角領域の断層像を観察できる。この場合、例えば、実像Ｒと虚像Ｍの両方が表示されるが、断層像が交わる部分は一部のみであり、網膜厚が薄い眼底周辺で交差されるので、観察への影響は軽微である。また、前述のソフトウェアによる分散補正によって一方の画像の画質を低感度・低解像度の画像とすることで、他方の画像を観察しやすくすることができる。
【０１５０】
なお、広角領域でのＯＣＴデータに関して、眼底中心部のＯＣＴデータとしては、例えば、黄斑と乳頭を含むＯＣＴデータが取得され、眼底周辺部のＯＣＴデータとして、例えば、黄斑と乳頭よりも周辺側領域のＯＣＴデータが取得されてもよい。この場合、周辺側領域のＯＣＴデータの少なくとも一部が第２画像領域の画像データとして取得される。
【０１５１】
なお、上記説明において、第１の撮影モードと第２の撮影モードとの間で、表示部上の表示状態を切り替える場合、制御部７０は、ＯＣＴデータをライブ画像として動画で表示する際に表示状態を切り換えてもよい。この場合、ＯＣＴデータは、眼底正面画像と共に表示されてもよいし、眼底正面画像上には走査範囲を示すグラフィック（例えば、ライン）が表示されてもよい。また、制御部７０は、ＯＣＴデータをキャプチャー画像として取得した後に静止画でＯＣＴデータを表示する際に表示状態を切り換えてもよい。
【０１５２】
キャプチャー画像として取得されたＯＣＴデータをメモリ７２に記憶する場合、制御部７０は、撮影モードと対応付けてＯＣＴデータをメモリ７２に記憶するようにしてもよい。これによって、ビューアソフトにてＯＣＴデータを閲覧する場合においても、制御部７０は、撮影モードに応じた表示状態の切換が可能となる。なお、撮影モードに応じて表示部７５の表示状態が切り換えられるので、制御部７０は、キャプチャー動作が行われる際の表示部７５の表示状態と対応付けてＯＣＴデータを記憶するようにしてもよい。
【０１５３】
＜撮影モードに応じたＯＣＴデータの解析処理の切換＞
制御部７０は、取得されたＯＣＴデータを解析処理して、解析結果を取得してもよい。例えば、制御部７０は、ＯＣＴデータをセグメンテーション処理して、網膜又は脈絡膜の層厚又は曲率を解析結果として取得してもよい。また、ＯＣＴデータがＯＣＴモーションコントラストデータ（ＯＣＴアンジオデータ）の場合、ＯＣＴモーションコントストデータを解析処理して、血管密度を解析結果として取得してもよい。解析結果は、表示部７５に出力されてよく、例えば、数値として表示されてもよいし、解析マップ又は解析チャートとして表示されてもよい。
【０１５４】
解析処理において、例えば、制御部７０は、撮影モードに応じて、ＯＣＴデータの解析範囲を変更してもよい。制御部７０は、第１の撮影モードに設定された場合、深さ方向に関するＯＣＴデータの解析範囲を第１の解析範囲に設定し、第２の撮影モードに設定された場合、深さ方向に関するＯＣＴデータの解析範囲を第１の解析範囲よりも広い第２の解析範囲に設定してもよい。この場合、第２の解析範囲は、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域において解析処理が行われるように解析範囲が設定されてもよい。
【０１５５】
制御部７０は、第１の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータを解析する場合、ＯＣＴデータにおける第１画像領域Ｇ１又は第２画像領域Ｇ２のいずれか一方の画像データを解析し、解析結果を取得してもよい。この結果として、例えば、眼底中心部の解析結果が得られる。なお、眼底中心部の解析結果としては、例えば、黄斑と乳頭の少なくともいずれかに関する解析結果が取得されてもよい。
【０１５６】
制御部７０は、第２の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータを解析する場合、ＯＣＴデータにおける第１画像領域Ｇ１及び第２画像領域Ｇ２の両方の画像データを解析し、解析結果を取得してもよい。この場合、少なくとも、第１画像領域Ｇ１にて得られた眼底中心部の画像データが解析され、第２画像領域Ｇ２にて得られた眼底周辺部の画像データが解析されてもよい。この結果として、例えば、眼底中心部と眼底周辺部を含む広角領域の解析結果が得られる。なお、広角領域の解析結果としては、例えば、黄斑及び乳頭に関する解析結果と、黄斑及び乳頭よりも周辺側の領域に関する解析結果とが、取得されてもよい。
【０１５７】
＜ＯＣＴデータ/解析結果の合成＞
制御部７０は、第１の撮影モードにて取得された眼底中心部でのＯＣＴデータと、第２の撮影モードにて取得された広角領域でのＯＣＴデータとを画像処理によって合成し、合成ＯＣＴデータを取得してもよい。取得された合成ＯＣＴデータは、表示部７５上に表示されてもよい。なお、制御部７０は、共通するデータ領域（例えば、眼底中心部のＯＣＴデータ）においてマッチング処理を行うことによってデータ間の位置合わせを行うようにしてもよい。また、データ間の撮影倍率のずれが調整されてもよい。なお、眼底中心部でのＯＣＴデータに関し、第１の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータが用いられてもよいし、重み付け合成において優先されるように合成されてもよい。
【０１５８】
この場合、例えば、第１の撮影モードにて取得された眼底中心部でのＯＣＴデータは、第２の撮影モードにて取得された広角領域でのＯＣＴデータに含まれる眼底中心部のＯＣＴデータよりも高密度で取得されうる（例えば、撮影の際の時間が短くて済むため）。したがって、合成ＯＣＴデータは、解像度の優れた眼底中心部のＯＣＴデータを含めた広角領域のＯＣＴデータとして取得されるので、例えば、検者は、視覚神経系の黄斑又は乳頭を含めた領域を高精度で観察できると共に、眼底周辺部での眼底疾患を確実に観察することができる。
【０１５９】
制御部７０は、第１の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータに基づく眼底中心部の解析結果と、第２の撮影モードにて取得された広角領域でのＯＣＴデータに基づく眼底周辺部の解析結果とを統合し、統合解析結果を取得してもよい。取得された統合解析結果は、表示部７５上に表示されてもよい。前述の統合解析結果を得る場合、制御部７０は、前述の合成ＯＣＴデータを解析処理することによって統合解析結果を取得してもよい。また、制御部７０は、第１の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータと、第２の撮影モードにて取得されたＯＣＴデータとをそれぞれ別々に解析処理し、各解析結果を統合するようにしてもよい。
【０１６０】
＜実像と虚像との重複領域に関する補完処理＞
第２の撮影モードにおいて広角領域でのＯＣＴデータを取得した場合、図５に示されるように、ゼロディレイ位置Ｚ付近において、ＯＣＴデータにおける実像Ｒと虚像Ｍは重複する。言い換えると、ＯＣＴデータには、実像Ｒと虚像Ｍとの重複領域ＯＬが生じる。重複領域ＯＬにおいては、実像Ｒの強度データに対して虚像Ｍの強度データがノイズとして形成されるので、検者にとって眼底組織を観察しづらい、診断しづらい、解析しづらい等の問題が生じ得る。
【０１６１】
そこで、制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００を制御することによって、スペクトル干渉信号を検出する際の光路長が異なる複数のＯＣＴデータを取得すると共に、重複領域ＯＬに関する補完処理を複数のＯＣＴデータに基づいて行うようにしてもよい。
【０１６２】
図６は、光路長が異なる複数のＯＣＴデータを得る際の装置制御の一例を示すフローチャートである。例えば、制御部７０は、光路長変更部２００を制御し、光路長が異なる複数のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を順次取得してもよい。光路長変更部２００としては、例えば、参照光路調整部１４５が用いられてもよいし、コリメータレンズ１５４と光ファイバー１５２のカップラとが一体的に移動される構成が用いられてもよい。
【０１６３】
この場合、制御部７０は、光路長変更部２００に設けられた駆動部を制御して参照光（又は測定光）の光路長を第１の光路長に調整する。手動又は自動にてキャプチャー開始信号が発せられると、制御部７０は、光スキャナ１５６を制御し、第１の光路長にて眼底上で測定光を走査することによって、第１のＯＣＴデータの基礎となる第１のスペクトル干渉信号を取得する。制御部７０は、第１のスペクトル干渉信号を処理して、第１のＯＣＴデータを生成できる。
【０１６４】
次に、制御部７０は、光路長変更部２００に設けられた駆動部を制御して参照光（又は測定光）の光路長を、第１の光路長とは異なる第２の光路長に自動的に調整する。これによって、光路長を再調整する手間を軽減できる。制御部７０は、光スキャナ１５６を制御し、第２の光路長にて眼底上で測定光を走査することによって、第２のＯＣＴデータの基礎となる第２のスペクトル干渉信号を取得する。制御部７０は、第２のスペクトル干渉信号を処理して、第２のＯＣＴデータを生成できる。
【０１６５】
追加的には、制御部７０は、同様にして、光路長変更部２００を制御し、第１の光路長と第２の光路長とは異なる第３の光路長にて第３のＯＣＴデータの基礎となるスペクトル干渉信号を取得してもよい。第４のＯＣＴデータ以降のスペクトル干渉信号を得る場合においても、同様の制御によってスペクトル干渉信号を得ることができる。
【０１６６】
図７は、互いに光路長が異なる同一部位における複数のＯＣＴデータの一例であり、図７では、５つのＯＣＴデータが例示されているが、ＯＣＴデータの数はこれに限定されない。ここで、各ＯＣＴデータの間で撮影時の光路長が異なるので、実像Ｒに対する虚像Ｍの相対位置が異なる。そして、各ＯＣＴデータの間においては、実像Ｒに対する重複領域ＯＬの相対位置が異なる。
【０１６７】
この場合、例えば、第１のＯＣＴデータにおいて重複領域ＯＬによって影響を受けた部分に関して、第２のＯＣＴデータ以降においては、重複領域ＯＬの相対位置が異なるので、重複領域ＯＬによる影響を受けていない領域が確認できる。つまり、光路長が異なる複数のＯＣＴデータが取得されることで、仮に、単一のＯＣＴデータで重複領域ＯＬの影響を受けたとしても、光路長が異なる他のＯＣＴデータが取得されることで、統合的には、重複領域ＯＬの影響が軽減された良好なＯＣＴデータが得られる。
【０１６８】
ここで、第１のＯＣＴデータにおいて重複領域ＯＬによって影響を受けた部分に関して、第２のＯＣＴデータ以降の重複領域ＯＬによる影響を受けていない同一部分のＯＣＴデータを用いて補完処理を行うことによって、重複領域ＯＬの影響が軽減された良好なＯＣＴデータが得らえる。
【０１６９】
図８は、補完処理に先立って虚像領域を除去する場合の一例を示す図である。制御部７０は、各ＯＣＴデータに対して画像処理によって虚像Ｍを検出し、虚像Ｍを予め除去するようにしてもよい。虚像Ｍを検出する場合、制御部７０は、虚像Ｍの形成位置、信号強度、鮮明度等を利用して画像処理によって虚像Ｍを検出するようにしてもよい。
【０１７０】
例えば、第１の手法としては、眼底中心部でのＯＣＴデータの実像Ｒが第１画像領域に形成されるように光路長が調整される場合、眼底中心部でのＯＣＴデータについては、第２画像領域に虚像Ｍが形成されるので、制御部７０は、第２の画像領域において所定の閾値を超える輝度レベルの領域に関して、虚像Ｍとして判定するようにしてもよい。次に、制御部７０は、眼底中心部のＯＣＴデータについて得られた虚像Ｍの背景との境界部分に関して近似曲線からなるフィッティングカーブを作成する。このようにして被検眼の形状（例えば、眼底は湾曲形状）を考慮したフィッティング処理によって、制御部７０は、眼底周辺部のＯＣＴデータについても虚像Ｍの領域を検出できる。
【０１７１】
例えば、第２の手法としては、制御部７０は、実像Ｒの鮮明度が高く、虚像Ｍがぼけていることを利用して、鮮明度を使用して実像Ｒと虚像Ｍを判定するようにしてもよい。この場合、制御部７０は、ＯＣＴデータにおいて所定の閾値を超える輝度レベルの領域を画像処理によって検出すると共に、閾値を超えた領域に関して鮮明度を検出し、ぼけた画像データを含む領域に関して虚像Ｍとして検出するようにしてもよい。ここで、制御部７０は、各Ａスキャンデータにおいて、第１の画像領域と第２の画像領域との間で、所定の評価値（例えば、（画像データの平均最大輝度値）−（画像の背景領域の平均輝度値））を比較し、評価値が高い方を実像Ｒとし、評価値が低い方を虚像Ｍとしてもよい。所定の評価値として、例えば、各Ａスキャンデータのコントラストが用いられてもよい。
【０１７２】
図９は、虚像の位置を特定するための手法の一例を示す図である。例えば、像位置を特定するための評価値として、評価値＝領域３０１内の平均輝度―領域３０２内の平均輝度＋領域３０３内の平均輝度―領域３０４内の平均輝度が用いられる。ここで、制御部７０は、各Ａスキャンデータにおいて、ｄｙを変化させ、評価値が最大となる位置が像位置として特定される。領域３０１、領域３０３のサイズは、組織（例えば、眼底）の厚みを考慮して所定値に設定されてもよい。なお、実像と虚像の対称性を利用することで、ロバスト化が可能となる。なお、各領域の平均輝度を求める際、領域内の輝度を深さ方向に関して積算した積算画像を用いるようにしてもよい。なお、実像と鏡像が重複している領域を鑑み、ｄｙがマイナスの値からスタートさせるようにしてもよい。なお、図９は、説明の便宜上、領域３０１〜３０４に関して二次元的に記載されているが、本実施例では、各Ａスキャンに関して領域３０１〜３０４が設定されており、領域３０１〜３０４が一次元的に設定される。
【０１７３】
上記評価値を用いて像位置が特定されると、制御部７０は、領域３０１と領域３０３との間で信号強度を比較することによって、実像か虚像か否かの判定処理を行うようにしてもよい。この場合、制御部７０は、領域３０１と領域３０３との間でコントラストを比較し、コントラストが低い方の領域に関して、虚像Ｍを含む領域として判定するようにしてもよい。また、制御部７０は、領域３０１と領域３０３との間で評価値（例えば、（画像データの平均最大輝度値）−（画像の背景領域の平均輝度値））を比較し、評価値が低い方の領域に関して、虚像Ｍを含む領域として判定するようにしてもよい。
【０１７４】
なお、上記判定処理において、実像Ｒと虚像Ｍとが重複される領域についても、虚像Ｍを含む領域として判定されてもよい。なお、重複領域においては、領域３０１と領域３０３との間の評価値等が近似するので、評価値等が近似した場合、実像Ｒと虚像Ｍとが重複する領域として、追加的に判定するようにしてもよい。
【０１７５】
上記判定処理によって虚像Ｍの位置が特定されると、虚像Ｍに対応する領域に関してマスク処理を施すことによって、ＯＣＴデータ上から虚像Ｍを消去する処理を行う（例えば、図８参照）。マスク処理としては、例えば、虚像Ｍとして特定された領域を背景色（例えば、黒色）と同一色で塗りつぶす処理を行うようにしてもよい。なお、図８においては、説明の便宜上、マスク処理を施した領域が白塗りの画像領域として示されている。
【０１７６】
図１０は各ＯＣＴデータに基づいて加算平均ＯＣＴデータを取得した場合の一例を示す図である。各ＯＣＴデータに関して虚像Ｍが消去されると、制御部７０は、各ＯＣＴデータ間の位置ずれ情報を得ると共に、得られた位置情報に基づいて各ＯＣＴデータ間の位置ずれを補正する。制御部７０は、補正された各ＯＣＴデータを加算して平均することによって、加算平均ＯＣＴデータを取得する。
【０１７７】
加算平均ＯＣＴデータに関し、各ＯＣＴデータにおいて虚像Ｍとして消去された領域は、他のＯＣＴデータの同一領域に関するデータによって補完される。これによって、一つのＯＣＴデータの実像と虚像とが重複する領域が、良好なＯＣＴデータに置き換えられるので、ゼロディレイ位置を跨ぐ広範囲の良好なＯＣＴデータを得ることができる。また、ＯＣデータ全体においても、加算平均処理によってノイズが軽減されることによって、良好なＯＣＴデータが得られる。つまり、加算平均処理は、重複領域に関する補完処理と、データ全体に関する合成処理とを、一つの処理で行うことができる点で有利である。
【０１７８】
また、各ＯＣＴデータの光路長が異なることで、ＯＣＴデータ毎にゼロディレイ位置に対する像位置が異なる。これらのＯＣＴデータを加算平均することによって、ＯＣＴデータ全体で感度が均一な画像を得ることができる。
【０１７９】
＜変容例＞
図１１は、虚像（鏡像）Ｍを検出して消去（除外）する処理の一例を示すフローチャートであり、図１２は、虚像Ｍを検出して消去する処理の一例に関して経過を含めて示す図である。虚像Ｍを検出して消去する場合、制御部７０は、互いに光路長が異なる同一部位における複数のＯＣＴデータ間の虚像Ｍを一致させる処理を含むようにしてもよい。
【０１８０】
メインフローにおいて、制御部７０は、各ＯＣＴデータにおける実像Ｒ間の位置ずれ情報（例えば、位置ずれ量）を得ると共に、得られた位置情報に基づいて各ＯＣＴデータにおける実像Ｒ間の位置ずれを補正する。これによって、各ＯＣＴデータにおける実像Ｒの位置が一致される（例えば、図１１の位置ずれ量算出、位置合わせ、図１２のステップＡ参照）。
【０１８１】
次に、制御部７０は、虚像を消去するマスクを生成するための処理を行う。サブフロー（虚像マスク生成フロー）において、制御部７０は、実像Ｒ間の位置ずれ情報（例えば、位置ずれ量）をマイナスさせることによって、各ＯＣＴデータにおける虚像Ｍ間の位置ずれを補正する。これによって、各ＯＣＴデータにおける虚像Ｍの位置が一致される（例えば、図１２のステップＢ参照）。その後、制御部７０は、ガウシアンフィルタ等を用いてノイズ除去（例えば、スペックルノイズ除去）を行っても良い。
【０１８２】
制御部７０は、虚像同士が一致された各ＯＣＴデータに対し、高輝度領域を抽出するための処理（例えば、二値化処理）を行う（例えば、図１２のステップＣ参照）。これによって、例えば、閾値を超える輝度の領域が抽出されるので、実像Ｒと虚像Ｍに対応する領域が各ＯＣＴデータにおいて抽出される。
【０１８３】
制御部７０は、高輝度領域が抽出された各ＯＣＴデータに対し、モルフォロジー処理の一種である膨張処理を行ってもよい。（例えば、図１２のステップＤ参照）。これによって、高輝度領域が拡張されるので、虚像Ｍに対応する領域を抽出する際のばらつきを回避できる。
【０１８４】
次に、制御部７０は、各ＯＣＴデータを入力として、ピクセル毎に論理積（ＡＮＤ演算）をとる（例えば、図１２のステップＥ参照）。この場合、虚像Ｍに対応する領域は、各ＯＣＴデータ上で一致しているので、虚像Ｍは残存する。一方、実像Ｒに対応する領域は、各ＯＣＴデータ上で異なるので、各ＯＣＴデータの背景の輝度値とＡＮＤ演算される。結果として、虚像Ｍが残存し、実像Ｒが消去される。つまり、虚像Ｍに対応する領域が、複数のＯＣＴデータに基づいて検出される。
【０１８５】
当該検出結果に基づいて、制御部７０は、虚像Ｍに対応する領域をマスク画像として生成する。マスク画像は、各ＯＣＴデータ上の虚像Ｍを消去するために用いられ、例えば、虚像Ｍとして特定された領域が背景色（例えば、黒色）と同一色で塗りつぶされた画像データとして生成される。
【０１８６】
虚像マスクが生成されると、制御部７０は、生成されたマスクを使用して加算平均処理を行う（例えば、図１１のメインフロー参照）。例えば、制御部７０は、実像同士が一致された各ＯＣＴデータに対し、虚像Ｍを消去するためのマスク処理を施す（例えば、図１２のステップＦ参照）。つまり、各ＯＣＴデータ上の虚像Ｍに対応する領域に関してマスク処理が施される。
【０１８７】
この場合、ステップＥにて生成されたマスク画像が用いられてもよく、制御部７０は、実像Ｒ間の位置ずれ情報（例えば、位置ずれ量）を用いてマスク画像を変位させることによって、各ＯＣＴデータ上の虚像Ｍの位置とマスク画像の位置とを一致させる。さらに、制御部７０は、各ＯＣＴデータ上において、マスク画像と重なった領域の画像データに対してマスク処理を施す。これによって、各ＯＣＴデータ上において、虚像Ｍが消去される。
【０１８８】
制御部７０は、虚像Ｍが消去された各ＯＣＴデータを加算して平均することによって、加算平均ＯＣＴデータを取得する（例えば、図１２のステップＧ参照）。これによって、実像と虚像とが重複する領域に関して補完処理が行われる。
【０１８９】
上記の虚像Ｍを一致させる処理によれば、複数のＯＣＴデータを用いて虚像Ｍに対応する領域が検出されることによって、各ＯＣＴデータに対し同一マスクを用いたマスク処理が可能となる。結果として、各ＯＣＴデータ上から虚像Ｍを消去する処理を精度よく行うことができ、良好な合成ＯＣＴデータが得られる。
【０１９０】
なお、加算平均処理を行う場合、ピクセル単位での各ＯＣＴデータの強度値を加算した後、加算値を加算枚数で割ることが一般的であるが、本実施例において、制御部７０は、マスク処理が施された領域に関しては、加算値を割る際の加算枚数として計上しないようにしてもよい（例えば、図１３参照）。これによって、加算平均後のＯＣＴデータにおいて、マスク処理によって消去された領域と、マスク処理が行われていない領域と、の間での輝度レベルのムラを軽減できる。例えば、マスク処理によって虚像Ｍが消去された２枚のＯＣＴデータの加算平均を取得する場合、マスク処理が行われた領域について、各ＯＣＴデータの強度値の加算値が１で割られる。マスク処理が行われていない領域について、各ＯＣＴデータの強度値の加算値が２で割られる。
【０１９１】
図１４は、虚像Ｍを検出して消去する処理の一例に関して経過を含めて示す図である。虚像Ｍを検出して消去する場合、制御部７０は、互いに光路長が異なる同一部位における複数のＯＣＴデータ間の実像Ｒを一致させる処理を含むようにしてもよい。
【０１９２】
制御部７０は、各ＯＣＴデータにおける実像Ｒ間の位置ずれ情報（例えば、位置ずれ量）を得ると共に、得られた位置情報に基づいて各ＯＣＴデータにおける実像Ｒ間の位置ずれを補正する。これによって、各ＯＣＴデータにおける実像Ｒの位置が一致される（例えば、図１４のステップ１参照）。
【０１９３】
制御部７０は、実像同士が一致された各ＯＣＴデータをピクセル単位で比較することによって、輝度値の最小値を画像として採用する処理を施す（例えば、図１４のステップ２参照）。以下、当該処理によって得られた画像を最小値画像と称する。この場合、実像Ｒに対応する領域は、各ＯＣＴデータ上で一致しているので、最小値が採用されたとしても、実像Ｒは残存する。一方、虚像Ｍに対応する領域は、各ＯＣＴデータ上で異なるので、最小値が採用される場合、各ＯＣＴデータの背景の輝度値が採用される。結果として、実像Ｒが残存し、虚像Ｍが消去される。つまり、複数のＯＣＴデータに基づいて実像Ｒに対応する領域が検出される。なお、最小値画像は、各ＯＣＴデータ上での実像Ｒの位置を規定するために用いられる。ただし、最小値画像が、合成ＯＣＴデータとして用いられてもよい。なお、実像Ｒを残存させ虚像Ｍを消去する手法としては、輝度値の最小値を画像として採用する手法に限定されず、例えば、輝度値の平均、中央値、最頻値等の各種統計量が用いられてもよい。
【０１９４】
制御部７０は、各ＯＣＴデータと最小値画像との相関をピクセル単位で求めることによって、相関の高さを画像として取得する処理を施す（例えば、図１４のステップ３参照）。以下、当該処理によって得られた画像を相関画像と称する。この場合、最小値画像は、複数のＯＣＴデータに基づいて実像Ｒの位置を規定したものであるので、各ＯＣＴデータにおいて、実像Ｒに対応する領域は、相関値が高く、虚像又は背景に対応する領域は、相関値が低く求められる。結果として、各ＯＣＴデータの相関画像には、実像Ｒに対応する領域が検出される。
【０１９５】
制御部７０は、実像同士が一致された各ＯＣＴデータを加算して平均することによって、加算平均ＯＣＴデータを取得する（例えば、図１４のステップ４参照）。この場合、制御部７０は、前述の相関画像を用いて、各ＯＣＴデータを加算する際の重み付けを行うようにしてもよい。
【０１９６】
例えば、制御部７０は、ピクセル単位で各ＯＣＴデータを加算させる際、各ＯＣＴデータにおいて、相関が高いピクセルにおいては、加算時の重みづけの係数を大きくし、相関が低いピクセルにおいては、加算時の重み付けの係数を小さくしてもよい。この場合、各ＯＣＴデータは、ピクセル単位で重みづけの係数が設定される。
【０１９７】
上記の実像Ｒを一致させる処理によれば、複数のＯＣＴデータを用いて実像Ｒに対応する領域が検出され、各ＯＣＴデータに対して同一画像（例えば、相関画像）を用いて相関が求められる。さらに、得られた相関結果を用いて重みづけ加算が行われることによって、虚像ＭをＯＣＴデータ上から消去できる。結果として、虚像Ｍを消去する処理を精度よく行うことができ、良好な合成ＯＣＴデータが得られる。
【０１９８】
なお、上記説明において、制御部７０は、予め検出された実像Ｒに対応する領域との相関結果を用いて重みづけ加算を行ったが、これに限定されず、例えば、制御部７０は、予め検出された虚像Ｍに対応する領域（例えば、図１２参照）との相関結果を用いて重みづけ加算を行ってもよい。この場合、虚像Ｍと相関が高いピクセルにおいては、加算時の重みづけの係数が小さく、相関が低いピクセルにおいては、加算時の重み付けの係数が大きい。制御部７０は、実像Ｒに対応する領域との相関を用いた重みづけ加算と、虚像Ｍに対応する領域との相関を用いた重みづけ加算と、を併用してもよい。また、実像と虚像とを分離する手法としては、前述の手法に限定されず、ロバストＰＣＡのような統計解析が用いられてもよい。
【０１９９】
なお、上記実施例においては、虚像Ｍを除去する例について示したが、これに限定されず、実像Ｒと虚像Ｍとが重複する領域に関して、実像Ｒと虚像Ｍとが重複していない良好なＯＣＴデータに補完される処理であれば、必ずしも虚像Ｍが除去されなくてもよい。例えば、光路長が異なる複数のＯＣＴデータを加算平均する処理のみであっても、実像と虚像とが重複する領域における虚像の影響は軽減される。
なお、加算平均処理による補完処理に限定されず、複数のＯＣＴデータの代表値に基づいて合成ＯＣＴデータを生成する手法としては、例えば、複数のＯＣＴデータの中央値又は最頻値が用いられてもよい。
【０２００】
なお、補完処理の手法としては、ＯＣＴデータの代表値を求める手法に限定されず、例えば、一方のＯＣＴデータにおける重畳領域のＯＣＴデータを除去した後、除去部分に関して、当該重畳領域と同一の領域のＯＣＴデータを他方のＯＣＴデータから置き換えて合成するようにしてもよい。この場合、一方のＯＣＴデータと他方のＯＣＴデータとをマッチング処理によって位置関係を対応づけるようにしてもよい。
【０２０１】
なお、制御部７０は、実像と虚像との重複領域に関する補完処理、虚像に関する除去処理の少なくともいずれかを、検者によって操作される操作部からの操作信号に基づいて行うようにしてもよい。これによって、選択的な処理が可能となる。
【０２０２】
なお、上記説明においては、被検眼を広角にて撮影するためのＯＣＴ装置を例としたが、これに限定されず、被検物のＯＣＴデータを広角にて撮影するためのＯＣＴ装置において、本実施形態が適用されてもよい。また、被検物は、例えば、眼（前眼部、眼底等）、皮膚など生体のほか、生体以外の材料であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【０２０３】
【図１】本実施例に係るＯＣＴ装置の光学系の一例を示す図である。
【図２】本実施例に係るＯＣＴ装置の制御系の一例を示す図である。
【図３】本実施例に係るＯＣＴデータの一例と表示部での出力例を示す図である（通常撮影）。
【図４】本実施例に係るＯＣＴデータの一例と表示部での出力例を示す図である（広角撮影）。
【図５】ＯＣＴデータにおける実像と虚像の重複領域について説明するための図である。
【図６】光路長が異なる複数のＯＣＴデータを得る際の装置制御の一例を示すフローチャートである。
【図７】互いに光路長が異なる同一部位における複数のＯＣＴデータの一例である。
【図８】補完処理に先立って虚像領域を除去する場合の一例を示す図である。
【図９】虚像の位置を特定するための手法の一例を示す図である。
【図１０】各ＯＣＴデータに基づいて加算平均ＯＣＴデータを取得した場合の一例を示す図である。
【図１１】虚像（鏡像）Ｍを検出して消去（除外）する処理の一例を示すフローチャートである。
【図１２】虚像Ｍを検出して消去する処理の一例に関して経過を含めて示す図である。
【図１３】マスク処理の有無によって加算枚数を変更する場合の一例を示す図である。
【図１４】虚像Ｍを検出して消去する処理の一例に関して経過を含めて示す図である。
【符号の説明】
【０２０４】
７０    制御部
７５  表示部
１００  ＯＣＴ光学系
２００  光路長変更部
【図１】
2020022723.tif 000003
【図２】
2020022723.tif 000004
【図３】
2020022723.tif 000005
【図４】
2020022723.tif 000006
【図５】
2020022723.tif 000007
【図６】
2020022723.tif 000008
【図７】
2020022723.tif 000009
【図８】
2020022723.tif 000010
【図９】
2020022723.tif 000011
【図１０】
2020022723.tif 000012
【図１１】
2020022723.tif 000013
【図１２】
2020022723.tif 000014
【図１３】
2020022723.tif 000015
【図１４】
2020022723.tif 000016